(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＣＡＤシステムにて使用される異なるデータフォーマット間で寸法図形と寸法測定に必要な寸法要素とを含む図面データを中間フォーマットを介して変換するに際し、前記中間フォーマットに変換された図面データに含まれる寸法図形について位相的及び幾何学的に分析しながら、前記寸法図形内の寸法線の傾き及びこれを含む直線上の点並びに前記寸法図形内の２つの寸法補助線の始点を求め、これらの点及び傾きに基づいて前記中間フォーマット上の寸法要素を再構築するようにしたことを特徴とする図面ファイルの中間フォーマットへの変換方法。
【請求項２】
前記寸法図形の分析処理は、
前記寸法図形内の辺と対をなす線分の角度及び２つの端点の座標並びにこれらの接続関係を記録する第１のステップと、
前記端点が重複する場合には重複する点を１つの点に置き換え、前記線分を無限長にしたものが重複する場合には重複する線分を１つの線分に置き換える第２のステップと、
前記寸法図形内の端末記号と対をなす前記線分及び端点を１つの頂点に置き換えながら前記寸法図形内の閉図形と対をなす前記線分及び端点を消去する第３のステップと、
この第３のステップで得られた頂点並びに前記第２のステップで得られた線分及び端点に基づいて前記寸法図形内の寸法線及び２つの寸法補助線を判定し当該寸法線の傾き及びこれを含む直線上の点を求める第４のステップと、
前記寸法補助線の始点を求める第５のステップと
を備えたことを特徴とする請求項１記載の図面ファイルの中間フォーマットへの変換方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、寸法の測定機能を有するＣＡＤ（Computer Aided Design）システム等において、異なるデータフォーマット間で図面データを変換する際、中間フォーマットの寸法線の絵（以下、寸法図形という。）について位相的及び幾何学的に分析処理を行う図面ファイルの中間フォーマットへの変換方法に関し、特に寸法再計測時に必要な測定情報がフォーマット通りでない場合に最適な図面ファイルの中間フォーマットへの変換方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
ＣＡＤシステムは、その利用用途、機能、価格を比較検討して、ユーザが自由に選択することができる。その結果、市場には数多くのＣＡＤが流通しているが、これらのデータに互換性はない。そこで、実際に異なるＣＡＤ間で図面データを変換する場合には、中間フォーマットと呼ばれる共通のデータフォーマットが必要となる。中間フォーマットには、ＤＸＦ、ＢＭＩ、ＩＧＥＳ、ＳＴＥＰ等が存在するが、２次元設計では、ＤＸＦが主流となっている。ＤＸＦは、ＡｕｔｏＤｅｓｋ社のＡｕｔｏＣＡＤ（商標）によって使用されているＣＡＤ図面変換用の中間フォーマットであり、現在、各種ＣＡＤ間での図面データ変換で汎用的に用いられている。
【０００３】
ところで、このような図面データ内部のデータ構造には、寸法線の測定情報が座標や数値データで含まれているが、寸法線のデータ形式には、データ読み込み時の寸法線コマンド操作に応じて、寸法の測定機能を持たないものと、寸法の測定機能を持つもの（以下、自動調整寸法という。）とがある。前者は、ＤＸＦにおいては、寸法線、寸法補助線、矢印図形及び寸法文字をそれぞれライン、ソリッド（塗り潰し図形）、テキスト等の別々の図形で記述するデータ形式である。この場合には、寸法線、寸法補助線、矢印図形及び寸法文字に関するデータは、受け取ったＣＡＤ上でも、単なる図形として処理される。一方、後者は、ＤＸＦにおいては、寸法複合図形と寸法要素とが対になったデータ形式である。寸法複合図形は、寸法図形を構成する図形要素の集合である。寸法要素は、寸法再計測時に必要な測定情報を持つディメンジョン要素であり、その主な測定情報は、図２４（ａ）に示すように、寸法線上又はその延長線上の任意の点Ｐ１の座標、２つの寸法補助線の始点Ｐ２，Ｐ３の座標及び点Ｐ１を通る寸法線の傾き（以下、角度という。）θである。このような自動調整寸法で記述されたデータは、受け取ったＣＡＤのデータフォーマットに変換される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述した自動調整寸法を含む図面ファイルをＤＸＦファイルに変換した場合、寸法複合図形それ自体は正しく作成されていても、ＣＡＤによっては、始点Ｐ２や角度θが無かったり、点Ｐ３がずれているなどの問題がある寸法要素データが作られることがある。このため、そのようなＤＸＦファイルを読み込んだＣＡＤが、測定機能を持たないもの（単なる絵）を作る分には支障無いが、測定機能を持つ寸法線を作ろうとすると、読み込みエラーになったり、あるいは図２４（ｂ）及び（ｃ）に示すように、読み込み時や、その後の寸法再計測時に寸法線が変形してしまうという問題がある。
また、寸法複合図形の中の図形要素は、どの図形要素が寸法図形のどの部分（例えば、寸法線、寸法補助線、端末記号、引き出し線、参照寸法ボックス）を表すかの情報は持っておらず、書き順もＣＡＤによってまちまちであるため、寸法複合図形だけが正しく作成されていても、寸法要素が本来持つべきであった点や角度は求められない。
【０００５】
この発明は、このような問題点に鑑みなされたもので、中間フォーマットの寸法図形について位相的及び幾何学的に分析処理を行うことにより、正しい測定情報を得ることができる図面ファイルの中間フォーマットへの変換方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る図面ファイルの中間フォーマットへの変換方法は、ＣＡＤシステムにて使用される異なるデータフォーマット間で寸法図形と寸法測定に必要な寸法要素とを含む図面データをＤＸＦ等の中間フォーマットを介して変換するに際し、前記中間フォーマットに変換された図面データに含まれる寸法図形について位相的及び幾何学的に分析しながら、前記寸法図形内の寸法線の傾き及びこれを含む直線上の点並びに前記寸法図形内の２つの寸法補助線の始点を求め、これらの点及び傾きに基づいて前記中間フォーマット上の寸法要素を再構築するようにしたことを特徴とする。
【０００７】
より具体的には、前記寸法図形の分析処理が、前記寸法図形内の辺と対をなす線分の角度及び２つの端点の座標並びにこれらの接続関係を記録する第１のステップと、前記端点が重複する場合には重複する点を１つの点に置き換え、前記線分を無限長にしたものが重複する場合には重複する線分を１つの線分に置き換える第２のステップと、前記寸法図形内の端末記号と対をなす前記線分及び端点を１つの頂点に置き換えながら前記寸法図形内の閉図形と対をなす前記線分及び端点を消去する第３のステップと、この第３のステップで得られた頂点並びに前記第２のステップで得られた線分及び端点に基づいて前記寸法図形内の寸法線及び２つの寸法補助線を判定し当該寸法線の傾き及びこれを含む直線上の点を求める第４のステップと、前記寸法補助線の始点を求める第５のステップとを備えたことを特徴とする。
【０００８】
また、この発明は、上記方法をコンピュータに実行させるためのプログラムが記述されたコンピュータが読取可能な記憶媒体（ＣＤ−ＲＯＭ、フロッピーディスク等）であることを特徴とする。
【０００９】
この発明に係る図面ファイルの中間フォーマットへの変換方法によれば、異なるデータフォーマット間で図面データを変換するに際し、中間フォーマットに変換された図面データに含まれる寸法図形について位相的及び幾何学的に分析しながら、前記寸法図形内の寸法線の傾き及びこれを含む直線上の点並びに前記寸法図形内の２つの寸法補助線の始点を求めるので、フォーマット通りの正しい測定情報を得ることができる。
【００１０】
より具体的には、前記寸法図形内の辺と対をなす線分の角度及び２つの端点の座標並びにこれらの接続関係と、前記寸法図形内の端末記号と対をなす頂点とに基づいて前記寸法図形内の寸法線及び２つの寸法補助線を判定することにより、前記寸法線の傾き及びこれを含む直線上の点並びに前記寸法補助線の始点をそれぞれ求めることができる。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して、この発明の実施の形態を説明する。
図１は、この発明の一実施例に係る図面ファイルの中間フォーマットへの変換方法を適用したＣＡＤシステムの構成を示すブロック図である。
【００１２】
このシステムには、キーボード、マウス等の入力装置１を介して入力された図面データと、図示しない他のＣＡＤシステムからＬＡＮ等を介して入力された図面データとが、ハードディスク等の記録装置２に記録される。記録された図面データが異なるデータフォーマットである場合には、ＣＰＵ３は、その図面データをＲＡＭ４に一旦格納し、記録装置２にインストールされたファイル変換プログラムとＲＯＭ５に書き込まれたマイクロプログラムとに従って中間フォーマットであるＤＸＦを介し図面データに含まれる寸法図形の形状について分析を施しながら再計測時に必要な測定情報Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，θを求めて、データ変換を実行する。図形分析の対象は、長さ寸法線（直径寸法線を含む。）及び角度寸法線であり、これらはメタ図形データベースとして記録装置２に記録される。メタ図形データベースは、寸法図形の形状を位相的及び幾何学的に分析するため、位相データと幾何学データとから構成される。位相データは、ある点がどの辺の端点であるか及びある辺の端点がどの点であるかを表し、重複点を１点、多重辺を１辺とするように構成されている。また、幾何学データは、位相データで表された点の座標（Ｘ，Ｙ）及び辺の角度θを表すように構成されている。なお、記録装置２に記録された図面データは、自動調整寸法に基づきディスプレイ、プリンタ及びプロッタ等の出力装置６を介して画像出力される。
【００１３】
図２は、メタ図形データベースの一例を示す図である。
このデータベースには、幾何学データとして、寸法複合図形内の辺ＬＩＮＥ、ＰＯＬＹＬＩＮＥ、ＳＯＬＩＤ及び３ＤＬＩＮＥと対をなすメタラインＬ１〜Ｌ８の角度θと、この線分の２つの端点（端点についてだけ注目すれば寸法図形の形状を分析できるため、交点は除く。）と対をなすメタ点ｐ１〜ｐ１６の座標（Ｘ，Ｙ）と、後述する寸法複合図形内の端末記号ＩＮＳＥＲＴ（複合図形配置）、ＣＩＲＣＬＥ（円）及びドーナツ（特殊なＰＯＬＹＬＩＮＥ）等と対をなすメタ端末の頂点（Ｘ，Ｙ）とが記録される。また、このデータベースには、位相データとして、メタラインＬ１〜Ｌ８及びメタ点ｐ１〜ｐ１６の接続関係が記録される。
【００１４】
次に、このように構成されたＣＡＤシステムにおける寸法図形分析処理について説明する。
図３は、ＣＰＵ３による図面ファイルの変換方法の手順を示すフローチャートである。
まず、ＣＰＵ３は、入力装置１の操作によって、ＤＸＦに変換された図面データを読み込み（Ｓ１）、この図面データに含まれる寸法図形について位相的及び幾何学的に分析処理を実行する（Ｓ２）。次に、ＣＰＵ３は、寸法図形分析によって求められた測定情報Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，θを用いて、ＤＸＦの寸法要素を再構築する（Ｓ３）。
【００１５】
図４は、ＣＰＵ３による寸法図形分析方法の手順を示すフローチャートである。
まず、以下に述べる初期化処理を実行する（Ｓ１１）。即ち、ＣＰＵ３は、図２に示すように、寸法複合図形内のＤＸＦ要素である頂点座標（Ｘ，Ｙ）をメタ点ｐｉ、これらのうちの２点を結ぶ角度θの線分をメタラインＬｉとしてメタ図形データベースに登録する。このとき、ＩＮＳＥＲＴ、ＣＩＲＣＬＥ及びドーナツは、メタ端末としてメタ図形データベースに登録される。次に、ＣＰＵ３は、重複点を１点に、多重辺を１辺にそれぞれ置き換え、メタラインＬｉの長さを無限長にしたときに重なり合うメタラインＬｉを１本に統合する（Ｓ１２）。続いて、ＣＰＵ３は、メタ図形データベース上に寸法図形の骨格のメタラインだけを残すため、端末記号や閉図形を分離して除去する（Ｓ１３）。このとき、端末記号は、メタ端末としてメタ図形データベースに登録し直される。続いて、ＣＰＵ３は、寸法線及び寸法補助線を判定するため、分離された端末記号の数に応じて、端末記号に基づく形状分析処理及び交点コードに基づく形状分析処理をそれぞれ実行する（Ｓ１４）。この結果、寸法線上又はその延長上の任意の点Ｐ１とこの寸法線の角度θとが求められるが、ＣＰＵ３は、形状分析によって寸法補助線と判定された２つのメタラインＬｉの両端点のうち、それぞれどちらが始点Ｐ２，Ｐ３であるか判定する（Ｓ１５）。
【００１６】
図５は、上述した重複点の消去処理及び多重辺の消去・メタラインの統合処理（Ｓ１２）の詳細を示すフローチャートである。
即ち、重複点の消去処理では、ＣＰＵ３は、まず、図６に示すように、メタ点ｐｉをＸ値について昇順ソートし、Ｘ値の同じメタ点ｐｉを同一の項目Ｘｓ（ｓ＝１，２，…）に分類する（Ｓ２１）。次に、ＣＰＵ３は、メタ点ｐｉをＹ値について昇順ソートし、Ｙ値の同じメタ点ｐｉを同一の項目Ｙｔ（ｔ＝１，２，…）に分類する（Ｓ２２）。続いて、項目Ｘｓに属するメタ点ｐｉと項目Ｙｔに属するメタ点ｐｉとで同じものがあれば、ＣＰＵ３は、項目Ｘｓ＊Ｙｔにメタ点ｐｉを移す（Ｓ２３）。これにより、図２の場合には、図６に示すマトリクスが得られる。続いて、同一の項目に属するメタ点があれば、Ｘ値もＹ値も同じ重複点であるため、ＣＰＵ３は、１点を残して他の点を消去する（Ｓ２４）。従って、図６の場合には、メタ点ｐ３，ｐ５，ｐ７とメタ点ｐ１０，ｐ１２，ｐ１４とが重複点であり、メタ点ｐ５，ｐ７，ｐ１２，ｐ１４を消去することにより、重複点はメタ点ｐ３，ｐ１０にそれぞれ置き換えられる。
【００１７】
また、多重辺の消去・メタラインの統合処理では、ＣＰＵ３は、図７に示すように、メタラインＬｉを角度θについて昇順ソートし、角度の同じメタラインＬｉを同一の項目θｓ（ｓ＝１，２，…）に分類する（Ｓ２５）。このとき、θとθ＋１８０°とは同じとみなす。次に、ＣＰＵ３は、メタラインＬｉをＹ切片（θ＝９０°の場合にはＸ切片を用いる。）について昇順ソートし、Ｙ切片の同じメタラインＬｉを同一の項目Ａｔ（ｔ＝１，２，…）に分類する（Ｓ２６）。続いて、項目θｓに属するメタラインＬｉと項目Ａｔに属するメタラインＬｉとで同じものがあれば、ＣＰＵ３は、項目θｓ＊ＡｔにメタラインＬｉを移す（Ｓ２７）。このとき、メタラインＬｉの端点として使われなくなったメタ点ｐｉは削除される。これにより、図２の場合には、メタ点ｐ１を原点としてＹ切片を定めると、図７に示すマトリクスが得られる。続いて、同一の項目に属するメタラインがあれば、角度θもＹ切片も同じ多重辺又は統合可能なメタラインであるため、ＣＰＵ３は、統合可能なメタラインが持つメタ点群のうち２点間の距離が最大になるものを新たなメタラインの２つの端点として、多重辺の消去又はメタラインの統合を実行する（Ｓ２８）。従って、図７の場合には、メタラインＬ４，Ｌ５が統合可能なメタラインであり、メタ点群はｐ３，ｐ８，ｐ９，ｐ１０になる。統合可能なメタラインＬ４，Ｌ５の角度はθ＝０°であるため、メタ点群ｐ３，ｐ８，ｐ９，ｐ１０のうち２点間の距離が最大になるものとしてＸ値の最大点ｐ３とＸ値の最小点ｐ１０とが選ばれ、統合可能なメタラインＬ４，Ｌ５は一本のメタラインに統合される。また、寸法図形が一筆書きされている場合、即ち図８の場合には、メタラインＬ３，Ｌ４、メタラインＬ５，Ｌ６などが多重辺であり、例えばメタラインＬ４を消去することにより、多重辺はメタラインＬ３に置き換えられる。
このような処理により、メタ図形データベースは、図９に示すものとなる。ここで、ｍｐｉはメタ点、ｍＬｉはメタラインをそれぞれ表している。
【００１８】
図１０は、上述した端末記号及び閉図形の一例を示す図、図１１は、これらの分離処理（Ｓ１３）の詳細を示すフローチャートである。なお、図１０では、メタ点をＶ１、メタラインをｅｉでそれぞれ表している（以下、後述するものについても同様とする。）。
寸法図形では、図１０に示すように、端末記号の部分で辺や点の個数が多くなっている。この端末記号には、ＬＩＮＥ、ＰＯＬＹＬＩＮＥ、ＳＯＬＩＤ及び３ＤＬＩＮＥによる矢（開矢と閉矢とがある。以下、この矢を表す２つのメタラインをＶ字ラインという。）以外に、ＣＩＲＣＬＥ等による丸、線による正ｎ角形、ＩＮＳＥＲＴによる任意図形等があり、幾何学データを複雑化させる原因となる。
【００１９】
そこで、メタラインＬｉが別のメタラインＬｊに端点で接続していれば、ＣＰＵ３は、そのメタラインＬｊに移る（Ｓ３１）。以下、移動先のメタラインＬｉについて同様の処理を実行し（Ｓ３１）、元のメタラインＬｉに戻ったら（Ｓ３２）、ＣＰＵ３は、閉図形としてどのようなものであるか判定する（Ｓ３３）。判定の結果、正４角形、矩形、互いに辺の長さ（以下、辺長という。）の異なるｎ角形などの端末記号になりえない閉図形であれば、ＣＰＵ３は、そのまま除去処理を実行する（Ｓ３４）。また、正ｎ角形（ｎ＝３，ｎ≧５）や二等辺三角形などの端末記号形状であれば、ＣＰＵ３は、これをメタ端末としてメタ図形データベースに登録し直した後、除去処理を実行する（Ｓ３５）。
【００２０】
図１２は、閉図形の判定処理の詳細を示すフローチャート、図１３は、この判定を説明するための図である。
まず、ＣＰＵ３は、最初のメタラインＬｉの辺長Ｒ及び角度θｉを記憶する（Ｓ４１）。以下、最初のメタラインＬｉに戻るまで、ＣＰＵ３は、辺の数ｎをカウントしながら、閉図形を構成する別のメタラインＬｊの辺長Ｒ及び角度θｊと比較する（Ｓ４２）。このとき、閉図形を構成するメタ点ｐｉに、３本以上のメタラインＬｊが接続していれば、辺長ＲとメタラインＬｊ同士のなす角度（以下、辺間角度という。）αとが直前の値に等しいメタラインＬｊを探して、等しいメタラインＬｊがあればそれを次の辺とし、無ければ図形分析を中止する。比較の結果、閉図形のすべての辺長Ｒが同じで、辺間角度αも同じであれば、正ｎ角形と判定する。また、辺長は異なるがｎ＝４で辺間角度αがすべて同じならば矩形と判定し、分析対象から除外する。その他の閉図形については、ｎ＝３ならば後述の端末記号の除去に処理を委ね、ｎ≧４ならば通常の寸法線には現れない形であるため、図形分析を中止する（Ｓ４３）。
【００２１】
図１４は、端末記号の除去処理の詳細を示すフローチャートである。
まず、ＣＰＵ３は、接続する辺の数が２以上のメタ点ｐｉについてそれを頂点としたメタラインＬｉで２本の長さが等しいものが何組あるか調べる（Ｓ５１）。１組ならば（Ｓ５２）、Ｖ字ラインとみなしてメタ端末として追加し、このＶ字ラインを除去し、底辺のラインがあればそれも除去する（Ｓ５３）。一方、２組以上ならば（Ｓ５２）、頂点からそれぞれの底辺の中点へ向かう単位ベクトルを求める（Ｓ５４）。すべての単位ベクトルが同じならば（Ｓ５５）、入れ子状のＶ字ラインとみなして、最大頂角を持つＶ字ラインをメタ端末１個として追加し、頂点を共有するＶ字ラインを除去する（Ｓ５３）。なお、頂点を通り且つ等しくない単位ベクトルがあれば（Ｓ５５）、図形分析を中止する。
【００２２】
図１５は、上述した端末記号に基づく形状分析処理及び交点コードに基づく形状分析処理の詳細を示すフローチャートである。
上記の端末記号及び閉図形の分離処理によって求まった端末記号が２個ならば（Ｓ６１）、ＣＰＵ３は、その両方の頂点を通過するメタラインＬｉを寸法線、一方の頂点だけを通過するメタラインＬｉを寸法補助線とそれぞれ判定する（Ｓ６２）。このとき、端末記号の頂点には、複合図形では配置位置、正ｎ角形（ｎ≧５）では重心、Ｖ字ラインでは二等辺三角形の場合なら底辺に対向する頂点、正三角形の場合なら重心を仮の頂点として寸法線に最も近い頂点、ＣＩＲＣＬＥ及びドーナツでは中心がそれぞれ選ばれる。一方、端末記号が１個以下ならば、すべてのメタラインＬｉを延長して、交点Ｃｉを求める（Ｓ６３）。交点Ｃｉを通るメタラインにとってその交点Ｃｉが端点であれば交点コード“１”を、内分点であれば交点コード“２”を、外分点であれば交点コード“３”をそれぞれ記録する（Ｓ６４）。従って、図１６（ａ）の場合には、図１６（ｂ）に示す交点接続表が得られる。
【００２３】
ところで、寸法図形には、２つの寸法補助線同士が平行であるという性質と、寸法線が寸法補助線を内分するという性質とがある。このため、これらの性質と交点接続表とを利用することにより、形状分析することができる。
即ち、図１６に示すように、２本の平行なメタラインｅ１，ｅ３上で交点コード“２”を持つ交点Ｃ１，Ｃ２は、メタラインｅ１，ｅ３を結ぶメタラインｅ２上の点でもあるので、それぞれ平行なメタラインｅ１，ｅ３を寸法補助線、これらを結ぶメタラインｅ２を寸法線と判定する（Ｓ６５）。このとき、図１７に示すように、２組の平行なメタラインｅ１，ｅ３とｅ２，ｅ５とがあっても、上記と同様の条件を判定することによりメタラインｅ１，ｅ３を寸法補助線、メタラインｅ２を寸法線と判定することができる。また、図１８に示すように、寸法線であるメタラインｅ２にとって交点コードが“２”である交点Ｃ２において、その部分の寸法線は外寸と判定する。同様に、寸法線であるメタラインにとって交点コードが、図１６に示すように“３”、又は図１７に示すように“１”である交点において、その部分の寸法線は内寸と判定する。なお、図１９（ａ）及び（ｂ）に示すように、２つの平行なメタラインがない理由の１つとして、寸法線補助線が１本非表示である場合と、寸法線補助線が２本非表示である場合とが考えられる。この場合、図１９（ｃ）に示すように、方向性を持つ端末記号が１個あれば、それによって寸法線と寸法補助線とを区別することができる。端末記号が無いか、１個あっても方向性が無い場合は、どちらの線が寸法線か寸法補助線かの区別ができないため、図形分析を中止する。一方、図２０に示すように、交点コード“２”で結ぶメタラインがない理由の１つとして、寸法線が非表示である場合が考えられる。この場合、方向性を持つ端末記号が１個あれば、それによって寸法線の位置や向きを区別することができる。端末記号が無いか、１個あっても方向性が無い場合は、図１９（ｂ）に示すときか図１９（ｃ）に示すときかの区別ができないため、図形分析を中止する。
このような処理により、寸法線上又はその延長上の任意の点Ｐ１の座標（Ｘ１，Ｙ１）とこの寸法線の角度θとをそれぞれ求めることができる。
【００２４】
図２１は、上述の判定によって区別された寸法補助線に対して、引き続き行う始点判定処理の詳細を示すフローチャートである。
まず、ＣＰＵ３は、端末記号の頂点からその点を通る寸法補助線の端点までの距離を求め（Ｓ７１）、同一の距離でない端点の組み合わせがあるか調べる（Ｓ７２）。同一の距離でない端点の組み合わせがあれば（Ｓ７２）、ＣＰＵ３は、その組み合わせを寸法補助線の始点と判定する（Ｓ７３）。従って、図２２（ａ）の場合には、端末記号の頂点Ｖ３から端点Ｖ１への距離と端末記号の頂点Ｖ４から端点Ｖ５への距離とが同一であり、頂点Ｖ３から端点Ｖ２への距離と頂点Ｖ４から端点Ｖ６への距離とが異なるため、端点Ｖ２と端点Ｖ６とが寸法補助線の始点と判定される。
【００２５】
一方、同一の距離でない端点の組み合わせがなければ（Ｓ７２）、ＣＰＵ３は、遠方にある端点の組み合わせがあるか調べる（Ｓ７４）。遠方にある端点の組み合わせがあれば（Ｓ７４）、ＣＰＵ３は、その組み合わせを寸法補助線の始点と判定する（Ｓ７３）。従って、図２２（ｂ）の場合には、端末記号の頂点Ｖ３から端点Ｖ１への距離と端末記号の頂点Ｖ４から端点Ｖ５への距離とが同一であり、頂点Ｖ３から端点Ｖ２への距離と頂点Ｖ４から端点Ｖ６への距離とも同一であるが、端点Ｖ２，Ｖ６が端点Ｖ１，Ｖ５より遠方にあるため、端点Ｖ２と端点Ｖ６とが寸法補助線の始点と判定される。なお、図２２（ｃ）に示すように、遠方にある端点の組み合わせがなければ（Ｓ７４）、寸法図形としての分析は不可能であるため通常の図形として変換処理を実行する（Ｓ７５）。
このような処理により、２つの寸法補助線の始点Ｐ２，Ｐ３の座標（Ｘ２，Ｙ２）、（Ｘ３，Ｙ３）を求めることができる。
【００２６】
この実施例によれば、寸法要素の測定情報がフォーマット通りでない、即ち図２４（ｂ）及び（ｃ）に示すように、寸法補助線の始点Ｐ２がなかったり、更に寸法線の角度がない等の場合でも、寸法複合図形に含まれる図形要素ついて位相的及び幾何学的に分析しながら、フォーマット通りの正しい測定情報Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，θを得ることができ、一般のＣＡＤのように、読み込みエラーになったり、読み込み後の寸法再計測時に寸法線が変形するといったことは生じない。
【００２７】
また、この実施例は、ＤＸＦ寸法要素が持つ測定情報だけでなく、ＤＸＦ以外の寸法線要素が一般的に持つ情報、即ち端末記号についてはサイズ、種類、向き（内寸／外寸）、寸法線についてはその有無や平行引き出しの場合の引き出し長及び寸法補助線についてはその有無をそれぞれ求めるようにすれば、これらの情報もデータ変換することが可能となる。
【００２８】
なお、上述した実施例では、寸法図形が長さ寸法線に関するものである場合について説明したが、寸法図形が角度寸法線に関するものである場合についても適用することができる。この場合、寸法線は円弧であるため、中心点と半径とに基づいて統合する。また、図２３に示すように、寸法補助線に直角な軸方向を持つＶ字ライン１１の中心角を６０°にして中心角６０°の角度寸法線が書かれると、２つのＶ字ライン１１のうちの１辺がそれぞれ一直線上になり、一本のメタラインに統合されてしまうため、角度寸法線における多重辺の消去やメタラインの統合は、間隙のあるメタライン同士について行わないようにするとよい。
【００２９】
【発明の効果】
以上述べたように、この発明によれば、異なるデータフォーマット間で図面データをＤＸＦ等の中間フォーマットを介して変換するに際し、寸法要素と寸法複合図形とに変換されたデータに含まれる図形要素について位相的及び幾何学的に分析しながら、前記寸法図形である寸法線を含む直線上の点、前記寸法図形である２つの寸法補助線の始点及び前記寸法線の傾きを求めることにより、フォーマット通りの正しい測定情報を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  この発明の一実施例に係る図面ファイルの中間フォーマットへの変換方法を適用したＣＡＤシステムの構成を示すブロック図である。
【図２】  メタ図形データベースの一例を示す図である。
【図３】  ＤＸＦ寸法の変換処理を示すフローチャートである。
【図４】  寸法図形分析方法の手順を示すフローチャートである。
【図５】  重複点の消去処理及び多重辺の消去・メタラインの統合処理の詳細を示すフローチャートである。
【図６】  重複点の消去を説明するための図である。
【図７】  多重辺の消去及びメタラインの統合を説明するための図である。
【図８】  一筆書きされた寸法図形のメタ図形データベースを示す図である。
【図９】  重複点・多重辺の消去及びメタラインの統合後のメタ図形データベースを示す図である。
【図１０】  端末記号及び閉図形の一例を示す図である。
【図１１】  端末記号及び閉図形の分離処理の詳細を示すフローチャートである。
【図１２】  閉図形の判定処理の詳細を示すフローチャートである。
【図１３】  閉図形の判定を説明するための図である。
【図１４】  端末記号の除去処理の詳細を示すフローチャートである。
【図１５】  端末記号に基づく形状分析処理及び交点コードに基づく形状分析処理の詳細を示すフローチャートである。
【図１６】  交点コードに基づく寸法線及び寸法補助線の判定を説明するための図である。
【図１７】  ２組の平行なメタラインがある場合の形状分析を説明するための図である。
【図１８】  外寸及び内寸の判定を説明するための図である。
【図１９】  特殊な場合の寸法補助線の判定を説明するための図である。
【図２０】  特殊な場合の寸法線の判定を説明するための図である。
【図２１】  寸法補助線の始点判定処理の詳細を示すフローチャートである。
【図２２】  寸法補助線の始点判定を説明するための図である。
【図２３】  角度寸法線の一例を示す図である。
【図２４】  寸法要素が持つ測定情報の一例を示す図である。
【符号の説明】
１…入力装置、２…記録装置、３…ＣＰＵ、４…ＲＡＭ、５…ＲＯＭ、６…出力装置。
【図１】
0003935997.tif 000002
【図２】
0003935997.tif 000003
【図３】
0003935997.tif 000004
【図９】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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