(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
圧接技術にてテープキャリアに接続された液晶駆動用ドライバーＩＣを具備する液晶表示装置であって、
前記テープキャリアの表面に電気信号入出力部と、前記テープキャリアの裏面に前記液晶駆動用ドライバーＩＣのＩＣ端子に電気的に接続されるスルーホールを設け、前記テープキャリア表面より、電気信号の入出力を測定する液晶表示装置において、
前記スルーホール上に、前記金属同士のショートや、前記金属自体の腐食を防止するため、透明度のある絶縁膜を具備し、
前記絶縁膜は、前記テープキャリアの電気信号確認の際、前記スルーホールとの導通をとるため、破壊しやすい膜で構成されることを特徴とする液晶表示装置。
【請求項２】
前記スルーホールの前記テープキャリアの裏面から前記テープキャリアの表面に向かう貫通部分が、金属を充填するメッキ手段で形成される請求項１記載の液晶表示装置。
【請求項３】
前記スルーホールの表面露出部には、前記測定用プローブを接触して、電気信号の入出力を測定する請求項２記載の液晶表示装置。
【請求項４】
前記スルーホールの表面露出部には、前記測定用プローブが接触できる分の面積を確保した請求項３記載の液晶表示装置。
【請求項５】
前記スルーホールの表面露出部には、測定用プローブが接触できる分の厚みを確保した請求項３または４記載の液晶表示装置。
【請求項６】
前記絶縁膜は、シリコン樹脂である請求項１乃至５のいずれか１項に記載の液晶表示装置。
【請求項７】
前記スルーホールの位置を、千鳥配置とした請求項１乃至６のいずれか１項に記載の液晶表示装置。
【請求項８】
前記スルーホールの位置を、斜め配列とした請求項１乃至６のいずれか１項に記載の液晶表示装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示装置に関し、特に、Tape Carrier Package（以下、ＴＣＰと略記する）を有する液晶表示装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、液晶表示装置は、リードを形成したテープ状の絶縁フィルムで、半導体チップを搭載し、リードと接続したパッケージであるＴＣＰとして、ベースフィルム上に銅箔で配線を行い、インナーリード上に駆動用ＩＣをギャグボンディングで実装した構造を有することが、周知である。
【０００３】
このような従来の液晶表示装置は、例えば、特開平９−１２７５４２号公報（引用文献１）に開示されている。図３は、引用文献１に記載の第１の従来の液晶表示装置の平面図であり、図４は、引用文献１に記載の第１の従来の液晶表示装置の断面図である。
【０００４】
図３および図４を参照すると、第１の従来の液晶表示装置は、ベースフィルム５１上ににスリット５５を設け、入力側電極部７ｂの露出した部分で、駆動用ＩＣ５８の電気信号を測定する構成である。
【０００５】
また、図２（ａ）は、第２の従来の液晶表示装置の断面図であり、図２（ｂ）は、第２の従来の液晶表示装置の平面図である。
【０００６】
図２（ａ）および図２（ｂ）を参照すると、この第２の従来の液晶表示装置は、液晶セル９に駆動用のドライバーＩＣ４を圧接技術を用いて、電気的接続をとっている。液晶駆動用のドライバーＩＣ４は、テープキャリアパッケージ（以下ＴＣＰと称す）の形態が多い。
【０００７】
従来のＴＣＰは、テープキャリア１にＩＣ端子２を形成した後、ＩＣ端子２面側に保護用のレジスト３を塗布する。ＩＣ４を実装し、封止樹脂５にて固定するものであった。完成したＴＣＰ１を、液晶セル９の液晶セル端子６及び、接続基板７の接続基板端子８に圧接技術を用いて、電気的接続をとる。
【０００８】
ＴＣＰの構造としては、テープキャリア１にＩＣ入出力リードを形成したものに、ＩＣチップ４を実装、樹脂封止を施したものである。液晶セル９、及びＴＣＰへの電気信号入力用回路基板７（以下、接続基板と称す）への接続は、圧接技術を用いて、テープキャリア１のＩＣ端子面を圧接するものであった。
【０００９】
この技術を適用して、ＴＣＰ実装後に発生するＴＣＰ不良の解析などＴＣＰの特性を測定する。このとき、テープキャリア１表側が表面に見え、ＩＣ端子２は実装面側にある。直接ＴＣＰの入力、出力の電気信号が測定できないが、液晶セル９側に露出している液晶セル端子６又は、接続基板７側に露出している接続基板端子８を用いて間接的に測定を行う。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、この従来の液晶表示装置は、次のような問題点がある。すなわち、第１の従来の液晶表示装置は、スリット５をベースフィルム１に設けた場合、スリット５部分の機械的強度が低下し、プリント基板１１へのＴＣＰ実装時に入力側電極部７ｂの断線に至る可能性がある。又、スリット５が表面に露出しているため、耐湿性の低下による入力側電極７Ｂの腐食や、入力側電極７Ｂへの導電性屑付着などによるショート不良の多発などの可能性もある。
【００１１】
その結果、従来のこの技術では、ＴＣＰの実装後に発見される不良の故障解析などＴＣＰの特性測定を行なう際に、テープキャリア面が表面になるため、ＴＣＰからの直接的な信号の確認が出来ないのが現状であった。
【００１２】
また、第２の従来の液晶表示装置の技術だと、ＴＣＰ実装後に発生するＴＣＰ不良の解析などＴＣＰの特性を測定しようとする際にテープキャリア１表側が表面に見え、ＩＣ端子２は実装面側にあるため、直接ＴＣＰの入力、出力の電気信号が測定できない。
【００１３】
そのため、液晶セル９側に露出している液晶セル端子６又は、接続基板７側に露出している接続基板端子８を用いて間接的に測定を行なっていたが、測定器測定プローブによって両端子へのコンタクト不良による測定誤差、測定ミスを生じさせたり、両端子を破壊させるなどの恐れがあった。又、現在液晶セルの狭額縁化が進む中、液晶セル９側の液晶セル端子６の露出面積が少なくなりＴＣＰ出力信号が測定できない場合も生じてきた。
【００１４】
したがって、本発明の主な目的は、上記問題を解決した液晶表示装置を提供することにある。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
本発明の液晶表示装置は、圧接技術にてテープキャリアに接続された液晶駆動用ドライバーＩＣを具備する液晶表示装置であって、前記テープキャリアの表面に電気信号入出力部と、前記テープキャリアの裏面に前記液晶駆動用ドライバーＩＣのＩＣ端子に電気的に接続されるスルーホールを設け、前記テープキャリア表面より、電気信号の入出力を測定する液晶表示装置において、前記スルーホール上に、前記金属同士のショートや、前記金属自体の腐食を防止するため、透明度のある絶縁膜を具備し、前記絶縁膜は、前記テープキャリアの電気信号確認の際、前記スルーホールとの導通をとるため、破壊しやすい膜で構成される。
【００１６】
また、本発明の液晶表示装置の前記スルーホールの前記テープキャリアの裏面から前記テープキャリアの表面に向かう貫通部分が、金属を充填するメッキ手段で形成される構成である。
【００１７】
また、本発明の液晶表示装置の前記スルーホールの表面露出部には、前記測定用プローブを接触して、電気信号の入出力を測定する構成であり、また、本発明の液晶表示装置の前記スルーホールの表面露出部には、前記測定用プローブが接触できる分の面積を確保した構成であり、本発明の液晶表示装置の前記スルーホールの表面露出部には、測定用プローブが接触できる分の厚みを確保した構成である。
【００１８】
本発明の液晶表示装置の前記絶縁膜は、シリコン樹脂であり、前記スルーホールの位置を、千鳥配置とした構成である。また、前記スルーホールの位置を、斜め配列とした構成である。
【００１９】
【発明の実施の形態】
図面を参照しながら、本発明の実施の形態の液晶表示装置について、詳細に説明する。
【００２０】
本発明の液晶表示装置は、ＴＣＰのテープキャリアにスルーホールを設け、テープキャリア上に形成されたＩＣ端子とスルーホールを電気的に接続し、ＴＣＰの実装後でもテープキャリア表面からこのスルーホール部を介しＩＣ端子部の電気信号が読み取れることを特徴としたものである。
【００２１】
図１（ａ）に、本発明の実施の形態の液晶表示装置の断面図を示す。また、図１（ｂ）に本発明の実施の形態の液晶表示装置の平面図を示す。
【００２２】
図１（ａ）および図１（ｂ）を参照すると、本発明の実施の形態の液晶表示装置は、テープキャリア１１に、あらかじめＩＣ端子１２の位置に対応するスルーホール２０の穴をあけておく。このテープキャリア１１に、ＩＣ端子１２を形成した後、ＩＣ端子１２面側に保護用のレジスト１３を塗布する。
【００２３】
さらに、ＩＣ１４を実装し、封止樹脂１５にて固定する。スルーホール２０の部分にメッキ技術等を用い、金属２１を充填しテープキャリア１１表面にスルーホール２０を形成する。
【００２４】
この際、スルーホール２０に充填した金属２１はＩＣ端子１２と電気的に導通させるものとする。スルーホール２０の部分は、実装後のＴＣＰ故障解析など特性測定の際、ＩＣ入出力の電気信号を測定するために用いるもので、スルーホール２０の表面露出部には、測定用プローブが接触できる分の面積、厚みを確保する。
【００２５】
スルーホール２０上には金属２１同士のショートや、金属２１自体の腐食等の不具合を防止するための、透明度のある絶縁膜２２を塗布しておく。絶縁膜２２は、ＴＣＰの電気信号確認の際、スルーホール２０との導通をとるため、破壊しやすいように極力薄く、柔らかい膜（シリコン樹脂など）が望ましい。以上の構造のＴＣＰを液晶セル端子１６及び接続基板端子１８に圧接技術を用いて電気的接続をとるものとする。
【００２６】
次に、本発明の実施の形態の液晶表示装置のＴＣＰの入出力の電気信号を測定する方法を説明する。
【００２７】
本発明の実施の形態の液晶表示装置の液晶セル１９に実装してしまったＴＣＰの入出力の電気信号を測定する際は、絶縁膜２２より透過して見えるスルーホール２０を介して、電気信号を測定する。測定の際は、測定器のプローブにて、薄く、かつ、柔らかい絶縁膜２２を破壊し、スルーホール２０へ直接接触し、電気信号を測定するものとする。
【００２８】
次に、本発明の図１（ａ）および図１（ｂ）の実施の形態の液晶表示装置では、スルーホール間の寸法については制限していないが、高密度実装技術が進展していく中、その寸法も問題となってくる。
【００２９】
したがって、本発明の他の実施の形態の液晶表示装置は、ＴＣＰのＩＣ端子１２の幅が高密度端子となった場合には、スルーホールの位置を、「千鳥配置」または「斜め配列」などのように、その位置をずらす構成とする。
【００３０】
このように、スルーホール２０の位置をを分散させることで、テープキャリア１１の機械的強度の維持も図ることができ、スルーホール２０より露出した金属２１を絶縁膜２２で保護することで、液晶表示装置自体の耐湿性の維持、導電性異物付着によるショート不良発生の防止も図ることができる。
【００３１】
【発明の効果】
以上説明した通り、従来は、スルーホールの無いＴＣＰでは、ＴＣＰを液晶セル９に実装してしまってからのＴＣＰの電気信号の入出力測定の際、ＩＣ端子２が実装面側にあり直接的に測定できず、液晶セル端子６や、接続基板端子８に測定用プローブを接触させＴＣＰの入出力信号を間接的に測定していた。この方法では測定中の測定プローブの接触不良による測定誤差、測定ミスを発生させたり、液晶セル端子６の部分の破壊を生じさせていた。
【００３２】
さらには、液晶セル端子１６露出部の寸法が液晶表示装置の狭額縁化の流れにより益々狭くなっており、液晶セル端子６を利用しての測定には測定用プローブの接触端子の先端寸法を小さいものを選択する必要があったがそれにも限界がある。又、液晶セル端子６や接続基板端子８を用いてのＴＣＰ電気信号の測定では、液晶セル端子６とＩＣ端子２の間、接続基板端子８とＩＣ端子２の間のショートやオープンなどの不具合は間接的測定のため、測定誤差が大きいという問題があった。
【００３３】
本発明では、テープキャリア１１にスルーホール２０を設け、ＩＣ端子１２と、スルーホール内に充填された金属２１を導通させ、テープキャリア１１の表面に露出させることで、この部分を用いＴＣＰの電気信号を直接的に測定することが可能となった。
【００３４】
更には、間接的な測定方法で生じる、測定用プローブの接触不良による測定誤差、測定ミス、液晶セル端子１６の破壊も無くなり、さらに液晶セル端子１６が露出していなくても、ＴＣＰの出力信号が測定できる効果がある。
【００３５】
又、スルーホール２０の位置を分散させることで、テープキャリア１１の機械的強度の維持も図ることができ、スルーホール２０より露出した金属２１を絶縁膜２２で保護することで、液晶表示装置自体の耐湿性の維持、導電性異物付着によるショート不良発生の防止も図ることができる効果もある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態の液晶表示装置の平面図および断面図である。
【図２】第２の従来の液晶表示装置の平面図および断面図である。
【図３】第１の従来の液晶表示装置の平面図である。
【図４】第１の従来の液晶表示装置の断面図である。
【符号の説明】
１    テープキャリア
２    ＩＣ端子
３    レジスト
４    ＩＣ
５    封止樹脂
６    液晶セル端子
７    接続基板
８    接続基板端子
９    液晶セル
１１    テープキャリア
１２    ＩＣ端子
１３    レジスト
１４    ＩＣ
１５    封止樹脂
１６    液晶セル端子
１７    接続基板
１８    接続基板端子
１９    液晶セル
２０    スルーホール
２１    金属
２２    絶縁膜
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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