【手続補正書】
【提出日】平成28年5月16日(2016.5.16)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線コンピュータ断層撮影（ＣＴ）／Ｘ線蛍光（ＸＲＦ）システムであって、
ボリューム情報を取得するＸ線ＣＴサブシステムと、
元素組成情報を取得するＸＲＦサブシステムと、
前記Ｘ線ＣＴサブシステムおよび前記ＸＲＦサブシステムと通信する制御部とを備え、前記制御部は前記Ｘ線ＣＴサブシステムおよび前記ＸＲＦサブシステムによる前記取得を管理する、システム。
【請求項２】
前記制御部は、前記Ｘ線ＣＴサブシステムから受信される前記ボリューム情報に基づいて前記ＸＲＦサブシステムの空間較正を提供する、請求項１に記載のシステム。
【請求項３】
前記制御部は、前記試料の中で元素の単体分離状態を確認するため、前記Ｘ線ＣＴサブシステムの前記ボリューム情報を前記ＸＲＦサブシステムの前記元素組成情報と組み合わせる、請求項１に記載のシステム。
【請求項４】
前記制御部は、前記ＸＲＦサブシステムによる前記元素組成情報の前記取得のため、前記ボリューム情報から予め決められた限定数の点または小区域を選択する、請求項１に記載のシステム。
【請求項５】
前記制御部は、深さの関数として前記試料の元素コントラストを提供するため、前記ボリューム情報と前記元素組成情報との相関を遂行する、請求項１に記載のシステム。
【請求項６】
前記制御部は、前記相関に応じて、前記試料内での位置の関数として元素分布マップを生成する、請求項５に記載のシステム。
【請求項７】
前記制御部は、
前記Ｘ線ＣＴサブシステムによって取得される前記ボリューム情報の中で関心対象の識別と選択を可能にする対話型グラフィックを生成し、
Ｘ線ＣＴサブシステム座標からＸＲＦサブシステム座標へ前記関心対象を変換するため、前記関心対象を内包する関心領域を形成し、且つ
前記元素組成情報の前記取得のため前記ＸＲＦサブシステムで前記関心領域にアクセスする、請求項１に記載のシステム。
【請求項８】
前記制御部は、前記Ｘ線ＣＴサブシステム座標と共焦点ＸＲＦサブシステム座標を変換する座標伝達関数を生成する、請求項１に記載のシステム。
【請求項９】
前記制御部は、前記Ｘ線ＣＴサブシステムと前記共焦点ＸＲＦサブシステムとの分解能の差を考慮する前記座標伝達関数を生成する、請求項８に記載のシステム。
【請求項１０】
前記制御部は、前記ＸＲＦサブシステムによる前記元素組成情報の取得のため、前記Ｘ線ＣＴサブシステムの前記ボリューム情報から選択された関心対象を関心領域に変換する座標伝達関数を生成する、請求項１に記載のシステム。
【請求項１１】
前記ＸＲＦサブシステムは、前記座標伝達関数を参照することによって前記ＸＲＦサブシステムの共焦点探査スポットに前記関心領域を配置する、請求項１０に記載のシステム。
【請求項１２】
前記制御部は、前記Ｘ線ＣＴサブシステムによって取得される前記ボリューム情報の吸収情報を用いて共焦点ＸＲＦサブシステムによって取得される前記元素組成情報を補正する、請求項１に記載のシステム。
【請求項１３】
前記吸収情報は前記ボリューム情報のボクセル明度に関連する、請求項１２に記載のシステム。
【請求項１４】
前記制御部は、前記試料内の元素を識別するため、共焦点ＸＲＦサブシステムによって取得される前記元素組成情報を参照元素情報に比較する、請求項１に記載のシステム。
【請求項１５】
前記参照元素情報は前記制御部と通信するデータベース内に収容される、請求項１４に記載のシステム。
【請求項１６】
前記ＸＲＦサブシステムは、前記元素組成情報の前記取得のため、前記ボリューム情報の関心領域をサブマイクロメーター空間分解能で選択的に探査する、請求項１に記載のシステム。
【請求項１７】
Ｘ線コンピュータ断層撮影とＸ線蛍光を用いて試料を解析する方法であって、
試料の三次元Ｘ線コンピュータ断層撮影（ＣＴ）測定を得ることと、
前記試料の前記ＣＴ測定で関心対象を選択することと、
前記選択された関心対象から関心領域を規定することと、
前記規定された関心領域からＸ線蛍光（ＸＲＦ）スペクトルを取得することと、
前記試料内の元素の識別のため、前記取得されたＸＲＦスペクトルを参照元素情報に照合することとを備える、方法。
【請求項１８】
前記試料の中で元素の単体分離状態を確認するため、前記試料の前記三次元Ｘ線ＣＴ測定を前記試料内での元素の前記識別に組み合わせることをさらに備える、請求項１７に記載の方法。
【請求項１９】
前記ＸＲＦスペクトルの前記取得のため、前記試料の前記Ｘ線ＣＴ測定から予め決められた限定数の点または小区域を選択することをさらに備える、請求項１７に記載の方法。
【請求項２０】
深さの関数として前記試料の元素コントラストを提供するため、前記試料の前記三次元Ｘ線ＣＴ測定を前記試料内での元素の前記識別に相関させることをさらに備える、請求項１７に記載の方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
共焦点ＸＲＦが考案されたのは約２０年前だが［Ｋｕｍａｋｈｏｖ＿１９９６］、様々なシンクロトロン施設で多くの研究者たちが共焦点機構を採用するようになったのはここ数年のことである。その用途は環境化学における元素撮像から（［Ｄｅ＿Ｓａｍｂｅｒ＿２００８］−Ｄｅ  Ｓａｍｂｅｒ，Ｂ  ｅｔ  ａｌ，Ｔｈｒｅｅ−ｄｉｍｅｎｓｉｏｎａｌ  ｅｌｅｍｅｎｔａｌ  ｉｍａｇｉｎｇ  ｂｙ  ｍｅａｎｓ  ｏｆ  ｓｙｎｃｈｒｏｔｒｏｎ  ｒａｄｉａｔｉｏｎ  ｍｉｃｒｏ−ＸＲＦ：ｄｅｖｅｌｏｐｍｅｎｔｓ  ａｎｄ  ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓ  ｉｎ  ｅｎｖｉｒｏｎｍｅｎｔａｌ  ｃｈｅｍｉｓｔｒｙ（シンクロトロン放射マイクロＸＲＦによる三次元元素撮像：環境化学における開発と応用），Ａｎａｌ  Ｂｉｏａｎａｌ  Ｃｈｅｍ，２００８，３９０，２６７−２７１）、古代絵画の組成・構造研究（［Ｍａｌｚｅｒ＿２００６］−Ｍａｌｚｅｒ，Ｗ，３Ｄ  Ｍｉｃｒｏ  Ｘ−ｒａｙ  Ｆｌｕｏｒｅｓｃｅｎｃｅ  Ａｎａｌｙｓｉｓ（３ＤマイクロＸ線蛍光解析），Ｔｈｅ  Ｒｉｇａｋｕ  Ｊｏｕｒｎａｌ，２００６，２３，４０−４７）、生体試料の元素・組織相関（［Ｄｅ＿Ｓａｍｂｅｒ＿２０１０］−Ｄｅ  Ｓａｍｂｅｒ，ｅｔ．ａｌ，Ｅｌｅｍｅｎｔ−ｔｏ−ｔｉｓｓｕｅ  ｃｏｒｒｅｌａｔｉｏｎ  ｉｎ  ｂｉｏｌｏｇｉｃａｌ  ｓａｍｐｌｅｓ  ｄｅｔｅｒｍｉｎｅｄ  ｂｙ  ｔｈｒｅｅ−ｄｉｍｅｎｓｉｏｎａｌ  Ｘ−ｒａｙ  ｉｍａｇｉｎｇ  ｍｅｔｈｏｄｓ（三次元Ｘ線撮像法による生体試料の元素・組織相関），Ｊ．Ａｎａｌ．Ａｔ．Ｓｐｅｃｔｒｏｍ．，２０１０，２５，５４４−５５３）にまでおよぶ。遷移元素の高感度微量元素検出も実証されている（［Ｊａｎｓｓｅｎｓ＿２００３］Ｊａｎｓｓｅｎｓ，Ｋ  ｅｔ．ａｌ，Ｍｉｎｉｍｕｍ  Ｄｅｔｅｃｔａｂｌｅ  Ａｍｍｏｕｎｔｓ  ａｎｄ  Ｍｉｎｉｍｕｍ  Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ  Ｌｉｍｉｔｓ  ｏｆ  Ｎｏｒｍａｌ  ａｎｄ  Ｃｏｎｆｏｃａｌ  μ−ＸＲＦ  ａｔ  Ｈａｓｙｌａｂ  ＢＬ  Ｌ  ｉｎ  ｐｉｎｋ  ｂｅａｍ  ｍｏｄｅ（ピンクビームモードによるＨａｓｙｌａｂ  ＢＬ  Ｌにおける通常・共焦点μ−ＸＲＦの最小検出可能量と最小検出限界），ＨＡＳＹＬＡＢ  Ｊａｈｒｅｓｂｅｒｉｃｈｔ  ２００２／Ｓｃｈｎｅｉｄｅｒ  Ｊ．［ｅｄｉｔ．］，ｅ．ａ．，Ｈａｍｂｕｒｇ，２００３．）。現在、最新のポリキャピラリ光学部品製造技術で（〜２０μｍ）３の共焦点体積が既に達成されている。
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図２】
2015531480.tif 000001