(57)【要約】      （修正有）【課題】表示ムラを低減することができる表示装置および表示装置の駆動方法を提供する。【解決手段】表示装置１において、複数の画素は、それぞれ発光素子を有し、表示装置１は、発光素子に供給される入力階調を目標輝度に変換する目標輝度変換部１１と、入力階調を補正する補正演算部１２と、補正演算部１２で使用される補正パラメータである効率残存率Ｒｔを算出する累積ストレス演算部１３とを有する補正回路１０を備える。【選択図】図３
2016109939.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素が行列状に配置された表示画面を有する表示装置であって、
前記複数の画素は、それぞれ発光素子を有し、
前記発光素子に供給される入力階調を目標輝度に変換する目標輝度変換部と、前記入力階調を補正する補正演算部と、前記補正演算部で使用される補正パラメータである効率残存率を算出する累積ストレス演算部とを有する補正回路を備える
表示装置。
【請求項２】
前記累積ストレス演算部は、前記発光素子の劣化の度合いを、前記発光素子に基準電流を供給した場合の時間として算出し、算出した時間を累積して累積ストレス時間とする
請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記累積ストレス演算部は、前記累積ストレス時間を、初期の発光素子の発光輝度に対する劣化した発光素子の発光輝度の割合である前記効率残存率に変換する
請求項２に記載の表示装置。
【請求項４】
複数の画素が行列状に配置された表示画面を有する表示装置の駆動方法であって、
前記複数の画素は、それぞれ発光素子を有し、
目標輝度変換部により、前記発光素子に供給される入力階調を目標輝度に変換し、補正演算部により、補正パラメータを用いて前記入力階調を補正するステップと、
累積ストレス演算部により、前記補正パラメータである効率残存率を算出するステップとを含む
表示装置の駆動方法。
【請求項５】
前記効率残存率を算出するステップにおいて、
前記累積ストレス演算部により、前記発光素子の劣化の度合いは、前記発光素子に基準電流を供給した場合の時間に換算されて累積される
請求項４に記載の表示装置の駆動方法。
【請求項６】
前記効率残存率を算出するステップにおいて、
前記累積ストレス演算部によって、前記発光素子に基準電流を供給した場合の時間に換算されて累積された累積ストレス時間は、初期の発光素子の発光輝度に対する劣化した発光素子の発光輝度の割合である前記効率残存率に変換される
請求項５に記載の表示装置の駆動方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、有機エレクトロルミネッセンス（Ｏｒｇａｎｉｃ  Ｅｌｅｃｔｒｏ−Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ。以下、ＥＬ、またはＯＬＥＤと呼ぶことがある。）素子などを有する画像表示装置などの表示装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
有機ＥＬ素子をマトリクス状に備えた表示装置が表示パネルに採用され、商品化されている。近年は、表示素子として、有機ＥＬ素子を用いた表示装置が販売されている。有機ＥＬ素子を用いたディスプレイ（有機ＥＬディスプレイ）は、カラーＴＶ受像器の画面と同様、赤（Ｒ)、緑（Ｇ)、青（Ｂ）の三原色の画素を画面上に並置し、組み合わせて発光させることで、精細なカラー画像の表示を実現する。
【０００３】
有機ＥＬ素子などの自発光素子では、一般的に、発光量や発光時間に応じて有機ＥＬ素子を構成する発光層が劣化することが知られている。発光層の劣化は、主に通電時間、通電電気量及び通電時の温度に依存する。通電時間及び通電電気量は、一般的に画素の発光色ごとに異なる。したがって、有機ＥＬディスプレイでは、発光層の発する光の色（Ｒ、Ｇ、Ｂ）ごとに発光層の劣化による輝度の低下傾向が異なり、有機ＥＬディスプレイに表示される画像が色ずれを起こすおそれがある。
【０００４】
このような問題を解決するために、有機ＥＬディスプレイに表示される画像の色ずれを抑制し、有機ＥＬ素子の劣化に関わらずホワイトバランスを良好に維持し、ディスプレイ全体の輝度を向上する技術が開示されている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００５−５５８８０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
発光層の劣化による輝度の低下が生じた場合、上述した色ずれのほか、ディスプレイの一部の輝度が低下するいわゆる焼き付き現象により、表示ムラが発生することもある。
【０００７】
例えば、ディスプレイの右上に常に時刻を表示する場合、時刻を表示している領域は、他の領域に比べて自発光素子の劣化が進行する。これにより、時刻を表示している領域は、周辺の領域に比べて相対的に輝度が低下する。したがって、自発光素子を用いたディスプレイでは、表示ムラが生じ表示品位が損なわれた画像が表示されるという問題がある。
【０００８】
本開示は、上述の課題に鑑みてなされたものであり、表示ムラを低減することができる表示装置および表示装置の駆動方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本開示にかかる表示装置は、複数の画素が行列状に配置された表示画面を有する表示装置であって、前記複数の画素は、それぞれ発光素子を有し、前記発光素子に供給される入力階調を目標輝度に変換する目標輝度変換部と、前記入力階調を補正する補正演算部と、前記補正演算部で使用される補正パラメータである効率残存率を算出する累積ストレス演算部とを有する補正回路を備える。
【発明の効果】
【００１０】
本開示によれば、表示ムラを低減することができる表示装置および表示装置の駆動方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本実施の形態にかかる表示装置の構成を示す概略図
【図２】本実施の形態にかかる画素の構成を示す回路図
【図３】本実施の形態にかかる表示装置の構成を示す概略図
【図４】経過時間と画素の劣化度合い（効率残存率）との関係を示す図
【図５】本実施の形態に係る輝度補正の手順を示すフローチャート
【図６】効率残存率の算出手順を説明するための図
【図７Ａ】補正後の輝度を補正後の電流に変換するための図
【図７Ｂ】累積ストレス時間を取得するための図
【図７Ｃ】効率残存率を取得するための図
【図８】出力階調の算出手順を説明するための図
【図９Ａ】入力階調を目標輝度に変換するための図
【図９Ｂ】目標輝度から補正後の階調を取得するための図
【図９Ｃ】補正後の階調から補正後の輝度を取得するための図
【図１０】実施の形態に係る表示装置を内蔵した薄型フラットＴＶの外観図
【発明を実施するための形態】
【００１２】
上述のような問題を解決するために、本開示の一態様に係る表示装置は、複数の画素が行列状に配置された表示画面を有する表示装置であって、前記複数の画素は、それぞれ発光素子を有し、前記発光素子に供給される入力階調を目標輝度に変換する目標輝度変換部と、前記入力階調を補正する補正演算部と、前記補正演算部で使用される補正パラメータである効率残存率を算出する累積ストレス演算部とを有する補正回路を備える。
【００１３】
この構成によれば、効率残存率と目標輝度とから補正後の入力階調（出力階調）が算出されるので、各発光素子の劣化度合いによらず、各発光素子を一様な発光輝度に補正することができる。これにより、表示画面における焼付き現象を低減することができる。
【００１４】
また、前記累積ストレス演算部は、前記発光素子の劣化の度合いを、前記発光素子に基準電流を供給した場合の時間として算出し、算出した時間を累積して累積ストレス時間としてもよい。
【００１５】
この構成によれば、複数の発光素子に、それぞれ異なる大きさの電流ストレスが異なる時間供給されたとしても、電流ストレスを基準電流ストレスでのストレス時間に変換することにより、各発光素子の劣化度合いによらず、各発光素子の発光輝度を一様な発光輝度に補正することができる。
【００１６】
また、前記累積ストレス演算部は、前記累積ストレス時間を、初期の発光素子の発光輝度に対する劣化した発光素子の発光輝度の割合である前記効率残存率に変換してもよい。
【００１７】
この構成によれば、初期の発光素子の発光輝度を基準とした効率残存率を算出するので、各発光素子の劣化度合いによらず、初期の発光素子における発光輝度と入力階調との関係（階調−輝度特性）に効率残存率を乗じることにより、劣化後の発光素子における発光輝度と入力階調との関係（階調−輝度特性）を得ることができる。
【００１８】
また、本開示の一態様に係る表示装置の駆動方法は、複数の画素が行列状に配置された表示画面を有する表示装置の駆動方法であって、前記複数の画素は、それぞれ発光素子を有し、目標輝度変換部により、前記発光素子に供給される入力階調を目標輝度に変換し、補正演算部により、補正パラメータを用いて前記入力階調を補正するステップと、累積ストレス演算部により、前記補正パラメータである効率残存率を算出するステップとを含む。
【００１９】
この構成によれば、効率残存率と目標輝度とから補正後の入力階調（出力階調）が算出されるので、各発光素子の劣化度合いによらず、一様な発光輝度に補正することができる。これにより、表示画面における焼付き現象を低減することができる。
【００２０】
また、前記効率残存率を算出するステップにおいて、前記累積ストレス演算部により、前記発光素子の劣化の度合いは、前記発光素子に基準電流を供給した場合の時間に換算されて累積されてもよい。
【００２１】
この構成によれば、複数の発光素子に、それぞれ異なる大きさの電流ストレスが異なる時間供給されたとしても、電流ストレスを基準電流ストレスでのストレス時間に変換することにより、各発光素子の劣化度合いによらず、各発光素子の発光輝度を一様な発光輝度に補正することができる。
【００２２】
また、前記効率残存率を算出するステップにおいて、前記累積ストレス演算部によって、前記発光素子に基準電流を供給した場合の時間に換算されて累積された累積ストレス時間は、初期の発光素子の発光輝度に対する劣化した発光素子の発光輝度の割合である前記効率残存率に変換されてもよい。
【００２３】
この構成によれば、初期の発光素子の発光輝度を基準とした効率残存率を算出するので、各発光素子の劣化度合いによらず、初期の発光素子における発光輝度と入力階調との関係（階調−輝度特性）に効率残存率を乗じることにより、劣化後の発光素子における発光輝度と入力階調との関係（階調−輝度特性）を得ることができる。
【００２４】
以下、実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。なお、以下で説明する実施の形態は、いずれも包括的または具体的な例を示すものである。以下の実施の形態で示される数値、形状、材料、構成要素、構成要素の配置位置及び接続形態、ステップ、ステップの順序などは、一例であり、本発明を限定する主旨ではない。また、以下の実施の形態における構成要素のうち、独立請求項に記載されていない構成要素については、任意の構成要素として説明される。各図は、必ずしも各寸法または各寸法比等を厳密に図示したものではない。
【００２５】
（実施の形態）
［１．表示装置の構成］
はじめに、本実施の形態に係る表示装置１の構成について説明する。図１は、本実施の形態に係る表示装置の構成を示す概略図である。図２は、本実施の形態にかかる画素の構成を示す回路図である。図３は、本実施の形態にかかる表示装置の構成を示す概略図である。
【００２６】
図１に示すように、表示装置１は、複数の画素２が行列状に配置された表示画面３と、ゲートドライバ回路４と、ソースドライバ回路５と、補正回路１０とを備えている。
【００２７】
画素２は、図２に示すように、発光素子２０と、容量素子２２と、駆動用トランジスタ２４ａと、スイッチ用トランジスタ２４ｂ〜２４ｅとを備えている。発光素子２０は、例えば、有機ＥＬ素子である。
【００２８】
画素２では、走査線７から走査信号ｓｃａｎが供給されたときに、データ線８から画素信号に応じた電圧Ｖｄａｔａが駆動用トランジスタ２４ａのゲートに印加される。画素信号は、発光素子２０の発光輝度に応じた階調（輝度階調）として調整される。発光素子２０は、輝度階調に応じた電流が印加されることにより発光する。したがって、画素信号（輝度階調）に応じた電流が発光素子２０に流れ、発光素子２０は、画素信号に応じた発光輝度で発光する。
【００２９】
詳細には、画素２には、参照電源線Ｖｒｅｆと、ＥＬアノード電源線Ｖｔｆｔと、ＥＬカソード電源線Ｖｅｌと、初期化電源線Ｖｉｎｉと、参照電圧制御線ｒｅｆと、初期化制御線ｉｎｉと、イネーブル線ｅｎｂとが配線されている。ＥＬアノード電源線Ｖｔｆｔには、発光素子２０に印加するアノード電圧を発生するアノード電圧発生回路（図示せず）が接続されている。ＥＬカソード電源線Ｖｅｌには、発光素子２０に印加するカソード電圧を発生するカソード電圧発生回路（図示せず）が接続されている。なお、ＥＬカソード電源線Ｖｅｌは、カソード電圧発生回路に接続される代わりに、接地されてもよい。初期化電源線Ｖｉｎｉは、容量素子２２を初期化するときの初期化電圧Ｖｉｎｉを発生するＶｉｎｉ電圧発生回路（図示せず）に接続されている。この構成により、発光素子２０に電流を安定して流すことができる。
【００３０】
なお、画素２の構成は、図２に示した構成に限らず、他の構成であってもよい。少なくとも画素２としての機能を果たすことができる最小の構成として、発光素子２０と、容量素子２２と、駆動用トランジスタ２４ａと、スイッチ用トランジスタ２４ｂとを備えていればよい。
【００３１】
表示画面３は、行列状に配置された複数の画素２を有している。画素２は、それぞれ走査線７およびデータ線８に電気的に接続されている。走査線７は、画素２に配置されたスイッチ用トランジスタ２４ｂのゲートに接続されている。データ線８は、スイッチ用トランジスタ２４ｂのソースまたはドレインに接続されている。
【００３２】
ゲートドライバ回路４には、走査線７が接続されている。画素２に配置されたスイッチ用トランジスタ２４ｂのゲートには、走査線７を介してゲートドライバ回路４から走査信号ｓｃａｎが供給される。
【００３３】
ソースドライバ回路５には、データ線８が接続されている。画素２に配置されたスイッチ用トランジスタ２４ｂのソース又はドレインには、データ線８を介してソースドライバ回路５から画素信号に応じた電圧Ｖｄａｔａが供給される。
【００３４】
補正回路１０は、発光素子２０が目標輝度で発光するように、発光素子２０に与えられる輝度階調（入力階調）の補正を行う回路である。目標輝度とは、劣化していない初期の発光素子２０において、入力階調に対応する発光輝度のことをいう。したがって、入力階調に対する目標輝度を達成することができない劣化した発光素子２０については、補正回路１０により入力階調を補正し、補正後の入力階調に対応する電流を発光素子２０に供給する。これにより、発光素子２０は目標輝度を達成することができる。
【００３５】
補正回路１０は、目標輝度変換部１１と、補正演算部１２と、累積ストレス演算部１３とを備えている。
【００３６】
目標輝度変換部１１は、入力階調を、対応する目標輝度に変換する変換部である。
【００３７】
補正演算部１２は、目標輝度を達成するために、発光素子２０に供給する入力階調を補正する演算を行う演算部である。すなわち、補正演算部１２には目標輝度が入力され、補正演算部１２からは補正後の入力階調（補正後階調）が出力される。
【００３８】
累積ストレス演算部１３は、補正演算部１２で使用される補正パラメータを算出する演算部である。累積ストレス演算部１３では、補正パラメータとして効率残存率Ｒｔが算出される。
【００３９】
以下、効率残存率について説明する。図４は、経過時間と画素の劣化度合い（効率残存率）との関係を示す図である。
【００４０】
画素２に配置された発光素子２０は、上述したように、輝度階調に応じた電流が印加されることにより発光する。発光素子２０に供給される電流（電流ストレス）の大きさは、画素信号によって異なるため、発光素子２０には異なる大きさの電流ストレスがかかる。
【００４１】
例えば、図４に示すように、発光素子２０に電流ストレスＡがかかる場合と、電流ストレスＡよりも小さい電流ストレスＢがかかる場合とでは、電流ストレスＡがかかる場合のほうが電流ストレスＢが係る場合よりも、より発光素子２０の劣化が進行する。また、発光素子２０に電流が供給される時間も発光素子２０ごとに異なるため、発光素子２０に電流ストレスがかかる時間が長いほど発光素子２０の劣化は進行する。
【００４２】
したがって、発光素子２０の劣化は、発光素子２０にかかる電流ストレスの大きさと時間との２つのパラメータに依存するため、劣化の度合いを簡単に表すことは難しい。そこで、累積ストレス演算部１３によって、発光素子２０の劣化の度合いが、ある一定の電流（基準電流）を供給したときの時間に換算され、換算された時間は累積され、累積ストレス時間として表される。
【００４３】
さらに、初期の発光素子２０では累積ストレス時間が０であるため、初期の発光素子２０の発光輝度を１として、これに対する劣化した発光素子２０の発光輝度の割合が効率残存率Ｒｔとして算出される。つまり、効率残存率Ｒｔは、初期の発光素子２０の発光輝度に対する劣化した発光素子２０の発光輝度の割合である。
【００４４】
累積ストレス時間は、劣化した発光素子２０の効率残存率Ｒｔに変換される。
【００４５】
このような手順によって、累積ストレス演算部１３において効率残存率Ｒｔが算出される。さらに、効率残存率Ｒｔを初期の発光素子２０の発光輝度に乗じることにより、劣化後の発光素子２０の発光輝度が示される。
【００４６】
［２．表示装置の駆動方法］
次に、表示装置の駆動方法について説明する。図５は、本実施の形態に係る輝度補正の手順を示すフローチャートである。
【００４７】
発光素子２０の輝度補正は、映像信号の履歴の差異が引き起こす同一階調表示時の隣接画素の輝度差および色度ずれを、画素の発光履歴による電流ストレスの累積から効率残存率を算出し、効率残存率と目標輝度とから必要な階調を算出することにより、出力階調を補正するものである。
【００４８】
具体的には、（１）補正パラメータである効率残存率Ｒｔを算出するステップと、（２）効率残存率Ｒｔを用いて入力階調を補正するステップとにより行われる。
【００４９】
はじめに、効率残存率Ｒｔを算出するステップについて説明する。図６は、効率残存率の算出手順を説明するための図である。図７Ａは、補正後の輝度を補正後の電流に変換するための図である。図７Ｂは、累積ストレス時間を取得するための図である。図７Ｃは、効率残存率を取得するための図である。
【００５０】
図６に示すように、効率残存率Ｒｔを算出するステップは、主に累積ストレス演算部１３で行われる。累積ストレス演算部１３では、補正演算部１２から得られた補正後輝度を用いて累積ストレス時間ΣＴ２が算出され、さらに効率残存率Ｒｔが算出される。
【００５１】
はじめに、累積ストレス演算部１３では、発光輝度から電流ストレスが算出される（ステップＳ１０）。
【００５２】
図７Ａに示す曲線は、初期の発光素子２０に供給される電流と発光輝度との関係を示す曲線である。このように、発光輝度と電流との関係は、初期の発光素子２０に供給される電流と発光輝度との関係として予め得られている。発光輝度が分かれば、図７Ａに示す曲線により、対応する電流の大きさが得られる。
【００５３】
次に、得られた電流の大きさで所定時間、電流を供給したときの発光素子２０の劣化度が、基準電流を供給したときの時間（ストレス時間）に変換して算出される（ステップＳ１２）。
【００５４】
図７Ｂに示す曲線は、経過時間と画素の劣化度合い（効率残存率）との関係を示す図であり、基準電流ストレスＩｒｅｆを供給した場合と、電流ストレスＩ１を供給した場合を示している。発光素子２０に電流ストレスＩ１を期間Ｔ１供給した場合の効率残存率は、発光素子２０に基準電流Ｉｒｅｆを期間Ｔ２に供給した場合の効率残存率に変換される。変換された時間Ｔ２は、画素信号が供給されるごとに順次算出され、変換された時間Ｔ２を累積することにより、累積ストレス時間ΣＴ２が算出される（ステップＳ１４）。すなわち、累積ストレス時間とは、初期の発光素子２０からの劣化度合いを示すパラメータである。
【００５５】
次に、累積ストレス時間ΣＴ２から効率残存率Ｒｔが算出される（ステップＳ１６）。図７Ｃに示すように、基準電流Ｉｒｅｆを供給したときの、供給時間と効率残存率との関係より、累積ストレス時間ΣＴ２は対応する効率残存率Ｒｔに変換される。以下に説明するように、効率残存率Ｒｔは、累積ストレス演算部１３から補正演算部１２に出力され、入力階調の補正に用いられる。詳細には、初期の発光素子２０における発光輝度と入力階調との関係（階調−輝度特性）に効率残存率Ｒｔを乗じることにより、劣化後の発光素子２０における発光輝度と入力階調との関係（階調−輝度特性）が算出される（ステップＳ１８）。
【００５６】
次に、効率残存率Ｒｔを用いて入力階調を補正するステップについて説明する。図８は、出力階調の算出手順を説明するための図である。図９Ａは、入力階調を目標輝度に変換するための図である。図９Ｂは、目標輝度から補正後の階調を取得するための図である。図９Ｃは、補正後の階調から補正後の輝度を取得するための図である。
【００５７】
図８に示すように、効率残存率Ｒｔを用いて入力階調を補正するステップは、主に目標輝度変換部１１と補正演算部１２とで行われる。目標輝度変換部１１では、入力階調が目標輝度に変換され、補正演算部１２では、目標輝度から補正後の入力階調が出力階調として出力される。
【００５８】
図９Ａは、初期の発光素子２０における入力階調と目標輝度との関係を示している。図９Ａに示した関係より、目標輝度変換部１１において、入力階調から入力階調に対応する目標輝度が得られる（ステップＳ２０）。得られた目標輝度は、補正演算部１２に出力される。
【００５９】
次に、目標輝度から補正後の階調が算出される（ステップＳ２２）。図９Ｂでは、初期の発光素子２０における発光輝度と入力階調との関係（階調−輝度特性）が実線で示され、初期の発光素子２０における発光輝度と入力階調との関係（階調−輝度特性）に効率残存率Ｒｔを乗じることにより算出された劣化後の発光素子２０における発光輝度と入力階調との関係（階調−輝度特性）が破線で示されている。
【００６０】
図９Ｂに示すように、上述した目標輝度から、劣化後の発光素子２０における補正後の入力階調が算出される。補正後の入力階調は、出力階調として補正演算部１２から出力される（ステップＳ３０）。さらに、出力階調は、表示画面３の周辺に設けられたソースドライバ回路５に出力され、発光素子２０に出力階調に応じた電流が供給されるように、ソースドライバ回路５から画素２のスイッチ用トランジスタ２４ｂのソースに電圧が印加される。
【００６１】
また、図９Ｃに示すように、上述した補正後の入力階調から、初期の発光素子２０における発光輝度と入力階調との関係（階調−輝度特性）により補正後の発光輝度が算出される（ステップＳ２４）。算出された発光輝度は、補正演算部１２から累積ストレス演算部１３に出力され、効率残存率Ｒｔを算出するステップに用いられる。
【００６２】
累積ストレス演算部１３では、図７Ａに示したように、算出された補正後の発光輝度から補正後の電流ストレスが得られる（ステップＳ２６）。そして、上述したように、得られた電流の大きさで所定時間、電流を供給したときの発光素子２０の劣化度が、基準電流を供給したときの時間（ストレス時間）に変換して算出され（ステップＳ１２）。以降、上述した効率残存率Ｒｔを算出するステップおよび効率残存率Ｒｔを用いて入力階調を補正するステップが繰り返される。
【００６３】
以上、本実施の形態にかかる表示装置では、発光素子２０に異なる電流ストレスが供給されたとしても、電流ストレスを基準電流ストレスでのストレス時間に変換することにより、基準電流ストレスにおける効率残存率を正確に算出することができる。
【００６４】
また、効率残存率と目標輝度とから補正後の入力階調（出力階調）を算出するので、各発光素子間の劣化度合い（効率残存率）によらず、一様な発光輝度に補正することができる。
【００６５】
上記２つの効果により、本実施の形態にかかる表示装置１では、表示画面３における焼付き現象を低減することができる。
【００６６】
以上、実施の形態に係る表示装置について説明したが、表示装置は、上述した実施の形態に限定されるものではない。
【００６７】
例えば、上述した補正回路では、累積ストレス演算部が累積ストレス時間を算出するステップと累積ストレス時間を効率残存率に変換するステップとを行っているが、これらのステップを異なる演算部で算出するように、構成を変更してもよい。
【００６８】
また、補正回路に、例えばゲイン演算部を設け、累積ストレス演算部で得られた効率残存率が小さい場合には、効率残存率をゲイン演算部で算出されたゲインにより増幅させてもよい。
【００６９】
また、本発明の趣旨を逸脱しない限り、当業者が思いつく各種変形を本実施の形態に施したものや、異なる実施の形態における構成要素を組み合わせて構築される形態も、本発明の範囲内に含まれる。例えば、図１０に示すような、本発明にかかる有機ＥＬ素子を備えた薄型フラットテレビシステムも本発明に含まれる。
【産業上の利用可能性】
【００７０】
有機ＥＬ素子の製造方法および有機ＥＬ素子は、特に、大画面および高解像度が要望される薄型テレビおよびパーソナルコンピュータのディスプレイなどの技術分野に有用である。
【符号の説明】
【００７１】
１  表示装置
２  画素
３  表示画面
４  ゲートドライバ回路
５  ソースドライバ回路
７  走査線
８  データ線
１０  補正回路
１１  目標輝度変換部
１２  補正演算部
１３  累積ストレス演算部
２０  発光素子
２２  容量素子
２４ａ  駆動用トランジスタ
２４ｂ、２４ｃ、２４ｄ、２４ｅ  スイッチ用トランジスタ
【図１】
2016109939.tif 000003
【図２】
2016109939.tif 000004
【図３】
2016109939.tif 000005
【図４】
2016109939.tif 000006
【図５】
2016109939.tif 000007
【図６】
2016109939.tif 000008
【図７Ａ】
2016109939.tif 000009
【図７Ｂ】
2016109939.tif 000010
【図７Ｃ】
2016109939.tif 000011
【図８】
2016109939.tif 000012
【図９Ａ】
2016109939.tif 000013
【図９Ｂ】
2016109939.tif 000014
【図９Ｃ】
2016109939.tif 000015
【図１０】
2016109939.tif 000016