(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
回転自在に支持されたアームと、前記アームの一端に接続されるとともにその他端に磁気ヘッドを取り付けた弾性変形可能なサスペンションと、前記サスペンション及びアームに固定されて前記磁気ヘッドとメインＦＰＣとを接続する信号伝送線路と、を備えたヘッドサスペンションアッセンブリを複数有するヘッドキャリッジアッセンブリであって、
前記磁気ヘッドごとの制御パラメータを保存する不揮発メモリを前記各ヘッドサスペンションアッセンブリに搭載して、各不揮発メモリを前記各ヘッドサスペンションアッセンブリの前記信号伝送線路に電気的接続する
ことを特徴とするヘッドキャリッジアッセンブリ。
【請求項２】
回転自在に支持されたアームと、前記アームの一端に接続されるとともにその他端に磁気ヘッドを取り付けた弾性変形可能なサスペンションと、前記サスペンション及びアームに固定されて前記磁気ヘッドとメインＦＰＣとを接続する信号伝送線路と、を備えたヘッドサスペンションアッセンブリを複数有するヘッドキャリッジアッセンブリであって、
前記各磁気ヘッドに信号を授受するヘッドアンプを前記各ヘッドサスペンションアッセンブリに搭載するとともに、前記磁気ヘッドごと及びヘッドアンプごとの制御パラメータを保存する不揮発メモリを前記ヘッドサスペンションアッセンブリに搭載し、
前記各ヘッドアンプと各不揮発メモリを前記各ヘッドサスペンションアッセンブリの前記信号伝送線路に電気的接続する
ことを特徴とするヘッドキャリッジアッセンブリ。
【請求項３】
請求項１又は２に記載のヘッドキャリッジアッセンブリを用いた磁気ディスク装置。
【請求項４】
磁気ディスクと、
リードライト回路と、
磁気ヘッド、回転自在に支持されたアーム、前記アームの一端に接続されるとともにその他端に前記磁気ヘッドを取り付けた弾性変形可能なサスペンション、前記サスペンション及びアームに固定されて前記磁気ヘッドとメインＦＰＣとを接続する信号伝送線路、を備えたヘッドサスペンションアッセンブリを複数有するヘッドキャリッジアッセンブリと、
磁気ディスク装置に関する制御パラメータと磁気ディスク装置の動作モードに関する制御パラメータを格納する記憶手段と、
前記記憶手段に格納された制御プログラムと前記制御パラメータに基づいて磁気ディスク装置の検査又は制御を行う制御手段と、を備えた磁気ディスク装置であって、
前記ヘッドサスペンションアッセンブリ状態での検査時に前記磁気ヘッドごとの制御パラメータを保存する不揮発メモリを前記各ヘッドサスペンションアッセンブリに搭載し、各不揮発性メモリを前記各ヘッドサスペンションアッセンブリの前記信号電送線路に電気的接続し、
前記制御手段は、磁気ディスク装置検査時に、前記記憶手段に格納された前記磁気ディスク装置に関する制御パラメータを読み込むと共に、前記各不揮発メモリに記憶された前記磁気ヘッドごとの制御パラメータを読み込んで磁気ディスク装置を検査動作させる
ことを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項５】
請求項４に記載の磁気ディスク装置において、
前記各磁気ヘッドに信号を授受するヘッドアンプを前記各ヘッドサスペンションアッセンブリに搭載し、
前記磁気ヘッドごとの制御パラメータに加えて前記ヘッドアンプごとの制御パラメータを前記不揮発メモリに保存する
ことを特徴とする磁気ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、磁気ディスク装置に関し、特に磁気ディスク装置固有の制御パラメータを不揮発メモリに格納している磁気ディスク装置及びこの磁気ディスク装置に用いるヘッドサスペンションアッセンブリに関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、磁気ディスク装置は、非磁性基板上に情報が記録される磁性層を設けてなる磁気ディスクがスピンドルモータの回転軸に、複数枚積み重ねて取り付けられ、記録再生用の磁気ヘッドはアームの一端に接合されたサスペンションの他端に取り付けられて、各磁気ディスク面に配置され、アームはアクチュエータにより動かされてヘッドの位置決めを行うものが知られている。このような構造のハードディスク装置においては、情報の記録再生を行う際、高速に回転した磁気ディスク面上に、磁気ヘッドは数十ナノメータ程度で浮上した状態でディスク面の所望の位置にアクセスするように配置されている。
【０００３】
そして、磁気ディスク面の同心円上のトラックに対して、磁気ヘッドによって情報が記録され、あるいは再生される。この磁気ディスク装置の一連の動作は、不揮発メモリに格納された制御パラメータ、あるいは不揮発メモリからＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）上に展開された制御パラメータをもとに、ＭＰＵ（マイクロプロセッサ）が制御プログラムを実行することで制御されるのが一般的である。
【０００４】
磁気ディスク装置には、出荷先に合せた装置の動作モード、例えばキャッシュのＯＮ／ＯＦＦ、マスター／スレーブ設定など、各ヘッド毎に設定されるパラメータ、例えば磁気ヘッドの記録再生特性に合せた最適記録電流値、最適バイアス電流値、記録ヘッドと再生ヘッドとの物理的位置（以下オフセット位置と呼ぶ）、ヘッドアンプのゲイン値、さらに各ヘッドごと、各データゾーンごとの設定パラメータ、例えばフィルタ定数等の各種の設定情報を持っている。これらの設定情報は、個々のドライブによって値が異なり、また設定変更のための書き換えが必要である。そのため、書き換え可能な不揮発メモリ、例えば、ＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ  Ｅｒａｓａｂｌｅ  ａｎｄ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）やフラッシュＲＯＭ（ＦＲＯＭ）等の半導体メモリに保存する場合や、磁気ディスク上の一部分に設けられた管理情報エリアに保存されるのが一般的である。
【０００５】
近年の磁気ディスク装置の小型化、大容量化に伴い、高性能な磁気ヘッドが要求されている。高性能な磁気ヘッドとしては、再生ヘッドと記録ヘッドを分離したタイプの複合型ヘッドが用いられている。このヘッドは、再生ヘッドとしてＭＲ（磁気抵抗効果）ヘッド又はＧＭＲ（巨大磁気抵抗効果）ヘッドを使用し、記録ヘッドとして薄膜形成技術でコイルを形成する誘導型ヘッドを使用している。
【０００６】
このタイプのヘッドは構造が複雑であり、製造過程でのばらつきが大きく、その記録再生特性はヘッドごとに大きな差がある。所望の記録密度において安定した記録と再生を可能とするため、特性が良好な磁気ヘッドのみを組込まなければならない。そのため、一般に磁気ヘッドの記録再生特性を磁気ディスク装置に組込む前に、ヘッドサスペンションアッセンブリ（記録及び再生ヘッド毎のサスペンション、アーム等を含めた集合体構造）の状態で記録再生特性を測定し、良品の選別を行っている。測定する項目としては、ＭＲヘッド抵抗値、再生ヘッドと記録ヘッドの物理的位置（オフセット量）、再生出力電圧、再生分解能、オーバーライト特性、ノイズ特性などがある。測定時には、記録ヘッドの記録電流、再生ヘッドのバイアス電流をそれぞれ変化させ、最適記録電流値と最適バイアス電流値を求めることも行われている。
【０００７】
また、磁気ディスク装置のデータ転送速度の高速化に伴い、磁気ヘッドの再生信号の増幅と記録ヘッドの駆動を行うヘッドアンプを、サスペンションあるいはアーム上に搭載し（チップオンサスペンションあるいはチップオンアームと称する）、信号伝送路の距離を短縮することで信号劣化を防ぐことが行われており、この場合、ヘッドサスペンションアッセンブリ状態での選別測定では、磁気ヘッドの特性とヘッドアンプの特性とを統合したヘッドアンプの出力信号で評価されていた。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
前述の様に、記録ヘッドの最適記録電流値の測定、再生ヘッドの最適バイアス電流値の測定、記録ヘッドと再生ヘッドのオフセット位置の測定、ヘッドアンプゲインの測定等の制御パラメータの最適化は、ヘッドサスペンションアッセンブリの状態の選別測定時に行われているが、その際の最適化された制御パラメータの結果は保存されず（個々のヘッド毎の最適な制御パラメータを設定して個々のヘッド毎に合否選別をする）、磁気ディスク装置の出荷検査時においても再度同様な最適化が行われている。
【０００９】
磁気ディスク装置の出荷検査時は、個々のヘッドごとの最適記録電流値、最適バイアス電流値などは不明のため、装置が起動するのに問題がない程度のデフォルト値を設定していた。その設定値は複数の磁気ディスク装置の特性をサンプルして、これらの装置の特性が出荷検査で動作に支障が無い程度の特性を確保できる値に設定されるため、個々の磁気ヘッドの特性のばらつきに対応することができず、磁気ディスク装置の出荷検査時に不良となる装置も出てきてしまう。
【００１０】
例えば、再生ヘッドのバイアス電流値を個々のヘッドの最適値ではなくてデフォルト値に設定した状態で他の記録再生特性を出荷検査する場合、そのデフォルト値が当該ヘッドの許容値の上下限値に近い値であると他の記録再生特性の出荷検査で不良となる虞がある。そのため、装置製造時の歩留まりが悪いという欠点があった。
【００１１】
さらに、前記チップオンサスペンションあるいはチップオンアームのようなヘッドサスペンションアッセンブリの場合、ヘッドサスペンションアッセンブリ状態での磁気ヘッドの選別測定では、ヘッドアンプで増幅された信号レベルのみの評価が行えるだけで（アンプの出力信号は磁気ヘッドとヘッドアンプの両方の性能で決まる）、磁気ヘッドの再生出力端での信号レベルを正確に測定することができないという欠点があった。
【００１２】
そこで、本発明は上記欠点を除去し、個々のヘッドサスペンションアッセンブリに対して最適なパラメータ設定を可能にして、パラメータ設定の不具合による装置不良を減少させ、製造時の装置歩留まりの向上を図ることができる磁気ディスク装置及びそれに用いるヘッドサスペンションアッセンブリを提供することを目的としている。
【００１３】
さらに、前記チップオンサスペンションあるいはチップオンアームのようなヘッドサスペンションアッセンブリの場合であっても、磁気ヘッドの再生信号レベルを正確に測定できるヘッドサスペンションアッセンブリならびにそれを用いた磁気ディスク装置の提供も目的としている。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するために、本発明は主として次のような構成を採用する。
【００１５】
回転自在に支持されたアームと、前記アームの一端に接続されるとともにその他端に磁気ヘッドを取り付けた弾性変形可能なサスペンションと、前記サスペンション及びアームに固定されて前記磁気ヘッドとメインＦＰＣとを接続する信号伝送線路と、を備えたヘッドサスペンションアッセンブリを複数有するヘッドキャリッジアッセンブリであって、
前記磁気ヘッドごとの制御パラメータを保存する不揮発メモリを前記各ヘッドサスペンションアッセンブリに搭載して、各不揮発メモリを前記各ヘッドサスペンションアッセンブリの前記信号伝送線路に電気的接続するヘッドキャリッジアッセンブリ。
【００１６】
また、回転自在に支持されたアームと、前記アームの一端に接続されるとともにその他端に磁気ヘッドを取り付けた弾性変形可能なサスペンションと、前記サスペンション及びアームに固定されて前記磁気ヘッドとメインＦＰＣとを接続する信号伝送線路と、を備えたヘッドサスペンションアッセンブリを複数有するヘッドキャリッジアッセンブリであって、
前記各磁気ヘッドに信号を授受するヘッドアンプを前記各ヘッドサスペンションアッセンブリに搭載するとともに、前記磁気ヘッドごと及びヘッドアンプごとの制御パラメータを保存する不揮発メモリを前記ヘッドサスペンションアッセンブリに搭載し、
前記各ヘッドアンプと各不揮発メモリを前記各ヘッドサスペンションアッセンブリの前記信号伝送線路に電気的接続するヘッドキャリッジアッセンブリ。
【００１７】
また、磁気ディスクと、リードライト回路と、磁気ヘッド、回転自在に支持されたアーム、前記アームの一端に接続されるとともにその他端に前記磁気ヘッドを取り付けた弾性変形可能なサスペンション、前記サスペンション及びアームに固定されて前記磁気ヘッドとメインＦＰＣとを接続する信号伝送線路、を備えたヘッドサスペンションアッセンブリを複数有するヘッドキャリッジアッセンブリと、
磁気ディスク装置に関する制御パラメータと磁気ディスク装置の動作モードに関する制御パラメータを格納する記憶手段と、
前記記憶手段に格納された制御プログラムと前記制御パラメータに基づいて磁気ディスク装置の検査又は制御を行う制御手段と、を備えた磁気ディスク装置であって、
前記ヘッドサスペンションアッセンブリ状態での検査時に前記磁気ヘッドごとの制御パラメータを保存する不揮発メモリを前記各ヘッドサスペンションアッセンブリに搭載し、各不揮発性メモリを前記各ヘッドサスペンションアッセンブリの前記信号電送線路に電気的接続し、
前記制御手段は、磁気ディスク装置検査時に、前記記憶手段に格納された前記磁気ディスク装置に関する制御パラメータを読み込むと共に、前記各不揮発メモリに記憶された前記磁気ヘッドごとの制御パラメータを読み込んで磁気ディスク装置を検査動作させる磁気ディスク装置。
【００１８】
【発明の実施の形態】
本発明の実施形態に係る不揮発メモリを搭載したヘッドサスペンションアッセンブリ及びこれを用いた磁気ディスク装置について、図１〜図７を用いて以下説明する。
【００１９】
（第１実施形態）
図１は本発明の第１実施形態に係る磁気ディスク装置の全体構成を示す図である。図１において、磁気ディスク１はデータが記録され又はデータを再生する媒体であり、磁気ヘッド２は磁気ディスク１へのデータの書込み（記録）及び磁気ディスク１からの読み出し（再生）に用いられる変換素子である。通常、磁気ディスク１は複数枚積層して設けられており、磁気ヘッド２は各磁気ディスクの各データ面に対応してそれぞれ１つ設けられている。
【００２０】
磁気ディスク１の表面には記録用の磁性層が形成されており、そのディスク面にはあらかじめ多数の同心円上のデータトラックが形成されており、さらに半径方向に複数のデータトラックから形成される複数のゾーン、例えば１２個のゾーン０、ゾーン１、・・・ゾーン１１に分割されている。各トラックには、ヘッドキャリッジアッセンブリの位置決め制御のためのサーボデータが記録された複数のサーボ領域が配置されている。各サーボ領域間にはユーザ領域となっており、ユーザ領域には複数のデータセクタが形成される。通常、ユーザーのデータはこのデータセクタ部分に記録される。更に、特定のユーザ領域にはドライブの動作に必要な管理情報を保存するための管理情報領域が設けられている。ここで、ヘッドサスペンションアッセンブリはヘッド毎のサスペンション及びアーム等からなる構造を云い、ヘッドキャリッジアッセンブリは積層した全ての磁気ディスクに対応するヘッドのサスペンション群及びアーム群等からなる構造を云う。
【００２１】
磁気ディスク１は、スピンドルモータ３によって高速回転する。ヘッドキャリッジアッセンブリは、先端に磁気ヘッド２が取り付けられており、ボイスコイルモータ５により揺動され、磁気ヘッド２を磁気ディスク上の所望の位置へ移動する。スピンドルモータ３及びボイスコイルモータ５は、スピンドル／ＶＣＭ駆動回路６に接続されている。スピンドル／ＶＣＭ駆動回路６は、スピンドルモータ１０３に制御電流を流してスピンドルモータ３を駆動する他、ボイスコイルモータ５に制御電流を流してボイスコイルモータを駆動する。スピンドル／ＶＣＭ駆動回路６は、ＭＰＵ７によって制御される。
【００２２】
各磁気ヘッド２は、ヘッドサスペンションアッセンブリ４を構成するサスペンション１６及びアーム１７に固定されているフレキシブルプリント配線基板（ＦＰＣ）１８、メインフレキシブルプリント配線基板（ＦＰＣ）２０を介してヘッドアンプ８に電気的に接続されている。ヘッドアンプ８は、ヘッド２の再生ヘッドから読み出された再生信号の増幅と、リード／ライト回路からのディジタル書込み信号データをアナログ信号波形に変換し、磁気ヘッド２の記録ヘッドを駆動する。更にこのヘッドアンプ８は、後述する書き換え可能な不揮発メモリに対してデータの書込みと読み出しも行う。
【００２３】
リード／ライト回路１１は、ヘッドアンプ８から送出されたアナログ信号を入力し、データ再生動作に必要なデコード機能を有する。このデコード機能は、例えばＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ  Ｒｅｓｐｏｎｓｅ  Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）方式の再生回路により実現される。この再生回路は、自動利得アンプ、高域除去フィルタ、アナログーディジタル変換回路、波形等化回路、ビタビ復号器、ＰＬＬ回路等（いずれも図示せず）の周知の回路構成を有している。
【００２４】
リード／ライト回路１１は、また、上記デコード機能の他に、磁気ディスクへの記録に必要な信号処理を行うエンコード処理と、ヘッド位置決め制御などのサーボ処理に必要なサーボデータの再生処理を行う信号処理機能も有する。
【００２５】
ＭＰＵ７は、後述するフラッシュＲＯＭ（ＦＲＯＭ）に格納されている制御プログラムと制御パラメータに従って磁気ディスク装置各部の制御を行う。つまり、磁気ヘッド２を磁気ディスク１上の所望の位置に移動させるための位置決め制御、ＨＤＣ（Ｈａｒｄ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）１２を制御することにより記録／再生データの転送制御などの周知の制御を行う。
【００２６】
また、ＭＰＵ７は、磁気ディスク装置の電源投入時の初期化処理中に、ＦＲＯＭに保存されている装置固有の各種制御パラメータ、動作モード等の設定情報をＲＡＭ１４上に展開する制御を行うとともに、ホストインターフェースを介してホストＰＣ装置からのＦＲＯＭ設定コマンドに応じて、ＦＲＯＭ１５に設定情報を書き込む制御も行う。
【００２７】
ＭＰＵ７には、磁気ディスク装置の各部を制御するための制御プログラム（ファームウェア）等が格納されている書き換え可能な不揮発メモリであるＦＲＯＭ１５と、ＭＰＵ１４のワークメモリ領域、磁気ディスク動作時にＭＰＵ７が使用する制御用パラメータ、動作モードの記憶領域として使われる書き換え可能な揮発性メモリであるＲＡＭ１４が接続されている。
【００２８】
ＨＤＣ１２はホストインターフェースを介してホストＰＣとの間のコマンドの通信及びデータの通信の制御を行う。さらに、リード／ライト回路との間のデータ通信も制御する。
【００２９】
磁気ディスク装置の制御プログラムで使用される制御パラメータとしては、個々の磁気ヘッドに依存しない装置固有の制御パラメータ、装置の動作モードに関する制御パラメータ、個々の磁気ヘッドに依存するパラメータがある。
【００３０】
ここで、磁気ヘッドに依存しない装置固有のパラメータとしては、装置のシリアル番号、ファームウェアのレビジョン番号、磁気ディスク上の欠陥の位置を記録した欠陥位置情報、などがある。装置の動作モードに関するパラメータは、電源投入時のスピンドル回転までの待ち時間、電源投入直後のスピンドル回転の有無の動作（パワーＯＮスピンアップ）モード、マスター／スレーブの動作モード、キャッシュメモリのＯＮ／ＯＦＦ動作などがある。個々の磁気ヘッドに依存する制御パラメータとしては、磁気ヘッドの記録電流値、再生バイアス電流値、再生ヘッドの抵抗値、記録ヘッドと再生ヘッドのオフセット量、記録電流波形のオーバーシュート量、ライトプリコンペンセーション量、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）のカットオフ周波数、ＬＰＦのブースト量などがある。これらの個々の磁気ヘッドに依存する制御パラメータは、磁気ディスク上に形成されたゾーン毎でも最適値を求めて値が設定される。
【００３１】
不揮発メモリ９は書き換え可能なＥＥＰＲＯＭであり、上記の制御パラメータの内で個々の磁気ヘッドに依存するパラメータを保存する。ヘッドサスペンションアッセンブリ状態での選別測定の時には、選別テスタのＭＰＵによって、調整後の最適化動作パラメータが記録される。磁気ディスク装置への組込み後、磁気ディスク装置の出荷検査時には、ＭＰＵ７によって、ヘッドアンプ、リードライト回路、ＨＤＣを介して制御パラメータが読み込まれる。
【００３２】
図２は、書き換え可能な不揮発性メモリ９の搭載状態を示す、ヘッドサスペンションアッセンブリの平面図である。磁気ヘッド２は、サスペンション１６の先端に取り付けられ、ＦＰＣ１８ａと１８ｂによって、接続端子１９に電気的に接続される。接続端子１９はメインＦＰＣ２０によりヘッドアンプ８に接続される。
【００３３】
前記不揮発メモリ９には、前記のような最適化された磁気ヘッドに依存する制御パラメータが保存されている。不揮発メモリ９はＦＰＣ１８ａにより接続端子１９に接続され、さらにメインＦＰＣ２０によりヘッドアンプ８に接続される。
【００３４】
次に、図１の構成の磁気ディスク装置の制御パラメータの設定方法を、本発明に関係する装置出荷検査時を例に、図３及び図４のフローチャートを参照して説明する。図３は、従来の、つまりヘッドサスペンションアッセンブリ上に書き換え可能な不揮発メモリを持たない磁気ディスク装置での検査時の制御パラメータ設定処理方法である。
【００３５】
磁気ディスク装置の電源が投入されると、ＭＰＵは、ヘッドサスペンションアッセンブリ外の基板に設けられたＦＲＯＭ１５に格納されている制御プログラムの初期化ルーチンにしたがって、ＦＲＯＭ１５のデータ領域からデフォルトの制御パラメータ（前述した装置固有、動作モード及び個々の磁気ヘッドに関する３種の制御パラメータ）を読み込む（ステップ１００）。読み込んだ制御パラメータとドライブ制御のための制御プログラムをＲＡＭ１４上に展開し（ステップ１０１）、ＲＡＭ１４上に展開されたデフォルト制御パラメータを使って、スピンドルの回転、ヘッドのシーク動作など動作を行う（ステップ１０２）。その後、制御パラメータの調整を行い（ステップ１０３）、調整後の最適化された制御パラメータを磁気ディスク上の管理エリアに記録する（ステップ１０４）。
【００３６】
図４は、本実施形態における磁気ディスク装置での検査時の制御パラメータ設定処理方法である。この図において、図３に示す従来例と異なるのは、ステップ２０１において、ヘッドサスペンションアッセンブリ上に設けられた不揮発メモリのＥＥＰＲＯＭから個々の磁気ヘッドに依存する制御パラメータを読み込むステップを含むことである。このステップで読み込まれる制御パラメータは、磁気ヘッドの平均的な値であるデフォルト値ではなくて、ヘッドサスペンションアッセンブリ状態での選別試験時に個々の磁気ヘッドに既に設定された最適化された値である。
【００３７】
図３に示す従来例での問題点は、ステップ１０２において、個々の磁気ヘッド及びヘッドアンプに対して最適化されていないデフォルト値を使って磁気ディスク装置を動作させており、磁気ディスク装置が動作しなかったり、動作が不安定になることである。
【００３８】
本実施形態のように、ヘッドサスペンションアッセンブリ上に書き換え可能な不揮発メモリを搭載し、ヘッドサスペンションアッセンブリ状態で最適化した個々の磁気ヘッドに依存する制御パラメータを格納しておくことにより、磁気ディスク装置の検査時の不安定動作を無くし、磁気ディスク装置の歩留まりを向上させることができる。
【００３９】
更に、具体的に説明すると、制御パラメータの１つである再生ヘッドのバイアス電流を例に取ると、当該再生ヘッドを有したヘッドサスペンションアッセンブリ状態での選別試験時において、最適なバイアス電流値が設定されてその設定値が当該ヘッドサスペンションアッセンブリ上の不揮発メモリに格納される。そして、磁気ディスク装置の検査時に最適化された再生ヘッドのバイアス電流値のような個々の磁気ヘッドに依存する制御パラメータ（バイアス電流値以外の磁気ヘッドに依存するその他の制御パラメータも不揮発メモリに格納済みである）を不揮発メモリから読み出してＲＡＭ１４上に展開し（ステップ２０２）、更に、磁気ディスク装置に固有の制御パラメータや動作モードに関する制御パラメータをＦＲＯＭから読み出してＲＯＭに展開する（ステップ２０２で「デフォルトの制御パラメータ」というのは、ＦＲＯＭからの制御パラメータとＥＥＰＲＯＭからの最適化された制御パラメータの双方を云う）。
【００４０】
続いて、前記ＦＲＯＭとＥＥＰＲＯＭからＲＡＭに展開された全ての制御パラメータを使用して実際に磁気ディスク装置を動作させて装置出荷試験を行い、磁気ディスク装置の動作を最適にするように、すべての制御パラメータを調整して（ステップ２０４）、調整後の最適化制御パラメータを磁気ディスク上の管理情報エリアに記録する（ステップ２０５）。ステップ２０４において、最適化パラメータの内で磁気ヘッドに依存する制御パラメータがＥＥＰＲＯＭに格納された数値を変更された場合に、変更された調整後の制御パラメータをＥＥＰＲＯＭで書き換えて格納しても良い。このようにすれば、ヘッドサスペンションアッセンブリの集合体であるヘッドキャリッジアッセンブリが取り外されて同型式の他の磁気ディスク装置に取り付けられた場合に、書き換えた制御パラメータ数値が有効に活用される。
【００４１】
（第２実施形態）
図５は本発明の第２実施形態に係る磁気ディスク装置の全体構成を示す図である。図５において、磁気ディスク１、磁気ヘッド２、スピンドルモータ３、ボイスコイルモータ５、スピンドル／ＶＣＭ駆動回路６、ＭＰＵ７、リードライト回路１１、ＨＤＣ１２、ホストインターフェース１３、ＲＡＭ１４、ＦＲＯＭ１５、接続端部１９、メインＦＰＣ２０、については、図１に示した第１実施形態と同様の構造、機能乃至作用を奏するものであるので、図１におけるこれらの構成要素の説明を援用する。
【００４２】
各磁気ヘッド２は、ヘッドサスペンションアッセンブリ４を構成するサスペンション１６及びアーム１７に固定されているフレキシブルプリント配線基板（ＦＰＣ）１８に接続されたヘッドアンプ８に電気的に接続されている。ヘッドアンプ８はヘッド２の再生ヘッドから読み出された再生信号の増幅と、リード／ライト回路からのディジタル書込み信号データをアナログ信号波形に変換し、磁気ヘッド２の記録ヘッドを駆動する。
【００４３】
ヘッドアンプコントローラ１０は、各ヘッドサスペンションアッセンブリ毎に設けられたヘッドアンプ８の切替え、リード／ライト回路１１から出力された記録データを各ヘッドアンプ８に送出、各ヘッドアンプ８からの増幅された再生信号を受け取り、リード／ライト回路１１に送出する。尚、図１におけるヘッドアンプは、図５に示すヘッドアンプ８とヘッドアンプコントローラ１０の上述した機能を兼用するものである。
【００４４】
本発明の第２実施形態では、不揮発メモリであるＥＥＰＲＯＭ９に加えて、ヘッドアンプ８をもヘッドサスペンションアッセンブリ４に搭載し、このヘッドアンプと不揮発メモリをサスペンション及びアームに固定されているＦＰＣ１８に電気的接続する構成となっている。電気的接続の概要は、アンプ８の一方の端子がヘッド２の入出力端子と接続され、アンプ８の他方の端子がＦＰＣ１８の接続端部１９（メインＦＰＣ２０との接続点）と接続されると共に、ＥＥＰＲＯＭ９が接続端部１９とアンプ８の第３の端子（例、アンプゲインを変更させる端子）に接続される。
【００４５】
磁気ディスク装置の制御プログラムで使用される制御パラメータとしては、個々の磁気ヘッドやヘッドアンプに依存しない装置固有の制御パラメータ、装置の動作モードに関する制御パラメータ、個々の磁気ヘッドとヘッドアンプに依存するパラメータがある。ここで、磁気ヘッドやヘッドアンプに依存しない装置固有のパラメータとしては、装置のシリアル番号、ファームウェアのレビジョン番号、磁気ディスク上の欠陥の位置を記録した欠陥位置情報、等がある。装置の動作モードに関するパラメータは、電源投入時のスピンドル回転までの待ち時間、電源投入直後のスピンドル回転の有無の動作（パワーＯＮスピンアップ）モード、マスター／スレーブの動作モード、キャッシュメモリのＯＮ／ＯＦＦ動作などがある。個々の磁気ヘッドやヘッドアンプに依存する制御パラメータとしては、磁気ヘッドの記録電流値、再生バイアス電流値、再生ヘッドの抵抗値、記録ヘッドと再生ヘッドのオフセット量、ヘッドアンプのアンプゲイン値、記録電流波形のオーバーシュート量、ライトプリコンペンセーション量、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）のカットオフ周波数、ＬＰＦのブースト量などがある。これらの個々の磁気ヘッドやヘッドアンプに依存する制御パラメータは、磁気ディスク上に形成されたゾーン毎でも最適値を求めて値が設定される。
【００４６】
不揮発メモリ９は書き換え可能なＥＥＰＲＯＭであり、上記の制御パラメータの内で個々の磁気ヘッドやヘッドアンプに依存する制御パラメータを保存する。ヘッドサスペンションアッセンブリ状態での選別測定の時には、選別テスタのＭＰＵによって、調整後の最適化制御パラメータが不揮発メモリに記録される。磁気ディスク装置への組込み後、磁気ディスク装置の出荷検査時には、ＭＰＵ７によって、ヘッドアンプコントローラ１０、リードライト回路１１、ＨＤＣ１２を介して不揮発メモリ上の制御パラメータが読み込まれる。
【００４７】
図６に不揮発性メモリ９を搭載したヘッドサスペンションアッセンブリの平面図を示す。磁気ヘッド２はサスペンション１６の先端に取り付けられ、ＦＰＣ１８ｂによって、ヘッドアンプ８に電気的に接続される。ヘッドアンプ８はさらにＦＰＣ１８ｃに電気的に接続され、ＦＰＣ１８ｃは接続端子１９に接続される。接続端子１９はメインＦＰＣ２０によりヘッドアンプコントローラ１０と接続される。不揮発メモリ９には、前記のような最適化された磁気ヘッドに依存する制御パラメータが保存されている。不揮発メモリ９は、ＦＰＣ１８ａにより接続端子１９に接続され、さらにメインＦＰＣ２０によりヘッドアンプコントローラ１０に接続される。
【００４８】
次に、図５の構成の磁気ディスク装置の動作パラメータの設定方法を、本発明に関係する磁気ディスク装置の出荷検査時を例にして、図３及び図７のフローチャートを参照して説明する。
【００４９】
図３は、従来の、つまりヘッドサスペンションアッセンブリ上に書き換え可能な不揮発メモリを持たない磁気ディスク装置での検査時の動作パラメータ設定処理方法であり、第１実施形態の説明欄において既に説明したとおりである。
【００５０】
図７は、第２実施形態における磁気ディスク装置での検査時の動作パラメータ設定処理方法である。図７において、図３に示す従来例と異なるのは、ステップ３０１において、ヘッドサスペンションアッセンブリ上のＥＥＰＲＯＭから個々の磁気ヘッド及びヘッドアンプに依存する制御パラメータを読み込むステップを含むことである。このステップで読み込まれる制御パラメータは、ヘッドサスペンションアッセンブリ状態での選別試験時に既に最適化された値である。
【００５１】
図３に示す従来例での問題点は、ステップ１０２において、個々の磁気ヘッド及びヘッドアンプに対して最適化されていないデフォルト値を使って装置を動作させており、磁気ディスク装置が動作しなかったり、動作が不安定になることである。
【００５２】
本実施形態のように、ヘッドサスペンションアッセンブリ上に書き換え可能な不揮発メモリを搭載し、ヘッドサスペンションアッセンブリ状態で最適化した、個々の磁気ヘッド及びヘッドアンプに依存する制御パラメータを格納しておくことにより、磁気ディスク装置の検査時の不安定動作を無くし、磁気ディスク装置の歩留まりを向上させることができる。
【００５３】
更に、本実施形態のようなヘッドサスペンションアッセンブリは、ヘッドサスペンションアッセンブリ状態での選別測定の前に、ヘッドアンプのアンプゲイン値を不揮発メモリ中に保存しておき、これを選別測定時に利用することが可能である。これにより、ヘッドサスペンションアッセンブリ状態の選別時の磁気ヘッドの正確な信号レベルを選別測定でき、不良品混入を防ぎ、磁気ディスク装置の歩留まりを向上することができる。
【００５４】
具体例を挙げて説明すると、図６に示すヘッドサスペンションアッセンブリ状態での選別試験時に、再生ヘッドのバイアス電流等の磁気ヘッドに関する制御パラメータの最適値を得てＥＥＰＲＯＭ９に保存すると共に、アンプゲインや記録電流のオーバーシュート量等のヘッドアンプ８に関する制御パラメータの最適値は、ヘッドサスペンションアッセンブリ状態での選別試験前に、ヘッドアンプ単体の試験で最適値を設定してこの値をＥＥＰＲＯＭ９に保存する。そして、図４のステップ２０２〜ステップ２０５と同様な手順で全ての制御パラメータを調整して、調整後の最適化された制御パラメータを磁気ディスク上の管理情報エリアに記録し、又は、磁気ヘッドとヘッドアンプの調整後の制御パラメータについてはＥＥＰＲＯＭ９に書き換えるようにする。
【００５５】
このように、ヘッドサスペンションアッセンブリ状態の試験で磁気ヘッド及びヘッドアンプに関して最適値に設定された値を用いて、磁気ディスク装置の記録再生特性を含めた出荷検査をすれば、磁気ヘッド及びヘッドアンプの平均的なデフォルト値を用いて記録再生特性を出荷検査する図３の従来例と比べて、検査不良となる確率は少なくなる（デフォルト値が検査対象の磁気ヘッドの許容値の上下限値に近い値であると磁気ディスク装置の記録再生特性の出荷検査で不良となる虞がある）。また、チップオンサスペンションあるいはチップオンアームのようなヘッドサスペンションアッセンブリの場合、ヘッドサスペンションアッセンブリ状態での磁気ヘッドの選別測定では、磁気ヘッドとヘッドアンプの制御パラメータをそれぞれ個別に最適値に設定して不揮発メモリ９にそれぞれ格納して、それぞれの最適値を用いて磁気ディスク装置の出荷検査を行うので、ヘッドアンプの制御パラメータが既知であることから磁気ヘッドの再生出力端での信号レベルを正確に測定することができ、磁気ヘッドの制御パラメータの調整（ステップ３０４）を行うことができる。
【００５６】
本実施形態では図５及び図６に示すように、ヘッドアンプ８と書き換え可能な不揮発メモリ９は別個のパッケージに収められたものをヘッドサスペンションアッセンブリ４上に配列した構成例を示したが、本発明は本実施形態に限られることなく、この発明の範囲内で変形は可能である。例えば、ヘッドアンプ８と書き換え可能な不揮発メモリ９を同一のパッケージに収める形態でもよい。このような形態とすることで、ヘッドアンプのアンプゲインをチップ状態で測定し、書き換え可能な不揮発メモリに保存することができ、試験工程を短縮できること、部品数を低減できることにより製造コストの低減も可能となる。
【００５７】
以上説明したように、本発明の第１と第２の実施形態に係る磁気ディスク装置及びヘッドサスペンションアッセンブリによれば、ヘッドサスペンションアッセンブリ上に情報保存手段を有するため、ヘッドサスペンションアッセンブリの選別測定時において、個々のヘッドサスペンションごとに最適化制御パラメータを保存することができ、この保存された最適化制御パラメータを磁気ディスク装置の出荷検査時に利用することが可能となる。したがって、個々の最適値を使用するため磁気ヘッドやヘッドアンプの特性がばらついていても常に良好な状態で検査を行うことが出来、装置歩留まりを向上させることが可能となる。
【００５８】
【発明の効果】
本発明によれば、ヘッドサスペンションアッセンブリ上に、書き換え可能な不揮発メモリを設け、このメモリに磁気ヘッド及び／又はヘッドアンプの最適化制御パラメータを保存することにより、このヘッドサスペンションアッセンブリを用いた磁気ディスク装置の出荷時検査での装置歩留まりを向上させることができる。
【００５９】
また、本発明によれば、ヘッドアンプのアンプゲインをあらかじめ測定し、書き換え可能な不揮発メモリに格納しておくことにより、ヘッドサスペンションアッセンブリ状態での選別測定時にヘッドの出力信号レベルを直接に且つ正確に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１実施形態に係る磁気ディスク装置の全体構成を示す図である。
【図２】第１実施形態の磁気ディスク装置に設けられたヘッドサスペンションアッセンブリの平面図である。
【図３】従来の磁気ディスク装置における出荷検査時の動作パラメータ設定方法を示すフローチャートである。
【図４】第１実施形態の磁気ディスク装置の動作パラメータ設定方法を示すフローチャートである。
【図５】本発明の第２実施形態に係る磁気ディスク装置の全体構成を示す図である。
【図６】第２実施形態の磁気ディスク装置に設けられたヘッドサスペンションアッセンブリの平面図である。
【図７】第２実施形態の磁気ディスク装置の動作パラメータ設定方法を示すフローチャートである。
【符号の説明】
１  磁気ディスク
２  磁気ヘッド
３  スピンドルモータ
４  ヘッドサスペンションアッセンブリ
５  ボイスコイルモータ
６  スピンドル／ＶＣＭ駆動回路
７  ＭＰＵ（マイクロプロセッサ）
８  ヘッドアンプ
９  不揮発メモリ
１０  ヘッドアンプコントローラ
１１  リードライト回路
１２  ＨＤＣ
１３  ホストインターフェース
１４  ＲＡＭ
１５  フラッシュＲＯＭ
１６  サスペンション
１７  アーム
１８  ＦＰＣ
１９  接続端部
２０  メインＦＰＣ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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