(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
二つの電極とその電極間に介在する誘電体とから構成され、電極の一方がタンタルまたはその合金からなるコンデンサにおいて、その電極に接続された引き出しリード線がニオブ合金からなることを特徴とするコンデンサ。
【請求項２】
ニオブ合金が、ニオブと周期律表の２族乃至１６族から選ばれる元素の少なくとも１つとの合金である請求項１に記載のコンデンサ。
【請求項３】
ニオブ合金が、一部が窒化された合金である請求項１または２に記載のコンデンサ。
【請求項４】
一部窒化されたニオブ合金の窒素量が、２０〜150000質量ｐｐｍである請求項３に記載のコンデンサ。
【請求項５】
引き出しリード線が接続されている電極の構造が焼結体であり、そのＣＶ値が、少なくとも40000（ＣＶ／ｇ）以上である請求項１乃至４のいずれかに記載のコンデンサ。
【請求項６】
電極の一方のタンタルまたはその合金が、板状、箔状、棒状または粉末の焼結体の形状である請求項１乃至５のいずれかに記載のコンデンサ。
【請求項７】
誘電体が、高分子物質またはセラミックス化合物である請求項１乃至６のいずれかに記載のコンデンサ。
【請求項８】
他方の電極の材料が、電解液、有機半導体及び無機半導体から選ばれる少なくとも１種である請求項１乃至７のいずれかに記載のコンデンサ。
【請求項９】
有機半導体が、ポリアニリン、ポリオキシフェニレン、ポリフェニレンサルファイド、ポリチオフェン、ポリフラン、ポリピロール、ポリメチルピロール、及びこれらの置換誘導体から選ばれる少なくとも一種である請求項８記載のコンデンサ。
【請求項１０】
二つの電極とその電極間に介在する誘電体とから構成され、電極の一方がタンタルまたはその合金からなり、引き出しリード線を有するコンデンサの製造方法において、その電極にニオブ合金製のリード線を接続させることを特徴とするコンデンサの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、タンタルまたはタンタル合金を一方の電極とするコンデンサに関し、特に電極の引き出しリード線に新規な材質の金属を使用したコンデンサに関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来のコンデンサは、二つの電極とその電極間に介在する誘電体とから構成されている。このようなコンデンサの一方の電極として、例えばタンタル、アルミニウム、ニオブ、チタン及びこれらの金属の合金のうちから選ばれる一つからなる電極が知られている。このうちタンタルは、コンデンサとしたときの諸性能が良好で、また比較的小型なコンデンサが作製できるため好んで使用されてきた。該電極には、外部への電気的な接続を取るために引き出しリード線の一端が接続されている。該リード線の接続部近辺には、通常一方の電極上に形成される誘電体と同等の誘電体層が形成される。前記リード線の材質として、通常円柱状細線のタンタルが用いられる。
【０００３】
前記一方の電極質量が小さくなった場合、コンデンサに占める、電極に対する該引き出しリード線の質量は、相対的に大きな物になるが、タンタル細線の質量単価は、タンタル電極の単価より高いため、コンデンサのコスト削減のためにも、単価の安い他の材料が求められていた。このような材料としてニオブがある。
【０００４】
ニオブは、密度がタンタルの約半分であり、タンタルよりも多量に算出するため質量単価が、タンタルの半分以下になると予想されている。しかしながら、ニオブを引き出しリード線とした場合、作製したコンデンサの耐熱特性が不良になるものが出現することがあった。このようなことを避けるために、一方の電極上に形成される誘電体の厚みを厚くすることにより解決しようとする試みも行われているが作製されたコンデンサの容量が小さくなり好ましいものでは無かった。
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
したがって、本発明の課題は容量を低下させずに耐熱特性が良好なタンタルコンデンサを提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記状況に鑑みて本発明者らは鋭意検討した結果、ニオブ合金からなる引き出しリード線を用いることにより容量減少を抑えて耐熱特性の良好なコンデンサが得られることを見出し、本発明を完成するに至った。
【０００７】
すなわち、本発明は以下のタンタルコンデンサに関する。
１．二つの電極とその電極間に介在する誘電体とから構成され、電極の一方がタンタルまたはその合金からなるコンデンサにおいて、その電極に接続された引き出しリード線がニオブ合金からなることを特徴とするコンデンサ。
２．ニオブ合金が、ニオブと周期律表の２族乃至１６族から選ばれる元素の少なくとも１つとの合金である前記１に記載のコンデンサ。
３．ニオブ合金が、一部が窒化された合金である前記１または２に記載のコンデンサ。
４．一部窒化されたニオブ合金の窒素量が、２０〜150000質量ｐｐｍである前記３に記載のコンデンサ。
５．引き出しリード線が接続されている電極の構造が焼結体であり、そのＣＶ値が、少なくとも40000（ＣＶ／ｇ）以上である前記１乃至４のいずれかに記載のコンデンサ。
６．電極の一方のタンタルまたはその合金が、板状、箔状、棒状または粉末の焼結体の形状である前記１乃至５のいずれかに記載のコンデンサ。
７．誘電体が、高分子物質またはセラミックス化合物である前記１乃至６のいずれかに記載のコンデンサ。
８．他方の電極の材料が、電解液、有機半導体及び無機半導体から選ばれる少なくとも１種である前記１乃至７のいずれかに記載のコンデンサ。
９．有機半導体が、ポリアニリン、ポリオキシフェニレン、ポリフェニレンサルファイド、ポリチオフェン、ポリフラン、ポリピロール、ポリメチルピロール、及びこれらの置換誘導体から選ばれる少なくとも一種である前記８記載のコンデンサ。
１０．二つの電極とその電極間に介在する誘電体とから構成され、電極の一方がタンタルまたはその合金からなり、引き出しリード線を有するコンデンサの製造方法において、その電極にニオブ合金製のリード線を接続させることを特徴とするコンデンサの製造方法。
【０００８】
本発明により引き出しリード線をニオブ合金とすることにより優れたタンタルコンデンサが得られる理由は必ずしも明らかでは無いが、以下のように推定できる。
【０００９】
前述したように電極間に形成した誘電体層は、電極に接続した引き出しリード線の一部にも形成されるが、引き出しリード線の材質としてニオブを用いた場合、ニオブはタンタルより酸素親和力が大きいため、引き出しリード線上に形成された誘電体層内に含有される酸素をニオブが引き抜く傾向が大きい。このため前記引き出しリード線の一部を含む接続部分近傍に形成された誘電体層の性能が劣化し、その結果耐熱性が低下すると考えられる。引き出しリード線の材質をニオブ合金とすることにより、ニオブは既に合金として他元素と結合または固溶化しているため、誘電体層から酸素を引き抜く傾向が緩和されていると推測できる。その結果、作製されたコンデンサの耐熱特性の劣化を最終的に抑えることができると推定できる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下本発明のコンデンサについて詳しく説明する。
本発明のコンデンサでは一方の電極の材料として、タンタル及びタンタルを主成分とする合金の中から選ばれた少なくとも１つを使用する。
【００１１】
電極の形状は、板状、箔状、棒状、粉末の焼結体などとすることができる。大きさは、作製するコンデンサの容量を勘案して任意に決定できる。箔状、棒状の場合は、折り曲げたり巻回したり、表面をエッチングしたりして、単位体積当たりの表面積を増大させて使用しても良い。焼結体を作製する場合は、例えば前述した材料の粉体を加圧成形した後１０2〜１０-4Ｐａの条件下で９００℃〜2000℃の温度で、数分間から数時間放置する方法を用いることができる。
【００１２】
また、本発明で引き出しリード線として使用されるニオブ合金の形状は、板状、箔状、棒状とすることができ、大きさは、一般的には前述した電極より小さくして用いられる。該引き出しリード線の一端と電極との接続は、溶接、導電ペースト、かしめ、圧着などによって電気的に接続する方法を用いることができる。また、電極として焼結体を使用する場合は、例えば金属粉末を加圧成形するときに引き出しリード線の一部を挿入しておきその後一緒に焼結することによって、電極の焼結体と引き出しリード線を電気的に接続しても良い。
【００１３】
焼結体の場合には、前述した方法、即ち、金属粉末のみの成形体から作製した焼結体に、前記引き出しリード線を溶接等で接続する方法を用いることも当然可能である。また、各電極に接続される引き出しリード線の個数は２個以上であっても良い。
【００１４】
ニオブ金属は、アーク融解や電子ビーム融解等の方法により他の元素と容易に合金を作製することができる。本発明では、ニオブ金属と周期律表の２族乃至１６族から選ばれる少なくとも１種の元素、好ましくは、３乃至７族及び１３乃至１６族から選ばれる少なくとも１種の元素、特に好ましくは３、４、６、７、１３族から選ばれる少なくとも１種の元素を含む合金を作製し、その合金から引き出しリード線を製造するとコンデンサの耐熱性が良好となる。
【００１５】
前記元素の濃度は、元素の種類や、後記する合金の窒化量によって変化するため、予め行う予備実験によって決定されるが、通常３００乃至100000質量ｐｐｍである。該合金からリード線を作製するには、例えば、適当な径のニオブ合金棒を作製した後、従来公知の線引き法を使用して作製することができる。該ニオブ合金棒は、例えば、ニオブ合金インゴットを適当に圧延して得ることができる。また、該ニオブ合金棒は、ニオブ合金粉末を棒状の金型に充填して加圧した後、電力加熱して溶融一体化して得ても良い。
【００１６】
本発明では、前記ニオブ合金を一部窒化しておいて使用しても良い。ニオブ合金の一部を窒化しておく時期は、引き出しリード線を作製する前のニオブ合金の時であっても良いし、また、ニオブ合金からなるリード線を作製した後であっても良い。ニオブ合金またはリード線の一部の窒素化は、例えばニオブ合金またはリード線を窒素ガス雰囲気中で窒素化することによって行われる。この場合、窒素量は、２０〜150000質量ｐｐｍにするのが好ましい。さらに作製したコンデンサの漏れ電流値を良好にするには、１００〜30000質量ｐｐｍの窒素化が特に好ましい。
【００１７】
窒（素）化方法としては、液体窒化、イオン窒化、ガス窒化などのうちいずれかあるいはそれらの組み合わせた方法で実施することができる。中でも、装置が簡便で操作が容易なため、窒素ガス雰囲気によるガス窒化処理が好ましい。例えば、窒素ガス雰囲気によるガス窒化方法は、前記ニオブ合金またはリード線を窒素雰囲気中に放置することによって達成される。窒化する雰囲気温度は、2000℃以下、放置時間は、数時間以内で目的とする窒化量のニオブ合金またはリード線が得られる。高温で処理することにより処理時間を短くすることができる。前記ニオブ合金、またはリード線の窒化量は、被窒化物の窒化温度と窒化時間を予備実験等で確認した条件で管理することができる。
【００１８】
本発明の引き出しリード線を得る別の方法として、長寸または／及び広幅の引き出しリード線前駆体を作製しておき、前述した電極との接続時あるいは電極が焼結体の場合には、例えば電極を与える金属粉末を加圧成形する前のリード線を挿入する時に、適当な長さまたは／及び大きさに切断することによって目的とする引き出しリード線を得ても良い。
【００１９】
本発明のニオブ合金からなる引き出しリード線に含有する、ニオブ、酸素、窒素及び合金形成金属元素以外の不純物元素濃度は、３００質量ｐｐｍ以下、好ましくは１００質量ｐｐｍ以下である。該不純物元素濃度が３００質量ｐｐｍを超えると、前記ニオブ合金からなる引き出しリード線からコンデンサを作製した場合、そのコンデンサの性能が不良になる場合があるので好ましくない。また、引き出しリード線に含有される酸素量は、引き出しリード線の大きさにもよるが、通常１０〜3000質量ｐｐｍである。この酸素は、主に空気中での自然酸化によって加わったものである。
【００２０】
本発明で使用される電極は予め一部窒化された電極としておいてから前記ニオブ合金からなる引き出しリード線を接続しても良い。一部窒化された電極の作製方法は、一例として前述したニオブ合金一部窒化するときに用いた窒化処理方法を挙げることができる。窒化処理は、液体窒化、イオン窒化、ガス窒化などのうちいずれかあるいはそれらの組み合わせた方法で実施することができる。中でも装置が簡便で操作が容易なため窒素ガス雰囲気によるガス窒化処理が好ましい。
【００２１】
本発明では、電極の構造を焼結体とし、ＣＶ値が少なくとも4000（ＣＶ／ｇ）以上、好ましくは、50000（ＣＶ／ｇ）以上であると大容量のコンデンサを得ることができるので望ましい。例えば、一次粒子の平均粒径が0.6〜１μｍの粉体を用いて二次粒子を作製すると、そのＣＶ値を得ることができる。さらに焼結体を作製する一次粒子の平均粒径を小さくすることにより、より大きなＣＶ値を得ることができる。60000〜140000（ＣＶ／ｇ）を得るためには、例えば0.2〜0.5μｍにすることにより、さらに150000（ＣＶ／ｇ）以上を得るためには、例えば0.2μｍ未満にすることにより、より大容量のコンデンサを得るために要求されるより大きなＣＶ値を有する焼結体とすることができる。
【００２２】
このような平均粒径を有するタンタル粉は、例えばフッ化タンタル酸カリのナトリウム還元による方法、タンタルインゴットの水素化物の粉砕及び脱水素による方法、塩化タンタルの炭素や金属による還元法等によって得ることができる。例えば、フッ化タンタル酸カリのナトリウム還元方法による場合、原料の濃度や使用する触媒のナトリウム塩の濃度を調合することにより、希望の平均粒径を有するタンタル粉を得ることができる。該タンタル粉を造粒することにより平均粒径１０μｍ〜1000μｍの二次粒子のタンタル粉が作製される。このように作製された二次粒子のタンタル粉が、焼結体作製用の粉体として用いられる。
【００２３】
コンデンサ用粉体の一部を窒化しておく場合、その窒素量を数１００質量ｐｐｍ〜数万ｐｐｍとする。窒素量がこの範囲にあると、コンデンサ用粉体から作製した焼結体の漏れ電流値（ＬＣ値）は、容量を低下させることなくさらに良好な値を示すので、容量を低下させることなく漏れ電流値の小さいコンデンサを得ることができる。ここでコンデンサ用粉体への窒素量とは、これらの材料に吸着した状態のものではなく確実に結合し窒化したものである。
【００２４】
焼結体を作製後窒化する方法を用いて、一部窒化した電極を得ることもできる。例えば、タンタル粉を成形して焼結後、該焼結体を前述した窒化処理法を用いて窒化することができる。この場合は、電極に接続されたリード線も一緒に窒化することができ工程を簡略化できる。
【００２５】
本発明のコンデンサの誘電体として、例えば酸化タンタル、ポリパラキシレン等の高分子物質、チタン酸バリウムなどのセラミックス化合物を使用することができる。酸化タンタルを主成分とする誘電体の場合、酸化タンタルは、一方の電極であるタンタルやタンタル合金またはそれらの一部窒化されたものを電解液中で化成するか、またはタンタルを含有する錯体例えばアルコキシ錯体、アセチルアセトナート錯体等を電極に付着させた後、それらを水分解及び／または熱分解させることによって作製することができる。
【００２６】
また、誘電体として高分子物質やセラミックス化合物を形成する方法としては、特公平７−６３０４５号公報、特公平７−８５４６１号公報に記載の方法を用いることができる。一方の電極の上に高分子物質の膜、セラミックス化合物の膜を反応などによって形成させることができる。
【００２７】
前述した誘電体を作る方法のうち、電解液中で化成して誘電体を得る場合、本発明のコンデンサは、電解コンデンサとなり化成された電極側が陽極となる。錯体を分解して得る場合は、錯体を付着した電極は理論的に極性は無く、陽極としても陰極としても使用可能である。
【００２８】
これらの誘電体層及びその誘電体層を形成する方法のうち、タンタルやタンタル合金またはそれらの一部が窒化されたものからなる電極を電解液中で化成してその電極上に酸化タンタル（主として五酸化二タンタル）を誘電体として形成する方法が、作業性が良好でしかも作製したコンデンサの容量が大きく好ましい。窒化されたものを用いると漏れ電流値も小さく信頼性も良好となるので好ましい。
【００２９】
本発明のコンデンサにおいて、他方の電極（対極）は格別限定されるものではない。例えば、アルミニウム電解コンデンサ業界で公知である電解液、有機半導体及び無機半導体から選ばれた少なくとも１種の材料（化合物）が使用できる。
【００３０】
電解液の具体例としては、イソブチルトリプロピルアンモニウムボロテトラフルオライド電解質を５質量％溶解したジメチルホルムアミドとエチレングリコールの混合溶液、テトラエチルアンモニウムボロテトラフルオライドを７質量％溶解したプロピレンカーボネートとエチレングリコールの混合溶液などが挙げられる。
【００３１】
有機半導体の具体例としては、ベンゾピロリン４量体とクロラニルからなる有機半導体、テトラチオテトラセンを主成分とする有機半導体、テトラシアノキノジメタンを主成分とする有機半導体、あるいは下記式（１）または式（２）で表される繰り返し単位を含む導電性高分子が挙げられる。
【００３２】
【化１】
0003984519.tif 000002
【００３３】
式中、Ｒ1〜Ｒ4はそれぞれ独立して水素原子、炭素数１乃至１０の直鎖状もしくは分岐状の飽和もしくは不飽和のアルキル基、アルコキシ基あるいはアルキルエステル基、またはハロゲン原子、ニトロ基、シアノ基、１級、２級もしくは３級アミノ基、ＣＦ3基、フェニル基及び置換フェニル基からなる群から選ばれた一価基を表す。Ｒ1とＲ2及びＲ3とＲ4の炭化水素鎖は互いに任意の位置で結合して、かかる基により置換を受けている炭素原子と共に少なくとも１つ以上の３〜７員環の飽和または不飽和炭化水素の環状構造を形成する二価鎖を形成してもよい。前記環状結合鎖には、カルボニル、エーテル、エステル、アミド、スルフィド、スルフィニル、スルホニル、イミノの結合を任意の位置に含んでもよい。Ｘは酸素、硫黄または窒素原子を表し、Ｒ5はＸが窒素原子の時のみ存在して、独立して水素原子または炭素数１乃至１０の直鎖上もしくは分岐状の飽和もしくは不飽和のアルキル基を表す。
【００３４】
さらに、本発明においては前記式（１）または式（２）のＲ1〜Ｒ4は、好ましくは、それぞれ独立して水素原子、炭素数１乃至６の直鎖状もしくは分岐状の飽和もしくは不飽和のアルキル基またはアルコキシ基を表し、Ｒ1とＲ2及びＲ3とＲ4は互いに結合して環状構造になっていてもよい。
【００３５】
さらに、本発明においては、前記式（１）で表される繰り返し単位を含む導電性高分子の好ましい例として、下記式（３）で示される構造単位を繰り返し単位として含む導電性高分子が挙げられる。
【００３６】
【化２】
0003984519.tif 000003
【００３７】
式中、Ｒ6及びＲ7は、各々独立して水素原子、炭素数１乃至６の直鎖状もしくは分岐状の飽和もしくは不飽和のアルキル基、または前記アルキル基が互いに任意の位置で結合して、２つの酸素元素を含む少なくとも１つ以上の５〜７員環の飽和炭化水素の環状構造を形成する置換基を表す。また、前記環状構造には置換されていてもよいビニレン結合を有するもの、置換されていてもよいフェニレン構造のものが含まれる。
【００３８】
このような化学構造を含む導電性高分子は荷電されており、ドーパントがドープされる。ドーパントとしては公知のドーパントが制限なく使用できる。
【００３９】
無機半導体の具体例としては、二酸化鉛または二酸化マンガンを主成分とする無機半導体、四三酸化鉄からなる無機半導体などが挙げられる。このような半導体は単独でも、または２種以上組み合わせて使用してもよい。
【００４０】
前記式（１）または式（２）で表される繰り返し単位を含む重合体としては、例えば、ポリアニリン、ポリオキシフェニレン、ポリフェニレンサルファイド、ポリチオフェン、ポリフラン、ポリピロール、ポリメチルピロール、及びこれらの置換誘導体や共重合体などが挙げられる。中でもポリピロール、ポリチオフェン及びこれらの置換誘導体（例えばポリ（３，４−エチレンジオキシチオフェン）等）が好ましい。
【００４１】
上記有機半導体及び無機半導体として、電導度１０-2Ｓ/ｃｍ〜１０3Ｓ/ｃｍの範囲のものを使用すると、作製したコンデンサのインピーダンス値がより小さくなり高周波での容量をさらに一層大きくすることができる。
【００４２】
さらに他方の電極が固体の場合には、その上に外部端子（例えば、リードフレーム）との電気的接触をよくするために、導電体層を設けてもよい。
【００４３】
導電体層としては、例えば、導電ペーストの固化、メッキ、金属蒸着、耐熱性の導電樹脂フイルムの形成等により形成することができる。導電ペーストとしては、銀ペースト、銅ペースト、アルミニウムペースト、カーボンペースト、ニッケルペースト等が好ましいが、これらは１種を用いても２種以上を用いてもよい。２種以上を用いる場合、混合してもよく、または別々の層として重ねてもよい。導電ペーストを適用した後、空気中に放置するか、または加熱して固化せしめる。メッキとしては、ニッケルメッキ、銅メッキ、銀メッキ、アルミニウムメッキ等があげられる。また蒸着金属としては、アルミニウム、ニッケル、銅、銀等が挙げられる。
【００４４】
具体的には、例えば他方の電極上にカーボンペースト、銀ペーストを順次積層しエポキシ樹脂のような材料で封止してコンデンサが構成される。このときエポキシ樹脂の内部から外部への電気的な接続を取るために、ニオブ合金からなる引き出しリード線（一端が一方の電極に接続されている。）の他端は、例えば別途用意された外部端子の一端と外装の内部で電気的に接続された構造としても良い。すなわち、前述した一方の電極と外部端子との間に、ニオブ合金からなる引き出しリード線が接続された状態とすることもできる。
【００４５】
以上のような構成の本発明のコンデンサは、例えば、樹脂モールド、樹脂ケース、金属性の外装ケース、樹脂のディッピング、ラミネートフイルムによる外装などの外装により各種用途のコンデンサ製品とすることができる。
【００４６】
また、他方の電極が液体の場合には、前記両極と誘電体から構成されたコンデンサを、例えば、他方の電極と電気的に接続した缶に収納してコンデンサが形成される。この場合、ニオブ合金からなる引き出しリード線が接続された電極側は、ニオブ合金からなる引き出しリード線を缶から外部に導出すると同時に、絶縁性ゴム等により、缶との絶縁がはかられるように設計される。あるいは、電極に接続されたニオブ合金からなる引き出しリード線を適当な位置で切断後、別途用意された外部端子の一端と接続してその外部端子を外部に導出するように設計しておいても良い。
【００４７】
各外部端子を用いずに、各引き出しリード線の電極に接続されていない他端を外装の外に直接引き出すこともできる。あるいは、他方の電極には、引き出しリード線を用いず直接外部端子を接続しても良い。
【００４８】
以上の説明に従ってニオブ合金からなる引き出しリード線を使用してコンデンサを作製した本発明のコンデンサは、コンデンサの容量を低下させることなく耐熱性が良好なものとなる。
【００４９】
【実施例】
以下、本発明の実施例を挙げてさらに具体的に説明するが、本発明は下記の例に限定されるものではない。
【００５０】
下記の例において、ニオブ合金、ニオブ合金からなる引き出しリード線、及び一方の電極の窒素及び酸素含有量は，ＬＥＫＯ社製の窒素・酸素分析計を用いて求めた。
【００５１】
また、ニオブ合金の組成は、Ｓｉ及びＰが、ＩＣＰ−ＡＥＳ、Ｃ及びＳが、高周波燃焼／ＩＲ、これ以外の元素は、ＩＣＰ−ＡＥＳから求めた。
【００５２】
コンデンサの容量は、ＨＰ製ＬＣＲメーターで測定した。
耐熱性の評価は、作製した各コンデンサ５０個をリフロー炉で、あらかじめ用意した基板に接続した後に測定された漏れ電流値（以後ＬＣ値と略す）が、0.05ＣＶ値（容量と定格電圧との積）以下になる個数で表現した。リフロー炉に前記基板を投入したときの、コンデンサ外部端子部での温度は、リフロー炉投入一回当たり２３０℃３０秒を維持し、前記基板の投入回数は３回とした。
【００５３】
実施例１〜４３及び比較例１〜４：
［ニオブ合金線の作製］
ニオブに、表１及び表２に示した量の合金成分を各々加えた後、アーク溶解法でニオブ合金を作製した（表１：実施例１〜１９、表２：実施例２０〜４３）。該ニオブ合金を圧延押し出しすることによって５ｍｍのニオブ合金線を作製した。さらにダイスで線径を細くすることを繰り返すことにより、目的の線形0.4ｍｍφのニオブ合金線を巻き取った。該0.4ｍｍφのニオブ合金線を、ニオブ合金からなる引き出しリード線として以後のコンデンサ作製に用いた。表２には、合金線を８００℃で窒素雰囲気に放置することにより、一部を窒化した合金線のデータ（実施例４１〜４３）をも示した。
【００５４】
【表１】
0003984519.tif 000004
【００５５】
【表２】
0003984519.tif 000005
【００５６】
以上作製された0.4ｍｍφニオブ合金線の、ニオブ、酸素、窒素及び合金形成金属元素以外の不純物元素濃度は、１００質量％以下であった。
【００５７】
［コンデンサの作製］：
平均粒径１３５μｍのタンタル粉（二次粒子、ＣＶ５万／ｇ）0.15ｇと、表１及び表２のニオブ合金線から切り出した各々１０ｍｍの引き出しリード線から、大きさ4.0×3.5×1.7ｍｍの成形体（引き出しリード線の３ｍｍが成形体内部に入っている）を作製した後、該成形体を1350℃で３０分焼結し焼結体を得た。この焼結体を、0.1％燐酸水溶液中８０℃で５時間４２Ｖ化成し、焼結体細孔部をも含めて表面に酸化タンタルからなる誘電体酸化被膜層を形成した。次に、表１及び表２の各例の合金線とタンタル粉とから作製した、誘電体酸化被膜層を有する焼結体を表の順に４分割し、表３に示した４種類の半導体形成法に従って該誘電体酸化皮膜上に各半導体層を形成した。さらにカーボンペースト層、銀ペースト層を順次積層してコンデンサ素子を作製した。ついで、各コンデンサ素子を、別途用意した外部端子であるリードフレームの両凸部に載置し、銀ペースト側は、銀ペーストからなる導電性接着剤で、ニオブ合金からなる引き出し線側は、スポット溶接で各々前記両凸部に接続した後、エポキシ樹脂で封口してチップ型コンデンサ（大きさ7.3×4.3×2.8ｍｍ）を作製した。作製したコンデンサの１２０Ｈｚでの容量と、１０ＶでのＬＣ値、並びに、該コンデンサを、前述した方法で耐熱試験を行った後のＬＣ値が0.05ＣＶ以下の個数を共に表４及び表５に示した。コンデンサ作製個数は、各例共５０個である。なお、表４及び表５には、合金でないニオブ線から作製したコンデンサの場合の値を比較例１〜４として記載した。
【００５８】
【表３】
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【００５９】
【表４】
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【００６０】
【表５】
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【００６１】
表４及び表５の実施例と比較例を比べると、ニオブ合金からなる引き出しリード線を使用したコンデンサの耐熱特性は、良好であることがわかる。
【００６２】
【発明の効果】
本発明に従えば、タンタルまたはタンタル合金を一方の電極とするコンデンサにおいて、電極の引き出しリード線に新規な材質のニオブ合金を使用することによりコンデンサの容量を低下させずに、安価で耐熱特性の良好なコンデンサが提供される。