(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学情報記録媒体に光源から光ビームを照射して情報を記録するに当り、前記光源の記録パワーを調整する方法において、前記光学情報記録媒体の隣接する３トラックのうち中心トラックに、テストパターンの信号を記録パワーを変化させながら記録するステップと、前記中心トラックの両側に隣接するトラックに、それぞれ前記中心トラックにおいて前記テストパターンを記録した領域とトラック走査方向において略重なり合う位置に、記録パワーを変化させながらテストパターンの信号をそれぞれ２回以上記録するステップと、前記中心トラックを再生して再生信号の信号特性を測定するステップと、測定した再生信号特性に基づいて前記光源の記録パワーを調整するステップと、を含むことを特徴とする記録パワー調整方法。
【請求項２】
前記３トラックにおけるテストパターンの記録が前記光学情報記録媒体のトラック走査方向において略同一のデータ長となるよう記録することを特徴とする請求項１に記載の記録パワー調整方法。
【請求項３】
前記３トラックに信号を記録する場合の記録パワーの変化のタイミングを前記光学情報記録媒体のトラック走査方向において略同一タイミングに揃えることを特徴とする請求項１乃至２のいずれか１項に記載の記録パワー調整方法。
【請求項４】
前記中心トラックの再生信号の信号振幅を測定し、該信号振幅を基に記録パワーを決定することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の記録パワー調整方法。
【請求項５】
前記中心トラックの再生信号のジッターを測定し、該ジッターを基に記録パワーを調整することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の記録パワー調整方法。
【請求項６】
前記中心トラックに記録するテストパターンはランダムデータであり、前記隣接トラックに記録するテストパターンはランダムデータ又はある周期の繰り返しパターンであることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の記録パワー調整方法。
【請求項７】
前記中心トラックに記録するテストパターンはある周期の繰り返しパターンデータであり、前記隣接トラックに記録するテストパターンはランダムデータ又はある周期の繰り返しパターンであることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の記録パワー調整方法。
【請求項８】
光学情報記録媒体に光源から光ビームを照射して情報を記録するに当り、前記光源の記録パワーを調整する方法において、前記光学情報記録媒体に中心トラックとその両側に隣接するトラックの３トラックを一組とする複数のテスト領域が配置されており、前記複数のテスト領域にテスト領域毎に記録パワーを変化させて、中心トラックにテストパターンの信号を１回、両側に隣接するトラックにテストパターンの信号を２回以上記録するステップと、前記複数のテスト領域の中心トラックを再生してテスト領域毎に再生信号の信号特性を測定するステップと、テスト領域毎に測定した再生信号特性に基づいて前記光源の記録パワーを調整するステップと、を含むことを特徴とする記録パワー調整方法。
【請求項９】
前記光学情報記録媒体に３の整数倍のトラックが記録パワーの調整のためのテスト領域として配置されていることを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の記録パワー調整方法。
【請求項１０】
光学情報記録媒体に光源から光ビームを照射して情報を記録するに当り、前記光源の記録パワーを調整する方法において、前記光学情報記録媒体の隣接する３トラックのうち中心トラックに、テストパターンの信号を記録パワーを変化させながら記録するステップと、前記中心トラックの両側に隣接するトラックに、それぞれ前記中心トラックにおいて前記テストパターンを記録した領域とトラック走査方向において略重なり合う位置に、記録パワーを変化させながらテストパターンの信号を記録するステップと、前記中心トラックを再生して再生信号の信号特性を測定するステップと、測定した再生信号特性に基づいて前記光源の記録パワーを調整するステップと、を含み、前記光情報記録媒体に形成されているプリピットを利用して前記３トラックに信号を記録する場合の記録パワーの変化のタイミングを前記光学情報記録媒体のトラック走査方向で略同一タイミングとする記録パワー調整方法であって、前記光学情報記録媒体に形成されているプリピットが隣接するトラック間でずれている時は隣接するトラック間のプリピットのずれ量を予め計算し、それに基づいて前記テスト領域の３トラックに信号を記録する場合の記録パワーの変化のタイミングを略同一タイミングに揃えることを特徴とする記録パワー調整方法。
【請求項１１】
前記光学情報記録媒体は、相変化記録媒体であることを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の記録パワー調整方法。
【請求項１２】
光学情報記録媒体に光源から光ビームを照射して情報を記録する光学情報記録装置において、該記録媒体の隣接する３トラックのうち中心トラックにテストパターンの信号を記録パワーを変化させながら記録する手段と、該中心トラックの両側に隣接するトラックにそれぞれ該中心トラックに記録したテストパターンと該記録媒体のトラック走査方向において略同一の領域に記録パワーを変化させながらテストパターンの信号をそれぞれ２回以上記録する手段と、該中心トラックを再生して再生信号の信号特性を測定する手段と、測定した再生信号特性に基づいて該光源の記録パワーを調整する手段とを備えたことを特徴とする光学情報記録装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光学情報記録媒体に情報を記録する半導体レーザ等の光源の記録パワーを最適記録パワーに調整する方法及びそれを用いた光学情報記録装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、レーザ光照射によって情報の記録・再生を行う光学情報記録媒体としては、CD−RやDVD−R等の追記型媒体、光磁気ディスク、CD−RWやDVD−RAM、DVD−RW等の相変化光ディスクが知られている。これらの媒体を用いた記録は、いずれの場合もレーザ光照射に伴う温度上昇を利用した熱記録であるので、信号品質を確保するためにはレーザ光照射時の媒体の温度上昇を厳しく管理する必要がある。
【０００３】
そのため、例えば、環境温度が上昇した場合には、それに応じて記録パワーを適切に低減しなければならない。環境変化に応じて記録パワーを制御するためには、記録パワー調整領域を別途設けて試し書きを行い、ある条件（例えば、ジッターを測定して、ジッターが最小となる条件）で記録パワーの最適化を行うのが一般的である。
【０００４】
【特許文献１】
特開平１１−２５４９１号公報
【発明が解決しようとする課題】
ところで、従来の記録パワー調整方法では、自己トラックにのみ記録を行って記録パワーの調整を行うのが一般的である。しかしながら、記録容量を大きくするために、トラックピッチを狭めた場合、自己トラックで最適となる記録パワーが必ずしも最適であるとは限らない。これは、トラックピッチを狭めた場合には、あるトラックで記録を行った際に隣接するトラックのデータを意図せずに消去してしまうクロス消去の問題が書き換え型の光ディスクにおいて顕著となるからである。
【０００５】
クロス消去を考慮した記録パワー決定手法としては、光磁気ディスクに対して自己トラックのみならず隣接トラックにも記録を行って最適記録パワーを決定する方法が、例えば、上記【特許文献１】で提案されている。しかしながら、この手法では、ディスクのトラックにテストパワーで記録を行った後、再度記録パワーを変化させて記録を行うため、記録パワーの決定に時間がかかってしまうという問題があった。
【０００６】
例えば、記録パワーを４通りに変化させる場合には、自己トラック、両側隣接トラックの合計３トラックに４回記録を行う必要があり、最低でもディスクを４×３＝１２回転させる必要がある。更に、この手法は、光磁気ディスクを対象としており、隣接トラックに１回しか記録を行わないため、クロス消去の影響を特に相変化光ディスクに対して正確に見積もることは困難である。相変化光ディスクにおいては、クロス消去が記録非晶質マークの結晶化過程によって生じるため、隣接トラックにおける記録回数が増加するほど結晶化が進行し、クロス消去の影響が大きくなる可能性があった。
【０００７】
本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたもので、その目的は、記録媒体のトラックを狭トラックピッチ化した場合であっても、且つ、クロス消去の影響を含めて、相変化記録媒体であっても、効率良く短時間で記録パワーを調整することが可能な記録パワー調整方法及びそれを用いた光学情報記録装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
本発明は、上記目的を達成するため、光学情報記録媒体に光源から光ビームを照射して情報を記録するに当り、前記光源の記録パワーを調整する方法において、前記記録媒体の隣接する３トラックのうち中心トラックにテストパターンの信号を記録パワーを変化させながら記録するステップと、前記中心トラックの両側に隣接するトラックにそれぞれ前記中心トラックにおいてテストパターンを記録した領域とトラック走査方向において略重なりあう位置で記録パワーを変化させながらテストパターンの信号を記録するステップと、前記中心トラックを再生して再生信号の信号特性を測定するステップと、測定した再生信号特性に基づいて前記光源の記録パワーを調整するステップと、を含むことを特徴としている。
【０００９】
また、本発明は上記目的を達成するため、光学情報記録媒体に光源から光ビームを照射して情報を記録するに当り、前記光源の記録パワーを調整する方法において、前記記録媒体に中心トラックとその両側に隣接するトラックの３トラックを一組とする複数のテスト領域が配置されており、前記複数のテスト領域にテスト領域毎に記録パワーを変化させて、中心トラックにテストパターンの信号を１回、両側に隣接するトラックにテストパターンの信号を２回以上記録するステップと、前記複数のテスト領域の中心トラックを再生してテスト領域毎に再生信号の信号特性を測定するステップと、テスト領域毎に測定した再生信号特性に基づいて前記光源の記録パワーを調整するステップとを含むことを特徴としている。
【００１０】
更に、本発明は上記目的を達成するため、光学情報記録媒体に光源から光ビームを照射して情報を記録する光学情報記録装置において、前記記録媒体の隣接する３トラックのうち中心トラックにテストパターンの信号を記録パワーを変化させながら記録する手段と、前記中心トラックの両側に隣接するトラックにそれぞれ前記中心トラックと略同一タイミングで記録パワーを変化させながらテストパターンの信号を記録する手段と、前記中心トラックを再生して再生信号の信号特性を測定する手段と、測定した再生信号特性に基づいて前記光源の記録パワーを調整する手段とを備えたことを特徴としている。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。図１は本発明の光学情報記録装置の一実施形態の構成を示すブロック図である。図１において、１０１は情報記録媒体であるところの光ディスクである。本実施形態では光ディスク１０１として相変化光ディスクを用いた場合を例として説明するが、本発明は、その他に光磁気ディスク等であっても記録パワーを調整することが可能である。
【００１２】
また、１０２は光ディスク１０１に情報を記録、再生する光ヘッドである。光ヘッド１０２内には、記録、再生用光源である半導体レーザ（図示せず）、半導体レーザから出射した光ビームを光ディスク１０１上に集光する対物レンズ（図示せず）、光ディスク１０１からの反射光を検出する光センサ（図示せず）等各種の光学素子が設けられている。
【００１３】
１０３は光ヘッド１０２内の半導体レーザを駆動するレーザドライバー、１０４は装置全体を制御するＣＰＵ、１０５はＣＰＵ１０４からの記録データを変調処理し、記録信号としてレーザドライバー１０３に供給する記録回路である。また、１０６は光ヘッド１０１からの再生信号の信号特性を測定する信号特性測定回路、１０７は光ヘッド１０２からの再生信号を用いてテストの信号処理を行い、再生データを生成する再生回路である。
【００１４】
信号特性測定回路１０６は詳しく後述するように記録パワー調整時に再生信号の振幅あるいはジッターを測定し、ＣＰＵ１０４はその測定結果に基づいて光源である半導体レーザの記録パワーの調整を行う。記録パワーの調整方法については図面を参照して詳しく後述する。また、ＣＰＵ１０４は光ヘッド１０２内の半導体レーザのパワー設定の他に記録タイミング制御、再生タイミング制御等統括的に装置内の制御を行い、光ディスク１０１にデータの記録あるいは再生を行う。
【００１５】
次に、本実施形態の記録パワー調整方法について説明する。図２は本発明の記録パワー調整方法の一実施形態を示すフローチャートである。図２において、光ディスク１０１が装置内に挿入されると、ＣＰＵ１０４は予め決められた光ディスク１０１のテスト領域に光ヘッド１０２を移動させて、予め設定された記録データを記録回路１０５に供給し、テスト領域の隣接する３トラックのうち中央に位置する中心トラックＴ０に予め設定されたテストパターンの信号を記録パワーを変化させながら記録する（ステップ１０１）。
【００１６】
図３（ａ）はこの時記録する記録マークの一例を示す。Ｔ０はテスト領域の中心トラック、Ｔ１及びＴ２は中心トラックＴ０の両側に隣接するトラックである。本実施形態では、図３（ａ）に示すように中心トラックＴ０に記録パワーをＰｗ１、Ｐｗ２、Ｐｗ３というように変化させながらテストパターンの信号の記録を行う。図３（ａ）に示すように記録パワーの変化に伴い、記録ピットの大きさが変化している。
【００１７】
中心トラックＴ０に記録を完了すると、図３（ｂ）に示すように両側に隣接するトラックＴ１、Ｔ２にそれぞれ記録パワーを変化させながらテストパターンの信号の記録を行う（ステップ１０２）。この場合、トラックＴ１、Ｔ２に信号を記録する時は図３（ｂ）に示すように中心トラックＴ０と同一タイミングで記録パワーを変化させて信号の記録を行う。また、隣接トラックＴ１、Ｔ２に記録する時は、詳しく後述するように２回以上記録するのが望ましい。
【００１８】
ここで、光ディスク１０１にスパイラル状に案内溝が形成されている場合は、ディスク回転１周分が１トラックに相当する。本実施形態では、同一記録トラックにおいて異なる記録パワーで記録を行っているが、これは、テスト領域をできるだけ少なくし、ユーザーが自由にデータを記録できるデータ記録領域を多く確保するためである。
【００１９】
中心トラックＴ０と両側に隣接するトラックＴ１、Ｔ２で記録パワーを変化させるタイミングを揃えるためには、光ディスク基板に予め形成されているプリピットを利用することができる。例えば、図４に示すように光ディスク基板に予め形成されているプリピット（あるいは案内溝が形成されていないミラー）を基準として、テスト領域の各トラックにピットを記録する開始タイミングを調節することで、テスト領域の３トラックで記録パワーの変化のタイミングが同一となるように調節することが可能である。
【００２０】
光ディスクの場合はアドレス情報等のプリピットが予め形成されているのが一般的であるので、このプリピットを利用して記録のタイミングを調節することができる。但し、隣接するトラックにおいて必ずしもプリピットが隣接して存在するとは限らず、図５に示すようにプリピットがずれて配置されている場合がある。その場合は、図５に示すように隣接するプリピット間の距離のずれ量を予め計算しておき、それに基づいて各トラックへの記録開始のタイミングを調節すれば良い。
【００２１】
両側に隣接するトラックＴ１、Ｔ２の記録を完了すると、ＣＰＵ１０４はレーザドライバー１０３を制御し、光ヘッド１０２内の半導体レーザの光ビームを再生パワーとして中心トラックＴ０の再生を行う。この時、光ヘッド１０２から再生信号が出力され、信号特性測定回路１０６に入力される。信号特性回路１０６では再生信号の振幅を記録パワーの変化に対応して測定し、ＣＰＵ１０４に出力する（ステップ１０３）。
【００２２】
ＣＰＵ１０４では、記録パワーと信号振幅を対応させてメモリ（図示せず）に記憶させておき、それに基づいて再生信号振幅が最大となる時の記録パワーを最適記録パワーとして決定する（ステップ１０４）。また、ＣＰＵ１０４はレーザドライバー１０３を制御し、光ヘッド１０２内の半導体レーザの記録パワーを決定した記録パワーに調整する。以下、この最適記録パワーで光ディスク１０１に情報の記録を行う。なお、記録パワーの調整を光ディスク１０１の挿入時に行うと説明したが、これに限ることなく、例えば、光学情報記録装置の稼働時においても定期的に実行してもよい。
【００２３】
ここで、図３に示す中心トラックＴ０には、単一パターンの繰り返しパターン（例えば、ｎＴパターン：Ｔはウインド幅、ｎは１以上１６以下の整数、あるいはｋＴマーク、ｌＴスペース、ｍＴマーク、ｎＴスペースの繰り返し；ｋ、ｌ、ｍ、ｎは１以上１６以下の整数）、あるいはランダムデータを記録し、同様に両側の隣接トラックＴ１、Ｔ２には中心トラックＴ０と同じパターンの信号を記録しても良い。その後、中心トラックＴ０を再生して再生信号振幅が最大となる時の記録パワーを最適記録パワーとして決定する。
【００２４】
また、信号特性測定回路１０６により再生信号のジッターを測定してジッターが最小となる記録パワーを最適記録パワーとして決定してもよい。更に、再生信号のジッターを直接測定せずに再生信号をパルス化してパルスの立ち上がり位置及び立ち下がり位置と基準クロックとのずれ時間を測定し、ずれ時間が基準クロックから決定される基準時間（ウインド幅）より大きいずれをカウントし、このカウント値が一番小さい時の記録パワーを最適記録パワーとして決定することも可能である。
【００２５】
いずれの場合も、両側に隣接するトラックＴ１、Ｔ２には、中心トラックＴ０と同様にランダムデータ（中心トラックと同じデータである必要はない）、もしくは単一パターンの繰り返しパターンを記録すればよい。ランダムデータを記録するのが実際の使用状態に近いが、隣接記録の影響をより顕著にするには、ｋ、ｌ、ｍ、ｎの組み合わせとして、７以上の整数と、３以下の整数の組み合わせ（例えば、８Ｔマーク、２Ｔスペース、２Ｔマーク、２Ｔスペース）を用いるのが良い。これは、長マーク（７Ｔ以上）によりクロストークの影響を顕著にし、短マーク（３Ｔ以下）によりクロス消去の影響を顕著にできるからである。
【００２６】
クロス消去は熱蓄積による現象であるため、隣接トラックの書き換え回数が増えるほどクロス消去の影響は顕著となる。従って、記録パワー調整時には、隣接トラックに少なくとも２回以上記録を行うことが望ましい。但し、実際の装置では、隣接トラックのみを１００回以上書き換えることはほとんど無いこと、不必要に多数回記録を行うと記録パワー調整に長い時間を要することから、最大でも５０回程度記録を行えば十分である。
【００２７】
なお、１回の記録パワー調整において、テスト領域のトラックすべてを使用する必要はなく、セクタ単位、あるいはシンクフレーム単位で行えば十分である。ここで、クロス消去後の中心トラックの再生信号のジッターを測定して最適記録パワー条件を決定する場合を考える。
【００２８】
この時、セクタ長を２ＫＢｙｔｅとすると、１セクタには１６０００ｂｉｔ分のデータを記録できるので、記録パワーを４通りに変化させたとしても、あるパワーに対して４０００ｂｉｔ程度のデータを記録することが可能である。なお、本願発明者等の実験によれば、１０００ｂｉｔ程度の母数があれば記録パワーの調整が十分可能であることを確かめており、１セクタ内で記録パワーを変化させて記録を行い、最適記録パワー条件を決定することは十分可能である。
【００２９】
また、同一セクタ内で同じ記録パワーで記録し、セクタが変わった時に記録パワーを変化させて記録を行ってもよいが、記録パワー調整に使用する領域をできるだけ少なくし、ユーザーが使用できる領域をできるだけ多く確保するためには、同一セクタ内で記録パワーを変化させることが望ましい。
【００３０】
本実施形態では、隣接する３トラックを利用して記録パワーの調整を行うので、テスト領域の配置管理は３トラックを一つの単位として扱う。このように３トラックを一つの単位として使用すると、ある３トラックに記録を行った後は、１〜３トラックずらした領域を新たなテスト領域として使用することとなる。但し、未記録トラックと記録済みトラックでは記録感度が変化している場合があるので、３トラックずつずらして記録パワーを調整する方が望ましい。この場合には、テスト領域として３の整数倍のトラックを割り当てることとなる。
【００３１】
なお、記録パワーを変化させるタイミングは、中心トラックと隣接するトラックで同一であることが望ましい（換言すれば、中心トラックとその隣接トラックとで記録パワーが同一であることが望ましい）。これは、クロス消去という現象が、隣接トラックに記録を行った際に、予め中心トラックに記録されていたマークが結晶化することにより生じる現象であるためである。すなわち、隣接トラックに記録パワーが照射され（中心トラックでの温度上昇がこの場合に最も高くなる）、かつ、中心トラックに記録マークが存在する（クロス消去は、記録マークの結晶化によって生じる）場合にクロス消去の影響が最も顕著となるからである。ただし、図６に示すように、記録パワーを変化させるタイミングが中心トラックと隣接トラックで多少異なっても（例えば（１−７）変調で記録を行う場合の最長データである８Ｔ程度の位置ずれが生じても）大きな問題にはならない。図６には、同一トラック内で記録パワーをPw1,Pw2,Pw3の３通りに変化させながら記録を行った領域を網掛けで示しており（各々の網掛けの領域内では、記録パワはPw1あるいはPw2あるいはPw3で一定）、中心トラックと隣接トラックでは、図６に示した拡大図から分かるように、記録開始位置（記録パワを変化させるタイミング）がずれている。この場合でも、中心トラックに記録マークが存在する領域の両側の隣接トラックには、大半の場合に記録マークが存在（隣接トラックで記録パワが照射された領域に相当）しており、クロス消去の影響を定量的に調べることが可能である。また、図６において、網掛けで示された中心トラックの各領域の最後尾の領域では隣接トラックに記録パワが照射されないことになるので、この領域ではクロス消去は生じないことになるが、１０００ビット以上のデータを用いて記録パワ調整を行うので、８Ｔ（８ビットに相当）程度のデータがクロス消去を受けなかったとしても、記録パワ調整の結果には大きな影響を及ぼすこともない。ただし、中心トラック、隣接トラックとも単一周期のデータパタンの繰り返し（例えば、８Ｔマーク、８Ｔスペースの繰り返し）を用いて記録を行う場合は、記録パワを変化させるタイミングは正確に制御する必要がある。これは、図６に示すように、単一周期のデータを記録する際には、最悪の場合、隣接トラックで記録パワが照射される際、中心トラックには記録マークが存在しないことになるためである。クロス消去が生じるのは、隣接トラックに記録パワーが照射され（温度上昇が最も高く）、かつ、中心トラックに記録マークが存在する（クロス消去は、記録マークの結晶化によって生じる）場合であるため、この最悪の条件では、クロス消去の影響を測定することはできない。中心トラックに存在するマークの少なくとも半分以上の領域で、隣接トラックで記録パワが照射されることが、望ましいので、８Ｔマーク／８Ｔスペースの繰り返しパタンで記録パワ調整を行う場合には、記録開始位置タイミングを４Ｔ程度の精度で制御する必要がある。
【００３２】
【実施例】
次に、本願発明者等は実際に光ディスクを作製し、それを用いて記録パワーを調整する実験を試みた。以下、これを実施例１、２として説明する。
（実施例１）
実施例１では、厚さ１．２ｍｍのポリカーボネート基板上に、Ａｌを１００ｎｍ、ＺｎＳ−ＳｉＯ2を２０ｎｍ、ＧｅＳｂＴｅを１３ｎｍ、ＺｎＳ−ＳｉＯ2を５０ｎｍを順次スパッタリングにより積層した。更に、その上に紫外線硬化樹脂層を０．１ｍｍ形成した。ポリカーボネート基板に形成された案内溝は溝深さ４０ｎｍ、ピッチ０.３ ｍｍであった。
【００３３】
このディスクを線速５ｍ／ｓで回転させ、波長４０５ｎｍ、対物レンズのＮＡ＝０．８５の光ヘッドを用いて、紫外線硬化樹脂層側から光を入射して、記録及び再生を行い、記録パワーの調整を行った。
【００３４】
具体的に説明すると、まず、光ディスクの中心トラックＴ０に記録パワーを３．２、３．４、３．６、３．８、４．０ｍＷと変化させながら、各記録パワーで２０００ｂｉｔのデータを記録した。クロック周波数は６０ＭＨｚとし、図７に示すように案内溝間（ここではランドと規定）のみに記録を行った。その後、中心トラックＴ０の両側に隣接する隣接トラックＴ１、Ｔ２に中心トラックＴ０と同様に記録パワーを変化させながら記録を行った。次いで、中心トラックＴ０の再生を行い、得られた再生信号のジッターを測定した。
【００３５】
ここで、中心トラックＴ０にのみ記録を行った場合の中心トラックＴ０におけるジッターの測定結果を図８に示す。図８から明らかなように記録パワー３．８ｍＷ以上でジッターが最も良い値となっている。これに対し、中心トラックＴ０の両側の隣接トラックＴ１、Ｔ２に１回記録を行った場合、２回記録を行った場合、５回記録を行った場合の中心トラックＴ０におけるジッターの測定結果を図９に示す。
【００３６】
図９から明らかなように隣接トラックＴ１、Ｔ２に１回のみ記録を行った場合は記録パワー３．６ｍＷでジッターが最小となっており、これが最適記録パワーであることが分かる。一方、隣接トラックＴ１、Ｔ２に２回以上記録を行った場合には、最適記録パワーは３．４ｍＷとなっている。即ち、隣接トラックに２回以上記録を行うと、最適記録パワーは０．２ｍＷ低下しており、クロス消去をより反映していることがわかる。
【００３７】
従って、クロス消去まで考慮すると、最適記録パワーは3.4 ｍＷということになる。なお、図９においては隣接トラックに１００回記録を行った場合のジッターの測定結果を示しているが、２回あるいは５回記録を行った場合に比べてクロス消去の影響が大きくなるためジッターが大きくなっているが、最適記録パワー自身は変化していない。
（実施例２）
実施例２では、厚さ１．２ｍｍのポリカーボネート基板上に、Ａｌを１００ｎｍ、ＺｎＳ−ＳｉＯ2を２０ｎｍ、ＧｅＳｂＴｅを１３ｎｍ、ＺｎＳ−ＳｉＯ2を５０ｎｍを順次スパッタリングにより積層した。更に、その上に紫外線硬化樹脂層を０．１ｍｍ形成した。ポリカーボネート基板に形成された案内溝は溝深さ４０ｎｍ、ピッチ０．６ｍｍであり、図１０に示すように案内溝部（ここではグルーブと規定）及び案内溝間の両方に記録を行った。
【００３８】
このディスクを線速５ｍ／ｓで回転させ、波長４０５ｎｍ、対物レンズのＮＡ＝０．８５の光ヘッドを用いて、紫外線硬化樹脂層側から光を入射して、記録及び再生を行い、記録パワーの調整を行った。
【００３９】
まず、ランド部において記録パワーを３．２、３．４、３．６、３．８、４．０ｍＷと変化させながら、各記録パワーで１０００ｂｉｔのデータを記録した。クロック周波数は実施例１と同様に６０ＭＨｚとした。その後、このランド部に隣接する両側のグルーブにそれぞれランド部と同様に記録パワーを変化させながら記録を行った。次いで、ランド部を再生し、再生信号のジッターを測定した。この場合も実施例１と同様に両側の隣接トラックに１回記録を行った場合の最適記録パワーは３．６ｍＷであったのに対し、両側隣接トラックに２回以上記録を行った場合の最適記録パワーは３．４ｍＷであった。
【００４０】
ここで、中心トラックをランド部としたのは、ランド部の方がクロス消去の影響を受けやすいためである。なお、本実施例では紫外線硬化樹脂層側から光を入射して記録再生を行う場合について説明したが、ＤＶＤ−ＲＡＭの様に基板側から光を入射して記録再生を行う場合は、案内溝部（グルーブ）の方がクロス消去の影響が顕著となるので、グルーブに記録を行った後、両側ランドに記録を行って記録パワーを調整する。
【００４１】
なお、以上の実施形態では、１つのトラックの範囲内で記録パワーを変化させて中心トラックと両側隣接トラックにテストパターンの信号を記録すると説明したが、本発明はこれに限ることなく、トラック毎に記録パワーを変化させてもよい。具体的には、光ディスクに中心トラックとその両側に隣接するトラックの３トラックを一組とするテスト領域を複数配置しておき、その内の１つのテスト領域の中心トラックにテストパターンの信号を記録し、両側に隣接するトラックにそれと同じ記録パワーでテストパターンの信号を記録する。
【００４２】
次いで、他のテスト領域の中心トラックに前回とは記録パワーを変化させてテストパターンの信号を記録し、両側に隣接するトラックにそれと同じ記録パワーでテストパターンの信号を記録する。以下、テスト領域毎に記録パワーを変化させて中心トラックと両側隣接トラックにテストパターンの信号を記録する。その後、各テスト領域の中心トラックを再生して再生信号特性を測定し、それに基づいて最適記録パワーを調整する。
【００４３】
各テスト領域の中心トラックと両側隣接トラックに記録するテストパターンの信号や、テスト領域毎の再生信号の信号特性（再生信号振幅やジッター）の測定方法は先の実施形態と同様である。また、最適記録パワーを決定は、先の実施形態と同様に行う。
【００４４】
即ち、テスト領域毎に再生された再生信号振幅のうち信号振幅が最大となる記録パワー、あるいは再生信号のジッターが最小となる記録パワーを最適記録パワーとして決定する。なお、各々のテスト領域の両側隣接トラックには、前述のように信号を２回以上記録するのが望ましい。このような方法であっても、光ディスクのユーザー使用領域は減少するが、クロス消去を含めて最適記録パワーを決定できる。
【００４５】
【発明の効果】
以上説明したように本発明によれば、記録媒体のトラックが狭トラックピッチ化された場合であっても、クロス消去の影響を含めて最適記録パワーを効率よく短時間で決定することができ、信頼性の高い高密度記録を行うことができる。また、１トラック内で記録パワーを変化させながらテスト記録を行うため、少ないテスト領域で記録パワーを決定でき、ユーザーが自由に記録できる領域を十分に確保することができる。更に、中心トラックの両側に隣接するトラックに２回以上記録することにより、相変化記録媒体の記録パワー調整に好適に用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明の光学情報記録装置の一実施形態を示すブロック図である。
【図２】  本発明の記録パワー調整方法の一実施形態を示すフローチャートである。
【図３】  図２の記録パワー調整方法の調整過程でテスト領域のトラックに記録する記録マークの一例を示す図である。
【図４】  光ディスクに形成されているプリピットを用いてテスト領域のトラックに記録を開始する場合の例を説明する図である。
【図５】  光ディスクに形成されているプリピットが隣接するトラック間でずれている時のテスト領域のトラックに記録開始する場合の例を説明する図である。
【図６】  中心トラックと隣接トラックの記録マークの重なり方を説明する図である。
【図７】  本発明の実施例１におけるテスト領域のトラックへの信号の記録を説明する図である。
【図８】  実施例１の中心トラックのみに記録を行った場合の記録パワーに対するジッターの変化の測定結果を示す図である。
【図９】  実施例１の両側隣接トラックに１回、２回、５回、１００回記録を行った場合の中心トラックにおけるジッターの測定結果を示す図である。
【図１０】  本発明の実施例２におけるテスト領域のトラックへの信号の記録を説明する図である。
【符号の説明】
１０１    光ディスク
１０２    光ヘッド
１０３    レーザドライバー
１０４    ＣＰＵ
１０５    記録回路
１０６    信号特性測定回路
１０７    再生回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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