(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
製品データベースから三次元物体の形状データを取得し、該形状データに基づき前記三次元物体の形状を規定するポリゴンデータを取得し、該ポリゴンデータに基づき構築されるポリゴンの頂点を特定する基準座標値を特定する工程と、前記基準座標値を通過して前記三次元物体の表面の法線方向に特定されるアプローチベクトルを設定する工程と、前記三次元物体に投影される格子の複数の升目を一筆書きで通過する順路を設定し、升目内の前記基準座標値に測定順番を設定する工程と、前記アプローチベクトルに沿って前記基準座標値から所定のエアカット量で引き下がった測定点同士を結び、三次元測定機のプローブの移動経路を設定する工程と、前記測定順番に従って前記移動経路および前記アプローチベクトルに沿って三次元測定機のプローブを移動させ、アプローチベクトルに交差する三次元物体の表面の三次元座標値を取得する工程と、前記基準座標値および前記三次元座標値の間でアプローチベクトルに沿った誤差寸法を特定する誤差データを取得する工程とを備えることを特徴とする三次元測定機を用いた形状検証方法。
【請求項２】
請求項１に記載の三次元測定機を用いた形状検証方法において、前記ポリゴンデータに基づき画面上に三次元物体を描き出すにあたって、前記誤差寸法の大きさに応じて三次元物体の表面を色分けする工程をさらに備えることを特徴とする三次元測定機を用いた形状検証方法。
【請求項３】
請求項１または２に記載の三次元測定機を用いた形状検証方法において、取得された三次元物体表面の三次元座標値でポリゴンの頂点の位置を特定し直す工程と、前記特定し直された頂点の位置に基づきポリゴンを構築し直す工程とを備えることを特徴とする三次元測定機を用いた形状検証方法。
【請求項４】
請求項３に記載の三次元測定機を用いた形状検証方法において、前記構築し直された前記ポリゴンに基づき、実測された三次元物体を画面上に描き出す工程をさらに備えることを特徴とする三次元測定機を用いた形状検証方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、三次元測定機を用いて加工品や成型品といった三次元物体の形状精度を検証する形状検証方法に関し、特に、接触および非接触を問わず三次元物体の形状を測定する三次元測定機の制御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、製造の分野では、加工品が設計通りに加工されたか否か、成型品が設計通りに成型されたか否かが検証される。この検証にあたっては、実際に測定された加工品や成型品の形状と、設計データに基づき復元される加工品や成型品の形状とが互いに比較される。こうした比較には、加工品や成型品の各断面に現れる輪郭線が用いられることが多い。
【０００３】
加工品や成型品といった三次元物体の輪郭線は例えば接触プローブを用いた三次元測定機によって測定されることができる。三次元測定機は、例えばｘ座標値およびｙ座標値を固定したままｚ軸に沿って接触プローブを移動させる。接触プローブと三次元物体とが接触した時点で接触プローブのｚ座標値は取得される。予め決定されたｘ座標値およびｙ座標値と、取得されたｚ座標値とによって三次元物体表面の三次元座標値は特定される。所定の刻みでｘ座標値を変化させたりｙ座標値を変化させたりすれば、任意の１平面で切断された三次元物体の輪郭線が測定されることができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
こうした測定方法によれば、三次元物体の輪郭線は、三次元測定機で測定された各測定点の三次元座標値と、隣接する測定点同士を結ぶ直線とによって表現される。測定点同士の間では三次元物体表面の形状は保証されることはできない。できる限り滑らかな輪郭線を再現するには、輪郭線の曲率が大きくなればなるほど測定点同士の間隔を狭めていかなければならない。
【０００５】
その一方で、三次元測定機では、ｘ座標値やｙ座標値の刻みが所定値に固定されることが多い。輪郭線の曲率が大きくなろうと、反対に輪郭線の曲率が小さくなろうと、ｘ座標値やｙ座標値の刻みの大きさは変化しない。ｘ座標値やｙ座標値の刻み値を小さくして、曲率の大きな部分で十分な精度の輪郭線を得ようとすれば、曲率の小さな部分で必要以上に測定点が増加し、測定作業に手間取ってしまうこととなる。反対にｘ座標値やｙ座標値の刻み値を大きくすると、曲率の小さな部分では、隣接する測定点同士の間で加工品や成型品の形状を精度よく検証することができなくなってしまう。２つの測定点の間で形状に大きな歪みが生じていても、そういった歪みは測定されることができないからである。
【０００６】
本発明は、上記実状に鑑みてなされたもので、測定点の数を減少させながらも精度よく加工品や成型品といった三次元物体の形状を測定することができる三次元測定機の制御方法を提供することを目的とする。また、本発明は、そういった三次元測定機の制御方法に従って取得される実測データに基づき、三次元物体の形状誤差を簡単に確認することができる形状検証方法を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、第１発明によれば、三次元物体の形状を規定するポリゴンデータを取得する工程と、ポリゴンデータに基づき構築されるポリゴンの頂点を通過するアプローチベクトルを設定する工程と、アプローチベクトルが交差する三次元物体表面の三次元座標値を取得させる工程とを備えることを特徴とする三次元測定機の制御方法が提供される。
【０００８】
一般に、加工品や成型品といった三次元物体の形状を検証する際には、ＣＡＤ（コンピュータ支援設計）システムによって作成される設計データが用いられることが多い。こうしたＣＡＤシステムでは、設計データの表現形式に拘わらず、ディスプレイの画面上に三次元物体を表示するにあたっていわゆるポリゴンデータが用いられる。このポリゴンデータでは、三次元物体の表面（特に曲面）は、ポリゴンすなわち多角形平面（例えば三角形平面）の組み合わせによって近似される。このとき、ポリゴンの各頂点には三次元物体の表面に関する正確な三次元座標値が与えられ、しかも、ポリゴンの各辺と三次元物体表面との間に生じる乖離は所定の許容範囲（ｔｏｌｅｒａｎｃｅ）に収められる。こうした許容範囲によれば、曲率の大きな表面や形状変化率の小さい表面では大きなポリゴンが設定されることができ、反対に曲率の小さな表面や形状変化率の大きい表面では小さなポリゴンが設定されることができる。したがって、こうしたポリゴンの頂点で三次元座標値の測定が実施されれば、指定された許容範囲すなわち精度に見合った間隔で三次元物体表面の三次元座標値が取得されることができる。その結果、実測される三次元物体表面の精度が必要以上に落とされることなく、測定点の数はできる限り絞り込まれることとなる。
【０００９】
ポリゴンデータは、例えばベジエ曲面やＮＵＲＢＳ曲面、その他の表現方法によって表現される設計データに基づいて作成されればよい。一般に、ＣＡＤシステムでは、そういった設計データから変換されたポリゴンデータが任意の記録媒体や伝送経路に向けて吐き出されることができる。
【００１０】
こうした三次元測定機の制御方法は、例えば接触プローブを用いた接触式の三次元測定機に適用されてもよく、非接触式の三次元測定機に適用されてもよい。そういった接触式の三次元測定機に適用される場合には、三次元測定機の制御方法は、三次元物体表面の三次元座標値を取得させるにあたって、アプローチベクトルに沿って接触プローブを移動させればよい。例えば光や音波などを用いた非接触式の三次元測定機に適用される場合には、この制御方法は、アプローチベクトルに沿って光や音波を照射させればよい。
【００１１】
また、第２発明によれば、三次元物体の形状を規定するポリゴンデータを取得する工程と、ポリゴンデータに基づき構築されるポリゴンの頂点を通過するアプローチベクトルを設定する工程と、三次元測定機を用いて、アプローチベクトルが交差する三次元物体表面の三次元座標値を取得させる工程と、ポリゴンの頂点を特定する基準座標値および三次元物体表面の三次元座標値の間でアプローチベクトルに沿った誤差寸法を特定する誤差データを取得する工程とを備えることを特徴とする三次元測定機を用いた形状検証方法が提供される。
【００１２】
一般に、ポリゴンデータでは、各ポリゴンの頂点には正確な三次元座標値が与えられる。したがって、アプローチベクトルに沿ってポリゴンの頂点と三次元物体表面とが相互に比較されれば、それらの間では正確な誤差寸法が導き出されることが保証される。こうした形状検証方法は、前述の制御方法と同様に、例えば接触プローブを用いた接触式の三次元測定機に適用されてもよく、非接触式の三次元測定機に適用されてもよい。
【００１３】
前記ポリゴンデータに基づき画面上に三次元物体を描き出すにあたって、形状検証方法は、前記誤差寸法の大きさに応じて三次元物体の表面を色分けする工程をさらに備えてもよい。こうした色分けによれば、三次元物体のどの位置でどの程度の寸法誤差が存在するのかが一目で確認されることができる。色分けにあたっては、例えば、誤差寸法の大きさに応じて変化するグラデーションが用いられればよい。
【００１４】
さらに、ポリゴンデータに基づき画面上に三次元物体を描き出すにあたって、形状検証方法は、前述のように取得された三次元物体表面の三次元座標値でポリゴンの頂点の位置を特定し直す工程と、特定し直された頂点の位置に基づきポリゴンを構築し直す工程とを備えてもよい。こうして構築し直されたポリゴンによれば、実測された三次元物体そのものがポリゴンデータによって表現されることができる。こうした形状検証方法は、構築し直された前記ポリゴンに基づき、実測された三次元物体を画面上に描き出す工程をさらに備えてもよい。
【００１５】
以上のような制御方法や形状検証方法は、例えばコンピュータによって処理されるソフトウェアプログラムに従って実現されてもよい。こういったソフトウェアプログラムは、例えばＦＤ（フロッピーディスク）といった磁気記録媒体、ＣＤ（コンパクトディスク）やＤＶＤ（デジタルビデオディスク）といった光学記録媒体、いわゆるＭＯといった光磁気記録媒体のほか、搬送可能な任意の記録媒体を通じてコンピュータに取り込まれればよい。ただし、ソフトウェアプログラムはネットワークなどを通じてコンピュータに取り込まれてもよい。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、添付図面を参照しつつ本発明の一実施形態を説明する。
【００１７】
図１はいわゆる三次元測定機を用いた形状検証システムの全体構成を概略的に示す。この形状検証システム１０は、加工品や成型品といった三次元物体の設計データすなわち形状データに基づき三次元物体の理想形状を認識するエンジニアリングワークステーション（ＥＷＳ）１１を備える。ＥＷＳ１１は、例えばＣＡＤ（コンピュータ支援設計）システム１２からいわゆるポリゴンデータを取得する。このポリゴンデータによれば、離散的な三次元座標点の集合に基づき三次元物体の表面形状が表現される。ポリゴンデータでは、ポリゴン（多角形）の各頂点の三次元座標値と、頂点同士の接続関係とが記述されることとなる。三次元ＣＧ（コンピュータグラフィックス）の技術を用いれば、こうしたポリゴンデータから滑らかな曲線や曲面を備える三次元物体をディスプレイ画面上に描き出すことが可能となる。
【００１８】
ＣＡＤシステム１２は、例えば大容量記憶装置に構築された製品データベースから形状データを取得し、取得した形状データをポリゴンデータに変換することができる。形状データには、例えばベジエ曲面やＮＵＲＢＳ曲面といったパラメトリック曲面が用いられる表現形式が採用されればよい。ＣＡＤシステム１２は、任意の記録媒体や伝送（通信）経路に、変換で得られたポリゴンデータを吐き出すことができる。
【００１９】
ＥＷＳ１１には形状測定システム１３が接続される。ＥＷＳ１１は、形状測定システム１３で取得される三次元物体の実測データに基づき三次元物体の実形状を認識する。形状データに基づく三次元物体の理想形状と、実測データに基づく三次元物体の実形状とが相互に比較される結果、三次元物体の形状精度は検証される。
【００２０】
形状測定システム１３は、接触プローブ１４を用いて三次元物体の形状を測定する三次元測定機１５と、この三次元測定機１５の動作を制御するパーソナルコンピュータ（ＰＣ）１６とを備える。三次元測定機１５は、周知のとおり、例えば物体座標系ｘｙｚのｙ軸に沿って移動するゲートフレーム１７と、物体座標系ｘｙｚのｘ軸に沿ってゲートフレーム１７上を移動する移動部材１８とを備える。接触プローブ１４は物体座標系ｘｙｚのｚ軸に沿って移動部材１８上を移動することができる。こうした三次元測定機１５では、接触プローブ１４の球形先端が三次元物体に接触した時点で、ゲートフレーム１７のｙ軸方向位置、移動部材１８のｘ軸方向位置および接触プローブ１４のｚ軸方向位置が特定される。その結果、接触プローブ１４と三次元物体との間に確立される接触点すなわち三次元物体表面の三次元座標値が得られることとなる。
【００２１】
ＥＷＳ１１は、例えば図２に示されるように、ＣＡＤシステム１２から取り込まれるポリゴンデータを取得するポリゴンデータ取得回路２１を備える。ポリゴンデータ取得回路２１では、例えば、ポリゴンデータに基づき構築されるポリゴンの頂点の三次元座標値すなわち基準座標値（ｘ，ｙ，ｚ）が取り込まれる。ただし、ポリゴンデータ取得回路２１では、ベジエ曲面やＮＵＲＢＳ曲面で表現された形状データに基づきポリゴンデータが新たに作成されてもよい。この場合には、形状データは、ＣＡＤシステム１２に組み込まれる製品データベースからポリゴンデータ取得回路２１に直接に取り込まれればよい。
【００２２】
アプローチベクトル設定回路２２は、ポリゴンの頂点すなわち基準座標値（ｘ，ｙ，ｚ）を通過するアプローチベクトルを設定する。アプローチベクトルには、例えば三次元物体表面の法線方向に特定される単位ベクトル（ｉ，ｊ，ｋ）が用いられればよい。測定順番設定回路２３は、後述するように、決められた基準に従ってポリゴンの頂点に順番を付与する。こうしてポリゴンの頂点ごとに特定された基準座標値（ｘ，ｙ，ｚ）、アプローチベクトル（ｉ，ｊ，ｋ）および順番ＮＯはＰＣ１６に送り込まれる。
【００２３】
ＰＣ１６の移動経路設定回路２５は、受け取った基準座標値（ｘ，ｙ，ｚ）、アプローチベクトル（ｉ，ｊ，ｋ）および順番ＮＯに基づき接触プローブ１４の移動経路を決定する。三次元測定機１５は、決定された移動経路に沿って接触プローブ１４を移動させながら三次元物体表面の三次元座標値（ｕ，ｖ，ｗ）を取得していく。ＰＣ１６の結果出力回路２６は、三次元測定機１５で取得された三次元座標値（ｕ，ｖ，ｗ）すなわち実測データをＥＷＳ１１に送り込む。実測データを送り込むにあたって、結果出力回路２６は、ポリゴンの頂点を特定する基準座標値（ｘ，ｙ，ｚ）と、実測された三次元物体表面の三次元座標値（ｕ，ｖ，ｗ）との間でアプローチベクトルに沿った誤差寸法ｅを算出することができる。
【００２４】
ポリゴン再構築回路２８は、実測された三次元物体表面の三次元座標値（ｕ，ｖ，ｗ）に基づきポリゴンを再構築する。こうして再構築されたポリゴンによれば、三次元物体の実形状は表現されることとなる。描画回路２９は、後述するように、再構築されたポリゴンを用いてディスプレイ３０の画面に三次元物体の二次元像を描き出す。
【００２５】
いま、例えば図３に示されるように、車体ボディの外板３１の形状精度を検証する場面を想定する。ＥＷＳ１１に外板３１のポリゴンデータが送り込まれると、ポリゴンデータ取得回路２１は、ポリゴンの頂点を特定する基準座標値（ｘ，ｙ，ｚ）を取り込む。ただし、基準座標値（ｘ，ｙ，ｚ）は、三次元測定機１５に設定された物体座標系ｘｙｚに従って特定されるものとする。外板３１は、こうした基準座標値（ｘ，ｙ，ｚ）を考慮しつつ三次元測定機１５のテーブルに位置決めされる。
【００２６】
ポリゴンデータ取得回路２１は、ポリゴンデータで特定されるポリゴンをそのまま利用する必要は必ずしもない。例えば、ポリゴンデータ取得回路２１は、ポリゴンデータで表現される三次元物体表面に対してポリゴンを新たに構築し、構築されたポリゴンに基づき基準座標値（ｘ，ｙ，ｚ）を設定してもよい。図４に示されるように、ポリゴンの大きさや頂点３２同士の間隔は、ポリゴンの辺３３と三次元物体表面３４との間に確立される許容差（ｔｏｌｅｒａｎｃｅ）ｔに基づき設定されるからである。ＥＷＳ１１では、入力回路（図示せず）を通じて入力される作業者の指定に基づき予めポリゴンデータ取得回路２１内にポリゴンの許容差ｔが指定されていればよい。
【００２７】
こうして基準座標値（ｘ，ｙ，ｚ）が取得されると、アプローチベクトル設定回路２２はアプローチベクトル（ｉ，ｊ，ｋ）を設定する。これら基準座標値（ｘ，ｙ，ｚ）およびアプローチベクトル（ｉ，ｊ，ｋ）によれば、例えばロボット工学に基づく運動学方程式などに従って、接触プローブ１４の移動に必要な三次元測定機１５の制御量、すなわち、ゲートフレーム１７のｙ軸方向移動量、移動部材１８のｘ軸方向移動量および接触プローブ１４のｚ軸方向移動量は特定されることが可能となる。
【００２８】
同時に、測定順番設定回路２３では、基準座標値（ｘ，ｙ，ｚ）が特定されたポリゴンの頂点に順番が付与される。順番の付与は、例えば図５に示されるように、外板３１すなわち三次元物体に投影される格子４１が用いられる。この格子４１では、いわゆる一筆書きの順路４２ａ、４２ｂに従って各升目に優先順位が付与される。優先順位の高い升目に含まれるポリゴンの頂点から優先的に順番が付与される。こうした優先順位によれば、接触プローブ１４は同じ升目を２度以上通過することはなくなる。
【００２９】
ＥＷＳ１１は、ポリゴンの頂点ごとに特定された基準座標値（ｘ，ｙ，ｚ）、アプローチベクトル（ｉ，ｊ，ｋ）および順番ＮＯを少なくとも含むデータファイルを形状測定システム１３のＰＣ１６に引き渡す。データファイルには、外板３１の識別情報といった付加的な情報が含まれてもよい。移動経路設定回路２５では、受け取った基準座標値（ｘ，ｙ，ｚ）、アプローチベクトル（ｉ，ｊ，ｋ）および順番ＮＯに基づき接触プローブ１４の移動経路が設定される。設定された移動経路４５によれば、例えば図６に示されるように、各アプローチベクトル（ｉ，ｊ，ｋ）に沿って基準点（ｘ，ｙ，ｚ）から所定のエアカット量ｃで引き下がった測定点４６ａ〜４６ｄ同士が結ばれる。こうした移動経路４５は、例えば図７に示されるように、各ポリゴンの辺を利用して設定されてもよい。こうした場合には、格子４１の升目に設定された優先順位が遵守されている限り、移動経路は、例えば１測定点５４から次の測定点５５に移動するにあたって１度通過した測定点５３を経由してもかまわない。
【００３０】
こうして設定された移動経路４５によれば、外板３１すなわち三次元物体の理想形状を表現するポリゴンの各頂点すなわち基準点（ｘ，ｙ，ｚ）ごとに三次元測定機１５の測定点は設定される。隣接する基準点（ｘ，ｙ，ｚ）同士を結ぶ直線と、三次元物体表面の理想曲面との間には許容差ｔを超えた乖離は生じないことから、測定点同士の間では必ず比較的高い精度の三次元物体表面の理想形状が保証されることができる。しかも、こうした許容差ｔが確保される結果、曲率の大きな表面や形状変化率の小さい表面では測定点同士の間隔は広げられることができると同時に、曲率の小さな表面や形状変化率の大きい表面では測定点同士の間隔は狭められることができる。したがって、指定された精度に見合った間隔で測定点は設定されることができる。実測される三次元物体表面の精度が必要以上に落とされることなく、測定点の数はできる限り絞り込まれることができる。
【００３１】
ＰＣ１６から指令を受け取った三次元測定機１５は、例えば図８に示されるように、設定された移動経路４５に沿って接触プローブ１４を移動させる。接触プローブ１４が測定点４６ａに達すると、三次元測定機１５は、アプローチベクトル（ｉ，ｊ，ｋ）に沿って接触プローブ１４を前進させる。接触プローブ１４が外板３１の表面すなわち三次元物体表面に接触した時点で三次元測定機１５は三次元座標値（ｕ，ｖ，ｗ）を特定する。その結果、各測定点では、アプローチベクトル（ｉ，ｊ，ｋ）が交差する三次元物体表面の三次元座標値（ｕ，ｖ，ｗ）が取得される。
【００３２】
各測定点で取得された三次元座標値（ｕ，ｖ，ｗ）はＰＣ１６に引き渡される。結果出力回路２６は、前述の基準座標値（ｘ，ｙ，ｚ）、アプローチベクトル（ｉ，ｊ，ｋ）および順番ＮＯに加え、実測された三次元座標値（ｕ，ｖ，ｗ）や誤差データをデータファイルに書き込む。誤差データによれば、例えば図８から明らかなように、基準座標値（ｘ，ｙ，ｚ）および三次元座標値（ｕ，ｖ，ｗ）の間でアプローチベクトル（ｉ，ｊ，ｋ）に沿った誤差寸法ｅが特定される。こうして作成されたデータファイルはＥＷＳ１１に引き渡される。
【００３３】
ＥＷＳ１１のポリゴン再構築回路２８は、受け取ったデータファイルと、ＣＡＤシステム１２から取り込むポリゴンデータとに基づき、外板３１の表面形状を特定するポリゴンを再構築する。この再構築にあたって、ポリゴン再構築回路２８は例えばポリゴンデータテーブルを用いればよい。例えば図９（ａ）に示されるように、ポリゴンデータによって６つのポリゴン６１〜６６が特定されると、形状データに基づくポリゴンデータテーブルには、例えば、
【表１】
0004028127.tif 000002
に従って頂点７１〜７７同士の接続関係が記述され、
【表２】
0004028127.tif 000003
に従って各頂点７１〜７７の基準座標値（ｘ，ｙ，ｚ）が記述される。したがって、以下のように、実測された三次元座標値（ｕ，ｖ，ｗ）を用いて、ポリゴンデータテーブルに書き込まれた基準座標値（ｘ，ｙ，ｚ）が上書きされると、
【表３】
0004028127.tif 000004
例えば図９（ｂ）に示されるように、各頂点７１〜７７の位置は実測された三次元座標値（ｕ，ｖ，ｗ）に修正されることとなる。
【００３４】
描画回路２９は、再構築されたポリゴンを用いてディスプレイ３０の画面に外板３１の二次元像を描き出す。その結果、ディスプレイ３０の画面には、実形状を反映した外板３１の二次元像が描き出されることとなる。
【００３５】
ここで、描画回路３０は、ポリゴンの頂点ごとに特定される誤差寸法ｅの大きさに応じて外板３１の表面を色分けしてもよい。こうした色分けは、例えば理想形状に対する実形状の誤差の方向や大きさに応じたグラデーションが用いられればよい。こうした表示によれば、外板３１のどの位置でどの方向にどの程度の寸法誤差ｅが存在するのかが一目で観察されることができる。しかも、そういった誤差は各頂点の基準座標値（ｘ，ｙ，ｚ）を基準に算出されることから、正確な誤差測定が実現されることとなる。
【００３６】
加えて、描画回路３０は、既存のＣＧ技術を用いて、外板３１の表面に対してハイライトを描き出してもよい。こうしたハイライトによれば、ディスプレイ３０の画面上で再現される光の反射具合に応じて外板３１の形状精度が検証されることができる。
【００３７】
ＥＷＳ１１は、例えば中央演算処理装置（ＣＰＵ）でコンピュータソフトウェアを実行させることによって本発明に係る形状検証方法を実現してもよい。コンピュータソフトウェアは、図１０に示されるように、例えばＦＤ（フロッピーディスク）といった磁気記録媒体８１や、ＣＤ（コンパクトディスク）およびＤＶＤ（デジタルビデオディスク）といった光記録媒体８２、ＭＯといった光磁気記録媒体ほか、搬送可能な任意の記録媒体によってＥＷＳ１１に取り込まれればよい。ただし、コンピュータソフトウェアはネットワーク（図示せず）などを通じてＥＷＳ１１に取り込まれてもよい。
【００３８】
なお、以上のようにＥＷＳ１１とＰＣ１６とで個別に演算処理は実現されることができるだけでなく、両者の演算処理は１つのコンピュータで実現されてもよい。また、本発明に係る形状検証方法は、以上のような接触式の三次元測定機１５に適用されることができるだけでなく、非接触式の三次元測定機に適用されてもよい。
【００３９】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、加工品や成型品といった三次元物体の形状を検証するにあたって、測定点の数を減少させながらも精度よく三次元物体の形状を測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明に係る形状検証システムの全体構成を概略的に示す模式図である。
【図２】  形状検証システムの概念を概略的に示すブロック図である。
【図３】  ポリゴンで表現される車体ボディの外板を示す模式図である。
【図４】  ポリゴンと三次元物体表面との関係を示す模式図である。
【図５】  升目ごとに優先順位が付与された格子を示す模式図である。
【図６】  三次元物体の１断面に沿って接触プローブの移動経路を示す概略図である。
【図７】  三次元物体の表面に沿って接触プローブの移動経路を示す概略図である。
【図８】  接触プローブの動きを概略的に示す模式図である。
【図９】  再構築されたポリゴンを示す概略図である。
【図１０】  他の具体例に係る形状検証システムの全体構成を概略的に示す模式図である。
【符号の説明】
１０  形状検証システム、１１  形状検証方法を実現するエンジニアリングワークステーション（ＥＷＳ）、１４  接触プローブ、１５  三次元測定機、３１三次元物体としての外板、６１〜６６  ポリゴン、７１〜７７  ポリゴンの頂点、８１  磁気記録媒体、８２  光記録媒体、ｅ  誤差寸法。
【図１】
0004028127.tif 000005
【図２】
0004028127.tif 000006
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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