(57)【要約】【課題】電流センサ３４，３６に異常が生じた場合であっても、ＭＧ１０を駆動可能とすること。【解決手段】電流センサ３４，３６にゲイン異常が生じた旨の判定がなされると、ＭＧ１０が停止した状態で、開ループ制御によってＭＧ１０に無効電流を流す。そのときの電流センサによって検出される電流ｉｕ，ｉｗの比率である検出比率（ｉｕ／ｉｗ）を、基準比率（Ｉｕ／Ｉｗ）で除算することでゲイン調整値Ｇを算出する。ゲイン調整値Ｇが「１」よりも大きい場合、電流ｉｗを「Ｇ・ｉｗ」と補正し、電流ｉｕと「Ｇ・ｉｗ」とを用いてＭＧ１０を駆動する。【選択図】図２
2016013040.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
回転機と、該回転機の複数の端子のそれぞれに印加する電圧を調整可能な電圧印加回路と、前記複数の端子のうち第１端子および前記電圧印加回路を結ぶ電気経路を流れる電流を検出する第１電流センサと、前記複数の端子のうち第２端子および前記電圧印加回路を結ぶ電気経路を流れる電流を検出する第２電流センサと、を備えるシステムに適用され、
開ループ制御により前記回転機の通電制御を行うために前記電圧印加回路を操作する通電制御部と、
前記通電制御がなされているときの前記第１電流センサによって検出される電流および前記通電制御がなされているときの前記第２電流センサによって検出される電流の比率である検出比率と、基準比率とに基づき、前記第１電流センサおよび前記第２電流センサのゲインのばらつきを低減可能なゲイン調整値を算出する算出処理部と、
前記ゲイン調整値を入力とし、前記回転機の制御量を制御するために前記電圧印加回路を操作する操作処理部と、を備える回転機の制御装置。
【請求項２】
前記算出処理部は、前記ゲイン調整値として前記検出比率と前記基準比率との比を算出するものであり、
前記操作処理部は、前記第１電流センサによって検出される電流および前記第２電流センサによって検出される電流のいずれか一方に前記ゲインのばらつきを低減すべく前記ゲイン調整値またはその逆数を乗算したものと、いずれか他方とに基づき、前記電圧印加回路を操作する請求項１記載の回転機の制御装置。
【請求項３】
前記操作処理部は、前記いずれか一方に、前記ゲイン調整値とその逆数とのうちの「１」よりも大きい値を乗算する請求項２記載の回転機の制御装置。
【請求項４】
前記通電制御は、前記回転機に無効電流を流す制御である請求項１〜３のいずれか１項に記載の回転機の制御装置。
【請求項５】
前記電圧印加回路は、前記複数の端子のそれぞれを、直流電圧源の正極および負極のそれぞれに接続するスイッチング素子を備える直流交流変換回路であり、
前記通電制御部は、前記回転機の電気角と、前記正極に接続するスイッチング素子および前記負極に接続するスイッチング素子が交互にオン・オフ操作される周期に対するいずれか一方のスイッチング素子がオン操作される期間の時比率との関係を定めた関係情報に基づき、前記スイッチング素子をオン・オフ操作することで前記通電制御を行う請求項４の回転機の制御装置。
【請求項６】
前記操作処理部は、前記第１電流センサおよび前記第２電流センサにオフセット異常が生じていないと判断されるときの前記検出比率に基づく前記ゲイン調整値を入力とする請求項１〜５のいずれか１項に記載の回転機の制御装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回転機と、該回転機の複数の端子のそれぞれに印加する電圧を調整可能な電圧印加回路と、前記複数の端子のうち第１端子および前記電圧印加回路を結ぶ電気経路を流れる電流を検出する第１電流センサと、前記複数の端子のうち第２端子および前記電圧印加回路を結ぶ電気経路を流れる電流を検出する第２電流センサと、を備えるシステムに適用される回転機の制御装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
たとえば、特許文献１には、３相モータの各相に関する電流センサによって検出される電流の比率に基づき、電流センサの故障の有無を検出し、故障を検出した場合、３相モータの通電電流を直ちにゼロにすることが提案されている（段落「００３４」）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平１０−１０８４９４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、たとえばモータが車両の走行に用いられるものである場合等にあっては、電流センサの異常によってモータを停止させると、車両を走行させることができなくなる。しかし、電流センサに異常が生じた場合には、少なくとも車両をディーラ等に走行させることが可能であることが望ましい。
【０００５】
本発明は、そうした実情に鑑みてなされたものであり、その目的は、電流センサに異常が生じた場合であっても、回転機を駆動可能とする回転機の制御装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
以下、上記課題を解決するための手段およびその作用効果について記載する。
技術的思想１：回転機と、該回転機の複数の端子のそれぞれに印加する電圧を調整可能な電圧印加回路と、前記複数の端子のうち第１端子および前記電圧印加回路を結ぶ電気経路を流れる電流を検出する第１電流センサと、前記複数の端子のうち第２端子および前記電圧印加回路を結ぶ電気経路を流れる電流を検出する第２電流センサと、を備えるシステムに適用され、開ループ制御により前記回転機の通電制御を行うために前記電圧印加回路を操作する通電制御部と、前記通電制御がなされているときの前記第１電流センサによって検出される電流および前記通電制御がなされているときの前記第２電流センサによって検出される電流の比率である検出比率と、基準比率とに基づき、前記第１電流センサおよび前記第２電流センサのゲインのばらつきを低減可能なゲイン調整値を算出する算出処理部と、前記ゲイン調整値を入力とし、前記回転機の制御量を制御するために前記電圧印加回路を操作する操作処理部と、を備える回転機の制御装置。
【０００７】
電流センサにゲイン異常が生じている場合、すなわち、検出値が真の値を所定の比率で伸長または縮小させる異常が生じている場合、この比率は、上記検出比率と基準比率とのずれとして検出可能である。しかも、検出比率と基準比率とのずれ量には、第１電流センサおよび第２電流センサのゲインのばらつきを低減するうえでの必要な情報が含まれている。この点に鑑み、上記装置では、検出比率と基準比率とに基づきゲイン調整値を算出し、ゲイン調整値に基づき、回転機の制御量を制御する。このため、回転機の制御量を制御するに際して、第１電流センサによって検出される電流および第２電流センサによって検出される電流に基づく電流の情報を、異常による影響を低減した精度のよいものとすることができる。そしてこれにより、回転機を駆動することができる。
【０００８】
技術的思想２：前記算出処理部は、前記ゲイン調整値として前記検出比率と前記基準比率との比を算出するものであり、前記操作処理部は、前記第１電流センサによって検出される電流および前記第２電流センサによって検出される電流のいずれか一方に前記ゲインのばらつきを低減すべく前記ゲイン調整値またはその逆数を乗算したものと、いずれか他方とに基づき、前記電圧印加回路を操作する技術的思想１記載の回転機の制御装置。
【０００９】
第１電流センサによって検出される電流および第２電流センサによって検出される電流のいずれか一方にゲイン調整値またはその逆数を乗算することで、乗算した値と、いずれか他方とはゲインのばらつきが低減された値となる。そしてゲインのばらつきが低減された一対の電流値である上記乗算した値といずれか他方とを用いることで、第１電流センサおよび第２電流センサのそれぞれによって検出された電流同士のゲインのばらつきを好適に低減した情報を用いて、回転機の制御量を制御することができる。
【００１０】
技術的思想３：前記操作処理部は、前記いずれか一方に、前記ゲイン調整値とその逆数とのうちの「１」よりも大きい値を乗算する技術的思想２記載の回転機の制御装置。
第１電流センサによって検出される電流と第２電流センサによって検出される電流とのゲインのばらつきを低減する場合、検出される電流の一方を真の値よりも大きい値とするか、真の値よりも小さい値に補正する事態が生じうる。そしてこの場合、真の値よりも小さい値に補正する場合には、回転機や電圧印加回路に流れる電流が上限値を超える事態が生じる懸念がある。この点、上記装置では、ゲイン調整値とその逆数とのうち「１」よりも大きい方を乗算することで、検出される電流を真の値よりも小さい値に補正することを好適に抑制することができる。
【００１１】
技術的思想４：前記通電制御は、前記回転機に無効電流を流す制御である技術的思想１〜３のいずれか１項に記載の回転機の制御装置。
回転機にトルクが生じることで回転機が回転する場合、電気角にかかわらず第１電流センサの検出対象の電流と第２電流センサの検出対象の電流との比を一定とすることが難しくなる。この点、上記装置では、無効電流を流すことで回転機にトルクが生じないことから、回転機を停止状態とすることができる。そして、この場合、電気角にかかわらず第１電流センサの検出対象の電流と第２電流センサの検出対象の電流との比を一定とすることができることから、ゲイン調整値の算出処理等を容易に行うことができる。
【００１２】
技術的思想５：前記電圧印加回路は、前記複数の端子のそれぞれを、直流電圧源の正極および負極のそれぞれに接続するスイッチング素子を備える直流交流変換回路であり、前記通電制御部は、前記回転機の電気角と、前記正極に接続するスイッチング素子および前記負極に接続するスイッチング素子が交互にオン・オフ操作される周期に対するいずれか一方のスイッチング素子がオン操作される期間の時比率との関係を定めた関係情報に基づき、前記スイッチング素子をオン・オフ操作することで前記通電制御を行う技術的思想４の回転機の制御装置。
【００１３】
上記装置では、関係情報を用いてスイッチング素子をオン・オフ操作することで、回転機を流れる電流を開ループ制御することができる。
技術的思想６：前記操作処理部は、前記第１電流センサおよび前記第２電流センサにオフセット異常が生じていないと判断されるときの前記検出比率に基づく前記ゲイン調整値を入力とする技術的思想１〜５のいずれか１項に記載の回転機の制御装置。
【００１４】
電流センサにゲイン異常が生じる場合のみならず、オフセット異常が生じる場合にも、上記検出比率と基準比率との間にずれが生じる。この点、上記装置では、オフセット異常が生じていないと判断されるときの検出比率に基づくゲイン調整値を用いて回転機の制御量を制御することで、オフセット異常のために誤ってゲインが補正された電流情報に基づき回転機が制御される事態を好適に抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】第１の実施形態にかかるシステム構成図。
【図２】同実施形態にかかるＭＧの駆動回路を示す図。
【図３】同実施形態にかかる電流センサの異常検出処理の手順を示す流れ図。
【図４】同実施形態にかかる電流センサのゲイン補正処理の手順を示す流れ図。
【図５】同実施形態にかかる無効電流通電のためのテーブルを示す図。
【図６】第２の実施形態にかかるＭＧの駆動回路を示す図。
【図７】同実施形態にかかる電流センサの異常検出処理の手順を示す流れ図。
【図８】同実施形態にかかる電流センサのゲイン補正処理の手順を示す流れ図。
【図９】同実施形態にかかる無効電流通電のためのテーブルを示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
＜第１の実施形態＞
以下、回転機の制御装置の第１の実施形態について、図面を参照しつつ説明する。
図１に、本実施形態にかかるシステム構成を示す。
【００１７】
図１に示されるように、本実施形態にかかる車両において、内燃機関２とモータジェネレータ（ＭＧ４）とがトランスミッション６を介して前輪８に機械的に連結されている。また、モータジェネレータ（ＭＧ１０）が、後輪１２に機械的に連結されている。ここで、本実施形態では、ＭＧ１０として、同期機を想定しており、詳しくは、表面磁石同期機（ＳＰＭ）を想定している。
【００１８】
ＭＧ４は、直流交流変換回路（インバータ１４）に接続され、ＭＧ１０は、インバータ１６に接続されている。インバータ１４，１６は、いずれもバッテリ１８の電圧を交流電圧に変換する電力変換回路である。制御装置２０は、ＭＧ４，１０を制御対象とし、インバータ１４，１６を操作する電子制御装置である。
【００１９】
図２に、ＭＧ１０、インバータ１６および制御装置２０を示す。
ＭＧ１０は、Ｕ相、Ｖ相、およびＷ相のそれぞれのステータコイルＣｕ，Ｃｖ，Ｃｗを備え、それらが中性点によって結線されている。
【００２０】
インバータ１６は、Ｕ相の上アームのスイッチング素子Ｓｕｐおよび下アームのスイッチング素子Ｓｕｎの直列接続体と、Ｖ相の上アームのスイッチング素子Ｓｖｐおよび下アームのスイッチング素子Ｓｖｎの直列接続体と、Ｗ相の上アームのスイッチング素子Ｓｗｐおよび下アームのスイッチング素子Ｓｗｎの直列接続体とを備えている。なお、以下では、Ｕ相、Ｖ相およびＷ相のいずれかを示す「ｕ，ｖ，ｗ」のいずれかであることを「Ｈ」として記載し、上アームまたは下アームのいずれかを示す「ｐ」および「ｎ」のいずれかであることを「＃」として記載する。すなわち、たとえば、上アームのスイッチング素子Ｓｕｐ，Ｓｖｐ，Ｓｗｐのいずれかであることを、スイッチング素子ＳＨｐと記載し、またたとえば、Ｕ相のスイッチング素子Ｓｕｐ，Ｓｕｎのいずれかであることを、スイッチング素子Ｓｕ＃と記載する。
【００２１】
上記各直列接続体を構成する上アームのスイッチング素子ＳＨｐと、下アームのスイッチング素子ＳＨｎとの接続点がインバータ１６の出力端子であり、それら出力端子にＭＧ１０の各端子が接続されている。詳しくは、スイッチング素子Ｓｕｐおよびスイッチング素子Ｓｕｎの接続点と、スイッチング素子Ｓｖｐおよびスイッチング素子Ｓｖｎの接続点とのそれぞれは、リレー３０，３２のそれぞれを介してＭＧ１０に接続されている。一方、スイッチング素子Ｓｗｐおよびスイッチング素子Ｓｗｎの接続点は、ＭＧ１０の端子に直接接続されている。なお、図２では、スイッチング素子ＳＨ＃として、絶縁ゲートバイポーラトランジスタ（ＩＧＢＴ）を例示している。
【００２２】
また、スイッチング素子ＳＨ＃には、ダイオードＤＨ＃が逆並列に接続されている。
制御装置２０は、スイッチング素子ＳＨ＃に、操作信号ｇＨ＃を出力する。これにより、対応するドライブユニットＵＨ＃は、スイッチング素子ＳＨ＃のゲートに印加する信号を生成し、これをゲートに印加する。これにより、スイッチング素子ＳＨ＃がオン・オフ操作される。
【００２３】
また、インバータ１６の出力端子とＵ相のステータコイルＣｕとの間の電気経路付近には、この電気経路を流れる電流ｉｕを検出する電流センサ３４が配置されている。また、インバータ１６の出力端子とＷ相のステータコイルＣｗとの間の電気経路付近には、この電気経路を流れる電流ｉｗを検出する電流センサ３６が配置されている。電流センサ３４，３６は、たとえばカレントトランス等とすればよい。
【００２４】
図３に、本実施形態にかかる電流センサ３４，３６の異常検出処理の手順を示す。この処理は、制御装置２０によって、たとえば所定の制御周期で繰り返し実行される。
この一連の処理において、制御装置２０は、まず、異常検出処理の実行条件が成立したか否かを判断する（Ｓ１０）。ここで、実行条件には、たとえば、インバータ１６を操作してＭＧ１０を稼働しているときである旨の条件が含まれる。なお、実行条件には、ＭＧ１０を流れる電流の振幅が所定値以上である旨の条件を加えることが望ましい。これは、異常検出処理のＳ／Ｎ比を向上させるためのものである。
【００２５】
制御装置２０は、実行条件が成立したと判断する場合（Ｓ１０：ＹＥＳ）、ｄ軸電流がゼロであるときに対する電流の位相のずれ量である位相φ０を算出する（Ｓ１６）。これは、「φ０＝ａｒｃｔａｎ（ｉｄ／ｉｑ）」によって算出することができる。そして、制御装置２０は、電気角θが、「φｕｗ＋φ０」または「φｕｗ＋φ０＋１８０」であるか否かを判断する（Ｓ１４）。この処理は、Ｕ相の電流ｉｕとＷ相の電流ｉｗとが一致するタイミングであるか否かを判断するためのものである。ここで、基準位相φｕｗは、ｄ軸電流がゼロである場合にＵ相の電流ｉｕとＷ相の電流ｉｗとが一致する電気角である。
【００２６】
制御装置２０は、ステップＳ１４において肯定判断する場合、電流センサ３４によって検出される電流ｉｕと電流センサ３６によって検出される電流ｉｗとの差の絶対値が、規定値Δｔｈ以上であるか否かを判断する（Ｓ１６）。この処理は、電流センサ３４，３６に異常が生じているか否かを判断するためのものである。ここで、規定値Δｔｈは、電流センサ３４，３６の検出値に許容される公差等による差を超えて異常として検出すべき差が生じている場合の値に設定される。そして、制御装置２０は、規定値Δｔｈ以上であると判断する場合（Ｓ１６：ＹＥＳ）、電流センサ３４または電流センサ３６に異常があると判定する（Ｓ１８）。そして、制御装置２０は、異常がある旨を、図示しないインターフェースを介してユーザ等に通知する（Ｓ２０）。そして、制御装置２０は、図２に示したリレー３０，３２を開放する（Ｓ２２）。これにより、インバータ１６からＭＧ１０に電流が流れず、ＭＧ１０は、無負荷状態となって後輪１２に連れ回される。
【００２７】
次に制御装置２０は、電流センサ３４によって検出される電流ｉｕの絶対値や電流センサ３６によって検出される電流ｉｗの絶対値が規定値α以上であるか否かを判断する（Ｓ２４）。この処理は、電流センサ３４，３６の異常が、電流センサ３４，３６の出力値が所定量だけずれるオフセット異常であるか否かを判断するためのものである。すなわち、ステップＳ２２においてリレー３０，３２を開放することでＭＧ１０に電流が流れなくなることから、電流センサ３４，３６が正常であるなら、電流センサ３４，３６によって検出される電流ｉｕ，ｉｗは、「０」となるはずである。規定値αは、電流センサ３４，３６に許容される公差等を考慮し、許容できない異常の下限値に設定される。
【００２８】
そして、制御装置２０は、ステップＳ２４において肯定判断する場合、オフセット異常であると判断する（Ｓ２６）。これに対し、ステップＳ２４において否定判断する場合、オフセット異常ではないことから、ゲイン異常と判断する（Ｓ２８）。ここで、ゲイン異常とは、電流センサ３４，３６によって検出される電流ｉｕ，ｉｗが、真の値を所定倍したものとなる異常のことである。
【００２９】
なお、制御装置２０は、ステップＳ２６，Ｓ２８の処理が完了する場合や、ステップＳ１０，Ｓ１４，Ｓ１６において否定判断する場合には、この一連の処理を一旦終了する。
図４に、上記ステップＳ２８の処理においてゲイン異常であると判断された場合になされる処理であるゲイン補正処理の手順を示す。図４に示す処理は、制御装置２０によって、たとえば所定周期で繰り返し実行される。
【００３０】
この一連の処理において、制御装置２０は、まず車両の走行許可スイッチ（ＩＧ）がオフ状態からオン状態に切り替えられたか否かを判断し、オン状態に切り替えられたと判断する場合（Ｓ３０：ＹＥＳ）、リレー３０，３２を閉操作する（Ｓ３１）。次に、制御装置２０は、ゲイン異常判定がなされているか否かを判断する（Ｓ３２）。この処理は、ＩＧが前回オン状態であったときにゲイン異常判定がなされたか否かの判断となる。ステップＳ３０，Ｓ３２の処理は、ゲイン補正処理の実行条件が成立するか否かを判断するためのものである。そして、制御装置２０は、ゲイン異常判定がなされている場合（Ｓ３２：ＹＥＳ）、電気角θを取得する（Ｓ３４）。この処理は、図示しないレゾルバ等のＭＧ１０の回転角度検出装置の検出値を取得する処理となる。続いて制御装置２０は、ＭＧ１０に開ループ制御によって無効電流を流すための時比率ＤＴｕ，ＤＴｖ，ＤＴｗを、電気角θに基づき取得する（Ｓ３６）。ここで、時比率ＤＴＨは、スイッチング素子ＳＨｐおよびスイッチング素子ＳＨｎが交互にオン操作される周期に対するスイッチング素子ＳＨｐがオン操作される期間の時間比率である。この処理は、図５に示すテーブルデータに基づき行われる。
【００３１】
図５に示すテーブルデータは、電気角θの離散的な値毎に、時比率ＤＴＨが定められたデータである。さらに、テーブルデータは、電気角θの離散的な値毎に、Ｕ相の電流とＷ相の電流との比である基準比率（Ｉｕ／Ｉｗ）が定められたデータである。ここで、基準比率は、スイッチング素子ＳＨ＃を時比率ＤＴＨに従ってオン・オフ操作した場合にＭＧ１０に流れるＵ相の電流とＷ相の電流との比率である。なお、制御装置２０は、電気角θがテーブルデータ内に存在しない場合、テーブルデータ上の電気角であってステップＳ３４において取得された電気角θに隣接する一対の電気角に基づき、時比率ＤＴＨを補間処理によって求める。
【００３２】
そして、制御装置２０は、時比率ＤＴＨに基づきスイッチング素子ＳＨ＃を操作することでＭＧ１０に無効電流を流す通電制御を実行する（Ｓ３８）。そして、制御装置２０は、通電制御がなされているときに電流センサ３４によって検出される電流ｉｕと電流センサ３６によって検出される電流ｉｗとの比である検出比率（ｉｕ／ｉｗ）を算出し、検出比率を上記基準比率で除算した値の絶対値であるゲイン調整値Ｇを算出する（Ｓ４０）。ここで、ゲイン調整値Ｇは、電流センサ３４，３６によって検出される電流ｉｕ，ｉｗをいかに補正すれば、電流センサ３４のゲインと電流センサ３６のゲインとのずれを抑制することができるかを示すパラメータとなる。換言すれば、電流センサ３４，３６によって検出される電流ｉｕ，ｉｗをいかに補正すれば、Ｕ相の電流とＷ相の電流との真の値が等しい場合にそれらの大きさのずれを抑制することができるかを示すパラメータとなる。ただし、ゲイン調整値Ｇが上記パラメータとしての役割を果たすうえでは、電流センサ３４と電流センサ３６のいずれか一方に限って異常が生じたことが前提となる。換言すれば、電流センサ３４および電流センサ３６の双方に異常が生じる事態（２重異常）が生じていないことが前提となる。
【００３３】
次に制御装置２０は、ゲイン調整値Ｇが「１」よりも大きいか否かを判断する（Ｓ４２）。この処理は、電流センサ３６によって検出される電流ｉｗを補正対象とすべきか否かを判断するためのものである。そして、制御装置２０は、ゲイン調整値Ｇが「１」よりも大きいと判断する場合（Ｓ４２：ＹＥＳ）、電流センサ３６によって検出される電流ｉｗを「Ｇ・ｉｗ」に補正することを条件に、ＭＧ１０の稼働を許可する（Ｓ４４）。ここで、補正処理は、電流センサ３４のゲインと電流センサ３６のゲインとのずれを抑制するためのものである。
【００３４】
すなわち、ゲイン調整値Ｇが「１」よりも大きい場合は、２重異常を考えないとすると、電流センサ３４によって検出される電流ｉｕが真の値Ｉｕよりも大きい「Ｋ・Ｉｕ（ただし、Ｋ＞１）」となる場合か、電流センサ３６によって検出される電流ｉｗが真の値Ｉｗよりも小さい「Ｌ・Ｉｗ（ただし、Ｌ＜１）」となる場合である。ここで、「ｉｕ＝Ｋ・Ｉｕ」となる場合、ゲイン調整値Ｇは、「Ｋ」となる。このため、電流センサ３６によって検出される電流ｉｗ（＝Ｉｗ）を「Ｇ・ｉｗ」とすることで、この値を「Ｋ・ｉｗ＝Ｋ・Ｉｗ」とすることができる。すなわち、電流センサ３４によって検出される電流ｉｕと、補正後の電流（Ｋ・ｉｗ）とは、いずれも真の値が「Ｋ」倍されたものとなる。一方、「ｉｗ＝Ｌ・Ｉｗ」となる場合、ゲイン調整値Ｇは、「１／Ｌ」となる。このため、電流センサ３４によって検出される電流ｉｗ（＝Ｌ・Ｉｗ）を「Ｇ・ｉｗ」とすることで、この値を「（１／Ｌ）・Ｌ・Ｉｗ＝Ｉｗ」とすることができる。すなわち、電流センサ３４によって検出される電流ｉｕと、補正後の電流（Ｋ・ｉｗ）とは、いずれも真の値となる。
【００３５】
これに対し、制御装置２０は、ゲイン調整値Ｇが「１」よりも小さいと判断する場合（Ｓ４２：ＮＯ）、電流センサ３４によって検出される電流ｉｕを「（１／Ｇ）・ｉｕ」に補正することを条件に、ＭＧ１０の稼働を許可する（Ｓ４６）。ここで、補正処理は電流センサ３４のゲインと電流センサ３６のゲインとのずれを抑制するためのものである。
【００３６】
すなわち、ゲイン調整値Ｇが「１」よりも小さい場合は、２重異常を考えないとすると、電流センサ３４によって検出される電流ｉｕが真の値Ｉｕよりも小さい「Ｌ・Ｉｕ（ただし、Ｌ＞１）」となる場合か、電流センサ３６によって検出される電流ｉｗが真の値Ｉｗよりも大きい「Ｋ・Ｉｗ（ただし、Ｋ＞１）」となる場合である。ここで、「ｉｕ＝Ｌ・Ｉｕ」となる場合、ゲイン調整値Ｇは、「Ｌ」となる。このため、電流センサ３４によって検出される電流ｉｕを「（１／Ｇ）・ｉｕ」とすることで、この値を「（１／Ｌ）・ｉｕ＝Ｉｕ」とすることができる。すなわち、補正後の電流「（１／Ｌ）・ｉｕ」と、電流センサ３６によって検出される電流ｉｗとは、いずれも真の値となる。一方、「ｉｗ＝Ｋ・Ｉｗ」となる場合、ゲイン調整値Ｇは、「１／Ｋ」となる。このため、電流センサ３４によって検出される電流ｉｕ（＝Ｉｕ）を「（１／Ｇ）・ｉｕ」とすることで、この値を「Ｋ・ｉｕ＝Ｋ・Ｉｕ」とすることができる。すなわち、補正後の電流「Ｋ・ｉｕ」と、電流センサ３６によって検出される電流ｉｗとは、いずれも真の値を「Ｋ」倍した値となる。
【００３７】
なお、制御装置２０は、ステップＳ４４，Ｓ４６の処理が完了する場合や、ステップＳ３０，Ｓ３２において否定判断する場合には、この一連の処理を一旦終了する。
次に、上記処理の作用を説明する。
【００３８】
制御装置２０は、図３の処理によってゲイン異常があると判定した後、ＩＧがオフされ、次にＩＧがオン操作されると、図４の処理によって、まず無効電流を通電する通電制御を実行する。通電制御によってＭＧ１０に無効電流が流されるために、ＭＧ１０にトルクが生じることはない。そして、通電制御がなされるのは、後輪１２の回転速度がゼロであるとき、すなわち、ＭＧ１０が停止状態にあるときであるから、ＭＧ１０は停止状態を保つ。このため、図４のステップＳ３４の処理において制御装置２０が一度取得した電気角θの値が通電制御の途中で変化することはない。このため、通電制御の期間にわたって、スイッチング素子ＳＨ＃は、一定の時比率ＤＴＨにてオン・オフ操作される。そして、この間、基準比率（Ｉｕ／Ｉｗ）も一定となり、検出比率（ｉｕ／ｉｗ）も一定となる。
【００３９】
制御装置２０は、ゲイン調整値Ｇを算出し、これにより、電流センサ３４，３６によって検出される電流ｉｕ，ｉｗを補正すると、これに基づき、ＭＧ１０の制御量を制御する。すなわち、たとえば、ベクトル制御による電流フィードバック制御を実行する場合、補正された値に基づき、ｄ軸電流ｉｄおよびｑ軸電流ｉｑを算出し、それらを指令値にフィードバック制御すべく、インバータ１６の出力電圧を操作する。
【００４０】
これにより、電流センサ３４，３６にゲイン異常が生じている場合であっても、制御装置２０は、ＭＧ１０のＵ相、Ｖ相、およびＷ相のそれぞれに流れる電流の振幅のばらつきを抑制することができるため、トルクリップルを抑制しつつＭＧ１０を駆動することができる。このため、電流センサ３４，３６にゲイン異常が生じている場合であっても、ＭＧ１０を走行に利用することができることから、たとえば内燃機関２やＭＧ４のみを用いる場合と比較して、リンプホーム運転をより適切に行うことが可能となる。
【００４１】
以上説明した本実施形態によれば、上述したもの以外にも以下に記載する作用効果が得られる。
（１）電流ｉｕ，ｉｗに対して補正後の値の方が大きくなるようにして補正処理を行った。この場合、２重異常がないとの前提の下、補正後の電流値は、真の値に近づくか、真の値よりも大きくなるかのいずれかとなる。このため、制御装置２０が補正後の電流を制御に用いるに際し、ＭＧ１０に流れる電流を真の電流値よりも小さい値と誤認識する事態を抑制することができる。このため、ＭＧ１０に流せる電流の上限値やインバータ１６に流せる電流の上限値を真の値が上回る前に、制御装置２０が、ＭＧ１０を流れる電流が上限値に達したと認識するため、真の値が上限値を上回る事態を好適に抑制することができる。
【００４２】
（２）正常時の基準となる電流を、基準比率（Ｉｕ／Ｉｗ）として与えた。これにより、時比率ＤＴＨによる開ループ制御を行うに際し、インバータ１６の入力電圧（バッテリ１８の電圧）が様々な値をとったとしても、ゲイン調整値Ｇを高精度に算出することができる。すなわち、電気角θに応じて時比率ＤＴＨを定めることは、インバータ１６の出力電圧の位相を定めることを意味する。ここで、たとえばＵ相の電圧が振幅Ａを用いて「Ａ・ｃｏｓ（θ＋γ）」と表現される場合、位相は、「γ」である。しかし、インバータ１６の入力電圧が変動すると、時比率ＤＴＨを定めても振幅Ａは一定とはならない。これは、ｄｑ軸の電圧ベクトル（ｖｄ，ｖｑ）について、「ａｒｃｔａｎ（ｖｄ／ｖｑ）」を定めるものの、そのノルムについては一定ではないことを意味する。
【００４３】
一方、基準比率（Ｉｕ／Ｉｗ）が電気角θに応じて一義的に定まるためには、ｄｑ軸の電流ベクトル（ｉｄ，ｉｑ）について、そのノルムは一定でなくてもよいが、「ａｒｃｔａｎ（ｉｄ／ｉｑ）」を固定することが要求される。ここで、本実施形態では、ＭＧ１０が停止しているときに通電制御を行うことに鑑みれば、ｄｑ軸の電圧ベクトルは、微分演算子の項を無視した以下の式（ｃ１），（ｃ２）となる。
【００４４】
ｖｄ＝Ｒ・ｉｄ−ω・Ｌ・ｉｑ＝Ｒ・ｉｄ        …（ｃ１）
ｖｑ＝ω・Ｌ・ｉｄ＋Ｒ・ｉｑ＋Φ・ω＝Ｒ・ｉｑ  …（ｃ２）
なお、上記においては、抵抗Ｒ、インダクタンスＬ、逆起電圧定数Φ、および電気角速度ωを用い、また、右辺においては、「ω＝０」を用いた。
【００４５】
上記の式より、「ａｒｃｔａｎ（ｉｄ／ｉｑ）＝ａｒｃｔａｎ（ｖｄ／ｖｑ）」となる。このため、「ａｒｃｔａｎ（ｖｄ／ｖｑ）」を定めることで、すなわち、時比率ＤＴＨを定めることで、「ａｒｃｔａｎ（ｉｄ／ｉｑ）」が一義的に定まり、ひいては基準比率（Ｉｕ／Ｉｗ）を一義的に定めることができる。
【００４６】
＜第２の実施形態＞
以下、第２の実施形態について、第１の実施形態との相違点を中心に図面を参照しつつ説明する。
【００４７】
図６に、本実施形態にかかるＭＧ１０、インバータ１６および制御装置２０を示す。なお、図６において、先の図２に示した部材に対応するものについては、便宜上、同一の符号を付している。
【００４８】
図６に示すように、本実施形態では、Ｖ相のステータコイルＣｖと、スイッチング素子Ｓｖ＃とを接続する電気経路についても、これを流れる電流を検出する電流センサ３８を備える。
【００４９】
図７に、本実施形態にかかる電流センサ３４〜３８の異常検出処理の手順を示す。この処理は、制御装置２０によって、たとえば所定周期で繰り返し実行される。なお、図７において、図２に示した処理に対応するものについては、便宜上、同一のステップ番号を付している。
【００５０】
この一連の処理において、制御装置２０は、まずＩＧがオフからオンに切り替えられた直後であるか否かを判断する（Ｓ５０）。この処理は、ＭＧ１０に電流が流れていないときであるか否かを判断するためのものである。そして制御装置２０は、ステップＳ５０において肯定判断する場合、電流センサ３４，３６，３８によって検出される電流ｉｕ，ｉｗ，ｉｖのいずれかの絶対値が規定値α以上となるか否かを判断する（Ｓ５２）。この処理は、電流センサ３４〜３８にオフセット異常が生じているか否かを判断するためのものである。そして、制御装置２０は、規定値α以上となるものがあると判断する場合（Ｓ５２：ＹＥＳ）、電流センサ３４〜３８にオフセット異常が生じていると判定する（Ｓ５４）。
【００５１】
一方、制御装置２０は、ステップＳ５０において否定判断する場合や、規定値α以上となるものがないと判断する場合（Ｓ５２：ＮＯ）、電流センサ３４〜３８によって検出される電流ｉｕ，ｉｖ，ｉｗの和の絶対値が規定値βよりも大きいか否かを判断する（Ｓ５６）。この処理は、電流センサ３４〜３８にゲイン異常が生じているか否かを判断するためのものである。すなわち、オフセット異常が生じていない場合、ゲイン異常が生じていないなら、キルヒホッフの法則により、電流ｉｕ，ｉｖ，ｉｗの和はゼロとなると考えられる。上記規定値βは、電流センサ３４〜３８の許容される誤差に起因して、電流ｉｕ，ｉｖ，ｉｗの和の絶対値がゼロからずれる場合に、ゲイン異常と判定しない値に設定される。なお、この処理がなされるときにＭＧ１０に電流が流れているとは限らないが、電流が流れていない場合であってステップＳ５２において否定判断される場合には、ステップＳ５６において肯定判断されることはない。
【００５２】
制御装置２０は、規定値βよりも大きいと判断する場合（Ｓ５６：ＹＥＳ）、ゲイン異常が生じていると判定する（Ｓ５８）。そして、制御装置２０は、ステップＳ５４においてオフセット異常であると判定する場合や、ステップＳ５８においてゲイン異常と判定する場合には、図２のステップＳ２０，Ｓ２２と同様の処理を実行する。
【００５３】
なお、制御装置２０は、ステップＳ２２の処理が完了する場合や、ステップＳ５６において否定判断する場合には、この一連の処理を一旦終了する。
図８に、本実施形態にかかるゲイン補正処理の手順を示す。この処理は、制御装置２０によって、たとえば所定周期で繰り返し実行される。なお、図８において、図４の処理に対応するものについては、便宜上、同一のステップ番号を付している。
【００５４】
この一連の処理において、制御装置２０は、ステップＳ３４の処理が完了すると、電気角θに基づき、時比率ＤＴＨを取得する（Ｓ３６ａ）。ただし、ここで時比率ＤＴＨが設定されるテーブルには、図９に示すように、基準比率（Ｉｕ／Ｉｗ）に加えて、基準比率（Ｉｖ／Ｉｕ）と基準比率（Ｉｗ／Ｉｖ）とが定められている。ここで、「Ｉｖ」は、時比率ＤＴＨによる通電制御によってＭＧ１０のＶ相のステータコイルＣｖに流れる電流の基準値（真の値）である。
【００５５】
また、制御装置２０は、無効電流の通電処理を実行すると、ゲイン調整値Ｇｕｗ，Ｇｖｕ，Ｇｗｖを算出する（Ｓ６０）。ここで、ゲイン調整値Ｇｕｗは、電流センサ３４によって検出される電流ｉｕと電流センサ３６によって検出される電流ｉｗとの比である検出比率（ｉｕ／ｉｗ）を上記基準比率（Ｉｕ／Ｉｗ）で除算した値の絶対値である。また、ゲイン調整値Ｇｖｕは、電流センサ３８によって検出される電流ｉｖと電流センサ３４によって検出される電流ｉｕとの比である検出比率（ｉｖ／ｉｕ）を上記基準比率（Ｉｖ／Ｉｕ）で除算した値の絶対値である。また、ゲイン調整値Ｇｗｖは、電流センサ３６によって検出される電流ｉｗと電流センサ３８によって検出される電流ｉｖとの比である検出比率（ｉｗ／ｉｖ）を上記基準比率（Ｉｗ／Ｉｖ）で除算した値の絶対値である。
【００５６】
次に、制御装置２０は、電流センサ３４〜３８によって検出される電流ｉｕ，ｉｖ，ｉｗのうち補正対象とするものを決定する（Ｓ６２）。ここでは、電流センサ３４〜３８のうちゲイン異常が生じているのはいずれか１つのみであることを前提とし、２重異常、３重異常を想定しない。図８には、ゲイン調整値Ｇｕｗ，Ｇｖｕ，Ｇｗｖの取り得る値と、補正手法とを記載している。なお、「δ」は、正の数であり、特に、ゲイン異常が生じている場合にゲイン調整値Ｇｕｗ，Ｇｖｕ，Ｇｗｖが「１」から外れる度合いを示す。すなわち、たとえば、ゲイン調整値Ｇｕｗが「１＋δ」よりも大きいとは、ゲイン異常によってゲイン調整値Ｇｕｗが「１」を上回ることを意味する。なお、ゲイン調整値Ｇｕｗが「１」よりも大きいものの、「１＋δ」を上回らない場合は、許容範囲を超える異常であるゲイン異常が生じていない場合に対応し、この場合、ゲイン調整値Ｇｕｗはほぼ「１」であるとしている。
【００５７】
具体的には、ゲイン調整値Ｇｗｖがほぼ「１」である場合、電流センサ３４によって検出される電流ｉｕを補正対象とし、「Ｇｖｕ・ｉｕ」と補正する。すなわち、ゲイン調整値Ｇｗｖがほぼ「１」であることから、電流センサ３６，３８は正常であると考えられる。ここで、電流センサ３４によって検出される電流ｉｕが「Ｋ・Ｉｕ（ただし、Ｋ＞１）」となる場合、ゲイン調整値Ｇｖｕは、「１／Ｋ」となることから、「Ｇｖｕ・ｉｕ＝Ｉｕ」となり、電流ｉｕは、真の値に補正される。一方、電流センサ３４によって検出される電流ｉｕが「Ｌ・Ｉｕ（ただし、Ｌ＜１）」となる場合、ゲイン調整値Ｇｖｕは、「１／Ｌ」となることから、「Ｇｖｕ・ｉｕ＝Ｉｕ」となり、電流ｉｕは、真の値に補正される。
【００５８】
同様の考え方によって、ゲイン調整値Ｇｕｗがほぼ「１」である場合、電流センサ３８によって検出される電流ｉｖを補正対象とし、「Ｇｗｖ・ｉｖ」と補正する。また、ゲイン調整値Ｇｖｕがほぼ「１」である場合、電流センサ３６によって検出される電流ｉｗを補正対象とし、「Ｇｕｗ・ｉｗ」と補正する。
【００５９】
以上説明した本実施形態によれば、第１の実施形態の主要な効果や上記（２）の効果に加えて、更に以下の効果が得られるようになる。
（３）ゲイン調整値Ｇｕｗ、Ｇｖｕ，Ｇｗｖに基づき、ゲイン異常が生じているセンサを特定し、ゲイン異常が生じているセンサの検出値を補正対象とした。これにより、ゲイン異常が生じているセンサの検出値を真の値に近づける補正をすることができる。
【００６０】
＜技術的思想と実施形態との対応＞
以下、上記「課題を解決するための手段」に記載された技術的思想や技術的思想内の事項と、実施形態との代表的な対応関係を記載する。
【００６１】
回転機…１０、複数の端子…Ｃｕ，Ｃｖ，Ｃｗの端部のうち中性点でない側、電圧印加回路…１６、第１端子…Ｃｕの端子、第２端子…Ｃｗの端子、第１電流センサ…３４、第２電流センサ…３６
［技術的思想１：通電制御部…Ｓ３８、検出比率…（ｉｕ／ｉｗ）、基準比率…（Ｉｕ／Ｉｗ）、ゲイン調整値…Ｇ；Ｇｕｗ，算出処理部…Ｓ４０；Ｓ６０］［技術的思想２：「乗算したもの」…Ｇ・ｉｗ，（１／Ｇ）・ｉｕ；Ｇｕｗ・ｉｗ］［技術的思想３：Ｓ４４，Ｓ４６］［技術的思想４：Ｓ３８］［技術的思想５：直流電圧源…１８、関係情報…図５；図９］［技術的思想６：「オフセット異常が生じていないと判断されるとき」…Ｓ２４でＮＯ；Ｓ５２でＮＯ］
＜その他の実施形態＞
なお、上記各実施形態は、以下のように変更して実施してもよい。
【００６２】
・「ゲイン補正処理について」
図４のステップＳ４４において、電流ｉｕを「（１／Ｇ）・ｉｕ」と補正してもよい。ただし、この場合、電流ｉｕの上限値を、「（１／Ｇ）・（上限値）」に補正することが望ましい。同様に、ステップＳ４６において、電流ｉｗを「Ｇ・ｉｗ」と補正してもよい。ただし、この場合、電流ｉｗの上限値を、「Ｇ・（上限値）」に補正することが望ましい。
【００６３】
図８のステップＳ６２において、電流ｉｕを、「（１／Ｇｕｗ）・ｉｕ」と補正してもよい。また、電流ｉｖを、「（１／Ｇｖｕ）・ｉｖ」と補正してもよい。また、電流ｉｗを、「（１／Ｇｗｖ）・ｉｗ」と補正してもよい。
【００６４】
図８のステップＳ６２においては、２重故障が生じていないとの前提の下、ゲイン異常が生じた電流センサを特定し、そのセンサによって検出される電流を正しい値に補正したがこれに限らない。たとえば、電流センサ３４，３６，３８のそれぞれのゲインのばらつきを低減するように補正することを条件に、検出される値を増加補正してもよい。すなわち、たとえば、ゲイン調整値Ｇｕｗが「１」よりも所定以上大きくゲイン調整値Ｇｖｕが「１」よりも所定以上小さく、ゲイン調整値Ｇｗｖがほぼ「１」である場合、電流ｉｖを「Ｇｕｗ・ｉｖ」によって補正して且つ、電流ｉｗを「Ｇｕｗ・ｉｗ」によって補正してもよい。
【００６５】
ゲイン補正処理としては、電流センサ３４〜３８によって検出される電流をゲイン調整値だけ増加または減少補正するものに限らない。たとえば、上記実施形態における補正に加えて、検出される電流のそれぞれに、所定値（＞１）を乗算する補正を施してもよい。これにより、ゲイン異常が生じたことに鑑み電流の真の値に対する上限値を正常時よりも低下させるフェールセーフ処理を実現することができる。
【００６６】
なお、ゲイン補正処理としては、ＩＧ信号がオン操作されることをトリガとして実行するものに限らない。たとえば、ＩＧ信号がオフ操作されてから所定期間内に実行してもよい。また、ゲイン異常が検出されることを条件に実行されるものにも限らない。たとえば、ＩＧ信号がオン操作された場合に、ステップＳ３４〜Ｓ４０の処理を実行した後、ゲイン調整値Ｇが「１」から所定量以上ずれる場合に、オフセット異常またはゲイン異常が生じたとして、オフセット異常の有無を検出し、オフセット異常がないと判定される場合に、ステップＳ４２〜Ｓ４６の処理を実行してもよい。
【００６７】
上記実施形態では、オフセット異常が生じている場合にゲイン補正処理を実行することについては記載しなかったが、これを実行してもよい。これは、オフセット異常が補正された後に、図４や図８に示した処理を実行することで実現することができる。
【００６８】
・「操作処理部について」
電流センサ３４〜３８によって検出される電流ｉｕ，ｉｖ，ｉｗが補正されたものを用いるものに限らない。たとえば瞬時電流値制御によって、電流ｉｕ，ｉｖ，ｉｗのそれぞれを指令値ｉｕ＊，ｉｖ＊，ｉｗ＊のそれぞれにフィードバック制御する場合、指令値ｉｕ＊，ｉｖ＊，ｉｗ＊を補正したものを用いてもよい。この場合、たとえば図４のステップＳ４４に代えて、指令値ｉｗ＊を「（１／Ｇ）・ｉｗ＊」で補正すればよい。
【００６９】
ゲイン補正処理がなされた状態でＭＧ１０を稼働させるに際しては、たとえば電流を定めるパラメータの値を制限することで、間接的に電流を制限する処理を実行してもよい。すなわち、たとえばＭＧ１０を電流ベクトル制御によって稼働させるものにおいて、ｄｑ軸の電流の指令値（ｉｄ＊，ｉｑ＊）をトルクの指令値から定めるなら、トルクの指令値の上限値を、ゲイン補正処理がなされない場合よりもなされる場合に低下させてもよい。
【００７０】
・「通電制御部について」
図５や図９に示すテーブルを記憶し、これに基づき通電処理を実行するものに限らない。たとえば、上記（ｃ１），（ｃ２）を用いた下記の式（ｃ３），（ｃ４）によって通電制御を実行してもよい。
【００７１】
ｖｄ＊＝Ｒ・ｉｄ＊−ω・Ｌ・ｉｑ＊＝０                  …（ｃ３）
ｖｑ＊＝ω・Ｌ・ｉｄ＊＋Ｒ・ｉｑ＊＋Φ・ω＝Ｒ・ｉｑ＊  …（ｃ４）
上記においては、指令電流ベクトル（ｉｄ＊，ｉｑ＊）が（ｉｄ＊，０）であることと、電気角速度ωがゼロであることとを用いた。上記のｄｑ軸上の指令電圧ベクトル（ｖｄ＊，ｖｑ＊）を電気角θに基づきＵ相、Ｖ相、およびＷ相の指令電圧に変換し、インバータ１６の出力電圧を３相の指令電圧とするように、スイッチング素子ＳＨ＃を操作すればよい。なお、この場合、Ｕ相、Ｖ相およびＷ相に流れる電流の大きさをｄ軸電流の指令値ｉｄ＊によって制御することができるため、ゲイン調整値Ｇ等の算出処理のＳ／Ｎ比の変動を抑制することが可能となる。
【００７２】
無効電流を流すものに限らない。たとえば、ＭＧ１０と後輪１２との機械的な締結および動力伝達の遮断を切り替えるクラッチ等の締結制御要素を備える場合、締結制御要素が遮断状態にあるなら、ＭＧ１０を回転させてもよい。ただし、この場合、図５や図９に例示したテーブルに代えて、たとえば、バッテリ１８の端子電圧および電気角速度ωに応じて、電気角θ毎に時比率ＤＴｕ，ＤＴｖ，ＤＴｗと基準比率との関係を定めたマップを用いることが望ましい。これは、電気角速度ωがゼロでない場合、電気角θによって基準比率が一義的に定まらず、バッテリ１８の端子電圧や電気角速度ωに応じて変動すると考えられるからである。
【００７３】
・「電圧印加回路について」
スイッチング素子ＳＨ＃としては、ＩＧＢＴに限らず、ＭＯＳ電界効果トランジスタ等であってもよい。この場合、ダイオードは、寄生ダイオードであってもよい。
【００７４】
単一の直流電圧源（バッテリ１８）の正極とＭＧ１０の端子との間の電気経路を開閉するスイッチング素子ＳＨｐと、負極とＭＧ１０の端子との間の電気経路を開閉するスイッチング素子ＳＨｎのみが電子操作対象となるもの（２レベルインバータ）に限らない。たとえば３レベルインバータ等、多レベルインバータであってもよい。この場合であっても、開ループ制御の操作量としてインバータの出力電圧を操作することで、基準比率を設定することが可能である。
【００７５】
・「回転機について」
ＳＰＭに限らず、埋め込み磁石同期機（ＩＰＭＳＭ）であってもよい。また、ステータコイルＣｕ，Ｃｖ，Ｃｗが中性点で接続されるものに限らず、たとえばΔ結線されるものであってもよい。この場合、電流センサ３４〜３８の検出対象は、ステータコイルＣｕ，Ｃｖ，Ｃｗのそれぞれに流れる相電流（ｉｕ，ｉｖ，ｉｗ）ではなく、インバータ１６およびＭＧ１０間の電気経路を流れる電流（線電流）となる。このため、基準比率等は、線電流についての比を定めるものとなるが、各線電流を示す記号として「ｉｕ，ｉｖ，ｉｗ」を用いるなら、上記実施形態の処理を流用することができる。
【００７６】
また、３相回転機に限らず、たとえば５相回転機等、任意の多相回転機であってよい。３相よりも相の数が多い回転機の場合であっても、図８に例示した処理を流用することでゲイン調整値によって検出される電流の補正処理を実現することができる。
【００７７】
なお、回転機は、後輪１２に機械的に連結されるものに限らない。たとえば、前輪８に機械的に連結されるものであってもよい。またたとえば、電動パワーステアリング装置に搭載される回転機であってもよい。
【００７８】
・「オフセット異常の検出処理について」
たとえば、電流ベクトル制御においてｄｑ軸の電流ベクトルの指令値（ｉｄ＊，ｉｑ＊）を一定値とするなど、ＭＧ１０を流れる電流を一定の振幅に開ループ制御した際の電流の最大値および最小値の差が「０」に対して所定量以上ずれている場合にオフセット異常と判定してもよい。
【００７９】
・「そのほか」
ハイブリッド車としては、図１に例示したものに限らない。たとえば、シリーズハイブリッド車であってもよい。この場合、ＭＧ１０を一定のトルク且つ一定の速度で回転させることが容易となることから、上述したトルクを付与する通電によってゲイン調整値を算出する変形例の実現が容易となる。
【符号の説明】
【００８０】
Ｃｕ，Ｃｖ，Ｃｗ…ステータコイル、Ｇ，Ｇｕｗ，Ｇｖｕ，Ｇｗｖ…ゲイン調整値、Ｓｕｐ，Ｓｖｐ，Ｓｗｐ，Ｓｕｎ，Ｓｖｎ，Ｓｗｎ…スイッチング素子、Ｄｕｐ，Ｄｖｐ，Ｄｗｐ，Ｄｕｎ，Ｄｖｎ，Ｄｗｎ…ダイオード、Ｕｕｐ，Ｕｖｐ，Ｕｗｐ，Ｕｕｎ，Ｕｖｎ，Ｕｗｎ…ドライブユニット、２…内燃機関、６…トランスミッション、８…前輪、１２…後輪、１４，１６…インバータ、１８…バッテリ、２０…制御装置、３０，３２…リレー、３４，３６，３８…電流センサ。
【図１】
2016013040.tif 000003
【図２】
2016013040.tif 000004
【図３】
2016013040.tif 000005
【図４】
2016013040.tif 000006
【図５】
2016013040.tif 000007
【図６】
2016013040.tif 000008
【図７】
2016013040.tif 000009
【図８】
2016013040.tif 000010
【図９】
2016013040.tif 000011