(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
１つ以上のメモリモジュールを電子的に試験する方法であって、該方法は、
該１つ以上のメモリモジュールをコンピュータシステムに取り外し可能に接続することと、
該コンピュータシステムにコンピュータシステムコンフィギュレーションファイルを電子的に読み込むことであって、該コンピュータシステムコンフィギュレーションファイルは、マザーボートとチップセットとについての情報を含む、ことと、
該コンピュータシステムに接続された該１つ以上のメモリモジュールの各１つに対して、それぞれのメモリモジュール識別子を該コンピュータシステムに入力することと、
該コンピュータシステムに接続された該１つ以上のメモリモジュールの数量と、入力されたメモリモジュール識別子の数量とを電子的に比較することと、
該１つ以上のメモリモジュールに対する試験情報を、少なくとも１つの試験手順コンフィギュレーションファイルから該コンピュータシステムに電子的に読み込むことと、
少なくとも１つの機能試験における試験ステップを連続的かつ自動的に処理することにより、該コンピュータシステムを用いて該１つ以上のメモリモジュールを電子的に試験することと、
試験結果と、該コンピュータシステムの該マザーボードと該チップセットとについての情報とを少なくとも１つの結果ファイルに連続的かつ電子的に格納することと、
該試験結果を自動的に評価することと、
該１つ以上のメモリモジュールの少なくとも１つがエラーを有する場合、少なくとも１つの統計ファイルにエラー情報を電子的に格納し、該エラー情報を出力し、該エラーを有する該１つ以上のメモリモジュールを識別することと
を包含する、方法。
【請求項２】
前記試験情報を電子的に読み込むステップの後に、前記１つ以上のメモリモジュールの各々に対して生産関連データを前記コンピュータシステムに入力することを包含する、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記生産関連データは、ロットナンバーである、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
方法を実行するためのコンピュータ実行可能命令を有するコンピュータ読み取り可能な媒体であって、該方法は、
コンピュータシステムにコンピュータシステムコンフィギュレーションファイルを電子的に読み込むことであって、該コンピュータシステムコンフィギュレーションファイルは、マザーボートとチップセットとについての情報を含む、ことと、
該コンピュータシステムに取り外し可能に接続された１つ以上のメモリモジュールの各々に対して、それぞれのメモリモジュール識別子を該コンピュータシステムに入力することと、
該コンピュータシステムに接続された該１つ以上のメモリモジュールの数量と、入力されたメモリモジュール識別子の数量とを電子的に比較することと、
該１つ以上のメモリモジュールに対する試験情報を、少なくとも１つの試験手順コンフィギュレーションファイルから該コンピュータシステムに電子的に読み込むことと、
少なくとも１つの機能試験における試験ステップを連続的かつ自動的に処理することにより、該コンピュータシステムを用いて該１つ以上のメモリモジュールを電子的に試験することと、
試験結果と、該コンピュータシステムの該マザーボードと該チップセットとについての情報とを少なくとも１つの結果ファイルに連続的かつ電子的に格納することと、
該試験結果を自動的に評価することと、
該１つ以上のメモリモジュールの少なくとも１つがエラーを有する場合、少なくとも１つの統計ファイルにエラー情報を電子的に格納し、該エラー情報を出力し、該エラーを有する該１つ以上のメモリモジュールを識別することと
を包含する、コンピュータ読み取り可能な媒体。
【請求項５】
前記コンピュータ読み取り可能な媒体は、記憶媒体である、請求項４に記載のコンピュータ読み取り可能な媒体。
【請求項６】
前記コンピュータ読み取り可能な媒体は、コンピュータメモリである、請求項４に記載のコンピュータ読み取り可能な媒体。
【請求項７】
前記コンピュータ読み取り可能な媒体は、ダイレクトアクセスメモリである、請求項４に記載のコンピュータ読み取り可能な媒体。
【請求項８】
前記コンピュータ読み取り可能な媒体は、電気的搬送信号を搬送する、請求項４に記載のコンピュータ読み取り可能な媒体。
【請求項９】
電子的データネットワークに接続されたコンピュータ上に該電子的データネットワークからコンピュータ実行可能命令のセットをダウンロードすることを包含する方法であって、該コンピュータ実行可能命令は、
コンピュータシステムにコンピュータシステムコンフィギュレーションファイルを電子的に読み込むことであって、該コンピュータシステムコンフィギュレーションファイルは、マザーボートとチップセットとについての情報を含む、ことと、
該コンピュータシステムに取り外し可能に接続された１つ以上のメモリモジュールの各々に対して、それぞれのメモリモジュール識別子を該コンピュータシステムに入力することと、
該コンピュータシステムに接続された該１つ以上のメモリモジュールの数量と、入力されたメモリモジュール識別子の数量とを電子的に比較することと、
該１つ以上のメモリモジュールに対する試験情報を、少なくとも１つの試験手順コンフィギュレーションファイルから該コンピュータシステムに電子的に読み込むことと、
少なくとも１つの機能試験における試験ステップを連続的かつ自動的に処理することにより、該コンピュータシステムを用いて該１つ以上のメモリモジュールを電子的に試験することと、
試験結果と、該コンピュータシステムの該マザーボードと該チップセットとについての情報とを少なくとも１つの結果ファイルに連続的かつ電子的に格納することと、
該試験結果を自動的に評価することと、
該１つ以上のメモリモジュールの少なくとも１つがエラーを有する場合、少なくとも１つの統計ファイルにエラー情報を電子的に格納し、該エラー情報を出力し、該エラーを有する該１つ以上のメモリモジュールを識別することと
を包含する方法を実行するためのものである、方法。
【請求項１０】
前記電子的データネットワークは、インターネットである、請求項９に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、メモリモジュールを電子的に試験する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
メモリモジュール、特にＤＩＭＭすなわちデュアル・インライン・メモリ・モジュール（Ｄｕａｌ  Ｉｎｌｉｎｅ  Ｍｅｍｏｒｙ  Ｍｏｄｕｌｅｓ）、スモール・アウトラインＤＩＭＭ（Ｓｍａｌｌ  Ｏｕｔｌｉｎｅ−ＤＩＭＭ）すなわちＳＯ−ＤＩＭＭ、ＤＤＲ−Ｘ  ＤＩＭＭすなわちダブル・データ・レート（Ｄｏｕｂｌｅ  Ｄａｔａ  Ｒａｔｅ）（Ｘ＝Ｉ、ＩＩ）デュアル・インライン・メモリ・モジュール（Ｄｕａｌ  Ｉｎｌｉｎｅ  Ｍｅｍｏｒｙ  Ｍｏｄｕｌｅｓ）ならびにＲＩＭＭすなわちラムバス・インライン・メモリ・モジュール（Ｒａｍｂｕｓ  Ｉｎｌｉｎｅ  Ｍｅｍｏｒｙ  Ｍｏｄｕｌｅｓ）は、パーソナルコンピュータ、ワークステーション、ノートブックおよびサーバにおいて用いられる。これらにおいて、メモリモジュールの異なったオペレーションモードを必要とし、多様なデータパターンを生成する、複数の異なったアプリケーションが動作する。
【０００３】
生じるデータパターンは、従来のメモリモジュールの場合、Ｉ／Ｏピン毎に１２８ＭＢｉｔまでの、非常に多いメモリが与えられるために試験し尽くされ得ない。従って、メモリモジュールの信頼性についてのイメージを取得するため、およびメモリモジュールの解析を行うために、このメモリモジュールの製作時に、メモリ試験プログラムが実施される。種々のメモリ試験プログラムが、特に、フリーウェアとして利用可能である。大抵の場合、オペレーションシステムＤＯＳ上で動作するこのようなメモリ試験プログラムを実行するために、試験されるべき少なくとも１つのメモリモジュールが、コンピュータシステムまたは試験プラットフォームと接続される。
【０００４】
特許文献１から、高速同期デジタル回路、特に、半導体構成素子を試験するシステムが公知である。このシステムにおいて、テストデータ、制御信号、アドレス信号およびクロック信号といった試験信号は、試験デバイスによって予め与えられた信号条件に基づいて、試験されるべき回路に伝送され、この回路によって、供給された試験信号に依存して生成された応答信号が評価される。
【０００５】
特許文献２は、高速集積デジタル回路、特に、例えば、ＳＤＲＡＭ等の半導体構成素子を試験するシステムを開示する。このシステムにおいて、試験データ、試験制御信号、アドレス信号およびクロック信号といった試験信号が、試験デバイスによって予め与えられ、試験されるべき素子に供給され、試験信号に依存して、試験されている素子によって生成された結果信号が評価されるに至る。
【０００６】
このようなメモリ試験プログラムの場合、メモリモジュール製作時のメモリ試験が使用不可能か、または使用し難いということが不利である。すなわち、これらのメモリ試験プログラムは、試験結果を示すために、異なったプロトコル形態を用い、多くの場合、操作し難く、かつ用いられる試験プラットフォームの情報として考慮の対象とするものがわずかしかない。さらに、試験入力に関するエラーが非常に起こり易く、どれほど異なった型のメモリモジュールが異なった試験プラットフォーム上で種々のシステムボード用いて試験されるかは、簡単な鍵を介してでは決定され得ない。さらに、メモリ試験プログラムは、多くの場合、試験結果を包括的な情報としてデータベースに記憶するのではない。試験プラットフォーム、および、例えば、試験サイクル等の試験の詳細に関する記録された情報は、さらに部分的に不完全である。さらに、試験結果の評価は、多くの場合、自動化されておらず、試験技術者が手動で行う。これは非常に手間がかかる。
【０００７】
メモリモジュールの製作において、メモリモジュールの複数の異なったメモリ試験プログラムを連続的またはほぼ同時に実施することが必要となることが多い。これを、適当な時間の範囲内に適切な手間をかけて行うことはほぼ不可能である。ＤＩＭＭおよびＲＩＭＭの製品およびプラットフォームが益々多様になっているため、このような複数のメモリ試験プログラムを連続して実行することは実用的な解決方法ではない。
【０００８】
【特許文献１】
独国特許出願１００３４９００  Ａ１号
【０００９】
【特許文献２】
独国特許出願１００３４８５５  Ａ１号
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
従って、本発明の課題は、コンピュータシステム上のメモリモジュールが、確実かつ包括的に試験され得る方法を提示することである。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
この課題は、独立請求項の本発明によって解決される。有利な実施形態は、それぞれの従属請求項から明らかである。
【００１２】
従って、本発明は、以下を提供する。
【００１３】
（１）  コンピュータシステム（３）と取り外し可能に接続された少なくとも１つのメモリモジュール（８）を電子的に試験する方法であって、上記方法は、
ａ）少なくとも１つの試験されるべきメモリモジュール（８）を上記コンピュータシステム（３）と接続する工程と、
ｂ）コンピュータシステムコンフィギュレーションファイル（９）を上記コンピュータシステムに電子的に読み込む工程と、
ｃ）上記コンピュータシステム（３）と接続された上記各メモリモジュール（８）の各１つのメモリモジュール識別子を、上記コンピュータシステム（３）に入力する工程と、
ｄ）上記コンピュータシステム（３）と接続された上記メモリモジュール（８）の数と、上記入力されたメモリモジュール識別子の数とを電子的に比較する工程と、
ｅ）上記試験されるべきメモリモジュール（８）（単数または複数）についての試験情報を、少なくとも１つの試験手順コンフィギュレーションファイル（１０）から上記コンピュータシステム（３）に電子的に読み込む工程と、
ｆ）上記メモリモジュール（８）（単数または複数）を、上記コンピュータシステム（３）により、少なくとも１つの機能試験の試験工程を自動的に、段階的に自動的に実行することによって電子的に試験する工程と、
ｇ）上記試験結果を、少なくとも１つの結果ファイル（１１、１２）に段階的に、電子的に格納する工程と、
ｈ）上記試験結果を自動的に評価する工程と、
ｉ）少なくとも１つのメモリモジュール（８）がエラーを有する場合、エラー情報を少なくとも１つの統計ファイル（１３）に電子的に格納し、上記エラー情報を出力し、かつ上記エラーを有するメモリモジュール（８）（単数または複数）を識別する工程と、
を包含する、方法。
【００１４】
（２）  上記工程ｅ）が実施された後で以下の工程ｅ’）
ｅ’）上記コンピュータシステム（３）と接続された各メモリモジュール（８）の生産関連データ、特にロットナンバーを上記コンピュータシステム（３）に入力する工程が実施されることを特徴とする、項目１に記載の方法。
【００１５】
（３）  コンピュータシステム（３）と取り外し可能に接続された少なくとも１つのメモリモジュールを、電子的に試験する方法を実施するコンピュータプログラム製品およびコンピュータプログラムであって、上記メモリモジュールは、項目１または２に記載の方法が実施可能であるように形成される、コンピュータプログラム製品およびコンピュータプログラム。
【００１６】
（４）  記憶媒体上に含まれる、項目３に記載のコンピュータプログラム。
【００１７】
（５）  コンピュータメモリ内に記憶される、項目３に記載のコンピュータプログラム。
【００１８】
（６）  ダイレクトアクセスメモリ内に含まれる、項目３に記載のコンピュータプログラム。
【００１９】
（７）  電気的搬送信号上で搬送される、項目３に記載のコンピュータプログラム。
【００２０】
（８）  項目３に記載のコンピュータプログラム製品およびコンピュータプログラムを有するデータ記録媒体。
【００２１】
（９）  項目３に記載のコンピュータプログラムが、例えば、インターネット等の電子的データネットワークから、上記データネットワークと接続されるコンピュータ上にダウンロードされる方法。
【００２２】
メモリモジュールを電子的に試験する本発明による方法は、コンピュータシステム上、または１つ以上のメモリモジュールと電気的に接続される試験プラットフォーム上で進行する。ここで、１つ以上のメモリモジュールが装着され得るコンピュータシステムと接続された試験モジュールが用いられ得る。
【００２３】
本発明による方法を実施する前に、実施されるべきすべての試験プログラムおよび支援プログラムが、コンピュータシステムのハードディスクの領域上、特に、一つの単位ディレクトリ内に格納される。その後、コンピュータシステムが構成される。これは１回だけ実行される必要があり、コンピュータシステムコンフィギュレーションファイルの処理によって実現される。ここで、好適には、コンピュータシステム毎に１つの一意に定まる名称が提供される。この名称は、好適には、１つのアルファベットおよび２つの数字を含む。マザーボードおよびチップセットの名称は、同様に、マザーボードの仕様に従って、コンピュータシステムコンフィギュレーションファイルにおいて適合され得る。テストランの数を共に数えるカウンタが値０にセットされる。
【００２４】
本発明による方法の第１の方法工程は、少なくとも１つの試験されるべきメモリモジュールとコンピュータシステムとの接続を提供する。この工程は、１つ以上のメモリモジュールが、このような試験モジュールにおいて用いられることによって行われ得る。コンピュータシステム上で、次に、本発明によるインターフェースプログラムが開始される。これは、ユーザによって手動で、または自動化されて行われ得る。
【００２５】
次に、コンピュータシステムのハードディスク上に記憶されたコンピュータシステムコンフィギュレーションファイルが、コンピュータシステム、またはコンピュータシステムの動作メモリ領域に電子的に読み込まれる。このようなコンピュータシステムコンフィギュレーションファイルは、コンピュータシステムの名称、コンピュータシステム上に存在するマザーボード、コンピュータシステムに備えられるチップセット、およびコンピュータシステム上で実行されるテストランの数に関する情報を含む。
【００２６】
次の、本発明による方法工程において、コンピュータシステムと接続された各メモリモジュールに対して、一つずつのメモリモジュール識別子が、ユーザによって、例えば、キーボードまたはマウス等の入力媒体を介してコンピュータシステムに入力される。このような、メモリモジュール識別子は、それぞれ、試験されるべきメモリモジュールの型名に対応し、多数要素の文字ストリングを含む。あるいは、挿入された、試験されるべきメモリモジュールの数を別々のユーザ入力によって検出することが可能である。
【００２７】
次に、コンピュータシステムと接続されたメモリモジュールの数と、ユーザ入力に起因するメモリモジュールの数とが一致するか否かが電子的に点検される。一致する場合、本発明による方法は、少なくとも１つの試験手順コンフィギュレーションファイルからの、試験されるべきメモリモジュール（単数または複数）についての試験情報の電子的読み出しが継続される。
【００２８】
コンピュータシステムと接続されたメモリモジュールの数が、ユーザ入力に起因する数と異なる場合、出力ユニット上、特に、コンピュータシステムの画面上で出力が実行される。この出力は、コンピュータシステムのチップセットを認識したメモリコンフィギュレーションを示す。さらに、ユーザは、この出力によって、メモリモジュールを点検するよう求められる。
【００２９】
この場合、チップセットによる新たなメモリ点検が実行され得るように、本発明による方法が新たに開始されなければならない。このさらなる制御メカニズムの背景にある考え方は、故障したメモリモジュール、またはコンピュータシステムのチップセットによって認識されないような、接続障害を有するメモリモジュールがコンピュータシステムと接続される可能性があるということである。このような場合、本発明による方法は、他のメモリモジュールのみを試験し、他のすべてのメモリモジュールがエラーフリーである場合、故障したメモリモジュールが接続されているにもかかわらず、メモリモジュールがメモリ試験をエラーフリーで合格したというメッセージを生成する。本発明による付加的制御メカニズムが、有利にも、このような問題を回避する。
【００３０】
次に続く方法工程は、試験されるべきメモリモジュール（単数または複数）についての試験情報をコンピュータシステムに電子的に読み込む。この試験情報は、ここで、コンピュータシステムのハードディスクメモリ上に格納された、少なくとも１つの試験手順コンフィギュレーションファイルから読み出される。これらの試験情報は、種々のメモリモジュールに関して、どの機能試験が実行されるかという情報をそれぞれ含む。さらに、試験情報は、例えば、メモリモジュール固有の設定の点検および／または変更といった実行されるべきさらなる方法工程を含む。
【００３１】
次の方法工程において、コンピュータシステムによるメモリモジュール（単数または複数）の電子的試験が行われる。ここで、試験手順コンフィギュレーションファイルにおいて、それぞれのメモリモジュールに割り当てられた機能試験、および付加的プログラムおよび支援プログラムが逐次的に実行される。機能試験において、特に、データをメモリモジュールに書き込み、再び読み出し、かつ比較するメモリ試験またはメモリテストが適用される。これと並んで、付加的に実施可能な複数の支援プログラムが実施可能である。このような支援プログラムによって、例えば、シリアルナンバーまたはメモリの使用領域について応答が求められ、メモリチップのタイミングが変更され、リフレッシュレートが変更され、かつドライバ性能が変更され得る。各試験工程の後に、試験結果が、少なくとも１つの結果データの形態で自動的に格納され、かつ自動的に評価される。
【００３２】
結果ファイルは、正確に定義されたコンテンツを有する統一的なデータフォーマット、すなわち、コンピュータシステムのマザーボードおよびチップセットならびに試験されるメモリモジュールの型名に関する情報を有する。結果ファイルを格納する際に、試験ファイルが格納される際に用いられるデータ名が自動的に生成され、好適には、テストランの数、および試験が行われた暦週が含まれ得る。より明瞭にするために、結果ファイルは、拡張子としてコンピュータ名および試験システムＩＤを有し得る。
【００３３】
メモリモジュールが機能試験においてエラーを有する場合、自動的にログファイルが生成される。このログファイルは、試験、テストラン、生じたエラーに関する情報、およびメモリモジュールのエラーアドレスに関する正確なデータを含む。このログファイルは、結果ファイルに含まれ得る。
【００３４】
試験手順コンフィギュレーションファイルにおけるメモリモジュール（単数または複数）に対する上述の機能試験が実行された後、テストランは終了される。
【００３５】
少なくとも１つのメモリモジュールにおいてエラーが発見された場合、このエラーは評価され、エラー情報が少なくとも１つの統計ファイル内に記憶される。ここで、この統計ファイルは、有利にも、拡張子として試験システムＩＤを有する。各テストランにおいて、統計ファイルが新たに作成または更新される。この統計ファイルは、正確に定義されたコンテンツを有する単一のデータフォーマットを有する。この統計ファイルは、試験プラットフォームおよび試験されたメモリモジュールに関する情報、ならびに、例えば、合格（ｐａｓｓ）／不合格（ｆａｉｌ）情報等の試験手順に関する統計データを含む。統計ファイル内のすべての記入事項は、セミコロンによって、互いに分離されて示され得るので、統計ファイルは、通常の表計算プログラム、特に、Ｍｉｃｒｏｓｏｆｔ  Ｅｘｃｅｌを用いて、または通常のデータベースプログラム、特に、Ｍｉｃｒｏｓｏｆｔ  Ａｃｃｅｓｓを用いて処理され得る。
【００３６】
次に、コンピュータシステムの出力装置上、特に、画面上にて、エラー情報、特に、ログファイル、またはログファイルを含む結果ファイル、および統計ファイルの出力が行われる。この情報を参照して、エラーを有するメモリモジュール（単数または複数）が識別され得る。このようなエラーを有するメモリモジュールは、次に、ユーザによって識別し易くされ、特に、文字で記入され得る。最後に、試験システムは、ユーザによってスイッチオフされる。
【００３７】
本発明による方法の基本的考え方は、指定されたメモリモジュールが、試験手順コンフィギュレーションファイルにおいて規定された試験条件を参照して試験され、試験結果に依存して、自動的にデータ再生およびデータの記録が行われるということである。ここで、試験手順コンフィギュレーションファイルにおける種々のメモリモジュールに対して同一の試験条件および同一の試験手順が集計される。
【００３８】
本発明のさらなる基本的考え方によれば、メモリモジュールを電子的に試験する本発明による方法は、特定のコンピュータシステム上での実行に限定されるのではなく、複数の異なったコンピュータシステム上で実行可能である。試験するためにそれぞれ用いられるコンピュータシステムの特性が、コンピュータシステムコンフィギュレーションファイルにおいて考慮される。その結果、本発明による方法が、それぞれのコンピュータシステムに適合されることが保証される。
【００３９】
本発明による方法は、簡単に実行可能であり、すでにメモリモジュールの生産プロセスにおいて、メモリモジュールの信頼性についてのイメージを取得することを可能にする。必要とされるユーザの入力は、試験手順を制御するためのわずかな論理入力に制限される。コンピュータシステムコンフィギュレーションファイルおよびテスト手順コンフィギュレーションファイルを提供することによって、異なったプラットフォーム上での異なった型のメモリモジュールが試験可能である。試験結果は、試験が実行された直後に、正確に定義されたコンテンツを有する正確に定義されたデータフォーマットにて、すなわち、結果ファイルとして、ならびに統計ファイルの形態で利用可能である。
【００４０】
さらに、本発明による方法は、簡単な方法で拡張可能である。従って、試験手順コンフィギュレーションファイル内に含まれる、実行されるべき試験工程に関する情報は、簡単に変更または拡張され得る。試験されるべき新しいメモリモジュールは、ここでも簡単な方法で新たに提供され得る。本発明による試験方法を実行するための新しいコンピュータシステムの提供は、コンピュータシステムコンフィギュレーションファイルの対応するコンフィギュレーションによって簡単に可能である。
【００４１】
本発明の有利な実施形態は、コンピュータシステムと接続された各メモリモジュールに関する生産関連データ、すなわち、特に、ロットナンバーをコンピュータシステムに入力する、本発明による方法工程を含む。これらの工程は、好適には、試験情報を試験手順コンフィギュレーションファイルから電子的に読み出す工程の前に実行される。生産関連データを検出することによって、本発明による方法によって検出されたエラーが、特定の生産機器および特定の生産時間に割り当てられ得る。このような生産関連データは、有利にも、本発明により生成された結果データ、および統計データ内にも含まれる。
【００４２】
本発明は、さらに、コンピュータシステムと取り外し可能に接続された、少なくとも１つのメモリモジュールを電子的に試験する方法を実施するためのコンピュータプログラムにおいても実現される。この場合、このコンピュータプログラムは、１つ以上の試験メモリモジュールをコンピュータシステムに接続した後に、請求項の１つによる方法が実現されるように形成される。ここで、この方法の結果として、メモリモジュールが欠陥を有するか否か、はいの場合、どのメモリモジュールが欠陥を有するのかという１つのステートメントが生じ得る。
【００４３】
本発明により改善されたコンピュータプログラムによって、メモリモジュールの点検が改善され、メモリモジュールのエラー解析が簡単かつ効果的になり、およびメモリモジュールを試験する公知の方法と比べて動作時間が改善される。
【００４４】
本発明は、さらに、記憶媒体上に含まれ、コンピュータメモリ内に記憶され、ダイレクトアクセスメモリ内に含まれるか、または電気的搬送信号上で伝送されるコンピュータプログラムに関する。
【００４５】
本発明は、さらに、メモリモジュールを電子的に試験する方法を実施するコンピュータプログラムに関する。さらに、本発明は、このようなコンピュータプログラムを有するデータ記録媒体、およびこのようなコンピュータプログラムが、例えば、インターネット等の電子データネットワークから、このデータネットワークに接続されたコンピュータ上にダウンロードされる方法に関する。
【００４６】
本発明のさらなる局面によれば、本発明による方法は、メモリ試験を実施するユーザーフレンドリーなインターフェイスを利用可能にする。このインターフェイスにおいて、規定されたデータフォーマットを含む試験結果の良好なドキュメンテーションがレポーディングのために利用可能にされる。
【００４７】
コンピュータによってインプリメントされる、本発明による方法は、種々の態様で、例えば、実施可能なプログラムのファイル名がユーザによってコンピュータシステムに入力されることによって呼出され得る。コマンド行の引数「ｉ」を入力する場合、コンピュータによりインプリメントされる方法の現在のバージョンが表示されることが考えられ得る。コマンド行の引数「ｑ」を入力する場合、ユーザがコメントを入力することが可能になる。コマンド行の引数「ｖ」の入力が、本発明による方法をコメントモードで実行することを指示し、ここで、一種のプロトコルファイルが書き込まれる。コマンド行の引数「ｏ」を入力する場合、本発明による方法は、エラーファイルが所定の命名規則に従って改称するモードにて実施される。
【００４８】
試験手順の双方向モードは、制御する目的で提供され得る。この試験手順は、メモリモジュール識別子に関する所与の文字ストリングを入力することによって開始され得る。このような双方向モードの場合、試験手順全体にわたって、キーボードの機能性が活性化される。ユーザによるすべての入力は、さらに、他のプログラムによるコマンド行パラメータによって本発明によるインターフェースプログラムに転送され得る。
【００４９】
本発明は、図面において例示の実施形態を参照して詳細に説明される。
【００５０】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明による方法を図示するフローチャート１を示す。
【００５１】
フローチャート１は、合計１３の連続して実施される方法工程を有する。第１の方法工程１０１において、試験されるべきメモリモジュールがコンピュータシステムと接続される。第２の方法工程１０２において、コンピュータによりインプリメントされた本発明による方法の実施を示す、本発明によるインターフェースプログラムがコンピュータシステム上で開始される。次に、第３の方法工程１０３において、コンピュータシステムのハードディスクメモリ上に存在するコンピュータシステムのコンフィギュレーションファイルが、動作メモリＲＡＭに電子的に読み込まれる。その後、第４の方法工程１０４において、メモリモジュール識別子がユーザによって入力される。第５の方法工程１０５は、試験されるべきメモリモジュールの試験情報を試験手順コンフィギュレーションファイルから電子的に読み出すことを提供する。この試験手順コンフィギュレーションファイルは、メモリモジュールを試験するために実施され得る試験プログラムおよび支援プログラムに関する情報を含む。次に続く第６の方法工程１０６において、ユーザは、メモリモジュールのロットナンバーを入力する。その後、第７の方法工程１０７により、実施されるべき試験および支援プログラムがコンピュータシステムによって開始される。ここで、試験プログラムおよび支援プログラムが逐次的に実行され、ここで、メモリモジュールは、第８の方法工程１０８において、エラーについて段階的に点検される。第９の方法工程１０９において、発見されたエラーが、自動的に、段階的に評価される。その後、第１０の方法工程１１０において、結果ファイルへの試験結果の電子的格納が段階的に行われる。実施されるべきすべての試験プログラムおよび支援プログラムが実行された後、試験は、第１１の方法工程１１１においてコンピュータシステムによって終了される。第１２の方法工程１１２は、その後、発見されたエラーを評価し、ここで、第１３の方法工程１１３において、試験結果が、コンピュータシステムの画面上またはコンピュータシステムのプリンタ上に出力され、これらの試験結果は統計ファイルに書き込まれる。
【００５２】
図２は、例示の実施形態による、コンピュータシステム３、第１のデータ接続４、ハードディスクメモリ５、動作メモリＲＡＭ６、第２のデータ接続７および試験メモリモジュールを有するメモリモジュール試験システム２を示す。
【００５３】
最低部分のメガバイトにおいてのみプログラムが記憶され、より上位の残りのメガバイトが試験される場合、原則的に、動作メモリＲＡＭ６も、試験されるべきモジュールであり得る。
【００５４】
コンピュータシステム３は、少なくとも１つのプロセッサ、キーボードまたはマウス等の少なくとも１つの入力装置、画面またはプリンタといった、少なくとも１つの出力装置を有する、ここに図示されない計算ユニットを備える。コンピュータシステム３は、データ接続４によって、ハードディスクメモリ５および動作メモリＲＡＭ６と接続される。図２において、コンピュータシステム３から分離して示されるハードディスクメモリ５および動作メモリＲＡＭ６は、多くの場合、コンピュータシステム３と一体化される。コンピュータシステム３が、例えば、ワークステーションとして形成される場合、ハードディスクメモリ５および動作メモリＲＡＭ６は、図２に示されるように、外部でこのワークステーションと接続される。
【００５５】
試験メモリモジュール８は、第２のデータ接続７を介してコンピュータシステム３およびハードディスクメモリ５ならびに動作メモリＲＡＭ６と接続される。試験メモリモジュール８は、ＨＹＳ６４Ｖ１６２２０ＧＵ−８−Ｂ型のメモリモジュールである。図２における試験メモリモジュール８の模式図は、かなり簡略化されている。
【００５６】
試験メモリモジュール８の電子的試験を実行するために、本発明によるインターフェースプログラムがコンピュータシステム３上に提供される。このインターフェースプログラムは、コンピュータによりインプリメントされた本発明による試験方法の実施形態を示す。このプログラムは、種々のファイルにおけるハードディスクメモリ５上で記憶されたデータを動作メモリＲＡＭ６にロードし、このファイルを用いて、特定の試験プログラムおよび支援プログラムを試験メモリモジュール８に対して定義された順序で実施する。本発明によるインターフェースプログラムを用いて、複数の一般的に市販されるメモリモジュール、特に、ＤＩＭＭおよびＲＩＭＭがエラーに関して点検され得る。
【００５７】
図３は、例示の実施形態による、コンピュータシステムコンフィギュレーションファイル９のコンテンツを示す。
【００５８】
コンピュータシステムコンフィギュレーションファイル９は、本発明によるインターフェースプログラムがユーザによって実施される前に構成される。本例示の実施形態において、コンピュータシステムコンフィギュレーションファイル９は、「ＰＣＤＡＴＡ．ＤＡＴ」という名称でハードディスクメモリ５上に記憶される。第１の行に、コンピュータ名および試験システムＩＤ「Ｍ０１」が含まれる。第２の行は、コンピュータシステム３のマザーボードおよびメインボード含む。ボード上では、接続されるハードウェアおよび周辺機器を制御するため、およびこれらのデータ交換のためのすべての素子が重なり合って位置する。マザーボードの名称は、ここで「ＡＳＵＳＴＥＫ  Ｐ２Ｂ９８ＶＸ」である。第３の行において、チップセットが記される。このチップセットは、主要素子をマザーボード上に形成し、コンピュータシステム３の計算能力に対して共に影響を及ぼす。ここで、計算能力は、主に、プロセッサの性能によって決定される。このチップセットは、プロセッサおよびバスシステムへのデータフローを制御し、主に、ハードディスクメモリ５および動作メモリＲＡＭ６を管理する責任を負う。コンピュータシステムコンフィギュレーションファイル９の第４の行は、これまでコンピュータシステム３と共に実施されたテストランに関する情報を含む。例示の実施形態において、これまで３０２回のテストランが実行されている。
【００５９】
図４は、例示の実施形態による、試験手順コンフィギュレーションファイル１０のコンテンツを示す。
【００６０】
試験手順コンフィギュレーションファイル１０は、試験メモリモジュール８について実施されるべき試験手順を示す。ここで、このファイルは、実施可能な命令およびプログラム、特に、本発明によるインターフェースプログラムにより実行される、試験プログラムおよび付加的プログラムを含む。これらの命令およびプログラムは、コンピュータシステム３のハードディスクメモリ５上に記憶される。ここで、正確なメモリ位置は、試験手順コンフィギュレーションファイル１０を介して突き止められ得る。
【００６１】
試験手順コンフィギュレーションファイル１０の第１の行において、試験されるべきメモリ試験モジュール８の型名、すなわち「ＨＹＳ６４Ｖ１６２２０ＧＵ−８−Ｂ」が含まれる。第２の行は、本発明によるインターフェースプログラムによって実施されるべき第１のプログラム「ｄｉｓｐａｓｋ．ｅｘｅ」が含まれる。この支援プログラムは、接続される試験メモリモジュール８のメモリの使用領域およびシリアルナンバーについての応答を求める。第３の行は、実施されるべき支援プログラム「ｓｅｔｔ．ｅｘｅ」の呼出しを含む。この支援プログラムは、特定のレジスタに関して、チップセットによって決定された属性、特に、試験メモリモジュール８のタイミングの変更を行う。後続のそれぞれの数値「２」はパラメータ、特に、このプログラムの時定数を示す。この時定数は変更可能であり得る。第４の行において、呼出し「ｍｙｔｅｓｔ．ｅｘｅ」が含まれる。これは、メモリ試験が試験メモリモジュール８を用いて実行されることを意味する。符号「Ｃ４」は、メモリ試験が「ｍｙｔｅｓｔ．ｅｘｅ」によって４回行われることを意味する。第５の行において、提供される呼び出しは、支援プログラム「ｓｅｔｔ．ｅｘｅ」を再び開始し、今回は、呼出しパラメータとして数値「３」を用いる。試験手順コンフィギュレーションファイル１０の最後の行において、メモリ試験プログラム「ｍｙｔｅｓｔ．ｅｘｅ」の新たな呼出しが行われる。今回は、この試験メモリプログラムの試験は２回実施される。
【００６２】
上述のメモリ試験プログラムおよび上述の支援プログラムの手順および実行は、当業者には公知であり、本明細書中で、これ以上説明される必要はない。
【００６３】
図４に示される試験手順コンフィギュレーションファイル１０は、まさに「ＨＹＳ６４Ｖ１６２２０ＧＵ−８−Ｂ」型のメモリモジュールに実施されるべき試験手順を示す。試験手順コンフィギュレーションファイル１０は、複数の試験メモリモジュールの型について、実施されるべき試験プログラムおよび支援プログラムそれぞれを含む、試験手順コンフィギュレーションファイル全体からの一部分を示す。ここで、同じ試験手順が実行され得るメモリモジュールの型は、最初の行において、それぞれ同じ試験手順が実施され得るメモリモジュールのすべての型名が相並んで一覧にされるようにまとめられる。実施されるべき試験プログラムおよび支援プログラムは、次の行に一覧にされる。
【００６４】
図５は、例示の実施形態による、エラーを有しない第１の結果ファイル１１のコンテンツを示す。
【００６５】
この第１の結果ファイル１１は、逐次的に生成され、コンピュータシステム３の出力装置上、特に、画面上に表示され、ハードディスクメモリ５および／または動作メモリＲＡＭ６上に記憶される。第１の結果ファイル１１の命名は、自動的に行われる。本例示の実施形態において、名称は「０３００ＣＷ２２．Ｍ０１」である。ここで、最初の４つの数字「０３００」は３００回目のテストランを表し、これに続く数字は、２２番目の暦週を表す。この第１の結果ファイル１１の拡張子として、コンピュータシステム３の名称、つまり「Ｍ０１」が格納される。
【００６６】
第１の結果ファイル１１の第２の行において、コンピュータシステム３のマザーボードに関する情報が位置する。この情報は、コンピュータシステムコンフィギュレーションファイル９の第２の行に含まれる情報と一致する。第３の数字は、コンピュータシステム３のチップセットに関する情報を含む。このチップセット情報は、コンピュータシステムコンフィギュレーションファイル９の第３の行に含まれる情報と一致する。第１の結果ファイル１１の第４の行は、それぞれのテストランについてのコメントを含む。本例示の実施形態において、型名「ＨＹＳ６４Ｖ１６２２０ＧＵ−８−Ｂ」および試験メモリモジュール８のロットナンバー「１２３４５ＸＸＸ」で構成される。第１の結果ファイル１１は、テストランにおいて生じたエラーに関する情報を有しない。
【００６７】
図６は、例示の実施形態による、エラーを有する第２の結果ファイル１２のコンテンツを示す。
【００６８】
第２の結果ファイル１２は、逐次的に生成され、コンピュータシステム３の出力装置上、特に画面上に表示され、ハードディスクメモリ５および／または動作メモリＲＡＭ６上に記憶される。この第２の結果ファイルは、「０３００ＣＷ２２．Ｍ０１」という名称で格納される。用いられるコンピュータシステム３のメインボードおよびチップセットの第２の結果ファイル１２のファイル名、ならびに試験メモリモジュール８のロットナンバーの表示は、図５に示された第１の結果ファイル１１の表示と一致する。第４の行において、コメントとして、さらに連鎖符号「ＬＯＮＧＴＥＳＴ−ＩＮＦ」が含まれる。この連鎖符号は、試験手順が双方向モードで実行されたことを意味する。この双方向モードにて、ユーザは試験手順中にキーボードまたはコンピュータシステム３の別の入力媒体を介して入力し得る。ここで、本発明によるインターフェースプログラムは、双方向に開始および終了される。
【００６９】
第２の結果ファイル１２は、さらに、メモリ試験を実行する際に生じたエラーに関する情報を含む、統合ログファイルを有する。ログファイルは、試験情報およびテストラン情報ならびにエラーアドレスに関する詳細なデータを有する。
【００７０】
図６に表形式で一覧にされたデータは、実施された試験および生じたエラーに関する情報を含む。メモリ試験は、２００１年５月３１日午前９時４８分に実行された。エラーカウンタは、「１」に設定されている。これは、正確に１つのエラーが検出されたことを意味する。このエラーは、３回目に実施されたメモリ試験、すなわち「ＭｙＴｅｓｔ」において確認されたことを意味する。その後、プロセッサアドレス「０Ｃ０７５Ｂ７０」が与えられる。次に、プロセッサアドレスから導き出され得る、Ｘ値「Ｅ」およびＹ値「３６Ｅ」を有する試験メモリモジュール８のアドレスが続く。その後、コンピュータシステム３のバンクが値「１」と記される。この実行されたテストランにおいて、メモリ試験「ＭｙＴｅｓｔ」の結果として連鎖符号「Ｂ６ＤＢ６ＤＢ６」が期待されたが、連鎖符号「Ｂ６ＣＢ６ＤＢ６」が現れた。期待された連鎖符号と実際に現れた連鎖符号との比較は、ブーリアン組み合わせ「排他的論理和」（または「ＸＯＲ」）を用いて差を形成することによって明らかになる。このように形成された連鎖符号を参照して、どれだけの数の試験メモリモジュール８の入力ラインおよび出力ラインにおいてエラーが生じるかが明らかである。本例示の実施形態において、連鎖符号は「００１０００００」である。これは、試験メモリモジュール８の第３の入力ラインおよび出力ラインにおいてエラーが生じたことを意味する。次の行は、いわゆるダブルワード、すなわち、応答されたのは試験メモリモジュール８の上位のバイトか下位のバイトかという情報を含む。ここでは、下位バイト「３」、「２」、「１」および「０」である。エラーを有する実際のバイトは、バイト「２」番である。試験メモリモジュールのエラーを有する入力ラインおよび出力ラインは、「２０」番を有するラインである。これは、バイト「２」の部分である。
【００７１】
図７は、例示の実施形態による、統計ファイル１３のコンテンツを示す。
【００７２】
統計ファイル１３は、３００回目のテストランの後に作成され、これまでに実行されたすべてのテストランを記録した。第２の行において、用いられたコンピュータシステム、すなわち「Ｍ０１」に関する情報が含まれる。次の行は、本発明によるインターフェースプログラムの用いられたバージョン、すなわち「Ｔ−１７」に関する情報を含む。次の行において、最後に生成された結果ファイルの表示を含む。この場合、この表示は、第２の結果ファイル１２のデータ名「０３００ＣＷ２２．Ｍ０１」である。試験される試験メモリモジュール８の型名「ＨＹＳ６４Ｖ１６２２０ＧＵ−８−Ｂ」は、次の行に含まれる。ロットナンバー「１２３４５ＸＸＸ」は、次の行から明らかである。試験メモリモジュール８の合計８つのバンクは、次の行において考慮される。ここで、統計ファイル１３の行「バンク」における最初の２つの数値「６４」は、バンク「０」および「１」において、それぞれ６４ＭＢｙｔｅのメモリが検出されたことを意味する。ここで図示されない次の行において、シリアルナンバーが検出され得る。次の２つの行において、テストランの開始時間および停止時間がそれぞれ記録される。次の行において、試験された試験メモリモジュール８が機能障害を示したサブ試験記録される。例示の実施形態において、ここで、値３が４つ表示される。これは、試験メモリモジュール８が、それぞれ３回目のサブ試験において４回連続してエラーが生じたことを意味する。サブ試験は、ここで、本発明によるインターフェースプログラムによって呼出されたメモリ試験のそれぞれと理解される。１つのエラーが確認された第１のサブ試験が次の行に記される。これは、３番目に実行されたサブ試験である。試験メモリモジュール８のエラーが確認された、実行されたサブ試験の総数は、次の行に示される。合計４つのサブ試験においてエラーが生じた。次の２つの行において、試験結果「不合格」、およびエラーが検出されたバンク「１」が記される。
【００７３】
本発明による方法の開始時にコンピュータシステム３が構成される。ここで、コンピュータシステム「Ｍ０１」、マザーボード「ＡＳＵＳＴＥＫ  Ｐ２Ｂ９８ＶＸ」、およびコンピュータシステム３のチップセット「４４０ＢＸ」の名称がユーザによってコンピュータシステムコンフィギュレーションファイル９に記憶される。
【００７４】
次に、第１の方法工程１０１において、コンピュータシステム３に、「ＨＹＳ６４１６２２０ＧＵ−８−Ｂ」型の試験メモリモジュール８が装着される。次の本発明による工程において、インターフェースプログラムが開始される。これは、ユーザによってか、または自動化されて行われ得る。その後、コンピュータシステムコンフィギュレーションファイル９は、コンピュータシステム３の動作メモリＲＡＭ６に読み込まれる。このファイルは、さらに、コンピュータシステム３上で実行されるテストランを記録するカウンタを含む。次に、ユーザにより製品識別子が入力される。この識別子は、本例示の実施形態において「ＨＹＳ６４Ｖ１６２２０ＧＯ−８−Ｂ」である。次に、インターフェースプログラムによって、入力された製品識別子が、試験メモリモジュール８の実際の型名と一致するか否かが確認される。これは、ここでは一致する。次に、第１の試験メモリモジュール８に対して実行されるべき試験プログラムおよび支援プログラムに関する情報が、試験手順コンフィギュレーションファイル１０から読み出される。次に、ユーザは、試験メモリモジュール８のロットナンバーをコンピューラシステム３に入力する。
【００７５】
その後、試験手順コンフィギュレーションファイル１０に含まれる命令、支援プログラムおよび試験プログラムが連続的に実行される。本例示の実施形態において、最初に、支援プログラム「ｄｉｓｐａｓｋ．ｅｘｅ」および「ｓｅｔｔ．ｅｘｅ」、その後、メモリ試験「ｍｙｔｅｓｔ．ｅｘｅ」、さらに支援プログラム「ｓｅｔｔ．ｅｘｅ」および最後にさらなるメモリ試験「ｍｙｔｅｓｔ．ｅｘｅ」が実行される。これは、当業者に公知である一般的な支援プログラムおよび試験プログラムである。これらは、段階的に実行される。試験プログラムを実行する際には段階的に進められ、各試験工程の後、エラーに関する試験および評価が行われる。
【００７６】
このように生成されたデータは、結果ファイルに書き込まれる。このように生成された結果ファイルは、第１の結果ファイル１１である。このファイルは、２９９回目のテストランにおいて生成された。用いられたコンピュータシステム３、そのメインボードおよびチップセットの名称は、この第１の結果ファイルから明らかである。同様に、この第１の結果ファイル１１における試験メモリモジュール８の型名およびロットナンバーが記される。この第１の結果ファイル１１からは、このテストランにおいて生じたエラーについて表示は生じない。
【００７７】
図６に示される第２の結果ファイル１２は、コンピュータシステム３上の３００回目のテストランにおいて生成された第２の結果ファイル１２である。このファイルは、２００１年５月３１日午前９時４８分に生じたエラーを記録する。このエラーは、プロセッサアドレス「０Ｃ０７５Ｂ７０」に対する第３回目のテストランにおける実行されたサブ試験「ＭｙＴｅｓｔ」において確認された。このプロセッサアドレスから試験メモリモジュール８のエラーアドレスが明らかになる。このエラーは、バンク「１」において生じ、期待された連鎖符号「Ｂ６ＤＢ６ＤＢ６」の代わりに連鎖符号「Ｂ６ＣＢ６ＤＢ６」が生じたことである。このエラーは、第２のバイトにおける下位のダブルワード、および試験メモリモジュール８の第２０の入力ラインおよび出力ラインにて確認された。この例示の実施形態において、試験手順コンフィギュレーションファイル１０において定められた命令における試験プログラムおよび支援プログラムは、３００回目のテストランが実施された後に終了された。次に、発見されたエラーが評価され、統計ファイル１３に書き込まれた。この統計ファイル１３から、試験システム「Ｍ０１」上の３００回目のテストランにおいて、エラーが生じたことが明らかである。さらに、第２の結果ファイル１２の名称が含まれ、このファイルから、生じたエラーについてのさらなる情報が明らかになる。試験された試験メモリモジュール８の型名、ロットナンバーならびにこのテストランの開始時間および終了時間が、同様に、統計ファイル１３から明らかである。さらに、生じたエラー（単数または複数）に関する正確な情報が含まれる。
【００７８】
この統計ファイル１３において、テストラン全部が記録され、それぞれのエラー情報が記録に残される。次に、統計ファイル１３に含まれる情報の図表が、コンピュータの画面またはプリンタ上に示される。この出力を参照して、どの試験メモリモジュールが故障したのかが正確に確認され得る。この故障したモジュールは、ユーザによって識別しやすくされ得、通信から引き離され得る。
【００７９】
メモリモジュールを電子的に試験する、説明された本発明による方法は、任意に、しばしば複数のメモリモジュールについて連続して実施され得る。試験の終了後、コンピュータシステム３はユーザによってスイッチオフされる。
【００８０】
（発明の要旨）
メモリモジュールを電子的に試験する本発明による方法において、試験されるべきメモリモジュールは、試験コンピュータシステムと接続される。その後、コンピュータシステムコンフィギュレーションファイル、および試験されるべきメモリモジュールの試験情報が、コンピュータシステムの中に電子的に読み込まれる。次に、メモリモジュールは、少なくとも１つの機能試験の試験工程の、順次自動処理によって電子的に試験される。試験結果は、少なくとも１つの試験ファイルにおいて、順次、電子的に格納、かつ自動的に評価される。エラー情報は、少なくとも１つの統計ファイルに電子的に格納および出力される。
【００８１】
【発明の効果】
本発明によって、メモリモジュールのエラー情報が、確実におよび／または包括的に、簡便および／または自動的に、電子的に試験することが可能となった。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、本発明による方法を図示するためのフローチャートを示す。
【図２】図２は、メモリモジュールシステムの模式図を示す。
【図３】図３は、コンピュータシステムコンフィギュレーションファイルのコンテンツを示す。
【図４】図４は、試験手順コンフィギュレーションファイルのコンテンツを示す。
【図５】図５は、エラーを有しない第１の結果ファイルのコンテンツを示す。
【図６】図６は、エラーを有する第２の結果ファイルのコンテンツを示す。
【図７】図７は、統計ファイルのコンテンツを示す。
【符号の説明】
１        フローチャート
１０１−
１１３      方法工程
２          メモリモジュール試験システム
３          コンピュータシステム
４          第１のデータ接続
５          ハードディスクメモリ
６          動作メモリ  ＲＡＭ
７          第２のデータ接続
８          試験メモリモジュール
９          コンピュータシステムコンフィギュレーションファイル
１０        試験手順コンフィギュレーションファイル
１１        第１の結果ファイル
１２        第２の結果ファイル
１３        統計ファイル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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