(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
円錐ころ軸受の内径と、前記円錐ころ軸受に圧入されるベベルギアの軸部の直径を測定する工程と、
前記円錐ころ軸受の内径と前記ベベルギアの軸部の直径との差である圧入代を求める工程と、
前記圧入代に所定の常数を乗じて前記円錐ころ軸受の軸線方向の伸びを求める工程と、
前記円錐ころ軸受の伸びと、前記円錐ころ軸受の軸線方向の長さとを加算し、前記円錐ころ軸受に前記ベベルギアを圧入して伸びが発生したときの該円錐ころ軸受の軸線方向の長さを得る工程と、
前記伸びが発生したときの円錐ころ軸受の軸線方向の長さと、ベベルギア機構のバックラッシュシムの取付面から前記円錐ころ軸受の取付面までの寸法との差を求め、必要とするバックラッシュシムの厚さを得る工程と、
予め複数用意された異なる厚さのバックラッシュシムの中から前記必要とする厚さのバックラッシュシムを選択して前記ベベルギア機構に取り付ける工程と、を有し、
前記円錐ころ軸受の内径と前記ベベルギアの軸部の直径を測定する工程は、レーザ光投光部とレーザ光受光部との間に、前記ベベルギアの軸部を前記レーザ光投光部から照射されるレーザ光に対して直交する方向に配置するとともに、前記円錐ころ軸受の内部に、互いに平行で且つ互いに接近離間可能に構成された一対の測定子を挿通させ、前記円錐ころ軸受を、前記ベベルギアより前記レーザ光受光部側に、前記円錐ころ軸受の軸線が前記ベベルギアの軸線と平行で且つ前記レーザ光投光部から照射されるレーザ光を遮光しないように配置し、
前記レーザ光投光部から照射されたレーザ光を前記レーザ光受光部で受光し、前記ベベルギアの軸部によりレーザ光が遮光されて陰となる長さを前記レーザ光受光部で測定することにより、前記ベベルギアの軸部の直径を測定し、一方、前記一対の測定子を互いに離間する方向に変位させ、該一対の測定子を前記円錐ころ軸受の内周面に当接させ前記一対の測定子によって前記レーザ光が遮光されて陰となる長さを前記レーザ光受光部で測定することにより、前記円錐ころ軸受の内径を測定することからなることを特徴とするバックラッシュシムの選択方法。
【請求項２】
レーザ光投光部と、
前記レーザ光投光部から照射されたレーザ光を受光するレーザ光受光部と、
前記レーザ光投光部と前記レーザ光受光部との間隙に設けられ、円錐ころ軸受の内周に挿通し、互いに平行で且つ互いに接近離間可能に構成された一対の棒状の測定子と、
前記円錐ころ軸受の内径と前記円錐ころ軸受に圧入されるベベルギアの軸部の直径から必要とするバックラッシュシムの厚さを求める演算部と、
複数のバックラッシュシムを蓄えておくストッカと、
を備え、
前記レーザ光投光部と前記レーザ光受光部との間に、前記ベベルギアの軸部を前記レーザ光投光部から照射されるレーザ光に対して直交する方向に配置するとともに、前記円錐ころ軸受の内部に、互いに平行で且つ互いに接近離間可能に構成された前記一対の測定子を挿通させ、前記円錐ころ軸受を、前記ベベルギアより前記レーザ光受光部側に、前記円錐ころ軸受の軸線が前記ベベルギアの軸線と平行で且つ前記レーザ光投光部から照射されるレーザ光を遮光しないように配置し、
前記レーザ光投光部から照射されたレーザ光を前記レーザ光受光部で受光し、前記ベベルギアの軸部によりレーザ光が遮光されて陰となる長さを前記レーザ光受光部で測定することにより、前記ベベルギアの軸部の直径を測定し、一方、前記一対の測定子を互いに離間する方向に変位させ、該一対の測定子を前記円錐ころ軸受の内周面に当接させ前記一対の測定子によって前記レーザ光が遮光されて陰となる長さを前記レーザ光受光部で測定することにより、前記円錐ころ軸受の内径を測定し、
前記演算部は、前記測定された円錐ころ軸受の内径と前記ベベルギアの軸部の直径との差から圧入代を求め、前記圧入代に所定の常数を乗じて前記円錐ころ軸受の軸線方向の伸びを求め、さらに、前記円錐ころ軸受の伸びと前記円錐ころ軸受の軸線方向の長さとを加算し、前記円錐ころ軸受に前記ベベルギアを圧入して伸びが発生したときの該円錐ころ軸受の軸線方向の長さを求め、前記伸びが発生したときの円錐ころ軸受の軸線方向の長さと、ベベルギア機構のバックラッシュシムの取付面から前記円錐ころ軸受の取付面までの寸法との差を求め、必要とするバックラッシュシムの厚さを求め、
前記ストッカに予め複数貯えられた異なる厚さのバックラッシュシムの中から前記必要とする厚さのバックラッシュシムが選択されることを特徴とするバックラッシュシムの選択装置。
【請求項３】
請求項２記載のバックラッシュシムの選択装置において、
前記一対の測定子には互いに離間する方向に突出した突部が設けられ、前記突部により前記レーザ光投光部から照射されたレーザ光を遮光することを特徴とするバックラッシュシムの選択装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、例えば、自動車のトランスファ装置やディファレンシャル装置のベベルギア機構に組み込まれるバックラッシュシムに必要とされる厚さを選択するための方法およびその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来、自動車のトランスファ装置やディファレンシャル装置に組み込まれるベベルギア機構には、２つの噛合するベベルギアの軸部に円錐ころ軸受が装着されている。この場合、それぞれのベベルギアのバックラッシュを調節するために、円錐ころ軸受とケースとの間に適当な厚さのバックラッシュシムを装着している。
【０００３】
このバックラッシュシムに必要とされる厚さを測定するために、例えば、特開昭６３−１８７６７号公報にバックラッシュシムの選択方法が開示されている。この方法によれば、図８Ａに示すように、第１のギア１と第２のギア２とを噛合させ、第２のギア２の軸の中心から第１のギア１の底面までの寸法を測定してこれをＺとし、第２のギア２が収納されるケース３の空間部の中心から、円錐ころ軸受４と当接する前記ケース３の面５までの寸法をＹとし、前記第１のギア１に円錐ころ軸受４を覆わせた状態で測定した第１のギア１の底面から、前記ケース３と当接する前記円錐ころ軸受４の面６までの寸法をＸとすると、
ｔ＝Ｙ＋Ｚ−Ｘ
で求められる厚さｔのシム７を適宣選択して、図８Ｂに示すように、装置に組み付ければ、所望のバックラッシュが得られる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前記従来技術では、前記Ｘ、Ｙ、Ｚの寸法測定から明らかな通り、測定する個所が３カ所あり、それぞれ個別に測定する必要があるため、測定に時間がかかると共に、それぞれの箇所に専用の測定装置等を用いなければならず、製造装置のコストが高騰するという問題がある。また、第１のギア１、第２のギア２をケース３に装着すると、円錐ころ軸受４には軸方向にスラスト荷重が作用し、第１のギア１および第２のギア２が回転すると、このスラスト荷重によって円錐ころ軸受４のころと内外輪がなじんで該円錐ころ軸受４の軸方向の長さがわずかに縮少するため、実装後の使用状態において適正なバックラッシュが得られなくなるという欠点が指摘されている。このように、適正なバックラッシュが得られないと、運転中に異音が発生したり、あるいは耐久性が劣るという不都合が顕在化する。
【０００５】
そこで、特開昭３−１６３３２７号公報では、円錐ころ軸受の外輪をケースに圧入し、外輪に予圧を与えた状態で内輪を回転させ、ころと内輪および外輪とを馴染ませた後、内輪の端面とケース基準点との間の寸法を測定し、この測定値とベベルギアの軸方向の基準点から円錐ころ軸受の外輪の端面までの寸法との差を計算してシムの好ましい厚さを決定するバックラッシュシムの選択方法が提案されている。
【０００６】
この場合、内輪にベベルギアを装着していない状態で測定するため、ベベルギアを内輪に圧入したときに発生する円錐ころ軸受の軸線方向の伸びを予め補正値として求めておき、この補正値を前記計算結果から差し引いて実際の好適なシム厚としている。
【０００７】
本発明では、前記の従来技術を前提に、さらに、小型のベベルギア機構のように高い精度が要求される場合にも適用可能であり、簡単に且つ短時間に測定することが可能であり、しかも、適正なバックラッシュを得ることができるバックラッシュシムの選択方法およびその装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
前記の目的を達成するために、本発明は、円錐ころ軸受の内径と、前記円錐ころ軸受に圧入されるベベルギアの軸部の直径を測定する工程と、
前記円錐ころ軸受の内径と前記ベベルギアの軸部の直径との差である圧入代を求める工程と、
前記圧入代に所定の常数を乗じて前記円錐ころ軸受の軸線方向の伸びを求める工程と、
前記円錐ころ軸受の伸びと、前記円錐ころ軸受の軸線方向の長さとを加算し、前記円錐ころ軸受に前記ベベルギアを圧入して伸びが発生したときの該円錐ころ軸受の軸線方向の長さを得る工程と、
前記伸びが発生したときの円錐ころ軸受の軸線方向の長さと、ベベルギア機構のバックラッシュシムの取付面から前記円錐ころ軸受の取付面までの寸法との差を求め、必要とするバックラッシュシムの厚さを得る工程と、
予め複数用意された異なる厚さのバックラッシュシムの中から前記必要とする厚さのバックラッシュシムを選択して前記ベベルギア機構に取り付ける工程と、を有し、
前記円錐ころ軸受の内径と前記ベベルギアの軸部の直径を測定する工程は、レーザ光投光部とレーザ光受光部との間に、前記ベベルギアの軸部を前記レーザ光投光部から照射されるレーザ光に対して直交する方向に配置するとともに、前記円錐ころ軸受の内部に、互いに平行で且つ互いに接近離間可能に構成された一対の測定子を挿通させ、前記円錐ころ軸受を、前記ベベルギアより前記レーザ光受光部側に、前記円錐ころ軸受の軸線が前記ベベルギアの軸線と平行で且つ前記レーザ光投光部から照射されるレーザ光を遮光しないように配置し、
前記レーザ光投光部から照射されたレーザ光を前記レーザ光受光部で受光し、前記ベベルギアの軸部によりレーザ光が遮光されて陰となる長さを前記レーザ光受光部で測定することにより、前記ベベルギアの軸部の直径を測定し、一方、前記一対の測定子を互いに離間する方向に変位させ、該一対の測定子を前記円錐ころ軸受の内周面に当接させ前記一対の測定子によって前記レーザ光が遮光されて陰となる長さを前記レーザ光受光部で測定することにより、前記円錐ころ軸受の内径を測定することからなることを特徴とする。
【０００９】
本発明によれば、測定個所が少なく、測定時間を短縮することが可能となり、好適である。
【００１２】
また、本発明は、レーザ光投光部と、
前記レーザ光投光部から照射されたレーザ光を受光するレーザ光受光部と、
前記レーザ光投光部と前記レーザ光受光部との間隙に設けられ、円錐ころ軸受の内周に挿通し、互いに平行で且つ互いに接近離間可能に構成された一対の棒状の測定子と、
前記円錐ころ軸受の内径と前記円錐ころ軸受に圧入されるベベルギアの軸部の直径から必要とするバックラッシュシムの厚さを求める演算部と、
複数のバックラッシュシムを蓄えておくストッカと、
を備え、
前記レーザ光投光部と前記レーザ光受光部との間に、前記ベベルギアの軸部を前記レーザ光投光部から照射されるレーザ光に対して直交する方向に配置するとともに、前記円錐ころ軸受の内部に、互いに平行で且つ互いに接近離間可能に構成された前記一対の測定子を挿通させ、前記円錐ころ軸受を、前記ベベルギアより前記レーザ光受光部側に、前記円錐ころ軸受の軸線が前記ベベルギアの軸線と平行で且つ前記レーザ光投光部から照射されるレーザ光を遮光しないように配置し、
前記レーザ光投光部から照射されたレーザ光を前記レーザ光受光部で受光し、前記ベベルギアの軸部によりレーザ光が遮光されて陰となる長さを前記レーザ光受光部で測定することにより、前記ベベルギアの軸部の直径を測定し、一方、前記一対の測定子を互いに離間する方向に変位させ、該一対の測定子を前記円錐ころ軸受の内周面に当接させ前記一対の測定子によって前記レーザ光が遮光されて陰となる長さを前記レーザ光受光部で測定することにより、前記円錐ころ軸受の内径を測定し、
前記演算部は、前記測定された円錐ころ軸受の内径と前記ベベルギアの軸部の直径との差から圧入代を求め、前記圧入代に所定の常数を乗じて前記円錐ころ軸受の軸線方向の伸びを求め、さらに、前記円錐ころ軸受の伸びと前記円錐ころ軸受の軸線方向の長さとを加算し、前記円錐ころ軸受に前記ベベルギアを圧入して伸びが発生したときの該円錐ころ軸受の軸線方向の長さを求め、前記伸びが発生したときの円錐ころ軸受の軸線方向の長さと、ベベルギア機構のバックラッシュシムの取付面から前記円錐ころ軸受の取付面までの寸法との差を求め、必要とするバックラッシュシムの厚さを求め、
前記ストッカに予め複数貯えられた異なる厚さのバックラッシュシムの中から前記必要とする厚さのバックラッシュシムが選択されることを特徴とする。
【００１３】
本発明によれば、前記レーザ光投光部と前記レーザ光受光部との間にベベルギアの軸部を前記レーザ光投光部から照射されるレーザ光に対して直交する方向に配置し、前記レーザ光投光部から照射されたレーザ光を前記レーザ光受光部により受光する。そして、前記軸部によって陰となる長さを前記レーザ光受光部で測定することによって前記軸部の直径を測定する。一方、前記一対の測定子を互いに離間する方向に変位させて該測定子を円錐ころ軸受の内周に当接させ、この測定子によって前記レーザ光が遮光されて陰となる部分の長さを前記レーザ光受光部で測定することによって前記円錐ころ軸受の内径を測定する。次に、演算部により前記円錐ころ軸受の内径と前記ベベルギアの軸部の直径との差である圧入代を求め、該圧入代に所定の常数を乗じて前記円錐ころ軸受の軸線方向の伸びを求める。次いで、前記円錐ころ軸受の伸びと、前記円錐ころ軸受の軸線方向の長さとを加算し、前記円錐ころ軸受にベベルギアを圧入して伸びが発生したときの該円錐ころ軸受の軸線方向の長さを得る。次に、前記伸びが発生したときの円錐ころ軸受の軸線方向の長さと、ベベルギア機構のバックラッシュシム取付面から前記円錐ころ軸受取付面までの寸法との差を求め、必要とするバックラッシュシムの厚さを得る。予め複数用意された異なる厚さのバックラッシュシムの中から前記必要とする厚さのバックラッシュシムを選択して前記ベベルギア機構に取り付ける。
【００１４】
この場合、前記一対の測定子には互いに離間する方向に突出した突部が設けられ、前記突部により前記レーザ光投光部から照射されたレーザ光を遮光すると、前記測定子によって前記円錐ころ軸受の内径を測定する際、該円錐ころ軸受および前記ピニオンギアの軸部の直径に誤差があっても、確実にレーザ光を遮光して前記円錐ころ軸受の内径を測定することができ、好適である。
【００１５】
【発明の実施の形態】
本発明に係るバックラッシュシムの選択方法について、それを実施する装置との関係において、好適な実施の形態を挙げ、添付の図面を参照しながら以下詳細に説明する。
【００１６】
図１において、参照符号１０は、本実施の形態に係るバックラッシュシムの選択装置を示す。この選択装置１０は長尺に形成されたレーザ光投光部１２を備え、該レーザ光投光部１２には複数の発光素子１４が所定間隔毎に１列に配設されている。それぞれの発光素子１４から発光されるレーザ光は互いに平行である。前記選択装置１０には前記レーザ光投光部１２に対向して配設され、長尺に形成されたレーザ光受光部１６が備えられ、該レーザ光受光部１６には前記複数の発光素子１４から発光されたレーザ光を受光する複数の受光素子１８が所定間隔毎に１列に配設されている（図３参照）。前記レーザ光受光部１６にはコンピュータ等を含む演算部３０が接続され、前記レーザ光受光部１６の出力信号が図示しないＡ／Ｄ変換器を介して前記演算部３０に入力されるように構成されている。前記レーザ光受光部１６の近傍にはエアチャック等の把持手段２０が配設され、該把持手段２０は一対の棒状の測定子２２ａ、２２ｂを有する。それぞれの測定子２２ａ、２２ｂは前記把持手段２０を構成する図示しないシリンダが付勢されることにより、図１中、矢印で示すように、互いに接近、離間可能である。前記測定子２２ａ、２２ｂの端部は互いに離間する方向に厚さｔだけ突出した突部２４ａ、２４ｂが形成されている（図３参照）。前記突部２４ａ、２４ｂは前記レーザ光投光部１２から照射されるレーザ光を遮断する位置に配設される。この場合、前記突部２４ａ、２４ｂは、後述する円錐ころ軸受７２の内部に画成された円形状の空間に挿通可能である。なお、前記把持手段２０には該円錐ころ軸受７２を位置決めするために図示しない位置決め手段が設けられる。さらに、前記レーザ光投光部１２と前記レーザ光受光部１６との間には前記把持手段２０より前記レーザ光投光部１２側に後述するベベルギア７０を位置決めする位置決め手段（図示せず）が配設される。
【００１７】
前記選択装置１０はさらにストッカ３２を備える。前記ストッカ３２には異なる厚さのバックラッシュシム３４が多数蓄えられ、所定の厚さのバックラッシュシム３４が選択されたとき、図示しないロボットを介して該選択に係る前記バックラッシュシム３４が移送され、後述するトランスファ装置４０に組み付けられる。
【００１８】
本実施の形態に係るバックラッシュシムの選択装置１０は以上のように構成されるものであり、次に前記選択装置１０によって選択されたバックラッシュシム３４を組み込むためのベベルギア機構を含むトランスファ装置４０について、図４を参照して説明する。
【００１９】
このトランスファ装置４０は略Ｌ字状に形成された中空のケーシング５０を備え、該ケーシング５０には孔部５０ａ〜５０ｄが画成され、２つの孔部５０ａ、５０ｂは蓋部材５２、５４によって閉蓋される。前記ケーシング５０の内部に画成された空間部５５にはベベルギア５７がころ軸受５８、円錐ころ軸受６０によって回転自在に支持される。前記ベベルギア５７は一端部に歯車６２が形成された入力軸５６と、該入力軸５６の他端部に固着された傘歯車６４とを有し、前記入力軸５６の外周に形成された段部５６ａと前記傘歯車６４との間隙にはシム６５が介装される。前記傘歯車６４は円錐ころ軸受６６によって前記蓋部材５２に回転自在に支持され、該円錐ころ軸受６６と蓋部材５２の段部との間隙にはシム６７が介装される。
【００２０】
前記ケーシング５０の内部には前記入力軸５６の軸芯と直交してベベルギア７０が設けられ、該ベベルギア７０は出力軸を構成する長尺な軸部７１と、該軸部７１の一端部に一体的に形成された傘歯車７３とを含み、該傘歯車７３は前記傘歯車６４に噛合する。前記ベベルギア７０は円錐ころ軸受７２、７４によって回転自在に支持される。この場合、前記円錐ころ軸受７２の一端部は前記ケーシング５０の当接面７５に当接する。また、前記円錐ころ軸受７２に係合する前記軸部７１の直径はｌ1 である。
【００２１】
前記円錐ころ軸受７２と前記傘歯車７３との間隙にはバックラッシュシム３４が介装され、該バックラッシュシム３４は前記傘歯車７３に形成された当接面７７に当接する。図３に前記円錐ころ軸受７２の詳細を示す。すなわち、前記円錐ころ軸受７２はリング状のインナレース７６を有し、該インナレース７６の内径はｌ2 である。前記インナレース７６の外周はテーパ状に形成され、複数の円柱形状のころ８０が転動自在に係合する。前記円錐ころ軸受７２にはガイド部材８２が設けられ、該ガイド部材８２に複数画成され互いに所定間隔離間した孔部８３には前記ころ８０が挿入される。従って、それぞれのころ８０が前記孔部８３の相互の離間距離に対応して互いに所定角度ずつ偏位して位置決めされる。前記円錐ころ軸受７２には前記複数のころ８０の外側にアウタレース８４が係合する。従って、前記インナレース７６は前記アウタレース８４に対して回転自在である。
【００２２】
前記軸部７１の端部は、図４に示すように、前記孔部５０ｄから突出して前記ベベルギア７０と図示しない車軸等とを接続するためのコンパニオンフランジ８８が固着される。該コンパニオンフランジ８８と前記孔部５０ｄを形成する壁部との間にはオイルシール９０が設けられる。すなわち、該オイルシール９０は前記トランスファ装置４０内に導入された潤滑油等が該トランスファ装置４０から漏洩することを防止している。
【００２３】
本実施の形態で使用されるトランスファ装置４０は以上のように構成されるものであり、次に、本実施の形態に係るバックラッシュシムの選択方法について説明する。
【００２４】
先ず、ベベルギア７０が選択装置１０のレーザ光投光部１２とレーザ光受光部１６との間に配設される（図１、図２参照）。このとき、ベベルギア７０の軸線はレーザ光投光部１２から照射されるレーザ光の方向に対して直交し、且つ前記ベベルギア７０の軸部７１によって前記レーザ光の一部が遮断されるように配設される。
【００２５】
次に、円錐ころ軸受７２を、その内部に測定子２２ａ、２２ｂが挿通されるように配置する。このとき、円錐ころ軸受７２は、図３に示すように、レーザ光投光部１２から照射されたレーザ光が遮光されないように配置される。従って、発光素子１４から見たとき、前記測定子２２ａ、２２ｂはベベルギア７０の軸部７１の陰の中にある。
【００２６】
次いで、レーザ光投光部１２を付勢して発光素子１４からレーザ光を照射すると、該レーザ光は、図２に示すように、その一部がベベルギア７０の軸部７１によって遮光され、残りのレーザ光はレーザ光受光部１６を構成する受光素子１８に入射される。レーザ光受光部１６から前記軸部７１によって陰となり、レーザ光が受光されない受光素子１８の数情報を演算部３０に出力し、該演算部３０ではこの受光されない受光素子１８の数と受光素子１８相互間の離間距離とから前記軸部７１によって陰となった部分の長さを求める（図３参照）。これによって求められた長さは、軸部７１の直径ｌ1 に相当する（図２参照）。
【００２７】
次に、把持手段２０を構成する図示しないシリンダを付勢して測定子２２ａ、２２ｂを互いに離間する方向に変位させ（図５、図６参照）、測定子２２ａ、２２ｂが円錐ころ軸受７２のインナレース７６の内周面７８に当接すると、該測定子２２ａ、２２ｂの変位が停止する。このとき、前記測定子２２ａ、２２ｂの突部２４ａ、２４ｂの外側はレーザ光投光部１２側から見たとき、ベベルギア７０の軸部７１の直径より外方に突出することになる。そして、レーザ光受光部１６の受光素子１８によって受光されるレーザ光がこの突出部分によって遮光されて陰となる。従って、このレーザ光が受光されない受光素子１８の数情報が演算部３０に出力されれば、該演算部３０ではこの数情報に相互の受光素子１８間の距離を乗算する。従って、これによって求められた長さは、インナレース７６の内径ｌ2 に測定子２２ａ、２２ｂの突部２４ａ、２４ｂのそれぞれの厚さｔが加わった長さ（ｌ2 ＋２ｔ）である。この厚さｔは、図３に示すように、既存の値であるため、インナレース７６の内径ｌ2 は長さ（ｌ2 ＋２ｔ）から２ｔを引くだけで求められる。
【００２８】
次に、演算部３０ではインナレース７６とベベルギア７０の軸部７１との間隔である圧入代ａを計算する。この圧入代ａは、
ａ＝ｌ1 −ｌ2 
で求められる。
【００２９】
次いで、該圧入代ａからバックラッシュシム３４の厚さを計算する。この場合、円錐ころ軸受７２にベベルギア７０の軸部７１が圧入されると、インナレース７６の直径が若干大きくなる。しかも、前記インナレース７６の外形はテーパ状に形成されているため、円錐ころ軸受７２は、図４に示すように、その軸線方向に伸びｂが発生する。この伸びｂは圧入代ａに対応して変化する。この圧入代ａと円錐ころ軸受７２の軸線方向の伸びｂとの関係は、図７に示すように、実験により求められる。そして、伸びｂは圧入代ａに比例する。すなわち、圧入代ａに図７のグラフの傾きから求められる常数Ｃを乗算すると、伸びｂが求められる。
【００３０】
円錐ころ軸受７２に伸びｂが発生していない状態における該円錐ころ軸受７２の軸線方向の長さに前記伸びｂを加算すると、ベベルギア７０を円錐ころ軸受７２に圧入したときの円錐ころ軸受７２の軸線方向の長さが求められる。この長さと、予め測定されたベベルギア７０のバックラッシュシム３４の当接面７７からケーシング５０に形成されたアウタレース８４の当接面７５までの寸法ｄとの差を計算すると（図４参照）、必要とするバックラッシュシム３４の厚さが求められる。そして、以上のようにしてバックラッシュシム３４の厚さが求められると、予めストッカ３２に複数蓄えられた異なる厚さのバックラッシュシム３４の中から必要な厚さのバックラッシュシム３４を選択してトランスファ装置４０に取り付け、測定された円錐ころ軸受７２とベベルギア７０をトランスファ装置４０に取り付ける。このようにして適正なバックラッシュを生じるトランスファ装置４０が製造される。
【００３１】
【発明の効果】
本発明に係るバックラッシュシムの選択方法およびその装置によれば、以下のような効果ならびに利点が得られる。
【００３２】
一つの装置でベベルギアの軸部の直径と円錐ころ軸受の内径とを測定するため、測定装置を複数用意する必要がなく、選択装置のコストを低廉化し、結局、生産コストを全体として低廉化することが可能で、また、前記ベベルギアの軸部の直径と円錐ころ軸受の内径とを連続的に測定するため、測定時間を短縮することができ、生産効率が向上する。
【００３３】
また、圧入代に乗じる常数を圧入代と円錐ころ軸受の軸線方向の伸びとの関係から求めているため、高精度な測定が可能で、例えば、小型のベベルギア機構のように、高い精度が要求される場合にも適正なバックラッシュシムの厚さを求め、この厚さのバックラッシュシムを選択してベベルギア機構に取り付けることにより所望のバックラッシュを生起するベベルギア機構を得ることができ、結局、ベベルギア機構の品質が向上する。
【００３４】
さらに、測定子に突部が設けられ、該突部がレーザ光を遮光するため、円錐ころ軸受の内径を確実に測定することができ、測定不良が発生する懸念もない。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態に係るバックラッシュシムの選択装置を示す概略斜視図である。
【図２】図１の選択装置の概略平面図である。
【図３】図１の選択装置の測定子およびレーザ光受光部を示す概略側面図である。
【図４】本実施の形態に使用されるトランスファ装置の概略縦断面図である。
【図５】図２の選択装置の使用状態を示す概略平面図である。
【図６】図３の選択装置の測定子の使用状態を示す概略側面図である。
【図７】本実施の形態の円錐ころ軸受の圧入代と伸びとの関係を示すグラフである。
【図８】従来技術に使用されるトランスファ装置を示し、
図８Ａは概略分解縦断面図であり、
図８Ｂは概略縦断面図である。
【符号の説明】
１０…選択装置                  １２…レーザ光投光部
１６…レーザ光受光部            ２２ａ、２２ｂ…測定子
２４ａ、２４ｂ…突部            ３０…演算部
３２…ストッカ                  ３４…バックラッシュシム
４０…トランスファ装置          ７０…ベベルギア
７１…軸部                      ７２…円錐ころ軸受
【図１】
0003922400.tif 000002
【図２】
0003922400.tif 000003
【図３】
0003922400.tif 000004
【図４】
0003922400.tif 000005
【図５】
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【図６】
0003922400.tif 000007
【図７】
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【図８】
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