【手続補正書】
【提出日】平成27年12月24日(2015.12.24)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の３Ｄモデルと第２の３Ｄモデルとの間の誤差メトリックを決定する方法であって、
前記第１の３Ｄモデルおよび前記第２の３Ｄモデルにアクセスするステップであって、前記第１の３Ｄモデルは第１の３Ｄコンポーネントおよび少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントを含む、ステップと、
前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントおよび前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントのファセット中でサンプリング点を決定するステップであって、前記サンプリング点は、前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントおよび前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントの前記ファセット中で一様に分布する、ステップと、
前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネント中の各サンプリング点と、前記第２の３Ｄモデル中の第１の３Ｄコンポーネントの表面との間の、点−面間誤差を決定するステップであって、前記第２の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントは前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントに対応する、ステップと、
前記決定された点−面間誤差に応じて、前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントと前記第２の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントとの間の誤差メトリックを決定するステップと、
を含む、前記方法。
【請求項２】
前記第１の３Ｄモデル中の前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネント中の各サンプリング点と、前記第２の３Ｄモデル中の少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントの表面との間の、第２の点−面間誤差を決定するステップであって、前記第２の３Ｄモデル中の前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントは前記第１の３Ｄモデル中の前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントに対応する、ステップと、
前記決定された第２の点−面間誤差に応じて、前記第１の３Ｄモデル中の前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントと前記第２の３Ｄモデル中の前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントとの間の誤差メトリックを決定するステップと、
をさらに含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記第１の３Ｄモデル中の各サンプリング点と前記第２の３Ｄモデルの表面との間の第３の点−面間誤差を決定するステップと、
前記決定された第３の点−面間誤差に応じて、前記第１の３Ｄモデルと前記第２の３Ｄモデルとの間の前記誤差メトリックを決定するステップであって、前記第１の３Ｄモデルについての前記誤差メトリックは、前記第１の３Ｄコンポーネントについての誤差メトリックと、前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントについての誤差メトリックとの重み付き合計に対応する、ステップと、
をさらに含む、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネント中のサンプリング点の数は、前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントの前記ファセットのサイズにほぼ比例する、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記サンプリング点は前記第１の３Ｄモデル中のエッジの平均長さに応じて決定される、請求項１に記載の方法。
【請求項６】
前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネント中の特定の１つのサンプリング点について、
前記第２の３Ｄモデルを、前記第２の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントに対応する１組のセルを含む複数のセルに区分化するステップと、
前記１組のセルから、前記特定の１つのサンプリング点に最も近いセルを決定するステップと、
前記特定の１つのサンプリング点と前記最も近いセル内のそれぞれのファセットとの間のそれぞれの距離を決定するステップと、
前記決定されたそれぞれの距離のうちの最も短い距離を、前記特定の１つのサンプリング点と前記第２の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントの表面との間の点−面間誤差として決定するステップと、
をさらに含む、請求項１に記載の方法。
【請求項７】
符号化器におけるレート歪み最適化と、前記第２の３Ｄモデルが品質要件を満たすかどうかの検証と、のうちの少なくとも一方を実行するステップをさらに含む、請求項１に記載の方法。
【請求項８】
第１の３Ｄモデルと第２の３Ｄモデルとの間の誤差メトリックを決定するための装置であって、
前記第１の３Ｄモデルおよび前記第２の３Ｄモデルにアクセスするプロセッサーであって、前記第１の３Ｄモデルは第１の３Ｄコンポーネントおよび少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントを含む、プロセッサーと、
前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントおよび前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントのファセット中でサンプリング点を決定するサンプラであって、前記サンプリング点は、前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントおよび前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントの前記ファセット中で一様に分布する、サンプラと、
前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネント中の各サンプリング点と、前記第２の３Ｄモデル中の第１の３Ｄコンポーネントの表面との間の、点−面間誤差を決定する誤差メトリック推定器であって、前記第２の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントは前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントに対応し、前記決定された点−面間誤差に応じて、前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントと前記第２の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントとの間の誤差メトリックを決定する、誤差メトリック推定器と、
を備える、前記装置。
【請求項９】
前記誤差メトリック推定器は、前記第１の３Ｄモデル中の前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネント中の各サンプリング点と、前記第２の３Ｄモデル中の少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントの表面との間の、第２の点−面間誤差をさらに決定し、前記第２の３Ｄモデル中の前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントは前記第１の３Ｄモデル中の前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントに対応し、前記誤差メトリック推定器は、前記決定された第２の点−面間誤差に応じて、前記第１の３Ｄモデル中の前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントと前記第２の３Ｄモデル中の前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントとの間の誤差メトリックを決定する、請求項８に記載の装置。
【請求項１０】
前記誤差メトリック推定器は、前記第１の３Ｄモデル中の各サンプリング点と前記第２の３Ｄモデルの表面との間の第３の点−面間誤差をさらに決定し、前記決定された第３の点−面間誤差に応じて前記第１の３Ｄモデルと前記第２の３Ｄモデルとの間の前記誤差メトリックを決定し、前記第１の３Ｄモデルについての前記誤差メトリックは、前記第１の３Ｄコンポーネントについての誤差メトリックと、前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントについての誤差メトリックとの重み付き合計に対応する、請求項９に記載の装置。
【請求項１１】
前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネント中のサンプリング点の数は、前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントの前記ファセットのサイズにほぼ比例する、請求項８に記載の装置。
【請求項１２】
前記サンプリング点は前記第１の３Ｄモデル中のエッジの平均長さに応じて決定される、請求項８に記載の装置。
【請求項１３】
セル区分化モジュールをさらに備え、前記セル区分化モジュールは、前記第２の３Ｄモデルを、前記第２の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントに対応する１組のセルを含む複数のセルに区分化し、前記１組のセルから、前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネント中の特定の１つのサンプリング点に最も近いセルを決定し、前記特定の１つのサンプリング点と前記最も近いセル内のそれぞれのファセットとの間のそれぞれの距離を決定し、前記決定されたそれぞれの距離のうちの最も短い距離を、前記特定の１つのサンプリング点と前記第２の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントの表面との間の点−面間誤差として決定する、請求項８に記載の装置。
【請求項１４】
レート歪み最適化と、前記第２の３Ｄモデルが品質要件を満たすかどうかの検証と、のうちの少なくとも一方を実行する符号化器をさらに備える、請求項８に記載の装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３３】
算出を加速させるために、３ＤモデルＭ2のオブジェクト空間をいくつかのセルに分割することができる。個別セルは、１組の三角形ファセットを含む。例えば、図７Ａに示すように、モデルＭ2を、セル７１０、７２０、７３０、７４０、および他のセルに区分化することができる。図７Ｂに、セル７１０に囲まれた頂点および三角形を示す。各セル立方体の辺の長さは、以下のように平均エッジ長さ（Ａｖｅｒ＿ｅｄｇｅ）を使用して決定することができる。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７３】
当業者には明白であろうが、実装形態は、情報（例えば記憶または伝送されうる）を搬送するようにフォーマットされた様々な信号を生成する場合がある。情報は、例えば、方法を実施するための命令、または述べた実装形態のうちの１つによって生成されたデータを含みうる。例えば、信号は、述べた実施形態のビットストリームを搬送するようにフォーマットされてよい。このような信号は、例えば、電磁波として（例えばスペクトルの無線周波数部分を使用して）、またはベースバンド信号としてフォーマットされてよい。フォーマットすることは、例えば、データストリームを符号化して、符号化済みデータストリームで搬送波を変調することを含みうる。信号が搬送する情報は、例えば、アナログまたはディジタル情報とすることができる。信号は、知られているように、様々な異なる有線またはワイヤレスリンクを介して伝送されてよい。信号は、プロセッサー読取可能媒体に記憶されてよい。
（付記１）
第１の３Ｄモデルと第２の３Ｄモデルとの間の誤差メトリックを決定する方法であって、
前記第１の３Ｄモデルおよび前記第２の３Ｄモデルにアクセスするステップであって、前記第１の３Ｄモデルは第１の３Ｄコンポーネントおよび少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントを含む、ステップと、
前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントおよび前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントのファセット中でサンプリング点を決定するステップであって、前記サンプリング点は、前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントおよび前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントの前記ファセット中で一様に分布する、ステップと、
前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネント中の各サンプリング点と、前記第２の３Ｄモデル中の第１の３Ｄコンポーネントの表面との間の、点−面間誤差を決定する（５５０）ステップであって、前記第２の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントは前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントに対応する、ステップと、
前記決定された点−面間誤差に応じて、前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントと前記第２の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントとの間の誤差メトリックを決定する（５６０）ステップと、
を含む、前記方法。
（付記２）
前記第１の３Ｄモデル中の前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネント中の各サンプリング点と、前記第２の３Ｄモデル中の少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントの表面との間の、第２の点−面間誤差を決定する（５５０）ステップであって、前記第２の３Ｄモデル中の前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントは前記第１の３Ｄモデル中の前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントに対応する、ステップと、
前記決定された第２の点−面間誤差に応じて、前記第１の３Ｄモデル中の前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントと前記第２の３Ｄモデル中の前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントとの間の誤差メトリックを決定する（５６０）ステップと、
をさらに含む、付記１に記載の方法。
（付記３）
前記第１の３Ｄモデル中の各サンプリング点と前記第２の３Ｄモデルの表面との間の第３の点−面間誤差を決定する（５５０）ステップと、
前記決定された第３の点−面間誤差に応じて、前記第１の３Ｄモデルと前記第２の３Ｄモデルとの間の前記誤差メトリックを決定する（５６０）ステップであって、前記第１の３Ｄモデルについての前記誤差メトリックは、前記第１の３Ｄコンポーネントについての前記誤差メトリックと、前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントについての前記誤差メトリックとの重み付き合計に対応する、ステップと、
をさらに含む、付記２に記載の方法。
（付記４）
前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネント中のサンプリング点の数は、前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントの前記ファセットのサイズにほぼ比例する、付記１に記載の方法。
（付記５）
前記サンプリング点は前記第１の３Ｄモデル中のエッジの平均長さに応じて決定される、付記１に記載の方法。
（付記６）
前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネント中の特定の１つのサンプリング点について、
前記第２の３Ｄモデルを、前記第２の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントに対応する１組のセルを含む複数のセルに区分化する（５４０）ステップと、
前記１組のセルから、前記特定の１つのサンプリング点に最も近いセルを決定するステップと、
前記特定の１つのサンプリング点と前記最も近いセル内のそれぞれのファセットとの間のそれぞれの距離を決定するステップと、
前記決定されたそれぞれの距離のうちの最も短い距離を、前記特定の１つのサンプリング点と前記第２の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントの表面との間の点−面間誤差として決定する（５５０）ステップと、
をさらに含む、付記１に記載の方法。
（付記７）
符号化器におけるレート歪み最適化と、前記第２の３Ｄモデルが品質要件を満たすかどうかの検証と、のうちの少なくとも一方を実行するステップをさらに含む、付記１に記載の方法。
（付記８）
第１の３Ｄモデルと第２の３Ｄモデルとの間の法線変化量を決定する方法であって、
前記第１の３Ｄモデルおよび前記第２の３Ｄモデルからの複数のファセット対にアクセスする（８１０）ステップであって、各ファセット対は前記第１の３Ｄモデルからのファセットと前記第２の３Ｄモデルからの対応するファセットとに対応する、ステップと、
前記複数のファセット対の各々についてファセット法線ベクトルの内積を決定する（８２０）ステップと、
前記内積に応じて前記第１の３Ｄモデルと前記第２の３Ｄモデルとの間の前記法線変化量を決定する（８２０）ステップと、
を含む、前記方法。
（付記９）
第１の３Ｄモデルと第２の３Ｄモデルとの間の誤差メトリックを決定するための装置（９００）であって、
前記第１の３Ｄモデルおよび前記第２の３Ｄモデルにアクセスするプロセッサーであって、前記第１の３Ｄモデルは第１の３Ｄコンポーネントおよび少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントを含む、プロセッサーと、
前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントおよび前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントのファセット中でサンプリング点を決定するサンプラ（９２０）であって、前記サンプリング点は、前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントおよび前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントの前記ファセット中で一様に分布する、サンプラと、
前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネント中の各サンプリング点と、前記第２の３Ｄモデル中の第１の３Ｄコンポーネントの表面との間の、点−面間誤差を決定する誤差メトリック推定器（９４０）であって、前記第２の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントは前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントに対応し、前記決定された点−面間誤差に応じて、前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントと前記第２の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントとの間の誤差メトリックを決定する、誤差メトリック推定器と、
を備える、前記装置。
（付記１０）
前記誤差メトリック推定器は、前記第１の３Ｄモデル中の前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネント中の各サンプリング点と、前記第２の３Ｄモデル中の少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントの表面との間の、第２の点−面間誤差をさらに決定し、前記第２の３Ｄモデル中の前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントは前記第１の３Ｄモデル中の前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントに対応し、前記誤差メトリック推定器は、前記決定された第２の点−面間誤差に応じて、前記第１の３Ｄモデル中の前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントと前記第２の３Ｄモデル中の前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントとの間の誤差メトリックを決定する、付記９に記載の装置。
（付記１１）
前記誤差メトリック推定器は、前記第１の３Ｄモデル中の各サンプリング点と前記第２の３Ｄモデルの表面との間の第３の点−面間誤差をさらに決定し、前記決定された第３の点−面間誤差に応じて前記第１の３Ｄモデルと前記第２の３Ｄモデルとの間の前記誤差メトリックを決定し、前記第１の３Ｄモデルについての前記誤差メトリックは、前記第１の３Ｄコンポーネントについての前記誤差メトリックと、前記少なくとも１つの別の３Ｄコンポーネントについての前記誤差メトリックとの重み付き合計に対応する、付記１０に記載の装置。
（付記１２）
前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネント中のサンプリング点の数は、前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントの前記ファセットのサイズにほぼ比例する、付記９に記載の装置。
（付記１３）
前記サンプリング点は前記第１の３Ｄモデル中のエッジの平均長さに応じて決定される、付記９に記載の装置。
（付記１４）
セル区分化モジュール（９３０）をさらに備え、前記セル区分化モジュールは、前記第２の３Ｄモデルを、前記第２の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントに対応する１組のセルを含む複数のセルに区分化し、前記１組のセルから、前記第１の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネント中の特定の１つのサンプリング点に最も近いセルを決定し、前記特定の１つのサンプリング点と前記最も近いセル内のそれぞれのファセットとの間のそれぞれの距離を決定し、前記決定されたそれぞれの距離のうちの最も短い距離を、前記特定の１つのサンプリング点と前記第２の３Ｄモデル中の前記第１の３Ｄコンポーネントの表面との間の点−面間誤差として決定する、付記９に記載の装置。
（付記１５）
レート歪み最適化と、前記第２の３Ｄモデルが品質要件を満たすかどうかの検証と、のうちの少なくとも一方を実行する符号化器（２００）をさらに備える、付記９に記載の装置。
（付記１６）
第１の３Ｄモデルと第２の３Ｄモデルとの間の法線変化量を決定するための装置（９００）であって、
前記第１の３Ｄモデルおよび前記第２の３Ｄモデルからの複数のファセット対にアクセスするプロセッサーであって、各ファセット対は前記第１の３Ｄモデルからのファセットと前記第２の３Ｄモデルからの対応するファセットとに対応する、プロセッサーと、
前記複数のファセット対の各々についてファセット法線ベクトルの内積を決定し、前記内積に応じて前記第１の３Ｄモデルと前記第２の３Ｄモデルとの間の前記法線変化量を決定する法線変化量推定器（９１０）と、
を備える、前記装置。
（付記１７）
付記１乃至７のいずれか一項により第１の３Ｄモデルと第２の３Ｄモデルとの間の誤差メトリックを決定するための命令が記憶された、コンピュータ読取可能記憶媒体。
（付記１８）
付記８により第１の３Ｄモデルと第２の３Ｄモデルとの間の法線変化量を決定するための命令が記憶された、コンピュータ読取可能記憶媒体。