(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
チップ状回路部品（１４）を所定の間隔で搬送するキャリア（１１）と、このキャリア（１１）で搬送されるチップ状回路部品（１４）の両端の電極（１５）、（１５）に接触する接触端子（１７）、（１７）と、この接触端子（１７）、（１７）に接続され、同接触端子（１７）、（１７）を介して導通したチップ状回路部品（１４）の電極（１５）、（１５）の間でチップ状回路部品（１４）の電気的特性を計測する計測器（１８）とを有するチップ状回路部品の計測装置において、キャリア（１１）は、チップ状回路部品（１４）がその長手方向に移動自在に保持される保持溝（１３）を有し、前記接触端子（１７）、（１７）がキャリア（１１）に保持されたチップ状回路部品（１４）の両端の電極（１５）、（１５）に向けて昇降すると共に、同接触端子（１７）、（１７）の先端部に半球形状のテーパまたは互いに対向する勾配が形成され、接触端子（１７）、（１７）がその先端部のテーパまたは勾配によってチップ状回路部品（１４）の位置を修正する位置補正機構を兼ねていることを特徴とするチップ状回路部品の計測装置。
【請求項２】
キャリア（１１）が環状の搬送路に沿って所定の間隔でチップ状回路部品（１４）を間欠搬送するターンテーブル状のものからなることを特徴とする請求項１に記載のチップ状回路部品の計測装置。
【請求項３】
保持溝（１３）がキャリア（１１）の回転中心に対して放射状に設けられ、両端が開放した溝からなることを特徴とする請求項１または２に記載のチップ状回路部品の計測装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、コンデンサ、インダクタ或いは抵抗器等のチップ状回路部品の製造工程における電気的特性の検査のため、キャリアにより搬送されてくるチップ状回路部品の両端の電極に接触端子を接触させて、チップ状回路部品の電気的特性を計測する装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
積層セラミックコンデンサや積層セラミックインダクタは、通常角柱形のチップ素体を有し、この両端に導体膜からなる外部電極を設けたものである。また、円筒磁器コンデンサは、円柱形のチップ素体を有し、この両端に導体膜からなる外部電極を設けたものである。
このようなチップ状回路部品の製造は自動化が進んでおり、最終工程に近い特性検査工程でも自動検査が行われている。
【０００３】
図６は、このようなチップ状回路部品の計測装置とそれを使用したチップ状回路部品の検査工程の例を示す概略図である。矢印に示す方向に一定の角度毎に間欠回転するターンテーブル状のキャリア１が備えられ、その上面外周部分に、チップ状回路部品１が保持されるような凹状の保持溝３が一定の角度毎に設けられている。図示の例では、保持溝３がキャリア１の外周に４５゜間隔で放射状に設けられ、キャリア１は４５゜間隔で間欠回転する。この保持溝３は、チップ状回路部品４の受け入れのため、キャリア１の外周側に開放し、その内周側が閉じている。
【０００４】
キャリア１の保持溝３が停止するローディングステーションに供給シュート２が接続され、キャリア１が停止したとき、供給シュート２に沿って一列に搬送されてきたチップ状回路部品４が、停止した保持溝３にキャリア１の外周側から送り込まれ、保持溝３の最奥部で位置決めされる。こうして、キャリア１の保持溝３に保持されたチップ状回路部品４は、キャリア１の間欠回転により送られ、計測ステーションに移動する。
【０００５】
計測ステーションの真上には端子ユニット６が配置され、この端子ユニット６から下方に接触端子７、７が突設されている。この端子ユニット６は、図６に矢印で示すように上下動し、下降したとき計測ステーションに停止したチップ状回路部品４の両端の電極５、５に接触端子７、７が接触し、導通する。この接触端子７、７には計測器８が接続されており、このようにして接触端子７、７がチップ状回路部品４の電極５、５に接触することにより、チップ状回路部品４の電極５、５が計測器８に接続され、そこでチップ状回路部品４の電気的特性が計測される。
【０００６】
電気的特性の計測の結果、所要の特性値範囲に収まらないチップ状回路部品４は、図示してない取出機構によりキャリア１から排出される。
電気的特性の計測の結果、所要の特性値範囲に収まっており、キャリア１から排出されなかったチップ状回路部品４は、キャリア１によってアンローディングステーションに移動し、そこでチップ状回路部品４が排出シュート９に排出され、次の工程に搬送される。
【０００７】
【発明が解決しようとしている課題】
前記のチップ状回路部品の計測装置において、保持溝３の最奥部で位置決めされるチップ状回路部品４の一方の端部の電極５については一定の位置に位置決めすることが出来る。ところが、チップ状回路部品４には寸法のばらつきがあるため、他方の端部の電極５については、チップ状回路部品４の長さ寸法のばらつきによって、計測ステーションにおける接触端子７に対する位置のズレが起こることがある。そのため、接触端子７の電極５への接触不良等が生じ、計測困難になることがまれにあった。
【０００８】
さらに、前記従来のチップ状回路部品の計測装置では、チップ状回路部品４をキャリア１の保持溝３に挿入する度に、チップ状回路部品４の端部が保持溝３の奥に突き当たり、保持溝３が次第に磨耗してくる。そうすると、保持溝３の深さが変わり、その最奥部で位置決めされるチップ状回路部品４の一方の端部の電極５の位置も変動する。これによって、接触端子７の電極５への接触の確実性が次第に失われる。
【０００９】
本発明は、このような従来のチップ状回路部品の計測装置における課題に鑑み、チップ状回路部品の長さ寸法に多少のばらつきがあっても、チップ状回路部品のキャリアにおける保持位置を補正して確実に接触端子を電極に接触させて、チップ状回路部品の電気的特性の計測を可能とするものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】
すなわち、本発明では、キャリア１１の保持溝１３に長手方向に移動自在にチップ状回路部品１４を保持し、その長手方向の位置を補正するのと同時にチップ状回路部品１４の両端の電極１５、１５に接触端子１７、１７を接触させて計測器１８との導通を図るようにした。これにより、接触不良を起こすことなく、確実にチップ状回路部品１４の電気的特性を計測することを可能とした。
【００１１】
すなわち、本発明によるチップ状回路部品の計測装置は、チップ状回路部品１４を所定の間隔で搬送するキャリア１１と、このキャリア１１で搬送されるチップ状回路部品１４の両端の電極１５、１５に接触する接触端子１７、１７と、この接触端子１７、１７に接続され、同接触端子１７、１７を介して導通したチップ状回路部品１４の電極１５、１５の間でチップ状回路部品１４の電気的特性を計測する計測器１８とを有する。キャリア１１は、チップ状回路部品１４がその長手方向に移動自在に保持される保持溝１３を有し、前記接触端子１７、１７は、キャリア１１に保持されたチップ状回路部品１４の両端の電極１５、１５に向けて昇降するものからなり、この接触端子１７、１７の先端部が位置補正機能を兼ねることが出来る。すなわち、接触端子１７、１７の先端部に半球形状のテーパまたは互いに対向する勾配が形成され、接触端子１７、１７がその先端部のテーパまたは勾配によってチップ状回路部品１４の位置を補正する。
【００１２】
キャリア１１は、例えば環状の搬送路に沿って所定の間隔でチップ状回路部品１４を間欠搬送するターンテーブル状のものからなり、保持溝１３がキャリア１１の径方向に設けられ、両端が開放した溝からなる。
【００１４】
このようなチップ状回路部品の計測装置では、キャリア１１の保持溝１３に長手方向に移動自在にチップ状回路部品１４を保持すると共に、チップ状回路部品１４の両端の電極１５、１５に向けて昇降する接触端子１７、１７の先端部に半球形状のテーパまたは互いに対向する勾配が形成され、接触端子１７、１７がその先端部のテーパまたは勾配によってチップ状回路部品１４の位置を修正する位置補正機構を兼ねているため、チップ状回路部品１４の長手方向の位置が、接触端子１７、１７との接触と同時に補正される。このため、チップ状回路部品１４の長さ寸法にばらつきがあっても、接触端子１７、１７を確実にチップ状回路部品１４の両端の電極１５、１５に接触させて計測器１８との導通を図ることが出来る。すなわち、接触不良を起こすことなく、チップ状回路部品１４の電気的特性の計測が確実に行える。
さらに、キャリア１１の保持溝１３は、チップ状回路部品１４をその長手方向に移動自在に保持するだけでよいので、チップ状回路部品１４の突き当てによる保持溝１３の磨耗等も起こらない。
【００１５】
【発明の実施の形態】
次に、図面を参照しながら、本発明の実施の形態について、具体的且つ詳細に説明する。
図１は、本発明によるチップ状回路部品の計測装置とそれを使用したチップ状回路部品の検査工程の例を示す概略図である。
矢印に示す方向に一定の角度毎に間欠回転するターンテーブル状のキャリア１１が備えられ、その上面外周部分に、チップ状回路部品１１がその長手方向に移動自在に嵌め込まれて保持されるような保持溝１３が一定の角度毎に設けられている。図示の例では、保持溝１３がキャリア１１の外周に４５゜間隔で設けられ、キャリア１１は４５゜間隔で間欠回転する。
【００１６】
図示のキャリア１１はリング状になっており、その幅はチップ状回路部品１４より狭い。保持溝１３は、このリング状のキャリア１１を横切るように放射状に設けられた凹状の矩形溝であり、その幅はチップ状回路部品１４の幅より僅かに広い。また、保持溝１３の両端は、それぞれキャリア１１の内周側と外周側とにそれぞれ開いている。
【００１７】
キャリア１１の保持溝１３が停止するローディングステーションに供給シュート１２が接続され、キャリア１１が停止したとき、供給シュート１２に沿って一列に搬送されてきたチップ状回路部品１４が、停止した保持溝１３にキャリア１の外周側から送り込まれ、チップ状回路部品１４が保持溝１３に挿入される。こうして、供給シュート１２からキャリア１１の保持溝１３に保持されたチップ状回路部品１４は、キャリア１１の間欠回転により送られ、計測ステーションに移動する。
【００１８】
計測ステーションの真上には端子ユニット１６が配置され、この端子ユニット１６から下方に接触端子１７、１７が突設されている。この端子ユニット１６は、図６に矢印で示すように上下動し、下降したとき計測ステーションに停止したチップ状回路部品１４の両端の電極１５、１５に接触端子１７、１７が接触し、導通する。この接触端子１７、１７には計測器１８が接続されており、このようにして接触端子１７、１７がチップ状回路部品１４の電極１５、１５に接触することにより、チップ状回路部品１４の電極１５、１５が計測器１８と接続され、そこでチップ状回路部品１４の電気的特性が計測される。
【００１９】
図２に示すように、前記接触端子１７、１７の下端は半球形となっており、対向する面に半球形状のテーパが形成されている。このため、図２に示すように、チップ状回路部品１４の中心位置が、双方の接触端子１７、１７の中間位置からずれていると、接触端子１７、１７の下端の半球形状のテーパによってチップ状回路部品１４が矢印で示すように一方に押され、チップ状回路部品１４の中心位置が、双方の接触端子１７、１７の中間位置とほぼ一致するようにセンタリングされる。これによって、双方の接触端子１７、１７が確実にチップ状回路部品１４の両端の電極１５、１５に接触して導通する。
【００２０】
このようにしてチップ状回路部品１４の電気的特性の計測の結果、所要の特性値範囲に収まらないチップ状回路部品４は、図示してない取出機構によりキャリア１から排出される。
電気的特性の計測の結果、所要の特性値範囲に収まっており、キャリア１１から排出されなかったチップ状回路部品１４は、キャリア１１によってアンローディングステーションに移動し、そこでチップ状回路部品１４が排出シュート１９に排出され、次工程に搬送される。
【００２１】
図３は、接触端子１７、１７の他の例を示すもので、この例では接触端子１７、１７の下端の対向する面に、上方へいくに従って対向間隔が狭くなるような平坦な勾配が形成されている。キャリア１１の保持溝１３内のチップ状回路部品１４の長手方向の位置は、この接触端子１７、１７の先端の勾配面によって補正される。
【００２２】
前記の例は、何れも接触端子１７、１７そのものにチップ状回路部品１４の位置補正機能を持たせ、接触端子１７、１７が下降するとき、チップ状回路部品１４の位置補正を行うと共に、接触端子１７、１７とチップ状回路部品１４の電極１５、１５との接触を行っている。
【００２３】
図４（ａ）に示したキャリア１１の例は、前記の例のチップ状回路部品１４に比べて、チップ状回路部品１４を中心軸の回りに４５゜回転させた姿勢で保持溝１３に嵌め込んで保持したものである。もちろんこの例では、２つの平坦な面が直行するＶ字形の壁面を有する保持溝１３が使用される。
図４（ｂ）に示したキャリア１１の例は、円柱形のチップ状回路部品１４を搬送するものである。もちろんこの例では、部分円筒形の壁面を有する保持溝１３が使用される。
【００２４】
図５に示した例は、キャリア１１の保持溝１３にチップ状回路部品１４を固定する場合の例である。図５（ａ）では、キャリア１１の保持溝１３の底に通気孔２１を設け、キャリア１１の底面を負圧にすることで、矢印で示すように空気を吸引し、真空吸引手段によってチップ状回路部品１４を保持溝１３に固定する例である。また、図５（ｂ）では、キャリア１１の保持溝１３の底に磁石２２を設け、磁力によって磁性体製のチップ状回路部品１４を保持溝１３に固定する例である。
何れの場合も、チップ状回路部品１４を保持溝１３内に保持し、チップ状回路部品１４が保持溝１３からずれないようにする。また、前述のようにしてチップ状回路部品１４の位置を補正した後に、チップ状回路部品１４の位置が簡単にずれないようにする。
【００２５】
【発明の効果】
以上説明した通り、本発明によるチップ状回路部品の計測装置では、チップ状回路部品１４の寸法のばらつきやキャリア１１の保持溝１３の磨耗等の影響を受けることなく、チップ状回路部品１４の両端の電極１５、１５に計測用の接触端子１７、１７を確実に接触させてチップ状回路部品１４の電気的特性を計測することが出来る。このため、特にチップ状回路部品の自動検査工程において、効率の向上と信頼性の向上を図ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明によるチップ状回路部品の計測装置の例を示す概略斜視図である。
【図２】同チップ状回路部品の計測装置の計測ステーションの部分を示す要部縦断正面図である。
【図３】同チップ状回路部品の計測装置の計測ステーションの部分の他の各例を示す要部縦断正面図である。
【図４】同チップ状回路部品の計測装置のキャリアの他の各例を示す要部斜視図である。
【図５】同チップ状回路部品の計測装置のキャリアの他の各例を示す要部縦断側面図である。
【図６】チップ状回路部品の計測装置の従来例を示す概略斜視図である。
【符号の説明】
１４  チップ状回路部品
１１  キャリア
１５  チップ状回路部品の電極
１７  接触端子
１８  計測器
１３  キャリアの保持溝
１９  プッシャ
【図１】
0003896186.tif 000002
【図２】
0003896186.tif 000003
【図３】
0003896186.tif 000004
【図４】
0003896186.tif 000005
【図５】
0003896186.tif 000006
【図６】
0003896186.tif 000007