(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
印刷物をカラーカメラで撮像してＲ、Ｇ、Ｂ毎に入力される検査画像を、予め作成してある基準画像と比較して印刷欠陥を検出する印刷物検査方法において、  Ｒ、Ｇ、Ｂ毎に前記検査画像と、対応する各基準画像との差分画像をそれぞれ作成するとともに、
Ｒ、Ｇ、Ｂの前記差分画像の全体から各画素毎に最小画素値を選択し、該最小画素値に１以下の正の値である係数を乗じて輝度調整値を各画素毎に算出し、
前記各差分画像について、各画素の画素値から前記輝度調整値を減算して色差画像をそれぞれ作成し、
作成された各色差画像に基づいて印刷不良を判定することを特徴とする印刷物検査方法。
【請求項２】
請求項１において、
前記各基準画像から、前記各差分画像に残存する絵柄のエッジ部分をマスクする閾値画像をそれぞれ作成し、
前記各検査画像から得られた差分画像を、対応する前記閾値画像でマスク処理してマスク済画像をそれぞれ作成し、これら各マスク済画像から前記輝度調整値を減算して前記色差画像を作成することを特徴とする印刷物検査方法。
【請求項３】
請求項２において、
前記閾値画像を、前記基準画像について、所定の近傍範囲から画素値の差が最も大きくなる２つの画素を選択し、その２つの画素値の差の絶対値を中心画素の画素値に設定して作成することを特徴とする印刷物検査方法。
【請求項４】
請求項２において、
前記マスク処理を、前記検査画像からの差分画像を構成する各画素について、画素値の絶対値が前記閾値画像の対応する画素の画素値以下の場合は０を、逆に超えている場合は元の画素値をそれぞれ設定して行うことを特徴とする印刷物検査方法。
【請求項５】
請求項１において、
前記色差画像作成処理まではＲ、Ｇ、Ｂ毎に処理し、
判定対象とする前記色差画像を、作成されたＲ、Ｇ、Ｂの各色差画像を合成した合成色差画像とすることを特徴とする印刷物検査方法。
【請求項６】
請求項５において、
前記合成色差画像を、作成されたＲ、Ｇ、Ｂの各色差画像の対応する画素の中で最大の画素値を同画素に設定して作成することを特徴とする印刷物検査方法。
【請求項７】
請求項５において、
前記合成色差画像を、作成されたＲ、Ｇ、Ｂの各色差画像の対応する画素の画素値を加算して同画素に設定して作成することを特徴とする印刷物検査方法。
【請求項８】
請求項１において、
判定対象とする前記色差画像について、所定の矩形領域を単位に画素値を積算する積算処理を行い、その積算値が判定レベル以上のときに印刷不良発生と判定する判定処理を行うことを特徴とする印刷物検査方法。
【請求項９】
印刷物をカラーカメラで撮像してＲ、Ｇ、Ｂ毎に入力される検査画像を、予め作成してある基準画像と比較して印刷欠陥を検出する検出手段とを備えた印刷物検査装置において、
Ｒ、Ｇ、Ｂ毎に前記検査画像と、対応する各基準画像との差分画像をそれぞれ作成する手段と、
Ｒ、Ｇ、Ｂの前記差分画像の全体から各画素毎に最小画素値を選択する手段と、
選択された最小画素値に１以下の正の値である係数を乗じて輝度調整値を各画素毎に算出する手段と、
前記各差分画像について、各画素の画素値から前記輝度調整値を減算して色差画像をそれぞれ作成する手段と、
作成された各色差画像に基づいて印刷不良を判定する手段とを備えていることを特徴とする印刷物検査装置。
【請求項１０】
請求項９において、
前記各基準画像から、前記各差分画像に残存する絵柄のエッジ部分をマスクする閾値画像をそれぞれ作成する手段と、
前記各検査画像から得られた差分画像を、対応する前記閾値画像でマスク処理してマスク済画像をそれぞれ作成し、これら各マスク済画像から前記輝度調整値を減算して前記色差画像を作成する手段とを備えていることを特徴とする印刷物検査装置。
【請求項１１】
請求項１０において、
前記閾値画像を、前記基準画像について、所定の近傍範囲から画素値の差が最も大きくなる２つの画素を選択し、その２つの画素値の差の絶対値を中心画素の画素値に設定して作成することを特徴とする印刷物検査装置。
【請求項１２】
請求項１０において、
前記マスク処理を、前記検査画像からの差分画像を構成する各画素について、画素値の絶対値が前記閾値画像の対応する画素の画素値以下の場合は０を、逆に超えている場合は元の画素値をそれぞれ設定して行うことを特徴とする印刷物検査装置。
【請求項１３】
請求項９において、
前記色差画像作成処理まではＲ、Ｇ、Ｂ毎に処理し、
判定対象とする前記色差画像を、作成されたＲ、Ｇ、Ｂの各色差画像を合成した合成色差画像とすることを特徴とする印刷物検査装置。
【請求項１４】
請求項１３において、
前記合成色差画像を、作成されたＲ、Ｇ、Ｂの各色差画像の対応する画素の中で最大の画素値を同画素に設定して作成することを特徴とする印刷物検査装置。
【請求項１５】
請求項１３において、
前記合成色差画像を、作成されたＲ、Ｇ、Ｂの各色差画像の対応する画素の画素値を加算して同画素に設定して作成することを特徴とする印刷物検査装置。
【請求項１６】
請求項９において、
判定対象とする前記色差画像について、所定の矩形領域を単位に画素値を積算する手段と、
得られた積算値が判定レベル以上のときに印刷不良発生と判定する手段を備えていることを特徴とする印刷物検査装置。
【請求項１７】
請求項１において、
前記係数が、１以下の正の値であり、かつ印刷面の色調変動に起因する輝度値として前記差分画像に含まれていると予め見做した割合分の値であることを特徴とする印刷物検査方法。
【請求項１８】
請求項９において、
前記係数が、１以下の正の値であり、かつ印刷面の色調変動に起因する輝度値として前記差分画像に含まれていると予め見做した割合分の値であることを特徴とする印刷物検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明が属する技術分野】
本発明は、印刷物検査方法及び装置、特にオフセット印刷した際に発生する面積は大きいが濃度差の殆どないような淡い印刷不良を検出する際に適用して好適な、印刷物検査方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
輪転印刷機で印刷されて連続的に走行するウェブ（印刷物）から、所定位置に設置されているカメラにより、印刷絵柄を検査画像として入力し、該検査画像と予め作成してある基準画像とを比較して、印刷欠陥を検査することが行われている。
【０００３】
このように、検査画像を基準画像と比較して印刷欠陥を検出する印刷物検査装置としては、これら両画像の差分画像に対して所定の矩形領域内で、所定のレベル差以上の画素数を計測し、その画素数が所定の値を超えた場合に不良と判定するものが、特開平９−７６４７０に開示されている。
【０００４】
ところで、オフセット印刷には、色間の見当不良や色の濃度変動等の一般的な印刷不良以外に、湿し水の過不足によって発生する、面積は大きいが濃度差が小さい薄汚れ（インキ汚れ）がある。又、オフセット印刷には、上記湿し水の過不足等に起因する微少な明るさの変化による色調の変動が必然的に伴うという性質がある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前記公報に開示されている印刷物検査装置では、画像中の画素を１つ１つ比較して、閾値以上のものを不良としていたので、面積は大きいが濃度差の殆どないような淡い不良は検出できないという問題があった。
【０００６】
又、Ｋ（墨色）、Ｃ（藍）、Ｍ（紅）、Ｙ（黄）の各インキを順次印刷して得られる印刷物をカラーカメラで撮像して得られるＲ、Ｇ、Ｂの各画像を単に基準画像と比較して印刷不良を検査していたので、Ｃ、Ｍ、Ｙの各１次色の濃度変化に対する感度と、輝度成分に相当するＣ、Ｍ、Ｙを合成した３次色やＫの感度とを任意に制御できなかったため、薄汚れに対する感度を上げていくと、本来検出する必要のない、前記微少な明るさの変化による色調の変動に相当する輝度成分の変化に反応し、過検出となって正確に薄汚れを検査することができないという、オフセット印刷特有の問題もある。
【０００７】
本発明は、前記従来の問題点を解決するべくなされたもので、面積は大きいが濃度差の殆どないような薄汚れ印刷不良を、オフセット印刷故に発生する微少な明るさの差に影響されることなく、確実に検出することができる印刷物検査方法及び装置を提供することを課題とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明は、印刷物をカラーカメラで撮像してＲ、Ｇ、Ｂ毎に入力される検査画像を、予め作成してある基準画像と比較して印刷欠陥を検出する印刷物検査方法において、Ｒ、Ｇ、Ｂ毎に前記検査画像と、対応する各基準画像との差分画像をそれぞれ作成するとともに、Ｒ、Ｇ、Ｂの前記差分画像の全体から各画素毎に最小画素値を選択し、該最小画素値に１以下の正の値である係数を乗じて輝度調整値を各画素毎に算出し、前記各差分画像について、各画素の画素値から前記輝度調整値を減算して色差画像をそれぞれ作成し、作成された各色差画像に基づいて印刷不良を判定することにより、前記課題を解決したものである。
【０００９】
本発明は、又、印刷物をカラーカメラで撮像してＲ、Ｇ、Ｂ毎に入力される検査画像を、予め作成してある基準画像と比較して印刷欠陥を検出する検出手段とを備えた印刷物検査装置において、Ｒ、Ｇ、Ｂ毎に前記検査画像と、対応する各基準画像との差分画像をそれぞれ作成する手段と、Ｒ、Ｇ、Ｂの前記差分画像の全体から各画素毎に最小画素値を選択する手段と、選択された最小画素値に１以下の正の値である係数を乗じて輝度調整値を各画素毎に算出する手段と、前記各差分画像について、各画素の画素値から前記輝度調整値を減算して色差画像をそれぞれ作成する手段と、作成された各色差画像に基づいて印刷不良を判定する手段とを備えた構成とすることにより、同様に前記課題を解決したものである。
【００１０】
即ち、本発明においては、Ｒ、Ｇ、Ｂ毎に検査画像と基準画像との差分画像を作成するとともに、微少な明るさの差を排除するために該差分画像から輝度調整値を減算して色差画像を作成し、該色差画像に基づいて検査するようにしたので、オフセット印刷特有の明るさの微妙な差が印刷面に発生している場合でも、面積は大きいが濃度差の殆どないような淡い薄汚れ印刷不良を確実に検出することができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
【００１２】
図１は、本発明に係る一実施形態の印刷欠陥検査装置の概略を示す要部構成図である。
【００１３】
本実施形態の印刷欠陥検査装置は、機能部としていわゆる三板式のカラーセンサカメラ１０、画像入力ボード１２、位置ずれ演算ボード１４、第１欠陥検出ボード１６、第２欠陥検出ボード１８をそれぞれ備えており、カメラ１０以外の各機能部はそれぞれのコネクタ１２Ａ〜１８Ａを介して電気的な接続が行われるようになっている。
【００１４】
又、上記印刷欠陥検査装置は、マザーボード２０を備えており、このマザーボード２０には、上から順に将来の拡張用バス、位置ずれ量バス、Ｒ、Ｇ、Ｂの各画像バス、モノクロ画像バスの各データバスがそれぞれ敷設されており、又、これら各データバスと電気的に接続可能な複数のコネクタ２２Ａ〜２２Ｅが付設されている。
【００１５】
コネクタ２２Ａは、上記画像入力ボード１２のコネクタ１２Ａと接続され、カメラ１０で印刷物を撮像すると、上記Ｒ、Ｇ、Ｂ及びモノクロ画像の各バスにそれぞれ対応する画像信号が出力されるようになっている。
【００１６】
コネクタ２２Ｂは、前記位置ずれ演算ボード１４とそのコネクタ１４Ａを介して接続され、該演算ボード１４ではモノクロ画像バスから入力される画像信号に基づいて検査画像の位置ずれ量を演算し、その演算結果を前記位置ずれ量バスに出力するようになっている。モノクロ画像は本来Ｒ、Ｇ、Ｂの各カラー画像が合成されたものに相当するので、モノクロ画像の位置ずれ量とカラー画像の位置ずれ量とは同一である。
【００１７】
コネクタ２２Ｃは、第１欠陥検出ボード１６とそのコネクタ１６Ａを介して接続され、該第１欠陥検出ボード１６では、上記位置ずれ量バスから入力される位置ずれ量に基づいて、Ｒ、Ｇ、Ｂの各画像バスから入力される検査画像を位置補正するとともに、各色の画像に基づく印刷欠陥の検出が行われる。
【００１８】
一方、コネクタ２２Ｄは、第２欠陥検出ボード１８とそのコネクタ１８Ａを介して接続され、該第２欠陥検出ボード１８では、同様に位置ずれ量バスから入力される位置ずれ量に基づいて、上記モノクロ画像バスから入力される検査画像を位置補正するとともに、モノクロ画像に基づく印刷欠陥の検出が行われる。
【００１９】
コネクタ２２Ｅは、将来検査機能を拡張する場合に、新たな機能部の接続に使用するものであり、前記拡張用バスも同様の用途に用いられるものである。便宜上、ここでは拡張用のコネクタとバスがそれぞれ１つである場合が示してあるが、いずれも２以上であってもよいことは言うまでもない。
【００２０】
図２は、本実施形態における前記ラインセンサカメラ（１次元ＣＣＤカメラ）のハード構成の要部を示したブロック図である。
【００２１】
本実施形態のカメラ１０は、受光部である１次元ＣＣＤセンサ１０Ａと、該センサ１０Ａの画素（ＣＣＤ素子）の奇数番目と偶数番目から別々に出力される受光信号（奇数信号・偶数信号）を増幅する２つのアンプ（Ａｍｐ）と、ここで増幅された信号について奇数信号の奇数画素レベルと偶数信号の偶数画素レベルを交互に合成するＳ／Ｈ（閾値）回路１０Ｂと、合成処理された信号の黒レベルを補正する黒レベル補正回路１０Ｃと、その補正信号を増幅してビデオ信号として出力するアンプ（Ａｍｐ）と、これらＣＣＤセンサ１０Ａ、閾値回路１０Ｂ、黒レベル補正回路１０Ｃに対して、図示しない制御装置から入力される外部駆動信号に基づいて、それぞれ信号処理のタイミングをとるための信号を出力するタイミング生成回路１０Ｄとを備えている。このように、本実施形態のラインセンサカメラ１０では、入力される受光信号の処理の高速化を図るために、奇数番目と偶数番目の画素について交互に増幅等の電気的処理を行っている。
【００２２】
又、図３は、本実施形態の印刷物検査装置が備えている印刷欠陥検出部の要部構成を示すブロック図である。
【００２３】
この印刷欠陥検出部は、便宜上、Ｒ画像を代表させ、Ｇ、Ｂの画像については明示していないが、前記図１に示した第１欠陥検出ボード１８に相当し、前記カメラ１０から、画像入力ボード１２を介して取り込まれたＲ、Ｇ、Ｂの画像信号が、各画像バスを介してそれぞれ入力されるようになっている。この欠陥検出部は、図示は省略するが、前記カメラ１０から上記画像バスを介して順次入力される検査画像を格納する検査画像メモリと、予め正常な印刷絵柄を同カメラ１０で撮影した基準画像を格納する基準画像メモリとを備えている。
【００２４】
又、この欠陥検出部では、上記検査画像メモリに格納されている検査画像と、基準画像メモリに格納されている基準画像との差分の絶対値subからなる差分画像を作成する差分絶対値回路３０と、上記基準画像メモリに格納されている基準画像から閾値画像を作成する閾値画像生成回路３２と、作成された閾値画像を格納する閾値画像メモリ３４と、前記差分絶対値回路３０で作成された差分画像を上記閾値画像メモリ３４から入力される閾値画像により画素を単位にマスク処理して画素値msubからなるマスク済画像を作成するマスキング回路３６とを、Ｒ、Ｇ、Ｂの各色毎に備えている。
【００２５】
又、前記差分絶対値回路３０で作成されたＲ、Ｇ、Ｂの各差分画像に含まれる全画素の、絶対値からなる画素値（差分値）ΔＲ、ΔＧ、ΔＢの中から最小画素値minを選択する最小値選択回路３８と、ここで選択される最小値minに係数ｋを乗じて輝度調整値kminを算出する輝度調整回路４０と、前記マスク済画像について、各画素の画素値msubから前記輝度調整値kminを減算して画素値（msub−kmin）からなる色差画像を作成する色差抽出回路４２とを備えている。
【００２６】
又、以上の色差抽出回路４２で、Ｒ、Ｇ、Ｂの各色差画像について、前記画素値（msub−kmin）が算出されると、これらに相当する各色差ΔＲ′、ΔＧ′、ΔＢ′を入力して、各画素毎に各色差の最大値で画素値を置き換えて合成色差画像を作成するＲＧＢ合成回路４４と、作成された合成色差画像について、１６画素×１６画素の矩形領域を単位に、その領域に含まれる全画素の画素値を積算する積算（積分）回路４６と、その積算値が判定レベル以上のときに不良発生と判定する積算（積分）値判定回路４８とを備えている。このように、本実施形態では、前記合成回路４４まではＲ、Ｇ、Ｂの各色についてそれぞれ処理が実行されるようになっている。
【００２７】
本実施形態における上記印刷欠陥検出部について更に詳述する。但し、ここでは、後述する図７に概念的に示すように、前記ラインセンサカメラ１０を水平方向に所定の間隔で走査することにより、２０４８画素（枡目で示す）からなる水平ライン画像が、例えば１ライン（画素）／ｍｍのピッチで垂直方向に走査数分配列されてなる検査画像が入力される場合を例に説明する。なお、この図８では、便宜上、垂直方向に関しては４画素を１枡で表わしてある。
【００２８】
前記差分絶対値回路３０では、図示しない前記検査画像メモリから入力される検査画像と、前記基準画像メモリから入力される基準画像との間で、対応する各画素の画素値の差分をとり、その絶対値を同画素の画素値に設定して差分画像を作成する処理が行われる。
【００２９】
前記閾値生成回路３２では、入力された前記基準画像に対して、水平方向ｉ番目、垂直方向にｊ番目（以下、座標（ｉ，ｊ）ともいう）を中心画素とする３×５の矩形領域からなるウィンドウを設定し、図４に示すように画素値（輝度値）Ｈの中心画素に対して、該画素とその周囲の１４画素の画素値Ａ〜Ｏから、次の（１）式により算出される閾値ｔijを設定する。但し、この式でＭax｛  ｝は、列挙した画素値から最大値をとり、又Ｍin｛  ｝は、同画素値から最小値をとることを表わしている。
【００３０】
0003948866.tif 000002
【００３１】
なお、上記中心画素に対して設定する閾値ｔijは次の（２）式を用いて算出してもよい。
【００３２】
0003948866.tif 000003
【００３３】
上記中心画素に対する閾値処理は、計算不能の画素を除き、基準画像の全画素に対して行う。このようにして得られた全ての閾値ｔijに対し、所定の定数α、βを用いて次の（３）式により、最終的な閾値画像の画素値として設定する閾値Ｔijを求める。
【００３４】
Ｔij＝α・ｔij＋β                …（３）
【００３５】
この式で、定数αは全体的な明度変化が出ないようにするためのものであり、又、定数βは、全体のノイズレベルをオフセットを入れて隠すためのもので、最低閾値あるいはチューニング閾値等と呼ばれる。このように、上記（３）式を用いることにより、全体的な光量変動やノイズレベルを考慮した閾値からなる閾値画像を得ることができる。
【００３６】
ここで、上記閾値設定処理を、図５に示した中心画素の画素値が７５であるウィンドウの場合を具体例として説明すると、このウィンドウ中での輝度値の最大値は１７２であり、最小値は２１であることから、これらの値を（１）式に当て嵌めると、ｔij＝１７２−２１＝１５１となる。又、（３）式における定数をα＝１．２、β＝１０とすると、上記中心画素に対応する閾値画像の画素に設定する最終的な画素値である閾値ＴijはＴij＝１．２×１５１＋１０＝１９１となる。なお、上記のように中心画素に対して設定するウィンドウの矩形範囲を横方向±１、縦方向±２としているのは、縦方向の方が原反の伸縮や画像取込みタイミングのずれによって画像の歪みが大きいことによるが、これに限定されないことはいうまでもない。
【００３７】
以上詳述した閾値設定処理を、水平方向と垂直方向にそれぞれ１画素（１ライン）ずつずらしながら全体について行うことにより、閾値画像が作成され、その画像データは前記閾値画像メモリ３４に格納される。
【００３８】
前記マスキング回路３６では、前記検査画像から得られた前記差分画像に対する閾値画像によるマスク処理が行われるが、これは差分画像の１つの画素が前記図４に示した座標（ｉ，ｊ）の中心画素に対応している場合であれば、検査画像の画素値がＩ、基準画像の画素値がＲであるとすると、該差分画像の画素値である差分値Ｓ（＝Ｉ−Ｒ）の絶対値が、対応する閾値画像の画素値Ｔijと比較し、｜Ｓ｜≦ＴijならばＳ＝０とし、逆の場合には差分値（絶対値）のままにすることにより、差分欠陥候補画素を抽出する処理である。これを式で表わすと、次式（４）となる。
【００３９】
Ｓ＝｛０：｜Ｉ−Ｒ｜≦Ｔij，｜Ｉ−Ｒ｜：｜Ｉ−Ｒ｜＞Ｔij｝…（４）
【００４０】
前記最小値選択回路３８では、前記差分絶対値回路３０で、Ｒ、Ｇ、Ｂの各画像について、各画素毎に差分絶対値の最小値を選択する。いま、全画素について最小値を検出した結果、最小値はＧの画像にあったとすると、その画素の画素値は図６（Ａ）に示すように、Ｒ、Ｂについては、Ｇの差分値ΔＧより大きいことになる。
【００４１】
又、前記輝度調整回路４０では、画像全体の中で最も差分値が小さいΔＧには、印刷面の色調変動に起因する輝度成分が含まれていると考えられるため、所定の係数ｋを乗じて輝度調整値を算出する。この係数ｋとしては、１以下の正の値、即ち１００％以下に設定でき、具体的には実験的に決定される。
【００４２】
図６（Ｂ）は、この輝度調整値のイメージを同図（Ａ）の差分値と対比させて示し、ここでは係数ｋとして０．８（８０％）の場合を示した。即ち、この例では、全画素中に、同図（Ａ）の破線以下に当る最小差分値ΔＧの８０％分が色調変動に起因する輝度値として差分画像に含まれていると見做す。
【００４３】
前記色差抽出回路４２では、Ｒ、Ｇ、Ｂの各差分画像からそれぞれΔＧ×８０％の画素値に当る輝度調整値を減算する処理を行う。因みに、図６（Ａ）に示したΔＧが最小の画素の場合であれば、同図（Ｃ）に示したように各差分値ΔＲ、ΔＧ、ΔＢからΔＧ×８０％の調整値を引いた色差ΔＲ′、ΔＧ′、ΔＢ′を新たな画素値として同画素に設定し直すことを意味する。
【００４４】
このようにすることにより、前記マスキング回路で作成されたマスク済画像から、オフセット印刷特有の輝度変化による影響を排除することができ、ＹＭＣの各一次色の変動による不良を正確に検査することができるようになる。
【００４５】
本実施形態においては、前述したように、色差抽出回路４２まではＲ、Ｇ、Ｂ毎に別々に処理が実行され、その後前記ＲＧＢ合成回路４６により合成処理が行われる。このＲＧＢ合成回路４６では、上記抽出回路４２により輝度調整されたＲ、Ｇ、Ｂの各色差画像を合成するが、その際、各画像の対応する画素の中で最大の画素値を、同位置の画素に設定することにより合成色差画像を生成するようになっている。
【００４６】
即ち、本実施形態では、Ｒ、Ｇ、Ｂ毎に生成される色差画像について、対応する各画素毎にＲ、Ｇ、Ｂ色差の最大値：ｍａｘ（ΔＲ′、ΔＧ′、ΔＢ′）を求め、その最大値からなる各色差を該当する画素に新たな画素値として設定する合成を行ない、合成色差画像を作成する。
【００４７】
前記積算（積分）回路４６では、図７に画像の一部を、幅方向の画素の位置（アドレス）に１、２、３・・・２０４８の番号を付して概念的に示したように、上記合成色差画像に対して、垂直方向（ウェブの流れ方向）に１６画素（１枡＝４画素）、水平方向にも１６画素の矩形領域を単位に画素値を積算し、その積算値ＳＵＭを求め、次いで前記積算値判定回路４８でこのＳＵＭと判定レベルＤとを比較し、ＳＵＭ≧Ｄであれば、その領域に淡い不良が発生していると判定する。この判定レベルＤとしては、２５６階調表示の場合であれば、１〜４０８０の間の適切な値として実績に基づいて設定する。因に全体的に階調値５の淡い不良の場合であれば、ＳＵＭ＝１２８０となる。
【００４８】
この判定を行う場合、その対象となる１６×１６画素の積算は、水平方向、垂直方向にそれぞれ１６画素ずつ順次シフトしながら行う。
【００４９】
以上詳述した本実施形態によれば、図８に概念的に示したように、面積は大きいが濃度差の殆どないような淡い不良である濃度変動を検出することができる。即ち、例えば、Ｒの検査画像について、予め作成されている基準画像（Ａ）から、閾値生成回路３２により閾値画像（Ｂ）が作成され、閾値画像メモリ３４に格納される。この閾値画像（Ｂ）には、前述した閾値設定処理により、絵柄のエッジが広い幅で抽出されている。
【００５０】
この状態で、画像バスから（Ｃ）に示した濃度変動（薄汚れ）不良Ｄが存在する検査画像が入力されると、この検査画像（Ｃ）について差分絶対値回路３０により差分画像（Ｄ）が作成される。この差分画像（Ｄ）には、検査画像と基準画像との位置ずれ等に起因して細いエッジ部分が残っている。なお、スキャナ入力した添付図面は階調が粗いために視認できないが、この差分画像（Ｄ）には、上記検査画像（Ｃ）に示されている楕円形に近い薄い濃度変動不良Ｄに相当する低輝度部分が存在している。これは、次のマスク済画像（Ｅ）でも同様である。
【００５１】
次いで、マスキング回路３６により、上記差分画像（Ｄ）に対して閾値画像メモリ３４から入力される閾値画像（Ｂ）を用いてマスク処理することによりマスク済画像（Ｅ）が作成される。この段階では、差分画像（Ｄ）にあった細いエッジは、閾値画像（Ｂ）のエッジによりマスクされて消えている。又、濃度不良Ｄに相当する画素値は極めて小さいため殆どが見えず、上記のようにこの図からは視認できないが、実際には存在している。
【００５２】
次いで、前述した方法で、前記輝度調整回路４０で算出した調整値kminを用いて、前記色差抽出回路４２で上記マスク済画像（Ｅ）からの減算処理を行ない、輝度調整された色差画像（図示省略）を作成する。
【００５３】
便宜上、図示は省略するが、以上の色差抽出回路４２までの各処理を、Ｇ、Ｂの各検査画像についても実行し、前記合成回路４４で合成色差画像（図示せず）を作成する。
【００５４】
その後、上記合成色差画像に対して１６×１６積算回路４６により、積算処理が行われて積算画像（Ｆ）が作成され、この積算画像（Ｆ）に対して積算値判定回路４８により判定が行われる。なお、ここでは、便宜上、合成色差画像が上記マスク済画像（Ｅ）と同一であるとして、積算処理を行っている。
【００５５】
この積算画像（Ｆ）には濃度不良Ｄに対応する位置が明確な矩形で示されているように、淡くて面積が広い欠陥を強調することができるため、確実に検出することが可能となる。
【００５６】
以上詳述した如く、本実施形態によれば、ＲＧＢのカラー画像より色差画像を算出して、その画像に対して検査処理を施すことにより、オフセット印刷特有の色差変動に対する感度を調整できるようにしたため、Ｃ、Ｍ、Ｙの１次色の濃度変化の検出感度はそのままに、輝度成分の検出感度を任意に制御することができるようになった。これによって、薄汚れに対する検出感度を上げても、過検出を防ぐことができることから、オフセット印刷による薄汚れ不良を確実に検査することができる。
【００５７】
又、Ｒ、Ｇ、Ｂの各カラー画像の対しては、積算処理の前にＲ、Ｇ、Ｂ画像を合成して１枚の画像にするようにしたことにより、回路規模を小さくでき、しかも効率のよいカラー検査を行なうことができる。
【００５８】
以上、本発明について具体的に説明したが、本発明は、前記実施形態に示したものに限られるものでなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。
【００５９】
例えば、前記実施形態では、判定対象とする色差画像が、閾値画像によりマスク処理したマスク済画像の場合を示したが、これに限定されず、差分画像から直接輝度調整値を減算して作成した画像であってもよい。特に印刷物が無地の絵柄であったり、検査領域が平坦な画像部分に限定されていたりする場合には、エッジ部分のマスク処理は不要となることから、直接作成した方が有利である。
【００６０】
又、閾値生成、積算等の各処理を行う際の単位として画素数等を具体的に示したが、これに限定されない。
【００６１】
又、前記実施形態では、印刷不良の発生の判定を、色差画像の画素値を積算（積分）処理して行う場合を示したが、これに限定されない。又、積算処理は、合成色差画像について行ったが、合成前の各色差画像について個別に行うようにしてもよい。又、各色差画像の画素値を加算して合成色差画像を作成するようにしてもよい。
【００６２】
【発明の効果】
以上説明したとおり、本発明によれば、オフセット印刷特有の色調変動の影響を受けることなく面積は大きいが濃度差の殆どないような薄汚れ不良を確実に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る一実施形態の検査装置全体の概略構成を示す説明図
【図２】実施形態におけるラインセンサカメラのハード構成を示す回路図
【図３】実施形態の要部構成を示すブロック図
【図４】閾値処理に使用するウィンドウを概念的に示す説明図
【図５】閾値処理に使用するウィンドウを設定した画素値の具体例を示す説明図
【図６】輝度調整の原理を示す説明図
【図７】画素値の積算処理を概念的に示す説明図
【図８】実施形態の作用を示す説明図
【符号の説明】
３０…差分絶対値回路
３２…閾値生成回路
３４…閾値画像メモリ
３６…マスキング回路
３８…最小値選択回路
４０…輝度調整回路
４２…色差抽出回路
４４…ＲＧＢ合成回路
４６…積算回路
４８…積算値判定回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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