(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線ビームを放射する放射線源と、
前記放射線源からの放射線ビームを空間分解能をもって検出する放射線検出器と、
前記放射線ビーム内で被検体を相対回転させる回転手段と、
前記回転手段による相対回転中に前記放射線検出器で得られた被検体の多方向からの透過データから、前記被検体の断面像を作成する再構成手段と、
表示手段と、
装置本体の状態変化から必要になった較正の種類を判定し選択し、この選択された較正の種類を前記表示手段に表示させる必要較正判定手段と
を備えて成ることを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。
【請求項２】
前記請求項１に記載のコンピュータ断層撮影装置において、
前記必要較正判定手段により判定された種類の較正としては、前記表示手段に選択表示された前記較正の種類に基づき、エアー較正、歪較正、スライス面較正、回転中心較正、ＦＣＤ較正のうちの少なくとも１つの較正を自動的に行なう自動較正手段を付加して成ることを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。
【請求項３】
前記請求項１または請求項２に記載のコンピュータ断層撮影装置において、
少なくとも前記放射線源と前記放射線検出器と前記被検体とを収納して成る被検体交換用の開口を有する放射線遮蔽箱と、
前記放射線遮蔽箱の開口を覆う２つの部分に分割されそれぞれ開閉自在な放射線遮蔽扉と
を付加して成ることを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、非破壊検査装置のうちのコンピュータ断層撮影装置に係り、特に操作に熟練を要さず、操作者にとって扱い易いコンピュータ断層撮影装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年、小型電子部品等を高分解能で検査することを目的として、高分解能型の産業用のコンピュータ断層撮影装置（以下、ＣＴスキャナ）が製作されるようになってきている。
【０００３】
図４は、この種の従来の高分解能型のＣＴスキャナのシステム構成例を示す概要図である。
【０００４】
図４において、Ｘ線管１０１と、このＸ線管１０１から放射されるコーン状のＸ線ビーム１０２を２次元の空間分解能をもって検出する検出器１０３が対向して配置され、このＸ線ビーム１０２中の被検体１０４の透過像を得るようになっている。
【０００５】
断面像を撮影する場合には、回転テーブル１０５上の被検体１０４を、回転・昇降機構１０６により回転させながら、多数の透過像を得る（スキャンと称する）。
【０００６】
この多数の透過像を、データ処理部１０９で処理して、被検体１０４の１枚あるいは複数枚の断面像を得る。
【０００７】
回転テーブル１０５および検出器１０３は、シフト機構１０７により、Ｘ線管１０１に近づけたり遠ざけたりされ、撮影距離ＦＣＤと検出距離ＦＤＤが変更でき、目的に応じて撮影倍率（＝ＦＤＤ／ＦＣＤ）を変えることができる。
【０００８】
被検体１０４の撮影位置の変更は、被検体１０４を回転軸１１８方向に昇降させて行なうが、回転テーブル１０５を同時に回転および昇降させるヘリカルスキャンを行なって、広い領域の断面像（３次元像）を１回の撮影で得る方法もある。
【０００９】
一方、このような従来の高分解能型のＣＴスキャナでは、撮影距離ＦＣＤ、検出距離ＦＤＤを変更する度に、歪較正、スライス面較正、回転中心較正等の較正をやり直す必要がある。
【００１０】
まず、歪較正は、検出器１０３の歪の較正である。
【００１１】
検出器１０３は、Ｘ線ＩＩ１１２とテレビカメラ１１３とより成る。
【００１２】
歪は、主にＸ線ＩＩの検出面が曲面であることにより生じ、検出距離ＦＤＤにより変化する。
【００１３】
操作者は、検出距離ＦＤＤが変化する度に、図５（ａ）に示す較正治具であるグリッド板１２０を、検出器１０３の前面に取付けて歪較正を行なう。
【００１４】
グリッド板１２０は、アクリル板１２１に金属線のグリッド（格子）１２２を埋め込んだもので、この歪較正で歪補正に用いるパラメータを求める。
【００１５】
また、スライス面較正は、透過像上における撮影面１１９の位置を設定する較正である。
【００１６】
撮影面１１９は、Ｘ線焦点Ｆを通って回転軸１１８に直交する面と定義される面で、検出距離ＦＤＤあるいは撮影距離ＦＣＤを変えた時に、機構誤差のため透過像上で変化する。
【００１７】
操作者は、検出距離ＦＤＤ、撮影距離ＦＣＤが変化する度に較正を行なう。
【００１８】
較正は、まず、回転テーブル１０５を昇降させて、透過像上でテーブル面が直線になる位置で停止させる。
【００１９】
次に、図５（ｂ）に示す較正治具であるワイヤ板１２３を、検出器１０３の前面に取付けて、テーブル面の像にワイヤ１２５の像が一致するように位置調整する。
【００２０】
次に、テーブルを視野から外し、ワイヤ１２５の像を取り込んで撮影面１１９の位置を設定する。
【００２１】
さらに、回転中心較正は、透過像上における回転軸１１８の位置を設定する較正である。
【００２２】
回転軸１１８は、検出距離ＦＤＤあるいは撮影距離ＦＣＤを変えた時に、機構誤差のため透過像上で変化する。
【００２３】
操作者は、検出距離ＦＤＤ、撮影距離ＦＣＤが変化する度に較正を行なう。
【００２４】
較正は、まず、図５（ｃ）に示す較正治具である中心較正ファントム１２６を、回転テーブル１０５の上に載置し、３６０度の回転角にわたってワイヤ１２８の像を取り込み、これから回転軸１１８の位置を設定する。
【００２５】
装置の機構部分全体は、遮蔽箱１１４に収納されている。
【００２６】
また、Ｘ線が外部に漏れるのを防止する遮蔽箱１１４には開口１１５があり、試料扉１１６を開け閉めして被検体１０４を交換する。
【００２７】
図６は、従来の遮蔽箱１１４の詳細な一構成例を示す概要図である。
【００２８】
図６において、試料扉１１６はレール１３１で支えられ、スライドさせて開閉する。
【００２９】
試料扉１１６には鉛ガラス１３０の窓があり、内部を観察することができる。
【００３０】
側面には、別にメンテナンス扉１３２が設けられており、内部の点検や部品交換のために点検者が出入りできるようになっている。
【００３１】
かかる遮蔽箱１１４の問題点は、操作者が試料等を内部に落下させた時に、側面に回ってメンテナンス扉１３２から入らなければならない点と、メンテナンス扉１３２が側面にあるため、物が置けないスペースができたり、壁に付けた設置ができなくなる点である。
【００３２】
図７は、従来の遮蔽箱１１４の詳細な他の構成例を示す概要図である。
【００３３】
図７に示すように、これは開口１１５と試料扉１１６を大きくして、メンテナンス扉を兼ねるようにしたものである。
【００３４】
かかる遮蔽箱１１４の問題点は、試料扉１１６は鉛等を貼ってＸ線遮蔽されているので重くなり、操作性が非常に悪くなる点である。
【００３５】
特に、試料交換は頻繁に行なうので問題である。
【００３６】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、最近では、ＣＴスキャナを用いた検査に対する要求が強く、被検体の種類や検査内容も拡大し、さまざまな分野に普及しつつある。
【００３７】
そして、このような状況下において、従来の高分解能型のＣＴスキャナの扱い難さを解消する要望が、益々強くなってきている。
【００３８】
しかしながら、上述した従来の高分解能型のＣＴスキャナでは、較正操作が面倒であり、しかも装置の検出距離ＦＤＤ、撮影距離ＦＣＤ等の検査条件を変更すると、その変更に見合った種類の較正をその都度選んで実施しなければならず、非常に煩わしいものとなつている。
【００３９】
このため、操作者の操作に熟練を要し、誤操作によって画質が低下することも多くなつている。
【００４０】
また、装置の設置、試料の交換、メンテナンス等においても、遮蔽箱の試料扉やメンテナンス扉の配置構造が、扱い難いものとなつている。
【００４１】
本発明の目的は、操作に熟練を要さず、操作者にとって扱い易いコンピュータ断層撮影装置を提供することにある。
【００４２】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために、請求項１に対応する発明のコンピュータ断層撮影装置は、放射線ビームを放射する放射線源と、放射線源からの放射線ビームを空間分解能をもって検出する放射線検出器と、放射線ビーム内で被検体を相対回転させる回転手段と、回転手段による相対回転中に放射線検出器で得られた被検体の多方向からの透過データから、被検体の断面像を作成する再構成手段と、表示手段と、装置本体の状態変化から必要になった較正の種類を判定し選択し、この選択された較正の種類を前記表示手段に表示させる必要較正判定手段とを備えている。
【００４３】
従って、請求項１に対応する発明のコンピュータ断層撮影装置においては、幾何条件変更や温度変動や放射線条件変更等で装置の状態が変化した時に、必要になった較正の種類が自動的に判定されるため、操作者はいつどの較正が必要かを心配する必要がなくなる。
【００４４】
また、請求項２に対応する発明のコンピュータ断層撮影装置は、上記請求項１に対応する発明のコンピュータ断層撮影装置において、必要較正判定手段により判定された種類の較正としては、前記表示手段に選択表示された前記較正の種類に基づき、エアー較正、歪較正、スライス面較正、回転中心較正、ＦＣＤ較正のうちの少なくとも１つの較正を自動的に行なう自動較正手段を付加している。
【００４５】
従って、請求項２に対応する発明のコンピュータ断層撮影装置においては、較正が自動的に行なわれるため、操作性を向上することができる。
【００４６】
さらに、請求項３に対応する発明のコンピュータ断層撮影装置は、上記請求項１または請求項２に対応する発明のコンピュータ断層撮影装置において、少なくとも放射線源と放射線検出器と被検体とを収納し被検体交換用の開口を有する放射線遮蔽箱と、放射線遮蔽箱の開口を覆う２つの部分に分割されそれぞれ開閉自在な放射線遮蔽扉とを付加している。
【００４７】
従って、請求項３に対応する発明のコンピュータ断層撮影装置においては、試料の交換時には１つの扉を用い、メンテナンス時には２つの扉を用いることができるため、操作性がよく、操作者にとって扱い易いコンピュータ断層撮影装置を得ることができる。
【００５０】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００５１】
図１（ａ）および（ｂ）は、本実施の形態によるＣＴスキャナのシステム構成例を示す平面図および正面図である。
【００５２】
図１において、放射線源であるＸ線管１としては、放射するＸ線ビーム２の焦点Ｆが数ないし数十μｍのマイクロフォーカスＸ線管を用い、放射線検出器３にはＸ線ＩＩ（像増強管）とテレビカメラからなるものを用いている。
【００５３】
Ｘ線管１および放射線検出器３は対向して配置され、シフト機構８より支持されている。
【００５４】
被検体４は、回転テーブル５上に載置され、回転・昇降機構６により、Ｘ線ビーム２内で撮影面１４に沿って回転されると共に、撮影面１４に直角に昇降される。
【００５５】
また、被検体４は、回転テーブル５と共に回転中心オフセット機構７により、Ｘ線ビーム２を横切って図示ＣＯＦ方向に動かされると共に、シフト機構８により、Ｘ線管１と放射線検出器３との間を移動して、撮影距離ＦＣＤが変更される。
【００５６】
放射線検出器３は、Ｘ線ビーム２を２次元の空間分解能をもって検出するものであり、シフト機構８により、Ｘ線管１と放射線検出器３との間を移動して、検出距離ＦＤＤが変更される。
【００５７】
グリッド板１１は、従来と同じ構造であり、グリッド駆動部１２により、放射線検出器３の前面に出し入れされる。
【００５８】
回転テーブル５には、回転軸１３に垂直にＸ線吸収の少ない狭いギャップ１５が設けられ、スライス面較正の時に使われる。
【００５９】
一方、構成要素として、他に、放射線検出器３からの透過像を処理するデータ処理部１９と、処理結果等を表示する表示部２０と、データ処理部１９からの指令で機構部を制御する機構制御部１８と、Ｘ線管１の管電圧、管電流を制御するＸ線制御部１７および高電圧発生器１６と、Ｘ線管１と被検体４と放射線検出器３を含む部分を収納するＸ線の遮蔽箱２５等を備えている。
【００６０】
データ処理部１９および表示部２０は、通常のコンピュータで、ＣＰＵ、メモリ、ディスク、キーボード、インターフェース等からなり、断層撮影のシークエンスやデータから断面像を再構成するソフトウエア等を記憶している。
【００６１】
操作者は、データ処理部１９および表示部２０を用いて、メニュー選択や条件設定、機構部手動操作、断層撮影の開始、装置のステータス読取、断面像の表示、断面像の解析等を行なう。
【００６２】
データ処理部１９は、断層撮影のスキャン制御部２１と、必要較正判定部２２と、自動較正部２３と、再構成部２４とを備えて成る。
【００６３】
スキャン制御部２１は、断層撮影のスキャン制御を行なう。
【００６４】
必要較正判定部２２は、装置本体の状態変化から必要になった較正の種類を判定し選択する。
【００６５】
自動較正部２３は、必要較正判定部２０により判定選択された種類の較正として、例えばエアー較正（利得較正）、歪較正、スライス面較正、回転中心較正、ＦＣＤ較正（撮影距離較正）のうちの、少なくとも１つの較正を自動的に行なう。
【００６６】
再構成部２４は、スキャン制御部２１による断層撮影のスキャン制御により、回転テーブル５による被検体４の回転中に放射線検出器３で得られた被検体４の多方向からの透過データから、被検体４の断面像を作成（再構成）する。
【００６７】
図２（ａ）および（ｂ）は、本実施の形態のＣＴスキャナにおける遮蔽箱の構成例を示す平面図および正面図である。
【００６８】
図２において、遮蔽箱２５は、鉄板に鉛板を貼り付けて作られており、開口３０を有している。
【００６９】
この開口３０は、上部が試料扉３１、下部がメンテナンス扉３２で、それぞれ覆われるようになっている。
【００７０】
この試料扉３１、メンテナンス扉３２は、それぞれ鉄板と鉛板でできているが、試料扉３１の方は、内部観察用の鉛ガラス３４の窓が設けられている。
【００７１】
試料扉３１は、遮蔽箱２５に付けたレール３３で支持されて引き戸式に開閉され、メンテナンス扉３２は、ちょうつがい３５で遮蔽箱２５に取付けられてドア式に開閉される。
【００７２】
ここで、２つの扉３１，３２は、閉じた時に互いに重なり合ってＸ線が漏れないようにしている。
【００７３】
また、２つの扉３１，３２のそれぞれには、Ｘ線インターロックが付けてあり、２つ共に閉じた時にＸ線放射が可能となるようにしている。
【００７４】
さらに、２つの扉３１，３２を開いた時に、開口３０は障害物無く開き、内部のメンテナンスが行なえるようにしている。
【００７５】
次に、以上のように構成した本実施の形態によるＣＴスキャナの作用について説明する。
【００７６】
図１において、透過像のみを得る場合には、操作者は被検体４を回転テーブル５に載せ、Ｘ線をＯＮし、透過像を表示部２０に表示させる。
【００７７】
断面像の場合には、回転・昇降機構６で被検体４を昇降させ、検査位置中心を撮影面１４に合わせる。
【００７８】
これは、透過像を見ながら行なうこともできる。
【００７９】
管電圧と管電流と積分時間を設定してスキャンを開始すると、回転テーブル５が回転し、この間にデータ処理部１９により透過像が収集され、３６０゜方向で得られた多数の透過データから、撮影面１４に平行な１枚あるいは複数枚の断面像が再構成され、表示部２０に表示される。
【００８０】
ここで、積分時間は１透過像の収集時間である。
【００８１】
以上の作用は、スキャン制御部２１と再構成部２４で行なわれる。
【００８２】
操作者は、被検体４の全体の大きさや検査部分の位置や大きさにより、検出距離ＦＤＤと撮影距離ＦＣＤを調整する。
【００８３】
また、検出距離ＦＤＤと撮影距離ＦＣＤを変えた時に、回転中心が視野中心から大きくずれないように回転中心オフセットを変更する。
【００８４】
この回転中心オフセットは、オフセットスキャン（回転中心を視野の端に設定して撮影領域を拡大するスキャン）を行なう時にも動かされる。
【００８５】
必要較正判定部２２では、スキャン前に装置の状態変化から必要になった較正の種類を判定し選択し、表示部２０に表示させる。
【００８６】
操作者が、自動較正スタートを指令すると、自動較正部２３では、必要較正判定部２２で判定選択された種類の較正が自動的に行なわれる。
【００８７】
図３は、装置の状態変化とその時必要な較正の種類の一例を示す図である。
【００８８】
図３において、必要較正判定部２２では、電源投入（全体あるいは一部）時には、全ての較正が選択される。
【００８９】
前回スキャンから、検出距離ＦＤＤ、撮影距離ＦＣＤ、回転中心オフセット、管電圧、管電流、積分時間が変更された場合には、それぞれに対して図示丸印の較正種類（複数変更の場合は論理和）が選択される。
【００９０】
そして、前回較正時と比較して、温度変化が規定値以上になった場合には、エアー較正と回転中心較正が選択される。
【００９１】
また、前回較正時から時間経過が規定値以上になった場合にも、エアー較正と回転中心較正が選択される。
【００９２】
ここで、各較正について順に説明する。
【００９３】
（エアー較正）
まず、エアー較正は、放射線検出器３の利得の較正である。
【００９４】
自動較正部２３では、回転テーブル５を下降させ、Ｘ線をＯＮさせ、Ｘ線ビーム２に何も入らない状態でエアー像が収集される。
【００９５】
この時、飽和が起こらないように、放射線検出器３のゲインが自動設定される。
【００９６】
そして、この設定後、エアー像を多数収集して加算平均して、エアーデータが作成され記憶される。
【００９７】
スキャン時に、このエアーデータは、チャンネル毎の利得補正に使われる。
【００９８】
（歪較正）
また、歪較正は、放射線検出器３の歪の較正である。
【００９９】
歪は、主にＸ線ＩＩの検出面が曲面であることにより生じ、検出距離ＦＤＤにより変化する。
【０１００】
自動較正部２３では、回転テーブル５を下降させ、Ｘ線ビーム２に被検体４が入らないようにして、グリッド板１１が放射線検出器３の前面に挿入される。
【０１０１】
次に、Ｘ線をＯＮさせてグリッド像を撮影し、その歪みから補正係数が求められ記憶される。
【０１０２】
スキャン時に、この係数を使って歪補正がなされる。
【０１０３】
（スライス面較正）
さらに、スライス面較正は、透過像上における撮影面１４の位置を設定する較正である。
【０１０４】
撮影面１４は、Ｘ線焦点Ｆを通って回転軸１３に直交する面と定義される面で、検出距離ＦＤＤあるいは撮影距離ＦＣＤを変えた時に、機構誤差のため透過像上で変化する。
【０１０５】
自動較正部２３では、Ｘ線をＯＮさせ、回転テーブル５を昇降させながら回転テーブル５の透過像が収集される。
【０１０６】
さらに、多数の透過像の中から、ギャップ１５が最もはっきり見える画像が選択され、このギャップ１５の中心を通る線を設定して、スライス面として記憶される。
【０１０７】
このスライス面は、断面像作成の基準座標として使用される。
【０１０８】
（回転中心較正）
また、回転中心較正は、透過像上における回転軸１３の位置を設定する較正である。
【０１０９】
回転軸１３は、検出距離ＦＤＤあるいは撮影距離ＦＣＤを変えた時に、機構誤差のため透過像上で変化する。
【０１１０】
また、管電圧を変えた時にも、Ｘ線焦点がずれるため変化する。
【０１１１】
自動較正部２３では、Ｘ線をＯＮさせ、回転テーブル５を回転させながら、被検体４あるいは回転テーブル５自身の透過像が、３６０度に渡って収集される。
【０１１２】
そして、この透過像を３６０度分平均して平均透過像を作り、これから回転中心が求められる。
【０１１３】
この場合、原理的に、平均画像は回転中心に対して左右が対称になるので、これを利用して、例えば重心算出等で自動的に回転中心が求められる。
【０１１４】
この回転中心線は、断面像作成の基準座標として使用される。
【０１１５】
なお、この回転中心較正は、スキャンで得られた被検体４の透過像自身を使って行なうこともできる。
【０１１６】
この場合には、スキャン後に回転中心較正を行なってから断面像が再構成される。
【０１１７】
（ＦＣＤ較正）
さらに、ＦＣＤ較正は、シフト機構８の図示しないＦＣＤ値読取用エンコーダの較正である。
【０１１８】
撮影距離ＦＣＤ値が真値と異なると、同じ比率で画像上の寸法が変化してしまう。
【０１１９】
自動較正部２３では、スキャンを行ない、回転テーブル５自身の断面像が作成される。
【０１２０】
そして、この断面像で求めた回転テーブル５の直径ｄｇと既知の実測値ｄｔとの比ｄｔ／ｄｇを、現在の撮影距離ＦＣＤ値に乗算して修正撮影距離ＦＣＤ値が求められ、エンコーダが較正される。
【０１２１】
なお、上述した各較正の他に、放射線検出器３のＸ線ＯＦＦ時の出力を求めるオフセット較正があるが、これはスキャン前に通常必ず行なうものであるので、その説明については省略している（システムにより選択的に行なうようにすることもできる）。
【０１２２】
次に、試料の交換を行なう時には、試料扉３１をスライドさせて開いて行なわれる（図２を参照）。
【０１２３】
また、Ｘ線管１や放射線検出器３の調整、交換等のメンテナンスを行なう時には、試料扉３１の他に、メンテナンス扉３２も開いて行なわれる。
【０１２４】
上述したように、本実施の形態によるＣＴスキャナでは、キーボード入力するだけで較正が自動的に行なわれるため、極めて操作が容易となる。
【０１２５】
また、装置の状態変化があった時には、それに見合った種類の較正が自動的に選択され表示されるため、操作者にとって何時どの較正が必要かを心配する必要がなく煩わしさがなくなり、初心者でも極めて容易に扱え、誤操作も少なくすることができる。
【０１２６】
さらに、試料の交換は、軽くて小さな試料扉３１の開閉で行なえ、試料を内部に落下させた時等に、前面から直ちにメンテナンス扉３２を開けて取り出すことができる、試料が重い時にメンテナンス扉３２も開けて開口３０を広くして出し入れできる等、操作性がよくなる。
【０１２７】
また、メンテナンス扉３２が前面にあるので、側面、後面に物を置いたり、壁に付けたりすることができ、スペースファクタがよくなる。
【０１２８】
さらに、メンテナンス扉３２の上に試料扉３１があるので、メンテナンス時の開口がメンテナンス扉３２よりも大きくすることができる（メンテナンス扉３２を小さくすることができる）。
【０１２９】
（その他の実施の形態）
（ａ）前記実施の形態では、操作者の指令で自動較正をスタートさせるようにした場合について説明したが、この指令なしでスキャン開始前に必要になった較正を自動的に行なうようにしてもよい。
【０１３０】
（ｂ）前記実施の形態では、試料扉３１は引き戸式、メンテナンス扉３２はドア式とした場合について説明したが、両方の扉ともいずれの方式であつても構わない。
【０１３１】
（ｃ）前記実施の形態において、扉は少なくとも、試料扉３１およびメンテナンス扉３２の２つとも閉、または試料扉３１およびメンテナンス扉３２の２つとも開、あるいは試料扉３１のみ開、の３つの状態がとれれば、それ以外は任意でよい。
【０１３２】
例えば、メンテナンス扉３２は、試料扉３１が全開の時にのみ開けることができる構造としても、あるいは単独で開け閉めできる構造としてもよいし、また試料扉３１は、メンテナンス扉３２が開の時に閉まらなくてもよいが閉まる構造としてもよい。
【０１３３】
（ｄ）前記実施の形態において、試料扉３１およびメンテナンス扉３２の２つの扉の形状は何でもよく、両者の配置関係も上下でなくてもよい。
【０１３４】
（ｅ）前記実施の形態において、放射線ビームとしては、Ｘ線ビームでなく、γ線ビーム等の放射線ビームを用いてもよい。
【０１３５】
（ｆ）前記実施の形態において、放射線検出器３としては、フラットパネル型２次元検出器でもよく、また放射線ビームを１次元の空間分解能をもって検出する放射線検出器についても、同様に適用することが可能である。
【０１３６】
（ｇ）前記実施の形態において、放射線検出器３のＸ線ＩＩの視野サイズ切換機能を追加することも可能である。
【０１３７】
この場合には、この視野サイズ切換を行なった時に、エアー較正、歪較正、スライス面較正、回転中心較正が選択される。
【０１３８】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、操作に熟練を要さず、操作者にとって扱い易いコンピュータ断層撮影装置が提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるＣＴスキャナの一実施の形態を示す平面図および正面図。
【図２】同実施の形態のＣＴスキャナにおける遮蔽箱の構成例を示す平面図および正面図。
【図３】装置の状態変化とその時必要な較正の種類の一例を示す図。
【図４】従来の高分解能型のＣＴスキャナのシステム構成例を示す概要図。
【図５】従来の較正治具の一例を示す概要図。
【図６】従来の遮蔽箱の詳細な一構成例を示す概要図。
【図７】従来の遮蔽箱の詳細な他の構成例を示す概要図。
【符号の説明】
１…Ｘ線管
２…Ｘ線ビーム
３…放射線検出器
４…被検体
５…回転テーブル
６…回転・昇降機構
７…回転中心オフセット機構
８…シフト機構
９…検出器支持フレーム
１０…Ｘ線管支持フレーム
１１…グリッド板
１２…グリッド駆動部
１３…回転軸
１４…撮影面
１５…ギャップ
１６…高電圧発生器
１７…Ｘ線制御部
１８…機構制御部
１９…データ処理部
２０…表示部
２１…スキャン制御部
２２…必要較正判定部
２３…自動較正部
２４…再構成部
２５…遮蔽箱
３０…開口
３１…試料扉
３２…メンテナンス扉
３３…レール
３４…鉛ガラス
３５…ちょうつがい
１０１…Ｘ線管
１０２…Ｘ線ビーム
１０３…検出器
１０４…被検体
１０５…回転テーブル
１０６…回転・昇降機構
１０７…シフト機構
１０８…支持部
１０９…データ処理部
１１０…機構制御部
１１１…Ｘ線制御部
１１２…Ｘ線ＩＩ
１１３…テレビカメラ
１１４…遮蔽箱
１１５…開口
１１６…試料扉
１１８…回転軸
１１９…撮影面
１２０…グリッド板
１２１…アクリル板
１２２…グリッド（格子）
１２３…ワイヤ板
１２４…アクリル板
１２５…ワイヤ
１２６…中心較正ファントム
１２７…アクリルパイプ
１２８…ワイヤ
１３０…鉛ガラス
１３１…レール
１３２…メンテナンス扉。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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