(57)【要約】【課題】被検査体の内側コーナ部を検査する場合のきずの検出性を高めることができる渦電流探傷プローブを提供する。【解決手段】渦電流探傷プローブ１は、被検査体１００の検査面上に配置されて互いの間にギャップを形成する底板部１１Ａ，１１Ｂとそれらを接続する上板部９及び側板部１０Ａ，１０Ｂを有する磁性体６と、上板部９に巻き付けられた励磁コイル７Ａと、前記ギャップに配置された検出コイル８Ａ〜８Ｆとを備える。検出コイル８Ａは、磁性体６の底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向一方側の側面より外側にはみ出さないように、その外縁が底板部１１Ａ，１１Ｂの側面に位置する。磁性体６の上板部９は、励磁コイル７Ａの巻き厚さｔ以上のオフセット量Ｌで、その外縁が底板部１１Ａ，１１Ｂの側面より内側にオフセットする。【選択図】図３
2016080596.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査体の検査面上に配置されて互いの間にギャップを形成する一対の底板部とそれらを接続する部分を有する磁性体と、
前記一対の底板部を接続する部分に巻き付けられた少なくとも１つの励磁コイルと、
前記ギャップに配置された少なくとも1つの検出コイル又は磁気検出素子とを備え、
前記少なくとも１つの検出コイル又は前記磁気検出素子は、前記底板部の少なくとも幅方向一方側の側面より外側にはみ出さないように、その外縁が前記底板部の側面に位置するか若しくは前記励磁コイルの巻き厚さ未満のオフセット量で前記底板部の側面より内側にオフセットし、
前記磁性体において前記励磁コイルが巻き付けられた部分は、前記励磁コイルの巻き厚さ以上のオフセット量で、その外縁が前記底板部の少なくとも幅方向一方側の側面より内側にオフセットするように構成されたことを特徴とする渦電流探傷プローブ。
【請求項２】
請求項１記載の渦電流探傷プローブにおいて、
前記磁性体は、略Ｃの字状に形成されて、上板部と、前記上板部の両端側に接続された一対の側板部と、前記一対の側板部にそれぞれ接続された前記一対の底板部とを有し、
前記励磁コイルは、前記上板部に巻き付けられており、
前記上板部は、前記励磁コイルの巻き厚さ以上のオフセット量で、その外縁が前記底板部の少なくとも幅方向一方側の側面より内側にオフセットするように構成されたことを特徴とする渦電流探傷プローブ。
【請求項３】
請求項１記載の渦電流探傷プローブにおいて、
前記磁性体は、略Ｃの字状に形成されて、上板部と、前記上板部の両端側に接続された一対の側板部と、前記一対の側板部にそれぞれ接続された前記一対の底板部とを有し、
前記励磁コイルは、前記側板部に巻き付けられており、
前記側板部は、前記励磁コイルの巻き厚さ以上のオフセット量で、その外縁が前記底板部の少なくとも幅方向一方側の側面より内側にオフセットするように構成されたことを特徴とする渦電流探傷プローブ。
【請求項４】
請求項１記載の渦電流探傷プローブにおいて、
前記磁性体は、略Ｃの字状に形成されて、上板部と、前記上板部の両端側に接続された一対の側板部と、前記一対の側板部にそれぞれ接続された前記一対の底板部とを有し、
前記励磁コイルは、前記上板部及び前記側板部に巻き付けられており、
前記上板部及び前記側板部は、前記励磁コイルの巻き厚さ以上のオフセット量で、その外縁が前記底板部の少なくとも幅方向一方側の側面より内側にオフセットするように構成されたことを特徴とする渦電流探傷プローブ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁性体及びこれに巻き付けられた励磁コイルを備えた渦電流探傷プローブに関する。
【背景技術】
【０００２】
発電分野の構造物には、炭素鋼などの部材が利用されている。その製造過程の健全性を確認するために、各種検査が実施されている。その検査方法の1つとして、渦電流探傷法がある。その原理は、交流磁場により、被検査体に渦電流を誘起させ、欠陥による渦電流の乱れを検出コイル又は磁気検出素子を用いて検出する手法である。励磁コイル単体で交流磁場を発生させる場合は、その磁場が広く空間に拡散する分布を示すため、渦電流も広く発生する。このため、空間的な分解能が低くなるという課題が生じる。
【０００３】
そこで、コの字状の磁性材及びその両端側に接続された一対の磁性材板からなる磁性体（言い換えれば、略Ｃの字状の磁性体）と、コの字状の磁性材に巻き付けられた励磁コイルと、一対の磁性材板の間に形成されたギャップに配置された検出コイルとを備えた渦電流探傷プローブが提唱されている（例えば特許文献１参照）。この渦電流探傷プローブでは、磁性体のギャップを被検査体の検査面上に配置し、ギャップを渡る磁場のふくらみによって検査面に磁場を印加し、検査面に渦電流を発生させる。したがって、渦電流の発生領域を狭くでき、微少欠陥の検出に適している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１３−１６０５７９号公報（図１等参照）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記従来技術には改善の余地があった。すなわち、特許文献１に記載の渦電流探傷プローブにおいて、検出コイルは、磁性体の幅方向（言い換えれば、一対の磁性材板が離間する方向に対して直交する方向であって、被検査体の検査面に対して平行な方向）の中央部に配置されている。すなわち、検出コイルの外縁が磁性材板の側面より外側にはみ出さないものの、内側に大きく離されている。また、磁性体の幅寸法が一定である。すなわち、励磁コイルが巻き付けられた部分の幅寸法が、磁性材板の幅寸法と同じである。そのため、励磁コイルの外縁が磁性材板の側面より外側にはみ出すようになっている。したがって、被検査体の内側コーナ部を検査する場合に、内側コーナ部に対して検出コイルを近づけることができないため、きずの検出性が低下する。かといって、検出コイルが磁性材板の側面より外側にはみ出すようにしても、きずの検出性が低下する。
【０００６】
本発明は、上記事柄に鑑みてなされたものであり、その目的は、被検査体の内側コーナ部を検査する場合のきずの検出性を高めることができる渦電流探傷プローブを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明は、被検査体の検査面上に配置されて互いの間にギャップを形成する一対の底板部とそれらを接続する部分を有する磁性体と、前記一対の底板部を接続する部分に巻き付けられた少なくとも１つの励磁コイルと、前記ギャップに配置された少なくとも1つの検出コイル又は磁気検出素子とを備え、前記少なくとも１つの検出コイル又は前記磁気検出素子は、前記底板部の少なくとも幅方向一方側の側面より外側にはみ出さないように、その外縁が前記底板部の側面に位置するか若しくは前記励磁コイルの巻き厚さ未満のオフセット量で前記底板部の側面より内側にオフセットし、前記磁性体において前記励磁コイルが巻き付けられた部分は、前記励磁コイルの巻き厚さ以上のオフセット量で、その外縁が前記底板部の少なくとも幅方向一方側の側面より内側にオフセットするように構成される。
【０００８】
このような本発明においては、検出コイルは、磁性体の底板部の少なくとも幅方向一方側の側面よりはみ出さないように、その外縁が底板部の側面に位置するか若しくは励磁コイルの巻き厚さ未満のオフセット量で底板部の側面より内側にオフセットしている。これにより、磁性体の底板部の側面よりはみ出すように配置している場合と比べ、きずの検出性を高めることができる。また、励磁コイルは、磁性体の底板部の少なくとも幅方向一方側の側面よりはみ出さないように配置している。これにより、被検査体の内側コーナ部（具体的には、例えば溝コーナ部等）を検査する場合に、内側コーナ部に対して検出コイルを近づけることができ、内側コーナ部に生じたきずの検出性を高めることができる。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、被検査体の内側コーナ部を検査する場合のきずの検出性を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の第１の実施形態における渦電流探傷システムの構成を表すブロック図である。
【図２】本発明の第１の実施形態における渦電流探傷プローブの要部構造を、被検査体の一例とともに表す斜視図である。
【図３】本発明の第１の実施形態における渦電流探傷プローブの要部構造を表す平面図、正面図、及び側面図である。
【図４】比較例における渦電流探傷プローブの要部構造を表す平面図、正面図、及び側面図である。
【図５】試験体の構造を表す側面図と断面Ｅ−Ｅによる断面図である。
【図６】試験体の探傷結果を表す図であり、比較例の渦電流探傷プローブを用いた場合及び本実施形態の渦電流探傷プローブを用いた場合を示す。
【図７】本発明の第２の実施形態における渦電流探傷プローブの要部構造を、被検査体の一例とともに表す斜視図である。
【図８】本発明の第２の実施形態における渦電流探傷プローブの要部構造を表す平面図、正面図、及び側面図である。
【図９】本発明の第３の実施形態における渦電流探傷プローブの要部構造を、被検査体の一例とともに表す斜視図である。
【図１０】本発明の第３の実施形態における渦電流探傷プローブの要部構造を表す平面図、正面図、及び側面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
本発明の第１の実施形態を、図面を参照しつつ説明する。
【００１２】
図１は、本発明の第１の実施形態における渦電流探傷システムの構成を表すブロック図である。
【００１３】
本実施形態の渦電流探傷システムは、渦電流探傷プローブ１と、この渦電流探傷プローブ１を走査する走査装置２と、渦電流探傷プローブ１に電気的に接続された渦電流探傷器３と、走査装置２及び渦電流探傷器３に電気的に接続されたコンピュータ４と、このコンピュータ４に電気的に接続されたモニタ５とを備えている。
【００１４】
走査装置２は、渦電流探傷プローブ１を自動的に移動させるとともに、その位置信号を出力するようになっている。渦電流探傷器３は、渦電流探傷プローブ１の励磁コイル（後述）に励磁電流（交流電流）を供給する。また、渦電流探傷プローブ１の検出コイル（後述）の誘起電圧を検出し、その検出信号を出力するようになっている。
【００１５】
コンピュータ４は、走査装置２の走査速度や走査範囲などの走査条件を設定するとともに、渦電流探傷器３の励磁電流の周波数などの探傷条件を設定する。また、走査装置２からの位置信号及び渦電流探傷器３からの検出信号を処理して探傷データを生成し、モニタ５に表示させる（後述の図６参照）。また、探傷データを保存するようになっている。
【００１６】
図２は、本実施形態における渦電流探傷プローブ１の要部構造を、被検査体の一例とともに表す斜視図である。図３（ａ）は、渦電流探傷プローブ１の要部構造を表す平面図であり、図３（ｂ）は、図３（ａ）中矢印Ａ方向から見た正面図であり、図３（ｃ）は、図３（ａ）中矢印Ｂ方向から見た側面図である。
【００１７】
本実施形態の渦電流探傷プローブ１は、略Ｃの字状の磁性体６と、この磁性体６に巻き付けられた励磁コイル７Ａと、例えば６つの検出コイル８Ａ〜８Ｆと、それらを収容する樹脂製のケーシング（図示せず）とを備えている。
【００１８】
磁性体６は、上板部９と、この上板部９の両側に接続された側板部１０Ａ，１０Ｂと、側板部１０Ａ，１０Ｂにそれぞれ接続された底板部１１Ａ，１１Ｂとを有している。励磁コイル７Ａは、上板部９に巻き付けられている。検出コイル８Ａ〜８Ｆは、底板部１１Ａ，１１Ｂの間に形成されたギャップに配列されている。各検出コイルの軸方向は、底板部１１Ａ，１１Ｂが離間する方向に直交し且つ検査面に直交する方向（図３（ｂ）中上下方向）にある。
【００１９】
そして、磁性体６のギャップを被検査体１００の検査面上に配置し、ギャップを渡る磁場のふくらみによって検査面に磁場を印加し、検査面に渦電流を発生させ、欠陥による渦電流の乱れを検出コイルで検出する。したがって、励磁コイル単体で磁場を印加する場合と比べ、渦電流の発生領域を狭くでき、微少欠陥の検出に適している。
【００２０】
ここで、本実施形態の渦電流探傷プローブ１は、被検査体１００の内側コーナ部に生じたきず１０１を検出することを目的としている。
【００２１】
詳しく説明すると、検出コイル８Ａは、磁性体６の底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向一方側（図３（ａ）及び図３（ｂ）中左側）の側面より外側にはみ出さないように、その外縁が底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向一方側の側面に位置している。これにより、磁性体６の底板部１１Ａ，１１Ｂの側面よりはみ出すように配置している場合と比べ、きずの検出性を高めることができる。
【００２２】
また、励磁コイル７Ａが磁性体６の底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向一方側の側面より外側にはみ出さないように、励磁コイル７Ａが巻き付けられた部分（本実施形態では、上板部９の全体であるが、上板部９の一部であってもよい）の幅寸法は、底板部１１Ａ，１１Ｂ（及び側板部１０Ａ，１０Ｂ）の幅寸法より小さくなっている。言い換えれば、上板部９の幅方向一方側の側面（外縁）は、励磁コイル７Ａの巻き厚さｔ以上のオフセット量Ｌで、底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向一方側の側面より内側にオフセットしている。これにより、被検査体１００の内側コーナ部を検査する場合に、内側コーナ部に対して検出コイル８Ａを近づけることができ、内側コーナ部に生じたきず１０１の検出性を高めることができる。
【００２３】
次に、本実施形態の効果を、比較例を用いて具体的に説明する。
【００２４】
図４（ａ）は、比較例における渦電流探傷プローブの要部構造を表す平面図であり、図４（ｂ）は、図４（ａ）中矢印Ｃ方向から見た正面図であり、図４（ｃ）は、図４（ａ）中矢印Ｄ方向から見た側面図である。図５（ａ）は、試験体の構造を表す側面図であり、図５（ｂ）は、図５（ａ）中断面Ｅ−Ｅによる断面図である。図６（ａ）及び図６（ｂ）は、試験体の探傷結果を表す図であり、図６（ａ）が比較例の渦電流探傷プローブを用いた場合を示し、図６（ｂ）が本実施形態の渦電流探傷プローブ１を用いた場合を示している。
【００２５】
比較例の渦電流探傷プローブ２０は、本実施形態の渦電流探傷プローブ１と同様、磁性体６、励磁コイル７Ａ、及び検出コイル８Ａ〜８Ｆを備えている。但し、磁性体６の上板部９の幅寸法は、底板部１１Ａ，１１Ｂ（及び側板部１０Ａ，１０Ｂ）の幅寸法と同じである。そのため、励磁コイル７Ａの巻き厚さｔの分、励磁コイル７Ａが底板部１１Ａ，１１Ｂの側面より外側にはみ出すようになっている。したがって、被検査体の内側コーナ部を検査する場合に、励磁コイル７Ａがはみ出した分、内側コーナ部に対して検出コイル８Ａを近づけることができない。
【００２６】
試験体１０２には、基準きず１０３が加工されているとともに、その内側コーナ部に試験用きず１０４Ａ〜１０４Ｆが加工されている。試験用きず１０４Ａ〜１０４Ｆの長さ（図５（ａ）中左右方向の寸法）は２ｍｍとし、深さ（図５（ａ）及び図５（ｂ）中上下方向の寸法）はそれぞれ、０．５ｍｍ、１．０ｍｍ、１．５ｍｍ、２．０ｍｍ、２．５ｍｍ、３．０ｍｍとしている。この試験体１０２に対し、比較例の渦電流探傷プローブ２０を用いて探傷した場合は、図６（ａ）で示すように、基準きず１０３を検出するものの、試験用きず１０４Ａ〜１０４Ｆを検出することができない。
【００２７】
一方、本実施形態の渦電流探傷プローブ１は、励磁コイル７Ａが底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向一方側の側面より外側にはみ出さないようになっている。したがって、被検査体の内側コーナ部を検査する場合に、内側コーナ部に対して検出コイル８Ａを近づけることができる。そのため、試験体１０２に対し、本実施形態の渦電流探傷プローブ１を用いて探傷した場合は、図７（ｂ）で示すように、基準きず１０３だけでなく、試験用きず１０４Ａ〜１０４Ｆも検出することができる。
【００２８】
以上のように本実施形態においては、被検査体の内側コーナ部を検査する場合のきずの検出性を高めることができる。
【００２９】
次に、本発明の第２の実施形態を説明する。なお、本実施形態において、上記第１の実施形態と同等の部分は同一の符号を付し、適宜、説明を省略する。
【００３０】
図７は、本実施形態における渦電流探傷プローブ１Ａの要部構造を、被検査体の一例とともに表す斜視図である。図８（ａ）は、渦電流探傷プローブ１Ａの要部構造を表す平面図であり、図８（ｂ）は、図８（ａ）中矢印Ｆ方向から見た正面図であり、図８（ｃ）は、図８（ａ）中矢印Ｇ方向から見た側面図である。
【００３１】
本実施形態の渦電流探傷プローブ１Ａは、磁性体６、励磁コイル７Ｂ，７Ｃ、及び検出コイル８Ａ〜８Ｆを備えている。励磁コイル７Ｂ，７Ｃは、磁性体６の側板部１０Ａ，１０Ｂにそれぞれ巻き付けられている。
【００３２】
そして、励磁コイル７Ｂ，７Ｃが磁性体６の底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向一方側の側面より外側にはみ出さないように、励磁コイル７Ｂ，７Ｃが巻き付けられた部分（本実施形態では、側板部１０Ａ，１０Ｂの全体であるが、側板部１０Ａ，１０Ｂの一部であってもよい）の幅寸法は、底板部１１Ａ，１１Ｂ（及び上板部９）の幅寸法より小さくなっている。言い換えれば、側板部１０Ａ，１０Ｂの幅方向一方側の側面（外縁）は、励磁コイル７Ｂ，７Ｃの巻き厚さｔ以上のオフセット量Ｌで、底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向一方側の側面より内側にオフセットしている。これにより、被検査体１００の内側コーナ部を検査する場合に、内側コーナ部に対して検出コイル８Ａを近づけることができ、内側コーナ部に生じたきず１０１の検出性を高めることができる。
【００３３】
次に、本発明の第３の実施形態を説明する。なお、本実施形態において、上記第１及び第２の実施形態と同等の部分は同一の符号を付し、適宜、説明を省略する。
【００３４】
図９は、本実施形態における渦電流探傷プローブ１Ｂの要部構造を、被検査体の一例とともに表す斜視図である。図１０（ａ）は、渦電流探傷プローブ１Ｂの要部構造を表す平面図であり、図１０（ｂ）は、図１０（ａ）中矢印Ｈ方向から見た正面図であり、図１０（ｃ）は、図１０（ａ）中矢印Ｉ方向から見た側面図である。
【００３５】
本実施形態の渦電流探傷プローブ１Ｂは、磁性体６、励磁コイル７Ａ，７Ｂ，７Ｃ、及び検出コイル８Ａ〜８Ｆを備えている。励磁コイル７Ａは、上板部９に巻き付けられている。検励磁コイル７Ａは、励磁コイル７Ｂ，７Ｃは、磁性体６の側板部９Ａ，９Ｂにそれぞれ巻き付けられている。
【００３６】
そして、励磁コイル７Ａが磁性体６の底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向一方側の側面より外側にはみ出さないように、励磁コイル７Ａが巻き付けられた部分（本実施形態では、上板部９の全体であるが、上板部９の一部であってもよい）の幅寸法は、底板部１１Ａ，１１Ｂの幅寸法より小さくなっている。言い換えれば、上板部９の幅方向一方側の側面（外縁）は、励磁コイル７Ａの巻き厚さｔ以上のオフセット量Ｌで、底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向一方側の側面より内側にオフセットしている。
【００３７】
また、励磁コイル７Ｂ，７Ｃが磁性体６の底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向一方側の側面より外側にはみ出さないように、励磁コイル７Ｂ，７Ｃが巻き付けられた部分（本実施形態では、側板部１０Ａ，１０Ｂの全体であるが、側板部１０Ａ，１０Ｂの一部であってもよい）の幅寸法は、底板部１１Ａ，１１Ｂ（及び上板部９）の幅寸法より小さくなっている。言い換えれば、側板部１０Ａ，１０Ｂの幅方向一方側の側面（外縁）は、励磁コイル７Ｂ，７Ｃの巻き厚さｔ以上のオフセット量Ｌで、底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向一方側の側面より内側にオフセットしている。
【００３８】
したがって、被検査体１００の内側コーナ部を検査する場合に、内側コーナ部に対して検出コイル８Ａを近づけることができ、内側コーナ部に生じたきず１０１の検出性を高めることができる。
【００３９】
なお、上記第１〜第３の実施形態においては、６つの検出コイル８Ａ〜８Ｆを有する場合を例にとって説明したが、これに限られず、少なくとも１つの検出コイルを有すればよい。
【００４０】
また、上記第１〜第３の実施形態においては、検出コイル８Ａが底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向一方側の側面より外側にはみ出さないように、検出コイル８Ａの外縁が底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向一方側の側面に位置する場合を例にとって説明したが、これに限られない。すなわち、励磁コイルの巻き厚さｔ未満のオフセット量であれば、検出コイル８Ａの外縁が底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向一方側の側面より内側にオフセットしてもよい。このような変形例においても、上述した比較例と比べ、内側コーナ部に生じたきずの検出性を高めることができる。
【００４１】
また、上記第１〜第３の実施形態及び変形例においては、検出コイル８Ａが底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向一方側の側面より外側にはみ出さないように、検出コイル８Ａの外縁が底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向一方側の側面に位置するか若しくは励磁コイルの巻き厚さｔ未満のオフセット量で底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向一方側の側面より内側にオフセットし、かつ、励磁コイルの巻き厚さｔ以上のオフセット量Ｌで、磁性体６において励磁コイルが巻き付けられた部分の外縁が底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向一方側の側面より内側にオフセットするように構成された場合を例にとって説明したが、これに限られない。さらに、検出コイル８Ｆが底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向他方側の側面より外側にはみ出さないように、検出コイル８Ｆの外縁が底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向他方側の側面に位置するか若しくは励磁コイルの巻き厚さｔ未満のオフセット量で底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向他方側の側面より内側にオフセットし、かつ、励磁コイルの巻き厚さｔ以上のオフセット量Ｌで、磁性体６において励磁コイルが巻き付けられた部分の外縁が底板部１１Ａ，１１Ｂの幅方向他方側の側面より内側にオフセットするように構成されてもよい。
【００４２】
また、第１〜第３の実施形態においては、検出コイルの軸心方向は、底板部１１Ａ，１１Ｂが離間する方向に直交し且つ検査面に直交する方向（図３（ｂ）中上下方向）にある場合を例にとって説明したが、これに限られない。すなわち、例えば底板部１１Ａ，１１Ｂが離間する方向に直交し且つ検査面に平行な方向としてもよい。
【００４３】
また、第１〜第３の実施形態においては、特に説明しなかったが、特許文献１に記載のように、検出コイルの直上に非磁性かつ導電性の板部材を設けてもよい。この板部材の最も広い平面部は、底板部１１Ａ，１１Ｂが離間する方向に直交し且つ検査面に直交する方向に配置する。これにより、磁性体６のギャップを渡る磁場のふくらみを大きくして、被検査体に作用する磁場を大きくし、被検査体に発生する渦電流を大きくしてもよい。
【００４４】
また、第１〜第３の実施形態においては、磁性体６のギャップに検出コイルを設けた場合を例にとって説明したが、検出コイルに代えて、ホール素子などの磁気検出素子を設けてもよい。そして、磁気検出素子は、底板部１１Ａ，１１Ｂの少なくとも幅方向一方側の側面より外側にはみ出さないように、その外縁が底板部１１Ａ，１１Ｂの側面に位置するか若しくは励磁コイルの巻き厚さｔ未満のオフセット量で底板部１１Ａ，１１Ｂの側面より内側にオフセットすればよい。
【符号の説明】
【００４５】
１，１Ａ，１Ｂ      渦電流探傷プローブ
６                  磁性体
７Ａ，７Ｂ，７Ｃ    励磁コイル
８Ａ〜８Ｆ          検出コイル
９                  上板部
１０Ａ，１０Ｂ      側板部
１１Ａ，１１Ｂ      底板部
【図１】
2016080596.tif 000003
【図２】
2016080596.tif 000004
【図３】
2016080596.tif 000005
【図４】
2016080596.tif 000006
【図５】
2016080596.tif 000007
【図６】
2016080596.tif 000008
【図７】
2016080596.tif 000009
【図８】
2016080596.tif 000010
【図９】
2016080596.tif 000011
【図１０】
2016080596.tif 000012