(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
二端子（Ａ，Ｂ）間に、第一のツェナーダイオード（ＺＤ1 ）および第二のツェナーダイオード（ＺＤ2 ）が互いに反対極性に直列接続され、前記二つのツェナーダイオードは共にその降伏電圧が前記二端子間の定常時の電圧より高く、その降伏電圧が互いにほぼ等しく、
前記第一のツェナーダイオード（ＺＤ1 ）に並列に電圧検出回路が接続された
ことを特徴とする過電圧保護回路。
【請求項２】
前記第二のツェナーダイオード（ＺＤ2 ）の破壊に至る電力容量が前記第一のツェナーダイオード（ＺＤ1 ）の破壊に至る電力容量より小さい請求項１記載の過電圧保護回路。
【請求項３】
前記電圧検出回路は、発光ダイオード（ＰＤ）および高インピーダンス回路（Ｚ）の直列回路である請求項２記載の過電圧保護回路。
【請求項４】
前記発光ダイオードはホトカプラの一部に含まれる請求項３記載の過電圧保護回路。
【請求項５】
前記二端子（Ａ，Ｂ）間に、放電手段（Ｖｒ）が並列に接続された請求項３記載の過電圧保護回路。
【請求項６】
前記二端子が一対の電源通路に装着されるように１個の部品として形成された請求項３または５記載の過電圧保護回路。
【請求項７】
プラグまたはジャックの内部に実装された請求項３または５記載の過電圧保護回路。
【請求項８】
プラグおよびジャックの間に挟み込む部品の内部に実装された請求項３または７記載の過電圧保護回路。
【請求項９】
請求項１記載の過電圧保護回路の二つが並列接続され、
前記二つの過電圧保護回路の一方と他方とで前記第一のツェナーダイオードが互いに反対極性である
過電圧保護回路。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明が属する技術分野】
本発明は、コンピュータ装置、通信装置、制御装置、その他半導体部品を含む電子装置を外部から侵入する高電圧サージ、その他過電圧に対して保護する装置として利用する。本発明の装置は、電子装置の電源回路に利用するために開発されたものであるが、電源回路以外の端子から侵入する過電圧に対する保護装置としても利用することができる。
【０００２】
【従来の技術】
従来から電源回路の過電圧保護回路として、図１２に示すものが知られている。この回路は、二端子Ａ，Ｂは例えば保護対象となる電子装置の電源電流の通路であり、さらに具体的には商用電源に接続するためのソケットまたはプラグの電極である。この端子Ａ，Ｂ間にバリスタＶｒとフューズＦとの直列回路を挿入し、さらにこのバリスタＶｒと並列に発光ダイオードＰＤおよび高インピーダンスＺの直列回路を接続したものである。
【０００３】
バリスタＶｒは、正常な電源電圧の範囲では高い抵抗値を呈しているが、何らかの原因で電源電圧に過電圧が侵入すると、バリスタＶｒの抵抗値が低くなって、二端子Ａ，Ｂ間を短絡することになる。これにより電子装置の電源電圧には過電圧が防護される。これと同時に、このバリスタＶｒには大きい電流が流れ、所定の短い時間が経過するとフューズＦは溶断する。二端子Ａ，Ｂ間に発生した高電圧によりフューズＦが溶断するに至らない場合には、その過電圧が消滅するとバリスタＶｒは自動的に元の高い抵抗値に復旧するから、回路は自動的に復旧することになる。
【０００４】
一方、発光ダイオードＰＤは二端子Ａ，Ｂ間に正常な電圧が印加されている状態では、高インピーダンスＺおよびフューズＦを介して微小電流が流れて発光状態にある。したがって正常時は発光状態にあるが、フューズが溶断することによりその微小電流はなくなるから発光が停止する。この発光ダイオードを外から観察できる位置に配置しておくと、過電圧が印加されてフューズＦが溶断したことを知り、この過電圧保護回路を適正に交換することができる。
【０００５】
このようにこの従来回路は、簡単な構成であり安価に提供することができるとともに、短いサージ状の過電圧を阻止することができるし、さらに長時間にわたり過電圧が印加された履歴を後から観察し交換できる便利な装置として使用されてきた。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、バリスタＶｒは発熱により動作する素子であり、その反応が起きるまでには過電圧が印加されてからある時間を必要とする。すなわち、電源に混入した過電圧が短時間に急激に立ち上がるものであり、その立ち上がり時間がバリスタＶｒの動作時間より短い場合には、バリスタＶｒが動作する前に過電圧が装置の中に侵入するから、十分な過電圧防護を期待することができない。
【０００７】
また、フューズＦの溶断電流の選定は微妙である。すなわち、フューズＦに大電流で溶断するものを選定すると、電源に過電圧サージが混入しても、この履歴を後から観察することができない。一方、フューズＦに小さい電流で溶断するものを選定すると、十分な防護が行われないうちにフューズＦが溶断してしまい、過電圧保護回路は消滅してしまうことになる。したがって、フューズの溶断電流の選定範囲はその許容幅が狭くなる。ところが、フューズの性質から製品の特性にはばらつきが大きく、しかもその溶断特性には経年変化がある。また、いったん過電圧が印加されても、フューズが溶断するに至らなかったときには、フューズは導通しているとはいえ相応に劣化しているものであって、次に過電圧が印加されたときには短時間で溶断してしまう場合があり、このような場合には十分な防護ができない可能性がある。
【０００８】
本発明はこのような背景に行われたものであって、短時間に消滅する過電圧の侵入に対しても適正な防護ができる、速動性の過電圧保護回路を提供することを目的とする。本発明は、過電圧が時間的に変動する場合にも、適正な防護を行うことができる過電圧保護回路を提供することを目的とする。本発明は、設定された値を越えるエネルギの過電圧が印加された場合には、後からその履歴を観察することができ、大きい過電圧が印加されたものを正しく交換することができる過電圧保護回路を提供することを目的とする。本発明は、長時間にわたり過電圧が印加された場合にも、継続して防護を行うことができる過電圧保護回路を提供することを目的とする。本発明は、印加される過電圧の極性にかかわらず適正な防護を行うことができる過電圧保護回路を提供することを目的とする。本発明は、過電圧が印加されても、自己回復することができる過電圧の範囲が大きい保護回路を提供することを目的とする。本発明は、きわめて簡単な構成で、安価に提供することができる過電圧保護回路を提供することを目的とする。本発明は、電子装置の電源回路その他接続回路に簡便に実装して利用することができる過電圧保護回路を提供することを目的とする。本発明は、電子装置の電源回路その他接続回路に簡単に装着することができるとともに、簡単に交換することができる過電圧保護回路を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明は、二端子（Ａ，Ｂ）間に、第一のツェナーダイオード（ＺＤ1 ）および第二のツェナーダイオード（ＺＤ2 ）が互いに反対極性に直列接続され、前記二つのツェナーダイオードは共にその降伏電圧（ツェナー電圧）が前記二端子間の定常時の電圧より高く、その降伏電圧が互いにほぼ等しいことを特徴とする。ここで、その降伏電圧がほぼ等しいとは、互いにその降伏電圧の偏差が±５％以内のものであることをいう。
【００１０】
二つのツェナーダイオードは共にその降伏電圧が前記二端子間の定常時の電圧より高いことにより、定常時にはこのツェナーダイオードの直列回路には電流がなく、過電圧が侵入したときのみ導通する過電圧保護回路となる。互いにその降伏電圧が等しいことにより、いずれの極性の過電圧に対しても均等に作用する。また、その降伏電圧はこれをほぼ等しく設定することによりバランスがとれるから、交流回路に使用するに適する回路となる。
【００１１】
前記第一のツェナーダイオード（ＺＤ1 ）に並列に電圧検出回路が接続された構成とすることにより、第二のツェナーダイオード（ＺＤ2 ）が導通する半サイクルでこの電圧検出回路にわずかな電流が流れ、回路が正常な状態にあることを知ることができる。
【００１２】
前記第二のツェナーダイオード（ＺＤ2 ）の破壊に至る電力容量が前記第一のツェナーダイオード（ＺＤ1 ）の破壊に至る電力容量より小さく設定することが望ましい。この構成により、破壊に至る場合には、第二のツェナーダイオード（ＺＤ2 ）が先に破壊するから、電圧検出回路が電圧を検出しなくなることによりツェナーダイオードの破壊に至る過電圧が印加されたことを知ることができるようになる。
【００１３】
前記電圧検出回路は、発光ダイオード（ＰＤ）および高インピーダンス回路（Ｚ）の直列回路とすることにより、その発光ダイオードの発光状態により、その過電圧保護回路が正常であるか、すでにツェナーダイオードが破壊されているかを外部から知ることができる。
【００１４】
すなわちこの構成により、二端子（Ａ，Ｂ）間に現れる定常時の電圧に対しては、その電圧がいずれの極性であっても、定常時に印加される電圧が交流であっても、直列接続された二つのツェナーダイオードには電流が流れない。そして、電圧検出回路は第一のツェナーダイオード（ＺＤ1 ）の両端電圧を検出する。二端子（Ａ，Ｂ）間に定常時に印加される電圧が交流であるときには、第一のツェナーダイオード（ＺＤ1 ）が非導通となる半サイクルの電圧をこの電圧検出回路が検出する。
【００１５】
この二端子（Ａ，Ｂ）間に過電圧が印加され、これがツェナーダイオードの降伏電圧を越えると、二つのツェナーダイオードの直列回路に電流が流れて、二端子（Ａ，Ｂ）間を短絡する。かりに二端子（Ａ，Ｂ）が一対の電源電流の供給回路に接続されているとすると、二端子（Ａ，Ｂ）間が短絡されることにより、二端子（Ａ，Ｂ）間に発生した過電圧は抑圧される。
【００１６】
この過電圧がツェナーダイオードの降伏電圧以下に戻ると、二つのツェナーダイオードの直列回路は自動的に高いインピーダンス（または開放状態）に復旧する。この過電圧が持続して、この過電圧による電流が持続して二つのツェナーダイオードの直列回路を流れ続ける状態になると、第二のツェナーダイオード（ＺＤ2 ）が第一のツェナーダイオード（ＺＤ1 ）より先に破壊される。これが本発明の特徴ある動作である。
【００１７】
第二のツェナーダイオード（ＺＤ2 ）が破壊されると、この二つのツェナーダイオードの直列回路には電流が流れなくなる。これは過電圧保護回路としての機能を失った状態であり、この過電圧保護回路は交換しなければならない。本発明の回路では、第一のツェナーダイオード（ＺＤ1 ）に並列に接続された電圧検出回路に電圧が現れなくなるからこれを知ることができる。
【００１８】
この電圧検出回路は、発光ダイオード（ＰＤ）および高インピーダンス回路（Ｚ）の直列回路とすることが単純であり望ましい回路である。この発光ダイオード（ＰＤ）の発光状態を外部から観察することができるようにしておくと、正常時にはこの発光ダイオードの光が見えるが、第二のツェナーダイオード（ＺＤ2 ）が破壊されたときにはこの光が見えなくなる。これにより、二端子（Ａ，Ｂ）間に過電圧が印加された履歴を知ることができる。この構成により上で説明した従来装置と同様に適正に交換することができるなど、従来装置と同等の使い方をすることができる。
【００１９】
上で説明した従来装置に比べると、フューズを使用していないから、動作電圧および電流が安定であり、特性のばらつきは少なく、経年変化はきわめて小さく、履歴による特性の変化も少なく、従来装置に比べて動作速度も速くなる。また、ツェナーダイオードを使用するので、いったん過電圧が印加され導通状態となっても、過電圧が消滅すると速やかに元の特性に回復する。
【００２０】
この発光ダイオード（ＰＤ）はホトカプラの一部に含まれる構成とすることができる。この構成により、電圧検出回路の出力を電気信号として取り出すことができる。
【００２１】
ここでこの明細書では「ツェナーダイオード」は、市場で「ツェナーダイオード」として販売されている半導体素子に限らずこれより広く定義する。ここで「ツェナーダイオード」とは、一極性で導通状態となり、反対極性で非導通状態となるダイオード特性を有するとともに、その反対極性の電圧が所定値（降伏電圧）を越えて大きくなったときに導通状態になり、しかもそれがある範囲の電流値であれば、破壊にいたることなく繰り返し再現することができる素子または回路を含むものとする。このような回路は、市販の「ツェナーダイオード」の他に、複数の半導体素子や回路素子により形成された複合回路や、市販されている「ツェナーダイオード」のように十分にかつ高速に回復するものでない回路または素子などがある。これらによっても本発明を実施することができる。例えば、定常時に印加される電圧が高い場合に、複数の素子を直列に組み合わせることにより、高いツェナー電圧を実現するような場合には、１個の素子ではなく、複数の素子の組み合わせにより、この明細書で定義する「ツェナーダイオード」を実現することができる。
【００２２】
上で説明した「破壊に至る電流容量」を異なる値に設定するには、使用する二つの素子に互いに定格電流容量の異なるものを選択することにより簡単に実現することができる。この破壊に至る電流容量は、定格電流容量などのような形式的な表示ではなく実質的なものである。かりに同一の定格電流容量のものを使用しても、一方について放熱条件が良くなるように実装し、他方について放熱条件が悪くなるように実装することによっても実現することができる。定格電流容量と放熱条件の二つをたくみに組み合わせて実現することもできる。
【００２３】
前記二端子（Ａ，Ｂ）間に、放電手段（Ｖｒ）を並列に接続して利用することができる。この放電手段は、バリスタ、放電管、ネオンランプ、その他である。この構成により、第二のツェナーダイオード（ＺＤ2 ）が破壊された後にも、ひきつづき二端子（Ａ，Ｂ）間に過電圧が印加されている場合には、二端子（Ａ，Ｂ）間のインピーダンスを低くして、この過電圧が直接に装置などに印加されないように作用させることができる。
【００２４】
ひとつの便利な構成として、この二端子（Ａ，Ｂ）が一対の電源通路に装着されるように１個の部品として形成することができる。これは電源プラグの内部に実装することもできる。この過電圧保護回路は、プラグまたはジャックの内部に実装することができる。この過電圧保護回路は、プラグおよびジャックの間に挟み込む部品（例えば分岐プラグ）の内部に実装することができる。
【００２５】
対応するツェナーダイオードをそれぞれ反対極性に接続した保護回路の２組を並列接続する構成とすることができる。この構成により、いずれか一方の極性によりツェナーダイオードの一つが破壊されても、それを外部から知ることができる。
【００２６】
【発明の実施の形態】
（第一実施例）
図１は本発明第一実施例の回路図である。二端子Ａ，Ｂは一例として過電圧を防護するための電源回路である。これは、コンピュータなどの電子装置の商用電源に接続するための一対の電源回路である。この実施例では、この二端子Ａ，Ｂは、プラグ（またはコンセント）の両端子である。この二端子Ａ，Ｂ間に、第一のツェナーダイオードＺＤ1 および第二のツェナーダイオードＺＤ2 が互いに反対極性に直列接続される。そしてこの第一のツェナーダイオードＺＤ1 に並列に電圧検出回路として、発光ダイオードＰＤおよび抵抗器Ｚの直列回路が接続される。そして、この二つのツェナーダイオードＺＤ1 およびＺＤ2 は共にその降伏電圧（ツェナー電圧）が前記二端子間の定常時の電圧より高く設定され、前記第二のツェナーダイオードＺＤ2 の破壊に至る電力容量を前記第一のツェナーダイオードＺＤ1 の破壊に至る電力容量より小さく設定する。
【００２７】
この実施例では、二端子Ａ，Ｂを商用電源（標準電圧１００Ｖ）であり、第一のツェナーダイオードＺＤ1 の降伏電圧は１５０Ｖに、第二のツェナーダイオードＺＤ2 の降伏電圧も１５０Ｖにそれぞれ設定し、第一のツェナーダイオードＺＤ1 の破壊に至る電力容量を約０．５Ｗに、第二のツェナーダイオードＺＤ2 の破壊に至る電力容量を約０．２５Ｗに設定する。これは定格電流容量の異なるものを用いることにより実現した。
【００２８】
この構成では、二端子Ａ，Ｂ間に１００Ｖの交流が印加されているときには、二つのツェナーダイオードＺＤ1 およびＺＤ2 は少なくとも一方が非導通状態になっているから、この直列回路には電流が流れない。発光ダイオードＰＤは第一のツェナーダイオードＺＤ1 の両端電圧を検出してその非導通の半サイクルで発光する。この発光ダイオードＰＤの発光を外から観察することができるように配置してあるから、正常時にはこの発光ダイオードＰＤが点灯していることにより、正常な動作状態にあることを知ることができる。
【００２９】
いま、この商用電源回路に何らかの原因により一時的な過電圧が到来した状態を考える。その過電圧が１５０Ｖを越えると、二つのツェナーダイオードＺＤ1 およびＺＤ2 が導通して、その直列回路に短絡電流が流れる。この短絡電流により電源電圧はいちじるしく低下して、過電圧が装置に侵入することを防ぐことができる。この過電圧が持続して、二つのツェナーダイオードＺＤ1 およびＺＤ2 の直列回路に大きい電流が流れ続けると、例えばこの商用電源回路の入力側（図外）に挿入されているコンタクト・ブレーカなどが動作することになる。コンタクト・ブレーカが動作しない場合には、二つのツェナーダイオードＺＤ1 およびＺＤ2 の温度が上昇して破壊に至るが、このとき第二のツェナーダイオードＺＤ２ は破壊に至る電力容量が小さいから、第一のツェナーダイオードＺＤ１ より先に破壊する。これにより発光ダイオードＰＤに流れていた電流はなくなり滅灯する。すなわち、外部からこの発光ダイオードＰＤの光を観察することにより、発光しなくなった回路は正常状態ではなくなったことがわかる。
【００３０】
この実施例回路の二端子Ａ，Ｂを商用電源に接続すると、発光ダイオードＰＤが点灯することが確認された。さらにこの実施例回路に、立ち上がり時間約２ｍＳ、最大ピーク電圧２５０Ｖ、時定数２５ｍＳで減衰する過電圧を印加して試験を行ったところ、二端子Ａ，Ｂの電圧は１６０Ｖを越えないことが分かった。また、この過電圧を１秒周期で繰り返し印加したところ、数回の繰り返し印加により第二のツェナーダイオードＺＤ2 が破壊され、発光ダイオードＰＤの発光が消滅した。
【００３１】
（第二実施例）
図２は本発明第二実施例の回路図である。この例は各半導体素子の接続極性を上記第一実施例とは反転させた接続である。二端子Ａ，Ｂに定常状態で印加される電圧が交流電圧であるときには、その作用および効果は同等である。二端子Ａ，Ｂに定常状態で印加される電圧が、直流または直流を含む場合には、その直流の極性にしたがって第一実施例の接続または第二実施例の接続を選ぶことができる。
【００３２】
（第三実施例）
図３は本発明第三実施例の回路図である。この例は前記第一実施例の構成の回路に並列にバリスタＶｒを接続したものである。この第三実施例では、バリスタＶｒとして、バリスタ電圧１８０Ｖ、耐電力定格０．６Ｗの素子を用い、上記第一実施例の回路に並列に接続した。
【００３３】
この構成では、高速に立ち上がる過電圧に対しては第一実施例と同等の作用効果があり、第二のツェナーダイオードＺＤ2 が破壊され、発光ダイオードＰＤの発光が消滅してからも、二端子Ａ，Ｂ間の電圧は１８０〜７０Ｖに維持されることが分かった。
【００３４】
すなわち、この第三実施例の回路では、第二のツェナーダイオードＺＤ2 が破壊されてから後に、さらに持続する過電圧がある場合に有効な保護を行うことができる。二つのツェナーダイオードの特性およびバリスタの特性をたくみに組み合わせて設定することにより、保護すべき電圧の波形や回路の特性に合う特性を実現することができる。
【００３５】
この第三実施例でも、上記第二実施例で示したように、各半導体素子の極性を反対に接続して同様に本発明を実施することができる。
【００３６】
（第四実施例）
図４は本発明の第四実施例の回路図である。この例は、第一実施例に示す回路と、第二実施例に示す半導体素子の極性が反対に接続された回路とを端子Ａ，Ｂ間に並列に接続し、さらに端子Ａ，Ｂ間にバリスタＶｒを並列に接続したものである。
【００３７】
このような接続にすることにより、異なる極性の過電圧に対して第二のツェナーダイオードＺＤ21またはＺＤ22が破壊されるから、二つの発光ダイオードＰＤ1 またはＰＤ2 のうちいずれが発光しなくなったかを観察することにより、過電圧が印加された後から、ツェナーダイオードが破壊するにいたった過電圧の極性を含めた履歴を知ることができる。
【００３８】
（第五実施例）
図５は本発明の第五実施例の回路図である。この例は、前記第二実施例の構成のうち電圧検出回路を構成する発光ダイオードＰＤが、ホトカプラＰＣの一部であることを特徴とする。すなわち、電圧検出回路の発光ダイオードＰＤの出力光を外部から直接観察するのではなく、電圧検出回路の検出出力は、ホトカプラＰＣの出力として端子ＣＤに電気信号として取り出すことができる。この構成の回路は、多数のこの種の装置を管理するために好都合である。
【００３９】
（第六実施例）
図６は本発明の第六実施例の回路図である。この例は、上記第五実施例の回路のホトカプラＰＣを電磁リレーに置き換えた回路である。この例では、電圧検出回路の出力は端子Ｃ，Ｄ，Ｅに電気信号として取り出すことができる。
【００４０】
（第七実施例）
図７は本発明の第七実施例の回路図である。この例は、端子ＡＢ間で発光ダイオードＰＤを点灯させるに十分な電流容量が得られない場合に、トランジスタＴＲを用いて増幅する例を示したものである。発光ダイオード以外の負荷を駆動することも可能であり、またトランジスタＴＲ以外の一般的な半導体スイッチおよびアンプを用いることも電流を増幅するという意味で可能である。図７中のＲは抵抗器である。
【００４１】
この回路では電圧検出回路の出力は端子ＣＤ間に電気信号として取出すことができる。
【００４２】
（第八実施例）
図８は本発明第八実施例の回路図である。この例は、第七実施例の出力状態を反転させ、第二のツェナーダイオードＺＤ2 が破壊されたことを発光ダイオードＰＤが点灯することで視認できるように構成したものである。この例の場合も第七実施例同様に発光ダイオードＰＤ以外の負荷を駆動することも可能であり、またトランジスタＴＲ以外の一般的な半導体スイッチおよびアンプを用いることも原理的に電流を増幅するという意味で可能である。図８中のＲ1 およびＲ2 はそれぞれ抵抗器である。
【００４３】
（第九実施例）
図９は本発明の第九実施例の回路図である。この例は本発明の過電圧保護回路の基本構成回路を２個並列に接続し、さらにバリスタＶｒを並列接続した回路である。図４で説明した第四実施例と同様の構成であるが、各素子の極性が第四実施例の回路とは異なる。二端子Ａ，Ｂ間に定常状態に印加されている電圧、および保護対象となる過電圧波形にしたがって、このような極性選択をすることができる例として提示する。この回路の場合はツェナーダイオードＺＤ21またはＺＤ22のいずれかが破壊される。
【００４４】
（第十実施例）
図１０は本発明の実装構造の一例を示すものである。この例は商用電源用の電源プラグの内部に本発明の過電圧保護回路を実装したものであって、図にＡおよびＢとして本発明過電圧保護回路の二端子を表示する。この二端子Ａ，Ｂ間に第三実施例で説明した本発明実施例回路をこのプラグの内部に実装する。そして、発光ダイオードＰＤは矢印で図示するように外部から観察することができるように配置されている。この構造は実用的な構造として有用である。
【００４５】
（第十一実施例）
図１１（ａ）および（ｂ）は本発明の実施例構造の別の例を示すものである。この例は、商用電源に使用する３口の分岐プラグの内部に本発明の過電圧保護回路を実装したものである。図にＡおよびＢとして本発明過電圧保護回路の二端子を表示する。この二端子Ａ、Ｂ間に第一実施例から第四実施例および第九実施例で説明した本発明実施例回路のいずれかをこのプラグの内部に実装する。発光ダイオードＰＤは矢印で図示するように外部から観察することができるように配置されている。この構造は電源回路を分岐する場合に実用的な構造として有用である。
【００４６】
（応用例）
図１３に示す回路は、本発明の応用回路の例である。図１２に示す構成のうち破線で示す回路を省くと図１に例示した第一実施例回路と同等の回路構成とする。すなわち、本発明第一実施例の過電圧保護回路に、破線で示すような付加回路を接続して利用することができることを示す。したがってこの応用回路も基本的に第一実施例回路である。この応用回路でも、第二のツェナーダイオードＺＤ2 は、その破壊に至る電流容量は小さく設定されているが、印加された過電圧波形の極性成分が偏っているような場合に、第二のツェナーダイオードＺＤ2 が先に破壊されるのではなく、第一のツェナーダイオードＺＤ1 が破壊されることがある。このような場合にも、この応用回路ではその履歴を正確に観察することができる。二つのツェナーダイオードＺＤ1 およびＺＤ2 は同じ電流容量とすることもできる。
【００４７】
【発明の効果】
本発明の過電圧保護回路は、印加される過電圧に対して高速な動作を行うことができるから、保護の対象となる電子装置を予期しない過電圧から十分に保護することができる効果がある。本発明の過電圧保護回路は、フューズを利用しないから、その特性のばらつきが少なく、また経年変化が小さく、動作が安定である。本発明はツェナーダイオードを利用するので、過電圧が印加されて回路がいったん導通状態になっても、過電圧が消滅したときには回復し繰り返し利用できる可能性が大きい。そして、過電圧が長時間にわたり印加されて素子が破壊されたときには、従来装置と同様に、発光ダイオードなどの電圧検出回路の動作によりこれを観察することができるから、従来装置と全く同様の使い方をすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明第一実施例回路の回路図。
【図２】本発明第二実施例回路の回路図。
【図３】本発明第三実施例回路の回路図。
【図４】本発明第四実施例回路の回路図。
【図５】本発明第五実施例回路の回路図。
【図６】本発明第六実施例回路の回路図。
【図７】本発明第七実施例回路の回路図。
【図８】本発明第八実施例回路の回路図。
【図９】本発明第九実施例回路の回路図。
【図１０】本発明第十実施例の実装構造の一例を示す斜視図。
【図１１】（ａ）および（ｂ）は本発明第十一実施例の実装構造の別の例を示す図。
【図１２】従来例回路の回路図。
【図１３】本発明の応用例回路の回路図。
【符号の説明】
Ａ，Ｂ：二端子
ＺＤ：ツェナーダイオード
Ｚ：インピーダンス
ＰＤ：発光ダイオード
Ｖｒ：バリスタ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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