(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学的時間領域反射計（ＯＴＤＲ）を用いて光ファイバのカットオフ波長を近似する方法であって、
ＯＴＤＲを提供するステップと、
光ファイバの第１の点で第１の片方向ＯＴＤＲ接続損失をＯＴＤＲを用いて測定するステップと、
光ファイバに曲がりを導入するステップと、
該曲がりを有する該光ファイバの該第１の点で第２の片方向ＯＴＤＲ接続損失をＯＴＤＲを用いて測定するステップと、
該第１の片方向ＯＴＤＲ接続損失と第２の片方向ＯＴＤＲ接続損失との差に基づいて光ファイバの曲がり損失を決定するステップと、
事前確立された相関関係によって光ファイバの曲がり損失を光ファイバの近似カットオフ波長に相関させることで、曲がり損失を光ファイバの近似カットオフ波長に関連付けるステップとを含む方法。
【請求項２】
請求項１に記載の方法において、事前確立された相関関係によって光ファイバの曲がり損失を光ファイバの近似カットオフ波長に相関させることで、曲がり損失を光ファイバの近似カットオフ波長に関連付ける該ステップが、複数の同種の光ファイバの曲がり損失とカットオフ波長との相関関係を確立するステップを含む方法。
【請求項３】
光ファイバのカットオフ波長を近似するシステムであって、
光ファイバに少なくとも１つの曲がりを導入するように構成されたファイバ曲げ装置と、
光ファイバに曲がりが導入される前後で光ファイバの片方向ＯＴＤＲ接続損失を測定するように構成されたＯＴＤＲを含み、光ファイバの曲がり損失が光ファイバ内に曲がりが導入される前後の片方向ＯＴＤＲ接続損失から決定できるものであり、該システムはさらに、
曲がり損失を光ファイバの近似カットオフ波長に関連付ける相関器とを含むシステム。
【請求項４】
請求項３に記載のシステムにおいて、ファイバ曲げ装置が、光ファイバ内に複数の曲げ部を導入できる第１のプレス部および第２のプレス部を含むシステム。
【請求項５】
ＯＴＤＲで光ファイバのカットオフ波長を近似するコンピュータ・システムで使用する方法であって、
光ファイバの一点での第１のＯＴＤＲ接続損失の測定を制御するステップと、
光ファイバへの曲がりの導入を制御するステップと、
曲がりが導入された後で光ファイバの該一点での第２のＯＴＤＲ接続損失の測定を制御するステップと、
該第１の片方向ＯＴＤＲ接続損失と該第２の片方向ＯＴＤＲ接続損失との差に基づいて光ファイバの曲がり損失を決定するステップと、
事前確立された相関関係によって光ファイバの曲がり損失を光ファイバの近似カットオフ波長に相関させることで、曲がり損失を光ファイバの近似カットオフ波長に関連付けるステップとを含む方法。
【請求項６】
請求項５に記載の方法において、事前確立された相関関係によって光ファイバの曲がり損失を光ファイバの近似カットオフ波長に相関させることで、曲がり損失を光ファイバの近似カットオフ波長に関連付けるステップが、複数の同種の光ファイバの曲がり損失とカットオフ波長との相関関係を確立するステップを含む方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は一般に光ファイバ特性の測定に関し、より詳細に言えば、光ファイバの曲がり損失の測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
現在、光ファイバは多数の段階を用いて特性を測定される。これらの特性測定段階はガラスに固められた湾曲量、ファイバ長、損失の均一性、モード・フィールド径、モード・フィールドの均一性、点欠陥、色分散の均一性、ジオメトリ、曲がり損失、カットオフ波長などのさまざまな特性を測定する段階を含む。特性測定段階はしばしば異なる場所にあり、その結果、光ファイバを次の場所に移送し、それに付随する費用も発生する。さらに、これらの特性測定段階を実行するのに貴重な生産空間が必要である。さらに、特性測定段階が互いに離れているので、特性測定試験を実行する余分な人員と装置とが必要になる。この点で、特性測定段階の数と光ファイバの装置の特性測定に関連するコスト費用との間に直接の相関関係を認めることができる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
したがって、当業界では光ファイバの特性測定に関連するコストを低減する必要があったがこれについてはまだ対応がなされていない。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
本発明の一実施形態は、光学的時間領域反射計（ＯＴＤＲ）による曲がり損失を測定する方法、システム、およびコンピュータ・システムを提供する。一般に、本発明の方法の一実施形態は光ファイバ内の一点での片方向ＯＴＤＲ接続損失を測定するＯＴＤＲ装置を提供する。続けて、光ファイバ内に曲がりが導入され、第１の測定と同じ光ファイバ内の点で片方向ＯＴＤＲ接続損失測定が実行される。その後、光ファイバの曲がり損が決定され、光ファイバの近似カットオフ周波数に関連付けられる。
【０００５】
本発明の別の実施形態はＯＴＤＲおよび光ファイバ曲げ装置による光ファイバの曲がり損失を測定するシステムを提供する。
【０００６】
本発明のその他のシステム、方法、特徴および利点は以下の図面と詳細な説明によって当業者には明らかであろう。そのような追加のシステム、方法、特徴、および利点は本説明に含まれ、本発明の範囲内であり、首記の請求の範囲によって保護されることが企図されている。
【０００７】
本発明は以下の図面を参照することでよりよく理解できる。図面内の構成要素は必ずしも一定の縮尺比に従っておらず、その代わりに本発明の原理を明確に示すことに力点が置かれている。さらに、図面では一貫して同様の参照数字が該当する同様の部分を示している。
【０００８】
【発明の実施の形態】
本発明の各実施形態は、光学的時間領域反射計（ＯＴＤＲ）ベースのカットオフ波長測定値を得るための方法、システム、およびコンピュータ・システムを提供する。本発明の実施形態は、ＯＴＤＲ試験段階またはステップで光ファイバの曲がり損失を測定し、曲がり損失をカットオフ波長に関連付けることができる。特定の光ファイバの曲がり損失の測定と曲がり損失を近似のカットオフ波長に関連付ける処理を組み合わせることで、光ファイバの特性測定、試験および検証プロセスの１つまたは複数の高価なステップを迂回する方法が提供される。曲がり損失測定は、ＯＴＤＲを使用して行うことができる。特定の光ファイバの曲がり損失が決定されると、良く知られている数学的近似方法を用いて曲がり損失を光ファイバに対応するカットオフ波長近似値に数学的に関連付けることができる。
【０００９】
図１Ａおよび１Ｂは顧客によって使用されるために大量の光ファイバが経る試験および検証プロセス１００Ａの一部の流れ図を示す。最初は、ブロック１１０に示すように、光ファイバが製造されて準備され、次いで複数の試験段階を経る。ブロック１１５は、光ファイバが光ファイバの片方向接続損失を測定するＯＴＤＲ試験に合格したか否かを判定する判定ブロックとして表される測定段階Ａを示す。判定が「ＮＯ」の場合には、ブロック１２０で示すように光ファイバを廃棄またはリサイクルする。判定が「ＹＥＳ」の場合には、光ファイバは測定段階Ｂの別の試験を受ける。ブロック１２５は光ファイバがカットオフ波長試験に合格したか否かを判定する判定ブロックとして表される測定段階Ｂを示す。一般に、カットオフ波長試験は２メートル長の光ファイバを伝送損失試験システム（例えば、白色光源、分光器、検波器、送信および受信光学装置）に接続するステップを含む。光ファイバは２本の８０ｍｍ径のループが光ファイバ内に収容され、光ファイバの残りの部分はまっすぐであるか半径が２８ｃｍ以上であるような制御されたレイアウトに配置されている。送信される電力は予測カットオフ波長を含む多数の波長で測定される。各波長の電力は６２．５ミクロンのマルチモード光ファイバを収容した基準を通した電力と比較される。その結果得られるデータ・セットは過渡領域を有する。この過渡期間の特定の点での波長は光ファイバのカットオフ波長として定義される。判定が「ＮＯ」の場合、ブロック１２０に示すように光ファイバは廃棄されるか再利用される。判定が「ＹＥＳ」の場合、ブロック１３０に示すように光ファイバを在庫に入れることができ、後でそこから顧客に向けて出荷される。
【００１０】
ブロック１１０、１１５、１２０、１２５、および１３０の間に１つまたは複数のステップまたは段階を含めることができることに留意されたい。図１Ａは２つの測定段階しか示していない。その他の測定段階は図を見やくするために省略されている。同じまたは他の段階で実行できるその他の測定は、これに限定はされないが、曲げ測定、分散測定、ジオメトリ測定、およびモード・フィールド径測定を含む。さらに、光ファイバの巻き戻しおよび修理に関連する他の段階を試験および検証プロセス１００Ａ内に含ませることができる。
【００１１】
上記の説明から分かるように、ＯＴＤＲを用いて実行される片方向接続損失と、上記のカットオフ波長に関する測定の２つの別々の測定段階、すなわちＡおよびＢがある。２つの別々の測定段階を有することは測定段階Ａから測定段階Ｂへの光ファイバの移送に関連するコストを増加させ、分析時間のコストを増加させ、２つの別々の測定を実行する労力のコストを増加させる。
【００１２】
図１ＢはＯＴＤＲベースのカットオフ波長測定方法およびシステムの一実施形態を組み込むことでカットオフ波長を測定する別のステップを解消することができるプロセス１００Ｂの流れ図である。本発明の実施形態を組み込むことは試験時間に関連するコストを測定できる程度に増加させるものではないが、移送と労力に関連するコストを低減する。最初、ブロック１１０に示すように、光ファイバは製造されて準備され、次いで複数の試験段階を経る。ブロック１３５は、光ファイバが光ファイバの片方向接続損失を測定する片方向ＯＴＤＲ試験に合格したか否かと、光ファイバがＯＴＤＲベースのカットオフ波長試験に合格したか否かを判定する判定ブロックとして表される測定段階Ａ’を示す。これは片方向ＯＴＤＲ接続損失試験に合格したか否かだけを判定する図１Ａに示すブロック１１５とは対照的である。本発明の各実施形態によって、以下に詳述するＯＴＤＲ装置を用いた近似カットオフ波長の決定が可能になる。測定段階Ａ’はファイバ長、損失の均一性、モード・フィールド径、モード・フィールドの均一性、点欠陥、色分散の均一その他のパラメータをＯＴＤＲ装置を用いて測定する。図１Ａと同様に、ブロック１３５内の判定が「ＮＯ」の場合、光ファイバは試験に合格しておらず、ブロック１２０に示すように光ワイヤは廃棄または再利用される。判定が「ＹＥＳ」の場合、ブロック１３０に示すように光ファイバは試験に合格しており、在庫に入れることができる。
【００１３】
ブロック１１０、１２０、１３０、および１３５の間に１つまたは複数のステップまたは段階を含めることができることに留意されたい。図１Ｂは２つの測定段階しか示していない。その他の測定段階は図を見やくするために省略されている。他の段階で実行できるその他の測定は、これに限定はされないが、曲げ測定、分散測定、ジオメトリ測定、およびモード・フィールド径測定を含む。さらに、光ファイバの巻き戻しおよび修理に関連する他の段階を試験および検証プロセス１００Ｂ内に含ませることができる。
【００１４】
一般に、ＯＴＤＲは主として光ファイバ内の障害の検出および特定に使用される。またＯＴＤＲは光ファイバの減衰、均一性ならびに接続およびコネクタの挿入損失に関する情報を提供できる。一般に、ＯＴＤＲは片方向の閉回路光レーダである。ＯＴＤＲは被試験光ファイバの一端内に短レーザ・パルスを周期的に発射して反射光の振幅と時間特性を監視することで動作する。
【００１５】
一般に、ＯＴＤＲは方向性結合器を介して試験ファイバ内に光放射（約２０〜２０００ナノ秒）の短パルスを発射することで動作する。純光ファイバ製の結合器が最も一般的である。ただし、嵩張る光学装置（レンズおよびビーム・スプリッタ）も使用できる。方向性結合器（Ｒ／Ｔポート）の出力は後方散乱された放射線の受信とプローブ・パルスの順方向の送信の両方を行う。Ｒ／Ｔポートは、例えば、コネクタによる成端またはマイクロポジショナおよびファイバの裸線を止める治具とを含む。試験ファイバからの広報反射された放射線が検出され、処理され、最後にある種類のオシロスコープ画面または記録装置上に表示される。出力信号はファイバの距離の関数として応答し、特定のファイバまたはファイバ系として識別できる特性であるためにサインとも呼ばれる。
【００１６】
他の実施形態も可能であるが、図２は、光ファイバのカットオフ波長の近似を決定するＯＴＤＲベースのカットオフ波長方法およびシステムの例示的な一実施形態の流れ図１３５Ａを示す。図１Ｂのブロック１３５で、測定段階Ａ’はＯＴＤＲ装置を用いて、ファイバ長、損失、損失の均一性、モード・フィールド径、モード・フィールドの均一性、点欠陥、色分散の均一性およびその他のパラメータを測定する。さらに、本発明の一実施形態は、曲がり損失を特定の光ファイバの近似カットオフ波長に関連付けるためのＯＴＤＲベースのカットオフ波長方法およびシステムを使用する。図２でより詳細に言えば、流れ図のブロック２１０は光ファイバのスプールまたは光ファイバのその他の量の獲得を表す。ブロック２１５で、曲がり損失は光ファイバ内の一点の片方向ＯＴＤＲ接続損失を測定することで決定される。一般に、接続損失試験は光ファイバの特性を測定するために実行される。その後、ブロック２２０に示すように光ファイバ内に曲がりが導入される。その後、ブロック２２５に示すように、１つまたは複数の曲がりを備えた光ファイバについて第１の曲がり損失測定と同じ点で光ファイバの第２の片方向ＯＴＤＲ接続損失を測定することで第２の曲がり損失測定が実行される。光ファイバの曲がり損失は、それぞれブロック２３０および２３５に示すように、曲がりがある場合とない場合とでの接続損失の差から決定され、光ファイバのカットオフ波長に数学的に関連付けられる。通常、曲がりはＯＴＤＲのジャンパ接続されたファイバと被試験光ファイバの光学的接続箇所に近いファイバの端部にほぼ近い位置に導入される。曲がりの導入によって最初のＯＴＤＲ接続損失測定が変更または影響されることはない。
【００１７】
一般に、ＯＴＤＲ装置は同時に一方向から試験する。得られた測定値は光ファイバ接続損失およびモード・フィールド変動などのその他のパラメータの関数である。したがって、片方向ＯＴＤＲ接続損失測定は光ファイバの両端からの片方向ＯＴＤＲ接続損失を測定することで決定される真の接続損失測定とは異なる。ただし、以下に詳述するように、片方向ＯＴＤＲ接続損失測定とカットオフ波長測定との間には相関関係が存在する。
【００１８】
図３Ａおよび３ＢはＯＴＤＲベースのカットオフ波長装置３０５内に組み込まれた光ファイバ曲げ装置３１５および３１６の多数の実施形態の１つを示す。ＯＴＤＲベースのカットオフ波長装置３０５は光ファイバ曲げ装置３１５と、ＯＴＤＲ３４０と、曲がり損失を光ファイバ３１０Ａおよび３１０Ｂの近似カットオフ波長に関連付ける相関器３５５を含むコンピュータ・システム３５０とを含む。光ファイバ曲げ装置３１５はＯＴＤＲベースのカットオフ波長測定を実行するために使用できる。この例示的な実施形態は少なくとも２つのプレス部３１５および３１６を含む。図３Ａに示すように、光ファイバ３１０Ａは２つのプレス部３１５および３１６の間に配置できる。プレス部３１５および３１６の一方または両方は、図３Ｂに示すように、屈曲（すなわち曲がり）を光ファイバ３１０Ｂに一時的に課す位置まで方向３２０に動かすことができる。曲げ装置の別の非制限的な例は、これに限定はされないが、光ファイバ内にループを課す装置を含む。装置が測定可能な曲がり損失を生成するのに十分な１つまたは複数の曲がりを光ファイバ内に課す限り、その他の曲げ装置を使用することもできる。
【００１９】
したがって、曲がり損失はプレス部分３１５および３１６が光ファイバに曲がりを課す位置まで移動する前に光ファイバ３１０内のある点で片方向ＯＴＤＲ接続損失を測定することで決定される。その後、プレス部分３１５および３１６の１つ以上が曲がりを光ファイバ３１０Ｂに一時的に課す位置まで方向３２０に動かされる。その後、第１の曲がり損失測定と同じ点でファイバの片方向ＯＴＤＲ接続損失を測定することで、１つまたは複数の曲がりを光ファイバ３１０Ｂに課して光ファイバについて第２の曲がり損失測定が実行される。これで光ファイバの曲がり損失を、曲がりがある場合とない場合とでの片方向ＯＴＤＲ接続損失の差から決定でき、その後、光ファイバの近似カットオフ波長に数学的に関連付けることができる。
【００２０】
あるいは、１つまたは複数のプレス部分３１５および３１６を曲がりを光ファイバ３１０Ｂに課す位置まで移動させることができる。その後、曲がりを課された光ファイバ３１０Ｂについて、片方向ＯＴＤＲ接続損失測定を実行できる。その後、プレス部分３１５および３１６を取り除いて、片方向ＯＴＤＲ接続損失測定を実行できる。言い換えると、片方向ＯＴＤＲ接続損失測定の順序は重大ではない。測定が終了すると、光ファイバの曲がり損失が決定でき、事前確立された相関関係によって光ファイバの曲がり損失を近似カットオフ波長に数学的に相関させることで、事前確立された相関関係によって光ファイバの曲がり損失を近似カットオフ波長に数学的に関連付けることができる。
【００２１】
特定の光ファイバの曲がり損失は相関器３５５を用いて同じ光ファイバの近似カットオフ波長に数学的に関連付けることができる。相関器３５５は従来のよく知られている数学的原則を用いて特定の光ファイバの曲がり損失とカットオフ波長とを数学的に関連付けることができる。相関器３５５の一実施形態は複数の光ファイバの曲がり損失と実際のカットオフ波長の測定値を得るステップを含む。相関器３５５が未知のカットオフ波長を決定するために使用できる曲線は、曲がり損失全体とカットオフ波長範囲にわたる十分な数の決定がなされた後で確立される。言い換えると、特定の光ファイバの曲がり損失が決定されると、相関器３５５を用いて近似カットオフ波長を決定することができる。したがって、曲がり損失は測定段階Ａで決定できる以上、それに対応するカットオフ波長の近似値を決定することができ、その結果、コストがかかるカットオフ波長試験を別に実行する必要が解消される。ただし、近似値が十分にエラー値に近い場合、その光ファイバをさらに試験することができる。本発明の実施形態を使用する累積結果（例えば、多数の光ファイバ装置のカットオフ波長試験を別に実行しないこと）によって、コストが大幅に低減される。これは、光ファイバ・スプールの多くが合格範囲内に十分に収まる近似カットオフ波長を有するからである。
【００２２】
ＯＴＤＲで曲がり損失を測定するコンピュータ・システムの各実施形態は、ＯＴＤＲベースのカットオフ波長装置とそれに関連する測定を制御し運用するステップを含む。最初、ＯＴＤＲ装置で試験できるように光ファイバを配置できる。コンピュータ・システムはファイバ内の任意の点での片方向ＯＴＤＲ接続損失の測定を制御する。コンピュータ・システムは、これに限定はされないが、片方向ＯＴＤＲ接続損失データなどの適当なデータを測定して記憶することができる。コンピュータ・システムは１つまたは複数の曲がりの光ファイバ内への導入を制御することができる。これは、図３Ａおよび３Ｂで前述したように、曲げ装置を制御することで達成される。光ファイバ内に曲がりが導入された後で、コンピュータ・システムは最初の接続損失測定と同じ点での第２の片方向ＯＴＤＲ接続損失測定を制御する。その後、コンピュータ・システムは被試験光ファイバの曲がり損失を決定することができる。次いで、コンピュータ・システムは相関器３５５を用いて光ファイバの曲がり損失を近似カットオフ波長に関連付けることができる。近似決定は上記の近似決定に基づき、相関器３５５を用いて実行できる。図４は本発明の実施形態内で実施できるコンピュータ・システムを示す図である。
【００２３】
図４に示すように、本発明のＯＴＤＲベースのカットオフ波長測定方法、システム、およびコンピュータ・システムの実施形態はコンピュータ・システム３５０を含むことができる。コンピュータ・システム３５０はデータを記憶し、検索するためのメモリ４２１を含む。従来のメモリ・システムと同様、図４に示すメモリ４２１はデータをソートするさまざまなロケーションを含み、これらのロケーションの各々は、本発明のさまざまな実施形態の範囲に収まるアドレスで識別される。図４に示す例示的な実施形態では、プログラム４２４とオペレーティング・システム４２８がコンピュータ・メモリ４２１内に記憶されている。図４のコンピュータ・システム３５０は、例えば、１つまたは複数のバスを含むことができるローカル・インタフェース４３８を介してシステム３５０内の他の要素と通信し駆動する汎用マイクロプロセッサなどの処理回路４３５をさらに含む。さらに、これに限定はされないが、キーボード、マウス、バー・コード・スキャナなどなどの入力装置４４２を用いてシステム３５０のユーザからデータを入力することができ、画面ディスプレイ４４５またはプリンタ４４７を用いてデータをユーザに出力することができる。ディスク記憶機構４４９をローカル・インタフェース４３８に接続して不揮発性ディスク（時期ディスク、光ディスクなど）との間でデータを送受信できる。システム３５０を、システム３５０がネットワーク４５５とデータを交換するためのネットワーク・インタフェース４５２に接続することができる。
【００２４】
プログラム４２４はＯＴＤＲ装置で曲がり損失を測定し、曲がり損失を光ファイバのカットオフ波長に関連付けるステップ（例えば、相関器３５５）に関連するさまざまな機能４７６を実行するプログラマによって記述される命令またはコンピュータ・コードを含む。プログラマはプログラム４２４などのプログラムを例えばＣまたはフォートランなどの高水準コンピュータ言語で記述することが多い。プログラム４２４は処理回路４３５に適合する形式であり、したがって、処理回路４３５によって実行することができる。オペレーティング・システム４２８は、従来のオペレーティング・システム同様、コンピュータ・システム３５０の動作を制御するように設計されている。オペレーティング・システム４２８によって熟考される重要なサービスは処理回路４３５との実行可能な命令のインタフェースである。この点で、オペレーティング・システム４２８はメモリ４２１内に記憶されたどの命令を処理回路４３５に送信して実行させるかを制御し、これらの命令をいつ処理回路４３５に送信するかを制御する。プログラム４２４とオペレーティング・システム４２８はソフトウェア、ハードウェア、またはその組合せ内で実施できる。図４の例に示すように、好ましい実施形態では、プログラム４２４およびオペレーティング・システム４２８はそれに関連する方法と共にソフトウェア内で実施され、メモリ４２１内に記憶される。プログラム４２４は実行可能プログラムを形成するためにコンパイルされるソース・プログラムでよい。
【００２５】
ソフトウェア内で実施されたプログラム４２４およびオペレーティング・システム４２８は、命令実行システム、装置またはデバイスから命令を取り出して命令を実行できるコンピュータ・ベースのシステム、プロセッサを含むシステム、またはその他のシステムなどの命令実行システム、装置またはデバイスによって、またはそれに関連して使用するために、任意のコンピュータ可読媒体上で記憶、移送することができる。本明細書では、「コンピュータ可読媒体」とは命令実行システム、装置またはデバイスによって、またはそれに関連して使用するためにプログラムを含み、記憶し、伝搬し、または移送する任意の手段でよい。コンピュータ可読媒体は、例えばこれに限定はされないが、電子、磁気、光、光磁気、赤外線、または半導体システム、装置、デバイス、または伝搬媒体でよい。コンピュータ可読媒体のより具体的な例（非網羅的なリスト）は以下を含む。１つまたは複数のワイヤを有する電気接続（電子）、携帯型コンピュータ・ディスク（磁気）、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）（磁気）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）（磁気）、消去可能プログラム可能読み出し専用メモリ（ＥＰＲＯＭまたはフラッシュ・メモリ）（磁気）、光ファイバ（光）、および携帯型ディスク読み出し専用メモリ（ＣＤＲＯＭ）（光）を含む。プログラムは例えば紙を光学的にスキャンして次にコンパイルし、解釈し、必要であれば適した方法で別の処理をし、コンピュータ・メモリ内に記憶できるので、コンピュータ可読媒体はプログラムを印刷できる紙または別の媒体であってもよいということに留意されたい。
【００２６】
本発明の上記の実施形態、特に任意の「好ましい」実施形態は、実施態様の可能な例に過ぎず、本発明の原理をはっきりと理解できるように記載しているに過ぎない。本発明の精神および原理から逸脱することなく本発明の上記実施形態をさまざまに修正および変更することができる。そのような変更および修正は本開示および本発明の範囲内に収まり、首記の請求の範囲によって保護されるように企図されている。
【図面の簡単な説明】
【図１Ａ】光ファイバの試験および検証プロセスに本発明の実施形態を組み込む方法を示す図である。
【図１Ｂ】光ファイバの試験および検証プロセスに本発明の実施形態を組み込む方法を示す図である。
【図２】図１Ａおよび図１Ｂで示されるプロセスで実施できる本発明の実施形態を示す図である。
【図３Ａ】本発明の実施形態内で使用できる曲げ機構の一実施形態を示す図である。
【図３Ｂ】本発明の実施形態内で使用できる曲げ機構の一実施形態を示す図である。
【図４】本発明の実施形態で実施できるコンピュータ・システムを示す図である。
【図１Ａ】
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【図１Ｂ】
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【図２】
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【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図４】
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