(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の信号供給源から供給される所定の電圧の信号の各々を、複数のインピーダンス変換手段によりインピーダンス変換し、複数の出力線の各々に供給する信号供給装置の検査方法において、
前記複数のインピーダンス変換手段は、入力電圧−出力電流特性が、入力電圧のオフセット電圧の影響により変化する特性を有し、
検査時には、前記複数の出力線の各々を短絡し、
この短絡線に検出される電流値と、所定の電流値とを比較し、前記オフセット電圧のばらつきに起因して検出される電流値が、前記所定の電流値よりも低いときには良品とし、前記所定の電流値よりも高いときには不良品として、前記信号供給装置の良否のいずれかを判別することを特徴とする検査方法。
【請求項２】
複数のインピーダンス変換手段の各々でインピーダンス変換した信号を複数の出力線の各々に供給する信号供給装置の検査方法において、
前記複数のインピーダンス変換手段は、入力電圧−出力電流特性が、入力電圧のオフセット電圧の影響により変化する特性を有し、
検査時には、前記複数の出力線の各々を短絡し、
前記複数のインピーダンス変換手段の各々に共通接続されたプラス電源線及びマイナス電源線に流れる合成消費電流値と、所定の電流値とを比較し、前記オフセット電圧のばらつきに起因して前記複数の出力線に電位差が生じ、短絡された前記複数の出力線間で電位差を相殺するように電荷が移動することで生ずる前記合成消費電流値が、前記所定の電流値よりも低いときには良品とし、前記所定の電流値よりも高いときには不良品として、前記信号供給装置の良否のいずれかを判別することを特徴とする検査方法。
【請求項３】
請求項１に記載の方法により検査される信号供給装置において、
前記複数の出力線の各々に対応して設けられた複数のスイッチング素子と、
前記複数のスイッチング素子の各々の開閉を制御するテスト信号が入力されるテスト端子と、
前記短絡線に接続された検出端子とを有することを特徴とする信号供給装置。
【請求項４】
請求項２に記載の方法により検査される信号供給装置において、
前記複数の出力線の各々に対応して設けられた複数のスイッチング素子と、
前記複数のスイッチング素子の各々の開閉を制御するテスト信号が入力されるテスト端子と、
前記複数のスイッチング素子が動作されることで、前記複数の出力線の各々が短絡される短絡線と、
前記合成消費電流値を検出する検出端子とを有することを特徴とする信号供給装置。
【請求項５】
請求項３または４に記載の信号供給装置を有することを特徴とする半導体装置。
【請求項６】
請求項３に記載の信号供給装置を、電気光学素子を用いた表示部の複数のデータ線の各々を駆動させる駆動装置として用いたことを特徴とするデータ線駆動ＩＣ。
【請求項７】
請求項６において、
前記テスト端子に電圧を供給し、前記複数のスイッチング素子の各々が動作された後に、前記電気光学素子に供給される前記所定の電圧の信号に対して、±（ＬＳＢ）／２に相当する電圧幅の範囲内の電圧を前記検出端子を介して前記短絡線に供給し、これに対応して前記検出端子よりそれぞれ検出される電流値の最小値と、所定の電流値とを比較することで、良否のいずれかを判別することを特徴とするデータ線駆動ＩＣ。
【請求項８】
請求項７において、
前記所定の電圧は、前記表示部にて中間調を表示する際に前記電気光学素子に供給される電圧に設定されていることを特徴とするデータ線駆動ＩＣ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、信号供給装置およびその検査方法、並びにそれを用いた半導体装置、電気光学装置及び電子機器に関する。
【０００２】
【背景技術及び発明が解決しようとする課題】
図９に示す信号供給装置１００は、入力電圧ＶINのそれぞれに対して、インピーダンス変換を行なうボルテージフォロワ群１０２を有して構成されている。このボルテージフォロワ１０２は、Ｎ個のボルテージフォロワ１０２−１〜１０２−Ｎを有している。このＮ個のボルテージフォロワ１０２−１〜１０２−Ｎのそれぞれの出力線上には、出力Ｏ1〜ＯNが供給される。
【０００３】
このように、入力電圧ＶINに対して複数のインピーダンス変換回路のそれぞれでインピーダンス変換を行なう装置において、その性能を検査する際、従来では個々のボルテージフォロア１０２−１〜１０２−Ｎの出力Ｏ1〜ＯNをそれぞれ測定し検査していた。
【０００４】
しかし、上述のように、個々のボルテージフォロワ１０２−１〜１０２−Ｎの出力特性の検査を行うと大変な時間がかかる。
【０００５】
本発明では、このような課題に鑑みてなされ、その目的とするところは、複数のインピーダンス変換回路のそれぞれの性能の良否を一括して検査することのできる信号供給装置およびその検査方法、並びにそれを用いた半導体装置、電気光学装置及び電子機器を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために、本発明の一形態に係る信号供給装置の検査方法では、複数の信号供給源から供給される所定の電圧の信号の各々を、複数のインピーダンス変換手段によりインピーダンス変換し、複数の出力線の各々に供給する信号供給装置の検査方法において、
検査時には、前記複数の出力線の各々を短絡し、
この短絡線に検出される電流値と、所定の電流値とを比較して、前記信号供給装置の良否のいずれかを判別することを特徴とする。
【０００７】
また、本発明に係る信号供給装置では、前記複数の出力線の各々に対応して設けられた複数のスイッチング素子と、
前記複数のスイッチング素子の各々の開閉を制御するテスト信号が入力されるテスト端子と、
前記短絡線に接続された検出端子とを有することを特徴とする。
【０００８】
このように、個々のインピーダンス変換手段にはオフセット電圧に起因して、その能力にばらつきが生じる。このため、ある入力された信号を各インピーダンス変換手段でインピーダンス変換して出力する場合にも、その出力信号にはばらつきが生じる。本発明では、個々のインピーダンス変換手段の出力信号に基づいてばらつきを測定するのではなく、その個々のインピーダンス変換手段の出力線を短絡したときの合成された電流値を測定する。この測定された合成電流値と、所定の電流値とを比較することで、装置自体の良否を判別することができ、信号供給装置の性能検査のための時間を短縮できる。
【０００９】
また、本発明の他の一形態に係る信号供給装置の検査方法では、複数のインピーダンス変換手段の各々でインピーダンス変換した信号を複数の出力線の各々に供給する信号供給装置の検査方法において、
検査時には、前記複数の出力線の各々を短絡し、
前記複数のインピーダンス変換手段の各々の合成消費電流値と、所定の電流値とを比較して、前記信号供給装置の良否のいずれかを判別することを特徴とする。
【００１０】
また、本発明に係る信号供給装置では、前記複数の出力線の各々に対応して設けられた複数のスイッチング素子と、
前記複数のスイッチング素子の各々の開閉を制御するテスト信号が入力されるテスト端子と、
前記複数のスイッチング素子が動作されることで、前記複数の出力線の各々が短絡される短絡線と、
前記合成消費電流値を検出する検出端子とを有することを特徴とする。
【００１１】
個々のインピーダンス変換手段はオフセット電圧に起因して、その入力される信号の電圧にばらつきが生じる。このため、個々のインピーダンス変換手段自体は電源電流を消費している。本発明では、インピーダンス変換手段の各々での消費電流と、所定の消費電流値とを比較することで、装置自体の良否を判別することができ、信号供給装置の能力検査のための時間を短縮できる。
【００１２】
また、本発明に係る信号供給装置を、電気光学素子を用いた表示部の複数のデータ線の各々を駆動させる駆動装置として用いることで、データ線駆動ＩＣ自体の良否を判定することができるようになる。
【００１３】
また、本発明に係るデータ線駆動ＩＣは、前記テスト端子に電圧を供給し、前記複数のスイッチング素子の各々が動作された後に、前記電気光学素子に供給される前記所定の電圧の信号に対して、±（ＬＳＢ）／２に相当する電圧幅の範囲内の電圧を前記検出端子を介して前記短絡線に供給し、これに対応して前記検出端子よりそれぞれ検出される電流値の最小値と、所定の電流値とを比較することで、良否のいずれかを判別することを特徴とする。
【００１４】
このように、所定の電圧に対して±（ＬＳＢ）／２に相当する幅の電圧Ｖを、電気光学装置のデータ線駆動ＩＣの出力線の各々を短絡したラインに供給する。この電圧Ｖと検出される合成電流値Ｉとの関係において、この合成電流値Ｉを最小にする電流値Ｉｍｉｎと、所定の電流値とを比較することで装置の良否を判別することができる。
【００１５】
また、本発明に係るデータ線駆動ＩＣでは、前記所定の電圧は、前記表示部にて中間調を表示する際に前記電気光学素子に供給される電圧に設定されていることを特徴とする。
【００１６】
電気光学装置の表示部の入力電圧に対する光の透過率を表す曲線は一般に線形な直線ではなく、相対的に中間調を表すところほど、精度の高い入力電圧が印加される必要がある。このようにすることで、装置の良否の検出精度を向上させることができる。
【００１７】
また、本発明に係るデータ線駆動ＩＣは電気光学装置に適用することができ、また、その電気光学装置を有する電子機器にも適用することができる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
【００１９】
（第１の実施形態）
図１は、第１の実施形態にかかる信号供給装置を示している。
【００２０】
この信号供給装置１０は、ＤＡコンバータ群１２、ボルテージフォロワ群１４、スイッチング素子制御ライン２０、スイッチング素子群２６および出力検査ライン３０を有して構成されている。また例えば、ＤＡコンバータ群１２はＮ個のＤＡコンバータから構成されており、それぞれにサフィックス１〜Ｎを付すことで、ＤＡコンバータ１２−１〜１２−Ｎなどと表記する。ボルテージフォロワ群１４、スイッチング素子群２６および出力ライン群１６，１８なども同様に、サフィックス１〜Ｎを付すことで、ボルテージフォロワ１４−１〜１４−Ｎ、スイッチング素子２６−１〜２６−Ｎなどとそれぞれ表記する。
【００２１】
信号供給源であるＤＡコンバータ群１２の各々から出力された信号電圧は、ボルテージフォロワ群１４の各々に入力される。このボルテージフォロワ群１４の各々でインピーダンス変換された信号電圧は、出力ライン１６上にそれぞれ出力Ｏ1〜ＯNとして供給される。通常の信号供給装置として動作するときは、スイッチング素子群２６の各々により、出力ライン１６の各々と出力ライン１８の各々とが短絡されている。なお、このスイッチング素子群２６の個々のスイッチング素子２６−１〜２６−Ｎは、例えば、Ｎチャネル型ＭＯＳトランジスタおよびＰチャネル型ＭＯＳトランジスタから成るインバータ回路、およびトランスミッション回路で構成されている。これに対し、本発明にかかる検査モード時には、スイッチング素子制御端子２２，２４を介してスイッチング素子制御ライン２０に一定の電圧を供給する。これによりスイッチング素子群２６の各々は切換り、出力ライン１６の各々は出力検査ライン３０で短絡される。このようにすることで、この検査モード時において、出力検査端子３２，３４を介して接続された出力検査ライン３０を含む閉回路内には、合成された電流値などの測定値が検出される。以下には、本実施形態において、この測定値を基に装置の良否を判定する方法を説明する。
【００２２】
図２には、一例として、ＤＡコンバータ１２−１〜１２−３のそれぞれから供給される入力電圧ＶINと、それに対応してボルテージフォロワ１４−１〜１４−３のそれぞれから出力される出力電流ＩOUTとの関係を、出力曲線Ｏ1〜Ｏ3としてそれぞれ示している。この図２において、横軸には入力電圧ＶINを、縦軸には出力電流ＩOUTを定義している。この図２に示された出力曲線Ｏ1〜Ｏ3では、例えば、出力曲線Ｏ1にはオフセット電圧ΔＶ1、出力曲線Ｏ2にはオフセット電圧ΔＶ2および出力曲線Ｏ3にはオフセット電圧ΔＶ3がそれぞれ表れている。このオフセット電圧により、同じ入力電圧ＶINが図１のボルテージフォロワ１４−１〜１４−３の各々に入力されても、出力曲線Ｏ1〜Ｏ3のそれぞれの出力特性にばらつきが生じることになる。
【００２３】
さて、本実施形態に係る検査モード時において、この３個の図１のボルテージフォロワ１４−１〜１４−３のそれぞれの出力ライン１６−１〜１６−３のそれぞれを短絡する。そして、出力検出端子３２，３４を介して短絡した閉回路の電流値を測定する。例えば、この電流値はＩ1として測定されることになる。この際、測定される合成電流値Ｉ1が参照電流値Ｉref1以下であれば、装置は良品として判定される。逆に、合成電流値Ｉ1が参照電流値Ｉref1を超えれば、装置は不良品として判定されることになる。
【００２４】
なお、出力ライン１６−１〜１６−Ｎおよび出力ライン１８−１〜１８−Ｎのそれぞれは常時短絡されていて、検査時のみ出力ライン１６−１〜１６−Ｎのそれぞれが出力検査ライン３０にて短絡されても良い。
【００２５】
個々のボルテージフォロワ１４−１〜１４−Ｎにはオフセット電圧に起因して、その能力にばらつきが生じる。これをそれぞれ測定して、装置自体の良否を判定するのでは、Ｎが大きくなるほどに時間がかかることになる。本発明では、このように個々のボルテージフォロワ１４−１〜１４−Ｎの出力信号のばらつきにより装置の良否を判定するのではなく、その個々のボルテージフォロワからの出力を短絡したときの電流値を測定することで装置自体の良否を判定する。これにより信号供給装置の性能検査のための時間を短縮することができる。
【００２６】
（第２の実施形態）
図３は、第２の実施形態にかかる信号供給装置を示している。
【００２７】
この第２の実施形態にかかる信号供給装置４０では、検査モード時に、前述のように、スイッチング素子群２６のそれぞれを動作させることで、ボルテージフォロワ１４−１〜１４−Ｎのそれぞれが短絡ライン４４を介して短絡される。同時に、ボルテージフォロワ群１４の各々の電源端子ａ，ｂ間でライン４２を介して供給される電源電流を測定する。この測定される電源電流は、短絡された短絡ライン４４に表れる電位差が相殺されるように電荷の移動が生じ、それに対して電源電流が消費されることによる消費電流である。そして、その測定された電源電流が所定の電源電流値以下であれば、装置は良品として判定される。逆に、その測定された電源電流値が所定の電源電流値を超えると、装置は不良品として判定される。
【００２８】
このように、本実施形態に係る信号供給装置では、主に、個々のボルテージフォロワに表れる、オフセット電圧に起因するばらつきがそれぞれ小さい場合に良品として判定することができる。これにより信号供給装置の性能検査のための時間を短縮することができる。
【００２９】
（第３の実施形態）
図４は、図１に示す本発明の信号供給装置が用いられたＴＦＴ（Thin Film Transistor）型の液晶装置を示している。
【００３０】
この液晶装置は、液晶パネル５０、信号制御回路部５２、階調電圧回路部５４、走査線駆動回路５６およびデータ線駆動回路５８を有して構成されている。
【００３１】
液晶パネル５０は、Ｍ本の走査線Ｙ1〜Ｙm〜ＹMと、Ｎ本のデータ線Ｘ1〜Ｘn〜ＸNとが配置されている。この走査線Ｙ1〜ＹMと、データ線Ｘ1〜ＸNのそれぞれの交点に対応して配置される画素の各々に、スイッチング機能を有するＮ×Ｍ個のＴＦＴ素子６０が設けられている。このＴＦＴ素子６０において、ゲート端子には走査線Ｙmが、ソース端子にはデータ線Ｘnがそれぞれ接続されている。ＴＦＴ素子６０のドレイン端子には、画素電極６４を一端として、容量６２が接続されている。この容量６２は、液晶層に印加される電圧と、各画素内に保持される保持容量とを簡略して表したものである。
【００３２】
信号制御回路部５２からは、水平同期信号Ｈｓｙｎｃ、クロック信号ＣＬＫ１およびデータ信号Ｄａのそれぞれがデータ線駆動回路５８に供給される。この水平同期信号Ｈｓｙｎｃは、クロック信号ＣＬＫ１に基いてシリアルに入力され、記憶された１ライン分のデータ信号Ｄａをラッチするタイミングを制御するための信号である。
【００３３】
また、信号制御回路部５２からは、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃおよびクロック信号ＣＬＫ２のそれぞれが走査線駆動回路５６に供給される。このクロック信号ＣＬＫ２に基いて、フレーム期間の期首に垂直同期信号Ｖｓｙｎｃから供給された信号が順次シフトされていく。
【００３４】
階調電圧回路部５４は、データ線Ｘ1〜ＸNに供給するデータ信号電圧を生成する際に、基準となる基準電圧、例えば、電圧Ｖ０〜Ｖ１５をデータ線駆動回路５８に供給する。
【００３５】
ここで、図５に、従来のデータ線駆動回路の構成図を示す。
【００３６】
図４のデータ線駆動回路は、信号制御回路部５２からクロック信号ＣＬＫ１、水平同期信号Hｓｙｎｃおよびデータ信号Ｄａが供給される。このデータ線駆動回路５８は、図５に示すように、シフトレジスタ７０、入力ラッチ回路７２、データレジスタ７４、ラッチ回路７６、ＤＡコンバータ７８およびボルテージフォロア８０を有して構成されている。図４の信号制御回路部５２から供給されるデータ信号Ｄａは、例えば、各８ビット（約１６７７万色表示）などから成るＲＧＢ信号である。このＲＧＢ信号の各々は、例えば各８ビットからなるＲＧＢ信号の場合、Ｒ０〜Ｒ７、Ｇ０〜Ｇ７およびＢ０〜Ｂ７として、入力ラッチ回路７２にシリアルに供給される。このシリアルな各ＲＧＢ信号は、クロック信号ＣＬＫ１のタイミングで、順次ラッチされ、データレジスタ７４に取り込まれる。この取り込まれた１ライン分の各ＲＧＢ信号は、信号制御回路部５２から供給される水平同期信号Ｈｓｙｎｃに基いて、ラッチ回路７６にラッチされる。ラッチ回路７６にラッチされた各ＲＧＢ信号は、ＤＡコンバータ７８に供給される。この各ＲＧＢ信号は、階調電圧回路部５４から供給される基準電圧、例えばＶ０〜Ｖ１５に基いて、ＤＡコンバータ７８でアナログ変換される。そして、このアナログ変換されたデータ信号電圧Ｖdata´はボルテージフォロワ８０でインピーダンス変換されて、データ信号電圧Ｖdataとしてデータ線Ｘ1〜ＸNのそれぞれに供給される。
【００３７】
上述のような従来のデータ線駆動回路において、図１に示した信号供給装置１０を、データ線信号供給装置９０に代えて用いたのが、図４に示すデータ線駆動回路５８である。
【００３８】
このデータ線駆動回路５８において、前述の第１の実施形態のように検査することで同様に、装置の良否を判定することができる。
【００３９】
なお、この第３の実施形態に係るデータ線駆動回路５８においては、装置の良否を判定する別の方法について、図６を用いて説明する。
【００４０】
図６の階段状に描かれた出力線は、図４に示す液晶装置を通常動作させたとき、データ線駆動回路５８に入力した階調値Ｂにおける出力電圧Ｖの関係の一部分を示した図である。この場合、例えば、階調値Ｂ1に対応した電圧Ｖ1がデータ線駆動回路５８から出力される例を示している。なお、電圧Ｖ1に対して１ランク低い電圧Ｖ0は階調値Ｂ0に、電圧Ｖ1に対して１ランク高い電圧Ｖ2は階調値Ｂ2にそれぞれ対応させて示している。
【００４１】
本発明に係るデータ線駆動回路５８において、その検査モード時に、電圧Ｖ1が一律に入力された場合について以下に説明する。なお、図６中の、電圧Ｖαは下位の階調値Ｂ0に対応する境界電圧を、電圧Ｖβは上位の階調値Ｂ2に対応する境界電圧をそれぞれ示している。図６中の電圧範囲ΔＶ1は、この電圧Ｖα〜Ｖβの範囲を示しており、一般に、最下位の階調値（ビット）を変化させる電圧範囲であるＬＳＢ（Least Significant Bit）として表される。また、電圧Ｖa〜Ｖdの各々は、図１の出力検査ライン３０に印加される電圧を示している。
【００４２】
この電圧Ｖ1を中心として電圧Ｖα〜Ｖβの電圧範囲である、検査電圧Ｖa〜Ｖdを図１の出力検査ライン３０に印加した時に、その閉回路内に検出される電流値を図７に示す。この図７は、例えば、ある２つのロットの、データ線駆動回路５８において、それぞれの曲線Ｃ1またはＣ2に示すような関係が検出された場合を示している。なお、この曲線Ｃ1，Ｃ2はそれぞれ、図１の出力検査ライン３０に検出された電流値を近似した曲線を示している。
【００４３】
曲線Ｃ1においては、検出電圧Ｖcが印加されたときに、最小の電流値Ｉcが測定される。また、曲線Ｃ2においては、検出電圧Ｖaが印加されたときに、最小の電流値Ｉaが測定される。このそれぞれの検出電圧ＶaまたはＶcの前後では、出力検査ライン３０上に検出される電圧と、印加する検出電圧との電位差が大きくなるために、測定される電流値Ｉが大きくなる。
【００４４】
このように一律に入力した入力電圧Ｖ1に対して、それぞれの曲線Ｃ1，Ｃ2において、検出電圧ＶcまたはＶaで電流値が最小になるのは、ボルテージフォロワ群１４の各々の能力のバラツキが原因となっている。そして、この測定された電流値Ｉが参照電流値Ｉref2以下であれば、このデータ線駆動回路自体は良品として判断される。図７の場合では、電流値Ｉcが測定された装置は、その電流値が参照電流値Ｉref2以下であるので、装置は良品として判定される。しかし、電流値Ｉaが測定された装置では、その電流値が参照電流値Ｉref2よりも高くなっているため、不良品として判定される。
【００４５】
なお、この第３の実施形態に係るデータ線駆動回路の検査時には、ある入力電圧ＶINに対して、個々のボルテージフォロワのばらつきが小さく収まる時には当然に良品として判定される。さらに、本実施形態にかかるデータ線駆動回路は、個々のボルテージフォロワ１４−１〜１４−Ｎのばらつきが、例えば図２に示す縦軸ＩOUTを対称軸として、そのどちらか一方に偏っている場合にも良品として判定されることになる。このように判定された場合にも、液晶装置としてのちらつきやムラなどは発生しない。このため、本実施形態のように液晶装置に本発明にかかる信号供給装置を用いることで、より好ましい検査を実施することができる。
【００４６】
また本実施形態において、上述の入力電圧Ｖ1は、中間階調を示す電圧に設定されていることが好ましい。これは、例えば、８階調が表示可能な液晶装置では、液晶層への印加電圧Ｖと光透過率との関係は図８に示すように示される。このノーマリーホワイトによる図８において、光透過率５０％を示す前後では、その関係を示す曲線の勾配が急になっている。このため、印加電圧Ｖの僅かな誤差に対して、光透過率が大きくずれてきてしまうことになる。このために中間の階調を示す電圧Ｖ04を入力電圧ＶINとして利用することで、装置の良否の検出精度を向上させることができる。
【００４７】
なお、第３の実施形態において、そのデータ線駆動回路に第１の実施形態で説明した信号供給装置１０を用いたが、これに代えて、第２の実施形態で説明した図３の信号供給装置４０を用いてもよい。この場合、第２の実施形態と同様な効果が得られる。
【００４８】
また、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。例えば、本発明は上述のＴＦＴ型の液晶装置の駆動に適用されるものに限らず、２端子素子からなるＴＦＤ（Thin Film Diode）、エレクトロルミネッセンス（ＥＬ）、プラズマディスプレイ装置等を用いた画像表示装置にも適用可能である。
【００４９】
また、本発明は、電気光学装置を備えた、例えば、携帯電話、ゲーム機器、電子手帳、パーソナルコンピュータ、ワードプロセッサ、テレビ及びカーナビゲーション装置など各種の電子機器に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１の実施形態にかかる信号供給装置を示す図である。
【図２】図１の信号供給装置の動作を説明するための図である。
【図３】第２の実施形態にかかる信号供給装置を示す図である。
【図４】第３の実施形態にかかるＴＦＴ型液晶装置を示す図である。
【図５】データ線駆動回路の従来例を示す図である。
【図６】図４に示すデータ線駆動回路の動作を説明するための図である。
【図７】図６に示すデータ線駆動回路の動作を説明するための他の図である。
【図８】図４に示すＴＦＴ型液晶装置の液晶層への印加電圧と、光透過率との関係を示す図である。
【図９】従来の信号供給装置の構成を示す図である。
【符号の説明】
１０，４０，１００  信号供給装置
１２，１０２  ＤＡコンバータ群
１４  ボルテージフォロワ群
１６，１８  出力ライン
２０  スイッチング素子制御ライン
２２  スイッチング素子制御端子
２６  スイッチング素子群
３０  出力検査ライン
３２，３４  出力検査端子
４２  電源供給ライン
４４  短絡ライン
５０  液晶パネル
５２  信号制御回路部
５４  階調電圧回路部
５６  走査線駆動回路
５８  データ線駆動回路
６０  ＴＦＴ素子
６２  容量
６４  画素電極
７０  シフトレジスタ
７２  入力ラッチ回路
７４  データレジスタ
７６  ラッチ回路
７８  ＤＡコンバータ
８０  ボルテージフォロワ
９０  データ線駆動装置
【図１】
0003951560.tif 000002
【図２】
0003951560.tif 000003
【図３】
0003951560.tif 000004
【図４】
0003951560.tif 000005
【図５】
0003951560.tif 000006
【図６】
0003951560.tif 000007
【図７】
0003951560.tif 000008
【図８】
0003951560.tif 000009
【図９】
0003951560.tif 000010