(57)【要約】【課題】相関波形を正確に求める。【解決手段】その方法は、繰り返しパターンを有する一般的波形レコードを取込むステップと、一般的波形レコードに関するできれば補正したリカバリ・クロック信号を求めるステップと、このクロック・レートよりもＮ倍（Ｎは１より大きい整数）高い新しいサンプル・レートを選択するステップと、一般的波形をリサンプルして、新しいサンプルが、各ユニット・インターバルを定めるリカバリ・クロック信号の２つのクロック時点に正確に来ると共に、各ユニット・インターバルの２つのクロック時点間の等間隔のＮ−１個の追加時点に来るようにリサンプル波形を形成するステップと、リサンプル波形のユニット・インターバル中のパターン繰り返しに対して同じオフセットを有するサンプル、つまり、その分割したものの全ての平均値を取ることによって相関波形を形成するステップとを有している。【選択図】図１０
2016024200.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験測定装置の信号取込みユニットによって繰り返しパターンを有する一般的波形レコードを取込む処理と、
上記一般的波形レコードに関するリカバリ・クロック信号を求める処理と、
このクロック・レートよりも係数Ｎ（Ｎは１より大きい整数）だけ高い新しいサンプル・レートを選択する処理と、
上記一般的波形をリサンプルして、新しいサンプルが、各ユニット・インターバルを定めるリカバリ・クロック信号の２つのクロック時点に正確に来ると共に、各ユニット・インターバルの２つのクロック時点間の等間隔のＮ−１個の追加時点に来るようにして、リサンプル波形を形成する処理と、
上記リサンプル波形のユニット・インターバル中のパターン繰り返しに対して同じオフセットを有するサンプル、つまり、その分割したものの全ての平均値を取ることによって、上記相関波形を形成する処理と
を具える相関波形決定方法。
【請求項２】
繰り返しパターンを有する一般的波形レコードを受けるよう構成される信号取込み手段と、
上記一般的波形レコードに関するリカバリ・クロック信号を決定し、
そのクロック・レートよりＮ倍（Ｎは１より大きい整数）高い新しいサンプル・レートを選択し、
上記一般的波形をリサンプルし、その新しいサンプルが、各ユニット・インターバルを定めるリカバリ・クロック信号の２つのクロック時点に正確に来ると共に、各ユニット・インターバルの上記２つのクロック時点間の等間隔のＮ−１個の追加時点に来るように、リサンプル波形を形成し、
上記リサンプル波形のユニット・インターバル中のパターン繰り返しに対して同じオフセットを有するサンプル、つまり、その分割したものの全ての平均値を取ることによって、上記相関波形を形成する
ように構成されるプロセッサと
を具える試験測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、大きなデターミニスティック・ジッタが存在する中で、一般的波形中の繰り返しデータ・パターンに対応する相関波形を精度を改善して生成することに関する。
【背景技術】
【０００２】
高速シリアル・データ通信の分野では、波形の忠実度と、システム・タイミングと、電圧マージンは、歴史的にアイ・ダイヤグラムを用いて評価されてきた。
【０００３】
多くの場合、周期的に繰り返すデータ・パターンを伝える波形を用いて、構成要素又はシステムを評価することは、有用である。一般的な波形（Generalized Waveform）には、常に相関性及び非相関性の障害の両方が現れる。アイ・ダイヤグラムの生成及びノイズ／ジッタ分析の両方に関して、相関非相関ジッタ及びノイズから、相関波形を分離することが必要となることが多い。相関波形とは、そうした多数のパターン・サイクルから構成される一般的な波形の、完全な１パターン・サイクルを代表する概念的な波形として定義され、この繰り返しパターンと相関するデターミニスティックな振幅及び位相特性の例を示すものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−１４４７４８号
【特許文献２】特開２００９−５３８５８０号
【非特許文献】
【０００５】
【非特許文献１】「アイ・ダイヤグラムの構造分析」、文書番号６５Z-２６０４２-０、２０１２年１１月、テクトロニクス、［online］、［２０１５年７月１９日検索］、インターネット<http://jp.tek.com/>
【非特許文献２】「Eye pattern」の記事、Wikipedia、［online］、［２０１５年７月１９日検索］、インターネット<https://en.wikipedia.org/wiki/Eye_pattern>
【非特許文献３】「ジッタ」の記事、Wikipedia、［online］、［２０１５年７月１９日検索］、インターネット<https://en.wikipedia.org/wiki/ジッタ>
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
典型的には、相関波形は、クロック・リカバリ回路から得られる繰り返しパターンと同期した安定したトリガを用いて、信号取込み装置をトリガし、トリガ点からそれぞれ相対的に遅延した時間に対応する多くのサンプルをまとめて平均することで、繰り返し波形と相関しない影響を平均化によって時間に関して除去することによって得られる。しかし、大きな周期ジッタが存在する下では、平均化相関波形に基づいて生成されたアイ・ダイヤグラムは、アイ開口の形状を正しく表さないことがある。
【０００７】
本発明の実施形態は、従来技術におけるこれら及びその他の制約に取り組むものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の実施形態としては、相関波形を求める方法があり、試験測定装置の信号取込みユニットによって繰り返しパターンを有する一般的（Generalized）波形レコードを取込む処理と、上記一般的波形レコードに関するリカバリ・クロック信号を求める処理と、このクロック・レートよりも係数Ｎ（Ｎは１より大きい整数）だけ高い新しいサンプル・レートを選択する処理と、上記一般的波形をリサンプルして、新しいサンプルが、各ユニット・インターバルを定めるリカバリ・クロック信号の２つのクロック時点に正確に来ると共に、各ユニット・インターバルの２つのクロック時点間の等間隔のＮ−１個の追加時点に来るようにして、リサンプル波形を形成する処理と、上記リサンプル波形をＬ個（Ｌは整数）のパターン繰り返しに切り詰める処理と、Ｌ個の記録の全てに渡ってＮ＊Ｋ個（Ｋは繰り返しパターン中のビット数）のパターン・サンプルのそれぞれについて平均値を計算する処理と、Ｎ＊Ｋ個の平均値を連結し、上記リカバリ・クロック・レートに正規化（normalize）した新しい時間軸上に、上記相関波形を形成する処理とを含んでいる。
【０００９】
本発明の実施形態としては、試験測定装置もあり、繰り返しパターンを有する一般的波形レコードを受けるよう構成される信号取込み手段と、プロセッサとを具えている。プロセッサは、上記一般的波形レコードに関するリカバリ・クロック信号を決定し、そのクロック・レートより係数Ｎ（Ｎは１より大きい整数）だけ高い新しいサンプル・レートを選択し、上記一般的波形をリサンプルし、その新しいサンプルが、各ユニット・インターバルを定めるリカバリ・クロック信号の２つのクロック時点に正確に来ると共に、各ユニット・インターバルの上記２つのクロック時点間の等間隔のＮ−１個の追加時点に来るようにリサンプル波形を形成し、上記リサンプル波形をＬ個（Ｌは整数）のパターン繰り返しに切り詰め、Ｌ個の記録の全てに渡ってＮ＊Ｋ個（Ｋは繰り返しパターン中のビット数）のパターン・サンプルのそれぞれについて平均値を計算し、Ｎ＊Ｋ個の平均値を連結して上記リカバリ・クロック・レートに正規化（normalize）した新しい時間軸上に、上記相関波形を形成するよう構成される。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】図１は、本発明の方法を実現する試験測定装置のブロック図である。
【図２】図２は、非相関ジッタ及びノイズを含むシリアル・データ・ビットの繰り返しパターンの５個重ねた繰り返しを示す。
【図３】図３は、図２の繰り返しパターンに基づく相関波形を示す。
【図４】図４は、２ビットの繰り返し波形の一例を示す。
【図５】図５は、高振幅デターミニスティック位相変調を有する波形の２０個重複のパターン繰り返しを示す。
【図６】図６は、図５の複数の波形セグメントに、複数波形のセットに基いて求めた相関波形を重ねたものを示す。
【図７】図７は、好ましい相関アイ・ダイヤグラムと共に、図６の相関波形を用いて形成された相関アイ・ダイヤグラムを示す。
【図８】図８は、図６の相関波形に非相関の影響を取り込んだ後のアイ・ダイヤグラムを示す。
【図９】図９は、本発明に従って生成されたアイ・ダイヤグラムを示す。
【図１０】図１０は、本発明の実施形態を説明するフローチャートである。
【図１１】図１１は、時間的に等間隔であると共に、リカバリ・クロックの係数Ｎ倍でリサンプルされるオリジナルの波形サンプルと共に、波形の２つのユニット・インターバルを示す。
【図１２】図１２は、本発明の実施形態を説明するフローチャートである。
【図１３】図１３は、時間対タイム・インターバル・エラーのプロットであり、エラーとしては、ランダムと大きな振幅のデターミニスティック成分がある。
【図１４】図１４は、デターミニスティック・ジッタの特定成分に対応するタイム・インターバル・エラーを示すプロットである。
【図１５】図１５は、補正クロック・リカバリ時点から導いたタイム・インターバル・エラーを示すプロットである。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
図面において、開示するシステム及び方法の類似又は対応する要素は、同じ参照数字で示される。これら図面は、必ずしも一定の縮尺ではない。
【００１２】
ここで図１を参照すると、本発明を実現するための本発明のある実施形態によるリアルタイム・オシロスコープの代表的なブロック図が示されている。リアルタイム・オシロスコープを示して以下で説明するが、時間領域波形を適切に表すものを取込む能力のある任意の形式の試験測定装置を用いることができる。
【００１３】
オシロスコープ１００は、アクセサリ・インターフェース１０４に結合された別々の信号チャンネル１０２を有していても良く、図１では、２つのものが提示されている。アクセサリ・インターフェース１０４を介して、プローブがオシロスコープ１００に結合される。各プローブには、プローブ・ケーブルを介してプローブ制御ボックス１２２に結合されるプローブ・ヘッド（図示せず）がある。プローブ・ヘッドは、被測定デバイス（ＤＵＴ）上のプロービング・ポイントに接続される。プローブ制御ボックス１２２は、アクセサリ・インターフェース１０４に装着される。各信号チャンネル１０２には、独立に信号取込み（アクイジション）ユニット１０６があっても良く、これは、例えば、少なくともプローブを介して被測定デバイスからアナログ波形入力信号を受けて、受けた信号をデジタル化サンプルに変換する既知の電子回路又はデバイスを含んでいても良い。信号チャンネル１０２に結合さるアナログ波形入力信号のそれぞれは、トリガ回路１０８にも結合されて良い。信号取込みユニット１０６及びトリガ回路１０８は、システム・バス１１２を介してプログラマブル処理手段１１０に結合されても良い。システム・バス１１２は、更にメモリ手段１１４に結合されても良く、これは、例えば、ＲＡＭ、ＲＯＭ又はキャッシュ・メモリの形態を取っても良い。ＲＡＭメモリは、信号取込みユニット１０６で生成されたアナログ波形入力信号のデジタル化サンプルのような揮発性データを記憶するよう動作する。システム・バス１１２は、更に、表示部（図示せず）を制御する表示回路１１６、ハード・ディスク・ドライブ（ＨＤＤ）、ＳＳＤ、ＢＤドライブ、テープ・ドライブなどの適切な大容量記憶媒体を読み書きする大容量記憶ユニット（１つ又は複数）１１８、フロント・パネル操作装置１２０に結合されても良い。当然ながら、オシロスコープ１００には、各チャンネルが独立に信号取込み手段１０６を有する任意の個数の信号チャンネル１０２があって良い。
【００１４】
本発明の実施形態による方法を実現したり、オシロスコープ１００を制御したりするための実行命令は、メモリ手段１１４、より具体的には、例えば、ＲＯＭに記憶して、アクセスしても良い。これに代えて、実行命令を大容量記憶ユニット１１８内の大容量記憶媒体に記憶してアクセスしても良く、これは、ある実施形態では、メモリ手段１１４内にあっても良い。処理手段１１０は、例えば、１つ又は複数のプログラマブル・マイクロプロセッサとして実現されても良い。処理手段１１０は、また、複数のプログラマブル・コントローラ又は１つ以上のプログラマブル・デジタル・シグナル・プロセッサを用いて実現されても良い。更に別の実施形態では、処理手段１１０が複数のコントローラで実現された場合、１つをアナログ波形入力信号の取込みと処理の制御に使用しながら、２つ目をオシロスコープ１００の他の動作の制御に使用しても良い。オシロスコープ１００は、オペレーティング・システムを用いて制御されても良く、これは、大容量記憶ユニット１１８に記憶され、処理手段（つまり、１つ以上のプロセッサ）１１０と関連するメモリ手段１１４によってアクセスされても良い。例えば、オペレーティング・システムは、パソコンに使用されているものでも良く、これによって、表示部は、その画面内に複数のウィンドウを表示可能になる。
【００１５】
表示回路１１６は、処理手段１１０から表示部を制御する命令を受ける表示コントローラ（図示せず）を有しても良く、また、例えば、処理手段１１０の一部であるデジタル・シグナル・プロセッサから、表示部で表示するためのデータを受けても良い。また、インターフェース１０４及びプローブを監視するためのバス・コントローラ（図示せず）が、処理手段１１０内か又はオシロスコープ１００内に別途あっても良い。このバス・コントローラは、通信バス１２４を介して、プローブ１２２と処理手段１１０間の通信も制御する。このバス１２４としては、Ｉ２Ｃバス、ＩＥＥＥ１４９４バス、ＵＳＢバスなどが含まれて良く、双方向通信を提供する。
【００１６】
電源１２６は、処理手段１１０から制御信号を受けて、電圧ライン１２８、アクセサリ・インターフェース１０４、プローブ制御ボックス１２２及びプローブ・ケーブルを介して、プローブ・ヘッドに供給される電力を制御しても良い（特許文献２参照）。
【００１７】
図２は、オシロスコープ１００の信号取込みユニット１０６で受けたシリアル・データ・ビットのノイズの多い繰り返しパターンの５個重ねた繰り返しの例を示す。その７ビットの繰り返しパターンが識別可能であるが、ジッタ及びノイズが個々の波形を変化させていることも明確である。任意の垂直ラインに沿って、図２の波形の多数の記録をまとめて平均化すると、図３の波形が得られる。
【００１８】
図３の波形は、サンプリング・オシロスコープを用いて得られるし、まずまず類似のものが、リアルタイム・デジタル・オシロスコープにおいて、取込みモードを「平均」に設定することで得られる。しかし、リアルタイム・オシロスコープでは、図２で重複させた波形の全てが同じサンプル・レートを共有してはいるものの、クロック・リカバリで導出したパターン・トリガに従って、正確にそれらを揃えるには、それらを異なるタイミング・スキューで重複することが必要となることがあり、これは、ある波形のサンプルが、他の波形のサンプルと時間的に揃っていないという状態を生じさせる。
【００１９】
更に、クロック・リカバリ処理は、しばしば、ダイナミックに変化するので、リカバリ・クロックは、サイクル毎に期間がわずかに異なることがある。もし図２の波形全てが同じサンプル・レートで重複すると、これは、個々の波形の受けるクロックの発生が独立に変化するという理論上あるべきものではなくて、その波形セグメントの期間について、実際上、クロック・リカバリが固まって（フリーズ）しまう。
【００２０】
相関波形を求める平均化手法は、多く場合、上手く機能するが、この平均化手法は、上述の如く、高振幅のデターミニスティック・ジッタが存在する場合には、貧弱な結果を与える。主要な正弦曲線変調（Sinusoidal Modulation）、周期ジッタ（ＰＪ）が、こうした変調に適切に追従する受信装置の能力を定量化するために、意図的に導入される受信装置の試験では、高振幅デターミニスティック・ジッタは、非常に問題となる。
【００２１】
例えば、図４に示すように、２ビット（つまり、「１０」）だけで、高速な立ち上がり及び立ち下がり時間の繰り返し波形を検討する。繰り返し波形に関するタイム・ベースは、正弦波位相変調で変調され、ピーク・トゥ・ピーク振幅がビット・インターバルの５分の１であると仮定する。もし変調の周波数が充分に低ければ、平均化される波形繰り返しの重複に利用されるトリガ位置を制御するクロック・リカバリの多くの形式は、変調に追従し、よって、変調を除去するであろう。
【００２２】
この場合、相関波形及びアイ・ダイヤグラムは、かなりの程度、影響を受けないであろう。しかし、もしクロック・リカバリが追従するのには、変調周波数があまりに高すぎる場合、相関波形を得るのに平均化されるであろう複数波形のセット（set：組、グループ）は、図５で示されるものようになるかもしれない。変調がトリガ回路で追従されないので、その影響は、重複された波形セグメント中において、視覚的に明確になる。
【００２３】
図５において、リカバリ・クロックに対する任意のサンプル時点における波形（セグメントを横切る垂直な線に対応）の全てのセグメントが、平均化されて相関波形が形成された場合、その結果は、図６の波形６００で示されるようになる。もし図６の相関波形が相関アイ・ダイヤグラムを形成するのに使用されると、その結果は、図７で太い線７００で示されるようなものになるだろう。比較のため、実際の波形を水平オフセットで重ねたもので得られる好ましい相関アイ・ダイヤグラムを、図７では、細い線７０２で示している。
【００２４】
図７に示すように、平均化された相関波形を用いると、そのアイ開口は、かなり歪むことが明らかである。図７は、相関波形から得られるアイだけを示しているが、非相関の影響を含む完全なアイ・ダイヤグラムは、これに基づき、同様な影響を示すであろう。相関波形に依存する何らかのマスク試験や他の計量も、悪影響を受けるであろう。
【００２５】
図８及び９は、同じ現実の波形からの２つのアイ・ダイヤグラムを示し、唯一の違いは、アイ・ダイヤグラムを形成したときの非相関デターミニスティック・ジッタの扱いである。図８は、平均化した相関波形を用いたアイ・ダイヤグラムを示す一方で、図９は、詳しくは後述すると共に図１０及び１１に示す本発明の方法を用いて生成されたアイ・ダイヤグラムである。当業者であれば、図９が、図８よりも大幅の正確なアイ開口を示すことが理解できよう。
【００２６】
図１０の工程１０００では、クロック・リカバリ処理を通して、シリアル・データ波形に対応する理想クロックが得られる。オプションとして、図１２で記述するように、この理想クロックの重大な非相関デターミニスティック・ジッタに関して更に補正したものを利用しても良い。後続の工程では、従来のリカバリ・クロックと補正リカバリ・クロックのどちらも、リカバリ・クロックと呼ぶ。
【００２７】
工程１００２では、所与の名目上のクロック・レートに対して、このクロック・レートより整数Ｎの乗数だけ高い新しいサンプル・レートが選択されるが、このとき、Ｎは１より大きい。代表的な実現手法では、Ｎは１０〜１６であっても良い。図１１では、説明を簡潔にするため、Ｎ＝４である。
【００２８】
リカバリ・クロックの時点の各対は、ユニット・インターバルを定める。図１１では、第１リカバリ・クロック時点１１０２と第２リカバリ・クロック時点１１０４が、第１ユニット・インターバルを定める。工程１００４では、各ユニット・インターバルについて、オシロスコープの元々のサンプル・レートで時間的に等間隔のサンプルの列から構成されるオリジナル波形をリサンプルするが、このとき、新しいサンプルが正確に、１ユニット・インターバルを定める２つのリカバリ・クロック時点に来ると共に、２つのリカバリ・クロック時点間で等間隔のＮ−１個の追加時点に来るようにする。図１１では、取り込まれたオリジナル・サンプル１１００は、元の間隔ｔｓで時間的に等間隔を空けて配置されている。新しいサンプル１１０６は、個々のユニット・インターバルをそれぞれＮで等しく分割する。リサンプル処理（resampling）は、ｓｉｎ（ｘ／ｘ）、スプライン又は同様な既知の手法を用いて行われる。
【００２９】
ステップ１００６では、この処理を、波形全体に渡って各ユニット・インターバルについて繰り返し、クロック・リカバリ処理で定められるユニット・インターバルが等しい期間を有するか否かに関係なく、１ユニット・インターバルにつき正確にＮサンプルを有する新しい波形を得る。これは、リサンプル波形と呼ばれる。この波形は、時間的に等間隔ではなくて、ユニット・インターバル単位で等間隔な独立した軸を有する。
【００３０】
もし波形が、Ｋビットの周期的な繰り返しパターンを持っているとわかっているなら、リサンプル波形は、Ｎ＊Ｋサンプル毎に、その全体的な特徴について、名目上、繰り返すであろう。パターンの繰り返し毎の（ポスト・リサンプル処理の）波形サンプルの数として、Ｐ＝Ｎ＊Ｋを定義する。すると、相関波形は、正に、そのパターンの１つの繰り返しであるから、相関波形中のサンプル数もＰとなろう。工程１００８では、相関波形のＰ個のサンプルのそれぞれが、リサンプル波形から全てのサンプルの平均値を取ることによって求められるが、１サンプルは、パターンの繰り返しそれぞれからのもので、相関波形の望ましいサンプルとして、パターン中の同じオフセットに対応している。もし（ポスト・リサンプル処理）波形サンプルをＲｊと呼び、もしリサンプル波形がパターンの正確にＬ個の完全な繰り返し
を有するなら、相関波形サンプルＣｐが次から求められる：
【００３１】
【数１】
2016024200.tif 000003
【００３２】
例えば、もしＮ＝１０でＫ＝４ならＰ＝４０であり、そして、もしＬ＝５ならＣ１−Ｃ４０については：
【００３３】
【数２】
2016024200.tif 000004
．．．など、である。
【００３４】
完全な波形が、整数Ｌの繰り返しを有する必要はなく、任意の部分的な繰り返しのサンプルを、相関波形の影響を受けたサンプルに関して、平均化処理に含めることもできるし、その部分的な繰り返しは、破棄しても良い。
【００３５】
工程１０１０では、工程１０８で得た相関波形を用いて、相関波形に非相関の影響を取込む（convolve）ことによって、図９のアイ・ダイヤグラムが生成される。
【００３６】
図１２は、図１０に関して上述したように、重大な非相関デターミニスティック・ジッタを補正して、補正リカバリ・クロックを得る方法を示す。工程１２００では、１つのデータ・パターンの多数の繰り返しを表す、適切な長さの波形に関してのエッジ時点を、波形遷移（transition）が、選択された振幅しきい値を横切る正確な時間（時点）として、精密に見つける。選択された振幅しきい値は、例えば、名目上、波形の垂直な広がりの中間点付近であっても良い。これら時間は、適切な補間処理を用いて、デジタル・オシロスコープのサンプル間隔よりも高い解像度で見つける。
【００３７】
工程１２０２では、波形に対応する理想的なクロックが、典型的には小さな変動があるものの、名目上では等間隔の時点が時間順に進むシーケンスとして、最初に構築される。クロック・リカバリとして知られる、このステップを行うための種々の処理は、既知であり、位相ロック・ループ、遅延ロック・ループ、線形平均平方根最適化（linear mean-squared best fit）、その他の方法がある。時点の名目上の間隔は、ユニット・インターバルと呼ばれる。
【００３８】
工程１２０４では、第１ステップで得たエッジ時点を、ステップ１２０２で得た対応するクロック時点から引き算することによって、観測されるタイミング・ジッタを抽出する。この引き算の結果は、タイム・インターバル・エラー（Time Interval Error：ＴＩＥ）又はジッタと呼ばれる。ＴＩＥは、時間に対してプロットすることで、図１３に示すような曲線で示され、これは、ＴＩＥを、いくらかのランダム・ジッタを加えた単一の強い正弦曲線のデターミニスティック成分を伴う波形で示す。
【００３９】
工程１２０６では、ジッタがデターミニスティック部分とランダム部分に分離される。これを行う最も一般的な方法は、ジッタの時間レコードにフーリエ変換を実行し、デターミニスティック・ジッタが振幅スペクトラム中の極大値として現れることを利用して、それらの周波数及び位相を特定する。しかし、他の手法を用いても良い。
【００４０】
工程１２０８では、パターン相関の影響が原因のデターミニスティック・ジッタ、データ依存ジッタ（ＤＤＪ）を、パターンの繰り返しレートと非相関のデターミニスティック・ジッタから分離する。これは、例えば、周波数が原因でパターンに関連するスペクトラム成分を、それらが現れる周波数で、分類することで行っても良い。
【００４１】
工程１２１０では、非相関デターミニスティック・ジッタ成分の振幅を、オプションで、しきい値と比較しても良い。もし成分の振幅がしきい値より高くないのであれば、アイ・ダイヤグラムの歪みの量は極わずかと思われるので、更なる処理は、しなくても良い。もし成分の振幅で、しきい値より高いものがあるなら、処理は、工程１２１２に進む。
【００４２】
工程１２１２では、重大であると判断された各非相関デターミニスティック・ジッタ成分について、リカバリ・クロック時点でサンプルされた、重大な成分の振幅及び位相に対応する変調時点（modulation times）のセットが構築される。図１３に示すＴＩＥグラグについては、正弦曲線変調（sinusoidal modulation）に対応する構築されたセットは、図１４の細い線１４００で示されるような外観となる。
【００４３】
工程１２１４では、もし重大な非相関デターミニスティック・ジッタ成分が１つよりも多いなら、工程１２１で得られる構築された複数の変調時点は、構築された複数の変調時点の単一セットへと一体化される。
【００４４】
工程１２１６では、全ての重大な成分を表す構築された変調時点が、オリジナルのリカバリ・クロックから引き算され、補正リカバリ・クロックのセットを形成する。例えば、補正時点のセットから導いた新しいＴＩＥ時点のセット１５００が、図１５において重複されている。
【００４５】
相関波形を得る後続の処理では、補正リカバリ・クロック時点は、オリジナルのクロック・リカバリ時点の代わりに利用される。
【００４６】
本発明の原理を、その好ましい実施形態において、説明及び図示してきたが、本発明は、そうした原理から離れることなく、構成や細部を変更できることは明かであろう。
【００４７】
例えば、本発明の概念１は、相関波形を決定する方法であっても良く、
試験測定装置の信号取込みユニットによって繰り返しパターンを有する一般的波形レコードを取込む処理と、
上記一般的波形レコードに関するリカバリ・クロック信号を求める処理と、
このクロック・レートよりも係数Ｎ（Ｎは１より大きい整数）だけ高い新しいサンプル・レートを選択する処理と、
上記一般的波形をリサンプルして、新しいサンプルが、各ユニット・インターバルを定めるリカバリ・クロック信号の２つのクロック時点に正確に来ると共に、各ユニット・インターバルの２つのクロック時点間の等間隔のＮ−１個の追加時点に来るようにして、リサンプル波形を形成する処理と、
上記リサンプル波形のユニット・インターバル中のパターン繰り返しに対して同じオフセットを有するサンプル、つまり、その分割したものの全ての平均値を取ることによって、上記相関波形を形成する処理と
を具えている。
【００４８】
本発明の概念２は、上記概念１の方法であっても良く、更に、上記相関波形に基づいて、アイ・ダイヤグラムを生成する処理を具えている。
【００４９】
本発明の概念３は、上記概念１の方法であっても良く、このとき、上記リカバリ・クロックを求める処理は、構築された変調時点を最初のリカバリ・クロックから引き算し、補正リカバリ・クロック信号を形成する処理を含んでいる。
【００５０】
本発明の概念４は、上記概念３の方法であっても良く、このとき、上記構築された変調時点は、
初期リカバリ・クロックを構築する処理と、
上記一般的波形からジッタを抽出する処理と、
上記ジッタをデターミニスティック部分とランダム部分とに分離する処理と、
上記デターミニスティック部分をデータ依存ジッタと非相関デターミニスティック・ジッタとに分離する処理と、
上記非相関デターミニスティック・ジッタの１つ以上の重大な成分の振幅及び位相に対応する上記構築された変調時点を求める処理と
によって求められる。
【００５１】
本発明の概念５は、上記概念１の方法であっても良く、このとき、Ｐ＝Ｎ＊Ｋは、パターン繰り返し当たりの波形サンプル数であって、ここで、Ｎは繰り返し数であり、Ｋは繰り返しパターン中のビット数であり、上記相関波形のサンプルＣｐが、Ｒｊを波形サンプルとして、上記数式１から求められる。
【００５２】
本発明の概念６は、試験測定装置であって、
繰り返しパターンを有する一般的波形レコードを受けるよう構成される信号取込み手段と、
上記一般的波形レコードに関するリカバリ・クロック信号を決定し、
そのクロック・レートよりＮ倍（Ｎは１より大きい整数）高い新しいサンプル・レートを選択し、
上記一般的波形をリサンプルし、その新しいサンプルが、各ユニット・インターバルを定めるリカバリ・クロック信号の２つのクロック時点に正確に来ると共に、各ユニット・インターバルの上記２つのクロック時点間の等間隔のＮ−１個の追加時点に来るように、リサンプル波形を形成し、
上記リサンプル波形のユニット・インターバル中のパターン繰り返しに対して同じオフセットを有するサンプル、つまり、その分割したものの全ての平均値を取ることによって、上記相関波形を形成する
ように構成されるプロセッサと
を具えている。
【００５３】
本発明の概念７は、上記概念６の試験測定装置であっても良く、上記プロセッシング手段が、上記相関波形に基づいて、アイ・ダイヤグラムを生成するよう更に構成されている。
【００５４】
本発明の概念８は、上記概念６の試験測定装置であっても良く、このとき、上記リカバリ・クロック信号は、構築された変調時点を最初のリカバリ・クロックから引き算し、補正リカバリ・クロック信号を形成することによって求める。
【００５５】
本発明の概念９は、上記概念８の試験測定装置であっても良く、このとき、上記プロセッシング手段が、
初期リカバリ・クロックを構築する処理と、
上記一般的波形からジッタを抽出する処理と、
上記ジッタをデターミニスティック部分とランダム部分とに分離する処理と、
上記デターミニスティック部分をデータ依存ジッタと非相関デターミニスティック・ジッタとに分離する処理と、
上記非相関デターミニスティック・ジッタの１つ以上の重大な成分の振幅及び位相に対応する上記構築された変調時点を求める処理と
によって、上記構築された変調時点を求めるよう更に構成されている。
【００５６】
本発明の概念１０は、上記概念６の試験測定装置であっても良く、このとき、Ｐ＝Ｎ＊Ｋは、パターン繰り返し当たりの波形サンプル数であって、ここで、Ｎは繰り返し数であり、Ｋは繰り返しパターン中のビット数であり、上記相関波形のサンプルＣｐが、Ｒｊを波形サンプルとして、上記数式１から求められる。
【符号の説明】
【００５７】
１００  オシロスコープ
１０２  信号チャンネル
１０４  アクセサリ・インターフェース
１０６  信号取込みユニット
１０８  トリガ回路
１１０  プログラマブル処理手段（プロセッサ）
１１２  システム・バス
１１４  メモリ手段
１１６  表示回路
１１８  大容量記憶ユニット（１つ又は複数）
１２０  フロント・パネル操作装置
１２２  プローブ制御ボックス
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【外国語明細書】
2016024200000001.pdf