(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
被写体を撮像するための撮像素子と、
遮光状態で前記撮像素子の暗時信号を読み出して、記憶手段に記憶する暗時信号記憶手段と、
前記暗時信号記憶手段に記憶された暗時信号のレベルを演算する演算手段と、
非遮光状態で前記撮像素子により露光して得られる撮像信号から、前記暗時信号記憶手段に記憶された暗時信号を減算して、暗時信号を抑圧する暗時信号抑圧手段と、
前記暗時信号抑圧手段で暗時信号が抑圧された撮像信号のホワイトレベルを、前記演算手段により演算された暗時信号のレベルに基づいてクリップするホワイトレベルクリップ手段と、
前記暗時信号抑圧手段を作動させるか否かを選択する選択手段と、
画像信号を階調圧縮する階調圧縮手段と、
を備え、
前記暗時信号抑圧手段を作動させないときは画像信号の階調圧縮を行い、前記暗時信号抑圧手段を作動させるときは画像信号の階調圧縮を行わないことを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
被写体を撮像するための撮像素子と、
遮光状態で前記撮像素子の暗時信号を読み出して、記憶手段に記憶する暗時信号記憶手段と、
欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、
前記暗時信号記憶手段に記憶された暗時信号のレベルを演算する演算手段と、
非遮光状態で前記撮像素子により露光して得られる撮像信号から、前記暗時信号記憶手段に記憶された暗時信号を減算して、暗時信号を抑圧する暗時信号抑圧手段と、
前記暗時信号抑圧手段で暗時信号が抑圧された撮像信号のホワイトレベルを、前記演算手段により演算された暗時信号のレベルに基づいてクリップするホワイトレベルクリップ手段と、
前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素の信号レベルを、隣接する有効画素の信号レベルに置き換える欠陥画素補償手段と、
前記暗時信号抑圧手段を作動させるか否かを選択する選択手段と、
画像信号を階調圧縮する階調圧縮手段と、
を備え、
前記暗時信号抑圧手段を作動させないときは画像信号の階調圧縮を行い、前記暗時信号抑圧手段を作動させるときは画像信号の階調圧縮を行わないことを特徴とする撮像装置。
【請求項３】
前記欠陥画素検出手段は、前記撮像信号のレベルが所定値以上となる領域で、前記暗時信号記憶手段に記憶された暗時信号に基づいて欠陥画素を検出するものであることを特徴とする請求項２記載の撮像装置。
【請求項４】
前記欠陥画素検出手段は、前記暗時信号のレベルが所定のしきい値以上である画素を欠陥画素と判定するものであり、且つ前記撮像信号のレベルの平均値が所定値以上の場合に該しきい値を大きくするものであることを特徴とする請求項３記載の撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子スチルカメラ（デジタルカメラ）やビデオカメラ等の撮像装置に係わり、特に固定パターンノイズの除去機能を備えた撮像装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、主として静止画を撮像記録するために、電子スチルカメラが開発されている。この種のカメラに用いられる撮像素子には、固定パターンノイズ（以下、ＦＰＮと称する）が存在するため、撮像素子の出力信号をそのまま用いたのでは有効な信号成分にこのＦＰＮが重畳され、画質劣化の原因となる。このため、予め撮像素子の各画素のＦＰＮを検出してメモリに記憶しておき、撮像素子の出力信号からこのＦＰＮを差し引くことによってＦＰＮを除去した画像信号を得ている。
【０００３】
ここで、画像信号のダイナミックレンジは画像信号自体の特性やＡ／Ｄ変換器の性能などにより限られており、飽和している信号から上記ＦＰＮを差し引いたのでは、本来クリップされて一定となるべきレベルにＦＰＮが重畳することになる。このため、上記飽和している信号のレベルより若干低いレベルにホワイトレベルを設定することが行われてきた。
【０００４】
しかしながら、ＦＰＮ信号は温度や時間に依存する部分を含むため、あらゆる条件で上述の問題をクリアしようとすると、最悪の条件を考えてホワイトレベルを相当低い値に設定する必要が生じる。この場合、画像信号のレベルの最大値を小さくすることになるため、信号のダイナミックレンジが狭くなるという問題がある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
このように従来、撮像素子で得られる画像信号に対する画質向上のために、撮像素子の出力信号からＦＰＮを除去する方式においては、クリップすべきホワイトレベルの設定値によって、偽信号が発生したり、ダイナミックレンジが小さくなる問題があった。
【０００６】
本発明は、上記事情を考慮して成されたもので、その目的とするところは、画像信号のダイナミックレンジを最大限に確保しながら、ホワイトレベル付近に偽信号が重畳するのを防止できる撮像装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
（構成）
上記課題を解決するために本発明は次のような構成を採用している。
【０００８】
即ち本発明の第１の側面に係る撮像装置は、被写体を撮像するための撮像素子と、遮光状態で前記撮像素子の暗時信号を読み出して、記憶手段に記憶する暗時信号記憶手段と、前記暗時信号記憶手段に記憶された暗時信号のレベルを演算する演算手段と、非遮光状態で前記撮像素子により露光して得られる撮像信号から、前記暗時信号記憶手段に記憶された暗時信号を減算して、暗時信号を抑圧する暗時信号抑圧手段と、前記暗時信号抑圧手段で暗時信号が抑圧された撮像信号のホワイトレベルを、前記演算手段により演算された暗時信号のレベルに基づいてクリップするホワイトレベルクリップ手段と、前記暗時信号抑圧手段を作動させるか否かを選択する選択手段と、画像信号を階調圧縮する階調圧縮手段と、を備え、前記暗時信号抑圧手段を作動させないときは画像信号の階調圧縮を行い、前記暗時信号抑圧手段を作動させるときは画像信号の階調圧縮を行わないことを特徴とする。
【０００９】
また本発明の第２の側面に係る撮像装置は、被写体を撮像するための撮像素子と、遮光状態で前記撮像素子の暗時信号を読み出して、記憶手段に記憶する暗時信号記憶手段と、欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、前記暗時信号記憶手段に記憶された暗時信号のレベルを演算する演算手段と、非遮光状態で前記撮像素子により露光して得られる撮像信号から、前記暗時信号記憶手段に記憶された暗時信号を減算して、暗時信号を抑圧する暗時信号抑圧手段と、前記暗時信号抑圧手段で暗時信号が抑圧された撮像信号のホワイトレベルを、前記演算手段により演算された暗時信号のレベルに基づいてクリップするホワイトレベルクリップ手段と、前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素の信号レベルを、隣接する有効画素の信号レベルに置き換える欠陥画素補償手段と、前記暗時信号抑圧手段を作動させるか否かを選択する選択手段と、画像信号を階調圧縮する階調圧縮手段と、を備え、前記暗時信号抑圧手段を作動させないときは画像信号の階調圧縮を行い、前記暗時信号抑圧手段を作動させるときは画像信号の階調圧縮を行わないことを特徴とする。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の詳細を図示の実施形態によって説明する。
【００１５】
（第１の実施形態）
図１は、本発明の第１の実施形態に係わるデジタルカメラの基本構成を示すブロック図である。
【００１６】
図中１１は被写体からの光を選択的に遮光するための遮光フィルタ、１２は各種レンズからなるレンズ系、１３はＣＣＤカラー撮像素子であり、被写体の像は遮光フィルタ１１及びレンズ１２を介して撮像素子１３の受光面に結像される。
【００１７】
１４は撮像素子１３の温度を検出するための温度センサ、１５は撮像素子１３の撮像信号を増幅するためのゲインコントロールアンプ、１６は撮像信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器である。なお、図には示さないが、Ａ／Ｄ変換された信号を選択的に階調圧縮するための階調圧縮回路が設けられている。
【００１８】
１７は明時信号（非遮光状態で撮像素子により通常の撮像を行って得られる信号）を記憶するための第１のメモリ、１８は暗時信号（遮光状態で撮像素子により得られる信号）を記憶するための第２のメモリ、１９は加算回路、２１はオフセット量を入力するためのオフセット回路である。加算回路１９では、第１のメモリ１７に記憶された明示信号に対し、第２のメモリ１８に記憶された暗時信号が減算されると共に、オフセットが加えられる。
【００１９】
２２は切り替えスイッチ、２３はホワイトレベルクリップ回路である。第１のメモリ１７に記憶された明示信号か加算回路１９により加算された信号の何れかが、切り替えスイッチ２２により選択されてホワイトレベルクリップ回路２３に入力され、この回路２３によりホワイトレベルがクリップされる。
【００２０】
２４は画素欠陥検出回路、２５は欠陥メモリ、２６は画素欠陥補償回路である。第２のメモリ１８に記憶された暗時信号を基に画素欠陥検出回路２４により欠陥が検出され、欠陥のアドレスが欠陥メモリ２５に記録される。そして、この欠陥メモリ２５の記憶情報を基に、ホワイトレベルがクリップされた信号に対し、画素欠陥補償回路２６により隣接補完等の方法により欠陥画素が補償される。この補償されたデータは、コンパクトフラッシュ等のメモリカード２７に記録される。ここで、前記Ａ／Ｄ変換出力を階調圧縮した場合、欠陥補償された画像データは図示しない階調伸張回路により伸張される。
【００２１】
また、図中の３０は各部を制御するためのＣＰＵ、３１はＣＣＤ撮像素子１３の駆動タイミングを制御するタイミングジェネレータ（ＴＧ）、３２はＴＧ３１を駆動するためのシグナルジェネレータ（ＳＧ）を示している。
【００２２】
図２〜図４は、本実施形態における動作を説明するためのフローチャートである。
【００２３】
まず、図２に示すように、撮像信号に対するゲイン値，撮像時のシャッタ速度及び温度を演算する（ステップＳ１）。これらの演算のためには、図３に示すように、最初にホワイトクリップ値を算出する（Ｓ１−１）。このとき、蓄積時間ｔが１秒、ゲインｇが１倍、温度Ｔが２５℃のときのｐ−ｐ値であるクリップレベルＣを１２８とし、クリップレベルＣは、
Ｃ＝１２８×ｔ×ｇ×２(T-25)/8
と定義する。但し、Ｃの最大値は５１２とする。
【００２４】
続いて、オフセット値を算出し（Ｓ１−２）、明暗撮影時のゲイン値，シャッタ速度を算出する（Ｓ１−３）。さらに、暗時信号取り込み回数を算出する（Ｓ１−４）。この暗時信号取り込み回数の算出においては、蓄積時間ｔを１秒、ゲインｇを１倍、温度Ｔを２５℃の時の取り込み回数Ｎを１とし、取り込み回数Ｎを、
Ｎ＝ｔ×ｇ×２(T-25)/8
と定義する。但し、Ｎは正の整数であり、Ｎの最大値は８とする。
【００２５】
続いて、演算時のゲイン値を算出した後（Ｓ１−５）、欠陥検出の判定を行う（Ｓ１−６）。ここで、蓄積時間ｔが１秒、ゲインｇが１倍、温度Ｔが２５℃のときの検出スレッショルドレベルＫを１２８とし、検出スレッショルドレベルＫを、
Ｋ＝１２８×ｔ×ｇ×２(T-25)/8
と定義する。そして、
Ｋ≦１２８の場合、欠陥検出しない
Ｋ＞１２８の場合、欠陥検出を行う
ようにする。
【００２６】
次に、ノイズキャンセルモードにするか否かを判定する（Ｓ２）。ノイズキャンセルモードにしない場合は、通常の撮影を行い（Ｓ３）、さらに欠陥補償演算を行う（Ｓ４）。そして、メモリカード２７に画像信号を記録することになる（Ｓ１２）。ここで、ノイズキャンセルモードにしない場合、通常の画像処理システムと同様に、階調圧縮を行ってもよい。しかし、後述するように、ノイズキャンセルモードにする場合は階調圧縮は行わないようにする。
【００２７】
一方、Ｓ２の判定においてノイズキャンセルモードにする場合は、所定のゲイン値及びシャッタ速度で本露光撮影を行ったのち（Ｓ５）、遮光フィルタ１１により遮光した状態で（Ｓ６）、撮像素子１３から明時信号を読み出して第１のメモリ１７に一時記憶する（Ｓ７）。
【００２８】
次いで、遮光状態で撮影を行い（Ｓ８）、撮像素子１３から暗時信号を読み出して第２のメモリ１８に一時記憶する（Ｓ９）。そして、暗時信号多数回取り込みを判定し（Ｓ１０）、十分な取り込み回数であれば、ノイズキャンセル演算を行う（Ｓ１１）。
【００２９】
ノイズキャンセル演算は、図４に示すように、まず第２のメモリ１８から暗時信号を読み出す（Ｓ１１−１）。そして、欠陥検出をやり直すか否かを判定する（Ｓ１１−２）。この判定は、ゲイン値，シャッタ速度，温度等の条件が変更になったか否かに応じて行う。欠陥検出をやり直す場合は、画素欠陥検出回路２４により欠陥検出の演算を行い、欠陥データを欠陥メモリ２５に格納する（Ｓ１１−３）。続いて、第１のメモリ１７から明時信号を読み出し（Ｓ１１−４）、明時信号から暗時信号を減算し、さらにオフセットを加える演算を行う（Ｓ１１−５）。さらに、暗時信号のレベルに応じてクリップレベルを設定した後、ホワイトレベルクリップ回路２３によりホワイトレベルのクリップを行う（Ｓ１１−６）。そして、画素欠陥補償回路２６により欠陥データに基づく欠陥補償演算を行って画像データを得る（Ｓ１１−７）。
【００３０】
Ｓ１１におけるノイズキャンセル演算又はＳ４における欠陥補償演算が終了したら、画像データをメモリカード２７に記録する。但し、Ｓ１１の場合はそのまま記録するが、Ｓ４の場合は予め階調圧縮処理を行っているので、伸張処理した後に記録する。
【００３１】
次に、本実施形態において固定パターンノイズを抑制できる原理について説明する。
【００３２】
まず、従来方法について図５を参照して説明する。図５（ａ）に示すように、明時信号が大きい部分は、Ａ／Ｄ変換器等のダイナミックレンジからはみ出すためカットされる。この明時信号から図５（ｂ）に示すような暗時信号を減算することにより、図５（ｃ）に示すような信号が得られる。この信号は、暗時信号を含めてカットしたレベル最大値近傍においても暗時信号を減算しているので、レベル最大値近傍において偽信号成分が残っている。従って、レベル最大値近傍を更にクリップすることにより、図５（ｄ）に示すように、偽信号成分を除去することができる。
【００３３】
固定パターンノイズが比較的小さい場合は図５の方法でも問題ないが、図６（ａ）（ｂ）に示すように固定パターンノイズが大きい場合、図６（ｃ）に示すように、明時信号から暗時信号を減算した信号における偽信号が大きくなる。この場合、図６（ｄ）に示すように、クリップしても偽信号が残ることになる。図６（ｅ）に示すように、予めクリップレベルを十分に大きく設定しておけば偽信号を除去することはできるが、この場合は信号のダイナミックレンジが小さくなってしまう不都合が生じる。
【００３４】
これに対し本実施形態では、加算回路１９により暗時信号が抑圧された撮像信号に対し、第２のメモリ１８に記憶された暗時信号のレベルに基づいてをホワイトレベルクリップ回路２３によるホワイトレベルを可変設定することにより、暗時信号のレベルに応じてホワイトレベルを最適に設定することができる。即ち、暗時信号が小さい場合はホワイトレベルを大きくしてダイナミックレンジを大きくでき、暗時信号が大きい場合はホワイトレベルを小さくして偽信号の発生を抑制することができる。
【００３５】
一方、画素欠陥が存在する場合、図７（ａ）に示すように、明時信号には暗時信号と共に欠陥画素による欠陥成分が含まれることになる。この信号から、図７（b1）に示すような暗時信号（欠陥を含む）を減算し、さらに所定レベルでクリップすると、図７（c1）に示すように、レベル最大値近傍において画素欠陥による偽信号が残ることになる。この場合、図７（b2）に示すように画素欠陥を隣接画素による補完処理すれば、図７（c2）に示すように偽信号をなくすことができる。
【００３６】
しかし、図８（ａ）（ｂ）に示すように、温度その他の条件で画素欠陥による信号が大きくなった場合、今まで欠陥と認識されていなかった欠陥のレベルが大きくなるため、隣接画素による補完処理を行っても、図８（ｃ）に示すように、画素欠陥による偽信号が残ることになる。画素欠陥のしきい値を予め十分に小さく設定しておけばこの偽信号も除去することは可能となるが、この場合、欠陥の数が極めて多くなり、補完処理の負担及び欠陥メモリの容量が大きくなる。
【００３７】
画素欠陥についてさらに説明する。
【００３８】
図９及び図１０において、（ａ）は明時信号、（ｂ）は暗時信号、（ｃ）は明時信号から暗時信号を減算しさらにクリップした信号を示している。画素欠陥のレベルが比較的小さい場合は、図９（a1）に示す明時信号から、図９（b1）に示す暗時信号を減算し、更に欠陥を置き換えることにより、図９（c1）に示すように偽信号の発生を抑えることができる。
【００３９】
しかし、温度上昇等により画素欠陥のレベルが大きくなると、欠陥検出をやり直さない場合、図９（a2）に示す明時信号から、図９（b2）に示す暗時信号を減算し、更に欠陥を置き換えても、図９（c2）に示すように偽信号の発生を抑えることができない。
【００４０】
そこで本実施形態では、図１０（a1）（b1）に示すように温度上昇により欠陥レベルが大きくなった場合に、欠陥検出をやり直し、暗時信号減算後の信号に対するクリップレベルを下げる。これによって、温度上昇により欠陥レベルが大きくなった場合でも、図１０（c1）に示すように偽信号の発生を抑えることができる。
【００４１】
また、温度上昇等に応じて再度の欠陥検出を行った場合、検出欠陥が多すぎると、欠陥位置用メモリが足りなくなる、置き換えで補正できない場合が生じる等の問題がある。このような場合、図１０（a2）（b2）に示すように、欠陥レベルに応じて画素欠陥しきい値を上げることにより、図１０（c2）に示すように、欠陥画素の置き換えを少なくしながら偽信号の発生を抑えることができる。
【００４２】
なお、ノイズキャンセルする場合は階調圧縮を行わない理由について、図１１を参照して説明しておく。階調圧縮しない場合、図１１（a2）に示す明時信号から図１１（b2）に示す暗時信号を減算すると、図１１（c2）に示すように暗時成分のない信号が得られる。しかし、階調圧縮した場合、明時信号が図１１（a1）に示すように圧縮されるが、暗時信号は図１１（b1）に示すように圧縮されないため、明時信号から暗時信号を減算すると、図１１（c1）に示すように偽信号が残ることなる。従って、ノイズキャンセルモードにする場合は階調圧縮は行わないようにする。この切り替えは、前記切り替えスイッチ２２により行うことができる。
【００４３】
図１２は、本実施形態におけるシースケンスを説明するためのタイミングチャートである。
【００４４】
メカシャッタ（図１では遮光フィルタ１１）を開いた状態で撮像を行い、所定の時間だけ明時信号を蓄積する。そして、メカシャッタを閉じた後、明時信号を読み出し、第１のメモリ１７に記憶する。さらに、メカシャッタを閉じた状態で再度の撮像を行い、暗時信号を読み出し、第２のメモリ１８に記憶する。第１のメモリ１７に記憶された明時信号から第２のメモリ１８に記憶された暗時信号を減算することにより画像信号が得られる。そして、この画像信号に対して前述したホワイトレベルクリップ及び画素欠陥補償を行うことにより、ＦＰＮ及び欠陥補正された良質の画像信号が得られることになる。
【００４５】
なお、デジタルカメラには通常、リアルタイム画像を表示するための液晶ディスプレイ等の表示素子が備えられている。本実施形態のように、通常の明時信号の蓄積，読み出しに加えて、暗時信号の蓄積，読み出し動作を行う場合、暗時信号を読み出して記憶する期間中は、暗時信号を撮像素子から読み出す前に該撮像素子から読み出した画像を、カメラ本体に設けられた表示素子に表示させるようにする。これにより、暗時信号記憶中に表示が途切れたり、暗時信号が表示素子に表示されるのを防止することができる。
【００４６】
（本発明の撮像装置に関連する参照例）
これまでの実施形態では、明時信号から暗時信号を減算した後の信号に対してクリップすべきホワイトレベルを最適に設定したが、本参照例ではこれに代えて、ＦＰＮキャンセル動作時において、アナログゲインを下げると共にデジタルゲインを上げるようにしている。
【００４７】
具体的には、図１３（ａ）に示すように、明時信号の最大値がＡ／Ｄ変換器のダイナミックレンジに収まるようにアナログゲインを下げる。このゲイン調整には、図１に示すゲインコントロールアンプ１５を用いればよい。これと同時に、図１３（ｂ）に示すように、暗時信号に対してもアナログゲインを下げる。この場合、Ａ／Ｄ変換した後に明時信号から暗時信号を減算しても、図１３（ｃ）に示すように偽信号が発生することはない。但し、信号自体のダイナミックレンジが小さくなっている。そこで、ホワイトレベルが本来のレベルと一致するようにデジタルゲインを上げる。このゲイン調整には、Ａ／Ｄ変換後のデジタル信号を増幅するデジタルアンプ（図１では図示せず）のゲインを調整すればよい。これにより図１３（ｄ）に示すように、信号の最大値付近がデジタル回路のホワイトレベルでクリップされることになる。
【００４８】
本参照例においても、ＩＳＯ感度値（ゲイン値），信号のダイナミックレンジを確保しながら、ノイズをキャンセルすることができる。従って、第１の実施形態と同様の効果が得られる。
【００４９】
（第２の実施形態）
撮像素子の画素欠陥が多い場合、欠陥検出のための処理時間が長くなる、欠陥を記憶しておくためのメモリ容量が大きくなる等の問題がある。
【００５０】
本実施形態では、明時信号のレベルに応じて画素欠陥を検出するか否かを決定する。具体的には、図１４（ａ）に示すような明時信号に対して、図１４（ｂ）に示すように明時信号のレベルが大きい領域のみを欠陥検出領域とする。そして、図１４（ｃ）に示すように、明時信号のレベルが大きい領域では、欠陥検出を行い、隣接画素による置き換えを行う。
【００５１】
ここで、一般に画素欠陥によるノイズ成分は、明時信号のみならず暗時信号にも含まれる。このため、明時信号のレベルがさほど大きくない領域では、明時信号から暗時信号を減算することにより、画素欠陥による異常信号は抑制されることになる。従って本実施形態のように、明時信号のレベルが大きい領域のみで欠陥画素の補償を行っても十分な効果が得られる。
【００５２】
本実施形態では、欠陥検出数が減るため、処理時間の短縮化、メモリ容量の低減が可能となる。また、被写体像が全面白のような場合、明時信号のレベルが全て大きいため、上記の効果は得られなくなる。このような場合、全面白検出を行い、その平均値があるレベル以上の時は、欠陥スレッショルドレベルを上げるようにすればよい。
【００５３】
なお、本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で、種々変形して実施することができる。
【００５４】
【発明の効果】
以上詳述したように本発明によれば、暗時信号が抑圧された撮像信号に対し、暗時信号のレベルに基づいてクリップすべきホワイトレベルを設定することにより、ホワイトレベルを最適に設定することができ、従って画像信号のダイナミックレンジを最大限に確保しながら、ホワイトレベルに偽信号が重畳するのを防止することができる。これに加えて、欠陥画素の検出及び欠陥画素の補償を行うことにより、欠陥画素による偽信号の発生を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】第１の実施形態に係わるデジタルカメラの基本構成を示すブロック図。
【図２】第１の実施形態における全体の動作を示すフローチャート。
【図３】撮像信号に対するゲイン値，撮像時のシャッタ速度及び温度を演算するための動作を示すフローチャート。
【図４】ノイズキャンセル演算の動作を示すフローチャート。
【図５】従来方法によるＦＰＮキャンセル動作を説明するための図。
【図６】固定パターンノイズが大きい場合の問題点を説明するための図。
【図７】画素欠陥が存在する場合を説明するための図。
【図８】画素欠陥が大きくなった場合の問題点を説明するための図。
【図９】画素欠陥が大きくなった場合の問題点を説明するための図。
【図１０】  第１の実施形態におけるＦＰＮキャンセル動作を説明するための図。
【図１１】ノイズキャンセルする場合としない場合で階調圧縮を行ったときの信号の様子を示す図。
【図１２】第１の実施形態におけるシースケンスを説明するためのタイミングチャート。
【図１３】  本発明の撮像装置に関連する参照例におけるＦＰＮキャンセル動作を説明するための図。
【図１４】  第２の実施形態におけるＦＰＮキャンセル動作を説明するための図。
【符号の説明】
１１…遮光フィルタ
１２…レンズ系
１３…ＣＣＤカラー撮像素子
１４…温度センサ
１５…ゲインコントロールアンプ
１６…Ａ／Ｄ変換器
１７…第１のメモリ
１８…第２のメモリ
１９…加算回路
２１…オフセット回路
２２…切り替えスイッチ
２３…ホワイトレベルクリップ回路
２４…画素欠陥検出回路
２５…欠陥メモリ
２６…画素欠陥補償回路
２７…メモリカード
３０…ＣＰＵ
３１…タイミングジェネレータ（ＴＧ）
３２…シグナルジェネレータ（ＳＧ）
【図１】
0004007802.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
0004007802.tif 000010
【図１０】
0004007802.tif 000011
【図１１】
0004007802.tif 000012
【図１２】
0004007802.tif 000013
【図１３】
0004007802.tif 000014
【図１４】
0004007802.tif 000015