(57)【要約】【課題】  ランプの再起動を早め、電極のダメージを抑える制御を、ランプの劣化に対応してできるプロジェクタを提供すること。【解決手段】  ランプ内温度に対応した温度を温度計１で検出し、検出した温度がランプ点灯可能な上限温度以下であればランプ点灯動作を行い、ランプが劣化するにつれて点灯失敗が起こったときランプ上限温度をランプが点灯したときの温度に修正することを特徴とする構成とした。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ランプと、ランプ内温度検出手段と、ランプ点灯制御手段と、温度比較手段と、ランプ点灯手段と、温度記憶手段を有し
電源がオンされた際、前記ランプ内温度検出手段により検出されたランプ内温度と前記温度記憶手段に記憶された温度とを前記温度比較手段により比較して、前記ランプ内温度が記憶された温度より高い場合は比較を続けて、
前記ランプ内温度が記憶された温度より低くなった場合は前記ランプ点灯制御手段はランプ点灯動作を行い、
ランプが点灯しない場合は比較と点灯動作とをランプが点灯するまで繰り返すことを特徴としたプロジェクタ。
【請求項２】
ランプが点灯したら最後に検出された前記ランプ内温度を前記温度記憶手段に記憶することを特徴とする、請求項１に記載のプロジェクタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プロジェクタに関し、特に放電ランプの点灯に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来から、多くのプロジェクタには放電ランプが使用されている。放電ランプを点灯するには、放電を開始するための、ランプ内の気体が絶縁破壊を起こす電圧以上の電圧を加える必要がある。絶縁破壊電圧はランプ内の温度により変化し、温度が高ければ絶縁破壊電圧は高くなり、温度が低ければ絶縁破壊電圧は低くなる。そのため、ランプ内の温度が高い時、例えば消灯直後はすぐには点灯できないという問題があった。また、ランプ内の温度が低い時に放電を起こすと、大きな電流が流れるため電極が損耗しやすくなるということも知られている。
【０００３】
例えば、特許文献１ではランプ温度が高い時に、絶縁破壊を起こすために加える電圧を上げることで温度が高いときでも点灯させられるようにして再点灯までの時間を短縮している。ランプ温度が低い時は加える電圧を下げることにより電流が過度に流れるのを防ぎ、電極の損傷を抑えることができる照明装置が開示されている。
【０００４】
特許文献２ではランプ消灯後、ランプ温度が点灯可能な温度になるまでアーク放電を維持することで、本来点灯できない温度の時でも点灯可能にし、再点灯までの時間を早める点灯装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平０６−１４０１６６号公報
【特許文献２】特開２００４−３１９１９３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上述の特許文献に開示された従来技術では、ランプの劣化により絶縁破壊電圧が変化することに対応できない。
【０００７】
そこで、本発明の目的は、ランプの劣化によって温度と絶縁破壊電圧の関係が変化することにも対応して点灯動作に入るかどうかを選択することを可能にしたプロジェクタを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本発明は、ランプと、ランプ内温度検出手段と、ランプ点灯制御手段と、ランプ点灯手段と、温度記憶手段を有し、電源がオンされた際、前記ランプ内温度検出手段により検出されたランプ内温度と前記温度記憶手段に記憶された温度とを比較して、前記ランプ内温度が記憶された温度より高いうちは比較を続けて、前記ランプ内温度が記憶された温度より低くなった時に前記ランプ点灯制御手段はランプ点灯を行い、ランプが点灯しない場合は比較と点灯動作とをランプが点灯するまで繰り返し、ランプが点灯したら最後に検出された前記ランプ内温度を前記温度記憶手段に記憶することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、ランプの点灯可能温度を状況によって変化させることで、ランプ劣化した状態でも再点灯をすばやく・電極損耗を少なくしたプロジェクタを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】実施形態のランプ点灯方法を説明するためのブロック図
【図２】ランプ点灯方法を説明するフローチャート
【図３】絶縁破壊電圧とランプ温度の関係のグラフ
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下に、本発明の好ましい実施の形態を、添付の図面に基づいて詳細に説明する。図１は、本発明の実施形態にかかわるブロック図であり、同図において１は放電ランプを表し、２は放電ランプを点灯させるためのランプ点灯手段としてのランプ点灯装置とする。３は制御部であり、３１でランプ点灯の制御、３２で温度比較を行う。４はランプ温度と相関する箇所の温度を検出する温度検出手段としての温度計であり、５は温度計４で測定した温度を記憶する温度記憶手段としてのメモリである。
【００１２】
［実施例１］
以下図１〜図３を参照して、本発明の第1の実施例による、ランプ点灯時の動作について説明する。
【００１３】
全体の流れとしては、まずランプ１を点灯する時に、温度計４でランプ温度を検出して、制御部３内の温度比較部３２が、検出した温度とメモリ５に記録されているランプ点灯装置２で点灯可能な温度（図３−Ｔ-0）とを比較して、点灯可能だと判断したら制御部３のランプ点灯制御部３１が点灯動作をさせる。点灯できない時は温度の修正を行うという流れである。こうすることで再点灯の際の冷却を最小にすることができるし、電極へ与えるダメージも少なくできる。なお、図３に示す通り点灯時の温度が高ければ電極へのダメージが少ない。
【００１４】
詳細な流れとしては、まず電源がオンされた後、ランプ温度を温度計４で検出する（図２−Ｓ１１）。ランプ温度検出はランプ温度と相関が取れる箇所の温度を検出してもかまわない。次に検出された温度と、メモリ５に記憶されている温度――通常はランプが点灯可能な上限温度（図３−Ｔ-0）――とを温度比較部３２が比較する（図２−Ｓ１２）。もしも記憶されている温度より検出された温度が高ければ、待機と温度検出と比較を繰り返す（図２−Ｓ１１〜Ｓ１３）。検出された温度が点灯可能温度より低くなった時、ランプ点灯制御部３１は点灯装置２にランプ点灯動作を行わせる（図２−Ｓ１４）。ランプ点灯動作後、ランプ点灯制御部３１はランプが点灯したか点灯しなかったかを判断する（図２−Ｓ１５）。ランプが点灯しなかった場合は待機後（図２−Ｓ１３）、再びランプ温度の検出（図２−Ｓ１１）に戻る。ランプ点灯動作後、ランプが点灯した場合は、最後に検出した温度とメモリ５に記憶されている温度との比較及びランプ点灯動作後の待機した回数が一定以上かを判断する（図２−Ｓ１６）。判断の結果、メモリ５に記憶されている温度が、現状におけるランプが点灯可能な上限温度（図３−Ｔ-0）ではないとされれば、記憶されている温度を最後に検出した温度に修正する（図２−Ｓ１７）。これら点灯後の動作（図２−Ｓ１６〜Ｓ１７）より、ランプの劣化による絶縁破壊電圧の変化にも対応して点灯動作を行えるようになる。
【００１５】
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
【符号の説明】
【００１６】
１  ランプ
２  ランプ点灯手段
３  制御部
３１  ランプ点灯制御手段
３２  温度比較手段
４  ランプ内温度検出手段
５  温度記憶手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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