(57)【特許請求の範囲】
【請求項１】
錫含有塩を水に溶解して錫イオン濃度が０．５〜２Ｍである錫水溶液を製造する段階と、
前記錫水溶液に塩基性沈殿剤を０．５〜３リットル／分の速度で添加してｐＨを３〜７に調節してＳｎ（ＯＨ）Ｘ沈殿物を得た後、この沈殿物を分離する段階と、
分離された前記Ｓｎ（ＯＨ）Ｘ沈殿物を４００〜９００℃で、か焼して、ＳｎＯ２粉末を得る段階とを含むＳｎＯ２粉末の製造方法。
【請求項２】
前記錫含有塩はＳｎＣｌ４、ＳｎＦ４、ＳｎＩ４、Ｓｎ（Ｃ２Ｈ３Ｏ２）２、ＳｎＣｌ２、ＳｎＢｒ２、ＳｎＩ２、またはこれらの混合物であることを特徴とする請求項１に記載のＳｎＯ２粉末の製造方法。
【請求項３】
前記塩基性沈殿剤はＮＨ４ＯＨ、ＮＨ３ガス、ＮａＯＨ、ＫＯＨ、ＮＨ４ＨＣＯ３、（ＮＨ４）２ＣＯ３またはこれらの混合物であることを特徴とする請求項１または２に記載のＳｎＯ２粉末の製造方法。
【請求項４】
前記Ｓｎ（ＯＨ）Ｘ沈殿物をか焼する前に、前記Ｓｎ（ＯＨ）Ｘ沈殿物を洗浄及び乾燥する工程をさらに含むことを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載のＳｎＯ２粉末の製造方法。
【請求項５】
ＢＥＴ法で測定された表面積が４〜１５ｍ２／ｇであり、ＢＥＴ法で測定された平均粒径が５０〜２００ｎｍである請求項１〜４のいずれかの製造方法により得られたＳｎＯ２粉末５〜２０質量％、及び
ＢＥＴ法で測定された表面積が５〜３０ｍ２／ｇであるＩｎ２Ｏ３粉末８０〜９５質量％の混合物を成形および焼結してＩＴＯターゲットを製造する方法。
【請求項６】
前記ＩＴＯターゲットの焼結密度は７．０〜７．１５ｇ／ｃｍ３であることを特徴とする請求項５に記載のＩＴＯターゲットの製造方法。
【請求項７】
前記ＩＴＯターゲットの焼結温度は１，２００〜１，６００℃であることを特徴とする請求項５または６に記載のＩＴＯターゲットの製造方法。
【請求項８】
前記Ｉｎ２Ｏ３粉末はＢＥＴ法で測定された表面積が５〜１８ｍ２／ｇであることを特徴とする請求項５〜７のいずれか１項に記載のＩＴＯターゲットの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明はＳｎＯ2粉末、その製造方法及びインジウム錫酸化物（以下、「ＩＴＯ」と称する）ターゲットの製造方法に関する。より詳細には、ＬＣＤ、ＥＬ、ＦＥＤ素子のようなディスプレイ素子を構成する高品質な透明電極層を真空蒸着するのに必要な高密度ＩＴＯターゲットを製造するために使われうるＳｎＯ2粉末、その製造方法及びこれを使用した高密度ＩＴＯターゲットの製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
Ｉｎ2Ｏ3とＳｎＯ2が９：１の質量比で混合されているＩＴＯフィルムは、高い伝導率と可視光線の高透過性のためにＬＣＤ、ＥＬ、ＦＥＤなどの透明電極フィルムとして広く使われている。このようなＩＴＯフィルムは、通常、ＩＴＯターゲットをスパッタリングしてガラス基板のような絶縁基板上にコーティングして形成され、ＩＴＯターゲットはＩＴＯ粉末を所定の形状、例えば直方体の板状に成形して高温で焼結して得られる。スパッタリング法によって高品質のＩＴＯフィルムを基板上にコーティングするためには、ＩＴＯターゲットの焼結密度は、高くあるべきである。なぜなら、低密度のＩＴＯターゲットを使用してスパッタリング法でＩＴＯフィルムを形成すると、使用したターゲット表面でノジュールが形成されて、製造されたＩＴＯフィルムの品質及び工程収率が低下するからである。
【０００３】
したがって、高品質のＩＴＯ透明電極層を形成するためには高密度のＩＴＯターゲットを使用せねばならず、高密度のＩＴＯターゲットを製造するためにはＩＴＯ粉末の１次粒子の平均粒径を適切に調節する必要がある。ＩＴＯ粉末の１次粒子の平均粒径が微細であると、粒子の比表面積が大きくなり、焼結密度を高めるための推進力は増加する。しかしながら、水酸化物のか焼（Ｃａｌｃｉｎａｔｉｏｎ）の後に粒子を粉砕することが難しく、ターゲット成形時に粒子間に残留する微細な気孔の増加により、応力が発生し、平均粒径が大きい成形体を得難い。一方、ＩＴＯ粉末の１次粒子の平均粒径が大きいと、粉末の流動性及び成形性には優れる。しかしながら、粒子焼結に必要な駆動力が不足し、また、粒子間に残留する気孔があまりに粗大で、気孔を除去するのに多くのエネルギーを必要とする。前記のような理由のため、優れた高密度ＩＴＯターゲットを製造するためには、平均粒径が微細、かつ、粒子分布が稠密であり、２次粒子の粉砕が容易な粉末を製造せねばならない。
【０００４】
微細粉末を合成する方法として知られる気相法は、ナノサイズの粉末を合成できる方法として現在注目されている。しかしながら、量産が難しく、特殊な粉末の少量合成にのみ制限的に使われている。また粉末を合成した後に再び小さく粉砕して平均粒径を小さくする方法は、本質的に粉末の１次粒子を制御する方法ではない。つまり、１次粒子が凝集した２次粒子の平均粒径を制御する方法であり、１次粒子の平均粒径を変えられない。
【０００５】
微細粉末を量産する手法としては、一般的に液状法が利用されている。その中でも沈殿剤を使用して溶液中の金属イオンを沈殿させることによって粉末を得る沈殿法がＩＴＯ粉末を製造する一般的な方法として使われている。
【０００６】
ＩＴＯ粉末及びこれを利用したＩＴＯターゲットを製造するために使われるＳｎＯ2粉末に関する文献には次のようなものがある。
【０００７】
特許文献１は、ＩＴＯ粉末の製造のためにインジウム溶液濃度の約３倍濃度の沈殿剤を使用してＩｎ2Ｏ3粉末を製造する方法を開示している。また、ＢＥＴ法で測定した表面積が２ｍ2／ｇであり平均粒径が３０〜１００ｎｍであるＳｎＯ2を前記のように製造されたＩｎ2Ｏ3粉末と混合してＩＴＯ粉末を製造する方法を開示している。しかしながら、ＳｎＯ2合成法については何の言及もない。
【０００８】
特許文献２は、ＳｎＯ2の平均粒径をジェットミルで調節して平均粒径を０．２〜１０μｍにする方法を開示している。しかしながらが、ＳｎＯ2合成法については何の言及もない。
【０００９】
特許文献３は、３５〜４０℃の沈殿反応温度で沈殿剤として（ＮＨ4）2ＣＯ3を使用してＩｎ2Ｏ3粉末を製造する方法を開示している。また、ＢＥＴ法で測定した表面積が８．２ｍ2／ｇであり平均粒径が１００〜３３０ｎｍであるＳｎＯ2粉末を前記のように製造されたＩｎ2Ｏ3粉末と混合してＩＴＯ粉末を製造する方法を開示している。しかしながら、やはりＳｎＯ2合成法については何の言及もない。
【００１０】
【特許文献１】
米国特許第５，４０１，７０１号明細書
【特許文献２】
米国特許第５，９８０，８１５号明細書
【特許文献３】
米国特許第６，０９９，９８２号明細書
【００１１】
【発明が解決しようとする課題】
したがって、本発明が解決しようとする技術的課題は、高密度のＩＴＯターゲットを製造するのに使われうるＳｎＯ2粉末とその製造方法を提供することである。
【００１２】
本発明が解決しようとする他の技術的課題は、このように製造されたＳｎＯ2粉末を利用して焼結密度が理論密度に近い、高密度のＩＴＯターゲットの製造方法を提供することである。
【００１６】
【課題を解決するための手段】
本発明は、ＳｎＯ２粉末の製造方法として、錫含有塩を水に溶解して錫イオン濃度が０．５〜２Ｍである錫水溶液を製造する段階と、前記錫水溶液に塩基性沈殿剤を０．５〜３リットル／分の速度で添加してｐＨを３〜７に調節してＳｎ（ＯＨ）Ｘ沈殿物を得た後、この沈殿物を分離する段階と、分離された前記Ｓｎ（ＯＨ）Ｘ沈殿物を４００〜９００℃で、か焼してＳｎＯ２粉末を得る段階とを含むＳｎＯ２粉末の製造方法を提供する。
【００１７】
ＳｎＯ２粉末の製造方法において、前記錫含有塩はＳｎＣｌ４、ＳｎＦ４、ＳｎＩ４、Ｓｎ（Ｃ２Ｈ３Ｏ２）２、ＳｎＣｌ２、ＳｎＢｒ２、ＳｎＩ２、またはこれらの混合物であることが望ましく、前記塩基性沈殿剤はＮＨ４ＯＨ、ＮＨ３ガス、ＮａＯＨ、ＫＯＨ、ＮＨ４ＨＣＯ３、（ＮＨ４）２ＣＯ３またはこれらの混合物であることが望ましい。
【００１８】
本発明のＳｎＯ２粉末の製造方法において、前記沈殿物をか焼する前に前記Ｓｎ（ＯＨ）Ｘ沈殿物を洗浄及び乾燥する工程をさらに含むことが望ましい。
【００１９】
また本発明は、ＢＥＴ法で測定された表面積が４〜１５ｍ2／ｇであり、ＢＥＴ法で測定された平均粒径が５０〜２００ｎｍであるＳｎＯ2粉末５〜２０質量％、及びＢＥＴ法で測定された表面積が５〜３０ｍ2／ｇであるＩｎ2Ｏ3粉末８０〜９５質量％の混合物を成形および焼結してＩＴＯターゲットを製造する方法を提供する。
【００２０】
本発明のＩＴＯターゲットの製造方法において、前記ＩＴＯターゲットの焼結温度は１，２００〜１，６００℃であることが望ましく、前記Ｉｎ2Ｏ3粉末はＢＥＴ法で測定された表面積が５〜１８ｍ2／ｇであることが望ましい。上記焼結温度および表面積が上述の好ましい範囲であると、焼結密度が７．０〜７．１５ｇ／ｃｍ3であるＩＴＯターゲットを容易に製造できる。また、これにより得られたＩＴＯターゲットを使用すればＬＣＤ、ＥＬ、ＦＥＤ素子のようなディスプレイ素子の高品質透明電極を容易に形成できる。
【００２１】
【発明の実施の形態】
以下、本発明によるＳｎＯ2粉末とその製造方法、及び前記ＳｎＯ2粉末を使用したＩＴＯターゲットの製造方法について詳細に説明する。
【００２２】
本発明者は、錫溶液の濃度及びｐＨ、添加剤の添加速度及び石灰焼結温度などを総合的に精密に制御すれば、高密度のＩＴＯターゲットを製造するのに使われうる微細で、かつ均一な高純度のＳｎＯ2粉末を製造できることを多くの実験及び鋭意検討を通じて見つけて本発明を完成するに至った。
【００２３】
微細で、かつ均一な高純度のＳｎＯ2粉末を製造するためには、錫溶液の錫イオン濃度も重要な制御因子として考慮せねばならない理由は次の通りである。すなわち、沈殿法における粒子の形成メカニズムは、反応溶液に沈殿剤が添加されるとともに、溶液中で沈殿核が生成されるといったものである。この核は互いに衝突を通じて大きくなって１次粒子に成長する。このような１次粒子はナノサイズの粉末を意味する。このような沈殿メカニズムの観点からみれば、溶液濃度は沈殿中の沈殿核の個数と衝突の確率を支配し、粒子の粒径および形状に影響を及ぼす。すなわち、高濃度の反応溶液では沈殿核の衝突可能性が高いため、低濃度の反応溶液で得られる粒子よりも、大きい粒子を得られ多様な形態の衝突によって粒子はいろいろな形状で沈殿する。特にＩＴＯ焼結体の密度を増加させるためには球状の粒子を得ることが重要である。このような事実は沈殿条件のうち濃度調節が重要であることを示唆している。特に、錫溶液中に沈殿剤を添加してＳｎＯ2粉末を得る場合には初期錫濃度によって沈殿剤供給時に形成される粒子の形状と粒径が左右される。したがって、本発明は、錫溶液の初期錫イオン濃度を一定に調節することによって、特定の粒径及び表面積を有し、高密度のＩＴＯターゲットへと焼結されうる、球状のＳｎＯ2粉末を製造する方法を提供する。本発明のＳｎＯ2粉末の製造方法は、ＳｎＯ2を合成した後にその粒径を再びジェットミルで調節する特許文献２の製造方法と比較すると、合成時から高密度のＩＴＯターゲットを製造するのに使用できる特定粒径及び表面積のＳｎＯ2粉末を簡便に得られるといった、優れた長所を有している。
【００２４】
また、本発明は、前記製造方法によって得られた特定粒径及び表面積を有するＳｎＯ２粉末と、混合時にもっとも高い焼結密度のＩＴＯターゲットを得られるＩｎ２Ｏ３粉末との平均粒径を限定して高密度のＩＴＯターゲットを製造できる方法も提供する。
【００２５】
以下、本発明のＳｎＯ２粉末の製造工程をより詳細に説明する。
【００２６】
図１は、本発明のＳｎＯ２粉末の製造工程のフローチャートである。図１を参照してＳｎＯ２粉末の製造方法の一実施態様について説明する。
【００２９】
この方法は金属錫の代りに錫含有塩を原料として使用してＳｎＯ２粉末を製造することを特徴とする。錫含有塩とは、錫（Ｓｎ）を含む化合物をいい、ＳｎＯ２粉末製造の原料として使われる錫含有塩としては、ＳｎＦ４、ＳｎＣｌ４、ＳｎＩ４、Ｓｎ（Ｃ２Ｈ３Ｏ２）２、ＳｎＣｌ２、ＳｎＢｒ２、ＳｎＩ２、またはこれらの混合物など水に溶解または分解される錫含有塩をいずれも使用（段階１）できる。本発明の製造方法では、単純に前記錫含有塩を蒸溜水に溶解して錫水溶液として使用するが（段階３）、この場合にも初期錫イオンの濃度を０．５〜２Ｍになるように厳密に制御する。次いで、前記錫水溶液に塩基性沈殿剤を添加してＳｎ（ＯＨ）Ｘ沈殿物形態の沈殿物を得る（段階５）。この時、得た前記錫水溶液のｐＨを３〜７に調節してＳｎ（ＯＨ）Ｘ沈殿物の形態で沈殿させる。ｐＨが３未満であると、沈殿粒子があまり微細になる恐れがある。ｐＨ７を超過すると、ろ過液にＯＨ基が多く残って環境的な面で望ましくない。すなわち、本発明の製造方法では、沈殿物を得るためには塩基性沈殿剤を使用する必要がある。使われる塩基性沈殿剤の種類は特別に制限されず、ＮＨ４ＯＨ、ＮＨ３ガス、ＮａＯＨ、ＫＯＨ、ＮＨ４ＨＣＯ３、（ＮＨ４）２ＣＯ３またはこれらの混合物が望ましく使われる。なお、ＮＨ３ガスとは、文字通り、アンモニアガスのことである。この時、沈殿剤の添加速度は０．５〜３リットル／分に調節する。０．５リットル／分未満であると、沈殿反応時間が長くなり、３リットル／分を超過すると、沈殿剤が均一に混合されずに溶液内で部分沈殿が起きて沈殿粒子が不規則な形態を有する恐れがある。引続き沈殿物を熟成し、遠心分離機で分離した後に洗浄する（段階７）。次いで洗浄された沈殿物をオーブンで乾燥（段階９）、粉砕し、粉砕された粉末を電気炉でか焼（段階１１）してＳｎＯ２粉末を得る。この時、か焼温度は４００〜９００℃に調節する。か焼温度が４００℃未満であると、ＳｎＯ２粉末の平均粒直径があまり微細になり、９００℃を超過すると、ＳｎＯ２粉末が焼結される問題点が現れる。
【００３０】
前記本発明のＳｎＯ２粉末の製造方法によれば、ＢＥＴ法で測定された表面積が４〜１５ｍ２／ｇであり、ＢＥＴ法で測定された平均粒径が５０〜２００ｎｍであるＳｎＯ２粉末を簡便な方法で容易に得られる。ＢＥＴ法で測定された表面積が４ｍ２／ｇ（因みに、これはＢＥＴ測定粒径２００ｎｍに相当）未満であると、１次粒子があまりに大きくて、高い焼結密度を得るための推進力が不足する恐れがある。ＢＥＴ法で測定された表面積が１５ｍ２／ｇ（因みに、これはＢＥＴ測定粒径５０ｎｍに相当）を超過すると、１次粒子があまり微細で成形時に問題点が発生して高い成形密度を得難く、結果的に高い焼結密度を得難い。なお、本願において「焼結密度」とは、焼結処理が施された後の、ＩＴＯターゲットの密度を意味する。
【００３１】
次いで、本発明の製造方法によって得られたＳｎＯ2粉末を利用してＩＴＯターゲットを製造する方法について説明する。原料であるＳｎＯ2粉末としては、ＢＥＴ法で測定された表面積が４〜１５ｍ2／ｇであり、またＢＥＴ法で測定された平均粒径が５０〜２００ｎｍであるＳｎＯ2粉末を利用することによって、高密度のＩＴＯターゲットを製造することができる。
【００３２】
図２は、本発明のＳｎＯ２粉末の製造方法によって製造されたＳｎＯ２粉末とＩｎ２Ｏ３粉末とを混合してＩＴＯターゲットを製造する工程のフローチャートである。
【００３３】
図２を参照すれば、まず本発明の製造方法によって製造されたＳｎＯ2粉末５〜２０質量％及び、ＢＥＴ法で測定された表面積が５〜３０ｍ2／ｇ、望ましくはＢＥＴ法で測定された表面積が５〜１８ｍ2／ｇであるＩｎ2Ｏ3粉末８０〜９５質量％を、ボールミリングなどの混合方法を通じて混合した混合粉末を得る（段階１５）。次いで、この混合粉末を乾燥して、通常は直方体の板状のターゲットに成形する（段階１７）。引続きこの成形物を１，２００〜１，６００℃の焼結炉で熱処理してＩＴＯターゲットを得る（段階１９）。最終的に得られたＩＴＯターゲットの焼結密度を測定して特性を評価する。焼結温度が１，２００℃未満であると、焼結時に両酸化物が完全な固溶体を形成し難いだけでなく高い焼結密度を得るためのエネルギーが足りない。一方、焼結温度が１，６００℃を超過すると、両酸化物の相変化と焼結のための十分なエネルギーが供給されるが、Ｉｎ2Ｏ3、ＳｎＯ2は高温で揮発性があるため、高温で長時間焼結した場合に、ターゲットの収率が低くなる。このため、ＩＴＯターゲットの焼結温度は、好ましくは１，２００〜１，６００℃である。また、得られるＩＴＯターゲットの焼結密度は、好ましくは７．０〜７．１５ｇ／ｃｍ3である。
【００３４】
【実施例】
次いで、実施例を通じて本願発明によるＳｎＯ2粉末の製造方法及びＩＴＯターゲットの製造方法を詳細に説明するが、下記実施例は本発明による製造方法をより具体的に説明するための例示的なものであって、本願発明の範囲がこれにより制限されないということはもちろんである。
【００３５】
＜Ｉｎ２Ｏ３の合成＞
まず、参考例、実施例２〜３及び比較例１〜２でＳｎＯ２粉末と混合してＩＴＯターゲットを焼結するのに使用されるＩｎ２Ｏ３の合成法を説明する。まず、インジウムイオンの濃度を２．５Ｍにする量のＩｎ（ＮＯ３）３をとって蒸溜水に溶解させた。この溶液に沈殿剤として２８％ＮＨ４ＯＨを２リットル／分の速度で添加して沈殿物を得た。この沈殿反応において溶液のｐＨは８になるように調節した。このようにして得られた沈殿物を１８〜２４時間熟成した後、遠心分離機を使用して洗浄した。洗浄後、１００℃のオーブンで沈殿物を乾燥した後、乾燥された粉末を粉砕した。引続き、粉砕された粉末を７００℃の電気炉で２時間か焼した。得られたＩｎ２Ｏ３粉末のＢＥＴ法によって測定した表面積は１８ｍ２／ｇであった。
【００３６】
＜参考例＞まず５リットルのビーカーに金属錫３００ｇを入れた。ここに６０％濃度の硝酸１．５リットルを入れて撹拌して常温で前記金属錫を溶解させた。この溶液の錫イオン濃度は１．０Ｍである。この溶液から沈殿したメタ錫酸形態のＳｎ（ＯＨ）Ｘ沈殿物を２０〜２４時間熟成した。熟成後に沈殿物を遠心分離機を用いて分離し、蒸溜水で洗浄した。１００℃オーブンで沈殿物を乾燥後に粉砕し、６００℃の電気炉で２時間か焼してＳｎＯ２を得た。このようにして得られたＳｎＯ２粉末のＢＥＴ法で測定した表面積は１４ｍ２／ｇであった。
【００３７】
前述の方法で得られた、ＢＥＴ法による表面積が１８ｍ2／ｇであるＩｎ2Ｏ3粉末とＳｎＯ2粉末とを質量比９０：１０になるように混合した粉末を、横２０ｃｍ、縦１５ｃｍ、高さ１ｃｍの直方体の板状の成形フレームに入れて成形した後、１，５００℃で焼結した。このようにして得られたＩＴＯターゲットの焼結密度は７．１３ｇ／ｃｍ3であった。
【００３８】
＜実施例２＞
錫イオンの濃度を１．０Ｍにする量のＳｎＣｌ4をとって蒸溜水に溶解した。この溶液に、沈殿剤として２８％ＮＨ4ＯＨを１リットル／分の速度で添加して沈殿物を得た。この沈殿反応において沈殿反応の終了時の溶液のｐＨは７になるように調節した。このようにして得られた沈殿物を１８〜２４時間熟成した後、遠心分離機を使用して洗浄した。洗浄後に１００℃のオーブンで沈殿物を乾燥した後、乾燥された粉末を粉砕した。引続き、粉砕された粉末を７００℃の電気炉で２時間か焼した。得られたＳｎＯ2粉末のＢＥＴ法によって測定した表面積は１２ｍ2／ｇであった。
【００３９】
前記ＢＥＴ法による表面積が１８ｍ2／ｇであるＩｎ2Ｏ3粉末と本実施例で得たＳｎＯ2粉末とを質量比９０：１０になるように混合した粉末を、横２０ｃｍ、縦１５ｃｍ、高さ１ｃｍの直方体の板状の成形フレームに入れて成形した後、１，５００℃で焼結した。このようにして得られたＩＴＯターゲットの焼結密度は７．１４ｇ／ｃｍ3であった。
【００４０】
＜実施例３＞
錫イオンの濃度を１．５Ｍにする量のＳｎＣｌ4をとって蒸溜水に溶解させた。この溶液に、沈殿剤として２８％ＮＨ4ＯＨを２リットル／分の速度で添加して沈殿物を得た。この沈殿反応において沈殿反応の終了時に溶液のｐＨが７になるように調節した。このようにして得られた沈殿物を１８〜２４時間熟成した後、遠心分離機を使用して洗浄した。洗浄後に１００℃のオーブンで沈殿物を乾燥した後、乾燥された粉末をハンマーミルで粉砕した。引続き、粉砕された粉末を６００℃の電気炉で２時間か焼した。得られたＳｎＯ2粉末のＢＥＴ法によって測定した表面積は１３ｍ2／ｇであった。
【００４１】
前記ＢＥＴ法による表面積が１８ｍ2／ｇであるＩｎ2Ｏ3粉末と本実施例で得たＳｎＯ2粉末とを質量比９０：１０になるように混合した粉末を、横２０ｃｍ、縦１５ｃｍ、高さ１ｃｍの直方体の板状の成形フレームに入れて成形した後、１，５５０℃で焼結した。このようにして得られたＩＴＯターゲットの焼結密度は７．１２ｇ／ｃｍ3であった。
【００４２】
＜比較例１＞
錫イオンの濃度を０．３Ｍにする量のＳｎＣｌ4をとって蒸溜水に溶解させた。この溶液に、沈殿剤として２８％ＮＨ4ＯＨを１リットル／分の速度で添加して沈殿物を得た。この沈殿反応において沈殿反応の終了時に溶液のｐＨは７になるように調節した。このようにして得られた沈殿物を１８〜２４時間熟成した後、遠心分離機を使用して洗浄した。洗浄後に１００℃のオーブンで沈殿物を乾燥した後、乾燥された粉末をハンマーミルで粉砕した。引続き、粉砕された粉末を６００℃の電気炉で２時間か焼した。得られたＳｎＯ2粉末のＢＥＴ法によって測定した表面積は１６ｍ2／ｇであった。
【００４３】
前記ＢＥＴ法による表面積が１８ｍ2／ｇであるＩｎ2Ｏ3粉末と本実施例で得たＳｎＯ2粉末とを質量比９０：１０になるように混合した粉末を、横２０ｃｍ、縦１５ｃｍ、高さ１ｃｍの直方体の板状の成形フレームに入れて成形した後、１，５５０℃で焼結した。このようにして得られたＩＴＯターゲットの焼結密度は６．５８ｇ／ｃｍ3であった。
【００４４】
＜比較例２＞
錫イオンの濃度を３．０Ｍにする量のＳｎＣｌ4をとって蒸溜水に溶解した。この溶液に、沈殿剤として２８％ＮＨ4ＯＨを１リットル／分の速度で添加して沈殿物を得た。この沈殿反応において沈殿反応の終了時に溶液のｐＨは７になるように調節した。このようにして得られた沈殿物を１８〜２４時間熟成した後、遠心分離機を使用して洗浄した。洗浄後に１００℃のオーブンで沈殿物を乾燥した後、乾燥された粉末をハンマーミルで粉砕した。引続き、粉砕された粉末を６００℃の電気炉で２時間か焼した。得られたＳｎＯ2粉末のＢＥＴ法によって測定した表面積は３ｍ2／ｇであった。
【００４５】
前記ＢＥＴ法による表面積が１８ｍ2／ｇであるＩｎ2Ｏ3粉末と本実施例で得たＳｎＯ2粉末とを質量比９０：１０になるように混合した粉末を、横２０ｃｍ、縦１５ｃｍ、高さ１ｃｍの直方体の板状の成形フレームに入れて成形した後、１，５５０℃で焼結した。このようにして得られたＩＴＯターゲットの焼結密度は６．５８ｇ／ｃｍ3であった。
【００４６】
前記参考例、実施例２〜３及び比較例１〜２の主要製造条件及び得られたＩＴＯターゲットの密度などを下の表１に総合した。
【００４７】
【表１】
0004018974.tif 000002
【００４８】
表１に示されるように、沈殿剤の添加速度、錫溶液のｐＨ、か焼温度、錫溶液の濃度などの各種条件を調節して得られた本発明による実施例２〜３のＳｎＯ２粉末をＩｎ２Ｏ３粉末と混合して焼結すれば、理論密度７．１５ｇ／ｃｍ３に近い、７．１２〜７．１４ｇ／ｃｍ３程度もの高密度を有するＩＴＯターゲットを容易に製造できる。
【００４９】
【発明の効果】
本発明の方法によれば、１次粒子の平均粒径が５０〜２００ｎｍで均一であり、２次粒子の平均粒径（Ｄ５０またはＤ９０）が１０μｍ以下である、粉砕が容易なＳｎＯ2粉末を容易に製造することが可能である。このような本発明の方法によって製造されたＳｎＯ2粉末を、一定の粒径のＩｎ2Ｏ3粒子と混合して焼結すれば、高密度のＩＴＯターゲットを得られる。したがって、このような本発明で得た高密度のＩＴＯターゲットを使用してスパッタリング法を利用して真空蒸着すれば、ＬＣＤ、ＥＬ、ＦＥＤなどの素子を製造する時に高品質の透明電極フィルムを形成できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  本発明のＳｎＯ２粉末の製造工程のフローチャートである。
【図２】  本発明で製造されたＳｎＯ２粉末とＩｎ２Ｏ３とを混合してＩＴＯターゲ
ットを製造する工程のフローチャートである。
【図１】
0004018974.tif 000003
【図２】
0004018974.tif 000004