(57)【要約】【課題】製造コスト、及び面積の増大を抑制しつつ、レジスタのパラメータを任意に変更することが可能な半導体装置を提供する。【解決手段】半導体装置は、パラメータ及びパラメータが設定されるアドレスを含む設定データを記憶する不揮発性メモリ１０５と、起動時に不揮発性メモリ１０５から設定データを読み出し、アドレスにパラメータが設定されるレジスタ制御回路１０１ａとを備える。半導体装置は、レジスタ制御回路１０１ａに設定データが設定された後、第１のインタフェース１０２から供給される制御信号、及びレジスタ制御回路１０１ａに記憶されたパラメータに従って動作する信号処理回路１０６と、を備える。【選択図】      図１
2013009056.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
パラメータ及び前記パラメータが設定されるアドレスを含む設定データを記憶する不揮発性メモリと、
起動時に前記不揮発性メモリから前記設定データを読み出し、前記アドレスに前記パラメータが設定されるレジスタ制御回路と、
前記レジスタ制御回路に前記設定データが設定された後、第１のインタフェースから供給される制御信号、及び前記レジスタ制御回路に記憶されたパラメータに従って動作する信号処理回路と、
を備えることを特徴とする半導体装置。
【請求項２】
前記レジスタ制御回路は、
前記不揮発性メモリから前記設定データを読み出すシーケンス回路と、
前記アドレスに前記パラメータが設定されるレジスタと、
前記設定データを前記レジスタに書き込み、且つ前記レジスタの前記パラメータを読み出す第２のインタフェースと、
を備えることを特徴とする請求項１に記載の半導体装置。
【請求項３】
前記信号処理回路は、前記レジスタに前記パラメータが設定された後にブートシーケンスを行う請求項２に記載の半導体装置。
【請求項４】
プロセッサと、前記プロセッサを制御するためのパラメータを記憶するレジスタと、不揮発性メモリと、を備える半導体装置のパラメータ設定方法であって、
更新パラメータ及び前記更新パラメータを設定すべきアドレスを用意することと、
前記更新パラメータ及び前記アドレスを、前記不揮発性メモリに書き込むことと、
を備え、
前記レジスタは、前記不揮発性メモリから供給される前記更新パラメータ及び前記アドレスに基づいて、前記アドレスに設定されたパラメータを前記更新パラメータによって更新し、
前記信号処理回路は、前記パラメータが更新された後に、ブートシーケンスを行うことを特徴とする半導体装置のパラメータ設定方法。
【請求項５】
前記更新パラメータ及び前記アドレスを用意することは、
前記信号処理回路を介して画素部の検査を行うことと、
前記検査の結果に基づいて前記更新パラメータを決定することと、
を備えていることを特徴とする請求項４に記載の半導体装置のパラメータ設定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、半導体装置、及びそのパラメータ設定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の固体撮像装置において、フリップフロップやＲＯＭを用いたレジスタに、信号制御回路を制御するための予め決められた初期値が記憶されている。しかし、そのようなレジスタを用いると、固体撮像装置のマイナーチェンジを必要とする場合、固体撮像装置の製造後の初期評価の結果を反映する場合、そして固体撮像装置のバグ修正等のためにレジスタの初期値修正を行いたい場合等に、レジスタを再作成しなければならない。このため、固体撮像装置のプロセス工程の増加を招いてしまうという問題がある。また、レジスタを書き換え可能な不揮発性メモリにすると、固体撮像装置の面積が増大するという問題がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００３―３２３６５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
製造コスト、及び面積の増大を抑制しつつ、レジスタのパラメータの初期値を任意に変更することが可能な半導体装置、及びそのパラメータ設定方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
実施形態の半導体装置は、パラメータ及び前記パラメータが設定されるアドレスを含む設定データを記憶する不揮発性メモリと、起動時に前記不揮発性メモリから前記設定データを読み出し、前記アドレスに前記パラメータが設定されるレジスタ制御回路と、前記レジスタ制御回路に前記設定データが設定された後、第１のインタフェースから供給される制御信号、及び前記レジスタ制御回路に記憶されたパラメータに従って動作する信号処理回路と、を備える。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】実施形態に係る固体撮像装置の基本的な構成を模式的に示したブロック図である。
【図２】図２（ａ）、（ｂ）は、実施形態に係る固体撮像装置の出荷前のテスト動作を模式的に示すブロック図である。
【図３】図３（ａ）、（ｂ）は、実施形態に係る固体撮像装置の起動時の動作を模式的に示すブロック図である。
【図４】実施形態の変形例１に係る固体撮像装置の基本的なパラメータ設定方法に模式的に示したブロック図である。
【図５】実施形態の変形例１に係る固体撮像装置の基本的なパラメータ設定方法について模式的に示したフローチャートである。
【図６】実施形態の変形例２に係る固体撮像装置の基本的な構成を模式的に示したブロック図である。
【図７】実施形態の変形例３に係る固体撮像装置の基本的な構成を模式的に示したブロック図である。
【図８】実施形態の変形例４に係る固体撮像装置の基本的な構成を模式的に示したブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【０００７】
以下、実施形態の詳細を図面を参照して説明する。この説明に際し、全図にわたり、共通する部分には共通する参照符号を付す。
【０００８】
（実施形態）
＜構成概要＞
図１を用いて、実施形態に係る半導体装置の基本的な構成について概略的に説明する。図１は、実施形態に係る半導体装置の基本的な構成を模式的に示したブロック図である。尚、以下の実施形態及び各変形例では、半導体装置の一例として固体撮像装置を用いて具体例を説明している。
【０００９】
図１に示すように、固体撮像装置（チップとも称す）１００は、レジスタ１０１と、レジスタアクセス用インタフェース１０２と、レジスタ・インタフェース１０３と、シーケンス回路１０４と、ｅＦｕｓｅ１０５と、信号処理回路１０６と、レンズ１０９を介して光を取り込む画素部１０７と、出力インタフェース１０８と、を備えている。以下各部の詳細について説明する。
【００１０】
レジスタ１０１は、書き換え可能なレジスタ空間を有し、例えば明るさの利得を変えるパラメータ等のレジスタ初期値（単に初期値とも称す）が設定されている。レジスタ初期値は、例えばフリップフロップの初期値として設定されている。レジスタ１０１の複数のアドレスと複数の機能とはそれぞれ対応しており、各アドレスに設定されたデータ（パラメータ、またはレジスタ値とも称す）に基づいて信号処理回路１０６の動作を制御する。そして、シーケンス回路１０４、及びレジスタ・インタフェース１０３を介して供給されるｅＦｕｓｅ１０５に記憶されたデータに基づいて、対応するアドレスのデータ（初期値）が上書き（更新）される。この初期値の上書き方法については後述で詳細に説明する。なお、例えばレジスタ１０１のアドレスのｂｉｔ幅は１６ｂｉｔであり、データのｂｉｔ幅は８ｂｉｔである。
【００１１】
レジスタアクセス用インタフェース１０２は、例えばテスタ（図示せず）から供給されたデータ及びデータが設定されるレジスタ１０１のアドレスを含むレジスタ設定データ（単に設定データとも称す）をレジスタ・インタフェース１０３に供給する。また、信号処理回路１０６を制御する、例えばクロック信号等の制御信号を、レジスタ・インタフェース１０３に供給する。
【００１２】
レジスタ・インタフェース１０３は、レジスタアクセス用インタフェース１０２から入力されたレジスタ設定データをシーケンス回路１０４に供給する。また、レジスタ・インタフェース１０３は、シーケンス回路１０４から供給されたデータをレジスタ１０１に供給する。また、レジスタ１０１は信号制御回路１０６から参照される。そして、レジスタ・インタフェース１０３からシーケンス回路１０４へのデータのｂｉｔ幅は例えば８ｂｉｔである。
【００１３】
シーケンス回路１０４は、レジスタ・インタフェース１０３から供給されたレジスタ設定データをｅＦｕｓｅ１０５に書き込み、ｅＦｕｓｅ１０５から読み出したデータをレジスタ・インタフェース１０３に供給する。
【００１４】
尚、レジスタ１０１、レジスタ・インタフェース１０３、及びシーケンス回路１０４をまとめて、レジスタ制御回路１０１ａ（破線部参照）としても良い。
【００１５】
ｅＦｕｓｅ１０５には、例えば、固体撮像装置を識別する為のＭＯＤＥＬ  ＩＤ、Ｒｅｄｕｎｄａｎｃｙ  ＳＲＡＭ／ＤＲＡＭ（図示せず）の故障アドレス、画素部１０７の欠陥情報、固体撮像装置毎のフォトダイオード飽和特性、及び設計当初に想定した箇所以外の設定等に関するデータ（更新パラメータ、または単にパラメータとも称す）を設定（記憶）することが可能である。つまり、このｅＦｕｓｅ１０５に、レジスタ１０１に設定された各設定の初期値に対する修正値を記憶することができる。このようにｅＦｕｓｅ１０５は、レジスタ１０１のそれぞれのアドレスに記憶されている全て（または所望）のパラメータを修正または変更するためのパラメータ、及び該パラメータが設定されるレジスタ１０１のアドレス（設定データ）を記憶することができる。ｅＦｕｓｅ１０５への各設定データの設定方法は、後述で詳細に説明する。なお、ｅＦｕｓｅ１０５は、必ずしもｅＦｕｓｅである必要はなく、その他の不揮発性メモリでも良い。
【００１６】
信号処理回路１０６は、画素部１０７から読み出された映像信号（画像信号）に対してＡ／Ｄ（Analog-to-Digital）変換を行ってデジタル信号を得るＡＤＣ（Analog-to-Digital converter）（図示せず）、及びノイズや画素欠陥をキャンセルするキャンセラ（図示せず）等を備えている。信号処理回路１０６は、例えばレジスタ１０１に設定された各種パラメータに基づいて、該デジタル信号を得る。つまり、信号処理回路１０６は、レジスタ１０１に設定された各種パラメータによって制御される。また、信号処理回路１０６は、レジスタアクセス用インタフェース１０２を介して固体撮像装置１００の外部から供給された制御信号に基づいて、固体撮像装置１００の制御を行う。具体例として、信号処理回路１０６は、供給されたクロック信号に基づいて、固体撮像装置１００のタイミングを制御する。
【００１７】
画素部１０７は、例えばＣＭＯＳセンサであり、マトリクス状に配置された複数の画素素子（ピクセルとも称す）を備えている。つまり、画素部１０７では、信号処理回路１０６から供給された信号に基づいて、複数配置されたピクセルに対する、シャッター動作、並びに読み出し動作（リセット動作及び映像信号の読み出し動作）が行われる。
【００１８】
出力インタフェース１０８は、例えば信号処理回路１０６が画素部１０７から得たデジタル信号を出力する。
【００１９】
レンズ１０９は、外部からの光を受光し、該受光した光を分解フィルター（図示せず）を介して画素部１０７へと供給する。
【００２０】
＜出荷前のテスト動作＞
次に、図２（ａ）、（ｂ）を用いて本実施形態に係る固体撮像装置１００の出荷前のテスト動作について説明する。図２（ａ）、（ｂ）は、本実施形態に係る固体撮像装置１００の出荷前のテスト動作を模式的に示すブロック図である。
【００２１】
この出荷前のテスト動作は、例えば固体撮像装置１００の製造が終了した後に行われる動作である。本例ではｅＦｕｓｅ１０５にレジスタ設定データ（データ及びデータが設定されるレジスタ１０１のアドレスを含む）を書き込む場合について説明する。これは、例えば単一の集積回路をベースに、マイナーチェンジを必要とする場合、または固体撮像装置の初期評価の結果をレジスタの初期値に反映する場合、または固体撮像装置のバグ修正等のためにレジスタの初期値の修正を行う場合等に行われる。
【００２２】
図２（ａ）に示すように、テスタ１１０をレジスタアクセス用インタフェース１０２に接続する。そして、テスタ１１０は、レジスタアクセス用インタフェース１０２、レジスタ・インタフェース１０３、そしてシーケンス回路１０４を経由してｅＦｕｓｅ１０５に、所望のレジスタ設定データ（例えば設定Ａ）を書き込む。この設定Ａは、例えばレジスタ１０１に記憶された各初期値等を変更するための各種パラメータ（レジスタ値）、及びパラメータが記憶されるレジスタ１０１のアドレスを含んでいる。本例では例えばｅＦｕｓｅ１０５にアクセスする際のｂｉｔ幅が８ｂｉｔであり、レジスタ１０１のアドレスが１６ｂｉｔ、データのｂｉｔ幅が８ｂｉｔとする。
【００２３】
まず、レジスタ１０１の所望のアドレス（例えばAddress0）の初期値データを修正データ（例えばData0）に変更するために、テスタ１１０から、該アドレスの上位８ｂｉｔ（Address0(H)）、下位８ｂｉｔ（Address0(L)）、データ８ｂｉｔ（Data0）が順にシーケンス回路１０４に供給される。そして、シーケンス回路１０４は、該アドレスの上位８ｂｉｔ（Address0(H)）、下位８ｂｉｔ（Address0(L)）、データ８ｂｉｔ（Data0）を順にｅＦｕｓｅ１０５ａに書き込む。次に、レジスタ１０１の所望のアドレス（例えばAddress1）の初期値データを修正データ（例えばData1）に変更するために、テスタ１１０から、該アドレスの上位８ｂｉｔ（Address1(H)）、下位８ｂｉｔ（Address1(L)）、データ８ｂｉｔ（Data1）が順にシーケンス回路１０４に供給される。そして、シーケンス回路１０４は、該アドレスの上位８ｂｉｔ（Address1(H)）、下位８ｂｉｔ（Address1(L)）、データ８ｂｉｔ（Data1）を順にｅＦｕｓｅ１０５ｂに書き込む。同様にして、レジスタ１０１内に記憶された初期値において変更が必要なパラメータ（データ）がテスタ１１０から供給された場合、シーケンス回路１０４は、該パラメータをｅＦｕｓｅ１０５内へと書き込んでいく。設定Ａの書き込みの終了の際には、テスタ１１０からレジスタ設定データの書込み終了を示すコードと予め定義してあるデリミタ（Delimiter）が供給され、シーケンス回路１０４は、デリミタをｅＦｕｓｅ１０５ｃに書き込む。
【００２４】
図２（ｂ）では、図２（ａ）と同様にして、ｅＦｕｓｅ１０５にレジスタ設定データ（設定Ａとは異なる設定Ｂ）を書き込んでいる場合について示している。ここでは簡単の為、図２（ａ）と同様に、ｅＦｕｓｅ１０５ａは、レジスタ１０１のアドレス（Address0）の修正データ（Data0）が書き込まれ、ｅＦｕｓｅ１０５ｂは、レジスタ１０１のアドレス（Address1）の修正データ（Data1）が書き込まれ、ｅＦｕｓｅ１０５ｃに、デリミタ（Delimiter）が書き込まれている。しかし、図２（ｂ）のｅＦｕｓｅ１０５に書き込まれた各アドレスまたは各データは図２（ａ）のｅＦｕｓｅ１０５に書き込まれた各アドレスまたは各データと異なる。
【００２５】
＜実使用時の動作＞
次に、図３（ａ）、（ｂ）を用いて本実施形態に係る固体撮像装置１００の起動時の動作（実使用時の動作とも称す）について説明する。図３（ａ）、（ｂ）は、本実施形態に係る固体撮像装置１００の起動時の動作を模式的に示すブロック図である。
【００２６】
本例の固体撮像装置１００は、起動直後にレジスタ１０１がフリップフロップの初期値等により初期化される。そして、図３（ａ）に示すように、シーケンス回路１０４は、ｅＦｕｓｅ１０５内に記憶された設定Ａであるアドレス、データ、及びデリミタを順次読み出し、読み出されたアドレス及びデータをレジスタ・インタフェース１０３に順次供給する。そして、レジスタ・インタフェース１０３は、順番に供給されたアドレス及びデータに基づき、レジスタ１０１のアドレス（例えばAddress0）に、該アドレス（Address0）に関連するデータ（Data0）を書き込む。同様にして、レジスタ・インタフェース１０３は、デリミタ（Delimiter）を検出するまで、供給されたレジスタ１０１のアドレスに、該アドレスに関連するデータを書き込む。レジスタ・インタフェース１０３は、デリミタ（Delimiter）を検出した場合、レジスタ１０１への書込み動作を終了し、信号処理回路１０６の通常のブートシーケンスに移行する。この際、信号処理回路１０６は、設定Ａ（各種パラメータ）によって修正されたレジスタ１０１のパラメータを参照する。そして、信号処理回路１０６は、前記設定Ａによって修正されたパラメータに従って動作する。
【００２７】
また、図３（ｂ）に示すように、ｅＦｕｓｅ１０５に、設定Ｂであるアドレス及びデータが記憶されている場合、図３（ａ）で説明した方法と同様にして、レジスタ１０１は設定Ｂによって修正される。そして、信号処理回路１０６は、設定Ｂによって修正されたレジスタ１０１のパラメータに従って動作する。
【００２８】
図３（ａ）、（ｂ）で説明したように、信号処理回路１０６は、テスタ１１０からｅＦｕｓｅ１０５に書き込まれたレジスタ設定データ（設定）に従って動作をする。
【００２９】
＜実施形態の作用効果＞
上述した実施形態によれば、固体撮像装置（半導体装置）１００は、パラメータ（更新パラメータ）及びパラメータが設定されるアドレスを含む設定データを記憶する不揮発性メモリ（ｅＦｕｓｅ）１０５と、起動時にｅＦｕｓｅ１０５から設定データを読み出し、該アドレスにパラメータが設定される（書き込まれる）レジスタ制御回路１０１ａとを備えている。また、固体撮像装置１００は、レジスタ制御回路１０１ａに設定データが設定された後、レジスタアクセス用インタフェース１０２から供給される制御信号、及びレジスタ制御回路１０１ａに記憶されたパラメータに従って動作する信号処理回路１０６と、信号処理回路１０６に接続され、信号処理回路１０６によって動作する画素部１０７とを備えている。更に、固体撮像装置１００のパラメータの設定方法は、レジスタ１０１内のパラメータを更新するための更新パラメータ及び更新パラメータを設定すべきアドレスを用意することと、更新パラメータ及びアドレスを、ｅＦｕｓｅ１０５に書き込むことと、を備えている。そして、レジスタ１０１は、ｅＦｕｓｅ１０５から供給される更新パラメータ及びアドレスに基づいて、アドレスに対応するパラメータ（初期値）を更新パラメータによって更新し、信号処理回路１０６は、パラメータが更新された後にブートシーケンスを行う。そして、固体撮像装置（半導体装置）１００のパラメータ設定方法は、レジスタ制御回路１０１ａに記憶され、信号処理回路１０６の動作の制御を行うパラメータ及びパラメータが設定されるアドレスを用意することと、パラメータ及びパラメータが設定されるアドレスを、レジスタ制御回路１０１ａを介してｅＦｕｓｅ１０５に書き込むことと、を備えている。
【００３０】
このように、本実施形態に係る固体撮像装置は、レジスタの初期値修正情報（パラメータ及びパラメータが設定されるアドレスを含む）を不揮発性メモリ（ｅＦｕｓｅ）内に保持することが可能である。そのため、レジスタがフリップフロップで構成されている場合においても、レジスタの再作成等を行わずに、レジスタに記憶されたパラメータを修正することが可能である。更に、本実施形態に係る固体撮像装置は、不揮発性メモリ（ｅＦｕｓｅ）内に保持されたレジスタの初期値修正情報をブートシーケンス前にレジスタに反映している。つまり、固体撮像装置の出荷前のテスト時に、各バージョン、または各個体に応じてキャリブレーション情報や設定変更情報を、不揮発性メモリ（ｅＦｕｓｅ）内に書き込み、固体撮像装置の起動時にその情報を、レジスタに書き込むことによって最適な設定で、固体撮像装置を起動することができる。
【００３１】
また、ｅＦｕｓｅ等の小容量の不揮発性メモリを搭載する固体撮像装置（集積回路）において、該不揮発性メモリの一部をレジスタの初期値設定の変更に利用している。そのため、固体撮像装置の開発コスト、及びレジスタの面積の増大を抑制しつつ、レジスタの設定を容易に変更することが可能になる。
【００３２】
これにより、例えば単一の固体撮像装置をベースに、マイナーチェンジを行うこと、固体撮像装置の初期評価の結果をレジスタに反映すること、固体撮像装置のバグ修正等のためにレジスタの初期値の修正を行うこと等が容易になる。その結果、更に半導体のマスクリファイン（レジスタの再作成）削減にも寄与できる。
【００３３】
尚、上述した実施形態では、チップ（固体撮像装置）によって設定Ａまたは設定Ｂ等と異なるレジスタ設定データをｅＦｕｓｅ１０５に記憶する場合について説明している。例えば、バグ修正データ等であれば全ての固体撮像装置に同じレジスタ設定データを書き込むが、「画質優先設定（例えば設定Ａ）」の固体撮像装置と、「フレームレート優先設定（例えば設定Ｂ）」の固体撮像装置とを分けたい場合がある。このような場合、それぞれの設定値を例えばウエハ毎、またはロット毎に固体撮像装置に書き込むことで、実使用時に追加の設定を行うことなく、それぞれの設定の固体撮像装置を得ることができる。具体的には同一のシリコン、または同一のロットに属する固体撮像装置に対して、同一の設定（設定Ａまたは設定Ｂ）が設定される。
【００３４】
（変形例１）
次に、実施形態の変形例１について説明する。  
変形例１は、固体撮像装置の出荷前のテスト動作時に、テスタによって、固体撮像装置１００に関する種々のテストを行い、該テストによってレジスタの初期値（パラメータ）の補正が必要とされた場合、修正パラメータを該修正パラメータが記憶されるレジスタ１０１のアドレスと共にｅＦｕｓｅ１０５に設定する方法である。
【００３５】
図４、５を用いて、実施形態の変形例１に係る固体撮像装置の基本的なパラメータ設定方法について概略的に説明する。図４は、実施形態の変形例１に係る固体撮像装置の基本的なパラメータ設定方法に模式的に示したブロック図である。図５は、実施形態の変形例１に係る固体撮像装置の基本的なパラメータ設定方法について模式的に示したフローチャートである。尚、変形例１に係る固体撮像装置の基本的な構成及び基本的な動作は上述した実施形態に係る固体撮像装置と同様である。そのため、変形例１の説明において、上記実施形態と重複する部分の説明を省略する。
【００３６】
変形例１では、例えば出荷前のテスト動作時に各個体撮像装置（チップ）において画素部の感度を測定し、それに応じて固体撮像装置毎に基準ゲインの自動調整をする場合を考える。画素部は製造ばらつきにより感度特性がバラつくため、固体撮像装置毎に最適な基準ゲイン設定を行う場合がある。
【００３７】
＜出荷前のテスト動作＞
本例では、固体撮像装置の製造終了後の各個体撮像装置において画素部の感度を測定し、それに応じて固体撮像装置毎に基準ゲイン設定データをｅＦｕｓｅ１０５に書き込む場合について説明する。
【００３８】
図４に示すように、レジスタアクセス用インタフェースにはテスタ１１１が接続され、出力インタフェースにもテスタ１１１が接続されている。
【００３９】
図５に示すように、
（ステップＳ１０１）
まず、テスタ１１１は、画素部１０７の画素データを読み出し、感度測定を行う。この感度計測動作の一例としては、テスタ１１１は、例えばレンズ１０９を介して、画素部１０７において基準となる画像（基準画像）を撮像させ、画像信号を取得させる。そして、テスタ１１１は、信号処理回路１０６に、画素部１０７から読み出された画像信号に対するＡ／Ｄ変換を行わせ、デジタル信号（画素データ）を取得させる。そして、該画素データは、出力インタフェース１０８を介してテスタ１１１に出力される。テスタ１１１は出力された画素データから、画素部１０７の感度計測を行う。
【００４０】
（ステップＳ１０２）
次に、テスタ１１１は、画素データから導出された感度から、最適な基準ゲインを算出する。この基準ゲインとは、予め定められた基準光量に対応する信号処理回路１０６の出力が、予め定められた基準感度となるように、信号処理回路１０６に与えられるゲインのことである。
【００４１】
（ステップＳ１０３）
続いて、テスタ１１１は、該基準ゲインに対応するパラメータ（レジスタ値）、及び該基準ゲインのパラメータが記憶されるレジスタ１０１のアドレスを含む設定（例えば基準ゲイン設定と呼ぶ）を、レジスタアクセス用インタフェース１０２、及びレジスタ・インタフェース１０３を介して、シーケンス回路１０４に供給し、シーケンス回路１０４は、該設定をｅＦｕｓｅ１０５に書き込む。
【００４２】
＜実使用時の動作＞
本例に係る固体撮像装置１００は、上述した実施形態に係る固体撮像装置と同様に、起動直後にレジスタ１０１がフリップフロップの初期値等により初期化される。そして、図４に示すように、シーケンス回路１０４は、ｅＦｕｓｅ１０５内に記憶された基準ゲイン設定を読み出し、読み出された基準ゲイン設定をレジスタ・インタフェース１０３に供給する。そして、レジスタ・インタフェース１０３は、供給された基準ゲイン設定に基づき、レジスタ１０１の基準ゲインに関するアドレスに、基準ゲインに関するパラメータを書き込む。レジスタ・インタフェース１０３は、デリミタ（Delimiter）を検出するまで、ｅＦｕｓｅ１０５から供給されたデータを、データに関連付けられたアドレスに従って書き込む。レジスタ・インタフェース１０３は、デリミタ（Delimiter）を検出した場合、レジスタ１０１への書込み動作を終了し、信号処理回路１０６の通常のブートシーケンスに移行する。つまり、信号処理回路１０６は、テスタ１１１によって算出された基準ゲインに従って動作する。
【００４３】
＜変形例１の作用効果＞
上述した変形例１によれば、レジスタ制御回路１０１ａに記憶され、信号処理回路１０６の動作の制御を行うパラメータ及びパラメータが設定されるアドレスを用意することは、信号処理回路１０６を介して画素部１０７の検査を行うことと、該検査の結果に基づいてパラメータを決定することと、を備えている。
【００４４】
変形例１に係る固体撮像装置の構成は、実施形態で説明した固体撮像装置の構成と同様なので、実施形態で説明した効果と、基本的に同様の効果を得ることができる。しかし、変形例１に係る固体撮像装置の出荷前のテスト動作は、テスタを用いて固体撮像装置の検査（例えば画素部の検査）を行い、その検査結果に基づいて、適切なパラメータを導出し、ｅＦｕｓｅ１０５に適切なパラメータ及び、該パラメータを設定するアドレスを記憶している。この検査は例えばチップ（固体撮像装置）毎に行われる。その結果、製造バラツキ等に起因する固体撮像装置毎に異なるバラツキを自動的に調整し、レジスタの再作成等の処理を行うことなく固体撮像装置を最適な設定で起動することができる。
【００４５】
なお、テスト動作の一例として、テスタ１１１が、画素部１０７からの画素データに基づいて、基準ゲインを導出し、ｅＦｕｓｅ１０５に基準ゲイン設定を供給した。しかし、これに限らず、固体撮像装置に関するテストであるのであれば、どのようなものでも、本変形例１で応用可能である。
【００４６】
（変形例２）
次に、実施形態の変形例２について説明する。  
変形例２は、固体撮像装置が、シーケンス回路に接続され、固体撮像装置の出荷前のテスト動作時にのみに用いられるテスト用インタフェースを更に備える点で、上述した実施形態と異なる。
【００４７】
＜固体撮像装置概要＞
図６を用いて、実施形態の変形例２に係る固体撮像装置の基本的な構成及びパラメータ設定方法について概略的に説明する。図６は、実施形態の変形例２に係る固体撮像装置の基本的な構成を模式的に示したブロック図である。尚、変形例２に係る固体撮像装置の基本的な構成及び基本的な動作は、上述した実施形態に係る固体撮像装置と同様である。そのため、変形例２の説明において、上記実施形態と重複する部分の説明を省略する。
【００４８】
図６に示すように、テスト用インタフェース１１２は、例えばテスタ（図示せず）から供給されたレジスタ設定データをシーケンス回路１０４に供給する。なお、このテスト用インタフェース１１２は、例えば出力インタフェース１０８の１３ｂｉｔのうち、８ｂｉｔを用いており、固体撮像装置の出荷前のテスト動作時にのみ有効である。そして、テスト用インタフェース１１２は、該出荷前のテスト動作後は、例えば、信号処理回路１０６の出力インタフェース１０８等の別用途の端子として用いられる。尚、このテスト用インタフェース１１２は、出力インタフェース１０８とは別のインタフェースの一部を用いたものでも良い。その際、例えば、テスト用インタフェース１１２は、該出荷前のテスト動作後は、出力インタフェース１０８と並列な、信号処理回路１０６の出力インタフェースの端子として用いられることが可能である。
【００４９】
＜出荷前のテスト動作、実使用時の動作＞
次に、変形例２に係る固体撮像装置２００の出荷前のテスト動作時のｅＦｕｓｅ１０５内へのアドレス及びデータの書き込み方法について説明する。尚、基本的な書き込み方法に関しては、実施形態で説明した方法と同様なので省略する。
【００５０】
テスタ（不図示）をテスト用インタフェース１１２に接続する。そして、テスタは、テスト用インタフェース１１２を介して、シーケンス回路１０４に所望のレジスタ設定データ（各種パラメータ、及びパラメータが記憶されるレジスタ１０１のアドレスを含む）を供給し、シーケンス回路１０４は、ｅＦｕｓｅ１０５に、該レジスタ設定データを書き込む。尚、変形例２に係る固体撮像装置２００の起動時の動作は、実施形態で説明した動作と同様なので省略する。
【００５１】
＜変形例２の作用効果＞
上述した変形例２によれば、固体撮像装置２００は、固体撮像装置１００の構成に加え、シーケンス回路１０４に接続され、設定データをシーケンス回路１０４に供給するテスト用インタフェース（第３のインタフェース）１１２を更に備えている。また、テスト用インタフェース１１２は、信号処理回路１０６の出力信号を出力する端子としても用いられる。
【００５２】
テスト用インタフェース１１２、及びシーケンス回路１０４を介して設定データをｅＦｕｓｅ１０５に書き込むことは、レジスタアクセス用インタフェース１０２、レジスタ・インタフェース１０３、及びシーケンス回路１０４を介して設定データをｅＦｕｓｅ１０５に書き込むよりも、中継する回路が少ない分、高速で行うことができる。また、テスト用インタフェース１１２は、例えば信号処理回路１０６の出力信号を出力する出力インタフェース１０８の一部を使っている。このため、変形例２によれば、上述した実施形態の効果と同様の効果を得つつ、また固体撮像装置の製造コストの増加や面積の増加を抑制しつつ、より高速で設定データをｅＦｕｓｅ１０５に書き込むことが可能である。
【００５３】
（変形例３）
次に、実施形態の変形例３について説明する。  
変形例３は、固体撮像装置が、レジスタ内のレジスタ値により、レジスタアクセス用インタフェースの特性を変化させるレジスタアクセス用インタフェース制御回路を備える点で上述した実施形態と異なる。
【００５４】
＜固体撮像装置概要＞
図７を用いて、実施形態の変形例３に係る固体撮像装置の基本的な構成について概略的に説明する。図７は、実施形態の変形例３に係る固体撮像装置の基本的な構成を模式的に示したブロック図である。尚、変形例３に係る固体撮像装置の基本的な構成及び基本的な動作は上述した実施形態に係る固体撮像装置と同様である。そのため、変形例３の説明において、上記実施形態と重複する部分の説明を省略する。
【００５５】
図７に示すように、レジスタアクセス用インタフェース制御回路１１３は、例えばシーケンス回路（図示せず）や制御部（図示せず）を備え、レジスタ１０１、レジスタアクセス用インタフェース１０２、及びレジスタ・インタフェース１０３に接続されている。そして、固体撮像装置の起動時に該シーケンス回路によってレジスタ１０１内のパラメータ（レジスタ値）を読み出すことによって、該制御部が、該パラメータに基づいてレジスタアクセス用インタフェース１０２の特性を自由に変化させることが可能となる。該パラメータの一例としては、レジスタアクセス用インタフェース１０２のクロック周波数を変化させるパラメータ等がある。そして、レジスタ１０１内には、レジスタアクセス用インタフェース制御回路１１３のパラメータを記憶するアドレスが用意されている。尚、レジスタ１０１、レジスタアクセス用インタフェース制御回路１１３、レジスタ・インタフェース１０３、及びシーケンス回路１０４をまとめて、レジスタ制御回路１０１ｂ（破線部参照）としても良い。
【００５６】
変形例３に係る固体撮像装置３００の出荷前のテスト動作及び実使用時の基本的な動作は、実施形態で説明した動作と同様であるので、詳細な説明は省略する。
【００５７】
＜変形例３の作用効果＞
上述した変形例２によれば、固体撮像装置３００は、固体撮像装置１００の構成に加え、レジスタアクセス用インタフェース（第１のインタフェース）１０２、レジスタ・インタフェース（第２のインタフェース）１０３、及びレジスタ１０１に接続され、レジスタ１０１に記憶されたパラメータに基づいて、レジスタアクセス用インタフェース１０２を制御するレジスタアクセス用インタフェース制御回路１１３を更に備えている。
【００５８】
これによれば、レジスタ１０１内のパラメータにより、レジスタアクセス用インタフェース制御回路１１３の設定が変更可能である。そして、直接変更することが難しい、レジスタアクセス用インタフェース１０２の特性を、このレジスタアクセス用インタフェース制御回路１１３により、変更することができる。つまり、レジスタアクセス用インタフェース１０２の特性を変化させるパラメータが、ｅＦｕｓｅ１０５に記憶されている場合、レジスタアクセス用インタフェース１０２の特性を自由に変化させることができるということである。これにより、上述した実施形態の効果と同様の効果を得つつ、レジスタアクセス用インタフェース制御回路自体の設定変更も可能である。
【００５９】
（変形例４）
次に、実施形態の変形例４について説明する。  
変形例４は、固体撮像装置が、シーケンス回路に接続され、出荷前のテスト動作時にのみに用いられるテスト用インタフェースを備え（変形例２と同様）、更にレジスタ内のレジスタ値により、レジスタアクセス用インタフェースの特性を変化させるレジスタアクセス用インタフェース制御回路を備える（変形例３と同様）点で上述した実施形態と異なる。
【００６０】
＜固体撮像装置概要＞
図８を用いて、実施形態の変形例４に係る固体撮像装置の基本的な構成について概略的に説明する。図８は、実施形態の変形例４に係る固体撮像装置の基本的な構成を模式的に示したブロック図である。尚、変形例４に係る固体撮像装置の基本的な構成及び基本的な動作は上述した実施形態、変形例２、及び変形例３に係る固体撮像装置と同様である。そのため、変形例４の詳細な説明を省略する。
【００６１】
＜変形例４の作用効果＞
上述した変形例４によれば、変形例２の構成と変形例３の構成と同様に、固体撮像装置４００は、固体撮像装置１００の構成に加え、シーケンス回路１０４に接続され、設定データをシーケンス回路１０４に供給するテスト用インタフェース（第３のインタフェース）１１２を更に備えている。そして、固体撮像装置４００は更に、レジスタアクセス用インタフェース（第１のインタフェース）１０２、レジスタ・インタフェース（第２のインタフェース）１０３、及びレジスタ１０１に接続され、レジスタ１０１に記憶されたパラメータに基づいて、レジスタアクセス用インタフェース１０２を制御するレジスタアクセス用インタフェース制御回路１１３を更に備えている。そのため、レジスト設定データをｅＦｕｓｅ１０５に書き込む際、レジスタアクセス用インタフェース１０２を介していない為、レジスタアクセス用インタフェースの特性から影響を受けない。これにより、レジスタアクセス用インタフェース１０２の特性を変化させるパラメータ等を容易にｅＦｕｓｅ１０５に記憶することができる。
【００６２】
そして、変形例３と同様に、レジスタアクセス用インタフェース１０２の特性を変化させるパラメータがｅＦｕｓｅ１０５に記憶されている場合、レジスタアクセス用インタフェース１０２の特性を自由に変化させることができる。これにより、上述した実施形態、変形例２、及び変形例３の効果と同様の効果を得つつ、レジスタアクセス用インタフェース１０２の特性を変化させるパラメータを更に容易にｅＦｕｓｅ１０５に記憶することが可能となっている。
【００６３】
尚、上述した実施形態及び各変形例では、固体撮像装置の製造の段階で、レジスタ１０１に初期値が予め設定されている。具体的には、各種機能の具体的なパラメータが、レジスタ１０１のフリップフロップに予め設定されている。しかし、例えば、レジスタ１０１のフリップフロップにはどのような値が記憶されていても良く、フリップフロップには例えば、全て０、または１、または、任意の値（意味の無い値）が設定されていても良い。このように、固体撮像装置の製造の段階で、レジスタ１０１に予め設定された値を例えば、初期値と呼ぶ。そして、レジスタ１０１に、各種機能の具体的なパラメータが設定されていない場合は、ｅＦｕｓｅ１０５に各種機能の具体的なパラメータを記憶することも可能である。  
また、上述した実施形態及び各変形例において、半導体装置の一例として固体撮像装置を用いたが、これに限らず、集積回路であれば、どのようなものでも良い。  
更に、上述した実施形態及び各変形例において、画素部の一例としてＣＭＯＳを用いたが、これに限らず、ＣＣＤでも良い。  
また、上述した実施形態及び各変形例において、レジスタを用いたが、これに限らず、書き換え可能なメモリであれば、どのようなものでも良い。  
更に、上述した実施形態及び各変形例において、ｅＦｕｓｅ１０５にアクセスする際のｂｉｔ幅を８ｂｉｔとしたが、これに限らない。また、レジスタ１０１のアドレスが１６ｂｉｔ、データのｂｉｔ幅を８ｂｉｔとしたが、これに限らない。更に、ｅＦｕｓｅ１０５に、上位アドレス８ｂｉｔ、下位アドレス８ｂｉｔ、データ８ｂｉｔを順に書込まれているが、この順序に限らない。また、アドレスを上位、下位の二つに分けているが、アドレス及びデータのｂｉｔ数、またはｅＦｕｓｅ１０５にアクセスする際のｂｉｔ幅に応じて、アドレスの分割数は増減しても良いし、データを複数に分けても良い。
【００６４】
以上、本発明の実施形態を説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲内において種々変形して実施することが可能である。さらに、上記実施形態には種々の段階の発明が含まれており、開示された構成要件を適宜組み合わせることによって種々の発明が抽出される。例えば、開示された構成要件からいくつかの構成要件が削除されても、所定の効果が得られるものであれば、発明として抽出され得る。
【符号の説明】
【００６５】
１００、２００、３００、４００…固体撮像装置、      １０１…レジスタ
１０１ａ、１０１ｂ…レジスタ制御回路  
１０２…レジスタアクセス用インタフェース、    １０３…レジスタ・インタフェース
１０４…シーケンス回路、      １０５…不揮発性メモリ
１０６…信号処理回路、      １０７…画素部、    １０８…出力インタフェース
１０９…レンズ、      １１０、１１１…テスタ、  １１２…テスト用インタフェース
１１３…レジスタアクセス用インタフェース制御回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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