(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
フォーカシング制御系を有する光ディスク装置において、
光ディスクの回転方向と逆の方向を前方として、光ディスクから記録データを読み出す位置であるメインスポットよりも前方の位置におけるフォーカシングエラーを検出する第１の検出手段と、
前記メインスポットにおけるフォーカシングエラーを検出する第２の検出手段と、
前記第１の検出手段により得られたフォーカシングエラー信号のうちの低周波数成分を取り出す第１のフィルタと、
前記第２の検出手段により得られたフォーカシングエラー信号のうちの高周波数成分を取り出す第２のフィルタと
を備え、前記第１のフィルタで取り出された低周波数成分の信号及び前記第２のフィルタで取り出された高周波数成分の信号を用いてフォーカシング制御を行うようにしたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
フォーカシング制御系を有する光ディスク装置において、
光ディスクの回転方向と逆の方向を前方として、光ディスクから記録データを読み出す位置であるメインスポットよりも前方の位置におけるフォーカシングエラーを検出する第１の検出手段と、
前記メインスポットにおけるフォーカシングエラーを検出する第２の検出手段と、
光ディスク装置の外部振動を検出する振動検出手段と、
前記振動検出手段で検出された外部振動の大きさに応じた割合で、前記第１の検出手段により得られたフォーカシングエラー信号と前記第２の検出手段により得られたフォーカシングエラー信号とを重み付けする重み付け手段と
を備え、前記重み付け手段で重み付けされた信号を用いてフォーカシング制御を行うようにしたことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、フォーカシング制御系を有する光ディスク装置に関し、特に、フォーカシング制御性能を向上させたものに関する。
【０００２】
【従来の技術】
近年、マルチメディアへの関心が高まるにつれて、光ディスク（例えばコンパクトディスク（ＣＤ）のようなディスク状の光学的記録媒体）にも動画像の映像データのような大量のデータを記録させたいという要求が高まっている。この要求を満たすためには、光ディスクの一層の大容量化と高速化とを実現することが必要である。
【０００３】
その一方で、ＣＤに代表されるように、光ディスクではハンドリングの容易さ（持ち運び時や光ディスク装置への着脱時に手で持ちやすいこと）が大切である。従って、大容量化を実現するために記録エリアを拡大することは、ディスクの直径を大きくすることにつながってハンドリングの容易さを損ねるので、あまり歓迎されない。
【０００４】
従って、光ディスクでは、記録密度を高めるという方向で大容量化を実現することが主流となっている。その結果、今日の光ディスクは高密度化の一途をたどっている。
【０００５】
また、光ディスクのうち、ＣＤでは対物レンズの開口数が０．４５に規格化されていたのに対し、その後に出現したディジタルビデオディスク（ＤＶＤ）ではこの開口数が０．６に規格化されている。こうした開口数の増加の傾向は、今後も更に加速化すると考えられる。開口数とはレーザービームを絞り込む角度であると考えてよいので、開口数が大きくなる程一層きつい角度でレーザービームを絞り込むことになる。そして、焦点深度と呼ばれる対物レンズのフォーカシングの許容誤差範囲は、開口数の２乗に反比例することが知られている。従って、開口数が大きくなるにつれ、フォーカシングの許容誤差範囲は非常に小さくなっていく。
【０００６】
このような背景のもとで、光ディスク装置におけるフォーカシング制御系には、安定性及び速応性を損なうことなくますます制御性能を向上させる（高い制御精度を実現する）ことが要求されるようになっている。
【０００７】
ところで、従来の光ディスク装置（例えば、古典制御の分野で有名であり且つ比較的設計が簡単な方法である位相補償法を用いて設計したフォーカシング制御系を有する光ディスク装置）では、フォーカシングエラーの検出を光ディスク上のメインスポットにおいて行い（即ち、メインスポットからの戻り光に基づいて非点収差法等によりフォーカシングエラー信号を作成し）、このメインスポットにおけるフォーカシングエラーの検出のみに基づいてフォーカシング制御を行うようにしていた。
【０００８】
尚、メインスポットとは、光ディスクに照射されるレーザービームの本数が１本である場合にはそのレーザービームが照射されている光ディスク上の位置のことを呼び、他方、例えばトラッキングエラーの検出を３スポット法で行うこと等によりメインビーム（０次回折光）とサイドビーム（＋１次回折光，−１次回折光）との合計３本のレーザービームが光ディスクに照射される場合には、メインビームが照射されている光ディスク上の位置のことを呼ぶ。
【０００９】
このようにメインスポットにおけるフォーカシングエラーを検出する理由は、光ディスクの記録データの再生はメインスポットからの戻り光に基づいて行われるので、記録データを正確に再生するためにはこのメインスポットにおけるフォーカシングエラーを検出する必要があるからである。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、こうした従来の光ディスク装置のフォーカシング制御方式には、次のような不都合があった。
【００１１】
（ａ）フォーカシング制御系のうち、フォーカシングエラー信号に基づいてフォーカシングアクチュエータ等に対する制御指令値を算出するディジタルシステムでは、フォーカシングエラー信号が入力されてから制御指令値を出力するまでの間に、ディジタル演算処理に要する時間だけ遅れが生じる。従って、この遅れ時間の間にディスクが回転することにより、制御指令値が出力されるときのメインスポットが、フォーカシングエラーが検出されたときのメインスポットとは異なる位置になってしまう（即ち、現在の回転位置におけるフォーカシング制御が、過去の回転位置におけるフォーカシングエラーの検出結果に基づいて行われてしまう）。そして、フォーカシングエラー信号に定常的に混入する外乱は回転に同期したディスクの面振れに起因するものなので、回転位置が異なると、検出されるフォーカシングエラーの度合いも変化する。その結果、このディジタルシステムにおける時間遅れによってフォーカシング制御性能が劣化してしまい、更に、この時間遅れが甚だしい場合にはフォーカシング制御系の安定性さえも失われてしまう。
【００１２】
（ｂ）フォーカシング制御系のうち、アナログシステム（特にフォーカシングアクチュエータ）には、システム自体の無駄時間（位相遅れ）の影響により、制御指令値が印加されてからその効果を発揮し始めるまでに或る程度の時間を要するという本質的な問題がある。そのため、システムを安定化させるために、フォーカシング制御性能を或る程度犠牲にしなければならなかった。
【００１３】
（ｃ）フォーカシングアクチュエータの操作量は、当然のことながら有限である。従って、ディスクの傷等の欠陥や外部振動に起因する突発的な外乱（非定常的な外乱）により過大なフォーカシングエラーが検出されたときには、それに応じて過大な制御指令値が出力されることにより、フォーカシングアクチュエータの操作量が飽和してしまう。
【００１４】
（ｄ）更に、フォーカシング制御系に積分要素が含まれている場合には、こうした過大な制御指令値が出力されたとき、ワインディングと呼ばれる現象が生じることによりフォーカシング制御性能が劣化してしまう。ワインディングは、過大な制御指令値がリミッタで制限されたとき、リミッタで制限された値によるフォーカシングアクチュエータの実際の操作量が元の制御指令値による操作量よりも小さくなる（従って元の制御指令値どおりの制御効果が得られない）ことから、制御指令値の出力側が、このように思った通りの制御効果が得られない原因が自己の出力値が小さすぎることにあるといわば誤解して、リミッタの存在によりフォーカシングアクチュエータには伝わらないにもかかわらず、更に過大な制御指令値を出力するようになる現象である。このワインディング現象が生じると、フォーカシング制御系の応答が振動的になってしまう。
【００１５】
上記のように、従来の光ディスク装置のフォーカシング制御方式には様々な不都合が存在していた。従って、本発明の目的は、これらの不都合を解消してフォーカシング制御系を向上させた光ディスク装置を提供することにある。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
本発明の請求項１に係る光ディスク装置は、フォーカシング制御系を有する光ディスク装置において、光ディスクの回転方向と逆の方向を前方として、光ディスクから記録データを読み出す位置であるメインスポットよりも前方の位置におけるフォーカシングエラーを検出する第１の検出手段と、メインスポットにおけるフォーカシングエラーを検出する第２の検出手段と、この第１の検出手段により得られたフォーカシングエラー信号のうちの低周波数成分を取り出す第１のフィルタと、この第２の検出手段により得られたフォーカシングエラー信号のうちの高周波数成分を取り出す第２のフィルタとを備え、第１のフィルタで取り出された低周波数成分の信号及び第２のフィルタで取り出された高周波数成分の信号を用いてフォーカシング制御を行うようにしたことを特徴としている。
【００１７】
この光ディスク装置では、第１の検出手段により、光ディスクの回転方向と逆の方向を前方として、メインスポットよりも前方の位置（即ち、ディスクの回転によってこれからメインスポットになるはずの位置）におけるフォーカシングエラーが検出される。従って、当該前方の位置がメインスポットとなったときのフォーカシングエラーが事前に検出される（いわば未来のフォーカシングエラー信号が得られる）ことになる。
【００１８】
このような未来のフォーカシングエラー信号に基づいてフォーカシング制御を行うことにより、フォーカシング制御系の遅れ時間をキャンセルして時間遅れのないフォーカシング制御を行う（仮想的に時間遅れのないフォーカシング制御系を構成する）ことができる。これにより、上記（ａ），（ｂ）の不都合が解消されるので、フォーカシング制御系の安定性の向上とフォーカシング制御性能の向上が実現される。
【００１９】
そして、このように未来のフォーカシングエラー信号が得られるので、これからメインスポットになるはずの位置においてディスクの欠陥や外部振動に起因する突発的な外乱の混入により過大なフォーカシングエラーが検出される場合にも、事前にそのことを知ることができる。これにより、過大な制御指令値が出力されないような処置を事前に施す（例えば、過大なフォーカシングエラーが検出された位置がメインスポットになるよりも前から、予め小さな制御指令値を出力してフォーカシングアクチュエータを駆動し始める）ことが可能になるので、上記（ｃ），（ｄ）の不都合も解消にもつながる。
【００２０】
このように過大な制御指令値が出力されない処置を事前に施すための具体的手段としては、第１の検出手段により得られたフォーカシングエラー信号のうちの低周波数成分を取り出す第１のフィルタを更に備え、この第１のフィルタで取り出された低周波数成分の信号を用いてフォーカシング制御を行うようにしている。
【００２１】
その理由は、次の通りである。ディスクの面振れに起因する定常的外乱はフォーカシングエラー信号の比較的低周波数帯に存在するのに対し、ディスクの欠陥や外部振動に起因する突発的な外乱はフォーカシングエラー信号の比較的高周波数帯に存在する。従って、第１の検出手段により得られたフォーカシングエラー信号のうちの低周波数成分の信号（高周波数成分を除去した信号）を用いてフォーカシング制御を行うことにより、未来のフォーカシングエラー信号から突発的な外乱の混入による成分を除去した信号を用いてフォーカシング制御が行われるようになるので、突発的な外乱の混入による過大な制御指令値の出力が防止されるようになる。これにより、上記（ｃ），（ｄ）の不都合も解消されるので、この点からもフォーカシング制御系の安定性の向上とフォーカシング制御性能の向上が実現される。
【００２３】
また、第２の検出手段により、現在のフォーカシングエラー信号が得られ、第２のフィルタによりこの現在のフォーカシングエラー信号の高周波数成分が取り出されることにより、定常的外乱の混入による成分を除去した現在のフォーカシングエラー信号が得られる。そして、第１のフィルタで取り出された低周波数成分の信号及び第２のフィルタで取り出された高周波数成分の信号を併用してフォーカシング制御が行われる。
【００２４】
このように、突発的な外乱の混入による成分を除去した未来のフォーカシングエラー信号だけでなく、突発的な外乱の混入による成分を含むが定常的外乱の混入による成分を除去した現在のフォーカシングエラー信号をも用いてフォーカシング制御を行うことにより、低周波数帯に存在する定常的外乱による偏差と高周波数帯に存在する突発的な外乱による偏差とをそれぞれ良好に減衰させることができるようになるので、フォーカシング制御性能が一層向上する。
【００２５】
また、前述のように過大な制御指令値が出力されない処置を事前に施すための具体的手段の別の例として、本発明の請求項２に係る光ディスク装置のように、メインスポットよりも前方の位置におけるフォーカシングエラーを検出する第１の検出手段と、メインスポットにおけるフォーカシングエラーを検出する第２の検出手段と、光ディスク装置の外部振動を検出する振動検出手段と、この振動検出手段で検出された外部振動の大きさに応じた割合で、第１の検出手段により得られたフォーカシングエラー信号と第２の検出手段により得られたフォーカシングエラー信号とを重み付けする重み付け手段とを備え、この重み付け手段で重み付けされた信号を用いてフォーカシング制御を行うようにしてもよい。
【００２６】
この光ディスク装置では、第１の検出手段により得られた未来のフォーカシングエラー信号と、第２の検出手段により得られた現在のフォーカシングエラー信号とが、振動検出手段で検出された光ディスク装置の外部振動の大きさに応じた割合で、重み付け手段により重み付けされる。そして、この重み付け手段で重み付けされた信号を用いてフォーカシング制御が行われる。
【００２７】
このように、外部振動の大きさに応じた割合で未来のフォーカシングエラー信号と現在のフォーカシングエラー信号とを重み付けして得た信号を用いてフォーカシング制御を行うことにより、外部振動に起因する突発的な外乱が未来のフォーカシングエラー信号に混入する場合にも、その外部振動による過大な制御指令値の出力が防止されるようになる。
【００３０】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明に係る光ディスク装置の光ピックアップの光路系の一例を示す。この光ピックアップには、光源である半導体レーザー１から発生したレーザービームＬをメインビームＬ０（０次回折光）とサイドビームＬ１，Ｌ２（＋１次回折光，−１次回折光）とに分光する回折格子２が設けられており、これらのビームＬ０，Ｌ１，Ｌ２が、ハーフミラー３で反射され、コリメータレンズ４で平行光束化された後、対物レンズ５で集光されて光ディスク６の記録面に照射される。
【００３１】
この記録面からのビームＬ０，Ｌ１，Ｌ２の戻り光Ｌ０’，Ｌ１’，Ｌ２’は、再び対物レンズ５及びコリメータレンズ４を経た後、今度はハーフミラー３を透過し、非点収差を発生させるシリンドリカルレンズ（図示せず）を経て、光検出器（フォトディテクタ）８に受光される。
【００３２】
尚、例えばトラッキングエラーの検出方法に３スポット法を採用した光ディスク装置では、回折格子２として、既に３スポット法用に設けられている回折格子をそのまま利用してよい。
【００３３】
また、半導体レーザー１から発生したレーザービームＬを分光する手段として、回折格子２の代わりに、回折格子としての機能を持たせたホログラフィック光学素子や、液晶パネルや、電気化学素子や、シリンドリカルレンズや、光学的に透明な平行平板（例えば板ガラス）をレーザービームＬの光軸方向に対して斜めに傾けたものを設けるようにしてもよい。
【００３４】
図２は、図１のビームＬ０，Ｌ１，Ｌ２の光ディスク６の記録面上での照射位置の一例を示す。同図のように、メインビームＬ０の照射位置であるメインスポットＭＳと、サイドビームＬ１，Ｌ２の照射位置であるサイドスポットＳＳ１，ＳＳ２とが、ピットｐにより形成されるトラックに平行な線上に並び、且つ、光ディスクの回転方向と逆の方向を前方として、サイドスポットＳＳ１がメインスポットＭＳよりも前方にあり、サイドスポットＳＳ２がメインスポットＭＳよりも後方にあるように、回折格子２の取り付け角度等の調整によりスポットＭＳ，ＳＳ１，ＳＳ２の位置関係が設定されている。
【００３５】
従って、サイドスポットＳＳ１からのサイドビームＬ１の戻り光Ｌ１’に基づいてフォーカシングエラーを検出すれば、メインスポットＭＳよりもサイドスポットＳＳ１・メインスポットＭＳ間の距離ｘだけ前方の位置におけるフォーカシングエラーを検出すること（即ち、距離ｘとディスクの回転数ｎとで決定される時間ｔだけ未来のフォーカシングエラー信号を得ること）ができる。
【００３６】
そこで、図１の光検出器８上には、非点収差法によりフォーカシングエラーを検出するために、例えば図３に示すように、メインスポットＭＳからの戻り光Ｌ０’を受光する４分割の受光素子（フォトダイオード）８Ａ〜８Ｄの他に、サイドスポットＳＳ１からの戻り光Ｌ１’を受光する４分割の受光素子８Ｅ〜８Ｈが設けられている。（更に、この例ではサイドスポットＳＳ２からの戻り光Ｌ２’を受光する４分割の受光素子８Ｉ〜８Ｌも設けられているが、この受光素子８Ｉ〜８Ｌを設ける意味については後述する。）
【００３７】
この光ディスク装置のフォーカシング制御系は、次に〔処理例１〕〜〔処理例４〕として挙げる処理のうちのいずれかの処理によって得た信号を用いてフォーカシング制御を行うようになっている。
【００３８】
〔処理例１〕
図４に示すように、サイドスポットＳＳ１からの戻り光Ｌ１’を受光する受光素子８Ｅ〜８Ｈの出力信号Ｅ〜Ｈから非点収差法によりフォーカシングエラーを検出するために、ＦＥ１＝（Ｅ＋Ｇ）−（Ｆ＋Ｈ）を算出する。非点収差法は、周知の通り、レーザービームに非点収差を発生させることにより、合焦状態では４分割の受光素子上の光量分布が真円形状になる（各受光素子の受光量が等しくなる）のに対し、非合焦状態ではこの光量分布が楕円形状になる（対角線上の一対の受光素子の受光量ともう一対の受光素子の受光量とが相違する）ことを利用したものであり、受光素子８Ｅ〜８Ｈに関していえば、この信号ＦＥ１がフォーカシングエラー信号となる。そして、このフォーカシングエラー信号ＦＥ１を用いてフォーカシング制御を行う。
【００３９】
このフォーカシングエラー信号ＦＥ１は、前述のように、サイドスポットＳＳ１・メインスポットＭＳ間の距離ｘとディスクの回転数ｎとで決定される時間ｔだけ未来のフォーカシングエラー信号である。
【００４０】
そして、この距離ｘは、例えば光ピックアップの光路系（図１）において、半導体レーザー１から発生するレーザーの波長や、半導体レーザー１と回折格子２との間の距離や、回折格子２のピッチや、対物レンズ５の焦点距離等を変化させることによって調整することができるので、この距離ｘの調整により、時間ｔを所望の長さに設定することが可能である。
【００４１】
従って、例えばこの時間ｔをフォーカシング制御系のディジタル回路の演算時間に一致させた上でこのフォーカシングエラー信号ＦＥ１を用いてフォーカシング制御を行うことにより、この演算による遅れ時間をキャンセルする（仮想的に演算による時間遅れのないフォーカシング制御系を構成する）ことができるようになる。
【００４２】
また、例えばこの時間ｔをフォーカシング制御系のフォーカシングアクチュエータで生じる遅れ時間に一致させた上でフォーカシングエラー信号ＦＥ１を用いてフォーカシング制御を行うことにより、この遅れ時間の分だけ早めにフォーカシングアクチュエータに制御指令値を印加することができるので、フォーカシングアクチュエータの遅れ時間をキャンセルすることができるようになる。
【００４３】
また、例えばこの時間ｔをディジタル回路の演算による遅れ時間とフォーカシングアクチュエータの遅れ時間を合わせた時間に一致させた上でフォーカシングエラー信号ＦＥ１を用いてフォーカシング制御を行うことにより、これら両方の遅れ時間をキャンセルすることができるようになる。
【００４４】
尚、このようにしてフォーカシングエラー信号ＦＥ１を求めると共に、サイドスポットＳＳ２からの戻り光Ｌ２’を受光する受光素子８Ｉ〜８Ｌの出力信号Ｉ〜Ｌから非点収差法によりフォーカシングエラー信号ＦＥ３（過去のフォーカシングエラー信号）を求め、下記式のように信号ＦＥ１に係数ｋ（０≦ｋ≦１）を乗算した信号と信号ＦＥ３に係数（１−ｋ）を乗算した信号とを加算した信号ＦＥを求め、この信号ＦＥを用いてフォーカシング制御を行うと共に、係数ｋを適宜調整するようにしてもよい。
【００４５】
ＦＥ＝ｋＦＥ１＋（１−ｋ）ＦＥ３
【００４６】
そうすることにより、時間ｔだけ未来のフォーカシングエラー信号と過去のフォーカシングエラー信号とを任意の割合で重み付けした信号を用いてフォーカシング制御が行われるようになるので、サイドスポットＳＳ１・メインスポットＭＳ間の距離ｘを一定に保ったまま、どれだけの長さの時間だけ未来のフォーカシングエラー信号を用いてフォーカシング制御を行うかを時間ｔ以内で任意に変化させることができるようになる。（逆に、このように時間を任意に変化させる必要がない場合には、図３における受光素子８Ｉ〜８Ｌの設置は省略するようにしてもよい。）
【００４７】
〔処理例２〕
図５に示すように、〔処理例１〕で求めたフォーカシングエラー信号ＦＥ１の低周波成分をローパスフィルタで取りだし、このローパスフィルタで取り出した低周波成分の信号ＦＥ１１を用いてフォーカシング制御を行う。
【００４８】
この信号ＦＥ１１は、フォーカシングエラー信号ＦＥ１から高周波数成分を除去した信号である。そして、前述のように、ディスクの面振れに起因する定常的外乱はフォーカシングエラー信号の比較的低周波数帯に存在するのに対し、ディスクの欠陥や外部振動に起因する突発的な外乱はフォーカシングエラー信号の比較的高周波数帯に存在する。
【００４９】
従って、この信号ＦＥ１１を用いることにより、これからメインスポットになるはずの位置においてディスクの欠陥や外部振動に起因する突発的な外乱の混入により過大なフォーカシングエラーが検出される場合にも、未来のフォーカシングエラー信号から突発的な外乱の混入による成分を除去した信号を用いてフォーカシング制御が行われるようになるので、突発的な外乱の混入による過大な制御指令値の出力が防止されるようになる。
【００５０】
〔処理例３〕
図６に示すように、〔処理例２〕と同じ信号ＦＥ１１を求める。それと共に、メインビームＬ０の戻り光Ｌ０’を受光する受光素子８Ａ〜８Ｄの出力信号Ａ〜Ｄから非点収差法によりフォーカシングエラー信号ＦＥ２（現在のフォーカシングエラー信号）を求め、このＦＥ２の高周波成分をハイパスフィルタで取りだす。そして、信号ＦＥ１１とこのハイパスフィルタで取り出した高周波成分の信号ＦＥ２１を併用してフォーカシング制御を行う。
【００５１】
この信号ＦＥ２１は現在のフォーカシングエラー信号ＦＥ２の高周波数成分を含む信号である。従って、信号ＦＥ２１を信号ＦＥ１１と併用することにより、低周波数帯に存在する定常的外乱による偏差と高周波数帯に存在する突発的な外乱による偏差とがそれぞれ良好に減衰させることができるようになる。
【００５２】
〔処理例４〕
図７に示すように、〔処理例３〕と同じフォーカシングエラー信号ＦＥ１，ＦＥ２を求める。そして、信号ＦＥ１に係数ｋ（０≦ｋ≦１）を乗算した信号ＦＥ１２と、信号ＦＥ２に係数（１−ｋ）を乗算した信号ＦＥ２２とを求め、これらの信号ＦＥ１２，ＦＥ２２を併用してフォーカシング制御を行う。
【００５３】
また、この例では、光ディスク装置に加わる外部振動を検出するための加速度センサ（図示せず）を光ディスク装置に搭載している（但し、こうした外部振動を検出することのできる加速度センサ以外の適宜の振動検出手段を設けるようにしてもよい）。そして、この加速度センサで検出した外部振動が大きいときには、ｋの値を小さくし（例えば０．５未満にし）、逆にこの外部振動が小さいときには、ｋの値を大きくする（例えば０．５以上にする）。
【００５４】
これにより、光ディスク装置に加わる外部振動が大きいときには現在のフォーカシングエラー信号ＦＥ２のほうを未来のフォーカシングエラー信号ＦＥ１よりも大きな割合で重み付けした信号を用いてフォーカシング制御が行われ、逆にこの外部振動が小さいときには未来のフォーカシングエラー信号ＦＥ１のほうをよりも大きな割合で重み付けした信号を用いてフォーカシング制御が行われるようになる。
【００５５】
従って、外部振動に起因する突発的な外乱が未来のフォーカシングエラー信号に混入する場合にも、その外部振動による過大な制御指令値の出力が防止されるようになる。
【００５６】
尚、以上の例では、フォーカシングエラーの検出方法に非点収差法を採用した光ディスク装置に本発明を適用しているが、その他の適宜のフォーカシングエラー検出方法（例えばナイフエッジ法）を採用した光ディスク装置に本発明を適用してよい。
【００５７】
また、本発明は、以上の例に限らず、本発明の要旨を逸脱することなく、その他様々の構成をとりうることはもちろんである。
【００５８】
【発明の効果】
以上のように、本発明の請求項１に係る光ディスク装置によれば、いわば未来のフォーカシングエラー信号に基づいてフォーカシング制御を行うことにより、フォーカシング制御系の遅れ時間をキャンセルして時間遅れのないフォーカシング制御を行うことができるので、フォーカシング制御系の安定性の向上とフォーカシング制御性能の向上とを実現することができる。
【００６０】
また、未来のフォーカシングエラー信号のうちの低周波数成分の信号を用いてフォーカシング制御を行うことにより、未来のフォーカシングエラー信号から突発的な外乱の混入による成分を除去した信号を用いてフォーカシング制御が行われる。これにより、突発的な外乱の混入による過大な制御指令値の出力が防止されるという効果も得られるので、この点からもフォーカシング制御系の安定性の向上とフォーカシング制御性能の向上が実現される。
【００６１】
また、突発的な外乱の混入による成分を除去した未来のフォーカシングエラー信号だけでなく、突発的な外乱の混入による成分を含むが定常的外乱の混入による成分を除去した現在のフォーカシングエラー信号をも用いてフォーカシング制御を行うことにより、低周波数帯に存在する定常的外乱による偏差と高周波数帯に存在する突発的な外乱による偏差とをそれぞれ良好に減衰させることができるという効果も得られるので、フォーカシング制御性能を一層向上させることができる。
【００６２】
次に、本発明の請求項２に係る光ディスク装置によれば、外部振動の大きさに応じた割合で未来のフォーカシングエラー信号と現在のフォーカシングエラー信号とを重み付けして得た信号を用いてフォーカシング制御を行うことにより、請求項１に係る光ディスク装置の効果に加えて、外部振動に起因する突発的な外乱が未来のフォーカシングエラー信号に混入する場合にもその外部振動による過大な制御指令値の出力が防止されるという効果も得られるようになるので、この点からもフォーカシング制御系の安定性の向上とフォーカシング制御性能の向上が実現される。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る光ディスク装置の光ピックアップの光路系の一例を示す図である。
【図２】図１の光ディスクの記録面へのビームの照射位置の一例を示す図である。
【図３】図１の光検出器上の受光素子の配置例を示す図である。
【図４】本発明に係る光ディスク装置のフォーカシング制御系における処理の一例を示す図である。
【図５】本発明に係る光ディスク装置のフォーカシング制御系における処理の別の一例を示す図である。
【図６】本発明に係る光ディスク装置のフォーカシング制御系における処理の別の一例を示す図である。
【図７】本発明に係る光ディスク装置のフォーカシング制御系における処理の別の一例を示す図である。
【符号の説明】
１  半導体レーザー、  ２  回折格子、  ３  ハーフミラー、  ４  コリメータレンズ、  ５  対物レンズ、  ６  光ディスク、  ８  光検出器、  ８Ａ〜８Ｈ  受光素子
【図１】
0003975539.tif 000002
【図２】
0003975539.tif 000003
【図３】
0003975539.tif 000004
【図４】
0003975539.tif 000005
【図５】
0003975539.tif 000006
【図６】
0003975539.tif 000007
【図７】
0003975539.tif 000008