(57)【要約】      （修正有）【課題】燃料デブリやガレキ等に対するサンプリング箇所の決定や、その後の分析手順の決定の効率的な実施を支援することができる総合情報管理システムを提供する。【解決手段】分析対象物の形状、温度、及び内部の状態について非破壊測定を行う複数の非破壊測定装置と、複数の非破壊測定装置から、分析対象物の非破壊測定に用いる少なくとも一つの非破壊測定装置を選択する非破壊測定方法選択機能と、非破壊測定方法選択機能により選択した非破壊測定装置により測定した分析対象物の形状、温度、及び内部の状態についての測定データを表示する表示機能と、表示機能により表示された測定データ上で、分析対象物におけるサンプルの採取位置を設定するサンプリング部位設定機能と、サンプリング部位設定機能により設定された分析対象物のサンプルに対して用いる少なくとも一つの分析方法を複数の分析方法から選択的に設定する分析方法選択機能とを備える。【選択図】図１１
2016008884.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射化物質や放射能汚染物質などの分析対象物の情報を管理する総合情報管理システムであって、
前記分析対象物の形状、温度、及び内部の状態について非破壊測定を行う複数の非破壊測定装置と、
前記複数の非破壊測定装置から、前記分析対象物の非破壊測定に用いる少なくとも一つの非破壊測定装置を選択する非破壊測定方法選択機能と、
前記非破壊測定方法選択機能により選択した前記非破壊測定装置により測定した前記分析対象物の形状、温度、及び内部の状態についての測定データを表示する表示機能と、
前記表示機能により表示された前記測定データ上で、前記分析対象物におけるサンプルの採取位置を設定するサンプリング部位設定機能と、
前記サンプリング部位設定機能により設定された前記分析対象物のサンプルに対して用いる少なくとも一つの分析方法を複数の分析方法から選択的に設定する分析方法選択機能と
を備えたことを特徴とする総合情報管理システム。
【請求項２】
放射化物質や放射能汚染物質などを含む分析対象物の情報を管理する総合情報管理システムであって、
前記分析対象物の形状、温度、及び内部の状態について非破壊測定を行う非破壊測定装置と、
前記非破壊測定装置により測定した前記分析対象物の形状、温度、及び内部の状態についての測定データを表示する表示機能と、
前記表示機能により表示された前記測定データ上で、前記分析対象物におけるサンプルの採取位置を設定するサンプリング部位設定機能と、
前記サンプリング部位設定機能により採取位置を設定された前記分析対象物のサンプルに対して用いる少なくとも一つの分析方法を複数の分析方法から選択的に設定する分析方法選択機能と
を備えたことを特徴とする総合情報管理システム。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の総合情報管理システムにおいて、
前記非破壊測定装置は、Ｘ線透過撮影装置、Ｘ線ＣＴ装置、ガンマカメラ装置、単光子放出断層撮影装置、レーザー形状測定装置、サーモグラフィ装置、光学カメラ装置、光学ステレオカメラ装置、及び放射線検出装置の何れかであることを特徴とする総合情報管理システム。
【請求項４】
請求項３に記載の総合情報管理システムにおいて、
前記ガンマカメラ装置、前記単光子放出断層撮影装置、及び前記放射線検出装置は、放射性核種を測定する機能を備えたことを特徴とする総合情報管理システム。
【請求項５】
請求項３に記載の総合情報管理システムにおいて、
前記Ｘ線ＣＴ装置は、０．９５ＭｅＶ以上の最大エネルギを有するＸ線を照射するＸ線源を備えたことを特徴とする総合情報管理システム。
【請求項６】
請求項３に記載の総合情報管理システムにおいて、
前記Ｘ線ＣＴ装置は、加速器を使用したＸ線源を備えたことを特徴とする総合情報管理システム。
【請求項７】
請求項１〜６の何れか１項に記載の総合情報管理システムにおいて、
前記分析対象物と前記非破壊測定方法選択機能により選択された非破壊測定方法とを関連付ける非破壊測定方法関連付け機能と、
前記非破壊測定方法関連付け機能による前記分析対象物と前記非破壊測定方法との関連付けの情報である非破壊測定方法関連情報を記憶する非破壊測定方法関連情報記憶装置と、
前記非破壊測定方法関連情報記憶装置から前記非破壊測定方法関連情報を呼び出して前記分析対象物との照合を行う非破壊測定方法照合機能と
を備えたことを特徴とする総合情報管理システム。
【請求項８】
請求項１に記載の総合情報管理システムにおいて、
複数の前記非破壊測定装置により測定された前記分析対象物の測定データを重ね合わせて表示する測定データ重ね合わせ表示機能を備えたことを特徴とする総合情報管理システム。
【請求項９】
請求項１〜８の何れか１項に記載の総合情報管理システムにおいて、
前記サンプリング部位設定機能は、前記非破壊測定装置による測定結果に基づいて、前記分析対象物におけるサンプルの採取位置を自動設定する採取位置自動設定機能を備えたことを特徴とする総合情報管理システム。
【請求項１０】
請求項１〜９の何れか１項に記載の総合情報管理システムにおいて、
前記分析対象物と前記サンプリング部位設定機能により採取位置が設定された前記サンプルとを関連付けるサンプリング部位関連付け機能と、
前記サンプリング部位関連付け機能による前記分析対象物と前記採取位置との関連付けの情報であるサンプリング部位関連情報を記憶するサンプリング部位関連情報記憶装置と、
前記サンプルリング部位関連情報記憶装置から前記サンプリング部位関連情報を呼び出して前記分析対象物と前記サンプルの採取位置との照合を行うサンプリング部位照合機能と
を備えたことを特徴とする総合情報管理システム。
【請求項１１】
請求項１〜１０の何れか１項に記載の総合情報管理システムにおいて、
前記サンプリング部位設定機能により設定された前記サンプルを分類するためのサンプル分類設定機能を備えたことを特徴とする総合情報管理システム。
【請求項１２】
請求項１〜１１の何れか１項に記載の総合情報管理システムにおいて、
前記分析対象物に識別情報を付与する分析対象物識別情報付与機能と、
前記サンプルに識別情報を付与するサンプル識別情報付与機能と
を有することを特徴とする総合情報管理システム。
【請求項１３】
請求項１２に記載の総合情報管理システムにおいて、
前記分析対象物識別情報付与機能は、前記分析対象物から採取された前記サンプルに対して、前記サンプル識別情報付与機能により付与された前記サンプルの識別情報の一部あるいは全部を前記分析対象物の識別情報に追加する機能を備え、
前記サンプル識別情報付与機能は、前記サンプルを採取した前記分析対象物の識別情報の一部あるいは全部を前記サンプルの識別情報に追加する機能を備えた
ことを特徴とする総合情報管理システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、原子力施設等から生じる使用済みの原子炉燃料や放射性物質等の廃棄物に関連する情報を管理する総合情報管理システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
原子力発電所などの原子力施設の解体時には、使用済みの原子炉燃料や放射性物質、或いは放射性物質により汚染された廃棄物等が生じる。このような廃棄物等は、放射性物質による汚染の状況等を把握するために種々の分析を実施する必要がある。
【０００３】
核燃料や放射性物質の分析では、分析対象物の全体に対して分析を実施するのではなく、分析対象物の一部の領域を分析サンプルとして採取し、このサンプルに対して分析を実施することが多く、計画的に廃止措置手続がとられた原子力施設では、分析対象物におけるサンプルの採取位置や、そのサンプルに対する分析手順などを事前に決めて分析を実施することが可能である。この場合は、設計時のデータに基づいて分析対象物のスクリーニングを行い、サンプルに対してアルファ核種分析やベータ・ガンマ核種分析、金属組織の観察、化学分析などのどのような分析を実施するかに応じてサンプリング箇所が決定され、サンプルが採取される。
【０００４】
このような分析対象物への分析に関する技術として、例えば、特許文献１（特表２００６−５１２５６７号公報）には、スクリーニング対象であるＭＯＸ燃料棒を軸方向にローラで送り出しながら、Ｘ線透過装置や放射線計測装置等により寸法や放射能汚染等の測定を行い、不良ペレットの検出などを行う技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特表２００６-５１２５６７公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、原子力発電所などの原子力施設において事故が万一発生した場合、その事故の度合いによっては溶融した原子炉燃料の断片(以下、燃料デブリと称する)や、建屋の損傷等によりガレキ等の廃棄物が発生する場合がある。このようにして生じた燃料デブリやガレキは、設計時や設置時の形状を留めていない場合が考えられる。例えば、原子炉燃料が溶融した場合には、燃料を構成する物質だけではなく、燃料を保持する構造材や原子炉内の他の構造物が高温で溶けて燃料と混合し、あるいは燃料と化学反応することにより、不定形・不均質な状態となって初期の形状を留めていないことが考えられる。また、ガレキにおいても破壊等によって設計時とは異なる形状となっていることが考えられる。そのため、上記従来技術のような方法では、燃料デブリやガレキに対してスクリーニングを実施することは不可能であった。
【０００７】
また、燃料デブリやガレキに対しては、サンプルを採取する位置（サンプリング箇所）や、何をサンプリングしてどのような分析を実施するかという事などを事前に決定することが不可能であり、したがって、サンプリング箇所や分析手順をそのつど実施しなければならないという問題もあった。
【０００８】
本発明は上記に鑑みてなされたものであり、燃料デブリやガレキ等に対するサンプリング箇所の決定や、その後の分析手順の決定の効率的な実施を支援することができる総合情報管理システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために、本発明は、放射化物質や放射能汚染物質などを分析する分析対象物の情報を管理する総合情報管理システムであって、前記分析対象物の形状、温度、及び内部の状態について非破壊測定を行う複数の非破壊測定装置と、前記複数の非破壊測定装置から、前記分析対象物の非破壊測定に用いる少なくとも一つの非破壊測定装置を選択する非破壊測定方法選択機能と、前記非破壊測定方法選択機能により選択した前記非破壊測定装置により測定した前記分析対象物の形状、温度、及び内部の状態についての測定データを表示する表示機能と、前記表示機能により表示された前記測定データ上で、前記分析対象物におけるサンプルの採取位置を設定するサンプリング部位設定機能と、前記サンプリング部位設定機能により設定された前記分析対象物のサンプルに対して用いる少なくとも一つの分析方法を複数の分析方法から選択的に設定する分析方法選択機能とを備えたものとする。
【発明の効果】
【００１０】
燃料デブリやガレキ等に対するサンプリング箇所の決定や、その後の分析手順の決定の効率的な実施を支援することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】第１の実施の形態における総合情報管理システムの全体構成を概略的に示す機能ブロック図である。
【図２】非破壊検査装置の一例であるＸ線ＣＴ装置の全体構成を概略的に示す図である。
【図３】非破壊検査装置の他の一例であるガンマカメラ装置をＸ線ＣＴ装置に配置した様子を概略的に示す図である。
【図４】非破壊検査装置のさらに他の一例である光学ステレオカメラ装置を概略的に示す図である。
【図５】表示装置に表示される非破壊測定対象確認画面を示す図である。
【図６】表示装置に表示される非破壊測定方法選択画面を示す図である。
【図７】Ｘ線ＣＴ装置で測定されたデータに基づいて構築した３次元画像におけるサンプル領域の設定の一例を示す図である。
【図８】Ｘ線ＣＴの３次元画像とサンプル領域画像を示す図である。
【図９】表示装置に表示される分析データ確認画面を示す図である。
【図１０】表示装置に表示される分析方法詳細選択画面を示す図である。
【図１１】第１の実施の形態に係る総合情報管理システムにおける処理の流れを示すフローチャートである。
【図１２】第２の実施の形態において、Ｘ線ＣＴ装置により得られた測定データを基に構築した３次元画像と、ガンマカメラ装置により得られた測定データを基に構築した断層画像とを重ね合わせた重ね合わせ画像を示す図である。
【図１３】第３の実施の形態において、Ｘ線ＣＴ装置により得られた測定データを基に構築した３次元画像と、ガンマカメラ装置により得られた測定データを基に構築した断層画像とを重ね合わせた重ね合わせ画像に、さらに、光学ステレオカメラ装置により得られた表面形状のデータを重ね合わせた重ね合わせ画像を示す図である。
【図１４】第４実施の形態に係る総合情報管理システムにおける処理の流れの概略を示すフローチャートである。
【図１５】図１４に示した総合情報管理システムの処理の詳細を示すフローチャートであり、燃料デブリやガレキ等の分析対象物を受け入れてから、最終的な報告ドキュメントを作成するまでの一連の流れの例を示したものである。
【図１６】表示装置に表示されるサンプル確認画面を示す図である。
【図１７】サンプル確認画面の精密分析に関する選択ボタンを押下した場合に表示される、サンプル分類・分析方法詳細選択画面の一例を示す図である。
【図１８】第５の実施の形態に係る総合情報管理システムにおける処理の流れの概略を示すフローチャートである。
【図１９】容器に収容された分析対象物を示す図である。
【図２０】非破壊測定の測定データに基づいて得られた３次元画像を示す図である。
【図２１】３次元画像で設定されたサンプル領域画像を示す図である。
【図２２】サンプル領域画像に基づいて採取され容器に収容されたサンプルを示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照しつつ説明する。
【００１３】
＜第１の実施の形態＞
本発明の第１の実施の形態を図１〜図１１を参照しつつ説明する。
【００１４】
図１は、本実施の形態における総合情報管理システムの全体構成を概略的に示す機能ブロック図である。また、図２は、非破壊検査装置の一例であるＸ線ＣＴ装置の全体構成を概略的に示す図である。
【００１５】
図１において、本実施の形態の総合情報管理システムは、放射化物質（放射化生成物）や放射能汚染物質などを含む分析対象物１００（後の図４等参照）の情報を管理するものであって、分析対象物１００の形状、温度、及び内部の状態について非破壊測定を行う１つ以上の非破壊測定装置１０と、測定結果や各種設定画面を表示する表示装置３０と、表示装置３０の表示内容に対して各種入力を行うマウスやキーボードなどの入力装置４０と、総合情報管理システムで用いる各種プログラムや測定結果、設定内容等を記憶する記憶装置５０と、総合情報管理システム全体の動作を制御することにより、本実施の形態における各種機能を実現する制御装置２０とから概略構成されている。
【００１６】
図２において、Ｘ線ＣＴ装置は、燃料デブリやガレキなどの分析対象物１００（後の図４等参照）を収納した収納容器３と、収納容器３を挟んで対向するように配置されたＸ線源１およびＸ線検出器２とを備えている。
【００１７】
Ｘ線源１は、設置治具４に据え付けられており、設置治具４が図示しない駆動装置によりガイドレール６に沿って移動することによりＸ線源１もガイドレール６に沿って水平方向に移動可能に設けられている。また、Ｘ線検出器２もＸ線源１と同様に、設置治具５に据え付けられており、設置治具５が図示しない駆動装置によりガイドレール６と並行に配置されたガイドレール７に沿って移動することによりＸ線検出器２もガイドレール７に沿って水平方向に移動可能に設けられている。なお、Ｘ線源１及びＸ線検出器２は、図示しない上下方向駆動装置を備えており、垂直方向に移動可能に設けられている。Ｘ線源１及びＸ線検出器２の移動は、収納容器３の横断面の大きさがＸ線源１から照射されるＸ線の広がり１ａの範囲に納まらない場合に実施する。Ｘ線源１とＸ線検出器２の移動は制御装置２０によって制御されており、水平方向および垂直方向に同期して移動され、常時対向するように位置制御される。収納容器３は、水平方向に回転駆動するための駆動機構３ａが備えられており、Ｘ線源１とＸ線検出器２による収納容器３に収容された分析対象物１００の周方向のあらゆる方向からのＸ線撮影データの取得が可能である。収納容器３に収納された燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００のＸ線ＣＴ撮影データは制御部２０に送られ、収納容器３内の収納状況だけでなく、燃料デブリやガレキ等の内部形状情報（内部の空洞や組成等の形状に関する情報）に関するデータを測定することが可能である。
【００１８】
なお、本実施の形態では、Ｘ線源１及びＸ線検出器２が水平垂直方向に移動し、収納容器３が水平方向に回転するように構成したが、Ｘ線源１及びＸ線検出器２と収納容器３との相対位置を同様に制御することが出来れば良い。すなわち、収納容器３が水平垂直方向に移動し、Ｘ線源１及びＸ線検出器２が対向した状態で収納容器３の外周を回るように構成した場合にも同様のデータを測定できることは言うまでも無い。
【００１９】
また、本実施の形態では、円筒状の収納容器３に燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００が収納されている場合について説明したが、燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００が収納容器３に収納されずに搬入されることも想定され、その場合であっても、同様の撮影方法で非破壊測定が可能である。但し、搬入された燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００が高線量率の物体の場合には、適切な放射線管理対策を実施することが望ましい。
【００２０】
また、図示しないが、搬入された燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００が薄い板状のものである場合には、Ｘ線ＣＴ撮影を実施せずに、Ｘ線透過撮影を実施して分析対象物１００の内部の状況を把握することが十分に可能である。この場合のＸ線透過撮影は専用のＸ線透過撮影装置で実施しても良いし、Ｘ線ＣＴ装置と共用のＸ線透過撮影装置とすることも可能である。
【００２１】
図３は、非破壊検査装置の他の一例であるガンマカメラ装置をＸ線ＣＴ装置に配置した様子を概略的に示す図である。
【００２２】
図３において、ガンマカメラ装置６０は、収納容器３内部の分析対象物１００のガンマ線強度分布を測定するものであり、２次元ピクセル状のガンマ線検出器モジュール６１と、ガンマ線検出器モジュール６１からの検出信号の処理を行う検出器制御装置６２とを備えている。検出器制御装置６２で得られた測定結果は、制御装置２０に送られる。
【００２３】
ガンマ線検出器モジュール６１は、縦横方向のマトリックス状に複数のガンマ線検出器が配列されており、ガンマ線検出器の数を変えることにより、測定対象物（分析対象物１００）のサイズに応じてガンマ線強度分布を測定することが可能である。また、ガンマ検出器モジュール６１は、ガンマ線のエネルギスペクトル測定が可能であり、測定されたエネルギスペクトルに基づいて放射性核種特有のガンマ線ピークを捉えることができ、放射性核種を特定することが可能である。すなわち、燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００のどこにどのような放射性核種が分布しているのかを概略同定することが可能である。
【００２４】
また、ガンマカメラ装置６０は図示しない駆動装置により上下方向に移動可能に設けられており、Ｘ線ＣＴ装置での撮像で説明したように、収納容器３を周方向に回転しながら周方向について固定したガンマカメラ装置６０で収納容器３内部の分析対象物１００を周方向に走査測定することにより、収納容器３内部の分析対象物１００を周方向のあらゆる方向から測定することができ、ガンマ線強度分布データおよび放射性核種測定データを取得することが可能である。収納容器３内部の分析対象物１００の各周方向から測定したガンマ線強度分布データを用い、Ｘ線ＣＴのように物体の断層像を構築するアルゴリズムを応用することにより、ガンマ線強度および放射性核種の断層分布を画像化することができる。これは、単光子放出断層撮影（ＳＰＥＣＴ：Single Photon Emission Computed Tomography）と呼ばれる方法であり、この場合には、ガンマカメラ装置６０は単光子放出断層撮影装置ということができる。これにより、収納容器３内のどの位置にどの程度のどんな核種が分布しているかを２次元または３次元的に視覚化することが可能である。また、Ｘ線ＣＴ装置での撮像の場合と同様に、燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００が収納容器３に収納されずに搬入される場合であっても同じ測定方法が適用可能である。この場合には、分析対象物１００の周囲へのガンマ線の影響を低減するために、測定方向の視野を絞ったコリメータをガンマカメラ装置６０（すなわち、ガンマ線検出器モジュール６１）に装着する等の対策を実施することが望ましい。
【００２５】
また、図示していないが、搬入された燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００が薄い板状のものである場合には、周方向データを測定せずに、内部のガンマ線強度分布または放射性核種分布を把握することは可能である。この場合には、板状の物質においてより厚さの薄い方向をガンマカメラ装置６０が向くようにして測定すればよい。
【００２６】
なお、本実施の形態では、ガンマカメラ装置６０をＸ線ＣＴ装置に追設する場合を例示して説明したが、これに限られず、独立した装置として用いてもよい。
【００２７】
図４は、非破壊検査装置のさらに他の一例である光学ステレオカメラ装置を概略的に示す図である。
【００２８】
図４において、光学ステレオカメラ装置７０は、燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００の表面形状を測定するものであり、分析対象物１００がベルトコンベヤ７１上を搬送されて光学ステレオカメラ装置７０による撮像位置７０ａに搬送される様子を示している。光学ステレオカメラ装置７０では、起伏がある複雑な形状をした分析対象物１００の表面形状（各部位の座標）を測定することが可能となる。また、撮像位置７０ａに設けられた回転テーブル７２により分析対象物１００を水平方向に回転させながら光学ステレオカメラ装置７０で測定することにより、分析対象物１００の表面形状を３次元的に測定することが可能である。
【００２９】
なお、図示しないが、起伏の少ない、単純形状の分析対象物１００を測定する場合には、光学ステレオカメラ装置７０ではなく、光学カメラ装置を用いて分析対象物１００を撮像することが可能である。この場合の光学カメラ装置は専用の光学カメラ装置を用いても良いし、光学ステレオカメラ装置７０と共用の光学カメラ装置を用いることも可能である。
【００３０】
また、図示しないが、光学ステレオカメラ装置７０と同様の効果を得る方法として、レーザー形状測定装置を使用することも可能である。レーザー形状測定装置を使用すれば、光学ステレオカメラ装置７０と比較して、環境の照度等、周囲の光の影響を受ける可能性がなく、さらに高精度の測定が可能となる。
【００３１】
また、図示しないが、非破壊測定装置の他の一例として、燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００の温度分布を測定するサーモグラフィを使用することも可能である。
【００３２】
また、図示しないが、非破壊測定装置のさらに他の一例として、燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００から放出される放射線量を測定する放射線検出装置を使用することも可能である。
【００３３】
図５は、表示装置に表示される非破壊測定対象確認画面を示す図である。
【００３４】
図５において、非破壊測定対象確認画面８０は、分析対象物１００に適用する非破壊測定方法（すなわち、非破壊測定装置）の選択を支援するための画面であり、どのような分析対象物１００（燃料デブリやガレキ）に対して非破壊測定方法を選択し適用しようとしているかを確認するための情報を表示する画面である。
【００３５】
非破壊測定対象確認画面８０は、非破壊測定を実施しようとしている分析対象物１００の識別ＩＤを表示するＩＤ表示部８０ａと、分析対象物１００に付された名称を表示する名称表示部８０ｂと、分析対象物１００に関する受入日時や採取場所、サイズ、重量などの情報を表示する情報表示部８０ｃと、分析対象物１００の画像を表示する画像表示部８０ｄと、分析対象物１００に適用する非破壊測定方法を選択するための非破壊測定方法選択画面８１（後の図６参照）を表示するための非破壊測定方法選択画面表示ボタン８０ｅとを有している。オペレータは、非破壊測定対象確認画面８０に表示されている各種情報を確認した上で、入力装置４０の操作に連動するカーソル４０ａにより非破壊測定方法選択画面表示ボタン８０ｅを押下（選択）し、非破壊測定方法選択画面８１を表示装置３０に表示させる。
【００３６】
図６は、表示装置に表示される非破壊測定方法選択画面を示す図である。
【００３７】
図６において、非破壊測定方法選択画面８１は、分析対象物１００の識別ＩＤを表示するＩＤ表示部８１ａと、分析対象物１００に付された名称を表示する名称表示部８１ｂと、分析対象物１００に適用する非破壊測定方法を選択する非破壊測定方法選択部８１ｃと、選択した非破壊測定選択方法を決定するＯＫボタン８１ｄと、非破壊測定方法選択画面８１での選択内容をキャンセルするキャンセルボタン８１ｅとを有している。オペレータは、非破壊測定方法選択画面８１に表示された情報を確認しつつ、非破壊測定方法確認部８１ｃに表示された複数の非破壊測定方法から適用する方法を選択して決定する。なお、選択する非破壊測定方法の数は１つでもよいし、複数選択することも可能である。
【００３８】
以上のように、本実施の形態の総合情報管理システムは、操作結果に基づいて適用対象となる燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００と適用する非破壊測定方法の情報を関連付け、非破壊測定方法関連情報として記憶装置５０の一部（非破壊測定方法関連情報記憶装置）に記憶する機能（非破壊測定方法関連付け機能）を有している。そして、この非破壊測定方法関連情報に基づき、適用対象となる分析対象物１００は、該当する非破壊測定方法を実施するための測定室に搬送される。非破壊測定方法を実施するための測定室では、非破壊測定方法関連情報を照合する機能（非破壊測定方法照合機能）を有しており、搬送された燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００が非破壊測定方法関連情報に基づくものかどうかを確認・照合することができる。
【００３９】
図７は、Ｘ線ＣＴ装置で測定されたデータに基づいて構築した３次元画像におけるサンプル領域の設定の一例を示す図である。
【００４０】
Ｘ線ＣＴ装置では、物体の内部形状だけでなく、材質により異なる密度の情報も測定可能である。これは、Ｘ線源として加速器などを使用した高エネルギＸ線ＣＴ装置の場合に特に精度が高くなる。本実施の形態では、加速器を使用した高エネルギＸ線ＣＴ装置により、０．９５ＭｅＶ以上の最大照射エネルギのＸ線を発生させることが可能である。そして、このＸ線ＣＴ撮影により得られた測定データ（密度情報）を３次元画像８２（或いは、３次元画像８２を構成する複数の断層像上）に表示する。
【００４１】
オペレータは、表示された３次元画像８２（密度情報を含む）に基づいて、サンプル領域８２ａを画面上で設定する。設定方法は、図７に示すように、マウス等の入力装置を使用して、画像上で任意の領域を選択する。なお、この方法により、画像上で複数のサンプル領域８２ａを同時に設定することも可能である。また、別の設定方法としては、オペレータが密度の範囲を数値的に入力し、その入力値に基づきシステム側で自動的に領域を判定し、その領域を画像上に表示することでサンプル領域８２ａを設定することも可能である。また、オペレータによる操作や数値の入力無しで、予め定めた条件に基づいてサンプル領域８２ａを自動設定する方法を用いてもよい。自動判定の結果、オペレータの意図にそぐわない領域が設定されたり、設定された領域が過大、或いは過小であったりする場合には、領域の削除やサイズ変更等が可能である。なお、領域が不足している場合には、先に述べたマウス入力による方法も併用して設定することが可能である。
【００４２】
図８は、Ｘ線ＣＴの３次元画像とサンプル領域画像を示す図である。
【００４３】
図８に示すように、サンプル領域８２ａは、Ｘ線ＣＴの３次元画像８２とは別のサンプル領域画像８３（サンプル画像データ）として記憶装置５０に保存される。さらには、適用対象となる燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００と関連付ける機能（サンプリング部位関連付け機能）により、サンプリング部位関連情報として総合情報管理システム上の記憶装置５０の一部（サンプリング部位関連情報記憶装置）に登録される。このサンプリング部位関連情報に基づき、適用対象となる燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００は、サンプル採取室に搬送される。サンプル採取室では、サンプリング部位関連情報照合機能により、サンプリング部位関連情報を照合することにより、搬送された燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００がサンプリング部位関連情報に基づくものかどうかを確認することができる。
【００４４】
図９は、表示装置に表示される分析データ確認画面を示す図である。
【００４５】
図９において、分析データ確認画面８４は、サンプリング領域８２ａとして設定して採取するサンプルに適用する分析方法の選択を支援するための画面であり、どのサンプルに対して分析方法を選択し適用しようとしているかを確認するための情報を表示する画面である。
【００４６】
分析データ確認画面８４は、選択した分析方法を適用しようとしているサンプルの識別ＩＤを表示するＩＤ表示部８４ａと、に付された名称を表示する名称表示部８４ｂと、サンプルに関する受入日時や採取場所、サイズ、重量などの情報を表示する情報表示部８４ｃと、サンプルの画像を表示する画像表示部８４ｄと、サンプルに適用する分析方法を選択するための分析方法詳細選択画面８５（後の図１０参照）を表示するための分析方法選択画面表示ボタン８４ｅとを有している。オペレータは、分析データ確認画面８４に表示されている各種情報を確認した上で、入力装置４０の操作に連動するカーソル４０ａにより分析方法選択画面表示ボタン８４ｅを押下（選択）し、分析方法詳細選択画面８５を表示装置３０に表示させる。
【００４７】
図１０は、表示装置に表示される分析方法詳細選択画面を示す図である。
【００４８】
図１０において、分析方法詳細選択画面８５は、サンプリング領域８２ａとして設定し採取する分析対象物１００のサンプルの識別ＩＤを表示するＩＤ表示部８５ａと、サンプルに付された名称を表示する名称表示部８５ｂと、サンプルに適用する分析方法を選択する分析方法選択部８５ｃと、分析方法選択部８５ｃで選択した分析方法の実施順序を設定する分析順序設定部８５ｄと、選択した分析方法を決定するＯＫボタン８５ｅと、分析方法詳細選択画面８５での選択内容をキャンセルするキャンセルボタン８５ｆとを有している。オペレータは、分析方法詳細選択画面８５に表示された情報を確認しつつ、分析方法選択部８５ｃに表示された複数の分析方法から適用する方法を選択して決定し、分析順序設定部８５ｄに分析順序を入力（又は選択）して決定する。なお、選択する分析方法の数は１つでもよいし、複数選択することも可能である。
【００４９】
図１１は、本実施の形態の総合情報管理システムにおける処理の流れを示すフローチャートである。
【００５０】
本実施の形態では、燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００を受け入れ、それらに対して分析を実施する施設に設置される場合を想定している。
【００５１】
本実施の形態の総合情報管理システムでは、まず、当該施設に燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００を受け入れる受入処理を行う(ステップＳ１００)。続いて、不定形・不均質な状態となっている分析対象物１００に対して、どこをサンプリングし、何を分析するのかを決定するための情報を得るために、分析対象物１００に対して非破壊測定処理を実施する(ステップＳ２００)。この非破壊測定処理では、Ｘ線ＣＴなど、形状や状態に関する情報を画像化可能なものを想定している。次に、ステップＳ２００の非破壊測定処理の結果に基づき、サンプリング領域８２ａを設定するサンプリング部位設定処理を実施する(ステップＳ３００)。続いて、ステップＳ３００で設定したサンプリング領域８２ａから採取するサンプルに対する分析方法や分析手順の詳細を選択・決定する(ステップＳ４００)。次に、ステップＳ４００での選択・決定情報に基づき、燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００からのサンプリング処理を実施し、得られたサンプルのそれぞれに対して分析処理を実施する(ステップＳ５００)。
【００５２】
以上のように構成した本実施の形態における効果を説明する。
【００５３】
原子力発電所などの原子力施設において事故が万一発生した場合、その事故の度合いによっては溶融した原子炉燃料の断片(以下、燃料デブリと称する)や、建屋の損傷等によりガレキ等の廃棄物が発生する場合がある。このようにして生じた燃料デフリやガレキは、設計時や設置時の形状を留めていない場合が考えられる。例えば、原子炉燃料が溶融した場合には、燃料を構成する物質だけではなく、燃料を保持する構造材や原子炉内の他の構造物が高温で溶けて燃料と混合し、あるいは燃料と化学反応することにより、不定形・不均質な状態となって初期の形状を留めていないことが考えられる。また、ガレキにおいても破壊等によって設計時とは異なる形状となっていることが考えられる。
【００５４】
そのため、従来技術のように、スクリーニング対象であるＭＯＸ燃料棒を軸方向にローラで送り出しながら、Ｘ線透過装置や放射線計測装置等により寸法や放射能汚染等の測定を行い、不良ペレットの検出などを行う方法では、燃料デブリやガレキに対してスクリーニングを実施することは不可能であった。
【００５５】
また、燃料デブリやガレキに対しては、サンプルを採取する位置（サンプリング箇所）や、何をサンプリングしてどのような分析を実施するかという事などを事前に決定することが不可能であり、したがって、サンプリング箇所や分析手順をそのつど実施しなければならないという問題もあった。
【００５６】
これに対して本実施の形態においては、分析対象物の形状、温度、及び内部の状態について非破壊測定を行う複数の非破壊測定装置を備え、複数の非破壊測定装置から分析対象物の非破壊測定に用いる少なくとも一つの非破壊測定装置を選択する非破壊測定方法選択機能と、非破壊測定方法選択機能により選択した非破壊測定装置により測定した分析対象物の形状、温度、及び内部の状態についての測定データを表示する表示機能と、表示機能により表示された測定データ上で分析対象物におけるサンプルの採取位置を設定するサンプリング部位設定機能と、サンプリング部位設定機能により設定された分析対象物のサンプルに対して用いる少なくとも一つの分析方法を複数の分析方法から選択的に設定する分析方法選択機能とを有するように構成したので、燃料デブリやガレキ等に対するサンプリング箇所の決定や、その後の分析手順の決定の効率的な実施を支援することができる。
【００５７】
＜第２の実施の形態＞
本発明の第２の実施の形態を図１２を参照しつつ説明する。
【００５８】
本実施の形態は、Ｘ線ＣＴ装置により得られた測定データを基に構築した３次元画像と、ガンマカメラ装置により得られた測定データを基に構築した断層画像とを重ね合わせて表示する場合を示すものである。
【００５９】
図１２は、Ｘ線ＣＴ装置により得られた測定データを基に構築した３次元画像と、ガンマカメラ装置により得られた測定データを基に構築した断層画像とを重ね合わせた重ね合わせ画像を示す図である。図中、第１の実施の形態と同様の部材には同じ符号を付し、説明を省略する。
【００６０】
図１２において、重ね合わせ画像８６は、本実施の形態の総合情報管理システムの測定データ重ね合わせ表示機能により得られた画像であり、非破壊検査装置１０の１つであるＸ線ＣＴ装置により得られた測定データ、すなわち形状情報を持った断層像の上に、ガンマカメラ装置６０により得られた測定データ、すなわち放射性核種を線源とする線源集積部８６ａの情報が重ねて表示されている。このように、異なる測定方法により得られる情報を重ね合せ画像８６として生成し、表示することで、分析対象とすべき部位を放射性核種に基づき、サンプル領域８２ａとして設定することが可能となる。
【００６１】
その他の構成は第１の実施の形態と同様である。
【００６２】
以上のように構成した本実施の形態においても第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
【００６３】
また、複数の非破壊測定方法により測定したデータを重ね合わせることにより、分析に当たってより詳細な情報を提供でき、燃料デブリやガレキ等に対するサンプリング箇所の決定や、その後の分析手順の決定をより効率化することが可能である。
【００６４】
＜第３の実施の形態＞
本発明の第３の実施の形態を図１３を参照しつつ説明する。
【００６５】
本実施の形態は、第２の実施の形態で得られた重ね合わせ画像８６と、光学ステレオカメラ装置７０により得られた表面形状のデータとを重ね合わせて表示する場合を示すものである。
【００６６】
図１３は、Ｘ線ＣＴ装置により得られた測定データを基に構築した３次元画像と、ガンマカメラ装置により得られた測定データを基に構築した断層画像とを重ね合わせた重ね合わせ画像に、さらに、光学ステレオカメラ装置により得られた表面形状のデータを重ね合わせた重ね合わせ画像を示す図である。図中、第１及び第２の実施の形態と同様の部材には同じ符号を付し、説明を省略する。
【００６７】
図１３において、重ね合わせ画像８７は、本実施の形態の総合情報管理システムの測定データ重ね合わせ表示機能により得られた画像であり、重ね合わせ画像８６に、さらに、非破壊検査装置１０の１つである光学ステレオカメラ装置７０により得られた表面形状のデータが重ねて表示されている。このような重ね合せにより、線源集積部８７ａが燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００の表面からどの程度はなれた位置にあるかを正確に捉えることが可能である。図１３においては、十字８７ｂで示した表面上のある一点（基準点）から線源集積部８７ａまでの距離情報を示す画面例を表している。この情報を使用することで、サンプリングの際に、サンプリング装置をどの程度深くまで動かせばよいかと言うことの指標を得ることができる。
【００６８】
その他の構成は第１及び第２の実施の形態と同様である。
【００６９】
以上のように構成した本実施の形態においても第１及び第２の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
【００７０】
なお、本実施の形態では光学カメラ装置７０を用いる場合を例示して説明したが、分析対象物１００の表面形状のデータを得る方法として、レーザー形状測定装置を用いる場合においても同様の効果を得ることができる。
【００７１】
＜第４の実施の形態＞
本発明の第４の実施例を図１４〜１７を参照しつつ説明する。
【００７２】
図１４は、本実施の形態の総合情報管理システムにおける処理の流れの概略を示すフローチャートである。
【００７３】
図１４において、本実施の形態の総合情報管理システムでは、まず、サンプリング領域を選択する処理（ステップＳ３００）の後で、採取するサンプルの分類を選択する処理(ステップＳ６００)を実施する。受け入れる燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００が不定形・不均質であることからその都度分析方法を決定する必要がある。しかしながら、分析の目的に応じてどのような分析をどのような手順で実施するかについては、ある程度事前に決めておくことが可能な場合がある。ステップＳ６００の処理により、サンプルを分類することによって、分析プロセスを概略決定することで、分析手順の決定を支援することができる。
【００７４】
図１５は、図１４に示した本実施の形態の総合情報管理システムの処理の詳細を示すフローチャートであり、燃料デブリやガレキ等の分析対象物を受け入れてから、最終的な報告ドキュメントを作成するまでの一連の流れの例を示したものである。
【００７５】
図１５において、本実施の形態の総合情報管理システムでは、まず、当該施設に燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００を受け入れる受入処理を行い(ステップＳ１００)、続いて、分析対象物１００の基本測定処理を実施する（ステップＳ１１０）。次に、不定形・不均質な状態となっている分析対象物１００に対して、どこをサンプリングし、何を分析するのかを決定するための情報を得るために、分析対象物１００に対して非破壊測定処理を実施する(ステップＳ２００)。次に、ステップＳ２００の非破壊測定処理の結果に基づき、サンプリング領域８２ａを設定するサンプリング部位設定処理を実施する(ステップＳ３００)。続いて、採取するサンプルの分類を選択するサンプル分類選択処理を実施する(ステップＳ６００)。続いて、ステップＳ３００で設定したサンプリング領域８２ａから採取するサンプルに対する分析方法や分析手順の詳細を選択・決定する(ステップＳ４００)。次に、ステップＳ４００での選択・決定情報に基づき、燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００からのサンプリング処理を実施し（ステップＳ５１０）、得られたサンプルのそれぞれに対して分析処理を実施する(ステップＳ５２０)。ステップＳ５２０の分析処理では、例えば、サンプル分類として切断・加工処理（ステップＳ５２１）、除染処理（ステップＳ５２２）、詳細非破壊測定処理（ステップＳ５２３）、破壊測定処理（ステップＳ５２４）、精密分析処理（ステップＳ５２５）、特殊分析処理（ステップＳ５２６）等の分析処理を実施する。例えば、ステップＳ５２１の切断・加工処理では、分析対象物１００である燃料デブリのじん性等、機械的強度を分析するための試験片を作成して引張・圧縮試験を実施する。また、ステップＳ５２５の精密分析では、分析対象物１００である燃料デブリの組織観察を走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ：Scanning Electron Microscope）や透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ：Transmission Electron Microscope）等で実施することが考えられる。次に、総合診断を実施し（ステップＳ７００）、続いて、ドキュメント作成を行う（ステップＳ８００）。
【００７６】
図１６は、表示装置に表示されるサンプル確認画面を示す図である。
【００７７】
図１６において、サンプル確認画面８８は、分析対象物１００のサンプル分類を支援するための画面であり、どのような分析対象物１００（燃料デブリやガレキ）に対してサンプル分類を実施しようとしているかを確認するための情報を表示する画面である。
【００７８】
サンプル確認画面８６は、サンプル分類を実施しようとしている分析対象物１００の識別ＩＤを表示するＩＤ表示部８８ａと、分析対象物１００に付された名称を表示する名称表示部８８ｂと、分析対象物１００に関する受入日時や採取場所、サイズ、重量などの情報を表示する情報表示部８８ｃと、分析対象物１００のサンプル画像を表示する画像表示部８８ｄと、分析対象物１００に適用するサンプル分類の種類を選択し、サンプル分類・分析方法詳細選択画面８９（後の図７参照）を表示するための各種選択ボタン８８ｅ〜８８ｊとを有している。オペレータは、サンプル画面８８に表示されている各種情報を確認した上で、入力装置４０の操作に連動するカーソル４０ａにより各種分類ボタン８８ｅ〜８８ｊの何れかを押下（選択）し、サンプル分類・分析方法詳細選択画面８９を表示装置３０に表示させる。
【００７９】
図１７は、サンプル確認画面の精密分析に関する選択ボタンを押下した場合に表示される、サンプル分類・分析方法詳細選択画面の一例を示す図である。
【００８０】
図１７において、精密分析に関する選択ボタン８８ｉを押下した場合に表示されるサンプル分類・分析方法詳細選択画面８９は、分析対象物１００の識別ＩＤを表示するＩＤ表示部８９ａと、分析対象物１００に付された名称を表示する名称表示部８９ｂと、分析対象物１００に適用するサンプル分類に適用される分析方法を選択する分析方法選択部８９ｃと、サンプル分類・分析方法詳細選択画面８９での分析方法の選択を決定するＯＫボタン８９ｄと、サンプル分類・分析方法詳細選択画面８９での選択内容をキャンセルするキャンセルボタン８９ｅとを有している。図１７では、精密分析の場合に適用される分析方法をあらかじめ表示してある。オペレータは、この中から適当な分析方法を選択する。さらに、分析の順序を画面上で指定することも可能である。また、利便性の観点から、必要に応じて、あらかじめ設定されている分析方法以外の方法を追加できるようにしておくことが望ましい。
【００８１】
その他の構成は第１の実施の形態と同様である。
【００８２】
以上のように構成した本実施の形態においても、第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
【００８３】
＜第５の実施の形態＞
本発明の第５の実施の形態について、図１８〜図２２を参照しつつ説明する。
【００８４】
本実施の形態は、分析対象物である燃料デブリやガレキと分析のために採取されたサンプルのトレーサビリティを確保する処理を行うものである。
【００８５】
図１８は、本実施の形態の総合情報管理システムにおける処理の流れの概略を示すフローチャートである。図中、第１の実施の形態と同様の部材には同じ符号を付し、説明を省略する。
【００８６】
図１８において、本実施の形態の総合情報管理システムでは、まず、当該施設に燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００を受け入れる受入処理を行い(ステップＳ１００)、続いて、受け入れた分析対象物１００に親ＩＤを付与する親ＩＤ付与処理を行う(ステップＳ１２０)。ここで親ＩＤとは、すべての分析対象（サンプル等）の元になる分析対象物１００に付与されるものであり、この分析対象物１００から子サンプル（子ＩＤを付与）や孫サンプル（孫ＩＤを付与）といった派生サンプルが発生する。続いて、不定形・不均質な状態となっている分析対象物１００に対して、どこをサンプリングし、何を分析するのかを決定するための情報を得るために、分析対象物１００に対して非破壊測定処理を実施する(ステップＳ２００)。次に、ステップＳ２００の非破壊測定処理の結果に基づき、サンプリング領域８２ａを設定するサンプリング部位設定処理を実施する(ステップＳ３００)。続いて、採取するサンプルの分類を選択するサンプル分類選択処理を実施する(ステップＳ６００)。続いて、ステップＳ３００で設定したサンプリング領域８２ａから採取するサンプルに対する分析方法や分析手順の詳細を選択・決定する(ステップＳ４００)。次に、ステップＳ４００での選択・決定情報に基づき、燃料デブリやガレキ等の分析対象物１００からのサンプリング処理を実施し（ステップＳ５１０）、ここで得られたサンプルへのＩＤ・親情報付与処理、および、分析対象物１００へのサンプル情報付与処理を実施する（ステップＳ５１５）。このとき、どの分析対象物１００から採取したサンプルかが明確になるように、新たに付与された子ＩＤとともに、親ＩＤ等の親情報を付与する。同時に、分析対象物１００に付与した親ＩＤに、このサンプルの子ＩＤ等の子サンプルの情報を追加する。分析対象物１００から派生するサンプルは、当然複数あってもかまわず、それぞれのサンプルに他と識別が可能な子ＩＤを付与する。同時に親ＩＤに、複数の子ＩＤ等の子サンプルの情報が追加される。さらに、子サンプルから孫サンプルが採取される場合であっても、同様なＩＤ等の情報付与、追加を実施する。ステップＳ５１５の処理に続いて、得られたサンプルのそれぞれに対して分析処理を実施し(ステップＳ５２０)、その分析データをＩＤ情報等に取り込む処理を実施する(ステップＳ５３０)。
【００８７】
図１９〜図２２は、図１８で説明した各世代の分析対象物やサンプル、及びそれらの個体情報に付与されるＩＤ等の対応の一例を示す図である。
【００８８】
図１９は容器に収容された分析対象物を、図２０は非破壊測定の測定データに基づいて得られた３次元画像を、図２１は３次元画像で設定されたサンプル領域画像を、図２２はサンプル領域画像に基づいて採取され容器に収容されたサンプルをそれぞれ示す図である。
【００８９】
図１９において、容器１０１に収容された分析対象物１００には、識別用媒体１０１ａが付与される。識別用媒体１０１ａには、分析対象物１００の受入時に総合情報システムに登録された分析対象物情報１９ａとして、受入日時、どこから搬入されたか等の受入物に関する情報、及び発行された親ＩＤ１１９が書き込まれる。識別用媒体１０１ａは、例えば、放射線環境下における耐久性を有するバーコードであり、親ＩＤの取得時に容器１０１、或いは分析対象物１００に貼り付けることにより設置される。なお、バーコードは、オペレータがそのバーコードに読み取り器を近づけて読み取る必要があるため、より利便性を高めるために、耐放射線性を有するＩＣタグ（ＲＦＩＤ）を利用してもよい。ＩＣタグを用いるであれば、無線で情報をやり取りできるため、人手を介する必要がない。
【００９０】
図２０において、非破壊測定の測定データに基づいて得られた３次元画像１０３には、分析対象物データ情報２０ａとして、受入日時や非破壊測定方法に関する情報、親ＩＤ１１９、子サンプルＩＤ１２０、及び孫サンプルＩＤ等が付与される。この３次元画像１０３が生成された時点で、分析対象物情報１９ａには、適用した非破壊測定方法の情報も追記される。適用した非破壊測定方法が複数の場合には、その数だけ３次元画像１０３が生成されるので、分析対象物情報１９ａには、そのすべての３次元画像１０３のファイル名等の情報が追記される。
【００９１】
図２１において、３次元画像１０３で設定されたサンプル領域１０５に関するサンプル領域画像１０４には、サンプルデータ情報２１ａとして、サンプリング日時、分析方法、分析データ、子サンプルＩＤ１２０、及び親ＩＤ１１９等が付与される。また、サンプル領域画像１０４が生成されると同時に、分析対象物データ情報２０ａには、子サンプルＩＤ１２０に関する情報が付加される。
【００９２】
図２２において、容器１０２に収容されたサンプル１００ａには、識別用媒体１０２ａが付与される。識別用媒体１０２ａには、サンプル情報２２ａとして、子サンプルＩＤ１２０及び親ＩＤ１１９が書き込まれる。
【００９３】
なお、孫サンプルが発生する場合にも同様の処理を実施する。実際に分析を実施した後では、その分析結果や分析データに関する、ファイル名等の情報を子サンプルＩＤ情報に追記しておく。
【００９４】
その他の構成は第１の実施の形態と同様である。
【００９５】
以上のように構成した本実施の形態においても、第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
【００９６】
また、本実施の形態のデータ管理方法により、データを一元管理でき、またトレーサビリティを確保できるため、データ管理を効率化することが可能である。
【００９７】
さらに、本実施の形態により、燃料デブリやガレキから派生したサンプルとそれに関する情報をシステム上で一元管理することができ、トレーサビリティを確保できるため、データを効率的に管理することが可能である。
【符号の説明】
【００９８】
１  Ｘ線源
２  Ｘ線検出器
３  収納容器
３ａ  駆動機構
４，５  設置治具
６，７  ガイドレール
１０  被破壊測定装置
２０  制御装置
３０  表示装置
４０  入力装置
５０  記憶装置
６０  ガンマカメラ装置
６１  ガンマ線検出器モジュール６１
６２  検出器制御装置
７０  光学ステレオカメラ装置
７１  ベルトコンベヤ
７２  回転テーブル
８０  非破壊測定対象確認画面
８１  被破壊測定方法選択画面
８２  ３次元画像
８３  サンプル領域画像
８４  分析データ確認画面
８５  分析方法詳細選択画面
８６，８７  重ね合わせ画像
８８  サンプル確認画面
８９  サンプル分類・分析方法詳細選択画面
１００  分析対象物
１０１，１０２  容器
１０１ａ，１０２ａ  識別用媒体
１１９  親ＩＤ
１２０  子サンプルＩＤ
【図１】
2016008884.tif 000003
【図２】
2016008884.tif 000004
【図３】
2016008884.tif 000005
【図４】
2016008884.tif 000006
【図５】
2016008884.tif 000007
【図６】
2016008884.tif 000008
【図７】
2016008884.tif 000009
【図８】
2016008884.tif 000010
【図９】
2016008884.tif 000011
【図１０】
2016008884.tif 000012
【図１１】
2016008884.tif 000013
【図１２】
2016008884.tif 000014
【図１３】
2016008884.tif 000015
【図１４】
2016008884.tif 000016
【図１５】
2016008884.tif 000017
【図１６】
2016008884.tif 000018
【図１７】
2016008884.tif 000019
【図１８】
2016008884.tif 000020
【図１９】
2016008884.tif 000021
【図２０】
2016008884.tif 000022
【図２１】
2016008884.tif 000023
【図２２】
2016008884.tif 000024