(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも一部を共有する信号伝送路を介して、局伝送装置と複数のノードがＴＤＭ方式で通信する通信システムであって、
当該局伝送装置が、複数の指定ノードに同期用パターン信号を含むトリガ信号を送信するトリガ信号送信手段（５０，５２）と、当該トリガ信号に応じて当該複数の指定ノードから返信される信号と、当該複数の指定ノードのそれぞれに対応する参照パターンとの相関を判定する複数の相関判定手段（５４−１〜５４−Ｎ）と、当該複数の相関判定手段の相関結果に従い、当該複数の指定ノードのそれぞれが妨害ノードか否かを判定する判定手段（６０）とを具備し、当該複数の相関判定手段（５４−１〜５４−Ｎ）のそれぞれが、当該複数の指定ノードのいずれか１に対応する参照パターンを発生する参照パターン発生手段（３４）と、当該複数の指定ノードから返信される信号と、当該参照パターン発生手段からの参照パターンとの相関を演算する相関演算手段（４０）と、当該相関演算手段の演算結果を積分する積分手段（４２）とを具備し、
当該複数のノードのそれぞれは、当該トリガ信号に応じて互いに異なる当該ノードに固有の試験パターン信号を返信する手段を具備する
ことを特徴とする通信システム。
【請求項２】
当該参照パターン発生手段は、当該トリガ信号の送信から、当該局伝送装置と当該指定ノードの往復距離に相当する遅延時間後に、当該参照パターンを発生する請求項１に記載の通信システム。
【請求項３】
当該指定ノードは、当該指定ノードに割り当てられたタイムスロットで当該試験パターン信号を出力する請求項１に記載の通信システム。
【請求項４】
当該信号伝送路が、
当該局伝送装置に信号を入出力する第１の信号線と、
当該複数のノードのそれぞれに信号を入出力する複数の第２の信号線と、
当該第１の信号線からの信号を当該複数の第２の信号線のそれぞれに供給し、当該複数の第２の信号線からの信号を当該第１の信号線に供給する合分波器
とからなる請求項１に記載の通信システム。
【請求項５】
当該第１の信号線及び当該複数の第２の信号線が、それぞれ、光ファイバからなる請求項４に記載の通信システム。
【請求項６】
複数の指定ノードにトリガ信号を送信し、これにより試験パターン信号の返信を当該指定ノードに要求するトリガ信号送信手段と、
当該複数の指定ノードにそれぞれ対応する参照パターンを発生する複数の参照パターン発生手段と、
当該複数の参照パターン発生手段と対で設置される複数の相関演算手段であって、当該複数の指定ノードのそれぞれに割り当てられたタイムスロットの受信信号と、対応する当該参照パターン発生手段からの参照パターンとの相関を演算する複数の相関演算手段と、
当該複数の相関演算手段の相関演算結果により、当該複数の指定ノードが妨害ノードか否かを判定する判定手段
とを具備することを特徴とするノード計測装置。
【請求項７】
当該複数の参照パターン発生手段のそれぞれは、当該トリガ信号の送信から、当該複数の指定ノードの何れか１との間の往復距離に相当する遅延時間後に、当該参照パターンを発生する請求項６に記載のノード計測装置。
【請求項８】
当該判定手段は、当該相関演算手段の演算結果を所定期間、積分する積分手段を具備し、その積分結果により当該指定ノードが妨害ノードか否かを判定する請求項６に記載のノード計測装置。
【請求項９】
当該指定ノードは、当該トリガ信号に応じて、当該指定ノードに割り当てられたタイムスロットで当該試験パターン信号を出力する請求項６に記載のノード計測装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、通信システム及びノード計測装置に関し、より具体的には、妨害ノードを特定する機能を有する通信システム、及び妨害ノードを特定するノード計測装置に並びに関する。
【０００２】
【従来の技術】
図７は、１台の局伝送装置と複数の加入者ノードとを接続するＴＤＭ（時分割多重）方式のパッシブパッシブ光加入者網の概略構成図を示す。
【０００３】
局伝送装置１１０は、光ファイバ１１２を介して光合分波器１１４の共通ポート＃Ｃに接続する。光合分波器１１４は、共通ポート＃Ｃの入力光をＮ分割し、各分割光をポート＃１〜＃Ｎに出力し、各ポート＃１〜＃Ｎの入力光を合波して共通ポート＃Ｃから出力する光素子からなる。光合分波器１１４のポート＃１〜＃Ｎは、それぞれ、光ファイバ１１６−１〜１１６−Ｎを介して各加入者＃１〜＃Ｎの光送受信装置１１８−１〜１１８−Ｎに接続する。
【０００４】
局伝送装置１１０と各加入者＃１〜＃Ｎの光送受信装置１１８−１〜１１８−Ｎとの間の通信にはＴＤＭ方式が採用される。すなわち、各光送受信装置１１８−１〜１１８−Ｎは、局伝送装置１１０からの時分割多重信号（下り信号）から自分に割り当てられたタイムスロットの信号を抽出して受信し、その他のタイムスロットの信号を破棄する。光送受信装置１１８−１〜１１８−Ｎはまた、局伝送装置１１０に送信すべき信号を、自分に割り当てられたタイムスロットに相当するタイミングで光ファイバ１１６−１〜１１６−Ｎに出力する。局伝送装置１１０は、予め及び継続的に、局伝送装置１１０及び光送受信装置１１８−１〜１１８−Ｎを同期させる。これにより、同送受信装置１１８−１〜１１８−Ｎが自分に割り当てられた受信用及び送信用のタイムスロットのタイミングを理解できる。局伝送装置１１０と光送受信装置１１８−１〜１１８−Ｎを同期させる同期手順の説明は省略する。
【０００５】
局伝送装置１１０から各加入者＃１〜＃Ｎの光送受信装置１１８−１〜１１８−Ｎへの下り信号と、各加入者＃１〜＃Ｎの光送受信装置１１８−１〜１１８−Ｎから局伝送装置１１０への上り信号には、互いに異なる波長の光キャリアが使用される。ある既存システムでは、下り信号には１．５μｍ帯の光キャリアが使用され、上り信号には１．３μｍ帯の光キャリアが使用される。
【０００６】
従来例の動作を簡単に説明する。局伝送装置１１０は、各加入者＃１〜＃Ｎに向けた下り光信号Ｄｉ（但し、ｉ＝１〜Ｎ）を時分割多重して、光ファイバ１１２に出力する。下り光信号Ｄｉは光ファイバ１１２を伝搬して光合分波器１１４の共通ポート＃Ｃに入力する。光合分波器１１４は、時分割多重された下り光信号ＤｉをＮ分割し、各分割光をポート＃１〜＃Ｎから光ファイバ１１６−１〜１１６−Ｎに出力する。形式的には、各加入者＃１〜＃Ｎ宛ての下り光信号Ｄ1〜ＤＮが全て、どの送受信装置１１８−１〜１１８−Ｎにも入力する。各光送受信装置１１８−１〜１１８−Ｎは、入力信号光の内から、自分に割り当てられたタイムスロット内の信号光を抽出して受信し、それ以外のタイムスロットの信号光を破棄する。例えば、光送受信装置１１８−１は下り光信号Ｄ1のみを受信し、光送受信装置１１８−２は下り光信号Ｄ２のみを受信する。
【０００７】
各光送受信装置１１８−１〜１１８〜Ｎは、それぞれに割り当てられたタイムスロットで上り光信号Ｕｉ（ｉ＝１〜Ｎ）を光ファイバ１１６−１〜１１６−Ｎに出力する。各上り光信号Ｕｉ（ｉ＝１〜Ｎ）は、光ファイバ１１６−１〜１１６−Ｎを伝搬して、光合分波器１１４のポート＃１〜＃Ｎに入力する。光合分波器１１４は光ファイバ１１６−１〜１１６−Ｎから入力する各上り光信号Ｕｉ（ｉ＝１〜Ｎ）を合波して、共通ポート＃Ｃから光ファイバ１１２に出力する。
【０００８】
各光送受信装置１１８−１〜１１８〜Ｎがそれぞれに割り当てられた正しいタイムスロットで上り光信号Ｕｉ（ｉ＝１〜Ｎ）を光ファイバ１１６−１〜１１６−Ｎに出力している場合、図７に示すように、光ファイバ１１２上では、各上り光信号Ｕｉは、時間軸上で互いに重複しない正しいタイムスロットに位置する。すなわち、光合分波器１１４は、各上り光信号Ｕｉを、その時間位置を調整せずに合波する。
【０００９】
光合分波器１１４から光ファイバ１１２に出力された上り信号光Ｕｉは、光ファイバ１１２を伝搬して局伝送装置１１０に入力する。局伝送装置１１０は、各光送受信装置１１８−１〜１１８−Ｎと同期しているので、光ファイバ１１２から入力する光信号から各上り信号光Ｕｉを正しく分離できる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
上述のパッシブ光加入者網では、複数の加入者が１つの信号帯域を時間軸上でシェアしている。従って、何らかの障害により、加入者装置の一つが、自分に割り当てられたタイムスロット以外に上り光信号を出力すると、誤ったタイムスロットを利用する他の加入者の通信が阻害されてしまう。
【００１１】
例えば、光送受信装置１１８−１が、持続的な妨害光を光ファイバ１１６−１に出力したとする。この妨害光は、他の光送受信装置１１８−２〜１１８−Ｎが局伝送装置１１０に向け出力する上り信号光Ｕ２〜ＵＮの信号対雑音電力比（ＳＮＲ）を、光ファイバ１１２上で著しく劣化させる。これは、光送受信装置１１８−２〜１１８−Ｎから局伝送装置１１０への信号伝送を阻害する。このようなことは、例えば、加入者が、光ファイバコードの接続を誤り、保有する他の光通信装置に接続する場合、及び、悪意を持って規定外の上り光信号を出力する場合に起こり得る。
【００１２】
このような障害時には、一刻も早く障害要因を排除することが必要である。特に持続的に光信号が送出される場合、全ての加入者信号が不通になるので、速やかに対処しなければならない。しかし、このような場合には、どの光送受信装置１１８−１〜１１８−Ｎが妨害光を出力しているかを特定できないので、個々の光送受信装置１１８−１〜１１８−Ｎを個別にチェックするしかなかった。
【００１３】
本発明は、少なくとも一部を共有する信号伝送路を介して、局伝送装置と複数のノードがＴＤＭ方式で通信する通信システムにおいて、妨害ノード特定機能を有する通信システム、及び、ノードが正常かどうかを計測するノード計測装置を提示することを目的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】
本発明に係る通信システムは、少なくとも一部を共有する信号伝送路を介して、局伝送装置と複数のノードがＴＤＭ方式で通信する通信システムであって、当該局伝送装置が、複数の指定ノードに同期用パターン信号を含むトリガ信号を送信するトリガ信号送信手段と、当該トリガ信号に応じて当該複数の指定ノードから返信される信号と、当該複数の指定ノードのそれぞれに対応する参照パターンとの相関を判定する複数の相関判定手段と、当該複数の相関判定手段の相関結果に従い、当該複数の指定ノードのそれぞれが妨害ノードか否かを判定する判定手段とを具備し、当該複数の相関判定手段のそれぞれが、当該複数の指定ノードのいずれか１に対応する参照パターンを発生する参照パターン発生手段と、当該複数の指定ノードから返信される信号と、当該参照パターン発生手段からの参照パターンとの相関を演算する相関演算手段と、当該相関演算手段の演算結果を積分する積分手段とを具備し、当該複数のノードのそれぞれは、当該トリガ信号に応じて互いに異なる当該ノードに固有の試験パターン信号を返信する手段を具備することを特徴とする。
【００１６】
本発明に係るノード計測装置は、複数の指定ノードにトリガ信号を送信し、これにより試験パターン信号の返信を当該指定ノードに要求するトリガ信号送信手段と、当該複数の指定ノードにそれぞれ対応する参照パターンを発生する複数の参照パターン発生手段と、当該複数の参照パターン発生手段と対で設置される複数の相関演算手段であって、当該複数の指定ノードのそれぞれに割り当てられたタイムスロットの受信信号と、対応する当該参照パターン発生手段からの参照パターンとの相関を演算する複数の相関演算手段と、当該複数の相関演算手段の相関演算結果により、当該複数の指定ノードが妨害ノードか否かを判定する判定手段とを具備することを特徴とする。
【００１７】
【実施例】
以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明する。
【００１８】
図１は、本発明の一実施例の概略構成図を示す。
【００１９】
局伝送装置１０は、光ファイバ１２を介して光合分波器１４の共通ポート＃Ｃに接続する。光合分波器１４は、共通ポート＃Ｃの入力光をＮ分割し、各分割光をポート＃１〜＃Ｎに出力し、各ポート＃１〜＃Ｎの入力光を合波して共通ポート＃Ｃから出力する光素子からなる。光合分波器１４のポート＃１〜＃Ｎは、それぞれ、光ファイバ１６−１〜１６−Ｎを介して各加入者＃１〜＃Ｎの光送受信装置１８−１〜１８−Ｎに接続する。
【００２０】
局伝送装置１０と各加入者＃１〜＃Ｎの光送受信装置１８−１〜１８−Ｎとの間の通信は、図７に示す従来例と同じである。即ち、局伝送装置１１０と各加入者＃１〜＃Ｎの光送受信装置１１８−１〜１１８−Ｎとの間の通信にはＴＤＭ方式が採用され、上り信号と下り信号は、使用する光キャリアの波長で区別される。本実施例では、局伝送装置１０から各加入者＃１〜＃Ｎの光送受信装置１８−１〜１１８−Ｎへの下り信号には波長λｄの光キャリアが使用され、各加入者＃１〜＃Ｎの光送受信装置１８−１〜１８−Ｎから局伝送装置１０への上り信号には、波長λｄとは異なる波長λｕの光キャリアが使用される。従来例と同様に、λｄは１．５μｍ帯、λｕは１．３μｍ帯である。
【００２１】
図１では、送受信装置１８−２が定常的に妨害光を光ファイバ１６−２に出力する妨害ノードになっている。妨害ノード（光送受信装置１８−２）を特定する本実施例の動作を詳細に説明する。
【００２２】
局伝送装置１０は、妨害ノード及び障害を計測するノード計測装置を具備する。以下の説明では、ノードが正常がどうかを計測する際の局伝送装置１０の動作は、局伝送装置１０に内蔵されるノード計測装置の動作である。
【００２３】
先ず、局伝送装置１０は、試験しようとする光送受信装置１８−１〜１８−Ｎの全部又はその内の１又は複数の試験対象に対して、試験モードへの移行を指示する。
【００２４】
局伝送装置１０は、光送受信装置１８−１〜１８−Ｎが予め定められたタイミングで試験パターンを送出するように、周期的にトリガ光信号２０（波長λｄ）を光ファイバ１２に送出する。トリガ光信号２０は、試験パターンを返信すべき光送受信装置を指定するノード指定子２０ａと、目的の光送受信装置を局伝送装置に同期させるためのアイドルパターン信号２０ｂからなる。ノード指定子２０ａでは、光送受信装置１８−１〜１８−Ｎの内の特定の１つを指定できるし、全光送受信装置１８−１〜１８−Ｎを一括して指定することもできる。図１では、ノード指定子２０ａは、光送受信装置１８−１を指定している。アイドルパターン信号２０ｂは、光送受信装置１８−１〜１８−Ｎから返信されるべき試験パターンと同じパターンであってもよいし、マーク及びスペースの一定の繰り返しからなる固定パターン信号であってもよい。
【００２５】
光合分波器１４は、局伝送装置１０から光ファイバ１２を介して入力するトリガ光信号２０をＮ分割し、各分割光を光ファイバ１６−１〜１６−Ｎを介して光送受信装置１８−１〜１８−Ｎに送信する。トリガ光信号２０のノード指定子２０ａで指定される光送受信装置１８−１のみが、試験パターン光信号２２を光ファイバ１６−１に出力する。その際、光送受信装置１８−１は、入力するトリガ光信号２０のアイドルパターン信号２０ｂに同期して、試験パターン光信号２２（波長λｕ）を光ファイバ１６−１に出力する。これにより、局伝送装置１０と光送受信装置１８−１との間で同期が確立される。
【００２６】
試験パターン光信号２２（波長λｕ）により搬送される試験パターンは、局伝送装置１０が知っている限り、任意のパターンでよい。例えば、アイドルパターン２０ｂと同じでもよいし、アイドルパターンを符号化したものでもよいし、個々の光送受信装置１８−１〜１８−Ｎで同じでも異なっても良い。但し、何れの場合も、試験パターンは、擬似ランダムパターンであるのが好ましい。
【００２７】
全ての光送受信装置１８−１〜１８−Ｎを同時に試験する場合、各光送受信装置１８−１〜１８−Ｎは、互いに異なるパターンからなる試験パターン光信号を局伝送装置１０に返信するのが好ましい。局伝送装置１０の間の距離が同じになる複数の光送受信装置がある場合、局伝送装置１０は、それらから出力される試験パターン信号光を、後述する相関法でも個別に検出できなくなるからである。
【００２８】
単一の光送受信装置を順に試験する場合には、各光送受信装置１８−１〜１８−Ｎは同じ試験パターン信号光２２を局伝送装置１０に返信してもよいし、互いに異なる試験パターン信号光２２を局伝送装置１０に返信してもよい。
【００２９】
光送受信装置１８−１から出力される試験パターン光信号２２を光ファイバ１６−１を伝搬して光合分波器１４に入力する。また、光送受信装置１８−２が光ファイバ１６−２に出力する妨害光２４（波長λｕ）は、光ファイバ１６−２を伝搬して光合分波器１４に入力する。光合分波器１４は、その試験パターン光信号２２（波長λｕ）と妨害光２４（波長λｕ）を光ファイバ１２を介して局伝送装置１０に供給する。光ファイバ１２上では、妨害光２４により、試験パターン光信号２２のＳＮＲは大幅に劣化する。
【００３０】
局伝送装置１０は、光ファイバ１２から入力した試験パターン光信号２２と妨害光２４からなる光を光電変換し、その出力と参照パターンとの間の相関を計算し、相関結果を積分する。参照パターンは、試験パターン光信号２２で搬送される試験パターンと同じパターンからなる。この相関演算により、試験パターン光信号２２を検出できる。試験パターン光信号２２のＳＮＲが大幅に劣化している場合でも、相関結果を積分することにより、確実に試験パターン光信号２２を検出できる。
【００３１】
詳細は後述するが、試験パターンを検出する際には、参照パターンは、トリガ光信号２０の光ファイバ１２への出力時点から、試験対象の光送受信装置（ここでは、装置１８−１）と局伝送装置１０との間の往復距離に応じた時間及び装置１８−１内での折り返しの時間の後に、相関演算回路に印加される。参照パターンを、試験パターンの存在しないタイミングで相関演算回路に印加することにより、光ファイバ１２から入力する信号との相互相関値を計算できる。この相互相関値は、バックグラウンド雑音の指標を示す。
【００３２】
相関結果の積分値が所定値以上であれば、試験対象の光送受信装置が正常に動作していることになる。局伝送装置１０は、次の光送受信装置、例えば、装置１８−２を試験対象としてトリガ光信号２０を光ファイバ１２に出力する。このようにして、各光送受信装置１８−１〜１８−Ｎを順に調査する。
【００３３】
妨害光２４を出力する光送受信装置１８−２は、トリガ光信号２０に対して試験パターン光信号を出力しない。従って、光送受信装置１８−２を試験対象としているとき、局伝送装置１０における相関演算の積分結果は、所定閾値より低い。これにより、局伝送装置１０は、光送受信装置１８−２に障害があることを知ることができる。
【００３４】
各光送受信装置１８−１〜１８−Ｎが、互いに異なるパターンの試験パターン光信号を出力する場合、局伝送装置１０は、各光送受信装置１８−１〜１８−Ｎからの試験パターン光信号の相関演算を並列に実行することで、より短時間に障害のある光送受信装置、即ち、障害ノードを特定できる。勿論、局伝送装置１０は、各光送受信装置１８−１〜１８−Ｎからの試験パターン光信号の相関演算を逐次的に実行してもよい。各光送受信装置１８−１〜１８−Ｎに個別にトリガ光信号２０を出力する場合に比べれば、障害ノードの特定に要する時間は短い。
【００３５】
通常、妨害光が存在する場合、全ての上り信号が阻害されると予想される。しかし、中にはタイミング回路等の不具合で、指定されたタイムスロット以外のタイムスロットで妨害光を送出することが考えられる。この場合、送出タイミングは周期性を有すると思われ、１又は複数の他の加入者に影響を及ぼすものの、それ以外の加入者の通信には影響しない。このような状況では、正常に通信が行われているノードへの影響を避けるために、通信障害が生じているノードに限り、それに割り当てられた局向けの通信データに代わり試験データを送出するようにして、上述の検出処理を行えばよい。この場合、この試験データが存在する期間のみ積分処理を行う必要がある。
【００３６】
局伝送装置１０の内部構成を説明する。図２は、局伝送装置１０の構成例の概略構成ブロック図を示す。但し、主として、送受信装置１８−１〜１８−Ｎが正常かどうかを計測するノード計測装置の構成を図示してある。制御回路３０は、試験すべき光送受信装置を特定する加入者ＩＤ及びアイドルパターンを光送信器３２に供給し、同時に、トリガ信号及び、試験すべき光送受信装置と局伝送装置１０との間の往復距離を勘案した遅延時間を参照パターン発生回路３４に印加する。
【００３７】
光送信器３２は、制御回路３０からの加入者ＩＤ及びアイドルパターン信号を波長λｄの光信号に変換することにより、その加入者ＩＤを探索対象とするトリガ光信号２０を生成する。そのトリガ信号光２０は、ＷＤＭ光合分波器３６を介して光ファイバ１２に印加され、先に説明したように、光送受信装置１８−１〜１８−Ｎに到達する。
【００３８】
ＷＤＭ光合分波器３６は、光送信器３２から出力猿波長λｄの光を光ファイバ１２に結合し、光ファイバ１２からの波長λｕの光を光受信器５８に入力する波長選択性の光カップラである。
【００３９】
ＷＤＭ光合分波器３６は、光ファイバ１２から入力する試験パターン光信号２２及び妨害光２４を含む波長λｕの光を光受信器３８に印加する。光受信器３８は、入力光を電気信号に変換して、相関演算回路４０に印加する。相関演算回路４０には、試験パターン光信号２２で搬送された試験パターンが入力する。
【００４０】
他方、参照パターン発生回路３４は、制御回路３０からのトリガ信号から制御回路３０からの遅延時間分だけ遅れて、参照パターンを発生し、相関演算回路４０に印加する。参照パターン発生回路３４はまた、相関演算回路４０の相関結果に対する、試験対象の光送受信装置が試験パターン信号光の出力に使用するタイムスロットを示すゲート信号を積分回路４２に印加する。このゲート信号は、試験対象の光送受信装置からの試験パターン信号に対する相関演算結果を積分するタイミングを示す。
【００４１】
相関演算回路４０は、光受信器３８から入力する受信試験パターンと参照パターン発生回路３４からの参照パターンとの間の相関を演算し、相関結果を積分回路４２に印加する。積分回路４２は、参照パターン発生回路３４からのゲート信号で指定されるタイムスロットでの、相関演算回路４０の相関結果を積分する。
【００４２】
制御回路３０は、各光送受信装置１８−１〜１８−Ｎに対する積分回路４２の積分結果から、妨害光を発生している１又は２以上の光送受信装置を特定する。
【００４３】
図３は、受信試験パターンと参照パターンが一致する場合の、相関結果及び積分結果の波形例を示し、図４は、受信試験パターンと参照パターンが一致しない場合の、相関結果及び積分結果の波形例を示す。受信試験パターンと参照パターンが一致する場合、積分回路４２の積分結果は、時間と共に増加する。これは、試験対象の光送受信装置が正常に動作しており、妨害光を出力していないことを意味する。逆に、受信試験パターンと参照パターンが一致しない場合、積分回路４２の積分結果は、０値の近辺又はマイナス値で変動するのみである。これは、試験対象の光送受信装置が正常に動作せずに、妨害光を出力していることを意味する。このように、積分回路４２の積分結果出力により、試験対象の光送受信装置が正常に動作しているかどうか、即ち、妨害光を出しているかどうかを判別できる。
【００４４】
参照パターン発生回路３４、相関回路４０及び積分回路４２をデジタル演算回路で構成する場合、光受信器３８と相関演算回路４０の間に、アナログ／デジタル（Ａ／Ｄ）変換器を配置すればよい。
【００４５】
先に説明したように、複数の光送受信回路１８−１〜１８−Ｎからそれぞれに割り当てられたタイムスロットで試験パターン光信号を出力させ、局伝送装置１０が、複数の受信試験パターン信号の相関演算を同時に実行するように構成することで、より迅速に妨害ノードを特定できる。
【００４６】
図５は、複数の受信試験パターン信号を並列処理する局伝送装置１０の構成例の概略構成ブロック図を示す。
【００４７】
トリガ発生回路５０は、全部又は複数の光送受信装置１８−１〜１８−Ｎを示す識別子及びアイドルパターンを光送信器５２に印加する。光送信器５２は、これらの入力信号に従い、全部又は複数の光送受信装置１８−１〜１８−Ｎにブロードキャスト又はマルチキャストすべきトリガ光信号２０（波長λｄ）を生成し、同時に、各光送受信装置１８−１〜１８−Ｎから返信される試験パターンの相関を判定する相関判定回路５４−１〜５４−Ｎに、試験開始タイミングを示すトリガ信号を印加する。相関判定回路５４−１〜５４−Ｎには、局伝送装置１０から対応する光送受信装置１８−１〜１８−Ｎまでの往復距離を勘案した遅延時間が入力される。光送信器５２で生成されたトリガ信号光２０（波長λｄ）は、ＷＤＭ光合分波器５６を介して光ファイバ１２に印加され、先に説明したように、光送受信装置１８−１〜１８−Ｎに到達する。ＷＤＭ光合分波器５６は、ＷＤＭ光合分波器３６と同じ光素子からなる。
【００４８】
ＷＤＭ光合分波器５６は、光ファイバ１２から入力する波長λｕの光を光受信器５８に印加する。光受信器５８は、ＷＤＭ光合分波器５６から入力する波長λｕの光を電気信号に変換して、各相関判定回路５４−１〜５４−Ｎに印加する。光受信器５８の出力は、トリガ光信号２０で指定された光送受信装置入から返信された試験パターン信号、及び妨害ノードからの妨害信号を含む。
【００４９】
各相関判定回路５４−１〜５４−Ｎは、図１に示す実施例の参照パターン発生回路３４、相関演算回路４０及び積分回路４２からなる回路ブロックと同様の構成からなる。図１に示す実施例で説明したのと同様の動作で、各相関判定回路５４−１〜５４−Ｎは、光受信器５８の出力から、対応する光送受信装置１８−１〜１８−Ｎが正常に試験パターン信号を返信しているかどうかを判定する。各相関判定回路５４−１〜５４−Ｎの判定結果は、積分回路４２の出力に対応する。各相関判定回路５４−１〜５４−Ｎの判定結果は、判定回路６０に印加される。判定回路６０は、各相関判定回路５４−１〜５４−Ｎの判定出力からどの光送受信装置１８−１〜１８−Ｎが妨害信号又は妨害光を出力しているかを特定する。
【００５０】
図５に示す実施例では、複数の光送受信装置１８−１〜１８−Ｎから返信される試験パターン信号を並列に処理できるので、妨害ノードを迅速に検出できる。
【００５１】
図５に示す実施例でも、光受信器３８のアナログ出力をデジタル信号に変換してから各相関判定回路５４−１〜５４−Ｎに印加しても良い。
【００５２】
各光送受信装置１８−１〜１８−Ｎでの試験パターン信号の生成方法には２つの方法が考えられる。第１の方法は、局伝送装置１０から送られたパターンをそのまま又は符号化して返信する方法である。この方法では、光送受信装置１８−１〜１８−Ｎの内部構成が簡略化できる。第２の方法は、局伝送装置１０からのアイドルパターン２０ｂを局伝送装置１０との同期にのみ使用し、各光送受信装置１８−１〜１８−Ｎが、独自の試験パターンを生成する方法である。この場合、各光送受信装置１８−１〜１８−Ｎにパターン発生回路が必要になり、しかも、その発生するパターンが局伝送装置１０内で発生される参照パターンと同じでなければならない。
【００５３】
図６は、独自の試験パターンを発生可能な光送受信装置１８−１の構成例の概略構成ブロック図を示す。他の光送受信装置１８−２〜１８−Ｎの構成も同じである。
【００５４】
ＷＤＭ光合分波器７０は、光ファイバ１６−１から入力する光を光受信器７２に印加する。光受信器７２は、入力光の内の、光送受信装置１８−１に割り当てられているタイムスロット部分を電気信号に変換して、送受信回路７４に出力する。
【００５５】
送受信回路７４は、通信モードでは、局伝送装置１０との間でデータを送受信する。試験モードでは、送受信回路７４は、局伝送装置１０からトリガ光信号２０で搬送される信号から、返信する試験パターンを示すＩＤを識別して試験パターン発生回路７８に印加し、試験パターンをアイドルパターンに同期させる同期信号を試験パターン発生回路７８に印加する。試験パターン発生回路７８は、ＩＤ識別回路７６で識別されたＩＤに応じたパターン内容の試験パターンを、送受信回路７４からの同期信号に同期して発生し、スイッチ８０のｂ接点に印加する。
【００５６】
送受信回路７４はまた、光送受信装置１８−１に対する制御コマンドも受信し、受信コマンドに応じて光送受信装置１８−１の各部を制御する。例えば、スイッチ８０は通常、ａ接点（送受信回路７４の出力）に接続しているが、局伝送装置１０から試験モードへの移行を指示するコマンドを受信すると、送受信回路７４は、スイッチ８０をｂ接点（試験パターン発生回路７８の出力）に接続する。
【００５７】
スイッチ８０で選択された信号は、光送信器８２に印加され、ここで波長λｕの光信号に変換される。光送信器８２から出力される光信号（波長λｕ）は、ＷＤＭ光合分波器７０により光ファイバ１６−１に送出され、光ファイバ１６−１、光合分波器１４及び光ファイバ１２を介して局伝送装置１０に到達する。
【００５８】
試験モードでは、スイッチ８０がｂ接点に接続するので、試験パターン発生回路７８から出力される試験パターンを搬送する試験パターン光信号２２が、光送受信装置１８−１から局伝送装置１０に伝送される。
【００５９】
ノード計測装置が局伝送装置１０に内蔵される実施例を説明したが、勿論、以上の機能を有するノード計測装置を局伝送装置の外側に配置してもよいことはいうまでもない。
【００６０】
【発明の効果】
以上の説明から容易に理解できるように、本発明によれば、特定のノード装置の不具合によってＴＤＭ光ネットワークの通信が阻害されている場合でも、容易に且つ精度よく、正常動作しているノードを確認できる。即ち、不具合が発生しているノードを迅速に特定できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の一実施例の概略構成ブロック図である。
【図２】  局伝送装置１０の概略構成ブロック図である。
【図３】  受信試験パターンと参照パターンが一致する場合の、相関結果及び積分結果の波形例である。
【図４】  受信試験パターンと参照パターンが一致しない場合の、相関結果及び積分結果の波形例である。
【図５】  局伝送装置１０の別の構成例の概略構成ブロック図である。
【図６】  光送受信装置１８−１の概略構成ブロック図である。
【図７】  従来のＴＤＭ（時分割多重）方式のパッシブパッシブ光加入者網の概略構成図である。
【符号の説明】
１０：局伝送装置
１２：光ファイバ
１４：光合分波器
１６−１〜１６−Ｎ：光ファイバ
１８−１〜１８−Ｎ：光送受信装置
２０：トリガ光信号
２０ａ：ノード指定子
２０ｂ：アイドルパターン信号
２２：試験パターン光信号
２４：妨害光
３０：制御回路
３２：光送信器
３４：参照パターン発生回路
３６：ＷＤＭ光合分波器
３８：光受信器
４０：相関演算回路
４２：積分回路
５０：トリガ発生回路
５２：光送信器
５４−１〜５４−Ｎ：相関判定回路
５６：ＷＤＭ光合分波器
５８：光受信器
６０：判定回路
７０：ＷＤＭ光合分波器
７２：光受信器
７４：送受信回路
７８：試験パターン発生回路
８０：スイッチ
８２：光送信器
１１０：局伝送装置
１１２：光ファイバ
１１４：光合分波器
１１６−１〜１１６−Ｎ：光ファイバ
１１８−１〜１１８−Ｎ：光送受信装置
【図１】
0003867558.tif 000002
【図２】
0003867558.tif 000003
【図３】
0003867558.tif 000004
【図４】
0003867558.tif 000005
【図５】
0003867558.tif 000006
【図６】
0003867558.tif 000007
【図７】
0003867558.tif 000008