(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
プレス駆動軸の回転角度である測定開始角度から測定終了角度までの測定角度範囲内において設定時間経過毎に測定対象値をサンプリングさせかつサンプリングされた各測定対象値と当該各設定時間経過時とを対応させて測定対象値メモリに記憶させるサンプリング・記憶工程と、
測定角度範囲内においてプレス駆動軸の回転角度が設定角度だけ進行する度に当該各設定角度を進行するために要した当該各設定角度進行期間を計数して期間メモリに記憶する計数・記憶工程と、
測定対象値メモリに各設定時間経過時と対応させて記憶されている当該各測定対象値が期間メモリに記憶されている各設定角度進行期間のいずれかに属するかを判別する判別工程と、
横軸を設定角度おきの等間隔回転角度とするとともに、縦軸を横軸の各等間隔回転角度おきに対応する各設定角度進行期間内に属すると判別された当該各測定対象値を当該各等間隔回転角度内を等分する位置でプロットした回転角度毎測定対象値線図を作成するとともに表示器に表示させる線図作成・表示工程と、
をこの工程順に実行させる不等速プレス機械の測定表示方法。
【請求項２】
プレス駆動軸の回転角度が測定開始角度になった時に測定開始角度信号を出力可能かつ測定終了角度になった時に測定終了角度信号を出力可能であるとともに測定開始角度信号が出力されたときから測定終了角度信号が出力されるまでの測定角度範囲内においてプレス駆動軸の回転角度が設定角度分だけ進行する毎に設定角度進行毎角度信号を出力可能なタイミングスイッチと、
各設定角度分だけ進行される毎に出力される設定角度進行毎角度信号の当該各出力期間を計数可能な出力期間計数手段と、
当該時回転角度に対応させた回転角度進行毎出力期間情報を作成する回転角度進行毎出力期間情報作成手段と、
各設定角度進行毎角度信号の当該各出力期間を当該時各回転角度に対応させた回転角度進行毎出力期間情報として期間メモリに記憶可能な回転角度進行毎出力期間情報記憶制御手段と、
測定角度範囲内において設定時間経過毎に測定対象値をサンプリング可能なサンプリング制御手段と、
サンプリングされた各測定対象値と当該各設定時間経過時とを対応させた設定時間経過時毎測定対象値情報を測定対象値メモリに記憶可能な設定時間経過時毎測定対象値情報記憶制御手段と、
測定対象値メモリに記憶されている設定時間経過時毎測定対象値情報を利用して横軸を各設定時間経過時としかつ縦軸を当該各測定対象値とした設定時間経過時毎測定対象値線図を作成可能な設定時間経過時毎測定対象値線図作成手段と、
作成された設定時間経過時毎測定対象値線図の横軸に期間メモリに記憶されている回転角度進行毎出力期間情報を利用して各設定角度進行毎角度信号の当該各出力期間を重複組合せ可能な出力期間重複組合制御手段と、
測定対象値メモリに各設定時間経過時と対応させて記憶されている当該各測定対象値が期間メモリに記憶されている各設定角度進行期間のいずれかに属するかを判別可能な判別手段と、
作成された設定時間経過時毎測定対象値線図の横軸に重複組合された各出力期間を測定角度範囲内を等分する各等間隔回転角度に補正可能な横軸補正制御手段と、
補正後の各等間隔回転角度内の測定対象値が設定時間経過時毎測定対象値線図上での各出力期間内に属すると判別された複数の当該各測定対象値を当該各等間隔回転角度を当該各複数で等分する位置にプロットされたものである回転角度毎測定対象値線図に編集可能な回転角度毎測定対象値線図編集手段と、
編集後の回転角度毎測定対象値線図を表示器に表示可能な線図表示制御手段と、を備えた不等速プレス機械の測定表示装置。
【発明の詳細な説明】
【発明の属する技術分野】
【０００１】
本発明は、プレス駆動軸の回転角度に伴い変化する測定対象値を測定して表示器に表示可能な不等速プレス機械の測定表示方法および測定表示装置に関する。
【０００２】
【背景技術】
プレス機械では、プレス回転軸（例えば、クランク機構のクランク軸）の回転によりスライド（これに取り付けられた上型）を昇降（ストローク運動）させ、スライド側の上型とベッド側の下型との協働により、材料にプレス加工を施す。そして、プレス運転の円滑運転，プレス加工精度の保証や安全対策等の点から、測定対象（例えば、カス上りやプレス負荷）の値（例えば、変位や油圧）を測定（検出）しつつ測定対象値を表示器に表示させている。オペレータが表示を見ながら測定対象値の妥当性を検討でき、さらには自動的にプレス停止させるための異常信号として利用することができる。
【０００３】
測定対象がカス上り測定（検出）である場合の測定表示方法および測定表示装置を図１１，図１２を参照して説明する。
【０００４】
図１１において、２は上型，５はスプリング，６は可動ストリッパで、７は下型である。Ｗが材料（ワーク）である。そして、図１１（Ａ）は正常時を示し、同図（Ｂ）は抜きカスＧが発生した異常時を示す。可動ストリッパ６は、カスＧの介在によって左上り状態で傾斜している。
【０００５】
変位検出器４０は、例えば、下型７側に取り付けられた渦電流センサ４１と、可動ストリッパ６側に取り付けられた近接体４３とからなり、可動ストリッパ（下面）６と下型（上面）７との間の距離つまり変位（例えば、２ｍｍ以下）を検出（測定）し、測定対象値（変位）を電圧信号として出力可能である。また、プレス駆動軸の回転角度は、例えば多数の光学的スリットを有するエンコーダ（図示省略）から検出される。このエンコーダは、回転角度検出をするために追加したものである。
【０００６】
測定表示方法を示す図１２において、横軸はプレス回転軸の回転角度（θ度）［時間］でかつ縦軸が距離（変位）［電圧］とされる。等速回転（例えば、１２０ｒｐｍ）されるクランク軸（プレス回転軸）で運転された場合のスライド軌跡ＳＲ・ＣＲＶは、実線および２点鎖線で示されるＳｉｎカーブ状で等速プレスである。実線で示すストリッパ軌跡Ｓ・ＣＲＶは、スライド下死点（１８０度）に到達する手前および経過後はスライド軌跡ＳＲ・ＣＲＶに重なる。
【０００７】
しかし、下死点近傍ではスライド軌跡ＳＲ・ＣＲＶと重ならない。つまり、ストリッパ軌跡Ｓ・ＣＲＶは、正常（ＮＬ）時には細実線で示す基準位置ＳＴＤに沿うが、カスＧが発生すると可動ストリッパ６が浮上るので太実線の異常軌跡（ＵＳＵ）となる。
【０００８】
かくして、回転角度θｉ（例えば、２度）ごとの距離（例えば、０〜１ｍｍ）を測定しつつ、横軸および縦軸のそれぞれにプロットした図１２の回転角度毎測定対象値線図を表示器に表示させれば、オペレータはカス上り発生の有無を判断することができる。
【０００９】
さらに、オペレータの常時監視ができないケースにあるいは積極的策として、ある回転角度範囲θｄ内の検出された距離変化が許容範囲（上限Ｌｕまたは下限Ｌｌあるいは幅Ｌｕ〜Ｌｌ）を越えた場合（上限Ｌｕ以上または下限Ｌｌ以下あるいは幅Ｌｕ〜Ｌｌを逸脱）に、これを異常信号としてプレス自動停止させるように利用することができる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、縦軸の測定対象は渦電流センサ４１で検出されるアナログの値（距離…電圧）であるから、検出（サンプリング）タイミングを通常的範囲内で何時に設定しても、サンプリング毎に正確な値を検出（測定）することができる。
【００１１】
しかし、横軸の値（回転角度）を検出するエンコーダは、例えば１度おきのスリットが設けられたスリット円板を利用する光学的検出器であるために渦電流センサ４１等の場合に比較して非常に高価であり、また所定の測定精度を安定して得るにはプレス回転軸への直接あるいは間接的な組立・取付けに多くの労力・時間が掛かりかつ煩雑な調整が必要である。
【００１２】
特に、測定精度や適応性の点から、一段と強まるプレス高速化（例えば、１２０ｓｐｍ→１２００ｓｐｍになる。）に対応できない。つまり、例えば回転角度１度を例えば０．２ｍＳｅｃ以下の短時間で通過するような高速プレスの場合は、エンコーダの出力が間に合わないので、横軸を所望の回転角度（例えば、１度以下）毎として当該各縦軸（測定対象値）をプロットすることができない。
【００１３】
特に、スライドが例えばリンク機構により不等速でプレス運転されるプレス機械（不等速プレス機械）の場合には、例えば図９（Ａ）に示す如く下死点（１８０度）を中心とした前後（図で左右）のストリッパ軌跡Ｓ・ＣＲＶのうち、その一方（左側）が横軸方向に幅広で他方（右側）が幅狭になってしまう。すなわち、下死点（１８０度）通過直後の測定対象値を正確かつ詳細に判断することができないという問題もある。
【００１４】
本発明の目的は、高価なエンコーダを追加使用する必要がなくかつ測定精度，適応性の点でもプレス高速化に対応できる不等速プレス機械の測定表示方法および測定表示装置を提供することにある。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
請求項１の発明は、プレス駆動軸の回転角度である測定開始角度から測定終了角度までの測定角度範囲内において設定時間経過毎に測定対象値をサンプリングさせかつサンプリングされた各測定対象値と当該各設定時間経過時とを対応させて測定対象値メモリに記憶させるサンプリング・記憶工程と、測定角度範囲内においてプレス駆動軸の回転角度が設定角度だけ進行する度に当該各設定角度を進行するために要した当該各設定角度進行期間を計数して期間メモリに記憶する計数・記憶工程と、測定対象値メモリに各設定時間経過時と対応させて記憶されている当該各測定対象値が期間メモリに記憶されている各設定角度進行期間のいずれかに属するかを判別する判別工程と、横軸を設定角度おきの等間隔回転角度とするとともに、縦軸を横軸の各等間隔回転角度おきに対応する各設定角度進行期間内に属すると判別された当該各測定対象値を当該各等間隔回転角度内を等分する位置でプロットした回転角度毎測定対象値線図を作成するとともに表示器に表示させる線図作成・表示工程と、をこの工程順に実行させる不等速プレス機械の測定表示方法である。
【００１６】
かかる発明では、まず、サンプリング・記憶工程が実行される。例えば、プレス機械に標準的に装備されているタイミングスイッチを利用して測定開始角度θ１（プレス駆動軸の回転角度…例えば、９０度）から測定終了角度θ２（プレス駆動軸の回転角度…例えば、２７０度）までの測定角度範囲（９０〜２７０度）内において設定時間（Ｔｓ）経過毎に測定対象値Ｈｉ（例えば、カス上り検出用の変位）をサンプリング（測定）させる。
【００１７】
設定時間Ｔｓを例えば、０．０７ｍＳｅｃとしておけば、設定時間Ｔｓ（０．０７ｍＳｅｃ）毎に例えば渦電流センサで検出した当該各測定対象値Ｈｉをサンプリングできかつこのようにしてサンプリングされた各測定対象値Ｈｉと当該各設定時間（Ｔｓ）経過時［Ｔ１＝０，Ｔｓ，２×Ｔｓ，…，Ｔ２＝ｎ×Ｔｓ（…それぞれを具体的な何時何分何十秒としてもよい。）］とを対応させてメモリに記憶させておく。
【００１８】
次いで、計数・記憶工程が実行される。測定角度範囲（９０〜２７０度）内においてプレス駆動軸の回転角度θｉが設定角度θｓだけ進行する度に当該各設定角度θｓを進行するために要した当該各設定角度進行期間（出力期間）ＴＭｉ（例えば、ＴＭ１，…，ＴＭｎ−１，ＴＭｎ，ＴＭｎ＋１，…ＴＭｎ＋ｍ…それぞれを具体的な何時何分何十秒〜何時何分何十秒とする。）を計数して期間メモリに記憶させる。
【００１９】
引続き、判別工程が実行される。測定対象値メモリに各設定時間経過時と対応させて記憶されている各測定対象値Ｈｉが期間メモリに記憶されている当該各設定角度進行期間ＴＭｉ（ＴＭ１，…，ＴＭｎ−１，ＴＭｎ，ＴＭｎ＋１，…ＴＭｎ＋ｍ）のいずれかに属するかを判別させる。
【００２０】
ここで、選択回転速度が１２００ｒｐｍでかつ測定開始角度θ１（９０度）から測定終了角度θ２（２７０度）までの測定角度範囲が１８０度であるとしても、プレス運転がリンク機構により不等速である場合には、各設定時間Ｔｓ（０．１４ｍＳｅｃ）内のサンプリング回数は、当該時の回転速度に対応して増減する。回転速度が遅ければサンプリング数（例えば、６個）は多く、早ければサンプリング数（例えば、２個）は少ない。
【００２１】
最後に、線図作成・表示工程が実行される。横軸を設定角度θｓおきの等間隔回転角度Δθとするとともに、縦軸を横軸である各等間隔回転角度Δθおきに対応する各設定角度進行期間ＴＭｉ（ＴＭ１，…，ＴＭｎ−１，ＴＭｎ，ＴＭｎ＋１，…ＴＭｎ＋ｍ）内に属すると判別された当該各測定対象値（各Ｈｉ…例えば７個の値）を、当該各等間隔回転角度Δθ内を等分（この場合は８等分）する位置でプロットした回転角度毎測定対象値線図（Ｈｉ−Δθ）を作成するとともに表示器に表示させる。
【００２２】
したがって、高価なエンコーダを追加使用する必要がなくかつ測定精度，適応性の点でもプレス高速化に対応できる不等速プレス機械に好適な測定表示方法を提供することができる。
【００２３】
また、請求項２の発明は、プレス駆動軸の回転角度が測定開始角度になった時に測定開始角度信号を出力可能かつ測定終了角度になった時に測定終了角度信号を出力可能であるとともに測定開始角度信号が出力されたときから測定終了角度信号が出力されるまでの測定角度範囲内においてプレス駆動軸の回転角度が設定角度分だけ進行する毎に設定角度進行毎角度信号を出力可能なタイミングスイッチと、各設定角度分だけ進行される毎に出力される設定角度進行毎角度信号の当該各出力期間を計数可能な出力期間計数手段と、当該時回転角度に対応させた回転角度進行毎出力期間情報を作成する回転角度進行毎出力期間情報作成手段と、各設定角度進行毎角度信号の当該各出力期間を当該時各回転角度に対応させた回転角度進行毎出力期間情報として期間メモリに記憶可能な回転角度進行毎出力期間情報記憶制御手段と、測定角度範囲内において設定時間経過毎に測定対象値をサンプリング可能なサンプリング制御手段と、サンプリングされた各測定対象値と当該各設定時間経過時とを対応させた設定時間経過時毎測定対象値情報を測定対象値メモリに記憶可能な設定時間経過時毎測定対象値情報記憶制御手段と、測定対象値メモリに記憶されている設定時間経過時毎測定対象値情報を利用して横軸を各設定時間経過時としかつ縦軸を当該各測定対象値とした設定時間経過時毎測定対象値線図を作成可能な設定時間経過時毎測定対象値線図作成手段と、作成された設定時間経過時毎測定対象値線図の横軸に期間メモリに記憶されている回転角度進行毎出力期間情報を利用して各設定角度進行毎角度信号の当該各出力期間を重複組合せ可能な出力期間重複組合制御手段と、測定対象値メモリに各設定時間経過時と対応させて記憶されている当該各測定対象値が期間メモリに記憶されている各設定角度進行期間のいずれかに属するかを判別可能な判別手段と、作成された設定時間経過時毎測定対象値線図の横軸に重複組合された各出力期間を測定角度範囲内を等分する各等間隔回転角度に補正可能な横軸補正制御手段と、補正後の各等間隔回転角度内の測定対象値が設定時間経過時毎測定対象値線図上での各出力期間内に属すると判別された複数の当該各測定対象値を当該各等間隔回転角度を当該各複数で等分する位置にプロットされたものである回転角度毎測定対象値線図に編集可能な回転角度毎測定対象値線図編集手段と、編集後の回転角度毎測定対象値線図を表示器に表示可能な線図表示制御手段と、を備えた不等速プレス機械の測定表示装置である。
【００２４】
かかる発明では、タイミングスイッチは、プレス駆動軸の回転角度θｉが測定開始角度θ１（例えば、９０度）になった時に測定開始角度信号を出力しかつ測定終了角度θ２（例えば、２７０度）になった時に測定終了角度信号を出力するとともに、測定開始角度信号が出力されたときから測定終了角度信号が出力されるまでの測定角度範囲内において、プレス駆動軸の回転角度θｉが設定角度θｓ分だけ進行する毎に設定角度進行毎角度信号を出力する。
【００２５】
この設定角度進行毎角度信号が出力されている期間（設定角度進行期間）、すなわち出力期間計数手段により計数された当該各出力期間ＴＭｉ（ＴＭ１，…，ＴＭｎ−１，ＴＭｎ，ＴＭｎ＋１，…ＴＭｎ＋ｍ）は、当該時各回転角度θｉに対応させた回転角度進行毎出力期間情報として、期間メモリに記憶される。回転角度進行毎出力期間情報作成手段および回転角度進行毎出力期間情報記憶制御手段の働きによる。
【００２６】
サンプリング制御手段は、測定角度範囲（９０〜２７０度）内において設定時間（Ｔｓ）経過毎に測定対象値Ｈｉがサンプリング（測定）する。すると、設定時間経過時毎測定対象値情報記憶制御手段が、サンプリングされた各測定対象値Ｈｉと当該各設定時間経過時（Ｔ１＝０，Ｔｓ，２×Ｔｓ，３×Ｔｓ，…，Ｔ２＝ｎ×Ｔｓ）とを対応させた設定時間経過時毎測定対象値情報を測定対象値メモリに記憶する。
【００２７】
そして、設定時間経過時毎測定対象値線図作成手段が、測定対象値メモリに記憶されている設定時間経過時毎測定対象値情報を利用して横軸を各設定時間経過時（０，Ｔｓ，２×Ｔｓ，３×Ｔｓ，…，ｎ×Ｔｓ）としかつ縦軸を当該各測定対象値Ｈｉとした設定時間経過時毎測定対象値線図（Ｈｉ−Ｔｉ）を作成する。
【００２８】
このようにして作成された設定時間経過時毎測定対象値線図の横軸に、期間メモリに記憶されている回転角度進行毎出力期間情報を利用して設定角度進行毎角度信号の当該各出力期間（設定角度進行期間）ＴＭｉ（ＴＭ１，…，ＴＭｎ−１，ＴＭｎ，ＴＭｎ＋１，…ＴＭｎ＋ｍ）が重複されて組合される。出力期間重複組合制御手段による。
【００２９】
横軸補正制御手段が、作成された設定時間経過時毎測定対象値線図（Ｈｉ−Ｔｉ）の横軸に重複組合せされた各出力期間ＴＭｉ（ＴＭ１，…，ＴＭｎ−１，ＴＭｎ，ＴＭｎ＋１，…ＴＭｎ＋ｍ）を測定角度範囲（９０〜２７０度）内を等分（例えば、１８１等分）した各等間隔回転角度Δθ（１度）に補正する。
【００３０】
また、回転角度毎測定対象値線図編集手段は、設定時間経過時毎測定対象値線図から回転角度毎測定対象値線図（Ｈｉ−Δθ）に編集する。すなわち、補正後の各等間隔回転角度Δθ内の各測定対象値Ｈｉは、設定時間経過時毎測定対象値線図（Ｈｉ−Ｔｉ）上での各出力期間（ＴＭｉ）内に属すると判別された複数の当該各測定対象値Ｈｉをこれらに対応する当該各等間隔回転角度Δθを当該各複数で等分した位置にプロットしたものとされる。線図表示制御手段は、編集後の回転角度毎測定対象値線図（Ｈｉ−Δθ）を表示器に表示する。
【００３１】
したがって、請求項１の発明に係る測定表示方法を実施するために好適な測定表示装置を提供できる。しかも、構造簡素でかつ取扱が簡単で、構成要素をプレス駆動制御用の構成要素（例えば、ＣＰＵ，ＲＯＭ，メモリ等）と兼用できるから一段とコスト低減を図れる。
【００３２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。
【００３３】
本不等速プレス機械の測定表示装置１０は、本測定表示方法を実施するために好適なものとされ、具体的には図１〜図１０に示す如く、タイミングスイッチ８９，出力期間計数手段９１，回転角度進行毎出力期間情報作成手段９３，回転角度進行毎出力期間情報記憶制御手段９４，サンプリング制御手段９５，設定時間経過時毎測定対象値情報記憶制御手段９７，設定時間経過時毎測定対象値線図作成手段９８，出力期間重複組合制御手段９９，判別手段１００と，横軸補正制御手段１０３，回転角度毎測定対象値線図編集手段１０４，１０５および線図表示制御手段１０６を具備し、プレス駆動軸の回転角度θｉが測定開始角度θ１になった時に測定開始角度信号が出力されたときから測定終了角度θ２になった時に測定終了角度信号が出力されるまでの測定角度範囲（θ１〜θ２）内において回転角度θｉが設定角度θｓ分だけ進行する毎に設定角度進行毎角度信号を出力可能かつ設定角度進行毎角度信号の当該各出力期間ＴＭｉを当該時各回転角度θｉに対応させた回転角度進行毎出力期間情報として期間メモリ１３ＴＭＭに記憶可能で、測定角度範囲（θ１〜θ２）内において設定時間（Ｔｓ）経過毎にサンプリングされた各測定対象値Ｈｉと当該各設定時間経過時とを対応させた設定時間経過時毎測定対象値情報を測定対象値メモリ（１３Ｍ）に記憶可能に形成され、当該各出力期間ＴＭｉを当該時各回転角度θｉに対応させた回転角度進行毎出力期間情報として期間メモリ１３ＴＭＭに記憶可能で、設定時間（Ｔｓ）経過毎にサンプリングされた各測定対象値Ｈｉと当該各設定時間経過時とを対応させた設定時間経過時毎測定対象値情報を測定対象値メモリに記憶可能に形成され、これに記憶されている設定時間経過時毎測定対象値情報を利用して横軸を各設定時間経過時としかつ縦軸を当該各測定対象値として作成された設定時間経過時毎測定対象値線図（Ｈｉ−Ｔｉ）の横軸に期間メモリ１３ＴＭＭに記憶されている回転角度進行毎出力期間情報（Ｈｉ，Ｔｉ，ＴＭｉ）を利用して各設定角度進行毎角度信号の当該各出力期間ＴＭｉを重複組合せ可能に形成し、作成された設定時間経過時毎測定対象値線図（Ｈｉ―Ｔｉ）の横軸に重複組合せされた各出力期間ＴＭｉを等間隔回転角度Δθに補正するとともに当該各等間隔回転角度Δθ内の測定対象値が設定時間経過時毎測定対象値線図上での各出力期間（設定角度進行期間）内に属すると判別された当該各複数の測定対象値Ｈｉを対応する各等間隔回転角度Δθを当該各複数で等分する位置にプロットされたものである回転角度毎測定対象値線図（Ｈｉ―Δθ）に編集（作成）した後の回転角度毎測定対象値線図（Ｈｉ―Δθ）を表示器２１に表示可能に形成されている。
【００３４】
不等速プレス機械は、プレス回転軸がクランク機構のクランク軸とされかつ不等速でプレス運転される。しかし、下死点前後（特に、下死点通過直後）の測定対象値の判断に関しては、等速プレス運転の場合と同様な状態に補正して観察可能に形成してある。
【００３５】
また、測定して表示器２１に表示しようとする対象つまり測定対象は、図１１に示した場合と同様な“カス上り”である。この“カス上り”の発生の有無およびその程度（変位量）等は、下型７側に取り付けられた渦電流センサ４１と可動ストリッパ６側に取り付けられた近接体４３とからなる変位検出器４０により、可動ストリッパ（下面）６と下型（上面）７との距離つまり変位（例えば、１ｍｍ以下）として測定され、電圧（測定変位）信号で出力される。
【００３６】
なお、プレス駆動軸の回転角度θｉは、多数の光学的スリットを有する高価なエンコーダでなく、時分割方式で測定される。また、測定対象は“カス上り”に限定されず“プレス負荷”等であっても、本発明は適応される。
【００３７】
まず、図１において、測定表示装置１０は、制御部（ＣＰＵ１１，ＲＯＭ１２，ＲＡＭ１３）と、これに接続されたキーボード（ＫＢ）２０，表示器（ＩＮＤ）２１，入出力ポート（Ｉ／Ｏ）１４を介して接続されたタイミングスイッチ（ＴＳＷ）３０および上記した変位検出器（ＨＤ）４０から形成されている。インターフェース（Ｉ／Ｆ）１５を介してプレス制御盤（図示省略）に接続されている。
【００３８】
なお、本装置１０の制御部等を、プレス制御盤の構成要素を利用（兼用）して構築してもよい。なお、測定表示装置全体をロジック回路等から形成してもよい。
【００３９】
ＣＰＵ１１には、基準クロック発振器を含む時計回路１１Ｔが内蔵されている。また、時計回路１１Ｔは、それぞれに設定された周波数の異なる複数種類のクロック信号を生成出力可能に形成されている。
【００４０】
バッテリー（電池）でバックアップされたＲＡＭ１３には、図２に示す設定メモリ１３Ｓおよび図３に示す設定時間経過毎測定対象値情報テーブル（メモリ）１３Ｍが設けられている。
【００４１】
タイミングスイッチ３０は、プレス駆動軸の回転角度θｉが測定開始角度θ１（この実施形態では、９０度）になった時に測定開始角度信号を制御部（ＣＰＵ１１等）へ出力可能かつ測定終了角度θ２（この実施形態では、２７０度）になった時に測定終了角度信号を出力可能であるとともに測定開始角度信号が出力されたときから測定終了角度信号が出力されるまでの測定角度範囲（θ１〜θ２）内においてプレス駆動軸の回転角度θｉが設定角度θｓ（この実施形態では、１度）分だけ進行する毎に設定角度進行毎角度信号を出力（図６のＳＴ３０でＹＥＳ）可能に形成されている。
【００４２】
また、このタイミングスイッチ３０の出力との関係で、出力期間計数手段，回転角度進行毎出力期間情報作成手段および回転角度進行毎出力期間情報記憶制御手段を設けてある。
【００４３】
出力期間計数手段は、出力期間計数制御プログラムを格納させたＲＯＭ１２とこのプログラムを実行させるＣＰＵ１１とから形成され、設定角度θｓ分だけ進行される毎に出力される設定角度進行毎角度信号の当該各出力期間ＴＭｉ（ＴＭ１，…，ＴＭｎ−１，ＴＭｎ，ＴＭｎ＋１，…，ＴＭｎ＋ｍ）を計数する（ＳＴ３１〜ＳＴ３４）。
【００４４】
つまり、今回出力時刻Ｔｉを時計回路１１Ｔから取得（ＳＴ３１）し、角度θｉを歩進（θｉ＝θｉ＋１）しかつメモリ（１３）に記憶されていた前回出力時刻Ｔｉ−１を読込み、これらデータを用いて出力期間ＴＭを算出（ＴＭ＝Ｔｉ−Ｔｉ−１）する（ＳＴ３２〜ＳＴ３４）。
【００４５】
回転角度進行毎出力期間情報作成手段は、回転角度進行毎出力期間情報作成制御プログラムを格納させたＲＯＭ１２とこのプログラムを実行させるＣＰＵ１１とから形成され、当該時回転角度θｉに対応させた回転角度進行毎出力期間情報（θｉ、ＴＭｉ）を作成（ＳＴ３５）する。
【００４６】
回転角度進行毎出力期間情報記憶制御手段は、回転角度進行毎出力期間情報記憶制御プログラムを格納させたＲＯＭ１２とこのプログラムを実行させるＣＰＵ１１とから形成され、作成された回転角度進行毎出力期間情報（θｉ、ＴＭｉ）を図７の期間メモリ１３ＴＭＭに記憶（ＳＴ３５）する。θｉが２７０度となるまで繰り返す（ＳＴ３６）。
【００４７】
したがって、設定時間Ｔｓによるサンプリングのタイミングおよび分割数Ｎによる回転角度毎測定対象値線図（Ｈｉ−θｉ）上での回転角度θｉの補正（換算）の容易化を図れかつ利用性を一段と高められる。
【００４８】
ここに、サンプリング指令信号生成出力手段は、サンプリング指令信号生成出力プログラムを格納させたＲＯＭ１２とこのプログラムを実行させるＣＰＵ１１とから形成され、測定開始角度信号が出力（図４のＳＴ１０でＹＥＳ）されたときから測定終了角度信号が出力（ＳＴ１５でＹＥＳ）されるまでの測定角度範囲（θ１〜θ２）内において、設定時間（Ｔｓ）経過毎に変位検出器４０の出力である測定対象値（変位…電圧）Ｈｉをサンプリング（測定）すべき指令するためのサンプリング指令信号を生成して出力（ＳＴ１１でＹＥＳ）する。この手段は、ロジック回路等から形成してもよい。
【００４９】
サンプリング制御手段（ＣＰＵ１１，ＲＯＭ１２）は、サンプリング制御プログラムを格納させたＲＯＭ１２とこのプログラムを実行させるＣＰＵ１１とから形成され、測定角度範囲（θ１＝９０度〜θ２＝２７０度）内において設定時間Ｔｓの経過毎に測定対象値Ｈｉをサンプリングする（図４のＳＴ１２を参照）。
【００５０】
次に、設定時間Ｔｓを設定する時間設定手段は、キーボード２０と時間設定プログラムを格納させたＲＯＭ１２とこのプログラムを実行させるＣＰＵ１１とから形成され、表示器２１の画面上で目視確認しつつ設定操作することができる。時間設定手段は、例えばデジタルスイッチ等から形成してもよい。
【００５１】
設定された設定時間Ｔｓは、記憶制御手段（ＣＰＵ１１，ＲＯＭ１２）によって図２の設定メモリ１３Ｓに記憶（ＳＴ１４）される。なお、この設定メモリ１３Ｓには、測定開始角度θ１および測定終了角度θ２も記憶される。
【００５２】
この設定時間Ｔｓは、適宜な時間（例えば、０．１００〜０．０１０ｍＳｅｃ）の間で選択した値（例えば、０．０７ｍＳｅｃ）に設定変更することができる。
【００５３】
設定時間Ｔｓは、プレス加工終了後でスライドが急速に上昇される下死点通過直後、すなわち図９（Ａ）に示すスライド軌跡ＳＲ・ＣＲＶの勾配が急峻な位置つまりは設定角度θｓの通過期間ＴＭｉ（ＴＭｎ−１）が最も短い場合でも複数［例えば、図１０（Ａ）に示す３つ。］をサンプリングさせることができる時間として設定するのが好ましい。
【００５４】
また、設定時間経過時毎測定対象値情報記憶制御手段（１１，１２）は、設定時間経過時毎測定対象値情報記憶制御プログラムを格納させたＲＯＭ１２とこのプログラムを実行させるＣＰＵ１１とから形成され、サンプリング制御手段（１１，１２）によりサンプリング（ＳＴ１２）された各測定対象値（Ｈ１〜Ｈｉ〜Ｈ２）と当該各設定時間経過時つまり時計回路１１Ｔから取得（ＳＴ１３を参照）した設定時間経過時刻（Ｔ１〜Ｔｉ〜Ｔ２）とを対応させた設定時間経過時毎測定対象値情報を、図３の測定対象値メモリ（１３Ｍ）に記憶（ＳＴ１４を参照）する。
【００５５】
設定時間経過時毎測定対象値線図作成手段（１１，１２）は、設定時間経過時毎測定対象値線図作成プログラムを格納させたＲＯＭ１２とこのプログラムを実行させるＣＰＵ１１とから形成され、図３の測定対象値メモリ（１３Ｍ）に記憶されている設定時間経過時毎測定対象値情報（Ｔｉ，Ｈｉ）を利用して横軸を各設定時間経過時（時刻Ｔ１〜Ｔｉ〜Ｔ２）としかつ縦軸を当該各測定対象値（変位Ｈ１〜Ｈｉ〜Ｈ２）とした図９（Ａ）および図１０（Ａ）に示す設定時間経過時毎測定対象値線図（Ｈｉ−Ｔｉ）を作成する（図７のＳＴ５０，ＳＴ５１）。具体的に表示器２１に表示させることができる態様で作成する必要はない。つまり、データ処理上の程度でもよい。ただし、表示器２１に表示可能に形成することを排斥するものではない。
【００５６】
次に、出力期間重複組合制御手段は、出力期間重複組合制御プログラムを格納させたＲＯＭ１２とこのプログラムを実行させるＣＰＵ１１とから形成され、作成された設定時間経過時毎測定対象値線図（Ｈｉ−Ｔｉ）の横軸に図５の期間メモリ１３ＴＴＭに記憶されている回転角度進行毎出力期間情報を利用して各設定角度進行毎角度信号の当該各出力期間を重複組合せる（ＳＴ５２，ＳＴ５３）。データ処理上で換算可能に重複組合せできればよい。また、具体的に表示器２１に表示させることができる態様で作成する必要はない。
【００５７】
ここで、判別・抽出手段は、判別・抽出制御プログラムを格納させたＲＯＭ１２とこのプログラムを実行させるＣＰＵ１１とから形成され、測定対象値メモリ（１３Ｍ）に各設定時間経過時と対応させて記憶されている当該各測定対象値Ｈｉが期間メモリ１３ＴＭＭに記憶されている各設定角度進行期間つまり出力期間ＴＭｉ（ＴＭ１，…，ＴＭｎ−１，ＴＭｎ，ＴＭｎ＋１，…ＴＭｎ＋ｍ）のいずれに属するかを図１０（Ａ）に示すように判別（ＳＴ５４）するとともに、判別された各設定角度進行期間ＴＭｉ（ＴＭ１，…，ＴＭｎ−１，ＴＭｎ，ＴＭｎ＋１，…ＴＭｎ＋ｍ）の当該各測定対象値Ｈｉを抽出（ＳＴ５４）する。
【００５８】
抽出された設定角度進行期間ＴＭｉごとの当該各測定対象値Ｈｉは、メモリ（ＲＡＭ１３）のワーキングエリアに一時記憶される。
【００５９】
等分回転角度算出手段は、等分回転角度算出プログラムを格納させたＲＯＭ１２とこのプログラムを実行させるＣＰＵ１１とから形成され、予め設定された等分数Ｎ（例えば、１８０）と測定開始角度θ１と測定終了角度θ２とを設定メモリ１３Ｓから読取って回転角度Δθ（１度）を算出する（ＳＴ５５，ＳＴ５６）。回転角度Δθを直接設定するように形成してもよい。
【００６０】
横軸補正制御手段は、横軸補正制御プログラムを格納させたＲＯＭ１２とこのプログラムを実行させるＣＰＵ１１とから形成され、作成された設定時間経過時毎測定対象値線図（Ｈｉ−Ｔｉ）の横軸に重複組合された各出力期間（ＴＭｉ）を測定角度範囲内（９０〜２７０度）をＮ（１８０）等分する算出等間隔回転角度Δθ（＝１度）に補正（図８のＳＴ５７）する。
【００６１】
回転角度毎測定対象値線図編集手段は、回転角度毎測定対象値線図編集プログラムを格納させたＲＯＭ１２とこのプログラムを実行させるＣＰＵ１１とから形成されている。
【００６２】
各等間隔回転角度Δθ内の当該各測定対象値Ｈｉは、設定時間経過時毎測定対象値線図（Ｈｉ−Ｔｉ）上での各出力期間（設定角度進行期間）ＴＭｉ（ＴＭ１，…，ＴＭｎ−１，ＴＭｎ，ＴＭｎ＋１，…，ＴＭｎ＋ｍ）内に属するとして判別されかつ抽出・記憶された当該各複数の測定対象値Ｈｉを対応する各等間隔回転角度Δθを当該各複数で等分する位置にプロットしたものとされる。かくして、図９（Ｂ）および図１０（Ｂ）に示すような回転角度毎測定対象値線図（Ｈｉ−θｉ）を編集（作成）することができる（ＳＴ５８）。
【００６３】
線図表示制御手段は、線図表示制御プログラムを格納させたＲＯＭ１２とこのプログラムを実行させるＣＰＵ１１とから形成され、編集後の回転角度毎測定対象値線図を表示器２１に表示終了指令があるまで表示する（ＳＴ５９，ＳＴ６０）。
【００６４】
かかる実施形態によれば、まず、サンプリング・記憶工程が実行させる。プレス機械に標準的に装備されているタイミングスイッチ３０を利用して測定開始角度θ１（９０度）から測定終了角度θ２（２７０度）までの測定角度範囲（９０〜２７０度）内において設定時間（Ｔｓ）経過毎に測定対象値Ｈｉ（カス上り検出用の変位）をサンプリングさせる。
【００６５】
設定時間Ｔｓを最短期間（例えば、ＴＭｎ）でも複数（例えば、３個）の測定対象値をサンプリング可能な例えば、約０．０５ｍＳｅｃとしておけば、設定時間Ｔｓ（０．０５ｍＳｅｃ）毎に渦電流センサ４１で検出した３個の測定対象値Ｈｉをサンプリングできる。
【００６６】
このようにしてサンプリングされた各測定対象値Ｈｉは、当該各設定時間経過時［０，Ｔｓ，２×Ｔｓ，３×Ｔｓ，…，ｎ×Ｔｓ…それぞれを具体的な何時何分何十秒としてもよい。］と対応されて、メモリ（１３）に記憶させておく。
【００６７】
次いで、計数・記憶工程が実行される。測定角度範囲（９０〜２７０度）内においてプレス駆動軸の回転角度θｉが設定角度θｓだけ進行する度に当該各設定角度θｓを進行するために要した当該各設定角度進行期間ＴＭｉ（ＴＭ１，…，ＴＭｎ−１，ＴＭｎ，ＴＭｎ＋１，…ＴＭｎ＋ｍ）を計数して期間メモリ１３ＴＭＭに記憶させておく。
【００６８】
引続き、判別工程が実行される。測定対象値メモリ（１３Ｍ）に各設定時間経過時と対応記憶されている当該各測定対象値Ｈｉが、期間メモリ１３ＴＭＭに記憶されている各設定角度進行期間ＴＭｉ（ＴＭ１，…，ＴＭｎ−１，ＴＭｎ，ＴＭｎ＋１，…ＴＭｎ＋ｍ）のいずれかに属するかを判別させる。
【００６９】
ここで、選択回転速度が１２００ｒｐｍであるとしても、プレス速度（スライド軌跡ＳＲ・ＣＲＶ）がリンク機構により不等速（下死点を中心に前後非対称）である場合には、測定開始角度θ１（９０度）から測定終了角度θ２（２７０度）までの測定角度範囲が１８０度であるが、各設定時間Ｔｓ（０．０５ｍＳｅｃ）内のサンプリング回数は、当該時の回転速度に対応して増減する。回転速度が遅ければサンプリング数（例えば、７個）は多く、早ければサンプリング数（例えば、３個）は少ない。
【００７０】
最後に、線図作成・表示工程が実行させる。横軸を設定角度Δθとするとともに、縦軸を各設定角度Δθに対応する各設定角度進行期間ＴＭｉ（ＴＭ１，…，ＴＭｎ−１，ＴＭｎ，ＴＭｎ＋１，…ＴＭｎ＋ｍ）内に属すると判別された当該各測定対象値（各Ｈｉ…７個の値）とする。
【００７１】
当該各測定対象値（各Ｈｉ…７個の値）は、当該各設定角度Δθ内を等分（この場合は８等分）する位置でプロットされる。このようにして回転角度毎測定対象値線図（Ｈｉ−Δθ）が作成されるとともに、この回転角度毎測定対象値線図（Ｈｉ−Δθ）を図９（Ｂ）［図１０（Ｂ）］で示す態様で表示器２１に表示させる。
【００７２】
したがって、この測定表示方法によれば、高価なエンコーダを追加使用（利用）しなくても、電子的に識別可能な時間を適宜な値（設定時間Ｔｓ）として選択設定しておけばプレス速度が実用可能なオーダー内で如何に高速化（例えば、１２００〜２４００ｓｐｍ）してもかつ不等速でプレス運転される不等速プレス機械の場合でも、下死点近傍を低コストで具現化容易な時分割方式により、横軸である所望の回転角度Δθ（例えば、１度以下）毎にプロットされた縦軸である測定対象値Ｈｉを等速運転プレス機械の場合と同様に下死点を中心に補正した状態で観察することでカス上りの発生有無やプレス負荷変化の判断ができるとともに、測定精度（横軸分解能等）が高くかつプレス速度に対する適応性が広い。
【００７３】
詳しくは、クランク機構に取り付けられたタイミングスイッチ３０は、プレス駆動軸の回転角度θｉが測定開始角度θ１（例えば、９０度）になった時に測定開始角度信号を出力（図４のＳＴ１０でＹＥＳ）しかつ測定終了角度θ２（例えば、２７０度）になった時に測定終了角度信号を出力（ＳＴ１１でＹＥＳ）する。
【００７４】
タイミングスイッチ３０は、さらに、測定開始角度信号が出力されたときから測定終了角度信号が出力されるまでの測定角度範囲内において、プレス駆動軸の回転角度θｉが設定角度θｓ分だけ進行する毎に設定角度進行毎角度信号を出力（図６のＳＴ３０でＹＥＳ）する。
【００７５】
回転角度進行毎出力期間情報記憶制御手段（１１，１２）は、設定角度進行毎角度信号の当該各出力期間ＴＭｉ（ＴＭ１，…，ＴＭｎ−１，ＴＭｎ，ＴＭｎ＋１，…ＴＭｎ＋ｍ）を当該時各回転角度θｉに対応させた回転角度進行毎出力期間情報として期間メモリ１３ＴＭＭに記憶（ＳＴ３５）する。
【００７６】
一方、サンプリング制御手段（１１，１２）は、測定角度範囲（９０〜２７０度）内において設定時間（Ｔｓ）経過毎に測定対象値Ｈｉをサンプリングする。すると、設定時間経過時毎測定対象値情報記憶制御手段（１１，１２）が、サンプリングされた各測定対象値Ｈｉと当該各設定時間経過時（０，Ｔｓ，２×Ｔｓ，３×Ｔｓ，…，ｎ×Ｔｓ）とを対応させた設定時間経過時毎測定対象値情報を測定対象値メモリ（１３Ｍ）に記憶する（図４を参照）。当該各設定時間経過時は、当該各時刻（何時何分何秒…ＨＨ：ＭＭ：ＳＳ）としてもよい。
【００７７】
そして、設定時間経過時毎測定対象値線図作成手段（１１，１２）が、測定対象値メモリ（１３Ｍ）に記憶されている設定時間経過時毎測定対象値情報を利用して横軸を各設定時間経過時（０，Ｔｓ，２×Ｔｓ，３×Ｔｓ，…，ｎ×Ｔｓ）としかつ縦軸を当該各測定対象値Ｈｉとした設定時間経過時毎測定対象値線図（Ｈｉ−Ｔｉ）を作成（図７のＳＴ５１）する。
【００７８】
ここで、出力期間重複組合制御手段（１１，１２）は、作成された設定時間経過時毎測定対象値線図の横軸に期間メモリ１３ＴＭＭに記憶されている回転角度進行毎出力期間情報を利用して、設定角度進行毎角度信号の当該各出力期間ＴＭｉ（ＴＭ１，…，ＴＭｎ−１，ＴＭｎ，ＴＭｎ＋１，…ＴＭｎ＋ｍ）を重複させて組合せる（ＳＴ５３）。
【００７９】
さらに、回転角度毎測定対象値線図編集手段（１１，１２）は、作成された設定時間経過時毎測定対象値線図（Ｈｉ−Ｔｉ）の横軸に重複組合せされた各出力期間ＴＭｉ（ＴＭ１，…，ＴＭｎ−１，ＴＭｎ，ＴＭｎ＋１，…ＴＭｎ＋ｍ）を測定角度範囲（９０〜２７０度）内を横軸補正制御手段（１１，１２）によって等分（例えば、１８０等分）された各等間隔回転角度Δθに補正（図８のＳＴ５７）するとともに当該各等間隔回転角度Δθ内の各測定対象値Ｈｉが設定時間経過時毎測定対象値線図（Ｈｉ−Ｔｉ）上での各出力期間（Ｔｉ）内に属すると判別された当該各複数の測定対象値を対応する各等間隔回転角度Δθを当該各複数で等分した位置にプロットされたものである回転角度毎測定対象値線図（Ｈｉ−Δθ）に編集（ＳＴ５８）する。
【００８０】
編集後の回転角度毎測定対象値線図（Ｈｉ−Δθ）は、線図表示制御手段（１１，１２）によって表示器２１に表示される（ＳＴ５９）。
【００８１】
したがって、本測定表示装置１０によれは、本測定表示方法を実施することができるとともに構造簡素でかつ取扱が簡単で、構成要素をプレス駆動制御用の構成要素（例えば、ＣＰＵ，ＲＯＭ，メモリ等）と兼用できるから一段とコスト低減を図れる。特に下死点通過直後の測定対象値を正確に判断することができる。
【００８２】
測定対象値Ｈｉが予めセットされた設定値Ｈｓ以上になった場合には、異常信号を生成出力してプレス停止するように形成されているので、安全運転ができる。
【００８３】
【発明の効果】
請求項１の発明によれば、高価なエンコーダを追加して使用しなくても、電子的に識別可能な時間を適宜な値（設定時間）として選択設定しておけばプレス速度が実用可能なオーダー内で如何に高速化してもかつ不等速でプレス運転されるプレス機械の場合でも、下死点近傍を低コストで具現化容易な時分割方式により、横軸である所望の回転角度毎にプロットされた縦軸である測定対象値を等速運転プレス機械の場合と同様に下死点を中心に補正した状態で観察することでカス上りの発生有無やプレス負荷変化の判断ができるとともに、測定精度（横軸分解能等）が高くかつプレス速度に対する適応性が広い。
【００８４】
また、請求項２の発明によれば、請求項１の発明の場合と同様な効果を奏することができる他、構造簡素でかつ取扱が簡単で、構成要素をプレス駆動制御用の構成要素（例えば、ＣＰＵ，ＲＯＭ，メモリ等）を兼用できるから一段とコスト低減を図れる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明に係る実施の形態を説明するためのブロック図である。
【図２】  同じく、設定メモリを説明するための図である。
【図３】  同じく、設定時間経過毎測定対象値情報テーブル（メモリ）を説明するための図である。
【図４】  同じく、サンプリング・記憶動作を説明するためのフローチャートである。
【図５】  同じく、期間メモリを説明するための図である。
【図６】  同じく、サンプリング・記憶動作を説明するためのフローチャートである。
【図７】  同じく、作成・表示動作を説明するためのフローチャート（１）である。
【図８】  同じく、作成・表示動作を説明するためのフローチャート（２）である。
【図９】  同じく、サンプリング・記憶・作成・表示動作を説明するための図である。
【図１０】  同じく、サンプリングおよび補正の詳細を説明するための図である。
【図１１】  従来測定表示装置を説明するための図である。
【図１２】  従来測定表示方法を説明するための図である。
【符号の説明】
２  上型
５  バネ
６  可動ストリッパ
７  下型
１０  測定表示装置
１１  ＣＰＵ
１１Ｔ  時計回路
１２  ＲＯＭ
１３  ＲＡＭ
１３Ｓ  設定メモリ
１３Ｍ  設定時間経過毎測定対象値情報テーブル（メモリ）
３０  タイミングスイッチ
４０  変位検出器
４１  過電流センサ
４３  近接体
Ｗ  材料
Ｇ  カス
【図１】
0003889579.tif 000002
【図２】
0003889579.tif 000003
【図３】
0003889579.tif 000004
【図４】
0003889579.tif 000005
【図５】
0003889579.tif 000006
【図６】
0003889579.tif 000007
【図７】
0003889579.tif 000008
【図８】
0003889579.tif 000009
【図９】
0003889579.tif 000010
【図１０】
0003889579.tif 000011
【図１１】
0003889579.tif 000012
【図１２】
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