(57)【要約】【課題】シラン系シール材の硬化度を好適に測定する。【解決手段】シラン系シール材からなる測定対象物に対して、１５００ｎｍ〜１６００ｎｍの波長範囲に含まれる第１の波長、又は、１９８０ｎｍ〜２０８０ｎｍの波長範囲に含まれる第２の波長の少なくとも一方を含む測定光を照射し、測定対象物の透過光又は拡散反射光を受光して吸光度スペクトルを得るステップと、この吸光度スペクトルから第１の波長又は第２の波長における特徴量を抽出するステップと、特徴量を予め定めた閾値と比較することにより、シラン系シール材が硬化したか否かを判定するステップと、を備える。シラン系シール材は、上記の波長範囲において、硬化度に応じて吸光度が変更する。したがって、これらの波長範囲における特徴量を抽出し、これに基づきシラン系シール材の硬化度を求めることにより、シラン系シール材の硬化度を好適に測定することが可能となる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
シラン系シール材からなる測定対象物に対して、１５００ｎｍ〜１６００ｎｍの波長範囲に含まれる第１の波長の光、または、１９８０ｎｍ〜２０８０ｎｍの波長範囲に含まれる第２の波長の光が含まれる測定光を照射することで、当該測定対象物からの透過光又は拡散反射光を受光し、当該測定対象物の吸光度スペクトルを取得するステップと、
前記吸光度スペクトルから前記第１の波長または前記第２の波長における特徴量を抽出するステップと、
前記特徴量を予め定めた閾値と比較することにより、前記シラン系シール材の硬化度を測定するステップと、
を含むシラン系シール材の硬化度測定方法。
【請求項２】
前記測定対象物の吸光度スペクトルを得るステップにおいて、前記第１の波長の光及び前記第２の波長の光が含まれる測定光を照射して、吸光度スペクトルを取得し、
前記特徴量を抽出するステップにおいて、前記第１の波長及び前記第２の波長における特徴量を抽出する請求項１記載のシラン系シール材の硬化度測定方法。
【請求項３】
前記特徴量は、前記吸光度スペクトルに基づいて作成されたベースラインスペクトルに対する吸光度の差分である請求項１又は２記載のシラン系シール材の硬化度測定方法。
【請求項４】
前記特徴量は、前記吸光度スペクトルの波長による二次微分値である請求項１又は２記載のシラン系シール材の硬化度測定方法。
【請求項５】
前記測定対象物の拡散反射光を用いて前記測定対象物の吸光度スペクトルを得る請求項１〜４のいずれか一項に記載のシラン系シール材の硬化度測定方法。
【請求項６】
前記測定対象物に対して測定光を照射する光源と前記測定対象物からの透過光を受光する検出ユニットとが前記測定対象物を挟んで対向するように配置され、
前記透過光を用いて前記測定対象物の吸光度スペクトルを得る請求項１〜４のいずれか一項に記載のシラン系シール材の硬化度測定方法。
【請求項７】
前記測定対象物は反射板上に載置され、前記測定対象物に対して測定光を照射する光源と前記測定対象物からの透過光を受光する検出ユニットとが前記測定対象物を挟んで前記反射板と反対側に配置され、
前記透過光を用いて前記測定対象物の吸光度スペクトルを得る請求項１〜４のいずれか一項に記載のシラン系シール材の硬化度測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、シラン系シール材の硬化度測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、赤外光を測定対象物に照射することで吸収スペクトルを計測し、この結果に基づいて測定対象物の特性を評価する方法が検討されている。例えば、特許文献１では、近赤外領域における光の吸収を利用して生体組織中のグルコース濃度を定量する方法が示されている。また、特許文献２では、鋼板表面に塗布した塗料の赤外スペクトルを測定し、この結果から焼付状況を評価する方法が示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平１０−３２５７８４号公報
【特許文献２】特開平８−１９６９８４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、耐水劣化性等の向上を目的として、シラン系のプライマーを用いたシール材（シーリング材）が建築用途等において注目されている。しかしながら、シラン系シール材を塗布した後の硬化度を評価する方法の検討はなされていなかった。
【０００５】
本発明は上記を鑑みてなされたものであり、シラン系シール材の硬化度を好適に測定可能な方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するため、本発明に係るシラン系シール材の硬化度測定方法は、シラン系シール材からなる測定対象物に対して、１５００ｎｍ〜１６００ｎｍの波長範囲に含まれる第１の波長の光、又は、１９８０ｎｍ〜２０８０ｎｍの波長範囲に含まれる第２の波長の光が含まれる測定光を照射することで、当該測定対象物からの透過光又は拡散反射光を受光し、当該測定対象物の吸光度スペクトルを取得するステップと、吸光度スペクトルから第１の波長又は第２の波長における特徴量を抽出するステップと、特徴量を予め定めた閾値と比較することにより、シラン系シール材の硬化度を測定するステップと、を含むことを特徴とする。
【０００７】
発明者らは、鋭意検討の結果、シラン系シール材は、１５００ｎｍ〜１６００ｎｍの波長範囲及び１９８０ｎｍ〜２０８０ｎｍの波長範囲において、硬化度に応じて吸光度が変化することを見出した。したがって、これらの１５００ｎｍ〜１６００ｎｍの波長範囲に含まれる第１の波長又は１９８０ｎｍ〜２０８０ｎｍの波長範囲に含まれる第２の波長における特徴量を抽出し、これを利用してシラン系シール材の硬化度を求めることにより、シラン系シール材の硬化度を好適に測定することが可能となる。
【０００８】
また、測定対象物の吸光度スペクトルを得るステップにおいて、第１の波長の光及び第２の波長の光が含まれる測定光を照射して、吸光度スペクトルを取得し、特徴量を抽出するステップにおいて、第１の波長及び第２の波長における特徴量を抽出する態様とする場合、硬化度の測定に寄与する波長が増えるため、シラン系シール材の硬化度をより精度よく測定することが可能となる。
【０００９】
ここで、上記作用を効果的に奏する構成として、具体的には、特徴量は、吸光度スペクトルに基づいて作成されたベースラインスペクトルに対する吸光度の差分である態様が挙げられる。
【００１０】
また、上記作用を効果的に奏する他の構成として、具体的には、特徴量は、吸光度スペクトルの波長による二次微分値である態様が挙げられる。
【００１１】
また、測定対象物の拡散反射光を用いて測定対象物の吸光度スペクトルを得る態様としてもよい。
【００１２】
また、測定対象物に対して測定光を照射する光源と測定対象物からの透過光を受光する検出ユニットとが測定対象物を挟んで対向するように配置され、透過光を用いて測定対象物の吸光度スペクトルを得る構成としてもよい。
【００１３】
また、同様に吸光度スペクトルを得る場合、測定対象物は反射板上に載置され、測定対象物に対して測定光を照射する光源と測定対象物からの透過光を受光する検出ユニットとが測定対象物を挟んで反射板と反対側に配置され、透過光を用いて測定対象物の吸光度スペクトルを得る態様とすることもできる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、シラン系シール材の硬化度を好適に測定可能な方法が提供される。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明に係る硬化度測定システムの概略構成を説明する図である。
【図２】硬化度測定システムにおいて用いられる測定対象物の一例を示す図である。
【図３】ハイパースペクトル画像について説明する図である。
【図４】硬化度測定システムの他の構成について説明する図である。
【図５】硬化度測定システムの他の構成について説明する図である。
【図６】硬化度測定システムにより取得される吸光度スペクトルの一例を示す図である。
【図７】図６の吸光度スペクトルの一部を拡大し補正した図である。
【図８】図６の吸光度スペクトルの一部を拡大し補正した図である。
【図９】図７に基づき硬化時間に応じた吸光度の時間変化を求めた図である。
【図１０】図８に基づき硬化時間に応じた吸光度の時間変化を求めた図である。
【図１１】図６の吸光度スペクトルの波長による二次微分値を求めた図である。
【図１２】図１１のスペクトルの一部を拡大し補正した図である。
【図１３】図１１のスペクトルの一部を拡大し補正した図である。
【図１４】図１２に基づき硬化時間に応じた吸光度の時間変化を求めた図である。
【図１５】図１３に基づき硬化時間に応じた吸光度の時間変化を求めた図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、添付図面を参照して、本発明を実施するための形態を詳細に説明する。なお、図面の説明においては同一要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００１７】
（硬化度測定システムの構成）
本発明に係る画像データ分析装置を含んで構成される硬化度測定システム１００について図１を用いて説明する。本実施形態に係る硬化度測定システム１００は、ベルトコンベア２上に分散載置された検査対象品３（図１では検査対象品の載置位置を示す）に塗布されたシラン系シール材の硬化度を測定する装置である。本実施形態に係る硬化度測定システム１００の検査対象品３としては、例えば図２に示すように、筺体３１と、筺体３１を覆うフタ部３２との間を密封するシラン系シール材３３等が挙げられる。ここでいうシラン系シール材とは、シラン系のプライマーを用いたシール材（シーリング材）のことを言う。
【００１８】
シラン系シール材３３は、流動性を有する状態で筺体３１とフタ部３２との界面位置に塗布された後、化学反応により硬化する。硬化度測定システム１００は、このシラン系シール材３３を測定対象物として、シラン系シール材３３の硬化度を測定する。具体的には、硬化度測定システム１００は、検査対象品３の測定対象位置（シラン系シール材３３の塗布された位置）に対して測定光を照射することにより得られる拡散反射光のスペクトルを測定し、そのスペクトルに基づいて検査対象品３のシラン系シール材３３の硬化度を検出する。硬化度測定システム１００は、光源ユニット１０、検出ユニット２０（撮像部）、及び分析ユニット３０（制御部）を備える。
【００１９】
光源ユニット１０は、一定の波長帯域を有する測定光を、ベルトコンベア２上における所定の照射領域Ａ１へ向けて照射する。光源ユニット１０が照射する測定光の波長範囲は、検査対象品３に塗布されたシラン系シール材３３の種類等に応じて適宜選択される。測定光として近赤外光を用いる場合、具体的には、波長範囲が１５００〜１６００ｎｍまたは１９８０〜２０８０ｎｍの光が好適に用いられる。
【００２０】
照射領域Ａ１とは、検査対象品３を載置するベルトコンベア２の表面（載置面２ｂ）の一部の領域である。この照射領域Ａ１は、載置面２ｂの進行方向２ａ（図１のｙ軸方向）と垂直な幅方向（ｘ軸方向）に広がり、載置面２ｂの一方の端から他方の端までを覆うライン状に延びる領域である。そして、照射領域Ａ１の延在方向に垂直な方向（ｙ軸方向）における照射領域Ａ１の幅は１０ｍｍ以下とされる。
【００２１】
光源ユニット１０は、近赤外光を出射する光源１１と、照射部１２と、光源１１と照射部１２とを接続する光ファイバ１３と、を備える。光源１１としては、例えばハロゲンランプを用いることができ、近赤外光領域の広帯域光を出力する。
【００２２】
光源１１により発生された近赤外光は、光ファイバ１３の一方の端面へ入射される。この近赤外光は、光ファイバ１３のコア領域を導波し、もう一方の端面から照射部１２に対して出射される。
【００２３】
照射部１２は、光ファイバ１３の端面から出射される近赤外光を検査対象品３が載置される照射領域Ａ１に対して照射する。照射部１２は、光ファイバ１３から出射される近赤外光を入射して、照射領域Ａ１に対応した１次元のライン状に出射するため、照射部１２としてシリンドリカルレンズが好適に用いられる。このように照射部１２においてライン状に整形された近赤外光Ｌ１が、照射部１２から照射領域Ａ１に対して照射される。
【００２４】
光源ユニット１０から出力された近赤外光Ｌ１は、照射領域Ａ１上に載置された検査対象品３により拡散反射される。そして、その一部が、拡散反射光Ｌ２として検出ユニット２０に入射する。
【００２５】
検出ユニット２０は、ハイパースペクトル画像を取得するハイパースペクトルセンサとしての機能を有する。ここで、本実施形態におけるハイパースペクトル画像について図３を用いて説明する。図３は、ハイパースペクトル画像についてその概略を説明する図である。図３に示すように、ハイパースペクトル画像とは、Ｎ個の画素Ｐ１〜ＰＮにより構成されている画像である。図３ではそのうちの一例として２個の画素Ｐｎ及びＰｍについて具体的に示している。画素Ｐｎ及びＰｍには、それぞれ複数の強度データからなるスペクトル情報Ｓｎ及びＳｍが含まれている。この強度データとは、特定の波長（又は波長帯域）におけるスペクトル強度を示すデータであり、図３では、１５個の強度データがスペクトル情報Ｓｎ及びＳｍとして保持されていて、これらを重ね合わせた状態で示している。このように、ハイパースペクトル画像Ｈは、画像を構成する画素毎に、それぞれ複数の強度データを持つという特徴から、画像としての二次元的要素と、スペクトルデータとしての要素をあわせ持った三次元的構成のデータである。なお、図３では検査対象品３の載置位置を併せて示している。すなわち、図３においてＰｎは検査対象品３を撮像した画素であり、Ｐｍは背景（例えば、ベルトコンベア）を撮像した画素である。なお、図２に示す検査対象品３の場合、測定対象物であるシラン系シール材が設けられた箇所は一部に限定されるため、実際には、図３における検査対象品３を示した位置の画素すべてが測定対象物を撮像した画素とはならない。
【００２６】
図１に戻り、本実施形態に係る検出ユニット２０は、カメラレンズ２４と、スリット２１と、分光器２２と、受光部２３と、を備える。この検出ユニット２０は、その視野領域２０ｓがベルトコンベア２の進行方向２ａと垂直な方向（ｘ軸方向）に延びている。検出ユニット２０の視野領域２０ｓは、載置面２ｂの照射領域Ａ１に含まれるライン状の領域であって、スリット２１を通過した拡散反射光Ｌ２が受光部２３上に像を結ぶ領域である。
【００２７】
スリット２１は、照射領域Ａ１の延在方向（ｘ軸方向）と平行な方向に開口が設けられる。検出ユニット２０のスリット２１に入射した拡散反射光Ｌ２は、分光器２２へ入射する。
【００２８】
分光器２２は、スリット２１の長手方向、すなわち照射領域Ａ１の延在方向に垂直な方向（ｙ軸方向）に拡散反射光Ｌ２を分光する。分光器２２により分光された光は、受光部２３によって受光される。
【００２９】
受光部２３は、複数の受光素子が２次元に配列された受光面を備え、各受光素子が光を受光する。これにより、受光部２３がベルトコンベア２上の幅方向（ｘ軸方向）に沿った各位置で反射した拡散反射光Ｌ２の各波長の光をそれぞれ受光することとなる。各受光素子は、受光した光の強度に応じた信号を位置と波長とからなる二次元平面状の一点に関する情報として出力する。この受光部２３の受光素子から出力される信号が、ハイパースペクトル画像に係る画像データとして、検出ユニット２０から分析ユニット３０に送られる。受光部２３としては、例えば、ＣＣＤを用いることができる。
【００３０】
分析ユニット３０は、入力された信号により拡散反射光Ｌ２のスペクトルを得て、この得られたスペクトルに基づいて硬化度の測定を行う。検査対象品３のシラン系シール材３３の硬化度を測定する場合は、次のような原理で検査を行う。光源１１から出力される測定光の波長範囲のうち１５００〜１６００ｎｍの波長範囲及び１９００〜２０８０ｎｍの波長範囲において、シラン系シール材の硬度に応じてスペクトル形状が変動する。そこで、検査対象品３のうちシラン系シール材３３により拡散反射した拡散反射光Ｌ２によるハイパースペクトル画像Ｈにおいて画素毎に含まれて複数の強度データにより構成されるスペクトル情報を参照し、上記波長範囲におけるスペクトルのピーク形状に基づいて硬化度を求める。または、拡散反射光Ｌ２のスペクトルの２次微分を求め、これに基づいて、シラン系シール材の硬化度を判定する。そして、この分析ユニット３０による分析の結果は、例えば分析ユニット３０に接続されるモニタや、プリンタ等に出力することによって、硬化度測定システム１００のオペレータに通知される。
【００３１】
分析ユニット３０は、ＣＰＵ（Central ProcessingUnit）、主記憶装置であるＲＡＭ（Random Access Memory）及びＲＯＭ（Read Only Memory）、検出ユニット等の他の機器との間の通信を行う通信モジュール、並びにハードディスク等の補助記憶装置等のハードウェアを備えるコンピュータとして構成される。そして、これらの構成要素が動作することにより、分析ユニット３０としての機能が発揮される。その分析ユニット３０による分析処理の概要やその具体的な手法については後述する。
【００３２】
なお、上記の硬化度測定システム１００のうち、光源ユニット１０、検出ユニット２０の構成は種々の変更を行うことができる。
【００３３】
例えば、図４に示すように、検査対象品３を挟んで光源ユニット１０と検出ユニット２０とが対向するように配置し、光源ユニット１０から検査対象品３に対して近赤外光Ｌ１を照射することで、検査対象品３を透過した透過光Ｌ３が検出ユニット２０で受光される構成としてもよい。
【００３４】
また、図４の変形例と同様に、検査対象品３による透過光を測定する場合であっても、光源ユニット１０と検出ユニット２０とを検査対象品３に対して同じ側に配置する構成としてもよい。図５に一例を示す。この場合には、検査対象品３を反射板４０上に載置した上で光源ユニット１０から近赤外光Ｌ１を出射することで、反射板４０により反射されつつ検査対象品３を透過した透過光Ｌ３が検出ユニット２０で受光される。反射板４０としては、反射率の波長依存性が少ない板であることが好ましく、例えば、テフロン（登録商標）からなる標準反射板や、金メッキされた板を用いることができる。
【００３５】
上記の変形例１〜３のように、ハイパースペクトル画像Ｈを撮像するための光源ユニット１０、検出ユニット２０の構成は適宜変更することができる。
【００３６】
（硬化度測定システムによる測定方法）
次に、上記の硬化度測定システムを用いた硬化度の測定方法について説明する。まず、上記の光源ユニット１０と検出ユニット２０とを用いて、検査対象品３の拡散反射光スペクトルまたは透過光スペクトルを取得する。その後、得られたスペクトルを用いて、分析ユニット３０において分析が行われる。
【００３７】
分析ユニットで行われる硬化度の評価を行う際、検査対象品３の拡散反射光スペクトルまたは透過光スペクトルに対して以下の２つの方法を用いてデータ処理が行われる。
（１）硬化度の評価に用いられる特定の波長を挟む２つの波長における吸光度を結ぶ直線をベースラインとし、このベースラインからの増分のスペクトルを求める。
（２）拡散反射光または透過光の吸光度スペクトルから２次微分スペクトルを求める。
そして、（１）または（２）の処理が行われた後のスペクトルに基づいて、硬化度の判定に利用する波長における増分または２次微分値と予め定められた閾値とを比較することで、シラン系シール材の硬化度を評価する。なお、閾値は、所望の硬化度に応じて適宜最適な値を設定すれば良い。
【００３８】
以下、実施例に基づいて、より詳細に説明する。
【００３９】
まず、検査対象品３として、プレパラート（ガラス板）の表面にシラン系シール材を厚さが２ｍｍとなるように塗布したものを準備した。この場合、検査対象品全体が測定対象物となる。また、硬化度測定システム１００の測定光学系としては図５に示す構成を採用した。すなわち、反射材の上に検査対象品３を載置し、反射材とは逆側に設けられた光源ユニット１０から検査対象品３に対して測定光を照射すると共に光源ユニット１０と同じ側の設けられた検出ユニット２０において、検査対象品３を透過した光を受光する構成とした。上記の構成を有する硬化度システム１００を用いて、シラン系シール材をプレパラートの表面に塗布した時点、及び、塗布から１時間経過する度に、検査対象品３に対して測定光を照射することで得られる検査対象品３からの透過光を検出ユニット２０で受光することで、ハイパースペクトルを得た。これを塗布後８時間経過する度に繰り返した。この結果得られた透過光の吸光度スペクトルを図６に示す。
【００４０】
次に、上記の方法で得られた吸光度スペクトルに対して（１）の処理を行った場合について説明する。波長１４８０ｎｍにおける吸光度と１６００ｎｍにおける吸光度とを結ぶ直線をベースラインとし、当該ベースラインからの増分に基づいたスペクトルを作成した。図７では、ベースラインに基づいた補正を施した後、さらに、シール材塗布後１〜８ｈの増分スペクトルについて、０ｈ（シール材塗布時）の増分スペクトルとの差分を求めた結果を示している。同様に図８では、波長２００７ｎｍにおける吸光度と２０６３ｎｍにおける吸光度とを結ぶ直線をベースラインとし図７と同様の補正を行った結果を示す。（１）の処理では、この０ｈの増分スペクトルとの差分が特徴量となり、この特徴量を用いて硬化度の評価が行われる。
【００４１】
次に、図７に基づいて、１５００〜１６００ｎｍに含まれる所定の波長（第１の波長）において、時間経過に伴う吸光度（０ｈの増分スペクトルとの差分）の変化を求めた結果を図９に示す。図９では、波長１５３１．８ｎｍ，１５３８．１ｎｍ，１５４４．３ｎｍ，１５５０．６ｎｍ，１５５６．９ｎｍ，１５６３．１ｎｍの場合について、硬化時間に応じた吸光度の変化を示している。また、図８に基づいて、１９８０〜２０８０ｎｍに含まれる所定の波長（第２の波長）において、時間経過に伴う吸光度の変化を求めた結果を図１０に示す。図１０では、波長２０１８．９ｎｍ，２０２５．１ｎｍ，２０３１．４ｎｍ，２０３７．６ｎｍ，２０４３．８ｎｍの場合について、硬化時間に応じた吸光度の変化を示している。なお、吸光度の変化を求める波長は、上記波長とは異なる波長でもよく、１５００〜１６００ｎｍまたは１９８０〜２０８０ｎｍの波長範囲から適宜選ぶことができる。また、１５００〜１６００ｎｍの波長範囲及び１９８０〜２０８０ｎｍの波長範囲のいずれか一方のみを用いてもよいが、双方の波長範囲を利用することで、誤差等の影響を小さくしてより好適にシラン系シール材の硬化について評価をすることが可能となる。
【００４２】
図９及び図１０のいずれにおいても、０ｈ（塗布時）における吸光度からの差分が塗布後の経過時間と共に変化している。したがって、あらかじめ、所定の波長において０ｈからの吸光度の増分の閾値を決めておき、検査対象品３の吸光度の差分が閾値を超えているかの判定を用いてシラン系シール材の硬化度が硬化したか否かを判定することができる。
【００４３】
次に、上記の方法で得られた吸光度スペクトルに対して（２）の処理を行った場合について説明する。
【００４４】
図６の吸光度スペクトルに対する２次微分を求めた結果を図１１に示す。本実施形態においては、２次微分については、Savitzky-Golay法（２次関数近似、前後５点補正）により行った。そして、図１１に基づいて、シール材塗布後１〜８ｈのスペクトルと０ｈ（シール材塗布時）のスペクトルとの差分を求めた結果のうち波長１５００〜１６００ｎｍの範囲について取り出したものを図１２に示す。同様に、波長１９６０〜２０８０ｎｍの範囲について取り出したものを図１３に示す。（２）の処理では、この２次微分値の０ｈ時点での値との差分が特徴量となり、この特徴量を用いて硬化度の評価が行われる。
【００４５】
次に、図１２に基づいて、１５００〜１６００ｎｍに含まれる所定波長において、時間経過に伴う吸光度（２次微分値の０ｈとの差分）の変化を求めた結果を図１４に示す。図１４では、波長１５３８．１ｎｍ，１５４４．３ｎｍ，１５５０．６ｎｍ，１５５６．９ｎｍの場合について、硬化時間に応じた吸光度の変化（２次微分値）を示している。また、図１３に基づいて、１９８０〜２０８０ｎｍに含まれる所定波長において、時間経過に伴う吸光度の変化を求めた結果を図１５に示す。図１５では、波長２０１８．９ｎｍ，２０２５．１ｎｍ，２０３１．４ｎｍ，２０３７．６ｎｍ，２０４３．８ｎｍの場合について、硬化時間に応じた吸光度（２次微分値）の変化を示している。
【００４６】
図１４及び図１５のいずれにおいても、０ｈ（塗布時）における吸光度（２次微分値）からの差分が塗布後の経過時間と共に変化している。したがって、あらかじめ、所定の波長において０ｈからの吸光度（２次微分値）の増分の閾値を決めておき、検査対象品３の吸光度の差分が閾値を超えているかの判定を用いてシラン系シール材が硬化したか否かを判定することができる。
【００４７】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記の実施形態に限定されず、種々の変更を行うことができる。
【００４８】
例えば、上記実施形態では、硬化度測定システム１００に分析ユニット３０が組み込まれた構成について説明したが、装置構成は適宜変更することができ、例えば、他のシステムに組み込んで利用することもできる。また、分析ユニット３０は、上記実施形態のように画像データの撮像を行う検出ユニット２０と接続されている必要はなく、単体で使用することができる。
【００４９】
また、上記実施形態では、あらかじめ定める閾値を１つとし、当該閾値との比較によりシラン系シール材が硬化したか否かを判定する場合について説明したが、図９，１０，１４，１５のように、シラン系シール材の硬化度に応じて徐々に吸光度が変わることを利用し、閾値をいくつか定めることにより、シラン系シール材の硬化度を測定する構成としてもよい。
【符号の説明】
【００５０】
１００…硬化度測定システム、２…ベルトコンベア、３…検査対象品、１０…光源ユニット、１１，１１Ａ…光源、１２…照射部、１３…光ファイバ、２０…検出ユニット、２１…スリット、２２…分光器、２３…受光部、２４…カメラレンズ、３０…分析ユニット、３３…シラン系シール材（測定対象物）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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