(57)【要約】【課題】出力信号の間引きを行う場合でも、高精度な焦点検出を可能にした撮像装置を提供する。【解決手段】２次元状に配置された複数の画素を有する撮像素子と、撮像素子の画素から、所定の画素間隔の周期で画素を間引くまたは加算して焦点検出用の信号を読み出す読み出し部と、読み出し部により読み出された焦点検出用の信号に基づいて撮影レンズの合焦位置を検出する焦点検出部と、焦点検出用の信号の読み出しの間引きまたは加算の位相により、焦点検出部の焦点検出結果が変化するか否かを判定する判定部と、判定部の判定結果に基づいて、焦点検出部の焦点検出結果を補正する補正部とを備える。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
２次元状に配置された複数の画素を有する撮像素子と、
前記撮像素子の画素から、所定の画素間隔の周期で画素を間引くまたは加算して焦点検出用の信号を読み出す読み出し手段と、
前記読み出し手段により読み出された焦点検出用の信号に基づいて撮影レンズの合焦位置を検出する焦点検出手段と、
前記焦点検出用の信号の読み出しの間引きまたは加算の位相により、前記焦点検出手段の焦点検出結果が変化するか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段の判定結果に基づいて、前記焦点検出手段の焦点検出結果を補正する補正手段と、
を備えることを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記複数の画素には、カラーフィルタが配置されており、前記読み出し手段は、単色のカラーフィルタに対応する画素の信号を前記焦点検出用の信号として読み出すことを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記読み出し手段は、前記単色のカラーフィルタに対応する画素の信号をさらに所定の周期で間引くまたは加算して前記焦点検出用の信号を読み出すことを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記判定手段は、前記間引きまたは加算の位相が異なる焦点検出用の信号に基づく前記焦点検出手段の検出結果の差に基づいて、前記焦点検出用の信号の読み出しの間引きまたは加算の位相により、前記焦点検出手段の焦点検出結果が変化するか否かを判定することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記判定手段は、前記撮像素子に対する被写体のエッジの方向によって、前記焦点検出用の信号の読み出しの間引きまたは加算の位相により、前記焦点検出手段の焦点検出結果が変化するか否かを判定することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記判定手段は、前記被写体のエッジの方向が、前記画素の信号の読み出しの方向と直交する方向である場合に、前記焦点検出手段の焦点検出結果が変化すると判定することを特徴とする請求項５に記載の撮像装置。
【請求項７】
前記判定手段は、前記焦点検出用の信号にかけるフィルタの帯域によって、前記焦点検出用の信号の読み出しの間引きまたは加算の位相により、前記焦点検出手段の焦点検出結果が変化するか否かを判定することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項８】
前記補正手段は、前記焦点検出用の信号の読み出しの間引きまたは加算の位相により、前記焦点検出手段の焦点検出結果が変化すると判定された場合に、前記フィルタの帯域を周波数の低い帯域に変更することを特徴とする請求項７に記載の撮像装置。
【請求項９】
２次元状に配置された複数の画素を有する撮像素子を備える撮像装置を制御する方法であって、
前記撮像素子の画素から、所定の画素間隔の周期で画素を間引くまたは加算して焦点検出用の信号を読み出す読み出し工程と、
前記読み出し工程により読み出された焦点検出用の信号に基づいて撮影レンズの合焦位置を検出する焦点検出工程と、
前記焦点検出用の信号の読み出しの間引きまたは加算の位相により、前記焦点検出工程における焦点検出結果が変化するか否かを判定する判定工程と、
前記判定工程における判定結果に基づいて、前記焦点検出工程での焦点検出結果を補正する補正工程と、
を有することを特徴とする撮像装置の制御方法。
【請求項１０】
請求項９に記載の制御方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【請求項１１】
請求項９に記載の制御方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラムを記憶したコンピュータが読み取り可能な記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮影光学系により結像される被写体像を光電変換する撮像素子により取得される画像信号を使用して、焦点検出を行う撮像装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
デジタルカメラやビデオカメラにおいては、ＣＣＤやＣＭＯＳセンサ等の撮像素子からの出力信号を利用し、被写体の焦点評価値に応じた信号を検出して合焦させるコントラスト検出式のオートフォーカス（以下、ＡＦ）方法が一般的である。この方法では、フォーカスレンズを所定の移動範囲にわたって光軸方向に移動させながら被写体の焦点評価値を順次検出（ＡＦスキャン動作）し、焦点評価値が最大となるフォーカスレンズ位置を合焦位置として検出する。
【０００３】
また、焦点検出の誤検出の防止や高精度化を図るために、焦点評価値の形状から、合焦位置検出に信頼性があるか否かを判定する撮像装置が知られている。さらに、焦点検出の高速化のために、焦点検出の場合にのみ出力信号を間引きして使用する場合がある。
【０００４】
特許文献１では、焦点評価値の形状を、焦点評価値の最大値を取得したレンズ位置とその近傍のレンズ位置、焦点評価値などから数値化し、合焦位置付近で正しい山形状となっているか否かを判定することで、高精度な焦点検出を可能としている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特許第４２３５４２２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上述の特許文献１に開示された従来技術では、十分に高精度な焦点検出が出来ない可能性がある。一般的に、焦点位置とは焦点評価値が最大値をとるレンズ位置であるが、ＡＦ動作の高速化のために出力信号の間引きが行われている場合、焦点評価値が最大値をとるレンズ位置が合焦位置とは限らない場合がある。
【０００７】
本発明は上述した課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、出力信号の間引きを行う場合でも、高精度な焦点検出を可能にした撮像装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明に係わる撮像装置は、２次元状に配置された複数の画素を有する撮像素子と、前記撮像素子の画素から、所定の画素間隔の周期で画素を間引くまたは加算して焦点検出用の信号を読み出す読み出し手段と、前記読み出し手段により読み出された焦点検出用の信号に基づいて撮影レンズの合焦位置を検出する焦点検出手段と、前記焦点検出用の信号の読み出しの間引きまたは加算の位相により、前記焦点検出手段の焦点検出結果が変化するか否かを判定する判定手段と、前記判定手段の判定結果に基づいて、前記焦点検出手段の焦点検出結果を補正する補正手段と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、出力信号の間引きを行う場合でも、高精度な焦点検出を可能にした撮像装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の一実施形態に係わる焦点調節装置を有する撮像装置の概略構成を示すブロック図。
【図２】焦点調節装置のＡＦ動作手順を示すフローチャート。
【図３】焦点検出領域の設定について示した図。
【図４】焦点検出用画素の配置を示した図。
【図５】焦点評価値を示した図。
【図６】焦点検出用画素の位相と焦点評価値の関係を示した図。
【図７】焦点評価値の信頼性判定方法を説明する図。
【図８】焦点評価値のフェーズ対策方法を説明する図。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明の一実施形態について、添付図面を参照して詳細に説明する。図１は、本発明の一実施形態に係わる焦点調節装置を有する撮像装置の概略構成を示すブロック図である。撮像装置は、例えば、デジタルスチルカメラやデジタルビデオカメラを含むが、これに限るものではない。入射する光学像をエリアセンサなどの２次元配列された固体センサを用いて光電変換により電気的な画像として取得するものであれば、本発明を適用することが可能である。
【００１２】
図１において、１は撮像装置である。２はズームレンズ群、３はフォーカスレンズ群で、撮影光学系を構成している。４は撮影光学系を透過する光束の量を制御する光量調節手段であり露出手段である絞りである。３１はズームレンズ群２、フォーカスレンズ群３、絞り４、等からなる撮影レンズである。
【００１３】
５は撮影光学系を透過した被写体像が結像され、これを光電変換する複数の画素が２次元状に配置されたＣＣＤ、ＣＭＯＳセンサ等の撮像素子である。６は撮像素子５によって光電変換された電気信号を受けて各種の画像処理を施すことにより所定の画像信号を生成する撮像回路である。７は撮像回路６により生成されたアナログ画像信号をデジタル画像信号に変化するＡ／Ｄ変換回路である。
【００１４】
８はＡ／Ｄ変換回路７から出力されるデジタル画像信号を一時的に記憶するバッファメモリ等のメモリ（ＳＤＲＡＭ）である。ＳＤＲＡＭ８は、撮像素子５の撮像領域における一部の領域のセンサ出力信号を記録することができる。ＳＤＲＡＭ８で記録された出力信号から、ＭＰＵを介して後述するスキャンＡＦ処理回路１４で、焦点検出を行うことが出来る。９はＳＤＲＡＭ８に記憶された画像信号を読み出してこれをアナログ信号に変換するとともに再生出力に適する形態の画像信号に変換するＤ／Ａ変換回路である。
【００１５】
１０は画像信号を表示する液晶表示装置（ＬＣＤ）等の画像表示装置（以下ＬＣＤ）である。１２は半導体メモリ等からなる画像データを記憶する記憶用メモリである。１１は、圧縮処理を施す圧縮回路と、復号化処理や伸長処理等を施す伸長回路とからなる圧縮伸長回路である。圧縮伸長回路１１は、ＳＤＲＡＭ８に一時記憶された画像信号を読み出して記憶用メモリ１２に対する記憶に適した形態にするために画像データの圧縮処理や符号化処理を施す。また、記憶用メモリ１２に記憶された画像データを再生表示等をするのに最適な形態とする。
【００１６】
また、１３はＡ／Ｄ変換回路７からの出力を受けて自動露出（ＡＥ）処理を行うＡＥ処理回路である。１４はＡ／Ｄ変換回路７からの出力を受けてオートフォーカス（ＡＦ）処理を行うスキャンＡＦ処理回路である。
【００１７】
１５は撮像装置の制御を行う演算用のメモリを内蔵したＭＰＵである。１６は所定のタイミング信号を発生するタイミングジェネレータ（以下ＴＧ）である。１７は撮像素子ドライバである。２１は絞り４を駆動する絞り駆動モータである。１８は絞り駆動モータ２１を駆動制御する第１モータ駆動回路である。２２はフォーカスレンズ群３を駆動するフォーカス駆動モータである。１９はフォーカス駆動モータ２２を駆動制御する第２モータ駆動回路である。２３はズームスレンズ群２を駆動するズーム駆動モータである。２０はズーム駆動モータ２３を駆動制御する第３モータ駆動回路である。
【００１８】
更に、２４は各種のスイッチ群からなる操作スイッチである。２５は各種制御等を行うプログラムや各種動作を行わせるために使用するデータ等が予め記憶されている電気的に書き換え可能な読み出し専用メモリであるＥＥＰＲＯＭである。２６は電池、２８はストロボ発光部、２７はストロボ発光部２８の閃光発光を制御するスイッチング回路、２９はＡＦ動作のＯＫ／ＮＧを表示するためのＬＥＤなどの表示素子である。
【００１９】
なお、画像データ等の記憶媒体である記録用メモリ１２は、フラッシュメモリ等の固定型の半導体メモリで、カード形状やスティック形状を有する。また、装置に対して着脱自在に形成されるカード型フラッシュメモリ等の半導体メモリの他、ハードディスクやフレキシブルディスク等の磁気記憶媒体等、様々な形態のものが適用される。
【００２０】
また、操作スイッチ２４としては、主電源スイッチ、レリーズスイッチ、再生スイッチ、ズームスイッチ、ＡＦ評価値信号のモニターへの表示をＯＮ／ＯＦＦするためのスイッチ等を含む。主電源スイッチは、撮像装置１を起動させ、電源供給を行うためのものである。
【００２１】
また、レリーズスイッチは、撮影動作（記憶動作）等を開始させる。再生スイッチは、再生動作を開始させる。ズームスイッチは、撮影光学系のズームレンズ群２を移動させズームを行わせる。そして、レリーズスイッチは撮影動作に先立って行われるＡＥ処理、ＡＦ処理を開始させる指示信号を発生する第１ストローク（以下ＳＷ１）と実際の露光動作を開始させる指示信号を発生する第２ストローク（以下ＳＷ２）との二段スイッチにより構成される。
【００２２】
次に、図２を参照して、上記構成を有する撮像装置の合焦動作（ＡＦ動作）について説明する。図２は、撮像装置のＡＦ動作手順を示すフローチャートである。この動作に関する制御プログラムは、ＭＰＵ１５によって実行さる。
【００２３】
ＭＰＵ１５は、ステップＳ１でＡＦ動作を開始すると、まず、ＡＦ枠を設定する。ステップＳ２の処理では、図３のように画像全領域に対して、ＡＦを行う枠位置と大きさを設定する。ＡＦ枠位置と大きさは、撮影モードに応じて、任意に決められて良い。図３では顔検知モードで人間の顔に合わせてＡＦ枠が設定された時のイメージ図である。ＭＰＵ１５は、この時のＡＦ枠の位置と大きさを記録し、以下に述べるＡＦ動作を、ＡＦ枠内の撮像素子５から得られる出力信号を用いて実行する。
【００２４】
次に、ステップＳ３では、ステップＳ２で設定された領域の出力信号に対して、ＡＦ用画素の記録を行う。ＡＦ用画素について、図４を用いて説明する。図４（ａ）は、ＡＦ枠内の出力信号の配列例、図４（ｂ）はその時のＡＦ用画素の抜出例を表している。
【００２５】
撮像素子５から得られる出力信号は、一般的に、ベイヤー配列をなしている。ベイヤー配列とは、例えば、図４（ａ）のように、（奇数行，奇数列）＝Ｒ（赤色）、（奇数行，偶数列）＝Ｇｒ（緑色），（偶数行、奇数列）＝Ｇｂ（緑色），（偶数行，偶数列）＝Ｂ（青色）のようなカラーフィルタが撮像素子５上に配置されるような構造をなす。この時、図４（ａ）のような出力信号全体に対して、ＡＦ用の焦点評価値の演算を行うことは計算負荷が大きいため、必要な情報のみを抜粋して、ＡＦ用焦点評価値を演算することが多い。これを本実施形態中では間引きと呼ぶ。そして、本実施形態では、画素を所定の画素間隔の周期で間引いて信号を読み出す。
【００２６】
ここで、図４（ｂ−１）は、図４（ａ）の出力信号に対して、色はＧｒのみ、間引きを１／２で行った場合のＡＦ用画素である。間引き率１／Ｍを１／２とすると、抜出ピッチは、２×Ｍになり、図４（ａ）に対して網掛け部の出力信号を抜出しした場合には、
（１，２），（１，６），（１，１０），…，（１，Ｃ−６），（１，Ｃ−２），（３，２），（３，６），（３，１０），…，（３，Ｃ−６），（３，Ｃ−２），…，（Ｒ−３，２），（Ｒ−３，６），（Ｒ−３，１０），…，（Ｒ−３，Ｃ−６），（Ｒ−３，Ｃ−２），（Ｒ−１，２），（Ｒ−１，６），（Ｒ−１，１０），…，（Ｒ−１，Ｃ−６），（Ｒ−１，Ｃ−２）
の順で抜き出した出力信号が図４（ｂ−１）になる。同様に、図４（ａ）の出力信号に対して、位相違いの図４（ａ）のドット部の出力信号抜き出しを行った場合には、
（１，４），（１，８），（１，１２），…，（１，Ｃ−４），（１，Ｃ），（３，４），（３，８），（３，１２），…，（３，Ｃ−４），（３，Ｃ），…，（Ｒ−３，４），（Ｒ−３，８），（Ｒ−３，１２），…，（Ｒ−３，Ｃ−４），（Ｒ−３，Ｃ），（Ｒ−１，４），（Ｒ−１，８），（Ｒ−１，１２），…，（Ｒ−１，Ｃ−４），（Ｒ−１，Ｃ）
の順で抜き出した出力信号が図４（ｂ−２）になる。
【００２７】
このように、ステップＳ３では、ＡＦ枠内の全出力信号に対して、間引きを行い、ＡＦ用画素（焦点検出用画素）の記録を行うことで、焦点検出に要する時間の高速化を図ることができる。また、上述のように、間引きの方法によって、位相違いの間引き方法が生じ、図４（ｂ−１）、図４（ｂ−２）のようなＡＦ用画素を作ることが出来る。ここでは、間引き処理を行って、ＡＦ用画素を形成する方法を説明したが、加算平均を行ってから間引きを行っても良いし、出力信号の色加算を行ってから間引きを行っても良い。また、色は緑色のみとしたが、緑色に限らず、他の単色のカラーフィルタに対応する画素の信号を焦点検出用の信号として読み出すようにしてもよい。
【００２８】
次に、ステップＳ４では、検出される焦点評価値にフェーズ影響が含まれるか否かの判定を行う。フェーズ判定方法の一例について図５を用いて説明する。
【００２９】
まず、ステップＳ４の一例の動作では、フォーカスレンズ群３をスキャン開始位置からスキャン終了位置まで所定量ずつ移動させながら、スキャンＡＦ処理回路１４により各フォーカスレンズ群位置における焦点評価値をＭＰＵ１５に記憶していく。各フォーカスレンズ位置ＬＰと焦点評価値Ｅｖの関係例を図５に示した。図５は、フォーカスレンズを駆動させた時の焦点評価値Ｅｖの変化ＡＦ＿Ｃ＿１，ＡＦ＿Ｃ＿２を表している。ＡＦ＿Ｃ＿１とＡＦ＿Ｃ＿２は、ステップＳ３で行われた間引きの位相違いのＡＦ用画素をそれぞれ用いた際の焦点評価値変化を示している。そして、図４（ｂ−１）のＡＦ用画素を用いて焦点評価値を計算した場合の焦点評価値変化を、ＡＦ＿Ｃ＿１、図４（ｂ−２）のＡＦ用画素を用いて焦点評価値を計算した場合の焦点評価値変化を、ＡＦ＿Ｃ＿２として表す。
【００３０】
焦点評価値Ｅｖは、被写体のコントラスト値をパラメータ化した値であり、一般的には、微分値の絶対値等で演算される。よって、合焦状態に近いほど大きい値をとるパラメータであり、図５では、フォーカスレンズ位置ＡＦ＿Ｐ＿１、ＡＦ＿Ｐ＿２が最も合焦位置に近い。
【００３１】
同一被写体において、間引きの位相（ＡＦ用画素１，ＡＦ用画素２）で合焦位置付近における検出合焦位置ＡＦ＿Ｐ＿１，ＡＦ＿Ｐ＿２に差が生じる理由について図６を用いて説明する。
【００３２】
図６（ａ）は、上段にエッジ被写体と、その時にエッジの被写体信号を受光する撮像素子５の対応関係を示した模式図である。ある一行の出力信号が、被写体に対して、図６（ａ）のような関係にあり、白色部の出力を１、黒色部の出力を０とすると、ＡＦ用画素信号Ｇｒ−１（網掛け部）は図６（ｂ）上図実線のようになる。また、ＡＦ用画素信号Ｇｒ−２（ドット部）の出力信号は図６（ｂ）下図実線のようになる。また、この時のそれぞれの微分値（コントラスト値）を点線で示している。上述した焦点評価値は、被写体の鮮鋭度を表すパラメータであり、例えば、出力信号の微分値の絶対最大値で表されるので、Ｇｒ−１の焦点評価値は１、Ｇｒ−２の焦点評価値は０．９となる。
【００３３】
このように、同一被写体でも、間引きの位相によって焦点評価値が変化する判定結果のことを、フェーズの影響がある、と本実施形態中では表現する。この現象は、撮像素子の読み出し方向（本実施形態中では水平方向）に対して、被写体エッジが垂直方向に入射している場合に起こり易く、また、焦点評価値の算出の際に使用するデジタルフィルタが高域であるほど起こり易い。これは、撮像素子の出力信号差が生じやすくなるためである。また、ＡＦ用画素信号の抜出の際の間引き率Ｍが大きいほどフェーズの影響は、起こり易い。
【００３４】
このように、間引きの位相（ＡＦ用画素１，ＡＦ用画素２）で合焦位置付近において検出される合焦位置ＡＦ＿Ｐ＿１，ＡＦ＿Ｐ＿２に差が生じる場合、ステップＳ４では、フェーズ影響ありと判定する。ここでは、それぞれの焦点評価値ＡＦ＿Ｃ＿１，ＡＦ＿Ｃ＿２に対して、合焦位置ＡＦ＿Ｐ＿１，ＡＦ＿Ｐ＿２を求め、変化量閾値ＳＨ１を設定した場合に、
｜ＡＦ＿Ｐ＿１−ＡＦ＿Ｐ＿２｜≧ＳＨ１
の時をフェーズ影響ありと判定する。フェーズ影響ありと判定された場合には、ステップＳ５に進み、それ以外の場合には、ステップＳ６に進む。
【００３５】
ここでは、フェーズ影響の判定方法を、位相違いのＡＦ用画素からそれぞれ焦点評価値を計算する方法で示したが、この方法に限らず、フェーズの有り無しの判定が可能であれば変更が可能である。例えば、上述のＡＦ用画素２種は１／２間引きによって生じたものであったが、１／ｎ間引きを行う際には、ＡＦ用画素をｎ種類生成することが出来るので、焦点評価値ピークＡＦ＿Ｐ＿ｎのばらつきが閾値ＳＨ２以下になることで判定しても良い。また、間引きを行わない場合でも、図４（ａ）中で示すようにＧｒ、Ｇｂでは同じ色内で位相違いのＡＦ用画素信号が生成でき、上述と同じフェーズ判定が可能である。
【００３６】
また、上述したように、フェーズの影響は、撮像素子の画素の並びに対して、被写体エッジが垂直方向に入っている（直交する）場合に起こり易い。そのため、被写体エッジの方向を検出し、撮像素子の読み出し方向に対して、垂直に近いエッジ方向であれば、フェーズの影響ありとしても良い。同様に、デジタルフィルタの周波数帯域によっても、高周波フィルタを使用した焦点評価値検出では、フェーズの影響を受けやすいので、フェーズ影響ありとしても良い。
【００３７】
次に、ステップＳ５では、フェーズキャンセルの計算を行い、合焦位置ＡＦ＿Ｐを計算する。例えば、ステップＳ４で、焦点評価値ＡＦ＿Ｃ＿１、ＡＦ＿Ｃ＿２が得られ、それぞれの焦点位置ＡＦ＿Ｐ＿１、ＡＦ＿Ｐ＿２が検出された場合、その平均を合焦位置として補正する。
【００３８】
ＡＦ＿Ｐ＝（ＡＦ＿Ｐ＿１＋ＡＦ＿Ｐ＿２）／２
また、上述のように、複数のＡＦ用画素に対して、ＡＦ＿Ｐ＿ｎが検出されている場合には、その平均を用いると良い。
【００３９】
その他のフェーズキャンセルの方法について説明する。一般的に、フェーズの影響を受けている場合の焦点評価値ＡＦ＿Ｃは、評価値形状が合焦位置付近で乱れやすい。例えば、図５のように、焦点評価値ＡＦ＿Ｃ＿１、ＡＦ＿Ｃ＿２が得られている場合、合焦位置付近でなだらかな山形状を示さないＡＦ＿Ｃ＿２の方がフェーズの影響を受けている可能性が高く、信頼性が低いと考えられる。山形状の信頼性判定方法として考えられる方法の一例を図７を用いて説明する。
【００４０】
まず、ＡＦ＿Ｃ＿２の最大値ＥＶ２＿ｍａｘに対して半値幅を求める。半値幅ＦＷＨＭ２＿Ｌ、ＦＷＨＭ＿Ｒは、それぞれ、ＥＶ２＿ｍａｘ／２におけるフォーカスレンズ位置ＬＰとＡＦ＿Ｐ＿２の差分値である。この時、ＦＷＨＭ２＿ＬがＦＷＨＭ２＿Ｒと同量であれば、ＡＦ＿Ｃ＿２の山形状の信頼性が高いと考えられるので、変化量閾値ＳＨ２とすると、
｜ＦＷＨＭ２＿Ｌ−ＦＷＨＭ２＿Ｒ｜≦ＳＨ２
となるときに信頼性有りと判定する。ここでは、信頼性有りと判定された焦点評価値ＡＦ＿Ｃを採用して、その時のＡＦ＿Ｐを合焦位置とすることでフェーズキャンセルの効果を狙うことが出来る。図５では、ＡＦ＿Ｃ＿１が採用され、その時の焦点評価値Ｅｖが最大となるフォーカスレンズ位置ＡＦ＿Ｐ＿１が焦点検出結果となる。
【００４１】
また、以下のようにして、フェーズキャンセルの動作を行っても良い。図８を用いて、フェーズキャンセルの一例を説明する。前述したように、画像信号の読み出し方向に対して、被写体のエッジが垂直方向に入射することで、フェーズの影響は起こり易い。つまり、被写体に高周波成分が多く含まれていると、フェーズの影響を受けやすくなるので、ステップＳ５の一例では、焦点検出に用いるデジタルフィルタの帯域を低周波帯域に設定する。その変化例を図８に示した。
【００４２】
図５で、あるデジタルフィルタ帯域Ｄ１で焦点評価値が得られていた場合に、Ｄ１よりも帯域の低いＤ２で焦点評価値を取得した場合の焦点評価値変化例が、図８である。一般的に、デジタルフィルタ帯域を低帯域にすると、焦点評価値形状ＡＦ＿Ｃがなだらかな変化を示し（ＡＦ＿Ｃ＿１’，ＡＦ＿Ｃ＿２’）、その時の焦点位置（ＡＦ＿Ｐ＿１’，ＡＦ＿Ｐ＿２’）はフェーズの影響が少なくなるので、差分が小さくなる。このように、デジタルフィルタの帯域を低周波に設定すれば、フェーズの影響を低減することができるので、ステップＳ４でフェーズ影響有りと判定された場合には、低周波帯域フィルタを用いた焦点検出位置ＡＦ＿Ｐを用いると良い。この時、さらに、位相違いの焦点位置（ＡＦ＿Ｐ＿１’，ＡＦ＿Ｐ＿２’）の平均をとるようにしても良い。
【００４３】
次に、ステップＳ６では、ステップＳ５で求めたＡＦ＿Ｐの位置へフォーカスレンズ群３を駆動させて、一連の動作を終了する。
【００４４】
以上に示したように、本実施形態では、ＡＦ用画素の間引き時の位相とそれぞれの焦点評価値から、焦点位置を検出することで、高精度な焦点検出を可能にした撮像装置を提供することができる。
【００４５】
また、以上の実施形態では、被写体の合焦状態の変化を、フォーカスレンズの移動により実現したが合焦状態の変化を実現する方法については、これに限らない。例えば、フォーカスレンズではなく撮像素子を移動させることにより実現してもよい。また、光線の入射角度情報（ライトフィールド情報）を取得できる撮像装置で、再構成処理により合焦状態の変化を実現してもよい。
【００４６】
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
【００４７】
（その他の実施形態）
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。
【符号の説明】
【００４８】
１：撮像装置、２：ズームレンズ群、３：フォーカスレンズ群、４：絞り、５：撮像素子、３１：撮影レンズ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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