【手続補正書】
【提出日】平成27年12月18日(2015.12.18)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
質量分析計であって、
溶離液を経時的に放出するように配置構成および適合された分離装置であって、前記分離装置は、（ｉ）キャピラリー電気泳動（「ＣＥ」）分離装置、（ｉｉ）キャピラリー電子クロマトグラフィー（「ＣＥＣ」）分離装置、（ｉｉｉ）実質的に剛性のセラミックベースの多層マイクロ流体基板（「セラミックタイル」）分離装置、または（ｉｖ）超臨界流体クロマトグラフィー分離装置のいずれかを含む、分離装置と、
噴霧器と、
標的と、
を含み、
前記分離装置から放出された前記溶離液を使用時において前記噴霧器によって噴霧し、分析物液滴の流れを方向付けて前記標的と衝突させて、前記分析物をイオン化して複数の分析物イオンを形成する、質量分析計。
【請求項２】
前記分離装置はキャピラリー電気泳動（「ＣＥ」）分離装置を含み、前記キャピラリー電気泳動分離装置の入口端部が第１の電位に維持され、前記キャピラリー電気泳動分離装置の出口端部が第２の電位に維持される、請求項１に記載の質量分析計。
【請求項３】
前記実質的に剛性のセラミックベースの多層マイクロ流体基板分離装置が高温同時焼成セラミック（ＨＴＣＣ）を含む、請求項１に記載の質量分析計。
【請求項４】
前記噴霧器が３軸プローブ配置で構成されている、請求項１〜３のいずれか１項に記載の質量分析計。
【請求項５】
前記分離装置は、第１の管を含むかまたは接続される、請求項１〜４のいずれか１項に記載の質量分析計。
【請求項６】
前記第１の管の出口は、使用時において、以下の範囲内の電位に維持される：
（ｉ）−５〜−４ｋＶ；（ｉｉ）−４〜−３ｋＶ；（ｉｉｉ）−３〜−２ｋＶ；（ｉｖ）−２〜−１ｋＶ；（ｖ）−１０００〜−９００Ｖ；（ｖｉ）−９００〜−８００Ｖ；（ｖｉｉ）−８００〜−７００Ｖ；（ｖｉｉｉ）−７００〜−６００Ｖ；（ｉｘ）−６００〜−５００Ｖ；（ｘ）−５００〜−４００Ｖ；（ｘｉ）−４００〜−３００Ｖ；（ｘｉｉ）−３００〜−２００Ｖ；（ｘｉｉｉ）−２００〜−１００Ｖ；（ｘｉｖ）−１００〜−９０Ｖ；（ｘｖ）−９０〜−８０Ｖ；（ｘｖｉ）−８０〜−７０Ｖ；（ｘｖｉｉ）−７０〜−６０Ｖ；（ｘｖｉｉｉ）−６０〜−５０Ｖ；（ｘｉｘ）−５０〜−４０Ｖ；（ｘｘ）−４０〜−３０Ｖ；（ｘｘｉ）−３０〜−２０Ｖ；（ｘｘｉｉ）−２０〜−１０Ｖ；（ｘｘｉｉｉ）−１０〜０Ｖ；（ｘｘｉｖ）０〜１０Ｖ；（ｘｘｖ）１０〜２０Ｖ；（ｘｘｖｉ）２０〜３０Ｖ；（ｘｘｖｉｉ）３０〜４０Ｖ；（ｘｘｖｉｉｉ）４０〜５０Ｖ；（ｘｘｉｘ）５０〜６０Ｖ；（ｘｘｘ）６０〜７０Ｖ；（ｘｘｘｉ）７０〜８０Ｖ；（ｘｘｘｉｉ）８０〜９０Ｖ；（ｘｘｘｉｉｉ）９０〜１００Ｖ；（ｘｘｘｉｖ）１００〜２００Ｖ；（ｘｘｘｖ）２００〜３００Ｖ；（ｘｘｘｖｉ）３００〜４００Ｖ；（ｘｘｘｖｉｉ）４００〜５００Ｖ；（ｘｘｘｖｉｉｉ）５００〜６００Ｖ；（ｘｘｘｉｘ）６００〜７００Ｖ；（ｘｌ）７００〜８００Ｖ；（ｘｌｉ）８００〜９００Ｖ；（ｘｌｉｉ）９００〜１０００Ｖ；（ｘｌｉｉｉ）１〜２ｋＶ；（ｘｌｉｖ）２〜３ｋＶ；（ｘｌｖ）３〜４ｋＶ；および（ｘｌｖｉ）４〜５ｋＶ、
請求項５に記載の質量分析計。
【請求項７】
前記第１の管は第２の管によって包囲され、前記第２の管は、前記第１の管の出口から放出された前記溶離液と混合される液体流れを提供するように、配置構成および適合される、請求項５または６に記載の質量分析計。
【請求項８】
前記第２の管はキャピラリー管を含む、請求項６に記載の質量分析計。
【請求項９】
第３の管をさらに含み、前記第３の管は、前記第１の管の出口および／または前記第２の管へガス流れを提供するように配置構成および適合される、請求項７または８に記載の質量分析計。
【請求項１０】
前記標的は、使用時において以下の電位に維持される：
（ｉ）−５〜−４ｋＶ；（ｉｉ）−４〜−３ｋＶ；（ｉｉｉ）−３〜−２ｋＶ；（ｉｖ）−２〜−１ｋＶ；（ｖ）−１０００〜−９００Ｖ；（ｖｉ）−９００〜−８００Ｖ；（ｖｉｉ）−８００〜−７００Ｖ；（ｖｉｉｉ）−７００〜−６００Ｖ；（ｉｘ）−６００〜−５００Ｖ；（ｘ）−５００〜−４００Ｖ；（ｘｉ）−４００〜−３００Ｖ；（ｘｉｉ）−３００〜−２００Ｖ；（ｘｉｉｉ）−２００〜−１００Ｖ；（ｘｉｖ）−１００〜−９０Ｖ；（ｘｖ）−９０〜−８０Ｖ；（ｘｖｉ）−８０〜−７０Ｖ；（ｘｖｉｉ）−７０〜−６０Ｖ；（ｘｖｉｉｉ）−６０〜−５０Ｖ；（ｘｉｘ）−５０〜−４０Ｖ；（ｘｘ）−４０〜−３０Ｖ；（ｘｘｉ）−３０〜−２０Ｖ；（ｘｘｉｉ）−２０〜−１０Ｖ；（ｘｘｉｉｉ）−１０〜０Ｖ；（ｘｘｉｖ）０〜１０Ｖ；（ｘｘｖ）１０〜２０Ｖ；（ｘｘｖｉ）２０〜３０Ｖ；（ｘｘｖｉｉ）３０〜４０Ｖ；（ｘｘｖｉｉｉ）４０〜５０Ｖ；（ｘｘｉｘ）５０〜６０Ｖ；（ｘｘｘ）６０〜７０Ｖ；（ｘｘｘｉ）７０〜８０Ｖ；（ｘｘｘｉｉ）８０〜９０Ｖ；（ｘｘｘｉｉｉ）９０〜１００Ｖ；（ｘｘｘｉｖ）１００〜２００Ｖ；（ｘｘｘｖ）２００〜３００Ｖ；（ｘｘｘｖｉ）３００〜４００Ｖ；（ｘｘｘｖｉｉ）４００〜５００Ｖ；（ｘｘｘｖｉｉｉ）５００〜６００Ｖ；（ｘｘｘｉｘ）６００〜７００Ｖ；（ｘｌ）７００〜８００Ｖ；（ｘｌｉ）８００〜９００Ｖ；（ｘｌｉｉ）９００〜１０００Ｖ；（ｘｌｉｉｉ）１〜２ｋＶ；（ｘｌｉｖ）２〜３ｋＶ；（ｘｌｖ）３〜４ｋＶ；および（ｘｌｖｉ）４〜５ｋＶ、
請求項１〜９のいずれか１項に記載の質量分析計。
【請求項１１】
前記質量分析計は制御システムをさらに含み、前記制御システムは、（ｉ）単回の実験実行時において前記標的の極性を切り換えることまたは（ｉｉ）単回の実験実行時において前記標的の極性を繰り返し切り換えることを行うように配置構成および適合される、請求項１〜１０のいずれか１項に記載の質量分析計。
【請求項１２】
前記標的を振動させるように配置構成および適合された振動装置をさらに含み、
任意的なものとして、得られる第２の液滴のサイズが表面崩壊を通じて低減するように、前記標的を振動させるように配置構成および適合される、請求項１〜１１のいずれか１項に記載の質量分析計。
【請求項１３】
前記標的を回転かつ／または平行移動させるように配置構成および適合された第１の装置をさらに含む、請求項１〜１２のいずれか１項に記載の質量分析計。
【請求項１４】
前記質量分析計は制御システムを含み、前記制御システムは、前記標的の位置に関する関数として分析物信号を監視するように配置構成および適合され、
任意的なものとして、前記制御システムは、所望の位置まで装置を回転させかつ／または前記標的を平行移動させるように配置構成および適合され、これにより、分析物イオン信号が最適化されるかまたは分析物イオンの強度が制御される、請求項１〜１３のいずれか１項に記載の質量分析計。
【請求項１５】
前記制御システムは、複数の所望の位置間において装置を回転させかつ／または前記標的を平行移動させるように配置構成および適合され、これにより、分析物イオンの強度を変化させるかまたは制御する、請求項１４に記載の質量分析計。
【請求項１６】
前記分離装置はキャピラリー電気泳動（「ＣＥ」）分離装置を含み、キャピラリー電気泳動カラムの出口からの液体流れは、接地した好ましくは３軸空気式噴霧器プローブの内側キャピラリーへ接続されている、請求項１〜１５のいずれか１項に記載の質量分析計。
【請求項１７】
質量分析の方法であって、
溶離液を経時的に放出するように配置構成および適合された分離装置を提供することであって、前記分離装置は、（ｉ）ａキャピラリー電気泳動（「ＣＥ」）分離装置、（ｉｉ）キャピラリー電子クロマトグラフィー（「ＣＥＣ」）分離装置、（ｉｉｉ）実質的に剛性のセラミックベースの多層マイクロ流体基板（「セラミックタイル」）分離装置または（ｉｖ）超臨界流体クロマトグラフィー分離装置を含む、ことと、
標的を提供することと、
前記分離装置から放出された前記溶離液を噴霧することであって、分析物液滴の流れを方向付けて前記標的と衝突させて前記分析物をイオン化させて、複数の分析物イオンを形成することと、を含む、質量分析の方法。
【請求項１８】
前記分離装置からの液体流れと混合された液体の構成流れを送達することをさらに含む、請求項１７に記載の質量分析の方法。