(57)【要約】【課題】ダイアフラムの分割振動の発生を防止する。【解決手段】抑制部１０はバックカバー９５に沿って設けられており、本実施形態では、抑制部１０、バックカバー９５、スペーサリング９０、エッジ８９およびダイアフラム８７で囲まれた空間がバックキャビティＢＣである。抑制部１０には、ホーンスピーカ１の中心軸ａｘ付近でダイアフラム８７に向かって開口する円筒形状の凹部１１が設けられている。凹部１１は、中心軸ａｘに沿って設けられている。抑制部１０は、凹部１１によってバックキャビティＢＣにおける定在波の発生を抑制し、ダイアフラム８７の分割振動の発生を防止する。凹部１１の開口部１２から底部１３までの長さは、バックキャビティＢＣの抑制対象の定在波の波長の１／４の長さの奇数倍となっている。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ダイアフラムと、
空間を隔てて前記ダイアフラムを覆う部材であり、当該空間において発生する定在波の腹の位置、または前記ダイアフラムにおいて発生する分割振動の節の位置の少なくとも一方に開口を有する抑制部と、を備える
ことを特徴とするコンプレッションドライバ。
【請求項２】
前記抑制部は、前記ダイアフラムに向かって開口する凹部を有し、
前記凹部の開口は、前記定在波の腹の位置、または前記分割振動の節の位置の少なくとも一方に設けられている
ことを特徴とする請求項１に記載のコンプレッションドライバ。
【請求項３】
前記抑制部は、前記定在波の腹の位置と当該定在波の節の位置に、当該抑制部内で連通する開口を有する
ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載のコンプレッションドライバ。
【請求項４】
空間を隔てて前記抑制部を覆うバックカバーを備え、
前記抑制部には、前記ダイアフラムとの間の空間と前記バックカバーとの間の空間とを連通させるスリットが、前記分割振動の節の位置に設けられている
ことを特徴とする請求項１〜３のいずれか１の請求項に記載のコンプレッションドライバ。
【請求項５】
音波を空間に放射するホーンと、
請求項１〜４のいずれか１の請求項に記載のコンプレッションドライバと、
を有することを特徴とするホーンスピーカ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、コンプレッションドライバおよびホーンスピーカに関する。
【背景技術】
【０００２】
ホーンスピーカとは、音の指向性を良くするために、コンプレッションドライバにホーンを付加したものである。図１０は、従来のホーンスピーカ５の縦断面図である。図１０において、ホーン８４のスロート部９４は、バックプレート８０の一端面に固定されている。このバックプレート８０において、ホーン８４と反対側の端面にはポールピース８５の一底面が固定されている。そして、バックプレート８０とポールピース８５の中心には両者を貫いてホーン８４のスロート部９４に至る導音孔８３が穿設されている。ポールピース８５においてバックプレート８０と反対側の底面は導音孔８３に向かってすり鉢状に凹んでおり、このすり鉢状の面には複数のスリットを有するフェイズプラグ８６が嵌め込まれている。そして、フェイズプラグ８６の背後には一定間隔を開けてダイアフラム８７が支持されている。このダイアフラム８７は、ドーム状に湾曲した半真球形状をしており、その外周部に筒状のボイスコイルボビン８８が設けられている。
【０００３】
バックプレート８０におけるホーン８４と反対側の端面には、バックプレート８０と同じ直径の環状マグネット８２とトッププレート８１があり、環状マグネット８２は、バックプレート８０とトッププレート８１との間に挟持されている。環状マグネット８２は、一方の底面（例えばバックプレート８０側の底面）にＮ極があり、他方の底面（例えばトッププレート８１側の底面）にＳ極がある。
【０００４】
トッププレート８１の内周壁は、微小な間隔を空けてポールピース８５の外周壁と対向している。そして、バックプレート８０と、環状マグネット８２と、トッププレート８１と、フェイズプラグ８６と、ポールピース８５とからなる磁気のループは、環状マグネット８２が発生した磁力線を一巡させる磁気回路を構成している。そして、ダイアフラム８７は、この磁気回路において、トッププレート８１の内周壁とポールピース８５の外周壁との間にある磁気ギャップＡＧに周端のボイスコイルボビン８８を収めた状態で支持されている。
【０００５】
ダイアフラム８７を支持する構成は次の通りである。まず、トッププレート８１の環状マグネット８２と反対側の端面には、スペーサリング９０が固定されている。このスペーサリング９０の内周壁とダイアフラム８７の外周部との間にはエッジ８９が介在している。このエッジ８９がダイアフラム８７を支持する役割を果たす。
【０００６】
以上のような構成を有するホーンスピーカ５では、環状マグネット８２の発生した磁束がトッププレート８１とポールピース８５の間の磁気ギャップＡＧを通過する。そして、ボイスコイルボビン８８におけるボイスコイルに電流を流すと、ボイスコイルボビン８８には、ポールピース８５の中心軸ａｘに平行な方向の駆動力が与えられ、ボイスコイルボビン８８に固定されたダイアフラム８７が振動する。ダイアフラム８７が振動すると、この振動により、ダイアフラム８７とフェイズプラグ８６との間の空間ＯＳの空気がフェイズプラグ８６の各スリットを介して導音孔８３に押し出されたり引き戻されたりする。そして、この押し出されたり引き戻されたりする空気の粗密波が、音波として導音孔８３を経由し、ホーン８４から放音される。
【０００７】
ホーンスピーカ５は、ダイアフラム８７を挟んでフェイズプラグ８６の反対側にダイアフラム８７を覆うバックカバー９５を備えている。ホーンスピーカ５では、ダイアフラム８７が振動すると、ホーン８４から放音されるのと同時に、ダイアフラム８７、エッジ８９、スペーサリング９０およびバックカバー９５によって包囲されたバックキャビティＢＣにも音波が放射される。バックキャビティＢＣにある周波数の音波が放射されると、ダイアフラム８７からバックカバー９５へ進む音波と、バックカバー９５で反射してバックカバー９５からダイアフラム８７へ進む音波とが合わさって、バックキャビティＢＣに定在波が発生する。このバックキャビティＢＣに発生する定在波は、ダイアフラム８７の振動に悪影響を及ぼし、ダイアフラム８７に分割振動を発生させ、ホーンスピーカ５の音質劣化を引き起こす。このため、このようなダイアフラム８７の分割振動を抑制する技術が種々提案されている。
【０００８】
例えば、特許文献１に開示の技術では、バックキャビティに吸音材を設けることで、定在波の影響を緩和し、ダイアフラムの分割振動を抑制している。特許文献２や特許文献３に開示の技術では、ダイアフラムを高剛性化し、分割振動が発生する周波数を高域側にシフトさせている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開昭５６−１４０７９９号公報
【特許文献２】実案平２−２６８９５号公報
【特許文献３】特許第５１６４９８９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかし、特許文献１に開示の技術のようにバックキャビティに吸音材を設けると、ダイアフラムの分割振動の原因となる定在波の周波数以外の周波数帯域の音波にも影響を及ぼしてしまう。なぜなら、バックキャビティに設けた吸音材は、特定の周波数以外の周波数帯域の音波も吸音するからである。さらに、特許文献２や特許文献３に開示の技術のようなダイアフラムの高剛性化には高価な素材が必要となり、高コスト化を招くことになる。その上、例えば特許文献３に開示の技術のようにダイアフラムにリブを設けると、確かにダイアフラムの分割振動が発生する周波数は高域側にシフトするが、そのシフト量はリブを設けていない場合にダイアフラムの分割振動が発生する周波数の数％しかなく、リブを設ける効果が薄い。
【００１１】
本発明は以上に説明した課題に鑑みて為されたものであり、ホーンスピーカにおいて、特定の周波数以外の周波数帯域の音波に影響を与えず、安価で効果的にダイアフラムの分割振動の発生を防止する技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記課題を解決するために本発明は、ダイアフラムと、空間を隔てて前記ダイアフラムを覆う部材であり、当該空間において発生する定在波の腹の位置、または前記ダイアフラムにおいて発生する分割振動の節の位置の少なくとも一方に開口を有する抑制部と、を備えることを特徴とするコンプレッションドライバを提供する。
【００１３】
上記開口の具体的な態様としては種々の態様が考えられる。第１に、上記抑制部が設けられていない場合に発生する上記定在波の振幅が最大となる腹の位置に、ダイアフラムに向かって開口する凹部を設ける態様が挙げられる。上記定在波の腹の位置に、開口部から底部までの長さが当該定在波の波長の１／４の長さの奇数倍となっている凹部を設けることで、当該定在波の発生を抑制し、定在波によるダイアフラムの分割振動の発生を抑制できる。また、上記抑制部が設けられていない場合に発生するダイアフラムの上記分割振動の振幅が最小となる節の位置に凹部を設けるようにすれば、当該位置付近ではダイアフラムが振動し易くなり、当該分割振動の発生を抑制できる。第２に、長さが上記定在波の波長の１／２の長さの倍数となっている孔を抑制部に設け、当該孔の開口端の一方を上記定在波の腹の位置に設け、他方を当該定在波の節の位置に設ける態様が挙げられる。この態様によっても、当該定在波の発生を抑制し、定在波によるダイアフラムの分割振動の発生を抑制できる。そして、第３に、バックカバーとの間に空間を開けて抑制部を設け、当該抑制部とバックカバーとの間の空間と、当該抑制部とダイアフラムとの間の空間とを連通させるスリットをダイアフラムの上記分割振動の節の位置に設ける態様が挙げられる。この態様によっても、当該位置付近ではダイアフラムが振動し易くなり、当該分割振動の発生を抑制できる。
【００１４】
本発明では、吸音材を用いないため、定在波の周波数以外の周波数帯域に影響を及ぼすことがない。また、本発明では、ダイアフラムを高剛性化する必要はなく、ダイアフラムの素材に高価な素材を用い、ダイアフラムにリブを設ける必要もない。したがって、本発明によれば、特定の周波数以外の周波数帯域の音波に影響を与えずに、安価で効果的にダイアフラムの分割振動の発生を防止できる。
【００１５】
本発明の別の態様としては、音波を空間に放射するホーンと、上記各態様のいずれかのコンプレッションドライバと、を有するホーンスピーカを提供する。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】この発明の第１実施形態のホーンスピーカ１の縦断面図である。
【図２】同ホーンスピーカ１のバックキャビティＢＣに生じる定在波を例示する図である。
【図３】この発明の第２実施形態のホーンスピーカ２の縦断面図である。
【図４】同ホーンスピーカ２のバックキャビティＢＣに生じる定在波を例示する図である。
【図５】この発明の第３実施形態のホーンスピーカ３の縦断面図である。
【図６】同ホーンスピーカ３のダイアフラム８７の分割振動を例示する図である。
【図７】この発明の第４実施形態のホーンスピーカ４の縦断面図である。
【図８】同ホーンスピーカ４のダイアフラム８７の分割振動を例示する図である。
【図９】ホーンスピーカ１の変形例を示す縦断面図である。
【図１０】従来のホーンスピーカ５の縦断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について説明する。
＜第１実施形態＞
図１は、この発明の第１実施形態のホーンスピーカ１の縦断面図である。図１では、図１０におけるものと同一の構成要素には同一の符号が付されている。図１と図１０を比較すれば明らかなように、ホーンスピーカ１は抑制部１０を備える点がホーンスピーカ５と異なる。以下では抑制部１０を中心に説明する。
【００１８】
図１に示すように、抑制部１０はバックカバー９５に沿って設けられており、本実施形態では、抑制部１０、バックカバー９５、スペーサリング９０、エッジ８９およびダイアフラム８７で囲まれた空間がバックキャビティＢＣである。抑制部１０には、ホーンスピーカ１の中心軸ａｘ付近でダイアフラム８７に向かって開口する円筒形状の凹部１１が設けられている。凹部１１は、中心軸ａｘに沿って設けられている。
【００１９】
凹部１１の開口部１２から底部１３までの距離（以降、凹部１１の長さと呼ぶ）は、バックキャビティＢＣの抑制対象の定在波の波長の１／４の長さの奇数倍となっている。
【００２０】
抑制部１０は、凹部１１によってバックキャビティＢＣにおける定在波の発生を抑制し、ダイアフラム８７の分割振動の発生を防止する。その理由は以下の通りである。図２は、抑制部１０が設けられていない場合にバックキャビティＢＣに発生する音の定在波を例示する図である。バックキャビティＢＣの実線で示す波形Ｗａは、ある時刻における音圧分布を示しており、バックキャビティＢＣの破線で示す波形Ｗｂは、実線の波形Ｗａを半周期ずらした時刻における音圧分布を示している。なお、図２では、中心軸ａｘ付近は、定在波の振幅が最大となる腹の位置に相当する。すなわち、図２では、定在波の腹の位置が凹部１１の開口部１２の位置と一致する。
【００２１】
開口部１２付近の媒質（空気）は、中心軸ａｘ付近の音圧変化によって加振される。これにより、凹部１１の内部では、開口部１２から底部１３へ向かう音波が発生する。この音波が底部１３に到達すると、底部１３において反射する。底部１３による反射は剛壁による反射であるため、反射した音波の位相は、開口部１２から底部１３へ向かう音波と同相となる。この音波は、凹部１１内を伝わって開口部１２付近に到達する。
【００２２】
凹部１１の長さは、抑制対象の定在波の波長の１／４の長さの奇数倍であるため、凹部１１内を進行して戻ってくる音波の経路長は、抑制対象の定在波の波長の１／２の長さの奇数倍である。このため、凹部１１内を伝わって開口部１２付近に戻ってきた音波は、当該開口部１２付近における音圧変化の位相に対して逆相になる。凹部１１の開口部１２付近では、互いに逆相の音波が重ね合わされるため、音圧が弱められる。従って、凹部１１の開口部１２付近では、定在波の発生が抑制され、ダイアフラム８７の分割振動の発生を防止できる。
【００２３】
本実施形態では、凹部１１は中心軸ａｘに沿って設けられていたが、凹部１１が設けられる位置はここに限られず、定在波の腹の位置であればどこでもよい。定在波の腹の位置は、実験やシミュレーション等により決定すればよい。さらに、本実施形態では、凹部１１は１つだけ設けられていたが、凹部１１が複数設けられた態様をとってもよい。凹部１１が複数設けられた方が定在波の発生がより抑制され、ダイフラム８７の分割振動の発生をより防止できる。また、本実施形態では、凹部１１は円筒形状であったが、凹部１１の形状はこれに限られない。凹部１１の長さが抑制対象の定在波の波長の１／４の長さの奇数倍であれば、定在波の発生を抑制し、ダイアフラム８７の分割振動の発生を防止する限り、凹部１１の形状は何でもよい。
【００２４】
＜第２実施形態＞
図３は、この発明の第２実施形態のホーンスピーカ２の縦断面図である。図３では、図１０におけるものと同一の構成要素には同一の符号が付されている。図３と図１０を比較すれば明らかなように、ホーンスピーカ２は抑制部２０を備える点がホーンスピーカ５と異なる。以下では抑制部２０を中心に説明する。
【００２５】
図３に示すように、抑制部２０はバックカバー９５に沿って設けられており、本実施形態では、抑制部２０、バックカバー９５、スペーサリング９０、エッジ８９およびダイアフラム８７で囲まれた空間がバックキャビティＢＣである。抑制部２０には、２箇所においてダイアフラム８７に向かって開口が設けられており、これらの開口は抑制部２０内で連通して孔２１を形成している。なお、抑制部２０に設けられた２箇所の開口のうち１箇所は、ホーンスピーカ２の中心軸ａｘ付近に位置している。
【００２６】
図３では、孔２１の２箇所の開口のうち、開口端２２が中心軸ａｘ付近に設けられている。開口端２２から開口端２３までの距離（以降、孔２１の長さと呼ぶ）は、バックキャビティＢＣの抑制対象の定在波の波長の１／２の長さの倍数となっている。
【００２７】
抑制部２０は、孔２１によってバックキャビティＢＣにおける定在波の発生を抑制し、ダイアフラム８７の分割振動の発生を防止する。その理由は以下の通りである。図４は、抑制部２０が設けられていない場合にバックキャビティＢＣに発生する音の定在波を例示する図である。バックキャビティＢＣの実線で示す波形Ｗｃは、ある時刻における音圧分布を示しており、バックキャビティＢＣの破線で示す波形Ｗｄは、実線の波形Ｗｃを半周期ずらした時刻における音圧分布を示している。なお、図４でも、図２と同様に、中心軸ａｘ付近は、定在波の振幅が最大となる腹の位置に相当する。すなわち、図４では、定在波の腹の位置が孔２１の開口端２２の位置と一致し、定在波の振幅が最小となる節の位置が孔２１の開口端２３の位置と一致する。
【００２８】
開口端２２付近の媒質（空気）は、中心軸ａｘ付近の音圧変化によって加振される。これにより、孔２１の内部では、開口端２２から開口端２３へ向かう音波が発生する。この音波が開口端２３に到達すると、開口端２３において反射する。開口端２３による反射は開口端による反射であるため、反射した音波の位相は、開口端２２から開口端２３へ向かう音波と逆相となる。この音波は、孔２１内を伝わって開口端２２付近に到達する。
【００２９】
孔２１の長さは、抑制対象の定在波の波長の１／２の長さの倍数であるため、孔２１内を進行して戻ってくる音波の経路長は、抑制対象の定在波の波長の１／２の長さの偶数倍、すなわち波長の倍数である。このため、孔２１内を伝わって開口端２２付近に戻ってきた音波は、当該開口端２２付近における音圧変化の位相に対して逆相になる。孔２１の開口端２２付近では、互いに逆相の音波が重ね合わされるため、音圧が弱められる。従って、孔２１の開口端２２付近では、定在波の発生が抑制され、ダイアフラム８７の分割振動の発生を防止できる。
【００３０】
本実施形態では、孔２１の開口端２２は中心軸ａｘ付近に設けられていたが、孔２１が設けられる位置はここに限られず、開口端２２を定在波の腹の位置に設け、開口端２３を定在波の節の位置に設けていれば、孔２１が設けられる位置はどこでもよい。定在波の腹の位置や節の位置は、実験やシミュレーション等により決定すればよい。さらに、本実施形態では、孔２１は１つだけ設けられていたが、孔２１が複数設けられた態様をとってもよい。孔２１が複数設けられた方が定在波の発生がより抑制され、ダイアフラム８７の分割振動の発生をより防止できる。また、孔２１の長さが抑制対象の定在波の波長の１／２の長さの倍数であれば、定在波の発生を抑制して、ダイアフラム８７の分割振動の発生を防止する限り、孔２１の形状は何でもよい。
【００３１】
＜第３実施形態＞
図５は、この発明の第３実施形態のホーンスピーカ３の縦断面図である。図５では、図１０におけるものと同一の構成要素には同一の符号が付されている。図５と図１０を比較すれば明らかなように、ホーンスピーカ３は抑制部３０を備える点がホーンスピーカ５と異なる。以下では抑制部３０を中心に説明する。
【００３２】
図５に示すように、抑制部３０はバックカバー９５とダイアフラム８７との間に空間を開けて設けられており、本実施形態では、抑制部３０とダイアフラム８７との間の空間をバックキャビティＢＣ１とし、抑制部３０とバックカバー９５との間の空間をバックキャビティＢＣ２とする。抑制部３０に設けられた支持部３４により、抑制部３０は、バックカバー９５から支持されている。本実施形態では、支持部３４は抑制部３０のエッジ８９に対向する面に沿って設けられているが、支持部３４の位置はここに限られず、抑制部３０がバックカバー９５或いはスペーサリング９０により支持されればどこでもよい。
【００３３】
抑制部３０には、バックキャビティＢＣ１とバックキャビティＢＣ２とを連通させるスリット３１が設けられている。スリット３１は、両端が開口端３２および開口端３３として開口する。スリット３１は、円筒形状である。スリット３１の開口端３２は、抑制部３０が設けられていない場合に発生するダイアフラム８７の分割振動の振幅が最小となる節の位置に設けられているが、詳細は後述する。スリット３１は、バックキャビティＢＣ１とバックキャビティＢＣ２とを連通させることができればよく、開口端３２から開口端３３までの長さは任意である。
【００３４】
抑制部３０は、スリット３１によりダイアフラム８７の分割振動の発生を防止する。その理由は以下の通りである。図６は、抑制部３０が設けられていない場合に発生するダイアフラム８７の分割振動を例示する図である。バックキャビティＢＣ１と空間ＯＳの実線で示すダイアフラム８７ａは、ある時刻におけるダイアフラム８７の形状を示しており、バックキャビティＢＣ１と空間ＯＳの破線で示すダイアフラム８７ｂは、実線のダイアフラム８７ａを半周期ずらした時刻におけるダイアフラム８７の形状を示している。なお、図６では、中心軸ａｘ付近は、ダイアフラム８７の分割振動の振幅が最大となる腹の位置に相当する。すなわち、図６では、ダイアフラム８７の分割振動の節の位置が開口端３２の位置と一致する。
【００３５】
ダイアフラム８７の分割振動の節の位置にスリット３１の開口端３２が設けられているため、当該位置では、他の位置に比較して、スリット３１を介してバックキャビティＢＣ１からバックキャビティＢＣ２への空気の流れ、あるいはその逆の流れが発生し易く、ダイアフラム８７は振動し易い。つまり、ダイアフラム８７の分割振動の節の位置ではダイアフラム８７は振動し易くなり、ダイアフラム８７の腹の位置ではダイアフラム８７は振動し難くなる。そのため、ダイアフラム８７の分割振動の発生を防止できる。
【００３６】
抑制部３０に設けられるスリット３１の開口端３２の位置は、事前に実験やシミュレーション等を実施して把握しておけばよく、ダイアフラム８７の分割振動の節の位置に応じて開口端３２の位置を変更してもよい。さらに、ダイアフラム８７の分割振動の節の位置全てにスリット３１を設ける必要はなく、ダイアフラム８７の分割振動の発生を防止できれば、設けるスリット３１の数は限定されることはない。また、本実施形態では、スリット３１は円筒形状であったが、スリット３１の形状はこれに限られない。スリット３１内の空間とバックキャビティＢＣ１とが、開口端３２によってダイアフラム８７の分割振動の節の位置で連通し、ダイアフラム８７の分割振動の発生を防止できれば、スリット３１の形状は何でもよい。例えば、スリット３１がらせん形状をしていても、スリット３１によってバックキャビティＢＣ１とバックキャビティＢＣ２とが連通して、ダイアフラム８７の分割振動の発生を防止できる。
【００３７】
本実施形態では、スリット３１により、バックキャビティＢＣ１とバックキャビティＢＣ２とが連通しているが、連通していない態様をとってもよい。この態様では、抑制部３０にダイアフラム８７に向かって開口する凹部がスリット３１の代わりに設けられており、凹部の開口部の位置はスリット３１の開口端３２の位置と一致する。凹部の開口部から底部までの距離が十分に長ければ、この態様のホーンスピーカは、ダイアフラム８７の分割振動の発生を防止することに関して、本実施形態のホーンスピーカ３と同等の効果を奏する。
【００３８】
＜第４実施形態＞
図７は、この発明の第４実施形態のホーンスピーカ４の縦断面図である。図７では、図１０におけるものと同一の構成要素には同一の符号が付されている。図７と図１０を比較すれば明らかなように、ホーンスピーカ４は抑制部４０を備える点がホーンスピーカ５と異なる。以下では抑制部４０を中心に説明する。
【００３９】
図７に示すように、抑制部４０はバックカバー９５に沿って設けられており、本実施形態では、抑制部４１、バックカバー９５、スペーサリング９０、エッジ８９およびダイアフラム８７で囲まれた空間がバックキャビティＢＣ１である。すなわち、本実施形態のホーンスピーカ４は、第３実施形態のホーンスピーカ３のバックキャビティＢＣ２を抑制部４０で埋めたホーンスピーカに相当する。抑制部４０には、ダイアフラム８７に向かって開口する円筒形状の凹部４１が設けられている。スリット３１と同様に、凹部４１の開口部４２から底部４３までの距離（以降、凹部４１の長さと呼ぶ）は任意である。開口部４２は、抑制部４０が設けられていない場合に発生するダイアフラム８７の分割振動の振幅が最小となる節の位置に設けられている。
【００４０】
抑制部４０は、スリット３１と同様に、凹部４１によってダイアフラム８７の分割振動の発生を防止する。図８は、ダイアフラム８７の分割振動を例示する図である。バックキャビティＢＣ１と空間ＯＳの実線で示すダイアフラム８７ｃは、ある時刻におけるダイアフラム８７の形状を示しており、バックキャビティＢＣ１と空間ＯＳの破線で示すダイアフラム８７ｄは、実線のダイアフラム８７ｃを半周期ずらした時刻におけるダイアフラム８７の形状を示している。図８においても、図６と同様に、中心軸ａｘ付近はダイアフラム８７の分割振動の振幅が最大となる腹の位置に相当する。すなわち、図８では、ダイアフラム８７の分割振動の節の位置が開口部４２の位置と一致する。凹部４１の長さが十分に長ければ、抑制部４０は、ダイアフラム８７の分割振動の発生を防止することに関して、第３実施形態の抑制部３０と同等の効果を奏する。
【００４１】
抑制部４０における開口部４２の位置は、事前に実験やシミュレーション等を実施して把握しておけばよく、ダイアフラム８７の分割振動の発生の原因となる周波数に応じて開口部４２の位置を変更してもよい。さらに、ダイアフラム８７の分割振動の節の位置全てに凹部４１を設ける必要はなく、ダイアフラム８７の分割振動の発生を防止できれば、設ける凹部４１の数は限定されることはない。また、本実施形態では、凹部４１は円筒形状であったが、凹部４１の形状はこれに限られない。
【００４２】
＜変形例＞
（１）上記各実施形態を組み合わせてもよい。例えば、第１実施形態と第２実施形態を組み合わせ、凹部１１の長さと孔部２１の長さとに各々対応する波長の定在波の周波数を異なったものとすることで、２種類の周波数の定在波の発生を同時に抑制することができる。この態様では、２種類の周波数の定在波の中で、周波数が高い定在波の波長に孔部２１の長さを対応させ、周波数が低い定在波の波長に凹部１１の長さを対応させた方がよい。なぜなら、その逆である場合よりもホーンスピーカ全体をコンパクトにすることができるからである。他にも、例えば、第１実施形態と第４実施形態を組み合わせると、定在波の発生を抑制することでダイアフラム８７の分割振動の発生を防止することができる上に、さらに凹部４１を設けることでダイアフラム８７の分割振動の発生自体を防止することができ、ダイアフラム８７の分割振動の発生をより防止できる。さらに、例えば、第１実施形態と第４実施形態を組み合わせた態様では、抑制対象の定在波の腹の位置とダイアフラム８７の分割振動の節の位置とが一致する場合には、凹部４１に凹部１１の役割を担わせてもよい。このようにすることで、ホーンスピーカ全体をコンパクトにすることができる。
【００４３】
（２）第１実施形態の抑制部１０は、金属や樹脂などのある程度の剛性を持ったものであればどのようなものでもよい。例えば、鋳造や射出成型により凹部１１が設けられていない抑制部１０を成形し、その後、抑制部１０の中心軸ａｘ付近を削ることで凹部１１を設けてもよいし、最初から凹部１１を有する形状に抑制部１０を成形してもよい。これは、第３実施形態の抑制部３０および第４実施形態の抑制部４０にも当てはまる。第２実施形態の抑制部２０については、例えば、中心軸ａｘを含む平面による断面の形状が図３の形状となるような２分割した抑制部２０を形成し、両者を貼り合せて孔２１を有する抑制部２０を形成してもよい。孔２１が設けられていない抑制部２０の開口端２２と開口端２３の位置から互いに向かって斜めに削り、孔２１を設けてもよい。さらに、抑制部１０の内部が中空となっていてもよい。この態様であれば、ホーンスピーカ１全体の重量を減らすことができる上に、ホーンスピーカ１の材料コストを低減することもできる。これも、第２実施形態の抑制部２０、第３実施形態の抑制部３０および第４実施形態の抑制部４０に当てはまる。
【００４４】
（３）上記各実施形態では、ダイアフラム８７を覆うバックカバー９５がドーム状であった。しかし、バックカバー９５の形状は、ドーム状に限られない。
【００４５】
（４）ホーンスピーカには、ダイアフラム８７の音放射面が放音方向に対して凸状に湾曲しているフロントタイプと、ダイアフラム８７の音放射面が放音方向に対して凹状に湾曲しているリアタイプとがある。上記各実施形態のホーンスピーカは全てリアタイプであったが、本発明をフロントタイプのホーンスピーカに適用してもよい。
【００４６】
（５）第１実施形態において、抑制部１０とバックカバー９５が一体となった態様をとってもよい。図９は、この態様のホーンスピーカ１ａの縦断面図である。図９に示すように、この態様では、抑制部１０とバックカバー９５が一体となったバックカバー９６が設けられている。バックカバー９６の中心軸ａｘ付近には凹部１１が設けられており、この凹部１１は、バックカバー９５の凹部１１と同じである。このように、抑制部１０とバックカバー９５を別々に設けるよりも、抑制部１０とバックカバー９５が一体となったバックカバー９６を設けた方が、ホーンスピーカ１ａ全体をコンパクトにすることができる。これは第２実施形態と第４実施形態についても同様である。
【００４７】
（６）上記各実施形態のホーンスピーカからホーン８４を除いて、コンプレッションドライバ単体を提供してもよい。
【符号の説明】
【００４８】
１，１ａ，２，３，４，５……ホーンスピーカ、１０，２０，３０，４０……抑制部、１１，４１……凹部、１２，４２……開口部、１３，４３……底部、２１……孔、２２，２３，３２，３３……開口端、３１……スリット、３４……支持部、８０……バックプレート、８１……トッププレート、８２……環状マグネット、８３……導音孔、８４……ホーン、８５……ポールピース、８６……フェイズプラグ、８７，８７ａ，８７ｂ，８７ｃ，８７ｄ……ダイアフラム、８８……ボイスコイルボビン、８９……エッジ、９０……スペーサリング、９４……スロート部、９５，９６……バックカバー、ａｘ……中心軸、ＯＳ……空間、ＡＧ……磁気ギャップ、ＢＣ，ＢＣ１，ＢＣ２……バックキャビティ、Ｗａ，Ｗｂ，Ｗｃ，Ｗｄ……波形。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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