(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
単位液晶表示パネルのゲートパッド部及びデータパッド部に形成された少なくとも一つの整列マークと、
前記ゲートパッド部の端部と整列マークとの間、そして前記データパッド部の端部と整列マークとの間に配置された、所定間隔に離隔された複数の研磨量識別パターンとを含み、
前記複数の研磨量識別パターンの各々は、前記単位液晶表示パネルの端部側の第１領域と前記整列マーク側の第２領域とに区分され、各研磨量識別パターンにおける前記第１領域と前記第２領域との境界が、該パターンが前記複数の研磨量識別パターンの中央から一方の方向に離れるほど前記単位液晶表示パネルの端部に近づき、他方の方向に離れるほど前記整列マークに近づくように形成されていることを特徴とする液晶表示パネルの研磨量判断表示器。
【請求項２】
前記整列マークは、データ配線又はゲート配線とデータドライバ集積回路又はゲートドライバ集積回路の複数のピンとの整列のために互いに離隔して形成されることを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネルの研磨量判断表示器。
【請求項３】
前記研磨量は、研磨方向に沿って研磨量識別パターンの中間で最適化されたことを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネルの研磨量判断表示器。
【請求項４】
前記研磨量識別パターンは、前記研磨量の限界許容値に該当する幅を有することを特徴とする請求項３記載の液晶表示パネルの研磨量判断表示器。
【請求項５】
前記限界許容値は、前記研磨量識別パターンの中間から±１００μmに設定されたことを特徴とする請求項４記載の液晶表示パネルの研磨量判断表示器。
【請求項６】
前記第２領域の下部に、各研磨量識別パターンとそれぞれ対応して研磨量が表示されるマークをさらに具備することを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネルの研磨量判断表示器。
【請求項７】
ゲートパッド部及びデータパッド部に少なくとも一つの整列マークが具備され、前記ゲートパッド部の端部と整列マークとの間、そして前記データパッド部の端部と整列マークとの間に、所定間隔に離隔された複数の研磨量識別パターンが配置された単位液晶表示パネルの縁部を研磨する段階を含み、
前記複数の研磨量識別パターンの各々は、前記単位液晶表示パネルの端部側の第１領域と前記整列マーク側の第２領域とに区分され、各研磨量識別パターンにおける前記第１領域と前記第２領域との境界が、該パターンが前記複数の研磨量識別パターンの中央から一方の方向に離れるほど前記単位液晶表示パネルの端部に近づき、他方の方向に離れるほど前記整列マークに近づくように形成され、さらに、
前記複数の研磨量識別パターンを検査して単位液晶表示パネルの研磨量を判断する段階を含んで構成されることを特徴とする液晶表示パネルの研磨不良検出方法。
【請求項８】
前記液晶表示パネルは、複数のゲート配線とデータ配線が形成されたことを特徴とする請求項７記載の液晶表示パネルの研磨不良検出方法。
【請求項９】
前記ゲートパッド部に形成された研磨量識別パターンは、各ゲート配線が形成されると同時に形成されることを特徴とする請求項７記載の液晶表示パネルの研磨不良検出方法。
【請求項１０】
前記データパッド部に形成された研磨量識別パターンは、各データ配線が形成されると同時に形成されることを特徴とする請求項７記載の液晶表示パネルの研磨不良検出方法。
【請求項１１】
前記整列マークは、データ配線又はゲート配線とデータドライバ集積回路又はゲートドライバ集積回路の複数のピンとの整列のために互いに離隔して形成されることを特徴とする請求項７記載の液晶表示パネルの研磨不良検出方法。
【請求項１２】
前記研磨量は、研磨方向に沿って研磨量識別パターンの中間で最適化されてことを特徴とする請求項７記載の液晶表示パネルの研磨不良検出方法。
【請求項１３】
前記研磨量識別パターンは、前記研磨量の限界許容値に該当する幅を有することを特徴とする請求項１２記載の液晶表示パネルの研磨不良検出方法。
【請求項１４】
前記限界許容値は、前記研磨量識別パターンの中間から±１００μmに設定されたことを特徴とする請求項１３記載の液晶表示パネルの研磨不良検出方法。
【請求項１５】
前記研磨量識別パターンは、前記第２領域の下部に研磨量が表示されるマークにより区別されることを特徴とする請求項７記載の液晶表示パネルの研磨不良検出方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示パネルの研磨量判断表示器及びこれを利用した研磨不良検出方法に係るもので、詳しくは、大面積の母基板上に製作された各液晶表示パネルを個別的な単位液晶表示パネルに切断した後、単位液晶表示パネルの縁部を研磨するにおいて、その研磨量検出を単純化するための液晶表示パネルの研磨量判断表示器及びこれを利用した研磨不良検出方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、液晶表示装置においては、大面積の母基板に各薄膜トランジスタ・アレイ基板を形成し、別途の母基板に各カラーフィルター基板を形成した後、二つの母基板を合着することによって、各液晶表示パネルを同時に形成して収率の向上を図っているため、単位液晶表示パネルに切断する工程が要求される。
【０００３】
通常、前記単位液晶表示パネルの切断は、ガラスに比べて硬度の高いホイールにより母基板の表面に切断予定溝を形成し、その切断予定溝を沿ってクラックが伝播されるようにする工程を通して実施される。
【０００４】
以下、このような液晶表示装置の製作過程について、図面を用いて説明する。
図３は、前記のような各薄膜トランジスタ・アレイ基板が形成された第１母基板と各カラーフィルター基板が形成された第２母基板が合着されて複数の液晶表示パネルをなす断面構造を示した例示図である。
【０００５】
図３に示したように、各単位液晶表示パネルは、薄膜トランジスタ・アレイ基板１の一方が各カラーフィルター基板２に比べて突出するように形成される。これは、各カラーフィルター基板と重ならない各薄膜トランジスタ・アレイ基板１の縁部にゲートパッド部（図示せず）とデータパッド部（図示せず）が形成されるためである。
【０００６】
従って、第２母基板３０上に形成された各カラーフィルター基板２は、第１母基板２０上に形成された各薄膜トランジスタ・アレイ基板１が突出する面積に対応するダミー領域３１だけ離隔されて形成される。
【０００７】
また、各単位液晶表示パネルは、第１、第２母基板２０、３０を最大限利用し得るように適切に配置され、モデルによって異なるが、一般的に各単位液晶表示パネルはダミー領域３２だけ離隔されるように形成される。
【０００８】
前記各薄膜トランジスタ・アレイ基板１が形成された第１母基板２０と各カラーフィルター基板２が形成された第２母基板３０が合着された後、各液晶表示パネルを個別的に切断するが、この時、第２母基板３０の各カラーフィルター基板２を離隔させる領域に形成されたダミー領域３１と各単位液晶表示パネルを離隔させるダミー領域３２とが同時に取り除かれる。
【０００９】
又、前記第２母基板３０から各液晶表示パネルを個別的に切断した後、単位液晶表示パネルの鋭い角を研磨することによって、前記薄膜トランジスタ・アレイ基板１上に導電膜を形成する時、発生し得る静電気を遮断するために薄膜トランジスタ・アレイ基板１の縁部に形成された短絡配線を取り除き、外部の衝撃により単位液晶表示パネルの角から破片が落ちて離脱することを防止し、工程の進行中に作業者が単位液晶表示パネルの鋭い角により怪我をする危険を防止する。
【００１０】
以下、前記のような従来の単位液晶表示パネルの研磨方法及び研磨量検出方法について、図面を用いて説明する。
【００１１】
まず、図４は、個別的に切断された単位液晶表示パネルの概略的な平面構造を示した例示図である。
【００１２】
図４に示したように、単位液晶表示パネル１０は、各液晶セルがマトリックス状に配列される画像表示部１３と、前記画像表示部１３の各ゲート配線ＧＬ１〜ＧＬｍをゲート信号が印加されるゲートドライバ集積回路（図示せず）と接続させるためのゲートパッド部１４と、前記画像表示部１３の各データ配線ＤＬ１〜ＤＬｎを画像情報が印加されるデータドライバ集積回路（図示せず）と接続させるためのデータパッド部１５とから構成される。このとき、ゲートパッド部１４とデータパッド部１５は、カラーフィルター基板２に比べて一方の短辺及び一方の長辺が突出した薄膜トランジスタ・アレイ基板１の縁部領域に形成される。
【００１３】
ここで、図面に示してないが、前記各データ配線ＤＬ１〜ＤＬｎと各ゲート配線ＧＬ１〜ＧＬｍが垂直に交差する領域には各液晶セルをスイッチングするための薄膜トランジスタが具備され、その薄膜トランジスタに接続されて液晶セルを駆動する画素電極と、このような各データ配線ＤＬ１〜ＤＬｎ、各ゲート配線ＧＬ１〜ＧＬｍ、各薄膜トランジスタ及び各電極を保護するために全面に形成された保護膜が具備される。
【００１４】
又、前記のように、薄膜トランジスタ・アレイ基板１上に各データ配線ＤＬ１〜ＤＬｎ、各ゲート配線ＧＬ１〜ＧＬｍ、及び各電極を形成する場合に発生し得る静電気を遮断するために、前記各導電性膜を電気的に短絡させる短絡配線（図示せず）が薄膜トランジスタ・アレイ基板１の縁部に形成される。
【００１５】
そして、前記画像表示部１３のカラーフィルター基板２には、ブラックマトリックスによりセル領域別に分離されて塗布された各カラーフィルターと、前記薄膜トランジスタ・アレイ基板１に形成された画素電極の対向電極である共通電極が具備される。
【００１６】
前記のように構成された薄膜トランジスタ・アレイ基板１とカラーフィルター基板２には対向して所定間隔に離隔されるようにセル・ギャップが設けられ、画像表示部１３の外郭に形成されたシーリング部（図示せず）により合着され、薄膜トランジスタ・アレイ基板１とカラーフィルター基板２との離隔空間に液晶層（図示せず）が形成される。
【００１７】
一方、前記ゲートパッド部１４とデータパッド部１５には、前記各データ配線ＤＬ１〜ＤＬｎ、及び各ゲート配線ＧＬ１〜ＧＬｍと前記ゲートドライバ集積回路及びデータドライバ集積回路から引出される各接触ピンを精密に整列させるために所定個数の各タップマーク５０Ａ〜５０Ｊが離隔形成される。
【００１８】
前記のような単位液晶表示パネル１０は、図４の拡大領域ＥＸ１に示したように、単位液晶表示パネル１０の端部ＥＮＤ１から研磨予定線Ｒ１まで角が傾斜するように研磨しなければならない。しかし、単位液晶表示パネル１０の実際に研磨された線は、前記研磨予定線Ｒ１から所定範囲の誤差を有するようになり、このような誤差が許容限界値Ｄ１から脱する場合に研磨不良と判定される。
【００１９】
前記研磨不良を判定するためには、作業者が研磨された単位液晶表示パネル１０を所定周期に生産ラインから取り出し、別途に設けられた測定装備に移送した後、その測定装備に設けられた高倍率カメラや投影機などによって、単位液晶表示パネル１０の実際に研磨された線が許容限界値Ｄ１を脱したか否かを判断しなければならない。
【００２０】
【発明が解決しようとする課題】
以上説明したように、このような従来の液晶表示パネルの研磨量検出方法においては、単位液晶表示パネルを研磨した後、所定周期に単位液晶表示パネルを生産ラインから取り出して別途の測定装備に移送し、その測定装備に設けられた高倍率カメラや投影機などによって、単位液晶表示パネルの実際に研磨された線が許容限界値を脱したか否かを判断しなければならない。
【００２１】
従って、切断された単位液晶表示パネルの研磨量検査のために、作業者が単位液晶表示パネルを生産ラインから測定装備に移送した後、測定装備で研磨量を検査する作業が煩雑で不便な問題点があり、単位液晶表示パネルの研磨量検査に必要な時間が長くなるにつれて生産性が低下するという不都合な点があった。
【００２２】
且つ、高価な測定装備が別途に要求されることによって、生産ラインの設備費用及び維持補修の費用が増大し、製品の原価上昇が不可欠であるという不都合な点があった。
【００２３】
且つ、所定周期に単位液晶表示パネルをサンプリングして研磨量検査を遂行することによって、検査の信頼性が低下するという問題点があり、不良と判定される場合に作業を中断し、以前にサンプリングされた単位液晶表示パネルから以後にサンプリングされる単位液晶表示パネルまでの全ての単位液晶表示パネルの研磨量を検査することによって、後続工程が進行された各単位液晶表示パネルを廃棄しなければならないため、これによる材料の浪費及び所要時間が非常に大きくなるという不都合な点があった。
【００２４】
本発明は、このような従来の課題に鑑みてなされたもので、大面積の母基板上に製作された各液晶表示パネルを個別的な単位液晶表示パネルに切断した後、単位液晶表示パネルの縁部を研磨する場合において、その研磨量検出を単純化し得る液晶表示パネルの研磨量判断表示器及びこれを利用した研磨不良検出方法を提供することを目的とする。
【００２５】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成するため、本発明に係る液晶表示パネルの研磨量判断表示器の第１実施形態においては、単位液晶表示パネルのゲートパッド部及びデータパッド部に形成された少なくとも一つの整列マークと、前記ゲートパッド部及び端部と整列マーク間に少なくとも一つの研磨量識別パターンが具備されていることを特徴とする。
【００２６】
且つ、本発明に係る液晶表示パネルの研磨不良検出方法においては、ゲートパッド部及びデータパッド部に少なくとも一つの整列マークが具備され、前記ゲートパッド部及びデータパッド部の端部と整列マーク間に研磨量識別パターンが具備された単位液晶表示パネルの角を研磨する段階と、前記研磨量識別パターンを検査して単位液晶表示パネルの研磨量を判断する段階と、を包含して構成されることを特徴とする。
【００２７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。
本発明に係る液晶表示パネルの研磨量判断表示器の第１実施形態においては、図１に示したように、単位液晶表示パネル１００は、各液晶セルがマトリックス状に配列された画像表示部１１３と、前記画像表示部１１３の各ゲート配線ＧＬ１〜ＧＬｍをゲート信号が印加されるゲートドライバ集積回路（図示せず）と接続させるためのゲートパッド部１１４と、前記画像表示部１１３の各データ配線ＤＬ１〜ＤＬｎを画像情報が印加されるデータドライバ集積回路（図示せず）と接続させるためのデータパッド部１１５とから構成される。このとき、ゲートパッド部１１４とデータパッド部１１５は、カラーフィルター基板に比べて一方の短辺及び一方の長辺が突出した薄膜トランジスタ・アレイ基板１０１の縁部領域に形成される。
【００２８】
このとき、図面には示してないが、前記各データ配線ＤＬ１〜ＤＬｎと各ゲート配線ＧＬ１〜ＧＬｍが垂直に交差する領域には、各液晶セルをスイッチングするための薄膜トランジスタが具備され、その薄膜トランジスタに接続されて液晶セルを駆動する画素電極と、このような各データ配線ＤＬ１〜ＤＬｎ、各ゲート配線ＧＬ１〜ＧＬｍ、各薄膜トランジスタ及び各電極を保護するために全面に形成された保護膜が具備されている。
【００２９】
又、前記のように、薄膜トランジスタ・アレイ基板１０１上に各データ配線ＤＬ１〜ＤＬｎ、各ゲート配線ＧＬ１〜ＧＬｍ、及び各電極のような各導電性膜を形成する時に発生し得る静電気を電気を遮断するために、前記各導電性膜を電気的に短絡させる短絡配線（図示せず）が薄膜トランジスタ・アレイ基板１０１の縁部に形成される。
【００３０】
そして、前記画像表示部１１３のカラーフィルター基板１０２には、ブラックマトリックスによりセル領域別に分離されて塗布された各カラーフィルターと、前記薄膜トランジスタ・アレイ基板１０１に形成された画素電極の対向電極である共通電極が具備される。
【００３１】
前記のように構成された薄膜トランジスタ・アレイ基板１０１とカラーフィルター基板１０２とは対向して所定間隔に離隔されるようにセル・ギャップが設けられ、画像表示部１１３の外郭に形成されたシーリング部（図示せず）により合着され、薄膜トランジスタ・アレイ基板１０１とカラーフィルター基板１０２との離隔空間に液晶層（図示せず）が形成される。
【００３２】
一方、前記ゲートパッド部１１４とデータパッド部１１５には、前記各データ配線ＤＬ１〜ＤＬｎ、及び各ゲート配線ＧＬ１〜ＧＬｍと前記ゲートドライバ集積回路及びデータドライバ集積回路から引出される各接触ピンを精密に整列させるために所定個数の各タップマーク１５０Ａ〜１５０Ｊが離隔形成され、例えば、図１に示したように、ゲートパッド部１１４には３つのタップマーク１５０Ａ〜１５０Ｃが所定間隔に離隔形成され、データパッド部１１５には７つのタップマーク１５０Ｄ〜１５０Ｊが所定間隔に離隔形成される。
【００３３】
前記のような単位液晶表示パネル１００は、単位液晶表示パネル１００の端部ＥＤ１から研磨予定線Ｒ１まで角が傾斜されるように研磨しなければならない。しかし、図１の拡大領域ＥＸ１に示したように、単位液晶表示パネル１００の実際に研磨された線は、前記研磨予定線Ｒ１から所定範囲の誤差を有するようになり、このような誤差が許容限界値Ｄ１から脱する場合に研磨不良と判定される。
【００３４】
従来は、作業者が研磨された単位液晶表示パネル１００を所定周期に生産ラインから取り出し、別途に設けられた測定装備に移送して、その測定装備に設けられた高倍率カメラや投影機などによって、単位液晶表示パネル１００の実際に研磨された線が許容限界値Ｄ１を脱したか否かを判断しなければならない。
【００３５】
しかし、本発明の第１実施形態においては、前記図１の例示図に示したように、研磨予定線Ｒ１を基準に許容限界値Ｄ１に該当する領域に研磨量識別パターン１２０が形成されている。このとき、許容限界値Ｄ１は、通常研磨予定線Ｒ１から±１００μmと設定している。又、前記研磨量識別パターン１２０がゲートパッド部１１４に形成される場合には、各ゲート配線ＧＬ１〜ＧＬｍを形成すると同時に形成し、データパッド部１１５に形成される場合には、各データ配線ＤＬ１〜ＤＬｎを形成すると同時に形成することが望ましい。
【００３６】
従って、前記単位液晶表示パネル１００の実際に研磨された線が許容限界値Ｄ１を脱したか否かの判断は、前記研磨量識別パターン１２０の目視検査（肉眼検査）により行われる。
【００３７】
つまり、研磨が完了された単位液晶表示パネル１００の研磨量識別パターン１２０を観察した時、研磨量識別パターン１２０が全然研磨されてないか、または研磨量識別パターン１２０が完全に研磨されて観察されない場合には、研磨不足または研磨過多として不良判定が下される。
【００３８】
前記のような本発明に係る液晶表示パネルの研磨量判断表示器及びこれを利用した研磨不良検出方法の第１実施形態においては、研磨量識別パターン１２０の目視検査により単位液晶表示パネル１００の研磨不良を判断することができるので、従来のように別途の測定装備が要求されることはなく、全ての単位液晶表示パネル１００に対して研磨不良を判断し得るようになる。
【００３９】
且つ、本発明に係る液晶表示パネルの研磨量判断表示器の第２実施形態においては、図２に示したように、単位液晶表示パネル１００は、各液晶セルがマトリックス状に配列された画像表示部１１３と、前記画像表示部１１３の各ゲート配線ＧＬ１〜ＧＬｍをゲート信号が印加されるゲートドライバ集積回路（図示せず）と接続させるためのゲートパッド部１１４と、前記画像表示部１１３の各データ配線ＤＬ１〜ＤＬｎを画像情報が印加されるデータドライバ集積回路（図示せず）と接続させるためのデータパッド部１１５とから構成される。このとき、ゲートパッド部１１４とデータパッド部１１５は、カラーフィルター基板１０２に比べて一方の短辺及び一方の長辺が突出した薄膜トランジスタ・アレイ基板１０１の縁部領域に形成される。
【００４０】
このとき、図面には示してないが、前記各データ配線ＤＬ１〜ＤＬｎと各ゲート配線ＧＬ１〜ＧＬｍが垂直に交差する領域には、各液晶セルをスイッチングするための薄膜トランジスタが具備され、その薄膜トランジスタに接続されて液晶セルを駆動する画素電極と、このような各データ配線ＤＬ１〜ＤＬｎ、各ゲート配線ＧＬ１〜ＧＬｍ、各薄膜トランジスタ及び各電極を保護するために全面に形成された保護膜が具備されている。
【００４１】
又、前記のように、薄膜トランジスタ・アレイ基板１０１上に各データ配線ＤＬ１〜ＤＬｎ、各ゲート配線ＧＬ１〜ＧＬｍ、及び各電極のような各導電性膜を形成する場合に発生し得る静電気を遮断するために、前記各導電性膜を電気的に短絡させる短絡配線（図示せず）が薄膜トランジスタ・アレイ基板１０１の縁部に形成される。
【００４２】
そして、前記画像表示部１１３のカラーフィルター基板１０２には、ブラックマトリックスによりセル領域別に分離されて塗布された各カラーフィルターと、前記薄膜トランジスタ・アレイ基板１０１に形成された画素電極の対向電極である共通電極が具備される。
【００４３】
前記のように構成された薄膜トランジスタ・アレイ基板１０１とカラーフィルター基板１０２には対向して所定間隔に離隔されるようにセル・ギャップが設けられ、画像表示部１１３の外郭に形成されたシーリング部（図示せず）により合着され、薄膜トランジスタ・アレイ基板１０１とカラーフィルター基板１０２との離隔空間に液晶層（図示せず）が形成される。
【００４４】
一方、前記ゲートパッド部１１４とデータパッド部１１５には、前記各データ配線ＤＬ１〜ＤＬｎ及び各ゲート配線ＧＬ１〜ＧＬｍと前記ゲートドライバ集積回路及びデータドライバ集積回路から引出される各接触ピンを精密に整列させるために所定個数の各タップマーク１５０Ａ〜１５０Ｊが離隔形成され、例えば、図２に示したように、ゲートパッド部１１４には３つのタップマーク１５０Ａ〜１５０Ｃが所定間隔に離隔形成され、データパッド部１１５には７つのタップマーク１５０Ｄ〜１５０Ｊが所定間隔に離隔形成される。
【００４５】
前記のような単位液晶表示パネル１００は、単位液晶表示パネル１００の端部ＥＤＮ１から研磨予定線Ｒ１まで角が傾斜するように研磨しなければならない。しかし、図２の拡大領域ＥＸ１に示したように、単位液晶表示パネル１００の実際に研磨された線は、前記研磨予定線Ｒ１から所定範囲の誤差を有するようになり、このような誤差が許容限界値Ｄ１から脱する場合に研磨不良と判定される。
【００４６】
本発明の第１実施形態においては、研磨予定線Ｒ１を基準に許容限界値Ｄ１に該当する領域に研磨量識別パターン２２０ａ〜２２０ｏが所定間隔に離隔形成されている。
【００４７】
前記研磨量識別パターン２２０ａ〜２２０ｏは、研磨予定線Ｒ１から通常±１００μｍ程度に設定された許容限界値Ｄ１までの距離を所定単位に分配して、肉眼で識別し得るように形成することが望ましい。
【００４８】
例えば、図２に示したように、中央に所定間隔に離隔形成された３つの研磨量識別パターン２２０ｇ〜２２０ｉの場合には、研磨予定線Ｒ１と一致する線を境界にして、単位液晶表示パネル１００の端部ＥＮＤ１方向とタップマーク１５０Ｊが形成された方向の領域が区分されるように形成されている。
【００４９】
そして、前記中央に形成された３つの研磨量識別パターン２２０ｇ〜２２０ｉから一方の縁部にいくほど、研磨量識別パターン２２０ｂ〜２２０ｆの区分される領域が所定距離単位にタップマーク１５０Ｊに近づくように形成されていて、最外郭には前記研磨量識別パターン２２０ｂと同様な研磨量識別パターン２２０ａが形成されている。
【００５０】
又、前記中央に形成された３つの研磨量識別パターン２２０ｇ〜２２０ｉから他方の縁部にいくほど、研磨量識別パターン２２０ｊ〜２２０ｎの区分される領域が所定距離単位に単位液晶表示パネル１００の端部ＥＤＮ１に近づくように形成されていて、最外郭には前記研磨量識別パターン２２０ｎと同様な研磨量識別パターン２２０ｏが形成されている。
【００５１】
前記最外郭に形成された研磨量識別パターン２２０ａ、２２０ｏは、研磨不良の判定に対してより高い信頼性を保障し、前記中央に形成された３つの研磨量識別パターン２２０ｇ〜２２０ｉは、単位液晶表示パネル１００の実際に研磨された線と研磨予定線Ｒ１との一致可否をより容易に判断し得るようにする。
【００５２】
そして、前記研磨量識別パターン２２０ａ〜２２０ｂに対応して、前記タップマーク１５０Ｊが形成された領域の縁部に所定単位の数字（-１０、-８、-６、-４、-２、-０、２、４、６、８、１０）を表記することによって、単位液晶表示パネル１００の実際に研磨された量を検出し得るようにした。このとき、前記許容限界値D１を切断予定線R１から±１００μmと仮定した場合に、前記数字（-１０、-８、-６、-４、-２、-０、２、４、６、８、１０）の単位は１０μmである。
【００５３】
従って、本発明の第２実施形態によると、本発明の第１実施形態と同様に、目視検査により単位液晶表示パネル１００の実際に研磨された線が許容限界値Ｄ１を脱したか否かを判断し得る。
【００５４】
つまり、研磨が完了された単位液晶表示パネル１００の研磨量識別パターン２２０ａ〜２２０ｏを観察して、一方側縁部の研磨量識別パターン２２０ａ、２２０ｂが観察されない場合には過多の不良判定を下し、又、他方縁部の研磨量識別パターン２２０ｎ、２２０ｏが全然研磨されてない場合には研磨不足の不良判断を下すことができる。
【００５５】
又、本発明の第２実施形態によると、目視検査により前記単位液晶表示パネル１００の実際に研磨された線と切断予定線Ｒ１を確認することができ、且つ、高倍率カメラにより研磨量識別パターン２２０ａ〜２２０ｏに対応する数字（-１０、-８、-６、-４、-２、-０、２、４、６、８、１０）を確認することによって、２０μmの誤差の範囲内に単位液晶表示パネル１００の実際に研磨された量を検出し得るようになる。
【００５６】
一方、前記研磨量識別パターン２２０ａ〜２２０ｏをより多く形成して、研磨量識別パターン２２０ｂ~２２０ｆの区分される領域をより小さな単位に設定する場合に、前記２０μmの誤差範囲を更に減らし得るようになる。
【００５７】
従って、許容限界値Ｄ１を切断予定線Ｒ１から±１００μmに設定して生産しながら、様々な工程上の理由で許容限界値Ｄ１を±８０μmに設定する場合に本発明の第１実施形態では対応し得ないが、本発明の第２実施形態では、高倍率のカメラにより研磨量識別パターン２２０ａ〜２２０ｏに対応する数字（-１０、-８、-６、-４、-２、-０、２、４、６、８、１０）を確認することでこれに対応し得るようになる。
【００５８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明に係る液晶表示パネルの研磨量判断表示器及びこれを利用した研磨不良検出方法の第１実施形態においては、研磨予定線を基準に許容限界値に該当する領域に研磨量識別パターンを形成することによって、その研磨量識別パターンの目視検査により単位液晶表示パネルの研磨不良を判断し得るようになる。
【００５９】
従って、従来のように、単位液晶表示パネルの研磨不良を検査するために、生産ラインで単位液晶表示パネルを取り出して、別途に設けられた測定装備に移送するという作業の煩雑さと不便を解消し、単位液晶表示パネルの研磨不良検査に所要される時間を減らすことで生産性を向上し、別途の測定装備が要求されないため、生産ラインの設備費用及び維持補修費用を減らし得るという効果がある。
【００６０】
且つ、全ての単位液晶表示パネルの対して、簡単な目視検査により研磨不良を判定し得るため、従来のように、所定周期に単位液晶表示パネルを取り出して研磨不良検査を遂行するサンプリング方式に比べ、検査の信頼性を向上し得るという効果がある。
【００６１】
そして、従来には、不良と判定される場合に作業を中断し、以前にサンプリングされた単位液晶表示パネルから、以後にサンプリングされる単位液晶表示パネルまでの全ての単位液晶表示パネルの研磨不良を検査することによって、後続工程が進行された各単位液晶表示パネルが廃棄されることもあり得、これによる材料及び時間所要が非常に大きいという問題点があったが、本発明において適用される全数検査によりこれを防止し得るようになる。
【００６２】
一方、本発明に係る液晶表示パネルの研磨量判断表示器及びこれを利用した研磨不良検出方法の第２実施形態においては、所定間隔に離隔された各研磨量識別パターンを単位液晶表示パネルの端部方向と整列マークが形成された方向の領域が区分されるように形成する。
【００６３】
そして、前記各研磨量識別パターンの区分される領域は、各研磨量識別パターンの中央から一方方向にいくほど、所定距離単位に単位液晶表示パネルの端部に近づくように形成し、他方方向にいくほど、所定距離単位に整列マークに近づくように形成する。
【００６４】
且つ、前記研磨量識別パターンに対応して、整列マークが形成された領域の縁部に所定単位に数字を表記する。
【００６５】
従って、本発明に係る液晶表示パネルの研磨量判断表示器及びこれを利用した研磨不良検出方法の第２実施形態においては、研磨量識別パターンに対応する数字により単位液晶表示パネルの実際に研磨された量を検出し得るようになり、本発明の第２実施形態による効果の他に、様々な工程上の理由で許容限界値が更に厳しくなる場合に対応し得るという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る液晶表示パネルの研磨量判断表示器の第１実施形態の構成を示した例示図である。
【図２】本発明に係る液晶表示パネルの研磨量判断表示器の第２実施形態の構成を示した例示図である。
【図３】各薄膜トランジスタ・アレイ基板が形成された第１母基板と各カラーフィルター基板が形成された第２母基板が合着されて、複数の液晶表示パネルを構成する断面構造を示した例示図である。
【図４】一般的な単位液晶表示パネルの平面構造と一部領域を拡大した例示図である。
【符号の説明】
１００：単位液晶表示パネル
１０１：薄膜トランジスタ・アレイ基板
１０２：カラーフィルター基板
１１３：画像表示部
１１４：ゲートパッド部
１１５：データパッド部
１０２：研磨量識別パターン
１５０Ａ〜１５０Ｊ：タップマーク
ＧＬ１~ＧＬｍ：ゲート配線
ＤＬ１〜ＤＬｎ：データ配線
ＥＤＮ１：単位液晶表示パネルの端部
Ｒ１：研磨予定線
Ｄ１：許容限界値
ＥＸ１：拡大領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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