(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体にレーザー光を照射し、前記記録媒体からの反射光を受光して情報を再生する再生手段と、この再生手段の動作を制御する制御手段とを備えた光ディスク装置において、
前記制御手段は、
前記再生手段から得た再生情報をエラー訂正し、当該再生情報のエラー訂正ができたか否かを判断する第１の判定手段と、
前記第１の判定手段によりエラー訂正が失敗したと判断されたときに、複数種の再生条件による複数回の再生リトライを行わせる再生リトライ手段と、
前記再生リトライ手段のリトライによって再生に成功したか否か判定し、再生に成功したときには成功条件に対応する成功回数をカウントし、該カウンタ値をカウンタ情報格納エリアに記憶させる第２の判定手段と、
前記カウンタ情報格納エリアの前記成功回数の各カウンタ値のうち、いずれか一のカウンタ値が所定の規定値を越えたとき、当該カウンタに対応するリトライ条件に再生条件を再設定し、前記カウンタ情報格納エリアの各カウンタ値を全てゼロにクリアする変更手段と
を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
記録媒体にレーザー光を照射し、前記記録媒体からの反射光を受光して情報を再生する再生手段と、この再生手段の動作を制御する制御手段とを備えた光ディスク装置において、
前記制御手段は、
前記再生手段から得た再生情報をエラー訂正し、当該再生情報のエラー訂正ができたか否かを判断する第１の判定手段と、
前記第１の判定手段でエラー訂正に失敗したと判断されたときに、複数種の再生条件による複数回の再生リトライを行わせる再生リトライ手段と、
前記再生リトライ手段のリトライによって再生に成功したか否か判定し、再生に成功したときには成功条件に対応する成功回数をカウントし、該カウンタ値をカウンタ情報格納エリアに記憶させる第２の判定手段と、
前記カウンタ情報格納エリアの前記成功回数の各カウンタ値のうち、いずれか一のカウンタ値が所定の規定値を超えた場合に、新たな再生パワーをＰｎｗ、変更前の再生パワーをＰｐｒ、当該カウンタに対応する再生条件での再生パワーをＰａｆとし、ｍを予め任意に決められた定数であって０≦ｍ≦１に設定されたものとするとき、下記条件式（１）を満足することを特徴とする光ディスク装置。
Ｐｎｗ＝（１−ｍ）×Ｐｐｒ十ｍ×Ｐａｆ        ……（１）
【請求項３】
上記記録媒体は磁気超解像記録媒体であることを特徴とする請求項１または２記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記制御手段は、
初期動作時に決定した再生条件から、再生条件の上限を定め、リトライ動作により再生条件を変更させたときに、前記上限条件よりも変動させないようにした手段を備えたことを特徴とする請求項１または２記載の光ディスク装置。
【請求項５】
上記再生条件は、再生パワー、再生磁界、ＲｅｅｄＩＣであることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、記録媒体にレーザー光を照射し、前記記録媒体からの反射光を受光して情報を再生する光ディスク装置に関する。さらに詳細には、本発明は、再生信号が正しく読めないときに、リカバリ動作を用いつつ、再生光強度を新たに学習し、再生信号を正確かつ迅速に読むための制御を行う光ディスク装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
この種の光ディスク装置は、レーザー光を利用し、円盤状の記録媒体に記録情報を書き込み、あるいは、前記記録媒体に書込まれた情報を読み出する装置として知られている。
【０００３】
このような光ディスク装置において、近年、記録信号密度を増大させる試みがなされている。例えば、１９９８年にソニー株式会社及び富士通株式会社の両社より提案された９０［mm］径光磁気ディスク規格（以下「ＧＩＧＡＭＯ」規格と称す）では、Ｄ−ＲＡＤによる磁気超解像（ＭＳＲ；Magneticallyinduced Super Resolution）再生方式を用いることにより、記録信号密度の増大を達成している。 ＭＳＲ再生では、光ディスク装置がディスク面上に形成するスポット径よりも小さい記録ピットを再生するため、実際の記録が行われている記録層と、再生信号を検出する再生層との間に制御層を設け、制御層／再生層の温度による転写条件により、記録層の磁区を再生層へ転写させる部分を制限している。
【０００４】
制御層／再生層の転写を制御する温度条件は、再生レーザー光の強度変化により与えられるため、ＭＳＲ 再生では、再生レーザー光強度の正確な制御をする必要がある。このため、ＭＳＲ 再生を用いた光磁気ディスク装置では、予めディスクが挿入された時点で、再生光の強度を調整し、最適な再生強度を求める、いわゆる「試し読み」が行われている。
【０００５】
このようにＭＳＲ再生を用いた光磁気ディスク装置において、「試し読み」により、最適な再生レーザー強度で再生を行っていても、再生信号をうまく検出できない場合がある。
【０００６】
例えば再生を行う光ディスク面上に不純物（埃、指紋等）が付着し再生信号の品位が損なわれる場合や、再生レーザー光の強度が低下した場合や、あるいは、記録信号に問題がある場合、特に短マーク繰り返し振幅が通常よりも小さく記録されている信号の場合には、ＭＳＲ再生による転写作用が弱く、転写動作が起こらないことが発生している。この転写動作が起こらないことを、いわゆる「転写抜け」という。
【０００７】
このように再生時の異常を解消する従来の光ディスク装置には、特願平９−２２４７２２公報に示されるものがある。この従来の光ディスク装置において、再生を繰り返し行うリトライ動作は、光ディスク装置の動作安定性において有用である。この従来の光ディスク装置は、ＭＳＲ媒体に記録された信号の再生を行い、誤り訂正回路によるエラー訂正が正常に行えない場合、再生レーザー光の強度を変更し、再び再生動作を行うようにしたものである。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述した従来の光ディスク装置による再生リトライ方式では、試し読みにより求められた初期再生パワーにずれが生じた場合、正しい再生パワー条件になるまで、全てのセクタにおいてリトライ動作を繰り返すため、連続した情報の読みとりに多くの時間が費やされる欠点がある。
また、上述した従来の光ディスク装置による再生リトライの方式では、再生パワー最適が現行のパワーよりも一段階下に存在している場合には、第１の条件として毎セクタでリトライを４回まで繰り返し再生を行う、第２の条件として毎セクタでリトライを１回だけ再生を行う、あるいは、第３の条件として毎セクタでリトライを２回まで繰り返し再生を行なう、のいずれかを採用するものとしているが、再生パワーのずれ方向が一意では無いため、前記３つの条件のうちのどれに設定しておけばリトライ回数が最小となるかは不明であるという問題があった。
【０００９】
さらに、上述した従来の光ディスク装置において、「試し読み」では、通常、ユーザーがデータを記録する領域は使用されず、例えばＧＩＧＡＭＯ規格では媒体にレイアウトされているテストトラック領域を用いて「試し読み」を行うのが普通であるため、前記テストトラック領域とデータ領域とで予測し得ない感度差が生じた場合、「試し読み」による再生強度は常に最適とはいえず、リトライ動作増加による再生時間の遅れが起じるという不都合があった。
【００１０】
本発明は、上述した不都合を解消し、ＭＳＲ記録媒体の再生を行う際に、再生条件の安定性及び高速性の確保した光ディスク装置を提供することを目的としている。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明の第１の光ディスク装置は、記録媒体にレーザー光を照射し、前記記録媒体からの反射光を受光して情報を再生する再生手段と、この再生手段の動作を制御する制御手段とを備えた光ディスク装置において、前記制御手段は、前記再生手段から得た再生情報をエラー訂正し、当該再生情報のエラー訂正ができたか否かを判断する第１の判定手段と、前記第１の判定手段によりエラー訂正が失敗したと判断されたときに、複数種の再生条件による複数回の再生リトライを行わせる再生リトライ手段と、前記再生リトライ手段のリトライによって再生に成功したか否か判定し、再生に成功したときには成功条件に対応する成功回数をカウントし、該カウンタ値をカウンタ情報格納エリアに記憶させる第２の判定手段と、前記カウンタ情報格納エリアの前記成功回数の各カウンタ値のうち、いずれか一のカウンタ値が所定の規定値を越えたとき、当該カウンタに対応するリトライ条件に再生条件を再設定し、前記カウンタ情報格納エリアの各カウンタ値を全てゼロにクリアする変更手段とを備えたことを特徴とする。
【００１２】
上記第１の光ディスク装置では、再生が正常に行われなかったとき、リトライ動作を行い、再生動作の安定性を向上させるととともに、前記リトライ再生時の各成功回数を記憶し、リトライ成功回数が一定の条件を満たしたときに、新たな再生条件として前記リトライ再生条件を採用し、その後の再生に用いることでで、再生におけるリトライ条件として、再生レーザー強度、再生磁場強度、スライスレベル追従等の複合条件によるリトライを複数回試行し、再生に成功した場合、前記条件に対応したカウンタの数値を所定の数値を加算し、あるカウンタの値が規定回数に到達した場合に、対応する再生条件にドライブを再設定し、各カウンタの値をクリアすることにより、リトライ時に多数のセクタで再生に成功した条件へ再生条件が変更され、以降の再生ではリトライを行わずに再生可能となる可能性が上がることになる。
【００１３】
本発明の第２の光ディスク装置は、記録媒体にレーザー光を照射し、前記記録媒体からの反射光を受光して情報を再生する再生手段と、この再生手段の動作を制御する制御手段とを備えた光ディスク装置において、前記制御手段は、前記再生手段から得た再生情報をエラー訂正し、当該再生情報のエラー訂正ができたか否かを判断する第１の判定手段と、前記第１の判定手段でエラー訂正に失敗したと判断されたときに、複数種の再生条件による複数回の再生リトライを行わせる再生リトライ手段と、前記再生リトライ手段のリトライによって再生に成功したか否か判定し、再生に成功したときには成功条件に対応する成功回数をカウントし、該カウンタ値をカウンタ情報格納エリアに記憶させる第２の判定手段と、前記カウンタ情報格納エリアの前記成功回数の各カウンタ値のうち、いずれか一のカウンタ値が所定の規定値を超えた場合に、新たな再生パワーをＰｎｗ、変更前の再生パワーをＰｐｒ、当該カウンタに対応する再生条件での再生パワーをＰａｆとし、ｍを予め任意に決められた定数であって０≦ｍ≦１に設定されたものとするとき、下記条件式（１）を満足することを特徴とする。
Ｐｎｗ＝（１−ｍ）×Ｐｐｒ十ｍ×Ｐａｆ        ……（１）
【００１４】
上記第２の光ディスク装置においても、再生条件を演算する以外は、第１の光ディスク装置と同様である。
【００１５】
本発明の第３の光ディスク装置は、上記第１または第２の光ディスク装置において、上記記録媒体は磁気超解像記録媒体であることを特徴とするものである。
【００１６】
本発明の第４の光ディスク装置は、上記第１または第２の光ディスク装置において、前記制御手段は、初期動作時に決定した再生条件から、再生条件の上限を定め、リトライ動作により再生条件を変更させたときに、前記上限条件よりも変動させないようにした手段を備えたことを特徴とするものである。
【００１７】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
【００１８】
＜第１の実施の形態（請求項１相当）＞
図１〜図３は本発明の第１の実施の形態に係わる光ディスク装置を説明するためのものである。ここに、図１は本発明の第１の実施の形態に係る光ディスク装置の概略図を示すブロック図である。
【００１９】
この図１において、本発明の第１の実施の形態に係る光ディスク装置１は、大別すると、記録媒体（光ディスク）２にレーザー光を照射し，前記光ディスク２からの反射光を受光して情報を再生する再生手段３と、前記光ディスク２にレーザー光を照射し，前記光ディスク２に情報を記憶させる記録手段５と、前記再生手段３及び前記記録手段５の動作を制御する制御手段７とを備え、次のように構成されている。
【００２０】
前記再生手段３は、対物光学系３１及び立ち上げミラー３２から構成され光ディスク２に光スポットを集光させる光学ヘッド３３と、ビームスプリッタ３４と、レーザーダイオード（ＬＤ）３５と、ＬＤドライバ３６と、再生強度制御部３７と、フォトダイオード（ＰＤ）３８と、再生信号処理部３９と、磁気強度制御部４０と、バイアス発生装置４１とを備えている。
【００２１】
前記再生強度制御部３７は、前記制御手段７からの制御信号に基づいてＬＤドライバ３６を制御するようになっている。ＬＤドライバ３６は、前記再生強度制御部３７の制御下にＬＤ３５を発光させるようになっている。ＬＤ３５で発光したレーザ光は、ビームスプリッタ３４、立ち上げミラー３２を通り対物光学系３１で集光されて光ディスク２に照射されるようになっている。前記光ディスク２からの反射光は、対物光学系３１、立ち上げミラー３２、ビームスプリッタ３４を経由してＰＤ３８に集光されるようになっている。ＰＤ３８は光信号を電気信号に変換して再生信号処理部３９に与えるようになっている。再生信号処理部３９は、受け取った電気信号から再生信号を得て、制御手段７に供給するようになっている。制御手段７は、磁気強度制御信号を磁気強度制御部４０に与えられるようになっている。この磁気強度制御部４０は、指定された磁気強度制御信号をバイアス発生装置４１に与えられるようになっている。このバイアス発生装置４１は、磁気強度制御部４０から供給される電流値に基づいたバイアス磁界を発生し光ディスク２に与えられるようになっている。
【００２２】
前記記録手段５は、前記再生手段３の構成に加えて、記録信号処理部５１と、記録強度制御部５２とからなる。
【００２３】
前記制御手段７は、記録信号を記録信号処理部５１に与えられるようになっている。また、制御手段７は、記録強度制御信号を記録強度制御部５２に与えられるようになっている。記録強度制御部５２は、その記録強度信号を記録信号処理部５１に与えるようになっている。記録信号処理部５１は、ＬＤドライバ３６を制御してＬＤ３５の発光を制御できるようになっている。また、前記制御手段７は、磁気強度制御信号を磁気強度制御部４０に与えられるようになっている。この磁気強度制御部４０は、当該磁気強度制御信号を基にバイアス発生装置４１のバイアス強度を制御できるようになっている。
【００２４】
前記制御手段７は、リトライ条件格納エリア７１と、カウンタ情報格納エリア７２と、ホストコンピュータ２０を接続するためのインターフェース７３と、各種演算処理や各種制御を実行する中央処理部（ＣＰＵ）７５とを備えている。この制御手段７のＣＰＵ７５は、本発明を実現させるプログラムを処理することにより、前記再生手段３から得た再生情報をエラー訂正し、当該再生情報のエラー訂正ができたか否かを判断する第１の判定手段と、前記第１の手段によりエラー訂正が失敗したと判断されたときに、複数種の再生条件による複数回の再生リトライを行わせる再生リトライ手段と、前記再生リトライ手段のリトライによって再生に成功したか否か判定し、再生に成功したときには成功条件に対応する成功回数を記憶手段であるカウンタ情報格納エリア７２に記憶させる第２の判定手段と、前記カウンタ情報格納エリア７２に記憶した回数が規定値を超えた場合に、該再生条件へ再生強度等を変更する変更手段とを実現し、それらを備えている。
【００２５】
上述したように構成された光ディスク装置の動作について図１を基に、図２及び図３を参照して説明する。まず、光ディスク装置１に光ディスク２が挿入されている状態で、光ディスク２から情報の読みとりを行う場合について説明する。ここに、図２は本発明の第１の実施の形態に係る光ディスク装置の制御手段の動作を説明するためのフローチャートである。図３は、本発明の第１の実施の形態に係る光ディスク装置の制御手段内部のリトライ条件格納エリアに格納されているリトライ条件を示す図である。
【００２６】
まず、前記制御手段７のＣＰＵ７５は、再生レーザーパワーの強度の制御を行う再生強度制御部３７に再生レーザーパワーの強度の制御指令を与える。再生強度制御部３７は、その指令に基づいてＬＤドライバ３６にどの程度の電流を流すかの指示を行う。前記ＬＤ３５は、ＬＤドライバ３６の電流量に応じて発光する。これにより、この光ディスク装置１では、レーザー光の強度を任意に変更することができる。
【００２７】
ＬＤ３５から発光された可変の再生レーザー光は、ビームスプリッタ３４を介し、光学ヘッド３３内にある立ち上げミラー３２で反射し、対物光学系３１より、光ディスク２上に集光して照射する。
【００２８】
光学ヘッド３３は、図示しないスピンドルモータにより回転する光ディスク２に平行して１次元方向に駆動できるとともに、光ディスク２面内の任意の部位に再生光を集光させることができる。
【００２９】
この光ディスク装置１にてＭＳＲ光ディスク２の情報再生を行う場合、制御手段７のＣＰＵ７５よりバイアス発生装置４１に磁場強度情報が与えられ、これに基づいてバイアス発生装置４１から磁場を発生させる。
【００３０】
光ディスク２面より反射された再生光は、再び、対物光学系３１を通り、立ち上げミラー３２を反射して、ビームスプリッタ３４で分割され、ＰＤ３８で検出される。
【００３１】
前記ＰＤ３８で検出された再生信号は、信号強度に応じた情報として再生信号処理部３９にて２値化処理された後、データに変換されてＣＰＵ７５に与えられる。このとき、ＣＰＵ７５により実現されている第１の判定手段は、再生信号処理部３９で処理された２値化信号に、セクター単位で情報後部に付加されているエラー訂正コードでエラー訂正を行なう（図２のステップＳ２１）
ここで、制御手段７のＣＰＵ７５に実現されている第１の判定手段は、エラー訂正に成功したか否かの判断を行なう（ステップＳ２２）。前記制御手段７のＣＰＵ７５による第１の判定手段は、エラー訂正に成功しなかったとき（ステップ２２；ＮＯ）、ＣＰＵ７５で実現されている再生リトライ手段によるリトライ動作に移行する（ステップ２３以降）。
【００３２】
ＣＰＵ７５で実現されている再生リトライ手段によるリトライ動作は、まず、ＣＰＵ７５内のリトライ条件格納エリア７１に記憶されているリトライ条件をＣＰＵ７５に設定する（ステップ２３）。このＣＰＵ７５に設定されたリトライ条件は、図３（ａ）〜図３（ｅ）に示すように、条件“１”，条件“２”，条件“３”，…，条件“１５”というように、「回数」４回を一つのグループにし、「再生パワー」、「再生磁場」、「ＲｅａｄＩＣ」の条件を変更して行なうものとする。すなわち、このリトライ条件のマトリックス例では、１〜４回目を条件“１”、５〜８回目を条件“２”、…のように４回づつ同じ条件を繰り返してリトライさせるように各条件を附番している。なお、図３（ａ）では条件“１”〜“３”まで、図３（ｂ）では条件“４”〜“６”まで、図３（ｃ）では条件“７”〜“９”まで、図３（ｄ）では条件“１０”〜“１２”まで、図３（ｅ）では条件“１３”〜“１５”までが、それぞれ条件を附番されている。なお、「ＲｅａｄＩＣ」の項で、追従とはエンペロープ追従による再生のことをいう。
【００３３】
前記制御手段７のＣＰＵ７５による再生リトライ手段は、上述したようなリトライ条件に基づいて、ｎ回目（ｎは任意の整数）のリトライ動作の制御を行う（ステップ２４）。
【００３４】
前記制御手段７のＣＰＵ７５により実現されている第２の判定手段は、全リトライ回数ｎ回のうちｋ回目に読みとりに成功した場合（ステップ２５；ＹＥＳ）、ｋ回目の条件として附番されているリトライ条件に対応するカウンタの数値Ｘｋにプラス１し（ステップ２６）、前記ＣＰＵ７５内にある記憶手段であるカウンタ情報格納エリア７２に保存する（ステップ２７）。
【００３５】
前記ＣＰＵ７５で実現されている変更手段は、カウンタ情報格納エリア７２の各カウンタ値のうち、どれか一つのカウンタがある条件を満たした場合（ステップ２９；ＹＥＳ）、そのカウンタに対応するリトライ条件に再生条件を再設定し直し（ステップ３０）、カウンタ情報の各カウンタ値を全て０にクリアする（ステップ３１）。
【００３６】
なお、前記ＣＰＵ７５による再生リトライ手段は、再生に失敗した場合は、リトライを決められた回数全て行ったかの判定を行い（ステップ２８）、全てのリトライが行われているときには（ステップ２８；ＹＥＳ）、リードエラーとして処理を中断する。
【００３７】
また、ＣＰＵ７５による再生リトライ手段は、まだ全てのリトライが行われていないときには（ステップ２８；ＮＯ）、ステップ２３に戻ってリトライ動作を継続する。
【００３８】
なお、前記ＣＰＵ７５による第１の判定手段は、再生がされれば（ステップ２２；ＹＥＳ）、当該ループを抜けて処理を終了する。
【００３９】
ここで、前記カウンタ情報格納エリア７２におけるリトライカウンタの規定値は、使用される記録媒体の感度特性によって任意に規定される。前記記録媒体の面内感度ばらつきに影響する主要な原因としては、磁性膜の膜厚むらによるものがある。膜厚のばらつきが少なく、局部的に膜厚異常が生じる場合には、カウンタ情報格納エリア７２におけるリトライカウンタの規定値を大きめの数値に設定し、再生条件の学習効果を遅めにしてやる方が、再生時のリトライ減少につながる。逆に、媒体面内の感度ばらつきが大きい場合には、カウンタ情報格納エリア７２におけるリトライカウンタ規定値を小さめの数値に設定し、再生条件の学習による追従性を高めてやる方がよい。
【００４０】
本発明の第１の実施の形態に係る光ディスク装置１による再生リトライを施行することにより、再生パワーにずれが生じている場合に、リトライ動作を繰り返すことによって、適正なパワーへの学習が可能となり、以降のリトライ動作が無くなることにより再生の高速安定化が可能となる。
なお、上述した第１の実施の形態に係る光ディスク装置１では、再生パワーの学習を行うものとして説明したが、これに限定されることなく、例えば再生磁場強度、あるいはＲｅａｄＩＣによる設定条件にも適用できることはいうまでもない。
【００４１】
＜第２の実施の形態（請求項２相当）＞
本発明の第２の実施の形態に係る光ディスク装置は、第１の実施の形態におけるステップ３０を次のように変更することにより実現できる。なお、第２の実施の形態において他のステップは第１の形態と全く同様である。すなわち、第２の実施の形態に係る光ディスク装置は、リトライカウンタが規定値に達したときに（図２のステップ２９；ＹＥＳ）、直接対応する再生条件へ変更を行わずに、例えば対応する再生条件に演算を行い、新たな再生条件を設定するようにしたものである（図２のステップ３０に相当）。
【００４２】
このような第２の実施の形態に係る光ディスク装置よっても、再生パワーにずれが生じている場合に、リトライ動作を繰り返すことによって、適正なパワーへの学習が可能となり、以降のリトライ動作が無くなることにより再生の高速安定化が可能となる。
＜リード（再生）パワーマージンの狭い記録媒体に対する対策＞
次に、本発明の第２の実施の形態において、リード（再生）パワーマージンが少ない場合の例を挙げ、再生条件を演算することについて図４を参照して説明する。
【００４３】
図４は、記録媒体のリードパワーによるエラーレート特性を示す特性図であって、横軸にリードパワー（Ｒｅａｄ  Ｐｏｗｅｒ）を、縦軸にエラーレート（Ｅｒｒｏｒ  Ｒａｔｅ）を、それぞれ示したものである。
【００４４】
この図４において、エラースレッシュレベル（Ｅｒ Ｔｈ）で表される破線は、エラー訂正により読みとり可能となるエラーレート上限値である。
【００４５】
記録媒体Ａのようなリード特性を持つ記録媒体であれば、リードパワーＸの状態より、リトライで＋α％の学習が行われ、エラーレートの改善が確実になされることになる。これに対して、記録媒体Ｂのように、エラースレッシュレベル（Ｅｒ Ｔｈ）すれすれで、有効なエラーレートの取れるリードパワー領域が少ない場合（言い換えればリードパワーマージンが少ない場合）は、逆に学習をしてもエラーレートボトムの部位に安定せず、無駄なパワー変更を行ってしまう場合がある。
【００４６】
これを防止する対策として、リトライでのパワー変化量αを小さく設定することもできるが、αの値が小さいとリトライで試行されるパワー幅が狭くなり、あるいは、リトライでのリードパワーの変化の数を増やす等の問題が発生する。
【００４７】
記録媒体Ｂのような特性を持つ記録媒体の再生条件変更においては、例えば変更前の再生パワーＰｐｒと、リトライカウンタに対応する再生条件での再生パワーＰａｆとを用い、下記数式１に示す内挿演算して新たな再生パワーＰｎｗを設定する方が、エラーレートが最良となる条件に近づく。
【００４８】
Ｐｎｗ＝（１−ｍ）×Ｐｐｒ十ｍ×Ｐａｆ        ……（１）
なお、ｍは予め任意に決められた定数であって、０≦ｍ≦１に設定されているものとする。
【００４９】
このような数式１による演算を使用することにより、例えば再生パワーマージンの狭い記録媒体の再生動作においても、パワーの最適化が行われ、リトライ動作なしでの高速安定の再生が可能となる。
【００５０】
＜転写抜けに対する対策＞
上述したように本発明においては、リードリトライで同じ条件でのリトライを複数回繰り返す「試し読み」を行っているが、これはＭＳＲ再生において短マーク信号振幅が小さいと、再生層への転写力が弱まり、転写抜けを起こす現象を防止するためである。
【００５１】
この転写抜けは、ランダムで発生するため、その分布曲線は指数関数的に近似できることがわかっている。それを確認する意味で、図５に示す実験データを説明する。
【００５２】
図５は、本発明の第１の実施の形態または第２の実施の形態に係る光ディスク装置でＭＳＲ記録媒体を再生した時のリカバリー回数を示した図である。すなわち、この図５は、実際の光ディスク装置１０台（図５ではドライブＡ，Ｂ，Ｃ，…，Ｊで示されている）で、約１５００回の全面繰り返し再生を行い、再生に失敗した場合、同じ再生条件で４回リトライを行った時のリカバリー数を表示したものである。この図５からもわかるように、これらリカバリー数は指数関数近似でほぼ同一傾向を示し、 その相関係数も高い。
【００５３】
これを実際の使用条件に当てはめ、１つの条件当たりの複数回試行回数を計算で求めることが可能である。例えば図５に示す計測結果において、実際のユーザーが１日８時間の再生を５年繰り返した場合、試行回数は、次の数式２により、
６．２７×１０5×８０×３６５×５＝９．１４×１０11
≒１０12                      …（２）
と計算でき、１０12回の再生を行なうことになる。
【００５４】
ここで、リトライカウンタの既定値を３回とすると、ｋ回目のリトライリカバー率が１０-5以下であれば、転写抜けにより他のリトライ条件にカウンタが回ってしまうことを防止できる。
【００５５】
上述した図５のデータをを基にした次の数式３に示す近似式によって、
ｙ＝ａ×ｅ-kx           …（３）
例えば１回同じ条件のリトライを行えば、２回目＝１０-5程度であるが、余裕を考え、３回同じ条件、４回目＝１０-7、もしくは、３回同じ条件、４回目＝１０-8まで行えば転写抜け防止することが可能である。
【００５６】
このように再生条件が同じものを複数回繰り返すことにより、再生条件変更を必要としないリトライ（前記転写抜け等）が発生した場合に、誤って再生条件を変更することなく、安定して再生を行うことが可能となる。
【００５７】
＜上記各実施の形態のリードパワーの上限値の説明（請求項４相当）＞
上述した本発明の各実施の形態では、再生時のエラー訂正に失敗した場合に、再生条件を変更しリトライを行い、ある再生条件に対応するリトライカウンタが規定値を超えた場合に、再生条件をリトライ時の再生条件に応じて変更学習（あるいは演算学習）しているが、Ｄ−ＲＡＤ・ＭＳＲ記録媒体の再生の一般的な傾向として、再生パワーが大きめの方が信号読み取りに成功しやすいといえる。この点について、図６を参照して説明する。
【００５８】
図６は本発明の各実施の形態で使用されるＤ−ＲＡＤ・ＭＳＲ記録媒体における再生時のアパーチャ及びマスクの形状を示す説明図であり、図６（ａ）が基本的なアパーチャとマスクの関係を、図６（ｂ）がリードパワーが低いときのアパーチャとマスクの関係を、図６（ｃ）がリードパワーが高いときのアパーチャとマスクの関係を、それぞれ示したものである。
【００５９】
まず、本発明の各実施の形態に係る光ディスク装置では、図６（ａ）に示すように、Ｄ−ＲＡＤ・ＭＳＲ記録媒体２１に形成されているランド（ＬＡＮＤ）２２に対して、再生手段３によって形成されたリアマスク（Ｒｅａｒ  Ｍａｓｋ）６１とフロントマスク（Ｆｒｏｎｔ  Ｍａｓｋ）６２とに囲まれたアパーチャ（Ａｐｅｒｔｕｒｅ；光が差し込む隙間）６３が形成され、このアパーチャ６３の面積がリードパワーによって変化するようになっている。
【００６０】
すなわち、再生時のリードパワーが低い時は、図６（ｂ）に示すように、リアマスク６１が横方向に偏平形状になり、かつ、フロントマスク６２も基本形状よりやや偏平になるため、アパーチャ６３の面積が広くなる。この結果、高周波振幅が増加することになるが、ランド２２の側面側にもアパーチャ６３が存在することになるため、隣接トラックの信号等、ノイズ成分を拾いやすいくなる。
【００６１】
これに対して、再生時のリードパワーが高い時は、図６（ｃ）に示すように、フロントマスク６２の面積が非常に大きくなり、かつリアマスク６１の面積は小さくなって、アパーチャ６３の面積が著しく狭くなる。この結果、高周波振幅が低下するが、アパーチャ６３は、ランド２２の中心に位置することになり、記録信号以外の成分がマスクされるため、再生特性は向上する。
【００６２】
したがって、本発明の実施形態に係る光ディスク装置において、再生−リトライー学習のステップでは、前記Ｄ−ＲＡＤ・ＭＳＲ媒体の特性として、再生パワーは高パワー側に設定されると、学習しやすくなるといえる。
【００６３】
上述したように再生時のリードパワーが上昇させると再生−リトライー学習のステップでの成功率が高くなるが、あまり再生時のリードパワーを上げ過ぎると、逆に再生耐久性等の問題が発生する。このため、再生時のリードパワーは、あまり上げすぎないように、制御を行う必要がある。
【００６４】
このため、上述した本発明の各実施の形態においては、初期ドライブ動作時での再生時のリードパワー調整値、いわゆる「試し読み」の収束による再生時のリードパワーに対して、一定の係数を乗算することにより、その乗算結果を再生時のリードパワーの上限値とし、再生−リトライー学習の結果により、再生時のリードパワーを上昇させる際に、前記再生時のリードパワーの上限値を上回るときには、前記設定した上限値をリードパワーの上限値とするようにしている。これにより、再生パワーを過剰に上昇させ、再生信号が再生により誤消去あるいは振幅が減少し、いわゆる再生耐久性の確保を行っている。
【００６５】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項１，２または３記載の発明によれば、次のような効果がある。
【００６６】
（１）再生パワーがずれている場合、リトライ動作を行い、信号再生の安定性を確保しつつ、リトライ条件の成功回数による補正で、適正なパワーに学習することにより、以降のリトライ動作をなくすことで、高速再生を可能にしている。
【００６７】
（２）再生パワーマージンの狭い媒体でも、リトライ条件の成功回数の高い再生条件と現行の再生条件の内挿条件を取り、新たな再生パワーとすることで、最適な再生パワーへと収束させることができ、安定高速な再生が可能となる。
【００６８】
（３）再生リトライによる学習が誤動作しないように、リトライ時同じ再生条件を何度か繰り返すことにより、安定した再生条件を保持することができる。
【００６９】
請求項４記載の発明では、再生パワー条件に上限を設けることで、再生一学習シーケンスでパワーを異常に上昇させるような学習誤作動が生じても、記録媒体にダメージを与えずに、高速で安定した再生が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係る光ディスク装置の概略図を示すブロック図である。
【図２】本発明の第１の実施の形態に係る光ディスク装置の制御手段の動作を説明するためのフローチャートである。
【図３】本発明の第１の実施の形態に係る光ディスク装置の制御手段内部のリトライ条件格納エリアに格納されているリトライ条件を示す図である。
【図４】本発明の第１の実施の形態または第２の実施の形態において、記録媒体のリードパワーによるエラーレート特性を示す特性図である。
【図５】本発明の第１の実施の形態または第２の実施の形態に係る光ディスク装置でＭＳＲ記録媒体を再生した時のリカバリー回数を示した図である。
【図６】本発明の第１の実施の形態または第２の実施の形態で使用されるＤ−ＲＡＤ・ＭＳＲ記録媒体における再生時のアパーチャ及びマスクの形状を示す説明図である。
【符号の説明】
１…光ディスク装置
２…光ディスク
３…再生手段
５…記録手段
７…制御手段
３１…対物光学系
３２…立ち上げミラー
３３…光学ヘッド
３４…ビームスプリッタ
３５…ＬＤ
３６…ＬＤドライバ
３７…再生強度制御部
３８…ＰＤ
３９…再生信号処理部
４０…磁気強度制御部
４１…バイアス発生装置
５１…記録信号処理部
５２…記録強度制御部
７１…リトライ条件格納エリア
７２…カウンタ情報格納エリア
７３…インターフェース
７５…ＣＰＵ（中央処理部）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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