(57)【要約】【課題】実環境を擬似した伝送装置の評価が行えること。【解決手段】評価装置１００は、伝送路上に設置されるＲＯＡＤＭ１５０の評価を行う。評価装置１００には、実環境の伝送路の伝送路長より短い伝送路長を有し、入力される試験フレームを周回させるループ伝送路１１０が接続される。評価装置１００は、ＲＯＡＤＭ１５０の評価時に、ループ伝送路１１０に試験フレームを出力するとともに、所望する伝送路長に相当する所定時間経過時にループ伝送路１１０から試験フレームを取り出して、ＲＯＡＤＭ１５０に出力する制御を行う制御部１０２を有する。制御部１０２は、試験フレームをＲＯＡＤＭ１５０に出力するより早い時期に、試験フレームと同フレーム構成のデータ劣化がない通常フレームをＲＯＡＤＭ１５０に出力しておき、所定時間経過時に通常フレームに連続して試験フレームをＲＯＡＤＭ１５０に出力する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
伝送路上に設置される伝送装置の評価を行う評価装置において、
実環境の前記伝送路の伝送路長より短い伝送路長を有し、入力される試験フレームを周回させるループ伝送路が接続され、
前記伝送装置の評価時に、前記ループ伝送路に前記試験フレームを出力するとともに、所望する伝送路長に相当する所定時間経過時に前記ループ伝送路から前記試験フレームを取り出して、前記伝送装置に出力する制御を行う制御部を有し、
前記制御部は、前記試験フレームを前記伝送装置に出力するより早い時期に、前記試験フレームと同フレーム構成のデータ劣化がない通常フレームを前記伝送装置に出力しておき、前記所定時間経過時に前記通常フレームに連続して前記試験フレームを前記伝送装置に出力する
ことを特徴とする評価装置。
【請求項２】
前記試験フレームおよび前記通常フレームを生成するジェネレータと、
前記ジェネレータで生成された前記試験フレームを前記ループ伝送路に出力し取り込む第１光スイッチと、
前記ジェネレータで生成された前記通常フレームを前記伝送装置に出力し、また、前記ループ伝送路から取り込んだ前記試験フレームを前記伝送装置に出力する第２光スイッチと、を有し、
前記制御部は、前記第１光スイッチを制御して、前記試験フレームを前記ループ伝送路に出力した第１の時期と、所望する伝送路長に相当する所定時間経過後の第２の時期と、に基づき、当該所定時間後に前記第１光スイッチおよび前記第２光スイッチを制御して、前記試験フレームを前記伝送装置に出力する
ことを特徴とする請求項１に記載の評価装置。
【請求項３】
実環境に相当する複数の中継点の伝送路長が設定された環境情報データを保持する記憶部を有し、
前記制御部は、前記伝送装置の評価時に用いる実環境に対応した伝送路長を前記環境情報データから読み出し、当該伝送路長に対応して前記第１の時期と前記第２の時期とをそれぞれ算出する
ことを特徴とする請求項２に記載の評価装置。
【請求項４】
前記ジェネレータは、
前記試験フレームおよび前記通常フレームを、一定のバイト数からなり、制御情報と誤り訂正バイトでデータを包み込んだフレームを生成することを特徴とする請求項２または３に記載の評価装置。
【請求項５】
前記制御部は、
前記試験フレームのフレーム数を前記ループ伝送路の伝送路長に応じて設定することを特徴とする請求項１〜４のいずれか一つに記載の評価装置。
【請求項６】
前記制御部は、
前記試験フレームを前記伝送装置に出力した後、当該試験フレームのフレーム数に達した時期に、前記第１光スイッチおよび前記第２光スイッチを制御して、前記試験フレームに連続して前記通常フレームを前記伝送装置に出力する
ことを特徴とする請求項２〜５のいずれか一つに記載の評価装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、伝送装置を評価する評価装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光通信インフラでは、各拠点間を光ケーブル接続で数百ｋｍ以上の長距離にわたり光の主信号データ（ＷＤＭ信号）を伝送する。伝送路の途中には再生中継器を設置し、長距離転送による劣化や出力減衰したＷＤＭ信号を補正および増幅させて目的の拠点まで転送させている。これら伝送路上に設けられる伝送装置は、データ転送や通信機能に対する評価を行う必要がある。
【０００３】
１．接続環境を想定した伝送路の擬似試験として、通信メーカー各社出資による数百ｋｍのケーブル環境を用いて伝送特性の評価を行っている（ストレート無中継の伝送実験）。また、伝送装置の工場では、伝送装置の設計検証後に、ドラム型光ケーブルの束を数十個、伝送装置に接続して伝送特性を評価している（Ｌ０光通信環境試験）。また、机上シミュレーションとして区間ＯＳＮＲ計算を行う伝送設計ツールを用いて、伝送路ロス係数算出を行っている。
【０００４】
中継拠点間の実環境を擬似することで評価用設備のスペースとコストを低減することができる。例えば、周回ループ伝送路を用いて擬似的に長距離伝送時の伝送特性を評価する技術がある（例えば、下記特許文献１参照。）。また、波長分散および伝送損失を発生させて擬似的に長距離伝送時の伝送特性を評価する技術がある（例えば、下記特許文献２参照。）。また、偏波モード分散を発生させて擬似的に長距離伝送時の伝送特性を評価する技術がある（例えば、下記特許文献３参照。）。
【０００５】
２．伝送装置、例えば、ＲＯＡＤＭ（Ｒｅｃｏｎｆｉｇｕｒａｂｌｅ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ａｄｄ／Ｄｒｏｐ  Ｍｕｌｔｉｐｌｅｘｅｒ）の評価は、ＲＯＡＤＭにデータ生成用のジェネレータを接続して行っている。ジェネレータからＷＤＭ信号を送信し、ＲＯＡＤＭ装置内を通過させた後、一旦外でループバック（折り返し）させ、再度ＲＯＡＤＭ装置に入力させ、ジェネレータで受信する。ジェネレータは、受信したＷＤＭ信号の結果を判定することで、ＲＯＡＤＭを介した際のＷＤＭ信号の検証および評価を実施する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０００−２４４４０６号公報
【特許文献２】特開２００６−８６９５５号公報
【特許文献３】特開２００３−１４３０８８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上記１．接続環境を想定した伝送路の擬似試験では、現場に設置するハード／ソフトを用いて、実際の伝送路と伝送装置を繋いだときに発生する不具合を事前検証することはできない。また、海底通信では伝送路だけを対象として伝送特性をシミュレーションすることしかできない。これにより、実環境構築前に伝送装置との接続性検証等を行うことができず、実環境構築後の検証で不具合が発生した。
【０００８】
また、上記２．ＲＯＡＤＭの評価についても、実環境で起こる長距離転送で劣化したＷＤＭ信号をＲＯＡＤＭ装置に入力させることが行えない。このため、実環境に合ったＲＯＡＤＭ装置の性能測定、および長距離伝送路を含めた全体システムでの安定度動作や各種評価、例えば、ＷＤＭ信号劣化補正の正常性、光ケーブル、ユニット、中継点の妥当性の解析や算出等を事前に行うことができなかった。そして、従来は、これら１．２．の試験、評価を個別に行っており、１．２．を組み合わせた不具合を検証できない。
【０００９】
また、周回ループ伝送路を用いて実環境を擬似し、ＲＯＡＤＭに接続する場合、周回するＷＤＭ信号をＲＯＡＤＭ装置の仕様に適合したタイミング等で入力させねばならない。しかし、周回ループ伝送路を単にＲＯＡＤＭ装置に接続するだけではＲＯＡＤＭ装置が正常に動作せず、装置の動作確認や伝送特性の評価が行えない。
【００１０】
一つの側面では、本発明は、実環境を擬似した伝送装置の評価が行えることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
一つの案では、伝送路上に設置される伝送装置の評価を行う評価装置において、実環境の前記伝送路の伝送路長より短い伝送路長を有し、入力される試験フレームを周回させるループ伝送路が接続され、前記伝送装置の評価時に、前記ループ伝送路に前記試験フレームを出力するとともに、所望する伝送路長に相当する所定時間経過時に前記ループ伝送路から前記試験フレームを取り出して、前記伝送装置に出力する制御を行う制御部を有し、前記制御部は、前記試験フレームを前記伝送装置に出力するより早い時期に、前記試験フレームと同フレーム構成のデータ劣化がない通常フレームを前記伝送装置に出力しておき、前記所定時間経過時に前記通常フレームに連続して前記試験フレームを前記伝送装置に出力することを要件とする。
【発明の効果】
【００１２】
一つの実施の形態によれば、実環境を擬似した伝送装置の評価が行える。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】図１は、実施の形態にかかる評価装置と評価対象の伝送装置を示す構成図である。
【図２】図２は、実施の形態にかかる評価装置による伝送装置に対する評価試験信号の出力状態を示す図である。
【図３】図３は、実施の形態にかかる評価装置による通常フレームと試験フレームの切り替え制御を説明する図である。
【図４】図４は、実施の形態にかかる評価装置が設定記憶する試験パラメータの例を示す図表である。
【図５】図５は、実施の形態にかかる評価装置が用いる試験用のＯＴＮフレームの例を示す図である。
【図６】図６は、実施の形態にかかる評価装置の光スイッチの切り替え制御を説明する図である。（その１）
【図７】図７は、実施の形態にかかる評価装置の光スイッチの切り替え制御を説明する図である。（その２）
【図８】図８は、実施の形態にかかる評価装置が出力するＯＴＮフレームと、各スイッチの切り替え状態を示すタイミングチャートである。
【図９】図９は、実施の形態にかかる評価装置および評価対象の伝送装置の動作処理例を示すフローチャートである。
【図１０】図１０は、実施の形態にかかる評価装置および伝送装置の内部構成例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
図１は、実施の形態にかかる評価装置と評価対象の伝送装置を示す構成図である。図１を用いて評価装置による伝送装置の評価の概要を説明する。以下の説明では、評価装置としての擬似回線試験機１００を評価対象の伝送装置としてのＲＯＡＤＭ１５０に接続した例を用いて説明する。
【００１５】
この実施の形態では、Ｍ−Ｌａｙｅｒ  Ｌ０（レイヤ０）のＷＤＭ信号の分岐挿入を行うＲＯＡＤＭ１５０を例に説明するが、ＲＯＡＤＭ１５０の受信処理について、フレーム単位の評価試験を行うために所定のＯＴＮフレームを用いる。図１中、実線は光信号路、破線はＬＡＮ等の制御通信路である。
【００１６】
擬似回線試験機１００には、所定長のループ伝送路１１０を接続する。このループ伝送路１１０は、実環境の伝送路長さ（例えば数百ｋｍ）を有さずに、例えば数十ｋｍ程度の長さで光ファイバーを巻回したものである。
【００１７】
擬似回線試験機１００は、試験用の光フレーム（ＯＴＮ：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｒａｎｓｐｏｒｔ  Ｎｅｔｗｏｒｋフレーム）を生成するジェネレータ１０１と、ジェネレータ１０１からの試験用の光フレームの送信を制御する制御部１０２を含む。また、光カプラ等の光スイッチ１０３（第１光スイッチ１０３ａ，第２光スイッチ１０３ｂ）と、記憶部１０４を含む。
【００１８】
ジェネレータ１０１は、光フレームを生成する。光フレームは、エラーフリー（Ｅｒｒｏｒ０）のＯＴＮフレームである。ジェネレータ１０１が生成した光フレームは、制御部１０２による光スイッチ１０３ａ，１０３ｂの選択制御により、ポート１０５からループ伝送路１１０へ出力され（試験フレームと称す）、またポート１０６からＲＯＡＤＭ１５０に出力される（通常フレームと称す）。
【００１９】
また、ループ伝送路１１０に出力され、ループ伝送路１１０で所望する所定の伝送路長に相当する時間だけ周回（ループ）した試験フレームは、制御部１０２の制御により、光スイッチ１０３（１０３ａ，１０３ｂ）の切り替えにより、ループ伝送路１１０からＲＯＡＤＭ１５０に出力することができる。
【００２０】
記憶部１０４には、実際の長距離伝送を擬似する際に、制御部１０２が参照する試験パラメータ（環境情報データ）が設定されている。詳細は後述するが、試験パラメータは、伝送路の距離、ケーブル種類等の情報からなる。この試験パラメータは、伝送路の実際の敷設環境（伝送路の距離およびケーブル）を擬似的に作るためのパラメータであり、ＲＯＡＤＭ１５０を評価する場合に、制御部１０２が参照して、実際の敷設環境（伝送路の距離）に対応した試験フレームをＲＯＡＤＭ１５０に入力させる。
【００２１】
ＲＯＡＤＭ１５０は、運用時には伝送路上の各中継点に設置されるものであり、評価試験時には、図１のように、ポート１５５を擬似回線試験機１００のポート１０６に接続する。ＲＯＡＤＭ１５０は、光増幅部１５１と、波長多重された光信号（ＷＤＭ信号）を波長別（λ１〜λｎ）に外部装置に分岐／挿入する分岐挿入部（Ａｄｄ／Ｄｒｏｐ）１５２と、各波長の光信号を検出し電気信号を出力（Ｏ／Ｅ）する光モジュール１５３（１５３ａ〜１５３ｎ）と、を含む。
【００２２】
ＲＯＡＤＭ１５０は、実際の敷設時に、敷設環境に応じて劣化フレームを受信するため、光増幅部１５１での光増幅や、光モジュール１５３で光信号の補正処理を行う。
【００２３】
制御部１５４は、ＭＣＵ等を用いて構成され、ＲＯＡＤＭ１５０の評価試験時において、光増幅部１５１での光増幅の情報や、光モジュール１５３で光信号の補正処理の情報を取得し、試験結果を評価する。そして、制御部１５４は、判定した評価試験結果を外部出力する。図１の例では、表示部１６０等に評価試験結果を表示出力する。
【００２４】
（評価試験の概要）
図１を用いてＲＯＡＤＭ１５０の評価試験の概要を説明する。擬似回線試験機１００を用いたＲＯＡＤＭ１５０の評価試験時には、制御部１０２は、ジェネレータ１０１からエラーフリー（Ｅｒｒｏｒ０）のＯＴＮフレーム（通常フレーム）を、光スイッチ１０３ｂを介してＲＯＡＤＭ１５０に出力（疎通）させておく。
【００２５】
そして、制御部１０２は、ユーザが所望する敷設環境に対応した試験パラメータ（伝送路の距離、ケーブル種類等の情報）を参照し、ジェネレータ１０１から第１光スイッチ１０３ａを介してループ伝送路１１０に対し、評価試験用のＯＴＮフレーム（試験フレーム）を送信する。ループ伝送路１１０は、試験フレームを周回（ループ）して保持する。この際、ループ伝送路１１０として、所望する敷設環境に対応したケーブル種類のものを用いる。
【００２６】
この後、制御部１０２は、光スイッチ１０３（１０３ａ，１０３ｂ）を制御して、伝送路の距離に相当する所定時間経過後に、ループ伝送路１１０を周回した試験フレームをＲＯＡＤＭ１５０に出力する。ループ伝送路を所定時間周回した試験フレームは、評価試験信号として用いられる。この際、制御部１０２は、光スイッチ１０３（１０３ａ，１０３ｂ）の制御により、ＲＯＡＤＭ１５０に出力していた通常フレームをループ伝送路１１０で周回していた試験フレームに切り替えて出力する。
【００２７】
ここで、評価対象となるＲＯＡＤＭ１５０は、内部の光モジュール１５３が連続的にＯＴＮフレームを受信していなければならない仕様を有している。例えば、評価中に光信号の疎通が一旦途絶えると、再度信号を正常に受信できる状態になるまでには光モジュール１５３で信号の調整時間がかかり、１分程度受信できなくなる。そのため、上記のように、擬似回線試験機１００は、ループ伝送路１１０からの試験フレームをＲＯＡＤＭ１５０に出力する以前の状態では、上記所定時間分だけ通常フレームをＲＯＡＤＭ１５０に出力させておく。
【００２８】
図２は、実施の形態にかかる評価装置による伝送装置に対する評価試験信号の出力状態を示す図である。擬似回線試験機１００は、ループ伝送路１１０に試験フレームを出力した後、所望する敷設環境に対応した伝送路の距離分に相当する時間が経過すると、ループ伝送路１１０の試験フレームをＲＯＡＤＭ１５０に出力する。
【００２９】
この際、擬似回線試験機１００の制御部１０２は、光スイッチ１０３（１０３ａ，１０３ｂ）を制御して、通常フレームに連続して試験フレームをＲＯＡＤＭ１５０に出力する。これにより、ループ伝送路１１０での所定時間分の周回により所望する距離分劣化したＯＴＮフレームを試験フレームとして擬似的に生成し、この試験フレームをＲＯＡＤＭ１５０に供給する。ＲＯＡＤＭ１５０の制御部１５４は、試験フレームに対する補正処理の正常性や処理タイミング等を性能測定し、表示部１６０等にＲＯＡＤＭ１５０の評価情報として出力する。
【００３０】
（通常フレームと試験フレームの切り替え制御）
図３は、実施の形態にかかる評価装置による通常フレームと試験フレームの切り替え制御を説明する図である。擬似回線試験機１００の制御部１０２が制御する通常フレームと試験フレームの切り替え制御にかかるタイマ設定および切り替えタイミングを説明する。図３のように、ジェネレータ１０１は、試験フレームを生成する試験フレーム生成部１０１ａと、通常フレーム生成部１０１ｂと、を含む。
【００３１】
制御部１０２は、内部のタイマ１０７に対し、通常フレームと試験フレームの切り替えに必要な各タイマ値を設定する。そして、制御部１０２は、タイマ１０７に設定した各タイマ値を用いてジェネレータ１０１および光スイッチ１０３ａ（ＳＷ−１，２），１０３ｂ（ＳＷ−３，４）を制御する。
【００３２】
タイマは、以下の（１）〜（４）の各タイマ値を設定する。
（１）ループ伝送路１１０でのループ終了時間：Ｔ１
光スイッチ１０３ａの制御に用いる。
（２）ループ伝送路１１０でのループ終了後の試験フレームが入力される時間：Ｔ２
光スイッチ１０３ｂの制御に用いる。
（３）ＲＯＡＤＭ１５０への通常フレームの送出開始時間：Ｔ３
通常フレーム生成部１０１ｂの制御に用いる。
（４）ループ伝送路１１０への試験フレームの送出開始時間：Ｔ４
試験フレーム生成部１０１ａの制御に用いる。
上記Ｔ１〜Ｔ４は、いずれも絶対時間である。
【００３３】
制御部１０２は、ユーザ設定により所望する敷設環境に対応した伝送路の距離に対応して、必要な上記（１）〜（４）のタイマ値を算出し、タイマ１０７に設定する。ここで、実際の伝送路上では、各中継点の距離において、例えば、１０Ｇｂｐｓの光伝送用ケーブルでは、１ｋｍあたり５μＳのファイバー遅延が発生する。例えば１００ｋｍの中継拠点間をシュミレーションする場合０．５ｍＳの伝送遅延が発生する。
【００３４】
このため、制御部１０２は、ループ伝送路１１０への送出開始時間：Ｔ４と、ループ終了時間：Ｔ１の各タイマ値をあらかじめ算出しておく。ループ伝送路１１０での周回（ループ）時間はＴ４−Ｔ１である。また、送出開始時間：Ｔ４と、ループ終了時間：Ｔ１の時間を基に、ＲＯＡＤＭ１５０への通常フレームの送出開始時間：Ｔ３と、ループ伝送路１１０でのループ終了後の試験フレームが光スイッチ１０３ｂに入力される時間：Ｔ２を算出し、それぞれタイマ１０７に設定する。
【００３５】
なお、図３の光減衰器３０１は、ＲＯＡＤＭ１５０に出力する通常フレームの出力レベルを所定量減衰させる。光減衰器３０１は、ループ伝送路１１０のループで低下する試験フレームの出力レベルに、通常フレームの出力レベルを合わせる。
【００３６】
（環境情報データの例）
図４は、実施の形態にかかる評価装置が設定記憶する試験パラメータの例を示す図表である。擬似回線試験機１００の記憶部１０４には、試験パラメータ（環境情報データ）４００として、伝送路の距離、ケーブル種別等の情報が記憶保持されている。
【００３７】
この試験パラメータ（環境情報データ）４００は、実際に敷設された長距離の伝送路を擬似するために、中継点の距離と、伝送路に使用するケーブル種別の情報とを含み、擬似回線試験機１００によるＲＯＡＤＭ１５０の評価試験時に試験パラメータとして使用する。
【００３８】
図中の距離は、ループ伝送路１１０での周回（ループ）距離に換算したものを用い、ケーブル種別は実環境の伝送路で使用されるケーブル（光ケーブル）であり、ＲＯＡＤＭ１０５の評価試験時には、実環境に可能な限り合わせるために、対応するケーブルを使用する。ループ伝送路１１０に出力する試験フレームのパケット数は、ループ伝送路１１０が有する距離に対応して周回（ループ可能な）パケット数とする。例えば、ループ伝送路１１０が数十ｋｍのケーブルの場合、ループ可能なフレーム数は数フレームである。
【００３９】
例えば、擬似回線試験機１００の制御部１０２は、東京〜名古屋間の実環境を擬似的に試験する場合には、図４の環境情報データ４００から東京〜名古屋間の情報を参照して、東京〜小田原間相当の距離「８０ｋｍ」ではケーブル種別「Ｇ．６５２汎用シングル（光ファイバー）」を使用した評価を行う。また、小田原から名古屋相当の「距離３００ｋｍ（中継点間距離２２０ｋｍ）」では、「Ｇ．６５３分散シフトシングル」を使用した評価を行う。
【００４０】
そして、制御部１０２は、東京〜小田原間の距離相当の評価処理を行い、その際、距離「８０ｋｍ」で「Ｇ．６５２汎用シングル」を用いる。この際、「８０ｋｍ」に基づいてループ時間Ｔ４−Ｔ１を算出し、また、タイマ時間Ｔ１〜Ｔ４をそれぞれタイマ１０７に設定する。そして、東京〜小田原間の距離相当の評価処理を行った後、小田原〜名古屋間の距離相当の評価処理として、距離「２２０ｋｍ」で「Ｇ．６５３分散シフトシングル」を用いる。この際、「２２０ｋｍ」に基づいてループ時間Ｔ４−Ｔ１を算出し、また、タイマ時間Ｔ１〜Ｔ４をそれぞれタイマ１０７に設定する。
【００４１】
（ＯＴＮフレームの例）
図５は、実施の形態にかかる評価装置が用いる試験用のＯＴＮフレームの例を示す図である。上述したジェネレータ１０１が生成し、試験フレームおよび通常フレームとして用いるＯＴＮフレーム５００を示す。
【００４２】
擬似回線試験機１００を用いた評価試験では、ＲＯＡＤＭ１５０が試験フレームを受信した際、ＦＥＣ監視が正常に行われ、劣化した試験フレームが補正されていることを検証する。ここで、光スイッチ１０３の切り替えのタイミング算出を容易にするために、ＷＤＭバースト信号を一定のバイト数で構成したＯＴＮフレームの型（ＯＴＮパケット）を使用する。図５に示すように、ＷＤＭバースト信号（ループデータ）５０１を、制御情報（ＯＨ）５０２と、誤り訂正バイト（ＦＥＣ）５０３とで包み込んだＯＴＮフレームを用いる。
【００４３】
（光スイッチの切り替えについて）
図６および図７は、それぞれ実施の形態にかかる評価装置の光スイッチの切り替え制御を説明する図である。擬似回線試験機１００の制御部１０２は、伝送路の長さに対応してあらかじめ算出し、設定したタイマ値（ループ終了時間：Ｔ１、試験フレームが入力される時間：Ｔ２）に従って、光スイッチ１０３ａ，１０３ｂの切り替えを制御する。
【００４４】
図６は、通常フレームＦ０をＲＯＡＤＭ１５０に出力するとともに、試験フレームＦ１をループ伝送路１１０に出力するループ開始時のスイッチ切り替え状態を示す図である。ループ開始時には、はじめに、擬似回線試験機１００の制御部１０２は、ジェネレータ１０１（通常フレーム生成部１０１ｂ）で生成したエラーフリー（Ｅｒｒｏｒ０）の通常フレームＦ０をＲＯＡＤＭ１５０へ出力する（送出開始時間：Ｔ３）。
【００４５】
つぎに、擬似回線試験機１００の制御部１０２は、ジェネレータ１０１（試験フレーム生成部１０１ａ）で生成した試験フレームＦ１の送信を開始する（ループ伝送路１１０への送出開始時間：Ｔ４）。
【００４６】
この際、光スイッチ１０３ａは、内部のスイッチＳＷ−１を閉じてジェネレータ１０１とループ伝送路１１０を接続する。ループ伝送路１１０と光スイッチ１０３とを接続するスイッチＳＷ−２は開放しておく。また、光スイッチ１０３ｂは、内部のスイッチＳＷ−３を閉じてジェネレータ１０１とＲＯＡＤＭ１５０を接続する。ループ伝送路１１０側の光スイッチ１０３ａとＲＯＡＤＭ１５０とを接続するスイッチＳＷ−４は開放しておく。
【００４７】
図７は、通常フレームＦ０のＲＯＡＤＭ１５０への出力を遮断し、ループ伝送路１１０でループした試験フレームＦ１をＲＯＡＤＭ１５０に出力するループ終了時のスイッチ切り替え状態を示す図である。
【００４８】
この際、ループ伝送路１１０で所望する中継区間分の伝送距離を周回していた試験フレームＦ１を、ループ終了のタイミング（ループ終了時間：Ｔ１）で、光スイッチ１０３ａのスイッチＳＷ−２を閉じる。また、ループ終了後の試験フレームＦ１が入力される時間Ｔ２で光スイッチ１０３ｂのスイッチＳＷ−４を閉じる。これにより、試験フレームＦ１をＲＯＡＤＭ１５０に出力する。この際、光スイッチ１０３ａのスイッチＳＷ−１と、光スイッチ１０３ｂのスイッチＳＷ−３は開放する。
【００４９】
図８は、実施の形態にかかる評価装置が出力するＯＴＮフレームと、各スイッチの切り替え状態を示すタイミングチャートである。擬似回線試験機１００の制御部１０２の制御を時系列に示している。横軸は時間、縦軸にはＲＯＡＤＭ１５０に出力するＯＴＮフレーム（各枠が１パケット単位）と、各スイッチＳＷ−１〜ＳＷ−４の切り替え状態である。また、Ｔ１〜Ｔ４は、それぞれ上述したタイマ値である。
【００５０】
はじめに、制御部１０２は、出力開始時間Ｔ３でスイッチＳＷ−３を介して、ＲＯＡＤＭ１５０へ通常フレームＦ０を出力する。また、ループ伝送路１１０への試験フレームの送出開始時間Ｔ４で、スイッチＳＷ−１を介して、ループ伝送路１１０に数フレームの試験フレームＦ１を出力する（ループ開始、図６相当）。
【００５１】
つぎに、制御部１０２は、送出開始時間Ｔ４から、ループ伝送路１１０でのループ長に対応するファイバー遅延時間後のタイミングでスイッチＳＷ−２を閉じ（ＯＮ）にしておく。ループ伝送路１１０は、送出開始時間Ｔ４を起点として試験フレームＦ１のループを開始し、ループ終了時間Ｔ１まで試験フレームＦ１をループさせる（ループ時間Ｔ４−Ｔ１）。
【００５２】
この後、試験フレームが入力される時間Ｔ２になると、制御部１０２は、スイッチＳＷ−２へのデータ入力の契機でスイッチＳＷ−３をＯＦＦ（開放）するとともに、スイッチＳＷ−４をＯＮ（ＲＯＡＤＭ１５０に接続）する。これにより、ループ伝送路１１０でループしていた試験フレームＦ１をスイッチＳＷ−２とＳＷ−４を介してＲＯＡＤＭ１５０に出力することができる（図７相当）。試験フレームＦ１は、図８に示す例では４フレーム（期間ＴＦ１）である。
【００５３】
これにより、擬似回線試験機１００は、ＲＯＡＤＭ１５０にそれまで出力していたエラーフリー（Ｅｒｒｏｒ０）の通常フレームＦ０に続いて、ループ伝送路１１０を周回することでデータ劣化した試験フレームＦ１を連続して出力することができる。これにより、ＲＯＡＤＭ１５０の仕様に適合して、連続的なＯＴＮフレームをＲＯＡＤＭ１５０に出力させることができる。
【００５４】
ＲＯＡＤＭ１５０は、擬似回線試験機１００から、実環境が擬似されて同等の伝送距離をループすることで劣化したデータの試験フレームＦ１（図示の例では４フレーム）を期間ＴＦ１で受信する。そして、ＲＯＡＤＭ１５０は、この４フレームの試験フレームＦ１に対する補正処理の正常性や処理タイミング等を性能測定し、表示部１６０等にＲＯＡＤＭ１５０の評価情報として出力する。
【００５５】
この後、制御部１０２は、試験フレームＦ１の受信の終了時（図中期間ＴＦ１の終了時）に、スイッチＳＷ−３をＯＮ（スイッチＳＷ−４はＯＦＦ）にして、ＲＯＡＤＭ１５０へ再度通常フレームＦ０を出力するように切り替え（図６相当）、ＯＴＮフレームの受信を継続する。図中Ｔ１，Ｔ２は異なる時刻としたが、ほぼ同時刻である。これにより、この後、試験フレームＦ１を再度ＲＯＡＤＭ１５０に出力して複数回の評価試験を継続でき、また、ＲＯＡＤＭ１５０の動作が途切れることなく継続できる。
【００５６】
（擬似回線試験機およびＲＯＡＤＭの動作処理例）
図９は、実施の形態にかかる評価装置および評価対象の伝送装置の動作処理例を示すフローチャートである。ステップＳ９０１〜ステップＳ９０３が評価装置である擬似回線試験機１００の動作処理であり、ステップＳ９０４〜ステップＳ９０６が評価対象の伝送装置であるＲＯＡＤＭ１５０の動作処理である。
【００５７】
はじめに、１．評価前準備を行う（ステップＳ９０１）。この前準備では、ユーザによる擬似回線試験機１００の操作により、制御部１０２は伝送路を敷設する実環境に対応して所望する拠点間の環境情報データ４００を記憶部１０４から読み出し、ジェネレータ１０１に設定する。また、擬似回線試験機１００には実環境と同様の種別のケーブルからなるループ伝送路１１０をポート１０５に接続しておく。制御部１０２は、設定された環境情報データ４００に基づき、実環境に対応する拠点間の距離データからループ伝送路１１０の距離および転送時間を求める（タイマ値Ｔ１〜Ｔ４を算出する）。
【００５８】
つぎに、２．擬似回線試験機１００の制御部１０２は、ジェネレータ１０１と、光スイッチ１０３（１０３ａ，１０３ｂ）を制御するためのタイマ値Ｔ１〜Ｔ４をそれぞれ設定し、ジェネレータからデータを送信する。具体的には、光スイッチ１０３（１０３ａ，１０３ｂ）を制御して、ＯＴＮパケットをループ伝送路１１０に試験フレームＦ１として送信開始し、ＲＯＡＤＭ１５０に通常フレームＦ０として送信開始する（ステップＳ９０２）。
【００５９】
この後、３．擬似回線試験機１００の制御部１０２は、ループ伝送路１１０に対するループ転送（周回）の開始および終了を制御する（ステップＳ９０３）。具体的には、環境情報データ４００から算出した拠点間の距離分のループ処理をループ伝送路１１０で開始させ、ループ終了時は光スイッチ１０３（１０３ａ，１０３ｂ）を切り替える。
【００６０】
以上の擬似回線試験機１００の動作処理により、４．ＲＯＡＤＭ１５０は、擬似回線試験機１００から出力されたＯＴＮフレーム（ＷＤＭ信号）を受信処理する（ステップＳ９０４）。この際、図８に示したように、通常フレームＦ０に続いて試験フレームＦ１をＲＯＡＤＭ１５０に出力することができ、以下、ＲＯＡＤＭ１５０は、受信した通常フレームＦ０および試験フレームＦ１を受信処理する。
【００６１】
この際、ＲＯＡＤＭ１５０は、通常フレームはエラーフリーで劣化していないデータであるため、補正処理等を行わないが、劣化したデータの試験フレームＦ１について、光増幅部１５１や光モジュール１５３により補正処理を行う。
【００６２】
つぎに、ＲＯＡＤＭ１５０は、５．光モジュール１５３における補正処理を確認する（ステップＳ９０５）。光モジュール１５３では、ＯＴＮを光の波長にのせるための補正として、受信したＷＤＭ信号のデータについてＤｒｏｐした信号の補正を行う。具体的には、ＦＥＣのコレクタブルカウント（ＯＫ）／アンコレクタブルカウント（ＮＧ）を監視することで適切な補正の有無を確認できる。
【００６３】
この後、６．光増幅部１５１や光モジュール１５３は、試験結果を装置内のＬＡＮ等の制御通信路を介して制御部１５４に転送し、試験結果を判定する（ステップＳ９０６）。具体的には、制御部１５４は、光増幅部１５１や光モジュール１５３が出力する補正情報を収集し、正常性（ＯＫ／ＮＧ判定）を行う。また、制御部１５４は、以上のステップＳ９０１〜ステップＳ９０６による初回の補正処理の試験結果を期待値として図示しない記憶部に保持し、ステップＳ９０１に戻って同様の処理を２回目以降の複数回試験を繰り返し、過去の試験結果と比較し、補正処理等のＲＯＡＤＭ１５０の性能評価を行う。そして、所望するすべての中継区間について以上の処理を行うことで、図９の処理を終了する。
【００６４】
図９のステップＳ９０１〜ステップＳ９０６に示す動作は、各中継拠点の距離毎に行う。上述した例では、東京〜名古屋間の擬似回線試験時には、はじめに東京〜小田原間の中継点の距離を対象としてステップＳ９０１〜ステップＳ９０６を実行する。この後、小田原〜名古屋間の中継点の距離を対象としてステップＳ９０１〜ステップＳ９０６を実行する。なお、中継拠点の変更に合わせてループ伝送路１１０として使用する光ケーブルは、環境情報データに設定されたものに差し替えて試験を実施する。
【００６５】
（擬似回線試験機およびＲＯＡＤＭの具体的構成例）
図１０は、実施の形態にかかる評価装置および伝送装置の内部構成例を示す図である。評価装置としての擬似回線試験機１００は、上述したジェネレータ１０１と、制御部１０２と、光スイッチ１０３と、記憶部１０４と、を含む。
【００６６】
制御部１０２は、図１０に示すように、タイマ演算値処理部１０２ａと、ＬＡＮ制御部１０２ｂと、を含む。タイマ演算値処理部１０２ａは、上述したタイマ値Ｔ１〜Ｔ４を算出し、タイマ１０７への設定およびジェネレータ１０１からのＯＴＮフレームの送信タイミング制御を制御する。ＬＡＮ制御部１０２ｂは、制御部１０２による記憶部１０４および光スイッチ１０３等への制御に用いるＬＡＮ通信を制御する。
【００６７】
この制御部１０２は、ＣＰＵおよびＲＯＭ，ＲＡＭ等を含み、ＲＯＭに格納されたプログラムをＣＰＵが実行し、ＲＡＭを作業エリアとして用いることで、上述した擬似回線試験にかかる制御を実行する。
【００６８】
ＲＯＡＤＭ１５０は、ポート１５５に光増幅部１５１が設けられ、この光増幅部１５１は、ＷＤＭ信号の中継機能としてラマン増幅（ＤＲＡ）の変調器（ＭＯＤ）１００１が伝送経路上の光カプラ１００２に接続されている。そして、ポート１５５から入力されたＯＴＮフレーム（上記通常フレームＦ０と試験フレームＦ１）は、プリ光増幅器１００３で光増幅された後、分岐挿入部（ＷＳＳ  ＳＷ：波長選択スイッチ）１５２に入力される。
【００６９】
分岐挿入部１５２は、分岐用波長選択スイッチ１００４によりＷＤＭ信号を波長選択し、複数のポートから外部装置に分岐出力する（Ｄｒｏｐ）。この分岐挿入部１５２は、ＲＯＡＤＭ１５０の評価試験時には、分岐用波長選択スイッチ１００４前段の光カプラ１００５を介してＯＴＮフレームを分岐用波長選択スイッチ１００４の特定ポート（ＣＮ）１００４ａから出力する。この特定ポート１００４ａは、Ｄｒｏｐ用の光増幅器１００６に接続され、ＯＴＮフレームが光増幅された後、マルチプレクサ（ＭＵＸ／ＤＭＵＸ）１００７を介してＯＴＮフレームの波長に対応するポートから出力され、各ポートに接続された光モジュール１５３（１５３ａ〜１５３ｎ）によって受信処理される。
【００７０】
光モジュール１５３でのＯＴＮフレーム（上記劣化した試験フレームＦ１）の受信処理による補正処理や、光増幅部１５１での光増幅の情報は、制御部１５４に送出される。制御部１５４は、診断結果に基づくＲＯＡＤＭ１５０の性能評価を行う。この制御部１５４は、ＣＰＵおよびＲＯＭ，ＲＡＭ等を含み、ＲＯＭに格納されたプログラムをＣＰＵが実行し、ＲＡＭを作業エリアとして用いることで、ＲＯＡＤＭ全体の制御および上記性能評価等の処理を実行する。この制御部１５４には診断結果表示用コンソール（表示部１６０および操作入力部１６１）が接続され、性能評価を表示および操作可能である。
【００７１】
また、ＲＯＡＤＭ１５０の分岐挿入部１５２には、光挿入にかかる構成として、外部装置から複数のポートを介してＷＤＭ信号を挿入（Ａｄｄ）する挿入用波長選択スイッチ１００８を有する。挿入用波長選択スイッチ１００８の出力は、ポスト光増幅器１００９、可変光減衰器（ＶＯＡ）１０１０を介してポート１５６から伝送路上に送信する。ＯＳＣ１０１１は、ＲＯＡＤＭ１５０での光増幅用の所定波長の発振波（励起光）を生成し、光カプラ１０１２，１０１３を介して受信側、送信側の経路上にそれぞれ出力する。
【００７２】
以上説明した実施の形態によれば、擬似回線試験機１００は、スイッチ制御により、ループ伝送路１１０を用いてループさせてから取り出すことができる。そして、擬似回線試験機１００は、ＲＯＡＤＭ１５０の評価時に、あらかじめ通常フレームをＲＯＡＤＭ１５０に出力させ、スイッチ制御により、この通常フレームに連続させてループ伝送路１１０をループした試験フレームをＲＯＡＤＭ１５０に出力することができる。
【００７３】
これにより、ＲＯＡＤＭ１５０の動作が途切れることなく試験フレームに対する受信処理を行うことができ、この試験フレームに対する補正処理等がどのように行われるかの評価を行うことができ、ＲＯＡＤＭ１５０の性能評価を行えるようになる。
【００７４】
そして、擬似回線試験機１００は、ループ伝送路１１０上で試験フレームを所望する伝送路長に相当する時間だけループさせることができるため、実環境の各種中継点間の擬似的な伝送路長のそれぞれについて、ＲＯＡＤＭ１５０の性能評価を行えるようになる。
【００７５】
中継拠点間の実環境を擬似するには環境設備のスペース、コストがかさむが、実施の形態によれば、実環境の伝送路長のループ伝送路１１０を用意しなくても実環境の伝送路長相当を短距離のループ伝送路１１０を用いて簡単な構成で擬似できる。また、実環境と同様の種類の伝送路（光ファイバー）をループ伝送路１１０として用い、擬似回線試験機１００に接続することで実環境に敷設する伝送路を擬似できるようになる。
【００７６】
これにより、膨大な伝送実験環境や中継点の設備、および光ケーブルの設備を縮小化できるようになる。また、ＲＯＡＤＭ１５０の劣化補正の正常性や、光ケーブル、ＲＯＡＤＭ１５０内のユニット、中継点の妥当性の解析や算出を容易に行うことができるようになる。
【００７７】
また、従来の海底通信では光信号しか評価できなかったが、実施の形態によれば、試験フレームを伝送装置（ＲＯＡＤＭ１５０）に送り込んでＲＯＡＤＭ１５０の動作評価が行える。これにより、伝送路と伝送装置からなる伝送基幹系全体の組み合わせ試験および評価が行えるようになる。
【００７８】
そして、実施の形態の擬似回線試験機１００を用いることにより、実環境（伝送路敷設の現場）相当の長距離伝送設備の接続性検証が行えるため、実環境での運用開始前の早期段階で伝送装置の問題検出が可能となり、実環境構築後の問題発生を抑制できる。
【００７９】
上記実施の形態では、評価対象の伝送装置としてＲＯＡＤＭを例に説明したが、評価対象の伝送装置は、これに限らず、伝送路上に敷設される他の各種中継装置や拠点装置等を対象にすることができる。
【００８０】
上述した実施の形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
【００８１】
（付記１）伝送路上に設置される伝送装置の評価を行う評価装置において、
実環境の前記伝送路の伝送路長より短い伝送路長を有し、入力される試験フレームを周回させるループ伝送路が接続され、
前記伝送装置の評価時に、前記ループ伝送路に前記試験フレームを出力するとともに、所望する伝送路長に相当する所定時間経過時に前記ループ伝送路から前記試験フレームを取り出して、前記伝送装置に出力する制御を行う制御部を有し、
前記制御部は、前記試験フレームを前記伝送装置に出力するより早い時期に、前記試験フレームと同フレーム構成のデータ劣化がない通常フレームを前記伝送装置に出力しておき、前記所定時間経過時に前記通常フレームに連続して前記試験フレームを前記伝送装置に出力する
ことを特徴とする評価装置。
【００８２】
（付記２）前記試験フレームおよび前記通常フレームを生成するジェネレータと、
前記ジェネレータで生成された前記試験フレームを前記ループ伝送路に出力し取り込む第１光スイッチと、
前記ジェネレータで生成された前記通常フレームを前記伝送装置に出力し、また、前記ループ伝送路から取り込んだ前記試験フレームを前記伝送装置に出力する第２光スイッチと、を有し、
前記制御部は、前記第１光スイッチを制御して、前記試験フレームを前記ループ伝送路に出力した第１の時期と、所望する伝送路長に相当する所定時間経過後の第２の時期と、に基づき、当該所定時間後に前記第１光スイッチおよび前記第２光スイッチを制御して、前記試験フレームを前記伝送装置に出力する
ことを特徴とする付記１に記載の評価装置。
【００８３】
（付記３）実環境に相当する複数の中継点の伝送路長が設定された環境情報データを保持する記憶部を有し、
前記制御部は、前記伝送装置の評価時に用いる実環境に対応した伝送路長を前記環境情報データから読み出し、当該伝送路長に対応して前記第１の時期と前記第２の時期とをそれぞれ算出する
ことを特徴とする付記２に記載の評価装置。
【００８４】
（付記４）前記ジェネレータは、
前記試験フレームおよび前記通常フレームを、一定のバイト数からなり、制御情報と誤り訂正バイトでデータを包み込んだフレームを生成することを特徴とする付記２または３に記載の評価装置。
【００８５】
（付記５）前記制御部は、
前記試験フレームのフレーム数を前記ループ伝送路の伝送路長に応じて設定することを特徴とする付記１〜４のいずれか一つに記載の評価装置。
【００８６】
（付記６）前記制御部は、
前記試験フレームを前記伝送装置に出力した後、当該試験フレームのフレーム数に達した時期に、前記第１光スイッチおよび前記第２光スイッチを制御して、前記試験フレームに連続して前記通常フレームを前記伝送装置に出力する
ことを特徴とする付記２〜５のいずれか一つに記載の評価装置。
【００８７】
（付記７）伝送路上に設置される伝送装置の評価を行う評価装置の評価方法において、
前記評価装置に、実環境の前記伝送路の伝送路長より短い伝送路長を有し、入力される試験フレームを周回させるループ伝送路を接続させ、
前記伝送装置の評価時に、前記ループ伝送路に前記試験フレームを出力するとともに、所望する伝送路長に相当する所定時間経過時に前記ループ伝送路から前記試験フレームを取り出して、前記伝送装置に出力させ、
前記試験フレームを前記伝送装置に出力するより早い時期に、前記試験フレームと同フレーム構成のデータ劣化がない通常フレームを前記伝送装置に出力しておき、前記所定時間経過時に前記通常フレームに連続して前記試験フレームを前記伝送装置に出力する
ことを特徴とする評価方法。
【符号の説明】
【００８８】
１００  擬似回線試験機
１０１  ジェネレータ
１０１ａ  試験フレーム生成部
１０１ｂ  通常フレーム生成部
１０２，１５４  制御部
１０２ａ  タイマ演算値処理部
１０２ｂ  ＬＡＮ制御部
１０３（１０３ａ，１０３ｂ）  光スイッチ
１０４  記憶部
１０５，１０６，１５５，１５６  ポート
１０７  タイマ
１１０  ループ伝送路
１５０  ＲＯＡＤＭ
１５１  光増幅部
１５２  分岐挿入部
１５３  光モジュール
１６０  表示部
１６１  操作入力部
４００  環境情報データ
Ｆ０  通常フレーム
Ｆ１  試験フレーム
【図１】
2016167772.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
2016167772.tif 000008
【図７】
2016167772.tif 000009
【図８】
2016167772.tif 000010
【図９】
2016167772.tif 000011
【図１０】
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