(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
あらかじめ設定された動作条件に基づいて、被測定対象の抵抗値を測定する機能を含む測定器本体を備える測定装置において、
上記測定器本体に接続された一方のプローブを接触させるための１つの主接触部と、他方のプローブを接触させるための、かつ、上記動作条件を入力するための、ｋ（ｋは正の整数）個の従接触部とが設けられた入力パネルと、上記主接触部と上記各従接触部との間に、それぞれ値の異なる抵抗値が割り当てられている抵抗回路網とを具備する補助入力部を備え、
上記測定器本体は、上記補助入力部の各抵抗値に対応して動作条件をそれぞれ記憶している変換部を備え、上記２本のプローブが上記補助入力部の主接触部と上記各従接触部とに接触されたときの抵抗値をそれぞれ測定するとともに、上記変換部にて測定した抵抗値に対応する動作条件を調べ、この動作条件を保持するとともに、同測定器本体を同動作条件に設定することを特徴とする測定装置。
【請求項２】
上記補助入力部の抵抗回路網は、抵抗を直列に接続した第１直列回路の各接続点に、抵抗を直列の接続した各第２直列回路の一端がそれぞれ接続されて構成され、上記入力パネルは、上記第１直列回路および上記各第２直列回路のそれぞれの接続点に、上記主接触部および各従接触部がそれぞれ接続されて構成されていることを特徴とする請求項１に記載の測定装置。
【請求項３】
上記補助入力部は上記測定器本体から分離されていることを特徴とする請求項１または２に記載の測定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は測定装置に関し、さらに詳しく言えば、動作条件に基づいて測定を行なう測定器に対して、その動作条件を設定する入力手段に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
例えば、コンパレータ機能を有する抵抗測定器には、その上限値と下限値とを設定する設定値入力部が設けられており、その一例を図１０に示す。この測定器１００は、測定端子１０１Ａ，１０１Ｂを備えている。測定端子１０１Ａ，１０１Ｂには、抵抗測定用のプローブ１０２Ａ，１０２Ｂが接続され、測定器１００は、このプローブ１０２Ａ，１０２Ｂに電気的に接触された被測定対象２０１の抵抗値を測定する。そして、測定器１００は、表示部１０２に測定結果を表示する。
【０００３】
測定器１００には、被測定対象２０１を選別するために、上限値と下限値とが設定されている。これらの値は、測定器１００の設定値入力部１０３によって、測定器１００に入力される。
【０００４】
その設定値入力部１０３の一例を図１１に示す。この設定値入力部１１０は、上限値を設定するための、「Ｈｉ」と表示された回転式スイッチ１１１Ａ〜１１１Ｄと、下限値を設定するための、「Ｌｏ」と表示された回転式スイッチ１１２Ａ〜１１２Ｄとを備えている。
【０００５】
使用者は、回転式スイッチ１１１Ａ〜１１１Ｄを操作して、上限値を測定器１００に入力し、回転式スイッチ１１２Ａ〜１１２Ｄを操作して、下限値を測定器１００に入力する。入力した値は、回転式スイッチ１１１Ａ〜１１１Ｄと、回転式スイッチ１１２Ａ〜１１２Ｄとに隣接する数字で示される。
【０００６】
このような機械式の設定値入力部１０３とは別に、電気式の設定値入力部がある。この設定値入力部を図１２に示す。この設定値入力部１２０は、上限値および下限値を入力するためのスイッチ部１２１と、上限値を表示するための、「ＨＩＧＨ」と表示された表示部１２２と、下限値を表示するための、「ＬＯＷ」と表示された表示部１２３とを備えている。
【０００７】
スイッチ部１２１のスイッチ１２１Ａ，１２１Ｂは、表示部１２２，１２３の桁上げと桁下げ用のものであり、使用者は、スイッチ１２１Ａとスイッチ１２１Ｂとを操作して、表示部１２２および表示部１２３の中から、設定する桁を指定する。「＋」と表示されたスイッチ１２１Ｃと、「−」と表示されたスイッチ１２１Ｄとは、スイッチ１２１Ａとスイッチ１２１Ｂとで指定された桁の数字を増減させるためのものである。
【０００８】
従来においては、このような機械式または電気式の設定値入力部１０３によって、上限値と下限値とを測定器１００に設定するようにしている。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、先に述べた技術の中で、機械式の設定値入力部１１０には、装置自体の形状が大きく、実装の際に大きなスペースを必要とするという課題を抱えている。すなわち、回転式スイッチ１１１Ａ〜１１１Ｄと、回転式スイッチ１１２Ａ〜１１２Ｄが歯車等の組み合わせによって作られているために、設定値入力部１０３の形状が大きくなってしまう。
【００１０】
また、電気式の設定値入力部１２０には、操作手順が複雑になり、操作性が低下するという課題がある。すなわち、使用者がスイッチ１２１Ａ，１２１Ｂを操作して、桁を指定し、この後、スイッチ１２１Ｃ，１２１Ｄを操作して、指定した桁の数字を増減する。このために、１つの桁の数字を変えるために、４つのスイッチの操作が必要になり、上限値と下限値とを入力するための操作手順が複雑になってしまう。
【００１１】
本発明は、このような課題を解決するためになされたもので、その目的は、動作条件を測定器に入力する際の操作性を向上させることができ、しかも小型化可能な測定装置を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、あらかじめ設定された動作条件に基づいて、被測定対象の抵抗値を測定する測定器本体を備える測定装置において、上記測定器本体に接続された一方のプローブの先端を接触させるための１つの主接触部と、他方のプローブの先端を接触させるための、かつ、上記動作条件を入力するための、ｋ個の従接触部とが設けられた入力パネルと、上記主接触部と上記各従接触部との間に、それぞれ値の異なる抵抗値が割り当てられている抵抗回路網とを具備する補助入力部を備え、上記測定器本体は、上記補助入力部の各抵抗値に対応して動作条件をそれぞれ記憶している変換部を備え、上記２本のプローブが上記補助入力部の主接触部と上記各従接触部とに接触されたときの抵抗値をそれぞれ測定するとともに、上記変換部にて測定した抵抗値に対応する動作条件を調べ、この動作条件を保持するとともに、同測定器本体を同動作条件に設定することを特徴としている。
【００１３】
本発明によれば、測定器本体に測定条件を設定する場合、測定器本体の測定端子に２本のプローブを接続した後、一方のプローブを補助入力部の入力パネルに設けられている主接触部に接触させる。そして、必要とする動作条件に対応する入力パネルの従接触部に他方のプローブを接触させる。
【００１４】
これにより、測定器本体にて測定端子間の抵抗値が測定されるとともに、変換部にてその測定値に対応する動作条件が調べられ、かつ、その動作条件が保持される。このようにして、使用者が補助入力部の主接触部と従接触部とにプローブを接触させるだけの操作で、動作条件が測定器本体に設定される。
【００１５】
本発明において、上記補助入力部の抵抗回路網は、抵抗を直列に接続した第１直列回路の各接続点に、抵抗を直列の接続した各第２直列回路の一端がそれぞれ接続されて構成され、上記入力パネルは、上記第１直列回路および上記各第２直列回路のそれぞれの接続点に、上記主接触部および各従接触部がそれぞれ接続されて構成されていることが好ましい。
【００１６】
また、本発明においては、上記補助入力部を上記測定器本体と分離した構成とすることができ、この点も本発明の特徴の一つである。すなわち、上記補助入力部は特に電源を必要としないため、上記測定器本体から切り離して上記測定器本体に対して遠隔で動作条件などを設定することができる。
【００１７】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の技術的思想をよりよく理解するために、図面を参照しながら、その好適な実施例について説明する。
【００１８】
図１は、第１実施例の測定装置を示す概略的な構成図である。これによると、この測定装置は、補助入力部１と測定器本体２とを備えている。
【００１９】
補助入力部１は、測定のための動作条件を測定器本体２に対して入力するものである。補助入力部１の表面パネル１Ａは、図２に示すように、金属製のチェックピン１１１〜１１２７を備えている。この内、チェックピン１１１は、「一方のプローブをここに」という指示に対応し、チェックピン１１２は、「コンパレータテーブル番号の入力」という指示に対応している。
【００２０】
四角枠内のチェックピン１１３〜１１１５は、テンキーの数字「９」〜「０」、「．」、「クリア」および「決定」にそれぞれ対応している。チェックピン１１１６〜１１２１は、「レンジの設定」という指示の中で、「３０ｍΩ」、「３００ｍΩ」、「３Ω」、「３０Ω」、「３００Ω」、「３ｋΩ」という指示にそれぞれ対応する。
【００２１】
チェックピン１１２２、１１２３は、「上限値の設定」、「下限値の設定」という指示にそれぞれ対応している。チェックピン１１２４、１１２５、１１２６は、「ブザーの設定」の「ＯＦＦ」、「ＩＮ」、「Ｈｉ／Ｌｏ」という指示にそれぞれ対応している。そして、チェックピン１１２７は、「終了」という指示に対応している。
この第１実施例では、チェックピン１１１が主接触部に対応し、チェックピン１１２〜チェックピン１１２７が従接触部に対応している。
【００２２】
これらのチェックピン１１１〜１１２７は、測定器本体２に取り付けられているプローブ２Ａ，２Ｂによって接触される。チェックピン１１１〜１１２７には、図３に示すように、抵抗１２〜１８、１２１〜１２３、１３１，１３２、１４１〜１４５、１５１〜１５３、１６１〜１６３、１７１〜１７３を備える抵抗回路網１Ｂが接続されている。すなわち、チェックピン１１１とチェックピン１１２７との間には、抵抗１２〜１８が直列に接続されている。
【００２３】
抵抗１２と抵抗１３との接続点１９１には、抵抗１２１〜１２３を直列に接続した回路の一端が接続されている。この直列回路の他端には、チェックピン１１５が接続されている。抵抗１３と抵抗１４との接続点１９２には、抵抗１３１，１３２を直列に接続した回路の一端が接続されている。この直列回路の他端には、チェックピン１１８が接続されている。
【００２４】
抵抗１４と抵抗１５との接続点１９３には、抵抗１４１〜１４５を直列に接続した回路の一端が接続されている。この直列回路の他端には、チェックピン１１１４が接続されている。抵抗１５と抵抗１６との接続点１９４には、抵抗１５１〜１５３を直列に接続した回路の一端が接続されている。この直列回路の他端には、チェックピン１１１８が接続されている。
【００２５】
抵抗１６と抵抗１７との接続点１９５には、抵抗１６１〜１６３を直列に接続した回路の一端が接続されている。この直列回路の他端には、チェックピン１１２２が接続されている。抵抗１７と抵抗１８との接続点１９６には、抵抗１７１〜１７３を直列に接続した回路の一端が接続されている。この直列回路の他端には、チェックピン１１２６が接続されている。
【００２６】
この抵抗回路網１Ｂでは、抵抗１２の値がｍＲであり、抵抗１３、１４、１５、１６、１７、１８の値がそれぞれ１０Ｒである。なお、抵抗値ｍＲは、抵抗値Ｒをｍ倍したものであり、抵抗値１０Ｒは、抵抗値Ｒを１０倍したものである。また、１２１〜１２３、１３１，１３２、１４１〜１４５、１５１〜１５３、１６１〜１６３、１７１〜１７３の抵抗値がＲである。
【００２７】
抵抗回路網１Ｂでは、チェックピン１１１を始点として、チェックピン１１２、チェックピン１１３、チェックピン１１４、チェックピン１１５、チェックピン１１６、…、チェックピン１１２６、チェックピン１１２７の抵抗値が、ｍＲ、ｍＲ＋Ｒ、ｍＲ＋２Ｒ、ｍＲ＋３Ｒ、ｍＲ＋１０Ｒ＋３Ｒ、…、ｍＲ＋５０Ｒ＋１９Ｒ、ｍＲ＋６０Ｒ＋１９Ｒのように、順に増加する。
【００２８】
この結果、抵抗回路網１Ｂによって、チェックピン１１２〜チェックピン１１２７には、チェックピン１１１を始点として、それぞれ異なる抵抗値が割り当てられることになる。
【００２９】
測定器本体２は、図４に示すように、測定端子２１Ａ，２１Ｂ、定電流部２２、増幅器２３、アナログ／ディジタル（Ａ／Ｄ）変換器２４、処理部２５、表示部２６、キー入力部２７および記憶部２８を備えている。
【００３０】
測定端子２１Ａ，２１Ｂは、プローブ２Ａ，２Ｂをそれぞれ接続するためのものである。定電流部２２は、定電流を発生する。被測定対象２０１が抵抗である場合、定電流部２２は、測定端子２１Ａから測定端子２１Ｂに向かうように、定電流を流す。
【００３１】
増幅器２３は、検出電圧を増幅する。検出電圧は、次のような電圧である。すなわち、定電流部２２からの定電流によって、被測定対象２０１に電圧降下が発生すると、この電圧降下が測定端子２１Ａと測定端子２１Ｂとの間に現れる。増幅器２３は、測定端子２１Ａと測定端子２１Ｂとの間に発生した電圧降下を増幅対象の検出電圧とする。
【００３２】
アナログ／ディジタル変換器２４は、増幅器２３が増幅した、アナログの検出電圧を、ディジタルの検出電圧に変換する。表示部２６は、バス２９を経て処理部２５に接続されている。表示部２６は、処理部２５から表示データを受け取ると、この表示データに基づいて、設定された動作条件や検出電圧の値を表示する。
【００３３】
キー入力部２７は、バス２９を経て処理部２５に接続されている。キー入力部２７は、使用者によって操作されるものである。使用者の操作によって、キー入力部２７には、動作条件の設定のための指示や、測定開始の指示などが入力される。キー入力部２７は、入力された指示等を処理部２５に送る。
【００３４】
記憶部２８は、バス２９を経て処理部２５に接続されている。記憶部２８は、処理部２５の制御によって、各種のデータを記憶する。また、記憶部２８は、次の変換テーブルをあらかじめ記憶している。この変換テーブルの一例を図５に示す。この変換テーブル２９Ａは、第１格納部２９Ａ１と第２格納部２９Ａ２とを備えている。
【００３５】
第１格納部２９Ａ１は、抵抗回路網１Ｂの各抵抗値を大きさの順に、各格納領域に格納している。すなわち、１番目の格納領域には、抵抗値ｍＲを示す数値データが格納され、２番目の格納領域には、抵抗値ｍＲ＋Ｒを示すデータが格納されている。３番目の格納領域には、抵抗値ｍＲ＋２Ｒを示すデータが格納され、４番目の格納領域には、抵抗値ｍＲ＋３Ｒを示すデータが格納されている。
【００３６】
第２格納部２９Ａ２は、表面パネル１Ａに示されている各種の指示や数字に対応するデータを格納している。すなわち、１番目の格納領域には、「テーブル番号の入力」を示す指示データが格納されている。
【００３７】
この指示データは、第１格納部２９Ａ１の１番目の格納領域に格納されている数値データｍＲに対応している。格納部２９Ａ２の２番目の格納領域には、値「９」を示す変換データが格納されている。この変換データは、格納部２９Ａ１の２番目に格納されている数値データｍＲ＋Ｒに対応している。
【００３８】
同じく、格納部２９Ａ２の３番目の格納領域には、値「８」を示す変換データが格納され、４番目の格納領域には、値「７」を示す変換データが格納されている。これらの変換データは、格納部２９Ａ１の３番目と４番目に格納されている数値データｍＲ＋２Ｒと数値データｍＲ＋３Ｒとにそれぞれ対応している。そして、格納部２９Ａ２の最後の格納領域には、「終了」を示す指示データが格納されている。この指示データは、格納部２９Ａ１の最後の格納領域に格納されている数値データｍＲ＋６０Ｒ＋１９Ｒに対応している。
【００３９】
記憶部２８は、処理部２５から数値データを受け取ると、変換テーブルを参照して、受け取った数値データに対応する指示データや変換データを取り出す。そして、記憶部２８は、取り出したデータを処理部２５に送る。
【００４０】
処理部２５は、図示を省略しているが、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）やＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）を内部に備えている。処理部２５は、これらのＣＰＵやＲＯＭによって、被測定対象２０１を測定するための測定処理と、操作条件を入力するための入力処理とを行なう。
【００４１】
処理部２５は、測定処理によって、被測定対象２０１の抵抗値を測定する。このために、処理部２５は、コンパレータ機能を持っている。すなわち、処理部２５は、アナログ／ディジタル変換器２４からの測定データを受け取ると、この測定データが示す抵抗値が上限値と下限値との間に入るかどうかを判断する。そして、処理部２５は、判断結果を表示部２６に出力する。
【００４２】
処理部２５は、次のようにして、入力処理を行なう。すなわち、キー入力部２７が操作されて、動作条件の設定のための指示が入力されると、処理部２５は、図６に示す処理を開始し、あらかじめ記憶部２８に記憶されている動作条件を示すデータを初期化する（ステップＳ１）。
【００４３】
ステップＳ１が終了すると、処理部２５は、アナログ／ディジタル変換器２４から受け取った検出電圧に基づいて、測定端子２１Ａと測定端子２１Ｂと間の抵抗を測定する（ステップＳ２）。なお、このときには、使用者は、表面パネル１Ａを操作して、動作条件を入力している。
【００４４】
処理部２５は、ステップＳ２で抵抗値を測定すると、記憶部２８に記憶されている変換テーブル２９Ａを参照して、測定した抵抗値に対応するデータに変換する（ステップＳ３）。ステップＳ３が終了すると、変換で得たデータが指示データかどうかを判断する（ステップＳ４）。変換で得たデータが指示データである場合、処理部２５は、この指示データが示す処理、すなわち、ステップＳ５の処理１、ステップＳ７〜ステップＳ１０の処理２〜処理５およびステップＳ１１の終了処理の中から指示された処理を選択して行なう。
【００４５】
なお、このときには、使用者が表面パネル１Ａに表示されている指示に従ってプローブ２Ａ，２Ｂを操作するので、チェックピン１１２〜チェックピン１１２７の中の１つが選択されることになる。
【００４６】
ステップＳ３で得た変換データが、変換テーブル２９Ａの格納部２９Ａ２の中で、最初の格納領域に格納されている指示、すなわち、表面パネル１Ａの「コンパレータテーブル番号の入力」である場合、処理部２５は、ステップＳ５の処理１を行なう。
【００４７】
処理部２５は、ステップＳ５によって、テーブル番号の最初の数字を図７に示す記憶部２８の格納部２９Ｂの格納領域２９Ｂ１に記憶する。この後、使用者が次の番号を選択するために、プローブ２Ａまたはプローブ２Ｂを持ち上げると、処理部２５は、オープンを検出する（ステップＳ６）。そして、所定桁のテーブル番号が格納部２９Ｂの格納領域２９Ｂ１に記憶されるまで、処理部２５は、ステップＳ２〜ステップＳ６を繰り返す。
【００４８】
ステップＳ３で得た変換データが「レンジの設定」を示す場合、処理部２５は、ステップＳ７の処理２を行なう。処理２は、設定されたレンジを格納部２９Ｂの格納領域２９Ｂ２に格納するための処理である。
【００４９】
ステップＳ３で得た変換データが「上限値の設定」を示す場合、処理部２５は、ステップＳ８の処理３を行なう。処理３は、所定桁数の上限値を格納部２９Ｂの格納領域２９Ｂ３に格納するための処理であり、所定桁数の上限値が格納領域２９Ｂ３に記憶されるまで、処理部２５は、ステップＳ２〜ステップＳ４、ステップＳ８およびステップＳ６を繰り返す。
【００５０】
ステップＳ３で得た変換データが「下限値の設定」を示す場合、処理部２５は、ステップＳ９の処理４を行なう。処理４は、ステップＳ８の処理３と同じようなものであり、処理部２５は、所定桁数の下限値が格納領域２９Ｂ４に記憶されるまで、ステップＳ２〜ステップＳ４、ステップＳ９およびステップＳ６を繰り返す。
【００５１】
ステップＳ３で得た変換データが「ブザーの設定」を示す場合、処理部２５は、ステップＳ１０の処理５を行なう。処理５は、ブザー音の設定を示すデータを格納部２９Ｂの格納領域２９Ｂ５に格納するための処理である。
【００５２】
ステップＳ３で得た変換データが「終了」を示す場合、処理部２５は、すべてのデータ入力が終了したことを使用者に知らせるなどの終了処理を行なう（ステップＳ１１）。ステップＳ１１が終了すると、入力データが適正であるかどうかを判断する（ステップＳ１２）。ステップＳ１２で入力データの不足等を検出すると、処理部２５は、処理をステップＳ６に戻す。また、ステップＳ１２で、入力データが適正であると、処理部２５は処理を終了する。
【００５３】
次に、この第１実施例の動作について説明する。使用者は、測定条件を測定器本体２に入力する場合、補助入力部１を用意するとともに、測定器本体２の測定端子２１Ａ，２１Ｂにプローブ２Ａ，２Ｂをそれぞれ接続する。しかる後、使用者は、測定器本体２のキー入力部２７を操作して、動作条件の設定を示す指示を入力する。キー入力部２７は、この指示を処理部２５に送り、処理部２５は、動作条件の設定を示す指示を受け取ると、入力処理を開始する。
【００５４】
処理部２５が入力処理を開始し、使用者が補助入力部１の表面パネル１Ａのチェックピン１１１にプローブ２Ａを接触し、表面パネル１Ａの指示にしたがって、チェックピン１１２〜チェックピン１１２７を選択し、プローブ２Ｂを接触すると、検出電圧が増幅器２３に加えられる。増幅器２３が検出電圧を増幅し、アナログ／ディジタル変換器２４が検出電圧をディジタルに変換する。
【００５５】
処理部２５は、ディジタルの検出電圧を受け取ると、この検出電圧に基づいて、記憶部２８の変換テーブル２９Ａを参照しながら入力処理をする。入力処理によって、処理部２５は、「テーブル番号」、「レンジ」、「上限値」、「下限値」および「ブザー」を示すデータを、記憶部２８の格納部２９Ｂに記憶する。
【００５６】
入力処理が終了すると、使用者は、測定端子２１Ａ，２１Ｂからプローブ２Ａ，２Ｂを外し、測定用のプローブを取り付け、被測定対象２０１の測定を行なう。これによって、処理部２５は、記憶部２８の格納部２９Ｂに記憶されている動作条件を基にして、被測定対象２０１の測定と選別とを行なう。
【００５７】
このように、本発明によれば、動作条件を測定器本体２に入力する場合、補助入力部１のチェックピン１１１〜チェックピン１１２７にプローブ２Ａ，２Ｂを接触させるだけで、簡単に、かつ、迅速に動作条件を入力することができる。
【００５８】
また、表面パネル１Ａのチェックピンの数の増減と、抵抗回路網１Ｂの接続点および各接続点に接続されている直列回路の抵抗の増減とによって、動作条件の増減に、容易に対応することができる。特に、接続点１９１〜１９６には、それぞれ最大９個の抵抗の接続が可能であるので、これらの抵抗の増減による動作条件の増減はきわめて容易である。
【００５９】
さらに、測定器本体２が抵抗値を含む各種の測定をする場合、表面パネル１Ａの変更と、記憶部２８に記憶されている変換テーブル２９Ａとの変更によって、各種測定に関する動作条件を入力することができるので、機能拡張を簡単に行なうことができる。
【００６０】
次に、第２実施例について説明する。図８は、第２実施例の測定装置を示す概略的な構成図である。これによると、この測定装置では、第１実施例の測定器本体２に対して、補助入力部３１〜３ｎ（ｎは正の整数）を用いる。
【００６１】
補助入力部３１〜３ｎは、基本的に第１実施例の補助入力部１と同じような構成であるが、次の点で異なっている。補助入力部３１〜３ｎの各表面パネルは、例えば、「レンジの設定」で示されるデータが広範囲である場合に対応している。つまり、測定器本体２に対して、補助入力部３１〜３ｎによって、幅広い入力が行われる。
【００６２】
このような入力を可能とするために、補助入力部３１〜３ｎでは、次のようにしている。第１実施例では、補助入力部１のチェックピン１１１とチェックピン１１２との間に、値ｍＲの抵抗１２が接続されているが、第２実施例では、補助入力部３１〜３ｎに対応して、値がそれぞれ抵抗ｍ１Ｒ〜ｍｎＲである抵抗が、抵抗１２の代わりに、補助入力部３１〜３ｎにそれぞれ接続されている。なお、抵抗値ｍｎＲは、値Ｒを「ｍｎ」倍したものである。これらの抵抗値ｍ１Ｒ〜ｍｎＲによって、補助入力部３１〜３ｎの識別が可能になる。
【００６３】
この第２実施例では、測定器本体２の記憶部２８が、補助入力部３１〜３ｎに対応して、ＮＯ．１からＮＯ．ｎまでの変換テーブルをそれぞれ記憶している。また、記憶部２８は、補助入力部３１〜３ｎの識別のために、図９に示すように、識別テーブル２９Ｃを記憶している。識別テーブル２９Ｃは、格納部２９Ｃ１と格納部２９Ｃ２とを備えている。
【００６４】
格納部２９Ｃ１は、補助入力部３１〜３ｎの抵抗の抵抗値ｍ１Ｒ〜ｍｎＲを大きさの順に、各格納領域に格納している。すなわち、１番目の格納領域には、抵抗値ｍ１Ｒを示す数値データが格納され、２番目の格納領域には、抵抗値ｍ２Ｒを示すデータが格納されている。そして、最後の格納領域には、抵抗値ｍｎＲを示すデータが格納されている。
【００６５】
格納部２９Ｃ２には、補助入力部３１〜３ｎの変換テーブルを指定する指定データが格納されている。すなわち、１番目の格納領域には、補助入力部３１を指定する「ＮＯ．１の変換テーブル」という指定データが格納されている。この指定データは、格納部２９Ｃ１の１番目の格納領域に格納されている数値データｍ１Ｒに対応している。
【００６６】
同じように、２番目の格納領域には、補助入力部３２を指定する「ＮＯ．２の変換テーブル」という指定データが格納されている。この指定データは、格納部２９Ｃ１の２番目の格納領域に格納されている数値データｍ２Ｒに対応している。そして、ｎ番目の格納領域には、補助入力部３ｎを指定する「ＮＯ．ｎの変換テーブル」という指定データが格納されている。この指定データは、格納部２９Ｃ１のｎ番目の格納領域に格納されている数値データｍｎＲに対応している。
【００６７】
また、第２実施例では、測定器本体２の処理部２５が、入力処理の前に識別処理を行なう。識別処理は、アナログ／ディジタル変換器２４から検出電圧を受け取ると、この検出電圧から抵抗値を算出する。しかる後、処理部２５は記憶部２８に記憶している識別テーブル２９Ｃを参照して、算出した抵抗値に対応する指定データを受け取る。処理部２５は、指定データを得ると、この指定データが指定する変換テーブルを用いて、入力処理を開始する。
【００６８】
この第２実施例によれば、測定器本体２に対して、ｎ通りの補助入力部３１〜３ｎを用いることを可能にする。これによって、測定器本体２に対して幅広い設定をすることができ、測定器本体２の機能の拡張に対して、容易に対応することができる。
【００６９】
以上、第１実施例および第２実施例について説明したが、本発明は、これらに限定されるものではない。例えば、上記各実施例では、測定器本体２が抵抗測定の機能だけを持っていたが、容量測定など別機能を併せ持つものであってもよい。この場合にも、補助入力部を用いて、別機能のための設定を行なうようにしてもよい。
【００７０】
また、補助入力部１の抵抗回路網に用いられる抵抗の値として、各種のものを用いてもよい。さらには、一つの従接続部で複数の動作条件を設定できるようにすることも可能であり、これによれば測定対象物に対して一括した動作条件を簡単に設定することができる。
【００７１】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、補助入力部の主接触部と従接触部とが測定器のプローブで接触されるだけで、動作条件が測定器に設定されるので、入力のための操作性を向上させることができる。
【００７２】
また、測定器に対しては、処理の変更と変換部の付加だけが必要であるので、測定器の大幅な変更を不要にして、動作条件の入力を簡単にすることができる。さらに、抵抗を直列に接続した直列回路の組み合わせによって、抵抗回路網を構成したので、抵抗回路網を簡単に作ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１実施例に係る測定装置を概略的に示した構成図。
【図２】上記第１実施例の補助入力部の表面パネルを示す概観図。
【図３】上記第１実施例の補助入力部の回路を示す回路図。
【図４】上記第１実施例の測定器本体を示すブロック図。
【図５】上記第１実施例の記憶部が記憶している変換テーブルの一例を示す図。
【図６】上記第１実施例の処理部の処理を示すフローチャート。
【図７】上記第１実施例の記憶部が記憶している格納部の一例を示す図。
【図８】本発明の第２実施例に係る測定装置を概略的に示した構成図。
【図９】上記第２実施例の記憶部が記憶している識別テーブルの一例を示す図。
【図１０】従来の測定器を示すブロック。
【図１１】従来の設定値入力部を示す外観図。
【図１２】従来の設定値入力部の他の例を示す外観図。
【符号の説明】
１  補助入力部
１Ａ  表面パネル
２  測定器
２Ａ，２Ｂ  プローブ
２１Ａ，２１Ｂ  測定端子
２６  表示部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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