(57)【要約】【課題】外部に設けられたドライバＩＣと電気的に接続される表示パネルを備える表示装置において、表示パネルの検査を確実に行うことができる表示装置を提供する。【解決手段】複数のデータ線及びゲート線と、それぞれがデータ線又はゲート線に接続された複数の検査用トランジスタと、表示パネルの検査中に検査用トランジスタをオン状態又はオフ状態にする制御信号を入力するための制御信号入力用パッドと、表示動作中に複数の検査用トランジスタをオフ状態に固定するオフ電圧を入力するためのオフ電圧入力用端子と、が設けられた表示パネルと、表示パネルの外部に設けられたゲートドライバＩＣと、ゲートドライバＩＣが電気的に接続されたゲートドライバ用外部回路基板と、オフ電圧入力用端子にオフ電圧を入力するためのオフ電圧入力配線と、を含み、オフ電圧入力配線は、ゲートドライバ用外部回路基板を介して、オフ電圧入力用端子に電気的に接続されている。【選択図】図３
2016218243.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のデータ線と、複数のゲート線と、それぞれが前記データ線又は前記ゲート線に接続された複数の検査用トランジスタと、当該表示パネルの検査中に前記検査用トランジスタをオン状態又はオフ状態にする制御信号を入力するための制御信号入力用パッドと、表示動作中に前記複数の検査用トランジスタをオフ状態に固定するオフ電圧を入力するためのオフ電圧入力用端子と、が設けられた表示パネルと、
前記表示パネルの外部に設けられたゲートドライバＩＣと、
前記ゲートドライバＩＣが電気的に接続されたゲートドライバ用外部回路基板と、
前記オフ電圧入力用端子に前記オフ電圧を入力するためのオフ電圧入力配線と、
を含み、
前記オフ電圧入力配線は、前記ゲートドライバ用外部回路基板を介して、前記オフ電圧入力用端子に電気的に接続されている、
ことを特徴とする表示装置。
【請求項２】
前記ゲートドライバＩＣが搭載されるフィルムをさらに含み、
前記表示パネルと前記ゲートドライバ用外部回路基板とは、前記フィルムを介して互いに電気的に接続されている、
ことを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記オフ電圧入力配線は、さらに、前記フィルムを介して、前記オフ電圧入力用端子に電気的に接続されている、
ことを特徴とする請求項２に記載の表示装置。
【請求項４】
前記表示パネルには、さらに、
一端が前記オフ電圧入力用端子に電気的に接続され、他端が前記制御信号入力用パッドに電気的に接続されたオフ電圧伝送配線と、
一端が前記制御信号入力用パッドに電気的に接続され、他端が前記複数の検査用トランジスタのそれぞれの制御電極に電気的に接続された検査用制御信号供給配線と、
が設けられている、
ことを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項５】
前記オフ電圧伝送配線と前記検査用制御信号供給配線とは、互いに同一層に形成されている、
ことを特徴とする請求項４に記載の表示装置。
【請求項６】
前記オフ電圧伝送配線は、前記表示パネルの最外縁側に沿って配置されている、
ことを特徴とする請求項４に記載の表示装置。
【請求項７】
平面的見て、前記オフ電圧伝送配線は、他の配線に重ならないように配置されている、
ことを特徴とする請求項４に記載の表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、表示パネルの周縁部に配置された複数個のゲートドライバＩＣやソースドライバＩＣを実装するための実装方式として、ＴＣＰ（Tape Carrier Package：テープキャリアパッケージ）方式やＣＯＦ（Chip On Film：チップオンフィルム）方式が採用されている。ＴＣＰ方式やＣＯＦ方式では、例えば、外部に設けられたドライバＩＣが、外部回路基板やフィルム等を介して表示パネルに電気的に接続される。
【０００３】
また従来、外部回路基板が接続される表示パネルにおいて、ゲート線やデータ線等の配線の欠陥を検出するための検査方法が提案されている（例えば特許文献１参照）。
【０００４】
特許文献１には、外部回路基板を接続するための接続用パッドと、接続用パッドが配される側とは反対側に配される検査用パッドとを有する表示パネルが開示されている。上記表示パネルでは、検査用パッドに検査用プローブの先端を押圧し電気的に接触させて配線の導通を検査することにより表示パネルの欠陥を検出する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１０−１３９９６２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、近年、表示パネルは、高精細化、小型化等に伴い、隣り合う配線の間隔が狭くなっている。このような表示パネルに上記従来の構成を採用すると、検査用プローブが隣り合う配線に同時に接触してしまい、正確な検査ができないという問題が生じる。
【０００７】
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、外部に設けられたドライバＩＣと電気的に接続される表示パネルを備える表示装置において、表示パネルの検査を確実に行うことができる表示装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明に係る表示装置は、複数のデータ線と、複数のゲート線と、それぞれが前記データ線又は前記ゲート線に接続された複数の検査用トランジスタと、当該表示パネルの検査中に前記検査用トランジスタをオン状態又はオフ状態にする制御信号を入力するための制御信号入力用パッドと、表示動作中に前記複数の検査用トランジスタをオフ状態に固定するオフ電圧を入力するためのオフ電圧入力用端子と、が設けられた表示パネルと、前記表示パネルの外部に設けられたゲートドライバＩＣと、前記ゲートドライバＩＣが電気的に接続されたゲートドライバ用外部回路基板と、前記オフ電圧入力用端子に前記オフ電圧を入力するためのオフ電圧入力配線と、を含み、前記オフ電圧入力配線は、前記ゲートドライバ用外部回路基板を介して、前記オフ電圧入力用端子に電気的に接続されている、ことを特徴とする。
【０００９】
本発明に係る表示装置では、前記ゲートドライバＩＣが搭載されるフィルムをさらに含み、前記表示パネルと前記ゲートドライバ用外部回路基板とは、前記フィルムを介して互いに電気的に接続されていてもよい。
【００１０】
本発明に係る表示装置では、前記オフ電圧入力配線は、さらに、前記フィルムを介して、前記オフ電圧入力用端子に電気的に接続されていてもよい。
【００１１】
本発明に係る表示装置では、前記表示パネルには、さらに、一端が前記オフ電圧入力用端子に電気的に接続され、他端が前記制御信号入力用パッドに電気的に接続されたオフ電圧伝送配線と、一端が前記制御信号入力用パッドに電気的に接続され、他端が前記複数の検査用トランジスタのそれぞれの制御電極に電気的に接続された検査用制御信号供給配線と、が設けられていてもよい。
【００１２】
本発明に係る表示装置では、前記オフ電圧伝送配線と前記検査用制御信号供給配線とは、互いに同一層に形成されていてもよい。
【００１３】
本発明に係る表示装置では、前記オフ電圧伝送配線は、前記表示パネルの最外縁側に沿って配置されていてもよい。
【００１４】
本発明に係る表示装置では、平面的見て、前記オフ電圧伝送配線は、他の配線に重ならないように配置されていてもよい。
【発明の効果】
【００１５】
本発明に係る表示装置によれば、外部に設けられたドライバＩＣと電気的に接続される表示パネルを備える表示装置において、表示パネルの検査を確実に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本実施形態に係る液晶表示装置の概略構成を示す平面図である。
【図２】本実施形態に係る表示パネルの概略構成を示す平面図である。
【図３】本実施形態に係る表示パネルの詳細な構成を示す平面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
本発明の一実施形態について、図面を用いて以下に説明する。本発明の実施形態では、表示装置として、液晶表示装置を例に挙げるが、本発明はこれに限定されず、例えば有機ＥＬ表示装置等であってもよい。また、本発明の実施形態では、ＣＯＦ方式の液晶表示装置を例に挙げるが、これに限定されず、例えばＴＣＰ方式の液晶表示装置であってもよい。すなわち、本実施形態に係る液晶表示装置は、表示パネルの外部に設けられたドライバＩＣ（ソースドライバＩＣ、ゲートドライバＩＣ等）が、外部回路基板やフィルムに搭載され、外部回路基板及びフィルムの少なくとも何れかを介して、表示パネルに電気的に接続される構成を有している。
【００１８】
図１は、本実施形態に係る液晶表示装置の概略構成を示す平面図である。液晶表示装置１００は、表示パネル１０、ソースドライバＩＣ３０ａ，３０ｂ，３０ｃ，３０ｄ、ソースドライバ用ＣＯＦ３１ａ，３１ｂ，３１ｃ，３１ｄ、ゲートドライバＩＣ４０ａ，４０ｂ，４０ｃ、ゲートドライバ用ＣＯＦ４１ａ，４１ｂ，４１ｃ、ソースドライバ用外部回路基板５０、ゲートドライバ用外部回路基板６０、及び、バックライト装置（図示せず）を含んで構成されている。ソースドライバＩＣ３０ａはソースドライバ用ＣＯＦ３１ａに搭載され、ソースドライバＩＣ３０ｂはソースドライバ用ＣＯＦ３１ｂに搭載され、ソースドライバＩＣ３０ｃはソースドライバ用ＣＯＦ３１ｃに搭載され、ソースドライバＩＣ３０ｄはソースドライバ用ＣＯＦ３１ｄに搭載されている。ゲートドライバＩＣ４０ａはゲートドライバ用ＣＯＦ４１ａに搭載され、ゲートドライバＩＣ４０ｂはゲートドライバ用ＣＯＦ４１ｂに搭載され、ゲートドライバＩＣ４０ｃはゲートドライバ用ＣＯＦ４１ｃに搭載されている。ソースドライバＩＣ３０及びゲートドライバＩＣ４０の個数は限定されない。また、図１では、ソースドライバＩＣ３０及びゲートドライバＩＣ４０は、それぞれ、表示パネル１０の異なる２辺に沿って個別に一列に並んで配置されているが、ソースドライバＩＣ３０及びゲートドライバＩＣ４０は、１辺に並んで配置されていてもよい。表示パネル１０は、表示領域１０ａと、表示領域１０ａの周囲の額縁領域とを含んでいる。図示はしないが、ソースドライバ用外部回路基板５０又はゲートドライバ用外部回路基板６０に、ソースドライバＩＣ３０及びゲートドライバＩＣ４０の動作を制御するタイミングコントローラが搭載されてもよい。
【００１９】
表示パネル１０とソースドライバ用外部回路基板５０とは、ソースドライバ用ＣＯＦを介して互いに電気的に接続されており、表示パネル１０とゲートドライバ用外部回路基板６０とは、ゲートドライバ用ＣＯＦを介して互いに電気的に接続されている。
【００２０】
表示パネル１０の周縁部（図１では、表示パネル１０の左上端部）には、検査用信号入力パッド２４が設けられている。検査用信号入力パッド２４には、検査用機器が接続される。また、検査用信号入力パッド２４には、ゲートオフ電圧入力配線３５（オフ電圧入力配線）が電気的に接続されている。ゲートオフ電圧入力配線３５は、ゲートドライバ用外部回路基板６０及びゲートドライバ用ＣＯＦ４１ａに配置されている。検査用信号入力パッド２４には、ゲートオフ電圧入力配線３５を介して、ゲートオフ電圧Ｖｏｆｆが入力される。検査用信号入力パッド２４及びゲートオフ電圧入力配線３５の詳細については後述する。
【００２１】
図２は、表示パネル１０の概略構成を示す平面図である。表示パネル１０には、列方向に延在する複数のデータ線１１と、行方向に延在する複数のゲート線１２とが設けられている。各データ線１１と各ゲート線１２との各交差部には、薄膜トランジスタ１３（ＴＦＴ）が設けられている。各データ線１１はソースドライバＩＣ３０に電気的に接続されている。各ゲート線１２はゲートドライバＩＣ４０に電気的に接続されている。
【００２２】
表示パネル１０には、各データ線１１と各ゲート線１２との各交差部に対応して、複数の画素１４がマトリクス状（行方向及び列方向）に配置されている。なお、図示はしないが、表示パネル１０は、薄膜トランジスタ基板（ＴＦＴ基板）と、カラーフィルタ基板（ＣＦ基板）と、両基板間に挟持された液晶層とを含んでいる。ＴＦＴ基板には、各画素１４に対応して、複数の画素電極１５が設けられている。ＣＦ基板には、各画素１４に共通する共通電極１６が設けられている。なお、共通電極１６はＴＦＴ基板に設けられてもよい。
【００２３】
各データ線１１には、対応するソースドライバＩＣ３０からデータ信号（データ電圧）が供給される。各ゲート線１２には、対応するゲートドライバＩＣ４０からゲート信号（ゲート電圧）が供給される。共通電極１６には、共通配線９を介して共通電圧Ｖｃｏｍが供給される。ゲート信号のオン電圧（ゲートオン電圧）がゲート線１２に供給されると、ゲート線１２に接続された薄膜トランジスタ１３がオンし、薄膜トランジスタ１３に接続されたデータ線１１を介して、データ電圧が画素電極１５に供給される。画素電極１５に供給されたデータ電圧と、共通電極１６に供給された共通電圧Ｖｃｏｍとの差により電界が生じる。この電界により液晶を駆動してバックライトの光の透過率を制御することによって画像表示を行う。なお、カラー表示を行う場合は、ストライプ状のカラーフィルタで形成された赤色、緑色、青色に対応するそれぞれの画素１４の画素電極１５に接続されたそれぞれのデータ線１１に、所望のデータ電圧を供給することにより実現される。
【００２４】
図３は、表示パネル１０の詳細な構成を示す平面図である。表示パネル１０の額縁領域の周縁部（図３では、表示パネル１０の左端部）には、各ゲート線１２の一端が接続される端子Ｇ１〜Ｇｍと、各データ線１１の一端が接続される端子Ｄ１〜Ｄｎと、共通電極１６に共通電圧Ｖｃｏｍを供給する共通配線９の一端が接続される端子Ｖｃｏｍとが配置されている。
【００２５】
液晶表示装置１００は、表示パネル１０における欠陥、例えばデータ線１１やゲート線１２等の配線の断線等を検出するための構成を備えている。以下、この構成の詳細について説明する。
【００２６】
表示パネル１０には、導通電極（ソース／ドレイン電極）がゲート線１２に接続される複数の検査用トランジスタ１７と、導通電極（ソース／ドレイン電極）がデータ線１１に接続される複数の検査用トランジスタ１８と、各検査用トランジスタ１７，１８のオン／オフを制御する検査用制御信号を制御電極（ゲート電極）に供給する検査用制御信号供給配線１９と、偶数行の検査用トランジスタ１７の導通電極に検査用ゲート信号ＧＥ（ゲートオン電圧、ゲートオフ電圧）を供給する検査用ゲート信号供給配線２１と、奇数行の検査用トランジスタ１７の導通電極に検査用ゲート信号ＧＯ（ゲートオン電圧、ゲートオフ電圧）を供給する検査用ゲート信号供給配線２２と、検査用トランジスタ１８の導通電極に検査用データ信号ＤＲ１，ＤＧ１，ＤＢ１，ＤＲ２，ＤＧ２，ＤＢ２を供給する複数（ここでは６本）の検査用データ信号供給配線２３と、が設けられている。検査用トランジスタ１７は、各ゲート線１２に対して１個ずつ接続されており、検査用トランジスタ１８は、各データ線１１に対して１個ずつ接続されている。また、表示パネル１０の額縁領域の周縁部（図３では、表示パネル１０の左上端部）には、外部から表示パネル１０にゲートオフ電圧Ｖｏｆｆを入力するための端子Ｖｏｆｆ（オフ電圧入力用端子）が設けられている。端子Ｖｏｆｆは、表示パネル１０の一辺において、端子Ｇ１〜Ｇｍと一列に並んで配置されている。
【００２７】
全ての検査用トランジスタ１７，１８の制御電極は、一本の検査用制御信号供給配線１９に接続され、検査用制御信号供給配線１９は、表示パネル１０の周縁部に配置される制御信号入力用パッドＴＲに接続されている。検査用制御信号が外部から制御信号入力用パッドＴＲを介して検査用制御信号供給配線１９に供給されると、検査用トランジスタ１７，１８は一斉にオン又はオフする。検査用ゲート信号供給配線２１は、表示パネル１０の周縁部に配置されるゲート信号入力用パッドＧＥに接続され、検査用ゲート信号供給配線２２は、表示パネル１０の周縁部に配置されるゲート信号入力用パッドＧＯに接続されている。検査用ゲート信号供給配線２１は、偶数行の複数の検査用トランジスタ１７を介して偶数行の複数のゲート線１２に接続され、検査用ゲート信号供給配線２２は、奇数行の複数の検査用トランジスタ１７を介して奇数行の複数のゲート線１２に接続されている。検査用トランジスタ１７がオンし、検査用ゲート信号が外部からゲート信号入力用パッドＧＥを介して検査用ゲート信号供給配線２１に供給されると、検査用ゲート信号は、偶数行の検査用トランジスタ１７を介して偶数行の複数のゲート線１２に供給される。また、検査用トランジスタ１７がオンし、検査用ゲート信号が外部からゲート信号入力用パッドＧＯを介して検査用ゲート信号供給配線２２に供給されると、検査用ゲート信号は、奇数行の検査用トランジスタ１７を介して奇数行の複数のゲート線１２に供給される。
【００２８】
複数の検査用データ信号供給配線２３は、それぞれ、表示パネル１０の周縁部に配置されるデータ信号入力用パッドＤＲ１，ＤＧ１，ＤＢ１，ＤＲ２，ＤＧ２，ＤＢ２に接続されている。例えば、検査用トランジスタ１８がオンし、Ｒ（赤色）画素用の検査用データ信号が外部からデータ信号入力用パッドＤＲ１を介して検査用データ信号供給配線２３に供給されると、Ｒ画素用の検査用データ信号は、データ信号入力用パッドＤＲ１に接続される検査用データ信号供給配線２３及び検査用トランジスタ１８を介して、対応する複数のデータ線１１に供給される。また、検査用トランジスタ１８がオンし、Ｇ（緑色）画素用の検査用データ信号が外部からデータ信号入力用パッドＤＧ１を介して検査用データ信号供給配線２３に供給されると、Ｇ画素用の検査用データ信号は、データ信号入力用パッドＤＧ１に接続される検査用データ信号供給配線２３及び検査用トランジスタ１８を介して、対応する複数のデータ線１１に供給される。同様にして、各色画素用の検査用データ信号が、対応するデータ線１１に供給される。なお、図３の例では、複数のデータ線１１は、６本おきに同一の検査用データ信号供給配線２３に接続されている。
【００２９】
上記各パッドは、検査用信号入力パッド２４に含まれ、検査用信号入力パッド２４は、表示パネル１０の周縁部（図３では、表示パネル１０の左上端部）に配置されている。検査用信号入力パッド２４には、検査用機器が接続され、検査用機器から各種検査用信号が入力される。
【００３０】
表示パネル１０の検査を行う場合、例えば、表示パネル１０の製造工程に含まれる検査工程において、検査用機器を検査用信号入力パッド２４に接続し、各種検査用信号を、検査用信号入力パッド２４を介して各検査用信号供給配線に供給する。具体的には、検査用機器は、検査用トランジスタ１７，１８のオン及びオフを制御する検査用制御信号を検査用制御信号供給配線１９に供給し、検査用ゲート信号ＧＥを検査用ゲート信号供給配線２１に供給し、検査用ゲート信号ＧＯを検査用ゲート信号供給配線２２に供給し、検査用データ信号ＤＲ１，ＤＧ１，ＤＢ１，ＤＲ２，ＤＧ２，ＤＢ２を複数の検査用データ信号供給配線２３のそれぞれに供給する。
【００３１】
上記検査工程が終了すると、検査用機器は検査用信号入力パッド２４から切り離される。表示パネル１０から検査用機器が切り離されると、検査用トランジスタ１７，１８は、電気的にフローティングの状態になる。このため、製品として使用中（表示動作中）に、例えば表示動作に起因して検査用トランジスタ１７，１８がオン状態になり、画素電位が変動して表示の不具合を引き起こすおそれがある。このような表示の不具合を防止するためには、製品時（表示動作中）において、フローティング状態の検査用トランジスタ１７，１８を確実にオフ状態に固定することが必要である。この点、本実施形態における液晶表示装置１００は、製品時に検査用トランジスタ１７，１８をオフ状態に確実に固定する構成を有している。
【００３２】
具体的には、表示パネル１０には、検査用トランジスタ１７，１８をオフする制御信号（ゲートオフ電圧）を供給するゲートオフ電圧伝送配線２０（オフ電圧伝送配線）が設けられている。ゲートオフ電圧伝送配線２０は、一端が表示パネル１０の周縁部（図３では、表示パネル１０の左上端部）に設けられた端子Ｖｏｆｆに接続され、他端が制御信号入力用パッドＴＲに接続されている。図３に示すように、ゲートオフ電圧伝送配線２０は、表示パネル１０の最外縁側に沿って配置されている。また、ゲートオフ電圧伝送配線２０は、平面的に見て、他の配線に重ならない（交差しない）ように配置されている。さらに、ゲートオフ電圧伝送配線２０は、他の検査用信号供給配線１９，２１〜２３と同一層に形成されている。上記の配置構成によれば、ゲートオフ電圧伝送配線２０と他の配線とが短絡することを防止することができる。また、ゲートオフ電圧伝送配線２０を検査用制御信号供給配線１９に電気的に接続させるためのスルーホールを形成する必要がないため、額縁領域を小さくすることができる。
【００３３】
表示パネル１０に設けられる端子Ｖｏｆｆには、ゲートオフ電圧入力配線３５が接続されている。ゲートオフ電圧入力配線３５は、ゲートドライバ用外部回路基板６０及びゲートドライバ用ＣＯＦ（例えば、ゲートドライバ用ＣＯＦ４１ａ）を介して、端子Ｖｏｆｆに接続されている（図１及び図３参照）。ゲートオフ電圧入力配線３５には、表示動作中は、常時ゲートオフ電圧が印加される。これにより、表示パネル１０にゲートオフ電圧を供給することができるため、表示動作を行っている期間は、検査用トランジスタ１７，１８をオフ状態に固定することができる。なお、ゲートオフ電圧入力配線３５は、ゲートドライバ用外部回路基板６０に設けられた既存の配線を利用してもよい。
【００３４】
次に、液晶表示装置１００における検査方法の一例について説明する。先ず、表示パネル１０の検査用信号入力パッド２４に検査用機器を接続する。次に、検査用機器から、制御信号入力用パッドＴＲを介して検査用制御信号供給配線１９に、検査用制御信号（ゲートオン電圧）が入力される。これにより、検査用トランジスタ１７，１８がオン状態になる。次に、検査用機器から、奇数行の検査用トランジスタ１７の導通電極にゲートオン電圧の検査用ゲート信号ＧＯが入力される。これにより、奇数行のゲート線１２が選択される。次に、検査用機器から、奇数行のゲート線１２に接続された各薄膜トランジスタ１３（図２参照）を介して、対応する画素電極１５に、検査用データ信号ＤＲ１，ＤＧ１，ＤＢ１，ＤＲ２，ＤＧ２，ＤＢ２が供給される。共通電極１６には共通電圧Ｖｃｏｍが供給される。これにより、対応する画素１４、ここでは奇数行の画素１４の表示状態を検査することにより、対応するゲート線やデータ線等の配線の欠陥を検出することができる。なお、色毎に異なるタイミングで検査用データ信号を供給してもよい。
【００３５】
続いて、検査用機器から、奇数行の検査用トランジスタ１７の導通電極にゲートオフ電圧の検査用ゲート信号ＧＯが入力されるとともに、偶数行の検査用トランジスタ１７の導通電極にゲートオン電圧の検査用ゲート信号ＧＥが入力される。これにより、奇数行のゲート線１２が非選択となり、偶数行のゲート線１２が選択される。次に、検査用機器から、偶数行のゲート線１２に接続された各薄膜トランジスタ１３（図２参照）を介して、対応する画素電極１５に、検査用データ信号ＤＲ１，ＤＧ１，ＤＢ１，ＤＲ２，ＤＧ２，ＤＢ２が供給される。共通電極１６には共通電圧Ｖｃｏｍが供給される。これにより、対応する画素１４、ここでは偶数行の画素１４の表示状態を検査することにより、対応するゲート線やデータ線等の配線の欠陥を検出することができる。検査工程が終了すると、表示パネル１０の検査用信号入力パッド２４から検査用機器を切り離す。
【００３６】
このようにして、検査工程において、表示パネル１０の検査が行われる。表示パネル１０の検査方法は、上記の方法に限定されず、周知の方法を採用することができる。
【００３７】
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記各実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で上記各実施形態から当業者が適宜変更した形態も本発明の技術的範囲に含まれることは言うまでもない。
【符号の説明】
【００３８】
１００  液晶表示装置、９  共通配線、１０  表示パネル、１１  データ線、１２  ゲート線、１３  薄膜トランジスタ、１４  画素、１５  画素電極、１６  共通電極、１７，１８  検査用トランジスタ、１９  検査用制御信号供給配線、２０  ゲートオフ電圧伝送配線、２１，２２  検査用ゲート信号供給配線、２３  検査用データ信号供給配線、２４  検査用信号入力パッド、３０ａ，３０ｂ，３０ｃ，３０ｄ  ソースドライバＩＣ、３１ａ，３１ｂ，３１ｃ，３１ｄ  ソースドライバ用ＣＯＦ、３５  ゲートオフ電圧入力配線、４０ａ，４０ｂ，４０ｃ  ゲートドライバＩＣ、４１ａ，４１ｂ，４１ｃ  ゲートドライバ用ＣＯＦ、５０  ソースドライバ用外部回路基板、６０  ゲートドライバ用外部回路基板、ＴＲ  制御信号入力用パッド、ＧＥ，ＧＯ  ゲート信号入力用パッド、ＤＲ１，ＤＧ１，ＤＢ１，ＤＲ２，ＤＧ２，ＤＢ２  データ信号入力用パッド、Ｖｏｆｆ  オフ電圧入力用端子。
【図１】
2016218243.tif 000003
【図２】
2016218243.tif 000004
【図３】
2016218243.tif 000005