(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ピックアップの周辺温度を検出する温度検出手段と、
前記光ピックアップの動作時間を測定する動作時間測定手段と、
温度の上昇に伴って増加する第１のパラメータと動作時間の経過に伴って増加する第２のパラメータとを乗算したダメージ指数を、前記温度検出手段によって検出された周辺温度と前記動作時間計測手段によって測定された動作時間を用いて計算するダメージ指数計算手段と、
前記ダメージ指数計算手段によって計算されたダメージ指数を累積するダメージ指数累積手段と、
前記ダメージ指数累積手段による前記ダメージ指数の累積値を格納する累積値格納手段と、
前記温度検出手段によって検出される前記周辺温度が所定の基準温度を超えるときに、前記光ピックアップの動作を停止させる保護手段と、
前記保護手段による停止動作の判断基準となる前記基準温度を前記ダメージ指数累積手段による累積値に基づいて可変する基準温度変更手段と、
を備えることを特徴とするディスク再生装置。
【請求項２】
請求項１において、
前記基準温度変更手段は、前記ダメージ指数の累積値が、想定されている単位期間毎の基準値を超えるときに、前記基準温度を下げることを特徴とするディスク再生装置。
【請求項３】
請求項１において、
前記基準温度変更手段は、前記ダメージ指数の累積値が、想定されている単位期間毎の基準値よりも少ないときに、前記基準温度を上げることを特徴とするディスク再生装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれかにおいて、
前記第１のパラメータは、前記周辺温度が１０度上昇したときに値が２倍となることを特徴とするディスク再生装置。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれかにおいて、
前記動作時間計測手段は、所定時間の経過を測定するタイマであり、
前記ダメージ指数計算手段および前記ダメージ指数累積手段の動作を、前記タイマによって一定時間がカウントされる毎に行うことを特徴とするディスク再生装置。
【請求項６】
請求項１〜４のいずれかにおいて、
前記光ピックアップを用いてディスク型記録媒体から読み出された信号に対して所定の再生動作を行う再生手段をさらに備え、
前記動作時間計測手段は、前記再生手段によって前記ディスク型記録媒体から経過時間情報を読み出すことにより、前記動作時間を測定することを特徴とするディスク再生装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ピックアップを備えたディスク再生装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＤ（コンパクトディスク）やＤＶＤ（デジタルバーサタイルディスク）等を記録媒体として用いるディスク再生装置には、これらのディスクに記録された情報を読み出すために光ピックアップが備わっている。一般に、動作中の光ピックアップは熱に弱いため、ディスク再生装置には、動作温度が所定値に達したときに光ピックアップの出力を停止させる保護回路が設けられている。例えば、光ピックアップが取り付けられた基板に備わったサーミスタ等の温度検出素子によって光ピックアップの動作温度が検出され、この温度が８０°Ｃになると保護回路が作動して、光ピックアップのレーザ光の出力動作を停止させる。これにより、高温環境下での光ピックアップの破損を防止することができる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上述したように、動作中の光ピックアップは熱に弱いという特性を有しているため、光ピックアップの周辺温度の上昇は、光ピックアップの寿命に影響を及ぼす要因となる。しかし、従来のディスク再生装置は、動作温度が所定値に達しない限りは光ピックアップの動作を停止しないため、利用者の使用状態によっては、動作温度が所定値よりも少し低い状態（例えば、３〜４°Ｃ低い状態）での出力動作が長時間継続される場合もある。このような場合には、光ピックアップが高温環境下に長時間さらされることから、光ピックアップの寿命を大幅に低下させてしまうことになる。
【０００４】
光ピックアップの寿命は、出力動作時の周辺温度と、その周辺温度における動作時間の２つの要因に大きく影響を受けると考えられる。しかし、従来では、これらの要因によって光ピックアップに与えられるダメージの度合いを的確に判断する方法が存在しなかった。このため、従来のディスク再生装置では、使用状態に応じて適切に光ピックアップの状態把握を行うことが難しいという問題があった。また、使用状態に応じて適切に光ピックアップの状態把握を行うことが難しいことから、従来のディスク再生装置では、使用状態に応じて光ピックアップを適切に保護することが難しいという問題もあった。
【０００５】
本発明は、このような点に鑑みて創作されたものであり、その目的は、使用状態を反映して光ピックアップの適切な状態把握を行うことができるディスク再生装置を提供することにある。また、本発明の他の目的は、使用状態を反映して光ピックアップを適切に保護することができるディスク再生装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
上述した課題を解決するために、本発明のディスク再生装置は、光ピックアップの周辺温度を温度検出手段によって検出するとともに、光ピックアップの動作時間を動作時間測定手段によって測定しており、温度の上昇に伴って増加する第１のパラメータと動作時間の経過に伴って増加する第２のパラメータとを乗算したダメージ指数を、温度検出手段によって検出された周辺温度と動作時間計測手段によって測定された動作時間を用いてダメージ指数計算手段によって計算している。そして、ダメージ指数計算手段によって計算されたダメージ指数をダメージ指数累積手段によって累積し、このダメージ指数の累積値を累積値格納手段によって格納している。
【０００７】
上述したように、光ピックアップの寿命に対して影響を与える要因としては、主に（１）動作時の周辺温度と、（２）その周辺温度での動作時間、の２つが考えられる。このため、本発明では、温度の上昇に伴って増加する第１のパラメータと、動作時間の経過に伴って増加する第２のパラメータを乗算することによってダメージ指数を計算し、このダメージ指数の累積値を累積値格納手段に格納している。このようなダメージ指数の累積値を用いて光ピックアップに与えられたダメージの度合いを判断することにより、周辺温度と動作時間の両者による影響、すなわち使用状態を反映して光ピックアップの適切な状態把握を行うことができる。
【０００８】
また、従来では、光ピックアップに故障が生じた場合に、その原因が、高温環境下における長時間使用などの過酷な使用状態に起因するものか、それ以外の要因（例えば、ディスク再生装置の組み立て時に、静電気の影響による損傷が生じていた場合など）によるものかを解析することが困難であった。本発明では、周辺温度と動作時間を反映したダメージ指数の累積値を格納しているので、故障時には、その時点でのダメージ指数の累積値に基づいて、それまでの使用状態を推定し、光ピックアップの故障原因を解析することができる。
【０００９】
また、温度検出手段によって検出される周辺温度が所定の基準温度を超えるときに、光ピックアップの動作を停止させる保護手段と、この保護手段による停止動作の判断基準となる基準温度をダメージ指数累積手段による累積値に基づいて可変する基準温度変更手段とをさらに備えることが望ましい。上述したように、ダメージ指数は、光ピックアップの周辺温度と動作時間の両者による影響を反映して計算されているので、このダメージ指数の累積値に基づいて、光ピックアップの動作を停止させる際の判断基準となる基準温度を可変することにより、実際の使用状態を反映して光ピックアップを適切に保護することができる。
【００１０】
また、基準温度変更手段は、ダメージ指数の累積値が、想定されている単位期間毎の基準値を超えるときに、基準温度を下げることが望ましい。ダメージ指数の累積値が予め想定されている単位期間毎の基準値を超えるときには、想定しているよりも使用状態が過酷であり、光ピックアップの受けたダメージが大きいと考えられる。このような場合には、基準温度を下げることにより、光ピックアップの周辺温度が高くなり過ぎないうちに保護手段による停止動作を行うことができる。したがって、周辺温度が高い状態での使用を抑制し、光ピックアップの寿命低下を防止することができる。
【００１１】
また、基準温度変更手段は、ダメージ指数の累積値が、想定されている単位期間毎の基準値よりも少ないときに、基準温度を上げることが望ましい。ダメージ指数の累積値が予め想定されている単位期間毎の基準値よりも少ないときには、想定しているよりも光ピックアップの受けたダメージが小さいと考えられる。このような場合には、基準温度を上げることにより、保護手段による停止動作が必要以上に行われることを防ぐことができる。
【００１２】
また、上述した第１のパラメータは、周辺温度が１０度上昇したときに値が２倍となることが望ましい。一般に、光ピックアップに備わった半導体レーザの寿命は、出力動作時の周辺温度が１０度上昇する毎に寿命が１／２になると言われている。これは、換言すれば、周辺温度が１０度上昇する毎に、光ピックアップの受けるダメージが２倍になるということである。したがって、周辺温度が１０度上昇するときにその値が２倍となるように第１のパラメータを設定することにより、実状に即した適切なダメージ指数を計算することができる。
【００１３】
また、上述した動作時間計測手段は、所定時間の経過を測定するタイマにより構成されており、ダメージ指数計算手段およびダメージ指数累積手段の動作をこのタイマによって一定時間がカウントされる毎に行うことが望ましい。ダメージ指数を計算し、累積する処理を一定時間（例えば、１分間など）がカウントされる毎に行うことにより、処理回数を少なくし、処理負担の増加を抑えることができる。
【００１４】
また、光ピックアップを用いてディスク型記録媒体から読み出された信号に対して所定の再生動作を行う再生手段が備わっている場合に、動作時間計測手段は、再生手段によってディスク型記録媒体から経過時間情報を読み出すことにより、動作時間を測定するようにしてもよい。一般に、音楽用ＣＤなどのディスク型記録媒体では、音声等の再生情報を再生する際の再生タイミングを管理するために、経過時間に関する情報が記録されており、ディスク再生装置は、この経過時間情報を読み出して再生動作を行っている。したがって、ディスク型記録媒体から読み出される経過時間情報を用いることにより、特にハードウェアを追加することなく、ソフトウェアを一部変更することにより光ピックアップの動作時間を計測することが可能であり、ディスク再生装置のコスト増加を最小限に抑えることができる。
【００１５】
【発明の実施の形態】
以下、本発明を適用した一実施形態のディスク再生装置について、図面を参照しながら説明する。
図１は、一実施形態のディスク再生装置の構成を示す図である。図１に示すディスク再生装置は、ディスク１０に記録された信号を読み出して、各種情報（例えば、音声や映像等）の再生を行うものであり、スピンドルモータ１２、スレッドモータ１４、光ピックアップ１６、ＲＦアンプ１８、サーボＬＳＩ２０、サーボドライバ２２、デジタル信号処理部２４、時計２６、温度検出部２８、システムコントローラ３０、メモリ３２、操作部３４、表示部３６を含んで構成されている。
【００１６】
スピンドルモータ１２は、ディスク１０を所定速度で回転させる。スレッドモータ１４は、光ピックアップ１６をディスク１０の径方向に移動させる。
光ピックアップ１６は、ディスク１０に記録された信号の読み取りを行うものであり、半導体レーザ、ホトダイオードおよびフォーカスレンズを含んで構成される。また光ピックアップ１６には、フォーカスレンズをディスク１０の記録面に対してほぼ垂直方向に移動させるフォーカスアクチュエータと、フォーカスレンズをディスク１０の径方向に移動させるトラッキングアクチュエータも含まれている。
【００１７】
ＲＦアンプ１８は、光ピックアップ１６から出力される信号を増幅して所定のイコライザ処理を行うことによりＲＦ信号を生成し、デジタル信号処理部２４に出力する。また、ＲＦアンプ１８は、フォーカスサーボに必要なフォーカスエラー信号（ＦＥ）と、トラッキングサーボに必要なトラッキングエラー信号（ＴＥ）を生成し、サーボＬＳＩ２０に出力する。
【００１８】
サーボＬＳＩ２０は、各種のサーボ制御を行う。具体的には、サーボＬＳＩ２０は、ＲＦアンプ１８から出力されるフォーカスエラー信号に対して位相補償や増幅を行い、光ピックアップ１６内のフォーカスアクチュエータの駆動状態を制御するために必要なフォーカスアクチュエータ制御信号を生成する。
【００１９】
また、サーボＬＳＩ２０は、ＲＦアンプ１８から出力されるトラッキングエラー信号に対して位相補償や増幅を行い、光ピックアップ１８内のトラッキングアクチュエータの駆動状態を制御するために必要なトラッキングアクチュエータ制御信号を生成するとともに、トラッキングエラー信号の低域成分（主に直流成分）に基づいてスレッドモータ１４の駆動状態を制御するために必要なスレッドモータ制御信号を生成する。また、サーボＬＳＩ２０は、ＲＦアンプ１８から出力される制御信号に基づいて、スピンドルモータ１２の駆動状態を制御するために必要なスピンドルモータ制御信号を生成する。サーボＬＳＩ２０によって生成されるこれらの信号は、サーボドライバ２２に出力される。
【００２０】
サーボドライバ２２は、サーボＬＳＩ２０から出力されるフォーカスアクチュエータ制御信号に基づいて、光ピックアップ１６のフォーカスアクチュエータの駆動電圧を発生する。また、サーボドライバ２２は、サーボＬＳＩ２０から出力されるトラッキングアクチュエータ制御信号に基づいて、光ピックアップ１６のトラッキングアクチュエータの駆動電圧を発生する。また、サーボドライバ２２は、サーボＬＳＩ２０から出力されるスレッドモータ制御信号に基づいて、スレッドモータ１４の駆動電圧を発生する。さらに、サーボドライバ２２は、サーボＬＳＩ２０から出力されるスピンドルモータ制御信号に基づいて、スピンドルモータ１２の駆動電圧を発生する。
【００２１】
デジタル信号処理部２４は、ＲＦアンプ１８から出力されるＲＦ信号に対して、同期検出および復調処理を行った後に所定のデコード処理を行う。
時計２６は、日付および時刻を計測しており、システムコントローラ３０からの要求に応じて、現在の日付および時刻を出力する。
【００２２】
温度検出部２８は、温度検出素子であるサーミスタを含んでおり、光ピックアップ１６の周辺温度を検出し、検出結果をシステムコントローラ３０に出力する。上述したサーミスタは、光ピックアップ１６が取り付けられている基板の上など、光ピックアップ１６の近傍に設置されている。また、本実施形態の温度検出部２８は、周辺温度の検出結果を「２９°Ｃ〜３１°Ｃ」、「３２°Ｃ〜３４°Ｃ」、「３５°Ｃ〜３７°Ｃ」、…と３°Ｃ刻みで出力している。
【００２３】
システムコントローラ３０は、サーボＬＳＩ２０に対して各種のサーボ指令を出力するなど、ディスク再生装置の全体動作を制御するものであり、タイマ５０、ダメージ指数計算部５２、動作可否判定部５４、基準温度設定部５６を含んで構成されている。
【００２４】
タイマ５０は、所定時間の経過を測定する。具体的には、本実施形態では、タイマ５０は、光ピックアップ１６の出力動作の開始とともに時間を計測する動作（タイマ動作）を開始し、１秒間を最小単位として時間の経過を測定する。
ダメージ指数計算部５２は、温度検出部２８により検出される光ピックアップ１６の周辺温度に基づいて、所定の温度係数Ｗを設定し、この温度係数Ｗと、光ピックアップ１６の動作時間とを乗算することにより、所定のダメージ指数を計算する。また、ダメージ指数計算部５２は、ダメージ指数の累積値を計算してメモリ３２に格納する処理も行っている。本実施形態のダメージ指数計算部５２は、ダメージ指数を計算し、メモリ３２に格納されたダメージ指数の累積値を更新する処理を、タイマ５０によって一定時間ｔ１（例えば、１分間）がカウントされる毎に行っている。これにより、ダメージ指数を計算し、累積値を更新する処理を行う回数を少なくし、処理負担の増加を抑えることができる。
【００２５】
上述したダメージ指数は、温度係数Ｗ（第１のパラメータに対応）と動作時間Ｔ（第２のパラメータに対応）を乗算することにより求められる。具体的には、ダメージ指数Ｄは、以下の計算式に基づいて計算される。
0003934410.tif 000002
ここで、
Ｈ：周辺温度（単位：°Ｃ）
Ｈ０：標準温度（単位：°Ｃ）
Ｔ：動作時間（単位：時間）
である。本実施形態では、標準温度Ｈ０が３０°Ｃに設定されている。
【００２６】
（１）式に示した温度係数Ｗは、Ｈ＝３０°ＣのときにＷ＝１、Ｈ＝４０°ＣのときにＷ＝２、Ｈ＝５０°ＣのときにＷ＝４、…というように、周辺温度Ｈが１０度上昇したときにその値が２倍となる。一般に、光ピックアップに備わった半導体レーザの寿命は、周辺温度が１０度上昇する毎に寿命が１／２になると言われている。これは、換言すれば、周辺温度が１０度上昇する毎に、光ピックアップの受けるダメージが２倍になるということである。したがって、周辺温度が１０度上昇するときにその値が２倍となるように温度係数Ｗを設定することにより、実状に即した適切なダメージ指数を計算することができる。
【００２７】
動作可否判定部５４は、温度検出部２８により検出される光ピックアップ１６の周辺温度を所定の基準温度と比較して再生動作の可否を判定する。具体的には、動作可否判定部５４は、光ピックアップ１６の周辺温度が基準温度（例えば、９０°Ｃ）を超える場合に、光ピックアップ１６の出力動作を停止する必要があると判断する。
【００２８】
基準温度設定部５６は、時計２６から取得した現在の日付および時刻に基づいて、ダメージ指数の累積値を所定の基準値（詳細は後述する）と比較し、ダメージ指数の累積値が基準値を超えている場合には、基準温度を現在値よりも低い値に変更し、ダメージ指数の累積値が基準値を大幅に下回っている場合には、基準温度を現在値よりも高い値に変更する。
【００２９】
メモリ３２は、ダメージ指数計算部５２により計算されるダメージ指数の累積値を格納する。本実施形態のメモリ３２は、不揮発性メモリであり、ディスク再生装置の電源が遮断された場合にも、格納されたデータをそのまま保持するものとする。
【００３０】
操作部３４は、複数の操作キーが備わっており、所定の操作キーを押下することにより、利用者が各種の動作指示（例えば、再生や停止など）を入力するために用いられる。表示部３６は、ディスク再生装置の動作状態に関する表示を行う。
【００３１】
上述した温度検出部２８が温度検出手段に、ダメージ指数計算部５２がダメージ指数計算手段およびダメージ指数累積手段に、メモリ３２が累積値格納手段に、動作可否判定部５４が保護手段に、基準温度設定部５６が基準温度変更手段に、デジタル信号処理部２４、システムコントローラ３０が再生手段にそれぞれ対応している。
【００３２】
本実施形態のディスク再生装置はこのような構成を有しており、次にその動作内容について説明する。
図２は、ディスク再生装置の動作手順を示す流れ図である。システムコントローラ３０内のタイマ５０は、光ピックアップ１６が出力動作を開始したか否かを監視し（ステップ１００）、出力動作を開始した場合には肯定判断を行って、タイマ動作を実行する（ステップ１０１）。
【００３３】
また、温度検出部２８は、光ピックアップ１６の周辺温度を測定する（ステップ１０２）。動作可否判定部５４は、温度検出部２８により測定される光ピックアップ１６の周辺温度が所定の基準温度を超えているか否かを判定する（ステップ１０３）。
【００３４】
光ピックアップ１６の周辺温度が基準温度を超えていない場合には、ステップ１０３で否定判断が行われ、ダメージ指数計算部５２は、タイマ５０によって計測される動作時間が一定時間ｔ１（本実施形態では１分間）を経過した否かを判定する（ステップ１０４）。動作時間が一定時間ｔ１を経過していない間は、ステップ１０４で否定判断がなされ、上述したステップ１０３に戻って以後の処理が繰り返される。
【００３５】
動作時間が一定時間ｔ１を経過した場合には、ステップ１０４で肯定判断がなされ、ダメージ指数計算部５２は、光ピックアップ１６の周辺温度に基づいて所定の温度係数Ｗを設定する（ステップ１０５）。具体的には、本実施形態のダメージ指数計算部５２は、周辺温度Ｈと温度係数Ｗの対応を示すテーブルを内部メモリ（図示せず）に格納しており、このテーブルから温度検出部２８により検出される周辺温度Ｈに対応する温度係数Ｗを読み出すことにより、温度係数Ｗを設定している。
【００３６】
図３は、周辺温度Ｈと温度係数Ｗの対応を示すテーブルの一例を示す図である。周辺温度Ｈは、温度検出部２８による検出結果の出力形式に対応して、３°Ｃ毎に設定されている。また、温度係数Ｗは、３°Ｃ毎に設定されている周辺温度Ｈの中央値に対応する値が計算されている。例えば、周辺温度Ｈが「２９°Ｃ〜３１°Ｃ」の場合であれば、中央値の３０°Ｃに対応する温度係数Ｗが計算されている。
【００３７】
次に、ダメージ指数計算部５２は、ステップ１０５において設定した温度係数Ｗと光ピックアップ１６の動作時間ｔ１を乗算してダメージ指数を計算し（ステップ１０６）、ダメージ指数の累積値を更新してメモリ３２に格納する（ステップ１０７）。
【００３８】
また、基準温度設定部５６は、ダメージ指数計算部５２によって計算され、更新されたダメージ指数の累積値が所定の基準値を超えているか否かを判定する（ステップ１０８）。
図４は、ダメージ指数の基準値の一例を示す図である。図４では、横軸が経過時間、縦軸がダメージ指数の累積値にそれぞれ対応しており、使用開始から３年間が経過したときにダメージ指数の累積値が３０００となる使用状態を標準的な使用状態と想定した直線Ａが示されている。具体的には、ダメージ指数の累積値が３０００となる使用状態とは、例えば、光ピックアップ１６の周辺温度Ｈを３０°Ｃ一定としたときに、動作時間が３０００時間となるような使用状態に対応している。図４に示す直線Ａから、単位期間毎のダメージ指数の基準値が求められる。例えば、１年当たりであれば１０００、１ヶ月当たりであれば８３．３、１日当たりであれば２．７、というようにダメージ指数の基準値が読み取られる。そして、図４に示すグラフ上において、ダメージ指数の累積値が直線Ａよりも上側にある場合に、ダメージ指数の累積値が基準値を超えていると判断される。
【００３９】
ダメージ指数の累積値が基準値を超えている場合には、ステップ１０８で肯定判断がなされ、基準温度設定部５６は、基準温度を現在の設定値よりも下げる（ステップ１０９）。具体的には、本実施形態の基準温度設定部５６は、５°Ｃ刻みで基準温度の設定値を増減している。例えば、基準温度の現在の設定値が９０°Ｃである場合には、ステップ１０９の処理が行われることにより、基準温度が８５°Ｃに下げられる。その後、上述したステップ１０１に戻って以後の処理が繰り返される。
【００４０】
このように、本実施形態では、ダメージ指数の累積値が予め想定されている単位期間毎の基準値を超えており、光ピックアップ１６の受けたダメージが大きいと考えられる場合には基準温度を下げているので、光ピックアップ１６の周辺温度が高くなり過ぎないうちに、出力動作を停止させることができるようになる。したがって、周辺温度が高い状態（高温環境下）での使用を抑制し、光ピックアップの寿命低下を防止することができる。
【００４１】
また、ダメージ指数の累積値が基準値を超えていない場合には、ステップ１０８で否定判断がなされ、基準温度設定部５６は、ダメージ指数の累積値が基準値を大幅に下回っているか否かを判定する（ステップ１１０）。具体的には、本実施形態では、ダメージ指数の累積値が基準値の１／２よりも小さい場合に、累積値が基準値を大幅に下回っていると判断されるものとする。ダメージ指数の累積値が基準値の１／２を超えている場合には、ステップ１１０で否定判断がなされ、上述したステップ１０１に戻って以後の処理が繰り返される。
【００４２】
ダメージ指数の累積値が基準値を大幅に下回っている場合には、ステップ１１０で肯定判断がなされ、基準温度設定部５６は、基準温度を現在の設定値よりも上げる（ステップ１１１）。例えば、基準温度の設定値が９０°Ｃである場合には、ステップ１１１の処理が行われることにより、基準温度が９５°Ｃに上げられる。その後、上述したステップ１０１に戻って以後の処理が繰り返される。
【００４３】
このように、本実施形態では、ダメージ指数の累積値が予め想定されている単位期間毎の基準値を大幅に下回っており、光ピックアップの受けたダメージが想定しているよりも小さいと考えられる場合には基準温度を上げているので、光ピックアップ１６の出力動作を停止する制御が必要以上に行われることを防ぐことができる。
【００４４】
また、温度検出部２８により測定される光ピックアップ１６の周辺温度が基準温度を超えている場合には、上述したステップ１０３で肯定判断がなされ、動作可否判定部５４は、所定の警告を表示するようにシステムコントローラ３０に依頼する。依頼を受けたシステムコントローラ３０は、所定の警告を表示部３６に表示する（ステップ１１２）。具体的には、システムコントローラ３０は、光ピックアップ１６の周辺温度が基準温度を超えている旨を示すメッセージ（例えば、「ＨＩＧＨ  ＴＥＭＰ！」など）を表示部３６に表示する。
【００４５】
また、動作可否判定部５４は、利用者により操作部３４が操作され、警告の表示を解除するように指示されたか否かを判定する（ステップ１１３）。本実施形態では、予め利用者に対して、光ピックアップ１６の周辺温度が基準温度を超えた高温になっている状態、すなわち、光ピックアップ１６の寿命低下を招く状態であることを承知した上で再生動作を続行させたい場合には、警告表示を解除する旨の操作指示を行えばよいことが知らされているものとする。解除指示が行われた場合には、ステップ１１３で肯定判断がなされ、システムコントローラ３０は、表示部３６に対する警告の表示を中止する。その後、上述したステップ１０４以降の処理が繰り返される。
【００４６】
また、解除指示が行われない場合には、ステップ１１３で否定判断がなされ、動作可否判定部５４は、一定時間ｔ２（例えば、１０分間）が経過したか否かを判定する（ステップ１１４）。一定時間ｔ２が経過しない場合には、ステップ１１４で否定判断がなされ、上述したステップ１１３に戻って以後の処理が繰り返される。
【００４７】
また、一定時間ｔ２が経過した場合には、ステップ１１４で肯定判断がなされ、動作可否判定部５４は、光ピックアップ１６の出力動作を停止するようにシステムコントローラ３０に依頼する。依頼を受けたシステムコントローラ３０は、光ピックアップ１６の出力動作を停止させる（ステップ１１５）。
【００４８】
このように、本実施形態のディスク再生装置は、光ピックアップ１６の周辺温度に応じて所定の温度係数を設定し、この温度係数と動作時間を乗算することによってダメージ指数を計算し、このダメージ指数の累積値をメモリ３２に格納している。このようなダメージ指数の累積値を用いて光ピックアップ１６に与えられたダメージの度合いを判断することにより、周辺温度と動作時間の両者による影響、すなわち使用状態を反映して光ピックアップの適切な状態把握を行うことができる。また、ダメージ指数の累積値に基づいて、光ピックアップ１６の動作を停止させる際の判断基準となる基準温度を可変しているので、実際の使用状態を反映して光ピックアップを適切に保護することができる。
【００４９】
また、本実施形態のディスク再生装置は、周辺温度と動作時間を反映したダメージ指数の累積値を不揮発性のメモリ３２に格納しているので、光ピックアップ１６に故障が生じた場合には、メモリ３２からダメージ指数の累積値を読み出して基準値と比較することにより、それまでの使用状態を推定して光ピックアップ１６の故障原因を解析することができるという利点もある。
【００５０】
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲内において種々の変形実施が可能である。例えば、上述した実施形態では、周辺温度Ｈと温度係数Ｗの対応を示すテーブルを用意しておき、温度検出部２８により検出される光ピックアップ１６の周辺温度に応じてこのテーブルを参照することによって温度係数Ｗを求め、ダメージ指数を計算していたが、上述した計算式に基づいて、その都度、温度係数Ｗを求めるようにしてもよい。
【００５１】
上述した実施形態では、一例として、一定時間ｔ１を１分間に設定し、タイマ５０によって１分間がカウントされる毎に、ダメージ指数計算部５２による動作（ダメージ指数の計算および累積値の更新）を行っていたが、一定時間ｔ１の設定値は１分間に限定されるものではなく、他の値に設定してもよい。
【００５２】
上述した実施形態では、温度検出部２８は、光ピックアップ１６の周辺温度を３°Ｃ刻みで検出して検出結果を出力していたが、必ずしも３°Ｃなどの比較的大まかな間隔で測定する必要はなく、より細かい値（例えば、０．１°Ｃ刻みなど）で測定してもよい。
【００５３】
上述した実施形態では、タイマ５０を用いて光ピックアップ１６の動作時間を測定していたが、ディスク１０から読み出された信号を用いて記録情報の再生動作を行う際に得られる経過時間情報を用いて、光ピックアップ１６の動作時間を測定してもよい。例えば、再生対象のディスク１０として音楽用ＣＤを考えた場合には、ＣＤに記録されたサブコードの中のＱチャンネルと称される情報から、経過時間情報を取得することができる。
【００５４】
図５は、サブコードの中のＱチャンネルのフレーム構造を示す図である。図５に示すように、Ｑチャンネルは、９６ビットのデータが１フレームを構成しており、先頭の４ビット（Ｑ1 〜Ｑ4 ）が「コントロール部」に、次の４ビット（Ｑ5 〜Ｑ8 ）が「アドレス部」に、その次の７２ビット（Ｑ9 〜Ｑ80）が「データ」に、残りの１６ビット（Ｑ81〜Ｑ96）が「ＣＲＣ」（Cyclic Redundancy Code）に割り当てられている。
【００５５】
図６は、Ｑチャンネルのフレームの「データ」部分の詳細構造を示す図である。図６において、楽章番号（ＴＮＯ）は、ＣＤに記録された各楽章を特定するための番号であり、０１〜９９の値をとる。インデックス（Ｘ）は、楽章をさらに細分化するための番号であり、０１〜９９の値をとる。楽章内の経過時間は、分（ＭＩＮ）、秒（ＳＥＣ）、フレーム番号（ＦＲＡＭＥ）から構成されており、フレーム番号（ＦＲＡＭＥ）は１秒間に含まれている音楽データを特定するための番号である。ここで、分（ＭＩＮ）は００〜７４、秒（ＳＥＣ）は００〜５９、フレーム番号（ＦＲＡＭＥ）は００〜７４の値をとる。絶対時間も楽章内の経過時間と同様に、分（ＡＭＩＮ）、秒（ＡＳＥＣ）、フレーム番号（ＡＦＲＡＭＥ）から構成されており、それぞれ、分（ＡＭＩＮ）は００〜７４、秒（ＡＳＥＣ）は００〜５９、フレーム番号（ＡＦＲＡＭＥ）は００〜７４の値をとる。
【００５６】
したがって、システムコントローラ３０は、上述したＱチャンネルのフレームをデジタル信号処理部２４から受け取り、楽章内の経過時間あるいは絶対時間を経過時間情報として取得することにより、光ピックアップ１６の動作時間を測定することができる。このように、ディスク１０から読み出される経過時間情報を用いることにより、特にハードウェアを追加することなく、ソフトウェアを一部変更することにより光ピックアップの動作時間を計測することが可能であり、ディスク再生装置のコスト増加を最小限に抑えることができる。
【００５７】
なお、再生対象のディスク１０は、音楽用ＣＤ以外のもの、例えば、ＭＤ（ミニディスク）やＤＶＤなどであってもよい。ＤＶＤ等の場合にも、上述したＣＤの場合と同様にして経過時間情報を取得し、動作時間を取得することができる。
【００５８】
【発明の効果】
上述したように、本発明によれば、温度の上昇に伴って増加する第１のパラメータと、動作時間の経過に伴って増加する第２のパラメータを乗算することによってダメージ指数を計算し、このダメージ指数の累積値が格納されるので、このダメージ指数の累積値を用いて光ピックアップに与えられたダメージの度合いを判断することにより、周辺温度と動作時間の両者による影響、すなわち使用状態を反映して光ピックアップの適切な状態把握を行うことができる。
【００５９】
また、光ピックアップの周辺温度と動作時間の両者による影響を反映して計算されるダメージ指数の累積値に基づいて、光ピックアップの動作を停止させる際の判断基準となる基準温度が可変に設定されるので、実際の使用状態を反映して光ピックアップを適切に保護することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】一実施形態のディスク再生装置の構成を示す図である。
【図２】ディスク再生装置の動作手順を示す流れ図である。
【図３】周辺温度Ｈと温度係数Ｗの対応を示すテーブルの一例を示す図である。
【図４】ダメージ指数の基準値の一例を示す図である。
【図５】サブコードの中のＱチャンネルのフレーム構造を示す図である。
【図６】Ｑチャンネルのフレームの「データ」部分の詳細構造を示す図である。
【符号の説明】
１０  ディスク
１２  スピンドルモータ
１４  スレッドモータ
１６  光ピックアップ
１８  ＲＦアンプ
２０  サーボＬＳＩ
２２  サーボドライバ
２４  デジタル信号処理部
２６  時計
２８  温度検出部
３０  システムコントローラ
３２  メモリ
３４  操作部
３６  表示部
５０  タイマ
５２  ダメージ指数計算部
５４  動作可否判定部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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