(57)【要約】【課題】発光素子の光量を測定することなく、発光素子の劣化を判別可能な光出力劣化判別装置等を提供する。【解決手段】本発明に係る光出力劣化判別装置１０は、レーザダイオード３１の劣化を判別する光出力劣化判別装置であって、レーザダイオード３１の温度を測定するＬＤ温度センサ１１と、ＬＤ温度センサ１１によって測定されたレーザダイオード３１の発光時の温度に基づいて、当該レーザダイオード３１の劣化を判別する劣化判別部１４とを備える。【選択図】図１
2016008902.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電流駆動型の発光素子の劣化を判別する光出力劣化判別装置であって、
前記発光素子の温度を測定する第１温度センサと、
前記第１温度センサによって測定された前記発光素子の発光時の温度に基づいて、当該発光素子の劣化を判別する劣化判別部とを備える
光出力劣化判別装置。
【請求項２】
前記劣化判別部は、前記温度の変化率を用いて、当該発光素子の劣化を判別する
請求項１に記載の光出力劣化判別装置。
【請求項３】
前記光出力劣化判別装置は、さらに、当該光出力劣化判別装置の雰囲気温度を測定する第２温度センサを備え、
前記劣化判別部は、前記第２温度センサによって測定された前記雰囲気温度に応じて基準時間を決定し、前記発光素子の温度が所定の温度だけ変化するのに要した時間が決定した当該基準時間よりも長い場合、前記発光素子が劣化していると判別する
請求項１又は２に記載の光出力劣化判別装置。
【請求項４】
前記劣化判別部は、前記発光素子の発光直後の前記温度の変化率を用いて、当該発光素子の劣化を判別する
請求項１〜３のいずれか１項に記載の光出力劣化判別装置。
【請求項５】
前記光出力劣化判別装置は、さらに、前記発光素子を冷却する冷却部材を備え、
前記劣化判別部は、前記冷却部材による前記発光素子の冷却後の前記温度の変化率を用いて、当該発光素子の劣化を判別する
請求項１〜３のいずれか１項に記載の光出力劣化判別装置。
【請求項６】
前記冷却部材は、前記発光素子を第１温度より低い第２温度まで冷却し、
前記劣化判別部は、前記冷却部材による前記発光素子の冷却後に、前記発光素子の温度が前記第１温度まで上昇した後の前記温度の変化率を用いて、当該発光素子の劣化を判別する
請求項５に記載の光出力劣化判別装置。
【請求項７】
前記劣化判別部は、前記発光時の前記発光素子の温度と当該発光素子の発光前の温度との差が所定温度を超えた場合、前記発光素子が劣化していると判別する
請求項１に記載の光出力劣化判別装置。
【請求項８】
前記光出力劣化判別装置は、さらに、前記発光素子の光量を測定する光検出センサを備え、
前記劣化判別部は、前記第１温度センサによって測定された温度が前記光検出センサの動作保証温度の範囲内の場合、前記光検出センサを用いて、前記発光素子の劣化を判別し、当該温度が当該動作保証温度の範囲外の場合、前記発光素子の発光時の温度を用いて、当該発光素子の劣化を判別する
請求項１〜７のいずれか１項に記載の光出力劣化判別装置。
【請求項９】
請求項１〜８のいずれか１項に記載の光出力劣化判別装置を備えるヘッドアップディスプレイ装置であって、
前記ヘッドアップディスプレイ装置は、
前記発光素子として、レーザ光を出力するレーザダイオードを備え、
さらに、
前記レーザダイオードから出射されたレーザ光を走査する駆動部と、
前記レーザダイオードへの電流供給を制御する、及び、前記駆動部の走査を制御することにより、投影面に画像を投影させる制御部とを備える
ヘッドアップディスプレイ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電流駆動型の発光素子の劣化を判別する光出力劣化判別装置及びそれを備えるヘッドアップディスプレイ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、レーザダイオード（ＬＤ）を用いたセンサや、当該レーザダイオードから出射された光を投射面に投影することにより、当該投射面上に画像を表示する各種の画像表示装置等が実用化されている。しかしながら、レーザダイオードは、一定の駆動電流が供給された場合であっても、劣化によって光量が減少する場合がある。
【０００３】
特許文献１には、レーザダイオードの駆動電流を最大安全電流としたときの当該レーザダイオードの光量が限界値を下回っている場合に、当該レーザダイオードが劣化していると判別する構成が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平０７−１３１０９３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
このような光量を測定する構成として、例えば、ＯＥＩＣ（Ｏｐｔｏ−Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）を用いて、レーザ光を受光し電気信号に変換して、受光した光量を示すＡ／Ｄ値と基準値のＡ／Ｄ値を比較することで劣化を検出する構成が考えられる。
【０００６】
しかしながら、ＯＥＩＣ等は動作温度範囲が比較的狭いために、劣化を判別する際の温度条件が限定されるという問題がある。
【０００７】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、発光素子の光量を測定することなく、発光素子の劣化を判別可能な光出力劣化判別装置及びそれを備えるヘッドアップディスプレイ装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本発明の一態様に係る光出力劣化判別装置は、電流駆動型の発光素子の劣化を判別する光出力劣化判別装置であって、前記発光素子の温度を測定する第１温度センサと、前記第１温度センサによって測定された前記発光素子の発光時の温度に基づいて、当該発光素子の劣化を判別する劣化判別部とを備える。
【０００９】
これにより、発光素子の光量を測定することなく、当該発光素子の劣化を判別することができる。
【００１０】
例えば、前記劣化判別部は、前記温度の変化率を用いて、当該発光素子の劣化を判別してもよい。
【００１１】
また、例えば、前記光出力劣化判別装置は、さらに、当該光出力劣化判別装置の雰囲気温度を測定する第２温度センサを備え、前記劣化判別部は、前記第２温度センサによって測定された前記雰囲気温度に応じて基準時間を決定し、前記発光素子の温度が所定の温度だけ変化するのに要した時間が決定した当該基準時間よりも長い場合、前記発光素子が劣化していると判別してもよい。
【００１２】
これにより、光出力劣化判別装置の雰囲気温度に応じた適切な基準時間を用いて劣化を判別できる。言い換えると、発光素子の動作温度に応じた適切な基準時間を用いて劣化を判別できる。よって、発光素子の劣化を精度良く判別できる。
【００１３】
また、例えば、前記劣化判別部は、前記発光素子の発光直後の前記温度の変化率を用いて、当該発光素子の劣化を判別してもよい。
【００１４】
これにより、発光素子が点灯してから予め定められた時間が経過した後に劣化を判別する場合と比較して、当該発光素子の劣化を精度良く判別できる。
【００１５】
また、例えば、前記光出力劣化判別装置は、さらに、前記発光素子を冷却する冷却部材を備え、前記劣化判別部は、前記冷却部材による前記発光素子の冷却後の前記温度の変化率を用いて、当該発光素子の劣化を判別してもよい。
【００１６】
これにより、発光素子が点灯している状態で、当該発光素子の劣化を判別できる。
【００１７】
また、例えば、前記冷却部材は、前記発光素子を第１温度より低い第２温度まで冷却し、前記劣化判別部は、前記冷却部材による前記発光素子の冷却後に、前記発光素子の温度が前記第１温度まで上昇した後の前記温度の変化率を用いて、当該発光素子の劣化を判別してもよい。
【００１８】
これにより、発光素子が点灯している状態で、当該発光素子の劣化を精度良く判別できる。
【００１９】
また、例えば、前記劣化判別部は、前記発光時の前記発光素子の温度と当該発光素子の発光前の温度との差が所定温度を超えた場合、前記発光素子が劣化していると判別してもよい。
【００２０】
これにより、発光素子の劣化を精度良く判別できる。
【００２１】
また、例えば、前記光出力劣化判別装置は、さらに、前記発光素子の光量を測定する光検出センサを備え、前記劣化判別部は、前記第１温度センサによって測定された温度が前記光検出センサの動作保証温度の範囲内の場合、前記光検出センサを用いて、前記発光素子の劣化を判別し、当該温度が当該動作保証温度の範囲外の場合、前記発光素子の発光時の温度を用いて、当該発光素子の劣化を判別してもよい。
【００２２】
なお、本発明は、このような光出力劣化判別装置として実現することができるだけでなく、当該光出力劣化判別装置を備えるヘッドアップディスプレイ装置として実現することができる。すなわち、本発明の一態様に係るヘッドアップディスプレイ装置は、上述の光出力劣化判別装置を備え、前記ヘッドアップディスプレイ装置は、前記発光素子として、レーザ光を出力するレーザダイオードを備え、さらに、前記レーザダイオードから出射されたレーザ光を走査する駆動部と、前記レーザダイオードへの電流供給を制御する、及び、前記駆動部の走査を制御することにより、投影面に画像を投影させる制御部とを備えてもよい。
【発明の効果】
【００２３】
本発明によれば、発光素子の光量を測定することなく、発光素子の劣化を判別することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】実施の形態１に係る光出力劣化判別装置を備えるヘッドアップディスプレイ装置の構成を示すブロック図である。
【図２】実施の形態１における劣化判別部による劣化の判別について説明するための図である。
【図３】実施の形態１に係る光出力劣化判別装置の動作を示すフローチャートである。
【図４】実施の形態１における雰囲気温度と基準経過時間との関係を示す表である。
【図５】実施の形態１の変形例に係る光出力劣化判別装置の動作を示すフローチャートである。
【図６】実施の形態２における劣化判別部による劣化の判別について説明するための図である。
【図７】実施の形態２に係る光出力劣化判別装置の動作を示すフローチャートである。
【図８】実施の形態３に係る光出力劣化判別装置を備えるヘッドアップディスプレイ装置の構成を示すブロック図である。
【図９】実施の形態３における劣化判別部による劣化の判別について説明するための図である。
【図１０】実施の形態３に係る光出力劣化判別装置の動作を示すフローチャートである。
【図１１】実施の形態３の変形例における劣化判別部による劣化の判別について説明するための図である。
【図１２】実施の形態５に係る光出力劣化判別装置を備えるヘッドアップディスプレイ装置の構成を示すブロック図である。
【図１３】実施の形態５に係る光出力劣化判別装置の動作を示すフローチャートである。
【図１４】他の実施の形態に係る基準経過時間取得処理の一例を示すフローチャートである。
【図１５】他の実施の形態に係る基準温度変化量取得処理の一例を示すフローチャートである。
【図１６】他の実施の形態に係る基準経過時間取得処理の他の一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。なお、以下で説明する実施の形態は、いずれも本発明の好ましい一具体例を示すものである。以下の実施の形態で示される数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置位置及び接続形態、ステップ、ステップの順序などは、一例であり、本発明を限定する主旨ではない。本発明は、特許請求の範囲によって特定される。よって、以下の実施の形態における構成要素のうち、独立請求項に記載されていない構成要素については、本発明の課題を達成するのに必ずしも必要ではないが、より好ましい形態を構成するものとして説明される。
【００２６】
（実施の形態１）
［１．構成］
［１−１．ヘッドアップディスプレイ装置］
まず、本実施の形態に係る光出力劣化判別装置を備えるヘッドアップディスプレイ装置について、図１を用いて説明する。図１は、実施の形態１に係る光出力劣化判別装置１０を備えるヘッドアップディスプレイ装置１の構成を示すブロック図である。なお、同図には、ヘッドアップディスプレイ装置１によって投影される画像２も示されている。
【００２７】
同図に示すヘッドアップディスプレイ装置１は、実施の形態１に係る光出力劣化判別装置１０と、光学コントロール部２０と、光学エンジン３０とを備え、例えば、自動車のダッシュボード内部に設置されている。投影された画像２は、例えば、自動車の透明表示板（フロントガラス）に設けられたコンバイナで運転者に向けて反射される。
【００２８】
光出力劣化判別装置１０は、ＬＤ温度センサ１１と、雰囲気温度センサ１２と、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）１３とを備え、電流駆動型の発光素子の劣化を判別する。なお、この光出力劣化判別装置１０の詳細に構成については、後述する。
【００２９】
光学コントロール部２０は、レーザダイオードへの電流供給を制御する、及び、駆動部の走査を制御することにより、投影面に画像２を投影させる制御部の一例であり、画像２を示す情報に応じて光学エンジン３０を制御駆動する。
【００３０】
光学エンジン３０は、発光素子としてレーザダイオード（ＬＤ）３１を備え、さらに、レーザダイオード３１から出射されたレーザ光を走査する駆動部の一例であるＭＥＭＳ（ＭｉｃｒｏＥｌｅｃｔｒｏ  Ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ  Ｓｙｓｔｅｍｓ）ミラー３２を備え、光学コントロール部２０によって制御駆動されることにより画像２を投影する。
【００３１】
レーザダイオード３１は、例えば、赤色成分（Ｒ）、緑色成分（Ｇ）及び青色成分（Ｂ）のいずれかのレーザ光を出射する発光素子であり、光学コントロール部２０から供給される駆動電流により駆動され、単色成分のレーザ光を出力する。なお、ヘッドアップディスプレイ装置１は、互いに異なる色を出射する複数のレーザダイオード３１を備えてもよい。
【００３２】
ＭＥＭＳミラー３２は、光学コントロール部２０からの制御信号によって、水平方向及び垂直方向で走査変位される走査ミラーである。
【００３３】
このような構成により、ヘッドアップディスプレイ装置１は画像２を投影する。
【００３４】
［１−２．光出力劣化判別装置］
次に、上述の光出力劣化判別装置１０の構成について、詳述する。
【００３５】
ＬＤ温度センサ１１は、レーザダイオード３１の温度を測定する第１温度センサの一例であり、例えば、レーザダイオード３１に近接して設けられたサーミスタである。ＬＤ温度センサ１１は、測定した温度を示す情報をＣＰＵ１３に出力する。
【００３６】
雰囲気温度センサ１２は、光出力劣化判別装置１０の雰囲気温度を測定する第２温度センサの一例であり、例えば、ヘッドアップディスプレイ装置１の筐体（図示せず）に設けられたサーミスタである。雰囲気温度センサ１２は、測定した温度を示す情報をＣＰＵ１３に出力する。
【００３７】
ＣＰＵ１３は、ＬＤ温度センサ１１によって測定されたレーザダイオード３１の発光時の温度に基づいて、当該レーザダイオード３１の劣化を判別する劣化判別部１４を備える。また、ＣＰＵ１３は、ＬＤ温度センサ１１によって測定されたレーザダイオード３１の温度が、レーザダイオード３１の動作保証範囲外の場合に、光学コントロール部２０に対して、レーザダイオード３１の発光の停止や輝度の低下を指示する。
【００３８】
ここで、本発明者が鋭意検討の結果、レーザダイオード３１の発光時の温度に基づいて、当該レーザダイオード３１の劣化を判断することができることを見出した経緯について、説明する。
【００３９】
レーザダイオード３１をある一定の出力（光出力、光量とも言う）で連続発光させるには、レーザダイオード３１の劣化に伴い駆動電流を増加する必要がある。言い換えると、レーザダイオード３１に一定の駆動電流を流して連続発光させた場合には、当該レーザダイオード３１の劣化により光量が減少していく。
【００４０】
このことから、本発明者は、レーザダイオード３１へ供給した電力の全てが光量になるのではなく、一部の電力は、駆動電流を流したときにレーザダイオード３１で発生するジュール損失によって熱に変換されることを見出した。さらに、このジュール損失は、レーザダイオード３１の劣化により増加することを見出した。つまり、ジュール損失は、以下の式で表すことができる。
【００４１】
ジュール損失[J]＝（（レーザの電力）[W]−（レーザの光出力）[W]）×時間[sec]
【００４２】
つまり、レーザダイオード３１の温度は、ジュール損失が大きくなるほど高くなることを見出した。
【００４３】
そこで、本発明者は、レーザダイオード３１の温度を測定することで、ジュール損失量の増加を検出することができて、結果としてレーザダイオード３１の劣化が判別できると考え、本発明を創作するに至った。
【００４４】
［２．劣化判別処理］
以下、本実施の形態に係る光出力劣化判別装置１０によるレーザダイオード３１の劣化判別処理について、図２〜図４を用いて説明する。図２は、実施の形態１における劣化判別部１４による劣化の判別について説明するための図である。なお、図２の（ａ）は、劣化していない場合のレーザダイオード３１の温度特性（正常時特性）を示し、図２の（ｂ）は、劣化している場合のレーザダイオード３１の温度特性（劣化時特性）を示す。図３は、実施の形態１に係る光出力劣化判別装置１０の動作を示すフローチャートである。図４は、実施の形態１における雰囲気温度と基準経過時間との関係を示す表である。
【００４５】
図２に示すように、レーザダイオード３１を消灯状態から点灯した場合、劣化時特性は、正常時特性よりも温度変化の変化率が大きくなる。そこで、劣化判別部１４は、ＬＤ温度センサ１１によって測定されたレーザダイオード３１の発光時の温度の変化率を用いて、当該レーザダイオード３１の劣化を判別する。ここで、「温度の変化率」とは、レーザダイオード３１の発光中に生じた温度変化の変化率を指す。
【００４６】
具体的には、図３に示すように、劣化判別部１４は、レーザダイオード３１が点灯されると（Ｓ１０１）、経過時間の計測を開始する。その後、ＬＤ温度センサ１１によって測定された温度が目標温度に到達する（Ｓ１０２でＹｅｓ）まで、経過時間の計測を行う。ＬＤ温度センサ１１によって測定された温度が目標温度に到達すると（Ｓ１０２でＹｅｓ）、到達時の経過時間が基準経過時間を超えているか（オーバーしているか）否かを判断し（Ｓ１０３）、超えている場合（Ｓ１０３でＹｅｓ）には、レーザダイオード３１が劣化していると判別する（Ｓ１０４）。一方、到達時の経過時間が基準経過時間を超えていない場合（Ｓ１０３でＮｏ）には、レーザダイオード３１が正常である（劣化していない）と判別する（Ｓ１０５）。
【００４７】
このように、本実施の形態における劣化判別部１４は、レーザダイオード３１をＯＮ（点灯）させた場合に、目標温度に到達するまでの経過時間を基準経過時間と比較することにより、劣化を判別する。すなわち、レーザダイオード３１の発光時の温度の変化率を用いて劣化を判別する。
【００４８】
ここで、例えば、正常時特性は、ヘッドアップディスプレイ装置１の工場出荷前に予め取得されており、劣化判別部１４は、当該正常時特性を示す近似式を記憶していてもよい。これにより、劣化判別部１４は、当該近似式と当該目標温度とを用いて、基準経過時間を求めることができる。
【００４９】
また、例えば、劣化判別部１４は、図４に示すような、複数の雰囲気温度帯毎（例えば、２０℃毎）のそれぞれに対応する基準経過時間（例えば、Ｔｒｅｆ１、Ｔｒｅｆ２、Ｔｒｅｆ３・・・等）を示す基準経過時間情報を記憶していてもよい。つまり、劣化判別部１４は、レーザダイオード３１の動作温度の所定の温度帯（温度区分）毎に基準経過時間を記憶していてもよい。
【００５０】
ここで、劣化判別部１４は、例えば基準経過時間情報を用いることにより、雰囲気温度センサ１２によって測定された雰囲気温度に応じて基準経過時間を決定し、レーザダイオード３１の温度が所定の温度だけ変化するのに要した時間が決定した当該基準経過時間よりも長い場合、当該レーザダイオード３１が劣化していると判別してもよい。
【００５１】
また、劣化判別部１４は、このような劣化の判別を、ヘッドアップディスプレイ装置１の電源が投入された直後のレーザダイオード３１の点灯時に行ってもよい。つまり、劣化判別部１４は、レーザダイオード３１の発光直後の温度の変化率を用いて、当該レーザダイオード３１の劣化を判別してもよい。
【００５２】
なお、劣化判別部１４が劣化を判別するタイミングはこれに限らず、レーザダイオード３１が点灯してから予め定められた時間が経過した後であってもよい。ただし、レーザダイオード３１が消灯状態、かつ、当該レーザダイオード３１の温度が安定している状態から当該レーザダイオード３１が点灯状態となった直後に劣化を判別することにより、レーザダイオード３１の劣化を精度良く判別できる。
【００５３】
［３．効果等］
以上のように、本実施の形態に係る光出力劣化判別装置１０は、レーザダイオード３１の発光時の温度に基づいて、当該レーザダイオード３１の劣化を判別する劣化判別部１４を備える。
【００５４】
これにより、本実施の形態に係る光出力劣化判別装置１０は、レーザダイオード３１の光量を測定することなく、レーザダイオード３１の劣化を判別することができる。
【００５５】
また、本実施の形態では、劣化判別部１４は、レーザダイオード３１の発光時の温度の変化率を用いて、当該レーザダイオード３１の劣化を判別する。具体的には、劣化判別部１４は、レーザダイオード３１が点灯してから目標温度に到達するまでに要した時間が基準経過時間を超えている場合に、当該レーザダイオード３１が劣化していると判別する。
【００５６】
また、本実施の形態に係る光出力劣化判別装置１０は、さらに、当該光出力劣化判別装置１０の雰囲気温度を測定する雰囲気温度センサ１２を備える。また、劣化判別部１４は、雰囲気温度センサ１２によって測定された雰囲気温度に応じて基準経過時間を決定し、レーザダイオード３１の温度が所定の温度だけ変化するのに要した時間が決定した当該基準経過時間よりも長い場合、当該レーザダイオード３１が劣化していると判別してもよい。
【００５７】
これにより、光出力劣化判別装置１０の雰囲気温度に応じた適切な基準経過時間を用いて劣化を判別できる。言い換えると、レーザダイオード３１の動作温度に応じた適切な基準経過時間を用いて劣化を判別できる。よって、レーザダイオード３１の劣化を精度良く判別できる。
【００５８】
なお、光出力劣化判別装置１０は、雰囲気温度センサ１２を備えずに、雰囲気温度及びレーザダイオード３１の温度のうちのレーザダイオード３１の温度のみに基づいて、レーザダイオード３１の劣化を判別してもよい。
【００５９】
また、本実施の形態において、劣化判別部１４は、レーザダイオード３１の発光直後の温度の変化率を用いて、当該レーザダイオード３１の劣化を判別してもよい。
【００６０】
これにより、レーザダイオード３１が点灯してから予め定められた時間が経過した後に劣化を判別する場合と比較して、当該レーザダイオード３１の劣化を精度良く判別できる。
【００６１】
なお、劣化判別部１４は、レーザダイオード３１の劣化を判別する際に当該レーザダイオード３１へ供給される電力を、正常時特性を取得した際に当該レーザダイオード３１へ供給された電力と同等にすることが好ましい。つまり、レーザダイオード３１へ供給される駆動電流を同等にすることが好ましい。
【００６２】
そこで、劣化判別部１４は、レーザダイオード３１の劣化を判別する際に、光学エンジン３０に、正常時特性を取得した際の絵柄と同様の絵柄を投影させてもよい。このような絵柄としては、例えば、ヘッドアップディスプレイ装置１のオープニング画素や、黒画像以外の映像ミュートの画像（例えば、ブルーバック等の所定の画像）が挙げられる。
【００６３】
つまり、例えば、劣化判別部１４は、ヘッドアップディスプレイ装置１の起動直後のレーザダイオード３１の点灯時に、当該レーザダイオード３１の劣化を判別してもよい。また、例えば、ヘッドアップディスプレイ装置１が、通常の画像を表示する通常モードと、上述の映像ミュートの画像を表示する劣化測定モードとで動作し、当該劣化測定モードにおいて劣化判別部１４がレーザダイオード３１の劣化を判別してもよい。
【００６４】
（実施の形態１の変形例）
また、劣化判別部１４は、さらに、レーザダイオード３１の故障を判別してもよい。この場合の劣化判別部１４によるレーザダイオード３１の劣化判別処理について、図５を用いて説明する。図５は、実施の形態１の変形例に係る光出力劣化判別装置の動作を示すフローチャートである。なお、既に説明した処理については、同じ符号を付し、詳細な説明を省略する場合がある。
【００６５】
まず、劣化判別部１４は、雰囲気温度センサ１２によって測定された雰囲気温度を取得し（Ｓ１１１）、取得した雰囲気温度に応じて基準経過時間を決定する（Ｓ１１２）。
【００６６】
その後、実施の形態１の劣化判別処理と同様に、レーザダイオード３１の点灯処理（Ｓ１０１）から劣化又は正常と判別する処理（Ｓ１０４、Ｓ１０５）までを繰り返す。ただし、本変形例では、目標温度に到達していないと判定された場合（Ｓ１０２でＮｏ）の処理が異なる。
【００６７】
具体的には、本変形例では、目標温度に到達していないと判定された場合（Ｓ１０２でＮｏ）、レーザダイオード３１を点灯してからの経過時間が、セーフティ時間を超えているか（オーバーしているか）否かを判断し（Ｓ１１３）、超えている場合（Ｓ１１３でＹｅｓ）には、レーザダイオード３１が故障していると判別する（Ｓ１１４）。一方、経過時間がセーフティ時間を超えていない場合（Ｓ１１３でＮｏ）には、上述した目標温度到達判定処理（Ｓ１０２）へ戻る。
【００６８】
このように、本変形に係る光出力劣化判別装置は、レーザダイオード３１が点灯してから規定時間（セーフティ時間）内に当該レーザダイオード３１の温度が目標温度に到達しない場合、当該レーザダイオード３１が故障していると判別する。
【００６９】
ここで、レーザダイオード３１は、例えば、静電気等により破壊されている場合、駆動電流が供給されていても点灯しない。つまり、このような場合、レーザダイオード３１の温度は上昇しにくい。よって、点灯から規定時間内に当該レーザダイオード３１の温度が目標温度に到達しない場合、当該レーザダイオード３１が故障していると判別することができる。
【００７０】
このように、本変形例に係る光出力劣化判別装置は、レーザダイオード３１の故障を判別することができる。
【００７１】
（実施の形態２）
次に、実施の形態２に係る光出力劣化判別装置について、図６及び図７を用いて説明する。
【００７２】
本実施の形態に係る光出力劣化判別装置は、実施の形態１に係る光出力劣化判別装置１０とほぼ同様に構成され、当該光出力劣化判別装置１０と同様に、レーザダイオード３１の発光時の温度の変化率を用いて当該レーザダイオード３１の劣化を判別する。ただし、実施の形態１と比較して、劣化判別部が、レーザダイオード３１が点灯してから固定時間内の温度変化量が基準温度変化量を超えている場合に、当該レーザダイオード３１が劣化していると判別する点が異なる。
【００７３】
図６は、実施の形態２における劣化判別部による劣化の判別について説明するための図である。なお、図６の（ａ）は、劣化していない場合のレーザダイオード３１の温度特性（正常時特性）を示し、図６の（ｂ）は、劣化している場合のレーザダイオード３１の温度特性（劣化時特性）を示す。図７は、実施の形態２に係る光出力劣化判別装置の動作を示すフローチャートである。
【００７４】
つまり、図６に示すように、劣化時特性は、正常時特性よりも温度変化の変化率が大きくなる。そこで、本実施の形態における劣化判別部は、固定時間内の温度変化量が基準温度変化量を超えている場合に、当該レーザダイオード３１が劣化していると判別する。
【００７５】
具体的には、図７に示すように、本実施の形態に係る光出力劣化判別装置は、実施の形態１に係る光出力劣化判別装置１０とほぼ同様に動作するが、目標温度到達判定処理（図３のＳ１０２）に代えて固定時間経過判定処理（Ｓ２０２）を行い、基準経過時間オーバー判定処理（図３のＳ１０３）に代えて基準温度変化量オーバー判定処理（Ｓ２０３）を行う。
【００７６】
より具体的には、図７に示すように、本実施の形態における劣化判別部は、レーザダイオード３１の点灯（Ｓ１０１）から固定時間経過後（Ｓ２０２でＹｅｓ）に、ＬＤ温度センサ１１で測定されたレーザダイオード３１の温度を取得し、温度変化量が基準温度変化量を超えているか（オーバーしているか）否かを判断する（Ｓ２０３）。その結果、超えている場合（Ｓ２０３でＹｅｓ）には、レーザダイオード３１が劣化していると判別し（Ｓ１０４）、超えていない場合（Ｓ２０３でＮｏ）には、レーザダイオード３１が正常である（劣化していない）と判別する（Ｓ１０５）。
【００７７】
以上のように、本実施の形態に係る光出力劣化判別装置は、レーザダイオード３１が点灯してから固定時間経過後（Ｓ２０２）の温度変化量が基準温度変化量を超えている場合に、当該レーザダイオード３１が劣化していると判別する。
【００７８】
これにより、本実施の形態に係る光出力劣化判別装置は、実施の形態１と同様の効果を奏する。
【００７９】
（実施の形態３）
次に、実施の形態３に係る光出力劣化判別装置について、図８〜図１０を用いて説明する。
【００８０】
本実施の形態に係る光出力劣化判別装置は、実施の形態１に係る光出力劣化判別装置１０とほぼ同じであるが、レーザダイオード３１を冷却する冷却部材を備え、劣化判別部が、冷却部材によるレーザダイオード３１の冷却後の温度の変化率を用いて、当該レーザダイオード３１の劣化を判別する点が異なる。
【００８１】
これにより、本実施の形態に係る光出力劣化判別装置は、レーザダイオード３１が点灯している状態で、当該レーザダイオード３１の劣化を判別できる。
【００８２】
図８は、実施の形態３に係る光出力劣化判別装置３１０を備えるヘッドアップディスプレイ装置３０１の構成を示すブロック図である。図９は、実施の形態３における劣化判別部３１４による劣化の判別について説明するための図である。なお、図９の（ａ）は、劣化していない場合のレーザダイオード３１の温度特性（正常時特性）を示し、図９の（ｂ）は、劣化している場合のレーザダイオード３１の温度特性（劣化時特性）を示す。図１０は、実施の形態３に係る光出力劣化判別装置３１０の動作を示すフローチャートである。
【００８３】
図８に示す本実施の形態に係る光出力劣化判別装置３１０は、実施の形態１に係る光出力劣化判別装置１０と比較して、さらに、冷却部材３１１を備え、劣化判別部１４を有するＣＰＵ１３に代わり、劣化判別部３１４を有するＣＰＵ３１３を備える点が異なる。
【００８４】
冷却部材３１１は、レーザダイオード３１を冷却する、例えばペルチェ素子である。この冷却部材３１１は、ＣＰＵ３１３からの指示に従って、レーザダイオード３１の冷却を開始及び停止する。
【００８５】
劣化判別部３１４は、冷却部材３１１によるレーザダイオード３１の冷却後の温度の変化率を用いて、当該レーザダイオード３１の劣化を判別する。具体的には、劣化判別部３１４は、レーザダイオード３１の点灯中に、冷却部材３１１の冷却によってレーザダイオード３１の温度が測定開始温度（例えば、冷却前の温度より１０℃低い温度）になった時点から規定温度に到達するまでの経過時間を基準経過時間と比較することにより、劣化を判別する。
【００８６】
図９に示すように、レーザダイオード３１の点灯中に当該レーザダイオード３１を測定開始温度まで冷却した後の劣化時特性は、同様にした場合の正常時特性よりも温度変化の変化率が大きくなる。そこで、劣化判別部３１４は、レーザダイオード３１の温度が測定開始温度になった時点から規定温度に到達するまでの経過時間が基準経過時間を超えている場合に、当該レーザダイオード３１が劣化していると判別する。
【００８７】
具体的には、図１０に示すように、本実施の形態に係る光出力劣化判別装置３１０は、レーザダイオード３１の点灯後（Ｓ１０１）、当該レーザダイオード３１の温度が安定する（Ｓ３０１でＹｅｓ）まで待機する。レーザダイオード３１の温度が安定した後（Ｓ３０１でＹｅｓ）、冷却部材３１１によるレーザダイオード３１の冷却を開始し（Ｓ３０２）、当該レーザダイオード３１の温度が測定開始温度まで低下する（Ｓ３０３でＹｅｓ）まで待機する。レーザダイオード３１の温度が測定開始温度まで低下した後（Ｓ３０３でＹｅｓ）、冷却部材３１１によるレーザダイオード３１の冷却を停止する（Ｓ３０４）。その後、図３のＳ１０２〜Ｓ１０５と同様の処理を、目標温度を上記規定温度として行うことで、レーザダイオード３１の劣化を判別する。
【００８８】
以上のように、本実施の形態に係る光出力劣化判別装置３１０は、実施の形態１と比較して、さらに、レーザダイオード３１を冷却する冷却部材３１１を備え、劣化判別部３１４は、冷却部材３１１によるレーザダイオード３１の冷却後の温度の変化率を用いて、当該レーザダイオード３１の劣化を判別する。
【００８９】
これにより、本実施の形態に係る光出力劣化判別装置３１０は、レーザダイオード３１が点灯している状態で、当該レーザダイオード３１の劣化を判別できる。
【００９０】
なお、規定温度は、冷却前の温度によって規定される温度（例えば、冷却前の温度より所定の温度だけ低い温度）に限らず、雰囲気温度センサ１２によって測定された雰囲気温度であってもよい。規定温度を雰囲気温度とすることにより、レーザダイオード３１の劣化を判別するのに要する測定時間を短縮することができる。
【００９１】
また、規定温度は、冷却前の温度であってもよい。ただし、この場合には、レーザダイオード３１の劣化を判別するのに要する測定時間が長くなる場合がある。よって、規定温度は冷却前の温度より低い温度であることが好ましい。
【００９２】
また、レーザダイオード３１の発熱量は、画像２として描画する絵柄によって変化する場合がある。よって、劣化判別部３１４は、レーザダイオード３１の劣化を判別する際に当該レーザダイオード３１へ供給される電力を、正常時特性を取得した際に当該レーザダイオード３１へ供給された電力と同等にすることが好ましい。つまり、レーザダイオード３１へ供給される駆動電流を同等にすることが好ましい。
【００９３】
そこで、劣化判別部３１４は、レーザダイオード３１の劣化を判別する際に、光学エンジン３０に、正常時特性を取得した際の絵柄と同様の絵柄を投影させてもよい。このような絵柄としては、例えば、スピードメータや方向を示す矢印等が挙げられる。
【００９４】
（実施の形態３の変形例）
また、冷却部材３１１は、レーザダイオード３１を測定開始温度（第１温度）より低い温度（第２温度）まで冷却してもよく、劣化判別部３１４は、冷却部材３１１によるレーザダイオード３１の冷却後に、レーザダイオード３１の温度が測定開始温度まで上昇した後の温度の変化率を用いて、当該レーザダイオード３１の劣化を判別してもよい。
【００９５】
図１１は、実施の形態３の変形例における劣化判別部による劣化の判別について説明するための図である。なお、図１１の（ａ）は、劣化していない場合のレーザダイオード３１の温度特性（正常時特性）を示し、図１１の（ｂ）は、劣化している場合のレーザダイオード３１の温度特性（劣化時特性）を示す。
【００９６】
同図に示すように、本変形例における冷却部材３１１は、測定開始温度より低い温度（例えば、測定開始温度より１０℃低い温度）までレーザダイオード３１を冷却する。
【００９７】
これにより、温度特性がリニアに変化する領域を用いて、経過時間を計測することができる。つまり、経過時間の計測のスタートタイミングを正確にできる。よって、本変形例では、レーザダイオード３１が点灯している状態で、当該レーザダイオード３１の劣化を精度良く判別できる。
【００９８】
（実施の形態４）
次に、実施の形態４に係る光出力劣化判別装置について、説明する。
【００９９】
本実施の形態に係る光出力劣化判別装置は、実施の形態１に係る光出力劣化判別装置１０とほぼ同じであるが、劣化判別部が、発光時のレーザダイオード３１の温度と当該レーザダイオード３１の発光前の温度との差が所定温度を超えた場合に、当該レーザダイオード３１が劣化していると判別する点が異なる。
【０１００】
つまり、上述の各実施の形態及びそれらの変形例では、いずれも、レーザダイオード３１の発光時の温度の変化率を用いて、当該レーザダイオード３１の劣化を判別した。これに対し、本実施の形態では、レーザダイオード３１の発光時の到達温度（安定温度）を用いて劣化を判別する。ここで、到達温度（安定温度）とは、発光によって生じるレーザダイオード３１の温度変化が実質的にゼロとなり、定常状態（安定状態）となったときの温度を指す。
【０１０１】
ここで、上述の各実施の形態及びそれらの変形例では、光出力劣化判別装置がヘッドアップディスプレイ装置に搭載される構成を例に説明したが、本実施の形態では、光出力劣化判別装置が発光素子（例えば、レーザダイオード）を用いた照明器具に搭載される構成を例に説明する。なお、本実施の形態に係る光出力劣化装置をヘッドアップディスプレイ装置に搭載してもよいし、上述の各実施の形態及びそれらの変形例に係る光出力劣化装置を照明器具に搭載してもよいことは、言うまでもない。
【０１０２】
以下、本実施の形態について説明する。
【０１０３】
例えば、常に一定の電力で発光させる照明器具などにおいて雰囲気温度２０℃に対して劣化する前の基準となる発光素子の安定する温度が２５℃だとする。その後、経年変化により発光素子の安定する温度が３５℃になっている場合は、雰囲気温度２０℃に対して１５℃の温度差がある。
【０１０４】
このような場合、基準の光素子温度差５℃（２５℃−２０℃＝５℃）に対する経年変化後の光素子温度差１５℃（３５℃−２０℃＝１５℃）は、１０℃の差があるため劣化と判断する。
【０１０５】
このように、本実施の形態では、発光時のレーザダイオード３１の温度と当該レーザダイオード３１の発光前の温度（雰囲気温度）との差が所定温度（例えば、８℃）を超えた場合に、当該レーザダイオード３１が劣化していると判別する。
【０１０６】
（実施の形態５）
次に、実施の形態５に係る光出力劣化判別装置について、図１２及び図１３を用いて説明する。
【０１０７】
本実施の形態に係る光出力劣化判別装置は、実施の形態１に係る光出力劣化判別装置１０と比較して、さらに、レーザダイオード３１の光量を測定する光検出センサを備え、当該光検出センサによって測定された光量を用いて、当該レーザダイオード３１の劣化を判別する点が異なる。
【０１０８】
図１２は、実施の形態５に係る光出力劣化判別装置５１０を備えるヘッドアップディスプレイ装置５０１の構成を示すブロック図である。なお、同図には、ヘッドアップディスプレイ装置５０１によって投影された画像２も示されている。図１３は、実施の形態５に係る光出力劣化判別装置５１０の動作を示すフローチャートである。
【０１０９】
図１２に示す本実施の形態に係る光出力劣化判別装置５１０は、実施の形態１に係る光出力劣化判別装置１０と比較して、さらに、光検出センサ５１１を備え、劣化判別部１４を有するＣＰＵ１３に代わり、劣化判別部５１４を有するＣＰＵ５１３を備える点が異なる。
【０１１０】
光検出センサ５１１は、レーザダイオード３１の光量を測定する、例えばフォトダイオード等のＯＥＩＣである。この光検出センサ５１１の動作保証温度（例えば、０〜８０℃）は、ＬＤ温度センサ１１の動作保証温度（例えば、−１０℃〜９０℃）よりも狭い。光検出センサ５１１は、測定した光量を示す情報を劣化判別部５１４へ出力する。
【０１１１】
劣化判別部５１４は、ＬＤ温度センサ１１によって測定された温度が光検出センサ５１１の動作保証温度の範囲内の場合、光検出センサ５１１を用いて、レーザダイオード３１の劣化を判別する。一方、劣化判別部５１４は、ＬＤ温度センサ１１によって測定された温度が当該動作保証温度の範囲以外の場合、レーザダイオード３１の発光時の温度を用いて、当該レーザダイオード３１の劣化を判別する。
【０１１２】
具体的には、図１３に示すように、本実施の形態に係る光出力劣化判別装置５１０は、まず、図３のＳ１０１〜Ｓ１０５の処理に相当する温度による劣化判別処理（Ｓ５０１）を行う。次に、光検出センサ５１１によってレーザダイオード３１の光量を取得し（Ｓ５０２）、劣化判別部５１４が、取得された光量が所定量未満であるか否かを判定する（Ｓ５０３）。
【０１１３】
劣化判別部５１４は、当該光量が所定量未満であると判定した場合（Ｓ５０３でＹｅｓ）、上記の温度による劣化判別処理（Ｓ５０１）においてレーザダイオード３１が劣化していると判別されたか否かを判定する（Ｓ５０４）。
【０１１４】
ここで、温度による劣化判別処理（Ｓ５０１）においてレーザダイオード３１が劣化していると判別されている場合（Ｓ５０４でＹｅｓ）、最終的なレーザダイオード３１の劣化判別結果として、レーザダイオード３１が劣化していると判別する（Ｓ５０５）。つまり、レーザダイオード３１の温度を用いた劣化判別により劣化と判別され、かつ、レーザダイオード３１の光量を用いた劣化判別でも劣化と判別された場合、最終的なレーザダイオード３１の劣化判別結果として、劣化していると判別する。
【０１１５】
一方、温度による劣化判別処理（Ｓ５０１）においてレーザダイオード３１が劣化していると判別されていない場合（Ｓ５０４でＮｏ）、ＬＤ温度センサ１１によって測定された温度が光検出センサ５１１の動作保証温度の範囲内であるか否かを判定する（Ｓ５０６）。ＬＤ温度センサ１１によって測定された温度が当該動作保証温度の範囲内である場合（Ｓ５０６でＹｅｓ）、最終的なレーザダイオード３１の劣化判別結果として、劣化の可能性があると判別する（Ｓ５０７）。一方、ＬＤ温度センサ１１によって測定された温度が当該動作保証温度の範囲外の場合（Ｓ５０６でＮｏ）、最終的なレーザダイオード３１の劣化判別結果として、正常であると判別する（Ｓ５０８）。
【０１１６】
また、劣化判別部５１４は、上述した光量が処理量未満であるか否かを判定する処理（Ｓ５０３）において、当該光量が所定量以上であると判定した場合（Ｓ５０３でＮｏ）、上記の温度による劣化判別処理（Ｓ５０１）においてレーザダイオード３１が劣化していると判別されたか否かを判定する（Ｓ５１１）。
【０１１７】
ここで、温度による劣化判別処理（Ｓ５０１）においてレーザダイオード３１が劣化していると判別されている場合（Ｓ５１１でＹｅｓ）、ＬＤ温度センサ１１によって測定された温度が光検出センサ５１１の動作保証温度の範囲内であるか否かを判定する（Ｓ５１２）。ＬＤ温度センサ１１によって測定された温度が当該動作保証温度の範囲内である場合（Ｓ５１２でＹｅｓ）、最終的なレーザダイオード３１の劣化判別結果として、劣化の可能性があると判別する（Ｓ５１３）。一方、ＬＤ温度センサ１１によって測定された温度が当該動作保証温度の範囲外の場合（Ｓ５１２でＮｏ）、最終的なレーザダイオード３１の劣化判別結果として、劣化していると判別する（Ｓ５１４）。
【０１１８】
一方、温度による劣化判別処理（Ｓ５１１）においてレーザダイオード３１が正常であると判別されている場合（Ｓ５１１でＮｏ）、最終的なレーザダイオード３１の劣化判別結果として、正常であると判別する（Ｓ５１５）。
【０１１９】
このように、本実施の形態では、ＬＤ温度センサ１１によって測定された温度が光検出センサ５１１の動作保証温度の範囲内の場合、光検出センサ５１１を用いて、レーザダイオード３１の劣化を判別する。一方、ＬＤ温度センサ１１によって測定された温度が当該動作保証温度の範囲以外の場合、レーザダイオード３１の発光時の温度を用いて、当該レーザダイオード３１の劣化を判別する。
【０１２０】
これにより、レーザダイオード３１の劣化を精度良く判別できる。
【０１２１】
（他の実施の形態）
以上、本発明の光出力劣化判別装置について、実施の形態及び変形例に基づいて説明したが、本発明は、これら実施の形態及び変形例に限定されるものではない。本発明の趣旨を逸脱しない限り、当業者が思いつく各種変形を本実施の形態及び変形例に施したものや、異なる実施の形態及び変形例における構成要素を組み合わせて構築される形態も、本発明の範囲内に含まれる。
【０１２２】
また、本発明は、上述した光出力劣化装置を備えるヘッドアップディスプレイ装置であってもよい。具体的には、当該ヘッドアップディスプレイ装置は、発光素子として、レーザ光を出力するレーザダイオード３１を備え、さらに、レーザダイオード３１から出射されたレーザ光を走査するＭＥＭＳミラー３２（駆動部）と、レーザダイオード３１への電流供給を制御する、及び、ＭＥＭＳミラー３２の走査を制御することにより、投影面に画像２を投影させる光学コントロール部２０（制御部）とを備える。
【０１２３】
また、例えば、上述した温度特性は、機体固有のバラツキがあるため、図１４〜図１６に示すように、事前に正常な時の特性を基準値（基準経過時間及び基準温度変化量）として測定しておくことが好ましい。なお、温度毎にすべての基準値を測定することは困難であるため、代表的な温度を測定することで対応してもよい。
【０１２４】
図１４は、他の実施の形態に係る基準経過時間取得処理の一例を示すフローチャートである。図１５は、他の実施の形態に係る基準温度変化量取得処理の一例を示すフローチャートである。図１６は、他の実施の形態に係る基準経過時間取得処理の他の一例を示すフローチャートである。
【０１２５】
図１４に示すように、基準経過時間取得処理では、まず、図３に示したＬＤ点灯処理（Ｓ１０１）の後、タイマ計測を開始する（Ｓ６０１）。その後、図３に示した目標温度到達判定処理（Ｓ１０２）によって目標温度に到達したと判定されると（Ｓ１０２でＹｅｓ）、タイマ計測を停止し（Ｓ６０２）、タイマ計測により測定した時間を基準経過時間として取得する（Ｓ６０３）。このように取得された基準経過時間は、例えば、上記実施の形態１における基準経過時間として用いることができる。
【０１２６】
また、図１５に示すように、基準温度変化量取得処理では、まず、レーザダイオード３１の点灯前の温度を測定する（Ｓ７０１）。次に、図３に示したＬＤ点灯処理（Ｓ１０１）の後、図７に示した固定時間経過判定処理（Ｓ２０２）によって固定時間経過したと判定されるまで待機し、固定時間経過（Ｓ２０２でＹｅｓ）した後に、レーザダイオード３１の温度を測定する（Ｓ７０２）。その後、当該温度と点灯前の温度との差分温度を基準温度変化量として取得する（Ｓ７０３）。このように取得された基準温度変化量は、例えば、上記実施の形態２における基準温度変化量として用いることができる。
【０１２７】
また、図１６に示すように、他の基準経過時間取得処理では、まず、図３に示したＬＤ点灯処理（Ｓ１０１）の後、図１０に示した温度安定判定処理（Ｓ３０１）から冷却停止処理（Ｓ３０４）までを行った後に、図１４に示したタイマ開始処理（Ｓ６０１）から測定時間を基準経過時間として取得する処理（Ｓ６０３）を行う。このように取得された基準経過時間は、例えば、上記実施の形態３における基準経過時間として用いることができる。
【０１２８】
なお、機体固有の温度特性のバラツキがあるものの、温度特性の傾向には一定の傾向がある場合には、固体差の最低１ポイントの基準値を測定することで全ての温度での基準値を予測（補正）してもよい。
【０１２９】
また、上記の各装置は、具体的には、マイクロプロセッサ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ハードディスクドライブ、ディスプレイユニット、キーボード、マウスなどから構成されるコンピュータシステムとして構成されてもよい。ＲＡＭまたはハードディスクドライブには、コンピュータプログラムが記憶されている。マイクロプロセッサが、コンピュータプログラムに従って動作することにより、各装置は、その機能を達成する。ここでコンピュータプログラムは、所定の機能を達成するために、コンピュータに対する指令を示す命令コードが複数個組み合わされて構成されたものである。
【０１３０】
さらに、上記の各装置を構成する構成要素の一部または全部は、１個のシステムＬＳＩ（Ｌａｒｇｅ  Ｓｃａｌｅ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ：大規模集積回路）から構成されているとしてもよい。システムＬＳＩは、複数の構成部を１個のチップ上に集積して製造された超多機能ＬＳＩである。また、当該構成要素の一部または全部は、具体的には、マイクロプロセッサ、ＲＯＭ、ＲＡＭなどを含んで構成されるコンピュータシステムであってもよい。このようなコンピュータシステムは、マイクロプロセッサがＲＡＭに記憶されたコンピュータプログラムに従って動作することにより、その機能を達成する。
【０１３１】
さらにまた、上記の各装置を構成する構成要素の一部または全部は、各装置に脱着可能なＩＣカードまたは単体のモジュールから構成されているとしてもよい。ＩＣカードまたはモジュールは、マイクロプロセッサ、ＲＯＭ、ＲＡＭなどから構成されるコンピュータシステムである。ＩＣカードまたはモジュールは、上記の超多機能ＬＳＩを含むとしてもよい。マイクロプロセッサが、コンピュータプログラムに従って動作することにより、ＩＣカードまたはモジュールは、その機能を達成する。このＩＣカードまたはこのモジュールは、耐タンパ性を有するとしてもよい。
【０１３２】
また、本発明は、上記に示す方法であるとしてもよい。また、本発明は、これらの方法をコンピュータにより実現するコンピュータプログラムであるとしてもよいし、上記コンピュータプログラムからなるデジタル信号であるとしてもよい。
【０１３３】
さらに、本発明は、上記コンピュータプログラムまたは上記デジタル信号をコンピュータ読み取り可能な非一時的な記録媒体、例えば、フレキシブルディスク、ハードディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ（登録商標）  Ｄｉｓｃ）、半導体メモリなどに記録したものとしてもよい。また、これらの非一時的な記録媒体に記録されている上記デジタル信号であるとしてもよい。
【０１３４】
また、本発明は、上記コンピュータプログラムまたは上記デジタル信号を、電気通信回線、無線または有線通信回線、インターネットを代表とするネットワーク、データ放送等を経由して伝送するものとしてもよい。
【０１３５】
また、本発明は、マイクロプロセッサとメモリを備えたコンピュータシステムであって、上記メモリは、上記コンピュータプログラムを記憶しており、上記マイクロプロセッサは、上記コンピュータプログラムに従って動作するとしてもよい。
【０１３６】
また、上記プログラムまたは上記デジタル信号を上記非一時的な記録媒体に記録して移送することにより、または上記プログラムまたは上記デジタル信号を上記ネットワーク等を経由して移送することにより、独立した他のコンピュータシステムにより実施するとしてもよい。
【産業上の利用可能性】
【０１３７】
本発明は、例えば、発光素子として、レーザ光を出力するレーザダイオードを備える、プロジェクタ及び車載用ヘッドアップディスプレイ等に適用することができる。
【符号の説明】
【０１３８】
１、３０１、５０１  ヘッドアップディスプレイ装置
２  画像
１０、３１０、５１０  光出力劣化判別装置
１１  ＬＤ温度センサ
１２  雰囲気温度センサ
１３、３１３、５１３  ＣＰＵ
１４、３１４、５１４  劣化判別部
２０  光学コントロール部
３０  光学エンジン
３１  レーザダイオード
３２  ＭＥＭＳミラー
３１１  冷却部材
５１１  光検出センサ
【図１】
2016008902.tif 000003
【図２】
2016008902.tif 000004
【図３】
2016008902.tif 000005
【図４】
2016008902.tif 000006
【図５】
2016008902.tif 000007
【図６】
2016008902.tif 000008
【図７】
2016008902.tif 000009
【図８】
2016008902.tif 000010
【図９】
2016008902.tif 000011
【図１０】
2016008902.tif 000012
【図１１】
2016008902.tif 000013
【図１２】
2016008902.tif 000014
【図１３】
2016008902.tif 000015
【図１４】
2016008902.tif 000016
【図１５】
2016008902.tif 000017
【図１６】
2016008902.tif 000018