(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
真正ディスクであることを証明する証明ピットを、互いに隣接する複数トラックのそれぞれにｎ個設けるよう加工が施された光ディスクにおいて、自然欠損、又は、証明ピットの加工不良が、何れか２つの証明ピット間に、存在するか否かの検査を施す検査装置であって（ｎは１以上の整数）、
前記複数トラックを光学的に読み取って、複数トラックに対応する１本の読取信号を得る読取手段と、
前記読取信号を２値化して２値化信号を得る２値化手段と、
前記２値化信号から、証明ピットの連続長に相当する幅を有する信号区間を検出する検出手段と、
検出された信号区間において、何れかの信号区間と、その信号区間からｎ個先にある信号区間との間隔がトラック一周長より短いなら、何れか２つの証明ピット間に、自然欠損が存在すると判定し、当該間隔がトラック一周長より長いなら、何れか２つの証明ピット間に、加工不良が存在すると判定する判定手段とを備え、
前記何れかの証明ピットと、ｎ個先にある証明ピットとは、同一半径上に存在しており、
前記同一半径上に存在する複数証明ピットは、レーザー光の一回の照射により形成されたものであり、
前記証明ピットの連続長は、前記証明ピット以外のピットよりも長い連続長で、誤り訂正符号により誤り訂正が可能な範囲を超えない連続長である、
ことを特徴とする検査装置。
【請求項２】
前記信号区間の間隔は、
何れかの信号区間に対応するセクタのアドレスと、ｎ個先の信号区間に対応するセクタのアドレスとの差分により表現され、
同アドレスの差分が、判定手段によりトラック一周上に存在するセクタの個数と比較される
ことを特徴とする請求項１記載の検査装置。
【請求項３】
真正ディスクであることを証明する証明ピットを、互いに隣接する複数トラックのそれぞれにｎ個設けるよう加工が施された光ディスクにおいて、自然欠損、又は、証明ピットの加工不良が、何れか２つの証明ピット間に、存在するか否かの検査をコンピュータに行わせるプログラムであって（ｎは１以上の整数）、
前記複数トラックを光学的に読み取って、複数トラックに対応する１本の読取信号を得る読取ステップと、
前記読取信号を２値化して２値化信号を得る２値化ステップと、
前記２値化信号から、証明ピットの連続長に相当する幅を有する信号区間を検出する検出ステップと、
検出された信号区間において、何れかの信号区間と、その信号区間からｎ個先にある信号区間との間隔がトラック一周長より短いなら、何れか２つの証明ピット間に、自然欠損が存在すると判定し、当該間隔がトラック一周長より長いなら、何れか２つの証明ピット間に、加工不良が存在すると判定する判定ステップとを有し、
前記何れかの証明ピットとｎ個先にある証明ピットとは、同一半径上に存在しており、
前記同一半形上に存在する複数証明ピットは、レーザー光の一回の照射により形成されたものであり、
前記証明ピットの連続長は、前記証明ピット以外のピットよりも長い連続長で、誤り訂正符号により誤り訂正が可能な範囲を超えない連続長である、ことを特徴とするプログラム。
【請求項４】
真正ディスクであることを証明する証明ピットを、互いに隣接する複数トラックのそれぞれにｎ個設けるよう加工が施された光ディスクにおいて、自然欠損、又は、証明ピットの加工不良が、何れか２つの証明ピット間に、存在するか否かを検査する方法であって（ｎは１以上の整数）、
前記複数トラックを光学的に読み取って、複数トラックに対応する１本の読取信号を得る読取ステップと、
前記読取信号を２値化して２値化信号を得る２値化ステップと、
前記２値化信号から、証明ピットの連続長に相当する幅を有する信号区間を検出する検出ステップと、
検出された信号区間において、何れかの信号区間と、その信号区間からｎ個先にある信号区間との間隔がトラック一周長より短いなら、何れか２つの証明ピット間に、自然欠損が存在すると判定し、当該間隔がトラック一周長より長いなら、何れか２つの証明ピット間に、加工不良が存在すると判定する判定ステップと、
を有し、
前記何れかの証明ピットとｎ個先にある証明ピットとは、同一半径上に存在しており、
前記同一半形上に存在する複数証明ピットは、レーザー光の一回の照射により形成されたものであり、
前記証明ピットの連続長は、前記証明ピット以外のピットよりも長い連続長で、誤り訂正符号により誤り訂正が可能な範囲を超えない連続長である、ことを特徴とする検査方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、CD,DVD等の光ディスクの製造工程に、著作権保護のための加工工程が存在する場合、その加工が施された箇所に対する検査を好適に実施することができる検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
デジタル著作物を安価に且つ大量に頒布したいという市場からのニーズに応えるべく、光ディスクの生産現場では、昼夜を問わない増産体制がひかれている。光ディスクの生産は、基板成形(1)、反射膜成膜(2)、保護膜コーティング(3)、基板貼り合わせ(4)、レーベル印刷(5)といった製造工程によりなしえられる。近年にあたっては、著作権保護のための加工工程がこれらの製造工程に加わることが多い。この加工工程とは、市販の記録装置では作成しえない特殊なピットを、真正ディスクの証明のためのピット(証明ピット)として、デジタル著作物が記録された光ディスクに書き込むというものである。証明ピットを設けることにより、再生装置は、真正な著作物が記録されたオリジナルの光ディスクと、この複製物が記録された光ディスクとを区別することができる。そのような証明ピットとして、15T以上の連続長(Tはチャネルビット)を有するピットが用いられることがある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところで光ディスクの生産現場においては、再生装置が証明ピットと混同してしまうような欠損が自然発生してしまうことがある。混同を招くような自然欠損は、再生装置による誤認識を誘発する。つまりあるときは、正当な光ディスクとして認識するが、あるときは認識しないという動作が再生時に頻発する。かかる誤認識は、市場において品質問題になりかねない。混同を招くような自然欠損を残したまま、光ディスクを市場に出荷することは、避けねばならない。
【０００４】
しかし自然欠損の混入を検査するための工程を追加するにしても、その検査に費やできる時間は限られる。何故なら、大量生産が要求される光ディスクの生産現場では、かかる検査工程に要する期間をできる限り短くしないと、光ディスクの生産計画に大幅な狂いが生じるからである。
本発明の目的は、著作権保護のために加工が施された光ディスクにおいて、証明ピットと混同を招く自然欠損が存在しているか否かの検査を高速に行うことができる検査装置を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
互いに隣接する複数のトラックのそれぞれに真正ディスクであることを証明する証明ピットがn個設けられる場合、証明ピットとの混同を招く自然欠損や不完全な証明ピットを形成してしまう加工不良の存在は、以下の構成を有する検査装置を用いて検査すればよい。この検査装置こそ、上述した目的を達成する装置であり、 前記複数トラックを光学的に読み取って、複数トラックに対応する１本の読取信号を得る読取手段と、前記読取信号を２値化して２値化信号を得る２値化手段と、前記２値化信号から、証明ピットの連続長に相当する幅を有する信号区間を検出する検出手段と、検出された信号区間において、何れかの信号区間と、その信号区間からｎ個先にある信号区間との間隔がトラック一周長より短いなら、何れか２つの証明ピット間に、自然欠損が存在すると判定し、当該間隔がトラック一周長より長いなら、何れか２つの証明ピット間に、加工不良が存在すると判定する判定手段とを備え、
前記何れかの証明ピットと、ｎ個先にある証明ピットとは、同一半径上に存在しており、
前記同一半径上に存在する複数証明ピットは、レーザー光の一回の照射により形成されたものであり、
前記証明ピットの連続長は、前記証明ピット以外のピットよりも長い連続長で、誤り訂正符号により誤り訂正が可能な範囲を超えない連続長であることを特徴としている。
【０００６】
【発明の実施の形態】
以下本発明に係る検査装置の実施形態について説明する。この検査装置により検査されるべき証明ピットは、15T以上の連続長であって、誤り訂正符号により誤り訂正が可能な範囲を超えない連続長を有するピットである。誤り訂正が可能な15T以上の連続長を"連続長X"という。連続長Xのピットを証明ピットに用いることの技術的意義について説明する。市販の再生装置と、市販の記録装置とを接続して、CD-ROM,DVD-ROM等の光ディスクに記録されたデジタル著作物を読み出して、ハードディスクやCD-R,DVD-R等の記録可能型ディスクに記録するというユーザの行為、いわゆるカジュアルコピーの氾濫が社会問題化していることは周知の通りである。
【０００７】
しかし上述した証明ピットを光学的に読み取った際に得られる読取信号には、15Tより長く継続するLOW区間が存在する。このような読取信号は、市販の再生装置により再生され得ず、市販の記録装置により他の光ディスクに記録されない。何故なら、光ディスクの代表格であるDVD上のデータを表すピットは、通常3T〜14Tの長さであり、これより長いピットから読取信号を読み取った際、市販の再生装置、記録装置は規範外の読取信号であるとして、誤り訂正処理を施し、規範内の読取信号に変換した上で他の光ディスクに記録する。よって連続長Xを有するピットが、カジュアルコピーにて記録可能型ディスクに記録されることは有り得ない。図１は、連続長Xを有するピットと、3T〜14Tの長さを有するピットとを対比して示す図である。連続長Xのピットの存在を確認すれば、正規の製造業者により製造された真正ディスクと、カジュアルコピーにより違法に製造された記録可能型ディスクとを区別することができる。尚、15Tという証明ピットの連続長は一例に過ぎず、これを増減させてよいことはいうまでもない。
【０００８】
続いて、かかる証明ピットを作成する工程が加わった光ディスクの製造工程について説明する。図２は、本実施形態に係る光ディスクの製造工程を示す図である。この工程は、基板成形工程Ｓ１、反射膜成膜工程Ｓ２、保護膜コーティング工程Ｓ３、張り合わせ工程Ｓ４、レーベルの印刷工程Ｓ５を経て製造される点は、通常の光ディスクと同様である。これらの工程の後になされるレーザ加工工程Ｓ６、検査工程Ｓ７が、本実施形態特有の工程である。
【０００９】
レーザ加工工程Ｓ６は、光ディスクにYAGレーザ(イットリウム(Yttrium) アルミニウム(Aluminum) ガーネット(Garnet))を照射することにより、光ディスクの複数トラック上に加工部分をn個得る工程である。
検査工程Ｓ７は、YAGレーザの照射により加工がなされたトラックにおいて、加工箇所が製造業者の意図通り得られているか否かの検査を行う。"正常"に得られている場合は光ディスクを良品と判断し、加工がなされたトラック上に加工不良が存在している場合や、後述する自然欠損が存在している場合は不良品とする。
【００１０】
以上が光ディスクの製造工程の概要である。続いてレーザ加工工程で得られた加工箇所について詳細に説明する。
図３は、レーザ加工工程により得られた3つの加工箇所E,F,Gを示す図である。本図に示すようにこれらの加工箇所は、トラックR,R+1,R+2,R+3・・・・,R+5上に設けられる。図３における表記は、発明の理解を助けるため加工箇所の大きさを誇張して大きく描いている。実際の加工箇所の大きさは、肉眼では確認できない程、微小なものである。
【００１１】
図４は、レーザ加工工程で得られた加工箇所E,F,Gを拡大して示す図である。加工箇所は、おおむね矩形形状を有している。本加工箇所は、隣接し合う複数のトラックR,R+1,R+2,R+3,R+4,R+5上に存在する。これらのトラックと加工箇所との交差部分では、反射膜が溶融・剥離されている。この加工箇所の横幅Xは、15T以上の長さであって、誤り訂正符号にて訂正可能な連続長"X"である。そのため、これらのトラック上では、上述した連続長Xのピットが出現することになる。尚、加工箇所の端部に相当するトラックでは、交差部分の長さはXに満たない。レーザー加工による端部は、鈍る(なまる)という特性があるからである。例えば本図に示す5本のトラックを順次読み取ってゆくと、その読取信号には連続長Xに相当する幅のLOW区間Xが5個出現することになる。
【００１２】
本実施形態では、本図のように連続長Xのピットが、隣接する複数のトラック上で半径方向に沿って並んでいることを真正ディスクの証しとする。従って、連続長Xのピットが1つのみ存在するものや、複数存在するが半径方向の配列をなしていないものは、真正ディスクと扱わない。
真正ディスクであることの認識に、このような厳しい要件を求めるのは、より強固な著作権保護を実現したいという意識の現れである。つまりカジュアルコピーより高度な不正コピー技術を駆使すれば、上述したような連続長Xのピットが偽造され得るかもしれない。しかし、図４のような隣接する複数のトラック上で、半径方向に沿って連続長Xのピットを配列させるのは、よほど高価な製造設備を具備していない限り不可能である。本実施形態では、真正ディスクの要件を厳格にすることにより、著作権保護をより強固にしているのである。以上が、加工工程により得られる加工箇所についての詳細である。
【００１３】
上述した加工箇所は製造業者の作為で光ディスクに設けられるのだが、連続長Xのピットは不作為で作成されることがある。つまり光ディスクの製造工程では、証明ピットと合い紛らわしい欠損が自然発生する場合がある。これらの欠損は、反射膜の欠落、気泡・ゴミの混入、汚れ発生を原因として発生する。統計的に見て自然欠損の形状は不特定であり、図４に示した加工箇所のようなきれいな矩形の形状ではない。図５は、自然発生した欠損を拡大して表す図である。図５に示す自然欠損の形状は、横方向に極端に長く、縦方向に短いという歪(いびつ)な形状になっている。図５の自然欠損は、トラックR+1,R+2,R+3と交差している。これらの交差部分の長さは、加工箇所のように均一ではなく長短の落差が激しい。交差部分のうち長いものは15Tであり、短いものは3Tに過ぎない。自然欠損とトラックとの交差部分のうち、連続長Xを有する交差部分を"欠損ピット"という。自然欠損の形状は歪なものであるため、あるトラック上に欠損ピットが存在したとしても、隣接するトラック上に欠損ピットが存在するとは限らない。欠損ピットが読み取られれば、加工箇所の読み取り時同様、その読取信号には、15T以上のLOW区間Xが出現することになる。付け加えておくが、連続長Xを上回るような長い欠損ピット、つまり誤り訂正できない程長い欠損ピットの存在は、本実施形態では想定していない。何故なら、通常の光ディスクの生産現場において、かような欠損ピットの発生はごく希だからである。
【００１４】
続いて加工不良箇所について説明する。図６は、加工不良箇所を拡大して示す図である。本図に示すように加工不良箇所は、図４に示した加工箇所と似たような形状を有しつつも、隣接するトラック上に、交差部分である連続長Xのピットが存在しないことが多い。トラックとの交差部分が途中で欠落しており、連続長Xのピットが飛び飛びに現れることがわかる。この欠落は、反射膜の成膜不良(i)、加工用レーザー発光源の寿命が尽きること(ii)、加工用レーザー自体に不具合があること(iii)を原因として発生する。
【００１５】
以上の自然欠損及び加工不良箇所は、加工工程の副産物といえる。連続長Xの欠損ピットは、ある証明ピットが存在するトラック以外に存在していたとしても品質上何の問題にもならない。その理由は以下の通りである。上述したように光ディスクの再生装置は、光ディスクからのデータ読み取りにあたって、読み出されたデータに対して誤り訂正を施す。連続長Xの欠損ピットが存在したとしても、再生装置は、この欠損ピットに対応するデータを訂正した上で利用するので、この欠損ピットが再生装置の再生動作に悪影響を及ぼすことはない。これは連続長Xに満たない欠損ピットについても同様である。しかし、ある証明ピットと、これに後続する証明ピットとの間に、欠損ピットが存在すると、再生装置は欠損ピットを証明ピットと御認識してしまう。これは、品質管理上望ましくない。加工不良についても同様のことがいえる。それでは、これら欠損ピットや加工不良箇所を発見するための検査について説明する。
【００１６】
この検査は、トラックを光学的に読み取ってゆき、交差部分を1つずつ検出してゆくというものである。n個の加工箇所が5本のトラックと交差している場合、各トラックには交差部分が計n個存在するので、5本のトラックでは計5×n個の交差部分が存在することになる。光ディスクからの読み取りにあたって交差部分は、15T以上のLOW区間Xとして読取信号上に現れる。5本のトラックを内周側から外周側へと1トラックずつ読み取ってゆけば、読取信号には、15T以上のLOW区間Xが5×n個存在することになる。この5×n個のLOW区間Xのうち任意のLOW区間Xjと、そのLOW区間Xjからn個先にあるLOW区間Xj+nとを着目する。このLOW区間Xjは、加工箇所Sと、トラックRとの交差部分に対応するものと仮定する。LOW区間Xjからn個先にあるLOW区間Xj+nは、前述した加工箇所Sと、隣接するトラックR+1とが交差することにより得られる交差部分に対応しているものと考えられる。そうすると、LOW区間XjとLOW区間Xj+nとの間隔は、トラック一周の長さに等しくなる。以上のように、光学的な読み取りにより得られる読取信号にあたっては、LOW区間Xjと、n個先のLOW区間Xj+nとの間隔がトラック長になる。尚、この規則性は光ディスク上に自然欠損が存在していないというフィクション上に成立するということを心に留めて欲しい。
【００１７】
上述した各証明ピットの間に自然欠損が紛れ込んでいる場合(i)、加工不良箇所のように、途中の交差部分が欠落している場合(ii)、この規則性に狂いが生じる。何故なら加工不良(ii)が存在する場合では、途中の交差部分に対応するLOW区間が抜けてしまうので、n個先のLOW区間が、隣接するトラック上の交差部分にならないからである。また加工箇所があるトラック上に欠損ピットが存在する場合(i)、LOW区間Xが一つ以上多く発生するので、加工箇所SとトラックR+1との交差部分に対応するLOW区間Xは、n個先ではなくn+1個先になる。つまりこれらの(i)(ii)の場合では、LOW区間Xjと、n個先のLOW区間Xj+nとの間隔がトラック長になるという規則性に狂いが生じる。
【００１８】
裏返せば、複数トラックからの読み取り時にあたって、LOW区間Xjと、n個先のLOW区間Xj+nとの間隔がトラック長になるか否かという規則性成立を監視すれば、加工不良の存在と、欠損ピットの存在とを発見することができる。
上述した理論に基づき、欠損ピット又は加工不良が存在している否かの判定を行うべく構成されたのが本実施形態に係る検査装置である。図７は、本実施形態に係る検査装置の内部構成を示す図である。図７に示すように検査装置は、レーザー加工部１、トラック走査部２、2値化部３、セクタアドレス検出部４、証明ピット検出部５、証明ピット情報作成部６、証明ピット情報記憶部７、セクタ数演算部８、セクタ数比較部９、証明ピット情報書込部１０から構成される。以降、検査装置の構成要素を、図８を引用しながら説明する。図８は、複数の交差部分のうち1つを読み取った際、検査装置の内部において信号の入出力がどのように行われるかを示すタイミングチャートである。
【００１９】
レーザー加工部１は、光ディスクの加工半径位置Pに対して、YAGレーザを照射するというレーザ加工をn回を行う。
トラック走査部２は、光学ヘッド、アクチュエータを備え、レーザー加工部１により加工がなされた複数トラックの一部を光学的に読み取る。図８の第１段目は、交差部分が属するトラック上のセクタを示し、第２段目は、そのセクタにおいて形成されているピット列を示す。この第２段目のピット列をトラック走査部２が読み取ってゆくと、このピット列における凹凸に応じた波形からなる読取信号が第３段目に示すように得られる。
【００２０】
2値化部３は、トラック走査部２の読み取りにより得られる読取信号を2値化して、2値化信号を得る。2値化にあたっての閾値が、図８の第３段目に示すsh1であるなら、2値化部３により得られる2値化信号は、図８の第４段目に示すものとなる。
セクタアドレス検出部４は、2値化部３から出力される2値化信号からセクタアドレスを検出する。図８の第３段目に示す読取信号に対して、セクタアドレスの検出を行った場合、セクタアドレス検出部４による出力は、第７段目に示す通りとなる。つまり光ディスクにおいてセクタAに属するピット列を読み取っている期間においてセクタアドレス検出部４からはセクタアドレス"A"が継続して出力され、セクタA+1に属するピット列を読み取っている期間においてセクタアドレス検出部４からはセクタアドレス"A+1"が継続して出力される。
【００２１】
証明ピット検出部５は、2値化部３から出力される2値化信号を構成するLOW区間の幅を監視しており、その幅が所定の上限長を上回ればLOW区間Xが検出されたとして検出信号を出力する。そしてLOW区間XがHIGH区間へと切り換わるのを待ち、切り換えが発生すればLOW区間Xの幅を示す信号を出力する。図８のタイミングチャートでは、時点tm1においてLOW区間Xが15T以上継続している。このことから証明ピット検出部５は、このタイミングtm1において第５段目に示すように検出信号を出力している。またLOW区間Xは、時点tm2においてHIGH区間に切り換っているから、この時点tm2において証明ピット検出部５は第６段目に示すようにLOW区間Xの幅"30"を示す信号を出力している。
【００２２】
証明ピット情報作成部６は、証明ピット及び欠損ピットを問わず交差部分が検出される度に、これらピットの所在を特定する証明ピット情報を作成して証明ピット情報記憶部７に書き込む。証明ピット情報が作成されるのは、証明ピット検出部５から検出信号が出力されたタイミングであり、作成された証明ピット情報は、証明ピット情報作成部６によりこの交差部分に付与された"シリアル番号"と、セクタアドレス検出部４が検出した"セクタアドレス"と、証明ピット検出部５により検出されたLOW区間Xの"幅"と、"判定欄"とから構成される。図８のタイミングチャートでは、LOW区間が15T以上継続した時点tm1において証明ピット情報が生成され、この証明ピット情報に、矢印yj1,2,3に示すように証明ピット検出部５により検出されたセクタアドレス"A"と、シリアル番号"1"と、証明ピット検出部５により検出されたLOW区間の幅"30"とが設定されている。以上のように構成された検査装置では、15T以上のLOW区間Xが検出される度に証明ピット情報が作成される。
【００２３】
証明ピット情報記憶部７は、証明ピット情報作成部６により作成された複数の証明ピット情報を記憶している。図９は、証明ピット情報作成部６により生成された複数の証明ピット情報を示す図である。本図においてシリアル番号"1","2","3"は、それぞれの交差部分を識別するものであり、各交差部分が1番目、2番目、3番目に検出されたことを示す。アドレス"A","A+10","A+24","A+36","A+46"は、それぞれの交差部分が、どのセクタに属しているかを示す。幅"30","40","50","33","38"は、それぞれの交差部分の長さを示す。トラック全周の読み取り時において検出された全ての交差部分についての証明ピット情報が、証明ピット情報記憶部７に蓄積されることになる。
【００２４】
セクタ数演算部８は、証明ピット情報に対応する交差部分が帰属しているトラックにおいて、加工箇所が何個設けられているか(この個数をnとする)を算出する。トラックを構成するセクタの個数Tは、そのトラックが半径上のどの位置にあるかで変わってくる。例えば半径位置30mmに位置するトラックにおいて、1トラックあたりのセクタ数は非整数値"36±1セクタ"となる。そのためセクタ数演算部８は、加工が施された光ディスク上の半径位置から、証明ピットが帰属しているトラックを構成するセクタ個数Tを求める。
【００２５】
セクタ数比較部９は、交差部分jに対応する証明ピット情報j及び交差部分j+nに対応する証明ピット情報j+nからセクタアドレスを取り出し、これらセクタアドレスの差分を算出する。算出された差分がトラックにおけるセクタ数Tであり、1トラックを構成するセクタ数に相当するなら、証明ピット情報jに対応する交差部分jと、証明ピット情報j+nに対応する交差部分j+nとの間には欠損ピットが存在せず、加工不良が存在していないと考える。そして証明ピット情報j、証明ピット情報j+nに対応する交差部分jが"正常"であると判断する。一方、算出された差分がトラックにおけるセクタ数でないなら、証明ピット情報jに対応する交差部分j、証明ピット情報j+nに対応する交差部分j+nの間には欠損ピットが存在しているか、又は加工不良が存在していると考える。そして交差部分jからj+nまでが"異常"であると判断する。"正常"と考えた証明ピット情報については、判定欄に"正常"と記入し、"異常"と考えた証明ピット情報については、判定欄に"異常"と記入する。
【００２６】
証明ピット情報書込部１０は、証明ピット情報記憶部７に蓄積されている複数の証明ピット情報のうち、その判定欄が"正常"と設定されたものを、光ディスクにおいて予め定められた追記可能領域または書換え可能領域に書き込む。これにより判定欄が"正常"と設定された証明ピット情報に対応する交差部分が証明ピットとして特定されることになる。
【００２７】
以上の検査装置において中心的な役割をなすのはセクタ数比較部９である。セクタ数比較部９の実体は、汎用コンピュータと、このコンピュータが実行可能なプログラムである。図１０は、このプログラムの制御構造を示すフローチャートである。本フロ−チャ−トは、トラック走査部２によるトラックスキャン及び証明ピット情報作成部６による証明ピット情報の作成を行った後(ステップＳ１１)、ステップＳ１２〜ステップＳ２３からなるループ処理を実行するという制御構造になっている。本ループ処理は、変数"j"を制御変数としている。そしてこのループ処理は、ステップＳ２０及びステップＳ２２の何れかで第j番目の証明ピット情報の判定欄を設定するという処理を全ての証明ピット情報について繰り返す。ステップＳ２０は証明ピット情報j及び証明ピット情報j+nの判定欄を"正常"に設定するというものであり、ステップＳ２２は証明ピット情報jから証明ピット情報j+nまでの判定欄を"異常"に設定するというものである。ステップＳ２０、ステップＳ２２の切り換えは、ステップＳ１３、ステップＳ１８、ステップＳ１９に委ねられてる。ステップＳ１３は、j番目の証明ピットについてのセクタアドレスを証明ピット情報jから取り出し(このセクタアドレスを"セクタアドレスj+n"という)、ステップＳ１８は、j+n番目の証明ピットについてのセクタアドレスを証明ピット情報j+nから取り出す(このセクタアドレスを"セクタアドレスj+n"という)。ステップＳ１９は、「セクタアドレスj+n−セクタアドレスj」がセクタ数Tであるか否かの判定を行う判定ステップであり、もしそうならばステップＳ２０が、そうでないならステップＳ２２がそれぞれ実行される。
【００２８】
このループ処理の終了条件を規定しているのはステップＳ１６であり、"j+n"に相当する交差部分j+nが存在しないと判定されることである。尚数値nは、交差部分jが属するトラックRを特定し(ステップＳ１４)、トラックRを構成するセクタ数Tと、トラックRに対して設けられた加工箇所の個数nとを検出することにより算出される(ステップＳ１５)。
【００２９】
制御変数jを初期化するのはステップＳ１２であり、制御変数jのインクリメントが行われるのはステップＳ２１、ステップＳ２３である。ステップＳ２１によるインクリメントは、ステップＳ２０にて判定欄が設定された場合(i)、ステップＳ１７において判定欄が設定済みと判定された場合(ii)の2通りがある。
ステップＳ２３によるインクリメントは、ステップＳ２２にて判定欄が設定された場合に実行される。このステップＳ２３において制御変数の増分を"1"ではなく"1+n"としているのは、判定欄の設定対象をn個スキップするためである。セクタ数比較部９がこのような制御構造に従った処理を行うことにより、証明ピットの判定欄が設定されることになる。
【００３０】
3つの典型的な動作例を以下に示す。これらの動作例では、加工箇所の個数nは"3"であるとものとする。
最初にとりあげるケースは、図１１（ａ）に示すような3つの加工箇所が2つのトラックR,R+1が交差しているというケースである。図１１（ｂ）は、そのようなトラックR,R+1から読み取られる検出信号を示しており、図１１（ｃ）は、この検出信号に基づき作成された4つの証明ピット情報1,2,3,4を示す図である。
【００３１】
本図に示す4つの証明ピット情報が証明ピット情報記憶部７に蓄積された場合、1つ目の交差部分に対応する証明ピット情報1のセクタ識別情報Aと、3個先の交差部分に対応する証明ピット情報4（=1+3）とのセクタ識別情報A+36との差分SはS=36と算出される。差分sが１トラックあたりのセクタ数36±1セクタの範囲にあるので、証明ピット情報1と4とが"正常"と判断され、証明ピット情報1及び4の判定欄は"正常"と設定される。その結果を示しているのが図１１（ｄ）である。
【００３２】
続いてとりあげるケースは、図１２（ａ）に示すように1つの自然欠損が、3つの加工箇所と共に2つのトラックR,R+1と交差しているというケースである。図１２（ｂ）は、そのようなトラックから読み取られる検出信号を示しており、図１２（ｃ）は、この検出信号に基づき作成された4つの証明ピット情報1,2,3,4を示している。
【００３３】
本図に示す4つの証明ピット情報が証明ピット情報記憶部７に蓄積された場合、1つ目の交差部分に対応する証明ピット情報1のセクタ識別情報Aと、証明ピット情報1の3個後に検出された証明ピット情報4のセクタ識別情報A+24との差分が算出され、その差分"24"が、1トラックあたりのセクタ数36±1セクタと比較される。差分の方が小さくなるため証明ピット情報1から証明ピット情報4までの判定欄が"異常"と設定される。その結果を示しているのが図１２（ｄ）である。
【００３４】
最後にとりあげるのは、3つの加工箇所のうち、1つが加工不良であるケースを示す。図１３（ａ）は、そのようなケースの典型例を表している。つまり図１３（ｂ）においてセクタアドレスA+10の交差部分及びセクタアドレスA+46の交差部分の反射膜の剥離・溶融が完全ではなく、これらの交差部分について検出されなかった検出信号を示している。つまり図１３（ｂ）の検出信号においては、セクタアドレスA+10のLOW区間X及びセクタアドレスA+46のLOW区間Xが欠落しているため、これらの交差部分については証明ピット情報が作成されていない。図１３（ｃ）の証明ピット情報記憶部７において格納されている証明ピット情報1,2,3,4は、セクタアドレスA,A+24,A+36,A+50についてのものである。
【００３５】
この具体例に対して、検査装置が処理を行えば、証明ピット情報jのセクタ識別情報Aと、証明ピット情報jのn=3個後に検出された証明ピット情報jのセクタ識別情報A+50との差分が"50"となり、その差分50が１トラックあたりのセクタ数36±1セクタより大きくなってしまう。これにより、交差部分1から交差部分4までの間に本来検出されるべき交差部分が含まれておらず、"正常"に加工できていないと判断する。このため、図１３（ｄ）に示すように、証明ピット情報1から4の判定欄に"異常"と書き込む。
【００３６】
以上のように本実施形態によれば、読取信号におけるあるLOW区間からn個後のLOW区間までの間隔を計測することにより、欠損ピットの有無を判定するので、加工箇所の検査に要する時間は極僅かになる。加工箇所の検査のため製造工数が増えたとしても光ディスクの生産計画に狂いが生じることはなく、著作権保護がなされた光ディスクを大量かつ高品質に生産できるという顕著な効果を奏することができる。
【００３７】
（第２実施形態）
第１実施形態では、n個先のLOW区間までの間隔が1つのトラックの長さになることを検査した。第２実施形態では、加工箇所と交差する複数トラックから読み取られる読取信号において、幅XのLOW区間が何個出現するかのカウントを行い、この個数にて、良品・不良品の判定を行う。
【００３８】
第２実施形態に係る検査装置の内部構成を図１４に示す。本図において、図７に示したセクタ数比較部９はカウンタ１１、個数比較部１２に置き換えられている。
カウンタ１１は、セクタ数演算部８により求められた１トラックのセクタ数と、証明ピット情報記憶部７に記憶されている証明ピット情報とから、1トラックあたりの証明ピット情報の個数Mを求める。図１１（ｃ）のような証明ピット情報を検出した場合、1トラックあたりのセクタ数36±1に3個の証明ピット情報が存在することより、1トラックあたりの証明ピット情報の個数M＝3となる。
【００３９】
個数比較部１２は、カウンタ１１により求められた証明ピット情報の個数Mと、1トラックあたりに付加された証明ピットの加工個数nとの比較を行う。
M＝nの場合、n個加工した証明ピットの全てが検出されたことになるので、個数比較部１２は証明ピット情報記憶部７の該当する証明ピット情報の判定欄に"正常"と書き込む。
【００４０】
M＞nの場合、証明ピット情報として検出したM個の中に欠損ピットが（M−n）個存在していると考えられる。このとき個数比較部１２は証明ピット情報記憶部７の該当する証明ピット情報の判定情報に"異常"と書き込む。
M＜nの場合、n個加工した証明ピットのうち（n−M）個検出されなかったことになる。この場合、"正常"に加工が行えていないか、"正常"に検出ができていないかのどちらかであり、個数比較部１２は証明ピット情報記憶部７の該当する証明ピット情報の判定情報に"異常"と書き込む。
【００４１】
証明ピット情報記憶部７にある全ての証明ピット情報の判定が終了した後、判定情報が"正常"である証明ピット情報を光ディスク１００の追記可能領域または書換え可能領域に書き込む。
以上のように本実施形態によれば、証明ピットの加工個数と１トラックあたりの証明ピット情報の検出個数を比較することにより、欠損ピットが存在するか否かの判定が可能となる。さらに加工不良により証明ピットが正しく検出できない場合も判別可能である。
【００４２】
第２実施形態における検査と、第１実施形態における検査とを対比して、どちらが優れているかについての検証を行う。トラック一周上における証明ピットの1つがレーザの加工不良によって欠落しており、代わりに欠損ピットが存在するというケースを考える。このようなケースは、加工不良箇所の欠落と欠損ピットとが存在するので本来は異常と判定すべきである。しかし第２実施形態の手順では、トラック一周からの読取信号における幅XのLOW区間の個数を検査に用いているので、上述したようなケースを"正常"と判定してしまう恐れがある。一方、第１実施形態の手順では、連続長Xを有するピットの間隔を検査に用いているので、上述したケースを"異常"と判定することができる。第２実施形態では看過してしまうようなケースを第１実施形態では"異常"と判定することができるので、より厳格な検査を希望する場合は、第１実施形態の手順を行うべきである。
【００４３】
上記実施形態に基づいて説明してきたが、現状において最善の効果が期待できるシステム例として提示したに過ぎない。本発明はその要旨を逸脱しない範囲で変更実施することができる。代表的な変更実施の形態として、以下（Ａ）（Ｂ）（Ｃ）・・・・のものがある。
（Ａ）第１実施形態において読み取りを行うべきトラックは、アクチュエータにてヘッドを駆動できる範囲に留めておくことが望ましい。何故なら、ヘッドシークが必要な範囲まで読み取り範囲を拡げると、光ディスク一枚当たりの検査に要する時間が長くなってしまうからである。
【００４４】
（Ｂ）第１実施形態において欠損ピットがトラック上に存在する等の理由により、LOW区間の間隔がトラックの長さにならなかった場合、トラック走査部２による読取位置を、複数先のトラックにズラしてから、検査をリトライすることが望ましい。図１２（ａ）に示したように、加工箇所に比べて自然発生した欠損の大きさは微小であることが多い。読み取りを行うべきトラックを、複数先のトラックに変化させることで、セクタ数比較部９により"正常"と判定されるケースも少なからず存在する。かようなリトライにより良品率は向上するので、歩留まりを高めることができる。
【００４５】
（Ｃ）第１実施形態において検査装置は、光ディスクの製造工程上で、光ディスクが製品として出荷される前に検査を行うものとした。しかし、出荷後の光ディスクであってユーザが所有しているものに検査を施してもよい。ユーザの所有物たる光ディスクに、検査装置が検査をほどこすケースとしては、"配信端末"の事例が該当する。"配信端末"は、コンビニエンスストア等に設置され、デジタル著作物の配信を受けて、ユーザが所有している光ディスクに書き込むというサービスを実施する。カジュアルコピーを防ぐ観点から、このようにして書き込まれた著作物の利用を、その光ディスクに限定させる必要がある。そこで配信端末は、その光ディスクに対して、第１実施形態で説明したような加工を施す。そしてこのようにして得られた加工箇所に第１実施形態に示した検査を施す。そのような検査のため、検査装置を配信端末に内蔵しておくのである。
【００４６】
（Ｄ）本実施形態では、加工箇所が存在するトラックの長さをセクタ数演算部８が計測するものとしたが、加工箇所が固定位置であるなら、セクタ数演算部８を設けなくてもよい。
（Ｅ）第１実施形態において説明した検査装置の特徴は、セクタ数比較部９の処理手順であり、検査装置においてこの特徴部分は、これらの装置に内蔵されたプログラム(図１０のフローチャートを参照)として実装されている。故に、検査装置の特徴部分たるプログラムを、これらの装置とは別個独立に実施してもよい。このプログラムをコンピュータ読取可能な記録媒体に記録して、この記録媒体を譲渡、貸与してもよい。またプログラムがネットワーク上で配信させてもよい。
【００４７】
またこれらの以外の特徴部分も、プログラムの改良として実装されることが本質的な特徴であるから、それら特徴部分たるプログラムを、これらの装置とは別個独立に実施してもよい。
（Ｆ）図６に示したような加工不良箇所の発生は、加工用レーザー発光源の寿命が尽きること(ii)、加工用レーザー自体に不具合があること(iii)を原因として発生するので、LOW区間の間隔を示すセクタ数が、トラックの長さを上回ることが検出された場合に、これら(i)(ii)の異常が存在する恐れがある旨の警告を行ってもよい。これにより、加工用レーザーの取り替え等の処置を迅速に行なえるからである。
【００４８】
以上説明したように本発明に係る検査装置は、
真正ディスクであることを証明する証明ピットを、互いに隣接する複数トラックのそれぞれにｎ個設けるよう加工が施された光ディスクにおいて、自然欠損、又は、証明ピットの加工不良が、何れか２つの証明ピット間に、存在するか否かの検査を施す検査装置であって（ｎは１以上の整数）、前記複数トラックを光学的に読み取って、複数トラックに対応する１本の読取信号を得る読取手段と、前記読取信号を２値化して２値化信号を得る２値化手段と、 前記２値化信号から、前記連続長に相当する幅を有する信号区間を検出する検出手段と、検出された信号区間において、何れかの信号区間と、その信号区間からｎ個先にある信号区間との間隔が、トラック一周長より短いなら、何れか２つの証明ピットの間に、自然欠損が紛れ込んでいると判定し、当該間隔がトラック一周長より長いなら、何れか２つの証明ピット間に、加工不良が存在すると判定する判定手段とを備え、前記何れかの証明ピットとｎ個先にある証明ピットとは、同一半径上に存在しており、
前記同一半形上に存在する複数証明ピットは、レーザー光の一回の照射により形成されたものであり、前記証明ピットの連続長は、前記証明ピット以外のピットよりも長い連続長で、誤り訂正符号により誤り訂正が可能な範囲を超えない連続長である、ことを特徴とする。
【００４９】
加工により得られた証明ピットのみが複数トラック上に存在する場合、信号区間と、それからn個先の信号区間との間隔が基準値となる。一方、証明ピット以外に、証明ピットと混同してしまうような自然欠損がトラック上に存在している場合、複数トラックからの読取信号には自然欠損に対応する信号区間が加わる。そのため、自然欠損が光ディスク上に存在する場合にあっては、何れかの信号区間からn個先の信号区間までの間隔は、基準値にならない。信号区間の間隔の計測により、自然欠損の混入の有無を判定するので、検査装置による検査に要する時間は極僅かになる。検査装置による検査のため製造工数が増えたとしても光ディスクの生産計画に狂いが生じることはなく、著作権保護がなされた光ディスクを大量かつ高品質に生産できるという顕著な効果を奏することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  連続長Xを有するピットと、3T〜14Tの長さを有するピットとを対比して示す図である。
【図２】  本実施形態に係る光ディスクの製造工程図である。
【図３】  レーザ加工工程により得られた3つの加工箇所E,F,Gを示す図である。
【図４】  レーザ加工工程で得られた加工箇所を拡大して示す図である。
【図５】  自然発生した欠損の一例を拡大して表す図である。
【図６】  加工不良を拡大して示す図である。
【図７】  本実施形態に係る検査装置の内部構成を示す図である。
【図８】  証明ピットのうち1つを読み取った際、検査装置の内部において信号の入出力がどのように行われるかを示すタイミングチャートである。
【図９】  証明ピット情報作成部６により作成された複数の証明ピット情報を示す図である。
【図１０】  セクタ数比較部９を構成するプログラムの制御構造を示すフローチャートである。
【図１１】  （ａ）3つの加工箇所がトラックR,R+1と交差しているというケースを示す図である。
（ｂ）（ａ）に示すトラックR,R+1からの読み取り時に出力される検出信号を示す図である。
（ｃ）（ｂ）の検出信号に基づき作成された4つの証明ピット情報1,2,3,4を示す図である。
（ｄ）判定欄が設定された4つの証明ピット情報1,2,3,4を示す図である。
【図１２】（ａ）3つの加工箇所と、自然欠損とがトラックR,R+1と交差しているというケースを示す図である。
（ｂ）（ａ）に示すトラックR,R+1からの読み取り時に出力される検出信号を示す図である。
（ｃ）（ｂ）の検出信号に基づき作成された4つの証明ピット情報1,2,3,4を示す図である。
（ｄ）判定欄が設定された4つの証明ピット情報1,2,3,4を示す図である。
【図１３】  （ａ）加工不良箇所がトラックR,R+1が交差しているというケースを示す図である。
（ｂ）（ａ）に示すトラックR,R+1からの読み取り時に出力される検出信号を示す図である。
（ｃ）（ｂ）の検出信号に基づき作成された4つの証明ピット情報1,2,3,4を示す図である。
（ｄ）判定欄が設定された4つの証明ピット情報1,2,3,4を示す図である。
【図１４】  第２実施形態に係る検査装置の内部構成を示す図である。
【符号の説明】
１    レーザー加工部
２    トラック走査部
３    2値化部
４    セクタアドレス検出部
５    証明ピット検出部
６    証明ピット情報作成部
７    証明ピット情報記憶部
８    セクタ数演算部
９    セクタ数比較部
１０    証明ピット情報書込部
１１    カウンタ
１２    個数比較部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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