(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
直流電源から入力された直流電圧を別の直流電圧に変換して出力するＤＣ−ＤＣコンバータにおいて、
直流電源に直列に接続され過電流を遮断する過電流遮断手段と、
前記過電流遮断手段に直列に接続される複数のトランスの１次巻線と、
前記複数のトランスの１次巻線に直列に接続されるスイッチング素子と、
並列に直接接続される前記複数のトランスの２次巻線と、
前記複数のトランスの２次巻線に誘起される電圧を整流平滑する第１の整流平滑回路と、
前記第１の整流平滑回路からの電圧と第１の基準電圧との誤差電圧に応じて帰還信号を出力する電圧検出回路と、
並列に直接接続される前記複数のトランスの補助巻線と、
前記複数のトランスの補助巻線に誘起される電圧を整流平滑する第２の整流平滑回路と、
前記第２の整流平滑回路からの電圧が第２の基準電圧よりも過電圧になったときに停止信号を出力する過電圧検出回路と、
前記電圧検出回路からの帰還信号に応じて前記スイッチング素子のオン期間を制御するとともに、前記過電圧検出回路からの停止信号に応じて前記スイッチング素子の動作を停止する制御回路とを備え、
前記トランスの短絡開放アブノーマル試験として、
前記トランスの１次巻線又は２次巻線に対して短絡試験を行った場合には、前記過電流遮断手段が過電流を遮断するように動作し、前記トランスの１次巻線又は２次巻線に対して開放試験を行った場合には、前記スイッチング素子の動作を停止することを特徴とするＤＣ−ＤＣコンバータ。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、複数のトランスを有するＤＣ−ＤＣコンバータに関し、特に、トランスの短絡開放アブノーマル試験を行った場合でも装置を安全に保護することができるＤＣ−ＤＣコンバータに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、図３に示すように、複数のトランスを接続して総合容量を大きくした構成のフライバック方式のＤＣ−ＤＣコンバータが知られている。
詳しくは、トランスＴ１，Ｔ２の１次巻線Ｔ1a，Ｔ2aが直列にスイッチング素子Ｑ１に接続され、２次巻線Ｔ1b，Ｔ2bの一端がそれぞれダイオードＤ１，Ｄ２のアノードに接続され、２次巻線Ｔ1b，Ｔ2bの他端がコンデンサＣ１の負極側に共通接続され、ダイオードＤ１，Ｄ２のカソードがコンデンサＣ１の正極側に共通接続され、トランスＴ１，Ｔ２の補助巻線Ｔ1c，Ｔ2cが並列に接続されている。
【０００３】
また、トランスＴ１，Ｔ２には、それぞれの温度が溶断規定温度になったときに溶断する温度ヒューズＴＦ１，ＴＦ２が熱結合されている。
従来のＤＣ−ＤＣコンバータに対して、直流電源１から直流電圧が加えられた場合、まず、直流電源１からヒューズＦ１、起動抵抗Ｒ１を介してコンデンサＣ２に電流が流れ始め、コンデンサＣ２の電圧が上昇して制御回路７が起動し、ハイレベルとローレベルを交互に繰り返すＰＷＭ信号が制御回路７からスイッチング素子Ｑ１のゲートに出力される。
【０００４】
この結果、スイッチング素子Ｑ１がオンオフ制御されてトランスＴ１，Ｔ２に設けられた１次巻線Ｔ1a，Ｔ2aから２次巻線Ｔ1b，Ｔ2bに順次にエネルギーが誘起され、２次巻線Ｔ1b，Ｔ2bに誘起されたエネルギーがダイオードＤ１，Ｄ２とコンデンサＣ１により整流平滑されて負荷４に出力電圧が供給される。
さらに、コンデンサＣ１の両端に生じる出力電圧を電圧検出回路１０により検出してその検出信号を制御回路７に帰還することで、制御回路７は出力電圧が一定になるようにスイッチング素子Ｑ１のオン期間を制御する。
【０００５】
ところで、ＤＣ−ＤＣコンバータに対する動作試験項目の１つとして、トランスの短絡開放アブノーマル試験が規定されている。
例えば、図３に示す従来のＤＣ−ＤＣコンバータに対して、図４に示すような試験項目に従ってトランスの短絡開放アブノーマル試験を行なった場合について説明する。
【０００６】
（１）１次巻線の短絡
図４（１）に示すように、スイッチＳＷ１asを一時的に開放状態で１次巻線Ｔ1aに接続しておき、ＤＣ−ＤＣコンバータが動作中に、トランスＴ１の１次巻線Ｔ1aに並列接続されているスイッチＳＷ１asを短絡した場合、トランスＴ１の２次巻線Ｔ1bが有するインダクタンス成分Ｌが最小になる。
すなわち、トランスＴ１の１次巻線Ｔ1aから２次巻線Ｔ1bへのエネルギーの誘起がなくなるので、負荷４に供給すべき電力をトランスＴ２から単独で供給するようになる。
この結果、動作中のトランスＴ２の発熱温度が徐々に上昇し、トランスＴ２と熱結合されている温度ヒューズＴＦ２の温度が溶断規定温度に達すると、温度ヒューズＴＦ２が溶断され、トランスＴ２の温度上昇に起因して発生する発煙または発火が防止される。
【０００７】
（２）２次巻線の短絡
図４（２）に示すように、スイッチＳＷ１bsを一時的に開放状態で２次巻線Ｔ1bに接続しておき、ＤＣ−ＤＣコンバータが動作中に、トランスＴ１の２次巻線Ｔ1bに並列接続されているスイッチＳＷ１bsを短絡した場合、トランスＴ１の１次巻線Ｔ1aが有するインダクタンス成分Ｌが最小になる。
すなわち、トランスＴ１の１次巻線Ｔ1aから２次巻線Ｔ1bへのエネルギーの誘起がなくなるので、負荷４に供給すべき電力をトランスＴ２から単独で供給するようになる。
この結果、１次巻線の短絡と同様に、動作中のトランスＴ２の発熱温度が徐々に上昇し、トランスＴ２と熱結合されている温度ヒューズＴＦ２の温度が溶断規定温度に達すると、温度ヒューズＴＦ２が溶断され、トランスＴ２の温度上昇に起因して発生する発煙または発火が防止される。
【０００８】
（３）１次巻線の開放
図４（３）に示すように、スイッチＳＷ１aoを一時的に短絡状態で１次巻線Ｔ1aに接続しておき、ＤＣ−ＤＣコンバータが動作中に、トランスＴ１の１次巻線Ｔ1aに直列接続されているスイッチＳＷ１aoを開放した場合、トランスＴ１，Ｔ２の１次巻線Ｔ1a，Ｔ1bに流れる電流が０になり、負荷４への電力供給が停止される。
【０００９】
（４）２次巻線の開放
図４（４）に示すように、スイッチＳＷ１boを一時的に短絡状態で２次巻線Ｔ1bに接続しておき、ＤＣ−ＤＣコンバータが動作中に、トランスＴ１の２次巻線Ｔ1bに直列接続されているスイッチＳＷ１boを開放した場合、負荷４に供給すべき電力をトランスＴ２から単独で供給するようになる。
この結果、動作中のトランスＴ２の発熱温度が徐々に上昇し、トランスＴ２と熱結合されている温度ヒューズＴＦ２の溶断規定温度に達すると、温度ヒューズＴＦ２が溶断され、トランスＴ２の温度上昇に起因して発生する発煙または発火が防止される。
【００１０】
なお、上述したトランスの短絡開放アブノーマル試験の（１）〜（４）はトランスＴ１に対して行ったが、同様の試験項目をトランスＴ２に対して行っても同様の結果が得られることは言うまでもない。
このように、従来のＤＣ−ＤＣコンバータでは、トランスの短絡開放アブノーマル試験の結果、発煙または発火が防止され、ＤＣ−ＤＣコンバータが安全に保護されるという利点を有している。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述したトランスの短絡開放アブノーマル試験（１），（２），（４）では、一方のトランスを用いてスイッチング動作が継続され、さらに、トランスの発熱温度が上昇して一方の温度ヒューズが溶断されるまでスイッチング動作が継続されるので、信頼性の低下にも繋がっていた。また、耐熱性能の良いトランスが必要であり、コストアップの一因になっていた。
また、トランスの個数分だけ温度ヒューズを設ける必要があり、コストアップの一因になっていた。さらに、部品点数が多くなり実装スペースが必要になるので、装置の小型化を妨げていた。
【００１２】
このように、従来のＤＣ−ＤＣコンバータにあっては、トランスの短絡開放アブノーマル試験において、発煙または発火を防止して装置を安全に保護するために、部品点数が増え、その結果、コストアップ、小型化の妨げ、信頼性の低下が生じるといった問題があった。
このため、トランスの短絡開放アブノーマル試験を行った場合にスイッチング動作が停止して装置を安全に保護することができる簡易な回路構成のＤＣ−ＤＣコンバータが切望されていた。
【００１３】
本発明は、上記に鑑みてなされたもので、その目的としては、複数のトランスを用いてＤＣ−ＤＣコンバータを構成した場合に、トランスの短絡開放アブノーマル試験に対してスイッチング動作が停止して装置を安全に保護することができる簡易な回路構成のＤＣ−ＤＣコンバータを提供することにある。
【００１７】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の発明は、上記課題を解決するため、直流電源から入力された直流電圧を別の直流電圧に変換して出力するＤＣ−ＤＣコンバータにおいて、直流電源に直列に接続され過電流を遮断する過電流遮断手段と、前記過電流遮断手段に直列に接続される複数のトランスの１次巻線と、前記複数のトランスの１次巻線に直列に接続されるスイッチング素子と、並列に直接接続される前記複数のトランスの２次巻線と、前記複数のトランスの２次巻線に誘起される電圧を整流平滑する第１の整流平滑回路と、前記第１の整流平滑回路からの電圧と第１の基準電圧との誤差電圧に応じて帰還信号を出力する電圧検出回路と、並列に直接接続される前記複数のトランスの補助巻線と、前記複数のトランスの補助巻線に誘起される電圧を整流平滑する第２の整流平滑回路と、前記第２の整流平滑回路からの電圧が第２の基準電圧よりも過電圧になったときに停止信号を出力する過電圧検出回路と、前記電圧検出回路からの帰還信号に応じて前記スイッチング素子のオン期間を制御するとともに、前記過電圧検出回路からの停止信号に応じて前記スイッチング素子の動作を停止する制御回路とを備え、前記トランスの短絡開放アブノーマル試験として、前記トランスの１次巻線又は２次巻線に対して短絡試験を行った場合には、前記過電流遮断手段が過電流を遮断するように動作し、前記トランスの１次巻線又は２次巻線に対して開放試験を行った場合には、前記スイッチング素子の動作を停止することを要旨とする。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
図１は、本発明の一実施の形態に係るＤＣ−ＤＣコンバータの構成を示す回路図である。なお、図１に示すＤＣ−ＤＣコンバータは、図３に示す従来のＤＣ−ＤＣコンバータの構成と同一または相当部分には同じ符号を付している。
【００１９】
直流電源１には、過電流を遮断するヒューズＦ１（過電流遮断手段）が直列に接続されており、さらに、ヒューズＦ１に直列にトランスＴ１の１次巻線Ｔ1a、トランスＴ２の１次巻線Ｔ2aが順次接続され、トランスＴ2aの１次巻線に直列にスイッチング素子Ｑ１のドレインが接続され、このスイッチング素子のソースが直流電源１に接続されている。
トランスＴ１，Ｔ２の２次巻線Ｔ1b，Ｔ2bは、第１の整流平滑回路３のダイオードＤ１のアノードに並列に共通接続されている。第１の整流平滑回路３には、ダイオードＤ１とコンデンサＣ１が設けらており、トランスＴ１，Ｔ２の２次巻線Ｔ1b，Ｔ2bに誘起される電圧を整流平滑して負荷４に出力する。
【００２０】
第１の整流平滑回路３に設けられたコンデンサＣ１の両端子には、その電圧と基準電圧Ｖref との誤差電圧を検出して帰還信号を制御回路７に出力する電圧検出回路１０が設けられている。
上述したトランスＴ１，Ｔ２には、１次巻線Ｔ1a，Ｔ2aと磁気結合された補助巻線Ｔ1c，Ｔ2cがそれぞれ設けられており、図１に示すように、補助巻線Ｔ1c，Ｔ2cが第２の整流平滑回路５のダイオードＤ３のアノードに並列に共通接続されている。
【００２１】
第２の整流平滑回路３には、ダイオードＤ３とコンデンサＣ２が設けられており、トランスＴ１，Ｔ２の補助巻線Ｔ1c，Ｔ2cに誘起される電圧を整流平滑してＯＶＰ（過電圧検出回路）６および制御回路７に出力する。なお、第２の整流平滑回路３に設けられたコンデンサＣ２の一端は起動抵抗Ｒ１、ヒューズＦ１を介して直流電源に接続されており、直流電源１から直流電圧が加えられた場合に、直流電源１からヒューズＦ１、起動抵抗Ｒ１を介してコンデンサＣ２に電流が流れ始め、コンデンサＣ２の電圧が上昇して制御回路７を起動する。
【００２２】
ＯＶＰ６は、基準電圧を発生するツェナーダイオードを有し、第２の整流平滑回路５に誘起される電圧がツェナーダイオードの基準電圧よりも大きくなると、過電圧が入力されているので停止信号を制御回路７に出力する。
制御回路７は、電圧検出回路１０からの帰還信号に応じてスイッチング素子Ｑ１のオン期間を制御するとともに、ＯＶＰ６からの停止信号に応じてＰＷＭ信号の発振動作を停止してローレベルの信号をスイッチング素子Ｑ１のゲートに出力してスイッチング動作を停止する。
なお、本実施の形態においては、説明を簡略化するため、トランスＴ１，Ｔ２を用いて構成しているが、３つ以上のトランスを用いて構成してもよい。
【００２３】
次に、図１を参照して、本発明の一実施の形態に係るＤＣ−ＤＣコンバータの通常時の動作について説明する。
直流電源１から直流電圧が加えられた場合、直流電源１からヒューズＦ１、起動抵抗Ｒ１を介してコンデンサＣ２に電流が流れ始め、コンデンサＣ２の電圧が徐々に上昇して制御回路７が起動され、制御回路７からＰＷＭ信号がスイッチング素子Ｑ１のゲートに出力される。
【００２４】
この結果、スイッチング素子Ｑ１がオンオフ制御されてトランスＴ１，Ｔ２に設けられた１次巻線Ｔ1a，Ｔ2aから２次巻線Ｔ1b，Ｔ2bに順次にエネルギーが誘起され、２次巻線Ｔ1b，Ｔ2bに誘起されたエネルギーがダイオードＤ１とコンデンサＣ１により整流平滑されて負荷４に出力電圧が供給される。
さらに、コンデンサＣ１の両端に生じる出力電圧を電圧検出回路１０により検出してその誤差電圧に応じて帰還信号を制御回路７に帰還することで、制御回路７は出力電圧が一定になるようにスイッチング素子Ｑ１のオン期間を制御する。
【００２５】
次に、図４に示す４種類の試験項目からなるトランスの短絡開放アブノーマル試験を行なった場合の本発明の一実施の形態に係るＤＣ−ＤＣコンバータの動作について説明する。
【００２６】
（１）１次巻線の短絡
図４（１）に示すように、スイッチＳＷ１asを一時的に開放状態で１次巻線Ｔ1aに接続しておき、ＤＣ−ＤＣコンバータが動作中に、トランスＴ１の１次巻線Ｔ1aに並列接続されているスイッチＳＷ１asを短絡した場合、トランスＴ１の２次巻線Ｔ1bが有するインダクタンス成分Ｌが最小になる。
同時に、トランスＴ１，Ｔ２いずれも２次巻線間が直接に並列接続されているため、トランスＴ２の２次巻線Ｔ2bが有するインダクタンス成分Ｌが最小になる。
【００２７】
さらに、トランスＴ２の２次巻線Ｔ2bが有するインダクタンス成分Ｌが最小になると、同時に、トランスＴ２の１次巻線Ｔ2aが有するインダクタンス成分Ｌが最小になる。
このため、スイッチング素子Ｑ１のドレイン−ソース間には、直流電源１からヒューズＦ１、スイッチＳＷ１as、トランスＴ２の１次巻線Ｔ2aを介して過大な電流が流れてヒューズＦ１が溶断するか、あるいは、スイッチング素子Ｑ１が素子破損すると、さらに、過電流が流れてヒューズＦ１が溶断し、ＤＣ−ＤＣコンバータの動作が停止する。この結果、１次巻線の短絡試験に対して、ＤＣ−ＤＣコンバータによる発煙または発火が防止される。
【００２８】
このように、直流電源に過電流遮断手段を直列接続し、過電流遮断手段に直列に複数のトランスの１次巻線およびスイッチング素子を接続し、複数のトランスの２次巻線を並列に共通接続し、複数のトランスの２次巻線に誘起される電圧を整流平滑回路により整流平滑して直流電圧を出力するように構成しておき、トランスの１次巻線に対して短絡試験を行った場合には、ヒューズが過電流を遮断するように動作するので、ＤＣ−ＤＣコンバータのスイッチング動作が停止して装置を安全に保護することができる。
【００２９】
（２）２次巻線の短絡
図４（２）に示すように、スイッチＳＷ１bsを一時的に開放状態で２次巻線Ｔ1bに接続しておき、ＤＣ−ＤＣコンバータが動作中に、トランスＴ１の２次巻線Ｔ1bに並列接続されているスイッチＳＷ１bsを短絡した場合、トランスＴ１，Ｔ２の２次巻線Ｔ1b，Ｔ2bが有するインダクタンス成分Ｌが最小になる。
同時に、トランスＴ１，Ｔ２いずれも２次巻線間が直接に並列接続されているため、トランスＴ１，Ｔ２の１次巻線Ｔ1a，Ｔ2aが有するインダクタンス成分Ｌが最小になる。
【００３０】
このため、スイッチング素子Ｑ１のドレイン−ソース間には、直流電源１からヒューズＦ１、トランスＴ１，Ｔ２の１次巻線Ｔ1a，Ｔ2aを介して過大な電流が流れてヒューズＦ１が溶断するか、あるいは、スイッチング素子Ｑ１が素子破損すると、さらに、過電流が流れてヒューズＦ１が溶断し、ＤＣ−ＤＣコンバータの動作が停止する。この結果、１次巻線の短絡試験に対して、ＤＣ−ＤＣコンバータによる発煙または発火が防止される。
【００３１】
このように、直流電源に過電流遮断手段を直列接続し、過電流遮断手段に複数のトランスの１次巻線を接続し、複数のトランスの２次巻線を並列に共通接続し、複数のトランスの２次巻線に誘起される電圧を整流平滑回路により整流平滑して直流電圧を出力するように構成しておき、トランスの２次巻線に対して短絡試験を行った場合には、ヒューズが過電流を遮断するように動作するので、ＤＣ−ＤＣコンバータのスイッチング動作が停止して装置を安全に保護することができる。
【００３２】
（３）１次巻線の開放
図４（３）に示すように、スイッチＳＷ１aoを一時的に短絡状態で１次巻線Ｔ1aに接続しておき、ＤＣ−ＤＣコンバータが動作中に、トランスＴ１の１次巻線Ｔ1aに直列接続されているスイッチＳＷ１aoを開放した場合、直流電源１、ヒューズＦ１、トランスＴ１の１次巻線Ｔ1a、トランスＴ２の１次巻線Ｔ2a、スイッチング素子Ｑ１のドレイン、スイッチング素子Ｑ１のソースの順に流れていたオン時の電流ループが切断されるため、スイッチング動作が停止される。従って、トランスの１次巻線に対して、開放試験を行った場合にはスイッチング素子の動作を停止することができ、装置を安全に保護することができる。
【００３３】
（４）２次巻線の開放
図４（４）に示すように、スイッチＳＷ１boを一時的に短絡状態で２次巻線Ｔ1bに接続しておき、ＤＣ−ＤＣコンバータが動作中に、トランスＴ１の２次巻線Ｔ1aに直列接続されているスイッチＳＷ１boを開放した場合、開放した側の１次巻線Ｔ1aに過大なサージ電圧が発生する。このサージ電圧は、図１に示すように、１次巻線Ｔ1aと磁気結合している補助巻線Ｔ1cにも同時に発生する。
そして、補助巻線Ｔ1cにサージ電圧が誘起して過電圧が発生し、ダイオードＤ３を介してコンデンサＣ２を充電してＯＶＰ６の基準電圧よりも高い電圧に到達すると、ＯＶＰ６は停止信号を制御回路７に出力する。この結果、制御回路７はＯＶＰ６からの停止信号に応じてＰＷＭ信号の発振動作を停止してローレベルの信号をスイッチング素子Ｑ１に出力するので、スイッチング素子Ｑ１の動作が停止される。
【００３４】
このように、直流電源に直列に複数のトランスの１次巻線及びスイッチング素子を接続し、並列に複数のトランスの２次巻線を共通接続し、複数のトランスの２次巻線に誘起される電圧を第１の整流平滑回路により整流平滑して出力するように構成しておき、さらに、トランスに設けられ１次巻線と磁気結合された補助巻線に誘起される電圧を第２の整流平滑回路により整流平滑し、この第２の整流平滑回路からの電圧が第２の基準電圧よりも過電圧になったときに過電圧検出回路から停止信号を出力し、この停止信号に応じてスイッチング素子の動作を停止するよう制御回路により制御するので、トランスの２次巻線に対して、開放試験を行った場合にはスイッチング素子の動作を停止することができ、破損部品を発生させることなく電源を停止することができ、装置を安全に保護することができる。
【００３５】
なお、上述したトランスの短絡開放アブノーマル試験の（１）〜（４）はトランスＴ１に対して行ったが、同様の試験をトランスＴ２に対して行っても同様の結果が得られることは言うまでもない。
【００３６】
（第１の変形例）
図２は、本発明の一実施の形態に係るＤＣ−ＤＣコンバータの第１の変形例の構成を示す回路図である。
本変形例の特徴は、図２に示すように、補助巻線Ｔ1cが第２の整流平滑回路５のダイオードＤ４のアノードに直列に接続され、補助巻線Ｔ2cが第２の整流平滑回路５のダイオードＤ３のアノードに直列に接続され、ダイオードＤ３，Ｄ４のカソードが共通接続されていることにある。
【００３７】
この第２の整流平滑回路５からの電圧が第２の基準電圧よりも過電圧になったときにＯＶＰ６（過電圧検出回路）から停止信号を出力し、この停止信号に応じてスイッチング素子Ｑ１の動作を停止するよう制御回路７により制御するので、トランスの２次巻線に対して、開放試験を行った場合にはスイッチング素子の動作を停止することができ、装置を安全に保護することができる。
【００３８】
以上ように、トランスの１次巻線及び２次巻線に対して、トランスの短絡開放アブノーマル試験を行った場合でも、温度ヒューズのような保護回路がなくともＤＣ−ＤＣコンバータのスイッチング動作を停止させることができ、ＤＣ−ＤＣコンバータの小型化およびコスト低減に寄与することができる。
【００４０】
【発明の効果】
請求項１記載の発明によれば、直流電源に直列に過電流遮断手段を接続し、過電流遮断手段に直列に複数のトランスの１次巻線及びスイッチング素子を接続し、複数のトランスの２次巻線を並列に直接接続し、複数のトランスの２次巻線に誘起される電圧を第１の整流平滑回路により整流平滑して直流電圧を出力するように構成しておき、トランスの短絡開放アブノーマル試験として、トランスの１次巻線又は２次巻線に対して短絡試験を行った場合には、過電流遮断手段が過電流を遮断するように動作するので、ＤＣ−ＤＣコンバータのスイッチング素子の動作が停止して装置を安全に保護することができる。
【００４１】
また、直流電源に直列に複数のトランスの１次巻線及びスイッチング素子を接続し、並列に複数のトランスの２次巻線を直接接続し、複数のトランスの２次巻線に誘起される電圧を第１の整流平滑回路により整流平滑して直流電圧を出力するように構成しておき、さらに、複数のトランスに設けられ１次巻線と磁気結合されるとともに並列に直接接続される補助巻線に誘起される電圧を第２の整流平滑回路により整流平滑し、この第２の整流平滑回路からの電圧が第２の基準電圧よりも過電圧になったときに過電圧検出回路から停止信号を出力し、この停止信号に応じてスイッチング素子の動作を停止するよう制御回路により制御するので、トランスの短絡開放アブノーマル試験として、トランスの１次巻線又は２次巻線に対して、開放試験を行った場合にはスイッチング素子の動作を停止することができ、破損部品を発生させることなく装置を安全に保護することができる。
【００４２】
この結果、従来のＤＣ−ＤＣコンバータに設けられた複数の温度ヒューズを削減することができ、かつ、ＤＣ−ＤＣコンバータとして安全サイドに保護できるため、部品コストの低減、装置の小型化、信頼性の向上に寄与することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態に係るＤＣ−ＤＣコンバータの構成を示す回路図である。
【図２】本発明の一実施の形態に係るＤＣ−ＤＣコンバータの第１の変形例の構成を示す回路図である。
【図３】従来のＤＣ−ＤＣコンバータの構成を示す回路図である。
【図４】ＤＣ−ＤＣコンバータに対して、行われるトランスの短絡開放アブノーマル試験の試験項目と試験内容を示す図である。
【符号の説明】
１  直流電源
３  第１の整流平滑回路
４  負荷
５  第２の整流平滑回路
６  ＯＶＰ（過電圧検出回路）
７  制御回路
１０  電圧検出回路
Ｃ１，Ｃ２  コンデンサ
Ｄ１，Ｄ３  ダイオード
Ｆ１  ヒューズ
Ｑ１  スイッチング素子
Ｒ１  起動抵抗
Ｔ１，Ｔ２  トランス
Ｔ1a，Ｔ2a  １次巻線
Ｔ1b，Ｔ2b  ２次巻線
Ｔ1c，Ｔ2c  補助巻線
【図１】
0003987950.tif 000002
【図２】
0003987950.tif 000003
【図３】
0003987950.tif 000004
【図４】
0003987950.tif 000005