(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
上側の接触部がＩＣ試験装置に電気接触し、下側の接触片がプリント配線基板の電気的接続部に面接触する複数のタブコンタクトと、
上記プリント配線基板に打ち込まれ、打ち込み部の中間部が膨張して長さ方向と直角方向に弾性を有し、上記プリント配線基板とコネクタとを機械的に結合保持する複数のアクションピンと、
上記複数のタブコンタクトの下側の接触片と上記複数のアクションピンをそれぞれその長さ方向に複数個配列して固定する長尺のベース部材と、
上記複数のタブコンタクトの上側の接触部をその長さ方向に複数個配列して固定し、上記ベース部材から突出形成される長尺の突出部とを具備することを特徴とするコネクタ。
【請求項２】
請求項１に記載されるコネクタにおいて、
ベース部材およびこれから突出形成される突出部はその長さ方向と直交する方向の断面は左右対称に構成され、アクションピンおよびタブコンタクトをその長さ方向の左右両側に２列配列形成したことを特徴とするコネクタ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、コネクタに関し、特に、ＩＣ試験装置のパフォーマンスボードの如きプリント配線基板に固定面接触するコネクタに関する。
【０００２】
【従来の技術】
集積回路ＩＣについてはＩＣ試験装置により各種の試験測定が実施されるのであるが、この際に、種々の理由によりＩＣをＩＣ試験装置に対して電気機械的に直接接続することはできない。ＩＣをＩＣ試験装置に接続するには、ＩＣソケットにＩＣを嵌合接続し、次いで、ＩＣソケットをプリント配線基板、一例としてパフォーマンスボードの表面に形成される接続部に接続することにより、結局、ＩＣはパフォーマンスボードの接続部に接続されることになる。接続部には図示される通り放射状に形成された配線パターンが接続しており、配線パターンの他端はパフォーマンスボードを貫通してその裏面接続部に到る。裏面接続部にはコネクタが面接触し、このコネクタは同軸ケーブルを介してＩＣ試験装置に接続する。この様にして、ＩＣはＩＣソケット、パフォーマンスボード、コネクタおよび同軸ケーブルを介してＩＣ試験装置に接続することができる。なお、実際のパフォーマンスボードは放射状配線パターンを互いに絶縁して数層重ね合わせたものより成る。
【０００３】
図５を参照するに、１はＩＣ試験装置のＨｉＦｉｘプリント基板、一般に、パフォーマンスボード１を示す。２はパフォーマンスボード１に電気機械的に接続するヘッダ側のコネクタである。このコネクタ２はパフォーマンスボード１の裏面接続部に対して電気的に面接触するタブコンタクト２２１を有している。このタブコンタクト２２１はコネクタ２の長さ方向に２列に亘って多数配列固定されている。ここで、コネクタ２をパフォーマンスボード１の裏面に接触固定するには、コネクタ２の各タブコンタクト２２１をパフォーマンスボード１の対応する裏面接続部に面接触した状態において、コネクタ２の両端のそれぞれ２箇所をボルト１１により締め付け固定していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
この場合、ボルト１１の締め付け力はコネクタ２からこれらタブコンタクト２２１およびプリント配線基板例えばパフォーマンスボード１の対応する裏面接続部を介してパフォーマンスボード１裏面に加わる。ここで、コネクタ２のタブコンタクト２２１は相当の長さに亘って多数配列固定されており、その上にパフォーマンスボード１はそれ程機械的曲げ強度が大きい訳ではないので、ボルト１１の締め付けが進むにつれてパフォーマンスボード１は湾曲し、ボルト１１の締め付け箇所から離れるにつれてパフォーマンスボード１裏面とコネクタ２表面との間は大きく広がり、タブコンタクト２２１とパフォーマンスボード１の対応する裏面接続部との間の面接触が不完全になる恐れが生ずる。
【０００５】
この発明は、ＩＣ試験装置のパフォーマンスボードに接触固定する上述の問題を解消したコネクタを提供するものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
請求項１：プリント配線基板１の電気的接続部に面接触するタブコンタクト２２１をその長さ方向に複数個配列して固定すると共にプリント配線基板１に打ち込まれるアクションピン２１１をその長さ方向に複数個配列して固定する長尺のベース部材２１およびこれから突出形成される長尺の突出部２２を具備するコネクタを構成した。
【０００７】
そして、請求項２：請求項１に記載されるコネクタにおいて、ベース部材２１およびこれから突出形成される突出部２２はその長さ方向と直交する方向の断面は左右対称に構成され、アクションピン２１１およびタブコンタクト２２１をその長さ方向の左右両側に２列配列形成したコネクタを構成した。
【０００８】
【発明の実施の形態】
この発明の実施の形態を図を参照して説明する。
図１はヘッダ側のコネクタ２の使用の態様を概念的に示す図である。従来例について説明された通り、ＩＣをＩＣ試験装置に接続するには、ＩＣソケットにＩＣを嵌合接続し、次いで、このＩＣソケットをプリント配線基板例えばパフォーマンスボード１の表面に形成される接続部に接続することにより、結局、ＩＣはパフォーマンスボードの接続部に接続されることになる。この接続部には表面に放射状に形成された配線パターンが接続しており、配線パターンの他端はパフォーマンスボード１を貫通してその裏面接続部に到る。裏面接続部には対応するタブコンタクト２２１が面接触し、ヘッダ側のコネクタ２はＩＣ試験装置側のコネクタ３、ピンエレクトロニクスカード４その他の接続部材および同軸ケーブルを介してＩＣ試験装置に接続するに到る。図２はこの発明のヘッダ側のコネクタ２を上から視たところを示す図である。図３はこのコネクタ２の斜視図である。図４はコネクタ２の長さ方向と直交する方向の断面を示す図である。
【０００９】
以上の図を参照するに、コネクタ２は長尺のベース部材２１と、この長尺のベース部材２１から突出形成される長尺の突出部２２を有する。このコネクタ２はその長さ方向と直交する方向の断面において左右対称である。２１１は長尺のベース部材２１に固定されるアクションピンである。
アクションピン２１１はベース部材２１下面から露出延伸する先の尖った打ち込み部２１１Ｐとベース部材２１上面に露出する頭部２１１Ｈより成る。アクションピンの頭部２１１Ｈはベース部材２１上面および側面に開口するアクションピン収容部２１２に頭部２１１Ｈを収容固定されている。２１３はステンレス鋼より成る保持バーであり、ベース部材２１側面にベース部材の長さ方向に延伸して埋め込まれている。この保持バー２１３はアクションピン２１１をベース部材２１に打ち込むときにこれを機械的に保護すると共にアクションピン２１１を保持する作用をする。アクションピン収容部２１２はベース部材２１の長さ方向に左右両側に２列周期的に多数形成され、それぞれにアクションピン頭部２１１Ｈが具備せしめられている。アクションピンの打ち込み部２１１Ｐ自体はその中間部を少し膨出させると共に長さ方向のスリットを形成して長さ方向と直角の方向に弾性を付与されている。
【００１０】
タブコンタクト２２１の構成についてみると、タブコンタクト２２１は燐青銅の如き剛弾性を有する弾性板金の細長片を折り曲げることにより構成される。弾性板金の細長片のほぼ中間部において１８０゜折り曲げ、折り曲げ部の近傍を上側接触部２２１Ｈとし、折り曲げられた細長片の一方の先端部を他方の細長片から離隔する外方に屈曲してこれをタブコンタクトの接触片２２１Ｐとし、上側接触部２２１Ｈと接触片２２１Ｐの間の部分を中間部２２１Ｍとするものである。
【００１１】
突出部２２の両側面には、各側面に沿ってタブコンタクト２２１の上側接触部２２１Ｈが嵌合固定する上側接触部嵌合溝２２２が上下方向に形成されている。そして、ベース部材２１には、タブコンタクト２２１の中間部２２１Ｍが嵌合する嵌合固定孔２１４が上側接触部嵌合溝２２２と連続して上下方向に形成されている。タブコンタクト２２１の上側接触部２２１Ｈは上側接触部嵌合溝２２２に嵌合した状態で側面を露出して上側接触部を構成している。図示される実施例においては、３本づつ接近して配置されるタブコンタクト２２１が複数対コネクタ２の長さ方向に長尺の突出部２２の両面に沿って構成されている。タブコンタクト２２１の接触片２２１Ｐはベース部材２１下面の嵌合固定孔２１４開口から外方に屈曲せしめられて延伸露出している。
【００１２】
【発明の効果】
以上の通りであって、この発明に依れば、アクションピン２１１はプリント配線基板例えばパフォーマンスボード１とコネクタ２とを相互に機械的に結合し、両者の結合状態を保持するに使用するピンであり、電気接続をするものではい。特に図２を参照するに、ベース部材２１のアクションピン２１１は、アクションピン頭部２１１Ｈを加圧することによりその打ち込み部２１１Ｐがパフォーマンスボード１に打ち込まれる。その結果、パフォーマンスボード１とコネクタ２との間の機械的接続は確実に保持され、パフォーマンスボード１の裏面接続部とコネクタ２のタブコンタクト２２１との間の面接触状態は保証される。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施例の使用の態様を概念的に示す図。
【図２】実施例を上から視たところを示す図。
【図３】実施例の斜視図。
【図４】実施例の長さ方向と直交する方向の断面を示す図。
【図５】従来例を説明する図。
【符号の説明】
１  パフォーマンスボード
１１  ボルト
２  ヘッダ側のコネクタ
２１  ベース部材
２１１  アクションピン
２１１Ｈ  頭部
２１１Ｐ  打ち込み部
２１２  アクションピン収容部
２１３  保持バー
２１４  嵌合固定孔
２２  突出部
２２１Ｈ  上側接触部
２２１  タブコンタクト
２２１Ｐ  接触片
２２１Ｍ  中間部
２２２  上側接触部嵌合溝
３  ＩＣ試験装置側のコネクタ
４  ピンエレクトロニクスカード
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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