(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象物を視準する視準望遠鏡と、
上記視準望遠鏡の焦点状態を検出する焦点検出手段と、
上記視準望遠鏡の対物レンズによる物体像の正立像を形成する正立光学系と、
この正立光学系の上方に配設され、かつ、上記視準望遠鏡の対物レンズを透過した光束の一部からなるＡＦ用光束を上記焦点検出手段に導く分岐位置と、上記対物レンズを透過した光束と干渉しない退避位置とに移動可能な分岐光学系と、
上記焦点検出手段が動作状態のとき上記分岐光学系を分岐位置に保持し、非動作状態のとき上記分岐光学系を退避位置に保持する制御手段とを備え、
上記分岐光学系は、上記分岐位置において上記正立光学系の入射面前方に位置し、上記退避位置において上記正立光学系の上方に位置することを特徴とするＡＦ測量機。
【請求項２】
請求項１記載のＡＦ測量機において、上記分岐光学系は、分岐位置において上記対物レンズの光軸上に位置し、退避位置において上記対物レンズを通過した光束の光路から退避する反射ミラーを有しているＡＦ測量機。
【請求項３】
請求項１または２記載のＡＦ測量機において、上記分岐光学系の大きさは、分岐位置において上記焦点検出手段にＡＦ用光束のすべてを入射させる大きさであるＡＦ測量機。
【請求項４】
請求項１ないし３のいずれか１項に記載のＡＦ測量機において、上記分岐光学系は、上記対物レンズの光軸外に位置する軸を中心とする回動運動により上記分岐位置と退避位置に移動するＡＦ測量機。
【請求項５】
請求項１ないし３のいずれか１項に記載のＡＦ測量機において、上記分岐光学系は、上記対物レンズの光軸と直交する方向の往復直線運動により上記分岐位置と退避位置に移動するＡＦ測量機。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の技術分野】
本発明は、ＡＦ機能を有する測量機に関する。
【０００２】
【従来技術およびその問題点】
トータルステーション等の測量機において視準望遠鏡のＡＦ化が進行している。ＡＦ装置として広く用いられている位相差方式のＡＦ装置（焦点検出手段）は、視準望遠鏡の対物レンズ上に設定された異なる一対の瞳範囲を通過した光束により結像された一対の像の相関関係（位相差）からピント位置を検出し、この検出結果に基づき視準望遠鏡を合焦させるものである。
【０００３】
一般に視準望遠鏡を有するＡＦ測量機では、対物レンズによって形成された倒立像を正立像にする正立光学系としてポロプリズムが一般に用いられており、対物レンズからの光束は上記ポロプリズムによって、ＡＦ装置方向と接眼レンズ方向に分割されるよう構成されている。このように対物レンズからの光束が分割される構成では、ＡＦ装置方向へ出射される光量分だけ接眼レンズへの入射光量が減少するため、観察時に視野が暗くなるという問題があった。特に、夕暮れ時など、測定対象物の周囲が暗い状況では、視準しづらかった。
【０００４】
【発明の目的】
本発明は、以上の問題点に鑑み、視準光学系への光量を十分に確保でき、測量動作時に視野が明るく観察しやすいＡＦ測量機を得ることを目的とする。
【０００５】
【発明の概要】
本発明のＡＦ測量機は、測定対象物を視準する視準望遠鏡と、上記視準望遠鏡の焦点状態を検出する焦点検出手段と、上記視準望遠鏡の対物レンズによる物体像の正立像を形成する正立光学系と、この正立光学系の上方に配設され、かつ、上記視準望遠鏡の対物レンズを透過した光束の一部からなるＡＦ用光束を上記焦点検出手段に導く分岐位置と、上記対物レンズを透過した光束と干渉しない退避位置とに移動可能な分岐光学系と、上記焦点検出手段が動作状態のとき上記分岐光学系を分岐位置に保持し、非動作状態のとき上記分岐光学系を退避位置に保持する制御手段とを備え、上記分岐光学系は、上記分岐位置において上記正立光学系の入射面前方に位置し、上記退避位置において上記正立光学系の上方に位置することを特徴としている。
【０００６】
上記構成によれば、ＡＦ用光束が焦点検出手段へ分岐されるのは焦点検出手段の動作時のみであるから、接眼レンズへの入射光量を十分に確保することができ、測量動作時には接眼レンズを介して明るく観察することができる。
【０００７】
上記分岐光学系は、分岐位置において上記対物レンズの光軸上に位置し、退避位置において上記対物レンズを透過した光束の光路から退避する反射ミラーを有していることが好ましい。この構成によれば、分岐位置において、入射したＡＦ用光束をすべて焦点検出手段に導くことができる。また上記分岐光学系の大きさは、分岐位置において上記焦点検出手段にＡＦ用光束のすべてを入射させる大きさに設定するとよい。
【０００８】
また上記分岐光学系は、上記対物レンズの光軸外に位置する軸を中心とする回動運動により上記分岐位置と退避位置に移動する構成とするか、若しくは、上記対物レンズの光軸と直交する方向の往復直線運動により上記分岐位置と退避位置に移動する構成とすることができる。
【０００９】
上記ＡＦ測量機が視準望遠鏡の対物レンズによる物体像の正立像を形成する正立光学系を備えている場合には、分岐光学系を正立光学系の上方に配設すると、正立光学系周辺の空スペースを有効活用できるので好ましい。なお、この場合に分岐光学系は、分岐位置において反射ミラーを該正立光学系の入射面前方に位置させ、退避位置において反射ミラーを該正立光学系の入射面前方から退避させる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
図１ないし図６は、本発明によるＡＦ測量機の第一の実施形態を示している。視準望遠鏡１０は、図１に示すように、物体側（前方）から順に、対物レンズ１１、焦点調節レンズ１８、ポロプリズム（正立光学系）１２、焦点板１３、及び接眼レンズ１４を備えている。焦点板１３上には、その中心に、視準の際の目印となる十字線ヘアライン（視準線）１５が描かれている。焦点調節レンズ１８は光軸方向に可動であり、測定対象物１６の距離に応じて位置調節することにより、その像を正しく焦点板１３の対物レンズ１１側の表面に結像させる。観察者は、この焦点板１３上の像を接眼レンズ１４を介して拡大観察する。
【００１１】
視準望遠鏡１０の対物レンズ１１の後方には、光波距離計２０の構成要素である送受光ミラー２１と、測距光を反射し可視光を透過する波長選択フィルタ２２とが順に配置されている。送受光ミラー２１は、対物レンズ１１の光軸上に位置する平行平面ミラーからなり、その対物レンズ１１側の面が送光ミラー２１ａ、波長選択フィルタ２２側の面が受光ミラー２１ｂを構成している。
【００１２】
光波距離計２０の発光素子（ＬＤ）２３は、特定波長の測距光を発し、この測距光は、コリメータレンズ２４及び固定ミラー２５を介して、送光ミラー２１ａに入射する。送光ミラー２１ａに入射した測距光は、対物レンズ１１の光軸上を進む。
【００１３】
波長選択フィルタ２２は、測定対象物１６で反射し対物レンズ１１を透過した測距光をさらに反射させて受光ミラー２１ｂに戻す作用をし、受光ミラー２１ｂは、その反射光を受光ファイバ２６の入射端面２６ａに入射させる。２７は、受光ファイバ２６を保持するホルダであり、送受光ミラー２１とともに、図示しない固定手段によって、対物レンズ１１の後方の空間に固定されている。
【００１４】
発光素子２３と固定ミラー２５の間の測距光路上には、切換ミラー２８と送光用ＮＤフィルタ２９が配置されている。切換ミラー２８は、発光素子２３からの測距光を固定ミラー２５に与えるか、直接受光ファイバ２６の入射端面２６ａに与えるかの切換を行うものである。送光用ＮＤフィルタ２９は、測定対象物１６に投光する測距光の光量調節用である。
【００１５】
受光ファイバ２６の出射端面２６ｂと受光素子３１との間には、集光レンズ３２、受光用ＮＤフィルタ３３及びバンドパスフィルタ３４が順に配置されている。受光素子３１は、制御回路４０に接続されており、受光光量に対応する光電流を出力する。制御回路４０には、受光素子３１のほか、切換ミラー２８のアクチュエータ４１、表示器４２が接続されている。
【００１６】
以上の光波距離計２０は、周知のように、制御回路４０がアクチュエータ４１を介して切換ミラー２８を駆動し、発光素子２３からの測距光を固定ミラー２５に与える状態と、受光ファイバ２６の入射端面２６ａに直接与える状態とを作り出す。固定ミラー２５に与えられた測距光は、上述のように、送光ミラー２１ａと対物レンズ１１を介して測定対象物１６に投光され、その反射光が対物レンズ１１、波長選択フィルタ２２及び受光ミラー２１ｂを介して受光ファイバ２６の入射端面２６ａに入射する。そして、この測定対象物１６で反射して入射端面２６ａに入射する測距光と、切換ミラー２８を介して入射端面２６ａに直接与えられた内部参照光とが受光素子３１によって受光され、制御回路４０が送光と反射光の位相差及び内部参照光での初期位相、又は送光と測距光と反射光の時間差を検出し、測定対象物１６迄の距離を演算して、表示器４２に表示する。測距光と内部参照光の位相差または時間差による測距演算は周知である。
【００１７】
制御回路４０には、さらに、焦点調節レンズ１８を移動させるレンズ駆動機構４３、ＡＦ開始スイッチ４４、測距開始スイッチ４５、ＡＦ検出ユニット５０が接続されている。
【００１８】
ＡＦ検出ユニット５０は、焦点板１３と光学的に等価な焦点検出面５１の焦点状態、すなわち、前ピン、後ピンなどのデフォーカス量を検出するもので、図２にその概念図を示す。焦点検出面５１上に結像する対物レンズ１１による物体像は、集光レンズ５２及び基線長だけ離して配置した一対のセパレータレンズ（結像レンズ）５３によって分割され、この分割された一対の像は一対のＣＣＤラインセンサ５４上に再結像する。ラインセンサ５４は多数の光電変換素子を有し、各光電変換素子が、受光した物体像を光電変換して光電変換した電荷を積分（蓄積）し、積分した電荷をＡＦセンサデータとして制御回路４０へ出力する。制御回路４０は、一対のＡＦセンサデータに基づいて所定のデフォーカス演算を行ない、算出したデフォーカス量に基づきレンズ駆動手段４３を動作させて焦点調節レンズ１８を合焦位置に移動させる。このようなデフォーカス演算は当業者周知である。
【００１９】
上記ＡＦ検出ユニット５０は、各ラインセンサ５４に結像する一対の像を基準に考えると、対物レンズ１１上において異なる一対の瞳範囲１１Ａ、１１Ｂを通過した光束によりラインセンサ５４上に結像された一対の像でピント位置を検出することになる。瞳範囲１１Ａと１１Ｂの瞳範囲の形状は、各セパレータレンズ５３の近傍にそれぞれ配置するマスク５５によって設定することができる。なお、図１ないし図３におけるハッチングは、この一対の瞳範囲１１Ａ、１１Ｂに対応する部分（光路）を概念的に示している。
【００２０】
図３は、対物レンズ１１上のこの瞳範囲１１Ａと１１Ｂの位置関係、及び光波距離計２０の送受光ミラー２１と受光ファイバ２６（ホルダ２７）の位置関係を示している。瞳範囲１１Ａと１１Ｂの位置、形状及び方向は、ＡＦ検出ユニット５０の集光レンズ５２、セパレータレンズ５３、マスク５５、ラインセンサ５４の多数の光電変換素子より、ＡＦ性能を満足する値に定められている。
【００２１】
以上の視準望遠鏡１０には、対物レンズ１１からの光束をＡＦ検出ユニット５０に導く分岐光学系として、反射ミラー１０１ａを有する可動式の分岐ミラーアッセンブリ１０１が設けられている。可動分岐ミラーアッセンブリ１０１は、対物レンズ１１の光軸外に位置する軸を中心とする回動運動により、対物レンズ１１の光軸上に位置する分岐位置と、対物レンズ１１の光軸外に退避する退避位置とに移動可能であって、通常（ＡＦ動作時以外）は退避位置で保持され、ＡＦ動作時には分岐位置へ移動される。図１では、可動分岐ミラーアッセンブリ１０１が分岐位置にある状態を実線で示し、退避位置にある状態を破線で示している。
【００２２】
可動分岐ミラーアッセンブリ１０１が分岐位置にある状態では、対物レンズ１１からの光束のうち、図３の瞳範囲１１Ａ、１１Ｂを通過した光束（ＡＦ用光束）が反射ミラー１０１ａによって反射され、その反射光路上に配置されているＡＦ検出ユニット５０に導かれる。対物レンズ１１からの光束のうち、上記ＡＦ用光束以外の光束（反射ミラー１０１ａに入射しない光束）は、ポロプリズム１２に入射し、ポロプリズム１２の反射面で反射して焦点板１３に導かれる。また、可動分岐ミラーアッセンブリ１０１が退避位置にある状態では、対物レンズ１１からの光束の全てが、反射ミラー１０１ａによって干渉されることなく、ポロプリズム１２に入射し、ポロプリズム１２の反射面で反射して焦点板１３へ導かれる。
【００２３】
上記反射ミラー１０１ａは、例えばガラスや金属などの高反射率の材料により形成されている。また、反射ミラー１０１ａの大きさ（面積）は、分岐位置において、少なくとも図３の瞳範囲１１Ａ、１１Ｂを通過したＡＦ用光束をすべてＡＦ検出ユニット５０に入射させることが可能な大きさである。
【００２４】
図４ないし図６は、可動分岐ミラーアッセンブリ１０１及びその駆動機構を示している。可動分岐ミラーアッセンブリ１０１及びその駆動機構は、ポロプリズム１２周辺の空スペース（図１参照）を有効活用できるように、図４においてポロプリズム１２の上方に配設されている。可動分岐ミラーアッセンブリ１０１は、ポロプリズム１２を保持したプリズム枠１０３に回動自在に支持されている。なお、プリズム枠１０３の形状は光軸を中心とした円形状である。
【００２５】
可動分岐ミラーアッセンブリ１０１は、上記反射ミラー１０１ａを固定したミラー固定アーム１０１ｂと、このミラー固定アーム１０１ｂに直交する両側の腕部１０１ｃとを有している。この腕部１０１ｃの端部は、対物レンズ１１の光軸外に位置する軸ピン１０２を介してプリズム枠１０３の両側部に回動可能に支持されていて、反射ミラー１０１ａが光軸上に位置する分岐位置と光軸外に位置する退避位置とに回動可能となっている。すなわち、反射ミラー１０１ａは、分岐位置においてポロプリズム１２の入射面前方に位置し、退避位置において該入射面前方から退避したポロプリズム１２上方に位置する。
【００２６】
可動分岐ミラーアッセンブリ１０１の一方の腕部１０１ｃには、カム板１０５のカム溝１０５ａに移動自在に嵌合されたピン１０４が固定され、カム板１０５は、図５及び図６に示すように、ミラー枠１０６の摺動溝１０６ａに摺動可能に嵌合されている。このミラー枠１０６はプリズム枠１０３に固定されている。またカム板１０５には、ミラー枠１０６の長穴１０６ｂを貫通してカム環１０８のカム溝１０８ａに嵌合するピン１０７が固定されており、カム環１０８はモータ１０９によって回転される。
【００２７】
モータ１０９によってカム環１０８が回転すると、ピン１０７を介して、カム板１０５がミラー枠１０６の摺動溝１０６ａに沿って移動する。すると、カム板１０５の移動に連動してピン１０４がカム板１０５の摺動溝１０５ａに沿って移動し、可動分岐ミラーアッセンブリ１０１の腕部１０１ｃが軸ピン１０２を中心として回動する。これにより、反射ミラー１０１ａは、分岐位置と退避位置との間を移動できる。なお、本実施形態では、可動分岐ミラーアッセンブリ１０１を分岐位置に移動させるモータ１０９の回転方向を正転、退避位置に移動させるモータ１０９の回転方向を逆転とする。上記モータ１０９は制御回路４０によって駆動制御される。
【００２８】
上記構成の本ＡＦ測量機は次のように使用する。
先ず、視準望遠鏡１０に付属した不図示の視準器から測定対象物１６を覗き、視準望遠鏡１０の光軸を概ね測定対象物１６に合致させる。次に、ＡＦ開始スイッチ４４をオンする。すると制御回路４０は、モータ１０９を正転させて可動分岐ミラーアッセンブリ１０１を分岐位置に移動させて上述のＡＦ動作を実行し、ＡＦ動作が終了したらモータ１０９を逆転させて可動分岐ミラーアッセンブリ１０１を退避位置まで戻した後、表示器４２に合焦状態である旨を表示させる。続いて、この合焦表示が表示器４２に表示された状態で、接眼レンズ１４を覗き、焦点板１３の十字線ヘアライン１５を正確に測定対象物１６に一致させる。そして、測距開始スイッチ４５をオンする。すると制御回路４０は、光波距離計２０による上述の測距動作を実行させ、表示器４２に測距結果を表示させる。
【００２９】
以上のＡＦ測量機の動作において、対物レンズ１１からの光束（ＡＦ用光束）がＡＦ検出ユニット５０へ分岐されるのはＡＦ動作時のみであるから、接眼レンズ１１への入射光量を十分に得ることができ、測量動作時には接眼レンズ１４を介して明るく観察することができる。
【００３０】
図７ないし図１０は、可動分岐ミラーアッセンブリの別実施形態として、対物レンズ１１の光軸に直交する直線運動により、対物レンズ１１の光軸上であってポロプリズム１２の入射面前方に位置する分岐位置（図７）と対物レンズ１１の光軸外であってミラー枠２０３内に収納される退避位置（不図示）とに移動可能な可動分岐ミラーアッセンブリ２０１及びその駆動機構を示している。以下で説明する可動分岐ミラーアッセンブリ２０１及びその駆動機構は、ポロプリズム１２周辺の空スペースを有効活用できるよう、図７においてポロプリズム１２上方に配設されている。
【００３１】
可動分岐ミラーアッセンブリ２０１は、反射ミラー２０１ａと、反射ミラー２０１ａを固定したミラー固定部２０１ｂを有し、このミラー固定部２０１ｂがボール２０２を介してミラー枠２０３に移動可能に支持されている。すなわち、ミラー固定部２０１ｂにはボール２０２を収容する収容穴２０１ｂ１が形成されており、ミラー枠２０３にはボール２０２を移動可能な状態で嵌合する案内溝２０３ａが形成されている。ボール２０２は、収容穴２０１ｂ１の底部に挿入された板ばね２０４により案内溝２０３ａに嵌合する方向に付勢されている。このため、ミラー固定部２０１ｂは、光軸に直交する直線方向のみに移動可能である。
【００３２】
上記ミラー固定部２０１ｂには、長手方向の一端部の略中央に位置させて、支持ピン２０５が固定されており、この支持ピン２０５はカム環２０６の周面に形成されたカム溝２０６ａに摺動可能に嵌合されている。カム環２０６は、上記カム溝２０６ａを有するカム環本体部２０６ｂと、カム環本体部２０６の一端部に連結した歯車部２０６ｃを有し、一対のピン２０７を介してミラー枠２０３に回動自在に支持されている。歯車部２０６ｃには、ミラー枠２０３に固定されたモータ２０８により駆動される歯車２０９が噛合されている。モータ２０８が往復回転すると、歯車２０９及び歯車部２０６ｃを介してカム環本体部２０６ｂが回転し、この回転力によって支持ピン２０５が押圧され、ミラー固定部２０１ｂが往復直線運動する。これにより、反射ミラー２０１ａは、分岐位置と退避位置の間を移動することができる。なおモータ２０８は、第一の実施形態と同様に、制御回路４０によって駆動制御される。
【００３３】
この実施形態では、可動分岐ミラーアッセンブリ２０１を対物レンズ１１の光軸に直交する方向の直線運動によって分岐位置と退避位置に移動させることができる。従って、第一の実施形態と同様、接眼レンズ１１への入射光量を十分に得ることができ、測量動作時には接眼レンズ１４を介して明るく観察することができる。また、この構成では、可動分岐ミラーアッセンブリ２０１を停止させた時の振動がＡＦ検出ユニット５０の結像位置変化に与える影響が少ないという利点もある。
【００３４】
以上の各実施形態では、可動分岐ミラーアッセンブリ１０１（２０１）を、ＡＦ動作時は対物レンズ１１からの光束をＡＦ検出ユニット５０に分岐する分岐位置で保持し、ＡＦ動作時以外は対物レンズ１１からの光束を干渉しない退避位置で保持するため、測量動作時に、明るさや分解力など視準望遠鏡１０の性能が低下することがなく、精度のよい測量作業ができる。また本実施形態では、可動分岐ミラーアッセンブリ１０１（２０１）が分岐位置にあっても、対物レンズ１１からの光束のうち瞳範囲１１Ａ、１１Ｂ部分を通過したＡＦ用光束以外は接眼レンズ１４へ入射するから、ＡＦ動作時にも接眼レンズ１４から測定対象物１６を観察することが可能となっている。
【００３５】
また本実施形態では、反射ミラー１０１ａ（２０１ａ）を可動式にしたため、反射ミラー１０１ａ（２０１ａ）の反射率を高反射率（略１００％）にすることができる。これにより、一対の瞳範囲１１Ａ、１１Ｂを通過したＡＦ用光束はすべてＡＦ検出ユニット５０へ導かれるから、分岐光学系の半透過面により上記ＡＦ用光束を分岐する従来よりも一対の瞳範囲を小さく設定することができる。別言すれば、上記一対の瞳範囲に応じて反射ミラーの大きさを小さくすることができ、視準望遠鏡１０の小型化を図れる。また、ノンプリズムタイプのＡＦ測距儀においては、測距系の光学部品の配置がしやすくなる。なお、高速ＡＦ化を目的とする場合には、一対の瞳範囲１１Ａ、１１Ｂを本実施形態よりも多少広く設定してもよい。
【００３６】
本実施形態では、位相差検出方式のＡＦ検出ユニット５０を用いているが、コントラスト方式など他のＡＦ方式でもよいのは勿論である。
【００３７】
以上は、本発明を光波距離計を有する測量機に適用した場合であるが、レベル（水準儀）など他の測量機に適用してもよい。
【００３８】
【発明の効果】
本発明によれば、視準光学系への光量を十分に確保することができ、測量動作時に視野が明るく観察しやすいＡＦ測量機が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるＡＦ測量機の第一の実施形態を示す系統接続図である。
【図２】図１のI矢視図であって、焦点検出手段（ＡＦ検出ユニット、位相差方式焦点検出手段）の概念図である。
【図３】図１のII‐II線から見た、焦点検出手段の対物レンズ上の一対の瞳範囲と、送受光ミラー及び受光ファイバとの位置関係を示す図である。
【図４】図１のIII矢視図である。
【図５】図４のIV矢視図である。
【図６】図５のV矢視図である。
【図７】分岐ミラーアッセンブリの別実施形態を示す正面図である。
【図８】図７のVI矢視図である。
【図９】図７のVII矢視図である。
【図１０】図７のVIII矢視図である。
【符号の説明】
１０  視準望遠鏡
１１  対物レンズ
１１Ａ  １１Ｂ  瞳範囲
１２  ポロプリズム（正立光学系）
１３  焦点板
１４  接眼レンズ
１５  十字線ヘアライン（視準線）
１６  測定対象物
１８  焦点調節レンズ
２０  光波距離計
２１  送受光ミラー
２２  波長選択フィルタ
２３  発光素子
２４  コリメータレンズ
２５  固定ミラー
２６  受光ファイバ
２７  ホルダ
２８  切換ミラー
２９  送光用ＮＤフィルタ
３１  受光素子
３２  集光レンズ
３３  受光用ＮＤフィルタ
３４  バンドパスフィルタ
４０  制御回路
４１  アクチュエータ
４２  表示器
４３  レンズ駆動機構
４４  ＡＦ開始スイッチ
４５  測距開始スイッチ
５０  ＡＦ検出ユニット（焦点検出手段）
５１  焦点検出面
５２  集光レンズ
５３  セパレータレンズ
５４  ラインセンサ
５５  マスク
１０１  ２０１  可動分岐ミラーアッセンブリ
１０１ａ  ２０１ａ  反射ミラー
１０１ｂ  ミラー固定アーム
１０１ｃ  腕部
１０２  軸ピン
１０３  プリズム枠
１０４  １０７  ２０７  ピン
１０５  カム板
１０５ａ  カム溝
１０６  ２０３  ミラー枠
１０６ａ  摺動溝
１０６ｂ  長穴
１０８  ２０６  カム環
１０８ａ  ２０６ａ  カム溝
１０９  ２０８  モータ
２０１ｂ  ミラー固定部
２０２  ボール
２０４  板ばね
２０５  支持ピン
２０６ｂ  カム環本体部
２０６ｃ  歯車部
２０９  歯車
【図１】
0003911147.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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