(57)【要約】【課題】不適正な発振器が取り付けられていることを検出可能な遊技球の発射装置の制御装置を提供する。【解決手段】制御装置３２は、発振器３１から供給された所定のクロック周波数を持つクロック信号に基づいて、クロック周波数に第１の比を乗じて得られる第１の周波数と、クロック周波数に応じたパルス幅を持つ所定数の第１のパルス信号を生成し、その所定数の第１のパルス信号を出力するタイミングパルス生成部３２１と、タイミングパルス生成部３２１から受け取った所定数の第１のパルス信号によって、パルス幅に応じた充電量だけ充電される周波数電圧変換部３２２と、所定数の第１のパルス信号を出力した後に周波数電圧変換部３２２の充電量に応じた電圧値を読み取り、その電圧値とクロック周波数との関係を表すデータを参照することにより、クロック周波数を推定するクロック周波数推定部３２３とを有する。【選択図】図４
2013165829.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
遊技機に搭載される、遊技球を発射する発射装置に対して所定の発射周期を持つ制御信号を供給する制御装置であって、
発振器から供給された所定のクロック周波数を持つクロック信号に基づいて、前記クロック周波数に第１の比を乗じて得られる第１の周波数と、前記クロック周波数に応じたパルス幅を持つ所定数の第１のパルス信号を生成し、該所定数の第１のパルス信号を出力するタイミングパルス生成部と、
前記タイミングパルス生成部から受け取った前記所定数の第１のパルス信号によって、前記パルス幅に応じた充電量だけ充電される周波数電圧変換部と、
前記所定数の前記第１のパルス信号を出力した後に前記周波数電圧変換部の充電量に応じた電圧値を読み取り、該電圧値と前記クロック周波数との関係を表すデータを参照することにより、前記クロック周波数を推定するクロック周波数推定部と、
を有する制御装置。
【請求項２】
前記クロック周波数推定部は、推定されたクロック周波数が所定の許容範囲に含まれるか否かを判定し、当該推定されたクロック周波数が前記所定の許容範囲に含まれている場合、当該推定されたクロック周波数と特定周波数との比に応じて第２の比を決定し、該第２の比を前記タイミングパルス生成回路へ通知し、
前記タイミングパルス生成回路は、前記クロック信号を前記第２の比に基づいて分周することにより前記特定周波数を持つ基準信号を生成し、該基準信号に基づいて前記制御信号を生成する、請求項１に記載の制御装置。
【請求項３】
前記クロック周波数推定部は、前記推定されたクロック周波数が前記所定の許容範囲から外れている場合、前記発振器が不適正であることを示す信号を他の機器へ出力する、請求項２に記載の制御装置。
【請求項４】
前記クロック周波数推定部は、前記推定されたクロック周波数が前記所定の許容範囲から外れている場合、前記タイミングパルス生成回路に前記制御信号の生成を停止させる、請求項２または３に記載の制御装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、遊技球を発射する発射装置を制御する制御装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
弾球遊技機には、遊技球を発射するための発射装置が搭載されている。そして発射装置の制御回路が、発射装置が遊技球を連続的に発射する際の発射間隔を制御する。このような制御回路は、その制御回路と別途設けられた発振器から供給されるクロック信号に基づいて動作している（例えば、特許文献１を参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平９−１２２３０３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
遊技機では、発射間隔が短過ぎると、遊技者の射幸心を煽り過ぎるおそれがあるため、遊技機の認定及び型式の検定等に関する規則によって、発射装置は、１分間に100発を超える遊技球を発射しないように規制されている。
【０００５】
しかしながら、上記の制御回路では、クロック信号に基づいて発射間隔に応じた制御信号を生成し、発射装置に供給している。そのため、正規の発振器が、その発振器のクロック周波数よりも高いクロック周波数を持つクロック信号を出力する不適正な発振器に取り替えられると、制御回路から発射装置に出力される制御信号の周期が短縮され、１分間に100発よりも多い遊技球を発射する不正行為が可能となる。
【０００６】
そこで、本発明は、不適正な発振器が取り付けられていることを検出可能な、遊技球を発射する発射装置の制御装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一つの形態として、遊技機に搭載される、遊技球を発射する発射装置に対して所定の発射周期を持つ制御信号を供給する制御装置が提供される。この制御装置は、発振器から供給された所定のクロック周波数を持つクロック信号に基づいて、クロック周波数に第１の比を乗じて得られる第１の周波数と、クロック周波数に応じたパルス幅を持つ所定数の第１のパルス信号を生成し、その所定数の第１のパルス信号を出力するタイミングパルス生成部と、タイミングパルス生成部から受け取った所定数の第１のパルス信号によって、パルス幅に応じた充電量だけ充電される周波数電圧変換部と、所定数の第１のパルス信号を出力した後に周波数電圧変換部の充電量に応じた電圧値を読み取り、その電圧値とクロック周波数との関係を表すデータを参照することにより、クロック周波数を推定するクロック周波数推定部とを有する。
【０００８】
ここでクロック周波数推定部は、推定されたクロック周波数が所定の許容範囲に含まれるか否かを判定し、推定されたクロック周波数がその所定の許容範囲に含まれている場合、推定されたクロック周波数と特定周波数との比に応じて第２の比を決定し、その第２の比をタイミングパルス生成回路へ通知し、タイミングパルス生成回路は、クロック信号を第２の比に基づいて分周することによりその特定周波数を持つ基準信号を生成し、その基準信号に基づいて制御信号を生成することが好ましい。
【０００９】
この場合において、クロック周波数推定部は、推定されたクロック周波数が所定の許容範囲から外れている場合、発振器が不適正であることを示す信号を他の機器へ出力することが好ましい。
【００１０】
さらに、クロック周波数推定部は、推定されたクロック周波数が所定の許容範囲から外れている場合、タイミングパルス生成回路に制御信号の生成を停止させることが好ましい。
【発明の効果】
【００１１】
本発明に係る発射装置の制御装置は、不適正な発振器が取り付けられていることを検出できるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の一つの実施形態による、遊技球を発射する発射装置を制御する制御装置が搭載された遊技機の概略斜視図である。
【図２】（ａ）は、遊技球の発射時における発射装置の概略正面図であり、（ｂ）は、待機時における発射装置の概略正面図である。
【図３】発射装置の回路構成図である。
【図４】本発明の一実施形態である制御回路の回路構成図である。
【図５】（ａ）は、クロック周波数が相対的に低く、パルス幅が広いときの検査用パルス信号の例を示す図であり、（ｂ）は、クロック周波数が相対的に高く、相対的にパルス幅が狭いときの検査用パルス信号の例を示す図である。（ｃ）は、検査用パルス信号のパルス幅とキャパシタCの充電量との関係を表すグラフである。
【図６】電圧周波数テーブルの一例を示す図である。
【図７】クロック周波数推定処理の動作フローチャートである。
【図８】遊技機システムの概略構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、図を参照しつつ、本発明の実施形態による、遊技機に搭載され、遊技球を発射する発射装置に所定の発射周期を持つ制御信号を供給することで、その発射装置を制御する制御装置について説明する。この制御装置は、制御信号を生成するための基準となる、所定のクロック周波数を持つクロック信号を、その制御装置に供給する発振器が適正か否かを判定する。そのために、この制御装置は、クロック周波数に応じた周期及びパルス幅を持つパルス信号を生成し、予め設定された所定個数のパルス信号をキャパシタに印加することで、キャパシタをクロック周波数に応じた充電量となるように充電する。そしてこの制御装置は、キャパシタの充電量に応じた電圧を調べることで、クロック周波数を推定し、推定されたクロック周波数が許容範囲内に含まれるか否かにより、発振器が適正か否かを判定する。
【００１４】
図１に、本発明の一つの実施形態による、遊技球を発射する発射装置を制御する制御装置を実装した遊技機の概略斜視図を示す。図１に示すように、遊技機１は、上部から中央部の大部分の領域に設けられた遊技盤２と、下部に配設された玉受け部３及び回転ハンドル４などで構成される。遊技機１では、遊技者が回転ハンドル４を回動させると、遊技機１に内蔵された発射装置が、一定の発射間隔で、その回転角に応じた発射速度で遊技球を発射する。発射された遊技球は、遊技盤２の側方に設けられたレール５に沿って上方へ移動し、遊技盤２上に設けられた多数の障害釘６の間を落下する。そして、その落下する遊技球が入賞口７に入ると、すなわち、入賞すると、所定個数の遊技球が、遊技盤２の背面に設置された賞球払出装置（図示せず）を通じて玉受け部３へ払い出される。さらに、遊技盤２の略中央部に配設された表示装置８は、入賞の有無などに応じて様々に変化する遊技情報を遊技者に表示する。
【００１５】
図２（ａ）は、発射時における発射装置１０の概略正面図であり、図２（ｂ）は、待機時における発射装置１０の概略正面図である。また図３は、発射装置１０の回路構成図である。発射装置１０は、遊技球を弾いて発射させる弾球鎚１１と、弾球鎚１１を駆動する発射ソレノイド１２と、発射ソレノイド１２に所定の励磁電流を供給する発射回路１３と、待機通路２０内に遊技球を係止するための係止部材１４と、係止部材１４を駆動して、待機通路内２０内の遊技球を発射位置まで移動させる玉送りソレノイド１５を有する。
【００１６】
図２（ａ）及び図２（ｂ）に示されるように、弾球鎚１１は、その一端が発射ソレノイド１２の回転軸１２ａに対して回動可能なように取り付けられる。また、弾球鎚１１の他端には、遊技球を弾く突起状の鎚部分１１ａが形成されている。
弾球鎚１１の待機位置には、第１受け部材２１が配置され、発射ソレノイド１２が駆動されない場合には、弾球鎚１１が第１受け部材２１に当接した状態で静止する。また、弾球鎚１１の発射位置には、第２受け部材２２が配置される。そして、発射ソレノイド１２の回転軸１２ａの回転に伴って、弾球鎚１１がその回転軸１２ａを回転中心として回動し、発射位置に待機している遊技球Ｐを鎚部分１１ａで打撃することにより発射する。そして弾球鎚１１は、第２受け部材２２に当接して停止する。その後、発射ソレノイド１２が駆動されなくなると、弾球鎚１１は、第１受け部材２１に当接するまで、自重によって発射時とは逆向きに回動する。
【００１７】
発射ソレノイド１２は、それ自体に流れる励磁電流の強度に応じた力を発生させるものであり、その力を弾球鎚１１に伝達することにより、所定の発射速度で遊技球を発射させる。本実施形態では、発射ソレノイド１２をロータリーソレノイドで構成した。発射ソレノイド１２は、発射回路１３から供給される励磁電流の強度に応じたトルクを発生して、回転軸１２ａを回転中心として弾球鎚１１を回転させる。なお、発射回路１３の詳細については後述する。
【００１８】
係止部材１４は、待機通路２０の発射装置１０側の端部に形成されたケース２３内に収容されている。係止部材１４の待機通路２０側の端部は、待機通路２０に対して凹状となるように、コの字型に形成されている。一方、係止部材１４は、その反対側の端部近傍において、待機通路２０内の流路に沿った垂直面に直交するように設けられた回転軸１４ａに対して回動可能に取り付けられている。そして係止部材１４は、鉄などの磁性体で形成されている。
【００１９】
係止部材１４の上方には、玉送りソレノイド１５が配置されている。玉送りソレノイド１５に励磁電流が供給されると、係止部材１４は、玉送りソレノイド１５に引き寄せられるので、回転軸１４ａを回転軸として反時計回りに回動し、玉送りソレノイド１５に当接したところで停止する。そして、待機通路２０内の最下端に位置する遊技球が転動して、係止部材１４の凹部に入る。その後、玉送りソレノイド１５への駆動電流の供給が停止されると、係止部材１４は、その自重によって時計回りに回動し、係止部材１４の下端がケース２３に当接した位置で停止する。その際、凹部に入っていた遊技球が、ケース２３の開口２４を通って発射位置まで落下する。またこの場合、係止部材１４の待機通路２０側の端部の上側の突起部分が待機通路２０と対向し、待機通路２０内の遊技球を係止する。
【００２０】
以下に、発射回路１３の詳細について説明する。発射回路１３は、所定の発射周期にて、遊技機の回転ハンドル４を通じて指定された発射速度で遊技球を発射するように、発射ソレノイド１２に供給する励磁電流の量を制御する。
図３に示されるように、発射回路１３は、発振器３１と、制御回路３２と、判定回路３３と、駆動回路３４とを有する。
【００２１】
発振器３１は、例えば、水晶発振器により構成され、所定のクロック周波数を持つパルス信号であるクロック信号を生成し、そのクロック信号を制御回路３２へ供給する。クロック周波数は、例えば、2MHz〜4MHzに設定される。
【００２２】
制御回路３２は、本発明による発射装置の制御装置の一例であり、発振器３１からのクロック信号に基づいて、所定の発射周期を持つパルス信号を生成する。また制御回路３２は、発振器３１から供給されたクロック信号のクロック周波数を推定し、推定したクロック周波数が所定の許容範囲に含まれるか否か判定する。
【００２３】
図４は、制御回路３２の回路構成図である。制御回路３２は、タイミングパルス生成回路３２１と、周波数電圧変換回路３２２と、クロック周波数推定回路３２３とを有する。周波数電圧変換回路３２２とクロック周波数推定回路３２３とは、互いに独立した回路であってもよく、あるいは、一つの集積回路として実装されてもよい。
【００２４】
タイミングパルス生成回路３２１は、例えば、分周回路、不揮発性の半導体メモリ及びプロセッサを有する。タイミングパルス生成回路３２１は、これらの回路が一つに集積された集積回路として実装されてもよい。
【００２５】
タイミングパルス生成回路３２１は、例えば、発射回路１３の起動時において、クロック周波数に対して所定の比率を乗じた周波数を持ち、かつ所定のデューティ比を持つ所定数の検査用パルス信号を、例えば、クロック信号をその比率に応じて分周することにより生成する。そしてタイミングパルス生成回路３２１は、その所定数の検査用パルス信号を出力端子x3から周波数電圧変換回路３２２へ出力する。
【００２６】
周波数電圧変換回路３２２及びクロック周波数推定回路３２３は、タイミングパルス生成回路３２１から出力された所定数の検査用パルス信号に基づいて、発振器３１から供給されるクロック信号のクロック周波数を推定し、推定したクロック周波数に基づいて、発振器３１が適正か否かを判定する。なお、周波数電圧変換回路３２２及びクロック周波数推定回路３２３の詳細については後述する。
【００２７】
発振器３１が適正であると判定された場合、タイミングパルス生成回路３２１は、クロック周波数推定回路３２３から指示された分周比に従って、発振器３１から供給されたクロック信号を分周することにより、例えば１分間に100回弱の発射周期にて繰り返されるパルス信号を、発射回路１３に供給する制御信号として生成する。例えば、タイミングパルス生成回路３２１は、パルス信号のパルス幅よりも十分に短い周期を持つ基準タイマ信号を、その分周比によってクロック信号を分周することにより生成する。そのため、基準タイマ信号は、クロック周波数によらず、一定の周期を持つ。なお、基準タイマ信号の周期は、例えば、100μsecに設定される。そしてタイミングパルス生成回路３２１は、その基準タイマ信号に基づいて、発射周期を持つパルス信号を生成する。例えば、発射周期が100発／分であると、一周期の長さは600msecとなる。そして一周期中に、発射ソレノイド１２に励磁電流を流す期間を75msecとすれば、タイミングパルス生成回路３２１は、カウンタ（図示せず）を用いて基準タイマ信号を750回カウントしている間、出力端子x1からパルス信号を出力する。そしてタイミングパルス生成回路３２１は、基準タイマ信号のカウント数が750を超えた時点でパルス信号の出力を停止し、その後、基準タイマ信号のカウント数が6000に達すると、カウンタのカウンタ値をリセットする。これにより、タイミングパルス生成回路３２１は、クロック信号のクロック周波数によらずに、所定の発射周期でパルス信号を出力できる。出力端子x1から出力されたパルス信号は、判定回路３３に供給される。
【００２８】
また、タイミングパルス生成回路３２１は、出力端子x1から出力されるパルス信号と同周期で位相がずれた、玉送りソレノイド１５制御用のパルス信号を同様の方法により生成し、出力端子x2を通じて、駆動回路３４の電界効果トランジスタFET2に供給する。そして、電界効果トランジスタFET2は、出力端子x2からパルス信号が供給されている間ＯＮとなり、玉送りソレノイド１５に励磁電流を供給する。
なお、タイミングパルス生成回路３２１は、LowアクティブであるCLR端子にLow信号が入力されている間、パルス信号の出力を停止する。
【００２９】
判定回路３３は、外部からの信号に応じて、遊技球の発射を許可するか否かを判定し、許可する場合にのみ上記のパルス信号を駆動回路３４へ供給する。そのために、判定回路３３は、回転ハンドル４に設けられたタッチスイッチ、ストップスイッチからの信号、及び払出し機構部（図示せず）から送信された発射停止信号など、遊技球の発射を許可するか否かを示すスイッチおよびセンサからの信号を入力とするアンド回路AND1と、Ｄ型フリップフロップFF1と、インバータINV1を有する。そして、アンド回路AND1の全ての入力がHigh（すなわち、遊技球の発射を許可）のとき、アンド回路AND1の出力はHighとなる。一方、何れかの入力がLow（すなわち、遊技球の発射を許可しない）のとき、アンド回路AND1の出力はLowとなる。アンド回路AND1の出力は、フリップフロップFF1のプリセット端子に入力される。
【００３０】
また、判定回路３３では、タイミングパルス生成回路３２１のx1端子から出力されたパルス信号を、インバータINV1で反転させて出力する。また、そのx1端子からの出力は、フリップフロップFF1のCK端子にも接続される。さらにフリップフロップFF1のD端子は接地され、Q端子からの出力は、タイミングパルス生成回路３２１のLowアクティブであるCLR端子に接続される。
【００３１】
そのため、上記のアンド回路AND1の出力がLowの場合、すなわち、フリップフロップFF1のプリセット端子の入力がLowの場合、フリップフロップFF1のD端子が接地されているので、Q端子からの出力はLowとなる。すなわち、制御回路３２のタイミングパルス生成回路３２１のCLR端子の入力がLowとなるので、タイミングパルス生成回路３２１はクリアされ、パルス信号を出力しない。
一方、アンド回路AND1から発射許可信号が出力されている間、すなわち、フリップフロップFF1のプリセット端子の入力がHighとなっている間、フリップフロップFF1のQ端子からの出力は常にHighとなるので、タイミングパルス生成回路３２１はパルス信号を供給する。その結果、判定回路３３は、遊技球の発射が許可される場合に限り、上記の発射周期にて、パルス信号の出力を繰り返す。
【００３２】
駆動回路３４は、回転ハンドル４の回転量に応じた励磁電流を発射ソレノイド１２に供給する。また駆動回路３４は、玉送りソレノイド１５に、励磁電流を供給する。そのために、駆動回路３４は、バッファBUF1と、オペアンプAMP1と、トランジスタTr1と、電界効果トランジスタFET1、FET2と、抵抗R1〜R5を有する。
【００３３】
発射ソレノイド１２に供給する励磁電流を制御するために、回転ハンドル４内に配置され、回転ハンドル４の回転量に応じて抵抗値が変化する可変抵抗Volの出力が、バッファBUF1及び抵抗R1を介してオペアンプAMP1の非反転入力端子に接続される。また、オペアンプAMP1の非反転入力端子には、NPN型のトランジスタTr1のコレクタも接続される。一方トランジスタTr1のエミッタは接地されている。そして、トランジスタTr1のベースには、判定回路３３のインバータINV1の出力端子が接続される。
【００３４】
また、オペアンプAMP1の出力端子は、抵抗R3を介して電界効果トランジスタFET1のゲートに接続される。さらに、オペアンプAMP1の反転入力端子は電界効果トランジスタFET1のソースに接続される。また電界効果トランジスタFET1のソースは、抵抗R4を介して接地される。そして、電界効果トランジスタFET1のドレインには発射ソレノイド１２の一端が接続され、発射ソレノイド１２の他端は電源に接続される。
【００３５】
ここで、トランジスタTr1がＯＦＦの場合、すなわち、反転されたパルス信号がトランジスタTr1に印加されている間、可変抵抗Volの抵抗値に応じた印加電圧がオペアンプAMP1の非反転入力端子に印加される。そのため、オペアンプAMP1の出力端子の電圧は、その印加電圧に比例して増減する。さらに、オペアンプAMP1の出力端子は抵抗R3を介して電界効果トランジスタFET1のゲートに接続されているので、オペアンプAMP1の出力電圧が一定以上高くなれば、電界効果トランジスタFET1はＯＮとなってドレイン−ソース間に電流が流れるようになる。すなわち、発射ソレノイド１２に励磁電流が供給される。
さらに、オペアンプAMP1は、反転入力端子の電圧と非反転入力端子の電圧が等しくなるように振舞うため、非反転入力端子に可変抵抗Volの抵抗値に応じて定まる電圧が加わると、抵抗R4の両端にも非反転入力端子に印加される電圧と略等しい電圧が印加される。そのため、抵抗R4を流れる電流量、すなわち、発射ソレノイド１２に供給される励磁電流量は、可変抵抗Volの抵抗値に応じて定まる電圧に略比例する。したがって、回転ハンドルの回転量に略比例した励磁電流が発射ソレノイド１２に供給されるので、発射装置１０は、回転ハンドル４の回転量に略比例した発射速度で遊技球を発射することができる。
【００３６】
一方、トランジスタTr1がＯＮの場合、すなわち、パルス信号が印加されていない場合、トランジスタTr1のコレクタ電位、すなわち、オペアンプAMP1の非反転入力端子の電位はグランドレベルに低下する。そのため、電界効果トランジスタFET1のゲート電位もグランドレベルとなり、電界効果トランジスタFET1はＯＦＦとなるので、発射ソレノイド１２には励磁電流が供給されなくなる。これにより、パルス信号の周期で遊技球が発射される。
【００３７】
一方、玉送りソレノイド１５に供給する励磁電流を制御するために、タイミングパルス生成回路３２１のx2端子は、抵抗R5を介して電界効果トランジスタFET2のゲートに接続される。また電界効果トランジスタFET2のソースは接地され、一方、ドレインには玉送りソレノイド１５の一端が接続され、玉送りソレノイド１５の他端は電源に接続される。
タイミングパルス生成回路３２１のx2端子からパルス信号が出力されている間、電界効果トランジスタFET2はＯＮとなってドレイン−ソース間に電流が流れるようになり、玉送りソレノイド１５に励磁電流が供給される。そして励磁電流が供給されている間、玉送りソレノイド１５は、係止部材１４を引き寄せる。一方、タイミングパルス生成回路３２１のx2端子からパルス信号が出力されていなければ、電界効果トランジスタFET2はＯＦＦとなり、玉送りソレノイド１５には励磁電流が供給されなくなる。そして玉送りソレノイド１５は、係止部材１４を引き寄せなくなる。
【００３８】
再度図４を参照しつつ、周波数電圧変換回路３２２及びクロック周波数推定回路３２３の詳細について説明する。周波数電圧変換回路３２２は、ダイオードDと、キャパシタCと、トランジスタTrと、抵抗Ra及びRbを有する。
ダイオードDのアノードはタイミングパルス生成回路３２１のx3端子と接続され、ダイオードDのカソードは抵抗Raを介してキャパシタCの一端に接続される。そしてキャパシタCの他端は接地される。また、抵抗Raと接続された側のキャパシタCの極は、クロック周波数推定回路３２３の入力端子P1と接続され、かつ、抵抗Rbを介してトランジスタTrのコレクタと接続される。また、トランジスタTrのエミッタは接地され、ベースは、クロック周波数推定回路３２３の出力端子P2と接続される。
【００３９】
クロック周波数推定回路３２３は、基準周波数推定回路の一例であり、例えば、不揮発性の半導体メモリ、プロセッサ及びアナログ／デジタル変換器を有する。クロック周波数推定回路３２３は、これらの回路が一つに集積された集積回路として実装されてもよい。
【００４０】
発射回路１３が起動されると、クロック周波数推定回路３２３は、タイミングパルス生成回路３２１へ、所定数の検査用パルス信号を出力するよう指示する。タイミングパルス生成回路３２１は、その指示を受けると、クロック信号を予め設定された分周比で分周することにより、所定数の検査用パルスを生成し、それら検査用パルスを出力端子x3から出力する。所定数は、例えば、発振器３１が許容範囲内のクロック数を持つクロック信号を出力する場合、検査用パルス信号によって充電されるキャパシタCが飽和しないように、例えば、200〜300に設定される。また、検査用パルス信号の生成に利用される分周比は、例えば、1/100に設定され、タイミングパルス生成回路３２１が有するメモリに予め記憶される。この場合、クロック周波数が2MHzであれば、検査用パルス信号の周波数は20kHzとなる。またクロック周波数が4MHzであれば、検査用パルス信号の周波数は40kHzとなる。さらに、検査用パルス信号のデューティ比は、予め設定された比、例えば、20%に設定される。
そのため、一つの検査用パルス信号の時間幅は、クロック周波数が高いほど短くなる。
【００４１】
また、クロック周波数推定回路３２３は、タイミングパルス生成回路３２１が所定数の検査用パルスの出力を完了するのに十分な予め設定された検査期間、出力端子P2の電位を、周波数電圧変換回路３２２のトランジスタTrがＯＦＦとなる低電位に設定する。また、入力端子P1に電流が流れないように、クロック周波数推定回路３２３は、例えば、図示しない内蔵スイッチによって入力端子P1を切断する。これにより、周波数電圧変換回路３２２のキャパシタCには、検査用パルスが入力される度に、その検査用パルスのパルス幅に応じた電荷が蓄積される。
【００４２】
図５（ａ）〜図５（ｃ）を参照して、検査用パルス信号のパルス幅とキャパシタCの充電量の関係について説明する。図５（ａ）は、クロック周波数が相対的に低く、その結果として相対的にパルス幅が広いときの検査用パルス信号の例を示す図であり、図５（ｂ）は、クロック周波数が相対的に高く、その結果として相対的にパルス幅が狭いときの検査用パルス信号の例を示す図である。図５（ａ）及び図５（ｂ）において、横軸は時間を表し、縦軸は電圧を表す。図５（ａ）に示される検査用パルス信号５０１は、N個のパルスを持ち、個々のパルスのパルス幅はP1である。一方、図５（ｂ）に示される検査用パルス信号５０２も、N個のパルスを持つ。しかし、図５（ａ）に示される場合よりもクロック周波数が高いため、検査用パルス信号５０２の個々のパルスのパルス幅P2は、検査用パルス信号５０１のパルス幅P1よりも短い。
【００４３】
図５（ｃ）は、検査用パルス信号のパルス幅とキャパシタCの充電量との関係を表すグラフである。図５（ｃ）において、横軸はパルス幅を表し、縦軸は充電量を表す。そしてグラフ５０３は、パルス幅とキャパシタCの充電量との関係を表すグラフである。キャパシタCが充電されるのは、検査用パルスがキャパシタCに印加される期間に限られる。そして、クロック信号の周波数によらず、検査用パルス信号が有するパルスの個数は一定であるため、キャパシタCの充電量は、検査用パルス信号のパルス幅が長くなるに従って、すなわち、クロック周波数が低くなるに従って大きくなる。したがって、パルス幅がP1のときの充電量Q1は、パルス幅がP2の時の充電量Q2よりも大きい。
【００４４】
検査期間が終了すると、クロック周波数推定回路３２３は、例えば、内蔵するアナログ／デジタル変換器により、入力端子P1の電圧に応じたデジタル値を持つ電圧信号を得る。クロック周波数指定回路３２３は、その電圧信号を求めた後、出力端子P2からHighとなる電位を持つ信号を出力することで、トランジスタTrをＯＮにする。これにより、キャパシタCに蓄積されていた電荷は、トランジスタTrを通って放電される。
【００４５】
電圧信号は、キャパシタCの充電量が大きいほど、大きな値となる。そしてクロック周波数推定回路３２３は、電圧とクロック周波数の関係を示したデータの一例である電圧周波数テーブルを参照することにより、電圧信号に対応するクロック周波数を求める。
【００４６】
図６は、電圧周波数テーブルの一例を示す図である。電圧周波数テーブル６００の左端の列の各欄には、入力端子P1の電圧値が格納されている。また中央の列の各欄には、左隣の欄に格納された電圧値に対応するサンプル電圧信号値が格納されている。そして電圧周波数テーブル６００の右端の列の各欄には、左隣の欄に格納されたサンプル電圧信号値に対応するクロック周波数が格納されている。入力端子P1の電圧値と、サンプル電圧信号値と、クロック周波数の関係は、例えば、予めクロック周波数の分かっている発振器を用いて入力端子P1の電圧値及びサンプル電圧信号値を求めることにより、実験的に決定される。そして電圧周波数テーブルは、例えば、クロック周波数推定回路３２３が有するメモリに予め記憶される。
なお、左端の列の電圧値は、理解を容易にするためのものであり、省略されてもよい。
【００４７】
クロック周波数推定回路３２３は、電圧周波数テーブルを参照して、求めた電圧信号値に最も近い二つのサンプル電圧信号値を特定する。そしてクロック周波数推定回路３２３は、その二つのサンプル電圧信号値間の差に対する、求めた電圧信号値の内分比で、その二つのサンプル電圧信号値に対応する二つのクロック周波数の内分した値を、クロック周波数として推定する。
例えば、電圧信号値が600であった場合、電圧周波数テーブル５００においてその電圧信号値に最も近い二つのサンプル電圧値は637と571である。そして、その二つのサンプル電圧値に対応するクロック周波数は、それぞれ、2.0MHzと2.5MHzである。したがって、クロック周波数の推定値は、
{2.0×(637-600)+2.5×(600-571)}/(637-571)=2.22(MHz)
となる。なお、求めた電圧信号値が、電圧周波数テーブル６００に格納されているサンプル電圧信号値の最大値以上である場合、クロック周波数推定回路３２３は、発振器３１から供給されたクロック信号のクロック周波数を、そのサンプル電圧信号値の最大値に対応するクロック周波数と推定する。逆に、求めた電圧信号値が、電圧周波数テーブル５００に格納されているサンプル電圧信号値の最小値以下である場合、クロック周波数推定回路３２３は、発振器３１から供給されたクロック信号のクロック周波数を、そのサンプル電圧信号値の最小値に対応するクロック周波数と推定する。
【００４８】
クロック周波数推定回路３２３は、推定したクロック周波数を、予め設定されたクロック周波数の許容範囲と比較する。許容範囲は、例えば、タイミングパルス生成回路３２１が基準タイマ信号を生成可能なクロック周波数の範囲とすることができる。そして推定したクロック周波数がその許容範囲に含まれている場合、クロック周波数推定回路３２３は、推定したクロック周波数に基づいて駆動回路３４へ供給されるパルス信号の周期を予め定めた周期とするための分周比を決定する。例えば、クロック周波数推定回路３２３は、上記の基準タイマ信号の周波数で推定したクロック周波数を除した値を分周比とする。そしてクロック周波数推定回路３２３は、分周比をタイミングパルス生成回路３２１へ出力する。これにより、タイミングパルス生成回路３２１は、その分周比に従ってクロック信号を分周することにより、クロック周波数によらず、一定の周期を持つ基準タイマ信号を得、その基準タイマ信号に基づいて、所定の発射周期を持つパルス信号を生成することができる。
【００４９】
一方、推定したクロック周波数が許容範囲から外れている場合、クロック周波数推定回路３２３は、発振器３１は不適正であると判定する。この場合、クロック周波数推定回路３２３は、例えば、タイミングパルス生成回路３２１に対してパルス信号を生成しないことを通知する。例えば、クロック周波数推定回路３２３は、分周比の値として、0をタイミングパルス生成回路３２１へ出力することで、パルス信号を生成しないことを通知できる。
またクロック周波数推定回路３２３は、遊技機１の主制御回路（図示せず）へ、発振器３１が不適正であることを表す信号を出力する。
【００５０】
図７は、クロック周波数推定処理の動作フローチャートである。クロック周波数推定回路３２３は、この動作フローチャートに従って、例えば、起動時に一回だけ、クロック周波数推定処理を実行する。
【００５１】
クロック周波数推定回路３２３は、タイミングパルス生成回路３２１に、クロック信号を所定の分周比で分周して生成される所定数の検査用パルス信号を出力させて、周波数電圧変換回路３２２のキャパシタCを充電する（ステップＳ１０１）。所定数の検査用パルスの出力が終了するのに十分な検査期間が経過すると、クロック周波数推定回路３２３は、キャパシタCの電圧を入力端子P1で読み取り、キャパシタCの充電量に応じた電圧信号値を求める（ステップＳ１０２）。
【００５２】
クロック周波数推定回路３２３は、電圧信号の値とクロック周波数との関係を表す電圧周波数テーブルを参照して、求めた電圧信号の値に対応するクロック周波数を求め、そのクロック周波数を、発振器３１から供給されるクロック信号のクロック周波数であると推定する（ステップＳ１０３）。
【００５３】
クロック周波数推定回路３２３は、推定したクロック周波数が許容範囲に含まれるか否か判定する（ステップＳ１０４）。推定したクロック周波数が許容範囲に含まれる場合（ステップＳ１０４−Ｙｅｓ）、クロック周波数推定回路３２３は、クロック信号を特定の周期を持つ信号（本実施形態では、基準タイマ信号）に分周するための分周比を算出する（ステップＳ１０５）。そしてクロック周波数推定回路３２３は、その分周比をタイミングパルス生成回路３２１へ通知する（ステップＳ１０６）。
【００５４】
一方、推定したクロック周波数が許容範囲から外れている場合（ステップＳ１０４−Ｎｏ）、クロック周波数推定回路３２３は、タイミングパルス生成回路３２１へ、パルス信号を生成しないことを通知し、かつ、遊技機１の主制御回路へ発振器３１が不適正であることを示す信号を出力する（ステップＳ１０７）。
ステップＳ１０６またはＳ１０７の後、クロック周波数推定回路３２３は、クロック周波数推定処理を終了する。
【００５５】
以上に説明してきたように、この発射装置の制御回路は、発振器から供給されるクロック信号のクロック周波数に応じて充電量が変化する周波数電圧変換回路を用い、その充電量に応じた電圧信号値を求めることで、クロック周波数を推定することができる。そのため、この制御回路は、不適正なクロック周波数で発振する発振器が発射装置に取り付けられても、そのことを検知して、発射周期を規定するパルス信号の生成を停止することができる。その結果として、この制御回路は、予め設定された発射周期よりも早い周期で遊技球が発射されることを防止できる。
【００５６】
なお、変形例によれば、制御回路は、上記の許容範囲を特定のクロック周波数に限定してもよい。制御回路は、推定したクロック周波数がその特定のクロック周波数であれば、その特定の周波数を持つクロック信号から基準タイマ信号を生成するための、予め設定された分周比をタイミングパルス生成回路へ通知する。一方、推定したクロック周波数がその特定のクロック周波数でなければ、遊技機の主制御回路へ発振器が不適正であることを通知する。
【００５７】
また他の変形例によれば、クロック周波数推定回路は、キャパシタCの充電量に対応する電圧信号値とクロック周波数との関係を表すデータとして、電圧信号値を入力とし、クロック周波数を出力とする関係式を内蔵するメモリに記憶しておいてもよい。そしてクロック周波数推定回路は、求めた電圧信号値をその関係式に入力することで、クロック周波数の推定値を求めてもよい。
【００５８】
また他の変形例によれば、制御回路から出力されるパルス信号によって制御される発射装置は、弾球鎚を駆動するための駆動装置として、ソレノイドの代わりにステッピングモータを有していてもよい。
【００５９】
さらに他の変形例によれば、本発明による制御装置は、発射装置を制御するものに限られず、外部に設けられた発振器から供給されたクロック信号に基づいて、所定の周期を持つ制御信号を出力するものに適用できる。
【００６０】
以下、本発明の一実施形態による遊技球の発射装置の制御回路が実装された遊技機を有する遊技機システムについて説明する。
図８は遊技機システム１００の概略構成図である。遊技機システム１００は、遊技機１０１と、遊技店管理装置１０２と、遊技機管理データベース１０３と、管理装置１０４と、遊技店管理データベース１０５とを有する。このうち、遊技機１０１、遊技店管理装置１０２及び遊技機管理データベース１０３は、遊技店ごとに設置され、例えば、公衆通信回線または専用通信回線を通じて管理センタに配置された管理装置１０４と接続される。
【００６１】
各遊技店内では、少なくとも一台の遊技機１０１が、例えば、イーサネット（登録商標）などで構築されるローカルエリアネットワークを介して遊技店管理装置１０２と接続され、互いに通信可能となっている。さらにこのローカルエリアネットワークには、貸し出した遊技球の数などを管理する遊技媒体貸出装置、遊技者が獲得した遊技球の数を計数する計数機、遊技球を貸し出す貸出機などが接続されていてもよい。
また、遊技店管理装置１０２と遊技機管理データベース１０３とは、例えば、ピアツーピアの通信回線により互いに接続されている。
【００６２】
遊技機１０１は、例えば、図１に示した遊技機であり、上記の実施形態またはその変形例による発射装置の制御回路１１０と、遊技機１０１全体を制御する主制御回路１１１とを有する。
主制御回路１１１は、例えば、遊技機１０１の各部に対する制御信号を生成するプロセッサと、遊技機１０１の識別番号を含む各種の情報を記憶するメモリと、ローカルエリアネットワークに接続するための通信インターフェース回路とを有する。そして主制御回路１１１は、制御回路１１０から発振器が不適正であることを示す信号を受信すると、その遊技機の識別番号とともに、発振器が不適正であることを示す信号を遊技店管理装置１０２へ通知する。また主制御回路１１１は、一定周期ごとに、あるいは、故障発生を検知した時、若しくは不正行為を検知した時といった特定のイベントが発生したときに、遊技機１０１の状態を表す各種の情報を、遊技機１０１の識別情報とともに遊技店管理装置１０２へ通知する。
【００６３】
遊技店管理装置１０２は、第１の管理装置の一例であり、例えば、いわゆるコンピュータと、そのコンピュータに接続された表示装置及びキーボードといった入力装置によって構成され、遊技店内に設置された各遊技機１０１を管理する。例えば、遊技店管理装置１０２は、遊技機１０１から通知された各種の情報を、その遊技機１０１の識別情報とともに、遊技機管理データベース１０３に記憶させる。また遊技店管理装置１０２は、故障が発生したことを表す信号または不正行為を検知したことを表す信号を何れかの遊技機１０１から受け取ったとき、表示装置に遊技機１０１の識別情報とともに、故障の発生または不正行為の検知を知らせるメッセージを表示装置に表示させる。さらに、遊技店管理装置１０２は、遊技機１０１から発振器が不適正であることを示す信号を受け取ると、その信号に、遊技店の識別番号及び遊技機の識別番号を付加して、管理装置１０４へ転送する。
【００６４】
管理装置１０４は、第２の管理装置の一例であり、例えば、いわゆるコンピュータによって構成される。そして管理装置１０４は、遊技機システム１００に接続された各遊技店の遊技機１０１を管理する。例えば、管理装置１０４は、何れかの遊技店の遊技店管理装置１０２から、その遊技店内に設置された遊技機１０１の発振器が不適正であることを示す信号を受け取ると、例えば、その旨を表すメッセージを、管理装置１０４と接続された表示装置に表示させることにより、管理者にその旨を通知する。これにより、管理者は、遊技機の発射装置の発振器が不正に取り替えられても、そのことを検知できる。
【００６５】
このように、当業者は、本発明の範囲内で、実施される形態に合わせて様々な変更を行うことができる。
【符号の説明】
【００６６】
１、１０１    遊技機
２    遊技盤
３    玉受け部
４    回転ハンドル
５    レール
６    障害釘
７    入賞口
８    表示装置
１０    発射装置
１１    弾球鎚
１２    発射ソレノイド
１３    発射回路
１４    係止部材
１５    玉送りソレノイド
３１    発振器
３２    制御回路
３３    判定回路
３４    駆動回路
３２１    タイミングパルス生成回路
３２２    周波数電圧変換回路
３２３    クロック周波数推定回路
１００    遊技機システム
１０１    遊技機
１０２    遊技店管理装置
１０３    遊技機管理データベース
１０４    管理装置
１０５    遊技店管理データベース
１１０    制御回路
１１１    主制御回路
【図１】
2013165829.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
2013165829.tif 000007
【図６】
2013165829.tif 000008
【図７】
2013165829.tif 000009
【図８】
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