(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
再生条件を劣化させて光ディスクのエンボス部を再生しそのエラーレートを基準エラーレートとして検出する手段と、
前記光ディスクの所定エリアにおいて記録パワーを変化させて記録する手段と、
前記記録パワーを変化させたときの各記録パワーとエラーレートとの関係を記憶する手段と、
前記各記録パワーとエラーレートとの関係に基づき、前記基準エラーレートが得られる記録パワーを選択する手段と、
を有し、選択された記録パワーで前記光ディスクにデータを記録することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
再生条件を劣化させて光ディスクのエンボス部を再生しそのエラーレートを基準エラーレートとして検出する手段と、
前記光ディスクの所定エリアにおいて消去パワーを変化させてオーバライトする手段と、
前記消去パワーを変化させたときの各消去パワーとエラーレートとの関係を記憶する手段と、
前記各消去パワーとエラーレートとの関係に基づき、前記基準エラーレートが得られる消去パワーを選択する手段と、
を有し、選択された消去パワーで前記光ディスクのデータを消去することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１、２のいずれかに記載の装置において、
前記再生条件の劣化は、再生パワーより小さいパワーで再生することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１、２のいずれかに記載の装置において、
前記再生条件の劣化は、再生用フィルタ特性の劣化であることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれかに記載の装置において、
前記基準エラーレートは、ランド記録時とグルーブ記録時それぞれに応じて検出されることを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は光ディスク装置、特に記録可能な光ディスクに記録する装置のパワー最適化に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来より、記録可能あるいは書き換え可能な光ディスク装置が知られており、ＤＶＤ−ＲＡＭ等として製品化されている。
【０００３】
このような記録可能あるいは書き換え可能な光ディスクにデータを高品位に記録するためには、記録パワーを最適化する必要があり、従来においては例えば光ディスクの内周部分に設けられたコントロールトラックに記録パワーについてのデータを予め書き込んでおき、この記録パワーのデータを読み込んで記録パワーを設定している。
【０００４】
しかしながら、上記方法ではドライブのばらつきがあっても同一の記録パワーで記録することとなり、安定した記録特性が得られない、あるいは書き換え回数が低下してしまう等の問題があった。
【０００５】
そこで、例えば特開２０００−１３７９１８号公報に記載されているように、光ディスクのパワー校正領域あるいはテスト領域に記録パワーを変化させてマークを記録し、このマークを再生してジッタを測定し、ジッタが最小となる記録パワーを最適記録パワーとしてデータの記録を行う技術が提案されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、記録パワーを変化させてマークを記録し、そのマークを再生してジッタを検出しても、必ずしもジッタが最小となる記録パワーを検出できるとは限らず、最適なパワーが得られない問題があった。すなわち、記録パワーを変化させてマークを記録しても、ジッタがあまり変化せずフラットな鍋底状の特性となる場合があり、この場合に例えばフラットな記録パワー範囲の最大値あるいは中間値を最適パワーに決定しても耐久性の観点からは過剰パワーとなってしまう問題がある。消去パワーについても同様である。また、ジッタの代わりにエラーレートを評価基準として用いたとしても同様の問題が生じ得る。
【０００７】
本発明は、上記従来技術の有する課題に鑑みなされたものであり、その目的は、光ディスク毎に最適な記録パワーあるいは消去パワーを設定することができる光ディスク装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、再生条件を劣化させて光ディスクのエンボス部を再生しそのエラーレートを基準エラーレートとして検出する手段と、前記光ディスクの所定エリアにおいて記録パワーを変化させて記録する手段と、前記記録パワーを変化させたときの各記録パワーとエラーレートとの関係を記憶する手段と、前記各記録パワーとエラーレートとの関係に基づき、前記基準エラーレートが得られる記録パワーを選択する手段とを有し、選択された記録パワーで前記光ディスクにデータを記録することを特徴とする。
【０００９】
また、本発明は、再生条件を劣化させて光ディスクのエンボス部を再生しそのエラーレートを基準エラーレートとして検出する手段と、前記光ディスクの所定エリアにおいて消去パワーを変化させてオーバライトする手段と、前記消去パワーを変化させたときの各消去パワーとエラーレートとの関係を記憶する手段と、前記各消去パワーとエラーレートとの関係に基づき、前記基準エラーレートが得られる消去パワーを選択する手段とを有し、選択された消去パワーで前記光ディスクのデータを消去することを特徴とする。
【００１０】
本発明において、前記再生条件の劣化は、再生パワーより小さいパワーで再生することで達成することができる。
【００１１】
また、本発明において、前記再生条件の劣化は、再生用フィルタ特性の劣化により達成することができる。再生用フィルタ特性の劣化とは、例えばフィルタの最適ブースト量よりも低いブースト量に設定する、あるいはフィルタの最適カットオフ周波数を変更してノイズ成分を増大させる等である。
【００１２】
また、本発明において、前記基準エラーレートは、ランド記録時とグルーブ記録時それぞれに応じて検出することが好適である。
【００１３】
このように、本発明の光ディスク装置では、再生条件を劣化させてエンボス部を再生してエラーレートを検出し、このエラーレートを基準値としてパワーを最適化する。エンボス部を再生パワーで再生して得られるエラーレートは好条件下におけるエラーレートであり、その光ディスク固有の値となる。通常の記録データのエラーレートはこれよりも大きくなる。そこで、エンボス部の再生条件を意図的に劣化させて再生して基準エラーレートとすることで、その光ディスク及び光ディスク装置に適合した基準エラーレートを設定できパワーを最適化できる。
【００１４】
【発明の実施の形態】
以下、図面に基づき本発明の実施形態について、相変化型の書き換え可能な光ディスクに記録する場合を例にとり説明する。
【００１５】
図１には、本実施形態に係る光ディスク装置の要部構成図が示されている。光ディスク装置は、光ピックアップ部１２、エラーレート検出部１４及び処理部１６を含んで構成される。
【００１６】
光ピックアップ部１２は、スピンドルモータ１０で回転駆動される光ディスク１００にレーザ光を照射して記録あるいは再生を行い、再生ＲＦ信号をエラーレート検出部１４に出力する。なお、レーザパワーにはバイアスレベル、イレースレベル、ピークレベルがあり、バイアスレベルで再生、イレースレベルで消去、ピークレベルで記録を行う。
【００１７】
エラーレート検出部１４は、光ピックアップ部１２からの再生ＲＦ信号のエラーレートを検出する。エラーレート検出部１４で検出するエラーレートには２種類あり、第１は光ディスク１００のエンボス部を再生して得られる再生ＲＦ信号のエラーレートであり、第２は光ディスク１００のテストエリアに種々の記録パワーで記録されたマークを再生して得られる再生ＲＦ信号のエラーレートである。エンボス部のエラーレート及びテストエリアのエラーレートは処理部１６に供給される。
【００１８】
処理部１６は、検出されたエラーレートに基づいて最適記録パワーを選択する。具体的には、エンボス部のエラーレートを基準エラーレートとし、この基準エラーレートが得られる記録パワーを選択する。選択された記録パワーは光ピックアップ部１２に供給され、レーザダイオードのパワーが制御される。
【００１９】
なお、光ディスク装置には、この他にフォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号を抽出して光ピックアップ部１２のフォーカス及びトラッキングを制御するサーボ回路等があるが、これらについては従来技術と同一であるためその説明は省略する。
【００２０】
図２には、図１におけるエラーレート検出部１４の構成ブロック図が示されている。エラーレート検出部１４は、再生ＲＦ信号を２値化する２値化回路１４ａ、２値化されたＲＦ信号からデータを復調する復調回路１４ｂ、及び復調した再生データに所定のエラー訂正を行うエラー訂正回路１４ｃを有する。エラー訂正回路１４ｃは、エラー訂正処理によりエラー訂正したビット数を計数し、エラーレートとして処理部１６に出力する。
【００２１】
図３には、図１における処理部１６の構成ブロック図が示されている。処理部１６は、具体的にはマイクロコンピュータで構成され、入力されたエラーレートを記憶する記憶部１６ａ及び記憶部１６ａに記憶されたエラーレートに基づいて最適記録パワーを選択するパワー選択部１６ｂを有する。
【００２２】
記憶部１６ａには、光ディスク１００のエンボス部を再生して得られるエラーレートの他、光ディスク１００のテストエリアに記録パワーを変化させて記録されたマークを再生して得られるエラーレートが記憶される。テストエリアに記録されたマークを再生して得られるエラーレートは、記録パワーと関連付けて記憶される。例えば、２次元データとして、（パワーＰ０、エラーレートＥ０）、（パワーＰ１、エラーレートＥ１）の如くである。記録パワーとエラーレートとの関係は、関数で近似し、この関数のパラメータとして記憶することもできる。
【００２３】
パワー選択部１６ｂは、記憶部１６ａに記憶されているエンボス部のエラーレートを基準エラーレートとし、この基準エラーレートに対応する記録パワーを記憶部１６ａに記憶されている記録パワーとエラーレートとの関係から求める。
【００２４】
なお、本実施形態において、エンボス部とは、図４に示されるように、光ディスク１００の内周部分に形成されたコントロールデータゾーン１０２内に予め形成された情報ピット（プリピット）あるいは光ディスク１００のデータ記録領域内にあるセクタ１０４の先頭に予め形成された情報ピット（プリピット）を意味しており、エンボス部のエラーレートを検出する場合には、コントロールトラック１０２の情報ピットを再生してもよく、あるいはセクタ内１０４の情報ピットを再生してもよい。場合に応じてこれらを使い分けることも可能である。
【００２５】
そして、本実施形態では、このエンボス部のエラーレート（基準エラーレート）を検出する際に、従来の光ディスク装置のようにある一定の（最適の）再生パワーで再生するのではなく、あえて再生パワーを小さくして再生し、その再生ＲＦ信号からエラーレートを検出するのである。
【００２６】
エンボス部のデータは予め成形されているため、後から記録膜の状態を変化させて（アモルファス状態と結晶状態間の遷移）記録するピットよりも常に良好な条件で再生できる。すなわち、記録したピットを再生する場合には、そのエラーレートは常にエンボス部のエラーレートよりも高くなる。エンボス部のエラーレートはその光ディスク１００固有の値と考えられ、光ディスクの再生特性と考えることができる。
【００２７】
そこで、エンボス部を再生する際に、あえて再生パワーを小さくして再生の条件を劣化させ、いわば記録ピットを再生する場合と同様な条件を再現してエラーレートを検出し、このエラーレートを基準として記録ピットのエラーレートの評価を行うのである。
【００２８】
以下、本実施形態における処理部１６の動作について、より詳細に説明する。
【００２９】
図５には、処理部１６の処理フローチャートが示されている。まず、処理部１６は、エンボス部（プリピット）のエラーレートを検出するための再生パワー（基準パワー）を決定する。具体的には、最適化されている再生パワーよりも所定量だけ減じたパワーを設定する（Ｓ１０１）。もちろん、所定量だけ減少させるのではなく、所定比率だけ減少させることも可能である。また、１より小さい係数Ｄを用いて、
【数１】
基準パワー＝Ｐｐ・Ｄ      ・・・（１）
によりパワーを決定してもよい。ここで、Ｐｐは再生パワーである。Ｄは例えば０．５とすることができ、この場合は通常の再生パワーの半分のパワーでプリピットを再生することになる。
【００３０】
パワーを決定した後、光ピックアップ１２を駆動してプリピットを再生する（Ｓ１０２）。そして、このときに得られる再生ＲＦ信号からエラーレートを検出し、基準エラーレートＥｒとして記憶部１６ａに記憶する（Ｓ１０３）。なお、この基準エラーレートＥｒは光ディスク１００毎に異なり、エンボス部を再生パワーで再生した場合のエラーレートよりも大きくなる。
【００３１】
次に、処理部１６は光ピックアップ１２を駆動し、光ディスク１００の所定の領域に形成されているテストエリア内において記録パワーを種々変化させてマークを形成し、このマークを再生してエラーレートを検出し記憶部１６ａに記憶する（Ｓ１０４）。なお、テストエリアに記録されたマークのエラーレートを検出する際には、そのパワーを通常の再生パワーＰｐに戻して検出する。
【００３２】
図６には、テストエリア内に記録パワーをＰ０〜Ｐ２と変化させてマークを記録し、それぞれのマークを再生パワーで再生して得られるエラーレートＥ０〜Ｅ２が示されている。横軸は記録パワー（ｍＷ）、縦軸はエラーレートである。エラーレートは、一般に記録パワーが増大するほど低下し、やがて一定値となる。耐久性（書き換え回数）などを考慮した場合、エラーレートを一定値以下に抑えつつできるだけ小さなパワーで記録することが望ましい。
【００３３】
再び図５に戻り、処理部１６は記録パワーとエラーレートとの関係を記憶した後、この関係を用いて基準エラーレートＥｒが得られる記録パワー（最適記録パワー）を選択して光ピックアップ部１２のレーザダイオードのパワーを制御する（Ｓ１０５）。なお、記憶部１６ａに記録パワーとエラーレートとの対応関係が離散的（Ｐｉ、Ｅｉ）（ｉ＝１，２，・・・）に記憶されている場合には、エラーレートＥｒに対応する記録パワーは補間処理により算出すればよい。
【００３４】
図７には、以上述べた基準エラーレートＥｒ及び最適記録パワーＰｄの関係が示されている。なお、図には比較のためエンボス部を通常の再生パワーＰｐで再生した場合のエラーレートＥｒ０も示されている。エンボス部（プリピット）のエラーレートＥｒ０はこの光ディスク１００及び光ディスク装置の組み合わせで定まる値であり、再生パワーを小さくした場合に得られる基準エラーレートＥｒも光ディスク１００及び光ディスク装置の組み合わせて定まる特性値である。この再生特性値を基準エラーレートとして記録パワーＰｄを最適化する。記録パワーＰｄは、固定的なしきいエラーレートに基づいて決定されるのではなく、エンボス部におけるエラーレートに応じて動的に変化する点に注意されたい。
【００３５】
このように、本実施形態では光ディスク１００のエンボス部を再生して得られるエラーレートを基準として記録パワーを最適化しているため、別の光ディスク１００にデータを記録する場合にも対応することができる。
【００３６】
図８には、光ディスクＡと光ディスクＢにデータを記録する場合の特性が示されている。図において、実線が光ディスクＡの特性、一点鎖線が光ディスクＢの特性である。光ディスクＡとＢではエンボス部を同一パワーで再生して得られるエラーレートＥｒがそれぞれＥｒａ、Ｅｒｂと異なり、これに起因して最適記録パワーもそれぞれＰｄａ、Ｐｄｂとなる。しきいエラーレートを固定値とした場合、光ディスクＢでは最適な記録パワーが得られても、光ディスクＡではもともとエラーレートが大きいため記録パワーも大きくなって過剰となるおそれがあることが図から理解されよう。
【００３７】
以上、本発明の実施形態について、記録パワーを最適化する場合について説明したが、先に記録したデータにさらに上書きする（オーバライト）場合の消去パワーについても同様に最適化することができる。
【００３８】
この場合、エンボス部を再生して基準エラーレートを検出する際のパワーは、記録パワーを最適化する際のパワーよりもさらに小さくすることが好適である。その理由は、オーバライト時には既に記録されているデータを消去して新たなデータを記録するため、そのエラーレートは何も記録されていない状態からデータを記録する場合に比べて一般にエラーレートは大きくなるからである。したがって、エンボス部を再生する場合にはより小さなパワーで再生し、いわば条件をより劣化させてオーバライト時の条件を再現し基準エラーレートとするのが望ましい。
【００３９】
なお、記録パワーあるいは消去パワーのいずれかを基準エラーレートに基づいて設定してもよく、記録パワー及び消去パワーをともに基準エラーレートに基づいて設定してもよい。
【００４０】
また、ＤＶＤ−ＲＡＭにおいては、光ディスク１００にデータを記録する際、光ディスク１００のランド部及びグルーブ部のいずれにもデータを記録するが、ランド部に記録する場合とグルーブに記録する場合とで特性が異なるため、上記の処理をランド部及びグルーブ部でそれぞれ行い、ランド記録時の最適記録パワー（最適消去パワー）及びグルーブ記録時の最適記録パワー（最適消去パワー）を設定することも好適である。この場合、ランド部とグルーブ部で異なるパワーでエンボス部を再生して基準エラーレートを検出することもできる。表１に、処理部１６で用いる各種パラメータをまとめて記す。
【００４１】
【表１】
0003873672.tif 000002
表１において、ランド記録時におけるプリピット基準再生パワーはＰｐｒＬ、消去時におけるプリピット基準再生パワーはＰｐｅＬであり、例えばＰｐ＞ＰｐｒＬ＞ＰｐｅＬとすることができる。グルーブ記録においては、記録時におけるプリピット基準再生パワーはＰｐｒＧ、消去時におけるプリピット基準再生パワーはＰｐｅＧであり、Ｐｐ＞ＰｐｒＧ＞ＰｐｅＧとすることができる。表１では全てのパワーを基準エラーレートに応じて設定しているが、少なくともいずれか、例えばランド記録の記録パワーを基準エラーレートに応じて設定することもできる。
【００４２】
なお、本実施形態では再生パワーを小さくする場合について例示したが、再生条件を劣化させるための他の条件、例えば通常の再生パワーで再生して得られたＲＦ信号の所定周波数帯域をブーストするフィルタブーストの量を低減する、あるいはフィルタのカットオフ周波数を変更してノイズ成分を意図的に増大させる、あるいはディスク回転数を変動させる等も可能である。
【００４３】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、光ディスク毎に最適な記録パワーあるいは消去パワーを設定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  実施形態における光ディスク装置の要部構成ブロック図である。
【図２】  図１におけるエラーレート検出部の構成ブロック図である。
【図３】  図１における処理部の構成ブロック図である。
【図４】  光ディスク装置の構成図である。
【図５】  処理部の処理フローチャートである。
【図６】  記録パワーとエラーレートとの関係を示すグラフ図である。
【図７】  基準エラーレートと最適パワーとの関係を示す説明図である。
【図８】  光ディスクＡと光ディスクＢの特性を示す説明図である。
【符号の説明】
１０  スピンドルモータ、１２  光ピックアップ部、１４  エラーレート検出部、１６  処理部。
【図１】
0003873672.tif 000003
【図２】
0003873672.tif 000004
【図３】
0003873672.tif 000005
【図４】
0003873672.tif 000006
【図５】
0003873672.tif 000007
【図６】
0003873672.tif 000008
【図７】
0003873672.tif 000009
【図８】
0003873672.tif 000010