(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射ビームにより光学的記録媒体に情報を書き込む光学的記録装置において、記録媒体に一連のテストパターンを、各パターン毎に異なる値の書込みパラメータで書き込む第１ステップと、
これらのテストパターンを読み取って対応する読取信号を形成する第２ステップと、
各読取信号から読取りパラメータの値を取り出し、読取りパラメータ対書込みパラメータの関数を形成する第３ステップと、
前記関数の導関数のプリセット値に基づいて書込みパラメータの最適値を選択する第４ステップと、
を具える書込みパラメータの最適値を設定する方法において、
前記第４ステップは前記プリセット値を記録媒体から読み取るサブステップを含むことを特徴とする書込みパラメータの最適値設定方法。
【請求項２】
前記導関数は、前記関数の書込みパラメータに関する導関数を導出し、これに書込みパラメータと読取りパラメータとの比を乗算することにより決定される正規化導関数であることを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項３】
前記第４ステップは、前記関数の導関数を決定するサブステップと、前記プリセットレベルと交差する該導関数の値を決定するサブステップを含むことを特徴とする請求項１又は２記載の方法。
【請求項４】
前記第３ステップは、読取りパラメータ及び書込みパラメータの値に曲線をあてはめて読取りパラメータと書込みパラメータとの関係を定める関数を決定することを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項５】
前記記録パラメータは放射ビームの書込みパワーレベルの値であることを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項６】
前記読取りパラメータは媒体に記録された情報から得られる読取信号の振幅の変調度であることを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項７】
書込みパラメータの可制御値に依存して情報書込み用放射ビームを発生する放射源と、一連のテストパターンを、各パターン毎に異なる値の書込みパラメータで書き込む制御ユニットと、これらのパターンを読み取り、対応する読取信号を形成する読取ユニットと、各読取信号から読取りパラメータの値を取り出し、読取りパラメータ対書込みパラメータの関数を形成する第１プロセッサと、前記関数の導関数のプリセット値に基づいて書込みパラメータの最適値を導出するよう作動的に接続された第２プロセッサとを具える光記録媒体に情報を書き込む光学的記録装置において、当該装置は前記プリセット値を媒体から読み取る読取ユニットを具え、且つ該読取ユニットの出力端子が前記プリセット値を伝送するよう前記第２プロセッサに接続されていることを特徴とする光学的記録装置。
【請求項８】
前記第２プロセッサは前記関数の導関数を導出し、該導関数と前記プロセッサ値との交点を決定するよう作動的に接続されていることを特徴とする請求項７記載の装置。
【請求項９】
前記導関数は前記導関数に書込みパラメータと読取りパラメータとの比を乗算するこにより形成される正規化導関数であることを特徴とする請求項７記載の装置。
【請求項１０】
前記書込みパラメータは放射ビームの書込みパワーレベルであることを特徴とする請求項７記載の装置。
【請求項１１】
前記読取りパラメータは読取信号の振幅であるころを特徴とする請求項７記載の装置。
【発明の詳細な説明】
本発明は、放射ビームにより光記録媒体に情報を書き込む方法に関するものである。この方法は書込みパラメータの最適値を設定するのに使用され、記録媒体に一連のテストパターンを、各パターン毎に異なる値の書込みパラメータで書き込む第１ステップと、これらのパターンを読み取って対応する読取信号を形成する第２ステップと、各読取信号から読取りパラメータの値を取り出し、読取りパラメータ対書込みパラメータの関数を形成する第３ステップと、書込みパラメータの最適値を前記関数の導関数のプリセット値に基づいて選択する第４ステップとを具える。本発明は、更に、書込みパラメータの可制御値に依存して情報書込み用放射ビームを発生する放射源と、一連のテストパターンを、各パターン毎に異なる値の書込みパラメータで書き込む制御ユニットと、これらのパターンを読み取り、対応する読取信号を形成する読取ユニットと、各読取信号から読取りパラメータの値を取り出し、読取りパラメータ対書込みパラメータの関数を形成する第１プロセッサと、書込みパラメータの最適値を前記関数の導関数のプリセット値に基づいて導出するよう作動的に接続された第２プロセッサとを具える光記録媒体に情報を書き込む光学的記録装置にも関するものである。
頭書に記載した記録方法及び装置は欧州特許出願ＥＰ−Ａ０７３７９６２号から既知である。この装置は下記のステップを有する放射ビームの最適書込みパワー設定方法を用いる。この装置は、最初に、一連のテストパターンを記録媒体に、各パワー毎に増大した書込みパワーで記録する。次に、パターンに対応する読取信号から各パターンの変調度を導出する。次に、書込みパワーの関数として変調度の導関数を計算し、この導関数に書込みパワー／変調度を乗算してこの導関数を正規化する。正規化導関数のプリセット値との交点がこの媒体への情報書込み用に好適な書込みパワーレベルを決定する。この最適書込みパワー設定方法は媒体に書き込まれたテストパターンの変調度を測定することにより媒体の種々の特性を考慮している。この方法は正規化導関数を使用するため使用する特定の記録装置と無関係である。この導関数は、放射ビームを媒体上に集束する対物レンズの開口数、放射ビームの強度分布及び放射ビームにより形成されるスポットの大きさのような装置パラメータに不感応である。この方法のこれらの特性は記録装置と記録媒体の各組合せに対し書込みパワーの適切な設定を提供するよう設計されている。しかし、実験の結果、既知の方法は記録装置と記録媒体のすべての組合せに対し適切な書込みパワーレベルを設定し得ないことが判明した。
本発明の第１の目的は、使用する記録装置及び媒体と無関係に適切な書込みパワーレベルを設定する方法を提供することにある。本発明の第２の目的はこの方法を使用するよう構成した光学的記録装置を提供することにある。
本発明は、第１の目的を達成するために、頭書に記載した光学的記録方法において、第４ステップにおいて、前記プリセット値を媒体から読み取ることを特徴とする。上記の実験において不適切な書込みパワーレベルが発生するのはプリセットレベルが記録すべき媒体の特性に予測し得ない依存性を示すためである。すべての媒体特性はテストパターンからの読取信号により特徴付けられるものと仮定したが、装置特性と無関係にするために使用する前記導関数が媒体特性に依存することが判明した。上述の導関数法による最適書込みパラメータレベルの設定に関する装置と媒体との間のコンパチビリティは、前記導関数のプリセット値を媒体に記録しておくことにより始めて達成しうることが確かめられた。プリセット値は媒体の製造者が記録するのが好ましい。媒体のユーザが十分なテストを実行した後にプリセット値を媒体に記録することもできる。
記録プリセット値は正規化導関数のプリセット値とするのが好ましい。前記導関数はこれに記録パラメータと読取パラメータとの比を乗算することにより正規化する。前記導関数の使用はこの方法を記録装置に存在するオフセットに不感応にするが、正規化処理はこの方法を種々の記録装置の種々のスケーリングファクタにも不感応にする。このようなスケーリングファクタは、装置内の光学系が媒体上の一連の記録マークから読取信号を発生しうる効率及び読取信号の実際の増幅度により影響されうる。
前記関数の導関数及び正規化導関数はいくつかの方法で決定することができる。導関数は既知の数値法により、例えば読取りパラメータ値間の差及び書込みパラメータ値間の差を取り出し、それらの比を計算することにより決定することができ、また所謂ラグランジュの公式又はｎポイント法により決定することができる。数値法は測定値に存在する雑音を拡大するため、導関数は読取りパラメータ値及び書込みパラメータ値に曲線をあてはめることにより得られた関数から解析的に決定するのが好ましい。関数を解析的に得ることができれば、導関数はもう計算する必要がなく、書込みパラメータの最適値を関数とプリセット値とから直接決定することができる。
本発明方法の特定の実施例では、記録パラメータを放射ビームの書込みパワーレベルの値とする。書込みパワーレベルの精密な設定はその結果得られる書込みマークの品質に極めて重要である。他の記録パラメータ、例えば消去パワー、バイアスパワー、媒体にマークを書き込むのに使用する一連のパワーの第１パルス、中間パルス及び最終パルスの持続時間及びこれらのパルスのデューティサイクルを媒体に記録された導関数のプリセット値を参照して最適値に設定することもできる。例えば、一連のテストパターンを書込みパルスの異なるデューティサイクルで書き込む場合には、この方法は最適デューティサイクルを設定することができる。
本発明方法の特定の実施例では、読取りパラメータを媒体に記録された情報から得られた読取信号の振幅の変調度とする。変調度は読取信号から容易に導出することができ、書込みパラメータを最適化するのに好適なパラメータである。他の好適な読取りパラメータは媒体の記録部分及び非記録部分の反射率とすることができ、また一連の特定のテストパターン又は一連のランダム情報を含有するテストパターンから再生された情報内のエラー数とすることができ、この場合にはエラーをビットエラー又はバイトエラーとして決定することができる。
本発明は、第２の目的を達成するために、頭書に記載した光学的記録装置において、当該装置は媒体からプリセット値を読み取る読取ユニットを具え、且つ該読取ユニットの出力端子がプリセット値を伝送するよう第２プロセッサに接続されていることを特徴とする。
本発明の目的、特徴及び利点は添付図面に示す本発明の好適実施例の以下に記載する詳細の説明から明らかになる。
図１は本発明による光学的記録装置の構成図であり、
図２は２つのテストパターンからの２つの読取信号部分を示し、
図３は書込みパワーの関数としての測定変調度及びその導関数を示すグラフであり、
図４は本発明による記録媒体を示し、
図５は記録媒体の平面図であり、
図６は記録媒体に記録されたマークのパターンの平面図である。
図１は本発明による光学的記録装置及び光学的記録媒体１を示す。媒体１は透明基板２及びその上に設けられた記録層３を有する。記録層は、例えば磁気光学タイプのもの、相変化タイプのもの、色素タイプのもの、又は他の任意の適当な材料のものとすることがでる。情報は光学的に検出可能な領域（マークともいう）の形で記録層３に記録することができる。装置は放射ビーム５を発生する放射源４、例えば半導体レーザを具える。放射ビームはビームスプリッタ６、対物レンズ７及び基板２を経て記録層３に収束される。記録媒体は放射ビームが基板を通過しないで直接記録層３に入射する空気入射形とすることもできる。記録媒体１から反射された放射は対物レンズ７により収束され、ビームスプリッタ６を通過した後に検出器８に入射し、この検出器が入射放射を電気検出信号に変換する。検出信号は回路９に入力する。この回路９は検出信号から、媒体１から読み取られた情報を表す読取信号ＳRのような幾つかの信号を取り出す。放射源４、ビームスプリッタ６、対物レンズ７、検出器８及び回路９は相まって読取ユニット１０’を構成する。回路９からの読取信号を第１プロセッサ１０で処理し、読取信号からレーザパワーレベルの制御に必要な読取りパラメータを表す信号を取り出す。取り出された信号を第２プロセッサ１１に供給し、このプロセッサで読取りパラメータの一連の値を処理し、これらの値に基づいて書込みパワー制御信号の値を取り出す。書込みパワー制御信号は制御ユニット１２に供給される。媒体１に書き込むべき情報を表す情報信号１３も制御ユニット１２に供給される。制御ユニット１２の出力は放射源４に接続される。記録層３上のマークはプロセッサ１１により決定される最適書込みパワーレベルにより決まるパワーを有する単一の放射パルスで書き込むことができる。マークは、等しい長さ又は異なる長さ及び書込みパワー制御信号により決まる１以上のパワーレベルを有する一連の放射パルスにより書き込むこともできる。プロセッサは、計算を実行する任意の手段、例えばマイクロプロセッサ、ディジタル信号プロセッサ、ハードワイヤドアナログ回路又はフィールドプログラマブル回路を意味するものと理解されたい。
放射源４により放射される実際の放射パワーは、放射ビームの不使用のサイドローブ内に配置された又は放射ビームの光路外に反射された放射内配置された検出器（図示せず）により測定することができる。この検出器の信号をプロセッサ１１に直接供給することができる。或いは又、この信号を制御ユニット１２に供給し、ここで読取信号のピーク振幅と組み合わせて記録層３で受信された放射パワーのめやすを形成した後にプロセッサ１１に供給することもできる。
情報を媒体１に書き込む前に、装置は下記のプロシージャを実行してその書込みパワーを最適値にセットする。最初に、装置は一連のテストパターンを媒体１に書き込む。テストパターンは所望の読取信号を与えるように選択する必要がある。読取信号から取り出すべき読取りパラメータがテストパターンに関連する読取信号部分の最大変調度である場合には、テストパターンは読取信号部分の最大変調度を達成するよう十分に長いマークを含む必要がある。情報が所謂８−１４変調（ＥＦＭ）に従って符号化される場合には、テストパターンは変調方式の長いＩ11マークを含むものとするのが好ましい。各テストパターンを異なる書込みパワーで記録する。書込みパワーのレンジは媒体上に制御情報として記録されている指示パワーレベルに基づいて選択することができる。次のパターンをプロセッサ１１の制御の下で段階的に増大する書込みパワーで書き込むことができる。これらのパターンは媒体の任意の場所に書き込むことができる。これらのパターンは媒体上に特別に設けられたテスト領域に書き込むこともできる。
図２は２つの異なる書込みパワーレベルで書き込まれた２つのパターンから得られた読取信号部分１８及び１９を示す。これらのパターンは、読取信号部分１８及び読取信号部分１９にそれぞれ信号部分１５、１６及び１７で示すように、短いマーク、長いマーク及び短いマークを含む。実際のパターンは異なる長さ又は等しい長さの数百個のマークを含むことができる。
プロセッサ１０は読取信号ＳRから最適書込みパワーの検出に使用する読取りパラメータを取り出す。一つの可能な読取りパラメータは、図２に読取信号部分１８に対し’ａ’で示す読取信号部分の最低振幅と’ｂ’で示す同一読取信号部分の最大振幅との比である。好適な読取りパラメータは’ｃ’で示す読取信号部分の最大ピーク−ピーク値と読取信号の最大値’ｂ’との比である正規化変調度である。
媒体１上のテストパターンの読取り後に、プロセッサ１１はパターンの変調度及び該パターンを書き込んだ書込みパワーに関する一連の値の対を形成する。これらの書込みパワーはテストパターンの記録中の書込みパワー制御信号の値から取り出すことができ、或いは放射パワーの測定により得ることができる。図３はテストパターンから得られた読取信号を処理した結果を図式的に示し、×は変調度ｍ及びテストパターンの書込みパワーＰに関する値の対を示す。プロセッサ１１は書込みパワーの関数としての変調度の変化を表す解析的式を得るために測定変調度の値に曲線をあてはめる。この曲線を図３に破線で示す。曲線のあてはめは公知の最小２乗あてはめアルゴリズムにより実行することができる。あてはめられた曲線は関数m(P)により表される。
次のステップで、プロセッサ１１が関数m(P)の書込みパワーＰに関する正規化導関数を解析的に計算する。正規化導関数g(P)は関数(dm/dP)(P/m)に等しい。図３のあてはめ変調度曲線から導出される関数ｇを実線曲線で示す。
次に、プロセッサ１１は正規化導関数から中間書込みパワーＰiを取り出す。この目的のために、プロセッサ１１は媒体からプリセット値ｇ0を読み取り、図３の下半部に破線で示すように、プリセット値ｇ0に対応する書込みパワーＰの値を決定する。ｇ0の値は記録媒体の製造メーカによりセットされ、媒体に蓄積された値とすることができる。次のステップとして、中間書込みパワーＰiの値に１より大きい定数ｈを乗算し、最適書込みパワーレベルＰ0を得る。
プリセット値ｇ0及び乗算定数ｈの値は媒体の製造メーカにより決定され、或いは媒体の初期化中にユーザにより決定される。ｇ0の値は０．２〜５．０の範囲内に設定される。５．０以上の値に対しては、正規化導関数がその予測値をあいまいにする。その理由は漸近線の近似がｇ0に関するＰの値を書込みパワー軸上に近接して位置させることになるからである。５．０以上のｇ0の値を避ける他の理由は導関数の測定誤差の増大にある。０．２以下のｇ0の値に対しては、正規化導関数が小さな勾配を有し、導関数の値の小さな誤差がｇ0と関連するＰiの値の大きな誤差となる。ＣＤフォーマットを有する書換え可能な記録媒体について実験した結果、０．５〜２．０の範囲内のｇ0値が好適であり、高密度媒体に対しては２．０〜４．０の範囲内のｇ0値が好適であることが確かめられた。乗算定数ｈは１．００〜１．３５の範囲内に設定するのが好ましく、同様に媒体に記録する。（ｈＰi）に等しい最適書込みパワーＰ0は一般に変調度ｍが飽和し始める書込みパワーに近い値に設定される。最適消去パワーを最適書込みパワーから、（ｋＰ0）に等しい最適消去パワーＰeを計算することにより取り出すことができる。ｋは乗算定数であり、この定数も媒体に記録することができ、０．４０〜０．６６の範囲内の値にするのが好ましい。
ｇ0及びｈを設定する好適な方法では、特定の媒体の最適書込みパワーを、この媒体に書き込まれた情報の読取信号のジッタが最低になる書込みパワーを見つけ出すことにより決定する。情報はランダム情報とするのが好ましい。次に、正規化導関数(dm/dP)(P/m)を上述したように書き込まれた一連のテストパターンから決定する。上述の範囲内、即ち正規化導関数が平坦すぎないとともに急勾配すぎない範囲内のｇ0の値を選択する。このｇ0値に関連するＰiの値を正規化導関数により決定する。ｈの値はＰ0／Ｐiに等しい。ｇ0及びｈのこれらの値をすべての記録装置に使用するために同一タイプのすべたの媒体、即ち同一製造プロセスにより製造されるすべての媒体に記録することができる。一般に、異なるタイプの媒体、例えば異なる製造メーカからの媒体にはｇ0の異なる値を、必要に応じｈの異なる値も、記録するものとする。ある応用例においてｈの値を固定し、媒体に記録しない場合には、記録すべきｇ0の値をこのｇ0値に関連するＰiの値×ｈの固定値が最適書込みパワーＰ0になるように選択する必要がある。
正規化導関数の値は記録装置及び記録媒体のパラメータの変化により殆ど影響されないことが判明した。最適書込みパワーレベルを正規化導関数に基づいて選択すると、選択されたレベルは種々の記録装置により種々の記録媒体に高信頼度の記録を行うのに好適である。この書込みパワーレベルは正規化導関数のプリセット値に対応するパワーレベルを取ることにより選択することができる。正規化導関数を使用する利点は、曲線のあてはめを行わない場合にも達成することができる。この場合には、導関数は読取りパラメータ対書込みパワーレベルデータから、例えば測定値間の差を計算することにより決定することができる。しかし、曲線あてはめステップを省略すると、導関数の値の雑音が増大し、幾つかの媒体に対し最適書込みパワーを設定するのに導関数を使用することができなくなる。
値の対（ｍ，Ｐ）にあてはめるべき関数は１以上の多項式、好ましくは直交多項式とすることができる。この場合、この曲線は：
0003916675.tif 000002
と書き表せる。
正規化導関数は解析的に：
0003916675.tif 000003
で与えられ、ここでｆ’(P)は関数ｆのパラメータＰに関する導関数である。Ｐiの値は次の等式から見つけ出すことができる。
0003916675.tif 000004
あてはめる曲線の選択に依存して、Ｐiの値は解析式の形で見つけ出すことができ、或いは誤差調整法(regula falsi)又はニュートンの方法のような数値逐次根近似法の結果として見つけ出すことができる。解析式の使用は、それが可能であれば、常に正しい根を提供するが、逐次近似は不所望な根になることがある。等式（３）の解析式を見つけ出すことができる場合には、正規化導関数ｇはもう決定する必要がなく、プリセット値ｇ0を等式（３）に直接挿入して関連するＰiの値を決定することができる。
適切な一組の直交多項式ｆiはルジャンドル多項式である。４つの最低次数のルジャンドル多項式は：
0003916675.tif 000005
で与えられる。これらの多項式は区間−１＜Ｐ＜＋１で定義され且つ書込みパワーはＰmin〜Ｐmaxの範囲から取られるため、あてはめるべき書込みパワー値は、
0003916675.tif 000006
に従ってスケーリングする必要がある。
この場合にはスケーリングした書込みパワーレベルＰSを等式（４）に使用する必要がある。等式（３）から見つけ出されたＰiの値を範囲Ｐmin〜Ｐmaxに戻すスケーリングを行う必要がある。
ディジタルプロセッサを使用する場合には、ｍ及びＰの入力値をアナログ−ディジタル変換器によりアナログ値からディジタル値に変換する必要がある。ディジタル出力値のビット数は測定値の雑音に対応させることができる。例えば、パラメータの値の雑音がパラメータの最大値の１％である場合には、変換器は８ビット以上にして、１／２8＝１／２５６の追加の量子化雑音を導入するのみとする必要がある。
コスト上の理由のために、上述の計算を行うプロセッサ１１を小形のプロセッサとする場合には、これらの計算は整数フォーマットで実行するのが好ましい。従って、ｍ及びＰの値は実際値から整数値に変換する必要がある。この変換に対する乗算定数は追加の雑音を導入しないように十分大きくする必要があるとともに、多大の計算能力を必要としないように十分小さくする必要がある。この定数は、値の整数表現において決まるｍ又はＰの値に存在する雑音が整数表現の最下位ビットに対応する値より僅かに大きくなるように選択するのがよい。値の雑音は上述した量子化雑音を含む。例えばｍの値の雑音がｍの最大値の０．５％である場合には、約１０００をパラメータの最大値で割った値の乗算係数が適当である。
ｍ及びＰの値をあてはめるために一連の多項式を使用する代わりに、単一関数を使用することもできる。この関数はＰの大きな値に対し漸近線を有するものが好ましい。これは数個のパラメータを有し、それらの値を曲線のあてはめにより決定する必要がある。この関数は数個のパラメータを有し、Ｐの小さい値における関数の値、Ｐの中間値における関数の導関数、及びＰの大きな値における関数の値を有するものとする必要がある。適切な関数は、
0003916675.tif 000007
である。正規化導関数は解析式の形で与えることができる。等式（４）が１つの二次方程式に減少し、逐次近似によらずに根を見つけ出すことができる。
他の好適な関数はアークタンジェント及びハイパボリックタンジェント：
0003916675.tif 000008
である。アークタンジェント及びハイパボリックタンジェントの値は計算をスピードアップするためにルックアップテーブルに記憶することができる。
図４ａは本発明によるディスク状記録媒体１を示す。この記録媒体は螺旋パターンに配置された記録用の連続トラック１０９を有する。この記録トラックは螺旋の代わりに同心円に配置することもできる。記録媒体上のトラック１０９の位置は、例えば前置溝１０４の形態のサーボパターンにより指示され、これにより走査中読取／書込ヘッドをトラック１０９に追従させることができる。或いは又、サーボパターンは、例えばサーボトラッキングシステムに周期的に信号を発生させる均一分布のサブパターンとすることができる。図４ｂは記録媒体１の線ｂ−ｂに沿う断面を示し、この断面では基板２は記録層３及び層１０７により覆われ、３つの溝１０４の断面が見える。前置溝１０４は基板の隆起部分として、又は周囲と異なる特性を有する材料部分として形成することもできる。記録層３は記録装置により光学的に又は磁気光学的に書き込むことができる。記録媒体上の情報はマークのパターンにより表される。情報は、各マークを一定の書込みパワー又は例えばマークの長さに依存して変化する書込みパワーの１以上の記録パルスにより形成する記録プロセスによりトラック１０９に記録する。書込みパワー、パルスの数及びデューティサイクル等のような記録プロセスの記録パラメータを記録媒体に、特にこの記録媒体の材料特性に適合させる必要がある。書き換え可能な記録担体の一例は既知の追記型ＣＤ又はコンピュータ用のＣＤ−ＭＯである。同様に情報を具える書き換え可能なＣＤシステムの広範な記述がＵＳ４，９０１，３００及びＵＳ５，１８７，６９９に見られる。ＣＤの読取り及び前置溝部分の使用の記述は本"Principles of optical disc systems"、Bouwhuis等著、ISBN 0-85274-785-3、に見られる。
図４ｃ及び４ｄは周期的変調（ウォブル）を有する溝の特定の実施例を具える媒体１の拡大区分１０２を示す。このウォブルはサーボトラッキングピックアップに追加の信号を生じさせる。ウォブルは、例えば補助信号により周波数変調され、情報が補助信号に符号化される。溝に記録されたこのような情報を有する記録媒体の記述はＥＰ−Ａ０３９７２３８に見られる。前置溝は記録プロセスを表す制御情報を記録するのに極めて好適である。例えば光学テープのような異なるタイプの記録媒体には制御情報を種々の方法で、例えば制御領域をテープの始端に、又は補助トラックに沿って配置することにより設けることができる。
媒体をＣＤ媒体に対する公称速度で読み取ると、前置溝からの追加の信号は１ｋＨｚの偏差で周波数変調された２２．０５ｋＨｚの周波数を有する。ＦＭ復調及びディジタル化後に、３１５０ビット／ｓのビットレートを有するビットストリームが生じる。このビットストリームを各４２ビットのフレームに分割し、各フレームは４個の同期ビット、２４個の情報ビット及び１４個の誤り訂正ビットをこの順序に具える。フレームに蓄積された情報の内容はビットストリーム内のフレームの位置に依存する。１０フレームのグループにおいて、９個の連続フレームが媒体上のユーザ情報をアクセスするアドレスとして使用するＡＴＩＰ（前置溝内の絶対時間）というタイムコードを具える。１０フレームのグループの第１０フレームは制御情報を具える。９タイムコードフレームの間隔で連続する３つの制御情報フレームがパワーＰiの指示値、乗算定数ｈの値、正規化導関数ｇ0の値及び乗算定数ｋの値を具える。制御情報を具えるフレームはユーザ情報を記録する領域より前、例えばＣＤタイプ媒体のリードイン領域に位置させるのが好ましい。
図５はトラック３０が設けられた記録媒体１の他の例を示す。トラックは円形又は螺旋形とすることができるとともに、例えばエンボス加工の条溝又は突条の形態にすることができる。媒体の記録領域はユーザ情報を書き込む情報記録領域３１と、媒体の情報書込み、読取り及び消去に関する情報の蓄積用であって、一般にユーザ情報の記録に予定されていない制御領域３２とに分割される。制御領域３２は図に破線トラック３２により示されている。情報記録領域３１は特定の書込みパワーレベル以上の放射に露光されると光学的に検出可能な特性の変化を受けるタイプのものとする。ｇ0の値は媒体の制御領域３２に制御情報のパターンとして蓄積することができる。制御領域をエンボス加工する場合には、媒体の製造メーカがこの値を記録しなければならない。或いは又、ユーザが例えば媒体の初期化中にこの値を媒体に記録し、ディスク特定値の記録を可とすることもできる。ｈ及びｋの値もｇ0の値と同様に記録することができる。図６は制御情報が符号化されたマーク３４のパターンを具えるトラック３３の一部分を大きく拡大して示す図である。
以上本発明を記録パラメータとして書込みパワーを用い、読取りパラメータとして読取信号の変調度を用いる実施例により説明したが、本発明では他の組合せの記録及び読取パラメータを使用することもできること明らかである。例えば、マークの記録に使用するパルスパターンの特定のタイミングを記録パラメータとして用い、読取信号のジッタを読取りパラメータとして用いることができる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４ａ】
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【図４ｂ】
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【図４ｃ】
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【図４ｄ】
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【図５】
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【図６】
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