(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
パルスパターン発生器と測定装置とからなり、前記パルスパターン発生器に備えられた第１のパルスパターン発生手段によって発生された基準パルスパターン信号を、被測定対象を介して前記測定装置に入力する被測定信号の、ビットエラー、伝達特性及び信号波形を測定する多機能測定システムにおいて、前記測定装置は、誤り検出手段、制御/演算手段及び表示手段を備え、前記誤り検出手段は、前記基準パルスパターン信号に同期したパルスパターンを発生する第２のパルスパターン発生手段と、前記被測定信号をスライスするスレッシュドレベルが可変設定されるスレッシュドレベル可変手段と、前記被測定信号に対応したクロック信号を任意の時間遅延させる遅延時間可変手段と、前記遅延時間可変手段からの遅延したクロック信号が入力されたタイミングで前記スレッシュドレベル可変手段の出力と前記第２のパルスパターン発生手段の出力とを比較するデータ比較手段と、を備え、前記制御/演算手段は、前記データ比較手段からの比較結果に基づいて、前記被測定信号のビットエラーを測定するビットエラー測定手段と、前記データ比較手段からの比較結果に基づいて、任意の時点における前記被測定信号の電圧値を複数個取得し、該取得した複数個の電圧値を時系列に並べることにより前記被測定信号の信号波形を求める信号波形測定手段と、前記求められた信号波形をフーリエ変換することにより前記被測定信号の周波数特性及び位相特性を含む伝達特性を求める伝達特性測定手段と、前記各測定結果を前記表示手段に表示させる表示制御手段と、を備えることを特徴とする多機能測定システム。
【請求項２】
前記パルスパターン発生器及び前記測定装置は、更に、それぞれ記憶手段を備え、前記制御/演算手段は、更に、前記記憶手段間の通信手段を介してデータの送受を管理する通信管理手段を備えていることを特徴とする請求項１に記載の多機能測定システム。
【請求項３】
前記制御/演算手段は、更に、前記遅延時間可変手段の遅延時間を可変することにより前記被測定信号のフレーム同期を取るフレーム同期手段を備え、前記フレーム同期手段によるフレーム同期確立後に、前記各測定が行われることを特徴とする請求項１又は２のいずれか１項に記載の多機能測定システム。
【請求項４】
前記フレーム同期手段は、前記遅延時間可変手段の遅延時間を可変したときの前記被測定信号と前記第２のパルスパターン発生手段からのパルスパターンとを前記データ比較手段によって比較することによりビットエラーの測定を行い、ビットエラーが規定値以内の場合に、フレーム同期がとれていると判断する、ことを特徴とする請求項３に記載の多機能測定システム。
【請求項５】
前記信号波形測定手段は、前記遅延時間可変手段による任意の遅延時間毎に、前記スレッシュドレベル可変手段のスレッシュドレベルを可変したときのビットエラーの値が無から有に変化する時点の電圧を前記電圧値として取得する、ことを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の多機能測定システム。
【請求項６】
前記パルスパターン発生器及び前記測定装置の前記記憶手段には、前記第１のパルスパターン発生手段単独の周波数特性及び位相特性を含む伝達特性が記憶されていることを特徴とする請求項２に記載の多機能測定システム。
【請求項７】
前記請求項１〜６のいずれか１項に記載の多機能測定システムによる被測定信号の波形測定方法であって、前記遅延時間可変手段の遅延時間を可変することにより前記被測定信号のフレーム同期を取るフレーム同期ステップと、前記フレーム同期ステップによるフレーム同期確立後に、前記遅延時間可変手段によって任意に時間を変化させた時点における前記被測定信号の電圧値を複数個取得する電圧値取得ステップと、該取得した複数個の電圧値を時系列に並べる波形取得ステップと、を含むことを特徴とする被測定信号の波形測定方法。
【請求項８】
前記電圧値取得ステップは、前記遅延時間可変手段による任意の遅延時間毎に、前記スレッシュドレベル可変手段のスレッシュドレベルを可変したときのビットエラーの値が無から有に変化する時点の電圧を前記電圧値として取得することを特徴とする請求項７記載の被測定信号の波形測定方法。
【請求項９】
前記フレーム同期ステップは、前記遅延時間可変手段の遅延時間を可変したときの前記被測定信号と前記第２のパルスパターン発生手段からのパルスパターンとを前記データ比較手段によって比較することによりビットエラーの測定を行い、ビットエラーが規定値以内の場合に、フレーム同期がとれていると判断することを特徴とする請求項７又は８のいずれか１項に記載の被測定信号の波形測定方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、デジタル信号の符号誤りの測定に関し、BERT或いはPPG/EDと称される誤り測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図面を用いて従来の誤り測定装置について説明する。図１は従来の誤り測定装置を含む装置の１例の構成を示すブロック図である。図１において、３は被測定対象（DUT）であり、該被測定対象のBER（ビットエラー）、周波数特性や位相測定等の伝達特性、及び被測定対象の出力信号波形を測定する。
【０００３】
この場合、ビットエラー、伝達特性、及び信号波形の測定には、各々、ビットエラーテスター（BERT）、ネットワークアナライザ、及びオシロスコープ等の測定器が必要である。また、図１において、１はパルスパターンジェネレータ（PPG）であり、２はエラーディテクタ（ED）であり、パルスパターンジェネレータと、エラーディテクタとで、ビットエラーテスタ（BERT）が構成されている。
【０００４】
ビットエラーの測定は、パルスパターンジェネレータ１から出力されたパルスパターン信号を被測定対象３に入力し、該被測定対象３からの出力をエラーディテクタ２で受信して、当該被測定対象のビットエラーを測定する。なお、パルスパターンジェネレータ１で発生されたクロックは、エラーディテクタ２に与えられて、ビットエラーの測定のタイミングクロックとして使用される。
【０００５】
ネットワークアナライザの信号発生部４と、ネットワークアナライザの信号受信部５とで、ネットワークアナライザが構成されている。被測定対象の伝達特性の測定時には、ビットエラー測定時に接続された配線を除去して、新たに、被測定対象３の入力として、ネットワークアナライザの信号発生部４を、被測定対象３の出力に、ネットワークアナライザの信号受信部５とを接続して、伝達測定の測定を実施する。なお、ネットワークアナライザの信号発生部４と、ネットワークアナライザの信号受信部５とは、同期して動作する必要がある。図１では、別の構成として示しているが、ネットワークアナライザの信号発生部４と、ネットワークアナライザの信号受信部５とを一体化したネットワークアナライザとして構成しても良い。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
被測定対象３の出力信号波形は、オシロスコープ６によって測定できる。この場合も、ネットワークアナライザの信号受信部５と、被測定対象３の出力との接続を除去して、新たに、オシロスコープ６を接続し直す必要がある。この場合、被測定対象３の入出力部に、分岐（図示せず）或いは信号切り替え装置（図示せず）を具備すれば、接続変更は不要になるが、分岐では信号の損失や劣化が生じ、信号切り替え装置でも、信号劣化が生じる。
【０００７】
更に、ビットエラーテスタ及びネットワークアナライザ及びオシロスコープの３種類の測定器が必要になり、操作性においても煩雑になると共に、その費用も多く掛かるという問題があった。また、例えば、40Gbpsという超高速の信号を扱う場合においては、分岐や信号切り替え装置自身の特性が無視できなくなって、正しいビットエラーの測定の実施ができなないという問題もある。
【０００８】
本発明の課題（目的）は、ビットエラーテスタの機能を有効に利用して、ビットエラーの測定のみではなく、伝達特性、及び信号波形の測定をも可能にした測定システムを提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するために、本発明の多機能測定システムは、パルスパターン発生器と測定装置とからなり、前記パルスパターン発生器に備えられた第１のパルスパターン発生手段によって発生された基準パルスパターン信号を、被測定対象を介して前記測定装置に入力する被測定信号の、ビットエラー、伝達特性及び信号波形を測定する多機能測定システムにおいて、前記測定装置は、誤り検出手段、制御/演算手段及び表示手段を備え、前記誤り検出手段は、前記基準パルスパターン信号に同期したパルスパターンを発生する第２のパルスパターン発生手段と、前記被測定信号をスライスするスレッシュドレベルが可変設定されるスレッシュドレベル可変手段と、前記被測定信号に対応したクロック信号を任意の時間遅延させる遅延時間可変手段と、前記遅延時間可変手段からの遅延したクロック信号が入力されたタイミングで前記スレッシュドレベル可変手段の出力と前記第２のパルスパターン発生手段の出力とを比較するデータ比較手段と、を備え、前記制御/演算手段は、前記データ比較手段からの比較結果に基づいて、前記被測定信号のビットエラーを測定するビットエラー測定手段と、前記データ比較手段からの比較結果に基づいて、任意の時点における前記被測定信号の電圧値を複数個取得し、該取得した複数個の電圧値を時系列に並べることにより前記被測定信号の信号波形を求める信号波形測定手段と、前記求められた信号波形をフーリエ変換することにより前記被測定信号の周波数特性及び位相特性を含む伝達特性を求める伝達特性測定手段と、前記各測定結果を前記表示手段に表示させる表示制御手段と、を備える構成とする。（請求項１）
【００１０】
また、前記パルスパターン発生器及び前記測定装置は、更に、それぞれ記憶手段を備え、前記制御/演算手段は、更に、前記記憶手段間の通信手段を介してデータの送受を管理する通信管理手段を備えている構成とする。（請求項２）
【００１１】
また、前記制御/演算手段は、更に、前記遅延時間可変手段の遅延時間を可変することにより前記被測定信号のフレーム同期を取るフレーム同期手段を備え、前記フレーム同期手段によるフレーム同期確立後に、前記各測定が行われる構成とする。（請求項３）
【００１２】
また、前記フレーム同期手段は、前記遅延時間可変手段の遅延時間を可変したときの前記被測定信号と前記第２のパルスパターン発生手段からのパルスパターンとを前記データ比較手段によって比較することによりビットエラーの測定を行い、ビットエラーが規定値以内の場合に、フレーム同期がとれていると判断する構成とする。（請求項４）また、前記信号波形測定手段は、前記遅延時間可変手段による任意の遅延時間毎に、前記スレッシュドレベル可変手段のスレッシュドレベルを可変したときのビットエラーの値が無から有に変化する時点の電圧を前記電圧値として取得する。（請求項５）
【００１３】
また、前記パルスパターン発生器及び前記測定装置の前記記憶手段には、前記第１のパルスパターン発生手段単独の周波数特性及び位相特性を含む伝達特性を記憶しておく。（請求項６）
【００１４】
また、前記遅延時間可変手段の遅延時間を可変することにより前記被測定信号のフレーム同期を取るフレーム同期ステップと、前記フレーム同期ステップによるフレーム同期確立後に、前記遅延時間可変手段によって任意に時間を変化させた時点における前記被測定信号の電圧値を複数個取得する電圧値取得ステップと、該取得した複数個の電圧値を時系列に並べる波形取得ステップと、で被測定信号の波形測定を実現する。（請求項７）
【００１５】
また、前記電圧値取得ステップは、前記遅延時間可変手段による任意の遅延時間毎に、前記スレッシュドレベル可変手段のスレッシュドレベルを可変したときのビットエラーの値が無から有に変化する時点の電圧を前記電圧値として取得する。（請求項８）また、前記フレーム同期ステップは、前記遅延時間可変手段の遅延時間を可変したときの前記被測定信号と前記第２のパルスパターン発生手段からのパルスパターンとを前記データ比較手段によって比較することによりビットエラーの測定を行い、ビットエラーが規定値以内の場合に、フレーム同期がとれていると判断する。（請求項９）
【００１６】
【発明の実施の態様】
以下、図２及び図３を用いて、本発明のビットエラーテスタの説明を行う。図２は、本発明のビットエラーテスタの実施の態様を示すブロック図である。図２において、７で示すパルスパターンジェネレータ（PPG）は、第１のパルスパターン発生手段９、第１の記録手段１０及び通信手段１１によって構成され、該パルスパターン発生手段９は、図１におけるパルスパターンジェネレータ（PPG）と同一の内容である。
【００１７】
８で示すエラーディテクタ（ED）は、誤り検出手段１２、制御・演算手段１３、第２の記録手段１４、通信手段１５及び表示手段２０から構成される。また、３は被測定対象（DUT）であって、パルスパターンジェネレータ７とエラーディテクタ８の間に接続される。
【００１８】
図３は、図２における誤り検出手段１２の詳細な構成を示すブロック図である。図３において、１６はスレッシュドレベル可変手段、１７はデータ比較手段、１８は第２のパルスパターン発生手段、１９は遅延時間可変手段である。
【００１９】
パルスパターン発生手段９で発生したパルスパターンは、被測定対象３に入力され、その出力は誤り検出手段１２に入力される。ビットエラーの測定は、上記の系で実行され、その測定結果は表示装置２０に表示される。（この動作は、図１におけるビットエラーの測定と同様である。）
【００２０】
次に、図２における被測定対象の波形測定について説明する。被測定対象の波形測定は以下の手順で示す原理で実行される。
ａ，入力信号のフレーム同期を取る。１度同期が取れた後は、フレーム同期が取れなくなっても、誤り検出回路の信号発生は、フレーム同期がとれた位相条件でそのまま動作させる。
ｂ，入力信号の任意時刻において、入力信号のスレッシュドレベルを変化させて、誤り値の変化を求め、誤りが無（０）から有りに変化する閾値をその時刻における電圧値として測定する。
ｃ，前記ｂにおける任意時刻を変化させ、同様の測定を繰り返して、順次変化させた時刻における電圧値の測定を実行する。
ｄ，ｃの電圧値の測定を繰り返して、１フレーム分実行する。
ｅ，ｄで測定した電圧値を時系列に並び替え、１フレーム分の入力信号の波形を求める。任意時刻を時系列に沿って変化させれば、並び替えは不要である。
【００２１】
次にフレーム同期は、ビットエラーの測定時と、波形測定時ではその動作が異なるので、図５のフローチャートを用いて説明する。図５(a)は、ビットエラーの測定時におけるフレーム同期の取り方のアルゴリズムである。
・ビットエラーの測定を開始する。（ステップ２１）
・フレーム同期を取る。（ステップ２２）
・誤り測定（ＢＥＲ測定）を行う。（ステップ２３）
・ステップ２２の測定による誤りが既定値以内か否かの判断をする。（ステップ２４）
・ステップ２４の判断で、誤りが既定値以内（Ｙ）の場合は、誤り測定を繰返し実行する。
・また、ステップ２４の判断で、誤りが既定値以上（Ｎ）の場合は、ステップ２２に戻ってフレーム同期を取る。
【００２２】
図５(b)は、波形測定時におけるフレーム同期の取り方のアルゴリズムである。
・波形測定を開始する。（ステップ２１）
・フレーム同期を取る。（ステップ２２）
・上述のａ〜ｅの手順で波形の取得を実行する。（ステップ２５）
波形測定においては、ビットエラーが如何なる値であっても、フレーム同期の取得（ステップ２２）に戻ることなく、前述のａ〜eの手順における波形の測定を継続して実行する。なお、波形測定時であっても、フレーム同期が取れている状態における、ビットエラーは、ビットエラー測定のビットエラー値として用いることができる。
【００２３】
次に波形測定（取得）のアルゴリズムを、図４のフローチャートを用いて説明する。
・波形測定を開始する。（ステップ２７）
・時刻Tiを任意時刻に設定する。（ステップ２８）
通常は、測定時間軸の最小値に設定する。
・スレッシュドレベルの設定で、スレッシュドレベル（V）を測定レンジ間の１点に設定する。（ステップ２９）
通常は、測定レンジの最低値を初期値とする。
・誤り測定（BER）を実行し、その値を一時的に記憶する。（ステップ３０）
・前回の誤り測定の値と比較して、その値が変化したか否かの判断をする。（ステップ３１）
・ステップ３１の判断で、変化しない(N)場合、スレッシュドレベル（V）を可変（Vi＝Vi+ΔV）させる。（ステップ３２）
そして、ステップ２９〜ステップ３２の処理を繰り返す。
・ステップ３１の判断で、変化した(Y)場合、時刻Tiにおける電圧Vi＝Vとして、測定値Vを時刻Tiにおける電圧値として得る。（ステップ３３）
・次に、Tiの可変範囲、即ち測定時間の最大値を超えたか否かの判断をする。（ステップ３４）
・ステップ３４の判断で、最大値を超えない（N）の場合、時刻Tiを可変（Ti＝Ti＋ΔT）する。（ステップ３５）
そして、ステップ２８〜ステップ３４の処理を繰り返す。
・ステップ３４の判断で、最大値を超えた（Y）の場合、取得した電圧値Viを時系列に沿って並び替え（ステップ３６）、処理を終了する。（ステップ３７）
【００２４】
このようにして、被測定対象の時刻Tiに対応する電圧値Viの関係の取得かでき、即ち波形の取得ができることになる。なお、ステップ３１では、ビットエラー（BER）の変化点に対する判断は、Vに対するビットエラー（BER）をとり、その変化点を、ビットエラー（BER）をVで微分して求めても良い。
【００２５】
次に本発明における信号（データ）流れを図３を用いて説明する。図３において、スレッシュドレベル可変手段１６には、被測定対象３からの入力信号、及び制御/演算手段１３からスレッシュドレベルを設定する直流電圧（V）が入力される。スレッシュドレベル可変手段１６は、被測定対象からの入力信号電圧とスレッシュドレベルを設定する直流電圧（V）とを比較し、直流電圧（V）よりも入力信号電圧が高い場合には１を、直流電圧（V）よりも入力信号電圧が低い場合には０の論理信号を、データ比較手段１７に出力する。
【００２６】
遅延時間可変手段１９によって遅延されたクロック信号は、データ比較手段１７及び第２のパルスパターン発生手段１８に入力される。第２のパルスパターン発生手段１８では、第１のパルスパターン発生手段９と同一のパルスパターンを発生する。そして、その位相は、フレーム同期を取ることによって、誤り検出手段１２（即ち、スレッシュドレベル可変手段１６）の入力信号と同位相になる。
【００２７】
データ比較手段１７は、スレッシュドレベル可変手段１６の出力信号と、第２のパルスパターン発生手段１８の出力信号とを、遅延時間可変手段１９からの遅延されたクロック信号が入力された時刻で比較し、両信号が一致しているか否かの判断を実行し、その結果を第２のパルスパターン発生手段１８及び制御/演算手段１３に出力する。制御/演算手段１３は、スレッシュドレベル可変手段１６のスレッシュドレベル電圧（V）の設定を行うと共に、遅延時間可変手段１９の遅延時間の設定等の制御を実行する。
【００２８】
次に、本発明におけるスレッシュドレベル電圧（Vi）の取得における動作を図７の波形図を用いて説明する。図７において、クロック信号３８は、入力信号とフレーム同期が取れているものとし、フレームの最初を０（T=0）としている。また、被測定対象３からの入力信号であるパルスパターン信号３９は、スレッシュドレベル電圧とスレッシュドレベル可変手段で比較される。
【００２９】
そして、スレッシュドレベル可変手段の比較出力は、パルスパターン信号３９を、スレッシュドレベル電圧でスライスした４０で示す如きデジタル信号（２値信号）となる。第２のパルスパターン発生手段１８の出力パルスパターンは、例えば、４１で示すような期待値となっている。
【００３０】
遅延時間可変手段１９の遅延出力がTiの場合、データ比較手段１７は、遅延時間Tiにおける４０（パルスパターン信号３９を、スレッシュドレベル電圧でスライスした信号）と、４１（第２のパルスパターン発生手段１８の出力パルスパターン（期待値））とを比較して、エラーであるか否か（両者の信号が一致しているか否か）を制御/演算手段１３に出力する。
【００３１】
制御/演算手段１３は、スレッシュドレベル電圧（Vi）を可変して、例えば図８に示すような誤り率が大きく変化する点(V=Vi)を求める。この例では、スレッシュドレベル電圧（V）が入力信号より高い時にエラーになり、低い時にはエラーが無い、或いは少なくなっている。このようにして、エラー或いはエラー率の変化点のスレッシュドレベル電圧（Vi）が、入力信号パターンのTi時刻に対応した電圧として求まる。
【００３２】
制御/演算手段１３は、クロック信号の１周期の範囲、図７のｔの期間の波形を求めるために、遅延時間可変手段１９によって、Ti点（遅延時間）を可変させて入力信号波形を求める。この動作を遅延時間（Ti）を変化させて、繰り返し実行することによって、クロック信号３８の１周期の入力信号波形４２を求めることができる。また、このクロック信号の１周期の動作を繰り返しことによって、任意の区間の入力信号波形４２を求めることができる。そして、求めた入力信号波形を表示手段２０に送信して表示する。これは、従来のオシロスコープ等で入力信号波形を測定するのと同様の機能である。
【００３３】
また、入力信号波形をビットレートの周期の整数倍毎に分割して、それらを重ね合わせた波形を表示するようにしても良い。これは、アイパターンと称される波形である。また、これらの波形をBER値と同時に表示手段上に表示しても良い。
【００３４】
次に被測定対象（DUT）の伝達特性測定について説明する。先ず、第1のパルスパターン発生手段９の出力を、誤り検出手段１２と接続して、パルスパターンの１フレーム分の波形を上記手順で求める。次に、制御/演手段１３によって、算求めた波形をフーリエ変換して、周波数特性（成分）及び位相特性（成分）を求める。なお、波形からフーリエ変換によって、周波数特性及び位相特性を求める処理は公知の方法によって実行される。
【００３５】
上述の処理で求められた波形の周波数特性の例を図６に示す。図６の例では、第１のパルスパターン発生手段９から出力されるパルスパターンとして、M系列信号（擬似ランダムパターン）を用いた例である。そして、求められた波形の周波数特性、位相特性を第２の記録手段１４に記録する。
【００３６】
次に、第１のパルスパターン発生手段９のビットレートを変更して、上述の手順と同様に、周波数特性及び位相特性を求めて、第２の記録装置１４に記録する。このように、複数のビットレートでの周波数特性及び位相特性の測定を実行して、その値を第２の記録装置１４に記録する。これは、図６の周波数特性の例から明らかなように、特定の周波数での値が０になるからであり、ビットレートを変更すると、値が０になる位置（周波数）が変化するので、総合的にみて、０の点を無くすためである。第２の記録手段１４に記録された周波数特性及び位相特性は、通信手段１５，１１を経由してパルスパターン測定器（PPG）７内の第１の記録手段１０に記録される。
【００３７】
この第１のパルスパターン発生手段９の周波数特性及び位相特性を測定する動作は、１回目のみで良く、２回目からはこの手順は省略できる。その場合には、第１の記録手段１０に記録された周波数特性及び位相特性を、通信手段１１，１５を経由してエラーディテクタ（ED）８内の第２の記録手段１４に記録する。
【００３８】
次に測定したい被測定対象（DUT）３を、第1のパルスパターン発生手段９の出力と、誤り検出手段１２との間に接続する。この接続状態は、前述のビットエラー（BER）の測定及び波形測定の場合と同じであるので、第１のパルスパターン発生手段９の周波数特性及び位相特性を測定しておけば、接続変更は不要である。
【００３９】
被測定対象３の周波数特性及び位相特性の測定は、被測定対象３を接続した状態で前述と同様の手順で周波数特性及び位相特性の測定を実行して、その測定値と第１の記録手段に記録されている第１のパルスパターン発生手段９の周波数特性及び位相特性との差分を求める。この両者の差分が、求める被測定対象３の周波数特性及び位相特性になり、従来のネットワークアナライザで測定して場合と、同様の測定結果が得られる。
【００４０】
この周波数特性及び位相特性の測定結果を、表示手段２０に表示する。また、この周波数特性及び位相特性をビットエラーの測定結果及び波形測定の測定結果と同時に表示手段上に表示しても良い。また、表示動作を繰り返して、表示内容を変更しても良い。
【００４１】
【発明の効果】
請求項１に記載の発明では、パルスパターン発生器と測定装置とからなり、前記パルスパターン発生器に備えられた第１のパルスパターン発生手段によって発生された基準パルスパターン信号を、被測定対象を介して前記測定装置に入力する被測定信号の、ビットエラー、伝達特性及び信号波形を測定する多機能測定システムにおいて、前記測定装置は、誤り検出手段、制御/演算手段及び表示手段を備え、前記誤り検出手段は、前記基準パルスパターン信号に同期したパルスパターンを発生する第２のパルスパターン発生手段と、前記被測定信号をスライスするスレッシュドレベルを可変設定するスレッシュドレベル可変手段と、前記被測定信号に対応したクロック信号を任意の時間遅延させる遅延時間可変手段と、前記遅延時間可変手段からの遅延したクロック信号が入力されたタイミングで前記スレッシュドレベル可変手段の出力と前記第２のパルスパターン発生手段の出力とを比較するデータ比較手段と、を備え、前記制御/演算手段は、前記データ比較手段からの比較結果に基づいて、ビットエラーの測定を行うビットエラー測定手段と、前記データ比較手段からの比較結果に基づいて、任意の時点における前記被測定信号の電圧値を複数個取得し、該取得した複数個の電圧値を時系列に並べることにより前記被測定信号の信号波形を求める信号波形測定手段と、前記求められた信号波形をフーリエ変換することにより前記被測定信号の周波数特性及び位相特性を含む伝達特性を求める伝達特性測定手段と、前記各測定結果を前記表示手段に表示させる表示制御手段と、を備える構成とすることにより、基本的なビットエラーの測定系で、被測定対象の周波数特性及び位相特性等の伝送特性や波形の測定も可能である。
【００４２】
また、請求項２に記載の発明では、前記パルスパターン発生器及び前記測定装置は、更に、それぞれ記憶手段を備え、前記制御/演算手段は、更に、前記記憶手段間の通信手段を介してデータの送受を管理する通信管理手段を備えている構成とするので、遠隔地に第1のパルスパターン発生手段と測定装置が配置された場合にも相互にデータの利用が容易にできる。
【００４３】
また、請求項３に記載の発明では、前記制御/演算手段は、更に、前記遅延時間可変手段の遅延時間を可変することにより前記被測定信号のフレーム同期を取るフレーム同期手段を備え、前記フレーム同期手段によるフレーム同期確立後に、前記各測定が行われる構成とするので、測定の信頼性を向上することが期待できる。
【００４４】
また、請求項４に記載の発明では、前記フレーム同期手段は、前記遅延時間可変手段の遅延時間を可変したときの前記被測定信号と前記第２のパルスパターン発生手段からのパルスパターンとを前記データ比較手段によって比較することによりビットエラーの測定を行い、ビットエラーが規定値以内の場合に、フレーム同期がとれていると判断する構成とするので、測定装置に含まれる要素を有効に用いてフレーム同期が取れる。また、請求項５に記載の発明では、前記信号波形測定手段は、前記遅延時間可変手段による任意の遅延時間毎に、前記スレッシュドレベル可変手段のスレッシュドレベルを可変したときのビットエラーの値が無から有に変化する時点の電圧を前記電圧値として取得するので、測定装置に含まれる要素を有効に利用して電圧値を取得できる。
【００４５】
また、請求項６に記載の発明では、前記パルスパターン発生器及び前記測定装置の前記記憶手段には、前記第１のパルスパターン発生手段単独の周波数特性及び位相特性を含む伝達特性を記憶しておくことによって、第１のパルスパターン発生手段単独の周波数特性及び位相特性を何度も測定する必要がなくなる。
【００４６】
また、請求項７に記載の発明では、前記遅延時間可変手段の遅延時間を可変することにより前記被測定信号のフレーム同期を取るフレーム同期ステップと、前記フレーム同期ステップによるフレーム同期確立後に、前記遅延時間可変手段によって任意に時間を変化させた時点における前記被測定信号の電圧値を複数個取得する電圧値取得ステップと、該取得した複数個の電圧値を時系列に並べる波形取得ステップと、で被測定信号の波形測定を実現できる。
【００４７】
また、請求項８に記載の発明では、前記電圧値取得ステップは、前記遅延時間可変手段による任意の遅延時間毎に、前記スレッシュドレベル可変手段のスレッシュドレベルを可変したときのビットエラーの値が無から有に変化する時点の電圧を前記電圧値として取得するので、ビットエラーの測定装置を有効に利用した電圧値の取得が可能になる。また、請求項９に記載の発明では、前記フレーム同期ステップは、前記遅延時間可変手段の遅延時間を可変したときの前記被測定信号と前記第２のパルスパターン発生手段からのパルスパターンとを前記データ比較手段によって比較することによりビットエラーの測定を行い、ビットエラーが規定値以内の場合に、フレーム同期がとれていると判断するので、測定装置に含まれるビットエラー測定機能を有効に利用したフレームの同期が可能になる。
【００４８】
上述の如く、本発明では、ビットエラーの測定のみでなく、被測定対象の周波数特性及び位相特性等の伝送特性や波形の測定も可能である。したがって、従来では必要であった、オシロスコープやネットワークアナライザが不要になる。また、周波数特性及び位相特性等の伝送特性、ビットエラーの測定結果及び波形測定の測定結果と同時に表示手段上に表示できる。また、波形の測定及び伝送特性の測定に際して、接続変更が不要になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来の周波数特性及び位相特性等の伝送特性、ビットエラーの測定及び波形測定を実行するシステムの接続構成を示す図である。
【図２】本発明の周波数特性及び位相特性等の伝送特性、ビットエラーの測定及び波形測定を実行する装置の構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の誤り検出手段の構成を示すブロック図である。
【図４】本発明での波形取得の手順を説明するフローチャートである。
【図５】本発明でのフレーム同期をとる手順を説明するフローチャートである。
【図６】周波数特性の例を示す図である。
【図７】本発明でのスレッシュドレベル電圧の取得を説明する波形図である。
【図８】スレッシュドレベル電圧と誤り率との関係を示す図である。
【符号の説明】
３ 被測定対象（DUT）
１，７ パルスパターン発生装置
２，８ エラーディテクタ（ED）
９ 第１のパルスパターン発生手段
１０ 第１の記録手段
１１、１５ 通信手段
１２ 誤り検出手段
１３ 制御/演算手段
１４ 第２の記録手段
２０ 表示手段
【図１】
0003900266.tif 000002
【図２】
0003900266.tif 000003
【図３】
0003900266.tif 000004
【図４】
0003900266.tif 000005
【図５】
0003900266.tif 000006
【図６】
0003900266.tif 000007
【図７】
0003900266.tif 000008
【図８】
0003900266.tif 000009