(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
多数のハードディスクドライブを同時にテストするようにテスト制御信号を発生し、前記多数のハードディスクドライブが縦横方向に整列されるように積層される構造を有する高温のバーンインチャンバの内部環境を制御するホストコンピュータと、このホストコンピュータに多数接続され、前記テスト制御信号に従ってハードディスクドライブをテストするテスト命令を発生し、テスト結果を前記ホストコンピュータへ伝え、分離壁により前記バーンインチャンバと分離される制御チャンバ内に位置する複数のテスト用コンピュータと、このテスト用コンピュータ１台につき複数ずつ接続され、該テスト用コンピュータとハードディスクドライブとのデータ伝送動作を制御し、前記制御チャンバ内に位置するＩＤＥアダプタと、を含み、前記バーンインチャンバと、前記制御チャンバと、前記ホストコンピュータとが一のシステムで構成され、１台の前記テスト用コンピュータで複数のハードディスクドライブをテスト可能であることを特徴とするハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項２】
前記ホストコンピュータおよび前記テスト用コンピュータと、前記ハードディスクドライブとは、前記分離壁によって分離されることを特徴とする、請求項１に記載のハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項３】
前記ＩＤＥアダプタは、前記テスト用コンピュータの内部に備えられた中央処理部の制御でない別の独立的なデータ伝送動作を行うことを特徴とする、請求項１または２に記載のハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項４】
前記ＩＤＥアダプタは、前記ハードディスクドライブに送受信されるデータの衝突を防止する仲裁回路部を備えたことを特徴とする、請求項１〜３のいずれかに記載のハードディスクドライブのテスト装置。
【請求項５】
多数のハードディスクドライブが縦横方向に整列されるように積層される構造を有する高温のバーンインチャンバと、ホストコンピュータと、多数のテスト用コンピュータと、多数のＩＤＥアダプタとを含むテスト装置を接続し、そしてその各テスト用コンピュータにそれぞれ複数のＩＤＥアダプタを接続し、更にその各ＩＤＥアダプタにそれぞれ複数のハードディスクドライブを接続して行うハードディスクドライブのテスト方法であって、テスト実行命令の入力を受けたホストコンピュータが、分離壁により前記バーンインチャンバと分離される制御チャンバ内に位置する複数のテスト用コンピュータへテスト制御信号を発生し、前記バーンインチャンバの内部環境を制御する制御信号を発生する第１過程と、ホストコンピュータの貯蔵領域からテストプログラムをダウンロードした複数のテスト用コンピュータそれぞれが、そのプログラムに基づいてテスト命令を前記制御チャンバ内に位置する複数のＩＤＥアダプタを通じて複数のハードディスクドライブへ伝送する第２過程と、そのテスト命令を受信したハードディスクドライブが該当テストを行った結果をＩＤＥアダプタを通じてテスト用コンピュータが受け取る第３過程と、ハードディスクドライブからテスト結果を受信したテスト用コンピュータがホストコンピュータへそのテスト結果を報告する第４過程と、を遂行することを特徴とするテスト方法。
【請求項６】
第１過程は、テスト実行命令を入力したホストコンピュータが自体のプログラムを実行して複数のテスト用コンピュータをブートさせる段階と、そのブートしたテスト用コンピュータとの通信チャンネルを形成して各テスト用コンピュータの初期状態をチェックした後、テスト制御信号を発生する段階と、を遂行する請求項５記載のテスト方法。
【請求項７】
第４過程の後、テスト用コンピュータがホストコンピュータからのテスト終了メッセージを確認し、該テスト終了メッセージが受信されたときにテスト結果をハードディスクドライブのメンテナンスシリンダに記録するように制御する第５過程を遂行する請求項５又は請求項６記載のテスト方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はハードディスクドライブの性能を試験するためのテスト装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般にハードディスクドライブは、組立工程によりメカの組み立てが終わると、性能をテストするために、サーボ書込工程、機能テスト工程、バーンイン工程、該バーンイン工程を経たハードディスクドライブセットの不良処理が正常かどうかを確認する最終テスト工程の各試験工程を経て出荷されることになる。その中でもバーンイン工程は、ハードディスクドライブの製造工程中で一番長い時間（通常８時間〜１６時間）を占める工程である。このバーンイン工程は、ディスクに潜在する欠陥部分を予め探し出し、ドライブ使用時にはその欠陥部分を避けていくことができるように処置する試験工程で、バーンインルーム内のラックに収めてのセルフプログラムによって別途のテストシステムを使用することなく実施される。
【０００３】
ハードディスクドライブのテスト工程では、図１に示すように、１台のハードディスクドライブ２０を１台のテスト用コンピュータ１０に接続したシステムを使用して各種のテストが実施される。２台のハードディスクドライブ２０を１台のテスト用コンピュータ１０に接続してテストすることもあるが、この場合には、２台のうち一方をマスタ(master)、他方をスレーブ(slave) として一度に１台ずつテストを実施するようにしている。
【０００４】
このようなハードディスクドライブのテスト装置は、１台のハードディスクドライブと１台のテスト用コンピュータを上下一体的につなぎ、このテスト構造を多数、ハードディスク着脱のための間隔を適宜設けてマトリックス状に配列し、１つのチャンバ（テストチャンバ）内に位置させるようにしてある。バーンイン工程では、このようなテスト構造が単一の高温テストチャンバ内に構成されることになる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
従来のテスト装置では、多数のハードディスクドライブをテストする場合、テスト用コンピュータとハードディスクドライブを１：１で接続してテストする構造になっているため、同時にテストするハードディスクドライブの数量だけテスト用コンピュータも必要となる。このため、テストするハードディスクドライブ及びテスト用コンピュータを装填し得るだけの広い着脱空間を設けなければならないなど、コスト高につながる不具合がある。このような問題から、一度にテストする数量を制限すれば、生産工程が延びてしまうので好ましくない。
【０００６】
また、バーンイン工程では単一の高温テストチャンバ内にテスト用コンピュータも位置することになるため、テスト用コンピュータ自体の故障が誘発される可能性を否定することはできない。この他にも、専用のテスト用装置によるものであるため、実際の使用者が使用している一般コンピュータによるテスト環境とはやや離れることになり、高信頼性の点で問題がないとは言い切れない。
【０００７】
従って本発明の目的は、多数のハードディスクドライブを１つのホストコンピュータに接続してテストし得るテスト装置及び方法を提供することにある。また、最適容積で多数のハードディスクドライブをテストでき、更にハードディスクドライブは高温チャンバでテスト用コンピュータは常温チャンバでテストできるようなテスト装置及び方法を提供する。そして、多数のハードディスクドライブを一般使用者のテスト環境と同様の状態で効率的に同時にテスト可能であるテスト装置を提供する。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
この目的のために本発明のハードディスクドライブのテスト装置は、多数のハードディスクドライブを収容する高温のバーンインチャンバと、分離壁によって前記バーンインチャンバと分離され、前記バーンインチャンバ内のハードディスクドライブに接続するテスト用コンピュータを多数収容する制御チャンバと、前記バーンインチャンバの内部環境制御及び前記テスト用コンピュータの制御を行うホストコンピュータと、を備えてなることを特徴とする。その分離壁には、ハードディスクドライブとテスト用コンピュータを接続するコネクタを通す貫通孔を多数形成し、１台のテスト用コンピュータにつき複数台のハードディスクドライブを接続することができるようにしておく。また、分離壁の制御チャンバ側に多数の位置ガイド突起を突設し、これを受ける位置ガイド溝をテスト用コンピュータに設けて着脱時に摺動させるようにしてあるとよい。
【０００９】
また本発明のハードディスクドライブのテスト装置は、多数のハードディスクドライブを同時にテストするようにテスト制御信号を発生するホストコンピュータと、このホストコンピュータに多数接続され、前記テスト制御信号に従ってハードディスクドライブをテストするテスト命令を発生し、テスト結果を前記ホストコンピュータへ伝える複数のテスト用コンピュータと、このテスト用コンピュータ１台につき複数ずつ接続され、該テスト用コンピュータとハードディスクドライブとのデータ伝送動作を制御するＩＤＥアダプタと、を備え、１台の前記テスト用コンピュータで複数のハードディスクドライブをテスト可能であることを特徴とする。
【００１０】
或いは、本発明によれば、１台のホストコンピュータに多数のテスト用コンピュータを接続し、そしてその各テスト用コンピュータにそれぞれ複数のＩＤＥアダプタを接続し、更にその各ＩＤＥアダプタにそれぞれ複数台のハードディスクドライブを接続して行うハードディスクドライブのテスト方法として、テスト実行命令を入力したホストコンピュータから複数のテスト用コンピュータへテスト制御信号を発生する第１過程と、ホストコンピュータの貯蔵領域からテストプログラムをダウンロードした複数のテスト用コンピュータそれぞれが、そのプログラムに基づいてテスト命令を複数のＩＤＥアダプタを通じて複数のハードディスクドライブへ伝送する第２過程と、そのテスト命令を受信したハードディスクドライブが該当テストを行った結果をＩＤＥアダプタを通じてテスト用コンピュータが受け取る第３過程と、ハードディスクドライブからテスト結果を受信したテスト用コンピュータがホストコンピュータへそのテスト結果を報告する第４過程と、を遂行することを特徴とするテスト方法が提供される。
【００１１】
その第１過程は、テスト実行命令を入力したホストコンピュータが自体のプログラムを実行して複数のテスト用コンピュータをブートさせる段階と、そのブートしたテスト用コンピュータとの通信チャンネルを形成して各テスト用コンピュータの初期状態をチェックした後、テスト制御信号を発生する段階と、を遂行することができる。また、第４過程の後、テスト用コンピュータがホストコンピュータからのテスト終了メッセージを確認し、該テスト終了メッセージが受信されたときにテスト結果をハードディスクドライブのメンテナンスシリンダに記録するように制御する第５過程を遂行することができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態につき添付の図面を参照して詳細に説明する。
【００１３】
図２及び図３に、ハードディスクドライブのテスト装置の前後面を斜視図で示す。図示のようにこのテスト装置２００は、最適容量で多数のハードディスクドライブ６０（図５）を効率的にテストするために、多数のハードディスクドライブ６０を縦横に整列させて積層状態で収容する高温のバーンインチャンバ(burn in chamber) ３０が前方に設けられている。そして、その多数のハードディスクドライブ６０を装着してテストするテスト用コンピュータ５０を縦横に整列させて配置するための制御チャンバ４０が、バーンインチャンバ３０との一体形で且つ分離壁８０により区分して装置後方に設けられている。
【００１４】
図４の内部構造に示すように、バーンインチャンバ３０の内部環境つまり温度や湿度を制御し、制御チャンバ４０に位置したテスト用コンピュータ５０の制御信号を発生するホストコンピュータは、チャンバの上部に位置する。即ち、バーンインチャンバ３０は前方に位置し、制御チャンバ４０は後方に位置し、ホストコンピュータは制御チャンバ４０の上部に位置するようにして、１つのシステムにまとめた構造である。
【００１５】
テスト装置２００の前面部には吸気口９０が設けられ、後面部には空気を吸入する多数の吸気口、フィルタ及び排気口が設けられる。バーンインチャンバ３０では、ハードディスクドライブ６０が縦横に整列するように、中空の支持ダクト３１によって多数のハードディスクドライブ治具７０が縦横に配列され、バーンインチャンバ３０を密閉するフロントドア１０が前面に開閉可能に設けてられている。また、テスト装置２００の前面上部にはディスプレイが配設され、その横にキーボードが配置してあって入力指示を行えるようにしてあり、テスト結果を容易に確認することができる。更に、電圧表示部も配設されており、容易にチャンバの電源状態を確認することができる。
【００１６】
分離壁８０によって区分されたバーンインチャンバ３０と制御チャンバ４０のうちバーンインチャンバ３０は、ハードディスクドライブ６０の高温信頼性テストを行うことのできる環境を提供する。そして、ハードディスクドライブ６０をテスト時に装着して完了時に取り出すことのできる着脱可能な構造である。更に、バーンインチャンバ３０では、１台のテスト用コンピュータ５０に対して複数のハードディスクドライブ６０を接続して積層する構造とされ、このような構造が繰り返されることにより、最適容量で効率的に多数のハードディスクドライブ６０を同時テストすることができる。
【００１７】
ハードディスクドライブ６０は、バーンインチャンバ３０内に配列された治具７０に装着される。この治具７０は、よく知られたポゴピン(pogo pin)７０をその内側に有し、該ポゴピン７１にハードディスクドライブ６０のパワーコネクタに位置したパワーピン及び信号ピンを接続することができる。そして、治具７０の外側にポゴピン７１に接続したコネクタ７２が配設され、これが分離壁８０の貫通孔８１を通してテスト用コンピュータ５０のコネクタ５２に接続される。図５に示してある例は、１台のテスト用コンピュータ５０で６台のハードディスクドライブ６０をテストし得る構造である。即ち、１台のコンピュータ５０には６つのコネクタ５２が上下方向に並べて設けられ、これに対応して分離壁８０に６つの貫通孔８１が開けられて６台のハードディスクドライブ６０を装着してテストすることができる。
【００１８】
また一例として図５に示すように、テスト用コンピュータ５０の着脱時に正確に摺動させて固定できるよう分離壁８０の所定位置に、位置ガイド突起８２を制御チャンバ４０側へ向けて突設し、この突起８２に相応する位置ガイド溝５３をコンピュータ５０の後面角部に形成することもできる。
【００１９】
テスト装置２００のバーンインチャンバ３０に対しては、図４に示すように、チャンバ３０内の温度を調節するため上下部それぞれに、高温環境を設定するヒータ及び該ヒータの熱風を加圧するブロワ(blower)が設置されている。そして、制御チャンバ４０の上部には、バーンインチャンバ３０の内部環境を制御し、テスト用コンピュータ５０の制御信号を発生するホストコンピュータが設置され、また制御チャンバ４０の下部には、装置電源を供給する電源供給部(DC-power supply) が設置される。更に、電源供給部による電源を効率的に分配し得る電源分配部(power distributor) も制御チャンバ４０上部に配置してある。
【００２０】
制御チャンバ４０に装填されるテスト用コンピュータ５０は、メンテナンスの着脱をし易いように後面側に把手５１を有し、その内部には電源部、メインボード部及び複数のコネクタ５２が設置される。このテスト用コンピュータ５０の１台に多数のハードディスクドライブ６０を接続することが可能で、コンピュータ５０のメンテナンスがより効率的となり、テスト用コンピュータ５０の単純交換によるテスト装置の交換修理が容易である。
【００２１】
この例のテスト装置２００では、分離壁８０で一体形の２つのチャンバ３０，４０を区分してあり、前面側のバーンインチャンバ３０に配列した治具７０のポゴピン７１にハードディスクドライブ６０を装着すれば、ポゴピン７１に接続したコネクタ７２が分離壁８０の貫通孔８１を貫通して制御チャンバ４０のテスト用コンピュータ５０に接続されているので、より正確で便利にハードディスクドライブ６０を着脱して性能試験を実施することができる。
【００２２】
図６は、上記形態のテスト装置２００におけるテストシステムのブロック図である。本システムの構成では、１台のホスト、或いは主コンピュータ６００に、サブコンピュータ６１０を構成する２０台のテスト用コンピュータ６１２〜６１８が第１制御バス６６０を通じて接続されている。各テスト用コンピュータ６１２〜６１８には、３つのデュアルチャンネルＩＤＥアダプタ６２２〜６２６が第２制御バス６３０を通じて接続され、その各ＩＤＥアダプタ６２２〜６２６にそれぞれハードディスクドライブ６４２〜６５２が２台ずつ接続される。この場合、テスト用コンピュータ６１２〜６１８間の伝送データ衝突防止はホストコンピュータ６００で、そして３つのＩＤＥアダプタ６２２〜６２６間の伝送データ衝突防止は該当のテスト用コンピュータ６１２〜６１８で行うようにする。
【００２３】
ホストコンピュータ６００は、第１制御バス６６０を介し接続された２０台のテスト用コンピュータ６１２〜６１８からテスト結果データを受け付け、また、テスト装置２００の各チャンバ３０，４０内の温度を調節する。テスト用コンピュータ６１２〜６１８は、第１制御バス６６０を通じてホストコンピュータ６００からブーティングプログラムを受けてブート（立上）し、下位のＩＤＥアダプタ６２２，６２４，６２６を制御してハードディスクドライブテスト命令を発生する。そして、デバイスドライバプログラム(divice driver program) を実行し、テストするハードディスクドライブの間の命令を行い且つ情報を伝達する媒介体としての役割を果たす。ＩＤＥアダプタ６２２〜６２６は、一種のバスマスタ素子であって、テスト用コンピュータ６１２〜６１８の内部に備えられた中央処理部の制御でない別の独立的なデータ伝送動作を行う。従って、テスト用コンピュータ６１２〜６１８とハードディスクドライブ６４２〜６５２との間のデータ伝送を高速化させることができる。
【００２４】
テスト用コンピュータ６１２〜６１８にデバイスドライバプログラムの構成モジュールについて図７に示してある。図示のようにデバイスドライバ７２０の構成ルーチンは、インタラプトサービスルーチン７３０、ドライバ分岐ルーチン７４０、ドライバ初期化ルーチン７５０、チャンネル選択ルーチン７６０、チャンネル状態チェックルーチン７７０、テスト遂行ルーチン７８０、チャンネルリセットルーチン７９０の７つのルーチンから構成される。これらルーチンは、ホストコンピュータ６００内のハードディスクに貯蔵されており、テストプログラム初期化時にテスト用コンピュータ６１２〜６１８のメモリに転送され、テスト用コンピュータ６１２〜６１８によって実行される。
【００２５】
ドライバ初期化ルーチン７５０は、テスト用コンピュータ内中央処理部の制御でドライブの初期化を行う役割をもつ。インタラプトサービスルーチン７３０は、３つのＩＤＥアダプタ６２２，６２４，６２６がもつチャンネルＣＨ１〜ＣＨ６のうちいずれか１つのチャンネルから発生したインタラプトを受け取った後、テスト用コンピュータ内中央処理部によって実行される。ドライバ分岐ルーチン７４０は、テスト用コンピュータ内メモリのテストプログラム７１０によるテスト命令を、下位実行モジュールのチャンネル選択ルーチン７６０、チャンネル状態チェックルーチン７７０、テスト遂行ルーチン７８０、チャンネルリセットルーチン７９０にそれぞれ該当命令が伝達し得るように、分岐する。
【００２６】
下位実行ルーチンであるチャンネル選択ルーチン７６０は、ドライバ初期化ルーチン実行時にテスト用コンピュータを検査し、接続されたＩＤＥアダプタ６２２，６２４，６２６のチャンネル番号を初期化ルーチンに知らせる。チャンネル状態チェックルーチン７７０は、チャンネル選択ルーチン７６０によって選択されたチャンネルの状態をチェックする。テスト遂行ルーチン７８０は、チャンネル選択ルーチン７６０によって選択されたチャンネルに対して実際のテスト遂行命令を伝達するモジュールである。チャンネルリセットルーチン７９０は、エラーの発生したチャンネルをリセットするルーチンである。
【００２７】
このデバイスドライバ７２０は、テスト用コンピュータ６１２〜６１８とハードディスクドライブ６４２〜６５２との間の命令を行い、且つ情報を伝達する媒介体としての役割を果たす。
【００２８】
ホストとして用いられるＩＤＥアダプタ６２２〜６２６は、図８に示すような構成をもつ。この図８は、ＩＤＥアダプタ内のＰＣＩ  ＩＤＥバスマスタコントローラのブロック図である。その構成は大きく分けて６つの部分、即ち読出／書込制御部８３０，８６０、ＰＣＩインタフェース部８００、ＰＣＩ環境設定部８４０、ＦＩＦＯメモリ８１０，８７０、仲裁回路部８５０、ＨＤＤインタフェース部８２０，８８０からなる。
【００２９】
ＰＣＩインタフェース部８００は、テスト用コンピュータ６１２〜６１８とＩＤＥアダプタ６２２〜６２６との間を接続するＰＣＩバス８３０に対するインタフェースであり、自分のアドレスに該当する伝送データを選択して送受信する。ＰＣＩ環境設定部８４０は、テスト用コンピュータがデバイスドライバ７２０をロードしてテストプログラムを実行するとき、初めにＩＤＥアダプタ内の環境を初期化する役割を果たす。第１，第２ＦＩＦＯメモリ８１０，８７０は、２つ備えられることにより２台のハードディスクドライブ用にそれぞれ使用され、テスト用コンピュータとハードディスクドライブ間の処理速度差を補償するためのメモリである。
【００３０】
第１，第２読出／書込制御部８３０，８６０は、２つ備えられて２台のハードディスクドライブ用にそれぞれ使用され、ＰＣＩ環境設定部８４０により初期環境設定されて第１，第２ＦＩＦＯメモリ８１０，８７０を制御し、第１，第２ＨＤＤインタフェース部８２０，８８０の状態をチェックする。第１，第２ＨＤＤインタフェース部８２０，８８０は、第１，第２読出／書込制御部８３０，８６０の制御でハードディスクドライブとＩＤＥアダプタとの間のバス８７０（６７０）に対しインタフェースを行う。そして、テスト用コンピュータ６１２〜６１８から伝送されるテスト命令をハードディスクドライブ６４２〜６５２へ伝送し、そのテスト結果を第１，第２ＦＩＦＯメモリ８１０，８７０へ伝送する。仲裁回路部８５０は、第１，第２ＨＤＤインタフェース部８２０，８８０に送受信されるデータの衝突を防止するために、２つの第１，第２読出／書込制御部８３０，８６０の優先順位を与える役割を果たす。
【００３１】
このような構成及び動作をもつＩＤＥアダプタ６２２〜６２６を備えることにより、テスト用コンピュータ６１２〜６１８の内部に備えた中央処理部の制御でない別の独立的なデータ伝送動作を行うようにする。従って、テスト用コンピュータ６１２〜６１８とハードディスクドライブ６４２〜６５２との間のデータ伝送度を高速化させることができる。
【００３２】
図９は、多数のハードディスクドライブをテストするためのホストコンピュータの制御フローチャートである。
【００３３】
まず、９００〜９０２段階で使用者からテスト実行命令が入力されるとホストコンピュータ６００がブートし、通信ネットワークが構築される。その後、９０４〜９０６段階でホストコンピュータ６００は、２０台のテスト用コンピュータ６１２〜６１８をブートさせ、自体のホストプログラムを実行する。次いで９０８〜９１０段階でホストコンピュータ６００は、２０台のテスト用コンピュータ６１２〜６１８との各通信チャンネルを形成し、各テスト用コンピュータ６１２〜６１８の初期状態をチェックする。このときのテスト用コンピュータ６１２〜６１８の初期状態とは、各テスト用コンピュータのブーティングの可否、各テスト用コンピュータ内のデバイスドライバのローディングの可否、３つのＩＤＥアダプタの動作の可否をいう。
【００３４】
その後、９１２〜９１４段階でホストコンピュータ６１２〜６１８は、チェックした初期状態をモニタに表示し、テスト対象のハードディスクドライブのモデル選択を要求する。次に９１６段階でホストコンピュータ６００は、ハードディスクドライブのモデル選択キーが入力されるのに応じて該当のテストプログラムをテスト用コンピュータ６１２〜６１８へダウンロードする。
【００３５】
そして、９１８段階でホストコンピュータ６００は、テスト用コンピュータ６１２〜６１８からのメッセージを監視し、メッセージが検出されると９２０段階でまず、そのメッセージがテスト終了メッセージかどうかを確認する。テスト終了メッセージであれば９２８段階を行ってテスト用コンピュータ６１２〜６１８から以後に伝送されるテスト結果をモニタに表示する。
【００３６】
９２０段階で確認した結果、テスト用コンピュータ６１２〜６１８からのメッセージがテスト終了メッセージでなかった場合は、９２２段階でホスト用コンピュータ６００は、そのメッセージの内容がエラーメッセージかどうかを確認する。エラーメッセージであればホストコンピュータ６００は９２４段階で、エラーメッセージ数を確認し、予め設定されたエラー臨界値以上であれば９２６〜９２８段階を行う。９２６段階ではテスト終了メッセージをテスト用コンピュータ６１２〜６１８へ送り、９２８段階でテスト結果を表示する。
【００３７】
９２２段階でエラーメッセージでないか、或いは９２４段階でエラーメッセージ数がエラー臨界値よりも少なければホストコンピュータ６００は、９３０段階で該当メッセージを処理した後、９１８段階へ戻って以後の過程を再び行う。
【００３８】
図１０は、多数のハードディスクドライブをテストするテスト用コンピュータの制御フローチャートである。多数のテスト用コンピュータ６１２〜６１８は全て同じ制御を行う。
【００３９】
１０００〜１００２段階で、ホストコンピュータ６００に従いテスト用コンピュータがブートし、テスト用コンピュータの内部メモリにあるテストプログラムが初期化される。その後、１００４段階でテスト用コンピュータは、デバイスドライバ７２０を構成するインタラプトサービスルーチン７３０、ドライバ分岐ルーチン７４０、ドライバ初期化ルーチン７５０をローディングする。そして、１００６〜１００８段階でテスト用コンピュータは、ホストコンピュータ６００からの状態チェック要求に従ってデバイスドライバローディング状況を伝える。
【００４０】
続いてテスト用コンピュータは、ハードディスクドライブテストモードを行って１０１０段階で、各チャンネルＣＨ１〜ＣＨ６にハードディスクドライブがそれぞれ接続されたかどうかを確認する。チャンネルＣＨ１〜ＣＨ６のハードディスクドライブ接続状態を確認すると１０１２段階でテスト用コンピュータは、ホストコンピュータ内のハードディスクに貯蔵されたテストプログラムをダウンロードする。そして、テスト用コンピュータは１０１４〜１０１６段階で、デバイスドライバ７２０のチャンネル選択ルーチン７６０、チャンネル状態チェックルーチン７７０、テスト遂行ルーチン７８０、チャンネルリセットルーチン７９０を実行するようにした後、それによるテスト結果データをホストコンピュータ６００へ伝送する。このとき、チャンネル状態チェックルーチン７７０を通じて選択されたチャンネルの状態をチェックした後、テスト遂行ルーチン７８０内の１つの命令コードを選択して実行するようにする。実行される命令コードは、テスト用コンピュータ内のデバイスドライバ７２０の制御に従い３つのＩＤＥアダプタ６２２，６２４，６２６を通じてテストするハードディスクドライブ６４２〜６５２へ伝送される。
【００４１】
次いで１０１８段階でテスト用コンピュータは、ホストコンピュータ６００からのテスト終了メッセージをチェックし、テスト終了メッセージを受信した場合は１０２２〜１０２４段階で、テスト終了メッセージをホストコンピュータ６００へ報告し、テスト結果をハードディスクドライブのメインテナンスシリンダに記録する。続いて１０２６段階でテスト用コンピュータは、テストしたハードディスクドライブが取り外されたかどうかを確認し、外されれば１０１０段階へルーチンを戻して他のハードディスクドライブの装着を待って以降の段階を引き続き行うようにする。
【００４２】
一方、１０１８段階でホストコンピュータ６００からのテスト終了メッセージが受信されなければテスト用コンピュータは、１０２０段階を行ってテスト遂行ルーチン７８０内の後続の命令コードを選択実行するようにした後、１０１４段階へルーチンを戻して以降の段階を再び行う。しかし、１０２０段階で選択実行する命令コードがないときには、１０２２段階で、ホストコンピュータ６００へテスト終了メッセージを伝送した後、１０２４〜１０２６段階を行うようにする。
【００４３】
以上のように、１台のホストコンピュータ６００に２０台のテスト用コンピュータ６１２〜６１８を接続し、その各テスト用コンピュータ６１２〜６１８に３つずつのＩＤＥアダプタ２２２，２２４，２２６を接続するようにしたうえに、その各ＩＤＥアダプタ２２２，２２４，２２６に２台ずつのハードディスクドライブ６４２〜６５２を接続してテストし得るシステムが構築される。従って、１台のホストコンピュータ６００で同時に１２０台のハードディスクドライブ６４２〜６５２をテストすることができ、単位時間当たりテストを行えるハードディスクドライブの数量を増加させることができるようになっている。
【００４４】
【発明の効果】
本発明によれば、テスト工程におけるハードディスクドライブのテスト効率を上げることができ、最適の容量及び時間で同時に多数のハードディスクドライブをテストするのに効果的で、低コストで高効率の装置を提供する利点がある。また、バーンインチャンバと制御チャンバが分けられているので、高温のチャンバからテスト用コンピュータ（ボード）が保護され、装置の安全性が高い。更に、一般使用者のテスト環境と同一の環境を提供することによりテスト結果の信頼性を高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】従来のハードディスクドライブのテスト装置を説明するブロック図。
【図２】本発明に係るテスト装置の前面側を示す斜視図。
【図３】本発明に係るテスト装置の後面側を示す斜視図。
【図４】本発明に係るテスト装置の内部構造を示す概略断面図。
【図５】本発明に係るテスト用コンピュータとハードディスクドライブの接続状態を示す分離斜視図。
【図６】本発明に係るテスト装置に搭載されるテストシステムのブロック図。
【図７】本発明に係るテスト用コンピュータ内部のデバイスドライブの構成ルーチンを示すブロック図。
【図８】本発明に係るＩＤＥアダプタ内のＰＣＩ  ＩＤＥバスマスタコントローラのブロック図。
【図９】本発明に係るテスト方法を説明するホストコンピュータの制御フローチャート。
【図１０】本発明に係るテスト方法を説明するテスト用コンピュータの制御フローチャート。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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