(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光磁気ディスク記録面への記録時のレーザパワーを決定するレーザパワー決定方法において、
光磁気ディスクのパワーキャリブレーションエリアに所定のレーザパワーでテスト記録を行い、記録部分をリードバックしたときの再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値を検出する第１のモニタステップと、
上記第１のモニタステップにおけるテスト記録時よりも大きなレーザパワーでもってテスト記録を行い、記録部分をリードバックしたときの再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値を検出する第２のモニタステップと、
上記第１のモニタステップと第２のモニタステップとを繰り返し、次の繰り返しでは前のときよりもレーザパワーを上げてモニタし、第１及び第２のモニタステップのテスト記録における再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値のそれぞれのレベル差が所定値以上となり、かつ、第１のモニタステップにおけるレベル差と第２のモニタステップにおけるレベル差とが同等となるレーザパワー値を検出するステップと、
上記検出ステップにおいて検出されたレーザパワー値に所定パワーを加算したレーザパワーを用いて実記録を行うステップと
からなることを特徴とする光磁気記録パワー決定方法。
【請求項２】
第１のモニタステップにおけるテスト記録時のレーザパワーを、低温時に光磁気ディスクの磁性層がキュリー温度近辺に達するレーザパワーよりも低めのパワーに設定することを特徴とする請求項１に記載の光磁気記録パワー決定方法。
【請求項３】
上記検出ステップにおいて検出されたレーザパワー値に加算される所定パワーは、周囲温度が高温時の記録において記録特性が良くなるパワーの加算量を基準に求めることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の光磁気記録パワー決定方法。
【請求項４】
光磁気ディスクの記録面に所定強度の光ビームを照射して情報を記録再生する光磁気ディスク装置において、
光磁気ディスクのパワーキャリブレーションエリアに所定のレーザパワーでテスト記録を行い、記録部分をリードバックしたときの再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値を検出する第１のモニタ手段と、
上記第１のモニタ手段によるテスト記録時よりも大きなレーザパワーでもってテスト記録を行い、記録部分をリードバックしたときの再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値を検出する第２のモニタ手段と、
上記第１及び第２のモニタ手段による検出を繰り返し、次の繰り返しでは前のときよりもレーザパワーを上げてモニタし、第１及び第２のモニタ手段によるテスト記録における再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値のそれぞれのレベル差が所定値以上となり、かつ、第１のモニタ手段の検出におけるレベル差と第２のモニタ手段の検出におけるレベル差とが同等となるレーザパワー値を検出する手段と、
上記検出手段において検出されたレーザパワー値に所定パワーを加算したレーザパワーを用いて実記録を行う手段と
を備えたことを特徴とする光磁気ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、レコーダブル・ミニディスク等の光磁気ディスクに記録を行うときの光磁気記録パワー決定方法及び光磁気ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来から、この種の光磁気ディスクの記録面に所定強度の光ビームを照射して情報を記録再生する光磁気ディスク装置では、光磁気ディスク記録面への記録を正確に行うために、記録時の条件に応じて最適なレーザパワーが決定される必要がある。光磁気ディスクの記録毎に使用環境温度やレーザパワー等の記録条件が変動すると、光磁気ディスクの記録面での磁気転写が完全に機能しなかったり、記録膜の温度が高くなり十分な磁気光学効果が得られない場合があったり、一定の分解能が得られないことがあるためである。
【０００３】
上記の光磁気記録パワー決定方法としては、例えば、特開平７−２９２３８号公報に示すように、再生時の周囲温度条件により影響を受けた磁気特性の変化分をキャンセル（温度補償）するために、予め記録層に入力した基準信号を再生し、その出力信号振幅を計測して当初の基準信号の振幅と比較し、その信号出力差に基づいて、当初の基準信号の振幅と同レベルもしくはそれに近いレベルの信号が再生すべく再生光であるレーザパワーを制御するものがある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記のような従来の光磁気記録パワー決定方法においては、最適なレーザパワーを決定するために周囲温度を検出する必要があり、周囲温度検出のための機構が必要となるため、光磁気記録パワーを決定するための装置の構成が複雑になるという問題があった。
【０００５】
本発明は、上述した問題点を解決するためになされたものであり、光磁気ディスクへの記録を行う際、周囲温度を検出するための温度センサ等の機構を必要とすることなく、簡単な構成でもって記録毎に最適な光磁気記録パワーを決定することができ、しかも高い記録品質を保持することができる光磁気記録パワー決定方法及び光磁気ディスク装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために請求項１に記載の発明は、光磁気ディスク記録面への記録時のレーザパワーを決定するレーザパワー決定方法において、光磁気ディスクのパワーキャリブレーションエリアに所定のレーザパワーでテスト記録を行い、記録部分をリードバックしたときの再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値を検出する第１のモニタステップと、上記第１のモニタステップにおけるテスト記録時よりも大きなレーザパワーでもってテスト記録を行い、記録部分をリードバックしたときの再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値を検出する第２のモニタステップと、上記第１のモニタステップと第２のモニタステップとを繰り返し、次の繰り返しでは前のときよりもレーザパワーを上げてモニタし、第１及び第２のモニタステップのテスト記録における再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値のそれぞれのレベル差が所定値以上となり、かつ、第１のモニタステップにおけるレベル差と第２のモニタステップにおけるレベル差とが同等となるレーザパワー値を検出するステップと、上記検出ステップにおいて検出されたレーザパワー値に所定パワーを加算したレーザパワーを用いて実記録を行うステップとからなるものである。
【０００７】
上記構成においては、光磁気ディスクのパワーキャリブレーションエリアに、異なるレーザパワーによる第１及び第２のモニタステップのテスト記録を繰り返し、それぞれのテスト記録部分をリードバックしたときのＲＦ信号のピーク値及びボトム値のレベル差が所定値以上であり、両ステップにおけるピーク値及びボトム値のレベル差が同等であるときは、そのレーザパワー値に所定値を加算したレーザパワー値でもって実記録を行うので、周囲環境の温度を検出することなく、書き込みのレベルが一定水準に達するレーザパワー値を検出することが可能となる。また、レーザパワー値に所定値を加算することで、光磁気ディスクの情報記録面をキュリー温度に達した温度から少し高めに設定することが可能になり、実記録に用いるレーザパワーを急激に記録特性が良くなるレーザパワーに設定することが可能になる。
【０００８】
また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の光磁気記録パワー決定方法であって、第１のモニタステップにおけるテスト記録時のレーザパワーを、低温時に光磁気ディスクの磁性層がキュリー温度近辺に達するレーザパワーよりも低めのパワーに設定するものである。
【０００９】
上記構成においては、低温時に光磁気ディスクの磁性層がキュリー温度近辺に達するレーザパワーよりも低めのパワーからテスト記録を開始するので、第１及び第２のモニタステップを繰り返して徐々にレーザパワーを上げていったとき、上記検出ステップにおいてレベル差が一定基準を満たすに至ったことを迅速に検出することができる。
【００１０】
また、請求項３に記載の発明は、請求項１に記載の光磁気記録パワー決定方法であって、上記検出ステップにおいて検出されたレーザパワー値に加算される所定パワーは、周囲温度が高温時の記録において記録特性が良くなるパワーの加算量を基準に求めるものである。
【００１１】
上記構成においては、周囲温度が高温時の記録において記録特性が良くなるパワーの加算量を基準にしてレーザパワー値への加算を行うので、加算量が比較的小さくなり、周囲温度に拘わらず、所定値加算後のレーザパワーが確実にレーザパワーマージン内に収まる。
【００１２】
また、請求項４に記載の発明は、光磁気ディスクの記録面に所定強度の光ビームを照射して情報を記録再生する光磁気ディスク装置において、光磁気ディスクのパワーキャリブレーションエリアに所定のレーザパワーでテスト記録を行い、記録部分をリードバックしたときの再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値を検出する第１のモニタ手段と、上記第１のモニタ手段によるテスト記録時よりも大きなレーザパワーでもってテスト記録を行い、記録部分をリードバックしたときの再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値を検出する第２のモニタ手段と、上記第１及び第２のモニタ手段による検出を繰り返し、次の繰り返しでは前のときよりもレーザパワーを上げてモニタし、第１及び第２のモニタ手段によるテスト記録における再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値のそれぞれのレベル差が所定値以上となり、かつ、第１のモニタ手段の検出におけるレベル差と第２のモニタ手段の検出におけるレベル差とが同等となるレーザパワー値を検出する手段と、上記検出手段において検出されたレーザパワー値に所定パワーを加算したレーザパワーを用いて実記録を行う手段とを備えたものである。
【００１３】
上記構成においては、光磁気ディスクのパワーキャリブレーションエリアに、異なるレーザパワーによる第１及び第２のモニタ手段によるテスト記録を繰り返し、それぞれのテスト記録部分をリードバックしたときのＲＦ信号のピーク値及びボトム値のレベル差が所定値以上であり、両ステップにおけるピーク値及びボトム値のレベル差が同等であるときは、そのレーザパワー値に所定値を加算したレーザパワー値でもって実記録を行うので、周囲環境の温度を検出することなく、書き込みのレベルが一定水準に達するレーザパワー値を検出することが可能となる。また、レーザパワー値に所定値を加算することで、光磁気ディスクの情報記録面をキュリー温度に達した温度から少し高めに設定することが可能になり、実記録に用いるレーザパワーを急激に記録特性が良くなるレーザパワーに設定することが可能になる。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態に係る光磁気記録パワー決定方法及び光磁気ディスク装置について図１乃至図７を参照して説明する。本発明の一実施形態に係る光磁気ディスク装置の概略構成を図１に示す。光磁気ディスク装置１は、ミニディスク（Mini Disc ）等の光磁気ディスク５の記録、再生及び消去を行うものであり、ミニディスクの情報記録層への光ビーム照射及びその反射光に基づいて情報を読み取るための光ピックアップ部２及び対物レンズ３、及び対物レンズ３をディスク方向に移動させる送りモータ４を有している。スピンドルモータ６は情報書き込み又は読み取り時にディスク５を回転させるためのものである。
【００１５】
システムコントローラ（検出手段）８は、サーボ制御回路７を介して、光ピックアップ部２、対物レンズ３、送りモータ４及びスピンドルモータ６を制御する。光ピックアップ部２は、ディスク５に光ビームを照射する発光素子、及びディスクでの反射光を受光する受光素子を備え、この受光素子からの信号はＲＦアンプ９を介して、再生・記録信号のエンコーダ／デコーダ部１０に送られる。また、ＲＦアンプ９からは、アドレスデコーダ１１を介してエンコーダ／デコーダ部１０にアドレス信号を出力する。磁気ヘッド（実記録手段）１３は、ディスク５の光磁気膜に情報を磁気記録するためのものであり、ディスク５を挟んで光ピックアップ２とは反対側に配置される。システムコントローラ８は、情報記録時に光ピックアップ２を駆動してディスク５にレーザビームを照射して、その光磁気膜をキュリー温度以上に加熱して磁気を消失させ、その時、エンコーダ／デコーダ部１０は記録情報に応じてヘッドドライバ１４を介して磁気ヘッド１３に流す電流の方向を反転させることで、「Ｎ」か「Ｓ」かの磁界を発生させ、ディスク５に磁界変調オーバライト方式にて記録を行う。
【００１６】
また、光ピックアップ部は、後述するようにテスト記録が可能であり、ＲＦアンプ９には、ＲＦ信号のピーク値及びボトム値を検出するピーク／ボトムホールド回路（第１及び第２のモニタ手段）１５が接続され、検出されたピーク値及びボトム値はＡ／Ｄ変換部１６によってＡ／Ｄ変換された後、システムコントローラ８に入力される。
【００１７】
次に、記録に必要なレーザパワーと温度の関係について図２及び図３を参照して説明する。記録に必要なレーザパワーと周囲環境温度の関係を図２に示し、光磁気ディスクの記録領域を模式的に図３に示す。一般的に光磁気ディスクには、プログラムエリア以外に、記録時の推奨レーザパワー等の必要な情報を書き込むためにメーカ側が使用するＴＯＣエリア、及びトラックの開始・終了位置や記録した曲名等の情報の書き込みが可能とされ、ユーザが使用するＵＴＯＣエリアが設けられている。このＴＯＣエリアに書き込まれている推奨レーザパワーは、周囲環境温度が２５℃の場合の値とされているのが一般的である。しかし、光磁気ディスクへの記録時の周囲温度が常に２５℃であるとは限らないため、ＴＯＣエリアに書き込まれている推奨レーザパワーでの記録が高品質であるとは限らない。そのため、高品質の記録を行うために、ディスクへの記録の度に周囲温度に応じたレーザパワーに調整することが望まれる。図２に示すように、周囲温度が高いほど、記録に適するレーザパワー、即ち、ディスク磁性層の温度をキュリー温度に到達させるために必要なレーザパワーは小さくなるためである。
【００１８】
光磁気ディスク装置１は、上述したようなレーザパワーと周囲環境温度の関係を考慮し、ディスクへの記録毎に、ＵＴＯＣエリア内のＰＣＡ（Power Calibration Area）エリアを利用してテスト記録を行い、該記録部分をリードバックしたときのＲＦ信号のピーク／ボトム値のレベル差に基づいて、記録時の周囲環境に適したレーザパワーを求めるようにしたものである。
【００１９】
ディスク磁性層への記録を可能とするためには、テスト記録部分をリードバックしたときのＲＦ信号のピーク／ボトム値のレベル差（図４に矢印で示す）が一定値以上となるレーザパワーでなければならない。このレベル差はレーザパワーが大きくなるに連れて大きくなるが、図５に示すように、ある一定のレーザパワーに達すると、その時点でレベル差は飽和状態となり、それ以上には拡がらない。従って、徐々にレーザパワーのレベルを上げて複数回のテスト記録を行い、検出される上記各レベル差に変化がなくなり、かつ、その各レベル差が一定値以上であれば、当該記録時の温度条件下で記録可能なレーザパワーに達していることになる。
【００２０】
エラーレートとレーザパワーの関係について図６を参照して説明する。図６に示すように、レーザパワーの値が大きくなると、それに連れて最初はエラーレートも低減するが、レーザパワーが一定の値に達すると、それ以上はエラーレートは低減しなくなる。そして、更にレーザパワーの値が大きくなるとエラーレートが大きくなる。従って、このエラーレートが最小レベルとなっている領域におけるレーザパワーが記録に適した値である。また、エラーレートが最小レベルとなっている領域は、周囲温度が低くなると、図６において右側にシフトする（図６に０℃の場合のものを示す）。通常、ディスクの記録時の温度条件は０℃〜５０℃程度であると思われるので、記録時の温度条件下におけるエラーレートが最小レベルとなっている領域を検出するためには、テスト記録に用いるレーザパワーを、周囲温度が０℃の時にディスク磁性層がキュリー温度に達すると予測されるレーザパワーよりも若干低めのパワーから開始すれば、エラーレートが最小レベルとなる領域を短時間で検出することができる。
【００２１】
次に、光磁気ディスク装置１による記録時のレーザパワー決定方法について図５のフローチャートを参照して説明する。この処理はシステムコントローラ８により行われる。ディスクへの記録開始を指示するＲＥＣ開始コマンド、又はＲＥＣ  ＰＡＵＳＥ開始コマンドがあると（Ｓ１：ＹＥＳ）、まず、ＵＴＯＣエリア内のＰＣＡエリアに記録されている情報を消去し（Ｓ２）、該エリアへのテスト記録による書き込みが可能な状態にする。この消去時のレーザパワーは、必ず記録可能と思われる高めのパワー値（ディスク磁性層を必ずキュリー温度近辺に到達させることができると思われるレーザパワー値）にし、磁気ヘッド１３をドライブしないようにすることで（ＥＦＭ変調電流を流さないようにすることで）、擬似的な消去が行われる。
【００２２】
そして、この書き込み可能となったＰＣＡエリアに、低温時、例えば０℃の時のディスク磁性層をキュリー温度近辺に到達させることができると思われるレーザパワーよりも若干低めのパワーでもってテスト記録１を行う（Ｓ３）。このテスト記録１の後、テスト記録１によって書き込んだ部分をリードバックしてピーク／ボトムホールド１５を通してＲＦアンプ９から出力されるＲＦ信号のピーク／ボトム値のレベル差を算出し（Ｓ４）、メモリ（不図示）に記憶しておく（Ｓ５）。次に、テスト記録１の場合よりも若干レーザパワーを上げてテスト記録２を行う（Ｓ６）。テスト記録１の場合と同様、このテスト記録２の後、テスト記録２によって書き込んだ部分をリードバックしてＲＦ信号のピーク／ボトム値のレベル差を算出する（Ｓ７）。
【００２３】
次に、テスト記録１のときのレベル差をメモリから読み出し、テスト記録１及び２におけるレベル差が共に所定値以上であるかを判断する（Ｓ８）。この判断は、ＲＦ信号のピーク／ボトム値のレベル差が、ディスク磁性層への記録が可能になる程度に達しているか否かを検出するものであり、この所定値とは、ディスク磁性層への記録が可能になる程度のレベル差を示す値である。この判断において、テスト記録１及び２におけるレベル差が両方とも所定値に達している場合は（Ｓ８：ＹＥＳ）、更に、テスト記録１及び２におけるレベル差が同等の値であるかを判断する（Ｓ９）。ここで、両レベル差が同等の値となっている場合は（Ｓ９：ＹＥＳ）、テスト記録１におけるレーザパワーとテスト記録２におけるレーザパワーの中間値を算出し（Ｓ１０）、算出した中間値に所定値を加算した値を実記録に用いるレーザパワーとする（Ｓ１１）。この所定値は、周囲温度が高温時の記録において記録特性が安定して良くなるパワーの加算量を目安にして決定し、ここでは、算出した中間値が、ディスク磁性層がキュリー温度に達したレーザパワーから少し高めのレーザパワーとなるような値とする。ディスク磁性層がキュリー温度に達したレーザパワーから少し高めのレーザパワーでの記録において急激に記録特性が向上するからである。
【００２４】
また、Ｓ８において、テスト記録１及び２におけるレベル差のいずれか一方でも所定値に達していない場合、及びＳ９において、テスト記録１及び２の両レベル差が同等の値でない場合には、Ｓ３に戻り、前回よりも若干レーザパワーを上げてテスト記録１及びテスト記録２を行う（Ｓ８：ＮＯ，Ｓ９：ＮＯ）。このテスト記録１及びテスト記録２は、テスト記録１及び２におけるレベル差が両方とも所定値に達し、かつ、両レベル差が同等の値になるまで繰り返される。以上のようにして実記録に用いるレーザパワーを求め、かかるレーザパワーでもって記録又はＲＥＣ ＰＡＵＳＥが開始される（Ｓ１２）。
【００２５】
このように、本実施形態の光磁気ディスク装置１によれば、ディスクへの記録を行う毎に、ＵＴＯＣエリア内のＰＣＡエリアにテスト記録１及び２を繰り返すことによって、記録時の周囲環境に適したレーザパワーを求めるので、周囲温度の検出を行わなくても、周囲温度条件に応じた最適なレーザパワーを求めることができる。これにより、温度センサ等の機構を必要とすることなく記録品位を高品質に保つことができる。
【００２６】
なお、本発明は上記実施の形態の構成に限られず種々の変形が可能である。例えば、上記実施の形態では、テスト記録１に用いるレーザパワーのレベルは、低温時にディスク磁性層がキュリー温度近辺に達すると思われるレーザパワーより若干低めのパワーとされているが、テスト記録１をこれ以外のレベルのレーザパワーを用いて開始してもよい。また、上記実施の形態では、実記録に用いるレーザパワーを設定する場合、テスト記録１及び２におけるレベル差が両方とも所定値に達し、かつ、両レベル差が同等の値となった時のテスト記録１におけるレーザパワーとテスト記録２におけるレーザパワーの中間値を算出し、この中間値に所定値を加算した値を実記録に用いるレーザパワーとしているが、かかる中間値を算出することなく、その時のテスト記録１におけるレーザパワーとテスト記録２におけるレーザパワーのいずれか一方に所定値を加算した値を、実記録に用いるレーザパワーとしてもよい。また、上記実施の形態では、光磁気ディスクとして、ミニディスクの場合を説明したが、これに限定されず、広く光磁気ディスク全般に適用することが可能である。
【００２７】
【発明の効果】
以上のように請求項１又は請求項４に記載の発明によれば、第１及び第２のモニタステップにおけるピーク値及びボトム値のレベル差に基づいて、記録時の周囲環境に適したレーザパワーを求めるので、周囲温度を検出することなく最適なレーザパワーによる記録を行うことができる。これにより、温度センサ等の機構を必要とすることなく簡単な構成で記録品位を高品質に保つことができる。また、求められたレーザパワー値に所定値を加算したパワー値を実記録に用いるレーザパワーとするので、実記録に用いるレーザパワーを、光磁気ディスクの情報記録面がキュリー温度に達する温度から少し高めに設定することが可能になり、急激に記録特性が良くなるレーザパワーでもって実記録を行うことが可能になる。
【００２８】
また、請求項２に記載の発明によれば、低温時に光磁気ディスクの磁性層がキュリー温度近辺に達するレーザパワーよりも低めのパワーからテスト記録を開始するので、第１及び第２のモニタステップを繰り返して徐々にレーザパワーを上げていったとき、上記検出ステップにおいてレベル差が一定基準を満たすに至ったことを迅速に検出することができ、パワーキャリブレーションに要する時間を短縮することができる。
【００２９】
また、請求項３に記載の発明によれば、周囲温度が高温時の記録において記録特性が良くなるパワーの加算量を基準にして、比較的小さなパワー加算量でもってレーザパワー値への加算を行うので、周囲温度に拘わらず、所定値を加算した後のレーザパワーを確実にレーザパワーマージン内に収めることができ、安定した記録を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係る光磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】記録に用いるレーザパワーと周囲環境温度との関係を示す図である。
【図３】光磁気ディスクの記録領域を模式的に示す図である。
【図４】テスト記録部分をリードバックしたときのＲＦ信号を示す図である。
【図５】上記ＲＦ信号のピーク／ボトム値のレベル差とレーザパワーとの関係を示す図である。
【図６】エラーレートとレーザパワーの関係を示す図である。
【図７】記録時のレーザパワーを決定するときの処理の流れを示すフローチャートである。
【符号の説明】
１    光磁気ディスク装置
５    光磁気ディスク
８    システムコントローラ（検出手段）
９    ＲＦアンプ
１０  エンコーダ／デコーダ（実記録手段）
１３  磁気ヘッド（実記録手段）
１４  ヘッドドライバ
１５  ピーク／ボトムホールド部（第１及び第２のモニタ手段）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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