(57)【要約】      （修正有）【課題】簡易な構成で、画像領域像高全般にわたってスポット径の保証を実現する。【解決手段】走査レンズのピントずれ検知センサ１４に入射する光ビームが通過する位置に対応する位置と、走査レンズの感光ドラムを走査する光ビームが通過する位置に対応する位置との温度差を求め、温度差とピントずれ検知センサ１４による検知結果とに基づいて、主走査シリンダーレンズ３又は副走査シリンダーレンズ４を光軸方向に移動させることにより感光ドラム上の光ビームのスポット径が所定値以下となるよう補正するＣＰＵ２８を備える。【選択図】図６
2013120216.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ビームを出射する光源と、
前記光源から出射された光ビームが被走査体面上を主走査方向に走査するように前記光ビームを偏向する偏向手段と、
前記光源と前記偏向手段との間に設けられ、光ビームのスポット径を調整するための第一レンズと、
前記偏向手段により偏向された光ビームを前記被走査体面上に結像させる第二レンズと、
前記偏向手段により偏向された光ビームが入射する位置に配置され、入射した光ビームのスポット径を検知するビーム検知手段と、
前記第二レンズの前記ビーム検知手段に入射する前記光ビームが通過する位置に対応する位置の温度と、前記第二レンズの前記被走査体面上を走査する光ビームが通過する位置に対応する位置の温度との温度差を求め、前記温度差と前記ビーム検知手段による検知結果とに基づいて、前記第一レンズを前記第一レンズの光軸方向に移動させることにより前記被走査体面上の光ビームのスポット径が所定値以下となるよう補正する補正手段と、を備えることを特徴とする光走査装置。
【請求項２】
前記第二レンズの前記ビーム検知手段に入射する前記光ビームが通過する位置に対応する位置の温度を検知する第一温度検知手段と、
前記第二レンズの前記第一温度検知手段とは異なる位置に設けられる第二温度検知手段と、
を備え、
前記補正手段は、前記第一温度検知手段及び前記第二温度検知手段による検知結果に基づいて、前記温度差を求めることを特徴とする請求項１に記載の光走査装置。
【請求項３】
前記偏向手段の駆動時間及び停止時間と、前記第二レンズの前記ビーム検知手段に入射する前記光ビームが通過する位置に対応する位置と前記第二レンズの前記被走査体面上を走査する光ビームが通過する位置に対応する位置との温度差と、を対応付けた情報を予め保持する第一保持手段と、
前記偏向手段の駆動時間を算出する算出手段と、
前記偏向手段の停止時間を計測する計測手段と、
を備え、
前記補正手段は、前記算出手段により算出された駆動時間及び前記計測手段により計測された停止時間と、前記第一保持手段に保持された情報と、に基づいて、前記温度差を求めることを特徴とする請求項１に記載の光走査装置。
【請求項４】
初期状態の前記第二レンズの前記主走査方向における像面湾曲に関する情報を予め保持する第二保持手段を備え、
前記補正手段は、前記温度差、前記ビーム検知手段による検知結果及び前記第二保持手段に保持された前記像面湾曲に関する情報に基づいて前記光ビームのスポット径を補正することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の光走査装置。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれか１項に記載の光走査装置と、
前記光走査装置により出射される光ビームが走査される前記被走査体であって静電潜像が形成される像担持体と、
前記像担持体上に形成された静電潜像を現像してトナー像とする現像手段と、
前記現像手段により現像されたトナー像を記録媒体上に転写する転写手段と、
前記転写手段により記録媒体上に転写されたトナー像を定着する定着手段と、
を備えることを特徴とする画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子写真技術を用いた画像形成装置に関し、特に、被走査面へのレーザ光の結像スポットのピントずれを補正することができる光走査装置及び画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、複写機やレーザビームプリンタなどの電子写真技術を用いた画像形成装置では、帯電された感光ドラム面上に、光走査装置によって入力画像データに応じて変調したレーザ光が、ポリゴンミラーとレンズを介してスポット状に結像し走査される。ここで入力画像データに基づいて発光されるレーザ光によって被走査面である感光ドラム面に記録媒体に転写する画像に対応する潜像を形成可能な領域を画像形成装置の画像領域像高、それ以外を非画像領域像高と称する。画像領域像高においては、光走査装置のレーザ光によって照射されることで潜像が形成され、その潜像に応じて現像器からトナーが付着、転写器によって紙などの記録媒体へトナーを転写し、定着工程を経て最終成果物が排出される。
【０００３】
しかしながら、このような従来型の画像形成装置では、光走査装置内の昇温に起因するレーザ光の波長及び光学部品の屈折率の変化や、画像領域像高の各位置によりピント位置が光軸方向に異なる像面湾曲の現象に起因して、次のような課題がある。即ち、光走査装置から出射した画像領域像高のレーザ光が必ずしも感光ドラム面上で結像しておらず、ピントずれを生じているという課題がある。また、近年レーザプリンタのカラー化が進み、淡い中間濃度画像に対する均一性の要求が高まっている。レーザプリンタにおいてハイライトの中間濃度の画像を良好に再現するためには、感光ドラム面に小径のスポットを画像領域像高全般にわたって安定して結像させなければならず、また経時的にもスポット径が変動しないことが望ましい。更に、近年はさらなる高画質化の要求により、スポット径の小径化を前提とした光学設計の具現化が進んでいる。光走査装置における焦点深度（スポット径を満足できるレーザ光軸方向の距離）はスポット径の二乗に比例するため、焦点深度は大幅に減少している。そのため今まで以上に高い精度でレーザ光が所望のスポット径で感光ドラム上に結像するようにレーザ光のピントを合わせる必要が生じてきている。
【０００４】
このような要望に対し、レーザ光のスポット径を補正する手段として、例えば、次のような構成が提案されている。即ち、光走査装置内の温度変化がしきい値以上になったとき、スポット径測定手段でスポット径を測定し、スポット径制御部がレンズを光軸方向に動かすことでピントの補正を行う構成である（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００３−００５１１８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、例えば特許文献１では、スポット径測定手段で測定している非画像領域像高のスポット径は正しくピント補正されるが、本来最も露光性能が求められる画像領域像高全般にわたり正しくピント補正ができているとは限らない。これは走査レンズの長手方向では、ポリゴンモータの高速回転にともない発生する光走査装置内の気流の影響で、走査レンズ内に温度勾配が生じることに起因する。以降、走査レンズ内に生じた温度勾配を有する昇温を、偏昇温と呼ぶ。走査レンズは昇温が進行するとそれを構成する材質が変化し屈折率が低くなる傾向があるため、走査レンズ内に偏昇温が生じると、画像領域像高の各位置においてスポット径のピント位置が異なる結果となる。つまりスポット径測定手段等で直接レーザ光を用いてピントずれを検出する場合は、その性質上、光走査装置の非画像領域像高で検知せざるを得ない。従って走査レンズの偏昇温による像高間でのピントずれを加味すると、最も露光性能が求められる画像領域像高でスポット径を保証したことにならないという課題がある。
【０００７】
本発明は、このような状況のもとでなされたもので、簡易な構成で、画像領域像高全般にわたってスポット径の保証を実現することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
前述の課題を解決するために、本発明は、以下の構成を備える。
【０００９】
（１）光ビームを出射する光源と、前記光源から出射された光ビームが被走査体面上を主走査方向に走査するように前記光ビームを偏向する偏向手段と、前記光源と前記偏向手段との間に設けられ、光ビームのスポット径を調整するための第一レンズと、前記偏向手段により偏向された光ビームを前記被走査体面上に結像させる第二レンズと、前記偏向手段により偏向された光ビームが入射する位置に配置され、入射した光ビームのスポット径を検知するビーム検知手段と、前記第二レンズの前記ビーム検知手段に入射する前記光ビームが通過する位置に対応する位置の温度と、前記第二レンズの前記被走査体面上を走査する光ビームが通過する位置に対応する位置の温度との温度差を求め、前記温度差と前記ビーム検知手段による検知結果とに基づいて、前記第一レンズを前記第一レンズの光軸方向に移動させることにより前記被走査体面上の光ビームのスポット径が所定値以下となるよう補正する補正手段と、を備えることを特徴とする光走査装置。
【００１０】
（２）前記（１）に記載の光走査装置と、前記光走査装置により出射される光ビームが走査される前記被走査体であって静電潜像が形成される像担持体と、前記像担持体上に形成された静電潜像を現像してトナー像とする現像手段と、前記現像手段により現像されたトナー像を記録媒体上に転写する転写手段と、前記転写手段により記録媒体上に転写されたトナー像を定着する定着手段と、を備えることを特徴とする画像形成装置。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、簡易な構成で、画像領域像高全般にわたってスポット径の保証を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】実施例１の光走査装置の感光ドラム周囲の概略断面図、光走査装置内部の斜視図
【図２】実施例１のＡＦセンサの斜視図、ＡＦ機構部の斜視図
【図３】実施例１のＡＦセンサのピントずれがない場合とある場合の副走査方向のレーザ光の結像を説明する模式図、ピントずれ量Δｘと２Δｄの関係を示す図
【図４】実施例１の初期状態と昇温後の光走査装置のデフォーカス特性を示す図
【図５】実施例１の補正後の光走査装置のデフォーカス特性を示す図
【図６】実施例１の光走査装置の制御ブロック図
【図７】実施例１の主走査のピント補正と副走査のピント補正をする際のフローチャート
【図８】実施例２の光走査装置に像面湾曲があるときの像高とピント位置の関係を示す図、初期状態の光走査装置のデフォーカス特性を示す図
【図９】実施例２の像面湾曲がある際の昇温後と補正後の光走査装置のデフォーカス特性を示す図
【図１０】実施例３の光走査装置内部の斜視図
【図１１】実施例３のポリゴンモータの駆動時間及び停止時間に対する各サーミスタの温度を示す図、光走査装置の制御ブロック図
【図１２】実施例３の主走査のピント補正と副走査のピント補正をする際のフローチャート
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明を実施するための形態を、実施例により詳しく説明する。
【実施例１】
【００１４】
実施例１では、入力画像データに基づいて発光されるレーザ光によって被走査面である感光ドラム面に潜像形成が可能な領域を光走査装置の画像領域像高、それ以外を非画像領域像高という。また、実施例２以降についても同様とする。尚、「像高」とは、光走査装置の回転多面鏡によって偏向された光ビームのスポットが、感光ドラム上を移動する方向である主走査方向の走査位置を意味する。また、画像形成装置内や光走査装置内の温度の昇温により生じる、走査レンズの長手方向に温度勾配を有する昇温を、偏昇温と呼ぶ。
【００１５】
［光走査装置］
図１（ａ）は、本実施例で説明する光走査装置２０を用いた、電子写真複写機の感光ドラム周辺部を示す概略断面図である。図１（ａ）を用いて画像形成プロセスを説明する。図１（ａ）中では図示しない光源から出射されたレーザ光は、偏向手段である回転多面鏡６によって偏向走査され、走査レンズ７、８（第二レンズ）、防塵ガラス９を通過して感光ドラム１９（感光体、像担持体）に照射される。感光ドラム１９は、帯電装置５１により一様に帯電された後、入力画像データに基づいて光走査装置２０内の光源ユニットの半導体レーザ（後述する）から出射されるレーザ光によって露光される。感光ドラム１９は一定速度で回転し、感光ドラム１９の感光面はレーザ光に対して副走査方向（回転方向（図中矢印、時計周り方向））に移動する。このようにして感光ドラム１９上（像担持体上、被走査体面上）に画像データに基づく静電潜像が形成される。この静電潜像は現像器５２に保持されている現像剤であるトナーによって現像される。その後、搬送経路上を搬送されてくる転写材５４（記録媒体）に転写手段である転写ローラ５３によって電圧を印加する。これにより、転写ローラ５３と感光ドラム１９とで形成される転写部において感光ドラム１９上に担持されたトナー像を転写材５４上（記録媒体上）へ転写する。そして、トナー像を担持した転写材は、図示しない定着器（定着手段）に搬送され、加熱等により転写材上のトナー像に定着処理が施され、画像が形成された転写材を得る。
【００１６】
図１（ｂ）は本実施例の光走査装置２０を説明するための斜視図である。図１（ｂ）に示すように、光走査装置２０は画像データ信号に応じて半導体レーザ１から出射されたレーザ光を、第１コリメータレンズ２と主走査シリンダーレンズ３によって略平行化する。そして、略平行化された光ビームを副走査シリンダーレンズ４によって感光ドラム１９の表面の移動方向（副走査方向）のみ集光し、ポリゴンモータ５により一定の回転速度で反時計周り方向に回転制御される回転多面鏡６によって偏向する。次に、偏向された光ビームを走査レンズとしてのｆθレンズ７、８によって像面である感光ドラム１９の表面に等速かつ所定のスポット径をもって結像する。ここで防塵ガラス９は光走査装置２０の密閉性を高める役割を担っている。感光ドラム１９の表面に潜像を形成する際に、走査ライン毎に主走査方向の潜像タイミングを揃える処理は、ＢＤセンサ１２による信号を基準に行う。この場合、ＢＤミラー１０で光ビームを折り返し、ＢＤレンズ１１を用いてＢＤセンサ１２上に光ビームを結像させて信号化している。
【００１７】
［オートフォーカスセンサ］
光走査装置２０内の非画像領域像高に設けられた、ピントずれ検知手段であるオートフォーカスセンサ（以下ＡＦセンサ）、及びその検知原理について説明する。ＡＦセンサは、レーザ光走査の先端又は後端近傍の非画像領域像高（第一所定位置）に配置されている。即ち、ＡＦセンサは、回転多面鏡６により偏向された光ビームが感光ドラム１９の面上を走査する範囲内の主走査方向におけるいずれか一方の端部に設けられている。そして、公知の瞳分割レンズ１３と、ピントずれ検知センサ１４（ビーム検知手段）から構成される。その構成の詳細を図２（ａ）に示す。ここで２４はレーザ光の外形を表している。走査レンズ８を通過し、瞳分割レンズ１３に入射した光ビーム２４は、副走査方向のピントずれ検知光学系２２と主走査方向のピントずれ検知光学系２３により、ピントずれ検知センサ１４に設けられたエリアＣＣＤセンサ２５上にそれぞれ結像される。
【００１８】
このときの副走査ピントずれ光学系２２による結像の様子を表した副走査方向の断面図が図３（ａ）である。副走査ピントずれ検知光学系２２は２眼のレンズを有しているため、図のようにエリアＣＣＤセンサ２５上で副走査方向（図中、縦方向）に２つのスポットとして結像されることになる。尚、図中の破線は、光ビーム２４がＡＦセンサを通らないときの仮想光線図であり、感光ドラム１９の表面に結像していることを示している。また主走査方向に関しても、同じく２眼のレンズを有する主走査ピントずれ検知光学系２３によってエリアＣＣＤセンサ２５上で主走査方向（横方向）に２つのスポットとして結像されることになる（図２（ａ）参照）。
【００１９】
［ピントずれの検知原理］
図３（ｂ）にＡＦセンサ（１３、１４）を用いた、副走査方向のピントずれ検知原理を示す。図中の太い実線は、レーザ光が像面である感光ドラム１９上に結像しておりピントずれが生じていないときの、エリアＣＣＤセンサ２５上の結像の様子である。一方で、図中の太い破線は像面からΔｘのピントずれが生じ、仮想面２６上に結像しているときの様子である。これをみるとわかる通りΔｘのピントずれが生じたときのＣＣＤセンサ２５上の２つのスポットの間隔は、ピントずれが生じていないときの間隔に比べて、２Δｄ大きくなっていることがわかる。尚、図３（ｂ）は、感光ドラム１９より図面右側にΔｘのピントずれが生じているが、本実施例では、このピントずれをプラス方向とし、感光ドラム１９の内側の方向に生じるピントずれとする。また、発生したプラス方向のピントずれに応じてエリアＣＣＤセンサ２５上のスポットの間隔が広がっており、本実施例では、間隔２Δｄが広がる方向を正方向とする。この像面からのピントずれ量Δｘ（ｍｍ（ミリメートル））と、それに対応するＣＣＤセンサ２５上の２つのスポットの間隔２Δｄ（μｍ（マイクロメートル））の関係は、図３（ｃ）に示すような比例関係となる。
【００２０】
以上より、副走査方向のピントずれを検知する際は、副走査ピントずれ検知光学系２２が配置された像高でレーザを定点発光し、エリアＣＣＤセンサ２５上の副走査方向に２つのスポットを結像させる。そしてエリアＣＣＤセンサ２５で電気変換された出力信号から２つのスポットの光量ピーク位置を演算し、２点間の距離即ち２Δｄに換算し、図３（ｃ）のテーブルを用いてピントずれ量Δｘを算出すればよい。例えば、ＡＦセンサのエリアＣＣＤセンサ２５で検知した間隔２Δｄが＋４μｍであった場合、図３（ｃ）の比例関係に基づいて、像面からのピントずれ量Δｘは＋１ｍｍと求めることができ、ピントずれが感光ドラム１９の内側の方向に生じていると判断できる。
【００２１】
同様に、主走査方向のピントずれを検知する際も、主走査ピントずれ検知光学系２３が配置された像高でレーザを定点発光し、エリアＣＣＤセンサ２５上の主走査方向に２つのスポットを結像させる。そしてエリアＣＣＤセンサ２５で電気変換された出力信号から２つのスポットの光量ピーク位置を演算し、２点間の距離即ち２Δｄに換算し、図３（ｃ）のテーブルを用いてピントずれ量を算出すればよい。
【００２２】
［ピントずれの補正］
光走査装置２０のピントずれ補正を行う、ＡＦ機構部（補正手段）の構成について説明する。図２（ｂ）にＡＦ機構部２１の斜視図を示す。ＡＦ機構部２１は図のようにユニット化された構成となっており、ＡＦホルダ６７が光走査装置２０にバネ付勢やビス締結で固定されている。ここでレンズ台６８、６９にはそれぞれ主走査シリンダーレンズ３（第一レンズ）、副走査シリンダーレンズ４（第一レンズ）が乗せられ接着固定されている。レンズ台６８、６９の下部には軸穴が設けられており、ＡＦホルダ６７に支持され光軸方向に配置された基準軸６４と嵌合している。またレンズ台６８は基準軸６４と平行して配置されたレンズ送り軸６５のネジ部（斜線領域）と係合しており、同様にレンズ台６９はレンズ送り軸６６のネジ部（斜線領域）と係合している。またレンズ台６８とレンズ送り軸６６、レンズ台６９とレンズ送り軸６５は、穴径が軸径より大きいため互いに関わりあうことはない。
【００２３】
またレンズ送り軸６５、６６の端部にはそれぞれ電磁クラッチ付きギア６２、６３が設けられており、両ギアはＡＦモータ６１先端に取り付けられたギアとかみ合っている。ここで仮に主走査シリンダーレンズ３を光軸方向に動かす際は、電磁クラッチ付きギア６３を励磁させることでＡＦモータ６１の正逆回転がレンズ送り軸６５に伝達され、レンズ台６８が基準軸６４に嵌合しながら光軸方向にネジ送りされる。この際、励磁していない電磁クラッチ付きギア６２はレンズ送り軸６６に回転が伝達されないため、副走査シリンダーレンズ４が移動することはない。逆に、副走査シリンダーレンズ４を光軸方向に動かす際は、電磁クラッチ付きギア６２を励磁し、６３を励磁しなければよい。以上の構成により、１つのＡＦモータ６１で、主走査シリンダーレンズ３及び副走査シリンダーレンズ４を光軸方向に移動することが可能となる。
【００２４】
以上、ここまで非画像領域像高に設けられたピントずれ検知手段であるＡＦセンサ及びその検知原理、スポット径制御手段であるＡＦ機構部の構成について説明してきた。ここで、背景技術で説明した通り、実際には光走査装置２０内の気流の影響で、走査レンズ７、８の片方の端部のみ昇温が進行し、走査レンズ長手方向において屈折率の差が発生するため、像高毎にスポット径のピント位置が異なる。よって非画像領域像高に設けられたＡＦセンサで非画像領域像高のピントずれを検知しＡＦ機構部で補正を行ったとしても、画像領域像高全般にわたって保証したことにならない。本実施例では、更に以下の構成を備えることにより、この課題を解決する。
【００２５】
［サーミスタセンサ］
本実施例の光走査装置２０では、走査レンズ７、８の偏昇温を加味し、画像領域像高全般にわたってスポット径を保証するため、次のような構成を備える。即ち、本実施例の光走査装置２０は、走査レンズ７、８のレンズ長手端部の温度を検知するサーミスタセンサ（温度検知手段）１５、１６、１７、１８を、それぞれ走査レンズ７、８の上面（第二レンズ上）に備えている（図１（ｂ）参照）。ここで特徴的な事項として、サーミスタセンサ１６、１８（第一温度検知手段）は、ＡＦセンサ（１３、１４）が、ピントずれ検知に用いている光ビーム（光線）を集光する像高付近の温度を検知している。一方、サーミスタセンサ１５、１７（第二温度検知手段）は、ＡＦセンサ（１３、１４）が設置された側とは異なる側の、長手方向の端部の位置（第二所定位置）（以下、端部像高という）の温度を検知している。
【００２６】
そしてＡＦ機構部２１は、ＡＦセンサ（１３、１４）とサーミスタセンサ１５〜１８の検知結果に基づき、次のような補正を行っている。即ち、ＡＦ機構部２１は、その検知結果に基づき、主走査シリンダーレンズ３又は副走査シリンダーレンズ４を光軸方向に移動させ（図３（ｂ）参照）、像面上の画像領域像高全般にわたってレーザ光のスポット径が所定以下となるよう補正を行っている。
【００２７】
本実施例では、サーミスタセンサを走査レンズ７、８の両端部に配置する構成としている。しかし、ポリゴンモータ５の回転時の熱風気流により、走査レンズ７、８の長手方向では温度勾配がリニアであるとは限らないため、例えば、走査レンズ７、８の長手方向の中央に、更にサーミスタセンサを配置する構成とすることもできる。このように、サーミスタセンサの走査レンズ７、８上の配置場所や配置個数は本実施例に限定されない。以下の実施例においても同様とする。
【００２８】
［本実施例の補正原理］
図４（ａ）は本実施例の光走査装置２０における、横軸を像面位置（ｍｍ）、縦軸をスポット径（μｍ）としたときの、ＡＦセンサ（１３、１４）におけるピントずれ検知像高と、それと反対の端部像高の昇温前の初期状態のデフォーカスカーブの一例である。ここで、ピントずれ検知像高は、例えば図１（ｂ）では、レーザ光がＡＦセンサ（１３、１４）を通る像高即ちサーミスタセンサ１６、１８が設置された像高である。一方、それと反対の端部像高は、サーミスタセンサ１５、１７が設置された像高である。レーザ光が感光ドラム１９に入射する方向において、像面位置０ｍｍが感光ドラム１９の表面、プラス方向が感光ドラム１９の内側方向を意味している。図４（ａ）は、像面位置０．０ｍｍでスポット径が最小値の２０μｍとなっており、スポット径が感光ドラム面上で最も集光している理想のピント位置状態を表している。
【００２９】
またスライスレベルとして表されたスポット径３５μｍとは、本画像形成装置の電子写真プロセス条件において画像劣化を生じないスポット径の上限値を指しており、この値を下回る像面位置のレンジを以降「焦点深度」と呼ぶ。例えば、図４（ａ）では、焦点深度は、−０．６ｍｍ〜＋０．６ｍｍの１．２ｍｍとなる。また本実施例においては昇温前の初期状態で像高間でのピント位置に差が生じる像面湾曲は想定していないため、ピントずれ検知像高と、それと反対の端部像高のデフォーカスカーブは完全に一致している。このため、図４（ａ）では、ピントずれ検知像高を示す実線と、それと反対の端部像高を示す一点鎖線とは重なっている。
【００３０】
ここで本実施例の光走査装置２０を搭載した画像形成装置を稼動させた場合、感光ドラム１９周囲の電子写真プロセスに起因する排熱、転写材を加熱してトナー像を定着する定着器の排熱等が原因で、光走査装置２０の周囲温度は上昇する。また光走査装置２０自身も、後述するレーザ・ポリゴンモータ制御部２７（図６参照）の電子機器からの発熱や、ポリゴンモータ５の回転による発熱があり、光走査装置２０のユニット内外部において昇温が生じる。これらの要因によって図４（ｂ）に示すように、ピントずれ検知像高と、それと反対の端部像高とも、昇温前の初期状態（図４（ａ））に対してピント位置がプラス方向、即ち感光ドラム１９の内側の方向にずれる、ピントずれが生じる。この主な理由は、昇温によって半導体レーザ１から出射されるレーザ光の波長が長くなったこと、及びレンズが昇温してそれを構成する材質の屈折率が低下したことに起因する。
【００３１】
また特筆すべきこととして、前に述べた通り、ポリゴンモータ５の高速回転にともない発生する光走査装置２０内の気流の影響で、走査レンズ７、８の片方の端部（この場合はピントずれ検知像高の反対端部像高（一点鎖線））のみ偏昇温が進行する。そのため走査レンズ７、８の中に温度分布即ち屈折率分布が存在し、ピント位置の変化量に差ｘが生じている。このように、光走査装置２０内外の昇温に起因して、ピントずれ量が像高に応じて変化している。
【００３２】
ここでピントずれ検知像高のピントずれ量ａは、前述のピントずれ検知原理に従って、光走査装置２０内に設けられたＡＦセンサ（１３、１４）によって検知することが可能である。一方、それと反対の端部像高のピントずれ量ｂは、両像高のピント位置変化量の相対差ｘさえ分かれば、
ｂ＝ａ＋ｘ      （１）
として求められる。一般的に走査レンズ７、８に用いられる光学部品の材質は温度上昇に対する屈折率変化が比例関係である。また屈折率変化に対する像高間のピント位置変化量は一意的に光学計算式で求めることができる。このため、像高間の温度差さえ検知すれば相対差ｘは求めることができる。よってピントずれ量ｂも（１）式で求めることができる。
【００３３】
以上より、本実施例においては、ピントずれ検知像高と、それと反対の端部像高の、両者の昇温後の温度をサーミスタセンサ１５〜１８により検知し、その検知結果から両像高間の温度差を求め、求めた温度差から相対差ｘを求める。これによりピントずれ量ｂが、ＡＦセンサにより検知したピントずれ量ａ、及び相対差ｘから求められる。このように、ピントずれ量ａ、ｂが検知可能なため、両像高において満足するピントずれ補正（以下、ピント補正ともいう）としては、（ａ＋ｂ）／２に相当する量（以下、ピント量ともいう）の補正をＡＦ機構部２１を用いて行う。そして、図５に示すようなデフォーカスカーブの状態とすればよい。
【００３４】
尚、走査レンズ７と走査レンズ８では、昇温時のピントずれに対する影響の仕方が変わってくる。主に、走査レンズ７は主走査方向への結像パワーを有しているのに対し、走査レンズ８は副走査方向への結像パワーを有している。このため、走査レンズ７の偏昇温が影響する主走査方向のピントに対しては、主にサーミスタセンサ１５とサーミスタセンサ１６の差を用いて主走査ピントの相対差ｘを算出する。一方、走査レンズ８の偏昇温が影響する副走査方向のピントに対しては、主にサーミスタセンサ１７とサーミスタセンサ１８の差を用いて副走査ピントの相対差ｘを算出する。ただし、走査レンズ７もわずかに副走査方向のパワーを有し、走査レンズ８もわずかに主走査方向のパワーを有している。このため、例えば得られた４つの温度検知結果から、走査レンズ７、８のレンズの温度差を算出し、それらに重み付けをして、主走査及び副走査それぞれの相対差ｘを算出してもよい。
【００３５】
更に、複数像高のピント位置を平均化し、その量に相当するピント補正を行うことで、複数像高にわたる像面位置でのスポット径が保証されることになる。ここで、複数、例えばｎ個のサーミスタセンサを走査レンズ７、８上に配置する場合は、ＡＦセンサが配置された位置における温度とその他の位置における温度の温度差を求め、求めた温度差から各像高のピントずれ量ａ、ｂ、ｃ、ｄ、・・・（ｎ個）を算出する。そして、例えば（ａ＋ｂ＋ｃ＋ｄ＋・・・）／ｎに相当するピント量の補正を行う。以下の実施例においても同様とする。
【００３６】
尚、本実施例においては、ピントずれ検知像高と、それと同じ側の端部像高においては、走査レンズ７、８の温度差が無視でき、ピント位置に差が生じないことを前提にしている。そのため本構成を用いれば、一般的に光学性能が劣っている両端部像高のスポット径が保証されることとなる。また、温度検知手段であるサーミスタセンサ１５〜１８を配置する像高としては、ＡＦセンサが配置されたピントずれ検知像高の他、光学設計において焦点深度に余裕のない複数の像高にするのが望ましい。また複数像高間におけるピント補正量は、検知した複数像高間のピント位置の平均に限らず、像高間で重み付けをして補正量を決定しても構わない。
【００３７】
［光走査装置の制御ブロック図］
本実施例におけるピントずれ補正を達成するための光走査装置２０の制御ブロック図を図６に示す。図６において、レーザ・ポリゴンモータ制御部２７にはＣＰＵ２８から出力画像に応じた記録画像信号が入力される。またレーザ・ポリゴンモータ制御部２７はＢＤセンサ１２から出力されるＢＤ信号に基づき、ポリゴンモータ５の駆動回路を制御してポリゴンモータ５を所定の回転速度で回転させる。レーザ・ポリゴンモータ制御部２７はこれらの記録画像信号およびＢＤ信号に基づき、走査ライン毎に主走査方向の潜像タイミングを揃えるようレーザドライバ２９へ画像データ信号を出力している。半導体レーザ１はレーザドライバ２９からの信号に応じてレーザ１の点灯・消灯を行い、感光ドラム１９上に潜像を形成している。本実施例の特徴であるピントずれ補正の処理はＣＰＵ２８による制御で実行される。
【００３８】
［ピント補正処理］
主走査及び副走査方向のピント補正処理を説明するフローチャートを図７（ａ）、図７（ｂ）に示し、補正処理を説明する。
【００３９】
（主走査方向のピントずれの補正処理）
主走査方向のピントずれの補正処理（主走査ピント補正）について図７（ａ）を用いて説明する。ステップ（以下、Ｓとする）１０１で、ＡＦセンサのピントずれ検知センサ１４は、上述した検知方法により２つのスポット間の距離２Δｄ（μｍ）を検知し、その検知結果である２Δｄ（μｍ）の情報をピントずれデータ信号としてＣＰＵ２８に出力する。Ｓ１０２で、サーミスタセンサ１５〜１８は、走査レンズ７、８の各設置場所における温度を検知し、その検知結果を温度データ信号としてＣＰＵ２８に出力する。ＣＰＵ２８は、入力されたピントずれデータ信号及び温度データ信号に基づいて、上述した方法により複数の測定像高におけるピント位置を検知する。即ち、ＣＰＵ２８は、Ｓ１０１でピントずれ検知センサ１４から出力されたピントずれデータ信号から、図３（ｃ）を参照してピントずれ検知像高におけるピントずれ量ａ（ｍｍ）を求める。また、ＣＰＵ２８は、Ｓ１０２でサーミスタセンサ１５〜１８から出力された温度データ信号に基づき、相対差ｘを求める。
【００４０】
そして、ＣＰＵ２８は、ピントずれ量ａ（ｍｍ）と相対差ｘから、式（１）を用いて、ＡＦセンサの像高とは反対側の端部像高におけるピントずれ量ｂ（ｍｍ）を求め、ピントずれ量ａ，ｂ夫々を主走査方向ピントずれとする。Ｓ１０３でＣＰＵ２８は、それらの像高におけるピントずれ量（例えばａ，ｂ）が、任意に定められた規格値以下か否かを判断する。Ｓ１０３でＣＰＵ２８は、測定像高のピントずれ量が、いずれも規格値以下であると判断した場合は、主走査ピント補正処理を終了する。尚、サーミスタセンサをｎ個（ｎ≧２）設ける構成とする場合は、ｎ箇所測定している像高の全ての像高において規格値以下（所定値以下）であると判断した場合に、主走査ピント補正処理を終了する。
【００４１】
Ｓ１０３でＣＰＵ２８は、主走査ピントずれａ，ｂが１つでも、規格値より大きいと判断した場合は、Ｓ１０４の処理に進む。尚、サーミスタセンサをｎ個設ける構成とする場合は、ｎ箇所測定している像高のうちのある１つの像高において、即ち１箇所でも規格値より大きいと判断した場合は、Ｓ１０４の処理に進む。Ｓ１０４でＣＰＵ２８は、前述の通り、複数の測定像高のピントずれ量を平均化し、ピント補正量を決定する。即ち、ＣＰＵ２８は、ピントずれ量ａ，ｂから（ａ＋ｂ）／２を求める。ＣＰＵ２８は、前述の通り、求めたピントずれ量に基づいて、ピント補正量に対する主走査シリンダーレンズ３の光軸方向の移動量が一意的に光学計算式で求めることができるため、移動量を算出する。Ｓ１０５でＣＰＵ２８は、Ｓ１０４で算出した主走査シリンダーレンズ３の移動量に応じた駆動信号をＡＦ機構部２１に出力する。これにより、ＣＰＵ２８は、ＡＦ機構部２１を介して主走査シリンダーレンズ３をＳ１０４で決定した移動量分移動させる。以降、ＣＰＵ２８は、Ｓ１０１からの処理を繰り返すことにより、正しくピント補正が成されていればＳ１０３で主走査ピントずれが規格値を下回るので、ピント補正を終了する。
【００４２】
（副走査方向のピントずれの補正処理）
図７（ｂ）の副走査方向のピントずれの補正処理Ｓ２０１〜Ｓ２０５は、図７（ａ）のＳ１０１〜Ｓ１０５の処理と同様であるため、説明を省略する。ただし、図７（ａ）での「主走査」との文言を、図７（ｂ）では「副走査」と読み替える。
【００４３】
尚、ＣＰＵ２８がＳ１０３，Ｓ２０３の判断に用いる任意に定める規格値は、多くとも焦点深度の約半分の値としておけば、それ以上のピントずれ量が生じた場合にピント補正がかかることとなる。これにより、スライスレベルを越えるスポット径の肥大化を防ぐことが可能となる。例えば本実施例の場合、焦点深度に余裕のない端部像高の深度幅は約１．２ｍｍであるため（図４（ａ）参照（−０．６ｍｍ〜＋０．６ｍｍ））、この場合、規格値は０．６ｍｍ以下とすればよい。
【００４４】
［ピント補正を行うタイミング］
ピント補正を行うタイミングは、例えば、画像形成中に測定像高のピントずれ量を常に検知しつつ、ピントずれ量が規格値を超えた場合に画像形成を中断し、ピントずれ補正の調整モードに入ればよい。そして図７（ａ）、図７（ｂ）のフローチャートに従ってピント補正が終了した後、画像形成を再開すればよい。主走査ピント補正と副走査ピント補正は、ピントずれ補正の調整モード時に順番に行っても良いし、ピントずれ量が規格値を超えた方向の補正のみ行っても良い。
【００４５】
以上、本実施例では、ＡＦセンサ（ピントずれ検知手段）だけでなく、走査レンズ７、８の偏昇温をサーミスタセンサ（温度検知手段）で検知する構成である。これにより、画像領域像高全般にわたるピントずれの把握が可能となっており、従来に比べて高精度でスポット径を補正・保証できる効果がある。この構成を用いない場合、例えば、走査レンズ偏昇温によるピントずれの影響が最も顕著な両端像高でピントずれを検出し、偏昇温の影響を加味して補正する構成も考えられる。しかしピントずれ検知手段を両端像高に配置するため、感光ドラム面への走査可能領域が減少するという課題が生じるため、本実施例の構成の方が優位性がある。
【００４６】
尚、ピントずれ検知手段を全く設けず、光走査装置２０内に設けた複数の温度検知手段のみでピントずれ検知を行う構成も考えられる。しかしピントずれ現象は温度変化の検知で予測できる因子だけでなく、昇温によって光学部品の姿勢や、位置決め等が変動する要素も影響し、その量は光走査装置２０の固体によりばらつきが生じる。よってスポット小径化によって高精度なピント位置保証が求められる場合は、温度検知手段のみのピントずれ検知では信頼性が低下するおそれがある。このため、本実施例のようにピントずれ検知手段と温度検知手段とを設けた構成に優位性がある。このように、非画像領域像高に配置されたピントずれ検知手段だけでなく、画像領域像高でも自由に配置可能な温度検知手段を用い走査レンズの温度差を検知することで、画像領域像高全般にわたるピント補正が可能となる。
【００４７】
以上、本実施例によれば、簡易な構成で、画像領域像高全般にわたってスポット径の保証を実現することができる。
【実施例２】
【００４８】
実施例１は、昇温前の初期状態において像高間でのピント位置に差が生じる像面湾曲は想定せず、ピント位置の補正時もそれを考慮していない構成である。実際の光走査装置においては、光走査装置を構成する部品の公差ばらつきや光学部品の収差が原因で、昇温前の初期状態から少なからず像面湾曲の成分を保持している。その一例を図８（ａ）に示す。横軸は感光ドラム１９の長手方向である主走査像高（ｍｍ）、縦軸はピント位置（ｍｍ）を示している。図中、黒丸はスポット径が最も小径化している実ピント位置を表し、黒四角と白四角はスポット径のプラス方向及びマイナス方向のスライスレベルのピント位置を表している。即ち黒四角と白四角のレンジが焦点深度を表している（図４（ａ）等参照）。これをみると、像面湾曲の影響で実ピント位置（黒丸）が一定とはならず、像高間でうねりを持ち異なっていることがわかる。また一般的に端部像高の方が光学性能が劣化するため、焦点深度幅も中央像高（０ｍｍ）に比べて端部像高（例えば、±１６０ｍｍ）の方が狭く、重点的にスポット径を保証する必要があることがわかる。そこで本実施例では、昇温前の初期状態の像面湾曲による像高間のピント位置の差を加味し、ピント補正を行う。その補正原理を以下に述べる。
【００４９】
［初期状態に像面湾曲がある場合のピントずれ補正処理］
図８（ｂ）は光走査装置に像面湾曲がある場合の、ＡＦセンサ（１３、１４）が配置されたピントずれ検知像高と、それと反対の端部像高の昇温前の初期状態のデフォーカスカーブの一例である。ピントずれ検知像高（実線）においてはスポット径が感光ドラム面上（像面位置０ｍｍ）で最も集光している理想のピント位置状態となっているが、それと反対の端部像高（一点鎖線）においては像面湾曲によってピントずれｘが生じ、ピントずれ量がａとなっている。
【００５０】
ここで画像形成装置を稼動させた場合、画像形成装置及び光走査装置２０の昇温によって、ピントずれ検知像高と、それと反対の端部像高とも、昇温前の初期状態に対してピント位置がプラス方向、即ち感光ドラム１９の内側の方向にピントずれが生じる。その結果、図９（ａ）に示すように、ピントずれ検知像高ではピントずれ量がｂとなり、それと反対の端部像高ではピントずれ量がｃとなって、画像形成装置の稼働後の両像高のピント位置の差はｙとなる。この理由は前述の通りであるが、両像高のピント位置の差がｘからｙへと変化したのは、走査レンズ７、８の偏昇温により温度分布、即ち屈折率分布が存在したため、ピント位置の変化量に差が生じるからである。つまり偏昇温によるピント位置変化量をｋ（実施例１での相対差ｘに相当）とすると、
ｙ＝ｘ＋ｋ      （２）
として求めることができる。
【００５１】
ここで光走査装置２０が昇温前の初期状態の像面湾曲によるピント位置の差ｘを、工場出荷時の初期情報として保持していれば、像高間の温度差からｋは一意的に光学計算式で求められるので、ｙは（２）式で求めることができる。即ち、光走査装置２０の初期状態の像面湾曲によるピント位置の差ｘは、予め不図示のメモリ等（第二保持手段）に記憶しておく。即ち、初期状態の走査レンズ７、８の主走査方向における像面湾曲に関する情報を予め保持しておく。一方、ＣＰＵ２８は、サーミスタセンサ１５〜１８によりそれぞれの設置位置における温度を検知した結果、出力される温度データ信号に基づいて、ピント位置変化量ｋを求める（図６参照）。
【００５２】
またピントずれ検知像高のピントずれ量ｂは、前述のピントずれ検知原理に従って、光走査装置２０内に設けられたＡＦセンサ（１３、１４）によって検知することが可能である。即ち、ＣＰＵ２８は、ピントずれ検知センサ１４により検知された結果出力されるピントずれデータ信号に基づいて、ピントずれ検知像高のピントずれ量ｂを求める（図６参照）。一方、それと反対の端部像高のピントずれ量ｃは、
ｃ＝ｂ＋ｙ      （３）
として求めることができる。
【００５３】
以上より、ピントずれ検知像高と、それと反対の端部像高の、両者の昇温後のピント位置ｂ、ｃが検知可能である。このため、両像高を満足するピント補正としては、（ｂ＋ｃ）／２に相当するピント量の補正をＡＦ機構部２１が行い、図９（ｂ）のデフォーカスカーブの状態とすればよい。即ち複数像高のピント位置を平均化し、その量に相当するピント補正を行うことで、複数像高にわたる像面位置でのスポット径が保証されることになる。
【００５４】
尚、本実施例では、像面湾曲によるピント位置の差ｘを加味してピントずれ量を算出し、主走査シリンダーレンズ３又は副走査シリンダーレンズ４の移動量を決定するもので、実施例１で説明した図６、図７は援用可能であるため、説明を省略する。
【００５５】
以上、本実施例によれば、簡易な構成で、画像領域像高全般にわたってスポット径の保証を実現することができる。
【実施例３】
【００５６】
実施例１、２では、サーミスタセンサ（温度検知手段）を走査レンズ上に複数個備え、かつ１つのサーミスタセンサはＡＦセンサ（ピントずれ検知手段）が配置された像高に設ける構成である。それに対し本実施例では、光走査装置内にサーミスタセンサ（温度検知手段）を設けず、ポリゴンモータ（偏向走査装置）の駆動時間及び停止時間から走査レンズの偏昇温のプロファイルを予測していることに特徴がある。そして非画像領域像高に配置されたＡＦセンサの検知結果と偏昇温のプロファイル予測に基づいて、ピント補正を行う構成である。
【００５７】
尚、ポリゴンモータを駆動する基板上にはホール素子が設けられており、１回転するとＦＧ信号がある決まった回数、レーザ・ポリゴンモータ制御部２７に出力される。レーザ・ポリゴンモータ制御部２７（算出手段）は、入力されたＦＧ信号の入力回数を積算しておくことにより、概略のポリゴンモータの駆動時間を算出することが可能である。ＣＰＵ２８は、レーザ・ポリゴンモータ制御部２７からポリゴンモータの駆動時間に関する情報を入力される。また、ＣＰＵ２８は、不図示のタイマ（計測手段）によりポリゴンモータの停止時間を計測する。
【００５８】
［偏昇温のプロファイル予測］
図１０に本実施例における光走査装置２０の内部構成を示す。本実施例では、サーミスタセンサは光走査装置内に配置されておらず、瞳分割レンズ１３と、ピントずれ検知センサ１４から成るＡＦセンサが非画像領域像高に配置されている。その他、実施例１、２と同じ構成には同じ符号を付し、説明は省略する。ここで、ポリゴンモータ５が駆動と停止を繰り返した際に、走査レンズ７、８の両端部（第一所定位置、第二所定位置）における温度の時間変化を示した一例が図１１（ａ）である。図１１（ａ）は横軸が時間（分（ｍｉｎ））、縦軸が温度（℃）であり、サーミスタセンサ１５〜１８を実施例１、２と同様の位置に設置し、ポリゴンモータ５の駆動と停止を繰り返して、予め得たデータである。ここで、図１１（ａ）中、実線は外気の温度変化を示し、点線はサーミスタセンサ１５（図中、単にサーミスタ１５と記す、以下同様）の温度変化、一点鎖線はサーミスタセンサ１６の温度変化を示す。また、破線はサーミスタセンサ１７の温度変化、二点鎖線はサーミスタセンサ１８の温度変化を示す。このグラフから、ポリゴンモータ５の駆動の開始から停止までの時間である駆動時間、及び、ポリゴンモータ５の駆動の停止から開始までの時間である停止時間に応じて、走査レンズ両端部の温度差も変化することがわかる。
【００５９】
サーミスタセンサ１７、１８及びサーミスタセンサ１５、１６の温度勾配は、ポリゴンモータ５の回転方向やモータ回転による気流の影響により、機種毎に異なる。このようなポリゴンモータ５の駆動条件による走査レンズ７、８の温度変化データを様々な条件で予め計測しておけば、ポリゴンモータ５の駆動時間及び停止時間からある程度の走査レンズ７、８の偏昇温のプロファイル予測が可能となる。即ち、ある条件におけるポリゴンモータ５の駆動時間及び停止時間に基づいて、走査レンズ７、８の温度を推定し両端部の温度差、即ち両端部像高における温度差を推定することが可能となる。そしてこの予測変換データを予めＣＰＵ２８の不図示のメモリ等（第一保持手段）に保持しておく。即ち、ポリゴンモータ５の駆動時間及び停止時間と、走査レンズ７、８の両端部の温度差と、を対応付けた情報をメモリ等に保持しておく。これにより、図１０のように、光走査装置内にサーミスタセンサを設けない構成で、後述する方法を用いてピント補正を行うことが可能となる。尚、本実施例の偏昇温のプロファイル予測に関するデータの計測は、予め、例えば光走査装置の設計時や組み立て時に行う。
【００６０】
［ピントずれ補正処理］
本実施例のピントずれ補正を達成するための光走査装置２０の制御ブロック図を図１１（ｂ）に、主走査及び副走査方向のピント補正フローチャートを図１２（ａ）、図１２（ｂ）に示し、その補正処理を説明する。尚、図１１（ｂ）のブロック図において、実施例１、２で説明した図６のブロック図と異なる点は、図６のサーミスタセンサ１５〜１８を備えていない点である。また、ＣＰＵ２８の不図示のメモリには、走査レンズの偏昇温のプロファイル予測の予測変換データが保持されている点である。また、レーザ・ポリゴンモータ制御部２７が算出したポリゴンモータ５の駆動時間に関する情報はＣＰＵ２８に出力され、ＣＰＵ２８は例えば不図示のメモリ等にポリゴンモータ５の駆動時間に関する情報を記憶する。また、ＣＰＵ２８はポリゴンモータ５の停止時間に関する情報を不図示のタイマ等を参照し、不図示のメモリ等に記憶する。ここでの処理はＣＰＵ２８による制御で実行される。その他、実施例１、２と同じ構成には同じ符号を付し、説明は省略する。
【００６１】
（主走査方向のピントずれの補正処理）
図１２（ａ）のフローチャートにおいて、Ｓ３０１、Ｓ３０３〜Ｓ３０５の処理は、実施例１で説明した図７（ａ）の処理と同様であるため、説明を省略する。Ｓ３０２でＣＰＵ２８は、ポリゴンモータ５の駆動時間及び停止時間を不図示のメモリ等から読み出し、上述した予測変換データを用いて任意像高の走査レンズの偏昇温のプロファイルを予測する、即ち、任意像高の走査レンズの温度を推定する。そしてＣＰＵ２８は予測した偏昇温のプロファイルから走査レンズ７、８の両端の温度差を求め、求めた温度差から相対差ｘを求める。ＣＰＵ２８は、これらのデータに基づいて、任意の測定像高におけるピント位置を、実施例１に記載の方法に従って検知する。そしてＣＰＵ２８は、それらの像高におけるピントずれ量を求める。実施例１で説明したように、ピントずれ検知センサ１４の検知の結果出力されたピントずれデータ信号により、ピントずれ検知像高におけるピントずれ量ａが得られる。一方、ポリゴンモータ５の駆動時間及び停止時間から予測変換データを用いて走査レンズの任意像高例えば両端部像高の温度差がわかるので、相対差ｘを求めることができる。そして、式（１）よりピント位置ずれｂを求めることができる。
【００６２】
（副走査方向のピントずれの補正処理）
図１２（ｂ）の副走査方向のピントずれの補正処理Ｓ４０１〜Ｓ４０５は、図１２（ａ）のＳ３０１〜Ｓ３０５の処理と同様であるため、説明を省略する。ただし、図１２（ａ）での「主走査」との文言を、図１２（ｂ）では「副走査」と読み替える。
【００６３】
本実施例の構成では、実施例１、２のサーミスタセンサを用いた場合と比較して、複数像高におけるピントずれ量の検知精度は低下するおそれがある。しかしながら、ポリゴンモータの駆動条件による走査レンズの温度変化データのばらつきが少なければ、実施例１、２と同様の効果を得ることができる。またサーミスタセンサがない構成であるため、コストを削減できる。尚、サーミスタセンサを設けず、偏昇温のプロファイル予測からピントずれ量を求める構成は、初期状態から像面湾曲がある場合の実施例２についても適用可能であり、同様の効果を奏する。
【００６４】
以上、本実施例によれば、簡易な構成で、画像領域像高全般にわたってスポット径の保証を実現することができる。
【符号の説明】
【００６５】
１            半導体レーザ
３            主走査シリンダーレンズ
４            副走査シリンダーレンズ
７、８        走査レンズ
１４          ピントずれ検知センサ
１５〜１８    サーミスタセンサ
２０          光走査装置
２１          ＡＦ機構部
２８          ＣＰＵ
【図１】
2013120216.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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