(57)【要約】【課題】  尺貫法とメートル法の二種類のスケールを用意し、参考資料の制作図に合わせたスケールを選び机の上に置き、スケールを左手で持って垂直に立て、トースカンを右手で握って移動しスケールに近づけ指針を測定する位置の目盛に合わせて、制作する作品の高さの測定を行っている状態は、不安定で時間を取り、測定誤差の心配もあり、それを無くすために、左手に持ったスケールが垂直であるか、傾いたかの気遣いも無く、二種類のスケールが一体と成って机の上に場所を取らずに垂直に立てて、尺貫法、又はメートル法の目盛を測ることが出来ること。【解決の手段】尺貫法とメートル法の異なるスケールを支柱の二面に目盛を刻み、その支柱を垂直に立てるために、支柱の片側の端部にベースを取り付け一体化することで、机の上で垂直に立ちスケールの目盛をトースカンの指針で正確に測ることができる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ベースと異型支柱の片側端部をベース側面に取り付け一体と成った卓上のスケールで、異型支柱の２面に尺貫法とメートル法それぞれ異なる目盛を刻んだスケールを保有し、異なるスケール側面とスケール測面の中間に突起型仕切りを備え、異形支柱とベースを分離することもできることを特徴とする垂直型の卓上スケール。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、仏像彫刻、能面など制作の測定に必要とする卓上スケールで、制作を行なう作品の高さの位置を測るのに用いるもので、立体的に仕上げるためには作品のそれぞれの位置の高さの寸法を確認し制作を進めていくには、正確な寸法を卓上スケールから写し取る方法で、写すにはトースカンを用いて作品の測定する位置にトースカンの指針を当て、その指針を卓上スケールの目盛に合わせることで、制作する高さの寸法を間接に測ることを目的とした卓上スケールに関するものである。
【背景技術】
【０００２】  従来の仏像彫刻の測定方法は、尺貫法の曲尺寸法を用いて伝統工芸である仏像彫刻、能面などの制作を行なっていて、多くの参考資料の書籍は尺貫法でメートル法の制作図の書籍も最近発刊されるようになり、制作を始める段階で二種類の尺貫法とメートル法のスケールを用意し、資料に描かれた制作図によって、尺貫法かメートル法のスケールのどちらかを選び、机の上に置き、スケールを左手で持って机の上で垂直になるように立てるが、物で押さえて垂直に立ててスケールの目盛にトースカンを近づけ、制作図の寸法に指針を測定する目盛に合わせ制作する作品に指針を移し高さを測る測定方法であった。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】  尺貫法とメートル法の二種類のスケールを用意し、参考資料の制作図に合わせたスケールを選び机の上に置き、左手で持って垂直に立て、トースカンを右手で移動しスケールに近づけ指針を測定する箇所の目盛に合わせて、制作する作品の高さの測定を行っている状態は、不安定で時間を取り、測定誤差の心配もあり、それを無くすために、左手に持ったスケールが垂直であるか傾いたかの気遣いも無く、二種類のスケールが一体と成って机の上に場所を取らずに垂直に立てて、尺貫法、又はメートル法の目盛を測ることが出来ること。
【課題を解決するための手段】
【０００４】  本発明は、上記課題を解決するために、尺貫法とメートル法の異なるスケールを異型支柱の二面に目盛を刻み、その異型支柱を垂直に立てるために、異型支柱の片側の端部にベースを取り付け一体化し、机の上で垂直に立ちスケールの目盛をトースカンの指針で正確に測ることができる。
【発明の効果】
【０００５】  上述したように本発明は、仏像彫刻、能面など各種の書籍となる参考図に合わせた尺貫法、又は、メートル法のスケールを、ベース側面に異型支柱を垂直に立て、異型支柱の正面にある突起型仕切りの左右側面の面に尺貫法とメートル法の異なる目盛を刻むことによって、異型支柱に二種類の異なるスケールが同一の異型支柱で保持することができ、制作する参考書に合わせた尺貫法、又は、メートル法の選択を異型支柱のスケール面の向きを変えることで、簡単に尺貫法とメートル法のスケールを選ぶことができる。【０００６】  そして、ベース正面に設けた、異型支柱の突起型仕切りの左右異なる目盛のスケールの面は、突起型仕切りによって側面と側面の間隔を持ち、両スケールの面は仕切りの側面より正面に向けず、直接背面の側面まで両スケールの面を斜面にしたことで、異型支柱の全体の平面が小さくなり、スケールの面は斜面で巾が広く目盛にトースカンの指針を近づけて、目盛に合わせる状態では、片側の異なるスケール面は斜面と突起型仕切りによって視線から隠れ、気にすることなくスケールの目盛にトースカンの指針を合わせること
ができ、ベースの移動も、ベースの上に手で軽く握り机の上の面を滑るように移動し、異型支柱の目盛の面は垂直で、トースカンの指針を正確に目盛に当てることが出来、作品の高さの測定位置を測ることができる。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】  正面図
【図２】  左側面図
【図３】  右側面図
【図４】  平面図
【図５】  背面図
【発明の実施するための形態】
【０００８】  以下、本発明の実施の形態を図１〜図５に基づいて説明する。
【０００９】  図１は、本体正面図で、ベース１は長方形の形状で、ある厚みを有し長手方向の側面の中央部に異型支柱２を立て、異型支柱２の前面に突起型仕切り３を有し、突起型仕切り側面６ａ・６ｂの左右の面は、突起型仕切り側面６Ａ・６Ｂより背面７の側面に角度を持って広がる斜面を持ち、突起型仕切り３の正面から見て左の面に尺貫法スケール４、右の面にメートル法スケール５の目盛をそれぞれ刻まれている。
【００１０】  図２、図３は、左右側面の図で、正面のベース１側面と異型支柱２の突起型仕切り３の前面が、ほぼ同じ位置の側面から異型支柱２は垂直に立っていて、突起型仕切り側面６ａ・６ｂの左右は、前面より後方に一定間隔を取った位置より、スケールの面に角度を持って異型支柱２の背面７までの巾に、尺貫法スケール４とメートル法スケール５の目盛を刻むスケールの面を備え、ベース１の補助ベース８は重心を安定させ、手の握り易くすることで机の上を滑るように安定した動きができる。
【００１１】  図４は、平面図で、ベース１と補助ベース８の大きさは一回り補助ベース８を小さくし後面側に置くことで重心の安定と手の握りを良くし、ベース１正面に垂直を有する異型支柱２の前面にある突起型仕切り３の左右側面は、角度の有るスケールの面で、スケールの目盛にトースカンの指針を合わせるためのベース１と補助ベース８に開放部を設けることで、机の面から接するスケールの下部目盛から上部目盛までトースカンの指針を合わせることができ制作する作品の高さの位置に寸法を写し測定ができる。
【００１２】  図２〜図５の記載にあるベース１の上部補助ベース８と異型支柱２を組み付けて一体化する止目金具９と化粧ビス１０で、止目金具９と化粧ビス１０を取り外し、補助ベース８と異型支柱２を分離することで異型支柱２を一般的な尺貫法スケールとメートル法スケールとして使用し測定することができる。
【００１３】  以上のように、本実施形態による仏像彫刻の高さの寸法を測る尺貫法スケール４とメートル法スケール５を備えた異型支柱２の二面に保有し、補助ベースの上を手で軽く握り、尺貫法スケール４、又は、メートル法スケール５のスケールの面を簡単に向かい合わせ目盛をトースカンの指針に合わせ易くし、制作する作品の任意の高さの寸法を測ることができる。
【産業上の利用可能性】
【００１４】  仏像彫刻教室、愛好家サークルなどで使用しているスケールは、物差し、又は、曲尺で、その目盛は尺貫法とメートル法に合わせた二種類で、参考資料の制作図によって尺貫法かメートル法のどちらかを選び、選んだ物差し、又は、曲尺を机の上に置き手で持って垂直に立てるか、物で挟んだり、立てかけて使用している現状は傾いたり場所を取りトースカンの指針を的確に、スケールの目盛に合わせることの不具合と時間をとり、本発明の卓上スケールを用いることによって、一つのスケールで尺貫法とメートル法の使い分けができ、机の上で傾くことなく、高さを正確に測ることが誰でもができ、仏像彫刻など伝統工芸を制作している多くの人始める人に貢献できる。
【符合の説明】
【００１５】１          ベース
２          異型支柱
３          突起型仕切り
４          尺貫法スケール
５          メートル法スケール
６ａ・６ｂ  突起型仕切り側面
７          突起型仕切り背面
８          補助ベース
９          止目金具
１０        化粧ネジ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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