(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの本番の記録に先立ち、当該光ディスクに対してテスト記録を行うテスト記録ステップと、
前記光ディスクにおける前記テスト記録された領域の再生信号を取得する再生ステップと、
前記テスト記録領域の再生信号に基づいて、β値もしくは記録レーザパワー値と記録状態の品位に関する所定のパラメータとの関係を示す第１の記録特性を、１または複数の記録速度毎に求める第１導出ステップと、
前記１または複数の記録速度毎に求められた第１の記録特性と、予め記憶されている良好な記録を行うために前記所定のパラメータの取りうる値を示す第１の好適値情報とに基づいて、記録速度と、前記第１の好適値情報に示される値を取るための前記β値もしくは前記記録レーザパワー値の取りうる範囲との関係を示す第２の記録特性を求める第２導出ステップと、
前記第２の記録特性と、予め記憶されている良好な記録を行うために前記β値もしくは前記記録レーザパワー値が取りうる値を示す第２の好適値情報とに基づいて、前記光ディスクに対する適正な記録を行える記録可能速度を求める記録速度導出ステップと
を具備することを特徴とする光ディスク記録速度判定方法。
【請求項２】
前記光ディスクの種別を判別する判別ステップをさらに具備し、
前記第２導出ステップでは、前記ディスクの種別毎に複数記録されている前記第１の好適値情報の中から、前記判別ステップで判別されたディスクの種別に対応したものを選択し、
前記記録速度導出ステップでは、前記ディスクの種別毎に複数記録されている前記第２の好適値情報の中から、前記判別ステップで判別されたディスクの種別に対応したものを選択する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録速度判定方法。
【請求項３】
前記所定のパラメータは、フレーム同期信号の検出回数、Ｃ１エラー、ジッター、デビエーション、変調度、反射率、再生信号の振幅の少なくとも１つを含む
ことを特徴とする請求項１または２に記載の光ディスク記録速度判定方法。
【請求項４】
光ディスク上にレーザ光を照射して情報を記録する光ディスク記録装置であって、
前記光ディスクに対する本番の記録に先立ち、当該光ディスクに対してテスト記録を行うテスト記録手段と、
前記光ディスクにおける前記テスト記録された領域の再生信号を取得する再生手段と、
前記再生手段によって再生された前記テスト記録領域の再生信号に基づいて、β値もしくは記録レーザパワー値と、記録状態の品位に関する所定のパラメータとの関係を示す第１の記録特性を、１または複数の記録速度毎に求める第１導出手段と、
良好な記録を行うために前記所定のパラメータの取りうる値を示す第１の好適値情報を記憶する第１記憶手段と、
前記１または複数の記録速度毎に求められた第１の記録特性と、前記第１記憶手段に記憶されている前記第１の好適値情報とに基づいて、記録速度と、前記第１の好適値情報に示される値を取るための前記β値もしくは前記記録レーザパワー値の取りうる範囲との関係を示す第２の記録特性を求める第２導出手段と、
良好な記録を行うために前記β値もしくは前記記録レーザパワー値が取りうる値を示す第２の好適値情報を記憶する第２記憶手段と、
前記第２の記録特性と、前記第２記憶手段に記憶されている第２の好適値情報とに基づいて、前記光ディスクに対する適正な記録を行える記録可能な速度を求める記録速度導出手段と
を具備することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項５】
前記光ディスクの種別を判別するディスク種別判別手段をさらに具備し、
前記第１記憶手段は、前記ディスクの種別毎に前記第１の好適値情報を記憶しており、
前記第２記憶手段は、前記ディスクの種別毎に前記第２の好適値情報を記憶しており、
前記第２導出手段は、前記ディスクの種別毎に複数記録されている前記第１の好適値情報の中から、前記ディスク種別判別手段によって判別されたディスクの種別に対応したものを選択し、
前記記録速度導出手段は、前記ディスクの種別毎に複数記録されている前記第２の好適値情報の中から、前記ディスク種別判別手段によって判別されたディスクの種別に対応したものを選択する
ことを特徴とする請求項４に記載の光ディスク記録装置。
【請求項６】
前記所定のパラメータは、フレーム同期信号の検出回数、Ｃ１エラー、ジッター、デビエーション、変調度、反射率、再生信号の振幅の少なくとも１つを含む
ことを特徴とする請求項４または５に記載の光ディスク記録装置。
【請求項７】
ユーザの指示にしたがって記録速度を設定する設定手段と、前記設定手段によって設定された記録速度と、前記記録速度導出手段によって導出された記録可能速度とに基づいて、前記設定された記録速度での記録が可能な否かを判別する記録判別手段と
をさらに具備することを特徴とする請求項４ないし６のいずれかに記載の光ディスク記録装置。
【請求項８】
前記記録判別手段によって記録が不可能であると判別された場合に、前記設定手段によって設定された記録速度を、前記前記記録速度導出手段によって導出された記録可能速度内の記録速度に変更する速度変更手段をさらに具備する
ことを特徴とする請求項７に記載の光ディスク記録装置。
【請求項９】
前記速度変更手段によって変更された速度で記録を行った場合に、記録に要する時間を予測する時間予測手段と、
前記時間予測手段によって予測された時間をユーザに報知する報知手段と
をさらに具備することを特徴とする請求項８に記載の光ディスク記録装置。
【請求項１０】
前記光ディスクに対する記録時に、前記光ディスクを定線速度で駆動する定線速度モードおよび前記光ディスクを定角速度で駆動する定角速度モードの両者を選択的に実行するディスク駆動手段と、
前記記録速度導出手段によって導出された記録可能速度に基づいて、前記ディスク駆動手段の駆動モードを制御する駆動モード制御手段と
をさらに具備することを特徴とする請求項４ないし９のいずれかに記載の光ディスク記録装置。
【請求項１１】
当該装置にセットされた前記光ディスクの種別を判別するディスク種別判別手段と、
光ディスクの種別情報と、記録可能最大速度情報とを対応受けた速度情報記憶手段と、
前記速度情報記憶手段の記憶内容を参照し、前記ディスク種別判別手段によって判別された光ディスクの種別に基づいて記録可能最大速度を取得し、該取得した記録可能最大速度と、設定された速度とを比較し、取得した記録可能最大速度が設定された速度よりも小さい場合には、取得した記録可能最大速度を設定速度として記録を実行する記録実行手段と
をさらに具備することを特徴とする請求項４に記載の光ディスク記録装置。
【請求項１２】
当該装置にセットされた前記光ディスクの種別を判別するディスク種別判別手段と、
当該装置において良好な記録を行えない光ディスクの種別情報を記憶した記録不能ディスク記憶手段と、
前記ディスク種別判別手段によって判別された光ディスクの種別が、前記記録不能ディスク記憶手段に記憶されている光ディスク種別情報に含まれる場合には、当該光ディスクに対する記録の実行を禁止する禁止手段と
をさらに具備することを特徴とする請求項４に記載の光ディスク記録装置。
【請求項１３】
当該装置にセットされた前記光ディスクの種別を判別するディスク種別判別手段と、
当該装置において良好な記録を行えない光ディスクの種別情報を記憶した記録不能ディスク記憶手段と、
前記ディスク種別判別手段によって判別された光ディスクの種別が、前記記録不能ディスク記憶手段に記憶されている光ディスク種別情報に含まれる場合には、その旨をユーザに報知する報知手段と
をさらに具備することを特徴とする請求項４に記載の光ディスク記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＣＤ−Ｒ（Compact Disc-Recordable）やＣＤ−ＲＷ（Compact Disc-ReWritable）などの光ディスクに情報を記録する際に良好な記録が行える記録速度を判定する光ディスク記録速度判定方法および光ディスク記録装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒ（Digital Versatile Disc-Recordable）等の光ディスクに対する記録方法として、標準の線速度（１倍速）よりも高い線速度（例えば、２倍速、４倍速、……等）で記録する高速記録が行われている。
【０００３】
従来は、上記のような記録速度倍率に応じて記録レーザパワーや照射時間、照射開始タイミング等を調整するいわゆるストラテジーの変更により、各倍速の記録速度において読取エラーの少ない記録を行うようにしていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、記録する光ディスクの種類によっては、高倍速の記録に対応していないものもあり、このような光ディスクに高倍速で記録を行った場合には記録エラーが発生する虞が高い。また、高倍速の記録に対応した光ディスクに対して記録を行う場合にも、記録装置と当該光ディスクとの相性によっては記録エラーが発生してしまうこともあり、このような記録エラーが発生するとその領域を再生できなくなってしまうこともある。
【０００５】
従来から本番の記録に先立ち、光ディスクにおける所定の領域に、設定された記録速度でテスト記録を行い、当該記録速度で最適な記録を行える記録レーザパワーを求めるＯＰＣ（Optimum Power Control：記録ビームの最適記録パワー調整）が実施されているが、ＯＰＣではどのような速度で記録できるかといったことを判別することはできない。記録すべき光ディスクと、該光ディスクに記録を行う記録装置との組み合わせでどの程度高速で記録できるかといったことを判別することができると、その光ディスクとその記録装置との組み合わせで記録エラーを招くことなく、より短い時間で記録を行うことも可能となるが、従来では良好な記録が実現できる記録速度の範囲を判別する有効な手法は提案されていなかった。
【０００６】
本発明は、上記の事情を考慮してなされたものであり、ある光ディスクに対する記録を行う際に、記録エラーの少ない良好な記録を実現可能な記録速度を判定することができる光ディスク記録速度判定方法および光ディスク記録装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するため、本発明に係る光ディスク記録速度判定方法は、光ディスクの本番の記録に先立ち、当該光ディスクに対してテスト記録を行うテスト記録ステップと、前記光ディスクにおける前記テスト記録された領域の再生信号を取得する再生ステップと、前記テスト記録領域の再生信号に基づいて、β値もしくは記録レーザパワー値と記録状態の品位に関する所定のパラメータとの関係を示す第１の記録特性を、１または複数の記録速度毎に求める第１導出ステップと、前記１または複数の記録速度毎に求められた第１の記録特性と、予め記憶されている良好な記録を行うために前記所定のパラメータの取りうる値を示す第１の好適値情報とに基づいて、記録速度と、前記第１の好適値情報に示される値を取るための前記β値もしくは前記記録レーザパワー値の取りうる範囲との関係を示す第２の記録特性を求める第２導出ステップと、前記第２の記録特性と、予め記憶されている良好な記録を行うために前記β値もしくは前記記録レーザパワー値が取りうる値を示す第２の好適値情報とに基づいて、前記光ディスクに対する適正な記録を行える記録可能速度を求める記録速度導出ステップとを具備することを特徴としている。
【０００８】
本発明によれば、本番の記録を行う光ディスクに対してテスト記録を行い、当該テスト記録の結果から、記録状態の品位に関するパラメータが好適な範囲内に収まるようなβ値もしくは記録レーザパワー値の範囲を導出し、導出したβ値もしくは記録レーザパワー値が好適な値に収まるような記録速度を求めることができるので、記録エラーの少ない良好な記録を実現することが可能な記録速度を判定することができる。
【０００９】
また、上記方法において、前記光ディスクの種別を判別する判別ステップをさらに具備するようにし、前記第２導出ステップでは、前記ディスクの種別毎に複数記録されている前記第１の好適値情報の中から、前記判別ステップで判別されたディスクの種別に対応したものを選択し、前記記録速度導出ステップでは、前記ディスクの種別毎に複数記録されている前記第２の好適値情報の中から、前記判別ステップで判別されたディスクの種別に対応したものを選択するようにしてもよい。
また、上記方法において、前記所定のパラメータは、所定周期内の同期信号の検出回数、Ｃ１エラー、ジッター、デビエーション、変調度、反射率、再生信号の振幅の少なくとも１つを含むようにしてもよい。
【００１０】
また、本発明に係る光ディスク記録装置は、光ディスク上にレーザ光を照射して情報を記録する光ディスク記録装置であって、前記光ディスクに対する本番の記録に先立ち、当該光ディスクに対してテスト記録を行うテスト記録手段と、前記光ディスクにおける前記テスト記録された領域の再生信号を取得する再生手段と、前記再生手段によって再生された前記テスト記録領域の再生信号に基づいて、β値もしくは記録レーザパワー値と、記録状態の品位に関する所定のパラメータとの関係を示す第１の記録特性を、１または複数の記録速度毎に求める第１導出手段と、良好な記録を行うために前記所定のパラメータの取りうる値を示す第１の好適値情報を記憶する第１記憶手段と、前記１または複数の記録速度毎に求められた第１の記録特性と、前記第１記憶手段に記憶されている前記第１の好適値情報とに基づいて、記録速度と、前記第１の好適値情報に示される値を取るための前記β値もしくは前記記録レーザパワー値の取りうる範囲との関係を示す第２の記録特性を求める第２導出手段と、良好な記録を行うために前記β値もしくは前記記録レーザパワー値が取りうる値を示す第２の好適値情報を記憶する第２記憶手段と、前記第２の記録特性と、前記第２記憶手段に記憶されている第２の好適値情報とに基づいて、前記光ディスクに対する適正な記録を行える記録可能な速度を求める記録速度導出手段とを具備することを特徴としている。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。
Ａ．実施形態の構成
まず、図１は本発明の一実施形態に係る光ディスク記録再生装置の構成を示すブロック図である。同図に示すように、この光ディスク記録再生装置は、光ピックアップ１０と、スピンドルモータ１１と、ＲＦアンプ１２と、サーボ回路１３と、アドレス検出回路１４と、デコーダ１５と、制御部１６と、エンコーダ１７と、ストラテジ回路１８と、レーザドライバ１９と、レーザパワー制御回路２０と、周波数発生器２１と、エンベロープ検出回路２２と、Ｃ１エラー検出回路２３と、β検出回路２４とを備えている。
【００１２】
スピンドルモータ１１は、データを記録する対象となる光ディスク（ここでは、ＣＤ−Ｒとする）Ｄを回転駆動するモータである。光ピックアップ１０は、レーザダイオード、レンズやミラー等の光学系、および戻り光受光素子を有しており、記録および再生時にはレーザ光を光ディスクＤに対して照射し、光ディスクＤからの戻り光を受光して受光信号であるＥＦＭ（Eight to Fourteen Modulation）変調されたＲＦ信号をＲＦアンプ１２に出力する。また、光ピックアップ１０はモニタダイオードを有しており、光ディスクＤの戻り光によってモニタダイオードに電流が生じ、当該電流がレーザパワー制御回路２０に供給されるようになっている。
【００１３】
ＲＦアンプ１２は光ピックアップ１０から供給されたＥＦＭ変調されたＲＦ信号を増幅し、増幅後のＲＦ信号をサーボ回路１３、アドレス検出回路１４、エンベロープ検出回路２２、β検出回路２４およびデコーダ１５にＲＦ信号を出力する。デコーダ１５は、再生時にはＲＦアンプ１２から供給されるＥＦＭ変調されたＲＦ信号をＥＦＭ復調して再生データを生成する。
【００１４】
一方、記録時には、デコーダ１５は、テスト記録によって記録された領域を再生する際にＲＦアンプ１２から供給されたＲＦ信号をＥＦＭ復調し、復調した信号に基づいてＣ１エラー検出回路２３がＣ１エラーを検出し、制御部１６に出力する。Ｃ１エラー検出回路２３は、ＥＦＭ復調された信号に対してＣＩＲＣ（Cross Interleaved Read Solomon Code）と呼ばれる誤り訂正符号を用いたエラー訂正を行い、１サブコードフレーム（９８ＥＦＭフレーム）の中で１回目のエラー訂正ができないフレームの個数、すなわちＣ１エラーの回数を検出するのである。
【００１５】
本実施形態に係る光ディスク記録再生装置では、記録を行う際に、当該本番の記録に先立ち、光ディスクＤの内周側の所定の領域（図２参照）にテスト記録を行い、当該テスト記録した領域の再生結果に基づいて、当該光ディスクＤに対して良好な記録を行える記録速度を求めるように構成されている。Ｃ１エラー検出回路２３は、このようなテスト記録した領域の再生信号のＣ１エラーを検出し、制御部１６に出力する。
【００１６】
ここで、図２を参照しながら光ディスクＤ（ＣＤ−Ｒ）のテスト記録を行う領域について説明する。光ディスクＤの直径４６〜５０ｍｍの区間がリードイン領域１１４として用意され、その外周側にデータを記録するプログラム領域１１８および残余領域１２０が用意されている。一方、リードイン領域１１４よりも内周側には、内周側ＰＣＡ（Power Calibration Area）領域１１２が用意されている。内周側ＰＣＡ領域１１２には、テスト領域１１２ａと、カウント領域１１２ｂとが用意されており、このテスト領域１１２ａに、上述した記録処理の本番に先立つテスト記録が行われる。ここで、テスト領域１１２ａとしてはテスト記録を多数回行える領域が用意されており、カウント領域１１２ｂには、テスト記録終了時にテスト領域１１２ａのどの部分までに記録が終了しているかを示すＥＦＭ信号が記録される。したがって、次にこの光ディスクＤに対してテスト記録を行う際には、当該カウント領域１１２ｂのＥＦＭ信号を読み取ることによりテスト領域１１２ａのどの位置からテスト記録を行えばよいかが分かるようになっている。本実施形態に係る光ディスク記録再生装置では、本番の記録を行う前に上述したテスト領域１１２ａにテスト記録を行っているのである。
【００１７】
図１に戻り、アドレス検出回路１４は、ＲＦアンプ１２から供給されたＥＦＭ信号からウォブル信号成分を抽出し、このウォブル信号成分に含まれる各位置の時間情報（アドレス情報）、およびディスクを識別する識別情報（ディスクＩＤ）やディスクの色素等のディスクの種類を示す情報を復号し、制御部１６に出力する。
【００１８】
β検出回路２４は、上述したテスト記録領域を再生している際にＲＦアンプ１２から供給されるＥＦＭ変調されたＲＦ信号から再生信号品位に関するパラメータとしてβ（アシンメトリ）値を算出し、算出結果を制御部１６に出力する。β値は、ＥＦＭ変調された信号波形のピークレベル（符号は＋）をａ、ボトムレベル（符号は−）をｂとすると、（ａ＋ｂ）／（ａ−ｂ）で求まる。
【００１９】
エンベロープ検出回路２２は、上述したテスト記録を行う前に、光ディスクＤの所定のテスト領域のどの部分からテスト記録を開始するかを検出するために、上述した光ディスクＤのカウント領域１１２ｂのＥＦＭ信号のエンベロープを検出する。
【００２０】
サーボ回路１３は、スピンドルモータ１１の回転制御および光ピックアップ１０のフォーカス制御、トラッキング制御、送り制御を行う。本実施形態に係る光ディスク記録再生装置では、記録時には光ディスクＤを角速度一定で駆動する方式（ＣＡＶ：Constant Angular Velocity）と、光ディスクＤを線速度を一定にして駆動する方式（ＣＬＶ：Constant Linear Velocity）とを切り換えて行うことができるようになっており、サーボ回路１３は、制御部１６から供給される制御信号に応じてＣＡＶ制御とＣＬＶ制御とを切り換える。ここで、サーボ回路１３によるＣＡＶ制御では、周波数発生器２１によって検出されるスピンドルモータ１１の回転数が設定された回転数と一致するように制御される。また、サーボ回路１３によるＣＬＶ制御では、ＲＦアンプ１２から供給されたＥＦＭ変調された信号のウォブル信号が設定された線速度倍率になるようにスピンドルモータ１１が制御される。
【００２１】
エンコーダ１７は、供給される記録データをＥＦＭ変調し、ストラテジ回路１８に出力する。ストラテジ回路１８は、エンコーダ１７から供給されたＥＦＭ信号に対して時間軸補正処理等を行い、レーザドライバ１９に出力する。レーザドライバ１９は、ストラテジ回路１８から供給される記録データに応じて変調された信号と、レーザパワー制御回路２０の制御にしたがって光ピックアップ１０のレーザダイオードを駆動する。
【００２２】
レーザパワー制御回路２０は、光ピックアップ１０のレーザダイオードから照射されるレーザパワーを制御するものである。具体的には、レーザパワー制御回路２０は、光ピックアップ１０のモニタダイオードから供給される電流値と、制御部１６から供給される最適なレーザパワーの目標値を示す情報とに基づいて、当該最適なレーザパワーのレーザ光が光ピックアップ１０から照射されるようにレーザドライバ１９を制御する。
【００２３】
制御部１６は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）およびＲＡＭ（Random Access Memory）等から構成されており、ＲＯＭに格納されたプログラムにしたがって当該光ディスク記録再生装置の装置各部を制御する。
【００２４】
まず、制御部１６は、上述したように本番の記録に先立ち、当該光ディスク記録再生装置にセットされた光ディスクＤの所定の領域に対し、テスト記録を行うように装置各部を制御する。さらに、制御部１６は、上述したテスト記録された領域を再生している際に得られる信号からβ検出回路２４によって検出されたβ値およびＣ１エラー検出回路２３によって検出されたＣ１エラーのカウント値等に基づいて当該光ディスク記録再生装置がテスト記録を行った光ディスクＤに対して記録エラーのない良好な記録を行うことができる記録可能速度を求める記録速度判定処理を行う。このように記録可能速度を求める記録速度判定処理を行う際の制御部１６の機能構成を図３に示す。
【００２５】
同図に示すように、制御部１６は、Ｃ１エラー好適値情報記憶部（第１の好適値情報記憶手段）２００と、記録速度−β特性関数記憶部２０１と、β好適値情報記憶部（第２の好適値情報記憶手段）２０２と、β−Ｃ１エラー特性導出部（第１導出手段）２０３と、記録速度−β特性導出部（第２導出手段）２０４と、記録可能速度導出部（記録速度導出手段）２０５とを有している。
【００２６】
β−Ｃ１エラー特性導出部２０３は、上述したβ検出回路２４によって検出されたβ値と、Ｃ１エラー検出回路２３によって検出されたＣ１エラーのカウント値（以下、Ｃ１エラー値という）が供給され、供給されたβ値およびＣ１エラー値から、図４（ａ）に示すような複数の記録速度（図示の例ではＶ１，Ｖ２，Ｖ３；Ｖ１＜Ｖ２＜Ｖ３）毎のβ値とＣ１エラーのカウント値との関係を示す記録特性を求める。このように複数の記録速度毎の特性を求めるために、３つの記録速度Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３でテスト記録を行い、各々の速度で記録された領域の再生信号から検出されたβ値およびＣ１エラー値から各々の速度での記録特性を求めるようにすればよい。なお、図３に示すような記録特性を求める各速度でテスト記録を行わずに、例えばある１つの記録速度でのみテスト記録を行い、このテスト記録された領域の再生信号から、予め行われた実験結果等に基づいて作成された他の速度推定用データを用い、テスト記録した速度以外の記録速度の特性を求めるようにしてもよい。また、テスト記録を行う回数はある速度（１または複数の速度）に対して１回行うようにしてもよいし、複数回行うようにしてもよいが、より正確な判定結果をを得るためには、複数回行うことが好ましい。
【００２７】
記録速度−β特性導出部２０４は、上述したようにβ−Ｃ１エラー特性導出部２０３によって求められた複数の記録速度毎のβ−Ｃ１エラー特性と、Ｃ１エラー好適値情報記憶部２００に記憶されたＣ１エラー好適値情報とに基づいて、図４（ｂ）に示すような記録速度とβ値との関係を示す記録速度−β特性を求める。図５に示すように、Ｃ１エラー好適値情報記憶部２００には、光ディスクＤの種類（製造メーカや色素）毎に、良好な記録を行うためのＣ１エラー値の範囲を示す情報が格納されており、図示の例では、Ａという種類のディスクでは、Ｃ１エラー値が０〜１０（Ｃ１エラー値の最大は９８）の範囲内であれば良好な記録が行えるといった情報が格納されている。ここで、Ｃ１エラー好適値情報記憶部２００に記憶される情報は予め実験等により各ディスクの種類毎に求められた値である。記録速度−β特性導出部２０４は、このようなＣ１エラー好適値情報記憶部２００に記憶されたＣ１エラー好適値情報を用い、以下の手法により図４（ｂ）に示すような記録速度−β特性を求める。
【００２８】
まず、記録速度−β特性導出部２０４は、Ｃ１エラー好適値情報記憶部２００に記憶されている好適値情報のうち、アドレス検出回路１４によって検出された光ディスクＤの種類情報に対応するＣ１エラー好適値情報を取得する。そして、取得したＣ１エラー好適値情報と、上述したβ−Ｃ１エラー特性導出部２０３によって求められた図４（ａ）に示すβ−Ｃ１エラー特性とに基づいて、上記３種類の記録速度毎に取得したＣ１エラー好適値情報に示される範囲内にＣ１エラー値が収まるβ値の上限値および下限値を求める。例えば、アドレス検出回路１４に検出されたディスクの種類情報がＡであった場合には、Ｃ１エラー好適値情報記憶部２００に記憶されたＣ１エラー好適値情報の中から種類Ａに対応した好適値情報（０〜１０）を取得する。そして、図４（ｂ）に示すように、取得したＣ１エラー好適値情報に示される１〜１０の範囲内にＣ１エラー値を収めるようにするためにβ値が取りうる上限値ＰＪ１，ＰＪ２，ＰＪ３および下限値ＰＫ１，ＰＫ２，ＰＫ３を求める。
【００２９】
このように各記録速度毎のβ値が取りうる上限値ＰＪ１，ＰＪ２，ＰＪ３および下限値ＰＫ１，ＰＫ２，ＰＫ３を求めると、記録速度−β特性導出部２０４は、求めた上限値ＰＪ１，ＰＪ２，ＰＪ３および下限値ＰＫ１，ＰＫ２，ＰＫ３と、記録速度−β特性関数記憶部２０１に記憶された関数情報とに基づいて、図４（ｂ）に示すような記録速度と、β値の取りうる上限値および下限値の間の範囲との関係を求める。記録速度−β特性関数記憶部２０１には、上記のようなＣ１エラー値が好適な範囲に収まるβ値の上限値および下限値の各々が記録速度の変化に対してどのように変化するかといった関数情報が記憶されている。ここで、当該関数情報は、予め多数の記録速度でテスト記録を行う実験により得られた多数の記録速度に対するβ値の上限値および下限値に基づいて作成されたものであり、本実施形態では一次関数（すなわち、図４（ｂ）に示すグラフにおいて直線上に変化する関数）が記憶されている。この関数情報も、光ディスクＤの種類（製造メーカや色素）毎に最適な情報を記憶しておき、光ディスクＤの種類情報に応じて適宜選択する要すればよい。このような関数情報と、上記上限値ＰＪ１，ＰＪ２，ＰＪ３および下限値ＰＫ１，ＰＫ２，ＰＫ３とから、記録速度に対するβの上限値および下限値の変位を、図４（ｂ）に示すグラフ中の直線Ｌ１および直線Ｌ２で規定することができる。このような直線Ｌ１，Ｌ２を規定することにより、（βの上限値−βの下限値）で表されるβ値が取りうる範囲を示す値βｍと記録速度の関係を求めることができ、図６に示すような記録速度−β範囲特性を求めることができる。なお、上記のように３つの記録速度毎の特性から３つの上限値ＰＪ１，ＰＪ２，ＰＪ３および下限値ＰＫ１，ＰＫ２，ＰＫ３を求め、これらを用いてβ値が取り得る範囲βｍと記録速度との関係を求めるようにしてもよいが、記録速度−β特性関数記憶部２０１に上限値および下限値を求めるための２つの関数（例えば、一次関数ｙ＝ａｘ＋ｂ＋ｃ（ｃを実測の上限値または下限値を代入する変数値、ａ，ｂは固定値））を記憶しておけば、ある１つの速度、例えばＶ１の上限値ＰＪ１および下限値ＰＫ１を求めれば、上記一次関数を用いて直線Ｌ１，Ｌ２を規定することでき、これによりβ値が取り得る範囲βｍと記録速度との関係を求めることができる。このようにして１つの速度のβ−Ｃ１エラー特性からβ値が取り得る範囲βｍと記録速度との関係を求めるようにしてもよい。この場合、テスト記録は単一の速度でのみ行うようにすればよいことはもちろんである。また、上記のように上限値および下限値用の関数を２つ用意するのではなく、β値が取り得る範囲βｍと記録速度との関係を示す関数（例えば、一次関数ｙ＝Ａｘ＋Ｂ＋Ｃ（Ｃを実測されたある１つの速度の上限値と下限値との間の差を代入する変数値、Ａ，Ｂは固定値））を予め保持しておき、この関数とある１つの速度の上限値と下限値の差の実測値とからβ値が取り得る範囲βｍと記録速度との関係を求めるようにしてもよい。
【００３０】
記録可能速度導出部２０５は、上述したように記録速度−β特性導出部２０４によって求められた記録速度−β範囲特性と、β好適値情報記憶部２０２に記憶されているβ好適値情報とに基づいて、当該光ディスク記録再生装置がテスト記録を行った光ディスクＤに対して良好な記録品位を維持して記録することが可能な最大の速度を求める。図７に示すように、β好適値情報記憶部２０２には、光ディスクＤの種類（製造メーカや色素）毎に、良好な記録を行うためのβ値の変動範囲を許容する値を示す情報が格納されており、図示の例では、Ａという種類のディスクでは、β値の範囲が１０以上の値であれば良好な記録が行えるといった情報が格納されている。すなわち、目標とする好適なβ値の範囲が小さくなればなるほど、光ディスクＤの反りや色素ムラ等に起因して光ディスク記録再生装置がその小さい値の範囲内にβ値を制御することが困難となる。β好適値情報記憶部２０２は、このような目標β値の範囲が非常に小さくなると制御が困難になることを考慮して、光ディスクＤの反りや色素むらなどがあってもこの光ディスク記録再生装置がβ値を目標の範囲内に十分に制御しうる値が記憶されている。ここで、β好適値情報記憶部２０２に記憶される情報は予め実験等により各ディスクの種類毎に求められた値である。記録可能速度導出部２０５は、このようなβ好適値情報記憶部２０２に記憶されたβ値の範囲の好適値情報を用い、図６に示す特性から好適値情報に示される範囲内にβの範囲が収まる最大の記録速度を、この光ディスク記録再生装置がテスト記録を行った光ディスクＤに対して記録品位を維持して記録を実行することができる最大速度として求めるのである。図６に示す例では、β値の範囲βｍの好適値情報が１０以上である場合を示し、この場合、特性直線Ｌ３とβｍ＝１０の直線Ｌ４が交差する記録速度Ｖｍａｘを記録可能な最大速度として求めるのである。
【００３１】
図１に戻り、本実施形態係る光ディスク記録再生装置における制御部１６は、上述したように求めた記録可能な最大速度に基づいて、記録方式をＣＡＶとＣＬＶで切り換える制御を行うようになっている。具体的には、制御部１６は、最内周側の記録時にはＣＡＶ方式で記録するようにサーボ回路１３を制御する。このように記録を開始した後、制御部１６は、アドレス検出回路１４から供給されるアドレス情報に基づいて、光ディスクＤの径方向の位置を特定し、所定の角速度でスピンドルモータ１１を駆動した場合に上記のように求めた最大速度に対応する位置であることを検出した場合にＣＡＶ方式からＣＬＶ方式に切り換えるための制御信号をサーボ回路１３に出力する。図８に示すように、最内周位置で線速度が１２倍速に相当する回転数でＣＡＶ方式でスピンドルモータ１１が駆動されていた場合に、この回転数で線速度が求められた最大速度（ここでは、１６倍速とする）に達する径方向の位置に達したことを検出すると、制御部１６がＣＬＶに切り換えることを指示する制御信号をサーボ回路１３に出力する。これにより、それ以降はサーボ回路１３によって１６倍速のＣＬＶ方式でスピンドルモータ１１が駆動される。
【００３２】
また、ＣＡＶ方式での記録時には、制御部１６はレーザパワー制御回路２０に対して線速度に応じた最適レーザパワーの目標値示す情報を順次出力する。すなわち、ＣＡＶ記録を行う場合には、記録中に線速度が順次変化するため、順次変化する線速度に最適なレーザパワーの目標値を示す情報を出力する。具体的には、ディスクの外周側への記録が進む、つまり線速度が高速になればなるほど、大きなレーザパワーが目標値としてレーザパワー制御回路２０に順次出力される。ここで、線速度に対応する最適なレーザパワーの目標値は、予め実験等によって作成されたデータテーブルを参照して求めるようにしてもよいし、本番の記録前に光ディスクＤの最内周部分でテスト記録を行い、その記録部分を読み取った再生信号から各線速度における最適なレーザパワーの目標値を求める、いわゆるＯＰＣを行って求めるようにしてもよい。
【００３３】
Ｂ．実施形態の動作
以上説明したのが本発明の一実施形態に係る光ディスク記録再生装置の構成であり、以下、上記構成の光ディスク記録再生装置による記録時の動作について、図９に示す制御部１６が実行する処理のフローチャートを参照しながら説明する。
【００３４】
まず、ユーザによって当該光ディスク記録再生装置に光ディスクＤがセットされ、記録開始が指示されると、セットされた光ディスクＤのテスト領域１１２ａにテスト記録を行う（ステップＳａ１）。そして、制御部１６は当該テスト記録を行った領域の再生信号から検出されるβ値およびＣ１エラー値を用い、セットされた光ディスクＤに対して当該光ディスク記録再生装置が良好な記録を行える最大記録速度を導出する（ステップＳａ２）。
【００３５】
この後、制御部１６は、ＣＡＶ方式で光ディスクＤを駆動することをサーボ回路１３に指示し（ステップＳａ４）、ＣＡＶ方式での記録を実行する。このようにＣＡＶ方式での記録が開始されると、制御部１６は、線速度の増加に応じてレーザパワーを増加させるために、線速度の変化に対応する最適なレーザパワーの目標値を示す情報をレーザパワー制御回路２０に出力する。これによりレーザパワー制御回路２０は、制御部１６から供給された目標値に達するようにレーザパワーをフィードバック制御する。
【００３６】
また、制御部１６は、アドレス検出回路１４から検出されるアドレス情報に基づいて光ディスクＤの記録位置の線速度が上記のように求めた最大記録可能速度に達したか否かを判別する（ステップＳａ４）。ここで、記録位置の線速度が最大記録可能速度に達していないと判別すると、制御部１６は、ＣＡＶ方式での記録を続け、記録すべきデータを全て記録した場合には当該記録処理を終了する（ステップＳａ５の判別「ＹＥＳ」）。一方、ステップＳａ４の判別において、記録位置の線速度が最大記録可能速度に達したと判別すると、制御部１６は記録方式をＣＡＶ方式からＣＬＶ方式に切り換えるように指示する制御信号をサーボ回路１３に出力し、ＣＬＶ方式での記録を実行する（ステップＳａ６）。
【００３７】
この後、ＣＬＶ方式での記録が行われると、制御部１６は記録が終了したか否かを判別する（ステップＳａ７）。記録すべきデータを全て記録した場合やユーザによって記録終了が指示された場合には、当該判別が「ＹＥＳ」となり、当該記録処理を終了する。
【００３８】
本実施形態では、本番のデータ記録処理に先立ち、テスト記録を行い、当該テスト記録した領域の再生信号から、この光ディスクＤに対して良好な記録が得られる最大の記録速度を求めることができる。そして、本番の記録では、求めた最大の記録速度に達するまでＣＡＶ記録を行い、最大の記録速度に達した後はその速度でＣＬＶ記録を行うので、良好な記録品位を損なうことなく、短時間で記録を行うことができる。したがって、ユーザは光ディスクＤの対応する記録速度や、当該光ディスクＤと光ディスク記録再生装置との相性などを意識することなく、記録指示を行えば自動的に良好な記録品位で短時間で記録を行うことができるのである。
【００３９】
Ｃ．変形例
なお、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、以下に例示するような種々の変形が可能である。
【００４０】
（変形例１）
また、上述した実施形態では、テスト記録の結果に応じて求めた最大記録可能速度に達するまではＣＡＶ記録を行い、最大記録速度に達した後はＣＬＶ記録を行うようにしていたが、最初から上記最大記録速度以下の速度でＣＬＶ記録を行うようにしてもよい。
【００４１】
また、上述したように求めた最大記録速度が１２倍速であり、ユーザによって１６倍速のＣＬＶ記録が指示された場合には、１６倍速でのＣＬＶ記録では良好な記録が行えないことをユーザに通知し、記録速度の再設定を促すようにしてもよい。また、ユーザに設定された記録速度が上記のように求めた最大記録速度よりも大きい場合には、上記のようにユーザに再設定を促すのではなく、自動的に求めた最大記録速度以下の記録速度に変更設定し、当該変更設定した記録速度で記録を行うようにしてもよい。この場合、変更設定した記録速度で記録した場合に要する時間を推定し、当該推定時間をユーザに報知するようにしてもよい。
【００４２】
（変形例２）
また、上述した実施形態では、良好な記録が可能な最大記録速度を求めるようにしていたが、低速記録時に記録品位が悪化する場合も考えられる（図１０に示すようにＣ１エラー値が好適な範囲内に収まるβ値の範囲βｍが低速ほど小さくなる場合）。このような場合には、図１１に示すように、β好適値情報に示される値（図示の例では１０以上）となるような速度を、良好な記録が行える最低記録速度Ｖｍｉｎとして求めるようにすればよい。
【００４３】
このように最低記録速度を求めた場合の本番の記録時には、図１２に示すように、求めた最低記録速度（図示の例では、４倍速）よりも大きい記録速度のＣＬＶ記録を行い、ＣＡＶ記録を行った際の線速度が上記最低記録速度よりも大きくなった時点でＣＡＶ記録に切り換えるようにしてもよい。
【００４４】
（変形例３）
また、上述した実施形態では、β値を基準として記録可能速度を求めるようにしていたが、これに限らず、記録レーザパワー値を基準として記録可能速度を求めるようにしてもよい。この場合、制御部１６はＣ１エラー検出回路２３から供給されるＣ１エラー値から、図１３（ａ）に示すような記録レーザパワー値とＣ１エラー値との関係を複数の記録速度毎に求める。ここで、図示のようにβ値に代えて記録レーザパワー値を基準とした場合、記録速度が大きいほど、記録パワー値も大きくなる特性となる。したがって記録レーザパワー値を基準として記録可能速度を求める場合には、上記各速度毎の特性とＯＰＣにより求めた各速度毎の最適記録レーザパワー値ＰＬ１，ＰＬ２，ＰＬ３とを用い、各速度毎にＣ１エラー値が基準値（図示の例では「１０」）以下となるパワー値の上限値ＰＪ１’，ＰＪ２’，ＰＪ３’および下限値ＰＫ１’，ＰＫ２’，ＰＫ３’の上記最適記録レーザパワー値からの差分値と、最適記録レーザパワー値との割合、すなわち最適記録レーザパワー値から許容されるパワー値の割合（％）を求める。例えば、記録速度Ｖ１についての上限側の許容範囲値ＰＪ０１（％）は、次式により求まる。
ＰＪ０１＝（ＰＪ１’−ＰＬ１）／ＰＬ１＊１００
このようにして、図１３（ｂ）に示すように、各記録速度における記録レーザパワーの許容上限範囲値ＰＪ０１，ＰＪ０２，ＰＪ０３および許容下限範囲値ＰＫ０１，ＰＫ０２，ＰＫ０３を求め、さらに図１４に示すような記録レーザパワー値の許容範囲と記録速度の関係を求め、当該記録レーザパワー値の許容範囲Ｐｍが所定値Ｐｍ１となる記録速度を最大記録可能速度として求めるようにすればよい。
【００４５】
（変形例４）
また、上述した実施形態では、Ｃ１エラー値が所定の値よりも少なくするβ値の範囲に基づいて記録可能な速度を求めるようにしていたが、このような記録品位に関するパラメータとしては、Ｃ１エラーに限らず、他のパラメータを用いるようにしてもよい。例えば、図１５に示すように、Ｃ１エラー検出回路２３に代えてフレーム同期信号の検出およびカウント回路１４０を設けるようにし、Ｃ１エラー値に代えて、フレーム同期信号検出回路１４０ａ、およびフレーム同期信号検出回路１４０ａが検出したフレーム同期信号の検出回数をカウントするカウンタ回路１４０ｂを設けるようにし、カウンタ回路１４０ｂによってカウントされたフレーム同期信号の検出回数を用いて記録可能速度を求めるようにしてもよい。ここで、フレーム同期信号検出回路１４０ａおよびカウンタ回路１４０ｂは、上述した実施形態と同様、テスト記録した領域の再生信号をＥＦＭ復調し、得られた信号からＥＦＭフレーム同期信号を検出し、検出した回数をカウントし、カウント結果を制御部１６に出力する。
【００４６】
Ｃ１エラー値に代えてフレーム同期信号の検出回数を用いる方法では、まずシンクイコール検出回路１４０から供給されるフレーム同期信号の検出回数とβ検出回路２４から供給されるβ値とから、図１６（ａ）に示すような複数の記録速度毎にフレーム同期信号の検出回数とβ値との関係を取得する。そして、図１６（ｂ）に示すように、各記録速度（Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３）毎に、予め実験により求められた良好な記録品位を維持できるフレーム同期信号の検出回数の範囲（図示の例では、９０以上）となるようなβ値の上限値ＳＰＪ１，ＳＰＪ２，ＳＰＪ３および下限値ＳＰＫ１，ＳＰＫ２，ＳＰＫ３を求め、予め実験により求められた関数（図示の例では、一次関数）を用いて記録速度とβ値の範囲を示す値βｍとの関係を示す記録速度−β範囲特性を求める。このように記録速度−β範囲特性を求めた後は、上述した実施形態における記録可能速度導出部２０５と同様に、記録可能な最大速度を求めるようにすればよい。
【００４７】
また、図１７に示すように、Ｃ１エラー検出回路２３に代えて、ジッター検出回路１６０を設けるようにし、Ｃ１エラー値に代えてジッター検出回路１６０が検出したジッター値を用いて記録可能速度を求めるようにしてもよい。ここで、ジッター検出回路１６０は、イコライザと、スライサと、ＰＬＬ（phase-lockedloop）回路と、ジッター測定器とを有している。ＲＦアンプ１２から供給されるＲＦ信号はイコライザを通過し、イコライザを通過した信号がスライサで２値化される。そして、２値化されたＲＦ信号はＰＬＬ回路およびジッター測定器の両者に供給される。ＰＬＬ回路では、２値化されたＲＦ信号からクロックが生成され、生成されたクロックがジッター測定器へ送られる。ジッター測定器は、このクロックと２値化されたＲＦ信号とから、記録されたピットと基準長のずれの標準偏差であるジッターを測定する。
【００４８】
Ｃ１エラー値に代えてジッター値を用いる方法では、まずジッター検出回路１６０から供給されるジッター値とβ検出回路２４から供給されるβ値とから、図１８（ａ）に示すような複数の記録速度毎にジッター値とβ値との関係を取得する。そして、図１８（ｂ）に示すように、各記録速度（Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３）毎に、予め実験により求められた良好な記録品位を維持できるジッター値の範囲（図示の例では、ジッター値３５以下）となるようなβ値の上限値ＪＰＪ１，ＪＰＪ２，ＪＰＪ３および下限値ＪＰＫ１，ＪＰＫ２，ＪＰＫ３を求め、予め実験により求められた関数（図示の例では、一次関数）を用いて記録速度とβ値の範囲を示す値βｍとの関係を示す記録速度−β範囲特性を求める。このように記録速度−β範囲特性を求めた後は、上述した実施形態における記録可能速度導出部２０５と同様に、記録可能な最大速度を求めるようにすればよい。
【００４９】
また、図１９に示すように、Ｃ１エラー検出回路２３に代えて、デビエーション（Deviation）検出回路１８０を設けるようにし、Ｃ１エラー値に代えてデビエーション検出回路１８０が検出したデビエーション値を用いて記録可能速度を求めるようにしてもよい。ここで、デビエーション検出回路１８０は、上述したジッター検出回路１６０と同様のイコライザと、スライサと、ＰＬＬ回路とを有しており、さらにジッター測定器に代えてＰＬＬ回路から供給されるクロックと、スライサから供給される２値のＲＦ信号とからデビエーション（記録ピットと基準長のずれ）を検出するデビエーション測定器を有している。
【００５０】
Ｃ１エラー値に代えてデビエーション値を用いる方法では、まずデビエーション検出回路１８０から供給されるデビエーション値とβ検出回路２４から供給されるβ値とから、図２０（ａ）に示すような複数の記録速度毎にデビエーション値とβ値との関係を取得する。そして、図２０（ｂ）に示すように、各記録速度（Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３）毎に、予め実験により求められた良好な記録品位を維持できるジッター値の範囲（図示の例では、−２０≦デビエーション値≦２０）となるようなβ値の上限値ＤＰＪ１，ＤＰＪ２，ＤＰＪ３および下限値ＤＰＫ１，ＤＰＫ２，ＤＰＫ３を求め、予め実験により求められた関数（図示の例では、一次関数）を用いて記録速度とβ値の範囲を示す値βｍとの関係を示す記録速度−β範囲特性を求める。このように記録速度−β範囲特性を求めた後は、上述した実施形態における記録可能速度導出部２０５と同様に、記録可能な最大速度を求めるようにすればよい。
【００５１】
また、Ｃ１エラー値に代えて、テスト記録領域の再生時にＲＦアンプ１２から供給されるＲＦ信号の振幅、変調度、反射率といったパラメータを用いて記録可能速度を求めるようにしてもよい。ここで、ＲＦ信号の振幅とβ値との関係は、図２１（ａ）に示すようにβ値の上昇に伴って振幅値が上昇し、ある程度上昇すると振幅値が飽和するといった特性となる。このような特性を複数種類の記録速度毎に求め、上記実施形態と同様に、予め実験により求めたＲＦ信号の振幅の範囲に収まるβ値の上限値および下限値を各記録速度毎に求める。この後、上記実施形態と同様の手法により、記録可能な速度を求めることができる。
【００５２】
また、変調度とβ値との関係は、図２１（ｂ）に示すように上記ＲＦ信号の振幅と類似した特性となる。このような特性を複数種類の記録速度毎に求め、上記実施形態と同様に、予め実験により求めた変調度の範囲に収まるβ値の上限値および下限値を各記録速度毎に求める。この後、上記実施形態と同様の手法により、記録可能な速度を求めることができる。なお、変調度は、ＲＦ信号の最大値をＩｍａｘとし、最小値をＩｍｉｎとした場合、変調度＝（Ｉｍａｘ−Ｉｍｉｎ）／Ｉｍａｘで求めることができる。
【００５３】
また、反射率とβ値との関係は、図２１（ｃ）に示すようにβ値が大きくなる程、反射率が低下するほぼ一次関数のような特性となる。このような特性を複数種類の記録速度毎に求め、上記実施形態と同様に、予め実験により求めた反射率の範囲に収まるβ値の上限値および下限値を各記録速度毎に求める。この後、上記実施形態と同様の手法により、記録可能な速度を求めることができる。なお、反射率は、ＲＦ信号をローパスフィルタを通して平均化することにより求めることができる。
【００５４】
なお、上記の例では、Ｃ１エラー値に代えて用いる各パラメータとβ値との関係を求め、記録可能速度を求めるようにしていたが、上述した変形例で述べたように、上記各パラメータと記録レーザパワー値との関係を求め、記録可能速度を求めるようにしてもよい。
【００５５】
また、複数のパラメータを用い（例えば、Ｃ１エラー値とジッター値）、各々記録可能速度を求めるようにしてもよい。例えば、最大記録速度を求める場合には両パラメータを用いて求めた記録速度のうち小さい方の速度を最大記録速度として採用し、最低記録速度を求める場合には両パラメータを用いて求めた記録速度のうち大きい方の速度を最低記録速度として採用するようにすればよい。
【００５６】
（変形例５）
また、上述した実施形態では、光ディスクＤとしてＣＤ−Ｒを用いた場合を例に挙げて説明したが、これ以外にもＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＡＭ（DVD-Random Access Memory）等に記録する際にも適用することができる。
【００５７】
（変形例６）
また、上述した実施形態では、テスト記録の結果に応じて求めた最大記録可能速度を利用（例えば、当該速度に達した時にＣＡＶからＣＬＶに切り換える等）して記録を行うようにしていたが、当該光ディスク記録再生装置にセットされた光ディスクＤがユーザが設定等した線速度での記録が不可能であると判断された場合には、テスト記録を行わずに、設定速度よりも小さい線速度に記録速度を自動的に変更して記録を行うように構成してもよい。具体的には、予め制御部１６のＲＯＭ等に、実験等によって求められた結果に基づいて複数のディスクの種別の各々と記録可能な最大線速度とを対応付けて記憶しておく。そして、光ディスクＤがセットされた場合には、制御部１６がそのリードイン領域に記述された情報を読み出す等してディスクの種別情報を取得し、該取得した情報と上記の記憶内容とから当該セットされた光ディスクＤの記録可能な最大速度を把握する。そして、この把握した最大速度と、ユーザ等によって設定された記録線速度（ＣＬＶの設定速度であってもよいし、ＣＡＶからＣＬＶへの切換速度であってもよい）とを比較し、把握した最大速度が小さい場合には制御部１６はテスト記録を含むＯＰＣを行わず、当該把握した最大速度を設定速度として記録を実行する。このようにすることで、予め設定された速度での記録が不可能であることが明らかな光ディスクＤに対しては、テスト記録を行う等の時間をかけることなく、エラーの少ない記録を行うことができる。
【００５８】
（変形例７）
また、上述した実施形態では、セットされた光ディスクＤの種類にかかわらず、テスト記録等を行って最大記録線速度を導出して記録を実施するようにしていたが、光ディスクＤの種別によってはどのような制御を行っても良好な記録を行えないものもある。このような光ディスクＤがセットされた時にそのまま記録を実行してしまうといったことを抑止するため、一定の種類の光ディスクＤがセットされた場合には、記録処理を一切行わずに当該光ディスクＤを排出して記録を禁止する、ユーザに警告等を報知する、もしくは両者を行うよう構成してもよい。具体的には、予め制御部１６のＲＯＭ等に、予め実験等によって求められた結果に基づいて、上記のような良好な記録の行えない光ディスクの種別を記憶しておく。そして、光ディスクＤがセットされた場合には、制御部１６がそのリードイン領域に記述された情報を読み出す等してディスクの種別情報を取得する。該取得した光ディスクの種別がＲＯＭに記憶されている記録不能の光ディスクの種別に含まれている場合には、制御部１６は図示せぬ光ディスクトレイ駆動機構を制御してセットされた光ディスクＤを排出するとともに、図示せぬ表示画面に警告メッセージを表示させるといった表示制御や、図示せぬアラーム音発生器を駆動する等して警告音を発生させるといった制御を行い、記録不能ディスクである旨をユーザに警告する。このようにすることで、種々の制御を行っても良好な記録が行えない光ディスクＤに対して記録を行ってしまうことを抑止できる。
【００５９】
（変形例８）
なお、上述したような記録可能速度の判定処理を含む記録処理を実行する制御部１６は専用のハードウェア回路で構成するようにしてもよいし、ＣＰＵ(Central Processing Unit)等から構成するようにし、ＲＯＭ(Read Only Memory)等の記憶手段に格納されたプログラムを実行することにより上記処理をソフトウェアで実現するようにしてもよい。このようにソフトウェアで上記処理を行う場合には、上記処理をコンピュータに実現させるためのプログラムを記録したＣＤ−ＲＯＭやフロッピーディスク等の様々な記録媒体をユーザに提供するようにしてもよいし、インターネット等の伝送媒体を介してユーザに提供するようにしてもよい。
【００６０】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、ある光ディスクに対する記録を行う際に、記録エラーの少ない良好な記録を実現可能な記録速度の範囲を判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の一実施形態に係る光ディスク記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２】  光ディスクにおける前記光ディスク記録再生装置によるテスト記録が行われる領域を説明するための図である。
【図３】  前記光ディスク記録再生装置の構成要素である制御部の機能構成を示すブロック図である。
【図４】  前記制御部による記録可能最大速度の導出方法を説明するための図である。
【図５】  前記制御部の構成要素であるＣ１エラー好適値情報記憶部の記憶内容を説明するための図である。
【図６】  前記制御部による記録可能最大速度の導出方法を説明するための図である。
【図７】  前記制御部の構成要素であるβ好適値情報記憶部の記憶内容を説明するための図である。
【図８】  前記光ディスク記録再生装置のＣＡＶ方式とＣＬＶ方式の切り換えタイミングを説明するための図である。
【図９】  前記光ディスク記録再生装置による記録時に前記制御部が実行する処理を示すフローチャートである。
【図１０】  前記光ディスク記録再生装置の変形例における前記制御部による記録可能最低速度の導出方法を説明するための図である。
【図１１】  前記光ディスク記録再生装置の変形例における前記制御部による記録可能最低速度の導出方法を説明するための図である。
【図１２】  前記光ディスク記録再生装置の変形例におけるＣＡＶ方式とＣＬＶ方式の切り換えタイミングを説明するための図である。
【図１３】  前記制御部による記録可能最大速度の他の導出方法を説明するための図である。
【図１４】  前記制御部による記録可能最大速度の他の導出方法を説明するための図である。
【図１５】  前記光ディスク記録再生装置の他の変形例の構成を示すブロック図である。
【図１６】  前記光ディスク記録再生装置の他の変形例の制御部による記録可能最大速度の導出方法を説明するための図である。
【図１７】  前記光ディスク記録再生装置のその他の変形例の構成を示すブロック図である。
【図１８】  前記光ディスク記録再生装置のその他の変形例の制御部による記録可能最大速度の導出方法を説明するための図である。
【図１９】  前記光ディスク記録再生装置のさらにその他の変形例の構成を示すブロック図である。
【図２０】  前記光ディスク記録再生装置のさらにその他の変形例の制御部による記録可能最大速度の導出方法を説明するための図である。
【図２１】  前記光ディスク記録再生装置による記録可能速度の導出に用いることが可能な記録品位に関するパラメータと、β値との関係を示すグラフである。
【符号の説明】
１０……光ピックアップ、１１……スピンドルモータ、１２……ＲＦアンプ、１３……サーボ回路、１４……アドレス検出回路、１５……デコーダ、１６……制御部、２２……エンベロープ検出回路、２３……Ｃ１エラー検出回路、２４……β検出回路、１１２……内周側ＰＣＡ領域、１１２ａ……テスト領域、１４０ａ……フレーム同期信号検出回路、１４０ｂ……カウンタ回路、１６０……ジッター検出回路、１８０……デビエーション検出回路、２００……Ｃ１エラー好適値情報記憶部、２０１……記録速度−β特性関数記憶部、２０２……β好適値情報記憶部、２０３……β−Ｃ１エラー特性導出部、２０４……記録速度−β特性導出部、２０５……記録可能速度導出部、Ｄ……光ディスク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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