(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
乾燥中の穀物を単粒ごとに取り込んで水分値に換算し所定粒数毎に平均処理する水分測定を休止時間を置いて繰り返し行う水分測定装置において、上記水分測定時の水分測定速度を測定した粒数とその時間との関係から演算する水分測定速度算出手段を設け、この測定速度値に応じて、次の単位粒数測定開始までの上記休止時間を変更し、規定粒数測定時間と測定休止時間との測定時間周期をほぼ一定にすべく構成し、前記水分測定速度が設定以下であることを検出すると水分計測定異常報知を行なうことを特徴とする穀物水分測定装置。
【請求項２】
測定時間周期を乾燥速度と水分測定速度とに応じて変更したことを特徴とする請求項１に記載の穀物水分測定装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、例えば穀物を単位粒ずつ、例えば１粒ずつ所定粒数水分測定し、平均処理して水分値を算出する穀粒乾燥機の穀物水分測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、所定単位粒数、例えば１００粒を夫々水分測定し又は水分換算出力しこれらを単位粒数毎に平均処理して水分値を算出し、所定休止時間をおいて次の測定が開始されるよう構成されている。
【０００３】
また、この測定休止時間、すなわち測定間隔時間は通常予め設定した一定時間を採用するが、特開平３−２８６８４号公報では、穀物乾燥速度の大小に対応させてこの測定間隔を小大に変更設定する構成としている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
従って、前者の場合には、測定時間が長時間になると次回測定時までの時間長くかかり乾燥の進行と共に的確な水分把握ができない恐れがある。また、後者のように、乾燥速度の大小によってもその都度測定速度が変化し、測定時間のずれが生じる。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
そこで、本発明は、測定速度を管理することによって、上記の欠点を解消しようとするものである。即ち、請求項１に記載に発明は、乾燥中の穀物を単粒ごとに取り込んで水分値に換算し所定粒数毎に平均処理する水分測定を休止時間を置いて繰り返し行う水分測定装置において、上記水分測定時の水分測定速度を測定した粒数とその時間との関係から演算する水分測定速度算出手段を設け、この測定速度値に応じて、次の単位粒数測定開始までの上記休止時間を変更し、規定粒数測定時間と測定休止時間との測定時間周期をほぼ一定にすべく構成し、前記水分測定速度が設定以下であることを検出すると水分計測定異常報知を行なうことを特徴とする穀物水分測定装置の構成とする。
【０００６】
このように構成することによって、穀物乾燥中所定の水分測定信号の出力を受けて水分測定装置は測定開始するが、単位粒の穀物を順次受け入れて換算水分値を制御部に出力するものとなる。この水分測定途中で水分測定速度が演算される。例えば単位時間あたりの測定粒数カウントによって算出できるが、この水分測定速度の算出によって当該水分測定の測定時間を知り、測定休止時間を長短に変更設定制御することにより、所定粒数測定時間と測定休止時間とからなる測定時間周期をほぼ一定にする。
水分測定速度が設定以下であることを検出すると水分計測定異常報知を行なう。
【０００７】
請求項２に記載の発明は、上記において、測定時間周期を乾燥速度と水分測定速度とに応じて変更したことを特徴とする。これによって、測定周期は、乾燥速度と測定速度規定される。よって測定速度により安定した測定精度が確保され得ない条件においては、乾燥速度を低下すべく可能な乾燥速度、即ち可能な乾燥温度、風量の変更を実施するものである。
【０００８】
【発明の効果】
請求項１に記載の発明では、所定粒数測定時間と測定休止時間とからなる測定時間周期をほぼ一定にすることができるため、穀粒の水分測定装置への供給状態に関らず一定周期で水分測定を繰り返すことができ、適切な停止処理を行うことができる。また、水分測定速度が設定以下であることを検出すると水分計測定異常報知を行なうことで乾燥作業の安全性を確保することができる。
【０００９】
請求項２に記載の発明では、測定周期は、乾燥速度と測定速度規定されるから、従来、基準時間内に規定粒数の測定が完了しない場合には、水分計異常として乾燥工程を中断するなどの対応を余儀なくされたため、この基準時間を大として異常処理の発生頻度を抑制したが、乾燥終了時には測定時間のずれが生じて適切な停止処理ができないことから過乾燥になってしまうことがあった。ところが上記のようにすることによって、穀粒供給条件に違いがあっても信頼性の高い乾燥機の水分測定を実行できる。
【００１０】
【発明の実施の形態】
この発明の一実施の形態を図面に基づき説明する。１は穀物乾燥装置の機枠で、内部には貯留室２、乾燥室３、集穀室４の順に積み重ねられ、外部に設ける昇降機５の駆動によって穀物を循環させながら、乾燥室３部でバーナ６燃焼と吸引ファン７とにより発生する熱風を浴びせて乾燥する公知の形態である。
【００１１】
８は繰り出しドラムで正逆に回転しながら所定量の穀物を流下させる。９は上記昇降機５に通じる下部移送装置、１０は昇降機５上部側に接続する上部移送装置で、貯留室２上部の拡散盤１１に穀物供給できる。バーナ６や穀物循環機構等は、乾燥制御に必要な制御プログラムや各種データ等を記憶するメモリを備えるコンピュータによって行なわれる。即ち、操作盤１２には液晶形態の表示部１３を設け、該表示部１３の下縁に沿って４個の押しボタン形態のスイッチ１４〜１７、及びやや離れて非常停止スイッチ１８を配設している。該スイッチ１４〜１７はその機能が表示部１３に表示されるもので、図例では、順に張込・乾燥・排出・通風の各運転用スイッチに構成されるが、表示部１３の画面変更に従って異なる機能を具備せしめ得る構成である。
【００１２】
内蔵の制御部は操作盤１２面のスイッチ情報や乾燥機機枠１各部に配設したセンサ類からの検出情報等を受けて必要な比較演算のもと、バーナ燃焼量の制御，穀物循環系の起動・停止制御，表示部１３の表示内容制御等を行う。上記操作盤１２のスイッチ類は、張込・乾燥・排出・通風の各設定のほか、穀物種類、設定水分（仕上げ水分）、張込量、タイマ増・減等を設定できる。
【００１３】
図４は制御ブロック図を示し、上記操作盤１２を有するコントロールボックスに内蔵するコンピュータの演算制御部１９には上記スイッチ類からの設定情報のほか、水分計２０検出情報、昇降機５の投げ出し部に設ける穀物流れ検出器２１の穀物検出情報、熱風温度検出情報等が入力される。一方出力情報としては、バーナ６の燃焼系２２信号、例えば燃料供給信号，その流量制御信号、あるいは上下移送螺旋，昇降機５，繰出バルブ８等の穀物循環系モータ２３制御信号、吸引ファン７モータ制御信号，各表示部２４への表示出力等がある。
【００１４】
昇降機５はバケット式で、無端ベルト３０に多数のバケット３１，３１…を取り付け、外周を側壁５ａにより覆った構造で、バケット３１により集穀室４より出る穀粒を掬い上げて上昇し貯留室２へと運ぶ。昇降機５の側壁５ａの正面内側に、一粒式水分計２０の穀粒取り込み部３２の前縁をバケット用無端ベルト３０のバケット３１の近くまで差し込んで設置し、側壁５ａの内側で、穀粒取り込み部３２の底部排出口下方に、穀粒送り螺旋３３の始端部をのぞませる。
【００１５】
この穀粒取り込み部３２の前縁と穀粒送り螺旋３３の始端部は、バケット用無端ベルト３０の上昇側と下降側のベルト内側に位置するので、ベルト３０やバケット３１の移動に支障はない。一粒水分計２０の筐体は、フレーム３４と、そのフレーム３４を覆うカバー３５とからなる。このうち、フレーム３４は、昇降機５の側面に沿い、昇降機５との間を仕切る底板３６と、底板３６上に一体的に起立させた仕切板３７とからなり、フレーム３４に組付けたモータ３８，制御部３９と機構部４０とを当該仕切板３７により仕切る。
【００１６】
仕切板３７にモータ３８の駆動軸４１を貫通して水平に固定し、この駆動軸４１の先端に、はすば歯車４２を固定する。上記はすば歯車４２とは回転軸心を一致させて順次下位に第２はすば歯車４３ａ，第３はすば歯車４３ｂ、第４はすば歯車４４ａ，第５はすば歯車４４ｂを噛合させるものである。そして、第４はすば歯車４４ａの軸４５には第１電極ロール４６ａを、第５はすば歯車４４ｂの軸４７には第２電極ロール４６ｂを夫々固定するものである。
【００１７】
上記仕切板３７と平行に、いずれも透明の樹脂材からなる中間仕切４８と電極ロール取付板４９とを、仕切板３７から突出すべく一体に成形する取付脚部５０，５０…に着脱自在にボルト（図示せず）止めにより共締めしている。なお、仕切板３７と中間仕切４８との間隔は上記取付脚部５０の存在によって確保し、中間仕切４８と電極ロール取付板４９との間隔はこの取付板４９と一体成形する幅狭の起立部５１によって確保する。従って、前記軸４５及び軸４７は一端を仕切板３７に軸受し、他端を電極ロール取付板４９に軸受支持させる構成である。
【００１８】
さらに、底板３６の所定位置に、穀粒送り螺旋３３の回転軸５２を挿通し、この回転軸５２にはすば歯車５３を固定し、駆動軸４１のはすば歯車４２と直角に噛合する。図８は一粒式水分計を昇降機５内側から見た背面図で、穀粒取り込み部３２は、底板３６より昇降機５内部に突出し、その上部開口５５の開口縁を斜め下方に傾斜させ、開口面積を大きく形成すると共に、この開口５５に複数の弾線を並べてその根元を固定することにより、櫛状の異物除去体５６を形成している。
【００１９】
穀粒取り込み部３２の下部は、断面Ｖ字状に間隔を狭め、その一側を穀粒送り螺旋３３の真上まで延伸し、他側の下端に底部排出口５７を形成し、これに穀粒送り螺旋３３の先端部を接続する。そして穀粒送り螺旋３３と平行で上縁を穀粒取り込み部３２の外側に回転自在に軸支した穀粒送り板５８を垂設し、バネ５９により穀粒送り螺旋３３の外周に接するように付勢する。
【００２０】
前記穀粒送り螺旋３３の終端部の下方に穀粒落下路６０を設ける。この穀粒落下路６０の上部入口と穀粒送り板５８との間に形成される間隙に穀粒飛込防止板（図示せず）を設置してこの間隙を閉鎖している。この穀粒落下路６０は、一対の電極ロール４６ａ，４６ｂが斜めに位置してこれらの接近する部分に向けて誘導壁を形成し、穀粒を電極ロール４６ａ，４６ｂの間隙に誘導する。
【００２１】
上記電極ロールの一方４６ａは上位にあって高速回転側となし、他方４６ｂは下位にあって低速回転側となして且つその外周を円形となすと共に、外周面をローレット仕上げしている。なお穀粒落下路６０は、電極ロール４６ａ，４６ｂの左右に接近する中間仕切４８と電極ロール取付板４９とによって形成されるものであるが、その間隔は、両電極ロール４６ａ，４６ｂによる圧砕部付近では圧砕穀粒の侵入を防止しうるよう狭く形成している。すなわち、当該圧砕部付近の間隔が狭くなるよう中間仕切４８と電極ロール取付板４９の内壁面をやや膨出状に形成するものである。
【００２２】
また前記穀粒送り螺旋３３は、円柱体の外周に２本の線状突起の間に穀粒の１粒に見合う浅い凹部６３を形成し、穀粒送り螺旋３３の先端の一定範囲を除き、上記２本の線状突起の外側を断面台形に切削して螺旋状の深い溝６４を形成する。
【００２３】
６５は、傾斜状に配設する電極ロール４６ａ，４６ｂの下方に沿って設ける圧砕済穀粒の排出案内部で、この圧砕済穀粒を昇降機内空間へ還元案内する構成である。この排出案内部６５は、前記電極ロール取付板４８と一体成形される起立部５１と同様に成形される構成である。
【００２４】
前記制御部３９には、回路基板６６上に各種制御回路を構成するものであるが、この基板６６には数ボルトまでの弱電回路を一まとめにして構成する。一方、モータトランス６７に代表される強電部はこの基板６６から離れた位置に、例えばモータ３８と制御部３９との間の底板３６に支持させる構成としている。
【００２５】
６８は、前記操作盤１２を備えるコントローラと水分計の制御回路３９やモータトランス６７を接続するためのハーネスであって、底板３６に開口６９を形成すると共に、昇降機５にはこの開口６９に一致して断面矩形のトンネル状貫通筒７０を当該昇降機５の前後に亘って設けてある。
【００２６】
前記カバー３５は、逆皿型の形状となし、前記仕切板３７，中間仕切４８，電極ロール取付板４９の上端面に接するように取付られるもので、このカバー３５の取付状態で、左右に、モータ３８，制御基板６６及びモータトランス６７を配置する制御部３９、歯車を上下に配置する伝動機構部４０ａ、並びに一対の電極ロール４６ａ，４６ｂを備える検出機構部４０ｂに区分けされる。
【００２７】
前記制御部３９の機能について説明する。この制御部３９から所定時間間隔Ｔ（測定周期）で水分測定信号が出力される。水分測定信号が出力されると、モータ３８が起動し各部を回転連動し、穀粒の取り込みが始まり、水分測定信号について各粒毎の電気抵抗信号が入力される。制御部３９では、測定電極ロール４６ａ，４６ｂからの電気抵抗信号を入力しながら電圧信号に変換し、次の換算式に当てはめて水分値を算出する。即ち、
Ｍ=ａ＊Ｅｒ＋ｂ＋ｃ＊（Ｔｄ−Ｔｏ）
ここで、Ｍは水分値、ａ，ｂ及びｃは水分換算係数、Ｅｒは検出電圧信号、Ｔｄは電極温度、Ｔｏは基準温度である。この水分値Ｍについて例えば１００粒（測定個数Ｎ）を測定するとその単純平均値Ｍaが、
Ｍa＝（Ｍ1＋Ｍ2＋…＋Ｍn＋…Ｍ100）／１００
によって算出され、適宜表示出力されたり、乾燥速度の算出に用いられたりするものである。
【００２８】
更に制御部３９では、内蔵タイマによって測定個数Ｎ（＝１００粒）の場合の測定速度Ｓ（個／分）の算出によって、測定休止時間を規定し水分計停止精度の向上を図っている。即ち、
規定粒数測定時間：Ｔｓ（分）
規定測定休止時間：Ｔｒ（分）
測定開始周期  Ｔ＝Ｔｓ＋Ｔｒ＝一定
測定速度  Ｓ（個／分）
とすると、一回の測定個数Ｎであるから、余裕１を考慮して、
Ｔｓ＝Ｎ／Ｓ＋１
Ｔｒ＝Ｔ−Ｔｓ
となるから、例えば、Ｎ＝１００個測定する場合、通常の測定速度はＳ＝２０個／分であり、上記式に代入し、Ｔｓ＝６分、従って休止時間は乾燥機の乾燥速度を考慮して測定開始周期は１０〜２０分程度が望ましい。
【００２９】
仮に周期２０分として、休止時間は上記式からＴｒ＝１４分となる。しかし、水分計への穀粒供給量が何らの要因で標準状態から変ると、測定時間周期も変ってきて水分停止の精度に関わり影響がある。例えば、本実施例のように水分計を昇降機に装着する構成では、昇降機のバケットベルトの張り具合によって水分計への穀粒供給量が変動する。そこで、上記水分測定速度を監視し、その速度に応じて、測定周期を一定化すべく測定休止時間を決定するものである。こうして水分計停止精度の向上が図れる。
【００３０】
また、測定速度が上記の例で、Ｓ＝１０個／分を下回る場合には、穀粒の供給経路に問題があることとし、水分計測定異常報知をし、現在の乾燥条件から乾燥速度を減少すべく通風処理に切り替えるなどして安全性を確保するとよい（図１０Ｓ１８〜Ｓ２０）。
【００３１】
ところで、穀物条件によっては、高速で乾燥した方が良いものや、低速でじっくりと乾燥すべきものなど、同じ乾燥機であっても、種々の乾燥速度が選択的設定されるよう乾燥温度、乃至は風量が自動的に変更できる構成をとっている（図１０Ｓ０１〜Ｓ０４）。
【００３２】
しかし、水分計の測定周期は、いかなる乾燥速度であっても、一定の測定周期で測定しているので、乾燥速度によって水分停止時の精度が異なる不具合があった。そこで、乾燥水分減少が例えば０.２％になるごとに水分測定を実行する構成をとることで、前記不具合を防止できる。
【００３３】
乾燥速度Ｒ（％／時）に応じて水分測定周期Ｔｓ（分）を設定する。測定周期Ｔ＝６０×０．２／Ｒ（分）となる。１００粒測定を単位粒数として、Ｔｒを５分を確保するものとすると測定周期は図１１のとおり、乾燥速度Ｒと測定速度Ｔｓで規定される。測定速度により安定した測定精度が確保され得ない条件においては、乾燥速度を低下すべく可能な乾燥速度、即ち可能な乾燥温度、風量の変更を実施する。例えば、Ｔｓ＝１５の場合、１００粒を測定するに要する時間は６.７分となり、確保すべき測定休止時間Ｔｒ＝５分を加算してＴ＝１１.７分となり、乾燥速度Ｒ＝１.２の場合は条件設定不可として、Ｒ＝１.０に変更する。
【００３４】
また、測定速度が上記事例の条件下で、Ｓ＝１０個／分を下回る場合には、穀粒の供給経路に問題があるとして、水分計測定異常報知し、現在の乾燥条件から乾燥速度を減少すべく通風処理に切り替えるなどして安全性を確保する。従来、基準時間内に規定粒数の測定が完了しない場合には、水分計異常として乾燥工程を中断するなどの対応を余儀なくされたため、この基準時間を大として異常処理の発生頻度を抑制したが、乾燥終了時には測定時間のずれが生じて適切な停止処理ができないことから過乾燥になってしまうことがあった。ところが上記のようにすることによって、穀粒供給条件に違いがあっても信頼性の高い乾燥機の水分測定を実行できる。
【００３５】
７２は電気ヒータで、前記電極ロール４６の近傍に配設される。この電気ヒータ７２は、コントローラに接続されて温度調節信号を入力しながら電極雰囲気温度を所定に確保しようとする構成である。例えば、排風温度等によって穀物温度を推定し、推定穀物温度Ｔｇと電極温度とが略一致すべくヒータ温度を調整制御する構成である。従来は電極ロール近傍に温度センサを配設し電極ロール温度を検出しうる構成とし、この電極温度をもって検出水分信号に補正量として加味して補正する構成であった。このような従来技術にあっては、水分計モータの発熱による伝熱により該温度センサと電極ロール温度とが一致しない場合もあって正確な温度補正を行えない欠点があった。
【００３６】
そこで、電極温度と推定穀物温度との関係により、推定穀物温度が電極温度を下回るときには電気ヒータ７２に通電して電極温度を上昇させることによって、電極温度検出による温度補正を行わなくともよくなり、水分測定精度を向上できる（図１２）。
【００３７】
なお、電気ヒータ７２によって電極ロール温度を所定温度に確保する構成でもよい。例えば４０℃に設定しておく。このように構成することにより、電極ロール温度を変動しない一定値にするから補正精度が向上する（図１３）。図１４〜図１６に示すグラフは、一対の電極ロール４６ａ，４６ｂのローレットによる表面仕上げを種々に選択設定したときの分布を示すものである。これらのグラフは、横軸に既知の基準水分（５）を、縦軸に種々のローレット仕上げした電極ロールを用いて得た検出水分（％）を示す。
【００３８】
一対の電極ロール軸芯を上下方向にずらせて設ける構成において、外周速度を両者異ならせて回転連動すべくなし、軸位置が上位の高速側電極ロール４６ａ圧砕面形状を粗目、例えば平目ロールでモジュール０.５、のロール形状とし、軸位置が下位の低速側電極ロール４６ｂを細目、例えば平目ロールでモジュール０.３、に構成している（図１４中黒丸）。
【００３９】
従来、実開昭６３−１１８５５５号公報、同６２−１７４２６５号公報には電極ロールをアヤ目形状に形成したものがあるが、高速で回転すると麦の測定では当該麦の表面を押圧しただけの測定になり、籾では籾殻をうまく破壊できずに測定される。従って穀物が乾燥してくると、圧砕の途中で穀物が割れ、正確な測定ができない欠点がある。そこで上記のように電極ロールのうち上位の高速側を平目で粗い形状とすることにより、上記欠点を解消しうる。すなわち、電極ロール４６ａへの噛み込み時、穀物は短径方向に進入してくる確率が高くなり、平目ロールでは面全体（ロールの山部）で噛み込むので、噛み込み性能が向上し、籾殻の破壊も良好に実行できる。もって測定穀物の品種や出来栄えに影響されない水分測定を行うことができる。図１４において、従来構成のモジュール３.０のアヤ目ロール同士を組み合わせた場合（図１４中白丸）の相関係数Ｒ、これを二乗した寄与率Ｒ2として各算出できるが、その他の要因による変動（１−Ｒ2）は、従来構成では、約０.１８であるのに対し、上記の改良構成ではこの（１−Ｒ2）を算出すると、約０.１０となって略半減している。即ち改良構造において精度の向上が図られている。
【００４０】
図１５及び図１６は、上記の高速側電極ロールをモジュールの大きい平目ロールとする場合を基本に、低速側ロール４６ｂを種々に変更して改良を加えたものであり、図１５は、低速側電極ロール４６ｂを高速側電極ロール４６ａと同じにモジュール０.５の平目ロールとしたものである。その他の要因による変動（誤差）、即ち（１−Ｒ2）は約０.０５となって更に精度が向上している。図１６では、低速側電極ロール４６ｂをモジュール０.５のアヤ目ロールとしたものである。同様に、その他の要因による変動（誤差）（１−Ｒ2）は、約０.０４となってなお更に精度が向上している。
【００４１】
上記の結果、高速側電極ロール４６ａの表面ローレット仕上げは粗く平目が圧砕の効果が高く、好ましくはモジュール０.５前後が良い。一方の低速側電極ロール４６ｂはモジュールの大小、平目又はアヤ目の仕上げ形態にこだわらないが、粗いほど圧砕効果が大きく、好ましくはモジュール０.５程度が良い。
【００４２】
又、図１７は更に他の電極ロール構成を示すもので、一対の電極ロールのうち少なくとも一方を表面に回転方向に沿わせて一条の螺旋状筋溝７３を形成するものである。水分測定に際しては、籾の場合籾殻の破砕性能を向上しながら玄米部分を挟圧して計測することが重要であるが、上記のように構成することにより、一条の筋溝７３によって穀物を噛み込んだ際に籾殻を捻りながら破壊するため破砕性が向上し、また、玄米挟圧時においても捻り効果により、一粒計測精度が向上する。
【００４３】
上例の作用について説明する。基本画面を呼び出しスイッチ１４をＯＮすると、ホッパに投入された乾燥すべき穀物は昇降機５を経て貯留部２に張り込まれる。張込完了すると、停止スイッチ１６をＯＮして各部を一旦停止する。次には乾燥作業に移行するためスイッチ１５をＯＮし、画面を穀物種類・乾燥モード設定画面に切り替え、かつ乾燥モードを選択設定する。尚別途に設ける設定画面により同じ要領で水分設定機能スイッチをもって希望の乾燥仕上げ水分値を設定する。
【００４４】
こうすることにより、昇降機５上下移送螺旋、繰出バルブ等は運転を開始し、かつバーナ６も駆動状態におかれて熱風乾燥を開始するものである。ここで、熱風温度は、外気温度、穀物温度、張込量に応じて予め乾燥速度が決められており、当該乾燥速度にそって熱風温度が決定される（図１０（以下同じ）、Ｓ０５）。ここで、乾燥速度が決定されることより水分測定時間の条件別設定がなされる。即ち、前記規定粒数測定時間Ｔｓ（分）、や規定測定休止時間Ｔｒ（分）の値が乾燥速度との関係テーブルから選択設定される。乾燥開始後、水分測定信号の出力によって単粒水分値が検出される（Ｓ０６）。この測定粒数をカウントしながら（Ｓ０７）、水分値の平均が演算される（Ｓ０８）。ここで規定測定時間Ｔｓ（分）に達したか、あるいはこの測定時間Ｔｓを下回っても規定粒数の測定があったら、測定速度Ｓ（個／分）が算出される（Ｓ１２）。この測定速度Ｓが所定値と比較され（Ｓ１３）、この測定速度が所定値以下でなければ当該測定速度に応じて以後の水分測定時間の条件を変更する（Ｓ１４）。そして１００粒の総平均、バラツキを演算して表示し（Ｓ１５，１６）、前記目標水分値に達すれば（Ｓ１７）、バーナ停止等乾燥機を停止し（Ｓ２２〜Ｓ２５）、目標水分値にならなければ再度測定を繰り返す（Ｓ１７、Ｓ２１）。
【００４５】
前記Ｓ１３で、測定速度が所定値以下のときは水分測定異常処理の表示を出力し、バーナを止め乾燥速度を速くならない状態の通風乾燥運転に入る（Ｓ１８〜Ｓ２０）。なお、乾燥運転中、所定時間間隔で一粒水分計のモータ３８に駆動指令信号が出力されると、昇降機５内バケット３１で掻き上げられる穀粒の一部は溢出流下し、その一部が穀粒取り込み部３２を経て穀粒送り螺旋３３と穀粒送り板５８との間で受けられ、一粒毎に穀粒送り螺旋３３終端側、つまり水分計本体内へ導入される。この穀粒送り螺旋３の終端部から穀粒落下路６０を流下しながら通過して、水分測定手段４６の電極ロール４６ａ，４６ｂの間に案内される。電極ロール４６ａ，４６ｂはモータ３８の回転によって互いに逆回転しており、回転センサ７１の検知ごとに所定短時間停止すべくなしその後再び回転を繰り返すようになっている。この電極ロール４６ａ，４６ｂ間に穀物を取り込みつつ加圧扁平しながらその電気抵抗値が検出され電圧換算値が制御部３９に送られる。
【００４６】
制御部３９では、測定した電気抵抗値に見合う換算電圧信号が入力され、かつ電極近傍温度センサ７３の温度検知信号、粒長検出センサ７２からの検知信号も併せて入力される。所定粒数、例えば１００粒が平均化され穀粒の平均水分値として表示部１３画面に表示出力する。なお、併せて平均粒径を演算し、水分値及び粒径のばらつきを演算しておきこれらを上記平均水分値と共に表示出力するものである。
【００４７】
図１８は別実施例を示し、測定速度Ｓを予め設定した２つの所定値１及び所定値２との比較によって後処理を行わせる構成である。即ち、標準の測定速度Ｓｍ（個／分）に対して、所定値１＜所定値２＜Ｓｍの関係にある。水分測定中、測定速度Ｓを演算し、まず所定値１と比較し、所定値１以下であると直ちに水分測定異常処理表示し、バーナ停止、通風乾燥移行の措置を行う。一方所定値１以上を確保する場合には規定粒数まで水分演算し、所定値２と比較される。この所定値２以下であるときは、水分測定以上の処理表示等を行い、所定値２以上を確保するときは、以後の水分測定時間の条件を変更して測定周期の一定確保を図っている。
【図面の簡単な説明】
【図１】  穀物乾燥機の正面図である。
【図２】  穀物乾燥機の正断面図である。
【図３】  コントロールボックスの制御盤正面図である。
【図４】  制御ブロック図である。
【図５】  水分計の斜視図である。
【図６】  水分計の正断面図である。
【図７】  水分計の側断面図である。
【図８】  水分計の背面図である。
【図９】  水分計の制御ブロック図である。
【図１０】  フローチャートである。
【図１１】  乾燥速度−測定速度関係対応表である。
【図１２】  フローチャートである。
【図１３】  別フローチャートである。
【図１４】  電極ロール表面形状別、基準水分−水分検出値グラフである。
【図１５】  電極ロール表面形状別、基準水分−水分検出値グラフである。
【図１６】  電極ロール表面形状別、基準水分−水分検出値グラフである。
【図１７】  電極ロール別例を示す正面及び背面図である。
【図１８】  フローチャートである。
【符号の説明】
１…乾燥機枠，２…貯留室，３…乾燥室，４…集穀室，５…昇降機，６…バーナ，７…吸引ファン，８…繰出バルブ，９…下部移送装置，１０…上部移送装置，１１…拡散盤，１２…操作盤，１３…表示部，２０…水分計，４６ａ…電極ロール，４６ｂ…電極ロール
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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