(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定器本体に配設された基台部を介して搭載される測定機構は、前記基台部上に定置されるチップ部品の一側端面と他側端面とに各別に電気的に自動接触させるべく向き合わせて配設された可動側としての一側測定手段と固定側としての他側測定手段とで構成され、
前記一側測定手段は、定置された前記チップ部品方向に向けての進退を自在に配設されたピンソケット部の人為的な退行時の従動が自在で、かつ、その進出時にチップ部品の前記一側端面と接触する一側測定ピンを備えて前記基台部に配設される一側測定部を少なくとも含み、
前記他側測定手段は、前記一側測定ピンの先端面にその先端面が当接する位置関係で配置された他側測定ピンを備えて前記基台部に配設される他側測定部を少なくとも含み、
前記ピンソケット部との従動を自在に形成された滑動部の垂直前端面は、一側測定ピンの前記先端面と他側測定ピンの前記先端面とが当接状態にあるとき、前記基台部に突設されているストッパー部の垂直当接面と当接する位置関係のもとで配設され、これら垂直前端面と垂直当接面との間で前記チップ部品を挟持させることで、一側測定ピンの前記先端面と他側測定ピンの前記先端面との間に前記チップ部品自体の長さとの関係で定まるオープン補正を行うための空隙部の自動生成を自在としたことを特徴とする回路素子測定器。
【請求項２】
少なくとも前記一側測定ピンは、前記ピンソケット部の人為的な退行時に内在バネ材の付勢力に抗しての従動を自在に配置した請求項１に記載の回路素子測定器。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、微小なチップ部品を容易、かつ、正確に定置できるほか、測定精度の向上と測定器本体の小型化にも有効に寄与させることができるＬＣＲテスタなどの回路素子測定器に関する技術である。
【０００２】
【従来の技術】
図７は、従来からある回路素子測定器の要部を拡大して示す説明図であり、測定器本体１には、チップ部品１０２を落とし込むための溝部２ａを有する基台部２と、溝部２ａを介して載置されたチップ部品１０１の一側端面１０２に電気的に接触させるため固定側支腕部３を介して固定配置された一側測定ピン４と、チップ部品１０１の他側端面１０３に電気的に接触させるため可動側支腕部５に支持され、かつ、介装させたコイルバネ７の押圧力を鍔部８で受けて常に進出方向へと押圧付勢されている他側測定ピン６とが配設されている。
【０００３】このため、非測定時は、一側測定ピン４の先端面に対し他側端子ピン６の先端面が当接しているものの、測定時は、他側端子ピン６が備える操作レバー９を介してその付勢力に抗して他側端子ピン６を押し込んで一側測定ピン４の側との間に形成した空隙内にチップ部品１０１を配置した後、一側測定ピン４は一側端面１０２に、他側測定ピン６は他側端面１０３にそれぞれ自動的に電気的に接触させることができる。なお、図中の符号１０は、一側測定ピン４と他側端子ピン６とに各別に直付けされている引出し線をそれぞれ示す。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記従来例による場合には、微小なチップ部品１０１に対し断面Ｖ字状となった溝部２ａが大きいため、誤った方向に向けてチップ部品１０１をセットしてしまうことがあり、その修正作業が煩雑であったり、チップ部品１０１自体の微小化の傾向が進んでさらにセットがしにくくなるなどの不都合があった。
【０００５】
また、引出し線１０は、一側測定ピン４と他側端子ピン６とに各別に直付けされているため、例えば他側測定ピン６が進退移動することによりその引出し線１０も動いて形状が変化する結果、測定結果に少なからざる好ましくない影響を及ぼしてしまう不具合もあった。
【０００６】
さらに、コイルバネ７を介して付勢されている他側測定ピン６は、操作レバー９を急に離すことにより一側測定ピン４の側に衝接するので、そのセット時にチップ部品１０１が弾き飛ばされてしまうといった問題もあった。
【０００７】
さらにまた、図７に示す従来例による場合には、構造的にみて高インピーダンス測定を行う際に必要となるオープン補正を正確には行うことができない問題もあった。
【０００８】
本発明は、従来例にみられた上記課題に鑑み、微小なチップ部品を容易、かつ、正確に定置できるほか、高インピーダンス測定を行う際に必要となるオープン補正をチップ部品を利用して簡単に行えるようにすることで測定精度の向上を図るとともに、測定器本体の小型化にも有効に寄与させることができるＬＣＲテスタなどのような回路素子測定器を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成すべくなされたものであり、測定器本体に配設された基台部を介して搭載される測定機構は、前記基台部上に定置されるチップ部品の一側端面と他側端面とに各別に電気的に自動接触させるべく向き合わせて配設された可動側としての一側測定手段と固定側としての他側測定手段とで構成され、前記一側測定手段は、定置された前記チップ部品方向に向けての進退を自在に配設されたピンソケット部の人為的な退行時の従動が自在で、かつ、その進出時にチップ部品の前記一側端面と接触する一側測定ピンを備えて前記基台部に配設される一側測定部を少なくとも含み、前記他側測定手段は、前記一側測定ピンの先端面にその先端面が当接する位置関係で配置された他側測定ピンを備えて前記基台部に配設される他側測定部を少なくとも含み、前記ピンソケット部との従動を自在に形成された滑動部の垂直前端面は、一側測定ピンの前記先端面と他側測定ピンの前記先端面とが当接状態にあるとき、前記基台部に突設されているストッパー部の垂直当接面と当接する位置関係のもとで配設され、これら垂直前端面と垂直当接面との間で前記チップ部品を挟持させることで、一側測定ピンの前記先端面と他側測定ピンの前記先端面との間に前記チップ部品自体の長さとの関係で定まるオープン補正を行うための空隙部の自動生成を自在としたことに構成上の特徴がある。
【００１０】
この場合、少なくとも前記一側測定ピンは、前記ピンソケット部の人為的な退行時に内在バネ材の付勢力に抗しての従動を自在に配置するのが望ましい。
【００１１】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明の一例についての要部を示す斜視図であり、測定器本体１１は、各種のチップ部品１０１を位置固定して必要な特性を測定をすることができる測定機構２２を搭載した基台部２１をその上面１２側に備えて形成されている。
【００１２】
図２は、測定機構２１の詳細構造を拡大して例示する部分断面図であり、その全体は、手動操作により一側測定部２４の側を人為的に進退させることができる一側測定手段２３と、該一側測定手段２３における一側測定部２４が有する一側測定ピン２５の先端面２５ａとその先端面４５ａが向き合っている他側測定ピン４５を有する他側測定部４４を備える他側測定手段４３とを基台部２１上に配設することで構成されている。なお、一側測定部２４と他側測定部４４とには、向き合った状態のもとで対となって配置される同じ構造を備える同一物が使用されている。
【００１３】
このうち、図３に示す一側測定手段２３は、図４にその詳細な構造例が模式的に示されているように、導電性のコイルスプリングなどからなる内在バネ材２７を介して一側測定ピン２５と連結させた導電性の支杆部２８の開放端部２８ａを、導電性の保持筒部２９内に挿入して一体化された一側測定部２４と、図３に示されているように一側測定部２４における保持筒部２９側を抱持して基台部２１に固定されている保持部材３０と、一側測定ピン２５に設けられている掛止用段部２６を介して掛止させることにより内在バネ材２７の付勢力に抗して一側測定ピン２５を強制的に退行させることができるピンソケット部３１とで形成されている。なお、図３中の符号４０は、内在バネ材２７を収容して一側測定ピン２５と支杆部２８と保持筒部２９とを一体的に連結しているバレル部を示す。
【００１４】
この場合、ピンソケット部３１は、一側測定ピン２５の先端部側を突出させた状態で掛止用段部２６と係合するソケット先端部３２と、該ソケット先端部３２と一体に形成され、かつ、保持部材３０を介しての所要のストローク分の進退が自在に配設された摺動部３３と、該摺動部３３上に突設された突起部３４とを備えてその全体が形成されている。
【００１５】
しかも、上記構成からなる一側測定手段２３には、ピンソケット部３１における突起部３４を覆う抓み部３６を備えてピンソケット部３１と一体化されて進退自在に移動する滑動部３５が付設されている。
【００１６】
この場合、滑動部３５の垂直前端面３７は、一側測定ピン２５の先端面２５ａと他側測定ピン４５の先端面４５ａとが当接状態（非測定時）にあるとき、基台部２１に突設されているストッパー部３８の垂直当接面３９と当接する位置関係のもとで配設されている。
【００１７】
一方、他側測定手段４２を構成している他側測定部４４については、一側測定部２４と同一の構造を備えて形成されているので、図４の対応部位にそれぞれ符号を重複表示することによりその詳しい説明は省略する。また、一側測定部２４と他側測定部４４とは、既に述べたようにその非測定時に一側測定ピン２５の先端面２５ａと他側測定ピン４５の先端面４５ａとが向き合って相互に当接する位置関係のもとで基台部２１上にそれぞが配設されている。なお、一側測定部２４の保持筒部２９と他側測定部４４の保持筒部４９とのそれぞには、引出し線５２，５３が接続されている。
【００１８】
しかも、基台部２１は、一側測定ピン２５と他側測定ピン４５とのそれぞれの進退方向に沿わせて一直線状に形成された溝部５５がその表面に形成されている。該溝部５５は、例えばチップ部品１０１が没入しない程度の深さを有する断面がＵ字形や半円形やＶ字形となるように形成することにより、チップ部品１０１の一側端面１０２には一側測定ピン２５の先端面２５ａを、他側端面１０３には他側測定ピン４５の先端面４５ａをそれぞれ当接させることができるように正しく位置決めして定置するために設けられている。
【００１９】
次に、上記構成からなる本発明の作用を説明すれば、非測定時には、図５（ａ）に示すように一側測定ピン２５の先端面２５ａと他側測定ピン４５の先端面４５ａとが相互に当接した状態にあるので、抓み部３６を介して滑動部３５を図２の例では左側方向へと人為的に移動させる。
【００２０】
抓み部３６は、突起部３４を覆うことでピンソケット部３１の側とも一体的に結合されているので、該ピンソケット部３１も左方向に移動する。このとき、ソケット先端部３２の側は、掛止用段部２６を介して一側測定ピン２５に掛止されているので、一側測定ピン２５も内在ばね材２７の付勢力に抗して従動し、左側方向へと移動する。
【００２１】
こうすることにより、他側測定ピン４５の先端面４５ａとの間には、図５（ｂ）に示すように被測定物であるチップ部品１０１を断面略Ｖ字形を呈する溝部５５内にその稜角部１０４を落とし込むことができる空隙部５６を形成することができる。なお、溝部５５内へのチップ部品１０１の落とし込みは、溝部５５の具体的な断面形状に応じて下側部側の全体を納めるなど、適宜行うことができる。
【００２２】
この状態のもとで確保される空隙部５６内にチップ部品１０１を正く位置決めして落とし込んだ後は、抓み部３６に対する人為的な力を解除することにより、一側測定ピン２５も内在バネ材２７の付勢力によりチップ部品１０１の一側端面１０２へと自動的に当接する。このとき、他側測定ピン４５は、内在バネ材４７を介して前進方向へと付勢されているので、一側測定ピン２５の側から仮にチップ部品１０１が強く押し出されるようなことがあってもそのショックを吸収して柔らかく受け止めることができる。
【００２３】
かくして、チップ部品１０１は、溝部５５内に正しい位置関係のもとで定置され、かつ、一側測定ピン２５と他側測定ピン４５により左右の両方向から押圧された状態で確実に位置固定された状態のもとで測定できることになる。
【００２４】
一方、オープン補正を行う必要がある場合には、滑動部３５の垂直前端面３７とストッパー部３８の垂直当接面３９との間にチップ部品１０１を配置して挟持させることにより行うことができる。
【００２５】
すなわち、滑動部３５の垂直前端面３７は、一側測定ピン２５の先端面２５ａと他側測定ピン４５の先端面４５ａとが当接状態（非測定時）にあるとき、図６（ａ）に示されているように基台部２１に突設されているストッパー部３８の垂直当接面３９と当接する位置関係のもとで配設されている。
【００２６】
したがって、抓み部３６を把持するなどしてして滑動部３５の側を後退させた際には、図５（ｂ）に示されているように一側測定ピン２５の先端面２５ａと他側測定ピン４５の先端面４５ａとの間に空隙部５６が形成されるとともに、滑動部３５の垂直前端面３７とストッパー部３８の垂直当接面３９との間にも空隙部５７が形成されることになる。
【００２７】
このため、図６（ｂ）に示されているように空隙部５７内にチップ部品１０１を正しい方向のもとで配置し、滑動部３５の垂直前端面３７とストッパー部３８の垂直当接面３９で挟持させることにより、チップ部品１０１の配置関係は逆であるが図２に示されているようにチップ部品１０１の長さａと同じ長さａの空隙部５６を一側測定ピン２５の先端面２５ａと他側測定ピン４５の先端面４５ａとの間に自動的に形成することができる。
【００２８】
オープン補正は、このようにして一側測定ピン２５の先端面２５ａと他側測定ピン４５の先端面４５ａとの間に空隙部５６を形成した状態のもとで簡単に行うことができる。
【００２９】
以上は、本発明の実施形態を図示例に即して説明したものであり、その具体的な実施の形態例はこれに限定されるものではない。例えば、一側測定部２５と他側測定部４５とは、同一物でなく、例えば他側測定部４５の内在バネ材４７の弾発力を一側測定部２５の内在バネ材２７の弾発力よりもやや弱くして形成するなど、相互に異なる構造を備えたものを適宜使用することもできる。また、オープン補正を行うための具体的な構造も、要は一側測定ピン２５の先端面２５ａと他側測定ピン４５の先端面４５ａとの間にチップ部品１０１と一致する長さの空隙部５６を自動形成することができるものであれば、適宜の設計変更をすることが可能である。
【００３０】
【発明の効果】
以上述べたように本発明によれば、一側測定手段の側を退行方向に移動させて他側測定手段との間に空隙部を形成し、該空隙部にチップ部品を正しい方向に向けて定置させた上で、一側測定手段の側を自動復帰させることにより、迅速、かつ、簡単に測定作業に入ることができる。
【００３１】
また、一側測定ピンと他側端子ピンとは、引出し線を従動させることなく単独で移動できるので、引出し線の従動に由来する測定結果への好ましくない影響をなくすことができる。
【００３２】
しかも、一側測定部が備える一側測定ピンと他側測定部が備える他側測定ピンとがともに内在バネ材に付勢されて向き合っている場合には、一側測定ピンの側から仮にチップ部品が強く押し出されるようなことがあってもそのショックを他側測定ピンの側で吸収して柔らかく受け止めることができ、チップ部品が弾き飛ばされるようなことをなくすことができる。
【００３３】
さらに、高インピーダンス測定を行う際に必要となるオープン補正をチップ部品を利用して行うことができる構造が付与されているので、一側測定ピンの先端面と他側測定ピンの先端面との間にチップ部品と同等の長さの空隙部を形成して簡単に実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一例についての要部を示す斜視図。
【図２】本発明における測定機構の一例を示す要部縦断面図。
【図３】図２における一側測定手段の側を拡大して示す要部縦断面図。
【図４】本発明における一側測定部と他側測定部との構造を模式的に示す縦断面図。
【図５】本発明による一側測定ピンと他側測定ピンとの間へのチップ部品のセット手順を示す説明図。
【図６】本発明においてオープン補正を行う際の手順を示す説明図。
【図７】従来例を拡大して示す要部斜視図。
【符号の説明】
１１  測定器本体
１２  上面
２１  基台部
２２  測定機構
２３  一側測定手段
２４  一側測定部
２５  一側測定ピン
２５ａ  先端面
２６  掛止用段部
２７  内在バネ材
２８  支杆部
２８ａ  開放端部
２９  保持筒部
３０  保持部材
３１  ピンソケット部
３２  ソケット先端部
３３  摺動部
３４  突起部
３５  滑動部
３６  抓み部
３７  垂直前端面
３８  ストッパー部
３９  垂直当接面
４０，４１  バレル部
４３  他側測定手段
４４  他側測定部
４５  他側測定ピン
４５ａ  開放端部
４６  掛止用段部
４７  内在バネ材
４８  支杆部
４９  保持筒部
５０  保持部材
５２，５３  引出し線
５５  溝部
５６，５７  空隙部
１０１  チップ部品
１０２  一側端面
１０３  他側端面
１０４  稜角部
【図１】
0003935344.tif 000002
【図２】
0003935344.tif 000003
【図３】
0003935344.tif 000004
【図４】
0003935344.tif 000005
【図５】
0003935344.tif 000006
【図６】
0003935344.tif 000007
【図７】
0003935344.tif 000008