(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
回転しつつ試料を圧砕する電極ローラと、
圧砕される前記試料の抵抗値を連続的に計測する抵抗値検出手段と、
前記抵抗値のうち所定のしきい値より低い抵抗値に基づいて前記試料の含水率を算出する制御手段とを有する水分計において、
前記電極ローラの回転速度を計測する回転速度検出手段を備え、
前記制御手段は、前記所定のしきい値より低い抵抗値が継続する期間が所定の時間より長い場合に、前記継続期間を前記電極ローラの回転速度に比例した所定の判別時間間隔で区切り、区切られた各期間内に生じる抵抗値を１個の試料の抵抗値として前記含水率を算出し、
前記所定のしきい値より低い抵抗値が継続する期間が前記電極ローラの回転速度に比例した前記判別時間間隔より短い場合には、前記判別時間間隔より短い所定の時間限界値より長いことを条件として、前記継続期間に生じる抵抗値を１個の試料の抵抗値として前記含水率を算出することを特徴とする水分計。
【請求項２】
前記しきい値は、前記電極ローラが試料を圧砕しない方向に回転したときに生じる前記抵抗値に設定されていることを特徴とする請求項１に記載の水分計。
【請求項３】
前記制御部は、前記区切られた各期間内に生じる抵抗値のピーク値、又は前記判別時間間隔より短い前記継続期間に生じる抵抗値のピーク値に基づいて前記含水率を算出することを特徴とする請求項１又は２に記載の水分計。
【請求項４】
前記制御部は、前記区切られた各期間内に生じる抵抗値の平均値、又は前記判別時間間隔より短い前記継続期間に生じる抵抗値の平均値に基づいて前記含水率を算出することを特徴とする請求項１又は２に記載の水分計。
【請求項５】
前記試料は穀物であることを特徴とする請求項１ないし請求項４のいずれか１項に記載の水分計。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば、米や麦、広義の植物の種等（以下、穀物という）の試料を圧砕し、その抵抗値に基づいて含水率を計測する水分計に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来、この種の水分計として、特公平４−７１４６１号公報に開示されたもの知られている。この従来の水分計は、電動モータで回転駆動される一対の電極ローラ間に穀物を搬入し、電極ローラで圧砕される穀物の電気抵抗値の変化を予め決められた一定期間毎に計測することにより、穀物の含水率を求めるようにしている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】
ところが、上記従来の水分計では、電動モータを駆動するための電源周波数の変動に伴って電極ローラの回転速度が変動したり、電極ローラ固有の回転速度の変動に起因して、電極ローラ間を通過する穀物の粒数が変化する場合があった。このように、穀物の粒数が変化すると、上記のように一定時間毎に計測しても、圧砕される穀物の電気抵抗値を的確に計測できなくなり、穀物の含水率を正確に求めることができないという問題があった。
【０００４】
本発明は、上記従来技術の課題を克服するためになされたものであり、試料の含水率を高精度で計測することを可能にする水分計を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために本発明は、回転しつつ試料を圧砕する電極ローラと、圧砕される上記試料の抵抗値を連続的に計測する抵抗値検出手段と、上記抵抗値のうち所定のしきい値より低い抵抗値に基づいて上記試料の含水率を算出する制御手段とを有する水分計において、上記電極ローラの回転速度を計測する回転速度検出手段を備え、上記制御手段は、上記所定のしきい値より低い抵抗値が継続する期間が所定の時間より長い場合に、上記継続期間を上記電極ローラの回転速度に比例した所定の判別時間間隔で区切り、区切られた各期間内に生じる抵抗値を１個の試料の抵抗値として上記含水率を算出し、上記所定のしきい値より低い抵抗値が継続する期間が上記電極ローラの回転速度に比例した上記判別時間間隔より短い場合には、上記判別時間間隔より短い所定の時間限界値より長いことを条件として、上記継続期間に生じる抵抗値を１個の試料の抵抗値として上記含水率を算出する構成とした。
【０００６】
かかる構成によると、電極ローラにより複数の試料が連続して圧砕され、それによって計測される試料の抵抗値が所定時間以上継続して生じた場合には、その継続期間を所定の判別時間間隔で区切ることによって、試料１個ずつの抵抗値を示す期間を設定する。そして、区切られた各期間内の抵抗値に基づいて各試料の含水率が求められる。
【０００７】
また、試料の抵抗値が判別時間間隔より短い期間で計測された場合には、短い期間が、所定の時間限界値より長いことを条件として、１個の試料の含水率を求めることにより、異物を試料と誤計測するのを防止する。
【０００８】
更に、判別時間間隔と時間限界値を、実際に測定した電極ローラの回転速度に比例して調節することにより、電極ローラの回転速度が変動しても、確実に１個ずつの試料の抵抗値を特定して、試料の含水率を求めるようにしている。
【０００９】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。尚、一実施形態として、米や麦、豆類、トウモロコシ等の穀物の含水率を計測するための水分計について説明する。
【００１０】
図１は、本実施形態の水分計１の構成を模式的に示すブロック図である。同図において、水分計１には、商用電源から所定の電源電圧を生成するための電源部（Voltage Regulator）２と、予め設定されたシステムプログラムを実行することにより、試料としての穀物の含水率を演算すると共に水分計１全体の動作を制御するマイクロプロセッサ（ＭＰＵ）を有する制御部３が備えられている。
【００１１】
制御部３には、記憶部４と、操作部５、表示部６、モータ駆動部７、抵抗値検出部８及び回転速度検出部９が接続されている。
【００１２】
記憶部４は、制御部３が穀物の含水率を演算する際に各種データを記憶するための半導体メモリ等で構成されている。操作部５には、使用者等が計測条件等の情報を入力するためのキーボードスイッチが備えられている。表示部６は、液晶ディスプレイ等で構成され、使用者等がキー入力した計測条件等のデータや、制御部２が演算した穀物の含水率のデータ等を表示するようになっている。
【００１３】
モータ駆動部７は、制御部３の指令に従って電源部２から駆動モータ１０に電力を供給し、駆動モータ１０の回転軸に連結されている穀物圧砕用の電極ローラ１１，１２を回転させる。尚、電極ローラ１１，１２は駆動モータ１０の回転軸にギアを介して回転させてもよい。
【００１４】
抵抗値検出部８は、電極ローラ１１，１２の両端に生じる電気抵抗Ｒを入力する。そして、所定の計測周期（サンプリング周期）Δτに同期して、制御部３で設定される所定のしきい値ＴＨＤと抵抗値Ｒとを比較し、Ｒ≦ＴＨＤの関係となる抵抗値Ｒを計測し、Ａ／Ｄ変換器（図示省略）よってデジタルデータに変換して制御部３へ供給する。
【００１５】
回転速度検出部９は、電極ローラ１１，１２の回転速度を計測して制御部３へ供給する。
【００１６】
ここで、回転速度検出部９と電極ローラ１１，１２は、図２（ａ）の斜視図に示す構造を有している。電極ローラ１１，１２は、導電性の金属材により円柱形状に成形され、相対向する側壁には平目状の溝が刻まれている。電極ローラ１１の回転支軸１１ａに駆動モータ１０の回転軸１０ａが連結され、駆動モータ１０によって電極ローラ１１，１２が正転することにより、搬入される穀物を電極ローラ１１，１２の側壁間で圧砕する。そして、抵抗値検出部８が、電極ローラ１１，１２の間に生じる電気抵抗値Ｒを上記サンプリング周期Δτに同期して入力するようになっている。尚、穀物は圧砕されて密になると、その電気抵抗が低下することになるため、上記のＲ≦ＴＨＤの関係となる抵抗値Ｒを計測することで、穀物の通過や圧砕の有無の検出や、穀物の含水率を算出するようになっている。
【００１７】
回転速度検出部９は、電極ローラ１２の回転支軸１２ａに直結された円板形状の回転体９ａと、フォトインタラプラ９ｂとを備えて構成されている。すなわち、回転体９ａには、多数のスリット９ｃが周方向に沿って一定間隔で形成されており、フォトインタラプラ９ｂは、スリット９ｃを挟むようにして配設されている。回転体９ａが電極ローラ１２と一体となって回転する際に、フォトインタラプラ９ｂがスリット９ｃの通過を光学検出し、この検出信号を２値信号Ｓに波形成形して制御部３へ出力する。
【００１８】
そして、制御部３が、所定の計測期間Ｔａ内に２値信号Ｓを計数し、その計数値ＳＫを計測期間Ｔａで除算することによって、電極ローラ１１，１２の実際の回転速度Ｓａ（＝ＳＫ／Ｔａ）を算出する。
【００１９】
また、電極ローラ１１，１２と駆動モータ１０、フォトインタラプラ９ｂ及び回転体９ａを、図２（ｂ）の平面図に示すような構成で配設してもよい。すなわち、駆動モータ１０の回転軸に対してギヤＧ３，Ｇ２，Ｇ１が連設され、ギヤＧ２に電極ローラ１１、ギヤＧ１に電極ローラ１２が連結されている。更に、ギヤＧ１に回転体９ａが連結され、この回転体９ａの回転速度を検出するためのフォトインタラプラ９ｂが併設されている。また、電極ローラ１１の側壁には平目状の溝が刻まれ、電極ローラ１２の側壁には、斜め網目状（アヤ目状という）の溝が刻まれている。
【００２０】
そして、電極ローラ１１，１２の間に穀物を搬入し、そのときに電極ローラ１１，１２の間に生じる抵抗値Ｒを制御部３に供給し、更に、ギヤＧ１と共に電極ローラ１２と一体に回転する回転体９ａの回転をフォトインタラプラ９ｂで光学検出し、それによって生じる検出信号を２値信号Ｓに波形成形して、制御部３に供給するようになっている。
【００２１】
次に、かかる構成を有する水分計１の動作例を図３ないし図６を参照して説明する。図３及び図４は、制御部３による制御動作を示すフローチャート、図５は、抵抗値Ｒの変化を模式的に示したタイミングチャート、図６は、記憶部４のメモリマップを模式的に示した説明図である。
【００２２】
尚、便宜上、電極ローラ１１，１２間の抵抗値Ｒが図５（ａ）中の実線で示すように変化した場合での動作例について説明する。
【００２３】
本実施形態では、所定の計測期間Ｔａ毎に計測を繰り返えし、各計測期間Ｔａ内に計測される抵抗値Ｒに基づいて、穀物の含水率を演算することとしている。また、各計測期間Ｔａ内において、抵抗値Ｒが連続して所定のしきい値ＴＨＤより低下する期間をそれぞれ順番ｉ（ｉ＝１，２，３…）で表し、更に、各順番ｉで特定される期間内において、サンプリング周期Δτに同期して計測が行われる順番をｊとすることにより、計測した抵抗値ＲをＲ（ｉ，ｊ）として、記憶部４内の所定のメモリ領域ＴＡに記憶していくようになっている。
【００２４】
図３において、使用者等が計測開始の指示をすると、ステップＳ１００〜Ｓ１０６において、計測条件を設定するための初期化処理が行われる。
【００２５】
まず、ステップＳ１００では、しきい値ＴＨＤ、計測期間Ｔａ、判別時間Ｔco、時間限界値Ｔgo、サンプリング周期Δτ、回転速度Ｓo等の予め設定された計測条件を初期設定する。尚、しきい値ＴＨＤは、電極ローラ１１，１２が試料を圧砕しない方向に回転（逆転）したときに生じる抵抗値Ｒと等しい値に設定されている。また、上記の各計測条件を、使用者等が操作部５を操作してマニュアル入力することができるようになっている。
【００２６】
次に、指定された回転速度Ｓoで電極ローラ１１，１２を回転させ、計測対象である穀物の搬入を開始する（ステップＳ１０２）。更に、最初の計測期間Ｔａの順番を便宜上、ＴＡ＝０に設定した後（ステップＳ１０４）、回転速度検出部９が電極ローラ１１，１２の回転速度の計測を開始し、制御部３内のプログラムタイマーが計測期間Ｔａの計測を開始し、更に、計測時間Ｔａ内に計測される抵抗値Ｒのデータを記憶するためのメモリ領域ＴＡを記憶部４内に確保する（ステップＳ１０６）。
【００２７】
次に、ｉ＝１とした後（ステップＳ１０８）、電極ローラ１１，１２間に生じる抵抗値Ｒをサンプリング周期Δτに同期して計測し（ステップＳ１１０）、その抵抗値Ｒとしきい値ＴＨＤを比較する（ステップＳ１１２）。
【００２８】
ここで、抵抗値Ｒがしきい値ＴＨＤより大きいとき、すなわち、Ｒ＞ＴＨＤのときには、電極ローラ１１，１２間に穀物が搬入されていないと判断し、ステップＳ１１０の処理を繰り返えす。抵抗値ＲがＲ≦ＴＨＤの関係になると、その抵抗値Ｒは圧砕された穀物の抵抗値であると判断し、ｊ＝１に設定した後（ステップＳ１１４）、計測した抵抗値ＲをＲ（ｉ，ｊ）として、記憶部４内のメモリ領域ＴＡに記憶する（ステップＳ１１６）。したがって、ステップＳ１１０〜Ｓ１１６の処理により、穀物でない抵抗値から穀物の抵抗値に変化した直後の抵抗値Ｒが、メモリ領域ＴＡ内の順番ｉ，ｊで指定されるメモリアドレス（ｉ，ｊ）に、Ｒ（ｉ，ｊ）として記憶される。
【００２９】
次に、引き続いてサンプリング周期Δτに同期して、電極ローラ１１，１２間に生じる抵抗値Ｒを計測し（ステップＳ１１８）、その抵抗値Ｒとしきい値ＴＨＤとを比較する（ステップＳ１２０）。ここで、抵抗値Ｒがしきい値ＴＨＤより小さいとき、すなわち、Ｒ≦ＴＨＤのときには、その抵抗値Ｒは圧砕された穀物の抵抗値であると判断し、順番ｊをｊ＝ｊ＋１に設定した後（ステップＳ１２２）、計測した抵抗値ＲをＲ（ｉ，ｊ）として記憶部４内のメモリ領域ＴＡに記憶し（ステップＳ１２４）、ステップＳ１１８からの処理を繰り返す。したがって、圧砕された穀物の抵抗値Ｒを、サンプリング周期Δτに同期して連続計測し、順番ｉ，ｊで設定されるメモリアドレス（ｉ，ｊ）に、それらの抵抗値ＲをＲ（ｉ，ｊ）として順番に記憶する。
【００３０】
このように、ステップＳ１０８〜Ｓ１２４の処理が１回行われると、例えば、図５（ａ）に示したｉ＝１番目の期間における計測が行われる。
【００３１】
次に、ステップＳ１２０において、抵抗値ＲがＲ＞ＴＨＤの関係に変化すると、電極ローラ１１，１２に穀物が搬入されなくなったと判断して、ステップＳ１２６へ移行する。ステップＳ１２６では、今まで連続してＲ≦ＴＨＤの関係になっていた期間中に計測された抵抗値Ｒの計測数ＳＡＭＰＬ（ｉ）と、その期間ＴＥＲＭ（ｉ）をメモリ領域ＴＡに記憶する。例えば、図５（ａ）に示したｉ＝１番目の期間中に計測された抵抗値Ｒの計測数ＳＡＭＰＬ（１）と、その期間ＴＥＲＭ（１）がメモリ領域ＴＡに記憶されることとなる。
【００３２】
次に、ステップＳ１２８において、プログラムタイマーの計数値に基づいて、計測時間が初期設定された計測期間Ｔａより経過したか否か判断し、経過していない場合（「ＮＯ」の場合）には、ステップＳ１３０に移行して、順番ｉをｉ＝ｉ＋１に設定した後、再びステップＳ１１０からの計測処理を継続する。そして、計測期間Ｔａが経過するまで、ステップＳ１３０，Ｓ１１０〜Ｓ１２８の処理を繰り返えす。
【００３３】
このように、ステップＳ１３０，Ｓ１１０〜Ｓ１２８の処理を繰り返えすことで、図５（ａ）中のＲ≦ＴＨＤとなる各期間において計測される抵抗値Ｒ（ｉ，ｊ）を、図６に示すように順番ｉ毎に割り当てて記憶し、更に、各期間中に計測された抵抗値Ｒの計測数ＳＡＭＰＬ（ｉ）と計測期間ＴＥＲＭ（ｉ）のデータも順番ｉに割り当てて記憶する。
【００３４】
次に、ステップＳ１２８において、所定の計測期間Ｔａが経過したと判断すると（「ＹＥＳ」の場合）、ステップＳ１３２において、最後の順番ｉをＲ≦ＴＨＤとなった期間の総数ＴＯＴＡＬとし、更に、ステップＳ１３４において、計測期間Ｔａ内に計数された２値信号Ｓの計数値ＳＫを計測期間Ｔａで除算することによって、電極ローラ１１，１２の回転速度Ｓａ（＝ＳＫ／Ｔａ）を算出した後、ステップＳ１３６において、総数ＴＯＴＡＬと回転速度Ｓａのデータを制御部３内の所定のレジスタに格納する。
【００３５】
そして、ステップＳ１３８において、使用者等が計測終了の指示を行うと、それに従って計測動作を停止し、上記の指示が行われない場合には、ステップＳ１４０に移行して、含水率を算出するための演算処理が開始され、更に、再びステップＳ１０６からの処理、すなわち、次の計測期間Ｔａにおける計測動作が連続して行われる。
【００３６】
ステップＳ１４０の含水率演算処理は、図４に示すフローチャートに基づいてて行われる。更に、次の計測期間Ｔａ中に、割り込み処理によって並列的に処理される。
【００３７】
図４において、含水率演算のための処理が開始されると、ステップＳ２００において、実際の回転速度Ｓaと初期設定された回転速度Ｓoとの比Ｋ（＝Ｓa／Ｓo）を算出し、更に、初期設定された判別時間Ｔcoと時間限界値Ｔgoに比Ｋを乗算することにより、新たな判別時間Ｔc（＝Ｋ×Ｔco）と時間限界値Ｔg（＝Ｋ×Ｔgo）を算出する。
【００３８】
ここで、判別時間Ｔcoは、穀物が電極ローラ１１，１２を通過するのに要する時間として予め設定され、時間限界値Ｔgoは、穀物より小さな異物が電極ローラ１１，１２を通過するのに要する最大時間として予め設定されるものである。
【００３９】
したがって、初期設定された判別時間Ｔcoと時間限界値Ｔgoに比Ｋを乗算することにより、穀物が実際に通過するのに要する判別時間Ｔｃと、異物が実際に通過するのに要する時間限界値Ｔｇが求められる。
【００４０】
次に、ステップＳ２０２において、図５（ａ）に示した計測期間の順番ｉを設定（最初は、ｉ＝１）した後、メモリ領域ＴＡに記憶されている第ｉ番目の期間ＴＥＲＭ（ｉ）と判別時間Ｔcとを比較する。
【００４１】
ここで、ＴＥＲＭ（ｉ）≧Ｔcの場合には、その期間ＴＥＲＭ（ｉ）において１粒又は２粒以上の穀物が計測されたと判断し、ステップＳ２０６〜Ｓ２３０の処理によって各穀物の含水率を演算する。例えば、図５（ａ）中のｉ＝１番目の期間ＴＥＲＭ（１）のように、２粒以上の穀物の抵抗値Ｒが連続して計測された場合には、ステップＳ２０６〜Ｓ２３０の処理によって、各穀物の含水率が演算されることになる。
【００４２】
一方、ＴＥＲＭ（ｉ）＜Ｔcの場合には、ステップＳ２３２に移行して、その期間ＴＥＲＭ（ｉ）と時間限界値Ｔgとを比較する。ＴＥＲＭ（ｉ）≧Ｔｇの場合には、通常よりも小形ではあるがその期間ＴＥＲＭ（ｉ）において１粒の穀物が計測されたと判断し、ステップＳ２０６〜Ｓ２３０の処理によって含水率を演算する。例えば、図５（ａ）中のｉ＝２番目の期間ＴＥＲＭ（２）のように、１粒の抵抗値Ｒが計測された場合には、ステップＳ２０６〜Ｓ２３０の処理によって含水率が演算されることになる。
【００４３】
尚、図５（ｂ）に示すように、ステップＳ２０２において、ｉ＝１の期間における期間ＴＥＲＭ（１）を判別期間Ｔcで区切った場合に、整数では区切ることができず、端数の期間が生じた場合には、その端数の期間が判別期間Ｔcより短くなっても、時間限界値Ｔｇより長い場合には、１粒の穀粒を計測したと判断して含水率を演算するようになっている。
【００４４】
次に、ステップＳ２３２において、ＴＥＲＭ（ｉ）＜Ｔｇと判断した場合には、ステップＳ２５０に移行して、その期間ＴＥＲＭ（ｉ）で計測された抵抗値を異物に関するものと判断する。そして、含水率の演算を行わずに、ステップＳ２２８に移行する。
【００４５】
上記のステップＳ２０４からステップＳ２０６に処理が移行すると、ステップＳ２０６において、期間ＴＥＲＭ（ｉ）中に通過した穀物の粒数Ｎ（＝ＴＥＲＭ（ｉ）／Ｔc）と、穀物毎のサンプル数Ｊ（＝ＳＡＭＰＬＥ（ｉ）／Ｎ）を算出する。例えば、図５（ａ）に示したｉ＝１番目の期間ＴＥＲＭ（１）において、２個の穀物を計測した場合には、Ｎ＝２となり、各判別時間Ｔc内においてＪ個ずつの抵抗値Ｒが計測されたことになる。
【００４６】
次に、ステップＳ２０８とＳ２１０において、最初の穀物とその最初の抵抗値Ｒを指定すべく、ｎ＝１，ｊ＝１に設定した後、ステップＳ２１２〜Ｓ２１８の処理を繰り返すことにより、メモリ領域ＴＡに記憶されているｎ＝１に該当する抵抗値Ｒの総和ＳＵＭ（ｉ，ｎ）を求める。
【００４７】
そして、ステップＳ２１８において、上記の総和ＳＵＭ（ｉ，ｎ）を求めたと判断すると、ステップＳ２２０に移行して、総和ＳＵＭ（ｉ，ｎ）を個数Ｊで割り算することにより、穀物１粒の平均含水率Ｈ（ｉ，ｎ）を求め、更に、ステップＳ２２２において、表示部６にその平均含水率Ｈ（ｉ，ｎ）を表示する。
【００４８】
次に、ステップＳ２２４において、次の穀物の含水率を計測すべく、ｎ＝ｎ＋１とした後、ステップＳ２２４において、ｎ＞Ｎか否か判断する。ここで、Ｎ個の穀物についての平均含水率を未だ算出していないと判断すると、ステップＳ２１２〜Ｓ２２６の処理を繰り返して、次の穀物についての平均含水率Ｈ（ｉ，ｎ）を算出すると共に、表示部６にその平均含水率Ｈ（ｉ，ｎ）を表示する。
【００４９】
そして、ステップＳ２２６において、Ｎ個の全ての平均含水率Ｈ（ｉ，ｎ）を求めたと判断すると、ステップＳ２２８において、次の期間ＴＥＲＭ（ｉ）を設定すべく、順番ｉをｉ＋１に設定し、更に、ステップＳ２３０において、全ての期間ＴＥＲＭ（ｉ）において計測された穀物の平均含水率Ｈ（ｉ，ｎ）を求めるまで、ステップＳ２０４からの処理を繰り返す。
【００５０】
また、ステップＳ２０４からＳ２３２を経由して、ステップＳ２３４〜Ｓ２４８の処理が行われる場合には、順番ｉに該当する期間ＴＥＲＭ（ｉ）中に穀物１粒分の抵抗値Ｒが計測されたことになるため、ステップＳ２３４において、メモリ領域ＴＡ中の順番ｉに該当する計測数ＳＡＭＰＬ（ｉ）を、その期間ＴＥＲＭ（ｉ）中のサンプル数Ｊとする。例えば、図６中の順番ｉ＝２の領域に記憶されている計測数ＳＡＭＰＬ（２）がサンプル数Ｊに設定される。
【００５１】
次に、ステップＳ２３６において、期間ＴＥＲＭ（ｉ）中の最初に計測された抵抗値Ｒ（ｉ，ｊ）を設定すべく、順番ｊをｊ＝１にした後、ステップＳ２３８〜Ｓ２４４の処理を繰り返すことにより、抵抗値Ｒの総和ＳＵＭ（ｉ）を求める。
【００５２】
次に、ステップＳ２４６において、総和ＳＵＭ（ｉ）を個数Ｊで割り算することにより、穀物１粒の平均含水率Ｈ（ｉ）を求め、更に、ステップＳ２４８において、表示部６にその平均含水率Ｈ（ｉ）を表示した後、ステップＳ２２８に移行する。
【００５３】
そして、ステップＳ２３０において、順番ｉで設定された全ての期間ＴＥＲＭ（ｉ）についての演算処理を完了したと判断すると、含水率演算のための割り込み処理を終了する。
【００５４】
このように、本実施形態によると、実際に計測した電極ローラ１１，１２の回転速度Ｓａと初期設定された回転速度Ｓoとの比Ｋを求めると共に、１粒の穀物の通過時間を判断するために初期設定されている判別時間Ｔcoと時間限界値Ｔgoに比Ｋを掛け算することによって、実際に即した判別時間Ｔｃと時間限界値Ｔｇを求め、これらの判別時間Ｔｃと時間限界値Ｔｇを基準にして、１粒ずつの穀物の抵抗値Ｒを判断して平均含水分率を求めるようにしている。この結果、例えば、電動モータ１０を駆動するための電源周波数の変動に伴って電極ローラ１１，１２の回転速度が変動したり、電極ローラ１１，１２固有の回転速度の変動に起因して、電極ローラ１１，１２間を通過する穀物の粒数が変化しても、それらの変動の影響を受けることなく、各穀物の平均含水率を正確に計測することができる。
【００５５】
また、計測期間Ｔａを調節することにより、電極ローラ１１，１２の実際の回転速度Ｓａをより正確に計測することが可能となるため、上記電極ローラ１１，１２の回転速度の変動の影響を抑えて、各穀物の平均含水率を正確に計測することができる。
【００５６】
尚、以上に説明した実施の形態では、圧砕された各穀物の抵抗値の平均値を求め、これらの平均値に基づいて各穀物を含水率を算出することとしたが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、図５（ａ）のタイミングチャートで示した各穀物の抵抗値のピーク値に基づいて、各穀物の含水率を算出してもよい。
【００５７】
また、本実施形態では、予め決められた計測期間Ｔａ毎に電極ローラ１１，１２の実際の回転速度Ｓａを計測することとしたが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、サンプリング周期Δτに同期して、上記回転速度Ｓａをより高精度で計測し、その計測した回転速度Ｓａに基づいて、実際に即した判別時間Ｔｃと時間限界値Ｔｇを算出するようにしてもよい。
【００５８】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、電極ローラにより複数の試料が連続して圧砕され、それによって計測される試料の抵抗値が所定時間以上継続して生じた場合には、その継続期間を所定の判別時間間隔で区切ることによって、試料１個ずつの抵抗値を示す期間を設定して、区切られた各期間内の抵抗値に基づいて各試料の含水率を求め、更に、判別時間間隔と時間限界値を、実際に測定した電極ローラの回転速度に比例させるようにしたので、電極ローラの回転速度が変動しても、確実に１個ずつの試料の抵抗値を特定して、試料の含水率を求めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本実施形態の水分計の構成を模式的に示すブロック図である。
【図２】電極ローラと回転速度検出部の構造を示す斜視図と平面図である。
【図３】本実施形態の水分計の動作を説明するためのフローチャートである。
【図４】本実施形態の水分計の動作を更に説明するためのフローチャートである。
【図５】本実施形態の水分計の動作を更に説明するためのタイミングチャートである。
【図６】記憶部に設定されるメモリ領域のメモリマップを模式的に示した説明図である。
【符号の説明】
１…水分計
２…電源部
３…制御部
４…記憶部
５…操作部
６…表示部
７…モータ駆動部
８…抵抗値検出部
９…回転速度検出部
９ａ…回転体
９ｂ…フォトインタラプタ
９ｃ…スリット
１０…駆動モータ
１１，１２…電極ローラ
【図１】
0003937204.tif 000002
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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