(57)【要約】【課題】設備コストを安くすると共に、外形形状の自由度を高くし、また、製品コストを安くする。【解決手段】本発明の電気製品の検査システム（１）は、電気製品（２）と検査設備（３）とを接続して前記電気製品（２）を検査するものであって、前記電気製品（２）に設けられたコネクタ（８）と、前記電気製品（２）に設けられ検査信号を通す検査信号パターン（１６）と、前記コネクタ（８）の端子の中の空き端子であって前記検査信号パターン（１６）の一端が接続された検査信号端子（８ｂ）と、前記検査設備（３）に設けられ前記電気製品（２）のコネクタ（８）とハーネス（１５）を介して接続されたコネクタ（１４）とを備えたものである。【選択図】図１
2016151500.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気製品（２）と検査設備（３）とを接続して、前記電気製品（２）を検査する電気製品の検査システム（１）であって、
前記電気製品（２）に設けられたコネクタ（８）と、
前記電気製品（２）に設けられ、検査信号を通す検査信号パターン（１６）と、
前記コネクタ（８）の端子の中の空き端子であって、前記検査信号パターン（１６）の一端が接続された検査信号端子（８ｂ）と、
前記検査設備（３）に設けられ、前記電気製品（２）のコネクタ（８）とハーネス（１５）を介して接続されたコネクタ（１４）とを備えたことを特徴とする電気製品の検査システム。
【請求項２】
前記電気製品（２）は、多層プリント配線基板（４）で構成され、
前記検査信号パターン（１６）は、前記多層プリント配線基板（４）の内層（１７，１８）に設けられていることを特徴とする請求項１記載の電気製品の検査システム。
【請求項３】
前記検査信号パターン（１６）は、ＧＮＤベタパターン（２１、２３、２５）で囲まれていることを特徴とする請求項２記載の電気製品の検査システム。
【請求項４】
前記検査信号端子（８ｂ）の両隣の端子は、空き端子であることを特徴とする請求項１から３のいずれか一項記載の電気製品の検査システム。
【請求項５】
前記検査信号端子（８ｂ）の両隣の端子は、ＧＮＤ端子（１４ｃ、１４ｄ）であることを特徴とする請求項１から３のいずれか一項記載の電気製品の検査システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プリント配線基板などの電気製品を検査する電気製品の検査システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
電気製品の内部の信号や電圧を検査するに際しては、インサーキットチェッカー（ＩＣＣ）を用いて、プリント配線基板にテストランドを設け、検査ベンチにテストピン設備を設け、テストランドにテストピンを接触させることにより、検査を実行している。しかし、この構成の場合、検査用の設備費が高くなるという問題があった。
【０００３】
この問題を解消する構成として、本出願人は、特願２０１３-１４１６０４号を出願している。この構成では、プリント配線基板のエッジにカードエッジコネクタを形成し、このカードエッジコネクタを介して信号や電圧を読み取るようにしている。上記構成によれば、テストピン設備が不要になるので、検査用の設備費を安くすることができる。しかし、プリント配線基板のエッジにカードエッジコネクタを形成しなければならないので、検査専用の基板形状が必要となることから、電気製品の外形形状の自由度が低下するおそれがある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００５−２７７４５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
また、マイコンのＡ／Ｄ入力ポートを使用して、検査ベンチから通信することによって信号や電圧を読み取るようにした構成も実際に使用されている。この構成によれば、テストピン設備も特殊な基板形状も不要にできるので、設備コストを安くできると共に、外形形状の自由度を高くできる。しかし、マイコンのＡ／Ｄ入力ポートの空きが必要であるため、回路機能が増えたり回路規模が大きくなったりして、マイコンにＡ/Ｄ入力ポートの空きが少なくなると、Ｉ／Ｏ拡張ポートＩＣなどを追加して配設する必要が生じることから、製品コストが高くなるおそれがあった。
【０００６】
そこで、本発明の目的は、設備コストを安くできると共に、外形形状の自由度を高くでき、また、製品コストを安くすることができる電気製品の検査システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
請求項１の発明は、電気製品と検査設備とを接続して、前記電気製品を検査する電気製品の検査システムであって、前記電気製品に設けられたコネクタと、前記電気製品に設けられ検査信号を通す検査信号パターンと、前記コネクタの端子の中の空き端子であって前記検査信号パターンの一端が接続された検査信号端子と、前記検査設備に設けられ前記電気製品のコネクタとハーネスを介して接続されたコネクタとを備えたところに特徴を有する。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明の第１実施形態を示すもので、電気製品の検査システムの全体概略構成を示す電気的構成図
【図２】コネクタの端子側を示す部分側面図
【図３】プリント配線基板の第１の内層を示す平面図
【図４】プリント配線基板の第２の内層を示す平面図
【図５】プリント配線基板の表層を示す平面図
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明の第１実施形態について、図１ないし図５を参照して説明する。まず、図１は、本実施形態の電気製品の検査システム１の全体構成を概略的に示す電気的構成図である。この図１に示すように、電気製品の検査システム１は、検査対象の電気製品２と、この電気製品２を検査する検査ベンチ（検査設備）３とを備えている。
【００１０】
電気製品２は、例えば多層のプリント配線基板４で構成されており、電源回路５と、マイコン６と、アナログ回路７と、各種の回路（図示しない）などを有する。プリント配線基板４の端部には、例えば４０ピンの汎用のコネクタ８が設けられている。コネクタ８の電源Ｖ０端子８ａには、電源回路５の入力端子５ａが接続されている。電源回路５の出力端子５ｂとグランドとの間には、抵抗９及び抵抗１０が直列に接続されている。抵抗９と抵抗１０の中間接続点が抵抗１１を介してコネクタ８の検査信号端子８ｂに接続されている。この検査信号端子８ｂには、コネクタ８の空き端子（プリント配線基板４の通常動作時には使用されていない端子）が割り当てられている。コネクタ８の上記検査信号端子８ｂの両隣のＧＮＤ端子８ｃ、８ｄには、グランドが接続されている。尚、ココネクタ８の上記検査信号端子８ｂの両隣の端子を、空き端子としても良い。
【００１１】
図２は、コネクタ８の４０個の端子（ピン）の一部を示す側面図である。この図２に示すように、コネクタ８の端子は２列に並んで配置されており、その中で、検査信号端子８ｂは、両隣のＧＮＤ端子８ｃ、８ｄで挟まれる構成となっている。
【００１２】
また、図１に示すように、マイコン６のＡ／Ｄ入力ポート６ａには、アナログ回路７の出力端子７ａが接続されている。マイコン６の通信入出力ポート６ｂは、コネクタ８の通信信号端子８ｅに接続されている。尚、プリント配線基板４上に設けられた各種の回路の種々の端子（図示しない）が、コネクタ８の対応する種々の端子（図示しない）に接続されている。図１において、コネクタ８の電源Ｖ０端子８ａとＧＮＤ端子８ｃとの間に位置する端子８ｆは、空き端子である。
【００１３】
また、検査ベンチ３は、安定化電源回路１１と、計測器１２と、ＰＣ（personal computer）１３と、例えば４０ピンの汎用のコネクタ１４とを有する。安定化電源回路１１の出力端子１１ａは、コネクタ１４の電源Ｖ０端子１４ａに接続されている。計測器１２の入力端子１２ａは、コネクタ１４の検査信号端子１４ｂに接続されている。ＰＣ１３の通信端子１３ａは、コネクタ１４の通信信号端子１４ｅに接続されている。
【００１４】
コネクタ１４の上記検査信号端子１４ｂの両隣のＧＮＤ端子１４ｃ、１４ｄは、グランドに接続されている。コネクタ１４は、電気製品２のコネクタ８にハーネス１５を介して着脱可能に接続されている。これにより、コネクタ８の電源Ｖ０端子８ａ、検査信号端子８ｂ、ＧＮＤ端子８ｃ、８ｄ及び通信信号端子８ｅと、コネクタ１４の電源Ｖ０端子１４ａ、検査信号端子１４ｂ、ＧＮＤ端子１４ｃ、１４ｄ及び通信信号端子１４ｅとがそれぞれ接続されている。
【００１５】
次に、コネクタ８の検査信号端子８ｂと抵抗９と抵抗１０の中間接続点とを接続する検査信号パターン１６について、図３、図４、図５を参照して説明する。プリント配線基板４を設計するに際して、検査信号パターン１６については、下記の点に注意して設計している。
【００１６】
まず、検査用に引き出す検査信号パターン１６は、プリント配線基板４の製品機能を実現する製品用の配線パターンに影響を与えないように配置する。即ち、製品用の配線パターンを最適に配置した後、製品用の配線パターンに影響を与えないように検査信号パターン１６を配置する。特に、プリント配線基板４は、多層基板であることから、製品用の配線パターンに影響しないように、検査信号パターン１６を内層パターンに極力配置する。
【００１７】
また、検査信号パターン１６を引き出す長さは、極力短くする。これにより、輻射ノイズを低減することができると共に、外来ノイズからの影響を低減することができる。更に、検査信号パターン１６の両側には、ＧＮＤベタパターンを囲むように配設してガードする。これにより、輻射ノイズを低減することができると共に、外来ノイズからの影響を低減することができる。
【００１８】
また、検査信号パターン１６を接続するコネクタ８の検査信号端子８ｂは、コネクタ８の空き端子（プリント配線基板４の上記製品用の配線パターンが接続されていない端子、即ち、使用されていない端子）であるが、検査信号端子８ｂの両隣の端子も空き端子とすることが好ましい。このように構成すると、検査信号端子８ｂが、万一、隣接する端子とピン間ショートを起こしたとしても、製品機能へ影響することがない。また、コネクタ８の空き端子の個数が不足する場合には、検査信号端子８ｂ（検査信号パターン１６）が隣接する端子と短絡（いわゆるピン間ショート）を起こしたときに、それを検査工程で検出可能な信号端子（例えば本実施形態のＧＮＤ端子８ｃ、８ｄ）を検査信号端子８ｂの両隣に配置することが好ましい。これにより、ピン間ショートを起こした不良品を検出することができ、該不良品の流出を防止することができる。
【００１９】
次に、本実施形態において、検査信号パターン１６の具体的な配設形態を、図３、図４、図５を参照して説明する。図３は、プリント配線基板４の第１の内層１７の配線パターンを示す。図４は、プリント配線基板４の第２の内層１８（第１の内層１７の上（表層側）の内層）の配線パターンを示す。図５は、プリント配線基板４の表層１９の配線パターンを示す。
【００２０】
まず、図３に示すように、第１の内層１７に設けられた検査信号パターン１６ａの始点である引出端部１６ａ１は、スルーホールを介して抵抗９と抵抗１０の中間接続点に接続されている。検査信号パターン１６ａの終点である他方の端部１６ａ２は、スルーホールを介して第２の内層１８（図４参照）に設けられた検査信号パターン１６ｂの始点である引出端部１６ｂ１に接続されている。検査信号パターン１６ａは、第１の内層１７の他の配線パターンに影響しない範囲で、ほぼ直線的に且つ極力短くなるように配設されている。更に、検査信号パターン１６ａの両側には、隙間を隔ててＧＮＤベタパターン２１が設けられており、検査信号パターン１６ａはＧＮＤベタパターン２１で囲まれる構成となっている。
【００２１】
図４に示すように、第２の内層１８に設けられた検査信号パターン１６ｂの始点である引出端部１６ｂ１は、スルーホールを介して第１の内層１７（図３参照）に設けられた検査信号パターン１６ａの他方の端部１６ａ２に接続されている。検査信号パターン１６ｂの終点である他方の端部１６ｂ２は、スルーホールを介して表層１９（図５参照）に設けられた検査信号パターン１６ｃの始点である引出端部１６ｃ１に接続されている。検査信号パターン１６ｂは、第２の内層１８の他の配線パターンに影響しない範囲で、ほぼ直線的に且つ極力短くなるように配設されている。更に、検査信号パターン１６ｂの両側には、隙間を隔ててＧＮＤベタパターン２３が設けられており、検査信号パターン１６ｂはＧＮＤベタパターン２３で囲まれる構成となっている。
【００２２】
図５に示すように、表層１９に設けられた検査信号パターン１６ｃの始点である引出端部１６ｃ１は、スルーホールを介して第２の内層１８（図４参照）に設けられた検査信号パターン１６ｂの他方の端部１６ｂ２に接続されている。検査信号パターン１６ｃの終点である他方の端部１６ｃ２は、スルーホールを介してプリント配線基板４に設けられたコネクタ８の検査信号端子８ｂ（図１、図２参照）に接続されている。検査信号パターン１６ｃは、表層１９の他の配線パターンに影響しない範囲で、ほぼ直線的に且つ極力短くなるように配設されている。更に、検査信号パターン１６ｃの両側には、隙間を隔ててＧＮＤベタパターン２５が設けられており、検査信号パターン１６ｃはＧＮＤベタパターン２５で囲まれる構成となっている。
【００２３】
このような構成の本実施形態においては、プリント配線基板４（電気製品２）に設けられたコネクタ８と、プリント配線基板４に設けられ検査信号を通す検査信号パターン１６とを備え、コネクタ８の端子の中の空き端子である検査信号端子８ｂに検査信号パターン１６の一端を接続し、プリント配線基板４のコネクタ８と検査ベンチ３に設けられたコネクタ１４とをハーネス１５によって接続した。この構成によれば、プリント配線基板４のコネクタ８の空き端子を使用して検査信号を検査ベンチ３の計測器１２へ入力させるように構成したので、テストピン設備及び特殊な基板形状が不要であるから、設備コストを安くできると共に、外形形状の自由度を高くでき、また、マイコンのＡ／Ｄ入力ポートの空きも不要であるから、製品コストを安くすることができる。
【００２４】
尚、プリント配線基板４のコネクタ８において、全端子を使用していることは稀であり、数個の空き端子が存在することが多い。そこで、これらの空き端子を使って、検査したい信号を外部に引き出して計測するように構成すると、ＩＣＣのテストピン設備や、カードエッジコネクタのような特殊形状や、マイコンの検査信号入力用のＡ／Ｄポートなどを不要にすることができる。
【００２５】
また、本実施形態では、電気製品２を多層のプリント配線基板４で構成し、検査信号パターン１６を多層のプリント配線基板４の内層１７、1８に設ける構成としたので、検査信号パターン１６を設けることによるプリント配線基板４の製品用の配線パターンに対する影響を低減することができる。更に、本実施形態では、検査信号パターン１６を、ＧＮＤベタパターン２１、２３、２５で囲むように構成したので、輻射ノイズを低減することができると共に、外来ノイズからの影響を低減することができる。
【００２６】
また、本実施形態によれば、プリント配線基板４のコネクタ８において、検査信号端子８ｂの両隣の端子を、ＧＮＤ端子１４ｃ、１４ｄとしたので、検査信号端子８ｂとＧＮＤ端子１４ｃとが接触、または、検査信号端子８ｂとＧＮＤ端子１４ｄとが接触したことを（即ち、ピン間ショートを起こした不良品を）検出することができ、不良品の流出を防止することができる。
【００２７】
尚、上記実施形態においては、検査信号端子８ｂの両隣の端子をＧＮＤ端子１４ｃ、１４ｄとしたが、これに代えて、検査信号端子８ｂの両隣の端子を空き端子としても良い。このように構成すると、検査信号端子８ｂが隣の端子に接触しても（即ち、ピン間ショートを起こしても）、プリント配線基板４の製品機能へ影響することを防止できる。
【００２８】
また、上記実施形態において、検査信号パターン１６の他に、他の検査信号を通す検査信号パターンが存在すると共に、マイコン６に空いているＡ／Ｄポートが存在する場合には、他の検査信号を通す検査信号パターンをマイコン６の空いているＡ／Ｄポートに接続し、マイコン６の通信入出力ポート６ｂから出力される通信信号をＰＣ１３の通信端子１３ａに入力させるように構成することが好ましい。このように構成すると、ＰＣ１３は、他の検査信号のＡ／Ｄ変換信号を、マイコン６の通信入出力ポート６ｂから出力される通信信号として取得することができる。
【符号の説明】
【００２９】
図面中、１は電気製品の検査システム、２は電気製品、３は検査ベンチ、４はプリント配線基板、６はマイコン、７はアナログ回路、８はコネクタ、９は抵抗、１０は抵抗、１２は計測器、１３はＰＣ、１４はコネクタ、１５はハーネス、１６は検査信号パターン、１７は第１の内層、１８は第２の内層、１９は表層、２１、２３、２５はＧＮＤベタパターンである。
【図１】
2016151500.tif 000003
【図２】
2016151500.tif 000004
【図３】
2016151500.tif 000005
【図４】
2016151500.tif 000006
【図５】
2016151500.tif 000007