(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験対象に対する試験に使用可能な測定器を記憶する組込測定器メモリ（８）と、
各試験項目毎に、当該試験項目の試験を実施するのに必要な測定機能を有した複数の測定器機種を記憶する試験項目テーブル（１０）と、
前記測定器機種毎に、該当測定器機種の測定機能を有した少なくとも１個以上の測定器を記憶する測定器機種テーブル（９）と、
外部からの試験項目入力に応じて、前記試験項目テーブルから該当試験項目に対応する各測定器機種を読出す測定器機種検索手段（１４）と、
前記測定器機種テーブル内における前記読出された各測定器機種の測定機能を有した測定器と同一の測定器を前記組込測定器メモリから読出して該当試験項目の試験に使用する測定器として決定して表示出力する使用測定器決定手段（１５）と
を備えた試験管理システム。
【請求項２】
前記各測定器と通信を行うための通信ＩＦ（５）と、
前記各測定器のうち前記決定された各測定器に対して試験指令を送出して試験を実行させる試験実行手段（１６）と
を備えた請求項１記載の試験管理システム。
【請求項３】
前記組込測定器メモリ内に、前記読出された各測定器機種の測定機能を有した測定器と同一の測定器が記憶されていないとき、該当測定器に対応する測定器機種を不足測定器機種として警報出力する警報出力手段（１７）を備えた請求項１記載の試験管理システム。
【請求項４】
前記試験項目テーブルから読出された測定器機能を有する測定器が複数個、前記測定器機種テーブル及び組込測定器メモリに記憶されていたとき、この複数の測定器のなかから一つの測定器に対する選択指示を表示する選択指示手段を備えた請求項１又は２記載の試験管理システム。
【請求項５】
前記試験項目テーブルから読出された測定器機能を有する測定器が複数個、前記測定器機種テーブル及び組込測定器メモリに記憶されていたとき、この複数の測定器のなかの最新のバージョンを有する測定器を該当試験項目の試験に使用する測定器として決定する測定器選択手段を備えた請求項１又は２記載の試験管理システム。
【請求項６】
前記試験対象に対する試験に使用可能な測定器を検出して、前記組込測定器メモリに登録する組込測定器検出手段（１２）を備えた請求項１から５のいずれか１項記載の試験管理システム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、一つの試験項目の試験をそれぞれ測定機能が異なる複数の測定器を用いて実施する試験管理システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】
携帯電話システムを含む各種の通信システムを構成する各構成部材や、システム全体を試験する場合においては、多数の測定器を使用して実施する。例えば、携帯電話単体を試験する場合においては、この携帯電話が正常に動作することを確認する試験を実施するために、この携帯電話を通常の動作環境に置く必要がある。
【０００３】
すなわち、信号発生器（ＳＧ）で、基地局から送信されてくる電波を模倣した試験信号を発生して、試験対象の携帯電話に送出する。そして、受信感度検出器で携帯電話の受信感度を測定する。また、この携帯電話から出力される電波を、基地局を模倣した基地局シミュレータ（システム・シミュレータ  ＳＳ）で受信して、送信された電波の信号品質を誤り測定器（ＢＥＲＴ）で測定する。
【０００４】
このように、通信システムに対する各種の試験を実施する場合においては、試験項目毎に、該当試験項目に対応した複数の測定器が必要である。特に、通信システムに対する試験項目は多岐に亘るので、各試験を実施するために必要な測定器も多数必要である。
【０００５】
したがって、試験作業者は、試験対象に対して実施すべき複数の試験項目と、各試験項目で用いる複数の測定器を把握しておく必要がある。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、試験作業に不慣れな試験作業者にとって、これから自己が実施する各試験項目に必要な各測定器を把握しておくことは、負担が大きい。そのために、試験作業現場に赴いて試験作業を開始したのち、不足の測定器が存在することを初めて認識する場合もしばしばある。
【０００７】
また、たとえ試験を実施しようとする各試験項目が必要とする全ての測定器が準備されていたとしても、どの試験項目にどの測定器を使用するかの判断がつかないので、接続誤りや電源の未投入が発生する懸念がある。
【０００８】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、試験項目毎に必要な測定機能及び該当測定機能を有する測定器を記憶保持することによって、たとえ試験作業に不慣れな試験作業者にとっても、試験実施に必要な測定器を即座に把握でき、各試験項目の試験を間違いなく円滑に実施できる試験管理システムを提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
上記課題を解消するために、本発明の試験管理システムにおいては、試験対象に対する試験に使用可能な測定器を記憶する組込測定器メモリと、各試験項目毎に、当該試験項目の試験を実施するのに必要な測定機能を有した複数の測定器機種を記憶する試験項目テーブルと、測定器機種毎に、該当測定器機種の測定機能を有した少なくとも１個以上の測定器を記憶する測定器機種テーブルと、外部からの試験項目入力に応じて、試験項目テーブルから該当試験項目に対応する各測定器機種を読出す測定器機種検索手段と、測定器機種テーブル内における読出された各測定器機種の測定機能を有した測定器と同一の測定器を組込測定器メモリから読出して該当試験項目の試験に使用する測定器として決定して表示出力する使用測定器決定手段とを備えている。
【００１０】
このように構成された試験管理システムにおいては、この試験管理システムで取扱い可能な、すなわち、試験対象に対する試験に使用可能な測定器が組込測定器メモリに記憶されている。そして、試験作業者が試験項目を入力すると、この試験項目の試験を実施するのに必要な測定器が組込測定器メモリから読出されて表示出力される。したがって、たとえ試験作業に不慣れな試験作業者にとっても、試験実施に必要な測定器を即座に把握できる。
【００１１】
また、別の発明は、上述した発明の試験管理システムに対して、さらに、各測定器と通信するための通信ＩＦと、各測定器のうち決定された各測定器に対して試験指令を送出して試験を実行させる試験実行手段を付加している。
【００１２】
このように構成された試験管理システムにおいては、試験作業者が試験項目を入力すると、この試験項目の試験を実施するのに必要な測定器が組込測定器メモリから読出されて表示出力され、その後、自動的に該当試験項目の試験が表示されえた各測定器を用いて実施される。よって、試験作業者の作業負担をさらに軽減できる。
【００１３】
また、別の発明は、上述した発明の試験管理システムに対して、さらに、組込測定器メモリ内に、読出された各測定器機種の測定機能を有した測定器と同一の測定器が記憶されていないとき、該当測定器に対応する測定器機種を不足測定器機種として警報出力する警報出力手段を付加している。
【００１４】
このように構成された試験管理システムにおいては、必要な測定機能を有した測定器が組込測定器メモリ内に記憶されていない場合は、該当測定機能を有した測定器の不足が警告出力される。したがって、試験作業者は不足の測定器を補充して、試験を実行すればよい。
【００１５】
また、別の発明は、上述した発明の試験管理システムに対して、さらに、試験項目テーブルから読出された測定器機能を有する測定器が複数個、測定器機種テーブル及び組込測定器メモリに記憶されていたとき、この複数の測定器のなかから一つの測定器に対する選択指示を表示する選択指示手段を付加している。
【００１６】
このように構成された試験管理システムにおいては、同一の測定機能を有した複数の測定器が組込測定器メモリに記憶されていたときは、選択指示が表示されるので、試験作業者はいずれかの測定器を選択すればよい。
【００１７】
また、別の発明は、上述した発明の試験管理システムに対して、さらに、試験項目テーブルから読出された測定器機能を有する測定器が複数個、測定器機種テーブル及び組込測定器メモリに記憶されていたとき、この複数の測定器のなかの最新のバージョンを有する測定器を該当試験項目の試験に使用する測定器として決定する測定器選択手段を付加している。
【００１８】
このように構成された試験管理システムにおいては、同一の測定機能を有した複数の測定器が組込測定器メモリに記憶されていたときは、自動的に最新のバージョンの測定器が自動的に選択されるので、試験作業者の作業負担をさらに軽減できる。
【００１９】
また、別の発明は、上述した発明の試験管理システムに対して、さらに、試験対象に対する試験に使用可能な測定器を検出して、組込測定器メモリに登録する組込測定器検出手段を付加している。
【００２０】
このように構成された試験管理システムにおいては、組込測定器メモリの記憶内容を簡単な操作で、自動的に更新できるので、簡単に新規の測定器を追加できる。
【００２１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の一実施形態を図面を用いて説明する。
図１は実施形態に係る試験管理システムの概略構成を示すブロック構成図である。この実施形態の試験管理システムは、例えば、移動体通信システムに組込まれた移動端末の各種特性を試験する試験管理システムに適用される。
【００２２】
図１に示すように、この実施形態の試験管理システム１はコンピュータ等の一種の情報処理装置で構成されている。この試験管理システム１内には、操作者（試験作業者）が試験項目等の各種情報を入力するためのキーボード等からなる操作部２、それぞれ測定器４が接続された接続ポート３、各測定器４との間で情報交換を実施するための通信ＩＦ（インタフェース）５，データベース６，各種情報を表示する表示器７等が設けられている。
【００２３】
前記データベース６内には、組込測定器メモリ８、測定器機種テーブル９、試験項目テーブル１０、構成メモリ１１が設けられている。
【００２４】
組込測定器メモリ８内には、図３に示すように、この試験管理システム１の接続ポート３の各ポート（ポート番号）に接続された各測定器４を特定する測定器番号（形式番号）が記憶されている。
【００２５】
測定器機種テーブル９内には、図２に示すように、試験対象である移動端末に対する試験を実施する場合に必要な各測定機能を実現する測定器機種毎に、該当測定器機種の測定機能を有する実際の測定器４を特定する１個以上の測定器番号（形式番号）が記憶されている。
【００２６】
例えば、１番の領域には、Ｔx Tester（送信器試験器）の測定器機種が設定されており、このＴx Tester（送信器試験器）の測定器機種の測定器４として、「ＭＴ１２３４」の測定器番号（形式番号）の測定器４が記憶されている。なお、このＴx Tester（送信器試験器）の測定機能は、試験対象の移動端末に組込まれた送信器における送信特性の測定を実施する機能である。
【００２７】
同様に、２番の領域には、Sw Drv（経路切換器）の測定器機種が設定されており、このSw Drv（経路切換器）の測定器機種の測定器４として、「ＭＲ４５６」の測定器番号（形式番号）の測定器４と、「ＭＲ４５７」の測定器番号（形式番号）の測定器との２台の測定器４が記憶されている。
【００２８】
ざらに、３番の領域には、ＲＦＩＦＵ（高周波インタフェース  ユニット）の測定器機種が設定されており、このＲＦＩＦＵ（高周波インタフェース  ユニット）の測定器機種の測定器４として、「ＭＩ７８９」の測定器番号（形式番号）の測定器４が記憶されている。
【００２９】
同様に、４番の領域には、ＳＧ２（変調信号発生器）の測定器機種が設定されており、このＳＧ２（変調信号発生器）の測定器機種の測定器４として、「ＭＧ１２３Ａ」の測定器番号（形式番号）の測定器４が記憶されている。
【００３０】
５番の領域には、ＳＧ３（定常信号発生器）の測定器機種が設定されており、このＳＧ３（定常信号発生器）の測定器機種の測定器４として、「ＭＧ１２３Ｂ」の測定器番号（形式番号）の測定器４が記憶されている。
【００３１】
６番の領域には、ＢＥＲＴ（誤り率測定器）の測定器機種が設定されており、このＢＥＲＴ（誤り率測定器）の測定器機種の測定器４として、「ＭＰ４５７」の測定器番号（形式番号）の測定器４が記憶されている。
【００３２】
さらに、７番の領域には、ＳＳ（システム・シミュレータ）の測定器機種が設定されており、このＳＳ（システム・シミュレータ）の測定器球種の測定器４として、「ＭＳ８９７Ａ」の測定器番号（形式番号）の測定器４と、「ＭＳ８９７Ｂ」の測定器番号（形式番号）の測定器との２台の測定器が記憶されている。
【００３３】
なお、前記ＲＦＩＦＵ（高周波インタフェース  ユニット）の測定器機種は、移動端末を試験する場合において、試験対象である移動端末と、基地局を模倣したＳＳ（システム・シミュレータ）との間に介挿され、試験項目毎に指定された試験信号が流通する複数の信号経路が内部に選択的に形成される。
【００３４】
そして、前記Sw Drv（経路切換器）の測定器機種は、指定された試験項目毎にＲＦＩＦＵ（高周波インタフェース  ユニット）の測定器機種における試験信号の経路を指定（設定）する機能（測定機能）を有している。
【００３５】
試験項目テーブル１０内には、図４に示すように、この試験管理システムで管理している移動端末に対する試験の試験項目毎に、当該試験項目の試験を実施するのに必要なそれぞれ個別の測定機能を有した複数の測定器機種、及び該当試験を実行するための「構成（接続構成）」の番号が記憶されている。
【００３６】
各測定項目の試験を実施するための構成（接続構成）は図５に示す構成メモリ１１に記憶されている。具体的には、構成１〜構成４において、ＵＥ（ユーザ・イクイプメント  試験対象、移動端末）に対する各測定器機種の接続状態が記憶されている。
【００３７】
図４の試験項目テーブル１０において、例えば、項目番号１のMaximum Output Power（最大出力）の試験項目の試験を実施するためには、ＳＳ（システム・シミュレータ）の測定器機種、Sw Drv（経路切換器）の測定器機種、ＲＦＩＦＵ（高周波インタフェース  ユニット）の測定器機種、及びＴx Tester（送信器試験器）の測定器機種が設定されており、この試験項目の試験は、図５に示す構成（接続構成）１で実施される事を示す。
【００３８】
具体的には、ＳＳ（システム・シミュレータ）は、Sw Drv（経路切換器）で試験信号の信号経路が設定されたＲＦＩＦＵ（高周波インタフェース  ユニット）を介して、試験対象ＵＥへ出力信号の信号レベルを増加させる指令を送出する。そして、Ｔx Tester（送信器試験器）は、試験対象ＵＥからＳＳ（システム・シミュレータ）へ送出される信号の最大出力を測定する。
【００３９】
同様に、項目番号２のFrequency Error（周波数誤差）の試験項目の試験を実施するためには、項目番号１のMaximum Output Power（最大出力）の試験項目と同様に、ＳＳ（システム・シミュレータ）の測定器機種、Sw Drv（経路切換器）の測定器機種、ＲＦＩＦＵ（高周波インタフェース  ユニット）の測定器機種、及びＴx Tester（送信器試験器）の測定器機種が設定されており。この試験項目の試験は、図５に示す構成１で実施される事を示す。
【００４０】
具体的には、ＳＳ（システム・シミュレータ）は、Sw Drv（経路切換器）で試験信号の信号経路が設定されたＲＦＩＦＵ（高周波インタフェース  ユニット）を介して、試験対象ＵＥへ出力信号の送出指令を送出する。そして、Ｔx Tester（送信器試験器）は、試験対象ＵＥからＳＳ（システム・シミュレータ）へ送出される信号の周波数誤差を測定する。
【００４１】
同様に、項目番号３のOccupied Band Width（占有帯域幅）の試験項目の試験を実施するためには、ＳＳ（システム・シミュレータ）の測定器機種、Sw Drv（経路切換器）の測定器機種、ＲＦＩＦＵ（高周波インタフェース  ユニット）の測定器機種、及びＴx Tester（送信器試験器）の測定器機種が設定されており。この試験項目の試験は、図５に示す構成１で実施される事を示す。
【００４２】
具体的には、ＳＳ（システム・シミュレータ）は、Sw Drv（経路切換器）で試験信号の信号経路が設定されたＲＦＩＦＵ（高周波インタフェース  ユニット）を介して、試験対象ＵＥへ出力信号の送出指令を送出する。そして、Ｔx Tester（送信器試験器）は、試験対象ＵＥからＳＳ（システム・シミュレータ）へ送出される信号の周波数領域における占有帯域幅を測定する。
【００４３】
同様に、項目番号４〜７の各試験項目に対しても各測定器機種及び構成番号が記憶されている。
【００４４】
図１の試験管理システム１内には、アプリケーション・プログラム上に構成された、組込測定器検出部１２、試験項目入力部１３、測定器機種検出部１４、使用測定器決定部１５、試験実行指示部１６、不足測定器機種検出部１７、試験結果表示部１８が設けられている。
【００４５】
そして、上述した試験管理システム１を構成する各部１２〜１８は図６に示す流れ図に従って、試験管理処理を実施する。
【００４６】
操作部２から操作者（試験作業者）の操作により組込測定器の検出指令が入力すると（ステップＳ１）、組込測定器検出部１２が起動して、通信ＩＦ５を介して接続ポート３の各ポートに接続されている各測定器４に対してＧＰＩＢコマンドを用いて測定器４を特定する測定器番号（形式番号）の送信要求を送信する。各測定器４から受信した測定器番号（形式番号）を組込測定器メモリ８の該当ポート番号の領域へ書込む。すなわち、組込測定器メモリ８に記憶されている各測定器４が最新の測定器４に更新される（Ｓ２）。
【００４７】
操作部２から操作者（試験作業者）の操作により試験項目が入力すると（Ｓ３）、試験項目入力部１３が起動して、試験項目テーブル１０を試験項目で検索する（Ｓ４）。次に、測定器機種検出部１４が起動して、試験項目テーブル１０内に記憶されている該当試験項目の図５に示す試験の構成（接続構成）を読出して表示器７に表示出力する（Ｓ５）。次に、試験項目テーブル１０内に記憶されている該当試験項目の試験を実施するのに必要な各測定器機種を読出して、この読出した各測定器機種で測定器機種テーブル９を検索して、各測定器機種に対応する各測定器（測定器番号）を読出す（Ｓ６）。
【００４８】
そして、不足測定器機種検出部１７が起動して、この読出した各測定器（測定器番号）が組込測定器メモリ８に記憶されているか否かを判定する（Ｓ７）。もし、組込測定器メモリ８に実際の測定器（測定器番号）が記憶されていない場合は、該当する測定器機種の測定機能は実現できないので、該当する測定器機種の測定器４が不足している不足警告を表示器７表示出力する（Ｓ８）。
【００４９】
Ｓ７にて、読出した各測定器（測定器番号）が組込測定器メモリ８に記憶されている場合は、使用測定器決定部１５が起動する。そして、組込測定器メモリ８に該当測定器機種に所属する測定器（測定器番号）が複数個記憶されていた場合は（Ｓ９）、表示器７にこの複数の測定器（測定器番号）を表示して、試験に使用する測定器（測定器番号）の選択指示を表示する。そして、操作者（試験作業者）が操作部２を介して、一つの測定器（測定器番号）を選択すると（Ｓ１０）、この選択された測定器（測定器番号）を該当測定器機種に用いる測定器（測定器番号）に設定する（Ｓ１１）。
【００５０】
なお、表示器７に選択指示を表示してから一定時間以上、操作者（試験作業者）による選択指示が入力なかった場合は（Ｓ１０）、この複数の測定器（測定器番号）のうち最新のバージョンの測定器（測定器番号）を該当測定器機種に用いる測定器（測定器番号）に設定する（Ｓ１２）。
【００５１】
なお、Ｓ８にて、組込測定器メモリ８に該当測定器機種に所属する測定器（測定器番号）が１個しか記憶されていない場合は、この測定器（測定器番号）をそのまま該当測定器機種に用いる測定器（測定器番号）に設定する（Ｓ１４）。
【００５２】
試験項目の試験を実施するための全部の測定器機種に用いる測定器（測定器番号）が決定すると、この決定された測定器（測定器番号）を先に表示した構成（接続構成）の対応する各測定器機種に置き換えて、図７に示す実際の測定器（測定器番号）が組込まれた構成（接続構成）を表示器７に表示出力する（Ｓ１５）。
【００５３】
以上の測定器決定処理が終了すると、操作者（試験作業者）が操作部２を介して、試験の実行指令を入力すると（Ｓ１５）、試験実行指示部１６が起動して、通信ＩＦ５、接続ポート３を介して、決定された各測定器４に対して、ＧＰＩＰコマンドを用いた、該当試験項目の試験実行指令を送出する（Ｓ１７）。そして、各測定器４から各試験結果が入力されると（Ｓ１８）、試験結果表示部１８が起動して、入力された試験結果を表示器７に表示出力する（Ｓ１９）。
【００５４】
このように構成された試験管理システム１においては、この試験管理システム１で取扱い可能な複数の測定器４がデータベース６の組込測定器メモリ８に記憶されている。なお、この組込測定器メモリ８の記憶内容は、操作者（試験作業者）の簡単な操作で、自動的に更新できるので、簡単に新規の測定器７を追加できる。
【００５５】
そして、操作者（試験作業者）が操作部２を介して、試験項目を入力すると、この試験項目の試験を実施するのに必要な測定器（測定器番号）４が組込測定器メモリ８から読出されて表示出力される。そして、図７に示すように、各測定器（測定器番号）４が測定の接続関係を示す構成（接続構成）に組込まれて表示される。したがって、たとえ試験作業に不慣れな試験作業者にとっても、試験実施に必要な各測定器４をその接続構成と共に即座に把握できる。
【００５６】
また、指定した試験項目の試験を実施するのに必要な測定機能を有した測定器４が組込測定器メモリ８内に記憶されていない場合は、該当測定機能を有した測定器４の不足が表示器７に警告出力される。したがって、試験作業者は、該当試験項目の試験を中止するか、不足の測定器４を補充して、試験を実行すればよい。
【００５７】
さらに、同一の測定機能を有した複数の測定器４が組込測定器メモリ８に記憶されていたときは、表示器７に選択指示が表示されるので、操作者（試験作業者）は操作部２を用いていずれかの測定器４を選択すればよい。さらに、操作者（試験作業者）が一定時間、選択操作を実施しない場合は、自動的に最新のバージョンの測定器４が選択されるので、操作者（試験作業者）の作業負担をさらに軽減できる。
【００５８】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の試験管理システムにおいては、試験項目毎に必要な測定機能及び該当測定機能を有する測定器を記憶保持している。したがって、たとえ試験作業に不慣れな試験作業者にとっても、試験実施に必要な測定器を即座に把握でき、各試験項目の試験を間違いなく円滑に実施できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施形態に係わる試験管理システムの概略構成を示すブロック図
【図２】同実施形態の試験管理システムに組込まれた測定器機種テーブルの記憶内容を示す図
【図３】同実施形態の試験管理システムに組込まれた組込測定器メモリの記憶内容を示す図
【図４】同実施形態の試験管理システムに組込まれた試験項目テーブルの記憶内容を示す図
【図５】同実施形態の試験管理システムに組込まれた構成メモリの記憶内容を示す図
【図６】同実施形態の試験管理システムの全体動作を示す流れ図
【図７】同実施形態の試験管理システムの表示器に表示された各測定器が書込まれた構成を示す図
【符号の説明】
１…試験管理システム
２…操作部
３…接続ポート
４…測定器
５…通信ＩＦ
７…表示器
８…組込測定メモリ
９…測定器機種テーブル
１０…試験項目テーブル
１１…構成メモリ
１２…組込測定器検出部
１３…試験項目入力部
１４…測定器機種検出部
１５…使用測定器決定部
１６…試験実行指示部
１７…不足測定器機種検出部
１８…試験結果表示部
【図１】
0003910089.tif 000002
【図２】
0003910089.tif 000003
【図３】
0003910089.tif 000004
【図４】
0003910089.tif 000005
【図５】
0003910089.tif 000006
【図６】
0003910089.tif 000007
【図７】
0003910089.tif 000008