(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気特性を有したモジュールとして電子回路を構成する部品や導電パターンなどの電気特性部材が縦横に配列されたモジュール基板を対象とし、このモジュール基板の電気的特性部材を搭載している搭載面において、この搭載面に互いの位置決め用凹部と凸部とを係合させて当てがった治具の電気的ノイズを遮断する遮断壁により各モジュール域を縦配列方向および横配列方向の双方において、所定数ずつ仕切って囲っておき、この囲いの中の対象モジュールにつき電気特性をモジュール基板の下方に計測用ピンを当てがって計測しながら、計測値が所定値になるようにレーザー光を上方から補正対象のモジュールに照射して補正を行うことを特徴とするモジュール基板の補正方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、モジュール基板の補正方法に関し、電気特性を有した多数個のモジュールをシート状に縦横に配列したモジュール基板の、各モジュールの電気特性を計測しながら補正する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、簡単な電子回路を一律に装備する携帯電話等の各種の電子機器では、必要な電子回路をモジュール化したものを搭載することが行われている。このようなモジュールは生産性を上げるなどのために、例えば１０×１０、８×１０と言ったように多数を縦横に配列したシート状のモジュール基板として製造されて取り扱われる。製造の最終段階では、本発明の実施の形態を示す図１を参照して説明すると、各モジュールの電気特性を計測器２により計測しながら、その計測値が所定値になるように補正器７で補正する作業を行っている。
【０００３】
図１に示すような各種電気的ノイズ８のある環境では計測値に狂いが生じて適正な補正ができない。
【０００４】
そこで、従来、図４に示すような治具ａを用いている。この治具ａは電気的ノイズ８を遮断する電気的ノイズ遮断材料よりなり、モジュール基板１の電気特性部材の搭載面で、各モジュール域を縦配列方向および横配列方向の一方に並ぶ一列ずつを仕切って囲う、電気的ノイズを遮断するノイズ遮断壁ｂが、並列なスリットｃを形成するように形成されている。
【０００５】
この治具ａはモジュール基板の電気特性の計測、補正に際し、モジュール基板の電気特性部材の搭載面に当てがわれて、モジュール基板とともに、あるいはモジュール基板を押さえて位置決めされる。このとき治具ａは前記一列ずつのモジュール域をノイズ遮断壁ｂにより仕切って囲う状態になり、この囲いのスリットｃの中にあるモジュール域に外部から入ろうとする電気的ノイズを反射させる等して遮断する。これにより、各モジュールの電気特性を電気的ノイズの影響を抑えて計測することができ、補正も適正化できる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記従来の治具ａを用いるのでは、環境の違いや変化によって電気的ノイズの影響があり、まだ充分な計測および補正ができないことがある。
【０００７】
これにつき本発明者等が種々に実験し検討した結果、モジュール基板の治具ａにより仕切って囲われた範囲のモジュール域に電気的ノイズが直線的に侵入できるノイズ侵入角度範囲で単純に評価した場合でも、スリットｃの幅方向のノイズ侵入角度範囲αが小さいのに、スリットｃの長手方向のノイズ侵入角度範囲βは格段に大きいことを知見した。このことからでも、スリットｃの長手方向からはまだ電気的ノイズが侵入しやすいと言える。これを、ノイズ遮断壁の高さで補うのでは効率がわるく大きくかさ張る。
【０００８】
本発明の目的は、このような知見に基づき、かさ張らずに電気的ノイズの遮断性よくモジュール基板の各もジュールの電気的特性を計測、補正が同時に高精度に行なえるモジュール基板の補正方法を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記の目的を達成するために、請求項１の発明のモジュール基板の補正方法は、電気特性を有したモジュールとして電子回路を構成する部品や導電パターンなどの電気特性部材が縦横に配列されたモジュール基板を対象とし、このモジュール基板の電気特性部材を搭載している搭載面において、この搭載面に互いの位置決め用凹部と凸部とを係合させて当てがった治具の電気的ノイズを遮断する遮断壁により各モジュール域を縦配列方向および横配列方向の双方において、所定数ずつ仕切って囲っておき、この囲いの中の対象モジュールにつき電気特性をモジュール基板の下方から計測用ピンを当てがって計測しながら、計測値が所定値になるようにレーザー光を上方から補正対象のモジュールに照射して補正を行うことを特徴とするものである。
【００１０】
このような構成では、モジュール基板に配列された各モジュールとしての電子回路を構成する部品や導電パターンなどの電気特性部材につき、モジュール基板の搭載面に互いの位置決め用の凹部と凸部とを係合させて治具を当てがい、モジュール基板の縦横方向の一方に並ぶものについては、従来通り１列ずつ前記治具のノイズ遮断壁により仕切って囲うようにして、この方向でのノイズ侵入角度範囲を従来と同じになる上、他方に並ぶものについても、所定数ずつを前記治具のノイズ遮断壁により適正な位置で仕切って囲うので、この方向でのノイズ侵入角度範囲がこの方向での仕切り数分だけ従来と同じかさ張りで従来よりも小さくなり、その分だけ電気的ノイズの影響が少なくなる。この電気的ノイズの影響の少なくなった囲いの中の対象モジュールにつきモジュール基板の下方から電気特性を計測しながら、計測値が所定値になるようにする同時補正がレーザー光を上方から補正対象のモジュールに照射することにより独立して行え、しかも電気的ノイズの影響が少なくなった分だけ計測の精度が向上し、それを基に行なう補正の精度も向上する。
【００１３】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の各実施の形態について図１〜図３を参照しながら詳細に説明する。
【００１４】
（実施の形態１）
本実施の形態１は図１に示すように、コンデンサや、各種電子部品と言った電子回路を構成する部品４、および導電パターン５などを搭載したモジュール１ａが縦横にシート状に配列されたモジュール基板１を計測対象、および補正対象としている。
【００１５】
各モジュール１ａの電気特性を計測し、補正するのに、図１、図２に示すような押さえ治具３が用いられる。この押さえ治具３は、計測および補正に際して、計測対象および補正対象となっているモジュール１ａに外部から侵入しようとする電気的ノイズ８を反射などさせて遮断し、計測および補正の精度を上げる。このような電気的ノイズを遮断する機能上、治具３は銅製であるのが好適である。
【００１６】
治具３は、従来同様に、モジュール基板１の電気特性の計測、補正に際し、モジュール基板１の電気特性部材である部品４や導電パターン５の搭載面１ｂに当てがわれて、モジュール基板１とともに、あるいはモジュール基板１を押さえて位置決めされる。このとき治具３はそれに有しているノイズ遮断壁３ａにより各モジュール１ａを所定の単位で仕切って図１に示すように囲う。
【００１７】
本実施の形態１での治具３は、図１、図２に示すように、モジュール１ａが縦横に配列されたモジュール基板１の搭載面１ｂに当てがわれて、各モジュール１ａ域を縦配列方向Ｙおよび横配列方向Ｘの双方において所定数ずつ仕切って囲うように、ノイズ遮断壁３ａを図２に示すような格子状に形成してある。特に、その一実施例として、縦配列方向Ｙおよび横配列方向Ｘの双方において、１つずつに仕切って囲うようにしてある。
【００１８】
これにより、治具３のノイズ遮断壁３ａが囲うモジュール１ａ域での縦配列方向Ｙにおける電気的ノイズの直線的な侵入角度範囲αは、図４に示す従来の場合と同じであるが、横配列方向Ｘにおける電気的ノイズの直線的な侵入角度範囲βも前記縦配列方向Ｙの侵入角度範囲αと同程度に小さくなる。要するに、図４に示す場合よりも、横配列方向Ｘでの仕切り数分だけ小さくなる。従って、モジュール１ａ域を２つ以上に仕切れば、従来の場合と同じかさ張りで従来よりも電気的ノイズの直線的な侵入角度範囲βが１／２以下となる。
【００１９】
このようなモジュール１ａ域の仕切りによるノイズ遮断壁３ａによる具体的な囲い方は、前記治具３を用いてもよいし、他の方法で行うこともできる。要は、電気特性を有したモジュール１ａが縦横に配列されたモジュール基板１の電気特性部材を搭載している搭載面１ｂで、各モジュール１ａ域を縦配列方向Ｙおよび横配列方向Ｘの双方において、所定数ずつ、電気的ノイズを遮断するノイズ遮断壁３ａで仕切って囲っておき、この囲いの中のモジュール１ａにつき電気特性を計測することにより、前記のように従来の場合よりも電気的ノイズの影響の少ない状態で、モジュール１ａの電気特性を計測することができ、計測の精度が向上する。
【００２０】
計測する電気特性は、モジュール１ａに搭載している回路の所定の部分の抵抗値や電気容量であり、上記のように位置決めされたモジュール基板１の裏面から計測具２の計測用ピン２ａなどを当てがって計測する。もっとも、他の方法によることもできる。
【００２１】
そして、このような計測方法にてモジュール１ａの電気特性を計測しながら、この計測値が所定値になるように、計測中のモジュール１ａの電気特性を補正する。これにより、各モジュール１ａの電気特性を電気的ノイズの影響のすくない高精度な計測のもとに高精度に補正することができる。
【００２２】
この補正は、例えば図１に示すように、ノイズ遮断壁３ａなどによって囲われた中のモジュール１ａに搭載している部品４のうちのコンデンサや導体パターン５に補正器７からレーザー光６を照射して、それらの一部を削り取り、コンデンサの容量や回路パターンの抵抗値が所定値になるように行う。しかし、これに限られることはなく、種々の電気特性を計測してそれが所定値になるように種々な方法で補正すればよい。
【００２３】
本実施の形態１ではさらに、治具３の、モジュール基板１の搭載面１ｂに当てがわれる当接面３ｂに、搭載面１ｂに形成された位置決め用の凹部１ｃと係合する位置決め用の凸部３ｃが設けられている。これらの凹部１ｃと凸部３ｃとの図１に示すような係合によって、治具３をモジュール基板１に位置ずれのないように簡易に当てがい、各モジュール１ａをそれに対応した適正な位置でノイズ遮断壁３ａにより仕切って囲える。従って、双方の位置ずれにより計測や補正が狂うようなことを簡易に回避することができる。本実施の形態での凹部１ｃは格子状に連続した凹条であり、凸部３ｃは格子条に連続した凸条である。しかし、連続している必要はなく、断続的に形成されたものでもよい。
【００２４】
なお、一実施例を示せば、モジュール１ａの平面寸法は例えば４ｍｍ〜８ｍｍ角程度が多く、これを、１０×１０、あるいは８×１０と言った数を縦横に配列したもので、１００個あるいは８０個程度のモジュール１ａをシート状に配列したものとされる。
【００２５】
治具３は、８ｍｍ角のモジュール１ａを１０×１０に配列したものにつき、縦配列方向Ｙおよび横配列方向Ｘの双方でモジュール１ａを１つずつ仕切って囲うような格子状にノイズ遮断壁３ａを形成し、その高さを１０ｍｍ程度に設定したところ、仕切り条件が違うだけの従来例では、電気特性の計測値に２％程度の影響があったのに対し、この実施例では１％程度と半減した。
【００２６】
（実施の形態２）
本実施の形態２は、図３に示すようにモジュール基板１の位置決め凹部１ｃが局部的な貫通孔で、治具３の位置決め凸部３ｃがそれと嵌まり合う突起であり、双方の嵌まり代が実施の形態１の場合よりも大きくなる分だけ、モジュール基板１と治具３との位置決め精度が向上する。この場合の凹部１ｃと凸部３ｃはノイズ遮断壁３ａの交差部に対応する局部が適当であるが、連続しない限りどのようにも設けられる。
【００２７】
他の構造および作用効果は、実施の形態１で述べた治具３と変わらないので、同一部分には同一の符号を付し、重複する説明は省略する。
【００２８】
【発明の効果】
請求項１の発明のモジュール基板の補正方法によれば、モジュール基板のモジュールとして電子回路を構成する部品や導電パターンなどの電気特性部材を搭載した搭載面のモジュール域を、それに互いの位置決め用の凹部と凸部とを係合させて当てがった治具のノイズ遮断壁により縦配列方向および横配列方向の双方に所定数ずつに適正な位置にて仕切り囲って、モジュール域へのノイズ侵入角度範囲が従来と同じかさ張りで従来よりも小さくし、その分だけ電気的ノイズの影響が少なくなる囲いの中で、対象モジュールの電気特性を高精度に計測しながら同時補正することが表裏から独立して行なえる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１のモジュール基板の計測および補正方法と、それらに用いる治具を示す断面図である。
【図２】図１の計測および補正に用いた治具の斜視図である。
【図３】本発明の実施の形態２のモジュール基板の計測および補正に用いる治具とこれに対応したモジュール基板を示す断面図である。
【図４】従来モジュール基板の計測および補正に用いられている治具を示す斜視図である。
【符号の説明】
１  モジュール基板
１ａ  モジュール
１ｂ  搭載面
１ｃ  凹部
２  計測器
３  治具
３ａ  ノイズ遮断壁
３ｂ  当接面
３ｃ  凸部
４  部品
５  導体パターン
６  レーザー光
７  補正器
８  電気的ノイズ
Ｙ  縦配列方向
Ｘ  横配列方向
【図１】
0003957822.tif 000002
【図２】
0003957822.tif 000003
【図３】
0003957822.tif 000004
【図４】
0003957822.tif 000005