(57)【要約】      （修正有）【課題】目的のサンプルを含むゲル片がゲルから正しく切り出されたか否かを判定する判定装置および判定方法を提供する。【解決手段】切り出し結果判定部１５は、ゲル片切り出し後のゲル画像における切り出し領域内の画素の値の合計が所定の閾値以下であり、かつ、切り出し領域の中心を通る一本の直線と切り出し領域の端部との２つの交点に対応する、画素の値と座標との関係を示す関数上の２つの座標に画素の値の急変化が検出された場合、ゲル片が正しく切り出されたと判定する。【選択図】図１
2016109460.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
サンプルを含むゲル片が切り出された後のゲルの画像を取得する取得部と、
上記ゲルにおける上記ゲル片の切り出し位置に対応する上記画像における所定の領域内の各画素の値の合計を算出する算出部と、
上記所定の領域の中心を通る一本の直線上の各点に対応する上記画像の各座標と、当該各座標における各画素の値との関係を示す関数における、上記画素の値の急変化を検出する検出部と、
上記所定の領域内の各画素の値の合計が所定の閾値以下であり、かつ、上記直線と上記領域の端部との２つの交点に対応する上記関数上の２つの座標に上記急変化が検出された場合、上記ゲル片が正しく切り出されたと判定する判定部とを備えていることを特徴とする判定装置。
【請求項２】
上記ゲル片が切り出される前のゲルの画像を取得する第２取得部と、
上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像と上記ゲル片が切り出される前の上記ゲルの画像との各画素の値の差分を示す差分画像を生成する生成部と、
上記ゲルにおける上記ゲル片の切り出し位置に対応する上記差分画像における所定の領域内の各画素の値がいずれもゼロではなく、かつ、上記差分画像における上記所定の領域以外の他の領域内の各画素の値がいずれもゼロである場合、上記ゲル片が上記ゲルに落下しなかったと判定する第２判定部とをさらに備えていることを特徴とする請求項１に記載の判定装置。
【請求項３】
上記ゲル片が切り出される前のゲルの画像、上記ゲル片が回収される前の回収容器の画像、および上記ゲル片が回収された後の上記回収容器の画像を取得する第３取得部と、
上記ゲル片が切り出される前の上記ゲルの画像と上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像との各画素の値の差分を示すゲルの差分画像に含まれる各画素の値の合計と、上記ゲル片が回収される前の上記回収容器の画像と上記ゲル片が回収された後の上記回収容器の画像との各画素の値の差分を示す上記回収容器の差分画像に含まれる各画素の値の合計とを算出する第２算出部と、
上記ゲルの差分画像に含まれる各画素の値の合計の絶対値が、上記回収容器の差分画像に含まれる各画素の値の合計の絶対値に一致する場合、上記ゲル片の回収に成功したと判定する第３判定部とをさらに備えていることを特徴とする請求項１に記載の判定装置。
【請求項４】
上記ゲル片が切り出される前のゲルの画像を取得する第２取得部と、
上記ゲル片が切り出される前のゲルの画像における上記所定の領域に対応する領域内の各画素の値の合計に基づき、上記所定の閾値を設定する設定部をさらに備えていることを特徴とする請求項１に記載の判定装置。
【請求項５】
上記設定部は、上記ゲル片が切り出される前のゲルの画像における上記所定の領域に対応する領域内の各画素の値の合計の一定割合を、上記所定の閾値として設定することを特徴とする請求項４に記載の判定装置。
【請求項６】
サンプルを含むゲル片が切り出される前のゲルの画像および上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像を取得する取得部と、
上記ゲル片が切り出される前の上記ゲルの画像と上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像との各画素の値の差分を示す差分画像を生成する生成部と、
上記ゲルにおける上記ゲル片の切り出し位置に対応する上記差分画像における所定の領域内の各画素の値の合計がいずれもゼロではなく、かつ、上記差分画像における上記所定の領域以外の他の領域内の各画素の値がいずれもゼロである場合、切り出された上記ゲル片が上記ゲルに落下しなかったと判定する判定装置。
【請求項７】
サンプルを含むゲル片が切り出される前のゲルの画像、上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像、上記ゲル片が回収される前の回収容器の画像、および上記ゲル片が回収された後の上記回収容器の画像を取得する取得部と、
上記ゲル片が切り出される前の上記ゲルの画像と上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像との各画素の値の差分を示す上記ゲルの差分画像に含まれる各画素の値の合計と、上記ゲル片が回収される前の上記回収容器の画像と上記ゲル片が回収された後の上記回収容器の画像との各画素の値の差分を示す上記回収容器の差分画像に含まれる各画素の値の合計とを算出する算出部と、
上記ゲルの差分画像に含まれる各画素の値の合計の絶対値が、上記回収容器の差分画像に含まれる各画素の値の合計の絶対値に一致する場合、上記ゲル片の回収に成功したと判定する判定部とを備えていることを特徴とする判定装置。
【請求項８】
サンプルを含むゲル片が切り出された後のゲルの画像を取得する取得工程と、
上記ゲルにおける上記ゲル片の切り出し位置に対応する上記画像における領域内の各画素の値の合計を算出する算出工程と、
上記領域の中心を通る一本の直線上の各点に対応する上記画像の各座標と、当該各座標における各画素の値との関係を示す関数における上記画素の値の急変化を検出する検出工程と、
上記所定の領域内の上記画素の値の合計が所定の閾値以下であり、かつ、上記直線と上記領域の端部との２つの交点に対応する上記関数上の２つの座標に上記急変化が検出された場合、上記ゲル片が正しく切り出されたと判定する判定工程とを含んでいることを特徴とする判定方法。
【請求項９】
サンプルを含むゲル片が切り出される前のゲルの画像および上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像を取得する取得工程と、
上記ゲル片が切り出される前の上記ゲルの画像と上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像との各画素の値の差分を示す差分画像を生成する生成工程と、
上記ゲルにおける上記ゲル片の切り出し位置に対応する上記差分画像における所定の領域内の各画素の値がいずれもゼロではなく、かつ、上記差分画像における上記所定の領域以外の他の領域内の各画素の値がいずれもゼロである場合、切り出された上記ゲル片が上記ゲルに落下しなかったと判定する判定工程を含んでいることを特徴とする判定方法。
【請求項１０】
サンプルを含むゲル片が切り出される前のゲルの画像、上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像、上記ゲル片が回収される前の回収容器の画像、および上記ゲル片が回収された後の上記回収容器の画像を取得する取得工程と、
上記ゲル片が切り出される前の上記ゲルの画像と上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像との各画素の値の差分を示す上記ゲルの差分画像に含まれる各画素の値の合計と、上記ゲル片が回収される前の上記回収容器の画像から上記ゲル片が回収された後の上記回収容器の画像との各画素の値の差分を示す上記回収容器の差分画像に含まれる各画素の値の合計とを算出する算出工程と、
上記ゲルの差分画像に含まれる各画素の値の合計の絶対値が、上記回収容器の差分画像に含まれる各画素の値の合計の絶対値に一致する場合、上記ゲル片の回収に成功したと判定する判定工程とを含んでいることを特徴とする判定方法。
【請求項１１】
請求項１〜７のいずれか１項に記載の判定装置を動作させるプログラムであって、コンピュータを、上記判定装置が備えている上記各部として機能させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ゲルからのゲル片の切り出し結果の良否を判定する判定装置、判定方法、およびプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
ゲル電気泳動は、生体に含まれるたんぱく質または核酸などの各種のサンプルを分離するために頻繁に用いられる。ゲルにおいて分離された目的のサンプルを含むゲル片は、後に分析のためにゲルから切り出される。近年では、この切り出しを自動で行う装置が開発されている。
【０００３】
特許文献１には、切り出し器具によって切り出しの行われた支持体の領域を撮影し、この領域の撮影画像に基づき切り出し作業の良否を確認する電気泳動装置が開示されている。特許文献１によれば、この装置は、切り出し器具による支持体からの生体高分子の抽出回収作業が正常に終了したか検証する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００９−４２０３２号（２００９年２月２６日公開）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献１の装置では、切り出し作業を行った領域の蛍光発色の有無のみを確認することによって、切り出しの良否を判定する。そのため、切り出し作業の良否は判定できるが、その後の回収工程の良否を判定することはできない。
【０００６】
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものである。そして、その目的は、ゲルから切り出されたゲル片の回収工程の良否を判定できる判定装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記の課題を解決するために、本発明一態様に係る判定装置は、
サンプルを含むゲル片が切り出された後のゲルの画像を取得する取得部と、
上記ゲルにおける上記ゲル片の切り出し位置に対応する上記画像における所定の領域内の各画素の値の合計を算出する算出部と、
上記所定の領域の中心を通る一本の直線上の各点に対応する上記画像の各座標と、当該各座標における各画素の値との関係を示す関数における、上記画素の値の急変化を検出する検出部と、
上記所定の領域内の各画素の値の合計が所定の閾値以下であり、かつ、上記直線と上記領域の端部との２つの交点に対応する上記関数上の２つの座標に上記急変化が検出された場合、上記ゲル片が正しく切り出されたと判定する判定部とを備えていることを特徴としている。
【０００８】
上記の課題を解決するために、本発明の他の態様に係る判定装置は、
サンプルを含むゲル片が切り出される前のゲルの画像および上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像を取得する取得部と、
上記ゲル片が切り出される前の上記ゲルの画像と上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像との各画素の値の差分を示す差分画像を生成する生成部と、
上記ゲルにおける上記ゲル片の切り出し位置に対応する上記差分画像における所定の領域内の各画素の値の合計がいずれもゼロではなく、かつ、上記差分画像における上記領域以外の他の領域内の各画素の値がいずれもゼロである場合、切り出された上記ゲル片が上記ゲルに落下しなかったと判定することを特徴としている。
【０００９】
上記の課題を解決するために、本発明のさらに他の態様に係る判定装置は、
サンプルを含むゲル片が切り出される前のゲルの画像、上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像、上記ゲル片が回収される前の回収容器の画像、および上記ゲル片が回収された後の上記回収容器の画像を取得する取得部と、
上記ゲル片が切り出される前の上記ゲルの画像と上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像との各画素の値の差分を示す上記ゲルの差分画像に含まれる各画素の値の合計と、上記ゲル片が回収される前の上記回収容器の画像と上記ゲル片が回収された後の上記回収容器の画像との各画素の値の差分を示す上記回収容器の差分画像に含まれる各画素の値の合計とを算出する算出部と、
上記ゲルの差分画像に含まれる各画素の値の合計の絶対値が、上記回収容器の差分画像に含まれる各画素の値の合計の絶対値に一致する場合、上記ゲル片の回収に成功したと判定する判定部とを備えていることを特徴としている。
【００１０】
上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係る判定方法は、
サンプルを含むゲル片が切り出された後のゲルの画像を取得する取得工程と、
上記ゲルにおける上記ゲル片の切り出し位置に対応する上記画像における領域内の各画素の値の合計を算出する算出工程と、
上記領域の中心を通る一本の直線上の各点に対応する上記画像の各座標と、当該各座標における各画素の値との関係を示す関数における上記画素の値の急変化を検出する検出工程と、
上記所定の領域内の上記画素の値の合計が所定の閾値以下であり、かつ、上記直線と上記領域の端部との２つの交点に対応する上記関数上の２つの座標に上記急変化が検出された場合、上記ゲル片が正しく切り出されたと判定する判定工程とを含んでいることを特徴としている。
【００１１】
上記の課題を解決するために、本発明の他の態様に係る判定方法は、
サンプルを含むゲル片が切り出される前のゲルの画像および上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像を取得する取得工程と、
上記ゲル片が切り出される前の上記ゲルの画像と上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像との各画素の値の差分を示す差分画像を生成する生成工程と、
上記ゲルにおける上記ゲル片の切り出し位置に対応する上記差分画像における領域内の各画素の値がいずれもゼロではなく、かつ、上記差分画像における上記領域以外の他の領域内の各画素の値がいずれもゼロである場合、切り出された上記ゲル片が上記ゲルに落下しなかったと判定する判定工程を含んでいることを特徴としている。
【００１２】
上記の課題を解決するために、本発明のさらに他の態様に係る判定方法は、
サンプルを含むゲル片が切り出される前のゲルの画像、上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像、上記ゲル片が回収される前の回収容器の画像、および上記ゲル片が回収された後の上記回収容器の画像を取得する取得工程と、
上記ゲル片が切り出される前の上記ゲルの画像と上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像との各画素の値の差分を示す上記ゲルの差分画像に含まれる各画素の値の合計と、上記ゲル片が回収される前の上記回収容器の画像から上記ゲル片が回収された後の上記回収容器の画像との各画素の値の差分を示す上記回収容器の差分画像に含まれる各画素の値の合計とを算出する算出工程と、
上記ゲルの差分画像に含まれる各画素の値の合計の絶対値が、上記回収容器の差分画像に含まれる各画素の値の合計の絶対値に一致する場合、上記ゲル片の回収に成功したと判定する判定工程とを含んでいることを特徴としている。
【発明の効果】
【００１３】
本発明の一態様によれば、ゲルから切り出されたゲル片の回収工程の良否を判定できるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る制御用コンピュータの要部構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の第１の実施形態に係るサンプル回収装置の要部構成を示す構成図である。
【図３】本発明の第１の実施形態に係る制御用コンピュータにおけるゲル片の切り出しに成功したか否かを判定するための処理の流れを説明するフローチャートである。
【図４】本発明の第１の実施形態に係る制御用コンピュータにおけるゲル片切り出し判定の原理を説明する図である。
【図５】本発明の第１の実施形態における、切り出しに失敗したと判定される場合のゲルの画像および当該画像から算出される画素値の関数の例を示す図である。
【図６】本発明の第２の実施形態に係る制御用コンピュータの要部構成を示す図である。
【図７】本発明の第２の実施形態に係る制御用コンピュータにおけるゲル片の落下の有無を判定するための処理の流れを説明するフローチャートである。
【図８】本発明の第２の実施形態に係る制御用コンピュータにおけるゲル片落下有無の判定に用いられる各種画像の一例を示す図である。
【図９】本発明の第２の実施形態に係る制御用コンピュータにおけるゲル片落下有無の判定に用いられる各種画像の他の例を示す図である。
【図１０】本発明の第３の実施形態に係る制御用コンピュータの要部構成を示す図である。
【図１１】本発明の第３の実施形態に係る制御用コンピュータにおけるゲル片の落下の有無を判定するための処理の流れを説明するフローチャートである。
【図１２】本発明の第３の実施形態に係る制御用コンピュータにおける回収成否判定に用いられる各種ゲル画像を示す図である。
【図１３】本発明の第３の実施形態に係る制御用コンピュータにおける回収成否判定に用いられる各種回収容器画像を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
〔実施形態１〕
本発明に係る第１実施形態を図１〜図４に基づき以下に説明する。
【００１６】
（サンプル回収装置２）
まず、本実施形態に係るサンプル回収装置２について図２を参照して説明する。図２は、サンプル回収装置２の要部構成を示す構成図である。この図に示すように、サンプル回収装置２は、基台２１、カメラ２２、切り出し器具２３、Ｘ方向ガイド軸２４、Ｙ方向ガイド軸２５、Ｚ方向ガイド軸２６、Ｘ方向駆動部２７、Ｙ方向駆動部２８、およびＺ方向駆動部２９を備えている。
【００１７】
サンプル回収装置２は、ゲルにおいて電気泳動によって分離されたサンプルを回収するための装置である。ゲルの電気泳動は、サンプル回収装置２とは異なる他の装置によって行われ、サンプル回収装置２は、電気泳動が完了した後のゲルからサンプルを回収する。図２に示すように、サンプル回収装置２は、制御用コンピュータ１と通信可能に接続されている。ユーザは制御用コンピュータ１を操作することによって、サンプル回収装置２におけるサンプルの回収を制御できる。
【００１８】
基台２１の上には、ゲル３および回収容器４が配置される。ゲル３は電気泳動によってサンプルが分離された後のゲルである。ゲル３において分離されたサンプルには、たとえばタンパク質および核酸などの各種の生体分子が挙げられるが、これらに限定されない。電気泳動後のゲル３は蛍光染色される。そのため、ゲル３において分離されているサンプルは蛍光を発する。
【００１９】
回収容器４は、ゲル３から切り出されたゲル片を回収するための容器である。回収容器４は複数のウェル４１を有している。サンプル回収装置２においてゲル３から切り出された、サンプルを含むゲル片は、最終的に、回収容器４に形成されたいずれかのウェル４１内に回収される。
【００２０】
カメラ２２は、サンプル回収装置２における上方に、撮影レンズを下向きにした状態で取り付けられている。カメラ２２はゲル３を撮影することによって、ゲル３上のサンプルの分離パターンを写した画像を生成する。生成された画像は制御用コンピュータ１に転送され、ユーザは制御用コンピュータ１の画面を通じてゲル３の画像を視認できる。カメラ２２は、回収容器４を撮影することによって回収容器４の画像を生成することもできる。
【００２１】
切り出し器具２３は、目的のサンプルを含むゲル片をゲル３から切り出すための器具である。本実施形態では、切り出し器具２３は、所定の口径の先端を有する中空のパイプ形状のものである。サンプル回収装置２は、切り出し器具２３の先端をゲル３に押し付ける（接触させる）ことによって、ゲル３からゲル片を切り出す。切り出されたゲル片は、切り出し器具２３内に保持される。
【００２２】
切り出し器具２３は、基台２１の面内方向に並行でありかつ互いに直交するＸ方向およびＹ方向、ならびに面内方向に直交するＺ方向に、自在に移動できる。Ｘ方向への移動は、Ｘ方向ガイド軸２４に沿って、Ｘ方向駆動部２７によって制御される。Ｙ方向への移動は、Ｙ方向ガイド軸２５に沿って、Ｙ方向駆動部２８によって制御される。Ｚ方向への移動は、Ｚ方向ガイド軸２６に沿って、Ｚ方向駆動部２９によって制御される。
【００２３】
切り出し器具２３は、ゲル片をゲル３から切り出した後、回収容器４における指定されたウェル４１に対向する位置まで移動する。移動完了後、切り出し器具２３は、内部に保持されているゲル３を指定されたウェル４１に吐出する。これによりゲル片の回収容器４への回収が終了する。
【００２４】
切り出し器具２３からウェル４１へのゲル片の吐出は、さまざまな方法によって行われ得る。たとえば、ウェル４１内に予め液体を満たしておき、切り出し器具２３の先端をウェル４１内の液体に浸漬させ、それから切り出し器具２３を上下に移動させることによって、ゲル片をウェル４１内に吐出すればよい。または、押し出し機構を有する切り出し器具２３を用いて、内部に保持されたゲル片を押し出し機構によって先端からウェル４１内に向けて押し出すことによって、ゲル片をウェル４１に吐出してもよい。
【００２５】
（制御用コンピュータ１）
図１は、制御用コンピュータ１（判定装置）の要部構成を示すブロック図である。この図に示すように、制御用コンピュータ１は、回収制御部１１、画像取得部１２（取得部）、切り出し領域設定部１３、画素値合計算出部１４（算出部）、切り出し結果判定部１５（判定部）、直線設定部１６（設定部）、交点算出部１７、関数算出部１８、および急変化検出部１９（検出部）を備えている。
【００２６】
制御用コンピュータ１は、サンプル回収装置２におけるサンプルの回収を制御する。これに加えて、制御用コンピュータ１は、サンプル回収装置２において目的のサンプルを含むゲル片が正しくゲル３から切り出されたか否かを判定することもできる。以下に、この判定の処理の流れについて、図３および図４を参照して以下に説明する。
【００２７】
（処理の流れ）
図３は、制御用コンピュータ１におけるゲル片の切り出しに成功したか否かを判定するための処理の流れを説明するフローチャートである。図４は、制御用コンピュータ１におけるゲル片切り出し判定の原理を説明する図である。
【００２８】
図３に示すように、まず、制御用コンピュータ１はサンプル回収装置２を制御することによって、ゲル片の切り出しを実行させる（Ｓ１）。その手順は次の通りである。
【００２９】
基台２１にゲル３が配置された後、回収制御部１１は、ゲル３を撮影するようにサンプル回収装置２に指示する。この指示を受けて、サンプル回収装置２は、カメラ２２を用いてゲル３を撮影する。これにより、ゲル片が切り出される前のゲル３の画像が生成される。画像取得部１２は、この画像をサンプル回収装置２から取得する。
【００３０】
図４の（ａ）に、ゲル片が切り出される前のゲル３の画像の一例を示す。この図に示す画像には、サンプルを含むスポット３１の像が含まれる。図４の（ａ）における枠３２内の領域を拡大して図４の（ｂ）に示す。ユーザは、制御用コンピュータ１の画面に表示されるゲル３の画像における、スポット３１の像の辺り（画像内のいずれかの画素の座標）を指定する指示を、制御用コンピュータ１に入力する。これを受けて、回収制御部１１が、指定された位置におけるゲル片を切り出す旨を、サンプル回収装置２に指示する。
【００３１】
サンプル回収装置２は、この指示を受けて、ゲル片の切り出しを実行する。このとき、切り出し器具２３が、ゲル３におけるユーザの指定位置の上方まで移動し、その指定位置に対して先端を押し付けることによって、指定位置におけるゲル３のゲル片を切り出す。
【００３２】
サンプル回収装置２は、ゲル片の切り出し後、カメラ２２を用いてゲル３を撮影することによって、ゲル片が切り出された後のゲル３を示すゲル画像３３を生成する。画像取得部１２は、ゲル画像３３をサンプル回収装置２から取得する（Ｓ２）。
【００３３】
図４の（ｃ）に、ゲル画像３３の一例を示す。なお、実際には、図４の（ｃ）にはゲル画像３３の全体ではなく、ゲル画像３３における、図４の（ｂ）に示す拡大部分に対応する箇所の拡大部分を示す。図４の（ｂ）と（ｃ）とを比較すると分かるように、切り出し後のゲル３ではスポット３１が存在していた領域からサンプルが切り出されているので、ゲル画像３３ではスポット３１が存在していた領域を写した箇所が白くなっている。
【００３４】
Ｓ２の後、切り出し領域設定部１３が、ゲル画像３３に対して、ゲル片切り出し前のゲル３の画像においてユーザが指定した切り出し位置に対応する位置３４を中心とする切り出し領域３５（所定の領域）を設定する（Ｓ３）。切り出し領域３５の大きさは、切り出し器具２３の先端の口径に対応する大きさに対応していればよいが、必ずしもこれに限定されない。本実施形態では先端が円形であるため、切り出し領域３５も図４の（ｄ）に示すように円形であるが、必ずしもこれに限定されない。切り出し器具２３の先端の口径を示すデータは、予め制御用コンピュータ１に用意されている。
【００３５】
次に、画素値合計算出部１４が、ゲル画像３３における切り出し領域３５内の各画素の値の合計を算出する（Ｓ４）。切り出し結果判定部１５は、算出された画素値の合計が、所定の閾値以下であるか否かを判定する（Ｓ５）。
【００３６】
所定の閾値は、制御用コンピュータ１において予め設定されている。制御用コンピュータ１は、次のようにして閾値を設定できる。まず切り出し領域設定部１３が、ゲル片が切り出される前のゲル３の画像に、切り出し領域３５に対応する領域を設定する。この領域の位置および大きさは、ゲル画像３３に設定される切り出し領域３５の位置および大きさと同じである。次に画素値合計算出部１４が、切り出し前のゲル３の画像に設定された領域内に各画素の値の合計を算出する。
【００３７】
この画素値の合計は、ゲル３から切り出される前のゲル片に含まれるサンプルの蛍光強度値の合計を表す。そこで制御用コンピュータ１に備えられる図示しない閾値設定部は、この画素値の合計に基づき所定の閾値を設定する。これにより、適切な閾値を設定することができる。たとえば閾値設定部は、切り出し前のゲル３の画像に設定された領域内の画素の値の合計の一定割合（たとえば１０％）を、所定の閾値として設定する。
【００３８】
ゲル３からのゲル片の切り出しに成功した場合、ゲル画像３３における切り出し領域３５には、ゲル３におけるサンプルが切り取られた後の箇所が映し出されている。この箇所には蛍光を発する物質がほとんど含まれていないため、切り出し領域３５内の画素の値の合計には蛍光強度値がほとんど反映されない。そのため、切り出し領域３５内の画素の値の合計は非常に小さくなる。
【００３９】
一方、ゲル３からのゲル片の切り出しに失敗した場合、ゲル画像３３に設定される切り出し領域３５には、ゲル３に残されたサンプルが映し出されている。すなわち、切り出し領域３５内の画素の値の合計には、残されたサンプルの蛍光強度値の合計が反映されている。そのため、切り出し領域３５内の画素の値の合計は非常に大きくなる。
【００４０】
そこで切り出し結果判定部１５は、Ｓ５がＮｏの場合、すなわち、切り出し領域３５内の画素の値の合計が所定の閾値を超える場合、サンプルを含むゲル片の切り出しに失敗したと判定する（Ｓ６）。これにより、図３に示す一連の処理は終了する。
【００４１】
一方、Ｓ５がＹｅｓの場合、切り出し結果判定部１５は、その旨を直線設定部１６に通知する。これを受けて、直線設定部１６は、図４の（ｅ）に示すように、切り出し領域３５の中心３４を通る一本の直線３６を、ゲル画像３３に設定する（Ｓ７）。
【００４２】
次に、関数算出部１８が、設定された直線３６における、切り出し領域３５の端部との２つの交点を算出する（Ｓ８）。また、関数算出部１８は、設定された直線３５上の各点に対応するゲル画像３３内の各座標を算出する（Ｓ９）。関数算出部１８は、算出した各座標における各画素の値を、ゲル画像３３から抽出する（Ｓ１０）。関数算出部１８は、算出した座標と抽出した画素値との関係を示す関数（曲線）３７を算出する（Ｓ１１）。
【００４３】
図４の（ｅ）のグラフにおける横軸は、関数３７の座標を示し、縦軸は関数３７の画素値を示す。このグラフの横軸に示す各座標は、ゲル画像３３における直線３６上の各点に対応する各座標に一致する。したがって、関数３７の各座標における画素値は、ゲル画像３３における直線３６上の各点に対応する各座標の画素値に一致する。
【００４４】
関数算出部１８は、算出した２つの交点および関数３７を、急変化検出部１９に出力する。急変化検出部１９は、関数３７における、画素値の急変化を少なくとも１つ検出し、検出結果を切り出し結果判定部１５に出力する。
【００４５】
急変化検出部１９による急変化検出の一例を以下に説明する。急変化検出部１９は、まず、次に示す数式（１）を用いることによって、関数３７における各画素値の２次微分値を算出する。
【００４６】
Ｌ（ｘ）＝２×ｆ（ｘ）−ｆ（ｘ−１）−ｆ（ｘ＋１）・・・式（１）
ここで、ｘは、関数３７における座標を表す。Ｌ（ｘ）は、座標ｘにおける画素の値の
２次微分値を表す。ｆ（ｘ）は、関数３７の座標ｘにおける画素値を示す。ｆ（ｘ−１）は、関数３７の座標ｘ−１における画素値を示す。ｆ（ｘ＋１）は、関数３７の座標ｘ＋１における画素値を示す。
【００４７】
急変化検出部１９は、各座標と、算出した各２次微分値との関係を示す２次微分関数を算出する。算出される２次微分関数を図４の（ｆ）に示す。図４の（ｆ）のグラフにおける横軸は、２次微分関数の座標を示し、縦軸は２次微分関数の２次微分値を示す。このグラフの横軸に示す各座標は、ゲル画像３３における直線３６上の各点に対応する各座標に一致する。
【００４８】
次に急変化検出部１９は、図４の（ｆ）に示すグラフにおけるピーク位置を検出する。具体的には、図４の（ｆ）に示すグラフにおけるある座標の２次微分値が、その座標の両隣の２次微分値よりも大きい場合、当該ある座標をピーク位置として検出する。図４の（ｆ）では、３つのピーク位置Ｐ１〜Ｐ３が検出される。急変化検出部１９は、検出した３つのピーク位置が、関数３７における急変化の出現位置であることを決定する。したがって急変化検出部１９は、ピーク位置Ｐ１〜Ｐ３に対応する３つの座標に、関数３７の画素値の急変化を検出する。図４の（ｆ）の例では、ピーク位置Ｐ２およびＰ３が、直線３６と切り出し領域３５の端部との２つの交点にそれぞれ対応する関数３７上の２つの座標に一致する。
【００４９】
切り出し結果判定部１５は、直線３６と切り出し領域３５の端部との２つの交点にそれぞれ対応する関数３７上の２つの座標に、画素値の急変化が検出されたか否かを判定する（Ｓ１３）。
【００５０】
Ｓ１３がＮｏであることは、ゲル画像３３における、切り出し領域３５と直線３６との２つの交点にそれぞれ対応する２つの座標に、画素値の急変化が存在しないことに相当する。これは、ゲル片の切り出しによって、切り出し後のゲル３における切り出し領域３６に対応する箇所の周囲に、蛍光をほとんど発しない領域が存在する結果になったことを意味する。このような結果となったのは、ゲル片の切り出し時に、目的のサンプルが含まれるスポット自体とそのスポットの周囲に広がるスポットのないゲル部分とを大きく含むゲル片が、ゲル３から切り出されたからである。
【００５１】
その原因としては、２つの可能性が挙げられる。１つめは、ユーザはスポットよりも小さい正しい口径の先端を有する切り出し器具２３を選択してサンプル回収装置２に取り付けたが、ゲル片の切り出し時に、先端口径よりも広い範囲からゲル片が誤って切り出された可能性である。この場合、スポットと、その周囲のスポットのないゲル部分とを含む広範囲にゲル片が切り出される。２つめは、ユーザが目的のスポットよりも大きい口径の先端を有する切り出し器具２３を誤って選択してサンプル回収装置２に取り付けた可能性である。この場合、先端口径に一致する大きさのゲル片が正しく切り取られたとしても、ゲル片には、スポットに含まれる目的のサンプルに加えて、その周囲のスポットがないゲル部分も含まれている。
【００５２】
いずれの場合も、切り出されたゲル片の大きさは、ユーザが必要としていた本来の大きさよりも大きくなっている。また、切り出されたゲル片には、目的のサンプルの他に、スポット外のゲル部分に含まれる他のサンプルが混入している恐れがある。このような、目的のサンプルの純度が低いゲル片を後の分析に用いた場合、誤った分析結果が得られる可能性が高い。
【００５３】
そこで切り出し結果判定部１５は、Ｓ１３がＮｏの場合、不適切な大きさのゲル片がゲル３から切り出されたと判定する（Ｓ１４）。言い換えると、目的のサンプルを含むゲル片はゲル３から確かに切り出されたが、切り出されたゲル片の大きさが、ユーザが必要としていた本来の大きさとは異なっていたと判定する。
【００５４】
一方、Ｓ１３がＹｅｓであることは、ゲル画像３３における、切り出し領域３４と直線３５との２つの交点にそれぞれ対応する２つの座標に、画素値の急変化が存在することに相当する。これは、ゲル片の切り出しによって、切り出し後のゲル３における切り出し領域に対応する箇所の周囲に、蛍光を強く発する領域が存在する結果になったことを意味する。このような結果となったのは、ゲル片の切り出し時に、切り出し器具２３の先端が目的のスポットの内部領域に押し当てられたことによって、スポットの内部領域の一部のみがゲル片としてゲル３から切り出されたからである。この場合、切り出されたゲル片の大きさは、ゲル片に含まれるサンプルの大きさにほぼ一致する。すなわち、ゲル片を構成する成分の大半は、スポットに含まれる目的のサンプルである。このような目的のサンプルの純度が高いゲル片を後の分析に用いた場合、正しい分析結果が得られる可能性が高い。
【００５５】
そこで切り出し結果判定部１５は、Ｓ１３がＹｅｓの場合、サンプルを含むゲル片の切り出しに成功したと判定する（Ｓ１５）。言い換えると、サンプルを含むゲル片はゲル３から確かに切り出され、かつ、切り出されたゲル片の大きさが、ユーザが必要としていた本来の大きさと一致していたと判定する。
【００５６】
以上のように、制御用コンピュータ１は、目的のサンプルを含むゲル片がゲル３から正しく切り出されたか否かを判定できる。
【００５７】
（ゲル片切り出し失敗例）
図５は、ゲル片の切り出しに失敗したと判定される場合のゲルの画像および当該画像から算出される画素値の関数の例を示す図である。図５の（ａ）〜（ｄ）における上側にゲル片切り出し処理後のゲル画像を示し、下側に、対応するゲル画像から算出された画素値の関数を示す。
【００５８】
図５の（ａ）に示す例では、切り出し器具２３がゲル３に接触していないので、ゲル３が切れていない。この場合、切り出し領域３５内の画素の値の合計は所定の閾値よりも大きい。さらに、直線３６との切り出し領域３５の端部との２つの交点にそれぞれ対応する関数３７上の２つの座標に、画素値の急変化が検出されない。したがってＳ５がＮｏになるので、制御用コンピュータ１はゲル片の切り出しに失敗したと判定する。
【００５９】
図５の（ｂ）に示す例では、切り出し器具２３がゲル３に接触した結果、いったんゲル片を切り出すことはできたが、切り出し直後にゲル片がゲル３に落下している。すなわち切れたゲル片が、ほぼ元の位置に残っている。また、ゲル３には、切り出し器具２３の先端に対応する円形の切れ跡が形成され、その切れ後の一部を覆うようにゲル片がゲル３に落下している。この切れ跡にはサンプルが含まれない。この場合、直線３６と切り出し領域３５の端部との２つの交点にそれぞれ対応する関数３７上の２つの座標に、切れ跡を表す画素値の急変化が検出される。しかし、切り出し領域６４内の画素の値の合計が所定の閾値よりも大きい。したがってＳ５がＮｏになるので、制御用コンピュータ１はゲル片の切り出しに失敗したと判定する。
【００６０】
図５の（ｃ）に示す例では、切り出し器具２３がゲル３に接触した結果、ゲル３は切れたが、ゲル片を切り出し器具２３内に取り入れることができていない。すなわち切れたゲル片が元の位置に残っている。また、ゲル３には、切り出し器具２３の先端形状に対応する円形の切れ跡が形成される。この切れ跡にはサンプルが含まれない。この場合、直線３６と切り出し領域３５の端部との２つの交点にそれぞれ対応する関数３７上の２つの座標に、切れ跡を表す画素値の急変化が検出される。しかし、切り出し領域６４内の画素の値の合計が所定の閾値よりも大きい。したがってＳ５がＮｏになるので、制御用コンピュータ１はゲル片の切り出しに失敗したと判定する。
【００６１】
図５の（ｄ）に示す例では、切り出し器具２３の先端口径よりも広い範囲のゲル片が、ゲル３が切り出されている。この場合、切り出し領域６４内の画素の値の合計は所定の閾値よりも小さい。一方、直線３６と切り出し領域３５の端部との２つの交点にそれぞれ対応する関数３７上の２つの座標に、画素値の急変化は検出されない。したがってＳ５はＹｅｓになるが、Ｓ１３がＮｏになるので、制御用コンピュータ１は不適切な大きさのゲル片が切り出されたと判定する。
【００６２】
〔実施形態２〕
本発明に係る第２実施形態を図６〜図９に基づき以下に説明する。
【００６３】
本実施形態では、サンプル回収装置２の構成は実施形態１のそれと同一であるが、制御用コンピュータ１ａ（判定装置）の構成は制御用コンピュータ１と異なる。図６は、本実施形態に係る制御用コンピュータ１ａの要部構成を示す図である。この図に示すように、制御用コンピュータ１ａは、回収制御部５１、画像取得部５２（取得部、第２取得部）、減算ゲル画像生成部５３（生成部）、切り出し領域設定部５４、切り出し結果判定部５５（判定部、第２判定部）、および落下判定部５６（判定部、第２判定部）を備えている。回収制御部５１および画像取得部５２における処理は、回収制御部１１および画像取得部１２と同一である。
【００６４】
本実施形態に係る制御用コンピュータ１ａは、ゲル３から切り出されたゲル片が回収容器４に回収される前にゲル３に落下した否かを正しく判定する。この判定の詳細について、図７〜図９を参照して以下に説明する。
【００６５】
（処理の流れ）
図７は、制御用コンピュータ１ａにおけるゲル片の落下の有無を判定するための処理の流れを説明するフローチャートである。図８は、制御用コンピュータ１ａにおけるゲル片落下有無の判定に用いられる各種画像の一例を示す図である。図９は、制御用コンピュータ１ａにおけるゲル片落下有無の判定に用いられる各種画像の他の例を示す図である。
【００６６】
基台２１にゲル３が配置された後、回収制御部５１は、ゲル片を切り出する前のゲル３を撮影する旨をサンプル回収装置２に指示する。この指示を受けて、サンプル回収装置２は、ゲル片の切り出しを実行する前にカメラ２２を用いてゲル３を撮影することによって、図８の（ａ）に示すゲル画像６１を生成する。画像取得部５２は、ゲル画像６１をサンプル回収装置２から取得する（Ｓ２１）。
【００６７】
Ｓ２１の後、回収制御部５１が、ゲル３からのゲル片の切り出しをサンプル回収装置２に指示し、これを受けてサンプル回収装置２は、ゲル３からゲル片を切り出す（Ｓ２２）。ゲル片の切り出しが完了すると、回収制御部５１は、ゲル片切り出し後のゲル３の画像の撮影をサンプル回収装置２に指示する。これを受けて、サンプル回収装置２は、ゲル片の切り出しを実行した後にカメラ２２を用いてゲル３を撮影することによって、図８の（ｂ）に示すゲル画像６２を生成する。画像取得部５２は、ゲル画像６２をサンプル回収装置２から取得する（Ｓ２３）。
【００６８】
画像取得部５２は、サンプル回収装置２から取得した２つのゲル画像６１および６２を、いずれも減算ゲル画像生成部５３に出力する。減算ゲル画像生成部５３は、ゲル画像６２からゲル画像６１を減算することによって減算ゲル画像６３を生成する（Ｓ２４）。ここでいう減算とは、ゲル画像６２に含まれる各座標の画素値から、ゲル画像６１に含まれる同じ座標の画素値を減算することを意味する。Ｓ２４の後、切り出し領域設定部５４が、減算ゲル画像６３に対して、ゲル片切り出し前のゲル３の画像においてユーザが指定した切り出し位置に対応する位置を中心する切り出し領域６４（所定の領域）を設定する（Ｓ２５）。
【００６９】
Ｓ２５の後、切り出し結果判定部５５が、切り出し領域６４に含まれる各画素の値が、いずれもゼロよりも小さいか否かを判定する（Ｓ２６）。Ｓ２６がＮｏの場合、切り出し結果判定部５５はサンプルの切り出しに失敗したと判定し、図７の処理は終了する。一方、Ｓ２６がＹｅｓの場合、切り出し結果判定部５５はその旨を落下判定部５６に通知する。これを受けて、落下判定部５６が、減算ゲル画像６３における切り出し領域６４以外の各領域内の画素の値がいずれもゼロであるか否かを判定する（Ｓ２８）。Ｓ２８がＮｏなら、落下判定部５６は、切り出されたゲル片がゲル３に落下したと判定する。一方、Ｓ２８がＹｅｓなら、落下判定部５６は、切り出されたゲル片がゲル３に落下しなかったと判定する（Ｓ３０）。
【００７０】
（切り出し結果判定の正確性）
目的のサンプルを含むゲル片のゲル３からの切り出しに成功した場合、切り出し領域６４内の各画素の値はゼロよりも小さくなる。一方、失敗した場合、切り出し領域６４内の各画素の値はゼロになる。その理由は次の通りである。
【００７１】
ゲル片が切り出される前、ゲル３における切り出し領域６４に対応する箇所にはサンプルが存在する。したがって、ゲル画像６１における切り出し領域６４内の各画素の値には、切り出される前のサンプルの蛍光強度値が反映される。この結果、ゲル画像６１における切り出し領域６４内の各画素の値は、いずれも一定値以上のプラスの値となる。
【００７２】
一方、ゲル片が切り出された後では、ゲル３における切り出し領域６４に対応する箇所にサンプルが存在しない。したがって、ゲル画像６２における切り出し領域６４に含まれる各画素の値には、サンプルの蛍光強度値が反映されない。この結果、ゲル画像６２における切り出し領域６４内の各画素の値は、いずれもゼロに近い小さな値になる。
【００７３】
これらのことから、減算ゲル画像６３における切り出し領域６４内の各画素の値は、いずれも、ゼロに近い値から一定値以上のプラスの値を減算することによって得られるマイナスの値となる。
【００７４】
一方、ゲル片の切り出しに失敗した場合、切り出し処理が完了した後において、ゲル３における切り出し領域６４に対応する箇所にはサンプルが存在する。したがって、ゲル画像６２における切り出し領域６４に含まれる各画素には、切り出されなかったサンプルの蛍光強度値が反映される。この結果、ゲル画像６２における切り出し領域６４内の各画素の値は、いずれも、ゲル画像６１における切り出し領域６４内の対応する各画素の値と同じになる。これらのことから、減算ゲル画像６３における切り出し領域６４内の各画素の値は、いずれもゼロの値となる。
【００７５】
以上のように、制御用コンピュータ１ａはゲル片が切り出されたか否かを正確に判定できる。
【００７６】
（落下判定の正確性）
目的のサンプルを含みかつゲル３から切り出されたゲル片が、回収容器４に回収される前にゲル３に落下した場合、減算ゲル画像６３における切り出し領域６４以外の他の領域内に、ゼロよりも大きい値を有する画素が存在する。一方、ゲル片がゲル３に落下しなかった場合、減算ゲル画像６３における切り出し領域６４以外の他の領域内の各画素の値は、いずれもゼロになる。その理由は次の通りである。
【００７７】
切り出されたゲル片がゲル３に落下しなかった場合、ゲル片の切り出し前後において、ゲル３における切り出し領域６４以外の他の領域に対応する箇所には何の変化もない。そのため、ゲル画像６１における切り出し領域６４以外の他の領域内の各画素の値と、ゲル画像６２における切り出し領域６４以外の他の領域内の対応する各画素の値とは同じである。この結果、減算ゲル画像６３における切り出し領域６４以外の他の領域内の各画素の値は、いずれもある値からそれと同じ値を減算することによって得られるので、いずれもゼロになる。
【００７８】
切り出されたゲル片がゲル３に落下した場合、ゲル３におけるゲル片の落下位置には、落下したゲル片に含まれるサンプルが存在する。たとえば図９の（ｂ）に示すゲル画像６２は、落下したゲル片に含まれるサンプル６５の像を含んでいる。そのため、減算ゲル画像６３における切り出し領域６４以外の他の領域に含まれる、落下したゲル片に対応する領域６６内の各画素の値には、当該ゲル片に含まれるサンプル６５の蛍光強度値が反映される。その結果、ゲル画像６２における領域６６内の各画素の値は、ゲル画像６１における領域６６に対応する領域内の対応する各画素の値よりも大きくなる。したがって、減算ゲル画像６３における領域６６内の各画素の値は、いずれも、ある値からそれよりも小さい値を減算することによって得られるので、いずれもゼロよりも大きい値となる。すなわち、減算ゲル画像６３における領域６４以外の他の領域には、ゼロよりも大きい値を有する画素が存在する。
【００７９】
以上のように、減算ゲル画像６３における切り出し領域６４内の各画素の値がいずれもゼロよりも小さいことは、ゲル画像における切り出し領域６４内の各画素の値が、ゲル片の切り出し後よりも切り出し前の方が大きいことに相当する。これは、切り出し前のゲル３において切り出し器具２３の先端が接触した位置に存在したサンプルが、切り出し後のゲル３における同じ位置には存在しないこと、すなわち、サンプルを含むゲル片がゲル３から切り出されたことを意味する。
【００８０】
一方、減算ゲル画像６３における切り出し領域６４以外の他の領域内の各画素の値がいずれもゼロであることは、ゲル画像６１およびゲル画像６２における切り出し領域６４以外の他の領域内の各画素の値が、ゲル片の切り出し前後において変化していないことに相当する。これは、ゲル３における他の領域に対応する箇所において変化がなかったこと、すなわち、ゲル片がゲル３に落下しなかったことを意味する。したがって制御用コンピュータ１ａは、ゲル３から切り出されたゲル片がゲル３に落下したか否かを正しく判定できる。
【００８１】
なお、上述したように、減算ゲル画像６３における領域６６は、ゲル３に落下したゲル片を表している。そこで制御用コンピュータ１ａは、ゲル片切り出し後のゲル画像６２を表示する際に、ゲル画像６２における領域６６と同じ位置の領域を識別表示することによって、ゲル３におけるゲル片の落下位置をユーザに提示してもよい。
【００８２】
本実施形態では、減算ゲル画像生成部５３は、ゲル画像６１とゲル画像６２との各画素の差分を示す差分画像を生成すればよい。この場合、落下判定部５５は、当該差分画像における切り出し領域６４内の各画素の値がいずれもゼロではなく、かつ、当該差分画像における切り出し領域６４以外の他の領域内の各画素の値がいずれもゼロである場合、ゲル片がゲル３ゲルに落下しなかったと判定すればよい。
【００８３】
したがって、減算ゲル画像生成部５３は、Ｓ２４において、ゲル画像６１からゲル画像６２を減算することによって減算ゲル画像６３を生成してもよい。ここでいう減算とは、ゲル画像６１に含まれる各座標の画素値から、ゲル画像６２に含まれる同じ座標の画素値を減算することを意味する。この場合、切り出し結果判定部５５は、Ｓ２６において、切り出し領域６４に含まれる各画素の値が、いずれもゼロよりも大きいか否かを判定し、判定結果がＹｅｓであれば、切り出し結果判定部５５はその旨を落下判定部５６に通知する。
【００８４】
〔実施形態３〕
本発明に係る第３実施形態を図１０〜図１３に基づき以下に説明する。
【００８５】
本実施形態では、サンプル回収装置２の構成は実施形態１のそれと同一であるが、制御用コンピュータ１ｂ（判定装置）の構成は制御用コンピュータ１と異なる。図１０は、本実施形態に係る制御用コンピュータ１ｂの要部構成を示す図である。この図に示すように、制御用コンピュータ１ｂは、回収制御部７１、画像取得部７２（取得部、第３取得部）、減算ゲル画像生成部７３（生成部）、減算回収容器生成部７４（生成部）、画素値合計算出部７５（算出部、第２算出部）、および回収結果判定部７６（判定部、第３判定部）を備えている。回収制御部７１および画像取得部７２における処理は、回収制御部１１および画像取得部１２と同一である。
【００８６】
本実施形態に係る制御用コンピュータ１ｂは、ゲル３から切り出されたゲル片が回収容器４に正常に回収されたか否かを判定する。この判定の詳細について、図１１〜図１３を参照して以下に説明する。
【００８７】
（処理の流れ）
図１１は、制御用コンピュータ１ｂにおけるゲル片の落下の有無を判定するための処理の流れを説明するフローチャートである。図１２は、制御用コンピュータ１ｂにおける回収成否判定に用いられる各種のゲル画像を示す図である。図１３は、制御用コンピュータ１ｂにおける回収成否判定に用いられる各種の回収容器画像を示す図である。
【００８８】
基台２１にゲル３が配置された後、回収制御部７１は、ゲル片が切り出される前のゲル３およびゲル片が回収される前の回収容器４をそれぞれ撮影すえるようにサンプル回収装置２に指示する。この指示を受けて、サンプル回収装置２は、ゲル片の切り出しを実行する前にカメラ２２を用いてゲル３を撮影することによって、図１２の（ａ）に示すゲル画像８１を生成する。画像取得部７２は、ゲル画像８１をサンプル回収装置２から取得する（Ｓ４１）。また、サンプル回収装置２は、ゲル片の切り出しを実行する前にカメラ２２を用いて回収容器４を撮影することによって、図１３の（ａ）に示す回収容器画像８５を生成する。画像取得部７２は、回収容器画像８５をサンプル回収装置２から取得する（Ｓ４２）。
【００８９】
Ｓ４２の後、回収制御部７１が、ゲル３からのゲル片の切り出しをサンプル回収装置２に指示し、これを受けてサンプル回収装置２は、ゲル３からゲル片を切り出す（Ｓ４３）。ゲル片の切り出し処理が完了すると、回収制御部７１は、ゲル片切り出し後のゲル３の撮影をサンプル回収装置２に指示する。これを受けてサンプル回収装置２は、ゲル片の切り出しを実行した後にカメラ２２を用いてゲル３を撮影することによって、図１２の（ｂ）に示すゲル画像８２を生成する。画像取得部７２は、ゲル画像８２をサンプル回収装置２から取得する（Ｓ４４）。
【００９０】
Ｓ４４の後、回収制御部７１が、切り出されたゲル片の回収容器４への回収をサンプル回収装置２に指示し、これを受けてサンプル回収装置２は、ゲル片を回収容器４に回収する（Ｓ４５）。ゲル片の回収処理が完了すると、回収制御部７１は、ゲル片回収後の回収容器４の撮影をサンプル回収装置２に指示する。これを受けてサンプル回収装置２は、ゲル片の回収を実行した後にカメラ２２を用いて回収容器４を撮影することによって、図１３の（ｂ）に示す回収容器画像８６を生成する。画像取得部７２は、回収容器画像８６をサンプル回収装置２から取得する（Ｓ４６）。
【００９１】
Ｓ４６の後、減算ゲル画像生成部７３が、ゲル画像８１からゲル画像８２を減算することによって、図１２の（ｃ）に示す減算ゲル画像８３を生成する（Ｓ４７）。ここでいう減算とは、ゲル画像８１に含まれる各座標の画素値から、ゲル画像８２に含まれる同じ座標の画素値を減算することを意味する。Ｓ４７の後、画素値合計算出部７５が、減算ゲル画像８３に含まれる各画素の値の合計（Ａ）を算出する（Ｓ４８）。
【００９２】
Ｓ４８の後、減算回収容器生成部７４が、回収容器画像８６から回収容器画像８５を減算することによって、図１３の（ｃ）に示す減算回収容器画像８７を生成する（Ｓ４９）。ここでいう減算とは、回収容器画像８６に含まれる各座標の画素値から、回収容器画像８５に含まれる同じ座標の画素値を減算することを意味する。Ｓ４９の後、画素値合計算出部７５が、減算回収容器画像８７に含まれる各画素の値の合計（Ｂ）を算出する（Ｓ５０）。
【００９３】
Ｓ５０の後、回収結果判定部７６が、画素値の合計（Ａ）が画素値の合計（Ｂ）に一致するか否かを判定する（Ｓ５１）。Ｓ５１がＮｏの場合、回収結果判定部７６は、回収容器４へのゲル片の回収に失敗したと判定する（Ｓ５２）。一方、Ｓ５１がＹｅｓの場合、回収結果判定部７６は、回収容器４へのゲル片の回収に成功したと判定する（Ｓ５３）。
【００９４】
（ゲル片回収成否判定の正確性）
切り出されたゲル片が回収容器４に回収された場合、画素値の合計（Ａ）は画素値の合計（Ｂ）に一致する。一方、回収されなかった場合、画素値の合計（Ａ）は画素値の合計（Ｂ）に一致しない。その理由は次の通りである。なお、以下の説明は、ゲル片がゲル３に落下しなかったことを前提としている。
【００９５】
ゲル片が切り出される前、ゲル３における切り出し領域８４に対応する箇所にはサンプルが存在する。一方、ゲル片が切り出された後、ゲル３における切り出し領域８４に対応する箇所にはサンプルが存在しない。これらのことから、減算ゲル画像８３における切り出し領域８４内の各画素の値は、いずれも、サンプルの蛍光強度値に対応する画素値から、ゼロに近い画素値を減算することによって得られるプラスの値となる。
【００９６】
また、ゲル片が切り出される前後において、ゲル３における切り出し領域８４に対応する箇所以外の他の箇所には変化がない。したがって、減算ゲル画像８３における切り出し領域８４以外の他の領域内の各画素の値は、いずれも、ある値からそれと同じ値を減算することによって得られるゼロの値となる。
【００９７】
したがって、減算ゲル画像８３から算出された画素値の合計（Ａ）は、切り出し領域８４内の画素の値の合計に等しい。このことは、画素値の合計（Ａ）が、切り出されたゲル片に含まれるサンプルの蛍光強度値の合計に対応していることを意味する。
【００９８】
ゲル片が回収される前、回収容器４にはサンプルを含むゲル片が存在しない。一方、ゲル片が回収された後、回収容器４にはサンプルを含むゲル片が存在する。これらのことから、減算回収容器画像８７におけるゲル片の回収位置に対応する領域８８内の各画素の値は、いずれも、サンプルの蛍光強度値に対応する画素値から、ゼロに近い画素値を減算することによって得られるプラスの値となる。
【００９９】
また、ゲル片が回収される前後において、回収容器４におけるゲル片の回収位置以外の箇所には変化がない。したがって、減算回収容器画像８７におけるゲル片の回収位置に対応する領域８８以外の他の領域内の各画素の値は、いずれも、ある値からそれと同じ値を減算することによって得られるゼロの値となる。
【０１００】
したがって、減算回収容器画像８７から算出された画素値の合計（Ｂ）は、ゲル片の回収位置に対応する領域内８８の画素の値の合計に等しい。このことは、画素値の合計（Ｂ）が、ゲル３から切り出されかつ回収容器４に回収されたゲル片に含まれるサンプルの蛍光強度値に対応していることを意味する。
【０１０１】
以上のように、画素値の合計（Ａ）が画素値の合計（Ｂ）に一致することは、ゲル３から切り出されたゲル片に含まれるサンプルの蛍光強度値が、回収容器４に回収されたゲル片に含まれるサンプルの蛍光強度値に一致することに等しい。すなわち、画素値の合計（Ａ）が画素値の合計（Ｂ）に一致することは、ゲル３から切り出されたゲル片が回収容器４に正常に回収されたことを意味する。したがって制御用コンピュータ１ｂは、ゲル片が回収容器４に正常に回収されたか否かを判定できる。
【０１０２】
本実施形態では、減算ゲル画像生成部７３は、ゲル画像８１とゲル画像８２との各画素の値の差分を示すゲルの差分画像を生成すればよい。また、減算回収容器生成部７４は、回収容器画像８５と回収容器画像８６との各画素の値の差分を示す回収容器の差分画像を生成すればよい。これらの場合、回収結果判定部７６は、ゲルの差分画像に含まれる各画素の値の合計の絶対値が、回収容器の差分画像に含まれる各画素の値の合計の絶対値に一致する場合、ゲル片の回収に成功したと判定すればよい。
【０１０３】
したがって、減算ゲル画像生成部７３は、Ｓ４７において、ゲル画像８２からゲル画像８１を減算することによって、減算ゲル画像８３を生成してもよい。ここでいう減算とは、ゲル画像８２に含まれる各座標の画素値から、ゲル画像８１に含まれる同じ座標の画素値を減算することを意味する。この場合、Ｓ４９において、減算回収容器生成部７４は、回収容器画像８６から回収容器画像８５を減算することによって減算回収容器画像８７を生成する。ここでいう減算とは、回収容器画像８５に含まれる各座標の画素値から、回収容器画像８６に含まれる同じ座標の画素値を減算することを意味する。
【０１０４】
また、回収結果判定部７６は、ゲルの差分画像に含まれる各画素の値の合計の符号と、、回収容器の差分画像に含まれる各画素の値の合計の符号とが一致しない場合、符号がマイナスである方の合計の絶対値を算出すればよい。この場合、回収結果判定部７６は、符号がマイナスである方の合計の絶対値と、符号がプラスである方の合計とを比較することによって、両者が一致すれば、ゲル片の回収に成功したと判定すればよい。
【０１０５】
一方、回収結果判定部７６は、ゲルの差分画像に含まれる各画素の値の合計の符号と、、回収容器の差分画像に含まれる各画素の値の合計の符号とが一致する場合、それぞれの合計の絶対値を算出することなく、両合計同士を直接比較することによって、両者が一致する場合に、ゲル片の回収に成功したと判定すればよい。
【０１０６】
〔ソフトウェアによる実現例〕
図２に示す制御用コンピュータ１の各機能ブロック、図６に示す制御用コンピュータ１ａの各機能ブロック、および図１０に示す制御用コンピュータ１ｂの各機能ブロックは、集積回路（ＩＣチップ）等に形成された論理回路（ハードウェア）によって実現してもよいし、ＣＰＵ（Central Processing Unit）を用いてソフトウェアによって実現してもよい。
【０１０７】
後者の場合、制御用コンピュータ１、１ａ、および１ｂは、各機能を実現するソフトウェアであるプログラムの命令を実行するＣＰＵ、上記プログラムおよび各種データがコンピュータ（又はＣＰＵ）で読み取り可能に記録されたＲＯＭ（Read Only Memory）または記憶装置（これらを「記録媒体」と称する）、上記プログラムを展開するＲＡＭ（Random Access Memory）等を備えている。そして、コンピュータ（又はＣＰＵ）が上記プログラムを上記記録媒体から読み取って実行することにより、本発明の目的が達成される。
【０１０８】
上記記録媒体としては、「一時的でない有形の媒体」、たとえば、テープ、ディスク、カード、半導体メモリ、プログラマブルな論理回路等を用いることができる。また、上記プログラムは、該プログラムを伝送可能な任意の伝送媒体（通信ネットワークや放送波等）を介して上記コンピュータに供給されてもよい。なお、本発明は、上記プログラムが電子的な伝送によって具現化された、搬送波に埋め込まれたデータ信号の形態でも実現され得る。
【０１０９】
〔付記事項〕
本発明の態様１に係る判定装置は、
サンプルを含むゲル片が切り出された後のゲルの画像を取得する取得部と、
上記ゲルにおける上記ゲル片の切り出し位置に対応する上記画像における所定の領域内の各画素の値の合計を算出する算出部と、
上記所定の領域の中心を通る一本の直線上の各点に対応する上記画像の各座標と、当該各座標における各画素の値との関係を示す関数における、上記画素の値の急変化を検出する検出部と、
上記所定の領域内の各画素の値の合計が所定の閾値以下であり、かつ、上記直線と上記領域の端部との２つの交点に対応する上記関数上の２つの座標に上記急変化が検出された場合、上記ゲル片が正しく切り出されたと判定する判定部とを備えていることを特徴としている。
【０１１０】
電気泳動後のゲルは蛍光染色されるので、ゲルにおいて分離されているサンプルは蛍光を発する。そのため、ゲルの画像における各画素の値は、ゲルにおける各画素に対応する箇所の蛍光の強度を表している。
【０１１１】
ここで、ゲル片切り出し後の画像における所定の領域内の各画素の合計が所定の閾値以下であることは、ゲルの画像における所定の領域内の各画素の値が、ゲル片の切り出し後よりも切り出し前の方が大きいことに相当する。これは、切り出し前のゲルにおける切り出し位置に存在したサンプルが、切り出し後のゲルにおける同じ位置には存在しないこと、すなわち、サンプルを含むゲル片が切り出されたことを意味する。
【０１１２】
一方、ゲル片切り出し後の画像に設定された直線と、所定の領域の端部との２つの交点に対応する関数上の２つの座標に、急変化が検出されることは、蛍光を発する領域に隣接して、蛍光をほとんど発しない領域が存在する結果となったことを意味する。このような結果となったのは、ゲル片の切り出し時に、サンプルを含むスポットの内部領域のみがゲル片としてゲルから切り出されたことを意味する。この場合、切り出されたゲル片の大きさは、ゲル片に含まれるサンプルの大きさにほぼ一致する。これは、ユーザが本来求めている正しい大きさのゲル片である。
【０１１３】
したがって、上記の構成によれば、態様１の判定装置は、目的のサンプルを含むゲル片がゲルから正しく切り出されたか否かを判定できる。言い換えると、ゲルから切り出されたゲル片の回収工程の良否を判定できる。
【０１１４】
本発明の態様２に係る判定装置は、上記態様１において、
上記ゲル片が切り出される前のゲルの画像を取得する第２取得部と、
上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像と上記ゲル片が切り出される前の上記ゲルの画像との各画素の値の差分を示す差分画像を生成する生成部と、
上記ゲルにおける上記ゲル片の切り出し位置に対応する上記差分画像における所定の領域内の各画素の値がいずれもゼロではなく、かつ、上記差分画像における上記所定の領域以外の他の領域内の各画素の値がいずれもゼロである場合、上記ゲル片が上記ゲルに落下しなかったと判定する第２判定部とをさらに備えていることを特徴としている。
【０１１５】
差分画像における所定の領域内の各画素の値がいずれもゼロではないことは、ゲルの画像における所定の領域内の各画素の値が、ゲル片の切り出し前後で変化していることに相当する。これは、切り出し前のゲルにおいて切り出し位置に存在したサンプルが、切り出し後のゲルにおける同じ位置には存在しないこと、すなわち、サンプルが切り出されたことを意味する。
【０１１６】
一方、差分画像における所定の領域以外の他の領域内の各画素の値がいずれもゼロであることは、ゲルの画像における所定の領域以外の他の領域内の各画素の値が、ゲル片の切り出し前後において変化していないことに相当する。これは、ゲルにおける他の領域に対応する箇所において変化がなかったこと、すなわち、ゲル片がゲルに落下しなかったことを意味する。
【０１１７】
したがって、上記の構成によれば、態様２に係る判定装置は、切り出されたゲル片が回収前にゲルに落下したか否かを正しく判定できる。言い換えると、ゲルから切り出されたゲル片の回収工程の良否を判定できる。
【０１１８】
本発明の態様３に係る判定装置は、上記態様１において、
上記ゲル片が切り出される前のゲルの画像、上記ゲル片が回収される前の回収容器の画像、および上記ゲル片が回収された後の上記回収容器の画像を取得する第３取得部と、
上記ゲル片が切り出される前の上記ゲルの画像と上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像との各画素の値の差分を示すゲルの差分画像に含まれる各画素の値の合計と、上記ゲル片が回収される前の上記回収容器の画像と上記ゲル片が回収された後の上記回収容器の画像との各画素の値の差分を示す上記回収容器の差分画像に含まれる各画素の値の合計とを算出する第２算出部と、
上記ゲルの差分画像に含まれる各画素の値の合計の絶対値が、上記回収容器の差分画像に含まれる各画素の値の合計の絶対値に一致する場合、上記ゲル片の回収に成功したと判定する第３判定部とをさらに備えていることを特徴としている。
【０１１９】
差分ゲル画像における、ゲル片の切り出し前後でゲルに変化がなかった各位置に対応する各画素の値は、いずれもゼロである。一方、ゲルに変化のあった各位置（すなわちゲル片の切り出し箇所内の各位置）に対応する各画素の値は、いずれも、切り出し前にその位置に存在したサンプルの蛍光強度値に対応するプラスまたはマイナスの値である。したがって、差分ゲル画像に含まれる画素の値の合計の絶対値は、ゲルから切り出されたゲル片に含まれるサンプルの蛍光強度値の合計を表している。
【０１２０】
差分回収容器画像における、ゲル片の回収前後で回収容器に変化がなかった各位置に対応する各画素の値は、いずれもゼロである。一方、回収容器に変化のあった各位置（すなわち回収されたゲル片が占める領域内の各位置）に対応する各画素の値は、いずれも、回収後にその位置に存在するサンプルの蛍光強度値に対応したプラスまたはマイナスの値である。したがって、差分ゲル画像に含まれる画素の値の合計の絶対値は、回収容器に回収されたゲル片に含まれるサンプルの蛍光強度値の合計を表している。
【０１２１】
以上のように、差分ゲル画像に含まれる各画素の値の合計の絶対値が、差分回収容器に含まれる各画素の値の合計の絶対値に一致することは、ゲルから切り出されたゲル片に含まれるサンプルの蛍光強度値が、回収容器に回収されたゲル片に含まれるサンプルの蛍光強度値に一致することを意味する。言い換えれば、このことは、ゲルから切り出されたゲル片が回収容器に正常に回収されたことを意味する。
【０１２２】
したがって、上記の構成によれば、態様３に係る判定装置は、ゲル片が回収容器に正常に回収されたか否かを判定できる。言い換えると、ゲルから切り出されたゲル片の回収工程の良否を判定できる。
【０１２３】
本発明の態様４に係る判定装置は、上記態様１において、
上記ゲル片が切り出される前のゲルの画像を取得する第２取得部と、
上記ゲル片が切り出される前のゲルの画像における上記所定の領域に対応する領域内の各画素の値の合計に基づき、上記所定の閾値を設定する設定部をさらに備えていることを特徴としている。
【０１２４】
上記の構成によれば、適切な閾値を設定することができるという効果を奏する。
【０１２５】
本発明の態様５に係る判定装置は、上記態様４において、上記設定部は、上記ゲル片が切り出される前のゲルの画像における上記所定の領域に対応する領域内の各画素の値の合計の一定割合を、所定の閾値として設定することを特徴としている。
【０１２６】
本発明の態様６に係る判定装置は、
サンプルを含むゲル片が切り出される前のゲルの画像および上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像を取得する取得部と、
上記ゲル片が切り出される前の上記ゲルの画像と上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像との各画素の値の差分を示す差分画像を生成する生成部と、
上記ゲルにおける上記ゲル片の切り出し位置に対応する上記差分画像における所定の領域内の各画素の値の合計がいずれもゼロではなく、かつ、上記差分画像における上記所定の領域以外の他の領域内の各画素の値がいずれもゼロである場合、切り出された上記ゲル片が上記ゲルに落下しなかったと判定することを特徴としている。
【０１２７】
差分画像における所定の領域内の各画素の値がいずれもゼロではないことは、ゲルの画像における所定の領域内の各画素の値が、ゲル片の切り出し前後で変化していることに相当する。これは、切り出し前のゲルにおいて切り出し位置に存在したサンプルが、切り出し後のゲルにおける同じ位置には存在しないこと、すなわち、サンプルが切り出されたことを意味する。
【０１２８】
一方、差分画像における所定の領域以外の他の領域内の各画素の値がいずれもゼロであることは、ゲルの画像における所定の領域以外の他の領域内の各画素の値が、ゲル片の切り出し前後において変化していないことに相当する。これは、ゲルにおける他の領域に対応する箇所において変化がなかったこと、すなわち、ゲル片がゲルに落下しなかったことを意味する。
【０１２９】
したがって、上記の構成によれば、態様６に係る判定装置は、切り出されたゲル片が回収前にゲルに落下したか否かを正しく判定できる。言い換えると、ゲルから切り出されたゲル片の回収工程の良否を判定できる。
【０１３０】
本発明の態様７に係る判定装置は、
サンプルを含むゲル片が切り出される前のゲルの画像、上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像、上記ゲル片が回収される前の回収容器の画像、および上記ゲル片が回収された後の上記回収容器の画像を取得する取得部と、
上記ゲル片が切り出される前の上記ゲルの画像と上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像との各画素の値の差分を示す上記ゲルの差分画像に含まれる各画素の値の合計と、上記ゲル片が回収される前の上記回収容器の画像と上記ゲル片が回収された後の上記回収容器の画像との各画素の値の差分を示す上記回収容器の差分画像に含まれる各画素の値の合計とを算出する算出部と、
上記ゲルの差分画像に含まれる各画素の値の合計の絶対値が、上記回収容器の差分画像に含まれる各画素の値の合計の絶対値に一致する場合、上記ゲル片の回収に成功したと判定する判定部とを備えていることを特徴としている。
【０１３１】
差分ゲル画像における、ゲル片の切り出し前後でゲルに変化がなかった各位置に対応する各画素の値は、いずれもゼロである。一方、ゲルに変化のあった各位置（すなわちゲル片の切り出し箇所内の各位置）に対応する各画素の値は、いずれも、切り出し前にその位置に存在したサンプルの蛍光強度値に対応するプラスまたはマイナスの値である。したがって、差分ゲル画像に含まれる画素の値の合計の絶対値は、ゲルから切り出されたゲル片に含まれるサンプルの蛍光強度値の合計を表している。
【０１３２】
差分回収容器画像における、ゲル片の回収前後で回収容器に変化がなかった各位置に対応する各画素の値は、いずれもゼロである。一方、回収容器に変化のあった各位置（すなわち回収されたゲル片が占める領域内の各位置）に対応する各画素の値は、いずれも、回収後にその位置に存在するサンプルの蛍光強度値に対応したプラスまたはマイナスの値である。したがって、差分ゲル画像に含まれる画素の値の合計の絶対値は、回収容器に回収されたゲル片に含まれるサンプルの蛍光強度値の合計を表している。
【０１３３】
以上のように、差分ゲル画像に含まれる各画素の値の合計の絶対値が、差分回収容器に含まれる各画素の値の合計の絶対値に一致することは、ゲルから切り出されたゲル片に含まれるサンプルの蛍光強度値が、回収容器に回収されたゲル片に含まれるサンプルの蛍光強度値に一致することを意味する。言い換えれば、このことは、ゲルから切り出されたゲル片が回収容器に正常に回収されたことを意味する。
【０１３４】
したがって、上記の構成によれば、態様３に係る判定装置は、ゲル片が回収容器に正常に回収されたか否かを判定できる。言い換えると、ゲルから切り出されたゲル片の回収工程の良否を判定できる。
【０１３５】
本発明の第８の態様に係る判定方法は、
サンプルを含むゲル片が切り出された後のゲルの画像を取得する取得工程と、
上記ゲルにおける上記ゲル片の切り出し位置に対応する上記画像における所定の領域内の各画素の値の合計を算出する算出工程と、
上記所定の領域の中心を通る一本の直線上の各点に対応する上記画像の各座標と、当該各座標における各画素の値との関係を示す関数における上記画素の値の急変化を検出する検出工程と、
上記所定の領域内の上記画素の値の合計が所定の閾値以下であり、かつ、上記直線と上記領域の端部との２つの交点に対応する上記関数上の２つの座標に上記急変化が検出された場合、上記ゲル片が正しく切り出されたと判定する判定工程とを含んでいることを特徴としている。
【０１３６】
上記の構成によれば、上述した第１の態様に係る判定装置と同様の作用効果を奏する。
【０１３７】
本発明の第９の態様に係る判定方法は、
サンプルを含むゲル片が切り出される前のゲルの画像および上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像を取得する取得工程と、
上記ゲル片が切り出される前の上記ゲルの画像と上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像との各画素の値の差分を示す差分画像を生成する生成工程と、
上記ゲルにおける上記ゲル片の切り出し位置に対応する上記差分画像における領域内の各画素の値がいずれもゼロではなく、かつ、上記差分画像における上記領域以外の他の領域内の各画素の値がいずれもゼロである場合、切り出された上記ゲル片が上記ゲルに落下しなかったと判定する判定工程を含んでいることを特徴としている。
【０１３８】
上記の構成によれば、上述した第６の態様に係る判定装置と同様の作用効果を奏する。
【０１３９】
本発明の第１０の態様に係る判定方法は、
サンプルを含むゲル片が切り出される前のゲルの画像、上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像、上記ゲル片が回収される前の回収容器の画像、および上記ゲル片が回収された後の上記回収容器の画像を取得する取得工程と、
上記ゲル片が切り出される前の上記ゲルの画像と上記ゲル片が切り出された後の上記ゲルの画像との各画素の値の差分を示す上記ゲルの差分画像に含まれる各画素の値の合計と、上記ゲル片が回収される前の上記回収容器の画像から上記ゲル片が回収された後の上記回収容器の画像との各画素の値の差分を示す上記回収容器の差分画像に含まれる各画素の値の合計とを算出する算出工程と、
上記ゲルの差分画像に含まれる各画素の値の合計の絶対値が、上記回収容器の差分画像に含まれる各画素の値の合計の絶対値に一致する場合、上記ゲル片の回収に成功したと判定する判定工程とを含んでいることを特徴としている。
【０１４０】
上記の構成によれば、上述した第７の態様に係る判定装置と同様の作用効果を奏する。
【０１４１】
本発明の各態様に係る判定装置は、コンピュータによって実現してもよく、この場合には、コンピュータを上記判定装置が備える各部（ソフトウェア要素に限る）として動作させることにより上記判定装置をコンピュータにて実現させる判定装置のプログラム、およびそれを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体も、本発明の範疇に入る。
【０１４２】
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。さらに、各実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を組み合わせることにより、新しい技術的特徴を形成できる。
【産業上の利用可能性】
【０１４３】
本発明は、サンプル回収装置を制御するための制御用コンピュータとして幅広く利用できる。
【符号の説明】
【０１４４】
１  制御用コンピュータ（判定装置）
１ａ  制御用コンピュータ（判定装置）
１ｂ  制御用コンピュータ（判定装置）
２  サンプル回収装置
３  ゲル
４  回収容器
１１  回収制御部
１２  画像取得部（取得部）
１３  切り出し領域設定部
１４  画素値合計算出部（算出部）
１５  切り出し結果判定部（判定部）
１６  直線設定部
１７  交点算出部
１８  関数算出部（算出部）
１９  急変化検出部（検出部）
５１  回収制御部
５２  画像取得部（取得部、第２取得部）
５３  減算ゲル画像生成部（生成部）
５４  切り出し領域設定部
５５  切り出し結果判定部
５６  落下判定部（判定部、第２判定部）
７１  回収制御部
７２  画像取得部（取得部、第３取得部）
７３  減算ゲル画像生成部
７４  減算回収容器生成部
７５  画素値合計算出部（算出部、第２算出部）
７６  回収結果判定部（判定部、第３判定部）
【図１】
2016109460.tif 000003
【図２】
2016109460.tif 000004
【図３】
2016109460.tif 000005
【図６】
2016109460.tif 000006
【図７】
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【図１０】
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【図１１】
2016109460.tif 000009
【図４】
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【図５】
2016109460.tif 000011
【図８】
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【図９】
2016109460.tif 000013
【図１２】
2016109460.tif 000014
【図１３】
2016109460.tif 000015