(57)【要約】【課題】サテライトが発生するなど吐出状態が不安定なノズル列が含まれた記録ヘッドを用いて記録位置調整を行う場合でも、適切な調整値を設定することが可能なインクジェット記録装置および記録位置調整方法を提供する。【解決手段】一部のノズル列を用いて記録可能なテストパターンを、記録に使用するノズル列を異ならせながら記録する。その後、夫々のテストパターンについて、ノズル列の記録位置を調整するために利用可能か否かを判断し、利用可能と判断されたテストパターンに基づいてノズル列の記録位置調整を行う。【選択図】図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のノズル列を有する記録ヘッドを用いて記録媒体に画像を記録するインクジェット記録装置であって、
前記複数のノズル列うち２つのノズル列を用いて記録可能なテストパターンを、２つのノズル列の組み合わせを異ならせながら記録することが可能なテストパターン記録手段と、
前記複数のノズル列の記録位置を調整するために、前記テストパターン記録手段によって記録された個々のテストパターンが利用可能か否かを判断する判断手段と、
前記判断手段が利用可能であると判断したテストパターンに基づいて、前記複数のノズル列の記録位置の調整値を取得する取得手段と、
を備えることを特徴とするインクジェット記録装置。
【請求項２】
前記テストパターンは、前記２つのノズル列の記録位置のずらし量に応じて記録媒体の被覆面積が変化するような、複数のパッチから構成されていることを特徴とする請求項１に記載のインクジェット記録装置。
【請求項３】
前記判断手段は、反射センサを用いて前記複数のパッチの反射強度を検出することにより、前記テストパターンが利用可能か否かを判断することを特徴とする請求項２に記載のインクジェット記録装置。
【請求項４】
前記判断手段は、前記複数のパッチの反射強度において最大値と最小値の差が閾値より大きいテストパターンについて、利用可能であると判断することを特徴とする請求項３に記載のインクジェット記録装置。
【請求項５】
前記判断手段は、前記複数のパッチの反射強度の最大値が閾値より大きいテストパターンについて、利用可能であると判断することを特徴とする請求項３に記載のインクジェット記録装置。
【請求項６】
前記判断手段は、前記複数のパッチを目視で確認したユーザから入力された情報に基づいて、前記テストパターンが利用可能か否かを判断することを特徴とする請求項２に記載のインクジェット記録装置。
【請求項７】
前記テストパターン記録手段は、前記複数のノズル列のうち所定の２つのノズル列を用いてテストパターンを記録し、当該テストパターンを前記判断手段が利用可能ではないと判断した場合に、前記所定の２つのノズル列とは異なる組み合わせの２つのノズル列を用いて、テストパターンを記録することを特徴とする請求項１乃至６のいずれかに記載のインクジェット記録装置。
【請求項８】
前記テストパターン記録手段は、前記２つのノズル列の組み合わせが異なる複数のテストパターンを記録し、
前記判断手段は、前記複数のテストパターンのそれぞれについて、前記複数のノズル列の記録位置を調整するために利用可能か否かを判断し、
前記取得手段は、前記判断手段が利用可能であると判断したテストパターンのうち、１つのテストパターンに基づいて、前記複数のノズル列の記録位置の調整値を取得することを特徴とする請求項１乃至６のいずれかに記載のインクジェット記録装置。
【請求項９】
複数のノズル列を有する記録ヘッドを用いて記録媒体に画像を記録するインクジェット記録装置の記録位置調整方法であって、
前記複数のノズル列うち２つのノズル列を用いて記録可能なテストパターンを、前記複数のノズル列のうち２つのノズル列の組み合わせを異ならせながら記録するテストパターン記録工程と、
前記複数のノズル列の記録位置を調整するために、前記テストパターン記録工程によって記録された個々のテストパターンが利用可能か否かを判断する判断工程と、
前記判断工程が利用可能であると判断したテストパターンに基づいて、前記複数のノズル列の記録位置の調整値を取得する工程と、
を有することを特徴とする記録位置調整方法。
【請求項１０】
複数のノズル列を有する記録ヘッドを双方向に走査させることにより記録媒体に画像を記録するインクジェット記録装置であって、
前記複数のノズル列うち１つのノズル列の往路走査と復路走査で記録可能なテストパターンを、使用するノズル列を異ならせながら記録するテストパターン記録手段と、
前記往路走査と前記復路走査の記録位置を調整するために、前記テストパターン記録手段によって記録された個々のテストパターンが利用可能か否かを判断する判断手段と、
前記判断手段が利用可能であると判断したテストパターンに基づいて、前記往路走査と前記復路走査の記録位置の調整値を取得する取得手段と、
を備えることを特徴とするインクジェット記録装置。
【請求項１１】
複数のノズル列を有する記録ヘッドを双方向に走査させることにより記録媒体に画像を記録するインクジェット記録装置の記録位置調整方法であって、
前記複数のノズル列うち１つのノズル列の往路走査と復路走査で記録可能なテストパターンを、使用するノズル列を異ならせながら記録するテストパターン記録工程と、
前記往路走査と前記復路走査の記録位置を調整するために前記テストパターン記録工程によって記録された個々のテストパターンが利用可能か否か、を判断する判断工程と、
前記判断工程が利用可能であると判断したテストパターンに基づいて、前記往路走査と前記復路走査の記録位置の調整値を取得する取得工程と、
を有することを特徴とする記録位置調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は記録ヘッドからインクを吐出して記録媒体に画像を形成するインクジェット記録装置に関する。特に、記録ヘッドに配列する複数のノズル列間の記録位置を調整するための記録位置調整方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
インクジェット記録装置では、記録信号に応じてインクを吐出する記録ヘッドを、記録媒体に対し相対的に移動することによって画像を記録する。記録ヘッドでは、記録解像度を高めるためや異なるインクを吐出するために、複数のノズル列を備えていることが多いが、高品位な画像出力が求められる近年では、これらノズル列間の記録位置ずれが問題となる場合がある。また、シリアル型の記録装置では、ノズル列間の記録位置ずれのみならず、記録ヘッドの往路走査時と復路走査時の記録位置ずれが画像を劣化させることも知られている。このため、多くのインクジェット記録装置では、ノズル列間あるいは往復走査の記録位置ずれを調整するための構成が備えられている。
【０００３】
例えば特許文献１には、記録媒体に対するドットの被覆面積の差が濃度差を招致することを利用し、インクを吐出するタイミングを調整して、ドットの重複率や被覆面積を段階的に異ならせた複数のパターンを記録する方法が開示されている。そして、これら複数のパターンの中から最も濃度が高い（或いは低い）パターンを選出し、当該パターンを記録したタイミングから実際の画像記録時の吐出タイミング求め、記録媒体上での記録位置を調整する。但し、このような複数のパターンを全てのノズル列のために記録すると何枚もの記録媒体や多くの時間が費やされてしまう。よって、一般には、基準となるノズル列のみを用いてテストパターンを記録し、他のノズル列はここから得られた結果を用いて記録位置調整を行っている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０００−３７９３６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、インクジェット記録装置では、インクの吐出動作に伴って、主滴となるインク滴のほかに主滴よりも小さな副滴が吐出される場合がある。この副滴は、主滴に比べれば量は小さいが吐出速度も遅いので、記録ヘッドが移動しながらインクを吐出するシリアル型のインクジェット記録装置では、記録媒体上で主滴とは異なる位置に着弾し、サテライトと呼ばれる小さなドットを形成する。サテライトは、主滴によって形成されるメインドットに比べて十分小さければ実際の画像では然程問題にはならない。しかし、特許文献１のように、被覆面積を段階的に異ならせた複数のパターンを記録してドット記録位置調整を行う場合には、サテライトの存在が適切な調整値の取得を妨げる場合がある。
【０００６】
本発明は、上記問題点を解決するためになされたものである。よって、その目的とするところは、サテライトが発生するノズル列が含まれた記録ヘッドを用いて記録位置調整を行う場合でも、適切な調整値を設定することが可能なインクジェット記録装置および記録位置調整方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
そのために本発明は、複数のノズル列を有する記録ヘッドを用いて記録媒体に画像を記録するインクジェット記録装置であって、前記複数のノズル列うち２つのノズル列を用いて記録可能なテストパターンを、２つのノズル列の組み合わせを異ならせながら記録することが可能なテストパターン記録手段と、前記複数のノズル列の記録位置を調整するために、前記テストパターン記録手段によって記録された個々のテストパターンが利用可能か否かを判断する判断手段と、前記判断手段が利用可能であると判断したテストパターンに基づいて、前記複数のノズル列の記録位置の調整値を取得する取得手段と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、サテライトが発生するような吐出状態が不安定なノズル列が含まれていても、吐出状態が安定したノズル列で記録されたテストパターンを基に記録位置の調整を行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明に使用可能なシリアル型のインクジェット記録装置の概略構成図である。
【図２】（ａ）および（ｂ）は、記録ヘッドにおけるノズル列の配列状態を示す図である。
【図３】反射センサの概略構成図である。
【図４】インクジェト記録装置の制御構成を説明するためのブロック図である。
【図５】サテライトについて説明する図である。
【図６】実施例１におけるチップ間の記録位置調整の工程を示すフローチャートである。
【図７】ＲＯＭに格納された順位表を示す図である。
【図８】テストパターンの一例を示した図である。
【図９】（ａ）および（ｂ）は、非基準チップのずらし量と記録状態を示した図である。
【図１０】パッチのナンバーと、これに対応する反射強度の相対値を示した図である。
【図１１】（ａ）および（ｂ）は、パッチにおけるサテライトの有無を比較した図である。
【図１２】実施例２におけるチップ間の記録位置調整の工程を示すフローチャートである。
【図１３】各ノズル列、各パッチにおける非基準チップのずらし量を示した図である。
【図１４】パッチのナンバーと反射強度を４組のノズル列について示した図である。
【図１５】各ノズル列のＰＰを比較した図である。
【図１６】各ノズル列の反射強度の最大値を比較した図である。
【図１７】実施例３におけるチップ間の記録位置調整の工程を示すフローチャートである。
【図１８】実施例４におけるテストパターンを示した図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
（実施例１）
図１は本実施例で使用するシリアル型のインクジェット記録装置の概略構成図である。記録媒体１０４は、ＬＦローラ１０５の回転に伴って図のｙ方向に搬送され、搬送経路の途中で記録ヘッド１０２によって画像が記録される。この記録位置には、記録媒体１０４を下方から支えるためのプラテン１０６も配備されている。記録ヘッド１０２はキャリッジ１０１に搭載され、キャリッジ１０１はキャリッジ軸１０７によってｘ方向に移動可能に案内支持されている。この際、ｘ方向における記録ヘッド１０２の位置は、タイミングベルト１０８によって管理されている。このような構成のもと、記録ヘッド１０２によるｘ方向の記録走査と、記録媒体１０４のｙ方向への搬送動作とを交互に繰り返すことにより、記録媒体１０４に段階的に画像が記録されて行く。なお、キャリッジ１０１の測部には記録したテストパターンの反射強度を検出するための反射センサ１０３が備えられている。
【００１１】
図２（ａ）および（ｂ）は、記録ヘッド１０２におけるノズル列の配列状態を示す図である。本実施例の記録ヘッド１０２には、図２（ａ）の様に、４つのチップがｘ方向に配置されている。これら４つのチップには互いに異なるインクが供給され、チップ１はブラックインク、チップ２はシアンインク、チップ３はマゼンタインク、チップ４はイエローインクを夫々吐出する。
【００１２】
図２（ｂ）は、個々のチップにおけるノズル配列状態を示している。個々のチップ上には、Ａ列とＢ列のノズル列がｘ方向に並列しており、Ａ列およびＢ列は、更にＥｖｅｎ列とＯｄｄ列の２列で構成されている。Ｅｖｅｎ列、Ｏｄｄ列のどちらも、複数のノズルが、１２００ｄｐｉ（ドット／インチ）のピッチでｙ方向に１列に配列して構成されているが、Ｅｖｅｎ列とＯｄｄ列は、ｙ方向に半ピッチ分だけ互いにずれた状態で配置されている。また、Ａ列とＢ列については、ｙ方向に１／４ピッチ分だけずれた状態で配置されている。このような構成のチップを用いてｘ方向に移動しながら記録を行うことにより、記録媒体にはｙ方向に４８００ｄｐｉ（＝１２００ｄｐｉ×４）の密度でドットを記録することが出来る。
【００１３】
図３は、反射センサ１０３の概略構成図である。反射センサ１０３は、プラテン１０６上にある記録媒体１０４に対し光を投射するＬＥＤ４０１と、記録媒体１０４からの反射光を受光するフォトダイオード４０２を備えている。本実施例において、記録媒体における照射光の照射エリアと受光側の検出エリアは、約１０ｍｍ×１０ｍｍの検出スポットとなるように調整されている。
【００１４】
記録媒体に記録されたテストパターンにおけるパッチを検出する際、キャリッジ１０１は当該パッチ内に上記検出スポットが配置するように位置決めされる。そして、ＬＥＤ４０１が発光し、パッチ内で反射した光をフォトダイオード４０２が受光し、これを電気信号として出力する。フォトダイオード４０２からの信号は、ゲインが可変の増幅部やＡＤコンバータを介して記録装置の制御部に送信される。なお、信号の電圧レベルは紙面反射強度を基準として適切に調整することが出来る。
【００１５】
図４は、本実施例のインクジェト記録装置の制御構成を説明するためのブロック図である。制御部５０は、中央演算処理装置であるＣＰＵ５１、制御プログラムや変数初期値を記憶するＲＯＭ５２、ワークエリアとして使用されるＲＡＭ５３を備え、装置内の各種機構を駆動して記録装置全体を制御する。例えば制御部５０は、インターフェイスＩ／Ｆ５４を介して外部に接続されたホスト装置から画像データを受信し、ＲＯＭ５２に記憶されている制御プログラムに従って画像データをＲＡＭ５３に展開する。その後、ＲＡＭ５３に展開された画像データに従って、記録動作を実行する。具体的には、ヘッドドライバ５５を介して記録ヘッド１０２を駆動し、記録ヘッド１０２の個々のノズルからインクを吐出させる。また、モータドライバ５８を介してキャリッジモータ５９を駆動し、キャリッジ１０１の移動制御を行う。更にモータドライバ５６を介して搬送モータ５７を駆動し、ＬＦローラ１０５を指示に従った分だけ回転させる。これにより、記録開始前の記録媒体１０４を所定の記録開始位置にセットしたり、記録走査が終了するたびに記録媒体１０４を所定量ずつ搬送したりすることが出来る。更に制御部５０は、反射センサ１０３の検出信号を受信し、後述する記録位置の調整に利用したりする。
【００１６】
次に、以上説明したインクジェット記録装置を用い、本発明の特徴的な記録位置調整方法について説明する。本実施例では、図２（ａ）および（ｂ）に示した記録ヘッドを使用して双方向記録を行うため、以下の４種類の記録位置調整が用意されている。
【００１７】
（１）双方向の記録位置調整  
往路走査の記録位置と復路走査の記録位置を一致させるための記録位置調整である。個々のチップについて行う。
【００１８】
（２）チップ間の記録位置調整
チップ１〜チップ４の記録位置を一致させるための記録位置調整である。
【００１９】
（３）ＡＢ列間の記録位置調整
同一チップ内のＡ列とＢ列の記録位置を一致させるための記録位置調整である。個々のチップについて行う。
【００２０】
（４）Ｏｄｄ／Ｅｖｅｎ間の記録位置調整
同一チップ内のＯｄｄ列とＥｖｅｎ列の記録位置を一致させるための記録位置調整である。個々のチップについて行う。
【００２１】
本実施例では、以上４種類の記録位置調整それぞれについて、テストパターンの記録と記録したテストパターンの反射強度の検出を行う。そして、テストパターンを記録する際には、チップ内の記録位置ずれの影響を含まないようにするため、個々のチップについて代表となる１つのノズル列のみを用いる。但し、この代表ノズル列に許容外のサテライトが発生している場合がある。
【００２２】
図５は、サテライトについて説明する図である。ここでは、記録ヘッド１０２がｘ方向に移動しながら１つのノズルが１回の吐出動作を行った場合の、記録状態を示している。先にも説明したように、主滴よりも小さく吐出速度も遅い副滴は主滴よりも遅れて記録媒体に着弾するので、キャリッジの進行方向に進んだ位置にメインドット３０１よりも小さなサテライト３０２が形成される。図では、２つのサテライトが記録された状態を示している。このようなサテライトが発生すると、単位面積に対するドットの被覆面積が増大する。その結果、当該領域を反射センサ１０３で検出すると、メインドットのみが存在する場合よりも低い反射強度が検出され、正確な記録位置調整を行えなくなる。
【００２３】
ただし、このようなサテライトの有無、数や大きさ、或いはメインドットからの距離は一定ではなく、ノズル列ごとに異なる傾向がある。また、個々のノズル列の使用状況によっても経時的に変化する場合もある。よって、本発明では、上記代表ノズル列を１つのノズル列に特定せず、サテライトによる影響がなるべく低く抑えられるようなノズル列に変更可能とする。以下、本実施例の記録位置調整を具体的に説明する。
【００２４】
図６は、本実施例の制御部５０が実行するチップ間の記録位置調整を行う際の工程を示すフローチャートである。
【００２５】
調整シーケンスが開始されると（ステップＳ５０１）、制御部５０は、ステップＳ５０２において、予めＲＯＭ５２に格納されたチップ間の記録位置調整用の順位表を確認し、テストパターンの記録に使用する代表ノズル列を設定する。
【００２６】
図７は、ＲＯＭ５２に格納された上記順位表を示す図である。本実施例において、第１位はＡ列のＥｖｅｎノズル列になっており、第２位はＡ列のＯｄｄノズル列、第３位はＢ列のＥｖｅｎノズル列、第４位はＢ列のＯｄｄノズル列に設定されている。図６のステップＳ５０２において、制御部５０は、第１位のＡ列Ｅｖｅｎノズル列を、テストパターンを記録するための代表ノズル列として設定する。
【００２７】
続くステップＳ５０３において、制御部５０は、チップ間の記録位置調整用のテストパターンを記録媒体に記録する（テストパターン記録工程）。
【００２８】
図８は、上記テストパターンの一例を示した図である。本実施例のテストパターンは、複数のパッチで構成されている。個々のパッチにおいて、基準チップで記録したドットを白丸、非基準チップで記録したドットを黒丸で示している。各パッチは、ｘ方向に４つのドットと４ドット分の空白域とが周期的に繰り返されるパターンを基準チップで記録し、このパターンの上に同じパターンを非基準チップで記録することによって得られている。この際、非基準チップの記録位置に対する基準チップの記録位置を、個々のパッチで段階的に異ならせている。個々のパッチの大きさは、検出スポットを考慮して設計されており、ｙ方向はスポットと同程度、ｘ方向幅は複数回検出して平均できるように一定の幅を持たせている。
【００２９】
図９（ａ）および（ｂ）は、各パッチにおける非基準チップのずらし量と、夫々のパッチの記録状態を図８よりもマクロ的に示した図である。  図９（ａ）において、ずらし量とは、基準チップの記録位置に対する非基準チップの記録位置のｘ方向のデータ上のずらし量であり、ここでは４８００ｄｐｉの画素数で示している。このような、段階的に異ならせたずらし量で個々のパッチを記録することにより、図８のようなドットパターンが得られる。そして、図８に見るような記録媒体に対するドットの被覆面積の差は、図９（ｂ）のような濃度差となって現れる。本例において、非基準チップの記録位置が基準チップの記録位置に最も近いパッチは、パッチ７であることが分かる。このように本実施例では、ずらし量の差を被覆面積に反映させることによって適切な調整値を取得するものである。
【００３０】
図６のフローチャートに戻る。ステップＳ５０３によって図８および図９で示したような複数のパッチが記録されると、制御部５０は反射センサ１０３を用いて個々のパッチの反射強度を検出する（ステップＳ５０４）。
【００３１】
図１０は、パッチのナンバー（すなわち非基準チップの記録位置ずらし量）と、これに対応する反射強度の相対値を示した図である。実線は記録に使用した代表ノズル列にサテライトが発生しなかった場合、点線は代表ノズル列にサテライトが発生した場合を夫々示している。サテライトが発生する場合と発生しない場合とでこのようなプロファイルの違いが現れる理由を以下に説明する。
【００３２】
図１１（ａ）および（ｂ）は、代表ノズル列にサテライトが発生しなかった場合と発生した場合のパッチ７を夫々示した図である。サテライトが発生しない場合、基準パッチで記録したパターンと非基準パッチで記録したパターンとはほぼ完全に重なり合い、４ドットの非記録領域は白紙が露出している（図１１（ａ））。これに対し、サテライトが発生する場合、基準パッチで記録したパターンと非基準パッチで記録したパターンとは、メインドット同士はほぼ重なっているが、４ドットの非記録領域にサテライトが着弾し白紙領域を被覆してしまっている（図１１（ｂ））。よって、サテライトが発生しない場合のパッチ図１１（ａ）に比べて白紙領域が減少し、反射センサで検出される反射強度も低く抑えられてしまう。
【００３３】
このようなサテライトは、パッチ７以外のパッチでも現れ、白紙領域を減少させ、反射強度を下げる。その結果、メインドット同士が完全に重なり合った状態の反射強度と、メインドット同士にずれが生じている状態の反射強度との差が、サテライトが発生していない場合に比べてはっきり現れなくなってしまう。つまり、実際は図１０の実線のような大きな振幅ａのプロファイルとなるはずが、点線のような小さな振幅ｂのプロファイルになってしまうのである。
【００３４】
本実施例のように、反射強度のピークから適切な調整値を導き出そうとする構成においては、複数のパッチから得られるプロファイルの振幅は大きい方が好ましい。図１１（ｂ）のような小さな振幅では、適切な調整値を算出することが困難になる。よって、本実施例では、取得したプロファイルが調整値を取得するのに適当であるか否かを判断するための工程を設ける。
【００３５】
図６のフローチャートに戻る。ステップＳ５０５では、取得した反射強度の最大強度と最小強度の差ＰＰを求め、これを所定の閾値Ｔと比較する。ＰＰが閾値Ｔより大きい場合、取得したプロファイルは調整値を取得するのに利用可能であると判断し、ステップＳ５０９に進む。一方、ＰＰが閾値Ｔより小さい場合、取得したプロファイルは調整値を取得するのに利用可能ではないと判断し、ステップＳ５０６に進む。なお、閾値Ｔは、反射センサのノイズや検出値ばらつき或いはインク色などを考慮して、実験的な結果を基に設定されればよい。
【００３６】
続くステップＳ５０６では、テストパターンを記録するのに使用した代表ノズル列が、図７で示した順位表において第４位であるか否かを判断する。第４位である場合、順位表に記憶されている全てのノズル列で調整値の取得は不可能と判断し、エラー表示を行う（ステップＳ５０６）。一方、代表ノズル列が第１〜３位であった場合はステップＳ５０７に進み、１つ順位を下げた次のノズル列を新たに代表ノズル列に設定する。その後、再度テストパターンを記録するためにステップＳ５０３に戻る。
【００３７】
ステップＳ５０５において、取得したプロファイルは調整値を取得するのに適当であると判断されると、ステップＳ５０９では、現状のプロファイルから、非基準チップのための調整値を算出しこれを設定する。具体的には、図１０で示した各パッチに対応する反射強度の中から最大値を選出し、これを中心とする５つのパッチのずらし量と反射強度のデータから、近似曲線を求める。そして、このように求めた近似曲線の最大値に対応するずらし量を非基準チップのための調整値として設定する。
【００３８】
以上説明した本実施例によれば、調整値の設定が可能なプロファイルを有するテストパターンが記録されるまで、ノズル列を取り替えながら新たなテストパターンの記録を行う。これにより、サテライトが発生するノズル列が含まれていても、サテライトが発生しない或いはサテライトの影響が低く抑えられたノズル列で記録されたテストパターンを基に記録位置の調整を行うことが可能となる。
【００３９】
なお、以上ではチップ間の記録位置調整を例に説明を行ってきたが、双方向の記録位置調整、ＡＢ列間の記録位置調整、およびＯｄｄ／Ｅｖｅｎ間の記録位置調整についても、図６に示したフローチャートに従って記録位置調整を行うことが出来る。双方向の記録位置調整の場合、代表ノズル列は１列のノズル列であり、代表ノズル列の往路走査で記録したドットパターンと復路走査で記録したドットパターンの重ね合わせによって、上述したような複数のパッチが記録されれば良い。双方向の記録位置調整については、チップ間の記録位置調整と同様、図７に示した順位表を用いることが出来る。但し、各ノズル列の順位は、チップ間の記録位置調整についても双方向の記録位置調整についても、図７に示した順番に限定されるものではない。Ａ列Ｅｖｅｎノズル列、Ａ列Ｏｄｄノズル列、Ｂ列Ｅｖｅｎノズル列、Ｂ列Ｏｄｄノズル列が、どのように順位付けされていても構わない。また、これら４つのノズル列のうち一部のノズル列のみが順位表に記憶されている構成であってもよい。
【００４０】
一方、ＡＢ列間の記録位置調整については、図２（ｂ）を参照すると解るように、Ｅｖｅｎノズル列での記録位置調整と、Ｏｄｄノズル列での記録位置調整との２通りの方法がある。よって、順位表の内容は第１位がＯｄｄノズル列、第２位がＥｖｅｎノズル列（あるいはその逆）という様に、第２位までの順位が記憶されていればよい。
【００４１】
Ｏｄｄ／Ｅｖｅｎ間の記録位置調整についても、Ａ列での記録位置調整かＢ列での記録位置調整かの２通りの方法がある。よって、順位表の内容は第１位がＡ列、第２位がＢ列（あるいはその逆）という様に、第２位までの順位が記録されていればよい。
【００４２】
（実施例２）
本実施例についても、実施例１と同様に図１〜図４で示したインクジェット記録装置を用いる。図１２は、本実施例の制御部５０が実行するチップ間の記録位置調整を行う際の工程を示すフローチャートである。
【００４３】
調整シーケンスが開始されると（ステップＳ１００１）、制御部５０は、全ノズル列を用いて、チップ間の記録位置調整用のテストパターンを記録媒体に記録する（ステップＳ１００２）。テストパターンの構成については実施例１と同様である。具体的には、基準チップのＡ列Ｅｖｅｎノズル列及び非基準チップのＡ列Ｅｖｅｎノズル列を用いて実施例１と同じテストパターンを記録し、基準チップのＡ列Ｏｄｄノズル列及び非基準チップのＡ列Ｏｄｄノズル列を用いて上記テストパターンを別位置に記録する。Ｂ列についても同様である。すなわち、４組のノズル列を用いて４つのテストパターンをそれぞれ記録媒体の異なる位置に記録する。
【００４４】
図１３は、各ノズル列、各パッチにおける非基準チップのずらし量を示した図である。本実施例では、このように特に代表ノズル列を設定することなく、全てのノズル列に対応する複数のテストパターンを一度に記録する。
【００４５】
続くステップＳ１００３において、制御部５０は、反射センサ１０３を用い、記録したテストパターンにおける個々のパッチの反射強度を検出する。
【００４６】
図１４は、パッチのナンバー（すなわち非基準チップの記録位置ずらし量）と、これに対応する反射強度の相対値を、４つのテストパターン（４組のノズル列）について示した図である。４組のノズル列それぞれにおけるサテライトの発生など吐出状態の違いがプロファイルの違いとして表れている。
【００４７】
ステップＳ１００４において、制御部５０は、各テストパターンについて取得した反射強度の最大値と最小値の差ＰＰを求め、これを所定の閾値Ｔと比較する。図１５は、各ノズル列のＰＰを比較した図である。
【００４８】
ステップＳ１００５において、制御部５０は、全てのＰＰが閾値Ｔより小さいか否かを判断する。全てのＰＰが閾値Ｔより小さい場合、制御部５０は、いずれのノズル列でも調整値の取得は不可能と判断し、エラー表示を行う（ステップＳ１００６）。ＰＰが閾値Ｔより大きいノズル列が１つでも存在すると判断した場合は、ステップＳ１００７に進む。
【００４９】
ステップＳ１００７では、ＰＰが最大のノズル列を代表ノズル列に設定する。
【００５０】
ステップＳ１００８において、制御部５０は、代表ノズル列のプロファイルから、非基準チップのための調整値を算出しこれを設定する。調整値の算出方法は実施例１と同様である。
【００５１】
以上説明した本実施例によれば、テストパターンを記録可能な全てのノズル列について、夫々のテストパターンの記録と反射率の読み取り作業を一度に行ってしまう。その上で、適切なプロファイルを１つ選択し、これに基づいて記録位置の調整値を算出する。よって、サテライトが発生するノズル列が含まれていても、サテライトが発生しない或いはサテライトが問題とならないノズル列で記録されたテストパターンを基に記録位置の調整を行うことが可能となる。また、テストパターンの記録動作と調整値の取得動作を夫々纏めて行っているので、プロファイルの可否を判断してから次の代表ノズル列の記録を行う実施例１に比べて、記録位置調整に要する時間や消費する記録媒体の量を安定させることができる。
【００５２】
なお、図１２のフローチャートでは、最大のＰＰを有するプロファイルを用いて記録位置調整を行ったが、本実施例はこのような構成に特徴付けられるものではない。全てのノズル列についてのテストパターンを記録し、ここから得られる全てのプロファイルの中から、調整値を決定するための１つのプロファイルが決定されれば良い。例えば、ステップＳ１００５でＰＰが閾値Ｔ以上と判断された複数のノズル列について、図１で利用した順位表の高い順位から代表ノズル列が決定される構成であっても構わない。
【００５３】
（実施例３）
本実施例についても、上記実施例と同様に図１〜図４で示したインクジェット記録装置を用いる。また、記録位置調整を行う際の工程も、実施例２と同様、図１２のフローチャートを用いることが出来る。但し、本実施例では、取得した反射強度の最大値のみ用い最小値は用いずに、代表ノズル列すなわち調整値を算出するためのプロファイルを決定する。
【００５４】
例えば、基準チップと非基準チップの記録位置が大きくずれていて、白紙領域がメインドットで覆い尽くされている場合、サテライトはどの位置に着弾しても白紙領域の被覆率に影響を及ぼさない。つまり、図８を参照するに、サテライトの存在は、パッチ７近傍のずらし量では検出結果に大きな影響を与えるが、パッチ３やパッチ１１近傍のずらし量では余り大きな影響は与えない。このように、サテライトの影響の程度は、ずらし量すなわちメインドットの被覆率によって異なる。以上のことから、記録位置の調整が妨害される要因が主にサテライトである場合には、最もサテライトの影響が現れやすい値、すなわち反射強度の最大値を用いて調整値を算出するためのプロファイルを決定することが好ましい。
【００５５】
図１６は、実施例２と同様のテストパターンから得られた、各ノズル列の反射強度の最大値を比較した図である。本実施例では、このような反射強度の最大値を互いに比較し、また適当な閾値Ｔ２と比較して、１つのノズル列を代表ノズル列として選出する。
【００５６】
（実施例４）
本実施例についても、上記実施例と同様に図１〜図４で示したインクジェット記録装置を用いる。但し、本実施例では、反射センサ１０３を用いず、テストパターンをユーザが目視で確認することによって、記録位置の調整値を求める構成とする。
【００５７】
図１７は、本実施例の制御部５０が実行するチップ間の記録位置調整を行う際の工程を示すフローチャートである。
【００５８】
調整シーケンスが開始されると（ステップＳ１５０１）、制御部５０は、全ノズル列を用いて、チップ間の記録位置調整用のテストパターンを記録媒体に記録する（ステップＳ１５０２）。テストパターンの構成については実施例２と同様である。
【００５９】
図１８は、ステップＳ１５０２で記録するテストパターンを示した図である。ここでは、４組のノズル列に対応した符号（Ａ〜Ｄ）と、各パッチのずらし量に対応した符号−６〜＋６が、テストパターンと共に記録媒体に記録される。
【００６０】
ステップＳ１５０３において、制御部５０は、ユーザからの確認情報を受信する。ユーザは図１８に示したテストパターンを目視で確認し、Ａ〜Ｄの中で最もコントラストが大きい行、およびその中から最も明るいパッチパを選択し、何らかの入力手段によって記録装置に入力する。例えば図１８の場合は、（Ａ行：０）あるいは（Ｃ行：０）が入力される。
【００６１】
その後、制御部５０は、入力された情報に基づいて調整のためのテストパターン（代表ノズル列）を設定し（ステップＳ１５０４）、当該テストパターンに基づいて調整値を算出する（ステップＳ１５０７）。具体的には、Ａ行あるいはＣ行に相当するノズル列を代表ノズル列とし、パッチ０を実現するずらし量を、調整値として設定する。以上で本処理が終了する。
【００６２】
以上説明した本実施例によれば、反射センサを備えなくても、上記実施例と同様の効果を得ることが出来る。
【００６３】
なお、以上の説明ではサテライトがテストパターンに与える影響を回避することを目的に説明してきたが、テストパターンの判断基準を誤らせる要因はサテライトに限ったものではない。例えば、ノズル列の中に多くの不吐出ノズルが含まれていたり、吐出方向が大きくずれていたりする場合には、やはり振幅の大きなプロファイルは得られ難くなる。その要因がどのようなものであれ、吐出状態が不安定なノズル列を用いての記録位置調整を回避し、吐出状態が安定したノズル列を選別して記録位置調整を行うことが出来れば、本発明の範疇である。
【００６４】
また、以上では、チップ間の記録位置調整を行う場合、基準チップと非基準チップで使用するノズル列は統一したが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、基準チップではＡ列Ｅｖｅｎノズル列を用い、非基準チップではＢ列Ｏｄｄノズル列を用いてテストパターンを記録することも出来る。この場合、基準チップに対する非基準チップの記録位置調整値については、上記２つのノズル列を用いて得られた調整値から、非基準チップにおけるＡ列Ｅｖｅｎノズル列に対するＢ列Ｏｄｄノズル列の調整値が減算されればよい。いずれにせよ、吐出状態が安定した２つのノズル列の組み合わせによって記録されたテストパターンを用いて、記録位置調整が算出されればよい。
【符号の説明】
【００６５】
５０  制御部
５１  ＣＰＵ
１０２  記録ヘッド
１０３  反射センサ
１０４  記録媒体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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