(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学的に書換え可能な、相変化材料からなる記録層を有する光情報記録媒体に対してレーザ光を照射して記録マークを形成し、記録すべき情報に応じて多値化された多値情報が前記記録マークの面積を変調させることにより記録される光情報記録方法であって、
前記レーザ光の強度を変調する記録パルス波形を消去可能な光強度値に設定された矩形状の消去パルスと、
記録マーク形成可能な光強度値に設定された矩形状の記録パルスと、
再生時光強度以下の値に設定されたオフパルスと、前記矩形状の消去パルスとが連続して繰り返されるパルス波形で構成し、かつ、
前記記録マークの円周方向の長さ（ＭＬ）とビーム径（ＢＤ）の関係がＭＬ≦ＢＤであって、前記記録パルスの幅を、前記ビーム径（ＢＤ）の２０％以下に相当する範囲に設定したと共に、
前記ビーム径（ＢＤ）を前記光情報記録媒体のグルーブの溝幅の約２倍に相当する範囲に設定することで前記記録マークの半径方向の幅をグルーブの溝幅以下にした、
ことを特徴とする光情報記録方法。
【請求項２】
前記記録マークがない未記録マークを除いた前記記録マークの内、最小記録マークの円周方向の長さ（ＭＬmin）とビーム径（ＢＤ）の関係がＭＬmin／ＢＤ≧０．１０であって、前記未記録マークを除いた多値信号レベルにおいて各多値レベルの間隔を均等に割り付けたことを特徴とする請求項１に記載の光情報記録方法。
【請求項３】
前記記録マークの円周方向の長さ（ＭＬ）がビーム径（ＢＤ）とほぼ等しい前記記録マークを除いた前記記録マークの内、最大記録マークの円周方向の長さ（ＭＬmax）がＭＬmax／ＢＤ≦０．７の関係であり、前記記録マーク（ＭＬ）が前記ビーム径（ＢＤ）とほぼ等しい前記記録マークを除いた多値信号レベルにおいて各多値情報に対応した記録マーク占有率の間隔を均等に割り付けた、
ことを特徴とする請求項１記載の光情報記録方法。
【請求項４】
前記記録マークの面積を所望の前記多値情報に合わせて変調させるために、前記記録パルスと前記消去パルスとの間に位置する前記オフパルスの時間幅を記録すべき前記多値情報に対応させて、形成される記録マーク長に相当する時間幅である前記記録パルスの立ち上がり開始端から前記消去パルスの立ち上がり開始端までの時間に変調するようにした、  ことを特徴とする請求項１ないし３いずれか記載の光情報記録方法。
【請求項５】
対象となる記録トラック長（時間幅ではＴ５）単位で記録する場合、前記時間幅Ｔ５の長さで示される前記記録トラックの中間位置と前記記録マークの中心位置とが一致するように、前記記録パルスの立ち上がり開始端の位置と前記消去パルスの開始端の位置とを調整するようにした、
ことを特徴とする請求項１ないし４いずれか記載の光情報記録方法。
【請求項６】
前記記録マークの面積を微調整するために、前記記録パルスの立ち下がり終端位置を微調整するようにしたことを特徴とする請求項１ないし５いずれか記載の光情報記録方法。
【請求項７】
前記記録マークの面積を微調整するために、前記記録パルスの光強度を微調整するようにしたことを特徴とする請求項１ないし５いずれか記載の光情報記録方法。
【請求項８】
前記記録トラックの中間位置と前記記録マークの中心位置とが一致するように、前記記録パルスの立ち上がり開始端の位置をさらに微調整するようにしたことを特徴とする請求項６又は７記載の光情報記録方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、記録ピットの信号レベルを２値以上の多値情報に制御する光情報記録方法に関する
【０００２】
【従来の技術】
この種の従来例として、特開平８−１４７６９５号公報（従来法▲１▼）に示される技術がある。これは、光記録媒体のＡＬＰＣ領域でのパワー設定を行わず、簡単かつ低帯域な回路構成で半導体レーザを多値の半導体レーザ駆動電流により駆動するようにしたものである。そのための手段として、テスト発光は、予め定められたユーザエリア以外のディスク内外周に１００トラック以上にわたり設けられたTest ZoneまたはManufacturer Zoneの領域において行い、テスト発光ライトパワー設定は、出力電流Ｉw0，Ｉw1，Ｉw2を順次行う。ライト時（ライトモード）は、ＣＰＵよりW0Ｄ／Ａ変換器，W1Ｄ／Ａ変換器，W2Ｄ／Ａ変換器に最適出力電流値を設定しW0定電流回路，W1定電流回路，W2定電流回路の電流設定を行う。次にスイッチＳＷ４，ＳＷ５，ＳＷ６をライトデータに応じてＯＮ−ＯＦＦし、ＬＤ１にＬＤ駆動電流を供給するようにしている。
【０００３】
また、特開平１１−２５４５６号公報（従来法▲２▼）に示される技術がある。これは、簡単な記録方法により記録情報の多値化を図って高密度記録を可能とする光学記録媒体における多値情報の記録方法を得ることを目的とし、光学的に書き換え可能な光学記録媒体（相変化型光ディスク）に対して、レーザ光を照射して初期記録ピットを形成し、記録すべき情報に応じて多値化された多値化情報により前記初期記録ピットの一部を消去ピットにより消去して２次記録ピットとし、この２次記録ピットの面積を変調させることにより多値化情報を記録するようにしたものである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
上述の従来法▲１▼（特開平１１−２５４５６号公報）で紹介されている記録パルス波形を図１８に示す。記録パルス波形は、矩形状記録パルスと消去パルスとで構成される。記録マークの大きさを調整する手段は、記録パルスの幅（Ｔ３−Ｔ１：図１８参照）、或いは記録パルスの光量（Ｐｗ：図１８参照）を調整する。記録マークの面積を変更することで、記録マークからの戻り光の光強度が変化し光電変換で、図１９に示す記録マークに対応して多値化されたMark level の信号出力を得ることができる（記録マーク面積変調による多値記録の原理）。
【０００５】
この矩形状記録パルスと消去パルス構成の欠点は、記録パルスに対応して光情報記録媒体上に集光されたレーザビームによる熱拡散の影響で、記録マークが半径方向に広がりやすく、図１８で図示したような涙状の記録マークになり易い。このため、特にビーム径以下の記録マークを形成する手段としては、熱拡散の影響を制御できない不具合がある。
【０００６】
記録マーク面積変調と多値化された信号との関係を図２０に示す。図２０から判るように、signal Mark levelが高い領域▲１▼では、領域▲２▼に比べてマーク占有率に対する信号の変化割合が高く、領域▲１▼の方がマーク占有率を高精度に制御する必要がある。このため、図１８に図示した従来方法では、熱拡散の影響で多値化のレベル精度を高められない問題がある。
【０００７】
従来法▲１▼（特開平１１−２５４５６号公報）の不具合を解決する手段として、従来法▲２▼（特開平８−１４７６９５号公報）のように、図２２に示すようなマルチパルス方式の記録パルス波形がある。この方法では、記録パルス波形は、先頭パルスと短い矩形パルス列（マルチパルス）と消去パルスとで構成される。このマルチパルスの効果で、熱拡散による記録マークの半径方向の広がりを防げる。記録マークの大きさを調整する手段は、記録パルスの幅（Ｔ２−Ｔ１：図２２参照）やマルチパルスのデューティ（Ｔ４−Ｔ３：図２２参照）、或いは記録パルスとマルチパルスの光量（Ｐｗ：図２２参照）を調整する。
【０００８】
このマルチパルス方式を利用してビーム径以下の記録マークを形成するためには、記録パルスを構成する周波数を高くすることが必要になる。このため、記録パルス生成回路の周波数や、記録レーザに用いる半導体レーザの応答周波数が課題となり、高速記録に対応することが困難である。また、記録パルスを構成する回路が複雑になる不具合がある。
【０００９】
そこで、本発明は、多値情報記録に際して、単純な記録パルス構成で、精度良くビーム径以下の記録マークを形成できるようにすることを目的とする。
【００１０】
また、単純な記録パルスの制御で、ビーム径以下の記録マークを所望の大きさに調整できるようにすることを目的とする。
【００１１】
また、単純な記録パルスの制御で、ビーム径以下の記録マークの位置精度を得ることができるようにすることを目的とする。
【００１２】
また、ビーム径以下の記録マークの大きさを精度良く微調整することができるようにすることを目的とする。
【００１３】
さらに、ビーム径以下の記録マークのマーク位置を精度良く微調整することができるようにすることを目的とする。
【００１４】
また、精度良くビーム径以下の記録マークを形成できるようにすることを目的とする。
【００１５】
さらに、所望の多値記録信号に対して、精度良く多値記録できる方法を提供することを目的とする。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の発明は、光学的に書換え可能な、相変化材料からなる記録層を有する光情報記録媒体に対してレーザ光を照射して記録マークを形成し、記録すべき情報に応じて多値化された多値情報が前記記録マークの面積を変調させることにより記録される光情報記録方法であって、前記レーザ光の強度を変調する記録パルス波形を、消去可能な光強度値に設定された矩形状の消去パルスと、記録マーク形成可能な光強度値に設定された矩形状の記録パルスと、再生時光強度以下の値に設定されたオフパルスと、前記矩形状の消去パルスとが連続して繰り返されるパルス波形で構成し、かつ、前記記録マークの円周方向の長さ（ＭＬ）とビーム径（ＢＤ）の関係がＭＬ≦ＢＤであって、前記記録パルスの幅を、前記ビーム径（ＢＤ）の２０％以下に相当する範囲に設定したと共に、前記ビーム径（ＢＤ）を前記光情報記録媒体のグルーブの溝幅の約２倍に相当する範囲に設定することで記録マークの半径方向の幅をグルーブの溝幅以下にした、ことを特徴とする。
【００１７】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の光情報記録方法において、前記記録マークがない未記録マークを除いた前記記録マークの内、最小記録マークの円周方向の長さ（ＭＬmin）とビーム径（ＢＤ）の関係がＭＬmin／ＢＤ≧０．１０であって、前記未記録マークを除いた多値信号レベルにおいて各多値レベルの間隔を均等に割り付けたことを特徴とする。
【００１８】
請求項３記載の発明は、請求項１記載の光情報記録方法において、前記記録マークの円周方向の長さ（ＭＬ）がビーム径（ＢＤ）とほぼ等しい前記記録マークを除いた前記記録マークの内、最大記録マークの円周方向の長さ（ＭＬmax）がＭＬmax／ＢＤ≦０．７の関係であり、前記記録マーク（ＭＬ）が前記ビーム径（ＢＤ）とほぼ等しい前記記録マークを除いた多値信号レベルにおいて各多値情報に対応した記録マーク占有率の間隔を均等に割り付けたことを特徴とする。
【００１９】
請求項４記載の発明は、請求項１ないし３いずれか記載の光情報記録方法において、前記記録マークの面積を所望の前記多値情報に合わせて変調させるために、前記記録パルスと前記消去パルスとの間に位置する前記オフパルスの時間幅を記録すべき前記多値情報に対応させて、形成される記録マーク長に相当する時間幅である前記記録パルスの立ち上がり開始端から前記消去パルスの立ち上がり開始端までの時間に変調するようにしたことを特徴とする。
【００２０】
請求項５記載の発明は、請求項１ないし４いずれか記載の光情報記録方法において、対象となる記録トラック長（時間幅ではＴ５）単位で記録する場合、前記時間幅Ｔ５の長さで示される前記記録トラックの中間位置と前記記録マークの中心位置とが一致するように、前記記録パルスの立ち上がり開始端の位置と前記消去パルスの開始端の位置とを調整するようにしたことを特徴とする。
【００２１】
請求項６記載の発明は、請求項１ないし５いずれか記載の光情報記録方法において、前記記録マークの面積を微調整するために、前記記録パルスの立ち下がり終端位置を微調整するようにしたことを特徴とする。
【００２２】
請求項７記載の発明は、請求項１ないし５いずれか記載の光情報記録方法において、前記記録マークの面積を微調整するために、前記記録パルスの光強度を微調整するようにしたことを特徴とする。
【００２３】
請求項８記載の発明は、請求項６又は７記載の光情報記録方法において、前記記録トラックの中間位置と前記記録マークの中心位置とが一致するように、前記記録パルスの立ち上がり開始端の位置をさらに微調整するようにしたことを特徴とする。
【００２５】
【発明の実施の形態】
本発明の一実施の形態を図１ないし図１０に基づいて説明する。
１．記録方法の基本
本実施の形態の記録パルス波形の構成を図１に示す。基本的には、レーザ光の強度を変調する記録パルス波形は、矩形状の消去パルス（レーザ光を記録マークを消去可能な光強度値に設定）と、矩形状の記録パルス（レーザ光を記録マークを形成可能な光強度値に設定）と、オフパルス（レーザ光を再生時光強度以下の値に設定）と、矩形状の消去パルスとが連続して繰り返されるパルス波形により構成されている。記録トラック上は、時間幅Ｔ５に相当する円周方向の長さで分割されている。この分割された記録トラックを以降、「セル」と記述する。このセルに記録される記録マークの円周方向の長さＭＬは、記録パルスの幅（Ｔ２−Ｔ１）と、消去パルスの開始位置Ｔ４の設定値によって調整が可能である。また、記録マーク長を変更した場合でもセルの中心に記録マークが配置されるように、Ｔ１とＴ４とを調整する。例えば、図１の記録マーク長さＭＬをＭＬ´に変更する場合、Ｔ１とＴ４をそれぞれＴ１+ｓとＴ４−ｓに設定することで、記録マークの位置調整が可能になる。
【００２６】
本実施の形態では、記録マークの円周方向の長さＭＬに対して記録パルスの幅（Ｔ２−Ｔ１）を短く設定し、記録パルスの後にオフパルスを配置している。記録パルス幅に相当するレーザ光の照射で、記録膜が加熱されて記録マークが形成され、熱拡散の影響でオフパルス幅の領域にも記録マークが広がる。オフパルス後方に配置した消去パルスにより、広がった記録マークが消去されることで、図１に示す記録マークが形成できる。
【００２７】
本実施の形態の記録方法では、同じ記録マーク長ＭＬの記録マークを記録する場合でも従来法よりも短い記録パルスの幅（Ｔ２−Ｔ１）のレーザ光照射で記録できるので、記録膜に与える熱量を低く抑えることができる。このため、特に熱拡散による半径方向の記録マークの広がりを小さくできる利点がある。また、この原理から、所望の多値信号に対応して前記オフパルス幅を変調し、記録マークの面積を変化させることが可能になる。
【００２８】
２．記録マークの半径方向幅調整
上述したような熱拡散抑制の効果で、記録マークの半径方向の広がり量を制御することが可能になる。記録マークの広がりを制御するには、レーザ光の照射で与えられる熱量を調整すれば良い。
【００２９】
図２から図５に、記録マークの半径方向の広がりを制御する方法を示す。図２では、記録パルスの幅を長く（Ｔ２をＴ２１に変更、Ｔ２＞Ｔ２１）すれば、記録マークは半径方向に広がる（記録マーク状態がＡからＢに変化）。
【００３０】
図４では、逆に記録パルスの幅を短く（Ｔ２をＴ２２に変更、Ｔ２＜Ｔ２２）すれば、記録マークは半径方向に狭くなる（記録マーク状態がＡからＢに変化）。
【００３１】
図３では、記録パルス光量Ｐｗを大きく（Ｐｗ1をＰｗ２に変更、Ｐｗ１＜Ｐｗ２）すれば、記録マークは半径方向に広がる（記録マーク状態がＡからＢに変わる）。
【００３２】
図５では、記録パルス光量Ｐｗを小さく（Ｐｗ1をＰｗ３に変更、Ｐｗ１＞Ｐｗ３）すれば、記録マークは半径方向に狭くなる（記録マーク状態がＡからＢに変わる）。
【００３３】
３．記録マーク位置制御
上述の記録マークの半径方向幅調整方法では、レーザ光の照射で与えられる熱量を調整している。しかし、記録マークの半径方向幅が変わることで、記録マークの開始端も変化する。このために、セルに対する記録マークの位置が変化してしまう。
【００３４】
そこで、上述の記録マークの半径方向幅調整方法による記録マークの半径方向幅調整と合わせて、円周方向の位置調整が必要となる。この記録マークの開始端を調整する方法を、図６から図９に示す。
【００３５】
図６では、記録マークの開始端が前方にずれた量（ずれ量をｓとする）だけ記録パルスの位置を後方に修正（Ｔ１をＴ１＋ｓ、Ｔ２１をＴ２１＋ｓ）している。
【００３６】
図８では、記録マークの開始端が後方にずれた量（ずれ量をｓとする）だけ記録パルスの位置を前方に修正（Ｔ１をＴ１−ｓ、Ｔ２２をＴ２２−ｓ）している。
【００３７】
図７では、記録マークの開始端が前方にずれた量（ずれ量をｓとする）だけ記録パルスの位置を後方に修正（Ｔ１をＴ１＋ｓ、Ｔ２をＴ２＋ｓ）している。
【００３８】
図９では、記録マークの開始端が後方にずれた量（ずれ量をｓとする）だけ記録パルスの位置を前方に修正（Ｔ１をＴ１−ｓ、Ｔ２をＴ２−ｓ）している。
【００３９】
本実施の形態の記録方法を用いた記録マークの構成例と記録パルス波形の関係を図１０に示す。
【００４０】
【実施例】
１．記録再生の実施例▲１▼
図１１に示すような光情報記録装置を使って、記録再生を実施した。図１１において、スピンドルモータ（図示せず）により回転駆動される光情報記録媒体１に対して半導体レーザ２から出射されたレーザ光がコリメートレンズ３、偏光膜４、対物レンズ５を介して集光照射されることにより、記録マークの記録がなされる。光情報記録媒体１からの反射光は対物レンズ５を経た後、偏光膜４により入射光と分離されて偏向され、検出レンズ６を介して４分割受光素子７上に結像され、Ｒｆ信号等の検出に供される。８は対物レンズ５をフォーカシング及びトラッキングさせるためのアクチュエータである。記録再生波長λは６５０ｎｍ、対物レンズ５の開口数ＮＡ＝０．６５、光情報記録媒体１に集光されたビーム径は約０．８μｍである（一般的な書換え可能なＤＶＤ記録装置の構成）。光情報記録媒体１は、相変化材料ＡｇＩｎＳｂＴｅの書換え可能なタイプを利用した。また、記録マークはグルーブと呼ばれる溝上に形成し、隣接グルーブとの間隔（トラックピッチ）は０．７４μｍに、グルーブの幅は約０．４μｍに設定されている。また、記録条件は、記録面での記録時光量が１４ｍＷ、消去時光量が７．５ｍＷ、記録再生の線速度は約３．５ｍ/ｓに設定した。セルの円周方向長さは、約０．７μｍである。
【００４１】
本発明の実施の形態方法を基に、記録再生した実施例を図１２に示す。図１２において、横軸はビーム径ＢＤに対する記録パルスの幅（Ｔ２−Ｔ１）の割合を、縦軸は記録マークからの反射光を光電変換して得られる和信号（Ｒｆ信号）を示したものである。また、凡例のＬｖ１〜Ｌｖ３は、それぞれ記録マーク長ＭＬが、０．１３μｍ、０．２７μｍ、０．４０μｍになるように、記録パルスの立ち上がりＴ１と消去パルス幅の立ち上がりＴ４を調節している。
【００４２】
このグラフから、記録パルス幅の割合（Ｔ２−Ｔ１）／ＢＤが０．１６〜０．２０で、各記録マークから得られるＲｆ信号値（signal Mark Level）が飽和していることが判る。これは、記録マークの半径方向の広がりがグルーブの溝幅内で留まる性質のためである。
【００４３】
このデータから、記録パルス幅の割合（Ｔ２−Ｔ１）／ＢＤは０．２以下の範囲で制御すれば、各記録マーク長におけるＲｆ信号値（signal Mark Level）を微調整できることが判った。
【００４４】
２．記録再生の実施例▲２▼
従来法▲１▼と本実施例▲２▼における目標多値信号に対する偏差を測定した。本実施例▲２▼の記録条件は、実施例▲１▼と同様である。従来法▲１▼の結果を図２１に、本実施例▲２▼の結果を図１３に示す。
【００４５】
従来法の課題の項で説明した様に、従来法では、signal Mark levelが高い領域▲１▼（図２０参照）では、領域▲２▼に比べてマーク占有率に対する信号の変化割合が高い傾向にある。従来法において、領域▲１▼での目標多値信号に対する偏差（σ）は、最大で約８％であった。
【００４６】
一方、本実施例▲２▼による結果は、領域▲１▼での目標多値信号に対する偏差（σ）は、最大で約２％と、本発明記録方式における効果を確認することができた。
【００４７】
３．目標多値信号の配置に関する実施例▲３▼
記録マークの面積を変更する多値記録方式で、精度良く多値化されたＲｆ信号を検出するためには、記録しやすい記録マーク長条件の選択が重要になる。図１４と図１５は、横軸に多値化されたＲｆ信号（signal Mark Level）を、縦軸にマーク占有率を図示したものである。
【００４８】
図１４では、Mark Level が、０．４〜１．０の範囲で多値化が可能で、取り得る多値レベル数を８として各Mark Levelの間隔が均等に割り付けてある。この時の、Mark Levelとマーク占有率（ＭＬ／ＢＤ）の割り付け数値を表１に示す。
【００４９】
【表１】
0003969958.tif 000002
【００５０】
表１から判る通り、Mark levelが１．００と０．９１との間では、マーク占有率差分ΔＬが０．０４と狭く、記録マーク長ＭＬの形成精度に対して、余裕がない。一方、Mark levelが０．４０から０．６６の範囲では、マーク占有率差分ΔＬが０．１以上であり、ΔＬが広く取れるので、記録マーク長ＭＬの形成精度に対して十分な余裕がある。
【００５１】
このようなΔＬの余裕に対して偏りがあるので、表１よりも２倍程度のΔＬの余裕がとれる配置に修正したのが表２に示す実施例▲３▼である。
【００５２】
【表２】
0003969958.tif 000003
【００５３】
記録マークが存在しないセル（Mark levelが１．００）を除く、マークの占有率最小値を０．１２設定し、Mark Levelが０．４０から０．８０の間で、７値のレベルが均等に取れるように配置している。このように、記録マークが存在しないセル（Mark levelが１．００）を除く、マークの占有率最小値を０．１以上にすることで、ΔＬの余裕度が均等化でき、目標多値信号に対する偏差を小さくすることが可能になる。
【００５４】
４．目標多値信号の配置に関する実施例▲４▼
実施例▲３▼では、Mark Levelを均等に配置する制約条件の基で、ΔＬの余裕度を高める方法（マークの占有率最小値を０．１以上にする）を説明した。本実施例▲４▼では、ΔＬを均等配置する制約条件の基で、目標多値信号に対する偏差を小さくする方法を説明する。図１６と図１７は、横軸にマーク占有率を、縦軸に多値化されたＲｆ信号（signal Mark Level）を図示したものである。
【００５５】
図１６では、取り得る多値レベル数を８として各マーク占有率が０〜１．０の範囲でΔＬが均等に割り付けてある。この時の、マーク占有率とMark Levelの割り付け数値を表３に示す。
【００５６】
【表３】
0003969958.tif 000004
【００５７】
表３から判る通り、マーク占有率が０．７１〜１．００で、Mark Levelの信号差分ΔＳは０．０１と全く余裕がない数値となる。
【００５８】
このため、ΔＳの余裕度に偏りがあるために、マーク占有率の差分も確保できて、ΔＳの余裕度を高められる範囲に修正したのが、表４に示す実施例▲４▼である。
【００５９】
【表４】
0003969958.tif 000005
【００６０】
表４では、セルが記録マークですべて満たされる条件（マーク占有率１．００）を除く、マーク占有率最大値を０．７０に設定し、マーク占有率０から０．７０の間で、７値のレベルが均等に取れるように配置している。この結果、ΔＳが均等化され、ΔＳ最小値が０．０５と改善されている。
【００６１】
このように、セルが記録マークですべて満たされる条件（マーク占有率１．００）を除く、マーク占有率最大値を０．７０に設定することで、ΔＳの余裕度が均等化でき、目標多値信号に対する偏差を小さくすることが可能になる。
【００６２】
【発明の効果】
請求項１記載の発明によれば、記録パルスの幅の範囲を適正に限定し、記録パルスの後にオフパルスを配置させているので、記録パルスの幅に相当するレーザ光による熱拡散の影響でオフパルス幅の領域にも記録マークが広がり、オフパルス後方に配置した消去パルスにより広がった記録マークが消去されることとなり、所望の記録マークを形成することができ、このため、同じ記録マーク長を記録する場合でも従来法よりも短い記録パルスの幅の照射で済むので、記録膜に与える熱量を低く抑えることができ、特に熱拡散による半径方向の記録マークの広がりを小さくすることができる。
【００６３】
請求項２記載の発明によれば、記録マーク形成の分解能に合わせて多値レベルを設定したので、所望多値レベルに対する偏差が小さい多値記録を可能にすることができる。
【００６４】
請求項３記載の発明によれば、記録マーク形成の分解能に合わせて多値レベルを設定したので、所望多値レベルに対する偏差が小さい多値記録を可能にすることができる。
【００６５】
請求項４記載の発明によれば、所望の多値情報に対応してオフパルスの幅を変調するだけなので、簡単な記録パルス生成回路構成の下に、多値記録を実現することができる。
【００６６】
請求項５記載の発明によれば、熱拡散の影響を有効に活用できる記録パルス構成を取っているので、記録パルスの立ち上がりの位置と消去パルスの立ち上がりの位置とを制御するだけで、記録マークのセルに対する位置を高精度に調整することができる。
【００６７】
請求項６記載の発明によれば、熱拡散の影響を有効に活用できる記録パルス構成を取っているので、記録パルスの幅を変更するだけで、所望の記録マーク面積への微調整が可能となる。
【００６８】
請求項７記載の発明によれば、熱拡散の影響を有効に活用できる記録パルス構成を取っているので、記録パルスの光量を変更するだけで、所望の記録マーク面積への微調整ができるので、所望の記録マーク面積への微調整が可能となる。
【００６９】
請求項８記載の発明によれば、熱拡散の影響を有効に活用できる記録パルス構成を取っているので、請求項６及び７記載の発明による記録マーク調整に追加して、記録パルスの位置をシフトするだけで、所望の多値情報に対応した記録マークのセルに対する位置を高精度に調整することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態の記録パルス波形の基本的構成例を示す波形図である。
【図２】記録マークの半径方向の広がりを制御する第1の方法を示す波形図である。
【図３】記録マークの半径方向の広がりを制御する第２の方法を示す波形図である。
【図４】記録マークの半径方向の広がりを制御する第３の方法を示す波形図である。
【図５】記録マークの半径方向の広がりを制御する第４の方法を示す波形図である。
【図６】記録マークの開始端を調整する第1の方法を示す波形図である。
【図７】記録マークの開始端を調整する第２の方法を示す波形図である。
【図８】記録マークの開始端を調整する第３の方法を示す波形図である。
【図９】記録マークの開始端を調整する第４の方法を示す波形図である。
【図１０】本実施の形態方法による記録マークの構成例と記録パルス波形との関係を示す説明図である。
【図１１】本発明の実施例に用いた光情報記録装置の概略構成図である。
【図１２】記録再生結果を示すグラフである。
【図１３】目標多値信号に対する偏差の測定結果を示すグラフである。
【図１４】多値化されたＲｆ信号とマーク占有率との関係を示すグラフである。
【図１５】多値化されたＲｆ信号とマーク占有率との関係を示すグラフである。
【図１６】マーク占有率と多値化されたＲｆ信号との関係を示すグラフである。
【図１７】マーク占有率と多値化されたＲｆ信号との関係を示すグラフである。
【図１８】従来法▲１▼の記録パルス波形の構成例を示す波形図である。
【図１９】記録マーク面積変調による多値記録の原理を示す説明図である。
【図２０】記録マーク面積変調と多値化された信号との関係を示すグラフである。
【図２１】目標多値信号に対する偏差の測定結果を示すグラフである。
【図２２】従来法▲２▼の記録パルス波形の構成例を示す波形図である。
【符号の説明】
１      光情報記録媒体
【図１】
0003969958.tif 000006
【図２】
0003969958.tif 000007
【図３】
0003969958.tif 000008
【図４】
0003969958.tif 000009
【図５】
0003969958.tif 000010
【図６】
0003969958.tif 000011
【図７】
0003969958.tif 000012
【図８】
0003969958.tif 000013
【図９】
0003969958.tif 000014
【図１０】
0003969958.tif 000015
【図１１】
0003969958.tif 000016
【図１２】
0003969958.tif 000017
【図１３】
0003969958.tif 000018
【図１４】
0003969958.tif 000019
【図１５】
0003969958.tif 000020
【図１６】
0003969958.tif 000021
【図１７】
0003969958.tif 000022
【図１８】
0003969958.tif 000023
【図１９】
0003969958.tif 000024
【図２０】
0003969958.tif 000025
【図２１】
0003969958.tif 000026
【図２２】
0003969958.tif 000027