【手続補正書】
【提出日】平成28年6月21日(2016.6.21)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【発明の名称】線形可変差動変圧器センサのモニタリング
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般論として、例えば、航空機エンジンの測定の連鎖のモニタリングに関する。より詳細には、測定の連鎖の線形可変差動変圧器（ＬＶＤＴ）タイプのセンサに影響し得る断続接触のモニタリングに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
例えば、航空機エンジン用の測定の連鎖は、直線運動用の誘導型電気センサであるＬＶＤＴセンサを備えている。ＬＶＤＴセンサは、特に、可変ステータベーン（ＶＳＶ）、可変ブリード弁ＶＢＶ、または燃料計の位置制御のために使用される。ＬＶＤＴセンサはさらに、高圧タービン間隙制御（ＨＰＴＣＣ）のためにも使用される。
【０００３】
図１を参照すると、ＬＶＤＴセンサ１は、それ自体がコイルＢｐによって形成される１次回路、およびそれぞれがコイルＢ１、Ｂ２によって形成される２つの２次回路を備える、変圧器を備えている。これら３つのコイルは、円筒形で同軸である。１次コイルＢｐに、例えば、正弦波である、電圧Ｖｐが供給される場合、２次電圧Ｖ１、Ｖ２が２次コイルＢ１およびＢ２のそれぞれの端子に存在する。
【０００４】
ＬＶＤＴセンサ１はさらに、コイルの軸に沿って移動できる、中央コアＮＣも備えている。コアの移動によって、変圧器内側の磁場に変化が引き起こされる。より詳細には、コアが中央位置から移動すると、２次コイルの一方で誘導される電圧が増大し、もう一方の２次コイルで誘導される電圧は減少する。これによって、コアの位置により線形に変動する差動出力電圧（Ｖ１−Ｖ２）が生成される。
【０００５】
ＬＶＤＴセンサ１は差動モードで機能でき、次いで出力は差動電圧（Ｖ１−Ｖ２）であるか、または総和モードでの差で機能でき、次いで出力は総和に関係した２つの２次回路の電圧の差（Ｖ１−Ｖ２）／（Ｖ１＋Ｖ２）である。
【０００６】
図２ａでは、中央コイルＮＣの移動による、２つの２次コイルＢ１およびＢ２のそれぞれの端子での電圧Ｖ１およびＶ２の変動ならびに２つのコイルの両方の端子での差動電圧（Ｖ１−Ｖ２）の変動を図示している。
【０００７】
図２ｂでは、中央コアＮＣの移動による、２次電圧の総和に関連した差動電圧の比率Ｒ（（Ｖ１−Ｖ２）／（Ｖ１＋Ｖ２））の変動を示している。
【０００８】
このような測定の連鎖は、強力な熱および振動応力が存在する環境で機能する。これらの応力はしばしば、断続接触タイプの障害の原因となる。断続接触とは、電気回路の断続および非常に短い開路または望ましくない接地である。
【０００９】
断続接触が２次コイルの１つで発生すると、このコイルの端子で測定される電圧は裁断される。整流後、コンピュータで使用され得る、取得されたＲＭＳ値は異常に低い値を取り、マイクロカットオフの密度により、不規則に変化する。結果的に、ＬＶＤＴセンサから供給される測定値から計算される位置は不規則になり、コイルの１つまたはその他での障害の位置に応じて、高いまたは低いピークによって影響される。
【００１０】
２つの２次コイルに共通である、接地を通しても断続接触が存在する。この場合、２つの２次コイルの端子で測定された電圧は、障害により影響され、不規則に低くなる。
【００１１】
コンピュータは、有効性を検証するためにデータ入力を分析することが知られている。この目的で、コンピュータでは、３つの主なタイプのテストを使用できる。
【００１２】
第１のタイプは、電気的完全性テストである。これらのテストは、ＬＶＤＴセンサの２次コイルの端子の電圧測定に適用された。
【００１３】
第１の電気的完全性テストは、２次コイルの端子での電圧測定値が事前に定義された範囲内にあることのチェックで、これによって、明らかな開回路および短絡、すなわち「明らかな」故障を検出することが可能である。しかし、この場合、測定される電圧は事前に定義された範囲内にとどまるので、このテストは断続の開回路を検出するようには設計されていない。
【００１４】
第２の電気的完全性テストは、２次コイルの端子での電圧測定値の総和が最低値と最大値の間にあることのチェックである。これは、ＬＶＤＴセンサは、移動可能なコアの位置がどこでも、２次電圧の総和がほとんど一定であるという特性を有しているためである。このテストによって、絶縁の不具合によって引き起こされる電気的ドリフトを検出することが可能になる。しかし、このテストは、断続接触の場合には満足できるものではない。
【００１５】
これは、２次コイルの端子での電圧測定値の総和のモニタリングは、障害のない供給源（励磁信号の振幅または周波数）のいずれかの不完全さを考慮に入れるためにかなり広い範囲の値内で行わなければならないためである。言い換えれば、最大値および最小値によって定義された範囲が広いので、電圧の総和が範囲を逸脱しない断続接触により変動し得る可能性がある。それで、障害は検出されない。
【００１６】
加えて、このテストで断続障害が検出される場合、電圧測定値の総和は有効範囲から短い間、逸脱し、それから有効範囲に戻るなどの可能性がある。したがって、断続が検出されることはあるが、その結果は、選択された位置測定が異常な値（コンピュータが障害を検出しない場合）と安全な再設定値（コンピュータが障害を検出する場合）との間を交番するので、システムは不安的化する。
【００１７】
第２のタイプのテストは尤度テスト（または範囲またはゾーンテスト）である。このテストはＬＶＤＴセンサの２つの２次電圧から計算される位置に適用される。コンピュータの位置は、最小しきい値および最大しきい値と比較される。したがって、このタイプのテストは、異常な位置のみを検出し、小さな変動は検出しない。
【００１８】
第３のタイプのテストは差テストである。前の２つのタイプのテストがＬＶＤＴセンサの測定値での問題をまったく検出しない場合に、移動可能なコアの位置が特定され得る。しかし、必ず２つの冗長なＬＶＤＴセンサがあり、したがって、特定された位置が第２の冗長ＬＶＤＴセンサから特定されるものと一致していることをチェックすることが可能である。２つの特定された位置が互いから異なる場合、このことは、これらの測定値の少なくとも１つが異常であることを意味している。しかし、測定値間の差を検出しても、２つのセンサのどれが不良であるかを突き止めることは不可能である。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１９】
このような訳で、断続接触の場合、知られている有効性テストが満足できるものではないことは明らかである。
【課題を解決するための手段】
【００２０】
本発明の目的は、コアの移動により線形に変動する電圧がそれぞれ誘導される、２つの２次回路を備える線形可変差動変圧器タイプのセンサをモニタリングするための方法を提供することによって、従来の技術の問題を解決することであって、
所定の瞬間および前の瞬間における２次回路の一方の端子での電圧の差を計算すること、
所定の瞬間および前の瞬間における２次回路のもう一方の端子での電圧の差を計算すること、
事前に計算された２つの差の総和を計算すること、
事前に計算された総和のゼロまでの距離によりインジケータの値を変更すること、
インジケータと事前に定義された少なくとも１つのしきい値とを比較することの反復ステップを含むことを特徴としている。
【００２１】
本発明によって、断続接触タイプの障害が検出され、異常な値が識別され、調整などの、いずれかの次の処理で抑制され得る。
【００２２】
本発明は、単一のセンサからの電圧測定値に直接当てはまる。次いで、不良なセンサの位置の問題は、センサがセルフテストされ得るので解消される。
【００２３】
計算される総和は、センサが正常に機能している場合はゼロに近く、断続接触の場合は、ゼロから離れたところに移動する。したがって、インジケータの値は、センサの正常な機能または断続接触の存在により変わる。
【００２４】
インジケータは、メモリに測定された電圧の変動の履歴を保持するので、断続障害の「非断続」検出が可能になる。
【００２５】
好適な特徴によると、インジケータは２つの端子の間で変動し、２つの端子の一方は、センサが正常に機能していることを示し、２つの端子の他方は、センサが不良であることを示す。
【００２６】
好適な特徴によると、インジケータの変更は、総和がゼロに近い場合にはインジケータの増分、および総和がゼロから離れている場合にはインジケータの減少を含んでいる。したがって、インジケータは、センサの正常な機能の場合には増加し、断続接触の場合には減少する。
【００２７】
好適な特徴によると、インジケータの比較は第１のしきい値と第２のしきい値との比較を含むので、正常な機能状態から障害状態への変化は逆の変化の値とは異なる値に対してもたらされる。
【００２８】
したがって、センサの障害を断続的に表わすことを回避する、ヒステリシス現象が生成される。
【００２９】
本発明はさらに、コアの移動により線形に変動する電圧がそれぞれ誘導される、２つの２次回路を備える線形可変差動変圧器タイプのセンサをモニタリングするための装置にも関するものであって、
所定の瞬間および前の瞬間における２次回路の一方の端子での電圧の差を計算するための手段と、
所定の瞬間および前の瞬間における２次回路のもう一方の端子での電圧の差を計算するための手段と、
事前に計算された２つの差の総和を計算するための手段と、
事前に計算された総和のゼロまでの距離によりインジケータを変更するための手段と、
インジケータと事前に定義された少なくとも１つのしきい値とを比較する手段とを備えることを特徴としている。
【００３０】
本発明はさらに、コアの移動により線形に変動する電圧がそれぞれ誘導される、２つの２次回路を備える、線形可変差動変圧器タイプのセンサ、および前に提示されたモニタリング装置を一体化する測定の連鎖にも関するものである。
【００３１】
本発明による装置および測定の連鎖は、前に提示されたものと同じような利点を有する。
【００３２】
特定の実施形態では、本発明による方法の各ステップは、コンピュータプログラムの命令によって実施される。
【００３３】
結果的に、本発明はさらに、情報担体上のコンピュータプログラムにも関し、このプログラムはコンピュータに実装され得るもので、このプログラムは上述の方法の各ステップを実施するのに適した命令を含んでいる。
【００３４】
このプログラムはいずれかのプログラミング言語を使用でき、部分的にコンパイルされた形または他のいずれかの望ましい形などの、ソースコード、オブジェクトコードまたはソースコードとオブジェクトコードの間の中間コードの形であり得る。
【００３５】
本発明はさらに、コンピュータによって読み取られることが可能で、コンピュータプログラムの命令を含む情報担体にも関する。
【００３６】
情報担体は、プログラムを保存できるいずれかのエンティティまたは装置とし得る。例えば、担体は、ＲＯＭ、例えば、ＣＤ  ＲＯＭまたは超小型電子回路ＲＯＭなどの記憶手段、あるいは例えばディスケットまたはハードディスクという磁気記録手段を備え得る。
【００３７】
その上、情報担体は、無線または他の手段によって、電気または光ケーブルを介してルーティングされ得る、電気または光信号などの伝送可能担体とし得る。本発明によるプログラムは、特に、インターネットタイプのネットワークでダウンロードされ得る。
【００３８】
代替として、情報担体はプログラムが組み込まれた集積回路とし得るもので、回路は本発明による方法の実行に適しているか、本発明による方法の実行に使用される。
【００３９】
他の特徴および利点は、次の図面を参照して説明される、非制限的な例によって与えられる好適な実施形態の解釈から明らかになるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】ＬＶＤＴセンサを示す図である。
【図２ａ】移動によるＬＶＤＴセンサの２次電圧を示す図である。
【図２ｂ】移動により、２次張力の総和によって割られる差動張力を示す図である。
【図３】本発明による装置の実施形態を示す図である。
【図４】本発明によるインジケータのための増分法則を示す図である。
【図５】流れ図の形で、本発明による方法の一実施形態を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００４１】
図１、図２ａ、および図２ｂは既に記述されている。
【００４２】
図３は、例えば、航空機エンジンまたはターボジェットなどの測定の連鎖を図示している。測定の連鎖は、一般論として、時間と共に、温度、圧力、位置などの物理的測定値を収集することが意図された２つの冗長チャネルを備えている。
【００４３】
これらの物理的測定は、一組のセンサを介して行われるが、図３ではその内のＬＶＤＴセンサ１のみが図示されている。ＬＶＤＴセンサは、コンピュータ２、例えばＦＡＤＥＣに接続され、それはセンサから供給される測定値を使用する。これらの測定は、所定の頻度で行われる。所定の瞬間に、２次コイルＢ１およびＢ２の端子で測定されたそれぞれの電圧は、Ｖ１ｔおよびＶ２ｔで示される。これら測定された値は、コンピュータの内部メモリまたはそれに関連付けられたメモリに保存される。
【００４４】
本発明によると、ＬＶＤＴセンサ１をモニタリングするための装置は、コンピュータ２と結合されまたはそれと一体化されている。どちらの場合でも、ＬＶＤＴセンサをモニタリングする装置は、コンピュータの一般的な構造を有している。図３に図示された実施形態によると、ＬＶＤＴセンサ１をモニタリングする装置は、コンピュータ２と一体化している。本発明に直接関連した要素のみが図示および記述されており、コンピュータの他の要素は、当業者には良く知られている。
【００４５】
モニタリング装置は、所定の瞬間ｔおよび前の瞬間（ｔ−１）で２次回路の一方の端子での電圧間の差を計算するために、モジュール２１に接続された入力インターフェイスＩＥ１を備えている。例えば、モジュール２１は差：Δ１ｔ＝Ｖ１ｔ−Ｖ１ｔ−１を計算する。
【００４６】
モニタリング装置はさらに、所定の瞬間ｔおよび前の瞬間（ｔ−１）で２次回路のもう一方の端子での電圧間の差を計算するために、モジュール２２に接続された入力インターフェイスＩＥ２を備えている。例えば、モジュール２２は差：Δ２ｔ＝Ｖ２ｔ−Ｖ２ｔ−１を計算する。
【００４７】
上記の２つの電圧の差の計算では、時間ステップは例えば、１５ｍｓである。
【００４８】
これら２つのコンピューティングモジュールは、単一のモジュールに実装され得る。それらは、次のとおり、事前に計算された２つの差の総和を計算するために、モジュール２３の入力インターフェイスＩＥ３に接続された、それぞれの出力インターフェイスＩＳ１、ＩＳ２を備えている：
Ｓｔ＝Δ１ｔ＋Δ２ｔ。
【００４９】
理論的には、総和Ｓｔは、移動可能コアの移動が２次コイルの一方の端子での電圧の増大またはそれぞれの減少、および同時に、絶対値において等しい、２次コイルのもう一方の端子での電圧の減少またはぞれぞれの増大を引き起こすので、厳密にゼロに等しくなる。
【００５０】
実際には、測定される電圧は、コアの位置により厳密に線形に変化しないことを意味する不完全さが存在する。これらの不完全さを省くために、総和Ｓｔがゼロに近い値の範囲内にとどまる場合、センサの機能は正常であると見なされる。この範囲の端子はゼロに近く、実験的に特定され得る。
【００５１】
このモジュール２３は、ヘルスインジケータＩＮＤを更新するために、モジュール２４の入力インターフェイスＩＳ４に接続される出力インターフェイスＩＳ３を備えており、その機能は障害を示すことである。
【００５２】
インジケータＩＮＤは、例えば、０と１００など、２つの端子間で変動する。値の一方、値１００はセンサが正常に機能していることを示し、もう一方の値、値０はセンサが不良であることを示す。
【００５３】
モジュール２４では、モジュール２３によって供給される総和Ｓｔの値により、端子間のインジケータＩＮＤの値が変わる。より正確には、インジケータの更新には、前に計算された総和のゼロまでの距離によりインジケータの値への変更が含まれる。
【００５４】
この総和は、センサが正常に機能する場合はゼロに近く、断続接触の場合は、ゼロから離れたところに移動する。したがって、インジケータの値は、センサの正常な機能または断続接触の存在により変わる。
【００５５】
インジケータＩＮＤは値１００に初期化される。インジケータＩＮＤは、総和Ｓｔが断続タイプの障害を示す、つまり、総和Ｓｔがゼロから離れている場合、非常に減らされる。インジケータＩＮＤは、総和Ｓｔがセンサの正常な機能を示す、つまり、総和Ｓｔがゼロに近い場合、わずかに増分される。
【００５６】
例えば、インジケータＩＮＤは、図４で図示されているように、増加分により増分される。
【００５７】
−０．１と＋０．１の間の総和Ｓｔでは、増加分は１に等しい。
【００５８】
＋０．１と＋０．３の間または−０．１と−０．３の間との総和Ｓｔでは、増加分は１から−４０まで線形に減少する。
【００５９】
＋０．３と＋１の間または−０．３と−１の間との総和Ｓｔでは、増加分は−４０から−５０まで線形に減少する。
【００６０】
増加分はインジケータＩＮＤに適用されるが、端子間のインジケータＩＮＤは保持され、つまり、増加分は適用されないか、またはインジケータが端子の一方に達する場合、部分的にのみ適用される。
【００６１】
インジケータＩＮＤは、ゼロに到達する時、固定され得ることにも留意していただきたい。この場合、センサはかなり機能低下すると考えられる。接触の断続性が後に減衰する場合でも、センサはもう一度、有効であることを再表示され得ない。言い換えると、インジケータのゼロでの固定で、ＬＶＤＴセンサは機能回復がまったくできなくなる。
【００６２】
当然、総和Ｓｔに応じたインジケータＩＮＤの増分のための他の変動法則が可能である。曲線は、より大きいまたはより少ない数の線形セグメントから構成され得る。曲線はさらに、釣鐘曲線またはガウス曲線とし得る。
【００６３】
モジュール２４は、センサの有効性ステータスを特定するために、モジュール２５の入力インターフェイスＩＥ５に接続された出力インターフェイスＩＳ４を備えている。この特定は、インジケータＩＮＤと少なくとも１つの事前に定義されたしきい値の比較に基づいている。
【００６４】
インジケータの比較は第１のしきい値と第２のしきい値との比較を含むので、正常な動作状態から障害状態への変化が逆の変化のものとは異なる値に対して行われることが好適である。
【００６５】
インジケータＩＮＤが１００に初期化されており、次に、例えば、５０に等しい低いしきい値と呼ばれる、第１のしきい値を超えたままである場合、センサは正常に機能していると表される。インジケータＩＮＤが第１のしきい値より低下する場合、センサの断続接触タイプの障害が検出される。
【００６６】
インジケータＩＮＤが第１のしきい値より低下しており、次に、例えば、９０に等しい、第１のしきい値より高い、高いしきい値と呼ばれる、第２のしきい値より低いままである場合、センサは障害を表されたままである。インジケータＩＮＤが第２のしきい値より大きい場合には、センサは正常に機能していると表される。
【００６７】
ヒステリシスでのこの機能によって、障害を断続的に検出することを回避することが可能になる。当然、単純化モードでは、１つのみのしきい値を使用すること、言い換えれば、互いに等しい低いしきい値と高いしきい値を選択することが可能である。
【００６８】
当然、モニタリング装置は測定の連鎖に含まれる複数のＬＶＤＴセンサをモニタし得る。
【００６９】
ＬＶＤＴセンサモニタリング装置の機能は、ステップＥ１からＥ７を含む流れ図の形で、図５を参照して記述される。
【００７０】
ステップＥ１からＥ７は、例えばＬＶＤＴセンサの電圧Ｖ１およびＶ２の測定頻度に対応した事前に定義された頻度で、反復的に行われる。時間ステップは例えば、１５ｍｓである。
【００７１】
ステップＥ１は、現在の瞬間で測定された電圧と前の瞬間に測定されたものとの間の差の計算で、２つの２次コイルのそれぞれは、次のとおりである：
Δ１ｔ＝Ｖ１ｔ−Ｖ１ｔ−１
Δ２ｔ＝Ｖ２ｔ−Ｖ２ｔ−１
【００７２】
続くステップＥ２は、次のように、事前に計算された２つの差の総和の計算である：
Ｓｔ＝Δ１ｔ＋Δ２ｔ
【００７３】
続くステップＥ３は、ヘルスインジケータＩＮＤの更新で、その機能は障害を示すことである。
【００７４】
インジケータＩＮＤは、例えば、０と１００など、２つの端子間で変動する。値の一方、値１００はセンサが正常に機能していることを示し、もう一方の値、値０はセンサが不良であることを示す。
【００７５】
ステップＥ３では、前のステップで計算された総和Ｓｔの値により、端子間のインジケータＩＮＤの値が変わる。より正確には、インジケータの更新には、前に計算された総和のゼロまでの距離によりインジケータの値の変更が含まれる。
【００７６】
この総和は、センサが正常に機能している場合はゼロに近く、断続接触の場合は、ゼロから離れたところに移動する。したがって、インジケータの値は、センサの正常な機能または断続接触の存在によりステップＥ３で変わる。
【００７７】
インジケータＩＮＤは値１００で初期化される。インジケータＩＮＤは、総和Ｓｔが断続タイプの障害を示す、つまり、総和Ｓｔがゼロから離れている場合、非常に減らされる。インジケータＩＮＤは、総和Ｓｔがセンサの正常な機能を示す、つまり、総和Ｓｔがゼロに近い場合、わずかに増分される。
【００７８】
例えば、インジケータＩＮＤの増分は、前に図４で図示されたように、増加分により行われる。
【００７９】
増加分はインジケータＩＮＤに適用されるが、端子間のインジケータＩＮＤは維持され、つまり、増加分は適用されないか、またはインジケータが端子の一方に達する場合、部分的にのみ適用される。
【００８０】
インジケータが、ゼロに到達する場合、値ゼロで固定されたままであることが可能であるので、機能低下したＬＶＤＴセンサが後で有効であるように再適格化されることを回避できる。
【００８１】
当然、総和ＳｔによるインジケータＩＮＤの増分のための他の変動法則も可能である。曲線は、より大きいまたはより少ない数の線形セグメントから構成され得る。曲線はさらに、釣鐘曲線またはガウス曲線とし得る。
【００８２】
続くステップＥ４はセンサの有効性ステータスの特定である。この特定は、インジケータＩＮＤと少なくとも１つの事前に定義されたしきい値の比較に基づいている。
【００８３】
インジケータの比較は第１のしきい値と第２のしきい値との比較を好ましくは含み、それにより、正常な機能状態から障害状態への変化が、逆の変化の値とは異なる値に対してもたらされる。
【００８４】
インジケータＩＮＤがゼロに初期化されており、次に、例えば、５０に等しい低いしきい値と呼ばれる、第１のしきい値を超えたままである場合、センサは正常に機能していると表される。インジケータＩＮＤが第１のしきい値より低下する場合、センサの断続接触タイプの障害が検出される。
【００８５】
インジケータＩＮＤが第１のしきい値より低下しており、次に、例えば、９０に等しい、第１のしきい値より高い、高いしきい値と呼ばれる、第２のしきい値より低いままである場合、センサは障害を表されたままである。インジケータＩＮＤが第２のしきい値より高い場合には、センサは正常に機能していると表される。
【００８６】
ヒステリシスでのこの機能によって、障害を断続的に検出することを回避することが可能になる。当然、単純化モードでは、１つのみのしきい値を使用すること、言い換えれば、互いに等しい低いしきい値と高いしきい値を選択することが可能である。
【００８７】
センサが正常に機能していると表される場合には、ステップＥ４はＥ５で継続され、そこで、時間パラメータは１ステップだけ増分される。ステップＥ５は前に記述されたステップＥ１で継続され、次の時間ステップで行われる。
【００８８】
センサが断続接触タイプの障害によって影響されていると表される場合、ステップＥ４はＥ６で継続され、そこでは、「無効」ラベルを瞬間ｔで測定された電圧値Ｖ１ｔとＶ２ｔに割り当てるためにアラートが作成される。したがって、コンピュータ２は、後の処理動作のためにこれらの値を拒否することができる。
【００８９】
次のステップＥ７で、時間パラメータは１ステップだけ増分される。ステップＥ７は前に記述されたステップＥ１で継続され、次の時間ステップで行われる。
【００９０】
本発明による方法は、測定値が取得される時に実施され得るか、または変形形態では、事前に測定され保存された値の組で実施され得る。
【００９１】
本発明は、電気テスト、尤度テスト、および差テストなどの知られている有効性テストに加えて実施され得る。
【手続補正２】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コアの移動により線形に変動する電圧がそれぞれ誘導される、２つの２次回路（Ｂ１、Ｂ２）を備える線形可変差動変圧器タイプのセンサ（１）をモニタリングするための方法であって、
所定の瞬間および前の瞬間における２次回路の一方の端子での電圧の差を計算する（Ｅ１）ことと、
所定の瞬間および前の瞬間における２次回路のもう一方の端子での電圧の差を計算する（Ｅ１）ことと、
事前に計算された２つの差の総和を計算する（Ｅ２）ことと、
事前に計算された総和のゼロまでの距離によりインジケータの値を変更する（Ｅ３）ことと、
インジケータと事前に定義された少なくとも１つのしきい値とを比較する（Ｅ４）こととの、反復のステップを含むことを特徴する、モニタリング方法。
【請求項２】
インジケータが２つの端子の間で変動し、２つの端子の一方は、センサが正常に機能していることを示し、２つの端子の他方は、センサが不良であることを示すことを特徴とする、請求項１に記載のモニタリング方法。
【請求項３】
インジケータの変更（Ｅ３）が、総和がゼロに近い場合にはインジケータの増分、および総和がゼロから離れている場合にはインジケータの減少を含むことを特徴とする、請求項１または２に記載のモニタリング方法。
【請求項４】
インジケータの比較が第１のしきい値と第２のしきい値との比較を含み、それにより、正常な動作状態から障害状態への変化が、逆の変化の値とは異なる値に対してもたらされることを特徴とする、請求項１から３のいずれか一項に記載のモニタリング方法。
【請求項５】
コアの移動により線形に変動する電圧がそれぞれ誘導される、２つの２次回路を備える線形可変差動変圧器タイプのセンサをモニタリングするための装置であって、
所定の瞬間および前の瞬間における２次回路の一方の端子での電圧の差を計算するための手段（２１）と、
所定の瞬間および前の瞬間における２次回路のもう一方の端子での電圧の差を計算するための手段（２２）と、
事前に計算された２つの差の総和を計算するための手段（２３）と、
事前に計算された総和のゼロまでの距離によりインジケータの値を変更するための手段（２４）と、
インジケータと事前に定義された少なくとも１つのしきい値とを比較するための手段（２５）とを備えることを特徴とする、装置。
【請求項６】
コアの移動により線形に変動する電圧がそれぞれ誘導される、２つの２次回路を備える、線形可変差動変圧器タイプのセンサ、および請求項５に記載のモニタリング装置を一体化する測定の連鎖。
【請求項７】
プログラムがコンピュータで実行される場合に、請求項１から４のいずれか一項に記載の方法のステップを実行するための命令を含むコンピュータプログラム。
【請求項８】
請求項１から４のいずれか一項に記載の方法のステップを実行するための命令を含む、コンピュータプログラムが記録され、コンピュータによって読み取られることが可能な記録媒体。