(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体上のテスト記録領域を形成する複数の単位テスト記録領域毎に、複数の異なった記録パワーでテスト信号を記録すると共に、各単位テスト記録領域に記録された前記テスト信号を再生し、当該再生されたテスト信号の状態に応じて光ビームの最適記録パワーを選定する情報記録装置であって、
前記複数の異なった記録パワーを得るパワー設定値を、前記単位テスト記録領域の夫々を識別する位置情報に対応させて記憶する書き換え可能な記憶手段と、
一定の記録クロック信号に基づいて前記単位テスト記録領域に前記テスト信号を記録する記録手段と、
前記単位テスト記録領域毎の記録時間に対応した周期で前記位置情報を生成する位置情報生成手段と、
前記生成された位置情報に基づいて前記記憶手段に記憶された前記パワー設定値を読み出し、読み出した当該パワー設定値を前記記録手段に出力する記録制御手段と、
前記記録の行われる単位テスト記録領域における欠陥を検出する欠陥検出手段と、
前記欠陥が検出された時には、当該欠陥が検出された前記単位テスト記録領域を識別する前記位置情報に対応する前記パワー設定値を、当該欠陥が検出された前記単位テスト記録領域に隣接する他の前記単位テスト記録領域を識別する前記位置情報に対応させて前記記憶手段に記憶させるパワー設定値保存手段と、
を備えることを特徴とする情報記録装置。
【請求項２】
前記記憶手段には、Ｎ個の単位テスト記録領域を識別するＮ個の位置情報に対応させてＮ個の異なるパワー設定値が記憶されており、前記パワー設定値保存手段は、前記欠陥が検出された時には、（Ｎ＋１）番目以降の単位テスト記録領域を識別する位置情報に対応させて、前記パワー設定値を記憶手段に記憶させることを特徴とする請求項１に記載の情報記録装置。
【請求項３】
前記記憶手段には、Ｎ個の単位テスト記録領域を識別するＮ個の位置情報に対応させてＮ個の異なるパワー設定値が記憶されており、
前記パワー設定値保存手段は、前記欠陥が検出された時には、前記欠陥が検出された単位テスト記録領域の次の単位テスト記録領域を識別する位置情報に対応させて、前記パワー設定値を記憶手段に記憶させることを特徴とする請求項１に記載の情報記録装置。
【請求項４】
記録媒体上のテスト記録領域を形成する複数の単位テスト記録領域毎に、複数の異なった記録パワーでテスト信号を記録すると共に、各単位テスト記録領域に記録された前記テスト信号を再生し、当該再生されたテスト信号の状態に応じて光ビームの最適記録パワーを選定する情報記録装置であって、
前記複数の異なった記録パワーを得るパワー設定値を、前記単位テスト記録領域の夫々を識別する位置情報に対応させて記憶する書き換え可能な記憶手段と、
一定の記録クロック信号に基づいて前記単位テスト記録領域に前記テスト信号を記録する記録手段と、
前記単位テスト記録領域毎に前記位置情報を生成する位置情報生成手段と、
前記生成された位置情報に基づいて前記記憶手段に記憶された前記パワー設定値を読み出し、読み出した当該パワー設定値を前記記録手段に出力する記録制御手段と、
前記記録されたテスト信号を前記単位テスト記録領域毎に当該単位テスト記録領域から再生し、当該再生結果が異常であるか否かを検出する検出手段と、
前記再生結果が異常であると検出された時には、当該再生結果が異常であると検出された時に前記記録制御手段により位置情報に基づいて読み出される前記パワー設定値を、当該位置情報とは別の位置情報に対応させて前記記憶手段に記憶させるパワー設定値保存手段と、
を備えることを特徴とする情報記録装置。
【請求項５】
前記記録制御手段は、複数の単位テスト記録領域から前記パワー設定値を読み出して前記記録手段に出力すると共に、前記再生結果が異常であると検出された時には、前記パワー設定値の再読み出し及び前記記録手段への再出力を行い、
前記検出手段は、前記記録手段による複数の前記単位テスト記録領域に対する前記テスト信号の記録後に、夫々の前記単位テスト記録領域から前記記録されたテスト信号を再生して当該再生結果が異常であるか否かを検出することを特徴とする請求項４記載の情報記録装置。
【請求項６】
前記記録制御手段は、前記再生結果が異常であると検出された時に、前記パワー設定値の再読み出し及び前記記録手段への再出力を複数回行うことを特徴とする請求項５に記載の情報記録装置。
【請求項７】
記録媒体上のテスト記録領域を形成する複数の単位テスト記録領域毎に、複数の異なった記録パワーでテスト信号を記録すると共に、各単位テスト記録領域に記録された前記テスト信号を再生し、当該再生されたテスト信号の状態に応じて光ビームの最適記録パワーを選定する情報記録装置であって、
前記複数の異なった記録パワーを得るパワー設定値を、前記単位テスト記録領域の夫々を識別する位置情報に対応させて記憶する書き換え可能な記憶手段と、
一定の記録クロック信号に基づいて前記単位テスト記録領域に前記テスト信号を記録する記録手段と、
前記単位テスト記録領域毎の記録時間に対応した周期で前記位置情報を生成する位置情報生成手段と、
前記生成された位置情報に基づいて前記記憶手段に記憶された前記パワー設定値を読み出し、読み出した当該パワー設定値を前記記録手段に出力する記録制御手段と、
前記記録の行われる単位テスト記録領域における欠陥を検出する欠陥検出手段と、
を備え、
前記記録手段は、前記欠陥が検出された時、当該欠陥が検出された前記単位テスト記録領域を識別する前記位置情報に対応する前記パワー設定値を用いて、当該欠陥が検出された前記単位テスト記録領域に隣接する他の前記単位テスト記録領域に前記テスト信号を記録することを特徴とする情報記録装置。
【請求項８】
記録媒体上のテスト記録領域を形成する複数の単位テスト記録領域毎に、複数の異なった記録パワーでテスト信号を記録すると共に、各単位テスト記録領域に記録された前記テスト信号を再生し、当該再生されたテスト信号の状態に応じて光ビームの最適記録パワーを選定する情報記録装置であって、
前記複数の異なった記録パワーを得るパワー設定値を、前記単位テスト記録領域の夫々を識別する位置情報に対応させて記憶する書き換え可能な記憶手段と、
一定の記録クロック信号に基づいて前記単位テスト記録領域に前記テスト信号を記録する記録手段と、
前記単位テスト記録領域毎に前記位置情報を生成する位置情報生成手段と、
前記生成された位置情報に基づいて前記記憶手段に記憶された前記パワー設定値を読み出し、読み出した当該パワー設定値を前記記録手段に出力する記録制御手段と、
前記記録されたテスト信号を前記単位テスト記録領域毎に当該単位テスト記録領域から再生し、当該再生結果が異常であるか否かを検出する検出手段と、
を備え、
前記記録手段は、前記再生結果が異常であると検出された時、当該再生結果が異常であると検出された時に前記記録制御手段により位置情報に基づいて読み出される前記パワー設定値を用いて、当該位置情報とは別の位置情報により識別される前記単位テスト記録領域に前記テスト信号を記録することを特徴とする情報記録装置。
【請求項９】
複数の前記単位テスト記録領域は、前記記録媒体上に隣接して形成されていることを特徴とする請求項１から８のいずれか一項に記載の情報記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ディスクに対する記録電力を自動的に設定し、情報記録する情報記録装置の技術分野に属するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来から、追記可能な光記録媒体として、有機系色素の状態変化を利用し、同一箇所に一度だけ情報を書き込めるライトワンス（ＷＯ：Write Once）型の光ディスクが研究されている。
【０００３】
このような有機系色素を記録膜に用いたライトワンス型の光ディスクは、例えばトリフェニルメタン系色素、フルオラン系色素、あるいはシアニン系色素等が記録材料として使用される。これら記録材料は、光ビーム等の照射により記録部の表面近傍での蒸気圧が高くなり、その蒸気圧により溶融部が周辺に押し拡げられるという背面流動機構によってピットが形成され、デジタルデータの「１」と「０」とに対応させることができる。
【０００４】
ところで、このような有機系色素を用いた光ディスクは、記録材料により上述した背面流動を生じる温度等が異なるため、ピットを形成するために照射する光ビームのパワー（電力）がディスクの種類毎に異なっている。
【０００５】
そこで、従来は、このような有機系色素を用いた光ディスクに情報を記録するために、光ディスクの一部、例えば、コントロールトラックやリードインエリアに、その光ディスクにとって最適なレーザパワーをコード化して記録していた。
【０００６】
しかし、同一の記録材料を使用していても、個々のディスク毎に微妙に特性が異なる場合が多い。このため、レーザパワーを一律に加えたのでは、個々のディスクにとって、必ずしも最適のレーザパワーが照射されるとは言えない場合が多かった。
【０００７】
すなわち、従来のように、同種の光ディスクに対し一律なレーザパワーを供給していたのでは、周囲の環境の変化や、ディスク毎に記録再生特性か変化すること等の影響によって、安定した情報記録が行えないという不都合を生じていた。
【０００８】
そこで、従来は、実際の記録動作が開始される前に、レーザパワーのキャリブレーションを行っていた。このキャリブレーションは、光ディスクにテスト記録領域を設け、このテスト記録領域にレーザパワーを段階的に変化させてテスト信号を記録し、記録したテスト信号を再生することにより、その記録装置と、その記録媒体との組み合わせにおいて最適となる記録パワーで情報を記録するようしていた。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、記録媒体には、傷や埃等に起因する欠陥（ディフェクト）が存在する。かかる欠陥がテスト信号を書くべき位置に存在すると、記録信号（テスト信号）の信号品質を正確に検証できなくなるという問題があった。
【００１０】
つまり、本来は最適となる記録パワーでテスト信号が記録されたとしても、その記録位置に欠陥が存在すると、そのテスト信号の再生信号は最適な信号とは認められず、そのテスト信号の記録に用いられた記録パワーは最適な記録パワーとして設定されなくなってしまう。また逆に、最適な記録パワーで記録されたテスト信号ではないにも拘わらず、欠陥によってそのテスト信号の再生信号が最適な信号と認められ、最適ではない記録パワーを誤って最適な記録パワーとして設定されることがあった。その結果、従来は、記録装置と記録媒体との組み合わせにおいて最適となる記録パワーでの情報の記録が行われていない場合があった。
【００１１】
また、以上のような問題は、前記記録位置に欠陥が存在する場合のみならず、記録時において、サーボ系の異常、即ち外乱が発生した場合においても、最適な記録パワーによる記録が行われないことがあった。
【００１２】
本発明は、上述の問題点に鑑みてなされたものであり、テスト記録領域における欠陥の有無に拘わらず、最適な記録パワーを設定することが可能となる情報記録装置を提供することを課題としている。
【００１３】
また、外乱が発生した場合でも、最適な記録パワーを設定することが可能となる情報記録装置を提供することを課題としている。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
上記の課題を解決するために、請求項１に記載の発明は、記録媒体上のテスト記録領域を形成する複数の単位テスト記録領域毎に、複数の異なった記録パワーでテスト信号を記録すると共に、各単位テスト記録領域に記録された前記テスト信号を再生し、当該再生されたテスト信号の状態に応じて光ビームの最適記録パワーを選定する情報記録装置であって、前記複数の異なった記録パワーを得るパワー設定値を、前記単位テスト記録領域の夫々を識別する位置情報に対応させて記憶する書き換え可能な記憶手段と、一定の記録クロック信号に基づいて前記単位テスト記録領域に前記テスト信号を記録する記録手段と、前記単位テスト記録領域毎の記録時間に対応した周期で前記位置情報を生成する位置情報生成手段と、前記生成された位置情報に基づいて前記記憶手段に記憶された前記パワー設定値を読み出し、読み出した当該パワー設定値を前記記録手段に出力する記録制御手段と、前記記録の行われる単位テスト記録領域における欠陥を検出する欠陥検出手段と、前記欠陥が検出された時には、当該欠陥が検出された前記単位テスト記録領域を識別する前記位置情報に対応する前記パワー設定値を、当該欠陥が検出された前記単位テスト記録領域に隣接する他の前記単位テスト記録領域を識別する前記位置情報に対応させて前記記憶手段に記憶させるパワー設定値保存手段と、を備える。
【００１５】
上記の課題を解決するために、請求項４に記載の発明は、記録媒体上のテスト記録領域を形成する複数の単位テスト記録領域毎に、複数の異なった記録パワーでテスト信号を記録すると共に、各単位テスト記録領域に記録された前記テスト信号を再生し、当該再生されたテスト信号の状態に応じて光ビームの最適記録パワーを選定する情報記録装置であって、前記複数の異なった記録パワーを得るパワー設定値を、前記単位テスト記録領域の夫々を識別する位置情報に対応させて記憶する書き換え可能な記憶手段と、一定の記録クロック信号に基づいて前記単位テスト記録領域に前記テスト信号を記録する記録手段と、前記単位テスト記録領域毎に前記位置情報を生成する位置情報生成手段と、前記生成された位置情報に基づいて前記記憶手段に記憶された前記パワー設定値を読み出し、読み出した当該パワー設定値を前記記録手段に出力する記録制御手段と、前記記録されたテスト信号を前記単位テスト記録領域毎に当該単位テスト記録領域から再生し、当該再生結果が異常であるか否かを検出する検出手段と、前記再生結果が異常であると検出された時には、当該再生結果が異常であると検出された時に前記記録制御手段により位置情報に基づいて読み出される前記パワー設定値を、当該位置情報とは別の位置情報に対応させて前記記憶手段に記憶させるパワー設定値保存手段と、を備える。
【００１６】
上記の課題を解決するために、請求項７に記載の発明は、記録媒体上のテスト記録領域を形成する複数の単位テスト記録領域毎に、複数の異なった記録パワーでテスト信号を記録すると共に、各単位テスト記録領域に記録された前記テスト信号を再生し、当該再生されたテスト信号の状態に応じて光ビームの最適記録パワーを選定する情報記録装置であって、前記複数の異なった記録パワーを得るパワー設定値を、前記単位テスト記録領域の夫々を識別する位置情報に対応させて記憶する書き換え可能な記憶手段と、一定の記録クロック信号に基づいて前記単位テスト記録領域に前記テスト信号を記録する記録手段と、前記単位テスト記録領域毎の記録時間に対応した周期で前記位置情報を生成する位置情報生成手段と、前記生成された位置情報に基づいて前記記憶手段に記憶された前記パワー設定値を読み出し、読み出した当該パワー設定値を前記記録手段に出力する記録制御手段と、前記記録の行われる単位テスト記録領域における欠陥を検出する欠陥検出手段と、を備え、前記記録手段は、前記欠陥が検出された時、当該欠陥が検出された前記単位テスト記録領域を識別する前記位置情報に対応する前記パワー設定値を用いて、当該欠陥が検出された前記単位テスト記録領域に隣接する他の前記単位テスト記録領域に前記テスト信号を記録するように構成される。
【００１７】
上記の課題を解決するために、請求項８に記載の発明は、記録媒体上のテスト記録領域を形成する複数の単位テスト記録領域毎に、複数の異なった記録パワーでテスト信号を記録すると共に、各単位テスト記録領域に記録された前記テスト信号を再生し、当該再生されたテスト信号の状態に応じて光ビームの最適記録パワーを選定する情報記録装置であって、前記複数の異なった記録パワーを得るパワー設定値を、前記単位テスト記録領域の夫々を識別する位置情報に対応させて記憶する書き換え可能な記憶手段と、一定の記録クロック信号に基づいて前記単位テスト記録領域に前記テスト信号を記録する記録手段と、前記単位テスト記録領域毎に前記位置情報を生成する位置情報生成手段と、前記生成された位置情報に基づいて前記記憶手段に記憶された前記パワー設定値を読み出し、読み出した当該パワー設定値を前記記録手段に出力する記録制御手段と、前記記録されたテスト信号を前記単位テスト記録領域毎に当該単位テスト記録領域から再生し、当該再生結果が異常であるか否かを検出する検出手段と、を備え、前記記録手段は、前記再生結果が異常であると検出された時、当該再生結果が異常であると検出された時に前記記録制御手段により位置情報に基づいて読み出される前記パワー設定値を用いて、当該位置情報とは別の位置情報により識別される前記単位テスト記録領域に前記テスト信号を記録するように構成される。
【００２４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を添付図面に基づいて説明する。
【００２５】
（第１の実施形態）
［ＤＶＤ−Ｒ］
初めに、ＤＶＤ−Ｒの構造について説明する。図１は本発明の実施形態に関わるＤＶＤ−Ｒの構成の一例を示す斜視図である。図１においてＤＶＤ−Ｒ１は、色素膜５を備えた１回のみの情報の書込みが可能な色素型ＤＶＤ−Ｒであり、情報記録トラックとしてのグルーブトラック２と当該グルーブトラック２に再生光または記録光としてのレーザビーム等の光ビームＢを誘導するためにのガイドトラックとしてのランドトラック３が形成されている。
【００２６】
また、それらを保護するための保護膜７及び記録された情報を再生する再に光ビームＢを反射するための金蒸着面６を備えている。そして、このランドトラック３にＤＶＤ−Ｒのプリ情報に対応するプリピット４が形成されている。このプリピット４は、ＤＶＤ−Ｒ１の製造過程で予め形成されているものである。
【００２７】
更に、当該ＤＶＤ−Ｒ１においては、グルーブトラック２を当該ＤＶＤ−Ｒ１の回転速度に対応する周波数でウォブリングさせている。このグルーブトラック２のウォブリングによる回転制御情報の記録は、前記プリピット４と同様に、ＤＶＤ−Ｒ１の製造過程で予め行われる。
【００２８】
そして、ＤＶＤ−Ｒ１に記録情報（プリ情報以外の本来記録すべき画像情報等の情報をいう。以下同じ。）を記録する際には、後述の情報記録装置においてグルーブトラック２のウォブリングの周波数を検出することにより回転制御情報を取得してＤＶＤ−Ｒ１を所定の回転速度で回転制御すると共に、プリピット４を検出することにより、予めＤＶＤ−Ｒ１のプリ情報を取得し、プリ情報に含まれる最適出力情報に基づいて記録光としての光ビームＢの最適出力等が設定されると共に、プリ情報に含まれるアドレス情報に基づいて記録情報が対応する記録位置に記録される。
【００２９】
ここで、記録情報の記録時には、光ビームＢをその中心がグルーブトラック２の中心と一致するように照射してグルーブトラック２上に記録情報に対応する記録情報ピットを形成することにより記録情報を記録する。この時、光スポットＳＰの大きさは、図１に示すように、その一部がグルーブトラック２だけでなくランドトラック３にも照射されるように設定される。
【００３０】
また、このグルーブトラック２並びにランドトラック３に照射された光スポットＳＰの反射光を用いてプッシュプル法（ＤＶＤ−Ｒ１の回転方向に平行な分割線により分割された光検出器を用いたプッシュプル法（以下、ラジアルプッシュプル法という。））により、ウォブル信号にプリピット信号が重畳された複合信号が検出される。さらに、複合信号におけるプリピット信号成分からプリ情報を検出した当該プリ情報が取得されると共に、ウォブル信号成分から回転制御用及び記録制御用のクロック信号が取得される。
【００３１】
次に、本実施形態のＤＶＤ−Ｒ１に予め記録されているプリ情報及び回転制御情報の記録フォーマットについて、図２を用いて説明する。なお、図２において、上段は、記録情報における記録フォーマットを示し、下段の波形は記録情報を記録するグルーブトラック２のウォブリング状態（グルーブトラック２の平面図）を示し、記録情報とグルーブトラック２のウォブリング状態の間の上向き矢印は、プリピット４が形成される位置を模式的に示すものである。ここで、図２においては、グルーブトラック２のウォブリング状態は、理解の容易のため実際の振幅よりも大きい振幅を用いて示してあり、記録情報は当該グルーブトラック２の中心線上に記録される。
【００３２】
図２に示すように、本実施形態において  ＤＶＤ−Ｒ１に記録される記録情報は、予め情報単位としてのシンクフレーム毎に分割されている。そして、２６のシンクフレームで１のレコーディングセクタが形成され、更に、１６のレコーディングセクタにより１のＥＣＣ（Error Correcting Code）ブロックが形成される。なお、１のシンクフレームは、前記記録情報を記録する際の記録フォーマットにより規定されるビット間隔に対応する単位長さ（以下、Ｔという。）の１４８８Ｔ倍（１４８８Ｔ）の長さを有しており、更に、１のシンクフレームの先頭の１４Ｔの長さの部分には、シンクフレーム毎の同期を取るための同期情報ＳＹが記録される。
【００３３】
一方、本実施形態においてＤＶＤ−Ｒ１に記録されるプリ情報は、シンクフレーム毎に記録される。ここで、プリビット４によるプリ情報の記録においては、記録情報の夫々のシンクフレームにおける同期情報ＳＹが記録される領域に隣接するランドトラック３上に、プリ情報における同期信号を示すものとして必ず１のプリピット４が形成される。更に、当該同期情報ＳＹ以外の当該シンクフレーム内の前半部分に隣接するランドトラック３上に、記録すべきプリ情報の内容（アドレス情報等）を担う２又は１のプリピット４が形成される（尚、同期情報ＳＹ以外の当該シンクフレーム内の前半部分については、記録すべきプリ情報の内容によってはプリピット４が形成されない場合もある。）。
【００３４】
この際、本実施形態においては、１のレコーディングセクタにおいては、駆動数番目のシンクフレーム（以下、ＥＶＥＮフレームという。）のみ又は奇数番目のシンクフレーム（以下、ＯＤＤフレームという。）のみにプリピット４が形成されてプリ情報が記録される。即ち、図２において、ＥＶＥＮフレームにプリピット４が形成された場合には（図２において実線上向き矢印で示す。）それと前後するＯＤＤフレームにはプリピット４が形成されない。
【００３５】
一方、グルーブトラック２には、全てのシンクフレームに亘って、１４０ｋＨｚ（１のシンクフレームが８波に相当する周波数）の基準ウォブリング周波数ｆ０でウォブリングされている。そして、後述のプリフォーマット検出部において、回転中のディスクからウォブリング周波数及びプリピット信号を検出することで、スピンドルモータの回転制御のための信号及び記録情報の記録制御のための信号が検出される。
［情報記録装置］
次に、本発明の第１の実施形態における情報記録装置について図３乃至図５に基づいて説明する。
【００３６】
図３に示すように、本実施形態の情報記録装置は、ピックアップ１０と、レーザーダイオード１１と、プリフォーマット検出部１２と、タイミング生成部１３と、パワー設定記憶部１４と、記録パターン発生部１６と、ストラテジー回路１６と、記録電流生成部１７と、アシンメトリー計測部１８と、判断制御部１９と、サンプルホールド回路２０と、ディフェクト検出部２１とを備えている。
【００３７】
ピックアップ１０は、図示しない偏光ビームスプリッタ、対物レンズ、光検出器等を含み、レーザーダイオード１１から出力される光ビームＢをＤＶＤ−Ｒ１の情報記録面に照射して、記録すべきデジタル情報を記録する手段である。また、ピックアップ１０は、前記光ビームＢのＤＶＤ−Ｒ１からの反射光に基づいてプリピット４及びグルーブトラック２のウォブリング周波数に対応する情報を含む複合信号ＣＸをラジアルプッシュプル方式により抽出し、プリフォーマット検出部１２に出力する。この複合信号ＣＸは、図４（ａ）に示すように、グルーブトラック２のウォブル信号と、当該グルーブトラック２と隣接するランドトラック３上のプリピット４に基づくプリピット信号との重畳信号である。また、ピックアップ１０は、光ビームＢの情報記録面からの反射光の総和信号を図４（ｅ）に示すような再生信号ＲＦとしてアシンメトリー（Asymmetry）計測部１８及びディフェクト（DEFECT）検出部２１に出力する。
【００３８】
プリフォーマット検出部１２は、基準ウォブリング周波数ｆ０を中心周波数とする帯域通過フィルタ等からなる図示しないウォブリング検出部と、ウォブリング検出部で検出した検出ウォブル信号を２値化する図示しないコンパレータとを備えており、ピックアップ１０から出力される前記複合信号ＣＸに基づいて、図４（ｃ）に示すような抽出ウォブル信号Ｗｂを出力する。また、プリフォーマット検出部１２は、図示しないプリピット信号検出部を備えており、ピックアップ１０から出力される前記複合信号ＣＸに基づいてプリピット信号を検出し、検出したプリピット信号を図４（ｂ）に示すようなプリピット検出信号ＬＰＰとして出力する。
【００３９】
タイミング生成部１３は、図５に示すように、シンク（ＳＹＮＣ）検出器３０と、ウォブルＰＬＬ（Phase Locked Loop）回路３１と、シンクゲート（ＳＹＮＣ  ＧＡＴＥ）生成器３２と、Ｎ進フリーランニングカウンター（ＦＲＣ）３３と、カウンタ３４と、インバータゲート３５から構成される。タイミング生成部１３は、前記プリフォーマット検出部１２から出力されるプリピット検出信号ＬＰＰと抽出ウォブル信号Ｗｂに基づいて、クロック信号ＣＫ及び位置タイミングデータＴＭを生成し、ストラテジー回路１６及び記録パターン発生部１５に対してクロック信号ＣＫを、また、パワー設定記憶部１４及び制御判断部１９に位置タイミングデータＴＭを出力する。
【００４０】
図５に示すシンク検出器３０は、図示しないフリップフロップ回路等を備えており、１レコーディングセクタの先頭のシンクフレームに対応する同期信号を生成するためのプリピット４が、グルーブトラック２のウォブリングにおける最大振幅の位置に連続して３つ形成されていることを利用して当該１レコーディングセクタの先頭を示すプリピット４を検出し、検出シンク信号Ｓｄｔを生成している。つまり、プリフォーマット検出部１２からシンク検出器３０に対し、図６（ａ）に示すようなプリピット検出信号ＬＰＰが出力されると、シンク検出器３０は、ＬｏｗレベルからＨｉｇｈレベルに立ち上がるプリピット検出信号ＬＰＰを３つ連続して検出した場合に、図６（ｂ）に示すようにＬｏｗレベルからＨｉｇｈレベルに立ち上がる検出シンク信号Ｓｄｔを生成し、シンクゲート生成器３２に出力する。
【００４１】
シンクゲート生成器３２は、図示しないフリップフロップ回路及びカウンタ等を備えており、ウォブルＰＬＬ回路３１から出力されるクロック信号ＣＫの計数を、検出シンク信号ＳｄｔがＨｉｇｈレベルからＬｏｗレベルに立ち下がるタイミングで開始し、この計数値が３８０３７Ｔに達した時に、図６（ｃ）に示すようにＬｏｗレベルからＨｉｇｈレベルに立ち上がるセクタシンク信号Ｓｓを出力する。この３８０３７Ｔという値は、１レコーディングセクタの期間（１４８８Ｔ×２６）から、抽出ウォブル信号Ｗｂの周期（１８６Ｔ）の３．５倍の６５１Ｔを差し引いた値である。１レコーディングセクタの先頭のシンクフレームでは、３つのプリピット４が連続して形成されており、これらのプリピット４のうちの先頭のプリピット４に対応してプリピット信号ＬＰＰが出力されてから、前記シンク検出器３０によって検出シンク信号Ｓｄｔが出力されるまでの期間は抽出ウォブル信号Ｗｂの周期（１８６Ｔ）の３．５倍の６５１Ｔになるように設定されている。従って、シンクゲート検出器３２においては、１レコーディングセクタに相当する（１４８８Ｔ×２６）の期間から、この６５１Ｔを差し引いた期間である３８０３７Ｔを計数することにより、１レコーディングセクタの先頭のタイミングを推定し、このタイミングでセクタシンク信号Ｓｓを出力している。
【００４２】
Ｎ進フリーランニングカウンター３３は、前記セクタシンク信号Ｓｓが入力された時から、ウォブルＰＬＬ回路３１から出力されるクロック信号ＣＫ（周期Ｔ）の計数を開始し、以後、計数値が１４８８Ｔに達する毎にクリアされ、計数を繰り返す。そして、計数値が１４８８Ｔに達した時には、図６（ｄ）に示すようにＬｏｗレベルからＨｉｇｈレベルに立ち上がるキャリー信号ＣＲを出力する。つまり、このキャリー信号ＣＲの出力タイミングは、各シンクフレームの先頭のタイミングを示している。
【００４３】
カウンター３４は、ｎビットのバイナリカウンタであり、前記キャリー信号ＣＲのＨｉｇｈレベルからＬｏｗレベルへの立ち下がり毎に計数を行い、インバータゲート３５を介して出力されるセクタシンク信号ＳｓのＬｏｗレベルからＨｉｇｈレベルへの立ち上がりのタイミングで、計数値がクリアされるように構成されている。従って、本実施形態では、キャリー信号ＣＲがＨｉｇｈレベルからＬｏｗレベルへ立ち下がる毎に、カウンター３４から図６（ｅ）に示すように０〜２５を表す５ビットの位置タイミングデータＴＭが出力されることになる。キャリー信号ＣＲは、上述したように各シンクフレームの先頭のタイミングで出力されるから、この位置タイミングデータＴＭは、各シンクフレームの位置情報としての番号を表すことになる。
【００４４】
ウォブルＰＬＬ回路３１は、図示しない位相比較器、低域通過フィルタ、ＶＣＯ（Voltage Controlled Oscillator：電圧制御発振器）、分周器を備えて構成されており、周期Ｔのクロック信号ＣＫを出力する。位相比較器は、抽出ウォブル信号Ｗｂを一入力としてこれを分周された信号と位相比較し両者の位相差に応じた誤差信号を出力する。低域通過フィルタは、この誤差信号の低周波成分を通過させる。ＶＣＯは、この低域通過フィルタの出力に応じて発振周波数を変化させ、クロック信号ＣＫを出力する。分周器は、発振出力クロック信号ＣＫを分周して抽出ウォブル信号Ｗｂと同等の周波数の信号を生成し位相比較器の他入力に供給する。従って、このようなウォブルＰＬＬ回路３１から出力されるクロック信号ＣＫは、抽出ウォブル信号Ｗｂと位相同期がとられた信号となる。また、クロック信号ＣＫの周期はＴ（Ｔは、８−１６変調後のデータ系列におけるビット（チャネルビット）間隔に相当する）に設定されている。このクロック信号ＣＫは、このタイミング生成部１３内の各回路に供給されるだけでなく、図３に示すように記録パターン発生部１５及びストラテジー回路１６にも供給され、記録の際の基準のクロック信号となるものである。以上、本実施形態においては、シンク検出器３０、ウォブルＰＬＬ回路３１、シンクゲート検出器３２、Ｎ進フリーランニングカウンター３３、及びカウンター３４により位置情報生成手段が構成されている。
【００４５】
再び図３に戻り、パワー設定記憶部１４について説明する。パワー設定記憶部１４は、図７に示すように、カウンタ４０、インバータゲート４１、セレクタ４２、及びデュアルポートメモリー４３から構成されており、後述するＤＶＤ−Ｒ１上のテスト信号記録領域における各単位テスト信号記録領域毎の記録パワーの設定値を、位置タイミングデータＴＭに基づいて出力する。また、パワー設定記憶部１４には、制御判断部１９が接続されており、ディフェクト検出時においては、制御判断部１９による制御に応じて、記録パワーの設定値をデュアルポートメモリー４３の退避領域に記憶する。
【００４６】
記憶手段としてのデュアルポートメモリー４３は、ポートＰ１とポートＰ２の２つのポートを備えており、夫々のポートにおいて独立してデータの読み出しと書き込みを行うことができる。本実施形態においては、ポートＰ１においてデータの読み出しを行い、ポートＰ２においてデータの書き込みを行っている。ポートＰ１のアドレス端子には、上述した位置タイミングデータＴＭが供給されるように構成されており、ポート１のリード端子に制御判断部１９からリード信号を出力している間は、位置タイミングデータＴＭによって表されるアドレスに格納されたパワー設定値が、ポート１のデータ端子からパワー設定データＰＤとして出力される。また、このパワー設定データＰＤは、制御判断部１９に読み取られる。更に、ポート２のアドレス端子には、セレクタ４２の出力端子が接続されており、セレクタ４２のセレクタ端子には、制御判断部１９からセレクト信号が供給されるように構成されている。セレクト信号がＨｉｇｈレベルの場合には、セレクタ４２のＨ入力端子が有効になり、位置タイミングデータＴＭがポート２のアドレス端子に供給されることになる。また、ポート２のデータ端子には制御判断部１９からデータが出力される。従って、制御判断部１９からパワー設定値Ｓｔｅｐ１〜Ｓｔｅｐ１６を出力し、タイミング生成部１３から出力される位置タイミングデータＴＭが更新されるタイミングで、ポート２のライト端子に制御判断部１９からライト信号を出力することにより、デュアルポートメモリー４３には、位置タイミングデータＴＭによって表されるアドレス値のメモリ領域にパワー設定値Ｓｔｅｐ１〜Ｓｔｅｐ１６が書き込まれる。なお、デュアルポートメモリー４３は、アドレス値０〜２５により指定されるメモリ領域を有しており、アドレス値０〜１５のメモリ領域は通常のパワー設定値が書き込まれる領域、アドレス値１６〜２５のメモリ領域はディフェクト検出時の退避領域となっている。このようなデュアルポートメモリー４３のメモリ領域に書き込まれるパワー設定値Ｓｔｅｐ１〜Ｓｔｅｐ１６は、レーザーダイオード１１の記録パワーを１６段階に分けた時の値であり、予め制御判断部１９の図示しないメモリーに格納されている。また、セレクト信号がＬｏｗレベルの場合には、セレクタ４２のＬ入力端子が有効になり、カウンタ４０の出力がポート２のアドレス端子に供給されることになる。カウンタ４０は、ディフェクト検出部２１から出力されるディフェクト検出信号ＤＦがＨｉｇｈレベルからＬｏｗレベルに立ち下がるタイミングで、計数値を１増加させる。本実施形態では、カウンタ４０の初期値は１６に設定されている。また、このカウンタ４０の出力がポート２のアドレス端子に供給されるのはセレクト信号がＬｏｗレベルとなった時であるが、制御判断部１９は、前記ディフェクト検出信号ＤＦがＬｏｗレベルからＨｉｇｈレベルに立ち上がるタイミングで、セレクト信号をＨｉｇｈレベルからＬｏｗレベルに切り換える。以上のような構成により、図８（ａ）に示すように、位置タイミングデータＴＭが０から２５まで出力されたとすると、ポート１のアドレス端子には、図８（ｂ）に示すように、この位置タイミングデータＴＭが供給され、ポート１のデータ端子からは、夫々の位置タイミングデータＴＭが表すアドレス値のメモリ領域に格納されたパワー設定値Ｓｔｅｐ１〜Ｓｔｅｐ１６が読み出され、パワー設定データＰＤとして出力されることになる。ここで、図８（ｆ）に示すように、ディフェクト検出データＤＦが時刻ｔ１にてＬｏｗレベルからＨｉｇｈレベルに立ち上がると、制御判断部１９は、セレクト信号をＬｏｗレベルに切り換え、セレクタ４２のＬ入力端子を有効にする。これにより、カウンタ４０の出力がポート２のアドレス端子に供給されることになる。時刻ｔ１においては、カウンタ４０の出力は図８（ｄ）に示すように初期値の１６であり、１６がポート２のアドレス端子に供給される。また、時刻ｔ１においては、ポート１のデータ端子から読み出されるパワー設定値は、図８（ｃ）に示すようにＳｔｅｐ２である。従って、制御判断部１９がディフェクト検出データＤＦが時刻ｔ２にてＨｉｇｈレベルからＬｏｗレベルに立ち下がる時刻ｔ２のタイミングで、ポート２のライト端子にライト信号を出力することにより、アドレス値１６の領域にＳｔｅｐ２が書き込まれる。また、このディフェクト検出データＤＦがＨｉｇｈレベルからＬｏｗレベルに立ち下がる時刻ｔ２のタイミングでカウンタ４０の計数値は１増加され、図８（ｄ）に示すように１７になる。また、同様に、図８（ｆ）に示すように、ディフェクト検出データＤＦがＬｏｗレベルからＨｉｇｈレベルに立ち上がる時刻ｔ３のタイミングで、その時の読み出しデータであるＳｔｅｐ５がアドレス値１７の領域に書き込まれ、カウンタ４０の計数値は１８になる。以上のようにして新たに書き込まれたアドレス値１６とアドレス値１７のデータは、図８（ｂ），（ｃ）に示すように、位置タイミングデータＴＭの値が１６、１７となった時に読み出され、パワー設定データＰＤとして出力されることになる。以上のように、本実施形態においては、ディフェクト検出信号ＤＦが出力されない場合には、パワー設定値Ｓｔｅｐ１〜Ｓｔｅｐ１６は、パワー設定データＰＤとして夫々１度づつ出力されることになるが、ディフェクト検出信号ＤＦが出力された時に読み出されるパワー設定値については、その後に改めてパワー設定データＰＤとして出力されることになる。
【００４７】
記録パターン発生部１５は、図９（ａ）に示すような記録データを発生させる回路であり、本実施形態では、テスト記録データとして、最短ピットに相当する３Ｔのデータと、最長ピットに相当する１１Ｔのデータとを１シンクフレームに相当する期間内に発生させる。記録パターン発生部１５には、タイミング生成部１３からの上述したクロック信号ＣＫが供給されており、このクロック信号ＣＫに同期して、これらの記録データが発生される。
【００４８】
ストラテジー回路１６は、前記記録パターン発生部１５から出力される記録データを、図９（ｂ）に示すようなレーザー変調信号ＭＳに変換する回路であり、記録データに対してパルス長制御及びマルチパルス分割等を施すことにより、レーザー変調信号ＭＳを生成している。このような変換を行うのは、主に隣り合ったピット同士の熱干渉及び熱蓄積を防止し、再生信号に含まれるジッター成分を減少させるためである。
【００４９】
記録手段としての記録電流生成部１７は、前記ストラテジー回路１６から出力されるレーザー変調信号ＭＳの振幅を、前記パワー設定記憶部１４から出力されるパワー設定データＰＤで変調する回路である。従って、図９（ｄ）に示すように、パワー設定データＰＤがＳｔｅｐ１である場合には、記録電流生成部１７から出力される記録電流ＷＣは、図９（ｃ）に示すようにＳｔｅｐ１に相当する電流値を有するものとなり、図９（ｄ）に示すように、パワー設定データＰＤがＳｔｅｐ２である場合には、記録電流生成部１７から出力される記録電流ＷＣは、図９（ｃ）に示すようにＳｔｅｐ２に相当する電流値を有するものとなる。これにより、レーザーダイオード１１のパワーレベルは、レーザー変調信号ＭＳがＨｉｇｈレベルの期間は、パワー設定データＰＤに対応した記録パワーレベルとなり、レーザー変調信号ＭＳがＬｏｗレベルの期間は、一定の低レベル（再生パワーレベル）となる。
【００５０】
アシンメトリー（Asymmetry）計測部１８は、以上のような各回路によりＤＶＤ−Ｒ１のテスト記録領域に書き込まれた記録データの再生信号について、各単位テスト記録領域毎にピーク値とボトム値を計測し、デジタルデータに変換して制御判断部１９に出力する回路である。アシンメトリー計測部１８は、図１０に示すようにピークホールド回路５０、ボトムホールド回路５１、及びＡ／Ｄ変換回路５２，５３から構成されており、再生信号ＲＦのピーク値をピークホールド回路５０により計測し、再生信号ＲＦのボトム値をボトムホールド回路５１により計測して、夫々Ａ／Ｄ変換回路５２，５３により、デジタルデータＰＫ，ＢＭに変換する。上述したような３Ｔと１１Ｔの周期を有し、パワー設定値Ｓｔｅｐ１〜Ｓｔｅｐ１６に対応した電流値で振幅変調されたテスト信号を、１シンクフレームに相当する単位テスト記録領域（領域番号０〜２５）に記録し、再生を行った場合には、再生信号ＲＦは図１１に示すように出力される。この図１１に示す１つの単位テスト記録領域における再生信号ＲＦを拡大すると図１２（ｂ）のように表すことができる。なお、図１２（ａ）は記録データＷＤ、図１２（ｃ）は位置タイミングデータＴＭを示している。図１２（ｂ）に示すように、各単位テスト記録領域毎に、短ピット区間と長ピット区間の夫々の再生信号ＲＦが得られる。これらの再生信号ＲＦは、図１１からも判るように、各単位テスト記録領域毎に異なる値を有している。これは、上述したように、位置タイミングデータＴＭ（０〜２５）が変わる毎に、異なるパワー設定値Ｓｔｅｐ１〜Ｓｔｅｐ１６をパワー設定データＰＤとして出力し、このパワー設定データＰＤに応じて記録電流ＷＣの振幅を変調してテスト信号の記録を行ったためである。従って、夫々の単位テスト記録領域において、短ピット区間と長ピット区間の夫々の再生信号ＲＦの再生状態を所定の条件で判断し、双方共に最適な状態で再生されている単位テスト記録領域を選び出し、更に、当該単位テスト記録領域における記録に用いたパワー設定データＰＤのパワー設定値を前記デュアルポートメモリー４３から読み出すことにより、その情報記録装置及びＤＶＤ−Ｒ１に最適な記録パワーのパワー設定値を選ぶことができる。本実施形態では、短ピット区間におけるピーク値ＰＫ１とボトム値ＢＭ１、及び長ピット区間におけるピーク値ＰＫ２とボトム値ＢＭ２をアシンメトリー計測部１８から制御判断部１９に出力し、制御判断部１９において、短ピット区間におけるピーク値ＰＫ１とボトム値ＢＭ１の平均値ＡＶＥ１と、長ピット区間におけるピーク値ＰＫ２とボトム値ＢＭ２の平均値ＡＶＥ２を計算し、短ピット区間における平均値ＡＶＥ１と長ピット区間における平均値ＡＶＥ２との差分（アシンメトリー値）を計算し、その差分（アシンメトリー値）が０となる単位テスト記録領域の記録に用いたパワー設定値を最適なパワー設定値として選択するように構成した。図１３は、このような短ピット区間における平均値ＡＶＥ１と長ピット区間における平均値ＡＶＥ２との差分（アシンメトリー値）を各単位テスト記録領域毎にプロットした図である。本実施形態では、このような差分（アシンメトリー値）が０となる再生信号の記録に用いた記録パワーを最適記録パワーとして選定している。従って、図１３の場合には、領域番号８の単位テスト記録領域の記録に用いたパワー設定値Ｓｔｅｐ９が最適なパワー設定値とされる。但し、本発明は、このような構成に限られるものではなく、前記差分（アシンメトリー値）と再生信号に含まれるジッター成分との関係を予め測定しておき、ジッター成分が最も少なくなるように、最適パワーを選ぶようにしても良い。
【００５１】
記録制御手段及びパワー設定値保存手段としての制御判断部１９は、上述したように、アシンメトリー計測部１８から出力される計測値に基づいて前記（アシンメトリー値）を算出すると共に、パワー設定値の最適値を選定する。また、前記パワー設定記憶部１４を制御することにより、位置タイミングデータＴＭの出力タイミングに応じてパワー設定データを出力させると共に、ディフェクト検出時においては、その時の位置タイミングデータＴＭに対するパワー設定値を別の位置タイミングデータＴＭに対するパワー設定値としてデュアルポートメモリーに記憶させる。更には、記録電流生成部１７に対して書き込み信号ＷＲを出力することにより、記録動作を実行させる。
【００５２】
サンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回路２０は、図９（ｅ），（ｆ）に示すように、記録データＷＤがＬｏｗレベルの期間において再生信号ＲＦのサンプリングを行うと共に、記録データＷＤがＨｉｇｈレベルの期間においてそのサンプリング値をホールドする回路である。このように、レーザーダイオード１１の出力パワーが再生レベルの時にのみ再生信号ＲＦのサンプリングを行う。このように、本実施形態においては、ピットが形成されるマーク部分ではなく、スペース部分における再生信号ＲＦを、ディフェクト検出用の再生信号ＲＦとして用いている。スペース部分にディフェクトが存在する場合でも、反射率の低下により、再生信号ＲＦのレベルが低下し、ディフェクトを検出することができる。
【００５３】
ディフェクト（DEFECT）検出部２１は、サンプルホールド回路２０の出力信号Ｄｓｈに基づいて、ディフェクトを検出する回路である。詳しくは、図１４に示すように、ピークホールド回路６０と、当該ピークホールド回路６０の時定数より長い時定数を有するピークホールド回路６１と、かかるピークホールド回路６１の出力信号の振幅レベルを調整するレベル調整部６２と、これらピークホールド回路６０の出力信号とレベル調整部６２の出力信号のレベル比較を行うコンパレータ６３とから構成されている。
【００５４】
ピークホールド回路６０は、サンプルホールド回路２０の出力信号Ｄｓｈのピークレベルを、設定された時定数に応じた時間だけ保持する。かかる時定数は、本発明によって補償する必要のあるディフェクトのうち、最も小さなディフェクトに応じて決定されるものであり、例えば、数μｓ程度に設定.される。この時定数に設定することにより、ピークホールド回路６０からは、ディフェクトの発生にほぼ追従してその振幅レベルが低下する、前記出力信号Ｄｓｈのエンベロープ信号Ｅ１が、コンパレータ６３の反転入力端子に出力される。
【００５５】
一方、ピークホールド回路６１は、前記ピークホールド回路６０で設定された時定数よりも十分大なる時定数であって、ディフェクトのうち、最も大なるティフェクトに対しても、後述する検出方法で十分に検出することが可能となる時定数である。例えば数ｍｓ程度に設定される。この時定数に設定することにより、ピークホールド回路６１からは、ディフェクトの発生に対して、その振幅レベルの低下が十分に遅れて追従する前記出力信号Ｄｓｈのエンベロープ信号Ｅ２がレベル調整部６２に供給される。
【００５６】
レベル調整部６２は、ディフェクトの発生していない状態において、ピークホールド回路６１から供給されたエンベロープ信号Ｅ２の振幅レベルが、ピークホールド回路６０から出力されるエンベロープ信号Ｅ１の振幅レベルより僅かに小となるように調整した後、かかる調整されたエンベロープ信号Ｅ３をコンパレータ６３の非反転入力端子に出力する。
【００５７】
そして、コンパレータ６３において、供給された各エンベロープ信号Ｅ１、Ｅ３が比較される。ディフェクトが発生しない場合には、ピークホールド回路６０、６１共に前記出力信号Ｄｓｈのピークレベルを保持し続けるが、ピークホールド回路６１から出力されるエンベロープ信号Ｅ２は、レベル調整部６２によってその振幅レベルはエンベロープ信号Ｅ１より僅かに小とされているため、コンパレータ６３からはＬｏｗレベルの信号が出力される。
【００５８】
一方、ディフェクトが発生した場合には、エンベロープ信号Ｅ１はピークホールド回路６０の時定数が上述のごとき短いため、ディフェクトの発生に応じてすぐに追従してその振幅レベルが低下するが、エンベロープ信号Ｅ３はピークホールド回路６１の十分に長い時定数によって、ディフェクトが発生してもその振幅レベルはすぐには追従して低下しないため、当該コンパレータ６３からは、図４（ｆ）に示すようにディフェクトが発生した期間（ｔ１０乃至ｔ１１）に対応するＨｉｇｈレベルのディフェクト検出信号ＤＦが出力される。
【００５９】
このようなディフェクト検出信号ＤＦは、上述したように、制御判断部１９及びパワー設定記憶部１４に出力され、パワー設定値の再書き込み処理が行われることになる。
［レーザーパワーキャリブレーション処理］
次に、以上のような本実施形態の情報記録装置において行われるレーザーパワーキャリブレーション処理を図１５（Ａ），（Ｂ）のフローチャート及び図１６のタイミングチャートを中心に説明する。
【００６０】
本実施形態のＤＶＤ−Ｒ１においては、通常の情報の記録再生は、プログラムエリアにおいて行われ、本実施形態におけるレーザーパワーキャリブレーション処理は、リードインエリアの内側に存在するテスト記録領域において行われる。また、本実施形態のテスト記録領域は、１レコーディングセクタ、即ち２６シンクフレームに相当する大きさを有しており、夫々１シンクフレームに相当する大きさの単位テスト記録領域から構成されている。領域番号０から領域番号１５までの単位テスト記録領域は、ディフェクトの検出の有無に拘わらずテスト信号のテスト記録が行われる領域である。また、領域番号１６から領域番号２５の単位テスト領域は退避領域であり、ディフェクトが検出された場合にのみ、ディフェクトが検出された領域番号０から領域番号１５までの単位テスト記録領域に記録される記録データと同じパワー設定値の記録データが記録される。
【００６１】
また、レーザーパワーキャリブレーション処理は、情報記録装置への電源投入時における初期設定の際、あるいは図示しない記録ボタン等の押下時において、主に制御判断部１９の制御の下で行われる。図１５（Ａ），（Ｂ）のフローチャートは、制御判断部１９による制御の流れを示したものである。
【００６２】
まず、レーザーパワーキャリブレーション処理が開始されると、図１５（Ａ）に示すように、パワー設定記憶部１４のセレクタ４２（図７参照）のセレクタ端子に対し、制御判断部１９からＨｉｇｈレベルの信号が供給される（ステップ１）。これにより、デュアルポートメモリー４３のポート２のアドレス端子には、タイミング生成部１３から出力される位置タイミングデータＴＭが供給されることになる。次に、位置タイミングデータＴＭが更新されたか否かが判定される（ステップ２）。タイミング生成部１３のカウンタ３４（図５参照）は、シンクゲート生成器３２（図５参照）から１レコーディングセクタの先頭のタイミング、即ちテスト記録領域の先頭のタイミングであることを示すセクタシンク信号ＳｓのＨｉｇｈレベルへの立ち上がりでクリアされるため、図１６に示すように位置タイミングデータＴＭが０になるタイミングである時刻ｔ２０においては、位置タイミングデータＴＭが更新されたと判定される（ステップ２：ＹＥＳ）。そして、デュアルポートメモリー４３のポート２のアドレス端子には、０が出力される（図１６（ｂ）における時刻ｔ２０のタイミングを参照）次に、位置タイミングデータＴＭが１６以上か否かが判定されるが（ステップ３）、ここでは位置タイミングデータＴＭは０であるため（ステップ３：ＮＯ）、制御判断部１９は、デュアルポートメモリー４３のポート２のデータ端子に接続されたデータバスに、パワー設定値を出力する（ステップ４）。パワー設定値は、制御判断部１９内のメモリーに、０〜１５の位置タイミングデータＴＭに対応させてＳｔｅｐ１〜Ｓｔｅｐ１６の１６段階に分割されて記憶されており、ここでは位置タイミングデータＴＭが０なので、パワー設定値としてＳｔｅｐ１が出力される（図１６（ｃ）における時刻ｔ２０のタイミングを参照）。そして、デュアルポートメモリー４３のライト端子にＨｉｇｈレベルに立ち上がる書き込み信号を出力することにより（ステップ５，図１６（ｇ）の時刻ｔ２０のタイミングを参照）、デュアルポートメモリー４３のアドレス値０の領域には、パワー設定値としてＳｔｅｐ１が書き込まれる（図７参照）。また、この時、ポート１のアドレス端子にも位置タイミングデータＴＭの０の値が出力されている（図１６（ｄ）の時刻ｔ２０のタイミングを参照）。従って、パワー設定値の書き込みから所定時間経過後の時刻ｔ２１（図１６参照）において、ポート１のリード端子に供給する読み出し信号をＨｉｇｈレベルのイネーブル状態とすることにより（ステップ６）、ポート１のデータ端子にはアドレス値０の領域に格納されたパワー設定値Ｓｔｅｐ１が読み出され（図１６（ｅ）参照）、パワー設定データＰＤとして記録電流生成部１７に出力される。その結果、領域番号０の単位テスト記録領域には、パワー設定値Ｓｔｅｐ１に対応した記録パワーで、記録データＷＤが記録されることになる。また、このポート１のデータ端子の出力は、制御判断部１９にも供給されており、制御判断部１９においては、読み出すパワー設定値がデュアルポートメモリー４３に格納されているか否かが判定される（ステップ７）。これは、デュアルポートメモリー４３のアドレス値１６〜２５の領域にパワー設定値が格納されていない場合には、そこでデュアルポートメモリー４３からの読み出しを終了させるためである。しかし、ここで、パワー設定値としてＳｔｅｐ１が格納されていたため（ステップ７：ＹＥＳ）、ステップ２からの処理を繰り返す。従って、ディフェクトの検出が行われない場合には、これ以降、位置タイミングデータＴＭが１から１５まで更新されるのに従って、パワー設定値Ｓｔｅｐ２〜Ｓｔｅｐ１６がデュアルポートメモリー４３のアドレス値１〜１５の領域に書き込まれ、また読み出されて、記録電流生成部１７に出力される。その結果、領域番号１〜１５の単位テスト記録領域には、これらのパワー設定値に対応した記録パワーで記録データＷＤが記録されることになる。そして、次に位置タイミングデータＴＭが１７に更新されると（ステップ２：ＹＥＳ）、ステップ３でＹＥＳと判定され、ステップ４とステップ５のパワー設定値の書き込み処理は実行されない。従って、デュアルポートメモリー４３のアドレス値１６〜２５の領域は、初期設定値の０のままである。その結果、ステップ７において、ポート１のデータ端子からは読み出すべきパワー設定値が出力されないと判定され（ステップ７：ＮＯ）、ポート１のリード端子に出力する読み出し信号をＬｏｗレベルに切り換え、ディスイネーブル状態とし、テスト記録領域への記録データの記録動作を終了させる。そして、このようにして領域番号０〜１５の各単位テスト記録領域に記録されたテスト信号としての記録データの再生させる。再生信号ＲＦは、アシンメトリー計測部１８に供給され、アシンメトリー計測部１８において各単位テスト記録領域における３Ｔと１１Ｔとデータに対する再生信号ＲＦのピーク値とボトム値がそれぞれ計測され、制御判断部１９においてアシンメトリー値が０となる単位テスト記録領域の記録に用いたパワー設定値が最適なパワー設定値として選択される。
【００６３】
一方、ディフェクト検出部２１によって、ディフェクトが検出され、Ｈｉｇｈレベルに立ち上がるディフェクト検出信号ＤＦが制御判断部１９に出力された場合には（図１６（ｉ）の時刻ｔ２２のタイミングを参照）、図１５（Ｂ）に示すような割り込み処理が実行される。まず、セレクタ４２のセレクタ端子に供給するセレクト信号がＬｏｗレベルに切り換えられる（ステップ１０，図１６（ｆ）の時刻ｔ２２のタイミング参照）。その結果、ポート２のアドレス端子には、位置タイミングデータＴＭではなく、カウンタ４０の出力値が供給されることになる。ここでは、カウンタ４０の出力値は初期値の１６であり（図１６（ｊ）参照）、ポート２のアドレス端子には１６が出力される（図１６（ｂ）の時刻ｔ２２のタイミング参照）。そして、ポート１のデータ端子から、この時のパワー設定値を読み出し（ステップ１１）、ポート２のデータ端子にセットし（ステップ１２）、ポート２のライト端子にＨｉｇｈレベルに立ち上がる書き込み信号を出力する（ステップ１３，図１６（ｇ）の時刻ｔ２３のタイミング参照）。その結果、デュアルポートメモリー４３のアドレス値１の領域に書き込まれるべきパワー設定値Ｓｔｅｐ２は、アドレス値１の領域だけでなく、アドレス値１６の領域にも書き込まれることになる。但し、この時、ポート１のアドレス端子には、位置タイミングデータＴＭの１が出力されているため、読み出されるパワー設定値は、アドレス値１の領域に書き込まれたパワー設定値だけである。アドレス値１６の領域に書き込まれたパワー設定値は、位置タイミングデータＴＭの値が１６になった時に読み出される（図１６の時刻ｔ２５のタイミング参照）。その結果、領域番号１６の単位テスト記録領域には、パワー設定値Ｓｔｅｐ２に対応した記録パワーで記録データが記録されることになる。また、以上のようにしてアドレス値１６の領域にパワー設定値Ｓｔｅｐ２を書き込んだ後は、セレクタ４２のセレクタ端子に出力するセレクト信号をＨｉｇｈレベルに戻し（ステップ１４，図１６（ｆ）の時刻ｔ２４のタイミング参照）、割り込み処理を終了する。なお、カウンタ４０の出力値は、ディフェクト検出信号ＤＦのＬｏｗレベルへの立ち下がりのタイミングで１７にカウントアップされる（図１６（ｊ）の時刻ｔ２６のタイミング）。また、図１６に示す例では、このような割り込み処理は、位置タイミングデータＴＭが４になった時にも実行され、この時のパワー設定値Ｓｔｅｐ５は、アドレス値４の領域だけでなく、アドレス値１７の領域に書き込まれることになる。
【００６４】
以上のように、本実施形態においては、ディフェクトが検出された場合には、その時のパワー設定値をデュアルポートメモリー４３の本来の書き込み領域であるアドレス値０〜１５の領域に書き込むだけなく、退避領域であるアドレス値１６〜２５の領域にも書き込む。その結果、記録データは、その時のパワー設定値に対応した記録パワーで、ディフェクトが検出された単位テスト記録領域に記録されるだけでなく、退避領域である領域番号１６〜２５の単位テスト記録領域にも記録されることになる。このように記録が行われたテスト記録領域の再生を行うと、ディフェクトが存在する単位テスト記録領域については、ディフェクトの影響により、パワー設定値に対応した適切な再生信号を得ることができないが、ディフェクトが存在しない退避領域としての単位テスト記録領域については、パワー設定値に対応した適切な再生信号を得ることができる。例えば、図１６の例では、ディフェクトの存在する領域番号１の単位テスト記録領域の再生を行っても、パワー設定値Ｓｔｅｐ２に対応した再生信号ＲＦは得られない。しかし、ディフェクトの存在しない領域番号１６の単位テスト記録領域においては、パワー設定値Ｓｔｅｐ２に対応した再生信号ＲＦを得ることができる。従って、ディフェクトが存在する場合でも、パワー設定値の評価を適切に行うことができ、情報記録装置及び記録媒体に最適なパワー設定値を選択することができる。また、テスト記録領域中の退避領域への記録は、ディフェクトが存在する場合のみに限られ、ディフェクトが存在しない単位テスト記録領域の記録データについてはそのまま評価に用いられるので、所定の短いテスト記録領域でパワーキャリブレーション処理を行うことができ、テスト記録領域の節約を行うことができる。また、キャリブレーション処理に要する時間も短縮することができる。
【００６５】
なお、上述した説明においては、ディフェクトが存在する場合に、デュアルポートメモリー４３におけるテスト記録領域中の退避領域へ記録するデータのポートＰ１からの読み出し及びポートＰ２への書き込み、並びにデュアルポートメモリー４３のライト端子に対する書き込み信号としてのライトパルス信号の出力を、全て制御判断部１９により行っていたが、このような構成では制御判断部１９に非常に速い処理スピードが要求される。そこで、制御判断部１９に対する負荷を低減させるために、パワー設定記憶部１４を図１７に示すような構成とすることも可能である。
【００６６】
図１７は、図７に相当するパワー設定記憶部１４の他の構成を示すブロック図であり、ライトパルス生成器４４、セレクタ４５、セレクタ４６及びリードパルス発生器４７を備えたところが図７に示した構成と異なっている。ライトパルス生成器４４は、ディフェクト検出信号ＤＦのＬｏｗレベルからＨｉｇｈレベルへの立ち上がりに同期して、書き込み信号としての所定幅のライトパルス信号を生成する回路であり、このライトパルス生成器４４から出力されるライトパルス信号は、カウンタ４０に接続されたインバータ回路４１及びセレクタ４６のＨｉｇｈ入力端子に供給される。セレクタ４６のもう一方のＬｏｗ入力端子には、制御判断部１９から出力されるライトパルス信号が供給されるようになっており、同じく制御判断部１９からセレクタ４６に出力されるセレクト信号によって、何れかの入力端子に供給されるライトパルス信号が選択されてデュアルポートメモリー４３のライト端子に供給される。図１７に示す構成においては、電源投入直後等の初期設定時においては制御判断部１９からセレクタ４６にＬｏｗレベルのセレクト信号が出力されるようになっており、デュアルポートメモリー４３のライト端子へのライトパルス信号の供給は、制御判断部１９から行われることになる。一方、通常動作時においては、制御判断部１９からセレクタ４６にＨｉｇｈレベルのセレクト信号が出力されるので、デュアルポートメモリー４３のライト端子へのライトパルス信号の供給は、ライトパルス生成器４４から行われることになる。
【００６７】
また、セレクタ４５は、デュアルポートメモリー４３におけるポートＰ２のデータ端子に対するデータの供給元を選択する回路であり、セレクタ４５には当該供給元のデータとして、制御判断部１９からのデータがセレクタ４５のＬｏｗ入力端子に供給され、また、デュアルポートメモリー４３におけるポートＰ１の出力データがセレクタ４５のＨｉｇｈ入力端子に供給されている。このセレクタ４５に供給される制御判断部１９からのセレクト信号は前記セレクタ４６に供給されるセレクト信号と共通であるため、電源投入直後等の初期設定時において制御判断部１９からセレクタ４５にＬｏｗレベルのセレクト信号が出力されると、デュアルポートメモリー４３のデータ端子へのデータの供給は、制御判断部１９から行われ、通常動作時においては、制御判断部１９からセレクタ４５にＨｉｇｈレベルのセレクト信号が出力されるので、デュアルポートメモリーのポートＰ１の出力データがそのままデュアルポートメモリー４３のポートＰ２のデータ端子に供給されることになる。
【００６８】
また、デュアルポートメモリー４３におけるポートＰ２のアドレスデータの元になるデータを選択するセレクタ４２は、図７に示す構成においても設けられていたが、図７に示す構成においてはカウンタ４０の出力値と位置タイミングデータＴＭの値の何れかを前記アドレスデータとして選択していたのに対し、図１７に示す構成においては、カウンタ４０の出力値と制御判断部１９から出力されるアドレスデータの何れかがデュアルポートメモリー４３におけるポートＰ２のアドレスデータとして選択される。また、このセレクタ４２に制御判断部１９から供給されるセレクト信号は、上述したセレクタ４５及びセレクタ４６に供給されるセレクト信号と共通である。従って、電源投入直後等の初期設定時において制御判断部１９からセレクタ４２にＬｏｗレベルのセレクト信号が出力されると、デュアルポートメモリー４３におけるポートＰ２のアドレス端子へのアドレスデータの供給は、制御判断部１９から行われ、通常動作時においては、制御判断部１９からセレクタ４２にＨｉｇｈレベルのセレクト信号が出力されるので、カウンタ１６の出力値がデュアルポートメモリー４３のポートＰ２のアドレス端子に供給されることになる。
【００６９】
そして、リードパルス発生器４７は、位置タイミングデータＴＭの値の切り替わりを検出し、その検出タイミングに同期してリードパルス信号を発生する回路であり、位置タイミングデータＴＭの値が更新される毎に、位置タイミングデータＴＭの値であるアドレス値が示す領域のパワー設定値を読み取り、当該パワー設定値がポートＰ１のデータ端子から出力されることになる。
【００７０】
以上のような構成される図１７に示すパワー設定記憶部１４においては、電源投入直後等における初期設定時に、制御判断部１９から、セレクタ４２、セレクタ４５、及びセレクタ４６に対してＬｏｗレベルのセレクト信号が供給される。従って、この場合には、制御判断部１９から出力されるライトパルス信号、アドレスデータ、及び書き込みデータに基づいて、デュアルポートメモリー４３におけるポートＰ２からのＳｔｅｐ１〜Ｓｔｅｐ１６までのパワー設定値の書き込みが行われる。
【００７１】
一方、通常動作時においては、制御判断部１９から、セレクタ４２、セレクタ４５、及びセレクタ４６に対してＨｉｇｈレベルのセレクト信号が供給される。従って、この場合には、ライトパルス生成器４４からＨｉｇｈレベルに立ち上がるライトパルス信号が出力される場合、即ちディフェクトが検出された場合にのみ、デュアルポートメモリー４３におけるポートＰ２へのデータの書き込みが行われることになる。これに対し、ポートＰ１のリード端子には、位置タイミングデータＴＭに応じてリードパルス発生器４７からリードパルス信号が出力されるので、Ｓｔｅｐ１〜Ｓｔｅｐ１６のパワー設定値がパワー設定データＰＤとしてポートＰ１のデータ端子から出力され、当該パワー設定値に応じた記録パワーでＤＶＤ−Ｒ１のテストの記録領域への記録が行われることになる。しかし、ディフェクトが検出された場合には、ライトパルス生成器４４からライトパルス信号が出力され、このタイミングで、ポートＰ１の出力データがそのままポートＰ２のデータ端子に供給され、カウンタ４０の出力値がポートＰ２のアドレス端子に供給される。例えば、位置タイミングデータＴＭの値が「１」の時、Ｓｔｅｐ２のパワー設定値に基づいてディスクへの書き込みが行われるが、この時にディフェクトが検出されたとすると、この時にポートＰ１のデータ端子から出力されているＳｔｅｐ２のパワー設定データＰＤがポートＰ２のデータ端子に出力され、カウンタ４０の初期値である１６のアドレスの領域に、前記Ｓｔｅｐ２のパワー設定値が書き込まれる。このように、ディフェクト検出時におけるデュアルポートメモリー４３に対する各信号及びデータの出力は、制御判断部１９を介することなく、ハードウェア回路により行われるため、制御判断部１９に対する処理の負荷を低減することができる。
【００７２】
（第２の実施形態）
次に、本発明の第２の実施形態を図１８乃至図２０に基づいて説明する。
【００７３】
本実施形態は、ディフェクトが検出された時の所定のパワー設定値による記録データの記録を、テスト記録領域中の退避領域に行うのではなく、ディフェクトが検出された単位テスト記録領域に隣接する単位テスト記録領域に記録するものである。
【００７４】
本実施形態においては、Ｓｔｅｐ１〜Ｓｔｅｐ１６のパワー設定値は、図１９に示すように制御判断部１９内のメモリーに、アドレス値に対応させて格納されている。また、制御判断部１９は、メモリーの一部をポインターとして用いており、ポインターが示す値と一致するアドレス値のパワー設定値を読み出し、デュアルポートメモリ４３のポート２のデータ端子に出力するように構成されている。
【００７５】
また、本実施形態においては、図７に示すようなカウンタ４０及びセレクタ４２を省略し、デュアルポートメモリー４３のポート２のアドレス端子には、位置タイミングデータＴＭが出力される。以下、図１８のフローチャートに基づいて、本実施形態におけるパワー設定値の退避処理について説明する。
【００７６】
パワーキャリブレーション処理が開始されると、まず、制御判断部１９は、ポインターの値を０に初期設定する（ステップ２０）。次に、位置タイミングデータＴＭの更新を判定し（ステップ２１）、更新された場合には、フラグが１であるか否かを判定する（ステップ２２）。このフラグは、図２０に時刻ｔ３０のタイミングで示すように、ディフェクト検出信号ＤＦがＨｉｇｈレベルに立ち上がる際に１に設定される。このフラグが１ではない場合には（ステップ２２：ＮＯ）、ポインターの値を１だけ増加させ（ステップ２３）、ポインターの値に等しいアドレス値のパワー設定値を内部のメモリーから読み出してポート１のデータバスにセットする（ステップ２４）。例えば、図２０の例では、時刻ｔ４０のタイミングではフラグが１ではないので、ポインターの値と等しいアドレス値０の領域に格納されたパワー設定値Ｓｔｅｐ１がセットされ、デュアルポートメモリー４３のアドレス値０の領域に書き込まれる（ステップ２５）。そして、フラグをクリアする（ステップ２６）。ここでは、フラグは０のままである。次に、ポート１のリード端子に出力する読み出し信号をＨｉｇｈレベルとし、イネーブル状態とする（図２０の時刻ｔ４１のタイミング参照）。これにより、第１の実施形態と同様に、領域番号０の単位テスト記録領域にパワー設定値Ｓｔｅｐ１に対応した記録パワーの記録データが記録されることになる。同様に、位置タイミングデータＴＭが１になると、デュアルポートメモリー４３のアドレス値１の領域にパワー設定値Ｓｔｅｐ２が書き込まれ、領域番号１の単位テスト記録領域にパワー設定値Ｓｔｅｐ２に対応した記録パワーの記録データが記録される。しかし、図２０に示すように、記録データの記録中の時刻ｔ３０のタイミングで、ディフェクトが検出され、ディフェクト検出信号がＨｉｇｈレベルに立ち上がると、フラグが１にセットされる。そして、位置タイミングデータＴＭが２に更新されると（ステップ２１：ＹＥＳ）、フラグの判定ルーチンであるステップ２２ではＹＥＳと判定され、パワー設定値のセットが行われる（ステップ２４）。この時、ポインターの値を１増加させるステップ２３は省略されるため、ポインターの値は、２のままである。従って、セットされるパワー設定値はＳｔｅｐ２のままであり、デュアルポートメモリー４３のアドレス値２の領域には、パワー設定値Ｓｔｅｐ２が書き込まれる（ステップ２５）。従って、このようにアドレス値２の領域に書き込まれたパワー設定値Ｓｔｅｐ２が読み出されることにより、領域番号１の単位テスト記録領域だけでなく、領域番号２の単位テスト記録領域にも、パワー設定値Ｓｔｅｐ２に対応した記録パワーで記録データが記録されることになる。なお、フラグは、デュアルポートメモリー４３へのパワー設定値の書き込み終了後にクリアされる（ステップ２６，図２０の時刻ｔ３１のタイミング参照）。
【００７７】
以下、上述の処理が繰り返され、Ｓｔｅｐ１６までのパワー設定値がデュアルポートメモリー４３に書き込まれ、また、各単位テスト記録領域に各パワー設定値に対応した記録パワーで記録データが記録される。図２０の例では、時刻ｔ３２のタイミングでもディフェクトが検出され、時刻ｔ３３のタイミングでデュアルポートメモリー４３のアドレス値５の領域にパワー設定値Ｓｔｅｐ４が書き込まれる。また、領域番号５の単位テスト記録領域にパワー設定値Ｓｔｅｐ４に対応する記録パワーで記録データが記録される。また、位置タイミングデータＴＭが１８になった時には、ポインターの値は１７になるが、この値に相当するアドレス値にはパワー設定値が存在しないため、制御判断部１９は、ポート１のデータバスに０を出力する。その結果、読み出すぺきパワー設定値が無いと判定され（ステップ２８）、読み出し信号をディスイネーブルとして（ステップ２９）、パワー設定値の読み出し処理を終了する。
【００７８】
本実施形態は、以上のように構成したので、所定の単位テスト記録領域にディフェクトが存在する場合でも、当該単位テスト記録領域の隣の単位テスト記録領域に、所定のパワー設定値に基づく記録パワーでの記録データの記録を行うことができ、最適なパワー設定値の選択を適切に行うことができる。また、テスト記録領域の節約、及びキャリブレーション処理の短縮化を実現できる。
【００７９】
なお、上述した各実施形態においては、デュアルポートメモリーへのパワー設定値の書き込み直後に、当該パワー設定値を読み出す構成としたが、本発明はこれに限られるものではなく、例えばパワーキャリブレーション処理が開始される前の初期設定時等において、Ｓｔｅｐ１〜Ｓｔｅｐ１６のパワー設定値をデュアルポートメモリーへ書き込んでおき、パワーキャリブレーション処理中においては、パワー設定値の読み出しと、ディフェクト検出時の退避処理のみを行うようにしても良い。また、パワー設定値を１６段階に分けたのはあくまでも一例であり、適宜変更可能である。
【００８０】
（第３の実施形態）
次に、本発明の第３の実施形態を図２１のブロック図及び図２２のフローチャートに基づいて説明する。
【００８１】
上述した各実施形態においては、ディフェクトの検出時にのみ、パワー設定値をデュアルポートメモリの退避領域へ退避させ、当該パワー設定値によりＤＶＤ−Ｒ上の退避領域にデータを記録するように構成した。しかしながら、ディフェクトの検出時だけではなく、データ記録中にサーボ系の異常、即ち外乱が発生した場合にも、テスト記録領域には所望の記録パワーによる記録が行われないことになる。そこで、本実施形態においては、ディフェクトの検出時だけでなく、外乱発生時においてもパワー設定値のデュアルポートメモリの退避領域への退避と、当該パワー設定値によるＤＶＤ−Ｒ上の退避領域へのデータの記録を行うように構成した。
【００８２】
また、本実施形態においては、テスト記録領域へのデータ記録とデータ読み込みを並行して行うのではなく、一旦全てのテスト記録領域へのデータ記録を行った後に、それぞれのテスト記録領域からデータを読み込んで外乱またはディフェクトの検出を行い、外乱またはディフェクトが検出された場合には、退避領域に再記録処理を行うように構成した。
【００８３】
図２１に本実施形態の情報記録装置のブロック図を示す。本実施形態の情報記録装置は、図２１に示すように、ピックアップ１０からの出力をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器７０と、Ａ／Ｄ変換後のデータを記憶するためのＲＡＭ７１を備えたところが第１の実施形態と異なる。
【００８４】
以下、本実施形態におけるレーザーパワーキャリブレーション処理を図２１のブロック図及び図２２のフローチャートを参照しながら説明する。
【００８５】
まず、本実施形態においては、図２２のフローチャートには図示しないが、第１の実施形態と同様に、位置タイミングデータＴＭに同期させて、デュアルポートメモリー４３のアドレス値０〜１５の領域に、Ｓｔｅｐ１〜Ｓｔｅｐ１６のパワー設定値を書き込み、更にＤＶＤ−Ｒ１のテスト記録領域にこれらのパワー設定値に基づいた記録データＷＤを位置タイミングデータＴＭに同期させて記録させる。なお、本実施形態においては、この記録時においてはディフェクトの検出は行わない。
【００８６】
以上のような記録が終了すると、ＣＰＵ１９は、図２２に示すように、まず内部のカウンターＮの値を０に初期化する（ステップＳ３０）。次に、カウンターＮをインクリメントした後（ステップＳ３１）、ＲＡＭ７１を例えば全ての値を０とするように初期化する（ステップＳ３２）。そして、前記テスト記録領域の再生を開始し、ピックアップ１０からの再生出力ＲＦをＡ／Ｄ変換器７０によって読み込み、前記テスト記録領域に記録された全てのデータをＲＡＭ７１に格納する（ステップＳ３３）。
【００８７】
次に、ＣＰＵ１９は、ＲＡＭ７１から順次データを読み込み（ステップＳ３４）、データが全て０であるか否かを判定する（ステップＳ３５）。このような状態は、記録時おいてサーボ系の異常により正常な記録が行えなかった場合に生じる。また、ディフェクトのうち、色素の欠落のディフェクトが発生した場合に生じる。このような状態では、正常な記録データを得ることができないので、ＤＶＤ−Ｒ１の退避領域に再書き込みを行うべきであるが、本実施形態では念のため３回のリトライ動作を行う（ステップＳ３５：Ｙ〜ステップＳ４０：Ｎ〜ステップＳ３１）。リトライ動作は、位置タイミングデータＴＭが再び０に戻ってから開始し、上述したステップＳ３１〜ステップＳ３５の処理を繰り返す。
【００８８】
そして、３回のリトライを行っても、データの全てが０であると判定された場合には（ステップＳ３５：Ｙ〜ステップＳ４０：Ｙ）、再書き込み処理を行う（ステップＳ４１）。再書き込み処理は、第１の実施形態と同様に、デュアルポートメモリ４３の退避領域に、パワー設定値を記憶させ、位置タイミングデータＴＭに同期させて行う。
【００８９】
一方、データが全て０ではない場合と判定された場合には（ステップＳ３５：Ｎ）、ＲＡＭ７１に記憶されたデータのうち、１１Ｔのデータのピーク値とボトム値の差分のチェックを行う（ステップＳ３６）。正常な記録が行われた場合には、図１１に示すように、１１Ｔのデータの幅はほぼ等しい大きさになっている。しかし、サーボ系の異常等が生じると、１１Ｔのデータの幅が突然変化し、例えば一つの単位テスト記録領域の１１Ｔデータのみが他の１１Ｔデータに比べて極めて小さな値になることがある。また、テスト記録領域の全てに亘って１１Ｔのデータが小さな値になることがある。従って、このような１１Ｔのデータの突然の変化の有無、あるいは値の異常の有無を検査することにより、正常な記録が行われたか否かを判定することができる。
【００９０】
具体的には、１１ＴのデータのＡ／Ｄ変換した値がＡ／Ｄ変換のフルスケール値に対して所定範囲内の値であれば、正常な記録が行われたと判定するように構成している。
【００９１】
前記チェックの結果、１１Ｔのデータが正常に記録されていないと判定された場合には（ステップＳ３７：Ｎ）、念のために３回に亘ってリトライを行い（ステップＳ４０）、３回のリトライ後においても１１Ｔのデータが正常に記録されていないと判定された場合には（ステップＳ３７：Ｎ〜ステップＳ４０：Ｙ）、上述のように再書き込み処理を行う（ステップＳ４１）。
【００９２】
次に、１１Ｔのデータが正常に記録されていると判定された場合には（ステップＳ３７：Ｙ）、第１の実施形態と同様にサンプルホールド回路２０の出力値に基づいて最適パワーの計算を行い（ステップＳ３８）、この計算の過程で上述したディフェクトの検出が行われた場合には（ステップＳ３９）、３回のリトライを行う（ステップＳ４０）。そして、３回のリトライ後においてもディフェクトが検出される場合には（ステップＳ３９：Ｙ〜ステップＳ４０：Ｙ）、上述のように再書き込み処理を行う（ステップＳ４１）。
【００９３】
以上のように本実施形態によれば、単にディフェクトの検出だけでなく、サーボ系の異常、即ちの外乱の発生によってＤＶＤ−Ｒのテスト記録領域に正常な記録が行われなかった時には、ＤＶＤ−Ｒの退避領域に対して所定のパワー設定値に基づくデータの記録が行われるので、最適パワーの選択を良好に行うことができる。
【００９４】
また、上述した実施形態においては、有機系色素型の追加記録可能なＤＶＤの例について説明したが、相変化型あるいは光磁気型の追加記録可能なＤＶＤについても適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】ＤＶＤ−Ｒの記録層の構造を示す斜視図である。
【図２】ＤＶＤ−Ｒにおけるグルーブトラックとこれに書き込まれるシンクフレーム系列のデータ並びにランドトラックに形成されるプリピットの対応関係を示す模式図である。
【図３】本発明の一実施形態における情報記録装置の概略的構成を示すブロック図である。
【図４】図３の情報記録装置の各部動作波形を示すタイムチャートであり、（ａ）はピックアップから出力される複合信号、（ｂ）はプリフォーマット検出部から出力されるプリピット信号、（ｃ）はプリフォーマット検出部から出力されるウォブル信号、（ｄ）はタイミング生成部から出力されるクロック信号、（ｅ）はピックアップから出力される再生信号、（ｆ）はディフェクト検出部から出力されるディフェクト検出信号を夫々示すタイミングチャートである。
【図５】図３の情報記録装置におけるタイミング生成部の詳細な構成を示すブロック図である。
【図６】図５のタイミング生成部の各部における信号の出力タイミングを示すタイミングチャートであり、（ａ）はシンク検出器に供給されるプリピット信号、（ｂ）はシンク検出器から出力される検出シンク信号、（ｃ）はシンクゲート生成器から出力されるセクタシンク信号、（ｄ）はＮ進フリーランカウンタから出力されるキャリー信号、（ｅ）はカウンタから出力される位置タイミングデータの夫々の出力タイミングを示すタイミングチャートである。
【図７】図３の情報記録装置におけるパワー設定記憶部の詳細な構成を示すブロック図である。
【図８】図７のパワー設定記憶部の動作を示すタイミングチャートであり、（ａ）はタイミング生成部から出力される位置タイミングデータ、（ｂ）はデュアルポートメモリーのポート１に入力されるアドレス信号、（ｃ）はポート１に入力されるデータ信号、（ｄ）はポート２に入力されるアドレス信号、（ｅ）はポート２に入力されるデータ信号、（ｆ）はディフェクト検出部から出力されるディフェクト検出信号の夫々の出力値の変化を示すタイミングチャートである。
【図９】図３の情報記録装置における記録パターン発生部、ストラテジー回路、記録電流生成部等の動作を示すタイミングチャートであり、（ａ）は記録パターン発生部から出力される記録データ、（ｂ）はストラテジー回路から出力されるレーザー変調信号、（ｃ）は記録電流生成部から出力される記録電流の夫々の波形を示すタイミングチャートであり、（ｄ）は記録電流生成部に入力されるパワー設定データの変化を示すタイミングチャートである。また、（ｅ）はピックアップから出力される再生信号、（ｆ）はサンプルホールド回路の出力信号の夫々の波形を示すタイミングチャートである。
【図１０】図３の情報記録装置におけるアシンメトリー計測部の詳細な構成を示すブロック図である。
【図１１】図１０のアシンメトリー計測部に入力される各単位テスト記録領域毎の再生信号を示す図である。
【図１２】図１１の１つの単位テスト記録領域における再生信号を拡大表示して説明するための図であり、（ａ）は当該再生信号の基になる記録データの波形を示す図、（ｂ）は当該再生信号を拡大表示した図、（ｃ）は単位テスト記録領域に相当する位置タイミングデータを示す図である。
【図１３】図１０のアシンメトリー計測部からの出力結果に基づいてアシンメトリーを算出し、各単位テスト記録領域毎にプロットした図である。
【図１４】図３の情報記録装置におけるディフェクト検出部の詳細な構成を示すブロック図である。
【図１５】本発明の第１の実施形態におけるパワーキャリブレーション処理の際のパワー設定データ出力処理を示すフローチャートであり、（Ａ）はメインルーチン、（Ｂ）はディフェクト検出時に実行される割り込み処理ルーチンである。
【図１６】本発明の第１の実施形態におけるパワー設定データ出力処理時におけるパワー設定記憶部の動作を示すタイミングチャートであり、（ａ）はデュアルポートメモリーに供給される位置タイミングデータ、（ｂ）はデュアルポートメモリーのポート２に入力されるアドレス信号、（ｃ）はポート２に入力されるデータ信号、（ｄ）はポート１に入力されるアドレス信号、（ｅ）はポート１に入力されるデータ信号、（ｆ）はセレクタに入力されるセレクタ信号、（ｇ）はポート１に入力される書き込み信号、（ｈ）はポート１に入力される読み出し信号、（ｉ）は制御判断部に入力されるディフェクト検出信号、（ｊ）はポート２に入力されるアドレス信号となるカウンタの出力値の夫々の変化を示すタイミングチャートである。
【図１７】図３の情報記録装置におけるパワー設定記憶部の構成の他の例を示すブロック図である。
【図１８】本発明の第２の実施形態におけるパワーキャリブレーション処理の際のパワー設定データ出力処理を示すフローチャートである。
【図１９】本発明の第２の実施形態において制御判断部に格納されるパワー設定値テーブルを示す図である。
【図２０】本発明の第２の実施形態におけるパワー設定データ出力処理時におけるパワー設定記憶部の動作を示すタイミングチャートであり、（ａ）はデュアルポートメモリーに供給される位置タイミングデータ、（ｂ）はデュアルポートメモリーのポート２に入力されるアドレス信号、（ｃ）はポート２に入力されるデータ信号、（ｄ）はポート１に入力されるアドレス信号、（ｅ）はポート１に入力されるデータ信号、（ｆ）はポート１に入力される書き込み信号、（ｇ）はポート１に入力される読み出し信号、（ｈ）は制御判断部に入力されるディフェクト検出信号、（ｉ）は制御判断部の内部において操作されるフラグの夫々のの変化を示すタイミングチャートである。
【図２１】本発明の第３の実施形態における情報記録装置の概略構成を示すブロック図である。
【図２２】図２１の情報記録装置において実行されるレーザーパワーキャリブレーション処理を示すフローチャートである。
【符号の説明】
１…ＤＶＤ−Ｒ
１０…ピックアップ
１１…レーザーダイオード
１２…プリフォーマット検出部
１３…タイミング生成部
１４…パワー設定記憶部
１５…記録パターン発生部
１６…ストラテジー回路
１７…記録電流生成部
１８…アシンメトリー計測部
１９…制御判断部
２０…サンプルホールド回路
２１…ディフェクト検出部
４３…デュアルポートメモリー
７０…Ａ／Ｄ変換器
７１…ＲＡＭ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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