【誤訳訂正書】
【提出日】平成28年8月9日(2016.8.9)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
イオン試料を分離及び識別するための周期場微分型電気移動度分析装置であって、
一連の細長い平行なチャネルであって、各チャネルが、第１の端部の入口及び第２の端部の出口を有し、各チャネルが、第１及び第２の平行な壁の間に囲まれ、各第１の壁が、前記第１の壁のスリット開口を提供するように配置される第１及び第２の電極プレートから形成され、各第２の壁が、前記第２の壁のスリット開口を提供するように配置される第３及び第４の電極プレートから形成され、前記第１及び第３の電極プレートが、互いに対向するチャネルを囲み、前記第２及び第４の電極プレートが、互いに対向するチャネルを囲み、隣接するチャネルが、共通の１つの壁の電極プレートを共有し、前記チャネルが、各壁のスリット開口を通じて流体連通し、各チャネルの前記スリット開口が位置合わせされる、一連の細長い平行なチャネルと、
前記一連の細長い平行なチャネルのそれぞれに沿ってガスを層状流にするように動作可能なポンプと、
ガス流と反対方向の電界Ｅｘを提供する各チャネルの前記第１の壁の前記第１及び第２の電極プレート間に印加され、前記第２の壁の前記第３及び第４の電極プレート間にも印加される第１の電圧降下と、
前記ガス流と垂直な方向の電界Ｅｙを提供する各チャネルの前記第１及び第３の電極プレート間に印加され、各チャネルの前記第２及び第４の電極プレート間にも印加され、前記電界Ｅｘ及び前記電界Ｅｙが、合成された電界の周期的な配置及び遅延ポテンシャル壁を構成する、第２の電圧降下と、
前記電界Ｅｙに対して最も遠い上流のチャネルの壁のスリットへのイオン試料を方向付けるための前記チャネルの外側に配置されるイオン源と、
検出器と、を備える分析装置。
【請求項２】
前記電界Ｅｙに対して最も遠い下流のチャネルの壁の出口スリットをさらに備える請求項１に記載の分析装置。
【請求項３】
１つのチャネルから前記電界Ｅｙに対して下流の１つのチャネルの入口へ出るガスを再循環する手段をさらに備える請求項１に記載の分析装置。
【請求項４】
各チャネルから前記電界Ｅｙに対して下流の隣接するチャネルの入口へ出るガスを再循環する手段をさらに備える請求項１に記載の分析装置。
【請求項５】
各チャネルの前記スリット開口は、前記チャネルの壁に垂直な方向に位置合わせされる請求項１に記載の分析装置。
【請求項６】
前記検出器は、前記ガス流の方向に対して前記イオン源から下流にあり、各チャネルの前記スリット開口は、前記チャネルの壁に垂直な方向に対して所定の角度で位置合わせされる請求項１に記載の分析装置。
【請求項７】
各チャネルの前記第１及び第３の電極プレートをグランド電位で維持し、前記検出器は、前記ガス流の方向に対して前記イオン源から下流にあり、各チャネルの前記スリット開口は、前記チャネルの壁に垂直な方向に対する所定の角度で位置合わせされる請求項１に記載の分析装置。
【請求項８】
前記検出器は、前記ガス流の方向に対して前記イオン源から上流にあり、各チャネルの前記スリット開口は、前記チャネルの壁に垂直な方向に対して所定の角度で位置合わせされる請求項１に記載の分析装置。
【請求項９】
前記一連の細長い平行なチャネルのチャネル数は、２から５０であり、前記第１の電圧降下は、０から２０００ボルトまで変化させることが可能である請求項１に記載の分析装置。
【請求項１０】
前記ポンプは、ガス流速を０．１から２５００Ｌ／ｍｉｎで調整するように動作可能であり、前記チャネルそれぞれのガス流速は、等しい請求項１に記載の分析装置。
【請求項１１】
前記イオン源は、ＭＡＬＤＩ、電気噴霧イオン化、レーザイオン化、熱噴霧イオン化、熱イオン化、電子イオン化、化学イオン化、誘導結合プラズマイオン化、グロー放電イオン化、電界脱離イオン化、高速原子衝撃イオン化、スパークイオン化、又はイオンアタッチメントイオン化によりイオンを発生する請求項１に記載の分析装置。
【請求項１２】
前記イオン源は、電圧バイアスされたタングステンワイヤーであり、前記検出器は、電流−電圧コンバータ、ガス増幅検出器、ダリ検出器、又は電荷検出器であり、前記分析装置は、５０以上の分解能を実現する請求項１に記載の分析装置。
【請求項１３】
イオン試料を分離及び識別するための周期場微分型電気移動度分析装置であって、
平行に配置されるチャネルを有する一連の微分型電気移動度分析装置であって、隣接する微分型電気移動度分析装置が共通の１つの壁を共有する、一連の微分型電気移動度分析装置と、
前記チャネルに沿ってガスを層状流にするように動作可能なポンプと、
ガス流とは反対方向の電界Ｅｘを提供するために各微分型電気移動度分析装置に印加される第１の電圧降下と、
前記ガス流と垂直な方向の電界Ｅｙを提供するために各微分型電気移動度分析装置に印加され、前記電界Ｅｘ及び前記電界Ｅｙが、合成された電界の周期的な配置及び遅延ポテンシャル壁を構成する、第２の電圧降下と、
前記電界Ｅｙに対して最も遠い上流のチャネルの壁のスリットを通じてイオン試料を方向付けるための前記チャネルの外側に配置されるイオン源と、
検出器と、を備える分析装置。
【請求項１４】
前記電界Ｅｙに対して最も遠い下流のチャネルの壁の出口スリットをさらに備える請求項１３に記載の分析装置。
【請求項１５】
１つのチャネルから前記電界Ｅｙに対して下流の１つチャネルの入口へ出るガスを再循環する手段をさらに備える請求項１３に記載の分析装置。
【請求項１６】
各チャネルから前記電界Ｅｙに対して下流の隣接するチャネルの入口へ出るガスを再循環する手段をさらに備える請求項１３に記載の分析装置。
【請求項１７】
前記チャネルのスリット開口は、前記チャネルの壁に垂直な方向に位置合わせされる請求項１３に記載の分析装置。
【請求項１８】
前記検出器は、前記ガス流の方向に対して前記イオン源から下流にあり、前記チャネルのスリット開口は、前記チャネルの壁に垂直な方向に対して所定の角度で位置合わせされる請求項１３に記載の分析装置。
【請求項１９】
前記検出器は、前記ガス流の方向に対して前記イオン源から上流にあり、前記チャネルのスリット開口は、前記チャネルの壁に垂直な方向に対して所定の角度で位置合わせされる請求項１３に記載の分析装置。
【請求項２０】
前記チャネルの数は、２から２０であり、前記第１の電圧降下は、０から２０００ボルトまで変化させることが可能である請求項１３に記載の分析装置。
【請求項２１】
前記ポンプは、ガス流速を０．１から２５００Ｌ／ｍｉｎで調整するように動作可能であり、前記チャネルそれぞれのガス流速は、等しい請求項１３に記載の分析装置。
【請求項２２】
前記イオン源は、ＭＡＬＤＩ、電気噴霧イオン化、レーザイオン化、熱噴霧イオン化、熱イオン化、電子イオン化、化学イオン化、誘導結合プラズマイオン化、グロー放電イオン化、電界脱離イオン化、高速原子衝撃イオン化、スパークイオン化、又はイオンアタッチメントイオン化によりイオンを発生する請求項１３に記載の分析装置。
【請求項２３】
前記イオン源は、電圧バイアスされたタングステンワイヤーであり、前記検出器は、電流−電圧コンバータ、ガス増幅検出器、ダリ検出器、又は電荷検出器であり、前記分析装置は、５０以上の分解能を実現する請求項１３に記載の分析装置。
【請求項２４】
イオン試料を分離及び識別する方法であって、
一連の細長い平行なチャネルを提供するステップであって、各チャネルが、第１の端部の入口及び第２の端部の出口を有し、各チャネルが、第１及び第２の平行な壁の間に囲まれ、各第１の壁が、前記第１の壁のスリット開口を提供するように配置される第１及び第２の電極プレートから形成され、各第２の壁が、前記第２の壁のスリット開口を提供するように配置される第３及び第４の電極プレートから形成され、前記第１及び第３の電極プレートが、互いに対向するチャネルを囲み、前記第２及び第４の電極プレートが、互いに対向するチャネルを囲み、隣接するチャネルが、共通の１つの壁の電極プレートを共有し、前記チャネルが、各壁のスリット開口を通じて流体連通し、各チャネルの前記スリット開口が位置合わせされる、ステップと、
前記一連の細長い平行なチャネルのそれぞれに沿ってガスを層状流にするためのポンプを動作するステップと、
ガス流と反対方向の電界Ｅｘを提供する各チャネルの前記第１の壁の前記第１及び第２の電極プレート間に第１の電圧降下を印加し、前記第２の壁の前記第３及び第４の電極プレート間にも前記第１の電圧降下を印加するステップと、
前記ガス流と垂直な方向の電界Ｅｙを提供する各チャネルの前記第１及び第３の電極プレート間に第２の電圧降下を印加し、各チャネルの前記第２及び第４の電極プレート間にも前記第２の電圧降下を印加し、前記電界Ｅｘ及び前記電界Ｅｙが、合成された電界の周期的な配置及び遅延ポテンシャル壁を構成する、ステップと、
イオン源から前記電界Ｅｙに対して最も遠い上流のチャネルの壁のスリットへイオン試料を方向付けるステップと、
前記イオン試料を検出するステップと、を備える方法。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１７】
本発明は、イオン試料を分離及び識別するための周期場微分型電気移動度分析装置を含み、一連の細長い平行なチャネルであって、各チャネルが、第１の端部の入口及び第２の端部の出口を有し、各チャネルが、第１及び第２の平行な壁の間に囲まれ、各第１の壁が、前記第１の壁のスリット開口を提供するように配置される第１及び第２の電極プレートから形成され、各第２の壁が、前記第２の壁のスリット開口を提供するように配置される第３及び第４の電極プレートから形成され、前記第１及び第３の電極プレートが、互いに対向するチャネルを囲み、前記第２及び第４の電極プレートが、互いに対向するチャネルを囲み、隣接するチャネルが、共通の１つの壁の電極プレートを共有し、前記チャネルが、各壁のスリット開口を通じて流体連通し、各チャネルの前記スリット開口が位置合わせされる、一連の細長い平行なチャネルと、前記一連の細長い平行なチャネルのそれぞれに沿ってガスを層状流にするように動作可能なポンプと、前記ガス流と反対方向の電界Ｅｘを提供する各チャネルの前記第１の壁の前記第１及び第２の電極プレート間に印加され、前記第２の壁の前記第３及び第４の電極プレート間にも印加される第１の電圧降下と、前記ガス流と垂直な方向の電界Ｅｙを提供する各チャネルの前記第１及び第３の電極プレート間に印加され、各チャネルの前記第２及び第４の電極プレート間にも印加され、前記電界Ｅｘ及び前記電界Ｅｙが、合成された電界の周期的な配置及び遅延ポテンシャル壁を構成する、第２の電圧降下と、前記電界Ｅｙに対して最も遠い上流のチャネルの壁のスリットへのイオン試料を方向付けるための前記チャネルの外側に配置されるイオン源と、検出器と、を備える分析装置。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３２】
別の態様では、本発明は、イオン試料を分離及び識別するための周期場微分型電気移動度分析装置であって、平行に配置されるチャネルを有する一連の微分型電気移動度分析装置であって、隣接する微分型電気移動度分析装置が１つの共通の壁を共有する、一連の微分型電気移動度分析装置と、前記チャネルに沿ってガスを層状流にするように動作可能なポンプと、前記ガス流とは反対方向の電界Ｅｘを提供するために各微分型電気移動度分析装置に印加される第１の電圧降下と、前記ガス流と垂直な方向の電界Ｅｙを提供するために各微分型電気移動度分析装置に印加され、前記電界Ｅｘ及び前記電界Ｅｙが、合成された電界の周期的な配置及び遅延ポテンシャル壁を構成する、第２の電圧降下と、前記電界Ｅｙに対して最も遠い上流のチャネルの壁のスリットを通じてイオン試料を方向付けるための前記チャネルの外側に配置されるイオン源と、検出器と、を備える分析装置を提供する。
【誤訳訂正４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３３】
本発明は、さらに、イオン試料を分離及び識別する方法であって、一連の細長い平行なチャネルを提供するステップであって、各チャネルが、第１の端部の入口及び第２の端部の出口を有し、各チャネルが、第１及び第２の平行な壁の間に囲まれ、各第１の壁が、前記第１の壁のスリット開口を提供するように配置される第１及び第２の電極プレートから形成され、各第２の壁が、前記第２の壁のスリット開口を提供するように配置される第３及び第４の電極プレートから形成され、前記第１及び第３の電極プレートが、互いに対向するチャネルを囲み、前記第２及び第４の電極プレートが、互いに対向するチャネルを囲み、隣接するチャネルが、共通の壁の電極プレートを共有し、前記チャネルが、各壁のスリット開口を通じて流体連通し、各チャネルの前記スリット開口が位置合わせされる、ステップと、前記一連の細長い平行なチャネルのそれぞれに沿ってガスを層状流にするためのポンプを動作するステップと、前記ガス流と反対方向の電界Ｅｘを提供する各チャネルの前記第１の壁の前記第１及び第２の電極プレート間に第１の電圧降下を印加し、前記第２の壁の前記第３及び第４の電極プレート間にも前記第１の電圧降下を印加するステップと、前記ガス流と垂直な方向の電界Ｅｙを提供する各チャネルの前記第１及び第３の電極プレート間に第２の電圧降下を印加し、各チャネルの前記第２及び第４の電極プレート間にも前記第２の電圧降下を印加し、前記電界Ｅｘ及び前記電界Ｅｙが、合成された電界の周期的な配置及び遅延ポテンシャル壁を構成する、ステップと、イオン源から前記電界Ｅｙに対して最も遠い上流のチャネルの壁のスリットへイオン試料を方向付けるステップと、前記イオン試料を検出するステップと、を備える方法を意図する。
【誤訳訂正５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３５】
【図１】図１は、従来の平面状の微分型電気移動度分析装置の図を示す。
【図２】図２は、従来のマルチ−スリット／マルチギャップ微分型電気移動度分析装置の図を示す。
【図３】図３は、本発明の周期場微分型電気移動度分析装置の実施形態の図を示す。
【図４】図４は、周期場微分型電気移動度分析装置（共通電圧分析装置）の実施形態の遅延ポテンシャル壁及び周期場効果の図を示す。
【図５】図５は、周期場微分型電気移動度分析装置の別の実施形態の図を示す。
【図６】図６は、イオン軌道計算から得られるシミュレートされたイオン移動度スペクトルを示す。図６では、条件は、ｍ／ｚ２５０、７６０Ｔｏｒｒの空気、７．５ｍｍの全体長さ、２ｋＶ総電圧降下であった。
【図７】図７は、周期場微分型電気移動度分析装置（共通電圧）の実施形態の図を示す。検出器は、発生源から下流にある。
【図８】図８は、共通電圧構成に配置されるＰＦＤＭＡの動作原理を示すためのイオン軌道計算を示す。
【図９】図９は、検出器がイオン化源の上流に配置されるＰＦＤＭＡの別の実施形態の図を示す。
【図１０】図１０は、ＰＦＤＭＡにより得られるイオン移動度スペクトルを示す。図１０ａは、出口スリットのない放電で形成される空気イオンをサンプリングする４つのチャネルプロトタイプＰＦＤＭＡを用いて得られたイオン移動度スペクトルを示す。図１０ｂは、出口スリットによる放電で形成される空気イオンをサンプリングする４つのチャネルプロトタイプＰＦＤＭＡを用いて得られたイオン移動度スペクトルを示す。
【図１１】図１１は、ＰＦＤＭＡにより得られたイオン移動度スペクトルを示す。図１１ａは、出口スリットのない放電で形成される空気イオンをサンプリングする５つのチャネルプロトタイプＰＦＤＭＡを用いて得られたイオン移動度スペクトルを示す。装置は、２ナノアンペアの電流よりも大きいイオン信号を生成する高イオン透過モードで動作している。図１１ｂは、出口スリットによる放電で形成される空気イオンをサンプリングする５つのチャネルプロトタイプＰＦＤＭＡを用いて得られたイオン移動度スペクトルを示す。装置は、高分解能モード（図１１ａに示されるものよりも高電圧及び高ガス流速）で動作している。
【図１２ａ】図１２は、コンピュータ制御されたＰＦＤＭＡにより得られるイオン移動度スペクトルを示す。図１２ａは、６つのチャネルプロトタイプＰＦＤＭＡを用いて得られる、重ね合わせたイオン移動度スペクトルを示す。２つのイオン移動度スペクトルは、同一実験条件下での室内気へのアセトン蒸気の追加あり又は追加なしで記録された。１０のスペクトルは、３００ボルトに亘って１ボルトステップで２０ｍｓごとに平均化される。
【図１２ｂ】図１２ｂは、６つのチャネルプロトタイプＰＦＤＭＡを用いて得られる重ね合わせたイオン移動度スペクトルを示す。実験条件は、図１２ａを得るために用いられたものと同様であるが、ソース条件は、より多くのアセトンクラスタイオンを生成する。
【図１２ｃ】図１２ｃは、６つのチャネルプロトタイプＰＦＤＭＡを用いて得られる重ね合わせたイオン移動度スペクトルを示す。装置は、高分解能モードで動作しており、これは、図１２ａに示されるものよりも高い電圧及び高いガス流速であった。
【図１２ｄ】図１２ｄは、６つのチャネルプロトタイプＰＦＤＭＡを用いて得られる重ね合わせたイオン移動度スペクトルを示す。装置は、高分解能モードで動作しており、これは、図１２ａに示されるものよりも高い電圧及び高いガス流速であり、空間電荷効果を制限することにより分解能を増大させるために図１２ｃに示されるものよりも少量のイオンが装置に入るのを許可される。
【誤訳訂正６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３９】
図４に示されるように、遅延ポテンシャル壁（ｒｅｔａｒｄｉｎｇ  ｐｏｔｅｎｔｉａｌ  ｗａｌｌ）は、装置の中央に形成され、イオンが、ガス流に垂直及び反対向きの連続した周期電界によりガイドされる。
【誤訳訂正７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４４】
本発明の別の実施形態では、遅延ポテンシャル壁は、電圧のみが必要とされるような所定の角度でのガス流方向とは反対に形成されてもよい。
【誤訳訂正８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４５】
図７は、周期場微分型電気移動度分析装置１（共通電圧）の実施形態の図を示す。イオン源２は、連続的なイオンビームが、電界の適切な配置を用いて方向付けられ、チャネル１０に続いてチャネル５に入る入口スリット３の外側に配置される。図７に示される実施形態は、図３に示されるＰＦＤＭＡとは異なり、これは、少なくとも、図７に示される実施形態においてある連続した電極にある電圧のみが印加されるためである。例えば、共通電位は、プレート４、８及び９に印加されうるが、プレート６及び７は、グランド電位で保持される。また、遅延ポテンシャル壁は、電圧のみが必要とされるような所定の角度でのガス流方向とは反対に形成される。