(57)【要約】【課題】エラー発生箇所の候補を検出すること。【解決手段】設計支援装置１００は、設計対象の回路内のそれぞれ対応するデータパス１１０とクロックパス１２０とを特定する。次に、設計支援装置１００は、依存情報に基づいて、データパス１１０上の各セル１１１，１１２，１１３に対応する依存度と、クロックパス１２０上の各セル１２１，１２２に対応する依存度とを特定する。そして、設計支援装置１００は、特定したデータパス１１０上の各セルに対応する依存度と、クロックパス１２０上の各セルに対応する依存度とに基づいて、データパス１１０とクロックパス１２０とを含む部分回路を、エラー発生箇所の候補として検出する。設計支援装置１００は、例えば、データパス１１０上の各セルに対応する依存度の平均値が、クロックパス１２０上の各セルに対応する依存度の平均値よりも大きい場合に、部分回路をエラー発生箇所の候補として検出する。【選択図】図１
2016042303.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンピュータが、
セルの種類に、当該種類のセルの基板端子に印加する電圧の値の変化に対する当該種類のセルを通過する信号の遅延時間の変化の度合いを示す依存度を対応付けた依存情報に基づいて、設計対象の回路内のデータパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記データパスに対応するクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とを特定し、
特定した前記データパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とに基づいて、前記データパスと前記クロックパスとを含む部分回路を、エラー発生箇所の候補として検出する、
処理を実行することを特徴とする設計支援方法。
【請求項２】
前記検出する処理は、
前記データパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値が、前記クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値より大きい場合に、前記部分回路をエラー発生箇所の候補として検出する、ことを特徴とする請求項１に記載の設計支援方法。
【請求項３】
前記コンピュータが、
前記データパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値が、前記クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値より大きい場合には、前記データパス上のいずれかのセルを、当該セルと同一論理、かつ当該セルよりも依存度が小さい他のセルと置換する、
処理を実行することを特徴とする請求項２に記載の設計支援方法。
【請求項４】
前記置換する処理は、
前記データパス上で依存度が最大のセルを、前記依存度が最大のセルと同一論理、かつ前記依存度が最大のセルよりも依存度が小さい他のセルと置換する、ことを特徴とする請求項３に記載の設計支援方法。
【請求項５】
前記置換する処理は、
前記依存情報に基づいて、前記依存度が最大のセルを、前記依存度が最大のセルと同一論理のセル、かつ前記依存度が最大のセルよりも依存度が小さいセルのうちで、依存度が最小のセルと置換する、ことを特徴とする請求項４に記載の設計支援方法。
【請求項６】
前記置換する処理は、
セルの種類に、基板に電圧を印加した場合の当該種類のセルを通過する信号の遅延時間を対応付けた遅延情報に基づいて、前記依存度が最大のセルを、前記依存度が最大のセルと同一論理、かつ前記依存度が最大のセルよりも依存度が小さいセルのうちで、前記依存度が最大のセルとの遅延時間の差分が最小のセルと置換する、ことを特徴とする請求項４または５に記載の設計支援方法。
【請求項７】
前記データパスは、前記設計対象の回路内のクロック信号の分岐点から一方に分岐したクロック信号が入力される第１のセルの入力端子から、前記第１のセルから出力されるデータ信号と前記分岐点から他方に分岐したクロック信号とが入力される第２のセルの入力端子までのパスであり、
前記クロックパスは、前記分岐点から、前記第２のセルの入力端子までのパスであることを特徴とする請求項１〜６のいずれか一つに記載の設計支援方法。
【請求項８】
前記特定する処理は、
前記クロックパスとは異なる、前記分岐点から前記第１のセルの入力端子までの第２のクロックパス上にセルが存在する場合には、前記依存情報に基づいて、前記データパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記第２のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とを特定し、
前記検出する処理は、
特定した前記データパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記第２のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とに基づいて、前記データパスと前記クロックパスと前記第２のクロックパスとを含む部分回路を、エラー発生箇所の候補として検出する、ことを特徴とする請求項７に記載の設計支援方法。
【請求項９】
コンピュータに、
セルの種類に、当該種類のセルの基板端子に印加する電圧の値の変化に対する当該種類のセルを通過する信号の遅延時間の変化の度合いを示す依存度を対応付けた依存情報に基づいて、設計対象の回路内のデータパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記データパスに対応するクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とを特定し、
特定した前記データパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とに基づいて、前記データパスと前記クロックパスとを含む部分回路を、エラー発生箇所の候補として検出する、
処理を実行させることを特徴とする設計支援プログラム。
【請求項１０】
セルの種類に、当該種類のセルの基板端子に印加する電圧の値の変化に対する当該種類のセルを通過する信号の遅延時間の変化の度合いを示す依存度を対応付けた依存情報に基づいて、設計対象の回路内のデータパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記データパスに対応するクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とを特定し、特定した前記データパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とに基づいて、前記データパスと前記クロックパスとを含む部分回路を、エラー発生箇所の候補として検出する、
制御部を有することを特徴とする設計支援装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、設計支援方法、設計支援プログラム、および設計支援装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、大規模集積回路（ＬＳＩ：Ｌａｒｇｅ  Ｓｃａｌｅ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ）の設計工程において当該ＬＳＩが動作するように各種信号の遅延時間を調整するタイミング設計が行われる。タイミング設計では、セルに対して供給されるデータ信号が、セルに供給されるクロック信号よりどのくらい前に到達すべきかの条件であるタイミング制約を満たすように、データ信号とクロック信号との遅延時間が調整される。
【０００３】
関連する技術としては、例えば、クロックツリー合成処理にて生成したクロックツリーに含まれるクロックパスについて、電圧・温度の遅延感度をそれぞれ算出し、２つのクロックパスの遅延感度の差を０に近づけるように、遅延感度を調整するものがある。また、例えば、複数のパスのタイミングスラックのうちのワーストタイミングスラックが所定のスラック値よりも悪くならない範囲で最大バラツキ合計を減少させるようにネットリストのセルを入れ替える技術がある。また、例えば、論理シミュレータの検証結果より遅延時間割り当て部にて遅延時間を逐次選択して各ゲートに割当ることにより基板バイアスを考慮して論理変化、動作タイミングを検証する技術がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１１−１７５４３１号公報
【特許文献２】特開２００９−２３７７２７号公報
【特許文献３】特開平１１−５３４１６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上述した従来技術によれば、ＬＳＩの設計工程において、ＬＳＩの製造後にタイミング制約を満たさなくなるエラー発生箇所を検出することが難しい。例えば、設計工程で設定したバックバイアスの値と製造時に設定したバックバイアスの値とが異なる場合には、ＬＳＩの各種セルを通過する信号の遅延時間が設計工程と製造時とで異なってしまい、設計工程においてエラー発生箇所を検出することが難しい。
【０００６】
１つの側面では、本発明は、エラー発生箇所の候補を検出することができる設計支援方法、設計支援プログラム、および設計支援装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一側面によれば、セルの種類に、当該種類のセルの基板端子に印加する電圧の値の変化に対する当該種類のセルを通過する信号の遅延時間の変化の度合いを示す依存度を対応付けた依存情報に基づいて、設計対象の回路内のデータパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記データパスに対応するクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とを特定し、特定した前記データパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とに基づいて、前記データパスと前記クロックパスとを含む部分回路を、エラー発生箇所の候補として検出する設計支援方法、設計支援プログラム、および設計支援装置が提案される。
【発明の効果】
【０００８】
本発明の一態様によれば、エラー発生箇所の候補を検出することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】図１は、実施の形態にかかる設計支援方法の一例を示す説明図である。
【図２】図２は、支援装置１００のハードウェアの一例を示すブロック図である。
【図３】図３は、支援装置１００の機能的構成例を示すブロック図である。
【図４】図４は、依存情報を作成する一例を示す説明図（その１）である。
【図５】図５は、依存情報を作成する一例を示す説明図（その２）である。
【図６】図６は、依存情報を作成する一例を示す説明図（その３）である。
【図７】図７は、依存情報を作成する一例を示す説明図（その４）である。
【図８】図８は、依存情報を作成する一例を示す説明図（その５）である。
【図９】図９は、依存度を比較する一例を示す説明図（その１）である。
【図１０】図１０は、依存度を比較する一例を示す説明図（その２）である。
【図１１】図１１は、セルを置換する一例を示す説明図（その１）である。
【図１２】図１２は、セルを置換する一例を示す説明図（その２）である。
【図１３】図１３は、セルを置換する一例を示す説明図（その３）である。
【図１４】図１４は、セルを置換する一例を示す説明図（その４）である。
【図１５】図１５は、セルを置換する一例を示す説明図（その５）である。
【図１６】図１６は、セルを置換する一例を示す説明図（その６）である。
【図１７】図１７は、セルを置換する一例を示す説明図（その７）である。
【図１８】図１８は、セルを置換する一例を示す説明図（その８）である。
【図１９】図１９は、依存度を比較する別の例を示す説明図（その１）である。
【図２０】図２０は、依存度を比較する別の例を示す説明図（その２）である。
【図２１】図２１は、生成処理手順の一例を示すフローチャートである。
【図２２】図２２は、置換処理手順の一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下に、図面を参照して、本発明にかかる設計支援方法、設計支援プログラム、および設計支援装置の実施の形態を詳細に説明する。
【００１１】
ここで、ＬＳＩの設計時には、タイミング設計が行われることがある。ＬＳＩは、異なる種類のセルを含む。セルは、例えば、トランジスタを含む論理回路である。セルは、具体的には、フリップフロップである。タイミング設計では、仕様に定められた各種セルの基板端子に印加する電圧の値に対する各種セルを通過する信号の遅延時間を示すライブラリを参照して、タイミング制約を満たすようにデータ信号とクロック信号との遅延時間が調整される。以下の説明では、基板端子に印加する電圧を「バックバイアス」と表記する場合がある。
【００１２】
しかしながら、ＬＳＩの製造時には、ＬＳＩの設計時とは異なり、仕様に定められたバックバイアスの値ではなく、各種セルが動作するように各種セルを通過する信号の遅延時間が最も小さくなるバックバイアスの値が設定されてしまうことがある。このため、ＬＳＩの製造時に各種セルを通過する信号の遅延時間が、ＬＳＩの設計時に各種セルを通過する信号の遅延時間として想定した時間よりも小さくなりすぎてしまう。結果として、ＬＳＩの設計時にタイミング制約を満たしていても、ＬＳＩの製造時にタイミング制約を満たさなくなることがある。換言すれば、ＬＳＩの設計時には、ＬＳＩの製造時にエラー発生箇所になる候補を検出することができないことがある。
【００１３】
一方で、ＬＳＩの設計時に各種セルを通過する信号の遅延時間の誤差の許容量を大きく設定して、ＬＳＩの製造時に各種セルを通過する信号の遅延時間が変化して小さくなったとしてもタイミング制約を満たすように、ＬＳＩに新たなセルを追加することがある。
【００１４】
しかしながら、この場合には、ＬＳＩに新たなセルを追加するため、ＬＳＩの部品点数が多くなって製造コストが増加してしまい、リーク電流が大きくなって消費電力が大きくなってしまうことになる。
【００１５】
そこで、本実施の形態では、ＬＳＩの設計時に、ＬＳＩの製造時のエラー発生箇所の候補になる、ＬＳＩ内のデータパスとクロックパスとを含む部分回路を検出することができる設計支援方法について説明する。
【００１６】
これにより、ＬＳＩの設計時に、ＬＳＩの設計者は、検出したＬＳＩ内の部分回路を修正して、ＬＳＩの製造時にエラー発生箇所がなくなるようにすることができ、歩留まりを向上することができる。また、ＬＳＩの設計時に、ＬＳＩの設計者は、各種セルを通過する信号の遅延時間の誤差の許容量を大きく設定しなくてもよくなり、ＬＳＩに新たなセルを追加しなくてもよくなり、製造コストの増加を抑制したり、リーク電流の増加を抑制することができる。
【００１７】
（設計支援方法の一例）
図１は、実施の形態にかかる設計支援方法の一例を示す説明図である。
【００１８】
設計支援装置１００は、実施の形態にかかる設計支援プログラムを実行することにより、設計支援方法を実現するコンピュータである。以下の説明では、設計支援装置１００を「支援装置１００」と表記する場合がある。
【００１９】
図１の例では、支援装置１００は、セルの種類に、基板端子に印加する電圧の値の変化に対する当該種類のセルを通過する信号の遅延時間の変化の度合いを示す依存度を対応付けた依存情報を記憶する。
【００２０】
支援装置１００は、検証対象パスの組み合わせとして、設計対象の回路内のそれぞれ対応するデータパス１１０とクロックパス１２０とを特定する。データパス１１０とクロックパス１２０とは、それぞれ、設計対象の回路内の或るセルにデータ信号とクロック信号とのそれぞれを入力するパスである。
【００２１】
データパス１１０とクロックパス１２０とは、例えば、或るクロック信号の分岐点から、当該クロック信号が入力される或るセルまでの間に存在する、データ信号が伝達されるパスとクロック信号が伝達されるパスとのそれぞれである。
【００２２】
データパス１１０は、具体的には、第１のセル１１１の入力端子から、第２のセル１０２の入力端子までのパスである。第１のセル１１１は、設計対象の回路内のクロック信号の分岐点１０１から一方に分岐したクロック信号が入力されるセルである。第２のセル１０２は、第１のセル１１１から出力されるデータ信号と、分岐点１０１から他方に分岐したクロック信号とが入力されるセルである。クロックパス１２０は、具体的には、分岐点１０１から、第２のセル１０２の入力端子までのパスである。
【００２３】
支援装置１００は、依存情報に基づいて、データパス１１０上の各セル１１１，１１２，１１３に対応する依存度と、クロックパス１２０上の各セル１２１，１２２に対応する依存度とを特定する。
【００２４】
支援装置１００は、例えば、依存情報に基づいて、セル１１１に対応する依存度「１」と、セル１１２に対応する依存度「５」と、セル１１３に対応する依存度「１０」とを特定する。また、支援装置１００は、依存情報に基づいて、セル１２１に対応する依存度「１」と、セル１２２に対応する依存度「１」とを特定する。
【００２５】
支援装置１００は、特定したデータパス１１０上の各セルに対応する依存度と、クロックパス１２０上の各セルに対応する依存度とに基づいて、データパス１１０とクロックパス１２０とを含む部分回路を、エラー発生箇所の候補として検出する。
【００２６】
支援装置１００は、例えば、データパス１１０上の各セルに対応する依存度の平均値が、クロックパス１２０上の各セルに対応する依存度の平均値よりも大きい場合に、部分回路をエラー発生箇所の候補として検出する。
【００２７】
支援装置１００は、具体的には、データパス１１０上の各セルに対応する依存度の平均値「５．３」が、クロックパス１２０上の各セルに対応する依存度の平均値「１」よりも大きいため、部分回路をエラー発生箇所の候補として検出する。
【００２８】
これにより、支援装置１００は、エラー発生箇所の候補になる設計対象の回路内のデータパス１１０とクロックパス１２０とを含む部分回路を検出することができる。そして、支援装置１００は、検出した部分回路のデータパス上のセルを置換して、設計対象の回路の製造時にエラー発生箇所がなくなるようにすることができ、歩留まりを向上することができる。
【００２９】
具体的には、支援装置１００は、設計対象の回路の製造時にバックバイアスの値を変化させた場合であっても、データ信号の遅延時間の変化量が少なくなるように、データパス１１０上の各セルの依存度が小さくなるようにすることができる。このため、支援装置１００は、設計対象の回路の製造時にバックバイアスの値を変化させた場合であっても、データ信号が早くなりすぎないようにして、データ信号がクロック信号よりも遅くなることを抑制することができる。
【００３０】
また、支援装置１００は、各種セルを通過する信号の遅延時間の誤差の許容量を大きく設定しなくてもよくなり、設計対象の回路に新たなセルを追加しなくてもよくなり、製造コストの増加を抑制したり、リーク電流の増加を抑制することができる。
【００３１】
（支援装置１００のハードウェア）
次に、図２を用いて、図１に示した支援装置１００のハードウェアの一例について説明する。
【００３２】
図２は、支援装置１００のハードウェアの一例を示すブロック図である。図２において、支援装置１００は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）２０１と、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）２０２と、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）２０３と、を有する。
【００３３】
また、支援装置１００は、さらに、ディスクドライブ２０４と、ディスク２０５と、インターフェース（Ｉ／Ｆ：Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）２０６と、入力装置２０７と、出力装置２０８とを有する。また、各構成部はバス２００によってそれぞれ接続されている。
【００３４】
ここで、ＣＰＵ２０１は、支援装置１００の全体の制御を司る。ＲＯＭ２０２は、ブートプログラム、本実施の形態にかかる設計支援プログラムなどの各種プログラムを記憶する。また、ＲＯＭ２０２は、例えば、回路データなどの各種データを記憶する。
【００３５】
ＲＡＭ２０３は、ＣＰＵ２０１のワークエリアとして使用される。また、ＲＡＭ２０３は、各種プログラムの実行により得られたデータなどの各種データを記憶する。ディスクドライブ２０４は、ＣＰＵ２０１の制御にしたがってディスク２０５に対するデータのリード／ライトを制御する。ディスク２０５は、ディスクドライブ２０４の制御で書き込まれたデータを記憶する。ディスク２０５は、例えば、磁気ディスク、または光ディスクなどである。
【００３６】
Ｉ／Ｆ２０６は、通信回線を通じてネットワーク２１０に接続され、ネットワーク２１０を介して他の装置に接続される。そして、Ｉ／Ｆ２０６は、ネットワーク２１０と内部のインターフェースを司り、外部装置からのデータの入出力を制御する。Ｉ／Ｆ２０６には、例えば、モデムやＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）アダプタなどを採用することができる。
【００３７】
入力装置２０７は、キーボード、タッチパネルなど利用者の操作により、各種データの入力を行うインターフェースである。入力装置２０７は、マウス、スキャナなどであってもよい。出力装置２０８は、ＣＰＵ２０１の指示により、データを出力するインターフェースである。出力装置２０８は、例えば、カーソル、アイコンあるいはツールボックスをはじめ、文書、画像、機能情報などのデータを表示するディスプレイである。出力装置２０８は、プリンタであってもよい。
【００３８】
（支援装置１００の機能的構成例）
次に、図３を用いて、支援装置１００の機能的構成例について説明する。
【００３９】
図３は、支援装置１００の機能的構成例を示すブロック図である。支援装置１００は、制御部となる機能として、取得部３０１と、特定部３０２と、判定部３０３と、置換部３０４と、出力部３０５と、を含む。
【００４０】
取得部３０１は、依存情報を取得する。依存情報は、セルの種類に、基板端子に印加する電圧の値の変化に対する当該種類のセルを通過する信号の遅延時間の変化の度合いを示す依存度を対応付けた情報である。セルは、論理回路である。セルは、例えば、トランジスタを含む回路である。セルは、具体的には、バッファ回路である。セルの種類は、セルの論理と、セルの遅延時間となどによって分類される。
【００４１】
取得部３０１は、例えば、ＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶領域に記憶された依存情報を取得する。取得部３０１は、Ｉ／Ｆ２０６を介して、外部装置から依存情報を取得してもよい。取得部３０１は、セルの種類ごとにシミュレーションを行うことにより、依存情報を生成してもよい。依存情報を生成する処理内容は、図４〜図８を用いて後述する。取得された依存情報は、例えば、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶領域に記憶される。
【００４２】
取得部３０１は、遅延情報を取得する。遅延情報は、セルの種類に、基板に電圧を印加した場合の当該種類のセルを通過する信号の遅延時間を対応付けた情報である。取得部３０１は、例えば、ＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶領域に記憶された遅延情報を取得する。取得部３０１は、Ｉ／Ｆ２０６を介して、外部装置から遅延情報を取得してもよい。取得部３０１は、セルの種類ごとにシミュレーションを行うことにより、遅延情報を生成してもよい。取得された遅延情報は、例えば、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶領域に記憶される。
【００４３】
取得部３０１は、例えば、図２に示したＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶装置に記憶されたプログラムをＣＰＵ２０１に実行させることにより、または、Ｉ／Ｆ２０６により、その機能を実現する。
【００４４】
特定部３０２は、検証対象パスの組み合わせとして、設計対象の回路内のそれぞれ対応するデータパスと第１のクロックパスとを特定する。データパスは、第１のセルの入力端子から、第２のセルの入力端子までのパスである。第１のセルは、設計対象の回路内のクロック信号の分岐点から一方に分岐したクロック信号が入力されるセルである。第２のセルは、第１のセルから出力されるデータ信号と分岐点から他方に分岐したクロック信号とが入力されるセルである。第１のクロックパスは、分岐点から、第２のセルの入力端子までのパスである。
【００４５】
特定部３０２は、さらに検証対象パスの組み合わせに含まれる、第２のクロックパスを特定してもよい。第２のクロックパスは、分岐点から第１のセルの入力端子までの第２のクロックパス上にセルが存在する場合がある。換言すれば、第２のクロックパスは、データパスに接続するパスである。特定されたパスは、例えば、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶領域に記憶される。
【００４６】
特定部３０２は、依存情報に基づいて、データパス上の各セルの種類に対応する依存度と、第１のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とを特定する。特定部３０２は、例えば、依存情報に基づいて、データパス１１０上のセル１１１に対応する依存度「１」と、セル１１２に対応する依存度「５」と、セル１１３に対応する依存度「１０」とを特定する。特定部３０２は、依存情報に基づいて、クロックパス１２０上のセル１２１に対応する依存度「１」と、セル１２２に対応する依存度「１」とを特定する。依存度を特定する処理内容は、図９を用いて後述する。
【００４７】
また、第２のクロックパス上にセルが存在する場合がある。この場合には、特定部３０２は、依存情報に基づいて、データパス上の各セルの種類に対応する依存度と、第１のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度と、第２のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とを特定する。第２のクロックパス上にセルが存在する場合に、依存度を特定する処理内容は、図１９を用いて後述する。
【００４８】
特定された依存度は、例えば、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶領域に記憶される。特定部３０２は、例えば、図２に示したＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶装置に記憶されたプログラムをＣＰＵ２０１に実行させることにより、その機能を実現する。
【００４９】
判定部３０３は、特定したデータパス上の各セルの種類に対応する依存度と、第１のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とに基づいて、判定処理を行う。判定部３０３は、例えば、データパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値が、第１のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値より大きいか否かを判定する。
【００５０】
判定部３０３は、例えば、データパス上の各セルの種類に対応する依存度の総和が、第１のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の総和より大きいか否かを判定してもよい。判定する処理内容は、図１０を用いて後述する。
【００５１】
また、第２のクロックパス上にセルが存在する場合がある。この場合には、判定部３０３は、特定したデータパス上の各セルの種類に対応する依存度と、第１のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度と、第２のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とに基づいて、判定処理を行う。
【００５２】
この場合には、判定部３０３は、例えば、データパスと第２のクロックパスとの一連のパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値が、第１のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値より大きいか否かを判定する。これにより、判定部３０３は、データパス上のいずれかのセルを他のセルに置換するか否かを判定することができる。判定結果は、例えば、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶領域に記憶される。
【００５３】
判定部３０３は、判定結果に基づいて、データパスと第１のクロックパスとを含む部分回路を、エラー発生箇所の候補として検出してもよい。判定部３０３は、例えば、データパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値が、第１のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値より大きいと判定した場合に、部分回路をエラー発生箇所の候補として検出する。判定部３０３は、例えば、データパス上の各セルの種類に対応する依存度の総和が、第１のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の総和より大きいと判定した場合に、部分回路をエラー発生箇所の候補として検出してもよい。
【００５４】
また、第２のクロックパス上にセルが存在する場合がある。この場合には、判定部３０３は、判定結果に基づいて、データパスと第１のクロックパスと第２のクロックパスとを含む部分回路を、エラー発生箇所の候補として検出してもよい。判定部３０３は、例えば、一連のパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値が、第１のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値より大きいと判定した場合に、部分回路をエラー発生箇所の候補として検出する。
【００５５】
これにより、判定部３０３は、製造時にバックバイアスの値を変化させた場合に、セルに到達するデータ信号がクロック信号よりも遅くなってしまいタイミング制約を満たさなくなる可能性があるエラー発生箇所の候補を検出することができる。
【００５６】
検出結果は、例えば、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶領域に記憶される。判定部３０３は、例えば、図２に示したＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶装置に記憶されたプログラムをＣＰＵ２０１に実行させることにより、その機能を実現する。
【００５７】
置換部３０４は、判定結果に基づいて、データパス上のいずれかのセルを、当該セルと同一論理、かつ当該セルよりも依存度が小さい他のセルと置換する。同一論理とは、セルに入力される信号と、セルから出力される信号との組み合わせが同一であることである。
【００５８】
置換部３０４は、例えば、データパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値が、第１のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値より大きいと判定した場合には、データパス上のいずれかのセルを他のセルに置換する。
【００５９】
置換部３０４は、例えば、データパス上の各セルの種類に対応する依存度の総和が、第１のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の総和より大きいと判定した場合には、データパス上のいずれかのセルを他のセルと置換してもよい。
【００６０】
置換部３０４は、具体的には、データパス上で依存度が最大のセルを、依存度が最大のセルと同一論理、かつ依存度が最大のセルよりも依存度が小さい他のセルと置換する。これにより、置換部３０４は、製造時にバックバイアスの値を変化させた場合であっても、データ信号の遅延時間の変化量が少なくなるようにすることができ、セルに到達するデータ信号がクロック信号よりも遅くなることを抑制することができる。
【００６１】
置換部３０４は、具体的には、依存情報に基づいて、依存度が最大のセルを、依存度が最大のセルと同一論理のセル、かつ依存度が最大のセルよりも依存度が小さいセルのうちで、依存度が最小のセルと置換してもよい。これにより、置換部３０４は、データパス上のセルを置換した際のデータ信号の遅延時間の変化量の低減度合いを向上させることができる。
【００６２】
置換部３０４は、具体的には、遅延情報に基づいて、依存度が最大のセルを、依存度が最大のセルと同一論理、かつ依存度が最大のセルよりも依存度が小さいセルのうちで、依存度が最大のセルとの遅延時間の差分が最小のセルと置換してもよい。これにより、置換部３０４は、データパス上のセルを置換した際のデータ信号の遅延時間の変化量の低減度合いを向上させることができる。
【００６３】
置換部３０４は、判定結果に基づいて、第１のクロックパス上のいずれかのセルを、当該セルと同一論理、かつ当該セルよりも依存度が大きい他のセルと置換してもよい。置換部３０４は、例えば、データパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値が、第１のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値より大きいと判定した場合には、第１のクロックパス上のいずれかのセルを他のセルに置換する。
【００６４】
これにより、置換部３０４は、製造時にバックバイアスの値を変化させた場合に、クロック信号の遅延時間の低減度合いがデータ信号の遅延時間の低減度合いよりも少なくなるようにすることができる。このため、置換部３０４は、セルに到達するデータ信号がクロック信号よりも遅くなることを抑制することができる。
【００６５】
また、第２のクロックパス上にセルが存在する場合がある。この場合には、置換部３０４は、例えば、一連のパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値が、第１のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値より大きいと判定した場合には、データパス上のいずれかのセルを他のセルと置換する。
【００６６】
置換部３０４は、具体的には、データパス上で依存度が最大のセルを、依存度が最大のセルと同一論理、かつ依存度が最大のセルよりも依存度が小さい他のセルと置換する。これにより、置換部３０４は、製造時にバックバイアスの値を変化させた場合であっても、データ信号の遅延時間の変化量が少なくなるようにすることができ、セルに到達するデータ信号がクロック信号よりも遅くなることを抑制することができる。
【００６７】
置換部３０４は、具体的には、依存情報に基づいて、依存度が最大のセルを、依存度が最大のセルと同一論理のセル、かつ依存度が最大のセルよりも依存度が小さいセルのうちで、依存度が最小のセルと置換してもよい。これにより、置換部３０４は、データパス上のセルを置換した際のデータ信号の遅延時間の変化量の低減度合いを向上させることができる。
【００６８】
置換部３０４は、具体的には、遅延情報に基づいて、依存度が最大のセルを、依存度が最大のセルと同一論理、かつ依存度が最大のセルよりも依存度が小さいセルのうちで、依存度が最大のセルとの遅延時間の差分が最小のセルと置換してもよい。これにより、置換部３０４は、データパス上のセルを置換した際のデータ信号の遅延時間の変化量の低減度合いを向上させることができる。
【００６９】
置換結果は、例えば、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶領域に記憶される。置換部３０４は、例えば、図２に示したＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶装置に記憶されたプログラムをＣＰＵ２０１に実行させることにより、その機能を実現する。
【００７０】
出力部３０５は、検出結果、または置換結果を出力する。出力部３０５は、例えば、検出結果、または置換結果を、ディスプレイへ表示し、プリンタへ印刷出力し、Ｉ／Ｆ２０６により外部装置へ送信し、または、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶領域に記憶する。
【００７１】
出力部３０５は、例えば、図２に示したＲＯＭ２０２、ＲＡＭ２０３、ディスク２０５などの記憶装置に記憶されたプログラムをＣＰＵ２０１に実行させることにより、または、Ｉ／Ｆ２０６により、その機能を実現する。
【００７２】
（依存情報を作成する一例）
次に、図４〜図８を用いて、依存情報を作成する一例について説明する。
【００７３】
図４〜図８は、依存情報を作成する一例を示す説明図である。図４において、依存情報の作成のために、依存度の算出対象になるセルの一例を示す。算出対象になるセルは、例えば、複数の種類のＳｖｔセルと、複数の種類のＬｖｔセルとである。
【００７４】
図４のグラフ４００は、各種セルのバックバイアスの値の変化に対する当該セルを通過する信号の遅延時間の変化を示すグラフである。グラフ４００の横軸は、バックバイアスの値の軸である。グラフ４００の縦軸は、セルを通過する信号の遅延時間である。グラフ４００のように、Ｓｖｔセルは、Ｌｖｔセルよりもバックバイアスの値の変化に対するセルを通過する信号の遅延時間の変化が大きいセルである。
【００７５】
以下の説明では、Ｓｖｔセルの種類には、同一論理であるが異なる種類である２つの種類「Ａａ」、「Ａｂ」があるとする。Ｓｖｔセルの種類には、同一論理であるが異なる種類である２つの種類「Ｂａ」、「Ｂｂ」があるとする。Ｓｖｔセルの種類には、同一論理であるが異なる種類である３つの種類「Ｃａ」、「Ｃｂ」、「Ｃｃ」があるとする。以下の説明では、Ｌｖｔセルの種類には、異なる種類である３つの種類「Ｄａ」、「Ｅａ」、「Ｆａ」があるとする。
【００７６】
算出対象になるセルは、複数の種類のＨｖｔセルであってもよい。Ｈｖｔセルは、Ｓｖｔセルよりもバックバイアスの値の変化に対するセルを通過する信号の遅延時間の変化が大きいセルである。次に、図５の説明に移行する。
【００７７】
図５において、支援装置１００は、各種セルについてシミュレーションを行い、複数のバックバイアスの値に対する、各種セルを通過する信号の遅延時間を算出して、遅延時間テーブルを作成する。
【００７８】
支援装置１００は、例えば、種類「Ａａ」のＳｖｔセルについてシミュレーションを行う。そして、支援装置１００は、バックバイアスの値が「０Ｖ」、「０．０１Ｖ」、「０．０２Ｖ」のそれぞれである場合の当該種類のセルを通過する信号の遅延時間「１０．００ｓ」、「９．９０ｓ」、「９．８０ｓ」を算出する。
【００７９】
次に、支援装置１００は、種類「Ａａ」に、電圧の値「０Ｖ」、「０．０１Ｖ」、「０．０２Ｖ」のそれぞれに対する遅延時間「１０．００ｓ」、「９．９０ｓ」、「９．８０ｓ」を対応付けたレコード５１１を作成する。そして、支援装置１００は、Ｓｖｔセルの遅延時間テーブル５１０に、種類「Ａａ」のＳｖｔセルについてのレコード５１１を追加する。
【００８０】
支援装置１００は、同様に、Ｓｖｔセルの遅延時間テーブル５１０に、種類「Ｂａ」のＳｖｔセルについてのレコード５１２を追加する。支援装置１００は、同様に、Ｓｖｔセルの遅延時間テーブル５１０に、種類「Ｃａ」のＳｖｔセルについてのレコード５１３を追加する。支援装置１００は、同様に、Ｓｖｔセルの遅延時間テーブル５１０に、種類「Ａｂ」、「Ｂｂ」、「Ｃｂ」、「Ｃｃ」のＳｖｔセルについてのレコード（不図示）を追加する。
【００８１】
支援装置１００は、同様に、Ｌｖｔセルの遅延時間テーブル５２０に、種類「Ｄａ」のＬｖｔセルについてのレコード５２１を追加する。支援装置１００は、同様に、Ｌｖｔセルの遅延時間テーブル５２０に、種類「Ｅａ」のＬｖｔセルについてのレコード５２２を追加する。支援装置１００は、同様に、Ｌｖｔセルの遅延時間テーブル５２０に、種類「Ｆａ」のＬｖｔセルについてのレコード５２３を追加する。
【００８２】
これにより、支援装置１００は、各種セルのバックバイアスの値が「０Ｖ」、「０．０１Ｖ」、「０．０２Ｖ」のそれぞれである場合の各種セルを通過する信号の遅延時間を記憶しておくことができる。次に、図６の説明に移行する。
【００８３】
図６において、支援装置１００は、作成したＳｖｔセルの遅延時間テーブル５１０と、Ｌｖｔセルの遅延時間テーブル５２０とを、バックバイアスの値として仕様に定められた所定の電圧の値において規格化して、規格化遅延時間テーブルを作成する。
【００８４】
支援装置１００は、例えば、レコード５１１について、所定の電圧の値「０．０１Ｖ」に対する遅延時間「９．９０ｓ」により、電圧の値「０Ｖ」に対する遅延時間「１０．００ｓ」を除算する。また、支援装置１００は、所定の電圧の値「０．０１Ｖ」に対する遅延時間「９．９０ｓ」により、電圧の値「０．０１Ｖ」に対する遅延時間「９．９０ｓ」を除算する。また、支援装置１００は、所定の電圧の値「０．０１Ｖ」に対する遅延時間「９．９０ｓ」により、電圧の値「０．０２Ｖ」に対する遅延時間「９．８０ｓ」を除算する。
【００８５】
次に、支援装置１００は、種類「Ａａ」に、除算して得られた電圧の値「０Ｖ」、「０．０１Ｖ」、「０．０２Ｖ」のそれぞれに対する規格化した遅延時間「１．０１ｓ」、「１．００ｓ」、「０．９９ｓ」を対応付けたレコード６１１を作成する。そして、支援装置１００は、Ｓｖｔセルの規格化遅延時間テーブル６１０に、種類「Ａａ」のＳｖｔセルについてのレコード６１１を追加する。
【００８６】
支援装置１００は、同様に、Ｓｖｔセルの規格化遅延時間テーブル６１０に、種類「Ｂａ」のＳｖｔセルについてのレコード６１２を追加する。支援装置１００は、同様に、Ｓｖｔセルの規格化遅延時間テーブル６１０に、種類「Ｃａ」のＳｖｔセルについてのレコード６１３を追加する。支援装置１００は、同様に、Ｓｖｔセルの規格化遅延時間テーブル６１０に、種類「Ａｂ」、「Ｂｂ」、「Ｃｂ」、「Ｃｃ」のＳｖｔセルについてのレコード（不図示）を追加する。
【００８７】
支援装置１００は、同様に、Ｌｖｔセルの規格化遅延時間テーブル６２０に、種類「Ｄａ」のＬｖｔセルについてのレコード６２１を追加する。支援装置１００は、同様に、Ｌｖｔセルの規格化遅延時間テーブル６２０に、種類「Ｅａ」のＬｖｔセルについてのレコード６２２を追加する。支援装置１００は、同様に、Ｌｖｔセルの規格化遅延時間テーブル６２０に、種類「Ｆａ」のＬｖｔセルについてのレコード６２３を追加する。
【００８８】
これにより、支援装置１００は、各種セルに対応する依存度を算出するために用いる、Ｓｖｔセルの規格化遅延時間テーブル６１０と、Ｌｖｔセルの規格化遅延時間テーブル６２０とを作成することができる。次に、図７の説明に移行する。
【００８９】
図７において、支援装置１００は、各種セルに対応する依存度として、各種セルの所定の電圧の値における傾きを算出して、依存度テーブルを作成する。支援装置１００は、例えば、レコード６１１から、所定の電圧の値「０．０１Ｖ」に対する遅延時間「１ｓ」と、所定の電圧の値とは異なる電圧の値「０．０２Ｖ」に対する遅延時間「０．９９ｓ」とを取得する。
【００９０】
次に、支援装置１００は、種類「Ａａ」のセルに対応する依存度として、電圧の差分の絶対値「０．０１」に対する遅延時間の差分の絶対値「０．０１」の割合「１」を算出する。そして、支援装置１００は、種類「Ａａ」に、算出した依存度「１」を対応付けたレコード７１１を作成して、Ｓｖｔセルの依存度テーブル７１０に追加する。
【００９１】
支援装置１００は、同様に、Ｓｖｔセルの依存度テーブル７１０に、種類「Ｂａ」のＳｖｔセルについてのレコード７１２を追加する。支援装置１００は、同様に、Ｓｖｔセルの依存度テーブル７１０に、種類「Ｃａ」のＳｖｔセルについてのレコード７１３を追加する。支援装置１００は、同様に、Ｓｖｔセルの依存度テーブル７１０に、種類「Ａｂ」、「Ｂｂ」、「Ｃｂ」、「Ｃｃ」のＳｖｔセルについてのレコード（不図示）を追加する。
【００９２】
支援装置１００は、同様に、Ｌｖｔセルの依存度テーブル７２０に、種類「Ｄａ」のＬｖｔセルについてのレコード７２１を追加する。支援装置１００は、同様に、Ｌｖｔセルの依存度テーブル７２０に、種類「Ｅａ」のＬｖｔセルについてのレコード７２２を追加する。支援装置１００は、同様に、Ｌｖｔセルの依存度テーブル７２０に、種類「Ｆａ」のＬｖｔセルについてのレコード７２３を追加する。
【００９３】
これにより、支援装置１００は、エラー発生箇所の候補を検出する際に用いる、Ｓｖｔセルの依存度テーブル７１０と、Ｌｖｔセルの依存度テーブル７２０とを記憶しておくことができる。次に、図８の説明に移行する。
【００９４】
図８において、支援装置１００は、算出した依存度を、ライブラリ８１０に追加する。ライブラリ８１０は、各種セルに、遅延時間と、リーク電流と、バックバイアスの値と、依存度とを対応付けたデータである。ライブラリ８１０は、例えば、データ８２０である。これにより、支援装置１００は、各種セルに対応する依存度を、ライブラリに登録しておくことができる。
【００９５】
（依存度を比較する一例）
次に、図９および図１０を用いて、依存度を比較する一例について説明する。
【００９６】
図９および図１０は、依存度を比較する一例を示す説明図である。図９において、支援装置１００は、ネットリストやチップレイアウトを示す情報に基づいて、設計対象の回路を特定する。支援装置１００は、検証対象パスの組み合わせとして、設計対象の回路内のそれぞれ対応するデータパス９１０とクロックパス９２０とを特定する。検証対象パスの組み合わせは、クロック信号が到達するセルに関するパスの組み合わせであり、タイミング制約が設定されるセルに関するパスの組み合わせである。
【００９７】
データパス９１０は、第１のセル９１１の入力端子から、第２のセル９０２の入力端子までのパスである。第１のセル９１１は、設計対象の回路内のクロック信号の分岐点９０１から一方に分岐したクロック信号が入力されるセルである。第２のセル９０２は、第１のセル９１１から出力されるデータ信号と分岐点９０１から他方に分岐したクロック信号とが入力されるセルである。クロックパス９２０は、分岐点９０１から、第２のセル９０２までのパスである。
【００９８】
データパス９１０上には、種類「Ａａ」のセル９１１、種類「Ｂａ」のセル９１２、種類「Ｃａ」のセル９１３が存在する。クロックパス９２０上には、種類「Ｄａ」のセル９２１、種類「Ｄａ」のセル９２２が存在する。
【００９９】
支援装置１００は、ライブラリに基づいて、セル９１１に対応する依存度「１」と、セル９１２に対応する依存度「５」と、セル９１３に対応する依存度「１０」とを取得する。また、支援装置１００は、ライブラリに基づいて、セル９２１に対応する依存度「１」と、セル９２２に対応する依存度「１」とを取得する。
【０１００】
これにより、支援装置１００は、データパス９１０上の各セルに対応する依存度の平均値を算出する際に用いるデータパス９１０上の各セルに対応する依存度を取得することができる。また、支援装置１００は、クロックパス９２０上の各セルに対応する依存度の平均値を算出する際に用いるクロックパス９２０上の各セルに対応する依存度を取得することができる。次に、図１０の説明に移行する。
【０１０１】
図１０において、支援装置１００は、データパス９１０上の各セルに対応する依存度の平均値ＤＰ＿ａｖｒが、クロックパス９２０上の各セルに対応する依存度の平均値ＣＰ＿ａｖｒよりも大きいか否かを判定する。支援装置１００は、具体的には、データパス９１０上の各セルに対応する依存度の平均値「５．３」が、クロックパス９２０上の各セルに対応する依存度の平均値「１」よりも大きいと判定する。
【０１０２】
支援装置１００は、データパス９１０上の各セルに対応する依存度の平均値「５．３」が、クロックパス９２０上の各セルに対応する依存度の平均値「１」よりも大きいと判定した場合には、データパス９１０上のセルを他のセルと置換する。これにより、支援装置１００は、設計対象の回路の製造時のエラー発生箇所の候補になる部分回路９００を特定して、修正対象に決定することができる。
【０１０３】
ここでは、支援装置１００が、データパス９１０上の各セルに対応する依存度の平均値と、クロックパス９２０上の各セルに対応する依存度の平均値とを比較する場合について説明したが、これに限らない。例えば、支援装置１００は、データパス９１０上の各セルに対応する依存度の総和と、クロックパス９２０上の各セルに対応する依存度の総和とを比較してもよい。
【０１０４】
具体的には、支援装置１００は、データパス９１０上の各セルに対応する依存度の総和が、クロックパス９２０上の各セルに対応する依存度の総和よりも大きいか否かを判定する。支援装置１００は、データパス９１０上の各セルに対応する依存度の総和が、クロックパス９２０上の各セルに対応する依存度の総和よりも大きいと判定した場合には、データパス９１０上のセルを他のセルと置換する。
【０１０５】
（セルを置換する一例）
次に、図１１〜図１８を用いて、セルを置換する一例について説明する。
【０１０６】
図１１〜図１８は、セルを置換する一例を示す説明図である。図１１において、支援装置１００は、ライブラリに基づいて、データパス９１０上の各セルに対応する依存度を特定して、データパス９１０のセル情報テーブル１１００を作成する。
【０１０７】
支援装置１００は、例えば、種類「Ａａ」のセル９１１に対応する依存度「１」と、種類「Ｂａ」のセル９１２に対応する依存度「５」と、種類「Ｃａ」のセル９１３に対応する依存度「１０」とを特定する。次に、支援装置１００は、データパス９１０のセル情報テーブル１１００に、それぞれのセルに、それぞれの種類と、それぞれの依存度とを対応付けたレコード１１０１〜１１０３を追加する。これにより、支援装置１００は、置換対象の候補になる各セルの依存度を記憶しておくことができる。次に、図１２の説明に移行する。
【０１０８】
図１２において、支援装置１００は、データパス９１０上の各セルの遅延時間を特定して、セル情報テーブル１１００に追加する。
【０１０９】
支援装置１００は、例えば、セル９１１に対応する遅延時間「９．９ｓ」と、セル９１２に対応する遅延時間「９．５ｓ」と、セル９１３に対応する遅延時間「９．１ｓ」とを特定する。次に、支援装置１００は、データパス９１０のセル情報テーブル１１００に、それぞれのセルに、それぞれの遅延時間を対応付けて追加する。これにより、支援装置１００は、置換対象の候補になる各セルの遅延時間を記憶しておくことができる。次に、図１３の説明に移行する。
【０１１０】
図１３において、支援装置１００は、依存度が大きい順に、セル情報テーブル１１００の各セルに対応するレコード１１０１〜１１０３を並べ替える。支援装置１００は、例えば、セル９１３に対応するレコード１１０３、セル９１２に対応するレコード１１０２、セル９１１に対応するレコード１１０１の順に並べ替える。これにより、支援装置１００は、依存度が大きい順に、置換対象のセルを選択することができる。次に、図１４の説明に移行する。
【０１１１】
図１４において、支援装置１００は、データパス９１０上の各セルと同一論理のセルに対応する依存度と遅延時間とを取得して、置換候補テーブル１４００に追加する。支援装置１００は、例えば、種類「Ｃａ」のセルと同一論理の種類「Ｃａ」のセルに対応する依存度「１０」と遅延時間「９．１ｓ」とを取得する。次に、支援装置１００は、種類「Ｃａ」に、取得した依存度「１０」と遅延時間「９．１ｓ」とを対応付けたレコード１４０１を作成する。そして、支援装置１００は、置換候補テーブル１４００に、レコード１４０１を追加する。
【０１１２】
支援装置１００は、同様に、種類「Ｃａ」のセルと同一論理の種類「Ｃｂ」のセルに対応する依存度「２」と遅延時間「８．８ｓ」とを取得して、置換候補テーブル１４００に、レコード１４０２を追加する。支援装置１００は、同様に、種類「Ｃａ」のセルと同一論理の種類「Ｃｃ」に対応する依存度「１」と遅延時間「９．１ｓ」とを取得して、置換候補テーブル１４００に、レコード１４０３を追加する。
【０１１３】
支援装置１００は、同様に、種類「Ｂａ」のセルと同一論理の種類「Ｂａ」のセルに対応する依存度「５」と遅延時間「９．５ｓ」とを取得して、置換候補テーブル１４００に、レコード１４０４を追加する。支援装置１００は、同様に、種類「Ｂａ」のセルと同一論理の種類「Ｂｂ」に対応する依存度「１」と遅延時間「９．７ｓ」とを取得して、置換候補テーブル１４００に、レコード１４０５を追加する。
【０１１４】
支援装置１００は、同様に、種類「Ａａ」のセルと同一論理の種類「Ａａ」のセルに対応する依存度「１」と遅延時間「９．９ｓ」とを取得して、置換候補テーブル１４００に、レコード１４０６を追加する。支援装置１００は、同様に、種類「Ａａ」のセルと同一論理の種類「Ａｂ」に対応する依存度「０．８」と遅延時間「１０ｓ」とを取得して、置換候補テーブル１４００に、レコード１４０７を追加する。次に、図１５の説明に移行する。
【０１１５】
図１５において、支援装置１００は、セル情報テーブル１１００に基づいて置換対象のセルを選択し、置換候補テーブル１４００に基づいて置換候補のセルを選択する。支援装置１００は、例えば、セル情報テーブル１１００の最上位のレコード１１０３に基づいて、最も依存度が大きいセル９１３を、置換対象のセルとして選択する。
【０１１６】
次に、支援装置１００は、置換候補テーブル１４００のレコード１４０１〜１４０７の中で、置換対象のセル９１３と同一論理である種類「Ｃｂ」、「Ｃｃ」のセルを、置換候補のセルとして特定する。これにより、支援装置１００は、最も依存度が大きいセルを置換することができる。次に、図１６の説明に移行する。
【０１１７】
図１６において、支援装置１００は、特定した置換対象のセルを、特定した置換候補のセルの中で最も依存度が小さいセルと置換する。支援装置１００は、例えば、セル９１３を、種類「Ｃｃ」のセル１６０１と置換する。これにより、支援装置１００は、データパス９１０上の各セルの依存度の平均値を効率よく低減するように、設計対象の回路を修正することができる。次に、図１７の説明に移行する。
【０１１８】
図１７において、支援装置１００は、同様に、データパス９１０上の各セルに対応する依存度の平均値が、クロックパス９２０上の各セルに対応する依存度の平均値以下になるまで、データパス９１０上のセルを置換する。支援装置１００は、例えば、セル９１２を、種類「Ｂｂ」のセル１７０１と置換する。これにより、支援装置１００は、データパス９１０上の各セルに対応する依存度の平均値が、クロックパス９２０上の各セルに対応する依存度の平均値以下になるように、設計対象の回路を修正することができる。
【０１１９】
支援装置１００は、データパス９１０上の各セルに対応する依存度の平均値が、クロックパス９２０上の各セルに対応する依存度の平均値以下にならなかった場合には、クロックパス９２０上のセルを置換してもよい。また、支援装置１００は、データパス９１０上の各セルに対応する依存度の平均値が、クロックパス９２０上の各セルに対応する依存度の平均値以下にならなかったことを示す情報を出力してもよい。
【０１２０】
結果として、支援装置１００は、図１８（Ａ）のようにセル１８０１を追加することなく、図１８（Ｂ）のように部分回路９００を修正することにより、設計対象の回路の製造時にエラー発生箇所ができないようにすることができ、歩留まりを向上することができる。また、支援装置１００は、各種セルを通過する信号の遅延時間の誤差の許容量を大きく設定しなくてもよくなり、設計対象の回路に新たなセルを追加しなくてもよくなり、製造コストの増加を抑制したり、リーク電流の増加を抑制することができる。
【０１２１】
ここでは、支援装置１００が、データパス１１０上のいずれかのセルを他のセルと置換する場合について説明したが、これに限らない。例えば、支援装置１００は、クロックパス１２０上のいずれかのセルを他のセルと置換してもよい。
【０１２２】
（依存度を比較する別の例）
次に、図１９および図２０を用いて、依存度を比較する別の例について説明する。
【０１２３】
図１９および図２０は、依存度を比較する別の例を示す説明図である。図１９において、支援装置１００は、検証対象パスの組み合わせとして、設計対象の回路内のそれぞれ対応するデータパス１９１０と第１のクロックパス１９２０とを特定する。
【０１２４】
データパス１９１０は、第１のセル１９１１の入力端子から、第２のセル１９０２の入力端子までのパスである。第１のセル１９１１は、設計対象の回路内のクロック信号の分岐点１９０１から一方に分岐したクロック信号が入力されるセルである。第２のセル１９０２は、第１のセル１９１１から出力されるデータ信号と分岐点１９０１から他方に分岐したクロック信号とが入力されるセルである。第１のクロックパス１９２０は、分岐点１９０１から、第２のセル１９０２までのパスである。
【０１２５】
データパス１９１０上には、種類「Ａａ」のセル１９１１、種類「Ｂａ」のセル１９１２、種類「Ｃａ」のセル１９１３が存在する。第１のクロックパス１９２０上には、種類「Ｄａ」のセル１９２１、種類「Ｄａ」のセル１９２２が存在する。
【０１２６】
ここで、図１９および図２０の例では、図９および図１０の例とは異なり、分岐点１９０１から第１のセル１９１１の入力端子までの第２のクロックパス１９３０上に、種類「Ｄａ」のセル１９３１が存在する場合について説明する。
【０１２７】
この場合、支援装置１００は、ライブラリに基づいて、セル１９１１に対応する依存度「１」と、セル１９１２に対応する依存度「５」と、セル１９１３に対応する依存度「１０」とを取得する。また、支援装置１００は、ライブラリに基づいて、セル１９２１に対応する依存度「１」と、セル１９２２に対応する依存度「１」とを取得する。
【０１２８】
さらに、支援装置１００は、図９の例とは異なり、ライブラリに基づいて、セル１９３１に対応する依存度「１」を取得する。
【０１２９】
これにより、支援装置１００は、データパス１９１０と第２のクロックパス１９３０との一連のパス１９４０上の各セルに対応する依存度の平均値を算出する際に用いる一連のパス１９４０上の各セルに対応する依存度を取得することができる。また、支援装置１００は、第１のクロックパス１９２０上の各セルに対応する依存度の平均値を算出する際に用いる第１のクロックパス１９２０上の各セルに対応する依存度を取得することができる。
【０１３０】
図２０において、支援装置１００は、一連のパス１９４０上の各セルに対応する依存度の平均値ＴＰ＿ａｖｒが、第１のクロックパス１９２０上の各セルに対応する依存度の平均値ＣＰ＿ａｖｒよりも大きいか否かを判定する。支援装置１００は、具体的には、一連のパス１９４０上の各セルに対応する依存度の平均値「４．２５」が、第１のクロックパス１９２０上の各セルに対応する依存度の平均値「１」よりも大きいと判定する。
【０１３１】
支援装置１００は、一連のパス１９４０上の各セルに対応する依存度の平均値「４．２５」が、第１のクロックパス１９２０上の各セルに対応する依存度の平均値「１」よりも大きいと判定した場合には、データパス１９１０上のセルを他のセルと置換する。これにより、支援装置１００は、設計対象の回路の製造時のエラー発生箇所の候補になる部分回路１９００を特定して、修正対象に決定することができる。
【０１３２】
データパス１９１０上のセルを他のセルと置換する処理内容は、図１１〜図１８に示したデータパス９１０上のセルを他のセルと置換する処理内容と同様のため、説明を省略する。
【０１３３】
（生成処理手順の一例）
次に、図２１を用いて、依存情報を生成する生成処理手順の一例について説明する。
【０１３４】
図２１は、生成処理手順の一例を示すフローチャートである。図２１において、支援装置１００は、仕様に定められたバックバイアスの値を取得する（ステップＳ２１０１）。次に、支援装置１００は、各種セルについてシミュレーションを実行して、各種セルに対応する依存度を算出する（ステップＳ２１０２）。
【０１３５】
そして、支援装置１００は、ライブラリに、算出した依存度を追加して（ステップＳ２１０３）、生成処理を終了する。これにより、支援装置１００は、設計対象の回路を修正するために用いる依存度を、ライブラリに追加することができる。
【０１３６】
（置換処理手順の一例）
次に、図２２を用いて、セルを置換する置換処理手順の一例について説明する。
【０１３７】
図２２は、置換処理手順の一例を示すフローチャートである。図２２において、支援装置１００は、検証対象パスの組み合わせとして、設計対象回路内のそれぞれ対応するデータパスとクロックパスとを特定する（ステップＳ２２０１）。
【０１３８】
次に、支援装置１００は、データパス上の各セルに対応する依存度と、クロックパス上の各セルに対応する依存度とを特定する（ステップＳ２２０２）。そして、支援装置１００は、データパス上の各セルに対応する依存度の平均値ＤＰ＿ａｖｒと、クロックパス上の各セルに対応する依存度の平均値ＣＰ＿ａｖｒとを算出する（ステップＳ２２０３）。
【０１３９】
次に、支援装置１００は、ＤＰ＿ａｖｒ＞ＣＰ＿ａｖｒであるか否かを判定する（ステップＳ２２０４）。ここで、ＤＰ＿ａｖｒ＞ＣＰ＿ａｖｒである場合（ステップＳ２２０４：Ｙｅｓ）、支援装置１００は、データパス上のいずれかのセルを、同一論理かつ当該セルよりも依存度が小さい他のセルと置換して（ステップＳ２２０５）、ステップＳ２２０４の処理に戻る。
【０１４０】
一方で、ＤＰ＿ａｖｒ＞ＣＰ＿ａｖｒではない場合（ステップＳ２２０４：Ｎｏ）、支援装置１００は、タイミング設計を実行する（ステップＳ２２０６）。次に、支援装置１００は、タイミングに関するエラーがあるか否かを判定する（ステップＳ２２０７）。ここで、タイミングに関するエラーがある場合（ステップＳ２２０７：Ｙｅｓ）、支援装置１００は、タイミング修正を実行して（ステップＳ２２０８）、ステップＳ２２０７の処理に戻る。
【０１４１】
一方で、タイミングに関するエラーがない場合（ステップＳ２２０７：Ｎｏ）、支援装置１００は、設計対象の回路を示す設計データを出力して（ステップＳ２２０９）、置換処理を終了する。これにより、支援装置１００は、設計対象の回路の製造時に、エラー発生箇所ができないように、設計対象の回路を修正することができる。
【０１４２】
以上説明したように、支援装置１００によれば、設計対象の回路内のデータパス上の各セルの種類に対応する依存度と、データパスに対応するクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とに基づいて、エラー発生箇所の候補を検出することができる。これにより、支援装置１００は、エラー発生箇所の候補になる設計対象の回路内のデータパスとクロックパスとを含む部分回路を検出することができ、検出した部分回路を出力することができる。このため、支援装置１００の利用者は、エラー発生箇所の候補になる部分回路を把握することができ、部分回路を修正することができるようになり、設計対象の回路の製造時にエラー発生箇所がなくなるようにして歩留まりを向上することができる。
【０１４３】
支援装置１００によれば、データパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値が、クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値より大きい場合に、部分回路をエラー発生箇所の候補として検出することができる。これにより、支援装置１００は、製造時にバックバイアスの値を変化させた場合に、セルに到達するデータ信号がクロック信号よりも遅くなってしまいタイミング制約を満たさなくなる可能性があるエラー発生箇所の候補を検出することができる。
【０１４４】
支援装置１００によれば、データパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値が、クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値より大きい場合に、データパス上のいずれかのセルを他のセルに置換することができる。
【０１４５】
支援装置１００によれば、例えば、データパス上のいずれかのセルを、当該セルと同一論理、かつ当該セルよりも依存度が小さい他のセルと置換することができる。これにより、支援装置１００は、製造時にバックバイアスの値を変化させた場合であっても、データ信号の遅延時間の変化量が少なくなるようにすることができ、セルに到達するデータ信号がクロック信号よりも遅くなることを抑制することができる。
【０１４６】
支援装置１００によれば、例えば、データパス上で依存度が最大のセルを、依存度が最大のセルと同一論理、かつ依存度が最大のセルよりも依存度が小さい他のセルと置換することができる。これにより、支援装置１００は、データパス上のセルを置換した際のデータ信号の遅延時間の変化量の低減度合いを向上させることができる。
【０１４７】
支援装置１００によれば、例えば、依存度が最大のセルを、依存度が最大のセルと同一論理のセル、かつ依存度が最大のセルよりも依存度が小さいセルのうちで、依存度が最小のセルと置換することができる。これにより、支援装置１００は、データパス上のセルを置換した際のデータ信号の遅延時間の変化量の低減度合いを向上させることができる。
【０１４８】
支援装置１００によれば、例えば、依存度が最大のセルを、依存度が最大のセルと同一論理、かつ依存度が最大のセルよりも依存度が小さいセルのうちで、依存度が最大のセルとの遅延時間の差分が最小のセルと置換することができる。これにより、支援装置１００は、データパス上のセルを置換することによるデータ信号の遅延時間の変化量の低減度合いを向上させることができる。
【０１４９】
支援装置１００によれば、データパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値が、クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値より大きい場合に、クロックパス上のいずれかのセルを他のセルと置換することができる。
【０１５０】
支援装置１００によれば、例えば、クロックパス上のいずれかのセルを当該セルと同一論理、かつ当該セルよりも依存度が大きい他のセルと置換することができる。これにより、支援装置１００は、製造時にバックバイアスの値を変化させた場合に、クロック信号の遅延時間の低減度合いがデータ信号の遅延時間の低減度合いよりも少なくなるようにすることができる。このため、支援装置１００は、セルに到達するデータ信号がクロック信号よりも遅くなることを抑制することができる。
【０１５１】
支援装置１００によれば、データパス上の各セルの種類に対応する依存度の総和が、クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の総和より大きい場合に、部分回路をエラー発生箇所の候補として検出することができる。これにより、支援装置１００は、製造時にバックバイアスの値を変化させた場合に、セルに到達するデータ信号がクロック信号よりも遅くなってしまいタイミング制約を満たさなくなる可能性があるエラー発生箇所の候補を検出することができる。
【０１５２】
支援装置１００によれば、データパス上の各セルの種類に対応する依存度の総和が、クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の総和より大きい場合に、データパス上のいずれかのセルを他のセルと置換することができる。
【０１５３】
支援装置１００によれば、例えば、データパス上のいずれかのセルを、当該セルと同一論理、かつ当該セルよりも依存度が小さい他のセルと置換することができる。これにより、支援装置１００は、製造時にバックバイアスの値を変化させた場合であっても、データ信号の遅延時間の変化量が少なくなるようにすることができ、セルに到達するデータ信号がクロック信号よりも遅くなることを抑制することができる。
【０１５４】
ここで、データパスに対応するクロックパス（以下、第１のクロックパス）とは異なる、データパスの前段になる第２のクロックパス上にセルが存在する場合がある。この場合、支援装置１００によれば、データパス、第１のクロックパス、第２のクロックパスのそれぞれのパス上の各セルの種類のそれぞれに対応する依存度に基づいて、エラー発生箇所の候補を検出することができる。これにより、支援装置１００は、エラー発生箇所の候補になる設計対象の回路内のデータパスとクロックパスとを含む部分回路を検出することができ、検出した部分回路を出力することができる。このため、支援装置１００の利用者は、エラー発生箇所の候補になる部分回路を把握することができ、部分回路を修正することができるようになり、設計対象の回路の製造時にエラー発生箇所がなくなるようにして歩留まりを向上することができる。
【０１５５】
支援装置１００によれば、データパス上と第２のクロックパス上との各セルの種類に対応する依存度の平均値が、第１のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値より大きい場合に、部分回路をエラー発生箇所の候補として検出することができる。これにより、支援装置１００は、製造時にバックバイアスの値を変化させた場合に、セルに到達するデータ信号がクロック信号よりも遅くなってしまいタイミング制約を満たさなくなる可能性があるエラー発生箇所の候補を検出することができる。
【０１５６】
支援装置１００によれば、一連のパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値が、第１のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値より大きい場合には、データパス上のいずれかのセルを他のセルと置換することができる。
【０１５７】
支援装置１００によれば、例えば、データパス上のいずれかのセルを、当該セルと同一論理、かつ当該セルよりも依存度が小さい他のセルと置換することができる。これにより、支援装置１００は、製造時にバックバイアスの値を変化させた場合であっても、データ信号の遅延時間の変化量が少なくなるようにすることができ、セルに到達するデータ信号がクロック信号よりも遅くなることを抑制することができる。
【０１５８】
また、支援装置１００によれば、セルの種類ごとにシミュレーションを行って、セルの種類ごとに当該種類のセルに対応する依存度を対応付けた依存情報を生成することができる。これにより、支援装置１００は、支援装置１００の利用者が依存情報を生成するのにかかる支援装置１００の利用者の作業量を低減することができる。
【０１５９】
なお、本実施の形態で説明した設計支援方法は、予め用意されたプログラムをパーソナル・コンピュータやワークステーション等のコンピュータで実行することにより実現することができる。本設計支援プログラムは、ハードディスク、フレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行される。また本設計支援プログラムは、インターネット等のネットワークを介して配布してもよい。
【０１６０】
上述した実施の形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
【０１６１】
（付記１）コンピュータが、
セルの種類に、当該種類のセルの基板端子に印加する電圧の値の変化に対する当該種類のセルを通過する信号の遅延時間の変化の度合いを示す依存度を対応付けた依存情報に基づいて、設計対象の回路内のデータパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記データパスに対応するクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とを特定し、
特定した前記データパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とに基づいて、前記データパスと前記クロックパスとを含む部分回路を、エラー発生箇所の候補として検出する、
処理を実行することを特徴とする設計支援方法。
【０１６２】
（付記２）前記検出する処理は、
前記データパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値が、前記クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値より大きい場合に、前記部分回路をエラー発生箇所の候補として検出する、ことを特徴とする付記１に記載の設計支援方法。
【０１６３】
（付記３）前記コンピュータが、
前記データパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値が、前記クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値より大きい場合には、前記データパス上のいずれかのセルを、当該セルと同一論理、かつ当該セルよりも依存度が小さい他のセルと置換する、
処理を実行することを特徴とする付記２に記載の設計支援方法。
【０１６４】
（付記４）前記置換する処理は、
前記データパス上で依存度が最大のセルを、前記依存度が最大のセルと同一論理、かつ前記依存度が最大のセルよりも依存度が小さい他のセルと置換する、ことを特徴とする付記３に記載の設計支援方法。
【０１６５】
（付記５）前記置換する処理は、
前記依存情報に基づいて、前記依存度が最大のセルを、前記依存度が最大のセルと同一論理のセル、かつ前記依存度が最大のセルよりも依存度が小さいセルのうちで、依存度が最小のセルと置換する、ことを特徴とする付記４に記載の設計支援方法。
【０１６６】
（付記６）前記置換する処理は、
セルの種類に、基板に電圧を印加した場合の当該種類のセルを通過する信号の遅延時間を対応付けた遅延情報に基づいて、前記依存度が最大のセルを、前記依存度が最大のセルと同一論理、かつ前記依存度が最大のセルよりも依存度が小さいセルのうちで、前記依存度が最大のセルとの遅延時間の差分が最小のセルと置換する、ことを特徴とする付記４または５に記載の設計支援方法。
【０１６７】
（付記７）前記コンピュータが、
前記データパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値が、前記クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値より大きい場合には、前記クロックパス上のいずれかのセルを、当該セルと同一論理、かつ当該セルよりも依存度が大きい他のセルと置換する、
処理を実行することを特徴とする付記２〜６のいずれか一つに記載の設計支援方法。
【０１６８】
（付記８）前記検出する処理は、
前記データパス上の各セルの種類に対応する依存度の総和が、前記クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の総和より大きい場合に、前記部分回路をエラー発生箇所の候補として検出する、ことを特徴とする付記１に記載の設計支援方法。
【０１６９】
（付記９）前記コンピュータが、
前記データパス上の各セルの種類に対応する依存度の総和が、前記クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の総和より大きい場合には、前記データパス上のいずれかのセルを、当該セルと同一論理、かつ当該セルよりも依存度が小さい他のセルと置換する、
処理を実行することを特徴とする付記８に記載の設計支援方法。
【０１７０】
（付記１０）前記データパスは、前記設計対象の回路内のクロック信号の分岐点から一方に分岐したクロック信号が入力される第１のセルの入力端子から、前記第１のセルから出力されるデータ信号と前記分岐点から他方に分岐したクロック信号とが入力される第２のセルの入力端子までのパスであり、
前記クロックパスは、前記分岐点から、前記第２のセルの入力端子までのパスであることを特徴とする付記１〜９のいずれか一つに記載の設計支援方法。
【０１７１】
（付記１１）前記特定する処理は、
前記クロックパスとは異なる、前記分岐点から前記第１のセルの入力端子までの第２のクロックパス上にセルが存在する場合には、前記依存情報に基づいて、前記データパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記第２のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とを特定し、
前記検出する処理は、
特定した前記データパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記第２のクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とに基づいて、前記データパスと前記クロックパスと前記第２のクロックパスとを含む部分回路を、エラー発生箇所の候補として検出する、ことを特徴とする付記１０に記載の設計支援方法。
【０１７２】
（付記１２）前記検出する処理は、
前記データパスと前記第２のクロックパスとの一連のパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値が、前記クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値より大きい場合に、前記部分回路をエラー発生箇所の候補として検出する、ことを特徴とする付記１１に記載の設計支援方法。
【０１７３】
（付記１３）前記コンピュータが、
前記一連のパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値が、前記クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度の平均値より大きい場合には、前記データパス上のいずれかのセルを、当該セルと同一論理、かつ当該セルよりも依存度が小さい他のセルと置換する、
処理を実行することを特徴とする付記１２に記載の設計支援方法。
【０１７４】
（付記１４）前記コンピュータが、
セルの種類ごとに、当該種類のセルの基板端子に印加する電圧になる第１の値と第２の値との差分に対する、当該種類のセルの基板端子に印加する電圧が前記第１の値である場合に当該種類のセルを通過する信号の第１の遅延時間と当該種類のセルの基板端子に印加する電圧が前記第２の値である場合に当該種類のセルを通過する信号の第２の遅延時間との差分の割合を、依存度として算出し、
セルの種類ごとに、算出した前記依存度を対応付けた依存情報を生成する、
処理を実行することを特徴とする付記１〜１３のいずれか一つに記載の設計支援方法。
【０１７５】
（付記１５）コンピュータに、
セルの種類に、当該種類のセルの基板端子に印加する電圧の値の変化に対する当該種類のセルを通過する信号の遅延時間の変化の度合いを示す依存度を対応付けた依存情報に基づいて、設計対象の回路内のデータパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記データパスに対応するクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とを特定し、
特定した前記データパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とに基づいて、前記データパスと前記クロックパスとを含む部分回路を、エラー発生箇所の候補として検出する、
処理を実行させることを特徴とする設計支援プログラム。
【０１７６】
（付記１６）セルの種類に、当該種類のセルの基板端子に印加する電圧の値の変化に対する当該種類のセルを通過する信号の遅延時間の変化の度合いを示す依存度を対応付けた依存情報に基づいて、設計対象の回路内のデータパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記データパスに対応するクロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とを特定し、特定した前記データパス上の各セルの種類に対応する依存度と、前記クロックパス上の各セルの種類に対応する依存度とに基づいて、前記データパスと前記クロックパスとを含む部分回路を、エラー発生箇所の候補として検出する、
制御部を有することを特徴とする設計支援装置。
【符号の説明】
【０１７７】
１００  設計支援装置
３０１  取得部
３０２  特定部
３０３  判定部
３０４  置換部
３０５  出力部
【図１】
2016042303.tif 000003
【図２】
2016042303.tif 000004
【図３】
2016042303.tif 000005
【図４】
2016042303.tif 000006
【図５】
2016042303.tif 000007
【図６】
2016042303.tif 000008
【図７】
2016042303.tif 000009
【図８】
2016042303.tif 000010
【図９】
2016042303.tif 000011
【図１０】
2016042303.tif 000012
【図１１】
2016042303.tif 000013
【図１２】
2016042303.tif 000014
【図１３】
2016042303.tif 000015
【図１４】
2016042303.tif 000016
【図１５】
2016042303.tif 000017
【図１６】
2016042303.tif 000018
【図１７】
2016042303.tif 000019
【図１８】
2016042303.tif 000020
【図１９】
2016042303.tif 000021
【図２０】
2016042303.tif 000022
【図２１】
2016042303.tif 000023
【図２２】
2016042303.tif 000024