(57)【要約】【課題】記憶ドライブの劣化を容易に判定することを可能とする記憶装置を提供する。【解決手段】記憶装置１００は、複数の記憶ドライブ１０と、複数の記憶ドライブ１０を制御する制御部４０とを備える。制御部４０は、第１記憶ドライブに設けられるスワップ領域から読み出されたテストデータを、第２記憶ドライブに設けられるスワップ領域に書き込む検査モードを有する。制御部４０は、検査モードの実行結果を結果格納領域に格納する。【選択図】図３
2013131004.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の記憶ドライブと、前記複数の記憶ドライブを制御する制御部とを備える記憶装置であって、
前記複数の記憶ドライブのそれぞれは、ユーザデータを格納するためのユーザ領域と、前記ユーザ領域以外の特定領域とを有しており、
前記制御部は、前記複数の記憶ドライブに含まれる第１記憶ドライブに設けられる前記特定領域から読み出されたテストデータを、前記複数の記憶ドライブに含まれる第２記憶ドライブに設けられる前記特定領域に書き込む検査モードを有しており、
前記制御部は、前記検査モードの実行結果を結果格納領域に格納し、
前記実行結果は、前記第１記憶ドライブを識別する情報と、前記第２記憶ドライブを識別する情報と、前記テストデータの転送特性とを含むことを特徴とする記憶装置。
【請求項２】
前記制御部は、前記複数の記憶ドライブの制御に必要なデータを一時的に記憶するメモリを有しており、
前記特定領域は、前記メモリに一時的に格納されるデータの待避先を構成するスワップ領域であることを特徴とする請求項１に記載の記憶装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記テストデータの読み出しに先だって、前記第１記憶ドライブに設けられる前記特定領域に前記テストデータを書き込むことを特徴とする請求項１に記載の記憶装置。
【請求項４】
前記制御部は、前記ユーザ領域及び前記特定領域をマウントせずに、前記検査モードを実行することを特徴とする請求項１に記載の記憶装置。
【請求項５】
前記複数の記憶ドライブに含まれる記憶ドライブの換装が行われた場合に、換装前の記憶ドライブに対応する前記実行結果と、換装後の記憶ドライブに対応する前記実行結果とは、非連続な形式で表示されることを特徴とする請求項１に記載の記憶装置。
【請求項６】
前記複数の記憶ドライブは、３つ以上の記憶ドライブを含んでおり、
前記制御部は、前記実行結果の組合せに基づいて、不具合状況を特定することを特徴とする請求項１に記載の記憶装置。
【請求項７】
前記結果格納領域は、前記複数の記憶ドライブの少なくとも１つの記憶ドライブ内に設けられ、或いは、前記制御部内に設けられることを特徴とする請求項１に記載の記憶装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の記憶ドライブと、複数の記憶ドライブを制御する制御部とを備える記憶装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、複数の記憶ドライブを有しており、大容量のデータを記憶する記憶装置が知られている。記憶ドライブは、物理的なハードウェアであり、ユーザデータを格納するためのユーザ領域を有する。記憶ドライブは、例えば、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ）又はＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ  Ｓｔａｔｅ  Ｄｒｉｖｅ）などである。
【０００３】
記憶装置の使用に伴って、記憶ドライブの劣化が生じ、記憶ドライブの劣化に伴って、記憶ドライブへの書き込み速度又は記憶ドライブからの読み出し速度の低下が想定される。このようなケースでは、記憶ドライブの交換が必要である。
【０００４】
これに対して、記憶ドライブの交換が行われた場合に、新たな記憶ドライブの評価を行う目的、或いは、データの転送速度に応じて適切な記憶ドライブを選択する目的で、記憶ドライブへの書き込み速度又は記憶ドライブからの読み出し速度を測定する技術が提案されている（例えば、特許文献１、２）。詳細には、ユーザ領域へのユーザデータの書き込み速度又はユーザ領域からのユーザデータの読み出し速度が測定される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００６−３９４５号公報
【特許文献２】特開２００３−３０８１８０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上述した技術では、ユーザ領域が使用された状態において、書き込み速度又は読み出し速度が測定される。言い換えると、各記憶ドライブの負荷が異なる環境下において、書き込み速度又は読み出し速度が測定される。従って、記憶ドライブの劣化を判定する目的としては、上述した技術は適していない。
【０００７】
或いは、書き込み又は読み出しの不具合回数をカウントして、不具合回数のカウント値が所定閾値に達した場合に、記憶ドライブが劣化したと判定することも考えられる。しかしながら、所定閾値を適切に設定することが困難である。詳細には、所定閾値が大きすぎると、記憶ドライブの交換前に、記憶ドライブを使用できなくなってしまう。一方で、所定閾値が小さすぎると、記憶ドライブが使用可能であるにもかかわらずに、記憶ドライブを交換すべきであると判定されてしまう。
【０００８】
そこで、本発明は、上述した課題を解決するためになされたものであり、記憶ドライブの劣化を容易に判定することを可能とする記憶装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
第１の特徴に係る記憶装置は、複数の記憶ドライブと、前記複数の記憶ドライブを制御する制御部とを備える。前記複数の記憶ドライブのそれぞれは、ユーザデータを格納するためのユーザ領域と、前記ユーザ領域以外の特定領域とを有する。前記制御部は、前記複数の記憶ドライブに含まれる第１記憶ドライブに設けられる前記特定領域から読み出されたテストデータを、前記複数の記憶ドライブに含まれる第２記憶ドライブに設けられる前記特定領域に書き込む検査モードを有する。前記制御部は、前記検査モードの実行結果を結果格納領域に格納する。前記実行結果は、前記第１記憶ドライブを識別する情報と、前記第２記憶ドライブを識別する情報と、前記テストデータの転送特性とを含む。
【００１０】
第１の特徴において、前記制御部は、前記複数の記憶ドライブの制御に必要なデータを一時的に記憶するメモリを有する。前記特定領域は、前記メモリに一時的に格納されるデータの待避先を構成するスワップ領域である。
【００１１】
第１の特徴において、前記制御部は、前記テストデータの読み出しに先だって、前記第１記憶ドライブに設けられる前記特定領域に前記テストデータを書き込む。
【００１２】
第１の特徴において、前記制御部は、前記ユーザ領域及び前記特定領域をマウントせずに、前記検査モードを実行する。
【００１３】
第１の特徴において、前記複数の記憶ドライブに含まれる記憶ドライブの換装が行われた場合に、換装前の記憶ドライブに対応する前記実行結果と、換装後の記憶ドライブに対応する前記実行結果とは、非連続な形式で表示される。
【００１４】
第１の特徴において、前記複数の記憶ドライブは、３つ以上の記憶ドライブを含む。前記制御部は、前記実行結果の組合せに基づいて、不具合状況を特定する。
【００１５】
第１の特徴において、前記結果格納領域は、前記複数の記憶ドライブの少なくとも１つの記憶ドライブ内に設けられ、或いは、前記制御部内に設けられる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、記憶ドライブの劣化を容易に判定することを可能とする記憶装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】図１は、第１実施形態に係る記憶装置１００を示す図である。
【図２】図２は、第１実施形態に係る記憶ドライブ１０を示す図である。
【図３】図３は、第１実施形態に係る記憶装置１００を示すブロック図である。
【図４】図４は、第１実施形態に係る記憶ドライブ１０の記憶領域を示す図である。
【図５】図５は、第１実施形態に係る検査モードを示すフロー図である。
【図６】図６は、第１実施形態に係る検査モードを示すフロー図である。
【図７】図７は、第１実施形態に係る検査モードを示すフロー図である。
【図８】図８は、変更例１に係る検査モードを示すフロー図である。
【図９】図９は、変更例１に係る検査モードの実行結果の表示例を示す図である。
【図１０】図１０は、変更例２に係る不具合判定を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下において、本発明の実施形態に係る記憶装置について、図面を参照しながら説明する。なお、以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には、同一又は類似の符号を付している。
【００１９】
ただし、図面は模式的なものであり、各寸法の比率などは現実のものとは異なることに留意すべきである。従って、具体的な寸法などは以下の説明を参酌して判断すべきである。また、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることは勿論である。
【００２０】
［実施形態の概要］
実施形態に係る記憶装置は、複数の記憶ドライブと、前記複数の記憶ドライブを制御する制御部とを備える。前記複数の記憶ドライブのそれぞれは、ユーザデータを格納するためのユーザ領域と、前記ユーザ領域以外の特定領域とを有する。前記制御部は、前記複数の記憶ドライブに含まれる第１記憶ドライブに設けられる前記特定領域から読み出されたテストデータを、前記複数の記憶ドライブに含まれる第２記憶ドライブに設けられる前記特定領域に書き込む検査モードを有する。前記制御部は、前記検査モードの実行結果を結果格納領域に格納する。前記実行結果は、前記第１記憶ドライブを識別する情報と、前記第２記憶ドライブを識別する情報と、前記テストデータの転送特性とを含む。
【００２１】
実施形態では、制御部は、テストデータの転送特性を検査するための検査モードを有する。また、制御部は、検査モードにおいて、ユーザ領域以外の特定領域を用いて、テストデータの読み出し及びテストデータの書き込みを行う。
【００２２】
従って、各記憶ドライブの負荷が同じ状態において、テストデータの転送特性を検査することができる。また、結果格納領域に格納される検査モードの実行結果に基づいて、記憶ドライブの劣化を容易に判定することができる。
【００２３】
［第１実施形態］
（記憶装置の概要）
以下において、第１実施形態に係る記憶装置の概要について説明する。図１は、第１実施形態に係る記憶装置１００の外観を示す図である。
【００２４】
図１に示すように、記憶装置１００は、複数の記憶ドライブ１０及び複数のドライブベイ２０を有する。
【００２５】
記憶ドライブ１０は、物理的なハードウェアであり、ユーザデータを格納するためのユーザ領域を有する。記憶ドライブ１０は、例えば、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ）又はＳＳＤ（Ｓｏｌｉｄ  Ｓｔａｔｅ  Ｄｒｉｖｅ）などである。第１実施形態では、記憶ドライブ１０として、記憶ドライブ１０Ａ〜記憶ドライブ１０Ｄが設けられる。但し、記憶ドライブ１０の数は４つに限定されるものではない。
【００２６】
ドライブベイ２０は、記憶ドライブ１０を収容するベイである。ドライブベイ２０は、例えば、記憶ドライブ１０に設けられるピン群と接続されるコネクタを有する。第１実施形態では、ドライブベイ２０として、ドライブベイ２０Ａ〜ドライブベイ２０Ｄが設けられる。但し、ドライブベイ２０の数は４つに限定されるものではない。
【００２７】
（記憶ドライブ）
以下において、第１実施形態に係る記憶ドライブについて説明する。図２は、第１実施形態に係る記憶ドライブ１０を示す図である。ここでは、記憶ドライブ１０として、ＨＤＤを例示する。
【００２８】
図２に示すように、記憶ドライブ１０は、プラッタ１１と、スピンドルモータ１２と、ヘッド１３と、スイングアーム１４と、アクチュエータ１５と、インタフェースピン１６と、電源ピン１７と、を有する。
【００２９】
プラッタ１１は、データが記録される円盤である。プラッタ１１の表面には、磁性体が塗布されており、磁性体の表面には、潤滑被膜（ライナー）が設けられる。データは、プラッタ１１の片面に記録されてもよく、プラッタ１１の両面に記録されてもよい。プラッタ１１の記憶容量（プラッタ記憶容量）は、データの記録密度などによって定められる。
【００３０】
スピンドルモータ１２は、プラッタ１１を回転するためのモータである。詳細には、スピンドルモータ１２は、一定速度（例えば、７２００ｒｐｍ（ｒｅｖｏｌｕｔｉｏｎ  ｐｅｒ  ｍｉｎｕｔｅ））でプラッタ１１を回転する。
【００３１】
ヘッド１３は、プラッタ１１へのデータの書き込み又はプラッタ１１からのデータの読み出しを行うための磁気ヘッダである。
【００３２】
スイングアーム１４は、回動軸Ｘを中心として回動可能に構成される。スイングアーム１４の先端にはヘッド１３が設けられる。スイングアーム１４の回動に伴って、プラッタ１１の径方向においてヘッド１３の位置が調整される。
【００３３】
アクチュエータ１５は、スイングアーム１４を回動するための駆動部である。アクチュエータ１５は、例えば、ボイスコイルモータである。
【００３４】
インタフェースピン１６は、ドライブベイ２０に設けられるコネクタに接続される。ヘッド１３によってプラッタ１１に書き込まれるデータは、記憶装置１００から記憶ドライブ１０に対してインタフェースピン１６を介して出力される。ヘッド１３によってプラッタ１１から読み出されるデータは、記憶ドライブ１０から記憶装置１００に対してインタフェースピン１６を介して出力される。
【００３５】
電源ピン１７は、ドライブベイ２０に設けられるコネクタに接続される。記憶ドライブ１０を駆動するための電力は、記憶装置１００から記憶ドライブ１０に対して電源ピン１７を介して供給される。
【００３６】
（記憶装置の詳細）
以下において、第１実施形態に係る記憶装置の詳細について説明する。図３は、第１実施形態に係る記憶装置１００を示すブロック図である。
【００３７】
図３に示すように、記憶装置１００は、複数の記憶ドライブ１０と、インタフェースコネクタ３０と、制御部４０とを有する。なお、図３では、上述したドライブベイ２０は省略されている。
【００３８】
各記憶ドライブ１０は、図４に示すように、システム領域とスワップ領域とユーザ領域とを有する。
【００３９】
システム領域は、システムデータを格納するための領域であり、ｂｏｏｔ領域及びｒｏｏｔｆｓ領域を有する。ｂｏｏｔ領域は、制御部４０に設けられるＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍ）の起動に必要なデータを格納するための領域である。ｒｏｏｔｆｓ領域は、記憶ドライブ１０のファイルシステムを格納するための領域である。詳細には、ｒｏｏｔｆｓ領域には、ルートディレクトリを含む階層的なディレクトリ構造（ルートファイルシステム）が格納される。
【００４０】
スワップ領域は、後述する揮発性メモリ４２に一時的に格納されるデータの待避先を構成する領域である。第１実施形態において、スワップ領域は、記憶ドライブ１０を検査する検査モードで用いる特定領域の一例である。
【００４１】
ユーザ領域は、ユーザデータを格納するための領域である。すなわち、ユーザ領域には、外部装置（例えば、パーソナルコンピュータ）から書き込まれるユーザデータが格納される。或いは、ユーザ領域には、外部装置（例えば、パーソナルコンピュータ）に読み出されるユーザデータが格納される。
【００４２】
インタフェースコネクタ３０は、外部装置（例えば、パーソナルコンピュータ又はルータ）に記憶装置１００を接続するためのコネクタ（例えば、ＵＳＢコネクタやイーサネット（登録商標）コネクタ）である。記憶装置１００は、インタフェースコネクタ３０を介して外部装置からデータを受信する。記憶装置１００は、インタフェースコネクタ３０を介して外部装置にデータを送信する。
【００４３】
制御部４０は、複数の記憶ドライブ１０を制御する。具体的には、制御部４０は、ＣＰＵ４１と、揮発性メモリ４２と、不揮発性メモリ４３とを有する。揮発性メモリ４２は、ＤＲＡＭなどの揮発性半導体メモリであり、制御部４０の動作に必要なデータを一時的に記憶する。不揮発性メモリ４３は、フラッシュなどの不揮発性半導体メモリであり、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍ）などを記憶する。
【００４４】
第１実施形態において、制御部４０（詳細には、ＣＰＵ４１）は、記憶ドライブ１０を検査する検査モードを有する。第１に、制御部４０は、第１記憶ドライブから第２記憶ドライブへのデータの転送特性を検査する場合において、第１記憶ドライブに設けられるスワップ領域から読み出されたテストデータを、第２記憶ドライブに設けられるスワップ領域に書き込む。
【００４５】
検査モードの実行結果は、第１記憶ドライブを識別する情報と、第２記憶ドライブを識別する情報と、テストデータの転送特性とを含む。
【００４６】
ここで、テストデータの転送特性は、第１記憶ドライブから第２記憶ドライブに対するテストデータの転送速度であってもよく、第１記憶ドライブから第２記憶ドライブに対するテストデータの転送時間であってもよい。なお、テストデータの転送速度は、テストデータのデータ量（ＭＢ：メガバイト）をテストデータの転送時間（ｓ：秒）で除算した値（ＭＢ／ｓ）であってもよい。
【００４７】
第１記憶ドライブから第２記憶ドライブに対するテストデータの転送開始時刻は、転送速度の検査を開始する時刻である。
【００４８】
第１記憶ドライブから第２記憶ドライブに対するテストデータの転送終了時刻は、例えば、転送速度の検査を終了する時刻である。
【００４９】
なお、第１記憶ドライブに対する読み出しコマンドは、スワップ領域の先頭セクタからスワップ領域の最終セクタまで、所定領域を指定してテストデータの読み出しを指示するコマンドである。第２記憶ドライブに対する書き込みコマンドは、スワップ領域の先頭セクタからスワップ領域の最終セクタまで、所定領域を指定してテストデータの書き込みを指示するコマンドである。
【００５０】
第２に、制御部４０（詳細には、ＣＰＵ４１）は、検査モードの実行結果を結果格納領域に格納する。例えば、制御部４０は、外部装置（パーソナルコンピュータ）に設けられるディスプレイ上に、結果格納領域に格納された実行結果を表示する。詳細には、記憶装置１００にアクセス可能な外部装置（パーソナルコンピュータ）は、専用ソフトウェア又はブラウザなどのソフトウェアを用いて、結果格納領域に格納された実行結果を読み出して、読み出された実行結果をディスプレイ上に表示する。
【００５１】
ここで、結果格納領域は、制御部４０（例えば、不揮発性メモリ４３）に設けられる。或いは、結果格納領域は、複数の記憶ドライブ１０の少なくとも１つの記憶ドライブ１０に設けられてもよい。結果格納領域は、全ての記憶ドライブ１０に設けられてもよい。このようなケースでは、検査モードの実行結果は、全ての記憶ドライブ１０に格納される。
【００５２】
第１実施形態において、制御部４０は、テストデータの読み出しに先だって、第１記憶ドライブに設けられるスワップ領域にテストデータを書き込むことが好ましい。すなわち、制御部４０は、スワップ領域に格納されるテストデータをリフレッシュした上で、検査モードを実行することが好ましい。
【００５３】
第１実施形態において、制御部４０は、ユーザ領域及びスワップ領域をマウントせずに、検査モードを実行することが好ましい。すなわち、制御部４０は、ファイルシステムがＯＳによって認識されていない状態（すなわち、ユーザ領域及びスワップ領域がアンマウントである状態）において、検査モードを実行することが好ましい。このようなケースにおいて、スワップ領域の先頭セクタのアドレスは、制御部４０にとって既知であることに留意すべきである。
【００５４】
（検査モード）
以下において、第１実施形態に係る検査モードについて説明する。図５〜図７は、第１実施形態に係る検査モードを示すフロー図である。
【００５５】
図５に示すように、ステップ１００において、記憶装置１００にアクセス可能な外部装置は、専用ソフトウェア又はブラウザなどのソフトウェアを用いて、検査モードのスケジューリングを行う。例えば、外部装置は、記憶装置１００のシャットダウン時又は起動時に検査モードを実行するように、検査モードのスケジューリングを行う。
【００５６】
ここで、記憶装置１００は、検査モードフラグにＯＮをセットする。検査モードフラグは、検査モードを実行するか否かを判断するためのフラグである。検査モードフラグにＯＮがセットされている場合には、検査モードが実行される。一方で、検査モードフラグにＯＦＦがセットされている場合には、検査モードが実行されない。
【００５７】
ステップ２００において、記憶装置１００のシャットダウン又は起動が行われる。
【００５８】
ステップ３００において、記憶装置１００は、検査モードフラグにＯＮがセットされているか否かを判定する。判定結果がＹＥＳである場合に、記憶装置１００は、ステップ４００の処理に移る。一方で、判定結果がＮＯである場合に、記憶装置１００は、ステップ１００の処理に戻る。
【００５９】
ステップ４００において、記憶装置１００は、検査モードを実行する。詳細には、図６に示すように、ステップ４１０において、記憶装置１００は、各記憶ドライブ１０を起動する。具体的には、記憶装置１００は、ユーザ領域及びスワップ領域をマウントせずに、各記憶ドライブ１０を起動する。
【００６０】
ステップ４２０において、記憶装置１００は、複数の記憶ドライブ１０の中から、対象ドライブを選択する。対象ドライブは、テストデータの読み出し元を構成する第１記憶ドライブ及びテストデータの書き込み先を構成する第２記憶ドライブである。
【００６１】
ここで、記憶装置１００は、転送速度の検査の実行に先立って、第１記憶ドライブに設けられるスワップ領域にテストデータを書き込むことが好ましい。
【００６２】
ステップ４３０において、記憶装置１００は、転送速度の検査を実行する。詳細には、図７に示すように、ステップ４３２において、記憶装置１００は、第１記憶ドライブに対して読み出しコマンドを発行する。第１記憶ドライブに対する読み出しコマンドは、スワップ領域の先頭セクタからスワップ領域の最終セクタまで、所定領域を指定してテストデータの読み出しを指示するコマンドである。
【００６３】
ステップ４３３において、記憶装置１００は、第１記憶ドライブに設けられるスワップ領域からテストデータを読み出す。
【００６４】
ステップ４３４において、記憶装置１００は、第２記憶ドライブに対して書き込みコマンドを発行する。第２記憶ドライブに対する書き込みコマンドは、スワップ領域の先頭セクタからスワップ領域の最終セクタまで、所定領域を指定してテストデータの書き込みを指示するコマンドである。
【００６５】
ステップ４３５において、記憶装置１００は、第２記憶ドライブに設けられるスワップ領域にテストデータを書き込む。
【００６６】
ステップ４３６において、記憶装置１００は、第１記憶ドライブに設けられるスワップ領域からのテストデータの読み出し、及び、第２記憶ドライブに設けられるスワップ領域へのテストデータの書き込みが完了したか否かを判定する。言い換えると、記憶装置１００は、第１記憶ドライブに設けられるスワップ領域から第２記憶ドライブに設けられるスワップ領域へのテストデータの転送が完了したか否かを判定する。
【００６７】
図６に戻って、ステップ４４０において、記憶装置１００は、検査モードの実行結果を結果格納領域に格納する。すなわち、記憶装置１００は、第１記憶ドライブを識別する情報、第２記憶ドライブを識別する情報、及び、第１記憶ドライブから第２記憶ドライブへのテストデータの転送特性（転送終了時刻と転送開始時刻との差分）を結果格納領域に格納する。
【００６８】
ここで、転送開始時刻は、転送速度の検査（ステップ４３０）の開始時点で記録される時刻である。転送終了時刻は、転送速度の検査（ステップ４３０）の終了時点で記録される時刻である。
【００６９】
ステップ４５０において、記憶装置１００は、全ての記憶ドライブ１０の組み合わせを選択したか否かを判定する。判定結果がＹＥＳである場合に、記憶装置１００は、一連の処理を終了する。一方で、判定結果がＮＯである場合に、記憶装置１００は、ステップ４２０の処理に戻る。例えば、テストデータの読み出し元を構成する第１記憶ドライブとテストデータの書き込み先を構成する第２記憶ドライブとを入れ替える。
【００７０】
（作用及び効果）
第１実施形態では、制御部４０は、テストデータの転送特性を検査するための検査モードを有する。また、制御部は、検査モードにおいて、ユーザ領域以外の特定領域を用いて、テストデータの読み出し及びテストデータの書き込みを行う。
【００７１】
従って、各記憶ドライブ１０の負荷が同じ状態において、テストデータの転送特性を検査することができる。また、結果格納領域に格納される検査モードの実行結果に基づいて、記憶ドライブの劣化を容易に判定することができる。
【００７２】
[変更例１]
以下において、第１実施形態の変更例１について説明する。以下においては、第１実施形態に対する相違点について主として説明する。
【００７３】
変更例１では、検査モードの実行結果の表示例について説明する。詳細には、記憶ドライブ１０の換装時において、検査モードの実行結果の表示例について主として説明する。
【００７４】
第１に、記憶ドライブ１０の換装時における検査モードについて説明する。図８に示すように、ステップ５００において、所定ドライブベイにおいて、記憶ドライブ１０の換装が行われる。
【００７５】
ステップ５１０において、記憶装置１００にアクセス可能な外部装置は、専用ソフトウェア又はブラウザなどのソフトウェアを用いて、初回検査フラグをＯＮにセットする。初回検査フラグは、記憶ドライブ１０の換装が行われたか否かを示すフラグである。記憶ドライブ１０の換装が行われた場合に、初回検査フラグにＯＮがセットされる。一方で、記憶ドライブ１０の換装が行われていない場合に、初回検査フラグにＯＦＦがセットされる。
【００７６】
ステップ５２０において、記憶装置１００のシャットダウン又は起動が行われる。
【００７７】
ステップ５３０において、記憶装置１００は、所定ドライブベイにおいて換装前の記憶ドライブ１０に対応する検査モードの実行結果を、所定ドライブベイにおいて換装後の記憶ドライブ１０に対応する検査モードの実行結果として引き継ぐ。
【００７８】
ステップ４００において、記憶装置１００は、検査モードを実行する。なお、ステップ４００の処理は、第１実施形態と同様である。
【００７９】
このようなケースにおいて、記憶装置１００にアクセス可能な外部装置（パーソナルコンピュータ）は、図９に示すように、換装前の記憶ドライブ１０に対応する検査モードの実行結果と換装後の記憶ドライブ１０に対応する検査モードの実行結果とを非連続な形式でディスプレイ上に表示する。すなわち、外部装置は、記憶ドライブ１０の換装が行われたことが明確になるように、検査モードの実行結果をディスプレイ上に表示する。
【００８０】
なお、検査モードの実行結果は、図９に示すように、折れ線グラフの形式で表示されることが好ましい。
【００８１】
[変更例２]
以下において、第１実施形態の変更例２について説明する。以下においては、第１実施形態に対する相違点について主として説明する。
【００８２】
変更例２では、記憶装置１００（制御部４０）は、検査モードの実行結果の組合せに基づいて、記憶ドライブ１０の不具合状況を特定する。ここで、例えば、不具合状況とは、不具合が生じているか否かを示す情報である。或いは、不具合状況とは、不具合が生じている場合に、不具合要因を示す情報である。或いは、不具合状況とは、不具合が生じている場合に、不具合要因を有する記憶ドライブを示す情報である。なお、不具合は、主として、データの読み出し元からデータの書き込み先へのデータの転送で生じる”書き込み不具合”や”読み出し不具合”である。
【００８３】
変更例２では、記憶ドライブ１０として、４つのＨＤＤ（ＨＤＤ１〜ＨＤＤ４）が設けられるケースについて、図１０を参照しながら説明する。なお、図１０では、説明を簡略化するために、様々な現象が１つの表に纏められていることに留意すべきである。すなわち、図１０に記載された様々な現象が同時に生じる訳ではないことに留意すべきである。また、図１０において、○は、転送特性が正常であることを意味しており、×は、転送特性が劣化していることを意味する。
【００８４】
なお、図１０において、最も左の縦列は、データの読み出し元を構成する記憶ドライブ１０を示しており、最も上の横列は、データの書き込み先を構成する記憶ドライブ１０を示している。また、変更例２は、記憶ドライブ１０が３つであるケースにも適用可能であり、記憶ドライブ１０が５つ以上であるケースにも適用可能である。
【００８５】
具体的には、図１０に示すように、読み出し元がＨＤＤ１であるケースにおいて、書き込み先がＨＤＤ２及びＨＤＤ３である場合には、転送特性が正常であり、書き込み先がＨＤＤ４である場合にのみ、転送特性の劣化が検出されたケースについて考える。このようなケースでは、記憶装置１００は、ＨＤＤ４の書き込み不具合が不具合要因であると判定する（判定結果Ａ）。このように、記憶装置１００は、転送特性の劣化が検出された書き込み先のＨＤＤが一つである場合に、当該書き込み先のＨＤＤの書き込み不具合が生じていると判定する。
【００８６】
読み出し元がＨＤＤ２であるケースにおいて、書き込み先がＨＤＤ１、ＨＤＤ３及びＨＤＤ４のいずれである場合にも、転送特性の劣化が検出されたケースについて考える。このようなケースでは、記憶装置１００は、ＨＤＤ２の読み出し不具合が不具合要因であると判定する（判定結果Ｂ）。このように、記憶装置１００は、転送特性の劣化が全ての書き込み先のＨＤＤで生じている場合には、当該読み出し元のＨＤＤの読み出し不具合が生じていると判定する。
【００８７】
読み出し元がＨＤＤ３であるケースにおいて、書き込み先がＨＤＤ１、ＨＤＤ２及びＨＤＤ４のいずれである場合にも、転送特性の劣化が検出されなかったケースについて考える。このようなケースの転送特性としては、記憶装置１００は、少なくともＨＤＤ３からの読み出しにおいて、不具合が生じていないと判定する（判定結果Ｃ）。このように、記憶装置１００は、転送特性の劣化が全ての書き込み先のＨＤＤで生じていない場合には、不具合が生じていないと判定する。
【００８８】
読み出し元がＨＤＤ４であるケースにおいて、書き込み先がＨＤＤ１及びＨＤＤ２である場合に、転送特性の劣化が検出され、書き込み先がＨＤＤ３である場合に、転送特性の劣化が検出されなかったケースについて考える。このようなケースでは、記憶装置１００は、記憶装置１００の設置環境などのように、書き込みや読み出し以外の他の不具合が生じていると判定する（判定結果Ｄ）。このように、記憶装置１００は、転送特性の劣化が複数の書き込み先のＨＤＤで生じているにもかかわらず、転送特性の劣化が生じていない書き込み先のＨＤＤが存在する場合には、書き込み不具合及び読み出し不具合以外の他の不具合が生じていると判定する。
【００８９】
なお、変更例２において、記憶装置１００は、前回の検査モードの転送特性と今回の検査モードの転送特性との差分が所定閾値以上である場合に、転送特性が劣化していると判定する。或いは、記憶装置１００は、今回の検査モードの転送特性が所定閾値以下である場合に、転送特性が劣化していると判定してもよい。
【００９０】
［その他の実施形態］
本発明は上述した実施形態によって説明したが、この開示の一部をなす論述及び図面は、この発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。
【００９１】
実施形態では、特定領域は、スワップ領域である。しかしながら、実施形態は、これに限定されるものではない。特定領域は、ユーザ領域以外の領域であればよい。
【００９２】
実施形態では、テストデータの転送特性は、第１記憶ドライブから第２記憶ドライブに対するテストデータの転送に係る特性である。しかしながら、テストデータの転送特性は、第１記憶ドライブからのテストデータの読み出し特性であってもよい。このようなケースにおいて、テストデータの読み出し完了時刻は、第１記憶ドライブ（スワップ領域）から揮発性メモリ４２へのテストデータの読み出しが完了した時刻である。或いは、テストデータの転送特性は、第２記憶ドライブへのテストデータの書き込み特性であってもよい。このようなケースにおいて、テストデータの書き込み完了時刻は、揮発性メモリ４２から第２記憶ドライブ（スワップ領域）へのテストデータの書き込みが完了した時刻であってもよい。
【００９３】
実施形態では、テストデータの転送時間は、転送速度の検査（ステップ４３０）の開始時点で記録される時刻（転送開始時刻）から、転送速度の検査（ステップ４３０）の終了時点で記録される時刻（転送終了時刻）までの時間である。しかしながら、実施形態は、これに限定されるものではない。転送開始時刻は、第１記憶ドライブに対して最初の読み出しコマンドを発行した時刻（読み出し開始時刻）であってもよい。或いは、転送終了時刻は、第２記憶ドライブに対して最後の書き込みコマンドを発行した時刻（書き込み終了時刻）であってもよい。
【００９４】
実施形態では特に触れていないが、結果格納領域が不揮発性メモリ４３に設けられている場合において、制御部４０は、検査モードにおいて、結果格納領域をマウントすることが好ましい。
【符号の説明】
【００９５】
１０…記憶ドライブ、１１…プラッタ、１２…スピンドルモータ、１３…ヘッド、１４…スイングアーム、１５…アクチュエータ、１６…インタフェースピン、１７…電源ピン、２０…ドライブベイ、３０…インタフェースコネクタ、４０…制御部、４１…ＣＰＵ、４２…揮発性メモリ、４３…不揮発性メモリ、１００…記憶装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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