(57)【要約】【課題】安定したガイド層へのフォーカス引き込み動作が可能な光ディスク装置を提供する。【解決手段】第二のレーザ光がガイド層に対して合焦する位置を大きく変更する第一のガイド層焦点位置変更部と、第二のレーザ光が前記ガイド層に対して合焦する位置を微細に変更する第二のガイド層焦点位置変更部とを用い、記録層に対するフォーカス制御が動作している状態であって、第一のガイド層焦点位置変更部を停止させた状態で第二のガイド層焦点位置変更部を複数回駆動及び停止を行った後、第二のガイド層焦点位置変更部を停止させた状態で、第一のガイド層焦点位置変更部を駆動させて、ガイド層に対するフォーカス制御を行う。【選択図】  図１
2013065368.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
螺旋状又は同心円状のトラックが形成された1もしくは複数のガイド層と膜厚方向に積層された１もしくは複数の記録層とを含む光ディスクに対して、
第一のレーザ光を記録層に照射し、第二のレーザ光をガイド層に照射して情報の記録もしくは再生を行う光ディスク装置であって、
前記光ディスクを所定の回転軸を中心に回転させる光ディスク回転部と、
前記第一のレーザ光の光スポット及び前記第二のレーザ光の光スポットを前記光ディスク上に集光させる対物レンズと、
前記対物レンズを駆動するアクチュエータと、
前記第二のレーザ光が前記ガイド層に対して合焦する位置を大きく変更する第一のガイド層焦点位置変更部と、
前記第二のレーザ光が前記ガイド層に対して合焦する位置を微細に変更する第二のガイド層焦点位置変更部と、
前記光ディスクからの反射光量に応じた電気信号を出力する光検出部と、
前記光検出部の出力信号から前記ガイド層に対するフォーカスエラー信号を生成するガイド層フォーカスエラー信号生成部と、
前記記録層に対するフォーカスエラー信号を生成する記録層フォーカスエラー信号生成部と、
前記ガイド層フォーカスエラー信号に対してゲイン及び位相の補償を行い、前記第一のガイド層焦点位置変更部及び前記第二のガイド層焦点位置変更部を駆動して前記ガイド層に対するフォーカス制御を行うガイド層フォーカス制御部と、
前記記録層フォーカスエラー信号に対してゲイン及び位相の補償を行い、前記アクチュエータを駆動して前記記録層に対するフォーカス制御を行う記録層フォーカス制御部とを備え、
前記記録層に対するフォーカス制御が動作している状態であって、
前記第一のガイド層焦点位置変更部を停止させた状態で
前記第二のガイド層焦点位置変更部を複数回駆動及び停止を行った後
前記第二のガイド層焦点位置変更部を停止させた状態で、前記第一のガイド層焦点位置変更部を駆動させて、前記ガイド層に対するフォーカス制御を行う事を特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、前記第一のサーボ焦点位置変更部の停止位置は、前記第一のサーボ焦点位置変更部の動作可能範囲の中央である事を特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の光ディスク装置であって、前記第二のガイド層焦点位置変更部を複数回駆動及び停止を行う処理は、一方向のみに移動する事を特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
螺旋状又は同心円状のトラックが形成された1もしくは複数のガイド層と膜厚方向に積層された１もしくは複数の記録層とを含む光ディスクに対して、
第一のレーザ光を記録層に照射し、第二のレーザ光をガイド層に照射して情報の記録もしくは再生を行う光ディスク装置であって、
前記光ディスクを所定の回転軸を中心に回転させる光ディスク回転部と、
前記第一のレーザ光の光スポット及び前記第二のレーザ光の光スポットを前記光ディスク上に集光させる対物レンズと、
前記対物レンズを駆動するアクチュエータと、
前記第二のレーザ光が前記ガイド層に対して合焦する位置を大きく変更する第一のガイド層焦点位置変更部と、
前記第二のレーザ光が前記ガイド層に対して合焦する位置を微細に変更する第二のガイド層焦点位置変更部と、
前記光ディスクからの反射光量に応じた電気信号を出力する光検出部と、
前記光検出部の出力信号から前記ガイド層に対するフォーカスエラー信号を生成するガイド層フォーカスエラー信号生成部と、
前記記録層に対するフォーカスエラー信号を生成する記録層フォーカスエラー信号生成部と、
前記ガイド層フォーカスエラー信号に対してゲイン及び位相の補償を行い、前記第一のガイド層焦点位置変更部及び前記第二のガイド層焦点位置変更部を駆動して前記ガイド層に対するフォーカス制御を行うガイド層フォーカス制御部と、
前記記録層フォーカスエラー信号に対してゲイン及び位相の補償を行い、前記アクチュエータを駆動して前記記録層に対するフォーカス制御を行う記録層フォーカス制御部とを備え、
前記記録層に対するフォーカス制御が動作している状態であって、
前記第二のガイド層焦点位置変更部を停止させた状態で
前記第一のガイド層焦点位置変更部を複数回駆動及び停止を行った後
前記第二のガイド層焦点位置変更部を移動させた後
前記第二のガイド層焦点位置変更部を停止させた状態で、前記第一のガイド層焦点位置変更部を駆動させて、前記ガイド層に対するフォーカス制御を行う事を特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項４に記載の光ディスク装置であって、前記駆動及び停止を行う処理において、停止の時間は前記光ディスクの回転周期以上である事を特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
螺旋状又は同心円状のトラックが形成された1もしくは複数のガイド層と膜厚方向に積層された１もしくは複数の記録層とを含む光ディスクに対して、記録もしくは再生を行う光ディスク装置の前記ガイド層へのフォーカス位置を学習する学習手法であって、
前記光ディスク装置は、前記光ディスクを所定の回転軸を中心に回転させる光ディスク回転部と、
前記第一のレーザ光の光スポット及び前記第二のレーザ光の光スポットを前記光ディスク上に集光させる対物レンズと、
前記対物レンズを駆動するアクチュエータと、
前記第二のレーザ光が前記ガイド層に対して合焦する位置を大きく変更する第一のガイド層焦点位置変更部と、
前記第二のレーザ光が前記ガイド層に対して合焦する位置を微細に変更する第二のガイド層焦点位置変更部と、
前記光ディスクからの反射光量に応じた電気信号を出力する光検出部と、
前記光検出部の出力信号から前記ガイド層に対するフォーカスエラー信号を生成するガイド層フォーカスエラー信号生成部と、
前記光検出部の出力信号から前記記録層に対するフォーカスエラー信号を生成する記録層フォーカスエラー信号生成部と、
前記ガイド層フォーカスエラー信号に対してゲイン及び位相の補償を行い、前記第一のガイド層焦点位置変更部及び前記第二のガイド層焦点位置変更部を駆動して前記ガイド層に対するフォーカス制御を行うガイド層フォーカス制御部と、
前記記録層フォーカスエラー信号に対してゲイン及び位相の補償を行い、前記アクチュエータを駆動して前記記録層に対するフォーカス制御を行う記録層フォーカス制御部とを備え、
前記記録層に対するフォーカス制御が動作している状態であって、
前記第一のガイド層焦点位置変更部を停止させた状態で
前記第二のガイド層焦点位置変更部を複数回駆動及び停止を行い
前記第二のガイド層焦点位置変更部が停止時に、前記ガイド層と第二のレーザ光の焦点位置との差を測定し、
前記第二のガイド層焦点位置変更部を、前記ガイド層と第二のレーザ光の焦点位置との差が小さくなる位置に駆動させ
前記第二のガイド層焦点位置変更部を停止させた状態で、前記第一のガイド層焦点位置変更部を駆動させて、前記ガイド層に対するフォーカス制御を行う事を特徴とする学習手法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザを用いて光ディスクから情報を再生、または光ディスクに情報を記録する光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、Blu-ray Disc(TM)規格の光ディスクにおいて、記録容量を増加させるために3層や4層の記録層を有する光ディスクが開発され、規格化が行われた。今後更なる大容量化を目的として、より多数の記録層を有する光ディスクの開発が行われると予想されている。たとえば特許文献１では、トラッキングサーボ制御を行うための物理的な溝構造を持つ層(以下、ガイド層と記す)を設け、記録再生を行う層(以下、記録層と記す)にはランド/グルーブ構造を有さない光ディスク(以下、グルーブレスディスクと記す)が示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１０−４００９３公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記のようなグルーブレスディスクを記録再生する際の課題のひとつとして、ガイド層へのフォーカス引き込み動作が挙げられる。
【０００５】
そこで本発明の目的は、安定したガイド層へのフォーカス引き込み動作が可能な光ディスク装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題は、例えば、特許請求の範囲に記載の発明により解決される。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、安定したガイド層へのフォーカス引き込み動作が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】実施例１に記載の詳細な学習のフロー
【図２】本発明に従う光ディスク装置の一実施例を示すブロック構成例
【図３】光ディスク102の構造
【図４】光ディスク装置101に光ディスク102を挿入した時の光ディスク装置101の処理フロー
【図５】実施例１のフォーカス引き込み処理のフローチャート
【図６】リレーレンズ321の可動範囲とガイド層への焦点制御最適位置801の関係図
【図７】実施例１の演算の一例
【図８】実施例１の学習を行う層と学習位置の表の例
【図９】実施例２のフローチャート
【図１０】実施例２で測定した信号取得値の例
【図１１】実施例２の学習初期位置と学習間隔を示す表の例
【図１２】実施例３のフローチャート
【図１３】リレーレンズ321の可動範囲とガイド層への焦点位置1401及びガイド層への焦点制御最適位置801の関係図
【図１４】実施例３の学習を行う層と学習位置の表の例
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【実施例１】
【００１０】
図2は、本発明に従う光ディスク装置の一実施例を示すブロック構成図である。
【００１１】
光ディスク装置101は装置に装着された光ディスク102にレーザ光を照射することで情報の記録または再生を行い、SATA(Serial Advanced Technology Attachment)などのインターフェースを通じてPC(Personal Computer）などのホスト103と通信を行う。
【００１２】
光ディスク102の構造を図３に例示する。光ディスク102はトラック(ガイド溝)の構造を持つガイド層と、トラックの構造を持たないN個の記録層（N≧１、Nは自然数）を有する。光ディスク装置101は対物レンズ311によって、記録層とガイド層にレーザスポットを生じることができる。
【００１３】
光ディスク装置101は、コントローラ201と信号処理部202と、光ピックアップ203と、光ピックアップ203を光ディスク102の半径方向に移動するスライダモータ204と、スライダモータ204を駆動するスライダ駆動手段205と、光ピックアップ203中に備えられた球面収差補正素子309を駆動するための収差補正駆動手段206と、光ディスク102を回転するためのスピンドルモータ207と、スピンドルモータ207の回転に同期した信号を生成する回転信号生成手段208と、スピンドルモータ207を回転させるための回転信号を生成するスピンドル制御手段209と、スピンドル制御手段209が生成する回転信号に応じてスピンドルモータ207を駆動するスピンドル駆動手段210と、光ディスク102の記録層と記録層に対して合焦するレーザスポットの位置ずれ量を示すフォーカス誤差信号を生成するフォーカス誤差信号生成手段211と、フォーカス誤差信号に応じてフォーカス駆動信号を生成するフォーカス制御手段212と、フォーカス駆動信号に応じて光ピックアップ203中に備えられたアクチュエータ312を駆動するフォーカス駆動手段213と、光ディスク102のガイド層上のトラックとレーザスポットとの位置ずれ量を示すトラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差信号生成手段214と、トラッキング誤差信号に応じてトラッキング駆動信号を生成するトラッキング制御手段215と、トラッキング駆動信号に応じてアクチュエータ312を駆動するトラッキング駆動手段216と、光ディスク102のガイド層とガイド層に対して合焦するレーザスポットの位置ずれ量を示すリレーレンズ誤差信号を生成するリレーレンズ誤差信号生成手段217と、リレーレンズ誤差信号に応じたリレーレンズ駆動信号を生成するリレーレンズ制御手段218と、リレーレンズ駆動信号に応じてリレーレンズ321及びリレーレンズ324をそれぞれ独立に駆動するリレーレンズ駆動手段219を備えている。
【００１４】
光ピックアップ203は、たとえば405nmと650nmなど波長の異なる2つの光学系を備えている。まず、405nmの光学系について再生時の動作を説明する。レーザドライバ301は、コントローラ201によって制御されており、レーザダイオード302を駆動する電流を出力する。この駆動電流は、レーザノイズを抑制するために数百MHzの高周波重畳が印加されている。レーザダイオード302は、駆動電流に応じた波形で波長405nmのレーザ光を出射する。出射されたレーザ光はコリメータレンズ303にて平行光となり、ビームスプリッタ304で一部が反射し、集光レンズ305によってパワーモニタ306に集光する。パワーモニタ306は、レーザ光の強度に応じた電流または電圧をコントローラ201にフィードバックする。これによって光ディスク102の記録層に集光するレーザ光の強度が、たとえば2mWなど所望の値に保持される。一方、ビームスプリッタ304を透過したレーザ光は偏光ビームスプリッタ307にて反射し、ダイクロイックミラー308を透過する。ダイクロイックミラー308は特定の波長の光を反射し、その他の波長の光を透過する光学素子である。ここでは波長405nmの光を透過し、650nmの光を反射するものとする。ダイクロイックミラー308を透過したレーザ光は、収差補正駆動手段206にて駆動される球面収差補正素子309によって収束・発散が制御され、1/4波長板310にて円偏光となり、対物レンズ311によって光ディスク102の記録層に集光する。対物レンズ311は、アクチュエータ312によって位置制御される。光ディスク102によって反射したレーザ光は、光ディスク102に記録された情報に応じて強度が変調される。1/4波長板310にて直線偏光となり、ダイクロイックミラー308および球面収差補正素子309を経て、偏光ビームスプリッタ307を透過する。透過したレーザ光は、集光レンズ313によってディテクタ314に集光する。ディテクタ314はレーザ光の強度を検出し、これに応じた信号を信号処理部202に出力する。信号処理部202は、ディテクタ314から出力された再生信号に対し増幅、等化、復号などの処理を行い、復号したデータをコントローラ201に出力する。コントローラ201はデータをホスト103に出力する。
【００１５】
またフォーカス誤差信号生成手段211は、ディテクタ314から出力された信号から、記録層に対するフォーカス誤差信号を生成する。フォーカス制御手段212はコントローラ201からの指令信号により、フォーカス誤差信号に対応したフォーカス駆動信号をフォーカス駆動手段213に出力する。フォーカス駆動手段213はフォーカス駆動信号に応じて、アクチュエータ312をディスク面に垂直な方向に駆動する。上述したようにフォーカス制御手段212とフォーカス駆動手段213が動作することで、光ディスク102の記録層に照射されたレーザスポットが常に記録層で合焦するようにフォーカス制御が行われる。
【００１６】
記録を行う際には、ホスト103からコントローラ201へと記録データが入力される。コントローラ201は、入力されたデータに対応した記録波形をレーザドライバ301へ出力する。レーザドライバ301は、記録波形に応じた駆動電流をレーザダイオード302に出力し、レーザダイオード302が対応した波形でレーザ光を出射することで光ディスク102の記録層に記録が行われる。
【００１７】
次に、650nmの光学系について説明する。本光学系については、記録時と再生時での動作の差異はない。405nmの光学系と同様に、レーザドライバ301がレーザダイオード315を駆動し、レーザダイオード315は波長650nmのレーザ光を出射する。レーザ光の一部は、コリメータレンズ316、ビームスプリッタ317、集光レンズ318を経て、パワーモニタ319にてパワーがモニタされる。モニタしたパワーをコントローラ201にフィードバックすることで、光ディスク102のガイド層に集光するレーザ光の強度が、たとえば3mWなど所望のパワーに保持される。ビームスプリッタ317を透過したレーザ光は、偏光ビームスプリッタ320を透過し、リレーレンズ321及びリレーレンズ324にて収束・発散の制御が行われる。リレーレンズ321及びリレーレンズ324を経たレーザ光は、ダイクロイックミラー308にて反射し、1/4波長板310を経て、対物レンズ311により光ディスク102のガイド層に集光する。光ディスク102にて反射したレーザ光を偏光ビームスプリッタ320にて反射し、集光レンズ322にてディテクタ323に集光する。
【００１８】
トラッキング誤差信号生成手段214は、ディテクタ323から出力された信号から、光ディスク102のガイド層に対するトラッキング誤差信号を生成する。トラッキング制御手段215はコントローラ201からの指令信号により、トラッキング誤差信号に応じたトラッキング駆動信号を生成する。トラッキング駆動手段216はトラッキング駆動信号に応じてアクチュエータ312をディスクの半径方向に駆動する。上述したようにトラッキング制御手段215とトラッキング駆動手段216が動作することで、光ディスク102のガイド層に照射されたレーザスポットが常にガイド層上のトラックを追従するようにトラッキング制御が行われる。
【００１９】
また、リレーレンズ誤差信号生成手段217は、ディテクタ323から出力された信号から、光ディスク102のガイド層に対するフォーカス方向の誤差信号であるリレーレンズ誤差信号を生成する。リレーレンズ制御手段218はコントローラ201からの指令信号により、リレーレンズ誤差信号に応じたリレーレンズ駆動信号を生成する。リレーレンズ駆動手段219はリレーレンズ駆動信号に応じてリレーレンズ321及びリレーレンズ324をそれぞれ駆動する。リレーレンズ324を駆動させる事で、ガイド層に対して合焦するレーザスポットの合焦位置を大きく変化させることが出来る。また、リレーレンズ321を駆動することで、ガイド層に対して合焦するレーザスポットの合焦位置を細かく変化させる事が出来る。リレーレンズ324及びリレーレンズ321をそれぞれ個別に動かすことによって、記録層とガイド層の位置の差異を補償することができる。上述したようにリレーレンズ制御手段218とリレーレンズ駆動手段219が動作することで、光ディスク102のガイド層に照射されたレーザスポットが常にガイド層で合焦するようにリレーレンズ制御が行われる。
【００２０】
ここで、リレーレンズ324は、例えば図示しないステッピングモータ上に設置されており駆動信号によって、一定の距離を離散的に広範囲に駆動させることが出来るようになっている。
また、リレーレンズ321は、図示しないアクチュエータにより駆動されるようになっており、前記したリレーレンズ324の離散間隔よりも広い範囲で駆動可能でありあり、かつ、記録層とガイド層の位置の差異を補償することが可能な応答速度及び可動範囲を備えている。
【００２１】
このように離散的に駆動させることが出来るリレーレンズ324と高速に駆動させることが出来るリレーレンズ321を組み合わせることで、リレーレンズ321は、記録面内の記録層とガイド層の位置のある面内での相対位置を補正出来る可動範囲があればよく、リレーレンズ321のみで、すべてのガイド層と記録層の位置の間隔を補償する場合と比べ、小さい可動範囲とすることが出来る。
【００２２】
本構成では、リレーレンズ321の可動範囲を広く作成した場合と比べ動作時に消費される電力が少なくすることが出来る。
また、可動箇所を２箇所とする事により、直線で確保する空間を短くする事が可能となる為、光ピックアップ203を小型化出来る。
【００２３】
なお、本実施例では、リレーレンズ324とリレーレンズ321の２つのレンズを使用する構成としているが、離散的に動く駆動部分と詳細でかつ高速に駆動させることが出来るアクチュエータの組み合わせにより、記録層とガイド層の位置の間隔を補償できれば本発明を実施することが出来る。
例えば、前記アクチュエータを含むリレーレンズ321全体を離散的に動かすステッピングモータで駆動させるような構成等であっても本発明は実施可能である。
【００２４】
またスライダ駆動手段205、収差補正駆動手段206、スピンドル制御手段209に関しても、コントローラ201からの指令信号により動作する。
【００２５】
なお、ここではレーザダイオード302とレーザダイオード315を駆動するために同一のレーザドライバ301を用いたが、それぞれのレーザダイオードに固有のレーザドライバを備えても良い。また、球面収差補正素子309は、405nmの光学系および650nmの光学系の両方に影響する位置に配置されてもよく、たとえば1/4波長板310とダイクロイックミラー308の間に設置しても良い。
【００２６】
図４に光ディスク装置101に光ディスク102を挿入時の光ディスク装置101の処理フローを示した。
【００２７】
光ディスク102を光ディスク装置101に挿入すると（S401）、光ディスク装置101はディスクの有無の確認やディスク種別の確認を行う（S402）。このとき、たとえば光ディスク装置101は光ディスク102にレーザ光を照射して、反射光によって認識を行うことができる。
【００２８】
次に、挿入された光ディスク102に対して、光ディスク装置101内の各種パラメータを好適するための調整処理を行う（S403）。各種パラメータとは、たとえばフォーカス制御手段212やトラッキング制御手段215内に含まれる増幅器の増幅率を光ディスク102の反射率にあわせて調節することなどが挙げられる。
【００２９】
各種調整を行った後、光ディスク102の管理情報を読み出す（S404）。
【００３０】
処理が進むと、記録または再生可能な状態となりS405、ホスト103からのコマンドに応じて記録または再生を行うことができる。
【００３１】
調整処理S403のタイミングはこれに限るものではなく、一部の調整処理を管理情報読み出し処理S404の後などに行ってもよい。
前記した構成とする事により、ガイド層と記録層を分離した２フォーカスサーボ系を制御可能な小型、低消費電力となる光ディスク装置を構成することが出来る。
しかし、本構成では、リレーレンズ321の可動範囲が狭い為安定した制御を行いにくいという課題がある。
【００３２】
図６にリレーレンズ324の位置による、リレーレンズ321の可動範囲とガイド層への焦点制御最適位置801の関係を示す。
図６(a)、図６(b)、図６(c)はそれぞれリレーレンズ324の位置が違う場合の、リレーレンズ321の可動範囲とガイド層への焦点制御最適位置801の関係である。
【００３３】
図６（ａ）に示すようにリレーレンズ321の可動範囲の中にガイド層への焦点制御最適位置801があった場合であっても、リレーレンズ321可動範囲の限界部分で制御されている場合においては、光ディスクドライブ101に衝撃が加えられた場合や、光ディスク102の表面に傷等があった場合に、リレーレンズ321の可動範囲を超えてガイド層への焦点制御最適位置801が変化した場合に制御不可能となる場合がある。
【００３４】
図６(b)は、リレーレンズ321の可動範囲に対して、ガイド層への焦点制御最適位置801が平均して可動範囲の中央にあり、可動範囲から外れる事が無い為、安定して制御を行うことが出来る。
また、光ディスクドライブ101に衝撃が加えられた場合や、光ディスク102の表面に傷等があった場合に、ガイド層への焦点制御最適位置801が変化した場合であっても、リレーレンズ321可動範囲のほぼ中央で制御を行っている為、ガイド層への焦点制御最適位置801の変化に対して最も安定となる。
【００３５】
しかし、図６（ｃ）に示すように、リレーレンズ324の位置を移動させると、ガイド層への焦点制御最適位置801のリレーレンズ321の可動範囲に対する位置が変化する。
図６（ｃ）では、リレーレンズ321の可動範囲よりも外側にガイド層への焦点制御最適位置801があり、ガイド層への焦点制御を安定して行うことが出来なくなっている。
【００３６】
このように、リレーレンズ321の可動範囲にガイド層への焦点制御最適位置801がある場合であってもリレーレンズ324の位置によりガイド層への焦点位置の制御を安定して行うことが出来ない場合がある。
そこで、リレーレンズ324を安定して制御を行うことが出来るように、例えば図６（ｂ）の位置に安定して位置付ける必要がある。
【００３７】
ここで、記録層へのフォーカスサーボのフローについて説明する。
図５に本実施例のフォーカス引き込み処理のフローチャートを示す。
本フローチャートは、コントローラ201内で、例えばプログラムのようなもので動作を行い、必要に応じて、スピンドル制御手段208、フォーカス制御手段212、トラッキング制御手段215、リレーレンズ制御手段218、収差補正駆動手段206及びスライダ駆動手段205に対し動作信号を送ることで、各レンズやスピンドルモータ、スライダを駆動させることが出来る。
【００３８】
図５は、目的の記録層にフォーカス引き込みを行った後、ガイド層への引き込みを行う際に使用されるフローチャートである。
【００３９】
まず、ガイド層フォーカス開始（S601）すると、リレーレンズ321をその可動範囲の中央に位置付ける（S602）。
その後、当該記録層へのフォーカス時のリレーレンズ324の最適位置が学習済みかを判定する（S603）。
学習済みの場合は、リレーレンズ324の位置を学習結果の位置に移動させ（S605）、リレーレンズ321を駆動させフォーカスの引き込み動作を行う（S606）。
以上で、ガイド層へのフォーカス引き込み動作が終了する。
【００４０】
また、当該記録層へのフォーカス時のリレーレンズ324の最適位置が学習済みかを判定し（S603）、未学習であった場合は、最適位置学習処理を行う（S604）。
その後学習済みの場合と同様にリレーレンズ324の位置を学習結果の位置に移動させ（S605）、リレーレンズ321を駆動させフォーカスの引き込み動作を行う（S606）。
【００４１】
図１に、上述の最適位置学習処理S604の詳細のフローチャートを示す。
最適位置学習を開始（S701）すると、リレーレンズ324を現在の記録層で学習を行う最初の位置に位置付ける（S702）。
ここで、図８に学習を行う層と学習位置の表の例を示す。
コントローラ201は内部の記憶領域に、図８に示す学習位置を示す表を保持している。
コントローラ201は、図８の表に示す学習初期位置の値に従いリレーレンズ324の位置を制御する。
その後、学習の信号を取得する（S703）。
ここで、学習の信号は、ガイド層へ位置付けたい焦点とガイド層との相対距離を示す信号であれば何でもよく、例えば、ディテクタ323から出力される信号の総和や、リレーレンズ誤差信号の振幅等がよい。
この時、測定を行う時間は、１回転以上の時間の測定時間であれば、各回転角による層間厚さの変化を測定することが出来る為、1回転の総和信号の平均や、１回転でのリレーレンズ誤差信号の平均等が良い。
【００４２】
次に信号が規定されている数以上取得されているかを比較し（S704）、規定数以下であった場合は、次の学習位置にリレーレンズ324を移動S705させる。
この時、リレーレンズ324の目標位置は、前記図８の表に従い移動を行う。
この時、前記表に定められた移動の方向は一定方向であれば、移動に必要な時間を短縮することが出来る。
その後、信号を取得する（S703）。
リレーレンズ324の移動S705と信号取得S703を規定回数以上行った後、取得された信号から、最適なリレーレンズ324の位置を演算するS706。
この時の演算は、ガイド層とガイド層へ位置付けたい焦点の相対位置がもっとも近くを求めるようにすればよい。
図７に演算の一例として、５点測定を行う学習を行った場合のリレーレンズ324の位置に対する、全反射光量のグラフを示す。
学習処理は、リレーレンズ324の位置１，２，３，４，５にて全反射光量の測定を行い、それぞれの位置での全反射光量を保存してある。
前記演算では、それぞれの測定点に対して、例えば２次元以上の関数やGauss分布関数等、極値を持つ関数に対し、例えば最小二乗法等でフィッティングを行い、求めた関数の極値から、全反射光量が最大となるリレーレンズ324の位置を求める。
以上のようにしてリレーレンズ324の位置を学習結果として保存s707し、最適位置学習を終了S708する。
【００４３】
以上のように、それぞれの記録層に対してのリレーレンズ324の最適位置を学習する事によりガイド層への焦点の制御をリレーレンズ321の可動範囲の中心付近で制御を行う事が出来る。
【００４４】
以上のように、記録層へフォーカス引き込みを行った状態で学習を行う事で、ガイド層とガイド層への焦点位置の相対的な振れ幅は、記録層とガイド層の層間厚さの変動のみに依存する形となり、光ディスク102自身の垂直方向への変動には影響を受けなくなる。
一般に光ディスク102に存在する垂直方向への変動は、最大で200um程度と規格で決められている。
しかし、この変動量では、焦点位置を固定した状態で位置学習を行う場合に、層の変動が大きすぎて最適位置を学習することが出来ない。
しかし、例えばBD規格では記録層間の層間厚さの変動は2um程度であり、光ディスク102自身の垂直方向の変動に比べ１００倍程度小さい変動となる。2um程度の変動であれば最適位置の学習を行うことが可能となる。
【実施例２】
【００４５】
実施例２では、実施例１で示した学習方法とは、別の学習手法について説明する。
図９に、本実施例のフローチャートを示す。
本実施例では、実施例１にて記載した図５に記載のフローチャートの最適位置学習S604図１とは異なる詳細のフローチャートである。
最適位置学習を開始S701するとリレーレンズ324を学習初期位置に移動させる（S1102）。
図１１に学習初期位置と学習間隔を示す表を示す。
その後、学習のための信号を取得S703する。
ここで、学習のための信号は、ガイド層へ位置付けたい焦点とガイド層の相対距離を示す信号であれば何でもよく、例えば、ディテクタ323から出力される信号の総和や、リレーレンズ誤差信号の振幅等がよい。
この時、測定を行う時間は、１回転以上の時間の測定時間であれば、各回転角による層間厚さの変化を測定することが出来る為、
1回転の総和信号の平均や、１回転でのリレーレンズ誤差信号の平均等が良い。
【００４６】
次に、現在の学習による信号取得が初回信号取得S1104であった場合、リレーレンズ324を学習間隔分移動S1105させ、再度信号取得S703を行う。
現在の学習による信号取得が２回目以降の信号取得であった場合、前回の信号取得S703で取得した信号が閾値以上か比較を行う（S1106）。
取得した信号が閾値以下であった場合は、再度リレーレンズ324を学習間隔分移動させる処理を実行する（S1105）。
取得した信号が閾値以上であった場合は、現在の信号取得値が前回の信号取得値よりも改善しているか比較する（S1107）。
ここで、信号取得値が改善しているかどうかの比較には例えば、全反射光量が大きいや、FE振幅の平均値の絶対値が小さい等、リレーレンズ321の位置によるガイド層への焦点位置が平均的に近い事がわかる信号による比較であればなんでも良い。
改善している場合は、再度リレーレンズ324を学習間隔分移動させる処理を実行する（S1105）。
改善していない場合は、前回測定位置が最適な位置として学習位置を保存する（S1108）。そして、リレーレンズ324の最適位置学習を終了する（S708）。
【００４７】
図１０に、本実施例で測定した信号取得値の例を示す。本例では、全反射光量にて学習を行っている。リレーレンズ324を、所定の位置２，３，４と移動させ信号を取得し、リレーレンズ324が位置５の時に前回の取得値に比べ全反射光量が低下している。この為、実施例２の学習では、リレーレンズ324は位置４が最適であることがわかる。
【００４８】
本実施例の方法では、実施例１の学習方法と比較して、最適位置がわかった段階で、リレーレンズ324と信号取得を終了する為、学習開始初期位置が、最適位置に近い場合、学習時間を短縮することが出来るという利点がある。
また、学習開始初期位置が遠い場合であっても、閾値及び、前回測定値と比較を行い最適なリレーレンズ324の位置を学習することが出来る為良い。
【実施例３】
【００４９】
実施例３では、実施例１で示した学習方法とは、別の学習手法について説明する。
図１２に、本実施例のフローチャートを示す。本実施例では、実施例１にて記載した図５に記載のフローチャートの最適位置学習S604の図１とは異なる詳細のフローチャートである。最適位置学習を開始S701するとリレーレンズ324を学習初期位置に移動させる（S1302）。
ここで、図１４に学習を行う層と学習位置の表の例を示す。
コントローラ201は内部の記憶領域に、図１４に示す学習位置を示す表を保持している。
リレーレンズ324は図１４に示す表に記録されている学習初期位置に移動される。
その後、リレーレンズ321を学習初期位置に移動させる（S1302）。
その後、学習のための信号を取得する（S703）。
ここで、学習のための信号は、ガイド層へ位置付けたい焦点とガイド層の相対距離を示す信号であれば何でもよく、例えば、ディテクタ323から出力される信号の総和や、リレーレンズ誤差信号の振幅等がよい。
この時、測定を行う時間は、１回転以上の時間の測定時間であれば、各回転角による層間厚さの変化を測定することが出来る為、1回転の総和信号の平均や、１回転でのリレーレンズ誤差信号の平均等が良い。
【００５０】
次に信号が規定されている数以上取得されているかを比較しS704、規定数以下であった場合は、次の学習位置にリレーレンズ321を移動させ（S1303）、その後、信号を取得する（S703）。
この時、リレーレンズ321の目標位置は、前記図１４の表に従い移動を行う。
この時、前記表に定められた移動の方向は一定方向であれば、移動に必要な時間を短縮することが出来る。
リレーレンズ321の移動処理S1303と信号取得処理S703を規定回数以上行う。
図１３に、リレーレンズ321の可動範囲とガイド層への焦点位置1401及びガイド層への焦点制御最適位置801を示す。
リレーレンズ321を動かすことで、ガイド層への焦点位置1401が移動する。
これにより、リレーレンズ321を固定し、リレーレンズ324を移動させた場合と同様に、ガイド層への焦点位置1401とガイド層への焦点制御最適位置801の相対位置が変化する。
これにより、リレーレンズ321を駆動させる事で、リレーレンズ324を駆動させた時と同様の信号を取得することが出来る。
その後、取得された信号から、最適なリレーレンズ324の位置を演算する（S706）。
この時の演算は、実施例１の演算と同様で良い。
以上のようにしてリレーレンズ324の位置を学習結果として保存し（S707）、
最適位置学習を終了する（S708）。
以上のように、それぞれの記録層に対してのリレーレンズ324の最適位置を学習する事によりガイド層への焦点の制御をリレーレンズ321の可動範囲の中心付近で制御を行う事が出来る。
本実施例の学習方法は、実施例１の効果に加えて、リレーレンズ324の移動を減らすことが出来るという効果も得られる。
【００５１】
なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。 
また、上記の各構成、機能、処理部、処理手段等は、それらの一部又は全部を、例えば集積回路で設計する等によりハードウェアで実現してもよい。また、上記の各構成、機能等は、プロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行することによりソフトウェアで実現してもよい。各機能を実現するプログラム、テーブル、ファイル等の情報は、メモリや、ハードディスク、ＳＳＤ（Solid State Drive）等の記録装置、または、ＩＣカード、ＳＤカード、ＤＶＤ等の記録媒体に置くことができる。 
また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。
【００５２】
また、上記実施例では、複数のの記録層を有する光ディスクを用いたが、３次元に情報を記録することが可能な体積記録型の記録層を有する光ディスクに対しても本発明を適用することができる。
【符号の説明】
【００５３】
101 光ディスク装置
102 光ディスク
103 ホスト
201 コントローラ
202 信号処理部
203 光ピックアップ
204 スライダモータ
205 スライダ駆動手段
206 収差補正駆動手段
207 スピンドルモータ
208 回転信号生成手段
209 スピンドル制御手段
210 スピンドル駆動手段
211 フォーカス誤差信号生成手段
212 フォーカス制御手段
213 フォーカス駆動手段
214 トラッキング誤差信号生成手段
215 トラッキング制御手段
216 トラッキング駆動手段
217 リレーレンズ誤差信号生成手段
218 リレーレンズ制御手段
219 リレーレンズ駆動手段
301 レーザドライバ
302 レーザダイオード
303 コリメータレンズ
304 ビームスプリッタ
305 集光レンズ
306 パワーモニタ
307 偏光ビームスプリッタ
308 ダイクロイックミラー
309 球面収差補正素子
310 1/4波長板
311 対物レンズ
312 アクチュエータ
313 集光レンズ
314 ディテクタ
315 レーザダイオード
316 コリメータレンズ
317 ビームスプリッタ
318 集光レンズ
319 パワーモニタ
320 偏光ビームスプリッタ
321 リレーレンズ
322 集光レンズ
323 ディテクタ
324 リレーレンズ
801 ガイド層への焦点制御最適位置
1401 ガイド層への焦点位置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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