(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
追記型の光ディスクにピットを形成してデータを記録するための光の照射強度を制御する光ディスク装置の光強度制御装置において、
前記光ディスクにピットが形成されて記録されたデータに基づいて再生される再生信号の再生レベルが、予め設定された目標再生レベルとなるような照射光の照射強度を基準照射強度として設定する基準照射強度設定手段と、
前記基準照射強度設定手段が設定した基準照射強度で前記光ディスクに光を照射し、順次、ピットを形成することによりデータを記録するデータ記録手段と、
前記データ記録手段により形成されたピットから反射した反射光を検出する反射光検出手段と、
前記反射光検出手段が検出した反射光の反射強度と予め設定された基準反射強度との反射強度差を取得する反射強度差取得手段と、
予め設定された関係に従い、前記反射強度差取得手段が取得した反射強度差から、前記照射強度補正量を取得する補正量取得手段と、
前記補正量取得手段が取得した照射強度補正量に基づいて前記基準照射強度を補正する照射強度補正手段と、を備えた、
ことを特徴とする光ディスク装置の光強度制御装置。
【請求項２】
前記補正量取得手段は、
予め設定された関係に従い、前記反射強度差取得手段が取得した反射強度差から、前記目標再生レベルからの再生レベル差を取得し、
予め設定された関係に従い、前記取得した再生レベル差から、前記照射強度補正量を取得するものである、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置の光強度制御装置。
【請求項３】
前記反射光検出手段は、前記データ記録手段がデータを記録して形成されたピット後端部からの前記基準照射強度に基づく反射光の反射強度を検出するものである、
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の光ディスク装置の光強度制御装置。
【請求項４】
前記反射強度差取得手段は、データ記録用照射光の照射強度を調整するための領域にピットを形成して、当該ピットから反射した反射光の反射強度を、予め設定された基準反射強度として前記反射強度差を取得するものである、
ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の光ディスク装置の光強度制御装置。
【請求項５】
前記反射強度差取得手段は、前記データ記録手段がデータを記録して最初に形成されたピットからの反射光の反射強度を、予め設定された基準反射強度として前記反射強度差を取得するものである、
ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の光ディスク装置の光強度制御装置。
【請求項６】
光ディスクにピットが形成されて記録されたデータに基づいて再生される再生信号の再生レベルが、予め設定された目標再生レベルとなるような照射光の照射強度を基準照射強度として設定するステップと、
前記設定した基準照射強度で前記光ディスクに光を照射し、順次、ピットを形成することによりデータを記録するステップと、
前記データ記録により形成されたピットから反射した反射光を検出するステップと、
前記検出した反射光の反射強度と予め設定された基準反射強度との反射強度差を取得するステップと、
予め設定された関係に従い、前記取得した反射強度差から、前記照射強度補正量を取得するステップと、
前記取得した照射強度補正量に基づいて前記基準照射強度を補正するステップと、を備えた、
ことを備えたことを特徴とする光ディスクの光強度制御方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク装置の光強度制御装置及び光強度制御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスクには、ＣＤ−Ｒ（Compact Disk-Recordable）のようにデータを追記して記録可能な追記型光ディスクがある。この光ディスクにデータを記録するには、照射強度を記録用照射強度にして、レーザ光をこの光ディスクに照射する。光ディスクにレーザ光が照射されるとピットが形成され、データは、ピットとランドとによって表される。記録されたデータを再生するには、照射強度を再生用照射強度に設定してレーザ光を光ディスクに照射し、その反射光を受光して再生信号としてのＲＲＦ（Read Radio Frequency）信号を生成する。
【０００３】
データを記録する場合、レーザ光の照射強度はピットの形成に大きな影響を与える。即ち、レーザ光の照射強度が大きければ、形成されたピットは大きくなり、レーザ光の照射強度が小さければ、ピットも小さくなる。従って、データを確実に再生するためには、レーザ光の記録用照射強度を制御する必要がある。
【０００４】
このため、光ディスク装置は、追記型光ディスクが光ディスク装置にセットされると、光ディスクにデータを記録する前に、ＯＰＣ（Optimum Power Controll）を行う。このＯＰＣは、レーザ光の記録用照射強度を設定するための制御である。
【０００５】
ＯＰＣを行う場合、光ディスク装置は、まず、レーザ光の記録用照射強度を段階的に変えてレーザ光を光ディスクのＰＣＡ（Power Calibration Area）に照射し、光ディスクにテストデータを記録する。テストデータが記録されると、光ディスク装置は、記録したテストデータを再生し、ＲＲＦ信号を得る。
【０００６】
図６に示すようなＲＲＦ信号が得られると、光ディスク装置は、得られたＲＲＦ信号から、次の数式１に従ってβ値を求め、このβ値に基づいて記録状態の良否を判別する。
【数１】
β＝（（Ａ−Ｂ）／（Ａ＋Ｂ））×１００（％）
但し、Ａ：ＲＲＦ信号のセンタからのランド側波高値
Ｂ：ＲＲＦ信号のセンタからのピット側波高値
ＲＲＦ信号は、３Ｔ〜１１Ｔというように所定の信号幅を有するように規定されており、βの目標値は、ＲＲＦ信号がこの規定を満足するように設定される。そして、ＲＲＦ信号に基づいて求められたβ値がこの目標値になるような記録状態が最適な記録状態であって、この目標値に基づいて、レーザ光の適正な記録用照射強度が求められる。
【０００７】
光ディスク装置は、ＯＰＣにおいて適正な記録用照射強度を求めると、ユーザデータの記録領域であるプログラムエリアにレーザ光を照射し、ユーザデータの記録を行う。
【０００８】
プログラムエリアにユーザデータを記録する場合も、光ディスク装置は、適正な記録状態となるようにレーザ光の記録用照射強度を補正する。β値をデータの記録時に求めることはできないので、光ディスク装置は、ＯＰＣで求めたレーザ光の記録用照射強度を、この照射強度で光ディスクに照射して形成されたピットからの反射光の反射強度に基づいて補正する。
【０００９】
この補正方法について説明する。光ディスク装置が、図７（ａ）に示すような照射光をレーザ光の記録用照射強度で照射すると、図７（ｂ）に示すようなピットが形成される（但し、レーザ光を照射してからピットが形成されるまでには、遅れ時間がある）。そして、このピットからの反射光を受光することにより図７（ｃ）に示すような反射光に応じた波形を有するＲＦ信号が得られる。
【００１０】
光ディスク装置は、ＲＦ信号の信号レベルが安定するサンプリングタイミングでBlevelと呼ばれる値を検出する。従来の光ディスク装置は、検出したBlevelがほぼ一定になるようにレーザ光の記録用照射強度を補正する。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、Blevelがほぼ一定になるようにすると、Blevelの変化が少ない場合、反射率のばらつきが少なくて精度のよい光ディスクでは、ある程度、レーザ光の記録用照射強度を制御できるものの、温度変化が大きい場合、あるいは、反射率にばらつきがある場合には、光ディスクの反射率は大きく変化し、最適な再生レベルを得ることができない場合がある。
【００１２】
例えば、図８は、温度がほぼ一定の環境下で、所定の特性を有する光ディスクに通常の記録用レーザを照射して、所定の記録速度でビットを形成し続け、そのときの、β（％）とBlevelの変化の関係を測定した結果を示す。図８に示すように、温度が一定であっても、何らかの原因（原因自体を特定する必要はない）、例えば、光ディスクの表面に埃等が付着した場合や、色素の塗布ムラ等によって反射率が変化するとBlevelは変化し、β値も変化する。また、同一の光ディスクについて、図９に示すように、温度が変化しても、温度変化と他の原因（原因自体を特定する必要はない）があいまって、Blevelは変化し、β値も変化する。このβ値の変化は、データの記録状態の変化を示すため、光ディスクの表面状態、あるいは、温度によって記録状態が変化すると、最適な記録状態が得られないことになる。図９は、温度が変化する環境下で、図８と同一特性の光ディスクに通常の記録用レーザを照射して、図８と同一の記録速度でビットを形成し続け、そのときの、β（％）とBlevelの変化の関係を測定した結果を示す。
【００１３】
本発明は、このような従来の問題点に鑑みてなされたもので、追記型光ディスクにデータを記録する場合に、安定した記録状態を維持することが可能な光ディスク装置の光強度制御装置及び光強度制御方法を提供することを目的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
この目的を達成するため、本発明の第１の観点に係る光ディスク装置の光強度制御装置は、
追記型の光ディスクにピットを形成してデータを記録するための光の照射強度を制御する光ディスク装置の光強度制御装置において、
前記光ディスクにピットが形成されて記録されたデータに基づいて再生される再生信号の再生レベルが、予め設定された目標再生レベルとなるような照射光の照射強度を基準照射強度として設定する基準照射強度設定手段と、
前記基準照射強度設定手段が設定した基準照射強度で前記光ディスクに光を照射し、順次、ピットを形成することによりデータを記録するデータ記録手段と、前記データ記録手段により形成されたピットから反射した反射光を検出する反射光検出手段と、
前記反射光検出手段が検出した反射光の反射強度と予め設定された基準反射強度との反射強度差を取得する反射強度差取得手段と、
予め設定された関係に従い、前記反射強度差取得手段が取得した反射強度差から、前記照射強度補正量を取得する補正量取得手段と、
前記補正量取得手段が取得した照射強度補正量に基づいて前記基準照射強度を補正する照射強度補正手段と、を備えたものである。
【００１５】
前記補正量取得手段は、
予め設定された関係に従い、前記反射強度差取得手段が取得した反射強度差から、前記目標再生レベルからの再生レベル差を取得し、
予め設定された関係に従い、前記取得した再生レベル差から、前記照射強度補正量を取得するものであってもよい。
【００１６】
前記反射光検出手段は、前記データ記録手段がデータを記録して形成されたピット後端部からの前記基準照射強度に基づく反射光の反射強度を検出するものであってもよい。
【００１７】
前記反射強度差取得手段は、データ記録用照射光の照射強度を調整するための領域にピットを形成して、当該ピットから反射した反射光の反射強度を、予め設定された基準反射強度として前記反射強度差を取得するものであってもよい。
【００１８】
前記反射強度差取得手段は、前記データ記録手段がデータを記録して最初に形成されたピットからの反射光の反射強度を、予め設定された基準反射強度として前記反射強度差を取得するものであってもよい。
【００１９】
本発明の第２の観点に係る光ディスクの光強度制御方法は、
光ディスクにピットが形成されて記録されたデータに基づいて再生される再生信号の再生レベルが、予め設定された目標再生レベルとなるような照射光の照射強度を基準照射強度として設定するステップと、
前記設定した基準照射強度で前記光ディスクに光を照射し、順次、ピットを形成することによりデータを記録するステップと、
前記データ記録により形成されたピットから反射した反射光を検出するステップと、
前記検出した反射光の反射強度と予め設定された基準反射強度との反射強度差を取得するステップと、
予め設定された関係に従い、前記取得した反射強度差から、前記照射強度補正量を取得するステップと、
前記取得した照射強度補正量に基づいて前記基準照射強度を補正するステップと、を備えたものである。
【００２０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態に係る光ディスク装置を図面を参照して説明する。
この実施の形態に係る光ディスク装置の構成を図１に示す。
光ディスク装置は、追記型の光ディスク１にデータを記録し、再生するためのものであり、スピンドルモータ１１と、光ピックアップ１２と、ドライバ１３と、スレッド駆動部１４と、ＲＦアンプ１５と、サーボ回路１６と、駆動回路１７と、ピークホールド回路（図中、「Ｐ／Ｈ」と記す。）１８と、ローパスフィルタ（図中、「ＬＰＦ」と記す。）１９と、ボトムホールド回路（図中、「Ｂ／Ｈ」と記す。）２０と、サンプルホールド回路（図中、「Ｓ／Ｈ」と記す。）２１と、マイクロコンピュータ（以後、「マイコン」と記す。）２２と、を備えている。
【００２１】
この光ディスク１は、例えば、ＣＤ−Ｒ（Compact Disk-Recordable）、ＤＶＤ−Ｒ（Digital Versatile Disk-Recordable）といった追記型のディスク状記録媒体である。この光ディスク１は、図２に示すように、最内周から、ＰＣＡ、リードインエリア、プログラムエリア、リードアウトエリアを有している。
【００２２】
ＰＣＡは、ＯＰＣ時にレーザ光を照射してデータの記録、再生を行い、β値を求めて、レーザ光の記録用照射強度を設定するための領域である。リードインエリアは、トラック情報を示すＴＯＣ（Table Of Contents）が記録される領域である。プログラムエリアは、楽曲データ等のユーザデータを記録するための領域である。リードアウトエリアは、データの読み出しを終了させるための領域である。
【００２３】
図１に戻り、スピンドルモータ１１は、光ディスク１を回転させるためのモータである。光ピックアップ１２は、光ディスク１に記録されたデータを読み出すためのものであり、レーザ発光器３１と、対物レンズ３２と、アクチュエータ３３と、光検出部３４と、を備えている。
【００２４】
レーザ発光器３１は、光ディスク１に照射するレーザ光を発する光源である。対物レンズ３２は、レーザ発光器３１から出力されたレーザ光を光ディスク１の記録面で集光させて合焦させるとともに、光ディスク１で反射した反射光を平行光にするためのレンズである。アクチュエータ３３は、対物レンズ３２を、位置調整ができるように支持するものである。光検出部３４は、光ディスク１からの反射光を受光して、反射光の反射強度に応じた信号レベルの電気信号を光検出信号として出力するものである。
【００２５】
ドライバ１３は、レーザ発光器３１に供給する電流を制御することにより、レーザ光の照射強度を制御するための回路である。
【００２６】
スレッド駆動部１４は、スレッドモータ等を備え、レーザ光が光ディスク１のＰＣＡ又はプログラムエリアに照射されるように光ピックアップ１２を移動させるものである。
【００２７】
ＲＦアンプ１５は、光検出部３４が出力した光検出信号に基づいて、ＲＦ（Radio Frequency）信号と、ＦＥ（フォーカスエラー）信号と、ＴＥ（トラッキングエラー）信号と、を生成するものである。ＦＥ信号は、レーザの光スポットが合焦した場合の合焦距離と、対物レンズ３２の光ディスク１の記録面までの距離と、の誤差を示す信号であり、ＴＥ信号は、光ディスク１の記録面において、読み取り中のトラックの中心位置と光スポットの位置との誤差を示す信号である。ＲＦアンプ１５は、生成したＦＥ，ＴＥ信号をサーボ回路１６に供給する。
【００２８】
サーボ回路１６は、ＲＦアンプ１５から供給されたＦＥ，ＴＥ信号に基づいて位相補償とゲイン調整とを行い、ＦＥ，ＴＥ信号の信号レベルを０に近づけるような制御信号を駆動回路１７へ供給するものである。
【００２９】
駆動回路１７は、サーボ回路１６から供給された制御信号に基づいてアクチュエータ３３を制御するものである。
【００３０】
ピークホールド回路１８は、ＲＲＦ信号のピーク値を検出し、検出したピーク値を保持する回路である。
ローパスフィルタ１９は、ＲＲＦ信号の低周波成分を通過させることにより、ＲＲＦ信号のセンタ値（ＤＣ成分）を取得するためのものである。
【００３１】
ボトムホールド回路２０は、ＲＲＦ信号のボトム値を検出し、検出したボトム値を保持する回路である。
サンプルホールド回路２１は、ユーザデータを記録する場合に、反射光におけるBlevelを検出し、検出したBlevelを保持する回路である。
【００３２】
マイコン２２は、光ディスク１へのデータの記録、再生を行うため、スピンドルモータ１１と、ドライバ１３と、スレッド駆動部１４と、ＲＦアンプ１５と、サーボ回路１６と、を制御するものであり、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）等を備えている。
【００３３】
また、マイコン２２は、ＯＰＣ時にβ値を算出し、ユーザデータの記録時に検出したBlevelに基づいてレーザ光の記録用照射強度を補正し、補正した記録用照射強度に基づいてドライバ１３を制御する。
【００３４】
尚、マイコン２２は、ＲＯＭに、レーザ光の記録用照射強度を補正するためのデータとして、図３に示すようなBlevelの変化量（検出したBlevelの基準Blevelからの差）とβの変化量（βの予測値の目標値からの差）との関係を示すデータと、図４（ａ）に示すようなレーザ光の記録用照射強度とβとの関係を示すデータと、（ｂ）に示すようなβの変化量とレーザ光の記録用照射強度の補正量との関係を示すデータと、を記憶する。
【００３５】
図３に示す関係は、図８又は図９に示すBlevelとβ値との関係からBlevelの変化量とβ値の変化量を求めてグラフ化したものである（Blevelとβ値とが変化した原因は問わない）。ここで、βの変化量＝０、Blevelの変化量＝０である原点は、BlevelがＯＰＣにおいて設定した基準値のままであって、βも目標値である点を示す。
即ち、図８及び図９において、基準Blevelと測定されたBlevelとの差をBlevelの変化分とし、基準Blevelが得られたときのβ値と各β値との差をβ値の変化分として示すことにより図３が得られる。
また、図４（ａ），（ｂ）に示す関係は、予め実験等に基づいて求められたものである。なお、図４（ａ）は、例えば、ＣＤ−Ｒ記録用のレーザ光のパワーを変化させて複数のピットを形成し、各ピットについて、そのピットを形成したときのレーザの強度（電力(mW)）とβ値を求め、それをグラフ化したものである。その他の測定条件は、ＣＤ−Ｒの一般的な使用条件と同一である。また、図４（ｂ）は、図４（ａ）を変形することにより得られるものであり、各βを０とするために必要なレーザ光強度の補正量をグラフ化したものである。
【００３６】
尚、図８及び図９に例示したBlevelとβ値との関係は、ディスクの特性、記録速度によって異なってくるので、図３に示すBlevelの変化量とβの変化量との関係も、記録再生を予定しているディスクの特性、記録速度に応じて求めておく必要がある。
【００３７】
次に本実施の形態に係る光ディスク装置の動作を説明する。
光ディスク装置のスピンドルモータ１１は、光ディスク１がセットされると、光ディスク１を回転する。
【００３８】
光ディスク１が回転すると、光ディスク装置は、まず、ＯＰＣを行ってレーザ光の記録用照射強度を設定する。
ＯＰＣを行う場合、スレッド駆動部１４は、レーザ光が光ディスク１のＰＣＡに照射されるように光ピックアップ１２を移動させる。
【００３９】
光ピックアップ１２が移動すると、ドライバ１３は、電流を制御してレーザ発光器３１に必要な電流を供給する。レーザ発光器３１は、この電流が流れることにより発光する。レーザ発光器３１から出力されたレーザ光は、平行光となり、対物レンズ３２を介して光ディスク１の表面で合焦し、光ディスク１に照射される。これにより、光ディスク１にピットが形成され、テストデータが記録される。
【００４０】
ドライバ１３は、テストデータが記録される毎に電流を段階的に変える。これにより、レーザ光の記録用照射強度は段階的に変わり、光ディスク１のＰＣＡにには、レーザ光の記録用照射強度に応じた複数のピットが形成される。
【００４１】
次に、光ディスク装置は、ＰＣＡに記録されたテストデータを再生する。
ＰＣＡに記録されたテストデータを再生する場合、レーザ発光器３１は、照射強度を再生用照射強度に設定して光ディスク１にレーザ光を照射する。対物レンズ３２は、光ディスク１で反射した反射光を平行光とする。
【００４２】
光検出部３４は、この反射光を受光して反射強度に応じた信号レベルの光検出信号をＲＦアンプ１５に出力する。
【００４３】
ＲＦアンプ１５は、受光した光検出信号に基づいて、ＲＲＦ信号と、ＦＥ信号と、ＴＬＥ信号と、を生成し、生成したＦＥ信号、ＴＥ信号をサーボ回路１６に供給する。
【００４４】
サーボ回路１６は、ＲＦアンプ１５から供給されたＦＥ，ＴＥ信号に基づいて位相補償とゲイン調整とを行い、ＦＥ，ＴＥ信号の信号レベルを０に近づけるような制御信号を駆動回路１７へ供給する。
【００４５】
駆動回路１７は、サーボ回路１６から供給された制御信号に基づいてアクチュエータ３３を制御する。アクチュエータ３３は、対物レンズ３２の位置を調整する。
【００４６】
また、ＲＦアンプ１５は、生成したＲＲＦ信号をピークホールド回路１８と、ローパスフィルタ１９と、ボトムホールド回路２０と、に供給する。
【００４７】
ピークホールド回路１８は、ＲＲＦ信号のピーク値を検出し、保持する。
ローパスフィルタ１９は、ＲＲＦ信号の低周波成分のみを通過させることにより、ＲＲＦ信号のセンタ値を取得する。
ボトムホールド回路２０は、ＲＲＦ信号のボトム値を検出し、保持する。
【００４８】
マイコン２２は、ピークホールド回路１８、ローパスフィルタ１９、ボトムホールド回路２０から、それぞれ、ＲＲＦ信号のピーク値、センタ値、ボトム値を取得し、取得したこれらの値に基づいてβ値を求める。β値は、前述の数式１に従って求められる。
【００４９】
ＰＣＡには、レーザ光の記録用照射強度に応じた複数のピットが形成されているので、マイコン２２は、求めたβ値に基づいて最適なβ値を取得する。マイコン２２は、最適なβ値を目標値としてＲＡＭに記憶する。そして、マイコン２２は、この目標値に基づいて基準となる記録用照射強度を設定し、この基準となる記録用照射強度をＲＡＭに記憶する。
【００５０】
基準となる記録用照射強度が設定されると、光ディスク装置は、プログラムエリアにユーザデータを記録する。
【００５１】
プログラムエリアにユーザデータを記録する場合、スレッド駆動部１４は、レーザ光が光ディスク１のプログラムエリアに照射されるように光ピックアップ１２を移動する。
【００５２】
ドライバ１３は、まず、レーザ光の照射強度が基準となる記録用照射強度となるようにレーザ発光器３１に電流を供給する。レーザ発光器３１は、この記録用照射強度で光ディスク１にレーザ光を照射する。
【００５３】
レーザ光が、この記録用照射強度で光ディスク１に照射されると、光ディスク１に、ピットが形成される。光検出部３４は、最初に形成されたピットからの反射光を受光して反射光の反射強度に応じた信号レベルの光検出信号をＲＦアンプ１５に出力する。
【００５４】
ＲＦアンプ１５は、供給された光検出信号に基づいてＲＦ信号を生成し、生成したＲＦ信号を、サンプルホールド回路２１に供給する。前述の図７（ｃ）に示すようなＲＦ信号が得られると、サンプルホールド回路２１は、このＲＦ信号において、Blevelをサンプリングタイミングで検出し、検出したBlevelを保持する。このBlevelは、ＯＰＣ時に求めたレーザ光の最適な記録用照射強度で実際に記録を開始した場合の最初に得られるBlevelとなる。マイコン２２は、このBlevelをサンプルホールド回路２１から取得し、取得したBlevelを基準BlevelとしてＲＡＭに記憶する。
【００５５】
光ディスク装置は、このようにしてプログラムエリアに、順次、ユーザデータを記録し、プログラムエリアに、順次、ピットが形成される。
【００５６】
そして、ピットが形成される毎に、サンプルホールド回路２１は、ＲＦ信号に基づいてBlevelを検出し、マイコン２２は、検出したBlevelに基づいてレーザ光の基準となる記録用照射強度を補正する。
【００５７】
このマイコン２２の動作を図５のフローチャートに示す。
マイコン２２は、サンプルホールド回路２１から、検出したBlevelを取得する（ステップＳ１１）。
【００５８】
マイコン２２は、ＲＡＭから基準Blevelを取得する（ステップＳ１２）。
マイコン２２は、ＲＡＭから取得した基準Blevelとサンプルホールド回路２１から取得したBlevelとの差を求め、求めた差をBlevelの変化量として取得する（ステップＳ１３）。
【００５９】
マイコン２２は、ＲＯＭに記憶した図３に示すBlevelの変化量とβ値の変化量との関係に従い、取得したBlevelの変化量から、βの変化量を取得する（ステップＳ１４）。このβの変化量は、記録したユーザデータを再生した場合のβの予測値とＲＡＭに記憶されているβの目標値との差に相当する。
【００６０】
マイコン２２は、ＲＯＭに記憶した図４（ｂ）に示すβの変化量とレーザ光の記録用照射強度の補正量との関係に従い、βの変化量から、レーザ光の記録用照射強度の補正量を取得する（ステップＳ１５）。
【００６１】
マイコン２２は、取得したレーザ光の記録用照射強度の補正量に基づいて、ＲＡＭに記憶した基準となるレーザ光の記録用照射強度を補正する（ステップＳ１６）。
【００６２】
次に、このマイコン２２の動作を図３，４に基づいて説明する。
例えば、βの目標値＝４％（つまり、レーザ光の記録用照射強度＝11.5mW）のとき、光ディスク１の表面状態が変化し、あるいは温度が変化して光ディスク１からの反射光が変化したことにより、Blevelが、ＯＰＣ時に求めたレーザ光の最適な記録用照射強度で実際に記録を開始した場合の最初に得られるBlevel（基準Blevel）と比較して、約−0.5Ｖ変化したとする。この場合、図３に示すBlevelの変化量とβの変化量との関係から、β値は、その基準値から約−1.7％変化したことになる。
【００６３】
β値が約−1.7％変化したことは、図４（ａ）に示すように、レーザ光の記録用照射強度が11.5mWから0.375mW下がって11.125mWになったのと等価であり、図４（ｂ）に示すように、レーザ光の記録用照射強度を0.375mWだけ補正すればよいことになる。マイコン２２は、この図４（ｂ）に示す関係に従って、基準となるレーザ光の記録用照射強度を約0.375mW強めるように補正する。
【００６４】
ドライバ１３は、補正されたレーザ光の記録用照射強度に基づいてレーザ発光器３１に電流を供給し、レーザ発光器３１は、この記録用照射強度で光ディスク１にレーザ光を照射する。これにより、βは目標値に維持され、適正な記録状態が維持される。
【００６５】
以上説明したように、本実施の形態によれば、ユーザデータの記録時にBlevelを検出し、検出したBlevelの基準Blevelからの差を変化量として求め、Blevelの変化量とβの変化量との関係に従い、βの目標値からの差を変化量として求め、レーザ光の記録用照射強度を補正するようにした。
【００６６】
従って、温度上昇、埃等により光ディスク１の反射率が変化しても、βをほぼ目標値に維持することができ、β値が安定した記録を行うことができる。また、ＲＲＦ信号が所定の信号幅を有し、適正なデータの記録状態を得ることができる。
【００６７】
また、本発明を実施するにあたっては、種々の形態が考えられ、上記実施の形態に限られるものではない。
例えば、上記実施の形態では、βの変化量を、Blevelの変化量とβの変化量との関係と、βの変化量とレーザ光の記録用照射強度の補正量との関係と、を実験で求めた。しかし、これらの関係に数式を設定し、レーザ光の記録用照射強度の補正量を計算で求めることもできる。
【００６８】
また、上記実施の形態では、基準Blevelを、ＯＰＣ時に求めたレーザ光の最適な照射強度で実際に記録を開始した場合の最初に得られるBlevelの値とした。しかし、これに限られるものではなく、ＯＰＣ時に検出したBlevelを基準Blevelとすることもできるし、プログラムエリアにデータが記録されてピットが形成される毎に、前回検出したBlevelを基準Blevelとすることもできる。
【００６９】
また、図９に示すように、温度が上昇するに従って、Blevelは低下するので、この関係を利用して光ディスク装置の内部温度を把握することもできる。そして、光ディスク装置内に各デバイスの動作を保証するリミッタを設け、検出したBlevelに基づいて内部温度を予測し、このリミッタを動作させることもできる。
【００７０】
但し、前述のように図９に示す温度とBlevelとの関係は、ディスクの特性、記録速度によって異なってくるので、温度とBlevelとの関係を、ディスクの特性、記録速度に応じて予め求めておく必要がある。
【００７１】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、追記型光ディスクにデータを記録する場合に、安定した記録状態を維持することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】光ディスクの領域を示す説明図である。
【図３】  Blevelの変化量とβの変化量との関係を示す説明図である。
【図４】（ａ）は、レーザ光の記録用照射強度とβとの関係を示す説明図であり、（ｂ）は、レーザ光の記録用照射強度の補正量とβの変化量との関係を示す説明図である。
【図５】図１のマイコンの動作を示すフローチャートである。
【図６】ＲＲＦ信号の説明図である。
【図７】（ａ）は、レーザの記録用照射光を示し、（ｂ）は、形成されたピットを示し、（ｃ）は、記録時のＲＦ信号を示す説明図である。
【図８】温度が一定の場合のBlevelとβ値との関係を示す説明図である。
【図９】温度が変化した場合のBlevelとβ値との関係を示す説明図である。
【符号の説明】
１  光ディスク
１３  ドライバ
１５  ＲＦアンプ
１８  ピークホールド回路（Ｐ／Ｈ）
１９  ローパスフィルタ（ＬＰＦ）
２０  ボトムホールド回路（Ｂ／Ｈ）
２１  サンプルホールド回路（Ｓ／Ｈ）
２２  マイクロコンピュータ（マイコン）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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