(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
単一の光学系を介して、記録層にビームの焦点を合わせるように光学読取式記録媒体にビームを照射するビーム照射手段と、前記記録層からの戻り光を受信する第１のフォトディテクタと、反射層からの合焦状態にない前記ビームの戻り光を検出する第２のフォトディテクタとを備え、少なくとも、前記第２のフォトディテクタで取得した戻り光の強度に基づいて入射面の状態を検出する検出手段とを備える記録装置により記録される光学読取式記録媒体において、
前記反射層は、ビームの入射部の状態を検出するために当該入射部と上記記録層との間に形成されている
ことを特徴とする光学読取式記録媒体。
【請求項２】
記録層と、該記録層と光学読取式記録媒体表面との間に形成された反射層とを備えるディスクに対して記録又は再生を行うドライブ装置であって、
単一の光学系を介して、前記記録層にビームの焦点を合わせるように光学読取式記録媒体にビームを照射するビーム照射手段と、
前記記録層からの戻り光を受信する第１のフォトディテクタと、
前記反射層からの、合焦状態にない前記ビームの戻り光を検出する第２のフォトディテクタと、
を備え、
少なくとも、前記第２のフォトディテクタで取得した戻り光の強度に基づいて入射面の状態を検出する検出手段とを備える
ことを特徴とするドライブ装置。
【請求項３】
請求項２に記載のドライブ装置において、
前記反射層は、偏光層であり、
前記第１のフォトディテクタ、第２のフォトディテクタは、それぞれＰ偏光、Ｓ偏光の戻り光を検出する
ことを特徴とするドライブ装置。
【請求項４】
請求項２又は３に記載したドライブにおいて、
前記第２のフォトディテクタは、前記第１のフォトディテクタよりも大きい
ことを特徴とするドライブ装置。
【請求項５】
請求項２、３又は４に記載したドライブ装置において、
前記検出手段の検出結果に応じて、前記ビーム照射手段によるビームの出力する光量を増加させるビーム制御手段を、
備えることを特徴とするドライブ装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光の入射面の表面状態を検出することができる光学読取式記録媒体及びそのドライブ装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
光学読取式記録媒体、例えば、光ディスク（コンパクトディスクやレーザーディスク、光磁気ディスク等。）においては、記録層へのレーザービームの照射後に戻り光を検出することで記録情報を取り出すことができるようにドライブ装置が構成されており、ディスクへのビームの入射面に保護層を形成することによってディスクの取り扱い時等における記録層の損傷を防いでいる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、ディスクへのビームの入射面に指紋や塵埃等が付着したり、傷等がついた場合に、これらを感知する手段が講じられていないため、例えば、汚れが酷いと情報の書き込みや読み出しに要する光量の不足によって誤検出等の虞が生じる等の問題がある。
【０００４】
そこで、本発明は、光学読取式記録媒体の汚損による情報処理や制御への悪影響を低減することで信頼性の向上を図ることを課題とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る光学読取式記録媒体は上記した課題を解決するために、単一の光学系を介して、記録層にビームの焦点を合わせるように光学読取式記録媒体にビームを照射するビーム照射手段と、前記記録層からの戻り光を受信する第１のフォトディテクタと、反射層からの合焦状態にない前記ビームの戻り光を検出する第２のフォトディテクタとを備え、少なくとも、前記第２のフォトディテクタで取得した戻り光の強度に基づいて入射面の状態を検出する検出手段とを備える記録装置により記録される光学読取式記録媒体において、前記反射層は、ビームの入射部の状態を検出するために当該入射部と上記記録層との間に形成されたものであり、また、本発明に係る光学読取式記録媒体ののドライブ装置は、単一の光学系を介して、前記記録層にビームの焦点を合わせるように光学読取式記録媒体にビームを照射するビーム照射手段と、前記記録層からの戻り光を受信する第１のフォトディテクタと、前記反射層からの、合焦状態にない前記ビームの戻り光を検出する第２のフォトディテクタと、を備え、少なくとも、前記第２のフォトディテクタで取得した戻り光の強度に基づいて入射面の状態を検出する検出手段を備える。
【０００６】
従って、本発明によれば、光学読取式記録媒体への光の入射面の状態を光学的に検出することで表面の汚損の度合を把握することができる。
【０００７】
【発明の実施の形態】
図１は本発明に係る光学読取式記録媒体とそのドライブ装置の基本構成を概念的に示すものであり、光学読取式記録媒体１に対する情報の読み書きに係る構成部を除いた本質的な部分だけを抽出して示している。
【０００８】
光学読取式記録媒体１は、その記録層２に光を照射することによって記録情報を読み取ることができる構成とされ、その形状の如何は問わない。例えば、円盤状、テープ状等、各種の形態が可能であり、ディスクに形成されるトラックに沿って情報の読み出しや書き込みを行うもの（所謂光学式ディスク）や、記録媒体に対して一定方向のビーム走査によって情報の読み書きを行うもの（光カード、光テープ等）が挙げられ、要は情報を光学的に読み取ったり書き込むことのできる形態であれば、如何なる媒体であっても構わない。
【０００９】
図１の大円内に拡大して示すように、光学読取式記録媒体１には、これに入射される光の入射面１ａの表面状態を検出するために、当該入射面１ａと記録層２との間に反射層３（あるいは反射膜）が形成されている。
【００１０】
反射層３の材料としては、金属（金属膜）や、光の波長によって反射率が異なる特性を有する材料（例えば、波長依存性膜（あるいは波長分離膜）等。）が挙げられるが、後者の場合には、光学読取式記録媒体１への入射光のうち記録層２に到達して反射される光の波長と、反射層３で反射される光の波長とが異なるように光学系を設計することができるので、両者の区別が容易になる（つまり、記録情報に対応する検出信号と、表面状態の検出信号との判別が容易になる。）という利点がある。
【００１１】
尚、この反射層３の反射率が高すぎると、記録層２に到達する光量が低下してしまい、記録層２から情報を光学的に取り出したり又は記録することが困難になるので、反射率の設計値については、記録層２の材質や信号再生、記録時のＳ／Ｎ比、波長等の要因を考慮して決定する必要がある。また、反射層３は汚損等によって影響を受ける入射面１ａの表面状態を、その反射光から把握するために積極的に付加されるものであり、図では層数が１層とされているが、複数層であっても構わない（但し、記録層２への到達光量の減少を考慮すると層数は少ないことが好ましい。）。
【００１２】
光学読取式記録媒体１のドライブ装置４は、光学読取式記録媒体１への光照射を行う光源５と、光学読取式記録媒体１への光の入射面１ａの状態を検出する光学的検出手段６とを備えている。
【００１３】
光源５としては、レーザー等のコヒーレント光を発する光源が挙げられるが、これに限らず、インコヒーレント光を発する光源、あるいは該光源とインコヒーレント−コヒーレント変換素子等を組み合せた構成等、各種の形態が挙げられる。
【００１４】
光源５から発した光のうち、光学読取式記録媒体１の入射面１ａ付近（入射面１ａや反射層３）で表面反射された光は、受光素子を含む光学的検出手段６に到達し、その光量又は強度を検出することによって入射面１ａがどれだけ汚損されているかを示す情報が取得される。尚、光学読取式記録媒体１の入射面１ａによる反射光が表面状態の検出に充分な光量や強度を有する場合には、上記反射層３を有さない光学読取式記録媒体１についてもその入射面１ａがどれだけ汚損されているかを検出することができることは勿論である。
【００１５】
光学的検出手段６による検出信号は、コンピュータ等の計算機又は専用回路を用いて実現される制御手段７に送出され、当該検出信号は各種の用途に使用される。例えば、制御手段７が、検出光量（検出信号のレベル値）と基準値とを比較して、光学読取式記録媒体１の入射面１ａの汚れがあまりに酷いと判断した場合に告知手段８に信号を送出してユーザーにその旨を文字、図形等による表示や音声等によって伝え、当該光学読取式記録媒体１の使用を差し控えるように促したり、あるいは、制御手段７が、光学的検出手段６からの検出信号を受け取って、入射面１ａの汚れ具合に応じて光源５の発光量又は強度を増強する、つまり汚れ等に起因する検出光量や強度の低下に応じて光源５の出力するエネルギーを増加させるように補償制御を行う。また、光源５に対してその照射方向を走査する機構が設けられ、かつ光学読取式記録媒体１の記録層２の記録情報として光源５のビーム走査制御に必要な制御情報が含まれている場合において、光学読取式記録媒体１の入射面１ａの汚れが酷いと判断したときの再生情報を無視しあるいは当該情報の重要度を低めに評価するといった制御を行うことができる。
【００１６】
尚、光学読取式記録媒体１の記録層２に情報を記録したり又は情報を読み出すための手段についてはこれを既知として説明を省略する。
【００１７】
しかして、光学読取式記録媒体１への光の入射面１ａにおける汚損の度合を光学的に検出することで、例えば、記録情報や再生情報に不良が生じないようにしたり、誤検出や誤動作等の発生を防止することができる。
【００１８】
尚、光学読取式記録媒体１への光照射にあたって記録層２で反射した光と、入射面１ａ付近での反射光との区別をより明瞭にするためには、例えば、図２の光学読取式記録媒体１Ａに示すように、反射層３と記録層２との間に偏光層９を設けることが好ましい。これによって、記録層２に到達する光については、記録層２での反射の前と後で偏光層９を合計２回透過するのに対して、表面反射光は偏光層９の影響を受けないので、両者は偏光面の違いとして区別することができる。尚、この場合に光学読取式記録媒体への入射光が偏光していることは勿論である。
【００１９】
偏光層９の形成については、基板に膜（偏光膜）を形成する方法や、偏光板（波長板等）を貼り付ける方法が挙げられる。例えば、後者の場合には、上記した光カードにおいて偏光板の結晶軸が所定の方向を向くように基材に偏光板を接着したり、あるいはディスク状媒体において複数枚に分割した偏光板を基材に接着する方法等が挙げられる。
【００２０】
【実施例】
図３乃至図８は本発明を光学式ディスク及びその記録／再生装置に適用した実施の一例を示すものである。
【００２１】
図３はディスク１０の外観とその断面構造の拡大図を示しており、同図に矢印「Ｉ」で示す方向からレーザービームの照射が行われる。
【００２２】
サブストレートと称する円盤１１には、ポリカーボネート等のように光学的、機械的な特性の適した材料が使用され、矢印Ｉとは反対側に位置する面１１ａにはピットやグルーブ等の構造が射出成形によって形成され、当該面１１ａに記録層（あるいは記録面）１２が形成される。例えば、両面貼り合わせタイプのディスクの場合には、記録方式に応じて各種材料の膜（相変化膜や色素膜、誘電体膜等。）がスパッタリングや塗布等によって積層形成される。尚、記録層１２の上にはレーザービームの光を効率良く反射させるための反射膜１３がアルミニウム等の金属材料を用いてスパッタリングにより形成されている。
【００２３】
円盤１１のうち矢印Ｉ側の面１１ｂには、使用するレーザー波長に対する１／４波長板１４（上記偏光層９に相当する。）が付設されている。その際、円盤１１とは別個に設けられた波長板を円盤１１の形状に合わせて裁断して、単に円盤１１に貼り付けたのでは結晶軸が一方向を向くだけであるため、結晶軸がほぼ円周方向に沿う配置を実現するためには、円周方向に適当な数に分割して（図では、破線ａ、ａ、・・・で示すように８分割としている。）、複数枚の波長板を円盤１１に接着する方法を用いている。
【００２４】
１／４波長板１４には、適当な表面反射光を得るために反射膜１５（上記した反射層３に相当し、例えば、金が用いられる。）がスパッタリングによって形成されており、当該反射膜１５の反射率は上記した反射膜１３の反射率に比して小さくされ、記録層１２に対する情報の読み書きに支障を来さない値に設計されている。
【００２５】
この反射膜１５を腐食等から保護するために保護膜１６が、紫外線硬化性樹脂等を用いてコーティングにより形成されている。
【００２６】
尚、図３の例ではディスクの片面から情報の読み書きを行うタイプの構造を示しているため、ディスク全体の機械的強度を保証するために、上記反射膜１３には補強用のサブストレート（所謂ダミーサブストレート）１７が接着されている（接着層１８は紫外線硬化性樹脂等を用いて形成されている。）が、上記構造においてサブストレート１７を除いた構造を有する２枚のディスクを貼り合わせて形成される、両面貼り合わせタイプのディスクの場合には、ディスクの両面からそれぞれ情報の読み書きを行うことができることは勿論である。
【００２７】
図４は上記ディスク１０を用いたドライブ装置１９のうち、光学ヘッド部２０の構成部材の配置例を示している。尚、本図では、理解のし易さを優先するために配線やハウジング等、説明に直接関係のない部分は一切省略している。
【００２８】
光学ヘッド部２０は、半導体レーザーやビームスプリッタ等を含む光学系２１と、対物レンズ２２が設けられた２軸デバイス（あるいはアクチュエータ）２３とから構成されている。
【００２９】
光学系２１において、半導体レーザーから発して各種の光学部品を経たビーム光は立上用のミラー２４によってその照射方向が直角に変更された後、対物レンズ２２を通してディスク１０に照射される。つまり、光学系２１の構成部品は水平方向に延びる光軸に沿って配置されているので、水平方向に配置されるディスク１０（図４に２点鎖線で示す。）に対してビーム光を直角に照射するには、ミラー２４によって光軸をディスク１０に対して垂直な方向に変える必要がある。
【００３０】
２軸デバイス２３は、対物レンズ２２を介してビーム光がディスク１０の記録層１２で焦点を結ぶように焦点方向のフォーカシング調整を行う機構と、ディスク１０のトラックをなぞる（トレース）ためにディスクの半径方向における位置決め（所謂トラッキング）の調整機構を備えており、既知のようにコイルと磁石とを組み合わせた構成で生じる電磁力が利用される。
【００３１】
尚、光学ヘッド部全体は図示しないハウジングに収容されて、歯車列やリードスクリュー等を用いた送り機構によって移動され、ディスクに対してシーク動作が行われる。
【００３２】
図５は、動作原理を説明するために光学系２１の配置とディスク１０の断面構造との関係を示す光路の説明図である。尚、図では光学系やディスクにおいて説明に必要な部分だけを示している。
【００３３】
半導体レーザーにはレーザーダイオード２５が用いられており、該レーザーダイオード２５から出射したビーム光は、コリメータレンズ２６によって平行光に変換された後、グレーティングと称する位相回折格子２７に入射され、＋１次や−１次の回折光がトラッキング制御のためのサイドビームとになる（３スポット法やＤＰＰ法等。）。勿論、トラッキング制御にこのような回折光を必要としない場合には、グレーティングは不要である。
【００３４】
その後、光は無偏光ビームスプリッタ２８においてレーザー光の出射レベルをモニタリング（監視）するための光と、ディスク１０に向かう光とに分けられる。即ち、前者はモニタ用フォトディテクタ２９に到達し、また、後者についてはさらに偏光ビームスプリッタ３０でＳ偏光成分のみが分離されてから（ミラー２４での光路変更後に）、対物レンズ２２を介してディスク１０の記録層１２に照射されてここで焦点を結ぶ。
【００３５】
戻り光については、ディスク１０の記録層１２や反射膜１３により反射する光（図に「ＬＲ」で示す。）と、ディスク１０の入射面や反射膜１５で反射する光（図に「ＬＳ」で示す。）とでは光路が異なるのでそれぞれに分けて説明する。
【００３６】
先ず、記録層１２の近辺で反射する光ＬＲについては、その前にディスク１０の１／４波長板１４によって円偏光の光に変換された状態で記録層１２に達し、その後に再び１／４波長板１４を透過するときにＰ偏光の光となる。そのため、偏光ビームスプリッタ３０で反射された後、集光レンズ（組み合わせレンズ）３１を介してＲＦ（Ｒａｄｉｏ  Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）信号・サーボ信号検出用のフォトディテクタ３２（例えば、複数に分割された受光面を有する。）に到達する。尚、このディテクタ３２から得られる焦点エラー信号及びトラッキングエラー信号を用いて上記２軸デバイス２３を使ったフォーカシング制御やトラッキング制御が行われることは周知の通りである。
【００３７】
他方、ディスク１０の入射面付近で反射した光は１／４波長板１４の影響を受けないので依然Ｓ偏光のままであり、偏光ビームスプリッタ３０を透過する。そして、そのうちの一部が無偏光ビームスプリッタ２８で反射されて集光レンズ３３を介して表面反射光の検出用フォトディテクタ３４へと導かれる。尚、ディスク表面での反射光の一部しか集光レンズ３３に入射されないこと及びサブストレート１１の厚みが厳密には不均一であること（製造上のバラツキ等）を考慮すると、フォトディテクタ３４に完全に焦点を結ぶことは困難であるため、フォトディテクタ３４のサイズを大きくして光検出範囲を充分に確保することが好ましい。
【００３８】
こうして、フォトディテクタ３４で得られた反射光の強度又は光量からディスク表面の汚損状態（付着した指紋等による。）を推定することが可能となり、レーザー光の強度に補正を加えることで、汚損に起因する記録層１２へのビーム強度の低下をリアルタイムで補償することができる。
【００３９】
図６はデータ書き込み時のビーム出力補正に係る回路構成の一例を示しており、ＣＰＵ（中央演算処理装置）等を使ったコントローラ３５からの指令値がレーザー出力設定部３６に送出されると、ここでレーザー光の強度設定に係る制御信号がＤ（ディジタル）／Ａ（アナログ）変換後に加算器３７を経てレーザードライバー（駆動回路）３８に送られ、該レーザードライバー３８の出力がレーザーダイオード２５に送出される。
【００４０】
また、コントローラ３５はディスク１０に記録すべき情報に対応した指令信号を記録波形発生部３９（シンセサイザ回路を含む。）に送出し、ここから発光タイミングの制御信号がレーザードライバー３８に送出される。
【００４１】
表面反射光の検出用フォトディテクタ３４による検出信号は、アンプ部４０（フィルタ回路等を含む。）を経て比較部４１（差動アンプ等）のマイナス入力端子に送出される。比較部４１については、ディスク１０に汚れがない場合において予め測定しておいた表面反射光の反射光量を示す基準値「ＲＥＦ」が設定されており、これが比較部４１のプラス入力端子に供給される。そして、比較部４１の出力信号がレーザー出力の補償用信号として上記加算器３７に送られる。
【００４２】
しかして、アンプ部４０の出力信号は、記録時におけるディスク１０の表面状態を反映する反射光の光量に係る信号であり、ディスク表面があまり汚れていない場合には、比較部４１の出力信号のレベルがほぼゼロとなるが、ディスク表面に汚れがある場合には、その汚れが酷い程光量が低下して信号レベルが下がるので、基準値ＲＥＦから当該信号のレベル値を差し引いたレベルに相当する差信号が比較部４１から加算器３７に送出されてレーザー出力設定部３６からの信号に加算され、レーザー出力が増加するように制御が行われる。
【００４３】
尚、基準値「ＲＥＦ」についてはこれを固定値としても良いし、コントローラ３５からの信号によって設定可能な可変値（図には可変抵抗の記号で示す。）としても良い。
【００４４】
また、記録情報の再生処理においても同様にアンプ部４０の出力信号レベルと基準値ＲＥＦとの比較結果に応じてレーザー出力の制御を行うことができることは勿論である。
【００４５】
上記した反射膜１５を波長依存性膜１５Ａによって形成する場合には、例えば、図７に示すような光学系の配置を採ることができる。
【００４６】
即ち、レーザーダイオード４２から発した光（これを、「Ｌａ」と記す。）は、１段目のビームスプリッタ４３において２分され、そのうちの一方がモニタ用フォトディテクタ２９に到達し、他方が次段のビームスプリッタ４４において反射した後、対物レンズ２２を介してディスク１０Ａに照射される。尚、ビームスプリッタ４４の反射境界面には波長依存性膜１５Ａと同じ性質をもつ波長依存性膜４５が形成されている。
【００４７】
そして、ディスク１０Ａによって反射された戻り光は、ビームスプリッタ４４での反射後にビームスプリッタ４３でさらに反射され、集光レンズ４６を介して表面反射光の検出用ディテクタ４７に受光される。
【００４８】
発光部と受光部との両者を有する送受光部４８から発した光（これを「Ｌｂ」と記す。）は、ビームスプリッタ４４を透過した後、対物レンズ２２を介してディスク１０Ａに照射される。そして、ディスク１０Ａによって反射された戻り光がビームスプリッタ４４を透過して再び送受光部４８に到達する。尚、この送受光部４８には、例えば、レーザーダイオードやフォトダイオード、プリズム等を同一基板上に構成した所謂レーザーカプラや、レーザーダイオード、フォトダイオード、ホログラムプレート等を１つのパッケージ内に収めたホログラムユニット等、既知の集積型部品を用いることができる。また、送受光部４８の代わりに発光部と受光部とが分離された形態を採用する場合には、送受光部の位置に発光部を配置し、当該発光部とビームスプリッタ４４との間にさらにビームスプリッタを置いて分離した光を受光部に導くように構成すれば良い。
【００４９】
上記波長依存性膜１５Ａ、４５は、図７の右上のグラフ図に示すように、光の波長「λ」が長くなる程その反射率が小さくなる性質を有しており、レーザーダイオード４２の発光波長「λａ」の方が送受光部４８の発光波長「λｂ」より短いとする（例えば、λａ＝６５０ｎｍ（ナノメートル）、λｂ＝７８０ｎｍ。）と、レーザーダイオード４２から発した光Ｌａについてはビームスプリッタ４４の波長依存性膜４５やディスク１０Ａの波長依存性膜１５Ａにおける反射率が相対的に高いため、当該光がディスク１０Ａの記録層１２に到達する割合が相対的に低い。つまり、ビームスプリッタ４４で反射した光の大半は波長依存性膜１５Ａによって反射された後、ビームスプリッタ４３、４４での光路変更後にその一部が集光レンズ４６を介してディテクタ４７に到達することになる。
【００５０】
他方、送受光部４８の発光部から出射した光Ｌｂについては、ビームスプリッタ４４の波長依存性膜４５やディスク１０Ａの波長依存性膜１５Ａにおける反射率が相対的に低いので、これらの膜を透過した光がディスク１０Ａの記録層１２にまで到達する。よって、記録層１２の近辺における反射光のうち、波長依存性膜１５Ａ、４５を通過した光が送受光部４８内の受光部に到達することになり、これから記録情報の検出がなされる。
【００５１】
こうして、ディテクタ４７による検出信号からディスク１０Ａの表面状態を検出するとともに、当該検出信号からディスク１０Ａ表面の汚れの程度に応じて送受光部４８の光出力を補正したり、あるいは、当該検出信号に基づいてフォーカシング制御を行うことでレーザーダイオード４２からの光Ｌａがディスク１０Ａの表面付近で焦点を結ぶようにしてディスク１０Ａの表面状態を的確に把握することができる。
【００５２】
尚、上記の説明において、波長依存性膜は光の波長が長くなる程その反射率が小さくなる性質を有するとしたが、要は使用する光の波長に応じて異なる反射率を示す材料であって２種類以上の波長を区別することができるのであれば如何なる材料であっても構わない。
【００５３】
【発明の効果】
以上に記載したところから明らかなように、請求項１に係る発明によれば、光学読取式記録媒体への光の入射面における表面状態を把握するための検出光量を反射層によって充分確保することができる。
【００５４】
また、請求項２に係る発明によれば、光学読取式記録媒体への光の入射面における表面状態を光学的検出手段を用いて検出することによって、入射面の状態から汚損の度合いを把握することができ、汚損に起因して生じる記録又は再生処理時の外乱の影響を排除することが可能となるので、記録情報や再生情報の信頼性を高めることができる。
【００５５】
請求項３に係る発明によれば、第１のフォトディテクタがＰ偏光の戻り光を、第２のフォトディテクタがＳ偏光の戻り光をそれぞれ検出するようにしたので、第１のフォトディテクタにより記録層からの戻り光を検出して信号読み取り、サーボ信号検出ができ、第２のフォトディテクタにより記録媒体表面で反射した光を検出して表面の汚損を検出するということができる。
【００５６】
請求項４に係る発明によれば、第２のフォトディテクタが第１のフォトディテクタよりも大きいので、光学読取式記録媒体の厚みの不均一性によって第２のフォトディテクタに完全に焦点を合わせることが難しいという問題を回避し、光検出範囲を充分に確保することが可能になる。
請求項５に係る発明によれば、検出手段の検出結果に応じてビーム照射手段によるビームの出力する光量を増加させるビーム制御手段を設けたので、汚れ具合の強さによる検出光量あるいは強度の低下が生じたときに、それに応じてビーム照射手段によるビームの出力する光量を増加させることにより、その汚れ具合の強さによる検出光量あるいは強度の低下を補償制御することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る装置の基本構成を概念的に示す図である。
【図２】反射層と記録層との間に偏光層を設けた光学読取式記録媒体の断面構造を示す概略図である。
【図３】図４乃至図８とともに本発明を光学式ディスク及びその記録／再生装置に適用した実施の一例を示すものであり、本図は光学式ディスクの構成を概略的に示す図である。
【図４】光学式ディスクのドライブ装置のうち、光学ヘッド部の構成例を示す斜視図である。
【図５】動作原理を説明するために光路を概略的に示す説明図である。
【図６】ビーム出力補正に係る回路構成の一例を示す回路ブロック図である。
【図７】反射層に波長依存性膜を用いた場合の光学系の配置例を示す光路の概略的な説明図である。
【符号の説明】
１・・・光学読取式記録媒体、１ａ・・・入射面、２・・・記録層、３・・・反射層、４・・・ドライブ装置、５・・・光源、６・・・光学的検出手段、７・・・制御手段、３２・・・第１のフォトディテクタ、３４・・・第２のフォトディテクタ
【図１】
0003988241.tif 000002
【図２】
0003988241.tif 000003
【図３】
0003988241.tif 000004
【図４】
0003988241.tif 000005
【図５】
0003988241.tif 000006
【図６】
0003988241.tif 000007
【図７】
0003988241.tif 000008