(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
屈折率変化を有する対象物に含まれる境界の位相差画像を得るための装置であって、
ａ）Ｘ線放射線の伝播波を対象物の境界に照射する手段と、
このＸ線放射線の伝播波は、対象物を貫通し、屈折率変化の方向と直交する方向に伝播ベクトルの主成分を有するような伝播方向と、屈折率変化に起因して、境界におけるＸ線放射線の伝播波の伝播方向の局在的な変化を、フレネル回折現象によるコントラストとして検出可能にするのに十分な程度の空間可干渉性とを有し、
ｂ）Ｘ線放射線の伝播波が境界を横断し、対象物から出射した後、Ｘ線放射線の伝播波の少なくとも一部の強度を検出し、記録する手段と、
前記検出・記録手段は、強度の記録が前記コントラストとして伝播波の伝播方向の局在的な変化の観測可能な記録を含み、かつＸ線放射線の強度の局在的な減衰として記録されることにより、強度の記録が境界の画像を形成するように構成され、
ｃ）対象物の境界と前記検出・記録手段との間を、Ｘ線放射線の強度の局在的な減衰としての記録を含む像のコントラストおよび解像度を最適化するような距離だけ隔てて対象物を保持する手段とを備えたことを特徴とする装置。
【請求項２】
請求項１に記載の装置であって、
照射手段は、多色Ｘ線放射線を照射することを特徴とする装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載の装置であって、
照射手段は、１ｋｅＶ〜１ＭｅＶの範囲のエネルギーを有するＸ線放射線を照射することを特徴とする装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか一に記載の装置であって、
照射手段は、光軸に直交する方向における直径が２０μｍ以下であるＸ線放射線源であることを特徴とする装置。
【請求項５】
請求項１に記載の装置であって、
前記保持手段は、対象物の境界と前記検出・記録手段との間を０.３ｍ以上隔てて対象物を保持することを特徴とする装置。
【請求項６】
請求項１に記載の装置であって、
前記保持手段は、対象物の境界と前記検出・記録手段との間を０.７ｍ以上隔てて対象物を保持することを特徴とする装置。
【請求項７】
請求項１〜６のいずれか一に記載の装置であって、
放射線は、線源から発生し、ブラッグ回折することなく境界へ供給されることを特徴とする装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般に、Ｘ線のような透過性放射線を用いて対象物の構造特性を観察することに関する。より詳しくは、本発明は、限定されるものではないが、内部境界特性のＸ線位相差記録、例えばイメージング（作像）に関する。
【背景技術】
【０００２】
本出願人の国際特許出願公開ＷＯ９５／０５７２５（ＰＣＴ／ＡＵ９４／００４８０）および仮特許出願ＰＮ５８１１／９５には、硬Ｘ線を用いた差動位相差（differential phase-contrast）イメージングに適した種々の構成および条件が開示されている。他の開示が、ソビエト特許第１４０２８７１号および米国特許第５３１９６９４号に見られる。少なくとも数種の形態では、吸収差放射線写真法の従来の方法により密接に関連した比較的簡易な条件および構成を、硬Ｘ線による差動位相差イメージングに用いることが望ましい。
【特許文献１】国際特許出願公開ＷＯ９５／０５７２５パンフレット
【発明の開示】
【０００３】
本発明によれば、屈折率変化を示す対象物の境界のイメージを得る方法であって、該境界に、高い横方向空間干渉性および該屈折率変化を横切る伝搬成分を有する透過性放射線を照射し、画面上で、該境界が対応する強度変化によって該イメージ上に表示されるように該境界により屈折された該放射線の少なくとも一部を受光して、該イメージを形成することを含んでなる方法が提供される。
【０００４】
また、本発明によれば、屈折率変化を示す対象物の境界のイメージを得る装置であって、高い横方向空間干渉性および該屈折率変化を横切る伝搬成分を有する透過性放射線を該境界に照射する放射源、および該境界が対応する強度変化によって該イメージ上に表示されるように、該境界により屈折された該放射線の少なくとも一部を受光して、該イメージを形成する検出器を有してなる装置が提供される。
【０００５】
更に、本発明によれば、鮮明な屈折率変化を有する又は厚さ変化により規定される内部境界の位相差記録を得る方法であって、該屈折率変化を横切る方向または該厚さ変化の方向に伝搬ベクトルの顕著な成分（significant component）が存在するように伝搬方向を有し、更に、境界における放射線波面の伝搬の局所方向で検知できる変化を生じさせるように屈折率または厚さの変化に対して充分高い横方向空間干渉性を有する透過性放射線を境界に照射し、伝搬の局所方向の該変化の効果を観察でき、放射線の局所減衰または急速な強度変化として記録し、それにより実質的に境界をイメージできるような方法で、放射線が境界を横切った後に、該放射線の少なくとも一部分を検出し、記録する方法が提供される。
【０００６】
本発明によれば、鮮明な屈折率変化を有する又は厚さ変化により規定される内部境界の位相差記録を得る装置であって、該屈折率変化を横切る方向または該厚さ変化の方向に伝搬ベクトルの顕著な成分が存在するように伝搬方向を有し、更に、境界における放射線波面の伝搬の局所方向で検知できる変化を生じさせるように屈折率または厚さの変化に対して充分高い横方向空間干渉性を有する透過性放射線を境界に照射する手段、および伝搬の局所方向の該変化の効果を観察でき、放射線の局所減衰または急速な強度変化として記録し、それにより実質的に境界をイメージできるような方法で、放射線が境界を横切った後に、該放射線の少なくとも一部分を検出し、記録する手段を有してなる装置が提供される。
【０００７】
加えて、本発明によれば、屈折率変化を示す対象物の境界のイメージを得る方法であって、該境界に、高い横方向空間干渉性および該屈折率変化を横切る伝搬成分を有する透過性放射線を照射し、画面上で、該境界が対応する強度変化によって該イメージ上に表示されるように該境界によりフレネル回折された該放射線の少なくとも一部を受光して、該イメージを形成することを含んでなる方法が提供される。
【０００８】
また、本発明によれば、屈折率変化を示す対象物の境界のイメージを得る装置であって、高い横方向空間干渉性および該屈折率変化を横切る伝搬成分を有する透過性放射線を照射する放射源、および該境界が対応する強度変化によって該イメージ上に表示されるように、該境界によりフレネル回折された該放射線の少なくとも一部を受光して、該イメージを形成する検出器を有してなる装置が提供される。
【０００９】
本発明によれば、イメージの位相差イメージデータを処理することを含む、イメージの相を決定する方法も提供される。
【００１０】
伝搬の局所方向での変化の強度効果は、好ましくは、記録を形成するイメージ中で観察される。記録、従ってイメージは、写真または電子的な記録またはイメージであってよい。従って、「イメージ」という用語は、強度データの組、例えば強度値のテーブルまたは他の貯蔵された記録中の観察できる効果を意味し、視覚的なものに限定されない。記録媒体は、２次元的画素化検出器、例えば電荷結合素子（ＣＣＤ）アレーのような電子的検出器であってよい。
【００１１】
放射手段は、好ましくは、直径２０ミクロンまたはそれ以下のＸ線放射源を含む。ここで、直径とは、最大強度の半分のところでの放射源の強度分布の全幅を意味する。有利には、装置は、イメージされる内部境界を含む試料のための適当な支持台またはホルダーを更に含む。
【００１２】
透過性放射線、例えばＸ線は、多色性であってよく、好ましくは硬Ｘ線、すなわち１ｋｅＶ〜１ＭｅＶの範囲にあるＸ線である。
【００１３】
境界の分離および検出手段は、イメージの解像度を高めるように選択するのが好ましい。例えば、より鮮明なイメージ、すなわちより高いコントラストを有するイメージは、解像度を増すことにより得られることが分かっている。例えば、コントラストは、０．４ｍの分離に対して少なくとも約１ｍの分離で改良される。これは、部分的には、分離を増すことによってバックグラウンドノイズは減少するが、伝搬の局所方向での変化から生じる強度変化効果は実質的に保存されるからである。
【００１４】
ここで用いる「横方向空間干渉性」という用語は、波の伝搬方向を横断する異なる２点間での波の複素振幅の相関を意味する。横方向干渉性は、波面上の各点が時間の経過と共に変化しない伝搬の方向を有する場合に生じると言われている。実際には、高い横方向空間干渉性は、例えば、小さい有効寸法の放射源を用いることにより、または放射源から大きく離れた距離でビームを観察することにより達成し得る。例えば、２０ｋｅＶのＸ線では、直径２０μｍまたはそれ以下の放射源寸法が、典型的には好ましい。放射源からの全光束が充分である限り、より小さい放射源寸法ほど、本発明の目的にとって好ましい。横方向空間干渉性は、放射源のＸ線窓を、例えばより均一な厚さおよび均質となるように注意深く選択することにより、維持する必要があるであろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
添付図面を参照して、本発明の好ましい形態を例として以下に説明する。図面中、図１は、円形断面対象物を平行ビームにより照射している状態を、説明のために３つの部分に分けて示している図であり、図２は、多色性ビームにより照射されている円形断面対象物と、得られた位相差イメージを示す図であり、図３は、本発明の１つの具体例に従ったＸ線光学系配置を示す図であり、図４および図５は、以下に詳説する本発明に従って得られた種々の境界のＸ線イメージである。
【００１６】
まず、本発明の数学的基礎を概略説明する。
試料の厚さおよびＸ線屈折率の変化、ｎ(λ)＝１−δ(λ)−ｉβ(λ)は、常に、試料を通過する際のＸ線波面の形状の変化を招く。ｎの実部１−δ(λ)は、屈折の程度に関係し、虚部−ｉβ(λ)は、吸収の程度に関係する。より詳しく説明すると、単元素物質については、次式が成り立つ。
【数１】
0003971776.tif 000002
【数２】
0003971776.tif 000003
（式中、μ(λ)は線形吸収係数、ｒ０は古典電子半径、Ｎ０は単位体積当たりの原子の数、およびｆＲは散乱角０（ゼロ）での原子散乱係数の実部である。）
係数δは、λ２に比例し、βはλ４に比例し、またλは放射源から放射されるＸ線ホトンのエネルギーの逆数に比例する。
【００１７】
波面歪みの大きさは、波面の伝搬方向を横切る相変化の傾きに関連づけられる。幾何光学近似では、対象物を通過する光路についての位相差φは、光路にそった屈折率δの実部の減少量の積分に比例する。図１に示す座標系では、これは次式で表される。
【数３】
0003971776.tif 000004
（式中、ｋは２π／λに等しい。）
【００１８】
局所入射波動ベクトルからの局所散乱波動ベクトルの角偏差Δαは、局所入射波動ベクトルに垂直な方向での位相差の傾きに比例する。「局所」という語は、波面上の点（ｘ，ｙ，ｚ）を意味する。数学的には、局所散乱波動ベクトルは、図１の座標系では、次式で表される。
【数４】
0003971776.tif 000005
（式中、ｓ（ｘ，ｙ，ｚ）は点（ｘ，ｙ，ｚ）での波面に対する法線である。）
【００１９】
上記関係は、(roundｄφ/roundｄｘ)２＋(roundｄφ/roundｄｙ)２≪ｋ２である場合に近軸近似で有効である。角偏差Δαは、次式で表される。
【数５】
0003971776.tif 000006
従って、角偏差Δαは、伝搬波動ベクトルに垂直な屈折率変化に依存し、偏差の量は、波動ベクトルの方向で変化が発生する長さ、例えば試料の厚さに依存する。
【００２０】
効果の本質を説明するために、図１および図２に示すような、屈折率ｎ０＝１の媒体中に埋設された屈折率ｎＭの球形対象物Ωを考える。
【００２１】
真空を通過するＸ線と比べた試料を通過するＸ線の光路長の差は、伝搬の局所方向を横切る方向（図１）で局所位相差φ(ｘ)を導き、従って位相傾斜roundｄφ/roundｄｘを導く。ｚ軸から一定の距離でｚ軸と平行に対象物Ωを通過するray１と参照ray０との間の位相差は、次式で表される。
【数６】
0003971776.tif 000007
【数７】
0003971776.tif 000008
式中、ｚ(ｘ,ｙ)は、対象物Ωとray１の交線の長さであり、ＲはΩの半径、δは屈折率係数の減少率である。
【００２２】
数学的には、ｘ−ｙ面での円形断面対象物については、与えられたｘについての入射光と対応する屈折光との間のroundｄφ/roundｄｘおよび角偏差Δαの間には次式の関係が成り立つ。
【数８】
0003971776.tif 000009
【００２３】
式（８）中、δ(λ)はゆっくり変化し、光線が光学軸から非常に大きい角度で逸脱できるｘ＝±Ｒの点で、位相傾斜は発散することが容易に理解できる。これらの制限の中で、散乱された光線の角偏差は非常に大きく、対応する前進方向で強度Ｉの視認できる損失となる。その点は、多色光線Ｂについて図２に示しているように、波長に依存しない。屈折率係数δの減少率は、典型的には、軽い元素および硬Ｘ線については１０−５〜１０−６のオーダーであるが、ｘが±Ｒに近い場合、即ち試料の境界または内部境界部分では、角偏差Δαは非常に大きいことがある。
【００２４】
放射源サイズ、対象物−放射源間距離および対象物−イメージ間距離の異なる条件下で得られるコントラストの特性、および放射源のスペクトル分布を考慮する必要がある。コントラストに影響する別の因子は、対象物により導入された波面の変化の程度である。
【００２５】
平面波については、イメージ形成におけるコントラストに対するこれら因子の役割を理解するのを助けるために、位相対象物からのフレネル回折コントラストについて、第１近似として、Cowleyにより導き出された式を用いることができる（J.M.Cowley, "Diffraction Physics"，第２版、６０頁。North Holland，１９８１参照）。この式によれば、位相変化φ(ｘ)を生じる１次元位相対象物の場合、波長λの平面波照射下では、対象物からの距離Ｒ２における強度分布は、次式で与えられる。
【数９】
0003971776.tif 000010
このとき、値（Ｒ２λ／２π）φ"(ｘ)が小さいとした場合、１次まで妥当である。この一見簡単に見える式から、次の重要な結論が得られる。即ち、
ｉ）コントラストは、Ｒ２に対して直接的に変化する。
ii）イメージの形状はλに依存しない。コントラストのみが影響される。多色放射源については、式中のλをスペクトル的に加重した和により置き換えるだけでよい。
【００２６】
本発明のＸ線の場合について上記式が妥当する範囲についてのある程度の感触を得るために、対象物により伝送される位相が１０ミクロンの横方向距離に対して１ラジアンだけ変化する対象物特性があると仮定しよう。そうすると、φ"＝１０１０ｍ−２であり、λ＝１オングストローム、Ｒ２＝１ｍの場合、（Ｒ２λ／２π）φ"(ｘ)≦１となることが分かる。従って、この式は、小さい位相対象物についても、あるいは相の適当に早い変化についても、妥当である。しかしながら、例えば人工的な試験対象物（例えば繊維）の計算によく用いられるような非常に急峻なエッジまたは傾斜の変化については、φ"は大きくなりすぎる（場合により無限になる）ことがあり、この式は、使えない。しかし、このような場合でも、イメージの一般的な形状（急なステップ状対象物からの黒／白ライン）は再現できるが、不連続物からの回折に典型的な二次的な縞（フリンジ）は再現できない。一方、恐らくより実際的には重要であるが、より小さいφ"(ｘ)、即ち横方向の変化がそれほど急速でないより大きい特性については、コントラストが小さく、実際の視認性が制限されることが分かる。
【００２７】
平面波によるこの種のイメージのより正確な数学的取り扱いは、最近、フレネル回折を用いて行われた(P. Cloetens、R. Barrett、J. Baruchel、J. P. Guigay、及びM. Schlenker、J. Phys. D.：Appld. Phys.，1996 29 133-46；J. P. Guigay、Optik, 1997 49 121-5)。彼らの取り扱いは、１次まで上記の式と同じである式を与える。しかしながら、より正確な取り扱いによれば、空間周波数ｕについての最大コントラストは、少なくとも位相差放射線写真法において予想される条件の通常の範囲について、２λＲ２ｕ２＝１の場合に生じる。空間周波数ｕは、イメージされる対象物の形状に関係しており、ｕ＝１／Ａであり、Ａはイメージされた対象物のフーリエ成分の空間周期である。
【００２８】
このような取り扱いは全て、理想的な平面波による照射に関連している。ビームの発散は、Ｒ２に比例する量でイメージをぼやけさせるであろう（これについては、常套の放射線写真と同様の挙動をする）。上記著者ら（Cloetensら）は、全体での最適Ｒ２は、コントラストと解像度との両方を考慮して、次式で与えられることを示している。
【数１０】
0003971776.tif 000011
（式中、α＝ｓ／Ｒ１は、対象物において放射源が臨む角度であり、（ほとんど）平面波に関係している。）。
【００２９】
Cloetensらは、Ｘ線の高単色性放射源の必要性を特に強調し、本明細書に記載した好ましい実施態様とは対照的に平面波の場合のみを検討していることに注目しなければならない。
【００３０】
指摘したように、上記の取り扱いは、特に平面波の場合に関係し、一方、本発明は、従来の照射線写真法により密接に関連している球面波に関係している。空間波の場合を理解するのを助けるために、ここで、対象物から距離Ｒ1の所にある点照射源により対象物をイメージする（球面波の場合）ためのフレネル−キルヒホッフ式の簡単な分析により有用に確立できる２つの場合の関係を検討する。
この検討により、
【数１１】
0003971776.tif 000012
のような距離Ｒ’でイメージするための改変対象物および(Ｒ１＋Ｒ２)／Ｒ１により拡大される、平面波ケースを含む球面波について簡単な関係があることが示される。光線光学に基づいた簡単な幾何学的検討から、放射源サイズによるコントラストまたは解像度の減少は、イメージおよび放射源サイズの両方を拡大できるので、球面波の場合には問題ではないことが分かる。後者は、Ｒ２／Ｒ１倍され、これは大きいＲ２については同じ倍率に漸近する。球形波についてのコントラストに影響する因子は、（放射線写真について当てはまるエネルギー範囲および解像度について）２λＲ２(１＋Ｒ２／Ｒ１)ｕ２が大きくなくてはならない（しかし、典型的には１未満である）ことである。この式は、Ｒ２が大きい、またはλが大きい、または空間周波数ｕが大きいので、大きくなり得る。説明すると、実際の放射線写真法のためには、以下の値が代表的である：λ＝０．２オングストローム；ｕ≦２×１０５（空間周期２０ミクロンまたはそれ以上に相当）。そして、Ｒ２＝２.５ｍ（例えば、Ｒ２／Ｒ１＝３を仮定）で、最大空間周波数について最高のコントラストが得られる。より大きいＲ２の値が、より小さい空間周波数での最高コントラストにとって適切であろう。
【００３１】
関数φ"は、イメージ中の位相対象物のエッジまたは境界を増大する傾向があることに注意すべきである。対象物に吸収性成分があるなら、それは、少なくとも１次で、イメージのコントラストを直接増す（例えば、Guigay，1997の式７参照）。この技術は、補完的であり、有用な放射線イメージを向上し、かつ新しい情報を生み出す。
【００３２】
次に、このような解法から生じる概念を適用するための具体的な配列について説明する。第１の具体例（図３）では、高空間干渉性の放射源ＳおよびＸ線イメージング検出器Ｄ（例えば、フィルム、光誘発リンプレート(Fuji Image Platesなど）または２次元電子検出器）を用いる。伝搬方向を横切る方向でのはっきりした屈折率変化または伝搬方向での厚さ変化の領域は、このような領域を透過する波面の伝播の局所方向に顕著な変化を与える。従って、点放射源Ｓから放射された球面波面Ｗ１は、対象物Ｏを通過する際にＷ２に変形される。試料から相当離れた距離において波面の強度を記録することにより、試料中のはっきりした屈折率および厚さの変化に起因する強度変化を、検出でき、それらの位置をイメージ中に記録することができる。これは、差動位相差イメージの形状に対応する。イメージング検出器の配置は、検出器の空間解像度が、波面の著しい変形から生じる強度差を解像でき、かつ、上述のように実際の検討を条件にコントラストを最適化するように、設定される。
【００３３】
典型的には、屈折率または厚さの急峻な傾斜は、イメージ中の対応する点での強度の急峻な消失または急速な変化としてイメージされる。イメージ中の所定の点でのこの強度消失または急速な変化の特徴は、本質的に波長からは独立であり、従って、多色放射源を用いた場合でさえイメージ中に非常に鮮明な変化をもたらすことができる。
【００３４】
この構成は、円形照射源分布について、イメージの空間解像度が両方向で同じであり、本質的に照射源サイズにより決定されるという特徴を有している。また、この構成は、イメージの顕著な拡大が可能で、フジ・イメージ・プレート（Fuji Image Plates）のような記録媒体を使用できるという利点も有している。この記録媒体は、広いダイナミックレンジおよび高い感度のような多くの望ましい特性を有しているが、高い空間解像度は有していない。
【００３５】
この構成に含まれる照射源および検出器に加え、高解像度角分析器を、試料と検出器との間に挿入してもよい。高解像度角分析器は、例えば、照射源のある適切な特性波長に対して選択されたカーブを有するようにラウエ幾何学で適当にカーブをつけた石英ガラスであってよい。方法におけるこの変更は、最初に記載した構成により観察されよりも試料の屈折率および厚さの小さい変化を解像するためである。
【００３６】
非常に低い空間解像度検出器、例えばFuji Image Platesを用いてもイメージ中の非常に高い空間解像度が得られるように、イメージの非常に実質的な増幅が可能であることは、注目されてよい。また、イメージ形成方法は本質的にＸ線エネルギーに依存しないので、放射源は高い管エネルギーで操作でき、従って試料が吸収する照射量を少なくできること（このことは、臨床用途では重要である）も注目されてよい。
【００３７】
上記方法を用いて記録した位相差イメージの例を、図４および図５に示す。図４は、１０μｍプラスチックフィルムのエッジのイメージを示す。このフィルムは、Davis，Gao，Gureyev，StevensonおよびWilkins（Phys．Rev．Letters，1995，74巻、3173頁）により使用されたのと同じであり、純粋相対象物に相当する。図５は、Davis，Gao，Gureyev，StevensonおよびWilkins（Nature，373巻595-8頁1995）により報告されたのと類似の試料に基づくポリマーマトリックス中の気泡およびガラス繊維のイメージであり、ほとんど純粋な相対象物に相当する。いずれの場合にも、通常の吸収−コントラストイメージについて予想される以上の、明瞭な付加的コントラストが見られる。特に、図４では、フィルムのエッジが、黒／白コントラスト特性として明瞭に見え、気泡および繊維のエッジでもそうである。使用した放射源は、４０ｋＶで作動されるＣｕアノードを備えた公称直径１０μｍのマイクロフォーカス放射源（Kevex Model ＰＸＳ）である。図４では、放射源と試料との距離および試料とフィルムとの距離は、共に７００ｍｍであり、一方、図５では、これらの距離はそれぞれ１２０ｍｍおよび１０００ｍｍであった。これらの例でのコントラストは、放射源の高空間干渉性の故に、ほほ全体に可視である。コントラストは、主として強度損失コントラストであり、その意味で、通常の吸収と似ているが、これは、式（８）で示されるように対象物境界での屈折散乱（またはフレネル回折）に起因する強度損失を表している点で異なる。直径０．１ｍｍの基準微細焦点源は、写真に写っている長さ約０．１ｍｍの投影寸法のスケールバーの投影寸法を有し、このコントラストではほとんど消えかかっている。
【００３８】
本明細書に記載した位相差イメージングと標準吸収イメージングとを比較するために、下記表に、６５％吸収を達成するのに必要な炭素試料の吸収厚さｔａ、および２πのφで位相変化を生じさせるのに必要な試料の相厚さｔｐを、種々の放射源エネルギーＥについて示す。
【表１】
0003971776.tif 000013
表中の結果は、非常に小さい対象物を高いエネルギー源でイメージするのにどのように位相差イメージングを使用できるかを説明している。
【００３９】
有利なことに、試料と検出器との間のビーム光路は、空気散乱の効果を小さくして、光学特性がＸ線ビームの干渉性に有害な影響を与えないことを確実にするために、Ｘ線透過性窓または同様の手段を有する真空にされた管を含んでいてよい。
【００４０】
本発明の方法は、様々な種類の物質中のクラック、空洞および剥離のような特性をイメージするのに、特に適している。何故なら、これら特性は、Ｘ線屈折率での最大の差を含み、空間変化が非常に鮮明であるからである。観察できるコントラストを与えるために、照射源は、好ましくは、非常に小さい有効寸法、例えば２０μｍのオーダー以下を有し、検出器は、好ましくは、高解像度検出器、例えばＸ線フィルムまたは２次元電子検出器（例えば、ＣＣＤアレー）である。本発明の方法は、臨床放射線写真法における重要な特性のコントラストを顕著に増大するのに有用であることが分かるであろう。
【００４１】
本発明は、透過性放射線、例えば硬Ｘ線を用いる差動位相差イメージングにおける簡素化された条件および構成を与え、これらは、特に臨床および産業用途を目指している。このような新しいアプローチは、特に大面積の照射の場合には、先に引用したＷＯ９５／０５７２５およびＰＮ５８１１／９５に記載された方法よりも、吸収−コントラスト放射線写真法で用いられている従来の方法により密接に関連している。本発明の方法では、先の単色法に比べて、所定の放射源出力について非常に短い露出時間でよい。これは、本発明が、放射源からの非常に広いスペクトルを使用できるからであろう。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】円形断面対象物を平行ビームにより照射している状態を、説明のために３つの部分に分けて示している図である。
【図２】多色性ビームにより照射されている円形断面対象物と、得られた位相差イメージを示す図である。
【図３】本発明の１つの具体例に従ったＸ線光学系配置を示す図である。
【図４】本発明に従って得られた種々の境界のＸ線イメージである。
【図５】本発明に従って得られた種々の境界のＸ線イメージである。
【符号の説明】
【００４３】
Ｓ  放射源
Ｄ  検出器
Ｏ  対象物
【図１】
0003971776.tif 000014
【図２】
0003971776.tif 000015
【図３】
0003971776.tif 000016
【図４】
0003971776.tif 000017
【図５】
0003971776.tif 000018