(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにレーザービームを照射する光学系を制御して、制御目標値を検出する制御目標値の検出方法であって、
前記制御目標値の所定の値に対して前記光学系の特性を判定する第１の評価値を取得する評価値取得のステップと、
前記第１の評価値を第１のしきい値により判定する判定ステップと、
前記第１の評価値が前記第１のしきい値を満足する場合において、前記所定の値を前記制御目標値に設定する第１の制御目標値設定ステップと、
前記第１の評価値が前記第１のしきい値を満足しない場合において、前記所定の値を変化させて新たに取得される第２の評価値が、前記所定の値の変化に対する前記評価値の変化について想定される複数のパターンのうちのいずれのパターンにあてはまるものかを判定し、当該判定結果に基づいて、前記制御目標値を設定する第２の制御目標値設定ステップとを有する
ことを特徴とする制御目標値の検出方法。
【請求項２】
前記第２の制御目標値設定ステップは、
前記第２の評価値、前記第１の評価値を、前記第１のしきい値と異なる第２のしきい値により判定する第２のしきい値による判定ステップと、
前記第２の評価値、前記第１の評価値が、前記第２のしきい値を満足する場合において、前記第２のしきい値を満足する評価値に基づいて、前記制御目標値を設定する第３の制御目標値設定ステップと、  前記第２の評価値、前記第１の評価値が、前記第２のしきい値を満足しない場合において、前記所定の値を変化させて、第３の評価値を取得するステップと、
前記第３の評価値、前記第２の評価値、前記第１の評価値に基づいて、前記制御目標値を設定する第４の制御目標値設定ステップとを有する
ことを特徴とする請求項１に記載の制御目標値の検出方法。
【請求項３】
前記第３の制御目標値設定ステップは、
前記第２のしきい値を満足する評価値について、対応する前記所定の値を前記制御目標値に設定する  ことを特徴とする請求項２に記載の制御目標値の検出方法。
【請求項４】
前記第３の評価値を取得するステップは、
前記第２のしきい値を満足する側に、前記所定の値を変化させて前記第３の評価値を取得する
ことを特徴とする請求項２に記載の制御目標値の検出方法。
【請求項５】
前記第４の制御目標値設定ステップは、
前記第３の評価値、前記第２の評価値、前記第１の評価値を用いた２次近似曲線の極値に対応する前記所定の値を、前記制御目標値に設定する
ことを特徴とする請求項２に記載の制御目標値の検出方法。
【請求項６】
前記光ディスクの所定領域に記録されるパターンが再生され、この再生により得られる信号により、前記評価値が検出される
ことを特徴とする請求項１に記載の制御目標値の検出方法。
【請求項７】
前記パターンの判定結果に基づいて、所定の閾値と比較される評価値が選択される
ことを特徴とする請求項６に記載の制御目標値の検出方法。
【請求項８】
光ディスクにレーザービームを照射する光学系を制御して、制御目標値を検出する制御目標値の検出方法のプログラムであって、
前記制御目標値の所定の値に対して前記光学系の特性を判定する第１の評価値を取得する評価値取得のステップと、
前記第１の評価値を第１のしきい値により判定する判定ステップと、
前記第１の評価値が前記第１のしきい値を満足する場合において、前記所定の値を前記制御目標値に設定する第１の制御目標値設定ステップと、
前記第１の評価値が前記第１のしきい値を満足しない場合において、前記所定の値を変化させて新たに取得される第２の評価値が、前記所定の値の変化に対する前記評価値の変化について想定される複数のパターンのうちのいずれのパターンにあてはまるものかを判定し、当該判定結果に基づいて、前記制御目標値を設定する第２の制御目標値設定ステップとを有する
ことを特徴とする制御目標値の検出方法のプログラム。
【請求項９】
光ディスクにレーザービームを照射する光学系を制御して、制御目標値を検出する制御目標値の検出方法のプログラムを記録した記録媒体であって、
前記制御目標値の所定の値に対して前記光学系の特性を判定する第１の評価値を取得する評価値取得のステップと、
前記第１の評価値を第１のしきい値により判定する判定ステップと、
前記第１の評価値が前記第１のしきい値を満足する場合において、前記所定の値を前記制御目標値に設定する第１の制御目標値設定ステップと、
前記第１の評価値が前記第１のしきい値を満足しない場合において、前記所定の値を変化させて新たに取得される第２の評価値が、前記所定の値の変化に対する前記評価値の変化について想定される複数のパターンのうちのいずれのパターンにあてはまるものかを判定し、当該判定結果に基づいて、前記制御目標値を設定する第２の制御目標値設定ステップとを有する
ことを特徴とする制御目標値の検出方法のプログラムを記録した記録媒体。
【請求項１０】
光ディスクにレーザービームを照射する光学系を制御する制御手段と、
前記光学系の制御目標値の所定の値に対して前記光学系の特性を判定する第１の評価値を取得する取得手段と、
前記第１の評価値を第１のしきい値により判定する判定手段と、
前記第１の評価値が前記第１のしきい値を満足する場合において、前記所定の値を前記制御目標値に設定する第１の制御目標値設定手段と、
前記第１の評価値が前記第１のしきい値を満足しない場合において、前記所定の値を変化させて新たに取得される第２の評価値が、前記所定の値の変化に対する前記評価値の変化について想定される複数のパターンのうちのいずれのパターンにあてはまるものかを判定し、当該判定結果に基づいて、前記制御目標値を設定する第２の制御目標値設定手段とを有する
ことを特徴とする光記録媒体駆動装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、制御目標値の検出方法、制御目標値の検出方法のプログラム、制御目標値の検出方法のプログラムを記録した記録媒体及び光記録媒体駆動装置に関し、例えば高密度記録に係る光磁気ディスク装置に適用することができる。本発明は、順次段階的に設定されたしきい値により評価値を判定し、判定結果により改めて評価値を取得することにより、少ない測定回数により、制御目標値の最適値を求めることができるようにする。
【０００２】
【従来の技術】
従来、高密度記録に係る光ディスク装置である光磁気ディスク装置においては、制御目標値の設定処理であるフォーカスバイアスの最適化処理により、記録再生に最適なフォーカスバイアス値を検出し、このフォーカスバイアス値をフォーカス制御の制御目標値に設定するようになされ、これにより高い信頼性を確保して所望のデータを記録再生するようになされている。
【０００３】
このようなフォーカスバイアスの最適化処理においては、位相余裕、振幅余裕にそれぞれ着目して、光学系の特性を評価する評価値としてジッタ量、再生信号の振幅値を使用して制御目標値の最適値を検出するようになされている。すなわち評価値としてジッタ量を利用する場合には、ジッタ量が最小値となるフォーカスバイアス値を検出して制御目標値に設定する。また評価値として再生信号の振幅値を利用する場合には、この振幅値が最も大きくなるフォーカスバイアス値を検出して制御目標値に設定する。光磁気ディスク装置においては、光学系のモニタ結果の１つであるフォーカスエラー信号がこのようにして設定した制御目標値となるように対物レンズを可動してフォーカス制御するようになされている。
【０００４】
すなわち図１１に示すように、光ディスクにレーザービームを照射して得られる再生信号においては、信号レベルのピーク、ボトムにゆらぎが発生し、これにより位相余裕、振幅余裕が低下する。このような位相余裕、振幅余裕の低下においては、再生データのエラーレートを劣化させるようになり、これらのフォーカスバイアス値、ジッタ量、エラーレートの関係は、図１２に示すように表される。なおここで符号Ｊによりジッタ量を示し、符号Ｅによりエラーレートを示す。
【０００５】
ジッタ量Ｊにおいては、バスタブ曲線により表され、これによりフォーカスバイアスを順次切り換えてジッタ量を検出してこの特性曲線を求め、この特性曲線より最適なフォーカスバイアス値を検出することができる。この場合に、図１３に示すように、評価値の測定結果（黒点により示す）を二次曲線近似により処理し、この近似曲線により最適なフォーカスバイアス値ＸＢを検出することにより、少ない測定結果により最適なフォーカスバイアス値ＸＢを検出して、その分、フォーカスバイアスの設定に供する時間を短くする方法が採用されるようになされている。
【０００６】
また例えば特開２０００−２６８３７５号公報においては、図１４に示すように、複数の測定結果より、所定のしきい値ＴＨを越える２点の測定結果Ｘ１及びＸ２を検出し、これら２点の測定結果Ｘ１及びＸ２におけるフォーカスバイアス値の平均値により最適なフォーカスバイアス値ＸＢを検出する方法が提案されるようになされている。
【０００７】
なおこのような測定時間を短くする方法の他に、この種の処理に関連する提案としては、特開２０００−３１１３６２号公報、特開２００１−３４９６６号公報、特開平１１−３１６９５９号公報においては、このような最適化の処理に供するシステムの構成が提案されるようになされており、また特開２０００−２６８３７５においては、サンプル後の計算方法が提案されるようになされている。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
ところでこのような最適なフォーカスバイアスにおいては、光磁気ディスクによっても異なり、また使用温度によっても変化する特徴があり、これにより電源起動時、光磁気ディスクの交換時だけでなく、長時間使用している場合でも、定期的に実行することが求められる。
【０００９】
しかもこのような最適値の検出においては、各測定ポイント毎に、フォーカスバイアスを設定してジッタ量を測定することにより、フォーカスバイアスを相当回数設定しながら、順次、ジッタ量を測定することが必要となり、これにより測定回数の分だけ時間を要することになる。なおフォーカスバイアスを切り換えると、対物レンズ等の光学系の状態が安定するまで、ジッタ量については、正しい測定結果を得ることが困難であり、これによりこの種の処理においては、各測定点で測定に時間を要し、これにより処理全体として測定に長い時間を要することになる。
【００１０】
これにより従来のフォーカスバイアスの最適化処理においては、処理に時間を要する問題があった。なおこのように処理に時間を要する場合には、その分、ホスト装置の要求する処理に対応できないことにより、ホスト装置の外部記憶装置等に利用して光磁気ディスク装置のパフォーマンスが劣化することになる。特に、連続性が要求される画像データの記録再生においては、このような処理に時間を要するようになると、連続性を保てなくなる恐れもある。
【００１１】
これらの問題点を解決するためには、少ない測定回数により、制御目標値の最適値を求めることが望まれる。
【００１２】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、少ない測定回数により、制御目標値の最適値を求めることができる制御目標値の検出方法、制御目標値の検出方法のプログラム、制御目標値の検出方法のプログラムを記録した記録媒体及び光記録媒体駆動装置を提案しようとするものである。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
かかる課題を解決するため請求項１の発明においては、制御目標値の検出方法に適用して、前記制御目標値の所定の値に対して前記光学系の特性を判定する第１の評価値を取得する評価値取得のステップと、前記第１の評価値を第１のしきい値により判定する判定ステップと、前記第１の評価値が前記第１のしきい値を満足する場合において、前記所定の値を前記制御目標値に設定する第１の制御目標値設定ステップと、前記第１の評価値が前記第１のしきい値を満足しない場合において、前記所定の値を変化させて新たに取得される第２の評価値が、前記所定の値の変化に対する前記評価値の変化について想定される複数のパターンのうちのいずれのパターンにあてはまるものかを判定し、当該判定結果に基づいて、前記制御目標値を設定する第２の制御目標値設定ステップとを有するようにする。
【００１４】
また請求項８の発明においては、制御目標値の検出方法のプログラムに適用して、前記制御目標値の所定の値に対して前記光学系の特性を判定する第１の評価値を取得する評価値取得のステップと、前記第１の評価値を第１のしきい値により判定する判定ステップと、前記第１の評価値が前記第１のしきい値を満足する場合において、前記所定の値を前記制御目標値に設定する第１の制御目標値設定ステップと、前記第１の評価値が前記第１のしきい値を満足しない場合において、前記所定の値を変化させて新たに取得される第２の評価値が、前記所定の値の変化に対する前記評価値の変化について想定される複数のパターンのうちのいずれのパターンにあてはまるものかを判定し、当該判定結果に基づいて、前記制御目標値を設定する第２の制御目標値設定ステップとを有するようにする。
【００１５】
また請求項９の発明においては、制御目標値の検出方法のプログラムを記録した記録媒体に適用して、前記制御目標値の所定の値に対して前記光学系の特性を判定する第１の評価値を取得する評価値取得のステップと、前記第１の評価値を第１のしきい値により判定する判定ステップと、前記第１の評価値が前記第１のしきい値を満足する場合において、前記所定の値を前記制御目標値に設定する第１の制御目標値設定ステップと、前記第１の評価値が前記第１のしきい値を満足しない場合において、前記所定の値を変化させて新たに取得される第２の評価値が、前記所定の値の変化に対する前記評価値の変化について想定される複数のパターンのうちのいずれのパターンにあてはまるものかを判定し、当該判定結果に基づいて、前記制御目標値を設定する第２の制御目標値設定ステップとを有するようにする。
【００１６】
また請求項１０の発明においては、光記録媒体駆動装置に適用して、光記録媒体にレーザービームを照射する光学系を制御する制御手段と、前記光学系の制御目標値の所定の値に対して前記光学系の特性を判定する第１の評価値を取得する取得手段と、前記第１の評価値を第１のしきい値により判定する判定手段と、前記第１の評価値が前記第１のしきい値を満足する場合において、前記所定の値を前記制御目標値に設定する第１の制御目標値設定手段と、前記第１の評価値が前記第１のしきい値を満足しない場合において、前記所定の値を変化させて新たに取得される第２の評価値が、前記所定の値の変化に対する前記評価値の変化について想定される複数のパターンのうちのいずれのパターンにあてはまるものかを判定し、当該判定結果に基づいて、前記制御目標値を設定する第２の制御目標値設定手段とを有するようにする。
【００１７】
請求項１の構成によれば、第１の評価値が第１のしきい値を満足する場合に、この第１の評価値に係る所定の値を制御目標値に設定する第１の制御目標値設定ステップを有することにより、十分な値による評価値が得られた場合には、１回の評価値の検出により、最適値を検出することができる。また第１の評価値が第１のしきい値を満足しない場合に、制御目標値を変化させて第２の評価値を改めて取得し、この第２の評価値が、前記所定の値の変化に対する前記評価値の変化について想定される複数のパターンのうちのいずれのパターンにあてはまるものかを判定し、当該判定結果に基づいて、前記制御目標値を設定することにより、必要に応じて、評価値の測定を繰り返して最適値を検出することができる。これにより従来に比して少ない測定回数により、制御目標値の最適値を求めることができる。
【００１８】
これにより請求項８、請求項９、請求項１０の構成によれば、従来に比して少ない測定回数により、制御目標値の最適値を求めることができる制御目標値の検出方法のプログラム、制御目標値の検出方法のプログラムを記録した記録媒体、光記録媒体駆動装置を提供することができる。
【００１９】
【発明の実施の形態】
以下、適宜図面を参照しながら本発明の実施の形態を詳述する。
【００２０】
（１）第１の実施の形態
（１）第１の実施の形態の構成
図２は、本発明の実施の形態に係る光磁気ディスク装置を示すブロック図である。この光磁気ディスク装置１は、例えばコンピュータに接続されてコンピュータの外部記憶装置として使用される。
【００２１】
この光磁気ディスク装置１において、スピンドルモータ２は、スピンドルドライバ３により駆動されて、光磁気ディスク４を所定の回転速度により回転駆動する。
【００２２】
光学系５において、固定光学ブロック６は、駆動回路８を介して実行される自動光量制御回路（ＡＰＣ）９の制御により、可動光学ブロック１０に向けてレーザービームを照射し、またこのレーザービームの光路を逆に辿って入射するレーザービームの戻り光を所定の受光素子により受光する。固定光学ブロック６は、この戻り光の受光結果を、レーザービームの光量検出結果と共に出力する。
【００２３】
可動光学ブロック１０は、サーボドライバ１１によるスレッド機構の駆動により、光磁気ディスク４の半径方向に可動し、固定光学ブロック６から出射されるレーザービームの光路を光磁気ディスク４の情報記録面に向けて折り曲げ、対物レンズを介してこのレーザービームを光磁気ディスク４の情報記録面に集光する。またこのレーザービームの照射により光磁気ディスク４から得られる戻り光を対物レンズにより受光し、光路を折り曲げて固定光学ブロック６に出射する。また可動光学ブロック１０は、光磁気ディスク４のレーザービーム照射位置に近接して変調コイルを保持し、レーザービーム照射位置に所定の変調磁界を印加する。
【００２４】
エンコーダ１２は、可動光学ブロック１０を駆動するスレッド機構に設けられたスケールを基準にして、可動光学ブロック１０の位置情報を検出する位置検出機構であり、位置検出結果をゲートアレイ１３に出力する。これにより光磁気ディスク装置１では、このエンコーダ１２による位置検出結果に基づいて、可動光学ブロック１０の現在位置、可動距離を検出できるようになされている。
【００２５】
アナログ信号処理回路１４は、固定光学ブロック６から出力される戻り光の受光結果を処理することにより、戻り光の光量に応じて信号レベルが変化する再生信号ＲＦ、戻り光の偏光面に応じて信号レベルが変化する再生信号ＨＦ、トラッキングエラー信号ＴＥＳ、フォーカスエラー信号ＦＥ等を生成して出力する。またレーザービームの光量検出結果を増幅して自動光量制御回路９に出力する。
【００２６】
自動光量制御回路９は、アナログ信号処理回路１４を介して入力される固定光学ブロック６によるレーザービームの光量検出結果に基づいて、ＳＣＳＩコントローラ１５の制御によりレーザービームの光量制御信号を出力し、駆動回路８は、この光量制御信号により固定光学ブロック６に保持された半導体レーザーを駆動する。これによりこの光磁気ディスク装置１では、レーザービームの光量を一定値に保持し、また書き込み時においては、所定周期により間欠的にレーザービームの光量を立ち上げるようになされている。
【００２７】
光磁気ディスク装置１においては、図示しない記録系により、ＳＣＳＩコントローラ１５の出力データにより可動光学ブロック１０に保持された変調コイルが駆動され、これにより間欠的に光量を立ち上げてなるレーザービーム照射位置に記録に供するデータに応じた変調磁界が印加され、熱磁気記録により所望のユーザーデータ、さらにはユーザーデータを記録した記録位置情報等（ファイル管理用のデータである）を光磁気ディスク４に記録するようになされている。
【００２８】
ディジタル信号処理回路１６は、アナログ信号処理回路１４から出力される再生信号ＲＦよりクロックを再生し、このクロックを基準にして再生信号ＲＦ、ＨＦをアナログディジタル変換処理した後、所定のディジタル信号処理を実行することにより、ピット列により記録されてなるＩＤ情報、熱磁気記録されてなるユーザーデータ、ファイル管理用のデータ等を再生する。
【００２９】
この処理において、ディジタル信号処理回路１６は、熱磁気記録に係る再生信号である再生信号ＨＦを所定の信号レベルにより２値化し、その結果得られる２値化信号の周期を時間計測し、この時間計測結果ＤＴをＳＣＳＩコントローラ１５に出力する。これによりこの光磁気ディスク装置１では、この時間計測結果ＤＴにより試し書きにより記録したテストパターンについて、ＳＣＳＩコントローラ１５によりジッタ量を検出できるようになされている。
【００３０】
ゲートアレイ１３は、論理回路による回路ブロックであり、この光磁気ディスク装置１におけるトラッキングエラー信号ＴＥＳ等の処理に必要な論理回路を構成し、例えばトラッキングエラー信号ＴＥＳを信号処理して、レーザービームがトラックを横切る周期で信号レベルが変化するトラバース信号を生成する。光磁気ディスク装置１では、このトラバース信号によりディジタルシグナルプロセッサ１８において、シーク量を検出して目的トラックにシークするようになされている。
【００３１】
ディジタルシグナルプロセッサ１８は、所定の制御プログラムを実行することにより、ＳＣＳＩコントローラ１５の制御に応じて、各種サーボ系の動作を制御する。すなわちディジタルシグナルプロセッサ１８は、ゲートアレイ１３を介してトラッキングエラー信号ＴＥＳ、フォーカスエラー信号ＦＥを入力し、これらトラッキングエラー信号ＴＥＳ、フォーカスエラー信号ＦＥがＳＣＳＩコントローラ１５により設定されるバイアス値となるように、サーボドライバ１１を介して可動光学ブロック１０の対物レンズを可動し、これによりトラッキング制御、フォーカス制御の処理を実行する。
【００３２】
またディジタルシグナルプロセッサ１８は、再生信号ＲＦより再生されるクロックが所定周波数となるように、ゲートアレイ１３、スピンドルドライバ３を介してスピンドルモータ２を駆動し、これによりスピンドル制御の処理を実行する。またゲートアレイ１３を介して、エンコーダ１２による位置情報を取得し、ディジタルシグナルプロセッサ１８よりシークが指示されると、この位置情報を基準にしてゲートアレイ１３を介してサーボドライバ１１を駆動し、これにより可動光学ブロック１０を可動してシークの処理を実行する。またこの処理において、ゲートアレイ１３で生成されるトラバース信号を基準にしてシーク量を判定し、目的トラックにシークするようにシーク処理を実行する。
【００３３】
ＳＣＳＩ（Small Computer System Interface ）コントローラ１５は、この光磁気ディスク装置１のインターフェースを構成し、ホスト装置より入力されるコマンドの解析により、このコマンドに応じて各部に動作を指示する。またこの動作の指示により、順次入力されるユーザーデータを内蔵のバッファメモリに一時保持した後、図示しない記録系により変調して可動光学ブロック１０の変調コイルを駆動し、これによりホスト装置から入力されるユーザーデータを光磁気ディスク４に熱磁気記録する。またこれとは逆に、ディジタル信号処理回路１６より得られるユーザーデータの再生データを内蔵のバッファメモリに一時保持した後、ホスト装置とのデータ交換により、この再生データをホスト装置に出力する。
【００３４】
ＳＣＳＩコントローラ１５は、これらの処理において、電源が立ち上げられると、また光磁気ディスク４が交換されると、さらには動作を開始して一定の時間が経過すると、所定の処理手順の実行によりフォーカスバイアスの最適化処理を実行し、この最適化処理により検出したフォーカスバイアス値によりフォーカス制御するように、ディジタルシグナルプロセッサ１８にフォーカス制御のバイアス値を設定する。
【００３５】
すなわちフォーカスバイアスの最適化処理において、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ディジタルシグナルプロセッサ１８にシークを指示し、これにより光磁気ディスク４に設定された所定の試し書き領域へ可動光学ブロック１０を移動させる。さらにＳＣＳＩコントローラ１５は、この試し書き領域に所定のテストパターンを記録し、このテストパターンの再生結果より、ジッタ量を検出して最適なフォーカスバイアス値を検出する。
【００３６】
図１は、このフォーカスバイアスの最適化処理において、試し書きの再生処理手順を示すフローチャートである。なおＳＣＳＩコントローラ１５は、この処理において、ディジタル信号処理回路１６から得られる再生信号ＨＦの時間計測結果ＤＴにより、光磁気ディスク４に対する可動光学ブロック１０の特性の評価値であるジッタ量を検出する。すなわちＳＣＳＩコントローラ１５は、試し書きを終了すると、この処理手順を開始し、ステップＳＰ１からステップＳＰ２に移る。
【００３７】
ここでＳＣＳＩコントローラ１５は、この光磁気ディスク装置１において、工場出荷時に設定されたフォーカスバイアスの標準値Ｄを、ディジタルシグナルプロセッサ１８のフォーカス制御のバイアス値に設定する。ここでこのような標準値Ｄにおいては、工場における調整工程において設定される、基準の光磁気ディスク４において最も再生に適したフォーカスバイアス値である。ＳＣＳＩコントローラ１５は、さらにこのようにフォーカスバイアス値を設定して所定の時間を経過して光学系等が安定すると、この状態で試し書き領域を再生し、ジッタ量Ｊ（Ｄ）を検出する。
【００３８】
これによりＳＣＳＩコントローラ１５は、このステップＳＰ２の処理により、所定値による評価値取得のステップを構成し、フォーカス制御の制御目標値を工場出荷時に設定された制御目標値である所定値に設定し、この所定値による評価値Ｊ（Ｄ）を取得するようになされている。
【００３９】
続いてＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ３に移り、ここでこのように標準値Ｄにより計測されたジッタ量Ｊ（Ｄ）が第１の判定基準値ＴＨ１より小さいか否か判断することにより、この標準値Ｄによるフォーカスバイアス値が実用上十分なバイアス値か否か判断する。ここでこの判定基準値ＴＨ１は、この標準値Ｄによるフォーカスバイアスによりフォーカス制御して、温度変化した場合等でも、十分なマージンを確保することができる程度の、極めて厳しい判定基準値に設定される。
【００４０】
ここで肯定結果が得られると、この場合、この標準値Ｄによりフォーカス制御して、温度変化した場合等でも、十分なジッタ量を確保できることにより、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ３からステップＳＰ４に移り、この標準値Ｄを最適なフォーカスバイアス値に設定した後、ステップＳＰ５に移ってこの処理手順を終了する。
【００４１】
これによりＳＣＳＩコントローラ１５は、このステップＳＰ３の処理により、所定値による評価値Ｊ（Ｄ）を第１のしきい値ＴＨ１により判定する第１のしきい値による判定ステップを形成し、また続くステップＳＰ４の処理により、この所定値による評価値Ｊ（Ｄ）が第１のしきい値ＴＨ１を満足する場合に、所定値を制御目標値の最適値に設定する第１の制御目標値設定ステップを形成するようになされている。これにより光磁気ディスク装置１においては、この場合、１回のジッタ量の測定により、最適なフォーカスバイアス値を検出できるようになされている。
【００４２】
これに対してステップＳＰ３で否定結果が得られると、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ６に移り、この標準値Ｄを中心にして値−０ｃｈ、＋０ｃｈだけそれぞれフォーカスバイアス値を変更して、ジッタ量を検出する。かくするにつき、この実施の形態においては、このようなフォーカスバイアス値の設定値の変化量−０ｃｈ、＋０ｃｈを、ディジタルシグナルプロセッサ１８にセットする制御コードを用いて、ヘキサコードにより示す。
【００４３】
これによりＳＣＳＩコントローラ１５は、このステップＳＰ６の処理において、所定値による評価値Ｊ（Ｄ）が第１のしきい値ＴＨ１を満足しない場合に、制御目標値であるフォーカスバイアス値を変化させて評価値Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）及びＪ（Ｄ＋０ｃｈ）を改めて取得する評価値の再取得のステップを形成し、ステップＳＰ７に続く以降のステップにより、このようにして改めて取得した評価値Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）及びＪ（Ｄ＋０ｃｈ）と、先の所定値による評価値Ｊ（Ｄ）に基づいて、制御目標値の最適値を設定する第２の制御目標値設定ステップを形成するようになされている。
【００４４】
すなわちＳＣＳＩコントローラ１５は、このようにしてフォーカスバイアス値Ｄ−０ｃｈ、Ｄ＋０ｃｈによりそれぞれジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）及びＪ（Ｄ＋０ｃｈ）を検出すると、ステップＳＰ７に移り、このようにして検出したジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）と、ステップＳＰ２で検出した標準値Ｄによるジッタ量Ｊ（Ｄ）とにより、フォーカスバイアスの変化に対するジッタ量の変化パターンを判定する。
【００４５】
ＳＣＳＩコントローラ１５は、ジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）間における大小判定により、ジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）のパターンを４つのパターンに分類する。ここでパターン１は、図３（Ａ）に示すように、ジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）の順で順次値が増大する場合であり、パターン２は、図３（Ｂ）に示すように、パターン１とは逆にジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）の順で順次値が減少する場合である。またパターン３は、図３（Ｃ）に示すように、ジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）に比して、ジッタ量Ｊ（Ｄ）の値が小さい場合であり、パターン４は、図３（Ｄ）に示すように、ジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）に比して、ジッタ量Ｊ（Ｄ）の値が大きい場合である。
【００４６】
ＳＣＳＩコントローラ１５は、このようにパターンを判定して、ジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）がパターン１に該当する場合、ステップＳＰ７からステップＳＰ８（図４）に移る。ここでＳＣＳＩコントローラ１５は、値の小さな側の２つのジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）が第２のしきい値ＴＨ２より小さいか否か判断する。ここで第２のしきい値ＴＨ２は、実用上十分なエラーレートを確保できるジッタ量である。ＳＣＳＩコントローラ１５は、ここで肯定結果が得られると、ステップＳＰ８からステップＳＰ９に移り、この２つのジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）をそれぞれ検出したフォーカスバイアス値Ｄ−０ｃｈ、Ｄの平均値を最適値に設定した後、ステップＳＰ１０に移り、この処理手順を終了する。
【００４７】
かくするにつき、このように２つのジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）が実用上十分なエラーレートを確保できる程度に値が小さい場合に、ジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）をそれぞれ検出したフォーカスバイアス値Ｄ−０ｃｈ、Ｄの平均値を最適値に設定することにより、ステップＳＰ６で設定されるフォーカスバイアス値の変化量０ｃｈにおいては、使用による温度変化による変化量に対して適切に設定されるようになされている。
【００４８】
これによりＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ８の処理により、改めて取得した評価値Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）、所定値による評価値Ｊ（Ｄ）を、前記第１のしきい値ＴＨ１と異なる第２のしきい値ＴＨ２により判定する第２のしきい値による判定ステップを形成し、ステップＳＰ９の処理により、改めて取得した評価値Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）、所定値による評価値Ｊ（Ｄ）が、第２のしきい値ＴＨ２を満足する場合に、この第２のしきい値ＴＨ２を満足する評価値Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）に基づいて、制御目標値の最適値を設定する第３の制御目標値設定ステップを形成するようになされている。またこの第３の制御目標値設定ステップにおいては、第２のしきい値ＴＨ２を満足する評価値Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）について、対応する制御目標値の平均値を制御目標値の最適値を設定するようになされている。これにより光磁気ディスク装置１においては、この場合、３回のジッタ量の測定により、最適なフォーカスバイアス値を検出できるようになされている。
【００４９】
これに対してステップＳＰ８で否定結果が得られると、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ８からステップＳＰ１１に移り、ジッタ量が小さくなる側にフォーカスバイアスを変化させて（フォーカスバイアス値Ｄ−１４ｈ）、ジッタ量Ｊ（Ｄ−１４ｈ）を検出する。さらに続くステップＳＰ１２において、このようにして検出したジッタ量Ｊ（Ｄ−１４ｈ）と、直前のフォーカスバイアス値Ｄ−０ｃｈによるジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）との比較により、ステップＳＰ１１でジッタ量が小さくなる側にフォーカスバイアスを変化させて、ジッタ量が増大したか否か判断する。
【００５０】
ここで肯定結果が得られると、この場合、ジッタ量が最も小さくなるフォーカスバイアスの最適値においては、この２つのフォーカスバイアス値Ｄ−１４ｈ、Ｄ−０ｃｈの間に存在することになる。これによりＳＣＳＩコントローラ１５は、続くステップＳＰ１３において、さらにフォーカスバイアス値を変化させて、フォーカスバイアス値Ｄ−２０ｈによりジッタ量Ｊ（Ｄ−２０ｈ）を検出する。これによりＳＣＳＩコントローラ１５は、十分な数の測定結果を得、続くステップＳＰ１４において、このようにして得られる計５個のジッタ量Ｊ（Ｄ−２０ｈ）、Ｊ（Ｄ−１４ｈ）、Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）を２次曲線近似する。
【００５１】
さらに続くステップＳＰ１５において、このようにして２次曲線近似して得られる極値が所定の第３のしきい値ＴＨ３より小さいか否か判断する。なおここでこの第３のしきい値ＴＨ３は、第２のしきい値ＴＨ２より大きな値に設定される。
【００５２】
ここで肯定結果が得られると、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ１５からステップＳＰ１６に移り、この極値に対応するフォーカスバイアス値を最適値に設定した後、ステップＳＰ１７に移ってこの処理手順を終了する。これに対してステップＳＰ１５で否定結果が得られると、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ１８に移り、光磁気ディスク４の異常をホスト装置に通知し、ステップＳＰ１７に移ってこの処理手順を終了する。
【００５３】
これによりＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ１１の処理により、改めて取得した評価値Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）、所定値による評価値Ｊ（Ｄ）が、第２のしきい値ＴＨ２を満足しない場合に、該評価値Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）、所定値による評価値Ｊ（Ｄ）を基準にして、制御目標値を変化させて、再び評価値Ｊ（Ｄ−１４ｈ）を取得する評価値の再々取得のステップを形成するようになされ、またステップＳＰ１２以降の処理により、再び取得した評価値Ｊ（Ｄ−１４ｈ）、改めて取得した評価値Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）、所定値による評価値Ｊ（Ｄ）に基づいて、制御目標値の最適値を検出する第４の制御目標値設定ステップを形成するようになされている。
【００５４】
またこの評価値の再々取得のステップにおいては、第２のしきい値ＴＨ２を満足する側に、制御目標値を変化させて評価値を取得するようになされ、また第４の制御目標値設定ステップにおいては、再び取得した評価値Ｊ（Ｄ−１４ｈ）、改めて取得した評価値Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）、所定値による評価値Ｊ（Ｄ）を用いた２次近似曲線の極値を、最適値に設定するようになされている。
【００５５】
これに対してステップＳＰ１２で否定結果が得られると、この場合、フォーカスバイアスの変化に対してジッタ量の減少傾向がさらに続いていることにより、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ１２からステップＳＰ２０（図５）に移る。ここでＳＣＳＩコントローラ１５は、さらにジッタ量が小さくなる側にフォーカスバイアスを変化させて（フォーカスバイアス値Ｄ−２８ｈ）、ジッタ量Ｊ（Ｄ−２８ｈ）を検出する。さらに続くステップＳＰ２１において、標準値Ｄによるジッタ量Ｊ（Ｄ）との比較により、ステップＳＰ２０によるジッタ量の測定でジッタ量が増大したか否か判断する。
【００５６】
ここで肯定結果が得られると、この場合、ジッタ量が最も小さくなるフォーカスバイアスの最適値においては、フォーカスバイアス値Ｄ−２８ｈと、直前の測定に係るフォーカスバイアス値Ｄ−１４ｈの間に存在することになる。これによりＳＣＳＩコントローラ１５は、続くステップＳＰ２２において、順次検出した計５個のジッタ量Ｊ（Ｄ−２８ｈ）、Ｊ（Ｄ−１４ｈ）、Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）を２次曲線近似する。
【００５７】
さらに続くステップＳＰ１５において、このようにして２次曲線近似して得られる極値が所定の第３のしきい値ＴＨ３より小さいか否か判断する。ここで肯定結果が得られると、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ２３からステップＳＰ２４に移り、この極値に対応するフォーカスバイアス値を最適値に設定した後、ステップＳＰ２５に移ってこの処理手順を終了する。これに対してステップＳＰ２３で否定結果が得られると、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ２６に移り、光磁気ディスク４の異常をホスト装置に通知し、ステップＳＰ２５に移ってこの処理手順を終了する。
【００５８】
これに対してステップＳＰ２１で否定結果が得られると、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ２７に移り、さらにジッタ量が小さくなる側にフォーカスバイアスを大きく変化させて（フォーカスバイアス値Ｄ−５０ｈ）、ジッタ量Ｊ（Ｄ−５０ｈ）を検出する。
【００５９】
ここでこの場合、ＳＣＳＩコントローラ１５は、順次段階的にフォーカスバイアスを変化させて、十分な数の測定結果を検出していることにより、続くステップＳＰ２８において、このようにして検出した計６個のジッタ量Ｊ（Ｄ−５０ｈ）、Ｊ（Ｄ−２８ｈ）、Ｊ（Ｄ−１４ｈ）、Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）を２次近似し、ステップＳＰ２３に移る。
【００６０】
これによりＳＣＳＩコントローラ１５は、この２次近似により得られる極値をしきい値ＴＨ３により判定してフォーカスバイアス値の最適値を設定し、またホスト装置に異常を通知し、この処理手順を終了する。
【００６１】
これに対してステップＳＰ７におけるパターンの判定により、ジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）がパターン２に該当する場合、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ７からステップＳＰ３０（図６）に移る。ここでＳＣＳＩコントローラ１５は、値の小さな側の２つのジッタ量Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）が第２のしきい値ＴＨ２より小さいか否か判断する。ここで肯定結果が得られると、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ３０からステップＳＰ３１に移り、この２つのジッタ量Ｊ（Ｄ１＋ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）をそれぞれ検出したフォーカスバイアス値Ｄ＋０ｃｈ、Ｄの平均値を最適値に設定した後、ステップＳＰ３２に移り、この処理手順を終了する。
【００６２】
これによりＳＣＳＩコントローラ１５は、このパターン２の場合でも、ステップＳＰ３０の処理により第２のしきい値による判定ステップを形成し、またステップＳＰ３１により第３の制御目標値設定ステップを形成するようになされ、また以降の処理ステップにより第４の制御目標値設定ステップを形成するようになされている。これにより光磁気ディスク装置１においては、この場合、３回のジッタ量の測定により、最適なフォーカスバイアス値を検出できるようになされている。
【００６３】
これに対してステップＳＰ３０で否定結果が得られると、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ３０からステップＳＰ３３に移り、ジッタ量が小さくなる側にフォーカスバイアスを変化させて（フォーカスバイアス値Ｄ＋１４ｈ）、ジッタ量Ｊ（Ｄ＋１４ｈ）を検出する。さらに続くステップＳＰ３４において、このようにして検出したジッタ量Ｊ（Ｄ−１４ｈ）と、直前のフォーカスバイアス値Ｄ＋０ｃｈによるジッタ量Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）との比較により、ジッタ量が増大したか否か判断する。
【００６４】
ここで肯定結果が得られると、この場合、ジッタ量が最も小さくなるフォーカスバイアスの最適値においては、この２つのフォーカスバイアス値Ｄ＋１４ｈ、Ｄ＋０ｃｈの間に存在することになる。これによりＳＣＳＩコントローラ１５は、続くステップＳＰ３５において、さらにフォーカスバイアス値を変化させて、フォーカスバイアス値Ｄ＋２０ｈによりジッタ量Ｊ（Ｄ＋２０ｈ）を検出する。これによりＳＣＳＩコントローラ１５は、十分な数の測定結果を得、続くステップＳＰ３６において、このようにして得られる計５個のジッタ量Ｊ（Ｄ＋２０ｈ）、Ｊ（Ｄ＋１４ｈ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）、Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）を２次曲線近似する。
【００６５】
さらに続くステップＳＰ３７において、このようにして２次近似して得られる極値が第３のしきい値ＴＨ３より小さいか否か判断する。ここで肯定結果が得られると、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ３７からステップＳＰ３８に移り、この極値に対応するフォーカスバイアス値を最適値に設定した後、ステップＳＰ３９に移ってこの処理手順を終了する。これに対してステップＳＰ３７で否定結果が得られると、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ４０に移り、光磁気ディスク４の異常をホスト装置に通知し、ステップＳＰ３９に移ってこの処理手順を終了する。
【００６６】
これに対してステップＳＰ３４で否定結果が得られると、この場合、フォーカスバイアスの変化に対してジッタ量の減少傾向がさらに続いていることにより、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ３４からステップＳＰ４２（図７）に移る。ここでＳＣＳＩコントローラ１５は、さらにジッタ量が小さくなる側にフォーカスバイアスを変化させて（フォーカスバイアス値Ｄ＋２８ｈ）、ジッタ量Ｊ（Ｄ＋２８ｈ）を検出する。さらに続くステップＳＰ４３において、標準値Ｄによるジッタ量Ｊ（Ｄ）との比較により、ステップＳＰ４２によるジッタ量の測定でジッタ量が増大したか否か判断する。
【００６７】
ここで肯定結果が得られると、この場合、ジッタ量が最も小さくなるフォーカスバイアスの最適値においては、フォーカスバイアス値Ｄ＋２８ｈと、直前の測定に係るフォーカスバイアス値Ｄ＋１４ｈの間に存在することになる。これによりＳＣＳＩコントローラ１５は、続くステップＳＰ４４において、順次検出した計５個のジッタ量Ｊ（Ｄ＋２８ｈ）、Ｊ（Ｄ＋１４ｈ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）、Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）を２次曲線近似する。
【００６８】
さらに続くステップＳＰ４５において、このようにして２次曲線近似して得られる極値が所定の第３のしきい値ＴＨ３より小さいか否か判断する。ここで肯定結果が得られると、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ４５からステップＳＰ４６に移り、この極値に対応するフォーカスバイアス値を最適値に設定した後、ステップＳＰ４７に移ってこの処理手順を終了する。これに対してステップＳＰ４５で否定結果が得られると、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ４８に移り、光磁気ディスク４の異常をホスト装置に通知し、ステップＳＰ４７に移ってこの処理手順を終了する。
【００６９】
これに対してステップＳＰ４３で否定結果が得られると、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ４９に移り、さらにジッタ量が小さくなる側にフォーカスバイアスを大きく変化させ（フォーカスバイアス値Ｄ＋５０ｈ）、ジッタ量Ｊ（Ｄ＋５０ｈ）を検出する。
【００７０】
さらにＳＣＳＩコントローラ１５は、続くステップＳＰ５０において、このようにして検出した計６個のジッタ量Ｊ（Ｄ＋５０ｈ）、Ｊ（Ｄ＋２８ｈ）、Ｊ（Ｄ＋１４ｈ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）、Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）を２次曲線近似し、ステップＳＰ４５に移る。
【００７１】
これによりＳＣＳＩコントローラ１５は、この２次曲線近似により得られる極値をしきい値ＴＨ３により判定してフォーカスバイアス値の最適値を設定し、またホスト装置に異常を通知し、この処理手順を終了する。
【００７２】
これに対してステップＳＰ７におけるパターンの判定により、ジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）がパターン３に該当する場合、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ７からステップＳＰ５２（図８）に移る。
【００７３】
ここでＳＣＳＩコントローラ１５は、連続する２つのフォーカスバイアス値Ｄ及びＤ−０ｃｈによるジッタ量Ｊ（Ｄ）及びＪ（Ｄ−０ｃｈ）、又は同様の連続するフォーカスバイアス値Ｄ及びＤ＋０ｃｈによるジッタ量Ｊ（Ｄ）及びＪ（Ｄ＋０ｃｈ）が、第２のしきい値ＴＨ２より小さいか否か判断する。ここで肯定結果が得られると、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ５２からステップＳＰ５３に移り、この連続するフォーカスバイアス値Ｄ及びＤ−０ｃｈ、又はフォーカスバイアス値Ｄ及びＤ＋０ｃｈの平均値を最適なフォーカスバイアス値に選択した後、ステップＳＰ５４に移ってこの処理手順を終了する。これによりこの場合、３回の測定により最適なフォーカスバイアス値を検出できるようになされている。
【００７４】
これに対してステップＳＰ５２で否定結果が得られると、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ５２からステップＳＰ５５に移る。ここでＳＣＳＩコントローラ１５は、光磁気ディスク４に接近させる側及び遠ざける側にそれぞれフォーカスバイアス値をさらに変化させ、このフォーカスバイアス値（Ｄ−１４ｈ、Ｄ＋１４ｈ）によりジッタ量Ｊ（Ｄ−１４ｈ）、Ｊ（Ｄ＋１４ｈ）を検出する。
【００７５】
さらに続くステップＳＰ５６において、これらのジッタ量Ｊ（Ｄ−１４ｈ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）、Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ＋１４ｈ）を２次曲線近似する。
【００７６】
さらに続くステップＳＰ５７において、このようにして２次曲線近似して得られる極値が所定の第３のしきい値ＴＨ３より小さいか否か判断する。ここで肯定結果が得られると、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ５７からステップＳＰ５８に移り、この極値に対応するフォーカスバイアス値を最適値に設定した後、ステップＳＰ５９に移ってこの処理手順を終了する。これに対してステップＳＰ５７で否定結果が得られると、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ６０に移り、光磁気ディスク４の異常をホスト装置に通知し、ステップＳＰ５９に移ってこの処理手順を終了する。
【００７７】
これによりＳＣＳＩコントローラ１５は、パターン３においても、ステップＳＰ５２により第２のしきい値による判定ステップを形成し、またステップＳＰ５３により第２の制御目標値設定ステップを形成し、ステップＳＰ５５以降の処理により評価値の再々取得のステップ、第４の制御目標設定ステップを形成するようになされている。
【００７８】
これに対してステップＳＰ７におけるパターンの判定により、ジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）がパターン４に該当する場合、ＳＣＳＩコントローラ１５は、ステップＳＰ７からステップＳＰ６２（図９）に移る。
【００７９】
ここでＳＣＳＩコントローラ１５は、新たに検出した２つのジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）が第２のしきい値ＴＨ２より小さいか否か判断し、ここで肯定結果が得られると、ステップＳＰ６２からステップＳＰ６３に移る。ここでＳＣＳＩコントローラ１５は、この２つのジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）に対応するフォーカスバイアス値Ｄ−０ｃｈ、Ｄ＋０ｃｈの平均値である標準値Ｄを最適なフォーカスバイアス値に設定し、ステップＳＰ６４に移ってこの処理手順を終了する。
【００８０】
これに対してステップＳＰ６２で否定結果が得られると、ステップＳＰ６５に移り、改めて試し書きよりこの一連の処理を実行して最適なフォーカスバイアス値を検出するように設定し、ステップＳＰ６４に移ってこの処理手順を終了する。
【００８１】
これによりＳＣＳＩコントローラ１５は、パターン４においても、ステップＳＰ６２により第２のしきい値による判定ステップを形成し、またステップＳＰ６３により第２の制御目標値設定ステップを形成するようになされている。
【００８２】
（１−２）第１の実施の形態の動作
以上の構成において、この光磁気ディスク装置１においては（図１）、電源が立ち上げられると、ＳＣＳＩコントローラ１５において、起動時の処理手順が実行され、またこの処理手順による指示によりディジタルシグナルプロセッサ１８で同様に起動時の処理手順が実行され、これによりホスト装置からの要求に応じて動作可能な状態に動作が立ち上げられる。
【００８３】
また光磁気ディスク４の装填が検出されると、又はホスト装置からの光磁気ディスク４のローディングが指示されると、光磁気ディスク４をスピンドルモータ２にチャッキングし、ディジタルシグナルプロセッサ１８による制御プログラムの実行により、光磁気ディスク４にレーザービームを照射して得られる戻り光の受光結果に基づいて、スピンドル制御、トラッキング制御、フォーカス制御の処理が開始され、ホスト装置からの要求により光磁気ディスク４がアクセスされる。
【００８４】
光磁気ディスク装置１では、このような光磁気ディスク４のローディング時、又は連続使用で一定時間が経過すると、ＳＣＳＩコントローラ１５の制御により、フォーカスバイアス値を最適化する処理が実行され、この処理で検出されたフォーカスバイアス値の最適値がディジタルシグナルプロセッサ１８にセットされる。さらに光磁気ディスク４より得られる戻り光を処理して得られるフォーカスエラー信号ＦＥの信号レベルがこの最適値となるように、ディジタルシグナルプロセッサ１８、サーボドライバ１１により可動光学ブロック１０の対物レンズが可動され、これによりエラーレートが最も小さくなる条件によりフォーカス制御して、十分な信頼性により光磁気ディスク４をアクセスする。
【００８５】
光磁気ディスク装置１では、この最適化の処理において、ＳＣＳＩコントローラ１５の制御により、光磁気ディスク４の所定領域に試し書き用のテストパターンが記録される。また工場出荷時に標準ディスクにより設定された標準値Ｄにフォーカスバイアスが設定されて、このテストパターンが再生され、この再生により得られる再生信号ＨＦのディジタル信号処理回路１６における時間計測により、この標準値Ｄによるジッタ量Ｊ（Ｄ）が検出される。
【００８６】
光磁気ディスク装置１では、このようにして得られるジッタ量Ｊ（Ｄ）による受光結果を、最も条件の厳しい第１のしきい値ＴＨ１により判定し、このジッタ量Ｊ（Ｄ）がしきい値ＴＨ１を満足する場合、この標準値Ｄにより最適なフォーカスバイアス値が設定される。すなわちこの場合、この標準値Ｄが最適なフォーカスバイアス値に設定される。
【００８７】
すなわちこのように条件の厳しい第１のしきい値ＴＨ１を満足する場合、このしきい値ＴＨ１の設定により、温度が変化した場合等にあっても、このフォーカスバイアス値Ｄによりフォーカス制御して、十分に低いエラーレートにより光磁気ディスク４を再生することができる。これによりこの場合光磁気ディスク装置１においては、１回のジッタ量の計測により最適なジッタ量を検出することができ、その分、従来に比して格段的に少ない測定回数により、フォーカスバイアスの最適値を求めることができる。なおこのような１回の測定においては、ほぼ光磁気ディスク４の１回転分（２０〔ｍｓｅｃ〕）程度の時間により完了することができる。
【００８８】
これに対してこのような十分に条件の厳しい第１のしきい値ＴＨ１を満足しない場合、光磁気ディスク装置１では、この標準値Ｄを中心にして、光磁気ディスク４に接近する方向、光磁気ディスク４から遠ざかる方向に、それぞれ所定値０ｃｈだけフォーカスバイアス値を変化させて、ジッタ量が検出される。
【００８９】
さらに光磁気ディスク装置１においては、ＳＣＳＩコントローラ１５により、このようにして検出されたジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）の変化パターンが、パターン１〜４にパターン分けされる。
【００９０】
光磁気ディスク装置１では、このようなパターン分けにより、光磁気ディスク４に接近させる方向、又は光磁気ディスク４より遠ざける方向に、それぞれジッタ量が減少傾向にある場合（パターン１及びパターン２の場合である）、光磁気ディスク装置１では、新たに検出した２つのジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）と、最初のジッタ量Ｊ（Ｄ）とを、第１のしきい値ＴＨ２より条件が緩やかな第２のしきい値ＴＨ２により判定して、２つ以上のジッタ量がこの第２のしきい値を満足する場合、この第２のしきい値を満足するジッタ量によるフォーカスバイアス値により最適なフォーカスバイアス値が検出される。すなわちこの場合、平均値によりフォーカスバイアス値が検出される。
【００９１】
すなわちこの場合、第２のしきい値ＴＨ２と、標準値Ｄを中心にして変化させるフォーカスバイアス値の変化量（０ｃｈ）との設定により、実用上十分な信頼性により光磁気ディスク４をアクセス可能なフォーカスバイアス値を検出することができる。具体的には、この第２のしきい値ＴＨ２が実用上エラーレートを許容し得る限界の何割りかの値であって、この第２のしきい値ＴＨ２を満足する２つのジッタ量に対応するフォーカスバイアス値が、温度等による最適値に変化に対して十分に広い範囲に設定されている場合等である。このような場合には、単にしきい値ＴＨ２により判定して平均値を得ることにより、最適なフォーカスバイアス値を検出することができる。
【００９２】
この場合、単に平均値化する処理であることにより、簡易な処理により最適値を計算することができる。また３回の計測により最適値を検出することができ、これによっても従来に比して格段的に少ない測定回数により、フォーカスバイアスの最適値を求めることができる。なおこのような３回の測定においては、ほぼ光磁気ディスク４の３回転分（６０〔ｍｓｅｃ〕）程度の時間により完了することができる。
【００９３】
これに対して２つ以上のジッタ量検出結果が第２のしきい値ＴＨ２を満足しない場合、光磁気ディスク装置１では、ジッタ量が減少傾向にある方向にさらにフォーカスバイアス値を変化させてジッタ量が検出される。さらにこのようにしてフォーカスバイアス値を変化させて再々検出したジッタ量が増加傾向に変化したか否か判断され、増加傾向に変化した場合には、このようにして再々検出に供したフォーカスバイアス値と、それまでのフォーカスバイアス値との間に最小値が存在することにより、この最小値を検出して最適なフォーカスバイアス値を検出する。
【００９４】
この場合、光磁気ディスク装置１では、改めて、このようにフォーカスバイアスを変化させてなる側に、フォーカスバイアスを変化させてジッタ量を検出し、これにより２次曲線近似に十分なジッタ量の測定結果を取得する。またこのようにして取得したジッタ量の測定結果により２次曲線近似し、この２次曲線近似の極値が第３のしきい値ＴＨ３を満足する場合に、この極値を最適なバイアス値に設定する。またこのようにして検出した極値が、第３のしきい値ＴＨ３を満足しない場合には、光磁気ディスク４の異常と判断できることにより、その旨、ホスト装置に通知する。
【００９５】
これに対してこのようにジッタ量の減少傾向が増加傾向に変化しない場合、光磁気ディスク装置１においては、減少する方向にフォーカスバイアスを変化させてジッタ量を検出し、このようにして検出したジッタ量により２つ以上のジッタ量が第２のしきい値を満足するか否か判断される。ここで２つ以上のジッタ量が第２のしきい値を満足する場合には、上述したと同様に、平均値により最適なフォーカスバイアス値が検出されるのに対し、２つ以上のジッタ量が第２のしきい値を満足しない場合には、このようにして取得したジッタ量の測定結果により２次曲線近似し、この２次曲線近似の極値が実用上の許容値である第３のしきい値ＴＨ３を満足する場合に、この極値を最適なバイアス値に設定する。またこのようにして検出した極値が、第３のしきい値ＴＨ３を満足しない場合には、光磁気ディスク４の異常と判断できることにより、その旨、ホスト装置に通知する。
【００９６】
これによりこのようにジッタ量を再々検出して２次曲線近似等により最適値を検出する場合には、ジッタ量の測定を何回も繰り返すことになるが、この場合、従来の２次曲線近似による測定回数と同一の測定回数により最適値を検出することになる。
【００９７】
これに対して、改めて検出したジッタ量Ｊ（Ｄ−０ｃｈ）、Ｊ（Ｄ＋０ｃｈ）に比して、最初に検出したジッタ量Ｊ（Ｄ）が小さい場合（パターン３である）、またこれとは逆に最初に検出したジッタ量Ｊ（Ｄ）が大きい場合（パターン４である）、パターン３においては、連続する２つのフォーカスバイアス値によるジッタ量が第２のしきい値ＴＨ２を満足するか否か、パターン４においては、両端のジッタ量が第２のしきい値ＴＨ２を満足するか否か判断され、第２のしきい値ＴＨ２を満足する場合には、平均値によりフォーカスバイアスの最適値が検出される。
【００９８】
これによりこの場合も、単に平均値化する処理であることにより、簡易な処理により最適値を計算することができる。また３回の計測により最適値を検出することができ、これによっても従来に比して格段的に少ない測定回数により、フォーカスバイアスの最適値を求めることができる。なおこのような３回の測定においては、ほぼ光磁気ディスク４の３回転分（６０〔ｍｓｅｃ〕）程度の時間により完了することができる。
【００９９】
これに対してパターン３において、第２のしきい値ＴＨ２による条件を満足しない場合、さらに光磁気ディスク４に接近する方向、光磁気ディスク４より遠ざかる方向にフォーカスバイアスを変化させてジッタ量が検出され、これにより２次曲線近似に十分なジッタ量の測定結果を取得する。またこのようにして取得したジッタ量の測定結果により２次曲線近似し、この２次曲線近似の極値が第３のしきい値ＴＨ３を満足する場合に、この極値を最適なバイアス値に設定する。またこのようにして検出した極値が、第３のしきい値ＴＨ３を満足しない場合には、光磁気ディスク４の異常と判断できることにより、その旨、ホスト装置に通知する。
【０１００】
これに対してパターン４において、第２のしきい値ＴＨ２による条件を満足しない場合、光磁気ディスク４の異常、ジッタ量の誤検出等が考えられることにより、改めて試し書きより処理が繰り返される。
【０１０１】
かくするにつき、実験した結果によれば、適切に標準ディスクを選定することを条件に、殆どの光磁気ディスク４において、３〜６回程度のジッタ量の測定によりフォーカスバイアス値を最適化することができ、これにより光磁気ディスクの３〜６回転分程度である６０〜１２０〔ｍｓｅｃ〕により最適化の処理を完了することができた。
【０１０２】
（１−３）第１の実施の形態の効果
以上の構成によれば、順次段階的に設定されたしきい値により評価値を判定し、判定結果により改めて評価値を取得することにより、少ない測定回数により、フォーカスバイアス等の制御目標値の最適値を求めることができる。
【０１０３】
また改めて取得した評価値、所定値による評価値を、第１のしきい値と異なる第２のしきい値により判定し、この第２のしきい値を満足する場合に、この第２のしきい値を満足する評価値に基づいて、制御目標値の最適値を設定し、第２のしきい値を満足しない場合に、制御目標値を変化させて、再び評価値を取得することにより、改めて評価値を取得した後においても、少ない測定回数により、フォーカスバイアス等の制御目標値の最適値を求めることができる。
【０１０４】
またこのとき第２のしきい値を満足する評価値について、対応する制御目標値の平均値を制御目標値の最適値に設定することにより、簡易な処理により制御目標値の最適値を検出することができる。
【０１０５】
また第２のしきい値を満足する側に、制御目標値を変化させて評価値を取得することにより、評価値を無駄なく取得して制御目標値の最適値を検出することができる。
【０１０６】
また最終的には、評価値による２次近似曲線の極値を、最適値に設定することにより、十分な信頼性により制御目標値の最適値を検出することができる。
【０１０７】
（２）第２の実施の形態
この実施の形態においては、ジッタ量に代えて、再生信号ＨＦの振幅値を評価値として使用してフォーカスバイアス値の最適値を検出する。かくするにつき、このためこの実施の形態に係る光磁気ディスク装置においては、例えばディジタル信号処理回路１６において、再生信号ＨＦをアナログディジタル変換し、その処理結果であるディジタル再生信号をＳＣＳＩコントローラに出力する。
【０１０８】
ＳＣＳＩコントローラにおいては、ディジタル信号処理回路１６から出力される時間計測結果に代えて、このディジタル再生信号を信号処理することにより、再生信号ＨＦの振幅値を検出する。この処理において、ＳＣＳＩコントローラにおいては、第１の実施の形態について上述した処理手順において、制御目標値を切り換えてジッタ量を検出する処理に代えて、制御目標値を切り換えて振幅値を検出し、さらにジッタ量の判定に代えてこのようにして検出した振幅値を判定する。
【０１０９】
また図１０にフォーカスバイアス値に対するジッタ量Ｊ、再生信号の振幅値Ｐの関係を示すように、ジッタ量Ｊにおいては、ジッタ量が小さくなるようにフォーカスバイアス値を設定して最適値が検出されるのに対し、再生信号の振幅値Ｐにおいては、振幅値Ｐが最大値となるようにフォーカスバイアス値を設定して最適値が検出されることにより、判定基準値ＴＨ１、ＴＨ２、ＴＨ３の大小関係を逆転させて、また各判定処理における肯定結果を否定結果の処理を入れ替えて、一連の処理を実行する。
【０１１０】
この実施の形態のように、再生信号ＨＦの振幅値を評価値として使用してフォーカスバイアス値の最適値を検出するようにしても、第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
【０１１１】
（３）第３の実施の形態
この実施の形態においては、ジッタ量、再生信号ＨＦの振幅値の双方を評価値として使用してフォーカスバイアス値の最適値を検出する。すなわちこの実施の形態においては、第１の実施の形態による処理と、第２の実施の形態による処理とを同時に実行し、ジッタ量による最適値と、再生信号ＨＦの振幅値による最適値との平均値によりフォーカスバイアスの最適値を検出する。
【０１１２】
この実施の形態によれば、ジッタ量、再生信号ＨＦの振幅値の双方を評価値として使用してフォーカスバイアス値の最適値を検出する場合でも、第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
【０１１３】
（４）第４の実施の形態
この実施の形態においては、レーザービームの収差を補正する収差補正光学系の最適制御目標値を検出する。
【０１１４】
すなわちこの光磁気ディスク装置においては、対物レンズのレーザー光源側に、収差補正光学系が配置される。ここでこの収差補正光学系は、所定の間隔で対向するように配置された透明板材間に液晶を配置して形成され、この透明板材に、ガラス板が適用されるようになされている。これらのガラス板のうち、一方のガラス板においては、全面に透明電極が形成されるのに対し、他方のガラス板においては、所定形状によりパターンニングされて、透明電極が形成される。
【０１１５】
この実施の形態にかかる光磁気ディスク装置においては、このパターンニングによる透明電極が、レーザービームの光軸を中心にして同心円状に複数の領域に分割されて、各領域がそれぞれ絶縁されて形成されるようになされている。これによりこの収差補正光学系においては、対向する電極との間で、これら各領域の電極に所定の電圧を印加して、各領域を通過するレーザービームに対して、それぞれ印加する電圧に応じた光学的光路長を与え、これにより収差を補正できるようになされている。
【０１１６】
この光磁気ディスク装置においては、レーザービームを光磁気ディスクに照射して得られる戻り光の受光結果を処理し、そのエラーレートを監視することにより、このような収差補正光学系の特性を評価できるようになされている。光磁気ディスク装置においては、このエラーレートが評価値に設定される。また収束光学系により戻り光を受光し、同心円状に形成された透明電極に対応して、戻り光の中央部分を遮光して得られる受光結果と、戻り光の全体を受光して得られる戻し光の受光結果とにおいて、ビームスポット径の比較により、この収差補正光学系により動作をモニタする。またこのモニタ結果が所定の制御目標値となるように、フィードバック制御により、同心円状に形成された透明電極間に電位差を与える。
【０１１７】
この光磁気ディスク装置においては、光磁気ディスクの交換時、起動時、一定時間の使用により、第１の実施の形態と同様に、制御目標値を設定して同心円状に形成された透明電極間の電位差を変化させ、上述した評価値を取得し、この評価値の判定により、制御目標値を最適化する。
【０１１８】
この実施の形態のように、光学系の収差補正機構に適用して、最適な制御目標値を設定する場合においても、第１の実施の形態と同様の効果を得ることができる。
【０１１９】
（４）他の実施の形態
なお上述の第３の実施の形態においては、同心円状に透明電極をパターンニングする場合について述べたが、本発明はこれに限らず、このような収差補正光学系においては、補正の目的等に応じて種々の形状により透明電極がパターンニングされ、本発明においては、このような種々の形状によりパターンニングする場合に広く適用することができる。
【０１２０】
また上述の第３の実施の形態においては、戻り光を２系統の光束に分離して受光し、その受光結果の比較によりモニタ結果を取得する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、このような収差補正光学系においては、補正の目的等に応じて種々のモニタ結果取得方法が適用され、本発明においては、このようなこれら種々の方法によりモニタ結果を取得する場合に広く適用することができる。
【０１２１】
また上述の実施の形態においては、最終的に２次曲線近似により最適値を検出する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば図１４について上述した手法の適用により最適値を検出する場合等、種々の手法を広く適用することができる。
【０１２２】
また上述の実施の形態においては、評価値の変化パターンを場合分けして処理する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、このような場合分けの処理については、必要に応じて省略するようにしてもよい。
【０１２３】
また上述の実施の形態においては、１つの光磁気ディスクについて、フォーカスバイアス値の最適値を１つ検出する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えば情報記録面を多層化してなる光ディスクにおいて、情報記録面毎に、フォーカスバイアス値の最適値を検出する場合、ランドグルーブ記録による光ディスクにおいて、ランド及びグルーブ毎に、フォーカスバイアス値の最適値を検出する場合等にも広く適用することができる。
【０１２４】
また上述の実施の形態においては、フォーカスバイアス値、収差補正光学系について制御目標値を検出する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、例えばトラッキング制御用バイアス値の最適値を検出する場合等、種々の光学系の制御における制御目標値の設定に広く適用することができる。
【０１２５】
また上述の実施の形態においては、本発明を光磁気ディスク装置に適用する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、ＤＶＤ−ＲＡＭ等の光ディスク装置等にも広く適用することができる。
【０１２６】
【発明の効果】
上述のように本発明によれば、順次段階的に設定されたしきい値により評価値を判定し、判定結果により改めて評価値を取得することにより、少ない測定回数により、制御目標値の最適値を求めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係る光磁気ディスク装置におけるＳＣＳＩコントローラの処理手順を示すフローチャートである。
【図２】本発明の第１の実施の形態に係る光磁気ディスク装置を示すブロック図である。
【図３】図１の処理手順の説明に供する略線図である。
【図４】図１の続きを示すフローチャートである。
【図５】図４の続きを示すフローチャートである。
【図６】図５の続きを示すフローチャートである。
【図７】図６の続きを示すフローチャートである。
【図８】図７の続きを示すフローチャートである。
【図９】図８の続きを示すフローチャートである。
【図１０】ジッタ量と再生信号の振幅値との関係を示す特性曲線図である。
【図１１】ジッタの説明に供する信号波形図である。
【図１２】ジッタ量とフォーカスバイアスとの関係を示す特性曲線図である。
【図１３】フォーカスバイアスの設定の説明に供する特性曲線図である。
【図１４】フォーカスバイアスの簡易設定法の説明に供する特性曲線図である。
【符号の説明】
１……光磁気ディスク装置、４……光磁気ディスク、５……光学系、６……固定光学ブロック、１０……可動光学ブロック、１４……アナログ信号処理回路、１５……ＳＣＳＩコントローラ、１６……ディジタル信号処理回路、１８……ディジタルシグナルプロセッサ
【図１】
0003952363.tif 000002
【図２】
0003952363.tif 000003
【図３】
0003952363.tif 000004
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
0003952363.tif 000011
【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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