(57)【要約】【課題】起動時間を短縮するとともに記録品質を改善する。【解決手段】記録再生部(11)は、記録パラメータに基づいて、記録データを記録パルス(WP)に変換し、記録パルス(WP)に基づいて光ディスク(10)に記録領域を形成する記録動作と、記録動作によって光ディスク(10)に形成された記録領域に基づいてアナログ再生信号(AS)を生成する再生動作とを交互に繰り返す。再生処理部(12)は、アナログ再生信号(AS)をデジタル再生信号(DS)に変換する。復号処理部(13)は、デジタル再生信号(DS)に最尤復号処理を施して二値化信号(D302)を生成する。品質情報検出部(14)は、二値化信号(D302)のエッジパターン毎に信頼性値を検出する。制御部(15)は、エッジパターン毎に検出された信頼性値に基づいて記録パラメータを調整する。【選択図】図１
2013062000.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録データのマーク区間の長さと記録パルスの形状との対応関係が示された記録パラメータに基づいて光ディスクに記録しようとする所定量の記録データを記録パルスに変換し、前記記録パルスに基づいて前記光ディスクのデータ領域に記録ビームを照射して前記データ領域に複数のマークおよびスペースからなる記録領域を形成する記録動作と、前記記録動作によって前記データ領域に形成された記録領域に再生ビームを照射してアナログ再生信号を生成する再生動作とを交互に繰り返す記録再生部と、
前記アナログ再生信号をデジタル再生信号に変換する再生処理部と、
前記デジタル再生信号に最尤復号処理を施して最も確からしい二値化信号を生成する復号処理部と、
前記二値化信号の遷移エッジ毎に当該遷移エッジを挟んで隣接する前記二値化信号のマーク区間およびスペース区間の組合せによって表現されるエッジパターンを検出し、前記エッジパターン毎に当該エッジパターンに対応する前記最尤復号処理の結果の信頼性を示した信頼性値を検出する品質情報検出部と、
前記記録再生部による再生動作の開始から前記記録再生部による記録動作の開始までの期間において、前記エッジパターン毎に検出された信頼性値に基づいて前記記録パラメータに示された記録パルスの形状を調整する制御部とを備える
ことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項２】
請求項１において、
それぞれが異なる記録条件に対応する複数の記録パラメータを格納する情報格納部をさらに備え、
前記制御部は、前記情報格納部に格納された複数の記録パラメータの中から現在の記録条件に対応する記録パラメータを選択し、前記エッジパターン毎に検出された信頼性値に基づいて前記現在の記録条件に対応する記録パラメータに示された記録パルスの形状を調整し、
前記記録再生部は、前記制御部によって選択された記録パラメータに基づいて前記記録動作を実行する
ことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項３】
請求項１または２において、
前記制御部は、前記エッジパターン毎に検出された信頼性値に基づいて、前記二値化信号のマーク区間および当該マーク区間を挟んで隣接する前記二値化信号の２つのスペース区間の組合せによって表現される記録パターン毎に当該記録パターンの誤差値を計算し、前記記録パターン毎に計算された誤差値のうち少なくとも１つの誤差値が予め設定された目標値に近づくように前記記録パラメータに示された記録パルスの形状を調整する
ことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項４】
請求項３において、
前記制御部は、前記記録パターン毎に前記誤差値と前記目標値との差分値が改善基準値よりも大きいか否かを判定し、前記差分値が前記改善基準値よりも大きいと判定された記録パターンのうち少なくとも１つの記録パターンの誤差値が前記目標値に近づくように前記記録パラメータに示された記録パルスの形状を調整する
ことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項５】
請求項４において、
前記制御部は、前記記録パターン毎に前記誤差値と前記目標値との差分値が不良基準値よりも大きいか否かを判定し、前記差分値が前記不良基準値よりも大きい記録パターンを検出した場合に、前記記録再生部による前回の記録動作によって記録された所定量の記録データが前記記録再生部による次回の記録動作によって前記光ディスクの交代セクタに再記録されるように前記記録再生部を制御し、
前記不良基準値は、前記改善基準値よりも大きい
ことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項６】
請求項３において、
それぞれが異なる記録条件に対応する複数の記録パラメータと、それぞれが異なる記録条件に対応する複数の目標値とを格納する情報格納部をさらに備え、
前記制御部は、前記情報格納部に格納された複数の記録パラメータおよび複数の目標値の中から現在の記録条件に対応する記録パラメータおよび目標値を選択し、前記記録パターン毎に計算された誤差値のうち少なくとも１つが前記現在の記録条件に対応する目標値に近づくように前記現在の記録条件に対応する記録パラメータに示された記録パルスのパルス形状を調整し、
前記記録再生部は、前記制御部によって選択された記録パラメータに基づいて前記記録動作を実行する
ことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項７】
請求項１において、
前記制御部は、前記エッジパターン毎に検出された信頼性値のうち前記記録パラメータの調整に利用しようとするエッジパターンの信頼性値を転送するように前記品質情報検出部に指示し、
前記品質情報検出部は、前記エッジパターン毎に検出された信頼性値のうち前記制御部によって指定されたエッジパターンの信頼性値を前記制御部に転送する
ことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項８】
請求項１において、
前記品質情報検出部は、
前記最尤復号処理によって最も確からしいと判断された第１の状態遷移列の確からしさを示した第１の指標値と前記最尤復号処理によって２番目に確からしいと判断された第２の状態遷移列の確からしさを示した第２の指標値とを計算し、前記第１および第２の指標値の差分値に基づいて前記信頼性値を計算する信頼性計算部と、
前記二値化信号の遷移エッジ毎に前記エッジパターンを検出するエッジパターン検出部と、
前記信頼性計算部によって計算された信頼性値に対して前記エッジパターン検出部によって検出されたエッジパターンを対応付けて格納する信頼性格納部とを含む
ことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、光ディスク記録再生装置に関し、さらに詳しくは、記録品質の評価結果に基づいて記録パルスを調整する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、光ディスク記録再生装置では、光ディスクや装置の個体差（光ディスク製造時におけるロットばらつきや、光ヘッドにおけるレーザ光の波長ばらつきや受光素子の感度ばらつきなど）による記録品質の劣化を抑制するために、光ディスクの脱着時などに、校正動作（記録パワーの最適化や記録パルスの形状の最適化）が行われている。記録パルスの形状を最適化する技術として、特許文献１，２，３などが知られている。特許文献１には、最尤復号における誤り確率が最小となるように記録パルスの形状を最適化する技術が記載されている。特許文献２には、再生信号品質（ジッタや誤り確率）が改善するように最短の記録マークに対応する記録パルスの形状を最適化する技術が記載されている。特許文献３には、記録マークの長さ誤差値および位相誤差値が“０”以外の目標値になるように記録パルスの形状を最適化する技術が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−３３５０７９号公報
【特許文献２】特開２００４−２１３８６５号公報
【特許文献３】特開２００７−２８０４９２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１，２，３に記載された技術では、記録パルスの最適化のために準備されたテストパターンに対応する記録パルスに基づいて、光ディスクの内周部または外周部に設けられたパワー校正領域（PCA:Power Calibration Area）にテストパターンに対応する記録マークを形成し、パワー校正領域に形成された記録マークの記録品質に基づいて記録パルスの形状を最適化しているので、パワー校正領域における記録パルスの最適化処理が完了した後に、光ディスクに記録しようとする記録データ（例えば、ユーザデータ）の記録処理を実行することになる。そのため、起動時間（記録データの記録が開始されるまでの時間）が長くなってしまう。
【０００５】
また、光ディスクの領域毎に記録マークの形成条件（例えば、線速度や物理的特性など）が異なる場合、パワー校正領域において記録パルスの形状を最適化したとしても、その記録パルスの形状が光ディスクの他の領域にとって最適ではない場合がある。そのため、記録品質が劣化してしまう（最尤復号処理における誤り確率が高くなってしまう）。
【０００６】
そこで、この発明は、起動時間を短縮および記録品質の改善を実現可能な光ディスク記録再生装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
この発明の１つの局面に従うと、光ディスク記録再生装置は、記録データのマーク区間の長さと記録パルスの形状との対応関係が示された記録パラメータに基づいて光ディスクに記録しようとする所定量の記録データを記録パルスに変換し、上記記録パルスに基づいて上記光ディスクのデータ領域に記録ビームを照射して上記データ領域に複数のマークおよびスペースからなる記録領域を形成する記録動作と、上記記録動作によって上記データ領域に形成された記録領域に再生ビームを照射してアナログ再生信号を生成する再生動作とを交互に繰り返す記録再生部と、上記アナログ再生信号をデジタル再生信号に変換する再生処理部と、上記デジタル再生信号に最尤復号処理を施して最も確からしい二値化信号を生成する復号処理部と、上記二値化信号の遷移エッジ毎に当該遷移エッジを挟んで隣接する上記二値化信号のマーク区間およびスペース区間の組合せによって表現されるエッジパターンを検出し、上記エッジパターン毎に当該エッジパターンに対応する上記最尤復号処理の結果の信頼性を示した信頼性値を検出する品質情報検出部と、上記記録再生部による再生動作の開始から上記記録再生部による記録動作の開始までの期間において、上記エッジパターン毎に検出された信頼性値に基づいて上記記録パラメータに示された記録パルスの形状を調整する制御部とを備える。上記光ディスク記録再生装置では、所定量の記録データを記録する記録処理と光ディスクに記録された所定量の記録データの記録品質に基づいて記録パラメータに示された記録パルスの形状を調整するベリファイ処理とを交互に繰り返すライト・アンド・ベリファイ動作により、起動時間（光ディスクに記録すべき記録データの記録を開始するまでの時間）を短縮できるとともに、記録品質を改善することができる（最尤復号処理における誤り確率を低下させることができる）。
【０００８】
なお、上記光ディスク記録再生装置は、それぞれが異なる記録条件に対応する複数の記録パラメータを格納する情報格納部をさらに備え、上記制御部は、上記情報格納部に格納された複数の記録パラメータの中から現在の記録条件に対応する記録パラメータを選択し、上記エッジパターン毎に検出された信頼性値に基づいて上記現在の記録条件に対応する記録パラメータに示された記録パルスの形状を調整し、上記記録再生部は、上記制御部によって選択された記録パラメータに基づいて上記記録動作を実行しても良い。上記光ディスク記録再生装置では、ライト・アンド・ベリファイ動作によって処理される記録パラメータを記録条件毎に管理することができるので、ライト・アンド・ベリファイ動作の途中で記録条件が変更されたとしても、変更前の記録条件の下で調整された記録パラメータを保存しておくことが可能である。これにより、記録条件毎に記録パラメータを最適化することができる。
【０００９】
また、上記制御部は、上記エッジパターン毎に検出された信頼性値に基づいて、上記二値化信号のマーク区間および当該マーク区間を挟んで隣接する上記二値化信号の２つのスペース区間の組合せによって表現される記録パターン毎に当該記録パターンの誤差値を計算し、上記記録パターン毎に計算された誤差値のうち少なくとも１つの誤差値が予め設定された目標値に近づくように上記記録パラメータに示された記録パルスの形状を調整しても良い。このように構成することにより、記録品質を改善することができる。
【００１０】
また、上記制御部は、上記記録パターン毎に上記誤差値と上記目標値との差分値が改善基準値よりも大きいか否かを判定し、上記差分値が上記改善基準値よりも大きいと判定された記録パターンのうち少なくとも１つの記録パターンの誤差値が上記目標値に近づくように上記記録パラメータに示された記録パルスの形状を調整しても良い。このように構成することにより、誤差値が改善基準値よりも小さくなるように記録品質を改善することができる。
【００１１】
また、上記制御部は、上記記録パターン毎に上記誤差値と上記目標値との差分値が不良基準値よりも大きいか否かを判定し、上記差分値が上記不良基準値よりも大きい記録パターンを検出した場合に、上記記録再生部による前回の記録動作によって記録された所定量の記録データが上記記録再生部による次回の記録動作によって上記光ディスクの交代セクタに再記録されるように上記記録再生部を制御し、上記不良基準値は、上記改善基準値よりも大きくても良い。このように構成することにより、品質不良により正常に再生できない記録データを救済することができる。
【００１２】
また、上記光ディスク記録再生装置は、それぞれが異なる記録条件に対応する複数の記録パラメータと、それぞれが異なる記録条件に対応する複数の目標値とを格納する情報格納部をさらに備え、上記制御部は、上記情報格納部に格納された複数の記録パラメータおよび複数の目標値の中から現在の記録条件に対応する記録パラメータおよび目標値を選択し、上記記録パターン毎に計算された誤差値のうち少なくとも１つが上記現在の記録条件に対応する目標値に近づくように上記現在の記録条件に対応する記録パラメータに示された記録パルスのパルス形状を調整し、上記記録再生部は、上記制御部によって選択された記録パラメータに基づいて上記記録動作を実行しても良い。上記光ディスク記録再生装置では、記録条件毎に目標値を正確に設定できるので、記録パラメータの最適性を向上させることができる。
【００１３】
なお、上記制御部は、上記エッジパターン毎に検出された信頼性値のうち上記記録パラメータの調整に利用しようとするエッジパターンの信頼性値を転送するように上記品質情報検出部に指示し、上記品質情報検出部は、上記エッジパターン毎に検出された信頼性値のうち上記制御部によって指定されたエッジパターンの信頼性値を上記制御部に転送しても良い。このように構成することにより、品質情報検出部と制御部との間の転送処理に要する時間を短縮できるので、記録再生部による再生動作の開始から記録再生部による記録動作の開始までの期間内に記録パラメータの調整を完了させることができる。
【００１４】
また、上記品質情報検出部は、上記最尤復号処理によって最も確からしいと判断された第１の状態遷移列の確からしさを示した第１の指標値と上記最尤復号処理によって２番目に確からしいと判断された第２の状態遷移列の確からしさを示した第２の指標値とを計算し、上記第１および第２の指標値の差分値に基づいて上記信頼性値を計算する信頼性計算部と、上記二値化信号の遷移エッジ毎に上記エッジパターンを検出するエッジパターン検出部と、上記信頼性計算部によって計算された信頼性値に対して上記エッジパターン検出部によって検出されたエッジパターンを対応付けて格納する信頼性格納部とを含んでいても良い。このように構成することにより、エッジパターン毎に信頼性値を検出できる。
【発明の効果】
【００１５】
以上のように、起動時間を短縮できるとともに記録品質を改善することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】光ディスク記録再生装置の構成例を示す図。
【図２】最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移図。
【図３】最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まるトレリス線図。
【図４】最尤復号の結果の信頼性を示した信頼性値の分布図。
【図５】パターンＰＰ１〜ＰＰ８の期待値系列を示した図。
【図６】パターンＰＰ１〜ＰＰ８とエッジパターン（記録マークのエッジ部分）との対応関係について説明するための図。
【図７】エッジシフト値について説明するための図。
【図８】エッジシフト値について説明するための図。
【図９】長さ誤差値および位相誤差値の計算対象となる記録パターンについて説明するための図。
【図１０】長さ誤差値および位相誤差値について説明するための図。
【図１１】記録パルスの形状について説明するための図。
【図１２】記録パルスの形状の調整量と記録マークの長さの変化量との対応関係について説明するための図。
【図１３】記録パルスの形状の調整量と長さ誤差値の変化量との対応関係について説明するための図。
【図１４】記録パルスの形状の調整量と記録マークの位相の変化量との対応関係について説明するための図。
【図１５】記録パルスの形状の調整量と位相誤差値の変化量との対応関係について説明するための図。
【図１６】光ディスクの構造について説明するための図。
【図１７】記録再生部に設定される記録パラメータについて説明するための図。
【図１８】記録再生部，再生処理部，復号処理部による処理について説明するための図。
【図１９】信頼性計算部による処理について説明するための図。
【図２０】エッジパターン検出部による処理について説明するための図。
【図２１】品質情報検出部による処理について説明するための図。
【図２２】信頼性格納部に格納される信頼性値について説明するための図。
【図２３】記録設定情報の構造について説明するための図。
【図２４】品質管理情報の構造について説明するための図。
【図２５】目標設定情報の構造について説明するための図。
【図２６】光ディスク記録再生装置によるライト・アンド・ベリファイ動作について説明するための図。
【図２７】記録パラメータ制御処理について説明するための図。
【図２８】起動時間の短縮について説明するための図。
【図２９】記録品質の改善について説明するための図。
【図３０】ジッタ検出処理について説明するための図。
【図３１】クロック生成器の構成例を示す図。
【図３２】ジッタ最適化の場合の長さ誤差値および位相誤差値について説明するための図。
【図３３】クロック生成器の変形例について説明するための図。
【図３４】図３３に示したクロック生成器による処理について説明するための図。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、実施の形態を図面を参照して詳しく説明する。なお、図中同一または相当部分には同一の符号を付しその説明は繰り返さない。
【００１８】
図１は、光ディスク記録再生装置の構成例を示す。この装置は、記録再生部１１と、再生処理部１２と、復号処理部１３と、品質情報検出部１４と、コントローラ１５（制御部）と、情報格納部１６とを備える。ここでは、光ディスク１０は、ＢＤ−ＲＥ（Blu-ray Disc Rewritable）であるものとする。
【００１９】
記録再生部１１は、コントローラ１５による制御に応答して、記録動作と再生動作とを交互に繰り返す。記録再生部１１は、記録動作の場合には、記録パラメータに基づいて記録データＷＤを記録パルスＷＰに変換し、記録パルスＷＰに基づいて記録ビームを光ディスク１０のデータ領域に照射して光ディスク１０のデータ領域に記録領域（複数の記録マークおよびスペースからなる領域）を形成する。記録パラメータには、記録データＷＤのマーク区間（例えば、１を示したビット値が連続する区間）の長さと記録パルスＷＰの形状との対応関係が示されている。記録再生部１１は、再生動作の場合には、記録動作によって光ディスク１０のデータ領域に形成された記録領域に再生ビームを照射してアナログ再生信号ＡＳを生成する。
【００２０】
再生処理部１２は、記録再生部１１の再生動作によって生成されたアナログ再生信号ＡＳをデジタル再生信号ＤＳに変換する。なお、デジタル再生信号ＤＳの周波数特性は、所定の等化特性（例えば、ＰＲ（１，２，２，１）等化特性）を有していても良い。
【００２１】
復号処理部１３は、再生処理部１２によって得られたデジタル再生信号ＤＳに最尤復号処理を施して最も確からしい二値化信号Ｄ３０２を生成する。二値化信号Ｄ３０２では、光ディスク１０に形成された記録マークおよびスペースにそれぞれ対応するマーク区間（例えば、０を示したビット値が連続する区間）およびスペース区間（例えば、１を示したビット値が連続する区間）が交互に繰り返され、マーク区間およびスペース区間は、二値化信号Ｄ３０２の遷移エッジを挟んで隣接している。
【００２２】
品質情報検出部１４は、二値化信号Ｄ３０２の遷移エッジ毎にエッジパターンを検出する。エッジパターンとは、二値化信号Ｄ３０２の遷移エッジを挟んで隣接する二値化信号Ｄ３０２のマーク区間およびスペース区間の組合せによって表現されるビットパターンのことである。また、品質情報検出部１４は、エッジパターン毎に信頼性値を検出する。信頼性値とは、エッジパターンに対応する最尤復号処理の結果の信頼性を示した指標値（例えば、ＳＡＭ（Sequence Amplitude Margin）や、ＭＬＳＥ（Maximum Likelihood Sequence Error）など）のことである。
【００２３】
コントローラ１５は、記録再生部１１による再生動作の開始から記録再生部１１による記録動作の開始までの期間において、品質情報検出部１４によってエッジパターン毎に検出された信頼性値に基づいて、記録パラメータに示された記録パルスＷＤの形状を調整する。例えば、コントローラ１５は、エッジパターン毎に検出された信頼性値に基づいて、記録パターン毎に誤差値（長さ誤差値および／または位相誤差値）を計算し、記録パターン毎に計算された誤差値のうち少なくとも１つの誤差値が目標値（長さ目標値および／または位相誤差値）に近づくように記録パラメータを調整する。記録パターンとは、二値化信号Ｄ３０２のマーク区間およびそのマーク区間を挟んで隣接する２つのスペース区間の組合せによって表現されるビットパターンのことである。長さ誤差値とは、光ディスク１０のデータ領域に形成された記録マークの長さと理想的な記録マークの長さとの差を示した値のことであり、位相誤差値とは、光ディスク１０のデータ領域に形成された記録マークの位相（中心位置）と理想的な記録マークの位相（中心位置）との差を示した値のことである。
【００２４】
（最尤復号処理に適した記録パルスの最適化）
ここで、図２〜図１５を参照して、最尤復号処理における誤り確率が低下するように記録パルスの形状を調整する方法について詳しく説明する。
【００２５】
〔最尤復号法，再生信号品質の評価方法〕
まず、図２〜図４を参照して、最尤復号法および再生信号品質の評価方法について説明する。ここでは、記録符号（記録データＷＤ）の再生極性反転間隔が“２”であり、記録時および再生時における信号の周波数特性がＰＲ（１，２，２，１）等化特性になるように信号波形が整形される場合を例に挙げて説明する。現時刻の記録符号をｂｋとし、１時刻前の記録符号をｂｋ−１とし、２時刻前の記録符号をｂｋ−２とし、３時刻前の記録符号をｂｋ−３とする。ＰＲ（１，２，２，１）等化の理想的な出力値Ｌｅｖｅｌｖ（期待値）は、（式１）のように表される。
【００２６】
【数１】
2013062000.tif 000003
【００２７】
ここで、ｋは時刻を表す整数であり、ｖは０〜６までの整数である。時刻ｋにおける状態をＳ（ｂｋ−２，ｂｋ−１，ｂｋ）とすると、表１の状態遷移表が得られる。
【００２８】
【表１】
2013062000.tif 000004
【００２９】
説明の簡略化のために、時刻ｋにおいて
状態Ｓ（０，０，０）ｋをＳ０ｋ、状態Ｓ（０，０，１）ｋをＳ１ｋ、
状態Ｓ（０，１，１）ｋをＳ２ｋ、状態Ｓ（１，１，１）ｋをＳ３ｋ、
状態Ｓ（１，１，０）ｋをＳ４ｋ、状態Ｓ（１，０，０）ｋをＳ５ｋ、
とすると、図２に示した状態遷移図が得られる。図２に示した状態遷移図は、最小極性反転間隔が２である記録符号と等化方式ＰＲ（１，２，２，１）とから定まる状態遷移則を表している。また、図２に示した状態遷移図を時間軸に沿って展開すると、図３に示したトレリス線図が得られる。
【００３０】
図３において、時刻ｋにおける状態Ｓ０ｋと時刻ｋ−４の状態Ｓ２ｋ−４に注目すると、状態Ｓ０ｋと状態Ｓ２ｋ−４との間に２つの状態遷移列が存在していることがわかる。ここで、状態Ｓ２ｋ−４，Ｓ４ｋ−３，Ｓ５ｋ−２，Ｓ０ｋ−１，Ｓ０ｋの順番で遷移する状態遷移列を“パスＡ”とし、状態Ｓ２ｋ−４，Ｓ３ｋ−３，Ｓ４ｋ−２，Ｓ５ｋ−１，Ｓ０ｋの順番で遷移する状態遷移列を“パスＢ”とする。最尤復号処理によって得られた時刻ｋ−６〜時刻ｋの復号データ（二値化信号Ｄ３０２）を（Ｃｋ−６，Ｃｋ−５，Ｃｋ−４，Ｃｋ−３，Ｃｋ−２，Ｃｋ−１，Ｃｋ）とすると、（Ｃｋ−６，Ｃｋ−５，Ｃｋ−４，Ｃｋ−３，Ｃｋ−２，Ｃｋ−１，Ｃｋ）＝（０，１，１，ｘ，０，０，０）となる場合（ｘは、０または１）には、パスＡまたはパスＢが最も確からしい状態遷移列として推定されたことになる。パスＡおよびパスＢの両方とも時刻ｋ−４における状態Ｓ２ｋ−４の確からしさは同じであるので、パスＡおよびパスＢの各々について、時刻ｋ−３〜時刻ｋにおける再生信号の各サンプル値（ｙｋ−３，ｙｋ−２，ｙｋ−１，ｙｋ）と状態遷移列の各期待値との差を二乗した値の累積値（差分二乗和値）を求めることによって、パスＡとパスＢのどちらが確からしい状態遷移列であるのかを判別できる。時刻ｋ−３〜時刻ｋまでの再生信号の各サンプル値とパスＡの各期待値との差分二乗和値を“指標値Ｐａ”とし、時刻ｋ−３〜時刻ｋまでの再生信号の各サンプル値とパスＢの各期待値との差分二乗和値を“指標値Ｐｂ”とすると、指標値Ｐａ，Ｐｂは、それぞれ、（式２），（式３）のように表される。
【００３１】
【数２】
2013062000.tif 000005
【００３２】
最尤復号処理では、Ｐａ＜＜Ｐｂである場合（指標値Ｐａが指標値Ｐｂより十分に小さい場合）には、パスＡが最も確からしい状態遷移列として選択され、Ｐａ＞＞Ｐｂである場合（指標値Ｐａが指標値Ｐｂより十分に大きい場合）には、パスＢが尤も確からしい状態遷移列として選択される。また、Ｐａ＝Ｐｂである場合、最も確からしい状態遷移列としてパスＡおよびパスＢのいずれが選択されてもおかしくなく、最尤復号処理の結果が正しいかどうかは５分５分となる。
【００３３】
ここで、指標値Ｐａ，Ｐｂの差分値（Ｐａ−Ｐｂ）を“信頼性値”とすると、信頼性値の絶対値（｜Ｐａ−Ｐｂ｜）が０よりも大きいほど、最尤復号処理の結果の信頼性が高いと判断できる。なお、信頼性値（Ｐａ−Ｐｂ）は、最尤復号処理によって得られた復号データの誤り確率を予想するために利用することが可能である。例えば、最尤復号処理を、所定の時間または所定の回数、繰り返し実行して信頼性値を計算すると、図４（ａ）にような信頼性値（Ｐａ−Ｐｂ）の分布が得られる。図４（ａ）は、再生信号にノイズが重畳された場合の信頼性値の分布を示している。この分布は２つのピークを有し、１つはＰａ＝０となるときに頻度が極大となり、もう１つはＰｂ＝０となるときに頻度が極大となる。Ｐａ＝０となるときの信頼性値（Ｐａ−Ｐｂ）を“−Ｐｓｔｄ”、Ｐｂ＝０となるときの信頼性値（Ｐａ−Ｐｂ）を“Ｐｓｔｄ”とし、信頼性値の絶対値（｜Ｐａ−Ｐｂ｜）を計算し、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄを計算すると、図４（ｂ）のような分布が得られる。そして、図４（ｂ）に示した｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄの分布において標準偏差値σと平均値Ｐａｖｅを求める。ここで、図４（ｂ）の分布が正規分布であり、信頼性値の絶対値（｜Ｐａ−Ｐｂ｜）が“−Ｐｓｔｄ”以下となるときを誤りが発生した状態とすると、標準偏差値σと平均値Ｐａｖｅとに基づいて、誤り確率Ｐ（σ，Ｐａｖｅ）を（式４）のように表すことができる。
【００３４】
【数３】
2013062000.tif 000006
【００３５】
（式４）により、信頼性値（Ｐａ−Ｐｂ）の分布から計算された平均値Ｐａｖｅと標準偏差σに基づいて、最尤復号処理の結果に応じて出力される復号データの誤り確率を予想することができる。つまり、平均値Ｐａｖｅと標準偏差σとを再生信号品質の指標とすることができる。なお、信頼性値（Ｐａ−Ｐｂ）の分布が正規分布となる場合を例に挙げて説明したが、信頼性値（Ｐａ−Ｐｂ）の分布が正規分布でない場合には、｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄが所定の基準値以下になる回数をカウントし、そのカウント数を信号品質の指標とすることも可能である。
【００３６】
以上のように、信頼性値（Ｐａ−Ｐｂ）は、再生信号品質の指標として利用することが可能である。なお、記録符号の最小極性反転間隔が“２”であり、等化方式がＰＲ（１，２，２，１）である場合、上記のパスＡおよびパスＢの組合せのように時刻ｋ−ｎにおける状態（ｎは、１以上の整数）および時刻ｋにおける状態がそれぞれ互いに同一である２つの状態遷移列の組合せは、時刻ｋ−４〜時刻ｋの範囲（ｎ＝４の場合）では、８組存在する。時刻の範囲を広げた場合（ｎ＞４の場合）では、信頼性値（Ｐａ−Ｐｂ）と同数の組合せが存在する。なお、すべての組合せを信頼性値の計算対象とせずに、誤る可能性が比較的高い組合せ（信頼性値が比較的小さくなる組合せ）のみを信頼性値の計算対象としても良い。このように信頼性値を計算した場合も、誤り確率と相関のある指標を得ることが可能である。例えば、Ｐａ−Ｐｂ＝±１０となる８組の組合せを信頼性値の計算対象としても良い。これらの８組の組合せと信頼性値（Ｐａ−Ｐｂ）との対応関係は、表２のようになる。
【００３７】
【表２】
2013062000.tif 000007
【００３８】
ここで、表２に示された８組を組合せを上から順番にパターンＰＰ１，ＰＰ２，…，ＰＰ８とすると、パターンＰＰ１〜ＰＰ８の各々の信頼性値は、（式５）のように計算できる。
【００３９】
【数４】
2013062000.tif 000008
【００４０】
ただし、Ａｋ＝（ｙｋ−０）２、Ｂｋ＝（ｙｋ−１）２、Ｃｋ＝（ｙｋ−２）２、
Ｄｋ＝（ｙｋ−３）２、Ｅｋ＝（ｙｋ−４）２、Ｆｋ＝（ｙｋ−５）２、
Ｇｋ＝（ｙｋ−６）２
である。
【００４１】
（式５）に基づいて、最尤復号処理によって得られた復号データ（ｃｋ−６，ｃｋ−５，ｃｋ−４，ｃｋ−３，ｃｋー２，ｃｋ−１，ｃｋ）から信頼性値（Ｐａ−Ｐｂ）を計算することができる。また、信頼性値（Ｐａ−Ｐｂ）の分布が正規分布であると仮定して標準偏差σ１０と平均値Ｐａｖｅ１０とを計算し、標準偏差値σ１０と平均値Ｐａｖｅ１０とに基づいて、誤り確率Ｐ１０（σ１０，Ｐａｖｅ１０）を（式６）のように表すことができる。
【００４２】
【数５】
2013062000.tif 000009
【００４３】
パターンＰＰ１〜ＰＰ８は、１ビットシフトエラーが発生する可能性のある状態遷移列の組合せに相当し、パターンＰＰ１〜ＰＰ８を除く他の状態遷移列は、２ビット以上のビットシフトエラーが発生する可能性のある状態遷移列である。また、ＰＲＭＬ処理後のエラーパターンを分析すると、ほとんどのエラーが１ビットシフトエラーであるため、（式６）に基づいて誤り確率Ｐ１０（σ１０，Ｐａｖｅ１０）を計算することにより復号データの誤り確率を正確に推定できる。
【００４４】
〔パターンＰＰ１〜ＰＰ８〕
次に、図５（ａ）〜図５（ｈ），図６を参照して、パターンＰＰ１〜ＰＰ８について説明する。図５（ａ）〜図５（ｈ）は、パターンＰＰ１〜ＰＰ８の期待値系列（時刻ｋ−４〜時刻ｋの各々における期待値Ｌｅｖｅｌｖ）を示している。図中、横軸は、時間（１目盛りは、チャネルクロック周期ＴＣＬＫに相当）を示し、縦軸は、信号レベル（０〜６）を示し、点線は、パスＡを示し、実線は、パスＢを示している。
【００４５】
パターンＰＰ１〜ＰＰ８の状態遷移列（パスＡおよびパスＢ）の期待値系列は、光ディスクに形成された記録マークとスペースとの境界部分（記録マークの始端エッジ部分と終端エッジ部分）に対応する再生信号の理想的な波形を示している。パターンＰＰ１〜ＰＰ４は、記録マークの始端エッジ部分に対応し、パターンＰＰ５〜ＰＰ８は、記録マークの終端エッジ部分に対応している。また、パターンＰＰ１〜ＰＰ４は、最尤復号処理によって得られた復号データ（二値化信号Ｄ３０２）の始端エッジパターンに対応し、パターンＰＰ５〜ＰＰ８は、復号データの終端エッジパターンに対応しているといえる。始端エッジパターンとは、復号データのマーク区間とそのマーク区間の直前に位置するスペース区間との組合せによって表現されるビットパターンのことであり、終端エッジパターンとは、復号データのマーク区間とそのマーク区間の直後に位置するスペース区間との組合せによって表現されるビットパターンのことである。
【００４６】
また、パターンＰＰ１〜ＰＰ８の各々は、誤る可能性が比較的高い２つの状態遷移列の組合せである。したがって、パターンＰＰ１〜ＰＰ８に基づいて計算された信頼性値が高くなるように光ディスクに形成された記録マークのエッジ部分（始端エッジ部分および終端エッジ部分）の位置を調整することにより、記録品質を改善することが可能となる（最尤復号処理における誤り確率を低下させることができる）。
【００４７】
図６は、パターンＰＰ１〜ＰＰ８と記録マークのエッジ部分（復号データのエッジパターン）との対応関係を示している。図中、“２Ｔｍ”，“３Ｔｍ”，“４Ｔｍ”，“５Ｔｍ以上”は、それぞれ、光ディスクに形成された記録マークの長さ（復号データのマーク区間の長さ）が２Ｔ（最短マーク長），３Ｔ，４Ｔ，５Ｔ以上（５Ｔマーク長〜最長マーク長）であることを示し、“２Ｔｓ”，“３Ｔｓ”，“４Ｔｓ”，“５Ｔｓ以上”は、それぞれ、光ディスクに形成されたスペースの長さ（復号データのスペース区間の長さ）が２Ｔ（最短スペース長），３Ｔ，４Ｔ，５Ｔ以上（５Ｔスペース長〜最長スペース長）であることを示している。また、“Ｐ１Ａ”，“Ｐ２Ａ”，…，“Ｐ８Ａ”は、それぞれ、パターンＰＰ１，ＰＰ２，…，ＰＰ８のパスＡを示し、“Ｐ１Ｂ”，“Ｐ２Ｂ”，…，“Ｐ８Ｂ”は、それぞれ、パターンＰＰ１，ＰＰ２，…，ＰＰ８のパスＢを示している。例えば、パターンＰＰ３のパスＡ（Ｐ３Ａ）は、記録マークの長さが“３Ｔ”でありその記録マークの直前に位置するスペースの長さが“２Ｔ”である始端エッジ部分（始端エッジパターン２Ｔｓ３Ｔｍ）に対応している。
【００４８】
なお、パターンＰＰ１〜ＰＰ８のいずれも、始端エッジパターン２Ｔｓ２Ｔｍ（記録マークおよび直前スペースの各々の長さが“２Ｔ”である始端エッジ部分）および終端エッジパターン２Ｔｍ２Ｔｓ（記録マークおよび直後スペースの各々の長さが“２Ｔ”である終端エッジ部分）には対応していない。これらのエッジパターンに対応する状態遷移列の信頼性値（Ｐａ−Ｐｂ）は、他のエッジパターンに対応する状態遷移列の信頼性値よりも大きいので、エッジパターン２Ｔｓ２Ｔｍ，２Ｔｍ２Ｔｓに対応する信頼性値に基づいて光ディスクに形成された記録マークのエッジ部分の位置を厳密に調整しなくても、復号データの誤り確率が高くなりにくいと考えて良い。
【００４９】
〔エッジシフト値の計算方法〕
次に、図７，図８を参照して、エッジシフト値の計算方法について詳しく説明する。エッジシフト値とは、理想的な記録マークのエッジ位置と光ディスクに形成された記録マークのエッジ位置との差を示した値のことである。ここでは、パターンＰＰ１を例に挙げ、図中、三角印は、再生信号のサンプル値を示し、点線で繋がれた黒丸印は、パターンＰＰ１のパスＡの期待値系列を示し、実線で繋がれた黒丸印は、パターンＰＰ１のパスＢの期待値系列を示している。
【００５０】
図７（ａ）は、理想的な記録マークＭＡ１の始端エッジ位置よりも光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の始端エッジ位置が後方にずれており、再生信号のサンプル値（ｙｋ−３，ｙｋ−２，ｙｋ−１，ｙｋ）が（４．２， ３．２， １．２， ０．２）となる場合を示している。なお、再生信号は、記録マークＭＢ１に基づいて生成される。この場合、パターンＰＰ１のパスＡが最も確からしい状態遷移列として選択されることになる。また、パスＡおよびパスＢのそれぞれの指標値Ｐａ，Ｐｂは、（式７）（式８）のように算出される。
【００５１】
【数６】
2013062000.tif 000010
【００５２】
ここで、信頼性値の絶対値から標準値（Ｐｓｔｄ）を減算して得られる値（｜Ｐａ−Ｐｂ｜−Ｐｓｔｄ）をエッジシフト値Ｅ１とすると、エッジシフト値Ｅ１は、（式９）のように計算される。
【００５３】
【数７】
2013062000.tif 000011
【００５４】
図７（ｂ）は、理想的な記録マークＭＡ１の始端エッジ位置よりも光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の始端エッジ位置が前方にずれており、再生信号のサンプル値（ｙｋ−３，ｙｋ−２，ｙｋ−１，ｙｋ）が（３．８， ２．８， ０．８， −０．２）である場合を示している。この場合も、パターンＰＰ１のパスＡが最も確からしい状態遷移列として選択されることになり、エッジシフト値Ｅ２は“２．４”と算出される。
【００５５】
以上のように、エッジシフト値の絶対値は、理想的な記録マークＭＡ１のエッジ位置に対する光ディスクに形成された記録マークＭＢ１のエッジ位置のずれ量を示し、エッジシフト値の符号は、理想的な記録マークＭＡ１のエッジ位置に対する光ディスクに形成された記録マークＭＢ１のエッジ位置のずれ方向を示している。したがって、図７（ａ）の場合、エッジシフト値Ｅ１を参照して、光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の始端エッジ位置が理想的な記録マークＭＡ１の始端エッジ位置よりも“２．４”だけ後方にずれていると判断でき、図７（ｂ）の場合、エッジシフト値Ｅ２を参照して、光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の始端エッジ位置が理想的な記録マークＭＡ１の始端エッジ位置よりも“２．４”だけ前方にずれていると判断できる。
【００５６】
図８（ａ）は、理想的な記録マークＭＡ１の始端エッジ位置よりも光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の始端エッジ位置が後方にずれており、再生信号のサンプル値（ｙｋ−３，ｙｋ−２，ｙｋ−１，ｙｋ）が（５．２， ５．２， ３．２， １．２）である場合を示している。この場合、パターンＰＰ１のパスＢが最も確からしい状態遷移列として選択されることになり、エッジシフト値Ｅ３は、“２．４”と算出される。
【００５７】
図８（ｂ）は、理想的な記録マークＭＡ１の始端エッジ位置よりも光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の始端エッジ位置が前方にずれており、再生信号のサンプル値がサンプル値（ｙｋ−３，ｙｋ−２，ｙｋ−１，ｙｋ）が（４．８， ４．８， ２．８， ０．８）である場合を示している。この場合も、パターンＰＰ１のパスＢが最も確からしい状態遷移列として選択されることになり、エッジシフト値Ｅ４は“−２．４”と算出される。
【００５８】
以上のように、図７（ａ），図７（ｂ）のようにパスＡが最も確からしい状態遷移列として選択される場合と、図８（ａ），図８（ｂ）のようにパスＢが最も確からしい状態遷移列として選択される場合とでは、エッジ位置のずれ方向とエッジシフト値の符号との対応関係が異なっている。これは、最も確からしいと判断された状態遷移列と最も確からしいと判断されなかった状態遷移列（２番目に確からしいと判断された状態遷移列）のそれぞれの期待値系列と再生信号のサンプル値系列との関係に依存する。例えば、図７（ｂ）や図８（ａ）のように、再生信号の各サンプル値と２番目に確からしいと判断された状態遷移列の各期待値との差分二乗和が標準値（Ｐｓｔｄ）よりも大きい場合には、エッジシフト値は、正の符号を有する。このような特徴を考慮して、記録マークの始端エッジ位置のずれ方向を検出すればよい。したがって、図８（ａ）の場合、エッジシフト値Ｅ３を参照して、光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の始端エッジ位置が理想的な記録マークＭＡ１の始端エッジ位置よりも“２．４”だけ後方にずれていると判断でき、図８（ｂ）の場合、エッジシフト値Ｅ４を参照して、光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の始端エッジ位置が理想的な記録マークＭＡ１の始端エッジ位置よりも“２．４”だけ前方にずれていると判断できる。
【００５９】
〔長さ誤差値・位相誤差値の計算方法〕
次に、図９，図１０（ａ），図１０（ｂ）を参照して、長さ誤差値および位相誤差値の計算方法について説明する。ここでは、図９に示された５７通りの記録パターン毎に長さ誤差値および位相誤差値を計算する例を説明する。例えば、記録パターン４Ｔｓ３Ｔｍ２Ｔｓは、記録マークの長さ（マーク区間の長さ）が“３Ｔ”であり、記録マークの直前に位置するスペースの長さ（マーク区間の直前のスペース区間の長さ）が“４Ｔ”であり、記憶マークの直後に位置するスペースの長さ（マーク区間の直後のスペース区間の長さ）が“２Ｔ”である記録パターンを示している。
【００６０】
記録パターンの誤差値（長さ誤差値および位相誤差値）は、その記録パターンに示されたマーク区間，直前スペース区間，および直後スペース区間に対応する始端エッジパターンおよび終端エッジパターンの各々の信頼性値に基づいて計算される。例えば、記録パターン３Ｔｓ３Ｔｍ３Ｔｓの誤差値は、マーク区間および直前スペース区間の各々の長さが“３Ｔ”である始端エッジパターン３Ｔｓ３Ｔｍの信頼性値と、マーク区間および直後スペース区間の各々の長さが“３Ｔ”である終端エッジパターン３Ｔｍ３Ｔｓの信頼性値とに基づいて計算される。
【００６１】
ここで、始端エッジパターンの信頼性を“Ｐａｓ−Ｐｂｓ”とし、終端エッジパターンの信頼性を“Ｐａｅ−Ｐｂｅ”とすると、始端エッジ位置のエッジシフト値Ｅ５および終端エッジ位置のエッジシフト値Ｅ６は、
Ｅ５＝｜Ｐａｓ−Ｐｂｓ｜−Ｐｓｔｄ
Ｅ６＝｜Ｐａｅ−Ｐｂｅ｜−Ｐｓｔｄ
と表される。また、長さ誤差値Ｄｌおよび位相誤差値Ｄｐは、（式１０），（式１１）のように表すことができる。
【００６２】
【数８】
2013062000.tif 000012
【００６３】
長さ誤差値Ｄｌの絶対値は、理想的な記録マークに対する光ディスクに形成された記録マークの長さのずれ量を示し、長さ誤差値Ｄｌの符号は、理想的な記録マークに対する光ディスクに形成された記録マークの長さのずれ方向（長いのか短いのか）を示している。また、位相誤差値Ｄｐの絶対値は、理想的な記録マークに対する光ディスクに形成された記録マークの位相のずれ量を示し、位相誤差値Ｄｐの符号は、理想的な記録マークに対する光ディスクに形成された記録マークの位相のずれ方向（前方にずれているのか後方にずれているのか）を示している。
【００６４】
図１０（ａ），図１０（ｂ）を参照して、長さ誤差値および位相誤差値の計算方法について具体的に説明する。なお、記録マークおよび記録マークの直前および直後のスペースの各々の長さが“３Ｔ”である場合（記録パターン３Ｔｓ３Ｔｍ３Ｔｓに相当）を例に挙げて説明する。
【００６５】
図１０（ａ）は、光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の位相（中心位置）が理想的な記録マークＭＡ１の位相（中心位置）と一致し、光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の長さが理想的な記録マークＭＡ１の長さに一致しない場合（長さ誤差が生じている場合）を示している。また、記録マークＭＢ１の始端エッジ部分に対応する再生信号のサンプル値（ｙｋ−３，ｙｋ−２，ｙｋ−１，ｙｋ）は（５．２， ５．２， ３．２， １．２）であり、記録マークＭＢ１の終端エッジ部分に対応する再生信号のサンプル値（ｙｋ−３，ｙｋ−２，ｙｋ−１，ｙｋ）は（１．２， ３．２， ５．２， ５．２）である。この場合、エッジシフト値Ｅ５は“２．４”と算出され、エッジシフト値Ｅ６は“２．４”と算出される。また、長さ誤差値Ｄｌは“４．８”と算出され、位相誤差値Ｄｐは“０．０”と算出される。したがって、長さ誤差値Ｄｌおよび位相誤差値Ｄｐを参照して、光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の位相（中心位置）は理想的な記録マークＭＡ１の位相（中心位置）に一致しているが、光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の長さは理想的な記録マークＭＡ１の長さよりも“４．８”だけ短いと判断できる。
【００６６】
図１０（ｂ）は、光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の長さが理想的な記録マークＭＡ１の長さと一致し、記録マークＭＢ１の位相（中心位置）が理想的な記録マークＭＡ１の位相（中心位置）と一致しない場合（位相誤差が生じている場合）を示している。また、記録マークＭＢ１の始端エッジ部分に対応する再生信号のサンプル値（ｙｋ−３，ｙｋ−２，ｙｋ−１，ｙｋ）は（５．２， ５．２， ３．２， １．２）であり、記録マークＭＢ１の終端エッジ部分に対応する再生信号のサンプル値（ｙｋ−３，ｙｋ−２，ｙｋ−１，ｙｋ）は（０．８， ２．８， ４．８， ４．８）である。この場合、エッジシフト値Ｅ７は“２．４”と算出され、エッジシフト値Ｅ８は“−２．４”と算出される。また、長さ誤差値Ｄｌは“０．０”と算出され、位相誤差値Ｄｐは“４．８”と算出される。したがって、長さ誤差値Ｄｌおよび位相誤差値Ｄｐを参照して、光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の長さは理想的な記録マークＭＡ１の長さに一致しているが、光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の位相（中心位置）は理想的な記録マークＭＡ１の位相（中心位置）よりも“４．８”だけ後方にずれていると判断できる。
【００６７】
以上のように、長さ誤差値Ｄｌの符号が正である場合には、光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の長さは理想的な記録マークＭＡ１の長さよりも短いと判断でき、長さ誤差値Ｄｌの符号が負である場合には、光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の長さは理想的な記録マークＭＡ１の長さよりも長いと判断できる。また、位相誤差値Ｄｐの符号が正である場合には、光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の位相（中心位置）は理想的な記録マークＭＡ１の位相（中心位置）よりも後方にずれていると判断でき、位相誤差値Ｄｐの符号が負である場合には、光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の位相（中心位置）は理想的な記録マークＭＡ１の位相（中心位置）よりも前方にずれていると判断できる。
【００６８】
なお、（式１０）により計算される長さ誤差値Ｄｌの符号を反転して、長さ誤差値Ｄｌの符号が正である場合には、光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の長さは理想的な記録マークＭＡ１の長さよりも長いと判断し、長さ誤差値Ｄｌの符号が負である場合には、光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の長さは理想的な記録マークＭＡ１の長さよりも短いと判断しても良い。これと同様に、（式１１）により計算される位相誤差値Ｄｐの符号を反転して、位相誤差値Ｄｐの符号が正である場合には、光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の位相（中心位置）は理想的な記録マークＭＡ１の位相（中心位置）よりも前方にずれていると判断し、位相誤差値Ｄｐの符号が負である場合には、光ディスクに形成された記録マークＭＢ１の位相（中心位置）は理想的な記録マークＭＡ１の位相（中心位置）よりも後方にずれていると判断しても良い。
【００６９】
また、エッジシフト値の符号とずれ方向との対応関係は、最も確からしいと判断された状態遷移列と最も確からしいと判断されなかった状態遷移列（２番目に確からしいと判断された状態遷移列）のそれぞれの期待値系列と再生信号のサンプル値系列との関係に依存する。このような特徴を考慮して、長さ誤差値Ｄｌおよび位相誤差値Ｄｐの計算式（式１０），（式１１）を適宜変更しても良い。
【００７０】
〔記録パルス〕
次に、図１１を参照して、記録パルスの記録パワーおよび記録パルスの形状について説明する。ここでは、記録パルスの形状は、トップパルス開始位置，トップパルス幅，エンドパルス幅，およびクーリング終了位置によって決定されるものとする。
【００７１】
記録パルスのパワーは、光ディスクに記録マークを形成するために使用されるピークパワーＰｗ，バイアスパワーＰｂ，およびクーリングパワーＰｃと、光ディスクに既に形成されている記録マークを消去してスペースを形成するために使用されるイレースパワーＰｅとによって構成される。ピークパワーＰｗ，バイアスパワーＰｂ，クーリングパワーＰｃ，およびイレースパワーＰｅは、レーザ光の消光時に検出される消光レベルを基準として設定される。なお、ピークパワーＰｗ，バイアスパワーＰｂ，クーリングパワーＰｃ，およびイレースパワーＰｅのパワーレベルは、光ディスクに形成しようとする記録マークの長さ（記録符号のマーク区間の長さ）に拘わらず一定になるように設定しても良いし、記録マークの長さやスペースの長さ（記録符号のマーク区間の長さやスペース区間の長さ）に応じて変更しても良い。
【００７２】
また、光ディスクに形成しようとする記録マークの長さ（２Ｔ，３Ｔ，４Ｔ，５Ｔ以上）に応じて、トップパルス開始位置ｄＴｔｏｐ２Ｔ，ｄＴｔｏｐ３Ｔ，ｄＴｔｏｐ４Ｔ，ｄＴｔｏｐ５Ｔと、トップパルス幅Ｔｔｏｐ２Ｔ，Ｔｔｏｐ３Ｔ，Ｔｔｏｐ４Ｔ，Ｔｔｏｐ５Ｔと、クーリング終了位置ｄＴｅ２Ｔ，ｄＴｅ３Ｔ，ｄＴｅ４Ｔ，ｄＴｅ５Ｔとが設定されている。トップパルス開始位置ｄＴｔｏｐ２Ｔ，…，ｄＴｔｏｐ５Ｔは、第１番目のパルスの立ち上がりエッジ位置とチャネルクロックの立ち上がりエッジ位置との時間間隔を示し、トップパルス幅Ｔｔｏｐ２Ｔ，…，Ｔｔｏｐ５Ｔは、第１番目のパルスのパルス幅を示し、クーリング終了位置ｄＴｅ２Ｔ，…，ｄＴｅ５Ｔは、クーリングパワーＰｃの終了位置とチャネルクロックの立ち上がりエッジ位置との時間間隔を示している。
【００７３】
また、“２Ｔ”を除く記録マークの長さに応じて、マルチパルス（２番目以降のパルス）の個数が設定されている。例えば、光ディスクに形成しようとする記録マークの長さが“３Ｔ”である場合には、１つのマルチパルスが生成され、記録マークの長さが“５Ｔ”である場合には、４つのマルチパルスが生成され、記録マークの長さが“６Ｔ”である場合には、５つのマルチパルスが生成されることになる。なお、マルチパルスのパルス幅Ｔｍｐは、記録マークの長さに拘わらず一定になるように設定しても良いし、記録マークの長さやスペースの長さに応じて変更しても良い。
【００７４】
さらに、“２Ｔ”を除く記録マークの長さ（３Ｔ，４Ｔ，５Ｔ以上）に応じて、エンドパルス幅Ｔｅ３Ｔ，Ｔｅ４Ｔ，Ｔｅ５Ｔが設定されていても良い。エンドパルス幅Ｔｅ３Ｔ，Ｔｅ４Ｔ，Ｔｅ５Ｔは、最後のマルチパルスのパルス幅を示している。
【００７５】
なお、記録マークの長さと記録パルスの形状（記録パワー，パルス幅，およびパルス位置など）との対応関係を示した記録パラメータは、光ディスクの所定領域に格納されたディスク情報に登録されていても良い。また、ディスク情報に登録された記録パラメータに基づいて記録パルスの初期形状を設定しても良い。また、ディスク情報に記録パラメータが登録されていない場合、記録パルスの初期形状を予め定められた形状（例えば、トップパルス開始位置，クーリング終了位置が“０”である形状）に設定しても良い。
【００７６】
〔記録マークのエッジ位置調整〕
トップパルス開始位置ｄＴｔｏｐ２Ｔおよび／またはトップパルス幅Ｔｔｏｐ２Ｔを変化させることにより、２Ｔマーク（長さが“２Ｔ”に対応する記録マーク）の始端エッジ位置を調整でき、クーリング終了位置ｄＴｅ２Ｔおよび／またはトップパルス幅Ｔｔｏｐ２Ｔを変化させることにより、２Ｔマークの終端エッジ位置を調整できる。また、トップパルス開始位置ｄＴｔｏｐ３Ｔ，ｄＴｔｏｐ４Ｔ，ｄＴｔｏｐ５Ｔおよび／またはトップパルス幅Ｔｔｏｐ３Ｔ，Ｔｔｏｐ４Ｔ，Ｔｔｏｐ５Ｔを変化させることにより、３Ｔマーク（長さが“３Ｔ”に対応する記録マーク），４Ｔマーク（長さが“４Ｔ”に対応する記録マーク），５Ｔマーク（長さが“５Ｔ”に対応する記録マーク）の始端エッジ位置を調整でき、クーリング終了位置ｄＴｅ３Ｔ，ｄＴｅ４Ｔ，ｄＴｅ５Ｔおよび／またはエンドパルス幅Ｔｅ３Ｔ，Ｔｅ４Ｔ，Ｔｅ５Ｔを変化させることにより、３Ｔマーク，４Ｔマーク，５Ｔマークの終端エッジ位置を調整できる。
【００７７】
〔記録マークの長さ調整・位相調整〕
また、記録マークの始端エッジ位置および終端エッジ位置を適宜調整することにより、記録マークの長さ誤差および位相誤差を調整できる。
【００７８】
例えば、トップパルス開始位置ｄＴｏｐ２Ｔ，ｄＴｔｏｐ３Ｔ，ｄＴｔｏｐ４Ｔ，ｄＴｔｏｐ５Ｔおよび／またはトップパルス幅Ｔｔｏｐ２Ｔ，Ｔｔｏｐ３Ｔ，Ｔｔｏｐ４Ｔ，Ｔｔｏｐ５Ｔを大きくするとともに、クーリング終了位置ｄＴｅ２Ｔ，ｄＴｅ３Ｔ，ｄＴｅ４Ｔ，ｄＴｅ５Ｔを小さくすることにより、記録マークの長さを長くすることができ、トップパルス開始位置ｄＴｏｐ２Ｔ，ｄＴｔｏｐ３Ｔ，ｄＴｔｏｐ４Ｔ，ｄＴｔｏｐ５Ｔおよび／またはトップパルス幅Ｔｔｏｐ２Ｔ，Ｔｔｏｐ３Ｔ，Ｔｔｏｐ４Ｔ，Ｔｔｏｐ５Ｔを小さくするとともに、クーリング終了位置ｄＴｅ２Ｔ，ｄＴｅ３Ｔ，ｄＴｅ４Ｔ，ｄＴｅ５Ｔを大きくすることにより、記録マークの長さを短くすることができる。
【００７９】
また、トップパルス開始位置ｄＴｏｐ２Ｔ，ｄＴｔｏｐ３Ｔ，ｄＴｔｏｐ４Ｔ，ｄＴｔｏｐ５Ｔを大きくするとともに、クーリング終了位置ｄＴｅ２Ｔ，ｄＴｅ３Ｔ，ｄＴｅ４Ｔ，ｄＴｅ５Ｔを大きくすることにより、記録マークの位相（中心位置）を前方にずらすことができ、トップパルス開始位置ｄＴｏｐ２Ｔ，ｄＴｔｏｐ３Ｔ，ｄＴｔｏｐ４Ｔ，ｄＴｔｏｐ５Ｔを小さくするとともに、クーリング終了位置ｄＴｅ２Ｔ，ｄＴｅ３Ｔ，ｄＴｅ４Ｔ，ｄＴｅ５Ｔを小さくすることにより、記録マークの位相を後方にずらすことができる。
【００８０】
〔長さ誤差値の変化量〕
次に、図１２（ａ）〜図１２（ｅ），図１３を参照して、記録パルスの形状の調整量と長さ誤差値の変化量との対応関係について説明する。ここでは、記録マークの長さが“３Ｔ”である場合を例に挙げて説明する。
【００８１】
図１２（ａ）〜図１２（ｅ）のように、トップパルス開始位置およびトップパルス幅を時間間隔Δｔ（一定時間間隔）で増加させるとともに、クーリング終了位置を時間間隔Δｔで減少させることにより、記録マークの長さを徐々に増加させることができる。すなわち、図１２（ａ）に示された記録パルスによって形成された記録マークの長さが最も短く、図１２（ｅ）に示された記録パルスによって形成された記録マークの長さが最も長い。また、図１２（ａ）〜図１２（ｅ）の順番で記録マークの長さを増加させることにより、記録マークの長さ誤差値は、図１３に示された記号（ａ）〜（ｅ）の順番で徐々に変化する。なお、図１３に示された記号（ａ）〜（ｅ）に対応する長さ誤差値は、それぞれ、図１２（ａ）〜図１２（ｅ）に示された記録パルスによって形成された記録マークの長さ誤差値を示している。ここで、長さ目標値が“０”である場合、図１２（ｃ）に示された記録パルスの形状が最適な形状となる。
【００８２】
〔位相誤差値の変化量〕
次に、図１４（ａ）〜図１４（ｅ），図１５を参照して、記録パルスの形状の調整量と位相誤差値の変化量との対応関係について説明する。ここでは、記録マークの長さが“３Ｔ”である場合を例に挙げて説明する。
【００８３】
図１４（ａ）〜図１４（ｅ）のように、トップパルス開始位置およびトップパルス幅を時間間隔Δｔで増加させるとともに、クーリング終了位置を時間間隔Δｔで増加させることにより、記録マークの位相（中心位置）を徐々に前方にずらすことができる。すなわち、図１４（ａ）に示された記録パルスによって形成された記録マークの位相が最も後方にあり、図１４（ｅ）に示された記録パルスによって形成された記録マークの位相が最も前方にある。図１４（ａ）〜図１４（ｅ）の順番で記録マークの位相を前方にずらすことにより、記録マークの位相誤差値は、図１５に示された記号（ａ）〜（ｅ）の順番で徐々に変化する。なお、図１５に示された記号（ａ）〜（ｅ）に対応する位相誤差値は、それぞれ、図１４（ａ）〜図１４（ｅ）に示された記録パルスによって形成された記録マークの位相誤差値を示している。ここで、位相目標値が“０”である場合、図１４（ｃ）に示された記録パルスの形状が最適な形状となる。
【００８４】
なお、５７通りの記録パターンのうち少なくとも記録パターン（例えば、誤差値（長さ誤差値および／または位相誤差値）と目標値（長さ目標値および／または位相目標値）との差分値が最も大きい記録パターン）に対して、その記録パターンの誤差値が目標値に近づくように、その記録パターンに対応する記録パルスの形状を調整することにより、最尤復号処理における誤り確率を低下させることが可能である（すなわち、記録品質を改善することができる）。例えば、５７通りの記録パターンのうち記録パターン３Ｔｓ３Ｔｍ３Ｔｓの誤差値と目標値との差分値が最も大きい場合、記録パターン３Ｔｓ３Ｔｍ３Ｔｓの誤差値が目標値に近づくように、３Ｔマークに対応する記録パルスの形状（トップパルス開始位置ｄＴｔｏｐ３Ｔ，トップパルス幅Ｔｔｏｐ３Ｔ，エンドパルス幅Ｔｅ３Ｔ，クーリング終了位置ｄＴｅ３Ｔ）を調整しても良い。
【００８５】
また、記録マークの始端エッジ部分および終端エッジ部分の両方を同時に変化させる場合、始端エッジ部分および終端エッジ部分の各々におけるエッジ位置の変化量は互いに同一であることが理想的である。しかし、例えば、光ディスクを構成する媒質や光ディスクの構造の違いにより、レーザ光に応じた熱量の蓄積が異なる場合は、始端エッジ部分および終端エッジ部分の各々におけるエッジ位置の変化量が互いに同一にならない場合が考えられる。この場合、記録マークの位相が意図せずに変化してしまうことになる。そのため、記録マークの長さ調整の後に、記録マークの位相調整を実行することが好ましい。
【００８６】
また、記録マークの位相調整の際にマルチパルスの立ち上がりエッジ位置を調整できない場合、長さが“４Ｔ”以上である記録マークについては、トップパルスと２番目のマルチパルスとの時間間隔またはエンドパルスとエンドパルスの１つ前のマルチパルスとの時間間隔は一定にならない場合がある。そのため、必要に応じて、記録パルスのパルス幅や位置を変化させても良い。例えば、トップパルス幅の調整量を時間間隔Δｔよりも大きくするとともに、クーリング終了位置の調整量を時間間隔Δｔ／２としても良い。なお、このような調整を実行する場合、記録マークの長さ誤差を検出して記録マークの長さが変化していないことを確認しておくことが望ましい。
【００８７】
〔記録パルスの形状の調整量〕
なお、記録パルスの形状の調整量（時間間隔Δｔ）が一定時間間隔である場合を例に挙げて説明したが、記録パルスの形状の調整量は、一定時間間隔でなくても良い。例えば、記録パルスの形状の調整量と長さ誤差値（または、位相誤差値）との対応関係が非線形的である場合には、その対応関係に応じて記録パルスの形状の調整量を変化させても良い。
【００８８】
〔エッジ位置調整の優先順位〕
また、記録マークの長さ誤差の調整において、始端エッジ位置および終端エッジ位置の両方を同時に変化させても良いし、始端エッジ位置および終端エッジ位置のいずれか一方を優先的に調整しても良い。例えば、終端エッジ位置のみを調整する場合（例えば、クーリング終了位置のみを調整する場合）よりも始端エッジ位置のみを調整する場合（例えば、トップパルス開始位置およびトップパルス幅のみを調整する場合）のほうが記録マークの形状変化量が大きい場合、終端エッジ位置よりも始端エッジ位置を先に調整することが好ましい。
【００８９】
（光ディスク）
図１６は、図１に示した光ディスク１０の構造例を示す。光ディスク１０は、内周パワー校正領域（内周ＰＣＡ）と、リードイン領域と、データ領域と、リードアウト領域と、外周パワー校正領域（外周ＰＣＡ）とを含む。内周ＰＣＡおよび外周ＰＣＡは、光ディスク記録再生装置による校正動作（例えば、記録パワーの最適化など）に利用される領域である。リードイン領域およびリードアウト領域は、光ディスク１０に関連する情報や光ディスク１０の記録状態を管理するための情報を格納するための領域である。データ領域は、記録データ（例えば、ユーザデータ）を格納するための領域である。ここでは、リードイン領域およびリードアウト領域には、ディスク情報や欠陥管理情報などが格納されている。ディスク情報には、光ディスク１０のディスク品種や記録パラメータの最適値（記録パルスの形状の最適値）などが登録され、欠陥管理情報には、記録データが再記録された交代セクタのアドレスなどが登録されている。
【００９０】
（記録再生部）
記録再生部１１は、バッファ１０１と、記録補償部１０２と、レーザ駆動部１０３と、光ヘッド１０４とを含む。
【００９１】
バッファ１０１は、光ディスク１０に記録しようとする記録データＷＤ（記録符号）を蓄積し、コントローラ１５による制御に応答して記録データＷＤを所定のデータブロック単位（例えば、ＥＣＣブロック単位）で出力する。記録補償部１０２は、コントローラ１５によって設定された記録パラメータに基づいて、バッファ１０１からのデータブロックＤＢ（所定量の記録データＷＤ）を記録パルスＷＰに変換する。図１７のように、記録パラメータには、記録データＷＤのマーク区間の長さ（光ディスク１０に形成しようとする記録マークの長さ）と記録パルスの形状（ここでは、トップパルス開始位置，トップパルス幅，エンドパルス幅，クーリング終了位置）との対応関係が示されている。例えば、記録マークの長さ“３Ｔ”には、トップパルス開始位置ｄＴｔｏｐ３Ｔ，トップパルス幅Ｔｔｏｐ３Ｔ，エンドパルス幅Ｔｅ３Ｔ，クーリング終了位置ｄＴｅ３Ｔが対応付けられている。
【００９２】
レーザ駆動部１０３は、記録補償部１０２によって得られた記録パルスＷＰに基づいて、光ヘッド１０４の記録レーザの発光動作を制御する。また、レーザ駆動部１０３は、コントローラ１５による制御に応答して、光ヘッド１０４の再生レーザの発光動作を制御する。光ヘッド１０４は、コントローラ１５による制御に応答して、記録モードと再生モードとを切換可能である。記録モードに設定された場合、光ヘッド１０４は、レーザ駆動部１０３による制御に応答して、光ディスク１０のデータ領域に記録ビームを照射する。これにより、光ディスク１０のデータ領域に複数の記録マークおよびスペースからなる記録領域が形成される。また、再生モードに設定された場合、光ヘッド１０４は、レーザ駆動部１０３による制御に応答して、光ディスク１０のデータ領域に形成された記録領域に再生ビームを照射する。これにより、アナログ再生信号ＡＳが生成される。例えば、光ヘッド１０４は、記録ビームおよび再生ビームを光ディスク１０に照射する光源と、光ディスク１０からの反射光を受光して反射光の光強度に応じたアナログ再生信号ＡＳを生成する受光部と、記録ビームおよび再生ビームの焦点位置を調整するフォーカス制御部と、光ディスク１０のトラッキング位置を調整するトラッキング制御部とを含んでいても良い。
【００９３】
（再生処理部）
再生処理部１２は、プリアンプ２０１と、自動利得制御器（ＡＧＣ）２０２と、波形等化器２０３と、クロック生成器２０４と、アナログ・デジタル変換器（ＡＤＣ）２０５とを含む。
【００９４】
プリアンプ２０１は、記録再生部１１によって生成されたアナログ再生信号ＡＳを増幅させる。自動利得制御器２０２は、プリアンプ２０１からのアナログ再生信号を増幅または減衰させる。また、自動利得制御器２０２は、波形等化器２０３の出力が一定振幅になるように自己の増幅利得を調整する。波形等化器２０３は、自動利得制御器２０２からのアナログ再生信号を波形整形してアナログ再生信号ＡＳａとして出力する。クロック生成器２０４は、アナログ再生信号ＡＳａに基づいて再生クロックＣＬＫを生成する。また、クロック生成器２０４は、アナログ再生信号ＡＳａと再生クロックＣＬＫとの位相誤差値ＰＤを検出し、位相誤差値ＰＤが小さくなるように再生クロックＣＬＫの周波数を調整する。アナログ・デジタル変換器２０５は、再生クロックＣＬＫに同期してアナログ再生信号ＡＳａをデジタル再生信号ＤＳに変換する。なお、再生処理部１２は、波形等化器２０３に代えて、アナログ・デジタル変換器２０５の後段に、波形等化処理を実行するデジタルフィルタを含んでいても良い。
【００９５】
（復号処理部）
復号処理部１３は、整形部３０１と、最尤復号部３０２とを含む。整形部３０１は、デジタル再生信号ＤＳの周波数特性が最尤復号部３０２において想定される等化特性（例えば、ＰＲ（１，２，２，１）等化特性）になるように、デジタル再生信号ＤＳの周波数を調整してデジタル再生信号Ｄ３０１を生成する。例えば、整形部３０１は、デジタルフィルタによって構成されても良い。なお、デジタル再生信号ＤＳの再生歪みが少ない場合（デジタル再生信号ＤＳの周波数特性が最尤復号処理において想定される等化特性であると見なせる場合）には、復号処理部１３は、整形部３０１を含んでいなくても良い。
【００９６】
最尤復号部３０２は、整形部３０１によって生成されたデジタル再生信号Ｄ３０１に最尤復号処理を施して最も確からしい二値化信号Ｄ３０２を生成する。詳しく説明すると、最尤復号部３０２は、時刻ｋ−ｎ（ｎは、１以上の整数であり、ここでは、ｎ＝４）における第１の状態から時刻ｋにおける第２の状態に遷移する複数の状態遷移列の中から最も確からしい状態遷移列（期待値系列とデジタル再生信号Ｄ３０１のサンプル値系列との差分二乗和が最も小さい状態遷移列）を選択し、最も確からしい状態遷移列に応じた二値化信号Ｄ３０２を出力する。例えば、最尤復号部３０２は、ビダビ復号回路によって構成されても良い。
【００９７】
（記録処理・再生処理）
図１８のように、記録再生部１１の記録動作によって、記録データＷＤが記録パルスＷＰに変換され、記録パルスＷＰに基づいて光ディスク１０のデータ領域に記録マークが形成される。また、記録再生部１１による再生動作によって、記録マークに基づいてアナログ再生信号ＡＳが生成され、再生処理部１２によってアナログ再生信号ＡＳがデジタル再生信号ＤＳに変換される。そして、復号処理部１３によって、デジタル再生信号ＤＳ（または、整形部３０１によって波形整形されたデジタル再生信号Ｄ３０１）に基づいて二値化信号Ｄ３０２が生成される。
【００９８】
（品質情報検出部）
品質情報検出部１４は、信頼性計算部４０１と、エッジパターン検出部４０２と、信頼性格納部４０３と、転送部４０４とを含む。
【００９９】
〔信頼性計算部〕
信頼性計算部４０１は、時刻ｋ−６〜時刻ｋの各々における二値化信号Ｄ３０２のビット値に基づいて時刻ｋ−４〜時刻ｋにおける状態遷移を検出し、状態遷移列Ｐ１Ａ，Ｐ１Ｂ，…，Ｐ８Ａ，Ｐ８Ｂの中から最尤復号部３０２によって最も確からしいと判断された状態遷移列（第１の状態遷移列）を検出するとともに２番目に確からしいと選択された状態遷移列（第２の状態遷移列）を検出する。そして、信頼性計算部４０１は、第１の状態遷移列の確からしさを示した第１の指標値（第１の状態遷移列の期待値系列とデジタル再生信号Ｄ３０１のサンプル値系列との差分二乗和）を計算するとともに、第２の状態遷移列の確からしさを示した第２の指標値（第２の状態遷移列の期待値系列とデジタル再生信号Ｄ３０１のサンプル値系列との差分二乗和）を計算し、第１および第２の指標値の差分値を計算して第１の状態遷移列の信頼性を示した信頼性値を算出する。例えば、信頼性計算部４０１は、差分メトリック検出回路によって構成しても良いし、最尤復号部３０２が有する一部の機能（信頼性値を計算する機能）により実現されても良い。
【０１００】
図１９のように、二値化信号のビット値が“０，０，１，ｘ，０，０，０”と変化する場合、信頼性計算部４０１は、状態遷移が“Ｓ２ｋ−４→Ｓ０ｋ”であることを検出する。そして、最も確からしいと判断された状態遷移列が状態遷移列Ｐ１Ａ（パターンＰＰ１のパスＡ）であり、２番目に確からしいと判断された状態遷移列が状態遷移列Ｐ１Ｂ（パターンＰＰ１のパスＢ）である場合、信頼性計算部４０１は、状態遷移列Ｐ１Ａの指標値Ｐａおよび状態遷移列Ｐ１Ｂの指標値Ｐｂから信頼性値（Ｐａ−Ｐｂ）を計算し、その信頼性値（Ｐａ−Ｐｂ）を状態遷移列Ｐ１Ａの信頼性値ＤＰ１Ａとして格納する。なお、図１９では、信頼性値ＤＰ１Ａ，ＤＰ１Ｂ，…，ＤＰ８Ａ，ＤＰ８Ｂは、それぞれ、状態遷移列Ｐ１Ａ，Ｐ１Ｂ，…，Ｐ８Ａ，Ｐ８Ｂの信頼性値を示している。このように、状態遷移列毎に信頼性値が計算される。
【０１０１】
〔エッジパターン検出部〕
エッジパターン検出部４０２は、二値化信号Ｄ３０２の遷移エッジ毎にエッジパターンを検出する。詳しく説明すると、エッジパターン検出部４０２は、二値化信号Ｄ３０２の遷移エッジを検出し、その遷移エッジを挟む２つのデータ区間（０または１が連続する区間）に基づいてその遷移エッジに対応するエッジパターンを検出する。例えば、エッジパターン検出部４０２は、遷移エッジの直前に位置するデータ区間が２Ｔスペース区間（長さが“２Ｔ”であるスペース区間）であり遷移エッジの直後に位置するデータ区間が３Ｔマーク区間（長さが“３Ｔ”であるマーク区間）である場合、その遷移エッジに対応するエッジパターンが始端エッジパターン２Ｔｓ３Ｔｍであると判定する。このようにして、エッジパターン検出部４０２は、二値化信号Ｄ３０２の遷移エッジ毎に、その遷移エッジに対応するエッジパターンが図２０に示された１５個の始端エッジパターンおよび１５個の終端エッジパターンのいずれに該当するのかを判定する。
【０１０２】
〔信頼性格納部〕
信頼性格納部４０３は、信頼性計算部４０１によって計算された信頼性値に対してエッジパターン検出部４０２によって検出されたエッジパターンを対応付けて格納する。
【０１０３】
図２１のように、二値化信号Ｄ３０２のビット値が“１，０，０，１，１，１，０”と変化する場合、信頼性計算部４０１は、状態遷移が“Ｓ５→Ｓ１→Ｓ２→Ｓ３→Ｓ４”であることを検出し、状態遷移列Ｐ６Ｂの信頼性値ＤＰ６Ｂを計算する。一方、エッジパターン検出部４０２は、二値化信号Ｄ３０２のビット値が“１，０，０，１，１，１，０”と変化しているので、終端エッジパターン２Ｔｍ３Ｔｓを検出する。信頼性格納部４０３は、信頼性値ＤＰ６Ｂに対して終端エッジパターン２Ｔｍ３Ｔｓを対応付けて格納する。
【０１０４】
また、二値化信号Ｄ３０２のビット値が“０，１，１，１，０，０，０，１”と変化する場合、信頼性計算部４０１は、ビット値“０，１，１，１，０，０，０”に基づいて状態遷移“Ｓ２→Ｓ３→Ｓ４→Ｓ５→Ｓ０”を検出して信頼性値ＤＰ１Ｂを計算し、ビット値“１，１，１，０，０，０，１”に基づいて状態遷移“Ｓ３→Ｓ４→Ｓ５→Ｓ０→Ｓ１”を検出して信頼性値ＤＰ４Ａを計算する。一方、エッジパターン検出部４０２は、二値化信号Ｄ３０２のビット値が“０，１，１，１，０，０，０，１”と変化しているので、始端エッジパターン３Ｔｓ３Ｔｍを検出する。信頼性格納部４０３は、信頼性値ＤＰ１Ｂ，ＤＰ４Ａに対して始端エッジパターン３Ｔｓ３Ｔｍを対応付けて格納する。
【０１０５】
このようにして、図２２のように、信頼性計算部４０１によって計算された信頼性値ＤＰ１Ａ，ＤＰ１Ｂ，…，ＤＰ８Ａ，ＤＰ８Ｂは、それぞれ、１５通りの始端エッジパターンおよび１５通りの終端エッジパターンのいずれか１つに対応付けられて、信頼性格納部４０３に格納される。
【０１０６】
なお、信頼性値の算出タイミングとエッジパターンの検出タイミングとを調整するために、信頼性計算部４０１およびエッジパターン検出部４０２の各々にバッファを設けても良い。
【０１０７】
〔転送部〕
転送部４０４は、コントローラ１５（パラメータ制御部５０３）からの転送指示に応答して、信頼性格納部４０３に格納された信頼性値（エッジパターン毎に検出された信頼性値）をコントローラ１５に転送する。
【０１０８】
（制御部）
コントローラ１５は、モード制御部５０１と、記録再生制御部５０２と、パラメータ制御部５０３とを含む。モード制御部５０１は、記録再生制御部５０２およびパラメータ制御部５０３の動作モードをライトモードおよびベリファイモードのいずれか一方に設定する。また、モード制御部５０１は、記録再生制御部５０２およびパラメータ制御部５０３をライトモードに設定した後にライト期間（例えば、データブロックＤＢの記録処理に要する期間）が経過すると、記録再生制御部５０２およびパラメータ制御部５０３をベリファイモードに設定し、記録再生制御部５０２およびパラメータ制御部５０３をベリファイモードに設定した後にベリファイ期間（例えば、データブロックＤＢの再生処理，信頼性値検出処理，および記録パラメータ制御処理に要する期間）が経過すると、記録再生制御部５０２およびパラメータ制御部５０３をライトモードに設定する。記録再生制御部５０２は、ライトモードに設定された場合、記録再生部１１の記録パラメータを設定し、記録再生部１１によるデータブロックＤＢの記録処理を制御する。また、記録再生制御部５０２は、ベリファイモードに設定された場合、記録再生部１１によるデータブロックＤＢの再生処理を制御する。パラメータ制御部５０３は、ベリファイモードに設定された場合、記録パラメータ制御処理（誤差値計算，品質改善判定，品質不良判定，記録パラメータ調整など）を実行する。
【０１０９】
（情報格納部）
情報格納部１６は、記録設定情報Ｄ６０１と、品質管理情報Ｄ６０２と、目標設定情報Ｄ６０３と、学習結果情報Ｄ６０４とを格納する。例えば、情報格納部１６は、書き換え可能なメモリによって構成しても良い。
【０１１０】
〔記録設定情報〕
図２３のように、記録設定情報Ｄ６０１には、それぞれが異なる記録条件（ここでは、ディスク品種，記録速度，記録位置）に対応付けられた複数の記録パラメータが登録されている。ディスク品種は、光ディスクの製造メーカ名、光ディスクの種類（ＤＶＤ−ＲＡＭ，ＢＤ−ＲＥなど）、光ディスクの記録容量、多層ディスクにおける記録層などのような光ディスクに関する情報を示している。記録速度は、光ディスクの回転方式（ＣＡＶ，ＣＬＶなど）や回転速度（２倍速，３倍速など）などのような記録速度に関する情報を示している。記録位置は、光ディスクのデータ領域を分割して得られる複数の分割領域Ｚ１，Ｚ２，…，Ｚｎのいずれか１つの分割領域の位置を示している。ここでは、記録パラメータは、階層的に管理されている。すなわち、ディスク品種Ｄｉｓｃ１，Ｄｉｓｃ２，…，Ｄｉｓｃｎ（ｎは、２以上の整数）の各々には、記録速度ＣＡＶ１，ＣＡＶ２，…，ＣＡＶｎ，ＣＬＶ１，ＣＬＶ２，…，ＣＬＶｎが対応付けられ、記録速度ＣＡＶ１，ＣＡＶ２，…，ＣＡＶｎ，ＣＬＶ１，ＣＬＶ２，…，ＣＬＶｎの各々には、記録位置Ｚ１，Ｚ２，…，Ｚｎが対応付けられ、記録位置Ｚ１，Ｚ２，…，Ｚｎの各々には、記録パラメータが対応付けられている。
【０１１１】
〔品質管理情報〕
図２４のように、品質管理情報Ｄ６０２には、それぞれが異なる記録条件（ここでは、ディスク品種，記録速度，記録位置）に対応付けられた複数の信頼性情報が登録されている。信頼性情報には、エッジパターン毎に検出された信頼性値が登録されている。ここでは、信頼性情報は、階層的に管理されている。
【０１１２】
〔目標設定情報〕
図２５のように、目標設定情報Ｄ６０３には、それぞれ異なる記録条件（ここでは、ディスク品種，記録速度，記録位置）に対応付けられた複数の目標情報が登録されている。目標情報には、記録パターン毎に設定された長さ目標値および位相目標値が登録されている。ここで、長さ目標値ＤＬＴ３２３，ＤＬＴ４２３，…，ＤＬＴ５５５は、それぞれ、５７通りの記録パターン３Ｔｓ２Ｔｍ３Ｔｓ，４Ｔｓ２Ｔｍ３Ｔｓ，…，５Ｔｓ５Ｔｍ５Ｔｓに対して設定された長さ目標値を示し、位相目標値ＤＰＴ３２３，ＤＰＴ４２３，…，ＤＰＴ５５５は、それぞれ、５７通りの記録パターン３Ｔｓ２Ｔｍ３Ｔｓ，４Ｔｓ２Ｔｍ３Ｔｓ，…，５Ｔｓ５Ｔｍ５Ｔｓに対して設定された位相目標値を示している。
【０１１３】
〔学習結果情報〕
学習結果情報Ｄ６０４は、光ディスク記録再生装置のライト・アンド・ベリファイ動作による記録パラメータの学習結果を示した情報であり、記録設定情報Ｄ６０１の構造と同一の構造を有している。
【０１１４】
（ライト・アンド・ベリファイ動作）
次に、図２６を参照して、図１に示した光ディスク記録再生装置によるライト・アンド・ベリファイ動作について説明する。
【０１１５】
〈ステップＳＴ１０１〉
まず、光ディスク記録再生装置に光ディスク１０が装着され、ライト・アンド・ベリファイ動作を開始するために、外部制御により記録再生制御部５０２およびパラメータ制御部５０３に記録条件（ここでは、光ディスク品種，記録速度，記録位置）が設定される。モード制御部５０１は、記録再生制御部５０２およびパラメータ制御部５０３をライトモードに設定する。記録再生制御部５０２は、バッファ１０１に蓄積された第１番目のデータブロックＤＢを記録処理の対象として選択する。また、記録再生制御部５０２は、光ディスク１０のリードイン領域またはリードアウト領域に格納されたディスク情報を再生するように記録再生部１１を制御する。これにより、ディスク情報は、再生処理部１２および復号処理部１３を介して二値化信号Ｄ３０２として読み出される。なお、記録再生制御部５０２およびパラメータ制御部５０３は、光ディスク品種に関する情報をディスク情報の中から検出しても良い。
【０１１６】
〈ステップＳＴ１０２〉
次に、記録再生制御部５０２は、情報格納部１６に格納された学習結果情報Ｄ６０４の中に現在の記録条件に対応する記録パラメータが登録されているか否かを判定する。現在の記録条件に対応する記録パラメータが登録されている場合には、ステップＳＴ１０３へ進み、そうでない場合には、ステップＳＴ１０４へ進む。
【０１１７】
〈ステップＳＴ１０３〉
記録再生制御部５０２は、学習結果情報Ｄ６０４に登録されている記録パラメータ（現在の記録条件に対応する記録パラメータ）を読み出し、読み出した記録パラメータを記録補償部１０２の記録パラメータとして設定する。また、記録再生制御部５０２は、学習結果情報Ｄ６０４から読み出された記録パラメータに対して現在の記録条件を対応付けて記録設定情報Ｄ６０１に登録する。次に、ステップＳＴ１０５へ進む。
【０１１８】
〈ステップＳＴ１０４〉
一方、現在の記録条件に対応する記録パラメータが学習結果情報Ｄ６０４に登録されていない場合、記録再生制御部５０２は、光ディスク１０から読み出されたディスク情報に示された記録パラメータを記録再生部１１の記録パラメータとして設定する。また、記録再生制御部５０２は、ディスク情報に示された記録パラメータに対して現在の記録条件を対応付けて記録設定情報Ｄ６０１に登録する。次に、ステップＳＴ１０５へ進む。
【０１１９】
〈ステップＳＴ１０５〉
次に、記録再生制御部５０２は、第ｉ番目のデータブロック（記録処理の対象として選択されたデータブロック）が光ディスク１０のデータ領域の所定位置に記録されるように、現在の記録条件に基づいてバッファ１０１，記録補償部１０２，レーザ駆動部１０３，および光ヘッド１０４を制御する。バッファ１０１は、第ｉ番目のデータブロックＤＢを出力し、記録補償部１０２は、記録再生制御部５０２によって設定された記録パラメータに基づいて第ｉ番目のデータブロックＤＢを記録パルスＷＰに変換し、レーザ駆動部１０３は、記録パルスＷＰに基づいて光ヘッド１０４による記録レーザの発光動作を制御する。このようにして、第ｉ番目のデータブロックに対応する第ｉ番目の記録領域が、光ディスク１０のデータ領域の所定位置に形成される。
【０１２０】
〈ステップＳＴ１０６〉
次に、記録再生制御部５０２およびパラメータ制御部５０３をライトモードに設定してからライト期間が経過すると、モード制御部５０１は、記録再生制御部５０２およびパラメータ制御部５０３をベリファイモードに設定する。記録再生制御部５０２は、光ディスク１０のデータ領域の所定位置に記録された第ｉ番目のデータブロックが再生されるように、現在の記録条件に基づいてレーザ駆動部１０３および光ヘッド１０４を制御する。レーザ駆動部１０３は、光ヘッド１０４による再生ビームの発光動作を制御し、光ヘッド１０４は、光ディスク１０のデータ領域の所定位置に形成された第ｉ番目の記録領域に再生ビームを照射し、その反射光に基づいてアナログ再生信号ＡＳを生成する。再生処理部１２は、アナログ再生信号ＡＳをデジタル再生信号ＤＳに変換し、復号処理部１３は、デジタル信号ＤＳに最尤復号処理を施して二値化信号Ｄ３０２を生成する。
【０１２１】
〈ステップＳＴ１０７〉
品質情報検出部１４は、復号処理部１３によって得られた二値化信号Ｄ３０２の遷移エッジ毎にエッジパターンを検出し、エッジパターン毎に信頼性値を検出する。
【０１２２】
〈ステップＳＴ１０８〉
パラメータ制御部５０３は、エッジパターン毎に検出された信頼性値を品質情報検出部１４に転送するように指示し、情報格納部１６に格納された品質管理情報Ｄ６０２に登録された信頼性情報のうち現在の記録条件に対応する信頼性情報に品質情報検出部１４から転送された信頼性値を登録する。次に、パラメータ制御部５０３は、現在の記録条件に対応する信頼性情報に登録された信頼性値（エッジパターン毎に検出された信頼性値）に基づいて、記録パターン毎に誤差値（長さ誤差値および／または位相誤差値）を計算する。また、パラメータ制御部５０３は、記録パターン毎に計算された誤差値に基づいて品質改善判定（記録パラメータの調整の要否を判定する処理）および品質不良判定（データブロックが品質不良であるか否かを判定する処理）を実行し、品質改善判定の結果に応じて、情報格納部１６に格納された記録設定情報Ｄ６０１に登録された記録パラメータのうち現在の記録条件に対応する記録パラメータに示された記録パルスの形状（ここでは、トップパルス開始位置，トップパルス幅，エンドパルス幅，クーリング終了位置）を調整する。
【０１２３】
〈ステップＳＴ１０９〉
次に、記録再生制御部５０２およびパラメータ制御部５０３をベリファイモードに設定してからベリファイ期間が経過すると、モード制御部５０１は、ライト・アンド・ベリファイ動作を終了するか否かを判定する。ライト・アンド・ベリファイ動作を継続する場合（例えば、記録データＷＤの記録が完了していない場合）には、ステップＳＴ１１０へ進み、ライト・アンド・ベリファイ動作を終了する場合（例えば、記録データＷＤの記録が完了している場合）には、ステップＳＴ１１３へ進む。
【０１２４】
〈ステップＳＴ１１０〉
記録再生制御部５０２は、ステップＳＴ１０８においてパラメータ制御部５０３によって第ｉ番目のデータブロックが品質不良であると判定されたか否かを確認する。第ｉ番目のデータブロックが品質不良ではない場合には、ステップＳＴ１１１へ進み、第ｉ番目のデータブロックが品質不良である場合には、ステップＳＴ１１４へ進む。
【０１２５】
〈ステップＳＴ１１１〉
次に、モード制御部５０１は、記録再生制御部５０２およびパラメータ制御部５０３をライトモードに設定する。記録再生制御部５０２は、第ｉ＋１番目のデータブロック（次のデータブロック）を記録処理の対象として選択する。
【０１２６】
〈ステップＳＴ１１２〉
次に、記録再生制御部５０２は、記録条件が変更されたか否かを判定する。記録条件が変更された場合には、ステップＳＴ１０２ヘ進む。一方、記録条件が変更されていない場合、記録再生制御部５０２は、ステップＳＴ１０８において調整された記録パラメータを記録再生部１１の記録パラメータとして設定する。次に、ステップＳＴ１０５へ進む。
【０１２７】
〈ステップＳＴ１１３〉
一方、ステップＳＴ１０９においてライト・アンド・ベリファイ動作を終了すると判定された場合、パラメータ制御部５０３は、記録設定情報Ｄ６０１に登録された記録パラメータのうちライト・アンド・ベリファイ動作によって調整された記録パラメータを学習結果情報Ｄ６０４に上書きする。例えば、ディスク品種Ｄｉｓｃ１，記録速度ＣＡＶ１，および記録位置Ｚ１に対応する記録パラメータが調整された場合、パラメータ制御部５０３は、学習結果情報Ｄ６０４に登録されたディスク品種Ｄｉｓｃ１，記録速度ＣＡＶ１，および記録位置Ｚ１に対応する記録パラメータを、記録設定情報Ｄ６０１に登録されたディスク品種Ｄｉｓｃ１，記録速度ＣＡＶ１，および記録位置Ｚ１に対応する記録パラメータに書き換える。このようにして、学習結果情報Ｄ６０４に登録された記録パラメータが更新される。
【０１２８】
〈ステップＳＴ１１４〉
また、ステップＳＴ１１０において第ｉ番目のデータブロックが品質不良であることが確認された場合、記録再生制御部５０２は、ステップＳＴ１０８において調整された記録パラメータを記録再生部１１の記録パラメータとして設定する。次に、記録再生制御部５０２は、第ｉ番目のデータブロックを記録処理の対象として再度選択し、第ｉ番目のデータブロックが光ディスク１０の交代セクタ（第ｉ番目の記録領域の直後に位置する領域、または、光ディスク１０において交代セクタとして予め準備された領域）に再記録されるように記録再生部１１を制御する。また、記録再生制御部５０２は、第ｉ番目のデータブロックが交代セクタに記録されたことを示した欠陥管理情報（例えば、交代セクタのアドレス）が光ディスク１０のリードイン領域に格納されるように記録再生部１１を制御する。次に、ステップＳＴ１０６へ進む。
【０１２９】
（記録パラメータ制御処理）
次に、図２７を参照して、図１に示した光ディスク記録再生装置による記録パラメータ制御処理（ステップＳＴ１０８）について説明する。
【０１３０】
〈ステップＳＴ２０１〉
パラメータ制御部５０３は、エッジパターン毎に検出された信頼性値（信頼性格納部４０３に格納された信頼性値）のうち記録パラメータの調整に利用しようとするエッジパターンの信頼性値を転送するように品質情報検出部１４（転送部４０４）に指示する。品質情報検出部１４は、コントローラ１５による指示に応答して信頼性値をコントローラ１５に転送する。また、パラメータ制御部５０３は、品質情報検出部１４から転送された信頼性値を品質管理情報Ｄ６０２に登録する。例えば、パラメータ制御部５０３は、第１回目のベリファイ期間において２Ｔマークに対応する記録パルスの形状を調整するために、第１回目のベリファイ期間において２Ｔマークに対応するエッジパターンの信頼性値を転送することを指示し、第２回目のベリファイ期間において３Ｔマークに対応する記録パルスの形状を調整するために、第２回目のベリファイ期間において３Ｔマークに対応するエッジパターンの信頼性値を転送することを指示しても良い。
【０１３１】
〈ステップＳＴ２０２〉
次に、パラメータ制御部５０３は、品質管理情報Ｄ６０２に登録された信頼性値に基づいて、記録パターン毎に誤差値（長さ誤差値および／または位相誤差値）を計算する。例えば、パラメータ制御部５０３は、第１回目のベリファイ期間では、２Ｔマークに対応するエッジパターンの信頼性値に基づいて２Ｔマークに対応する記録パターンの誤差値を計算し、第２回目のベリファイ期間では、３Ｔマークに対応するエッジパターンの信頼性値に基づいて３Ｔマークに対応する記録パターンの誤差値を計算しても良い。
【０１３２】
〈ステップＳＴ２０３〉
次に、パラメータ制御部５０３は、品質判定（品質改善判定および品質不良判定）が未だ実行されていない記録パターンの中からいずれか１つの記録パターンを判定対象として選択する。例えば、パラメータ制御部５０３は、第１回目のベリファイ期間では、２Ｔマークに対応する記録パターンのうち品質判定が未だ実行されていない記録パターンを選択し、第２回目のベリファイ期間では、３Ｔマークに対応する記録パターンのうち品質判定が未だ実行されていない記録パターンを選択しても良い。
【０１３３】
〈ステップＳＴ２０４：品質改善判定〉
次に、パラメータ制御部５０３は、目標設定情報Ｄ６０３に登録された目標情報のうち現在の記録条件に対応する目標情報を選択し、選択された目標情報に登録された目標値（長さ目標値および／または位相誤差値）の中から判定対象の記録パターンに対応する目標値を選択する。そして、パラメータ制御部５０３は、判定対象の記録パターンの誤差値と目標値との差分値を算出し、判定対象の記録パターンの誤差値と目標値との差分値が予め設定された改善基準値よりも大きいか否かを判定する。改善基準値は、記録パラメータに示された記録パルスの形状を調整する必要があるか否かを判定するための基準値である。誤差値と目標値との差分値が改善基準値よりも大きい場合には、ステップＳＴ２０５へ進み、そうでない場合には、ステップＳＴ２０８へ進む。
【０１３４】
〈ステップＳＴ２０５〉
次に、パラメータ制御部５０３は、判定対象の記録パターンを“改善必要（記録パラメータの調整に利用すべき記録パターン）”と判定する。
【０１３５】
〈ステップＳＴ２０６：品質不良判定〉
次に、パラメータ制御部５０３は、判定対象の記録パターンの誤差値と目標値との差分値が予め設定された不良基準値よりも大きいか否かを判定する。不良基準値は、第ｉ番目のデータブロックが品質不良であるか否か（交代セクタへの再記録が必要であるか否か）を判定するための基準値であり、改善基準値よりも大きい値である。誤差値と目標値との差分値が不良基準値よりも大きい場合には、ステップＳＴ２０７へ進み、そうでない場合には、ステップＳＴ２０８へ進む。
【０１３６】
〈ステップＳＴ２０７〉
次に、パラメータ制御部５０３は、第ｉ番目のデータブロックを“品質不良（交代セクタへの再記録が必要であるデータブロック）”と判定する。
【０１３７】
〈ステップＳＴ２０８〉
次に、パラメータ制御部５０３は、品質判定（品質改善判定および品質不良判定）を終了するか否かを判定する。すなわち、パラメータ制御部５０３は、記録パラメータの調整に利用しようとする記録パターンについて品質判定が完了したか否かを判定する。例えば、パラメータ制御部５０３は、第１回目のベリファイ期間では、２Ｔマークに対応する記録パラメータの全てについて品質判定が完了したか否かを判定し、第２回目のベリファイ期間では、３Ｔマークに対応する記録パラメータの全てについて品質判定が完了したか否かを判定しても良い。品質判定を終了する場合には、ステップＳＴ２０９へ進む。一方、品質判定を継続する場合には、ステップＳＴ２０３へ進む。
【０１３８】
〈ステップＳＴ２０９〉
次に、パラメータ制御部５０３は、改善必要と判定された記録パターンの誤差値のうち少なくとも１つの記録パターンの誤差値が目標値（その記録パターンに対応する目標値）に近づくように、記録設定情報Ｄ６０１に登録された記録パラメータのうち現在の記録条件に対応する記録パラメータに示された記録パルスの形状を調整する。例えば、パラメータ制御部５０３は、第１回目のベリファイ期間では、改善必要と判定された２Ｔマークに対応する記録パターンの誤差値が目標値に近づくように２Ｔマークに対応する記録パルスの形状（トップパルス開始位置ｄＴｔｏｐ２Ｔ，トップパルス幅Ｔｔｏｐ２Ｔ，クーリング終了位置ｄＴｅ２Ｔ）を調整し、第２回目のベリファイ期間では、改善必要と判定された３Ｔマークに対応する記録パターンの誤差値が目標値に近づくように３Ｔマークに対応する記録パルスの形状（トップパルス開始位置ｄＴｔｏｐ３Ｔ，トップパルス幅Ｔｔｏｐ３Ｔ，エンドパルス幅Ｔｅ３Ｔ，クーリング終了位置ｄＴｅ２Ｔ）を調整しても良い。
【０１３９】
（起動時間）
次に、図２８（ａ），図２８（ｂ）を参照して、起動時間（光ディスクに記録すべき記録データの記録が開始されるまでの時間）について説明する。
【０１４０】
図２８（ａ）のように、従来（例えば、特許文献１，２，３）の装置は、光ディスクの内周パワー校正領域においてサーボ学習処理（トラッキング制御の最適化，フォーカス制御の最適化）および記録学習処理（記録パワーの最適化，記録パルスの形状の最適化）を実行した後に、光ディスクのデータ領域において記録処理を実行することになる。この場合、起動時間は、サーボ学習処理，記録パワーの最適化，および記録パルスの形状の最適化に要する時間に相当する。
【０１４１】
一方、図２８（ｂ）のように、図１に示した光ディスク記録再生装置は、光ディスクの内周パワー校正領域においてサーボ学習処理および記録学習処理（記録パワーの最適化）を実行した後に、光ディスクのデータ領域においてライト・アンド・ベリファイ動作を実行する。この場合、起動時間は、サーボ学習処理および記録パワーの最適化に要する時間に相当する。このように、図１に示した光ディスク記録再生装置では、記録パラメータ（記録パルスの形状）の調整に費やされる時間が光ディスク記録再生装置の起動開始時に集中していないので、従来よりも起動時間を短縮できる。
【０１４２】
（記録品質）
次に、図２９を参照して、記録品質（最尤復号処理における誤り確率）について説明する。なお、ここでは、光ディスクの回転速度が一定になるように制御する場合を例に挙げて説明する。
【０１４３】
内周パワー校正領域における記録パルスの形状の最適値に基づいてデータ領域の各位置における記録パルスの形状の最適値を線形予測する場合（内周ＰＣＡ学習の場合）、記録マークを形成しようとする位置が内周パワー校正領域から遠くなるほど、記録マークの形成条件（例えば、線速度や物理的特性など）の相違量が大きくなるので、記録品質が劣化することになる。特に、光ディスクの半径方向における中央部分から遠くなるほど（光ディスクの内周または外周に近づくほど）、光ディスクの物理的特性（例えば、熱伝達率など）のばらつきが大きくなるので、内周パワー校正領域において記録パルスの形状を最適化したとしても、光ディスクの外周部分において記録品質の劣化が顕著になる。なお、光ディスクの線速度が一定になるように光ディスクの回転速度を制御する場合も、光ディスクの物理特性のばらつきにより、記録品質の劣化が生じる可能性がある。
【０１４４】
また、内周パワー校正領域および外周パワー校正領域の各々における記録パルスの形状の最適値に基づいてデータ領域の各位置における記録パルスの形状の最適値を線形予測する場合（内外周ＰＣＡ学習の場合）、内周パワー校正領域の近傍部分，外周パワー校正領域の近傍部分，および光ディスクの半径方向におけるデータ領域の中央部分では、記録品質の劣化は比較的少ないが、これらの部分から遠くなるほど、記録品質の劣化が顕著になる。なお、光ディスクの線速度が一定になるように光ディスクの回転速度を制御する場合も、光ディスクの物理特性のばらつきにより、記録品質の劣化が生じる可能性がある。
【０１４５】
一方、図１に示した光ディスク記録再生装置（ライト・アンド・ベリファイの場合）では、所定量の記録データを記録するライト処理と、光ディスクに記録された所定量の記録データの記録品質（信頼性値）に基づいて記録パラメータに示された記録パルスの形状を調整するベリファイ処理とを交互に繰り返すことにより、記録パルスの形状を徐々に最適化することができる。また、記録処理によって記録マークを形成しようとする位置は、ベリファイ処理によって記録パルスの形状を調整した位置に隣接しているので、記録マークの形成条件は、ほとんど同じである。そのため、記録マークの形成条件の相違に起因する記録品質の劣化は、ほとんど生じない。したがって、図１に示した光ディスク記録再生装置は、従来よりも記録品質を改善することができる。なお、光ディスクの線速度が一定になるように光ディスクの回転速度を制御する場合も、従来よりも記録品質を改善することができる。
【０１４６】
以上のように、ライト・アンド・ベリファイ動作により記録パラメータに示された記録パルスの形状を調整することにより、起動時間の短縮と記録品質の改善を実現できる。なお、一般的には、「ベリファイ処理」とは、光ディスクに記録された所定量の記録データの記録品質を検証することを指しているが、本実施形態では、「ベリファイ処理」とは、光ディスクに記録された所定量の記録データの記録品質を検出し、その記録品質に基づいて記録パラメータに示された記録パルスの形状を調整することを指している。
【０１４７】
〔記録設定情報〕
また、記録パラメータに記録条件を対応付けて記録設定情報Ｄ６０１に登録することにより、ライト・アンド・ベリファイ動作において処理される記録パラメータを記録条件毎に管理することができる。これにより、ライト・アンド・ベリファイ動作の途中で記録条件が変更されたとしても、変更前の記録条件の下で最適化された記録パラメータを保存しておくことが可能となるので、記録条件毎に記録パラメータを最適化することができる。なお、記録パラメータは、記録条件毎に管理されていなくても良い。
【０１４８】
〔学習結果情報〕
また、ライト・アンド・ベリファイ動作による記録パラメータの学習結果を学習結果情報Ｄ６０４として管理することにより、記録パラメータの学習結果を蓄積することが可能となる。このように学習結果の蓄積が継続されることで、記録パラメータの最適性を向上させることができる。また、学習結果情報Ｄ６０４において記録条件毎に記録パラメータを管理することにより、記録条件毎に記録パラメータの最適性を向上させることができる。なお、記録パラメータの学習結果は、記録条件毎に管理されていなくても良い。
【０１４９】
〔品質管理情報〕
また、エッジパターン毎に検出された信頼性値を示した信頼性情報に記録条件を対応付けて品質管理情報Ｄ６０２に登録することにより、ライト・アンド・ベリファイ動作においてエッジパターン毎に検出された信頼性値を記録条件毎に管理することができる。これにより、ライト・アンド・ベリファイ動作の途中で記録条件が変更されたとしても、変更前の記録条件の下で検出された信頼性値を保存しておくことが可能となる。なお、信頼性情報は、記録条件毎に管理されていなくても良い。また、記録設定情報Ｄ６０１と同様に、品質管理情報Ｄ６０２を学習結果情報として情報格納部１６に格納しても良い。
【０１５０】
〔目標設定情報〕
さらに、記録パターン毎に設定された長さ目標値および位相目標値を示した目標情報を記録条件に対応付けて目標設定情報Ｄ６０３に登録することにより、記録条件毎に長さ目標値および位相目標値を管理することができる。これにより、記録条件毎に長さ目標値および位相目標値を正確に設定することが可能となるので、記録パラメータの最適性をさらに向上させることができる。例えば、光ディスク品種毎に目標値を設定することにより、光ディスクの個体差（光ディスクの材質の違いや光ディスクの製造工程におけるロットばらつきなど）に応じて目標値を適切に設定できる。また、記録速度毎に目標値を設定することにより、記録速度に応じた熱干渉や熱縮退の影響を考慮して目標値を適切に設定できる。また、記録位置毎に目標値を設定することにより、光ディスクの各位置における物理的特性の相違に応じて目標値を適切に設定できる。なお、長さ目標値および位相目標値は、記録条件毎に管理されていなくても良い。
【０１５１】
また、目標設定情報Ｄ６０３は、光ディスク記録再生装置の製造時において情報格納部１６に格納されても良いし、光ディスク記録再生装置の製造後に更新されても良い。例えば、新規の光ディスクに対応する目標値をその光ディスクのディスク品種に対応づけて目標設定情報Ｄ６０３に追加しても良い。
【０１５２】
また、位相誤差値および目標誤差値は、“０”以外の値であっても良い。例えば、記録マークおよびスペースの組合せに応じて熱干渉特性が異なり、特定の記録パターンに対応する記録マーク（例えば、記録パターン２Ｔｓ５Ｔｍ２Ｔｓに対応する５Ｔマーク）がその記録パターンの前後に位置する他の記録マークの長さや位相に影響を与える場合には、そのような影響が抑制されるように、特定の記録パターンの前後に位置する他の記録マークに対応する記録パターンの位相目標値を“０”以外の値に設定しても良い。
【０１５３】
〔品質改善判定〕
また、誤差値と目標値との差分値が改善基準値よりも大きいと判定された記録パターンのうち少なくとも１つの記録パターンの誤差値が目標値に近づくように記録パラメータを調整することにより、誤差値が改善基準値よりも小さくなるように記録品質を改善することができる。
【０１５４】
〔品質不良判定〕
また、誤差値と目標値との差分値が不良基準値よりも大きいと判定された記録パターンを検出した場合に、記録再生部１１による前回の記録動作によって光ディスク１０に記録された第ｉ番目のデータブロックＤＢが記録再生部１１による次回の記録動作によって光ディスク１０の交代セクタに再記録されることにより、品質不良により正常に再生できない記録データを救済することができる。
【０１５５】
〔転送処理〕
また、ベリファイ期間毎に、エッジパターン毎に検出された信頼性値（信頼性格納部４０３に格納された信頼性値）のうち記録パラメータの調整に利用しようとする信頼性値を転送することにより、１つのベリファイ期間においてエッジパターン毎に検出された信頼性値を全て転送する場合よりも、品質情報検出部１４（転送部４０４）とコントローラ１５（パラメータ制御部５０３）との間のデータバスの使用量を削減でき、品質情報検出部１４とコントローラ１５との間の転送処理に要する時間を短縮できる。これにより、ベリファイ期間内に記録パラメータの調整を完了させることができる。
【０１５６】
なお、パラメータ制御部５０３は、エッジパターン毎に検出された信頼性値が所定の順番で（例えば、２Ｔマーク，３Ｔマーク，…，５Ｔマークの順番で）ベリファイ期間毎に転送されるように転送指示しても良いし、エッジパターン毎に検出された信頼性値が１回のベリファイ期間で全て転送されるように転送指示しても良い。また、パラメータ制御部５０３は、前回の記録パラメータ制御処理における誤差値の計算結果に基づいて、今回のベリファイ期間においてエッジパターン毎に検出された信頼性値のいずれを品質情報検出部１４に転送させるのかを決定しても良い。
【０１５７】
（ジッタ最適化）
なお、最尤復号処理の誤り確率の最適化とともにジッタ最適化を実施する場合、ジッタ最適化の結果に応じて長さ目標値および位相誤差値を変更しても良い。この場合、長さ目標値は“０”以外の値となっても良い。
【０１５８】
〔ジッタ検出方法〕
ここで、図３０（ａ）〜図３０（ｅ）を参照して、ジッタ検出方法について説明する。図３０（ａ）のように、２Ｔスペース，３Ｔマーク，４Ｔスペース，２Ｔマーク，および３Ｔスペースからなる記録領域に再生ビームを照射すると、図３０（ｂ）に示された実線のような再生波形を有するアナログ再生信号が生成される。ここで、アナログ再生信号を所定の閾値電圧（図３０（ｂ）の破線）に基づいて二値化すると、図３０（ｃ）のような二値化信号が生成される。次に、二値化信号と再生クロックとの位相差が検出され、二値化信号と再生クロックとの位相差の積分値が“０”になるように、再生クロックが制御される。このようにして、図３０（ｄ）のような再生クロックが生成される。この二値化信号の立ち上がりエッジ位置および立ち下がりエッジ位置と再生クロックの立ち上がりエッジ位置との時間的なずれが位相誤差値となる。
【０１５９】
なお、位相誤差値Δｔ２Ｔｓ３Ｔｍは、３Ｔマークの始端エッジ位置（２Ｔスペースと３Ｔマークとの境界位置）における位相誤差値を示し、位相誤差値Δ３Ｔｍ４Ｔｓは、３Ｔマークの終端エッジ位置（３Ｔマークと４Ｔスペースとの境界位置）における位相誤差を示し、位相誤差値Δｔ４Ｔｓ２Ｔｍ，Δｔ２Ｔｍ３Ｔｓは、それぞれ、２Ｔマークの始端エッジ位置および終端エッジ位置における位相誤差値を示している。記録マークの長さは、二値化信号の立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジの時間間隔に基づいて判断できる。エッジパターン毎に位相誤差値を検出して積分することにより、エッジパターン毎に図３０（ｅ）のような位相誤差値の分布が得られる。なお、図３０（ｅ）は、位相誤差値Δｔ２Ｔｓ３Ｔｍの分布を示している。位相誤差値の分布の平均値がジッタ値に相当する。このジッタ値が“０”に近づくように記録マークの始端エッジ位置および終端エッジ位置（すなわち、記録パルスの形状）を調整することにより、ジッタを最適化できる。なお、位相誤差値の分布の平均値ではなく、位相誤差値の絶対値の累積値をジッタ値として計算しても良い。
【０１６０】
〔クロック生成器〕
図３１は、図１に示したクロック生成器２０４の構成例を示す。クロック生成器２０４は、比較器２１１と、位相差検出器２１２と、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）２１３と、電圧制御発振器（ＶＣＯ）２１４とを含む。比較器２１１は、アナログ再生信号ＡＳａの信号レベルと閾値電圧とを比較し、アナログ再生信号ＡＳａの信号レベルが閾値電圧よりも高い場合には比較器２１１の出力をハイレベルに設定し、アナログ再生信号ＡＳａの信号レベルが閾値電圧よりも低い場合には比較器２１１の出力をローレベルに設定する。これにより、アナログ再生信号ＡＳａは、二値化される（二値化信号に変換される）。なお、閾値電圧は、二値化信号（比較器２１１の出力）の積分値が“０”になるようにフィードバック制御されている。位相差検出器２１２は、再生クロックＣＬＫと二値化信号（比較器２１１の出力）との位相誤差値ＰＤを検出する。ローパスフィルタ２１３は、位相差検出器２１２の出力を平滑化する。電圧制御発振器２１４は、ローパスフィルタ２１３の出力に応じて再生クロックＣＬＫの周波数を制御する。
【０１６１】
〔ジッタ検出部〕
図１に示したジッタ検出部１７は、二値化信号（比較器２１１の出力）のエッジパターン毎に位相誤差値ＰＤを積分することによってエッジパターン毎にジッタ値を計算する。なお、ジッタ検出部１７は、位相誤差値の分布の平均値ではなく、位相誤差値の絶対値の累積値をジッタ値として計算しても良い。
【０１６２】
〔ジッタ最適化と長さ差誤差値および位相誤差値との関係〕
次に、図３２を参照して、ジッタ最適化と長さ差誤差値および位相誤差値との関係について説明する。ここでは、記録マークの長さおよびその記録マークを挟んで隣接する２つのスペースの長さが“３Ｔ”である場合を例に挙げて説明する。
【０１６３】
図３２は、ジッタが最適化されており、記録マークの始端エッジ部分に対応する再生信号のサンプル値（ｙｋ−３，ｙｋ−２，ｙｋ−１，ｙｋ）が（４．８， ４．８， ３．０， １．２）であり、記録マークの終端エッジ部分に対応する再生信号のサンプル値（ｙｋ−３，ｙｋ−２，ｙｋ−１，ｙｋ）が（１．２， ３．０， ４．８， ４．８）である場合を示している。この場合、記録マークの始端エッジ部分では、パターンＰＰ１のパスＢが最も確からしい状態遷移列として選択され、記録マークの終端エッジ部分では、パターンＰＰ５のパスＢが最も確からしい状態遷移列として選択されることになる。また、長さ誤差値Ｄｌは“−１．６”と計算され、位相誤差値Ｄｐは“０．０”と計算される。
【０１６４】
ジッタが最適になるように記録パルスの形状が調整されている場合、記録マークの始端エッジ部分および終端エッジ部分におけるエッジ位置（すなわち、信号レベル“３”と再生信号との交点）は、チャネルクロック周期ＴＣＬＫに一致している。しかし、再生信号のサンプル値のうち信号レベル“３”との交点以外のサンプル値は、最も確からしい状態遷移列の各期待値に一致していない。これは、ジッタ検出処理を実行する信号処理系列と最尤復号処理を実行する信号処理系列との間でイコライズ特性（入力信号の各周波数帯域に対するブースト量）が異なるためである。
【０１６５】
最尤復号処理にとって最適となる記録マークの理想的な長さ誤差値は“０．０”であるので、図３２の場合、長さ目標値Ｄｌｔを“−１．６＜Ｄｌｔ＜０．０”に設定することにより、ジッタの最適化および最尤復号処理の誤り確率の最適化の一方に偏らない最適化制御が可能となる。すなわち、ジッタが最適となる記録パラメータに基づいて形成された記録マークを再生した場合に検出される長さ誤差値を“Ｄｌｊ”とすると、Ｄｌｊ＜０のときにＤｌｊ＜Ｄｌｔ＜０となり、Ｄｌｊ＞０のときに０＜Ｄｌｔ＜Ｄｌｊとなるように長さ目標値Ｄｌｔを設定しても良い。
【０１６６】
また、最尤復号処理にとって最適となる記録マークの理想的な位相誤差値は“０．０”であるので、ジッタが最適となる記録パラメータに基づいて形成された記録マークを再生した場合に検出される位相誤差値を“Ｄｐｊ”とすると、Ｄｐｊ＜０のときにＤｐｊ＜Ｄｐｔ＜０となり、Ｄｐｊ＞０のときに０＜Ｄｐｔ＜Ｄｐｊとなるように位相目標値Ｄｐｔを設定しても良い。
【０１６７】
なお、ジッタ検出処理と最尤復号処理とのイコライズ特性の相違が最も大きくなる記録パターン（例えば、３Ｔマークに対応する記録パターン）に対してのみ、長さ誤差値を“０”以外の値に設定しても良い。このように設定した場合も、ジッタの最適化および最尤復号処理の誤り確率の最適化の一方に偏らない最適化制御が可能となる。
【０１６８】
次に、図１に示した光ディスク記録再生装置によるジッタ最適化処理および目標値計算処理について説明する。ここでは、説明の簡略化のため、記録条件は変更されないものとする。
【０１６９】
〔ジッタ最適化処理〕
まず、記録再生制御部５０２は、記録再生部１１に記録動作を実行させる。記録再生部１１は、記録パラメータに基づいて所定量の記録データＷＤを記録パルスＰＷに変換し、記録パルスＰＷに基づいて光ディスク１０のデータ領域に記録領域を形成する。次に、記録再生制御部５０２は、記録再生部１１に再生動作を実行させる。記録再生部１１は、光ディスク１０のデータ領域に形成された記録領域に再生ビームを照射してアナログ再生信号ＡＳを再生する。再生処理部１２は、アナログ再生信号ＡＳに基づいて再生クロックＣＬＫを生成するとともに、アナログ再生信号ＡＳと再生クロックＣＬＫとの位相誤差値ＰＤを検出する。ジッタ検出部１７は、位相誤差値ＰＤに基づいてジッタ値を検出する。パラメータ制御部５０３は、ジッタ検出部１７によって検出されたジッタ値が“０”に近づくように、記録パラメータに示された記録パルスの形状を調整する。次に、記録再生制御部５０２は、記録再生部１１に記録動作を実行させ、記録再生部１１は、記録パラメータ（調整された記録パラメータ）に基づいて所定量の記録データＷＤを記録パルスＰＷに変換し、記録パルスＰＷに基づいて光ディスク１０のデータ領域に記録領域を形成する。このような処理が繰り返されることにより、ジッタに対して最適な記録パラメータが検出される。
【０１７０】
〔目標値計算処理〕
まず、記録再生制御部５０２は、ジッタ最適化処理によって検出された記録パラメータを記録再生部１１の記録パラメータとして設定した後、記録再生部１１に記録動作を実行させる。記録再生部１１は、記録パラメータに基づいて所定量の記録データＷＤを記録パルスＰＷに変換し、記録パルスＰＷに基づいて光ディスク１０のデータ領域に記録領域を形成する。次に、記録再生制御部５０２は、記録再生部１１に再生動作を実行させる。記録再生部１１は、光ディスク１０のデータ領域に形成された記録領域に再生ビームを照射してアナログ再生信号ＡＳを再生する。再生処理部１２は、アナログ再生信号ＡＳをデジタル再生信号ＤＳに変換し、復号処理部１３は、デジタル再生信号ＤＳに最尤復号処理を施して二値化信号Ｄ３０２を生成する。品質情報検出部１４は、二値化信号Ｄ３０２の遷移エッジ毎にエッジパターンを検出し、エッジパターン毎に信頼性値を検出する。パラメータ制御部５０３は、エッジパターン毎に検出された信頼性値に基づいて、記録パラメータ毎に長さ誤差値および位相誤差値を計算する。次に、パラメータ制御部５０３は、記録パターン毎に、長さ誤差値および位相誤差値に基づいて長さ目標値および位相目標値を計算する。例えば、パラメータ制御部５０３は、長さ誤差値を“Ｄｌｊ”とすると、Ｄｌｊ＜０のときにＤｌｊ＜Ｄｌｔ＜０となり、Ｄｌｊ＞０のときに０＜Ｄｌｔ＜Ｄｌｊとなるように長さ目標値Ｄｌｔを設定するとともに、位相誤差値を“Ｄｐｊ”とすると、Ｄｐｊ＜０のときにＤｐｊ＜Ｄｐｔ＜０となり、Ｄｐｊ＞０のときに０＜Ｄｐｔ＜Ｄｐｊとなるように位相誤差値Ｄｐｔを設定する。次に、パラメータ制御部５０３は、記録パラメータ毎に計算された長さ目標値および位相目標値を目標設定情報Ｄ６０３に登録する。このようにして、ジッタの最適化および最尤復号処理の誤り確率の最適化の一方に偏らない長さ目標値および位相目標値を記録パターン毎に設定することができる。
【０１７１】
なお、光ディスク１０のデータ領域の代わりに光ディスク１０の内周パワー校正領域（または、外周パワー校正領域）において、記録データＷＤの代わりにジッタ検出に適したテストパターンを用いて、ジッタ最適化処理および目標値計算処理を実行しても良い。
【０１７２】
〔クロック生成器の変形例〕
なお、再生処理部１２は、図１に示したクロック生成器２０４に代えて、図３３に示したクロック生成器２０４ａを含んでいても良い。図３３に示したクロック生成器２０４ａは、位相差検出部２２１と、ローパスフィルタ２２２と、デジタル・アナログ変換器（ＤＡＣ）２２３と、電圧制御発振器（ＶＣＯ）２２４とを含む。図３４のように、位相差検出部２２１は、デジタル再生信号ＤＳを構成する複数のデジタル値Ｑ１，Ｑ２，…を順次取得して基準値（例えば、閾値電圧値）に対するデジタル値の極性を判断し、今回取得したデジタル値（例えば、デジタル値Ｑ２）の極性が前回取得したデジタル値（例えば、デジタル値Ｑ１）の極性と異なる場合に、今回のデジタル値と前回のデジタル値との平均値（例えば、平均値ＰＤ１）を検出する。そして、位相差検出部２２１は、今回のデジタル値が前回のデジタル値よりも大きい場合には平均値（例えば、平均値ＰＤ１，デジタル値Ｑ５，Ｑ６の平均値ＤＰ３）を位相誤差値ＰＤとして出力し、今回のデジタル値が前回のデジタル値よりも小さい場合には平均値（例えば、デジタル値Ｑ３，Ｑ４の平均値Ｑ３４，デジタル値Ｑ７，Ｑ８の平均値Ｑ７８）の符号を反転して反転値（例えば、反転値ＰＤ２，ＰＤ４）を位相誤差値ＰＤとして出力する。ローパスフィルタ２２２は、位相差検出部２２１の出力を平滑化する。これにより、ローパスフィルタ２２２は、デジタル再生信号ＤＳの位相誤差曲線を示した信号を出力する。デジタル・アナログ変換器２２３は、ローパスフィルタ２２２の出力を制御信号（アナログ信号）に変換する。電圧制御発振器２２４は、デジタル・アナログ変換器２２３からの制御信号の電圧レベルに応じて再生クロックＣＬＫの周波数を調整する。例えば、図３４の場合、ローパスフィルタ２２２の出力（すなわち、位相誤差曲線）は基準値に対して正の極性を示しているので、電圧制御発振器２２４は、再生クロックＣＬＫの周波数を高くする。
【０１７３】
なお、図１に示した光ディスク記録再生装置は、ジッタ検出部１７を備えていなくても良い。
【０１７４】
（その他の実施形態）
なお、ライト・アンド・ベリファイ動作とパワー校正領域における記録パラメータの最適化処理とを併用しても良い。また、パワー校正領域における記録パラメータの最適化処理では、記録再生部１１は、記録パラメータに基づいて、記録データＷＤの代わりにテストパターンを記録パルスＷＰに変換しても良い。テストパターンでは、記録パラメータの最適化に必要なマーク区間とスペース区間との組合せが同一頻度で発生し、テストパターンに含まれるＤＣ成分（ＤＳＶ）は“０”である。このように構成した場合も、記録パラメータの最適化（調整）に費やされる時間が光ディスク記録再生装置の起動開始時に集中することを抑制できるので、記録パラメータの最適化処理だけを実行する場合よりも起動時間を短縮できる。
【０１７５】
また、パターンＰＰ１〜ＰＰ８は、始端エッジパターン２Ｔｓ２Ｔｍおよび終端エッジパターン２Ｔｍ２Ｔｓに対応していないが、他の復号方式によって始端エッジパターン２Ｔｓ２Ｔｍおよび終端エッジパターン２Ｔｍ２Ｔｓの各々の信頼性値を検出しても良い。
【０１７６】
また、誤差値を計算する記録パターンの個数は、光ディスク１０における記録マークおよびスペースが誤差値に与える影響を考慮して決定しても良い。例えば、上記の例では、５Ｔマークから最長マークまでを１つにまとめて“５Ｔマーク以上”とし、５Ｔスペースから最長スペースまでを１つにまとめて“５Ｔスペース以上”として誤差値（長さ誤差値および／または位相誤差値）の計算対象となる記録パターンを表現したが、最短マークから最長マークまでの全てのマークおよび最短スペースから最長スペースまでの全てのスペースによって表現される全ての記録パターンについて誤差値を計算しても良い。
【０１７７】
または、記録マークの前後に位置するスペースの影響を受けずに記録マークの誤差値を検出できる場合（記録マークの前後に位置するスペースの長さが相違していても記録マークの長さが同一であれば記録マークの誤差値が同一である場合）には、５７通りの記録パターンではなく、記録マークのみで表現される４通りの記録パターン（２Ｔマーク，３Ｔマーク，４Ｔマーク，および５Ｔマーク以上）について誤差値を計算して記録パラメータを調整しても良い。このように、誤差値の検出対象とする記録パターンの個数を少なくすることにより、誤差値の演算量や信頼性値の格納領域を削減することができる。
【０１７８】
なお、コントローラ１５は、専用回路（ハードウェア）によって実現されても良いし、ＣＰＵの機能として実現されても良い。例えば、光ディスク記録再生装置に搭載されたＣＰＵが記録再生プログラム（ライト・アンド・ベリファイ動作を実行させるためのプログラム）に従ってライト・アンド・ベリファイ動作を制御しても良い。また、記録再生プログラムは、光ディスク記録再生装置の内部に設けられた記憶部（図示せず）に格納されていても良いし、ユーザによってインターネット上の特定のウェブサイトから有料または無料でダウンロードされて光ディスク記録再生装置にインストールされても良い。インストールされた記録再生プログラムは、光ディスク記録再生装置の内部に設けられた記憶部（図示せず）に格納される。また、記録再生プログラムは、コンピュータによって読み取り可能な記録媒体（例えば、フレキシブルディスク，ＣＤ−ＲＯＭ，ＤＶＤ−ＲＯＭなど）に格納されていても良い。この場合、記録媒体に格納された記録再生プログラムは、入力装置によって光ディスク記録再生装置にインストールされても良い。
【０１７９】
なお、光ディスク１０は、ＣＤ（Compact Disc），ＤＶＤ（Digital Versatile Disc），ＤＶＤ−ＲＡＭ（Digital Versatile Disc-Random Access Memory），ＢＤ（Blu-ray Disc）などの光ディスクや、ＭＯ（Magneto-Optical Disc）などの光磁気ディスクや、デジタル信号の極性間隔（記録符号（０または１）が連続する長さ）に応じて形成される情報の長さまたは位相を変化させてデジタル信号を記録する情報記録媒体であっても良い。
【０１８０】
以上の説明では、記録符号（記録データＷＤ）の最小極性反転間隔が“２”であり、等化方式がＰＲ（１，２，２，１）等化である場合を例に挙げたが、これに限定されない。例えば、ＤＶＤなどに使用される８−１６変調符号のような最小極性反転間隔が“３”である場合、ＰＲ（１，２，２，１）等化により、時刻ｋにおいて６つの状態が存在する。この場合、時刻ｋ＋１における６つの状態へとり得る状態遷移が８通りに制限される状態遷移則を利用しても良い。また、最小極性反転間隔が“２”または“３”である記録符号とＰＲ（Ｃ０，Ｃ１，Ｃ１，Ｃ０）等化との組合せや、最小極性反転間隔が“２”または“３”である記録符号とＰＲ（Ｃ０，Ｃ１，Ｃ２，Ｃ１，Ｃ０）等化との組合せにも適用可能である（Ｃ０，Ｃ１，Ｃ２は、任意の正の数である）。
【産業上の利用可能性】
【０１８１】
以上のように、上述の光ディスク記録再生装置は、起動時間の短縮および記録品質の改善を実現できるので、ＤＶＤドライバ，ＤＶＤレコーダ，ＢＤレコーダなどとして有用である。
【符号の説明】
【０１８２】
１１    記録再生部
１２    再生処理部
１３    復号処理部
１４    品質情報検出部
１５    コントローラ
１６    メモリ
１７    ジッタ検出部
１０１    バッファ
１０２    記録補償部
１０３    レーザ駆動部
１０４    光ヘッド
２０１    増幅器
２０２    自動利得制御器
２０３    波形等化器
２０４    クロック生成器
２０５    アナログ・デジタル変換器
３０１    整形部
３０２    最尤復号部
４０１    信頼性計算部
４０２    エッジパターン検出部
４０３    信頼性格納部
４０４    転送部
５０１    モード制御部
５０２    記録再生制御部
５０３    パラメータ制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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