(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体から得られた再生信号の最尤復号過程において、各復号時刻において検出された最小パスメトリック値を与える状態の二時刻間における遷移が、合流パスを発生する前記再生信号のエッジ部に対応した遷移であるか否かを判定し、該当する遷移である場合には、前記合流パスのパスメトリック値の差を算出し、該パスメトリック値の差に基づいて記録・再生信号又は光ピックアップの制御信号のパラメータを調整することを特徴とする光学的記録再生方法。
【請求項２】
前記パラメータは、オートトラッキング或いはオートフォーカシングループのゲイン或いはオフセット値であることを特徴とする請求項１に記載の光学的記録再生方法。
【請求項３】
前記パラメータは、前記再生信号のゲイン値或いは記録パワー或いは再生パワー強度であることを特徴とする請求項１に記載の光学的記録再生方法。
【請求項４】
前記パスメトリック値の差の分布を求め、該分布に基づいて前記パラメータを調整することを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の光学的記録再生方法。
【請求項５】
前記検出したパスメトリック値の差がしきい値以下の数を、検出したパスメトリック値の差の総数で割った値に基づいて、前記パラメータを調整することを特徴とする請求項１に記載の光学的記録再生方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光学的記録再生方法に係わり、特に評価指標を用いて記録・再生のための各種パラメータを調整するための光学的記録再生方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、光学的記録再生装置においては記録時の記録レーザパワー、再生時の再生レーザパワー、トラッキング制御等の調整を行う際に、再生信号のエラーレートを用いていた。これは、上記各種パラメータを所定の複数の調整値に設定しながら信号を記録または再生し、エラーレートが最小となる調整値を最適値として以降の記録再生に用いるものである。
【０００３】
しかしながら、評価指標としてエラーレートを用い調整値を探索する場合の低エラーレートの場合にサンプル数が多く必要となり、調整に要する時間が長くなる課題がある。
【０００４】
また、文献"A Window-Margin-Like Procedure for Evaluating PRML Channel Performance",IEEE Trans. On Magnetics,Vol.31,No.2,March 1995には評価指標としてＳＡＭ（Sequenced Amplitude Margin）を用いることが開示されている。これは、ビタビ復号の尤度を評価指標とするものである。ＳＡＭでは各時刻においてビタビ復号の最も確からしい再生信号系列の尤度（パスメトリックとも呼ぶ）と、次に確からしい再生信号系列の尤度を求めて、その尤度差を評価する。
【０００５】
しかしながら、再生信号におけるエラー発生の主要な要因がエッジ部である場合、ＳＡＭでは再生信号のエッジ部に関係なく、全信号系列により得られる尤度の差を用いるために検出感度が低下し、その結果調整値の精度が低下してしまう問題がある。
【０００６】
また、特開平１０−２１６５１号公報に開示される従来例では、最小ユークリッド距離のエラーのみを対象とし、最小ユークリッド距離の信号系列間の尤度差を用いている。しかしながらエラーは、最小ユークリッド距離のみとは限らず、エラーの発生は記録再生系及びＰＲＭＬ（Partial-Response Maximum-Likelihood）のパーシャルレスポンス特性等の設計パラメータに依存したものとなる。また、最小ユークリッド距離のパスを検出する必要があり、装置が複雑になる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
上記のように、従来の知られていた方法では、少ないサンプル数で精度の高いパラメータ調整を簡易な構成で実現することは困難であった。
【０００８】
また、光学的に記録媒体に記録されたマークを再生するとき、ジッタと呼ばれる信号のエッジ部のシフト（進み、遅れ）があり、このエッジシフトがエラー発生の要因となるため、少ないサンプル数で調整精度を上げることは困難であった。このため本発明では、少ないサンプル数で、また簡易な構成で精度の高い調整が可能な光学的記録再生方法を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段および作用】
本発明の光学的記録再生方法は、記録媒体から得られた再生信号の最尤復号過程において、各復号時刻において検出された最小パスメトリック値を与える状態の二時刻間における遷移が、合流パスを発生する前記再生信号のエッジ部に対応した遷移であるか否かを判定し、該当する遷移である場合には、前記合流パスのパスメトリック値の差を算出し、該パスメトリック値の差に基づいて記録・再生信号又は光ピックアップの制御信号のパラメータを調整することを特徴とする。
【００１０】
上記構成は、最尤復号における互いに結合するパスの検出は、最尤復号の尤度を基に検出し、結合するパスが最尤の復号系列と判別された場合に、前記結合するパスの尤度差を求め、この尤度差に基づいて記録・再生信号又は光ピックアップの制御信号のパラメータ調整の指標として用いるものである。
【００１１】
上記パラメータは、例えばオートトラッキング或いはオートフォーカシングループのゲイン或いはオフセット値であり、また再生信号のゲイン値或いは記録パワー或いは再生パワー強度である。上記パラメータの調整値を変えて得られる前記尤度差の分布から、調整値を最適に設定することができる。
【００１５】
また、本発明において、前記尤度差の分布を求め、前記尤度差の分布に基づいて前記各種パラメータを調整することができる。この構成は、例えば前記尤度差のヒストグラムを基に評価値を求め、前記各種パラメータを調整するものである。
【００１６】
また、本発明において、前記検出した尤度差の総数及び尤度差が所定のしきい値以下の個数に基づいて前記各種パラメータを調整することができる。この構成は、例えば前記尤度差のヒストグラムから各帯の頻度を基に、所定のしきい値以下の尤度差の頻度を、前記検出した尤度差の総数で正規化したものを調整の指標とするものである。
【００１９】
【発明の実施の形態】
光学的に記録媒体に記録されたマークを再生するとき、再生信号の変換点（信号のゼロクロス点）と原信号との変換点とは時間軸上で一致することが望ましいが、実際はジッタと呼ばれる信号のエッジ部のシフト（進み、遅れ）がある。このようなエッジシフトは再生信号を復号化する際のエラー原因となるため、エッジシフトの影響をなるべく抑制することが望まれる。
【００２０】
本発明においては、再生信号の状態を表す評価指標として、エッジシフトの影響を十分に反映したもの、即ち、再生信号のエッジ部におけるメトリック差を利用している。すなわち、エッジシフトの影響が小さい場合には比較される２つのメトリック差は大きく、エッジシフトの影響が大きい場合にはメトリック差は小さくなる。このメトリック差に基づいて記録・再生信号又は光ピックアップの制御信号のパラメータを調整することによりエッジ部のみの少ないサンプル数でもエッジシフトを考慮した精度の高い調整が、簡易な構成で可能となる。
【００２１】
光学的記録再生におけるエッジシフトの原因は、再生光学系における収差によるもの、回路系のノイズによるもの、再生スポット径が有限であることによるもの等が知られているが（光ディスク技術，尾上守夫等，ラジオ技術社発行）、特に光磁気記録再生装置の場合には浮遊磁界によって生ずるエッジシフトがある。
以下に本発明の具体的実施例を光磁気記録再生装置の形態で説明する。
【００２２】
まず、光磁気記録再生装置の場合に、上記エッジシフトを生じさせる原因の一つである浮遊磁界について説明する。光磁気記録再生装置の光磁気記録において記録時にレーザー光の照射により光磁気記録媒体のレーザー光照射部位の温度はキュリー点まで達し磁化が消失する。しかし、キュリー点まで温度が上昇していない周辺部位では磁化が存在し、磁化を起因とする浮遊磁界が存在する。記録マーク端である磁壁は光ビーム進行方向後端で形成されるが、記録マーク端である磁壁形成時にそれら浮遊磁界は磁壁形成のための外部から磁気ヘッドにより印加される変調磁界に重畳される形で作用する。この浮遊磁界の大きさは直前に形成された磁壁と次に形成しようとする磁壁との間隔、即ち、形成しようとする記録マーク長、更にその前に位置するマーク長により変化する。従って、磁壁形成部位に作用する浮遊磁界強度は記録しようとするマーク長（或いはマーク長列）によって異なる。
【００２３】
以下、上記浮遊磁界について説明する。図１９（ｃ）は、磁化及びそれを起因とする浮遊磁界を示す図である。図１９（ｃ）に示すように、記録マーク端である磁壁は光ビーム進行方向後端で形成されるが、浮遊磁界は、磁壁形成のために外部から磁気ヘッドにより印加される変調磁界に重畳する。
【００２４】
この浮遊磁界の大きさは、上述したように、直前に形成された磁壁と次に形成しようとする磁壁との間隔、すなわち、形成しようとする記録マーク長、さらにその前に位置するマーク長により変化する。また、磁壁の形成位置は、温度と磁界強度との関係において決定される。ここで、レーザー光強度、磁気ヘッドからの印加磁界強度は定常状態に保たれており、記録マーク長、或いは記録マーク長列が異なる場合には重畳される浮遊磁界強度が異なってくるために、磁区形成位置に印加される磁界強度は磁気ヘッドからの磁界強度に浮遊磁界強度が重畳されたものとなり、前述したように実質的に磁区形成部に印加される磁界強度は形成する記録マーク長、或いは記録マーク長列により異なる。その結果、磁壁形成位置が記録マーク長により異なる現象が現れる。
【００２５】
図１９を用いさらに説明を加える。図１９（ａ）は記録符号上最長・最短の記録マークを順次形成する場合、図１９（ｂ）は記録符号上最短・最長の記録マークを順次形成する場合を表している。図１９において、１は光ビーム、矢印２は光磁気記録媒体の記録層の磁化状態を、矢印３は磁気ヘッドからの印加磁界の強度・方向を示しており、矢印４は磁壁形成直前の磁化状態による浮遊磁界強度・方向を示している。矢印５は更に前に位置する記録マークからの浮遊磁界強度・方向を示している。
【００２６】
ここでは、光磁気記録媒体の特性上、矢印４の浮遊磁界の向きは磁壁形成時磁気ヘッドからの印加磁界を増加させる方向に印加され、矢印５の浮遊磁界の向きは磁壁形成時磁気ヘッドからの印加磁界を現象させる方向に印加される。
【００２７】
したがって、図１９（ａ）、図１９（ｂ）の場合で磁壁形成部位の矢印３〜５の印加磁界の和が異なり、図１９（ｂ）の場合により強さのある磁界強度が記録層に印加される。その結果、磁壁形成位置はある基準位置から見ると、図１９（ａ）の場合には、ΔＡずれた位置に形成され、図１９（ｂ）の場合はΔＢずれた位置に形成されて、ΔＡ、ΔＢの関係はΔＡ＜ΔＢなる結果となる。よって、再生信号のエッジ部は浮遊磁界の影響を受けてシフトする（進む、遅れる）ことになる。
【００２８】
以下、本発明の実施形態について図面を用いて、詳細に説明する。
【００２９】
（第１の実施形態）
図１は、本発明の光磁気記録再生再生装置の第１の実施形態の構成を示すブロック図である。図１において、１０１は情報記録媒体となる光磁気ディスク、１０２は光磁気ディスク１０１を所定速度で回転させるためのスピンドルモータである。光磁気ディスク１０１の上面には記録信号に応じて変調された磁界を発生するための磁気ヘッド１０３が配設され、その下面には磁気ヘッド１０３に対向して光ヘッド１０４が配置されている。
【００３０】
光ヘッド１０４は記録用光ビームを照射して情報の記録を行い、あるいは再生用光ビームを照射し、その媒体からの反射光を検出して記録情報の再生を行うものである。この際、光ヘッド１０４内には記録再生用光源である半導体レーザ（図示せず）や媒体からの反射光を検出する光センサ（図示せず）が設けられている。半導体レーザはレーザ駆動回路１０８で駆動され、半導体レーザの光ビームを記録用と再生用に制御することによって情報の記録や再生を行う。
【００３１】
情報の記録の際には、光磁気ディスク１０１をスピンドルモータ１０２の駆動により所定の速度で回転させ、この状態で記録データがプリエンコーダ１０７に供給される。プリエンコーダ１０７においては、例えば、ＮＲＺＩ系列のデータの変調を行う。プリエンコーダ１０７より出力された変調信号は磁気ヘッドドライバー１０６に供給され、磁気ヘッドドライバー１０６では変調信号に応じて外部磁界発生用の磁気ヘッド１０３を駆動する。これにより、磁気ヘッド１０３は変調信号に応じた磁界を発生し、光磁気ディスク１０１に印加する。同時に、レーザ駆動回路１０８からの駆動信号により光ヘッド１０４から記録用光ビームを光磁気ディスク１０１に照射することにより光磁気ディスク１０１上にデータが記録される。
【００３２】
一方、情報の再生の際には、同様に光磁気ディスク１０１は所定の速度で回転するように制御され、光ヘッド１０４から再生用光ビームが光磁気ディスク１０１に照射される。光磁気ディスク１０１からの反射光は光ヘッド１０４の光センサで検出され、ＲＦ信号が生成される。このＲＦ信号はプリアンプ１０５を通してＡＧＣ回路１０９に供給され、ＡＧＣ回路１０９においてはＲＦ信号に応じて利得制御を行い、所定振幅のＲＦ信号が生成される。
【００３３】
ＡＧＣ回路１０９で処理された再生ＲＦ信号はＡ／Ｄ変換器１１０でデジタル信号に変換される。デジタル信号に変換されたＲＦデジタル信号は、ＰＲＭＬ復号のＰＲ等化器１１１においてＰＲ（１，−１）処理され、最尤復号器１１２に供給される。ＰＲはパーシャルレスポンスを表し、ここでは図１８に示す孤立波形応答及び周波数特性のＰＲ（１，−１）特性を用いる。最尤復号器１１２においては最尤復号によりＰＲ処理された再生信号を復号処理し、復号データを出力する。一方、最尤復号において生成される各時刻の尤度情報は、評価指標生成部１１３に供給される。評価指標生成部１１３においては後述する方式により、再生信号の品質を評価する指標値を生成して、制御コントローラ１１４に供給する。
【００３４】
制御コントローラ１１４は、光磁気記録再生再生装置の全般的な制御信号を生成するものである。本実施形態では、再生信号のゲイン値、記録時のレーザー記録パワー、再生時のレーザー再生パワー、又はオートトラッキング或いはオートフォーカシングループのゲイン或いはオフセット値等を最適な状態に制御するための制御情報を制御コントローラにおいて調整する。その際の制御調整値の妥当性を評価するための指標を評価指標生成部１１３において検出する。
【００３５】
本実施形態は、ＰＲＭＬの復号データ系列の確からしさを示す尤度を基に評価指標を生成する。ここでは、ＲＬＬ（１，７）符号を用い、最小ランレングスが１である記録符号系列をＮＲＺＩ(Non Return to Zero Inverted)で記録し、ＰＲＭＬ（Partial-Response Maximum-Likelihood）方式で再生する場合の評価指標について説明する。ここで、パーシャルレスポンス特性はＰＲ（１，−１）とする。
【００３６】
まず、最尤復号器１０３による最尤復号の復号プロセスについて説明する。
最尤復号の復号プロセスは、状態遷移図により表すことができる。
【００３７】
任意の時刻ｋにおける状態Ｓは、時刻ｋ−１と時刻ｋでの復号ビットak-1，akにより以下の４状態になる。
【００３８】
S00（ak-1 = 0,ak = 0）
S01（ak-1 = 0,ak = 1）
S10（ak-1 = 1,ak = 0）
S11（ak-1 = 1,ak = 1）
このときの状態遷移図を図２に示す。図２に示すように各状態は、出力する復号ビットに応じて、次の状態に遷移する。例えば、状態00（S00）のときに、ＰＲ理想出力値が＋１である場合には、復号ビット“１”を出力して状態01 (S01)に遷移する。一方、状態00（S00）のときに、ＰＲ理想出力値が０である場合には、復号ビット“０”を出力し状態00 (S00)を維持する。図３は、図２の状態遷移図を時間軸方向に展開したトレリス線図である。図３の各時刻での状態遷移をブランチ、各ブランチの確からしさをブランチメトリックと呼び、次式（１）により表す。
【００３９】
ブランチメトリック＝（ｚk −ｙk）2    …（１）
ここで、ｚkは実際に出力されるＰＲ（１，−１）後の再生信号系列であり、ｙkは理想再生系列に対するＰＲ（１，−１）の出力値である。
【００４０】
尚、ここでは最小ランレングスを１に制限しているため、復号ビットが０−１−０，１−０−１に相当する状態遷移は予め排除されている。
【００４１】
上述に示したように、ＲＬＬ（１，７）符号の最小ランレングスが１の条件（これを以下ｄ制約とする）を用いた記録符号系列をＰＲＭＬにより復号する場合、各時刻におけるブランチは図４に示すパターンとなる。
【００４２】
図４に示すように、各時刻において状態S00ではブランチ３０１と３０５が合流し、同様に状態S11においてはブランチ３０４と３０６が合流する。ビタビ復号では各時刻毎に、合流するブランチのいずれかを選択する。状態S01及びS10は、ブランチ３０２及び３０３により遷移する。
【００４３】
各ブランチに対応するブランチメトリックは以下となる。
【００４４】
ブランチ３０１      ｂ（３０１）＝（ｚk−０）2
ブランチ３０２      ｂ（３０２）＝（ｚk−１）2
ブランチ３０３      ｂ（３０３）＝（ｚk＋１）2
ブランチ３０４      ｂ（３０４）＝（ｚk−０）2
ブランチ３０５      ｂ（３０５）＝（ｚk−０）2
ブランチ３０６      ｂ（３０６）＝（ｚk−０）2
各時刻において定まるブランチをつなげると図３に示すようなトレリス線図となる。ここで、太線で示す一続きのパスが時刻ｋにおいて残った復号信号系列である。
【００４５】
各時刻における復号系列の確からしさをパスメトリック（尤度）と呼び、以下により求める。min[Ａ，Ｂ]はＡとＢのうちの小さい方を意味する。
【００４６】
状態S00k    m(00)k = min[m(00)k-1+zk2, m(10)k-1+zk2]    …（２．１）
状態S01k    m(01)k = m(00)k-1+(zk-1)2                 …（２．２）
状態S10k    m(10)k = m(11)k-1+(zk+1)2                 …（２．３）
状態S11k    m(11)k = min[m(11)k-1+zk2, m(01)k-1+zk2]    …（２．４）
尚、ここではＰＲの理想出力値を−1，０，１とした場合について示している。ここで示すパスメトリックは各時刻におけるブランチメトリックの累積値により表される値であり、パスメトリック最小のパスが出力される復号ビット系列となる。
【００４７】
任意の時刻kにおいて、状態S00，S01，S10，S11に至るパスに対応する復号ビット系列は、長さｎ（アドレスa1〜an）の４つのパスメモリに保持されている。ＰＲＭＬにおいては、時刻kの各状態のパスメトリックの中で最小の値となるパスのパスメモリを参照し、アドレスa1のデータを復号ビットとして出力する。
【００４８】
上記で示すように、ビタビ復号においては図４に示すブランチの合流点である状態S00及びS11におけるブランチの選択が復号時のエラー原因となる。即ち、図４の状態S00に至るブランチにおいて、正しいブランチが３０１のときに、ブランチ３０５を選択した場合に復号時のエラー原因となる。
【００４９】
式（２．１）により説明すると、ブランチ３０１が正しいブランチの場合には、以下の関係が成り立つ。
【００５０】
m(00)k-1 ＜m(10)k-1    …（３）
ここで、ＰＲＭＬを用いた再生系において再生信号系列の状態を評価する場合には、ブランチの合流点において比較されるパスメトリックの差を用いることが有効である。上記の式（３）においては、再生信号系列の状態が良好な場合、即ち、エッジシフトの影響が小さい場合には比較される２つのメトリック差（パスメトリック差）は大きく、信号の状態が悪い場合、即ち、エッジシフトの影響が大きい場合にはメトリック差は小さくなる。従って、比較される２つのメトリック差の絶対値をΔｍとして以下により定義する。
【００５１】
Δmk＝｜m(00)k-1 − m(10)k-1｜    ・・・（４）
図５にメトリック差Δｍの分布を示す。メトリック差の分布は、再生信号振幅の誤差及び位相の誤差を含んだものとなる。つまり、エッジシフトの影響を反映したものとなる。
【００５２】
式（４）に示すようにメトリック差は絶対値により評価しているため、負の値は存在しない。ここで、メトリック差は、合流点での２つのパスメトリックの差であるので、差が大きい方が信頼性高く正しいパスを選択できることになる。一方、メトリック差が小さい場合は、誤ったパスとの識別が困難となるためにエラー発生の確率が高くなる。
【００５３】
図５に示すメトリック差の分布においては、メトリック差が０になる近傍の頻度がエラーになる確率が高いサンプルを表すことになる。
【００５４】
従って、本発明において再生信号の状態を表す評価指標としては、０近傍に設定した所定のしきい値以下のメトリック差の頻度を用いる。
【００５５】
各種パラメータの調整を行う場合には、各調整値における評価指標の値を保持し、その最小値を与える調整値によりパラメータの値を設定すれば良い。
【００５６】
図６は、最尤復号器の概略図である。メトリック検出部２０２においては、ＰＲ等化された波形を基に、パスメトリックを算出する。パスメトリックの算出は式（２．１）から式（２．４）に示すものを用いる。
【００５７】
メトリック比較部２０３においては、式（２．１）及び式（２．４）における２つのパスメトリックの大小判別を行う。
【００５８】
メトリック選択部２０４においては、前記大小判別結果に基づいて各状態のメトリック値を更新する。また、大小判別結果を基に制御信号を出力する。
【００５９】
パスメモリ部２０５は、各状態のパスに対応した復号データを保持するメモリであり、図７に示すように状態S00，S01，S10，S11に対応した４×ｎ個の復号データ候補が保持されている。前記４つのパスメモリの値は、前記メトリック選択部２０４から出力される制御信号を基に更新される。
【００６０】
図７にパスメモリ部の制御の概略を示す。図７において、３０１は前述した最尤復号のトレリス線図である。また３０２〜３０５は、時刻k時点での状態S00，S01，S10，S11に対応するパスメモリである。さらに３０７〜３１０は、時刻k+1時点の各パスメモリの値である。
【００６１】
時刻k+1の状態S00に至るパスを基にパスメモリの制御について説明する。状態S00においては、ブランチaとブランチbが合流する。この際、式（２．１）に示すようにブランチaに対応するパスメトリックとブランチbに対応するパスメトリックがメトリック比較部２０３において比較される。
【００６２】
ここで、ブランチaに示すパスメトリックが選択された場合、ブランチaのパスが残り、ブランチbのパスが消える。これに対応して出力される制御信号を基に、時刻k+1のパスメモリ３０７の値は、パスメモリ３０４により複写され、最後尾に“０”が追加される。各パスメモリの復号データがｎ個を超える場合には、逐次左方向にビットシフトされる。
【００６３】
復号データ選択部２０６においては、前記４つのパスメモリから復号データを１つ選択する。最尤復号において時刻kで４つの状態に対応するパスメトリックが生成される。復号データ選択部２０６においては、この中で最小のパスメトリックを与える状態を選択し、選択した状態に対応するパスメモリの先頭アドレスの復号ビットを出力する。
【００６４】
上記の方式によりＰＲＭＬの復号データが生成される。
【００６５】
このような光磁気記録再生装置において、各種パラメータ（オフトラック、レーザー再生パワー、レーザー記録パワー等）を最適値に設定するためには、各種パラメータを調整し、その際の信号の状態を評価するための指標が重要である。
【００６６】
評価指標生成部１１３は、前述のようにＰＲＭＬの復号過程で生成されるメトリック差の絶対値を基に評価指標を生成する。
【００６７】
以下、図８のフローにより評価指標生成部の動作について説明する。
ＰＲＭＬの復号を開始後（ステップＳＴ１）に、各時刻において状態S00,S01,S10,S11に至る4つのパスメトリックから最小のパスメトリックを与えるパスを検出する（ステップＳＴ２）。
【００６８】
次に、現時刻kの最小パスメトリックと時刻k-1の最小パスメトリックを与える状態を検出する（ステップＳＴ３）。最尤復号においては状態S01→S11、及び状態S10→S00の遷移が再生信号のエッジ部に対応するので、検出した結果が以下の場合に、メトリック差を算出する（ステップＳＴ４）。
【００６９】
0003958084.tif 000002
メトリック差は、状態S00またはS11に合流する２つのパスのパスメトリックの差分の絶対値である。このようにして、再生信号のエッジ部におけるメトリック差を算出する。なお、浮遊磁界によるエッジシフトの影響が小さいとメトリック差が大きく、信頼性高く正しいパスを選択でき、浮遊磁界によるエッジシフトの影響が大きいとメトリック差が小さく、誤ったパスとの識別が困難となるためにエラー発生の確率が高くなる。
【００７０】
パスメトリックを算出する毎に、カウンタＡの値を＋１加算する（ステップＳＴ５）。
【００７１】
次に、算出したメトリック差の絶対値を所定のしきい値と比較し、所定のしきい値以下の場合にはカウンタＢの値を＋１加算する（ステップＳＴ６、ステップＳＴ７）。パラメータ調整のための所定のサンプルについて再生が終了した時点で、評価指標を生成する（ステップＳＴ８、ステップＳＴ９）。
【００７２】
以上が、メトリック差検出の基本的な流れである。
【００７３】
図９は評価指標生成部１１３の概略図である。評価指標生成部１１３には、最尤復号器１１２から各状態に対応するメトリック値が与えられる。４０１はメトリック保持部であり、現時刻と一時刻前の各状態のメトリック値が保持される。４０２は、最小値検出部であり、現時刻のメトリック値から最小のメトリックを与える状態を選択する。４０３はメトリック差検出部であり、最小のメトリックを与える状態が上記の条件と合致する場合にメトリック差を生成する。メトリック差の生成の手順については前述のとおりである。
【００７４】
生成したメトリック差は、指標検出部４０４に与えられる。図１０に、指標検出部４０４の概略を示す。指標検出部４０４には、最小値検出部４０２において、状態S00又は状態S11が最小値であると判定されると、トリガ信号としてメトリック差検出信号が出力される。指標検出部４０４においては、メトリック差検出信号が入力されると、カウンタＡ４１１の値がインクリメントされる。また、比較器４１０においてメトリック差情報を所定のしきい値と比較し、所定のしきい値以下の場合にはカウンタＢ４１２の値がインクリメントされる。以上の処理により指標検出部４０４においては、メトリック差の絶対値を所定のしきい値と比較して、しきい値より小さいメトリック差の数Ｎ（カウンタＢの値）を計測する。同時に検出されるメトリック差の総数Ｓ（カウンタＡの値）を計測する。
【００７５】
パラメータ調整のための所定のサンプルについて再生が終了した時点で、評価指標を生成する。ここでは評価指標として前記しきい値より小さいメトリック差の数Ｎをメトリック差の総数Ｓで割ったものを指標演算部４１３より出力する。
【００７６】
図１１（ａ）〜（ｃ）は、再生パワーの変動とエラーレート、評価指標及びメトリック差分布の関係を示す特性図である。
【００７７】
上記評価指標と再生パワーの関係について述べる。図１１（ａ）に上記評価指標と再生パワーの相関図を示す。再生パワーが増加してくると、センサへの戻り光が増加し、かつ、アンプノイズ等は一定のため、S/Nが上昇する。ところが、ある再生パワー以上からは、温度上昇に伴いカー効果が弱まってくるため、信号成分がむしろ減少してきて、S/Nが悪化してくる。そのため、A点では、図１１（ｂ）に示すようにメトリック差の分布の所定のしきい値以下の頻度が増加し、評価指標の値が大きくなる。
【００７８】
Ｂ点では、図１１（ｃ）に示すようにメトリック差の分布が急峻となり、所定のしきい値以下の頻度が減少する。さらにＣ点では、Ａ点と同様にメトリック差の分布が緩やかになり評価指標が再び大きくなる。
【００７９】
この関係から、一連の再生パワー最適化の動作のアルゴリズムを図１２に基づいて説明する。再生パワーの最適値は１〜３ｍＷの間にあるとする。最初に所定の最低再生パワーＰｒとして（ステップＳＴ１１）、１ｍＷにてレーザーを点灯させて、再生動作を行う（ステップＳＴ１２）。そして、このときの評価指標を計測し、メモリ等に保持しておく（ステップＳＴ１３）。さらに、再生パワーＰｒを０．２ｍＷ増加させて（ステップＳＴ１４）、Ｐｒの値がＰｒ＞３ｍＷでなければ（ステップＳＴ１５）、再生動作を行い、評価指標を計測する。この手順を続けて行き、再生パワーが所定の最高再生パワー値である３ｍＷになった時点で、評価指標計測のループを脱する。
【００８０】
次にメモリに保持したデータ列から基準値を横切る再生パワー値を算出し（ステップＳＴ１６）、再生パワーの最適値として基準値を横切る２点での再生パワーの平均値を設定する（ステップＳＴ１７）。ここでは、例えば評価指標が基準値を横切る点での再生パワーｂ１及びｂ２を検出し、その平均値から最適な再生パワー調整値を得る。
【００８１】
（第２の実施形態）
本実施形態においては評価指標として、所定のしきい値以下のメトリック差の平均値を用いる。本実施形態では、メトリック差検出ポイントでの動作が第１の実施形態と異なる。
【００８２】
図１３によりメトリック差検出ポイント及び検出動作の概略を説明する。図１３は、再生信号をＰＲ（１,−１）等化した信号とトレリス線図を示したものである。
【００８３】
本実施形態のメトリック差検出は、各時刻での状態S00,S01,S10,S11のパスメトリックを比較し、第１の実施形態と同様に以下の条件を検出する。
【００８４】
0003958084.tif 000003
図１３のトレリス線図では、時刻k+2及び時刻k+5において上記のパスが発生している。ここでは、時刻k+2の時点におけるメトリック差の検出について説明する。まず、時刻k+2において状態S11に合流する二つのパスのパスメトリックm01(k+1)及びm11(k+1)の差の絶対値をメトリック差Δm(k+1)として求める（Δm(k+1)＝| m01(k+1)−m11(k+1)|）。
【００８５】
次に、時刻k+3において状態S11に合流する二つのパスメトリックm01(k+2)及びm11(k+2)の差の絶対値をメトリック差Δm(k+2)として求める（Δm(k+2)＝| m01(k+2)−m11(k+2)|）。
【００８６】
この二つのメトリック差を比較し、下記の式（５）に示すように小さい方を評価指標に用いるメトリック差として採用する。時刻k+5においても同様である。
【００８７】
Δｍ（ｎ）＝  min[Δm(k+1)，Δm(k+2)]  ・・・（５）
上記の方式でメトリック差を検出することにより、任意の時刻で発生するエッジらしきパスに対して、常に２時刻連続でメトリック差を検出するので第１の実施形態に対してエッジシフトの影響をより反映した評価指標となる。
【００８８】
尚、ここでは式（５）に示すようにメトリック差の小さい方を選択しているが、媒体及び記録再生系の特性、またエラー要因に応じて連続する２時刻のメトリック差の大きい方を選択しても良い。また前記２つのメトリック差両方及び平均値による分布を基に評価指標を生成することも可能である。
【００８９】
本実施形態の評価指標の生成方法について図１４（ａ）、（ｂ）に示す。図１４（ａ）、（ｂ）は、オフトラック量が変動する際のメトリック差の分布を示したものである。
【００９０】
図１４（ｂ）のようにオフトラック量が増加すると、図１４（ａ）のオフトラック量が小さい場合に比べて、メトリック差のしきい値Ｔ以下の頻度が増加する。従って、再生信号の状態が悪くなると、しきい値Ｔ以下のメトリック差の平均値が０の方向にシフトしていくことになる。本実施形態においては、しきい値以下のメトリック差の平均値を評価指標とすることにより、評価指標測定の際のばらつきを低減し、安定に再生信号の状態を評価することができる。
【００９１】
（第３の実施形態）
本実施形態の装置においては、メトリック差の検出タイミングが他の実施形態と異なる。以下、図１５のフローを基に動作を説明する。
【００９２】
＜ステップＳＴ２１＞
再生信号系列を出力しＰＲＭＬによる復号を開始する。
【００９３】
＜ステップＳＴ２２＞
任意の時刻kにおいて状態S00，S01，S10，S11に至る４本のパスの中から最小のパスメトリックを与えるパスを検出する。
【００９４】
＜ステップＳＴ２３、ステップＳＴ２４＞
最小パスメトリックが状態S00または状態S11に至るパスであるか判別する（ステップＳＴ２３）。判別結果がyesの場合は、メトリック差を検出する（ステップＳＴ２４）。メトリック差は前述した実施形態と同様である。また判別結果がnoの場合は、フラグを“０”に設定する（ステップＳＴ２７）。
【００９５】
＜ステップＳＴ２５＞
フラグが“１”の場合は、以前に保持されているメトリック差と比較し、小さい方の値を選択して更新する。フラグが“０”の場合は、検出したメトリック差を保持し、フラグを“１”に設定する（ステップＳＴ２６）。
【００９６】
＜ステップＳＴ２８、ステップＳＴ２９＞
ステップＳＴ２３での判別の結果がnoの場合はメトリック差を保持しているか否かを判別して（ステップＳＴ２８）、保持している場合は、カウンタＡの値を＋１加算する（ステップＳＴ２９）。
【００９７】
＜ステップＳＴ３０、ステップＳＴ３１＞
メトリック差が所定のしきい値以下であるか判別して、yesの場合にはカウンタＢを＋１加算する（ステップＳＴ３１）。一方noの場合には、保持しているメトリック差を破棄する。
【００９８】
以上の手順でメトリック差及び指標を求める。
【００９９】
図１６に動作タイミングを示す。図１６は、上からトレリス線図（Ａ）、ゲート信号（Ｂ）、メトリック差データ（Ｃ）、サンプリング波形（Ｄ）である。以下、動作について示す。
１）  時刻kにおいてゲートがLowで、かつ状態S00，S11のメトリック差が最小値の場合にゲートをHighにし、状態S11に合流するパスのメトリック差の絶対値を検出する。
２）  時刻k+1において状態S11が最小の場合には、時刻kでのメトリック差と時刻k+1で求めたメトリック差の値を比較して、時刻k+1におけるパスメトリックの方が小さい場合には、時刻k+1においてメトリック差の絶対値を検出し更新、保持する。
３）  ２）の処理を繰り返し、時刻k+3において状態S11以外のパスメトリックが最小となった場合は、前記ゲートをLowにすると共に、保持しているメトリック差の絶対値（Δｍ（ｎ））を出力後、１）に戻る。
【０１００】
図１７は本実施形態の評価指標生成部４５０のブロック図である。メトリック保持部４０１及びメトリック差検出部４０３は第１の実施形態と同様であるので説明を省略する。最小値検出部４０２は、現時刻における４つの状態S00,S01，S10及びS11のパスメトリックの最小値を検出し、最小値が状態S00またはS11の場合には、ゲート信号のレベルを“ｈｉｇｈ”に設定し、最小値が状態S01またはS10の場合にはゲート信号のレベルを“Ｌｏｗ”に設定する。
【０１０１】
メトリック差更新部４２０は、上記２）におけるメトリック差の更新処理を各時刻において実行する。フラグが“１”か“０”かは内部に有するメモリに記憶される。また指標検出部４２１は、図１５のフローに示すカウンタＡ及びカウンタＢ、さらに所定のしきい値との比較器を内部に有し、最小部検出部４０２からのゲートの立上がりエッジに同期してカウンタＡの値をインクリメントすると共に、ゲート信号の立ち上がりエッジに同期してメトリック更新部４２０から出力されるメトリック差絶対値Δｍ（ｎ）を所定のしきい値と比較して、所定のしきい値以下の場合にはカウンタＢをインクリメントする。最終的には指標はカウンタＢの値をカウンタＡの値で除算したものとなる。カウンタＡ及びカウンタＢ、比較器の接続関係は図１０のものと同じである。
【０１０２】
以上の手順でメトリック差を検出することにより、再生信号の極性の変化に対応して一つのメトリック差が出力される。最尤復号で再生する場合、エラーの発生は極性の変化、即ち１つのマーク（スペース）単位で生じることが多いので、極性の変化の信頼性をメトリック差で表すことにより再生信号の状態を検出することが可能となる。
【０１０３】
尚、ここではメトリック差が保持している値より小さい場合に、メトリック差を更新しているが、媒体及び記録再生系の特性、またエラー要因に応じてメトリック差が保持している値より大きい場合に更新するようにしても良い。また前記ゲートがHighの区間のメトリック差の平均値を用いることが可能であることは言うまでもない。
【０１０４】
尚、上述の実施形態においては光磁気記録再生装置を用いて説明を行なったが、本発明はＤＶＤ−Ｒ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷなどの他のタイプの光学的記録再生装置にも適用可能である。
【０１０５】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、再生信号を最尤復号し、最尤復号における結合するパスの尤度差を基に各種パラメータを調整するので、エラーレートに比べて少ないサンプル数で信号の状態を評価することが可能となる。
【０１０６】
また、最尤復号の尤度を基に評価しているので、エラーレートとの相関も高く精度良く各種パラメータを調整することができる。特に、光磁気記録媒体を対象とした場合、浮遊磁界よるエッジシフトの影響を十分に低減できる調整を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の光磁気記録再生再生装置の第１の実施形態の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明に係る最尤復号の状態遷移図である。
【図３】本発明に係る最尤復号のトレリス線図である。
【図４】本発明に係る最尤復号のブランチを説明する図である。
【図５】本発明に係る最尤復号のメトリック差の分布を説明する図である。
【図６】本発明に係る第１の実施形態の最尤復号器のブロック図である。
【図７】本発明に係る最尤復号の動作を説明する図である。
【図８】本発明に係る第１の実施形態の評価指標検出の処理フローである。
【図９】本発明に係る第１の実施形態の評価指標生成部のブロック図である。
【図１０】本発明に係る第１の実施形態の評価検出部のブロック図である。
【図１１】本発明に係る第１の実施形態のパラメータ調整方法を示す概略図である。
【図１２】本発明に係る第１の実施形態のパラメータ調整フローの概略図である。
【図１３】本発明に係る第２の実施形態のメトリック差検出の概略図である。
【図１４】本発明に係る第２の実施形態の評価指標生成を説明する図である。
【図１５】本発明に係る第３の実施形態の評価指標生成の処理フローである。
【図１６】本発明に係る第３の実施形態のメトリック差検出の概略図である。
【図１７】本発明に係る第３の実施形態の評価指標生成部の概略図である。
【図１８】本発明に係るＰＲ（１，−１）特性を説明する図である。
【図１９】浮遊磁界を説明する図である。
【符号の説明】
１０１  光磁気ディスク
１０２  スピンドルモータ
１０３  磁気ヘッド
１０４  光ヘッド
１０５  プリアンプ
１０６  磁気ヘッドドライバ
１０７  プリエンコーダ
１０９  ＡＧＣ回路
１１０  Ａ／Ｄ変換器
１１１  ＰＲ等化器
１１２  最尤復号器
１１３  評価指標生成部
１１４  制御コントローラ
２０２  メトリック検出部
２０３  メトリック比較部
２０４  メトリック選択部
２０５  パスメモリ部
２０６  復号データ選択部
４０１  メトリック保持部
４０２  最小値検出部
４０３  メトリック差検出部
４０４  指標検出部
【図１】
0003958084.tif 000004
【図２】
0003958084.tif 000005
【図３】
0003958084.tif 000006
【図４】
0003958084.tif 000007
【図５】
0003958084.tif 000008
【図６】
0003958084.tif 000009
【図７】
0003958084.tif 000010
【図８】
0003958084.tif 000011
【図９】
0003958084.tif 000012
【図１０】
0003958084.tif 000013
【図１１】
0003958084.tif 000014
【図１２】
0003958084.tif 000015
【図１３】
0003958084.tif 000016
【図１４】
0003958084.tif 000017
【図１５】
0003958084.tif 000018
【図１６】
0003958084.tif 000019
【図１７】
0003958084.tif 000020
【図１８】
0003958084.tif 000021
【図１９】
0003958084.tif 000022