(57)【要約】【課題】複数発光部の光源を用いた場合の複数ライン並行発光における光ビームの位置ずれを適切に調整する。【解決手段】複数発光部からの複数の光線を像担持体の主走査方向に走査して複数ライン分の発光を並行して行い、像担持体を前記主走査方向と直交する副走査方向に駆動する画像形成装置において、主走査方向に等間隔な第１ピッチで配置される副走査方向線を、任意の光ビームからなる第１光ビーム群で画像形成する第１パターンと、前記第１パターンと副走査方向に接する位置で、主走査方向に等間隔であって前記第１ピッチとは異なる第２ピッチで配置される副走査方向線を、前記第１光ビーム群とは異なる光ビームからなる第２光ビーム群で画像形成する第２パターンと、を有するテストチャートを出力する。【選択図】図１
2013151114.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数発光部からの複数の光ビームを像担持体の主走査方向に走査して複数ライン分の発光を並行して行い、前記主走査方向と直交する副走査方向に前記主走査方向の発光を繰り返して行うよう制御する制御部を備えた画像形成装置であって、
主走査方向に等間隔な第１ピッチで配置される副走査方向線を、任意の光ビームからなる第１光ビーム群で画像形成する第１パターンと、
前記第１パターンと副走査方向に接する位置で、主走査方向に等間隔であって前記第１ピッチとは異なる第２ピッチで配置される副走査方向線を、前記第１光ビーム群とは異なる光ビームからなる第２光ビーム群で画像形成する第２パターンと、
を有するテストチャートを出力する機能を有する、
ことを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記制御部は、前記テストチャートに含まれる前記第１パターンと前記第２パターンとにおける前記副走査方向線の整列状況に基づいて、前記複数発光部の発光タイミングを決定する、
ことを特徴とする請求項１記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記第１ピッチと前記第２ピッチの差、および、前記第１パターンの副走査方向線と前記第２パターンの副走査方向との整列位置の初期位置からの移動量から、前記整列状況を求める、
ことを特徴とする請求項２に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記制御部は、前記前記第１パターンと前記第２パターンとが副走査方向に隣接するように前記テストチャートを構成する、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれか一項に記載の画像形成装置。
【請求項５】
前記制御部は、前記前記第１パターンと前記第２パターンとが、主走査方向及び副走査方向に重なりを有するように前記テストチャートを構成する、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれか一項に記載の画像形成装置。
【請求項６】
前記制御部は、前記テストチャートに含まれる前記副走査方向線を、前記複数発光部に含まれる一部の光ビームにより構成される破線で構成する、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項５のいずれか一項に記載の画像形成装置。
【請求項７】
前記制御部は、前記テストチャート出力時の副走査方向の画像形成速度を通常画像形成時の１／２に設定する、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項６のいずれか一項に記載の画像形成装置。
【請求項８】
複数発光部からの複数の光ビームを像担持体の主走査方向に走査して複数ライン分の発光を並行して行い、前記主走査方向と直交する副走査方向に前記主走査方向の発光を繰り返して行う画像形成装置を制御する画像形成装置の制御方法であって、
主走査方向に等間隔な第１ピッチで配置される副走査方向線を、任意の光ビームからなる第１光ビーム群で画像形成する第１パターンと、
前記第１パターンと副走査方向に接する位置で、主走査方向に等間隔であって前記第１ピッチとは異なる第２ピッチで配置される副走査方向線を、前記第１光ビーム群とは異なる光ビームからなる第２光ビーム群で画像形成する第２パターンと、
を有するテストチャートを出力し、
前記テストチャートに含まれる前記第１パターンと前記第２パターンとにおける前記副走査方向線の整列状況に基づいて、前記複数発光部の発光タイミングを決定する、
ことを特徴とする画像形成装置の制御方法。
【請求項９】
前記第１ピッチと前記第２ピッチの差、および、前記第１パターンの副走査方向線と前記第２パターンの副走査方向との整列位置の初期位置からの移動量から、前記整列状況を求める、
ことを特徴とする請求項８に記載の画像形成装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複写機やプリンタなどの画像形成装置及び画像形成装置の制御方法に関し、特に、複数の光源からのレーザビームを用いて複数ライン分の画像を１回の走査で感光体などの記録媒体に書き込む機能を有するマルチビーム型の画像形成装置の制御に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像形成装置として、画像データに応じた主走査方向の１ライン又は複数ライン毎の画像形成を行うと共に、この主走査方向の画像形成を副走査方向に繰り返して、１頁分の画像形成を行うものが知られている。
【０００３】
その一例として、電子写真方式の画像形成装置では、画像データに応じて変調あるいは点灯制御したレーザビームを像担持体の主走査方向に走査し、これと並行して、副走査方向に回転する像担持体（感光体ドラム）上に、前記レーザビームによって画像を形成している。この場合に、ドットクロックや画素クロックと呼ばれるクロック信号を基準にして、レーザビームを画像データで変調あるいは点灯制御するようにしている。
【０００４】
また、画像形成を高速に、または、高解像度で行うために、ポリゴンミラーの回転数上昇やレーザビームの変調周波数上昇では、装置の大型化やコスト上昇が発生する。そこで、高速あるいは高解像度の画像形成のため、複数のレーザビームを発生可能なレーザダイオード（ＬＤ）などの光源を備え、この複数の光源からの複数のレーザビームを用いて、画像データに応じた主走査方向の複数ライン毎の画像形成を副走査方向に繰り返して１頁分の画像形成を行うものが知られている。
【０００５】
図１４は複数のレーザビームを発生可能な光源ＬＤＵであり、ここでは、ＬＢ１〜ＬＢ４の４レーザビームを発生する発光部ＬＤ１〜ＬＤ４を備えて構成されている。この場合に、光源ＬＤＵに含まれる発光部ＬＤ１〜ＬＤ４は、主走査方向に同一位置、すなわち、副走査方向に沿って配置されている。
【０００６】
一方、光源ＬＤＵを図１５のように、副走査方向に平行ではなく所定角度傾けることで、複数のレーザビームＬＢ１〜ＬＢ４それぞれの間隔を詰めて高精細化を実現することが可能になる。なお、この場合には、各発光部ＬＤ１〜ＬＤ４の主走査方向位置が異なる。
【０００７】
そのため、図１６のように、主走査方向の下流側に位置する発光部ＬＤ４、ＬＤ３、ＬＤ２、ＬＤ１に合わせて、駆動データＶＩＤＥＯ＿４、ＶＩＤＥＯ＿３、ＶＩＤＥＯ＿２、ＶＩＤＥＯ＿１の順にタイミングを調整して発光させるように制御する。すなわち、主走査方向下流側の発光部ほど、発光タイミングを早めるように制御する。
【０００８】
これにより、図１４のように配置された光源ＬＤＵでは図１７（ａ）のようなドットの間隔であったのに対して、図１５のように配置された光源ＬＤＵでは図１７（ｂ）のような狭いドット間隔を実現できる。
【０００９】
ただし、光源ＬＤＵの個体差、光源ＬＤＵの傾け角度の誤差や個体差、駆動データのタイミングの誤差などにより、図１７（ｃ）や図１７（ｄ）のようにドットが傾いた状態に形成される状況が発生する。
【００１０】
このような傾きを有するドット群により副走査方向の線を画像形成すると、図１８のような鋸歯状に繰り返すパターンが発生して、画質の劣化が生じることになる。なお、実際には、縦線だけでなく、縦方向の輪郭、斜め方向の線や輪郭についても、画質の劣化が生じることになる。
【００１１】
なお、複数のレーザビームを用いる場合のずれ検知や調整については、以下の特許文献に記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】特開平１１−１８８９１７号公報
【特許文献１】特開２００５−３３８５７５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
以上の特許文献１では、縦線の重なり具合で主走査方向のドット位置ずれの有無を検知することはできる。しかし、縦線の重なり具合からは、どれだけずれているのかを瞬時に判断することができない問題がある。
【００１４】
以上の特許文献２では、横線の重なり具合で主走査方向のドット位置ずれの有無を検知することはできる。しかし、横線の重なり具合からは、どれだけずれているのかを瞬時に判断することができない問題がある。
【００１５】
そのため、ドットずれ量を調整しつつテストチャートの出力を何枚も繰り返すことで、ドットずれが無くなる最適な調整ポイントを見つけることができるものの、調整に手間や時間が掛かることと、テストチャート出力のために用紙を何枚も使用するために経済的にも環境的にもに好ましくないという問題がある。
【００１６】
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであって、傾いた状態の複数発光部の光源を用いた場合の複数ライン並行発光における光ビームの位置ずれを適切に調整することが可能な画像形成装置及び画像形成装置の制御方法を実現することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
（１）この発明では、複数発光部からの複数の光ビームを像担持体の主走査方向に走査して複数ライン分の発光を並行して行い、前記主走査方向と直交する副走査方向に前記主走査方向の発光を繰り返して行うよう制御する制御部を備えた画像形成装置であって、主走査方向に等間隔な第１ピッチで配置される副走査方向線を、任意の光ビームからなる第１光ビーム群で画像形成する第１パターンと、前記第１パターンと副走査方向に接する位置で、主走査方向に等間隔であって前記第１ピッチとは異なる第２ピッチで配置される副走査方向線を、前記第１光ビーム群とは異なる光ビームからなる第２光ビーム群で画像形成する第２パターンと、を有するテストチャートを出力する機能を有する、ことを特徴とする。
【００１８】
（２）また、この発明では、上記（１）において、前記制御部は、前記テストチャートに含まれる前記第１パターンと前記第２パターンとにおける前記副走査方向線の整列状況に基づいて、前記複数発光部の発光タイミングを決定する、ことを特徴とする。
【００１９】
（３）また、この発明では、上記（２）において、前記第１ピッチと前記第２ピッチの差、および、前記第１パターンの副走査方向線と前記第２パターンの副走査方向との整列位置の初期位置からの移動量から、前記整列状況を求める、ことを特徴とする。
【００２０】
（４）また、この発明では、上記（１）−（３）において、前記制御部は、前記前記第１パターンと前記第２パターンとが副走査方向に隣接するように前記テストチャートを構成する、ことを特徴とする。
【００２１】
（５）また、この発明では、上記（１）−（３）において、前記制御部は、前記前記第１パターンと前記第２パターンとが、主走査方向及び副走査方向に重なりを有するように前記テストチャートを構成する、ことを特徴とする。
【００２２】
（６）また、この発明では、上記（１）−（５）において、前記制御部は、前記テストチャートに含まれる前記副走査方向線を、前記複数発光部に含まれる一部の光ビームにより構成される破線で構成する、ことを特徴とする。
【００２３】
（７）また、この発明では、上記（１）−（６）において、前記テストチャート出力時の副走査方向の画像形成速度を通常画像形成時の１／２に設定する、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【００２４】
この発明では、複数発光部からの複数の光ビームを像担持体の主走査方向に走査して複数ライン分の発光を並行して行い、主走査方向と直交する副走査方向に主走査方向の発光を繰り返して画像形成を行う画像形成装置において、主走査方向に等間隔な第１ピッチで配置される副走査方向線を、任意の光ビームからなる第１光ビーム群で画像形成する第１パターンと、第１パターンと副走査方向に接する位置で、主走査方向に等間隔であって第１ピッチとは異なる第２ピッチで配置される副走査方向線を、第１光ビーム群とは異なる光ビームからなる第２光ビーム群で画像形成する第２パターンと、の２つのパターンを有するテストチャートを出力する機能を有する。
【００２５】
この画像形成装置は、テストチャートに含まれる第１パターンと第２パターンとにおける副走査方向線の整列状況に基づいて、複数発光部の発光タイミングを決定する。ここで、整列状況とは、第１ピッチと第２ピッチの差、および、第１パターンの副走査方向線と第２パターンの副走査方向との整列位置の初期位置からの移動量を意味している。
【００２６】
なお、上記の第１ピッチと第２ピッチとの違いは、バーニヤにおける主尺と副尺との関係に当て嵌める。
【００２７】
このように、テストチャートの副走査方向線の整列状況として、第１ピッチと第２ピッチの差、および、第１パターンの副走査方向線と第２パターンの副走査方向との整列位置の初期位置からの移動量に基づいて、複数発光部の発光タイミングを決定ことで、傾いた状態の複数発光部の光源を用いた場合の複数ライン並行発光における光ビームの位置ずれを適切に調整することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本発明の実施形態の画像形成装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態の画像形成装置の構成を示す説明図である。
【図３】参考テストチャートの一例を示す説明図である。
【図４】参考テストチャートの一例を示す説明図である。
【図５】本発明の一実施形態のテストチャートの一例を示す説明図である。
【図６】本発明の一実施形態のテストチャートの一例を示す説明図である。
【図７】本発明の一実施形態のテストチャートの一例を示す説明図である。
【図８】本発明の一実施形態のテストチャートの一例を示す説明図である。
【図９】本発明の一実施形態の画像形成装置の動作を示すフローチャートである。
【図１０】本発明の一実施形態の画像形成装置の動作を示す説明図である。
【図１１】本発明の一実施形態の画像形成装置の動作を示す説明図である。
【図１２】本発明の一実施形態のテストチャートの一例を示す説明図である。
【図１３】本発明の一実施形態のテストチャートの一例を示す説明図である。
【図１４】複数発光部の光源の様子を示す説明図である。
【図１５】傾いた状態の複数発光部の光源の様子を示す説明図である。
【図１６】傾いた状態の複数発光部の光源の駆動の様子を示す説明図である。
【図１７】複数発光部の光源により形成されるドットの様子を示す説明図である。
【図１８】複数発光部の光源により形成されるドットの様子を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００２９】
以下、図面を参照して本発明を実施するための最良の形態（実施形態）を詳細に説明する。
【００３０】
本実施形態が適用される画像形成装置は、複数の光源からの複数ｎ本のレーザビームを像担持体の主走査方向に走査して、複数ｎライン分の発光を並行して行うマルチビーム型の画像形成装置である。
【００３１】
以下、本実施形態のマルチビーム型の画像形成装置１００の第１の実施形態の構成を、図１と図２に基づいて詳細に説明する。なお、図１では画像形成装置１００全体の構成をブロック図として示し、図２は光学系１７０近傍を斜視図として示している。
【００３２】
なお、この実施形態では、画質を劣化させることなく、複数のレーザビームを用いる画像形成装置１００の基本的な構成要件を中心に説明する。したがって、画像形成装置１００として一般的であり、周知となっている構成要件については省略している。
【００３３】
〔実施形態の構成〕
この図１に示すように画像形成装置１００は、画像形成装置１００の各部を制御するためにＣＰＵなどで構成されて画像データや所定の命令データに応じてレーザの発光の制御を行う全体制御部１０１と、画像形成プログラムや調整プログラム等の各種プログラムやテストチャートデータ等の各種パラメータを記憶しておく記憶手段としての記憶部１０３と、操作者による操作入力に応じた操作入力信号を全体制御部１０１に通知すると共に全体制御部１０１からの指示により各種情報表示とを行う操作表示手段としての操作部１０５と、原稿の画像を読み取って画像データを生成する読み取り手段としてのスキャナ部１１０と、全体制御部１０１からの指示に基づいて外部から入力される画像データあるいはスキャナ部１１０での読み取りにより生成される画像データに対して画像形成に必要な画像処理を施す画像処理部１２０と、全体制御部１０１の制御に基づいて画像データに応じて光源の発光駆動を制御するレーザ制御部１３０と、画像形成を行う画像形成部としてのプリントエンジン１４０と、プリントエンジン１４０中で複数ｎ本のレーザビームの発光と走査とを行うプリントヘッド１５０と、光源としてのレーザダイオードを駆動するレーザ駆動回路１６０と、レーザダイオードからの複数ｎ本のレーザビームで感光体に対して走査を行うための光学部品で構成された光学系１７０と、プリントヘッド１５０によるレーザビームの走査を受けてトナー像を形成するプロセスユニット１８０と、を備えて構成されている。
【００３４】
なお、全体制御部１０１は、複数発光部からの複数の光ビームを像担持体の主走査方向に走査して複数ライン分の発光を並行して行い、主走査方向と直交する副走査方向に主走査方向の発光を繰り返して画像形成を行う画像形成装置１００において、主走査方向に等間隔な第１ピッチで配置される副走査方向線を、任意の光ビームからなる第１光ビーム群で画像形成する第１パターンと、第１パターンと副走査方向に接する位置で、主走査方向に等間隔であって第１ピッチとは異なる第２ピッチで配置される副走査方向線を、第１光ビーム群とは異なる光ビームからなる第２光ビーム群で画像形成する第２パターンと、の２つのパターンを有するテストチャートを出力する制御を行い、更に、テストチャートに含まれる第１パターンと第２パターンとにおける副走査方向線の整列状況（第１ピッチと第２ピッチの差、および、第１パターンの副走査方向線と第２パターンの副走査方向との整列位置の初期位置からの移動量）に基づいて、複数発光部の発光タイミングを決定する制御を行う。
【００３５】
また、図２において、プリントヘッド１５０に含まれる光学系１７０は、複数レーザビームを発生させる複数発光部を備える光源としてのレーザダイオード１７１、レーザビームを光学的に各種補正をするコリメータレンズ１７２とシリンドリカルレンズ１７３、レーザビームを主走査方向に走査するポリゴンミラー１７４、光学的に走査角度の補正を行うｆθレンズ１７５、光学的な補正を行うシリンドリカルレンズ１７６、水平同期信号検出のためのミラー１７７、水平同期信号検出のための水平同期センサ１７８とを備えて構成されている。
【００３６】
なお、この図２でレーザダイオード１７１として示した部分は、実際には複数のレーザダイオードから構成され複数のレーザビームを合成する光学部を含んで構成されたものでもよいし、一体に形成された複数ビームレーザアレイであってもよい。なお、この図２では紙面の都合で４ラインのレーザビームが生成される状態を示しているが、４ラインに限定されるものではない。そして、以上のようにして走査される複数のレーザビームが像担持体としての感光体ドラム１８１上に走査され、感光体ドラム１８１の回転を副走査方向の走査として、感光体ドラム１８１表面にはレーザビームに応じた潜像が形成される。
【００３７】
なお、感光体ドラム１８１はプロセスユニット１８０に含まれ、レーザビームの走査を受けて感光体ドラム１８１上に静電潜像が形成され、この静電潜像は図示されない現像部によりトナー像にされ、さらに図示されない転写部によってトナー像が感光体ドラム１８１から用紙に転写される。また、カラー画像形成装置の場合には、ここに示したプリントヘッド１５０やプロセスユニット１８０を色数分配置する。
【００３８】
なお、以上の構成において、画像処理部１２０は画像形成に必要な各種の画像処理を施す画像処理部であり、この実施形態では複数発光部を有する光源としてのレーザダイオード１７１で並行露光を行うために、複数の光源に対応して、各ライン分の画像データを並行して出力する機能を有している。または、画像処理部１２０からは１ライン分ずつの画像データが出力されていて、レーザ制御部１３０において複数ライン分の画像データを蓄積して、複数ライン分並行してレーザダイオード１７１を駆動するようにしてもよい。
【００３９】
また、レーザダイオード１７１は、図１５において光源ＬＤＵとして説明したように、複数発光部が副走査方向に平行ではなく、図１５のように所定角度傾けた状態で配置されている。さらに、レーザ制御部１３０の制御により、主走査方向の下流側に位置する発光部ＬＤ４、ＬＤ３、ＬＤ２、ＬＤ１に合わせて、駆動データＶＩＤＥＯ＿４、ＶＩＤＥＯ＿３、ＶＩＤＥＯ＿２、ＶＩＤＥＯ＿１の順にタイミングを調整して発光させるように制御することで、図１７（ｂ）のような狭いドット間隔を実現している。
【００４０】
〔原理〕
レーザダイオード１７１に含まれる複数発光部において、レーザダイオード１７１の傾け角度の誤差や個体差、駆動データ（図１６）のタイミングの誤差などにより、図１７（ｃ）や図１７（ｄ）のようにドットが傾いた状態に形成される場合を想定する。
【００４１】
ここで、以下に説明するテストチャートにおいて、第１パターンの第１ピッチと第２パターンの第２ピッチとの違いは、バーニヤ（Vernier）における主尺と副尺との関係に当て嵌める。
【００４２】
すると、第１パターンと第２パターンとにおける副走査方向線の整列状況（第１ピッチと第２ピッチの差、および、第１パターンの副走査方向線と第２パターンの副走査方向との整列位置の初期位置からの移動量）に基づいて、ドット傾き状態や、ドット傾き状態解消のための複数発光部の発光タイミングを求めることが可能になる。
【００４３】
〔テストチャート〕
以下、一般的なテストチャートや、本実施形態で使用する予定のテストチャートについて説明する。
【００４４】
〔参考テストチャート〕
図３は、主走査方向に等間隔な第１ピッチで配置される副走査方向線を、光源に含まれる複数の光ビームからなる第１光ビーム群で画像形成する第１パターンと、前記第１パターンと副走査方向に接する位置で、主走査方向に等間隔であって前記第１ピッチとは異なる第２ピッチで配置される副走査方向線を、光源に含まれる複数の光ビームからなる第２光ビーム群で画像形成する第２パターンと、を有するテストチャートの一例を示す。なお、テストチャートにおいて、第１パターンと前記第２パターンとは、副走査方向に隣接するよう構成されている。
【００４５】
そして、上記の第１ピッチと第２ピッチとの違いをバーニヤの主尺と副尺とに適用することで、テストチャートに含まれる前記第１パターンと前記第２パターンとにおける副走査方向線の整列状況に基づいて、図１５〜図１６に示した複数発光部の発光タイミングを決定する様子の一例を示している。
【００４６】
この図３では、第１ピッチを１００画素、第２ピッチを９９．８画素と設定しておいて、主走査方向の中心位置において、第１パターンと第２パターンとが副走査方向に整列するように構成した状態を示している。なお、第１パターンと第２パターンは、画像データとしては同一であるものの、第１ピッチを１００画素、第２ピッチを９９．８画素となるように、全体制御部１０１の指示に基づいてレーザ制御部１３０が発光タイミングを調整することで、図示するようなテストチャートを実現している。
【００４７】
この図３では、ａの位置で第１パターンと第２パターンの副走査方向線が一致しており、ａの両端のｂの位置で第１パターンと第２パターンの副走査方向線が不一致であり、第１パターンと第２パターンとが整列している状態、すなわち、どの位置で整列しているかが明らかになっている。
【００４８】
図４では、複数発光部において、光源の傾け角度の誤差や個体差、駆動データのタイミングの誤差などにより、図１７（ｃ）や図１７（ｄ）のようにドットが傾いた状態に形成される状況が発生しており、このように複数ドットが傾いた状態では、テストチャートの第１パターンと第２パターンとは、図４のようにＬＤ１〜ＬＤ４で繰り返す鋸歯状になる。このため、第１パターンと第２パターンとがどこで整列しているか、図４ｃ付近で判別しにくい状況になっており、整列状況を把握することが不明瞭になる。
【００４９】
従って、この参考テストチャートでは、上記の第１ピッチと第２ピッチとの違いをバーニヤの主尺と副尺とに適用しようとしても、第１パターンと第２パターンとにおける副走査方向線の整列状況が不明瞭であって、複数発光部の発光タイミングを決定することができない状態になる。すなわち、この参考テストチャートは実質的に使用することができない。
【００５０】
〔第１テストチャート〕
図５は、主走査方向に等間隔な第１ピッチで配置される副走査方向線（破線）を、光源に含まれる任意の複数の光ビームからなる第１光ビーム群で画像形成する第１パターンと、前記第１パターンと副走査方向に接する位置で、主走査方向に等間隔であって前記第１ピッチとは異なる第２ピッチで配置される副走査方向線を、前記第１光ビーム群とは異なる複数の光ビームからなる第２光ビーム群で画像形成する第２パターンと、を有するテストチャートの一例を示す。ここで、テストチャートにおいて、第１パターンと前記第２パターンとは、副走査方向に隣接するよう構成されている。
【００５１】
なお、ここでは、第１パターンはＬＤ１〜ＬＤ２からなる第１光ビーム群で構成され、第２パターンはＬＤ３〜ＬＤ４からなる第２光ビーム群で構成されている。すなわち、第１パターンと第２パターンとで、４発光部中の異なる２発光部ずつを使用するようになっており、副走査方向線は破線（点線）となっている。
【００５２】
そして、上記の第１ピッチと第２ピッチとの違いをバーニヤの主尺と副尺とに適用することで、テストチャートに含まれる前記第１パターンと前記第２パターンとにおける副走査方向線の整列状況に基づいて、図１５〜図１６に示した複数発光部の発光タイミングを決定する様子の一例を示している。
【００５３】
この図５では、第１ピッチを１００画素、第２ピッチを９９．８画素と設定しておいて、主走査方向の中心位置において、第１パターンと第２パターンとが副走査方向に整列するように構成した状態を示している。なお、第１パターンと第２パターンは、画像データとしては同一であるものの、第１ピッチを１００画素、第２ピッチを９９．８画素となるように、全体制御部１０１の指示に基づいてレーザ制御部１３０が発光タイミングを調整することで、図示するようなテストチャートを実現している。
【００５４】
なお、このように第１ピッチの１００画素と第２ピッチの９９．８画素を実現するためには、レーザ制御部１３０において、第１ピッチには通常の画素クロックを使用し、第２ピッチには通常より０．２％だけ周波数を上昇させた画素クロックを使用すればよい。
【００５５】
この図５では、ａの位置で第１パターンと第２パターンの副走査方向線が一致しており、ａの両端のｂの位置で第１パターンと第２パターンの副走査方向線が不一致であり、第１パターンと第２パターンとが整列している状態、すなわち、どの位置で整列しているかが明らかになっている。
【００５６】
そして、ドットの傾きがない状態では図５のようなテストチャートが、複数ドットの傾きが生じている状態では図６のようなテストチャートとなる。
【００５７】
この図６では、複数発光部において、光源の傾け角度の誤差や個体差、駆動データのタイミングの誤差などにより、図１７（ｃ）や図１７（ｄ）のようにドットが傾いた状態に形成される状況が発生しているものの、第１光ビーム群（ＬＤ１〜ＬＤ２）による第１パターンと第２光ビーム群（ＬＤ３〜ＬＤ４）による第２パターンでは鋸歯状のパターンは図４の場合ほどは目立たない状態であり、ａ’の位置で第１パターンと第２パターンの副走査方向線が一致しており、ａ’の両端のｂ’の位置で第１パターンと第２パターンの副走査方向線が不一致であることが判別でき、第１パターンと第２パターンとが整列している状態が明らかになっている。
【００５８】
〔第２テストチャート〕
図７は、主走査方向に等間隔な第１ピッチで配置される副走査方向線（破線）を、光源に含まれる任意の複数の光ビームからなる第１光ビーム群で画像形成する第１パターンと、前記第１パターンと副走査方向に接する位置で、主走査方向に等間隔であって前記第１ピッチとは異なる第２ピッチで配置される副走査方向線を、前記第１光ビーム群とは異なる複数の光ビームからなる第２光ビーム群で画像形成する第２パターンと、を有するテストチャートの一例を示す。ここで、テストチャートにおいて、第１パターンと前記第２パターンとは、副走査方向に隣接するよう構成されている。
【００５９】
なお、ここでは、第１パターンはＬＤ１，ＬＤ３からなる第１光ビーム群で構成され、第２パターンはＬＤ２，ＬＤ４からなる第２光ビーム群で構成されている。すなわち、第１パターンと第２パターンとで、４発光部中の異なる２発光部ずつを使用するようになっており、副走査方向線は破線（点線）となっている。
【００６０】
そして、上記の第１ピッチと第２ピッチとの違いをバーニヤの主尺と副尺とに適用することで、テストチャートに含まれる前記第１パターンと前記第２パターンとにおける副走査方向線の整列状況に基づいて、図１５〜図１６に示した複数発光部の発光タイミングを決定する様子の一例を示している。
【００６１】
この図７では、第１ピッチを１００画素、第２ピッチを９９．９画素と設定しておいて、主走査方向の中心位置において、第１パターンと第２パターンとが副走査方向に整列するように構成した状態を示している。なお、第１パターンと第２パターンは、画像データとしては同一であるものの、第１ピッチを１００画素、第２ピッチを９９．９画素となるように、全体制御部１０１の指示に基づいてレーザ制御部１３０が発光タイミングを調整することで、図示するようなテストチャートを実現している。
【００６２】
なお、このように第１ピッチの１００画素と第２ピッチの９９．９画素を実現するためには、レーザ制御部１３０において、第１ピッチには通常の画素クロックを使用し、第２ピッチには通常より０．１％だけ周波数を上昇させた画素クロックを使用すればよい。
【００６３】
この図７では、ａの位置で第１パターンと第２パターンの副走査方向線が一致しており、ａの両端のｂの位置で第１パターンと第２パターンの副走査方向線が不一致であり、第１パターンと第２パターンとが整列している状態、すなわち、どの位置で整列しているかが明らかになっている。
【００６４】
そして、ドットの傾きがない状態では図７のようなテストチャートが、複数ドットの傾きが生じている状態では図８のようなテストチャートとなる。
【００６５】
この図８では、複数発光部において、光源の傾け角度の誤差や個体差、駆動データのタイミングの誤差などにより、図１７（ｃ）や図１７（ｄ）のようにドットが傾いた状態に形成される状況が発生しているものの、第１光ビーム群（ＬＤ１，ＬＤ３）による第１パターンと第２光ビーム群（ＬＤ２，ＬＤ４）による第２パターンでは鋸歯状のパターンは図４の場合ほどは目立たない状態であり、ａ’の位置で第１パターンと第２パターンの副走査方向線が一致しており、ａ’の両端のｂ’の位置で第１パターンと第２パターンの副走査方向線が不一致であることが判別でき、第１パターンと第２パターンとが整列している状態が明らかになっている。
【００６６】
〔実施形態の動作〕
以下、図９のフローチャート、図１０以降の説明図を参照して、本実施形態の画像形成装置１００の動作、画像形成装置の制御方法について説明する。
【００６７】
全体制御部１０１は、画像形成装置１００の状態、操作部１０５からの入力、図示されない外部機器からの指示等を監視しており、これらに基づいて画像形成装置１００の動作モードを決定する。
【００６８】
モードが通常モードであれば（図９中のステップＳ１０１で「通常」）、操作部１０５や外部機器からのプリント指示が存在すれば（図９中のステップＳ１０２でＹＥＳ）、全体制御部１０１は、画像データに基づいて画像形成を実行するよう各部を制御する（図９中のステップＳ１０３）。
【００６９】
この場合、全体制御部１０１の制御に基づいて、画像処理部１２０で画像処理された画像データについて、レーザダイオード１７１の並列発光数に応じたレーザ駆動信号が、レーザ制御部１３０の制御に基づいてレーザ駆動回路１６０により生成され、感光体ドラム１８１上では複数ライン毎の主走査方向のレーザビームの走査が副走査方向に繰り返される。このレーザビームの走査を受けて感光体ドラム１８１上に静電潜像が形成され、この静電潜像は図示されない現像部によりトナー像にされ、さらに図示されない転写部によってトナー像が感光体ドラム１８１から用紙に転写される。
【００７０】
なお、モードが通常モードであって（図９中のステップＳ１０１で「通常」）、プリント指示が存在しなければ（図９中のステップＳ１０２でＮＯ）、全体制御部１０１は、待機するように各部を制御する（図９中のエンド）。
【００７１】
一方、モードが調整モードであれば（図９中のステップＳ１０１で「調整」）、全体制御部１０１は、記憶部１０３からテストチャートのデータを読み出してテストチャートの画像データを生成する指示を画像処理部１２０に与える。この指示を受けた画像処理部１２０は、所定のテストチャートを生成する（図９中のステップＳ１０４）。なお、このテストチャートを生成する指示は、ページ記述言語であっても良いし、ビットマップ形式の画像データそのものであってもよい。
【００７２】
このテストチャートとしては、図５や図７に示したように、レーザダイオード１７１による複数発光部の発光を副走査方向に繰り返して形成した直線（副走査方向線）を、主走査方向に直線、空白、直線、空白、…と所定画素ピッチで繰り返したものである。
【００７３】
また、このテストチャートとしては、図５のようにＬＤ１とＬＤ２による第１パターンとＬＤ３とＬＤ４による第２パターンとが副走査方向に接したテストチャート、図７のようにＬＤ１とＬＤ３による第１パターンとＬＤ２とＬＤ４による第２パターンとが副走査方向に接したテストチャート、である。
【００７４】
また、レーザダイオード１７１は複数発光部を副走査方向に平行ではなく傾きを有するように配置されて各発光部の主走査方向位置が異なっている（図１５参照）ため、レーザ制御部１３０の制御により主走査方向下流側の発光部ほど発光タイミングを早めるように制御する（図１６参照）。これにより、副走査方向に平行、あるいは、平行に近い複数ドットを感光体ドラム１８１上に形成するようにしている。
【００７５】
そして、第１パターンと第２パターンとが異なる所定ピッチ、例えば、第１テストチャートでは第１ピッチを１００画素，第２ピッチを９９．８画素と設定し、第２テストチャートでは第１ピッチを１００画素，第２ピッチを９９．９画素と設定すると共に、主走査方向の中心位置において、第１パターンと第２パターンとが副走査方向に整列するように、テストチャートを形成するための発光タイミングをレーザ制御部１３０が発生するよう全体制御部１０１が制御する（図９中のステップＳ１０５）。
【００７６】
そして、以上の第１テストチャートや第２テストチャートを感光体ドラム１８１上に形成し、更に、このテストチャートを用紙上に転写して出力するよう全体制御部１０１が制御する（図９中のステップＳ１０６）。
【００７７】
このように形成した用紙上にテストチャートについて、スキャナ部１１０が読み取りを行うように全体制御部１０１が制御する（図９中のステップＳ１０７）。このために、全体制御部１０１は、操作部１０５の表示部に、「プリントされたテストチャートをスキャナ部にセットし、「ＯＫ」を押して下さい」等のメッセージを表示し、操作者にテストチャートの読み取りの作業を促すようにする。
【００７８】
そして、操作部１０５から「ＯＫ」釦の押下があった場合には、全体制御部１０１は、スキャナ部１１０を動作させてテストチャートの読み取りを行うよう制御する（図９中のステップＳ１０７）。
【００７９】
なお、感光体ドラム１８１の周囲などに図示されないラインセンサが配置されている場合には、全体制御部１０１は、用紙にテストチャートを転写することなく、このラインセンサによってテストチャートの読み取りを実行する。また、転写後の用紙の搬送経路などに図示されないラインセンサが配置されている場合には、全体制御部１０１は、このラインセンサによって用紙に転写されたテストチャートの読み取りを実行する。
【００８０】
全体制御部１０１は、このようにしてスキャナ部１１０等でテストチャートを読み取った後に、テストチャートの画像データから副走査方向線の整列状況を求めるように、画像処理部１２０を制御する（図９中のステップＳ１０８）。
【００８１】
なお、この際に、画像処理部１２０では、テストチャートに含まれる第１パターンと第２パターンとのそれぞれにおいて、副走査方向に濃度分布を平均化して、この濃度分布の主走査方向ピーク位置の比較によって、副走査方向線の整列状況を求めることができる。
【００８２】
あるいは、全体制御部１０１は、操作部１０５の表示部に、「プリントされたテストチャートを確認し、第１パターンと第２パターンが副走査方向に整列している位置を入力してください」等のメッセージを表示し、操作者にテストチャートの読み取りと整列位置の検知を促すようにしてもよい（図９中のステップＳ１０７〜Ｓ１０８）。
【００８３】
全体制御部１０１は、テストチャートに含まれる第１パターンと第２パターンとにおける副走査方向線の整列状況に基づいて、バーニヤにおける主尺と副尺の原理を利用し、レーザダイオード１７１の複数発光部の発光タイミングを決定する（図９中のステップＳ１０９）。ここで、整列状況とは、第１ピッチと第２ピッチの差、および、第１パターンの副走査方向線と第２パターンの副走査方向との整列位置の初期位置からの移動量を意味している。
【００８４】
ここで、図６のテストチャートにおける第１パターンを構成する第１光ビーム群と、第２パターンを構成する第２光ビーム群との関係を図１０に示す。
【００８５】
レーザダイオード１７１が４発光部により形成されるドットが何らかの原因で副走査方向に平行ではなく傾いた場合、各ドットの主走査方向間隔は、図１０に示すように、ｄであるとする。なお、傾きがなければｄ＝０であるため、ここでは、ｄ≠０とする。
【００８６】
この場合に、４ドットの主走査方向間隔は３ｄとなる。なお、発光部がＮ個である場合には、Ｎドットの主走査方向間隔は（Ｎ−１）ｄとなる。
【００８７】
一方、第１光ビーム群の重心と第２光ビーム群の重心との主走査方向間隔は２ｄとなる。なお、発光部がＮ個であり、両端部側の隣接する２光ビームずつ、ＬＤ１とＬＤ２及びＬＤ（Ｎ−１）とＬＤＮを使用する場合には、重心間の主走査方向間隔は（Ｎ−２）ｄとなる。
【００８８】
よって、図６のテストチャートにおける第１パターンを構成する第１光ビーム群と、第２パターンを構成する第２光ビーム群とのずれ検知結果を、（３ｄ／２ｄ）倍することで、本来のずれ量が求まる。なお、発光部がＮ個である場合には、（Ｎ−１）／（Ｎ−２）倍することで、本来のずれ量が求まる。
【００８９】
すなわち、テストチャート上では第１パターンを構成する第１光ビーム群と第２パターンを構成する第２光ビーム群とのずれ検知結果が本来よりも圧縮された状態で現れるため、計算によって圧縮状態を解除することで、本来のずれ量が求まる。よって、実際のＮや第１光ビーム群や第２光ビーム群に用いるビームに応じて、ずれ検知結果の圧縮状態を解除して本来のずれ量を求めればよい。
【００９０】
図６のテストチャートでは、第１ピッチを１００画素，第２ピッチを９９．８画素と設定しており、中心から左に１つずれた位置で副走査方向線が整列しているため、０．２画素の主走査方向ずれが検知されたことになる。そして、この０．２画素の主走査方向ずれは、以上の図１０の説明により３／２倍して、ＬＤ１がＬＤ４より０．３画素分だけ主走査方向下流側にずれていることを意味している。
【００９１】
よって、この主走査方向ずれを解消するように、ＬＤ１の発光タイミングをＬＤ４の発光タイミングより０．３画素分早めるように、全体制御部１０１が発光タイミングを決定する。同様に、この主走査方向ずれを解消するため、ＬＤ２の発光タイミングをＬＤ４の発光タイミングより０．２画素分早めると共に、ＬＤ３の発光タイミングをＬＤ４の発光タイミングより０．１画素分早めるように、全体制御部１０１が発光タイミングを決定する（図９中のステップＳ１０９）。
【００９２】
また、図６のテストチャートで、中心から左にＬずれた位置で副走査方向線が整列した場合には、０．２×Ｌ画素の主走査方向ずれが検知されたことになり、以上の図１０の説明により３／２倍して、ＬＤ１がＬＤ４より０．３×Ｌ画素分だけ主走査方向下流側にずれていることを意味している。また、図６のテストチャートで、中心から右にＲずれた位置で副走査方向線が整列した場合には、０．２×Ｒ画素の主走査方向ずれが検知されたことになり、以上の図１０の説明により３／２倍して、ＬＤ１がＬＤ４より０．３×Ｒ画素分だけ主走査方向上流側にずれていることを意味している。すなわち、以上の主走査方向ずれを解消するように、全体制御部１０１が発光タイミングを決定すればよい（図９中のステップＳ１０９）。
【００９３】
また、図８のテストチャートにおける第１パターンを構成する第１光ビーム群と、第２パターンを構成する第２光ビーム群との関係を図１１に示す。
【００９４】
レーザダイオード１７１が４発光部により形成されるドットが何らかの原因で副走査方向に平行ではなく傾いた場合、各ドットの主走査方向間隔は、図１１に示すように、ｄであるとする。この場合に、４ドットの主走査方向間隔は３ｄとなる。なお、発光部がＮ個である場合には、Ｎドットの主走査方向間隔は（Ｎ−１）ｄとなる。一方、第１光ビーム群の重心と第２光ビーム群の重心との主走査方向間隔はｄとなる。なお、発光部がＮ個であり、両端の光ビームとその２つ内側の光ビーム、ＬＤ１とＬＤ３及びＬＤ（Ｎ−２）とＬＤＮを使用する場合には、重心間の主走査方向間隔は（Ｎ−３）ｄとなる。
【００９５】
よって、図８のテストチャートにおける第１パターンを構成する第１光ビーム群と、第２パターンを構成する第２光ビーム群とのずれ検知結果を、（３ｄ／ｄ）倍することで、本来のずれ量が求まる。なお、発光部がＮ個である場合には、（Ｎ−１）／（Ｎ−３）倍することで、本来のずれ量が求まる。
【００９６】
図８のテストチャートでは、第１ピッチを１００画素，第２ピッチを９９．９画素と設定しており、中心から左に１つずれた位置で副走査方向線が整列しているため、０．１画素の主走査方向ずれが検知されたことになる。そして、この０．１画素の主走査方向ずれは、以上の図１１の説明により３倍して、ＬＤ１がＬＤ４より０．３画素分だけ主走査方向下流側にずれていることを意味している。
【００９７】
よって、この主走査方向ずれを解消するように、ＬＤ１の発光タイミングをＬＤ４の発光タイミングより０．３画素分早めるように、全体制御部１０１が発光タイミングを決定する。同様に、この主走査方向ずれを解消するため、ＬＤ２の発光タイミングをＬＤ４の発光タイミングより０．２画素分早めると共に、ＬＤ３の発光タイミングをＬＤ４の発光タイミングより０．１画素分早めるように、全体制御部１０１が発光タイミングを決定する（図９中のステップＳ１０９）。
【００９８】
また、図８のテストチャートで、中心から左にＬずれた位置で副走査方向線が整列した場合には、０．１×Ｌ画素の主走査方向ずれが検知されたことになり、以上の図１１の説明により３倍して、ＬＤ１がＬＤ４より０．３×Ｌ画素分だけ主走査方向下流側にずれていることを意味している。また、図８のテストチャートで、中心から右にＲずれた位置で副走査方向線が整列した場合には、０．１×Ｒ画素の主走査方向ずれが検知されたことになり、以上の図１１の説明により３倍して、ＬＤ１がＬＤ４より０．３×Ｒ画素分だけ主走査方向上流側にずれていることを意味している。すなわち、以上の主走査方向ずれを解消するように、全体制御部１０１が発光タイミングを決定すればよい（図９中のステップＳ１０９）。
【００９９】
全体制御部１０１は、以上のようにして決定した発光タイミング、あるいは、発光タイミングの調整量を記憶部１０３に格納し（図９中のステップＳ１１０）、動作を終了する（図９でエンド）。よって、この後に画像形成を実行する場合には、以上のように決定された発光タイミングに基づいて動作する。このため、傾いた状態の複数発光部のレーザダイオード１７１を光源として用いた場合の複数ライン並行発光における光ビームの位置ずれを適切に調整することが可能になる。すなわち、各種の誤差や光源の個体差などの影響を受けない状態となる。
【０１００】
なお、以上の説明で用いた具体的数値、例えば、第１ピッチと第２ピッチなどは、上述した数値に限定されるものではない。
【０１０１】
なお、この実施形態では、ドットの傾きによる主走査方向のずれが、第１ピッチと第２ピッチとの差に基づいて数値として求まるため、このずれを解消する発光タイミングも演算により求まることになる。したがって、従来の濃度を用いる手法のような各種誤差（濃度むらによる誤差、センサによる検知誤差など）が入り込む余地が無く、正確に調整することが可能になる。
【０１０２】
なお、以上の動作において、全体制御部１０１は、テストチャート出力時において、副走査方向の画像形成速度、すなわち、感光体ドラム１８１の回転速度を通常画像形成時の１／２に設定することが望ましい。このようにすることで、副走査方向にドットが接近し、副走査方向線が連続した状態に近くなり、整列状況の確認が容易に行えるようになる。
【０１０３】
〔第３テストチャート〕
図１２は、主走査方向に等間隔な第１ピッチで配置される副走査方向線（破線）を、光源に含まれる任意の複数の光ビームからなる第１光ビーム群で画像形成する第１パターンと、前記第１パターンと副走査方向に一部重なりを有しつつ接する位置で、主走査方向に等間隔であって前記第１ピッチとは異なる第２ピッチで配置される副走査方向線を、前記第１光ビーム群とは異なる複数の光ビームからなる第２光ビーム群で画像形成する第２パターンと、を有するテストチャートの一例を示す。
【０１０４】
なお、ここでは、第１パターンはＬＤ１からなる第１光ビーム群で構成され、第２パターンはＬＤ４からなる第２光ビーム群で構成されている。すなわち、第１パターンと第２パターンとで、４発光部中の異なる１発光部ずつを使用するようになっており、副走査方向線は破線（点線）となっている。なお、Ｎ個の発光部を有する場合には、第１パターンにはＬＤ１を、第２パターンにはＬＤＮを使用する。
【０１０５】
そして、上記の第１ピッチと第２ピッチとの違いをバーニヤの主尺と副尺とに適用することで、テストチャートに含まれる前記第１パターンと前記第２パターンとにおける副走査方向線の整列状況に基づいて、図１５〜図１６に示した複数発光部の発光タイミングを決定する様子の一例を示している。
【０１０６】
この図１２では、第１ピッチを１００画素、第２ピッチを９９．７画素と設定しておいて、主走査方向の中心位置において、第１パターンと第２パターンとが副走査方向に整列するように構成した状態を示している。なお、第１パターンと第２パターンは、画像データとしては同一であるものの、第１ピッチを１００画素、第２ピッチを９９．７画素となるように、全体制御部１０１の指示に基づいてレーザ制御部１３０が発光タイミングを調整することで、図示するようなテストチャートを実現している。
【０１０７】
なお、このように第１ピッチの１００画素と第２ピッチの９９．７画素を実現するためには、レーザ制御部１３０において、第１ピッチには通常の画素クロックを使用し、第２ピッチには通常より０．３％だけ周波数を上昇させた画素クロックを使用すればよい。
【０１０８】
この図１２では、ａの位置で第１パターンと第２パターンの副走査方向線が一致しており、ａの両端のｂの位置で第１パターンと第２パターンの副走査方向線が不一致であり、第１パターンと第２パターンとが整列している状態、すなわち、どの位置で整列しているかが明らかになっている。
【０１０９】
そして、ドットの傾きがない状態では図１２のようなテストチャートが、複数ドットの傾きが生じている状態では図１３のようなテストチャートとなる。
【０１１０】
この図１３では、複数発光部において、光源の傾け角度の誤差や個体差、駆動データのタイミングの誤差などにより、図１７（ｃ）や図１７（ｄ）のようにドットが傾いた状態に形成される状況が発生しているものの、第１光ビーム群（ＬＤ１）による第１パターンと第２光ビーム群（ＬＤ４）による第２パターンでは鋸歯状のパターンは発生しない状態であり、ａ’の位置で第１パターンと第２パターンの副走査方向線が一致しており、ａ’の両端のｂ’の位置で第１パターンと第２パターンの副走査方向線が不一致であることが判別でき、第１パターンと第２パターンとが整列している状態が明らかになっている。
【０１１１】
なお、この図１２，図１３のテストチャートではレーザダイオード１７１に含まれる両端の発光部を使用するため、テストチャートで算出されるずれ量がそのまま本来のずれ量に一致する。
【０１１２】
図１３のテストチャートでは、第１ピッチを１００画素，第２ピッチを９９．７画素と設定しており、中心から左に１つずれた位置で副走査方向線が整列しているため、０．３画素の主走査方向ずれが検知されたことになる。そして、この０．３画素の主走査方向ずれは、ＬＤ１がＬＤ４より０．３画素分だけ主走査方向下流側にずれていることを意味している。
【０１１３】
なお、全体制御部１０１による発光タイミングの決定は、既に説明したものと同一であるため、重複した説明は省略する。
【０１１４】
なお、この第３テストチャートの場合は、ＬＤ１とＬＤ４を用いているため、副走査方向線の一致と不一致とが極めて明確になっており、副走査方向に濃度分布を平均化して、この濃度分布の主走査方向ピーク位置の比較によって、副走査方向線の整列状況を求めることが容易に行える。
【０１１５】
すなわち、副走査方向線が整列した状態ではドットが集中して鮮鋭になり濃度が上昇する。一方、副走査方向線が離散した状態ではドットが拡散して淡色化し濃度が低下する。このため、視認性が良好であり、操作者が判断する場合にも間違いがない。また、画像処理部１２０が画像処理で判断を行う場合にも、精度良く処理することができる。
【０１１６】
〔その他の実施形態（１）〕
以上の動作説明において、全体制御部１０１は、操作部１０５の表示部に、「プリントされたテストチャートを確認し、ずれ量を読み取り、ずれ量を入力してください」等のメッセージを表示し、操作者にテストチャートの読み取りとずれ量の算出を促すようにしてもよい（図９中のステップＳ１０７〜Ｓ１０８）。この場合には、整列位置と対応するずれ量をテストチャート上に明記しておくことが望ましい。そして、操作者が操作部１０５から入力したずれ量の入力値に基づいて全体制御部１０１が発光タイミングを調整（図９中のステップＳ１０９）するように制御してもよい。
【０１１７】
〔その他の実施形態（２）〕
なお、カラー画像形成装置の場合には、以上のような調整を各色毎に実行することが望ましい。
【０１１８】
また、以上の説明では、レーザダイオード１７１は傾いた状態の複数の発光部を有するとしていたが、これに限定されるものではない。たとえば、副走査方向に直線状に並んでいるはずの複数の発光部を有するレーザダイオード１７１が何らかの理由で傾いてしまっている場合にも本実施形態を適用して、複数ライン並行発光時のレーザビームの歪みを矯正することが可能である。
【０１１９】
また、以上の実施形態は、レーザビームを用いた電子写真方式の画像形成装置に用いることが好適であるが、これ以外にも、レーザビームを用いて印画紙に露光を行うレーザイメージャなど、各種の画像形成装置に本発明の各実施形態を適用することが可能であり、良好な結果を得ることが可能である。
【０１２０】
また、光源としては、レーザダイオード（ＬＤ）以外の他の光源を用いた場合、すなわちレーザビーム以外の光ビームを用いたであっても適用することが可能である。
【符号の説明】
【０１２１】
１００  画像形成装置
１０１  全体制御部
１０３  記憶部
１０５  操作部
１１０  スキャナ部
１２０  画像処理部
１３０  レーザ制御部
１４０  プリントエンジン
１５０  プリントヘッド
１６０  レーザ駆動回路
１７０  光学系
１８０  プロセスユニット
【図１】
2013151114.tif 000003
【図２】
2013151114.tif 000004
【図９】
2013151114.tif 000005
【図１０】
2013151114.tif 000006
【図１１】
2013151114.tif 000007
【図１４】
2013151114.tif 000008
【図１５】
2013151114.tif 000009
【図１６】
2013151114.tif 000010
【図１７】
2013151114.tif 000011
【図１８】
2013151114.tif 000012
【図３】
2013151114.tif 000013
【図４】
2013151114.tif 000014
【図５】
2013151114.tif 000015
【図６】
2013151114.tif 000016
【図７】
2013151114.tif 000017
【図８】
2013151114.tif 000018
【図１２】
2013151114.tif 000019
【図１３】
2013151114.tif 000020