(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルを分析するスペクトル分析装置において、
前記電子機器の電磁界測定をおこなった結果として得られる周波数に対応するスペクトルデータを入力するスペクトルデータ入力手段と、
前記スペクトルデータ入力手段により入力されたスペクトルデータから、周辺の周波数に対して突出した量のスペクトルを有するスペクトルピーク周波数を抽出するスペクトルピーク周波数抽出手段と、
前記スペクトルピーク周波数抽出手段により抽出されたスペクトルピーク周波数が前記複数のクロック周波数のうちのどの発生源のクロック周波数に対応するかを解析するスペクトルピーク周波数解析手段と、
を備え、
前記スペクトルピーク周波数解析手段は、前記スペクトルピーク周波数抽出手段により抽出されたスペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかを、前記各スペクトルピーク周波数を前記各クロック周波数で除算し、除算の結果が整数値になるクロック周波数の発生源を特定し、前記スペクトルピーク周波数におけるスペクトルは前記特定した発生源から出されたものと解析することを特徴とするスペクトル分析装置。
【請求項２】
さらに、表示画面を有する表示手段と、
前記表示手段を制御して、前記スペクトルピーク周波数解析手段により解析された結果を前記表示画面に表示する表示制御手段と、
を備えたことを特徴とする請求項１に記載のスペクトル分析装置。
【請求項３】
前記表示制御手段は、前記表示手段を制御して、前記スペクトルピーク周波数解析手段により解析された前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量を表示することを特徴とする請求項２に記載のスペクトル分析装置。
【請求項４】
前記スペクトルピーク周波数解析手段により解析された前記スペクトルピーク周波数に対するスペクトル量を前記発生源ごとに累積する累積手段を備え、
前記表示制御手段は、前記表示手段を制御して、前記累積手段により累積された累積スペクトル量を表示することを特徴とする請求項２または３に記載のスペクトル分析装置。
【請求項５】
前記スペクトルピーク周波数解析手段により解析された結果をすでに解析された別の解析結果と比較する比較手段を備え、
前記表示制御手段は、前記表示手段を制御して、前記比較手段により比較された解析結果を表示することを特徴とする請求項２〜４のいずれか一つに記載のスペクトル分析装置。
【請求項６】
前記比較手段は、前記すでに解析された別の解析結果のうち、前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量または／および前記累積スペクトル量の差分を算出し、
前記表示制御手段は、前記表示手段を制御して、前記比較手段により算出された前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量または／および前記累積スペクトル量の差分を表示することを特徴とする請求項５に記載のスペクトル分析装置。
【請求項７】
複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルを分析するスペクトル分析方法において、
前記電子機器の電磁界測定をおこなった結果として得られる周波数に対応するスペクトルデータを入力するスペクトルデータ入力工程と、
前記スペクトルデータ入力工程により入力されたスペクトルデータから、周辺の周波数に対して突出した量のスペクトルを有するスペクトルピーク周波数を抽出するスペクトルピーク周波数抽出工程と、
前記スペクトルピーク周波数抽出工程により抽出されたスペクトルピーク周波数が前記複数のクロック周波数のうちのどの発生源のクロック周波数に対応するかを解析するスペクトルピーク周波数解析工程と、
を含み、
前記スペクトルピーク周波数解析工程は、前記スペクトルピーク周波数抽出工程により抽出されたスペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかを、前記各スペクトルピーク周波数を前記各クロック周波数で除算し、除算の結果が整数値になるクロック周波数の発生源を特定し、前記スペクトルピーク周波数におけるスペクトルは前記特定した発生源から出されたものと解析することを特徴とするスペクトル分析方法。
【請求項８】
さらに、前記スペクトルピーク周波数解析工程により解析された結果を表示する表示工程を含んだことを特徴とする請求項７に記載のスペクトル分析方法。
【請求項９】
前記表示工程は、前記スペクトルピーク周波数解析工程により解析された前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量を表示することを特徴とする請求項８に記載のスペクトル分析方法。
【請求項１０】
前記スペクトルピーク周波数解析工程により解析された前記スペクトルピーク周波数に対するスペクトル量を前記発生源ごとに累積する累積工程を含み、
前記表示工程は、前記累積工程により累積された累積スペクトル量を表示することを特徴とする請求項８または９に記載のスペクトル分析方法。
【請求項１１】
前記スペクトルピーク周波数解析工程により解析された結果をすでに解析された別の解析結果と比較する比較工程を含み、
前記表示工程は、前記比較工程により比較された解析結果を表示することを特徴とする請求項８〜１０のいずれか一つに記載のスペクトル分析方法。
【請求項１２】
前記比較工程は、前記すでに解析された別の解析結果のうち、前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量または／および前記累積スペクトル量の差分を算出し、
前記表示工程は、前記比較工程により算出された前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量または／および前記累積スペクトル量の差分を表示することを特徴とする請求項１１に記載のスペクトル分析方法。
【請求項１３】
前記請求項７〜１２のいずれか一つに記載された方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルを分析するスペクトル分析装置、スペクトル分析方法、およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、電子機器から発せられる電磁波（不要輻射スペクトル）による機器の誤動作等の悪影響を回避する必要があるため、電子機器を設計する際には、この電磁波をいかに抑制するかが問題となる。そこで、この電磁波を抑制する対策をとるために、電子機器の中における上記電磁波を発している発生源を正確に分析・把握する必要がある。
【０００３】
このように、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器の不要輻射スペクトルを分析する場合には、電波暗室において対象となる電子機器の電磁波を測定し、垂直偏波スペクトルと水平偏波スペクトルに分けて表示をしていた。そして、表示された偏波スペクトルのうち、問題となるスペクトルのピーク部分に着目して、各発生源のクロック周波数と比較することで、問題となるピーク部分に関連のある発生源を問題がある発生源として特定していた。
【０００４】
【発明が解消しようとする課題】
しかしながら、従来の分析方法にあっては、計算量が膨大である等の理由から、問題となるスペクトルのピークを一度に一つずつしか対象とすることができず、全体に渡る分析を一度におこなうことが困難であり、結果として全体としての対策をとることができないため、目測と試行錯誤的な実験に頼らざるを得ず、電子機器が発する電磁波を抑制する対策を効率よくかつ的確にとることができないという問題点があった。
【０００５】
この発明は、上述した従来例による問題点を解消するため、効率的な電磁波（不要輻射スペクトル）抑制対策等のための、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペクトル分析装置、スペクトル分析方法、およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上述した課題を解決し、目的を達成するため、この発明に係るスペクトル分析装置は、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルを分析するスペクトル分析装置において、前記電子機器の電磁界測定をおこなった結果として得られる周波数に対応するスペクトルデータを入力するスペクトルデータ入力手段と、前記スペクトルデータ入力手段により入力されたスペクトルデータから、周辺の周波数に対して突出した量のスペクトルを有するスペクトルピーク周波数を抽出するスペクトルピーク周波数抽出手段と、前記スペクトルピーク周波数抽出手段により抽出されたスペクトルピーク周波数が前記複数のクロック周波数のうちのどの発生源のクロック周波数に対応するかを解析するスペクトルピーク周波数解析手段と、を備えたことを特徴とする。
【０００７】
この発明によれば、スペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかをスペクトルピーク周波数ごとに効率よく解析することができる。
【０００８】
また、この発明に係るスペクトル分析装置は、上記発明において、前記スペクトルピーク周波数解析手段が、前記スペクトルピーク周波数抽出手段により抽出されたスペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかを、前記各スペクトルピーク周波数を前記各クロック周波数で除算することにより解析することを特徴とする。
【０００９】
この発明によれば、スペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかを簡易な方法で高速に解析することができる。
【００１０】
また、この発明に係るスペクトル分析装置は、上記発明において、前記スペクトルピーク周波数解析手段が、前記各スペクトルピーク周波数を前記各クロック周波数で除算し、除算の結果が整数値になるクロック周波数の発生源を特定し、前記スペクトルピーク周波数におけるスペクトルは前記特定した発生源から出されたものと解析することを特徴とする。
【００１１】
この発明によれば、スペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかを簡易な方法で正確に解析することができる。
【００１２】
また、この発明に係るスペクトル分析装置は、上記発明において、さらに、表示画面を有する表示手段と、前記表示手段を制御して、前記スペクトルピーク周波数解析手段により解析された結果を前記表示画面に表示する表示制御手段と、を備えたことを特徴とする。
【００１３】
この発明によれば、発生源ごとにスペクトル周波数全体に渡る解析結果を的確に把握することができる。
【００１４】
また、この発明に係るスペクトル分析装置は、上記発明において、前記表示制御手段が、前記表示手段を制御して、前記スペクトルピーク周波数解析手段により解析された前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量を表示することを特徴とする。
【００１５】
この発明によれば、すべての発生源の周波数に対するスペクトル量を同時に見ることができ、問題となる発生源の特定を容易にかつ迅速におこなうことができる。
【００１６】
また、この発明に係るスペクトル分析装置は、上記発明において、前記スペクトルピーク周波数解析手段により解析された前記スペクトルピーク周波数に対するスペクトル量を前記発生源ごとに累積する累積手段を備え、前記表示制御手段が、前記表示手段を制御して、前記累積手段により累積された累積スペクトル量を表示することを特徴とする。
【００１７】
この発明によれば、スペクトルを多く放射している発生源を容易に認識することができる。
【００１８】
また、この発明に係るスペクトル分析装置は、上記発明において、前記スペクトルピーク周波数解析手段により解析された結果をすでに解析された別の解析結果と比較する比較手段を備え、前記表示制御手段が、前記表示手段を制御して、前記比較手段により比較された解析結果を表示することを特徴とする。
【００１９】
この発明によれば、別の解析結果との比較においてスペクトルピーク周波数ごとのスペクトル量がどのくらい変化したかを容易に認識することができる。
【００２０】
また、この発明に係るスペクトル分析装置は、上記発明において、前記比較手段が、前記すでに解析された別の解析結果のうち、前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量または／および前記累積スペクトル量の差分を算出し、前記表示制御手段が、前記表示手段を制御して、前記比較手段により算出された前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量または／および前記累積スペクトル量の差分を表示することを特徴とする。
【００２１】
この発明によれば、別の解析結果との比較において発生源ごとのスペクトル量がどのくらい変化したかを容易に認識することができる。
【００２２】
また、この発明に係るスペクトル分析方法は、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルを分析するスペクトル分析方法において、前記電子機器の電磁界測定をおこなった結果として得られる周波数に対応するスペクトルデータを入力するスペクトルデータ入力工程と、前記スペクトルデータ入力工程により入力されたスペクトルデータから、周辺の周波数に対して突出した量のスペクトルを有するスペクトルピーク周波数を抽出するスペクトルピーク周波数抽出工程と、前記スペクトルピーク周波数抽出工程により抽出されたスペクトルピーク周波数が前記複数のクロック周波数のうちのどの発生源のクロック周波数に対応するかを解析するスペクトルピーク周波数解析工程と、を含んだことを特徴とする。
【００２３】
この発明によれば、スペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかをスペクトルピーク周波数ごとに効率よく解析することができる。
【００２４】
また、この発明に係るスペクトル分析方法は、上記発明において、前記スペクトルピーク周波数解析工程が、前記スペクトルピーク周波数抽出工程により抽出されたスペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかを、前記各スペクトルピーク周波数を前記各クロック周波数で除算することにより解析することを特徴とする。
【００２５】
この発明によれば、スペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかを簡易な方法で高速に解析することができる。
【００２６】
また、この発明に係るスペクトル分析方法は、上記発明において、前記スペクトルピーク周波数解析工程が、前記各スペクトルピーク周波数を前記各クロック周波数で除算し、除算の結果が整数値になるクロック周波数の発生源を特定し、前記スペクトルピーク周波数におけるスペクトルは前記特定した発生源から出されたものと解析することを特徴とする。
【００２７】
この発明によれば、スペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかを簡易な方法で正確に解析することができる。
【００２８】
また、この発明に係るスペクトル分析方法は、上記発明において、さらに、前記スペクトルピーク周波数解析工程により解析された結果を表示する表示工程を含んだことを特徴とする。
【００２９】
この発明によれば、発生源ごとにスペクトル周波数全体に渡る解析結果を的確に把握することができる。
【００３０】
また、この発明に係るスペクトル分析方法は、上記発明において、前記表示工程が、前記スペクトルピーク周波数解析工程により解析された前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量を表示することを特徴とする。
【００３１】
この発明によれば、すべての発生源の周波数に対するスペクトル量を同時に見ることができ、問題となる発生源の特定を容易にかつ迅速におこなうことができる。
【００３２】
また、この発明に係るスペクトル分析方法は、上記発明において、前記スペクトルピーク周波数解析工程により解析された前記スペクトルピーク周波数に対するスペクトル量を前記発生源ごとに累積する累積工程を含み、前記表示工程が、前記累積工程により累積された累積スペクトル量を表示することを特徴とする。
【００３３】
この発明によれば、スペクトルを多く放射している発生源を容易に認識することができる。
【００３４】
また、この発明に係るスペクトル分析方法は、上記発明において、前記スペクトルピーク周波数解析工程により解析された結果をすでに解析された別の解析結果と比較する比較工程を含み、前記表示工程が、前記比較工程により比較された解析結果を表示することを特徴とする。
【００３５】
この発明によれば、別の解析結果との比較においてスペクトルピーク周波数ごとのスペクトル量がどのくらい変化したかを容易に認識することができる。
【００３６】
また、この発明に係るスペクトル分析方法は、上記発明において、前記比較工程が、前記すでに解析された別の解析結果のうち、前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量または／および前記累積スペクトル量の差分を算出し、前記表示工程が、前記比較工程により算出された前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量または／および前記累積スペクトル量の差分を表示することを特徴とする。
【００３７】
この発明によれば、別の解析結果との比較において発生源ごとのスペクトル量がどのくらい変化したかを容易に認識することができる。
【００３８】
また、この発明に係る記憶媒体は、上記に記載された方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したことで、そのプログラムを機械読み取り可能となり、これによって、上記の動作をコンピュータによって実現することが可能である。
【００３９】
【発明の実施の形態】
以下に添付図面を参照して、この発明に係るスペクトル分析装置、スペクトル分析方法、およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体の好適な実施の形態について詳細に説明する。
【００４０】
〔実施の形態１〕
（スペクトル分析装置の概要）
実施の形態１によるスペクトル分析装置は、電波暗室や実験室で測定された電子機器の不要輻射スペクトル測定結果を上記装置が処理できるようなコンピュータ処理可能なデータ形式に変換し、自動的に分析を加え、分析結果の報告書を自動的に作成するソフトウエア群より構成されている。
【００４１】
この装置によって分析結果報告書作成を自動化することにより、設計者の負担を軽減し、従来目測と試行錯誤的な実験に頼っていた部分を定量的に把握できるようになり、実験結果に対する正確な把握が可能となることにより、対策のトレードオフ現象の把握は最小限（コストミニマム）の対策の選択がやりやすくなるばかりでなく、一定の書式で作成された分析データを蓄積・分類することにより共通した問題点の抽出をおこなえば、予防策をあらかじめ用意することも可能にする取り組むへの展望を開くことができる。
【００４２】
（ハードウエア構成）
まず、この発明の実施の形態１によるスペクトル分析装置のハードウエア構成について説明する。図１は、実施の形態１によるスペクトル分析装置のハードウエア構成を示すブロック図である。
【００４３】
図１において、１０１はスペクトル分析装置全体を制御するＣＰＵを、１０２はブートプログラム等を記憶したＲＯＭを、１０３はＣＰＵ１０１のワークエリアとして使用されるＲＡＭを、１０４はＣＰＵ１０１の制御にしたがってＨＤ（ハードディスク）１０５に対するデータのリード／ライトを制御するＨＤＤ（ハードディスクドライブ）を、１０５はＨＤＤ１０４の制御で書き込まれたデータを記憶するＨＤをそれぞれ示している。
【００４４】
また、１０６はＣＰＵ１０１の制御にしたがってＦＤ（フロッピーディスク）１０７に対するデータのリード／ライトを制御するＦＤＤ（フロッピーディスクドライブ）を、１０７はＦＤＤ１０６の制御で書き込まれたデータを記憶する着脱自在な記憶媒体の一例としてのＦＤを、１０８はドキュメント、表やグラフを含む画像、機能情報等を表示するディスプレイをそれぞれ示している。
【００４５】
また、１０９は通信回線１１０を介してネットワークに接続され、そのネットワークＮＥＴと内部のインターフェイスを司るインターフェイス（Ｉ／Ｆ）を、１１１は文字、数値、各種指示等の入力のためのキーを備えたキーボードを、１１２はカーソルの移動や範囲選択、あるいは表示画面に表示されたアイコンやボタンの押下やウインドウの移動やサイズの変更等をおこなうマウスをそれぞれ示している。
【００４６】
また、１１３はＯＣＲ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｈａｒａｃｔｅｒ  Ｒｅａｄｅｒ）機能を備えた画像を光学的に読み取るスキャナを、１１４は検索結果その他表示画面に表示されたデータの内容等を印刷するプリンタを、１１５は上記各部を結合するためのバスをそれぞれ示している。
【００４７】
また、ＨＤ１０５には後述するスペクトル分析ソフトウエア、データ変換ソフトウエア、表計算ソフトウエア、インターネット等のネットワークへの接続ソフトウエア等のアプリケーションソフトウエアや、動的書式マクロプログラム等のマクロプログラムが記憶されているようにしてもよい。
【００４８】
（機能的構成）
つぎに、実施の形態１によるスペクトル分析装置の機能的構成について説明する。図２は、実施の形態１によるスペクトル分析装置の構成を機能的に示すブロック図である。
【００４９】
図２のブロック図において、スペクトル分析装置は、スペクトルデータ入力部２０１と、スペクトルピーク周波数抽出部２０２と、スペクトルピーク周波数解析部２０３と、表示制御部２０４と、表示部２０５と、累積部２０６とを含む構成である。
【００５０】
スペクトル入力部２０１は、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器の電磁界測定をおこなった結果得られる周波数に対応するスペクトルデータを入力する。スペクトルデータの入力は、たとえば、スペクトルデータが記憶されたＦＤ１０５をＦＤＤ１０６で読み取ることにより入力することができる。また、ネットワークＮＥＴを介してＩ／Ｆ１０９によりスペクトルデータを入力するようにしてもよい。
【００５１】
スペクトルピーク周波数抽出部２０２は、スペクトルデータ入力部２０１により入力されたスペクトルデータから、周辺の周波数に対して突出した量のスペクトルを有するスペクトルピーク周波数を抽出する。スペクトルピーク周波数の抽出処理の具体的内容については後述する。
【００５２】
スペクトルピーク周波数解析部２０３は、スペクトルピーク周波数抽出部２０２により抽出されたスペクトルピーク周波数が前記複数のクロック周波数のうちのどの発生源のクロック周波数に対応するかを解析する。
【００５３】
また、スペクトルピーク周波数解析部２０３は、スペクトルピーク周波数抽出部２０２により抽出されたスペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかを、各スペクトルピーク周波数を各クロック周波数で除算することにより解析する。
【００５４】
また、スペクトルピーク周波数解析部２０３は、各スペクトルピーク周波数を各クロック周波数で除算し、除算の結果が整数値になるクロック周波数の発生源を特定し、前記スペクトルピーク周波数におけるスペクトルは前記特定した発生源から出されたものと解析する。
【００５５】
表示制御部２０４は、表示画面を有する表示部２０５を制御して、スペクトルピーク周波数解析部２０３により解析された結果を前記表示画面に表示する。また、表示制御部２０４は、表示部２０５を制御して、スペクトルピーク周波数解析部２０３により解析された発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量を表示する。
【００５６】
累積部２０６は、スペクトルピーク周波数解析部２０３により解析されたスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量を発生源ごとに累積する。その際、表示制御部２０４は、表示部２０５を制御して、累積部２０６により累積された累積スペクトル量を表示する。
【００５７】
なお、スペクトルデータ入力部２０１、スペクトルピーク周波数抽出部２０２、スペクトルピーク周波数解析部２０３、表示制御部２０４、表示部２０５、累積部２０６は、ＲＯＭ１０２、ＲＡＭ１０３、あるいはハードディスク１０５等の記録媒体に記録されたプログラム等に記載された命令にしたがってＣＰＵ１０１等が命令処理を実行することにより、各部の機能を実現するようにしてもよい。
【００５８】
（ソフトウエア群およびデータの内容）
つぎに、実施の形態１に係るスペクトル分析装置の各機能を実現するためのソフトウエア群およびデータの内容について説明する。図３は、実施の形態１に係るスペクトル分析装置の各機能を実現するためのソフトウエア群およびデータを示す説明図である。
【００５９】
図３において、スペクトル分析装置３００は、データ変換ソフトウエア３０３と、スペクトル分析ソフトウエア３０６と、表計算ソフトウエア３０８と、動的書式マクロプログラム３０９等の各ソフトウエア（プログラム）を有している。
【００６０】
また、スペクトル分析装置３００は、データ変換ソフトウエアによりデータ変換された水平偏波スペクトルデータファイル３４１と垂直偏波スペクトルデータファイル３４２とからなるＣＳＶ形式データファイル３０４と、分析用データファイル３０５（発生源リストファイル３５１、電波規格データファイル３５２、周波数補正データファイル３５３、初期化ファイルであるＩＮＩファイル３５４）と、スペクトル分析ソフトウエア３０６により分析された結果に関するＣＳＶ形式データファイル３０７（統計分析データファイル３７１、フィルタデータファイル３７２、高調波リストファイル３７３）と、報告書データベース３１０等を有する。
【００６１】
また、スペクトル分析装置３００とは別個に、電波暗室計測器制御ソフトウエア３０１および電波暗室測定データファイル３０２を備える。電波暗室計測器制御ソフトウエア３０１により得られた電波暗室測定データファイル３０２に格納されたデータは、データ変換ソフトウエア３０３により、水平偏波スペクトルデータおよび垂直偏波スペクトルデータに変換される。
【００６２】
データ変換後、変換された水平偏波スペクトルデータおよび垂直偏波スペクトルデータを、水平偏波スペクトルデータファイル３４１または水平偏波スペクトルデータファイル３４２にそれぞれ格納する。水平偏波スペクトルデータの一例を図４に示す。また、垂直偏波スペクトルデータの一例を図５に示す。
【００６３】
（分析用データファイル３０５）
つぎに、分析用データファイル３０５の内容について説明する。分析用データには、発生源リストファイル３５１と、電波規格データファイル３５２と、周波数補正データファイル３５３と、初期化ファイルであるＩＮＩファイル３５４を含んでいる。
【００６４】
発生源リストファイル３５１には、「発生源名」，「発振周波数」，「クロック処理デバイス名」，「参考になる代表的分周数」等が格納される。発生源リストの一例を図６に示す。
【００６５】
電波規格データファイル３５２には、「周波数」，「規格値」等が格納される。データ行のならびは周波数の昇順で、周波数の単位は〔ＭＨｚ〕であり、規格値の単位は〔ｄＢμＶ／ｍ〕である。これはいわゆるピースワイズリニアと呼ばれるデータ形式で、折れ線の頂点座標データの集まりを示す。電波規格値データの一例を図７に示す。
【００６６】
周波数補正データファイル３５３には、「周波数」，「周波数誤差」等が格納される。データ行ならびは周波数の昇順で、周波数の単位は〔ＭＨｚ〕であり、周波数誤差値の単位は〔ｄＢμＶ／ｍ〕である。データ形式は、電波規格データファイル３５２と同様にピースワイズリニアのデータ形式である。周波数補正データの一例を図８に示す。
【００６７】
（ＣＳＶ形式データファイル３０７）
つぎに、ＣＳＶ形式データファイル３０７の内容について説明する。ＣＳＶ形式データ３０７には、統計分析データファイル３７１と、フィルタデータファイル３７２と、高調波リストファイル３７３を含んでいる。
【００６８】
統計分析データファイル３７１には、各発生源に対する統計分析結果を格納する。統計とは、検出されたピークのある部分のリニアスペクトルグラフの面積に相当する。これによって、スペクトルの全体がどれくらいの量があるかを把握することができる。
【００６９】
統計分析データのデータフォーマットは、「発生源」，「発生源スペクトル値」，「分周値」，「観測周波数」，「設計周波数」，「クロック処理デバイス」となる。周波数の単位は〔ＭＨｚ〕であり、統計結果である「発生源スペクトル値」の単位は〔ＭＨｚｄＢμＶ／ｍ〕である。
【００７０】
フィルタデータファイル３７２には、各発生源ごとに抽出した高調波のスペクトルデータを格納する。このデータは各発生源ごとの周波数特性を見るのに使用する。書式は、「周波数」，「観測値データ値」，「ブロードスペクトル値」，「規格値」，「発生源高調波１」，・・・，「発生源高調波ｎ」となる。「発生源高調波」の順は発生源リスト順となる。周波数の単位は〔ＭＨｚ〕であり、スペクトル値の単位は〔ｄＢμＶ／ｍ〕である。
【００７１】
高調波リストファイル３７３には、各発生源の３０ＭＨｚ〜１ＧＨｚまでの各高調波番号に対する観測値と周波数誤差、補正値などのデータを出力したプログラムでバック用データを格納する。最後の補正値と誤差値は周波数補正データを作成する際に利用する。
【００７２】
高調波リストのデータのフォーマットは、「観測値」，「発生源」，「クロック処理デバイス」，「源振周波数」，「高調波番号」，「観測周波数」，「検出周波数」，「励振周波数」，「誤差値」，「補正値」となる。「補正値」は、周波数補正データに基づく観測周波数に対する本来あるべき周波数からの補正値である。
【００７３】
「誤差値」は、補正後の周波数に対して本来あるべき周波数からの差である。「誤差値」と「補正値」の和を取ると、観測周波数に対する補正値になる。すなわち、「誤差値」は周波数データに対する補正値である。
【００７４】
（スペクトルピーク周波数抽出処理の内容）
つぎに、スペクトルピーク周波数抽出処理の内容について説明する。図９は、スペクトルピーク周波数抽出処理の手順を示すフローチャートである。図９のフローチャートにおいて、まず、注目する周波数ｎにおけるスペクトル量を入力数する（ステップＳ９０１）。ここで、この値をＡとする。
【００７５】
つぎに、注目する周波数よりも所定数だけ低い周波数ｎ−１におけるスペクトル量を入力する（ステップＳ９０２）。ここで、この値をＢとする。さらに、注目する周波数よりも所定数だけ高い周波数ｎ＋１におけるスペクトル量を入力する（ステップＳ９０３）。ここで、この値をＣとする。
【００７６】
つぎに、上記ＡおよびＢを比較する（ステップＳ９０４）。ここで、Ａ＞Ｂでない場合（ステップＳ９０４否定）は、なにもせずに、リターンされる。一方、Ａ＞Ｂである場合（ステップＳ９０４肯定）は、つぎに、上記ＡおよびＣを比較する（ステップＳ９０５）。
【００７７】
ステップＳ９０５において、Ａ＜Ｃでない場合（ステップＳ９０５否定）は、なにもせずに、リターンされる。一方、Ａ＞Ｃである場合（ステップＳ９０５肯定）は、注目する周波数ｎをスペクトルピーク周波数として抽出し、かつ記憶する（ステップＳ９０６）。その後、リターンされる。この処理をすべての周波数において繰り返しおこなうことにより、全スペクトルピーク周波数を抽出することができる。
【００７８】
図１０は、スペクトルピーク周波数を示す説明図である。図１０に示すように、周辺の周波数と比較してスペクトル量が多くなっている周波数をスペクトルピーク周波数とする。図１０においては、Ｐ１、Ｐ２、・・・がスペクトルピーク周波数である。
【００７９】
（スペクトルピーク周波数解析処理の内容）
つぎに、スペクトルピーク周波数解析処理の内容について説明する。図１１は、スペクトルピーク周波数解析処理の手順を示すフローチャートである。図１１のフローチャートにおいて、まず、複数抽出されたスペクトルピーク周波数のうち、最初のスペクトルピーク周波数を入力する（ステップＳ１１０１）。最初のルピーク周波数とは、複数抽出されたスペクトルピーク周波数のうちの任意のスペクトルピーク周波数であり、ここではもっとも低いスペクトルピーク周波数とすることができる。
【００８０】
つぎに、複数の発生源のクロック周波数のうちの最初の発生源のクロック周波数を入力する（ステップＳ１１０２）。ここでも同様に、最初の発生源のクロック周波数とは、複数ある発生源のクロック周波数のうちの任意のクロック周波数である。
【００８１】
つぎに、スペクトルピーク周波数を、発生源のクロック周波数で除算する（ステップＳ１１０３）。
すなわち、
（スペクトルピーク周波数）÷（発生源のクロック周波数）
を実行する。
【００８２】
そして、除算の結果が整数値になるか否かを判断する（ステップＳ１１０４）。ここで、上記除算をおこない、除算の結果が整数値になるか否かを判断するのは、除算の結果が整数値になれば、ピークとなったスペクトル量は当該発生源が原因となっているということがわかるからである。
【００８３】
したがって、除算の結果、整数値の場合（ステップＳ１１０４肯定）は、当該発生源に対応させてスペクトルピーク周波数および当該スペクトルピーク周波数におけるスペクトル量を所定の記憶領域（たとえば、ＲＡＭ１０３等）に格納する（ステップＳ１１０５）。
【００８４】
一方、ステップＳ１１０４において、除算の結果が整数値にならない場合（ステップＳ１１０４否定）は、ピークとなったスペクトル量は当該発生源とはなんら関連性がないと判断できるため、なにもせずに、ステップＳ１１０６へ移行する。
【００８５】
つぎに、ステップＳ１１０６において、最後の発生源のクロック周波数であるか否かを判断する。すなわち、すべての発生源のクロック周波数について上記ステップＳ１１０３〜Ｓ１１０５の各処理をおこなったか否かを判断するものである。
【００８６】
ステップＳ１１０６において、最後の発生源のクロック周波数でない場合（ステップＳ１１０６否定）、すなわち、未だ、すべての発生源クロック周波数について上記各処理（除算処理）がおこなわれていない場合は、つぎの発生源のクロック周波数、すなわち、未だ、上記各処理（除算処理）なおこなわれていない発生源のクロック周波数を入力し（ステップＳ１１０７）、その後、ステップＳ１１０３へ移行し、以後、ステップＳ１１０３〜Ｓ１１０７の各処理を繰り返しおこなう。
【００８７】
すなわち、６種類の発生源のクロック周波数がある場合は、一つのスペクトルピーク周波数に対して、各発生源のクロック周波数ごとに上記除算処理をおこなう。したがって、結果的には上記除算処理は６回繰り返しておこなわれることになる。
【００８８】
また、本実施の形態では、ステップＳ１１０５における格納処理がおこなわれたか否かに関わらず、一つのスペクトルピーク周波数において、上記除算処理をすべての発生源のクロック周波数ごと（上記の例では６回）おこなうようにしたが、ステップＳ１１０５における格納処理がおこなわれた段階で、当該スペクトルピーク周波数における上記除算処理を中止するようにしてもよい。これによって、さらに高速にスペクトルピーク周波数の解析処理を完了させることができる。
【００８９】
つぎに、ステップＳ１１０８において、最後のスペクトルピーク周波数か否かを判断する。すなわち、すべてのスペクトルピーク周波数について上記ステップＳ１１０２〜Ｓ１１０７の各処理（発生源のクロック周波数抽出処理）をおこなったか否かを判断するものである。
【００９０】
ステップＳ１１０８において、最後のスペクトルピーク周波数でない場合（ステップＳ１１０８否定）、すなわち、未だ、すべてのスペクトルピーク周波数について上記ステップＳ１１０２〜Ｓ１１０７の各処理（発生源のクロック周波数抽出処理）がおこなわれていない場合は、つぎのスペクトルピーク周波数、すなわち、未だ、上記各処理（発生源のクロック周波数抽出処理）がおこなわれていないスペクトルピーク周波数を入力し（ステップＳ１１０９）、その後、ステップＳ１１０２へ移行し、以後、ステップＳ１１０２〜Ｓ１１０９の各処理を繰り返しおこなう。
【００９１】
ステップＳ１１０８において、最後のスペクトルピーク周波数である場合（ステップＳ１１０８肯定）、すなわち、すべてのスペクトルピーク周波数において、上記発生源のクロック周波数抽出処理が終了した場合は、スペクトルピーク周波数解析処理を終了する。
【００９２】
（解析結果の表示例）
つぎに、解析された結果の表示内容について説明する。図１２は、解析結果の表示の一例を示す説明図である。図１２において、表示画面に表示されるのは、統計分析結果１２０１、放射電磁界測定スペクトル１２０２、放射電界ブロードスペクトル１２０３、各発生源の概要１２０４、各発生源のスペクトル（水平偏波）１２０５、各発生源のスペクトル（垂直偏波）１２０６が表示される。また、それらの上方側には考察記入領域１２０７が表示される。
【００９３】
図１３は、実施の形態１に係るスペクトル分析装置の解析結果の表示の別の一例を示す説明図である。すなわち、図１３は、図１１に表示される統計分析結果１２０１を表示する拡大表示図である。図１３に示すように、縦軸には、各発生源が表示され、各発生源ごとにスペクトル値（量）の累積値が棒グラフで表示される。累積値には、水平偏波と垂直偏波が区別できるようにしてあり、かつ、水平偏波と垂直偏波とを累積している。このグラフにより、スペクトルを多く放射している発生源を容易に認識することができる。
【００９４】
また、図１４は、実施の形態１に係るスペクトル分析装置の解析結果の表示の別の一例を示す説明図である。すなわち、図１４は、各発生源の概要１２０４を表示する拡大表示図である。図１４に示すように、各発生源の概要１２０４には、発生源を表示する項目と、Ｘ’ｔａｌ〔ＭＨｚ〕を表示する項目と、クロック処理デバイスを表示する項目と、検出分周数を表示する項目とからなり、かく発生源ごとの詳細なデータが表示される。これにより、各発生源の概要を容易に知ることができる。
【００９５】
また、図１５は、実施の形態１に係るスペクトル分析装置の解析結果の表示の別の一例を示す説明図である。すなわち、図１５は、各発生源のスペクトル（水平偏波）１２０５を表示する拡大表示図である。図１５に示すように、各発生源ごとに抽出されたピークスペクトル周波数およびその周波数におけるスペクトル量を示すグラフとなっている。これらのグラフにより、すべての発生源の周波数に対するスペクトル量を同時に見ることができるので、問題となる発生源の特定を容易にかつ迅速におこなうことができる。
【００９６】
（一連の処理手順）
つぎに、実施の形態１によるスペクトル分析方法の一連の動作の内容について説明する。図１６は、実施の形態１に係るスペクトル分析方法の一連の動作の流れを示すフローチャートである。図１６のフローチャートにおいて、まず、スペクトルデータを入力する（ステップＳ１６０１）。つぎに、スペクトルピーク周波数を上述した抽出方法により抽出する（ステップＳ１６０２）。
【００９７】
つぎに、上記ステップＳ１６０２により抽出されたスペクトルピーク周波数を解析し、そのスペクトルピークがどの発生源のクロック周波数に起因しているかを解析する（ステップＳ１６０３）。この解析方法も上述の通りであるので、詳細な説明は省略する。
【００９８】
この解析をすべてのスペクトルピーク周波数に対しておこない、すべてのスペクトルピーク周波数の改正が終了した場合（ステップＳ１６０４肯定）に、つぎに解析結果を表示し（ステップＳ１６０５）、解析結果を表示した後、一連のすべての処理を終了する。
【００９９】
以上説明したように、実施の形態１によれば、スペクトルデータ入力部２０１が、電子機器の電磁界測定をおこなった結果として得られる周波数に対応するスペクトルデータを入力し、スペクトルピーク周波数抽出部２０２が、入力されたスペクトルデータから、周辺の周波数に対して突出した量のスペクトルを有するスペクトルピーク周波数を抽出し、スペクトルピーク周波数解析部２０３が、抽出されたスペクトルピーク周波数が前記複数のクロック周波数のうちのどの発生源のクロック周波数に対応するかを解析するので、スペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかをスペクトルピーク周波数ごとに効率よく解析することができ、これにより、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができる。
【０１００】
また、スペクトルピーク周波数解析部２０３が、抽出されたスペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかを、各スペクトルピーク周波数を各クロック周波数で除算することにより解析するので、スペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかを簡易な方法で高速に解析することができる。
【０１０１】
また、前記スペクトルピーク周波数解析部２０３が、各スペクトルピーク周波数を各クロック周波数で除算し、除算の結果が整数値になるクロック周波数の発生源を特定し、スペクトルピーク周波数におけるスペクトルは前記特定した発生源から出されたものと解析するので、スペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかを簡易な方法で正確に解析することができる。
【０１０２】
また、表示制御部２０４が、表示画面を有する表示部２０５を制御して、スペクトルピーク周波数解析部２０３により解析された結果を表示画面に表示するので、発生源ごとにスペクトル周波数全体に渡る解析結果を的確に把握することができる。
【０１０３】
また、前記表示制御部２０４がスペクトルピーク周波数解析部２０３により解析された発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量を表示するので、すべての発生源の周波数に対するスペクトル量を同時に見ることができ、問題となる発生源の特定を容易にかつ迅速におこなうことができる。
【０１０４】
また、累積部２０６が、スペクトルピーク周波数解析部２０３により解析されたスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量を発生源ごとに累積し、表示制御部２０４が、表示部２０５を制御して、累積された累積スペクトル量を表示するので、スペクトルを多く放射している発生源を容易に認識することができる。
【０１０５】
上記の効果にともない、さらに以下のような効果を奏するものである。
（１）問題となるスペクトルピークの発生源（クロックやデバイス）を迅速に特定することができる。
（２）対策後の発生源ごとの効果を確認することができる。
（３）対策部品の効果を把握（対策部品の必要最小限化、コストミニマム化）することができる。
（４）分析データの蓄積・分類による共通問題点を把握することができる。
【０１０６】
〔実施の形態２〕
さて、上述した実施の形態１にあっては、一つの解析結果を表示するようにしたが、以下に説明する実施の形態２のように、複数の解析結果を比較して表示するようにしてもよい。なお、実施の形態２によるスペクトル分析装置のハードウエア構成は、実施の形態１と同様であるので、その説明は省略する。また、実施の形態２によるスペクトル分析装置のソフトウエア群およびデータの内容についても実施の形態１と同様であるので、その説明は省略する。
【０１０７】
（機能的構成）
まず、実施の形態２に係るスペクトル分析装置の機能的構成について説明する。図１７は、実施の形態２に係るスペクトル分析装置の構成を機能的に示すブロック図である。なお、図２に示した実施の形態１と同一の構成部については、同一の符号を付してその説明を省略する。
【０１０８】
図１７のブロック図において、スペクトル分析装置は、スペクトルデータ入力部２０１と、スペクトルピーク周波数抽出部２０２と、スペクトルピーク周波数解析部２０３と、表示制御部２０４と、表示部２０５と、累積部２０６のほか、記憶部１７０１と、比較部１７０２とを含む構成である。
【０１０９】
記憶部１７０１は、スペクトルピーク周波数解析部２０３により解析された結果、すなわち、解析されたスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量、または／および累積部２０５に累積された累積スペクトル量を各発生源ごとに記憶する。記憶部１７０１は、ハードディスクドライブ（ＨＤＤ）１０４によりハードディスク（ＨＤ）１０５に上記データを記憶することにより実現する。また、ＨＤ１０５のかわりに、フロッピーディスク（ＦＤ）１０５その他の記憶媒体を用いてもよい。
【０１１０】
比較部１７０２は、スペクトルピーク周波数解析部２０３により解析された結果をすでに解析された別の解析結果であって記憶部１７０１に記憶されている解析結果と比較する。
【０１１１】
より具体的には、比較部１７０２は、すでに解析され、記憶部１７０１に記憶されている別の解析結果のうち、発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量または／および前記累積スペクトル量の差分を算出する。
【０１１２】
その際、表示制御部２０４は、表示部２０５を制御して、比較部１７０２により比較された解析結果、具体的には、比較部１７０２により算出された発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量または／および累積スペクトル量の差分を表示する。差分であるから、別の解析結果よりもスペクトル量が増加していればプラス（＋）になり、逆に、減少していればマイナス（−）になる。
【０１１３】
なお、記憶部１７０１、比較部１７０２は、ＲＯＭ１０２、ＲＡＭ１０３、あるいはハードディスク１０５等の記録媒体に記録されたプログラム等に記載された命令にしたがってＣＰＵ１０１等が命令処理を実行することにより、各部の機能を実現するようにしてもよい。
【０１１４】
（解析結果の表示例）
つぎに、解析された結果の表示内容について説明する。図１８は、解析結果の表示の一例を示す説明図である。図１８において、表示画面に表示されるのは、ッズ１２に示した実施の形態１と同様に、統計分析結果１８０１、放射電磁界測定スペクトル１８０２、放射電界ブロードスペクトル１８０３、各発生源の概要１２０４、各発生源のスペクトル（水平偏波）１８０５、各発生源のスペクトル（垂直偏波）１８０６が表示される。また、それらの上方側には考察記入領域１８０７が表示される。
【０１１５】
図１９は、実施の形態２に係るスペクトル分析装置の解析結果の表示の別の一例を示す説明図である。すなわち、図１９は、図１８に表示される統計分析結果１８０１を表示する拡大表示図である。図１９に示すように、縦軸には、各発生源が表示され、各発生源ごとにスペクトル値（量）の累積値の差分、すなわち、比較の対象となる記憶部１７０２１に記憶された累積値から減算した結果が棒グラフで表示される。累積値の差分には、水平偏波と垂直偏波が区別できるようにしてあり、かつ、水平偏波と垂直偏波とを累積している。
【０１１６】
グラフの中央の縦線が差分０を示しており、その中央の縦線よりも左側に棒グラフが伸びていれば、スペクトル値が減ったことを示しており、反対に、中央の縦線よりも右側に棒グラフが伸びていれば、スペクトル値が増えたことを示している。このグラフにより、スペクトル量の軽減を図るための対策（改善処置）が有効であったか否かを容易に認識することができる。
【０１１７】
また、図２０は、実施の形態２に係るスペクトル分析装置の解析結果の表示の別の一例を示す説明図である。すなわち、図２０は、各発生源のスペクトル（水平偏波）１８０５を表示する拡大表示図である。図２０に示すように、各発生源ごとに抽出されたピークスペクトル周波数およびその周波数におけるスペクトル量の差分を示すグラフとなっている。なお、図２０においては、水平偏波１８０５についてのみ示したが、垂直偏波１８０６についても同様の内容であるので、その説明は省略する。
【０１１８】
これらのグラフにより、すべての発生源の周波数に対するスペクトル量を同時に見ることができるので、問題となる発生源についての改善処置による効果を発生源全体に渡って容易にかつ迅速に認識することができる。
【０１１９】
（一連の処理手順）
つぎに、実施の形態２によるスペクトル分析方法の一連の動作の内容について説明する。図２１は、実施の形態２に係るスペクトル分析方法の一連の動作の流れを示すフローチャートである。図２１フローチャートにおいて、ステップＳ２１０１〜Ｓ２１０４までは、図１６に示した実施の形態１におけるのフローチャートのステップＳ１６０１〜Ｓ１６０４までと同様の内容なので、その説明は省略する。
【０１２０】
ステップＳ２１０５において、他の解析結果との比較をすべき旨に指示があったか否かを判断する。ここでは、操作者が特定の指示情報が入力されることにより、比較すべき指示があったか否かを判断することができる。
【０１２１】
ステップＳ２１０５において、比較すべき旨に指示があった場合（ステップＳ２１０５肯定）は、つぎに、比較すべき対象となる解析結果に関するデータが記憶されているか否かを判断する（ステップＳ２１０６）。ここで、解析結果に関するデータが記憶されている場合（ステップＳ２１０６肯定）は、互いの解析結果の比較処理をおこなう。
【０１２２】
比較処理の具体的に内容については、上述の通りであるので、その説明は省略する。その後、ステップＳ２１０７において比較処理された結果を表示し（ステップＳ２１０８）、すべての処理を終了する。
【０１２３】
一方、ステップＳ２１０５において、他の解析結果との比較をすべき旨に指示がなかった場合（ステップＳ２１０５否定）は、図１６に示したステップＳ１６０５と同様に、解析結果を表示し（ステップＳ２１１０）、解析結果を表示した後、一連のすべての処理を終了する。
【０１２４】
また、ステップＳ２１０６において、解析結果に関するデータが記憶されていにない場合（ステップＳ２１０６否定）は、その旨を警告し（ステップＳ２１０９）、その後、ステップＳ２１１０へ移行する。あるいは、図示は省略するが、警告（ステップＳ２１０９）後、解析結果を記憶するだけで、すべての処理を終了するようにしてもよい。
【０１２５】
以上説明したように、実施の形態２によれば、比較部１７０２が、スペクトルピーク周波数解析部２０３により解析された結果をすでに解析され、記憶部１７０１に記憶された別の解析結果と比較し、前記表示制御部２０４が、表示部２０５を制御して、比較された解析結果を表示するので、別の解析結果との比較においてスペクトルピーク周波数ごとのスペクトル量がどのくらい変化したかを容易に認識することができ、これにより、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができる。
【０１２６】
また、比較部１７０２が、記憶部１７０１に記憶された解析結果のうち、発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量または／および累積スペクトル量の差分を算出し、表示制御部２０４が、算出された発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量または／および累積スペクトル量の差分を表示するので、別の解析結果との比較において発生源ごとのスペクトル量がどのくらい変化したかを容易に認識することができる。
【０１２７】
なお、実施の形態１または２で説明したスペクトル分析方法は、あらかじめ用意されたプログラムをパーソナルコンピュータやワークステーション等のコンピュータで実行することにより実現される。このプログラムは、ハードディスク、フロッピーディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯ、ＤＶＤ等のコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行される。またこのプログラムは、上記記録媒体を介して、インターネット等のネットワークを介して配布することができる。
【０１２８】
【発明の効果】
以上説明したように、この発明によれば、入力手段が、前記電子機器の電磁界測定をおこなった結果として得られる周波数に対応するスペクトルデータを入力し、スペクトルピーク周波数抽出手段が、前記スペクトルデータ入力手段により入力されたスペクトルデータから、周辺の周波数に対して突出した量のスペクトルを有するスペクトルピーク周波数を抽出し、スペクトルピーク周波数解析手段が、前記スペクトルピーク周波数抽出手段により抽出されたスペクトルピーク周波数が前記複数のクロック周波数のうちのどの発生源のクロック周波数に対応するかを解析するので、スペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかをスペクトルピーク周波数ごとに効率よく解析することができ、これにより、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペクトル分析装置が得られるという効果を奏する。
【０１２９】
また、この発明によれば、上記発明において、前記スペクトルピーク周波数解析手段が、前記スペクトルピーク周波数抽出手段により抽出されたスペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかを、前記各スペクトルピーク周波数を前記各クロック周波数で除算することにより解析するので、スペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかを簡易な方法で高速に解析することができ、これにより、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペクトル分析装置が得られるという効果を奏する。
【０１３０】
また、この発明によれば、上記発明において、前記スペクトルピーク周波数解析手段が、前記各スペクトルピーク周波数を前記各クロック周波数で除算し、除算の結果が整数値になるクロック周波数の発生源を特定し、前記スペクトルピーク周波数におけるスペクトルは前記特定した発生源から出されたものと解析するので、スペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかを簡易な方法で正確に解析することができ、これにより、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペクトル分析装置が得られるという効果を奏する。
【０１３１】
また、この発明によれば、上記発明において、表示制御手段が、表示画面を有する表示手段を制御して、前記スペクトルピーク周波数解析手段により解析された結果を前記表示画面に表示するので、発生源ごとにスペクトル周波数全体に渡る解析結果を的確に把握することができ、これにより、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペクトル分析装置が得られるという効果を奏する。
【０１３２】
また、この発明によれば、上記発明において、前記表示制御手段が、前記表示手段を制御して、前記スペクトルピーク周波数解析手段により解析された前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量を表示するので、すべての発生源の周波数に対するスペクトル量を同時に見ることができ、問題となる発生源の特定を容易にかつ迅速におこなうことができ、これにより、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペクトル分析装置が得られるという効果を奏する。
【０１３３】
また、この発明によれば、上記発明において、累積手段が、前記スペクトルピーク周波数解析手段により解析された前記スペクトルピーク周波数に対するスペクトル量を前記発生源ごとに累積し、前記表示制御手段が、前記表示手段を制御して、前記累積手段により累積された累積スペクトル量を表示するので、スペクトルを多く放射している発生源を容易に認識することができ、これにより、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペクトル分析装置が得られるという効果を奏する。
【０１３４】
また、この発明によれば、上記発明において、比較手段が、前記スペクトルピーク周波数解析手段により解析された結果をすでに解析された別の解析結果と比較し、前記表示制御手段が、前記表示手段を制御して、前記比較手段により比較された解析結果を表示するので、別の解析結果との比較においてスペクトルピーク周波数ごとのスペクトル量がどのくらい変化したかを容易に認識することができ、これにより、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペクトル分析装置が得られるという効果を奏する。
【０１３５】
また、この発明によれば、上記発明において、前記比較手段が、前記すでに解析された別の解析結果のうち、前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量または／および前記累積スペクトル量の差分を算出し、前記表示制御手段が、前記表示手段を制御して、前記比較手段により算出された前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量または／および前記累積スペクトル量の差分を表示するので、別の解析結果との比較において発生源ごとのスペクトル量がどのくらい変化したかを容易に認識することができ、これにより、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペクトル分析装置が得られるという効果を奏する。
【０１３６】
また、この発明によれば、スペクトルデータ入力工程が、前記電子機器の電磁界測定をおこなった結果として得られる周波数に対応するスペクトルデータを入力し、スペクトルピーク周波数抽出工程が、前記スペクトルデータ入力工程により入力されたスペクトルデータから、周辺の周波数に対して突出した量のスペクトルを有するスペクトルピーク周波数を抽出し、スペクトルピーク周波数解析工程が、前記スペクトルピーク周波数抽出工程により抽出されたスペクトルピーク周波数が前記複数のクロック周波数のうちのどの発生源のクロック周波数に対応するかを解析するので、スペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかをスペクトルピーク周波数ごとに効率よく解析することができ、これにより、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペクトル分析方法が得られるという効果を奏する。
【０１３７】
また、この発明によれば、上記発明において、前記スペクトルピーク周波数解析工程が、前記スペクトルピーク周波数抽出工程により抽出されたスペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかを、前記各スペクトルピーク周波数を前記各クロック周波数で除算することにより解析するので、スペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかを簡易な方法で高速に解析することができ、これにより、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペクトル分析方法が得られるという効果を奏する。
【０１３８】
また、この発明によれば、上記発明において、前記スペクトルピーク周波数解析工程が、前記各スペクトルピーク周波数を前記各クロック周波数で除算し、除算の結果が整数値になるクロック周波数の発生源を特定し、前記スペクトルピーク周波数におけるスペクトルは前記特定した発生源から出されたものと解析するので、スペクトルピーク周波数がどの発生源のクロック周波数に対応するかを簡易な方法で正確に解析することができ、これにより、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペクトル分析方法が得られるという効果を奏する。
【０１３９】
また、この発明によれば、上記発明において、表示工程が、前記スペクトルピーク周波数解析工程により解析された結果を表示するので、発生源ごとにスペクトル周波数全体に渡る解析結果を的確に把握することができ、これにより、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペクトル分析方法が得られるという効果を奏する。
【０１４０】
また、この発明によれば、上記発明において、前記表示工程が、前記スペクトルピーク周波数解析工程により解析された前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量を表示するので、すべての発生源の周波数に対するスペクトル量を同時に見ることができ、問題となる発生源の特定を容易にかつ迅速におこなうことができ、これにより、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペクトル分析方法が得られるという効果を奏する。
【０１４１】
また、この発明によれば、上記発明において、累積工程が、前記スペクトルピーク周波数解析工程により解析された前記スペクトルピーク周波数に対するスペクトル量を前記発生源ごとに累積し、前記表示工程が、前記累積工程により累積された累積スペクトル量を表示するので、スペクトルを多く放射している発生源を容易に認識することができ、これにより、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペクトル分析方法が得られるという効果を奏する。
【０１４２】
また、この発明によれば、上記発明において、比較工程が、前記スペクトルピーク周波数解析工程により解析された結果をすでに解析された別の解析結果と比較し、前記表示工程が、前記比較工程により比較された解析結果を表示するので、別の解析結果との比較においてスペクトルピーク周波数ごとのスペクトル量がどのくらい変化したかを容易に認識することができ、これにより、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペクトル分析方法が得られるという効果を奏する。
【０１４３】
また、この発明によれば、上記発明において、前記比較工程が、前記すでに解析された別の解析結果のうち、前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量または／および前記累積スペクトル量の差分を算出し、前記表示工程が、前記比較工程により算出された前記発生源ごとのスペクトルピーク周波数に対するスペクトル量または／および前記累積スペクトル量の差分を表示するので、別の解析結果との比較において発生源ごとのスペクトル量がどのくらい変化したかを容易に認識することができ、これにより、複数のクロック周波数の発生源を有する電子機器のスペクトルの全体としての分析を迅速にかつ正確におこなうことができるスペクトル分析方法が得られるという効果を奏する。
【０１４４】
また、この発明によれば、上記に記載された方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したことで、そのプログラムを機械読み取り可能となり、これによって、上記の動作をコンピュータによって実現することが可能な記録媒体が得られるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図１】  この発明の実施の形態１によるスペクトル分析装置のハードウエア構成を示すブロック図である。
【図２】  実施の形態１に係るスペクトル分析装置の構成を機能的に示すブロック図である。
【図３】  実施の形態１に係るスペクトル分析装置の各機能を実現するためのソフトウエア群およびデータを示す説明図である。
【図４】  実施の形態１に係るスペクトル分析装置の水平偏波スペクトルデータの一例を示す説明図である。
【図５】  実施の形態１に係るスペクトル分析装置の垂直偏波スペクトルデータの一例を示す説明図である。
【図６】  実施の形態１に係るスペクトル分析装置の発生源リストの一例の具体的内容の一例を示す説明図である。
【図７】  実施の形態１に係るスペクトル分析装置の電波規格値データの一例を示す説明図である。
【図８】  実施の形態１に係るスペクトル分析装置の周波数補正データの一例を示す説明図である。
【図９】  実施の形態１に係るスペクトル分析装置のスペクトルピーク周波数抽出処理の手順を示すフローチャートである。
【図１０】  実施の形態１に係るスペクトル分析装置のスペクトルピーク周波数を示す説明図である。
【図１１】  実施の形態１に係るスペクトル分析装置のスペクトルピーク周波数解析処理の手順を示すフローチャートである。
【図１２】  実施の形態１に係るスペクトル分析装置の解析結果の表示の一例を示す説明図である。
【図１３】  実施の形態１に係るスペクトル分析装置の解析結果の表示の別の一例を示す説明図である。
【図１４】  実施の形態１に係るスペクトル分析装置の解析結果の表示の別の一例を示す説明図である。
【図１５】  実施の形態１に係るスペクトル分析装置の解析結果の表示の別の一例を示す説明図である。
【図１６】  実施の形態１に係るスペクトル分析方法の一連の動作の流れを示すフローチャートである。
【図１７】  実施の形態２に係るスペクトル分析装置の構成を機能的に示すブロック図である。
【図１８】  実施の形態２に係るスペクトル分析装置の解析結果の表示の一例を示す説明図である。
【図１９】  実施の形態２に係るスペクトル分析装置の解析結果の表示の別の一例を示す説明図である。
【図２０】  実施の形態２に係るスペクトル分析装置の解析結果の表示の別の一例を示す説明図である。
【図２１】  実施の形態２に係るスペクトル分析方法の一連の動作の流れを示すフローチャートである。
【符号の説明】
１０１  ＣＰＵ
１０２  ＲＯＭ
１０３  ＲＡＭ
１０４  ＨＤＤ
１０５  ＨＤ
１０６  ＦＤＤ
１０７  ＦＤ
１０８  ディスプレイ
１０９  Ｉ／Ｆ
１１０  通信回線
１１１  キーボード
１１２  マウス
１１４  プリンタ
１１５  バス
２０１  スペクトルデータ入力部
２０２  スペクトルピーク周波数抽出部
２０３  スペクトルピーク周波数解析部
２０４  表示制御部
２０５  表示部
２０６  累積部
３００  スペクトル分析装置
３０１  電波暗室計測器制御ソフトウエア
３０２  電波暗室測定データファイル
３０３  データ変換ソフトウエア
３０４，３０７  ＣＳＶ形式データファイル
３０５  分析用データファイル
３０６  スペクトル分析ソフトウエア
３０８  表計算ソフトウエア
３０９  動的書式マクロプログラム
３１０  報告書データベース
３４１  水平偏波スペクトルデータファイル
３４２  垂直偏波スペクトルデータファイル
３５１  発生源リストファイル
３５２  電波規格データファイル
３５３  周波数補正データファイル
３５４  ＩＮＩファイル
３７１  統計分析データファイル
３７２  フィルタデータファイル
３７３  高調波リストファイル
１２０１，１８０１  統計分析結果
１２０２，１８０２  放射電磁界測定スペクトル
１２０３，１８０３  放射電界ブロードスペクトル
１２０４  各発生源の概要
１２０５，１８０５  各発生源のスペクトル（水平偏波）
１２０６，１８０６  各発生源のスペクトル（垂直偏波）
１２０７，１８０７  考察記入領域
１７０１  記憶部
１７０２  比較部
【図１】
0003933814.tif 000002
【図２】
0003933814.tif 000003
【図３】
0003933814.tif 000004
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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