【手続補正書】
【提出日】平成28年4月13日(2016.4.13)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンタクトアナログプローブを使用して対象を走査する方法であって、前記コンタクトアナログプローブは、工作機械上に取り付けられた前記対象に接触することにより前記対象の表面上の基準測定ラインに沿って走査測定データを収集するための偏向可能スタイラスを備え、前記コンタクトアナログプローブは、好ましい測定範囲を有する、方法において、
相対動作経路にしたがって走査オペレーションを実施するために前記コンタクトアナログプローブおよび／または前記対象を制御するステップであって、前記相対動作経路は、前記対象の前記表面の仮定的特性に基づき、前記コンタクトアナログプローブが、前記対象の前記表面上の前記基準測定ラインに沿って、その好ましい測定範囲内のデータを取得することを予測し、かつ、その好ましい測定範囲外に進むであろうことを予測するように、設定される、該ステップ
を具えたことを特徴とする方法。
【請求項２】
コンタクトアナログプローブを使用して対象を走査する方法であって、前記コンタクトアナログプローブは、工作機械上に取り付けられた前記対象に接触することにより前記対象の表面上の基準測定ラインに沿って走査測定データを収集するための偏向可能スタイラスを備え、前記コンタクトアナログプローブは、好ましい測定範囲を有する、方法において、
相対動作経路にしたがって走査オペレーションを実施するために前記コンタクトアナログプローブおよび／または前記対象を制御するステップであって、前記相対動作経路は、前記コンタクトアナログプローブの好ましい測定範囲が、前記基準測定ラインに沿って前記対象を複数回にわたりトラバースするように設定され、前記対象の前記表面に対する前記コンタクトアナログプローブの好ましい測定範囲の前記位置は個々のトラバースに関して異なる、該ステップ
を具えたことを特徴とする方法。
【請求項３】
前記コンタクトアナログプローブの好ましい測定範囲内において取得された走査測定データを前記対象の測定値として収集および出力するステップを含むことを特徴とする請求項１又は２に記載の方法。
【請求項４】
収集および出力する前記ステップは、前記コンタクトアナログプローブから取得された前記データをフィルタリングすることにより、前記コンタクトアナログプローブの好ましい測定範囲内から取得された選択対象測定データを取得し、前記対象の前記測定値として供給するステップを含むことを特徴とする請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記コンタクトアナログプローブは、それが、前記基準測定ラインに沿って移動する際に、前記対象の前記表面の仮定的特性に基づき、前記コンタクトアナログプローブの好ましい測定範囲の位置を前記対象の前記表面に対して反復的に上昇および下降させるように進行することを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の方法。
【請求項６】
前記コンタクトアナログプローブは、それが、前記基準測定ラインに沿ってデータを収集するために移動される際に、前記対象の前記表面との間において位置感知関係に維持されることを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の方法。
【請求項７】
前記相対動作経路は、前記走査オペレーション時に、前記コンタクトアナログプローブの好ましい測定範囲が、前記基準測定ラインに沿って前記対象を複数回にわたりトラバースするように設定されることを特徴とする請求項１、３乃至５のいずれかに記載の方法。
【請求項８】
個々のトラバースに関して、前記コンタクトアナログプローブは、前記基準測定ラインに沿って前記対象の種々の部分についてその好ましい測定範囲内の測定データを取得することを特徴とする請求項１乃至７のいずれかに記載の方法。
【請求項９】
前記好ましい測定範囲が前記表面に対して辿るルートの形状が、引き続くトラバースに関して実質的に同一であるが、前記基準測定ラインに沿った少なくとも１つの点における前記表面からの前記ルートの高さが、個々のトラバースに関して異なることを特徴とする請求項１乃至８のいずれかに記載の方法。
【請求項１０】
個々のトラバースから前記好ましい測定範囲内において取得された表面測定データが、照合されることにより、前記基準測定ラインに沿った前記対象の前記表面を表す測定データセットを形成することを特徴とする請求項１乃至９のいずれかに記載の方法。
【請求項１１】
前記コンタクトアナログプローブおよび前記対象の新規の相対移動経路を、第２の走査オペレーションの一部として生成および実行するステップを含むことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項１２】
前記新規の相対移動経路は、前記コンタクトアナログプローブが、前記対象の前記表面中において実質的に同一の測定ラインをトラバースすることを含み、しかし、前記相対移動は、前記コンタクトアナログプローブが、前記走査オペレーションの場合よりも高い割合の前記移動経路に関してその好ましい測定範囲内の測定値を取得するように制御されることを特徴とする請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
前記コンタクトアナログプローブの好ましい測定範囲は、前記コンタクトアナログプローブの好ましい偏向範囲であることを特徴とする請求項１乃至１２のいずれかに記載の方法。
【請求項１４】
工作機械上に取り付けられたアナログプローブを使用して対象を走査する方法であって、前記アナログプローブは好ましい測定範囲を有し、該方法は、前記アナログプローブが、前記対象の表面上において基準測定ラインに沿って走査測定データを取得するように、前記対象および前記アナログプローブを互いに対して移動させることを含む走査測定オペレーションを実施することを含み、前記基準測定ラインに沿った前記走査測定オペレーション時に取得された前記データの一部は前記アナログプローブの好ましい測定範囲内に含まれ、および一部は前記プローブの好ましい測定範囲外であることを特徴とする方法。
【請求項１５】
工作機械装置により実行される場合に、請求項１乃至１４のいずれかに記載の方法を前記工作機械装置に実施させる命令を含むことを特徴とするコンピュータプログラム。
【請求項１６】
工作機械装置により実行される場合に、請求項１乃至１４のいずれかに記載の方法を前記工作機械装置に実施させる命令を含むことを特徴とするコンピュータ可読媒体。
【請求項１７】
工作機械と、前記工作機械上に取り付けられた偏向可能スタイラスを有するコンタクトアナログプローブと、制御装置とを備える、工作機械装置であって、前記制御装置は、前記コンタクトアナログプローブおよび測定すべき対象の相対移動を制御することにより、前記対象の表面上の基準測定ラインに沿って走査測定データを収集し、特に相対動作経路にしたがって前記コンタクトアナログプローブおよび／または前記対象を制御することによって、前記対象の前記表面の仮定的特性に基づき、前記コンタクトアナログプローブに、前記対象の前記表面上の前記基準測定ラインに沿って、その好ましい測定範囲内のデータを取得し、かつ、その好ましい測定範囲を越えるであろうことを予測するように、前記対象の前記表面に対する前記好ましい測定範囲の前記位置が制御されるように構成されることを特徴とする工作機械装置。
【請求項１８】
工作機械と、前記工作機械上に取り付けられた偏向可能スタイラスを有するコンタクトアナログプローブと、制御装置とを備える、工作機械装置であって、前記制御装置は、前記コンタクトアナログプローブおよび測定すべき対象の相対移動を制御することにより、前記対象の表面上の基準測定ラインに沿って走査測定データを収集し、特に相対動作経路にしたがって前記コンタクトアナログプローブおよび／または前記対象を制御することによって、前記コンタクトアナログプローブの好ましい測定範囲が、前記基準測定ラインに沿って前記対象を複数回にわたりトラバースするようにし、前記対象の前記表面に対する前記コンタクトアナログプローブの好ましい測定範囲の前記位置は個々のトラバースに関して異なるように、前記対象の前記表面に対する前記好ましい測定範囲の前記位置が制御されるように構成されたことを特徴とする工作機械装置。