(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電磁遮蔽材の遮蔽量を算出する遮蔽量算出方法であって、
電磁波が通る伝送線路を遮蔽した状態で電磁遮蔽材が配置される配置部を有し、該配置部の特性インピーダンスが、前記伝送線路の入出力インピーダンスと異なっている遮蔽量測定装置を用い、
前記遮蔽量測定装置に伝送ケーブルによって接続された測定機器によって測定された測定値に対し、
前記配置部の特性インピーダンスが入出力インピーダンスと異なることによって前記測定値に及した影響を補正するための補正係数を加えることで、前記電磁遮蔽材の遮蔽量を算出することを特徴とする遮蔽量算出方法。
【請求項２】
前記補正係数は、
前記遮蔽量測定装置の両端に設けられ、前記伝送ケーブルが接続されるコネクタ部の内半径及び外半径と、
前記配置部の内半径及び外半径と、
を用いて、
前記補正係数＝２０×Ｌｏｇ（ｌｎ（前記コネクタ部の外半径／前記コネクタ部の内半径）／ｌｎ（前記電磁遮蔽材配置位置の外半径／前記電磁遮蔽材配置位置の内半径））
によって求められることを特徴とする請求項１に記載の遮蔽量算出方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えばＯリング等の電磁遮蔽材の遮蔽量を算出する遮蔽量算出方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来から電磁波を遮蔽する目的で様々な形状の電磁遮蔽材が開発されている。このような電磁遮蔽材についての特性評価として、任意の形状（例えばＯリング形状等）の電磁遮蔽材のみの特性評価を行うことはできなかった。
【０００３】
つまり、従来においては、電磁遮蔽材の遮蔽効果は、電磁遮蔽材を組み込んだ機器全体の特性或いは限定された専用形状での材料特性として評価していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記のような従来技術の電磁遮蔽材の評価では、最終的な製品機器の遮蔽評価或いは材料の評価を表す場合には問題ないが、Ｏリング形状等の電磁遮蔽材のみの評価を表す場合には不十分であった。
【０００５】
即ち、従来技術の電磁遮蔽材の評価では、遮蔽特性が組み込む機器の特性に左右されることや、専用形状の材料の特性が任意形状の特性に正確に反映されているかの判定ができるものではなかった。
【０００６】
したがって、電磁遮蔽材のみの遮蔽効果の定量や品質管理等を行うことはできないものであった。
【０００７】
本発明は上記の従来技術の課題を解決するためになされたもので、その目的とするところは、電磁遮蔽材の遮蔽効果の定量や品質管理を可能とするように電磁遮蔽材のみの特性評価を行うことが可能な遮蔽量算出方法を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために本発明にあっては、電磁遮蔽材の遮蔽量を算出する遮蔽量算出方法であって、電磁波が通る伝送線路を遮蔽した状態で電磁遮蔽材が配置される配置部を有し、該配置部の特性インピーダンスが、前記伝送線路の入出力インピーダンスと異なっている遮蔽量測定装置を用い、前記遮蔽量測定装置に伝送ケーブルによって接続された測定機器によって測定された測定値に対し、前記配置部の特性インピーダンスが入出力インピーダンスと異なることによって前記測定値に及した影響を補正するための補正係数を加えることで、前記電磁遮蔽材の遮蔽量を算出することを特徴とする。
【０００９】
したがって、電磁遮蔽材の遮蔽量のみを測定することができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下に図面を参照して、この発明の好適な実施の形態を例示的に詳しく説明する。ただし、この実施の形態に記載されている構成部品の寸法、材質、形状、その相対配置などは、特に特定的な記載がない限りは、この発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではない。
【００１３】
図１〜図３を用いて実施の形態に係る遮蔽量算出方法の構成について説明する。図１、図２は実施の形態に係る遮蔽量測定装置を示す概略構成図である。図３は遮蔽量測定装置を測定機器としてのネットワークアナライザと接続した測定状態を示す説明図である。
【００１４】
本実施の形態では、例えばＯリング形状等の電磁遮蔽材は、例えば、ネットワークアナライザ、スペクトルアナライザ等の高周波の測定機器を使用して、遮蔽量が測定される。
【００１５】
ここで、電磁遮蔽材の遮蔽量を測定するためには、電磁遮蔽材の評価を可能とする遮蔽量測定装置に電磁遮蔽材を配置して測定する必要がある。
【００１６】
図１に示すように、遮蔽量測定装置１は、内部に電磁遮蔽材（ここでは、Ｏリング形状）５０を配置する配置部２と、配置部２の両側端部で測定装置（図示せず）と電気的に接続されるコネクタ部３と、を備えている。
【００１７】
配置部２は、電磁遮蔽材５０が配置される部位であり、電磁遮蔽材５０の外径寸法や内径寸法が設定される。配置部２は、図示するように、電磁遮蔽材５０を２箇所の電磁遮蔽材配置位置Ａ，Ｂに配置することができる。
【００１８】
配置位置Ａに電磁遮蔽材５０を配置した場合には、円筒固定の使用状態を再現することができる。また、配置位置Ｂに電磁遮蔽材５０を配置した場合には、平面固定の使用状態を再現することができる。
【００１９】
この配置部２の伝送線路（導波路）の特性インピーダンスは、理論的に設計されている。
【００２０】
一方、コネクタ部３は、測定機器と接続された伝送ケーブルと接続される一般的なコネクタ形状に構成されている。
【００２１】
このコネクタ部３は、測定機器の入出力インピーダンスである５０Ωに設定されている。
【００２２】
以上の構成の遮蔽量測定装置１は、図３に示すように測定機器としてのネットワークアナライザ１００に両側のコネクタ部３が伝送ケーブルを介してネットワークアナライザの２つのポートに接続され、電磁遮蔽材５０の遮蔽量が測定される。
【００２３】
なお、遮蔽量測定装置１は、配置部２の特性インピーダンスを設定することができれば種々の形状に形成することができ、図２に示すようにインピーダンスを連続的に（急激なインピーダンスの変化がないように）変化させる目的で伝送線路がテーパ状に形成される構成であっても良い。また、配置部２の内部に誘電率の判明している材料を挿入したりする構成としても良い。
【００２４】
以上により、電磁遮蔽材の遮蔽量［ｄＢ］が測定される。このようにして、遮蔽量測定装置は、測定機器に接続されて電磁遮蔽材のみの遮蔽量を測定する。
【００２５】
そして、次に、この測定値を用いて材料特性（補正した電磁遮蔽材のみの遮蔽量）を算
出する。
【００２６】
本発明において、材料特性の算出は、測定された電磁遮蔽材の遮蔽量に補正係数を加えることにより行われる。
【００２７】
即ち、遮蔽量測定装置に電磁遮蔽材を配置した配置位置に応じて異なる補正係数を使用して、遮蔽量に補正係数を加えることにより材料特性を算出する。
【００２８】
補正係数は、
２０×Ｌｏｇ（ｌｎ（コネクタ部の外半径／コネクタ部の内半径）／ｌｎ（電磁遮蔽材配置位置の外半径／電磁遮蔽材配置位置の内半径））
として表すことができる。
【００２９】
つまり、
材料特性［ｄＢ］＝２０×Ｌｏｇ（ｌｎ（コネクタ部の外半径／コネクタ部の内半径）／ｌｎ（電磁遮蔽材配置位置の外半径／電磁遮蔽材配置位置の内半径））＋電磁遮蔽材の遮蔽量［ｄＢ］
である。
【００３０】
以上により、電磁遮蔽材の遮蔽量を測定し、この測定値に補正係数を加えて材料特性を算出する。このようにして、材料特性算出方法は、電磁遮蔽材のみの材料特性を算出でき、電磁遮蔽材の遮蔽効果の定量や品質管理を行うことができる。
【００３１】
【実施例】
以下に、本発明を具体的に実施した実施例を説明する。
【００３２】
まず、図３に示すように、ネットワークアナライザ１００に遮蔽量測定装置１を接続し、電磁遮蔽材としてのＯリングの遮蔽量を測定する。
【００３３】
Ｏリングは、Ｐ２０のＪＩＳ規格で規定された形状であり、内径φ１９．８ｍｍ、線径２．４ｍｍの寸法である。
【００３４】
ここで、ネットワークアナライザに接続される遮蔽量測定装置には、図４に示す装置を用いた。
【００３５】
図４に示す遮蔽量測定装置１は、配置部２の電磁遮蔽材配置位置Ａの内半径ａが１０ｍｍ、電磁遮蔽材配置位置Ａの外半径ｂが１２ｍｍ、コネクタ部３から電磁遮蔽材配置位置Ａまでの長さｄ1，ｄ3が９ｍｍ、電磁遮蔽材配置位置Ａの長さｄ2が５ｍｍに設定されている。
【００３６】
そして、コネクタ部３は、一般の汎用のコネクタ径を有しており、外半径が３．５ｍｍ、内半径が１．５ｍｍに設定されている。
【００３７】
以上の構成により、遮蔽量を測定した。遮蔽量の実測値は、図５に示す値を示した。
【００３８】
次に、実測値から材料特性を算出する。材料特性は、実施の形態と同様に遮蔽量の実測値に補正係数を加えることで算出することができる。
【００３９】
ここで、補正係数は、実施の形態に示した数式に具体的な寸法を用いることで導くことができる。
【００４０】
この実施例の補正係数は、
0003931677.tif 000002
として表すことができる。本実施例では、補正係数は約１３．３ｄＢとなる。
【００４１】
したがって、本実施例では、
材料特性［ｄＢ］＝２０×Ｌｏｇ（ｌｎ（３．５／１．５）／ｌｎ（１２／１０））＋Ｏリングの遮蔽量［ｄＢ］
である。
【００４２】
以上のようにして、材料特性を算出した。算出した材料特性は、図５に示す値を示した。
【００４３】
ここで、算出した材料特性が正確な値であるかを確かめるために、実施例のＯリングと同一材料（同軸試料）を同軸管を用いて材料特性の実測値を測定した。
【００４４】
Ｐ２０タイプのＯリングと同一材料は、外形φ７ｍｍ、内径φ３ｍｍ、厚み２．４ｍｍのドーナツ型の平板ワッシャ形状の試料である。
【００４５】
また、同軸管は、インピーダンスが５０Ωに設定してあるもので、これに上記の同軸試料を配置して材料特性の実測値を測定した。材料特性の実測値は、図６に示す値を示した。
【００４６】
そして、図５のＯリングの材料特性の算出値と、図５の同軸試料の材料特性の実測値と、を比較すると、きわめて良い一致が認められ、本発明でＰ２０タイプのＯリングの材料特性が評価できることが確認できた。
【００４７】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明は、電磁遮蔽材が配置される配置部の特性インピーダンスが伝送線路の入出力インピーダンスと異なっている遮蔽量測定装置を用いた場合であっても、配置部の特性インピーダンスが入出力インピーダンスと異なることによって測定値に及した影響を補正するための補正係数を加えることで、電磁遮蔽材の遮蔽量を算出することができる。すなわち、配置部の形状を自由に設定することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施の形態に係る遮蔽量測定装置を示す概略構成図である。
【図２】実施の形態に係る遮蔽量測定装置の他の例を示す概略構成図である。
【図３】遮蔽量測定装置をネットワークアナライザと接続した測定状態を示す説明図である。
【図４】実施例に係る遮蔽量測定装置を示す概略構成図である。
【図５】遮蔽量の実測値及び材料特性の計算値を示すグラフである。
【図６】比較対象の材料特性の実測値を示すグラフである。
【符号の説明】
１  遮蔽量測定装置
２  配置部
３  コネクタ部
５０  電磁遮蔽材
１００  ネットワークアナライザ
Ａ，Ｂ  電磁遮蔽材配置位置
【図１】
0003931677.tif 000003
【図２】
0003931677.tif 000004
【図３】
0003931677.tif 000005
【図４】
0003931677.tif 000006
【図５】
0003931677.tif 000007
【図６】
0003931677.tif 000008