(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
テストを受ける光学装置の特性を決定する方法において、
入射光束を第１の光束と第２の光束に分割する工程と、
所定の偏光を備えた前記第１の光束を前記テストを受ける光学装置に接続する工程と、
前記第２の光束を前記第１の光束とは異なる路に進行させる工程と、
前記光学装置からの前記第１の光束と前記第２の光束を重ね合わせ、重ね合わせられた光束における前記第１の光束と前記第２の光束間に干渉を行わせる工程と、
前記重ね合わせられた光束を偏光に依存するようにして第３の光束と第４の光束に分割する工程と、
前記入射光束の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、周波数の関数として前記第３の光束と前記第４の光束のパワーを検出する工程と、
検出されたパワーの周波数依存性から、前記テストを受ける光学装置の特性に係る複数の要素を取り出す工程と、
前記所定の偏光に関して前記第１の光束の偏光を変化させ、変化させられた偏光について、上記各工程を再度行う工程と、
前記複数の要素から前記テストを受ける光学装置の特性を決定する工程とを有することを特徴とする方法。
【請求項２】
更に、検出された前記パワーの周波数依存性から前記テストを受ける光学装置におけるジョーンズマトリックスの要素を取り出す工程を有することを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
更に、前記入射光束を分割した後で、前記第１の光束の偏光を設定する工程、あるいは、前記分割の前に前記入射光束の偏光を設定する工程を有することを特徴とする、請求項１または請求項２に記載の方法。
【請求項４】
更に、前記第１の光束の偏光を直交する偏光に変化させる工程を有することを特徴とする、請求項１から請求項３までのいずれかに記載の方法。
【請求項５】
更に、前記所定の偏光を直線偏光とする工程を有することを特徴とする、請求項１から請求項４までのいずれかに記載の方法。
【請求項６】
更に、入射光束を第１の初期光束と第２の初期光束に分割する工程と、前記第１の初期光束を用いて請求項１に記載の過程を行う工程と、前記第２の初期光束を第５の光束と第６の光束に分割する工程と、前記光束のそれぞれが異なる路を進行した後、前記第５の光束と前記第６の光束を重ね合わせ、重ね合わせられた光束における前記第５の光束と前記第６の光束間に干渉を行わせる工程と、前記入射光束の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、周波数の関数として前記重ね合わせられた光束のパワーを検出する工程と、所定の周波数範囲にわたる前記入射光束に対して同調する周波数の勾配における非直線性を検出する工程と、非直線性を検出するとき、検出された前記非直線性の情報を用いて前記非直線性から生じた前記第３の光束と前記第４の光束の前記検出されたパワーへの作用を補正する工程とを有することを特徴とする、請求項１から請求項５までのいずれかに記載の方法。
【請求項７】
更に、前記テストを受ける装置のジョーンズマトリックス要素として表現される測定によって得られた情報から前記テストを受ける装置の偏光モード分散を取り出す工程、前記テストを受ける装置の前記ジョーンズマトリックス要素から前記テストを受ける装置の色分散を取り出す工程、前記テストを受ける装置の前記ジョーンズマトリックス要素から前記テストを受ける装置の偏光における基本的な状態を取り出す工程、前記テストを受ける装置の前記ジョーンズマトリックス要素から前記テストを受ける装置の偏光依存性の損失を取り出す工程、前記テストを受ける装置の前記ジョーンズマトリックス要素から前記テストを受ける装置の偏光における基本的な状態に連携する群遅延を取り出す工程、前記テストを受ける装置の前記ジョーンズマトリックス要素から前記テストを受ける装置の挿入損失を取り出す工程、前記テストを受ける装置の前記ジョーンズマトリックス要素から前記テストを受ける装置の透過率及び反射率を取り出す工程、あるいは前記テストを受ける装置の前記ジョーンズマトリックス要素から周波数に関する異なる群遅延の変化率のような高次の偏光モード分散を取り出すという工程のうち少なくとも１つを備えたことを特徴とする、請求項１から請求項６までのいずれかに記載の方法。
【請求項８】
テストを受ける光学装置の特性を決定する方法において、
入射光束を第１の光束と第２の光束に分割する工程と、
前記第２の光束を前記第１の光束とは異なる路に進行させる工程と、
前記第１の光束を、第１の部分と第２の部分に分割する工程と、
前記第２の部分を前記第１の部分に対して遅延させる工程と、
異なる偏光を有する前記第１の部分と前記第２の部分とを結合して、結合された第１の光束を形成する工程と、
結合された前記第１の光束を前記テストを受ける光学装置に接続する工程と、
前記光学装置からの結合された前記第１の光束と前記第２の光束を重ね合わせ、重ね合わせられた光束における結合された前記第１の光束と前記第２の光束間に干渉を行わせる工程と、
前記重ね合わせられた光束を偏光に依存するようにして第３の光束と第４の光束に分割する工程と、
前記入射光束の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、周波数の関数として前記第３の光束と前記第４の光束のパワーを検出する工程と、
検出されたパワーの周波数依存性から、前記テストを受ける光学装置の特性に係る複数の要素を取り出す工程と、
前記複数の要素から前記テストを受ける光学装置の特性を決定する工程とを有することを特徴とする方法。
【請求項９】
前記第１の部分と前記第２の部分とは、偏光として、互いに直交することを特徴とする、請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
前記第１の部分及び前記第２の部分の各々は、コヒーレントな光束のパワーの少なくとも５０％を有することを特徴とする、請求項８または請求項９のいずれかに記載の方法。
【請求項１１】
更に、検出された前記パワーのスペクトルのピークをフィルタリングする工程と、前記複数の要素を取り出すために、前記スペクトルにおける前記ピークを前記第１及び第２部分のそれぞれに対して位置決め工程とを有することを特徴とする、請求項８から請求項１０までのいずれかに記載の方法。
【請求項１２】
更に、前記重ね合わせられた光束における再び結合された前記第１及び第２の部分間に干渉を生じさせる工程と、前記入射光束の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、周波数の関数として前記重ね合わせられた光束のパワーを連続的に検出する工程と、前記入射光束の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、同調する周波数の勾配における非直線性を検出する工程と、非直線性を検出するとき、検出された前記非直線性の情報を用いて前記非直線性によって生じさせられた前記第３の光束と前記第４の光束の検出されたパワーへの作用を補正する工程とを有することを特徴とする、請求項８から請求項１１までのいずれかに記載の方法。
【請求項１３】
更に、再び結合された前記第１及び第２の部分を偏光させることで、前記再び結合された部分を重ね合わせて干渉を生じさせる工程を有することを特徴とする、請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
更に、前記テストを受ける装置のジョーンズマトリックス要素として表現される測定によって得られた情報から前記テストを受ける装置の偏光モード分散を取り出す工程、前記テストを受ける装置の前記ジョーンズマトリックス要素から前記テストを受ける装置の色分散を取り出す工程、前記テストを受ける装置の前記ジョーンズマトリックス要素から前記テストを受ける装置の偏光における基本的な状態を取り出す工程、前記テストを受ける装置の前記ジョーンズマトリックス要素から前記テストを受ける装置の偏光依存性の損失を取り出す工程、前記テストを受ける装置の前記ジョーンズマトリックス要素から前記テストを受ける装置の偏光における前記基本的な状態に連携する群遅延を取り出す工程、前記テストを受ける装置の前記ジョーンズマトリックス要素から前記テストを受ける装置の挿入損失を取り出す工程、前記テストを受ける装置の前記ジョーンズマトリックス要素から前記テストを受ける装置の透過率及び反射率を取り出す工程、あるいは前記テストを受ける装置の前記ジョーンズマトリックス要素から周波数に関する異なる群遅延の変化率のような高次の偏光モード分散を取り出すという工程のうち少なくとも１つを備えたことを特徴とする、請求項８から請求項１３までのいずれかに記載の方法。
【請求項１５】
更に、前記第１の光束を偏光依存性の仕方で前記第１の部分と前記第２の部分に分割する工程を有することを特徴とする、請求項８から請求項１４までのいずれかに記載の方法。
【請求項１６】
テストを受ける装置の光学特性を決定する装置において、
入射光束の路を第１の路を進行する第１の光束と第２の路を進行する第２の光束に分割する第１のビームスプリッタにして、その際前記テストを受ける光学装置は、前記第１の路に接続されて所定の偏光を備えた前記第１の光束に接続するようにし、前記所定の偏光を変化させ得る第１のビームスプリッタと、
前記第２の光束が第１の光束とは異なる路を進行した後、前記第１の光束と前記第２の光束を重ね合わせて得られた路を進行する重ね合わせられた光束内での前記第１の光束と前記第２の光束間に干渉を生じさせる、前記第１の路と前記第２の路に配置された第２のビームスプリッタと、
偏光依存性の仕方で前記重ね合わせられた光束を第３の路を進行する第３の光束と第４の路を進行する第４の光束に分割するための前記得られた路内の偏光ビームスプリッタと、
前記入射光束の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、周波数の関数として前記第３の光束の前記パワーを検出するための前記第３の路内の第１のパワーディテクタと、
前記入射光束の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、周波数の関数として前記第４の光束の前記パワーを検出するための前記第４の路内の第２のパワーディテクタと、
検出された前記パワーから前記テストを受ける光学装置の光学特性を取り出すための評価ユニットと
を有するようにしたことを特徴とする装置。
【請求項１７】
検出された前記パワーの周波数依存性から前記テストを受ける光学装置のジョーンズマトリックス要素を取り出すための評価ユニットを有するようにしたことを特徴とする、請求項１６に記載の装置。
【請求項１８】
前記第１のビームスプリッタと前記第２のビームスプリッタは、マッハツェンダー干渉計及び／あるいはマイケルソン干渉計を含むようにしたことを特徴とする、請求項１６または請求項１７のいずれかに記載の装置。
【請求項１９】
更に、前記第１の光束の偏光を前記所定の偏光に対して調節するための前記第１の路内の偏光設定ツールを有し、その際前記偏光設定ツールが、前記第１のビームスプリッタの前後の前記入射光束の前記路に配置されているようにしたことを特徴とする、請求項１６から請求項１８までのいずれかに記載の方法。
【請求項２０】
前記偏光設定ツールが、前記光束を直線偏光となるよう調節するようにしたことを特徴とする、請求項１６から請求項１９までのいずれかに記載の方法。
【請求項２１】
更に、前記入射光束を第１の初期路を進行する第１の初期光束と第２の初期路を進行する第２の初期光束に分割するために前記入射光束に配置された第３のビームスプリッタと、前記第２の初期光束を第５の路を進行する第５の光束と第６の路を進行する第６の光束に分割する前記第２の初期路に配置された第４のビームスプリッタと、前記光束のそれぞれが異なる路を進行した後、前記第５の光束と前記第６の光束とを重ね合わせて第２の得られた路を進行する前記生じた重ね合わせられた光束における前記第５の光束と前記第６の光束間に干渉を生じさせる前記第５の路及び前記第６の路に配置された第５のビームスプリッタと、前記入射光束の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、周波数の関数として前記生じた重ね合わせられた光束の前記パワーを検出するために前記第２の得られた路内に配置された第３のパワーディテクタとを有し、これによって、前記パワーディテクタの出力は、前記評価ユニットに接続され、前記コヒーレント光束の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、同調する周波数の勾配におけるいかなる非直線性も検出し、及び、前記評価ユニットがいずれかの非直線性を検出したとき、前記評価ユニットが、前記検出された非直線性の情報を用いて前記非直線性によって生じさせられた前記第３の光束と前記第４の光束の前記検出されたパワーへの作用を補正するようにしたことを特徴とする、請求項１６から請求項２０までのいずれかに記載の方法。
【請求項２２】
テストを受ける装置の光学特性を決定する装置において、
入射光束の路を第１の路を進行する第１の光束と第２の路を進行する第２の光束に分割する第１のビームスプリッタと、
前記第１の光束を第１の部分と第２の部分に分割し、前記第１の部分に対して前記第２の部分を遅延させ、互いに異なる偏光を有する前記第１の部分と前記第２の部分を再び結合し、再び結合された前記第１及び第２の部分より成る前記第１の光束を前記テストを受ける光学装置に接続するようにした偏光遅延ユニットと、
前記第２の光束が第１の光束とは異なる路を進行した後、前記第１の光束と前記第２の光束を重ね合わせて得られた路を進行する重ね合わせられた光束内での前記第１の光束と前記第２の光束間に干渉を生じさせる、前記第１の路と前記第２の路に配置された第２のビームスプリッタと、
偏光依存性の仕方で前記重ね合わせられた光束を第３の路を進行する第３の光束と第４の路を進行する第４の光束に分割するための前記得られた路内の偏光ビームスプリッタと、
前記入射光束の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、周波数の関数として前記第３の光束の前記パワーを検出するための前記第３の路内の第１のパワーディテクタと、
前記入射光束の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、周波数の関数として前記第４の光束の前記パワーを検出するための前記第４の路内の第２のパワーディテクタと、
検出された前記パワーから前記テストを受ける光学装置の光学特性を取り出すための評価ユニットと
を有するようにしたことを特徴とする装置。
【請求項２３】
前記偏光遅延ユニットは、前記第１の光束を第１の部分と第２の部分に分割する第１の偏光ビームスプリッタを有するようにしたことを特徴とする、請求項２２に記載の装置。
【請求項２４】
前記偏光遅延ユニットは、前記第１の部分と前記第２の部分を再び結合する第２の偏光ビームスプリッタを有するようにしたことを特徴とする、請求項２２または請求項２３に記載の装置。
【請求項２５】
前記偏光遅延ユニットは、前記第１の部分のための第１の光路と前記第１の光路よりも長い光路長を備えている前記第２の部分のための第２の光路とを有して前記第１の部分に対して前記第２の部分を遅延させるようにしたことを特徴とする、請求項２２から請求項２４までのいずれかに記載の装置。
【請求項２６】
前記偏光遅延ユニットは、偏光装置を有して異なる偏光を備えた前記再び結合される部分に前記テストを受ける光学装置を接続するようにしたことを特徴とする、請求項２２から請求項２５までのいずれかに記載の装置。
【請求項２７】
前記偏光遅延ユニットは、装置を有し異なる偏光を備えた前記再び結合される部分をポラライザに与えて得られた路を進行する重ね合わせられた光束内で前記路間に干渉を生じさせ、前記装置が更に、前記得られた路にパワーディテクタを有して前記コヒーレント光束の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき周波数の関数として前記生じた重ね合わせられた光束のパワーを検出し、これによって、前記パワーディテクタの出力が、前記評価ユニットに接続されて前記入射光束の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき同調する周波数の勾配に係る関数における非直線性を検出し、及び、評価ユニットがなんらかの非直線性を検出するとき、前記評価ユニットが、検出された前記非直線性を用いて前記非直線性によって生じた前記第３の光束と前記第４の光束の前記検出されたパワーへの作用を補正するようにしたことを特徴とする、請求項２２から請求項２６までのいずれかに記載の装置。
【請求項２８】
前記装置は、前記テストを受ける光学装置には接続されない前記第２の偏光ビームスプリッタの出力ポート、あるいは、前記テストを受ける光学装置に接続される前記第２の偏光ビームスプリッタの前記出力ポートに接続される偏光維持カプラ、あるいは、前記テストを受ける光学装置に接続される前記第２の偏光ビームスプリッタの前記出力ポートに接続される少なくとも１つのビームスプリッタであるようにしたことを特徴とする、請求項２７に記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、光学装置を検査する方法及びその方法に使用される装置に関する。特に、本発明は、検査される光学装置の特性を決定すること、例えば光学装置のジョーンズマトリクスの要素を決定することに関するものである。
【０００２】
【従来技術及び解決すべき課題】
ジョーンズマトリックスは、光ファイバ或いは光学的な部品であることができるテストを受ける装置の光学特性についての情報を含んでいる。光学部品のジョーンズマトリックスを知ることは、挿入損失、反射率或いは透過率、偏光依存性の損失（ＰＤＬ）、及び、偏光モード分散（ＰＭＤ）のような成分の多くの重要な光学特性の決定を可能にする。
【０００３】
ＰＭＤは、所定の波長における信号エネルギーが伝播速度のわずかに異なる２つの直交する偏光モードに分解されるような単一モード光ファイバと部品の基本的な特性である。偏光モード間の伝播における生じた差は、差動的な群遅延、或いは、ＤＧＤと呼ばれる。用語ＰＭＤは、一般的には物理現象を示し、特に、ＤＧＤの平均値或いは期待値を意味するように使われる。ＰＭＤを規定する特性が、ＤＧＤであり、偏光の基本的な状態（ＰＳＰ）である。共に、通常は、単一モード光ファイバシステムにおける波長の関数である。長い光ファイバは、一般的に、ランダムな偏光接続を示し、従って、結果としてＰＭＤは、数キロメートルよりも長い光ファイバに対するファイバ長の平方根で評価できる。従来周知の光ファイバは、ルートキロメートルあたりＤＧＤの数十分の一ピコセカンドに制限される。更に、このようなファイバ通信システムに対する従来周知の部材は、ＤＧＤの十分の一ピコセカンドのみを示すことができる。
【０００４】
ＰＭＤは、パルス拡大を含む多数の重要な容量の減損作用を引き起こす。この点に関して、色分散の損傷に類似した作用を有するが、重大な差がある。色分散は、光ファイバ材料の相互作用と寸法によって生じる波長に対する伝播遅延の変化から発生するので、比較的安定した現象である。通信システムにおける総合的な色分散は、その部分の和から計算できるが、分散コンペンセータの位置と値は、あらかじめ設定できる。これに対して、いずれかの与えられた信号波長における単一モード光ファイバのＰＭＤは、安定なものではなく、通信システム設計者にＰＭＤの作用の統計学的な予測を強要するとともに補正を行うことを不可能にする。その上、ＰＭＤは、色分散が十分に小さくされても制限因子となる。
【０００５】
これは、チャンネルＰＭＤ、すなわち、波長と時間にわたる光ファイバに対するＤＧＤの平均値が、２０ｐｓをしばしば超えることがあるからである。この値は４０Ｇｂｉｔ／ｓ通信システムのビット解像力の範囲内にあるので、結果として、通信システムは、ＰＭＤによって悪影響を受けることになる。更に、従来周知の技術において、通信システム部品は、しばしば、カスケードに導かれ、例えば、光ファイバ中におけるブラッグ格子の多数のカスケードに導かれる。このようなカスケードの単一部材はＤＧＤとして十分の一ピコ秒程度のみを示すにもかかわらず、カスケード全体では、透過率の解像力に達するＤＧＤを示すことがある。従って、単一の部材のそれぞれにおいてＰＭＤに関する正確な情報を得ることができるという必要性が非常に大きくなっている。
【０００６】
上述した問題は、ＰＭＤ測定に対する多くの測定方法の開発に影響を与えてきた。以下に、周知の方法のいくつかを説明する。
【０００７】
固定アナライザＰＭＤ測定法において、ＰＭＤは、波長が走査されるときのポラライザを介して光学パワー透過率におけるピークと谷の数から統計学的に決定される。ディテクタの直前に配置されたポラライザは、名称によって方法を理解できるようアナライザと呼ばれる。固定アナライザの応答は、フーリエ変化されることが可能であって、モード接続の程度を示すスペクトルを生じてガウスフィットから或いは第２のモーメントアルゴリズムからＰＭＤを計算することを可能にする。固定アナライザ方法における問題は、波長にわたる光学パワー透過率の変化よりも小さな帯域幅を示すＰＭＤの成分を測定することが不可能なことにある。
【０００８】
別の方法は、干渉計的方法であって、広い帯域源を用いて電界自己相関機能からＰＭＤを決定する。ＰＭＤの値は、第２のモーメントに基づいてアルゴリズムを用いて計算される。この方法における問題は、ＰＭＤが純粋な複屈折によって引き起こされたとき、ＰＭＤの正確な値を発生させるのみであることにある。しかしながら、この方法は、ＰＭＤが波長依存性であるとき、有効なＰＭＤ値を発生できないことにある。
【０００９】
別の方法は、ポアンカレアーク或いはＳＯＰ（偏光の状態）と呼ばれ、偏光計を用いて一連の波長の増分にわたってテスト装置の出力偏光によってポアンカレ球を移動したアークを捕捉するものである。しかしながら、偏光がテスト装置の主偏光状態と偶然結合したときは、ＰＭＤは測定できない。他の問題は、非常に高価になる傾向のある種類の偏光計である高解像力偏光計が、必要であるということにある。その上、この方法では、色分散は測定できない。
【００１０】
別の方法は、いわゆるジョーンズマトリックス固有分析或いはＪＭＥ方法である。この方法は、一連の波長における透過マトリックスの測定から波長の関数としてＤＧＤとＰＳＰを決定する。この方法も高価な偏光計を用いる。この方法は、色分散に関する情報を与えない。
【００１１】
最後に、多かれ少なかれ直接的にＰＭＤを測定する周知の方法がある。これらの方法は、例えば、変調位相方法及びパルス遅延方法であって、それぞれ、偏光の主要な状態間から変調位相の変化の測定、及び、パルス到達時間の変化の測定からＰＭＤを測定するものである。これらの方法の欠点は、得られた結果のパルス形状依存性にある。
【００１２】
従って、本発明の目的は、光学装置における特性の決定を改善することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】
本発明は、特許請求の範囲に記載された発明によって解決される。本発明の利点は、透過特性及び反射特性を引き出し得ることにあり、例えば、高価な偏光計を用いることを必要とせずにテストを受ける装置（ＤＵＴ）のジョーンズマトリックス（これは、以下に更に詳細に説明される）の要素をまさに決定することによってＤＵＴのＰＭＤを引き出し得ることにあり、及び、ＤＵＴの色分散の同時測定できることにある。そのために、従来周知の技術における上述した欠点のすべてが、本発明によって解決される。その上、ＤＵＴの取り出されたジョーンズマトリックスから追加の情報を引き出すことが可能になる。測定されたジョーンズマトリックスから、挿入損失、反射率と透過率、依存性の損失（ＰＤＬ）、群遅延、色分散、差動的な群遅延、偏光の主要な状態、及び、高次のＰＭＤパラメータを決定することが可能になる。
【００１４】
ジョーンズマトリックスを用いることが好ましい。ジョーンズマトリックスにおける情報は、いくつかの異なるやり方で表現することが可能であり、一つの選択肢は、すべての実際の要素を４×４のマトリックスを内容とするジョーンズマトリックスとしてほぼ同一の情報を担持するミューラマトリックスと呼ばれるものである。しかしながら、絶対的な位相特性、その結果、色分散は、ミューラマトリックスでは記述できない。同じ目的を達成するためにいくつかのやり方がある。本発明の１つの主題は、ＰＭＤ、ＰＤＬ、ＰＳＰ、ＤＧＤ、群遅延、色分散などを記述されている干渉計的な方法と装置で測定するやり方である。しかしながら、ジョーンズマトリックス以外のテンソルにより創造性のある展開を行うことが可能である。
【００１５】
この出願における用語「コヒーレント」は、入射光束の可干渉距離が重ね合わせられる光束の路の異なる長さよりも大きなことを意味している。
【００１６】
本発明の好ましい実施例において、装置は、第１のマッハツェンダ干渉計を有しており、これによって、偏光設定ツールが、測定アーム内に配置され、レーザ光が、所定の偏光を備えたＤＵＴと接続する。偏光のこの方向は、次いでジョーンズマトリックス計算の座標系におけるｘ軸と定められる。従って、ジョーンズマトリックスにおける最初の２つの要素は、容易に取り出すことができる。この創造性のある第２の実施において、ジョーンズマトリックスの他の２つの要素が、ＤＵＴに入射する光束の偏光の方向を変化させることによって同じ干渉計から取り出される。結果の評価を容易にするために、偏光を前の偏光に関して直交する偏光に変化させることが好ましい。この点に関して、最初の偏光が、直線であり、変化された偏光が、この最初の偏光に関して９０°だけ変化されることが更に好ましい。
【００１７】
更に好ましい実施例において、ジョーンズマトリックスのこの他の２つの要素を決定する創造的な方法の第２の実施は、必要ではない。ジョーンズマトリックスは、ちょうど１回の実施で完全に決定できる。ジョーンズマトリックスの完全な捕捉のために、ＤＵＴを２つの直交する入力偏光を用いてテストする必要がある。従って、この好ましい実施例において、いわゆる「単一走査」測定の概念が提案される。この概念において、偏光遅延過程が、互いに関して遅延している２つの好ましくは直交している偏光信号を発生する。偏光遅延過程は、同時にＤＵＴに導かれるとともに異なる伝播遅延によって「コード化」された２つの偏光状態を提供する。好ましくは、互いに関して２つの信号を遅延させるために、第１の信号光束は、この偏光遅延過程において２つの遅延されない光束と第１の遅延された光束に分割される。引き続いて、第１の光束における偏光或いはその一部分は、ローカルな発振器の光と、すなわち、第２の光束と重ね合わせられる。好ましくは、第１の光束の２つの部分は、互いに関して直交して偏光され、それらが重ね合わせられるとき干渉しない。しかしながら、２つの偏光は、第２の光束と重ね合わせられるとき干渉パターンを発生する。偏光遅延過程によって導かれた遅延のために、検出された干渉信号は、２つの異なる周波数を備えている。これらの干渉周波数は、電子的な或いはデジタル的なフィルタを用いることによって個々に分離するととともに分析することが可能である。実行された分析は、光学装置におけるジョーンズマトリックスの要素の決定を可能にする。単一走査概念の上述した実施例に関連して多数の利点が得られる。まず、実施例において２つの走査が実行されてＤＵＴが走査間の時間中その光学特性を変化することができる。従って、ＤＵＴに必要な安定性が、非常に高いことになる。その上、２つの走査の実行には多くの時間が費やされるので、単一走査概念によれば、測定速度が、劇的に増加できることになる。更に、測定精度は、測定間の振動雑音、位相雑音或いは光源の障害により損なわれる。これはまた、この実施例によって回避できる。本発明のそれ以上の利点として、データのそれぞれが割り当てられている周波数について必要な精度は、この実施例においては２つの走査が同時に実行されるとともに両者がレーザ光源のある周波数に関係するので、２つの走査を行う他の実施例において必要とされる精度を下回る。
【００１８】
第１の光束を分割し、ある部分を他の部分に対して遅延させ、それらを異なる好ましくは直交している偏光に再び結合する多数の他の方法を創造できることは当業者には明らかなことである。
【００１９】
偏光遅延ユニットのそれぞれにおいて、偏光遅延過程を実行するために２つの偏光ビームスプリッタを使うことが好ましく、その一方は、第１の光束を第１の遅延光束と第１の非遅延光束に分割し、及び、その他方は、前記第１の遅延光束と第１の非遅延光束に再び結合するものである。それぞれ２つの口を備えたこの２つの偏光ビームスプリッタは、偏光維持光ファイバによって互いに接続されている。これらの２つの光ファイバの一方は、他方よりも長くて分割された第１の光束の一方の部分を上述したように遅延させる。或いは、再び結合を行うビームスプリッタは、偏光維持カプラと置き換えられても良い。
【００２０】
２重或いは単一走査方法のいずれかである他の好ましい実施例において、第１のものに平行に第２のマッハツェンダ干渉計が用いられる。この第２の干渉計において、レーザ光源の同じコヒーレントレーザ光束が、これらの干渉計の前方でビームスプリッタによって接続される。その測定アームに光学装置を備えないこの第２の干渉計の助けで、このレーザを走査するとき、走査速度における非直線性によって発生される第１の干渉計の得られた光束の検出されたパワーにおける誤差が除去できる。
【００２１】
第２の干渉計を使う代わりに、波長測定に使われる信号を出力するように第１の光束の２つの部分を再び結合する第２の偏光ビームスプリッタの第２の口を使うことが可能である。これは、この口を直接第１の光束の２つの口間に干渉を生じさせるポラライザに接続し、干渉パターンが発生され、レーザ光源の周波数を走査するときの走査速度を評価することによって行われる。ＤＵＴは偏光遅延ユニットの他の口に接続されるので、この口は、ＤＵＴの影響を受けず、従って、基準として使える。本発明の利点は、第２の干渉計を必要とせずに、コストを低減し、必要な維持管理と創造的な装置の床面積を減らすことにある。
【００２２】
本発明が、いずれかのデータキャリヤに記憶されたり、或いは別途供給され、いずれかの適当なデータ処理ユニットにおいて実行できる１或いはそれ以上の適当なソフトウェアプログラムによって実現されるものであり、或いは、一部分支援されるものであることは明らかである。ソフトウェアプログラムは、測定されたデータから光学特性を評価できるように使われることが好ましい。
【００２３】
【発明の実施の形態】
本発明の他の目的及び多数の付随する利点は、添付された図面との関係を考慮しつつ詳細な説明を参照することによって、容易に認識できるものであり、より良く理解できるものであろう。図面中の構成要素は、同一の縮尺を持つ必要はないので、その代わりに本発明の原理を明快に示す目的で強調して配置されている。基本的に或いは機能的に同一或いは類似した構成は、同じ参照記号で述べられている。
【００２４】
以下では、添付図面を参照して詳細について説明するが、図１は、本発明によるテストを受ける光学的な透過装置（ＤＵＴ）２の周波数依存性ジョーンズマトリックスの干渉計的な決定のための装置１における第１の好ましい実施例の概略の説明図である。以下に説明される図１による装置１とそれぞれの方法は、本発明を実施する１つのモードである。他のモードが、図４〜図８に関して述べられている。図１に示される装置によって、光学的な成分であり、光ファイバ、ブラッグ格子或いはなんらかの他の光学成分或いは空気であることすらできるＤＵＴ２は、その色分散とそのＰＭＤによって特徴付けられるべきものである。装置１は、周波数に関して連続的に同調させられる信号源として同調可能なレーザ４を含む。レーザ４は、コヒーレントなレーザ光束６を射出する。レーザ光束６は、第１の入射光束１０と第２の入射光束１２にコヒーレントなレーザ光束６を分割する第１のビームスプリッタ８に接続されている。第１の入射光束１０は、第２のビームスプリッタ１４に接続されている。第２の入射光束１２は、第３のビームスプリッタ１６に接続されている。この第２のビームスプリッタ１４は、第１の入射光束１０を第３のレーザ光束１８と第４のレーザ光束２０に分割する。第３のビームスプリッタ１６は、第２のレーザ光束１２を第５のレーザ光束２２と第６のレーザ光束２４に分割する。
【００２５】
第３のレーザ光束１８は、３つのサブユニット２６ａ、２６ｂ及び２６ｃを備えた偏光コントローラ２６（ヒューレット−パッカード社のＨＰ８１６９Ａであることができる）に接続されている。この偏光コントローラ２６を通過することによって、１９で示されるレーザ光束は、その偏光を調節され、ＤＵＴ２に接続される。ＤＵＴ２を通過した後、レーザ光束１９は、第４のレーザ光束２０に再び結合される。第４のレーザ光束２０は、第２のビームスプリッタ１４から第４のビームスプリッタ２８に向かう第３のレーザ光束１８と偏光されたレーザ光束１９に比較すると異なる光路長（例えば、７メートル）を進行する。第４のビームスプリッタ２８において、偏光されたレーザ光束１９と第４のレーザ光束２０は、重ね合わせられ、偏光されたレーザ光束１９と第４のレーザ光束２０に干渉を生じて第１の重ね合わせられたレーザ光束３０を生じる。第１の重ね合わせられたレーザ光束３０は、次いで光束３０を第７の光束３４と第８の光束３６に分割する偏光ビームスプリッタ３２に接続される。光束３４は、次いで第１のフォトダイオード３８に接続される。光束３６は、第２のフォトダイオード４０に接続される。偏光ビームスプリッタ３２、第１のフォトダイオード３８及び第２のフォトダイオード４０は、偏光分岐レシーバを構成する。第１のフォトダイオード３８及び第２のフォトダイオード４０は、それらの出力を評価ユニット（図示せず）に接続されたアナログ／デジタルコンバータ（ＡＤＣ）４２（Ｎａｔｉｏｎａｌ  ＩｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓのＡＴ−ＭＩＯ−１６ＤＥ−１０であることができる）に伝達して検出されたデータが評価されるようにする。
【００２６】
第２のビームスプリッタ１４、第３のレーザ光束１８、偏光されたレーザ光束１９、第４のレーザ光束２０及び第４のビームスプリッタ２８は、マッハツェンダ干渉計４４を構成する。第３のレーザ光束１８と偏光されたレーザ光束１９は、マッハツェンダ干渉計４４の測定アームを構成する。第４のレーザ光束２０は、マッハツェンダ干渉計４４の基準アームを構成する。ＤＵＴ２は、マッハツェンダ干渉計４４の測定アームに配置されている。
【００２７】
第５のレーザ光束２２と第６のレーザ光束２４は、光束２４がループ２５によって象徴される長い距離を進行するので、それらが第５のビームスプリッタ４６と重ね合わせられる前に異なる光路を進行する。第５のビームスプリッタ４６を射出するのは、第３のフォトダイオード５０によって検出される第２の重ね合わせられる光束４８である。第３のフォトダイオード５０は、それぞれの信号をアナログ／デジタルコンバータ（ＡＤＣ）４２に出力する。第３のビームスプリッタ１６、第５のレーザ光束２２、第６のレーザ光束２４及び第５のビームスプリッタ４６は、測定干渉計４４に対する基準干渉計５２を構成する。この基準干渉計５２は、レーザ４の同調速度に調子を合わせて可能な非直線性を回避するように装置１の一部分として支援を行う。この目的のために、フォトダイオード５０の出力は、ＡＤＣ４２の入力である。ＡＤＣ４２は、従って、レーザ４における走査速度の非直線性の発生に関する情報を取得する。この情報に基づいて、この非直線性は、評価ユニットによって測定干渉計４４の測定結果から引き算される。
【００２８】
同調可能なレーザ４は、ＡＤＣ４２をトリガするためのＡＤＣ４２への入力となるトリガ出力５を有する。
【００２９】
本発明による創造的な過程は、以下のごとく行なわれる。
【００３０】
偏光コントローラ２６によって、第３のレーザ光束１８は、所定の偏光を得て、偏光されたレーザ光束１９となる。この所定の偏光によって、偏光されたレーザ光束１９は、ＤＵＴ２に接続される。ＤＵＴ２を通過した後、偏光されたレーザ光束１９は、マッハツェンダ干渉計４４の基準アームを構成する第４のレーザ光束２０と重ね合わせられる。生じた第１の重ね合わせられた光束３０は、次いで光束３０の直交する偏光させられた成分である第７のレーザ光束３４と第８のレーザ光束３６を生じる偏光ビームスプリッタ３２に接続される。これらの直交する光束３４と３６は、フォトダイオード３８と４０によって検出され、フォトダイオード３８と４０のそれぞれの出力信号は、ＡＤＣ４２によって受け取られる。ＡＤＣ４２によって信号が受け取られると、評価ユニットは、ＤＵＴ２におけるジョーンズマトリックスの以下に述べられる２つ（複合）の要素を計算して決定できる。ＤＵＴ２におけるジョーンズマトリックスの他の２つの要素は、偏光コントローラ２６を用いて偏光されたレーザ光束１９の偏光を変化させてこの方法における第２の実施の上述した過程を実行することによって得られる（或いは以下に述べられる偏光遅延過程を用いることによって）。このようにして生じた偏光されたレーザ光束の変化させられた偏光（図示せず）は、この方法の最初の実施において偏光されたレーザ光束１９の偏光に直交することが好ましい。従って、ＤＵＴ２におけるジョーンズマトリックスの欠如した２つの要素を計算することが可能である。完全なジョーンズマトリックスを持つと、ＤＵＴ２の透過率或いは反射率、ＤＧＤ、ＰＭＤ、ＰＳＰ、ＰＤＬ或いは色分散を取り出すことが非常にやさしくなる。
【００３１】
ジョーンズマトリックスによって差動的な群遅延（ＤＧＤ）の決定を説明するために、以下の説明が、この決定を実行するために使われた計算を示している。
【００３２】
ジョーンズマトリックスＵは、ＤＵＴ２の入力Ｅａと出力Ｅｂにおけるジョーンズベクトル間の関係を与えるものである。
【００３３】
【数１】
0003998460.tif 000002
【００３４】
ここで、ωは入力光の光学的な周波数である。ジョーンズマトリックスそれ自身から、作動的な群遅延（ＤＧＤ）、偏光の２つの主要な状態（ＰＳＰ）、反射率と屈折率、及び、偏光依存性の損失（ＰＤＬ）を決定できる。従来周知の偏光計を用いて、上記の式の左項と右項の間の位相関係は、不明瞭であり、この不明瞭さは、群遅延、色分散などの決定を妨げる。本発明は、しかしながら、ジョーンズマトリックスと同様にこの式の両項間の正しい位相関係の決定を可能にする。以下に、この情報が用いられて装置の２つのＰＳＰのそれぞれに関連する群遅延が計算される。
【００３５】
Ｅａ±とＥｂ±とがそれぞれＤＵＴ２の入力と出力における主要な状態（未知の）であるとき、本発明によれば、以下の関係を確立することが可能となる。
【００３６】
【数２】
0003998460.tif 000003
【００３７】
Ea± とEb±とは、それらの平均位相が消えるように正規化される。Im{Ex・Ey}=0  ここで、主要な状態は、周波数には関係しない第１近似である。従って、以下が適用できる。
【００３８】
【数３】
0003998460.tif 000004
【００３９】
装置の群遅延、τｇは、以下のように定義され、
【数４】
0003998460.tif 000005
【００４０】
従って、上記の表現は、一般化された固有値の問題として書き替えられる。
【００４１】
【数５】
0003998460.tif 000006
【００４２】
固有値λは、以下のとおりである。
【００４３】
【数６】
0003998460.tif 000007
【００４４】
このようにして、２つの群遅延は、まさに固有値の虚数部分となる。差動的な群遅延（ＤＧＤ）は、以下の式に従って直接、計算できる。
【００４５】
【数７】
0003998460.tif 000008
【００４６】
ジョーンズマトリックスＵを決定できるようにするためには、偏光されたレーザ光束１９のそれぞれ直交する入力偏光Ｅａ１及びＥａ２とを用いて２つの部分的な計算を実行する必要がある。それらの２つの入力偏光がジョーンズ表現の基本ベクトルとして使われるときは、これは、以下の入力ベクトルに対応することになるであろう。
【００４７】
【数８】
0003998460.tif 000009
【００４８】
対応するベクトルは、以下のように読める。
【００４９】
【数９】
0003998460.tif 000010
【００５０】
この場合における記号Ｕｍｎは、ジョーンズマトリックスにおける４要素を示している。基準アームからの光２０は、以下のようなジョーンズベクトルによって記述できる。
【００５１】
【数１０】
0003998460.tif 000011
【００５２】
その場合、τｒは、基準アーム２０の群遅延を示している。単純化のために、パワーは２つの基本的な状態に対して均一に分布され、それらの間には相対的な位相差はないものと今後想定する（直線偏光は、偏光ビームスプリッタ３２上に４５°の角度で入射する）。
【００５３】
【数１１】
0003998460.tif 000012
【００５４】
ディテクタに入射する光は、次いで測定信号との重ね合わせにより以下の関係を与える。
【００５５】
【数１２】
0003998460.tif 000013
【００５６】
以下は、ディテクタパワーに関して適用される。
【００５７】
【数１３】
0003998460.tif 000014
【００５８】
大きさＵｍｎが項ｃｏｓ（φｍｎ＋τｒω）よりも非常にゆっくりと周波数を変化させると考えると、Ｕｍｎ（ω）もφｍｎ（ω）もディテクタ３８、４０に存在する基準信号から決定可能になる。マトリックスＵ（ω）から微分を数値的に計算して上記のＤＧＤから取り出すことが可能となる。現実の測定の場合、誤差が、特にＵ（ω）の絶対位相項を決定する際に生じる。この点に関して、基準アーム２０の光は、偏光ビームスプリッタ３２と直線的にではなくて楕円的に遭遇することができる（φ≠０）。更に、測定がレーザ光源４の２つの波長走査から構成されるかどうかが疑わしい。この問題は、偏光遅延ユニットを用いる図４〜８の実施例によって解決できる。上記の不確かさのために、ジョーンズマトリックスＵにおける第１の列において位相誤差φａと第２列においてφｂがある。マトリックスＵに代えて、以下のマトリックスが測定される。
【００５９】
【数１４】
0003998460.tif 000015
【００６０】
これは上流において接続された或いは下流において接続された偏光コントローラ２６に等価であるので、取り出されたＤＧＤにはなんら変化は生じない。生じた主要な状態は、しかしながら異なる。従って、それ以上の補正はＤＧＤの決定には必要がない。
【００６１】
最初の試みとして、上記の方法が、図１の装置を用いて上記のように使われてＤＵＴ２として高度な複屈折光ファイバ（ＨｉＢｉ−ｆｉｂｅｒ）が測定された。結果は、図２に明らかである。
【００６２】
図２において、上のプロットは、２つの主要な軸の群遅延を示している。横座標は、ｎｍで波長を示し、縦座標は、ｐｓで群遅延を示している。下のプロットは、２つの群遅延間の差を示し、ｎｍ波長にわたるｐｓでのＤＧＤを示している。ＤＧＤは、絶対値が波長にまたがって大きく変動しているが、１０ｐｓにおいて非常に良いことが明らかである。その１つの理由は、ＤＵＴに加えて測定アームにおいて存在したフリーな光束の光学偏光コントローラ２６におけるファブリ・ペロー干渉であろう（図１参照）。いくつかの状況下で、偏光コントローラ２６を第２のビームスプリッタ１４の上流に配置して群遅延の変動がどのような役割も演じないようにすることが可能である。これはまた、しかしながら、評価手続きにおいて考慮されなければならない基準アーム２０における偏光に影響を与える。
【００６３】
図３は、図１の装置におけるＤＵＴを備えない上記の方法を用いた測定を示すものである。
【００６４】
図３において、上のプロットは、２つの主要な軸の群遅延を示している。横座標は、ｎｍで波長を示し、縦座標は、ｐｓで群遅延を示している。下のプロットは、２つの群遅延間の差を示し、ｎｍ波長にわたるｐｓでのＤＧＤを示している。期待通りに、ＤＧＤは、０に近い。理想値からの大きなずれが認められるが、数ピコセカンドであるこの発明における装置１の測定精度の評価は可能である。これらの部分の記述の都合上、図１の実施例１の記述が参照される。
【００６５】
図４は、本発明における第２の実施例１００の概略の説明図である。図４の実施例１００と図１の実施例１との間の主な差は、第３のレーザ光束１８の路への偏光遅延ユニット（ＰＤＵ）１０２の導入にある。ＰＤＵ１０２は、第２のビームスプリッタ１４とＤＵＴ２間の第３のレーザ光束１８の路に配置される。ＰＤＵ１０２は、第１の偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）１０４と第２のＰＢＳ１０６を備えている。第１のＰＢＳ１０４は、第３のレーザ光束１８を第１の部分１８ａと第２の部分１８ｂに分割する。２つの部分１８ａ、１８ｂの路は、それぞれ、それぞれの部分１８ａ、１８ｂの偏光を維持する偏光維持光ファイバ（ＰＭＦ）によって用意される。引き続いて、第１の部分１８ａと第２の部分１８ｂは、第２のＰＢＳ１０６によって再び結合される。ＰＢＳ１０４、１０６の両方は、ＰＭＦの２つの口と単一モード光ファイバ（ＳＭＦ）の２つの口により製造されると考える。装置１０４、１０６が標準整合コネクタを用いて接続されるとき、光は完全に第２のＰＢＳ１０６の一方の口に導かれ、第２のＰＢＳ１０６の他方の口から射出する光はない。従って、それぞれの光束１８ａ、１８ｂのＰＭＦは、４５°回転されて第２のＰＢＳ１０６の両方の口に出力を発生させる。
【００６６】
しかしながら、第１の部分１８ａと第２の部分１８ｂは、光束１８ｂがループ１０８で示されている長い距離を進行するので、第１のＰＢＳ１０４と第２のＰＢＳ１０６間の異なる光学距離を進行する。これは、第２の部分１８ｂが第１の部分１８ａに関して遅延されていることを意味している。その上、両方の部分１８ａ、１８ｂは互いに直交しているので、第２のＰＢＳ１０６によって再び結合されるときこれらが干渉することはない。
【００６７】
第２のＰＢＳ１０６は、２つの出口１１２と１１４を備えている。２つの出口１１２と１１４において、両方の部分１８ａ、１８ｂは、互いに干渉しないので存在している。出口１１２を出る光束１８ａ、１８ｂの路には、ビームスプリッタ１１６、シャッタ１１８、ＤＵＴ２、ビームスプリッタ２８及び最終的にディテクタ３８と４０に接続されたＰＢＳ３２が、配置されている。ＤＵＴ２の光学特性は、透過率で測定される。ビームスプリッタ２８において、２つの部分１８ａ、１８ｂの光は、図１の実施例と同様にローカルな発振光２０と重ね合わせられる。ローカルな発振光２０は、ビームスプリッタ１２０を介してビームスプリッタ２８に到達する。従って、両方の部分１８ａ、１８ｂと従って光束１８の２つの偏光は、ローカルな発振器の光２０と重ね合わせられる。従って、偏光の両方が、同時に偏光分岐ディテクタ３８と４０において干渉パターンを創り出す。２つの入力偏光の異なる伝播遅延のために、２つの干渉パターンは、電気的なスペクトルが異なる。そのために、評価ユニット中のデジタルフィルタ(図示せず)が、それぞれの入力偏光に属する情報を分割できる。結果として、直交する偏光光束１８に関して図１の実施例１において必要であった第２の走査は、好都合なことに実施例１００においては必要ではない。
【００６８】
その上、ＤＵＴ２はまた、反射率で測定できる。この目的を達成するために、反射光束１２２の路にビームスプリッタ１１６が設けられる。反射光束１２２は、部分１８ａと１８ｂのそれらの反射部分を含んでいる。部分１８ａと１８ｂにおけるそれらの反射部分を含む光束１２２は、ビームスプリッタ１１６においてローカルな発振器の光２０と重ね合わせられる。この重ね合わせられた光１２４は、次いで光を光束１２８と光束１３０に分割するＰＢＳ１２６に導かれる。光束１２８は、ディテクタ１３２に接続され、光束１３０は、ディテクタ１３４に接続される。ディテクタ１３２と１３４によって、ＤＵＴ２の光学特性は、反射率で測定できる。その上、ＰＤＵ１０２の導入に基づいて、この重ね合わせられた光１２４がローカルな発振光と部分１８ａの重ね合わせの部分とローカルな発振光２０と第１の部分１８ａに関して遅延されている部分１８ｂの重ね合わせの部分という２つの部分を含んでいるので、レーザ光源４の単一走査だけで反射率によってＤＵＴ２の光学特性を測定することができる。そのために、デジタルフィルタが、透過率測定のためにディテクタ３８と４０を用いて行ったのと同じようにしてそれぞれの部分１８ａと１８ｂのそれぞれの入力偏光に属する情報を分割することができる。
【００６９】
基準干渉計５２の代わりに、部分１８ａと１８ｂを互いに干渉させてＰＭＦ接続されたポラライザ１３６を介して射出する光１８ａと１８ｂを検出するようにＰＢＳ１０６の第２の口１１４が、基準干渉計として使われ、ポラライザ１３６に接続されるディテクタ１４０によって検出できる干渉パターンを示す重ね合わせられた光束１３８が発生される。従って、図１の実施例を劇的に簡素化することができる。
【００７０】
実施例１００において、システムの入力偏光は、測定性能に厳しく影響する。好ましくは、入力偏光は、ローカルな発振路６の光が４つのディテクタ３８、４０、１３２、１３４に均等に分割されるように選択されるべきである。従って、それぞれ、ＰＢＳ１０４、３２、１２６に入射する光は、ほぼ偏光され、好ましくは５０％の分割比を達成しなければならない。効果的な偏光状態は、ポアンカレ球上の大きな円に配置される。通常、この円の位置は、それぞれのＰＢＳ１０４、３２、１２６について異なる。対応するＰＢＳ上で５０％の分割比を発生させるこれらの円の各々の２つに２つの交差があることが保証されている。ほとんどの場合、すべての３つの円は交差しない。従って、ＰＢＳ１０４、３２、１２６すべてにおける５０％の分割比は、保証できない。換言すれば、最悪の状況においても、５０％ではない分割比で妥協することができるということである。この最悪の状態は、ＰＤＵ１０２の入力偏光が２２．５°の整合ミスをした直線偏光状態に対応する。この最悪の状況において、ｓｉｎ２（２２．５°）＝１５％の最小の分割比が生じ、これは、干渉パターンにおける十分に受け入れ可能なコントラストを導く。ＰＤＵ１０２の最適な入力偏光は、初期化手続き中に見出されるべきものである（下記参照）。
【００７１】
図５は、本発明の第３の実施例３００を示している。
【００７２】
図５の実施例３００における図４の実施例１００に対する差として、ＰＢＳ１０６が、偏光維持カプラ３０２に置き換えられている。従って、両方の出力ポート１１２と１１４は、同じ信号を射出する。出力ポート１１２、１１４出力信号の使用は、図４における実施例１００におけるものと同じである。ＰＤＵ１０２において、偏光維持カプラ３０２を使っているために、長い路１８ｂのみが記号３０４で示されているように９０°だけ回転させられなければならない。
【００７３】
図６は、本発明の第４の実施例４００を示している。図６において、偏光遅延ユニットの設定は、図４の実施例１００のものと同一である。図４の実施例１００とは異なって、ＰＢＳ１０６の第２の口１１４は、ローカルな発振器の波長測定には使われていない。その代わりに、図４の実施例１００には使われていないビームスプリッタ１２０の口４０２が、図６の実施例４００に使われてＤＵＴ２の入力光を分岐している。口４０２から信号を伝達するために使われる光ファイバ４０４は単一モード光ファイバ（ＳＭＦ）であるので、偏光は維持されず、どのような場合にもポラライザ１３６を適切に方向付けして置くことはできない。従って、第１のポラライザ１３６に関して４５°だけ回転される第２のポラライザ４０６が、どのような場合にも干渉パターンを提供するために使用される。第２のポラライザ４０６の使用を可能にするために、ビームスプリッタ４０８が、光ファイバ４０４に配置されている。第２のポラライザ４０６によって伝達される信号は第２のディテクタ４１０によって検出される。
【００７４】
図７は、本発明による第５の実施例５００の概略の説明図を示している。実施例５００は、図４の実施例４００に類似している。しかしながら、図７の実施例５００において、ＰＤＵ１０２は、異なる設定を示している。第２のＰＢＳ１０６の代わりに、２つのファラディ反射鏡５０２と５０４が設けられている。ファラディ反射鏡５０２、５０４の使用は、偏光がＰＭＦの軸と適切に整合しないときに問題を生じる可能性のあるＰＤＵ１０２内部におけるＰＭＦの長い部材を避けるためである。入力光束１８は、第１のＰＢＳ１０４によって２つの直線偏光状態（ＳＯＰ）に分割され、ファラディ反射鏡５０２、５０４によってそれぞれ反射される前にＳＭＦに沿って進行する。通常の反射鏡とは異なって、ファラディ反射鏡５０２、５０４は、入射してくるＳＯＰのそれぞれを直交する反射された偏光状態に変換する。このようにして、光は、サーキュレータを必要とせずにＰＢＳ１０４の第４の口５０６から射出する。ファラディ反射鏡５０２、５０４によって反射された反射光を再び結合するＰＢＳ１０４の使用は、また２つの遅延された成分が直交して偏光されるが干渉しないことを保証する。ファラディ反射鏡５０２、５０４が完全に直交した偏光状態を発生しないとき、光のわずかな部分が、レーザ光源４に向けて復帰反射されて信号路を乱すことがない。
【００７５】
ＰＢＳ１０４の出力ポート５０６は、ＰＭＦ５０８に接続されて部分１８ａ、１８ｂを図４に示されている実施例１００における場合と同じようにＤＵＴ２に伝達する。
【００７６】
ＰＭＣ５１０は、ポラライザ１３６を介して導かれる少しの光を伝えて波長基準信号を発生するように使われる。４５°接続も９０°接続も２つのＰＭＦ間には必要がないので、この設定は、共通して整合された偏光維持コネクタを用いるようにしている。
【００７７】
更に、パワーがそれぞれの通路１８ａ、１８ｂに均等に分布されるときは、図７の実施例５００のＰＤＵ１０２にそれぞれの通路１８ａ、１８ｂ内のパワーディテクタに導いて測定を行うことが可能である（図７には示されていない）。
【００７８】
ＤＵＴ２が図７の装置５００に接続される前に、２つのフォトディテクタ３８、４０が、使われてＰＢＳ３２によるローカルな発振光６のそれぞれの分割を確保するためにフィードバック回路（図示せず）に共に接続される。これは、光学的なシャッタ１１８を開いて制御回路を用いて偏光コントローラ２６を適正に調節することによって行われる。
【００７９】
ＤＵＴ２に入射する偏光１８ａ、１８ｂのそれぞれのパワーを測定するために、ＤＵＴ２は、標準の単一モード光ファイバに置き換えられ、実験が、前述したように行われる。偏光１８ａ、１８ｂのそれぞれにおける総合的なパワーは、２つのフォトダイオード３８、４０の信号を加算することにより決定できる。標準の単一モード光ファイバは、偏光依存性の損失（ＰＤＬ）には関係しないと考えられるので、干渉信号におけるそれぞれの周波数のパワーは、部分１８ａ、１８ｂの偏光の１つにおけるパワーを示す。
【００８０】
図８は、本発明による第６の実施例６００の概略の説明図を示すものである。実施例６００にける実施例５００との差は、すべての基準路とＰＤＵ１０２に対する路がＰＭＦによって設定されていることにある。その上、ローカルな発振光２０は、ビームスプリッタ１１６において反射された部分１８ａ、１８ｂと重ね合わせられない。この実施例６００において、ローカルな発振光２０は、光がビームスプリッタ１２６に入射する前にビームスプリッタ６０２において反射された部分１８ａ、１８ｂと重ね合わせられる。実施例６００において、偏光分岐レシーバ６０４、６０６は、ＤＵＴ路におけるＰＭＦとの問題を回避するためにバルク光学系で実現されることが好ましい。
【００８１】
図９は、本発明による第７の実施例７００の概略の説明図を示すものである。実施例７００の図４における実施例１００との差は、以下のごとくである。ＰＤＵ１０２は、ＰＢＳ１０４を含んでいない。その代わりに、ＰＤＵ１０２は、ＰＤＵ１０２の路１８ａ、１８ｂに偏光設定ツール７０２と７０４を含んでいる。路１８は、ビームスプリッタ７０６によって路１８ａ、１８ｂに分割されている。それぞれの路１８ａ、１８ｂにはスイッチ７０８、７１０が設けられている。路１８ａ、１８ｂは、ＰＢＳ１０６によって結合される。
【００８２】
更に、実施例７００は、位相校正ユニット（ＰＣＵ）７１２を有している。ＰＣＵ７１２は、ビームスプリッタ７１４によって供給される部分１８ａ、１８ｂをビームスプリッタ７１８の助けで第３のビームスプリッタ７１６によって供給される基準信号２０と重ね合わせる。この重ね合わせられた信号は、再びビームスプリッタ７１８によって分割され、ＰＣＵ７１２のフォトダイオード７２０と７２２によって検出される。
【００８３】
ビームスプリッタ２８、路３０、ビームスプリッタ３２及びディテクタ３８と４０は、透過レシーバ７３４を構成する。ビームスプリッタ７３６、路７３７、ビームスプリッタ１２６及びディテクタ１３２と１３４は、反射レシーバ７３８を構成する。
【００８４】
スイッチ７２４が、基準アーム２０に設けられて基準信号を遮断する。スイッチ７０８、７１０及び７２４は、この創造的な方法を実行するためには必要でない。
【００８５】
ＰＣＵ７１２を用いる１つの利点が、以下に説明される。「単一走査」技術を用いると、多数の干渉周波数（数は、どのアーキテクチャが選ばれたかによって決まる）が、受け取られたデータのパワースペクトルにおいて見出されることが可能になる。個々にピークのそれぞれの回りに帯域を与えることによって、その干渉ピークに関連するジョーンズマトリックスの要素に関する情報を取り出すことができる。例えば、第１のジョーンズマトリックス要素に関連するフィルタリングされた干渉ピークは、次式によって与えられる振幅と位相を備えている。
【００８６】
【数１５】
0003998460.tif 000016
【００８７】
しかしながら、第２のジョーンズマトリックス要素に関連するフィルタリングされた干渉ピークは、次式によって与えられる異なる振幅と位相を備えている。
【００８８】
【数１６】
0003998460.tif 000017
【００８９】
遅延τｘｘとτｙｘが異なるために相違が生じる。
【００９０】
ジョーンズマトリックスは、τが任意の遅延であるとして、以下の構造を備えていなければならない。
【００９１】
【数１７】
0003998460.tif 000018
【００９２】
しかしながら、これを達成するために他の事項に混じって差ω(τxx−τyx)を知らなければならない。これは、測定の最大の精度を維持するために数フェムトセコンドの精度で知られなければならない。これを実現する最良のやり方は、２つの遅延信号がＤＵＴ２を通過する前にＬＯを用いてこれらの２つの遅延信号のビート周波数を測定することである。これは、ＰＣＵ７１２によって行われる。その場合（例えば、図９と図１０におけるアーキテクチャ７００と８００の場合のような）に、上述したそれらの実施例に対応する干渉信号は、大きなＰＭＤがないとして、それぞれcos(ωτxx)とcos(ωτyx)に少なくともほぼ比例するであろう。これらの信号から、差ω(τxx−τyx)を決定することが可能となる。これにより、
【００９３】
【数１８】
0003998460.tif 000019
を、以下の修正された信号で置換することが可能となる。
【００９４】
【数１９】
0003998460.tif 000020
【００９５】
干渉信号全てについて同じ手続きを実行することにより、上に示された様式によって、ジョーンズマトリックスを作り出すことが可能となる。
【００９６】
【数２０】
0003998460.tif 000021
【００９７】
少なくとも以下の理由で、実行される測定と同時にＰＣＵ７１２によって差ω(τxx−τyx)を測定することが好ましい。その理由は、１）温度或いは応力変形のために、１回目に測定される値が、他のときに異なる。実際、なんらかの不正確さが比較的小さくても、ＰＭＤ測定を悪くしてしまうことがあること、２）これらのシステムにおいて発生する可能性のある誤差の多くが、干渉計を混乱させ、雑音の多い位相測定結果を与えることになる音響的な或いは振動的な雑音によるものであることである。光はＰＣＵ７１２による位相の校正とディテクタ３８、４０による透過レシーバ測定の両方に対して非常に類似した路を進行するので、両方の位置において測定される音響的な雑音は、類似したものになり得る。その結果、位相校正レシーバ７１２を用いてＤＵＴ２の測定における振動的な雑音と音響的な雑音とを補正することが可能となる。
【００９８】
図１０は、本発明による第８の実施例８００の概略の説明図を示すものである。実施例８００は、基準アーム２０に第２のＰＤＵ１０２−２を用いている。この第２のＰＤＵ１０２−２は、ＰＤＵ１０２と同じように部分２０ａ、２０ｂが互いに関して遅延される基準信号２０の２つの部分２０ａ、２０ｂを発生させる。しかしながら、ＰＤＵ１０２−２は、遅延された部分２０ｂを遅延されない部分２０ａを倍にする異なるループ１０８−２を含んでいる。ＬＯ路において第２のＰＤＵ１０２−２を設ける利点は、以下のごとくである。ジョーンズマトリックスを決定するための図１におけるダブルスイープ技術において、偏光ビームスプリッタ３２が、透過レシーバ３８の前方に使われて出力ｘ、ｙ軸を定める。換言すれば、ＤＵＴ２からの出力光のｘ成分は、レシーバ３８へと向けられ、そこでは干渉が記録されるとともにそれがジョーンズマトリックス要素を決定するために使われる。同様に、ＤＵＴ２からの出力光のｙ成分は、他のレシーバ４０に導かれて測定される。ｘ軸方向に偏光された光が最初にＤＵＴ２へ入力されたものであるとき、ｘ軸方向に偏光された出力ディテクタ３８は、Ｕｘｘジョーンズマトリックスに関する情報を提供することになろう。同様に、ｙ軸方向に偏光された出力ディテクタ４０は、要素Ｕｘｙに関する情報を提供することになろう。
【００９９】
実施例８００におけるように第２のＰＤＵをＬＯ路に導くとき、２つの直交するように進行させられる偏光は、出力ｘ、ｙ軸を定めるように使われることができる。換言すれば、短いＬＯ ＰＤＵ１０２−２路２０ａを通過する光は、レシーバにおいてｘ軸方向に偏光されて定められ、長い路２０ｂを通過する光は、出力においてｙ軸方向の偏光を有するように定められる。ＤＵＴ２ ＰＤＵ１０２から伝えられる２つの直交する光波の両方は、ＬＯＰＤＵ１０２−２からの２つの光波のそれぞれと干渉する。適切に実行されると、これは、４つの明確な干渉周波数を作り出す。これらの干渉のそれぞれは、ジョーンズマトリックスにおける１つの要素に関する情報を含んでいる。
【０１００】
更に、図１０における実施例８００は、上述したように第２のＰＤＵ１０２−２を用いるとき、もはやＰＢＳ３２と１２６を必要としないので、これらを備えていない。
【０１０１】
その他に、図１０における実施例８００は、それぞれのレシーバに２つのフォトダイオードを用いている。これは、実施例８００の透過レシーバ８０２が、ビームスプリッタ２８、得られた路３０及び第２の得られた路８０４を設定して２つのダイオード８０６と８０８によって両方の路３０、８０４を検出することを意味している。同様に、ビームスプリッタ８１２によって設定された反射レシーバ８１０が、それぞれのフォトダイオード８１８と８２０によってビームスプリッタ８１２によって与えられた両方の路８１４、８１６を検出する。
【０１０２】
レシーバ７１２、８０２、８１０における２つのフォトダイオード７２０、７２２、８０６、８０８、８１８、８２０の利点の１つは、以下のごとくである。ほとんどの測定において、同調可能なレーザ４から発生されたレーザパワーは、相対的な強度雑音（ＲＩＮ）と呼ばれる低雑音変動を有している。これらの雑音変動は、測定が試みられる周波数の範囲内に拡張できる広い周波数内容を有することができる。最終的な結果は、群遅延、挿入損失、ＰＤＬなどの測定における単純な雑音変動であることができる。これはかなり小さな作用であるが、この小さな作用が重要であり得るので、非常に精密に測定されることが望ましい。この雑音は、２つのフォトダイオード７２０、７２２、８０６、８０８、８１８、８２０を含む創造的な解決方法を用いることによって除去できる。この創造的な解決方法は、２つの光波Ｅ１＝Ｅ０１ｅｊωｘ及びＥ２＝Ｅ０２ｅｊω（ｔ＋τ）がカプラ内で混合して第１の出力ポートにおいて強度Ｉ１（ｔ）を得るように働き、この場合、強度は以下のように表わされる。
【０１０３】
【数２１】
0003998460.tif 000022
【０１０４】
他のアームにおける強度は、以下のようになるであろう。
【数２２】
0003998460.tif 000023
【０１０５】
ここで、ＲＩＮは、Ｎ１を光波１の相対的な強度雑音としたときE1=(E01+N1)ejωtとして及びＮ２を光波２の相対的な強度雑音としたときE2=(E02+N2)ejωtとして２つの光波を書き直すことにより説明される。２つの光波がカプラ内で加えられたとき、一方のアームフォトダイオードによって測定された強度は、以下のようになる。
【０１０６】
【数２３】
0003998460.tif 000024
【０１０７】
カプラが光に働く作用のために、他のアームにおける光の強度は、以下のようになる。
【０１０８】
【数２４】
0003998460.tif 000025
【０１０９】
次いで明らかに、雑音は、カプラの２つの出力アームにおいて測定された強度の単純な引き算によって除去できる。結果は、以下のようになる。
【０１１０】
【数２５】
0003998460.tif 000026
【０１１１】
これらの干渉計的な技術において、干渉項が関心事項であるので、引き算が、ＲＩＮを除去するための常套的なやり方である。
【０１１２】
両方の実施例７００と８００は、ビームスプリッタ１４の上流に配置されるとともにビームスプリッタ７３２によって光束６の路に接続された波長基準ユニット（ＷＲＵ）７３０を備えている。ＷＲＵ７３０は、評価結果の精度を更に高めるための本発明における評価過程の基準として光束６の波長を測定する。しかしながら、ＷＲＵは、本発明の実施に必須のものではない。
【０１１３】
本発明を上述の実施形態に即して説明すると、本発明は、テストを受ける光学装置（２）の特性を決定する方法において、入射光束（６）を第１の光束（１８、１９）と第２の光束（２０）に分割する工程と、所定の偏光を備えた前記第１の光束（１８、１９）を前記テストを受ける光学装置（２）に接続する工程と、前記第２の光束（２０）を前記第１の光束（１８、１９）とは異なる路に進行させる工程と、前記第１の光束（１８、１９）と前記第２の光束（２０）を重ね合わせ、生じた重ね合わせられた光束における前記第１の光束（１８、１９）と前記第２の光束（２０）間に干渉を行わせる工程と、前記入射光束の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、周波数と偏光の関数として前記重ね合わせられた光束（３０）のパワーを検出する工程と、検出されたパワーの周波数依存性から前記テストを受ける光学装置の特性を取り出す工程とを有する方法を提供する。
【０１１４】
好ましくは、本発明による方法は、更に、前記重ね合わせられた光束（３０）を偏光依存状態で第３の光束（３４）と第４の光束（３６）に分割する工程と、前記入射光束の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、周波数の関数として前記第３の光束（３４）と前記第４の光束（３６）のパワーを検出する工程とを有する。
【０１１５】
好ましくは、本発明による方法は、更に、検出された前記パワーの周波数依存性から前記テストを受ける光学装置（２）におけるジョーンズマトリックスの要素を取り出す工程を有する。
【０１１６】
好ましくは、本発明による方法は、更に、前記所定の偏光に関して前記第１の光束（１８、１９）の偏光を変化させられた偏光に変化させる工程と、前記変化させられた偏光に関して前記請求項１に記載の過程を２度目に実行する工程とを有する。
【０１１７】
好ましくは、本発明による方法は、更に、前記入射光束（６）を分割した後、前記第１の光束（１８、１９）の偏光を設定する工程、或いは、前記分割の前に前記入射光束（６）の偏光を設定する工程とを有する。
【０１１８】
好ましくは、本発明による方法は、更に、前記第１の光束（１８、１９）の偏光を直交する偏光に変化させる工程を含む。
【０１１９】
好ましくは、本発明による方法は、更に、前記所定の偏光を直線偏光にする工程を有する。
【０１２０】
好ましくは、本発明による方法は、更に、入射光束（６）を第１の初期光束（１０）と第２の初期光束（１２）に分割する工程と、前記第１の初期光束（１０）を用いて請求項１に記載の過程を行う工程と、前記第２の初期光束（１２）を第５の光束（２２）と第６の光束（２４）に分割する工程と、前記光束（２２、２４）のそれぞれが異なる路を進行した後、前記第５の光束（２２）と前記第６の光束（２４）を重ね合わせ、生じた重ね合わせられた光束（４８）における前記第５の光束（２２）と前記第６の光束（２４）間に干渉を行わせる工程と、前記入射光束（６）の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、周波数の関数として前記重ね合わせられた光束（４８）のパワーを検出する工程と、所定の周波数範囲にわたる前記入射光束（６）の同調率の非直線性を検出する工程と、非直線性を検出するとき、前記検出された前記非直線性の情報を用いて前記非直線性から生じた前記第３の光束と前記第４の光束の前記検出されたパワーへの作用を補正する工程とを有する。
【０１２１】
好ましくは、更に、本発明による方法は、前記第１の光束（１８、１９）を第１の部分（１８ａ）と第２の部分（１８ｂ）とに分割する工程と、前記第２の部分（１８ｂ）を前記第１の部分（１８ａ）に対して遅延させる工程と、前記第１の部分（１８ａ）と前記第２の部分（１８ｂ）とを再び結合する工程と、異なる偏光を備えた前記再び結合された部分を前記テスト中の光学装置に接続する工程とを有する。
【０１２２】
好ましくは、本発明による方法は、前記部分（１８ａ、１８ｂ）の偏光が、互いに少なくともほぼ直交するようにする。
【０１２３】
好ましくは、本発明による方法は、更に、前記再び結合された部分（１８ａ、１８ｂ）のそれぞれが、コヒーレントな光束のパワーの少なくともほぼ約５０％を有しているようにする。
【０１２４】
好ましくは、本発明による方法は、更に、検出された前記パワーのスペクトルのピークをフィルタリングする工程と、前記スペクトルにおける前記ピークを前記部分（１８ａ、１８ｂ）のそれぞれに対して位置決めする工程と、検出された前記パワーの前記周波数及び前記偏光依存性から前記テストを受ける光学装置の光学特性を取り出す工程とを有する。
【０１２５】
好ましくは、本発明による方法は、更に、生じた重ね合わせられた光束（１３８）における再び結合された部分（１８ａ、１８ｂ）間に干渉を生じさせる工程と、前記入射光束（６）の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、周波数の関数として前記生じた重ね合わせられた光束のパワーを連続的に検出する工程と、前記入射光束の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、同調勾配周波数における非直線性を検出する工程と、非直線性を検出するとき、前記検出された非直線性の情報を用いて前記非直線性によって生じさせられた前記第３の光束（３４）と前記第４の光束（３６）の検出されたパワーへの作用を補正する工程を有する。
【０１２６】
好ましくは、本発明による方法は、更に、前記再び結合された部分（１８ａ、１８ｂ）を偏光させることによって前記再び結合された部分（１８ａ、１８ｂ）を重ね合わせて干渉を生じさせる工程を有する。
【０１２７】
好ましくは、本発明による方法は、更に、好ましくは前記テストを受ける装置（２）のジョーンズマトリックス要素として表現される測定によって得られた情報から前記テストを受ける装置（２）の偏光モード分散を取り出す工程、前記テストを受ける装置（２）の前記ジョーンズマトリックス要素から前記テストを受ける装置（２）の色分散を取り出す工程、前記テストを受ける装置（２）の前記ジョーンズマトリックス要素から前記テストを受ける装置（２）の偏光における基本的な状態を取り出す工程、前記テストを受ける装置（２）の前記ジョーンズマトリックス要素から前記テストを受ける装置（２）の偏光依存性の損失を取り出す工程、前記テストを受ける装置（２）の前記ジョーンズマトリックス要素から前記テストを受ける装置（２）の偏光における短い及び長い基本的な状態に連携する短い及び長い群遅延を取り出す工程、前記テストを受ける装置（２）の前記ジョーンズマトリックス要素から前記テストを受ける装置の挿入損失を取り出す工程、前記テストを受ける装置（２）の前記ジョーンズマトリックス要素から前記テストを受ける装置（２）の透過率及び反射率を取り出す工程、或いは前記テストを受ける装置（２）の前記ジョーンズマトリックス要素から周波数に関する異なる群遅延の変化率のような高次の偏光モード分散を取り出すという工程のうち少なくとも１つを備える。
【０１２８】
好ましくは、本発明による方法は、更に、前記第１の光束（１８、１９）を偏光依存性の仕方で第１の部分（１８ａ）と第２の部分（１８ｂ）に分割する工程を有する。
【０１２９】
更に本発明は、テストを受ける装置の光学特性を決定する装置（２）において、入射光束（６）の路を第１の路を進行する第１の光束（１８、１９）と第２の路を進行する第２の光束（２０）に分割する第１のビームスプリッタ（１４）にして、その際前記テストを受ける光学装置（２）は、前記第１の路に接続されて所定の偏光を備えた前記第１の光束（１８、１９）に接続するようにした第１のビームスプリッタ（１４）と、前記第２の光束（２０）が第１の光束（１８、１９）とは異なる路を進行した後、前記第１の光束（１８、１９）と前記第２の光束（２０）を重ね合わせて得られた路を進行する生じた重ね合わせられた光束内での前記第１の光束（１８、１９）と前記第２の光束（２０）間に干渉を生じさせる前記第１の路と前記第２の路に配置された第２のビームスプリッタ（２８）と、前記入射光束（６）の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、周波数と偏光の関数として前記得られた路内を進行する前記生じた重ね合わせられた光束（３０、８０４、８１４、８１６）の前記パワーを検出する前記得られた路内に配置されたディテクタユニットと、検出された前記パワーから前記テストを受ける光学装置（２）の光学特性を取り出すための評価ユニット（３８、４０、８０６、８０８、８１８、８２０）とを有する。
【０１３０】
好ましくは、偏光依存性の仕方で前記重ね合わせられた光束（３０）を第３の路を進行する第３の光束（３４）と第４の路を進行する第４の光束（３６）に分割するための前記得られた路内の偏光ビームスプリッタ（３２）と、前記入射光束（６）の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、周波数の関数として前記第３の光束（３４）の前記パワーを検出するための前記第３の路内の第１のパワーディテクタ（３８）と、前記入射光束（６）の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、周波数の関数として前記第４の光束（３６）の前記パワーを検出するための前記第４の路内の第２のパワーディテクタ（４０）とを有する。
【０１３１】
好ましくは、検出された前記パワーの周波数依存性から前記テストを受ける光学装置（２）の前記ジョーンズマトリックス要素を取り出すための評価ユニットを有する。
【０１３２】
好ましくは、前記第１のビームスプリッタ（１４）と前記第２のビームスプリッタは、マッハツェンダー干渉計及び／或いはマイケルソン干渉計を含む。
【０１３３】
好ましくは、更に、前記第１の光束（１８、１９）の偏光を前記所定の偏光に対して調節するための前記第１の路内の偏光設定ツールを有し、その際前記偏光設定ツール（２６）が、前記第１のビームスプリッタ（１４）の前後の前記入射光束（６）の前記路に配置される。
【０１３４】
好ましくは、前記偏光設定ツール（２６）が、直線的に前記光束（６、１８）のそれぞれの偏光を調節する。
【０１３５】
好ましくは、更に、前記入射光束（６）を第１の初期路を進行する第１の初期光束（１０）と第２の初期路を進行する第２の初期光束（１２）に分割するために前記入射光束（６）に配置された第３のビームスプリッタ（８）と、前記第２の初期光束（１２）を第５の路を進行する第５の光束（２２）と第６の路を進行する第６の光束（２４）に分割する前記第２の初期路に配置された第４のビームスプリッタ（１６）と、前記光束（２２、２４）のそれぞれが異なる路を進行した後、前記第５の光束（２２）と前記第６の光束（２４）とを重ね合わせて第２の得られた路を進行する前記生じた重ね合わせられた光束（４８）における前記第５の光束（２２）と前記第６の光束（２４）間に干渉を生じさせるように前記第５の路及び前記第６の路に配置された第５のビームスプリッタ（４６）と、前記入射光束（６）の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、周波数の関数として前記生じた重ね合わせられた光束（４８）の前記パワーを検出するために前記第２の得られた路内に配置された第３のパワーディテクタ（５０）とを有し、これによって、前記パワーディテクタ（５０）の出力は、前記評価ユニットに接続され、前記コヒーレント光束の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき、同調勾配周波数におけるいかなる非直線性も検出し、及び、前記評価ユニットがいずれかの非直線性を検出したとき、前記評価ユニットが、前記検出された非直線性の情報を用いて前記非直線性によって生じさせられた前記第３の光束（３４）と前記第４の光束（３６）の前記検出されたパワーへの作用を補正するように構成される。
【０１３６】
好ましくは、更に、偏光遅延ユニット（１０２）を設け、前記第１の光束（１８、１９）を第１の部分（１８ａ）と第２の部分（１８ｂ）に分割し、前記第１の部分（１８ａ）に対して前記第２の部分（１８ｂ）を遅延させ、前記第１の部分（１８ａ）と前記第２の部分（１８ｂ）を再び結合し、異なる偏光を備えた再び結合された部分を前記テストされる光学装置（２）に接続するように構成される。
【０１３７】
好ましくは、前記偏光遅延ユニット（１０２）は、前記第１の光束（１８、１９）を第１の部分（１８ａ）と第２の部分（１８ｂ）に分割する第１の偏光ビームスプリッタ（１０４）を有する。
【０１３８】
好ましくは、前記偏光遅延ユニット（１０２）が、前記第１の部分（１８ａ）と前記第２の部分（１８ｂ）を再び結合する第２の偏光ビームスプリッタ（１０６）を有する。
【０１３９】
好ましくは、前記偏光遅延ユニット（１０２）が、前記第１の部分（１８ａ）のための第１の光路と前記第１の光路よりも長い光路長を備えている前記第２の部分（１８ｂ）のための第２の光路とを有して前記第１の部分（１８ａ）に対して前記第２の部分（１８ｂ）を遅延させるようにする。
【０１４０】
好ましくは、前記偏光遅延ユニット（１０２）が、偏光装置（１０４、１０６、５０２、５０４）を有して異なる偏光を備えた前記再び結合される部分（１８ａ、１８ｂ）に前記テストを受ける光学装置（２）を接続する。
【０１４１】
好ましくは、前記偏光遅延ユニット（１０２）が、装置（１１４、１１６、１２０，５１０）を有して、異なる偏光を備えた前記再び結合される部分（１８ａ、１８ｂ）をポラライザ（１３６、４０６）に与えて得られた路を進行する生じた重ね合わせられた光束（１３８）内で前記路間に干渉を生じさせ、前記装置が更に、前記得られた路にパワーディテクタ（１４０、４１０）を有して前記コヒーレント光束の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき周波数の関数として前記生じた重ね合わせられた光束（１３８）のパワーを検出し、これによって、前記パワーディテクタ（１４０、４１０）の出力が、前記評価ユニットに接続されて前記入射光束（６）の周波数を所定の周波数範囲にわたって同調させるとき同調勾配周波数の関数における非直線性を検出し、及び、評価ユニットがなんらかの非直線性を検出するとき、前記評価ユニットが、検出された前記非直線性を用いて前記非直線性によって生じた前記第３の光束（３４）と前記第４の光束（３６）の前記検出されたパワーへの作用を補正するようにする。
【０１４２】
好ましくは、本発明によれば、装置（１１４、１１６、１２０、５１０）が、前記テストを受ける光学装置（２）には接続されない前記第２の偏光ビームスプリッタの出力ポート（１１４）、或いは、前記テストを受ける光学装置（２）に接続される前記第２の偏光ビームスプリッタ（１０６）の前記出力ポート（１１４）に接続される偏光維持カプラ（５１０）、或いは、前記テストを受ける光学装置（２）に接続される前記第２の偏光ビームスプリッタ（１０６）の前記出力ポート（１１４）に接続される少なくとも１つのビームスプリッタ（１１６、１２０）とされる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明による第１の実施形態となる装置の概略説明図である。
【図２】高度な複屈折繊維の測定結果を示す図であり、（ａ）２つの主軸の群遅延を示すプロット、及び(ｂ)２つの群遅延間の差を示すプロットを示す図である。
【図３】ＤＵＴなしの測定結果であり、（ａ）２つの主軸の群遅延を示すプロット、及び(ｂ)２つの群遅延間の差を示すプロットを示す図である。
【図４】本発明による第２の実施形態の概略説明図である。
【図５】本発明による第３の実施形態の概略説明図である。
【図６】本発明による第４の実施形態の概略説明図である。
【図７】本発明による第５の実施形態の概略説明図である。
【図８】本発明による第６の実施形態の概略説明図である。
【図９】本発明による第７の実施形態の概略説明図である。
【図１０】本発明による第８の実施形態の概略説明図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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