(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子回路が搭載された回路基板の検査を行う回路基板検査装置において、
使用時に前記回路基板に接続される外部入出力機器の出力する外部信号を、シミュレーションすることにより模擬信号として出力する模擬信号出力部と、
前記回路基板上に設けられた通信ポートを介して、前記電子回路の検査を行う制御信号を生成／供給し、また、この制御信号及び前記模擬信号に基づき前記電子回路が出力する出力信号を入力する信号入出力部と、
前記出力信号に基づき前記回路基板の良否を判定する検査部と
を具備し、
前記擬信号出力部，前記信号入出力部及び前記検査部が前記回路基板に搭載されたＣＰＵにより制御されることを特徴とする回路基板検査装置。
【請求項２】
前記ＣＰＵが前記模擬信号を、電子回路の記憶部に予め設定された期待値データと照合して検査を行うことを特徴とする請求項１に記載の回路基板検査装置。
【請求項３】
前記模擬信号出力部が、Ｘマトリクス信号端子に接続された第１のスイッチ群とＹマトリクス信号端子に接続された第２のスイッチ群において、前記第１のスイッチ群と前記第２のスイッチ群から各々１つずつスイッチを選択してオンとすることにより、キーボードの出力する外部信号を模擬的に生成して模擬信号として出力することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の回路基板検査装置。
【請求項４】
前記模擬信号出力部が、一方の端子がＸマトリクス制御信号の信号線各々に接続された第１のスイッチ群のスイッチの他方の端子と、一方の端子がＹマトリクス制御信号の信号線各々に接続された第２のスイッチ群のスイッチの他方の端子とが接続されたスイッチ群構成を有し、このスイッチ群構成によりキーボードの模擬信号を生成することを特徴とする請求項３に記載の回路基板検査装置。
【請求項５】
前記信号入出力部が、前記ＣＰＵの出力するステータス信号に基づき、前記回路基板におけるＢＩＯＳの設定を行う制御信号を出力することを特徴とする請求項１から請求項４のいずれかに記載の回路基板検査装置。
【請求項６】
前記信号入出力部が、前記模擬信号出力部の出力するキーボードの模擬信号を、ＢＩＯＳの設定を行う制御信号として用いることを特徴とする請求項５記載の回路基板検査装置。
【請求項７】
電子回路が搭載された回路基板の製造を行う回路基板製造方法において、
回路基板の基板両面に配線層を形成する配線層形成工程と、
回路基板に電子部品及び出力端子を実装する電子部品実装工程と、
前記電子部品と前記出力端子とが前記配線により配線されているか否か，及び前記配線における配線不良の有無を検出する配線検査工程と、
使用時に前記回路基板に接続される外部入出力機器の出力する外部信号を、シミュレーションすることにより模擬信号として出力し、また、前記回路基板上に設けられた通信ポートを介して、前記電子回路の検査を行う制御信号を生成／供給し、この制御信号及び前記模擬信号に基づき前記電子回路が出力する出力信号を入力し、この出力信号に基づき、  前記回路基板の良否を判定し、前記電子回路の機能検査を行う機能検査工程と
を有し、
前記機能検査工程において、前記模擬信号出力，前記制御信号出力，及び前記回路基板の良否判定を、前記回路基板に搭載されたＣＰＵが制御することを特徴とする回路基板製造方法。
【請求項８】
前記ＣＰＵが前記模擬信号を、電子回路の記憶部に予め設定された期待値データと照合して検査を行うことを特徴とする請求項７に記載の回路基板製造方法。
【請求項９】
前記機能検査工程において、Ｘマトリクス信号端子に接続された第１のスイッチ群とＹマトリクス信号端子に接続された第２のスイッチ群において、前記第１のスイッチ群と前記第２のスイッチ群から各々１つずつスイッチを選択してオンとすることにより、キーボードの出力する外部信号を模擬的に生成して模擬信号として用いられていることを特徴とする請求項７または請求項８に記載の回路基板製造方法。
【請求項１０】
前記キーボードの模擬信号の生成が、一方の端子がＸマトリクス制御信号の信号線各々に接続された第１のスイッチ群のスイッチの他方の端子と、一方の端子がＹマトリクス制御信号の信号線各々に接続された第２のスイッチ群のスイッチの他方の端子とが接続されたスイッチ群構成により行われることを特徴とする請求項９に記載の回路基板製造方法。
【請求項１１】
前記機能検査工程において、前記ＣＰＵの出力するステータス信号に基づき、キーボードの前記模擬信号を用いて、順次、ＢＩＯＳの設定の処理を行うことを特徴とする請求項７から請求項１０のいずれかに記載の回路基板製造方法。
【請求項１２】
前記機能検査工程において、前記電子回路の音声処理部の出力する音声信号を、この音声処理部が入力することにより、音声信号の出力及び入力の音声処理機能の検査を行うことを特徴とする請求項７から請求項１１のいずれかに記載の回路基板製造方法。
【請求項１３】
電子回路が搭載された回路基板の検査を行う請求項１から請求項６のいずれかに記載の回路基板検査装置を操作させるプログラムであって、
使用時に前記回路基板に接続される外部入出力機器の出力する外部信号を、シミュレーションすることにより模擬信号として出力する模擬信号出力処理と、
前記回路基板上に設けられた通信ポートを介して、前記電子回路の検査を行う制御信号を生成／供給し、この制御信号及び前記模擬信号に基づき前記電子回路が出力する出力信号を入力する信号入出力処理と、
前記出力信号に基づき、前記回路基板の良否を判定する判定処理と
を有し、
前記模擬信号出力処理，前記信号入出力処理，及び前記判定処理を前記回路基板に搭載されたＣＰＵによって制御させることにより、前記電子回路の機能検査を行う処理を有することを特徴とする回路基板検査装置を動作させるプログラム。
【請求項１４】
前記ＣＰＵが前記模擬信号を、電子回路の記憶部に予め設定された期待値データと照合して検査を行うことを特徴とする請求項１３に記載の回路基板製造装置を動作させるプログラム。
【請求項１５】
前記機能検査処理において、Ｘマトリクス信号端子に接続された第１のスイッチ群とＹマトリクス信号端子に接続された第２のスイッチ群において、前記第１のスイッチ群と前記第２のスイッチ群から各々１つずつスイッチを選択してオンとすることにより、キーボードの出力する外部信号を模擬的に生成して模擬信号として用いられていることを特徴とする請求項１３または請求項１４に記載の回路基板製造装置を動作させるプログラム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、基板上に搭載された電子回路の検査を行う回路基板検査装置及び回路基板検査方法と、基板上に電子回路を構成する回路基板製造方法に係わるものである。
【０００２】
【従来の技術】
近年、パーソナルコンピュータやワークステーション等が多用されるようになり、これらに用いられるマイクロプロセッサやメモリ等の搭載されたＣＰＵ（中央処理装置）ボード（またはマザーボードとも言われる）が大量に製造されるようになってきた。
このとき、製造される被検査ボードとしてのＣＰＵボードの基本的な機能の動作を確認する機能検査を行う必要がある。
【０００３】
また、ＣＰＵボードは、通常の電子回路と異なり、ＣＰＵがメモリやハードディスクに格納されたプログラムにより動作するため、外部からキーボードを介して処理の指令を与えつつ、各処理項目毎にＣＰＵを動作させて、この項目毎に機能検査を行わなければならない。
ここで、処理項目とは、起動処理，ＣＲＴ（カソード・レイ・チューブ）に対する画像表示機能，ＨＤＤ（ハードディスク）やＦＤＤ（フロッピー（登録商標）ディスク）とのＩ／Ｏ処理，各通信ポート（シリアルポート，プリンタポート）におけるＩ／Ｏ処理，キーボードからのデータ入力処理，音声処理などの個別の機能を言う。
【０００４】
したがって、従来においては、図３に示すように、作業者が、順次、キーボード２１から検査の命令を試験装置に与えて、この命令に従い試験装置１７における試験シーケンスにより検査を行わせる。
すなわち、外部コントローラは、上記命令に対応して、図示しないＣＰＵ１９が検査プログラムに従い、また、このＣＰＵ１９が搭載されていない場合にはシーケンサの試験シーケンスにより、ＣＰＵボード１０に所定の信号を与え、この信号に対するＣＰＵボード１０からの応答信号を入力し、検査部１８がこの応答信号に基づきＣＰＵボード１０が正常に動作しているか否かの判定を行う。
以下の説明では、ＣＰＵ１９により試験装置１７が制御されて、ＣＰＵボード１０の試験動作しているとする。
【０００５】
例えば、作業者は,ＣＰＵボード１０のテストを行う前に、ＣＰＵボードを起動して、キーボード１３からＢＩＯＳ（ベーシックＩ／Ｏシステム）の初期設定（工場出荷時のディフォルトの設定）を行う。
このとき、作業者はこのＣＰＵボード１０の設定が終了するまで、ＣＲＴの初期設定画面を見ながらＢＩＯＳの設定を確認する必要がある。
そして、作業者は、ＢＩＯＳの設定が終了したのを確認した後、ＨＤＤ１６に格納されているＯＳにより、ＣＰＵボード１０を再起動する。
【０００６】
次に、作業者は、ＯＳによりＣＰＵボード１０が再起動されるまで、このＣＰＵボード１０の動作を確認し、再起動されたＣＲＴ１４の表示画面により、グラフィックＬＳＩの画像表示機能の確認を行う。
そして、作業者は、キーボード１３からＨＤＤ１６に入っているテストプログラムの起動を行う。
このテストプログラムは、インターフェース部２０，ＣＰＵボード１０の通信ポートを介して、検査部１８から送信される制御信号に基づき、ＣＰＵボード１０の動作、すなわちＣＰＵ１１の制御を行う。
【０００７】
そして、作業者は、ＣＰＵボード１０の通信ポートの確認を行うため、キーボード２１から検査部１８に上記通信ポートの試験を行う制御信号を入力し、この制御信号をＣＰＵボード１０へ送信する。
これにより、ＣＰＵ１１は、入力された制御信号に対して、応答信号をインターフェース部２０を介して検査部１８へ送信する。
この結果、検査部１８は、出力した制御信号に対応した応答信号が帰ってきたか否かにより、ＣＰＵボード１０の通信ポートが正常に動作しているか否かの判定を行う。
そして、作業者は、上述した通信ポートの試験を、各通信ポート毎（シリアルポート、パラレルポート）に対応して行う。
【０００８】
また、作業者は、キーボード１３のキーを実際に押すことにより、ＣＲＴ１４に表示される文字を確認することにより、キーボード１３のキー入力が正常に行われるか否かの試験を行う。
さらに、作業者は、キーボード１３からの命令により、インターフェース部２０を介して接続されるスピーカ，イヤフォンジャック等の音声を出力する端子毎に、実際の音声の出力を確認することにより、音声処理における動作の確認を行っている。
加えて、作業者のキーボード１３からの命令により、検査部１８は、各回路の出力に対応して配置されたテストパッドに接触させたテストプローブにより検出した、通信ポートや発光ＬＥＤ等の電圧レベルを、予め設定された電圧レベルと比較して、電気的な試験を行う。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述した従来の検査装置は、作業者が上記処理項目の試験を行う毎に、キーボード１３及びキーボード２１から制御信号または命令を、順次入力する必要があり、検査の処理が煩雑であるという問題がある。
また、従来の検査装置は、処理を行っている間、作業者がＣＰＵボード１０について作業を行う必要があり、検査の効率が非常に悪く、ＣＰＵボード１０の製造の生産性を向上を阻害する一因となっている。
本発明はこのような背景の下になされたもので、回路基板（ＣＰＵボード）の検査の効率を向上させ、回路基板の生産性を向上することが可能な回路基板の検査装置及び回路基板の検査方法並びに回路基板製造方法を提供する事にある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
本発明の回路基板検査装置は、電子回路が搭載された回路基板（例えば、ＣＰＵボード１０）の検査を行う回路基板検査装置（例えば、回路基板検査装置３０）において、使用時に前記回路基板に接続される外部入出力機器の出力する外部信号を、シミュレーションすることにより模擬信号として出力する模擬信号出力部（例えば、模擬信号回路やＣＰＵ１１）と、前記回路基板上に設けられた通信ポートを介して、前記電子回路の検査を行う制御信号を生成／供給し、また、この制御信号及び前記模擬信号に基づき前記電子回路が出力する出力信号を入力する信号入出力部（例えば、信号入出力回路３５）と、前記出力信号に基づき前記回路基板の良否を判定する検査部（例えば、検査部３６）とを具備し、前記擬信号出力部，前記信号入出力部及び前記検査部が前記回路基板に搭載されたＣＰＵにより制御されることを特徴とする。
【００１１】
本発明の回路基板検査装置は、前記ＣＰＵが前記模擬信号を、電子回路の記憶部に予め設定された期待値データと照合して検査を行うことを特徴とする。
本発明の回路基板検査装置は、前記模擬信号出力部が、Ｘマトリクス信号端子に接続された第１のスイッチ群とＹマトリクス信号端子に接続された第２のスイッチ群において、前記第１のスイッチ群と前記第２のスイッチ群から各々１つずつスイッチを選択してオンとすることにより、キーボードの出力する外部信号を模擬的に生成して模擬信号として出力することを特徴とする。
【００１２】
本発明の回路基板検査装置は、前記模擬信号出力部が、一方の端子がＸマトリクス制御信号の信号線各々に接続された第１のスイッチ群のスイッチの他方の端子と、一方の端子がＹマトリクス制御信号の信号線各々に接続された第２のスイッチ群のスイッチの他方の端子とが接続されたスイッチ群構成を有し、このスイッチ群構成によりキーボードの模擬信号を生成することを特徴とする。
【００１３】
本発明の回路基板検査装置は、前記信号入出力部が、前記ＣＰＵの出力するステータス信号に基づき、前記回路基板におけるＢＩＯＳの設定を行う制御信号を出力することを特徴とする。
本発明の回路基板検査装置は、前記信号入出力部が、前記模擬信号出力部の出力するキーボードの模擬信号を、ＢＩＯＳの設定を行う制御信号として用いることを特徴とする。
【００１４】
本発明の回路基板製造方法は、電子回路が搭載された回路基板の製造を行う回路基板製造方法において、回路基板の基板両面に配線層を形成する配線層形成工程と、回路基板に電子部品及び出力端子を実装する電子部品実装工程と、前記電子部品と前記出力端子とが前記配線により配線されているか否か，及び前記配線における配線不良の有無を検出する配線検査工程と、使用時に前記回路基板に接続される外部入出力機器の出力する外部信号を、シミュレーションすることにより模擬信号として出力し、また、前記回路基板上に設けられた通信ポートを介して、前記電子回路の検査を行う制御信号を生成／供給し、この制御信号及び前記模擬信号に基づき前記電子回路が出力する出力信号を入力し、この出力信号に基づき、 前記回路基板の良否を判定し、前記電子回路の機能検査を行う機能検査工程とを有し、前記機能検査工程において、前記模擬信号出力，前記制御信号出力，及び前記回路基板の良否判定を、前記回路基板に搭載されたＣＰＵが制御することを特徴とする。
【００１５】
本発明の回路基板製造方法は、前記ＣＰＵが前記模擬信号を、電子回路の記憶部に予め設定された期待値データと照合して検査を行うことを特徴とする。
本発明の回路基板製造方法は、前記機能検査工程において、Ｘマトリクス信号端子に接続された第１のスイッチ群とＹマトリクス信号端子に接続された第２のスイッチ群において、前記第１のスイッチ群と前記第２のスイッチ群から各々１つずつスイッチを選択してオンとすることにより、キーボードの出力する外部信号を模擬的に生成して模擬信号として用いられていることを特徴とする。
【００１６】
本発明の回路基板製造方法は、前記キーボードの模擬信号の生成が、一方の端子がＸマトリクス制御信号の信号線各々に接続された第１のスイッチ群のスイッチの他方の端子と、一方の端子がＹマトリクス制御信号の信号線各々に接続された第２のスイッチ群のスイッチの他方の端子とが接続されたスイッチ群構成により行われることを特徴とする。
【００１７】
本発明の回路基板製造方法は、前記機能検査工程において、前記ＣＰＵの出力するステータス信号に基づき、キーボードの前記模擬信号を用いて、順次、ＢＩＯＳの設定の処理を行うことを特徴とする。
本発明の回路基板製造方法は、前記機能検査工程において、前記電子回路の音声処理部の出力する音声信号を、この音声処理部が入力することにより、音声信号の出力及び入力の音声処理機能の検査を行うことを特徴とする。
【００１８】
本発明の回路基板検査装置を動作させるプログラムは、電子回路が搭載された回路基板の検査を行う請求項１から請求項６のいずれかに記載の回路基板検査装置を操作させるプログラムであって、使用時に前記回路基板に接続される外部入出力機器の出力する外部信号を、シミュレーションすることにより模擬信号として出力する模擬信号出力処理と、前記回路基板上に設けられた通信ポートを介して、前記電子回路の検査を行う制御信号を生成／供給し、この制御信号及び前記模擬信号に基づき前記電子回路が出力する出力信号を入力する信号入出力処理と、前記出力信号に基づき、前記回路基板の良否を判定する判定処理とを有し、前記模擬信号出力処理，前記信号入出力処理，及び前記判定処理を前記回路基板に搭載されたＣＰＵによって制御させることにより、前記電子回路の機能検査を行う処理を有することを特徴とする回路基板検査装置を動作させるプログラムである。
【００１９】
本発明の回路基板検査装置を動作させるプログラムは、前記ＣＰＵが前記模擬信号を、電子回路の記憶部に予め設定された期待値データと照合して検査を行うことを特徴とする。
本発明の回路基板検査装置を動作させるプログラムは、前記機能検査処理において、Ｘマトリクス信号端子に接続された第１のスイッチ群とＹマトリクス信号端子に接続された第２のスイッチ群において、前記第１のスイッチ群と前記第２のスイッチ群から各々１つずつスイッチを選択してオンとすることにより、キーボードの出力する外部信号を模擬的に生成して模擬信号として用いられていることを特徴とする。
【００２０】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。図１は本発明の一実施形態による検査装置３０の構成を示すブロック図である。
この図において、ＣＰＵボード１０には、ＣＰＵ１１とメモリ１２とが搭載され、ＨＤＤ１６に格納されているＯＳ及び検査プログラムにより、自身の検査、ずなわち、セルフチェックを行う。
【００２１】
本発明の回路基板検査装置と、従来の回路基板検査装置との違いの一つは、検査装置３０がＨＤＤ１６に格納されたテストプログラムに従い動作するＣＰＵ１１により制御されることである。
また、本発明では、従来例の回路基板検査装置に比較して、完成した回路基板の検査を大幅に自動化するとともに、テストされるＣＰＵボード１０上のＣＰＵ１１からの指令信号により、ＣＰＵボード１０の検査を制御する構成とした。
この自動化，及び被試験のＣＰＵボード１０上のＣＰＵ１１の利用に対しては、ＣＰＵボード１０の製造時のイールドの高さ（完全に動作する割合が、例えば９５パーセント以上である場合）が反映している。
【００２２】
ここで、本発明におけるＣＰＵボード１０の製造工程は、大きく分けると、以下に示す配線層形成工程，電子部品実装工程，配線検査工程，機能検査工程の各工程から構成される。
すなわち、配線層形成工程においては、ＣＰＵボード１０の回路基板の基板両面に、回路基板に搭載されるＣＰＵ１１，メモリ１２，信号処理用ＬＳＩなどの半導体素子や、抵抗，コネクタを相互に配線する配線層を形成する。
次に、電子部品実装工程においては、回路基板に電子部品（ＣＰＵ１１やメモリ１２等のＬＳＩや、抵抗，コンデンサなど）及び出力端子となるコネクタ（例えば、パラレルポートのコネクタ４０）などを実装する。
【００２３】
そして、配線検査工程においては、上記電子部品と上記コネクタとが配線により配線されているか否か（必要な接続がオープンとなっているか否か），及び前記配線における欠陥であるショートなどの配線不良，電子部品の欠陥による配線不良の有無を検出する。
最後に、機能検査工程においては、模擬信号回路３７が使用時にＣＰＵボード１０に接続される外部入出力機器（例えば、キーボード、プリンタ、スキャナなど）の出力する外部信号（例えば、キーボードの出力するキー信号，プリンタとのデータの送受信におけるステータス信号，スキャナとのデータの送受信など）を、シミュレーションすることにより模擬信号として出力し、また、信号入出力回路３５がＣＰＵボード１０上に設けられた通信ポートを介して、ＣＰＵボード１０上の電子回路（ＣＰＵ１１，メモリ１２，ＤＳＰ，画像処理ＬＳＩ（大規模集積回路）等から構成されている）の検査を行う制御信号を生成／供給する。
【００２４】
これにより、機能検査工程においては、回路基板検査装置３０が上記制御信号及び上記模擬信号に基づき、ＣＰＵボード１０上の電子回路が出力する応答信号を入力し、検査部３６が予め設定された値と、この応答信号との比較を行いＣＰＵボード１０の良否を判定することにより、このＣＰＵボード１０の電子回路の機能検査を行う。
以下、回路基板検査装置３０の動作において、ＨＤＤ１６に格納されたＯＳとテストプログラムに従い、ＣＰＵ１１が回路基板検査装置３０における各回路のの動作制御を行うという説明を省略し、回路基板検査装置３０の各回路の説明を行う。
【００２５】
ここで、上述した回路基板（ＣＰＵボード１０）の製造工程において、各電子部品の品質の向上により、配線検査工程において良品とされたＣＰＵボード１０の機能検査工程における良品率は、向上しており、例えば９５％以上程度になっている。
このため、機能検査工程において、ＣＰＵボード１０上のＣＰＵ１１を用いて、回路基板検査装置３０の制御を行うことが十分可能である。
したがって、ＨＤＤ１６に検査プログラムを格納して、ＣＰＵ１１により回路基板検査装置３０における機能検査の制御を行う。
また、ＣＲＴ１４，ＦＤＤ１５，ＨＤＤ１６は、ＣＰＵ１１からの命令に基づき、信号入出力回路３２により、ＦＥＴ（電界効果トランジスタ）等のスイッチ素子により、ＣＰＵボード１０に対して、機能検査工程を行うときに接続され、機能検査工程が終了すると切り離される。
また、信号入出力部３５は、ＣＰＵ１１からの命令（指令）に基づき、上記スイッチ素子のオン／オフ制御を行い、ＣＰＵボード１０に対する必要に応じてＣＲＴ１４，ＦＤＤ１５，ＨＤＤ１６などの電気的な接続及び切り離しを行う。
例えば、ＨＤＤ１６が２つのＨＤＤ１６Ａ及びＨＤＤＢから構成されているとすると、ＣＰＵボード１０に対するいずれか一方のみの接続，双方の接続あるいは双方の切り離しの制御を行うことができる。
【００２６】
インターフェース部３１は、ＣＰＵボード１０を駆動するための電力を、商用電源ＡＣ１００及びバッテリ２２のいずれから、ＣＰＵボード１０へ供給するかの制御を行う。
このＣＰＵボード１０に対する電力供給の制御も、上述したＣＲＴ１４，ＦＤＤ１５，ＨＤＤ１６をＣＰＵボード１０に対して電気的に接続及び切り離しを、ＦＥＴ等のスイッチ素子により同様に行う。
【００２７】
このとき、信号入出力部３５は、ＣＰＵ１１からの命令（指令）に基づき、インターフェース部３１における上記スイッチ素子のオン／オフ制御を行い、必要に応じて、ＣＰＵボード１０に対する電源ＡＣ１００Ｖとバッテリ２２の電気的な接続及び切り離しを行う。
例えば、信号入出力部３５は、バッテリ２２を充電する場合には、ＣＰＵボード１０に対して、電源ＡＣ１００Ｖと、バッテリ２２とを接続させ、電源ＡＣ１００Ｖによりバッテリ２２の充電を行う。
そして、バッテリ２２に充電されたか否か，及びバッテリ２２の電源系統が正常か否かの試験（テスト）を行うときには、ＣＰＵボード１０に対してバッテリ２２を接続したまま、電源ＡＣ１００Ｖを切り離す。
さらに、バッテリ２２がバッテリ２２Ａ及びバッテリ２２Ｂの２つのバッテリから構成されている場合に対応している。
【００２８】
すなわち、インターフェース部３１には、バッテリ用としてスイッチ素子が、上記バッテリ２２Ａ及びバッテリ２２ＢのＣＰＵボード１０への電気的な接続及び切り離しに対応して２系統準備されている。
そして、信号入出力部３５は、バッテリ２２Ａを充電する場合には、ＣＰＵボード１０に対して、バッテリ２２Ｂを切り離し、電源ＡＣ１００Ｖと、バッテリ２２Ａとを接続させ、電源ＡＣ１００Ｖによりバッテリ２２Ａの充電を行う。
また、バッテリ２２Ａに充電されたか否か，及びバッテリ２２Ａの電源系統が正常か否かの試験（テスト）を行うときには、ＣＰＵボード１０に対して、バッテリ２２Ｂを切り離した状態で、バッテリ２２Ａを接続したまま、電源ＡＣ１００Ｖを切り離す。
【００２９】
一方、信号入出力部３５は、バッテリ２２Ｂを充電する場合には、ＣＰＵボード１０に対して、バッテリ２２Ａを切り離し、電源ＡＣ１００Ｖと、バッテリ２２Ｂとを接続させ、電源ＡＣ１００Ｖによりバッテリ２２Ｂの充電を行う。
また、バッテリ２２Ｂに充電されたか否か，及びバッテリ２２Ｂの電源系統が正常か否かの試験（テスト）を行うときには、ＣＰＵボード１０に対して、バッテリ２２Ａを切り離した状態で、バッテリ２２Ｂを接続したまま、電源ＡＣ１００Ｖを切り離す。
【００３０】
模擬信号回路３７は、外部入出力機器、例えばキーボードのキーが押されたときのキー信号（外部信号）をシミュレーションして、模擬的にこのキー信号を生成して、この生成されたキー信号を、ＣＰＵボード１０へ図示しないキーボードコネクタを介して出力する。
この模擬信号回路３７について、図２を用いて詳細に説明する。図２は模擬信号回路３７の構成を示す概念図である。
キーボードコントローラ５０は、Ｘマトリクス信号端子（キースキャンインプット端子）に、複数のスイッチＳ１から構成されている第１のスイッチ群のスイッチＳ１各々の一方の端子が接続され、このスイッチＳ１の一方の端子の各々に対して、Ｘマトリクス信号Ｘ１〜Ｘ１６を出力する。
また、キーボードコントローラ５０は、Ｙマトリクス信号端子（キースキャンアウトプット端子）に、複数のスイッチＳ２から構成されている第２のスイッチ群のスイッチＳ２各々の一方の端子が接続され、このスイッチＳ２の一方の端子の各々に対して、Ｙマトリクス信号Ｙ１〜Ｙ８を出力する。
【００３１】
さらに、スイッチＳ１各々の他方の端子が全て接続され、同様にスイッチＳ２各々の他方の端子が全て接続され、加えて、このスイッチＳ１の上記他方の端子と、スイッチＳ２の上記他方の端子とが接続されている。
そして、信号入出力回路３５（図１参照）が第１のスイッチ群におけるいずれかのスイッチＳ１をオンとし、他のスイッチＳ１をオフ状態とし、また、第２のスイッチ群におけるいずれかのスイッチＳ２をオンとし、他のスイッチＳ２をオフ状態とすることで、キーボードのキースイッチの入力，すなわちキー信号（模擬信号の一例）を模擬的に（シミュレーションして）生成する。
【００３２】
通常、キーボードは、Ｘマトリクス信号とＹマトリクス信号との交点にキーボードのキースイッチを対応させて配置しており、Ｘマトリクス信号Ｘ１〜Ｘ１６のいずれかの１本と、Ｙマトリクス信号Ｙ１〜Ｙ８のいずれかの１本とが、キースイッチにより接触されたかにより、いずれのキースイッチが押されたかを示す上記キー信号を出力する。
一方、一実施形態の模擬信号回路３７は、上述した接続により、Ｘマトリクス信号及びＹマトリクス信号の交点に各々スイッチを置くとすると、スイッチ数が１２８個必要となるが、図２の構成によると、スイッチ数を２４個に削減することができる。
【００３３】
図１に戻り、信号入出力部３５は、ＣＰＵ１１からの指令信号により、ＣＰＵボード１０の検査を行う制御信号を生成し、ＣＰＵボード１０上に設けられた通信ポートを介して供給し、この制御信号及び上記キー信号に基づいてＣＰＵボード１０のＣＰＵ１１が出力する出力信号を、上記通信ポートを介して入力する。ＬＥＤレベル検出部３８は、上記制御信号によりＣＰＵボード１０上の電子回路が出力する、各回路の動作状況を点灯／非点灯により示すＬＥＤに供給する電圧レベルを検出して、検査部３６に出力する。
【００３４】
検査部３６は、機能検査工程の各検査（テスト）において、各ＣＰＵボード１０が制御信号に対応して出力する応答信号を、制御信号の種類毎に対応して予め設定されている値と、比較することにより、ＣＰＵボード１０の良否の判定を行う。
切換回路３２は、信号入力回路３５を介したＣＰＵ１１の制御により、音声出力であるスピーカ，ライン（外部装置へのライン出力），イヤホン等の音声出力の端子のいずれを、音声入力の端子に接続するかを切り替える。
【００３５】
次に、図１および図２を参照し、一実施形態の動作例を説明する。
ここで、ＣＰＵボード１０の製造工程は、配線層形成工程，電子部品実装工程，配線検査工程まで終了して、機能検査工程における回路基板検査装置３０によるＣＰＵボード１０の機能検査の処理の説明を行う。
また、以下、回路基板検査装置３０の動作において、ＨＤＤ１６に格納されたＯＳとテストプログラムに従い、ＣＰＵ１１が回路基板検査装置３０における各回路の動作制御を行うことに対する説明を省略し、回路基板検査装置３０の各回路の動作の説明を行う。
【００３６】
ＣＰＵボード１０が回路基板検査装置３０の治具にセットされた後、ＣＰＵボード１０上の各ＬＳＩの動作の設定を行う、ＢＩＯＳの設定（工場出荷時のディフォルト値の設定）が行われる。
電源が投入されると、ＣＰＵ１１は、ボード上の不揮発性メモリに記憶されている起動プログラムにより動作を開始すると共に、動作状態を示すステータス信号を所定の端子から出力する。
信号入出力部３５は、各回路の出力に対応して配置されたテストパッドに接触させたテストプローブによりＣＰＵボード１０の基板上から上記ステータス信号を検出し、逐次入力されるステータス信号に基づき、ＢＩＯＳの設定を行う文字列のデータに対応するキー信号を、スイッチＳ１及びスイッチＳ２のオン／オフ制御を行うことにより、模擬信号回路３７に順次出力させて、ＣＰＵ１１にＢＩＯＳの設定を行わせる。
【００３７】
そして、信号入出力部３５は、ＢＩＯＳの設定が終了したことをステータス信号により検出すると、再起動を指令する文字列をＣＰＵボード１０へ出力し、ＣＰＵボード１０の再起動を行う。
この時点で、メモリ１２のチェックは、ＣＰＵボード１０の起動時におけるセルフチェックにより終了している。
これにより、ＣＰＵボード１０の各Ｉ／Ｏポート（すなわち、通信ポート）の設定が行われ、ＣＰＵボード１０の通信ポートの使用が可能となる。
ＯＳ（オペレーションシステム）の再起動が終了すると、ＨＤＤ１６におけるテストプログラムが起動され、各通信ポート４０（シリアルポート，パラレルポート、ＵＳＢ（Universal Serial Bus），マウスポート）のテストが開始される。
【００３８】
すなわち、ＣＰＵ１１が信号入出力部３５に対して、各々の通信ポートのテストの開始を指令し、これらの通信ポートに対して信号線の全てが「０」と「１」とに変化する組み合わせのデータ、すなわちシミュレートされた模擬信号を順次出力する。
そして、信号入出力部３５は、上記指令の出力された通信ポートにおいて、順次入力される模擬信号と同一のデータ（あるいは反転されたデータ）を、応答信号としてＣＰＵボード１０に返送する（外部入出力機器が出力する外部信号のシミュレートを行う）。
これにより、ＣＰＵ１１は、通信ポートに出力した模擬信号のデータと、通信ポートから入力される応答信号のデータとが一致するか否か（または反転された値と一致するか否か）を、上記各々のデータの送受信毎に判定し、判定結果を信号入出力部３５を介して、検査部３６へ出力する。
【００３９】
検査部３６は、上記判定結果に基づき、通信ポートの全信号線の良否の判定を行う。
そして、上述した通信ポートのテストを、全てのシリアルポート及びパラレルポートに対して順次行う。
また、通信ポート系の不良のため、通信ポートにおける送受信が行われず、ＣＰＵボード１０からの指令自体が信号入出力部３５に送信不可能であり、ＣＰＵ１１の送信したデータに対する応答が無い場合のため、ＣＰＵ１１はデータ送信からタイマを動作させ、所定の時間内（例えば、１０ｍｓｅｃ内）に信号入出力部３５からの応答が無い場合にスピーカ３３から通信ポートの不良を通知するビープ音を出力する。
【００４０】
ここで、通信ポートの試験が行われる状態のとき、切換回路３２は音声出力をスピーカ３３に出力されるように初期設定されている（回路基板検査装置３０の回路により検査開始時に設定される）。
そして、ＣＰＵ１１は、各通信ポートの試験が終了すると、いずれかの通信ポートを用いて、例えばパラレルポートを用いて、回路基板検査装置３０の制御を開始する。
【００４１】
次に、検査部３６は、シミュレートされたキー信号の確認を行う。信号入出力回路３５は、ＣＰＵ１１の制御により、模擬信号回路３７内のスイッチＳ１及びスイッチＳ２を制御して、所定のキー信号をＣＰＵボード１０へ出力する。
そして、ＣＰＵボード１０のＣＰＵ１１は、テストプログラムに従い、入力されたキー信号と同様のデータを応答信号として、通信ポートを介して、検査部３６へ出力する。
さらに、検査部３６は、入力される上記応答信号（ＣＰＵボード１０が応答する出力信号）と、第１のスイッチ群のスイッチＳ１及び第２のスイッチ群のスイッチＳ２を制御して模擬信号回路３７に出力させた、メモリ１２またはＨＤＤ１６に記憶されているキー信号のデータとが一致しているか否かの判定を行う。
【００４２】
次に、ＣＰＵ１１は、画像処理機能のテストを行うとき、スピーカ３３から画像処理機能のテストの開始を通知するビープ音を出力する。
ＣＰＵボード１０を回路基板検査装置３０の治具にセットしてから、作業者の関与するテストは、この画像処理機能のテストが最初である。
画像処理機能のテストの開始を通知するビープ音により、作業者は複数台の経路基板検査装置３０において、画像処理機能のテストを行う回路基板検査装置３０の前に来て、この回路基板検査装置３０の図示しないパネルにある確認スイッチを押す。
【００４３】
この確認スイッチが押されたことを信号入出力部３５が検知し、上記パラレルポートを介して、ＣＰＵ１１に画像処理機能のテストを開始させる制御信号を出力する。
ＣＰＵ１１は、この制御信号が入力されることにより、画像処理機能のテストを開始する。
すなわち、ＣＰＵ１１は、画面操作に必要なキー信号を得るためのデータを、信号入出力部３５に対して送信する。
これにより、信号入出力部３５は、模擬信号回路３７に対して、画面操作に必要なキー信号を出力するための、スイッチＳ１及びスイッチＳ２のオン／オフ制御するための信号を出力する。
【００４４】
そして、模擬信号回路３７は、画像処理機能を検査するためのキー信号を、順次ＣＰＵボード１０へ出力する。
ここで言う画像処理機能とは、ＣＲＴ１４における画像の各分解能のテストと、画面の色の設定と、水平同期及び垂直同期の設定とがある。
この画像処理機能のテストは、微妙な色合いや画面の状態を検査するため、自動化する場合に非常に複雑で面倒なテストとなり、試験装置も非常に高価なものとなり、かつ、正確にテストすることが不可能であるので、人間の目による検査で行う必要がある。
【００４５】
作業者は、上記の画像処理機能のテストが終了すると、テストの結果に応じて、画像処理機能が満足されている場合、パスの図示しないパススイッチを押し、画像処理機能が満足されていない場合、フェイルの図示しないフェイルスイッチを押す。
これにより、信号入出力部３５は、パススイッチが押された場合、次のテストに移行する制御信号をＣＰＵボード１０へ出力し、フェイルスイッチが押された場合、テストを終了する制御信号をＣＰＵボード１０へ出力する。
そして、ＣＰＵ１１は、テストを継続するか否かを上記制御信号に基づき判定する。
すなわち、ＣＰＵ１１は、次のテストに移行する制御信号が入力された場合、ＣＰＵボード１０のテストを続行し、テストを終了する制御信号が入力された場合、ＣＰＵボード１０のテストを終了する。
【００４６】
次に、ＣＰＵ１１は、音声処理機能のテストを行う。この音声処理機能は、メモリ１２に等に記憶された音声データ（シミュレートされた模擬信号としての音声データ）をスピーカ３３や図示しない音声出力端子から出力（Ｄ／Ａ変換）し、これをマイク端子３４から入力させて、またメモリ１２に格納する（Ａ／Ｄ変換）音声処理機能をテストする。
このとき、音声処理機能のテストにおいては、いずれかのパスで作業員が実際に音声を聞く必要がある。
すなわち、ＣＰＵボード１０に搭載されているＤＳＰ（デジタルシグナルプロセッサ）におけるＤ／Ａ及びＡ／Ｄ変換が動作しているとしても、人間の耳で聞いて判定しないと、正しく音声が記録／再生されているか否かが判定できない。
【００４７】
このため、ＣＰＵ１１は、記録／再生において、音声処理機能のフェイル状態を検出し易い音声データをＨＤＤ１６に格納しておき、この音声データを上記ＤＳＰにより、Ｄ／Ａ変換することで再生し、スピーカ３３から出力させるとともに、この再生された音声をマイク３４により入力し、Ａ／Ｄ変換した後、メモリ１２に格納する。
そして、上記処理が終了した後、ＣＰＵ１１は、作業者が聞いて判定する音声処理機能のテストを開始するビープ音をスピーカ３３から出力する。
【００４８】
音声処理機能のテストの開始を通知するビープ音により、作業者は複数台の経路基板検査装置３０において、音声処理機能のテストを行う回路基板検査装置３０の前に来て、この回路基板検査装置３０の図示しないパネルにある確認スイッチを押す。
この確認スイッチが押されたことを信号入出力部３５が検知し、上記パラレルポートを介して、ＣＰＵ１１に音声処理機能のテストを開始させる制御信号を出力する。
【００４９】
次に、ＣＰＵ１１は、この制御信号が入力されることにより、音声処理機能のテストを開始する。
すなわち、ＣＰＵ１１は、メモリ１２またはＨＤＤ１６に格納されているマイク３４により入力され、Ａ／Ｄ変換された音声データを、再度Ｄ／Ａ変換してスピーカ３３から出力する。
そして、作業者は、このスピーカ３３から出力される音声を聞くことにより、上記ＤＳＰによるＡ／Ｄ変換，Ｄ／Ａ変換によって、正しく音声処理が行われているか否かの判定を行う。
【００５０】
作業者は、上記の音声処理機能のテストが終了すると、テストの結果に応じて、音声処理機能が満足されている場合、パスの図示しないパススイッチを押し、音声処理機能が満足されていない場合、フェイルの図示しないフェイルスイッチを押す。
これにより、信号入出力部３５は、パススイッチが押された場合、次のテストに移行する制御信号をＣＰＵボード１０へ出力し、フェイルスイッチが押された場合、テストを終了する制御信号をＣＰＵボード１０へ出力する。
そして、ＣＰＵ１１は、テストを継続するか否かを上記制御信号に基づき判定する。
すなわち、ＣＰＵ１１は、次のテストに移行する制御信号が入力された場合、ＣＰＵボード１０のテストを続行し、テストを終了する制御信号が入力された場合、ＣＰＵボード１０のテストを終了する。
【００５１】
次に、人間の耳で直接聞くことによる音声処理機能のテストが終了した後、ＣＰＵ１１は、信号入出力部３５に指令を送信し、切換回路３２の音声処理機能のテストの経路の切換を行う。
すなわち、ＣＰＵ１１は、音声出力端子と音声入力端子との経路を切り換えつつ、全ての経路の組み合わせにおいて、メモリ１２における音声データをＤ／Ａ変換して音声信号として音声出力端子から出力し、音声入力端子から入力される音声信号を再度Ａ／Ｄ変換して音声データとする処理が行われるか否か、例えば入力された音声データがメモリに格納されるか否かの判定を行う。
そして、ＣＰＵ１１は、音声処理機能のテストにおいて、上述した全ての組み合わせにおいて音声処理機能がパスした場合、ＣＰＵボード１０のテストを続行し、上述した組み合わせのいずれかがフェイルである場合、ＣＰＵボード１０のテストを終了する。
【００５２】
次に、ＣＰＵ１１は、各回路の機能の検査として、ＣＰＵボード１０における各回路の出力する電圧レベルのテストを行う。
例えば、テストプローブを、配線に形成されたテストバッドに接触させて、ＨＤＤ１６を駆動している場合等の各回路の駆動状態を示す各々のＬＥＤを点灯するための電圧、ＲＳ２３２Ｃの電圧レベルなどのテストを行う。
このとき、ＣＰＵ１１は、いずれの回路を駆動させるかの情報を信号入出力部３５を介して検査部３６に出力する。
【００５３】
そして、ＣＰＵ１１は、ＣＰＵボード１０上の検査部６に出力した情報に対応する回路を動作させる。
ここで、ＬＥＤレベル検出部３８は、上記回路の出力する電圧、例えば、ＨＤＤ１６の駆動状態を示すＬＥＤに印加する印加電圧をサンプリングし、このサンプリングした印加電圧をＡ／Ｄ変換した後、検査部３６に出力する。
このとき、検査部３６は、予め内部に記憶された、テストを行う回路の出力電圧と、サンプリングされた印加電圧とを比較して、回路毎に設定された電圧範囲（スペック）内にあるか否かの判定を行う。
そして、ＣＰＵ１１は、上述した電圧レベルのテストにおいて、上述した全ての回路の出力する電圧レベルが全てパスした場合、ＣＰＵボード１０のテストを続行し、上述した回路の出力する電圧レベルのいずれかがフェイルである場合、ＣＰＵボード１０のテストを終了する。
【００５４】
次に、ＣＰＵ１１は、ＣＰＵボード１０におけるバッテリ２２からの電力供給によるＣＰＵボード１０の動作の確認を行う。
このとき、ＣＰＵ１１は、バッテリ２２が十分にチャージされているとして、信号入出力部３５に対して、ＡＣ電源の経路を切断する指令を出力する。
これにより、信号入出力回路３５は、インターフェース部３１に対して、ＡＣ電源の経路を切断する制御信号を出力する。
そして、インターフェース部３１は、ＣＰＵボード１０に対するＡＣ電源の経路を切断する。
【００５５】
ここで、ＬＥＤレベル検出部３８は、バッテリ２２の供給する電力により、ＣＰＵボード１０上の電源回路の発生する内部電源の電圧を、テストパッド接触しているテストプローブから検出し、Ａ／Ｄ変換したのち電圧データとして、検査部３６に出力する。
そして、検査部３６は、上記電圧データが内部に設定されている電圧レベルの範囲内に入っているか否かの判定を行い、この判定結果を信号入出力部３５を介して、ＣＰＵ１１へ出力する。
次に、ＣＰＵ１１は、ＦＤＤ１５に対してデータの書き込み及び読み出しのテストを行う。
【００５６】
上述してきた各テストにおいて、ＣＰＵ１１は、ＣＰＵボード１０が全てのテストにおいてパスとなった場合、上述した全テストでパスとなったことを示すビープ音をスピーカ３３から出力するとともに、ＣＲＴ１４にパスであることを示す表示を行う。
一方、ＣＰＵ１１は、ＣＰＵボード１０が上述したテストのいずれかにおいてフェイルとなった場合、テストでフェイルとなったことを示すビープ音をスピーカ３３から出力するとともに、ＣＲＴ１４にいずれのテストでフェイルとなったかを示す表示を行う。
【００５７】
上述してきたように、本願発明の一実施形態による回路基板検査装置３０によれば、信号入出力部３５，模擬信号回路３７におけるキーボードのシミュレーションにより生成されるキー信号による文字列を用いて、ＣＰＵボード１０に対する各指令（命令）の入力処理を行うため、従来のＣＰＵボード１０の検査のように、ＢＩＯＳの初期設定を作業者が行うことが無く、機能検査工程における人間の工数を減少させることができ、１つのＣＰＵボード１０のテストでの作業者の工数を削減できるため、１人の作業員により複数のＣＰＵボード１０の検査が並列して行えることとなり、機能検査工程の効率を向上させることが可能となる。
【００５８】
また、一実施形態による回路基板検査装置３０によれば、画像処理機能のテストの場合も、人間がキーボードにより文字列を入力することなく、模擬信号回路３７が画面操作のキー信号を生成して出力するため、作業員がＣＲＴ１４の画像を確認することで試験が行え、作業員によるキー信号の入力間違いが無くなり、機能検査工程の効率を向上させることが可能となる。
【００５９】
さらに、一実施形態による回路基板検査装置３０によれば、音声処理機能のテストにおいて、音声入力端子と音声出力端子との接続の組み合わせの１系統のみ人間の耳で、メモリ１２に対する音声データの格納、及びメモリ１２に格納（記憶）された音声データの再生が正常か否かを判定した後、ＣＰＵ１１が他の音声入力端子と音声出力端子との組み合わせを、切り替え回路３２により変更しつつ、音声データの再生及び音声データの記憶をテストするため、従来の全て人間が出力される音声を聞いて行っていた場合に比較して、機能検査工程における人間の工数を減少させることができ、１つのＣＰＵボード１０のテストでの作業者の工数を削減できるため、１人の作業員により複数のＣＰＵボード１０の検査が並列して行えることとなり、機能検査工程の効率を向上させることが可能となる。
【００６０】
上述したように、一実施形態による回路基板検査装置３０によれば、機能検査工程の効率を大幅に向上することが可能となり、配線層形成工程，電子部品実装工程，配線検査工程，機能検査工程の各工程からなるＣＰＵボード１０（回路基板）の製造を大幅に効率化し、かつ作業員の工数を大幅に減少させることができるので、ＣＰＵボード１０の製造コストを削減することができる。
【００６１】
次に、本発明の実施の形態によるコンピュータが実行するためのプログラムについて説明する。
図１における回路基板検査装置におけるコンピュータシステムのＣＰＵが実行するためのプログラムは、本発明によるプログラムを構成する。
このプログラムを格納するための記録媒体としては、光磁気ディスク、光ディスク、半導体メモリ、磁気記録媒体等を用いることができ、これらをＲＯＭ、ＲＡＭ、ＣＤ−ＲＯＭ、フロッピーディスク、メモリカード等に構成して用いてよい。
【００６２】
また上記記録媒体は、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムが送信された場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部のＲＡＭ等の揮発性メモリのように、一定時間プログラムを保持するものも含まれる。
【００６３】
また上記プログラムは、このプログラムを記憶装置等に格納したコンピュータシステムから伝送媒体を介して、あるいは伝送媒体中の伝送波により他のコンピュータシステムに伝送されるものであってもよい。上記伝送媒体とは、インターネット等のネットワーク（通信網）や電話回線等の通信回線（通信線）のように情報を伝送する機能を有する媒体をいうものとする。
【００６４】
また、上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためであってもよい。さらに、前述した機能をコンピュータシステムに既に記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であってもよい。
【００６５】
従って、このプログラムを図１のシステム又は装置とは異なるシステム又は装置において用い、そのシステム又は装置のコンピュータがこのプログラムを実行することによっても、上記実施の形態で説明した機能及び効果と同等の機能及び効果を得ることができ、本発明の目的を達成することができる。
【００６６】
以上、本発明の一実施形態を図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等があっても本発明に含まれる。
【００６７】
【発明の効果】
本願発明の一実施形態による回路基板検査装置（例えば、回路基板検査装置３０）によれば、信号入出力部（例えば、信号入出力部３５），模擬信号出力部（例えば、模擬信号回路３７）におけるキーボードのシミュレーションにより生成されるキー信号による文字列を用いて行うため、従来の回路基板（例えば、ＣＰＵボード１０）の検査のように、ＢＩＯＳの初期設定を作業者が行うことが無く、機能検査工程における人間の工数を減少させることができ、１つの回路基板のテストでの作業者の工数を削減できるため、１人の作業員により複数の回路基板の検査が並列して行えることとなり、回路基板の製造の効率を向上させることが可能となる。
【００６８】
また、一実施形態による回路基板検査装置によれば、画像処理機能のテストの場合も、人間がキーボードにより文字列を入力することなく、模擬信号出力部が画面操作のキー信号を生成して出力するため、作業員が逐一ＣＲＴの画像を確認しつつ操作を行うことなく回路基板の試験を行うことができ、かつ、作業員によるキーボードからのキー入力を行わないので、キー信号の入力間違いを防止することにより、回路基板の製造の効率を向上させることが可能となる。
【００６９】
さらに、一実施形態による回路基板検査装置によれば、音声処理機能のテストにおいて、音声入力端子と音声出力端子との接続の組み合わせの１系統のみ人間の耳で、電子回路におけるメモリに対する音声データの格納、及びメモリに格納（記憶）された音声データの再生が正常か否かを判定した後、ＣＰＵ（例えば、ＣＰＵ１１）が他の音声入力端子と音声出力端子との組み合わせを、切り替え回路３２により変更しつつ、音声データの再生及び音声データの記憶をテストするため、従来の全て人間が出力される音声を聞いて行っていた場合に比較して、機能検査工程における人間の工数を減少させることができ、１つの回路基板のテストでの作業者の工数を削減できるため、１人の作業員により複数の回路基板の検査が並列して行えることとなり、回路基板の製造の効率を向上させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の一実施形態による回路基板検査装置の構成を示すブロック図である。
【図２】  図１におけう模擬信号回路３７のキーボードシミュレータの構成を示すブロック図である。
【図３】  従来例による回路基板検査装置の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１０  ＣＰＵボード
１１  ＣＰＵ
１３  キーボード
１４  ＣＲＴ
１５  ＦＤＤ
１６  ＨＤＤ
２２  バッテリ
３０  回路基板検査装置
３１  インターフェース部
３２  切り替え回路
３３  スピーカ
３４  イヤホンジャック
３５  信号入出力回路
３６  検査部
３７  模擬信号回路
３８  ＬＥＤレベル検出部
【図１】
0003928366.tif 000002
【図２】
0003928366.tif 000003
【図３】
0003928366.tif 000004