【誤訳訂正書】
【提出日】平成28年9月1日(2016.9.1)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１３】
本開示の別の例示的実施形態によれば、第１及び第３の放射線が光学的開口がある光学構成に当たる時に、発生する放射線がそれぞれ、（ｉ）焦点深度、又は（ｉｉ）照射に対する最大開口のレイリー範囲程度より大きい集束範囲、の少なくとも１つに少なくとも部分的に合焦する。焦点のスポット径が１０μｍ未満とすることができ、焦点深度又は集束範囲が約１ｍｍより大きくすることができる。代わりに、スポット径が１０μｍ未満とすることができ、焦点深度又は集束範囲が約０．５ｍｍより大きくすることができる。また、焦点のスポット径が１０μｍ未満とすることができ、焦点深度又は集束範囲が約２ｍｍより大きくすることができる。また、第１の放射線、第２の放射線、第３の放射線又は第４の放射線のうちの１つが、第１の放射線、第２の放射線、第３の放射線又は第４の放射線の別の１つから、光学構成の中央に対して、少なくとも部分的に径方向にオフセットすることができる。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
サンプルの少なくとも１つの部分に関連づけられたデータを生成する方法であって、
少なくとも１つの光学構成を介して前記少なくとも１つの部分に事前に提供された少なくとも１つの第１の放射に基づいている、前記少なくとも１つの部分からの少なくとも１つの第２の放射を受けるステップであって、前記少なくとも１つの光学構成と前記第１の放射又は前記第２の放射の少なくとも１つとの間の相互作用に基づいて、前記少なくとも１つの光学構成は第１の伝達関数を有する、ステップと、
前記少なくとも１つの光学構成を介して前記少なくとも１つの部分に事前に提供された少なくとも１つの第３の放射に基づいている、前記少なくとも１つの部分からの少なくとも１つの第４の放射を受けるステップであって、前記少なくとも１つの光学構成と前記第３の放射又は前記第４の放射の少なくとも１つとの間の相互作用に基づいて、前記少なくとも１つの光学構成は第２の伝達関数を有し、前記第１の放射と前記第３の放射は互いに重複した波長を有し、前記第１の伝達関数は前記第２の伝達関数と少なくとも部分的に異なっている、ステップと、
干渉計測構成に含まれる各検出器が、前記第１の伝達関数及び前記第２の伝達関数を検出するステップと、
前記第２及び第４の放射に基づいてデータを生成するステップと、
時間ドメインＯＣＴ（ＴＤ−ＯＣＴ）、スペクトルドメインＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ）又は光周波数ドメイン干渉法（ＯＦＤＩ）を用いて、異なる伝達関数の照射及び検出から得られた複素画像及び／又は実画像を再結合して新しい画像を生成するステップと、
を備えた方法。
【請求項２】
第１及び第３の放射が光学的開口を有する前記少なくとも１つの光学構成に当たる時に、その結果として発生する放射がそれぞれ、（ｉ）焦点深度、又は（ｉｉ）照射の最大開口のレイリー範囲より大きい焦点範囲、の少なくとも１つに少なくとも部分的に合焦する、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記第１及び前記第３の放射が光学的開口を含む前記少なくとも１つの光学構成に当たる時に、その結果として発生する放射のそれぞれの焦点の横断方向のＦＷＨＭのスポット径が１０μｍよりも小さく、軸方向の焦点深度又は焦点範囲が１ｍｍより大きい、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記第１及び前記第３の放射が光学的開口を含む前記少なくとも１つの光学構成に当たる時に、その結果として発生する放射のそれぞれの焦点の横断方向のＦＷＨＭのスポット径が１０μｍよりも小さく、軸方向の焦点深度又は焦点範囲が０．５ｍｍより大きい、請求項２に記載の方法。
【請求項５】
前記第１及び前記第３の放射が光学的開口を含む前記少なくとも１つの光学構成に当たる時に、その結果として発生する放射のそれぞれの焦点の横断方向のＦＷＨＭのスポット径が１０μｍよりも小さく、軸方向の焦点深度又は焦点範囲が２ｍｍより大きい、請求項２に記載の方法。
【請求項６】
第１の放射、第２の放射、第３の放射又は第４の放射のうちの１つは、第１の放射、第２の放射、第３の放射又は第４の放射の他の１つから、前記少なくとも１つの光学構成の中央に対して、少なくとも部分的に径方向にオフセットしている、請求項２に記載の方法。
【請求項７】
基準構成から少なくとも１つの第５の放射を受けるステップと、さらなる放射を発生するために、前記第２の放射又は前記第４の放射の少なくとも１つを少なくとも１つの第５の放射と結合するステップと、前記さらなる放射のさらなる関数としてデータを生成するステップとをさらに備える、請求項１に記載の方法。
【請求項８】
前記第１の放射又は前記第３の放射の少なくとも１つが、広帯域源構成又は波長掃引源構成の少なくとも１つによって生成される、請求項１に記載の方法。
【請求項９】
前記広帯域源構成又は前記波長掃引源構成の少なくとも１つが、５０ｎｍより大きい総スペクトル範囲を有する放射を発生させる、請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
前記少なくとも１つの光学構成が、アキシコン構成、マスキング構成、回折光学素子、環帯、回折素子及びレンズの少なくとも１つ、又はアポダイズレンズ又は回折素子の少なくとも１つを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１１】
前記少なくとも１つの光学構成が、少なくとも２つの光学構成を含み、前記第１の伝達関数が、前記光学構成のうちの１つに関連づけられており、前記第２の伝達関数が、前記光学構成の別の１つに関連づけられている、請求項１に記載の方法。
【請求項１２】
前記少なくとも１つの光学構成から異なる照射を促進するように、前記第１の伝達関数及び前記第２の伝達関数は、前記少なくとも１つの光学構成に関連づけられている、請求項１に記載の方法。
【請求項１３】
前記少なくとも１つの光学構成が、輪状ビームによって照射されるように構成されている、請求項１に記載の方法。
【請求項１４】
前記少なくとも１つの光学構成が、互いとは異なる直径又は厚さを少なくとも１つ含む複数の輪を有する輪状ビームによって照射されるように構成されている、請求項１に記載の方法。
【請求項１５】
空間変調する構成を用いて、前記少なくとも１つの光学要素の前記第１の伝達関数又は前記第２の伝達関数の少なくとも１つを変更するステップをさらに備える、請求項１に記載の方法。
【請求項１６】
前記空間変調する構成が、マスキング構成、デジタル光プロセッサ、アポダイザー又は可変形鏡構成の少なくとも１つを含む、請求項１５に記載の方法。
【請求項１７】
前記少なくとも１つの光学構成が、少なくとも１つのアキシコンレンズ構成を含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１８】
前記複素画像及び／又は前記実画像に対してフィルタリング又はスケーリングの少なくとも１つを行うことによって、前記データを生成する、請求項１に記載の方法。
【請求項１９】
サンプルの少なくとも１つの部分に関連づけられたデータを生成する装置であって、
少なくとも１つの光学構成であって、
（ｉ）少なくとも１つの光学構成を介して前記少なくとも１つの部分に事前に提供された少なくとも１つの第１の放射に基づいている、前記少なくとも１つの部分からの少なくとも１つの第２の放射を受けるように構成され、前記少なくとも１つの光学構成と前記第１の放射又は前記第２の放射の少なくとも１つとの間の相互作用に基づいて、前記少なくとも１つの光学構成は第１の伝達関数を有している、
（ｉｉ）前記少なくとも１つの光学構成を介して前記少なくとも１つの部分に事前に提供された少なくとも１つの第３の放射に基づいている、前記少なくとも１つの部分からの少なくとも１つの第４の放射を受けるように構成され、前記少なくとも１つの光学構成と前記第３の放射又は前記第４の放射の少なくとも１つとの間の相互作用に基づいて、前記少なくとも１つの光学構成は第２の伝達関数を有し、前記第１の放射と前記第３の放射とは互いに重複した波長を有し、前記第１の伝達関数は、前記第２の伝達関数と少なくとも部分的に異なっている、少なくとも１つの光学構成と、
各検出器が前記第１の伝達関数及び前記第２の伝達関数を検出するように構成されている複数の検出器を含む干渉計測構成と、
前記第２及び第４の放射に基づいてデータを生成するように構成された少なくとも１つのさらなる構成と、
時間ドメインＯＣＴ（ＴＤ−ＯＣＴ）、スペクトルドメインＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ）又は光周波数ドメイン干渉法（ＯＦＤＩ）を用いて、異なる伝達関数の照射及び検出から得られた複素画像及び／又は実画像を再結合して新しい画像を生成するように構成された再結合構成と、
を備える装置。
【請求項２０】
前記干渉計測構成は、光源からサンプルへの光とサンプルからの戻り後方散乱光とが光路を共通にする共通路干渉計を含む、請求項１９に記載の装置。
【請求項２１】
前記共通路干渉計が、マスキング構成又はアポダイゼージョンを行う構成を含む、請求項２０に記載の装置。
【請求項２２】
（ｉ）前記第１の放射又は前記第３の放射、又は（ｉｉ）前記第２の放射又は前記第４の放射の照射を切り替えるように構成するスイッチング構成をさらに備える、請求項１９に記載の装置。
【請求項２３】
前記第１の伝達関数又は前記第２の伝達関数の少なくとも１つを用いることによりデータを生成するように構成する少なくとも１つのさらなる処理構成をさらに備える、請求項２０に記載の装置。
【請求項２４】
サンプルの少なくとも１つの部分に関連づけられたデータを生成する装置であって、
少なくとも１つの第１の光学構成を介して前記少なくとも１つの部分に事前に提供された少なくとも１つの第１の放射に基づいている、前記少なくとも１つの部分からの少なくとも１つの第２の放射を受けるように構成された少なくとも１つの第１の光学構成であって、前記少なくとも１つの第１の光学構成と前記第１の放射又は前記第２の放射の少なくとも１つとの間の相互作用に基づいて、前記少なくとも１つの第１の光学構成は第１の伝達関数を有している、少なくとも１つの第１の光学構成と、
前記少なくとも１つの光学構成を介して前記少なくとも１つの部分に事前に提供された少なくとも１つの第３の放射に基づいている、前記少なくとも１つの部分からの少なくとも１つの第４の放射を受けるように構成された少なくとも１つの第２の光学構成であって、前記少なくとも１つの第２の光学構成と前記第３の放射又は前記第４の放射の少なくとも１つとの間の相互作用に基づいて、前記少なくとも１つの第２の光学構成は第２の伝達関数を有し、前記第１の放射と前記第３の放射とは互いに重複した波長を有し、前記第１の伝達関数は、前記第２の伝達関数と少なくとも部分的に異なっている、少なくとも１つの第２の光学構成と、
各検出器が前記第１の伝達関数及び前記第２の伝達関数を検出するように構成されている複数の検出器を含む干渉計測構成と、
前記第２及び第４の放射に基づいてデータを生成するように構成された少なくとも１つの第３の構成と、
時間ドメインＯＣＴ（ＴＤ−ＯＣＴ）、スペクトルドメインＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ）又は光周波数ドメイン干渉法（ＯＦＤＩ）を用いて、異なる伝達関数の照射及び検出から得られた複素画像及び／又は実画像を再結合して新しい画像を生成するように構成された再結合構成と、
を備える装置。
【請求項２５】
サンプルの少なくとも１つの部分に関連づけられたデータを生成する方法であって、
少なくとも１つの第１の光学構成を介して前記少なくとも１つの部分に事前に提供された少なくとも１つの第１の放射に基づいている、前記少なくとも１つの部分からの少なくとも１つの第２の放射を受けるステップであって、前記少なくとも１つの第１の光学構成と前記第１の放射又は前記第２の放射の少なくとも１つとの間の相互作用に基づいて、前記少なくとも１つの第１の光学構成は第１の伝達関数を有する、ステップと、
前記少なくとも１つの第２の光学構成を介して前記少なくとも１つの部分に事前に提供された少なくとも１つの第３の放射に基づいている、前記少なくとも１つの部分からの少なくとも１つの第４の放射を受けるステップであって、前記少なくとも１つの第２の光学構成と前記第３の放射又は前記第４の放射の少なくとも１つとの間の相互作用に基づいて、前記少なくとも１つの第２の光学構成は第２の伝達関数を有し、前記第１の放射と前記第３の放射とは互いに重複した波長を有し、前記第１の伝達関数は、前記第２の伝達関数と少なくとも部分的に異なっている、ステップと、
干渉計測構成に含まれる各検出器が、前記第１の伝達関数及び前記第２の伝達関数を検出するステップと、
前記第２及び第４の放射に基づくデータを生成するステップと、
時間ドメインＯＣＴ（ＴＤ−ＯＣＴ）、スペクトルドメインＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ）又は光周波数ドメイン干渉法（ＯＦＤＩ）を用いて、異なる伝達関数の照射及び検出から得られた複素画像及び／又は実画像を再結合して新しい画像を生成するステップと、
を備える方法。