(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
注目画素を中心画素とするｍ×ｎ（ｍ≧ｎ）画素のマトリクス内の外周画素の濃度が全て第１の閾値以下又は未満であり、且つ前記マトリクスの外側であって注目画素と同じラインの左右の複数の画素の濃度が全て第２の閾値以下又は未満であるか否かを判断し、前記条件を満たす場合に前記注目画素を孤立点と判定する手段を備えた孤立点除去装置。
【請求項２】
注目画素を中心画素とするｍ×ｎ（ｍ≧ｎ）画素のマトリクス内の外周画素の濃度が全て第１の閾値以下又は未満であり、且つ前記マトリクスの外側であって注目画素と同じラインの左右の複数の１つおきの画素の濃度が全て第２の閾値以下又は未満であるか否かを判断し、前記条件を満たす場合に前記注目画素を孤立点と判定する手段を備えた孤立点除去装置。
【請求項３】
前記第１、第２の閾値は可変であることを特徴とする請求項２または３記載の孤立点除去装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、一度に多数の画素を処理するＳＩＭＤ（Single Instruction Multiple Data stream：単一命令複数データストリーム）制御方式で孤立点を除去する孤立点除去装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
一般に、原稿の地肌部分にはトナー飛散などにより孤立点が発生する。この孤立点を検出する従来例としては、例えば特開平６−６９１７号公報に示すように白画素区間と黒画素区間のランレングスに基づいて孤立点を検出する方法（以下、ランレングス方法）や、特開平８−３０５８４４号公報に示すように注目画素を含むエリアを構成する画素の濃度データに基づいて孤立点を検出する方法（以下、エリア方法）が提案されている。このエリア方式では具体的には、５×５画素のマトリクスに対してその中央の注目画素を含む４種類のエリアを形成して、その中の画素データと注目画素を比較する。
【０００３】
ここで、これらの実際の回路は、１画素のデータが１画素クロック毎に入力する画像データを処理可能なＡＳＩＣにより構成される。図９は１画素のデータが１画素クロック毎に入力する画像データを処理する従来の複写機の画像処理部２０２を示している。フィルタ部２０３と孤立点除去部２０４は、スキャナ２０１により読み取られた画像データに対して、それぞれフィルタ計算と孤立点除去をパラレルで行い、各出力をセレクタ２０５により選択する。そして、セレクタ２０５により選択された画像データは、ガンマ処理部２０６、階調処理部２０７を介して不図示のプリンタに出力される。ここで、フィルタ部２０３は図示省略されているが、画像データに対して強調処理を行う強調処理部と、平滑化処理を行う平滑化処理部と、文字領域か否かを判定して文字領域の場合には強調処理部の出力を選択し、文字領域でない場合には平滑化処理部の出力を選択してセレクタ２０５に出力するセレクタを有する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
前者の「ランレングス方法」は、メモリ容量が少なくてすみ、また、１ドット毎の逐次処理に向いているが、一定量の画像データに対して同じインストラクションを同時に処理するＳＩＭＤ制御方式では有効性が少ないという問題点がある。また、後者の「エリア方法」は、注目画素を含む４種類のエリアを形成し、また、その中の画素データと注目画素を比較するので、ＳＩＭＤ制御方式では処理が困難であるという問題点がある。すなわち、上記のような従来の方法は、１画素のデータが１画素クロック毎に入力するという前提の中で考えられているので、ＳＩＭＤ制御方式には適用しにくい。
【０００５】
本発明は上記従来例の問題点に鑑み、１ドット毎にデータ処理ではなく、１つのインストラクションで数百ドットのデータ処理を行うようなＳＩＭＤ制御方式で孤立点を除去することができる孤立点除去装置を提供することを目的とする。
【０００６】
本発明はまた、インストラクション数を減少して処理速度を高めることができる孤立点除去装置を提供することを目的とする。
【０００７】
本発明はまた、孤立点の除去具合を調整することができる孤立点除去装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
第１の手段は上記目的を達成するために、注目画素を中心画素とするｍ×ｎ（ｍ≧ｎ）画素のマトリクス内の外周画素の濃度が全て第１の閾値以下又は未満であり、且つ前記マトリクスの外側であって注目画素と同じラインの左右の複数の画素の濃度が全て第２の閾値以下又は未満であるか否かを判断し、前記条件を満たす場合に前記注目画素を孤立点と判定する手段を有することを特徴とする。
【００１０】
第２の手段は上記目的を達成するために、注目画素を中心画素とするｍ×ｎ（ｍ≧ｎ）画素のマトリクス内の外周画素の濃度が全て第１の閾値以下又は未満であり、且つ前記マトリクスの外側であって注目画素と同じラインの左右の複数の１つおきの画素の濃度が全て第２の閾値以下又は未満であるか否かを判断し、前記条件を満たす場合に前記注目画素を孤立点と判定する手段を有することを特徴とする。
第３の手段は、第１、第２の手段において前記第１、第２の閾値が変動可能に設定されていることを特徴とする。
【００１１】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。図１は本発明に係る孤立点除去装置の一実施形態を示すブロック図、図２はＳＩＭＤ制御方式を示す説明図、図３は孤立点判定用の参照画素を示す説明図、図４は孤立点除去を示すフローチャート、図５は孤立点判定フラグを示す説明図である。
【００１２】
図１において、フィルタ１０３はスキャナ１０１により読み取られた画像データに対して、強調処理を行うとともに平滑化処理を行い、また、文字領域か否かを判定して文字領域の場合には強調処理した画像データを選択し、文字領域でない場合には平滑化処理した画像データを選択する。また、孤立点除去部１０４はスキャナ１０１により読み取られた画像データが孤立点か否かを判定して複数の孤立点判定結果を蓄積し、孤立点の場合にフィルタ１０３の処理結果を「０」に変換するか、または平滑化処理したデータを選択する。フィルタ１０３の出力信号は、ガンマ処理部１０５、階調処理部１０６を介して不図示のプリンタに出力される。
【００１３】
ここで、図９に示した従来の画像処理部２０２は、クロックに基づいて画像データを入出力するので、ハードウエアとして動作するＡＳＩＣを主体として構成されているが、図１に示すＳＩＭＤ制御方式の画像処理部１０２の場合には、処理内容を示すインストラクションをソフトウエアで記述することができる。図２はＳＩＭＤ制御方式の処理を示している。まず、スキャナ１０１からの入力イメージデータをロードし（３０１）、次いでＳＩＭＤ制御方式で一括して命令を処理することができる一定量（ｋドット）のデータがロードされると（３０２）、その単位毎にインストラクションを実行し、処理後のデータを１ドットｄづつ出力する（３０３）。
【００１４】
ここで、従来の「ランレングス方法」では、白レングス（白画素の連続量）と黒レングス（黒画素の連続量）を検出するために、１クロック毎に入力する１画素のデータを閾値と比較してそれぞれ白画素カウンタと黒画素カウンタによりカウントすればメモリも不要であるが、図１に示すようにある量の画素データに対して１つのインストラクションを実行する場合にはカウンタ方式を適用することができない。これに対し、ＳＩＭＤ制御方式では一度に多数の画像データを処理することができる。ここで、「閾値と比較する」というインストラクションを減らした方が有効であるので、本発明では白画素のみに注目する。
【００１５】
次に図３〜図５を参照して孤立点除去処理について詳しく説明する。この例では、図３において注目画素Ｐを含む５×５画素のマトリクスに対して○印で示す周囲画素４０１と、×印で示すようにマトリクスの外側であって注目画素Ｐと同じラインの数画素４０２Ｌ、４０２Ｒを参照する。そして、図４に示すように全ての周囲画素４０１の値が閾値ＴＨ１より小さい場合（または閾値ＴＨ１以下の場合）、○印で示す周囲画素４０１は網点画像や写真画像の領域ではないと判断するとともに（ステップＳ１〜Ｓ３）、×印で示す全ての画素４０２Ｌ、４０２Ｒの値が閾値ＴＨ２より小さい場合（または閾値ＴＨ２以下の場合）、注目画素Ｐの周囲には文字や網点などがない領域と判断する（ステップＳ４〜Ｓ６）。
【００１６】
この判断結果は図５に示すように、１画素毎に２ビットのフラグで表して、１ビット目（ＭＳＢ）により○印で示す周囲画素４０１と閾値ＴＨ１の比較結果を表し、また、２ビット目（ＬＳＢ）により×印で示す画素４０２Ｌ、４０２Ｒと閾値ＴＨ２の比較結果を表す。そして、この２つの条件を満たす場合、注目画素Ｐが存在する領域は地肌部分であると判定して孤立点除去を行う（ステップＳ７〜Ｓ９）。
【００１７】
次に図６を参照して第２の実施形態の孤立点除去処理について詳しく説明する。この例では、まず、図６において注目画素Ｐを含む５×５画素のマトリクスに対して、○印で示す全ての周囲画素４０１の値が閾値ＴＨ１より小さい場合（または閾値ＴＨ１以下の場合）、第１の実施形態と同様に周囲画素４０１は網点画像や写真画像の領域ではないと判断する。
【００１８】
そして、この第２の実施形態では、図６において×印で示すようにマトリクスの外側であって注目画素Ｐと同じラインの１つおきの数画素５０２Ｌ、５０２Ｒの値を閾値ＴＨ２と比較して、１つおきの画素５０２Ｌ、５０２Ｒが閾値ＴＨ２より小さい場合（または閾値ＴＨ２以下の場合）、注目画素Ｐの周囲には文字や網点などがない領域と判断する。この理由は、１画素毎に白黒が切り替わる網点部や写真部、文字分はないと見做して、１画素おきに閾値ＴＨ２より小さい（または閾値ＴＨ２以下の）画素データが並んでいる場合には注目画素Ｐの周囲には文字や網点などがない領域と判断するためである。この第２の実施形態によれば、閾値ＴＨ２と比較するための演算回数を第１の実施形態より減らすことができるので処理時間を短縮することができる。
【００１９】
次に図７、図８を参照して第３の実施形態の孤立点除去処理について詳しく説明する。ここで、原稿の地肌濃度は「０」とは限らないので、閾値ＴＨ２は最低でも、地肌部分を白画素が連続する領域として判断可能な値にする必要がある。また。閾値ＴＨ１は注目画素Ｐの周囲画素４０１を参照するので、地肌濃度より小さな値にすると孤立点を判断することができなくなる。そこで、閾値ＴＨ１も最低でも、閾値ＴＨ２と同じ値にする必要がある。そして、この２つの閾値ＴＨ１、ＴＨ２を独立して変動する値にすることにより、図８に示すように閾値ＴＨ１、ＴＨ２ともに値が大きい方がノイズを除去しやすくすることができ、逆に、閾値ＴＨ１、ＴＨ２ともに値が小さい方がノイズを除去しにくくすることができる。
【００２０】
ここで、上記の実施形態における「同一ライン」とは、主走査方向のラインを言う。また、主走査方向とはスキャナの電気的読み取り方向（ＣＣＤの長手方向）であり、副走査方向とはスキャナの機械的読み取り方向（ＣＣＤの移動方向）である。なお、本発明のマトリクス円は、上記の実施形態のような４角形に限定されず、４角形の角を切り落とした略円形（８角形）であってもよい。
【００２２】
【発明の効果】
以上説明したように、請求項１記載の発明によれば、注目画素を中心画素とするｍ×ｎ（ｍ≧ｎ）画素のマトリクス内の外周画素の濃度が全て第１の閾値以下又は未満であり、且つ前記マトリクスの外側であって注目画素と同じラインの左右の複数の画素の濃度が全て第２の閾値以下又は未満であるか否かを判断し、前記条件を満たす場合に注目画素を孤立点と判定するようにしたので、ＳＩＭＤ制御方式で孤立点を除去することができる。
【００２３】
請求項２記載の発明によれば、注目画素を中心画素とするｍ×ｎ（ｍ≧ｎ）画素のマトリクス内の外周画素の濃度が全て第１の閾値以下又は未満であり、且つ前記マトリクスの外側であって注目画素と同じラインの左右の複数の１つおきの画素の濃度が全て第２の閾値以下又は未満であるか否かを判断し、前記条件を満たす場合に注目画素を孤立点と判定するようにしたので、ＳＩＭＤ制御方式で孤立点を除去することができ、また、インストラクション数を減少して処理速度を高めることができる。
【００２４】
請求項３記載の発明によれば、第１、第２の閾値を変化させることができるので、ＳＩＭＤ制御方式で孤立点を除去することができ、また、孤立点の除去具合を調整することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に係る孤立点除去装置の一実施形態を示すブロック図である。
【図２】ＳＩＭＤ制御方式を示す説明図である。
【図３】孤立点判定用の参照画素を示す説明図である。
【図４】孤立点除去を示すフローチャートである。
【図５】孤立点判定フラグを示す説明図である。
【図６】第２の実施形態における孤立点判定用の参照画素を示す説明図である。
【図７】第３の実施形態における孤立点判定用の閾値を示す説明図である。
【図８】閾値と孤立点の除去具合の関係を示す説明図である。
【図９】従来の孤立点除去装置を示すブロック図である。
【符号の説明】
１０２  ＳＩＭＤ画像処理部
１０３  フィルタ
１０４  孤立点除去部
１０５  γ処理部
１０６  階調処理部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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