(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子部品実装部が長手方向に連続して配列された電子部品実装用フィルムキャリアテープをその長手方向に搬送する搬送駆動装置と、
前記搬送駆動装置の搬送を停止することによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープを所定の位置に位置決めして、所定の検査位置に入ってきた電子部品実装用フィルムキャリアテープ上の電子部品実装部が不良であるか否かの検査を行う検査装置と、
前記検査装置による検査の際に、前回の検査で検査した電子部品実装部から、下記式で求められる搬送ピッチｘiだけ、前記搬送駆動装置による電子部品実装用フィルムキャリアテープの搬送方向に離間した電子部品実装部が、前記検査装置の所定の検査位置に位置するように、前記電子部品実装用フィルムキャリアテープを搬送、停止して位置決めする、前記搬送駆動装置の動作を制御するように構成された制御装置と、
を備えたことを特徴とする電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置。
ここで、
ｘ0＝ａ
【数１】
0004027013.tif 000009
但し、ａは、電子部品実装用フィルムキャリアテープに配列された電子部品実装部の総数Ｌ未満の任意の整数、
ｉ＝１、２、３・・・・の検査すべき電子部品実装部の検査毎に１ずつ加算される整数、
αは、α≠０、且つ、｜α｜＜ａの任意の整数。
【請求項２】
電子部品実装部が長手方向に連続して配列された電子部品実装用フィルムキャリアテープをその長手方向に搬送する搬送駆動装置と、
前記搬送駆動装置の搬送を停止することによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープを所定の位置に位置決めして、所定の検査位置に入ってきた電子部品実装用フィルムキャリアテープ上の電子部品実装部が不良であるか否かの検査を行う検査装置と、
前記検査装置による検査の際に、前回の検査で検査した電子部品実装部から下記式で求められる搬送ピッチｘiだけ、前記搬送駆動装置による電子部品実装用フィルムキャリアテープの搬送方向に離間した電子部品実装部が、前記検査装置の所定の検査位置に位置するように、前記電子部品実装用フィルムキャリアテープを搬送、停止して位置決めする、前記搬送駆動装置の動作を制御するように構成された制御装置と、
を備えたことを特徴とする電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置。
ここで、
ｘ0＝ａ
ｘi＝ａ＋（−１）i-1・α
但し、ａは、電子部品実装用フィルムキャリアテープに配列された電子部品実装部の総数Ｌ未満の任意の整数、
ｉ＝１、２、３・・・の検査すべき電子部品実装部の検査毎に１ずつ加算される整数、
αは、α≠０、且つ、｜α｜＜ａの任意の整数。
【請求項３】
電子部品実装部が長手方向に連続して配列された電子部品実装用フィルムキャリアテープをその長手方向に搬送する工程と、
検査装置による検査の際に、前回の検査で検査した電子部品実装部から、下記式で求められる搬送ピッチｘiだけ、電子部品実装用フィルムキャリアテープの搬送方向に離間した電子部品実装部が、前記検査装置の所定の検査位置に位置するように、前記電子部品実装用フィルムキャリアテープを搬送、停止して位置決めする位置決め工程と、
前記電子部品実装用フィルムキャリアテープの搬送を停止することによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープが所定の位置に決められた状態で、所定の検査位置に入ってきた電子部品実装部に対して、電子部品実装部が不良であるか否かの検査を行う工程と、
を備えることを特徴とする電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法。
ここで、
ｘ0＝ａ
【数２】
0004027013.tif 000010
但し、ａは、電子部品実装用フィルムキャリアテープに配列された電子部品実装部の総数Ｌ未満の任意の整数、
ｉ＝１、２、３・・・・の検査すべき電子部品実装部の検査毎に１ずつ加算される整数、
αは、α≠０、且つ、｜α｜＜ａの任意の整数。
【請求項４】
電子部品実装部が長手方向に連続して配列された電子部品実装用フィルムキャリアテープをその長手方向に搬送する工程と、
検査装置による検査の際に、前回の検査で検査した電子部品実装部から、下記式で求められる搬送ピッチｘiだけ、電子部品実装用フィルムキャリアテープの搬送方向に離間した電子部品実装部が、前記検査装置の所定の検査位置に位置するように、前記電子部品実装用フィルムキャリアテープを搬送、停止して位置決めする位置決め工程と、
前記電子部品実装用フィルムキャリアテープの搬送を停止することによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープが所定の位置に決められた状態で、所定の検査位置に入ってきた電子部品実装部に対して、電子部品実装部が不良であるか否かの検査を行う検査工程と、
を備えることを特徴とする電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法。
ここで、
ｘ0＝ａ
ｘi＝ａ＋（−１）i-1・α
但し、ａは、電子部品実装用フィルムキャリアテープに配列された電子部品実装部の総数Ｌ未満の任意の整数、
ｉ＝１、２、３・・・・の検査すべき電子部品実装部の検査毎に１ずつ加算される整数、
αは、α≠０、且つ、｜α｜＜ａの任意の整数。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、電子部品実装用フィルムキャリアテープ（ＴＡＢ（Tape Automated Bonding）テープ、Ｔ-ＢＧＡ(Tape Ball Grid Array)テープ、ＣＳＰ（Chip Size Package）テープ、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）テープなど）（以下、単に「電子部品実装用フィルムキャリアテープ」と言う。）の配線パターンなどの不良を検知するための電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置および電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
エレクトロニクス産業の発達に伴い、ＩＣ（集積回路）、ＬＳＩ（大規模集積回路）などの電子部品を実装するプリント配線板の需要が急激に増加しているが、電子機器の小型化、軽量化、高機能化が要望され、これら電子部品の実装方法として、最近ではＴＡＢテープ、Ｔ-ＢＧＡテープおよびＡＳＩＣテープなどの電子部品実装用フィルムキャリアテープを用いた実装方式が採用されている。特に、パーソナルコンピュータなどのように高精細化、薄型化、液晶画面の額縁面積の狭小化が要望されている液晶表示素子（ＬＣＤ）を使用する電子産業においてその重要性が高まっている。
【０００３】
さらに、最近では、電子部品実装用フィルムキャリアテープの中でも、図８に示したように、ＢＧＡ（Ball Grid Array）と呼ばれるアウターリードの代わりにフィルムキャリアテープ３００に孔３０２を開けて、この孔３０２を介してＩＣ３０４などをハンダボール３０６で接続するデバイスホールの設けられていないフィルムキャリアテープ、ＣＳＰ（Chip Size Package）と呼ばれるＩＣのサイズとフィルムキャリアテープのパッケージのサイズとが同じであり、その接続方法が主にＢＧＡと同じであるフィルムキャリアテープも用いられるようになっている。
【０００４】
このような電子部品実装用フィルムキャリアテープでは、例えば、ＴＡＢテープ２００は、図９に示したように、幅方向の両側端部に、それぞれ長手方向に連続して複数の移送用のスプロケット孔２０２、２０２が並設されており、このスプロケット孔２０２の間の略中央部分にＩＣなどのデバイスを装着するデバイスホール２０４が形成されている。そして、デバイスホール２０４のインナーリード２０６、アウターリード２０８からなる配線パターン２１０が形成されている。
【０００５】
ところで、このようなＴＡＢテープ２００において、ＴＡＢテープ２００の品質を検査することが実施されているが、配線パターン２１０の電気的な断線、短絡、絶縁抵抗などを電気的に検査して、不良品についてパンチングなどにより不良マーキングを施す方法が実施されている。
また、最近では、図１０に示したように、被検査対象であるＴＡＢテープ１００の電子部品実装部１０２の配線パターンをラインセンサカメラと呼ばれるＣＣＤカメラ１０４を用い、このカメラを矢印で示したＴＡＢテープの長手方向に、スプロケット孔を基準にして、所定の距離だけ移動させ走査することによって、配線パターンを撮像（取り込む）する。これによって、得られた撮像情報を比較することによって、例えば、Ａ／Ｄ変換器でデジタル情報化するとともに、濃淡画像情報に変換してエッジデータを得、これと予め記憶された良品のマスターパターンのエッジデータ（二値化情報）と比較することによって、配線パターンの不良を検査している（特開平６−２７３１２号公報、特開平７−１１０８６３号公報）。
【０００６】
さらに、このような電気検査を実施した後に、電子部品実装用フィルムキャリアテープの不良である断線、短絡、欠け、突起などの外観検査を、実体顕微鏡で、反射光または透過光を利用して、人の目視にて実施している。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】
このような電気検査、外観検査を実施する際には、電子部品実装用フィルムキャリアテープＴを全長にわたって、電子部品実装部の全数について、検査部で検査を実施するのが通常である。そのため、上記のように、電子部品実装用フィルムキャリアテープＴを全長にわたって、電子部品実装部の全数について検査を行う前に、一定数（ピッチで）抜き取り検査によって、早期にその不良を検出できれば、その電子部品実装用フィルムキャリアテープは不良であると判断でき、その時点で、従来のように電子部品実装用フィルムキャリアテープＴを全てにわたって、電子部品実装部の全数について検査を実施しなくても良くなり、その検査工程の短縮化が図れることになる。
【０００８】
そして、このような抜き取り検査で、不良が検出できない場合には、通常の全数検査を行うことによって、完全な品質検査を実施することができる。
ところで、電子部品実装用フィルムキャリアテープＴでは、電子部品実装部のマスクのゴミ、ソルダーレジストのゴミ、デバイスホール、ハンダボールの孔のパンチ不良は、スクリーン印刷用スクリーンのくせ、パンチング装置のくせなどによって、不良が周期的に現れる場合が多い。
【０００９】
従って、図１１に示したように、電子部品実装用フィルムキャリアテープＴの搬送方向に、一定ピッチで、例えば、２０個ごとに電子部品実装部を検査するようにした場合には、上記の不良箇所が、上記の検査ピッチ周期とずれて周期的に現れる場合、例えば、１９個毎のピッチで現れる場合には、その不良を検出することは不可能である。また、不良箇所が、ランダムに現れる場合にも、検査ピッチ周期と一致しない場合には、その不良を検出することは不可能である。
【００１０】
そのため、あらためてこの電子部品実装用フィルムキャリアテープについて、電子部品実装部の全数について検査を行う必要あり、煩雑な検査が必要となる。
本発明は、このような現状を考慮して、電子部品実装用フィルムキャリアテープにおいて、各電子部品実装部のリードの電気的な断線、短絡、欠け、突起などパターン不良などの品質検査を実施する際に、電子部品実装部の全数について検査を実施する前に、早期にその不良を検出することが可能な電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置およびそのための電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法を提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】
本発明は、前述したような従来技術における課題及び目的を達成するために発明なされたものであって、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置は、電子部品実装部が長手方向に連続して配列された電子部品実装用フィルムキャリアテープをその長手方向に搬送する搬送駆動装置と、
前記搬送駆動装置の搬送を停止することによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープを所定の位置に位置決めして、所定の検査位置に入ってきた電子部品実装用フィルムキャリアテープ上の電子部品実装部が不良であるか否かの検査を行う検査装置と、
前記検査装置による検査の際に、前回の検査で検査した電子部品実装部から、下記式で求められる搬送ピッチｘiだけ、前記搬送駆動装置による電子部品実装用フィルムキャリアテープの搬送方向に離間した電子部品実装部が、前記検査装置の所定の検査位置に位置するように、前記電子部品実装用フィルムキャリアテープを搬送、停止して位置決めする、前記搬送駆動装置の動作を制御するように構成された制御装置と、
を備えたことを特徴とする電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置である。
【００１２】
ここで、
ｘ0＝ａ
【００１３】
【数３】
0004027013.tif 000002
【００１４】
但し、ａは、電子部品実装用フィルムキャリアテープに配列された電子部品実装部の総数Ｌ未満の任意の整数、ｉ＝１、２、３・・・・の検査すべき電子部品実装部の検査毎に１ずつ加算される整数、αは、α≠０、且つ、｜α｜＜ａの任意の整数である。また、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法は、電子部品実装部が長手方向に連続して配列された電子部品実装用フィルムキャリアテープをその長手方向に搬送する工程と、検査装置による検査の際に、前回の検査で検査した電子部品実装部から、下記式で求められる搬送ピッチｘiだけ、電子部品実装用フィルムキャリアテープの搬送方向に離間した電子部品実装部が、前記検査装置の所定の検査位置に位置するように、前記電子部品実装用フィルムキャリアテープを搬送、停止して位置決めする位置決め工程と、前記電子部品実装用フィルムキャリアテープの搬送を停止することによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープが所定の位置に決められた状態で、所定の検査位置に入ってきた電子部品実装部に対して、電子部品実装部が不良であるか否かの検査を行う検査工程、を備えることを特徴とする電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法である。
【００１５】
ここで、
ｘ0＝ａ
【００１６】
【数４】
0004027013.tif 000003
【００１７】
但し、ａは、電子部品実装用フィルムキャリアテープに配列された電子部品実装部の総数Ｌ未満の任意の整数、ｉ＝１、２、３・・・・の検査すべき電子部品実装部の検査毎に１ずつ加算される整数、αは、α≠０、且つ、｜α｜＜ａの任意の整数である。このように構成することによって、（１）αが、負の整数の場合には、図４（ａ）に示したように、例えば、ａが２０で、αが−２の場合に、電子部品実装用フィルムキャリアテープにおいて、電子部品実装部を、搬送ピッチ２０、１８、２０、１８、２０、１８・・・・と搬送して検査することになる。
【００１８】
すなわち、２０、４０、６０と、２０個ごとの一定ピッチで、電子部品実装部を検査するようにした場合には、不良箇所がこの検査ピッチ周期とずれて周期的なピッチで現れる場合、例えば、１９個毎のピッチで現れる場合（１９、３８、５７、７６、９５、１１４・…）には、その不良を検出することは不可能である。
【００１９】
これに対して、本発明のように、搬送ピッチ２０、１８、２０、１８、２０、１８・・・・と搬送して検査する場合には、２０、３８、５８、７６、９６、１１４・・・・と電子部品実装部を検査することになって、不良が周期的なピッチで現れる場合にも不良を検出することができる。また、不良箇所が、ランダムに現れる場合にも、その不良を検出することが可能である。
（２）また、αが、正の整数の場合には、図５（ａ）に示したように、例えば、ａが２０で、αが２の場合に、電子部品実装用フィルムキャリアテープにおいて、電子部品実装部を、搬送ピッチ２０、２２、２０、２２、２０、２２・・・・と搬送して検査することになる。
【００２０】
すなわち、２０、４０、６０と、２０個ごとの一定ピッチで、電子部品実装部を検査するようにした場合には、不良箇所がこの検査ピッチ周期とずれて周期的なピッチで現れる場合、例えば、２１個毎のピッチで現れる場合（２１、４２、６３、８４、１０５、１２６・…）には、その不良を検出することは不可能である。
【００２１】
これに対して、本発明のように、搬送ピッチ２０、２２、２０、２２、２０、２２・・・・と搬送して検査する場合には、２０、４２、６２、８４、１０４、１２６・・・・と電子部品実装部を検査することになって、不良が周期的なピッチで現れる場合にも不良を検出することができる。また、不良箇所が、ランダムに現れる場合にも、その不良を検出することが可能である。
【００２２】
従って、上記（１）（２）のいずれの場合でも、電子部品実装用フィルムキャリアテープにおいて、各電子部品実装部のリードの電気的な断線、短絡、欠け、突起などパターン不良などの品質検査を実施する際に、電子部品実装部の全数について検査を実施する前に、その不良を早期に検出することができる。これにより、この事前検査によって、不良が検出された場合には、あらためてこの電子部品実装用フィルムキャリアテープについて、電子部品実装部の全数について検査を行う必要がなく、煩雑な検査が不要となる。
【００２３】
また、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置は、電子部品実装部が長手方向に連続して配列された電子部品実装用フィルムキャリアテープをその長手方向に搬送する搬送駆動装置と、
前記搬送駆動装置の搬送を停止することによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープを所定の位置に位置決めして、所定の検査位置に入ってきた電子部品実装用フィルムキャリアテープ上の電子部品実装部が不良であるか否かの検査を行う検査装置と、
前記検査装置による検査の際に、前回の検査で検査した電子部品実装部から、下記式で求められる搬送ピッチｘiだけ、前記搬送駆動装置による電子部品実装用フィルムキャリアテープの搬送方向に離間した電子部品実装部が、前記検査装置の所定の検査位置に位置するように、前記電子部品実装用フィルムキャリアテープを搬送、停止して位置決めする、前記搬送駆動装置の動作を制御するように構成された制御装置と、
を備えたことを特徴とする電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置である。
【００２４】
ここで、
ｘ0 ＝ａ
ｘi＝ａ＋（−１）i-1・α
但し、ａは、電子部品実装用フィルムキャリアテープに配列された電子部品実装部の総数Ｌ未満の任意の整数、ｉ＝１、２、３・・・・の検査すべき電子部品実装部の検査毎に１ずつ加算される整数、αは、α≠０、且つ、｜α｜＜ａの任意の整数である。
【００２５】
さらに、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法は、電子部品実装部が長手方向に連続して配列された電子部品実装用フィルムキャリアテープをその長手方向に搬送する工程と、
検査装置による検査の際に、前回の検査で検査した電子部品実装部から、下記式で求められる搬送ピッチｘiだけ、電子部品実装用フィルムキャリアテープの搬送方向に離間した電子部品実装部が、前記検査装置の所定の検査位置に位置するように、前記電子部品実装用フィルムキャリアテープを搬送、停止して位置決めする位置決め工程と、
前記電子部品実装用フィルムキャリアテープの搬送を停止することによって、電子部品実装用フィルムキャリアテープが所定の位置に決めされた状態で、所定の検査位置に入ってきた電子部品実装部に対して、電子部品実装部が不良であるか否かの検査を行う検査工程、
を備えることを特徴とする電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査方法である。
【００２６】
ここで、
ｘ0＝ａ
ｘi＝ａ＋（−１）i-1・α
但し、ａは、電子部品実装用フィルムキャリアテープに配列された電子部品実装部の総数Ｌ未満の任意の整数、ｉ＝１、２、３・・・・の検査すべき電子部品実装部の検査毎に１ずつ加算される整数、αは、α≠０、且つ、｜α｜＜ａの任意の整数である。
【００２７】
このように構成することによって、
（３）αが、正の整数の場合には、図６（ａ）に示したように、例えば、ａが２０で、αが２の場合に、電子部品実装用フィルムキャリアテープにおいて、電子部品実装部を、搬送ピッチ２０、２２、１８、２２、１８、２２・・・・と搬送して検査することになる。
【００２８】
すなわち、２０、４０、６０と、２０個ごとの一定ピッチで、電子部品実装部を検査するようにした場合には、不良箇所がこの検査ピッチ周期とずれて周期的なピッチで現れる場合には、その不良を検出することは不可能である。
これに対して、本発明のように、搬送ピッチ２０、２２、１８、２２、１８、２２・・・・と搬送して検査する場合には、２０、４２、６０、８２、１００、１２２・・・・と電子部品実装部を検査することになって、不良が周期的なピッチで現れる場合にも不良を検出することができる。また、不良箇所が、ランダムに現れる場合にも、その不良を検出することが可能である。
（４）また、αが、負の整数の場合には、図７（ａ）に示したように、例えば、ａが２０で、αが−２の場合に、電子部品実装用フィルムキャリアテープにおいて、電子部品実装部を、搬送ピッチ２０、１８、２２、１８、２２、１８・・・・と搬送して検査することになる。
【００２９】
すなわち、２０、４０、６０と、２０個ごとの一定ピッチで、電子部品実装部を検査するようにした場合には、不良箇所がこの検査ピッチ周期とずれて周期的なピッチで現れる場合には、その不良を検出することは不可能である。
これに対して、本発明のように、搬送ピッチ２０、１８、２２、１８、２２、１８・・・・と搬送して検査する場合には、２０、３８、６０、７８、１００、１１８・・・・と電子部品実装部を検査することになって、不良が周期的なピッチで現れる場合にも不良を検出することができる。また、不良箇所が、ランダムに現れる場合にも、その不良を検出することが可能である。
【００３０】
従って、上記（３）（４）のいずれの場合にも、電子部品実装用フィルムキャリアテープにおいて、各電子部品実装部のリードの電気的な断線、短絡、欠け、突起などパターン不良などの品質検査を実施する際に、電子部品実装部の全数について検査を実施する前に、その不良を早期に検出することができる。これにより、この事前検査によって、不良が検出された場合には、あらためてこの電子部品実装用フィルムキャリアテープについて、電子部品実装部の全数について検査を行う必要がなく、煩雑な検査が不要となる。
【００３１】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照しながら本発明の実施の形態（実施例）について説明する。
図１は、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置の正面図である。
図１に示したように、１０は全体で本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置を示している。
【００３２】
電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置１０（以下、単に「検査装置１０」と言う）は、図１に示したように、送り出し装置２０と、検査部３０と、マーキング部６０と、巻き取り装置５０とを備えている。
送り出し装置２０には、電子部品実装用フィルムキャリアテープ（以下、単に「フィルムキャリアテープ」と言う）であって、その製造工程が終了したフィルムキャリアテープＴが、スペーサＳを介して巻装されたリールＲが、送り出し駆動軸２２に装着されている。そして、図示しない駆動モータの駆動により、送り出し駆動軸２２が回転して、フィルムキャリアテープＴがリールＲからスペーサＳとともに繰り出されて、案内ローラ２１を介して、検査部３０へと供給されるようになっている。
【００３３】
この検査部３０に供給されたフィルムキャリアテープＴは、バックテンションギア３２とドライブギア３４の間を通過する際に、ドライブギア３４の駆動が一時停止されて、フィルムキャリアテープＴの送給が停止されるとともに、フィルムキャリアテープＴのスプロケット孔に係合するバックテンションギア３２の逆転によって、フィルムキャリアテープＴが正確に所定の位置に、位置決めされるようになっている（ピッチ送りされる）。すなわち、ドライブギア３４の駆動が一時停止されて、フィルムキャリアテープＴの送給が停止されるようになっている。
【００３４】
なお、この場合の制御は、ドライブギア３４の回転を、ドライブギア３４を駆動する駆動機構であるパルスモータの回転による内部パルスを制御することにより行うようになっている。図中、３１、３３は、これらのギアとの間でフィルムキャリアテープＴを押さえるための押さえローラである。
そして、検査部３０には、図１に示したように、例えば、断線、短絡、欠け、突起などの外観検査を、反射光または透過光を利用して、人の目視にて実施するための顕微鏡３６が配置されている。
【００３５】
そして、この顕微鏡で、不良部分が発見されたフィルムキャリアテープＴの裏面または表面に（以下、単に「不良面」と言う。）電子部品実装部に、インキング、パンチングなどによるマークを施すためのマーキング部６０が配置されている。
このように、マーキング部６０によって、フィルムキャリアテープＴの不良箇所の所定位置に、所定のマーキングが施された後、フィルムキャリアテープＴは、案内ローラ４２を通過して、次の巻き取り装置５０に供給される。
【００３６】
図１に示したように、巻き取り装置５０に供給されたフィルムキャリアテープＴは、巻き取り駆動軸５２に装着されたリールＲに、案内ローラ４２を介して、図示しない駆動モータの駆動により巻き取り駆動軸５２が回転することにより、フィルムキャリアテープＴが巻き取られる。
この際、送り出し装置２０のリールＲから繰り出されたスペーサＳが、案内ローラ５６、５７を介して、巻き取り装置５０のリールＲに供給されフィルムキャリアテープの間に介装され、フィルムキャリアテープ同士が接触して、フィルムキャリアテープが損傷しないように保護するようになっている。
【００３７】
また、検査装置１０では、リールＲに巻装されたフィルムキャリアテープＴが、送り出し装置２０から送給された後、検査部３０へと案内ローラ２１を介して供給される。
また、同様に、検査部３０にて検査が終了し、一定のマーキングが施されたフィルムキャリアテープＴは、案内ローラ４２を介して案内された後、案内ローラ４２と巻き取り装置５０のリールＲとの間で、フィルムキャリアテープＴがその自重によって、一定の長さ分だけ垂下され、この自重によってフィルムキャリアテープＴにテンション（張力）が付加され、巻き取り装置５０のリールＲに巻き取られるようになっている。
【００３８】
図２は、本発明の検査装置１０の制御機構を示す概略ブロック図である。
図２に示したように、制御装置７０には、入出力制御部７２を介してそれぞれ、入力装置７４、表示装置７６、検査部３０、マーキング部６０、駆動部７８が、ＣＰＵ（中央演算処理装置）８０に接続されている。また、ＣＰＵ８０には、記憶部８２が接続されている。
【００３９】
入力装置７４は、キーボードなどの入力装置であり、フィルムキャリアテープＴの種類、ロット番号、後述する初期ピッチｘ0、ずらし設定値αの値を制御装置７０に入力するためのものである。また、駆動部７８は、これらの値に基づいて、後述するようにＣＰＵ８０で演算処理されたピッチｘiのデータに基づいて制御される、ドライブギア３４を駆動する駆動機構であるパルスモータなどである。記憶部８２は、これらの情報を一時記憶しておく、ＲＡＭなどの記憶装置である。
【００４０】
ところで、本発明の検査装置１０では、図３のフローチャートのように作動されるようになっている。
先ず、検査装置１０の検査が開始され、ステップＳ１で、初期ピッチｘ0、ずらし設定値αが入力される。そして、ステップＳ２で、入力された初期ピッチｘ0、ずらし設定値αに基づいて、後述するピッチ演算式（Ａ）−１〜（Ａ）−３に基づいてピッチｘiが演算処理される。そして、ステップＳ３で、求められたピッチｘiに基づいて、制御装置７０によって駆動部７８が制御されて、フィルムキャリアテープＴが搬送、停止される。ステップＳ４で、フィルムキャリアテープの検査部３０での検査が実施される。
【００４１】
そして、ステップＳ５で、全ての電子部品実装部の検査が終了したかどうか判別され、終了している場合には、検査が終了する。一方、全ての電子部品実装部の検査が終了していない場合には、ステップＳ２に戻り、一連の処理が繰り返される。
このように検査行程が実施されるが、制御装置７０では、下記のような４通りの方法でピッチｘiが演算処理される。
（１）初期ピッチｘ0とこの初期ピッチより一定のずらし値αだけ少ないピッチとが交互に繰り返されるように駆動する場合：
すなわち、この場合、図４（ａ）に示したように、
ｘ0＝ａであり、
ｘ1＝ｘ0−α＝ｘ0＋（−１）0（−α）
ｘ2＝ｘ1＋α＝ｘ1＋（−１）1（−α）
ｘ3＝ｘ2−α＝ｘ2＋（−１）2（−α）
…
ｘi＝ｘi-1＋（−１）i-1（−α）
これらの式を加えると、
【００４２】
【数５】
0004027013.tif 000004
【００４３】
従って、ピッチ演算式（Ａ）−１は、下記の通りとなる。
ｘ0＝ａ
【００４４】
【数６】
0004027013.tif 000005
【００４５】
但し、ａは、フィルムキャリアテープに配列された電子部品実装部の総数Ｌ未満の任意の整数、ｉ＝１、２、３・・・・の検査すべき電子部品実装部の検査毎に１ずつ加算される整数、αは、α≠０、且つ、α＜ａの任意の負の整数。すなわち、αが、負の整数の場合には、図４（ａ）に示したように、例えば、ａが２０で、αが−２の場合に、フィルムキャリアテープにおいて、電子部品実装部を、搬送ピッチ２０、１８、２０、１８、２０、１８・・・・と搬送して検査することになる。
【００４６】
すなわち、２０、４０、６０と、２０個ごとの一定ピッチで、電子部品実装部を検査するようにした場合には、不良箇所がこの検査ピッチ周期とずれて周期的なピッチで現れる場合、例えば、１９個毎のピッチで現れる場合（１９、３８、５７、７６、９５、１１４・…）には、その不良を検出することは不可能である。
【００４７】
これに対して、本発明のように、搬送ピッチ２０、１８、２０、１８、２０、１８・・・・と搬送して検査する場合には、２０、３８、５８、７６、９６、１１４・・・・と電子部品実装部を検査することになって、不良が周期的なピッチで現れる場合にも不良を検出することができる。また、不良箇所が、ランダムに現れる場合にも、その不良を検出することが可能である。
（２）初期ピッチｘ0とこの初期ピッチより一定のずらし値αだけ多いピッチとが交互に繰り返されるように駆動する場合：
すなわち、この場合、図５（ａ）に示したように、
ｘ0＝ａであり、
ｘ1＝ｘ0＋α＝ｘ0＋（−１）0・α
ｘ2＝ｘ1−α＝ｘ1＋（−１）1・α
ｘ3＝ｘ2＋α＝ｘ2＋（−１）2・α
…
ｘi＝ｘi-1＋（−１）i-1・α
これらの式を加えると、
【００４８】
【数７】
0004027013.tif 000006
【００４９】
従って、ピッチ演算式（Ａ）−２は、下記の通りとなる。
ｘ0＝ａ
【００５０】
【数８】
0004027013.tif 000007
【００５１】
但し、ａは、フィルムキャリアテープに配列された電子部品実装部の総数Ｌ未満の任意の整数、ｉ＝１、２、３・・・・の検査すべき電子部品実装部の検査毎に１ずつ加算される整数、αは、α≠０、且つ、α＜ａの任意の正の整数。すなわち、αが、正の整数の場合には、図５（ａ）に示したように、例えば、ａが２０で、αが２の場合に、フィルムキャリアテープにおいて、電子部品実装部を、搬送ピッチ２０、２２、２０、２２、２０、２２・・・・と搬送して検査することになる。
【００５２】
すなわち、２０、４０、６０と、２０個ごとの一定ピッチで、電子部品実装部を検査するようにした場合には、不良箇所がこの検査ピッチ周期とずれて周期的なピッチで現れる場合、例えば、２１個毎のピッチで現れる場合（２１、４２、６３、８４、１０５、１２６・…）には、その不良を検出することは不可能である。
【００５３】
これに対して、本発明のように、搬送ピッチ２０、２２、２０、２２、２０、２２・・・・と搬送して検査する場合には、２０、４２、６２、８４、１０４、１２６・・・・と電子部品実装部を検査することになって、不良が周期的なピッチで現れる場合にも不良を検出することができる。また、不良箇所が、ランダムに現れる場合にも、その不良を検出することが可能である。
【００５４】
なお、上記（１）（２）の場合を纏めれば、ピッチ演算式は、下記の通りとなる。
ｘ0＝ａ
【００５５】
【数９】
0004027013.tif 000008
【００５６】
但し、ａは、フィルムキャリアテープに配列された電子部品実装部の総数Ｌ未満の任意の整数、ｉ＝１、２、３・・・・の検査すべき電子部品実装部の検査毎に１ずつ加算される整数、αは、α≠０、且つ、｜α｜＜ａの任意の整数。従って、上記（１）（２）のいずれの場合でも、フィルムキャリアテープにおいて、各電子部品実装部のリードの電気的な断線、短絡、欠け、突起などパターン不良などの品質検査を実施する際に、電子部品実装部の全数について検査を実施する前に、その不良を早期に検出することができる。これにより、この事前検査によって、不良が検出された場合には、あらためてこのフィルムキャリアテープについて、電子部品実装部の全数について検査を行う必要がなく、煩雑な検査が不要となる。
（３）初期ピッチｘ0とこの初期ピッチより一定のずらし値αだけ多いピッチ、少ないピッチとが交互に繰り返されるように駆動する場合：すなわち、この場合、図６（ａ）に示したように、ｘ0＝ａであり、
ｘ1＝ｘ0＋α＝ｘ0＋（−１）0・α
ｘ2＝ｘ0−α＝ｘ0＋（−１）1・α
ｘ3＝ｘ0＋α＝ｘ0＋（−１）2・α
…
ｘi＝ｘi-1＋（−１）i-1・α
従って、ピッチ演算式（Ａ）−３は、下記の通りとなる。
【００５７】
ｘ0＝ａ
ｘi＝ａ＋（−１）i-1・α
但し、ａは、フィルムキャリアテープに配列された電子部品実装部の総数Ｌ未満の任意の整数、ｉ＝１、２、３・・・・の検査すべき電子部品実装部の検査毎に１ずつ加算される整数、αは、α≠０、且つ、α＜ａの任意の正の整数。
【００５８】
すなわち、αが、正の整数の場合には、図６（ａ）に示したように、例えば、ａが２０で、αが２の場合に、電子部品実装用フィルムキャリアテープにおいて、電子部品実装部を、搬送ピッチ２０、２２、１８、２２、１８、２２・・・・と搬送して検査することになる。
すなわち、２０、４０、６０と、２０個ごとの一定ピッチで、電子部品実装部を検査するようにした場合には、不良箇所がこの検査ピッチ周期とずれて周期的なピッチで現れる場合には、その不良を検出することは不可能である。
【００５９】
これに対して、本発明のように、搬送ピッチ２０、２２、１８、２２、１８、２２・・・・と搬送して検査する場合には、２０、４２、６０、８２、１００、１２２・・・・と電子部品実装部を検査することになって、不良が周期的なピッチで現れる場合にも不良を検出することができる。また、不良箇所が、ランダムに現れる場合にも、その不良を検出することが可能である。
（４）初期ピッチｘ0とこの初期ピッチより一定のずらし値αだけ少ないピッチ、多いピッチとが交互に繰り返されるように駆動する場合：
すなわち、この場合、図７（ａ）に示したように、
ｘ0＝ａであり、
ｘ1＝ｘ0−α＝ｘ0＋（−１）0・（−α）
ｘ2＝ｘ0＋α＝ｘ0＋（−１）1・（−α）
ｘ3＝ｘ0−α＝ｘ0＋（−１）2・（−α）
…
ｘi＝ｘi-1＋（−１）i-1・（−α）
従って、ピッチ演算式（Ａ）−４は、下記の通りとなる。
【００６０】
ｘ0＝ａ
ｘi＝ａ＋（−１）i-1・α
但し、ａは、フィルムキャリアテープに配列された電子部品実装部の総数Ｌ未満の任意の整数、ｉ＝１、２、３・・・・の検査すべき電子部品実装部の検査毎に１ずつ加算される整数、αは、α≠０、且つ、α＜ａの任意の負の整数。
【００６１】
すなわち、αが、負の整数の場合には、図７（ａ）に示したように、例えば、ａが２０で、αが−２の場合に、電子部品実装用フィルムキャリアテープにおいて、電子部品実装部を、搬送ピッチ２０、１８、２２、１８、２２、１８・・・・と搬送して検査することになる。
すなわち、２０、４０、６０と、２０個ごとの一定ピッチで、電子部品実装部を検査するようにした場合には、不良箇所がこの検査ピッチ周期とずれて周期的なピッチで現れる場合には、その不良を検出することは不可能である。
【００６２】
これに対して、本発明のように、搬送ピッチ２０、１８、２２、１８、２２、１８・・・・と搬送して検査する場合には、２０、３８、６０、７８、１００、１１８・・・・と電子部品実装部を検査することになって、不良が周期的なピッチで現れる場合にも不良を検出することができる。また、不良箇所が、ランダムに現れる場合にも、その不良を検出することが可能である。
【００６３】
なお、上記（３）（４）の場合を纏めれば、ピッチ演算式は、下記の通りとなる。
ｘ0＝ａ
ｘi＝ａ＋（−１）i-1・α
但し、ａは、電子部品実装用フィルムキャリアテープに配列された電子部品実装部の総数Ｌ未満の任意の整数、ｉ＝１、２、３・・・・の検査すべき電子部品実装部の検査毎に１ずつ加算される整数、αは、α≠０、且つ、｜α｜＜ａの任意の整数。
【００６４】
従って、上記（３）（４）のいずれの場合にも、フィルムキャリアテープにおいて、各電子部品実装部のリードの電気的な断線、短絡、欠け、突起などパターン不良などの品質検査を実施する際に、電子部品実装部の全数について検査を実施する前に、その不良を早期に検出することができる。これにより、この事前検査によって、不良が検出された場合には、あらためてこのフィルムキャリアテープについて、電子部品実装部の全数について検査を行う必要がなく、煩雑な検査が不要となる。
【００６５】
なお、上記の説明では、上記の（１）〜（４）の実施例として、αが、２、−２のように偶数の場合について説明したが、図４（ｂ）〜図７（ｂ）の表に示したように、αが、１、−１のように奇数の場合についても同様に検査することができ、この場合にはより不良の発生を検知する効果が向上することになる。
以上、本発明の好ましい実施の態様を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、上記実施例では、検査部３０での検査を人の目視にて実施するための顕微鏡３６としたが、ラインセンサによる自動認識の結果に基づいて、マーキングを行う際にも適用できるなど本発明の目的を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
【００６６】
【発明の効果】
本発明によれば、（１）初期ピッチｘ0とこの初期ピッチより一定のずらし値αだけ少ないピッチとが交互に繰り返されるように、（２）初期ピッチｘ0とこの初期ピッチより一定のずらし値αだけ多いピッチとが交互に繰り返されるように、（３）初期ピッチｘ0とこの初期ピッチより一定のずらし値αだけ多いピッチ、少ないピッチとが交互に繰り返されるように、または、（４）初期ピッチｘ0とこの初期ピッチより一定のずらし値αだけ少ないピッチ、多いピッチとが交互に繰り返されるように、電子部品実装用フィルムキャリアテープを搬送して、電子部品実装部を検査するようにしている。
【００６７】
これによって、検査部位がずれることになるので、不良が周期的なピッチで現れる場合にも不良を検出することができ、また、不良箇所が、ランダムに現れる場合のいずれの場合にも、その不良を検出することが可能である。
従って、電子部品実装用フィルムキャリアテープにおいて、各電子部品実装部のリードの電気的な断線、短絡、欠け、突起などパターン不良などの品質検査を実施する際に、電子部品実装部の全数について検査を実施する前に、早期にその不良を検出することが可能である。そのため、不良が検出された電子部品実装用フィルムキャリアテープについて、あらためて、電子部品実装部の全数について検査を行う必要がなく、煩雑な検査が不要となるなどの幾多の作用効果を奏する極めて優れた発明である。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は、本発明の電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置の正面図である。
【図２】図２は、本発明の検査装置１０の制御機構を示す概略ブロック図である。
【図３】図３は、本発明の検査装置の作動を説明するフローチャートである。
【図４】図４は、初期ピッチｘ0とこの初期ピッチより一定のずらし値αだけ少ないピッチとが交互に繰り返されるように駆動する場合を説明する表である。
【図５】図５は、初期ピッチｘ0とこの初期ピッチより一定のずらし値αだけ多いピッチとが交互に繰り返されるように駆動する場合を説明する表である。
【図６】図６は、初期ピッチｘ0とこの初期ピッチより一定のずらし値αだけ多いピッチ、少ないピッチとが交互に繰り返されるように駆動する場合を説明する表である。
【図７】図７は、初期ピッチｘ0とこの初期ピッチより一定のずらし値αだけ少ないピッチ、多いピッチとが交互に繰り返されるように駆動する場合を説明する表である。
【図８】図８は、従来のＢＧＡタイプＴＡＢテープの部分拡大断面図である。
【図９】図９は、従来のＴＡＢテープの検査方法を説明する概略図である。
【図１０】図１０は、従来のＴＡＢテープの検査方法を説明する概略図である。
【図１１】図１１は、従来のＴＡＢテープの検査方法を説明する表である。
【符号の説明】
１０  検査装置
２０  送り出し装置
２１  案内ローラ
２２  駆動軸
３０  検査部
３２  バックテンションギア
３４  ドライブギア
３６  顕微鏡
４２  案内ローラ
５０  巻き取り装置
５２  駆動軸
５６  案内ローラ
６０  マーキング部
７０  制御装置
７２  入出力制御部
７４  入力装置
７６  表示装置
７８  駆動部
８２  記憶部
Ｒ    リール
Ｓ    スペーサ
Ｔ    電子部品実装用フィルムキャリアテープ
【図１】
0004027013.tif 000011
【図２】
0004027013.tif 000012
【図３】
0004027013.tif 000013
【図４】
0004027013.tif 000014
【図５】
0004027013.tif 000015
【図６】
0004027013.tif 000016
【図７】
0004027013.tif 000017
【図８】
0004027013.tif 000018
【図９】
0004027013.tif 000019
【図１０】
0004027013.tif 000020
【図１１】
0004027013.tif 000021