(57)【要約】【課題】スプリアスの発生を抑制することができる信号発生装置及び信号発生方法を提供する。【解決手段】信号発生装置１０は、デジタル値のベースバンドの波形データを記憶する波形データ記憶部１１、波形データ記憶部１１から出力される波形データをＤＡ変換するＤＡＣ１２及び１３、局部発振信号を生成する局部発振装置２０、局部発振信号とＤＡＣ１２及び１３の出力信号とを乗算することによりＲＦ試験信号を生成する直交変調器１４を備え、局部発振装置２０は、ＤＤＳ２１、局部発振器２２、ミキサ２３、ＢＰＦ２４、分周比演算部２５、分周比設定部２６、周波数設定部２７、ＰＬＬ回路３０を備え、分周比設定部２６は、ＤＤＳ２１の出力可能周波数で所望の周波数が得られる分周比が複数ある場合、ＤＤＳ２１の発振周波数が最小周波数となる分周比をＰＬＬ回路３０の可変分周器３４に設定する構成を有する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ベースバンド信号を出力するベースバンド信号出力手段（１１）と、
予め定められた局部発振周波数の局部発振信号を生成する局部発振信号生成手段（２０）と、
前記ベースバンド信号と前記局部発振信号とを乗算して直交変調及び周波数変換を行うことにより無線周波数信号を生成する無線周波数信号生成手段（１４）と、を有し、
前記局部発振信号生成手段は、
所定周波数の周波数信号を発生する周波数信号発生部（２１、２２、２３）と、
可変分周器（３４）の分周比に応じて前記周波数信号の周波数を前記局部発振周波数に変換する位相同期ループ回路（３０）と、
前記周波数信号の周波数を前記局部発振周波数に変換する際に複数の分周比が存在することを条件として、前記複数の分周比のうち前記周波数信号の周波数が最小周波数となる分周比を前記可変分周器に設定する分周比設定部（２６）と、を備えたことを特徴とする信号発生装置。
【請求項２】
前記可変分周器は、小数型の分周器であり、
前記分周比設定部は、小数の分周比を前記可変分周器に設定するものであることを特徴とする請求項１に記載の信号発生装置。
【請求項３】
ベースバンド信号を出力するベースバンド信号出力ステップ（Ｓ１２）と、
予め定められた局部発振周波数の局部発振信号を生成する局部発振信号生成ステップ（Ｓ２０）と、
前記ベースバンド信号と前記局部発振信号とを乗算して直交変調及び周波数変換を行うことにより無線周波数信号を生成する無線周波数信号生成ステップ（Ｓ１４）と、を有し、
前記局部発振信号生成ステップは、
所定周波数の周波数信号を発生する周波数信号発生ステップ（Ｓ２５、Ｓ２６）と、
可変分周器（３４）の分周比に応じて前記周波数信号の周波数を前記局部発振周波数に変換する周波数変換ステップ（Ｓ３０）と、
前記周波数信号の周波数を前記局部発振周波数に変換する際に複数の分周比が存在することを条件として、前記複数の分周比のうち前記周波数信号の周波数が最小周波数となる分周比を前記可変分周器に設定する分周比設定ステップ（Ｓ２３）と、を含むことを特徴とする信号発生方法。
【請求項４】
前記可変分周器は、小数型の分周器であり、
前記分周比設定ステップにおいて、小数の分周比を前記可変分周器に設定することを特徴とする請求項３に記載の信号発生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば携帯電話やモバイル端末等の移動通信端末に対する特性試験において試験信号を発生する信号発生装置及び信号発生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、移動通信端末等の特性試験において、試験信号を移動通信端末等に供給するため信号発生装置が用いられる（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
特許文献１記載の信号発生装置は、ＩＱベースバンド信号を発生するベースバンド信号発生部と、局部発振器から入力した局部発振信号をＩＱベースバンド信号で変調した直交変調信号を出力する直交変調手段と、直交変調信号の信号レベルを所定のレベルに減衰して出力する可変ＡＴＴと、を備え、試験者が指定した無線周波数及び信号レベルを有する試験信号を出力できるようになっている。
【０００４】
前述の構成において、局部発振信号の周波数精度の向上や安定化が要求されるため、局部発振器としては、近年、例えばダイレクトデジタルシンセサイザ（Direct Digital Synthesizer：ＤＤＳ）がＬＳＩ化された周波数シンセサイザが使用されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００８−２０５８１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、従来の信号発生装置では、ＤＤＳを用いると不要波成分（以下「スプリアス」という。）が発生するという課題があった。このスプリアスは、ＤＤＳの出力周波数が高くなるに従って、その発生頻度及びレベルが高くなることが知られており、スプリアスの発生を抑制することができる信号発生装置が求められていた。
【０００７】
本発明は、前述の事情に鑑みてなされたものであり、スプリアスの発生を抑制することができる信号発生装置及び信号発生方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の請求項１に係る信号発生装置は、ベースバンド信号を出力するベースバンド信号出力手段（１１）と、予め定められた局部発振周波数の局部発振信号を生成する局部発振信号生成手段（２０）と、前記ベースバンド信号と前記局部発振信号とを乗算して直交変調及び周波数変換を行うことにより無線周波数信号を生成する無線周波数信号生成手段（１４）と、を有し、前記局部発振信号生成手段は、所定周波数の周波数信号を発生する周波数信号発生部（２１、２２、２３）と、可変分周器（３４）の分周比に応じて前記周波数信号の周波数を前記局部発振周波数に変換する位相同期ループ回路（３０）と、前記周波数信号の周波数を前記局部発振周波数に変換する際に複数の分周比が存在することを条件として、前記複数の分周比のうち前記周波数信号の周波数が最小周波数となる分周比を前記可変分周器に設定する分周比設定部（２６）と、を備えた構成を有している。
【０００９】
この構成により、本発明の請求項１に係る信号発生装置は、分周比設定部が、周波数信号の周波数を局部発振周波数に変換する際に複数の分周比が存在する場合、複数の分周比のうち周波数信号の周波数が最小周波数となる分周比を可変分周器に設定することにより、スプリアスがより発生しにくい周波数に設定できるので、スプリアスの発生を抑制することができる。
【００１０】
本発明の請求項２に係る信号発生装置は、前記可変分周器は、小数型の分周器であり、前記分周比設定部は、小数の分周比を前記可変分周器に設定するものである構成を有している。
【００１１】
この構成により、本発明の請求項２に係る信号発生装置は、小数型の分周器を用いてスプリアスの発生を抑制することができる。
【００１２】
本発明の請求項３に係る信号発生方法は、ベースバンド信号を出力するベースバンド信号出力ステップ（Ｓ１２）と、予め定められた局部発振周波数の局部発振信号を生成する局部発振信号生成ステップ（Ｓ２０）と、前記ベースバンド信号と前記局部発振信号とを乗算して直交変調及び周波数変換を行うことにより無線周波数信号を生成する無線周波数信号生成ステップ（Ｓ１４）と、を有し、前記局部発振信号生成ステップは、所定周波数の周波数信号を発生する周波数信号発生ステップ（Ｓ２５、Ｓ２６）と、可変分周器（３４）の分周比に応じて前記周波数信号の周波数を前記局部発振周波数に変換する周波数変換ステップ（Ｓ３０）と、前記周波数信号の周波数を前記局部発振周波数に変換する際に複数の分周比が存在することを条件として、前記複数の分周比のうち前記周波数信号の周波数が最小周波数となる分周比を前記可変分周器に設定する分周比設定ステップ（Ｓ２３）と、を含む構成を有している。
【００１３】
この構成により、本発明の請求項３に係る信号発生方法は、分周比設定ステップにおいて、周波数信号の周波数を局部発振周波数に変換する際に複数の分周比が存在する場合、複数の分周比のうち周波数信号の周波数が最小周波数となる分周比を可変分周器に設定することにより、スプリアスがより発生しにくい周波数に設定できるので、スプリアスの発生を抑制することができる。
【００１４】
本発明の請求項４に係る信号発生方法は、前記可変分周器は、小数型の分周器であり、前記分周比設定ステップにおいて、小数の分周比を前記可変分周器に設定する構成を有している。
【００１５】
この構成により、本発明の請求項４に係る信号発生方法は、小数型の分周器を用いてスプリアスの発生を抑制することができる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明は、スプリアスの発生を抑制することができるという効果を有する信号発生装置及び信号発生方法を提供することができるものである。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明に係る信号発生装置の一実施形態におけるブロック構成図である。
【図２】本発明に係る信号発生装置の一実施形態におけるフローチャートである。
【図３】本発明に係る信号発生装置の一実施形態における局部発振信号の生成手順を示すフローチャートである。
【図４】本発明に係る信号発生装置の一実施形態における局部発振信号の生成において、試験条件を示す図である。
【図５】本発明に係る信号発生装置の一実施形態における局部発振信号の生成において、ＶＣＯ周波数と分周比との関係を示す図である。
【図６】本発明に係る信号発生装置の一実施形態における局部発振信号の生成において、分周比、分周周波数及びＤＤＳ周波数の関係を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。
【００１９】
まず、本発明に係る信号発生装置の一実施形態における構成について説明する。
【００２０】
図１に示すように、本実施形態における信号発生装置１０は、波形データ記憶部１１、デジタルアナログコンバータ（ＤＡＣ）１２及び１３、直交変調器１４、自動レベル制御（ＡＬＣ）回路１６、ステップアッテネータ（ステップＡＴＴ）１７、操作部１８、設定部１９、局部発振装置２０を備えている。
【００２１】
局部発振装置２０は、ＤＤＳ２１、局部発振器２２、ミキサ２３、バンドパスフィルタ（ＢＰＦ）２４、分周比演算部２５、分周比設定部２６、周波数設定部２７、位相同期ループ（Phase Locked Loop：ＰＬＬ）回路３０を備えている。
【００２２】
ＰＬＬ回路３０は、位相周波数比較器（Phase Frequency Detector：ＰＦＤ）３１、ループフィルタ（ＬＦ）３２、電圧制御発振器（Voltage Controlled Oscillator：ＶＣＯ）３３、可変分周器３４を備えている。
【００２３】
波形データ記憶部１１は、被試験装置を試験するための複数の試験信号データとして、デジタル値のベースバンドの波形データを記憶している。試験者は、操作部１８を操作し、設定部１９を介して、波形データ記憶部１１に記憶された試験信号データを選択できるようになっている。試験信号データは、Ｉ相成分（同相成分）及びＱ相成分（直交成分）のベースバンドの波形データを含む。波形データは、例えば、図示しないＤＳＰ（Digital Signal Processor）によって生成される。
【００２４】
ＤＡＣ１２及び１３は、それぞれ、波形データ記憶部１１が出力するデジタル値のベースバンド信号波形データをアナログ値に変換して直交変調器１４に出力するようになっている。
【００２５】
直交変調器１４は、ＤＡＣ１２から出力されるベースバンド信号Ｉ相成分及びＤＡＣ１３から出力されるベースバンド信号Ｑ相成分と、局部発振装置２０から入力した局部発振信号とを乗算することにより直交変調及び周波数変換を行って無線周波数の試験信号（ＲＦ試験信号）を生成してＡＬＣ回路１６に出力するようになっている。この直交変調器１４は、本発明に係る無線周波数信号生成手段を構成する。
【００２６】
ＡＬＣ回路１６は、入力したＲＦ試験信号のレベルを所定の電力レベルに設定してステップＡＴＴ１７に出力するようになっている。ＡＬＣ回路１６が設定する電力レベルは、設定部１９からの設定信号によって設定されるようになっている。
【００２７】
ステップＡＴＴ１７は、入力したＲＦ試験信号のレベルを所定の減衰量のステップで減衰することができるＡＴＴである。このステップＡＴＴ１７の減衰量は、設定部１９からの設定信号によって設定されるようになっている。
【００２８】
操作部１８は、試験者が試験条件及び試験手順に関する設定等を行うために操作するものであり、例えば、キーボード、ダイヤル又はマウスのような入力デバイス、これらを制御する制御回路等で構成される。試験者が設定する試験条件としては、例えば、波形データ記憶部１１に記憶された波形データ、ステップＡＴＴ１７が出力するＲＦ試験信号の出力レベル及び無線周波数等がある。
【００２９】
設定部１９は、例えばマイクロコンピュータによって構成されており、装置全体の制御を行うようになっている。また、設定部１９は、試験者が操作部１８を操作して設定した各試験条件に基づき、各試験条件を設定する制御信号を波形データ記憶部１１、ＡＬＣ回路１６、ステップＡＴＴ１７、分周比演算部２５にそれぞれ出力し、各試験条件を設定するようになっている。
【００３０】
次に、局部発振装置２０の構成について説明する。この局部発振装置２０は、本発明に係る局部発振信号生成手段を構成する。
【００３１】
ＤＤＳ２１は、比較的純度が高く周波数が安定した周期関数信号（例えば正弦波）を発生する発振器である。このＤＤＳ２１は、本発明に係る周波数信号発生部を構成する。なお、周波数信号発生部としては、同様の機能を有するものであれば、ＤＤＳ以外のものであってもよい。
【００３２】
局部発振器２２は、所定の局部発振周波数を有する局部発振信号を生成してミキサ２３に供給するようになっている。この局部発振器２２は、本発明に係る周波数信号発生部を構成する。
【００３３】
ミキサ２３は、ＤＤＳ２１の出力信号と、局部発振器２２の局部発振信号とを乗算して所定周波数の周波数信号に周波数変換し、ＢＰＦ２４に出力するようになっている。このミキサ２３は、本発明に係る周波数信号発生部を構成する。
【００３４】
ＢＰＦ２４は、入力信号のフィルタリングを行って、所定周波数領域の信号を取り出すようになっている。
【００３５】
分周比演算部２５は、可変分周器３４に設定する分周比を演算して求めるようになっている。ここで、分周比演算部２５は、ＤＤＳ２１の出力可能な周波数範囲内で所望の局部発振装置２０の局部発振周波数が得られる分周比を演算して求め、複数の分周比が存在する場合には、ＤＤＳ２１の発振周波数が最小周波数となる分周比を可変分周器３４に設定する分周比として決定するようになっている。
【００３６】
分周比設定部２６は、分周比演算部２５が求めた分周比を可変分周器３４に設定するようになっている。この分周比設定部２６は、本発明に係る分周比設定部を構成する。
【００３７】
周波数設定部２７は、分周比演算部２５が求めた分周比に基づき、ＤＤＳ２１の発振周波数を設定するようになっている。
【００３８】
次に、ＰＬＬ回路３０の構成を説明する。このＰＬＬ回路３０は、本発明に係る位相同期ループ回路を構成する。
【００３９】
ＰＦＤ３１は、ＢＰＦ２４及び可変分周器３４の各出力信号の位相を比較して位相差を求め、位相差に応じた信号レベルの信号をＬＦ３２に出力するようになっている。
【００４０】
ＬＦ３２は、ＰＦＤ３１の出力信号を平滑化して直流電圧を生成し、この直流電圧をＶＣＯ３３に出力するようになっている。
【００４１】
ＶＣＯ３３は、ＬＦ３２が出力する直流電圧に応じた周波数の出力信号を生成し、直交変調器１４及び可変分周器３４に出力するようになっている。
【００４２】
可変分周器３４は、小数型（又は分数型）の分周器であるフラクショナル（fractional）分周器で構成されている。この可変分周器３４は、整数Ｎと０以上１未満の値Ｆ（通常Ｆは分数で表される値）に対して分周比Ｎ．Ｆの分周が可能であり、原理的には、一定時間内に分周比Ｎの分周と分周比Ｎ＋１の分周とをある比率で行って、その平均的な分周比がＮ．Ｆとなるようにしたものである。
【００４３】
例えば、分周比設定部２６が、分周比Ｎ．Ｆ＝１００．１（Ｎ＝１００、Ｆ＝０．１）を設定する場合について説明する。この場合、可変分周器３４は、１００分周９回（入力パルス数９００個）と１０１分周１回（入力パルス数１０１個）とを行い、合計入力パルス数１００１個に対して１０回の分周パルスを出力する。したがって、平均的な分周比は１００１／１０＝１００．１となる。
【００４４】
次に、本実施形態における信号発生装置１０の動作について図１に示したブロック構成図及び図２に示すフローチャートを用いて説明する。
【００４５】
試験者が操作部１８を操作することにより、試験者が所望する試験条件が入力され、設定部１９によって試験条件が各部に設定される（ステップＳ１１）。具体的には、設定部１９は、波形データ記憶部１１に波形データを指定する信号を出力する。また、設定部１９は、ＡＬＣ回路１６に出力信号の電力レベルを指定する信号を、ステップＡＴＴ１７に減衰量を指定する信号をそれぞれ出力する。さらに、設定部１９は、局部発振装置２０の局部発振周波数を示す信号を分周比演算部２５に出力する。
【００４６】
局部発振装置２０は、設定された局部発振装置２０の局部発振周波数を有する局部発振信号を生成する（ステップＳ２０）。なお、局部発振信号の生成については後述する。
【００４７】
波形データ記憶部１１は、試験者が指定した、Ｉ相成分及びＱ相成分のベースバンドの波形データを、それぞれ、ＤＡＣ１２及び１３に出力する（ステップＳ１２）。
【００４８】
ＤＡＣ１２及び１３は、それぞれ、Ｉ相成分及びＱ相成分のベースバンドの波形データをアナログの波形データに変換し（ステップＳ１３）、直交変調器１４に出力する。
【００４９】
直交変調器１４は、ＤＡＣ１２、１３からベースバンド信号と、局部発振装置２０から局部発振信号とを入力し、ベースバンド信号と局部発振信号とを乗算することにより、直交変調及び周波数変換を行ってＲＦ試験信号を生成し（ステップＳ１４）、生成したＲＦ試験信号をＡＬＣ回路１６に出力する。
【００５０】
ＡＬＣ回路１６は、入力したＲＦ試験信号のレベルを、例えば−１０ｄＢｍに設定するレベル制御を行って（ステップＳ１５）、ステップＡＴＴ１７に出力する。
【００５１】
ステップＡＴＴ１７は、設定部１９が設定した減衰量でＲＦ試験信号を減衰し（ステップＳ１６）、減衰したＲＦ試験信号を出力する（ステップＳ１７）。
【００５２】
次に、ステップＳ２０の局部発振信号の生成について、図１に示したブロック構成図及び図３に示したフローチャートに基づき説明する。ここで、局部発振装置２０において設定された各部の試験条件を図４に示す。
【００５３】
すなわち、ＤＤＳ２１は１００ＭＨｚ±１５ＭＨｚ（８５ＭＨｚ〜１１５ＭＨｚ）の周波数信号を生成し、局部発振器２２は８００ＭＨｚの局部発振信号を生成し、ＢＰＦ２４は９００ＭＨｚ±１５ＭＨｚ（８８５ＭＨｚ〜９１５ＭＨｚ）の周波数信号を出力するものとする。また、ＶＣＯ３３は３０００ＭＨｚ〜６０００ＭＨｚの局部発振信号を出力できるものとする。以下、局部発振装置２０が３６４０ＭＨｚの局部発振信号の周波数を生成する場合の動作例を挙げる。
【００５４】
設定部１９は、局部発振装置２０が出力する局部発振信号の局部発振周波数、すなわち、ＶＣＯ３３の出力周波数（以下「ｆＶＣＯ」と記す。）として３６４０ＭＨｚを分周比演算部２５に指示する（ステップＳ２１）。
【００５５】
分周比演算部２５は、可変分周器３４に設定する分周比を演算して決定する（ステップＳ２２）。この処理について図５及び図６を用いて具体的に説明する。
【００５６】
まず、図５は、所望のｆＶＣＯ＝３６４０ＭＨｚの近傍周波数（３４００ＭＨｚ〜３９００ＭＨｚ）を横軸とし、可変分周器３４の分周比Ｎ．ＦとｆＶＣＯとの関係を示した図である。図示の例では、分周比Ｎ．Ｆを０．１ステップで変化させているが、本発明はこれに限定されるものではない。
【００５７】
図５において、分周比Ｎ．Ｆ＝３．９〜４．２にそれぞれ対応するｆＶＣＯの周波数範囲を横線で示している。各横線の上段には、ＤＤＳ２１の出力周波数（以下「ｆＤＤＳ」と記す。）の下限値（８５ＭＨｚ）及び上限値（１１５ＭＨｚ）を示している。各横線の下段には、ｆＶＣＯの下限値及び上限値をそれぞれ示しており、これらは分周比Ｎ．Ｆに応じた値となる。
【００５８】
例えば、分周比Ｎ．Ｆ＝４．０において、ｆＤＤＳが下限の８５ＭＨｚのときはＢＰＦ２４の出力周波数は８８５ＭＨｚであるので、ｆＶＣＯは３５４０ＭＨｚ（８８５ＭＨｚ×４．０）となる。また、ｆＤＤＳが上限の１１５ＭＨｚのときはＢＰＦ２４の出力周波数は９１５ＭＨｚであるので、ｆＶＣＯは３６６０ＭＨｚ（９１５ＭＨｚ×４．０）となる。
【００５９】
次に、図６について説明する。図６は、分周比Ｎ．Ｆ＝３．９〜４．２において、ｆＶＣＯ＝３６４０ＭＨｚが得られる場合の、可変分周器３４が出力する分周周波数ｆＤ（＝ｆＶＣＯ×１／Ｎ．Ｆ）と、ｆＤＤＳ（＝ｆＤ−８００ＭＨｚ）との関係を示した図である。
【００６０】
例えば、分周比Ｎ．Ｆ＝３．９では、分周周波数ｆＤは９３３．３ＭＨｚ（３６４０ＭＨｚ×１／３．９）である。この場合、ｆＤＤＳ＝１３３．３ＭＨｚ（９３３．３ＭＨｚ−８００ＭＨｚ）となり、この周波数はＤＤＳ２１の出力可能周波数の範囲外である。
【００６１】
同様に、分周比Ｎ．Ｆ＝４．０ではｆＤＤＳ＝１１０．０ＭＨｚ、Ｆ＝４．１ではｆＤＤＳ＝８７．８ＭＨｚであって、ともにＤＤＳ２１の出力可能周波数の範囲内である。さらに、分周比Ｎ．Ｆ＝４．２ではｆＤＤＳ＝６６．７ＭＨｚであって、ＤＤＳ２１の出力可能周波数の範囲外である。
【００６２】
したがって、ＤＤＳ２１の出力可能周波数で所望のｆＶＣＯ＝３６４０ＭＨｚが得られるのは、分周比Ｎ．Ｆ＝４．０（ｆＤＤＳ＝１１０．０ＭＨｚ）の場合と、分周比Ｆ＝４．１（ｆＤＤＳ＝８７．８ＭＨｚ）の場合の２つであることがわかる。ここで、スプリアスの発生を考慮すると、ＤＤＳ２１の発振周波数が低い方が好ましいので、分周比演算部２５は、分周比Ｎ．Ｆ＝４．１（ｆＤＤＳ＝８７．８ＭＨｚ）を採用する。なお、分周比演算部２５は、ＤＤＳ２１の出力可能周波数で所望のｆＶＣＯが得られる分周比が３つ以上ある場合は、３つ以上の分周比のうちＤＤＳ２１の発生周波数が最小周波数となる分周比を採用する。
【００６３】
前述のように、分周比演算部２５は、ＤＤＳ２１の出力可能周波数で所望のｆＶＣＯ＝３６４０ＭＨｚが得られる分周比を演算して求める。そして、分周比演算部２５は、複数の分周比が存在する場合には、ＤＤＳ２１の発振周波数が最小周波数となる分周比を、可変分周器３４に設定する分周比として決定する。また、分周比演算部２５は、決定した分周比（４．１）におけるＤＤＳ２１の発振周波数（８７．８ＭＨｚ）を周波数設定部２７に指示する。
【００６４】
図３に戻り、分周比設定部２６は、分周比演算部２５が決定した分周比を可変分周器３４に設定する（ステップＳ２３）。
【００６５】
周波数設定部２７は、分周比演算部２５が指示した発振周波数８７．８ＭＨｚをＤＤＳ２１に設定する（ステップＳ２４）。
【００６６】
ＤＤＳ２１は、周波数設定部２７が設定した発振周波数８７．８ＭＨｚの周波数信号を出力する（ステップＳ２５）。
【００６７】
ミキサ２３は、ＤＤＳ２１からの周波数信号と、局部発振器２２からの局部発振信号とを乗算し（ステップＳ２６）、乗算して得た周波数信号をＢＰＦ２４に出力する。
【００６８】
ＢＰＦ２４は、バンドパスフィルタ処理を行って（ステップＳ２７）、９００ＭＨｚ±１５ＭＨｚの周波数信号をＰＦＤ３１に出力する。
【００６９】
ＰＦＤ３１は、ＢＰＦ２４及び可変分周器３４の各出力信号の位相を比較して位相差を求め、位相差に応じた信号レベルの信号をＬＦ３２に出力する（ステップＳ２８）。
【００７０】
ＬＦ３２は、ＰＦＤ３１の出力信号を平滑化することにより直流電圧を生成するループフィルタ処理を行って（ステップＳ２９）、生成した直流電圧をＶＣＯ３３に出力する。
【００７１】
ＶＣＯ３３は、ＬＦ３２が出力する直流電圧に応じた周波数３６４０ＭＨｚの出力信号を生成し、出力信号を局部発振信号として直交変調器１４に出力する（ステップＳ３０）。
【００７２】
以上のように、本実施形態における信号発生装置１０は、分周比設定部２６が、周波数信号の周波数を局部発振周波数に変換する際に複数の分周比が存在することを条件として、複数の分周比のうちＤＤＳ２１が発生する周波数信号の周波数が最小周波数となる分周比を可変分周器３４に設定する構成としたので、スプリアスの発生を抑制することができる。
【００７３】
なお、前述の実施形態において、分周比演算部２５が、ＤＤＳ２１の出力可能周波数で所望のｆＶＣＯが得られる分周比が複数存在する場合に、ＤＤＳ２１の発振周波数が最小周波数となる分周比を演算によって求めて可変分周器３４に設定する分周比として決定し、分周比設定部２６が分周比を設定する構成を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、分周比設定部２６が、ｆＶＣＯと分周比との関係を予め求めたデーブルを有し、このテーブルを参照してＤＤＳ２１の最小周波数が得られる分周比を設定する構成としてもよい。
【産業上の利用可能性】
【００７４】
以上のように、本発明に係る信号発生装置及び信号発生方法は、スプリアスの発生を抑制することができるという効果を有し、携帯電話やモバイル端末等の移動通信端末に対する特性試験において試験信号を発生する信号発生装置及び信号発生方法等として有用である。
【符号の説明】
【００７５】
１０  信号発生装置
１１  波形データ記憶部（ベースバンド信号出力手段）
１２、１３  ＤＡＣ
１４  直交変調器（無線周波数信号生成手段）
１６  ＡＬＣ回路
１７  ステップＡＴＴ
１８  操作部
１９  設定部
２０  局部発振装置（局部発振信号生成手段）
２１  ＤＤＳ（周波数信号発生部）
２２  局部発振器（周波数信号発生部）
２３  ミキサ（周波数信号発生部）
２４  ＢＰＦ
２５  分周比演算部
２６  分周比設定部（分周比設定部）
２７  周波数設定部
３０  ＰＬＬ回路（位相同期ループ回路）
３１  ＰＦＤ
３２  ＬＦ
３３  ＶＣＯ
３４  可変分周器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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