(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
保持手段によって検査対象の回路基板に対向するように保持されると共に当該回路基板における対向する一方の面についての画像情報を入力する画像情報入力手段を備え、当該画像情報入力手段から出力される前記画像情報に基づいて前記回路基板を検査する回路基板検査装置において、
前記保持手段を回転させることにより、前記画像情報入力手段を前記回路基板の一方の面に対向する位置から１８０°回転させて当該回路基板の他方の面に対向する位置に移動させる回転手段を備えていることを特徴とする回路基板検査装置。
【請求項２】
前記保持手段を前記回路基板のＸ−Ｙ方向に移動可能な移動機構を備え、当該移動機構によって前記保持手段を前記回路基板から離間させた状態で前記回転手段に対して当該保持手段を回転させることを特徴とする請求項１記載の回路基板検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、プリント基板やＩＣパッケージ、ハイブリッド用基板およびＭＣＭ（Multi Chip Module ）などの回路基板の検査装置に関し、詳しくは、回路基板についての画像情報に基づいて回路基板を検査する回路基板検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
この種の回路基板検査装置として、出願人は、図３に示す回路基板検査装置５１を既に開発している。この回路基板検査装置５１は、検査対象の回路基板２上の部品などについての画像情報を入力するためのカメラ３と、回路基板２に対向するようにカメラ３を保持する保持アーム５２と、保持アーム５２を回路基板２上のＸ−Ｙ方向に移動させるための移動機構５３と、移動機構５３の駆動制御やカメラ３を介して入力した画像情報に基づいて回路基板２の良否判定などを実行する制御回路５４とを備えている。
【０００３】
この回路基板検査装置５１では、最初に、回路基板２の表面を上方に向けた状態にして回路基板検査装置５１上の所定の位置に回路基板２を設置する。次いで、制御回路５４が、移動機構５３を制御して保持アーム５２を移動させることにより、回路基板２の表面における所定位置にカメラ３を対向させる。続いて、制御回路５４が、カメラ３を作動させると共にカメラ３から出力される画像情報を入力する。この後、制御回路５４は、移動機構５３を制御して回路基板２の各回路部品などについての画像情報をカメラ３から順次入力し、その画像情報に基づいて、各回路部品の有無および品違い、取付の向き、並びに各回路部品の端子浮きなどを検査する。
【０００４】
次に、回路基板２の裏面側についての検査を実行する。具体的には、まず、制御回路５４が、移動機構５３を制御することにより、回路基板２からカメラ３を遠ざける。次いで、作業者が、回路基板検査装置５１上に設置されている回路基板２を一旦搬出して裏返した後、裏面を上方に向けた状態にして回路基板２を回路基板検査装置５１上に再び設置する。続いて、制御回路５４が、上記した処理と同様にして、回路基板２の裏面側について検査する。この結果、回路基板２の両面についての検査が終了する。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、出願人が既に開発した回路基板検査装置５１には、以下の改善すべき点がある。
すなわち、今日の製品の価格競争の激化に伴い、回路基板検査装置にも、検査コストの低減が要請されており、このためには、より高速に、かつ人手を要せずに回路基板の検査を実行する必要がある。一方、この回路基板検査装置５１では、回路基板の表面の検査から裏面の検査に移行する際に、作業者が、逐一回路基板を搬出して裏返した後、回路基板２を再設置しなければならない。このため、この回路基板の搬出、裏返しおよび再設置の作業のために時間とコストを費やしており、この作業コストの低減が要請されている。
【０００６】
一方、回路基板２を回路基板検査装置５１から自動的に搬出する搬出機構と、搬出された回路基板２を自動裏返しする反転機とを配設することにより、回路基板２の両面についての検査を自動化することもできる。しかし、かかる場合には、搬出機構や反転機を配設することによって回路基板検査装置自体の製造コストが上昇するという他の課題が生じる。
【０００７】
本発明は、かかる改善点に鑑みてなされたものであり、検査の高速化および検査コストの低減を図ることが可能な回路基板検査装置を提供することを主目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成すべく請求項１記載の回路基板検査装置は、保持手段によって検査対象の回路基板に対向するように保持されると共にその回路基板における対向する一方の面についての画像情報を入力する画像情報入力手段を備え、画像情報入力手段から出力される画像情報に基づいて回路基板を検査する回路基板検査装置において、保持手段を回転させることにより、画像情報入力手段を回路基板の一方の面に対向する位置から１８０°回転させて当該回路基板の他方の面に対向する位置に移動させる回転手段を備えていることを特徴とする。
【０００９】
この回路基板検査装置では、例えば、回路基板の表面についての検査を終了した段階で、回転機構が、保持手段を回転させることにより、画像情報入力手段を回路基板の一方の面に対向する位置から１８０°回転させて他方の面に対向する位置に回転させる。次いで、画像情報入力手段を介して入力した回路基板の裏面についての画像情報に基づいて回路基板の裏面についての検査を実行する。この場合、回路基板の表面についての検査から裏面についての検査に移行する際に、回路基板の搬出、裏返しおよび再設置などの工程を要しないため、この分、検査の高速化を図ることが可能となると共に、検査コストの低減を図ることが可能となる。
【００１０】
請求項２記載の回路基板検査装置は、請求項１記載の回路基板検査装置において、保持手段を回路基板のＸ−Ｙ方向に移動可能な移動機構を備え、移動機構によって保持手段を回路基板から離間させた状態で回転手段に対して保持手段を回転させることを特徴とする。
【００１１】
保持手段と共に画像情報入力手段を回転させる場合、検査対象の回路基板が大きいときには、保持手段および画像情報入力手段が回路基板に当接しないようにする必要があり、かかる場合には、回転手段の構成が必然的に大がかりとなる。この回路基板検査装置では、移動機構が、回転手段による保持手段の回転処理に先立ち、保持手段を回路基板から一旦離間させる。次いで、その状態で、回転手段によって保持手段を回転させた後に、移動機構が保持手段を元の位置に移動させる。かかる場合には、僅かなスペース内で保持手段を回転させることができる。このため、大きな回路基板を検査対象とする場合であっても、回転手段の構成を大がかりにすることなく、その両面を検査することが可能となる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照して、本発明に係る回路基板検査装置の好適な実施の形態について説明する。なお、従来の回路基板検査装置５１と同一の構成については、同一の符号を付して重複した説明を省略する。
【００１３】
回路基板検査装置１は、いわゆるＸ−Ｙ方式タイプのものであって、図１，２に示すように、回路基板検査装置５１におけるＸ−Ｙ方向に移動体４を移動させるための移動機構５を備えている。この場合、移動体４は、本発明における画像情報入力手段に相当し回路基板検査装置５１に設置された回路基板２上の回路部品Ｐやフィデューシャルマークなどの画像情報を入力するためのカメラ３と、カメラ３を保持するＬ字状の保持アーム（本発明における保持手段）１１と、本発明における回転手段に相当し保持アーム１１を回転させるためのモータ１２とで構成されている。
【００１４】
一方、移動機構５は、取り付けられた移動体４をＹ軸方向に移動させるためのＹ軸ガイド３１と、移動体４と共にＹ軸ガイド３１をＸ軸方向に移動させるためのＸ軸ガイド３２とを備えて構成されている。この場合、Ｙ軸ガイド３１は、その内部に配設されているボールネジ３３を回転させて移動体４をＹ軸方向に移動させるためのモータ３４を備えている。また、Ｘ軸ガイド３２は、その内部に配設されているボールネジ３５を回転させてＹ軸ガイド３１をＸ軸方向に移動させるためのモータ３６を備えている。
【００１５】
さらに、回路基板検査装置１は、制御回路６を備えており、この制御回路６は、モータ１２の回転制御や移動機構５の駆動制御を実行すると共に、カメラ３から出力される画像情報に基づいて回路基板２の良否判定を実行する。
【００１６】
次に、この回路基板検査装置１の検査手順について、図１を参照して説明する。
【００１７】
最初に、回路基板２の表面を上方に向けた状態にして、図１に示すように、回路基板検査装置１における図外の検査用テーブル上の所定位置に回路基板２を設置する。この状態で、まず、回路基板２の表面についての検査を実行する。この場合、制御回路６が、モータ３４，３６を駆動して移動体４を移動させることにより、図１の実線で示す位置にカメラ３を配置させる。次いで、制御回路６が、移動機構５を制御して移動体４をＸ−Ｙ方向に移動させることにより、回路基板２の表面上の被検査部品や被検査箇所などの各部についての画像情報をカメラ３を介して順次入力する。続いて、制御回路６が、入力した画像情報に基づいて、各回路部品の有無、文字認識による各回路部品の品違い、取付の向き、および各回路部品Ｐの端子浮きなどを画像処理によって検査する。
【００１８】
次に、回路基板２の裏面側についての検査を実行する。この場合、まず、制御回路６は、モータ３４（またはモータ３６）を駆動することにより、移動体４と回路基板２とが平面的に重なり合わないように移動体４を回路基板２から離間させる。次いで、制御回路６は、モータ１２を駆動することにより、移動体４を１８０°回転させる。次いで、制御回路６は、モータ３４（またはモータ３６）を駆動することにより、図１の一点鎖線で示す位置に移動体４を移動させる。この後、移動機構５を制御して移動体４をＸ−Ｙ方向に移動させることにより、回路基板２の裏面上の各部についての画像情報をカメラ３を介して順次入力する。続いて、制御回路６は、上記した処理と同様にして、回路基板２の裏面側について検査する。この後、回路基板２を搬出した後、次の回路基板２について、上記した検査を繰り返して実行する。
【００１９】
このように、この回路基板検査装置１では、回路基板２の一方の面（例えば表面）についての検査を終了した段階で、その一方の面に対向する位置から、他方の面（例えば裏面）に対向する位置にカメラ３を回転移動させる。このため、検査の中間段階において、回路基板２を搬出して裏返したり、再設置したりする工程を省くことができる。この結果、高価な反転機などを用いることなく、極めて短時間で検査を実行することができ、これにより、検査コストを低減することができる。
【００２０】
なお、本発明は、上記した本発明の実施の形態に限定されず、その構成を適宜変更することができる。例えば、本発明の実施形態では、移動機構５をボールネジで構成しているが、本発明は、これに限定されず、タイミングベルトなどの他の機構で構成してもよい。さらに、保持アーム１１の形状は適宜変更することができるし、カメラ３を回路基板２に対して上下動可能に構成してもよい。また、本発明における回転手段は、モータ１２に限らず、保持アーム１１を回転させることができる構成であればよく、回転型ソレノイドやリニアモータなどの種々の構成を採用することができる。
【００２１】
【発明の効果】
以上のように、請求項１記載の回路基板検査装置によれば、回転手段が保持手段を回転させて画像情報入力手段を回路基板の一方の面に対向する位置から１８０°回転させて他方の面に対向する位置に回転移動させることにより、回路基板の搬出、裏返しおよび再設置などの工程を省くことができるため、検査の高速化を図ることができる結果、検査コストを低減することができる。
【００２２】
また、請求項２記載の回路基板検査装置によれば、移動機構によって保持手段を回路基板から離間させた状態で回転手段に対して保持手段を回転させることにより、大きな回路基板を検査対象とする場合であっても、回転手段の構成を大がかりにすることなく、その両面を検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の実施の形態に係る回路基板検査装置の一部の斜視図である。
【図２】  本発明の実施の形態に係る回路基板検査装置の平面図である。
【図３】  出願人が既に開発している回路基板検査装置の一部の斜視図である。
【符号の説明】
１  回路基板検査装置
２  回路基板
３  カメラ
４  移動体
５  移動機構
１１  保持アーム
１２  モータ
【図１】
0004021554.tif 000002
【図２】
0004021554.tif 000003
【図３】
0004021554.tif 000004