(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスクドライブの磁気抵抗ヘッド安定性回復方法において：
前記磁気抵抗ヘッドの性能を確認する読出しデータの誤り発生と関わる所定の性能検査を行い，性能検査の結果値が所定の第１規格範囲内に含まれるかを判断する第１段階と；
前記第１段階の前記性能検査の結果値が前記所定の第１規格範囲外である場合，リセット電流パルスを前記磁気抵抗ヘッドに印加する第２段階と；
前記第２段階後に，前記所定の性能検査を行う第３段階と；
前記第３段階の所定の性能検査の結果値が，前記所定の第１規格範囲よりも性能値の下限が大きい所定の第２規格範囲外であるかを判断し，判断の結果，前記第２規格範囲外である場合には前記リセット電流パルスを前記磁気抵抗ヘッドに繰り返して印加した後に前記第３段階に戻し，前記第２規格範囲外でない場合には磁気抵抗ヘッド安定性回復プロセスを終える第４段階と；
を含むことを特徴とするディスクドライブの不安定性ヘッド回復方法。
【請求項２】
前記磁気抵抗ヘッド性能を確認する読出しデータの誤り発生と関わる所定の性能検査は，ビットエラー率検査である，
ことを特徴とする請求項１に記載のディスクドライブの不安定性ヘッド回復方法。
【請求項３】
前記磁気抵抗ヘッド性能を確認する読出しデータの誤り発生と関わる所定の性能検査は，チャネル統計的測定検査である，
ことを特徴とする請求項１に記載のディスクドライブの不安定性ヘッド回復方法。
【請求項４】
前記リセット電流パルスのレベル値は，前記磁気抵抗ヘッドの抵抗値に反比例するよう決められる，
ことを特徴とする請求項１に記載のディスクドライブの不安定性ヘッド回復方法。
【請求項５】
前記リセット電流パルスの極性は，前記磁気抵抗ヘッドのイージ軸と同一の方向に電流が流れる，
ことを特徴とする請求項１に記載のディスクドライブの不安定性ヘッド回復方法。
【請求項６】
前記第４段階から前記第３段階に戻す回数を，前記磁気抵抗ヘッドの特性から限定させる，
ことを特徴とする請求項１に記載のディスクドライブの不安定性ヘッド回復方法。
【請求項７】
前記磁気抵抗ヘッド安定性回復プロセスは，ハードディスクアセンブリ検査工程中に実行させる，
ことを特徴とする請求項１に記載のディスクドライブの不安定性ヘッド回復方法。
【請求項８】
前記磁気抵抗ヘッド安定性回復プロセスは，前記ハードディスクアセンブリ検査工程のうちサーボ校正工程前に実行させる，
ことを特徴とする請求項７に記載のディスクドライブの不安定性ヘッド回復方法。
【請求項９】
ディスクドライブの磁気抵抗ヘッド安定性回復制御装置において：
ディスクに記録された磁速に応答して抵抗が変わる磁気抵抗ヘッドと；
読出しモードで前記磁気抵抗ヘッドから検出された信号を記録前のデータに再生させ，書込みモードで記録するデータに相応する記録電流を生じさせる信号処理部と；
前記信号処理部で再生される前記データを用いて前記磁気抵抗ヘッド性能を確認するデータの誤り発生と関わる所定の性能検査を行い，性能検査の結果値が，所定の第１規格範囲内に含まれない場合に電気ショック制御信号を生じさせるコントローラと；
前記電気ショック制御信号が印加される場合，磁気抵抗ヘッド読出し用電流よりも高いレベルのリセット電流パルスを前記磁気抵抗ヘッドに印加させるヘッド供給電流制御部と；
を含み、
前記コントローラは，前記電気ショック制御信号を，前記所定の性能検査を行い，性能検査の結果値が前記所定の第１規格範囲よりも性能値の下限が大きい所定の第２規格範囲内に含まれない間，繰り返し生じさせる，
ことを特徴とするディスクドライブの不安定性ヘッド回復装置。
【請求項１０】
前記磁気抵抗ヘッド性能を確認するデータの誤り発生と関わる所定の性能検査は，ビットエラー率検査である，
ことを特徴とする請求項９に記載のディスクドライブの不安定性ヘッド回復装置。
【請求項１１】
前記磁気抵抗ヘッド性能を確認するデータの誤り発生と関わる所定の性能検査は，チャネル統計的測定検査である，
ことを特徴とする請求項９に記載のディスクドライブの不安定性ヘッド回復装置。
【請求項１２】
前記電気ショック制御信号を繰り返し生じる回数は，前記磁気抵抗ヘッドの特性から限定される，
ことを特徴とする請求項９に記載のディスクドライブの不安定性ヘッド回復装置。
【請求項１３】
前記リセット電流パルスのレベル値は，前記磁気抵抗ヘッドの抵抗値に反比例するよう決められる，
ことを特徴とする請求項９に記載のディスクドライブの不安定性ヘッド回復装置。
【請求項１４】
前記リセット電流パルスの極性は，前記磁気抵抗ヘッドのイージ軸と同一の方向に電流が流れるよう，決められる，
ことを特徴とする請求項９に記載のディスクドライブの不安定性ヘッド回復装置。
【請求項１５】
前記ヘッド供給電流制御部は，
前記磁気抵抗ヘッドの読出し用電流を生じさせる読出し用電流発生部と，
前記磁気抵抗ヘッドのドメインを整列させるリセット電流パルスを生じさせるリセットパルス発生部と，
前記読出し用電流発生部及び前記リセットパルス発生部の出力信号を入力し，読出しモードで前記電気ショック制御信号が印加される場合，前記リセットパルス発生部の出力信号をスイッチングして前記磁気抵抗ヘッドに出力させ，前記電気ショック制御信号が印加されない場合，前記読出し用電流発生部の出力信号をスイッチングして前記磁気抵抗ヘッドに出力させるスイッチング部と，
をさらに含むことを特徴とする請求項９に記載のディスクドライブの不安定性ヘッド回復装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はディスクドライブ制御装置及び方法にかかり，特にハードディスクドライブのＭＲセンサーの不安定性を電気的な衝撃により回復させるためのディスクドライブの不安定性ヘッド回復装置及び方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
既存のインダクティブヘッドは，ヘッドコアにコイルを巻いてディスクの磁束変化量をヘッドコイルの電圧変化量に変換する方法を採択している。インダクティブヘッドでは，データの信号周波数が高くなると，データ信号の安定性のためにヘッドコイルのインダクタンス値を下げなければならない。これは，ヘッドの有機電圧を低下させてデータ信号の検出を不安定にする。
【０００３】
上記記載のインダクティブヘッドの問題点を補完して開発されたものが磁気抵抗ヘッド（Ｍａｇｎｅｔｏ−Ｒｅｓｉｓｔｉｖｅ  ｈｅａｄ；以下，ＭＲヘッド）である。ＭＲヘッドは，磁束の変化を容易に感知するＭＲセンサーを採用することにより高い周波数のデータ信号に適応可能となる。ＭＲヘッドは，既存のインダクティブヘッドでヘッドコイルにより磁束の変化を有機電圧の変化に変換する場合とは違って，データの読出し時に，ＭＲセンサー（磁気抵抗素子）により磁束の変化を抵抗値の変化として検出し，書込み時には既存のインダクティブヘッドの構造を採用して単位面積当り記録密度及びＳ／Ｎ比を高めている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら，このようなＭＲヘッドは，従来から使用されるインダクティブヘッドでは，発生しないＭＲセンサーの不安定性を引き起こすという問題があった。
【０００５】
ＭＲヘッドの不安定性とは，ＭＲセンサーの不安定ドメインにより生じる現象であって，その原因として各種のものが挙げられるが，主な原因としては，静電気放電などの，ソフトＥＳＤ（Ｅｌｅｃｔｒｏ  Ｓｔａｔｉｃ  Ｄｉｓｃｈａｒｇｅ）による損傷またはＭＲセンサー両端の不適切なハードバイアス（または，永久磁石）作用，などがある。
【０００６】
ＭＲセンサーの単位面積当り感度を高めるために容量を増やせば，ＴＰＩ（Ｔｒａｃｋ  Ｐｅｒ  Ｉｎｃｈ）が増大してＭＲセンサーの幅が狭まり，その結果，このような不安定性が一層高まる。
【０００７】
このようなＭＲヘッドの不安定性は，ハードディスクドライブにおける信号のベースラインポッピング，ベースラインノイズ，振幅スパイク及び高い振幅非対称現象などを引き起こす。
【０００８】
さらに，このようなＭＲヘッドの不安定性は，正常状態でいかなる時点でも生じるため，１次的に工程不良率を増大させ，２次的には市場品質に莫大な影響を及ぼすという問題点があった。
【０００９】
このような問題点を改善するための方法が，米国特許５，６５０，８８７号公報及び韓国公開特許１９９９９−０７２２８４号公報に開示されている。
【００１０】
この米国特許５，６５０，８８７号公報には，サーボＡＧＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）を測定してそれが２０％である場合に限ってヘッドにリセット電流を印加するという技術が開示されている。また，韓国公開特許１９９９−０７２２８４号公報には，サーボ信号の検出可否でヘッドの性能を判断し，ヘッドに逆方向にリセット電流を印加するという技術が開示されている。
【００１１】
米国特許５，６５０，８８７号公報に開示された技術によれば，ヘッドの安定性をヘッドによりＡＧＣから検出される電圧レベルだけで判断するため，データを対象とした直接的なヘッドの安定性検査ではなく，データを変調した電流状態のレベルを対象としたヘッドの安定性検査を行うことから，正確にヘッドの安定性が判断できないという問題がある。同様に，韓国公開特許１９９９−０７２２８４号公報に開示された技術も，データを対象とした直接的なヘッドの安定性検査がなされず，正確にヘッドの安定性が判断できないという問題があった。
【００１２】
本発明は，上記問題点に鑑みてなされたものであり，本発明の目的は，ＭＲヘッドの不安定性を改善させることが可能な，新規かつ改良されたディスクドライブの不安定性ヘッド回復装置及び方法を提供することである。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため，本発明の第１の観点によれば，ディスクドライブの磁気抵抗ヘッド安定性回復方法が提供される。このディスクドライブの磁気抵抗ヘッド安定性回復方法は，磁気抵抗ヘッドの性能を確認できる読出しデータの誤り発生と関わる所定の性能検査を行い，性能検査の結果値が所定の第１規格範囲内に含まれるかを判断する第１段階と，第１段階の前記性能検査の結果値が前記所定の第１規格範囲を超える場合，リセット電流パルスを前記磁気抵抗ヘッドに印加する第２段階と，第２段階後に，前記所定の性能検査を行う第３段階と，第３段階の所定の性能検査の結果値が所定の第２規格範囲を超えるかを判断し，判断の結果，第２規格範囲を超える場合にはリセット電流パルスを磁気抵抗ヘッドに繰り返して印加した後に第３段階に戻し，第２規格範囲を超えない場合には磁気抵抗ヘッド安定性回復プロセスを終える第４段階とを含むことを特徴とする。
【００１４】
本発明によれば，ディスクドライブの磁気抵抗ヘッド安定性回復方法は，磁気抵抗ヘッドのドメイン整列が均一でなく不安定になることを，ビットエラー率，またはチャネル統計的測定値（ＣＳＭ値）を用いて判断した後，磁気抵抗ヘッドに電気的なショックを印加する。かかる構成により，磁気抵抗ヘッドの安定性を回復させて，不安定なヘッドによる工程不良率を減らすという効果がある。また，良品率が改善される効果もある。ほかに，ハードディスクドライブのヘッド不安定による市場出荷不良率を改善できるという効果がある。
【００１５】
リセット電流パルスのレベル値は，前記磁気抵抗ヘッドの抵抗値に反比例するよう決められる。かかる構成により，実験的なデータ値の統計を用いて磁気抵抗ヘッドに損傷を与えない程度に，磁気抵抗ヘッドのドメイン整列が効率よく行える。
【００１６】
リセット電流パルスの極性は，前記磁気抵抗ヘッドのイージ軸と同一の方向に電流が流れる。かかる構成により，不安定化したドメイン整列を安定化した同一の方向に一致させることができる。
【００１７】
さらに，上記課題を解決するための本発明の別の観点によれば，ディスクドライブの磁気抵抗ヘッド安定性回復制御装置が提供される。このディスクドライブの磁気抵抗ヘッド安定性回復制御装置は，ディスクに記録された磁速に応答して抵抗が変わる磁気抵抗ヘッドと，読出しモードで磁気抵抗ヘッドから検出された信号を記録前のデータに再生させ，書込みモードで記録するデータに相応する記録電流を生じさせる信号処理部と，信号処理部で再生されるデータを用いて磁気抵抗ヘッド性能を確認するデータの誤り発生と関わる所定の性能検査を行い，性能検査の結果値が所定の規格範囲内に含まれない場合に電気ショック制御信号を生じさせるコントローラと，電気ショック制御信号が印加される場合，磁気抵抗ヘッド読出し用電流よりも高いレベルのリセット電流パルスを磁気抵抗ヘッドに印加させるヘッド供給電流制御部とを含むことを特徴とする。
【００１８】
本発明によれば，ディスクドライブの磁気抵抗ヘッド安定性回復制御装置は，磁気抵抗ヘッドを用いて性能検査を行い，判断した後，コントローラにより，必要に応じて，磁気抵抗ヘッドに電気的なショックを印加する。かかる構成により，磁気抵抗ヘッドの安定性を回復させて，不安定なヘッドによる工程不良率を減らすという効果がある。また，良品率が改善される効果もある。ほかに，ハードディスクドライブのヘッド不安定による市場出荷不良率を改善できるという効果がある。
【００１９】
コントローラは，電気ショック制御信号を，前記所定の性能検査を行い，性能検査の結果値が所定の規格範囲内に含まれない間，繰り返し生じさせる。かかる構成により，磁気抵抗ヘッドに電気的なショックを印加して，磁気抵抗ヘッドの安定性を回復させる。
【００２０】
リセット電流パルスのレベル値は，磁気抵抗ヘッドの抵抗値に反比例するよう決められる。かかる構成により，実験的なデータ値の統計を用いて磁気抵抗ヘッドに損傷を与えない程度に，磁気抵抗ヘッドのドメイン整列が効率よく行える。
【００２１】
リセット電流パルスの極性は，磁気抵抗ヘッドのイージ軸と同一の方向に電流が流れるよう，決められる，かかる構成により，不安定化したドメイン整列を安定化した同一の方向に一致させることができる。
【００２２】
ヘッド供給電流制御部は，磁気抵抗ヘッドの読出し用電流を生じさせる読出し用電流発生部と，磁気抵抗ヘッドのドメインを整列させるリセット電流パルスを生じさせるリセットパルス発生部と，読出し用電流発生部及び前記リセットパルス発生部の出力信号を入力し，読出しモードで電気ショック制御信号が印加される場合，リセットパルス発生部の出力信号をスイッチングして磁気抵抗ヘッドに出力させ，電気ショック制御信号が印加されない場合，読出し用電流発生部の出力信号をスイッチングして磁気抵抗ヘッドに出力させるスイッチング部とをさらに含むことができる。かかる構成により，磁気抵抗ヘッドが不安定な場合，必要に応じて，磁気抵抗ヘッドに電気ショック制御信号を印加することが可能となる。
【００２３】
【発明の実施の形態】
以下，本発明の好適な実施の形態について，添付図面を参照しながら詳細に説明する。なお，以下の説明及び添付図面において，略同一の機能及び構成を有する構成要素については，同一符号を付することにより，重複説明を省略する。
【００２４】
図１は，本実施の形態にかかるハードディスクドライブ１０を示す構成図である。図１に示されるように，ドライブ１０は，スピンドルモーター１４により回転される少なくとも一枚の磁気ディスク１２を構成している。また，ドライブ１０は，ディスク表面１８に隣接して位置した変換器１６を構成している。
【００２５】
変換器１６は，各々のディスク１２の磁界を感知および磁化させることにより回転するディスク１２から情報の読み出し，あるいは情報を書込むことができる。単一の変換器１６として示し，説明されているが，これはディスク１２を磁化させるための記録用変換器及びディスク１２の磁界を感知するための分離された読出し用変換器よりなる。読出し用変換器は，磁気抵抗（ＭＲ：Ｍａｇｎｅｔｏ−Ｒｅｓｉｓｔｉｖｅ）素子よりなる。
【００２６】
変換器１６は，スライダ２０に組み込まれる。スライダ２０は，変換器１６とディスク表面１８との間に空気ベアリングを生じるような構造となっている。スライダ２０は，ヘッドジンバルアセンブリ２２に結合されている。ヘッドジンバルアセンブリ２２は，ボイスコイル２６を有するアクチュエータアーム２４に取り付けられている。
【００２７】
ボイスコイル２６は，ボイスコイルモーター（ＶＣＭ：Ｖｏｉｃｅ  ＣｏｉｌＭｏｔｏｒ）３０に結合されたマグネチックアセンブリ２８に隣接して位置している。ボイスコイル２６に供給される電流は，ベアリングアセンブリ３２に対してアクチュエータアーム２４を回転させるトルクを生じる。アクチュエータアーム２４の回転は，ディスク表面１８を横切って変換器１６を移動させる。
【００２８】
情報は，典型的に，ディスク１２の環状のトラック内に貯蔵される。各トラック３４は，一般に，複数のセクタを含んでいる。各セクタは，データフィールド及び識別フィールドを含んでいる。識別フィールドは，セクタ及びトラック（シリンダ）を識別するグレーコードを含む。変換器１６は，他のトラックにある情報を読出し，あるいはそこに情報を書込むためにディスク表面１８を横切りながら移動する。
【００２９】
図２は，本実施の形態にかかるディスクドライブの不安定性ヘッド回復装置の構成を示すブロック図である。
【００３０】
図２に示すように，本実施の形態にかかるディスクドライブの不安定性ヘッド回復装置は，ＭＲヘッド２０１，ヘッド供給電流制御部２０２，コントローラ２０３及び信号処理部２０４から構成される。
【００３１】
ヘッド供給電流制御部２０２は，さらに，読出し用電流発生部２０２Ａ，リセットパルス発生部２０２Ｂ及びスイッチング部２０２Ｃから構成され，信号処理部２０４は，さらに，信号検出部２０４Ａ，増幅部２０４Ｂ及びＲ／Ｗチャネル２０４Ｃから構成される。
【００３２】
ＭＲヘッド２０１は，ハードディスクドライブの読出しモードでディスクに記録されたデータを検出する素子であり，ＮｉＦｅなどの合金の誘導性フェロマグネチック材料からなり，ディスク上に記録された磁束に応答して抵抗が変わるセンサーである。
【００３３】
読出し用電流発生部２０２Ａは，ハードディスクドライブが読出しモードでディスクに記録された磁束に応答してＭＲヘッド２０１の抵抗が変わることを電流（または電圧）で感知するためにＭＲヘッド２０１に供給される電流を生じる。
【００３４】
リセットパルス発生部２０２Ｂは，図５（ａ）に示すように，ＭＲヘッド２０１のイージ軸上でドメイン整列が不安定化した場合，不安定化したドメイン整列を，図５（ｂ）に示すように，安定化した同一の方向に一致させるため，ＭＲヘッド２０１に初期化電流を生じさせる。
【００３５】
イージ軸はヘッドの磁化し易い方向を意味し，物性上の好みの方向軸をいう。ここで，リセットパルスの極性は，不安定化したドメイン整列を安定な同一の方向へするために，イージ軸方向と同一の方向に電流が流れるように決める。
【００３６】
スイッチング部２０２Ｃは，コントローラ２０３から印加される制御信号に相応してＭＲヘッド２０１に印加される電流をスイッチングして出力させる役割をする。
【００３７】
信号検出部２０４Ａは，読出しモードでＭＲヘッド２０１によりディスク上に記録された磁束に応答して変わった抵抗値を感知してディスクに記録された信号を検出する。すなわち，オーム（ｏｈｍ）の法則を用いて読出し用電流にＭＲヘッド２０１の変わった抵抗値を乗じた結果（電圧）によりディスクに記録された磁束を検出する。
【００３８】
増幅部２０４Ｂは，信号検出部２０４Ａから出力される信号を信号処理に適するように増幅させる。
【００３９】
Ｒ／Ｗチャネル２０４Ｃは，ＭＲヘッド２０１から読み取られて増幅されたアナログ信号をホストコンピューター（図示せず）が判読できるデジタル信号に変調させ，ホストコンピューターからユーザデータを受けてディスクに記録可能に記録電流に変換させる信号処理を行う。
【００４０】
コントローラ２０３は，ハードディスクドライブを総括的に制御し，ホストコンピューターとハードディスクドライブとの間のデータ通信を制御する役割をする。そして，本実施の形態にかかるディスクドライブの不安定性ヘッド回復方法を行うよう制御する。
【００４１】
以下，図３及び図４のフローチャートを中心に，図２に示された装置の動作について説明する。
【００４２】
まず，本実施の形態では，ＭＲヘッドのドメイン整列が不均一なために不安定状態にあることを判断するために，ビットエラー率（ＢＥＲ）及びチャネル統計的測定（ＣＳＭ：Ｃｈａｎｎｅｌ  Ｓｔａｔｉｓｔｉｃａｌ  Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ）値を用いる。
【００４３】
ここで，ビットエラー率（ＢＥＲ）は，ヘッドにより読み出した信号に含まれた一定数のデータビットのうち誤りビットが生じた個数を示す割合であって，ヘッドの読出し安定性を直接的に判定できる性能検査の一つである。そして，チャネル統計的測定（ＣＳＭ）は，チャネルチップから提供されるビットエラーを測定する性能検査方法であって，ビットエラー率性能検査方法に比べて測定時間が短縮されるという長所がある。
【００４４】
すなわち，ＭＲヘッドのドメイン整列が均一でない場合にはこれに比例してヘッドの安定性に直接的に関連するビットエラー率及びチャネル統計的測定値が悪化するという原理を用いてＭＲヘッドの不安定性を判断する。
【００４５】
図３は，ＭＲヘッドの不安定性をビットエラー率で判断する，ディスクドライブの不安定性ヘッド回復方法を示すフローチャートである。図４は，ＭＲヘッドの不安定性をチャネル統計的測定値で判断する，ディスクドライブの不安定性ヘッド回復方法を示すフローチャートである。
【００４６】
図３に示す，ＭＲヘッドの不安定性をビットエラー率で判断する，ディスクドライブの不安定性ヘッド回復方法について説明する。
【００４７】
まず，本実施の形態のアルゴリズムに関わる初期値を設定してコントローラ２０３のメモリに貯蔵する。すなわち，ＭＲヘッド不安定性回復プロセスを行うためのＭＲヘッドの不安定性の判断に用いられる第１臨界ビットエラー率値Ｂ１，ＭＲヘッド安定性回復プロセスの実行後のＭＲヘッドの安定性回復の判断のための第２臨界ビットエラー率値Ｂ２，および繰り返し行える電気的ショックの最大回数Ｎ０を実験による統計を用いて決める（段階３０１）。
【００４８】
ここで，第２臨界ビットエラー率値Ｂ２は，ＭＲヘッドに電気的ショックを印加してドメインを再整列させた後の性能テスト臨界値に該当するので，第１臨界ビットエラー率値Ｂ１以上に設定することが効果的である。
【００４９】
また，電気的なショックの最大回数Ｎ０は，ＭＲヘッドに損傷を与えないように，電気的ショックを繰り返しても大きな効果が生じない値に決める。これらの初期値は，実験的な統計値を参考として決めることが効果的である。
【００５０】
初期値を設定してから，コントローラ２０３は，ＭＲヘッドの不安定性を判断するために記録されたデータを読み出すようにハードディスクドライブを制御した後，読出したデータに対するビットエラー率（ＢＥＲ）を検査する（段階３０２）。
【００５１】
コントローラ２０３は，段階３０２で算出されたビットエラー率（ＢＥＲ）値を初期設定された第１臨界ビットエラー率値Ｂ１と比較して（段階３０３），算出されたビットエラー率（ＢＥＲ）値が初期設定された第１臨界ビットエラー率値Ｂ１以上である場合（第１規格範囲内）にはＭＲヘッドの性能が正常であるので，電気的ショックによるヘッドの安定性回復プロセスを行わず，段階３０４による通常のハードディスク装置検査などの，ハードディスクアセンブリ検査工程，を行う。
【００５２】
しかし，段階３０３の比較結果，コントローラ２０３は，算出されたビットエラー率（ＢＥＲ）値が初期設定された第１臨界ビットエラー率値Ｂ１よりも小さい場合（第１規格範囲外）には，ＭＲヘッドの性能を含むハードディスクドライブの性能に異常が生じた場合に該当するので，ヘッド安定性回復プロセスを行うために段階３０５を行う。
【００５３】
段階３０５では，コントローラ２０３は，ＭＲヘッドに電気的なショックを印加する回数をカウントするために，内部カウンタのカウント値Ｎを０にセットする。
【００５４】
次に，ＭＲヘッドにドメイン整列のための電気的ショックを次のように印加する（段階３０６）。
【００５５】
まず，コントローラ２０３は，ＭＲヘッドのドメインを均一に整列するために，ヘッド供給電流制御部２０２に電気ショック制御信号を出力する。
【００５６】
次に，リセットパルス発生部２０２Ｂは，電気ショック制御信号によりＭＲヘッドのドメインの再整列のために比較的，高いレベルのリセット電流パルスを発生させる。この時，リセット電流パルスの幅，振幅，個数はＭＲヘッドの抵抗値により互い違いに決め，実験的なデータ値の統計を用いてＭＲヘッドに損傷を与えないよう，ＭＲヘッドのドメイン整列が効率よく行える値に決める。特に，リセット電流パルスの振幅は，ＭＲヘッドの抵抗値に反比例するように決める。
【００５７】
また，電気ショック制御信号は，スイッチング部２０２Ｃを制御して，リセットパルス発生部２０２Ｂで生じたリセットパルスをＭＲヘッド２０１に印加されるようにスイッチングする。
【００５８】
段階３０６によるＭＲヘッドに電気的なショックを１回印加した後，コントローラ２０３の内部のカウンタを１加算（カウントアップ）する（段階３０７）。
【００５９】
段階３０６によるＭＲヘッドの電気的なショックを印加してから，コントローラ２０３はディスクに記録されたデータを読み出すようにハードディスクドライブを制御した後，ビットエラー率（ＢＥＲ）を算出する（段階３０８）。
【００６０】
次に，コントローラ２０３は，内部メモリに貯蔵された第２臨界ビットエラー率値Ｂ２を読出し，段階３０８で算出されたビットエラー率（ＢＥＲ）値と比較する（段階３０９）。
【００６１】
コントローラ２０３は，段階３０９の判断結果，段階３０８で算出されたビットエラー率（ＢＥＲ）値が第２臨界ビットエラー率値Ｂ２よりも小さい場合（第２規格範囲外）には，ＭＲヘッドのドメイン整列が正確に処理されない場合に該当する。
【００６２】
ＢＥＲ値が第２臨界ビットエラー率値Ｂ２よりも小さい場合には，さらに内部カウンタの値を比較し，カウント値Ｎが初期設定された繰り返し行える電気的ショックの最大回数Ｎ０以上である場合，これ以上電気的ショックを繰り返してもＭＲヘッドの性能が安定化しない場合に該当するため，段階３０４で，通常のハードディスク装置検査など，ハードディスクアセンブリ性能検査を行う。
【００６３】
また，カウント値Ｎが電気的ショックの最大回数Ｎ０以上でない場合には，段階３０６に戻してＭＲヘッドの電気的なショックを繰り返し行い，これに対するビットエラー率を検査する。
【００６４】
上記記載の方法により，ビットエラー率値を用いてＭＲヘッドの不安定性を判断した後，ＭＲヘッドのドメイン整列が不安定であった現象を電気的なショックにより改善できる。
【００６５】
次に，図４を参照しながら，ＭＲヘッドの不安定性をチャネル統計的測定値で判断する，ディスクドライブの不安定性ヘッド回復方法について説明する。
【００６６】
まず，図４に示すように，本実施の形態のアルゴリズムに関わる初期値を設定してコントローラ２０３のメモリに貯蔵する。すなわち，ＭＲヘッド不安定性回復プロセスを行うためのＭＲヘッドの不安定性の判断に用いられる第１臨界ＣＳＭ値Ｃ１，ＭＲヘッド安定性回復プロセスの実行後のＭＲヘッドの安定性回復の判断に用いられる第２臨界ＣＳＭ値Ｃ２，および繰り返し行える電気的なショックの最大回数Ｎ０を実験による統計から決める（段階４０１）。
【００６７】
ここで，第２臨界ＣＳＭ値Ｃ２は，ＭＲヘッドに電気的なショックを印加してドメインを再整列させた後の性能テスト臨界値に該当するため，第１臨界ＣＳＭ値Ｂ１以下に設定することが効果的である。そして，電気的なショックの最大回数Ｎ０は，ＭＲヘッドに損傷を与えない程度に，電気的なショックを繰り返してもＣＳＭ値に大きな効果が生じない値に決める。これらの初期値は実験的な統計値に基づき決めることが効果的である。
【００６８】
初期値を設定してから，コントローラ２０３は，ＭＲヘッドの不安定性を判断するためにサーボライト工程中に記録されたデータを読出すようにハードディスクドライブを制御した後，読出したデータに対するＣＳＭ検査を行う（段階４０２）。
【００６９】
段階４０３で，コントローラ２０３は，算出されたＣＳＭ値を初期設定された第１臨界ＣＳＭ値Ｃ１と比較し（段階４０３），算出されたＣＳＭ値が初期設定された第１臨界ＣＳＭ値Ｃ１以下である場合（第１規格範囲内）には，ＭＲヘッドの性能が正常であるため，電気的なショックによるヘッドの安定性回復プロセスを行わずに，段階４０４による通常のハードディスク装置検査などの，ハードディスクアセンブリ検査工程を行う。
【００７０】
しかし，段階４０３の比較結果，算出されたＣＳＭ値が初期設定された第１臨界ＣＳＭ値Ｃ１よりも大きい場合，コントローラ２０３は，ＭＲヘッドの性能を含むハードディスクドライブの性能に異常が生じた場合に該当するため，ヘッド安定性回復プロセスを行うために段階４０５を行う。
【００７１】
段階４０５では，コントローラ２０３は，ＭＲヘッドに電気的なショックを印加する回数をカウントするために内部カウンタのカウント値Ｎを０にリセットする。
【００７２】
次に，ＭＲヘッドにドメイン整列のための電気的なショックを次のように印加する（段階４０６）。
【００７３】
まず，コントローラ２０３は，ＭＲヘッドのドメインを均一に整列させるためにヘッド供給電流制御部２０２に電気ショック制御信号を出力する。
【００７４】
次に，リセットパルス発生部２０２Ｂは，電気ショック制御信号によりＭＲヘッドのドメインの再整列のために比較的に高いリセット電流パルスを生じさせる。このとき，リセット電流パルスの幅，振幅，個数はＭＲヘッドの抵抗値により互い違いに決め，実験的なデータ値の統計を用いてＭＲヘッドに損傷を与えない程度，ＭＲヘッドのドメイン整列を効率よく行える値に決める。特に，リセット電流パルスの振幅は，ＭＲヘッドの抵抗値に反比例するように決める。
【００７５】
そして，電気ショック制御信号は，スイッチング部２０２Ｃを制御し，リセットパルス発生部２０２Ｂで生じたリセットパルスをＭＲヘッド２０１に印加されるようにスイッチングする。
【００７６】
段階４０６によるＭＲヘッドに電気的なショックを１回印加した後に，コントローラ２０３の内部のカウンタを１加算（カウントアップ）する（段階４０７）。
【００７７】
段階４０６によるＭＲヘッドの電気的なショックを印加してから，コントローラ２０３は，ディスクに記録されたデータを読出すようにハードディスクドライブを制御した後に，ＣＳＭ値を算出する（段階４０８）。
【００７８】
次に，コントローラ２０３は，内部メモリに貯蔵された第２臨界ＣＳＭ値Ｃ２を読出して段階４０８で算出されたＣＳＭ値と比較する（段階４０９）。
【００７９】
コントローラ２０３は，段階４０９の判断結果，段階４０８で算出されたＣＳＭ値が第２臨界ＣＳＭ値Ｃ２以上である場合（第２規格範囲外）にはＭＲヘッドのドメイン整列が正確になされない場合に該当する。
【００８０】
ＣＳＭ値が第２臨界ＣＳＭ値Ｃ２以上である場合には，内部カウンタの値を比較し，カウント値Ｎが初期設定された，繰り返し行える電気的なショックの最大回数Ｎ０以上である場合にはこれ以上電気的なショックを繰り返してもＭＲヘッドの性能が安定化しない場合に該当するため，段階４０４の通常のハードディスク装置検査などの，ハードディスクアセンブリ性能検査を行う。
【００８１】
また，内部カウンタ値Ｎが，繰り返し行える電気的なショックの最大回数Ｎ０よりも小さい場合，段階３０６に戻してＭＲヘッドに電気的なショックを繰り返し行い，これに対するＣＳＭ検査をする。
【００８２】
上記記載の方法により，ＣＳＭ値を用いてＭＲヘッドの不安定性を判断した後に，ＭＲヘッドのドメイン整列が不安定であった現象を電気的なショックにより改善できるようになった。
【００８３】
本実施の形態にかかるＭＲヘッド安定性回復プロセスは，ハードディスク装置検査などの，ハードディスクアセンブリ検査工程中に行うことが効果的であり，特に，ハードディスクアセンブリ検査工程のうちサーボ校正工程前に行うことが効果的である。
【００８４】
本実施の形態にかかるＭＲヘッド安定性回復プロセスは，方法，装置およびシステムなどとして実行可能である。ソフトウェアとして実行される時，本実施の形態の構成手段は必ず必要な作業を行うコードセグメントである。プログラムまたはコードセグメントはプロセッサ判読可能媒体またはコンピュータ読込み可能な記憶媒体などに貯蔵でき，あるいは伝送媒体または通信網で搬送波に含まれるコンピュータデータ信号により伝送される。プロセッサ判読可能媒体またはコンピュータ読込み可能な記憶媒体は，情報を貯蔵または伝送できるいかなる媒体も含む。プロセッサ判読可能媒体またはコンピュータ読込み可能な記憶媒体の例としては，電子回路，半導体メモリ素子，ＲＯＭ，フラッシュメモリ，消去可能なＲＯＭ（ＥＲＯＭ：Ｅｒａｓａｂｌｅ  ＲＯＭ），ＲＯＭであるが電気を加えることで読み書きが行えるＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｏｒｏｎｉｃ  Ｅｒａｓａｂｌｅ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  ＲＯＭ），フロッピー(登録商標)ディスク，光ディスク，ハードディスク，光繊維媒体，無線周波数（ＲＦ）網などがある。コンピュータデータ信号は，電子網チャネル，光繊維，空気，電子系，ＲＦ網など，伝送媒体上に伝播可能ないかなる信号も含む。
【００８５】
以上，添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが，本発明はかかる例に限定されない。当業者であれば，特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において各種の変更例または修正例を想定し得ることは明らかであり，それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【００８６】
【発明の効果】
以上説明したように，本発明によれば，ＭＲヘッドのドメイン整列が均一でなく不安定になることを，ビットエラー率，またはＣＳＭ値を用いて判断した後，ＭＲヘッドに電気的なショックを印加してＭＲヘッドの安定性を回復させることにより，不安定なヘッドによる工程不良率を減らしうるという効果がある。また，良品率が改善される効果もある。ほかに，ハードディスクドライブのヘッド不安定による市場出荷不良率を改善できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施の形態にかかるハードディスクドライブの構成を示す平面図である。
【図２】本実施の形態にかかるディスクドライブの不安定性ヘッド回復装置を示すブロック図である。
【図３】ＭＲヘッドの不安定性をビットエラー率で判断する，ディスクドライブの不安定性ヘッド回復方法を示すフローチャートである。
【図４】ＭＲヘッドの不安定性をチャネル統計的測定値で判断する，ディスクドライブの不安定性ヘッド回復方法を示すフローチャートである。
【図５】（ａ）は，本実施の形態にかかるＭＲヘッドが不安定状態にある場合のドメイン整列を示したものであり，（ｂ）は，本実施の形態にかかるＭＲヘッドに電気的なショックを印加して安定状態にした後のドメイン整列を示したものである。
【符号の説明】
２０１    ：ＭＲヘッド
２０２    ：ヘッド供給電流制御部
２０２Ａ  ：読出し用電流発生部
２０２Ｂ  ：リセットパルス発生部
２０２Ｃ  ：スイッチング部
２０３    ：コントローラ
２０４    ：信号処理部
２０４Ａ  ：信号検出部
２０４Ｂ  ：増幅部
２０４Ｃ  ：Ｒ／Ｗチャネル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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