(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
不揮発性メモリであるＲＯＭにデータを書込むＲＯＭ書込装置において、
書込むべきデータからＲＯＭにデータを書込むために要する時間である書込時間に関する情報を抽出する抽出手段と、
抽出手段による抽出出力に応答し書込時間を演算する演算手段と、
演算手段によって演算された書込時間に従ってデータをＲＯＭに書込む書込み手段とを含むことを特徴とするＲＯＭ書込装置。
【請求項２】
不揮発性メモリであるＲＯＭにデータを書込むＲＯＭ書込装置において、
書込むべきデータからＲＯＭにデータを書込むために要する時間である書込時間に関する情報を抽出する抽出手段と、
ＲＯＭの配置される周辺の温度を検出する温度検出手段と、
ＲＯＭに印加される電圧を検出する電圧検出手段と、
抽出手段による抽出出力、温度検出手段および電圧検出手段による検出出力に応答し書込時間を演算する演算手段と、
演算手段によって演算された書込時間に従ってデータをＲＯＭに書込む書込み手段とを含むことを特徴とするＲＯＭ書込装置。
【請求項３】
不揮発性メモリであるＲＯＭにデータを書込むＲＯＭ書込装置において、
書込むべきデータからＲＯＭにデータを書込むために要する時間である書込時間に関する情報を抽出する抽出手段と、
書込時間に関する情報に対応するように予め定められる書込時間をストアするメモリと、
メモリから読出された予め定められる書込時間の中から抽出手段による抽出出力に応答して１つの書込時間を選択する選択手段と、
選択手段によって選択された書込時間に従ってデータをＲＯＭに書込む書込み手段とを含むことを特徴とするＲＯＭ書込装置。
【請求項４】
不揮発性メモリであるＲＯＭにデータを書込むＲＯＭ書込装置において、
書込むべきデータからＲＯＭにデータを書込むために要する時間である書込時間に関する情報を抽出する抽出手段と、
ＲＯＭの配置される周辺の温度を検出する温度検出手段と、
ＲＯＭに印加される電圧を検出する電圧検出手段と、
書込時間に関する情報に対応するように予め定められる書込時間をストアするメモリと、
メモリから読出された予め定められる書込時間の中から、抽出手段による抽出出力、温度検出手段および電圧検出手段による検出出力に応答して１つの書込時間を選択する選択手段と、
選択手段によって選択された書込時間に従ってデータをＲＯＭに書込む書込み手段とを含むことを特徴とするＲＯＭ書込装置。
【請求項５】
前記演算または選択された書込時間に従ってデータのＲＯＭに対する書込みを完了することができたか否かを判断する判断手段と、
判断手段の出力に応答し、書込時間を延長または短縮するように設定変更する設定変更手段とをさらに含むことを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載のＲＯＭ書込装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、不揮発性の読出し専用メモリであって、データの書込みも可能なＰＲＯＭなどに対してデータの書込みを行うＲＯＭ書込み装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
マイクロコンピュータなどの動作用プログラムおよびデータの格納などの用途には、読出し専用メモリであるRead Only Memory（ＲＯＭ）が用いられている。ＲＯＭには、書換えすることができないマスクＲＯＭと、書換え可能なProgrammable ＲＯＭ（ＰＲＯＭ）とがある。さらにＰＲＯＭには、１度しか書込めないヒューズＲＯＭと、消去および再書込みが可能なErasable ＰＲＯＭ（ＥＰＲＯＭ）とがあり、ＥＰＲＯＭの中で電気信号によって消去可能なタイプがElectrically ＥＰＲＯＭ（ＥＥＰＲＯＭ）であり、ＥＥＰＲＯＭの中でもフラッシュメモリと呼ばれる形式の不揮発性メモリ（フラッシュＲＯＭ）が広く利用されている。
【０００３】
このフラッシュＲＯＭに対するたとえばデータの書込時間には、フラッシュＲＯＭに対してデータの書込みが行われるときの環境温度、フラッシュＲＯＭ製造時の品質のわずかな変動およびデータの値などによってばらつきが存在する。したがって、従来フラッシュＲＯＭに対する書込みに際して書込時間の選択は、種々の考えに基づいて行われてきた。たとえば、書込時間のばらつきのうち最大値を書込時間に設定する方法がある。また書込時間の平均値のようにばらつきの最大値よりも短い時間を書込時間に設定し、書込み未完了が発生した場合または書込み未完了が予め定める回数を超えて発生した場合、書込時間の設定値を長くする方法がある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
前述のような従来の書込み方法では、以下のような問題がある。書込時間のばらつきのうち最大値を書込時間に設定する方法では、書込時間が長く設定されているので、書込み未完了が発生することはないけれども、書込時間の中に書込み動作に使用されることのない無駄な時間が含まれることになる。したがって、フラッシュＲＯＭにデータまたはプログラムなどを書込んだ製品を作るのに長時間を要することになり生産性が悪くなるという問題がある。
【０００５】
書込時間の平均値のようにばらつきの最大値よりも短い時間を書込時間に設定する方法では、書込時間内に含まれる無駄な時間は減少するけれども、書込み未完了が発生することによって、同一のデータやプログラムの書込み動作を繰返し行わなければならないので、書込み動作の繰返しによる時間損失が発生し生産性が悪くなるという問題がある。
【０００６】
本発明の目的は、データおよびＲＯＭの書込み環境条件に対応して書込時間を設定し、効率的に書込みを実施することができるＲＯＭ書込み装置を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明は、不揮発性メモリであるＲＯＭ（Read Only Memory）にデータを書込むＲＯＭ書込装置において、
書込むべきデータからＲＯＭにデータを書込むために要する時間である書込時間に関する情報を抽出する抽出手段と、
抽出手段による抽出出力に応答し書込時間を演算する演算手段と、
演算手段によって演算された書込時間に従ってデータをＲＯＭに書込む書込み手段とを含むことを特徴とするＲＯＭ書込装置である。
【０００８】
本発明に従えば、書込むべきデータからＲＯＭにデータを書込むために要する時間である書込時間に関する情報を抽出し、抽出出力に応答して書込時間を演算し、演算された書込時間に従ってデータをＲＯＭに書込む。このことによって書込むべきデータの容量に対応した書込時間を設定することができるので、書込み未完了の発生をなくし繰返し書込みに要する時間を省くことができ、またデータの容量に対応した書込時間を超える無駄な時間を含む書込時間の設定をすることがなくなる。したがって、ＲＯＭに対する書込み動作時の無駄な時間をなくし生産性を向上することが可能になる。
【０００９】
また本発明は、不揮発性メモリであるＲＯＭにデータを書込むＲＯＭ書込装置において、
書込むべきデータからＲＯＭにデータを書込むために要する時間である書込時間に関する情報を抽出する抽出手段と、
ＲＯＭの配置される周辺の温度を検出する温度検出手段と、
ＲＯＭに印加される電圧を検出する電圧検出手段と、
抽出手段による抽出出力、温度検出手段および電圧検出手段による検出出力に応答し書込時間を演算する演算手段と、
演算手段によって演算された書込時間に従ってデータをＲＯＭに書込む書込み手段とを含むことを特徴とするＲＯＭ書込装置である。
【００１０】
本発明に従えば、書込むべきデータからＲＯＭにデータを書込むために要する時間である書込時間に関する情報を抽出し、ＲＯＭの配置される周辺温度（以後、環境温度と呼ぶ）およびＲＯＭに印加される電圧（以後、印加電圧と略称する）を検出し、抽出出力と検出出力とに応答して書込時間を演算し、演算された書込時間に従ってデータをＲＯＭに書込む。このことによって書込むべきデータの容量に対応し、かつ書込み動作条件に対応した書込時間を一層精度よく設定することができるので、ＲＯＭに対する書込み動作時の無駄な時間をなくし生産性を向上することが可能になる。
【００１１】
また本発明は、不揮発性メモリであるＲＯＭにデータを書込むＲＯＭ書込装置において、
書込むべきデータからＲＯＭにデータを書込むために要する時間である書込時間に関する情報を抽出する抽出手段と、
書込時間に関する情報に対応するように予め定められる書込時間をストアするメモリと、
メモリから読出された予め定められる書込時間の中から抽出手段による抽出出力に応答して１つの書込時間を選択する選択手段と、
選択手段によって選択された書込時間に従ってデータをＲＯＭに書込む書込み手段とを含むことを特徴とするＲＯＭ書込装置である。
【００１２】
本発明に従えば、書込むべきデータからＲＯＭにデータを書込むために要する時間である書込時間に関する情報を抽出し、書込時間に関する情報に対応するように予め定められる書込時間をメモリから読出し、読出された予め定められる書込時間の中から抽出手段による抽出出力に応答して１つの書込時間を選択し、選択された書込時間に従ってデータをＲＯＭに書込む。このことによって書込むべきデータの容量に対応した書込時間が選択して設定されるので、ＲＯＭに対する書込み動作時の無駄な時間をなくし生産性を向上することが可能になる。また書込むべきデータの容量に対応した書込時間は、メモリから読出され選択手段によって選択されるので、書込時間を演算する演算手段を省くことができる。
【００１３】
また本発明は、不揮発性メモリであるＲＯＭにデータを書込むＲＯＭ書込装置において、
書込むべきデータからＲＯＭにデータを書込むために要する時間である書込時間に関する情報を抽出する抽出手段と、
ＲＯＭの配置される周辺の温度を検出する温度検出手段と、
ＲＯＭに印加される電圧を検出する電圧検出手段と、
書込時間に関する情報に対応するように予め定められる書込時間をストアするメモリと、
メモリから読出された予め定められる書込時間の中から、抽出手段による抽出出力、温度検出手段および電圧検出手段による検出出力に応答して１つの書込時間を選択する選択手段と、
選択手段によって選択された書込時間に従ってデータをＲＯＭに書込む書込み手段とを含むことを特徴とするＲＯＭ書込装置である。
【００１４】
本発明に従えば、書込むべきデータからＲＯＭにデータを書込むために要する時間である書込時間に関する情報を抽出し、環境温度および印加電圧を検出し、書込時間に関する情報に対応するように予め定められる書込時間をメモリから読出し、読出された予め定められる書込時間の中から抽出出力と検出出力とに応答して１つの書込時間を選択し、選択された書込時間に従ってデータをＲＯＭに書込む。このことによって書込むべきデータの容量に対応し、かつ書込み動作条件に対応した書込時間を一層精度よく設定することができるので、ＲＯＭに対する書込み動作時の無駄な時間をなくし生産性を向上することが可能になる。
【００１５】
また本発明は、前記演算または選択された書込時間に従ってデータのＲＯＭに対する書込みを完了することができたか否かを判断する判断手段と、
判断手段の出力に応答し、書込時間を延長または短縮するように設定変更する設定変更手段とをさらに含むことを特徴とする。
【００１６】
本発明に従えば、演算または選択された書込時間に従ってデータのＲＯＭに対する書込みを完了することができたか否かが判断され、判断手段の出力に応答して書込時間が延長または短縮するように設定変更される。このことによって、設定された書込時間を用いた書込み動作の実行結果を、書込時間の設定値にフィードバックすることができるので、一層無駄を省いた適切な書込時間を設定することが可能になる。
【００１７】
【発明の実施の形態】
図１は、本発明の実施の一形態であるＲＯＭ書込装置１の構成を簡略化して示すブロック図である。ＲＯＭ書込装置１は、装置本体２と書込み部３とを含んで構成される。装置本体２は、電源回路４と、電源回路４から電力の供給を受けて書込み動作を制御するＣＰＵ（Central Processing Unit）５と、書込むべきデータ６（以後、単にデータ６と略称することがある）と、ＣＰＵ５によって後述するマイクロプロセッサ１５に転送され起動されてデータ６のＲＯＭ７に対する書込み処理を行うためのプログラム１９とを含む。
【００１８】
書込み部３は、データ６からＲＯＭ７にデータを書込むために要する時間である書込時間に関する情報を抽出する抽出手段８と、抽出手段８による抽出出力に応答し書込時間を演算する演算手段９と、演算手段９によって演算された書込時間に従ってデータをＲＯＭ７に書込む書込み手段１０とを備える。抽出手段８、演算手段９および書込み手段１０は、１個または数個のＬＳＩ（Large Scale Integrated Circuit）に集積されたＣＰＵであるマイクロプロセッサ１５によって実現される。ＲＯＭ７は、フラッシュメモリと呼ばれる形式の電気信号によって消去可能なＥＥＰＲＯＭであり、以後フラッシュＲＯＭ７と呼ぶ。
【００１９】
装置本体２に備わるプログラム１９は、ＣＰＵ５の動作によって装置本体２から書込み部３に備わるマイクロプロセッサ１５に転送される。マイクロプロセッサ１５に転送されたプログラム１９が起動することによって、前記抽出手段８はデータ６から書込時間に関する情報を抽出することができる。
【００２０】
以下に抽出手段８によって抽出されるデータ６の書込時間に関する情報について説明する。ここでフラッシュＲＯＭ７に書込むべきデータ６は、２値データを構成する「１」と「零（以後、０で表す）」によって与えられ、またデータ６が書込まれる前のフラッシュＲＯＭ７には、初期値としてすべて「１」が書込まれている。データ６のフラッシュＲＯＭ７に対する書込みは、フラッシュＲＯＭ７に初期値として与えられている「１」のうち、書込むべきデータ６の「０」である部分に該当する部分を「１」から「０」に書直すことによって行われる。
【００２１】
したがって、書込時間ｔ１は、書込むべきデータ６の２値データのうち、書直す動作の対象となる各ビットの「０」の数に依存することになる。この書込むべきデータ６から書直す動作の対象となる各ビットの「０」の数を、書込時間ｔ１に関する情報と呼び、前記「０」の数を計数することを書込時間ｔ１に関する情報を抽出すると称する。たとえば、計数された「０」の一定数について書込みに要する時間を書込基本時間ｔ０とすれば、データの書込みに要する書込時間ｔ１は、式（１）によって求めることができる。
書込時間ｔ１＝書込基本時間ｔ０×データ情報補正係数Ｄ１    …（１）
ここで、データ情報補正係数Ｄ１は、計数された「０」の数に応じて定められる定数である。
【００２２】
書込時間は、基本的には書込基本時間に計数された「０」の数を乗算して求めるものであるけれども、実際のデータ書込みに必要な時間と計数された「０」の数との間の関係は線形関係から少しずれるので、前記データ情報補正計数Ｄ１を計数された「０」の数の水準に対応させて定め、これを書込基本時間ｔ０に乗算することによって、書込時間ｔ１を求める。
【００２３】
図２は、図１に示すＲＯＭ書込装置１による書込み動作を説明するフローチャートである。図２を用いてＲＯＭ書込装置１による書込み動作について説明する。ステップａ１では、前述のように装置本体２に備わるＣＰＵ５の動作によって、プログラム１９が装置本体２から書込み部３に備わるマイクロプロセッサ１５に転送される。ステップａ２では、マイクロプロセッサ１５に転送されたプログラム１９が起動される。
【００２４】
ステップａ３では、プログラム１９の処理指示に従い、ＣＰＵ５はデータ６をマイクロプロセッサ１５へ転送する。ステップａ４では、転送されたデータ６から抽出手段８が書込時間ｔ１に関する情報、すなわちデータ６における各ビットの「０」の数を計数する。ステップａ５では、前記式（１）に基づいて、演算手段９であるマイクロプロセッサ１５において書込時間ｔ１を演算する。ステップａ６では、演算結果によって設定される書込時間ｔ１に従い、書込み手段１０でもあるマイクロプロセッサ１５がデータ６をフラッシュＲＯＭ７に書込み、一連の書込み動作を終了する。
【００２５】
図３は、本発明の第２の実施の形態であるＲＯＭ書込装置２１の構成を簡略化して示すブロック図である。本実施の形態のＲＯＭ書込装置２１は、実施の第１形態のＲＯＭ書込装置１に類似し、対応する部分には同一の参照符号を付して説明を省略する。第２の実施形態では、ＲＯＭ書込装置２１は、環境温度を検出する温度検出手段１６と、フラッシュＲＯＭ７に対する印加電圧を検出する電圧検出手段１７と、書込み部３に設けられるアナログ／デジタル（Ａ／Ｄ）コンバータ１８とをさらに含む。温度検出手段１６および電圧検出手段１７の検出出力は、Ａ／Ｄコンバータ１８を介してマイクロプロセッサ１５に入力される。
【００２６】
図４は、図３に示すＲＯＭ書込装置２１による書込み動作を説明するフローチャートである。ＲＯＭ書込装置２１による書込み動作のフローチャートは、第１の実施の形態のＲＯＭ書込装置１による書込み動作に類似し、ステップｂ５およびステップｂ６が追加されている以外は同一であるので重複する説明を省略する。ステップｂ５では、温度検出手段１６によって環境温度が検出され、検出出力がマイクロプロセッサ１５に入力される。ステップｂ６では、データ書込み時のフラッシュＲＯＭ７に対する印加電圧が電圧検出手段１７によって検出され、検出出力がマイクロプロセッサ１５に入力される。
【００２７】
書込時間は、データ書込み時の環境温度および印加電圧によって影響を受ける。たとえば、環境温度が高くなると、データ書込みに必要とされる書込時間は短くなり、印加電圧が高くなると、データ書込みに必要とされる書込時間は短くなる。したがって、書込むべきデータの容量に一層精度よく適合した書込時間を設定するためには、前記環境温度および印加電圧に対応して書込時間ｔ１を補正することが望ましい。たとえば、補正された書込時間ｔ１１は、式（２）によって求めることができる。
書込時間ｔ１１
＝書込時間ｔ１×温度補正係数Ｔ１×電圧補正係数Ｖ１    …（２）ステップｂ７では、式（２）に基づいて演算手段９であるマイクロプロセッサ１５において書込時間ｔ１１を演算する。
【００２８】
このことによって、書込むべきデータ６の容量に対応し、かつ環境温度および印加電圧に対応した書込時間ｔ１１を一層精度よく設定することができるので、フラッシュＲＯＭ７に対する書込み動作時の無駄な時間をなくし生産性を向上することが可能になる。
【００２９】
図５は、本発明の第３の実施の形態であるＲＯＭ書込装置３１の構成を簡略化して示すブロック図である。本実施の形態のＲＯＭ書込装置３１は、実施の第２形態のＲＯＭ書込装置２１に類似し、対応する部分には同一の参照符号を付して説明を省略する。第３の実施形態では、ＲＯＭ書込装置３１は、書込み部３に随時書込みと読出しとが可能なＲＡＭ（Random Access Memory）からなるメモリ１４を備え、メモリ１４はマイクロプロセッサ１５に接続される。
【００３０】
またＲＯＭ書込装置３１に設けられているマイクロプロセッサ１５には、設定された書込時間に従ってデータ６のフラッシュＲＯＭ７に対する書込みを完了することができたか否かを判断する判断手段１１と、判断手段１１の出力に応答し書込時間を延長または短縮させるように設定変更する設定変更手段１２と、抽出手段８による抽出出力に応答しメモリ１４から読出された予め定められる書込時間の中から１つの書込時間を選択する選択手段１３とが備えられる。なお本実施の形態では、マイクロプロセッサ１５の演算手段９は省かれてもよい。
【００３１】
図６は、図５に示すＲＯＭ書込装置３１による書込み動作を説明するフローチャートである。ＲＯＭ書込装置３１による書込み動作のフローチャートは、第２の実施形態のＲＯＭ書込装置２１による書込み動作に類似し、同一の動作を表すステップについては重複する説明を省略する。
【００３２】
ステップｃ０のスタートでは、少なくとも書込時間に関する情報、すなわちデータにおける各ビットの「０」の数に対応するように予め定められる書込時間ｔ１２が、メモリ１４にストアされている状態である。データにおける各ビットの「０」の数に対応する書込時間ｔ１２は、フラッシュＲＯＭ７に対する印加電圧毎に、また書込み動作が行われる環境温度毎に、予め定められてメモリ１４にストアされることが望ましい。
【００３３】
書込時間ｔ１２は、各種のデータをフラッシュＲＯＭに書込むに際して要した時間の実績を蓄積し、蓄積された実績に基づいて予め定めることができる。表１には、印加電圧：５Ｖ、環境温度：２０℃、２５℃および３０℃の場合について、書込み実績に基づきデータの各ビットにおける「０」の数に対応する書込時間ｔ１２を予め定めて作成したテーブルの一例を示す。本実施の形態では、表１に示す様式に基づくテーブルが印加電圧の水準毎に予め作成されてメモリ１４にストアされている。
【００３４】
ステップｃ７では、メモリ１４にストアされている書込時間ｔ１２を読出す。ステップｃ８では、抽出手段８の抽出出力、温度および電圧検出手段１６，１７の検出出力に応答し、選択手段１３であるマイクロプロセッサ１５が、データ６における各ビットの「０」の数、環境温度および印加電圧に適合する１つの書込時間ｔ１２を選択する。ステップｃ９では、選択手段１３によって選択された書込時間ｔ１２に従い、書込み手段１０であるマイクロプロセッサ１５によって、データ６がフラッシュＲＯＭ７に書込まれる。
【００３５】
ステップｃ１０では、データ６の書込みが完了されたか否かが、判断手段１１であるマイクロプロセッサ１５によって判断される。データ６の書込みが完了されたか否かは、次のようにして判断される。フラッシュＲＯＭ７に書込まれたデータを一旦読出して書込むべきデータ６と比較し、両者が一致すれば書込み完了と判断し、一致しなければ書込み未完了と判断する。書込み完了と判断されればステップｃ１２に進み、書込み未完了と判断されればステップｃ１１に進む。
【００３６】
ステップｃ１１では、設定変更手段１２であるマイクロプロセッサ１５が、書込時間ｔ１２の設定値を延長して再設定する。延長される時間であるαは、たとえば最初に選択した書込時間ｔ１２の１０％（α＝ｔ１２×１０／１００）などの値が選ばれる。データ６の書込み未完了の原因は、データ６の容量に対して選択した書込時間ｔ１２が短いことにあるとの考えに基づき、書込時間ｔ１２を延長して再度データ６の書込みを行う。したがって、ステップｃ１１において延長された書込時間ｔ１２が再設定された後、ステップｃ９に戻り以降のステップに進む。
【００３７】
ステップｃ１２では、設定変更手段１２であるマイクロプロセッサ１５が、書込時間ｔ１２の設定値を短縮して再設定する。短縮される時間であるαは、先のステップｃ１１と同一の値が選ばれる。データ６の書込みが完了されたので、データ６の容量に対して選択した書込時間ｔ１２に余裕があるとみなし、書込時間ｔ１２を短縮する。ステップｃ１３では、時間短縮された新たな書込時間ｔ１２をメモリ１４にストアし、一連の書込み動作を終了する。時間短縮された新たな書込時間ｔ１２をメモリ１４にストアすることによって、同一の条件においてデータの書込みを行うとき、より無駄な時間を含まない書込時間ｔ１２を選択し利用することが可能になる。
【００３８】
このことによって、選択し設定された書込時間ｔ１２を用いた書込み動作の実行結果を、書込時間ｔ１２の設定値にフィードバックすることができるので、一層無駄を省いた適切な書込時間ｔ１２を設定することが可能になる。また書込むべきデータ６の容量に対応した書込時間ｔ１２は、メモリ１４から読出され選択手段１３によって選択されるので、書込時間を演算する演算手段９を省くことができる。
【００３９】
【表１】
0003942425.tif 000002
【００４０】
以上に述べたように、本実施の形態では、ＲＯＭ書込み装置３１は、温度検出手段１６および電圧検出手段１７を含む構成であるけれども、これに限定されることなく、温度検出手段１６および電圧検出手段１７を含まないように構成されてもよい。またＲＯＭ書込み装置３１に設けられるマイクロプロセッサ１５には、判断手段１１および設定変更手段１２が備えられるけれども、これに限定されることなく、判断手段１１および設定変更手段１２が備えられない構成であってもよい。
【００４１】
【発明の効果】
本発明によれば、書込むべきデータからＲＯＭにデータを書込むために要する時間である書込時間に関する情報を抽出し、抽出出力に応答して書込時間を演算し、演算された書込時間に従ってデータをＲＯＭに書込む。このことによって書込むべきデータの容量に対応した書込時間を設定することができるので、書込み未完了の発生をなくし繰返し書込みに要する時間を省くことができ、またデータの容量に対応した書込時間を超える無駄な時間を含む書込時間の設定をすることがなくなる。したがって、ＲＯＭに対する書込み動作時の無駄な時間をなくし生産性を向上することが可能になる。
【００４２】
また本発明によれば、書込むべきデータからＲＯＭにデータを書込むために要する時間である書込時間に関する情報を抽出し、ＲＯＭの配置される周辺温度（以後、環境温度と呼ぶ）およびＲＯＭに印加される電圧（以後、印加電圧と略称する）を検出し、抽出出力と検出出力とに応答して書込時間を演算し、演算された書込時間に従ってデータをＲＯＭに書込む。このことによって書込むべきデータの容量に対応し、かつ書込み動作条件に対応した書込時間を一層精度よく設定することができるので、ＲＯＭに対する書込み動作時の無駄な時間をなくし生産性を向上することが可能になる。
【００４３】
また本発明によれば、書込むべきデータからＲＯＭにデータを書込むために要する時間である書込時間に関する情報を抽出し、書込時間に関する情報に対応するように予め定められる書込時間をメモリから読出し、読出された予め定められる書込時間の中から抽出手段による抽出出力に応答して１つの書込時間を選択し、選択された書込時間に従ってデータをＲＯＭに書込む。このことによって書込むべきデータの容量に対応した書込時間が選択して設定されるので、ＲＯＭに対する書込み動作時の無駄な時間をなくし生産性を向上することが可能になる。また書込むべきデータの容量に対応した書込時間は、メモリから読出され選択手段によって選択されるので、書込時間を演算する演算手段を省くことができる。
【００４４】
また本発明によれば、書込むべきデータからＲＯＭにデータを書込むために要する時間である書込時間に関する情報を抽出し、環境温度および印加電圧を検出し、書込時間に関する情報に対応するように予め定められる書込時間をメモリから読出し、読出された予め定められる書込時間の中から抽出出力と検出出力とに応答して１つの書込時間を選択し、選択された書込時間に従ってデータをＲＯＭに書込む。このことによって書込むべきデータの容量に対応し、かつ書込み動作条件に対応した書込時間を一層精度よく設定することができるので、ＲＯＭに対する書込み動作時の無駄な時間をなくし生産性を向上することが可能になる。
【００４５】
また本発明によれば、演算または選択された書込時間に従ってデータのＲＯＭに対する書込みを完了することができたか否かが判断され、判断手段の出力に応答して書込時間が延長または短縮するように設定変更される。このことによって、設定された書込時間を用いた書込み動作の実行結果を、書込時間の設定値にフィードバックすることができるので、一層無駄を省いた適切な書込時間を設定することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の一形態であるＲＯＭ書込装置１の構成を簡略化して示すブロック図である。
【図２】図１に示すＲＯＭ書込装置１による書込み動作を説明するフローチャートである。
【図３】本発明の第２の実施の形態であるＲＯＭ書込装置２１の構成を簡略化して示すブロック図である。
【図４】図３に示すＲＯＭ書込装置２１による書込み動作を説明するフローチャートである。
【図５】本発明の第３の実施の形態であるＲＯＭ書込装置３１の構成を簡略化して示すブロック図である。
【図６】図５に示すＲＯＭ書込装置３１による書込み動作を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
１，２１，３１  ＲＯＭ書込装置
４  電源回路
５  ＣＰＵ
６  データ
７  フラッシュＲＯＭ
８  抽出手段
９  演算手段
１０  書込み手段
１１  判断手段
１２  設定変更手段
１３  選択手段
１４  メモリ
１５  マイクロプロセッサ
１６  温度検出手段
１７  電圧検出手段
１９  プログラム
【図１】
0003942425.tif 000003
【図２】
0003942425.tif 000004
【図３】
0003942425.tif 000005
【図４】
0003942425.tif 000006
【図５】
0003942425.tif 000007
【図６】
0003942425.tif 000008