(57)【要約】【課題】キズ補正処理によるＳ／Ｎ比の劣化を回避する。【解決手段】画像処理装置は、露光された状態で撮像手段により撮影された本画像データ４２１と、遮光された状態で撮像手段により撮影された黒画像データ４２５とを取得する。そして画像処理装置は、撮像手段の複数の画素のうちキズがない画素に対応する黒画像データ４２５を本画像データ４２１から減算せず、キズがある画素に対応する黒画像データ４２５を本画像データ４２１から減算する。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素が配列された撮像手段によって撮影された画像データを処理する画像処理装置であって、
露光された状態で前記撮像手段により撮影された第１の画像データと、遮光された状態で前記撮像手段により撮影された第２の画像データとを取得する取得手段と、
前記複数の画素のうちキズがない画素に対応する前記第２の画像データを前記第１の画像データから減算せず、前記複数の画素のうちキズがある画素に対応する前記第２の画像データを前記第１の画像データから減算するキズ補正処理を実行する処理手段とを有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記処理手段は、前記第１の画像データの撮影時における撮影条件に応じて、前記キズ補正処理を実行することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記処理手段は、前記第１の画像データのレベルが飽和する撮影条件で撮影された場合、前記第２の画像データを前記第１の画像データから減算する処理を実行しないことを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記キズがある画素の位置は、予め示されていることを特徴とする請求項１乃至３の何れか１項に記載の画像処理装置。
【請求項５】
複数の画素が配列された撮像手段によって撮影された画像データを処理する画像処理方法であって、
露光された状態で前記撮像手段により撮影された第１の画像データと、遮光された状態で前記撮像手段により撮影された第２の画像データとを取得する取得ステップと、
前記複数の画素のうちキズがない画素に対応する前記第２の画像データを前記第１の画像データから減算せず、前記複数の画素のうちキズがある画素に対応する前記第２の画像データを前記第１の画像データから減算するキズ補正処理を実行する処理ステップとを有することを特徴とする画像処理方法。
【請求項６】
複数の画素が配列された撮像手段によって撮影された画像データを処理する画像処理方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
露光された状態で前記撮像手段により撮影された第１の画像データと、遮光された状態で前記撮像手段により撮影された第２の画像データとを取得する取得ステップと、
前記複数の画素のうちキズがない画素に対応する前記第２の画像データを前記第１の画像データから減算せず、前記複数の画素のうちキズがある画素に対応する前記第２の画像データを前記第１の画像データから減算するキズ補正処理を実行する処理ステップとをコンピュータに実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の画素が配列された撮像手段によって撮影された画像データを処理する技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、家庭用ビデオカメラやデジタルスチルカメラ等の撮像装置が一般に普及している。これらの撮像装置に搭載される撮像素子の画素数は数百万から一千万個超もあり、また、半導体ウエハには一定の割合である程度の基板欠損が必ず存在する。従って、量産時において１つでも点欠陥画素がある撮像素子の全てを不良品にすると、歩留まりが著しく低下して製造コストを引き上げてしまうので、ある程度点欠陥画素があるものでも良品にすることにより歩留まりを向上させ、製造コストを抑えている。
【０００３】
このような点欠陥画素を補正する従来技術として、一般的には本画像データを撮影した後に黒画像データを撮影し、黒画像データを本画像データから減算することで点欠陥画素（キズ）を補正する黒引き撮影処理がある。特許文献１には、撮像素子に含まれる欠陥画素（キズ）の位置及びその出力信号に含まれる欠陥成分レベルのデータを記憶しておき、電荷蓄積時間や撮影時温度に応じて欠陥量を予測して補正を行う技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００８−１８７２５５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１に開示される技術では、画素数が増大するに従って欠陥画素は増える傾向にあるため、欠陥成分レベルのデータを記憶するメモリを圧迫するという問題がある。また、黒引き撮影処理は、黒画像データにもランダムノイズ成分が含まれているため、黒画像データを本画像データから減算した後、欠陥のない画素にまでランダムノイズが付加されてしまう問題がある。
【０００６】
また、欠陥成分レベルを予測するには、撮像素子の温度を正確に測定しなければならない。しかし、撮像素子の外部に温度センサを配置しても、内部の温度を正確に測定することは難しく、欠陥成分レベルの正確な予測は難しいため、欠陥成分が残ってしまい、画質を損なっている。
【０００７】
そこで、本発明の目的は、キズ補正処理によるＳ／Ｎ比の劣化を回避することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の画像処理装置は、複数の画素が配列された撮像手段によって撮影された画像データを処理する画像処理装置であって、露光された状態で前記撮像手段により撮影された第１の画像データと、遮光された状態で前記撮像手段により撮影された第２の画像データとを取得する取得手段と、前記複数の画素のうちキズがない画素に対応する前記第２の画像データを前記第１の画像データから減算せず、前記複数の画素のうちキズがある画素に対応する前記第２の画像データを前記第１の画像データから減算するキズ補正処理を実行する処理手段とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、キズ補正処理によるＳ／Ｎ比の劣化を回避することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の実施形態に係る画像処理装置の構成を示す図である。
【図２】本発明の実施形態に係る画像処理装置の撮影処理を示すフローチャートである。
【図３】撮影条件である温度及びシャッタ速度に対応する撮影処理を管理するためのテーブルの例を示す図である。
【図４】欠陥画素補正処理の流れを示す図である。
【図５】欠陥画素アドレスデータによって示される画素を周辺画素から補間する処理を概念的に示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明を適用した好適な実施形態を、添付図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１２】
図１は、本発明の実施形態に係る画像処理装置の構成を示す図である。図１において、１００は、本実施形態に係る画像処理装置である。１０は撮影レンズである。１２は、後述する撮像素子に対する露光及び遮光を制御する絞り機能を備える機械式シャッタである。１４は、複数の画素が配列され、光学像を電気信号に変換する撮像素子である。１６は、撮像素子１４から出力されるアナログ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器である。１８は、撮像素子１４、Ａ／Ｄ変換器１６、Ｄ／Ａ変換器２６にクロック信号や制御信号を供給するタイミング発生回路であり、メモリ制御回路２２及びシステム制御回路５０により制御される。なお、撮像素子１４のリセットタイミングを制御することによって電荷の蓄積時間を制御し、電子シャッタとして動画撮影等に使用することが可能である。
【００１３】
２０は、画像処理回路であり、Ａ／Ｄ変換器１６から入力した画像データ又はメモリ制御回路２２から入力した画像データに対して所定の画素補間処理や色変換処理を行う。また、画像処理回路２０によって画像データの切り出し、変倍処理を行うことで電子ズーム機能が実現される。また、画像処理回路２０においては、撮像された画像データを用いて所定の演算処理を行い、得られた演算結果に基づいてシステム制御回路５０が露光制御部４０、測距制御部４２に対して制御を行う、ＴＴＬ方式のＡＦ処理、ＡＥ処理、ＥＦ処理を行っている。さらに、画像処理回路２０においては、撮像された画像データを用いて所定の演算処理を行い、得られた演算結果に基づいてＴＴＬ方式のＡＷＢ（オートホワイトバランス）処理も行っている。
【００１４】
２２は、メモリ制御回路であり、Ａ／Ｄ変換器１６、タイミング発生回路１８、画像処理回路２０、画像表示メモリ２４、Ｄ／Ａ変換器２６、メモリ３０、圧縮・伸長回路３２を制御する。Ａ／Ｄ変換器１６のデータが画像処理回路２０、メモリ制御回路２２を介して、又は、Ａ／Ｄ変換器１６のデータが直接メモリ制御回路２２を介して、画像表示メモリ２４又はメモリ３０に書き込まれる。
【００１５】
２４は、画像表示メモリである。２６は、Ｄ／Ａ変換器である。２８は、ＴＦＴ ＬＣＤ等から成る画像表示部であり、画像表示メモリ２４に書き込まれた表示用の画像データはＤ／Ａ変換器２６を介して画像表示部２８により表示される。画像表示部２８を用いて撮像された画像データを逐次表示することにより、電子ファインダ機能を実現することが可能である。また、画像表示部２８は、システム制御回路５０の指示により任意に表示をＯＮ／ＯＦＦすることが可能であり、表示をＯＦＦにした場合には画像処理装置１００の電力消費を大幅に低減することができる。
【００１６】
３０は、撮影された静止画像データや動画像データを格納するためのメモリであり、所定枚数の静止画像データや所定時間の動画像データを格納するのに十分な記憶量を備えている。これにより、複数枚の静止画像データを連続して撮影する連射撮影やパノラマ撮影の場合にも、高速且つ大量の画像データの書き込みをメモリ３０に対して行うことが可能となる。またメモリ３０は、システム制御回路５０の作業領域としても使用することが可能である。
【００１７】
３２は、適応離散コサイン変換（ＡＤＣＴ）等により画像データを圧縮伸長する圧縮伸長回路であり、メモリ３０に格納された画像データを読み込んで圧縮処理又は伸長処理を行い、処理を終えたデータをメモリ３０に書き込む。４０は、絞り機能を備えるシャッタ１２を制御する露光制御部であり、フラッシュ４８と連携することによりフラッシュ調光機能も有するものである。
【００１８】
４２は、撮影レンズ１０のフォーカシングを制御する測距制御部である。４４は、撮影レンズ１０のズーミングを制御するズーム制御部である。４６は、バリアである保護部１０２の動作を制御するバリア制御部である。
【００１９】
４８は、フラッシュであり、ＡＦ補助光の投光機能及びフラッシュ調光機能を有する。露光制御部４０及び測距制御部４２は、ＴＴＬ方式を用いて制御され、システム制御回路５０は、撮像された画像データに対する画像処理回路２０による演算結果に基づき、露光制御部４０及び測距制御部４２に対して制御を行う。５０は、画像処理装置１００全体を制御するシステム制御回路である。５２は、システム制御回路５０の動作用の定数、変数及びプログラム等を記憶するメモリである。
【００２０】
５４は、システム制御回路５０でのプログラムの実行に応じて、文字、画像及び音声等を用いて動作状態やメッセージ等を表示する液晶表示装置又はスピーカ等の表示部である。表示部５４は、画像処理装置１００の操作部近辺の視認し易い位置に設置され、例えばＬＣＤ、ＬＥＤ及び発音素子等の組み合わせにより構成される。
【００２１】
また、表示部５４は、その一部の機能が光学ファインダ１０４内に設置されている。表示部５４の表示内容のうち、ＬＣＤ等に表示するものとしては、シングルショット／連写撮影表示、セルフタイマ表示、圧縮率表示、記録画素数表示、記録枚数表示、残撮影可能枚数表示、シャッタスピード表示、絞り値表示、露出補正表示、フラッシュ表示、赤目緩和表示、マクロ撮影表示等がある。また、ブザー設定表示、電池残量表示、エラー表示、複数桁の数字による情報表示、記録媒体２００及び２１０の着脱状態表示、通信Ｉ／Ｆ動作表示等も可能である。
【００２２】
また、表示部５４の表示内容のうち、光学ファインダ１０４内に表示するものとしては、合焦表示、手振れ警告表示、フラッシュ充電表示、シャッタスピード表示、絞り値表示、露出補正表示、等がある。
【００２３】
５６は、電気的に消去及び記録可能な不揮発性メモリであり、例えばＥＥＰＲＯＭ等が用いられる。６０、６２、６４、６６、７０、７２及び７４は、システム制御回路５０の各種の動作指示を入力するための操作手段であり、スイッチやダイアル、タッチパネル、視線検知によるポインティング、音声認識装置等の単数或いは複数の組み合わせで構成される。
【００２４】
ここで、これらの操作手段の具体的な説明を行う。６０はモードダイアルスイッチであり、電源オフ、自動撮影モード、撮影モード、パノラマ撮影モード、動画撮影モード、再生モード、マルチ画面再生・消去モード、ＰＣ接続モード、テレビ受信モード等の各機能モードを切り替え設定することができる。
【００２５】
６２は、シャッタスイッチＳＷ１であり、シャッタボタンの操作途中でＯＮとなり、ＡＦ（オートフォーカス）処理、ＡＥ（自動露出）処理、ＡＷＢ（オートホワイトバランス）処理、ＥＦ（フラッシュプリ発光）処理等の動作開始を指示する。
【００２６】
６４は、シャッタスイッチＳＷ２であり、シャッタボタンの操作完了でＯＮとなる。シャッタイスイッチＳＷ２は、撮像素子１２から読み出した信号をＡ／Ｄ変換器１６、メモリ制御回路２２を介してメモリ３０に画像データを書き込む露光処理、画像処理回路２０やメモリ制御回路２２での演算を用いた現像処理、メモリ３０から画像データを読み出し、圧縮・伸長回路３２で圧縮を行う、次に記録媒体２００又は２１０に画像データを書き込む記録処理という一連の処理の動作開始を指示する。
【００２７】
６６は、表示切替スイッチであり、画像表示部２８の表示切り替えを指示する。この機能により、光学ファインダ１０４を用いて撮影を行う際に、ＴＦＴ ＬＣＤ等から成る画像表示部への電流供給を遮断することにより、省電力を図ることが可能となる。
【００２８】
７０は、各種ボタンやタッチパネル等からなる操作部であり、メニューボタン、セットボタン、マクロボタン、マルチ画面再生改ページボタン、フラッシュ設定ボタン、単写／連写／セルフタイマ切り替えボタン等がある。また、メニュー移動＋（プラス）ボタン、メニュー移動−（マイナス）ボタン、再生画像移動＋（プラス）ボタン、再生画像−（マイナス）ボタン、撮影画質選択ボタン、露出補正ボタン、日付／時間設定ボタン等もある。
【００２９】
７２は、ユーザが撮像画像の倍率変更指示を行うズーム操作手段としてのズームスイッチ部である。ズームスイッチ７２は、撮像画角を望遠側に変更させるテレスイッチと、広角側に変更させるワイドスイッチとから構成される。このズームスイッチ７２を用いることにより、ズーム制御部４４に撮影レンズ１０の撮像画角の変更を指示し、光学ズーム操作を行うトリガとなる。また、ズームスイッチ７２を用いることにより、画像処理回路２０による画像データの切り出しや、画素補間処理等による撮像画角の電子的な変更のトリガともなる。７４は被写体検出部であり、被写体を検出する素子等で構成される。被写体の検出方法としては被写体の顔を検出する方法等が挙げられる。
【００３０】
８０は、電源制御部であり、電池検出回路、ＤＣ−ＤＣコンバータ、通電するブロックを切り替えるスイッチ回路等により構成されており、電池の装着の有無、電池の種類、電池残量の検出を行う。また、検出結果及びシステム制御回路５０の指示に基づいてＤＣ−ＤＣコンバータを制御し、必要な電圧を必要な期間、記録媒体を含む各部へ供給する。
【００３１】
８２及び８４はコネクタである。８６は、アルカリ電池やリチウム電池等の一次電池やＮｉＣｄ電池やＮｉＭＨ電池、Ｌｉ電池等の二次電池、ＡＣアダプタ等からなる電源手段である。
【００３２】
９０及び９４は、メモリカードやハードディスク等の記録媒体とのインタフェースである。９２及び９６は、メモリカードやハードディスク等の記録媒体と接続を行うコネクタである。
【００３３】
なお、本実施形態では、記録媒体を取り付けるインタフェース及びコネクタを２系統持つものとして説明している。もちろん、記録媒体を取り付けるインタフェース及びコネクタは、単数或いは複数、いずれの系統数を備える構成としても構わない。また、異なる規格のインタフェース及びコネクタを組み合わせて備える構成としても構わない。インタフェース及びコネクタとしては、ＳＤカードやＣＦカード等の規格に準拠したものを用いて構成して構わない。
【００３４】
さらに、インタフェース９０及び９４、そしてコネクタ９２及び９６をＰＣＭＣＩＡカードやＣＦ（コンパクトフラッシュ（登録商標））カード等の規格に準拠したものを用いて構成することも可能である。即ち、ＬＡＮカード、モデムカード、ＵＳＢカード、ＩＥＥＥ１３９４カード、ＳＣＳＩカード又はＰＨＳ等の通信カードを接続することにより、他のコンピュータやプリンタ等の周辺機器との間で画像データや画像データに付属した管理情報を転送し合うことができる。
【００３５】
１０２は、画像処理装置１００のレンズ１０を含む撮像部を覆うことにより、撮像部の汚れや破損を防止するバリアである保護手段である。
【００３６】
１０４は、光学ファインダであり、画像表示部２８による電子ファインダ機能を使用することなしに、光学ファインダのみを用いて撮影を行うことが可能である。また、光学ファインダ１０４内には、表示部５４の一部の機能、例えば、合焦表示、手振れ警告表示、フラッシュ充電表示、シャッタスピード表示、絞り値表示、露出補正表示などが設置されている。
【００３７】
１１０は、通信部であり、ＵＳＢ、ＩＥＥＥ１３９４、ＬＡＮ又は無線通信等の各種通信機能を有する。１１２は、通信手段１１０により画像処理装置１００を他の機器と接続するコネクタ或いは無線通信の場合はアンテナである。
【００３８】
２００は、メモリカードやハードディスク等の記録媒体である。記録媒体２００は、半導体メモリや磁気ディスク等から構成される記録部２０２、画像処理装置１００とのインタフェース２０４、及び、画像処理装置１００と接続を行うコネクタ２０６を備えている。２１０は、メモリカードやハードディスク等の記録媒体である。記録媒体２１０は、半導体メモリや磁気ディスク等から構成される記録部２１２、画像処理装置１００とのインタフェース２１４、及び、画像処理装置１００と接続を行うコネクタ２１６を備えている。
【００３９】
図２は、本実施形態に係る画像処理装置１００の撮影処理を示すフローチャートである。図２に示す撮影処理は、シャッタスイッチＳＷ２（６４）が押下されることにより実行される。
【００４０】
ステップＳ１０１において、システム制御回路５０は、撮影時の撮影条件として温度Ｔ及びシャッタ速度Ｔｖを取得する。ステップＳ１０２において、システム制御回路５０は、撮影時の撮影条件に基づいてノイズ処理タイプを判定する。即ち、ステップＳ１０２におけるノイズ処理判定では、システム制御回路５０は、例えば図３に示すようなテーブルを参照し、温度Ｔとシャッタ速度Ｔｖとの関係からノイズ処理タイプを決定する。ステップＳ１０２のノイズ処理判定において、黒引き撮影処理と判定された場合、処理はステップＳ１０３に移行する。ステップＳ１０３において、システム制御回路５０は、黒引き撮影処理を実行するように制御する。一方、ステップＳ１０２におけるノイズ処理判定において、通常撮影処理と判定された場合、処理はステップＳ１０４に移行する。ステップＳ１０４において、システム制御回路５０は、通常撮影処理を実行するように制御する。一方、ステップＳ１０２におけるノイズ処理判定において、適応黒引き撮影処理と判定された場合、処理はステップＳ１０５に移行する。ステップＳ１０５において、システム制御回路５０は、適応黒引き撮影処理を実行するように制御する。
【００４１】
図３は、本画像データの撮影時の撮影条件である温度Ｔ及びシャッタ速度Ｔｖに対応する撮影処理を管理するためのテーブルの例を示す図である。図３の例では、撮影条件として温度Ｔが３０度以上５０度未満であり、且つシャッタ速度が１／８０以上１／８未満である場合、当該撮影条件に対応するノイズ処理タイプは、適応黒引き撮影処理であることが示されている。
【００４２】
ノイズ処理タイプとして通常撮影処理が選択されるような撮影条件、即ち、本画像データのレベルが飽和する撮影条件では、キズ（欠陥画素）が比較的目立ちにくい状況である。そのため、予め記憶されたキズ（欠陥画素）アドレスデータにより示される欠陥画素のうち、キズの程度が悪い画素のみが補正対象とされる。
【００４３】
図４（ａ）は、ノイズ処理タイプが通常撮影処理である場合のキズ（欠陥画素）補正処理の流れを示している。以下、図４（ａ）を参照しながら、ノイズ処理タイプが通常撮影処理である場合のキズ補正処理について説明する。先ずシステム制御回路５０は、通常通りに撮影された本画像データ４０１をメモリ３０に保存する。次にシステム制御回路５０は、本画像データ４０１のうち、予め記憶されたキズアドレスデータ４０２によって示される欠陥画素の画像データを、周辺画素の画像データによって補間する。これにより、キズ補正処理が施された画像データ（以下、処理画像データと称す）４０４が生成される。
【００４４】
図５は、欠陥画素アドレスデータによって示される欠陥画素の画像データを周辺画素の画像データによって補間する処理を概念的に示す図である。図５の中央に欠陥画素アドレスデータによって示される欠陥画素５０１がある場合、次の式１に示すように、“Ｒ”欠陥画素５０１の周辺に配置される同色の４つの“Ｒ”周辺画素５０２〜５０５の画像データを平均して、“Ｒ”欠陥画素５０１の画像データに置き換えられる。
“Ｒ”欠陥画素５０１＝（上の“Ｒ”周辺画素５０２＋下の“Ｒ”周辺画素５０３＋右の“Ｒ”周辺画素５０４＋左の“Ｒ”周辺画素５０５）／４・・・式１
【００４５】
ノイズ処理タイプとして黒引き撮影処理が選択されるような撮影条件では、予め記憶された欠陥アドレスデータ以上の個数のキズが見えてしまう。そのため、欠陥画素アドレスデータによって示される欠陥画素に対するキズ補正だけでは不足することになる。従って、本画像データ全体から黒画像データを減算し、キズを目立たないようにする必要がある。
【００４６】
図４（ｂ）は、ノイズ処理タイプが黒引き撮影処理時である場合のキズ補正処理の流れを示している。以下、図４（ｂ）を参照しながら、ノイズ処理タイプが黒引き撮影処理である場合のキズ補正処理について説明する。先ずシステム制御回路５０は、通常通りに撮影された本画像データ４１１をメモリ３０に保存する。次にシステム制御回路５０は、シャッタを閉じたままシャッタ速度とＩＳＯ感度とを変えずに黒画像データ４１５を撮影させ、メモリ３０に保存する。次にシステム制御回路５０は、本画像データ４１１から黒画像データ４１５を減算した後、予め記憶された欠陥画素アドレスデータ４１２によって示される欠陥画素の画像データを、キズ補正処理４１３によって周辺画素の画像データから補間することにより、処理画像データ４１４を生成する。
【００４７】
図４（ｃ）は、ノイズ処理タイプが適応黒引き撮影処理である場合のキズ補正処理の流れを示している。以下、図４（ｃ）を参照しながら、ノイズ処理タイプが適応黒引き撮影処理である場合のキズ補正処理について説明する。先ずシステム制御回路５０は、通常通りに撮影された本画像データ４２１をメモリ３０に保存する。次にシステム制御回路５０は、シャッタを閉じたままシャッタ速度とＩＳＯ感度とを変えずに黒画像データ４２５を撮影させ、メモリ３０に保存する。欠陥画素フィルタ４２６は黒画像データ４２５を入力とし、黒画像データ４２５のうち、欠陥画素アドレスデータ４２２によって示される欠陥画素の画像データをそのまま出力する。一方、欠陥画素アドレスデータ４２２によって示されていない画素にはキズ（欠陥）がない。従って、欠陥画像フィルタ４２６は、欠陥画素アドレスデータ４２２によって示されていない画素については本画像データ４２１から黒画像データを減算しないように、黒画像データ４２５のうち、欠陥アドレスデータ４２２によって示されていない画素の画像データを“０”で出力する。これにより、本画像データ４２１から黒画像データ４２５が減算されるのは、欠陥画素アドレスデータ４２２によって示される欠陥画素のみとなり、キズ補正処理によるＳ／Ｎ比の劣化を回避することができる。なお、本画像データ４２１は第１の画像データの例であり、黒画像データ４２５は第２の画像データの例である。
【００４８】
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。
【符号の説明】
【００４９】
１０：撮影レンズ、１２：シャッタ、１４：撮像素子、１６：Ａ／Ｄ変換器、１８：タイミング発生回路、２０：画像処理回路、２２：メモリ制御回路、２４：画像表示メモリ、２６：Ｄ／Ａ変換器、２８：画像表示部、３０：メモリ、３２：画像圧縮伸長回路、４０：露光制御部、４２：測距制御部、４４：ズーム制御部、４６：バリア制御部、４８：フラッシュ、５０：システム制御回路、５２：メモリ、５４：表示部、５６：不揮発性メモリ、６０：モードダイアルスイッチ、６２：シャッタスイッチＳＷ１、６４：シャッタスイッチＳＷ２、６６：表示切替スイッチ、７０：操作部、７２：ズームスイッチ、７４：被写体検出部、８０：電源制御部、８２：コネクタ、８４：コネクタ、８６：電源手段、９０：インタフェース、９２：コネクタ、９４：インタフェース、９６：コネクタ、１００：画像処理装置、１０２：保護手段、１０４：光学ファインダ、１１０：通信部、１１２：コネクタ（又は、アンテナ）、２００：記録媒体、２０２：記録部、２０４：インタフェース、２０６：コネクタ、２１０：記録媒体、２１２：記録部、２１４：インタフェース、２１６：コネクタ、１００：画像処理装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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