(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
温度検出手段でスチ―ムトラップの弁口の一次側の温度を検出してこの一次側検出温度信号を評価回路に供給し、上記評価回路で一次側検出温度と基準温度に基づいて復水排出機能の不良を検出する第１の評価過程と、上記温度検出手段でスチ―ムトラップの弁口の二次側の温度を検出してこの二次側検出温度信号を上記評価回路に供給すると共にスチ―ムトラップの弁口の二次側の圧力を入力してこの二次側圧力を上記評価回路に供給し、上記評価回路で供給された二次側圧力を二次側飽和温度に換算し、上記評価回路で二次側検出温度と二次側飽和温度に基づいて蒸気漏れを検出する第２の評価過程と、を備えたことを特徴とするスチ―ムトラップの作動状態評価方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、スチ―ムトラップの作動状態、すなわち正常に復水を排出しているか否かを、スチ―ムトラップの温度を検出することにより評価するスチ―ムトラップの作動状態評価方法に関する。
【０００２】
スチ―ムトラップは蒸気ラインや蒸気使用機器に取り付けて、蒸気は漏らさず復水だけを自動的に排出するもので、正常に作動しないと蒸気輸送や生産活動に重大な支障となる。例えば、復水排出機能の不良を生じている場合、すなわち発生復水量よりも排出容量の小さなトラップを選定して容量不足となっていたり、復水の排出機能が喪失してフンヅマリとなっているような場合には、スチ―ムトラップの入口側配管に復水が滞留し、ウォ―タ・ハンマが生じたり、蒸気使用機器の効率が低下したり機器が破壊されたりする。また閉弁機能が低下して蒸気を漏らすと、高価なエネルギ―が空費されることになる。
【０００３】
【従来の技術】
そこで、従来からスチ―ムトラップの作動状態を評価することが行なわれてきており、その一つが特公平５−１４８３９号公報に示されている。ここに開示された技術は、温度及び振動検出手段でスチ―ムトラップの温度と振動を検出してこの検出温度信号と検出振動信号を評価回路に供給し、評価回路で検出温度から復水排出機能の不良を検出すると共に検出振動から蒸気漏れを検出するものである。スチ―ムトラップが容量不足やフンズマリになると、正常に復水を排出している場合に比べて温度が低下することに基づいて、復水排出機能の不良を検出し、スチ―ムトラップが蒸気を漏らすと、正常に復水を排出している場合に比べて振動が大きくなることに基づいて、蒸気漏れを検出する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上記従来のスチ―ムトラップの作動状態評価方法では、温度と振動を検出してそれぞれの検出信号を評価しなければならないので、必然的に複雑で高価にならざるを得ないという問題点があった。
【０００５】
従って、本発明の技術的課題は、簡単にスチ―ムトラップの復水排出機能の不良と蒸気漏れを検出できるスチ―ムトラップの作動状態評価方法を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記の技術的課題を解決するために、本発明のスチ―ムトラップの作動状態評価方法は、温度検出手段でスチ―ムトラップの弁口の一次側の温度を検出してこの一次側検出温度信号を評価回路に供給し、上記評価回路で一次側検出温度と基準温度に基づいて復水排出機能の不良を検出する第１の評価過程と、上記温度検出手段でスチ―ムトラップの弁口の二次側の温度を検出してこの二次側検出温度信号を上記評価回路に供給すると共にスチ―ムトラップの弁口の二次側の圧力を入力してこの二次側圧力を上記評価回路に供給し、上記評価回路で供給された二次側圧力を二次側飽和温度に換算し、上記評価回路で二次側検出温度と二次側飽和温度に基づいて蒸気漏れを検出する第２の評価過程と、を備えたことを特徴とするものである。
【０００７】
【発明の実施の形態】
本発明のスチ―ムトラップの作動状態評価方法は、スチ―ムトラップの弁口の一次側検出温度と基準温度に基づいて復水排出機能の不良を検出し、スチ―ムトラップの弁口の二次側検出温度とスチ―ムトラップの弁口の二次側飽和温度に基づいて蒸気漏れを検出する。スチ―ムトラップの弁口の二次側の温度は、蒸気漏れを生じている場合には正常に復水を排出している場合に比べて高くなるので、二次側検出温度と二次側飽和温度に基づいて蒸気漏れを検出することができる。このように、振動を検出せずに簡単にスチ―ムトラップの復水排出機能の不良と蒸気漏れを検出できる。
【０００８】
【実施例】
上記の技術的手段の具体例を示す実施例を説明する（図１と図２参照）。
図２は、スチ―ムトラップの作動状態評価方法に使用する装置の概略構成を示すブロック図であり、スチ―ムトラップ（図示せず）の温度を検出する温度検出手段を内蔵したプロ―ブ１と、このプロ―ブ１の検出温度信号を処理する装置本体２とから成る。
【０００９】
この装置本体２は、プロ―ブ１から専用ケ―ブル３を介して供給される上記検出温度信号を信号増幅器４で増幅し、これをＡ／Ｄ変換器５でディジタル化した信号が入力される評価回路としてのＣＰＵ６を有している。
【００１０】
このＣＰＵ６は、Ａ／Ｄ変換器５から入力された温度信号と、操作部７から入力された圧力信号を、記憶部８に記憶された処理プログラムに従って処理し、これによって、スチ―ムトラップの作動状態を評価する。そして、この評価結果を表示部９に表示する。なお、操作部７は、上記の圧力信号を入力したり、ＣＰＵ６に対して動作指令を与えるために例えば押しボタン（キ―）で構成される。また表示部９は、上記の評価結果を表示したり、ＣＰＵ６の表示指令に応じて上記動作指令を表示するために例えば液晶パネルで構成される。
【００１１】
次に、上記のＣＰＵ６の動作について、図１のフロ―チャ―トを参照して説明する。プロ―ブ１をスチ―ムトラップの近傍の一次側配管（図示せず）あるいはスチ―ムトラップの弁口の一次側部分に押し当て、スチ―ムトラップの弁口の一次側の温度を検出する（ステップＳ１）。この検出された一次側検出温度信号が信号増幅器４、Ａ／Ｄ変換器５を介してＣＰＵ６に供給される。そして操作部７からスチ―ムトラップの弁口の一次側の圧力を入力する（ステップＳ２）。この入力された一次側圧力がＣＰＵ６に供給される。
【００１２】
ＣＰＵ６は、供給された一次側圧力を一次側飽和温度に換算し（ステップＳ３）、供給された一次側検出温度Ｔｉが基準温度、例えば４０度Ｃ以上であるか否か判断する（ステップＳ４）。このステップＳ４の答がＮｏであると、フンヅマリと評価する（ステップＳ５）。このステップＳ４の答がＹｅｓであると、供給された一次側検出温度Ｔｉが、例えば換算された一次側飽和温度Ｓｔｉに０．６を乗じた値以上であるか否か判断する（ステップＳ６）。このステップＳ６の答がＮｏであると、容量不足と評価する（ステップＳ７）。
【００１３】
このステップＳ６の答がＹｅｓであると、プロ―ブ１をスチ―ムトラップの近傍の二次側配管あるいはスチ―ムトラップの弁口の二次側部分に押し当て、スチ―ムトラップの弁口の二次側の温度を検出する（ステップＳ８）。この検出された二次側検出温度信号が信号増幅器４、Ａ／Ｄ変換器５を介してＣＰＵ６に供給される。そして操作部７からスチ―ムトラップの弁口の二次側の圧力を入力する（ステップＳ９）。この入力された二次側圧力がＣＰＵ６に供給される。
【００１４】
ＣＰＵ６は、この供給された二次側圧力を二次側飽和温度に換算し（ステップＳ１０）、供給された二次側検出温度Ｔｏが、例えば換算された二次側飽和温度Ｓｔｏに０．６を乗じた値以上であるか否か判断する（ステップＳ１１）。このステップＳ１１の答がＮｏであると、蒸気漏れと評価する（ステップＳ１２）。このステップＳ１１の答がＹｅｓであると、正常と評価する（ステップＳ１３）。
【００１５】
【発明の効果】
上記のように、本発明のスチ―ムトラップの作動状態評価方法は、スチ―ムトラップの弁口の一次側の温度とスチ―ムトラップの弁口の二次側の温度を検出することにより簡単にスチ―ムトラップの復水排出機能の不良と蒸気漏れを検出できるという優れた効果を生じる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるスチ―ムトラップの作動状態評価方法の一実施例に用いるＣＰＵのプログラムを示すフロ―チャ―トである。
【図２】本発明によるスチ―ムトラップの作動状態評価方法の一実施例に使用する装置の概略構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１  プロ―ブ（温度検出手段）
２  装置本体
４  信号増幅器
５  Ａ／Ｄ変換器
６  ＣＰＵ（評価回路）
７  操作部
８  記憶部
９  表示部
【図１】
0003924037.tif 000002
【図２】
0003924037.tif 000003