(57)【要約】【課題】  Ｉ−Ｌ特性が非線形なレーザダイオードであっても、制御を複雑化することなく、精度の高い光量制御を行うことができる光走査装置を提供する。【解決手段】  光走査装置１０１はＩ−Ｌ特性が非線形なレーザダイオード２００と、その発光量を設定する光量設定ユニット３０５と、レーザダイオード２００の発光量を検出する光量検出ユニット２１４と、光量検出ユニット２１４の検出出力に基づいてレーザダイオード２００に印加する駆動電流を調整して発光量を制御する光量制御ユニット２１０と、駆動電流を補正する補正データを補正するデータ補正ユニット３００と、を有し、データ補正ユニット３００は、補正データの値から発光量を補正する光量補正範囲を決定し、その範囲内の２点の光量と対応する駆動電流とから光量補正範囲におけるレーザダイオード２００のＩ−Ｌ特性の傾きη’を算出し、算出した傾きを使用して補正データを補正する。【選択図】図１５
2013226746.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｉ−Ｌ特性が非線形なレーザダイオードと、
該レーザダイオードの発光量を設定する光量設定ユニットと、
前記レーザダイオードの発光量を検出する光量検出ユニットと、
該光量検出ユニットの検出出力に基づいて前記レーザダイオードに印加する駆動電流を調整して発光量を制御する光量制御ユニットと、
前記駆動電流を補正する補正データを補正するデータ補正ユニットと、を有し、
前記データ補正ユニットは、前記補正データの値から発光量を補正する光量補正範囲を決定し、該光量補正範囲内の２点の光量と該光量に対応する駆動電流とから前記光量補正範囲における前記レーザダイオードのＩ−Ｌ特性の傾きを算出し、算出した傾きを使用して前記補正データを補正することを特徴とする光走査装置。
【請求項２】
前記補正データの補正は、前記レーザダイオードにおけるＩ−Ｌ特性が線形であると仮定した場合のＩ−Ｌ特性の傾きηと、前記レーザダイオードにおける前記算出したＩ−Ｌ特性の傾きη’との比η／η’を前記補正データに乗算することによって行われることを特徴とする請求項１記載の光走査装置。
【請求項３】
前記補正データは、前記レーザダイオードにおける光学特性を補正するための光学補正係数であることを特徴とする請求項１又は２記載の光走査装置。
【請求項４】
前記光量制御ユニットは、前記レーザダイオードの駆動電流を、前記レーザダイオードがレーザ光を走査する感光ドラムの感度に基づいて補正する電流補正ユニットを有し、
該電流補正ユニットで補正された駆動電流を前記データ補正ユニットで補正された補正データで補正して前記レーザダイオードに印加することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の光走査装置。
【請求項５】
前記データ補正ユニットは、前記補正データを補正する補正を、装置の起動時又は起動後の一定時間毎に行うことを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の光走査装置。
【請求項６】
複数の光量と、該光量に対応する駆動電流とから前記レーザダイオードの閾値電流を算出する閾値電流算出ユニットを有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の光走査装置。
【請求項７】
前記レーザダイオードは、面発光型レーザダイオードであることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の光走査装置。
【請求項８】
Ｉ−Ｌ特性が非線形なレーザダイオードの発光量を設定する光量設定ステップと、
前記レーザダイオードの発光量を検出する光量検出ステップと、
該光量検出ステップの検出出力に基づいて前記レーザダイオードに印加する駆動電流を調整して発光量を制御する光量制御ステップと、
前記駆動電流を補正する補正データを補正するデータ補正ステップと、を有し、
前記データ補正ステップでは、前記補正データの値から発光量を補正する光量補正範囲を決定し、該光量補正範囲内の２点の光量と該光量に対応する駆動電流とから前記光量補正範囲における前記レーザダイオードのＩ−Ｌ特性の傾きを算出し、算出した傾きを使用して前記補正データを補正することを特徴とする光走査装置の制御方法。
【請求項９】
Ｉ−Ｌ特性が非線形なレーザダイオードを備えた光走査装置の制御方法をコンピュータに実行させる制御プログラムであって、
前記光走査装置の制御方法は、
前記レーザダイオードの発光量を設定する光量設定ステップと、
前記レーザダイオードの発光量を検出する光量検出ステップと、
該光量検出ステップの検出出力に基づいて前記レーザダイオードに印加する駆動電流を調整して発光量を制御する光量制御ステップと、
前記駆動電流を補正する補正データを補正するデータ補正ステップと、を有し、
前記データ補正ステップでは、前記補正データの値から発光量を補正する光量補正範囲を決定し、該光量補正範囲内の２点の光量と該光量に対応する駆動電流とから前記光量補正範囲における前記レーザダイオードのＩ−Ｌ特性の傾きを算出し、算出した傾きを使用して前記補正データを補正することを特徴とする制御プログラム。
【請求項１０】
請求項１乃至７のいずれか１項に記載の光走査装置を備えることを特徴とする画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、駆動電流−光量特性（Ｉ−Ｌ特性）が非線形の光走査装置、その制御方法及び制御プログラム並びに当該光走査装置を備えた画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像形成装置などに用いられる一般的な半導体レーザダイオードは、図１７に示したように、駆動電流−光量特性（以下、「Ｉ−Ｌ特性」という。）の傾きが線形であることが知られている。そして、このようなレーザダイオードにおいては、以下に示すようなターゲット光量を制御する制御技術が提案されている。すなわち、２点の光量（Ｐ１、Ｐ２）とその駆動電流（Ｉ１、Ｉ２）とからレーザダイオードの閾値電流（Ｉｔｈ）とＩ−Ｌ特性の傾きηを算出し、その結果に基づいて所望の光量Ｐ３に対応する駆動電流Ｉ３を演算し、設定する（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
ところで、面発光レーザ（ＶＣＳＥＬ）のようにＩ−Ｌ特性が非線形の場合、図１８に示したように、傾きを算出する２点間の光量（Ｐ１、Ｐ２）の差が大きいと、算出した傾きと実際の傾きとの誤差が大きくなる。従って、ターゲットとする光量Ｐ３と実際に制御される光量Ｐ３’が異なって、光量制御の精度が低下するという課題があった。
【０００４】
これに対して、温度とＩ−Ｌ特性との関係をメモリに格納しておき、温度をモニタしてその温度に応じたＩ−Ｌ特性を読み出し、読み出したＩ−Ｌ特性に基づいて駆動電流を設定して、光量を制御する技術が提案されている(例えば、特許文献２参照)。また、特許文献２には、所定の駆動電流でレーザダイオードを発光させて感光ドラムを露光し、感光ドラムの表面電位を測定することにより、メモリに格納されているＩ−Ｌ特性を補正する方法も記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平５−１４５１５４号公報
【特許文献２】特開２００２−１００８３１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、レーザダイオードは一般的に温度だけでなく、図１９に示したように、耐久劣化によってもＩ−Ｌ特性が変化する特性を有している。このため、温度に応じたＩ−Ｌ特性を記憶しておき、それに基づいて光量制御を行う方法では、耐久劣化によるＩ−Ｌ特性の変化に追従することができず、耐久劣化が進むにつれて光量制御の精度が低下するという課題がある。
【０００７】
また、複数の光量で感光ドラムを露光し、その表面電位からＩ−Ｌ特性を予測して補正する方法では、制御が複雑化し、露光量に対する表面電位変化量の関係が線形でない等のドラムの特性により、レーザ単体の特性を知ることが困難である。このため、光走査装置の光学補正を行う際に補正誤差が大きくなるという課題がある。
【０００８】
本発明の目的は、Ｉ−Ｌ特性が非線形なレーザダイオードであっても、制御を複雑化することなく、精度の高い光量制御を行うことができる光走査装置、その制御方法及び制御プログラム並びに画像形成装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するため、請求項１記載の光走査装置は、Ｉ−Ｌ特性が非線形なレーザダイオードと、該レーザダイオードの発光量を設定する光量設定ユニットと、前記レーザダイオードの発光量を検出する光量検出ユニットと、該光量検出ユニットの検出出力に基づいて前記レーザダイオードに印加する駆動電流を調整して発光量を制御する光量制御ユニットと、前記駆動電流を補正する補正データを補正するデータ補正ユニットと、を有し、前記データ補正ユニットは、前記補正データの値から発光量を補正する光量補正範囲を決定し、該光量補正範囲内の２点の光量と該光量に対応する駆動電流とから前記光量補正範囲における前記レーザダイオードのＩ−Ｌ特性の傾きを算出し、算出した傾きを使用して前記補正データを補正することを特徴とする。
【００１０】
また、上記目的を達成するため、請求項８記載の光走査装置の制御方法は、Ｉ−Ｌ特性が非線形なレーザダイオードの発光量を設定する光量設定ステップと、前記レーザダイオードの発光量を検出する光量検出ステップと、該光量検出ステップの検出出力に基づいて前記レーザダイオードに印加する駆動電流を調整して発光量を制御する光量制御ステップと、前記駆動電流を補正する補正データを補正するデータ補正ステップと、を有し、前記データ補正ステップでは、前記補正データの値から発光量を補正する光量補正範囲を決定し、該光量補正範囲内の２点の光量と該光量に対応する駆動電流とから前記光量補正範囲における前記レーザダイオードのＩ−Ｌ特性の傾きを算出し、算出した傾きを使用して前記補正データを補正することを特徴とする。
【００１１】
また、上記目的を達成するため、請求項９記載の制御プログラムは、Ｉ−Ｌ特性が非線形なレーザダイオードを備えた光走査装置の制御方法をコンピュータに実行させる制御プログラムであって、前記光走査装置の制御方法は、前記レーザダイオードの発光量を設定する光量設定ステップと、前記レーザダイオードの発光量を検出する光量検出ステップと、該光量検出ステップの検出出力に基づいて前記レーザダイオードに印加する駆動電流を調整して発光量を制御する光量制御ステップと、前記駆動電流を補正する補正データを補正するデータ補正ステップと、を有し、前記データ補正ステップでは、前記補正データの値から発光量を補正する光量補正範囲を決定し、該光量補正範囲内の２点の光量と該光量に対応する駆動電流とから前記光量補正範囲における前記レーザダイオードのＩ−Ｌ特性の傾きを算出し、算出した傾きを使用して前記補正データを補正することを特徴とする。
【００１２】
また、上記目的を達成するため、請求項１０記載の画像形成装置は、請求項１乃至７のいずれか１項に記載の光走査装置を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、Ｉ−Ｌ特性が非線形なレーザダイオードであっても、制御を複雑化することなく、精度の高い光量制御を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の実施の形態に係る画像形成装置の全体構成を示す断面図である。
【図２】図１の画像形成装置におけるレーザスキャナの全体構成を示す図である。
【図３】図２のレーザスキャナの制御系統を示すブロック図である。
【図４】図３におけるＰＤ回路の入出力特性を示す図である。
【図５】図３におけるＣＰＵ３００が行うレーザスキャナの光量制御処理を示すフローチャートである。
【図６】図５の光量制御処理におけるＡＰＣ制御のタイミングチャートである。
【図７】Ｉ−Ｌ特性が非線形なレーザダイオードにおける閾値電流算出誤差を示す図である。
【図８】Ｉ−Ｌ特性が非線形なレーザダイオードに対する閾値算出方法を示す図である。
【図９】Ｉ−Ｌ特性が線形なレーザダイオードにおける光量制御の概念図である。
【図１０】Ｉ−Ｌ特性が線形なレーザダイオードにおける光量制御の概念図である。
【図１１】Ｉ−Ｌ特性が非線形なレーザダイオードにおける光量制御誤差を示す図である。
【図１２】本発明におけるドラム感度補正の概念図である。
【図１３】本発明に係る折り返しミラーの反射率特性及びその補正方法を示す図である。
【図１４】本発明に係る折り返しミラーの反射率特性を補正する方法の概念図である。
【図１５】Ｉ−Ｌ特性が非線形なレーザダイオードにおけるＰＤ電圧（光量）とチャージ電圧（駆動電流）との関係を、理想直線の傾きηと比較して示す図である。
【図１６】Ｉ−Ｌ特性が非線形なレーザダイオードにおけるＰＤ電圧（光量）とチャージ電圧（駆動電流）との関係を示す図であって、特に、光学補正範囲の傾きη’を示す図である。
【図１７】一般的な半導体レーザダイオードにおけるＩ−Ｌ特性を示す図である。
【図１８】半導体レーザダイオードにおける非線形なＩ−Ｌ特性を示す図である。
【図１９】半導体レーザダイオードにおける耐久劣化に起因するＩ−Ｌ特性の変化を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１６】
図１は、本発明の実施の形態に係る画像形成装置の全体構成を示す断面図である。この画像形成装置は、光走査装置（以下、「レーザスキャナ」という。）を備えた複数の画像形成ユニットを有している。
【００１７】
図１において、画像形成装置としての電子写真カラー複写機１００は、複数の画像形成ユニットと、該画像形成ユニットの図１中、下方に順次設けられた中間転写ユニット１０３、搬送ユニット１１１及び給紙ユニット１０４とから主として構成されている。複数、例えば４つの画像形成ユニットは、それぞれ感光体としての感光ドラム１０２Ａ〜Ｄと、一次帯電器１０５Ａ〜Ｄと、現像装置１０６Ａ〜Ｄと、レーザスキャナ１０１Ａ〜Ｄとを備えている。一次帯電器１０５Ａ〜Ｄは、感光ドラム１０２Ａ〜Ｄの表面をそれぞれ一様に帯電させ、レーザスキャナ１０１Ａ〜Ｄは、一次帯電器１０５Ａ〜Ｄによって一様に帯電された感光ドラム１０２Ａ〜Ｄの表面にそれぞれレーザ光を照射して静電潜像を形成する。現像装置１０６Ａ〜Ｄは、感光ドラム１０２Ａ〜Ｄの表面に形成された静電潜像にトナーを供給して該静電潜像を顕像化する。
【００１８】
中間転写ユニット１０３は、二次転写ローラ１０８の構成ローラを含む複数のローラで支持された無端状の二次転写ベルトから構成されている。また、搬送ユニット１１１は、給紙ユニット１０４から払い出された転写材Ｐを１枚ずつキャッチするピックアップローラ１０７、二次転写ローラ１０８、定着装置１０９及び排紙部１１０を有する。定着装置１０９は、定着ローラ１０９ａを備えている。感光ドラム１０２Ａ〜Ｄ上で顕像化され、中間転写ユニット１０３に転写されたカラー画像は、二次転写ローラ１０８によって、転写材Ｐに転写され、定着装置１０９によって転写材Ｐに定着される。
【００１９】
このような構成の画像形成装置１００において、一次帯電器１０５Ａ〜Ｄは、図１中矢印Ａ方向に回転する感光ドラム１０２Ａ〜Ｄの表面をそれぞれ一様に帯電させる。一様に帯電した感光ドラム１０２Ａ〜Ｄの表面に、レーザスキャナ１０１Ａ〜Ｄがそれぞれ画像データに基づいて変調されたレーザビームを走査して感光ドラム１０２Ａ〜Ｄの表面にそれぞれ静電潜像を形成する。レーザビームの走査方向が主走査方向であり、主走査方向に直行する方向が副走査方向である。
【００２０】
次いで、現像装置１０６Ａ〜Ｄは、感光ドラム１０２Ａ〜Ｄにそれぞれ対応する色のトナーを供給して該感光ドラム１０２Ａ〜Ｄの表面に形成された静電潜像をそれぞれ顕像化する。感光ドラム１０２Ａ〜Ｄ上で顕像化された画像は、図１中、矢印Ｂ方向に沿って回転する中間転写ユニット１０３に順次一次転写されてカラー画像を形成する。このとき、ピックアップローラ１０７によって給紙ユニット１０４内の転写材Ｐが一枚ずつ送り出されて二次転写ローラ１０８まで搬送され、該二次転写ローラ１０８によって、中間転写ユニット１０３に転写されたカラー画像が転写材Ｐに転写される。転写材Ｐに転写されたカラー画像は、内部にハロゲンヒータ等の熱源を備えた定着ローラ１０９ａを有する定着装置１０９によって転写材Ｐに定着される。カラー画像が定着された転写材Ｐは排紙部１１０から系外に排紙される。
【００２１】
次に、画像形成装置１００が備えるレーザスキャナについて図面を参照しながら詳細に説明する。
【００２２】
図２は、図１の画像形成装置におけるレーザスキャナの全体構成を示す図である。
【００２３】
図２において、レーザスキャナ１０１は、光源としてのレーザダイオード２００、コリメータレンズ２０１、シリンドリカルレンズ２０２、開口絞り２０３、ハーフミラー２１２及びフォトダイオード（ＰＤセンサ）２１３を備えたＰＤ基板２１４を有する。また、レーザスキャナ１０１は、ポリゴンミラー２０４、ポリゴンモータ２０５、ｆθレンズ２０６、折り返しミラー２０７、反射ミラー２０８、同期センサ２０９、レーザ制御部２１０及びコントローラ２１１を備えている。
【００２４】
レーザ制御部２１０は、コントローラ２１１からの制御信号に応じてレーザダイオード２００を発光制御する。レーザダイオード２００から出射されたレーザビームは、コリメータレンズ２０１を通過して平行光線となる。シリンドリカルレンズ２０２は副走査方向にのみ屈折率を有しており、コリメータレンズ２０１を通過して平行光線となったレーザビームを副走査方向に集光させる。次いで、開口絞り２０３がレーザビームを主走査方向に所定の径で絞り、ハーフミラー２１２がレーザビームの一部をＰＤ基板２１４のＰＤセンサ２１３に反射させ、一部をポリゴンミラー２０４に照射させる。ＰＤセンサ２１３は入射光量に応じた電流を出力し、ＰＤ基板２１４（光量検出ユニット）は、出力された電流を電圧に変換し、変換した電圧をレーザ制御部２１０に送信する。入射光量に応じた電圧を受信したレーザ制御部２１０（光量制御ユニット）は、レーザダイオード２００の光量を制御する。なお、光量制御の詳細については後述する。
【００２５】
ポリゴンミラー２０４はコントローラ２１１からの制御信号によって回転するポリゴンモータ２０５によって回転し、ポリゴンミラー２０４に照射されたビームを走査する。走査されたビームはｆθレンズ２０６を通過し、折り返しミラー２０７で反射した後、感光ドラム１０２上を走査する。ここで、ｆθレンズ２０６は一定の角速度で回転走査されるレーザビームを感光ドラム１０２上で一定速度にするとともに、ビームスポットを主走査方向に集光させる。
【００２６】
さらに、ポリゴンミラー２０４によって走査されるレーザビームの一部は所定のタイミングで反射ミラー２０８で反射し、同期センサ（ＢＤセンサ）２０９に入射する。同期センサ２０９はレーザビームが入射するタイミングで、ＢＤ信号をコントローラ２１１に出力する。ＢＤ信号はポリゴンミラーの回転と画像書き出し開始タイミングとの同期を取るための信号である。コントローラ２１１はＢＤ信号を監視してポリゴンミラーの一回転周期が常に一定になるようにポリゴンモータ２０５を制御する。
【００２７】
次に、レーザスキャナ１０１の制御系統について、図面を参照しつつ詳細に説明する。
【００２８】
図３は、図２のレーザスキャナの制御系統を示すブロック図である。
【００２９】
図３において、レーザ制御部２１０は、コントローラ２１１、ＰＤ基板２１４及びレーザダイオード２００にそれぞれ接続されている。
【００３０】
レーザ制御部２１０は、目標電圧設定部３０４と、ゲイン回路３０５ａ、３０５ｂと、比較器３０６ａ、３０６ｂ、３０６ｃと、充放電電流生成回路３０７ａ、３０７ｂ、３０７ｃと、チャージコンデンサ３０８ａ、３０８ｂ、３０８ｃとを備える。目標電圧設定部３０４は、レーザビームのＡＰＣ制御（詳細は後述する）の目標値として使用する目標電圧Ｖｒｅｆを設定し、ゲイン回路３０５ａ、３０５ｂ（光量設定ユニット）は、ＰＤ基板２１４からの電圧を増幅する。また、比較器３０６ａ、３０６ｂ、３０６ｃは、ＰＤ基板２１４からの電圧（検出出力）と目標電圧Ｖｒｅｆとを比較し、充放電電流生成回路３０７ａ、３０７ｂ、３０７ｃは、ＣＰＵ３００からＳＨ＿ＣＴＬ信号が入力されると比較結果に応じて電流を増減する。チャージコンデンサ３０８ａ、３０８ｂ、３０８ｃは、比較結果に応じて増減された電流をチャージする。
【００３１】
また、レーザ制御部２１０は、Ｖ−Ｉ変換回路３１２と、閾値電流算出回路（閾値電流算出ユニット）３０９と、バイアス電流係数設定部３１０と、スイッチ３１３及び補正電流設定部ａ３１５、ｂ３１６（電流補正ユニット）を備えている。Ｖ−Ｉ変換回路３１２は、チャージコンデンサ３０８にチャージされた電圧を電流に変換し、閾値電流算出回路３０９は、チャージコンデンサ３０８にチャージされた電圧からレーザダイオード２００の閾値電流を算出する。バイアス電流係数設定部３１０は閾値電流に係数を乗算してバイアス電流を決定し、スイッチ３１３はチャージコンデンサ３０８の電圧をモニタし、補正電流設定部ａ３１５、ｂ３１６はレーザダイオード２００の駆動電流を補正する電流値を設定する。
【００３２】
コントローラ２１１は、制御信号や画像データの送信及び演算処理などを行う。コントローラ２１１は、ＣＰＵ（データ補正ユニット）３００、画像データを生成する画像データ生成部３０１、レーザスキャナの光学特性に応じたレーザダイオード２００の電流補正データなどを格納するメモリ３１４を備えている。また、コントローラ２１１は、アナログ−デジタル変換器３０２ａ、３０２ｂを備えている。アナログ−デジタル変換器（Ａｎａｌｏｇ−Ｄｉｇｉｔａｌ−Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ（以下、「ＡＤＣ」という。））３０２ａ、３０２ｂは、レーザ制御部２１０及びＰＤ基板２１４から送信されるアナログ信号をデジタル信号に変換する。
【００３３】
ＰＤ基板２１４は、レーザダイオード２００から出射されたレーザ光量に応じた電流を出力するＰＤセンサ２１３と、該ＰＤセンサ２１３からの出力電流を電圧に変換するＩ−Ｖ変換回路３０３とを有する。図４は、図３におけるＰＤ基板２１４の入出力特性を示す図である。図４に示したように、ＰＤ基板２１４は入射光量に比例した電圧（Ｖｐｄ）を出力する。
【００３４】
以下、このような構成のレーザスキャナを制御する制御方法（光走査装置の制御方法）としての光量制御処理について説明する。本処理は、光量制御プログラムである光量制御レシピに応じてコントローラ２１１のＣＰＵ３００が実行する。
【００３５】
図５は、図３におけるＣＰＵ３００が行うレーザスキャナの光量制御処理を示すフローチャートである。
【００３６】
レーザスキャナにおける光量制御処理が開始されると、まず、画像形成装置１００の電源が投入される（ステップＳ１４００）。画像形成装置１００に電源が投入されると、ＣＰＵ３００はレーザ制御部２１０内のバイアス電流係数設定部３１０及びゲイン回路３０５ａ、３０５ｂにそれぞれバイアス電流係数の設定及びゲインの設定を行う（ステップＳ１４０１）。
【００３７】
次いで、ＣＰＵ３００は、ＡＰＣ制御を行い、レーザダイオード２００の発光量を目標光量に制御する（ステップＳ１４０２）。ＡＰＣ（Ａｕｔｏ−Ｐｏｗｅｒ−Ｃｏｎｔｒｏｌ）制御とは、レーザダイオード２００の発光量を一定にする制御であって、本実施の形態では、レーザダイオード２００の発光量を画像形成装置１００内で使用する最大光量（Ｐ＿ｍａｘ）に制御する。
【００３８】
以下、ＡＰＣ制御について詳述する。
【００３９】
ＣＰＵ３００がレーザ制御部２１０を制御してレーザダイオード２００を発光させ、ＰＤ基板２１４のＰＤセンサ２１３が発光光を受光すると、ＰＤ基板２１４は発光量に応じた電圧（Ｖｐｄ）をレーザ制御部２１０に向けて出力する。レーザ制御部２１０に発光量に応じた電圧（Ｖｐｄ）が入力されると、比較器３０６ｃは入力された電圧（Ｖｐｄ）と目標電圧設定部３０４に予め設定されている目標電圧（Ｖｒｅｆ）とを比較する。
【００４０】
そして、両者の関係が
Ｖｐｄ＜Ｖｒｅｆ          ・・・・・（式１）
の場合、比較器３０６ｃはレーザダイオード２００の発光光量が目標光量よりも低いと判断する。そして、充放電電流生成回路３０７ｃがチャージコンデンサ３０８ｃを充電し、充電電圧を上昇させる。
【００４１】
一方、両者の関係が
Ｖｐｄ＞Ｖｒｅｆ          ・・・・・（式２）
の場合、比較器３０６ｃはレーザダイオード２００の発光光量が目標光量よりも高いと判断する。そして、充放電電流生成回路３０７ｃがチャージコンデンサ３０８ｃに蓄積されている電荷を放電させ、チャージコンデンサ３０８ｃのチャージ電圧を降下させる。なお、上記充放電動作はＣＰＵ３００からＳＨ＿ＣＴＬ３信号が充放電電流生成回路３０７ｃに入力されている間に行われ、それ以外の時間はチャージコンデンサ３０８ｃの電荷がホールドされる。
【００４２】
次いで、Ｖ−Ｉ変換回路３１２はチャージコンデンサ３０８ｃの電圧に応じた電流を調整し、レーザダイオード２００に駆動電流として印加する。以上の動作により、レーザダイオード２００の発光光量が目標光量である最大光量（Ｐ＿ｍａｘ）に制御される。このとき、ＣＰＵ３００は、ＰＤ基板２１４からの電圧（Ｖｐｄ＿ｍａｘ）をＡＤＣ３０２ａでデジタル化した値を１００％の光量値としてモニタし、メモリ３１４に記憶する。また、ＣＰＵ３００は、スイッチ３１３にＭＯＮ＿ＳＥＬ信号を送信し、最大光量（Ｐ＿ｍａｘ）に対する駆動電流に相当するチャージコンデンサ３０８ｃのチャージ電圧（Ｖｃｈ＿ｍａｘ）をモニタできるようスイッチ３１３を切り替える。さらにまた、ＣＰＵ３００は、モニタしたチャージ電圧（Ｖｃｈ＿ｍａｘ）をＡＤＣ３０２ｂでデジタル化してメモリ３１４に記憶する（ステップＳ１４０３）。
【００４３】
このようなＡＰＣ制御は、図６に示すように非画像区間で、リアルタイムに行われる。これによって、例えば、温度変化や耐久劣化によってＩ−Ｌ特性が変化してもレーザダイオード２００の発光量を常に一定の光量に制御することができる。
【００４４】
ＡＰＣ制御を行った後、ＣＰＵ３００は、レーザ制御部２１０の閾値電流算出回路３０９を制御してレーザダイオード２００の閾値電流（Ｉｔｈ）を算出させる。
【００４５】
レーザダイオード２００は閾値電流（Ｉｔｈ）以上の電流が印加されることで発光する。従って、レーザダイオード２００を高速駆動させるためには、該レーザダイオード２００に常に閾値電流（Ｉｔｈ）近傍のバイアス電流（Ｉｂ）を印加しておくことが一般的であり、そのためには、レーザダイオード２００の閾値電流（Ｉｔｈ）の算出が必要になる。閾値電流（Ｉｔｈ）は温度や耐久劣化などによって変化するために、非画像区間などを利用してリアルタイムに算出することが望ましい。
【００４６】
一般的なレーザダイオードは、上述した図１７に示したようにＩ−Ｌ特性が線形であるので、異なる２点の光量とその駆動電流とからＩ−Ｌ特性の傾きを算出し、該傾きに基づいて閾値電流（Ｉｔｈ）を算出することができる。従って、ＡＰＣ制御で一定光量に制御した際の光量と、該光量とは異なるもう１点の光量とから閾値電流（Ｉｔｈ）を算出する制御が一般的である。
【００４７】
しかしながら、本発明が対象とするＩ−Ｌ特性が非線形なレーザダイオード、例えば面発光型レーザダイオード（ＶＣＳＥＬ）は発光量が大きくなるほどＩ−Ｌ特性が非線形になる。このため、上述の方法で閾値電流を算出すると、図７に示したように、本来の閾値電流（Ｉｔｈ）と算出した閾値電流（Ｉｔｈ’）とに誤差を生じる。
【００４８】
そこで、本実施の形態では、図８に示したように、ＡＰＣ制御で一定に制御した最大光量（Ｐ＿ｍａｘ）よりも低い２点の光量とその駆動電流とからＩ−Ｌ特性の傾きを算出し、該傾きに基づいて閾値電流（Ｉｔｈ）を求める。
【００４９】
以下に、レーザダイオード２００をＶＣＳＥＬとし、ＡＰＣ制御を行った際の光量（Ｐ＿ｍａｘ）以外の２点の光量と該光量に対応する駆動電流とから閾値電流を算出する本実施の形態における閾値電流の算出動作について説明する。
【００５０】
まず、ＰＤ基板２１４からレーザダイオード２００の発光量に応じた電圧（Ｖｐｄ）がレーザ制御部２１０に入力されると、レーザ制御部２１０のゲイン回路３０５ａは、予め設定されたゲインで入力電圧を増幅する。本実施の形態ではゲイン回路３０５ａのゲインは、例えば４倍に設定されている。
【００５１】
次いで、比較器３０６ａは４倍に増幅された電圧（Ｖｐｄ＿ａ）と、目標電圧設定部３０４に設定された目標電圧（Ｖｒｅｆ）を比較する。比較した結果、両者の関係が
Ｖｐｄ＿ａ＜Ｖｒｅｆ            ・・・・・（式３）
の場合、比較器３０６ａはレーザダイオード２００の発光光量が目標光量よりも低いと判断する。そして、充放電電流生成回路３０７ａはチャージコンデンサ３０８ａを充電し、チャージコンデンサ３０８ａの電圧を上昇させる。
【００５２】
一方、両者の関係が
Ｖｐｄ＿ａ＞Ｖｒｅｆ            ・・・・・（式４）
の場合、比較器３０６ａはレーザダイオード２００の発光光量が目標光量よりも高いと判断する。そして、充放電電流生成回路３０７ａはチャージコンデンサ３０８ａに蓄積されている電荷を放電させ、チャージコンデンサ３０８ａの電圧を降下させる。なお、上記充放電動作はＣＰＵ３００からＳＨ＿ＣＴＬ１信号が充放電電流生成回路３０７ａに入力されている間に行われ、それ以外の時間はチャージコンデンサ３０８ａの電荷がホールドされる。
【００５３】
次いで、Ｖ−Ｉ変換回路３１２はチャージコンデンサ３０８ａのチャージ電圧（Ｖｃｈ＿ａ）に応じた駆動電流を生成し、レーザダイオード２００にこの駆動電流を印加する。この場合、ゲイン回路３０５ａのゲインが４倍であるため、レーザダイオード２００の発光光量は最大光量（Ｐ＿ｍａｘ）の１／４に制御される。
【００５４】
ゲイン回路３０５ｂも上記動作と同様に、あらかじめ設定されたゲインで入力電圧を増幅する。本実施の形態ではゲイン回路３０５ｂのゲインは、例えば２倍に設定されている。
【００５５】
比較器３０６ｂは２倍に増幅された電圧（Ｖｐｄ＿ｂ）と、目標電圧設定部３０４に設定された目標電圧（Ｖｒｅｆ）を比較する。比較した結果、両者の関係が
Ｖｐｄ＿ｂ＜Ｖｒｅｆ          ・・・・・（式５）
の場合、比較器３０６ｂはレーザダイオード２００の発光光量が目標光量よりも低いと判断する。そして、充放電電流生成回路３０７ｂはチャージコンデンサ３０８ｂを充電し、チャージコンデンサ３０８ｂのチャージ電圧を上昇させる。
【００５６】
一方、両者の関係が
Ｖｐｄ＿ｂ＞Ｖｒｅｆ      （式６）
の場合、比較器３０６ｂはレーザダイオード２００の発光光量が目標光量よりも高いと判断する。そして、充放電電流生成回路３０７ｂはチャージコンデンサ３０８ｂに蓄積されている電荷を放電させ、チャージコンデンサ３０８ｂの電圧を降下させる。なお、上記充放電動作はＣＰＵ３００からＳＨ＿ＣＴＬ２信号が充放電電流生成回路３０７ｂに入力されている間に行われ、それ以外の時間はチャージコンデンサ３０８ｂの電荷がホールドされる。
【００５７】
次いで、Ｖ−Ｉ変換回路３１２はチャージコンデンサ３０８ｂのチャージ電圧に応じた駆動電流を生成し、レーザダイオード２００にこの駆動電流を印加する。この場合、ゲイン回路３０５ｂのゲインが２倍であるため、レーザダイオード２００の発光光量は最大光量（Ｐ＿ｍａｘ）の１／２に制御される。
【００５８】
次いで、閾値電流算出回路３０９は、１／４の光量とその時のチャージコンデンサ３０８ａのチャージ電圧（Ｖｃｈ＿ａ）と、１／２の光量とその時のチャージコンデンサ３０８ｂのチャージ電圧（Ｖｃｈ＿ｂ）とに基づいて閾値電流を算出する。チャージ電圧Ｖｃｈ＿ｂは、駆動電流に相当する。すなわち、閾値電流算出回路３０９は、１／４及び１／２の光量並びにこれらに対応するチャージ電圧（Ｖｃｈ＿ａ）及び（Ｖｃｈ＿ｂ）とから、レーザダイオード２００のＩ−Ｌ特性の傾きを算出し、閾値電流に相当するチャージ電圧（Ｖｔｈ）を算出する。また、その電圧を閾値電流（Ｉｔｈ）に変換する（ステップＳ１４０４）。そして、ＣＰＵ３００は、レーザ制御部２１０を制御して閾値電流にバイアス電流係数設定部３１０にあらかじめ設定された係数を乗算した電流をバイアス電流としてレーザダイオード２００に常時印加する。
【００５９】
以上の動作を、非画像区間でリアルタイムで行うことにより、閾値電流が温度や耐久劣化などによって変化した場合にも、適切なバイアス電流を常に算出し、該バイアス電流を印加することができる。このとき、ＣＰＵ３００は、閾値電流算出回路３０９が算出した閾値電流に相当するチャージ電圧（Ｖ＿ｔｈ）を読み出してメモリ３１４に記憶する。
【００６０】
また、このときＣＰＵ３００は、上述の（Ｖｐｄ＿ｍａｘ）と、（Ｖｃｈ＿ｍａｘ）と、（Ｖｔｈ）とから図９に示すような演算を行う。これによって、レーザダイオード２００におけるチャージ電圧と、発光光量とが正比例すると仮定した場合の理想直線の傾きηを算出し、メモリ３１４に記憶しておく（ステップＳ１４０５）。
【００６１】
このようにしてＡＰＣ制御及び閾値電流の算出を行った後、ＣＰＵ３００は、直ちにプリントスタートを行わず（ステップＳ１４０６）、レーザダイオード２００における光量補正の要否を判別する。すなわち、画像形成装置では、感光ドラムの感度及びレーザスキャナの光学特性がレーザダイオード２００の発光光量に影響を与えるために、これらに基づいて発光光量を補正する。発光光量の補正は、ＡＰＣ制御によって求められた最大光量（Ｐ＿ｍａｘ）に対応する最大駆動電流に所定係数を乗算することによって行う。
【００６２】
図１０は一般的、すなわち、Ｉ−Ｌ特性が線形なレーザダイオードにおける光量制御の概念図である。図１０において、バイアス電流をＩｂ、スイッチング駆動に使用する電流をＩｓｗとする。一般的なレーザダイオードはＩ−Ｌ特性が線形であるため、Ｉｓｗに所望の係数αを乗算することで所望の光量（Ｐｍａｘ×α）に制御することが可能である。例えばＩｓｗに５０％を乗算すると、光量も５０％に制御される。
【００６３】
しかしながら、本発明が対象とするＩ−Ｌ特性が非線形のレーザダイオードにおいては、図１１に示したように、スイッチング駆動電流に係数αを乗算しても所望の光量に制御することができない。
【００６４】
そこで、本実施の形態においては、駆動電流を、所望の光量が得られる駆動電流にするための補正として、先ず、感光ドラムの感度による光量補正（以下、「ドラム感度補正」という。）を行うか否かを判別する（ステップＳ１４０７）。
【００６５】
判別の結果、ドラム感度補正を行わない場合（ステップＳ１４０７で、Ｎｏの場合）は、ステップＳ１４０２に戻る。一方、ドラム感度補正を行う場合、すなわち、ドラム感度補正がＯＮになっている場合（ステップＳ１４０７で、Ｙｅｓの場合）、ＣＰＵ３００は、以下のような処理を行う。
【００６６】
すなわち、図１２に示したように、複数の駆動電流による光量を用いて感光ドラムに複数の濃度パッチを描き、その濃度を濃度センサによって読み取る。そして、所望の濃度となるレーザ光量（図１２では、パッチＢが最適濃度とする）を検出し、現状のドラム感度において、最適濃度が得られる適切な光量となるための補正電流係数を決定する。その後、該補正電流係数をレーザ制御部２１０の補正電流設定部ａ３１５に設定する（ステップＳ１４０８）。これによって、画像領域ではレーザダイオード２００に印加される駆動電流に補正電流係数が乗算され、補正電流係数を乗算した電流がレーザダイオード２００に印加されるので、所望の濃度に対応する光量が出力される。
【００６７】
このようなドラム感度補正は、図１３に示したように、レーザスキャナの主走査方向の位置によらず、一律に光量制御される。ドラム感度補正は、電源投入時や電源投入後の一定時間毎に行うことが好ましい。
【００６８】
このとき、ドラム感度補正後のレーザダイオード２００の発光量（Ｐ＿ＤＲ）を知るため、ＣＰＵ３００は、補正した光量でレーザダイオード２００を発光させ、そのときのＰＤ基板２１４からの電圧（Ｖ＿ＤＲ）をＡＤＣ３０２ａでデジタル化する。そして、デジタル化した値をメモリ３１４に記憶する（ステップＳ１４０９）。上述したようにＰＤ基板２１４からの出力電圧はレーザの発光量に対して線形の特性である。従って、ＣＰＵ３００は、
Ｖ＿ＤＲ／Ｖｐｄ＿ｍａｘ＝Ｐ＿ＲＡＴ        ・・・・・（式７）
に基づいて最大光量Ｐｍａｘに対する補正後の光量（Ｐ＿ＤＲ）の比率Ｐ＿ＲＡＴを算出する（ステップＳ１４１０）。
【００６９】
そして、上述の（式７）によって算出したＰｍａｘに対する比率（Ｐ＿ＲＡＴ）の逆数｛１／（Ｐ＿ＲＡＴ）｝をゲイン回路３０５ｂに設定する（ステップＳ１４１１）。その後、ＣＰＵ３００は、ＳＨ＿ＣＴＬ２を充放電電流生成回路３０７ｂに送信し、ＡＰＣ制御を行うことで、光量をＰｍａｘ×Ｐ＿ＲＡＴに制御する。ここで、このときの駆動電流を検出するために、ＣＰＵ３００は、ＭＯＮ＿ＳＥＬ信号を出力し、駆動電流に相当するチャージコンデンサ３０８ｂのチャージ電圧（Ｖｃｈ＿ＤＲ）をモニタできるようにスイッチ３１３を切り替える。そして、そのチャージ電圧をＡＤＣ３０２ｂでデジタル値に変換してモニタしメモリ３１４に記憶しておく（ステップＳ１４１２）。
【００７０】
次に、ＣＰＵ３００は、レーザスキャナの光学特性に応じた光量制御（以下、「光学特性補正」という。）を行う。
【００７１】
先ず、Ｉ−Ｌ特性が線形な一般的なレーザダイオードにおける光学特性補正について図１４を参照しつつ説明する。
【００７２】
レーザスキャナ１０１内の折り返しミラー２０７は、図１４に示したように入射角によって反射率が異なる特性を有している。そのため、レーザダイオード２００が一定の光量で発光していても、主走査位置によって感光ドラムを露光する光量が異なってくる。そこで、折り返しミラー２０７の反射率の特性がレーザスキャナの組み立て時に予め測定され、そのデータ（反射率データ）が駆動電流を補正するための補正データ（以下、「光学補正係数」という。）としてメモリ３１４に格納されている。すなわち、レーザスキャナの主走査方向における所定の位置と、その位置に応じた光学補正係数がメモリ３１４に格納されている。具体的には、主走査位置の最大反射率（図１４中ではＲ）を１００％とし、該最大反射率１００％の位置に対して所定の差分だけ離れた所定位置の反射率が８５％であれば、その位置データと、１００％との差分の１５％というデータがメモリ３１４に格納されている。
【００７３】
よって、補正電流設定部ｂ３１６には「１００％−１５％＝８５％」という設定値が設定され、これらのデータが同期センサ２０９の信号に同期したタイミングで読み出され、レーザダイオード２００の駆動電流に係数として乗算される。これによって、駆動電流が補正され、主走査方向のそれぞれの位置で所望の光量に制御されるので、主走査方向の位置によらずドラム面上の光量が一定になる。なお、この制御は上述のドラム感度補正が行われた光量（Ｐ＿ＤＲ）に対して行われる。
【００７４】
ところで、Ｉ−Ｌ特性が線形なレーザダイオードに対しては、上記のように電流に反射率データ（光学補正係数）をそのまま乗算することで所望の光量に制御することができる。
【００７５】
しかしながら、本発明が対象とするＩ−Ｌ特性が非線形のレーザダイオードに対しては、図１１に示したように、そのまま係数を乗算しても所望の光量に制御することができない。
【００７６】
そこで、本実施の形態では、図１５に示したように、補正する範囲のＩ−Ｌ特性の傾きη’を算出し、上述の理想直線の傾きηとの差分からメモリ３１４内の光学補正係数Ｄに対して、該傾きの比η／η’を乗算する。これによって当該光学補正係数Ｄを補正して補正電流設定部ｂ３１６に設定する。
【００７７】
以下、本実施の形態における光学特性補正について説明する。
【００７８】
先ず、ＣＰＵ３００は、メモリ３１４内に予め格納されているレーザスキャナの光学補正係数Ｄの中から最も大きい補正値（Ｄ＿ＭＡＸ）をサーチする（ステップＳ１４１３）。その後、該最も大きい補正値（Ｄ＿ＭＡＸ）と、上述した最大光量Ｐｍａｘに対するドラム感度補正後の光量（Ｐ＿ＤＲ）の比率（Ｐ＿ＲＡＴ）とから、以下の演算を行って（Ｐ＿ＣＡＬ）を求める（ステップＳ１４１４）。
【００７９】
Ｐ＿ＲＡＴ×（１−Ｄ＿ＭＡＸ）＝Ｐ＿ＣＡＬ        ・・・・・（式８）
（式８）のＰ＿ＣＡＬはレーザスキャナ光学補正後の最も低い光量となる。
【００８０】
次いで、ＣＰＵ３００は、Ｐ＿ＣＡＬの逆数（１／Ｐ＿ＣＡＬ）をゲイン回路３０５ａに設定し（ステップＳ１４１５）、ＳＨ＿ＣＴＬ１を充放電電流生成回路３０７ａに送信し、ＡＰＣ制御を行うことで、発光光量をＰ＿ＣＡＬに制御する。また、ＣＰＵ３００は、この時のＰＤ電圧（Ｖ＿ＣＡＬ）をメモリ３１４に記憶するとともに（ステップＳ１４１６）、ＭＯＮ＿ＳＥＬ信号を出力する。そして、そのときの駆動電流に相当するチャージコンデンサ３０８ａのチャージ電圧（Ｖｃｈ＿ＣＡＬ）をモニタできるようにスイッチ３１３を切り替える。そして、この電圧をＡＤＣ３０２ｂでデジタル値に変換してモニタし、メモリ３１４に記憶する（ステップＳ１４１７）。
【００８１】
このとき、ＣＰＵ３００は、上述のＶ＿ＤＲ、Ｖｃｈ＿ＤＲ、Ｖ＿ＣＡＬ、Ｖｃｈ＿ＣＡＬとから図１６に示すような演算を行い、光量補正範囲及び光量補正範囲内のＩ−Ｌ特性の傾きη’を算出する（ステップＳ１４１８）。その後、上述の理想直線の傾きηと補正範囲のＩ−Ｌ特性の傾きη’とから、メモリに格納された光学補正係数Ｄに対して以下の演算を行う（ステップＳ１４１９）。
【００８２】
Ｄ’＝（１−Ｄ）×η／η’          ・・・・・（式９）
そして、ＣＰＵ３００は、補正後の光学補正係数Ｄ’を補正電流設定部ｂ３１６に設定して光学補正係数を更新し（ステップＳ１４２０）、レーザダイオード２００を所望の光量に制御する。これによって、Ｉ−Ｌ特性が非線形のレーザダイオードであっても高精度の光量制御が可能となる。
【００８３】
光学補正係数Ｄ’の算出、更新操作はドラム感度補正が行われる度に実行することが好ましい。これによって、そのとき使用する光量範囲及びＩ−Ｌ特性に応じた光学補正係数Ｄ’を更新することができる。そして、その後、プリントスタートが選択されると（ステップＳ１４０６でＹｅｓ）、光学補正係数Ｄ’によって駆動電流を補正した光量制御が行われる（ステップＳ１４２１）。光学補正係数Ｄ’によって光量制御を行った後、プリントを開始して本処理を終了する（ステップＳ１４２２）。
【００８４】
図５の光量制御処理によれば、Ｉ−Ｌ特性に従って求められるレーザスキャナの発光光量について、感光ドラムの感度に応じたドラム感度補正及びレーザスキャナの光学特性に応じた光学特性補正を行う。これによって、Ｉ−Ｌ特性が非線形なレーザダイオードを適用したレーザスキャナであっても、制御を複雑化することなく、精度の高い光量制御を行うことができる。
【００８５】
本実施の形態において、ドラム感度補正が行われた発光光量に対して光学特性補正を行うことが好ましい。また、ドラム感度補正及び光学特性補正は、リアルタイム、例えばレーザスキャナの起動時又は起動後の一定の稼働時間毎に行うことが好ましい。これによって、温度変化及びドラムの劣化に追従した光量制御を行うことができる。
【００８６】
なお、本実施の形態においては、メモリ３１４に格納するデータとして折り返しミラーの反射率データを格納し、そのデータから傾きη’を算出したが、このデータはドラムの感度ムラなどのデータでも同じアルゴリズムが適用可能である。
【００８７】
また、本発明の目的は、以下の処理を実行することによって達成される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体を、システム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出す処理である。
【００８８】
この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施の形態の機能を実現することになり、そのプログラムコード及び該プログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。
【００８９】
また、プログラムコードを供給するための記憶媒体としては、次のものを用いることができる。例えば、フロッピー（登録商標）ディスク、ハードディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等である。または、プログラムコードをネットワークを介してダウンロードしてもよい。
【００９０】
また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、上記実施の形態の機能が実現される場合も本発明に含まれる。加えて、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼動しているＯＳ（オペレーティングシステム）等が実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれる。
【００９１】
更に、前述した実施形態の機能が以下の処理によって実現される場合も本発明に含まれる。即ち、記憶媒体から読み出されたプログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書き込まれる。その後、そのプログラムコードの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵ等が実際の処理の一部または全部を行う場合である。
【符号の説明】
【００９２】
１００  画像形成装置
１０１  レーザスキャナ
２００  レーザダイオード
２１０  レーザ制御部
２１１  コントローラ
２１４  ＰＤ基板
３００  ＣＰＵ
３０４  目標電圧設定部
３０５  ゲイン回路
３０６  比較器
３０９  閾値電流算出回路
３１４  記憶部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図１２】
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