(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
インジウム溶液に沈殿剤を添加して沈殿法でＩｎ２Ｏ３粉末を製造する方法において、
２．５〜３Ｍの初期インジウムイオン濃度のインジウム溶液に、前記溶液のｐＨが５〜９になるように調節しながら塩基性沈殿剤を０．５〜４リットル／分の速度で添加してＩｎ（ＯＨ）３沈殿物を得た後、これを６００〜１１００℃でカ焼してＩｎ２Ｏ３粉末を製造することを特徴とするＩｎ２Ｏ３粉末の製造方法。
【請求項２】
前記インジウム溶液は、インジウム金属を酸で溶解させるか、インジウム含有塩を水に溶解させて得たことを特徴とする請求項１に記載のＩｎ２Ｏ３粉末の製造方法。
【請求項３】
前記インジウム含有塩は、ＩｎＣｌ３またはＩｎ（ＮＯ３）３であることを特徴とする請求項２に記載のＩｎ２Ｏ３粉末の製造方法。
【請求項４】
前記塩基性沈殿剤は、ＮＨ４ＯＨ、ＮＨ３ガス、ＮａＯＨ、ＫＯＨ、ＮＨ４ＨＣＯ３、（ＮＨ４）２ＣＯ３またはこれらの混合物であることを特徴とする請求項１に記載のＩｎ２Ｏ３粉末の製造方法。
【請求項５】
前記沈殿物をカ焼する前に前記沈殿物を洗浄及び乾燥する工程をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載のＩｎ２Ｏ３粉末の製造方法。
【請求項６】
請求項１乃至５中のいずれかの方法によって製造された、ＢＥＴ法で測定された表面積が５〜１８ｍ２／ｇであり、ＢＥＴ法で測定された平均粒径が４０〜１６０ｎｍであるＩｎ２Ｏ３粉末８０〜９５質量％及び、ＢＥＴ法で測定された表面積が１〜１６ｍ２／ｇであるＳｎＯ２粉末５〜２０質量％の混合物を成形して焼結することを特徴とするＩＴＯターゲットの製造方法。
【請求項７】
前記ＩＴＯターゲットの焼結密度は、７．００〜７．１５ｇ／ｃｍ３であることを特徴とする請求項６に記載のＩＴＯターゲットの製造方法。
【請求項８】
前記ＩＴＯターゲットの焼結温度は、１２００〜１６００℃であることを特徴とする請求項６に記載のＩＴＯターゲットの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、Ｉｎ2Ｏ3粉末、その製造方法及びインジウム錫酸化物（本明細書中、単にＩＴＯとも称する。）ターゲットの製造方法に係り、より詳細にはＬＣＤ、ＥＬ、ＦＥＤ素子のようなディスプレイ素子の高品質の透明電極層を真空蒸着するのに必要な高密度ＩＴＯターゲットを製造するのに使われうるＩｎ2Ｏ3粉末、その製造方法及びこれを使用した高密度ＩＴＯターゲットの製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｉｎ2Ｏ3とＳｎＯ2が９：１の重量比で混合されているＩＴＯフィルムは、高い伝導率と可視光線の高透過性のためにＬＣＤ、ＥＬ、ＦＥＤなどの透明電極フィルムとして多く使われている。このようなＩＴＯフィルムは、通常、ＩＴＯターゲットをスパッタリングしてガラス基板のような絶縁基板上にコーティングして形成される。ＩＴＯターゲットは、ＩＴＯ粉末を所定の形状、例えば、直方体の板状に成形して高温で焼結して得るが、スパッタリング法によって高品質のＩＴＯフィルムを基板上にコーティングするためにはＩＴＯターゲットは焼結密度が高い必要がある。なぜならば、低密度のＩＴＯターゲットを使用してスパッタリング法でＩＴＯフィルムを形成する場合、使用したターゲット表面でノジュールが形成されて生成されたＩＴＯフィルムの品質及び工程収率を低下させるからである。
【０００３】
したがって、高品質のＩＴＯ透明電極層を形成するためには高密度のＩＴＯターゲットを使用せねばならず、高密度のＩＴＯターゲットを製造するためにはＩＴＯ粉末の１次粒子の平均粒径を適当に調節する必要がある。一般的にＩＴＯ粉末の平均粒径は焼結密度と反比例するために、ターゲットの焼結密度を高めるためには粉末の平均粒径を小さく調節する必要がある。したがって、現在理論密度に近い高密度のターゲットを得るための方法として粉末をナノサイズに調節している。また高密度のターゲットを製造するためにはＩＴＯ粉末の平均粒径を小さく、かつ均一に調節せねばならないが、その理由は次の通りである。ＩＴＯ粉末の１次粒子の平均粒径があまりに微細であれば粒子の比表面積が大きくなって焼結密度を高めるための駆動力は大きくなるが、水酸化物のカ焼後に粒子の粉砕が難しく、ターゲット成形時に粒子間に残留する微細な気孔の増加で応力が発生して平均粒径が大きい成形体を得難い。一方、ＩＴＯ粉末の１次粒子の平均粒径が大きすぎれば粉末の流動性及び成形性には優れるが、粒子焼結に必要な駆動力があまりに小さく、粒子間に残留する気孔があまりに粗大で気孔を除去するのに多くのエネルギーを必要とする。前記のような理由のため、高密度ＩＴＯターゲットを製造するためには平均粒径が一定範囲内で微細であり、粒子の分布が稠密で２次粒子の粉砕が容易な粉末を製造せねばならない。
【０００４】
一般的に微細粉末を合成する方法のうち公知の気相法は、ナノサイズの粉末を合成できる方法として現在注目されているが、量産が難しくて特殊な粉末の少量合成にのみ制限的に使われている。また粉末を合成した後に再び小さく粉砕して平均粒径を小さくする方法は、粉末の１次粒子を制御することではなく１次粒子が集まって得られた２次粒子の平均粒径を制御する方法であって、１次粒子の平均粒径を変えられない。
【０００５】
したがって、量産のための粉末合成法では一般的に液状法を利用するが、その中でも沈殿剤を使用して溶液中の金属イオンを沈殿させることによって粉末を得る沈殿法がＩＴＯ粉末を製造する一般的な方法として使われている。
【０００６】
沈殿法で得られた粉末の特性は、溶液濃度、反応ｐＨ、反応温度、沈殿剤の種類、沈殿剤の添加速度に依存する。すなわち、特許公開公報には、沈殿剤を変化させてＩｎ2Ｏ3粉末を合成する方法を開示しているが、沈殿剤の種類を特定していない（例えば、特許文献１参照。）。米国特許公報では、沈殿剤の添加速度と添加方法を変化させながらインジウム溶液濃度の約３倍濃度の沈殿剤を使用してＩｎ2Ｏ3粉末を製造する方法を開示しているが、理論密度の９９．５％以上のターゲットを生産できない問題点がある（例えば、特許文献２参照。）。また別の米国特許公報には、ｐＨ７〜１２の反応溶液及び約１５〜２５℃の時効温度（aging temperature）の条件でＩｎ2Ｏ3粉末を製造する方法を開示しているが（例えば、特許文献３参照。）、本発明では時効条件（aging condition）に依存せずに初期反応濃度調節で特定粒径の粒子を有するＩｎ2Ｏ3粉末を合成する方法を提示している。さらに別の米国特許公報は、共沈法によるＩＴＯ粉末の製造方法に係り、この特許発明はｐＨ４〜６の反応溶液、及び４０〜１００℃の沈殿反応温度の条件で粉末沈殿条件を変更させて平均粒径１００〜５００ｎｍのＩｎ2Ｏ3粉末を製造する方法を開示しているが、粉末の平均粒径が大きくて焼結密度増加に限界がある問題点がある（例えば、特許文献４参照。）。また他の米国特許公報には、３５〜４０℃の沈殿反応温度で沈殿剤として（ＮＨ4）2ＣＯ3を使用してＩｎ2Ｏ3粉末を製造する方法を開示しているが、この製造法で得た粉末でＩＴＯターゲットを製造する時に理論密度の９９．５％以上の焼結密度を得られない（例えば、特許文献５参照。）。さらに他の米国特許公報には、ｐＨ６．８〜７．５の反応溶液で沈殿剤としてＮＨ4ＯＨを使用してＩｎ2Ｏ3粉末を製造する方法を開示しているが、カ焼後に再び還元雰囲気で熱処理して特定の結晶構造を有するように合成している（例えば、特許文献６参照。）。
【０００７】
しかしながら、本発明者らは、多くの実験及び検討を通じてインジウム溶液の濃度も沈殿によって得られるＩｎ2Ｏ3粉末の特性を決定づける重要な因子であるということを見つけたが、前記特許公報では沈殿反応がおきるインジウム溶液の濃度について特別な言及がない。したがって、インジウム溶液のｐＨ、沈殿反応がおきる温度、沈殿剤の種類と沈殿剤の添加速度などが同じ条件でＩｎ2Ｏ3粉末を合成してもＩｎ2Ｏ3粉末の表面積及び平均粒径を調節し難くて、これによって製造されたＩｎ2Ｏ3粉末を使用して高密度のＩＴＯターゲットを製造することは困難であった。
【０００８】
【特許文献１】
特開平１０−１８２１５０号公報
【特許文献２】
米国特許第５，４０１，７０１号明細書
【特許文献３】
米国特許第５，８６６，４９３号明細書
【特許文献４】
米国特許第６，０５１，１６６号明細書
【特許文献５】
米国特許第６，０９９，９８２号明細書
【特許文献６】
米国特許第６，０９６，２８５号明細書
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】
したがって、本発明が解決しようとする技術的課題は、沈殿反応温度、インジウム溶液のｐＨ、Ｉｎ2Ｏ3沈殿物のカ焼温度などの条件だけでなくインジウム溶液の濃度をこれら条件と共に総合的にかつ精密に制御することによって、高密度のＩＴＯターゲットを製造するのに使われるＩｎ2Ｏ3粉末とその製造方法を提供することにある。
【００１０】
本発明が解決しようとする他の技術的課題は、このように製造されたＩｎ2Ｏ3粉末を利用して焼結密度が７．００ないし７．１５ｇ／ｃｍ3のＩＴＯターゲットの製造方法を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
前記技術的課題を達成するために本発明は、ＢＥＴ法で測定された表面積が５〜１８ｍ2／ｇであり、ＢＥＴ法で測定された平均粒径が４０〜１６０ｎｍであることを特徴とするＩｎ2Ｏ3粉末を提供する。
【００１２】
前記技術的課題を達成するために本発明はまた、インジウム溶液に沈殿剤を添加して沈殿法でＩｎ2Ｏ3粉末を製造する方法において、２〜５Ｍの初期インジウムイオン濃度のインジウム溶液に、前記溶液のｐＨが５〜９になるように調節しながら塩基性沈殿剤を０．５〜４リットル／分の速度で添加してＩｎ（ＯＨ）3沈殿物を得た後、これを６００〜１１００℃でカ焼してＩｎ2Ｏ3粉末を製造することを特徴とするＩｎ2Ｏ3粉末の製造方法を提供する。
【００１３】
本発明によるＩｎ2Ｏ3粉末の製造方法において、前記インジウム溶液は、インジウム金属を酸で溶解させるか、インジウム含有塩を水に溶解させて得られる。前記インジウム含有塩は、ＩｎＣｌ3またはＩｎ（ＮＯ3）3であることが望ましい。
【００１４】
本発明によるＩｎ2Ｏ3粉末の製造方法において、前記塩基性沈殿剤は、ＮＨ4ＯＨ、ＮＨ3ガス、ＮａＯＨ、ＫＯＨ、ＮＨ4ＨＣＯ3、（ＮＨ4）2ＣＯ3またはこれらの混合物であることが望ましい。
【００１５】
本発明によるＩｎ2Ｏ3粉末の製造方法において、前記沈殿物をカ焼する前に前記沈殿物を洗浄及び乾燥する工程をさらに含むことが望ましい。
【００１６】
前記技術的課題を達成するために本発明は、ＢＥＴ法で測定された表面積が５〜１８ｍ2／ｇであり、ＢＥＴ法で測定された平均粒径が４０〜１６０ｎｍであるＩｎ2Ｏ3粉末８０〜９５質量％及び、ＢＥＴ法で測定された表面積が１〜１６ｍ2／ｇであるＳｎＯ2粉末５〜２０質量％の混合物を成形して焼結することを特徴とするＩＴＯターゲットの製造方法を提供する。
【００１７】
本発明によるＩＴＯターゲットの製造方法において、前記ＩＴＯターゲットの焼結温度は、１２００〜１６００℃であることが望ましく、これにより、焼結密度７．０〜７．１５ｇ／ｃｍ3のＩＴＯターゲットを容易に得られ、これにより得られたＩＴＯターゲットを使用すればＬＣＤ、ＥＬ、ＦＥＤ素子のようなディスプレイ素子の高品質の透明電極を容易に形成できる。
【００１８】
【発明の実施の形態】
以下、本発明によるＩｎ2Ｏ3粉末、その製造方法及びこれを使用したＩＴＯターゲットの製造方法について詳細に説明する。
【００１９】
本発明者は、沈殿反応温度、インジウム溶液のｐＨ、Ｉｎ2Ｏ3沈殿物のカ焼温度などの条件だけでなくインジウム溶液の濃度をこれら条件と共に総合的にかつ精密に制御してこそ高密度のＩＴＯターゲットを製造するのに使われうる微細で均一で、かつ高純度のＩｎ2Ｏ3粉末を製造できることを、多くの実験と鋭意検討を通じて見つけて本発明を完成するに至った。
【００２０】
微細で均一で、かつ高純度のＩｎ2Ｏ3粉末を製造するためにはインジウム溶液の濃度も重要な制御因子として考慮せねばならないが、その理由は次の通りである。すなわち、沈殿法で粒子の形成メカニズムを調べれば、反応溶液に沈殿剤が添加され始めることで溶液中に沈殿核が生成される。この核は、互いに衝突を通じて大きくなって１次粒子に成長する。このような１次粒子はナノサイズの粉末を意味する。このような沈殿メカニズムの観点からみると、溶液濃度は、沈殿時の沈殿核の個数と衝突の確率を支配して平均粒径と形状に影響を及ぼす。すなわち、高濃度の反応溶液では沈殿核の衝突可能性が高いので、低濃度の反応溶液を用いて得られる場合に比べて、より大きい粒子が形成でき、多様な形態の衝突によって粒子はいろいろな形状に沈殿される。特にＩＴＯ焼結体の密度を高めるためには球状の粒子を得ることが重要である。このような事実は沈殿条件のうち濃度調節が重要であることを示唆している。特に、インジウム溶液中に沈殿剤を添加してＩｎ2Ｏ3粉末を得る場合には、初期インジウム濃度によって沈殿剤の流入時に形成される粒子の形状と平均粒径が左右される。したがって、本発明は、初期インジウム溶液の濃度を一定に調節することによって高密度のＩＴＯターゲットを焼結できる球状の特定粒径及び表面積を有するＩｎ2Ｏ3粉末を製造できる方法を提供する。また、本発明の方法によって得られた特定粒径及び表面積を有するＩｎ2Ｏ3粉末と混合時にもっとも高い焼結密度のＩＴＯターゲットを得られるＳｎＯ2粉末の平均粒径を限定して高密度のＩＴＯターゲットを製造できる方法も提供する。
【００２１】
以下、まず図１を参照しながら本発明の一態様によるＩｎ2Ｏ3粉末の製造工程をより詳細に説明する。
【００２２】
図１は、本発明の一態様によるＩｎ2Ｏ3粉末の製造工程のフローチャートを示す。図１を参照すれば、Ｉｎ2Ｏ3粉末製造の原料としてはインジウム金属以外にＩｎＣｌ3、Ｉｎ（ＮＯ3）3などインジウムを含有する各種塩をいずれも使用できる（段階１）。インジウム金属を使用する場合にはインジウム金属を硝酸のような酸に溶解してインジウム溶液として使用し、インジウム含有塩を使用する場合には前記塩を蒸溜水に溶解してインジウム溶液として使用する（段階３）。本発明では、この場合に初期インジウムイオンの濃度を２〜５Ｍになるように厳密に制御する。インジウムイオンの濃度が２Ｍ未満であれば沈殿反応の時間が長くなって収率が低くなる問題点があり、インジウムイオンの濃度が５Ｍを超過すれば沈殿時にスラリー濃度が濃くなって沈殿剤と混合されずに不均一な粒子が生成される問題点があることが明らかになった。
【００２３】
次いで、前記で得られたインジウム溶液に塩基性沈殿剤を添加してＩｎ（ＯＨ）3沈殿物の形に沈殿させる（段階５）。塩基性沈殿剤の種類は制限されず、ＮＨ4ＯＨ、ＮＨ3ガス、ＮａＯＨ、ＫＯＨ、ＮＨ4ＨＣＯ3、（ＮＨ4）2ＣＯ3またはこれらの混合物が望ましく使われる。この時、沈殿剤の添加速度は、０．５〜４リットル／分に調節する。０．５リットル／分未満であれば沈殿反応時間が長くなり、４リットル／分を超過すれば沈殿剤が均一に混合されずに溶液内で部分沈殿が起きて沈殿粒子が不規則な形態を有する問題点がある。なお、沈殿剤の種類にもよるが、該沈殿剤の添加の形態は、通常、水溶液の形態でインジウム溶液に添加すればよいが、ガス形態のままインジウム溶液中に添加（吹き込む）する場合を含む。
【００２４】
一方、沈殿反応においてインジウム溶液のｐＨは、５〜９に調節される。ｐＨ５未満であれば沈殿粒子があまり微細になり、ｐＨ９を超過すればろ過液にＯＨ基が多く残って環境的な面で望ましくない。
【００２５】
引続き、沈殿物を時効（age；放置することを意味する。）して遠心分離器を通じて分離した後に蒸留水により洗浄する（段階７）。時効時間は特に制限されないが、１２時間以上行えば十分である。次いで、洗浄された沈殿物をオーブンで乾燥（段階９）、粉砕し、粉砕された粉末を電気炉でカ焼（段階１１）してＩｎ2Ｏ3粉末を得る。このとき、乾燥は空気中でなされ、乾燥温度は水の乾燥が可能な温度であればよく、乾燥時間は１２時間以上が望ましい。また、カ焼は空気中でなされ、カ焼温度は６００〜１１００℃に調節する。カ焼温度が６００℃未満であればＩｎ2Ｏ3粉末の平均粒径があまりに微細になり、１１００℃を超過すればＩｎ2Ｏ3粉末が焼結される問題点が現れる。
【００２６】
以上のような本発明のＩｎ2Ｏ3粉末の製造方法によれば、ＢＥＴ法で測定された表面積が５〜１８ｍ2／ｇであり、ＢＥＴ法で測定された平均粒径が４０〜１６０ｎｍであるＩｎ2Ｏ3粉末を容易に得られる。Ｉｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法で測定された表面積が５ｍ2／ｇ未満であれば（ＢＥＴ法で測定された平均粒径が１６０ｎｍを超過すれば）、１次粒子（Ｉｎ2Ｏ3粉末）があまりに大きく高い焼結密度を得るための駆動力が足りなく、１８ｍ2／ｇを超過すれば（ＢＥＴ法で測定された平均粒径が４０ｎｍ未満であれば）、１次粒子（Ｉｎ2Ｏ3粉末）があまりに微細で成形時に問題点が発生して、高い成形密度を得難くて結果的に高い焼結密度を得難い。
【００２７】
次いで、前記のような本発明の製造方法によって得られたものとして、ＢＥＴ法で測定された表面積が５〜１８ｍ2／ｇであり、またＢＥＴ法で測定された平均粒径が４０〜１６０ｎｍであるＩｎ2Ｏ3粉末を利用して高密度のＩＴＯターゲットを製造する方法について説明する。
【００２８】
図２は、本発明で製造されたＩｎ2Ｏ3粉末とＳｎＯ2粉末を混合してＩＴＯターゲットを製造する工程のフローチャートを示す。
【００２９】
図２を参照すれば、まず本発明で製造されたＩｎ2Ｏ3粉末８０〜９５質量％及び、ＢＥＴ法で測定された表面積が１〜１６ｍ2／ｇ、望ましくはＢＥＴ法で測定された表面積が４〜１５ｍ2／ｇであるＳｎＯ2粉末５〜２０質量％をとってボールミリングなどの混合方法を通じて混合された粉末（混合物）を得る（段階１５）。ここで、Ｉｎ2Ｏ3粉末が８０質量％未満の場合にはターゲット製造後スパッタリングしたガラス板の伝導度が低まり、９５質量％を超える場合には製造コストがアップする。ＳｎＯ2粉末が５質量％未満の場合にはインジウム量が相対的に多くなって製造コストがアップし、２０質量％を超える場合にはターゲット製造後スパッタリングしたガラス板の伝導度が低くなる。ＳｎＯ2粉末の表面積が１ｍ2／ｇ未満の場合にはＩｎ2Ｏ3粉末との均一混合が難しく、１６ｍ2／ｇを超える場合にはＩｎ2Ｏ3粉末との均一混合が難しくなる現象が現れる。次いで、混合された粉末（混合物）を乾燥して直方体の板状のターゲットとして成形する（段階１７）。乾燥には、スプレードライヤ等を用いることができる。引続き、この成形物を１２００〜１６００℃の焼結炉で熱処理してＩＴＯターゲットを得る（段階１９）。最終的に得られたＩＴＯターゲットの焼結密度をアルキメデスの原理を用いて測定して特性を評価する。焼結温度が１２００℃未満であれば焼結時に両酸化物が完全な固溶体を形成し難いだけでなく高い焼結密度を得るためのエネルギーが足りない。１６００℃を超過すれば両酸化物の相変化と焼結のための十分のエネルギーが供給されるが、Ｉｎ2Ｏ3、ＳｎＯ2は高温で揮発性があって高温で長時間焼結時にターゲットの収率が低くなる。なお、最終的に得られたＩＴＯターゲットの特性評価としては、焼結密度が高密度、具体的には７．０〜７．１５ｇ／ｃｍ3であるのが好ましい。ＩＴＯターゲットの焼結密度が７．０ｇ／ｃｍ3未満の場合にはスパッタリング後作られるガラス板の伝導度が落ちる可能性があり、スパッタリング時ターゲットの使用効率が低まる。なお、７．１５ｇ／ｃｍ3は理論密度に該当する。
【００３０】
【実施例】
次いで、実施例を通じて本発明によるＩｎ2Ｏ3粉末の製造方法及びＩＴＯターゲットの製造方法を詳細に説明するが、下記実施例は本発明による製造方法をより具体的に説明するための例示的なものであって、本発明の範囲がこれによって制限されないのはもちろんである。
【００３１】
＜ＳｎＯ2粉末の合成＞
まず、実施例１〜６及び比較例１〜７でＩｎ2Ｏ3粉末と混合してＩＴＯターゲットを焼結するのに使用するＳｎＯ2粉末の合成法を説明する。ＳｎＣｌ4を蒸溜水に溶かして１．０Ｍ濃度の錫イオン溶液を得、この溶液にＯＨ基を有する沈殿剤（Ｉｎ2Ｏ3製造時に使用したものと同じ沈殿剤を使用した。）を１リットル／分の速度で添加してＳｎ（ＯＨ）X沈殿物を得た。このＳｎ（ＯＨ）X沈殿物を２０〜２４時間時効した。時効後に沈殿物を遠心分離器を通じて分離して蒸溜水で洗浄した。１００℃オーブンで沈殿物を乾燥した後に粉砕し、７００℃の電気炉で２時間カ焼してＳｎＯ2粉末を得た。このようにして得られたＳｎＯ2粉末のＢＥＴ法で測定した表面積は１０ｍ2／ｇであり、ＳｎＯ2粉末のＢＥＴ法で測定した平均粒径は８６ｎｍであった。
【００３２】
＜実施例１＞
まず、インジウムイオンの濃度を２．５Ｍにする量のＩｎ（ＮＯ3）3をとって蒸溜水に溶解した。この溶液に沈殿剤として２８体積％  ＮＨ4ＯＨ水溶液を２リットル／分の速度で添加してＩｎ（ＯＨ）3沈殿物を得た。この沈殿反応において溶液のｐＨは８になるように調節した。このようにして得られた沈殿物を１８〜２４時間時効した後、遠心分離器を通じて分離して蒸溜水で洗浄した。洗浄後、１００℃のオーブンで沈殿物を乾燥した後、乾燥された粉末をボールミリングして粉砕した。引続き、粉砕された粉末を７００℃の電気炉で２時間カ焼した。得られたＩｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法によって測定した表面積は１８ｍ2／ｇであり、Ｉｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法で測定した平均粒径は４６ｎｍであった。
【００３３】
このようにして得たＩｎ2Ｏ3粉末を、ＢＥＴ法による表面積が１０ｍ2／ｇである上記ＳｎＯ2粉末と重量比９０：１０になるように混合した粉末（混合物）を成形フレームに入れて所定の形状に成形した後、１２００〜１６００℃で焼結した。このようにして得られた横２０ｃｍ×縦１５ｃｍ×高さ１ｃｍのＩＴＯターゲットの焼結密度は、７．１３ｇ／ｃｍ3であった。
【００３４】
＜実施例２＞
６０体積％濃度の濃硝酸１リットルにインジウム金属２８７．２ｇを入れて全部溶解して３Ｍ濃度のＩｎ（ＮＯ3）3溶液を得た。この溶液に沈殿剤として２８体積％  ＮＨ4ＯＨ水溶液を２リットル／分の速度で添加してＩｎ（ＯＨ）3沈殿物を得た。この沈殿反応において溶液のｐＨは８になるように調節した。このようにして得られた沈殿物を１８〜２４時間時効した後、遠心分離器を通じて分離して蒸溜水で洗浄した。洗浄後に１００℃のオーブンで沈殿物を乾燥した後、乾燥された粉末をボールミリングして粉砕した。引続き、粉砕された粉末を８００℃の電気炉で２時間カ焼した。得られたＩｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法によって測定した表面積は１７ｍ2／ｇであり、Ｉｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法で測定した平均粒径は４９ｎｍであった。
【００３５】
このようにして得たＩｎ2Ｏ3粉末を、ＢＥＴ法による表面積が１０ｍ2／ｇである上記ＳｎＯ2粉末と重量比９０：１０になるように混合した粉末（混合物）を成形フレームに入れて所定の形状に成形した後に、１２００〜１６００℃で焼結した。このようにして得られた横２０ｃｍ×縦１５ｃｍ×高さ１ｃｍのＩＴＯターゲットの焼結密度は、７．１４ｇ／ｃｍ3であった。
【００３６】
＜実施例３＞
インジウムイオンの濃度を２．５Ｍにする量のＩｎ（ＮＯ3）3をとって蒸溜水に溶解した。この溶液に沈殿剤として２８体積％  ＮＨ4ＯＨ水溶液を２リットル／分の速度で添加してＩｎ（ＯＨ）3沈殿物を得た。この沈殿反応において、沈殿反応の終了時に溶液のｐＨは８になるように調節した。このようにして得られた沈殿物を１８〜２４時間時効した後、遠心分離器を通じて分離して蒸溜水で洗浄した。洗浄後、１００℃のオーブンで沈殿物を乾燥した後、乾燥された粉末をボールミリングして粉砕した。引続き、粉砕された粉末を８００℃の電気炉で２時間カ焼した。得られたＩｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法によって測定した表面積は１６ｍ2／ｇであり、Ｉｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法で測定した平均粒径は５２ｎｍであった。
【００３７】
このようにして得たＩｎ2Ｏ3粉末を、ＢＥＴ法による表面積が１０ｍ2／ｇである上記ＳｎＯ2粉末と重量比９０：１０になるように混合した粉末（混合物）を成形フレームに入れて所定の形状に成形した後で、１２００〜１６００℃で焼結した。このようにして得られた横２０ｃｍ×縦１５ｃｍ×高さ１ｃｍのＩＴＯターゲットの焼結密度は、７．０８ｇ／ｃｍ3であった。
【００３８】
＜実施例４＞
インジウムイオンの濃度を３．０Ｍにする量のＩｎ（ＮＯ3）3をとって蒸溜水に溶解した。この溶液に沈殿剤として２８体積％  ＮＨ4ＯＨ水溶液を２リットル／分の速度で添加してＩｎ（ＯＨ）3沈殿物を得た。この沈殿反応において、沈殿反応の終了時に溶液のｐＨは７になるように調節した。このようにして得られた沈殿物を攪拌した後、１８〜２４時間時効して遠心分離器を通じて分離して蒸溜水で洗浄した。洗浄後、１００℃のオーブンで沈殿物を乾燥した後、乾燥された粉末をボールミリングして粉砕した。引続き、粉砕された粉末を８００℃の電気炉で２時間カ焼した。得られたＩｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法によって測定した表面積は１４ｍ2／ｇであり、Ｉｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法で測定した平均粒径は６０ｎｍであった。
【００３９】
このようにして得たＩｎ2Ｏ3粉末を、ＢＥＴ法による表面積が１０ｍ2／ｇである上記ＳｎＯ2粉末と重量比９０：１０になるように混合した粉末（混合物）を成形フレームに入れて所定の形状に成形した後で、１２００〜１６００℃で焼結した。このようにして得られた横２０ｃｍ×縦１５ｃｍ×高さ１ｃｍのＩＴＯターゲットの焼結密度は、７．１０ｇ／ｃｍ3であった。
【００４０】
＜実施例５＞
インジウムイオンの濃度を２．５Ｍにする量のＩｎ（ＮＯ3）3をとって蒸溜水に溶解した。この溶液に沈殿剤として２８体積％  ＮＨ4ＯＨ水溶液を２リットル／分の速度で添加してＩｎ（ＯＨ）3沈殿物を得た。この沈殿反応において、沈殿反応の終了時に溶液のｐＨは７になるように調節した。このようにして得られた沈殿物を攪拌した後、１８〜２４時間時効して遠心分離器を通じて分離して蒸溜水で洗浄した。洗浄後、１００℃のオーブンで沈殿物を乾燥した後、乾燥された粉末をボールミリングして粉砕した。引続き、粉砕された粉末を８５０℃の電気炉で２時間カ焼した。得られたＩｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法によって測定した表面積は１１ｍ2／ｇであり、Ｉｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法で測定した平均粒径は７６ｎｍであった。
【００４１】
このようにして得たＩｎ2Ｏ3粉末を、ＢＥＴ法による表面積が１０ｍ2／ｇである上記ＳｎＯ2粉末と重量比９０：１０になるように混合した粉末（混合物）を成形フレームに入れて所定の形状に成形した後で、１２００〜１６００℃で焼結した。このようにして得られた横２０ｃｍ×縦１５ｃｍ×高さ１ｃｍのＩＴＯターゲットの焼結密度は、７．１３ｇ／ｃｍ3であった。
【００４２】
＜実施例６＞
インジウムイオンの濃度を２．５Ｍにする量のＩｎ（ＮＯ3）3をとって蒸溜水に溶解した。この溶液に沈殿剤として２８体積％  ＮＨ4ＯＨ水溶液を２リットル／分の速度で添加してＩｎ（ＯＨ）3沈殿物を得た。この沈殿反応において、沈殿反応の終了時に溶液のｐＨは７になるように調節した。このようにして得られた沈殿物を攪拌した後、１８〜２４時間時効して遠心分離器を通じて分離して蒸溜水で洗浄した。洗浄後、１００℃のオーブンで沈殿物を乾燥した後、乾燥された粉末をボールミリングして粉砕した。引続き、粉砕された粉末を８５０℃の電気炉で２時間カ焼した。得られたＩｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法によって測定した表面積は１２ｍ2／ｇであり、Ｉｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法で測定した平均粒径は７０ｎｍであった。
【００４３】
このようにして得たＩｎ2Ｏ3粉末を、ＢＥＴ法による表面積が１０ｍ2／ｇである上記ＳｎＯ2粉末と重量比９０：１０になるように混合した粉末（混合物）を成形フレームに入れて所定の形状に成形した後で、１２００〜１６００℃で焼結した。このようにして得られた横２０ｃｍ×縦１５ｃｍ×高さ１ｃｍのＩＴＯターゲットの焼結密度は、７．１２ｇ／ｃｍ3であった。
【００４４】
＜比較例１＞
インジウムイオンの濃度を１．０Ｍにする量のＩｎ（ＮＯ3）3をとって蒸溜水に溶解した。この溶液に沈殿剤として２８体積％  ＮＨ4ＯＨ水溶液を２リットル／分の速度で添加してＩｎ（ＯＨ）3沈殿物を得た。この沈殿反応において、沈殿反応の終了時に溶液のｐＨは８になるように調節した。このようにして得られた沈殿物を攪拌した後、１８〜２４時間時効して遠心分離器を通じて分離して蒸溜水で洗浄した。洗浄後、１００℃のオーブンで沈殿物を乾燥した後、乾燥された粉末をボールミリングして粉砕した。引続き、粉砕された粉末を７００℃の電気炉で２時間カ焼した。得られたＩｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法によって測定した表面積は２５ｍ2／ｇであり、Ｉｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法で測定した平均粒径は３４ｎｍであった。
【００４５】
このようにして得たＩｎ2Ｏ3粉末を、ＢＥＴ法による表面積が１０ｍ2／ｇである上記ＳｎＯ2粉末と重量比９０：１０になるように混合した粉末（混合物）を成形フレームに入れて所定の形状に成形した後で、１２００〜１６００℃で焼結した。このようにして得られたＩＴＯターゲットの焼結密度は、６．９１ｇ／ｃｍ3であった。
【００４６】
＜比較例２＞
インジウムイオンの濃度を２．５Ｍにする量のＩｎ（ＮＯ3）3をとって蒸溜水に溶解した。この溶液に沈殿剤として２８体積％  ＮＨ4ＯＨ水溶液を０．０５リットル／分の速度で添加してＩｎ（ＯＨ）3沈殿物を得た。この沈殿反応において、沈殿反応の終了時に溶液のｐＨは８になるように調節した。このようにして得られた沈殿物を攪拌した後、１８〜２４時間時効して遠心分離器を通じて分離して蒸溜水で洗浄した。洗浄後、１００℃のオーブンで沈殿物を乾燥した後、乾燥された粉末をボールミリングして粉砕した。引続き、粉砕された粉末を７００℃の電気炉で２時間カ焼した。得られたＩｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法によって測定した表面積は３０ｍ2／ｇであり、Ｉｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法で測定した平均粒径は２８ｎｍであった。
【００４７】
このようにして得たＩｎ2Ｏ3粉末を、ＢＥＴ法による表面積が１０ｍ2／ｇである上記ＳｎＯ2粉末と重量比９０：１０になるように混合した粉末（混合物）を成形フレームに入れて所定の形状に成形した後で、１２００〜１６００℃で焼結した。このようにして得られたＩＴＯターゲットの焼結密度は、６．３０ｇ／ｃｍ3であった。
【００４８】
＜比較例３＞
インジウムイオンの濃度を２．５Ｍにする量のＩｎ（ＮＯ3）3をとって蒸溜水に溶解した。この溶液に沈殿剤として２８体積％  ＮＨ4ＯＨ水溶液を２リットル／分の速度で添加してＩｎ（ＯＨ）3沈殿物を得た。この沈殿反応において、沈殿反応の終了時に溶液のｐＨは４になるように調節した。このようにして得られた沈殿物を攪拌した後、１８〜２４時間時効して遠心分離器を通じて分離して蒸溜水で洗浄した。洗浄後、１００℃のオーブンで沈殿物を乾燥した後、乾燥された粉末をボールミリングして粉砕した。引続き、粉砕された粉末を７００℃の電気炉で２時間カ焼した。得られたＩｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法によって測定した表面積は２３ｍ2／ｇであり、Ｉｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法で測定した平均粒径は３６ｎｍであった。
【００４９】
このようにして得たＩｎ2Ｏ3粉末を、ＢＥＴ法による表面積が１０ｍ2／ｇである上記ＳｎＯ2粉末と重量比９０：１０になるように混合した粉末（混合物）を成形フレームに入れて所定の形状に成形した後で、１２００〜１６００℃で焼結した。このようにして得られたＩＴＯターゲットの焼結密度は、６．６０ｇ／ｃｍ3であった。
【００５０】
＜比較例４＞
インジウムイオンの濃度を２．５Ｍにする量のＩｎ（ＮＯ3）3をとって蒸溜水に溶解した。この溶液に沈殿剤として２８体積％  ＮＨ4ＯＨ水溶液を２リットル／分の速度で添加してＩｎ（ＯＨ）3沈殿物を得た。この沈殿反応において、沈殿反応の終了時に溶液のｐＨは８になるように調節した。このようにして得られた沈殿物を攪拌した後、１８〜２４時間時効して遠心分離器を通じて分離して蒸溜水で洗浄した。洗浄後、１００℃のオーブンで沈殿物を乾燥した後、乾燥された粉末をボールミリングして粉砕した。引続き、粉砕された粉末を５００℃の電気炉で２時間カ焼した。得られたＩｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法によって測定した表面積は３２ｍ2／ｇであり、Ｉｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法で測定した平均粒径は２６ｎｍであった。
【００５１】
このようにして得たＩｎ2Ｏ3粉末を、ＢＥＴ法による表面積が１０ｍ2／ｇである上記ＳｎＯ2粉末と重量比９０：１０になるように混合した粉末（混合物）を成形フレームに入れて所定の形状に成形した後で、１２００〜１６００℃で焼結した。このようにして得られたＩＴＯターゲットの焼結密度は、６．４８ｇ／ｃｍ3であった。
【００５２】
＜比較例５＞
インジウムイオンの濃度を５．５Ｍにする量のＩｎ（ＮＯ3）3をとって蒸溜水に溶解した。この溶液に沈殿剤として２８体積％  ＮＨ4ＯＨ水溶液を２リットル／分の速度で添加してＩｎ（ＯＨ）3沈殿物を得た。この沈殿反応において、沈殿反応の終了時に溶液のｐＨは８になるように調節した。反応液の濃度が高くてスラリーの粘度が非常に高かった。このようにして得られた沈殿物を攪拌した後、１８〜２４時間時効して遠心分離器を通じて分離して蒸溜水で洗浄した。洗浄後、１００℃のオーブンで沈殿物を乾燥した後、乾燥された粉末をボールミリングして粉砕した。引続き、粉砕された粉末を８００℃の電気炉で２時間カ焼した。得られたＩｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法によって測定した表面積は４．５ｍ2／ｇであり、Ｉｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法で測定した平均粒径は１８７ｎｍであった。
【００５３】
このようにして得たＩｎ2Ｏ3粉末を、ＢＥＴ法による表面積が１０ｍ2／ｇである上記ＳｎＯ2粉末と重量比９０：１０になるように混合した粉末（混合物）を成形フレームに入れて所定の形状に成形した後で、１２００〜１６００℃で焼結した。このようにして得られたＩＴＯターゲットの焼結密度は、６．１８ｇ／ｃｍ3であった。
【００５４】
＜比較例６＞
インジウムイオンの濃度を２．５Ｍにする量のＩｎ（ＮＯ3）3をとって蒸溜水に溶解した。この溶液に沈殿剤として２８体積％  ＮＨ4ＯＨ水溶液を２リットル／分の速度で添加してＩｎ（ＯＨ）3沈殿物を得た。この沈殿反応において、沈殿反応の終了時に溶液のｐＨは８になるように調節した。このようにして得られた沈殿物を攪拌した後、１８〜２４時間時効して遠心分離器を通じて分離して蒸溜水で洗浄した。洗浄後、１００℃のオーブンで沈殿物を乾燥した後、乾燥された粉末をボールミリングして粉砕した。引続き、粉砕された粉末を１２００℃の電気炉で２時間カ焼した。得られたＩｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法によって測定した表面積は４．３ｍ2／ｇであり、Ｉｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法で測定した平均粒径は１９５ｎｍであった。
【００５５】
このようにして得たＩｎ2Ｏ3粉末を、ＢＥＴ法による表面積が１０ｍ2／ｇである上記ＳｎＯ2粉末と重量比９０：１０になるように混合した粉末（混合物）を成形フレームに入れて所定の形状に成形した後で、１２００〜１６００℃で焼結した。このようにして得られたＩＴＯターゲットの焼結密度は、６．５１ｇ／ｃｍ3であった。
【００５６】
＜比較例７＞
インジウムイオンの濃度を３．０Ｍにする量のＩｎ（ＮＯ3）3をとって蒸溜水に溶解した。この溶液に沈殿剤として２８体積％  ＮＨ4ＯＨ水溶液を２リットル／分の速度で添加してＩｎ（ＯＨ）3沈殿物を得た。この沈殿反応において、沈殿反応の終了時に溶液のｐＨは１０になるように調節した。このようにして得られた沈殿物を攪拌した後、１８〜２４時間時効して遠心分離器を通じて分離して蒸溜水で洗浄した。洗浄時にアンモニアの臭いが強かった。洗浄後、１００℃のオーブンで沈殿物を乾燥した後、乾燥された粉末をボールミリングして粉砕した。引続き、粉砕された粉末を８００℃の電気炉で２時間カ焼した。カ焼後に粉末を走査電子顕微鏡（ＳＥＭ）で測定した結果、粒子が大きく成長したことが分かった。得られたＩｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法によって測定した表面積は３１ｍ2／ｇであり、Ｉｎ2Ｏ3粉末のＢＥＴ法で測定した平均粒径は２７ｎｍであった。
【００５７】
このようにして得たＩｎ2Ｏ3粉末を、ＢＥＴ法による表面積が１０ｍ2／ｇである上記ＳｎＯ2粉末と重量比９０：１０になるように混合した粉末（混合物）を成形フレームに入れて所定の形状に成形した後で、１２００〜１６００℃で焼結した。このようにして得られたＩＴＯターゲットの焼結密度は、６．６７ｇ／ｃｍ3であった。
【００５８】
【表１】
0003936655.tif 000002
【００５９】
表１は、実施例１〜６及び比較例１〜７で合成されたＩＴＯターゲットの焼結密度、合成条件などをまとめたものである。表１を参照すれば、沈殿剤の添加速度、インジウム溶液のｐＨ、カ焼温度だけでなくインジウム溶液の濃度を調節して得た本発明による実施例１〜６のＩｎ2Ｏ3粉末をＳｎＯ2粉末と混合して焼結すれば、７．０ｇ／ｃｍ3以上の高密度を有するＩＴＯターゲットを容易に製造できることが分かる。特に実施例１、２、５、６の場合には焼結されたＩＴＯターゲットの密度が理論密度である７．１５ｇ／ｃｍ3にほとんど近接した非常に大きい焼結密度を得られる。
【００６０】
【発明の効果】
本発明の方法によれば、１次粒子の平均粒径が４０〜１６０ｎｍで均一であり、２次粒子の平均粒径（Ｄ５０（粉末の粒子サイズ分布図において全体の５０％を含む粒子サイズ）またはＤ９０（粉末の粒子サイズ分布図において全体の９０％を含む粒子サイズ））が１μｍ以下である解砕が容易なＩｎ2Ｏ3粉末を容易に製造できる。このような本発明の方法によって製造されたＩｎ2Ｏ3粉末を利用して一定の粒径のＳｎＯ2粉末と混合して焼結すれば高密度のＩＴＯターゲットを得られる。したがって、このような本発明で得られた高密度のＩＴＯターゲットを使用してスパッタリング法を利用して真空蒸着すればＬＣＤ、ＥＬ、ＦＥＤなどの素子を製造する時に高品質の透明電極フィルムを形成できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の一態様によるＩｎ2Ｏ3粉末の製造工程のフローチャートを示す。
【図２】  本発明で製造されたＩｎ2Ｏ3粉末とＳｎＯ2粉末とを混合してＩＴＯターゲットを製造する工程のフローチャートを示す。
【図１】
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【図２】
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