(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
フッ素化率が30〜95％であるアルミナ担体に貴金属を担持してなることを特徴とする、フルオロカーボン系エッチャントを用いたエッチング排ガス中の一酸化炭素を酸化する酸化触媒。
【請求項２】
前記貴金属が白金、パラジウム、ロジウム、銀および金からなる群から選ばれる少なくとも一種である請求項１記載の酸化触媒。
【請求項３】
前記貴金属が白金である請求項１または２に記載の酸化触媒。
【請求項４】
フッ素化率が30〜95％であるアルミナ担体に貴金属を担持してなる酸化触媒を用いることを特徴とする、フルオロカーボン系エッチャントを用いたエッチング排ガス中の一酸化炭素を酸化する酸化方法。
【請求項５】
前記貴金属が白金、パラジウム、ロジウム、銀および金からなる群から選ばれる少なくとも一種である請求項４記載の酸化方法。
【請求項６】
前記貴金属が白金である請求項４または５に記載の酸化方法。
【請求項７】
請求項１〜３のいずれかに記載の酸化触媒を用いることを特徴とする一酸化炭素除害装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、酸化触媒並びにそれを用いた酸化方法及び装置に係り、特にエッチング排ガス中に含まれる一酸化炭素の酸化処理のために用いる酸化触媒に関する。
【０００２】
【従来の技術】
酸化触媒は、自動車の排ガス、ボイラーなどの工場排ガス、その他に含まれる人体及び環境に有害なガスを、酸化処理することにより無害な物質とする浄化処理に用いられている。
また、酸化触媒として白金、パラジウム、ロジウムなどの貴金属をアルミナ、活性炭、シリカまたはゼオライトなどの担体に担持させた触媒やCuO、MnO2 を含有する触媒は高活性を示し、これらの触媒の多くは既に市販されて多様な分野で使用されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
半導体の製造にはパーフルオロカーボン等のガスがエッチングガスとして用いられ、その排ガスはエッチャント、エッチング生成物、副生物を含むが、その中には一酸化炭素も含まれている。一酸化炭素の許容濃度は５０ppmの為、その基準値以下となるように一酸化炭素を二酸化炭素に酸化処理する必要があり、この目的にも酸化触媒が使用されている。
【０００４】
このような半導体用のエッチャントとしては、そのエッチング能力が高いことからフルオロカーボン系のガスが多く用いられ、他の物質（例えば酸素ガス）と混合するなどして多くの半導体工場で用いられている。このようなフルオロカーボン系のエッチャントを用いた場合、エッチング排ガス中にはエッチャントとしてのフルオロカーボン系ガス（Ｃ2Ｆ6，Ｃ4Ｆ8など）が残存するほか、反応生成物、副生物としてもフルオロカーボン系ガス（例えば、Ｃ2Ｆ4）が含まれ、また酸性成分（例えば、ＨＦ，ＣＯＦ2，ＳｉＦ4）と一酸化炭素も含まれている。
【０００５】
このようなエッチング処理排ガス中に含まれる一酸化炭素を酸化処理する場合、熱分解性フルオロカーボン（例えば、Ｃ2Ｆ4，ＣＨ2Ｆ2）や酸性成分（例えば、ＨＦ，ＣＯＦ2）を含むために、酸化触媒の劣化が著しく、短時間で一酸化炭素濃度が許容濃度以上となり長期間の使用に耐えないという問題がある。
そこで、本発明はこのような熱分解性フルオロカーボンや酸性成分を含むガスの処理に用いても劣化が少なく、長時間の使用が可能な酸化触媒を提供することを目的とするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記の目的を達成するために、鋭意検討した結果、フッ素化率が30〜95％であるアルミナ担体に貴金属を担持してなることを特徴とする酸化触媒が熱分解性フルオロカーボンや酸性成分を含むガスの酸化処理に用いても劣化の少ない長寿命の酸化触媒であることを見出し、本発明を完成したものである。
【０００７】
また、本発明はフッ素化率が30〜95％であるアルミナ担体に貴金属を担持してなる酸化触媒を用いることを特徴とする酸化方法も提供する。
また、本発明は上記のような酸化触媒を用いる一酸化炭素除害装置も提供する。
【０００８】
【発明の実施の形態】
本発明で用いる酸化触媒は、貴金属を担持するアルミナ担体が30〜95％の範囲内でフッ素化されている以外、従来の貴金属を担持したアルミナ担体からなる酸化触媒と同様のものでよい。
アルミナ担体のフッ素化方法も特に限定されないが、好適には貴金属を担持したアルミナ担体からなる酸化触媒をフッ化水素により処理することでアルミナをフッ素化する方法を採用することができる。このフッ素化処理としては、具体的には、必要に応じて窒素ガスなどの不活性ガスをキャリアーとした１〜100％濃度のフッ化水素をアルミナに対して250〜400℃の温度で接触させればよい。フッ化水素で処理する場合、空間速度100〜10000Hr-1の範囲が好ましい。その他、フッ素ガスでもフッ素化は可能であり、またフッ酸溶液に浸漬することによりフッ素化する方法も可能である。
【０００９】
本発明において用いるアルミナのフッ素化率は、30〜95％の範囲内である。フッ素化率がこれより小さいと、酸化触媒の劣化防止の効果が少なく、また95％を超えると担体のフッ素化が難しくなることや、フッ素化された触媒の構造が破壊されるためかどうかは定かではないが、活性あるいは強度が低下する傾向がある。好ましくはフッ素化率が60〜80%の範囲内でフッ素化を行うことで触媒の最適化を行うことができる。なお、本発明において、アルミナのフッ素化率とはアルミニウム元素を基準としてフッ素化と酸化の割合をいう。アルミナ（Al2O3: M.W.=102）が２倍モルのフッ化アルミニウム（2AlF3: M.W.=168）に全部変化した時を１００％として算出して、以下の式により求めるものとする。
【数１】
0003957521.tif 000002
（式中、Ｂは処理後の重量、Ａは処理前の重量を表す。）
【００１０】
触媒担体は一般的に表面積の大きいものが用いられ、本発明の酸化触媒に用いられるアルミナは、表面積が大きいγ―アルミナが好ましいが、特に限定されるものではない。また粒状、顆粒状、ハニカム状などのアルミナを、使用することができる。
本発明で用いる酸化触媒の金属は酸化触媒能があることが知られている貴金属、例えば白金、パラジウム、ロジウム、銀、金、及び貴金属と他の金属との混合物が用いられ、白金を用いることが好ましい。アルミナ担体に対する貴金属の担持量は、限定されないが、触媒を基準にして0.01〜10質量%が一般的である。貴金属の担持量が0.01質量％より少ないと触媒の活性が十分に発揮できなくなり、10質量％を超えると経済的ではない。触媒の選択は処理の内容、処理ガスの種類などに応じて行えばよい。貴金属を担持する方法としては、一般的には含浸法が最も操作が容易でありよく用いられるが、共沈法、混練法、ゾルゲル法等の他の担持方法で行うことも可能であり、担持方法は特に限定されない。
アルミナへの貴金属の担持とフッ素化処理はいずれを先に行ってもよいが、貴金属を担持してからフッ素化処理する方が触媒を安定的に製造できるため好ましい。
【００１１】
本発明の酸化触媒を用いて酸化処理を行う方法は、上記の酸化触媒を用いる以外は従来の方法と同様の方法を用いることができる。なお、本発明において「酸化」とは物質と酸素を反応させ、酸素化合物を生成する反応をいう。
本発明は、特にエッチング排ガス中に含まれる一酸化炭素の酸化処理に向けられており、一酸化炭素の酸化処理に好適な方法であり、一酸化炭素濃度が30vol%以下、好ましくは10vol%以下の一酸化炭素の酸化処理に適している。このとき、酸素は必要に応じて加えればよいが、コスト面から空気を用いることが好ましい。処理温度は一般的に100〜350℃の範囲内、さらには150〜300℃の範囲内が好ましい。一酸化炭素を含む被処理ガスの処理速度としては、一般的には空間速度10000Hr-1以下が好ましい。
【００１２】
さらに、本発明の酸化触媒及び一酸化炭素酸化処理方法は、特に一酸化炭素の他にフルオロカーボン系ガス、特に熱分解性のフルオロカーボン系ガス、あるいは酸性ガスを含むガスの酸化処理において好適である。このような触媒を劣化させる成分を含むガスの処理においても、本発明の酸化触媒と酸化処理方法によれば、酸化触媒の劣化が抑制されて極めて長時間にわたって使用できる効果がある。このような触媒を劣化させる成分としては、限定するわけではないが、例えば、C2F4,CHF3,CH2F2,C2HF3などの熱分解性フルオロカーボン,HF,COF2,SiF4等の酸性ガスを挙げることができる。なお、従来「フロン」という用語がクロロフルオロカーボンの一般名として用いられ、さらにフッ素を含むハロゲン化炭化水素の総称としても用いられている。本明細書において用語「フルオロカーボン」とは、従来のフロンを含み、パーフルオロカーボン、ハイドロフルオロカーボン、ハイドロクロロフルオロカーボンなどの化合物をいう。用語「熱分解性フルオロカーボン」とは上記フルオロカーボン系ガスの中で、加熱することにより自己分解又は重合する化合物をいう。従って、本発明は、このような触媒を劣化させる可能性の高い熱分解性フルオロカーボンや酸性ガスを一酸化炭素と共に含むフルオロカーボン系のエッチング排ガスの酸化処理にとりわけ好適であり、排ガス中に含まれるC2F4等の熱分解性フルオロカーボンも同時に酸化処理することもできる。
また本発明の酸化触媒を用いて酸化処理された排ガス中には、ＨＦなどの酸性ガスが含まれる場合があるが、これらは例えば活性炭等の吸着剤やアルカリスクラバーを用いることにより比較的容易に除去することが可能である。
本発明の酸化触媒は、上記の如く、従来酸化触媒を用いて行われている酸化処理のいずれにも使用できるが、特にエッチング排ガス中に含まれる一酸化炭素の酸化処理に好適に使用でき、この目的のため本発明は上記の酸化触媒を使用した一酸化炭素除害装置をも提供する。
一酸化炭素除害装置のシステムは、（１）一酸化炭素酸化工程（手段）、（２）酸性成分除去工程（手段）により構成される。酸化工程（１）では除害対象物質である一酸化炭素を酸化処理し、許容濃度以下とする。その後、酸性成分除去工程（２）でフッ化水素等の酸分を除去する。
【００１３】
【実施例】
以下に実施例を用いて本発明をさらに説明するが、本発明がこの例に限定されるわけではないことは明らかである。
実施例
（触媒の調製）
粒径φ3x3mm, Pt濃度0.5質量%, 比表面積150m2/g, 細孔容積0.32cm3/gである日揮化学製のPt/Al2O3触媒41.33gをSUS製反応管に入れて、N2希釈したHF 濃度10モル%のガスでフッ素化処理を実施した。このとき処理温度は350℃で、SV（空間速度）が1000hr-1であり、12hr処理をして、フッ素化Pt/Al2O3触媒（白金の担持率としては0.5質量%）を得た。処理後の重量は60.45gで、これによりフッ素化率を計算すると71.5%であった。
また同様の方法を用いることにより、Pt1.0質量%/Al2O3、Pd0.5質量%/Al2O3、Au1.0質量%/Al2O3をそれぞれ調整した。
（ＣＯ酸化例）
上記の如く調製した触媒を用いて、下記の組成を有するＣＯ含有ガスを、常圧流通式反応装置を用い、反応温度270℃、空間速度10000hr-1の条件で、酸化して試験を行った。被処理ガスは、フルオロカーボン系エッチャントを用いて半導体をエッチングした排ガスであり、下記の組成を有していたが、C4F8,CH2F2,CO及びO2はエッチャント成分、C2F4,SiF4及びHFは反応生成物あるいは副生物である。
【００１４】
C2F4     200ppm
SiF4    5000ppm
HF      1000ppm
C4F8    5000ppm
CH2F2   5000ppm
CO      5000ppm
O2     30000ppm
N2     バランス
この酸化反応を開始してから、定期的に、即ち、１０時間、１００時間、３００時間および１０００時間後に、反応器の入り口及び出口のガスの組成をガスクロマトグラフィーで分析した。COとC2F4についての結果を成分の分解率として下記に示す。
【００１５】
【表１】
0003957521.tif 000003
【００１６】
表に見られるように、本発明の酸化触媒は1000時間経過した後もCOを酸化する能力を維持しており、同時にC2F4を分解することができることがわかる。
比較例
Pt0.5質量%/Al2O3（日揮化学製）、ポプカライト（日産化学製）、MnO220質量%/CuOおよびMnO220質量%/Al2O3について、下記の組成を有するＣＯ含有ガスを、常圧流通式反応装置を用い、空間速度10000hr-1の条件で、酸化する試験を行った。
【００１７】
C2F4     200ppm
HF      1000ppm
CO      5000ppm
O2      １５％
N2       バランス
この酸化反応を開始してから、定期的に反応器の入り口及び出口のガスの組成をガスクロマトグラフィーで分析した。結果を下記に示す。
【００１８】
【表２】
0003957521.tif 000004
【００１９】
表に見られるように、従来の酸化触媒は、熱分解性フルオロカーボン（C2F4）や酸性成分（HF）を含むＣＯ含有ガスを酸化処理すると、実施例と比較して短時間で触媒が劣化している。特に、比較例では、熱分解性フルオロカーボンの量は実施例より顕著に少なく、反応温度も実施例より低いにもかかわらず、実施例より早い時間にＣＯの酸化能が低下し、許容濃度以上となることがわかる。
【００２０】
【発明の効果】
本発明によれば、熱分解性フルオロカーボン（C2F4など）や酸性成分（HFなど）を含むＣＯ含有ガスを酸化処理しても長時間劣化のない優れた酸化触媒が提供される。