(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１と第２の２つ光ビームをポリゴンミラーの回転により記録媒体上を同時に主走査方向に平行に走査させて、２ラインを同時に記録するとともに、前記第１と第２の２つの光ビームの主走査方向のずれ検知を行うマルチビーム走査装置において、
記録媒体の近傍に主走査方向に並べて配置された第１と第２の２個の光ビーム検出素子と、
前記第１の光ビームを、ポリゴンミラーの回転により、前記２個の光ビーム検出素子に順次照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ０時間測定手段と、
前記第１の光ビームと第２の光ビームを順次点灯し、ポリゴンミラーの回転により、第１の光ビームを第１の光ビーム検出素子に照射し、第２の光ビームを第２の光ビーム検出素子に照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ１時間測定手段と、
前記第２の光ビームと第１の光ビームを順次点灯し、ポリゴンミラーの回転により、第２の光ビームを第１の光ビーム検出素子に照射し、第１の光ビームを第２の光ビーム検出素子に照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ２時間測定手段と、
前記Ｔ０時間、Ｔ１時間、Ｔ２時間を基に、前記第１の光ビームと第２の光ビームの主走査方向のずれを算出する手段と
を具備することを特徴とするマルチビーム走査装置。
【請求項２】
前記第２の光ビームを、ポリゴンミラーの回転により前記２個の光ビーム検出素子に順次照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ０′時間測定手段と、
前記Ｔ０時間とＴ０′時間の差を基に、前記主走査方向のずれ検知を行うかどうかと、光ビームのパワー調整を行うかどうかを決定する手段と
をさらに具備することを特徴とする請求項１記載のマルチビーム走査装置。
【請求項３】
前記マルチビーム走査装置には、主走査ずれ検知を行うロジック処理回路部と、前記ロジック処理回路部に動作指示を行うＣＰＵとを有し、
前記ロジック処理回路部には、
時間計測用のクロックパルス発生回路と、
前記クロックパルス発生回路からのクロックパルスを計数して、前記光ビーム検出素子におけるビーム検出時間差を測定するカウンタと、
前記カウンタの計測結果を保持する複数のレジスタと、
前記ＣＰＵからのスタート指示により、ずれ検知動作を開始する手段と、
ずれ検知動作の開始とともに、ビジー信号をＯＮにし前記ＣＰＵに通知する手段と、
ずれ検知動作の終了とともに、ビジー信号をＯＦＦにし前記ＣＰＵに通知する手段とを具備し、
前記ＣＰＵには、前記ロジック処理回路部に主走査ずれ検知動作の開始の指示を行う手段と、
前記ビジー信号のＯＦＦ時に、前記ロジック処理回路部内のレジスタに保持された計測結果のデータを取り込み主走査方向のずれ量を演算する手段と
をさらに具備することを特徴とする請求項１または請求項２に記載のマルチビーム走査装置。
【請求項４】
前記カウンタは、前記クロックパルスの立ち上がりを検出する第１のカウンタと、クロックパルスの立ち下がりを検出する第２のカウンタで構成され、該第１のカウンタと第２のカウンタの内容を加算して計測データを得る手段を
さらに具備することを特徴とする請求項３記載のマルチビーム走査装置。
【請求項５】
第１と第２の２つ光ビームをポリゴンミラーの回転により記録媒体上を同時に主走査方向に平行に走査させて、２ラインを同時に記録するとともに、前記第１と第２の２つの光ビームの主走査方向のずれ検知を行うマルチビーム走査装置におけるマルチビーム走査方法であって、
記録媒体の近傍に第１と第２の２個の光ビーム検出素子を主走査方向に並べて配置する手順と、
前記第１の光ビームを、ポリゴンミラーの回転により、前記２個の光ビーム検出素子に順次照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ０時間測定手順と、
前記第１の光ビームと第２の光ビームを順次点灯し、ポリゴンミラーの回転により、第１の光ビームを第１の光ビーム検出素子に照射し、第２の光ビームを第２の光ビーム検出素子に照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ１時間測定手順と、
前記第２の光ビームと第１の光ビームを順次点灯し、ポリゴンミラーの回転により、第２の光ビームを第１の光ビーム検出素子に照射し、第１の光ビームを第２の光ビーム検出素子に照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ２時間測定手順と、
前記Ｔ０時間、Ｔ１時間、Ｔ２時間を基に、前記第１の光ビームと第２の光ビームの主走査方向のずれを算出する手順と
を含むことを特徴とするマルチビーム走査方法。
【請求項６】
前記第２の光ビームを、ポリゴンミラーの回転により前記２個の光ビーム検出素子に順次照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ０′時間測定手順と、
前記Ｔ０時間とＴ０′時間の差を基に、前記主走査方向のずれ検知を行うかどうかと、光ビームのパワー調整を行うかどうかを決定する手順と
をさらに含むことを特徴とする請求項５記載のマルチビーム走査方法。
【請求項７】
第１と第２の２個の光ビームをポリゴンミラーの回転により記録媒体上を同時に主走査方向に平行に走査させて、２ラインを同時に記録するとともに、記録媒体の近傍に主走査方向に第１及び第２の２個の光ビーム検出素子を並べて配置し、前記第１と第２の２つの光ビームの主走査方向のずれ検知を行うマルチビーム走査装置内のコンピュータに、
前記第１の光ビームを、ポリゴンミラーの回転により、前記２個の光ビーム検出素子に順次照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ０時間測定手順と、
前記第１と第２の光ビームを順次点灯し、ポリゴンミラーの回転により、第１の光ビームを第１の光ビーム検出素子に照射し、前記第２の光ビームを第２の光ビーム検出素子に照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ１時間測定手順と、
前記第２と第１の光ビームを順次点灯し、ポリゴンミラーの回転により、第２の光ビームを第１の光ビーム検出素子に照射し、前記第１の光ビームを第２の光ビーム検出素子に照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ２時間測定手順と、
前記Ｔ０時間、Ｔ１時間、Ｔ２時間を基に、前記第１および第２の光ビームの主走査方向のずれを算出する手順と
を実行させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【請求項８】
第１と第２の２個の光ビームをポリゴンミラーの回転により記録媒体上を同時に主走査方向に平行に走査させて、２ラインを同時に記録するとともに、記録媒体の近傍に主走査方向に第１及び第２の２個の光ビーム検出素子を並べて配置し、前記第１と第２の２つの光ビームの主走査方向のずれ検知を行うマルチビーム走査装置内のコンピュータに、
前記第１の光ビームを、ポリゴンミラーの回転により、前記２個の光ビーム検出素子に順次照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ０時間測定手順と、
前記第１と第２の光ビームを順次点灯し、ポリゴンミラーの回転により、第１の光ビームを第１の光ビーム検出素子に照射し、前記第２の光ビームを第２の光ビーム検出素子に照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ１時間測定手順と、
前記第２と第１の光ビームを順次点灯し、ポリゴンミラーの回転により、第２の光ビームを第１の光ビーム検出素子に照射し、前記第１の光ビームを第２の光ビーム検出素子に照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ２時間測定手順と、
前記Ｔ０時間、Ｔ１時間、Ｔ２時間を基に、前記第１および第２の光ビームの主走査方向のずれを算出する手順と
を実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、マルチビーム走査装置に関するものであり、特に、レーザプリンタやディジタル複写機などに使用される、複数の光ビームにより記録媒体上に画像情報記録を行うマルチビーム走査装置において、複数の光ビーム間における主走査位置ずれ量を検出し、検出された位置ずれ量に基づいて画像情報記録時の補正を行うマルチビーム走査装置、及びマルチビーム走査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
画像信号に基づいて変調されたレーザビームをポリゴンミラーなどで偏向して記録媒体上に走査させることにより画像情報の記録を行わせるための走査装置において、画像記録の高速化を図るには、複数のレーザビームを用いて、複数ラインを同時に記録する構成とすればよいことが良く知られている。
【０００３】
ところで、複数のレーザビームを同時に走査させる場合には、複数のレーザビーム間における走査位置が主走査方向にずれると、書出し位置のずれにより画像形成の忠実性が損なわれることになる。この問題を解決するための従来技術として、特開平７−２４８４５８号公報「画像形成装置」に開示された発明がある。この発明では、複数のレーザビーム間における主走査方向におけるずれ量を、複数のセンサにより各レーザビームが通過する時間差を検出し、各ずれ量に応じて各レーザビームに記録位置を決定する方法が開示されている。
【０００４】
この従来の主走査ずれ検知装置の基本的な構成例を図１３に示す。図１３において、センサ１（符号１０１）およびセンサ２（符号１０２）は、主走査方向に並べて配置される。レーザビームＬ１を発生する第１のレーザビーム発生部（単に「ＬＤ１」ともいう）と、レーザビームＬ２を発生する第２のレーザビーム発生部（単に「ＬＤ２」ともいう）からのレーザビームＬ１、Ｌ２は、ポリゴンミラー１０３の回転により偏向され、ｆθレンズ１０４、シリンダレンズ１０５を経て、センサ１およびセンサ２を主走査方向に順次照射する。
【０００５】
また、図１４は従来の主走査ずれ検知装置の動作を説明するための図であり、以下図１４を基に、その動作を説明する。なお、図１４中の各信号は負論理で示されている。
【０００６】
（１）ステップＳ２０１
最初にＬＤ１をＯＮにする。ポリゴンミラーの回転により、ＬＤ１からのレーザビームＬ１はセンサ１（Sensor1）及びセンサ２（Sensor2）で順次検出されて、その検出時間差Ｔ０が求まる。この、時間Ｔ０が、レーザビームＬ１及びＬ２間の距離Ｌｘ（ずれ）が“０”の場合の基準時間となる。すなわち、時間Ｔ０はセンサ１とセンサ２の距離間隔（主走査方向）を示すことになる。なお、時間計測は、カウンタ計測クロックパルスをカウンタで計測して行う。
【０００７】
（２）ステップＳ２０２
次に、ＬＤ１及びＬＤ２を順次点灯し、ポリゴンミラー１０３を回転させ、ＬＤ１からのレーザビームＬ１によりセンサ１（Sensor1）がＯＮするようにし、またＬＤ２からのレーザビームによりセンサ２（Sensor2）がＯＮするようにする。そして、センサ１（Sensor1）とセンサ２（Sensor2）の検出時間差Ｔ１を求める。この時間差Ｔ１には、ＬＤ１とＬＤ２のずれと、センサ１及びセンサ２の距離の要素を含むことになる。
【０００８】
（３）ステップＳ２０３
従って、以下の式により、ＬＤ１とＬＤ２の主走査方向の「ずれ」よる時間差が求まる。
ΔＴ＝Ｔ１−Ｔ０
【０００９】
（４）Ｓ２０４
ステップＳ２０３で求めた、ビーム間距離Ｌｘによる時間差ΔＴを考慮して、ＬＤ２の書き出しタイミングの調整を行う。
なお、図１５に前記動作のフローチャートを示す。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
以上説明した従来の主走査ずれ検知方法には、以下のような問題点がある。
【００１１】
（１）従来の主走査ずれ検知方法においては、センサ１からセンサ２までの、主走査方向距離間隔以上の「ずれ量」を検知できない。すなわち、レーザビームＬ１をセンサ１で検出した後に、レーザビームＬ２をセンサ２で検出するので、レーザビームＬ１とＬ２に大幅な時間遅れのある場合には、ポリゴンミラー１０３の回転により、レーザビームＬ２をセンサ２の検知面端部に照射することができなくなるためである。このため、安価で汎用の２素子配置のフォトダイオードなどを使用できず、専用に必要な「検知ずれ量」分の間隔をとったフォトダイオードを２つ並べた素子を新たに起こしたり、１素子汎用のフォトダイオードを２つ並べて配置する等の対策が必要であった。そのため、２つのセンサの配置距離の制約を受けずに、主走査量の「ずれ」を検出可能にすることが望まれていた。
【００１２】
（２）従来の方法により主走査ずれ検知を行う際に、各レーザにパワー差が生じた場合に、主走査ずれの検出について、安定した検出精度を得ることが困難であった。そのため、レーザパワーの変動による検出精度の低下をなくすことが望まれていた。
【００１３】
（３）従来、検出精度をあげるため、主走査ずれ量を複数回測定し、その単純平均値や、最大値および最小値を除いた平均値などを算出して、最終的な「ずれ量」を求めている。この際、ずれ量検知のための計測クロックパルスは非常に高速となるので、ハードウエアカウンタで計測し、そのデータをレジスタなどに格納する必要があった。そにため、レジスタ容量が大きくなる問題があり、必要最低限のレジスタ構成で、複数回の「ずれ量」を計測する方法が望まれていた。
【００１４】
（４）従来の主走査ずれ検知方法では、ずれ検出精度を上げるため、カウンタクロックパルスの周波数をカウンタの動作可能な限界周波数まで上げ、さらにポリゴンミラーのモータ回転速度を回転ムラが発生する限界まで下げて対応しているが、目的とする検出精度を安定して得ることは困難であった。そのため、カウンタクロック周波数を従来のままとし、カウンタによる計測の精度を向上することが望まれていた。
【００１５】
本発明は、上記した問題を解決するためになされたものである。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
この発明は、上述した課題を解決すべくなされたものであり、本発明におけるマルチビーム走査装置は、第１と第２の２つ光ビームをポリゴンミラーの回転により記録媒体上を同時に主走査方向に平行に走査させて、２ラインを同時に記録するとともに、前記第１と第２の２つの光ビームの主走査方向のずれ検知を行うマルチビーム走査装置において、記録媒体の近傍に主走査方向に並べて配置された第１と第２の２個の光ビーム検出素子と、前記第１の光ビームを、ポリゴンミラーの回転により、前記２個の光ビーム検出素子に順次照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ０時間測定手段と、前記第１の光ビームと第２の光ビームを順次点灯し、ポリゴンミラーの回転により、第１の光ビームを第１の光ビーム検出素子に照射し、第２の光ビームを第２の光ビーム検出素子に照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ１時間測定手段と、前記第２の光ビームと第１の光ビームを順次点灯し、ポリゴンミラーの回転により、第２の光ビームを第１の光ビーム検出素子に照射し、第１の光ビームを第２の光ビーム検出素子に照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ２時間測定手段と、前記Ｔ０時間、Ｔ１時間、Ｔ２時間を基に、前記第１の光ビームと第２の光ビームの主走査方向のずれを算出する手段とを具備することを特徴とする。
【００１７】
これにより、ビーム検知センサの配置距離間隔の影響を受けずに、光ビームの主走査方向の「ずれ量」の検出を行うことができるとともに、汎用のビームセンサを使用することができる。
【００１８】
また、本発明のマルチビーム走査装置は、前記第２の光ビームを、ポリゴンミラーの回転により前記２個の光ビーム検出素子に順次照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ０′時間測定手段と、前記Ｔ０時間とＴ０′時間の差を基に、前記主走査方向のずれ検知を行うかどうかと、光ビームのパワー調整を行うかどうかを決定する手段とをさらに具備することを特徴とする。
【００１９】
これにより、ビームパワーが変動した場合にも、光ビームの主走査ずれ量の検知精度を安定して保つことができる。
【００２０】
また、本発明のマルチビーム走査装置は、前記マルチビーム走査装置には、主走査ずれ検知を行うロジック処理回路部と、前記ロジック処理回路部に動作指示を行うＣＰＵとを有し、前記ロジック処理回路部には、時間計測用のクロックパルス発生回路と、前記クロックパルス発生回路からのクロックパルスを計数して、前記光ビーム検出素子におけるビーム検出時間差を測定するカウンタと、前記カウンタの計測結果を保持する複数のレジスタと、前記ＣＰＵからのスタート指示により、ずれ検知動作を開始する手段と、ずれ検知動作の開始とともに、ビジー信号をＯＮにし前記ＣＰＵに通知する手段と、ずれ検知動作の終了とともに、ビジー信号をＯＦＦにし前記ＣＰＵに通知する手段とを具備し、前記ＣＰＵには、前記ロジック処理回路部に主走査ずれ検知動作の開始の指示を行う手段と、前記ビジー信号のＯＦＦ時に、前記ロジック処理回路部内のレジスタに保持された計測結果のデータを取り込み主走査方向のずれ量を演算する手段とをさらに具備することを特徴とする。
【００２１】
これにより、必要最低限のレジスタ構成で、多量のデータを取り込むことができ、必要なレジスタ容量が著しく低減される。
【００２２】
また、本発明のマルチビーム走査装置は、前記カウンタは、前記クロックパルスの立ち上がりを検出する第１のカウンタと、クロックパルスの立ち下がりを検出する第２のカウンタで構成され、該第１のカウンタと第２のカウンタの内容を加算して計測データを得る手段をさらに具備することを特徴とする。
【００２３】
これにより、計測用のクロックパルスの周波数を上げることなく、カウンタの読み取り精度を２倍にすることができる。
【００２４】
また、本発明のマルチビーム走査方法は、第１と第２の２つ光ビームをポリゴンミラーの回転により記録媒体上を同時に主走査方向に平行に走査させて、２ラインを同時に記録するとともに、前記第１と第２の２つの光ビームの主走査方向のずれ検知を行うマルチビーム走査装置におけるマルチビーム走査方法であって、記録媒体の近傍に第１と第２の２個の光ビーム検出素子を主走査方向に並べて配置する手順と、前記第１の光ビームを、ポリゴンミラーの回転により、前記２個の光ビーム検出素子に順次照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ０時間測定手順と、前記第１の光ビームと第２の光ビームを順次点灯し、ポリゴンミラーの回転により、第１の光ビームを第１の光ビーム検出素子に照射し、第２の光ビームを第２の光ビーム検出素子に照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ１時間測定手順と、前記第２の光ビームと第１の光ビームを順次点灯し、ポリゴンミラーの回転により、第２の光ビームを第１の光ビーム検出素子に照射し、第１の光ビームを第２の光ビーム検出素子に照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ２時間測定手順と、前記Ｔ０時間、Ｔ１時間、Ｔ２時間を基に、前記第１の光ビームと第２の光ビームの主走査方向のずれを算出する手順とを含むことを特徴とする。
【００２５】
これにより、ビーム検知センサの配置距離間隔の影響を受けずに、光ビームの主走査方向の「ずれ量」の検出を行うことができるとともに、汎用のビームセンサを使用することができる。
【００２６】
また、本発明のマルチビーム走査方法は、前記第２の光ビームを、ポリゴンミラーの回転により前記２個の光ビーム検出素子に順次照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ０′時間測定手順と、前記Ｔ０時間とＴ０′時間の差を基に、前記主走査方向のずれ検知を行うかどうかと、光ビームのパワー調整を行うかどうかを決定する手順とをさらに含むことを特徴とする。
【００２７】
これにより、ビームパワーが変動した場合にも、光ビームの主走査ずれ量の検知精度を安定して保つことができる。
【００２８】
また、本発明のコンピュータ読み取り可能な記録媒体は、第１と第２の２個の光ビームをポリゴンミラーの回転により記録媒体上を同時に主走査方向に平行に走査させて、２ラインを同時に記録するとともに、記録媒体の近傍に主走査方向に第１及び第２の２個の光ビーム検出素子を並べて配置し、前記第１と第２の２つの光ビームの主走査方向のずれ検知を行うマルチビーム走査装置内のコンピュータに、前記第１の光ビームを、ポリゴンミラーの回転により、前記２個の光ビーム検出素子に順次照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ０時間測定手順と、前記第１と第２の光ビームを順次点灯し、ポリゴンミラーの回転により、第１の光ビームを第１の光ビーム検出素子に照射し、前記第２の光ビームを第２の光ビーム検出素子に照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ１時間測定手順と、前記第２と第１の光ビームを順次点灯し、ポリゴンミラーの回転により、第２の光ビームを第１の光ビーム検出素子に照射し、前記第１の光ビームを第２の光ビーム検出素子に照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ２時間測定手順と、前記Ｔ０時間、Ｔ１時間、Ｔ２時間を基に、前記第１および第２の光ビームの主走査方向のずれを算出する手順とを実行させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体である。
【００２９】
また、本発明のコンピュータプログラムは、第１と第２の２個の光ビームをポリゴンミラーの回転により記録媒体上を同時に主走査方向に平行に走査させて、２ラインを同時に記録するとともに、記録媒体の近傍に主走査方向に第１及び第２の２個の光ビーム検出素子を並べて配置し、前記第１と第２の２つの光ビームの主走査方向のずれ検知を行うマルチビーム走査装置内のコンピュータに、前記第１の光ビームを、ポリゴンミラーの回転により、前記２個の光ビーム検出素子に順次照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ０時間測定手順と、前記第１と第２の光ビームを順次点灯し、ポリゴンミラーの回転により、第１の光ビームを第１の光ビーム検出素子に照射し、前記第２の光ビームを第２の光ビーム検出素子に照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ１時間測定手順と、前記第２と第１の光ビームを順次点灯し、ポリゴンミラーの回転により、第２の光ビームを第１の光ビーム検出素子に照射し、前記第１の光ビームを第２の光ビーム検出素子に照射し、該２個の光ビーム検出素子のビーム検出時間の差を測定するＴ２時間測定手順と、前記Ｔ０時間、Ｔ１時間、Ｔ２時間を基に、前記第１および第２の光ビームの主走査方向のずれを算出する手順とを実行させるためのプログラムである。
【００３０】
【発明の実施の形態】
次に本発明の実施の形態例について図面を参照して説明する。
【００３１】
［システム構成の説明］
図１は本発明によるマルチビーム走査装置のブロック構成図である。図１において、１はポリゴンモータ、２はポリゴンモータにより回転しレーザビームＬ１、Ｌ２を偏向するポリゴンミラー、３はレーザビームＬ１を発生するレーザダイオードを有する第１の平行光処理されたレーザビーム発生部（単に「ＬＤ１」ともいう）、４はレーザビームＬ２を発生するレーザダイオードを有する第２の平行光処理されたレーザビーム発生部（単に「ＬＤ２」ともいう）、５はビームを合成する平行平面板、６は平行に配置された２つのビームセンサを内部に有する２素子ＰＤ、６ａは２素子ＰＤ内の第１のビームセンサ（単に「ＰＤ１」ともいう）、６ｂは２素子ＰＤ内の第２のビームセンサ（単に「ＰＤ２」ともいう）、７はビームＬ１及びＬ２の走査速度を一定にしビームを絞るｆθレンズ、８はＰＤ６にビームを導くシリンダレンズを示している。
【００３２】
また、１０は主走査ずれ検知動作を実行するためのロジック処理回路部、２０は主走査ずれ検知処理を統括制御するためのＣＰＵ、３０はレーザプリンタなどで画像記録を行うためのエンジン側を示している。
【００３３】
また、ロジック処理回路部１０において、１１はポリゴンモータ１の起動及び回転数制御をＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ  Ｌｏｃｋｅｄ  Ｌｏｏｐ）方式で行うポリゴンモータ制御ロジック、１２は時間計測用のクロックパルスを発生するクロック発生回路、１３はクロック発生回路からのクロックパルスを計数するカウンタ回路、１３ａはクロックパルスの立ち上がりエッジを計数するカウンタ１（ＣＯＵＮＴＥＲ１）、１３ｂはクロックパルスの立ち下がりエッジを計数するカウンタ２（ＣＯＵＮＴＥＲ２）、１４はカウンタ回路での計測結果を保持するレジスタ回路、１４ａはレジスタ回路内のレジスタ１（ＲＥＧ１）、１４ｂはレジスタ回路内のレジスタ２（ＲＥＧ２）、１４ｃはレジスタ回路内のレジスタ３（ＲＥＧ３）、１５はレジスタ回路１４に保持されたデータを選択して読み出すためのデコーダ回路（ＤＥＣＯＲＤＥＲ）を示している。
【００３４】
また、１６はレジスタ回路１４へカウンタ回路１３の内容を書き込むためのレジスタ書込み制御ロジック、１７は発光するレーザビーム発生部（ＬＤ１、ＬＤ２）を選択するＬＤ発光セレクト、１８はレーザビーム発生部（ＬＤ１、ＬＤ２）の発光を制御するＬＤ発光制御ロジックを示している。
【００３５】
なお、図１中の信号において、COUNT_STARTは２素子ＰＤから出力されるカウンタ回路１３への計測開始信号、COUNT_ENDは２素子ＰＤから出力されるカウンタ回路１３への計測終了信号、LD1_ONはレーザビーム発生部（ＬＤ１）３の発光を指示する信号、LD2_ONはレーザビーム発生部（ＬＤ２）４の発光を指示する信号、Motor_ONはポリゴンモータのＯＮ、ＯＦＦ制御信号、Motor_CLOCKはモータ駆動パルス、Motor_PLLはモータ回転数同期確認信号、DATAはカウンタ回路１３での計測結果のデータ、ADRESSはレジスタ回路１４中のレジスタ選択信号、RDはデータ読み出し指示信号、CSはチップセレクト信号、Busy_Flagは主走査ずれ検知動作中の信号、検知STARTは主走査ずれ検知開始指示信号を示している。
【００３６】
図１において、ビームセンサＰＤ１（符号６ａ）およびビームセンサＰＤ２（符号６ｂ）は、主走査方向に並べて配置される（図１３参照）。レーザビームＬ１を発生する第１のレーザビーム発生部ＬＤ１と、レーザビームＬ２を発生する第２のレーザビーム発生部ＬＤ２からのレーザビームＬ１、Ｌ２は、平行平面板５で反射及び透過されて合成され、さらにポリゴンミラー２により偏向され、レンズ７を経て、ＰＤ１およびＰＤ２を主走査方向に順次照射する。
【００３７】
主走査ずれ検知を行う場合には、ＣＰＵ２０からロジック処理回路部１０に、検知START信号が送られ、ロジック処理回路部１０での主走査ずれ検知動作が開始される。ロジック処理回路部１０での主走査ずれ検知動作が開始されると、Busy_FlagがＯＮしＣＰＵ２０に通知される。
【００３８】
主走査ずれ検知動作では、最初にＬＤ１を基準として、基準時間Ｔ０を測定する（図５参照、Ｔ０についての詳細は後述する）。これには、ＬＤ発光セレクト１７及びＬＤ発光制御ロジック１８の制御により、ＬＤ１でレーザビームＬ１を発光させ、ポリゴンミラー２の回転によりレーザビームＬ１を主走査方向に走査してＰＤ１及びＰＤ２にＬＤ１のレーザビームＬ１を検出させる。ＰＤ１でレーザビームＬ１が検出された時には、信号COUNT_STARTを発生し、カウンタ（ＣＯＵＮＴＥＲ１）１３ａ、カウンタ（ＣＯＵＮＴＥＲ２）１３ｂにクロック発生回路１２からのクロックパルスの計数を開始させる。また、ＰＤ２でレーザビームＬ１が検出された時には、信号COUNT_ENDを発生し、カウンタ１３ａ、カウンタ１３ｂでの計数を終了させる。カウンタ（ＣＯＵＮＴＥＲ１）１３ａはクロックパルスの立ち上がりエッジを計数し、カウンタ２（ＣＯＵＮＴＥＲ２）１３ｂはクロックパルスの立ち下がりエッジを計数するので、カウンタ１３ａとカウンタ１３ｂの計数結果を加算すると、クロックパルスの周波数が等価的に２倍になったことになる。このため、計測用のクロックパルスの周波数を上げることなく、カウンタの読み取り精度を２倍にすることができる。カウンタ１３ａとカウンタ１３ｂの計測結果はレジスタ（ＲＥＧ１）１４ａに保持される。
【００３９】
次に、ＬＤ１、ＬＤ２を順次点灯させ、Ｔ１時間の測定を行う（図５参照、Ｔ１についての詳細は後述する）。まず、ＬＤ１を発光させＬＤ１からのレーザビームＬ１をＰＤ１で検出させる。ＰＤ１でレーザビームＬ１が検出された時には、信号COUNT_STARTを発生し、カウンタ（ＣＯＵＮＴＥＲ１）１３ａ、カウンタ（ＣＯＵＮＴＥＲ２）１３ｂにクロック発生回路１２からのクロックパルスの計数を開始させる。その後ＬＤ１をＯＦＦとし、ＬＤ２をＯＮとする。そして、ＬＤ２からのレーザビームＬ２をＰＤ２で検出させる。ＰＤ２でレーザビームＬ２が検出された時には、信号COUNT_ENDを発生し、カウンタ１３ａ、カウンタ１３ｂの計数を終了させる。カウンタ（ＣＯＵＮＴＥＲ１）１３ａはクロックパルスの立ち上がりエッジを計数し、カウンタ（ＣＯＵＮＴＥＲ２）１３ｂはクロックパルスの立ち下がりエッジを計数する。カウンタ１３ａとカウンタ１３ｂの計測結果は加算されてレジスタ（ＲＥＧ２）１４ｂに保持される。
【００４０】
次に、ＬＤ２、ＬＤ１を順次点灯させ、Ｔ２時間の測定を行う（図５参照、Ｔ２についての詳細は後述する）。まず、ＬＤ２を発光させＬＤ２からのレーザビームＬ２をＰＤ１で検出させる。ＰＤ１でレーザビームＬ２が検出された時には、信号COUNT_STARTを発生し、カウンタ（ＣＯＵＮＴＥＲ１）１３ａ、カウンタ（ＣＯＵＮＴＥＲ２）１３ｂにクロック発生回路１２からのクロックパルスの計数を開始させる。その後ＬＤ２をＯＦＦとし、ＬＤ１をＯＮとする。そして、ＬＤ１からのレーザビームＬ１をＰＤ２で検出させる。ＰＤ２でレーザビームＬ１が検出された時には、信号COUNT_ENDを発生し、カウンタ１３ａ、カウンタ１３ｂでのクロックパルスの計数を終了させる。カウンタ１３ａとカウンタ１３ｂの計測結果は加算されてレジスタ（ＲＥＧ３）１４ｃに保持される。
【００４１】
このように、ＬＤ１、ＬＤ２からレーザビームを順次発光させ、ＰＤ１及びＰＤ２で該レーザビームを検知してＴ１を測定し、さらにレーザビームの発光順序を反転させ、ＬＤ２、ＬＤ１からレーザビームを順次発光させ、ＰＤ１及びＰＤ２で該レーザビームを検知してＴ２を測定し、Ｔ１、Ｔ２の内大きい方を正規値とするようすることにより、検知センサの配置距離間隔の影響を受けずに、レーザビームの主走査方向の「ずれ量」の検出を行うことができるとともに、汎用のビームセンサを使用することができるようになる。
【００４２】
Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２の測定が終了すると、ロジック処理回路部１０ではBusy_FlagをＯＦＦにする（図４参照）。Busy_FlagがＯＦＦになると、ＣＰＵ２０では、信号ADRESS、信号RD、信号CSをロジック処理回路部１０内のデコーダ１５に送信し、レジスタ（ＲＥＧ１）１４ａ、レジスタ（ＲＥＧ２）１４ｂ及びレジスタ（ＲＥＧ３）１４ｃに保持されたＴ０時間、Ｔ１時間、Ｔ２時間の計測データを順次読み込み、主走査ビームずれ量演算処理部２１で、ＬＤ１とＬＤ２のビームの主走査方向のずれ量を計算する。
【００４３】
次に、今度はＬＤ２を基準として、Ｔ０′、Ｔ１′、Ｔ２′を計測する（図４参照）。なお、ＬＤ２を基準とした場合の測定手順は、ＬＤ１基準の場合と基本的には同様な手順であり、詳細については後述する。
【００４４】
このように、ＬＤ１基準、ＬＤ２基準で、Ｔ０時間とＴ０′時間の測定を行い、Ｔ０時間とＴ０′時間の比較を行い、その差が規定範囲外の場合には、レーザパワーの再調整を行う。これにより、ビームパワーが変動した場合にも、ずれ量検知精度を安定して保つことができる。
【００４５】
［動作フローチャートとタイムチャートの説明］
図２は、図１に示したマルチビーム走査装置における主走査ずれ検知動作を示すＣＰＵ２０およびロジック処理回路部１０の動作フローチャートである。以下、図２を基に、その動作について説明する。なお、ロジック処理回路部１０での動作は図中で矩形の破線で囲んだ部分であり、他はＣＰＵ制御の部分である。
（１）ＣＰＵは主走査ずれ検知のために、ポリゴンモータ１をＯＮにする（ステップＳ１）。
（２）ポリゴンモータ１をＯＮし、ポリゴンモータ１が規定の回転数（同期速度）に到達したことを検知する（ステップＳ２）、所定の時間を経過してもポリゴンモータ１が規定の回転数に到達しない場合には、「ポリゴンモータ・エラー」を表示する（ステップＳ３、Ｓ４）。
（３）ポリゴンモータ１が規定の回転数に到達したことが検知されると、主走査ずれ検知動作をスタートさせる（ステップＳ５）。ロジック処理回路部１０は主走査ずれ検知動作スタート信号により基準ＬＤ選択カウンタを＋１、Busy_Flagを“１”とする（ステップＳ２１）。なお、Busy_Flagが所定の時間以上“１”のままである場合には、「Busy_Flagエラー」を表示する（ステップＳ６、Ｓ７、Ｓ８）。
（４）ロジック処理回路部１０がビーム間データ取込動作を完了させ、Busy_Flagを“０”にすると（ステップＳ２２，Ｓ２３）、ＣＰＵ２０は主走査ずれ検知のためにビーム間データの取込動作を行う（ステップＳ９）。なお、このロジック処理回路部１０のビーム間データ取込動作の詳細については後述する。
（５）また、ステップＳ５からステップＳ９におけるビーム間データ取込動作を所定の回数（Ｎ回）繰り返す。例えば、Ｎ＝１５回などとする（ステップＳ１０）。
（６）ビーム間データ取込動作がＮ回行われると、ＣＰＵ２０において、取り込んだデータを基に、以下の演算を行う（ステップＳ１１）。
・取込データの平均値演算
・ＬＤ１とＬＤ２のパワー差検出
・ＬＤ１とＬＤ２の主走査ビーム間距離算出
（７）ＬＤ１とＬＤ２にパワー差がある場合には、レーザビームのパワー調整を行う（ステップＳ１２、Ｓ１３）。
（８）ＬＤ１とＬＤ２の主走査ビーム間距離の算出結果を基に、主走査画像書出し位置を変更する（ステップＳ１４）。
（９）最後に、主走査ずれ検知終了表示を出力する（ステップＳ１５）。
【００４６】
また、図３はビーム間データ取込の詳細な動作を説明するためのロジック処理回路部の動作フローチャートであり、主走査ずれ検知のためにビーム間データを取り込むための動作は、本例ではＬＤ１とＬＤ２のそれぞれを基準にした２回のサイクルで行われる（図４参照）。以下、図３を基に、その動作について説明する。
【００４７】
（１）最初に、ＬＤ１基準か、ＬＤ２基準かを判定する（ステップＳ１０１）。この判定は、START信号の回数をカウンタする基準ＬＤ選択カウンタ（１ビットのカウンタ）により行う。「基準ＬＤ選択カウンタ＝１」の場合には。ＬＤ１を基準としたデータ取込を開始する（ステップＳ１０２）。「基準ＬＤ選択カウンタ＝０」の場合には。ＬＤ２を基準としたデータ取込を開始する（ステップＳ１１１）。なお、基準ＬＤ選択カウンタをSTARTカウンタともいう。
ＬＤ１を基準するデータ取込と、ＬＤ２を基準とするデータ取込の測定サイクルについて図４を基に説明する。図４はＬＤ１基準とＬＤ２基準による測定サイクルのタイムチャートを示す図であり、図４中で信号START、PD1、PD2の各信号は負論理で示され、Busy_Flag、LD1、LD2は正論理で示されている。
START信号がＯＮすると、基準ＬＤ選択カウンタが＋１（初期値０）されて“１”となりBusy_Flagが「Ｈレベル（ＯＮ）」となり、最初にＬＤ１基準による測定を行う（図５参照）。ＬＤ１基準による測定が終了すると、Busy_Flagを一旦「Ｌレベル（ＯＦＦ）」として、ＣＰＵ２０側へデータ取込許可を出す。ＣＰＵ２０側はデータを取り込み、取込が終了したら、再度START信号をＯＮ、Busy_Flagを再び「Ｈレベル（ＯＮ）」として、今度は、基準ＬＤ選択カウンタが＋１されて“０”になりＬＤ２基準による測定を行う（図６参照）。このように、ＬＤ１基準とＬＤ２基準の測定をセットで行う。なお、測定する時間（Ｔ０、Ｔ１、Ｔ２、Ｔ０′、Ｔ１′、Ｔ２′）については順次説明する。
【００４８】
（２）ＬＤ１基準の場合には、まず、ＬＤ１を「ＯＮ］にする（ステップＳ１０３）。
【００４９】
（３）次に、ＬＤ１を「ＯＮ」にした後に、Ｔ０を計測する（ステップＳ１０４）。
図７はＬＤ１基準の測定サイクルにおける基準時間Ｔ０の測定について説明するためのタイムチャートであり、図７中で信号PD1、PD2の各信号は負論理で示され、LD1、LD2は正論理で示されている。なお、ＬＤ１立上りカウンタは２ビット値、STARTカウンタ（図３の基準ＬＤ選択カウンタに相当）は１ビット値で表示される。
ＣＰＵ２０がSTART信号をＯＮにすると、ロジック処理回路部１０はBusy_Flagを「Ｈレベル（ＯＮ）」として、まずＬＤ１、ＬＤ２がＯＮする。そして、ＬＤ１（又はＬＤ２）立上りカウンタを“０１”としてＴ０測定サイクルに入る。但し、ＬＤ２のＯＮ時間(ＡＰＣ（光パワー制御）時間）は短く、ポリゴンミラー２の回転により、ＰＤ１及びＰＤ２で検出されるビームはＬＤ１から発光されたレーザビームＬ１のみとなる。従って、ＰＤ１、ＰＤ２は、ＬＤ１からのレーザビームＬ１を検出してＯＮとなり、そのＯＮするタイミングの時間差Ｔ０は、ＰＤ１、ＰＤ２の配置距離間隔を示すことになり、ＬＤ１、ＬＤ２にずれがない場合の基準時間Ｔ０となる。
【００５０】
（４）次に、ＬＤ１、ＬＤ２を順次点灯し、Ｔ１を測定する（ステップＳ１０５、Ｓ１０６）。
図８は、ＬＤ１基準の測定サイクルにおけるＴ１の測定について説明するためのタイムチャートであり、図８中で信号PD1、PD2の各信号は負論理で示され、LD1、LD2は正論理で示されている。なお、ＬＤ１立上りカウンタは２ビット値、STARTカウンタ（図３の基準ＬＤ選択カウンタに相当）は１ビット値で表示される。
次に、ＬＤ１、ＬＤ２がＯＮする。そして、ＬＤ１立上りカウンタを“１０”としてＴ１測定サイクルに入る。しかしＬＤ２の最初のＯＮ時間（ＡＰＣ期間）は短く、ポリゴンミラーの回転により、ＰＤ１で検出されるビームはＬＤ１から発光されたレーザビームＬ１となる。また、ＰＤ１がＯＮすると、ＬＤ１は直ちにＯＦＦし、逆にＰＤ２が再度ＯＮとなる。従って、ＰＤ２で検出されるビームはＬＤ２からのレーザビームＬ２となる。
そのため、ＰＤ１とＰＤ２がＯＮする時間差Ｔ１は、ＬＤ１とＬＤ２のずれ、及びＰＤとＰＤ２の配置距離間隔を含む時間となり、Ｔ１−Ｔ０を求めれば、ＬＤ１とＬＤ２のずれを求めることができる。
【００５１】
（５）次に、ＬＤ２、ＬＤ１を順次点灯し、Ｔ２を測定する（ステップＳ１０７、Ｓ１０８）。これは、ＬＤ１基準によるＴ１測定を行う場合、ＬＤ１とＬＤ２の主走査方向のずれが、ＰＤ１とＰＤ２の配置距離以上になった場合に、Ｔ１の測定ができなくなるため、そのような場合にも主走査のずれを検知できるようにＴ２測定を行う。
図９は、ＬＤ２側基準によるＴ２の測定について説明するためのタイムチャートであり、図１０中で信号PD1、PD2の各信号は負論理で示され、LD1、LD2は正論理で示されている。なお、ＬＤ１立上りカウンタは２ビット値、STARTカウンタ（図３の基準ＬＤ選択カウンタに相当）は１ビット値で表示される。
ＬＤ１、ＬＤ２がＯＮする。しかし、ＬＤ１の最初のＯＮ時間（ＡＰＣ期間）は短く、ポリゴンミラー２の回転により、ＰＤ１で検出されるビームはＬＤ２から発光されたレーザビームＬ２となる。また、ＰＤ１がＯＮすると、ＬＤ２は直ちにＯＦＦし、逆にＬＤ１が再度ＯＮとなる。従って、ＰＤ２で検出されるビームはＰＤ１からのレーザビームＬ１となる。
そのため、ＰＤ１とＰＤ２がＯＮする時間差Ｔ２は、ＬＤ１とＬＤ２のずれ、及びＰＤとＰＤ２の配置距離間隔を含む時間となり、Ｔ２−Ｔ０を求めれば、ＬＤ１とＬＤ２のずれを求めることができる。
【００５２】
（６）次に、ＬＤ１立上りカウンタが“００”に戻ると、Busy_Flagを「Ｌレベル」にして、ＣＰＵ２０にデータ取込許可とし、ＣＰＵ２０はデータを取り込み、取り込みが終了すると、再度START信号を出して、基準ＬＤ選択カウンタを＋１して“０”にして、再度ステップＳ１０１に戻る（ステップＳ１０９、Ｓ１１０）。
【００５３】
（７）基準ＬＤ選択カウンタが“０”に書き換えられているので、ＬＤ２基準のデータ取込を開始する（ステップＳ１０１、Ｓ１１１）。
（８）ＬＤ２基準の場合には、まず、ＬＤ２を「ＯＮ］にする（ステップＳ１１２）。
【００５４】
（９）次に、ＬＤ２を「ＯＮ」にした後に、Ｔ０′を計測する（ステップＳ１１３）。
図１０はＬＤ２基準の測定サイクルにおけるＴ０′の測定について説明するためのタイムチャートであり、図１０中で信号PD1、PD2の各信号は負論理で示され、LD1、LD2は正論理で示されている。なお、ＬＤ１立上りカウンタは２ビット値、STARTカウンタ（図３の基準ＬＤ選択カウンタに相当）は１ビット値で表示される。
ＬＤ１、ＬＤ２がＯＮする。但し、ＬＤ１のＯＮ時間（ＡＰＣ期間）は短く、ポリゴンミラー２の回転により、ＰＤ１、ＰＤ２で検出されるレーザビームはＬＤ２から発光されたレーザビームＬ２となる。従って、ＰＤ１、ＰＤ２は、ＬＤ２からのビームを検出してＯＮとなり、そのＯＮするタイミングの時間差Ｔ０′は、ＰＤ１、ＰＤ２の配置距離間隔を示すことになり、ＬＤ１、ＬＤ２にずれがない場合の基準時間Ｔ０′となる。
【００５５】
（１０）次に、ＬＤ２、ＬＤ１を順次点灯し、Ｔ１′を測定する（ステップＳ１１４、Ｓ１１５）。
図１１は、ＬＤ２側基準の測定サイクルにおけるＴ１′の測定について説明するためのタイムチャートであり、図１１中で信号PD1、PD2の各信号は負論理で示され、LD1、LD2は正論理で示されている。なお、ＬＤ１立上りカウンタは２ビット値、STARTカウンタ（図３の基準ＬＤ選択カウンタに相当）は１ビット値で表示される。
ＬＤ１、ＬＤ２がＯＮする。しかし、ＬＤ１の最初のＯＮ時間（ＡＰＣ期間）は短く、ポリゴンミラー２の回転により、ＰＤ１で検出されるレーザビームはＬＤ２から発光されたレーザビームＬ２となる。また、ＰＤ１がＯＮすると、ＬＤ２は直ちにＯＦＦし、逆にＰＤ１が再度ＯＮとなる。従って、ＰＤ２で検出されるレーザビームはＰＤ１からのレーザビームＬ１となる。
そのため、ＰＤ１とＰＤ２がＯＮする時間差Ｔ１′は、ＬＤ２を基準としたＬＤ１とＬＤ２のずれ、及びＰＤ１とＰＤ２の配置距離間隔を含む時間となり、Ｔ１′−Ｔ０′を求めれば、ＬＤ１とＬＤ２のずれを求めることができる。
【００５６】
（１１）次に、ＬＤ１、ＬＤ２を順次点灯し、Ｔ２′を測定する（ステップＳ１１６、Ｓ１１７）。
図１２は、ＬＤ２基準の測定サイクルにおけるＴ２′の測定について説明するためのタイムチャートであり、図１２中で信号PD1、PD2の各信号は負論理で示され、LD1、LD2は正論理で示されている。なお、ＬＤ１立上りカウンタは２ビット値、STARTカウンタ（図３の基準ＬＤ選択カウンタに相当）は１ビット値で表示される。
ＬＤ１、ＬＤ２がＯＮする。しかし、ＬＤ２の最初のＯＮ時間（ＡＰＣ期間）は短く、ポリゴンミラー２の回転により、ＰＤ１で検出されるレーザビームはＬＤ１から発光されたレーザビームＬ１となる。また、ＰＤ１がＯＮすると、ＬＤ１は直ちにＯＦＦし、逆にＬＤ２が再度ＯＮとなる。従って、ＰＤ２で検出されるレーザビームはＰＤ２からのレーザビームＬ２となる。
そのため、ＰＤ１とＰＤ２がＯＮする時間差Ｔ２′は、ＬＤ１基準のＬＤ１とＬＤ２のずれ、及びＰＤとＰＤ２の配置距離間隔を含む時間となり、Ｔ２′−Ｔ０′を求めれば、ＬＤ１とＬＤ２のずれを求めることができる。
【００５７】
（１２）Ｔ２′の測定を完了すると、ＬＤ１立上りカウンタを＋１して“００”となり通常動作に入る（ＳステップＳ１１８）。
なお、本発明の実施の形態では、レーザビームを発光する素子が２つの場合について説明したが、本発明の思想はレーザビームが３つ以上の場合にも応用することが可能である。
【００５８】
また、図１に示したマルチビーム走査装置における回路系では、主にロジック処理回路部１０と、ＣＰＵ２０と制御プログラム２２とでシステムを構成しているが、ロジック処理回路部１０内の処理部を可能な範囲でメモリおよびＣＰＵにより構成してもよい。この場合、ロジック処理回路部１０およびＣＰＵ２０における機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録されたプログラムをマルチビーム走査装置のＣＰＵに読み込ませ、実行することにより本発明の主走査ずれ検知処理を行ってもよい。
【００５９】
また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ＲＯＭ、ＣＤ−ＲＯＭ等の可般媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。
さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムを送信する場合の通信線のように、短時間の間、動的にプログラムを保持するもの(伝送媒体ないしは伝送波)、その場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように、一定時間プログラムを保持しているものも含むものとする。
また上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良く、さらに前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であっても良い。
【００６０】
以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明のマルチビーム走査装置は、上述の図示例にのみ限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。
【００６１】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明のマルチビーム走査装置及びマルチビーム走査方法においては、第１の光ビーム発生部（ＬＤ１）から第１の光ビームを発光させて、第１の光ビーム検出素子（ＰＤ１）と第２の光ビーム検出素子（ＰＤ２）で該光ビームを検知してＴ０を測定する。また第１の光ビーム発生部（ＬＤ１）、第２の光ビーム発生部（ＬＤ２）から光ビームを順次発光させ、該光ビームを第１の光ビーム検出素子（ＰＤ１）と第２の光ビーム検出素子（ＰＤ２）で検知してＴ１を測定する。さらに光ビームの発光順序を反転させ、第２の光ビーム発生部（ＬＤ２）、第１の光ビーム発生部（ＬＤ１）から光ビームを順次発光させ、該光ビームを第１の光ビーム検出素子（ＰＤ１）と第２の光ビーム検出素子（ＰＤ２）で検知してＴ２を測定する。
これにより、ビーム検知センサの配置距離間隔の影響を受けずに、光ビームの主走査方向の「ずれ量」の検出を行うことができるとともに、汎用のビームセンサを使用することができる。
【００６２】
また、本発明のマルチビーム走査装置及びマルチビーム走査方法においては、第１の光ビーム発生部（ＬＤ１）から光ビームを発光させて、該光ビームを第１の光ビーム検出素子（ＰＤ１）と第２の光ビーム検出素子（ＰＤ２）で検知してＴ０を測定する他、第２の光ビーム発生部（ＬＤ２）から光ビームを発光させて、該光ビームを第１の光ビーム検出素子（ＰＤ１）と第２の光ビーム検出素子（ＰＤ２）で検知してＴ０′を測定する。そして、Ｔ０とＴ０′の測定値が規定の範囲内の場合には、通常通りビームずれ量検出を行うが、規定範囲外の場合には、光ビームのパワーの調整を行う。
これにより、ビームパワーが変動した場合にも、光ビームの主走査方向のずれ量の検知精度を安定して保つことができる。
【００６３】
また、本発明のマルチビーム走査装置においては、ロジック処理回路部とＣＰＵを有し、ロジック処理回路部ではＣＰＵからの検知スタート信号をトリガとして、ずれ量の検知動作を開始し、この際にビームずれ検出動作中であることをＣＰＵに知らせるビジー信号をＯＮにする。また、計測データがレジスタに保存されたところで、ビジー信号をＯＦＦにする。ＣＰＵはビジー信号がＯＦＦになったことを検知して、前記レジスタに保持されたデータを順次読み込む。
これにより、必要最低限のレジスタ構成で、多量のデータを取り込むことができ、必要なレジスタ容量が著しく低減される。
【００６４】
また、本発明のマルチビーム走査装置においては、時間計測用のカウンタでクロックパルスを計数する際に、クロックパルスの立ち上がりを計数するカウンタと、クロックパルスの立ち下がりを計数するカウンタとを設け、その計測結果を加算する。
これにより、計測用のクロックパルスの周波数を上げることなく、カウンタの読み取り精度を２倍にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明によるマルチビーム走査装置のブロック構成図である。
【図２】  マルチビーム走査装置における主走査ずれ検知動作を示すフローチャートである。
【図３】  ビーム間データ取込の詳細な動作を説明するためのフローチャートである。
【図４】  ＬＤ１基準とＬＤ２基準による測定サイクルのタイムチャートを示す図である。
【図５】  ＬＤ１基準によるによる測定サイクルのタイムチャートを示す図である。
【図６】  ＬＤ２基準によるによる測定サイクルのタイムチャートを示す図である。
【図７】  ＬＤ１基準の測定サイクルにおける基準時間Ｔ０の測定について説明するためのタイムチャートを示す図である。
【図８】  ＬＤ１基準の測定サイクルにおけるＴ１の測定について説明するためのタイムチャートを示す図である。
【図９】  ＬＤ１基準の測定サイクルにおけるＴ２の測定について説明するためのタイムチャートを示す図である。
【図１０】  ＬＤ２基準の測定サイクルにおける基準時間Ｔ０′の測定について説明するためのタイムチャートを示す図である。
【図１１】  ＬＤ２基準の測定サイクルにおけるＴ１′の測定について説明するためのタイムチャートを示す図である。
【図１２】  ＬＤ２基準の測定サイクルにおけるＴ２′の測定について説明するためのタイムチャートを示す図である。
【図１３】  従来の主走査ずれ検知装置の基本的な構成例を示す図である。
【図１４】  従来の主走査ずれ検知装置の動作を説明するための図である。
【図１５】  従来の主走査ずれ検知装置の動作のフローチャートを示す図である。
【符号の説明】
１  ポリゴンモータ
２  ポリゴンミラー
３  第１のレーザビーム発生部（ＬＤ１）
４  第２のレーザビーム発生部（ＬＤ１）
６  ２素子ＰＤ
６ａ  第１のビームセンサ（ＰＤ１）
６ｂ  第２のビームセンサ（ＰＤ２）
７  ｆθレンズ
８  シリンダレンズ
１０  ロジック処理回路部
１２  クロック発生回路
１３  カウンタ回路
１３ａ  第１のカウンタ（ＣＯＵＮＴＥＲ１）
１３ｂ  第２のカウンタ（ＣＯＵＮＴＥＲ２）
１４  レジスタ回路
１４ａ  レジスタ１（ＲＥＧ１）
１４ｂ  レジスタ２（ＲＥＧ２）
１４ｃ  レジスタ３（ＲＥＧ３）
１８  ＬＤ発光制御ロジック
２０  ＣＰＵ
２１  主走査ビームずれ量演算処理部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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