(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学的構成要素を試験するためのシステムであって、
時間とともに変化する波長を有する可変光信号を生成するための手段と、
前記可変光信号を、該可変光信号が符号化された可変光信号を形成する異なる時間における一つの異なる波長にあることに対応するタイミング情報を使って符号化するための手段と、
前記符号化された可変光信号を試験局に提供するための手段と、
前記符号化された可変光信号から、時間における特定の場合における前記可変光信号の波長に関する情報を引き出すための手段と、試験情報を前記引き出された波長情報に関連付けて前記可変光信号に対する前記光学的構成要素の出力応答を決定するとともに、該出力応答を生み出した前記可変光信号の波長を決定するための手段とを有する試験局と、
をそれぞれ備えることを特徴とするシステム。
【請求項２】
前記システムは、さらに、前記光学的構成要素の特性を試験するための手段を備えることを特徴とする請求項１に記載のシステム。
【請求項３】
前記システムは、前記符号化された可変光信号から該可変光信号に関する波長情報を引き出すための手段と、試験情報を前記引き出された波長情報と関連付けて前記可変光信号に対する前記光学的構成要素の出力応答を決定するとともに、該出力応答を生み出した前記可変光信号の波長を決定するための手段を備えた、少なくとももう一つ別の試験局を備えることを特徴とする請求項１に記載のシステム。
【請求項４】
前記システムは、さらに、複数の試験局を備え、該複数の試験局は各々、前記符号化された可変光信号から該可変光信号に関する波長情報を引き出すための手段と、試験情報を前記引き出された波長情報と関連付けるための手段とを備えることを特徴とする請求項１に記載のシステム。
【請求項５】
前記符号化手段が、前記可変光信号を変調するための手段を備えることを特徴とする請求項１に記載のシステム。
【請求項６】
前記符号化手段は、前記可変光信号の瞬間的な波長を検出するための手段を有し、前記検出するための手段は、少なくとも傾斜が正反対になった傾斜部分を有する出力応答を有する２つのフィルタを備え、前記傾斜部分は、前記可変光信号に関する波長情報を提供するための検出手段と結合していることを特徴とする請求項１に記載のシステム。
【請求項７】
前記システムは、さらに、前記可変光信号の波長に比例する電気信号を提供するための、前記検出手段からの信号を受信することができるように結合された、差動回路を備えたことを特徴とする請求項６に記載のシステム。
【請求項８】
前記符号化手段は、前記可変光信号の瞬間的な波長を検出するための手段を備え、
前記可変光信号の瞬間的な波長を検出するための手段は、一つのエタロンと、該エタロンからの、前記可変光信号の瞬間的な波長に対応するパルス出力を計数するための手段とを備えたことを特徴とする請求項１に記載のシステム。
【請求項９】
光学装置を試験するために複数の場所に向けて一斉送信するための試験信号を生成する方法であって、
第１のより低い波長からより高いそれより上の波長まで、またはその逆方向に、それらの波長の間の複数の波長を掃引しながら、波長が変化する可変レーザ信号を生成するステップと、
前記可変レーザ信号を変調して、その中に、変調された可変レーザ信号を形成する時間における複数の瞬間における該可変レーザ信号の複数の波長に対応する情報を符号化するステップと、
前記変調された可変レーザ信号を一つの試験局に提供するステップと、
前記波長が変化する可変レーザ信号を前記装置を試験するための一つの光学装置に提供するステップと、
前記変調された可変レーザ信号から、該可変レーザ信号に関する波長情報を引き出すステップと、
試験情報を前記引き出された波長情報と関連付けるステップと、
を含むことを特徴とする方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光学的構成要素を試験するためのシステムおよび光学的構成要素を試験するために複数の場所に向けて一斉送信するための試験信号を生成する方法に関し、試験装置、特に複数の場所における複数の光学的構成要素を試験するための分散試験システムおよび方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
光学的構成要素を損失や他の特性について試験するためのいくつかの方法が存在する。たとえば、波長および強度が分かっている単一の光信号を構成要素に送り出すことが可能であり、損失を装置の出力において測定された信号から割り出すことができる。あるいはまた、複数の信号を継続的に装置に送り出すことが可能であり、各波長において同様な測定がなされる。ある製作および製造環境においては、関心のある波長範囲において可能な限り速やかに装置を試験することが好ましい。一般的に、光学的構成要素を試験するための試験局には大変コストのかかる可変波長レーザが必要となる。これらのレーザは複数の波長に一度に一つずつ同調するとともに、被試験装置（ＤＵＴ）に出力信号を提供する。波長の所定範囲内にあるさまざまな波長においてＤＵＴに信号を与える目的は、ＤＵＴにおける関心のある各波長またはいくつかの波長における損失を検出することにある。もちろん、ＤＵＴにいくつかの個別のレーザからの信号を与えることも可能であろう。しかしながら、ある製造環境において、こうしたスキーム（枠組み）は現実的でありそうもない。すでに言及した可変波長レーザを使用する際、ＤＵＴの出力応答を、時間における特定の瞬間に装置を通って伝搬した光の特定波長と関連付けるための電子回路要素が提供されるならば、それが好ましい。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
システムとしては現在のところ、試験すべき各々の波長でストップする同調機構を有する可変波長レーザ（波長可変レーザ，若しくは同調可能レーザ）が知られている。しかしながら、多数の波長（すなわち１００よりも大きな数の波長）で試験が行われるときには、この過程において何分が費やされる。波長の正確さは同調機構における機構上の公差によって制限される。
【０００４】
そこで、本発明の目的は、可変波長レーザ信号の波長を同調しながら決定するための装置を提供することにある。これによって、同調機構が波長ごとにストップする必要はなくなり、測定速度を向上させることができる。波長の正確さは同調機構の機構上の公差によって影響されない。
【０００５】
本発明の他の目的は、そこから遠く離れた複数の試験局において光学装置を試験するための信号を生成する中央システムを提供することにある。
【０００６】
本発明のさらに他の目的は、複数の試験局への複数の信号を同時に生成するための一つの可変波長レーザを有するシステムを提供することにある。
【０００７】
以上の目的の他に本発明の他の目的は、複数の装置を同時に試験するためのシステムを提供することにある。
【０００８】
以上の目的の他に本発明のさらなる目的は、複数の場所における複数の装置を試験するための、変動波長を有する入力信号に応答する装置を提供することにある。
【０００９】
以上の目的の他に本発明のさらなる目的は、遠く離れた複数の試験場所へ分散することができる光信号を提供することにある。ここでは、その光信号内で波長情報が符号化され、遠く離れた試験局には、動的にその光信号を復号化して波長を決定するとともに特定の試験を特定の波長と関連付けるための手段が与えられる。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
上記目的を実現するために本発明が提供する、光学的構成要素を試験するためのシステムは、
時間とともに変化する波長を有する可変光信号を生成するための手段と、
前記可変光信号を、該可変光信号が符号化された可変光信号を形成する異なる時間における一つの異なる波長にあることに対応するタイミング情報を使って符号化するための手段と、
前記符号化された可変光信号を試験局に提供するための手段と、
前記符号化された可変光信号から、時間における特定の場合における前記可変光信号の波長に関する情報を引き出すための手段と、試験情報を前記引き出された波長情報に関連付けて前記可変光信号に対する前記光学的構成要素の出力応答を決定するとともに、該出力応答を生み出した前記可変光信号の波長を決定するための手段とを有する試験局と、
をそれぞれ備えることを特徴とする。
【００１３】
本発明が提供する、光学的構成要素を試験するための方法は、光学装置を試験するために複数の場所に向けて一斉送信するための試験信号を生成する方法であって、
第１のより低い波長からより高いそれより上の波長まで、またはその逆方向に、それらの波長の間の複数の波長を掃引しながら、波長が変化する可変レーザ信号を生成するステップと、
前記可変レーザ信号を変調して、その中に、変調された可変レーザ信号を形成する時間における複数の瞬間における該可変レーザ信号の複数の波長に対応する情報を符号化するステップと、
前記変調された可変レーザ信号を一つの試験局に提供するステップと、
前記波長が変化する可変レーザ信号を前記装置を試験するための一つの光学装置に提供するステップと、
前記変調された可変レーザ信号から、該可変レーザ信号に関する波長情報を引き出すステップと、
試験情報を前記引き出された波長情報と関連付けるステップと、
を含むことを特徴とする。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施形態を詳細に説明する。
【００１５】
図１は本発明による試験システム８の第１の実施形態を示した高水準ブロック図である。ここで、光学的回路および光学的構成要素の第１のブロック３０は、第２のブロック４０ａ内のＤＵＴ（被試験装置）２６に送り出すための可変波長光信号を提供する。第１のブロック３０において、可変波長レーザ信号ＳL という形の可変波長光信号は、可変波長レーザ信号ＳLに関する波長情報を決定するためのタイミング信号ＳTと組み合わされる。回路構成をこれら２つのブロック３０、４０ａに分ける目的は、以下の２つの主たる機能を分離することにある。第１の機能は、可変波長光信号ＳLを、その可変波長光信号ＳLに関するタイミング情報を提供するための付随するタイミング信号ＳTとともに生み出すことである。第２の機能は、関心のある装置２６または構成要素を試験するとともに、２つの信号ＳLとＳT に応答してそれを行うのに必要な回路構成の提供も一緒に行うことである。さらに、これらの２つのブロックに分離することによってコスト的にも可成り有利になる。たとえば、可変波長光信号ＳLをそれに対応するタイミング信号ＳTと一緒に２つの同じ信号に分離するための分離器４３を使用することによって、ブロック４０ａと同一の（図示されていない）もう一つ別の試験局４０ｂにも試験およびタイミング信号を提供することが可能である。システム８全体で最もコストのかかる部分は可変波長レーザ１０を含むブロック３０の中にあるので、このシステム８によって２つ以上の分離した試験局４０ａ、４０ｂ等に試験信号を提供するために、可変波長レーザ１０を重複させないで済ますことができる。
【００１６】
システム８をもう少し詳細に説明する。ブロック３０には関心のある１５２０ｎｍから１５７０ｎｍまでの波長範囲で同調させることができる可変波長レーザ１０が含まれる。可変波長レーザ１０は１５２０ｎｍから始めて継続的に１５７０ｎｍまで増大させながらその出力を繰り返し変化させる。１５７０ｎｍに到達するとレーザ１０は１５２０ｎｍに戻り、再び１５２０ｎｍから続ける。こうしてレーザ１０は波長範囲を掃引し、繰り返しこうした動作を継続する。５％タップ１２はレーザからの出力信号（光信号）ＳLを受信して、光信号ＳLの５％をタイミング信号生成器（情報信号生成器）１４に通し、光信号ＳLの９５％を、この光信号ＳLとタイミング信号ＳTと組み合わせる後段の手段１６に通すように作動する。そして、手段１６は、上述の９５％の光信号と、タイミング信号生成器１４から出力されるタイミング信号ＳTとを組み合わせる。タイミング信号生成器１４は出力信号ＳLのこの小さな部分（５％）ＳTから、たとえば波長が１５２０ｎｍにある時など、出力信号ＳLが所定の波長にある時を決定する。その後、タイミング生成器１４は、信号ＳLが１５２０ｎｍにあることを示すタイミング信号ＳTを生成する。レーザ波長がたとえば１５２０．０１ｎｍなどの次の関心のある波長に到達する次の時点で、タイミング信号ＳTによる次のパルスが送られて、１５２０．０１ｎｍが示される。信号ＳLとＳTの両方がカップリング手段１６によって組み合わされるとき、信号ＳLのデータ内容が影響されないように、タイミング信号ＳTが信号ＳLとは異る波長にあることが保証されるように注意が払われる。基本的に、タイミング信号ＳTはブロック４０ａにおいて使用されるマーカまたは表示としての役割を果たし、特にタイミング信号ＳTに対応する特定の時点における信号ＳLの波長を修正するための波長情報を決定する（引き出す）手段（関連付け手段；相関器）２０によって使用されるマーカまたは表示としての役割を果たす。分離器４３は、信号ＳLとＳTを、（図示されていない）一つ以上の局４０ｂ、４０ｃ、……などに導かれ得る他の信号ＳLとＳTに分離するように構成されている。もちろん、代替として、タイミング信号ＳTを電気的手段によって分散される電気信号とすることができる。
【００１７】
第２のブロック４０ａには、混成信号ＳL、ＳTを２つの分離した信号に分離するための、ＷＤＭフィルタという形の手段１８が含まれる。信号ＳTは波長情報を決定するための手段である関連付け手段２０に与えられ、この関連付け手段２０は検出器２２、２４からの情報も受信する。実質的にフィルタ１８からの出力全体である信号ＳLはＤＵＴ２６に提供される。ここで、１０％という小さな部分が検出器２４に供給される。ＤＵＴ２６からの出力信号は検出器２２に振り向けられる。動作に関して、検出器２４はＤＵＴ２６への入力信号の強度を相対的に決定し、この情報を関連付け手段２０に与える。ＤＵＴ２６において測定された実際の強度またはパワーは検出器２２によって同一の関連付け手段２０に提供される。こうして、関連付け手段２０はＤＵＴ２６における損失を計算することが可能となり、タイミング信号ＳTに基づいて、この特定の損失計算に対する信号ＳLの波長を決定することができる。タイミング信号ＳTは信号ＳLが１５２０ｎｍの波長にある瞬間を示しているので、時間における他の瞬間における信号ＳLの波長に関して決定をすることができる。この機能を実現させるための形態を以下、図２を参照してより詳細に述べる。
【００１８】
図２において、可変波長レーザ１０の出力信号ＳLの小さな部分が５％の光学的タップ１２ａ、１２ｂ、１２ｃによって傍受されている。これらのタップによってそれぞれ傍受された３つのタップ信号ＳLT a、ＳLT b、ＳLT cはタイミング信号生成回路１４に提供される。この回路１４では、固定エタロン（fixed etalon）３１、ファイバ・ブラッグ格子（ＦＢＧ（fiber Bragg grating)）３２、および電気回路要素３３によって、信号ＳLの波長について０．０１ｎｍ単位のパルスの行列を含むパルス化された変調信号ＳM を生成する手段が与えられる。ＦＢＧ３２の出力と固定エタロン３１の出力とから得られる、パルス行列における第１のパルスは、１５２０ｎｍの波長にある信号ＳLに対応する。続いて第２のパルスは１５２０．０１ｎｍの波長にある信号ＳLに対応し、第３のパルスは１５２０．０２ｎｍの波長にある信号ＳLに対応する。あとに続くパルスも以下同様であり、最後のパルスは１５７０ｎｍの波長にある信号ＳLに対応する。固定エタロン３１への入力信号ＳLT aは波長について変化し、エタロン３１は１５２０ｎｍから１５７０ｎｍまでの範囲内で、１．２５ＧＨｚまたは約０．０１ｎｍの自由スペクトル域（ＦＳＲ（free spectral range)）を有するように選択されるので、固定エタロン３１の出力信号は周期的信号である。図４はエタロン３１の望ましい出力特性を表している。エタロン反射面の間の距離は次式のように計算される。
【００１９】
エタロンのＦＳＲ［ｎｍ］＝λ2 ／２ｎｄ
エタロンのＦＳＲ［ＧＨｚ］＝ｃ／２ｎｄ
ここで、ｃは光速、ｎは反射面間の物質の屈折率、ｄはエタロン反射面間の距離である。
【００２０】
ＦＢＧ３２は、波長が１５２０ｎｍのときに入力信号を反射するのが望ましく、こうしてパルス行列における出発点に対応する表示を回路要素に提供する。この様子は図３に示されており、スレショルド透過レベル（threshold transmission level）において、スタートが１５２０ｎｍになることが示される。電気回路３３は、エタロン３１からの周期的出力と信号ＳLが１５２０ｎｍの波長にある時を示す表示とに応答して、１３１０ｎｍ波長レーザ３４に与えられる変調信号ＳM を生成する。変調信号ＳM に応答して、レーザ３４は可変波長レーザ信号ＳLの０．０１ｎｍ刻みの変化に対応して、時間間隔が置かれた波長１３１０ｎｍのパルスの行列を生成する。こうして、変調信号ＳM は、１５２０ｎｍから１５７０ｎｍまで変化する信号ＳLとは大きく異る一つの波長を有する、１３１０ｎｍ波長レーザ３４によってパルス化された信号ＳTに変換される。信号ＳTおよびＳLが組み合わされる前に、信号ＳLはエルビウムでドーピングされたファイバ増幅器（ＥＤＦＡ）１５によって増幅される。ＥＤＦＡ１５はＤＵＴ２６についての損失測定を実行するために各局おいて十分な光学的パワーが存在することを保証するのに必要とされることもある。可変波長フィルタ１７は、レーザ信号ＳLを透過させつつも、レーザ波長以外の波長にあるＥＤＦＡ１５またはレーザ１０からの自発放出を遮断しながら、レーザ波長を追跡する。
【００２１】
波長分割多重化装置（ＷＤＭ）１６は増幅信号ＳLと前記信号ＳTを混成し、８個の試験信号を提供する１×８分離器４３に送られる混成信号ＳLＳTを生成する。こうして、一つの建物の異る場所にある８個の局４０ａ、…、４０ｈに、光学装置を試験するのに必要な信号および情報を提供することができる。図２に示された装置を使用すると、近似的に５０００データポイントに対応する１５２０ｎｍから１５７０ｎｍの範囲における０．０１ｎｍ刻みの複数の波長で一つのＤＵＴ２６を試験するのに要する時間は、近似的に１秒である。
【００２２】
図２の回路１４で示された形態では、入力信号が１５２０ｎｍから１５７０ｎｍまで掃引する際にエタロン（etalon）３１は周期的信号を提供する手段として使用される。もちろん、エタロン３１は他の適当な干渉計的手段と置き換えることもできる。さらに、ＦＲＧ３２は入力信号が１５２０ｎｍにあることの比較的正確な表示を獲得する手段として使用される。もう一度再び、入力信号ＳLが１５２０ｎｍにある時を示すために、さまざまな他の手段を考えることができる。コストおよび利用性を考慮した上で、固定されたエタロン３１およびＦＢＧ３２が選ばれる形態が好ましい。エタロン３１の特性を有する出力が、できる限り安定になるように、温度安定化手段２９が使用されることが好ましい。
【００２３】
タイミング信号ＳTは可変波長レーザ信号ＳLと組み合わせる必要はない。代りに、第２の光ファイバまたは回線を使ってそのタイミング信号ＳTを各試験局４０に送信することが可能である。信号ＳLおよびＳTが試験局への信号の分散を容易にするように組み合わされる形態が好ましい。あるいはその代替として、後述の図５および図６に示される本発明の代替的な実施形態で説明されるように、可変波長レーザ１０そのものを変調してタイミング信号ＳTを送信することも可能である。
【００２４】
可変波長レーザ信号ＳLは８つ以上の局へ分散させることが可能である。検出器２２および２４において損失測定を遂行するのに十分な光学的パワーが存在できることが制限因子となる。必要ならば、レーザ信号ＳLを可変波長フィルタ１７の後において分離して、再増幅し、そして再び分離することができる。このようにして、無制限の数の試験局を一つの可変波長レーザ１０から（提供された複数のタイミング信号ＳTを使って）操作することができる。
【００２５】
図２には、ＤＵＴ２６に送信される可変波長レーザ信号ＳLの偏波状態を制御するための光学的偏波状態制御装置２３が示されている。この偏波状態制御装置２３を使用して、システムは各波長において偏波依存損失（ＰＤＬ）を測定することが可能である。偏波状態制御装置２３は４つの偏波状態の一つに設定され、各波長におけるＤＵＴ２６の損失を測定しながら、一つの波長掃引がなされる。偏波状態制御装置２３はその後、第２の偏波状態に設定され、第２の波長掃引がなされる。各波長において、（４つの偏波状態の上での）平均損失とＰＤＬを計算するために４つの偏波状態を使用することができる。偏波依存損失を測定するためのシステムおよび方法は本出願者名義の米国特許第５，３７１，５９７号に記述されている。偏波状態制御装置２３は可変波長フィルタ１７の直後に配置させることが可能である。こうすることによって、さらに各局に偏波状態制御装置２３を置く必要をうまく回避して経済的なものとすることができる。
【００２６】
図５は本発明の代替的な実施形態を示した図である。ここでの可変波長レーザ５０は、同期制御信号を受信または供給するためのポート５３と、可変波長レーザ信号ＳLという形の可変波長光信号を供給するための出力ポート５１とを有している。周波数合成器（特定周波数を持つ信号を発生する周波数発生器）５５は、可変波長レーザ５０にて供給される同期制御信号（レーザが特定の波長であることを示すため、レーザによって生成される電圧又は電流）に応答する。可変波長レーザ５０と周波数合成器５５は、同期制御信号によって同期化を達成する。開始パルスを受信すると、周波数合成器５５は、可変波長レーザ信号ＳLを変調するために変調器５７への周波数合成信号（特定周波数を有する正弦波または方形波のような信号）の供給を開始し、それによって、可変波長レーザ信号ＳLの変動波長を示す周波数ランプという形の符号化された、または周波数変調されたレーザ信号ＳLMを生成する。なお、ここで、周波数ランプという形の符号化とは、変調信号ＳLMの変調周波数がレーザ信号ＳLの波長或いは周波数に対応することを意味している。このレーザ信号ＳLMは、その後、６０ａ〜６０ｎの出力を有する１×Ｎ分離器６０に供給される。図５に示されるように、出力６０ａは被試験装置（ＤＵＴ）６２に供給され、その後、被試験装置を通って伝搬した出力信号が解析される。信号は最初に臨界波長情報または瞬間的波長符号を取り除いて復調され、復調された試験信号ＳLから意味のある試験情報が検索される。あるいはまた、信号ＳLMをＤＵＴ６２に提供する前に復調することができる。あるいはまた、好ましいこととして、復調を必要とせずに変調信号内の符号化された波長情報を、たとえば、瞬間的な周波数を測定する周波数カウンタなどの周波数分解検出器を使って検出するようにしてもよい。あるいは、局部発振器とミクサを使用して、被変調周波数を直流電圧に変換することができる。
【００２７】
図６では、可変波長レーザ５０によって提供される信号ＳLから、波長においてそれ（信号ＳL ）に対応する周波数合成器５５への波長情報を引き出して提供するための波長情報引出手段５６が、可変波長レーザ５０と周波数合成器５５との間に配置されている。
【００２８】
図７は図６に示されたシステムの一部分を示した図であり、図６に示された手段５６は以下のような形態とされる。可変波長走査レーザ５０の出力において、信号ＳLの小さな一部分ＳLTがタップ結合器７０によって引き出される。２つの整合フィルタ７２ａと７２ｂは、５０：５０分離器７１からの傍受信号ＳLTの同一部分を受信するように配置される。また、２つの検出器７４ａと７４ｂは、それぞれフィルタ７２ａと７２ｂからの出力信号を受信するように配置される。（正および負の）逆傾斜を有するフィルタ７２ａ，７２ｂの領域が使用される。差動増幅器７６は検出器７４ａと７４ｂからの出力信号を受信し、変調器５７に信号ＳLの瞬間的な波長に比例する信号を提供するように電気的に接続される。必要ならば、線形化回路網７８を差動増幅器７６と変調器５７との間に配置するようにしてもよい。
【００２９】
図８は２つの光学フィルタ７２ａと７２ｂの出力応答を示した図である。２つの垂直な点線の間のフィルタ領域は本実施形態の利点を実現するために使用される。
【００３０】
動作に関して、図７の回路は以下の仕方で動作する。信号ＳLTは可変波長レーザ５０の出力信号ＳLから傍受され、フィルタ７２ａと７２ｂに実質的に等しく分離される。検出器７４ａと７４ｂによって検出されたパワーは差動増幅器７６に提供され、差動増幅器７６は信号ＳLの波長に実質的に比例する出力信号を提供する。必要ならば、この出力信号を線形化して、その後、信号ＳLによって波長に比例する信号を変調するためのシステムに提供するようにしてもよい。ほとんど瞬間的な波長情報を含むこの変調された掃引レーザ信号ＳLMは、その後、被試験装置６２に提供される。あるいはまた、既に記述したように、デジタルまたはアナログ変調技術のいずれかを使って、波長情報をもう一つ別の波長にある他の光キャリアの上に多重化させることも可能である。
【００３１】
図９には、波長情報を電子合成する回路が、図示されていない光受信機に掃引または変動信号ＳLのほとんど瞬間的な波長情報を通知するように提供されている。この形態では、信号ＳLはタップ結合器７０によって傍受され、傍受信号ＳLTは検出器８２への光パルスを生成するファブリ・ペロ・エタロン（Fabry Perot Ｅtalon；ＦＰＥ）８０に提供される。エタロン８０の自由スペクトル域は、複数の関心のある可変波長におけるピークを有するように選択されなければならない。電子カウンタ８６は知られている波長走査のスタートからパルス数を計数する。カウンタ８６の計数値に応答する周波数合成器８８はカウンタに記録されたパルス数を、信号ＳLの周波数に対応するほとんど瞬間的な周波数に変換する。既に説明したように、この信号を、変調器を使用して信号ＳLを変調するための変調信号として使用することができる。これに代えて、デジタルまたはアナログ変調技術のいずれかを使って、波長情報を同様の波長或いはもう一つ別の波長にある他の光キャリアの上に多重化させることも可能である。なお、図９において、８５はレーザ、８７はＷＤＭである。
【００３２】
もちろん、ここに説明することができなかった他の多数の実施形態も、本発明の精神および範囲を越えることなく実現することが可能である。
【００３３】
【発明の効果】
以上の如く、本発明によれば、遠く離れた複数の試験局において光学装置を試験するための信号を同時に生成し得て、複数の光学装置を同時に試験することができるシステムを提供することができる。すなわち、本発明の光信号生成装置によれば、一つの可変波長レーザを使って複数の場所にある複数の光学装置を効率的に試験することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の第１の実施形態に係る光信号生成装置の略ブロック図であって、可変波長レーザ信号およびタイミング信号の生成器ブロックが光学装置を試験するための信号を試験局に提供する構成を説明するためのブロック図である。
【図２】  本発明の第２の実施形態に係る光信号生成装置の略ブロック図であって、可変波長レーザ信号およびタイミング信号の生成器ブロックが信号を複数の試験局に提供する構成を説明するためのブロック図である。
【図３】  ファイバ・ブラッグ格子の出力特性のグラフを示す図である。
【図４】  本発明によるエタロンの出力特性のグラフを示す図である。
【図５】  本発明の他の実施形態による、ＦＭ変調およびタイミング信号の変調のための回路を含むブロック回路図である。
【図６】  図５に示されたものと類似するブロック回路図であって、走査レーザの出力信号波長に関する同期情報を引き出すための手段が含まれているブロック回路図である。
【図７】  同期信号を引き出すための、そして波長情報を使って走査レーザの出力信号を変調するための回路の詳細ブロック回路図である。
【図８】  ２つのフィルタの出力応答における、波長に対する振幅のグラフを示す図である。
【図９】  同期信号を引き出すための、そして波長情報を使って走査レーザの出力信号を変調するための他の回路の詳細ブロック回路図である。
【符号の説明】
８  システム
１０、５０  可変波長レーザ
１２  ５％タップ
１４  タイミング信号生成器
１６  波長分割多重化装置（ＷＤＭ）（信号結合手段）
１８  ＷＤＭフィルタ
２０  関連付け手段（波長情報決定手段）
２２、２４  検出器
２６  ＤＵＴ（被試験装置）
３０  第１のブロック
４０ａ  第２のブロック
４０ｂ  試験局
４３  分離器
５５  周波数合成器
５６  波長情報引出手段
５７  変調器
７２ａ、７２ｂ  フィルタ
【図１】
0003904711.tif 000002
【図２】
0003904711.tif 000003
【図３】
0003904711.tif 000004
【図４】
0003904711.tif 000005
【図５】
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【図６】
0003904711.tif 000007
【図７】
0003904711.tif 000008
【図８】
0003904711.tif 000009
【図９】
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