(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の照射ビーム源（A）と、該第１の照射ビーム源と所定の間隔で隔たり且つ該第１の照射ビーム源との間に対象（22）を位置させる第１の配列検出器と、第２の照射ビーム源（B）と、該第２の照射ビーム源と所定の間隔で隔たり且つ該第２の照射ビーム源との間に前記対象を位置させる第２の配列検出器と、を用い、
前記対象（22）の関心領域（23）を、前記第１及び第２の照射ビーム源で照射して該第１及び第２の照射ビーム源ならびに前記第１及び第２の配列検出器に対して相対的に回転走査し、逆ラドン変換を用いて前記関心領域の３次元像を再生する装置のためにビーム減衰データを予備処理する方法において、
前記第１の照射ビーム源（A）を前記関心領域の上側（3）を囲む上側走査通路（24）上に位置させ、前記第２の照射ビーム源（B）を前記関心領域の下側（5）を囲む下側走査通路（26）上に位置させ且つ前記第１の照射ビーム源と対向するよう位置させて、前記第１及び第２の照射ビーム源を連結した境界線（6）によって前記関心領域を分割する上下の同様形状のビーム投影により決定される、前記第１及び第２の配列検出器上の領域（44、54）内で収集したビーム減衰データだけを残すステップと、
前記残されたデータだけを処理し、逆ラドン変換による前記関心領域の３次元像を再生するステップと、を含む、ビーム減衰データを予備処理する方法。
【請求項２】
前記源がコーン・ビーム源である請求項１記載の方法。
【請求項３】
前記検出器の面が平面状の面である請求項１記載の方法。
【請求項４】
前記一部分の正確な３次元像を再生する為に、完全な１組のラドン・データが収集される請求項１記載の方法。
【請求項５】
対象（22）の関心領域（23）の正確な３次元像を再生する為にビーム減衰データを予備処理する装置において、
前記関心領域の上側（3）を囲む上側走査通路（24）上に位置する第１の照射ビーム源（A）と、
前記第１の照射ビーム源と所定の間隔で隔たり且つ該第１の照射ビーム源との間に対象（22）を位置させる第１の配列検出器と、
前記関心領域の下側（5）を囲む下側走査通路（26）上に位置し且つ前記第１の照射ビーム源と対向して位置する第２の照射ビーム源（B）と、
前記第２の照射ビーム源と所定の間隔で隔たり且つ該第２の照射ビーム源との間に前記対象を位置させる第２の配列検出器と、を備え、
前記装置は、前記関心領域を、前記第１及び第２の照射ビーム源で照射すると共に第１及び第２の照射ビーム源ならびに前記第１及び第２の配列検出器に対して相対的に回転させて走査し、
前記装置は更に、前記第１及び第２の照射ビーム源を連結することにより形成され且つ前記関心領域を分割する境界線（6）によって分割された上下の照射ビームに対応する、同様形状の上下のビーム投影によって決定される、前記第１及び第２の配列検出器上の領域（44、54）のビーム減衰データだけを収集し、残す手段と、
逆ラドン変換によって前記残されたデータを処理し前記関心領域の３次元像を再生する手段と、
を含む装置。
【請求項６】
前記ビーム源がコーン・ビーム源である請求項５記載の装置。
【請求項７】
前記面配列放射検出器が平面状配列放射検出器である請求項５記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の分野】
この発明は全般的に、コーン・ビーム源によって照射された対象の関心のある一部分又は特定の領域の３次元計算機式断層写真（３ＤＣＴ）像を正確に再生する為の十分で完全なデータ集合を収集する方法と装置に関する。更に具体的に云えば、この発明は、適当な面配列検出器の面上で確認された選ばれた領域内で収集されたデータだけを更に処理する為に残し、こうして逆ラドン変換によって正確な３Ｄ像を再生する為に行なう操作の数を大幅に減らして、コーン・ビーム減衰データを予備処理する方法と装置に関する。
【０００２】
【発明の背景】
特願平４−１６６５１２号には、コーン・ビーム源の視野の中で照射された対象の一部分の関心のある領域（region of interest）の作像を行なう方法と手段が記載されている。関心のある領域は、対象がコーン・ビーム源の視野の中に完全に囲い込まれる場合には、対象の選ばれた一部分であってよい。この代りに、対象全体が大きすぎてコーン・ビーム源によって全部照射することが出来ない時、対象の内、コーン・ビーム源の視野の中に入る部分だけが関心のある領域であってもよい。何れの場合でも、この関心のある領域が、関心のある領域を限定するのに役立つ２つの走査通路に沿った上限及び下限の所でコーン・ビーム照射源によって回転走査される。正確な像を再生する為の完全なラドン・データ集合が収集される様に保証する為、上側及び下側走査通路は、完全な走査軌跡となる様にする為に、その間の走査通路によって連結されている。コーン・ビーム減衰データが適当な面配列放射検出器によって収集される。源及び配列検出器は互いに固定であって、走査軌跡に沿った複数個の源位置に対し、検出器の面に於けるコーン・ビーム減衰データを収集する為に、関心のある領域を回転走査する。
【０００３】
像の正確な再生が確実に行なわれる様にする為、コーン・ビーム減衰データは、現実空間で対象の関心のある領域が占める視野に対応するラドン空間での所謂「支援領域」にわたってラドン空間を埋める様な形で収集しなければならない。この様に埋めることにより、逆ラドン変換過程によって、３ＤＣＴ像を完全に且つ正確に再生するのに十分なラドン・データが得られる。その時、ラドン空間に於ける核となる少なくとも所要数の必要なデータ点が選択的に残される。こう云うデータ点は、ラドン空間に於ける関心のある領域の作像に寄与する。逆ラドン変換によって得られる３ＤＣＴコーン・ビーム再生像は、数学的に点毎の逆変換方式を利用する。逆ラドン変換方式は本質的に大がゝりな計算を要する過程であって、関心のある領域の３Ｄ像の再生に寄与しないか或いは寄与があるとしても冗長である様なラドン・データ点を追跡すると、この過程は著しい負担を持つことになる。典型的には、ラドン空間全体にわたって収集された全てのデータを点毎の逆変換処理の為に無差別に残すか、対象を実際に通過する源ビームだけを表わすラドン・データの切取った部分集合を点毎の逆変換処理の為に選択的に残す。ラドン空間に於ける切取りの境界が、直接的な点毎の数学操作を適用するよりも一層容易な投影並びに／又は交差操作を使うことによって確認されるのが典型的である。
【０００４】
逆ラドン変換による典型的な３ＤＣＴ再生では、ビーム減衰検出器の線積分に対応する平面積分を計算し、ラドン空間内の個別のデータ点として構成する。ラドン・データ点がラドン空間に於ける平面の任意の集合に構成される。この時、各々の積分面を使って、ラドン空間に於ける１個のデータ点に対応するラドン微分を計算する。この様に個別に構成されたラドン・データ点が典型的に区切られ、対応する積分面が対象の関心のある領域と交差するかしないかに従って、選択的に残されるか又は廃棄される。ラドン空間は、その数学的な性格から、積分面、例えば平面積分に夫々対応する個別のラドン・データ点の集合である。関心のある領域と交差する各々の積分平面に対しては、ラドン微分、即ちラドン・データ点の対応する計算は、その平面と関心のある領域との交差の仕方に関係する。従って、ラドン空間に於ける支援領域の埋め方が適切であるかどうかは、一般的には、下記の様に、ラドン空間に於けるデータ点に寄与する積分平面を最初に区切ることによって評価される。
【０００５】
１．関心のある領域と交差しない積分平面
２．関心のある領域だけと交差する積分平面
３．関心のある領域と交差するが、その上又は下の領域の何れかとも交差し、但し両方とは交差しない積分平面
４．関心のある領域と交差すると共に、その上又は下の領域の両方とも交差する積分平面。
【０００６】
上記のケース１の場合、平面積分は常にゼロであり、従ってラドン微分を計算する必要がない。
ケース２の場合、ラドン微分は標準的な形で計算され、それ以上考慮の必要がない。これは、関心のある領域自体によるもの以外の寄与によって、ラドン・データが崩れることがないからである。
【０００７】
ケース３の場合、平面積分は前に引用した特願平４−１６６５１２号に従ってコーン・ビーム・データから計算される。この時、関心のある領域の外側から発したコーン・ビーム・データは、ラドン微分を計算する前にゼロに設定する。これにより、他の場合にはデータ集合を劣化させる様な余分の寄与がなくなる。
ケース４の場合は、ケース２及び３の場合を含んでいるので、取上げるものとしては最も一般的な場合である。ケース４の場合、ゼロにすることによっては十分ではない。それは、劣化させる様な寄与が、単に相加的に寄与するだけでなく、他の源位置からの寄与と包括的に協働して、その結果得られるラドン・データ集合の望ましくない劣化をもたらすからである。この場合、１つより多くの源位置から取出したコーン・ビーム・データから計算した結果を加算することによって、ラドン微分を求める。
【０００８】
この手順が、ケース４の場合のカテゴリーに属する典型的な積分平面１を示した図１に例示されている。平面１は、図面の平面であるが、“Ａ”と記した源位置２と、レベル３で上側走査通路と交差し、“Ｂ”と記した源位置４とはレベル５で下側走査通路と交差する。平面１の内、対象２２の関心のある領域１４と交差する部分が、点Ａ及びＢを連結してその間の共通の境界となる線６により、２つの部分的な平面に分割される。部分的な平面８で表わした上側部分に対するラドン微分が、レベル３にある上側境界と線６の間に限定された角度範囲内にある、源位置Ａで放出されたコーン・ビーム線から計算される。同様に、部分的な平面１２で示した下側部分に対するラドン微分が、レベル５の下側境界と線６の間に限定された角度範囲内にある、源位置Ｂで放出されたコーン・ビーム線から計算される。従って、関心のある領域１４の外側にある対象２２の部分、即ちレベル３の上側走査通路及びレベル５の下側走査通路を越えた所にあって、平面積分の計算を乱し、こうしてラドン微分を乱す様な部分による望ましくない寄与は、その通路が、レベル３の上側走査通路及びレベル５の下側走査通路によって区切られた範囲を越えて領域を横断する様な全てのコーン・ビーム・データを廃棄することによって除くことが出来る。対象の残りの部分並びに関心のある領域１４に入り込む源ビームは、関心のある領域だけに帰因するものではないコーン・ビーム・データとなり、即ち、ラドン・データ集合が乱れる。最初に積分平面を前に述べた場合に区分することによるラドン・データの操作は、こう云う望ましくない乱す様な寄与を除去する為の必要な前提条件とするのが典型的であった。この処理は、関心のある領域の正確な３Ｄ像を再生する為に、乱れていないが、それでも十分完全なラドン・データ集合が収集されることを保証する為に必要であった。
【０００９】
典型的には、不要なデータの切取りは、関心のある領域の正確な像を処理する為の十分なラドン・データ点が利用出来ることを保証する為に、ラドン空間内だけで行なわれていた。ラドン逆変換による再生像の処理のこの段階で切捨てを行なうことにより、時間、コンピュータ資源及び金銭が不要に浪費される。従って、前もってのカテゴリーへの分類並びに積分平面の操作を何等必要とせずに、像の処理を促進する為に、可能な最も速い機会に必要とする計算作業の数を減らすことが望ましい。
【００１０】
【発明の目的】
この発明の目的は、ラドン逆変換により、コーン・ビーム源によって照射された対象の関心のある領域の３ＤＣＴ像再生を、更に効率がよくて促進された形で実施することである。
この発明の別の目的は、適当な放射検出器配列の面で収集されたデータを選択的に残し、正確な像の再生に必要なデータだけを残すことによって、コーン・ビーム減衰データの予備処理を通じて、必要とするデータ処理を簡単にすることである。
【００１１】
この発明の別の目的は、特定のラドン・データ点に寄与する源位置の正確な数を記録しておく必要をなくすことである。
【００１２】
【発明の要約】
この発明は、逆ラドン変換過程を用いて、３Ｄ対象の関心のある領域の３Ｄ像を再生する為にコーン・ビーム減衰データを予備処理する方法と装置を対象とする。この方法は、互いに隔たった照射用のコーン・ビーム源と適当な配列放射検出器とを設けて、コーン・ビーム源の視野の中にある関心のある領域を照射する為に、対象の関心のある領域に対して回転走査を行なうことを含む。関心のある領域は、完全な走査軌跡となる様に連結走査通路によって結ばれた夫々上側及び下側走査通路を用いて、この領域の上限及び下限に沿って回転走査する。検出器の面の選ばれた領域を、上側及び下側走査通路の同様な投影の間に区切られた対象のコーン・ビーム投影として確認する。走査軌跡に沿った種々の走査位置に対し、コーン・ビーム減衰データを検出器の面で収集する。この選ばれた領域内で収集されたコーン・ビーム減衰データだけを更に処理する為に残す。この為、この選ばれた領域を正しく確認することにより、典型的な逆ラドン変換方式により、関心のある領域の正確な３Ｄ像を再生する為の処理に、関心のある領域自体を通過する時に減衰したコーン・ビームに対応するデータだけを残す。
【００１３】
この発明の新規な特徴は特許請求の範囲に具体的に記載してあるが、この発明の構成並びに内容は、以下図面について詳しく説明する所から、その他の目的並びに特徴と共に更によく理解されよう。
【００１４】
【発明の詳しい説明】
関心のある領域の典型的な像の再生には、１）前に述べた様な各々の積分平面の形式の確認、２）前述のケース４の場合の形式の各々の積分平面に対するラドン微分を計算するのに必要な、寄与を持つ各々の源位置に対するコーン・ビーム・データの角度範囲の決定、及び３）特定のラドン・データ点に寄与する源位置の正確な数の記録を必要とする。こゝで説明する発明は、像の再生の為のコーン・ビーム減衰データを、検出器配列の面で確認された選ばれた領域内で収集された検出器データだけを更に処理する為に残す様な形で予備処理することにより、他の場合には必要であった手順を省略することにより、特願平４−１６６５１２号に記載された一般的な方式を改良するものである。即ち、像の処理に必要な作業がずっと少なくなり、この結果、時間、金銭及びコンピュータ資源が節約される。
【００１５】
図１については前に説明した。
図２に対象２２を示すが、特定の領域２３が検査しようとする関心のある領域である。この領域は“Ｘ”と記されており、“Ｃ1 ”と記したそれを囲む上側走査通路２４と、“Ｃ2 ”と記したそれを囲む下側走査通路２６とによって区切られており、その間に連結走査通路（図に示してない）がある。例示の為、図では上側及び下側走査通路２４，２６は、関心のある円柱形領域２３を取囲む好ましくは円形のものとして示してある。上側走査通路Ｃ1 に沿った任意の源位置２を考えると、上側及び下側走査通路の配列検出器の面３２に対するコーン・ビーム投影が通路Ｃ1 及びＣ2 に対して夫々作用する投影演算子“Ｐ”によって示される。Ｐ（Ｃ1 ）が直線３４を投影し、Ｐ（Ｃ2 ）が放物線曲線３６を投影する。
【００１６】
図２及び３に示す様に、検出器の面３２の選ばれた閉じた領域４４が、投影演算子Ｍ及びＰが領域Ｘに作用して領域ＭＰ（Ｘ）を作ることゝして示されている。選ばれた閉じた領域４４は、この発明では、コーン・ビーム投影４２の、対象２２の検出器の面３２に対する交差を求めることによって確認され、この投影が線３４で示すＰ（Ｃ1 ）及び線３６で示すＰ（Ｃ2 ）によって区切られている。選ばれた投影領域４４は、配列検出器の面３２上でＭＰ（Ｘ）として表わされる。回転走査軌跡に沿った各々の位置に対し、コーン・ビーム・データを検出器配列の所で収集し、選ばれた領域４４内で収集されたコーン・ビーム減衰データだけを更に処理する為に残す。この発明によるこのデータ予備処理方法は、領域４４内で収集されたデータだけを処理することに相当し、この領域をこの明細書ではマスクされたコーン・ビーム像ＭＰ（Ｘ）と呼ぶ。マスク領域Ｍ  ３８内の配列検出器の面３２で検出されるビームは、数字２で示した源位置Ａから、上側走査通路Ｃ1 （したがって線３４）及び下側走査通路Ｃ2 （したがって線３６）によって限定された角度以内で放出されたビームによるものである。従って、こう云う２つの走査通路が関心のある領域２３を囲い込んでいるから、この内のあるビームが関心のある領域２３と交差する。従って、領域４４にあるマスクされたコーン・ビーム像ＭＰ（Ｘ）内の全てのビーム減衰データは、領域Ｘ以外の対象の部分による、対象２２の他の部分による汚染なしに、領域Ｘと確認された関心のある領域２３を実際に通過する。この様に確認された同等性に基づけば、明細書の冒頭に述べた様な区分けを使って、積分平面のカテゴリーの違いを区別する必要はもはやなくなる。従って、他の場合には必要とされるこの手順が、この発明では省略され、この結果、時間、金銭及びコンピュータ資源が節約される。
【００１７】
図４は源位置２及び関心のある領域２６と交差する任意の平面４６を示しており、この平面は、領域４４にあるマスクされたコーン・ビーム像ＭＰ（Ｘ）を通る“Ｌ”と記した線４８で示すように検出器配列の面３２とも交差している。線Ｌの内、数字３８で示したマスク領域Ｍ内にある部分４７は、数字２で示した源位置Ａから、前に図２に示した様に、数字２４で示した上側走査通路Ｃ1 及び数字２６で示した下側走査通路Ｃ2 によって限定された角度以内で放出されたビームに対応する。図１に戻って説明すると、この角度範囲は、図１の上側の部分的な平面８に対するラドン微分を計算する為に使われるコーン・ビーム検出器データと全く同じ角度範囲である。従って、領域４４に示したマスクされたコーン・ビーム像ＭＰ（Ｘ）をラドン微分の計算の入力として使うことにより、この他の余分な作業を何等必要とせずに、部分的な平面８に対するラドン微分が得られる。数字４８で示した線Ｌと数字３６で示した領域Ｍの下縁との間の交点が“Ｂ′”と記されており、これはまた数字４９で示してある。線ＡＢ′が数字２で示した源位置Ａを点Ｂ′と連結しながら、“Ｂ”と記した点４で下側走査通路Ｃ2 と交差する。
【００１８】
図５に示す様な同じ様な状況が存在する。この時、源は数字２６で示した下側走査通路Ｃ2 に沿って、数字４で示した位置Ｂにあり、数字５２で示した対応するマスクされた検出器領域Ｍ′が、数字５１で表わし、“Ａ′”と記した領域Ｍ′の上縁で、数字５３で示した線Ｋと交差する。線ＢＡ′が数字４で示した源位置Ｂを点Ａ′と連結しながら、“Ａ”と記した点２で上側走査通路Ｃ1 と交差する。源点Ｂを点Ａ′と連結する線ＢＡ′が、図４及び５の両方で、数字２で示したのと全く同じ源点Ａで数字２４で示した上側走査通路Ｃ1 と交差することを幾何学的に証明することが出来ることを看てとることが重要である。従って、線Ｋの内、領域Ｍ′の内側にある部分５４が、図１で云う部分的な平面１２を限定する。この様に確認された同等性の結果として、線Ｋの内、マスクされた検出器領域Ｍ′の内側にある部分のデータを使って計算されたラドン微分は、部分的な平面１２に対する値を生ずる。
【００１９】
この発明では、関心のある領域と交差する任意の積分平面の部分全体に対するラドン微分は、積分平面の各々の形式のカデゴリーに従って、事前に区分けすることに何等考慮を払わずに、上側及び下側走査通路に沿った位置Ａ及びＢに源がある時に計算された値を単に加算することによって自動的に得られる。この為、対象の関心のある領域の３Ｄ像を再生するのに使われるラドン・データ集合から、望ましくない乱す様な寄与分を取除く為に本来なら必要であった前提条件として、特願平４−１６６５１２号に記載されている様な積分平面の区分けがいらなくなる。この為、この発明では、必要とする計算作業が一層少なくなり、時間、金銭及びコンピュータ資源の節約になる。
【００２０】
関心のある領域と交差すると共に、上側及び下側走査通路とも交差し、従ってそのラドン微分が上側及び下側走査のコーン・ビーム・データから計算される様な任意の平面に対しては、２つの可能性がある。即ち、１）平面が上側及び下側走査通路の両方と交差するか、又は２）平面が上側又は下側走査通路の何れかと交差するが、両方とは交差しない。図６はこの内の１）の場合を示し、平面４６が数字２４で示した上側走査通路Ｃ1 と２つの位置、即ち、点５６にあるＡ1 及び点５８にあるＡ2 で交差すると共に、数字２６で示した下側走査通路Ｃ2 と２つの位置、即ち点６２にあるＢ1 と点６４にあるＢ2 で交差する。点５６にある位置Ａ1 で計算された結果と、点６４にある位置Ｂ2 で計算された結果との和が、関心のある領域と交差する平面４６の部分に対するラドン微分に等しい。同様に、点５８にある位置Ａ2 で計算された結果と点６２にある位置Ｂ1 で計算された結果との和が、平面４６の内、関心のある領域と交差する部分に対するラドン微分に等しい。従って、４つの源位置（Ａ1 ，Ａ2 ，Ｂ1 ，Ｂ2 ）の全てゞ計算された結果の和が、所望の結果の２倍に等しく、従って２の正規化係数で除さなければならない。図７は２）の場合を示しており、平面４６が２つの位置、即ち点６６にあるＡ1 と点６８にあるＡ2 で、上側走査通路Ｃ1 と交差する。平面４６は数字２６で示した下側走査通路Ｃ2 と交差しない。従って、平面４６が検出器配列の面３２とどこで交差するかを表わす線Ｌは、曲線Ｐ（Ｃ2 ）とは交差せず、従って、マスク領域Ｍの範囲内にある線Ｌの部分からの計算により、関心のある領域と交差する平面４６の部分全体に対するラドン微分が得られる。これは、源位置Ａ1 に対して成立すると共に、点６８にある位置Ａ2 についても成立する。従って、両方の源位置からの合計の結果は、所望の結果の２倍に等しく、その和を２の正規化係数で除すだけでよい。この為、ラドン微分が上側及び下側走査通路上の源位位置から計算される全ての場合に対し、同じ正規化係数、即ち、２を用いる。この発明では、各々のラドン点に対し、上側及び下側走査通路に沿った源位置から計算された全ての結果の和は、同じ正規化係数２によって正規化することが出来る。この為、他の場合に要求される記録をとると云うもう１つのレベルが、この発明では不要であることが証明されたことにより、時間、金銭及びコンピュータ資源が更に節約される。
【００２１】
従って、コンピュータ資源及び処理時間を消費する上に述べた様なものを含めて、他の場合に必要であった手順が配列検出器の面自体で提供された最も速い機会にビーム減衰データを予備処理することを通じて、効果的に除かれたことを示した。この予備処理は、検出器配列の面上の選ばれた領域を、同じ様に投影された上側及び下側走査通路の間に区切られた対象のコーン・ビーム面投影として確認し、この領域内で収集されたデータだけを更に処理する為に残すことで構成されている。
【００２２】
この発明の特定の実施例を図面に示して説明したが、当業者にはいろいろな変更が考えられよう。従って、特許請求の範囲は、この発明の範囲内に属するこの様な全ての変更を包括するものであることを承知されたい。
【図面の簡単な説明】
【図１】特願平４−１６６，５１２号に記載された様にして、４の場合の形式の平面に対し、上側及び下側の源位置に夫々対応する部分的な積分平面の寄与を示す典型的なラドン微分を計算するための方式を示す平面図。
【図２】上側及び下側走査通路の夫々のコーン・ビーム投影の間に定めた対象のコーン・ビーム投影の交差によって形成された、配列検出器の面に於ける選ばれた閉じた領域のこの発明による定め方を示す斜視図であって、この選ばれた領域内で収集されたデータだけが一層の像処理の為に残される。
【図３】図２の配列検出器の面に於ける選ばれた閉じた領域を定める方法を示す説明図。
【図４】部分的な平面の寄与に対するラドン微分を釣合わせる為の従来の条件を示す斜視図であり、この発明によれば、これが不要になる。
【図５】部分的な平面の寄与に対するラドン微分を釣合わせる為の従来の条件を示す斜視図であり、この発明によれば、これが不要になる。
【図６】特定のラドン点に寄与する源位置の正確な数を記録しておく従来の条件を示す斜視図であり、この発明ではこれが不要になる。
【図７】特定のラドン点に寄与する源位置の正確な数を記録しておく従来の条件を示す斜視図であり、この発明ではこれが不要になる。
【符号の説明】
２，４  源位置
２２  対象
２３  関心のある領域
２４  上側走査通路
２６  下側走査通路
３２  検出器の面
４４  選ばれた領域
【図１】
0003901741.tif 000002
【図２】
0003901741.tif 000003
【図３】
0003901741.tif 000004
【図４】
0003901741.tif 000005
【図５】
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【図６】
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【図７】
0003901741.tif 000008