(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力信号に応じて非信頼性決定信号を生成するための非信頼性検出装置であって、−前記入力信号を受けるための入力手段と、
−前記入力信号を正極性の第１しきい値と比較し、これに応じて第１比較出力信号を供給するのと同等な機能を実行する第１比較手段であって、前記入力信号が第１しきい値を越える際に第１信号値から第２信号値に向かって変化したりその逆にもなる第１比較手段と、
−前記入力信号を負極性の第２しきい値と比較し、これに応じて第２比較出力信号を供給するのと同等な機能を実行する第２比較手段であって、前記入力信号が第２しきい値を越える際に第３信号値から第４信号値に向かって変化したりその逆にもなる第２比較手段と、
−第１比較出力信号及び第２比較出力信号から距離値を計算するのと同等な機能を実行する距離値計算手段であって、前記距離値がＸ−Ｙ平面の曲線と固定ポイントとの間の当該Ｘ−Ｙ平面内の距離と関係を持ち、前記平面内の前記曲線が、前記Ｘ−Ｙ平面のＹ軸及びＸ軸それぞれに基づいて第１比較出力信号及び第２比較出力信号の時間同等信号値をプロットし、前記曲線を形成する前記Ｘ−Ｙ平面内のポイントを形成することにより得られ、前記Ｘ−Ｙ平面内の前記固定ポイントが前記Ｙ軸に基づいて前記第１信号値をプロットし前記Ｘ軸に基づいて前記第４信号値をプロットすることにより得られる、距離値計算手段と、
−前記距離値を距離しきい値と比較し前記距離値が前記距離しきい値を越えない際に非信頼性決定信号を生成するのと同等な機能を実行する第３比較手段と、
を有する非信頼性検出装置。
【請求項２】
入力信号に応じて非信頼性決定信号を生成するための非信頼性検出装置であって、
−前記入力信号を受けるための入力手段と、
−前記入力信号を正極性の第１しきい値と比較し、これに応じて第１比較出力信号を供給するのと同等な機能を実行する第１比較手段であって、前記入力信号が第１しきい値を越える際に第１信号値から第２信号値に向かって変化したりその逆にもなる第１比較手段と、
−前記入力信号を負極性の第２しきい値と比較し、これに応じて第２比較出力信号を供給するのと同等な機能を実行する第２比較手段であって、前記入力信号が第２しきい値を越える際に第３信号値から第４信号値に向かって変化したりその逆にもなる第２比較手段と、
−Ｘ−Ｙ平面のＹ軸及びＸ軸それぞれに基づいて第１比較出力信号及び第２比較出力信号の時間同等信号値をプロットすることにより得られる前記Ｘ−Ｙ平面内の曲線が前記Ｘ−Ｙ平面内の既定のラインと共通する少なくとも１つのポイントを持つかどうかを決定するのと同等な機能を実行する処理手段であって、前記既定のラインが第１固定ポイント及び第２固定ポイントと相互接続する第１ラインにより形成される前記Ｘ−Ｙ平面内の半面内にあり、当該半面内に第３の固定ポイントが位置づけられ、前記第１固定ポイントが前記Ｙ軸に基づいて前記第１信号値をプロットし前記Ｘ軸に基づいて前記第３信号値をプロットすることにより得られ、前記第２固定ポイントが前記Ｙ軸に基づいて前記第２信号値をプロットし前記Ｘ軸に基づいて前記第４信号値をプロットすることにより得られ、前記Ｘ−Ｙ平面内の前記第３固定ポイントが前記Ｙ軸に基づいて前記第１信号値をプロットし前記Ｘ軸に基づいて前記第４信号値をプロットすることにより得られる、前記処理手段であって、さらに前記曲線が前記既定のラインと共通する少なくとも１つのポイントを持つことを検出する際に前記非信頼性決定信号を生成する前記処理手段と、
を有する非信頼性検出装置。
【請求項３】
請求項２に記載の非信頼性検出装置であって、前記処理手段が、
−前記第１比較出力信号を受けるための第１入力端子及び前記第２比較出力信号を受けるための第２入力端子と、
−相互接続された第１主電極を有し、及び前記第１入力端子に結合されるこれら制御電極を有する第１トランジスタ対と、
−相互接続された第１主電極を有し、及び前記第２入力端子に結合されるこれら制御電極を有する第２トランジスタ対と、
を有し、
第１トランジスタ対と第２トランジスタ対の１つのトランジスタの第２主電極が相互接続され、第１トランジスタ対と第２トランジスタ対の他のトランジスタの第２主電極が相互接続されている、非信頼性検出装置。
【請求項４】
入力信号に応じて非信頼性決定信号を生成する非信頼性検出装置であって、
−前記入力信号を受けるための入力手段と、
−前記入力信号を正極性の第１しきい値と比較し、これに応じて第１比較出力信号を供給するのと同等な機能を実行する第１比較手段であって、前記入力信号が第１しきい値を越える際に第１信号値から第２信号値に向かって変化したりその逆にもなる第１比較手段と、
−前記入力信号を負極性の第２しきい値と比較し、これに応じて第２比較出力信号を供給するのと同等な機能を実行する第２比較手段であって、前記入力信号が第２しきい値を越える際に第３信号値から第４信号値に向かって変化したりその逆にもなる第２比較手段と、
処理手段と、
を有する非信頼性検出装置であって、
前記処理手段が、
（ａ）前記第１比較出力信号を受けるための第１入力端子及び前記第２比較出力信号を受けるための第２入力端子と、
（ｂ）相互接続された第１主電極を有し、及び前記第１入力端子に結合されるこれら制御電極を有する第１トランジスタ対と、
（ｃ）相互接続された第１主電極を有し、及び前記第２入力端子に結合されるこれら制御電極を有する第２トランジスタ対と、
（ｄ）前記非信頼性決定信号を供給するための出力部と、
を有し、
第１トランジスタ対と第２トランジスタ対の１つのトランジスタの第２主電極が相互接続され、第１トランジスタ対と第２トランジスタ対の他のトランジスタの第２主電極が相互接続されている、非信頼性検出装置。
【請求項５】
請求項３又は４に記載の非信頼性検出装置であって、前記処理手段がさらに前記相互接続された第２主電極の１つに結合される電流生成器を有する非信頼性検出装置。
【請求項６】
記録担体からデータを読み出す装置であって、当該装置は、
−前記記録担体から信号を読み出す読み出し手段と、
−前記信号内のビットを検出する検出手段と、
−前記データとして前記ビットを供給する出力手段と、
を有し、
さらに請求項１，２又は４に記載の非信頼性検出装置を具備する装置。
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、非信頼性検出装置及びこの非信頼性検出装置を具備する再生装置に関する。この非信頼性検出装置は通例２つの比較器を具備し、これら比較器において入力信号が最大の正の信号レベルと零の信号レベルとの間にある正のしきいレベルと、最大の負の信号レベルと零の信号レベルとの間にある負のしきい値レベルとそれぞれ比較される。
背景技術
ビット検出器において、通例、前記信号が正又は負であるかが決定される。正の信号は＋１に対応し、負の信号は−１に対応すると言われる。理想的には、決定時の信号値は、＋１００％又は−１００％、すなわち、ノイズ及び他の妨害が無い。＋１００％又は−１００％値の周辺の信号からとられる決定は、ほとんど正確である。零レベル近傍の信号からとられる決定は不確かである。＋Ｖd及び−Ｖdそれぞれに等しい２つのしきいレベルに関し、＋Ｖdより大きいという決定は＋１に対応すると言われ、−Ｖdよりも小さいという決定は−１に対応すると言われる。
−Ｖdと＋Ｖdとの間の決定は、それほど確かではない。これらはイレージャと呼ばれる。イレージャの数は、決定しきい値のレベルに強く依存する。しきい値を増大させると、イレージャ率が非常に高く増大する。
イレージャを不確かなビット決定と見なす場合、これら不確かなビット決定をより確かなものとなるようにできる。これはデュアル決定フィードバックイコライザ(DDFE:dual decision feedback equalizer)において行われる。ＤＤＦＥは従来技術でよく知られている。これに関して、同出願人名における国際特許出願第IB97/00792号（出願人整理番号ＰＨＮ１５８９４）が参照される。
発明の開示
本発明は、イレージャを検出する非信頼性検出装置を提供することを目的とする。このようなイレージャは入力信号からとられる非信頼性のサンプルとして発生し、これらサンプルからビットが通例検出されるべきである。
本発明による非信頼性装置は、入力信号に応じて非信頼性決定信号を生成する非信頼性検出装置を有し、この装置は、
−前記入力信号を受ける入力手段と、
−前記入力信号を正極性の第１しきい値(+Vd)と比較し、これに応じて第１比較出力信号を供給するのと同等な機能を実行する第１比較手段であって、前記入力信号が第１しきい値を越える際に第１信号値（−１）から第２信号値（＋１）に向かって変化したりその逆にもなる第１比較手段と、
−前記入力信号を負極性の第２しきい値(-Vd)と比較し、これに応じて第２比較出力信号を供給するのと同等な機能を実行する第２比較手段であって、前記入力信号が第２しきい値を越える際に第３信号値（−１）から第４信号値（＋１）に向かって変化したりその逆にもなる第２比較手段と、
−第１比較出力信号及び第２比較出力信号から距離値を計算するのと同等な機能を実行する距離値計算手段であって、前記距離値がＸ−Ｙ平面の曲線と固定ポイントとの間の当該Ｘ−Ｙ平面内の距離と関係を持ち、前記平面内の前記曲線が、前記Ｘ−Ｙ平面のＹ軸及びＸ軸それぞれに基づいて第１比較出力信号及び第２比較出力信号の時間同等信号値をプロットし、前記曲線を形成する前記Ｘ−Ｙ平面内のポイントを形成することにより得られ、前記Ｘ−Ｙ平面内の前記固定ポイント（Ｐ３）が前記Ｙ軸に基づいて前記第１信号値をプロットし前記Ｘ軸に基づいて前記第４信号値をプロットすることにより得られる、距離値計算手段と、
−前記距離値を距離しきい値と比較し前記距離値が前記距離しきい値を越えない際に非信頼性決定信号を生成するのと同等な機能を実行する第３比較手段と、
を有する。
他の実施例では、本発明による装置は、入力信号に応じて非信頼性決定信号を生成する非信頼性検出装置を有し、この装置が、
−前記入力信号を受けるための入力手段と、
−前記入力信号を正極性の第１しきい値(+Vd)と比較し、これに応じて第１比較出力信号を供給するのと同等な機能を実行する第１比較手段であって、前記入力信号が第１しきい値を越える際に第１信号値（−１）から第２信号値（＋１）に向かって変化したりその逆にもなる第１比較手段と、
−前記入力信号を負極性の第２しきい値(-Vd)と比較し、これに応じて第２比較出力信号を供給するのと同等な機能を実行する第２比較手段であって、前記入力信号が第２しきい値を越える際に第３信号値（−１）から第４信号値（＋１）に向かって変化したりその逆にもなる第２比較手段と、
−Ｘ−Ｙ平面のＹ軸及びＸ軸それぞれに基づいて第１比較出力信号及び第２比較出力信号の時間同等信号値をプロットすることにより得られる前記Ｘ−Ｙ平面内の曲線が前記Ｘ−Ｙ平面内の既定のラインと共通する少なくとも１つのポイントを持つかどうかを決定するのと同等な機能を実行する処理手段であって、前記既定のラインが第１固定ポイント及び第２固定ポイントと相互接続する第１ラインにより形成される前記Ｘ−Ｙ平面内の半面内にあり、当該半面内に第３の固定ポイントが位置づけられ、前記第１固定ポイント（Ｐ１）が前記Ｙ軸に基づいて前記第１信号値をプロットし前記Ｘ軸に基づいて前記第３信号値をプロットすることにより得られ、前記第２固定ポイント（Ｐ２）が前記Ｙ軸に基づいて前記第２信号値をプロットし前記Ｘ軸に基づいて前記第４信号値をプロットすることにより得られ、前記Ｘ−Ｙ平面内の前記第３固定ポイント（Ｐ３）が前記Ｙ軸に基づいて前記第１信号値をプロットし前記Ｘ軸に基づいて前記第４信号値をプロットすることにより得られる、前記処理手段であって、さらに前記曲線が前記既定のラインと共通する少なくとも１つのポイントを持つことを検出する際に前記非信頼性決定信号を生成する前記処理手段と、
を有する。
本発明は以下の認識に基づいている。前記第１及び第２比較手段、これらはラッチ形態でもよいが、これらの理想的な動作を仮定すると、これら２つの比較手段は同じ決定に達する。すなわち、ビット周波数期間と比較されてこれら比較手段の応答時間が短いとすると、これらの決定は、上記のように定められたＸ−Ｙ平面の第１ポイントと第２ポイントとの間を前後に動く。
しかしながら、前記比較手段の応答時間がビット期間と同じレベルのとき、決定曲線はＸ−Ｙ平面の上記のように定められた第１ポイントと第２ポイントとの間の直線から離れる。上記のように定められた第３ポイントＰ3は、イレージャと対応する。通例、入力信号の各極性変化中で形成される決定曲線は、第１及び第２ポイントを通り、第１、第２及び第３ポイントによって形成される三角形内にある。前記曲線から前記ポイントＰ3への距離が短くなるほど、イレージャの起こる機会が大きくなる。
本発明によると、前記入力信号の各極性変化中に、前記ポイントＰ3から決定曲線への距離が決定され、当該距離が距離しきい値と比較される。前記入力信号からとられるサンプルは、前記距離が前記距離しきい値よりも小さいと決定する時点で入力信号からとられるとき、ビットの検出に対して非信頼性を考慮する。第２の実施例においては、前記決定曲線が前記Ｘ−Ｙ平面の既定のラインと共通する少なくとも１つのポイントを持つかどうかを決定する。前記入力信号からとられるサンプルは、前記曲線が前記既定のラインと共通する少なくとも１つのポイントを持つ時点で入力信号からとられるとき、ビットの検出に対して非信頼性を考慮する。
【図面の簡単な説明】
以下、本発明のこれらの態様及びその他の態様は、以下の図でこれ以降説明される実施例に基づいて明瞭に説明される。
第１ａ図は、非信頼性検出装置の第１実施例を示し、第１ｂ図は、非信頼性検出装置の第２実施例を示している。
第２ａ図は、時間の関数として上記検出装置の入力信号の一例を示し、第２ｂ図は、当該入力信号に応答した上記検出装置の第２比較器ユニットの出力信号を示し、第２ｃ図は、当該入力信号に応答した第１比較器ユニットの出力信号を示している。
第３図は、第２ｂ図及び第２ｃ図に示されるような比較器ユニットの出力信号がＸ及びＹ軸に基づいてプロットされた仮想のＸ−Ｙ平面を示している。
第４ａ図は、時間の関数として上記検出装置の入力信号の他の例を示し、第４ｂ図は、当該他の入力信号に応答した上記検出装置の第２比較器ユニットの出力信号を示し、第４ｃ図は、当該他の入力信号に応答した第１比較器ユニットの出力信号を示している。
第５図は、第４ｂ図及び第４ｃ図に示されるような比較器ユニットの出力信号がＸ及びＹ軸に基づいてプロットされた仮想のＸ−Ｙ平面を示している。
第６図は、第１ｂ図の装置における処理ユニット１１の詳細を示している。
第７図は、記録担体から情報を読み取る装置に第１図の検出装置を組み込んだ態様を示している。
第８図はまた、当該入力信号における２つの極性遷移を表す２つの曲線のＸ−Ｙ平面を示している。
発明を実施するための最良の形態
第１図は、非信頼性検出装置の実施例を示している。この装置は、入力信号を受ける入力端子１を有し、この入力端子は、第１比較器ユニット２及び第２比較器ユニット４の一方の入力部と結合される。第１比較器ユニット２の他方の入力部は、第１閾値＋Ｖdの得られる端子６と結合される。第２比較器ユニット４の他方の入力は、第２閾値−Ｖdの得られる端子８と結合される。これら第１及び第２比較器ユニット２及び４の出力部は、距離計算ユニット１０の対応する入力にそれぞれ結合される。かかる距離計算ユニットは、比較器ユニット１２の一方の入力部に結合される出力部を有する。比較器ユニット１２の他方の入力部は、閾値Ｔの得られる端子１４に結合される。比較器ユニット１２の出力部は、信号端子１６に結合され、この端子において非信頼性決定信号が得られる。
第１ｂ図は、本装置の他の実施例を示しており、第１ａ図の装置とよく似ている。第１ｂ図の装置は、上記距離計算ユニット１０及び比較器ユニット１２に代えて処理ユニット１１が設けられている点で、第１ａ図の装置とは異なる。このユニット１１は、上記非信頼性決定信号を供給する出力端子１６に結合される出力部を有する。
以下、これら双方の実施例の動作を説明する。
上記第１比較器ユニット２は、当該入力信号を第１の閾値＋Ｖdと比較し、これに応答して第１の比較出力信号をその出力に供給する。上記第２比較器ユニット４は、当該入力信号を第２の閾値−Ｖdと比較し、これに応答して第２の比較出力信号をその出力部に供給する。これら第１及び第２の比較器ユニット２及び４の動作については、第２図及び第３図並びに第４及び第５図を参照してさらに詳しく説明する。
第２ａ図は、入力信号の極性反転期間における当該入力信号の一部分を時間の関数として示したものである。第２ａ図はさらに、上記第１及び第２の閾値＋Ｖd及び−Ｖdをそれぞれ示している。第２ｂ図は、比較器ユニット４の出力信号を時間の関数として概略的に示し、第２ｃ図は、比較器ユニット２の出力信号を時間の関数として概略的に示している。時点ｔ0において上記−Ｖdレベルと交差すると、比較器ユニット４の出力信号は、レベル−１の如き負レベル（請求の範囲に記載の第３信号レベル）から、レベル＋１の如き正レベル（請求の範囲に記載の第４信号レベル）へと変化する。時点ｔ1において上記＋Ｖdレベルと交差すると、比較器ユニット２の出力信号は、レベル−１の如き負レベル（請求の範囲に記載の第１信号レベル）から、レベル＋１の如き正レベル（請求の範囲に記載の第２信号レベル）へと変化する。
第３図は、第１比較器ユニット２の出力信号が垂直方向のＹ軸に基づき（又は沿って）プロットされ、第２比較器ユニット４の出力信号が水平方向のＸ軸に基づき（又は沿って）プロットされた仮想Ｘ−Ｙ平面を示している。比較器ユニット２及び４の出力信号の時間に等価な信号値は、Ｘ−Ｙ平面において（複数の）ポイントを形成するよう組み合わされ、かかるポイントは、ポイントＰ1とＰ2との間で曲線を形成することになる。このポイントＰ1は、時点ｔ0及びそれより前の状態を表しており、ここでは比較器ユニット２及び４の両出力信号が出力値−１を有する。ポイントＰ2は、時点ｔ2及びそれより後の状態を表しており、ここでは比較器ユニット２及び４の両出力信号が出力値＋１を有する。これらポイントＰ1からＰ2までの曲線上における他のポイントには、当該入力信号が上記閾値＋Ｖdと交差するときの時点ｔ1の状態を表すポイントＰ4（ｔ1）と、上記比較器ユニット４の出力信号がレベル＋１に達したときの状態を表すポイントＰ5（ｔ3）とがある。したがって、この遷移期間においては、当該曲線がポイントＰ1からポイントＰ2への方向に従って引かれることになる。
いま、第２ａ図に示される入力信号の一部分が、負極性から正極性へと極性反転を含んで、当該時間軸近傍上で鏡像された場合を考える。このような鏡像は、当該入力信号の正極性から負極性への極性反転を導くことになる。故に、このような極性反転が第３図に示されるようにＸ−Ｙ平面における同一曲線を導くことになることは明らかであるが、かかる曲線は、この場合ポイントＰ2からポイントＰ1への方向を辿ることになる。
第４ａ図も、極性反転期間における当該入力信号の一部を時間の関数として示している。第２ａ図と比較すると、第４ａ図における極性反転は、より緩慢なものである。また第４ｂ図も、上記比較器ユニット４の出力信号を時間の関数として概略的に示し、第４ｃ図も、比較器ユニット２の出力信号を時間の関数として概略的に示している。
第５図もまた、上記第１比較器ユニット２の出力信号が垂直方向のＹ軸に基づき（又は沿って）プロットされ、上記第２比較器ユニット４の出力信号が水平方向のＸ軸に基づき（又は沿って）プロットされた仮想Ｘ−Ｙ平面を示している。このポイントＰ1は、時点ｔ10及びそれより前の状態を表しており、ここでは比較器ユニット２及び４の両出力信号が出力値−１を有する。ポイントＰ2は、時点ｔ13及びそれより後の状態を表しており、ここでは比較器ユニット２及び４の両出力信号が出力値＋１を有する。ポイントＰ1からＰ2までの曲線上における他のポイントには、当該入力信号が上記閾値＋Ｖdと交差するときの時点ｔ11の状態を表すポイントＰ4（ｔ11）と、上記比較器ユニット４の出力信号がレベル＋１に達したときの状態を表すポイントＰ5（ｔ12）とがある。
第３図及び第５図における曲線は、ポイントＰ3からある距離Ｄだけ離れている。第３図と第５図とを比較すると、ポイントＰ3からの当該曲線の距離Ｄは、第３図の方が第５図のものよりも長いことは明らかである。ポイントＰ4からＰ5までの時間間隔の間における当該入力信号からその距離Ｄを得る場合には、ポイントＰ3からの当該曲線の距離Ｄが短いほど、その信号サンプルの非信頼性（信頼性のなさ）は大きくなる。
第１ａ図における上記距離計算ユニット１０は、こうした距離の値Ｄを計算するように構成され、かかる距離の値は、上記比較器ユニット１２の一方の入力部に供給される。この比較器ユニット１２は、その計算された距離Ｄを閾距離値Ｔと比較する。計算された距離Ｄがその閾値Ｔよりも小さければ、この比較器ユニット１２は、上記出力端子１６において非信頼性検出信号を生成する。
第３図及び第５図に示される曲線は、理想的な曲線である。実際に近い曲線は、第８図に示される。第８図は、ポイントＰ1からＰ2までの２つの曲線Ｃ1及びＣ2を示しており、これらは異なる形状の入力信号における２つの極性遷移を表している。第１ａ図の実施例につきこれまで説明してきたものとは異なる形態で、当該入力信号から得られるサンプルが信頼できないか否かを検出するために、第１ｂ図の実施例を適用することもできる。
次に、第１ｂ図の実施例の処理ユニット１１の動作を説明する。この処理ユニット１１は、図にある曲線Ｃ1及びＣ2の如き曲線が、前記Ｘ−Ｙ平面における既定のラインと共通にして少なくとも１つのポイントを有するかどうかを決定することに相当する動作を行うように構成される。このラインは、ラインｌ（エル）により第８図に示されている。
このラインｌは、上記ポイントＰ1及びＰ2を相互接続する線により形成され、上記ポイントＰ3が配置される当該Ｘ−Ｙ平面内の片方の平面に位置するものとして定義づけられる（第８図参照）。
より詳しくは、このラインｌは、上記ポイントＰ1及びＰ2に通じる上記の線と、当該ポイントＰ3との間の前記片方の平面に位置する。第８図からは、曲線Ｃ2がラインｌと共通のポイントを少なくとも１つ有することが分かる。そこで上記処理ユニット１１は、曲線Ｃ2がラインｌと共通のポイントを少なくとも１つ有することを確証した上で非信頼性決定信号を発生するようにしている。曲線Ｃ2がポイントＰ3とＰ4との間に続く時間間隔に対応する時間間隔において当該入力信号から得られるサンプルは、この場合非信頼性と考慮される。
第６図は、第１ｂ図の処理ユニット１１の詳細を示している。このユニット１１は、エミッタ同士が接続された第１トランジスタ対Ｔｒ1，Ｔｒ2と、これもエミッタ同士が接続された第２トランジスタ対Ｔｒ3，Ｔｒ4とを有している。これらトランジスタは、ＮＰＮトランジスタの形態を採っている。トランジスタ対Ｔｒ1，Ｔｒ2のベースは、当該処理ユニット１１の第１の入力部たる、符号「２２」の付された端子と結合される。トランジスタ対Ｔｒ3，Ｔｒ4のベースは、当該計算ユニット１０の第２の入力部たる、符号「２４」の付された端子と結合される。どちらのトランジスタ対の相互接続エミッタも、それぞれ対応する電流源Ｉを介してグランドのような定電位の位置に結合される。
トランジスタＴｒ1及びＴｒ4のコレクタは相互接続され、インピーダンスＲを介して定ポテンシャル（＋）の第２ポイントに結合される。トランジスタＴｒ2及びＴｒ3のコレクタは、インピーダンスＲを介して定ポテンシャル（＋）の第２ポイントに結合される。これら相互接続されたコレクタは、処理ユニット１１の出力部を形成する２６で示される端子にさらに結合される。さらに、Ｔで示される電流源は、トランジスタＴｒ2及びＴｒ3の相互接続されたコレクタと定ポテンシャルの第１ポイントとの間に結合されて利用できる。前記電流源Ｔは、第８図に示されるように、ポイントＰ３に関してラインｌの位置を設定する電流として識別できた。本実施例では、ラインｌは、ラインO-P3に垂直である。前記電流源Ｔの電流振幅度を可変することは、O-P3軸方向にラインｌをシフトすることになる。
曲線Ｃ１により特徴づけられる極性遷移中、出力端子２６での信号の極性は変化しない。このことは、この遷移中検出された（１つ又は複数の）ビットが信頼できることを示す。曲線Ｃ２により特徴づけられる極性遷移中、曲線Ｃ２は前記ラインｌと交差する。これは、出力端子２６での信号の極性を変化させる結果となる。このことは、この遷移中前記入力信号からとったサンプルに応じて検出されたビットが信頼できないことを示す。
上述した非信頼性検出装置は、記録担体からデータを読み出すための装置に用いることができる。この装置は、第７図に示される。前記読み出し装置は、磁気記録担体のような、記録担体３２から信号を読み出すための読み出しユニット３０を有する。この読み出しユニット３０は、記録担体３２から情報を読み出すための読み出しヘッド３４を有する。このようにして得られた情報は、従来技術で知られているようにビット検出器ユニット４０へと同様に、非信頼性検出装置２０の入力端子１に出力部３６を介して供給される。前記非信頼性検出装置２０の出力端子１６は、ビット検出器ユニット４０の制御信号入力部４２に結合される。ビット検出器ユニット４０の出力部４４は、前記読み出し装置の出力端子４６に結合される。
前記非検出装置２０の出力信号は、ビット検出器ユニット４０の制御信号入力部４２に供給される。前記装置２０により供給される非信頼性検出信号に応じて、ビット検出器ユニット４０は、前記非信頼性検出装置が何ら検出信号を生成しないとき変形されていないビットを発するか、又は非信頼性決定信号が生成された場合にビットを訂正するために、前記ビットに訂正ステップを実行するかの何れかを行うだろう。
本発明は上述の好ましい実施例を参照して述べられたが、これらは限定された例ではないと理解されたい。したがって、種々の変形が、請求項で規定されたように本発明の範囲から外れることなしに当業者にとっては明らかであろう。例として、請求項では、第１比較手段が、入力信号と正極性の第１しきい値とを比較し、これに応じて第１比較出力信号を供給するのと同等な機能を実行し、第２比較手段が、入力信号を負極性の第２しきい値とを比較し、これに応じて第２比較出力信号を供給するのと同等な機能を実行するように、規定されている。上記理由により、このような振る舞いを実現する種々のやり方が可能である。これらのうちの１つは、第１図を参照して説明したやり方である。他のやり方も可能であり、電圧+Vdを入力信号に加えて、このようにして得られた信号を比較器ユニット４内でゼロしきい値と比較し、入力信号から電圧+Vdを減算して、このようにして得られた信号を比較器ユニット２内でゼロしきい値と比較することもできる。
さらに、本発明は、それぞれが新規な特徴とこれら特徴の組み合わせの中にある。
【図１ａ】
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【図１ｂ】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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