(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに形成されたガイド溝を基準にして、前記光ディスクにレーザービームを照射し、前記光ディスクをアクセスする光ディスク装置において、
前記光ディスクを回転駆動するディスク駆動手段と、
前記レーザービームの戻り光を受光して得られるフォーカスエラー信号を基準にして、前記レーザービームをフォーカス制御するフォーカス制御手段と、
前記レーザービームの波長に対する第１の深さのガイド溝を有する第１の光ディスクと、前記第１の深さより深い第２の深さのガイド溝を有する第２の光ディスクとに対して前記ガイド溝の深さに応じて前記フォーカス制御の制御目標を切り換える制御手段とを備え、
前記制御手段は、
前記第１の光ディスクでは、
ジャストフォーカスするように前記制御目標を設定し、
前記第２の光ディスクでは、
前記光ディスクに記録されたデータの再生時、ジャストフォーカスするように前記制御目標を設定し、
前記再生時以外では、前記ジャストフォーカスの位置から光ディスク側にオフセットした位置が制御目標となるように、前記制御目標を切り換える
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記レーザービームの戻り光を受光して、前記ガイド溝の蛇行に応じて信号レベルが変化する蛇行検出信号と、前記戻り光の光量又は偏光面に応じて信号レベルが変化する再生信号とを出力する受光手段と、
前記再生信号を処理して前記光ディスクに記録されたデータを再生すると共にフレームシンク、クロックを再生する信号処理手段とを有し、
前記光ディスク駆動手段は、
前記レーザービームの波長に対する前記ガイド溝の深さが深い光ディスクでは、
前記制御目標の切り換えに連動して、
前記再生時、前記蛇行検出信号を基準にした前記光ディスクの回転駆動を、前記フレームシンク又はクロックを基準にした前記光ディスクの回転駆動に切り換える
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記光ディスク装置は、
前記光ディスクの種類を判別して光ディスク判別信号を出力する光ディスク判別手段を有し、
前記制御手段は、
前記光ディスク判別信号に応じて、前記フォーカス制御の制御目標を切り換えることにより、前記ガイド溝の深さに応じて前記フォーカス制御の制御目標を切り換える
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
情報記録面に形成されたガイド溝を基準にして、光ディスクにレーザービームを照射して前記光ディスクをアクセスする光ディスク装置において、
所定の制御目標によりフォーカス制御して前記光ディスクをアクセスし、
前記レーザービームの波長に対する第１の深さのガイド溝を有する第１の光ディスクをアクセスする場合と、前記第１の深さより深い第２の深さのガイド溝を有する第２の光ディスクとをアクセスする場合とで、前記フォーカス制御の制御目標を切り換え、
前記フォーカスの制御の制御目標の切り換えが、
前記第１の光ディスクで、
ジャストフォーカスするように前記制御目標を設定し、
前記第２の光ディスクで、
再生時、ジャストフォーカスするように前記制御目標を設定し、
前記再生時以外では、前記ジャストフォーカスの位置から光ディスク側にオフセットした位置を制御目標に設定する制御目標の切り換えである
ことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスク装置に関し、特に光ディスクに形成されたガイド溝を基準にして光ディスクをアクセスする光ディスク装置に適用することができる。本発明は、ガイド溝の深さに応じてフォーカス制御の制御目標を切り換えることにより、ガイド溝の深さが最適な深さより変位している光ディスクについても、安定にアクセスすることができるようにする。
【０００２】
【従来の技術】
従来、この種の光ディスクをアクセスする光ディスク装置においては、光ディスクに形成されたグルーブを基準にしてトラッキング制御、スピンドル制御し、またレーザービーム照射位置のアドレスデータを検出するようになされている。
【０００３】
すなわち図１１に示すように、この種の光ディスク１においては、内周側より外周側にらせん状にトラックが形成され、符号Ａにより拡大して示すように、このトラックが、レーザービームのガイド溝でなるグルーブにより形成される。ミニディスクでは、このグルーブがトラックピッチＴＰ＝１．６〔μｍ〕により蛇行して形成され、この蛇行の基本周期ＴＷが約５４〔μｍ〕により形成される。さらにミニディスクは、所定の周波数被変調信号によりこのグルーブが蛇行するように形成され、これによりこのグルーブを基準にしてレーザービーム照射位置のアドレスデータを検出できるようになされている。
【０００４】
このような光ディスクの構成に対応して、光ディスク装置は、対物レンズを介して光ディスクにレーザービームを照射し、その戻り光を受光することにより、トラッキングエラー量に応じて信号レベルが変化するトラッキングエラー信号を生成する。また光ディスク装置は、この戻り光より、グルーブの蛇行に応じて信号レベルが変化するウォウブル信号、フォーカスエラー量に応じて信号レベルが変化するフォーカスエラー信号を生成し、また再生時においては、この戻り光の偏光面に応じて信号レベルが変化する再生信号を生成する。
【０００５】
このうち光ディスク装置は、トラッキングエラー信号が所定の信号レベルになるように、対物レンズを光ディスクの半径方向に可動し、これによりグルーブを基準にしてトラッキング制御する。またフォーカスエラー信号の信号レベルが所定の信号レベルになるように、対物レンズを光軸に沿って変位させ、これによりジャストフォーカスするようにフォーカス制御する。またウォウブル信号の中心周波数が所定周波数になるように、スピンドルモータの回転速度を制御し、これによりグルーブを基準にして光ディスクを線速度一定の条件により回転駆動する。
【０００６】
さらに光ディスク装置は、このウォウブル信号を検波回路に入力し、その周波数復調信号よりアドレスデータを検出する。光ディスク装置は、このアドレスデータよりレーザービーム照射位置を特定してレーザービームの光量を間欠的に立ち上げると共に、所定の変調磁界をレーザービーム照射位置に印加し、これによりグルーブを基準にして所望のデータを熱磁気記録する。
【０００７】
これに対して再生時においては、再生信号を２値化してディジタル信号処理することにより、磁気カー効果を利用して光ディスクに記録されたデータを再生する。
【０００８】
このようにしてグルーブを基準にしてアクセスできるように形成された光ディスクにおいては、レーザービームの波長λに対して、グルーブの深さがλ／７〜λ／９の範囲で製造され、これにより確実にスピンドル制御できるようになされ、またアドレスデータ、所望のデータを確実に再生できるようになされている。
【０００９】
すなわち図１２（Ｂ）に示すように、再生信号より得られる再生データのエラーレート（ここではインターリーブ処理単位でなるブロックエラーレートにより示す）は、グルーブの深さに依っては変化せず、ジャストフォーカスの位置を中心にした一定の範囲で一定値以下のエラーレートに保持される。これにより光ディスク装置においては、データ再生時、ジャストフォーカスするようにフォーカス制御して、確実に所望のデータを再生することができる。
【００１０】
ところが図１２（Ａ）に示すように、グルーブより再生されるアドレスデータのエラーレートは、デフォーカス量だけでなく、グルーブの深さによっても変化する。すなわちグルーブの深さがλ／８の場合には、再生信号の場合と同様にジャストフォーカスするようにフォーカス制御して最適な状態でアドレスデータを再生することができる。すなわち深さλ／８の場合、ジャストフォーカスの位置を中心にして、アドレスエラーレートの曲線がデフォーカス量に対して対称の特性を示し、これにより最適な深さと判断することができる。ところがグルーブの深さがλ／６になると、ジャストフォーカスの状態では、アドレスデータの再生に殆ど余裕が無くなるようになる。
【００１１】
このようにアドレスデータの再生に余裕が無くなると、グルーブよりアドレスデータを正しく再生できない場合が発生し、これによりレーザービーム照射位置を正しく特定できなくなる。またこのような場合のウォウブル信号を観察したところ、ウォウブル信号のエンベロープが蛇行していることにより、安定にスピンドル制御することも困難になる。
【００１２】
これらのことからこの種の光ディスクでは、再生データのエラーレートが最も向上するジャストフォーカスの近傍で、アドレスデータのエラーレートも最も向上するように、レーザー波長λに対してグルーブの深さがλ／７〜λ／９の範囲に設定されるようになされている。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】
ところでミニディスクをアクセスする従来の光ディスク装置においては、波長７８０〔ｎｍ〕のレーザービームを光ディスクに照射するようになされている。このレーザービームの波長を短くすれば、さらに高密度に所望のデータを記録再生できると考えられる。
【００１４】
この場合、光ディスクにおいては、従来に比して波長を短くした分グルーブの深さを低減して安定にアドレスデータを再生できるようにし、また安定にスピンドル制御できるようにする必要がある。すなわちこのようなレーザー波長の短い光ディスク装置に適用される光ディスクにおいては、例えばレーザー波長が６５０〔ｎｍ〕の場合、従来の光ディスクに比して、グルーブの深さを６５０／７８０倍に形成することが求められる。
【００１５】
このような場合でも、レーザー波長の短い光ディスク装置において、従来の光ディスクをアクセスすることができれば、過去の資産を有効に活用することができ、便利であると考えられる。すなわちレーザー波長の短い光ディスク装置と、レーザー波長の長い光ディスク装置とで、光ディスクの互換性を図ることができれば、便利であると考えられる。
【００１６】
ところがこのようにレーザー波長の異なる光ディスクについて、互換性を図ろうとすると、光ディスク装置においては、安定かつ確実に光ディスクをアクセスすることが困難になる問題がある。
【００１７】
すなわち例えばレーザー波長７８０〔ｎｍ〕用の光ディスクを、レーザー波長６５０〔ｎｍ〕によりアクセスする場合、レーザー波長７８０〔ｎｍ〕に対して深さλ／７〜λ／９の範囲で形成されたグルーブが、レーザー波長６５０〔ｎｍ〕に対しては、最適な深さより変位することになり、結局、深さλ／５．８３〜λ／７．５となる。これによりジャストフォーカスするようにフォーカス制御した場合に、ブロックエラーレートは充分に低減できるものの、安定にアドレスデータを再生できなくなり、また安定にスピンドル制御することも困難になる。
【００１８】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、ガイド溝の深さが最適な深さより変位している光ディスクについても、安定にアクセスすることができる光ディスク装置を提案しようとするものである。
【００１９】
【課題を解決するための手段】
かかる課題を解決するため請求項１の発明は、光ディスクに形成されたガイド溝を基準にして、前記光ディスクにレーザービームを照射し、前記光ディスクをアクセスする光ディスク装置において、前記光ディスクを回転駆動するディスク駆動手段と、前記レーザービームの戻り光を受光して得られるフォーカスエラー信号を基準にして、前記レーザービームをフォーカス制御するフォーカス制御手段と、前記レーザービームの波長に対する第１の深さのガイド溝を有する第１の光ディスクと、前記第１の深さより深い第２の深さのガイド溝を有する第２の光ディスクとに対して前記ガイド溝の深さに応じて前記フォーカス制御の制御目標を切り換える制御手段とを備え、前記制御手段は、前記１の光ディスクでは、ジャストフォーカスするように前記制御目標を設定し、前記第２の光ディスクでは、前記光ディスクに記録されたデータの再生時、ジャストフォーカスするように前記制御目標を設定し、前記再生時以外では、前記ジャストフォーカスの位置から光ディスク側にオフセットした位置が制御目標となるように、前記制御目標を切り換える。
【００２０】
また請求項４の発明は、情報記録面に形成されたガイド溝を基準にして、光ディスクにレーザービームを照射して前記光ディスクをアクセスする光ディスク装置において、所定の制御目標によりフォーカス制御して前記光ディスクをアクセスし、前記レーザービームの波長に対する第１の深さのガイド溝を有する第１の光ディスクをアクセスする場合と、前記第１の深さより深い第２の深さのガイド溝を有する第２の光ディスクとをアクセスする場合とで、前記フォーカス制御の制御目標を切り換え、前記フォーカスの制御の制御目標の切り換えが、前記１の光ディスクで、ジャストフォーカスするように前記制御目標を設定し、前記第２の光ディスクで、再生時、ジャストフォーカスするように前記制御目標を設定し、前記再生時以外では、前記ジャストフォーカスの位置から光ディスク側にオフセットした位置を前記制御目標に設定する制御目標の切り換えである。
【００２２】
ガイド溝の深さに応じてフォーカス制御の制御目標を切り換えれば、より具体的に、前記レーザービームの波長に対する前記ガイド溝の深さが深い光ディスクでは、再生時、ジャストフォーカスするように前記制御目標を設定し、再生時以外では、前記ジャストフォーカスの位置から光ディスク側にオフセットした位置が制御目標となるように、前記制御目標を切り換えるようにすれば、ガイド溝の深さが最適な深さより変位している光ディスクについても、この変位に対応して、ガイド溝よりレーザービーム照射位置を充分に正しく特定でき、かつ安定にスピンドル制御できるフォーカス制御の条件により光ディスクをアクセスすることができる。
【００２５】
【発明の実施の形態】
以下、適宜図面を参照しながら本発明の実施の形態を詳述する。
【００２６】
図２は、本発明の実施の形態に係る光ディスク装置の記録系を示すブロック図である。この光ディスク装置１０は、コンピュータ等の情報機器に接続されて、これら情報機器との間で種々のデータＤ１を入出力し、このデータＤ１を光ディスク１１に蓄積する。
【００２７】
ここで光ディスク装置１０は、図３に示すように、１．６〔μｍ〕のトラックピッチによりトラックを形成した従来型のミニディスクと、０．９５〔μｍ〕のトラックピッチによりトラックを形成した高密度型のミニディスクとを用いて種々のデータを記録できるように構成される。これら従来型及び高密度型のミニディスクは、ディスク径、ディスク厚みでなる外形形状が同一に形成され、適用される光ディスク装置のレーザー波長及び光ピックアップの開口数ＮＡが異なり、またこれに伴いトラックピッチ、ビット長が異なるようになされている。このミニディスクは、所定のカートリッジに収納されて光ディスク装置１０に装填され、このカートリッジに形成された凹部により従来型及び高密度型を識別できるようになされている。
【００２８】
図４は、図７との対比によりこの高密度型の光ディスクを示す平面図である。この光ディスク１１は、内周側から外周側に、２本のグルーブがらせん状に形成される。この２本のグルーブは、幅狭に形成され、これによりこの高密度型の光ディスク１１では、いわゆるランド記録により所望のデータを記録できるようになされている。
【００２９】
さらにこの光ディスク１１において、これらのグルーブのうち、１のグルーブが蛇行するように、残り１のグルーブは蛇行しないように形成される。これにより光ディスク１１では、１のグルーブにより検出される蛇行を２つのトラックで兼用してアドレスを検出し、またスピンドル制御できるように形成され、残るグルーブにより隣接グルーブ間のクロストークを低減するようになされている。
【００３０】
光ディスク装置１０において、データ入力部１２は、コントロール部１３の制御により動作を開始し、情報機器より入力される入力データＤ１を一時保持して出力する。ＩＤ，ＥＤＣエンコード部１４は、コントロール部１３の制御により動作を開始し、データ入力部１２より入力される入力データＤ１を所定データ単位でブロック化すると共に、誤り検出符号（ＥＤＣ：Error Detecting Code) 、識別データ（ＩＤ）を付加して出力する。
【００３１】
ＥＣＣエンコード部１５は、コントロール部１３の制御により動作を開始し、ＩＤ，ＥＤＣエンコード部１４より出力される入力データＤ１、誤り検出符号に対して、各ブロック毎に、誤り訂正符号（ＥＣＣ：Error Correcting Code)を付加し、識別データと共に出力する。メモリ１６は、コントロール部１３の制御により動作を開始し、ＥＣＣエンコード部１５の出力データを所定データ量だけ蓄積して所定のタイミングによりインターリーブ処理して出力する。
【００３２】
変調部１７は、コントロール部１３の制御により、メモリ１６の出力データをＥＦＭ変調し、フレームシンク等のデータを付加してシリアルデータにより出力する。磁界変調ドライバ１８は、この変調部１７の出力データに応じて変調コイル１９を駆動し、この変調コイル１９は、データ記録時、一定周期により光量の立ち上がるレーザービーム照射位置に変調磁界を印加する。これにより光ディスク装置１０では、情報機器より入力される入力データＤ１を光ディスク１１に記録するようになされている。
【００３３】
すなわち光ディスク装置１０において、サーボ回路２０は、コントロール部１３の制御により、ＲＦアンプ２１等より出力される各種信号を基準にして、光ピックアップ２２をトラッキング制御、フォーカス制御、スレッド制御し、またスピンドルモータ２３をスピンドル制御する。
【００３４】
光ピックアップ２２は、サーボ回路２０のスレッド制御により光ディスク１１の半径方向に可動する。さらに光ピックアップ２２は、光ディスク１１にレーザービームを照射して戻り光を所定の受光素子により受光し、その受光結果を出力する。このとき光ピックアップ２２は、開口数０．５２の対物レンズを介して波長６５０〔ｎｍ〕のレーザービームを光ディスク１１に照射する。また光ピックアップ２２は、記録時、所定のタイミングによりレーザービームの光量を間欠的に立ち上げる。
【００３５】
図５は、この光ピックアップ２２における受光素子と、ＲＦアンプ２１との関係を示すブロック図である。光ピックアップ２２は、回折格子を介して光ディスク１１にレーザービームを照射し、その−１次、０次、＋１次の戻り光をそれぞれ受光素子２２−１、２２−２、２２−３で受光する。また偏光ビームスプリッタにより、戻り光の偏光面に応じて相補的に光量が変化する２条の光束に０次の戻り光を分離し、それぞれ受光素子２２−４及び２２−５により受光する。
【００３６】
ここで図６及び図７に示すように、高密度の光ディスク１１において、光ピックアップ２２は、回折格子による０次の回折光がランドによるトラックセンタＴＣに集光されたとき、−１次及び＋１次の回折光がこのトラックの内周側及び外周側のグルーブに集光されるように光学系が形成される。さらに光ピックアップ２２は、これら−１次、＋１次の戻り光を受光する受光素子２２−１及び２２−３が、光ディスク１１の半径方向に受光面が分割して形成され（それぞれ分割された受光面を符号Ｅ、Ｆ及びＧ、Ｈにより示す）、０次の戻り光を受光する受光素子２２−２が、光ディスク１１の半径方向及び円周方向に、受光面を４分割して形成される（それぞれ分割された受光面を符号Ａ〜Ｄにより示す）。
【００３７】
ＲＦアンプ２１は、光ピックアップ２２の各受光面より出力される出力信号を電流電圧変換処理した後、演算増幅回路２１Ａ、２１Ｂ、……により演算増幅することにより、グルーブの蛇行に応じて信号レベルが変化するＡＤＩＰ（Address ln Pre-groove ）信号ＡＤＩＰ、トラッキングエラー量に応じて信号レベルが変化するトラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー量に応じて信号レベルが変化するフォーカスエラー信号ＦＥ、戻り光の偏光面に応じて信号レベルが変化する再生信号ＭＯを出力する。
【００３８】
すなわち演算増幅回路２１Ａは、−１次の戻り光を受光する受光素子２２−１より各受光面Ｇ、Ｈの出力信号を受け、この受光面Ｇ、Ｈの差分信号Ｇ−Ｈを出力する。演算増幅回路２１Ｃは、＋１次の戻り光を受光する受光素子２２−２より各受光面Ｅ、Ｆの出力信号を受け、この受光面Ｅ、Ｆの差分信号Ｅ−Ｆを出力する。
【００３９】
演算増幅回路２１Ｂは、０次の戻り光を受光する受光素子２２−２より各受光面Ａ〜Ｄの出力信号を受け、光ディスク１１の半径方向に受光面を分割した場合に対応する２つの和信号Ａ＋Ｄ、Ｂ＋Ｃを生成する。さらに演算増幅回路２１Ｂは、この２つの和信号Ａ＋Ｄ、Ｂ＋Ｃの差信号（Ｂ＋Ｃ）−（Ａ＋Ｄ）を生成する。さらに演算増幅回路２１Ｂは、対角線方向の受光面間で和信号Ａ＋Ｃ、Ｂ＋Ｄを生成し、この２つの和信号Ａ＋Ｃ、Ｂ＋Ｄ間で差信号（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）を生成することにより、非点収差法によるフォーカスエラー信号ＦＥを生成する。また演算増幅回路２１Ｂは、受光素子２２−４及び２２−５により出力信号Ｉ、Ｊの差信号Ｉ−Ｊを生成し、これにより再生信号ＭＯを生成する。
【００４０】
演算増幅回路２１Ｄは、差分信号Ｇ−Ｈ、Ｅ−Ｆ、（Ｂ＋Ｃ）−（Ａ＋Ｄ）より、トラッキングエラー信号ＴＥ（（Ｂ＋Ｃ）−（Ａ＋Ｄ）−ｋ（（Ｅ−Ｆ）＋（Ｇ−Ｈ））を生成する。ここでｋは所定の定数である。さらにＲＦアンプ２１は、差分信号Ｇ−Ｈ、Ｅ−Ｆ、和信号Ａ＋Ｄ、Ｂ＋ＣをＡＤＩＰ（Address ln Pre-groove ）信号ＡＤＩＰとして出力する。
【００４１】
かくするにつき、光ディスク装置１０において、従来型の光ディスク１１をアクセスする場合、０次の回折光がグルーブによるトラックにオントラックするようにレーザービームをトラッキング制御すると、−１次及び＋１次の回折光は、隣接するグルーブに対してオフセットして光ディスクに集光されることになる。しかしながらこのオフセットした位置は、０次の回折光によるビームスポットに対して対称になることから、この実施の形態において、高密度型の光ディスク１１に適用されるトラッキングエラー信号ＴＥにおいては、従来型の光ディスクにおいてもトラッキングエラー量に応じて信号レベルが変化することになる。またフォーカスエラー信号ＦＥにおいても、それぞれランド面、グルーブの底面を基準にしたフォーカスエラー量に応じて信号レベルが変化することになる。またＡＤＩＰ信号ＡＤＩＰにおいては、０次の戻り光より得られる和信号Ａ＋Ｄ、Ｂ＋Ｃの差信号（Ａ＋Ｄ）−（Ｂ＋Ｃ）が、従来型の光ディスクにおいて、グルーブの蛇行に応じて信号レベルが変化することになる。
【００４２】
これに対して高密度型の光ディスク１１においては、２本のトラックのうちの何れのトラックをアクセスするかにより、差分信号Ｇ−Ｈ又はＥ−Ｆを選択的に処理して、アドレスデータを検出できることになる。また差分信号Ｇ−Ｈ又はＥ−Ｆの何れよりグルーブの蛇行が検出されるかにより、トラックを判別することができる。
【００４３】
ＡＤＩＰ信号復調部２４（図２）は、この検出原理に従って、ＡＤＩＰ信号ＡＤＩＰをＦＭ検波する。ＡＤＩＰデコード部２５は、ＡＤＩＰ信号復調部２４の出力信号よりアドレスデータＡＤを再生する。このＡＤＩＰ信号復調部２４により再生されたアドレスデータＡＤをエラーチェックして出力する。
【００４４】
すなわち図８に示すように、ＡＤＩＰ信号復調部２４は、ＭＰＵ２６の制御により、高密度型の光ディスク１１においては、差分信号Ｇ−Ｈ、Ｅ−Ｆをぞれそれバンドパスフィルタ（ＢＰＦ）２４Ａ、２４Ｂにより帯域制限する。また従来型の光ディスク１においては、和信号Ａ＋Ｄ、Ｂ＋Ｃをそれぞれバンドパスフィルタ２４Ａ、２４Ｂにより帯域制限する。続く減算回路２４Ｃは、バンドパスフィルタ２４Ａ、２４Ｂの出力信号を減算し、続くＦＭ検波回路２４Ｄは、この減算回路２４Ｃの出力信号を検波すると共に、キャリア信号ＡＤＩＰを抽出して出力する。ＡＤＩＰデコード部２５は、バイフェーズデコーダ２５Ａにおいて、このＦＭ検波回路２４Ｄの出力信号よりアドレスデータＡＤを復調し、続くエラー訂正回路２５Ｂにおいて、誤り訂正処理する。
【００４５】
ＡＤＩＰ信号復調部２４において、レベル検出比較器２４Ｅは、バンドパスフィルタ２４Ａ、２４Ｂの信号レベルを比較することにより、差分信号Ｇ−Ｈ又はＥ−Ｆの何れよりグルーブの蛇行が検出されるかを判定し、この判定結果でなるトラック判定信号ＳＨを出力する。
【００４６】
ＭＰＵ（microprocessing unit）２６は、外部機器との通信により、コントロール部１３を介してこの光ディスク装置１０全体の動作を制御する。このときＭＰＵ（microprocessing unit）２６は、アドレスデータＡＤにより特定されるレーザービーム照射位置に従って、全体の動作モードを切り換え、これにより光ディスク１１の未記録領域に入力データＤ１を記録し、また記録済の領域に入力データＤ１を重ね書き記録し、さらに光ディスク１１に記録された所望のデータを再生する。このときＭＰＵは、高密度型の光ディスク１１については、トラック判定信号ＳＨ及びアドレスデータＡＤを基準にして、レーザービーム照射位置を判定し、必要に応じてシーク等の処理を実行する。
【００４７】
このようにして入力データＤ１を処理して光ディスク１１に記録するにつき、光ディスク装置１０では、所定のディスク判別機構より出力される判別信号により光ディスク１１の種類を判別し、この判別結果に基づいて、光ディスク１１をアクセスするタイミング等を制御し、これにより各ミニディスクに対応したフォーマットにより入力データＤ１を光ディスク１１に記録する。
【００４８】
図９は、この光ディスク装置１０の再生系を示すブロック図である。外部機器より光ディスク１１の再生が指示されると、光ディスク装置１０においては、サーボ回路２０の制御により光ピックアップ２２をシークさせ、光ディスク１１に記録されたデータの再生を開始する。
【００４９】
ＲＦ信号復調回路３０は、コントロール部１３の制御により動作を開始し、ＲＦアンプ２１より出力される再生信号ＭＯを２値化した後、その結果得られる２値化信号によりＰＬＬ回路を駆動し、これにより再生信号ＭＯに同期したクロックを生成する。さらにＲＦ信号復調回路３０は、このクロックにより２値化信号を順次ラッチし、これにより再生データを生成する。さらにＲＦ信号復調回路３０は、この再生データをＥＦＭ復調して復調データを出力する。
【００５０】
ＩＤデコード部３１は、この復調データより識別データＩＤを再生し、この再生結果に基づいてメモリ３２のアドレスデータを制御する。メモリ３２は、このアドレスデータ制御によりＲＦ信号復調回路３０より出力される復号データを順次入力し、所定のタイミングで出力することにより、これら復号データをデインターリーブ処理して出力する。
【００５１】
ＥＣＣデコード部３３は、メモリ３２の出力データを誤り訂正処理して出力し、ＥＤＣデコード部３４は、この出力データを誤り検出処理し、必要に応じて誤り訂正処理して出力する。データ出力部３５は、ＥＤＣデコード部３４の出力データを一定期間保持し、外部機器の了解を待って送出する。これにより光ディスク装置１０では、光ディスク１１に記録されたデータを再生して出力するようになされている。
【００５２】
図１は、この光ディスク装置１０のスピンドル制御系及びフォーカス制御系を示すブロック図である。この光ディスク装置１０において、ディスク判別機構４０は、光ディスク１１のカートリッジに形成された凹部を検出する複数のスイッチにより構成され、これらスイッチの接点出力をディスク判別信号Ｓ１としてＭＰＵ２６に出力する。
【００５３】
ＭＰＵ２６は、このディスク判別信号Ｓ１より、光ディスク１１が高密度型の場合、ジャストフォーカスするようにフォーカス制御系の動作を設定し、またグルーブの蛇行により光ディスク１１の回転を制御するようにスピンドルサーボ系の動作を設定する。
【００５４】
これに対して光ディスク１１が従来型の場合、ＭＰＵ２６は、光ディスク１１よりデータ再生する場合にはジャストフォーカスするように、それ以外の場合には、グルーブの深さの分だけ制御目標が光ディスク１１側にオフセットするようにフォーカス制御系の動作を設定する。また光ディスク１１よりデータ再生する場合には、光ディスク１１より得られるフレームシンクＳＹＮＣを基準にして光ディスク１１の回転を制御するようにスピンドルサーボ系の動作を設定し、これ以外の場合にはグルーブの蛇行により光ディスク１１の回転を制御するようにスピンドルサーボ系の動作を設定する。
【００５５】
すなわちサーボ回路２０は、所定の基準電圧Ｖ０及びＶ１を選択回路２０Ａに受け、ＭＰＵ２６の制御により、これら基準電圧Ｖ０及びＶ１を減算回路２０Ｂに選択出力する。この減算回路２０Ｂは、ＲＦアンプ２１より出力されるフォーカスエラー信号ＦＥをこの選択回路２０Ａより出力される基準電圧Ｖ０又はＶ１より減算して出力し、フォーカスサーボドライブ２０Ｃは、この減算回路２０Ｂの出力電圧が０レベルになるように、光ピックアップ２２の対物レンズ２２ＡをレーザービームＬの光軸に沿って可動する。これによりサーボ回路２０は、選択回路２０Ａより出力される基準電圧を制御目標に設定して、フィードバックループによりフォーカス制御する。
【００５６】
ここで第１の基準電圧Ｖ０は、図１０に示すように、電圧０〔Ｖ〕に保持され、これによりサーボ回路２０は、この第１の基準電圧Ｖ０がＭＰＵ２６により選択されると、ジャストフォーカスするようにフォーカス制御する。これによりサーボ回路２０は、光ディスク１１が高密度型の場合、アドレスエラーレート及びブロックエラーレート（図１０（Ｂ）及び図１２（Ｂ））の最適条件によりフォーカス制御する。また光ディスク１１が従来型の場合は、光ディスク１１よりデータ再生する場合、アドレスエラーレート（図１０（Ｂ））の最適条件と異なる、ブロックエラーレート（図１２（Ｂ））の最適条件によりフォーカス制御する。
【００５７】
これに対して第２の基準電圧Ｖ１は、対物レンズ２２Ａの位置がジャストフォーカスする位置より光ディスク１１側に所定距離ΔＬだけ変位した位置が制御目標になるように設定される。さらにこの距離ΔＬは、従来型の光ディスク１１におけるアドレスエラーレートの最適条件に対応する距離である（図１０（Ｂ））。これによりサーボ回路２０は、光ディスク１１が従来型で、この光ディスク１１よりデータ再生する以外の場合、ブロックエラーレート（図１２（Ｂ））の最適条件と異なる、アドレスエラーレート（図１０（Ｂ））の最適条件によりフォーカス制御する。
【００５８】
サーボ回路２０において、第１の分周回路（１／Ｎ）２０Ｄは、ＡＤＩＰ信号ＡＤＩＰ（図８のＦＭ検波回路２４Ｄより出力されるキャリア信号）を所定の分周比１／Ｎにより分周して出力する。また第２の分周回路（１／Ｍ）２０Ｄは、フレームシンクＳＹＮＣを所定の分周比１／Ｍにより分周して出力する。選択回路２０Ｆは、ＭＰＵ２６の制御により接点を切り換え、分周回路２０Ｄ又は２０Ｅの出力信号を選択出力する。スピンドルサーボ回路２０Ｇは、この選択回路２０Ｆの選択出力と所定の基準信号とを位相比較し、その位相比較結果が０レベルになるように、すなわち選択回路２０Ｆの選択出力が所定周波数になるように、スピンドルモータ２３の動作を制御する。
【００５９】
かくするにつき選択回路２０Ｆは、アドレスエラーレート（図１０（Ｂ））の最適条件によりフォーカス制御している場合、ＡＤＩＰ信号ＡＤＩＰによりスピンドル制御するように、分周回路２０Ｄの出力信号を選択出力する。すなわち光ディスク１１が高密度型の場合、又は光ディスク１１が従来型の場合で、光ディスク１１よりデータ再生する以外の場合、ＡＤＩＰ信号ＡＤＩＰを基準にしてスピンドル制御する。
【００６０】
これに対してブロックエラーレートの最適条件によりフォーカス制御していない場合、フレームシンクＳＹＮＣによりスピンドル制御するように、選択回路２０Ｅの出力信号を選択出力する。すなわち光ディスク１１が従来型の場合で、光ディスク１１よりデータ再生する場合、フレームシンクＳＹＮＣを基準にしてスピンドル制御する。
【００６１】
以上の構成において、光ディスク１１が装填されると（図１）、光ディスク１１は、カートリッジに形成された凹部によりディスク判別機構４０で、レーザー波長６５０〔ｎｍ〕用に形成された高密度型か、レーザー波長７８０〔ｎｍ〕用に形成された従来型かが判断される。
【００６２】
この光ディスク１１が、レーザー波長６５０〔ｎｍ〕用に形成された高密度型の場合、記録されたデータを再生する際のブロックエラーレートについても、グルーブの蛇行よるアドレスデータのアドレスエラーレートについても（図１０）、ジャストフォーカスの位置を制御目標に設定して最適なフォーカス制御を実行できることにより、光ディスク装置１０においては、サーボ回路２０において、電圧０〔Ｖ〕でなる基準電圧Ｖ０がＭＰＵ２６により選択され、この基準電圧Ｖ０を制御目標にしてフォーカスエラー信号ＦＥによりフォーカス制御される。
【００６３】
またアドレスエラーレートについて、最適な条件によりフォーカス制御されていることにより、グルーブの蛇行を検出してなるＡＤＩＰ信号ＡＤＩＰにおいては、エンベロープがほぼ一定に保持されてＲＦアンプ２１より出力され、サーボ回路２０において、このＡＤＩＰ信号ＡＤＩＰの周波数が所定周波数になるように、スピンドル制御される。
【００６４】
これらの処理により、光ディスク装置１０では、ＡＤＩＰ信号ＡＤＩＰを復調して得られるアドレスデータＡＤを基準にして、順次入力される入力データＤ１が所定フォーマットにより光ディスク１１に記録され、また光ディスク１１に記録された入力データＤ１が再生されて出力される（図２〜図９）。
【００６５】
これに対して光ディスク１１が、レーザー波長７８０〔ｎｍ〕用に形成された従来型の場合、光ディスク装置１０に対しては、等価的に溝が深く形成されていることになる。この場合、ブロックエラーレートについては、ジャストフォーカスの位置を制御目標に設定して最適にフォーカス制御でき、アドレスエラーレートについては、等価的に溝が深く形成されている分、光ディスク１１側にオフセットした位置を制御目標にして最適にフォーカス制御することができる（図１０）。またこのオフセットした位置において、エンベロープがほぼ一定に保持されたＡＤＩＰ信号ＡＤＩＰを得ることができるのに対し、ジャストフォーカスの位置においては、エンベロープが蛇行してなるＡＤＩＰ信号ＡＤＩＰが検出される。
【００６６】
これによりこの光ディスク１１では、サーボ回路２０において、ＭＰＵ２６の制御により、光ディスク１１に記録されたデータを再生する以外の場合、このオフセットした最適位置を制御目標にしてなる基準電圧Ｖ１が選択され、この基準電圧Ｖ１によりオフセットした制御目標にフォーカス制御される。これによりこの光ディスク１１では、ＡＤＩＰ信号ＡＤＩＰより正しいアドレスデータＡＤが再生され、外部機器からのアクセスコマンドが入力されると、この再生されたアドレスデータを基準にして所望の記録再生位置に光ピックアップ２２がシークされる。またエンベロープがほぼ一定に保持されたＡＤＩＰ信号ＡＤＩＰを基準にしてスピンドル制御される。
【００６７】
このようにしてスピンドル制御された状態で、所望の記録再生位置に光ピックアップ２２がシークされると、外部機器より書き込みのコマンドが入力されている場合、このスピンドル制御及びフォーカス制御により、この外部機器より入力される入力データＤ１が光ディスク１１に熱磁気記録される。
【００６８】
これに対して外部機器より読み出しのコマンドが入力されている場合、光ディスク装置１０では、基準電圧Ｖ０が選択され、これによりジャストフォーカスするようにフォーカス制御される。これによりデータの再生に最も適したフォーカス制御により、ＲＦアンプ２１より出力される再生信号ＭＯが順次信号処理されて光ディスク１１に記録されたデータＤ１が再生され、外部機器に出力される。このとき、この再生信号ＭＯを信号処理して得られるフレームシンクＳＹＮＣがサーボ回路２０において選択され、このフレームシンクＳＹＮＣが所定周波数になるようにスピンドル制御される。これによりこのようにデータの最適なフォーカス制御によりＡＤＩＰ信号ＡＤＩＰのエンベロープが蛇行してなる場合でも、安定にスピンドル制御して、所望のデータを確実に再生することができる。
【００６９】
以上の構成によれば、高密度型の光ディスク１１をアクセスする光ディスク装置において、レーザー波長の長い従来型の光ディスクをアクセスする場合に、フォーカス制御の制御目標を切り換えてフォーカス制御することにより、グルーブに記録されたアドレスデータを安定かつ確実に再生することができ、また光ディスク１１を安定かつ確実にスピンドル制御することができる。これにより光ディスク１１を安定にアクセスすることができる。
【００７０】
またデータの再生時、ジャストフォーカスするように制御目標を切り換えると共に、再生信号ＭＯの処理結果でなるフレームシンクを基準にしてスピンドル制御することにより、光ディスク１１に記録されたデータを安定かつ確実に再生することができ、これによっても光ディスク１１を安定にアクセスすることができる。
【００７１】
なお上述の実施の形態においては、レーザー波長の異なる光ディスク装置用の２種類の光ディスクをアクセスする場合について述べたが、本発明はこれに限らず、グルーブの深さがばらついている場合、標準の値より変位している場合にも適用して、一段と安定に光ディスクをアクセスすることができる。すなわちこのような光ディスクにおいては、ジャストフォーカスするようにフォーカス制御すると、ＡＤＩＰ信号ＡＤＩＰのエンベロープが蛇行するようになる。これにより例えばＡＤＩＰ信号ＡＤＩＰのエンベロープを基準にしてフォーカス制御の制御目標を順次変化させて、最適なフォーカス制御の制御目標を検出することができる。従って光ディスク１１に記録されたデータを再生する以外の場合に、このようにして検出した制御目標によりフォーカス制御し、また光ディスク１１に記録されたデータを再生する場合にジャストフォーカスするようにフォーカス制御して、従来に比して一段と安定に光ディスクをアクセスすることができる。なおこの場合、必要に応じて、これらフォーカス制御の切り換えに連動して、上述の実施の形態と同様に、スピンドル制御の基準を切り換えてもよい。
【００７２】
また上述の実施の形態においては、再生信号を処理して得られるフレームシンクを基準にしてスピンドル制御する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、再生信号を処理して得られる再生クロックを基準にしてスピンドル制御してもよい。
【００７３】
さらに上述の実施の形態においては、らせん状にトラックを形成し、このトラックをグルーブにより形成する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、複数本のトラックを並列かつらせん状に形成する場合、またグルーブとランドとを交互に切り換えてトラックを形成する場合、さらにはいわゆるランドグルーブ記録による場合等に広く適用することができる。
【００７４】
また上述の実施の形態においては、カートリッジに形成された凹部により光ディスク１１を識別する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばＴＯＣのデータ等により光ディスク１１を識別する場合等、種々のディスク判別方法を広く適用することができる。
【００７５】
また上述の実施の形態においては、２種類の光ディスクに対応してフォーカス制御及びスピンドル制御の動作を切り換える場合について述べたが、本発明はこれに限らず、グルーブの深さの異なる複数種類の光ディスクについて、互換性を図る場合にも適用することができる。
【００７６】
さらに上述の実施の形態においては、光磁気ディスクでなるミニディスクをアクセスする場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばライトワンス型の光ディスク、さらには相変化型の光ディスクのように、グルーブを形成した光ディスクをアクセスする場合に広く適用することができる。
【００７７】
また上述の実施の形態においては、グルーブの蛇行を周波数変調信号により変位させてアドレスデータを記録する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、グルーブの蛇行を位相変調信号により変位させてアドレスデータを記録する場合等、グルーブを基準にして光ディスクをアクセスする場合に広く適用することができる。
【００７８】
【発明の効果】
上述のように本発明によれば、ガイド溝の深さに応じてフォーカス制御の制御目標を切り換えることにより、ガイド溝の深さが最適な深さより変位している光ディスクについても、安定にアクセスすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態に係る光ディスク装置のスピンドル制御系及びフォーカス制御系を示すブロック図である。
【図２】図１の光ディスク装置の記録系を示すブロック図である。
【図３】図１の光ディスク装置に適用される光ディスクの特性を示す図表である。
【図４】図１の光ディスク装置に適用される光ディスクを示す平面図である。
【図５】図１の光ディスク装置の受光結果の処理の説明に供するブロック図である。
【図６】図４の光ディスクと受光素子との関係を示す平面図である。
【図７】図６との対比により図４の光ディスクと受光素子との関係を示す平面図である。
【図８】図１の光ディスク装置のＡＤＩＰ信号の処理の説明に供するブロック図である。
【図９】図１の光ディスク装置の再生系を示すブロック図である。
【図１０】図１の光ディスク装置のフォーカス制御の切り換えの説明に供する特性曲線図である。
【図１１】ミニディスクを示す平面図である。
【図１２】フォーカスエラーとエラーレートとの関係を示す特性曲線図である。
【符号の説明】
１、１１……光ディスク、１０……光ディスク装置、２０……サーボ回路、２０Ａ、２０Ｆ……選択回路、２０Ｂ……減算回路、２０Ｃ……フォーカスサーボドライブ、２０Ｄ、２０Ｅ……分周回路、２０Ｇ……スピンドルモータサーボ、２１……ＲＦアンプ、２２……光ピックアップ、２３……スピンドルモータ、２４……ＡＤＩＰ信号復調部、２５……ＡＤＩＰデコード部、２６……ＭＰＵ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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