【手続補正書】
【提出日】平成28年1月12日(2016.1.12)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験装置であって、前記試験装置は、
第１のばね端部分から第２のばね端部分に延在し、ばね中間部分を有するばね構成要素であって、前記ばね中間部分は、ばね内径を有し、前記ばね構成要素は、ワイヤ直径によって部分的に規定されたコイル状ワイヤを含む、ばね構成要素と、
遠位端部分から近位端部分に延在し、その間に中間部分を有する第１の細長電気伝導性プランジャを含む少なくとも１つの試験構成要素であって、前記第１のプランジャは、前記ばね構成要素内に配置されている、試験構成要素と、
中心長手方向軸を有し、中間外側寸法によって部分的に規定された前記第１のプランジャの中間部分と、
ばねラッチを含む前記第１のプランジャであって、前記ばねラッチは、前記遠位端部分に配置されたフック部分を含む、前記第１のプランジャと
を備え、前記遠位端部分は、前記試験構成要素が非圧縮状態にあるときに前記フック部分が前記コイル状ワイヤの一部を包囲するように、前記フック部分の基部に、前記中心長手方向軸から前記中間部分の外側寸法を上回る距離に配置された遠位外側寸法を有する、試験装置。
【請求項２】
前記第１のプランジャの中間部分は、前記試験装置が非圧縮状態にあるとき、前記コイル状ワイヤ上に前記フックを付勢するように構成されてサイズを合わせられ、前記中間部分は、前記ばね構成要素の内径と接触しており、前記フックは、前記試験装置が圧縮状態にあるとき、前記コイル状ワイヤから離れる、請求項１に記載の試験装置。
【請求項３】
前記プランジャは、３点先端またはＹ形状先端のうちの１つ以上を有する、請求項１〜２のいずれか一項に記載の試験装置。
【請求項４】
前記嘴状部部分は、フック幅を有し、前記フック幅は、前記ばね構成要素の内径の約９０％である、請求項１〜３のいずれか一項に記載の試験装置。
【請求項５】
前記フック部分は、フック中心によって部分的に規定され、寸法Ｄは、前記フック中心と前記中間外側寸法との間に規定され、Ｄは、ワイヤ直径の約１／２よりも大きい、請求項１〜４のいずれか一項に記載の試験装置。
【請求項６】
前記フック部分は、第１のフック部分と前記外側寸法の内側部分との間に規定された弧の角度によって部分的に規定された少なくとも１つの弧を含み、前記弧の角度は、９０度未満である、請求項１〜５のいずれか一項に記載の試験装置。
【請求項７】
前記第１のプランジャの弧形状は、前記フック部分の側方付勢を維持するように前記ばね構成要素の内径を使用する、請求項１〜６のいずれか一項に記載の試験装置。
【請求項８】
ばね長手方向軸に沿って、ばね内に第１の細長電気伝導性プランジャを配置することであって、前記第１のプランジャは、近位の第１のプランジャ端部から遠位の第１のプランジャ端部に延在し、その間に中間部分を有し、前記第１のプランジャは、前記遠位の第１のプランジャ端部にばねラッチを有する、ことと、
前記ばね長手方向軸に沿って、前記ばね内に第２の細長電気伝導性プランジャを配置することであって、前記第２の細長プランジャは、近位の第２のプランジャ端部から遠位の第２のプランジャ端部に延在し、前記遠位の第２のプランジャ端部に第２のプランジャばねラッチを有する、ことと、
前記ばねと前記ばねラッチおよび前記第２のプランジャばねラッチとを係合させることと
を含む、方法。
【請求項９】
前記ばねラッチを係合させることは、前記ばねと前記ばねラッチのフック部分とを係合させることを含み、前記第１のプランジャの遠位端部分は、試験構成要素が非圧縮状態にあるときに前記フック部分が前記ばねの一部を包囲するように、前記フック部分の基部に、中心長手方向軸から前記中間部分の外側寸法を上回る距離に配置された遠位外側寸法を有する、請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
前記ばねの内径に接触するプランジャ外側接触点を用いて、前記第１のプランジャまたは第２のプランジャのうちの少なくとも１つをそれぞれ前記ばねラッチまたは前記第２のプランジャばねラッチの方へ付勢することをさらに含む、請求項８〜９のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１１】
前記ばねと前記ばねラッチおよび前記第２のプランジャばねラッチとを係合させることは、前記ばねラッチまたは前記第２のプランジャばねラッチのうちの少なくとも１つのばねラッチを用いて、前記ばねの端部コイルを捕捉することを含む、請求項８〜１０のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１２】
試験プローブアセンブリであって、前記試験プローブアセンブリは、
近位の第１のプランジャ端部から遠位の第１のプランジャ端部に延在する第１の細長電気伝導性プランジャであって、前記第１のプランジャは、前記遠位の第１のプランジャ端部に第１のばねラッチを有する、第１のプランジャと、
中心長手方向軸によって部分的に規定された前記第１のプランジャと、
前記長手方向軸に対して前記第１のばねラッチと反対の第１のプランジャ外側接触点を伴う弧を有する前記第１のプランジャの少なくとも一部と、
内径によって部分的に規定された前記ばねであって、前記第１の細長プランジャは、前記ばね内に配置されている、前記ばねと、
前記ばねの内径と接触している前記第１のプランジャ外側接触点と
を備え、前記第１のばねラッチは、前記ばねの少なくとも一部に係合する、試験プローブアセンブリ。
【請求項１３】
前記ばね内に配置された第２の細長プランジャをさらに備え、前記第２の細長プランジャは、近位の第２のプランジャ端部から遠位の第２のプランジャ端部に延在し、その間に中間部分を有し、前記第１の細長プランジャは、前記第２の細長プランジャと摺動可能に係合させられる、請求項１２に記載の試験プローブアセンブリ。
【請求項１４】
前記第２のプランジャの中間部分は、第２のプランジャ外側接触点を伴う弧形状を有し、前記第２のプランジャ外側接触点は、前記ばねの内径と接触している、請求項１２〜１３のいずれか一項に記載の試験プローブアセンブリ。
【請求項１５】
前記第２のプランジャは、前記遠位の第２のプランジャ端部に第２のばねラッチを有し、前記第２のばねラッチは、前記ばねの少なくとも一部に係合する、請求項１２〜１４のいずれか一項に記載の試験プローブアセンブリ。
【請求項１６】
前記第１のばねラッチは、前記ばねの端部コイルに係合し、前記第２のばねラッチは、前記ばねの別の端部コイルに係合する、請求項１２〜１５のいずれか一項に記載の試験プローブアセンブリ。
【請求項１７】
前記遠位の第１のプランジャ端部は、前記近位の第２のプランジャ端部の方に配置され、前記近位の第１のプランジャ端部は、前記遠位の第２のプランジャ端部の方に配置されている、請求項１２〜１６のいずれか一項に記載の試験プローブアセンブリ。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
本発明のこれらおよび他の実施形態、側面、利点、ならびに特徴は、部分的に、以下の説明に記載され、本発明の以下の説明および参照される図面を参照することによって、または本発明の実践によって、当業者に明白となるであろう。本発明の側面、利点、および特徴は、特に、添付の請求項およびその均等物に指摘される器具、手技、および組み合わせを用いて実現かつ達成される。
本発明は、例えば、以下を提供する。
（項目１）
試験装置であって、前記試験装置は、
第１のばね端部分から第２のばね端部分に延在し、ばね中間部分を有するばね構成要素であって、前記ばね中間部分は、ばね内径を有し、前記ばね構成要素は、ワイヤ直径によって部分的に規定されたコイル状ワイヤを含む、ばね構成要素と、
遠位端部分から近位端部分に延在し、その間に中間部分を有する第１の細長電気伝導性プランジャを含む少なくとも１つの試験構成要素であって、前記第１のプランジャは、前記ばね構成要素内に配置されている、試験構成要素と、
中心長手方向軸を有し、中間外側寸法によって部分的に規定された前記第１のプランジャの中間部分と、
ばねラッチを含む前記第１のプランジャであって、前記ばねラッチは、前記遠位端部分に配置されたフック部分を含む、前記第１のプランジャと
を備え、前記遠位端部分は、前記試験構成要素が非圧縮状態にあるときに前記フック部分が前記コイル状ワイヤの一部を包囲するように、前記フック部分の基部に、前記中心長手方向軸から前記中間部分の外側寸法を上回る距離に配置された遠位外側寸法を有する、試験装置。
（項目２）
前記フック部分は、嘴状部によって部分的に規定され、前記フックと反対の外側寸法と前記ばね構成要素の内径との間の距離は、間隙を規定し、前記距離は、前記嘴状部のおよその幅よりも大きい、項目１に記載の試験装置。
（項目３）
中間部分は、前記試験装置が非圧縮状態にあるとき、前記コイル状ワイヤ上に前記フックを付勢するように構成されてサイズを合わせられ、前記フックは、前記試験装置が圧縮状態にあるとき、前記コイル状ワイヤから離れる、項目１に記載の試験装置。
（項目４）
前記プランジャは、３点先端またはＹ形状先端のうちの１つ以上を有する、項目１に記載の試験装置。
（項目５）
前記中間部分の外側寸法は、前記ばね構成要素の内径とほぼ同一である、項目１に記載の試験装置。
（項目６）
前記嘴状部部分は、フック幅を有し、前記フック幅は、前記ばね構成要素の内径の約９０％である、項目１〜５のいずれか一項に記載の試験装置。
（項目７）
前記フック部分は、フック中心によって部分的に規定され、寸法Ｄは、前記フック中心と前記中間外側寸法との間に規定され、Ｄは、ワイヤ直径の約１／２よりも大きい、項目１〜６のいずれか一項に記載の試験装置。
（項目８）
前記フック部分は、第１のフック部分と前記外側寸法の内側部分との間に規定された弧の角度によって部分的に規定された少なくとも１つの弧を含み、前記弧の角度は、９０度未満である、項目１〜７のいずれか一項に記載の試験装置。
（項目９）
前記ばね構成要素内に配置された第２の細長電気伝導性プランジャをさらに備え、前記第２のプランジャは、近位の第２のプランジャ端部から遠位の第２のプランジャ端部に延在し、その間に中間部分を有し、前記第１のプランジャは、前記ばね構成要素内の前記第２の細長プランジャと摺動可能に係合させられる、項目１〜８のいずれか一項に記載の試験装置。
（項目１０）
ばね長手方向軸に沿って、ばね内に第１の細長電気伝導性プランジャを配置することであって、前記第１のプランジャは、近位の第１のプランジャ端部から遠位の第１のプランジャ端部に延在し、その間に中間部分を有し、前記第１のプランジャは、前記遠位の第１のプランジャ端部にばねラッチを有する、ことと、
前記ばね長手方向軸に沿って、前記ばね内に第２の細長電気伝導性プランジャを配置することであって、前記第２の細長プランジャは、近位の第２のプランジャ端部から遠位の第２のプランジャ端部に延在し、前記遠位の第２のプランジャ端部に第２のプランジャばねラッチを有する、ことと、
前記ばねと前記ばねラッチおよび前記第２のプランジャばねラッチとを係合させることと
を含む、方法。
（項目１１）
前記ばねラッチを係合させることは、前記ばねと前記ばねラッチのフック部分とを係合させることを含み、前記第１のプランジャの遠位端部分は、試験構成要素が非圧縮状態にあるときに前記フック部分が前記ばねの一部を包囲するように、前記フック部分の基部に、中心長手方向軸から前記中間部分の外側寸法を上回る距離に配置された遠位外側寸法を有する、項目１０に記載の方法。
（項目１２）
前記ばねの内径を用いて、前記第１のプランジャまたは第２のプランジャのうちの少なくとも１つを、前記第１のプランジャを前記ばねラッチの方へ、前記第２のプランジャを前記第２のプランジャばねラッチの方へ付勢することをさらに含む、項目１０に記載の方法。
（項目１３）
前記ばねと前記ばねラッチおよび前記第２のプランジャばねラッチとを係合させることは、前記ばねラッチまたは前記第２のプランジャばねラッチのうちの少なくとも１つのばねラッチを用いて、前記ばねの端部コイルを捕捉することを含む、項目１０に記載の方法。
（項目１４）
前記ばねと前記ばねラッチおよび前記第２のプランジャばねラッチとを係合させることは、前記ばねラッチまたは前記第２のプランジャばねラッチのうちの少なくとも１つのばねラッチを前記ばねの一部内に配置することを含む、項目１０に記載の方法。
（項目１５）
前記第１のプランジャを前記第２のプランジャに向かって圧縮することをさらに含む、項目１０に記載の方法。
（項目１６）
前記第１のプランジャを前記ばねラッチの方へ旋回させ、または、第２のプランジャを第２のプランジャばねラッチの方へ旋回させることをさらに含む、項目１５に記載の方法。
（項目１７）
試験プローブアセンブリであって、前記試験プローブアセンブリは、
近位の第１のプランジャ端部から遠位の第１のプランジャ端部に延在する第１の細長電気伝導性プランジャであって、前記第１のプランジャは、前記遠位の第１のプランジャ端部に第１のばねラッチを有する、第１のプランジャと、
中心長手方向軸によって部分的に規定された前記第１のプランジャと、
前記長手方向軸に対して前記第１のばねラッチと反対の第１のプランジャ外側接触点を伴う弧を有する前記第１のプランジャの少なくとも一部と、
内径によって部分的に規定された前記ばねであって、前記第１の細長プランジャは、前記ばね内に配置されている、前記ばねと、
前記ばねの内径と接触している前記第１のプランジャ外側接触点と
を備え、前記第１のばねラッチは、前記ばねの少なくとも一部に係合する、試験プローブアセンブリ。
（項目１８）
前記ばね内に配置された第２の細長プランジャをさらに備え、前記第２の細長プランジャは、近位の第２のプランジャ端部から遠位の第２のプランジャ端部に延在し、その間に中間部分を有し、前記第１の細長プランジャは、前記第２の細長プランジャと摺動可能に係合させられる、項目１７に記載の試験プローブアセンブリ。
（項目１９）
前記第２のプランジャの中間部分は、第２のプランジャ外側接触点を伴う弧形状を有し、前記第２のプランジャ外側接触点は、前記ばねの内径と接触している、項目１８に記載の試験プローブアセンブリ。
（項目２０）
前記第２のプランジャは、前記遠位の第２のプランジャ端部に第２のばねラッチを有し、前記第２のばねラッチは、前記ばねの少なくとも一部に係合する、項目１９に記載の試験プローブアセンブリ。
（項目２１）
前記第１のばねラッチは、前記ばねの端部コイルに係合し、前記第２のばねラッチは、前記ばねの別の端部コイルに係合する、項目１９に記載の試験プローブアセンブリ。
（項目２２）
前記第１のばねラッチは、前記ばねの端部コイルに係合する、項目１７に記載の試験プローブアセンブリ。
（項目２３）
前記遠位の第１のプランジャ端部は、前記近位の第２のプランジャ端部の方に配置され、前記近位の第１のプランジャ端部は、前記遠位の第２のプランジャ端部の方に配置されている、項目１８に記載の試験プローブアセンブリ。