(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線を用いて被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、
二次元平面画像を得るために、前記被検体からの放射線を検出する検出手段と、
前記検出手段の画像取得に際して、撮影に関する所定の素子を移動させるための駆動手段と、
前記検出手段と前記駆動手段とを連動して制御する制御手段とを有し、
前記制御手段は、前記検出手段の読み出しに関連する動作期間中には前記駆動手段が前記素子を加速度を生ぜしめない一定速度で動作させるように制御することを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項２】
放射線を用いて被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、
二次元平面画像を得るために、前記被検体からの放射線を検出する検出手段と、
前記検出手段の画像取得に際して、撮影に関する所定の素子を移動させるための駆動手段と、
前記検出手段と前記駆動手段とを連動して制御する制御手段とを有し、
前記制御手段は、前記検出手段の読み出しに関連する動作期間中には前記駆動手段が前記素子を等加速度で動作させるように制御することを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項３】
前記検出手段は、放射線としてＸ線を検出するものであることを特徴とする請求項１に記載の放射線撮像装置。
【請求項４】
前記検出手段は、放射線としてＸ線を検出するものであることを特徴とする請求項２に記載の放射線撮像装置。
【請求項５】
前記一定速度は、前記素子の静止状態を含むことを特徴とする請求項１又は３に記載の放射線撮像装置。
【請求項６】
前記所定の素子は、放射線グリッドであることを特徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載の放射線撮像装置。
【請求項７】
前記所定の素子は、前記検出手段であることを特徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載の放射線撮像装置。
【請求項８】
放射線を用いて被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、
二次元平面画像を得るために、前記被検体からの放射線を検出する検出手段と、
前記検出手段の画像取得に際して、撮影に関する所定の素子を移動させるための駆動手段と、
前記検出手段と前記駆動手段とを連動して制御する制御手段と、
前記駆動手段の動作に伴う前記検出手段の振動を検出するための振動検知手段とを有し、
前記制御手段は、前記検出手段の画像読み出しに関連する動作期間中には前記振動検知手段の値が既定値以下の振動状態であることを確認して、画像取得に関する駆動を行うように制御することを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項９】
前記検出手段は、放射線としてＸ線を検出するものであることを特徴とする請求項８に記載の放射線撮像装置。
【請求項１０】
前記一定速度は、前記素子の静止状態を含むことを特徴とする請求項８又は９に記載の放射線撮像装置。
【請求項１１】
前記所定の素子は、放射線グリッドであることを特徴とする請求項８〜１０のいずれか１項に記載の放射線撮像装置。
【請求項１２】
前記所定の素子は、前記検出手段であることを特徴とする請求項８〜１０のいずれか１項に記載の放射線撮像装置。
【請求項１３】
放射線を用いて被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、
二次元平面画像を得るために、前記被検体からの放射線を検出する検出手段と、
前記検出手段の画像取得に際して、撮影に関する所定の素子を移動させるための駆動手段と、
前記検出手段と前記駆動手段とを連動して制御する制御手段とを有し、
前記制御手段は、前記検出手段による補正画像取得中には前記駆動手段が前記素子を加速度を生ぜしめない一定速度で動作させるように制御することを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項１４】
放射線を用いて被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、
二次元平面画像を得るために、前記被検体からの放射線を検出する検出手段と、
前記検出手段の画像取得に際して、撮影に関する所定の素子を移動させるための駆動手段と、
前記検出手段と前記駆動手段とを連動して制御する制御手段とを有し、
前記制御手段は、前記検出手段による補正画像取得中には前記駆動手段が前記素子を等加速度で動作させるように制御することを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項１５】
被写体の撮像を行う撮像装置であって、
前記被写体の画像を得るための読み出しセンサと、
前記読み出しセンサからの信号読み出し期間中には、当該読み出しセンサを等速度で移動させる制御手段と、を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項１６】
被写体の撮像を行う撮像装置であって、
前記被写体の画像を得るための読み出しセンサと、
前記読み出しセンサからの信号読み出し期間中には、当該読み出しセンサを等加速度で移動させる制御手段とを有することを特徴とする撮像装置。
【請求項１７】
放射線を用いて被検体の撮像を行う撮像方法であって、
検出手段により、前記被検体からの放射線を検出して二次元平面画像を得るに際して、駆動手段により、撮影に関する所定の素子を移動させるときに、制御手段により、二次元平面画像を得るための信号の読み出しに関連する動作期間中には前記素子を加速度を生ぜしめない一定速度で動作させるように制御することを特徴とする放射線撮像方法。
【請求項１８】
放射線を用いて被検体の撮像を行う撮像方法であって、
検出手段により、前記被検体からの放射線を検出して二次元平面画像を得るに際して、駆動手段により、撮影に関する所定の素子を移動させるときに、制御手段により、二次元平面画像を得るための信号の読み出しに関連する動作期間中には前記素子を等加速度で動作させるように制御することを特徴とする放射線撮像方法。
【請求項１９】
前記検出手段は、前記放射線としてＸ線を検出することを特徴とする請求項１７に記載の放射線撮像方法。
【請求項２０】
前記検出手段は、前記放射線としてＸ線を検出することを特徴とする請求項１８に記載の放射線撮像方法。
【請求項２１】
前記一定速度は、前記素子の静止状態を含むことを特徴とする請求項１８又は１９に記載の放射線撮像方法。
【請求項２２】
前記所定の素子は、放射線グリッドであることを特徴とする請求項１７〜２１のいずれか１項に記載の放射線撮像方法。
【請求項２３】
前記所定の素子は、前記検出手段であることを特徴とする請求項１７〜２１のいずれか１項に記載の放射線撮像方法。
【請求項２４】
放射線を用いて被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、
二次元平面画像を得るために、前記被検体からの放射線を検出する検出手段と、
前記検出手段の画像取得に際して、撮影に関する所定の素子を移動させるための駆動手段と、
前記検出手段の読み出しに関連する動作期間中には前記駆動手段が前記素子を振動の収束した定常状態で動作させるように制御する制御手段とを有することを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項２５】
前記定常状態は、等加速度の状態であることを特徴とする請求項２４に記載の放射線撮像装置。
【請求項２６】
前記定常状態は、等速度の状態であることを特徴とする請求項２４に記載の放射線撮像装置。
【請求項２７】
放射線を用いて被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、
二次元平面画像を得るために、前記被検体からの放射線を検出する検出手段と、
前記検出手段の画像取得に際して、撮影に関する所定の素子を移動させるための駆動手段と、
前記検出手段の読み出しに関連する動作を、前記素子が振動の生じる非定常状態で動作する期間を除き、前記駆動手段が前記素子を振動の収束した定常状態で動作させる期間に実行するように制御する制御手段とを有することを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項２８】
前記定常状態は、等加速度の状態であることを特徴とする請求項２７に記載の放射線撮像装置。
【請求項２９】
前記定常状態は、等速度の状態であることを特徴とする請求項２７に記載の放射線撮像装置。
【請求項３０】
放射線を用いて被検体の撮像を行う撮像方法であって、
検出手段により、前記被検体からの放射線を検出して二次元平面画像を得るに際して、駆動手段により、撮影に関する所定の素子を移動させるときに、制御手段により、二次元平面画像を得るための信号の読み出しに関連する動作期間中には前記素子を振動の収束した定常状態で動作させるように制御することを特徴とする放射線撮像方法。
【請求項３１】
前記定常状態は、等加速度の状態であることを特徴とする請求項３０に記載の放射線撮像方法。
【請求項３２】
前記定常状態は、等速度の状態であることを特徴とする請求項３０に記載の放射線撮像方法。
【請求項３３】
放射線を用いて被検体の撮像を行う撮像方法であって、
検出手段により、前記被検体からの放射線を検出して二次元平面画像を得るに際して、駆動手段により、撮影に関する所定の素子を移動させるときに、制御手段により、前記二次元平面画像を得るための信号の読み出しに関連する動作を、前記素子が振動の生じる非定常状態で動作する期間を除き、前記素子を振動の収束した定常状態で動作させる期間に実行することを特徴とする放射線撮像方法。
【請求項３４】
前記定常状態は、等加速度の状態であることを特徴とする請求項３３に記載の放射線撮像方法。
【請求項３５】
前記定常状態は、等速度の状態であることを特徴とする請求項３３に記載の放射線撮像方法。
【請求項３６】
放射線を用いて被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、
二次元平面画像を得るために、前記被検体からの放射線を検出する検出手段と、
前記検出手段の画像取得に際して、撮影に関する所定の素子を移動させるための駆動手段と、
前記検出手段と前記駆動手段とを連動して制御する制御手段とを備え、
前記制御手段は、予め予測された前記駆動手段に振動が生じる期間を除き、前記検出手段の画像読み出しに関連する動作期間を設定して、当該動作期間に画像取得に関する駆動を行うように制御することを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項３７】
前記所定の素子は、放射線グリッドであることを特徴とする請求項３６に記載の放射線撮像装置。
【請求項３８】
前記所定の素子は、前記検出手段であることを特徴とする請求項３６に記載の放射線撮像装置。
【請求項３９】
被写体の撮像を行う撮像装置であって、
前記被写体の画像を得るための読み出しセンサを備え、
前記読み出しセンサからの信号読み出し期間中には、当該読み出しセンサを振動の収束した定常状態で移動させることを特徴とする撮像装置。
【請求項４０】
被写体の撮像を行う撮像装置であって、
前記被写体の画像を得るための読み出しセンサを備え、
前記読み出しセンサからの信号読み出し期間中には、当該読み出しセンサを等加速度で移動させることを特徴とする撮像装置。
【請求項４１】
請求項１〜１４，２４〜２９，３６〜３８のいずれか１項に記載の放射線撮像装置を構成する各構成要素としてコンピュータを機能させるためのプログラムを格納したコンピュータ読取り可能な記録媒体。
【請求項４２】
請求項１７〜２３，３０〜３５のいずれか１項に記載の放射線撮像方法の処理手順をコンピュータに実行させるためのプログラムを格納したコンピュータ読取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、放射線を用いて被検体の撮像を行う撮像装置及び方法に関し、検出素子を駆動して信号を読み出して処理する技術に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来のＸ線撮像装置では、Ｘ線源から医療患者のような被分析対象を通してＸ線ビームを投射する。Ｘ線ビームが被検体を通過した後、通常イメージ倍増管がＸ線放射を可視光像に変換し、ビデオカメラが可視像からアナログビデオ信号を作成し、モニタに表示する。アナログビデオ信号を作成するので、自動輝度調節及び画像強調のための画像処理がアナログ領域で行われる。
【０００３】
すでに、高分解能の固体Ｘ線検出器が提案されており、これは各次元に３０００〜４０００個のフォトダイオードなどに代表される検出素子を用いた２次元アレーで構成される。各素子は検出器に投射されるＸ線像の画素輝度に対応する電気信号を作成する。各検出素子からの信号は個別に読み出されてディジタル化され、その後で画像処理、記憶及び表示される。
【０００４】
さて、医療用Ｘ線画像では４０９６階調以上が要求される。更にＸ線照射量を抑えて被爆量を低減することが望まれるため、画像信号量も制約を受ける。このため、一般的な撮像素子に比べ極端に低ノイズシステムが要求される。
【０００５】
また、医療用Ｘ線撮影では、Ｘ線の散乱による影響を抑えるためにグリッドが使用されるが、固定グリッドは一般的に固体Ｘ線撮像素子との相性が悪く、エリアジングなどの問題が発生するため、移動グリッドを使用してシステムを構築する場合がある。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
先に述べた通り医療用Ｘ線撮像装置では低ノイズが要求されるが、この移動グリッドによる振動が新たなノイズ源となりうる。これは、例えば基準電位を生成している回路中に使用している高誘電系のコンデンサなどの圧電効果によるものであったり、単に振動により読み出し回路中の寄生容量が変動したりするためである。
【０００７】
最良の画質を得るためには、グリッド駆動制御、Ｘ線検出器の移動制御、及びＸ線検出器の駆動方法を適切に行わなければならないという問題が生じる。
【０００８】
そこで本発明は、極めて簡易な構成で、グリッドやＸ線検出手段等の振動の影響を受けることなく容易且つ確実に良質の画像を得ることを可能とする放射線撮像装置（撮像装置）及び撮像方法を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明者らは、上記目的を達成するため、鋭意検討の結果、以下に示す発明の諸態様に想到した。
【００１０】
本発明の放射線撮像装置は、放射線を用いて被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、二次元平面画像を得るために、前記被検体からの放射線を検出する検出手段と、前記検出手段の画像取得に際して、撮影に関する所定の素子を移動させるための駆動手段と、前記検出手段と前記駆動手段とを連動して制御する制御手段とを有し、前記制御手段は、前記検出手段の読み出しに関連する動作期間中には前記駆動手段が前記素子を加速度を生ぜしめない一定速度で動作させるように制御することを特徴とする。
【００１１】
本発明の放射線撮像装置は、放射線を用いて被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、二次元平面画像を得るために、前記被検体からの放射線を検出する検出手段と、前記検出手段の画像取得に際して、撮影に関する所定の素子を移動させるための駆動手段と、前記検出手段と前記駆動手段とを連動して制御する制御手段とを有し、前記制御手段は、前記検出手段の読み出しに関連する動作期間中には前記駆動手段が前記素子を等加速度で動作させるように制御することを特徴とする。
【００１２】
本発明の放射線撮像装置の一態様では、前記検出手段は、放射線としてＸ線を検出するものである。
【００１３】
本発明の放射線撮像装置の一態様では、前記検出手段は、放射線としてＸ線を検出するものである。
【００１４】
本発明の放射線撮像装置の一態様では、前記一定速度は、前記素子の静止状態を含む。
【００１５】
本発明の放射線撮像装置の一態様では、前記所定の素子は、放射線グリッドである。
【００１６】
本発明の放射線撮像装置の一態様では、前記所定の素子は、前記検出手段である。
【００１７】
本発明の放射線撮像装置は、放射線を用いて被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、二次元平面画像を得るために、前記被検体からの放射線を検出する検出手段と、前記検出手段の画像取得に際して、撮影に関する所定の素子を移動させるための駆動手段と、前記検出手段と前記駆動手段とを連動して制御する制御手段と、前記駆動手段の動作に伴う前記検出手段の振動を検出するための振動検知手段とを有し、前記制御手段は、前記検出手段の画像読み出しに関連する動作期間中には前記振動検知手段の値が既定値以下の振動状態であることを確認して、画像取得に関する駆動を行うように制御することを特徴とする。
【００１８】
本発明の放射線撮像装置の一態様では、前記検出手段は、放射線としてＸ線を検出するものである。
【００１９】
本発明の放射線撮像装置の一態様では、前記一定速度は、前記素子の静止状態を含む。
【００２０】
本発明の放射線撮像装置の一態様では、前記所定の素子は、放射線グリッドである。
【００２１】
本発明の放射線撮像装置の一態様では、前記所定の素子は、前記検出手段である。
【００２２】
本発明の放射線撮像装置は、放射線を用いて被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、二次元平面画像を得るために、前記被検体からの放射線を検出する検出手段と、前記検出手段の画像取得に際して、撮影に関する所定の素子を移動させるための駆動手段と、前記検出手段と前記駆動手段とを連動して制御する制御手段とを有し、前記制御手段は、前記検出手段による補正画像取得中には前記駆動手段が前記素子を加速度を生ぜしめない一定速度で動作させるように制御することを特徴とする。
【００２３】
本発明の放射線撮像装置は、放射線を用いて被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、二次元平面画像を得るために、前記被検体からの放射線を検出する検出手段と、前記検出手段の画像取得に際して、撮影に関する所定の素子を移動させるための駆動手段と、前記検出手段と前記駆動手段とを連動して制御する制御手段とを有し、前記制御手段は、前記検出手段による補正画像取得中には前記駆動手段が前記素子を等加速度で動作させるように制御することを特徴とする。
【００２４】
本発明の撮像装置は、被写体の撮像を行う撮像装置であって、前記被写体の画像を得るための読み出しセンサと、前記読み出しセンサからの信号読み出し期間中には、当該読み出しセンサを等速度で移動させる制御手段とを有することを特徴とする。
【００２５】
本発明の撮像装置は、被写体の撮像を行う撮像装置であって、前記被写体の画像を得るための読み出しセンサと、前記読み出しセンサからの信号読み出し期間中には、当該読み出しセンサを等加速度で移動させる制御手段とを有することを特徴とする。
【００２６】
本発明の放射線撮像方法は、放射線を用いて被検体の撮像を行う撮像方法であって、検出手段により、前記被検体からの放射線を検出して二次元平面画像を得るに際して、駆動手段により、撮影に関する所定の素子を移動させるときに、制御手段により、二次元平面画像を得るための信号の読み出しに関連する動作期間中には前記素子を加速度を生ぜしめない一定速度で動作させるように制御することを特徴とする。
【００２７】
本発明の放射線撮像方法は、放射線を用いて被検体の撮像を行う撮像方法であって、検出手段により、前記被検体からの放射線を検出して二次元平面画像を得るに際して、駆動手段により、撮影に関する所定の素子を移動させるときに、制御手段により、二次元平面画像を得るための信号の読み出しに関連する動作期間中には前記素子を等加速度で動作させるように制御することを特徴とする。
【００２８】
本発明の放射線撮像方法の一態様では、前記検出手段は、前記放射線としてＸ線を検出する。
【００２９】
本発明の放射線撮像方法の一態様では、前記一定速度は、前記素子の静止状態を含む。
【００３０】
本発明の放射線撮像方法の一態様では、前記所定の素子は、放射線グリッドである。
【００３１】
本発明の放射線撮像方法の一態様では、前記所定の素子は、前記検出手段である。
【００３２】
本発明の放射線撮像装置は、放射線を用いて被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、二次元平面画像を得るために、前記被検体からの放射線を検出する検出手段と、前記検出手段の画像取得に際して、撮影に関する所定の素子を移動させるための駆動手段と、前記検出手段の読み出しに関連する動作期間中には前記駆動手段が前記素子を振動の収束した定常状態で動作させるように制御する制御手段とを有することを特徴とする。
【００３３】
本発明の放射線撮像装置の一態様では、前記定常状態は、等加速度の状態である。
【００３４】
本発明の放射線撮像装置の一態様では、前記定常状態は、等速度の状態である。
【００３５】
本発明の放射線撮像装置は、放射線を用いて被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、二次元平面画像を得るために、前記被検体からの放射線を検出する検出手段と、前記検出手段の画像取得に際して、撮影に関する所定の素子を移動させるための駆動手段と、前記検出手段の読み出しに関連する動作を、前記素子が振動の生じる非定常状態で動作する期間を除き、前記駆動手段が前記素子を振動の収束した定常状態で動作させる期間に実行するように制御する制御手段とを有することを特徴とする。
【００３６】
本発明の放射線撮像装置の一態様では、前記定常状態は、等加速度の状態である。
【００３７】
本発明の放射線撮像装置の一態様では、前記定常状態は、等速度の状態である。
【００３８】
本発明の放射線撮像方法は、放射線を用いて被検体の撮像を行う撮像方法であって、検出手段により、前記被検体からの放射線を検出して二次元平面画像を得るに際して、駆動手段により、撮影に関する所定の素子を移動させるときに、制御手段により、二次元平面画像を得るための信号の読み出しに関連する動作期間中には前記素子を振動の収束した定常状態で動作させるように制御することを特徴とする。
【００３９】
本発明の放射線撮像方法の一態様では、前記定常状態は、等加速度の状態である。
【００４０】
本発明の放射線撮像方法の一態様では、前記定常状態は、等速度の状態である。
【００４１】
本発明の放射線撮像方法は、放射線を用いて被検体の撮像を行う撮像方法であって、検出手段により、前記被検体からの放射線を検出して二次元平面画像を得るに際して、駆動手段により、撮影に関する所定の素子を移動させるときに、制御手段により、前記二次元平面画像を得るための信号の読み出しに関連する動作を、前記素子が振動の生じる非定常状態で動作する期間を除き、前記素子を振動の収束した定常状態で動作させる期間に実行することを特徴とする。
【００４２】
本発明の放射線撮像方法の一態様では、前記定常状態は、等加速度の状態である。
【００４３】
本発明の放射線撮像方法の一態様では、前記定常状態は、等速度の状態である。
【００４７】
本発明の放射線撮像装置は、放射線を用いて被検体の撮像を行う放射線撮像装置であって、二次元平面画像を得るために、前記被検体からの放射線を検出する検出手段と、前記検出手段の画像取得に際して、撮影に関する所定の素子を移動させるための駆動手段と、前記検出手段と前記駆動手段とを連動して制御する制御手段とを備え、前記制御手段は、予め予測された前記駆動手段に振動が生じる期間を除き、前記検出手段の画像読み出しに関連する動作期間を設定して、当該動作期間に画像取得に関する駆動を行うように制御することを特徴とする。
【００４８】
本発明の放射線撮像装置の一態様では、前記所定の素子は、放射線グリッドである。
【００４９】
本発明の放射線撮像装置の一態様では、前記所定の素子は、前記検出手段である。
【００５０】
本発明の撮像装置は、被写体の撮像を行う撮像装置であって、前記被写体の画像を得るための読み出しセンサを備え、前記読み出しセンサからの信号読み出し期間中には、当該読み出しセンサを振動の収束した定常状態で移動させることを特徴とする。
【００５１】
本発明の撮像装置は、被写体の撮像を行う撮像装置であって、前記被写体の画像を得るための読み出しセンサを備え、前記読み出しセンサからの信号読み出し期間中には、当該読み出しセンサを等加速度で移動させることを特徴とする。
【００５２】
本発明の記録媒体は、前記放射線撮像装置を構成する各構成要素としてコンピュータを機能させるためのプログラムを格納したコンピュータ読取り可能なものである。
【００５３】
本発明の記録媒体は、前記放射線撮像方法の処理手順を実行させるためのプログラムを格納したコンピュータ読取り可能なものである。
【００５４】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を詳細に説明する。
【００５５】
（第１の実施形態）
図１は、本発明の一実施形態を示すＸ線撮像システムの構成を示すブロック図である。
ここで、１０はＸ線室、１２はＸ線制御室、１４は診断室である。
【００５６】
Ｘ線制御室１２には、本Ｘ線撮像システムの全体的な動作を制御するシステム制御器２０が配置される。Ｘ線曝射要求ＳＷ、タッチパネル、マウス、キーボード、ジョイスティック及びフットスイッチなどからなる操作者インターフェース２２は、操作者２１が種々の指令をシステム制御器２０に入力するのに使用される。操作者２１の指示内容は、例えば、撮影条件（静止画／動画、Ｘ線管電圧、管電流及びＸ線照射時間など）、撮影タイミング、画像処理条件、被検者ＩＤ及び取込み画像の処理方法などがある。撮像制御器２４は、Ｘ線室１０に置かれるＸ線撮像系を制御し、画像処理器２６はＸ線室１０のＸ線撮像系による画像を画像処理する。画像処理器２６における画像処理は、例えば、画像データの補正、空間フィルタリング、リカーシブ処理、階調処理、散乱線補正及びダイナミックレンジ（ＤＲ）圧縮処理などである。
【００５７】
２８は、画像処理器２６により処理された基本画像データを記憶する大容量高速の記憶装置であり、例えば、（ＲＡＩＤ）等のハードディスクアレーからなる。３０は映像を表示するモニタディスプレイ（以下、モニタと略す。）、３２はモニタ３０を制御して種々の文字及び画像を表示させる表示制御器、３４は、大容量の外部記憶装置（例えば、光磁気ディスク）、３６はＸ線制御室１２と診断室１４とを接続し、Ｘ線室１０での撮影画像などを診断室１４の装置に転送するＬＡＮボードである。
【００５８】
Ｘ線室１０には、Ｘ線を発生するＸ線発生器４０が置かれる。Ｘ線発生器４０は、Ｘ線を発生するＸ線管球４２、撮像制御器２４により制御されてＸ線管球４２を駆動する高圧発生源４４、及びＸ線管球４２により発生されたＸ線ビームを所望の撮像領域に絞り込むＸ線絞り４６からなる。撮影用寝台４８上に被検体としての患者５０が横たわる。撮影用寝台４８は、撮像制御器２４からの制御信号に従って駆動され、Ｘ線発生器４０からのＸ線ビームに対する患者の向きを変更できる。撮影用寝台４８の下には、被検体５０及び撮影用寝台４８を透過したＸ線ビームを検出するＸ線検出器５２が配置されている。
【００５９】
Ｘ線検出器５２は、グリッド５４、シンチレータ５６、光検出器アレー５８及びＸ線露光量モニタ６０の積層体と、光検出器アレー５８を駆動する駆動器６２とからなる。グリッド５４は、被検体５０を透過することによって生じるＸ線散乱の影響を低減するために設けられている。グリッド５４はＸ線低吸収部材と高吸収部材とからなり、例えば、ＡｌとＰｂのストライプ構造からなる。光検出器アレー５８とグリッド５４との格子比の関係によりモアレが生じていることがないように、Ｘ線照射時には、Ｘ線検出器５２は、撮像制御器２４からの設定に基づいて駆動器６２の制御信号に従いグリッド５４を振動させる。
【００６０】
シンチレータ５６では、エネルギーの高いＸ線によって蛍光体の母体物質が励起（吸収）され、その再結合エネルギーにより可視領域の蛍光が発生する。即ち、Ｘ線を可視光に変換する。
【００６１】
その蛍光はＣａＷｏ4やＣｄＷｏ4などの母体自身によるものや、ＣｓＩ：Ｔ１やＺｎＳ：Ａｇなどの母体内に付加された発光中心物質によるものがある。光検出器アレー５８は、シンチレータ５６による可視光を電気信号に変換する。
【００６２】
Ｘ線露光量モニタ６０は、Ｘ線透過量を監視する目的で配置される。Ｘ線露光量モニタ６０としては、結晶シリコンの受光素子などを用いて直接Ｘ線を検出しても良いし、シンチレータ５６による蛍光を検出してもよい。この実施形態では、Ｘ線露光量モニタ６０は、光検出器アレー５８の基板裏面に成膜されたアモルファス・シリコン受光素子からなり、光検出器アレー５８を透過した過視光（Ｘ線量に比例する。）を検知して、その光量情報を撮像制御器２４に伝達する。撮像制御器２４は、Ｘ線露光量モニタ６０からの情報に基づいて高圧発生電源４０を制御し、Ｘ線量を調節する。
【００６３】
駆動器６２は、撮像制御器２４の制御下で光検出器アレー５８を駆動し、各画素から信号を読み出す。なお、光検出器アレー５８及び駆動器６２の動作については、後で詳細に説明する。
【００６４】
診断室１４には、ＬＡＮボード３６からの画像を画像処理したり、診断支援する画像処理端末７０やＬＡＮボード３６からの画像（動画像／静止画）を映像表示モニタ７２、イメージ・プリンタ７４及び画像データを格納するファイルサーバ７６が設けられている。
【００６５】
なお、システム制御器２０からの各機器に対する制御信号は、Ｘ線制御室１２内の操作者インターフェース２２、或いは、診断室１４内にある画像処理端末７０からの指示により発生可能である。
【００６６】
次に、システム制御器２０の基本的な動作を説明する。
システム制御器２０は、Ｘ線撮像系のシーケンスを制御する撮像制御器２４に、操作者２１の指示に基づいて撮影条件を指令し、撮像制御器２４は、その指令に基づき、Ｘ線発生器４０、撮影用寝台４８及びＸ線検出器５２を駆動して、Ｘ線像を撮影させる。Ｘ線検出器５２から出力されるＸ線画像信号は、画像処理器２６に供給され、操作者２１指定の画像処理を施されてモニタ３０に画像表示され、同時に、基本画像データとして記憶装置２８に格納される。システム制御器２０は更に、操作者２１の指示に基づいて、再画像処理とその結果の画像表示、ネットワーク上の装置への画像データの転送、保存、映像表示及びフィルム印刷等を実行する。
【００６７】
次に、信号の流れに従って、図１に示すシステムの基本的な動作を説明する。Ｘ線発生器４０の高圧電圧源４４は、撮像制御器２４からの制御信号に従いＸ線管球４２にＸ線発生のための高圧を印加する。これにより、Ｘ線管球４２はＸ線ビームを発生する。発生されたＸ線ビームはＸ線絞り４６を介して被検体たる患者５０に照射される。Ｘ線絞り４６は、Ｘ線ビームを照射すべき位置に応じて撮像制御器２４により制御される。即ち、Ｘ線絞り４６は、撮像領域の変更に伴い、不必要なＸ線照射を行なわないようにＸ線ビームを整形する。
【００６８】
Ｘ線発生器４０が出力するＸ線ビームは、Ｘ線透過性の撮影用寝台４８の上に横たわった被検体５０、及び撮影用寝台４８を透過してＸ線検出器５２に入射する。なお、撮影用寝台４８は、被検体の異なる部位又は方向でＸ線ビームが透過するように撮像制御器２４により制御される。
【００６９】
Ｘ線検出器５２のグリッド５４は、被検体５０を透過することによって生じるＸ線散乱の影響を低減する。撮像制御器２４は、光検出器アレー５８とグリッド５４との格子比の関係によりモアレが生じないように、Ｘ線照射時にグリッド５４を振動させる。シンチレータ５６では、エネルギーの高いＸ線によって蛍光体の母体物質が励起（Ｘ線を吸収）され、その際に発生する再結合エネルギーにより可視領域の蛍光を発生する。シンチレータ５６に隣接して配置された光検出器アレー５８は、シンチレータ５６で発生する蛍光を電気信号に変換する。即ち、シンチレータ５６がＸ線像を過視光像に変換し、光検出器アレー５８が過視光像を電気信号に変換する。Ｘ線露光量モニタ６０は、光検出器アレー５８を透過した過視光（Ｘ線量に比例）を検出し、その検出量情報を撮像制御器２４に供給する。撮像制御器２４は、このＸ線露光量情報に基づき高圧発生電源４４を制御して、Ｘ線を遮断又は調節する。駆動器６２は、撮像制御器２４の制御下で光検出器アレー５８を駆動し、各光検出器から画素信号を読み出す。なお、光検出器アレー５８と駆動器６２の詳細については、後述する。
【００７０】
Ｘ線検出器５２から出力される画素信号は、Ｘ線制御室１２内の画像処理器２６に印加される。Ｘ線室１０内はＸ線発生に伴うノイズが大きいので、Ｘ線検出器５２から画像処理器２６への信号伝送路は耐雑音性の高いものである必要があり、具体的には、高度の誤り訂正機能を具備するディジタル伝送系としたり、差動ドライバによるシールド付きより対線又は光ファイバを用いることが望ましいことはいうまでもない。
【００７１】
画像処理器２６は、詳細は後述するが、システム制御器２０からの指令に基づき画像信号の表示形式を切り換えるが、その他には、画像信号の補正、空間フィルタリング及びリカーシブ処理などをリアルタイムで行ない、階調処理、散乱線補正及びＤＲ圧縮処理などを実行できる。画像処理器２６により処理された画像は、モニタ３０の画面に表示される。
【００７２】
リアルタイム画像処理と同時に、画像補正のみを行なわれた画像情報（基本画像）は、記憶装置２８に保存される。また、操作者２１の指示に基づいて、記憶装置２８に格納される画像情報は、所定の規格（例えば、Ｉｍａｇｅ  Ｓａｖｅ＆Ｃａｒｒｙ（ＩＳ＆Ｃ））を満たすように再構成された後に、外部記憶装置３４及びファイル・サーバ７６内のハードディスクなどに格納される。
【００７３】
Ｘ線制御室１２の装置は、ＬＡＮボード３６を介してＬＡＮ（又はＷＡＮ）に接続する。
ＬＡＮには、複数のＸ線撮像システムを接続できることは勿論である。ＬＡＮボード３６は、所定のプロトコル（例えば、Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｉｍａｇｉｎｇ  ａｎｄ  Ｃｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎｓ  ｉｎ  Ｍｅｄｉｃｉｎｅ（ＤＩＣＯＭ））に従って、画像データを出力する。ＬＡＮ（又はＷＡＮ）に接続されたモニタ７２の画面にＸ線画像を高解像静止画及び動画を表示することにより、Ｘ線撮影とほぼ同時に、医師によるリアルタイム遠隔診断が可能になる。
【００７４】
図２は、光検出器アレー５８の構成単位の等価回路の一例を示す回路図である。
１つの素子は、光検出部８０と電荷の蓄積及び読み取りを制御するスイッチング薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）８２とからなり、一般には、ガラス基板上にアモルファスシリコン（ａ−Ｓｉ）により形成される。光検出部８０は更に、光ダイオード８０ａとコンデンサ８０ｂの並列回路、及び、前記コンデンサ８０ｂと直列に接続されたコンデンサ８０ｃとからなる。また、光電効果による電荷を定電流源８１として記述している。コンデンサ８０ｂは光ダイオード８０ａの寄生容量でも、光ダイオード８０ａのダイナミックレンジを改善する追加的なコンデンサでもよい。光検出部８０の共通バイアス電極（以下、Ｄ電極）はバイアス配線Ｌｂを介してバイアス電源８４に接続する。光検出部８０のスイッチングＴＦＴ８２側電極（以下、Ｇ電極）は、スイッチングＴＦＴ８２を介してコンデンサ８６及び電荷読出し用プリアンプ８８に接続する。プリアンプ８８の入力はまた、リセット用スイッチ９０及び信号線バイアス電源９１を介してアースに接続する。
【００７５】
ここで、図３を用いて光検出部８０のデバイス動作について説明する。
図３（ａ）、（ｂ）はそれぞれ本実施形態のリフレッシュ及び光電変換モードの動作を示す光電変換素子のエネルギバンド図であり、各層の厚さ方向の状態を表している。３０１はＣｒで形成された下部電極（Ｇ電極）である。３０２は電子、ホール共に通過を阻止するＳｉＮで形成された絶縁層であり、その厚みはトンネル効果により電子、ホールが移動できないほどの厚さである５０ｎｍ以上に設定される。３０３は水素化アモルファスシリコンａ−Ｓｉの真性半導体ｉ層で形成された光電変換半導体層、３０４は光電変換半導体層３０３へのホールの注入を阻止するａ−Ｓｉのｎ層の注入阻止層、３０５はＡｌで形成される上部電極（Ｄ電極）である。本実施形態ではＤ電極はｎ層を完全には覆っていないがＤ電極とｎ層との間は電子の移動が自由に行われるためＤ電極とｎ層の電位は常に同電位であり以下の説明ではそれを前提としている。本光電変換素子にはＤ電極、Ｇ電極の電圧印加の仕方によりリフレッシュモードと光電変換モードとの２種類の動作がある。
【００７６】
図３（ａ）において、Ｄ電極はＧ電極に対して負の電位が与えられており、ｉ層３０３中の黒丸で示されたホールは電界によりＤ電極に導かれる。同時に白丸で示された電子はｉ層３０３に注入される。このとき一部のホールと電子はｎ層３０４，ｉ層３０３において再結合して消滅する。十分に長い時間この状態が続けばｉ層３０３内のホールはｉ層３０４から掃き出される。
【００７７】
この状態から光電変換モードの図３（ｂ）のようにするには、Ｄ電極にＧ電極に対して正の電位を与える。するとｉ層３０３中の電子は瞬時にＤ電極に導かれる。しかし、ホールはｎ層３０４が注入阻止層として働くためｉ層３０３に導かれる事はない。この状態でｉ層３０３に光が入射すると、光は吸収されて電子・ホール対が発生する。この電子は電界によりＤ電極に導かれ、ホールはｉ層３０３内を移動してｉ層３０３と絶縁層３０２との界面に達する。しかし、絶縁層３０２内には移動できないため、ｉ層３０３内の絶縁層３０２界面に移動するため、素子内の電気的中性を保つため電流がＧ電極から流れる。この電流は光により発生した電子・ホール対に対応するため、入射した光に比例する。ある期間、光電変換モードの図３（ｂ）の状態を保った後、再びリフレッシュモードの図３（ａ）の状態になると、ｉ層３０３に留まっていたホールは前述のようにＤ電極に導かれ、同時にこのホールに対応した電流が流れる。このホールの量は光電変換モード期間に入射した光の総量に対応する。この時、ｉ層３０３内に注入される電子の量に対応した電流も流れるが、この量はおよそ一定であるため差し引いて検出すればよい。つまり、本実施形態においての光電変換素子はリアルタイムに入射する光の量を出力すると同時に、ある期間に入射した光の総量も出力する事もできる。
【００７８】
しかしながら、何等かの理由により光電変換モードの期間が長くなったり、入射する光の照度が強い場合、光の入射があるにもかかわらず電流が流れない事がある。これは図３（ｃ）のように、ｉ層３０３内にホールが多数留まり、このホールのためｉ層３０３内のホールと再結合してしまうからである。この状態で光の入射の状態が変化すると、電流が不安定に流れる事もあるが、再びリフレッシュモードにすればｉ層３０３のホールは掃き出され次の光電変換モードでは再び光に比例した電流が流れる。
【００７９】
また、前述の説明において、リフレッシュモードでｉ層３０３内のホールを掃き出す場合、全てのホールを掃き出すのが理想であるが、一部のホールを引き出すだけでも効果は有り、前述と等しい電流が得られ、問題はない。つまり、次の光電変換モードでの検出機会において図３（ｃ）の状態になっていなければよく、リフレッシュモードでのＤ電極のＧ電極に対する電位、リフレッシュモードの期間及びｎ層３０４の注入阻止層の特性を決めればよい。また、更にリフレッシュモードにおいてｉ層３０３への電子の注入は必要条件ではなく、Ｄ電極のＧ電極に対する電位は負に限定されるものでもない。ホールが多数ｉ層３０３に留まっている場合には例えＤ電極のＧ電極に対する電位が上であってもｉ層３０３内の電界はホールをＤ電極に導く方向に加わるからである。ｎ層３０４の注入阻止層の特性も同様に電子をｉ層３０３に注入できる事が必要条件ではない。
【００８０】
図２に戻り、１画素の信号の読み出しについて述べる。
先ず、スイッチングＴＦＴ８２とリセット用スイッチ９０を一時的にオンにし、バイアス電源８４をリフレッシュモード時の電位に設定する。コンデンサ８０ｂ，８０ｃがリセットされた後に、バイアス電源８４を光電変換モード時の電位に設定し、スイッチングＴＦＴ８２とリセット用スイッチ９０を順次オフにする。一その後、Ｘ線を発生させて、被検体５０に曝射する。シンチレータ５４が被検体５０を透過してＸ線像を可視光線像に変換し、光ダイオード８０ａは、その可視光線像により導通状態になり、コンデンサ８０ｂの電荷を放電させる。スイッチングＴＦＴ８２をオンにして、コンデンサ８０ｂとコンデンサ８６を接続する。これにより、コンデンサ８０ｃの情報がコンデンサ８６にも伝達される。プリアンプ８８によりコンデンサ８６の蓄積電荷による電圧の増幅、もしくは点線で示されたコンデンサ８９により電荷−電圧変換され、外部に出力される。
【００８１】
図４は、光検出器アレー５８の構成単位の等価回路の別の一例を示す回路図である。
１つの素子は、光検出部８０と電荷の蓄積及び読み取りを制御するスイッチング薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）８２とからなり、一般には、ガラス基板上にアモルファスシリコン（ａ−Ｓｉ）により形成される。光検出部８０は更に、光ダイオード８０ａとコンデンサ８０ｂの並列回路からなり、光電効果による電荷を定電流源８１として記述している。コンデンサ８０ｂは光ダイオード８０ａの寄生容量でも、光ダイオード８０ａのダイナミックレンジを改善する追加的なコンデンサでもよい。光検出部８０（光ダイオード８０ａ）のカソードは共通電極（Ｄ電極）であるバイアス配線Ｌｂを介してバイアス電源８５に接続する。光検出部８０（光ダイオード８０ａ）のアノードは、ゲート電極（Ｇ電極）からスイッチングＴＦＴ８２を介してコンデンサ８６及び電荷読出し用プリアンプ８８に接続する。プリアンプ８８の入力はまた、リセット用スイッチ９０及び信号線バイアス電源９１を介してアースに接続する。
【００８２】
先ず、スイッチングＴＦＴ８２とリセット用スイッチ９０を一時的にオンにして、コンデンサ８０ｂをリセットし、スイッチングＴＦＴ８２とリセット用スイッチ９０をオフにする。その後、Ｘ線を発生させて、被検体５０に曝射する。シンチレータ５４が被検体５０を透過してＸ線像を可視光線像に変換し、光ダイオード８０ａは、その可視光線像により導通状態になり、コンデンサ８０ｂの電荷を放電させる。スイッチングＴＦＴ８２をオンにして、コンデンサ８０ｂとコンデンサ８６を接続する。これにより、コンデンサ８０ｂの放電量の情報がコンデンサ８６にも伝達される。プリアンプ８８によりコンデンサ８６の蓄積電荷による電圧の増幅、もしくは点線で示されたコンデンサ８９により電荷−電圧変換され、外部に出力される。
【００８３】
次に、図２、図４に示す光電変換素子を２次元に拡張して構成した場合の光電変換動作を説明する。図５は２次元配列の光電変換素子を具備する光検出器アレー５８の等価回路である。
２次元読み出し動作は前記２種類の等価回路において同様であるので、図５は、図４に示した等価回路を用いて示している。
【００８４】
光検出器アレー５８は、２０００×２０００〜４０００×４０００程度の画素から構成され、アレー面積は２００ｍｍ×２００ｍｍ〜５００ｍｍ×５００ｍｍ程度である。図３では、光検出器アレー５８は４０９６×４０９６の画素から構成され、アレー面積は４３０ｍｍ×４３０ｍｍである。従って、１画素のサイズは約１０５μｍ×１０５μｍである。横方向に配置した４０９６個の画素を１ブロックとし、４０９６個のブロックを縦方向に配置して、２次元構成としている。
【００８５】
図５では、４０９６×４０９６画素からなる光検出器アレーを１枚の基板で構成しているが、２０４８×２０４８画素を持つ４枚の光検出器アレーを組み合わせてもよいことは勿論である。この場合、４つの光検出器アレーを組み付ける手間が発生するものの、各光検出器アレーの歩留まりが向上するので、全体としても歩留まりが向上するという利点がある。
【００８６】
図２、図４で説明したように、１つの画素は、１つの光検出部８０とスイッチングＴＦＴ８２とからなる。光電変換素子ＰＤ（１，１）〜（４０９６，４０９６）は光検出部８０に対応し、転送用スイッチＳＷ（１，１）〜（４０９６，４０９６）はスイッチングＴＦＴ８２に対応する。光電変換素子ＰＤ（ｍ，ｎ）のゲート電極（Ｇ電極）は、対応するスイッチＳＷ（ｍ，ｎ）を介してその列に対する共通の列信号線Ｌｃｍに接続する。例えば、第１列の光電変換素子ＰＤ（１，１）〜（４０９６，１）は、第１の列信号線Ｌｃ１に接続する。各光電変換素子ＰＤ（ｍ，ｎ）の共通電極（Ｄ電極）は全て、バイアス配線Ｌｂを介してバイアス電源８５に接続する。
【００８７】
同じ行のスイッチＳＷ（ｍ，ｎ）の制御端子は、共通の行選択線Ｌｒｎに接続する。例えば、第１行のスイッチＳＷ（１，１）〜（１，４０９６）は、行選択線Ｌｒ１に接続する。行選択線Ｌｒ１〜４０９６は、ラインセレクタ９２を介して撮像制御器２４に接続する。ラインセレクタ９２は、撮像制御器２４からの制御信号を解読し、どのラインの光電変換素子の信号電荷を読み出すべきかを決定するアドレスデコーダ９４と、アドレスデコ一ダ９４の出力に従って開閉される４０９６個のスイッチ素子９６から構成される。この構成により、任意のラインＬｒｎに接続するスイッチＳＷ（ｍ，ｎ）に接続する光電変換素子ＰＤ（ｍ，ｎ）の信号電荷を読み出すことができる。ラインセレクタ９２は、最も簡単な構成としては、単に液晶ディスプレイなどに用いられているシフトレジスタによって構成してもよい。
【００８８】
列信号線Ｌｃ１〜４０９６は、撮像制御器２４により制御される信号読出し回路１００に接続する。信号読出し回路１００で、１０２−１〜４０９６はリセット用スイッチであり、それぞれ列信号線Ｌｃ１〜４０９６をリセット基準電位１０１にリセットする。１０６−１〜４０９６は、それぞれ列信号線Ｌｃ１〜４０９６からの信号電位を増幅するプリアンプ、１０８−１〜４０９６はそれぞれプリアンプ、１０６−１〜４０９６の出力をサンプルホールドするサンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回路１０８−１〜４０９６の出力を時間軸上で多重化するアナログ・マルチプレクサ、１１２はマルチプレクサ１１０のアナログ出力をディジタル化するＡ／Ｄ変換器である。Ａ／Ｄ変換器１１２の出力は画像処理器２６に供給される。
【００８９】
図３に示す光検出器アレーでは、４０９６×４０９６個の画素を列信号線Ｌｃ１〜４０９６により４０９６個の列に分け、１行あたりの４０９６画素の信号電荷を同時に読み出し、各列信号線Ｌｃ１〜４０９６、プリアンプ１０６−１〜４０９６及びＳ／Ｈ回路１０８−１〜４０９６を介してアナログ・マルチプレクサ１１０に転送し、ここで時間軸多重化して、順次、Ａ／Ｄ変換器１１２によりディジタル信号に変換する。
【００９０】
図３では、信号読出し回路１００が、１つのＡ／Ｄ変換器１１２のみを具備するように図示されているが、実際には４〜３２系統で同時にＡ／Ｄ変換を実行する。これは、アナログ信号帯域とＡ／Ｄ変換レートを不必要に大きくすることなく、画像信号の読み取り時間を短くすることが要求されるためである。信号電荷の蓄積時間とＡ／Ｄ変換時間とは密接な関係にある。高速にＡ／Ｄ変換を行なうとアナログ回路の帯域が広くなり所望のＳ／Ｎを達成することが難しくなるので、通常は、Ａ／Ｄ変換速度を不必要に速くすることなく、画像信号の読み取り時間を短くすることが要求される。多くのＡ／Ｄ変換器でマルチプレクサ１１０の出力をＡ／Ｄ変換すればよいが、Ａ／Ｄ変換器の数を増せば、それだけコストが高くなる。よって、上述の点を考慮して適当な数のＡ／Ｄ変換器を用いる。
【００９１】
Ｘ線の照射時間はおよそ１０〜５００ｍｓｅｃであるので、全画面の取り込み時間あるいは電荷蓄積時間を１００ｍｓｅｃのオーダーあるいはやや短めにすることが適当である。
【００９２】
例えば、全画素を順次駆動して１００ｍｓｅｃで画像を取り込むためには、アナログ信号帯域を５０ＭＨｚ程度にし、例えば、１０ＭＨｚのサンプリングレートでＡ／Ｄ変換を行なうと、最低でも４系統のＡ／Ｄ変換器が必要になる。本実施形態では、１６系統で同時にＡ／Ｄ変換を行なう。１６系統のＡ／Ｄ変換器の出力はそれぞれに対応する１６系統の図示しないメモリ（ＦＩＦＯなど）に入力される。そのメモリを選択して切り替えることにより、連続した１ラインの走査線にあたる画像データが画像処理器２６に転送される。
【００９３】
図６はセンサ読み出しの概要タイミングチャートであり、図５と併せて１回のＸ線照射により静止画撮像を行う場合の二次元駆動について述べる。
６０１は、Ｘ線への曝射要求制御信号、６０２はＸ線の曝射状態、６０３はセンサ内電流源８１の電流、６０４は行選択線Ｌｒｎの制御状態、６０５はＡＤ変換器１１２へのアナログ入力をそれぞれ模式的に示している。
【００９４】
図２参照の等価回路センサでは、先ず、駆動器６２はバイアス配線をリフレッシュモード時のバイアス値Ｖｒにし、全ての列信号配線Ｌｃ１〜４０９６を、列信号配線Ｌｃの所期バイアス値に初期化するためにリセット基準電位１０１に接続し、全ての行選択配線Ｌｒ１〜４０９６に正電圧Ｖｇｈを印加する。すると、ＳＷ（１，１）〜（４０９６，４０９６）がオンし、全ての光電変換素子のＧ電極はＶｂｔに、Ｄ電極はＶｒにリフレッシュされる。
【００９５】
その後、駆動器６２はバイアス配線Ｌｂを光電変換時のバイアス値Ｖｓにし、全ての列信号配線Ｌｃ１〜４０９６をリセット基準電位１０１から開放にし、ＳＷ（１，１）〜（４０９６，４０９６）をオフするために全ての行選択配線Ｌｒ１〜４０９６に電圧Ｖｇ１を印加する。これにより、光電変換モードヘ移行する。
【００９６】
ここからは図２、図４参照のそれぞれの等価回路センサに共通の動作であるので、同時に説明を加える。バイアス配線を光電変換時のバイアス値Ｖｓのまま、全ての列信号配線Ｌｃをリセット基準電位１０１に接続し、列信号線をリセットする。その後、行選択配線Ｌｒ１に正電圧Ｖｇｈを印加し、ＳＷ（１，１）〜（１，４０９６）をオンし、第１列の光電変換素子のＧ電極をＶｂｔにリセットする。次に行選択配線Ｌｒ１を正電圧Ｖｇ１にしてＳＷ（１，１）〜（１，４０９６）をオフする。
【００９７】
行の選択を順次繰り返し、全ての画素のリセットを行い撮影準備が完了する。以上の動作は信号電荷の読み出し操作と同じであり、信号電荷を取り込むか否かの差しかないので、このリセット操作を以後「空読み」と呼ぶ。この空読み動作中で、行選択配線Ｌｒを全て同時にＶｇｈにする事は可能であるが、この場合では読み出し準備完了時に、信号配線電位がリセット電圧Ｖｂｔから大きくずれることなり、高Ｓ／Ｎの信号を得ることが難しい。また、前述の例では、行選択配線Ｌｒを１から４０９６ヘリセットしたが、撮像制御器２４の設定に基づいた駆動器６２の制御により任意の順番でリセットを行うことが可能である。
【００９８】
空読み動作を繰り返して、Ｘ線の曝射要求を待つ。
曝射要求が発生すると、画像取得準備のために、再度空読み動作を行いＸ線曝射に備える。画像取得準備が整った時に、撮像制御機２４の指示に従いＸ線が曝射される。
【００９９】
Ｘ線曝射後、光電変換素子８０の信号電荷を読み出す。まず、光電変換素子アレーのある行（例えばＬｒ１）に対する行選択配線ＬｒにＶｇｈを印加し、蓄積電荷信号を信号配線Ｌｃ１〜４０９６に出力する。列信号配線Ｌｃ１〜４０９６から１列ずつ４０９６画素分の信号を同時に読み出す。
【０１００】
次に、異なる行選択配線Ｌｒ（例えぱＬｒ２）にＶｇｈを印加し、蓄積電荷信号を信号配線Ｌｃ１〜４０９６に出力する。列信号配線Ｌｃ１〜４０９６から１列づつ４０９６画素分の信号を同時に読み出す。この動作を４０９６の列信号配線に順次繰り返す事により、すべての画像情報を読み出す。
【０１０１】
前記動作中、各センサの電荷蓄積時間は、リセット動作が完了した時、即ち空読み時のＴＦＴ８２をオフしてから、次に電荷読み出しが行われるためにＴＦＴ８２がオンするまでの間である。従って、各行選択毎に蓄積時間及び時刻が異なる。
【０１０２】
Ｘ線画像を読み出した後、補正用画像を取得する。これは、Ｘ線画像の補正に使用するためであり、高画質の画像を取得するために必要な補正データである。基本的な画像取得方法はＸ線を曝射しない点以外は同じである。電荷蓄積時間は、Ｘ線画像を読み出す際と、補正画像を読み出す際とで同じにする。
【０１０３】
また、高分解能の画像情報が必要でない場合や画像データ取り迅速度を速くしたい場合には、すべての画像情報を常に取り込む必要はなく、操作者２１の撮影方法の選択により、撮像制御器２４は、間引き、画素平均、領域抽出の駆動指示を駆動器６２に設定する。
【０１０４】
間引きを行うには、まず、行選択配線Ｌｒ１を選択し、列信号配線Ｌｃから信号を出力する際に、例えばＬｃ２ｎ−１（ｎ：自然数）のｎを０から１つずつ増加させるように１列の読み出しを行い、その後、行を選択する際、行選択配線Ｌｒ２ｍ−１（ｍ：自然数）のｍを１から１つずつ増加させて、１行の信号を読み出す事により行われる。この例では画素数を１／４に間引いたことになるが、撮像制御器２４の設定指示に従って駆動器６２は、１／９，１／１６などに画素数を間引く。
【０１０５】
また、画素平均について、上述の動作中、行選択配線Ｌｒ２ｍとＬｒ２ｍ＋１とに同時にＶｇｈを印加する事により、ＴＦＴ２ｍ，２ｎとＴＦＴ２ｍ＋１，２ｎとが同時にターンオンし、列方向の２画素のアナログ加算を行う事が可能である。これは２画素の加算に限ったものではなく、列信号配線方向の複数画素のアナログ加算を容易に行う事ができることを表している。更に、行方向の加算については、Ａ／Ｄ変換出力後に隣り合う画素（Ｌｃ２ｎとＬｃ２ｎ＋１）をディジタル加算する事により、上述のアナログ加算と合わせて、２×２の正方形画素の加算値を得る事ができる。これにより、照射されたＸ線を無駄にすることなく、高速にデータを読み出す事が可能である。
【０１０６】
その他、総画素数を減らして高速化を目指す方法として、画像の取込領域を制限する方法がある。これは、操作者２１が必要な領域を操作者インターフェース２２から入力し、それに基づいて撮像制御器２４は駆動器６２に指示を出し、駆動器６２はデータ取込範囲を変更して二次元検出器アレーを駆動する。
【０１０７】
本実施形態では高速取込モードでは１０２４×１０２４の画素を３０Ｆ／Ｓで取り込む。すなわち、２次元検出器アレーの全領域では４×４画素の加算処理を行い１／１６に間引き、最も小さい範囲では１０２４×１０２４の領域で間引きなしで撮像する。このように撮像する事で、ディジタルズーム画像が得られる。
【０１０８】
図７はＸ線検出器５２の撮像動作を含むタイミングチャートである。図７を中心にＸ線検出器５２の動作について説明する。
７０１は操作者インターフェース２２に対する撮像要求信号、７０２は実Ｘ線曝射状態、７０３は操作者２１の指示に基づいた撮像制御器２４から駆動器６２への撮影要求信号、７０４はＸ秤検出器５２の撮影レディ信号、７０５はグリッド５４の駆動信号、７０６はＸ線検出器５２内のパワー制御信号、７０７はＸ線検出器の駆動状態（特に光検出器アレー５８からの電荷読み出し動作）をそれぞれしている。７０８は画像データの転送状態や、画像処理や表示の状態を概念的に表している。
【０１０９】
操作者２１からの検出器準備要求または撮影要求が有るまで、駆動器６２は７０６に示すようにパワー制御をオフ状態で待機する。具体的には、図５において行選択線Ｌｒ、列信号線Ｌｃ、バイアス配線Ｌｂの電位を図示しないスイッチにより同電位（特に信号ＧＮＤレベル）に保ち、光検出器アレー５８にバイアスを印加しない。更には、信号読出し回路１００、ラインセレクタ９２、バイアス電源８４または８５を含む電源を遮断することにより、前記行選択線Ｌｒ、列信号線Ｌｃ、バイアス配線Ｌｂの電位をＧＮＤ電位に保っても良い。
【０１１０】
操作者２１の操作者インターフェース２２に対する撮影準備の要求指示（７０１：１ｓｔＳＷ）により、撮像制御器２４はＸ線発生器４０を撮影レディ状態に遷移させるとともに、Ｘ線検出器５２に対して撮影準備状態へ移行させる指示を出す。指示を受けた駆動器６２は光検出器アレー５８にバイアスを印加するとともに、（リフレッシュ及び）空読みＦｉを繰り返す。要求指示は、例えば、Ｘ線発生装置への曝射要求ＳＷの１ｓｔスイッチ（通常は管球のロータアップなどが開始される。）や、Ｘ線検出器５２が撮影準備のために所定時間（数秒以上）を要する場合などは、Ｘ線検出器５２の準備を開始するための指示である。
【０１１１】
この場合、操作者２１が、Ｘ線検出器５２に対すじで意識的に撮影準備の要求指示を出さなくても良い。即ち、操作者インターフェース２２に対して、患者情報、撮影情報などが入力されたことをもって、撮像制御機２４は検出器準備の要求指示と解釈して、Ｘ線検出器５２を検出器準備状態へ移行させても良い。
【０１１２】
検出器準備状態では、光電変換モードにおいて、空読み後、光検出部８０に暗電流が徐々に蓄積されてコンデンサ８０ｂ（ｃ）が飽和状態で保持されることを避けるため、（リフレッシュＲ及び）空読みＦｉを所定間隔で繰り返す。この操作者２１からの撮影準備要求が有りながら実際のＸ線曝射要求が発生していない期間に行う駆動、即ち、検出器準備状態に行う空読みＦｉを所定時間間隔Ｔ１で繰り返す駆動を以後「アイドリング駆動」と呼び、アイドリング駆動を行っている検出器準備状態の期間を「アイドリング駆動期間」と呼ぶ。このアイドリング駆動期間は、どの程度続くかが実使用上、未定義のため、光検出器アレー５８（特にＴＦＴ８２）に負荷のかかる読み出し動作は極力少なくするためにＴ１は通常の撮影動作時よりも長く設定し、通常の読み出し駆動ＦｒよりもＴＦＴ８２のオン時間の短いアイドリング専用空読み駆動Ｆｉを行う。また、リフレッシュＲ動作が必要なセンサの場合には、空読みＦｉ数回に対して１回リフレッシュＲ動作を行うようにする。
【０１１３】
次に、Ｘ線検出器５２を中心としたＸ線画像取得について述べる。
Ｘ線検出器５２のＸ線画像取得時の駆動は大きく二つの画像取得からなる。７０７に示した通り、１つはＸ線画像取得駆動であり、残りは補正用暗画像取得駆動である。それぞれの駆動は概ね同じであり、Ｘ線曝射が行われる動作が有るか否かが主な違いである。更にそれぞれの駆動とも、撮像準備シーケンス、電荷蓄積（曝射ウィンドウ）、画像読み出しの３つの部分から構成される。
【０１１４】
以下、順を追ってＸ線画像取得について述べる。
操作者２１から操作者インターフェース２２に対す撮影要求指示（７０１：２ｎｄＳＷ）により、撮像制御器２４はＸ線発生器４０とＸ線検出器５２との同期を取りながら撮影動作を制御する。撮影要求指示（７０１：２ｎｄＳＷ）に従いＸ線曝射要求信号７０３に示すタイミングでＸ線検出器に対し、撮像要求信号をアサートする。駆動器は撮像要求信号に呼応して撮像駆動状態７０７に示すように所定の撮像準備シーケンス駆動を行う。具体的には、リフレッシュが必要な場合はリフレッシュを行い、そして、撮像シーケンスのための専用空読みＦＰを所定回数及び電荷蓄積状態専用空読みＦｐｆを行って電荷蓄積状態（撮像ウィンドウ：Ｔ４）に遷移する。
【０１１５】
その際、撮像シーケンスのための空読みＦｐの回数及び時間間隔Ｔ２は、撮像制御機２４から撮像要求に先んじて予め設定された値に基づいて行う。これは操作者２１の要求により操作性重視なのか画質重視なのか、または撮像部位により自動的に最適な駆動を選択して切り替える。曝射要求から撮影準備完了までの期間（Ｔ３）は所用時間が短いことが実使用上要求されるので、そのために撮像準備シーケンス専用空読みＦｐを行う。さらに、アイドリング駆動のいかなる状態からも曝射要求が発生した場合は、即時撮像準備シーケンス駆動に入ることにより曝射要求から撮影準備完了までの期問（Ｔ３）を短くすることにより、操作性の向上を図る。
【０１１６】
さて、駆動器６２は検出器アレー５８の撮像準備を行うのと同期して、グリッド５４を移動させ始める。これは実Ｘ線曝射７０２に同期してグリッドを最適な移動状態で撮像を行うためである。この場合も、駆動器６２は撮像制御器により設定された、最適グリッド移動開始タイミング、最適グリッド移動速度で動作する。
【０１１７】
本実施形態では、グリッド５４の動作による振動の影響を除去するため、加速度の変化が小さくなるようにグリッド５４の始動を制御するとともに、振動の影響を受けやすい電荷蓄積状態専用空読みＦｐｆを行う際にはグリッド５４は定速運動（停止又は等速運動）を行うように制御する。
【０１１８】
Ｘ線検出器５２の撮像準備が整った時点で、駆動器６２は撮像制御器２４に対し、Ｘ線検出器レディ信号７０４を返し、撮像制御器２４はこの信号の遷移を元にして、Ｘ線発生要求信号７０２としてＸ線発生器４ｑにアサートする。Ｘ線発生器４０は、Ｘ線発生要求信号７０２が与えられている間、Ｘ線を発生する。所定Ｘ線量を発生したら撮像制御器２４はＸ線発生要求信号７０２をネゲートするとともにＸ線撮像要求信号７０３をネゲートすることによりＸ線検出器５２へ画像取得タイミングを通知する。このタイミングを元にして駆動器６２は直ちにグリッド５４を静止し、それまで待機状態だった信号読出し回路１００の動作を開始させる。グリッド５４静止時間及び信号読み出し回路１００の安定のための所定ウェイト時間後、駆動器６２に基づいてＸ線検出器アレー５８から画像データを読み出して画像処理器２６に生画像を取得す乱軽挙が完了すると駆動器６２は読み出し回路１００を再び待機状態に遷移させる。
【０１１９】
本実施形態では、グリッド５４の動作による振動の影響を除去するため、最も振動ノイズの影響を受けやすいＸ線画像取得フレームＦｒｘｏ駆動前にグリッド５４が（静止を含む）定速運動をしているようにする。更に、Ｘ線検出器５２内に振動を測定するための振動センサを取り付けて、グリッドもしくはその他の要因による振動が所定値以下に収まったことを確認した後に、Ｘ線画像取得フレームＦｒｘｏ駆動を開始しても良い。
【０１２０】
引き続き、Ｘ線検出器５２は補正画像を取得する。即ち、先の撮像のための撮像シーケンスを繰り返し、Ｘ線照射の無い暗画像を取得し、画像処理器２６に補正用暗画像を転送する。
【０１２１】
この時、撮像シーケンスは撮影の度にＸ線曝射時間など若干異なる可能性が有るが、それも含めて全く同じ撮影シーケンスを再現して略画像を取得することにより、より高画質な画像が得られる。但し、グリッド５４の動作はこの限りでなく、略画像取得時には振動の影響を抑えるために静止させておくようにしてもよい。この場合、ほぼ画像を取得した後、画質に影響しない所定のタイミングでグリッド５４の初期化動作を行う。
【０１２２】
図８は画像処理器２６の画像データの流れを示している。８０１はデータパスを選択するマルチプレクサ、８０２及び８０３はそれぞれＸ線画像用及び略画像用フレームメモリ、８０４はオフセット補正回路、８０５はゲイン補正データ用フレームメモリ、８０６はゲイン補正用回路、８０７は欠陥補正回路、８０８はその他の画像処理回路を代表してそれぞれ現している。
【０１２３】
図７でＸ線画像取得フレームＦｒｘｏフレームで取得されたＸ線画像が、マルチプレクサ８０１を経由してＸ線画像用フレームメモリ８０２に記憶され、続いて補正画像取得フレームＦｒｎｏフレームで取得された補正画像が、同様にマルチプレクサ８０１を経由して暗画像用フレームメモリ８０３に記憶される。
【０１２４】
ほぼ画像の記憶完了から、オフセット補正回路８０４によりオフセット補正（例えばＦｒｘｏ−Ｆｒｎｏ）が行われ、引き続き予め取得されゲイン補正用フレームメモリに記憶してあるゲイン補正用データＦｇを用いて、ゲイン補正回路８０６がゲイン補正（例えば、（Ｆｒｘｏ−Ｆｒｎｏ）／Ｆｇ）を行う。引き続き欠陥補正回路８０７に転送されたデータは、不感画素や複数パネルで構成されたＸ線検出器５２のつなぎ日部などに違和感を生じないように画像を連続的に補間して、Ｘ線検出器５２に由来するセンサ依存の補正処理を完了する。更に、その他の画像処理回路８０８にて、一般的な画像処理、例えば、階調処理、周波数処理、強調処理などの処理を施した後、表示制御機３２に処理済データを転送して、モニタ３０に撮影画像を表示する。
【０１２５】
図９、図１０にグリッド５４の駆動機構の例を示す。
９０１はグリッド５４を保持するためのフレーム、９０２はフレーム９０１を振動させるためのカム機構であり、図示しないグリッド駆動用モータなどの回転機構に接続されている。
【０１２６】
図示しないグリッド駆動用モータは、駆動器６２の指示に従って図７に示したグリッド移動タイミングで回転、停止を行うことにより、グリッド５４を矢印の方向に移動、及び停止させる。１００１はグリッドを移動させるための弾性体、例えばバネなどであり、１００２は、グリッド５４を初期位置へ移動させるためのソレノイドなどの機構であり、１００３はグリッド５４を静止させるためのブレーキ機構である。初期化動作時は、ソレノイド機構１００２を動作させて破線で示した初期位置に移動させて、ブレーキ機構１００３で静止させる。駆動器６２の指示に基づいてブレーキを解除することによりグリッド５４を移動させる。更に所定のタイミングで駆動器６２の指示に従ってブレーキ機構１００３はグリッドを静止させる。
【０１２７】
以上説明したように、本実施形態のＸ線撮像装置によれば、極めて簡易な構成で、グリッド５４等の振動の影響を受けることなく容易且つ確実に良質の画像を得ることが可能となる。
【０１２８】
（第２の実施形態）
本実施形態では、Ｘ線室１０の内部は概ね図１と同じであり、共通するユニットの説明は割愛する。
４８ｂは撮影用寝台４８の一部で、図１１では透視システム用の寝台を示している。１１０１は透視用のＩＩ（イメージインテンシファイア）であり、Ｘ線検出器５２同様、撮像制御器２４により制御され、取得画像を画像処理器２６に転送後、モニタ３０もしくは図示しない透視画像専用モニタに表示する。Ｘ線検出器５２は、透視画像取得期間中は主に位置Ｂに位置し、単純撮影画像取得期間中は主に位置Ａに移動する。Ｘ線検出器５２の移動は撮像制御器２４からの撮影用寝台４８への指示により行われ、図示しないＸ線検出器５２を移動させるための機構手段により移動動作がなされる。
【０１２９】
図１２はＸ線検出器５２の撮像動作を含むタイミングチャートである。図１２を中心に本実施形態のＸ線検出器５２の動作について説明する。
図１２は概ね図７と同じであるので、異なる部分について主に解説を加える。
【０１３０】
１２０１は操作者インターフェース２２に対する撮像要求信号であり、図７では、単純Ｘ線撮影の要求状態を表していたが、今回は透視及び単純撮影の要求を現している。７０２は実Ｘ線曝射状態、７０３は操作者２１の指示に基づいた撮像制御器２４から駆動器６２への撮影要求信号、７０４はＸ線検出器５２の撮影レディ信号、７０５はグリッド５４の駆動信号、７０６はＸ線検出器５２内のパワー制御信号、７０７はＸ線検出器の駆動状態（特に光検出器アレー５８からの電荷読み出し動作）、７０８は画像データの転送状態や、画像処理や表示の状態を概念的に表している。さらに、１２０２はＸ線透視用のＸ線出力状態、１２０３はＸ線検出器５２の移動速度の概念、１２０４はＸ線検出器５２の位置をそれぞれ現している。
【０１３１】
操作者２１から要求が無い間は、Ｘ線検出機５２は撮影用寝台４８の位置Ｂで待機する。
操作者２１からの透視要求１２０１が有ると、透視撮影を開始（１２０２）すると同時にＸ線検出器５２はアイドリング駆動を開始（７０７）する。操作者２１が撮影対象を決定して一般撮影準備要求（１ｓｔＳＷ：１２０１）をすると、Ｘ線発生器４０は一般撮影用のＸ線発生のための準備を開始し、所定時間後に準備を完了する。操作者２１が一般撮影要求（２ｎｄＳＷ：１２０１）をすると、撮像制御器２４は、Ｘ線画像取得駆動を開始し、Ｘ線検出器５２に撮影準備を指示（７０３）し、透視撮影を中止（１２０２）して、同時にＸ線検出器５２の位置を移動させ始める（１２０３及び１２０４）。
【０１３２】
本実施形態では、制御手段である撮像制御器２４は、検出手段であるＸ線検出器５２の読み出しに関連する動作期間中には駆動器６２が光検出器アレー５８を振動の収束した定常状態、ここでは光検出器アレー５８を加速度を生ぜしめない一定速度（等速度）で動作するように制御する。
【０１３３】
上記の移動開始の際、振動が大きくならないように加速度が連続的に変化するよう移動を開始する。Ｘ線検出器５２の撮影準備完了までの時間Ｔ３は、予め分かるので、それに応じた時間でＸ線検出器５２を一般撮影位置Ａに移動を完了させる。但し、７０７において、撮影準備完了直前のＦｐｆフレーム時に振動が発生するとノイズが画像に乗りやすいので、Ｆｐｆフレーム完了直後からＸ線検出器５２の停止動作に入り、それまでは加速度を生ぜしめないように一定速で運動するように制御する。
【０１３４】
すべての準備が整った時点で、Ｘ線曝射７０２を行い、曝射完了後直ちに、Ｘ線画像取得フレームＦｒｘｏ駆動を行ってＸ線画像を取得７０７する。Ｘ線曝射完７７０２後はなるべく短い時間で透視撮影を開始したいため、Ｘ線画像取得フレームＦｒｘｏ駆動完了後、補正用暗画像取得駆動に入るとともに、直ちにＸ線検出器５２を位置Ａから位置Ｂへ移動し始める（１２０４）。先のＸ線画像取得駆動時と同様に、この時の振動が大きくならないように加速度が連続的に変化するよう移動を開始する。Ｘ線検出器５２の撮影準備完了までの時間Ｔ３は、Ｘ線画像取得駆動時と同様に予め分かるので、それに応じた時間でＸ線検出器５２を一般撮影位置Ｂに移動を完了させる。撮影準備完了直前のＦｐｆフレームに関する内容もＸ線画像取得駆動時と同様である。位置Ａから位置Ｂへの移動が完了した時点で透視撮影が再開され透視画像はこの時点から再表示可能となる。この後、所定のタイミングで略画像取得フレームＦｒｎｏ駆動を行い略画像を取得し、一般撮影画像は所定の画像処理を行った後モニタ３０に表示される。
【０１３５】
また、前記制御に関して第１の実施形態と同様に、Ｘ線検出器５２もしくはその近傍に図示しない振動量を検知可能なセンサを搭載して、その振動が既定値以下になった時点で所定の読み出し（例えば、Ｘ線画像取得フレームＦｒｘｏ、暗画像取得フレームＦｒｎｏ、撮影準備完了直前フレームＦｐｆ）を開始するように制御しても良い。
【０１３６】
更に、前記制御に関して、予め予測された駆動器６２に振動が生じる期間を除き、Ｘ線検出器５２の画像読み出しに関連する動作期間を設定して、当該動作期間に画像取得に関する駆動を行うように制御しても良い。
【０１３７】
以上説明したように、本実施形態のＸ線撮像装置によれば、極めて簡易な構成で、Ｘ線検出器５２等の振動の影響を受けることなく容易且つ確実に良質の画像を得ることが可能となる。
【０１３８】
（第３の実施形態）
本実施形態では、Ｘ線室１０の内部は概ね図１と同じであり、共通するユニットの説明は割愛する。
４８ｂは撮影用寝台４８の一部で、図１１では透視システム用の寝台を示している。１１０１は透視用のＩＩ（イメージインテンシファイア）であり、Ｘ線検出器５２同様、撮像制御器２４により制御され、取得画像を画像処理器２６に転送後、モニタ３０もしくは図示しない透視画像専用モニタに表示する。Ｘ線検出器５２は、透視画像取得期間中は主に位置Ｂに位置し、単純撮影画像取得期間中は主に位置Ａに移動する。Ｘ線検出器５２の移動は撮像制御器２４からの撮影用寝台４８への指示により行われ、図示しないＸ線検出器５２を移動させるための機構手段により移動動作がなされる。
【０１３９】
図１３はＸ線検出器５２の撮像動作を含むタイミングチャートである。図１２を中心に本実施形態のＸ線検出器５２の動作について説明する。
図１３は概ね図７と同じであるので、異なる部分について主に解説を加える。
【０１４０】
１２０１は操作者インターフェース２２に対する撮像要求信号であり、図７では、単純Ｘ線撮影の要求状態を表していたが、今回は透視及び単純撮影の要求を現している。７０２は実Ｘ線曝射状態、７０３は操作者２１の指示に基づいた撮像制御器２４から駆動器６２への撮影要求信号、７０４はＸ線検出器５２の撮影レディ信号、７０５はグリッド５４の駆動信号、７０６はＸ線検出器５２内のパワー制御信号、７０７はＸ線検出器の駆動状態（特に光検出器アレー５８からの電荷読み出し動作）、７０８は画像データの転送状態や、画像処理や表示の状態を概念的に表している。さらに、１２０２はＸ線透視用のＸ線出力状態、１２０３はＸ線検出器５２の移動速度の概念、１２０４はＸ線検出器５２の位置をそれぞれ現している。
【０１４１】
操作者２１から要求が無い間は、Ｘ線検出機５２は撮影用寝台４８の位置Ｂで待機する。
操作者２１からの透視要求１２０１が有ると、透視撮影を開始（１２０２）すると同時にＸ線検出器５２はアイドリング駆動を開始（７０７）する。操作者２１が撮影対象を決定して一般撮影準備要求（１ｓｔＳＷ：１２０１）をすると、Ｘ線発生器４０は一般撮影用のＸ線発生のための準備を開始し、所定時間後に準備を完了する。操作者２１が一般撮影要求（２ｎｄＳＷ：１２０１）をすると、撮像制御器２４は、Ｘ線画像取得駆動を開始し、Ｘ線検出器５２に撮影準備を指示（７０３）し、透視撮影を中止（１２０２）して、同時にＸ線検出器５２の位置を移動させ始める（１２０３及び１２０４）。
【０１４２】
本実施形態では、制御手段である撮像制御器２４は、検出手段であるＸ線検出器５２の読み出しに関連する動作期間中には駆動器６２が光検出器アレー５８を振動の収束した定常状態、ここでは光検出器アレー５８を等加速度で動作させるように制御する。
【０１４３】
所望の加速度まで到達したら等加速度運動へ移行することが望ましいが、現実には一般的な制御では、急激な加速度変化が発生する（１２０５の矢印）。Ｘ線検出器５２の撮影準備完了までの時間Ｔ３は、予め分かるので、それに応じた時間でＸ線検出器５２を一般撮影位置Ａに移動を完了させる。移動完了とＦｐｆフレーム完了をそろえる事が、２ｎｄＳＷからＸ線曝射７０２までの時間を最短に出来るため、一定減速（負加速度）時にＦｐｆフレームを完了させる事が要求される。７０７において、撮影準備完了直前のＦｐｆフレーム時に振動が発生するとノイズが画像に乗りやすいので、Ｆｐｆフレーム取得時には、急激な加速度変化による振動が収束したタイミングを見計らって行い、Ｆｐｆフレーム完了直後に停止するように制御する。
【０１４４】
すべての準備が整った時点で、Ｘ線曝射７０２を行う。Ｘ線曝射完了７０２後はなるべく短い時間で透視撮影を開始したいため、曝射完了後直ちに、Ｘ線検出器５２を位置Ａから位置Ｂへ移動し始める（１２０４）。同様に加速度変化による振動が収束するタイミングの等加速（又は等加速性加速）時にＸ線画像取得フレームＦｒｘｏ駆動を行ってＸ線画像を取得する。Ｘ線画像取得フレームＦｒｘｏ駆動完了後、補正用暗画像取得駆動に入る。Ｘ線検出器５２の撮影準備完了までの時間Ｔ３は、Ｘ線画像取得駆動時と同様に予め分かるので、それに応じた時間でＸ線検出器５２を一般撮影位置Ｂに移動を完了させる。撮影準備完了直前のＦｐｆフレームに関する内容もＸ線画像取得駆動時と同様である。位置Ａから位置Ｂへの移動が完了した時点で透視撮影が再開され、透視画像はこの時点から再表示可能となる。この後、所定のタイミングで暗画像取得フレームＦｒｎｏ駆動を行い暗画像を取得し、一般撮影画像は所定の画像処理を行った後モニタ３０に表示される。
【０１４５】
また、前記制御に関して第１の実施形態と同様に、Ｘ線検出器５２もしくはその近傍に図示しない振動量を検知可能なセンサを搭載して、その振動が既定値以下になった時点で所定の読み出し（例えば、Ｘ線画像取得フレームＦｒｘｏ、暗画像取得フレームＦｒｎｏ、撮影準備完了直前フレームＦｐｆ）を開始するように制御しても良い。
【０１４６】
更に、前記制御に関して、予め予測された駆動器６２に振動が生じる期間を除き、Ｘ線検出器５２の画像読み出しに関連する動作期間を設定して、当該動作期間に画像取得に関する駆動を行うように制御しても良い。
【０１４７】
以上説明したように、本実施形態のＸ線撮像装置によれば、極めて簡易な構成で、Ｘ線検出器５２等の振動の影響を受けることなく容易且つ確実に良質の画像を得ることが可能となる。
【０１４８】
以上、３つの実施形態ついて述べたが、その他、冷却用ファンやその他の振動源になり得る物には本発明が適用される。
【０１４９】
ここで、上述した各実施形態の機能を実現するように各種のデバイスを動作させるように、前記各種デバイスと接続された装置あるいはシステム内のコンピュータに対し、各実施形態の機能を実現するためのソフトウェアのプログラムコードを供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ（ＣＰＵあるいはＭＰＵ）に格納されたプログラムに従って前記各種デバイスを動作させることによって実施したものも、本発明の範疇に含まれる。
【０１５０】
また、この場合、上記ソフトウェアのプログラムコード自体が上述した各実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコード自体、およびそのプログラムコードをコンピュータに供給するための手段、例えばかかるプログラムコードを格納した記憶媒体は本発明を構成する。かかるプログラムコードを記憶する記憶媒体としては、例えばフロッピーディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等を用いることができる。
【０１５１】
また、コンピュータが供給されたプログラムコードを実行することにより、上述の各実施形態の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードがコンピュータにおいて稼働しているＯＳ（オペレーティングシステム）あるいは他のアプリケーションソフト等の共同して上述の各実施形態の機能が実現される場合にもかかるプログラムコードは本発明の各実施形態に含まれることは言うまでもない。
【０１５２】
更に、供給されたプログラムコードがコンピュータの機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに格納された後、そのプログラムの指示に基づいてその機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵ等が実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって上述した各実施形態の機能が実現される場合にも本発明に含まれる。
【０１５３】
【発明の効果】
本発明によれば、極めて簡易な構成で、グリッドやＸ線検出手段等の振動の影響を受けることなく容易且つ確実に良質の画像を得ることを可能とする放射線撮像装置（撮像装置）及び撮像方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】Ｘ線撮像システムの概要を示す模式図である。
【図２】第１の光検出部の等価回路を示す回路図である。
【図３】第１の光検出部のエネルギバンドを示す特性図である。
【図４】第２の光検出部の等価回路を示す回路図である。
【図５】光検出器アレーの構成例を示す模式図である。
【図６】光検出器アレーの駆動概念を示すタイミングチャートである。
【図７】第１の実施形態のＸ線撮像システムのタイミングチャートである。
【図８】取得画像の処理を示すフローブロック図である。
【図９】第１の移動グリッドの構成を示す模式図である。
【図１０】第２の移動グリッドの構成を示す模式図である。
【図１１】第２の実施形態のＸ線撮像システムの概要を示す模式図である。
【図１２】第２の実施形態のＸ線撮像システムのタイミングチャートである。
【図１３】第３の実施形態のＸ線撮像システムのタイミングチャートである。
【符号の説明】
１０：Ｘ線室
１２：Ｘ線制御室
１４：診断室
２０：システム制御器
２１：操作者
２４：撮像制御器
２６：画像処理器
３０：モニタ
４０：Ｘ線発生器
４８：撮影用寝台
５０：患者
５２：Ｘ線検出器
５４：グリッド
５８：光検出器アレー
６２：駆動器
８０：光検出部
８２：スイッチング薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）
８４：バイアス電源
８５１バイアス電源
９２：ラインセレクタ
１００：信号読出し回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
0003945738.tif 000009
【図９】
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【図１０】
0003945738.tif 000011
【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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