(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体上の複数のゾーン毎に設けられ複数のセクタにより構成されたテストエリアに対して所定のレーザ光を照射することにより、データ記録時のレーザ光の記録パワーを設定する光ディスク装置において、
前記レーザ光のパワーを任意に制御するレーザ制御手段と、
前記パワーで記録された前記記録媒体上の記録情報を読み出し再生する情報再生手段と、
前記情報再生手段が再生した再生信号の振幅を測定する振幅測定手段と、
前記レーザ制御手段により前記記録媒体上の前記テストエリアにおける所定セクタ対して所定の前記パワーを順次可変してデータの試し書き込みを行い、前記試し書き込みが成された前記テストエリアにおける所定セクタのデータの前記再生信号の振幅測定を行い、振幅測定結果が予め決められた所定の範囲に入ったときの前記パワーであるテストパワーに基づいて前記記録パワーを演算する記録パワー演算手段と、
前記テストエリアにおける、前記所定セクタに対する前記試し書き込みを禁止する試し書き込み禁止手段と、
を備え、
前記試し書き込み禁止手段は、
前記テストエリアにおけるセクタのうち、前記振幅測定の際に隣接するゾーンにおける所定セクタの信号の影響により振幅測定を阻害する位置に配置されたセクタを試し書き込み禁止セクタとして記憶する記憶手段を備え、
前記試し書き込み禁止セクタ記憶手段が記憶した前記試し書き込み禁止セクタに対する前記試し書き込みを禁止する
ことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスク装置、更に詳しくは記録パワーの設定部分に特徴のある光ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光ディスクは、近年急速に発展するマルチメディアの中核となる記億媒体として注目されており、例えば３．５インチの光磁気ディスクでは、旧来の１２８ＭＢや２３０ＭＢに加え、近年にあっては、５４０ＭＢや６４０ＭＢといった高密度記録の記録媒体も提供されつつある。
【０００３】
ところで、例えば３．５インチの光磁気ディスクにあっては、媒体トラックをゾーン分割し、ゾーン毎のセクタ数を同一としたＺＣＡＶ記録（ゾーン定角速度記録）を採用している。光磁気媒体のゾーン数は、従来の１２８ＭＢ媒体では１ゾーン、２３０ＭＢ媒体では１０ゾーンと限られていたが、近年実用化された５４０ＭＢや６４０ＭＢといった高密度の記録媒体にあっては、記録密度の向上に伴って媒体のトラックピッチが狭くなり、ゾーン数も大幅に増加している。
【０００４】
即ち、６４０ＭＢ媒体は１１ゾーンとゾーン数は比較的少ないが、５４０ＭＢ媒体では１８ゾーンとゾーン数が従来の倍近くに増加している。通常、光磁気ディスクの場合、媒体毎に最適な記録パワーに相違があることから、媒体をローディングした際に、ゾーン毎に試し書きを行って最適な記録パワーに調整する発光調整を行っている。
【０００５】
なお、例えば特開平９−２９３２５９号公報に示されるように、内周側のゾーンと外周側のゾーンにおいて試し書きを行ってその間のゾーンにおける記録パワーを直線近似よって求めて発光調整を行うことができる。
【０００６】
また、従来の１２８ＭＢや２３０ＭＢ媒体ではピットポジション変調（ＰＰＭ）による記録であり、発光パワーはイレーズパワーと記録パワーの２段階の変化でよいが、５４０ＭＢや６４０ＭＢ媒体では、記録密度を高めるためにパルス輻変調（ＰＷＭ）による記録を採用している。このＰＷＭ記録では、発光パワーを、イレーズパワー、第ｌライトパワー及び第２ライトパワーの３段階に変化させる必要がある。
【０００７】
一例として、ＩＳＯ／ＩＥＣ１５０４１で規定される、５４０／６４０ＭＢ容量光磁気ディスクでの記録を挙げる。５４０／６４０ＭＢ容量光磁気記録においては、従来の光磁気記録と異なり、「０」と「１」の２値記録のうち、記録値「１」を表すのに、記録信号そのものではなく、記録信号の書き始め及び書き終わり（以下エッジと記載する）を用いている。エッジ記録では、記録信号エッジ部の良好なジッタ特性が要求される。
【０００８】
このため、５４０／６４０ＭＢ光磁気ディスクでは、図１６に示すように、信号記録以前に媒体温度を上昇させるプレヒートパワー（以下Ｐ１と記載する）、前後エッジ部にそれぞれ独立した記録パワーである前エッジ部記録パワー（以下Ｐ２と記載する）及び後エッジ部記録パワー（以下Ｐ３と記載する）を設け、Ｐ１を基底として、前後エッジの熱的干渉をさけるため、Ｐ２及びＰ３を櫛歯状に配置した、いわゆる３値パワーによるパルス列記録により信号の記録を行う。
【０００９】
上述したように、光磁気ディスクの場合、温度や媒体毎に最適な記録パワーに相違があることから、ゾーン毎の記録パワーを試し書きにより決定する必要がある。
【００１０】
そこで、例えば特開昭６２−２８５２５８号公報では、予め標準データをＲＯＭ等に格納し、まず環境温度を測定し、その環境温度に対応した光磁気ディスクの半径毎の駆動電流値を前記標準データから読み出し、この駆動電流値のデューティ比５０％の方形波で半導体レーザを駆動し光磁気ディスクに試し書きを行う。そして、受光素子及び２次歪検出回路等を用い、試し書きにより記録されたデータの再生を行う。このとき再生信号のデューティ比が５０％、つまり２次歪検出回路の出力が零になるように、半導体レーザの駆動電流値を可変させ、記録再生を繰り返すことで、ゾーン毎の記録パワーを決定している。
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記特開昭６２−２８５２５８号公報における再生信号のデューティ比は、光磁気ディスクの感度ムラや回転偏差等により変動するため、再生信号のデューティ比を用いた方法では、精度良く記録パワーの決定を行うことができないといった問題がある。
【００１２】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、記録パワーを精度良く設定することのできる光ディスク装置を提供することを目的としている。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
本発明の光ディスク装置は、記録媒体上の複数のゾーン毎に設けられ複数のセクタにより構成されたテストエリアに対して所定のレーザ光を照射することにより、データ記録時のレーザ光の記録パワーを設定する光ディスク装置において、前記レーザ光のパワーを任意に制御するレーザ制御手段と、前記パワーで記録された前記記録媒体上の記録情報を読み出し再生する情報再生手段と、前記情報再生手段が再生した再生信号の振幅を測定する振幅測定手段と、前記レーザ制御手段により前記記録媒体上の前記テストエリアにおける所定セクタ対して所定の前記パワーを順次可変してデータの試し書き込みを行い、前記試し書き込みが成された前記テストエリアにおける所定セクタのデータの前記再生信号の振幅測定を行い、振幅測定結果が予め決められた所定の範囲に入ったときの前記パワーであるテストパワーに基づいて前記記録パワーを演算する記録パワー演算手段と、前記テストエリアにおける、前記所定セクタに対する前記試し書き込みを禁止する試し書き込み禁止手段と、を備え、前記試し書き込み禁止手段は、前記テストエリアにおけるセクタのうち、前記振幅測定の際に隣接するゾーンにおける所定セクタの信号の影響により振幅測定を阻害する位置に配置されたセクタを試し書き込み禁止セクタとして記憶する記憶手段を備え、前記試し書き込み禁止セクタ記憶手段が記憶した前記試し書き込み禁止セクタに対する前記試し書き込みを禁止することを特徴とする。
【００１４】
本発明の光ディスク装置では、前記レーザ制御手段により前記記録媒体上の前記テストエリアで前記パワーを順次可変してデータを書き込みを行い、前記振幅測定手段により前記テストエリアのデータの前記再生信号の振幅測定を行い、振幅測定結果が予め決められた所定の範囲に入ったときの前記パワーであるテストパワーに基づいて前記記録パワー演算手段が前記記録パワーを演算し、前記制限手段が前記テストエリアでの前記振幅測定を制限することで、記録パワーを精度良く設定することを可能とする。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態について述べる。
【００１６】
図１ないし図１３は本発明の第１の実施の形態に係わり、図１は光磁気ディスク装置の構成を示す構成図、図２は図１の光磁気ディスク装置に装着される光磁気ディスクの記録領域の構成を示す構成図、図３は図２のテストトラック及びバッファトラックの構成を示す構成図、図４は図１の光磁気ディスク装置の作用を説明する第１のフローチャート、図５は図１の光磁気ディスク装置の作用を説明する第２のフローチャート、図６は図５のフローチャートにより演算される記録パワーの一例を示す図、図７は図５のフローチャートに用いられるテストライトパワーに乗算される係数の第１の例を説明する第１の説明図、図８は図５のフローチャートに用いられるテストライトパワーに乗算される係数の第１の例を説明する第２の説明図、図９は図５のフローチャートに用いられるテストライトパワーに乗算される係数の第２の例を説明する第１の説明図、図１０は図５のフローチャートに用いられるテストライトパワーに乗算される係数の第２の例を説明する第２の説明図、図１１は図５のフローチャートに用いられるテストライトパワーに乗算される係数の第２の例を説明する第３の説明図、図１２は図５のフローチャートに用いられるテストライトパワーに乗算される係数の第２の例を説明する第４の説明図、図１３は図４のフローチャートの変形例を示すフローチャートである。
【００１７】
図１に示すように、本実施の形態の光磁気ディスク装置１では、情報を光磁気記録する光磁気ディスク２が挿入され、図示しないローディング機構によって光磁気ディスク２がスピンドルモータ３に装着され回転駆動するようになっている。スピンドルモータ３の近傍には光学へッドとしての光ピックアップ４が光磁気ディスク２の半径方向に移動可能なように設置されており、光磁気ディスク２に向かって記録再生用のレーザ光５を照射するようになっている。
【００１８】
光ピックアップ４にはレーザ光５を発光するレーザダイオード（以下、ＬＤと記す）６と、光磁気ディスク２からの反射光を受光するフォトディテクタ（以下、ＰＤと記す）７とが設けられ、ＬＤ６からのレーザ光５を微小なスポットに絞って出射すると共に光磁気ディスク２からの反射光をＰＤ７へ照射する図示しない光学系が設置されている。
【００１９】
また、ＬＤ６にはＬＤドライバ８が接続されており、このＬＤドライバ８によりＬＤ６に駆動電流が供給されるようになっている。一方、ＰＤ７にはへッドアンプ９を介してアナログ信号処理回路１０が接続されており、ＰＤ７の出力信号がヘッドアンプ９で増幅された後アナログ信号処理回路１０によって２値化されるようになっている。
【００２０】
アナログ信号処理回路１０で２値化された２値化信号はドライブコントローラ１１に送られ、ドライブコントローラ１１で復調及びエラー訂正処理が行われ、光磁気ディスク２に記録されていたデータとして読み出される。この読み出されたデータは、例えば図示しないホストコンピュータに送られ各種処理が行われる。
【００２１】
また、振幅検出回路１２はへッドアンプ９で増幅されたＰＤ７の出力信号の波高値を検出する。振幅検出回路１２で検出された波高値はドライブコントローラ１１に読み込まれ、例えば検出信号を２値化するのに適切な目標値と比較され図示しない可変ゲインアンプのゲインを調整し、アナログ信号処理回路１０において安定して２値化処理が行えるようになっている。
【００２２】
また、ドライブコントローラ１１には記録パワー演算回路１３及び記憶回路１４が接続されており、ドライブコントローラ１１の制御により記録パワー演算回路１３では、後述する光磁気ディスク２のテストトラックにおける試し書き用のテストライトパワーの決定と、このテストライトパワーに基づく光磁気ディスク２の各ゾーンにおける実際の記録パワーの演算とを実行するようになっている。一方、記憶回路１４には、テストトラックでの試し書きを禁止するセクタが記憶されている。
【００２３】
なお、光磁気ディスク装置１には図示しないフォーカシング手段及びトラッキング手段が設けられている。
【００２４】
光磁気ディスク２は、例えば５４０ＭＢ媒体であって、図２に示すように、ゾーン０からゾーン１７の１８のゾーンが設けられている（ＩＳＯ／ＩＥＣ１５０４１参照）。また、各ゾーンにはデータを記録するためのユーザエリアの他に隣接するゾーンとの間にバッファトラックが設けられ、さらに、ユーザエリアの最外周部分とバッファトラックとの間にテストトラックが設けられている。一般に、このテストトラックで試し書きを行い光磁気ディスクの記録パワーを決定するが、本実施の形態では、内周側ゾーンであるゾーン０のテストトラックでまず試し書きを行いゾーン０での記録パワーを決定し、次に外周側ゾーンであるゾーン１６のテストトラックで試し書きを行いゾーン１６での記録パワーを決定し、このゾーン０での記録パワー及びゾーン１６での記録パワーを用い直線近似することにより他のゾーンの記録パワーを決定するようになっている。
【００２５】
ここで、図３に示すように、同一ゾーン（ゾーン０またはゾーン１６）ではセクタが放射状に設けられていて径方向の同一位置にセクタのＩＤ部が設けられているが、隣接するゾーン（ゾーン１またはゾーン１７）ではセクタの構成が異なるためＩＤ部の径方向の位置が異なるため、テストトラックでの試し書きにおいては、セクタによっては読み出し時にこの隣接するゾーンのＩＤ部の信号が複屈折のため漏れ込んで、スパイクノイズ等が発生するため、振幅検出回路１２による信号振幅が正確に測定できないという問題がある。
【００２６】
そこで、本実施の形態では、表１に示すゾーン０におけるテストトラックでの試し書き禁止セクタと、表２に示すゾーン１６におけるテストトラックでの試し書き禁止セクタとが記憶回路１４に格納されている。
【００２７】
【表１】
0003981207.tif 000002
【表２】
0003981207.tif 000003
なお、上述したように、本実施の形態では、ゾーン０及びゾーン１６で試し書きを行うとしたが、これに限らず、１つのゾーン例えばゾーン０のみで試し書きを行い、決定した記録パワーに基づき直線近似することにより他のゾーンの記録パワーを決定するようにしても良くこの場合は記録パワーの設定時間が短縮でき、また、ゾーン０及びゾーン１６の２つのゾーン以外の１つまたは複数のゾーンに対して試し書きを行ってもよくこの場合各ゾーンの記録パワーを精度良く決定することができる。
【００２８】
次にこのように構成された本実施の形態の作用について説明する。すなわち、本実施の形態の光磁気ディスク装置１での試し書きによる記録パワーの決定方法について説明する。
【００２９】
まず、光磁気ディスク２が光磁気ディスク装置１にローディングされると、図４に示すように、ドライブコントローラ１１は、ステップＳ１で試し書きを行うテストトラックヘ光ピックアップを移動する。この場合のテストトラックはゾーン０のテストトラックである（図２参照）。
【００３０】
次に、ステップＳ２でテストライトパワーＰｔに予め決定された初期値を設定し、ステップＳ３で記憶回路１４に格納されている試し書き禁止セクタを除いた試し書きを行うテストトラックの所定のセクタにライトする。
【００３１】
ここで、ライトするデータパターンは後の動作で振幅測定を行うため、単一パターンの繰り返しが望ましい。
【００３２】
そして、ドライブコントローラ１１はステップＳ４において、ステップＳ３でライトしたデータの振幅を振幅検出回路１２からの出力をモニタすることにより測定し、ステップＳ５においてステップＳ４でモニタした振幅値が予め規定しておいた規定下限値よりも小さいかどうか判断し、小さければステップＳ６でテストライトパワーＰｔを増加させ、さらにステップＳ７で増加させたテストライトパワーＰｔが実際の記録パワーの上限値Ｐｍａｘに達したかどうか判断し、上限値Ｐｍａｘに達した場合にはエラー処理を行い処理を終了し、上限値Ｐｍａｘに達していない場合にはステップＳ３に戻り再度ライトを行う。
【００３３】
また、ステップＳ５でモニタした振幅値が予め規定しておいた規定下限値以上と判断した場合には、ステップＳ８において、モニタした振幅値が予め規定しておいた規定上限値以内かどうか判断し、規定上限値を越えていればステップＳ９でテストライトパワーＰｔを減少させ、さらにステップＳ１０で減少させたテストライトパワーＰｔが実際の記録パワーの下限値Ｐｍｉｎに達したかどうか判断し、下限値Ｐｍｉｎに達した場合にはエラー処理を行い処理を終了し、下限値Ｐｍｉｎに達していない場合にはステップＳ３に戻り再度ライトを行う。この動作を繰り返して、ライトしたデータの振幅値が規定された範囲内になるテストライトパワーＰｔを決定する。
【００３４】
なお、振幅の目標値（規定範囲の中心）が小さすぎるとノイズによる振幅測定の誤差が大きくなり好ましくない。逆に振幅の目標値が大きすぎるとライトしたデータの振幅が飽和してくるため、ライトパワー変動に対する振幅の変動が小さくなりテストライトパワーＰｔの誤差が大きくなるため好ましくない。
【００３５】
そして、ステップＳ８でモニタした振幅値が予め規定しておいた規定上限値以内と判断した場合には、図５に示すように、ステップＳ１１で決定したテストライトパワーでテストトラックの別のセクタでライトを行い、ステップＳ１２でライトしたデータの振幅をモニタする。そして、ステップＳ１３でこの別にセクタでモニタした振幅値が規定上限値及び規定下限値で定められる規定値の範囲内であるかどうか判断し、範囲外ならばステップＳ１４で更なる別のセクタに移動し、図４のステップＳ２に戻り処理を繰り返す。
【００３６】
そして、ステップＳ１３において振幅値が規定値の範囲内ならば、記録パワー演算回路１３によりステップＳ１５で上記の処理で決定したテストライトパワーＰｔに対して係数倍した値を実際にデータをライトする際の記録パワーとする。ここで、図６に示すようなパルス列による多値記録の場合には、それぞれのピークパワー（Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，…，Ｐｎ）について決定したテストライトパワーＰｔを係数倍（α１，α２，α３，…，αｎ）することで求める。なお、この係数α１，α２，α３，…，αｎは、予め記録パワー演算回路１３に格納されている。
【００３７】
続いて、図５に戻り、ステップＳ１６において、ステップＳ１５で決めた記録パワーで所定のセクタにライトを行い、ステップＳ１７でライトが正常かどうか判断し（ベリファイ時にエラーとならない）、できていない場合にはエラー処理を行い処理を終了し、できている場合にはステップＳ１８でテストトラックがゾーン１６かどうか判断し、ゾーン１６ならばゾーン０とゾーン１６での記録パワーに基づいて直線近似を行い他のゾーンの記録パワーを決定して処理を終了する。
【００３８】
上記の説明ではテストトラックはゾーン０であるので、ステップＳ１８から図４のステップＳ１に戻り、ステップＳ１でゾーン１６のテストトラックに移動し、上記処理を繰り返しゾーン１６における記録パワーを決定し、ステップＳ１８でゾーン０とゾーン１６での記録パワーに基づいて直線近似を行い他のゾーンの記録パワーを決定して処理を終了する。なお、ゾーン１６のときのステップＳ２におけるテストライトパワーＰｔの初期値は、ゾーン０で決定したテストライトパワーＰｔに基づき算出され設定される。
【００３９】
上記係数αｉ（ｉ＝１〜ｎ）は温度やディスクフォーマット、試し書きを行うバンド，ディスクの種類（ダイレクトオーバライト（ＤＯＷ）のディスクか、ダイレクトオーバライトではない（ＮＯＮ一ＤＯＷ）ディスク等）によって適正値を設定することが望ましい。
【００４０】
ここで、係数αｉ（ｉ＝１〜ｎ）の設定の第１の例を、３値パワー（Ｐ１，Ｐ，Ｐ３）によるパルス列記録により信号の記録を行う場合を例に説明する。
【００４１】
一般に、光ディスク記録の信号判定には、エラーレートによる判定が用いられている。上記３値をそれぞれ可変にした際、エラーレートはそれぞれ変動するが、光ディスクドライブの信号読み取りにおいてはエラー訂正（以下、ＥＣＣと記載する）が行われ、あるレベルまでのエラーレート特性を持つ記録信号であれば正常に信号読み取りが可能になる。Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３の比率を一定にして、Ｐ３についてパワーを可変にした際のエラーレート特性の変動を図７のグラフに記裁する。このとき、黒線にて記載したエラーレートを、ＥＣＣによる補正可能なエラーレート限界とすると、図７での良好な記録領域は、
Ｐｍｉｎ≦Ｐ３≦Ｐｍａｘ
で規定される（以下、この記録領域Ｐｍａｘ−Ｐｍｉｎをパワーマージンと記載する）。
【００４２】
Ｐ１：Ｐ２：Ｐ３の比をそれぞれ変更して、Ｐ３を可変にしたときのエラーレート測定を行うと、各々の比に対するパワーマージンを測定することができる。これを用いて、ｘ軸にＰ１とＰ３の比、ｙ軸にＰ２とＰ３の比、ｚ軸にパワーマージン値をプロットしたグラフを作成すると、図８に示すようなｚ軸方向に対してパワーマージンの等高線を描いたグラフを作成できる。このグラフのうち、山頂部位、最もパワーマージンが確保できる領域をＰ３に対する各々Ｐ１、Ｐ２のパワー比率とする。
【００４３】
すなわち
Ｐ１＝ａ１×Ｐ３，Ｐ２＝ａ２×Ｐ３      （ａ１，ａ２は定数）
さらに、上記パワーマージン山頂部でのＰ２に対するエラーレート特性グラフのうち、書き始めパワーＰｍｉｎに、ドライブで記録を行う際に予測されうるパワー変動、例えばテストライトパワーＰｔの測定での検出誤差、ドライブ電気系での誤差をマージンとして見積もり、Ｐ３の目標値とする。
【００４４】
つまり、
Ｐ３＝Ｐｍｉｎ／ｂ  （ｂは光ディスクドライブ記録時に考えられる誤差）
ここで、ドライブで考慮される最大誤差を見積もることで、ｂを定数として規定できる。また、テストライトパワーＰｔに対してのＰｍｉｎの比率をｃとすると、
Ｐｍｉｎ＝ｃ×Ｐｔ
Ｐｍｉｎ、Ｐｔは共に媒体の記録感度により変動する値なので、その比は一意の定数ｃで表される。
【００４５】
従って、テストライトパワーＰｔを求めることで、
Ｐ１＝ａ１×ｃ／ｂ×Ｐｔ＝α１×Ｐｔ
Ｐ２＝ａ２×ｃ／ｂ×Ｐｔ＝α２×Ｐｔ
Ｐ３＝ｃ／ｂ×Ｐｔ＝α３×Ｐｔ
となり、テストライトパワーＰｔに対して、各最適な３値パワーＰ１，Ｐ２，Ｐ３は一意の定数比率、α１，α２，α３にて規定される。
【００４６】
つまり、このα１，α２，α３を記録パワー演算回路１３に格納すればよい。
【００４７】
次に係数αｉ（ｉ＝１〜ｎ）の設定の第２の例を説明する。ＩＳＯ／ＩＥＣ１５０４１で規定される５４０／６４０ＭＢ容量光磁気ディスクの中には、光変調ダイレクトオーバーライト記録（以下、ＬＩＭ一ＤＯＷと記載する）ディスクも規定されている。ＬＩＭ一Ｄ０Ｗディスクにおいては、上記３値のパルス列記録のうち、Ｐ１のパワーにて消去動作、Ｐ２及びＰ３のパワーにて記録を行うことにて消去動作を行うことなく、上書き記録を可能としている。
【００４８】
このときパワーＰ１には、記録信号のジッタ特性の最適化の他に、消去動作も同時に行うため、消去に十分なマージンを持って設定されることが望まれる。ＬＩＭ−ＤＯＷディスクの消去及び記録特性を図９に記載する。Ｐ１をテストライトパワーＰｔから一定比α１で設定する場合、テストライトパワーＰｔのディスク、ドライブの生産ばらつきによる変動分を±ｄとすると、
±ｄ１＝±ｄ×α１
で、消去動作、及び十分な記録パワーマージンがあることを確認する必要がある。
【００４９】
そこで、Ｐ１及びＰ１±ｄ１にてＰ１値を固定し、さらにＰ２：Ｐ３の比を変えてＰ３についてパワーマージン測定を行った結果を図１０ないし図１２に記載する。図１０ないし図１２でＰ２：Ｐ３の比で最もパワーマージンが確保でき、かつ、Ｐ１±ｄ１でパワーマージンの取れるＰ１を選択し、前記Ｐ１とＰｔとの比を
Ｐ１＝α１×Ｐｔ
とする。さらに、前記Ｐ２：Ｐ３の最適比より、
Ｐ２＝ａ２×Ｐ３
とし、さらに、Ｐ３の書き始めに対してドライブで考慮される最大誤差ｂを見積もり、
Ｐ３＝Ｐｍｉｎ／ｂ
さらに、Ｐ３及びＰｔの比は感度に依存するので、
Ｐｍｉｎ＝ｃ×Ｐｔ
となる。
【００５０】
従って、ＬＩＭ一ＤＯＷディスクにおいても、通常のディスクと同様に、
Ｐ１＝α１×Ｐｔ
Ｐ２＝ａ２×ｃ／ｂ×Ｐｔ＝α２×Ｐｔ
Ｐ３＝ｃ／ｂ×Ｐｔ＝α３×Ｐｔ
となり、テストライトパワーＰｔに対して、各最適な３値パワーＰ１，Ｐ２，Ｐ３は一意の定数比率、α１，α２，α３にて規定される。
【００５１】
つまり、ＬＩＭ一ＤＯＷディスクの場合も、このα１，α２，α３を記録パワー演算回路１３に格納すればよい。
【００５２】
以上のように、本実施の形態では、ライトした情報の再生信号の振幅を測定し、その測定値に基づきテストライトパワーＰｔを決定し、決定したテストライトパワーＰｔに所定の係数を乗算することで記録パワーを設定しており、振幅測定が光磁気ディスクの感度ムラや回転偏差等の影響を受けることがないので、精度良く各ゾーンの記録パワーを設定することができる。
【００５３】
なお、テストライトパワーＰｔの決定を、図３におけるステップＳ１〜Ｓ１０で行うとしたが、これに限らず、図１３に示すようにしても良い。
【００５４】
すなわち、図１３に示すように、ステップＳ１〜Ｓ４の処理を終えた後、ステップＳ３１にて、ステップＳ４でモニタした振幅値が予め規定しておいた第１目標下限値よりも小さいかどうか判断し、小さければステップＳ３２でテストライトパワーＰｔを例えば０．３ｍＷ増加させ、ステップＳ３に戻り再度ライトを行う。
【００５５】
また、ステップＳ３１にてステップＳ４でモニタした振幅値が予め規定しておいた第１目標下限値以上と判断した場合には、ステップＳ３３において、モニタした振幅値が予め規定しておいた第１目標上限値以内かどうか判断し、第１目標上限値を越えていればステップＳ３４でテストライトパワーＰｔを例えば０．３ｍＷ減少させ、ステップＳ３に戻り再度ライトを行う。
【００５６】
そして、ステップＳ３３においてモニタした振幅値が予め規定しておいた第１目標上限値以内と判断した場合には、ステップＳ３５で第１目標下限値から第１目標上限値の範囲のテストライトパワーＰｔで所定のセクタにライトする。ステップＳ３６にて、ステップＳ３５でライトしたデータの振幅を振幅検出回路１２からの出力をモニタすることにより測定し、ステップＳ３７でモニタした振幅値が予め規定しておいた第１目標下限値より大きい第２目標下限値よりも小さいかどうか判断し、小さければステップＳ３８でテストライトパワーＰｔを例えば０．１ｍＷ増加させ、ステップＳ３５に戻り再度ライトを行う。
【００５７】
また、ステップＳ３７にてステップＳ３６でモニタした振幅値が予め規定しておいた第２目標下限値以上と判断した場合には、ステップＳ３９において、モニタした振幅値が予め規定しておいた第１目標上限値より小さい第２目標上限値以内かどうか判断し、第２目標上限値を越えていればステップＳ４０でテストライトパワーＰｔを例えば０．１ｍＷ減少させ、ステップＳ３５に戻り再度ライトを行う。この動作を繰り返して、ライトしたデータの振幅値が規定された範囲内になるテストライトパワーＰｔを決定し、その後の処理を図４で説明したステップＳ１１に移行するようにしてもよい。
【００５８】
図１３のように処理することで、テストライトパワーＰｔの決定を振幅範囲レベルに応じて２段階で行っているため、高速にテストライトパワーＰｔを決定することができるという効果がある。
【００５９】
図１４及び図１５は本発明の第２の実施の形態に係わり、図１４は光磁気ディスク装置の構成を示す構成図、図１５は図１４の光磁気ディスク装置の作用を示すタイミング図である。
【００６０】
第２の実施の形態は、第１の実施の形態とほとんど同じであるので、異なる点のみ説明し、同一の構成には同じ符号をつけ説明は省略する。
【００６１】
図１４に示すように、本実施の形態の光磁気ディスク装置１ａでは、ドライブコントローラ１１からのセクタのセクタマーク（ＳＭ）をトリガとして所定値をカウントする第１のカウンタ２１及び第２のカウンタ２２と、ドライブコントローラ１１の制御により第１のカウンタ２１または第２のカウンタ２２のカウントアップ信号を振幅検出回路１２ａに出力するセレクタ２３とが設けられており、振幅検出回路１２ａはセレクタ２３からの第１のカウンタ２１または第２のカウンタ２２のカウントアップ信号が入力されると振幅検出を行うようになっている。
【００６２】
試し書きの際、ドライブコントローラ１１は、図１５に示すように、セクタマークを読み込むとトリガ信号を第１のカウンタ２１及び第２のカウンタ２２に出力する。第１のカウンタ２１は、第１の時間カウントしカウントアップ信号をセレクタ２３に出力し、第２のカウンタ２２は、第１の時間より長い第２の時間カウントしカウントアップ信号をセレクタ２３に出力する。ドライブコントローラ１１は、テストトラックの現在のセクタが記憶回路１４に記憶されている試し書き禁止セクタ（表１及び表２参照）の場合、第２のカウンタ２２のカウントアップ信号を選択するようにセレクタ２３を制御し、テストトラックの現在のセクタが記憶回路１４に記憶されている試し書き禁止セクタでない場合は、第１のカウンタ２１のカウントアップ信号を選択するようにセレクタ２３を制御する。これにより振幅検出回路１２ａは、セクタマークのあるＩＤ部から所定の距離離れたデータ記録部で振幅測定を行う。
【００６３】
その他の構成及び作用は第１の実施の形態と同じである。
【００６４】
このように本実施の形態では、第１の実施の形態と同様に、隣接するバッファトラックのＩＤ部の信号の影響を排除することができるという効果に加え、影響されるセクタでの振幅測定が可能であるので、効率的な測定が可能となる。
【００６５】
【発明の効果】
以上説明したように本発明の光ディスク装置によれば、レーザ制御手段により記録媒体上のテストエリアでパワーを順次可変してデータの書き込みを行い、振幅測定手段によりテストエリアのデータの再生信号の振幅測定を行い、振幅測定結果が予め決められた所定の範囲に入ったときのパワーであるテストパワーに基づいて記録パワー演算手段が記録パワーを演算し、制限手段がテストエリアでの振幅測定を制限するので、記録パワーを精度良く設定することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係る光磁気ディスク装置の構成を示す構成図
【図２】図１の光磁気ディスク装置に装着される光磁気ディスクの記録領域の構成を示す構成図
【図３】図２のテストトラック及びバッファトラックの構成を示す構成図
【図４】図１の光磁気ディスク装置の作用を説明する第１のフローチャート
【図５】図１の光磁気ディスク装置の作用を説明する第２のフローチャート
【図６】図５のフローチャートにより演算される記録パワーの一例を示す図
【図７】図５のフローチャートに用いられるテストライトパワーに乗算される係数の第１の例を説明する第１の説明図
【図８】図５のフローチャートに用いられるテストライトパワーに乗算される係数の第１の例を説明する第２の説明図
【図９】図５のフローチャートに用いられるテストライトパワーに乗算される係数の第２の例を説明する第１の説明図
【図１０】図５のフローチャートに用いられるテストライトパワーに乗算される係数の第２の例を説明する第２の説明図
【図１１】図５のフローチャートに用いられるテストライトパワーに乗算される係数の第２の例を説明する第３の説明図
【図１２】図５のフローチャートに用いられるテストライトパワーに乗算される係数の第２の例を説明する第４の説明図
【図１３】図４のフローチャートの変形例を示すフローチャート
【図１４】本発明の第２の実施の形態に係る光磁気ディスク装置の構成を示す構成図
【図１５】図１４の光磁気ディスク装置の作用を示すタイミング図
【図１６】従来のパルス列記録における記録パワーの波形を示す図
【符号の説明】
１…光磁気ディスク装置
２…光磁気ディスク
３…スピンドルモータ
４…光ピックアップ
６…ＬＤ
７…ＰＤ
８…ＬＤドライバ
９…へッドアンプ
１０…アナログ信号処理回路
１１…ドライブコントローラ
１２…振幅検出回路
１３…記録パワー演算回路
１４…記憶回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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