(57)【要約】【課題】メカトロニクスシステムのテストにおいて、できるかぎり大きい連続的な進捗が達成されるような手段を提供する。【解決手段】テストケースとテストコンフィギュレーションの各組み合わせに対し、対応するテストにおけるメカトロニクスシステムの機能の評価に従い規定されたテストステータス値のグループから、１つのテストステータス値を割り当てる。テストシーケンスをさらにプラニング、実行および／または評価するために、少なくとも１回、生成されたテストケースとコンフィギュレーションのマトリックスにおける複数のステータス値のうち、少なくとも１つのステータス値の相対的テストカバレッジ、および／または、１つのテストケースおよび／または１つのコンフィギュレーションに関して、複数のステータス値のうち少なくとも１つのステータス値のテストカバレッジの相対的上昇ポテンシャル、を求める。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
リアルおよび／またはバーチャルなメカトロニクス自動車システム（１８）、または他のリアルおよび／またはバーチャルなメカトロニクスシステム（１２）を、前記リアルおよび／またはバーチャルなメカトロニクスシステム（１２，１８）と相互作用するテスト環境（１６）を用いたテストによってテストするための、コンピュータにより実装される方法であって、
当該方法は、それぞれ異なる実施条件におけるテストの種々のテストケース（ＴＣ１，ＴＣ２）を有するテストシーケンスを含み、
前記実施条件は、テストコンフィギュレーション（Ｃｏｎｆ１，Ｃｏｎｆ２）に規定されており、
テストケース（ＴＣ１，ＴＣ２）とテストコンフィギュレーション（Ｃｏｎｆ１，Ｃｏｎｆ２）の各組み合わせに対し、対応するテストにおける前記メカトロニクスシステム（１２，１８）の機能の評価に従い、予め定義された複数のテストステータス値（＋，−，ｏ）のグループから、１つのテストステータス値を割り当て、
前記テストシーケンスをさらにプラニング、実行および／または評価するために、少なくとも１回、
・生成されたテストケースとコンフィギュレーションのマトリックス（ＴＣ１，ＴＣ２；Ｃｏｎｆ１，Ｃｏｎｆ２）における複数のステータス値（＋，−，ｏ）のうち、少なくとも１つのステータス値の相対的テストカバレッジ、
および／または、
・１つのテストケース（ＴＣ１，ＴＣ２）および／または１つのコンフィギュレーション（Ｃｏｎｆ１，Ｃｏｎｆ２）に関して、複数のステータス値（＋，−，ｏ）のうち少なくとも１つのステータス値のテストカバレッジの相対的上昇ポテンシャル、
を求める、
コンピュータにより実装される方法。
【請求項２】
前記相対的テストカバレッジおよび／または前記相対的上昇ポテンシャルを求めるために、テストケースとテストコンフィギュレーションから成る各組み合わせ（ＴＣ１，ＴＣ２；Ｃｏｎｆ１，Ｃｏｎｆ２）の、直前の実施におけるテストステータス値（＋，−，ｏ）だけを、常に利用する、
請求項１記載の方法。
【請求項３】
前記テストカバレッジの相対的上昇ポテンシャルの算出に続いて行われるテストシーケンスを、望ましいステータス値（＋，−，ｏ）に関して上昇ポテンシャルが存在しているテストケースおよび／またはテストコンフィギュレーションによるテストシーケンスとし、および／または、
前記生成されたテストケースとコンフィギュレーションのマトリックス（ＴＣ１，ＴＣ２；Ｃｏｎｆ１，Ｃｏｎｆ２）における望ましいステータス値（＋，−，ｏ）の相対的テストカバレッジが、値１に達したか、または１よりも小さい予め定められた相対的テストカバレッジ閾値に達した場合、前記メカトロニクスシステム（１２）のテストを終了させる、
請求項１または２記載の方法。
【請求項４】
前記テストカバレッジの相対的上昇ポテンシャルの算出に続いて行われるテストシーケンスを、望ましいステータス値（＋，−，ｏ）に関して上昇ポテンシャルが最大であるテストケースおよび／またはテストコンフィギュレーションによるテストシーケンスとする、
請求項３記載の方法。
【請求項５】
許可された、またはそもそも実施可能なテストケースおよびテストコンフィギュレーションから成る組み合わせ（ＴＣ１，ＴＣ２；Ｃｏｎｆ１，Ｃｏｎｆ２）だけを考慮する、
請求項１から４のいずれか１項記載の方法。
【請求項６】
前記メカトロニクスシステム（１２，１８）と相互作用するテスト環境（１６）を、シミュレータ（１４）特にハードウェア・イン・ザ・ループ・シミュレータによってシミュレートする、
請求項１から５のいずれか１項記載の方法。
【請求項７】
前記テストコンフィギュレーションによって前記実施条件を、少なくとも１つの物理的技術的パラメータ（Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３）を介して規定する、
請求項１から６のいずれか１項記載の方法。
【請求項８】
前記パラメータのパラメータタイプを、以下のパラメータタイプリストすなわち、
変位、速度、加速度、期間、力、圧力、トルク、電圧、電流、電力、温度
からのものとする、
請求項７記載の方法。
【請求項９】
前記テスト、前記パラメータ、前記テストコンフィギュレーション、および／または前記テストステータスの重み付けを設定し、
前記相対的テストカバレッジおよび前記テストカバレッジの相対的上昇ポテンシャルのための計算規則を、付加的に個々の重み付けに依存させる、
請求項１から８のいずれか１項記載の方法。
【請求項１０】
前記メカトロニクスシステム（１２，１８）は、ハードウェアのほかにソフトウェアも含む、
請求項１から９のいずれか１項記載の方法。
【請求項１１】
前記メカトロニクスシステム（１２，１８）の前記ソフトウェアを、前記テストシーケンス中、パラメータ設定変更および／またはリコンフィギュレーションする、
請求項１０記載の方法。
【請求項１２】
リアルおよび／またはバーチャルなメカトロニクス自動車システム（１８）、または他のリアルおよび／またはバーチャルなメカトロニクスシステム（１２）をテストするための方法を、請求項１から１１のいずれか１項記載の方法に従って実施するように構成されている、
コンピュータプログラム製品。
【請求項１３】
メカトロニクスシステム（１２）と相互作用するテスト環境（１６）を用いた、メカトロニクス自動車システム（１８）または他のメカトロニクスシステム（１２）のテストを、請求項１から１１のいずれか１項記載の方法に従って制御するための、コンピュータベースの制御システム（１４，２２）。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、リアルおよび／またはバーチャルなメカトロニクス自動車システム、または他のリアルおよび／またはバーチャルなメカトロニクスシステムを、リアルおよび／またはバーチャルなメカトロニクスシステムと相互作用するテスト環境を利用してテストするための、コンピュータにより実現された方法に関する。この方法は、テストコンフィギュレーションに規定された種々の実施条件におけるテストのそれぞれ異なるテストケース（テストタイプ）を伴うテストシーケンスを含む。本発明はさらに、これに対応するコンピュータプログラム製品、ならびに適切なテストを制御するための相応のコンピュータベースの制御システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
たとえば制御装置およびそのソフトウェアなどのようなメカトロニクスシステムのための開発プロセスにおいては、多数のデータが発生する。テストケースと並んで、テストが実行されるたびにテスト結果も生成される。テストケースの管理のタスクは、さらに長い期間にわたり存在する。標準化および認証の分野における目下の開発によって、テストを証明する目的としてテスト結果の管理をいっそう強く前面に押し出した規格が生まれている。
【０００３】
このプロセスにおいてますますボトルネックになってきているのは、テストの実行である。ハードウェア・イン・ザ・ループ・シミュレータ（ＨＩＬ）における複雑なテスト環境、および数多くのテストによって、テストの実行は非常に時間がかかる。目下の開発プロジェクトにおいて、最終製品（たとえば車両）に関する組み合わせの可能性（バリエーション）の個数が増えていくにつれて、一連の環境（バリエーションのコンフィギュレーション）ごとにすべてのテストを実施するのは、実際にはさらに困難になる。さらに、実施すべきテストケース、ならびに一連の環境に対するコンビネーションの可能性について、「インテリジェントに」選択する、という問題もある。
【０００４】
テストケースの個数が膨大であることから、すべてのテストケースそれぞれをメーカーが実施するのはすでに難しくなっている。このような状況に加え、テスト環境のすべての組み合わせをテストしようものならば、経済的および時間的に莫大なコストが発生してしまう。とりわけ時間的な観点から、管轄するテスト管理者は自身の経験に基づき、複数のテストに対する個々の組み合わせを選択することになる。その際に発生する「欠落」は、必然的に甘受せざるを得ない。この場合、一連の環境に応じて、実施されたテストについて適切な概観を得ることはできない。このような状況において目的となるのは、「欠落」の把握である。これは、テストの進捗（テストの網羅度Testfortschritt）ひいてはソフトウェアの成熟度に関して情報を得るために利用される。さらに、効率的な一連の環境および環境の組み合わせを特定するための適切な手段もない。
【０００５】
したがって、テストを明確につまりは再現可能に規定するためには、テスト実施前に数多くの設定を行わなければならない。それらの設定として挙げられるのは、ハードウェアおよびソフトウェアによってテストすべきシステム（SUT: System under Test）を厳密に定めることである。この場合、個々のコンポーネントまたは１つの関連するシステムだけをテストすべきであるのかを、また、そのために対応するハードウェアおよびそれらの結線、ならびにソフトウェアバージョンおよびそれらの具体的なパラメータ設定を決定するのかを、規定しなければならない。しかも、テスト環境の明確な規定も必要である。これはテストの実施環境からスタートする。この場合、オフラインシミュレーション、ハードウェア・イン・ザ・ループ・テスト（ＨＩＬ）を実施でき、または「実際の」条件のもとでの（たとえば車両内の）テストも実施できる。さらに、テストを手動で実施すべきであるのか自動で実行すべきであるのか、および相応の仕様（たとえばスケジュールまたはテストインプリメンテーション）を設定するのかを、規定しなければならない。これらの仕様においても、テストすべき同じ状況に対してそれぞれ異なるバージョンまたはインプリメンテーションが存在する可能性がある。
【０００６】
テストに必要とされるこれらの規定の多くは、互いに影響し合うまたは排除し合う依存関係を有している。つまりたとえば、ＨＩＬテストのためには、物理的に存在する具体的な制御装置（ハードウェア）が必要とされるのに対し、ＰＣにおけるシミュレーションのためには、アルゴリズム（純然たるソフトウェア）ですでに十分なものとすることができる。同様に、ＨＩＬシステムテストは自動化して実施できるのに対し、実際の車両におけるテストは手動で実施する必要がある。
【０００７】
このような完全なコンフィギュレーションおよびそれらの内的な依存関係の一部は、バリエーションモデルの形態で存在している。この場合、（しばしば）製品に由来する複数のバリエーション決定は、複数のバリエーションポイントとして扱われる。これらに加え既述のように、通常は１つのバリエーションモデルにおいてマッピングされないテストのために、さらに別の情報も必要とされる。可能なコンフィギュレーションおよびそれらの依存関係に関するこれらの情報すべては、手動では、またはテーブルなどのような簡単な手段では、もはや効率的には管理することができない。したがってこれらはデータベースに蓄積され、テスト管理専用に設計されたツールを介して、処理および評価されることが多い。
【０００８】
「完全な」および許可されたテストコンフィギュレーションが、このように見通しがきかない状態で大量に存在することから、客観的な判断基準に基づき、テストによって可能なかぎり最大の進捗をもたらす１つまたは複数のテストおよびテストコンフィギュレーションを選択するのは、手動ではもはや不可能である。したがって、次に実施すべき１つまたは複数のテストコンフィギュレーションに関して、個々のステップごとに決定が下されることが多い。つまりたとえば、最初にＳＵＴが規定され、次にテスト環境が規定され、さらにその後、実行手法（手動または自動）が、そして最後に、バリエーションコンフィギュレーションが（場合によっては複数のステップで）規定される。これらのステップ各々を通して、可能なテストコンフィギュレーションの選択がフィルタリングによってさらに狭められる。このため、選択すべきテストコンフィギュレーションに関する決定は常に、すべての可能なテストコンフィギュレーションの部分集合においてしか下されず、すべてのテストコンフィギュレーションは決して比較されない。
【０００９】
したがって問題となるのは、テスト進捗およびリソースをそれぞれ画一的な形態で表現し、互いに関連させ合うことである。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
したがって本発明の課題は、テストにおいてできるかぎり連続性の高い進捗が達成されるような手段を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明によればこの課題は、独立請求項に記載の特徴によって解決される。従属請求項には、本発明の有利な実施形態が記載されている。
【００１２】
メカトロニクスシステムと相互作用するテスト環境を用いて、メカトロニクスシステムをテストするための本発明による方法によれば、それぞれ異なる実施条件においてこのテストの種々のテストケース（テストタイプ）を実現可能であり、実施条件がテストコンフィギュレーションにおいて規定されており、テストケースとテストコンフィギュレーションとの組み合わせ各々に対し、対応するテストにおけるメカトロニクスシステムの機能の評価に従って、予め定義された複数のテストステータス値のグループから、１つのテストステータス値が割り当てられるように、構成されている。この場合、テストシーケンスをさらにプラニング、実行および／または評価するために、少なくとも１回、ｉ）生成されたテストケースとコンフィギュレーションのマトリックスにおけるステータス値のうち、少なくとも１つのステータス値の相対的テストカバレッジ、および／または、ｉｉ）１つのテストケースおよび／または１つのコンフィギュレーションに関して、複数のステータス値のうち少なくとも１つのステータス値のテストカバレッジの相対的上昇ポテンシャル（上昇可能性Steigerungspotentioal）、が求められる。テストカバレッジおよび上昇ポテンシャルの算出によって、有利には、１つまたは複数のテストシーケンスをシステマティックに実行するための判定基準が得られる。このテスト方法において望ましい目標は、テストケースとテストコンフィギュレーションとの組み合わせに関して、できるかぎり高い（相対的）テストカバレッジでテストを終了させることであり、つまりできるかぎり値１つまり１００％のテストカバレッジでテストを終了させることである。
【００１３】
用語「相対的テストカバレッジ」および「相対的上昇ポテンシャル」、ならびにこれらの用語と、テストケースとコンフィギュレーションのマトリックスにおけるテストステータス値との関係を、いっそう理解できるようにするために、ここでいくつかの例を挙げて説明する。
【００１４】
相対的テストカバレッジおよび／またはテストカバレッジの相対的上昇ポテンシャルを求める目的となるテストステータス値は、有利には望ましいテストステータス値であって、つまりメカトロニクスシステムの望ましいテストステータスに対応するテストステータス値である。最も簡単な事例の場合、２つのステータス値が存在する。すなわち、望ましいテストステータス「テスト成功」を表す第１のステータス値＋と、テストにおいて望ましいステータスが達成されなかったことを表す第２のステータス値−／ｏとが存在する。いくらか細分化された事例では、３つのテストステータス値が存在する。すなわち「テスト成功」＝＋、「テスト不成功」＝−、および「テスト実行されず」＝ｏが存在する。
【００１５】
２番目の事例の場合、相対的テストカバレッジおよびテストカバレッジの相対的上昇ポテンシャルの計算規則について、以下の具体的な式が得られる：
・テストカバレッジ = {Σ(TS = +)} / {Σ(TS = +) + Σ(TS= -) + Σ(TS = o)};
・テストカバレッジ = {G1 *Σ(TS = +)} / {G1 *Σ(TS = +) + G2 *Σ(TS = -) + G3 *Σ(TS = o)};
・上昇ポテンシャル = {Σ(TS = -) +Σ(TS = o)} / {Σ(TS = +) +Σ(TS = -) +Σ(TS = o)} および
・上昇ポテンシャル = {G2 *Σ(TS= -) + G3 *Σ(TS = o)} / {G1 *Σ(TS = +) + G2 *Σ(TS = -) + G3 *Σ(TS = o)}
ただしTSはテストステータス、Gnは重み付けである。
【００１６】
有利には、以下のように構成されている。すなわち、相対的テストカバレッジおよび／または相対的上昇ポテンシャルを求めるために、テストケースとテストコンフィギュレーションから成る各組み合わせによる直前に実行された実施におけるテストステータス値だけが、常に利用される。これは特に、反復的な方法の場合に有利である。
【００１７】
本発明の１つの有利な実施形態によれば、以下のように構成されている。すなわち、
・テストカバレッジの相対的上昇ポテンシャルの算出に続いて行われるテストシーケンスは、望ましいステータス値＋，−，ｏに関して上昇ポテンシャルが存在するテストケースおよび／またはテストコンフィギュレーションによるテストシーケンスである、および／または
・望ましいステータス値＋，−，ｏの相対的テストカバレッジが、生成されたテストケースとコンフィギュレーションのマトリックスにおいて、値１（＝１００％）に達した場合、または、１よりも小さい予め定められたテストカバレッジ閾値に達した場合、メカトロニクスシステムのテストを終了する。パーフェクトなテストカバレッジの代わりに、事前に規定された十分なテストカバレッジを表すテストカバレッジ閾値を定義してもよい。
【００１８】
複数のテストケースおよび／または複数のテストコンフィギュレーションに関して、上昇ポテンシャルが何回も発生する場合、テストカバレッジの相対的上昇ポテンシャルの算出に続いて行われるテストが、望ましいステータス値＋，−，ｏに関して上昇ポテンシャルが最大であるテストケースおよび／またはテストコンフィギュレーションによるテストシーケンスとなるよう、構成するのが有利である。この選択によって、できるかぎり迅速に、できるかぎり高いテストカバレッジが達成されることになる。
【００１９】
特に、許可されたまたはそもそも実現可能なテストケースおよびテストコンフィギュレーションから成る組み合わせだけが考慮されるようにする。テストのこのような実施形態であれば、テストステータスｘ＝許可されていないテストまたは実施不可能なテスト、は不必要となる。
【００２０】
本発明のさらに別の有利な実施形態によれば、メカトロニクスシステムと相互作用するテスト環境が、シミュレータ特にハードウェア・イン・ザ・ループ・シミュレータによってシミュレートされる。このようなシミュレータは、従来技術から公知である。それらのシミュレータは、それぞれ異なる実施条件においてこのテストの種々のテストケースを実現可能なテスト環境を構築することができる。
【００２１】
本発明のさらに別の有利な実施形態によれば、テストコンフィギュレーションによって実施条件が、少なくとも１つの物理的技術的パラメータ（Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３）を介して規定されるように構成されている。
【００２２】
特にこの場合、パラメータのパラメータタイプが、以下のパラメータタイプリストからのパラメータタイプであるように構成されている。すなわちこのパラメータリストとは、変位ｓ、速度ｖ、加速度ｇ、期間ｔ、力Ｆ、圧力ｐ、トルクＮ、電圧Ｕ、電流Ｉ、電力Ｐ、温度Ｔ、である。
【００２３】
本発明のさらに別の有利な実施形態によれば、
・テスト、パラメータ、テストコンフィギュレーションおよび／またはテストステータスの重み付けが設定され、
・相対的テストカバレッジおよびテストカバレッジの相対的上昇ポテンシャルのための計算規則が、付加的に個々の重み付けに依存する、
ように構成されている。
【００２４】
本発明によるコンピュータプログラム製品は、リアルおよび／またはバーチャルなメカトロニクス自動車システム、または他のリアルおよび／またはバーチャルなメカトロニクスシステムをテストするための既述の方法を実施するように構成されている。
【００２５】
さらに、メカトロニクスシステムと相互作用するテスト環境を用いた、メカトロニクス自動車システムまたは他のメカトロニクスシステムのテストを制御するための、本発明によるコンピュータベースの制御システムによれば、この制御システムは、既述の方法に従ってテストを実施するために適しており、もしくは既述の方法に従ってテストを実施するように構成されている。
【００２６】
次に、図面を参照しながら有利な実施形態に基づき本発明について詳しく説明する。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】本発明の１つの有利な実施形態による方法を用いてメカトロニクスシステムをテストするためのテスト構造を示す図
【図２】図１に示したテスト構造によりメカトロニクスシステムにおいて実施されるテストに関して、テストケースとそれらのコンフィギュレーションとから成るマトリックスと、テストステータス値との対応を示す図
【発明を実施するための形態】
【００２８】
図１には、メカトロニクスシステム（"system under Test" = SUT）１２をテストするためのテスト構造１０の簡単な例が略示されている。メカトロニクスシステム１２は、システムのハードウェアすなわち制御装置と、これに対応して制御装置において実行される（図示されていない）ソフトウェアとによって構成されている。テストは、シミュレーションコンピュータを有するハードウェア・イン・ザ・ループ・シミュレータ（ＨＩＬ）１４において、シミュレーションコンピュータで実行されるテスト自動化ソフトウェアを利用して実施される。シミュレーションコンピュータは、テストすべきメカトロニクスシステム１２の環境すなわちこのシステムのテスト環境１６をシミュレートする。テストすべきメカトロニクスシステム１２は、図示の実施例では、自家用車（ＰＫＷ）または他の車両のパワーウィンドウ制御装置を備えた自動車システム１８である。シミュレーションコンピュータ１４ならびにテスト環境ソフトウェアによって、制御装置は、駆動信号およびシステムのリアクションすなわちパワーウィンドウ−ウィンドウ（信号２０）をシミュレートする。メカトロニクスシステムのテストのプラニング、実施および評価はたとえば、シミュレーションコンピュータ１４に接続されマンマシンインタフェースを備えたコンピュータ２２を介して行われる。マンマシンインタフェースとはたとえばディスプレイ２４、およびキーボード、マウス、トラックボールといった入力ユニット２６などである。
【００２９】
ここで提案する解決手段の基礎を成すのは、テストケースと結果との一貫性のあるデータベースであり、これは部分的にバリエーションモデルと関連している。ここで重要であるのは、一方では表示手段であり、他方では、これらの表示／関連に基づく計算および自動的な導出、そしてテストプロセスへのその結果のフィードバックである。このようにして、目下のテスト進捗およびテストカバレッジに関するビジュアライゼーションおよび情報が得られるようになる。さらにこれらのデータに基づき、今後のいずれのテスト実施が、データベースに最大の影響を及ぼす可能性があるのか、つまりは最大のテスト進捗をもたらす見込みがあるのか、という提案を算出することができる。
【００３０】
種々のコンフィギュレーションのテスト進捗を計算し、表示することができる。この目的で本発明によれば、完全なデータベースが使用され、予め定められたメトリックに基づき可能なテスト進捗が決定される。プライオリティを決定することにより、このメトリックをテストプロジェクトの要求にマッチさせることができる。
【００３１】
一般にテストコンフィギュレーションに必要とされるリソースを特定するために、最初に必要とされるのは、互いに数学的に結合する目的で、それらのリソースを１つの画一的なフォーマットにすることである。この場合もプライオリティと同様に、抽象的な量である「コスト」を、各リソースに割り当てることができる。
【００３２】
プライオリティとコストとによって、間近のテスト実施を肯定および否定する抽象的な理由が表される。プライオリティとコストの状態を、テストおよびテストコンフィギュレーションの重み付けとして利用すれば、どのテストをどのテストコンフィギュレーションでいつ実施すべきかの決定に対する客観的な基礎が得られる。
【００３３】
したがって、自家用車のウィンドウ開閉のための電動パワーウィンドウ用ソフトウェアを備えた制御装置１２の機能をテストするために、以下のような簡単なテストプラニングが得られる。
【００３４】
便宜上、たとえば２つのテストケースＴＣ１，ＴＣ２だけが選択されるものとする：
１．ＴＣ１：ウィンドウ開放（Ｔ１秒にわたり信号「ウィンドウを閉鎖せよ」、Ｔ２秒にわたり信号「ウィンドウを開放せよ」、Ｔ３秒にわたり待機、問い合わせ「ウィンドウは完全に開放されたか？」）。
２．ＴＣ２：ウィンドウ閉鎖（Ｔ１秒にわたり信号「ウィンドウを開放せよ」、Ｔ２秒にわたり信号「ウィンドウを閉鎖せよ」、Ｔ３秒にわたり待機、問い合わせ「ウィンドウは完全に閉鎖されたか？」）。
【００３５】
テスト管理のためには、テストの詳細な点すべてが重要なわけではない。この実施例において前提とするのは、テスト管理のためのテストコンフィギュレーションの一部分として（下記参照）、パラメータＴ１，Ｔ２，Ｔ３だけが重要、ということである。さらにここでは便宜上、２つのテストコンフィギュレーションだけを考察するものとする：
１．Ｃｏｎｆ１：ＳＵＴはＳＷを備えたＥＣＵから成る。テスト実施にあたり実施環境として、ＨＩＬシミュレータＡおよびテスト自動化ツールＢが利用され、テストはパラメータセットＣ（Ｔ１＝１５秒、Ｔ２＝３秒、Ｔ３＝２０秒）を使用する。
２．Ｃｏｎｆ２：ＳＵＴはＳＷを備えたＥＣＵから成る。テスト実施にあたり実施環境として、ＨＩＬシミュレータＡおよびテスト自動化ツールＢが利用され、テストはパラメータセットＤ（Ｔ１＝１５秒、Ｔ２＝２秒、Ｔ３＝２０秒）を使用する。
【００３６】
したがってこれらのテストコンフィギュレーションでは、使用されるパラメータのうち１つのパラメータすなわちパラメータＴ２だけしか異なっていない。しかしそれにもかかわらず、その結果として２つの異なるテストコンフィギュレーションＣｏｎｆ１，Ｃｏｎｆ２が生成される。
【００３７】
ついで、テストケースとコンフィギュレーションの組み合わせ各々に対し、存在するならば直前のテスト結果に従い、１つのテストステータスが割り当てられる。各組み合わせごとに、以下の割り当てに従い１つのテストステータスが生成され、これを表形式で示すと以下のようになる：
・肯定の結果を伴うテストが実施された→「＋」
・否定の結果を伴うテストが実施された→「−」
・テストが実施されなかった→「ｏ」
【００３８】
この実施例では、図２に示したような表が生成される。
【００３９】
すべてのテストステータスに関して、値「＋」を有するテストステータスのテストカバレッジの場合、以下のようになる：
テストカバレッジ＝１／（１＋１＋２）＝１／４つまり２５％
【００４０】
同様に、上昇ポテンシャルについては以下のようになる：
上昇ポテンシャル（Ｃｏｎｆ１）＝１／４つまり２５％
上昇ポテンシャル（Ｃｏｎｆ２）＝２／４つまり５０％
上昇ポテンシャル（ＴＣ１）＝１／４つまり２５％
上昇ポテンシャル（ＴＣ２）＝２／４つまり５０％
【符号の説明】
【００４１】
１０  テスト構造
１２  制御装置
１４  ハードウェア・イン・ザ・ループ・シミュレータ（ＨＩＬ）
１６  テスト環境
１８  自動車システム
２０  信号
２２  コンピュータ
２４  ディスプレイ
２６  入力ユニット
ＴＣ１，ＴＣ２  テストケース
Ｃｏｎｆ１，Ｃｏｎｆ２  テストコンフィギュレーション
Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３  コンフィギュレーションパラメータセット
＋，−，ｏ  テストステータス値
【図１】
2016207211.tif 000003
【図２】
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