(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
エネルギービームの第１のパワーレベルで第１の状態に、前記エネルギービームの前記第１のパワーレベルよりも高い第２のパワーレベルで第２の状態にすることが可能な記録媒体を用い、前記エネルギービームと前記記録媒体とを相対的に移動させて前記エネルギービームを前記記録媒体に照射して前記第１の状態と前記第２の状態とを所定の長さ及び間隔で前記記録媒体上に形成することにより情報を前記記録媒体に記録する情報記録方法であって、
記録時の記録タイミング発生クロックの周期をＴとし、前記エネルギービームと前記記録媒体との相対速度をｖとした場合に、長さａｖＴの前記第２の状態（第１のマーク）、前記第１のマークに引き続く長さｉｖＴの前記第１の状態（第１のスペース）、前記第１のスペースに引き続く長さｍｖＴの前記第２の状態（第２のマーク）、前記第２のマークに引き続く長さｊｖＴの前記第１の状態（第２のスペース）及び前記第２のスペースに引き続く長さｂｖＴの前記第２の状態（第３のマーク）の連続を第１の小記録パターンとし、
前記第１の状態から始まり第１の状態で終了する、第１の状態及び第２の状態が有限回だけ交互に現れる状態を第２の小記録パターンとし、
前記第１の小記録パターンに引き続いて前記第２の小記録パターンが現れる状態を基本記録パターンとし、前記基本記録パターンのＤＳＶがゼロとなるように、前記第１の状態と前記第２の状態の長さを調整し、
前記基本記録パターンが繰り返し現れる状態を記録パターンとし、
パラメータａ，パラメータｉ及びパラメータｍを固定しながらパラメータｊを種々に変化させた基本記録パターンからなる前記記録パターンを第１の記録パターンとし、ここで、前記パラメータａ，ｉ，ｍ，ｊは自然数であり、
パラメータｂ，前記パラメータｊ及び前記パラメータｍを固定しながら前記パラメータｉを種々に変化させた基本記録パターンからなる前記記録パターンを第２の記録パターンとし、ここで、前記パラメータｂは自然数であり、
前記第１の記録パターンと前記第２の記録パターンを用いて、前記第２のマークの前エッジ位置及び後エッジ位置を測定することを特徴とする情報記録方法。
【請求項２】
更に、第１のエッジ位置測定方法と第２のエッジ位置測定方法とを用い、前記第１のエッジ位置測定方法が、前記第１の記録パターンの読出し信号における前記第１のマークの前記第１のスペースと反対側のマークエッジ位置に相当する時刻から前記読出し信号における前記第２のマークと前記第１のスペースとの境界位置に相当する時刻までの時間間隔を（ａ＋ｉ）Ｔの時間間隔と比較することによって、前記第２のマークと前記第１のスペースとの境界の位置を推定し、前記第２のエッジ位置測定方法が、前記第２の記録パターンの読出し信号における前記第２のマークと前記第２のスペースとの境界位置に相当する時刻から前記読出し信号における前記第３のマークの前記第２のスペースと反対側のマークエッジ位置に相当する時刻までの時間間隔を（ｂ＋ｊ）Ｔの時間間隔と比較することにより、前記第２のマークと前記第２のスペースとの境界の位置を推定する、請求項１記載の情報記録方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、エネルギービームの照射により情報の記録が可能な記録媒体を用いる情報記録方法、情報記録媒体及び情報記録装置に関し、特に、相変化光ディスクに対し優れた効果を発揮する情報記録方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来の書き換え可能な記録膜への記録・消去方法は、例えば、特開昭６２−１７５９４８号公報に示されているような交換結合２層膜を記録膜とした光磁気ディスクを用いた場合や、特開昭６２−２５９２２９号公報に示されているような記録するレーザ照射時間とほぼ同じ程度の時間で結晶化が行える高速消去が可能な相変化型光ディスク用記録膜を用いた場合に、いずれも読み出しパワーレベルより高い少なくとも２つのパワーレベル（すなわち、少なくとも高いパワーレベルと中間のパワーレベル）との間で１つのエネルギービームのパワーレベルを変化させることにより行っていた。この方法では、既存の情報を消去しながら新しい情報を記録する、いわゆるオーバーライト（重ね書きによる書き換え）が可能になるという利点がある。また、特開昭６２−２５９２２９号公報及び特開平３−１８５６２９号公報に示されているように、高いパワーレベルと中間のパワーレベルと中間のパワーレベルよりも低いパワーレベルとの３つのパワーレベルの間でエネルギービームを変化させることにより、記録マークが涙滴型になる（記録マーク後方が前方に比較して幅広になる）現象を抑えることができる。
【０００３】
また、最近、相変化材料を用いて１２０ｍｍ径の円板で片面の記憶容量が２．６ＧＢを実現するＤＶＤ―ＲＡＭが実用化されている。ここで採用された記録制御方法は、ＪＩＳ規格 １２０ｍｍ ＤＶＤＲｗｒｉｔａｂｌｅ Ｄｉｓｋ（ＤＶＤ−ＲＡＭ）ＪＩＳＸ６２４３（以下、「規格書ＪＩＳ Ｘ ６２４３」と称する。）の８６ページに記述されている。この規格書には、上記３つのパワーレベルによる制御が述べられている。
【０００４】
現在、相変化記録膜を用いた書き換え可能型デジタルビデオディスク（ＤＶＤ−ＲＡＭ）の高密度化の研究が進んでいる。ＤＶＤ−ＲＡＭのように、相変化記録膜にマークエッジ記録を行なう光ディスク装置では、マーク形状歪みや消え残りを防ぐために、記録膜に記録マークを形成するために記録膜を融解させた領域の外縁部のどこにおいても、記録時の到達温度及び冷却速度がほぼ同じであるようにする必要がある。しかし、これまで知られている各種の記録波形では、このような条件を十分に満たすことができず、実現可能な記録密度に制約があった。
【０００５】
また、記録媒体の記録特性は、記録媒体の製造者，製造時期及びロット毎に異なるのが常であり、高密度の記録をしようとすればするほど、記録における互換性を確保することが困難になる傾向があった。
【０００６】
特に２．６ＧＢよりも高密度になる４.７ＧＢの記録容量のＤＶＤ−ＲＡＭでは、２．６ＧＢと同じスポット径で記録することにより、２．６ＧＢとの互換性を取り易くすることになっている。しかし、同じスポット径で線密度を詰めていくと、レーザー光の記録媒体上での光スポット径に比べて、隣接する２つの記録パルスが記録媒体上に照射される位置の間隔は小さくなる。そのため、光の分布が２．６ＧＢのときに比較してオーバーラップするので、そのために生じる記録マーク形状歪みを防止する必要がある。このために、パワーレベルを増やし、４つのパワーレベルの間でエネルギービームを変化させるなどの、より複雑に変調された記録波形制御を使うことが考えられる。このような複雑な記録波形では、適切な設定さえされれば、良好な形状の記録マークが形成できる。しかし、エネルギーレベルの数が増えると、各エネルギーレベルをいかに最適化したらよいかという問題が発生する。すなわち、各エネルギーレベルが適切に設定された場合、記録マーク形状歪みの少ない良好な記録マークが形成できる反面、エネルギーバランスが微妙になり、かつ、エネルギーレベルが多い分、エネルギーレベルを最適化する手順が複雑となる問題（第１の問題）があった。
【０００７】
また、上述した規格書ＪＩＳ Ｘ ６２４３の８６ページに記述されている従来の書き換え可能な記録膜への記録・消去方法では、上記３つのパワーレベルによる制御が述べられているが、記録時に用いられる記録パワーレベルは、ディスク上のコントロールデータエリアに書かれている。情報記録装置は、このディスクに書かれた記録パワーレベルを読み込んで、記録パワーレベルを設定する。ただし、情報記録装置の個体差と情報記録装置の環境変化及び経年変化とにより記録パワーレベルの絶対値が変化してしまう場合があるので、実際のディスクへの書き込みの前に、記録パワーレベルの確認や調整をする場合が多かった。すなわち、コントロールデータエリアに与えられたBias Power 1及びBias Power 2を固定してPeak Powerを変化させながらランダムパターンを記録し再生して、再生ジッタを測定する。再生ジッタの値が所定の値となった記録パワーレベルの所定倍の記録パワーレベルを新たなPeak Powerと設定する。次に、Bias Power 1を変化させながらランダムパターンを記録し再生して、再生ジッタを測定する。再生ジッタの値が最小となるバイアスパワーを新たなBias Power 1とする。
【０００８】
１２０ｍｍ径で片面２．６ＧＢを越すような相変化記録媒体（例えば、１２０ｍｍ径で片面４．７ＧＢを実現しようとするＤＶＤ−ＲＡＭ）においては、記録すべき記録パターンの組み合わせに応じて記録パルスの先頭部分及び終端部分のタイミングを適応的に変化させて、高精度な情報記録を行う場合がある。このようなタイミング情報をディスク上のコントロールデータエリアに記録し、情報記録装置はこのタイミング情報を読み取って実際の記録に用いることが考えられる。
【０００９】
情報記録装置は常に同じ記録特性を有しているわけでなく、個体差や情報記録装置の経年変化や環境変化により記録特性が変化し、ディスクに書かれているタイミング情報では適切な記録ができなくなる場合が生じることもある。このような場合、ランダムパターンの記録再生時の再生ジッタが予期された値よりも悪化するために、従来技術のようにランダムパターンのジッタに基づいて記録パワーレベルを決めてしまうと、適切でない記録パワーレベルが設定されてしまう可能性があった。そして、このような適切でない記録パワーレベルにより記録が行われることで、記録が不安定になったり、既に書き込まれている情報がクロス・イレーズなどで消去されてしまうなど、記録再生の信頼性が低下する恐れがあった（第２の問題）。
【００１０】
さらに、前述したように、特に２．６ＧＢよりも高密度になる４.７ＧＢの記録容量のＤＶＤ−ＲＡＭでは、２．６ＧＢと同じスポット径で記録することにより、２．６ＧＢとの互換性を取り易くすることになっている。しかし、同じスポットで線密度を詰めていくと、レーザー光の記録媒体上での光スポット径に比べて、隣接する２つの記録パルスが記録媒体上に照射される位置の間隔は小さくなる。そのため、光の分布が２．６ＧＢのときに比較してオーバーラップするので、そのために生じる記録マーク形状歪みを防止する必要がある。また、記録マーク間のスペースが短い場合には、読み出し光スポットで分解できないことによる再生信号波形の記録マークエッジ位置のシフトが生じるので、これも防止する必要がある。このために、書くべきマークの長さやマーク間部分（以下、「スペース」と称する。）の長さに応じて記録パルスの照射タイミングを変えることにより、記録マークエッジのシフトを低減させようという試みが行われている。しかしながら、例えば４．７ＧＢの記録容量を持つＤＶＤ−ＲＡＭのような、相変化媒体を用いた高密度な記録を行うに際して、このような記録パルスの照射タイミングを詳細に決定する手順が必ずしも明らかになっていないという問題があった（第３の問題）。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、上記第３の問題を解決すべく、上記従来技術と同じスポット径を用い、従来技術との互換性を維持しながら、さらに密度を向上させる正確な記録が可能となる情報記録方法を提供することにある。
【００２５】
【課題を解決するための手段】
上述した第３の問題を解決するためには、以下の情報記録方法を用いればよい。
【００２６】
（１）エネルギービームの第１のパワーレベルで第１の状態に、前記エネルギービームの前記第１のパワーレベルよりも高い第２のパワーレベルで第２の状態にすることが可能な記録媒体を用い、前記エネルギービームと前記記録媒体とを相対的に移動させて前記エネルギービームを前記記録媒体に照射して前記第１の状態と前記第２の状態とを所定の長さ及び間隔で前記記録媒体上に形成することにより情報を前記記録媒体に記録する情報記録方法であって、記録時の記録タイミング発生クロックの周期をＴとし、前記エネルギービームと前記記録媒体との相対速度をｖとした場合に、長さａｖＴの前記第２の状態（第１のマーク）、前記第１のマークに引き続く長さｉｖＴの前記第１の状態（第１のスペース）、前記第１のスペースに引き続く長さｍｖＴの前記第２の状態（第２のマーク）、前記第２のマークに引き続く長さｊｖＴの前記第１の状態（第２のスペース）及び前記第２のスペースに引き続く長さｂｖＴの前記第２の状態（第３のマーク）の連続を第１の小記録パターンとし、前記第１の状態から始まり第１の状態で終了する、第１の状態及び第２の状態が有限回だけ交互に現れる状態を第２の小記録パターンとし、前記第１の小記録パターンに引き続いて前記第２の小記録パターンが現れる状態を基本記録パターンとし、基本記録パターンのＤＳＶがゼロとなるように、前記第１の状態と前記第２の状態の長さを調整し、前記基本記録パターンが繰り返し現れる状態を記録パターンとし、パラメータａ，パラメータｉ及びパラメータｍを固定しながらパラメータｊを種々に変化させた基本記録パターンからなる前記記録パターンを第１の記録パターンとし、ここで、前記パラメータａ，ｉ，ｍ，ｊは自然数であり、パラメータｂ，前記パラメータｊ及び前記パラメータｍを固定しながら前記パラメータｉを種々に変化させた基本記録パターンからなる前記記録パターンを第２の記録パターンとし、ここで、前記パラメータｂは自然数であり、前記第１の記録パターンと前記第２の記録パターンを用いて、前記第２のマークの前エッジ位置及び後エッジ位置を測定することを特徴とする情報記録方法。
（２）更に、第１のエッジ位置測定方法と第２のエッジ位置測定方法とを用い、前記第１のエッジ位置測定方法が、前記第１の記録パターンの読出し信号における前記第１のマークの前記第１のスペースと反対側のマークエッジ位置に相当する時刻から前記読出し信号における前記第２のマークと前記第１のスペースとの境界位置に相当する時刻までの時間間隔を（ａ＋ｉ）Ｔの時間間隔と比較することによって、前記第２のマークと前記第１のスペースとの境界の位置を推定し、前記第２のエッジ位置測定方法が、前記第２の記録パターンの読出し信号における前記第２のマークと前記第２のスペースとの境界位置に相当する時刻から前記読出し信号における前記第３のマークの前記第２のスペースと反対側のマークエッジ位置に相当する時刻までの時間間隔を（ｂ＋ｊ）Ｔの時間間隔と比較することにより、前記第２のマークと前記第２のスペースとの境界の位置を推定する、情報記録方法。
【００３４】
このような構成により、記録時のパワーの調整に用いる独立変数の数をパワーレベルの数以下にすることができ、独立変数の最適組み合わせを発見する手順を簡素化でき、最適組み合わせ発見の信頼性も向上する。また、常に安定して信頼性よく情報を記録媒体に記録できる。
【００３５】
【発明の実施の形態】
本発明を以下の実施態様によって詳細に説明する。
【００３６】
まず、図１を参照して、情報を記録媒体に記録する際に記録媒体に照射するエネルギービームのパワーレベルの経時的変化の例を示す。ここでは、情報を記録する際のパワーレベルの経時的変化のさせ方を「ライトストラテジ」又は「記録ストラテジ」と称することとし、また、ＤＶＤ−ＲＡＭを例として説明する。
【００３７】
ＤＶＤ−ＲＡＭの場合、記録及び再生における基準クロックの時間幅をＴとしたとき、最短のマーク及び最短のスペースの長さは３Ｔ（時間Ｔの３倍の長さの時間）であり、また、最長のマーク及び最長のスペースの長さは、通常、１１Ｔである。特殊パターンとして、長さ１４Ｔのマーク及びスペースがある。
【００３８】
記録媒体上に時系列的に記録すべき情報であるＮＲＺＩ信号が与えられた場合、適当な信号処理回路によりＮＲＺＩ信号はエネルギービームのパワーレベルの時系列的変化に変換される。このようなパワーレベルの時系列的変化が図１に光パルス波形として示されている。
【００３９】
パワーレベルは、Peak Power，Bias Power 1，Bias Power 2及びBias Power 3の４つのパワーレベルに設定されている。Bias Power 1（第１のパワーレベル）では記録媒体を第１の状態に移行させることができ、また、Peak Power（第２のパワーレベル）では記録媒体を第２の状態に移行させることができる。Bias Power 3（第３のパワーレベル）は、Bias Power 1と等しいか低いパワーレベルである。記録媒体に第２の状態の領域を形成する際に、第２の状態の領域の長さが４Ｔ以上の場合には（すなわち、ＮＲＺＩ信号の長さが４Ｔ以上の場合には）、 Peak Powerの照射期間中にBias Power 3のパワーレベルの期間を混在させて、エネルギービームをマルチパルス化する。マルチパルス化されたエネルギービームのうち、最初の光パルスを「先頭パルス」、最後の光パルスを「最終パルス」と称する。先頭パルスと最終パルスとの間には、ＮＲＺＩ信号の長さに応じてPeak PowerとBias Power 3とを反復する光パルスが繰り返される。その繰り返し数は、ＮＲＺＩ信号の長さをｎＴ（ｎ>３）とすると、（ｎ−４）回である。先頭パルスと最終パルスとに挟まれた繰り返しパルスを「櫛型パルス」と称する。すなわち、５Ｔ以上の長さのＮＲＺＩ信号に対応した第２の状態の領域を形成する場合には、記録パルスは先頭パルスと櫛型パルスと最終パルスとからなる。また、４Ｔの長さのＮＲＺＩ信号に対応した第２の状態の領域を形成する場合には、記録パルスは先頭パルスと最終パルスとからなる。また、３Ｔの長さのＮＲＺＩ信号に対応した第２の状態の領域を形成する場合には、記録パルスは単一の光パルスとなる。
【００４０】
Bias Power 1と等しいか低くパワーレベルを設定されたBias Power 2（第４のパワーレベル）は次のように用いられる。長さ４Ｔ以上のＮＲＺＩ信号では、最終パルスに引き続くパワーレベルは所定の時間Bias Power 2に保持される。また、長さ３ＴのＮＲＺＩ信号では、単一の光パルスに引き続くパワーレベルは所定の時間Bias Power 2に保持される。
【００４１】
Bias Power 1はBias Power 2又はBias Power 3と同じパワーレベルである可能性がある。また、Bias Power 1とBias Power 2とBias Power 3とはすべて同じパワーレベルである可能性がある。Peak Power，Bias Power 1，Bias Power 2及びBias Power 3の基準値は、媒体情報として、記録媒体の適当な場所に予め記録されている場合がある。このように、記録ストラテジに関する媒体情報を記録する記録媒体上の部分を「コントロールデータゾーンの情報トラック」と称する。パワーレベルの基準値を記録媒体のコントロールデータゾーンの情報トラックから読み取り、これを参考に書き込み時の各パワーレベルを決定する。
【００４２】
まず、長さ４Ｔ以上のＮＲＺＩ信号に対応した第２の状態の領域を記録媒体に形成する場合の記録波形の定義について説明する。書き込みパルス列の先頭パルスの立上りは、ＮＲＺＩ信号の立上りからＴSFPだけ経過した時刻で定義される。書き込みパルス列の先頭パルスの立下りは、ＮＲＺＩ信号の立上りからＴEFPだけ経過した時刻で定義される。先頭パルスの長さはＴFPであり、ＴFPの値はＴEFPからＴSFPを減じた値に等しい。書き込みパルス列の最終パルスの立上りはＮＲＺＩ信号の立下りから時間２Ｔだけ先行した時間を基準として定義され、最終パルスはこの基準時間から時間ＴSLPだけ経過した時に立上がる。書き込みパルス列の最終パルスの立下りもまたＮＲＺＩ信号の立下りから時間２Ｔだけ先行した時間を基準に定義され、最終パルスはこの基準時間から時間ＴELPだけ経過した時に立下る。最終パルスの長さはＴLPであり、ＴLPの値はＴELPからＴSLPを減じた値に等しい。
【００４３】
先頭パルスと最終パルスとの間に櫛型パルス列が存在する場合がある。櫛型パルス列の各櫛型パルスの立上りは基準クロック位置に一致しており、また、各櫛型パルスは各櫛型パルスの立上りから時間ＴMPだけ経過した時に立下る。
【００４４】
次に、長さ３ＴのＮＲＺＩ信号に対応した第２の状態の領域を記録媒体に形成する場合について説明する。光パルスの立上りは、ＮＲＺＩ信号の立上りからＴSFPだけ経過した時に存在する。また、光パルスの立下りはＮＲＺＩ信号の立下りから時間２Ｔだけ先行した時間を基準に定義され、光パルスの立下りはこの基準時間から時間ＴELPだけ経過した時にある。
【００４５】
４Ｔ以降の最終パルス又は３Ｔの記録パルスに引き続き、パワーレベルが Bias Power 2である部分が存在し、その長さはＴLCとなっている。記録パルスを定義する時間であるＴSFP，ＴEFP，ＴFP，ＴSLP，ＴELP，ＴLP，ＴLC及びＴMPの値は、これらの基準値を記録媒体のコントロールデータゾーンの情報トラックから読み取り、読み取られた基準値に基づいて決定される。
【００４６】
記録パルスを定義する時間であるＴSFP，ＴEFP，ＴFP，ＴSLP，ＴELP，ＴLP，ＴLC及びＴMPは、必ずしも一定の値を取るとは限らず、ＮＲＺＩ信号の組み合わせに応じて変化させる必要がある場合がある。特に、片面４．７ＧＢのＤＶＤ−ＲＡＭの場合を例に取ると、最短マークの長さ３Ｔは０．４２ミクロン程度となり、書き込みスポット半径０．４５ミクロンより短くなる。このような高密度記録を行った場合、隣接するマーク間の熱的な干渉が大きくなって、常に安定した記録をすることが困難になる場合がある。そこで、ＮＲＺＩ信号の前後の組み合わせに応じて記録波形を適応的に変化させることが考えられる。
【００４７】
前エッジのシフトを補正する方法として、次の２つの方法がある。
【００４８】
（１）ＴEFPを固定して、ＴSFPを変化させる。この際、ＴFPはＴSFPの変化に伴い変化する。
【００４９】
（２）ＴFPを固定して、ＴSFPを変化させる。この際、ＴEFPはＴSFPの変化に伴い変化する。
【００５０】
また、後ろエッジのシフトを補正する方法として、次の２つの方法がある。
【００５１】
（１）ＴSLPを固定して、ＴELPを変化させる。この際、ＴLPはＴELPの変化に伴い変化する。
【００５２】
（２）ＴLPを固定して、ＴELPを変化させる。この際、ＴSLPはＴELPの変化に伴い変化する。
【００５３】
前エッジ及び後ろエッジのシフト制御のために上記方法のどちらを選ぶかは、記録媒体の設計の仕方及び記録媒体の記録特性に依存する。前エッジ及び後ろエッジのシフト制御方法としてどちらを選定すればよいかは記録媒体の製造者が最もよく分かっているため、記録媒体の製造者はエッジのシフト制御方法としてどちらに選定するべきかを情報記録装置に対して推奨することができる。すなわち、記録媒体の製造者は記録媒体の特定の場所にエッジのシフト制御方法の推奨情報書き込み、情報記録装置がこの推奨情報を読み取ってエッジのシフト制御方法を決定する。このようにした場合、記録媒体の製造者が意図した媒体特性を余すことなく情報記録装置が利用することができ、最も安定して情報の記録を行えることとなる。また、記録媒体の製造者は、エッジのシフト制御用のルックアップテーブルを用意し、これを記録媒体に記録する。情報記録装置は、このルックアップテーブルを読み取って、これに基づいてエッジのシフト制御を行う。これにより、記録媒体の製造者が意図した媒体特性を余すことなく情報記録装置が利用することができ、最も安定して情報の記録を行えることとなる。以上のような工夫により、高密度記録でありながら記録の互換性を最も取れる手段を提供することができる。
【００５４】
前エッジに関するルックアップテーブルは、現在記録しようとしているマークの長さをＭ（ｎ）とし、このマークに先行するスペースの長さをＳ（ｎ−１）とした場合、Ｍ（ｎ）とＳ（ｎ−１）との組み合わせで決まる値を並べたものである。なお、この値は正の値も負の値も取り得る。
【００５５】
後ろエッジに関するルックアップテーブルは、現在記録しようとしているマーク長さをＭ（ｎ）とし、このマークに続くスペースの長さをＳ（ｎ＋１）とした場合、Ｍ（ｎ）とＳ（ｎ＋１）との組み合わせで決まる値を並べたものである。なお、この値は正の値も負の値も取り得る。
【００５６】
以上のようにＴSFP及びＴELPをＮＲＺＩ信号の前後の組み合わせに応じて変化させることにより、マークエッジ位置を常に精度良く制御できる。
【００５７】
記録時に４つのパワーレベルを有するライトストラテジを用いることにより安定してマークを形成できるが、これは各パワーレベルが適切に設定された場合である。４つのパワーレベルを４つの独立な変数として、これら４つの独立変数の最適組み合わせを発見することは、実行可能なことではあるが、手順が複雑であり、かつ、最適組み合わせに至る工程数が膨大になる可能性がある。そこで、４つのパワーレベルをグループ化して各グループに独立な変数を割り当てることにより、結果的に独立変数を減らすことができ、独立変数の最適組み合わせを発見する手順を簡素化することが考えられる。
【００５８】
ＤＶＤ−ＲＡＭのような相変化記録媒体を考えた場合、その記録のメカニズムを研究解明して行く過程でBias Power 1，Bias Power 2及びBias Power 3 のレベルには関連性がかなり高いということが分かってきた。そこで、第１のグループにPeak Powerを割り当て、第２のグループにBias Power 1，Bias Power 2及びBias Power 3を割り当てる。第１のグループに割り当てる独立変数を「倍率ｘ（以下、単に「ｘ」と称する。）」と称することとし、第２のグループに割り当てる独立変数を「倍率ｙ（以下、単に「ｙ」と称する。）」と称することとする。
【００５９】
記録時のPeak Powerの値をPeak Powerの初期値のｘ倍とし、記録時のBias Power 1，Bias Power 2及びBias Power 3の値をBias Power 1，Bias Power 2及びBias Power 3の初期値のｙ倍とそれぞれし、ｘ及びｙを種々に変更しながら情報を記録し、かつ、記録された情報を再生する。再生信号の揺らぎ（再生ジッタ）を測定し、測定された再生ジッタの値が所定の値以下になるようにｘ及びｙの値を調整する。このようにすることにより、独立変数の数を４つから２つに減じることができ、独立変数の最適組み合わせを発見する手順を簡素化することできる。また、手順が簡素化されるため、最適組み合わせ発見の信頼性を向上することもできる。
【００６０】
別のグループ分けも考えられる。特に手順を簡素化できるのは、４つのパワーレベルを一つのグループにしてしまうことである。すなわち、記録時のPeak Powerの値をPeak Powerの初期値のｚ倍とし、記録時のBias Power 1，Bias Power 2及びBias Power 3の値をBias Power 1，Bias Power 2及びBias Power 3の初期値のｚ倍とそれぞれし、倍率ｚ（以下、単に「ｚ」と称する。）を種々に変更しながら情報を記録し、かつ、記録された情報を再生する。再生信号の揺らぎ（再生ジッタ）を測定し、測定された再生ジッタの値が所定の値以下になるように、ｚの値を調整する。このようにすることにより、独立変数の数を４つから１つに減じることができ、独立変数の最適組み合わせを発見する手順をさらに簡素化することできる。また、手順がさらに簡素化されるため、最適組み合わせ発見の信頼性もさらに向上することができる。
【００６１】
Peak Power，Bias Power 1，Bias Power 2及びBias Power 3の初期値は、記録媒体のコントロールデータゾーンの情報トラックからそれぞれの推奨値を読み取り、読み取った推奨値に基づいて決定することが考えられる。このようにした場合には、各グループ内でのパワーバランスを記録媒体メーカー推奨値から崩さずにパワーレベルを最適化できるために、より互換性の取れた情報記録用の最適パワーレベル決定が可能になるという効果が得られる。
【００６２】
第１のグループにPeak Powerを割り当てるとともに第２のグループにBias Power 1，Bias Power 2及びBias Power 3を割り当ててｘ及びｙの適正値を求める方法では、ｘ及びｙの値をランダムに変化させながら各ｘの値及び各ｙの値における再生ジッタの値を求めて、ｘ及びｙの適正値を求める方法がある。しかし、ｘ及びｙを系統的に変化させながらｘ及びｙの適正値を求めた方が、より確実に適正値が求まる場合がある。
【００６３】
もっとも単純には、ｘ及びｙの値を最大値と最小値との間で適当なステップ間隔でそれぞれ量子化し、ｘ及びｙの値のすべての組み合わせについて再生ジッタの値を求めて、求めた再生ジッタの値が所定の値以下となるｘ及びｙの値の組み合わせを求める方法がある。この方法は、再生ジッタの測定の回数が多くやや手間がかかるが、確実にｘ及びｙの適正値を求めることができるという効果がある。
【００６４】
ｘ及びｙの適正値を求める別の方法として、下記の第１の手順，第２の手順及び第３の手順を順次行う方法がある。
【００６５】
（１）第１の手順
ｙの値を１とする。ｘの下限値ｘｓ以上でｘの上限値ｘｍ以下の範囲内で適当なステップ幅ｄｘでｘを変化させて、再生ジッタが最小となるｘの値ｘ１を求める。例えば、下限値ｘｓ＝０．８５、上限値ｘｍ＝１．１５及びステップ幅ｄｘ＝０．０５の場合には、ｘを０．８５，０．９，０．９５，１．０，１．０５，１．１及び１．１５と変化させて、ｘの各値における再生ジッタの値を求め、再生ジッタの値が最も小さいｘの値ｘ１を求める。また、再生ジッタの値が値ａとなるｘの値ｘ２を求め、求めた値ｘ２のｃ倍の値ｘ３を求める。具体的な例としては、ｘの値を変化させて再生ジッタの値を求めたデータを用い、２つの隣接するｘの値における再生ジッタの値の一方が値ａより大きく他方が値ａより小さい場合には、２つの隣接するｘの値から直線補間により再生ジッタの値が値ａとなるｘの値ｘ２を求める。直線補間をすべきデータを採取できない場合には、ｘの上限値ｘｍ及び／又は下限値ｘｓを広げて、より広い範囲で再生ジッタの値のデータを取ったり、既存のデータを使って値ｘ２を予測したりする。最後に、値ｘ１と値ｘ３とを比較し、その小さい方の値ｘ４を求める。
【００６６】
ここで、再生ジッタが最小となる点を求める場合、ｘの適正値の近傍ではｘの値を変化させても再生ジッタがあまり変化せず、再生ジッタが最小の点を発見しにくい場合がある。このような場合には、再生ジッタ最小点発見の代替方法として、次の方法が用いられる場合がある。ｘの値に対して再生ジッタのカーブは放物線的なカーブを描くため、再生ジッタの値が値ａとなるｘの値は、一般的には、２つ存在する。そこで、再生ジッタの値が値ａとなるｘの値のうちの小さな値ｘ１Ｌ及び大きな値ｘ１Ｈを求め、値ｘ１Ｌと値ｘ１Ｈとの算術平均を求めて値ｘ１とする。ただし、値ｘ１Ｌを発見するためには、ｘの値をかなり大きくする必要があり、ｘの上限値の制限に引っ掛かる可能性がある。この場合には、値ｘ１Ｌと値ｘ１Ｈとを用いた方法を適用することは難しい。
【００６７】
（２）第２の手順
ｘの値を値ｘ４とし、ｙの下限値  ｙｓ以上でｙの上限値ｙｍ以下の範囲内で適当なステップ幅ｄｙでｙを変化させて、再生ジッタが最小となるｙの値ｙ１を求める。例えば、下限値ｙｓ＝０．８５、上限値ｙｍ＝１．１５及びステップ幅ｄｙ＝０．０５の場合には、ｙを０．８５，０．９，０．９５，１．０，１．０５，１．１及び１．１５と変化させて、ｙの各値における再生ジッタの値を求め、再生ジッタの値が最も小さいｙの値ｙ１を求める。ここで、再生ジッタが最小となる点を求める場合、ｙの適正値の近傍ではｙの値を変化させても再生ジッタがあまり変化せず、再生ジッタが最小となる点を発見しにくい場合がある。このような場合には、再生ジッタ最小点発見の代替方法として、次の方法が用いられる場合がある。ｙの値に対して再生ジッタのカーブは放物線的なカーブを描くため、再生ジッタの値が値ａとなるｙの値は、一般的には、２つ存在する。そこで、再生ジッタの値が値ａとなるｙの値のうちの小さな値ｙ１Ｌ及び大きな値ｙ１Ｈを求め、値ｙ１Ｌと値ｙ１Ｈとの算術平均を求めて値ｙ１とする。どちらの方法を用いてもよく、どちらかの方法で求めたｙの値を最終的な値ｙ１としてよい。
【００６８】
（３）第３の手順
ｙの値を値ｙ１とする。第１の手順と同様に、ｘの下限値ｘｓ以上でｘの上限値ｘｍ以下の範囲内で適当なステップ幅ｄｘでｘを変化させて、再生ジッタが最小となるｘの値ｘ５を求める。また、第１の手順と同様に、再生ジッタの値が値ａとなるｘの値ｘ６を求め、求めた値ｘ６のｃ倍の値ｘ７を求める。最後に、値ｘ５と値ｘ７とを比較し、その小さい方のｘの値ｘ８を求める。ここで、再生ジッタが最小となる点を求める場合、ｘの適正値の近傍ではｘの値を変化させても再生ジッタがあまり変化せず、再生ジッタが最小の点を発見しにくい場合がある。
【００６９】
この場合にも、第１の手順で説明した代替方法（値ｘ１Ｌ及び値ｘ１Ｈを用いた方法）と同様にして再生ジッタの最小点を発見してもよい。
【００７０】
以上説明した第１の手順，第２の手順及び第３の手順が終了した時点で、ｘの適正値は値ｘ８であり、ｙの適正値は値ｙ１であると判断する。このような第１の手順，第２の手順及び第３の手順を順次用いたｘ及びｙの適正値を求める方法では、最小のジッタ測定回数でｘ及びｙの適正値が求まるという効果がある。
【００７１】
次に、本発明で使用する情報記録装置について図２を参照して説明する。図２は、本発明で使用する情報記憶装置のブロック図である。なお、説明の都合上、図２には、記憶媒体１００が情報記憶装置に装着されている様子が示されている。情報を記憶するのに記憶媒体１００は必須であるが、記憶媒体１００は必要に応じて情報記憶装置から取り外されたり取り付けられたりする。
【００７２】
図２を参照すると、筐体１０８に取り付けられたモーター１１０の回転軸１１１には、チャッキング機構（disk clamping mechanism）１１２が取り付けられている。チャッキング機構１１２は記憶媒体１００を保持している。すなわち、チャッキング機構１１２は記録媒体１００の保持機構となっている。また、モーター１１０，回転軸１１１及びチャッキング機構１１２により、記録媒体１００とエネルギービームとを相対的に移動させる移動機構を構成している。
【００７３】
筐体１０８には、レール１１５が取り付けられている。ケース１１７には、レール１１５にガイドされるレールガイド１１６が取り付けられている。ケース１１７には直線ギア１１９も取り付けられており、直線ギア１１９には回転ギア１２０が取り付けられている。筐体１０８に取り付けられた回転モーター１１８の回転を回転ギア１２０に伝えることにより、ケース１１７はレール１１５に沿って直線運動する。この直線運動の方向は、記憶媒体１００の半径方向とほぼ一致している。
【００７４】
ケース１１７には、磁石１２１が取り付けられている。ケース１１７には、対物レンズ１３６もサスペンション１２３を介して取り付けられている。サスペンション１２３は、記録媒体１００の記録面の法線方向とほぼ同じ方向及び記録媒体１００の半径方向とほぼ同じ方向の２つの方向にのみ対物レンズ１３６を移動可能とする。対物レンズ１３６には、磁石１２１とほぼ対向するようにコイル１２２が取り付けられている。コイル１２２に電流を流すことによって生じる磁力により、対物レンズ１３６は、記録媒体１００の記録面の法線方向とほぼ同じ方向及び記録媒体１００の半径方向とほぼ同じ方向の２つの方向に移動することができる。レール１１５とレールガイド１１６とケース１１７と磁石１２１とサスペンション１２３とコイル１２２と対物レンズ１３６とにより、エネルギービームを記憶媒体１００の所定の場所に照射させる位置決め機構を構成している。
【００７５】
ケース１１７には、エネルギービーム発生器である半導体レーザ１３１が取り付けられている。半導体レーザ１３１から射出されたエネルギービームは、コリメートレンズ１３２及びビームスプリッタ（beam splitter）１３３を通過したのち、対物レンズ１３６を通過する。対物レンズ１３６を通過した光の一部は、記憶媒体１００で反射されたのち、対物レンズ１３６を通過してビームスプリッタ１３３に入射する。この光の一部は、ビームスプリッタ１３３で検出レンズ１３４の方向に反射され、検出レンズ１３４で集光されたのち、光検出器１３５に入射して、その光強度が検出される。光検出器１３５は、受光エリアが複数に分割されている。各受光エリアで検出された光強度は、アンプ１５２で増幅されるとともに演算されて、対物レンズ１３６で集光された光スポットと記憶媒体１００との相対的な位置関係の情報（サーボ信号）と情報読み出し信号とが検出される。サーボ信号はサーボコントローラ１５１に送られる。また、読み出し信号は、スライサ１７０に送られて２値化される。この２値化信号は、デコーダ１５３と時間間隔測定回路１７１とに送られる。
【００７６】
記憶媒体１００が情報記憶装置に取り付けられ、チャッキング機構１１２が記憶媒体１００を固定すると、検出器１４０が作動して、その出力信号をシステムコントローラ１５０に送る。システムコントローラ１５０は、検出器１４０の出力信号に基づいてモーター１１０を制御して、記憶媒体１００を適切な回転数となるように回転させる。また、システムコントローラ１５０は、回転モーター１１８を制御して、ケース１１７を適切な位置に位置決めする。また、システムコントローラー１５０は、半導体レーザ１３１を発光させるとともに、サーボコントローラ１５１を動作させて回転モータ１１８を動作させたりコイル１２３に電流を流して、対物レンズ１３６の形成する焦点スポットを記憶媒体１００の所定の場所に位置決めする。その後、サーボコントローラ１５１は、焦点スポットが記憶媒体１００上に形成された旨の信号をシステムコントローラ１５０に送る。
【００７７】
システムコントローラ１５０は、デコーダ１５３に指示を与え、読み出される信号をデコードする。読み出されるトラックがコントロールデータゾーンの情報トラックでない場合には、システムコントローラ１５０は、サーボコントローラ１５１に指示を与え、焦点スポットがコントロールデータゾーンの情報トラックに位置決めされるようにする。このような動作により、システムコントローラー１５０は、コントロールデータゾーンの情報トラックを読み取り、記録に関する媒体情報を読み出す。
【００７８】
コントロールデータゾーンの情報トラックには、図１で説明した記録ストラテジに関する情報が書き込まれている。システムコントローラ１５０は、記録パワーレベル，各記録パルスの時間的な関係，ルックアップテーブル及び適応制御の推奨方法はどちらかの情報などの記録ストラテジのパラメータを記憶媒体１００から読み取る。システムコントローラ１５０は、これらの記録ストラテジのパラメータを信号処理回路１５４のパラメータテーブル，遅延回路１５５のパラメータテーブル及び電流シンク１５６の電流シンク量パラメータテーブルに書き込む。適応制御方法の選択により、遅延回路１５５のパラメータテーブルの書き込み方を異ならせるか遅延回路１５５のスイッチを切り換えることにより、図１で説明した各適応制御方法の動作を実現する。
【００７９】
システムコントローラ１５０が記憶媒体１００の記録ストラテジのパラメータを読み、それらを信号処理回路１５４のパラメータテーブル，遅延回路１５５のパラメータテーブル及び電流シンク１５６の電流シンク量パラメータテーブルに書き込むのは、記憶媒体１００が書き込み可能な状態である場合のみでかまわない。例えば、記憶媒体１００のケースなどに存在するライトプロテクトスイッチが書き込み禁止の位置に選択されている場合や情報記憶装置の上位コントローラが書き込み禁止を指示している場合などのように記憶媒体１００が書き込み禁止状態である場合には、記録ストラテジーのパラメータの読み込みなどの一連の動作は省略することができる。ライトプロテクトスイッチを検出するために、検出スイッチ１４１が筐体１０８に取り付けられており、検出スイッチ１４１の出力信号をシステムコントローラ１５０に送っている。記録禁止状態の場合には、記録ストラテジのパラメーターの読み取り作業を止めることで、記録媒体１００がチャッキング機構１１２に固定されてから再生可能状態になるまでの準備時間を短縮することができる。
【００８０】
入力コネクタ１５９を介して上位コントローラから情報再生の指示を送ってきた場合、システムコントローラ１５０は、サーボコントローラ１５１に指示を与えて焦点スポットを記憶媒体１００の適切な場所に位置決めし、光検出器１３５で得られる信号をスライサ１７０及びデコーダ１５３でデコードしたのち、出力コネクタ１５８を通して読み出した情報を上位コントローラに送る。
【００８１】
入力コネクタ１５９を介して上位コントローラから情報書き込みの指示及び書き込むべき情報が送られてきた場合には、システムコントローラ１５０は、サーボコントローラ１５１に指示を与えて焦点スポットを記憶媒体１００の適切な場所に位置決めする。また、書き込むべき情報は、信号処理回路１６１でＮＲＺＩ信号に変換される。ＮＲＺＩ信号は、信号処理回路１５４で複数の適当なパルス列に変換される。このパルス列は、遅延回路１５５を通過して、電流シンク１５６に送られる。ここで、信号処理回路１６１及び信号処理回路１５４は、書き込むべき情報を記録パルスの列（すなわち、エネルギービームのパワーレベル）に変換する信号処理回路を構成する。
【００８２】
半導体レーザ１３１には定電流源１５７が接続されており、半導体レーザ１３１及び電流シンク１５６で消費される電流の合計が常に一定の値になるようにしている。定電流源１５７には、複数の電流シンク１５６が接続されている。電流シンク１５６が動作して電流を吸い込むか否かは、信号処理回路１５４で発生されたのち遅延回路１５５を通過したパルス列に依存している。電流シンク１５６が動作することにより、定電流源１５７から出力される電流の一部が電流シンク１５６に吸い取られ、その結果、半導体レーザ１３１に流れ込む電流量が低下する。これにより、半導体レーザ１３１で発光するエネルギービームのエネルギーレベルを変化させる。信号処理回路１５４及び遅延回路１５５は、複数の電流シンク１５６を適当なタイミングで動作させることにより、図１に示した記録ストラテジを実現する。
【００８３】
以上の動作を行うために、情報記録装置は、端子１６０を介して外部から電力の供給を受けている。
【００８４】
情報書き込みの必要性が発生した場合や情報書き込みが発生する以前に、情報書き込みをする際のエネルギービームのパワーレベルを最適化したり、このパワーレベルの値をアップデートしたりすることがある。このような場合、システムコントローラ１５０は、信号処理回路１５４に適当な記録パターンを送り、記録媒体１００上に記録マーク列を形成する。その後、この記録マーク列を再生して得られた再生信号が、スライサ１７０で２値化されたのち、時間間隔測定回路１７１に送られる。時間間隔測定回路１７１は、再生信号の揺らぎ（ジッタ）を測定し、その測定結果をシステムコントローラ１５０に送る。システムコントローラ１５０は、この揺らぎ（ジッタ）の測定結果に基づいて図１の説明で述べた手順に従って記録パワーレベルを変化させる。システムコントローラ１５０は、信号処理回路１５４に前記適当な記録パターンを再度送り、記録媒体１００上に記録マーク列を新しい記録パワーレベルを用いて形成する。このように再生ジッタの測定とそれに伴う記録パワーレベルの更新とを必要回数だけ繰り返すことにより、与えられた記憶媒体１００に対する最適な書き込みの記録パワーレベルを必要なときに作成することができるため、常に安定して信頼性良く情報を記録媒体１００書き込むことができるという効果が得られる。
【００８５】
なお、時間間隔測定回路１７１の例としては、タイムインターバルアナライザ（ＴＩＡ）の機能を有する回路がある。時間間隔測定回路１７１の別の例としては、スライサ１７０により２値化されたデジタル信号に対してＰＬＬ（Phase Lock Loop）をかけ、このＰＬＬのエラー信号（ＰＬＬの発生するクロックのエッジ位置と２値化されたデジタル信号のエッジ位置との不整合量）の大きさをもって、２値化されたデジタル信号のジッタ量とする方法がある。ＰＬＬ回路はデコーダ１５３で再生信号をデコードする際に必須となるので、ＰＬＬのエラー信号を用いることは、格別新規なＴＩＡを情報記録装置にインプリメントしなくても済むという効果がある。また、時間間隔測定回路１７１の別の例としては、スライサ１７０により２値化されたデジタル信号と書き込みの際に信号処理回路１５４に与えた記録パターンとを比較し、その不一致の量をエラーパルスとして、エラーパルスの頻度を持って、２値化されたデジタル信号のジッタ量とする方法がある。この場合でも、情報記憶装置に格別新規な回路を投入しなくても２値化されたデジタル信号のジッタ量が評価できるという効果がある。
【００８６】
以上述べた方法によると、最短記録マーク長が記録スポット半径以下となるような高密度記録の状況においても、常に安定して記録マークエッジを所定の位置に位置付けることが可能となり、常に安定して信頼性良く情報を記録媒体に記録することができる。
【００８８】
上述したように、Peak Power，Bias Power 1，Bias Power 2及びBias Power 3の初期値は、記録媒体のコントロールデータゾーンの情報トラックからそれぞれの推奨値を読み取り、読み取った推奨値に基づいて決定することが考えられる。
【００８９】
ここで、記録媒体とこの記録媒体に対する記録パワーレベル及びエッジシフトのルックアップテーブルとが情報記録装置に与えられているものとする。この記録パワーレベル及びルックアップテーブルは、記録媒体の所定の場所に記録されていた値を読み取ったものであったり、情報記録装置が何らかの方法で求めた値であったりするかもしれない。情報記録装置は、この記録パワーレベル及びルックアップテーブルを用いて記録を行う。しかしながら、情報記録装置の環境温度が使用中に変化したり経年変化が生じたりして記録特性が変化してしまったり、情報記録装置間の記録特性のばらつきがあったりなどして、与えられた記録パワーレベル及びルックアップテーブルが必ずしもその情報記録装置の現在の記録特性と記録媒体との組み合わせに対して最適な値でないかもしれない。すなわち、経時的な特性変化や情報記録装置個体間の特性相違やその他により記録パワーレベル及びルックアップテーブルに互換性の問題が発生する場合を考える。
【００９０】
従来の相変化記録媒体では、記録時にエッジシフトのルックアップテーブルが存在しない場合には、記録パワーレベルのみの最適化を考えればよかった。片面２．６ＧＢのＤＶＤ−ＲＡＭを例に取ると、情報記録装置に依存して種々の記録パワーレベル設定法があるが、最適な記録パワーレベルは、一般的には、次のような手続きで設定される。
【００９１】
（１）Bias Power 1（片面２．６ＧＢのＤＶＤ−ＲＡＭ規格書での呼び名）とBias Power 2（片面２．６ＧＢのＤＶＤ−ＲＡＭ規格書での呼び名）を固定してPeak Power（片面２．６ＧＢのＤＶＤ−ＲＡＭ規格書での呼び名）を変化させながらランダムパターンを記録し再生して、再生信号のジッタを測定する。ジッタの値が１３％となった記録パワーレベルの１．２倍の記録パワーレベルをPeak Power（片面２．６ＧＢのＤＶＤ−ＲＡＭ規格書での呼び名）と設定する。
【００９２】
（２）Bias Power 1（片面２．６ＧＢのＤＶＤ−ＲＡＭ規格書での呼び名）を変化させながらランダムパターンを記録し再生して、再生信号のジッタを測定する。ジッタの値が最小となるバイアスパワーレベルをBias Power 1（片面２．６ＧＢのＤＶＤ−ＲＡＭ規格書での呼び名）とする。又は、ジッタの値が１３％を横切る２点の真中の点におけるバイアスパワーレベルをBias Power 1（片面２．６ＧＢのＤＶＤ−ＲＡＭ規格書での呼び名）とする。
【００９３】
（３）場合によっては、上記（１）及び（２）の手順を再度行う。
【００９４】
すなわち、最適な記録パワーレベルは、ランダムパターンを記録し再生して、再生信号のジッタのカーブから求められる。
【００９５】
片面２．６ＧＢのＤＶＤ−ＲＡＭより高密度の記録となり、片面２．６ＧＢのＤＶＤ−ＲＡＭでは存在しなかったエッジシフトのルックアップテーブルを用いて記録を行う場合には、上記のようなランダムパターンの再生ジッタを測定するだけでは十分精度の良いパワーレベル設定ができない場合がある。すなわち、エッジシフトのルックアップテーブルそのものに互換性が保てなくなった場合である。この場合、上記のようなランダムパターンの再生ジッタは、ルックアップテーブルが適合していないため、予期された以上に悪い値となってしまい、正常にパワーレベルが決定できない。このような場合には、もはや互換性の取れなくなったルックアップテーブルを使わないでパワーレベルを設定することが望ましい場合がある。
【００９６】
本願の発明者は、このような記録パワーレベル及びルックアップテーブルに互換性が取れなくなった場合の記録パワーレベル及びルックアップテーブルの更新の仕方について検討を行ってきたが、片面２．６ＧＢのＤＶＤ−ＲＡＭを越す面密度を有する相変化媒体を用いるとともにルックアップテーブルを用いた記録制御を行っている情報記録装置においては、次のような手順を行うと精度良く記録パワーレベル及びルックアップテーブルの更新ができるということを認識するに至った。
【００９７】
（１）同一の長さを有するマーク及びスペースの繰り返しパターンにより、Peak Power及びBias Powerを設定する。設定されたPeak Power及びBias Powerを暫定Peak Power及び暫定Bias Powerとそれぞれ称する。ここで重要なのは、パワーレベルの決定順序と記録パターンとである。なお、単にBias Powerとのみ称する場合には、図１に示したBias Power 1，Bias Power 2及びBias Power 3のすべてを指し示すものとする。
【００９８】
（２）暫定Peak Power及び暫定Bias Powerを用いてルックアップテーブルを最適化する。
【００９９】
（３）最適化されたルックアップテーブルを用い、ランダムパターンを用いてPeak Power及びBias Powerを設定する。ここで重要なことは、パワーレベルの決定順序と記録パターンとである。
【０１００】
上記手順（１）において、Peak Power及びBias Powerを具体的に設定する方法には種々の方法があるが、情報記録装置に都合のよい方法を選べばよい。重要なことは、パワーレベルの設定順序（Peak Powerをその初期値に固定してBias Powerを最適化したのち、Bias PowerをBias Powerの最適値に固定してPeak Powerを最適化するという順序）と、同じ長さのマーク及びスペースの繰り返しパターンを用いることとである。このような順序の必然性について以下に説明する。
【０１０１】
図３に、Peak Powerを決定する実験例を示す。片面４．７ＧＢのＤＶＤ−ＲＡＭの条件に則して実験を行った。横軸をPeak Powerにとってあり、長さ３Ｔのマークと長さ３Ｔのスペースとの繰り返しパターンの再生信号振幅をPeak Powerに対してプロットしている。パラメータはBias Power 1にとってある。ここで、Bias Power 1を変化させる場合、Bias Power 2とBias Power 3とは、Bias Power 1との比が一定となるように変化させる。このような実験からPeak Powerを求める場合、Peak Powerが大きくなった際の再生信号振幅の飽和レベルから３ｄＢ振幅が低下するときのPeak Powerの値の１．２倍を最適パワーレベルとする。実験結果より明らかなことは、Bias Power 1が変化してしまうと、Peak Powerの最適値が変化してしまうことである。すなわち、Peak PowerとBias Powerとを最適化するときに、始めにPeak Powerを最適化する順序を採用すると、Peak Powerの最適化の際に任意に与えたBias Powerの初期値に応じてPeak Powerの最適値が変化してしまうということである。
【０１０２】
図４Ａ−４Ｃに、Bias Power 1を決定する実験例を示す。横軸はBias Power 1にとってある。長さ１１Ｔのマークと長さ１１Ｔのスペースとの繰り返しパターンに長さ３Ｔのマークと長さ３Ｔのスペースとの繰り返しパターンをオーバーライトしたときのジッタカーブ（3T on 11T）と、長さ３Ｔのマークと長さ３Ｔのスペースとの繰り返しパターンに長さ１１Ｔのマークと長さ１１Ｔのスペースとの繰り返しパターンをオーバーライトした場合のジッタカーブ(11T on 3T)とがプロットされている。縦軸はジッタ値である。この２つの曲線の重なり部分をジッタ値１３％程度でスライスし、ジッタ値が１３％となる２つのBias Power 1の値の平均値をBias Power 1の最適値とする。ここで、Bias Power 1を変化させる場合には、Bias Power 2とBias Power 3とは、Bias Power 1との比が一定となるように変化させている。このような最適化をPeak Powerを変化させながら行った場合には、Peak Powerの値に依存せず、常に同じBias Power 1の値が得られる。
【０１０３】
すなわち、Peak PowerとBias Power 1とを最適化するにおいて、始めにBias Power 1を最適化すると、Peak Powerの初期値にかかわらず常に正しいBias Power 1の最適値が得られる。また、その後にPeak Powerを求めれば、Peak Powerについても適正値が得られる。以上、Bias Power 1の最適化及びPeak Powerの最適化において、ランダムパターンを用いずに、同じ長さのマーク及びスペースの繰り返しパターンを用いた。これは、互換性が取れなくなったルックアップテーブルに依存せずにパワーレベルを決めるために重要となっている。以上のような記録パターンで以上のような最適化順序を採用することにより、常に正しい記録パワーレベルが決定できるという効果が得られる。
【０１０４】
上記（２）の手順においてルックアップテーブルを更新するが、上記（１）の手順において暫定パワーレベルが決定されているため、適正なパワーレベルにおけるルックアップテーブルを決めることができる。ルックアップテーブルの決め方には種々の方法があるが、情報記録装置に都合のよい方法でルックアップテーブルを決めればよいため、ここではルックアップテーブルの決め方については説明しない。
【０１０５】
上記（３）において最終的に記録パワーレベルを決定するが、上記（１）及び（２）の手順で暫定パワーレベル及びルックアップテーブルは既に決められているにもかかわらず最終的な記録パワーレベル調整を行うのは、ランダムパターンにおける最適記録条件を見出すためである。上記（２）の手順でルックアップテーブルは既に更新されているので、ランダムパターンは十分ジッタが低減されており、ランダムパターンの再生ジッタは記録パワーレベルを決めるための有効なすべとなる。具体的なパワーレベル決定手順には種々の方法があり、情報記録装置の都合で任意に決めればよいが、ここではそのうちの一例を示す。Peak Powerを暫定Peak PowerとしBias Power 1を変化させてランダムパターンを記録したのちこれを再生して、再生ジッタを測定する。再生ジッタが最小となるバイアスパワーレベルを最適Bias Power 1とする。又は、再生ジッタの値が１３％を横切る２点の真中の点におけるバイアスパワーレベルを最適Bias Power 1とする。その後、Bias Power 1を最適 Bias Power 1としPeak Powerを変化させながらランダムパターンを記録したのちこれを再生して、再生ジッタを測定する。再生ジッタの値が１３％となった記録パワーレベルの１．２倍の記録パワーレベルを最適Peak Powerとする。必要に応じてBias Power及びPeak Powerの設定を繰り返す。ここで重要なのは、パワーレベルの最適化の順序であり、前述と同様の必要性から、Bias Power 1を最適化したのちにPeak Powerを設定することが重要である。ここで、「Bias Power 1の最適化」と称したが、Bias Power 2及びBias Power 3は、Bias Power 1との比を一定に保ちながら、Bias Power 1の変化に則して変化させられる。
【０１０７】
情報書き込みの必要性が発生した場合又は情報書き込みが発生する以前に、情報書き込みをする際のエネルギービームのパワーレベルを最適化したり、パワーレベル値をアップデートしたりすることがある。また、書き込みをする際の前エッジタイミング補正用ルックアップテーブルや後ろエッジ補正用ルックアップテーブルを最適化したり、テーブル値をアップデートしたりすることがある。このような場合、システムコントローラ１５０は、信号処理回路１５４に適当な記録パターンを送り、記録媒体１００上に記録マーク列を形成する。その後、この記録マーク列が再生される。再生信号は、アンプ１５２で再生信号レベルを測定され、その測定値はシステムコントローラ１５０に送られる。また、再生信号は、スライサ１７０で２値化されたのち、時間間隔測定回路１７１に送られる。時間間隔測定回路１７１は、再生信号の揺らぎ（ジッタ）を測定し、その測定結果をシステムコントローラ１５０に送る。システムコントローラ１５０は、アンプ１５２における再生信号レベルの測定結果及び時間間隔測定回路１７１におけるジッタの測定結果に基づいて、図３，４Ａ−４Ｃの説明で述べた手順に従って記録パワーレベルを変化させる。その後、システムコントローラ１５０は、信号処理回路１５４に前記適当な記録パターンを再度送り、記録媒体１００上に記録マーク列を新しい記録パワーレベルを用いて形成する。このように再生信号レベル及び再生ジッタの測定とこれらの測定結果に基づく記録パワーレベルの更新とを必要回数だけ繰り返すことにより、与えられた記憶媒体１００に対する最適な書き込みの記録パワーレベルを必要なときに決定することができる。
【０１０８】
また、システムコントローラ１５０は、信号処理回路１５４に適当な記録パターンを送り、記録媒体１００上に記録マーク列を形成する。その後、この記録マーク列が再生される。再生信号は、スライサ１７０で２値化されたのち、時間間隔測定回路１７１に送られる。時間間隔測定回路１７１は、再生信号の揺らぎ（ジッタ）を測定し、その測定結果をシステムコントローラ１５０に送る。得られたジッタが不充分な場合には、システムコントローラ１５０は、図１，３，４Ａ−４Ｃの説明で述べた手順に従って、前エッジ及び後ろエッジ用のタイミング補正用ルックアップテーブルの値を変化させる。その後、システムコントローラ１５０は、信号処理回路１５４に前記適当な記録パターンを再度送り、記録媒体１００上に記録マーク列を新しい前エッジ及び後ろエッジのタイミングを用いて形成する。このように再生ジッタ及び信号エッジシフトの測定とこれらの測定結果に基づく前エッジ及び後ろエッジ用のタイミング補正用ルックアップテーブルの補償値の更新とを繰り返すことにより、与えられた記憶媒体１００に対する最適な書き込みのルックアップテーブルを必要なときに決定することができる。
【０１０９】
以上述べた方法によると、経時変化、温度変化及びその他により情報記録装置の記録特性が変動しても、簡単な手順により常に精度の高い記録パワーレベル及び記録補償用のルックアップテーブルを得ることができ、常に安定して情報を記録することができる。
【０１１０】
次に、本発明による情報記録方法について説明する。まず、記録媒体に記録すべきマーク列について図５Ａ，５Ｂを参照して説明する。
【０１１１】
図５Ａは、記録媒体上に記録された記録媒体の第２の状態（以下、「マーク」と称する。）及び第１の状態（以下、「スペース」と称する。）を示している。
【０１１２】
マーク及びスペースを記録する際に基準周波数で動作するクロック（記録タイミング発生クロック）の周期をＴとし、記録媒体とエネルギービームとの相対速度をｖとする。小記録パターンＡ（第１の小記録パターン）は、長さａｖＴのマーク（第１のマーク）と、第１のマークに引き続く長さｉｖＴのスペース（第１のスペース）と、第１のスペースに引き続く長さｍｖＴのマーク（第２のマーク）と、第２のマークに引き続く長さｊｖＴのスペース（第２のスペース）と、第２のスペースに引き続く長さｂｖＴのマーク（第３のマーク）とからなる。小記録パターンＢ（第２の小記録パターン）は、長さＣ1ｖＴのスペースから始まり、長さＣ2ｖＴのマークが続き、長さＣ3ｖＴのスペースが続き、長さＣ4ｖＴのマークが続き、長さＣ5ｖＴのスペースで終了するものである。すなわち、小記録パターンＢは、第１の状態（スペース）で始まり第１の状態（スペース）で終了する、第１の状態（スペース）及び第２の状態（マーク）が有限回だけ交互に現れる状態のものである。小記録パターンＡとそれに引き続く小記録パターンＢとが基本記録パターンを形成する。ここで、マーク及びスペースの長さを表わすパラメータであるａ，ｉ，ｍ，ｊ，ｂ及びＣ1〜Ｃ5はすべて、自然数（正の整数）である。
【０１１３】
基本記録パターンに含まれるマークの長さパラメータのすべてを算術加算して得た加算値から基本記録パターンに含まれるスペースの長さのパラメータのすべてを算術加算して得た加算値を減じた値は、「Digital Sum Value（ＤＳＶ）」と呼ばれる。基本記録パターンのＤＳＶがゼロとなるようにマーク及びスペースの長さを調整することにより、マーク列の再生信号の品位が向上する。
【０１１４】
記録パターンは、基本記録パターンが繰り返し現れる状態であり、その一例について図５Ｂを参照して説明する。記録パターンＡ１（第１の記録パターン）は複数の基本記録パターンからなり、各基本記録パターンのパラメータｊの値はさまざまな値となっている（図５Ｂでは、ｊがｊ1からｊhまで変化しているものを示している）。パラメータｊの値は、下限値及び上限値を設けて、ランダムな順番で変化させてよい。記録パターンＢ１（第２の記録パターン）も複数の基本記録パターンからなるが、各基本記録パターンのパラメータｉの値がさまざまな値となっている（図５Ｂでは、ｉがｉ1からｉkまで変化しているものを示している）。パラメータｉの値も、下限値及び上限値を設けて、ランダムな順番で変化させてよい。
【０１１５】
次に、図６Ａ，６Ｂを参照して、図５Ａ，５Ｂに示した記録パターンＡ１及び記録パターンＢ１を記録し、それらを再生したときの再生信号及びその処理方法について説明する。なお、説明の都合上、記録媒体に対するエネルギービームの相対的な移動方向を紙面左から紙面右への方向とする。また、マークにおいて、エネルギービームの移動方向と逆方向のマーク境界を「前エッジ」と称し、エネルギービームの移動方向のマーク境界を「後ろエッジ」と称する。
【０１１６】
図６Ａは、図５Ｂに示した記録パターンＡ１の一部とそれに対応する再生信号とを示している。再生信号が紙面上側から紙面下側にスライスレベルを横切る位置が、再生信号における前エッジを示している。再生信号を用いて長さａｖＴのマーク（第１のマーク）の前エッジから長さｍｖＴのマーク（第２のマーク）の前エッジまでの時間間隔を時間間隔測定器で測定した結果を測定時間Ｔ1とする。この測定時間Ｔ1が時間間隔（ａ＋ｉ）Ｔと一致しないことは、長さｍｖＴのマーク（第２のマーク）の前エッジが適正な位置に存在しないことを示している。このようにして、長さｍｖＴのマーク（第２のマーク）の前エッジの位置を再生信号から測定することができる。
【０１１７】
ここで重要なことは、長さｍｖＴのマーク（第２のマーク）に引き続く長さｊｖＴのスペース（第２のスペース）の長さが種々に変化していることである。長さｂｖＴのマーク（第３のマーク）を記録する際のエネルギービームの照射が長さｍｖＴのマーク（第２のマーク）の前エッジ位置の変動を引き起こす恐れがある。また、この変動量は長さｊｖＴのスペース（第２のスペース）の長さの関数ともなっている。そこで、長さｊｖＴのスペース（第２のスペース）の長さを種々に変化させて、この変動量を平均化する。これにより、長さｂｖＴのマーク（第３のマーク）により長さｍｖＴのマーク（第２のマーク）の前エッジ位置が変動させられても、平均的な前エッジ位置を測定することで、信頼性の高いマークエッジ位置の測定ができるという効果が得られる。
【０１１８】
図６Ｂは、図５Ｂに示した記録パターンＢ１の一部とそれに対応する再生信号とを示している。再生信号を用いて長さｍｖＴのマーク（第２のマーク）の後ろエッジから長さｂｖＴのマーク（第３のマーク）の後ろエッジまでの時間間隔を時間間隔測定器で測定した結果を測定時間Ｔ2とする。この測定時間Ｔ2が時間間隔（ｊ＋ｂ）Ｔと一致しないことは、長さｍｖＴのマーク（第２のマーク）の後ろエッジが適正な位置に存在しないことを示している。このようにして、長さｍｖＴのマーク（第２のマーク）の後ろエッジの位置を再生信号から測定することができる。
【０１１９】
ここで重要なことは、長さｍｖＴのマーク（第２のマーク）に先行する長さｉｖＴのスペース（第１のスペース）の長さが種々に変化していることである。長さａｖＴのマーク（第１のマーク）を記録する際のエネルギービームの照射が長さｍｖＴのマーク（第２のマーク）の後ろエッジ位置の変動を引き起こす恐れがある。また、この変動量は長さｉｖＴのスペース（第１のスペース）の長さの関数ともなっている。そこで、長さｉｖＴのスペース（第１のスペース）の長さを種々に変化させて、この変動量を平均化する。これにより、長さａｖＴのマーク（第１のマーク）により長さｍｖＴのマーク（第２のマーク）の後ろエッジ位置が変動させられても、平均的な後ろエッジ位置を測定することで、信頼性の高いマークエッジ位置の測定ができるという効果が得られる。
【０１２０】
次に、図１を参照して、マーク及びスペースを形成するときのエネルギービームの照射の具体例を示し、任意のマークの前エッジ及び後ろエッジを精度良く制御する方法について述べる。
【０１２１】
前述したように、ＴSFP及びＴELPをＮＲＺＩ信号の前後の組み合わせに応じて変化させることにより、マークエッジ位置を常に精度良く制御することができる。しかしながら、マークエッジ位置を所定の場所にもって行くためには、現在のマークエッジ位置の精度良い把握が不可欠である。そこで、図５Ａ，５Ｂで説明した記録パターンを用いて、図６Ａ，６Ｂで説明したエッジ位置測定方法で精度の高いエッジ位置測定を行う。このエッジ位置測定結果に基づいてＴSFP及びＴELPのルックアップテーブルを形成したり補正したりすることで、エッジ位置がすべて所定の位置に揃った信頼性の高い記録ができるという効果が得られる。
【０１２２】
より具体的に説明すると、前エッジのルックアップテーブルの一つのエレメントの値（例えば、当該マーク（第２のマーク）の長さがＭｖＴ（Ｍは自然数）で、先行するスペース（第１のスペース）の長さがＩｖＴ（Ｉは自然数）の場合のルックアップテーブルのエレメントの値）を調べたい場合には、図５Ａに示した小記録パターンＡのパラメータｉの値をＩとするとともにパラメータｍの値をＭとした基本記録パターンを用いて図５Ｂに示した記録パターンＡ１を作成して、これを記録媒体に記録する。その後、図６Ａで説明した手法で長さａｖＴのマーク（第１のマーク）の前エッジから長さＭｖＴのマーク（第２のマーク）の前エッジまでの再生信号の時間間隔（測定時間Ｔ1）を測定する。測定時間Ｔ1が時間間隔（ａ＋Ｉ）Ｔより長い場合には、長さＭｖＴのマーク（第２のマーク）の前エッジが所定位置より後ろ寄りにあるので、ルックアップテーブルのエレメントの数値を小さくする。すなわち、図１に示したＴSFPの値を小さくして、先頭パルスがより早いタイミングで開始するように調整する。一方、測定時間Ｔ1が時間間隔（ａ＋Ｉ）Ｔより短い場合には、長さＭｖＴのマーク（第２のマーク）の前エッジが所定位置より前寄りにあるので、ルックアップテーブルのエレメントの数値を大きくする。すなわち、図１に示したＴSFPの値を大きくして、先頭パルスがより遅いタイミングで開始するように調整する。このような調整により、当該マーク（第２のマーク）の前エッジ位置を所定の位置にもってくることができる。このような調整をＭの値及びＩの値を変えながら前エッジの関するルックアップテーブルのすべてのエレメントに対して行うことで、どのようなＮＲＺＩ信号の組み合わせに対しても、常に安定して前エッジを所定の位置に位置決めできるという効果が得られる。その結果、情報記憶の信頼性を向上させることができる。
【０１２３】
別の例では、後ろエッジのルックアップテーブルの一つのエレメントの値（例えば、当該マーク（第２のマーク）の長さがＭｖＴ（Ｍは自然数）で、後続のスペース（第２のスペース）の長さがＪｖＴ（Ｊは自然数）の場合のルックアップテーブルのエレメントの値）を調べたい場合には、図５Ａに示した小記録パターンＡのパラメータｊの値をＪとするとともにパラメータｍの値をＭとした基本記録パターンを用いて図５Ｂに示した記録パターンＢ１を作成して、これを記録媒体に記録する。その後、図６Ｂで説明した手法で長さＭｖＴのマーク（第２のマーク）の後ろエッジから長さｂｖＴのマーク（第３のマーク）の後ろエッジまでの再生信号の時間間隔（測定時間Ｔ2）を測定し、測定時間Ｔ2が時間間隔（ｂ＋Ｊ）Ｔより長い場合には、長さＭｖＴのマーク（第２のマーク）の後ろエッジが所定位置より前寄りにあるので、ルックアップテーブルのエレメントの数値を大きくする。すなわち、図１に示したＴELPの値を大きくして、最終パルスがより遅いタイミングで終了するように調整する。一方、測定時間Ｔ2が時間間隔（ｂ＋Ｊ）Ｔより短い場合には、長さＭｖＴのマーク（第２のマーク）の後ろエッジが所定位置より後ろ寄りにあるので、ルックアップテーブルのエレメントの数値を小さくする。すなわち、図１に示したＴELPの値を小さくして、最終パルスがより早いタイミングで終了するように調整する。このような調整により、当該マーク（第２のマーク）の後ろエッジ位置を所定の位置にもってくることができる。このような調整をＭの値及びＪの値を変えながら後ろエッジに関するルックアップテーブルのすべてのエレメントに対して行うことで、どのようなＮＲＺＩ信号の組み合わせに対しても、常に安定して後ろエッジを所定の位置に位置決めできるという効果が得られる。その結果、情報記憶の信頼性を向上させることができる。
【０１２４】
次に、情報記録装置の動作について、図２を参照して以下に説明する。
【０１２５】
情報書き込みの必要性が発生した場合又は情報書き込みが発生する以前に、情報書き込みをする際の前エッジ及び後ろエッジの制御用のルックアップテーブルを最適化したりアップデートしたりすることがある。このような場合、システムコントローラ１５０は、信号処理回路１５４に図５Ｂに示した記録パターンＡ１又は記録パターンＢ１を送り、記録媒体１００上に図５Ａ，５Ｂで説明した記録マーク列を形成する。その後、この記録マーク列が再生される。再生信号は、スライサ１７０で２値化されたのち、時間間隔測定回路１７１に送られる。時間間隔測定回路１７１は、図６Ａ，６Ｂで説明した時間間隔（測定時間Ｔ1）及び時間間隔（測定時間Ｔ2）を測定し、その測定結果をシステムコントローラ１５０に送る。システムコントローラ１５０は、受け取った測定時間Ｔ1及び測定時間Ｔ2に基づいて上述した手順に従ってルックアップテーブルを更新する。その後、システムコントローラ１５０は、信号処理回路１５４に記録パターンＡ１又は記録パターンＢ１を再度送り、更新されたルックアップテーブルを用いて記録媒体１００上に記録マーク列を形成する。
【０１２６】
このように測定時間Ｔ1及び測定時間Ｔ2の測定とこの測定結果に基づくルックアップテーブルの更新とを必要回数だけ繰り返すことにより、与えられた記憶媒体１００に対する最適書き込みのルックアップテーブルを必要なときに作成することができ、常に安定して信頼性良く情報を記録媒体１００書き込むことができるという効果が得られる。
【０１２７】
なお、時間間隔測定回路１７１としては、タイムインターバルアナライザの機能を有する回路が一例として考えられ得る。また、別の一例として、図６Ａで説明した測定時間Ｔ1の測定には、マークの前エッジ間隔を常にモニターし、隣接する前エッジ間隔が（ａ＋ｉ−０．５）Ｔから（ａ＋ｉ）Ｔの範囲にある回数をカウントする第１のカウンターと、隣接する前エッジ間隔が（ａ＋ｉ）Ｔから（ａ＋ｉ＋０．５）Ｔの範囲にある回数をカウントする第２のカウンターとを設け、第１のカウンターの頻度と第２のカウンターの頻度との差を用いて、時間間隔Ｔ1が所定の時間（ａ＋ｉ）Ｔより長いか短いかを判断してもよい。すなわち、第１のカウンターの頻度が第２のカウンターの頻度より高ければ、測定時間Ｔ1は所定時間（ａ＋ｉ）Ｔより短く、一方、第２のカウンターの頻度が第１のカウンターの頻度より高ければ、測定時間Ｔ1は所定時間（ａ＋ｉ）Ｔより長いと判断してよい。また、図６Ｂで説明した測定時間Ｔ2の測定には、マークの後ろエッジ間隔を常にモニターし、隣接する後ろエッジ間隔が（ｂ＋ｊ-０．５）Ｔから（ｂ＋ｊ）Ｔの範囲にある回数をカウントする第３のカウンターと、隣接する前エッジ間隔が（ｂ＋ｊ）Ｔから（ｂ＋ｊ＋０．５）Ｔの範囲にある回数をカウントする第４のカウンターとを設け、第３のカウンターの頻度と第４のカウンターの頻度との差を用いて、測定時間Ｔ2が所定の時間（ｂ＋ｊ）Ｔより長いか短いかを判断してもよい。すなわち、第３のカウンターの頻度が第４のカウンターの頻度より高ければ、測定時間Ｔ2は所定時間（ｂ＋ｊ）Ｔより短く、一方、第４のカウンターの頻度が第３のカウンターの頻度より高ければ、測定時間Ｔ2は所定時間（ｂ＋ｊ）Ｔより長いと判断してよい。このようなカウンターの頻度比較による時間測定は、タイムインターバルアナライザの構成よりも簡素化することができ、結果的に簡素であるが故に信頼性が高いという効果が得られる。
【０１２８】
次に、ＤＶＤ−ＲＡＭを例に取り、記録マーク列の具体例について説明する。
【０１２９】
記録マーク列としては、ＤＳＶがゼロであり、また、測定しようとしているマークエッジ間隔に不要なマークエッジ間隔が混入しない記録マーク列を用いた。具体的な記録マーク列の一例として、図７Ａ，７Ｂに示す記録マーク列が考えられる。図７Ａ，７Ｂに示した基本記録パターンの２つの具体例では、パラメータｉ，パラメータｍ及びパラメータｊが３以上で６以下の整数であることを想定している。このような基本記録パターンを用いて図５Ｂに示した記録パターンＡ１又は記録パターンＢ１を形成することで、ＤＳＶをゼロとするとともに、測定しようとしているマークエッジ間隔に不要なマークエッジ間隔が重畳することなく、精度良くマークエッジ位置測定が行えるという効果が得られる。
【０１３０】
次に、ＤＶＤ−ＲＡＭを例に取り、図５Ｂに示した記録パターンＡ１及び記録パターンＢ１を混在させた例について説明する。この場合、基本記録パターンが図７Ａに示したものである記録パターン又は基本記録パターンが図７Ｂに示したものである記録パターンを用いることが前提となる。すなわち、図７Ｂの基本記録パターンを用い、パラメータｍを固定してパラメータｉとパラメータｊとを種々に変化させて作った基本記録パターンを接続して、記録パターンＣを形成する。ただし、記録パターンＣ中の基本記録パターンには、パラメータｉ及びパラメータｊが３以上で６以下の条件で、すべてのパラメータｉとパラメータｊとの組み合わせが存在しているものとする。
【０１３１】
このように形成された記録マーク列の具体例を図８に示す。この具体例はｍ＝６の場合に則したものである。四角枠内に書かれた数字はマークの長さのパラメータを示し、実際のマークの長さは四角枠内に書かれた数字にｖＴを乗じた長さとなる。また、四角枠外に書かれた数字はスペースの長さのパラメータを示し、実際のスペースの長さは四角枠外に書かれた数字にｖＴを乗じた長さとなる。マーク・スペース列は長いため、折り畳んで表示されている。図の左上のマークから開始し、以降順次右側へとスペース，マーク及びスペースの順番でマーク・スペース列が示されている。図示一番右側のスペースの次には、一行下の図示一番左側のマークが接続される。図示最下行の一番右側のスペースが記録パターンＣの最後である。この記録パターンを必要回数だけ繰り返して記録し、これを再生する。
【０１３２】
前エッジ間隔が測定される。前エッジ間隔が１３Ｔの近傍となるエッジ位置は、先行するスペースの長さが３Ｔの場合の長さ６Ｔのマークの前エッジ位置となる。また、前エッジ間隔が１４Ｔの近傍となるエッジ位置は、先行するスペースの長さが４Ｔの場合の長さ６Ｔのマークの前エッジ位置となる。また、前エッジ間隔が１５Ｔの近傍となるエッジ位置は、先行するスペースの長さが５Ｔの場合の長さ６Ｔのマークの前エッジ位置となる。また、前エッジ間隔が１６Ｔの近傍となるエッジ位置は、先行するスペースの長さが６Ｔの場合の長さ６Ｔのマークの前エッジ位置となる。
【０１３３】
後ろエッジ間隔も測定される。後ろエッジ間隔が１３Ｔの近傍となるエッジ位置は、後続のスペースの長さが３Ｔの場合の長さ６Ｔのマークの後ろエッジ位置となる。また、後ろエッジ間隔が１４Ｔの近傍となるエッジ位置は、後続のスペースの長さが４Ｔの場合の長さ６Ｔのマークの後ろエッジ位置となる。また、後ろエッジ間隔が１５Ｔの近傍となるエッジ位置は、後続のスペースの長さが５Ｔの場合の長さ６Ｔのマークの後ろエッジ位置となる。また、後ろエッジ間隔が１６Ｔの近傍となるエッジ位置は、後続のスペースの長さが６Ｔの場合の長さ６Ｔのマークの後ろエッジ位置となる。
【０１３４】
以上のように、図７Ａ，７Ｂに示したマーク及びスペース列を用いることにより、同じ記録パターンＣの繰り返しで、マークの前エッジ及び後ろエッジが同時に測定できる。また、ＤＳＶがゼロであり、与えられたマーク長に対して先行スペース及び後続スペースの種々の組み合わせに対するエッジ位置を一時に測定できて、簡便で精度良くエッジ位置を測定できるという効果が得られる。
【０１３５】
ｍ＝５に則した記録マーク列を図９に示す。マーク及びスペースの配列の仕方は図８と同様である。この記録パターンを必要回数だけ繰り返して記録し、これを再生する。
【０１３６】
前エッジ間隔が測定される。前エッジ間隔が１３Ｔの近傍となるエッジ位置は、先行するスペースの長さが３Ｔの場合の長さ５Ｔのマークの前エッジ位置となる。また、前エッジ間隔が１４Ｔの近傍となるエッジ位置は、先行するスペースの長さが４Ｔの場合の長さ５Ｔのマークの前エッジ位置となる。また、前エッジ間隔が１５Ｔの近傍となるエッジ位置は、先行するスペースの長さが５Ｔの場合の長さ５Ｔのマークの前エッジ位置となる。また、前エッジ間隔が１６Ｔの近傍となるエッジ位置は、先行するスペースの長さが６Ｔの場合の長さ５Ｔのマークの前エッジ位置となる。
【０１３７】
後ろエッジ間隔も測定される。後ろエッジ間隔が１３Ｔの近傍となるエッジ位置は、後続のスペースの長さが３Ｔの場合の長さ５Ｔのマークの後ろエッジ位置となる。また、後ろエッジ間隔が１４Ｔの近傍となるエッジ位置は、後続のスペースの長さが４Ｔの場合の長さ５Ｔのマークの後ろエッジ位置となる。また、後ろエッジ間隔が１５Ｔの近傍となるエッジ位置は、後続のスペースの長さが５Ｔの場合の長さ５Ｔのマークの後ろエッジ位置となる。また、後ろエッジ間隔が１６Ｔの近傍となるエッジ位置は、後続のスペースの長さが６Ｔの場合の長さ５Ｔのマークの後ろエッジ位置となる。
【０１３８】
ｍ＝４に則した記録マーク列を図１０に示す。マーク及びスペースの配列の仕方は図８と同様である。この記録パターンを必要回数だけ繰り返して記録し、これを再生する。
【０１３９】
前エッジ間隔が測定される。前エッジ間隔が１３Ｔの近傍となるエッジ位置は、先行するスペースの長さが３Ｔの場合の長さ４Ｔのマークの前エッジ位置となる。また、前エッジ間隔が１４Ｔの近傍となるエッジ位置は、先行するスペースの長さが４Ｔの場合の長さ４Ｔのマークの前エッジ位置となる。また、前エッジ間隔が１５Ｔの近傍となるエッジ位置は、先行するスペースの長さが５Ｔの場合の長さ４Ｔのマークの前エッジ位置となる。また、前エッジ間隔が１６Ｔの近傍となるエッジ位置は、先行するスペースの長さが６Ｔの場合の長さ４Ｔのマークの前エッジ位置となる。
【０１４０】
後ろエッジ間隔も測定される。後ろエッジ間隔が１３Ｔの近傍となるエッジ位置は、後続のスペースの長さが３Ｔの場合の長さ４Ｔのマークの後ろエッジ位置となる。また、後ろエッジ間隔が１４Ｔの近傍となるエッジ位置は、後続のスペースの長さが４Ｔの場合の長さ４Ｔのマークの後ろエッジ位置となる。また、後ろエッジ間隔が１５Ｔの近傍となるエッジ位置は、後続のスペースの長さが５Ｔの場合の長さ４Ｔのマークの後ろエッジ位置となる。また、後ろエッジ間隔が１６Ｔの近傍となるエッジ位置は、後続のスペースの長さが６Ｔの場合の長さ４Ｔのマークの後ろエッジ位置となる。
【０１４１】
ｍ＝３に則した記録マーク列を図１１に示す。マーク及びスペースの配列の仕方は図８と同様である。この記録パターンを必要回数だけ繰り返して記録し、これを再生する。
【０１４２】
前エッジ間隔が測定される。前エッジ間隔が１３Ｔの近傍となるエッジ位置は、先行するスペースの長さが３Ｔの場合の長さ３Ｔのマークの前エッジ位置となる。また、前エッジ間隔が１４Ｔの近傍となるエッジ位置は、先行するスペースの長さが４Ｔの場合の長さ３Ｔのマークの前エッジ位置となる。また、前エッジ間隔が１５Ｔの近傍となるエッジ位置は、先行するスペースの長さが５Ｔの場合の長さ３Ｔのマークの前エッジ位置となる。また、前エッジ間隔が１６Ｔの近傍となるエッジ位置は、先行するスペースの長さが６Ｔの場合の長さ３Ｔのマークの前エッジ位置となる。
【０１４３】
後ろエッジ間隔も測定される。後ろエッジ間隔が１３Ｔの近傍となるエッジ位置は、後続のスペースの長さが３Ｔの場合の長さ３Ｔのマークの後ろエッジ位置となる。また、後ろエッジ間隔が１４Ｔの近傍となるエッジ位置は、後続のスペースの長さが４Ｔの場合の長さ３Ｔのマークの後ろエッジ位置となる。また、後ろエッジ間隔が１５Ｔの近傍となるエッジ位置は、後続のスペースの長さが５Ｔの場合の長さ３Ｔのマークの後ろエッジ位置となる。また、後ろエッジ間隔が１６Ｔの近傍となるエッジ位置は、後続のスペースの長さが６Ｔの場合の長さ３Ｔのマークの後ろエッジ位置となる。
【０１４４】
図８−１１を参照して説明した記録パターンは、ｍの値が異なるにもかかわらず、先行するスペースの長さ及び後続のスペースの長さが３Ｔの場合はエッジ間隔１３Ｔの測定を常に行い、先行するスペースの長さ及び後続のスペースの長さが４Ｔの場合はエッジ間隔１４Ｔの測定を常に行い、先行するスペースの長さ及び後続のスペースの長さが５Ｔの場合はエッジ間隔１５Ｔの測定を常に行い、先行するスペースの長さ及び後続のスペースの長さが６Ｔの場合はエッジ間隔１６Ｔの測定を常に行う。すなわち、ｍに依存せず常に同じエッジ間隔を測定すればよいので、測定が簡便となり、簡単で精度の高いエッジ位置検出を行うことができるという効果が得られる。
【０１４５】
次に、図８−１１に示した記録パターンを用いて簡素な回路系でエッジ位置を評価する処理方法について説明する。隣接する前エッジの間隔を監視し、前エッジ間隔が長さ１１．５Ｔから長さ１２．５Ｔの時間間隔に入る回数を数える第１のカウンタと、前エッジ間隔が長さ１２．５Ｔから長さ１３．５Ｔの時間間隔に入る回数を数える第２のカウンタと、前エッジ間隔が長さ１３．５Ｔから長さ１４．５Ｔの時間間隔に入る回数を数える第３のカウンタと、前エッジ間隔が長さ１４．５Ｔから長さ１５．５Ｔの時間間隔に入る回数を数える第４のカウンタと、前エッジ間隔が長さ１５．５Ｔから長さ１６．５Ｔの時間間隔に入る回数を数える第５のカウンタとを用いる。第１のカウンタの計数と第２のカウンタの計数との差を用いて、先行するスペースの長さが３Ｔの場合の前エッジ位置を推定する。第２のカウンタの計数と第３のカウンタの計数との差を用いて、先行するスペースの長さが４Ｔの場合の前エッジ位置を推定する。第３のカウンタと第４のカウンタの計数との差を用いて、先行するスペースの長さが５Ｔの場合の前エッジ位置を推定する。第４のカウンタの計数と第５のカウンタの計数との差を用いて、先行するスペースの長さが６Ｔの場合の前エッジ位置を推定する。
【０１４６】
その後、隣接する後ろエッジの間隔を監視し、前述した第１乃至第５のカウンタを用いてエッジ間隔の測定を行う。第１のカウンタの計数と第２のカウンタの計数との差を用いて、後続のスペースの長さが３Ｔの場合の後ろエッジ位置を推定する。また、第２のカウンタの計数と第３のカウンタの計数との差を用いて、後続のスペースの長さが４Ｔの場合の後ろエッジ位置を推定する。第３のカウンタの計数と第４のカウンタの計数との差を用いて、後続のスペースの長さが５Ｔの場合の後ろエッジ位置を推定する。第４のカウンタの計数と第５のカウンタの計数との差を用いて、後続のスペースの長さが６Ｔの場合の後ろエッジ位置を推定する。
【０１４７】
以上のような構成を採用することにより、簡便なカウンタを５種類用意するだけで、すべてのＮＲＺＩ信号の前後の組み合わせに対するマークエッジ位置制御用のルックアップテーブルを精度良く決めることができるという効果が得られる。
【０１４８】
なお、図８−１１の説明では図７Ｂに示した基本記録パターンを用いたが、Ｆｉｇ，７Ａに示した基本記録パターンを用いて図８−１１で説明したものと同様にして記録マーク列を形成しても、同様な効果を得ることができる。この場合、マーク及びスペースの合計数が減って、記録パターンの生成が簡単になるという効果も得られる。
【０１４９】
【発明の効果】
本発明によれば、最短記録マーク長が記録スポット半径以下となるような高密度記録の状況においても、常に安定して記録マークエッジを所定の位置に位置付けることが可能となり、常に安定して信頼性良く情報を記録媒体に記録することができるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるエネルギービーム照射量の時間変調方法（ライトストラテジ）の具体例を示す図。
【図２】本発明による情報記録装置のブロック図。
【図３】  Peak Powerの値に対する再生信号振幅の実験結果の一例を示す図。
【図４】図４（Ａ）−図４（Ｃ）は、Bias Powerの値に対する再生信号ジッタの実験結果の一例を示す図。
【図５】図５（Ａ），５（Ｂ）は、記録媒体に記録すべきマーク列の説明図。
【図６】図６（Ａ），図６（Ｂ）は、再生信号の説明図。
【図７】図７（Ａ），図７（Ｂ）は、基本記録パターンの具体例を示す図。
【図８】記録パターンの具体例（当該マークの長さが６ｖＴ）を示す図。
【図９】記録パターンの具体例（当該マークの長さが５ｖＴ）を示す図。
【図１０】記録パターンの具体例（当該マークの長さが４ｖＴ）を示す図。
【図１１】記録パターンの具体例（当該マークの長さが３ｖＴ）を示す図。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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