(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
監視区域の境界内の対象物を検出するための電子光学的検出システムであって、
複数の発光器及び光検出器の対にして、その各々が前記監視区域の特定の部分へ光エネルギーのパルスのビームを発するための赤外線ＬＥＤである発光器と、前記監視区域内の対象物から反射される前記ビームパルスの各々からの光エネルギーを含む光エネルギーを検出し光検出信号を生成するための一対の反対の極性のフォトダイオードである光検出器とを含む発光器及び光検出器の対と、
前記発光器及び光検出器の対を作動するため及び前記光検出信号を評価して前記監視区域内の対象物から反射されたビームパルスの光エネルギーを含む正当な信号とその他の光エネルギーを含む不当な信号を見分けるためのコントローラーにして、対象物検出信号を生成し、前記発光器及び光検出器の対の各々についてのプログラム可能な範囲調節手段にして負の極性の前記フォトダイオードの利得に対する正の極性の前記フォトダイオードの利得を電子的に調節して前記検出システムの校正を行う手段を含むコントローラーと、
ノイズを受ける帯域幅制限受信器と、
反射されたビームパルスからの反対の極性を有する予定された最大及び最小電圧のピーク及びフライバック応答が予想される時点に対応する二つ又はそれ以上の間隔のあいた時点における前記帯域幅制限受信器のノイズとパルスの組合さった応答を評価するための多検査ゼロ閾値検出器と、
前記検出器が反射されたビームパルスからの予想される応答の極性及びシーケンスを報告する場合のみカウントを上昇しその他の応答の全てについてカウントを降下するために採用されたアップ／ダウンカウンタにして、ノイズのみ存在する場合にカウントを降下する方向に本来的にバイアスされているアップ／ダウンカウンタとを含み、
これにより正当な対象物検出信号が存在していない場合の誤対象物検出速度が前記カウンタの長さと共に指数関数的に低減する
検出システム。
【請求項２】
監視区域内の対象物を検出するための電子光学的検出システムであって、
前記監視区域へ光エネルギーのパルスのビームを発するための発光器と、
前記監視区域内の対象物から反射される前記ビームパルスからの光エネルギーを含む光エネルギーを検出し光検出信号を生成するための光検出器と、
前記発光器及び前記光検出器を作動するため及び前記光検出信号を評価して前記監視区域内の対象物から反射されたビームパルスの光エネルギーを含む正当な信号とその他の光エネルギーを含む不当な信号を見分けるためのコントローラーにして、対象物検出信号を生成し、ノイズを受ける帯域幅制限受信器と、反射されたビームパルスからの正及び負のピーク電圧応答が予想される予定された時点に対応する一つの又はそれ以上の間隔のあいた時点における前記帯域幅制限受信器のノイズとパルスの組合さった応答を評価するためのゼロ閾値検出器とを含むコントローラーと、
前記検出器が前記予想された応答の正しい極性を報告する場合のみカウントを上昇しその他の応答の全てについてカウントを降下するために採用されたアップ／ダウンカウンタにして、ノイズのみ存在する場合にカウントを降下する方向にバイアスされているアップ／ダウンカウンタとを含み、
前記ゼロ閾値検出器が反射されたビームパルスからの反対の極性を有する予定された最大及び最小電圧のピーク及びフライバック応答が予想される時点に対応する二つ又はそれ以上の間隔のあいた時点における前記帯域幅制限受信器のノイズとパルスの組合さった応答を評価し、
前記アップ／ダウンカウンタが、前記検出器が反射されたビームパルスから予想されるピーク及びフライバック応答の極性及びシーケンスを報告する場合のみカウントを上昇しその他の応答の全てについてカウントを降下し、ノイズのみ存在する場合にカウントを降下する方向に本来的にバイアスされており、
これにより正当な対象物検出信号が存在していない場合の誤対象物検出信号速度が前記カウンタの長さと共に指数関数的に低減する電子光学的検出システム。
【請求項３】
請求項１又は２の検出システムであって、前記光検出器により感知される光が予定された領域において透明なカバーを通過するようになっており、更に、
前記予定された領域内の予定されたスポットにて前記カバーを通る伝送を保証する角度にて光エネルギーの特別なビームを発するための特別な発光器と、前記スポットに向けられカバーの透明性を低減するカバー上の汚染物により反射された前記特別なビームからの光エネルギーを受信して予定されたレベルの反射された光エネルギーを検出した場合に前記コントローラーへの汚染物検出信号を生成する特別な光検出手段と、前記汚染物検出信号の増幅を選択的に変更するための調節手段とを含むカバー透明性評価手段
が含まれている検出システム。
【発明の詳細な説明】
発明の分野
本発明は、概ね、監視（される）区域内にある対象物の存在を検出するための検出システムに係り、より詳細には、システムのランダム・ノイズの許容範囲を改善する適応性のある閾値パルス検出器を使用し、選択的に、監視区域の大きさを電気的に変化する手段を有する赤外線検出システムに係る。
発明の背景
公知の光電的同期検出システムの多くにおいては、パルス化された（パルス状）光ビーム信号が、典型的には、矩形波又は低装荷率のパルス発生器／発振器により動作されるＬＥＤを用いることによって、監視される空間若しくは空間の或る区域へ伝送される。光学的な光検出器は、パルス状ＬＥＤビームを含む視野を有するよう監視区域に向けられ、これにより、光検出器は、区域内の対象物の存在を検出するべく対象物からの前記の信号の反射を受信することとなる。このようなシステムは、ジュドス（Juds）への米国特許第５，４６３，３８４号に示されている。
発せられた光の、区域内の対象物からの反射以外の源（その他の電気的若しくは光学的な源）からのノイズ及び信号を排除するために、同期受信器が用いられ、区域内の対象物からのパルス状信号の反射が予想されるときのみ、受信器が作動される。このことにより、反射されたパルス状信号が生じ得ない期間におけるその他の源からの光エネルギーの検出により生じ得る応答が阻止される。
生じ得る内在的なランダム・ノイズ及び検出器のショット・ノイズの検出を拒絶するために、システムにおいては、或る固定された検出閾値が、検出回路によって観測されると予想される内在的なランダム・ノイズレベルよりも上の或るレベルに設定される。このことにより、検出回路は、このノイズを無視することが可能となる。ノイズによる誤検出の確率は、実際のノイズレベル（その振幅強度は、概ね、ガウス分布である。）に対する閾値レベルの関数である。
閾値の固定された光電的検出システムのその他の例は、フェイフィールド（Fayfield）への米国特許第４，３５６，３９３号、ジュドスへの同第４，８５１，６６０号、エベレット（Everett,Jr.,）への同第４，８５１，６６１号、ジュドスへの同第４，９９０，８９５号、及びベッグス（Beggs）等への同第５，１２２，７９６号に見られる。これらの固定閾値同期検出システムは、ほとんどの光電的センサの用途に対して有用であることが見出されているが、ノイズレベルが非常にばらつき、ランダムに変化する作動環境において高い受信器感度が望まれる状況では充分には正確ではない。
上記のような環境においては、ノイズの拒絶の満足の行くレベルを保証するために、予想される最悪のノイズ状態の環境において機能するように検出器の閾値レベルを適合する必要があり、検出器システムの性能に不具合が生ずる。この状況は、検出システムが屋外の作動環境において乗物等の検出に使用される場合に存在する。運転者の盲点（視覚不良領域）にある乗物を検出するために使用される上記のようなシステムは、真っ暗な夜間から、白い表面から反射される日光の９１５００ｌｘ（８５００ｆｔ−ｃｄｌｓ）まで、濡れた路面から反射する日光の７５３０００ｌｘ（７００００ｆｔ−ｃｄｌｓ）に匹敵するまでの範囲に亙る周囲光学的条件に起因する広範なノイズの変化に遭遇することとなる。かかる検出器による誤検出により、それらシステムが乗物の運転者にとって信頼性のないものとなってしまう。従って、誤検出の除去は、重要な目的である。
盲点検出システムにおいて、検出される標的の乗物の反射率も、周囲の光学的条件と同様に広範に変化する。従って、上記の如きシステムは、これらが有効になるためには、反射率について黒色から白色に亙る範囲の乗物を真っ暗な夜間から明るい日光まで変化する光学的条件において検出することが要求されることとなる。これらの検出要件は、夜間における黒色の乗物から明るい日光中における白色の乗物までの両極端の範囲である。
夜間の暗さにおいては、検出器内には非常にわずかなＤＣ光電流しか生成されず、ショットノイズはほとんど生じない。しかしながら、明るい日中における作動では、受信器のフォトダイオードにおいてかなり大きなＤＣ電流が生じ、ショットノイズレベルは高くなる。シリコンフォトダイオードにおいてＤＣ光電流により生成されるショットノイズ電流は、
ｉ＝５．６６×１０-10√Ｉｄｃ・ＢＷ  アンペア（ＲＭＳ）
の式で決定される。ここで、Ｉｄｃは、ＤＣ光電流であり、ＢＷは、電流の帯域幅（Ｈｚ）である。
受信器が明るい日光の中で白い標的の乗物を見る場合、光電流は、受信器の増幅器自体の内在的な電子的ノイズよりも何倍も大きなショットノイズを生成する。高レベルのショットノイズにより惹起される誤検出を防ぐためには、要求される閾値が、最悪の場合のショットノイズに比べて非常に大きくなければならない。閾値がこのように高い場合には、光がわずかな条件下において非常に暗く反射率の低い標的を検出するシステムの能力は低くなる。
システムのノイズレベルが広範に変化することにより惹起される作動上の問題を解決するための試みはいくつか成されている。これらは、受信器の検出閾値の設定に用いられるノイズ強度の特性の測定し、それに基づいて或る形式にて適応できるよう調節することを伴う検出システムを提供することに関連したものである。これにより得られた適応性のある閾値の受信器は、信号受信の完全性を維持するべく周囲の測定された受信器のノイズに関連してその感度を最適化する。このようなシステムの例は、バムガードナー（Bumgardner）への米国特許第３，９９９，０８３号、ハーディ（Hardy）等への同第４，１４２，１１６号、コナー（Conner）等への同第４，９９２，６７５号、及びパストー（Pastor）への同第５，３３７，２５１号に見られる。
上記の如きシステムは、連続的にノイズを測定し、実際の信号が検出される場合には、かかるノイズ測定を阻止してその前の測定を維持し、測定されたレベルを可変利得段へ供給（帰還）する回路を追加する必要があるので、非常に高価である。この回路は、構成要素と組立の労力とを追加することになり、システムの寸法及び費用を増大する。
かくして、変化する周囲の条件に感知閾値を自動的に適合して最適な感度を達成し、全ての周囲ノイズ条件下で誤検出の確率が低く、追加される構成要素を必要としない検出システムが必要とされている。
上記の特許に開示されているような乗物における盲点の検出器システムは、運転者側検出器及び乗客側検出器の双方を使用する。一つのシステムは、一つのモジュール内に６対の発光器−検出器の組を含んでおり、検出器は、反対の極性のフォトダイオードの対である。システムの有効範囲は、これらの構成要素の幾何的形状によって決定される。これらの構成要素は、非常に小さく、それらの幾何的形状を維持するために非常に精密な製法を必要とする。
これらのモジュールは、また、乗物の盲点の検出を有効にできるように、ユニットのための透明なレンズカバーが汚染物で汚された場合を決定するための所謂「汚れ窓」検出器を含む発光器−検出器の対を取り入れている。この発光器−検出器の対は、発光器のビームと検出される反射が進行するカバーの部分から隔置されたレンズカバーの或る部分を監視する。汚れ窓検出閾値は、構成要素の幾何的形状に依存しており、従って、再び、厳しい許容範囲を保持するための非常に精密な製法に依存している。
かくして、作動範囲を選択的に変更するため及び正確な汚れ窓検出を保証するための組込み調節を取り入れた盲点検出器が必要とされている。
発明の概要
従って、本発明の一つの目的は、変化する周囲の条件に感知閾値を自動的に適合して最適な感度を達成し、全ての周囲ノイズ条件下で誤検出の確率が低く、追加される構成要素を必要としない検出システムを提供することである。
本発明のもう一つの目的は、作動範囲を選択的に変更するため及び検出器上の汚染物の蓄積により作動能力が予定されたレベルよりも低減されている場合を正確に検出するための組込み調節を取り入れた盲点検出器を提供することである。
一つの局面において、本発明は、監視区域内で対象物を検出するための電子光学的検出システムを特徴としており、監視区域へ光エネルギーのパルスビームを発するための発光器と、監視区域内の対象物から反射されたビームパルスからの光エネルギーを含む光エネルギーを検出するため及び光検出信号を生成するための光検出器を含む。発光器及び光検出器を作動するため及び光検出信号を評価して監視区域内の対象物から反射されたビームパルスの光エネルギーを含む正当な信号とその他の光エネルギーを含む不当な信号とを見分けるためのコントローラーは、対象物検出信号を生成する。帯域幅（を）制限（された）受信器は、受信器のノイズの統計的な性質により本来的に制御されシステムの感度を最適化する適応閾値を有する。ゼロ閾値検出器は、反射されたビームパルスからの正又は負のピーク電圧の応答が予想される期間における予定された時点に対応する一つ若しくはそれ以上の間隔のあいた時点における帯域幅制限受信器のノイズとパルスが組合さった応答を評価する。また、アップ／ダウンカウンタが採用されており、比較器が予想された応答の正しい極性を報告した場合にのみカウントを上昇し、他の全ての応答においてはカウントを降下する。アップ／ダウンカウンタは、ノイズのみ存在する場合には、カウントを降下する方向にバイアスされる。正当な対象物検出信号が存在していない状態における誤った対象物検出信号の割合は、カウンタの長さと共に指数関数的に低下する。
一つの実施例において、アップ／ダウンカウンタは、反射されたビームパルスから予想される一つの極性の応答についてカウントを１単位上昇し、その他の応答の全てについてカウントを１単位以上降下し、これにより、上昇カウントに対する降下カウントの比率の増加が、誤対象物検出信号を生成する確率を低減する。アップ／ダウンカウンタの上昇カウントに対する降下カウントの比率は、好ましくは３：１である。
もう一つの実施例において、ゼロ閾値検出器は、反射されたビームパルスからの反対の極性を有する予定された最大及び最小電圧のピーク及びフライバック応答が予想される期間における時点に対応する二つ又はそれ以上の時点において帯域幅制限受信器のノイズ及びパルスの組合さった応答を評価する。アップ／ダウンカウンタは、比較器が反射されたビームパルスから予想されるピーク及びフライバック応答の極性及びシーケンスを報告したときのみカウントを上昇し、その他の全ての応答についてはカウントを降下し、従って、ノイズのみ存在する場合には、本来的にカウントを降下するようバイアスされる。
本発明のもう一つの局面においては、コントローラーは、発光器及び光検出器の対の各々についてのプログラム可能な範囲調節手段であって選択的に光検出信号の評価を調節して監視区域の有効な境界を調節する手段を含む。
本発明の更なる局面においては、光検出器は透明なカバーを有しており、予定された点においてカバーを通る伝送を保証する或る角度にて光エネルギーの特別なビームを発光する特別な発光器を含むカバー透明性評価手段が設けられる。特別な光検出器が前記の予定された点に向けられ、カバーの透明性を低減するカバー上の汚染物により反射された特別なビームから光エネルギーを受信し、反射された光エネルギーの予定されたレベルが検出された場合に処理手段への汚染物検出信号を生成する。汚染物検出信号の増幅を選択的に変更する調節手段が設けられている。
本発明のこれら及び更なる目的及び特徴は、添付の図面に描かれた実施例の以下の詳細な説明を参照して更に容易に明らかになるであろう。
【図面の簡単な説明】
図１は、本発明による検出システムの一つの発光器−検出器ユニットについての模式的な回路ダイアグラム図である。
図２は、信号振幅対時間をプロットしたグラフ図であり、パルス、検出された応答、ガウスノイズ及び応答とノイズの組合さった検出に対する比較器の出力の効果を示す。
図３は、アップ／ダウンカウンタによってカウントされた応答の関数としての誤警告速度をプロットしたチャート図である。
図４は、ガウス統計に従うランダムな変数についての確率密度関数を示すチャート図である。
図５ａは、１５状態アップ／ダウンカウンタについての信号対ノイズ比の関数としての検出の確率を示すチャート図である。
図５ｂは、図５ａに同様であるが、誤警告性能をより良く示すために縦方向を対数スケールを用いている。
図６は、上昇／降下カウント比の関数としての検出閾値を示すチャート図である。
図７は、路上の乗物の模式的な平面図であり、運転者側及び乗客側の盲点検出器により監視される空間の区域を示す。
図８は、本発明による盲点検出器の一つのモジュールの拡大平面図である。
図９は、図８のモジュールの側面図である。
図１０は、本発明の盲点検出器の模式的な回路ダイアグラム図の多ビーム受信器部分である。
図１１は、本発明の盲点検出器の模式的な回路ダイアグラム図のコントローラー、可変利得増幅器及び検出器の部分である。
図１２は、作動している検出器の有効性を制御するための制御ユニットの斜視図である。
図１３は、本発明による汚れ窓検出器装着ユニットの拡大図である。
図１４は、図１３の線１４−１４に沿って得られた断面図である。
図１５は、図１４の線１５−１５に沿って得られた断面図である。
図１６は、フォトダイオードの対の発光器ＬＥＤ及び対向する対を含む検出システムのダイアグラム図である。
図１７及び１８は、フォトダイオード対と異なる光像パターンの拡大された平面図である。
好ましい実施例の詳細な説明
図１に、マイクロコントローラー１０を含む本発明の検出システムの回路が示されており、マイクロコントローラーは、モトローラ社のモデルＭＣ６８ＨＣ０５であって良い。マイクロコントローラー１０は、ＬＥＤ発光器パルスを生成し、同期的に受信器の状態を示し、上昇／降下カウント検出アルゴリズムを実行し、視覚的表示器、アナンシエータ（呼出表示器）又は更なる処理回路への検出出力信号を生成する。マイクロコントローラー１０の機能は、その他のマイクロコントローラー、マイクロプロセッサ又は論理ゲートの固定アレイによって実行できるであろう。
マイクロコントローラー１０は、共振器１１によりクロックが与えられているが、別の態様では、以下に説明されるように、作動のシーケンスを制御する内部プログラムによって独立的に作動される。マイクロコントローラー１０は、線１３上にパルス信号を発し、ＦＥＴ１５を駆動して抵抗１７及び赤外線ＬＥＤ１２の形式の発光器に電流を引き通し、光エネルギーのパルスを発する。ＬＥＤ１２は、Ｔ−１  ３／４スタイル・プラステックパッケージ・シーメンス（Siemens）モデルＳＦＨ４８４赤外線ＬＥＤであって良いが、可視光ＬＥＤやレーザーダイオードのような高速応答によって特徴付けられる多くのその他の光源のうちの一つでも良いであろう。ＬＥＤ１２は、監視される空間の或る区域の予定された部分へパルス状光エネルギーのビームを発するよう向けられる。パルスは、図２に示されている如き矩形波パルスである。この形式の乗物盲点検出器システムにおいて上記のようなＬＥＤを複数使用することは、引用としてここに組み込まれている上記のジュドスへの米国特許第５，４６３，３８４号に完全に開示されている。
受信器又は光検出器１４は、光エネルギーを検出するべく一対の同一のフォトダイオード（１６と付されてそのうちの一方が示されている）を採用しており、そして、ＬＥＤ１２により発せられた光エネルギーのビームを含む空間の監視区域内の視野を有し、監視区域内の対象物によって反射されたビームの光エネルギーを検出する。フォトダイオード１６は、感知された又は受信された光エネルギーを光エネルギーの強度に比例した光電流へ変換する。以下に詳述するように、フォトダイオードの一方は、正（＋）の電流信号を出力し、他方のフォトダイオードは、負（−）の電流信号を出力する。フォトダイオード１６は、Ｔ−１  ３／４スタイルプラスティクパッケージ・シーメンスモデルＳＦＨ２０３又は変調された光パルスに素早く応答するその他のフォトダイオード若しくはフォトトランジスタであって良い。各々のＬＥＤ発光器は、フォトダイオードの対を含む光検出器と対になっている。多数のこれらの発光器−フォトダイオードの対が、以下に詳述されるように、監視区域の対象物の存在を検出するべく、空間の或る区域又は立体的な区域を監視する検出システムに使用される。
また、抵抗１９及びキャパシタ２１が設けられ、光伝導的な作動においてフォトダイオード１６を逆バイアスするために用いられる電力源電圧に通常乗っている高周波ノイズからフォトダイオード１６が充分に隔離されることを保証することを助ける。感知された光エネルギーに応答してフォトダイオード１６により発展される光電流は、抵抗２３を通過し、抵抗２３の両端において感知された光エネルギーに比例した電圧を発展する。これには、反射されたパルス状赤外線光エネルギーと周囲の光の双方が含まれる。抵抗２３上の電圧のＡＣ成分は、キャパシタ２５に接続されオペアンプ２７によって増幅される。使用されているオペアンプの全ては、テキサス・インスツルメンツのモデルＴＬＣ２７２ＣＤ又は、回路についての最大感度の計算において説明される回路及び増幅器ノイズの利得−帯域幅要件に合う商業的に利用可能な汎用オペアンプであって良い。
好ましくは、光検出器の信号は、ここでは５−２５ｋＨｚに制限された帯域幅であり、図２のｂにて示されているようにパルス応答及びフライバック応答の双方を生成する。オペアンプ２７は、比較器２２の入力ピンへの抵抗２９及びキャパシタ３１を介する所謂「高速経路」１８と抵抗３３及びキャパシタ３５を介する所謂「低速経路」２０とを駆動する。これは、比較器２２をゼロ・オフセットにセルフ・バイアスし、感知された光エネルギーの高周波成分に対してのみ応答する。
任意的に、比較器２２は、マイクロコントローラーにより抵抗３７に置かれる電圧によりバイアスされ固定閾値を提供するように成っていて良い。比較器２２は、ナショナル・セミコンダクター  モデルＬＭ３１１ＭＡ又は、約１μ秒の応答時間を満足する多くの商業的に利用可能な比較器のうちの何かであって良い。比較器２２の出力信号は、図１に示されているように、受信された信号を処理するためにマイクロコントローラー１０へ供給される。
図２に示されている信号波形は、発光されたＬＥＤ矩形波パルスａから増幅器の応答ｂへ進み、ガウス・ノイズｃを加算され、ノイズと応答を足した波形ｄを生成し、比較器２２の出力ｅが生成される。もしシステムにおいてノイズが存在していないとすれば、発せられたパルスの受信に応答する増幅器の応答は、オペアンプ２７の出力において、ｂにあるように現れるはずである。しかしながら、作動するシステムは全て、ｃに示されたものと同様の時間領域の特徴を有するランダム・ノイズの種々の源を本来的に含んでいる。
上記のようなランダム・ノイズ源は、抵抗内の原子の熱的活動、半導体接合を通過する電流及び抵抗を通過する電流を含む。また、ノイズ源には、周囲の光によって生成されるフォトダイオード内のショットノイズが含まれ、それは、フォトダイオードの半導体接合を通過するＤＣ電流を生成する。その他の源は、オペアンプ回路の抵抗性及び接合要素内に見出される。オペアンプ２７の出力における応答は、ｄに示されているように、発せられたパルスの受信された反射に対する増幅器の応答に印加されて結合する前記のノイズとの算術的な和となる。
受信された信号ｄに対する応答した比較器２２の出力は、ｅに示されているような形態を取る。比較器の出力は、ｄが長期間の平均値よりも大きい如何なる時間においてハイ（ｈｉｇｈ）状態に行き、逆にｄが長期間平均よりも小さい場合にロー（ｌｏｗ）状態に行く。ｅの初めの１０μ秒間の検査では、パルスの応答は存在せず、比較器の出力は、ノイズのランダムな状態に依存して任意の時点で等しくハイ若しくはローとなる。パルス応答が加えられ、そのピークの近傍では、１０μ秒から２５μ秒の期間において、比較器の出力は、ローよりもハイになりやすくなる。パルス応答のフライバック期間（３３μ秒から４７μ秒まで）においては、比較器の出力は、ハイよりもローになりやすくなる。
上記において、反射されたパルスの受信に対する増幅器の応答が、大きければ大きいほど、比較器の出力がピーク応答の期間においてハイとなり、フライバック応答期間においてローとなる確率が増大されることが明らかである。ピーク及びフライバック応答の間の比較器のこれらの特性は、ここに説明されるように、改良された検出アルゴリズムの基礎として有用に採用することができるということが見出された。
従来技術の検出アルゴリズムは、誤検出の発生を低減するために、予想されるノイズレベルよりも充分高い固定閾値を確立することに依っている。これらのシステムに閾値が必要なのは、もしゼロの閾値を有する検出システムが発光された信号の反射が存在していないときに２０μ秒の時点で比較器の出力を標本抽出したとすると、標本のうちのランダムな５０％は、平均値よりも上であり、誤検出してしまうためである。ピーク応答に＋１を乗算し、フライバック応答に−１を乗算し、積分するアナログ乗算器及び積分器を追加することを考えると、ランダムノイズは、乗算器の符号に関連されないので、これにより得られるシステムは、閾値よりも上の信号の５０％の検出をして誤検出を生成し、非常に望ましくない。
本発明は、システムの評価方法における変更を提供する。具体的には、システムの評価方法は、各標本を独立的に寄与するものとして処理するデジタル化された又は線形の従来技術から、ゼロ閾値を使用しながら、予定された時点に得られた比較器出力の標本の動作の確率が誤検出の発生を最小化する態様で応答を評価するために用いられるものに変更される。この方法は、二つの形態を取り、その双方とも、発せられたビームの反射からの予想される応答である正当な信号の検出についてカウントを上昇し、それ以外の全ての応答についてカウントを降下するカウンタを採用する。デジタル積分器システムにおいては、上限及び下限においてカウントを制限することが普通であり、ここでは、０及び１５が用いられている。１５までのカウントのみが対象物検出信号を生成する。
「二項ＡＮＤ」法と呼ばれる一つの形態又は実施例においては、二つの標本が、反射された発光器の光パルスからの主要なピーク及びフライバック応答が予想されるときの隣接する二つの時点で採られる。正当な信号が存在していない場合においては、カウントを降下する方向に本来的なバイアスが生成される。「単一検査」法と呼ばれる他方の形態においては、単一の標本が、応答が予想される時点で採られる。正当なパルス反射信号が存在していない場合にカウントを降下する方向にバイアスが与えられるようシステムはプログラムされる。
二項ＡＮＤ検査法を用いる場合、検出システムは、２０μ秒と４０μ秒の時点で図２の比較器出力ｅを標本抽出するようプログラムされている。各々の標本は、二つの可能な状態を有しており、各々の状態は、ノイズがランダムであるので、発生確率が等しい。このことによれば、四つの異なる状態が生じ、その各々の発生確率は、表１に示されているように等しい。
0003893155.tif 000002
表１のシーケンス（状態の順番）の全てはノイズのみ存在する場合に生ずるが、図２ｅは、反射された信号が存在する場合には、ハイ、ローのシーケンスが生ずることを示している。その他の三つのシーケンスは、不当な検出として考えられる。従って、アップ／ダウンカウンタの規則は、ハイ／ローのシーケンスのみが正当な検出と考え、「カウント上昇」が生ずるように設定される。かくして、感知されるパルス反射が存在しない場合には、ランダムノイズは、アップ／ダウンカウンタを３：１の割合でカウントが降下する方向にバイアスすることとなる。重要なことは、比較器の応答の振幅は、無関係であるということである。隣接する応答の標本のシーケンスのみが、応答の正当性を決定するのに考慮される。このことは、ゼロ閾値の使用を可能にする。このシステムのカウントを降下する方向への本来的なバイアスにより、誤又は不当な対象物信号を生成する確率を最小化して検出の信頼性が改良される。
図３において、ガウス・ノイズの存在下におけるゼロ閾値・二項ＡＮＤ検出システムの種々のカウント・ステップ長さ（数）についての不当検出の速度、又は誤警告速度（ＦＡＲ）が示されている。ＦＡＲは、
ＦＡＲ＝（２／３）・（１／３）n
：ここでｎ＝カウンタ・ステップの数。
の式で直接的に計算することができる。ＦＡＲは、ノイズが増大しても一定に維持されるので、この検出法は、周囲のノイズが増大した結果として誤検出が増大してしまうということがない。
ノイズの無いシステムにおいては、検出閾値は、「非検出と検出との間の境界を横切る信号レベル」として定義される。ノイズを伴う検出システムにおいては、検出閾値は、「任意に与えられた瞬間における検出確率が５０％である信号レベル」となる。アップ／ダウンカウンタシステムにおいては、検出の状態はカウントが完全に上昇し切った際に宣言され、非検出の状態は、カウントがゼロに到達した際に宣言されるようになっており、検出閾値は、「上昇／降下カウントがゼロになる確率とカウントが最大になる確率が等しくなる信号レベル」として定義されよう。この状況は、カウントを上昇させる確率が、カウントを降下する確率に等しいときのみ生ずることとなる。
このことを行うために、受信される反射された光パルスに対する比較器の応答は、ハイ／ローの標本応答シーケンスの確率が５０％になる程度までノイズをオフセットしなければならない。図４は、ガウス統計に従うランダムな変数についての確率密度関数を示す。ｃスケールは、或る与えられた値が或る値よりも下である累積確率を示す。反射された光パルスが感知されていない場合のように、確率分布関数上で中心に置かれると、応答値がローになる累積確率は、５０％になる。図４によれば、もしノイズ振幅へオフセットを与える受信される反射された光パルスが１σに等しければ、比較器の応答がハイとなる確率は、８４．１３％となる。
以下の表２は、閾値における確率（ハイの応答の確率＝Ｐ（１）、ローの応答の確率＝Ｐ（０））を定義しており、結合確率が５０％になるためには、累積確率が、ハイ／ローのシーケンスの標本の各々について７０．７１％にならなければならないことを示している。この解析においては、帯域幅制限周波数の選択により負のフライバック応答が大きさにおいて実質的に正の反射された光パルスの応答に等しくされるという単純化する仮定が含意されている。図４は、７０．７１％の累積確率を達成するために、受信された信号がノイズを０．５７σだけオフセットしなければならないことを示している。従って、この単純なアップ／ダウンカウンタの方法についての閾値は、ノイズのＲＭＳ振幅の５７％であるということになる。図４のｃスケールの値を使用することによって、非検出と検出との収縮遷移を示す図５ａに描かれているように、任意の信号対ノイズ比についての検出確率を導くことができる。
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表１及び２に例示され上記に説明された単純な上昇／降下カウントのアルゴリズムは、正当な検出信号が存在していない場合にカウント降下にバイアスする多くの可能なアルゴリズムのうちの一つにすぎない。上昇／降下カウントの比を操作することによって、その他の閾値を設定することができる。正当な検出信号が存在していない場合にカウントを降下する方向にバイアスを有していることが必要であることを理解することが重要である。
例えば、比較器の上昇／降下の応答のシーケンスについて一つの上昇カウントを２とし、他の応答の全てについて一つの降下カウントを１とするようカウントが調節されると、応答においてノイズのみが存在する場合には、３：２の割合でカウント降下の方向にバイアスするようにできる。このことにより、図６に示されているように、２：１の上昇／降下カウント比と〜０．２σの閾値とを得る。同様に、一つの上昇カウントを３、一つの降下カウントを２とすれば、２：１の割合でカウント降下の方向にバイアスされ、〜０．３８σの閾値で１．５：１の上昇／降下カウント比が得られる。上昇／降下カウント比を変更することは、検出アルゴリズムの一部として又は構成上の選択として、ヒステリシスを実行するべく閾値を変更することに用いることができる。
単一検査法が使用される場合には、フライバックの負の応答は無視され、（＋）出力を生ずる、予想された主要なピーク応答のみが標本抽出される。二項ＡＮＤ法と同様な結果を達成するために、このシステムは、カウントを降下するようバイアスされる。このことは、（＋）信号については、カウントを１上昇し、（−）信号については、カウントを３降下することによって達成される。０．７１σの出力について、（＋）カウントの確率は０．７５であり、（−）出力については０．２５であるので、単一検査法についての閾値は、ノイズのＲＭＳ振幅の７１％である。任意の信号対ノイズ比についての検出の確率は、図５ａに示されている。
図５ａは、二項ＡＮＤ法と単一検査法の双方が同様の性能を生成することを示している。図５ｂは、図５ａと同じデータであるが、縦軸が対数スケールになっており、二項ＡＮＤ法の優れたＦＡＲ性能を示している。標本抽出された各パルスが２ｍ秒離れていると仮定すると、単一検査法は、統計的に作動中毎分５回の誤警告を生成するが、二項ＡＮＤ法は、８時間毎に一度のみ誤警告を生成するにすぎない。二項ＡＮＤ法の優れたＦＡＲ性能の理由は、各々のパルスについて二重のノイズ統計的検査をすることに関連する。もちろん、双方のシステムのＦＡＲ性能は、カウントを１５状態以上まで延長することによって改善することができる。
或る作動状況では、その他の消極的な副次的な作用を防ぐために検出が最大の感度を使用することが必要となる。例えば、日光中の作動中のノイズの主な寄与物が、光電流に誘起されるショットノイズならば、このノイズ源が真っ暗な条件下での作動中においては存在せず、これにより、閾値が第一の増幅器の内在的なノイズによって制御されることとなる。
検出システムの最大感度を制限するのに利用可能な方法がいくつか存在する。種々の増幅器構成のノイズ性能においては実質的に変化があるので、増幅器構成の選択は、検出システムの最大感度を制限する一つの方法である。もう一つの方法は、図１の抵抗３７の如く、ハイ又はローに引かれる抵抗を追加することによって、比較器の入力上に固定されたオフセットを与えることである。固定オフセットは、ノイズが固定閾値に比して大きい場合にはノイズに対する適当な非感受性を維持しながら、ノイズレベルが固定閾値に比べて小さいときに誤検出速度を改良するという更なる利点を有している。
前記の検出システムは、パルス期間当たりに二重の標本を得ることについて説明されているが、その他の標本抽出技術も使用できるであろう。ピーク及びフライバック応答期間中に更に標本が得られてもよいが、重要性を追加するためのものとするには、これらの追加的な標本は、ノイズについてその他の標本と適当に非相関でなければならない。
例えば、図２において、１２μ秒と２２μ秒の時点で応答が標本抽出され、帯域幅が２５ｋＨｚに制限されている場合、標本間が１０μ秒間であれば、それらの標本は、強く相関されており、システムにとってほとんど重要性を与えない。図２は、約１ＭＨｚのノイズ帯域幅について描かれており、これについては、多数標本抽出の方策は有効となろう。しかしながら、広範な帯域幅は、いくつかの短所を有している。それは、ノイズレベルを増大するので、追加的な標本抽出により得られる改良を中和してしまう。また、実際上、反射されたパルスの負のフライバック応答が除去され、結果的に、ある時点で標本抽出した値も除去される。かくして、最も単純で最も有効な構成の方策は、上記のように、ノイズを最小にして、比較器応答を形成する帯域幅を低減し、二つの離れた時点で標本抽出をすることである。
図７は、本発明の検出システムに適合する乗物を示している。乗物４０は、乗物の運転者から直接又はミラーにより見ることの出来ない「盲点」である後方空間区域４６及び４８を監視するために、その右尾燈４２内若しくは近傍又は左尾燈４４に若しくはその近傍において検出器ユニットを装着している。図示されているように、区域４６及び４８は、盲点領域内にある隣接する車線にある乗物を検出するような大きさにされており、それらだけで、運転者が車線を変更する場合の危険を表示する。
盲点は、隣接の車線のみをカバーするように意図されており、標識、フェンス、壁等の道路脇の対象物は含まれない。この盲点は、乗物のタイプや道路の状態により変化することとなろう。例えば、盲点は、狭く曲がった道を通過する場合には、収縮するべきであり、トラック、乗用車、天井の上がるコンバーチブルなどの種々の乗物のタイプにより変化することとなる。
図８及び９には、検出器モジュール５０が示されている。ほとんどの自動車について、運転者側の検出器ユニットは、かかるモジュール５０を二つ含み、乗客側は、かかるモジュール５０を一つ含み、側によって異なる盲点に適合する。各々のモジュール５０は、中央の発光器ユニット５２と端部の検出ユニット５４及び５６を含み、各々は透明なレンズ５２ａ、５４ａ及び５６ａにより覆われている。
ユニット５２は、６個の発光器ＬＥＤ６２ａ、ｂ、ｃ、ｄ、ｅ及びｆを基台５３上に装着している。検出器ユニット５４は、６４ａとａ’、ｂとｂ’、ｃとｃ’、ｄとｄ’、ｅとｅ’及びｆとｆ’と付された６対の正及び負の信号生成フォトダイオード検出器を基台５５上に装着している。検出器ユニット５６は、同様に、６６ａとａ’、ｂとｂ’、ｃとｃ’、ｄとｄ’、ｅとｅ’及びｆとｆ’と付された６対の正及び負の信号生成フォトダイオード検出器を基台５７上に装着している。更に、基台５７は、特別の目的のＬＥＤ５８とフォトダイオード６０及び６１を装着している。
ＬＥＤ６２ａ−ｆは、それらの発せられた光エネルギービームの各々が監視区域の独特の部分へ向けられるように注意深く基台５３上に装着される。このことは、米国特許第５，６７５，３２６号（ここで引用として組み込まれている）に完全に示されており、また、同特許は、監視区域のこれらの独特な部分を選択するのに用いられる方法を開示している。フォトダイオードの対６４ａ、ａ’−ｆ、ｆ’は各々、ＬＥＤ６２ａ−ｆによって発せられたビームのうちの一つを監視する（即ち、ビームのうちの一つを含む視野を有する）べく基台５５上に装着される。かくして、監視区域内の乗物などの対象物により反射された監視される光エネルギービームの如何なる部分も、監視をするフォトダイオードの対により受信される。
同様に、フォトダイオードの対６６ａ、ａ’−ｆ、ｆ’は各々、ビーム６２ａ−ｆのうちの一つを監視するべく基台５７上に装着される。再び、監視区域内の乗物により反射された監視される光エネルギービームの如何なる部分も、監視をするフォトダイオードの対により受信される。かくして、発光器ユニット５２により発せられた光ビームのうちの一つからの反射は、検出器ユニット５４及び５６の各々におけるフォトダイオードの対によって受信される。
前記の米国特許第５，４６３，３８４号に示されている如き、古い検出器システムは、監視区域を越える不均一な反射性の対象物（標的とも呼ばれる）により惹起される誤検出の問題により悩まされていた。同じ発光器ビームを監視する検出器の両方の対を使用することによって提供される三角法は、劇的にそれらの誤検出を低減する。
図１６に示されているように、基台７０は、発光器ＬＥＤ７２と正及び負のフォトダイオードの対の両対７４ａ、７４ｂ及び７６ａ、７６ｂを装着する。ＬＥＤ７２に近い方のフォトダイオード７４ｂ及び７６ｂにより生成される信号の極性が双方とも負（−）であり、ＬＥＤ７２から遠い方のそれらのフォトダイオードの極性は双方とも正（＋）であることに注意されたい。もし監視区域の境界を越える標的（又は対象物）がＬＥＤ７２から発せられたビームの光エネルギーを反射すれば、フォトダイオード対７４ａ、７４ｂ及び７６ａ、７６ｂ上に各々対応する光像７８及び７８’を生成することとなる。像は、内側のフォトダイオード７４ｂ及び７６ｂ上により多く入るので、出力信号は、極性が負となり、検出信号を生成しない。もし監視区域の境界を越えて配置された不均一な反射性標的が検出されれば、スポット７８及び７８’の上方又は下方において明るさが不均一になる。その結果の出力信号は、（＋）及び（−）となり、互いに打ち消し合って検出信号を生成しない。
前記の米国特許第５，４６３，３８４号に示されている如き従来技術のシステムにおいて、すべてのフォトダイオードの対の出力は、すぐに加算され複合的な出力信号にされた。もしいずれかの発光器／検出器ユニットが製造中にわずかに誤って配列され、それらの実際の検出の境界が所望の境界よりも小さい又は越えている場合には、誤検出が生じ得た。このことを回避するためには、非常に正確で且精密な製造技術が、非常に小さい構成要素について非常に厳しい許容誤差による一致を保証するべく必要とされた。例えば、各々六つの発光器又は検出器対を装着するモジュール５０のユニットは各々、５．１ｍｍ（２．０”）の中心上において直径わずか３８ｍｍ（１．５”）である。フォトダイオードは各々、２．０ｍｍ（０．０８０”）平方であり、±０．０５ｍｍ（０．００２”）の許容誤差内でそれらの発光器に対して装着されることとなる。
本発明は、予定された検出境界を生成するために発光器／検出器ユニットの各々の電子的な調節を提供することにより、許容誤差を緩め、製造中の誤った配列を解決することのできる手段を提供する。図１０は、モジュール５０の検出器ユニット５６の部分についての電気回路を示している。他方の検出器ユニット５４は、同一の回路に、更に電力回路を含む。
図１１は、検出器ユニット５４及び５６により生成される光検出信号を処理するための回路を示している。
フォトダイオード６６ａ’−ｆ’により受信される光エネルギーは、デマルチプレクサ９０へ伝送される出力信号を生成し、フォトダイオード６６ａ−ｆからの出力信号は、デマルチプレクサ９２へ伝送される。デマルチプレクサ９０及び９２からの出力は、増幅器９４及び９６へ各々送られる。増幅器９４及び９６からの正及び負の出力信号は、図１０及び１１において各々９８及び１００と示されている。
検出器ユニット５４からの信号は、同様に回路により処理され、それらの正及び負の出力信号は、各々１０２及び１０４で示されている。負の信号９８及び１０２は結合されて増幅器１０６へ供給される。正の信号１００及び１０４は結合されて８ビット・シリアルＤ．Ａ．Ｃ．（デジタル−アナログ変換器）１０８へ供給される。かくして、この回路は、正の信号を負の信号とは別に処理する。
Ｄ．Ａ．Ｃ．１０８を用いることによって、正のアナログ出力信号のための０から２５５までの乗算係数を提供する。ここで、２５５は、Ｄ．Ａ．Ｃ．１０８による単位利得を表す。増幅器１０６からの出力の負の信号１１２は、抵抗１１４及びフィードバック１１６の存在による５０％の増幅倍率若しくは利得を有する。Ｄ．Ａ．Ｃ．１０８は、ＥＥＰＲＯＭ１２６の管理下で線１２２、１２４を介してマイクロプロセッサ１２０により制御される。かくして、Ｄ．Ａ．Ｃ．は、増幅器１０６からの負の出力信号１１２に関連して選択的に可変の正の出力信号１１０を提供する。
信号１１０及び１１２について利得バランスを得るために、正の信号上に与えられるこの可変の利得は、５０％でなければならない。これは、Ｄ．Ａ．Ｃ．１０８の１２７．５の値に対応する。信号１１０は、増幅器１２８によって増幅され、増幅器１３０にて信号１１２と結合される。従来技術のシステムにおいては、正及び負の信号は、フォトダイオードで結合されていたことに注意されたい。しかしながら、ここでは、フォトダイオードからの正及び負の信号の結合を前記のように遅らせることで、正及び負の信号の強さの関係を変更することが可能となる。
検出システムの構成においては、ＬＥＤ及び光検出器の幾何的形状は、各々の検出ユニットが予定された監視区域の境界を郭定するよう予定されたカット・オフ距離を提供するようになっている。境界の距離よりも近くに検出される対象物は正味の正の信号を生成することとなり、一つの検出を生ずる。境界の距離を越えて検出される対象物は、正味の負の信号を生成することとなり、検出は生じない。監視区域の境界において検出される対象物は、消滅する（ゼロになる）等しい正及び負の信号成分を生成することとなる。システムは、正味の正の信号を受信したときのみ検出信号を生成するよう構成されているので、両方の信号が結合されてゼロになる場合は、検出信号は生じない。
図１７及び１８は、単一の例示的なフォトダイオード対１４０、１４２を示している。この検出システムにおいては、図１７に示されているように、予定された境界距離についての受信された像Ｉがフォトダイオード１４０、１４２の双方に均等に入るようビームと視野とが向けられるように、各ＬＥＤとそれに関連するフォトダイオードが装着される。しかしながら、わずか１インチの数千分の１（又はミリメートル）の製造中の変位によって、図１８に示されているように、ＬＥＤとフォトダイオードとの幾何的な関係が境界にて検出された対象物について偏った像Ｉを生成してしまうようになったユニットが製造されることと成り得る。像Ｉは、負のフォトダイオード１４２に多く入るので、正味の負の信号が生成され、これは、監視区域を越える対象物の検出を指示する。
かくして、このわずかな幾何的な誤差をもって、検出システムは、境界距離とそれより近い距離との間で検出され図１７のバランスされた像Ｉを生成するはずの対象物について検出信号を生成しないこととなる。これは、非常に望ましくない事態である。もし機械的な誤差が反対の方向の幾何的誤差を生ずる場合は、反対の状態も生ずることとなろう。この場合は、境界で検出される対象物について像Ｉは正のフォトダイオード１４０上に多く入るという状態が生ずる。この状態は、境界とそれより大きい距離との間の距離での検出物について図１７のバランスされた像Ｉを生成することとなる。これは、同様に望ましくない。
本発明は、負の信号１１２の利得に関連して正の信号１１０の利得を変化することによって、機械的な幾何的誤差を電子的に修正するための手段を提供する。これは、信号１１０の利得が境界距離における信号１１２の固定された利得に等しくなるまでＤ．Ａ．Ｃ．１０８が信号１１０の利得を増大又は低減するようプログラムすることによって達成される。この態様では、すべての検出システムの正確な校正が製造中の変位にかかわらず達成される。
これを達成するために、シリアルデータ線１５４及び１５６を介してマイクロコントローラー１２０へ接続される出力１５２を有する手持ちの校正制御ユニット１５０が提供される。ユニット１５０は、数値で指示された離散的な位置を有する回転スイッチ１５８と、一対の動作押しボタン１６０及び１６２と、一連の指示器ＬＥＤ１６４とを含む。位置の数値の各々は、フォトダイオード又は特別な光検出器に対応する。
マイクロコントローラ１２０は、選択されたＬＥＤ−フォトダイオードのユニットのＬＥＤが繰返しパルスを発せられる間に、Ｄ．Ａ．Ｃ．１０８が信号１１０の利得を０から始めて順々に増大させるようプログラムされる。利得は、パルス状光エネルギーの反射によりシステムが線１７０を介してマイクロコントローラー１２０へ検出信号を発するまで増大される。そして、検出信号は、カウンタが或る値に到達するまで、例えば５までカウントされ、そこにおいて、マイクロコントローラー１２０は、閾値距離が到達されたことを認識する。これが生ずると、選択されたＬＥＤ−フォトダイオードユニットについてのＤ．Ａ．Ｃ．１０８の利得値設定がＥＥＰＲＯＭ１２６に保存される。これは、電子的に検出器から０の距離における閾値から始まり、標的が検出されるまで動かし、その後、ＥＥＰＲＯＭ１２６に電子的に設定するという処理である。
モジュール５０を校正するために、標的は、検出モジュールから正確に境界カット・オフ距離に設定される。回転スイッチ１５８により位置の数値が選択され、押しボタン１６０が押されると、校正制御ユニット１５０が選択されたＬＥＤ−フォトダイオードユニットの校正を開始するようマイクロコントローラー１２０に指示をする。信号１１０についてのゼロにする利得値が到達されると、その選択されたＬＥＤ−フォトダイオードユニットについて、校正データがＥＥＰＲＯＭ  １２６に保存される。この手続は、その後、ＬＥＤ−フォトダイオードユニットの各々について、標的を位置決めし、続いて回転スイッチ１５８で位置の数値の各々を選択し、ボタン１６０を押すことによって繰返される。
その後、検出システムが乗物上に装着され、動作されると、各ＬＥＤ−フォトダイオードユニットについての校正データがＥＥＰＲＯＭ  １２６から読まれ、Ｄ．Ａ．Ｃ．１０８へ送られる。もし状況によって異なる大きさ及び形状の監視区域が使用されるべきであるということになれば、上記の校正手続を、異なる標的の配置を用いて再び実行することができる。
この校正手続は、各ＬＥＤ−フォトダイオードユニットを別々に校正することができ、製造中の寸法的及び幾何的変位の効果を除去することができる。また、フォトダイオードの製造中の変位の結果により導入されるフォトダイオードの不釣合も除去することができる。最大の利点は、（１）許容誤差を緩和することによる製造費用の低減、（２）境界距離の誤差の除去及び（３）異なる条件に適応するべく境界距離を選択的に変更可能であることである。
図８及び９を参照すると、ＬＥＤ６２ａ−ｆによって発せられ監視区域内の対象物から反射されたビームの部分を検出システムのフォトダイオード対６６ａ、ａ’−ｆ、ｆ’が信頼性よく検出することを妨げるほど弱らせる、例えば、ほこり、すすなどの汚染物の被覆を検出ユニット５０が有している場合を検出するために、特別なＬＥＤ５８とフォトダイオード６０が設けられている。ユニット５０のレンズ５２ａ、５４ａ及び５６ａは、好ましくは（しかし必須ではない）透明なカバー５１で覆われ、それを通って発せられたビーム及びそれらの反射は進行する。ＬＥＤ５８及びフォトダイオード６０は、それらがカバーのうちの発せられたビーム若しくは感知される反射が通過する領域を監視するように配置される。かくして、発光器／検出器の対の機能する能力が直接的に監視される。
ＬＥＤ５８は、受信器ユニット５０内においてそのビーム５８ａを鉛直に対し或る合成角にて投影するよう配置される。図８を参照して、ＬＥＤは、９時の位置にあり、ビーム５８ａは、右方向及び下方向に変位され、６時の位置に置かれたスポットＳにてレンズ５６ａに当たる。フォトダイオード６０は、同様に、その視野６０ａとビーム５８ａとの交差する位置がフォトダイオード対６６ａ、ａ’−ｆ、ｆ’によって感知される反射されたビームの通るレンズ５６ａの領域内に置かれたスポットＳとなるような角度にむけられる。
もしビーム５８ａがレンズ５６ａ上に対してレンズ５６ａの前表面又は後表面に垂直又はほとんど垂直になる点にて当てられると、ビーム５８ａは、後方散乱を生じ、これは、光センサ６０によって検出されることとなってしまう。これは、誤って弱光レンズ被覆を指示することとなろう。しかしながら、図８及び９にあるように配置される場合には、ビーム５８ａは、レンズ５６ａの前表面又は後表面のいずれにも垂直ではなく、したがって、ビーム５８ａは、後方散乱することなく、きれいなレンズ５６ａを通過することとなる。かくして、光センサ６０により検出される光エネルギーは、レンズ５６ａの外側を覆うほこりにより反射されたビーム５８ａからの光となる。もちろん、ＬＥＤ５８とフォトダイオード６０は、発光器ユニット５２若しくは検出器ユニット５４内において同様に配置することができるであろう。
図１３、１４及び１５は、基台５７上において合成角にてＬＥＤ５８及びフォトダイオード６０を装着するための要素ホルダ−８０を示している。ホルダ−８０は、ＬＥＤ５８及びフォトダイオード６０を装着するための平坦な基台８２及び筒８４及び８６を有する。基台８２は、合成角１７°になっており、ホルダー８０が基台５７に装着されると、ビーム５８ａ及び視野６０ａはスポットＳにて交差する。従来技術の汚れ窓検出器は、実際の受信器レンズに隣接して装着される別のユニットであり、受信器レンズ上の実際の汚れ状態を監視しなかった。本発明の汚れ窓検出構成は、実際の受信器レンズの状態を更に正確に決定する。また、検出器モジュールの内部に組み込まれており、この構成は、製造を容易にし、費用を低減する。
上記のＬＥＤ−フォトダイオードユニットの校正は、特別なＬＥＤ５８及びフォトダイオード６０を含む汚れ窓検出ユニットの作動を校正するためにも用いられる。フォトダイオード６０は、正の極性を有しているので、Ｄ．Ａ．Ｃ．１０８によって利得の変動を受ける。このユニットを校正するためには、シーツ又はスクリムカーテン材料（図示せず）に類似のものであって半透明であるが予定された量の反射率（例えば、２０％）を有するメッシュの開いた布が、許容され得るレンズ上に蓄積する汚れの最大量を表すためにレンズ５６ａの上に置かれる。蓄積がこれより多くなると、検出システムによる監視区域内の対象物の許容可能な検出作動を妨げるのに充分ほど半透明性を低減することとなる。
回転スイッチ１５８は、適当な位置に指示される。その後、布が置かれ、制御ユニット１５０上の押しボタン１６０が押し下げられ、上記の校正作動が行われる。検出信号がカウントされる値に到達するまで、利得が増大されながら、ＬＥＤ５８により連続的にパルスが発せられる。かくして得られた閾値利得値は、汚れ窓検出ユニットが作動される場合に使用されるべくＥＥＰＲＯＭ  １２６に保存される。この手続は、異なる強度を有するＬＥＤを使用する場合及びフォトダイオードの変化に適応する。前記の米国特許第５，４６３，３８４号に更に完全に記載されているように、「オン」検査を実行するためにフォトダイオード６１が設けられる。
本発明の好ましい実施例のみが例示され記載されているが、それらの明らかな変更は、以下の請求の範囲の範囲内で考慮される。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５ａ】
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【図５ｂ】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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