(57)【要約】【課題】ユーザが操作部にタッチした際のタッチ圧に応じた変化量のウエイト時間間隔で設定数値を変更できる測定装置の提供。【解決手段】制御部１２と、メモリ１３と、測定処理の実行とその結果を制御部１２に送る測定部１４と、必要情報を入力する操作部１６と該操作部１６への入力情報に基づく演算結果を表示する表示部１７とを備えるタッチパネル１５とで構成され、操作部１６は、当初タッチ入力時のタッチ位置の設定数値の増減とその際の当初タッチ圧の計測とを可能に配置され、タッチ入力が続けば現在タッチ圧が当初タッチ圧と比較され、等しければ当初ウエイト時間間隔の変化量で、強であれば当初ウエイト時間間隔より短いウエイト時間間隔の変化量で、弱であれば当初ウエイト時間間隔より長いウエイト時間間隔の変化量で設定数値の増減変更を可能とした。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
全体を統括制御する制御部と、必要情報を保持するメモリと、前記制御部からの指示に基づく測定処理を実行して該制御部にその結果をフィードバックする測定部と、所要の測定モードとの対応関係で定まる設定数値の増減を含む必要情報をタッチ入力する操作部と該操作部への入力情報に基づく前記制御部による演算結果を表示する表示部とを備えるタッチパネルとで少なくとも構成され、
タッチパネルにおける前記操作部は、当初タッチ入力時のタッチ位置との関係で定まる前記設定数値の増減とその際の当初タッチ圧の計測とを可能に配置するとともに、タッチ入力が継続されていれば、現在タッチ圧が前記当初タッチ圧と比較され、当初タッチ圧と等しければ当初ウエイト時間間隔で、当初タッチ圧より強であれば当初ウエイト時間間隔より短いウエイト時間間隔で、当初タッチ圧より弱であれば当初ウエイト時間間隔より長いウエイト時間間隔で前記設定数値の変化量の増減変更を可能としたことを特徴とする測定装置。
【請求項２】
タッチパネルにおける前記操作部は、予め定められている前記設定数値の桁数との関係で桁別に用意されるインクリメントボタンとデクリメントボタンとで構成した請求項１に記載の測定装置。
【請求項３】
前記設定数値は、前記測定モードが開放電圧、定電圧および定電流のいずれかである各測定レベルを設定する際の値である請求項１または２に記載の測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えばＬＣＲメータなどのように予め設定された測定条件のもとで被測定物に対する適宜のパラメータの測定処理を行い、その結果を測定値として表示部に表示させるようにした測定装置に関する技術である。
【背景技術】
【０００２】
インピーダンス、インダクタンス、静電容量、抵抗などの各種のパラメータを測定する測定装置については、従来から電気部品や電気製品の製造ラインや検査ラインなどのような現場ラインで使用されてきている。
【０００３】
そして、この種の測定装置のなかには、例えば特許文献１に開示されているように、制御部（ＣＰＵ）、メモリ、測定部、タッチパネルをケーシングに備えて一体化されたインピーダンス測定装置もある。
【０００４】
この場合、インピーダンス測定装置は、予めメモリに保持させてある測定条件に基づく複数の処理を所定の順序で測定部に実行させて被測定物のパラメータを測定し、これらの測定処理毎の測定結果をタッチパネルの表示部に測定値として表示するとともに、これらの測定値に対してメモリに予め記憶された演算式で演算し、その演算結果もタッチパネルの表示部に表示させることができるようにして構成されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１３−８８３９２号公報
【０００６】
すなわち、この種のインピーダンス測定装置は、ユーザー側から制御部（ＣＰＵに）に対し必要な指示を与えるために必要な操作部が、タッチボタンとしてタッチパネルに配置されている。
【０００７】
しかも、タッチパネルの操作部を介して例えば４桁の数値（Ｖ）により構成される設定数値としての測定信号レベル、例えば測定信号レベルのデフォルト値「０．０００Ｖ」を「１．０００Ｖ」へと設定変更しようとする場合は、桁数との関係で各桁別に用意されるインクリメントタッチボタンとデクリメントタッチボタンとのうち、「０．」の桁のインクリメントタッチボタンをユーザーが１回タッチすることで「１．」へと増加させることで「１．０００Ｖ」に設定することができることになる。
【０００８】
また、例えば設定数値として「９．６４０Ｖ」と既に表示されている測定信号レベルを例えば「５．２５０Ｖ」に設定変更しようとする場合には、数値「９．」の桁は「５．」となるまで対応位置にあるデクリメントタッチボタンをタッチし続け、数値「６」の桁は「２」となるまで対応位置にあるデクリメントタッチボタンをタッチし続け、数値「４」の桁は「５」になるようにインクリメントタッチボタンを１回タッチしなければならかった。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかし、インクリメントタッチボタンやデクリメントタッチボタンは、これをタッチし続けても数値のアップダウン間隔、すなわち数値のインクリメント量やデクリメント量は常に一定であることから、数値「９」を「１」に、あるいは数値「１」を「９」にというように、設定数値を大きく変更したい場合には、それだけウエイト間隔が長くなって設定変更に必要以上に時間がかかってしまうという不都合があった。
【００１０】
本発明は、従来技術の上記課題に鑑みてなされたものであり、ユーザがタッチパネルおける操作部をタッチし続けるだけで設定数値の変更量をタッチ圧に応じたウエイト時間間隔へと増減変更できる測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明は、上記目的を達成すべくなされたものであり、全体を統括制御する制御部と、必要情報を保持するメモリと、前記制御部からの指示に基づく測定処理を実行して該制御部にその結果をフィードバックする測定部と、所要の測定モードとの対応関係で定まる設定数値の増減を含む必要情報をタッチ入力する操作部と該操作部への入力情報に基づく前記制御部による演算結果を表示する表示部とを備えるタッチパネルとで少なくとも構成され、タッチパネルにおける前記操作部は、当初タッチ入力時のタッチ位置との関係で定まる前記設定数値の増減とその際の当初タッチ圧の計測とを可能に配置するとともに、タッチ入力が継続されていれば、現在タッチ圧が前記当初タッチ圧と比較され、当初タッチ圧と等しければ当初ウエイト時間間隔で、当初タッチ圧より強であれば当初ウエイト時間間隔より短いウエイト時間間隔で、当初タッチ圧より弱であれば当初ウエイト時間間隔より長いウエイト時間間隔で前記設定数値の変化量の増減変更を可能としたことを最も主要な特徴とする。
【００１２】
この場合、タッチパネルにおける前記操作部は、予め定められている前記設定数値の桁数との関係で桁別に用意されるインクリメントボタンとデクリメントボタンとで構成することができる。
【００１３】
また、前記設定数値は、前記測定モードが開放電圧、定電圧および定電流のいずれかである各測定レベルを設定する際の値とするのが望ましい。
【発明の効果】
【００１４】
請求項１の発明によれば、タッチパネルにおける操作部は、当初タッチ入力時のタッチ位置との関係で定まる設定数値の増減とその際の当初タッチ圧の計測とを可能に配置されているので、継続中のタッチ入力の現在タッチ圧が当初タッチ圧と等しければ当初ウエイト時間間隔で、当初タッチ圧より強であれば当初ウエイト時間間隔より短いウエイト時間間隔となるように、当初タッチ圧より弱であれば当初ウエイト時間間隔より長いウエイト時間間隔となるように設定数値の変化量の増減変更ができ、したがって、ユーザは所望する任意のウエイト間隔のもとで設定数値を増減変更することができ、それだけユーザビリティーの向上を図ることができる。
【００１５】
請求項２の発明によれば、タッチパネルにおける操作部は、設定数値の桁数との関係で桁別に用意されるインクリメントボタンとデクリメントボタンとで構成されているので、設定変更を要する桁に位置しているインクリメントボタンまたはデクリメントボタンのみをタッチすることで容易に設定数値を増減変更することができる。
【００１６】
請求項３の発明によれば、増減変更できる設定数値は、測定モードが開放電圧、定電圧および定電流のいずれかである各測定レベルに対応させてあるので、測定モードに応じた測定レベルの設定数値を優しい操作で簡単に設定変更することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の構成例を示すブロック図。
【図２】本発明のタッチパネルにおける数値設定画面例を示す説明図。
【図３】本発明において設定数値を設定変更する際の処理手順例を示すフローチャート図。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
図１は、本発明の構成例を示すブロック図であり、例えばＬＣＲメータなどのように適宜のパラメータを測定する測定装置１１は、全体を統括制御する制御部（ＣＰＵ）１２と、必要情報を保持するメモリ１３と、制御部１２からの指示に基づく測定処理を実行して該制御部１２にその結果をフィードバックする測定部１４と、所要の測定モードとの対応関係で定まる設定数値の変化量の増減を含む必要情報をタッチ入力する操作部１６と該操作部１６への入力情報に基づく制御部１２による演算結果を表示する表示部１７とを備えるタッチパネル１５とで少なくとも構成されている。
【００１９】
この場合、測定装置１１は、予めメモリ１３に保持させてあるプログラムに従って所定の測定条件のもとで複数の測定処理を実行して被測定物Ｔのパラメータを測定した上で、個々の測定処理に応じた測定値をタッチパネル１５の表示部１７に表示するとともに、該測定値に対してメモリ１３に予め保持させてある演算式に基づいてパラメータを演算して得られる演算結果を表示部１７（図２では、測定値表示画面１８）に表示できるようにして構成されている。
【００２０】
メモリ１３に保持されているプログラムにしたがって動作する制御部１２は、測定装置１１の全体を統括制御しているほか、図示しない測定制御手段と演算手段としての機能をも担っている。すなわち、制御部１２は、予め定められている測定条件に基づく複数の測定処理を所定の処理手順のもとで測定部１４に実行させる測定制御手段としての役割を担っているほか、測定部１４が測定した測定値に対し、メモリ１３に保持させてある演算式で演算を実行する演算手段としての役割も担っている。
【００２１】
また、メモリ１３には、プログラムを読み出し可能に保持するＲＯＭ、制御部１２の作業領域としてデータの読み込み・読み出しを可能に用いられるＲＡＭ、測定条件、演算式、測定値、各種の設定値をデータ書き換え不能に保持する不揮発性メモリが含まれる。
【００２２】
測定部１４は、制御部１２から指示される測定条件で所定の測定処理を実行し、その際に得られる測定値を制御部１２側に送出できるよう、例えば図示しない測定用信号源、電圧検出部、電流検出部、パラメータ測定処理部などを備えている。また、測定部１４は、図１に示されているように、被測定物Ｔに接触させて必要なパラメータを測定する測定プローブ１４ａ，１４ｂを備えている。なお、測定部１４が測定可能なパラメータには、例えば抵抗Ｒ、静電容量Ｃ、インダクタンスＬ、複素インピーダンスＺ、インピーダンスの位相角θなどを含む種々のものがある。
【００２３】
操作部１６と表示部１７とを備えるタッチパネル１５は、液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）の表示画面の全面若しくは部分領域に位置を検出するセンサを備えた薄膜を貼り付け、このセンサ部分を操作部１６である入力用のタッチボタン（図２においてはインクリメントボタン２６ａ〜２６ｄおよびデクリメントボタン２７ａ〜２７ｄ）として用い、該操作部１６に指等でタッチすることで制御部１２に対し所定の入力や指示ができるように形成されている。
【００２４】
図２は、タッチパネル１５における数値設定画面例を示す説明図であり、この例によれば、タッチパネル１５の上側領域は、測定値表示画面１８として、下部領域は、測定レベル設定画面２２として区画されている。
【００２５】
そして、該測定レベル設定画面２２には、測定モードとして開放電圧（Ｖ）用ボタン２３と、定電圧（ＣＶ）用ボタン２４と、定電流（ＣＣ）用ボタン２５とが配置されている。また、開放電圧（Ｖ）用ボタン２３の右方には、４桁構成の測定レベル表示欄２７が設けられており、該測定レベル表示欄２７の下方には、各桁別にインクリメントボタン２６ａ〜２６ｄおよびデクリメントボタン２７ａ〜２７ｄが操作部１６として配列されている。
【００２６】
しかも、図２に示す測定レベル設定画面２２には、ユーザが開放電圧（Ｖ）用ボタン２３をタッチすることで、測定レベル表示欄２７に開放電圧（Ｖ）の測定レベルが「１．０００Ｖ」として表示された例が示されている。
【００２７】
また、タッチパネル１５において操作部１６を構成しているインクリメントボタン２６ａ〜２６ｄおよびデクリメントボタン２７ａ〜２７ｄのそれぞれは、当初タッチ入力時のタッチ位置との関係で定まる設定数値の各別での増減とその際の当初タッチ圧の計測とを可能に配置されている。
【００２８】
すなわち、インクリメントボタン２６ａ〜２６ｄおよびデクリメントボタン２７ａ〜２７ｄのそれぞれは、タッチパネル１５が備えるタッチパネルコントローラの押圧検出機能を用いることで、タッチ位置のタッチパネル座標取得時にそのときどきのタッチ圧も同時に取得できるようになっている。
【００２９】
図３は、本発明において設定数値を設定変更する際の処理手順例を示すフローチャート図である。同図によれば、ボタンタッチ処理が開始された後は、まず、ある特定の操作部１６（いずれかのインクリメントボタンまたはデクリメントボタン）へのタッチ開始時のタッチ位置のタッチパネル座標とその初タッチ圧がタッチパネルコントローラの押圧検出機能を用いて計測される。
【００３０】
このとき、タッチパネルコントローラを介して特定の操作部１６（いずれかのインクリメントボタンまたはデクリメントボタン）へのタッチが終了（解消）したと判断された場合は、設定数値の変更処理は終了する。
【００３１】
しかし、タッチパネルコントローラを介して特定の操作部１６（いずれかのインクリメントボタンまたはデクリメントボタン）へのタッチが依然として継続していると制御部１２により判断された場合は、特定の操作部１６（いずれかのインクリメントボタンまたはデクリメントボタン）へのタッチパターンに応じて設定数値のインクリメント処理またはデクリメント処理が継続して行われることになる。
【００３２】
しかも、設定数値のインクリメント処理またはデクリメント処理が行われる際には、制御部１２により特定の操作部１６（いずれかのインクリメントボタンまたはデクリメントボタン）に対する現在タッチ圧が当初タッチ圧と比較される。
【００３３】
このとき、現在タッチ圧が当初タッチ圧と等しいと判断された場合には、当初ウエイト時間間隔、つまりデフォルト間隔の変化量のもとで設定数値の増減変更が行われる。
【００３４】
一方、現在タッチ圧が当初タッチ圧より強いと判断された場合には、当初ウエイト時間間隔であるデフォルト間隔よりも短いウエイト時間間隔の変化量、つまり変化量を増やして設定数値の増減変更が行われる。なお、現在タッチ圧が当初タッチ圧よりも経時的に次第に強くなっていく場合には、その変化量も多段階的に増やしていくようすることもできる。
【００３５】
他方、現在タッチ圧が当初タッチ圧より弱いと判断された場合には、当初ウエイト時間間隔であるデフォルト間隔よりも長いウエイト時間間隔の変化量、つまり変化量をより少なくして設定数値の増減変更が行われる。なお、現在タッチ圧が当初タッチ圧よりも経時的に次第に弱くなっていく場合には、その変化量も多段階的に減ずるようにすることもできる。また、このような一連の設定処理は、各桁の設定数値をすべて設定変更するまで繰り返し行われることになる。
【００３６】
このため、本発明によれば、タッチパネル１５における操作部１６は、当初タッチ入力時のタッチ位置との関係で定まる設定数値の増減とその際の当初タッチ圧の計測とを可能に配置されているので、継続中のタッチ入力の現在タッチ圧が当初タッチ圧と等しければ当初ウエイト時間間隔で、当初タッチ圧より強であれば当初ウエイト時間間隔より短いウエイト時間間隔となるように、当初タッチ圧より弱であれば当初ウエイト時間間隔より長いウエイト時間間隔となるようその変化量を変えて設定数値の増減変更ができることになる。
【００３７】
したがって、ユーザは、所望する任意のウエイト時間間隔のもとで設定数値を増減変更することができ、それだけユーザビリティーの向上を図ることができる。
【００３８】
また、タッチパネル１５における操作部１６が設定数値の桁数との関係で桁別に用意されるインクリメントボタン２６ａ〜２６ｄとデクリメントボタン２７ａ〜２７ｄとで構成されている場合には、設定変更を要する桁に位置しているインクリメントボタンまたはデクリメントボタンのみをタッチすることで容易に設定数値を増減変更することができる。
【００３９】
さらに、増減変更できる設定数値が測定モードが開放電圧、定電圧および定電流のいずれかである各測定レベルに対応させてある場合には、測定モードに応じた測定レベルの設定数値を優しい操作で簡単に設定変更することができる。
【００４０】
以上は、本発明を図示例に基づいて説明したものであり、その具体的な内容はこれに限定されるものではない。すなわち、図示例においては、操作部１６により設定できる設定数値は、測定レベルの変更に関するものが示されているが、表示部１７に表示されるグラフやカーソル等を上下左右方向に移動する際の移動速度に関連するものであってもよい。
【符号の説明】
【００４１】
１１  測定装置
１２  制御部（ＣＰＵ）
１３  メモリ
１４  測定部
１４ａ  測定プローブ
１４ｂ  測定プローブ
１５  タッチパネル
１６  操作部
１７  表示部
１８  測定値表示画面
２２  測定レベル設定画面
２３  開放電圧用ボタン
２４  定電圧用ボタン
２５  定電流用ボタン
２７  測定レベル表示欄
２６ａ〜２６ｄ  インクリメントボタン
２７ａ〜２７ｄ  デクリメントボタン
Ｔ  被測定物
【図１】
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【図２】
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【図３】
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