(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ガラス板の表面に複数本の電極が所定方向に並べて形成されたプラズマディスプレイパネルを保持し、所定の長さの範囲の画像を画像信号に変換するラインカメラをプラズマディスプレイパネルの表面に沿って順次走査し、画像信号を所定のアルゴリズムにより処理してガラス板の表面の電極パターンを検査する検査装置であって、上記電極は相互に平行な表示部と該表示部の少なくとも一端に形成された略放射状の端子部とから構成され、表示部のパターンを検査するアルゴリズムと端子部のパターンを検査するアルゴリズムとが相違するものにおいて、上記ラインカメラの姿勢を、プラズマディスプレイパネルの表面に対して直交する軸線周りに９０度回動する回動手段を設けたことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの電極パターン検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えばネオンガスを挟んで対向するプラズマディスプレイパネル（以下、ＰＤＰという場合がある）の電極パターンを画像処理により検査する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＰＤＰは表面に複数本の電極が形成されているが、該電極は相互に平行な表示部と該表示部の少なくとも一端に形成された略放射状の端子部とから構成されている。また、１つのプラズマディスプレイは２枚のＰＤＰを所定間隔を存して対向させ、且つ両ＰＤＰ間に例えばネオンガスを封入することにより構成されている。該２枚のＰＤＰは相互に同一のものではなく、各々の表示部のパターンが相互に直交する方向になっていなければならない。
【０００３】
一方、ＰＤＰの電極パターンを形成した後に、パターンが所定の形状であるかを検査する必要がある。そのためＰＤＰを保持し、所定の長さの範囲の画像を撮像して画像信号に変換するラインカメラをＰＤＰの表面に沿って順次走査し、画像信号を所定のアルゴリズムにより処理してガラス板の表面の電極パターンを検査している。尚、表示部の電極パターンと端子部の電極パターンとは相違するので、表示部の画像データは例えばアルゴリズムとして隣接比較法を用いて処理し、端子部の画像データは例えばアルゴリズムとしてＤＲＣ法を用いて処理している。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ＰＤＰの電極パターンを検査する装置は例えばＰＤＰを固定し、ラインカメラを所定の走査方向に沿って往復動させながら順次走査方向に対して直交方向にずらしていき電極パターンを撮像する。
【０００５】
図３（ａ）に示すように、電極パターンＰがラインカメラＬＣの走査方向Ｌに対して同じ方向に並設されている場合には、いずれか一方の端子部ＴについてラインカメラＬＣを例えば１往復させるだけで走査することができる。ところが、同図（ｂ）に示すようにラインカメラＬＣの走査方向Ｌに対して直交する方向に電極パターンＰが並設されていると、特に端子部Ｔを走査する場合にはラインカメラＬＣを何回も往復させなければならない。そのため、同図（ａ）に示したＰＤＰの電極パターン検査に要する時間に比べて同図（ｂ）に示したＰＤＰの電極パターン検査に要する時間が相当長時間になり、検査処理能力が著しく低下するという不具合が生じる。
【０００６】
そこで本発明は、上記の問題点に鑑み、電極パターンの並設方向が相違する２種類のＰＤＰのいずれに対する検査も短時間で行い得る電極パターン検査装置を提供することを課題とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解決するために本発明は、ガラス板の表面に複数本の電極が所定方向に並べて形成されたプラズマディスプレイパネルを保持し、所定の長さの範囲の画像を画像信号に変換するラインカメラをプラズマディスプレイパネルの表面に沿って順次走査し、画像信号を所定のアルゴリズムにより処理してガラス板の表面の電極パターンを検査する検査装置であって、上記電極は相互に平行な表示部と該表示部の少なくとも一端に形成された略放射状の端子部とから構成され、表示部のパターンを検査するアルゴリズムと端子部のパターンを検査するアルゴリズムとが相違するものにおいて、上記ラインカメラの姿勢を、プラズマディスプレイパネルの表面に対して直交する軸線周りに９０度回動する回動手段を設けたことを特徴とする。
【０００８】
ＰＤＰに施されている電極パターンの並設方向に応じ、ラインカメラの走査方向を常に電極パターンの並設方向に一致させればよい。そのためにはラインセンサの走査方向を電極パターンの並設方向に応じて９０度相違する２方向の内の１方向に設定する必要がある。但し、従来の検査装置はラインセンサを走査方向に移動させると共に走査方向に対して直角方向にラインカメラの順次ずらす機構を備えているため、走査方向を相互に９０度異なる２方向の内のいずれかにすることはできる。但し、走査方向に対してラインカメラは常に同じ姿勢でなければならないため、走査方向が変更されればそれに応じてラインカメラの姿勢を９０度回動させる。
【０００９】
【発明の実施の形態】
図１を参照して、１はＰＤＰの電極パターンを検査する検査装置であり、該検査装置１１のベッド１１に互いに平行に２本の摺動レール２１が固定されている。該２本の摺動レール２１には門形のレスト２が架設されている。該レストは図示しないサーボモータにより駆動され摺動レール２１に沿って往復動する。該レストの水平部分には摺動レール３１が取り付けられており、該摺動レール３１には摺動子３が係合されている。該摺動子３は図示しないがレスト２に取り付けられたサーボモータにより往復動される。そして、該摺動子３には鉛直下方に向けられたラインカメラ４が、回動手段であるロータリーアクチュエータ４１を介して取り付けられている。該ロータリーアクチュエータ４１は９０度の範囲で揺動自在の揺動軸を有しており、ラインカメラ４の中心が該揺動軸の揺動軸線上に位置するように、ラインカメラ４を該揺動軸の下端に取り付けている。従って、該ロータリーアクチュエータを作動させることによりラインカメラ４の姿勢を９０度回動させることができる。
【００１０】
所定の動作をプログラムしたロボットを該検査装置の近傍に配設し、該検査装置１に対してＰＤＰの着脱を行う。ベッド１１の上面には、ＰＤＰより一回り大きな発光部５１が形成されており、該発光部５１の下方に配置した発光体からの光を均一な状態にしてＰＤＰに対して下方から透過光が与えられるように構成されている。また、ベッド１１の上面には所定方向に対してＰＤＰの位置決めをする１対のストッパ５２と該所定方向に対して直交方向に対してＰＤＰの位置決めを行う１対のストッパ５３とが突設されている。更に、回動軸５４に連結され先端にパッド５４ｂが揺動自在に取り付けられたクランプアーム５４ａと、回動軸５５に連結され先端にパッド５５ｂが揺動自在に取り付けられたクランプアーム５５ａとが取り付けられている。尚、Ｓはレスト２の往復動方向を示し、Ｆは摺動子３の往復動方向を示す。
【００１１】
上記図外のロボットが発光部５１上にＰＤＰをセットするとクランプアーム５４ａ・５５ａを揺動させてＰＤＰの位置決めを行う。図３（ａ）に示す状態と同じく、位置決めされた状態でＰＤＰの電極パターンの並設方向がレスト２の往復動方向Ｓに一致している場合には、従来と同じく、方向Ｓを走査方向としてレスト２を前進させ、ＰＤＰの左右いずれか一側の端子部の画像を撮像する。その際、図外の画像処理装置はＤＲＣ法により端子部の画像を検査する。レスト２を前進端まで前進させると摺動子３を方向Ｆに沿ってラインカメラ４の撮像長さより若干短い所定距離移動させ、その後レスト２を走査方向であるＳに沿って後退させる。そして該後退の際にも撮像を行う。このように、レスト２を方向Ｓに沿って前進及び後退させる毎に摺動子３を所定距離ずつ方向Ｆに沿ってずらすことによりＰＤＰの表面全域を撮像することができる。尚、一側の端子部の検査が済み表示部の撮像を開始すると検査に用いるアルゴリズムを隣接比較法に切り替え、表示部から他側の端子部に撮像位置が移動するとアルゴリズムを再びＤＲＣ法に戻す。そして、ＰＤＰの全域について検査が終了すると検査が終了したＰＤＰをロボットにより取り外し、代わりに未検査の新たなＰＤＰを発光部５１上にセットする。
【００１２】
ところで、図３（ｂ）に示すように発光部５１上にセットされたＰＤＰの電極パターンの並設方向が方向Ｓに対して直交する方向である場合には、ロータリーアクチュエータ４１を作動させてラインカメラ４の姿勢を９０度回動させる。そして、図２に示すように、摺動子３の往復動方向である方向Ｆを走査方向に設定して、端子部の検査を行う。尚、ラインカメラ４を往動及び復動させる毎にレスト２を方向Ｓに所定距離ずらしながら、上述の手順と同様の手順に従ってＰＤＰの検査を行う。そして、検査が終了すると、クランプアーム５４ａ・５５ａによる保持を解除し、ロボットによりＰＤＰを取り外す。
【００１３】
【発明の効果】
以上の説明から明らかなように、本発明は、ＰＤＰの電極パターンの配設方向に対してラインカメラの走査方向が一致するようにラインカメラの姿勢を回動させるのでラインカメラによる走査時間が延長されない。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施の形態の構成を示す図
【図２】ラインカメラを回動した状態での走査方向を示す図
【図３】ＰＤＰの電極パターンを示す図
【符号の説明】
１  検査装置
２  レスト
４  ラインカメラ
４１  ロータリーアクチュエータ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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