(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
印刷物を画像入力した検査画像から、印刷物上に発生している筋状欠陥を検出する筋状欠陥検査方法であって、
検査画像から絵柄部分を除外処理する絵柄除外ステップと、
該除外処理後の画像に存在する筋部分を強調処理する筋強調ステップと、
該強調処理後の画像に基づいて筋状欠陥を判定する判定ステップと、を有すると共に、
前記絵柄除外ステップが、
検査画像から抽出される絵柄部分のエッジをマスクするためのマスク部分を有するマスク画像を作成するステップと、
検査画像から抽出される任意のエッジを含むエッジ画像を作成するステップと、
作成されたエッジ画像とマスク画像を合成するステップと、を含み、
更に、前記マスク画像を作成するステップでは、前記マスク部分を検査画像から抽出されるエッジ領域で作成するとともに、
該エッジ領域を抽出する際に、パラメータとして、少なくとも画素値を比較する位置を規定するための画素数Ｌと、エッジがエッジ領域に含まれないようにする平坦部の最大幅を規定するためのエッジ間画素数Ｗとを設定するステップと、
注目画素を中心としてそれぞれ反対方向にＬ画素離れた位置の画素値を比較し、その差が、所定の閾値を超えている場合の該注目画素をエッジ領域として抽出するステップと、
前記エッジ間画素数Ｗの幅の平坦部について抽出された一対のエッジ領域の幅を、それぞれ画素単位で膨張させた場合に、該両エッジ領域が繋ることのない膨張画素数Ｎを計算するステップと、
膨張後のエッジ領域を収縮させる収縮画素数Ｐを計算するステップと、
入力画像から抽出された全てのエッジ領域の幅を、その両側でＮ画素ずつ膨張させるステップと、
膨張させたエッジ領域の幅を、その両側でＰ画素ずつ収縮させるステップと、を含むことを特徴とする筋状欠陥検査方法。
【請求項２】
請求項１において、
前記収縮画素数Ｐを、前記膨張画素数Ｎと等しくすることを特徴とする筋状欠陥検査方法。
【請求項３】
請求項１において、
前記収縮画素数Ｐを、前記膨張画素数Ｎと（Ｗ＋１）／２の和にすることを特徴とする筋状欠陥検査方法。
【請求項４】
請求項１において、
前記収縮画素数Ｐを、前記膨張画素数Ｎと（Ｌ−１）の和にすることを特徴とする筋状欠陥検査方法。
【請求項５】
請求項１において、
前記筋強調ステップが、
絵柄部分が除外された前記除外処理後の画像について、注目画素の画素値を該注目画素を含み、且つ、同一方向に並ぶ所定数の画素の各画素値を加算した値に置き換える処理であることを特徴とする筋状欠陥検査方法。
【請求項６】
請求項１において、
前記判定ステップが、
筋部分が強調された前記強調処理後の画像において、画素値の絶対値が所定値以上の画素が、実質的に同一の方向に所定数以上存在するか否かを判定する処理であることを特徴とする筋状欠陥検査方法。
【請求項７】
印刷物を画像入力した検査画像から、印刷物上に発生している筋状欠陥を検出する筋状欠陥検査装置であって、
検査画像から絵柄部分を除外処理する絵柄除外手段と、
該除外処理後の画像に存在する筋部分を強調処理する筋強調手段と、
該強調処理後の画像に基づいて筋状欠陥を判定する判定手段と、を備えていると共に、
前記絵柄除外手段が、
検査画像から抽出される絵柄部分のエッジをマスクするためのマスク部分を有するマスク画像を作成する手段と、
検査画像から抽出される任意のエッジを含むエッジ画像を作成する手段と、
作成されたエッジ画像とマスク画像を合成する手段と、を含み、
更に、前記マスク画像を作成する手段が、前記マスク部分を検査画像から抽出されるエッジ領域で作成する機能を有しているとともに、
該エッジ領域を抽出するために、パラメータとして、少なくとも画素値を比較する位置を規定するための画素数Ｌと、エッジがエッジ領域に含まれないようにする平坦部の最大幅を規定するためのエッジ間画素数Ｗとを設定する手段と、
注目画素を中心としてそれぞれ反対方向にＬ画素離れた位置の画素値を比較し、その差が、所定の閾値を超えている場合の該注目画素をエッジ領域として抽出する手段と、
前記エッジ間画素数Ｗの幅の平坦部について抽出された一対のエッジ領域の幅を、それぞれ画素単位で膨張させた場合に、該両エッジ領域が繋ることのない膨張画素数Ｎを計算すると共に、膨張後のエッジ領域を収縮させる収縮画素数Ｐを計算する手段と、
入力画像から抽出された全てのエッジ領域の幅を、その両側でＮ画素ずつ膨張させる手段と、
膨張させたエッジ領域の幅を、その両側でＰ画素ずつ収縮させる手段と、を備えていることを特徴とする筋状欠陥検査装置。
【請求項８】
請求項７において、
前記筋強調手段が、
絵柄部分が除外された前記除外処理後の画像について、注目画素の画素値を、該注目画素を含み、且つ、同一方向に並ぶ所定数の画素の各画素値を加算した値に置き換える処理機能を有していることを特徴とする筋状欠陥検査装置。
【請求項９】
請求項７において、
前記判定手段が、
筋部分が強調された前記強調処理後の画像において、所定画素値以上の画素が、実質的に同一の方向に所定数以上存在するか否かを判定する処理機能を有していることを特徴とする筋状欠陥検査装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、筋状欠陥検査方法及び装置、特に、印刷物に発生している微細な筋状の欠陥を検出する際に適用して好適な、筋状欠陥検査方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、グラビア輪転印刷機では、回転する版胴と、これを押え付けるニップロールとの間に原反を通過させながら、該版胴に付着されたインキをその原反に転写することにより、連続的な印刷が行われている。
【０００３】
このような連続的な印刷を可能とするために、回転する版胴の表面にインキを供給するとともに、その過剰分をドクターブレードによって掻き落すことが行われている。
【０００４】
ところが、何等かの理由でドクターブレードに微少な欠けが生じたりすると、その欠け部分が接触している版胴には、極めて僅かであるが常時インキが残ることになるため、原反の印刷面には、いわゆるドクター筋と呼ばれる、微細ではあるが連続した筋状の印刷欠陥が発生することになる。
【０００５】
従来、印刷物の検査には、ＣＣＤカメラ等の撮像手段で印刷絵柄を画像入力し、その入力画像を画像処理することにより印刷欠陥を検出することが行われている。
【０００６】
このような印刷欠陥の検出に用いられる画像処理としては、例えば、入力画像から線分を検出するための各種微分オペレータの適用や、ハフ転換、パターン認識等の技術が知られている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前記のような従来の画像処理による線分検出方法では、入力された絵柄を含む画像から絵柄のエッジと筋状欠陥を識別して検出することが困難である。その上、ドクター筋等の同一方向に延びる筋状欠陥は、欠陥部とその周辺とのコントラストが低い場合が多いために線分として検出しにくく、画像中に雑音がある場合には尚更検出しにくいという問題があった。
【０００８】
本発明は、前記従来の問題点を解決するべくなされたもので、絵柄を含んでいる検査画像から、コントラストが低く、しかも、微細な筋状欠陥をも確実に検出することができる筋状欠陥検査方法及び装置を提供することを課題とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明は、印刷物を画像入力した検査画像から、印刷物上に発生している筋状欠陥を検出する筋状欠陥検査方法であって、検査画像から絵柄部分を除外処理する絵柄除外ステップと、該除外処理後の画像に存在する筋部分を強調処理する筋強調ステップと、該強調処理後の画像に基づいて筋状欠陥を判定する判定ステップと、を有すると共に、前記絵柄除外ステップが、検査画像から抽出される絵柄部分のエッジをマスクするためのマスク部分を有するマスク画像を作成するステップと、検査画像から抽出される任意のエッジを含むエッジ画像を作成するステップと、作成されたエッジ画像とマスク画像を合成するステップと、を含み、更に、前記マスク画像を作成するステップでは、前記マスク部分を検査画像から抽出されるエッジ領域で作成するとともに、該エッジ領域を抽出する際に、パラメータとして、少なくとも画素値を比較する位置を規定するための画素数Ｌと、エッジがエッジ領域に含まれないようにする平坦部の最大幅を規定するためのエッジ間画素数Ｗとを設定するステップと、注目画素を中心としてそれぞれ反対方向にＬ画素離れた位置の画素値を比較し、その差が、所定の閾値を超えている場合の該注目画素をエッジ領域として抽出するステップと、前記エッジ間画素数Ｗの幅の平坦部について抽出された一対のエッジ領域の幅を、それぞれ画素単位で膨張させた場合に、該両エッジ領域が繋ることのない膨張画素数Ｎを計算するステップと、膨張後のエッジ領域を収縮させる収縮画素数Ｐを計算するステップと、入力画像から抽出された全てのエッジ領域の幅を、その両側でＮ画素ずつ膨張させるステップと、膨張させたエッジ領域の幅を、その両側でＰ画素ずつ収縮させるステップと、を含むことにより、前記課題を解決したものである。
【００１０】
本発明は、又、印刷物を画像入力した検査画像から、印刷物上に発生している筋状欠陥を検出する筋状欠陥検査装置であって、検査画像から絵柄部分を除外処理する絵柄除外手段と、該除外処理後の画像に存在する筋部分を強調処理する筋強調手段と、該強調処理後の画像に基づいて筋状欠陥を判定する判定手段と、を備えていると共に、前記絵柄除外手段が、検査画像から抽出される絵柄部分のエッジをマスクするためのマスク部分を有するマスク画像を作成する手段と、検査画像から抽出される任意のエッジを含むエッジ画像を作成する手段と、作成されたエッジ画像とマスク画像を合成する手段と、を含み、更に、前記マスク画像を作成する手段が、前記マスク部分を検査画像から抽出されるエッジ領域で作成する機能を有しているとともに、該エッジ領域を抽出するために、パラメータとして、少なくとも画素値を比較する位置を規定するための画素数Ｌと、エッジがエッジ領域に含まれないようにする平坦部の最大幅を規定するためのエッジ間画素数Ｗとを設定する手段と、注目画素を中心としてそれぞれ反対方向にＬ画素離れた位置の画素値を比較し、その差が、所定の閾値を超えている場合の該注目画素をエッジ領域として抽出する手段と、前記エッジ間画素数Ｗの幅の平坦部について抽出された一対のエッジ領域の幅を、それぞれ画素単位で膨張させた場合に、該両エッジ領域が繋ることのない膨張画素数Ｎを計算すると共に、膨張後のエッジ領域を収縮させる収縮画素数Ｐを計算する手段と、入力画像から抽出された全てのエッジ領域の幅を、その両側でＮ画素ずつ膨張させる手段と、膨張させたエッジ領域の幅を、その両側でＰ画素ずつ収縮させる手段と、を備えたことにより、同様に前記課題を解決したものである。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を詳細に説明する。
【００１２】
図１、図２は、本発明に係る第１実施形態の筋状欠陥検査装置の概略構成を示すブロック図である。
【００１３】
本実施形態の検査装置は、印刷物を画像入力した検査画像から、印刷物上に発生している筋状欠陥を検出するもので、印刷物からＣＣＤカメラ等により検査画像を光学的に入力する画像入力部１０と、入力された検査画像から絵柄部分を除外処理する絵柄除外部１２と、絵柄部分が除外された除外処理後の画像に存在する筋部分を強調処理する筋強調処理部１４と、筋部分が強調された強調処理後の画像に基づいて筋状欠陥を判定する判定部１６と、判定された筋状欠陥をモニタ上に表示する欠陥表示部１８とを備えている。
【００１４】
本実施形態では、図２に詳細を示すように、前記絵柄除外部１２は、マスク画像作成部１２Ａ、エッジ画像作成部１２Ｂ、マスク済みエッジ画像合成部１２Ｃを含み、前記筋強調処理部１４は縦加算部１４Ａを、又、前記判定部１６は、二値化部１６Ａ、線認識部１６Ｂをそれぞれ含んで構成されている。
【００１５】
以下、上記検査装置を構成する各機能部について詳述する。なお、この実施形態では、特に断らない限り、画像は、それを構成する各画素が０〜２５５の２５６階調の画素値で表示されるモノクロ画像とする。従って、カラー画像の場合は、Ｒ、Ｇ、Ｂの３フレームのモノクロ画像として同様に取り扱うことができる。
【００１６】
前記マスク画像作成部１２Ａは、検査画像から抽出される絵柄部分のエッジをマスクするためのマスク画像を作成する機能を有している。
【００１７】
即ち、このマスク画像作成部１２Ａは、画像入力部１０により入力された検査画像に含まれる筋状欠陥以外の線分や絵柄のエッジ部を検出処理の対象から外すためのマスク画像を作成する機能を有する。具体的には、例えば、図３に画素の配置を概念的に示したように、隣接する画素との画素値の差分を計算し、これを閾値処理することにより、明確な線や絵柄のエッジのみに相当する二値のマスク画像を作成する。これを、便宜上、画素を表わす記号と同一の記号で画素値を記述すると、次の（１）、（２）式で表わすことができる。
【００１８】
（Ｐn,m が絵柄のエッジである場合）
｜Ｐi,j −Ｐn,m ｜≧Ｔ1       …（１）
（Ｐn,m が絵柄のエッジでない場合）
｜Ｐi,j −Ｐn,m ｜＜Ｔ1       …（２）
但し、ｉ＝ｎ−１，ｎ，ｎ＋１、ｊ＝ｍ−１，ｍ，ｍ＋１、
Ｐi,j ≠Ｐn,m 
Ｔ1 ：閾値
【００１９】
上記但し書きでＰi,j ≠Ｐn,m とあるのは、同一画素間では計算しないことを意味する。又、閾値Ｔ1 は固定した値でなく、筋状欠陥のエッジが抽出されない値として実験的に求め、別途設定しておく。
【００２０】
上記（１）、（２）式による計算処理の結果、閾値Ｔ1 以上の濃度差をもった、即ち明確な線や絵柄のエッジのみが抽出された二値画像が作成される。この二値画像を、検査画像が絵柄Ｐと筋状欠陥（ドクター筋）Ｄとを模式的に示した図４である場合を例に示すと、図５のようになる。即ち、濃淡がはっきりしている絵柄Ｐのみのエッジが抽出され、ドクター筋Ｄ等のコントラストの低い線状（筋状）部分のエッジは抽出されない二値化画像が得られる。そして、この図５の画像のエッジに基づいて、該エッジをマスクするに十分な幅の、図６に示すようなマスク部分Ｍが生成されたマスク画像が作成できる。
【００２１】
なお、その際、実際の検査画像では、ノイズ等に起因して連続した明瞭なエッジが抽出されないこともあるので、エッジの膨張処理を行うことにより、エッジの明瞭化を図るようにしてもよい。又、上記（１）、（２）式を用いる抽出処理によっては任意の方向のエッジを検出できるが、必ずしも全方向の計算をする必要はなく、例えば水平方向のみであってもよい。
【００２２】
前記エッジ画像作成部１２Ｂは、同一の検査画像から抽出される任意のエッジを含むエッジ画像を作成する機能を有している。即ち、このエッジ画像作成部１２Ｂでは、前記検査画像から、縦方法の筋状欠陥を検出するために水平方向のエッジを全て抽出する。
【００２３】
具体的には、縦方向の筋状欠陥を検出したい場合、水平方向で画素間の画素値の差分を計算することにより全てのエッジを求める。その際、例えば、図７に模式的に示した水平方向の画素の配列に対応する、次の（３）式で記述される微分オペレータを各画素に適用することにより、コントラストが低い線部分を含む全てのエッジを抽出することができるため、濃度差に応じた任意のエッジを含むエッジ画像が作成される。なお、この（３）式でＤは、別途設定しおく１以上の定数（Ｄ≧１）であり、因にこの実施形態ではＤ＝２としている。
【００２４】
Ｐn,m ＝（２Ｐn −Ｐn+D −Ｐn-D ）      …（３）
【００２５】
又、このエッジ画像作成部１２Ｂでは、上記（３）式のオペレータによる演算結果について正規化を行うようになっている。この正規化は、対象画像の画素値が０〜２５５階調であることから、上記（３）式の単純な計算値は、完全な平坦部の場合を０として、マイナスとプラスの値（最小値−５１０、最大値＋５１０）を持つことになり、このままでは０〜２５５階調で表示ができないことになるので、この表示ができるようにするための処理である。
【００２６】
正規化の具体的処理は、上記（３）式を次の（４）式のように第１項と第２項に分けて、“正規化前の減算”を行った後、その結果について“正規化後の加算”を行い、結果として次の（５）式による計算を行うことに当る。但し、式中Ｍは正規化後の原点に当る階調値であり、ここでは１２８（＝２５６÷２）としている。
【００２７】
Ｐn,m ＝（Ｐn −Ｐn+D ）＋（Ｐn −Ｐn-D ）        …（４）
Ｐn,m ＝（２Ｐn −Ｐn+D −Ｐn-D ＋４Ｍ）／４      …（５）
【００２８】
即ち、この（５）式により上記（３）式の計算結果を正規化することは、該（３）式の計算結果が、例えば−５１０、０、＋５１０であれば、これらをそれぞれを４で割った後、全体的に１２８分シフトさせた値である１、１２８、２５５の画素値に変換することを意味する。従って、この正規化により、（３）式の計算結果を、階調値１２８を原点（中間値）として、＋−それぞれの方向に変化する画素値として表示することが可能となる。
【００２９】
ここで行われる正規化は、一般的な画像処理装置で行われる、いわゆるフレーム間演算の加算や減算の結果に対して、その画素値がマイナスになる場合に、０〜２５５階調の表示ができるようにするものと実質的に同一の処理である。具体例を挙げると、いずれも０〜２５５階調表示の画像Ａ、Ｂについて、（画像Ａ−画像Ｂ）の減算結果を画像Ｃとする場合、この画像Ｃは−２５５〜＋２５５となり、０〜２５５内に収まらないので、Ｍ＝１２８とし、画像Ｃ＝（画像Ａ−画像Ｂ）／２＋Ｍにより正規化し、１〜２５５にする。
【００３０】
図８は、上記微分オペレータを前記図４の検査画像に適用して得られたエッジ画像を模式的に示したものであり、前記絵柄Ｐに基づく強いエッジＰＥとドクター筋Ｄに基づく弱いエッジＤＥとが、抽出されている。尚、このエッジ画像の作成には、上記微分オペレータに限らず、その他のエッジ抽出処理の方法を適用してもよいことは言うまでもない。
【００３１】
前記マスク済みエッジ画像合成部１２Ｃは、作成されたエッジ画像とマスク画像を合成する機能を有している。即ち、マスク済みエッジ画像合成部１２Ｃは、前述した画像処理により作成したエッジ画像とマスク画像を合成して、検査対象外の画素を決定し、これ以降の処理からその画素を除外する働きをする。
【００３２】
具体的には、作成したエッジ画像とマスク画像を図９に概念的に示したように、エッジ画像上の画素Ｐn と、これに対応するマスク画像上の画素Ｍn とを比較し、画素Ｍn がエッジ部（マスク部分）でない場合は、画素Ｐn はそのままにし、逆に、画素Ｍn がエッジ部である場合は、画素Ｐn をマスクする（検査対象外とする）。即ち、この合成処理は、画素Ｍn がエッジ部でない場合は、合成画像の対応する画素に対して画素Ｐn の画素値をそのまま設定し、逆にエッジ部である場合は、正規化後の原点に対応する階調値１２８を設定し、エッジ画像中の強いエッジＰＥをマスクする処理を行っていることに当る。
【００３３】
従って、ここで行うマスク処理とは、マスク画像のエッジ部に当る合成画像の画素に、前記（５）式で正規化の原点の画素値として設定した階調値１２８を設定することであり、これにより、合成して得られるマスク済画像についても１２８に正規化すると同時に、上記エッジＰＥをマスクして検査対象外とした上で、前記（３）式によるマイナスの計算結果をも０〜１２７の階調値により画像表示できるようにしている。
【００３４】
図１０は、前記図６のマスク画像と、前記図８のエッジ画像とについて、上述した合成処理を行うことにより作成したマスク済み画像を模式的に示したものであり、この画像には、上記のように強いエッジＰＥが除外され、ドクター筋Ｄに基づく弱いエッジＤＥが残存していることが示されている。
【００３５】
前記筋強調処理部１４に含まれる縦加算部１４Ａは、絵柄部分が除外された除外処理後の画像、即ち上記図１０に示したようなマスク済み画像について、注目画素の画素値を、該注目画素を含み、且つ、同一方向に並ぶ所定数の画素の各画素値を加算した値に置き換える機能を有している。これを、マスク済みエッジ画像の画素値を縦方向に加算することにより、縦の筋を強調し、ノイズ成分を抑制する場合について以下に説明する。
【００３６】
前記画像合成部１２Ｃで作成したマスク済みエッジ画像は、階調値１２８を原点（基準値）として、上下両方向にそれぞれエッジの強さに応じて変化する階調値の画素で構成されているが、その変化量は小さいため、画素値の差（濃度差）に閾値を設定して抽出する方法を採用することはできない。
【００３７】
ところが、上記マスク済みエッジ画像は、階調値１２８を原点（＝０）とした場合に、平坦部分では±両方向にほぼ均等に画素値が分布しているのに対し、筋状欠陥部分の画素値は＋又は−のいずれかの方向に偏った画素値の分布をしている。
【００３８】
従って、上記画像に対して縦方向に所定範囲にある画素の画素値を、階調値１２８を原点として加算することにより、平坦部分では相殺されるために大きな変化はないが、筋状部分では＋又は−のいずれかの方向に画素値が増大するため、画素値を強調することが可能となる。
【００３９】
図１１は、この強調計算の原理を模式的に示したもので、（Ｂ）のマスク済みエッジ画像で、画素Ｐn,m から垂直方向にＲ画素まで各画素値を加算し、その加算後の画素値を（Ａ）に示した加算画像の画素Ｐn,m の画素値に設定する。即ち、加算画像の画素値を次の（６）式で計算する。但し、この加算処理を行う際の各画素値は、前記（５）式により正規化した値を、上述した如く、原点に当る階調値１２８を実際に０にし、この１２８を超えている画素値を＋、１２８未満の画素値を−とした値を使用する。なお、Ｒは実験的に決定する定数である。
【００４０】
Ｐn,m ＝Ｐn,m+1 ＋Ｐn,m+2 ＋．．．＋Ｐn,m+R       …（６）
【００４１】
同様の加算処理を、Ｐn,m+1 、Ｐn,m+2 ．．．について順次実行することにより、前述した如く、平坦部分の画素では、＋−の値が相殺されるため階調値０から大きく変化することはないが、筋状欠陥部分の画素は＋又は−のいずれか一方に画素値が強調された加算画像が作成される。即ち、前記図１０の筋状欠陥に基づく弱いエッジＤＥが強調され、＋又は−の明確な画素値を有する画像が得られる。
【００４２】
なお、筋強調処理のための加算方法は、上記（６）式のように、先頭の画素についてそれより下の画素の画素値を加算する方法に限らず、同方向に所定画素分の画素値を加算する方法であれば任意であるが、例えば、つぎの（６′）式のように、中間の画素値について計算してもよい。
【００４３】
Ｐn,m ＝Ｐn,m-R/2 ＋．．．＋Ｐn,m ＋．．．＋Ｐn,m+R/2     …（６′）
【００４４】
前記判定部１６に含まれる二値化部１６Ａは、前記縦加算部１４Ａにより作成された縦の筋部分が強調された加算画像に対して、閾値を設定して二値化処理することにより、二値化画像を作成する機能を有している。
【００４５】
具体的には、前記のように縦の筋部分の画素値を加算して＋又は−の方向に強調した画素値を有する前記強調処理後の画像について、筋状の点（画素）とそれ以外の部分に分別するために、例えば、閾値Ｔ2 （実験的に決定する）を設定し、各画素値の絶対値が該閾値Ｔ2 以上の値をもつ画素は筋の一部である可能性が高いので、｜Ｐn,m ｜≧Ｔ2 なら、その画素を筋状の点の候補とするためにＯｎにし、逆に｜Ｐn,m ｜＜Ｔ2 の場合は、筋状の点ではないとしてＯｆｆにする。なお、ここで実行する二値化処理は、上記方法に限られず、例えば、移動平均法や判別分析法等を利用してもよい。
【００４６】
前記判定部１６に含まれる線認識部１６Ｂは、強調処理した後に二値化して作成した上記二値化画像に対して、Ｏｎの画素が縦方向（実質的に同一方向）に所定数以上存在するか否かにより、その画素が縦方向の線（筋）状の欠陥を構成しているか否かを判定する機能を有している。
【００４７】
具体的には、例えば、以下のように判定する。検出すべき筋状欠陥が非常に薄く且つ細い場合、二値化画像上では１本の線として繋がっていない可能性があるため、該二値化画像に対して、図１２に概念的に示すように、画素を単位とする縦方向１ライン中にＯｎの画素が閾値Ｔ3 個以上あれば検出すべき筋状欠陥と判定とする。この閾値Ｔ3 は実験的に予め決定しておく。
【００４８】
なお、上記判定は必ずしも１ライン中の画素に対して行うものに限らない。画像入力された筋状欠陥が隣接する２ライン以上に渡っている可能性もあるので、２ライン以上でＯｎの画素の数を計算するようにしてもよい。又、必要に応じて、判定の前に、Ｏｎ分の画素を縦方向に複数画素分縮小させ、次いで同画素数分膨張させる処理を行うことにより、予め孤立点を除去する処理等を行ってもよい。
【００４９】
以上詳述した如く、本実施形態においては、検査画像を入力し、その検査画像からマスク画像を作成するとともに、エッジ画像を作成し、次いでこれら両画像を合成することにより、マスク済みエッジ画像を作成し、該画像に対して、画素値を強調するために縦加算画像を作成しその強調画像から二値化画像を作成し、更に、その二値化画像ついて線認識を行う。
【００５０】
即ち、検査画像が絵柄を含む場合であっても、コントラストの高いエッジ部を処理対象から除外するためのマスク処理を行い、更に縦方向に加算処理を行うことでコントラストの低い筋状欠陥を強調して検出する。
【００５１】
従って、本実施形態によれば、検査画像が絵柄を含んでいる場合でも、絵柄のエッジ部を検出することなく、該画像中からコントラストの低い筋状欠陥の検出が可能となる。その結果、従来の印刷物の検査では、目視による検査でしか検出不可能であった、コントラストが低く且つ微細な、いわゆるドクター筋と呼ばれる筋状欠陥をも自動的に検出することが可能となる。
【００５２】
次に、本発明に係る第２実施形態の筋状欠陥検査装置について説明する。この第２実施形態は、前記第１実施形態で作成したマスク画像を、請求項３及び４で示した方法で作成するようにしたものである。
【００５３】
本実施形態の検査装置は、前記図２において、マスク画像作成部１２Ａが、後述する方法で抽出するエッジ領域をマスク部分とするマスク画像を作成する機能を有するエッジ領域抽出装置で構成されている以外は、前記第１実施形態の検査装置と実質的に同一である。
【００５４】
本実施形態に適用されるエッジ領域抽出装置は、図１３にその概略構成を示すように、ＣＣＤカメラ等からなる前記画像入力部１０により、印刷物からの絵柄等を入力した検査画像を記憶する入力画像記憶部２０と、該記憶部２０から読み出される入力画像（検査画像）に対して、以下に詳述する各処理を実行可能とするためのパラメータ記憶部２２、エッジ領域抽出部２４、膨張・収縮回数算出部２８、エッジ膨張部３０、エッジ収縮部３４と共に、エッジ抽出部２４、エッジ膨張部３０、エッジ収縮部３４で処理した結果をそれぞれ記憶するエッジ領域記憶部２６、エッジ膨張記憶部３２、出力画像記憶部３６とを備えている。
【００５５】
上記パラメータ記憶部２２は、入力画像記憶部２０から読み出される入力画像から、エッジ領域を抽出する際に画素値を比較する位置を規定するための画素数Ｌ及び判定に使用する閾値Ｔと、エッジをエッジ領域から除外する平坦部の最大幅を規定するためのエッジ間画素数Ｗとをパラメータとして設定する手段であり、これらパラメータの値は、例えばキーボード等により予め入力しておく。但し、これらパラメータには次の制約があり、ドクター筋の場合は、例えば、Ｗ＝１０画素とすることができる。
【００５６】
Ｗ≧１      Ｌ≧Ｗ      ０≦Ｔ≦最大画素値
【００５７】
前記エッジ領域抽出部２４は、垂直方向のエッジ領域を抽出する場合を、図１４に模式的に示すように、上記パラメータ記憶部２２から読み込んだパラメータＬとＴを用い、●の注目画素Ｐn,m を中心としてそれぞれ反対方向にＬ画素離れた位置にある、同じく●で示した、Ｐn-L,m とＰn+L,m の画素値を比較し、その差が閾値Ｔを超えている場合の該注目画素をエッジ領域として判定し、抽出する手段である。このエッジ領域抽出部２４で抽出されたエッジ領域は、一旦その記憶部２６に記憶される。なお、水平方向、水平・垂直両方向のエッジ領域の場合も、同様の計算原理に基づいて抽出できる。
【００５８】
前記膨張・収縮回数算出部２８は、前記パラメータ記憶部２２からパラメータＷを入力すると共に、エッジ間画素数がＷの平坦部について抽出された一対のエッジ領域の幅をそれぞれ画素単位で膨張させた場合に該両エッジ領域が接しない（繋らない）膨張画素数Ｎを膨張回数として計算し、且つ、膨張後のエッジ領域を収縮させる収縮画素数Ｐを収縮回数として計算する手段である。
【００５９】
図１５は、上記算出部２８で算出される膨張回数Ｎの意味を概念的に示したものであり、この図に示されるように、回数Ｎ＝ＮA ＋ＮB であり、ＮA ＝Ｌ−Ｗ、ＮB ＝（Ｗ−１）／２である。
【００６０】
上記ＮA は、上記図１５（Ｂ）に示すように、エッジから、上記方法で抽出したエッジ領域までの平坦部の長さ（画素数）であり、図中左右いずれのエッジ領域についても同一であるが、ここでは便宜上左のエッジ領域のみについて図示したように、該エッジ領域の右端から平坦部の右端までの画素数は、上記図５に示した抽出原理からＬであるため、Ｌ−Ｗで与えられる。
【００６１】
上記ＮB は、左右両エッジ領域から画素数Ｎだけ膨張させた場合に、該両エッジ領域が接しないようにするために、図１５（Ａ）に示すように、中心に一画素残すことができる画素数にする必要があることから、（Ｗ−１）／２とする。但し、中心に残す画素数は１に限らず例えば２としてもよく、その場合は、ＮB ＝（Ｗ−２）／２とする。なお、このＮB に端数が出た場合は切り捨てる。
【００６２】
このように、回数Ｎを設定することにより、エッジ間の幅が画素数Ｗ以下の筋状の場合は、左右のエッジ領域に対してＮ画素の膨張を行っても、絶対に両エッジ領域が繋ることがないのに対し、Ｗを超える幅の場合は繋ってしまう。
【００６３】
又、上記算出部２８では、上記Ｎ画素分を膨張させた後のエッジ領域を収縮させる収縮画素数Ｐ1 の計算も行う。この実施形態では、次式のようにＰ1 ＝Ｎとする。
【００６４】
Ｐ1 ＝Ｎ＝Ｌ−Ｗ＋（Ｗ−１）／２      …（７）
【００６５】
前記エッジ膨張部３０では、前記エッジ領域記憶部２６から読み込んだエッジ領域抽出画像に対して、上記算出部２８で求められた膨張回数Ｎの画素数だけ幅を拡げる膨張処理を行う。この膨張処理を、エッジ領域を水平方向に一画素だけ膨張させる（回数Ｎ＝１）場合を、１次元的な信号について図１６に模式的に示した。
【００６６】
この図１６に示されるように、●がエッジ領域であり、一回の膨張は、該エッジ領域を水平方向の両側にそれぞれ一画素だけ幅を拡張することを意味する。
【００６７】
上記エッジ膨張部３０で膨張処理された画像データは、エッジ膨張記憶部３２に記憶された後、エッジ収縮部３４に読み出され、エッジ膨張部３０で膨張したと同数の画素分だけ縮める収縮処理が行われる。
【００６８】
図１７には、上記図１６で膨張処理したエッジ領域に対する収縮処理を概念的に示した。この図に示されるように、収縮処理は、膨張したと同数の画素を膨張後のエッジ領域の両側から減らすことを意味し、膨張した結果、両側のエッジ領域が繋ってしまった場合を除き、膨張前のエッジ領域に戻すことになる。この収縮後のエッジ領域画像は出力画像記憶部３６に記憶される。
【００６９】
次に、本実施形態の作用を説明する。
【００７０】
本実施形態においては、パラメータＬ、Ｗ及びＴとして所定の数値を入力すると共に、入力画像に対して、前述した原理に従ってエッジ領域の抽出、膨張、収縮の各処理を行うことにより、エッジ間画素数がＷ以下の平坦部（微小筋に当る）の場合は、エッジを含まない位置にエッジ領域を抽出でき、逆にＷを超えているときはエッジを含む領域にエッジ領域を抽出できる。
【００７１】
これを、Ｗ＝３、Ｌ＝５で膨張回数Ｎ及び収縮回数Ｐ1 が共に、前記（７）式から、Ｌ−Ｗ＋（Ｗ−１）／２＝５−３＋（３−１）／２＝３の場合について、図１８〜２０を参照しながら具体的に説明する。
【００７２】
図１８は、幅（エッジ間画素数）２の線のエッジはエッジ領域とされない場合の例に当る。１次元の入力画像信号が、図１８（Ａ）に●に示すように、幅が２画素の場合、前記図１４に示した原理に従って、注目画素から左右にそれぞれ５画素離れた位置の画素値を比較し、その値が閾値Ｔよりも大きい場合の該注目画素をエッジ領域とする処理を行うと、２つの●の両側にそれぞれ網掛の丸で示した２つの画素からなるエッジ領域が抽出された図１８（Ｂ）に示す画像が得られる。
【００７３】
次いで、上記２つのエッジ領域それぞれに対して、左右の幅方向にそれぞれ３画素（Ｎ＝３）分拡げる膨張処理を行って図１８（Ｃ）の状態にし、その後、同じく３画素分減らす収縮を行い、最終的なエッジ領域抽出画像として同図（Ｄ）を得る。
【００７４】
この例では、上記図１８（Ｃ）から判るように、網掛の二重丸で示した膨張処理後のエッジ領域が、互い繋っていないため、各エッジ領域とも両側で収縮処理が行われる。その結果、最終的に、図１８（Ｄ）に示すように、筋の両側のエッジに当る●から離れた位置にエッジ領域が抽出される。
【００７５】
これに対して、Ｗ＝３より大きい幅４の線の場合の処理結果は、上記図１８に対応する図１９に示すように、同図（Ｃ）に示される膨張処理後の状態が、２つのエッジ領域が繋って１つの大きなエッジ領域となっている。
【００７６】
このように、２つのエッジ領域が１つに繋がった場合には、その部分では収縮処理が行われないようになっているため、収縮後のエッジ領域は図１９（Ｄ）のように、同図（Ｂ）で抽出された左側エッジ領域の左端から右側エッジ領域の右端まで連続したものになり、この収縮後のエッジ領域の内側に入力画像の同図（Ａ）に示される線に相当する４つの●の画素が完全に潰されて含まれているため、エッジも当然含まれていることになる。
【００７７】
又、前記図１８（Ａ）の入力画像の線に比べ十分に広い、幅が１７画素の場合は、前記図１８、図１９より簡略化した図２０に示すように、同図（Ｂ）の段階でエッジをほぼ中心とする２Ｌ（５×２＝１０）の幅のエッジ領域が抽出され、このエッジ領域に対して、Ｎ＝３の膨張処理を行っても、同図（Ｃ）に示すように左右両エッジ領域は内側で繋がることがないため、次の収縮処理では各エッジ領域とも両側でＮ＝３で収縮され、同図（Ｄ）に示すように、上記（Ｂ）の場合と同一のエッジ領域に戻る。この場合は、左右のエッジがそれぞれ対応する左右のエッジ領域（網掛範囲）に完全に含まれることになる。
【００７８】
本実施形態によるエッジ領域抽出方法を、図２１に示した（Ａ）の検査画像に適用する場合を例に更に詳述する。この検査画像は、絵柄を模式的に示したもので、幅がａ〜ｄの４種類の矩形の絵柄等がそれぞれｅの間隔をおいて並んだ画像に相当し、１番細いｄの幅の線がドクター筋に相当する。又、図２１の（Ｂ）は、同図（Ａ）の水平方向の各画素の階調値を概念的に示したものである。
【００７９】
図２２〜２４に、エッジ領域抽出、膨張、収縮の各処理結果（Ｃ）〜（Ｅ）をそれぞれ前の処理結果と併せて示したように、パラメータＷ以下の細い線に当るｄの幅の場合のみ、線（筋）から離れた位置にその線の幅に応じた幅のエッジ領域が抽出される。その結果、上記図２４から判るように、前記幅ｄの線の場合のみ、そのエッジが収縮後のエッジ領域に含まれず、それ以外の幅の広いものは、全てエッジがエッジ領域に含まれることになる。
【００８０】
従って、本実施形態によれば、画像中の垂直方向のエッジに基づいてエッジ領域を抽出できるが、エッジに挾まれた平端部の幅が一定（＝Ｗ）以下のときは、そのエッジをエッジ領域として抽出しないようにできることから、細い線を除き、それを超える太さの線や通常の絵柄のエッジ部分を含むエッジ領域を抽出することができる。
【００８１】
即ち、以上のように抽出されたエッジ領域をマスク部分とするマスク画像を作成することにより、平坦部及び細い筋状の欠陥を残したまま、絵柄のエッジのみを除外することが可能となる。
【００８２】
これを、印刷絵柄を画像入力して得られた原画像（検査画像）が、図２５に示すように、通常の絵柄Ｐ1 （リング形状）、Ｐ2 （色模様）と共に、微細なドクター筋Ｄを含んでいる場合に、本実施形態の方法で抽出したエッジ領域をマスク部分とするマスク画像は、図２６に示すイメージのようになる。即ち、前記図２４の場合と同様に、通常の絵柄部分では、エッジを中心とするその近傍がエッジ領域（斜線部で示す）として抽出されるが、ドクター筋Ｄの部分はエッジ領域に含まれないことになる。
【００８３】
従って、上記図２６に示すように、絵柄Ｐ1 、Ｐ2 についてはＥＲ1 、ＥＲ2 で示すマスク部分（エッジ領域）が、ドクター筋についてはその両側にＥＲd で示す２本のマスク部分が生成されたマスク画像が作成されることになる。このマスク画像と図２５の原画像との関係を概念的に示すと図２７のようになる。一方、上記図２５の検査画像から前記エッジ画像作成部１２Ｂによりエッジ画像を作成すると、図２８に示すように、全てのエッジＰＥ1 、ＰＥ2 、ＤＥが抽出された画像が得られる。
【００８４】
そして、上記図２６のマスク画像と図２８のエッジ画像とを、前記画像合成部１２Ｃで合成することにより、図２９に示すような、前記図１０と実質上同一のマスク済みエッジ画像を作成することができる。
【００８５】
従って、その後は前記第１実施形態と同様の処理を施すことにより、通常は検出されないような、印刷のドクター筋等の筋状欠陥を確実に検出することができる。
【００８６】
以上詳述した本実施形態によれば、検査画像が絵柄を含んでいる場合でも、コントラストが低く且つ細い筋状欠陥をも、前記第１実施形態の場合と同様に自動的に検出することが可能となる。
【００８７】
次に、本発明に係る第３実施形態の筋状欠陥検査装置について説明する。この第３実施形態は、前記第１実施形態で作成したマスク画像を、請求項３及び５で示した方法で作成するようにしたものである。
【００８８】
本実施形態は、前記図１３の膨張・収縮回数計算部２８で、収縮回数（画素数）Ｐ2 を、次の（８）式で計算するようにした以外は、前記第２実施形態と実質上同一である。
【００８９】
0003902823.tif 000002
【００９０】
本実施形態においては、上記（８）式より明らかなように、前記（７）式で示した第２実施形態の収縮画素数Ｐ1 （＝Ｎ）よりも（Ｗ＋１）／２画素分だけ更に収縮させる。これを、図３０、図３１を用いて以下に説明する。
【００９１】
図３０は、幅Ｗ以下の平坦部からなる入力画像に対して、前記図１８（Ａ）〜（Ｄ）と同様の処理を施してエッジ領域を抽出した画像を模式的に示したものである。即ち、この図３０は、図１８（Ｃ）に相当するＮ回膨張した画像から、前記第１実施形態の場合と同様にＰ1 （＝Ｎ）回収縮した、同図（Ｄ）の状態に相当する。
【００９２】
本実施形態では、第２実施形態によれば上記図３０に示した幅Ｗ以下の平坦部の左右近傍に抽出されるエッジ領域ＥＲを、更に（Ｗ＋１）／２画素分収縮させることにより、図３１に示すように消減させるようにしている。
【００９３】
即ち、第２実施形態の場合よりも多くする追加収縮回数（Ｗ＋１）／２の計算根拠は、図３０に示されるエッジ領域ＥＲの最大幅は、前記図１４に示した抽出原理からＷであることから、これを両側から１画素ずつ収縮させて消滅させるためにはＷ／２で足りるが、Ｗが奇数の場合を考慮して（Ｗ＋１）／２としていることにある。但し、この場合、端数は切り捨てる。
【００９４】
以上詳述した本実施形態によれば、前記第２実施形態に比較して、幅がＷ以下の筋状の入力画像について、その両側に抽出されたエッジ領域を消滅させることができる。
【００９５】
従って、本実施形態により抽出したエッジ領域を用いてマスク画像を作成する場合には、第２実施形態の作用を示した前記図２４（Ｅ）に相当する図３２と前記図２７に相当する図３３にそれぞれ示すように、ドクター筋Ｄの両側には、エッジ領域が抽出されないようにできることから、それだけ被検査画像において検査の対象となる領域を広く取り、検査の信頼性を高めることが可能となる。
【００９６】
次に、本発明に係る第４実施形態の筋状欠陥検査装置について説明する。この第４実施形態は、前記第１実施形態で作成したマスク画像を、請求項３及び６で示した方法で作成するようにしたものである。
【００９７】
本実施形態は、前記図１３の膨張・収縮回数計算部２８で、収縮回数（画素数）Ｐ3 を、次の（９）式で計算するようにした以外は、前記第２実施形態と実質上同一である。
【００９８】
0003902823.tif 000003
【００９９】
本実施形態においては、上記（９）式より明らかなように、前記（７）式で示した第２実施形態の収縮画素数Ｐ1 （＝Ｎ）よりも（Ｌ−１）画素分だけ更に収縮させる。これを、図３４、図３５を用いて以下に説明する。
【０１００】
図３４（Ａ）は、幅Ｗ以下の平坦部からなる入力画像に対して、前記図１８（Ａ）〜（Ｄ）と同様の処理を施してエッジ領域ＥＲを抽出した画像を模式的に示した、前記図３０と同一である。又、図３４（Ｂ）は、平坦部の幅がＷより大きい入力画像について、前記図１９（Ａ）〜（Ｄ）と実質上同一の処理を施した同図（Ｄ）に相当し、図３４（Ｃ）は、平坦部の幅がＷより十分に大きい入力画像について前記図２０（Ａ）〜（Ｄ）と実質上同一の処理を施した同図（Ｄ）に相当する。
【０１０１】
本実施形態では、前記第２実施形態でＰ1 回の収縮を行った状態に当る図３４（Ａ）〜（Ｃ）のそれぞれのエッジ領域ＥＲに対して、前記（９）式で示したように、更に（Ｌ−１）画素分の収縮を行うことにより、対応する図３５（Ａ）〜（Ｃ）の状態にする。本実施形態で採用する追加収縮回数（Ｌ−１）は、エッジ領域を平坦部のエッジに対してぎりぎりまで小さくする収縮画素数に当る。
【０１０２】
本実施形態のように、前記第２実施形態のＰ1 より（Ｌ−１）回だけ余分に収縮させる場合には、前記第３実施形態の場合と同様に、幅がＷ以下の平坦部については、Ｗ≦Ｌであることから、図３５（Ａ）のようにエッジ領域ＥＲを消滅させることができる。又、図３４（Ｂ）のように、平坦部の幅がＷを超えている場合、図３５（Ｂ）に示すように、膨張処理した結果１つに繋ったエッジ領域ＥＲの左右端それぞれをエッジより１画素目まで収縮させることができるため、エッジ領域をエッジをカバーできる最小の大きさにすることができる。又、図３４（Ｃ）のように、平坦部の幅がＷより十分に大きい場合は、図３５（Ｃ）に示すように、エッジの前後１画素の部分にのみエッジ領域が抽出されるようにできる。
【０１０３】
一般に、抽出したエッジ領域を用いてマスク画像を作成する場合、エッジ領域（マスク部分）は、被検査画像において検査対象から除外する領域を意味するため、検査対象となる領域を広くして検査の信頼性を高めるためには、エッジ領域は被検査画像中のエッジをきちんとマスクした上で可能な限り（その面積が）狭いことが理想的である。
【０１０４】
従って、本実施形態で採用した方法は、一般的なエッジ抽出方法として最もふさわしく、本実施形態により抽出したエッジ領域を用いることにより、理想的な検査用のマスク画像を作成することができる。
【０１０５】
その結果、本実施形態によれば、前記第３実施形態の場合の前記図３２及び図３３にそれぞれ相当する図３６及び図３７に示すように、幅Ｗ以下のドクター筋Ｄについては、前記第３実施形態と同様にエッジ領域は抽出されず、幅Ｗ以上の通常の絵柄については、前記第３実施形態より一段と狭いエッジ領域ＥＲを抽出することが可能となる。
【０１０６】
以上、本発明について具体的に説明したが、本発明は、前記実施形態に示したものに限られるものでなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能である。
【０１０７】
例えば、前記実施形態では、縦方向の筋状欠陥を検出する場合について説明したが、縦方向のみに限定されるものではなく、例えば水平方向であっても、更には計算処理が難しくなるが斜方向等任意の方向であってもよい。
【０１０８】
又、前記実施形態では画素値を２５６階調（８ビット）で画像表示する装置を用い、前記（３）式の計算結果を階調値１２８が原点となるように、前記（５）式により正規化する場合を示したが、これに限られるものでなく、例えば１６ビットで表示できる装置を用いる場合には、（３）式を単純に計算するだけで、正規化しなくともよい。
【０１０９】
又、前記第２実施形態等では、パラメータとしてＷ＝３、Ｌ＝５の場合を示したが、これに限定される場合でなく、対象とする画像毎に適切なパラメータを設定することができる。
【０１１０】
【発明の効果】
以上説明した通り、本発明によれば、絵柄を含んでいる検査画像からコントラストが低い上に微細な筋状欠陥をも確実に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る第１実施形態の筋状欠陥検査装置の概略構成を示すブロック図
【図２】上記の検査装置の詳細を示すブロック図
【図３】マスク画像作成時のエッジ抽出を示す説明図
【図４】検査画像を模式的に示す説明図
【図５】上記検査画像より絵柄のエッジのみを抽出した画像を示す説明図
【図６】上記検査画像を基に作成したマスク画像を示す説明図
【図７】エッジ抽出に用いる微分オペレータを概念的に示す説明図
【図８】微分オペレータを適用して作成したエッジ画像を示す説明図
【図９】マスク画像とエッジ画像の合成原理を概念的に示す説明図
【図１０】合成後のマスク済みエッジ画像を示す説明図
【図１１】縦方向の画素値を強調する加算方法を示す説明図
【図１２】筋状欠陥の判定処理を概念的に示す説明図
【図１３】第２実施形態に適用されるエッジ領域抽出装置の概略構成を示すブロック図
【図１４】エッジ領域の抽出原理を模式的に示す説明図
【図１５】膨張・収縮回数の計算方法を示す説明図
【図１６】エッジ領域の膨張処理の原理を示す説明図
【図１７】エッジ領域の収縮処理の原理を示す説明図
【図１８】細線に対するエッジ領域抽出の処理手順を示す説明図
【図１９】中線に対するエッジ領域抽出の処理手順を示す説明図
【図２０】太線に対するエッジ領域抽出の処理手順を示す説明図
【図２１】検査画像を模式的に示す説明図
【図２２】検査画像と、第２実施形態によるエッジ領域の抽出画像を示す説明図
【図２３】上記抽出画像と、その膨張処理画像を示す説明図
【図２４】上記膨張処理画像と、その収縮処理画像を示す説明図
【図２５】印刷絵柄を画像入力して得られた他の検査画像の一例を模式的に示す説明図
【図２６】上記検査画像から作成されるマスク画像を示す説明図
【図２７】原画像とマスク画像の関係を概念的に示す説明図
【図２８】上記検査画像から作成されるエッジ画像を示す説明図
【図２９】上記マスク画像とエッジ画像を合成したマスク済みエッジ画像を示す説明図
【図３０】幅Ｗ以下の平坦部について抽出されたエッジ領域のＰ1 回収縮後の状態を示す説明図
【図３１】第３実施形態の作用を示す説明図
【図３２】第３実施形態の効果を示す説明図
【図３３】第３実施形態の効果を示す他の説明図
【図３４】幅が異なる平坦部について抽出されたエッジ領域のＰ1 回収縮後の状態を示す説明図
【図３５】第４実施形態の作用を示す説明図
【図３６】第４実施形態の効果を示す説明図
【図３７】第４実施形態の効果を示す他の説明図
【符号の説明】
１０…画像入力部
１２…絵柄除外部
１２Ａ…マスク画像作成部
１２Ｂ…エッジ画像作成部
１２Ｃ…マスク済みエッジ画像合成部
１４…筋強調処理部
１４Ａ…縦加算部
１６…判定部
１６Ａ…二値化部
１６Ｂ…線認識部
１８…欠陥表示部
２０…入力画像記憶部
２２…パラメータ記憶部
２４…エッジ領域抽出部
２６…エッジ領域記憶部
２８…膨張・収縮回数算出部
３０…エッジ膨張部
３２…エッジ膨張記憶部
３４…エッジ収縮部
３６…出力画像記憶部
【図１】
0003902823.tif 000004
【図２】
0003902823.tif 000005
【図３】
0003902823.tif 000006
【図４】
0003902823.tif 000007
【図５】
0003902823.tif 000008
【図６】
0003902823.tif 000009
【図７】
0003902823.tif 000010
【図８】
0003902823.tif 000011
【図９】
0003902823.tif 000012
【図１０】
0003902823.tif 000013
【図１１】
0003902823.tif 000014
【図１２】
0003902823.tif 000015
【図１３】
0003902823.tif 000016
【図１４】
0003902823.tif 000017
【図１５】
0003902823.tif 000018
【図１６】
0003902823.tif 000019
【図１７】
0003902823.tif 000020
【図１８】
0003902823.tif 000021
【図１９】
0003902823.tif 000022
【図２０】
0003902823.tif 000023
【図２１】
0003902823.tif 000024
【図２２】
0003902823.tif 000025
【図２３】
0003902823.tif 000026
【図２４】
0003902823.tif 000027
【図２５】
0003902823.tif 000028
【図２６】
0003902823.tif 000029
【図２７】
0003902823.tif 000030
【図２８】
0003902823.tif 000031
【図２９】
0003902823.tif 000032
【図３０】
0003902823.tif 000033
【図３１】
0003902823.tif 000034
【図３２】
0003902823.tif 000035
【図３３】
0003902823.tif 000036
【図３４】
0003902823.tif 000037
【図３５】
0003902823.tif 000038
【図３６】
0003902823.tif 000039
【図３７】
0003902823.tif 000040