(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子の選別方法において、各ＰＴＣ素子に電流が充分減衰する所定の電圧を印加し、該各ＰＴＣ素子に流れる電流が所定の電流値に至る時間の相違によって該各ＰＴＣ素子を選別することを特徴とするＰＴＣ素子の選別方法。
【請求項２】
異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子の選別方法において、各ＰＴＣ素子に電流が充分減衰する所定の電圧を印加し、所定の時間が経過した時の上記各ＰＴＣ素子に流れる電流値の相違によって該各ＰＴＣ素子を選別することを特徴とするＰＴＣ素子の選別方法。
【請求項３】
異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子の選別方法において、各ＰＴＣ素子に電流が充分減衰する所定の電圧を印加し、該各ＰＴＣ素子に流れる電流が複数の所定の電流値に至るそれぞれの時間の相違によって該各ＰＴＣ素子を選別することを特徴とするＰＴＣ素子の選別方法。
【請求項４】
異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子の選別方法において、各ＰＴＣ素子に電流が充分減衰する所定の電圧を印加し、複数の所定の時間が経過した時に上記各ＰＴＣ素子に流れるそれぞれの電流値の相違によって該各ＰＴＣ素子を選別することを特徴とするＰＴＣ素子の選別方法。
【請求項５】
異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子の選別方法において、各ＰＴＣ素子に電流が充分減衰する複数の所定の電圧を印加し、上記各ＰＴＣ素子に流れる電流が所定の電流値に至るそれぞれの時間の相違によって該各ＰＴＣ素子を選別することを特徴とするＰＴＣ素子の選別方法。
【請求項６】
異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子の選別方法において、各ＰＴＣ素子に電流が充分減衰する複数の所定の電圧を印加し、所定の時間が経過した時に上記各ＰＴＣ素子に流れるそれぞれの電流値の相違によって該各ＰＴＣ素子を選別することを特徴とするＰＴＣ素子の選別方法。
【請求項７】
請求の範囲第４項において、上記各ＰＴＣ素子の電流値を少なくとも２点測定し、その測定値を積算した値の相違によって該各ＰＴＣ素子を選別することを特徴とするＰＴＣ素子の選別方法。
【請求項８】
請求の範囲第７項において、上記電流値を積算する区間は、電流値が突入電流値の２０％以上，８０％以下となる区間を用いることを特徴とするＰＴＣ素子の選別方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子を選別するための選別方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、正の抵抗温度特性を有するＰＴＣ素子は、キュリー温度（以下、適宜ＣＰと略する）を超えると、抵抗値が急激に増加する特性を有しており、例えば電子回路の過電流保護素子として、あるいは温度検出素子として使用されている。【０００３】
このようなＰＴＣ素子では、例えば製造過程で不純物の混入などによって特性不良が発生する場合があり、このため製造されたＰＴＣ素子の良否を判定するようにしている。このような良否の判定方法として、例えばＰＴＣ素子のインピーダンスを測定し、その抵抗成分の値により良否を評価する方法がある（例えば、特許文献１参照）。また他の判定方法として、通電時の突入電流値，定常電流値を設定し、この設定値を超えない突入電流及び定常電流を有するＰＴＣ素子を選定する方法がある（例えば、特許文献２参照）。【０００４】
一方、現在では市場要求に応えるために、様々な抵抗温度特性を持ったＰＴＣ素子が市販されており、ＰＴＣ素子自体の超小型化も進んでいる。最近では、例えば１．６×０．８ｍｍ、０．６×０．３ｍｍ程度の微小チップ部品も開発されている。
【特許文献１】特開平７−２９４５６８号公報
【特許文献２】特開平９−９２５０４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、ＰＴＣ素子の部品管理を行なう中で、管理中のＰＴＣ素子に何らかの原因で異種特性のＰＴＣ素子が誤って混入する場合が考えられる。このような場合には、混入した異種部品を選別する必要が生じるが、上記従来の何れの方法を採用しても異なる抵抗温度特性を有するＰＴＣ素子を選別するのは困難であり、部品管理の効率を高めるうえでの改善が望まれている。【０００６】
また現在、異種部品が混入するのを防ぐために、ＰＴＣ素子に識別用のマーキングを施すことも行なわれているが、チップの小型化が進む中で、微小チップ部品にマーキングすることは困難であり、このため外観から抵抗温度特性の違いを判別することができない。また短時間で測定できる抵抗値や耐圧でもっても特性を判別することができないのが実情である。従って、混入したＰＴＣ素子を選別するには、全数チェックで各素子の抵抗温度特性を測定しなければならず、多大な時間と手間を要するという問題がある。【０００７】
本発明は、上記従来の実情に鑑みてなされたもので、異種部品が混入した場合の選別を容易にかつ確実に行なうことができるＰＴＣ素子の選別方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
請求の範囲第１項の発明は、異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子の選別方法において、各ＰＴＣ素子に電流が充分減衰する所定の電圧を印加し、該各ＰＴＣ素子に流れる電流が所定の電流値に至る時間の相違によって該各ＰＴＣ素子を選別することを特徴としている。【０００９】
請求の範囲第２項の発明は、異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子の選別方法において、各ＰＴＣ素子に電流が充分減衰する所定の電圧を印加し、所定の時間が経過した時の上記各ＰＴＣ素子に流れる電流値の相違によって該各ＰＴＣ素子を選別することを特徴としている。【００１０】
請求の範囲第３項の発明は、異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子の選別方法において、各ＰＴＣ素子に電流が充分減衰する所定の電圧を印加し、該各ＰＴＣ素子に流れる電流が複数の所定の電流値に至るそれぞれの時間の相違によって該各ＰＴＣ素子を選別することを特徴としている。【００１１】
請求の範囲第４項の発明は、異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子の選別方法において、各ＰＴＣ素子に電流が充分減衰する所定の電圧を印加し、複数の所定の時間が経過した時に上記各ＰＴＣ素子に流れるそれぞれの電流値の相違によって該各ＰＴＣ素子を選別することを特徴としている。【００１２】
請求の範囲第５項の発明は、異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子の選別方法において、各ＰＴＣ素子に電流が充分減衰する複数の所定の電圧を印加し、上記各ＰＴＣ素子に流れる電流が所定の電流値に至るそれぞれの時間の相違によって該各ＰＴＣ素子を選別することを特徴としている。【００１３】
請求の範囲第６項の発明は、異なる抵抗−温度特性を有するＰＴＣ素子の選別方法において、各ＰＴＣ素子に電流が充分減衰する複数の所定の電圧を印加し、所定の時間が経過した時に上記各ＰＴＣ素子に流れるそれぞれの電流値の相違によって該各ＰＴＣ素子を選別することを特徴としている。【００１４】
請求の範囲第７項の発明は、請求の範囲第４項において、上記各ＰＴＣ素子の電流値を少なくとも２点測定し、その測定値を積算した値の相違によって該各ＰＴＣ素子を選別することを特徴としている。【００１５】
請求の範囲第８項の発明は、請求の範囲第７項において、上記電流値を積算する区間は、電流値が突入電流値の２０％以上，８０％以下となる区間を用いることを特徴としている。【００１６】
ここで本発明において、「電流が充分減衰する所定の電圧」とは以下の電圧を意味している。即ち、ＰＴＣ素子に流れる電流は該ＰＴＣ素子への印加電圧を増加していくと徐々に増加し、最大値を超えると減少するが、この電流が最大値をとる点を超える電圧を意味する。
【発明の効果】
【００１７】
請求の範囲第１項の発明に係る選別方法では、各ＰＴＣ素子に電流が充分減衰する所定の電圧を印加し、各ＰＴＣ素子に流れる電流が所定の電流値に至る時間の相違によって選別するようにしたので、また請求の範囲第２項の発明では、所定時間が経過した時の各ＰＴＣ素子に流れる電流値の相違によって選別するようにしたので、ＰＴＣ素子の動特性の違いを利用して混入した異種部品を容易にかつ確実に見分けることができ、部品管理の効率を高めることができる。【００１８】
即ち、ＰＴＣ素子に上記電圧を印加すると、該素子の自己発熱により抵抗値が増加するためＰＴＣ素子に流れる電流は次第に減衰していく。この減衰波形はＰＴＣ素子の特性（キュリー温度，抵抗温度特性）によって異なる。従って上記電圧印加後の所定電流に至る時間，あるいは所定時間が経過した時の電流値を比較することによりＰＴＣ素子の選別が可能となる。【００１９】
請求の範囲第３項の発明では、各ＰＴＣ素子に電流が充分減衰する所定の電圧を印加し、各ＰＴＣ素子に流れる電流が複数の所定の電流値に至るそれぞれの時間の相違によって、また請求の範囲第４項の発明では、複数の所定時間が経過した時に各ＰＴＣ素子に流れるそれぞれの電流値の相違によって選別するようにしたので、ＰＴＣ素子の動特性の違いを利用して混入した異種部品を容易にかつ確実に見分けることができ、かつ選別精度を高めることができる。【００２０】
請求の範囲第５項の発明では、各ＰＴＣ素子に電流が充分減衰する複数の所定の電圧を印加し、各ＰＴＣ素子に流れる電流が所定の電流値に至るそれぞれの時間の相違によって、また請求の範囲第６項の発明では、所定時間が経過した時に各ＰＴＣ素子に流れるそれぞれの電流値の相違によって選別するようにしたので、異種部品を容易にかつ確実に見分けることができ、かつ選別精度を高めることができる。【００２１】
請求の範囲第７項の発明では、各ＰＴＣ素子の電流値を少なくとも２点測定し、測定した積算値の相違によって選別するようにしたので、この積算値により素子自体の抵抗温度特性やキュリー温度を利用して混入した異種部品を容易にかつ確実に見分けることができるとともに、短時間で選別が可能となる。【００２２】
請求の範囲第８項の発明では、電流値の積算区間を電流値が突入電流値の２０％〜８０％となる区間としたので、異種部品をより確実に精度良く選別することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明のＰＴＣ素子の斜視図である。
【図２】ＰＴＣ素子の抵抗温度特性を示す図である。
【図３】ＰＴＣ素子の動特性を示す図である。
【図４】ＰＴＣ素子の測定回路図である。
【図５】ＰＴＣ素子の電流値と時間との関係を示す特性図である。
【図６】ＰＴＣ素子の抵抗温度特性を示す図である。
【図７】ＰＴＣ素子の電流値と時間との関係を示す特性図である。
【図８】ＰＴＣ素子の電流値と時間との関係を示す特性図である。
【図９】ＰＴＣ素子の電流値と時間との関係を示す特性図である。
【図１０】ＰＴＣ素子の抵抗値と時間との関係を示す特性図である。
【図１１】ＰＴＣ素子の抵抗値と時間との関係を示す特性図である。
【図１２】ＰＴＣ素子の電流値と時間との関係を示す特性図である。
【図１３】ＰＴＣ素子の電流値と時間との関係を示す特性図である。
【図１４】ＰＴＣ素子の電流値と時間との関係を示す特性図である。
【図１５】５０Ｖ印加時のＰＴＣ素子の減衰波形を示す特性図である。
【図１６】８０Ｖ印加時のＰＴＣ素子の減衰波形を示す特性図である。
【図１７】ＰＴＣ素子の電流値と時間との関係を示す特性図である。
【図１８】所定電流値になるまでの減衰時間を示す図である。
【図１９】ＰＴＣ素子の電流値と時間との関係を示す特性図である。
【図２０】所定電流値になるまでの減衰時間を示す図である。
【図２１】ＰＴＣ素子の電流値と時間との関係を示す特性図である。
【図２２】所定時間に流れた電流値を示す図である。
【図２３】ＰＴＣ素子の電流値と時間との関係を示す特性図である。
【図２４】所定時間に流れた電流値を示す図である。
【図２５】ＰＴＣ素子の電流値と時間との関係を示す特性図である。
【符号の説明】
【００２４】
１      ＰＴＣ素子
Ａ      ＣＰ１００±５℃のＰＴＣ素子
Ｂ      ＣＰ１２０±５℃のＰＴＣ素子
Ｃ      ＣＰ８０±５℃のＰＴＣ素子
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
以下、本発明の実施の形態を添付図面に基づいて説明する。【００２６】
図１ないし図５は、本発明の第１実施形態によるＰＴＣ素子の選別方法を説明するための図であり、図１はＰＴＣ素子の斜視図、図２はＰＴＣ素子の抵抗温度特性図、図３はＰＴＣ素子の動特性である電流値と時間の関係を示す特性図、図４はＰＴＣ素子の測定回路図、図５はＰＴＣ素子の電流値と時間との関係を示す特性図である。【００２７】
本実施形態のＰＴＣ素子１は、図１に示すように、直方体状の半導体磁器１ａ内に内部電極（不図示）を埋設し、各内部電極を半導体磁器１ａの両端部に形成された外部電極２，２に接続した構造のものであり、素子サイズはＬ×Ｗ×Ｔがそれぞれ１．６×０．８×０．８ｍｍで、両外部電極幅が０．４ｍｍである。【００２８】
そして本実施形態における異なる抵抗温度特性を有する２つのＰＴＣ素子の選別は、各ＰＴＣ素子に電流が充分減衰する所定の電圧を印加し、上記各ＰＴＣ素子に流れる電流が所定の電流値に至る時間の相違によって行なう。【００２９】
具体例として、図２，図３に示すＲ２５＝４７０Ω±５０％で、ＣＰ＝１００±５℃のＰＴＣ素子（破線参照）Ａと、ＣＰ＝１２０±５℃のＰＴＣ素子（実線参照）Ｂとの選別を行なう場合について説明する。なお、Ｒ２５は２５℃における抵抗値を意味する。【００３０】
図４の測定回路に示すように、各ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、この時の各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに流れる電流波形をオシロスコープ３で測定した。そして図５に示すように、電圧印加を開始し、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに５２ｍＡの電流が流れたときの時間を読み取った。その結果、５２ｍＡに至る時間はＰＴＣ素子Ａが３１〜３３ｍｓで、ＰＴＣ素子Ｂが３９〜４２ｍｓであった。
【実施例１】
【００３１】
本実施例では、ＰＴＣ素子Ａを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂを５個混入し、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの選別を行なった。【００３２】
そして各ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに５２ｍＡの電流が流れたときの時間を読み取り、３１〜３３ｍｓの規格から外れた素子を選別した。【００３３】
その結果、上記規格から外れた素子が５個存在した。表１から分かるように、試料番号１〜５の各素子は何れもＣＰが１２０±５℃のＰＴＣ素子Ｂであった。【００３４】
このように本実施例１によれば、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに電流が充分に減衰する電圧を印加し、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに流れる電流が所定の電流値に至る時間の相違によって選別するようにしたので、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂが有する動特性の違いを利用して混入した異種部品を１個当たり数十ｍｓの速さで容易にかつ確実に見分けることができ、部品管理の効率を高めることができる。【００３５】
【表１】
0003870975.tif 000002
【００３６】
なお、上記実施形態では、異種混入したＰＴＣ素子を選別するようにしたが、本発明の選別方法は、上述の方法を採用することによって、ＰＴＣ素子の良否の判定にも採用することが可能である。【００３７】
図６及び図７は、本発明の第２実施形態を説明するための図であり、図６はＰＴＣ素子の抵抗温度特性図、図７はＰＴＣ素子の電流値と時間との関係を示す特性図である。【００３８】
本実施形態では、上記ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに、ＣＰ＝８０±５℃のＰＴＣ素子Ｃを加え、異なる特性を有する３つのＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの選別を行なった。【００３９】
各ＰＴＣ素子Ａ〜ＣにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、この時の各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃに流れる電流波形をオシロスコープで測定した。図７に示すように、電圧印加を開始し、各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃに５２ｍＡの電流が流れたときの時間を読み取った。その結果、５２ｍＡに至る時間はＰＴＣ素子Ａが３１〜３３ｍｓ、ＰＴＣ素子Ｂが３９〜４２ｍｓ、ＰＴＣ素子Ｃが２５〜２７ｍｓであった。
【実施例２】
【００４０】
本実施例２では、上記ＰＴＣ素子Ａを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂ及びＰＴＣ素子Ｃをそれぞれ５個混入し、各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの選別を行なった。【００４１】
そして各ＰＴＣ素子Ａ〜ＣにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃに５２ｍＡの電流が流れたときの時間を読み取り、３１〜３３ｍｓの規格から外れる素子を選別した。【００４２】
その結果、上記３１〜３３ｍｓの規格から外れた素子が１０個存在した。表２から分かるように、試料番号１１〜２０の各素子は何れもＣＰが１２０±５℃内のＰＴＣ素子ＢとＣＰが８０±５℃内のＰＴＣ素子Ｃであった。本実施例２によれば、異種部品を１個当たり数十ｍｓの速さで容易にかつ確実に見分けることができ、上記実施例と同様の効果が得られる。【００４３】
【表２】
0003870975.tif 000003
【００４４】
図８は、本発明の第３実施形態による選別方法を説明するためのＰＴＣ素子の電流値と時間との関係を示す特性図である。【００４５】
本実施形態では、上記同様に各ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、この時の各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに流れる電流波形をオシロスコープで測定した。そして電圧印加の開始から３０ｍｓ経過時に各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに流れた電流値を測定した。その結果、３０ｍｓ時の電流値はＰＴＣ素子Ａが５８〜６２ｍＡで、ＰＴＣ素子Ｂが８７〜９３ｍＡであった。
【実施例３】
【００４６】
本実施例３では、上記同様にＰＴＣ素子Ａを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂを５個混入し、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの選別を行なった。【００４７】
そして各ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、電圧印加後３０ｍｓ後に各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに流れた電流値を測定し、電流値５８〜６２ｍＡから外れた素子を選別した。【００４８】
その結果、上記電流値から外れた素子が５個存在した。表３から分かるように、試料番号２１〜２５の各素子は何れもＣＰが１２０±５℃内のＰＴＣ素子Ｂであった。本実施例３においても、異種部品を１個当たり数十ｍｓの速さで容易にかつ確実に見分けることができ、上述の実施例と同様の効果が得られる。【００４９】
【表３】
0003870975.tif 000004
【実施例４】
【００５０】
本実施例４では、上記ＰＴＣ素子Ａを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂ及びＰＴＣ素子Ｃをそれぞれ５個混入し、この３つのＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの選別を行なった。【００５１】
図９に示すように、各ＰＴＣ素子Ａ〜ＣにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、電圧印加後３０ｍｓ経過時に各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃに流れた電流値を測定し、電流値が５８〜６２ｍＡの規格から外れた素子を選別した。【００５２】
その結果、上記規格から外れた素子が１０個存在した。表４から分かるように、試料番号３１〜４０の各素子は何れもＣＰが１２０±５℃内のＰＴＣ素子ＢとＣＰが８０±５℃内のＰＴＣ素子Ｃであった。本実施例４においても、混入した異種部品を１個当たり数十ｍｓの速さで容易にかつ確実に見分けることができ、上述の実施例と同様の効果が得られる。【００５３】
【表４】
0003870975.tif 000005
【実施例５】
【００５４】
本実施例５では、ＰＴＣ素子Ａを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂを５個混入した。そして図１０に示すように、各ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、電圧印加開始から４０ｍｓ経過時の各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの抵抗値を電流値から換算して読み取り、この抵抗値が１６２０〜１６７０Ωの規格から外れる素子を選別した。【００５５】
その結果、上記抵抗値１６２０〜１６７０Ωの規格から外れた素子が５個存在した。表５から分かるように、試料番号４１〜４５の各素子は何れもＣＰが１２０±５℃内のＰＴＣ素子Ｂであった。本実施例５においても、上述の実施例と同様の効果が得られる。【００５６】
【表５】
0003870975.tif 000006
【実施例６】
【００５７】
本実施例６では、ＰＴＣ素子Ａを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂ及びＰＴＣ素子Ｃをそれぞれ５個混入した。そして図１１に示すように、各ＰＴＣ素子Ａ〜ＣにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、電圧印加開始から４０ｍｓ経過時の各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの抵抗値を電流値から換算し、この抵抗値が１６２０〜１６７０Ωの規格から外れる素子を選別した。【００５８】
その結果、上記１６２０〜１６７０Ωの規格から外れた素子が１０個存在した。表６から分かるように、試料番号５１〜６０の各素子は何れもＣＰが１２０±５℃内のＰＴＣ素子ＢとＣＰが８０±５℃内のＰＴＣ素子Ｃであった。本実施例６においても、上述の実施例と同様の効果が得られる。【００５９】
【表６】
0003870975.tif 000007
【００６０】
図１２は、本発明の第４実施形態による選別方法を説明するためのＰＴＣ素子の電流値と時間との関係を示す特性図である。【００６１】
本実施形態では、上記同様に各ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、この時の各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに流れる電流波形をオシロスコープで測定した。そして電圧印加開始から２０ｍｓ，３０ｍｓ，４０ｍｓ後経過時に各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに流れた電流値を測定した。その結果、ＰＴＣ素子Ａはそれぞれ９７〜９３ｍＡ，５８〜６２ｍＡ，３１〜３３ｍＡで、ＰＴＣ素子Ｂはそれぞれ１０８〜１１２ｍＡ，８７〜９３ｍＡ，５１〜５３ｍＡであった。
【実施例７】
【００６２】
本実施例７では、ＰＴＣ素子Ａを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂを５個混入し、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの選別を行なった。【００６３】
そして各ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、電圧印加開始から２０ｍｓ，３０ｍｓ，４０ｍｓ経過時に各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに流れる電流を測定し、それぞれの電流値が９７〜９３ｍＡ，５８〜６２ｍＡ，３１〜３３ｍＡの規格から外れる素子を選別した。【００６４】
その結果、上記規格から外れた素子が５個存在した。表７から分かるように、試料番号６１〜６５の各素子は何れもＣＰが１２０±５℃内のＰＴＣ素子Ｂであった。本実施例７によれば、異種部品を１個当たり数十ｍｓの速さで容易にかつ確実に見分けることができ、上述の実施例と同様の効果が得られる。【００６５】
【表７】
0003870975.tif 000008
【００６６】
なお、上記実施形態では、電圧印加開始から２０ｍｓ，３０ｍｓ，４０ｍｓ経過時の各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに流れた電流値を読み取って選別するようにしたが、本発明では、図１３に示すように、各ＰＴＣ素子に流れる電流が複数のｉ１，ｉ２，ｉ３の電流値に至るそれぞれの時間ｔ３，ｔ２，ｔ１の相違によって選別してもよく、このようにした場合にも、上記実施形態と同様の効果が得られる。
【実施例８】
【００６７】
本実施例８では、ＰＴＣ素子Ａを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂ及びＰＴＣ素子Ｃをそれぞれ５個混入し、この３つのＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの選別を行なった。そして図１４に示すように、各ＰＴＣ素子Ａ〜ＣにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、電圧印加開始から２０ｍｓ，３０ｍｓ，４０ｍｓ経過時に各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃに流れる電流を測定し、それぞれの電流値が９７〜９３ｍＡ，５８〜６２ｍＡ，３１〜３３ｍＡの規格から外れる素子を選別した。【００６８】
その結果、上記規格から外れた素子が１０個存在した。表８から分かるように、試料番号７１〜８０の各素子は何れもＣＰが１２０±５℃内のＰＴＣ素子ＢとＣＰが８０±５℃内のＰＴＣ素子Ｃであった。本実施例８においても上述の実施例と同様の効果が得られる。【００６９】
【表８】
0003870975.tif 000009
【００７０】
図１５ないし図１８は、本発明の第５実施形態による選別方法を説明するための図であり、図１５は電圧５０Ｖ印加時の各ＰＴＣ素子に流れる電流の減衰波形を示す特性図、図１６は電圧８０Ｖ印加時の各ＰＴＣ素子に流れる電流の減衰波形を示す特性図、図１７は電圧５０Ｖ，８０Ｖ印加時の各ＰＴＣ素子の電流値と時間との関係を示す特性図、図１８は各ＰＴＣ素子の減衰時間と電圧との関係を示す図である。【００７１】
本実施形態では、上述の各ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＤＣ電圧５０Ｖ及び８０Ｖを印加し、この時の各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに流れる電流波形をオシロスコープで測定した。そして５０Ｖの場合で６０ｍＡ、８０Ｖの場合で１０５ｍＡが各素子に流れたときの電圧印加開始からの時間を読み取った。その結果、ＰＴＣ素子Ａの場合は、５０Ｖで３１〜３３ｍｓ、８０Ｖで１８〜２０ｍｓであり、ＰＴＣ素子Ｂの場合は、５０Ｖで３９〜４２ｍｓ、８０Ｖで２３〜２５ｍｓであった。
【実施例９】
【００７２】
本実施例９では、ＰＴＣ素子Ａを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂを５個混入し、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの選別を行なった。そして各ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、６０ｍＡが流れた時の時間を読み取り、この各素子を室温まで冷却した後、再度ＤＣ電圧８０Ｖを印加し、１０５ｍＡが流れた時の時間を読み取り、５０Ｖで３１〜３３ｍｓ、８０Ｖで１８〜２０ｍｓの範囲から外れる素子を選別した。【００７３】
その結果、上記各範囲から外れた素子が５個存在した。表９から分かるように、試料番号８１〜８５の各素子は何れもＣＰが１２０±５℃内のＰＴＣ素子Ｂであった。本実施例９においても、上述の各実施例と同様の効果が得られる。【００７４】
【表９】
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【実施例１０】
【００７５】
本実施例１０では、ＰＴＣ素子Ａを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂ及びＰＴＣ素子Ｃをそれぞれ５個混入し、各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの選別を行なった。そして図１９，図２０に示すように、各ＰＴＣ素子Ａ〜ＣにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、６０ｍＡが流れた時の時間を読み取り、この各素子を室温まで冷却した後、再度ＤＣ電圧８０Ｖを印加し、１３９ｍＡが流れた時の時間を読み取り、５０Ｖで３１〜３３ｍｓ、８０Ｖで１７〜１９ｍｓの範囲から外れる素子を選別した。【００７６】
その結果、上記各範囲から外れた素子が１０個存在した。表１０から分かるように、試料番号９１〜１００の各素子は何れもＣＰが１２０±５℃内のＰＴＣ素子ＢとＣＰが８０±５℃内のＰＴＣ素子Ｃであった。本実施例１０においても、上述の各実施例と同様の効果が得られる。【００７７】
【表１０】
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【００７８】
図２１及び図２２は、本発明の第６実施形態による選別方法を説明するための図であり、図２１は５０Ｖ，８０Ｖ印加時のＰＴＣ素子に流れる電流値と時間との関係を示す特性図、図２２は各ＰＴＣ素子に所定時間経過時に流れる電流と印加電圧との関係を示す図である。【００７９】
本実施形態では、上述の各ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＤＣ電圧５０Ｖ及び８０Ｖを印加し、この時の各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに流れる電流波形をオシロスコープで測定した。そして電圧印加開始から５０Ｖで３０ｍｓ、８０Ｖで２０ｍｓ経過時に各素子に流れた電流値を測定した。その結果、ＰＴＣ素子Ａの場合は、５０Ｖで５８〜６２ｍＡ、８０Ｖで１０８〜１１０ｍＡであり、ＰＴＣ素子Ｂの場合は、５０Ｖで８７〜９３ｍＡ、８０Ｖで１２８〜１３２ｍＡであった。
【実施例１１】
【００８０】
本実施例１１では、ＰＴＣ素子Ａを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂを５個混入し、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの選別を行なった。そして図２１，図２２に示すように、各ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、３０ｍｓ後の各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに流れる電流を測定し、この各素子を室温まで冷却した後、再度ＤＣ電圧８０Ｖを印加し、２０ｍｓ後の各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに流れる電流を測定し、５０Ｖで５８〜６２ｍＡ、８０Ｖで１０８〜１１０ｍＡから外れる素子を選別した。【００８１】
その結果、上記各電流値から外れた素子が５個存在した。表１１から分かるように、試料番号１０１〜１０５の各素子は何れもＣＰが１２０±５℃内のＰＴＣ素子Ｂであった。このように本実施例１１においても、上述の各実施例と同様の効果が得られる。【００８２】
【表１１】
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【実施例１２】
【００８３】
本実施例１２では、ＰＴＣ素子Ａを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂ及びＰＴＣ素子Ｃをそれぞれ５個混入し、各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの選別を行なった。【００８４】
図２３，図２４に示すように、各ＰＴＣ素子Ａ〜ＣにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、３０ｍｓ経過時の各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃに流れる電流を測定し、この各素子を室温まで冷却した後、再度ＤＣ電圧８０Ｖを印加し、１８ｍｓ経過時の各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃに流れる電流を測定した。そして５０Ｖで５８〜６２ｍＡ、８０Ｖで１３８〜１４０ｍＡから外れる素子を選別した。【００８５】
その結果、上記各電流値から外れた素子が１０個存在した。表１２から分かるように、試料番号１１１〜１２０の各素子は何れもＣＰが１２０±５℃内のＰＴＣ素子ＢとＣＰが８０±５℃内のＰＴＣ素子Ｃであった。このように本実施例１２においても、上述の各実施例と同様の効果が得られる。【００８６】
【表１２】
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【００８７】
図２５は、本発明の第７実施形態による選別方法を説明するためのＰＴＣ素子の電流値と時間との関係を示す特性図である。【００８８】
本実施形態では、上述の各ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、この時の各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに流れる電流波形をオシロスコープで測定した。そして電圧印加から２０〜４０ｍｓ経過するまでの間における各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに流れる電流値を５ｍｓ間隔で測定し、測定した電流値を積算した。その結果、ＰＴＣ素子Ａの積算値は２８０〜３４０ｍＡで、ＰＴＣ素子Ｂは４００〜４６０ｍＡであった。
【実施例１３】
【００８９】
本実施例１３では、ＰＴＣ素子Ａを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂを５個混入し、各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂの選別を行なった。【００９０】
そして各ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、２０〜４０ｍｓの間における各素子の電流値を５ｍｓ間隔で測定し、測定した電流値を積算して積算値が２８０〜３４０ｍＡの範囲から外れる素子を選別した。【００９１】
その結果、上記範囲から外れた素子が５個存在した。表１３から分かるように、試料番号１２１〜１２５の各素子は何れもＣＰが１２０±５℃内のＰＴＣ素子Ｂであった。このように本実施例１３によれば、１個当たり数十ｍｓの速さで選別が可能となり、上述の各実施例と同様の効果が得られる。【００９２】
【表１３】
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【実施例１４】
【００９３】
本実施例１４では、ＰＴＣ素子Ａを１００００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂ及びＰＴＣ素子Ｃをそれぞれ５個混入し、各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃの選別を行なった。【００９４】
各ＰＴＣ素子Ａ〜ＣにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、電圧印加開始後２０〜４０ｍｓの間における各素子の電流値を５ｍｓ間隔で測定し、測定した電流値を積算し、積算値が２８０〜３４０ｍＡの範囲から外れる素子を選別した。【００９５】
その結果、上記積算値の範囲から外れた素子が１０個存在した。表１４から分かるように、試料番号１３１〜１４０の各素子は何れもＣＰが１２０±５℃内のＰＴＣ素子ＢとＣＰが８０±５℃内のＰＴＣ素子Ｃであった。本実施例１４においても上述の各実施例と同様の効果が得られる。【００９６】
【表１４】
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【実施例１５】
【００９７】
本実施例１５では、上記同様のＰＴＣ素子Ａを１００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂを５個混入し、各ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、この時の各ＰＴＣ素子Ａ，Ｂに流れる電流波形をオシロスコープで測定した。【００９８】
【表１５】
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【００９９】
そして表１５に示すように、電圧印加後１〜１３ｍｓの間の電流値を４ｍｓ間隔で測定し、測定した電流値を積算した。この時のＰＴＣ素子Ａの積算値は２１５〜６５０ｍＡであった。ところが、測定した各素子は何れも積算値が２１５〜６５０ｍＡの範囲内であり、選別することができなかった。ＰＴＣ素子Ｂの同区間での積算値を確認したところ２２０〜６６０ｍＡの範囲であった。このため上記範囲では選別が困難であることが判明した。【０１００】
次に、電圧印加後６０〜８０ｍｓの間の電流値を５ｍｓ間隔で測定し、測定した電流値を積算した。この時のＰＴＣ素子Ａの積算値は８０〜９０ｍＡであった。しかしながら測定した各素子のうち積算値が８０〜９０ｍＡの範囲に入っていない素子は試料番号１４１，１４２の２個しかなく、混入した５個のＰＴＣ素子Ｂを全数選別することができなかった。この各ＰＴＣ素子Ｂで同区間の積算値を確認したところ、８５〜９５ｍＡの範囲であった。このため、上記範囲では確実に選別ができない場合があることが分かった。【０１０１】
次いで、各ＰＴＣ素子Ａ，ＢにＤＣ電圧５０Ｖ印加し、電圧印加後２５〜４５ｍｓの間の電流値を５ｍｓ間隔で測定し、測定した電流値を積算し、２１０〜２７０ｍＡの範囲から外れる素子を選別した。【０１０２】
その結果、上記範囲から外れた素子は試料番号１４１〜１４５の５個存在し、この外れた試料番号１４１〜１４５の各素子の積算値は何れも３３０〜４６０ｍＡの範囲内であった。【０１０３】
この範囲から外れた試料番号１４１〜１４５の各素子の抵抗温度特性を測定したところ、何れもＰＴＣ素子Ｂであった。このように選別区間を変えることにより、混入させた素子を選別することができることが分かる。即ち、電流波形が突入電流値の８０％以上となる領域では、Ｒ2５値の影響が大きく選別ができない場合がある。一方、突入電流値２０％以下となる領域では、ＣＰによる影響はほとんどないことが判明した。このことから電流値を積算する区間は電流値が突入電流値の２０％以上，８０％以下になる区間を利用することが望ましい。【０１０４】
なお、電流値が突入電流値の８０％以上となる領域でも、試料ロット内のＲ２５値バラツキ，およびＣＰバラツキが小さければ選別は可能である。具体的には、Ｒ２５値のバラツキが±２０％，ＣＰのバラツキが±２℃である場合には、電流値が突入電流値の８５％以上の領域で選別可能である。また、Ｒ２５値のバラツキが±５％，ＣＰのバラツキが±０．５℃である場合には、電流値が突入電流値の９０％以上の領域で選別可能である。【０１０５】
また、電流値が突入電流値の２０％未満となる領域でも、ロット内のＲ２５値バラツキ，ＣＰバラツキが少なければ選別は可能である。具体的には、Ｒ２５値のバラツキが±３０％，ＣＰのバラツキが±３℃である場合には、電流値が突入電流値の１８％以上２０％未満の領域で選別可能となる。また、Ｒ２５値のバラツキが±１０％，ＣＰのバラツキが±１℃である場合には、電流値が突入電流値の１５％以上２０％未満となる領域で選別可能となる。
【実施例１６】
【０１０６】
本実施例１６では、上記同様のＰＴＣ素子Ａを１００個準備し、このなかにＰＴＣ素子Ｂ及びＰＴＣ素子Ｃをそれぞれ５個混入し、各ＰＴＣ素子Ａ〜ＣにＤＣ電圧５０Ｖを印加し、この時の各ＰＴＣ素子Ａ〜Ｃに流れる電流波形をオシロスコープで測定した。【０１０７】
【表１６】
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【０１０８】
そして表１６に示すように、電圧印加後１〜１３ｍｓの間の電流値を４ｍｓ間隔で測定し、測定した電流値を積算した。この時のＰＴＣ素子Ａの積算値は２１５〜６５０ｍＡであった。ところが、測定した各素子は何れも積算値が２１５〜６５０ｍＡの範囲内にあり、選別することができなかった。ＰＴＣ素子Ｃの同区間での積算値を確認したところ２１０〜６４０ｍＡの範囲にあり、ＰＴＣ素子Ｂの同区間での積算値を確認したところ２２０〜６６０ｍＡの範囲にあった。このため、上記範囲では選別が困難であることが判明した。【０１０９】
次に、電圧印加後６０〜８０ｍｓの間の電流値を５ｍｓ間隔で測定し、測定した電流値を積算した。この時のＰＴＣ素子Ａの積算値は８０〜９０ｍＡであった。しかしながら、測定した各素子のうち積算値が８０〜９０ｍＡの範囲に入っていない素子は試料番号１５６，１５７の２個しかなく、混入したＰＴＣ素子Ｂ，Ｃを全数選別することができなかった。この同区間の積算値を確認したところ、ＰＴＣ素子Ｃは８０〜９０ｍＡの範囲にあり、ＰＴＣ素子Ｂは８５〜９５ｍＡの範囲にあった。このため、上記範囲でも確実に選別ができないことが分かった。【０１１０】
次いで、各ＰＴＣ素子Ａ〜ＣにＤＣ電圧５０Ｖ印加し、電圧印加後２５〜４５ｍｓの間の電流値を５ｍｓ間隔で測定し、測定した電流値を積算し、２１０〜２７０ｍＡの範囲から外れる素子を選別した。【０１１１】
その結果、上記範囲から外れた素子は試料番号１５１〜１６０の１０個存在し、この外れた試料番号１５１〜１６０の各素子の積算値は１５５〜１８５ｍＡ又は３３０〜３９０ｍＡの範囲内であった。また、この範囲から外れた試料番号１５１〜１６０の各素子の抵抗温度特性を測定したところ、何れもＰＴＣ素子Ｂ，Ｃであった。このように、本実施例においても、電流値を積算する区間は電流値が突入電流値の２０％以上，８０％以下になる区間を利用することが望ましい。【０１１２】
なお、電流値が突入電流値の８０％以上となる領域でも、試料ロット内のＲ２５値バラツキ，およびＣＰバラツキが小さければ選別は可能である。具体的には、Ｒ２５値のバラツキが±２０％，ＣＰのバラツキが±２℃である場合には、電流値が突入電流値の８５％以上の領域で選別可能である。また、Ｒ２５値のバラツキが±５％，ＣＰのバラツキが±０．５℃である場合には、電流値が突入電流値の９０％以上の領域で選別可能である。【０１１３】
また、電流値が突入電流値の２０％未満となる領域でも、ロット内のＲ２５値バラツキ，ＣＰバラツキが少なければ選別は可能である。具体的には、Ｒ２５値のバラツキが±３０％，ＣＰのバラツキが±３℃である場合には、電流値が突入電流値の１８％以上２０％未満の領域で選別可能となる。また、Ｒ２５値のバラツキが±１０％，ＣＰのバラツキが±１℃である場合には、電流値が突入電流値の１５％以上２０％未満となる領域で選別可能となる。【０１１４】
ここで、上記各実施例では、ＰＴＣ素子の動特性を利用して選別を行なうようにしたが、本発明では、上述の選別方法に加えてＰＴＣ素子の静特性又はキュリー温度，抵抗温度特性等を利用した選別方法を組み合わて行なうことも可能である。【０１１５】
静特性による選別方法には、（１）各ＰＴＣ素子に所定の電圧を印加し、略熱平衡状態に達した時の各ＰＴＣ素子の電流値の相違によって特性を選別する。（２）各ＰＴＣ素子に所定の電流を流し、略熱平衡状態に達した時の各ＰＴＣ素子の電圧値の相違によって特性を選別する。（３）各ＰＴＣ素子に所定の異なる値の電圧を印加し、略熱平衡状態に達した時の各ＰＴＣ素子のそれぞれの電流値の相違によって特性を選別する。（４）各ＰＴＣ素子に所定の異なる値の電流を流し、略熱平衡状態に達した時の各ＰＴＣ素子のそれぞれの電流値の相違によって特性を選別する、等の方法が採用できる。【０１１６】
またキュリー温度，抵抗温度特性による選別方法には、（１）各ＰＴＣ素子に電圧を印加して該各ＰＴＣ素子の自己発熱によって抵抗値を上昇させ、所定の抵抗値になった時の上記各ＰＴＣ素子の抵抗値及び温度を測定し、該各ＰＴＣ素子のキュリー温度の相違によって特性を選別する。（２）各ＰＴＣ素子に印加する電圧を可変させ、該各ＰＴＣ素子の自己発熱によって抵抗値を上昇させ、一定時間経過後における上記各ＰＴＣ素子の温度を測定し、該各ＰＴＣ素子のキュリー温度の相違によって特性を選別する、等の方法が採用できる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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