(57)【要約】      （修正有）【課題】波面収差が補正された状態の眼底画像を確実に撮影しやすい波面補償付眼底撮影装置を提供する。【解決手段】撮影装置は、被検眼眼底からの反射光を受光して眼底像を撮像する眼底撮像光学系１００と、眼底撮像光学系１００の光路中に配置され、入射光の波面を制御して被検眼Ｅの波面収差を補償する波面補償デバイス７２と、被検眼Ｅの波面収差を、眼底からの反射光に基づいて測定する波面センサ７３と、を有する。また、撮影装置の制御部は、波面センサ７３を用いて測定される波面収差に基づいて波面補償デバイス７２を駆動させる制御を行う。更に、制御部は、波面補償デバイス７２による収差補正の結果を波面センサ７３による測定結果に基づいて算出し、波面センサ７３によって波面収差が測定される波面測定領域に対して，波面補償デバイス７２において収差補正制御が有効な有効領域を、収差補正の結果の変化に応じて変更する。【選択図】図２
2016067764.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検眼眼底からの反射光を受光して眼底像を撮像する眼底撮像光学系と、
前記眼底撮像光学系の光路中に配置され、入射光の波面を制御して前記被検眼の波面収差を補償する波面補償デバイスと、
前記被検眼の波面収差を、前記眼底からの反射光に基づいて測定する波面収差測定手段と、
前記波面収差に基づいて前記波面補償デバイスを駆動させる波面補償デバイス制御手段と、
前記波面補償デバイスによる収差補正の結果を、前記波面収差測定手段の測定結果に基づいて算出し、前記波面収差測定手段によって前記波面収差が測定される波面測定領域に対して，前記波面補償デバイスにおいて収差補正制御が有効な前記有効領域を、前記収差補正の結果の変化に応じて変更する制御手段と、を備える波面補償付眼底撮影装置。
【請求項２】
前記有効領域制御手段は、前記収差補正の結果として波面収差測定手段で測定される残収差が、前記収差補正制御の実行に伴って増大する場合には、前記有効領域を変更し、前記残収差が、前記収差補正制御の実行に伴って減少する場合には、前記有効領域を維持する請求項１記載の波面補償付眼底撮影装置。
【請求項３】
前記有効領域制御手段は、前記波面測定領域全体の前記残収差のＲＭＳ値および前記残収差のＰ−Ｖ値のいずれか一方の変化に応じて前記有効領域を変更する請求項２記載の波面補償付眼底撮影装置
【請求項４】
前記有効領域制御手段は、前記有効領域のサイズ、位置、および形状の少なくともいずれかを変更することによって、前記有効領域を変更することを特徴とする請求項１から３のいずれかに記載の波面補償付眼底撮影装置。
【請求項５】
前記制御手段は、前記有効領域のサイズを縮小することによって、前記有効領域を変更することを特徴とする請求項４記載の波面補償付眼底撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、被検眼の波面収差を補正した状態で被検眼の眼底像を撮影する波面補償付眼底撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
シャックハルトマンセンサーなどの波面センサを用いて眼の波面収差を検出し、その検出結果に基づいて波面補償デバイスを制御し、波面補償後の眼底画像を細胞レベルで撮影する装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。このような装置は、眼の波面収差の検出と、その検出結果に基づく波面補償制御を繰り返し行う。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１３−５２０４７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
波面補償制御は、十分な信頼性のある波面収差検出の結果に基づいて行われる必要がある。例えば、波面収差の検出範囲に白内障等の透光体の混濁部分が含まれている場合、被検眼の波面収差を波面センサで正確に検出することはできない。この場合、波面補償デバイスは、不正確な検出結果に基づいて制御される。その結果、波面収差の補正が適正に行われず、良好な眼底画像の撮影が困難となる場合があった。
【０００５】
本開示は、上記問題点を鑑み、波面収差が補正された状態の眼底画像を確実に撮影しやすい波面補償付眼底撮影装置を提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本開示の波面補償付眼底撮影装置は、被検眼眼底からの反射光を受光して眼底像を撮像する眼底撮像光学系と、前記眼底撮像光学系の光路中に配置され、入射光の波面を制御して前記被検眼の波面収差を補償する波面補償デバイスと、前記被検眼の波面収差を、前記眼底からの反射光に基づいて測定する波面収差測定手段と、前記波面収差に基づいて前記波面補償デバイスを駆動させる波面補償デバイス制御手段と、前記波面補償デバイスによる収差補正の結果を、前記波面収差測定手段の測定結果に基づいて算出し、前記波面収差測定手段によって前記波面収差が測定される波面測定領域に対して，前記波面補償デバイスにおいて収差補正制御が有効な前記有効領域を、前記収差補正の結果の変化に応じて変更する制御手段と、を備える。
【発明の効果】
【０００７】
本開示の波面補償付眼底撮影装置によれば、波面収差が補正された状態の眼底画像を確実に撮影しやすいという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本実施形態の撮影装置１の外観図を示した図である。
【図２】撮影装置１の光学系を示した模式図である。
【図３】本実施形態の撮影装置１の制御系を示したブロック図である。
【図４】波面補償デバイス上の補償可能領域および有効領域を示した図である。
【図５】指標パターン像と有効領域の具体例について説明する図である。
【図６】モニタの画面上に表示される収差補正画面を示した図である。
【図７】制御部８００によって実行されるメイン処理を示したフローチャートである。
【図８】有効領域の変更の具体例について説明する図である。
【図９】有効領域の変更を、有効領域の設定位置の変位によって行う場合について説明する図である。
【図１０】有効領域の変更を、有効領域の形状の変更によって行う場合について説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、図面を参照して、本開示の典型的な実施形態を説明する。撮影装置１は、被検眼の波面収差を補正した状態で被検眼の眼底像を撮影する波面収差補償付眼底撮影装置である。
【００１０】
初めに、図１を参照して撮影装置１の概略構成を説明する。撮影装置１は、基台５１０と、顔支持ユニット６００と、撮影部５００と、を備える。顔支持ユニット６００は、基台５１０に取り付けられている。撮影部５００には、後述する光学系が収納されており、基台５１０の上に設けられている。顔支持ユニット６００には、顎台６１０が設けられている。顎台６１０は、図示無き顎台駆動手段の操作により、顔指示ユニット６００の基部に対して左右方向（Ｘ方向）、上下方向（Ｙ方向）および前後方向（Ｚ方向）に移動される。
【００１１】
次に、図２を参照して、撮影装置１の光学系について説明する。本実施形態の撮影装置１は、眼底撮像光学系１００と、波面収差検出光学系（以下、収差検出光学系と記載する。）１１０と、収差補償ユニット２０，７２と、第２撮影ユニット２００と、トラッキング用ユニット（位置検出部）３００と、前眼部観察ユニット７００と、を備える。
【００１２】
眼底撮像光学系１００は、被検眼Ｅにレーザー光（照明光）を投光すると共に、レーザー光の眼底による反射光を受光して被検眼Ｅの眼底像を撮影する。被検眼Ｅの眼底は、眼底撮像光学系１００によって、高解像度（高分解能）・高倍率で撮影される。以下のように、眼底撮像光学系１００は、例えば、共焦点光学系を用いた走査型レーザー検眼鏡の構成を有してもよい。眼底撮像光学系１００は、第１照明光学系１００ａと、第１撮影光学系１００ｂと、を備える。また、本実施形態において、収差補償ユニット２０，７２は、収差補償ユニット２０，７２は、被検眼の収差を補正するために眼底撮像光学系１００に配置される。なお、収差補償ユニットとしては、被検眼の低次収差（視度：例えば、球面度数）を補正するための視度補正部２０と、被検眼の高次収差を補正するための高次収差補償部（波面補償デバイス）７２と、に大別される。
【００１３】
第１照明光学系１００ａは、被検眼Ｅにレーザー光を照射すると共にレーザー光を眼底上で走査することによって、眼底を２次元的に照明する。第１照明光学系１００ａは、光源１１（第１光源）から眼底に到るまでの光路において、光源１１、レンズ１２、偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）１４、ビームスプリッタ（ＢＳ）７１、凹面ミラー１６、凹面ミラー１７、平面ミラー１８、収差補償ユニット７２（波面補償デバイス７２）、ビームスプリッタ（ＢＳ）７５、凹面ミラー２１、凹面ミラー２２、走査部２５、凹面ミラー２６、凹面ミラー２７、平面ミラー３１、レンズ３２、平面ミラー３３、収差補償ユニット２０（視度補正部２０）、平面ミラー３５、凹面ミラー３６、偏向部４００、ダイクロイックミラー９０、凹面ミラー４１、平面ミラー４２、平面ミラー４３、および、凹面ミラー４５、を有する。
【００１４】
光源１１は、レーザー光を出射する。本実施形態において、レーザー光は、被検眼に視認されにくい近赤外域の波長を持つ。例えば、本実施形態において、光源１１は、波長８４０ｎｍのＳＬＤ（Super Luminescent Diode）が使用される。なお、光源１１は、収束性の高い特性を持つスポット光を出射するものであればよく、例えば、半導体レーザー等であってもよい。
【００１５】
光源１１から出射されたレーザー光は、レンズ１２により平行光とされた後、ＰＢＳ１４、ＢＳ７１、凹面ミラー１６，１７、平面ミラー１８を介して、波面補償デバイス７２に入射する。本実施形態において、レーザー光は、ＰＢＳ１４を通過することによって、Ｓ偏光成分のみの光束とされる。波面補償デバイス７２は、入射光の波面を制御することによって、被検眼の高次収差を補正する。波面補償デバイス７２の詳細構成については後述する。本実施形態において、レーザー光は、波面補償デバイス７２からＢＳ７５に導かれた後、凹面ミラー２１、凹面ミラー２２にて反射され、走査部２５に向かう。
【００１６】
本実施形態において、走査部２５は、レーザー光を眼底上で２次元的に走査するために偏向部４００と共に使用される。走査部２５は、レーザー光の主走査に使用されるレゾナントミラーである。レーザー光は、走査部２５によって、眼底上でＸ方向に走査される。
【００１７】
走査部２５を経た光は、凹面ミラー２６，２７、平面ミラー３１、レンズ３２、平面ミラー３３を介して、視度補正部２０へ入射される。
【００１８】
視度補正部２０は、視度補正を行うためのユニットである。視度補正部２０は、駆動部２０ａのほかに、レンズおよび平面ミラーを１対ずつ有する。視度補正部２０の平面ミラーおよびレンズが駆動部２０ａによって所定方向に移動されることで、光路長が調節される。その結果として、被検眼Ｅの視度の誤差が矯正される。
【００１９】
視度補正部２０から平面ミラー３５へ導かれた照明光は、凹面ミラー３６に反射され、偏向部４００に向かう。
【００２０】
偏向部４００は、光源１１から出射されたレーザー光を眼底上で垂直方向（Ｙ方向）に走査する。さらに、偏向部４００は、眼底におけるレーザー光の走査範囲を移動させるためにも使用される。例えば、本実施形態において、偏向部４００は、レーザー光を偏向する方向が異なる２つの光スキャナ（具体例としては、ＸガルバノミラーおよびＹガルバノミラー）を有していてもよい。
【００２１】
偏向部４００を経た光は、ダイクロイックミラー９０、凹面ミラー４１、平面ミラー４２，４３、および凹面ミラー４５を経て、被検眼Ｅの瞳孔内に導かれる。レーザー光は、被検眼Ｅの眼底面上で集光する。眼底上では、前述したように、走査部２５および偏向部４００の動作によって、レーザー光が２次元的に走査される。
【００２２】
また、ダイクロイックミラー９０は、後述する第２撮影ユニット２００、およびトラッキング用ユニット３００、からの光束を透過させ、光源１１および後述する光源７６からの光束を反射させる特性を持つ。なお、光源１１および光源７６の出射端と被検眼Ｅの眼底とは共役とされている。このようにして、第１照明光学系１００ａが形成される。
【００２３】
次に、第１撮影光学系１００ｂを説明する。第１撮影光学系１００ｂは、眼底に照射されたレーザー光の反射光を受光素子５６によって受光する。撮影装置１は、第１眼底画像（本実施形態では、ＡＯ−ＳＬＯ画像）を、受光素子５６からの信号に基づいて取得する。第１撮影光学系１００ｂは、被検眼ＥからＢＳ７１までの光路を、第１照明光学系１００ａと共用する。また、第１撮影光学系１００は、ＢＳ７１の反射側光路に配置された要素、即ち、平面ミラー５１、ＰＢＳ５２、レンズ５３、ピンホール板５４、レンズ５５、および、受光素子５６を有している。なお、本実施形態では、受光素子５６はＡＰＤ（アバランシェフォトダイオード）が用いられている。また、ピンホール板５４は、眼底と共役な位置に置かれる。
【００２４】
光源１１からのレーザー光の眼底反射光は、前述した第１照明光学系１００ａを逆に辿り、ＢＳ７１、平面ミラー５１のそれぞれで反射され、ＰＢＳ５２にてＳ偏光の光だけ透過される。この透過光は、レンズ５３を介してピンホール板５４のピンホールに焦点を結ぶ。ピンホールにて焦点を結んだ反射光は、レンズ５５を経て受光素子５６に受光される。なお、照明光の一部は角膜上で反射されるが、ピンホール板５４により大部分が除去される。よって、受光素子５６は、角膜反射の影響を抑えて、眼底からの反射光を受光できる。
【００２５】
受光素子５６の受光信号を画像処理部（例えば、制御部８００）が処理することによって、第１眼底画像が取得される。本実施形態において、１フレームの眼底画像は、走査部２５の主走査と、偏向部４００に設けられたＹ走査用のガルバノミラーの副走査によって形成される。なお、第１撮影ユニット１００で取得する眼底画像（眼底像）の画角が所定の角度となるように走査部２５および偏向部４００におけるミラーの振れ角（揺動角度）を定める。ここでは、眼底の所定の範囲を高倍率で観察、撮影する（ここでは、細胞レベルでの観察等をする）ために、画角を１度〜５度程度とする。本実施形態では、１．５度とする。被検眼の視度等にもよるが、第１眼底画像の撮影範囲は、５００μｍ角程度とされる。
【００２６】
さらに、偏向部４００に設けられたＸ走査用のガルバノミラーとＹ走査用のガルバノミラーの反射角度が第１眼底画像の撮像画角より大きく移動されることによって、眼底における第１眼底画像の撮像位置（つまり、レーザー光の走査範囲）が変更される。
【００２７】
第２撮影ユニット２００は、第１撮影ユニット１００の画角よりも広画角の眼底画像（第２眼底画像）を取得するためのユニットである。第２眼底画像は、例えば、第１眼底画像を得るための位置指定、および位置確認用の画像として用いられる。本実施形態の第２撮影ユニット２００は、被検眼Ｅの眼底画像を広画角（例えば２０度〜６０度程度）でリアルタイムに取得および観察できる構成であることが好ましい。例えば、第２撮影ユニット２００として、既存の眼底カメラの観察・撮影光学系、および走査型レーザー検眼鏡（Scanning Laser Ophthalmoscope：ＳＬＯ）の光学系および制御系が利用されてもよい。
【００２８】
トラッキング用ユニット３００は、被検眼Ｅの固視微動等による位置ずれの経時変化を検出し、移動位置情報を得る。トラッキング用ユニット３００では、トラッキング開始時に得られた受光結果を基準情報として制御部８００に送っておき、その後、１走査毎に得られる受光結果（受光情報）を逐次、制御部８００に送信する。制御部８００は基準情報に対してその後に得られた受光情報を比較し、基準情報と同じ受光情報が得られるように、移動位置情報を演算により求める。制御部８００は求めた移動位置情報に基づいて偏向部４００を駆動させる。このようなトラッキングを行うことにより、被検眼Ｅが微動してもその動きが相殺されるように偏向部４００の駆動が行われるため、モニタ８５０に表示される眼底画像の動きは抑制されることとなる。また、ダイクロイックミラー９１は、第２撮影ユニット２００からの光束を透過させ、トラッキング用ユニット３００からの光束を反射させる特性を持つ。
【００２９】
前眼部観察ユニット７００は、被検眼Ｅの前眼部を可視光にて照明し、前眼部正面像を撮像するユニットである。前眼部観察ユニット７００にて撮像された画像は、モニタ８５０に出力される。前眼部観察ユニット７００によって取得される前眼部画像は、撮影部５００と被検眼Ｅとのアライメントに利用される。なお、ダイクロイックミラー９５は、第２撮影ユニット２００およびトラッキング用ユニット３００からの光束を透過させ、前眼部観察ユニット７００からの光束を反射させる特性を持つ。
【００３０】
次に、収差検出光学系１１０について説明する。収差検出光学系１１０は、波面センサ７３を有する。また、収差検出光学系１１０は、被検眼Ｅの眼底に測定光を投光し、測定光の眼底反射光を、指標パターン像として波面センサ７３にて受光（検出）する。収差検出光学系１１０は、一部の光学素子を第１照明光学系１００ａおよび第１撮影光学系１００ｂの光路上（本実施形態では、共通光路上）に持ち、光学系１００ａ，１００ｂと光路を一部共用している。つまり、本実施形態の収差検出光学系１１０は、光学系１００ａ，１００ｂの光路上に配置されたＢＳ７１から凹面ミラー４５までを、光学系１００ａ，１００ｂと共用する。更に、収差検出光学系１１０は、光源７６、レンズ７７、ＰＢＳ７８、ＢＳ７５、ＢＳ７１、ダイクロイックミラー８６、ＰＢＳ８５、レンズ８４、平面ミラー８３、レンズ８２、を有する。
【００３１】
光源７６は、被検眼Ｅの収差検出に使用される。本実施形態において、光源７６は、光源１１と異なる波長の光を発する。一例として、本実施形態では、測定光として、波長７８０ｎｍのレーザー光を出射するレーザーダイオードが光源７６として使用される。光源７６から出射した測定光は、レンズ７７によって平行光束とされた後、ＰＢＳ７８に入射される。
【００３２】
ＰＢＳ７８は、波面補償部に備えられた第１偏光手段の一例である。ＰＢＳ７８は、光源７６から出射された光を所定の方向に偏光する。より詳細には、ＰＢＳ７８は、ＰＢＳ１４の偏向方向（つまり、Ｓ偏光）とは、直交する方向（即ち、Ｐ偏光）に偏光する。ＰＢＳ７８を経た光は、ＢＳ７５によって反射されることによって、第１照明光学系１００ａの光路に導かれる。その結果、測定光は、第１照明光学系１００ａの光路を経て被検眼Ｅの眼底に集光される。
【００３３】
測定光は、眼底の集光位置（例えば、網膜表面）にて反射される。測定光の眼底反射光は、第１照明光学系１００ａの光路（つまり、第１撮影光学系１００ｂの光路）を、投光時とは逆に辿る。途中、測定光は、波面補償デバイス７２によって反射される。その後、測定光は、ＢＳ７１によって反射されることによって、第１照明光学系１００ａの光路を外れる。更にその後、測定光は、ダイクロイックミラー８６によって反射され、ＰＢＳ８５、レンズ８４、平面ミラー８３、レンズ８２を経て、波面センサ７３へと導かれる。
【００３４】
ＰＢＳ８５は、波面補償部に備えられた第２偏光手段である。ＰＢＳ８５は、光源７６から被検眼Ｅに照射された光のうち、一方向に偏波した光（ここでは、Ｓ偏光光）を透過することによって、波面センサ７３へと導光するために利用される。また、ＰＢＳ８５は、透過した成分とは直交する方向に偏波された成分（Ｐ偏光光）を遮断する。なお、ダイクロイックミラー８６は、光源１１の波長の光（８４０ｎｍ）を透過し、収差検出用の光源７６の波長の光（７８０ｎｍ）を反射する特性とされる。従って、波面センサ７３では、測定光の眼底反射光のうちＳ偏光成分を持つ光が検出される。このようにして、角膜や光学素子で反射される光が波面センサ７３に検出されることを抑制している。
【００３５】
波面センサ７３は、被検眼Ｅの波面収差を検出するために、収差測定用の測定光の眼底反射光を受光する。波面センサ７３としては、低次収差および高次収差を含む波面収差を検出できる素子（より詳細には、ハルトマンシャック検出器、および、光強度の変化を検出する波面曲率センサ等）等が利用されてもよい。本実施形態において、波面センサ７３は、例えば、多数のマイクロレンズからなるマイクロレンズアレイと、マイクロレンズアレイを透過した光束を受光させるための二次元撮像素子７３ａ（又は、二次元受光素子）と、を有する。波面センサ７３のマイクロレンズアレイは、被検眼Ｅの瞳と略共役な位置に配置される。また、二次元撮像素子７３ａの撮像面（受光面）は、被検眼Ｅの眼底と略共役な位置に配置される。
【００３６】
二次元撮像素子７３ａの撮像面には、マイクロレンズアレイを透過した光束によって、指標パターン像６１（本実施形態では、ハルトマン像）が形成される（図示を省略する）。よって、眼底反射光は、マイクロレンズアレイを通過して二次元撮像素子７３ａに受光されることによって、ハルトマン像（ドットパターン像）として撮像される。本実施形態では、ハルトマン像から被検眼の収差情報が取得され、収差情報に基づいて波面補償デバイス７２が制御される。なお、ハルトマン像の詳細については、後述する。
【００３７】
波面補償デバイス７２は、眼底撮像光学系１００の光路中に配置され、入射光の波面を制御することによって、被検眼Ｅの波面収差を補償する。本実施形態において、波面補償デバイス７２には、液晶空間光変調器が使用されてもよい。一例として、以下では、反射型のＬＣＯＳ（Liquid Crystal On Silicon）等が使用されるものとして説明する。この場合、波面補償デバイス７２は、光源１１からのレーザー光（Ｓ偏光光）、該レーザー光の眼底反射光（Ｓ偏光光）、波面収差検出用光の反射光（Ｓ偏光成分）等の所定の直線偏光（Ｓ偏光）に対して収差を補正することが可能な向きに配置される。その結果、波面補償デバイス７２は、入射する光のＳ偏光成分を変調できる。また、本実施形態において、波面補償デバイス７２の反射面は、被検眼の瞳と略共役となる位置に配置される。
【００３８】
本実施形態の波面補償デバイス７２において、液晶層内の液晶分子の配列方向は、入射する反射光の偏光面と略平行である。また、液晶分子が液晶層への印加電圧の変化に応じて回転する所定の面は、波面補償デバイス７２に対する眼底反射光の入射光軸および反射光軸と、波面補償デバイス７２が持つミラー層の法線と、を含む平面に対して略平行に配置されている。
【００３９】
なお、本実施例において、波面補償デバイス７２は液晶変調素子とし、特に、反射型のＬＣＯＳ等を用いるものとしているが、これに限るものではない。他の反射型の波面補償デバイスであってもよい。例えば、ＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical Systems）の１形態であるデフォーマブルミラーが使用されてもよい。また、反射型の波面補償デバイスではなく、透過型の波面補償デバイスが使用されてもよい。透過型のデバイスでは、眼底からの反射光を透過させて波面収差が補償される。
【００４０】
なお、以上の説明では、収差検出用光源として、第１光源とは異なる波長の照明光を出射する光源を用いたが、第１光源が収差検出用光源を兼用していてもよい。
【００４１】
なお、以上説明した本実施形態では、波面センサおよび波面補償デバイスを被検眼の瞳共役としたが、被検眼の前眼部の所定部位と略共役な位置であればよく、例えば、角膜共役であってもよい。
【００４２】
次に、図３を参照して、本実施形態における撮影装置１の制御系を説明する。撮影装置１は、制御部８００を有している。制御部８００は、撮影装置１の装置全体の制御を行うプロセッサ（例えば、ＣＰＵ）である。本実施形態において、制御部８００には、記憶部８０１、操作部８０２、画像処理部８０３、モニタ８５０、が電気的に接続される。また、制御部８００には、光源１１、駆動部１０ａ、走査部１５、受光素子５６、波面補償デバイス７２、波面センサ７３、光源７６、第２撮影ユニット２００、トラッキング用ユニット３００、偏向部４００、が電気的に接続される。
【００４３】
記憶部８０１は、各種の制御プログラムおよび固定データを格納する。また、記憶部８０１には、撮影装置１によって撮影された画像、一時データ等が記憶されてもよい。
【００４４】
制御部８００は、操作部８０２から出力される操作信号に基づいて、第１撮影ユニット１００等の上記の各部材を制御する。操作部８０２は、検者によって操作される操作部材として図示無きマウス等が接続されている。
【００４５】
画像処理部８０３は、受光素子５６、第２撮影ユニット２００にて受光した信号に基づきモニタ８５０に画角の異なる被検眼眼底の画像、つまり、第１眼底画像及び第２眼底画像を形成する。
【００４６】
モニタ８５０は、撮影装置１に搭載された表示モニタであってもよいし、撮影装置１とは別体の汎用の表示モニタであってもよい。また、これらが併用された構成であってもよい。モニタ８５０は、撮影装置１にて撮影される眼底画像（第１眼底画像、および第２眼底画像）を、動画像および静止画像のそれぞれで表示できる。
【００４７】
なお、制御部８００による波面補償デバイス７２の制御は、波面センサ７３によって検出される波面収差に基づいて実行される。本実施形態では、波面センサ７３からの検出信号に基づく波面補償デバイス７２のフィードバック制御が行われる。波面補償デバイス７２が制御されることによって、光源７６の反射光のＳ偏光成分と共に、光源１１から出射されるレーザー光と該レーザー光の眼底反射光の高次収差が取り除かれる。このようにして、光源１１から出射されたレーザー光、および該レーザー光の眼底反射光が持つ収差が取り除かれる。その結果、被検眼Ｅの高次収差が取り除かれた（波面補償された）高解像度の第１眼底画像が撮影装置１によって取得される。なお、このとき、低次の収差は、視度補正部１０によって補正される。
【００４８】
ここで、図４〜図６を参照して、波面補償デバイス７２と波面センサ７３とを用いた波面補償制御の概要について説明する。図４に示すように、波面補償デバイス７２は、補償可能領域４０が形成される範囲において、入射光の波面を制御可能である。図４において、補償可能領域４０上の領域４１は、波面補償デバイス７２上の有効領域を示す。有効領域４１は、波面センサ７３からの検出信号に基づく収差補正が有効となる領域である。本実施形態において、補償可能領域４０は、１６×１２ｍｍの大きさである。また、一例として図４に示した有効領域４１は、φ８．６４ｍｍの大きさである。補償可能領域４０は、有効領域４１と比べて十分な大きさを有するので、有効領域４１は、位置・大きさ・形状の少なくともいずれかを補償可能領域４０内において変更可能である（詳しくは後述する）。また、波面補償デバイス７２において、有効領域４１は、入射光全体の内、ある一部の領域（例えば、瞳孔上における直径６ｍｍ領域）の光束に制限される場合がある。この場合、本実施形態の波面補償デバイス７２は、有効領域４１の外側に入射された光についても、有効領域４１内への入射光と同様に受光素子５４に向けて反射するが、外側に入射された光の波面は補償できない。
【００４９】
一方、図５に示すように、波面センサ７３の二次元撮像素子７３ａでは、前述したように、ハルトマン像６１が撮像される。ハルトマン像６１は、波面センサ７３上に受光された複数の点像６１ａの集まりを示す。１つのレンズアレイを通過した光束が、一つの点像６１を形成する。波面センサ７３によって点像６１ａが検出される領域において、収差検出が可能である。
【００５０】
また、図５では、円６２によって、波面補償デバイス７２によって収差補正が有効である有効領域（即ち、円６２は、有効領域４１の外周と対応する）が仮想的に示されている。本実施形態では、波面補償デバイス７２の制御に使用される波面収差は、円６２に含まれるハルトマン像６１から検出される。円６２（有効領域４１）とハルトマン像６１との位置関係は、例えば、波面補償デバイス７２上で有効領域４１の位置を変位することによって調節可能である。また、撮影光軸と被検眼の瞳位置との位置関係に応じて、円６２とハルトマン像６１との位置関係も変位する。本実施形態において、ハルトマン像６１と円６２とは、収差補正画面６０の一部として、モニタ８５０上に表示される。
【００５１】
ここで、図６を参照して、収差補正画面６０について説明する。収差補正画面６０は、受光素子５６、波面センサ７３等からの信号に基づいて生成される。収差補正画面６０には、ハルトマン像表示画面６４と、収差補正グラフィック表示画面６５と、細胞表示画面６６と、を含む。
【００５２】
ハルトマン像表示画面６４では、ハルトマン像６１と円６２とを、同一平面上（例えば、波面センサ７３の受光面上等）において重畳して示す。円６２の位置、及び大きさは、制御部８００によって設定される。制御部８００は、例えば、波面補償デバイス７２上の有効領域４１の位置および大きさと対応する領域に、円６２を設定する。ハルトマン像表示画面６４上の円６２の外周、領域等を規定する情報は、例えば、キャリブレーション又はシミュレーション等の結果から予め求めておくことができる。
【００５３】
図６において、円６２の中心に位置するマーク６２ａは、波面センサ７３上における有効領域の中心位置を示すグラフィックである。収差補正グラフィック表示画面６５では、収差補正の補正度合（残収差）を示す収差補正グラフィック６５ａが表示される。
【００５４】
収差補正グラフィック６５ａは、波面センサ７３への入射光束が持つ波面収差の分布を等高線で表したものである。収差補正グラフィックは、例えば、波面センサ７３を介して撮像されたハルトマン像６１を制御部８００が処理することによって生成される。具体例としては、ハルトマン像６１の処理結果として得られる位置毎の波面収差のＲＭＳ値（平均２乗平方根）を用いて生成されてもよい。この場合において、収差補正グラフィックにおける等高線が密であるほど、波面収差が大きいと評価してもよい。
【００５５】
また、細胞表示画面６６には、実際に撮影されている眼底の細胞像画像６６ａが表示される。
【００５６】
ここで、収差補正は、波面センサ７３による収差検出結果に基づいて行われる。すなわち、円６２の内側においてハルトマン像６１が形成された領域では、波面の状態が検出可能である（図５（ｂ）参照）。円６２の内側において、ハルトマン像６１が形成されていない領域Ｓにおいては、波面の状態が検出されない。ここで、波面データの一部が欠損している場合（例えば、図６（ａ）参照）、波面全体の情報が得られないため、有効領域における波面収差が適正に測定されない。よって、収差補正が実行されても、図６の収差補正グラフィック６５に示されるように適正に収差が除去されない。この場合、細胞画像６６ａは良好に表示されない。また、細胞画像６６ａの良好な撮影が困難となる。
【００５７】
以上のような構成と持つ本装置の動作を、図７に示すフローチャートを参照して説明する。
【００５８】
撮影装置１の電源がオンされると、記憶部８０１に記憶された制御プログラムに従って、メイン処理が制御部８００によって実行される。撮影装置１は、メイン処理に従って動作される。
【００５９】
はじめに、被検眼に対する撮影部５００のアライメントが行われる（Ｓ１）。例えば、制御部８００は、前眼部観察ユニット７００を用いてリアルタイムな前眼部画像を取得すると共に、該正面画像をモニタ８５０に表示させる。検者は、モニタ８５０上の前眼部画像を観察しながら、顎台６１０の位置調整を手動又は自動にて行い、粗くアライメントを行う。また、検者は、被検者が図示無き固視標を固視するように指示する。
【００６０】
本実施形態では、粗いアライメントが完了した後、測定スイッチが検者によって操作されると、第１撮影ユニット１００および第２撮影ユニット２００を用いた眼底画像の取得が開始される（Ｓ２）。
【００６１】
この場合、まず、制御部８００によって、各撮影ユニット１００，２００の視度補正が行われてもよい（Ｓ３）。例えば、第１撮影ユニット１００における視度補正は、視度補正部１０を用いて行われる。
【００６２】
また、第１撮影ユニット１００による眼底上の撮影位置（つまり、ＡＯＳＬＯ画像の撮影位置）の設定が行われてもよい（Ｓ４）。この場合、撮影位置は、検者の所望する位置に設定されてもよい。例えば、制御部８００は、第２撮影ユニット２００にて取得される広域の第２眼底画像をモニタ８５０上に表示させると共に、第２眼底画像の中で拡大画像（つまり、第１眼底画像）を取得する箇所を、操作部８０２を介して受け付ける。制御部８００は、操作部８０２からの信号に基づいて偏向部４００を駆動することによって、第１眼底画像の撮影位置を設定する。
【００６３】
次に、制御部８００は、波面補償デバイス７２にて収差補正が有効となる有効領域４１の初期設定を行う（Ｓ５）。初期設定では、例えば、有効領域４１の位置、大きさ（径）、および形状のうち、少なくとも何れかが設定されてもよい。ここでは、予め定められた位置、大きさ、および形状に、有効領域４１が設定されるものとする。例えば、波面補償デバイス７２の所定位置に、円形の領域が、設定可能な最大の大きさ（例えば、φ６ｍｍ）で設定されるものとする。なお、円の内側領域が有効領域である。
【００６４】
制御部８００は、波面センサ７３を用いてハルトマン像６１を検出する（Ｓ６）。次に、制御部８００は、ハルトマン像６１の受光領域と、有効領域とのズレ情報を取得する（Ｓ７）。例えば、ズレ情報は、波面センサ７３におけるハルトマン像６１の受光領域（つまり、波面測定領域）と、波面センサ７３上に設定された波面補償デバイス７２の有効領域（例えば、円６２）とのズレ情報であってもよい。
【００６５】
次に、制御部８００は、波面測定領域が、有効領域を満たしているか否かを判定する（Ｓ８）。より詳細には、円６２の成す領域がハルトマン像外周６１ｂの成す領域内に収まっているか否かが判定される。円６２がハルトマン像外周６１ｂの成す領域内に収まっている場合は、波面測定領域は有効領域を満たしている（Ｓ８：Ｙｅｓ）。この場合、Ｓ１０以降のステップが実行されることによって、波面収差が補償される。
【００６６】
一方、円６２の成す領域がハルトマン像外周６１ｂの成す領域内に収まっていなければ、波面測定領域は有効領域を満たしていないと判定される（Ｓ８：Ｎｏ）。この場合、有効領域の変更処理が制御部８００によって実行される（Ｓ９）。ここで、Ｓ９における有効領域の変更処理は、例えば、被検眼Ｅと撮影部５００との相対位置を調整する処理であってもよいし、波面補償デバイス７２上での有効領域４１の設定位置を変更する処理であってもよい。例えば、本実施形態では、円６２の成す領域がハルトマン像外周６１ｂの成す領域から外れている場合（例えば、一部又は全部がはみ出ている場合）（Ｓ９：Ｎｏ）、被検眼Ｅと撮影部５００との相対位置が調整される。被検眼Ｅと撮影部５００との相対的な位置の調節は、例えば、顎台６１０の位置を手動または自動で調節することによって行われてもよい。また、仮に、被検眼Ｅに対して撮影部５００を移動させるユニットを撮影装置１が備えていれば、制御部８００は、ズレ情報が許容範囲内に収まるように撮影部５００を移動させてもよい。
【００６７】
本実施形態では、有効領域の変更後、Ｓ６〜Ｓ８の各処理が再度実行される。よって、波面測定領域が、有効領域を満たしていると判定されるまで（Ｓ８：Ｙｅｓ）、Ｓ６〜Ｓ９の処理は繰り返される。
【００６８】
Ｓ１０の処理では、波面センサ７３からの信号に基づいて波面収差を検出する（第１の波面収差検出）。例えば、波面測定領域が有効領域を満たした状態で新たに取得されるハルトマン像から、波面収差が検出される。
【００６９】
次に、制御部８００は、波面収差の検出結果に基づいて、波面補償デバイス７２の有効領域４１を制御し、波面収差を補償する（Ｓ１１）。有効領域４１の制御は、例えば、波面収差の検出結果に基づいて算出された収差補償量に基づいて行われてもよい。このように、本実施形態の制御部８００は、収差検出と、その結果に基づく波面補償の制御（つまり、収差補正制御）と、を繰り返すフィードバック制御を行う。
【００７０】
例えば、ＬＣＯＳの場合、波面センサ７３による波面収差の検出と、この検出結果に基づくＬＣＯＳの位相パターンの算出と、この算出結果に基づくＬＣＯＳの各画素への電圧印加と、を含むループ処理において補償用位相パターンはフィードバック制御される。これにより、波面収差の検出に基づいてＬＣＯＳの液晶層の屈折率が随時変化され、眼底反射光の波面の歪みが補正される。
【００７１】
また、デフォーマブルミラーの場合、波面センサ７３による波面収差の検出と、この検出結果に基づくミラー形状の算出と、この算出結果に基づくデフォーマブルミラーの各駆動部への電圧印加と、を含むループ処理においてミラー全体の形状はフィードバック制御される。これにより、波面収差の検出に基づいて、ミラー全体の形状が随時変化され、眼底反射光の波面の歪みが補正される。
【００７２】
上記のフィードバック制御は、波面収差の補償と並列的に眼底撮像光学系１００を介して取得される眼底動画像に反映される。よって、フィードバック制御の結果、眼底反射光の波面が適正に補償される場合は、眼底動画像のぼけが低減される。
【００７３】
次に、制御部８００は、Ｓ１１の処理による波面収差の補償後にも、波面センサ７３からの信号に基づいて波面収差検出（第２の波面収差検出）を実行する（Ｓ１２）。
【００７４】
本件発明者による検討の結果、波面検出の信頼性が低い条件の下で収差補正制御が実行された場合に、波面センサ７３にて検出される波面収差がかえって増大する場合があることが確認された。つまり、波面検出の信頼性が低い条件の下では、波面収差補償後に測定された波面収差（つまり、残収差）が、補償前よりも大きい場合があり得る。上記現象は、例えば、中間透光体に存在する混濁Ｋが、有効領域と重なっており、混濁Ｋによる波面データの欠損（つまり、シャックハルトマン像６１における点像６１ａの欠損）、および点像６１ａの輝度（つまり、波面センサ７３による眼底反射光の受光強度）の低下等が生じる状況下で確認された（図８参照）。なお、図８では、便宜上、シャックハルトマン像６１上に混濁Ｋを重畳させて示している。
【００７５】
これに対し、本実施形態では、制御部８００によって、波面補償デバイス７３の有効領域が、波面補償デバイス７３による収差補正の結果の変化に応じて変更される。ここで、収差補正の結果としては、波面センサ７３による残収差の測定結果が利用される。例えば、波面センサ７３を用いて検出される残収差が、収差補正制御の実行に伴って増大してしまう場合には、制御部８００は、有効領域を変更する。また、本実施形態では、残収差が収差補正制御の実行に伴って減少する場合には、有効領域は維持される。
【００７６】
なお、残収差の大きさは、例えば、前述のＲＭＳ値として検出（測定）されてもよい。ＲＭＳ値を用いる場合は、例えば、波面測定領域全体についての値が利用され得る。また、残収差の大きさは、前述の収差補正グラフィック６２ａにおける等高線の数、および密度（即ち、Ｐ−Ｖ値；Ｐｅａｋ−Ｖａｌｌｅｙ値）の少なくともいずれかとして検出されてもよい。
【００７７】
以下、Ｓ１３以降の動作内容をより具体的に説明する。まず、第１および第２の波面収差検出の結果が比較され、波面補償によって波面収差（主に、残収差）が増大したか否かが判定される（Ｓ１３）。Ｓ１３の処理において、波面収差が増大していないと判定される場合は（Ｓ１３：Ｎｏ）、Ｓ１１の処理において波面補償が適正に行われたと考えられる。この場合、高分解能の良好な眼底画像（例えば、眼底動画像）が眼底撮像光学系１００を介して取得され、モニタ８５０にて表示されるようになる。また、この場合、Ｓ１５以降の処理によって、撮影動作が行われる（詳細は後述する）。
【００７８】
一方、Ｓ１３の処理において、波面補償制御によって、かえって波面収差が増大していると判定される場合は（Ｓ１３：Ｙｅｓ）、波面補償が適正に行われていないと考えられる。この場合、第２の有効領域の変更処理（Ｓ１４）が実行される。以下に、Ｓ１４の処理における有効領域の変更動作の一例を説明する。
【００７９】
第２の有効領域の変更処理（Ｓ１４）は、有効領域４１のサイズ（例えば、径）を変更する処理であってもよい。より詳細には、図８に示すように、有効領域４１のサイズを小さくする処理であってもよい（図８（ａ）→図８（ｂ））。この場合、記憶部８０１には、設定可能な有効領域の径を示す径情報が記憶されていてもよい。例えば、本実施形態では、記憶部８０１に記憶された径情報に基づいて、瞳上で最大でφ６．０ｍｍ、最小でφ１．５ｍｍとなる範囲で有効領域が設定可能である。具体例として、φ６．０ｍｍ、φ４．５ｍｍ、φ３．０ｍｍ、φ１．５ｍｍが設定可能であるものとする。Ｓ１４の処理において、制御部８００は、現在の有効領域よりも小さな（より詳細には、一段階小さな）有効領域へと変更を行う。その後、再び、Ｓ６からＳ１３の処理を実行する。よって、有効領域の変更後に、再度、波面補償と、その波面補償の前後での波面収差検出とを行う。そして、波面収差が波面補償によって増大しているか否かを判定する。尚も波面収差が増大する場合は、更に、有効領域が変更されて（Ｓ１４）、Ｓ６からＳ１３までの処理が繰り返される。つまり、本実施形態では、有効領域のサイズが、φ６．０ｍｍ→φ４．５ｍｍ→φ３．０ｍｍ→φ１．５ｍｍの順で変更される。
【００８０】
なお、Ｓ１３の比較処理において使用される閾値は、直近の第１の波面収差検出（Ｓ１０）で得た波面収差に基づいて設定されてもよい。また、直近およびそれ以前を含む過去の第１の波面収差検出（Ｓ１０）で得た波面収差の中で、最も収差が小さいものに基づいて設定されてもよい。
【００８１】
図８に示すように、有効領域の変更によって、混濁の影響を受けた点像６１ａの有効領域における分布（本実施形態では、円６２の内側領域での分布）が変更される（図８（ａ）→図８（ｂ））。前述したように、本実施形態では、波面収差の検出は、有効領域において行われる。よって、波面検出の信頼性は、有効領域の変更に応じて変化する。本実施形態では、変更後の有効領域に基づく波面補償の前後で波面収差の測定値が増大していないと判定されるまで（つまり、残収差が増大していないと判定されるまで）、繰り返し有効領域が変更される。その結果として、眼科装置１は、波面補償が良好に行われる状態へ、いわゆるトライアンドエラーで導かれる。よって、本実施形態の撮影装置１では、透光体に混濁が存在する被検眼Ｅに対しても、適正な波面補償が行われる確実性を高めることができる。
【００８２】
また、本実施形態では、初期設定において有効領域のサイズが最も大きく設定され、そして、波面補償が適正に行われるようになるまで、段階的に有効領域のサイズが縮小される。よって、波面補償が適正に行われる範囲で、最も大きな有効領域が設定されやすい。従って、高分解能で良好な眼底画像が取得されやすい。
【００８３】
このように、撮影装置１は、透光体に混濁を含む被検眼Ｅに対しても適正な波面補償が行われやすい。よって、撮影装置１では、高分解能の良好な眼底画像が、より確実に取得される。
【００８４】
有効領域のサイズが変更された後、Ｓ１３の処理にて、波面収差が増大していないと判定される場合は、Ｓ１５以降の処理が実行されることによって、以下の撮影動作が行われる。
【００８５】
制御部８００は、撮影トリガ信号が入力されたか否かを判定する（Ｓ１５）。撮影トリガ信号が入力された場合（Ｓ１５：Ｙｅｓ）、画像撮影が実行される（Ｓ１６）。例えば、制御部８００は、トリガ信号の入力タイミングにて取得された眼底の細胞像動画像又は静止画像を、記憶部８０１に記憶する。上記の通り、撮影装置１では、適正な波面補償が行われるため、高分解能の良好な眼底画像が撮影される。
【００８６】
以上、実施形態に基づいて説明したが、本開示は、上記実施形態に限定されるものではなく、様々に変形可能である。
【００８７】
例えば、上記実施形態において、有効領域の初期設定において、設定可能な最大のサイズの有効領域が設定される場合について説明したが、必ずしもこれに限られるものではない。例えば、初期設定において、設定可能な最小のサイズの有効領域が設定されてもよいし、中間のサイズの有効領域が設定されてもよい。この場合において、波面補償の前後の波面収差に基づく有効領域の変更が、有効領域のサイズ変更によって行われる場合、有効領域のサイズを拡大させる処理が行われてもよい。サイズの拡大は、例えば、波面補償の前後で波面収差が低減した場合に行われるようにしてもよい。
【００８８】
また、有効領域の初期設定において設定される有効領域の径は、被検眼Ｅの個体差に応じた値であってもよい。例えば、被検眼Ｅの瞳孔径に応じて設定された値であってもよい。この場合、例えば、制御部８０は、前眼部観察ユニット７００にて取得される前眼部画像を用いて被検眼Ｅの瞳孔径データを取得する。また、瞳上の有効領域の径と瞳孔径とが同じ長さとなるように、有効領域の径が瞳孔径データに基づいて設定される。なお、詳細については、例えば、特開２０１３−５２０４８号公報を参照されたい。
【００８９】
また、上記実施形態では、波面補償の前後の収差量に基づく有効領域の変更が、有効領域のサイズ変更によって行われる場合について説明した。しかし、有効領域の変更は、有効領域のサイズ、位置、および、形状（つまり、外周の形状）の少なくとも何れか一つの変更であってもよい。
【００９０】
有効領域の位置が変更される場合、有効領域は、予め設定された位置の中で変更されてもよいし、任意の位置に変更されてもよい。予め位置が設定されている場合、有効領域が設定される各位置の位置情報は、記憶部８０１にて予め記憶されている。位置情報としては、例えば、有効領域の中心位置の座標情報であってもよく、ハルトマン像の中心を基準とした相対座標であってもよい。図９の例では、ハルトマン像の中心、およびその周囲の複数箇所（ここでは、計９か所）の座標情報が予め用意されている。この場合、制御部８０は、第２の有効領域の変更処理の度に、有効領域を予め設定された位置へと変位させてもよい。なお、有効領域の変位の順序は、予め定められていてもよい。図９の場合、図９（ａ）→図９（ｂ）→図９（ｃ）→図９（ｄ）→図９（ｅ）→図９（ｆ）→図９（ｇ）→図９（ｈ）→図９（ｉ）の順番で、有効領域の中心位置が変位される。また、任意の位置に有効領域が変位される場合、有効領域は、操作部８０２を介して検者が指示した位置に変更されてもよい。
【００９１】
有効領域の形状が変更される場合、有効領域の形状は、予め用意された複数種類の形状パターンの中からいずれかが選択されることで変更されてもよい。この場合、有効領域の形状パターンは、記憶部８０１にて予め記憶されていてもよい。例えば、有効領域の外周が、円、楕円、および多角形等、各種の幾何学形状に変更されてもよい。また、例えば、波面補償デバイス７２の有効領域は、例えば、図１０に示すように、幾つかの（図１０では、９分割）単位領域の組み合わせによって形成されてもよい。第２の有効領域の変更処理が行われる度に、有効領域として使用する単位領域の組み合わせを制御部８００が変更することによって、有効領域の形状が変更される。単位領域は、図１０に示した態様に限定されるものではなく、任意の形状に設定可能である。例えば、単位領域は、同心円にて外周が形成されるリング形状の領域であってもよい。
【００９２】
また、有効領域の形状が変更される場合、任意の形状に変更されてもよい。任意の形状に変更される場合、有効領域は、操作部８０２を介して検者が指示した形状に変更されてもよいし、制御部８００によって自動的に設定された形状に変更されてもよい。この場合、例えば、基準形状（例えば、円形）から混濁と重なる部分のみを取り除いた形状に有効領域が変更されてもよい。
【００９３】
制御部８０は、透光体の混濁位置が示された被検眼Ｅの画像（例えば、徹照像、前眼部の三次元断面画像（例えば、シャインプルーク画像、又はＯＣＴ画像に基づく画像））をモニタ８５０上に表示させることによって、透光体の混濁の位置を検者に把握させるようにしてもよい。
【００９４】
また、上記のような有効領域の変更は、透光体の混濁位置に関する情報を含む被検眼Ｅの前眼部画像（例えば、徹照像、前眼部の三次元断面画像等）に基づいて行われてもよい。例えば、有効領域の変更が制御部８００によって自動的に行われる場合、前眼部画像を解析することによって制御部８０が混濁位置を特定し、該特定した混濁位置を避けるように（より詳細には、ハルトマン像と重なる範囲において混濁位置を避けるように）制御部８０が有効領域を変更してもよい。また、例えば、変更後の有効領域が検者から指示される場合、前眼部画像をモニタ８５０上に表示させることによって、予め検者に透光体の混濁の位置を検者に把握させたうえで、撮影装置１が検者からの指示を受け付けるようにしてもよい。
【００９５】
また、上記実施形態において、眼底画像撮影用の光（つまり、光源１１からのレーザー光、および該レーザー光の眼底反射光のいずれか）の光束径が、有効領域のサイズに応じて変更されてもよい。この場合、眼底反射光の全光束に対して波面が補償されてもよい。その場合、収差によるぼけが一層低減された眼底画像が、撮影装置１によって取得できる。この場合において、光束径の変更は、例えば、複数のレンズと、そのレンズの間隔を調節する機構と、を用いて行うことができる。
【００９６】
また、上記実施形態では、有効領域に含まれるハルトマン像を解析することによって、波面収差を算出する場合について説明した。この場合において、被検眼のＰＳＦ（点拡がり関数）に基づいて波面収差（残収差）に関する情報が得られてもよい。ＰＳＦは、例えば、ハルトマン像の解析によって算出されたＺｅｒｎｉｋｅ係数から求めることができる。ＰＳＦの大きさは、ＰＳＦの強度分布に対しフィッティングした曲線に関する幅（例えば、半値幅、標準偏差等）が利用されてもよい。ＰＳＦは、ボケの状態を直接的に観察できる。例えば、ハルトマン像の点像欠落によって、測定精度が低い場合にも、制御部８００又は検者は、ボケに関する情報をＰＳＦから良好に得ることができる。
【００９７】
なお、上記実施形態では、第１の有効領域変更処理と、第２の有効領域変更処理とを、異なる内容の処理として説明したが、同一の内容の処理が実行されてもよい。
【００９８】
なお、上記実施形態では、被検眼Ｅの波面収差を測定するために、眼科撮影装置１の光学系に波面センサ７３が設けられた場合について説明したが、必ずしもこれに限られるものではなく、被検眼の波面収差を眼底からの反射光に基づいて測定する構成を備えていればよい。例えば、ＰｈａｓｅＤｉｖｅｒｓｉｔｙ法を用いて、波面収差を測定する場合が考えられる。この方法は、対象の光学系（ここでは、被検眼）に、ＰｈａｓｅＤｉｖｅｒｓｉｔｙと呼ばれる既知の波面収差を持つ測定光を、わざと与えたときに得られる画像を用いて画像処理を行うことによって、対象の光学系の波面収差における波面収差を推定するものである。ＰｈａｓｅＤｉｖｅｒｓｉｔｙを持つ測定光は、例えば、波面補償デバイス７３を所定の状態に制御することによって、生成できる。勿論、他の手法で生成されてもよい。
【００９９】
なお、以上の説明においては、眼底撮像光学系１００として、被検眼眼底と略共役な位置に配置された共焦点開口を介して被検眼眼底で反射した光束を受光して被検眼眼底の共焦点正面画像を撮影する共焦点光学系（ＳＬＯ光学系）を用いるものとしたが、これに限るものではない（例えば、特表２００１−５０７２５８号公報参照）。
【０１００】
例えば、被検眼眼底で反射した光束を二次元撮像素子により受光して被検眼の眼底正面画像を撮影する眼底カメラ光学系であってもよい。また、被検眼眼底で反射した光束と参照光による干渉光を受光して被検眼の断層画像を撮影する光断層干渉光学系（ＯＣＴ光学系）であってもよい。
【符号の説明】
【０１０１】
１０  視度補正部
４０  補償可能領域
４１  有効領域
７２  波面補償デバイス
７３  波面センサ
１００  眼底撮像光学系
１１０  波面収差検出光学系
Ｅ      被検眼
【図１】
2016067764.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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