(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
収容体（Ｔ）に収容された被検査物（Ｗ）にＸ線を曝射し、このＸ線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるＸ線の透過量から前記被検査物中の異物の有無を検出するＸ線異物検出装置（１）において、
前記収容体内部の所定位置に前記被検査物より狭い大きさの所定範囲を有して被検査物の欠品検出用のマスク領域（Ｍ）を設定するマスク領域設定部（１７ａ）と、
前記Ｘ線透過量に基づき前記収容体を含む被検査物の展開後の画像から被検査物の画像領域（Ａ）を抽出する被検査物抽出部（１７ｂ）と、
前記マスク領域設定部で設定されたマスク領域内に含まれる前記被検査物抽出部が抽出した被検査物の画像領域の割合を検出し、該割合が予め設定した所定値を越えれば収容体内に被検査物が収容されていると判断し、該割合が前記所定値より低い場合には収容体内に被検査物が収容されてない不良品であると判断する欠品判断部（１７ｃ）と、
を備えたことを特徴とするＸ線異物検出装置。
【請求項２】
前記マスク領域設定部（１７ａ）が、前記収容体（Ｔ）に収容された複数の前記被検査物（Ｗ）に対し欠品検出用のマスク領域（Ｍ）を個別に設定し、
前記欠品判断部（１７ｃ）が、前記マスク領域設定部で設定された各マスク領域毎にマスク領域内に含まれる前記被検査物抽出部が抽出した被検査物の画像領域の割合を検出し、該割合が予め設定した所定値を越えれば収容体内に被検査物が収容されていると判断し、該割合が前記所定値より低い場合には収容体内に被検査物が収容されてない不良品であると判断することを特徴とする請求項１記載のＸ線異物検出装置。
【請求項３】
前記マスク領域設定部（１７ａ）は、前記収容体（Ｔ）の一端を基準位置（ＲＦ）として検出し、該基準位置を基準として収容体内部の所定位置に所定範囲を有して被検査物の欠品検出用のマスク領域（Ｍ）を設定する請求項１又は２のいずれか一つに記載のＸ線異物検出装置。
【請求項４】
前記欠品判断部（１７ｃ）は、前記割合として展開画像における面積比（Ｂ）を予め設定し、
前記マスク領域設定部（１７ａ）で設定されたマスク領域（Ｍ）の全画素数（ｎ）に前記面積比を乗算した値と、該マスク領域内に含まれる前記被検査物抽出部（１７ｂ）が抽出した被検査物の画像領域（Ａ）の全画素数（ＣＮＴ）とを比較して、被検査物の全画素数が多ければ収容体内に被検査物が収容されていると判断し、少なければ収容されていない不良品と判断する請求項１乃至３のいずれか１つに記載のＸ線異物検出装置。
【請求項５】
収容体（Ｔ）に収容された被検査物（Ｗ）にＸ線を曝射し、このＸ線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるＸ線の透過量から前記被検査物中の異物の有無を検出するＸ線異物検出装置（１）に適用され、前記収容体内での被検査物の存在の有無を検出する不良品検出方法であって、
前記収容体内部の所定位置に前記被検査物より狭い大きさの所定範囲を有して被検査物の欠品検出用のマスク領域（Ｍ）を設定し、
前記Ｘ線透過量に基づき前記収容体を含む被検査物の展開後の画像から被検査物の画像領域（Ａ）を抽出し、
前記マスク領域設定部で設定されたマスク領域内に含まれる前記被検査物抽出部が抽出した被検査物の画像領域の割合を検出し、該割合が予め設定した所定値を越えれば収容体内に被検査物が収容されていると判断し、該割合が前記所定値より低い場合には収容体内に被検査物が収容されていない不良品であると判断することを特徴とするＸ線異物検出装置における不良品検出方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば生肉、魚、加工食品、医薬などの各品種の被検査物に対し、Ｘ線を曝射したときのＸ線の透過量から被検査物中の異物を検出するＸ線異物検出装置に関し、特に被検査物の不良品を正確に検出できるＸ線異物検出装置及び該装置における不良品検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｘ線異物検出装置は、搬送ライン上を順次搬送されてくる各品種の被検査物（生肉、魚、加工食品、医薬など）にＸ線を曝射し、この曝射したＸ線の透過量から被検査物中に金属、ガラス、石、骨などの異物が混入しているか否かを検出する装置である。
【０００３】
図１０はこの種の従来のＸ線異物検出装置を示す斜視図である。図示のようにコンベア５０上を被検査物Ｗが搬送されて行く途中位置にＸ線発生器５１と、Ｘ線検出器５２が対向配置される。Ｘ線発生器５１は搬送中の被検査物ＷにＸ線を曝射し、Ｘ線検出器５２は被検査物Ｗを透過したＸ線の透過量に応じた電気信号（Ｘ線透過データ）を出力する。図示しない処理手段はこのＸ線の透過量に基づき、異物の混入の有無を判断する。
【０００４】
図１１は、被検査物ＷのＸ線透過画像を示す図である。図１１（ａ）の例では、収容体上に被検査物Ｗが収容された状態が表示されている。この種Ｘ線異物検出装置は、被検査物Ｗ内における異物の混入の有無を判定する前処理の段階でトレイや箱等の収容体Ｔ内での被検査物Ｗの有無を検出して欠品（不良品）判別を行うものがある。
【０００５】
この欠品判定処理は、処理手段が画像処理を実行して判定する。画像処理部には、図示のように、収容体Ｔ上における被検査物Ｗの収容位置を想定した座標軸位置に欠品検出用マスク領域Ｍが予め設定される。
そして、入力され図示のように画像展開した被検査物Ｗと、欠品検出用マスク領域Ｍを重ねて、この欠品検出用マスク領域Ｍの位置上に被検査物Ｗが存在していれば正常、存在していなければ欠品と判定し、欠品（不良品）の旨の信号を外部出力するようになっている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の欠品判定処理では、上記欠品検出用マスク領域Ｍ部分に完全に被検査物Ｗが重ならなければ被検査物Ｗが欠品であると判断していたため、場合によっては被検査物Ｗが収容体Ｔ上に存在していても欠品であると誤判断することがあった。
この欠品検出用マスク領域Ｍは、装置の操作者によって所定の座標軸位置上に所定の範囲を有して設定される。この際、操作者は収容体Ｔ上での被検査物Ｗの移動（位置ズレ）を考慮して座標軸位置と範囲を設定していた。
簡単に説明すると、収容体Ｔの大きさ（面積）に対し被検査物Ｗの大きさが１／４以上の大きさを有しているとき、収容体Ｔ内で被検査物Ｗが移動しても必ず被検査物Ｗが存在する位置が発生する。この位置を想定して座標軸位置と範囲を設定していた。
【０００７】
このため、図１１（ｂ）に示すように、Ｘ線異物検出装置５０で被検査物Ｗを検査した際に、収容体Ｔ上で被検査物Ｗの位置が移動した状態となり、欠品検出用マスク領域Ｍの一部が被検査物Ｗの外側に位置すると欠品であると誤判断されてしまう。
このように、従来は欠品検出用マスク領域Ｍの設定に経験や勘が必要であり、欠品と誤判断する事が多かった。
【０００８】
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、不良品を正確に検出でき、装置の信頼性を向上できるＸ線異物検出装置及び該装置における不良品検出方法の提供を目的としている。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項１に記載された本発明のＸ線異物検出装置は、収容体（Ｔ）に収容された被検査物（Ｗ）にＸ線を曝射し、このＸ線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるＸ線の透過量から前記被検査物中の異物の有無を検出するＸ線異物検出装置（１）において、
前記収容体内部の所定位置に前記被検査物より狭い大きさの所定範囲を有して被検査物の欠品検出用のマスク領域（Ｍ）を設定するマスク領域設定部（１７ａ）と、
前記Ｘ線透過量に基づき前記収容体を含む被検査物の展開後の画像から被検査物の画像領域（Ａ）を抽出する被検査物抽出部（１７ｂ）と、
前記マスク領域設定部で設定されたマスク領域内に含まれる前記被検査物抽出部が抽出した被検査物の画像領域の割合を検出し、該割合が予め設定した所定値を越えれば収容体内に被検査物が収容されていると判断し、該割合が前記所定値より低い場合には収容体内に被検査物が収容されてない不良品であると判断する欠品判断部（１７ｃ）と、
を備えたことを特徴とする。
また、請求項２に記載された本発明のＸ線異物検出装置は、請求項１に記載されたＸ線異物検出装置において、前記マスク領域設定部（１７ａ）が、前記収容体（Ｔ）に収容された複数の前記被検査物（Ｗ）に対し欠品検出用のマスク領域（Ｍ）を個別に設定し、
前記欠品判断部（１７ｃ）が、前記マスク領域設定部で設定された各マスク領域毎にマスク領域内に含まれる前記被検査物抽出部が抽出した被検査物の画像領域の割合を検出し、該割合が予め設定した所定値を越えれば収容体内に被検査物が収容されていると判断し、該割合が前記所定値より低い場合には収容体内に被検査物が収容されてない不良品であると判断することを特徴とする。
【００１０】
また、請求項３に記載された本発明のＸ線異物検出装置は、請求項１又は２のいずれか一つに記載されたＸ線異物検出装置において、前記マスク領域設定部（１７ａ）は、前記収容体（Ｔ）の一端を基準位置（ＲＦ）として検出し、該基準位置を基準として収容体内部の所定位置に所定範囲を有して被検査物の欠品検出用のマスク領域（Ｍ）を設定する構成としても良い。
【００１１】
また、請求項４に記載された本発明のＸ線異物検出装置は、請求項１乃至３のいずれか１つに記載されたＸ線異物検出装置において、前記欠品判断部（１７ｃ）は、前記割合として展開画像における面積比（Ｂ）を予め設定し、
前記マスク領域設定部（１７ａ）で設定されたマスク領域（Ｍ）の全画素数（ｎ）に前記面積比を乗算した値と、該マスク領域内に含まれる前記被検査物抽出部（１７ｂ）が抽出した被検査物の画像領域（Ａ）の全画素数（ＣＮＴ）とを比較して、被検査物の全画素数が多ければ収容体内に被検査物が収容されていると判断し、少なければ収容されていない不良品と判断する構成にもできる。
【００１２】
請求項４に記載された本発明のＸ線異物検出装置における不良品検出方法は、収容体（Ｔ）に収容された被検査物（Ｗ）にＸ線を曝射し、このＸ線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるＸ線の透過量から前記被検査物中の異物の有無を検出するＸ線異物検出装置（１）に適用され、前記収容体内での被検査物の存在の有無を検出する不良品検出方法であって、
前記収容体内部の所定位置に前記被検査物より狭い大きさの所定範囲を有して被検査物の欠品検出用のマスク領域（Ｍ）を設定し、
前記Ｘ線透過量に基づき前記収容体を含む被検査物の展開後の画像から被検査物の画像領域（Ａ）を抽出し、
前記マスク領域設定部で設定されたマスク領域内に含まれる前記被検査物抽出部が抽出した被検査物の画像領域の割合を検出し、該割合が予め設定した所定値を越えれば収容体内に被検査物が収容されていると判断し、該割合が前記所定値より低い場合には収容体内に被検査物が収容されていない不良品であると判断することを特徴とする。
【００１３】
上記構成によれば、マスク領域設定部１７ａは、収容体Ｔを基準として欠品検出用のマスク領域Ｍを所定位置に所定範囲を有して設定する。被検査物抽出部１７ｂは、展開後の画像をＸ線透過量に基づき収容体Ｔから被検査物Ｗの抽出画像Ａを抽出する。欠品判断部１７ｃは、マスク領域Ｍに含まれる被検査物Ｗの抽出画像Ａの割合が所定値を越えれば収容体内に被検査物が収容されていると判断し、該割合が前記所定値より低い場合には収容体内に被検査物が収容されてない不良品であると判断する。これにより、収容体Ｔ内で被検査物Ｗが移動してマスク領域Ｍに抽出画像Ａの一部しか含まれない場合でも、割合を用いた判断によって欠品とする誤検出を防止でき、正確な不良品検出が行える。
【００１４】
【発明の実施の形態】
図１はＸ線異物検出装置の外観を示す斜視図である。
Ｘ線異物検出装置１は、搬送ラインの一部に設けられ、所定間隔をおいて順次搬送されてくる被検査物Ｗ中（表面も含む）に混入される異物の有無を検出する。このＸ線異物検出装置１は、搬送部３と異物検出部４とが装置本体１ａ内部に設けられ、表示器７が装置本体１ａの前面上部に設けられている。
【００１５】
搬送部３は、例えば生肉、魚、加工食品、医薬などの各品種の被検査物Ｗを搬送するもので、この実施形態では被検査物Ｗがトレイやパック、箱等の収容体Ｔに収容された状態で搬送されるようになっている。
この搬送部３は、装置本体１ａに対して水平に配置されたベルトコンベアで構成される。搬送部３は、駆動モータ６の駆動により予め設定された所定の搬送速度で搬入口３ａから搬入された被検査物Ｗを搬出口３ｂ側（図中搬送方向Ｘ）に向けて搬送させる。
【００１６】
異物検出部４は、搬送される被検査物Ｗを搬送路途中において異物を検出するもので、搬送部３の上方に所定高さ離れて設けられるＸ線発生器８と、搬送部３内にＸ線発生器８と対向して設けられるＸ線検出器９を備えて構成される。
【００１７】
Ｘ線発生器８は、金属製の箱体１１内部に設けられる円筒状のＸ線管１２を不図示の絶縁油により浸漬した構成であり、Ｘ線管１２の陰極からの電子ビームを陽極ターゲットに照射させてＸ線を生成している。Ｘ線管１２は、その長手方向が被検査物Ｗの搬送方向Ｘと直交する方向（Ｙ方向）に設けられている。Ｘ線管１２により生成されたＸ線は、下方のＸ線検出器９に向けて、長手方向に沿った不図示のスリットにより略三角形状のスクリーン状にして曝射するようになっている。
【００１８】
Ｘ線検出器９は、被検査物Ｗに対してＸ線が曝射されたときに、被検査物Ｗを透過してくるＸ線を検出し、この検出したＸ線の透過量に応じた電気信号を出力している。このＸ線検出器９は、搬送部３上を搬送される被検査物Ｗの搬送方向Ｘと直交するＹ方向に沿って設けられる。このＸ線検出器９には、ライン状に配列された複数のフォトダイオードと、フォトダイオード上に設けられたシンチレータとを備えたアレイ状のラインセンサが用いられる。
【００１９】
このような構成によるＸ線検出器９では、被検査物Ｗに対してＸ線発生器８からＸ線が曝射されたときに、被検査物Ｗを透過してくるＸ線をシンチレータで受けて光に変換する。さらにシンチレータで変換された光は、その下部に配置されるフォトダイオードによって受光される。そして、各フォトダイオードは、受光した光を電気信号に変換して出力する。このＸ線検出器９は、受けたＸ線の強さに対応したレベルを有した電気信号を処理手段１３に出力する。
【００２０】
図２は、同装置の電気的構成を示すブロック図である。
処理手段１３は、ＣＰＵ等及びメモリ等で構成され、Ｘ線検出器９からＸ線透過のデータが入力される。このＸ線透過のデータは図示しないＡ／Ｄ変換部でＡ／Ｄ変換された後、データメモリ１４に格納される。
データメモリ１４には、１ライン（Ｙ方向）あたり上記６４０個のＸ線透過のデータが、少なくとも搬送される被検査物Ｗの搬送方向Ｘの長さ（前端Ｗａ〜後端Ｗｂまでの検出期間）に対応した所定ライン数（例えば４８０ライン）が格納される。処理手段１３は、このデータに基づき被検査物Ｗに対する異物混入を検査処理する。
【００２１】
搬送部３には被検査物Ｗを含む収容体Ｔを検出する投受光センサ等の位置検出器１０が設けられる。処理手段１３は、この位置検出器１０の出力を受けて収容体Ｔの先端が投受光位置を遮蔽した時期の出力を開始トリガとして用い、遮蔽している期間が被検査物Ｗの長さ（収容体Ｔの検出期間）であると判断し、データメモリ１４に各被検査物Ｗ単位のＸ線透過のデータを取り込むようになっている。
【００２２】
検査処理内容としては、被検査物Ｗを透過したＸ線の透過レベルに応じた電気信号に基づいて被検査物Ｗ中に金属、ガラス、石、骨などの異物が混入されているか否かの判別を行う。基本原理としては、異物によりＸ線が透過しない状態が生じた場合、即ち、Ｘ線透過量の値が低い場合に異物混入と判別し選別信号等を外部出力する。また、入力データを直接画像展開した画像データを画像処理部１６を介して表示器７の表示部１５に出力する。
【００２３】
この処理手段１３は、上記異物混入に係る不良品判別の処理に先立ち、収容体Ｔ内での被検査物Ｗの有無（欠品）を判別する欠品検出部１７が設けられる。この欠品検出部１７は、画像処理部１６における画像処理に関する１機能である。
【００２４】
この欠品検出部１７は、マスク領域設定部１７ａ、被検査物抽出部１７ｂ、欠品判断部１７ｃを有する。
マスク領域設定部１７ａには、被検査物ＷのＸ線透過画像上における所定の座標軸位置に所定の範囲を有する欠品検出用マスク領域Ｍが設定される。
【００２５】
図３は、欠品検出用マスク領域Ｍを示す図である。
図示のように、欠品検出用マスク領域Ｍは、収容体Ｔを基準としてこの収容体Ｔの範囲内における所定の座標軸位置上に所定の範囲を有して設定される。収容体Ｔは、搬送部３の搬送時に先端が位置検出器１０を遮った開始トリガの信号入力時期を基準位置ＲＦとして画像展開される。
欠品検出用マスク領域Ｍについても、この収容体ＴのＸ線透過画像の基準位置ＲＦを基準としており、開始トリガの信号入力に同期して設定された座標軸位置ｘ、ｙ上から所定範囲ｘＬ，ｙＬを有して設定される。設定された欠品検出用マスク領域Ｍは、所定画素数（ドット数）ｎを有する。
【００２６】
被検査物抽出部１７ｂは、収容体Ｔ上に収容された被検査物ＷのＸ線透過画像を抽出する。収容体Ｔと被検査物ＷはＸ線透過量が異なり、一般的に被検査物Ｗの方がＸ線透過量が低い。
図４は、被検査物Ｗの抽出画像Ａを示す図である。収容体Ｔと被検査物Ｗの  各Ｘ線透過量の略中間レベル付近に閾値を設け、Ｘ線透過量が閾値より低い領域が被検査物Ｗであると判断し、この範囲を抽出画像Ａとして抽出する。なお、詳細には図示しないが、表示部１５等に表示される画像展開後のＸ線透過画像は、Ｘ線透過量に合わせて表示濃度が異なる。
【００２７】
欠品判断部１７ｃは、被検査物ＷのＸ線透過データを展開後の画像（Ｘ線透過画像）と、予め設定した欠品検出用マスク領域の各画像情報の論理積を演算して欠品判定する。なお、判定時には、所定の値の面積比Ｂを用いてこの面積比Ｂに基づき欠品判定するようになっている。面積比Ｂは、０＜Ｂ≦１００（％）の範囲の任意の値である。
【００２８】
次に、上記構成によるＸ線異物検出動作について説明する。
上記のように構成されるＸ線異物検出装置１では、被検査物Ｗが搬送部３の搬入口３ａより搬入されると、その搬送過程において被検査物ＷにＸ線発生器８からＸ線が曝射される。このＸ線の曝射に伴って被検査物Ｗを透過してくるＸ線はＸ線検出器９によって検出される。
そして、処理手段１３は、Ｘ線検出器９によって検出されたＸ線の透過量に応じた電気信号に基づいて被検査物Ｗ中に異物が混入している否かを判別し、この判別結果から良品又は不良品を示す選別信号などを外部出力する。具体的には、検出された被検査物ＷのＸ線透過量が異物検出用として設定した閾値以下である場合に、異物混入であると判断する。そして、上記検査を終えた被検査物Ｗは、処理手段１３から出力される選別信号に応じて良品と不良品とに選別される。
【００２９】
また、処理手段１３の画像処理部１６は、Ｘ線検出器９が出力したＸ線透過量を示す画像データを表示部１５に表示出力する。収容体Ｔを含む被検査物Ｗの平面で見た外形の状態と、この被検査物Ｗ内でのＸ線の透過具合を確認することができ、異物部分の表示濃度が他と異なり（濃く、あるいは周囲と他の色）で表示でき異物の混入位置を把握できるようになる。
また、「ＯＫ」，「ＮＧ」の良否判定結果や、総検査数、良品数、ＮＧ総数の検査結果を表示する。
【００３０】
ここで、処理手段１３は、このデータメモリ１４に格納したデータを基準値と比較し、基準値を超えたデータがいずれか１つのラインに含まれている場合にＮＧと判断する。厳密には、基準値よりＸ線透過量が低い場合（異物によりＸ線が透過しない場合）にＮＧであると判断し、基準値よりＸ線透過量が高い場合にＯＫであると判断して、「ＮＧ」、あるいは「ＯＫ」の表示を行う。
【００３１】
次に、上記構成における不良品検出動作について説明する。図５は、この不良品検出処理を示すフローチャートである。
上記異物混入の検出動作に先立ち、欠品検出部１７は収容体Ｔ内での被検査物Ｗの有無（欠品や欠損等）を検出する。
画像処理部１６は、Ｘ線検出部９から出力されるＸ線透過データは収容体Ｔ及び被検査物を含む状態でＸ線透過画像として画像展開している。
欠品検出部１７は、この画像を取り込む（Ｓ１）。そして、取り込んだＸ線透過画像に基づき、収容体Ｔの基準位置ＲＦを検出する（Ｓ２）。この基準位置ＲＦは、位置検出器１０が収容体Ｔの先頭位置を検出した時期であり、Ｘ線透過画像における収容体Ｔの先頭（一端）の位置に相当する。
【００３２】
収容体Ｔの基準位置ＲＦが検出されると、同時にマスク領域設定部１７ａは、この基準位置ＲＦを基準として図３に示す座標軸位置ｘ、ｙの位置を設定する（Ｓ３）。そして、この座標軸位置ｘ、ｙから所定範囲ｘＬ，ｙＬの大きさを有する欠品検出用マスク領域Ｍを切り出す（Ｓ４）。
また、被検査物抽出部１７ｂは、図３に示すように、Ｘ線透過画像から収容体Ｔを除く被検査物Ｗのみの抽出画像Ａを抽出する（Ｓ５）。
【００３３】
欠品判断部１７ｃは、欠品検出用マスク領域Ｍと、被検査物Ｗの抽出画像Ａを基準位置ＲＦを基準として重ね合わせ、各画素の論理積を演算する（Ｓ６）。
論理積演算は、画素単位で走査して行われ、重ね合わせの状態で欠品検出用マスク領域Ｍの範囲内に被検査物Ｗの抽出画像Ａが位置していればその画素を１つづつカウントしていく（Ｓ７）。
上述したように、切り出した欠品検出用マスク領域Ｍは画素数ｎを有しており、欠品検出用マスク領域Ｍに含まれる被検査物Ｗの抽出画像Ａの画素数までカウント値ＣＮＴが増加していくことになる。
【００３４】
図６は、収容体Ｔ内に被検査物Ｗが正常に収容された状態を示す図である。図には欠品検出用マスク領域Ｍと、被検査物Ｗの抽出画像Ａを重ね合わせた状態が示されている。図示の状態は、欠品検出用マスク領域Ｍに被検査物Ｗの抽出画像Ａの全てが含まれるから、カウント値ＣＮＴは欠品検出用マスク領域Ｍの画素数ｎに一致（厳密にはほぼ一致）する値となる。
【００３５】
そして、欠品判断部１７ｃは、このカウント値ＣＮＴを、欠品検出用マスク領域Ｍの画素数ｎ×面積比Ｂと比較して、カウント値ＣＮＴの方が高ければ「ＯＫ」、カウント値ＣＮＴの方が低ければ「ＮＧ（欠品）」と判断する（Ｓ８）。ＮＧの場合には、この収容体Ｔに被検査物Ｗが存在しない不良品であることを示す外部出力を行う（Ｓ９）。例えば表示部１５上で欠品状態を示す表示出力を行ったり、後段の選別機に対して不良品排出の信号を外部出力する。
図６の例では、カウント値ＣＮＴは欠品検出用マスク領域Ｍの画素数ｎにほぼ一致するため「ＯＫ」、即ち、収容体Ｔ内に被検査物Ｗが存在していると判断する。
【００３６】
図７は、被検査物Ｗの欠品状態を示す図である。
図示のように、収容体Ｔ内において被検査物Ｗが存在しない状態（欠品）のとき、欠品検出用マスク領域Ｍと、被検査物Ｗの抽出画像Ａを重ね合わせた状態では、欠品検出用マスク領域Ｍに被検査物Ｗの抽出画像Ａが含まれないから、カウント値ＣＮＴは０（厳密には限りなく０に近い値）となる。
この場合、欠品検出用マスク領域Ｍの画素数ｎ×面積比Ｂに比較して、カウント値ＣＮＴの方が低いため、「ＮＧ（欠品）」と判断する。
【００３７】
図８は、面積比による被検査物Ｗの検出状態を示す図である。
Ｘ線検出時に、被検査物Ｗは、収容体Ｔ内で移動した状態のまま検出されることがある。収容体Ｔと被検査物Ｗの相対的な大きさの違いによって、被検査物Ｗは、収容体Ｔ内で所定範囲移動可能となる。移動可能範囲は、被検査物Ｗの種類や包装形態等によって異なる。
【００３８】
図示の場合、欠品検出用マスク領域Ｍと、被検査物Ｗの抽出画像Ａを重ね合わせた状態では、被検査物Ｗの抽出画像Ａは欠品検出用マスク領域Ｍに一部（便宜上、略半部５０％とする）のみ重なり、欠品検出用マスク領域Ｍ全体には含まれない状態となる。この場合、カウント値ＣＮＴはほぼ２／ｎとなる。
ここで、面積比Ｂとして４０％が設定されているとすれば、欠品検出用マスク領域Ｍの画素数ｎ×面積比Ｂ（５０％）に比較して、カウント値ＣＮＴの方が高いため、判別結果は「ＯＫ」、即ち、収容体Ｔ内に被検査物Ｗが存在していると判断できる。
【００３９】
このように、実際には収容体Ｔ内に被検査物Ｗが存在するが、収容体Ｔ内で被検査物Ｗが移動状態のままＸ線検出された場合であっても、上記の面積比Ｂの設定によって誤って「ＮＧ（欠品）」と判断することを防止でき、欠品判別の信頼性を向上させることができるようになる。
【００４０】
面積比Ｂは、上記収容体Ｔと被検査物Ｗ（抽出画像Ａ）の相対的な大きさの違いによる、収容体Ｔ内での被検査物Ｗの移動可能範囲を考慮して適宜の値（０＜Ｂ≦１００（％）に設定すればよい。
この面積比Ｂを設定し欠品判断することにより、マスク領域設定部１７ａにおける欠品検出用マスク領域Ｍは、収容体Ｔの範囲内で粗く設定してもよく、設定を容易に行えるようになる。即ち、設定項目の座標軸位置ｘ、ｙ及び所定範囲ｘＬ，ｙＬについて厳密性が不要となり、例えば面積比Ｂが１０％とすると欠品検出用マスク領域Ｍの全画素数ｎの中に抽出画像Ａの画素数カウント値ＣＮＴが１０％分だけ検出されれば「ＯＫ」と判断できるようになる。
【００４１】
上記欠品検出用マスク領域Ｍの設定項目である座標軸位置ｘ、ｙ及び所定範囲ｘＬ，ｙＬは、異物検査（欠品判断を含む）前の初期設定時に実際に被検査物Ｗを搬送部３で搬送させて設定することもできる。
収容体Ｔ内に欠品なく収容した被検査物Ｗを複数サンプル分用意し、搬送部３で搬送させながら、上記設定項目を変化させて「ＯＫ」判断可能となる値を確認できる。この際、座標軸位置ｘ、ｙを収容体Ｔ内で各所に移動させ、また、範囲ｘＬ，ｙＬを大小可変させて全てのサンプルで「ＯＫ」となったときの設定値が最良と判断できる。
【００４２】
一方、欠品検出用マスク領域Ｍの設定項目の設定の前後して面積比Ｂを可変させ全てのサンプルで「ＯＫ」となったときの設定値が最良と判断できる。
これら欠品検出用マスク領域Ｍの設定項目、及び面積比Ｂの設定時には、上記に加えて収容体Ｔに被検査物Ｗを収容させない状態のサンプルについても全てが「ＮＧ」、即ち不良品であると判断されることを確認しておく。
【００４３】
次に、図９は、収容体Ｔの他の例を示す図である。
物品の種類によっては、図示のように、１つの収容体Ｔ中に複数の仕切Ｔａ１〜Ｔａｎを有して、複数個の被検査物Ｗが収容される場合がある。
上記のような場合には、各仕切Ｔａにそれぞれ欠品検査用マスク領域Ｍ１〜Ｍｎを個別に設定すればよく、上記同様に欠品検出できるようになる。
一方、図５のフローチャートに示した欠品検出用マスク領域Ｍの切り出し処理（Ｓ４）実行時の切り出し範囲を図９中点線で示す如く基準位置ＲＦから列単位Ｃ１〜Ｃｎ（あるいは行単位）で切り出すこともできる。カウント処理時（Ｓ７）には、各列単位で画像を走査し、２個の欠品検出用マスク領域Ｍ１，Ｍ２に重なる抽出画像Ａのカウントを同時並行させてもよい。
【００４４】
上記記実施形態では、収容体Ｔを含む被検査物Ｗの搬送方向の先端位置を位置検出器１０で検出して基準位置ＲＦを得る構成とした。これに限らず、画像処理部１６での画像処理時にＸ線透過量に基づき、収容体Ｔの先端位置を検出して基準位置ＲＦを設定しても良い。この場合、位置検出器１０は不要である。
【００４５】
また、上記実施形態では、１つの被検査物Ｗに対して１個の欠品検出用マスク領域Ｍを設定する構成としたが、１つの被検査物Ｗに対して２個以上複数個の欠品検出用マスク領域Ｍを設定すれば、この被検査物Ｗの欠品の検出に加えて被検査物Ｗの一部欠け等の欠損を検出することもできるようになる。
【００４６】
上記被検査物Ｗ及び収容体Ｔの品種を具体的に説明すると、フィルム状の収容体Ｔに乾麺と「つゆ」が収容された「ラーメン」がある。この場合、乾麺がＸ線異物検出の対象である。そして、「つゆ」を欠品検出の対象とする。収容体Ｔ内では乾麺に対して「つゆ」が小さいため収容位置が移動しやすい。
また、収容体Ｔに仕切が複数あるものの具体例としては、１箱に複数個収容される「焼売」があり、この「焼売」がＸ線異物及び欠品検出の対象となる。
【００４７】
【発明の効果】
本発明によれば、Ｘ線検出により収容体内部における被検査物の有無を容易に検出できる。収容体内部で被検査物が移動し、欠品検出用マスク領域内に被検査物全体が含まれない場合が生じても、設定した割合を越えれば被検査物が収容されていると判断する構成であるため、一部が重なった場合に欠品とした誤判断を防止して不良品検出の信頼性を向上できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるＸ線異物検出装置の外観を示す斜視図。
【図２】本発明によるＸ線異物検出装置の電気的構成を示すブロック図。
【図３】欠品検出用マスク領域を示す図。
【図４】被検査物の抽出画像を示す図。
【図５】不良品検出処理を示すフローチャート。
【図６】収容体内に被検査物が正常に収容された状態を示す図。
【図７】被検査物が欠品状態を示す図。
【図８】面積比による判断処理を説明するための図。
【図９】収容体の他の構成例を示す図。
【図１０】Ｘ線異物検出装置の構成を示す斜視図。
【図１１】従来の不良品検出処理を説明するための図。
【符号の説明】
１…Ｘ線異物検出装置、３…搬送部、８…Ｘ線発生器、９…Ｘ線検出部、１３…処理手段、１６…画像処理部、１７…欠品検出部、１７ａ…マスク領域設定部、１７ｂ…被検査物抽出部、１７ｃ…欠品判断部、Ｔ…収容体、Ｍ…欠品検出用マスク領域、Ｗ…被検査物。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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