(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
反応性がなく１９３ｎｍで透過性の有る基Ｘによってケイ素原子が互いに隔てられている複数のケイ素含有基を有しかつ、重合性エチレン性不飽和基を含有する重合性モノマーを重合してなるポリマーであって、
基ＸがＣＨ2又はＣＨであり、
前記ポリマーは、酸に対して安定なケイ素含有モノマーと、酸に対して不安定なケイ素含有モノマーを重合してなるポリマーであり、
酸に対して安定なケイ素含有モノマー及び／又は酸に対して不安定なケイ素含有モノマーが、前記反応性がなく１９３ｎｍで透過性の有る基Ｘによってケイ素原子が互いに隔てられている複数のケイ素含有基を有しかつ、重合性エチレン性不飽和基を含有する重合性モノマーであり、
酸に対して安定なケイ素含有モノマーがアクリル酸ビス（トリメチルシリル）メチル及び式（Ｉ）〜式（VI）で表される化合物よりなる群から選択されたモノマーであり、
酸に対して不安定なケイ素含有モノマーが式（VII）〜式（XV）で表される化合物よりなる群から選択されたモノマーであることを特徴とする
ポリマー。
【化１】
0003980572.tif 000004
【化２】
0003980572.tif 000005
【請求項２】
前記不飽和基として、アクリレート基、メタクリレート基、および環状オレフィン基よりなる群から選択された重合性エチレン性不飽和基を有する請求項１に記載のポリマー。
【請求項３】
反応性がなく１９３ｎｍで透過性の有る基Ｘによってケイ素原子が互いに隔てられている複数のケイ素含有基を有し、かつ重合性エチレン性不飽和基を含有する、酸に対して安定なケイ素含有モノマーが下記式で表される化合物よりなる群から選択されたモノマーである請求項１又は２に記載のポリマー。
【化３】
0003980572.tif 000006
【請求項４】
反応性がなく１９３ｎｍで透過性の有る基Ｘによってケイ素原子が互いに隔てられている複数のケイ素含有基を有し、かつ重合性エチレン性不飽和基を含有する、酸に対して不安定なケイ素含有モノマーが下記式で表される化合物よりなる群から選択されたモノマーである請求項１〜３いずれか１つに記載のポリマー。
【化４】
0003980572.tif 000007
【請求項５】
酸に対して安定なケイ素含有モノマーが、アクリル酸ビス（トリメチルシリル）メチルである請求項１〜４いずれか１つに記載のポリマー。
【請求項６】
酸に対して安定なケイ素含有モノマーが、５−ノルボルネン−２−カルボン酸ビス（トリメチルシリル）メチルである請求項１〜４いずれか１つに記載のポリマー。
【請求項７】
酸に対して安定なケイ素含有モノマーが、５−ノルボルネン−２−カルボン酸２−（２−メチル−４−トリメチルシリル）ブチルである請求項１〜４いずれか１つに記載のポリマー。
【請求項８】
別のエチレン性不飽和モノマーとのコポリマーである請求項１〜７いずれか１つに記載のポリマー。
【請求項９】
前記エチレン性不飽和モノマーが、アクリレート、メタクリレート、環状オレフィン、無水マレイン酸、および無水イタコン酸よりなる群から選択され、任意選択で活性ケイ素基、不活性ケイ素基、または官能基を含有することができる請求項８に記載のポリマー。
【請求項１０】
５−ノルボルネン−２−カルボン酸ビス（トリメチルシリル）メチル、５−ノルボルネン−２−カルボン酸２−（２−メチル−４−トリメチルシリル）ブチル、および無水マレイン酸のコポリマーである請求項１〜４いずれか１つに記載のポリマー。
【請求項１１】
メタクリル酸ビス（トリメチルシリル）メチル、メタクリル酸２−トリメチルシリルエチル、および無水イタコン酸のコポリマーである請求項１〜４いずれか１つに記載のポリマー。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、１９３ｎｍで透過性のある新しいケイ素含有モノマーと、このケイ素含有モノマーから得られるコポリマーに関する。本発明のコポリマーは、放射感応性二層レジストの形成に特に適する。二層レジストは、集積回路の製造で使用することができる。
【背景技術】
【０００２】
集積回路の製作におけるよりクリティカルな手順の１つは、リソグラフィ処理である。半導体産業では、回路密度がより高い超小型電子デバイスに対する要望がさらに増え続けていることから、リソグラフィ技法を改善することが引き続き求められている。
【０００３】
より高い面積密度を実現する一方法は、レジスト膜の回路パターンの解像度を改善することである。当技術分野では、リソグラフィ画像形成ツールのレンズ・システムの開口数（ＮＡ）を増加させることによって、所与の波長での解像度を高めることが知られている。しかし、開口数が増加すると画像形成用の放射線の焦点深度（ＤＯＦ）が低下し、そのため画像形成用レジスト膜の厚さを薄くする必要がある。さらに、半導体産業が、より短い波長での露光システムへと大きくシフトしていることも、焦点深度の低下に繋がっている。レジストの膜厚を減少させると、後続の処理ステップ（例えばイオン注入やエッチング）で問題が生じる可能性がある。
【０００４】
これらの問題を克服するために、二層レジストが開発されてきた。二層レジストは、一般に、厚い有機下層の上に上部薄膜画像形成層を含む。このレジストは、（ｉ）上層を画像通りに露光して現像し、次いで（ｉｉ）現像した上層のパターンを、厚い下層を通して基板に異方的に転写することによってパターニングされる。上層は、画像転写ステップで酸素反応性イオン・エッチング（ＲＩＥ）を使用することが可能な、ケイ素やホウ素、ゲルマニウムなどの、加工されにくい（refractory）酸化物の前駆物質を含有することが適切である。
【０００５】
二層レジストは当技術分野で知られているが、一般にこのレジストは、遠紫外線リソグラフィ（deep U. V. lithography）（例えば２４８ｎｍおよび１９３ｎｍ）が登場する前に開発され、高解像度の画像形成にはほとんど役に立たない。ケイ素含有二層フォトレジストは、２４８ｎｍの適用分野で使用可能な、より魅力ある候補の１つである。現在、１９３ｎｍ（およびおそらくは１５７ｎｍ）での次世代型露光システム用の材料を開発することが、同様に求められている。残念ながら、現行世代型の遠紫外線（ＤＵＶ）用二層レジストはより短い波長での透過性が不十分であるので、このより短い波長にまで拡げて使用することはできない。このように吸光度が高いのは、主に、ほぼ全ての遠紫外線２４８ｎｍ用レジストに見出される芳香族ポリ（ヒドロキシスチレン）部分に原因がある。しかし、ある特定の構造タイプのケイ素モノマーも、１９３ｎｍでの高吸光度に寄与する可能性がある。例えば特許文献１には、特に、二層レジスト用の４ＳｉＭＡモノマー（図１参照）、Ｓｉ−Ｓｉ結合を含有するテトラシランが開示されている。この化合物は、モノマーの配合量（loading）が比較的低い場合、そのケイ素密度が高く、それに相応して酸素反応性イオンエッチング（Ｏ2−ＲＩＥ）に関する耐食性が高いので、非常に有用な二層レジスト成分である。ケイ素はしばしばレジストの溶解特性に悪影響を与えるので、一般にケイ素モノマーの配合量は低いことが望ましい。配合量が低いと、ポリマーを設計する際の自由度も増す。
【０００６】
残念ながら、このモノマー中にＳｉ−Ｓｉ結合が存在すると、１９３ｎｍでの吸光度が許容できないほど高くなる。例えば、このモノマーをわずか２０モルパーセント含有するメタクリレートポリマー（図２参照；このポリマー中のその他のモノマーは、ほとんど透過性である）は、吸光度が被膜１ミクロン当たり６であり、このモノマーを１９３ｎｍで利用することが不適当になる。
【０００７】
１９３ｎｍ用二層レジストの開発に、市販のＳｉ−Ｏ−Ｓｉ含有モノマー（図３参照）を使用することも提案されてきた。非特許文献１を参照されたい。しかし、モノマーにケイ素−酸素官能基を導入すると、レジストの性能に有害な結果をもたらす可能性がある。特に、これらのシロキサンは、化学的に増幅されたこれらのレジストで使用される処理条件下で、その加水分解安定度がしばしば不十分である。これは、溶解性に悪影響を与える架橋反応をもたらす可能性もある。場合により、ポリマー調製中に架橋が生じるのが観察された。
【０００８】
ごく最近では、非特許文献２に、１９３ｎｍ用レジストとして利用するのに適するとされる二層レジストが記載されている。しかし、このレジスト中のポリマーは（図６参照）、特許文献２に記載されているモノマーと同様のＳｉ−Ｓｉ結合を含んだケイ素含有モノマーを含有する。上述のように、この４Ｓｉ基は１９３ｎｍで強く吸収し、１９３ｎｍ用レジストとして利用することが不適当になる（ポリマーの吸光度が高い結果、像の画定が不十分になる例についてはケッセル他の参照文献の図４を参照されたい）。
【特許文献１】米国特許第５９８５５２４号明細書
【特許文献２】米国特許第５９８９５２４号明細書
【非特許文献１】Schaedeli他、「Bilayer Resist Approach for 193nm Lithography」、Proc. SPIE、Vol. 2724、pp. 344〜354 (1996)
【非特許文献２】ケッセル（Kessel）他、「Novel Silicon-Containing Resists for EUV and 193nm Lithography」、Proc. SPIE、Vol. 3678、pp. 214〜220 (1999)
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
したがって本発明の目的は、改善された１９３ｎｍ用二層レジストを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は、反応性がなく１９３ｎｍで透過性の有る基Ｘによって互いに隔てられている複数のケイ素含有基を有し、かつ重合性エチレン不飽和基を含有する新しい重合性モノマーに関する。
【００１１】
また本発明は、（ａ）反応性がなく１９３ｎｍで透過性の有る基Ｘによって互いに隔てられている複数のケイ素含有基を有し、かつ重合性エチレン基を含有する重合性モノマーから得られるポリマーにも関する。
【００１２】
本発明の別の態様は、基板上に二層レジスト画像を生成する方法に関する。この方法は、
（ａ）有機下層で基板を被覆すること、
（ｂ）（ｉ）放射感応性酸発生剤、および
（ｉｉ）反応性がなく１９３ｎｍで透過性の有る基Ｘによって互いに隔てられている複数のケイ素含有基を有し、かつ重合性エチレン不飽和基を含有し、酸に対して不安定な重合性モノマーから得られるポリマーを含む上層で有機下層を被覆すること、
（ｃ）放射線で上層を画像通りに露光すること、
（ｄ）上層の画像を現像すること、および
（ｅ）有機下層を通して基板に画像を転写することを含む。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
本発明の重合性モノマーは、１９３ｎｍでの利用に適するポジティブ・トーンの、化学的に増幅されたポリマー・レジストを提供することができる。図４および図８は、本発明の範囲内にあるモノマーの構造を示している。
【００１４】
本発明のモノマーは、１９３ｎｍで吸収性のない基Ｘが割り込んでいる、２個以上のケイ素原子を含有する複数のケイ素含有基（すなわちケイ素基が互いに隔てられている）と、エチレン不飽和基とを有し、酸に対して不安定（活性）であり、または酸に対して安定（不活性）である。間に割り込んでいる基Ｘはアルキレン（ＣＲ2）n基が好ましく、ただし典型的な場合、ｎは１から４までの整数であり、より典型的な場合は１または２の整数である。橋かけアルキレン基は、１９３ｎｍでモノマーを透過性にすることができるので重要である。これらのケイ素含有モノマーは、酸に対して不安定な（活性な）モノマー（図８）と、酸に対して安定な（不活性な）モノマー（図９）を含む。酸に対して不安定なモノマーは、ケイ素と酸素の間に２つの炭素単位を有し、一方、酸に対して安定なモノマーは、ケイ素と酸素の間に１個の炭素原子、または３個以上の炭素原子を有する。
【００１５】
モノマーのエチレン不飽和部分は、典型的な場合、アクリレート、メタクリレート、または環状オレフィンから得られる。
【００１６】
本発明のケイ素含有ポリマーは、ホモポリマーとして使用することができ、またはコポリマーでよい。適切なコモノマーには、アクリレート、メタクリレート、環状オレフィン、無水マレイン酸、および無水イタコン酸が含まれ、これらのコモノマーは、活性なケイ素基および不活性なケイ素基の他に、第三級アルキルエステル（ｔ−ブチルエステル）、アクタール、ケタール、その他の酸に対して不安定な基などの官能基を含有することができる。ポリマーは、１つが不活性で１つが活性な（酸に対して不安定な）２つのケイ素含有モノマーを含有することが好ましい。これらのモノマーも、カルボン酸やスルホンアミド、フッ素化アルコールなどの極性基を含有することができる。
【００１７】
ポリマーの数平均分子量は、典型的な場合、約１０００から約１０，０００であり、より典型的な場合、約３０００から約５０００である。
【００１８】
コポリマーは、典型的な場合、酸に対して不安定なケイ素含有モノマーを約１０モル％から約５０モル％、その他のモノマーを約５０モル％から約９０％含有する。不活性なケイ素モノマーが存在する場合、これは、典型的な場合約１０モル％から約４０モル％の量で使用される。二層レジストに使用する場合、本発明のポリマーは、放射感応性酸発生剤と共に上部画像形成層として使用される。図５および図７は、本発明のコポリマーの構造を示している。
【００１９】
代替の実施形態において、上層は、ポリマーの他にモノマーまたはポリマーの溶解抑制剤を含有する。溶解抑制剤は、活性なケイ素含有基と不活性なケイ素含有基の両方を含有することができる。
【００２０】
上部画像形成層の第２の成分は、放射感応性酸発生剤である。放射線で露光すると、この放射感応性酸発生剤から強酸が発生する。適切な酸発生剤には、トリフレート（triflate）（例えばトリフェニルスルホニウムトリフレートやビス（ｔ−ブチルフェニル）ヨードニウムトリフレート）、ピロガロール（例えばピロガロールのトリメシレート）、ペルフルオロアルカンスルホネート（ペルフルオロオクタンスルホン酸ビス（ｔ−ブチルフェニル）ヨードニウム）、トリアリールスルホニウムやジアリールヨードニウムのヘキサフルオロアンチモン酸塩やヘキサフルオロヒ酸塩などのオニウム塩；ヒドロキシイミドのトリフルオロメタンスルホン酸エステル、α−α'−ビススルホニルジアゾメタン、ニトロ置換型ベンジルアルコールとナフトキノン−４−ジアジドのスルホン酸エステル、およびアルキルジスルホンが含まれる。その他の適切な光酸発生剤が、米国特許第５０４５４３１号明細書および第５０７１７３０号明細書と、Reichmanis他、Chemistry of Materials、Vol. 3、第３９５頁（１９９１）に開示されており、全ての目的でその開示を参照により本明細書に組み込む。
【００２１】
２成分系上部画像形成層は、一般に、酸発生剤を約１重量パーセントから１０重量パーセント、ポリマーを約９０重量パーセントから９９重量パーセント含む。上部画像形成層は、溶解抑制剤や被覆増強剤、界面活性剤、塩基、あるいは当業者に知られているその他の化合物など、他の成分を任意選択で少量含むことができる。溶解抑制剤を使用する場合、この溶解抑制剤は、ポリマーおよび溶解抑制剤の総重量に対して約１重量％から約１５重量％の量で存在する。典型的な溶解抑制剤は、胆汁酸エステル（例えばコール酸エステル）である。米国特許第５５８０６９４号明細書、およびWallow他、Proc. SPIE、２７２４、３３５（１９９６）を参照されたい。なお、この開示を参照により本明細書に組み込む。
【００２２】
本発明のレジストに適する有機ポリマー平坦化下層には、架橋ポリ（ヒドロキシスチレン）、ポリエステル、ポリアクリレート、環状オレフィンポリマーなどが含まれる。
【００２３】
本発明は、ポジ型二層レジストの画像を基板表面に生成する方法に関し、（ａ）基板を有機下層で被覆するステップと、（ｂ）有機下層を、放射感応性酸発生剤と、一部が酸に対して不安定なケイ素含有基を有するポリマーとを含む上層で被覆するステップと、（ｃ）上層を、画像通りに放射線で露光するステップと、（ｄ）上層の画像を現像するステップと、（ｅ）有機下層を通して基板に画像を転写するステップとを含む。
【００２４】
本発明の方法の第１のステップは、適切な溶媒に溶解させた有機ポリマーを含む層で、基板を被覆することを含む。適切な基板はシリコンからなる。有機ポリマー下層に適する溶媒には、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、乳酸エチル、およびシクロヘキサノンが含まれる。基板表面は、スピン塗布やスプレイ塗布、ドクター・ブレードなど、当技術分野で既知の技法を使用して、層で被覆することができる。次いでこの層を、約１〜３０分という短い時間、約１００〜２５０℃の高温で加熱して溶媒を飛ばし、任意選択で熱により架橋を生じさせる。乾燥した下層は、典型的な場合、その厚さが約０．５〜２０ミクロンであり、より典型的な場合には約１ミクロンである。
【００２５】
この方法の第２のステップでは、上部画像形成層の成分を、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートや乳酸エチルなどの適切な溶媒中に溶解する。被覆プロセス中、画像形成層が下層に混入しないことが望ましい。上層の厚さは、典型的な場合、約０．１ミクロンから０．３ミクロンである。
【００２６】
この方法の次のステップでは、放射線（紫外線、Ｘ線、電子ビーム、極紫外線）で被膜を画像通りに露光するが、典型的な場合、その放射線は紫外線であり、その波長は約１９０〜３６５ｎｍ（１９３／２４８／２５４／３６５）が適切であり、１９３ｎｍまたは２４８ｎｍが好ましい。適切な放射線源には、水銀ランプ、水銀／キセノン・ランプ、およびキセノン・ランプが含まれる。好ましい放射線は、ＡｒＦエキシマ・レーザまたはＫｒＦエキシマ・レーザである。より長い波長（例えば３６５ｎｍ）では、増感剤を上部画像形成層に添加して、放射線の吸収を増大させることができる。レジスト膜の上層の放射線感度が増すので、このレジスト膜の上層を約１００ｍＪ／ｃｍ2未満の放射線で完全に露光することが好都合であり、約５０ｍＪ／ｃｍ2未満で露光することがより好ましい。放射線は、放射感応性酸発生剤に吸収され、遊離酸が発生し、それによって酸に対して不安定なケイ素含有基が開裂し、対応するカルボン酸が形成される。
【００２７】
レジスト膜を放射線で露光した後、このレジスト膜を、約１分という短い時間、約１３０℃の高温に再び加熱することが好ましい。
【００２８】
次のステップは、上層の画像を、適切な現像液で現像することを含む。ポジ型画像の現像に適する現像液には水性塩基が含まれ、好ましくは水酸化テトラメチルアンモニウムや塩素など、金属イオンを含まない水性塩基である。現像により、レジスト膜の上層の露光領域が除去される。
【００２９】
この方法の最後のステップは、既知の技法により、現像された上層の画像を下層を通して基板に転写することを含む。画像は、酸素プラズマや酸素／二酸化イオウのプラズマなどの反応性イオンでエッチングすることにより転写することが好ましい。適切なプラズマ装置には、電子サイクロトロン共鳴（ＥＣＲ）システム、ヘリコン・システム、誘導結合高周波プラズマ（ＩＣＰ）システム、および伝送結合高周波プラズマ（ＴＣＰ）システムが含まれる。エッチング技法は当技術分野では周知であり、被膜をエッチングする装置は市販されている。
【００３０】
本発明の二層レジストを使用して、集積回路チップやマルチチップ・モジュール、回路ボードなどの集積回路アセンブリを作製することができる。集積回路アセンブリは、本発明の方法を使用し、次いで当技術分野で知られている技法を用いて基板上の現像済みの被膜に回路をさらに形成することによって基板上に形成された回路を含む。この基板を露光した後、蒸着やスパッタリング、めっき、化学的気相付着、レーザ誘導付着などの、当技術分野で知られているドライ・エッチング技法により、導電性金属などの導電性材料で基板を被覆することによって、その露光領域に回路パターンを形成することができる。レジスト膜表面をミリングして、過剰な導電性材料をすべて除去することができる。回路を作製するプロセス中、同様の手段によって誘電体材料も付着させることができる。ｐ型またはｎ型の不純物がドープされた回路トランジスタを作製するためのプロセスでは、ホウ素、リン、ひ素などの無機イオンを基板に注入することができる。回路を形成するためのその他の手段は、当業者に周知である。
【００３１】
以下の非限定的な実施例は、本発明のレジストの調製方法およびその使用に関する詳細な記述である。詳細な調製方法は、より一般的に述べた上記方法の範囲内に含まれ、かつ一般的な上記方法を例示する役割をする。実施例は、単なる例示を目的として提示するものであり、本発明の範囲を制限しようとするものではない。
【実施例】
【００３２】
実施例１  メタクリル酸ビス（トリメチルシリル）メチルの合成
凝縮器、機械式スターラ、および窒素用入口を備えた丸底フラスコ中に、ビス（トリメチルシリル）クロロメタン（Aldrich）（１４．６８ｇ、０．０７５モル）、メタクリル酸ナトリウム（８．９６ｇ、０．０８２５モル）、Ａｄｏｇｅｎ  ４６４（Aldrich）（１．７０ｇ）、およびフェノチアジン（０．０５ｇ）を入れた。このフラスコに２００ｍｌのアセトニトリルを満たし、撹拌しながら還流温度に加熱した。４日後、混合物を濾過して固形分を除去し、溶媒を回転式蒸発器内に取り除いた。減圧下で分別蒸留した結果、４６〜４８℃、０．５ｍｍの圧力で透明な液体が１０．９０ｇ得られた（収率６０％）。
【００３３】
実施例２  メタクリル酸２−トリメチルシリルエチルの合成
凝縮器、添加用漏斗、磁気スターラ、および窒素用入口を備えた丸底フラスコに、２−トリメチルシリルエタノール（Aldrich）（３０ｇ、０．２５モル）を入れた。このフラスコに、ジクロロメタン２００ｍｌ、ピリジン（２０．８０ｇ、０．２６モル）、およびフェノチアジン１００ｍｇを添加した。撹拌しながら、ジクロロメタン１００ｍｌに塩化メタクリロイル（２７．１８ｇ、０．２６モル）を溶かしたものを室温で１滴ずつ添加した。緩やかな発熱反応が生じた。混合物を室温で一晩撹拌した。その後、この混合物を、脱イオン水１００ｍｌで１回、ブライン１００ｍｌで２回（２×１００ｍｌ）洗浄し、無水硫酸マグネシウム上で乾燥させた。溶液を真空中で濃縮した。減圧下で分別蒸留した結果、３５〜３８℃、０．５ｍｍの圧力で所望の生成物が２０．８２ｇ得られた。
【００３４】
実施例３  メタクリル酸ビス（トリメチルシリル）メチル、メタクリル酸２−トリメチルシリルエチル、および無水イタコン酸を含むターポリマーの合成
凝縮器および窒素用入口を備えた丸底フラスコに、メタクリル酸ビス（トリメチルシリル）メチル（２．４４ｇ、０．０１モル）、メタクリル酸２−トリメチルシリルエチル（２．８０ｇ、０．０２５モル）、および無水イタコン酸（２．８０ｇ、０．０２５モル）を、テトラヒドロフラン（ＴＨＦ）２５ｍｌと共に加えた。この溶液にアゾイソブチロニトリル（ＡＩＢＮ）（０．３３ｇ）を添加し、溶解するまで撹拌した。次いでこの溶液をFirestone弁により排出し、窒素で４回パージした。次いで内容物を、還流下で１８時間加熱した。その後、溶液をアセトン（２０ｍｌ）で希釈し、ヘキサン（８００ｍｌ）に１滴ずつ添加した。沈澱したポリマーを濾過し（フリット）、ヘキサン（５０ｍｌ）で２回洗浄し、真空中、６０℃で乾燥した。収量：５．６ｇ  分子量＝１３，０００
【００３５】
実施例４  アクリル酸ビス（トリメチルシリル）メチルの合成
凝縮器、機械式スターラ、および窒素用入口を備えた丸底フラスコに、ビス（トリメチルシリル）クロロメタン（Aldrich）（３９ｇ、０．２モル）、アクリル酸ナトリウム（２８ｇ、０．３モル）、Ａｄｏｇｅｎ  ４６４（Aldrich）（６．９６ｇ）、およびフェノチアジン（０．１０ｇ）を入れた。このフラスコにブチロニトリル１００ｍｌを満たし、撹拌しながら還流温度に加熱した。６時間後、混合物をヘキサン１５０ｍｌで希釈し、濾過して、固形分を除去した。溶媒を減圧下で除去した。減圧下で残渣を分別蒸留した結果、４５〜５８℃、０．５ｍｍの圧力で、所望の生成物が３５．５ｇ（９７．５％）得られた。
【００３６】
実施例５  ５−ノルボルネン−２−カルボン酸ビス（トリメチルシリル）メチルの合成（図９、上段  ＃２）
１００ｍＬの三つ口丸底フラスコに、熱電対温度計、磁気スターラ、窒素用アタッチメント付きの添加用漏斗、および氷水冷却浴を備え付けた。このフラスコに、新しく蒸留したシクロペンタジエン１９ｇ（０．２８７モル）を満たした。添加用漏斗に、アクリル酸ビス（トリメチルシリル）メチルを６０ｇ（０．２６モル）満たし、温度を０℃から１０℃に維持した状態で、撹拌しながらシクロペンタジエンに添加した。添加終了後、反応混合物（reaction）を室温に温めて一晩撹拌した。この反応混合物を真空中で蒸留し、１００ミリトルで９８〜１０１℃に沸騰させた留分を収集した結果、生成物が６１ｇ得られた。
【００３７】
実施例６  ５−ノルボルネン−２−カルボン酸２−（２−メチル−４−トリメチルシリル）ブチルの合成（図８、第２列  ＃２）
ステップ１：２−メチル−４−トリメチルシリル−２−ブタノールの合成
２５０ｍＬの三つ口丸底フラスコに、磁気スターラ、窒素バブラー付きドライアイス凝縮器、熱電対温度計、氷水冷却浴、および逆流トラップを通してトリメチルシランのシリンダに取付けられている気体用入口管を備え付けた。このフラスコに、２−メチル−３−ブテン−２−オルを６８．９ｇ（０．８０モル）と、白金−ジビニルテトラメチルジシロキサン錯体をトルエンに溶かしたもの（白金は約２モル％）６００ｍｇを満たして、１０℃よりも低い温度に冷却した。シラン（６３ｇ、０．８５モル）を３時間にわたってゆっくりと添加する際、反応温度を５℃から１０℃の間に維持した。氷水冷却浴を取り外したが、ドライアイス凝縮器はドライアイスを維持した状態で一晩撹拌した。凝縮器を取り外し、蒸留装置に取り替えて、反応混合物を真空中で蒸留した。１０５〜１０８℃、２００ミリトルで蒸留した大部分の留分を収集した結果、生成物が１２４ｇ得られた。
【００３８】
ステップ２：５−ノルボルネン−２−カルボニルクロライドの合成
磁気スターラ、熱電対温度計、ガラス栓、窒素ガス・パージ付き添加用漏斗、およびドライアイス冷却浴を備えた１リットルの三つ口丸底フラスコに、新しく蒸留したシクロペンタジエン２４８ｇ（３．７５モル）を満たし、０℃に冷却した。添加用漏斗に、蒸留した塩化アクリロイル３１６．８ｇ（３．５モル）を満たし、３時間にわたって反応混合物に１滴ずつ添加したが、このとき反応温度を０℃から１０℃の間に維持した。塩化アクリロイルの添加が終了した後、冷却浴を取り外し、反応混合物を一晩室温に温めた。反応混合物を真空中で蒸留して生成物５３３ｇを収集し、蒸留は、５４〜５６℃、圧力３００ミリトルで行った。
【００３９】
ステップ３：５−ノルボルネン−２−カルボン酸２−（２−メチル−４−トリメチルシリル）ブチルの合成
機械式スターラ、熱電対温度計、窒素用入口付き添加用漏斗、および氷水浴を備えた２リットルの三つ口丸底フラスコに、２−メチル−４−トリメチルシリル−２−ブタノール１２４ｇ（０．７７５モル）、トリエチルアミン９８ｇ（０．９６９モル）、および無水塩化メチレン１リットルを満たし、１０℃よりも低い温度に冷却した。添加用漏斗に、ノルボルネン−２−カルボニルクロライド１３９．４ｇ（０．８９モル）を満たし、撹拌した反応混合物に１滴ずつ添加したが、このとき内部反応温度を１０℃よりも低い温度に維持した。暗色の反応混合物を室温に温めて一晩撹拌した。添加用漏斗に水２０ｍＬを満たし、これを、撹拌した反応混合物に１滴ずつ添加した。数時間撹拌した後、反応混合物を蒸発させ、ジエチルエーテルに吸収させて濾過した。濾液を水で２回、ブラインで１回洗浄し、無水硫酸ナトリウム上で乾燥させ、次いで濾過して蒸発させた。残渣を真空中で蒸留した結果、生成物が１５９ｇ得られ、蒸留は、１１０〜１１５℃、圧力３００ミリトルで行った。
【００４０】
実施例７  ５−ノルボルネン−２−カルボン酸ビス（トリメチルシリル）メチル（図９、上段  ＃２）、５−ノルボルネン−２−カルボン酸２−（２−メチル−４−トリメチルシリル）ブチル（図８、下段  ＃２）、および無水マレイン酸を含むターポリマー（図７）の合成
５−ノルボルネン−２−カルボン酸ビス（トリメチルシリル）メチル（５．９３ｇ、０．０２モル）、５−ノルボルネン−２−カルボン酸２−（２−メチル−４−トリメチルシリル）ブチル（１１．２ｇ、０．０４モル）、および新しく昇華させた無水マレイン酸（７．１９ｇ、０．０７３モル）を、無水酢酸エチル２８ｍｌと共に、凝縮器および窒素用入口を備えた丸底フラスコに入れた。この溶液にアゾイソブチロニトリル（ＡＩＢＮ）（０．８８ｇ）を添加し、溶解するまで撹拌した。次いでこの溶液を、Firestone弁を用いて排出し、窒素で４回パージした。次いで内容物を、１８時間還流温度に加熱した。その後この溶液を、石油エーテルに（３５〜６０℃）（１２００ｍｌ）に１滴ずつ添加した。沈澱したポリマーを濾過し（フリット）、石油エーテル（petether）（５０ｍｌ）で洗浄し、真空中６０℃で乾燥させた。収量：１３．０ｇ  分子量＝７０００
【００４１】
実施例８  下層ポリマー、パラヒドロキシスチレンとメタクリル酸エポキシジシクロペンタジエン（３０：７０）のコポリマーの合成
５００ｍＬの丸底フラスコに、磁気スターラ、熱電対温度計、窒素ガス・バブラー・アタッチメント付き凝縮器、および温度制御式加熱マントルを備え付けた。このフラスコに、パラヒドロキシスチレンの３５．４５重量％ジエチレングリコールエーテル溶液（パラヒドロキシスチレン１１．９ｇ）３３．５８ｇ、メタクリル酸エポキシジシクロペンタジエン５４．０９ｇ、およびイソプロパノール２１４ｍＬを満たした。撹拌した混合物を還流温度に加熱し、次いで２，２'−アゾビスイソブチロニトリル２．１５ｇを添加し、この反応容器を窒素でフラッシングした。混合物を窒素中に保持し、１９時間還流した。次いで反応混合物をアセトン２００ｍＬで希釈し、すばやく撹拌したヘキサン６リットル中に沈澱させた。固体生成物を濾過し、ヘキサン２００ｍＬで２回洗浄し、乾燥させた。乾燥した固体を、水３．５リットルとアセトン２００ｍＬの混合物中に撹拌しながら４時間懸濁させた。固体を濾過し、水／アセトン洗浄プロセスを２回以上繰り返した。固体を濾過し、真空中で乾燥させた結果、ポリマーが５８．０ｇ得られた。分子量＝１１，６００
【００４２】
実施例９  １９３ｎｍ用有機下層の配合
上述の下層ポリマー（Ｒ−ＯＨ）（４ｇ）と、熱酸発生剤、ペルフルオロオクタンスルホン酸ジ（ｔ−ブチル）ヨードニウム（２００ｍｇ）を、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート（１６ｇ）とシクロヘキサノン（４ｇ）の混合物に溶解させた。
【００４３】
実施例１０  １９３ｎｍ用二層レジストの配合（上部画像形成層）
数種の二層レジストを配合した。典型的な場合、この配合物は、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート中に、二層ポリマーを９５重量％、光酸発生剤、ペルフルオロオクタンスルホン酸ジ（ｔ−ブチル）ヨードニウムを５重量％含有する。
【００４４】
実施例１１  １９３ｎｍ用二層レジストの評価
シリコン基板を、０．６ミクロンの有機下層で被覆し、２２５℃で２分間ベークした。実施例７のターポリマーを約９５重量％、光酸発生剤であるペルフルオロオクタンスルホン酸ジ（ｔ−ブチル）ヨードニウムを５重量％含む１５００Åの上部画像形成層組成物で、この下層表面を被覆した。このレジスト膜を１３０℃で１分間ベークして、溶媒を飛ばした。次いでこのレジスト膜を、１９３ｎｍで画像通りに露光した（線量１５〜１００ｍＪ／ｃｍ2）。次いでこのレジスト膜を１３０℃で１分間ベークし、上層を、０．２６３Ｎの水酸化テトラメチルアンモニウムで現像した。非常に高い解像度の画像がこのレジストに得られた。交互位相シフト・マスクを通して露光したとき、７０ｎｍ（１：２  線／スペース）のパターンが解像された。この画像は、残渣を全く出さずにレジストが真っ直ぐに切り取られた状態で形成された。
【００４５】
まとめとして、本発明の構成に関して以下の事項を開示する。
【００４６】
（１）反応性がなく１９３ｎｍで透過性の有る基Ｘによって互いに隔てられている複数のケイ素含有基を有し、かつ重合性エチレン不飽和基を含有する重合性モノマー。
（２）基Ｘがアルキレン基である上記（１）に記載のモノマー。
（３）基ＸがＣＨ2である上記（１）に記載のモノマー。
（４）酸に対して不安定な上記（１）に記載のモノマー。
（５）酸に対して不安定ではない上記（１）に記載のモノマー。
（６）前記不飽和基が、アクリレート、メタクリレート、および環状オレフィンからなる群から選択された化合物である上記（１）に記載のモノマー。
（７）基Ｘが（ＣＲ1Ｒ2）nであり、ただしＲ1Ｒ2基が１９３ｎｍで透過性を有するものである上記（１）に記載のモノマー。
（８）前記ケイ素基がメタクリレート基に結合している上記（１）に記載のモノマー。
（９）前記ケイ素基がアクリレート基に結合している上記（１）に記載のモノマー。
（１０）前記ケイ素基が環状オレフィン基に結合している上記（１）に記載のモノマー。
（１１）メタクリル酸ビス（トリメチルシリル）メチルである上記（１）に記載のモノマー。
（１２）メタクリル酸２−トリメチルシリルエチルである上記（１）に記載のモノマー。
（１３）アクリル酸ビス（トリメチルシリル）メチルである上記（１）に記載のモノマー。
（１４）５−ノルボルネン−２−カルボン酸ビス（トリメチルシリル）メチルである上記（１）に記載のモノマー。
（１５）５−ノルボルネン−２−カルボン酸２−（２−メチル−４−トリメチルシリル）ブチルである上記（１）に記載のモノマー。
（１６）反応性がなく１９３ｎｍで透過性の有る基Ｘによって互いに隔てられている複数のケイ素含有基を有し、かつ重合性エチレン不飽和基を含有する重合性モノマーから得られるポリマー。
（１７）基Ｘがアルキレン基である上記（１６）に記載のポリマー。
（１８）基ＸがＣＨ2である上記（１６）に記載のポリマー。
（１９）酸に対して不安定である上記（１６）に記載のポリマー。
（２０）酸に対して安定な上記（１６）に記載のポリマー。
（２１）前記不飽和基が、アクリレート、メタクリレート、および環状オレフィンからなる群から選択された化合物である上記（１６）に記載のポリマー。
（２２）基Ｘが（ＣＲ1Ｒ2）nであり、ただしＲ1Ｒ2基が１９３ｎｍで透過性を有するものである上記（１６）に記載のポリマー。
（２３）前記ケイ素基がメタクリレート基に結合している上記（１６）に記載のポリマー。
（２４）前記ケイ素基がアクリレート基に結合している上記（１６）に記載のポリマー。
（２５）前記ケイ素基が環状オレフィン基に結合している上記（１６）に記載のポリマー。
（２６）メタクリル酸ビス（トリメチルシリル）メチルから得られる上記（１６）に記載のポリマー。
（２７）メタクリル酸２−トリメチルシリルエチルから得られる上記（１６）に記載のポリマー。
（２８）アクリル酸ビス（トリメチルシリル）メチルから得られる上記（１６）に記載のポリマー。
（２９）５−ノルボルネン−２−カルボン酸ビス（トリメチルシリル）メチルから得られる上記（１６）に記載のポリマー。
（３０）５−ノルボルネン−２−カルボン酸２−（２−メチル−４−トリメチルシリル）ブチルから得られる上記（１６）に記載のポリマー。
（３１）別のエチレン不飽和モノマーとのコポリマーである上記（１６）に記載のポリマー。
（３２）前記エチレン不飽和モノマーが、アクリレート、メタクリレート、環状オレフィン、無水マレイン酸、および無水イタコン酸からなる群から選択され、任意選択で活性ケイ素基、不活性ケイ素基、または官能基を含有することができる上記（３１）に記載のポリマー。
（３３）酸に対して安定なケイ素モノマーとのコポリマーである上記（１９）に記載のポリマー。
（３４）５−ノルボルネン−２−カルボン酸ビス（トリメチルシリル）メチル、５−ノルボルネン−２−カルボン酸２−（２−メチル−４−トリメチルシリル）ブチル、および無水マレイン酸のコポリマーである上記（１６）に記載のポリマー。
（３５）基板上に二層レジスト画像を生成する方法であって、
（ａ）有機下層で基板を被覆すること、
（ｂ）（ｉ）放射感応性酸発生剤、および
（ｉｉ）反応性がなく１９３ｎｍで透過性が有る基Ｘによって互いに隔てられている複数のケイ素含有基を有し、かつ重合性エチレン不飽和基を含有し、酸に対して不安定な重合性モノマーから得られたポリマーを含む上層で前記有機下層を被覆すること、
（ｃ）放射線で前記上層を画像通りに露光すること、
（ｄ）前記上層の画像を現像すること、および
（ｅ）前記有機下層を通して前記基板に前記画像を転写することを含む方法。
（３６）Ｘが（ＣＲ1Ｒ2）nであり、ただしＲ1Ｒ2基が１９３ｎｍで透過性を有するものである上記（３５）に記載の方法。
（３７）Ｘが（ＣＨ2）である上記（３５）に記載の方法。
（３８）ＸがＣＨ2である上記（３５）に記載の方法。
（３９）前記ケイ素基がアクリレートに結合している上記（３５）に記載の方法。
（４０）前記ケイ素基がメタクリレートに結合している上記（３５）に記載の方法。
（４１）前記ケイ素基が環状オレフィンに結合している上記（３５）に記載の方法。
（４２）２個またはそれ以上のケイ素基が前記ポリマーに結合している上記（３５）に記載の方法。
（４３）前記ケイ素基の１個または複数個が酸に対して不安定である上記（４２）に記載の方法。
（４４）１個または複数の不活性ケイ素基と、１個または複数の酸に対して不安定な基が、同じポリマー中に存在する上記（４２）に記載の方法。
（４５）前記ポリマーが、酸に対して不安定な追加の基を有する上記（４２）に記載の方法。
（４６）前記ポリマーが、極性基を有する上記（４２）に記載の方法。
（４７）前記酸発生剤が、ペルフルオロアルカンスルホネート、オニウム塩、ヒドロキシイミドのトリフルオロメタンスルホン酸エステル、α−α'−ビススルホニルジアゾメタン、ニトロ置換型ベンジルアルコールおよびナフトキノン−４−ジアジドのスルホン酸エステル、およびアルキルジスルホンから選択される上記（３５）に記載の方法。
（４８）前記上層を、波長１９３ｎｍの放射線で画像通りに露光する上記（３５）に記載の方法。
（４９）前記上層を、波長２４８ｎｍの放射線で画像通りに露光する上記（３５）に記載の方法。
（５０）前記下層が、アクリレート、環状オレフィン、ヒドロキシスチレン、およびエポキシモノマーからなる群から選択されたモノマーの１つまたは複数を含む有機ポリマーである上記（３５）に記載の方法。
（５１）前記上層が、任意選択でケイ素基（Ｓｉ−Ｘ−Ｓｉ）を有する溶解抑制剤をさらに含む上記（３５）に記載の方法。
（５２）
【００４７】
【化１】
0003980572.tif 000002
からなる群から選択される上記（１）に記載のモノマー。
（５３）
【００４８】
【化２】
0003980572.tif 000003
からなる群から選択される上記（１）に記載のモノマー。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】本発明によって実現可能な利点を示さないケイ素モノマーの構造を示す図である。
【図２】本発明によって実現可能な利点を示さないケイ素モノマーの構造を示す図である。
【図３】本発明によって実現可能な利点を示さないケイ素モノマーの構造を示す図である。
【図４】本発明の範囲内にあるモノマーの構造を示す図である。
【図５】本発明のコポリマーの構造を示す図である。
【図６】本発明によって実現可能な利点を示さないケイ素モノマーの構造を示す図である。
【図７】本発明のコポリマーの構造を示す図である。
【図８】本発明の範囲内にあるモノマーの構造を示す図である。
【図９】本発明での使用に適する不活性なケイ素含有モノマーの構造を示す図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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