(57)【要約】【課題】ステップアッテネータのアッテネータセクション数を増加することなく、出力信号レベルのダイナミックレンジを広範囲に確保することができる信号発生装置及び信号発生方法を提供する。【解決手段】信号発生装置１０は、直交変調器１４の出力信号の電力レベルを所定の電力レベルに調整してステップＡＴＴ１７に出力するレベル調整器２０を備え、レベル調整器２０は、制御信号に従って直交変調器１４の出力信号の電力を減衰する可変アッテネータ２１、入力信号をそのまま通過させる通過部２３ａ及び入力信号を所定減衰量で減衰する減衰部２３ｂを有する検波器入力レベル設定器２３、検波器入力レベル設定器２３の出力信号を検波する検波器２４、検波信号レベルと基準レベルとを比較して基準点レベルが所定値になるよう減衰量設定の制御信号を可変アッテネータ２１に出力する比較器２７を備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ベースバンド信号を変調して変調信号を生成する変調信号生成手段（１４）と、入力信号を所定の減衰値で減衰して出力するステップアッテネータ（１７）との間に設けられ、前記変調信号の信号レベルを所定信号レベルに調整して前記ステップアッテネータに出力するレベル調整器（２０）を備えた信号発生装置（１０）において、
前記レベル調整器は、
入力する制御信号に応じて前記変調信号の信号レベルを変更して前記ステップアッテネータに出力する信号レベル変更手段（２１）と、
前記信号レベル変更手段の出力信号レベルに基づいて前記信号レベル変更手段の出力信号を通過させ又は減衰する検波レベル設定手段（２３）と、
前記検波レベル設定手段の出力信号を検波する検波手段（２４）と、
前記検波手段の出力信号レベルに基づいて、前記信号レベル変更手段の出力信号レベルが前記所定信号レベルになるよう前記制御信号を前記信号レベル変更手段に出力する信号レベル制御手段（２７）と、を備えたことを特徴とする信号発生装置。
【請求項２】
前記検波レベル設定手段は、
前記信号レベル変更手段の出力信号を通過させる通過部（２３ａ）と、
前記信号レベル変更手段の出力信号を所定量減衰する少なくとも１つの減衰部（２３ｂ）と、を備え、前記通過部及び前記減衰部のいずれか１つを選択して前記信号レベル変更手段の出力信号レベルを設定するものであることを特徴とする請求項１に記載の信号発生装置。
【請求項３】
前記減衰部は、前記信号レベル変更手段の出力信号の信号レベルを、前記検波手段が検波可能な予め定められた信号レベル範囲内に設定するものであることを特徴とする請求項２に記載の信号発生装置。
【請求項４】
ベースバンド信号を変調して変調信号を生成する変調信号生成手段（１４）と、入力信号を所定の減衰値で減衰して出力するステップアッテネータ（１７）との間に設けられ、前記変調信号の信号レベルを所定信号レベルに調整して前記ステップアッテネータに出力するレベル調整器（２０）を備えた信号発生装置（１０）を用いた信号発生方法において、
入力する制御信号に応じて前記変調信号の信号レベルを変更する信号レベル変更ステップ（Ｓ２１）と、
前記信号レベル変更ステップの出力信号レベルに基づいて前記信号レベル変更ステップの出力信号を通過させ又は減衰する検波レベル設定ステップ（Ｓ２３）と、
前記検波レベル設定ステップの出力信号を検波する検波ステップ（Ｓ２４）と、
前記検波ステップの出力信号レベルに基づいて、前記変調信号の出力信号レベルが前記所定信号レベルになるように制御する信号レベル制御ステップ（Ｓ２６）と、を含むことを特徴とする信号発生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば携帯電話やモバイル端末等の移動通信端末に対する特性試験において試験信号を発生する信号発生装置及び信号発生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、移動通信端末等の特性試験において、試験信号を移動通信端末等に供給するため信号発生装置が用いられる（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
特許文献１記載の信号発生装置は、ＩＱベースバンド信号を発生するベースバンド信号発生部と、局部発振器から入力した局部発振信号をＩＱベースバンド信号で変調した直交変調信号を出力する直交変調手段と、直交変調信号の信号レベルを所定のレベルに減衰して出力するステップアッテネータと、を備え、試験者が指定した無線周波数及び信号レベルを有する試験信号を出力できるようになっている。
【０００４】
前述の構成において、ステップアッテネータは、複数のアッテネータセクションが直列に選択的に接続され、各アッテネータセクションの減衰量の組み合わせにより、減衰量をステップ可変できるようになっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００８−２０５８１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、従来の信号発生装置では、キロヘルツからギガヘルツまでの広範囲な周波数の試験信号を発生する必要があり、広範囲な周波数において十分な性能を得ることができるステップアッテネータの最大減衰量は１２０ｄＢ程度が限界であり、出力信号レベルのダイナミックレンジをさらに広範囲に可変可能にするために、ステップアッテネータのアッテネータセクション数を増加して対応することは、技術的に困難であるという課題があった。また、従来の信号発生装置では、仮に、アッテネータセクション数を増加することができたとしても、ステップアッテネータの部品点数が増加するとともに、ステップアッテネータが大型化するという課題があった。
【０００７】
本発明は、前述の事情に鑑みてなされたものであり、ステップアッテネータのアッテネータセクション数を増加することなく、出力信号レベルのダイナミックレンジを広範囲に確保することができる信号発生装置及び信号発生方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の請求項１に係る信号発生装置は、ベースバンド信号を変調して変調信号を生成する変調信号生成手段（１４）と、入力信号を所定の減衰値で減衰して出力するステップアッテネータ（１７）との間に設けられ、前記変調信号の信号レベルを所定信号レベルに調整して前記ステップアッテネータに出力するレベル調整器（２０）を備えた信号発生装置（１０）において、前記レベル調整器は、入力する制御信号に応じて前記変調信号の信号レベルを変更して前記ステップアッテネータに出力する信号レベル変更手段（２１）と、前記信号レベル変更手段の出力信号レベルに基づいて前記信号レベル変更手段の出力信号を通過させ又は減衰する検波レベル設定手段（２３）と、前記検波レベル設定手段の出力信号を検波する検波手段（２４）と、前記検波手段の出力信号レベルに基づいて、前記信号レベル変更手段の出力信号レベルが前記所定信号レベルになるよう前記制御信号を前記信号レベル変更手段に出力する信号レベル制御手段（２７）と、を備えた構成を有している。
【０００９】
この構成により、本発明の請求項１に係る信号発生装置は、検波レベル設定手段が、信号レベル変更手段の出力信号レベルに基づいて信号レベル変更手段の出力信号を通過させ又は減衰することにより、レベル調整器の出力信号レベルのダイナミックレンジをより広範囲にすることができる。したがって、本発明の請求項１に係る信号発生装置は、ステップアッテネータのアッテネータセクション数を増加することなく、出力信号レベルのダイナミックレンジを広範囲に確保することができる。
【００１０】
本発明の請求項２に係る信号発生装置は、前記検波レベル設定手段は、前記信号レベル変更手段の出力信号を通過させる通過部（２３ａ）と、前記信号レベル変更手段の出力信号を所定量減衰する少なくとも１つの減衰部（２３ｂ）と、を備え、前記通過部及び前記減衰部のいずれか１つを選択して前記信号レベル変更手段の出力信号レベルを設定するものである構成を有している。
【００１１】
この構成により、本発明の請求項２に係る信号発生装置は、通過部及び減衰部のいずれか１つを選択して信号レベル変更手段の出力信号を通過させ又は減衰し、レベル調整器の出力信号レベルのダイナミックレンジをより広範囲にすることにより、ステップアッテネータのアッテネータセクション数を増加することなく、出力信号レベルのダイナミックレンジを広範囲に確保することができる。
【００１２】
本発明の請求項３に係る信号発生装置は、前記減衰部は、前記信号レベル変更手段の出力信号の信号レベルを、前記検波手段が検波可能な予め定められた信号レベル範囲内に設定するものである構成を有している。
【００１３】
この構成により、本発明の請求項３に係る信号発生装置は、信号レベル変更手段の出力信号の信号レベルを検波手段が検波可能な予め定められた信号レベル範囲内に設定し、レベル調整器の出力信号レベルのダイナミックレンジをより広範囲にすることにより、ステップアッテネータのアッテネータセクション数を増加することなく、出力信号レベルのダイナミックレンジを広範囲に確保することができる。
【００１４】
本発明の請求項４に係る信号発生方法は、ベースバンド信号を変調して変調信号を生成する変調信号生成手段（１４）と、入力信号を所定の減衰値で減衰して出力するステップアッテネータ（１７）との間に設けられ、前記変調信号の信号レベルを所定信号レベルに調整して前記ステップアッテネータに出力するレベル調整器（２０）を備えた信号発生装置（１０）を用いた信号発生方法において、入力する制御信号に応じて前記変調信号の信号レベルを変更する信号レベル変更ステップ（Ｓ２１）と、前記信号レベル変更ステップの出力信号レベルに基づいて前記信号レベル変更ステップの出力信号を通過させ又は減衰する検波レベル設定ステップ（Ｓ２３）と、前記検波レベル設定ステップの出力信号を検波する検波ステップ（Ｓ２４）と、前記検波ステップの出力信号レベルに基づいて、前記変調信号の出力信号レベルが前記所定信号レベルになるように制御する信号レベル制御ステップ（Ｓ２６）と、を含む構成を有している。
【００１５】
この構成により、本発明の請求項４に係る信号発生方法は、信号レベル減衰ステップにおいて、信号レベル変更手段の出力信号レベルに基づいて信号レベル変更手段の出力信号を通過させ又は減衰することにより、レベル調整器の出力信号レベルのダイナミックレンジをより広範囲にすることができる。したがって、本発明の請求項１に係る信号発生装置は、ステップアッテネータのアッテネータセクション数を増加することなく、出力信号レベルのダイナミックレンジを広範囲に確保することができる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明は、ステップアッテネータのアッテネータセクション数を増加することなく、出力信号レベルのダイナミックレンジを広範囲に確保することができるという効果を有する信号発生装置及び信号発生方法を提供することができるものである。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明に係る信号発生装置の一実施形態におけるブロック構成図である。
【図２】本発明に係る信号発生装置の一実施形態における基準値設定テーブルを示す図である。
【図３】本発明に係る信号発生装置の一実施形態において、検波器及び検波器入力レベル設定器の電力レベル範囲と、ダイナミックレンジを示す図である。
【図４】本発明に係る信号発生装置の一実施形態におけるフローチャートである。
【図５】本発明に係る信号発生装置の一実施形態において、レベル調整器のレベル制御を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。
【００１９】
まず、本発明に係る信号発生装置の一実施形態における構成について説明する。
【００２０】
図１に示すように、本実施形態における信号発生装置１０は、波形データ記憶部１１、デジタルアナログコンバータ（ＤＡＣ）１２及び１３、直交変調器１４、局部発振器１５、ステップアッテネータ（ステップＡＴＴ）１７、操作部１８、設定部１９、レベル調整器２０を備えている。
【００２１】
波形データ記憶部１１は、被試験装置を試験するための複数の試験信号データとして、デジタル値のベースバンドの波形データを記憶している。試験者は、操作部１８を操作し、設定部１９を介して、波形データ記憶部１１に記憶された試験信号データを選択して出力できるようになっている。試験信号データは、Ｉ相成分（同相成分）及びＱ相成分（直交成分）のベースバンドの波形データを含む。波形データは、例えば、図示しないＤＳＰ（Digital Signal Processor）によって生成される。
【００２２】
ＤＡＣ１２及び１３は、それぞれ、波形データ記憶部１１が出力するＩ相成分及びＱ相成分のデジタル値のベースバンド信号波形データをアナログ値に変換して直交変調器１４に出力するようになっている。
【００２３】
局部発振器１５は、設定部１９からの設定信号に基づいた局部発振周波数の局部発振信号を生成し、直交変調器１４に出力するようになっている。
【００２４】
直交変調器１４は、乗算器１４ａ及び１４ｂ、９０度移相器１４ｃ、加算器１４ｄを備え、ＤＡＣ１２からのＩ相成分及びＤＡＣ１３からのＱ相成分と、局部発振器１５から入力した局部発振信号とを乗算することにより直交変調及び周波数変換を行って無線周波数の信号（ＲＦ信号）を生成してレベル調整器２０に出力するようになっている。この直交変調器１４は、本発明に係る変調信号生成手段を構成する。
【００２５】
レベル調整器２０は、直交変調器１４の出力信号の電力レベルを所定の電力レベルに調整してステップＡＴＴ１７に出力するものであって、可変アッテネータ２１、増幅器２２、検波器入力レベル設定器２３、検波器２４、基準値出力部２６、比較器２７を備えている。
【００２６】
可変アッテネータ２１は、減衰量を設定するための制御信号を比較器２７から入力し、この制御信号に従って、直交変調器１４の出力信号の電力を減衰するための減衰量が設定されるようになっている。可変アッテネータ２１は、例えば連続した微細な減衰量を設定できるものである。ここで、可変アッテネータ２１は、本発明に係る信号レベル変更手段を構成する。なお、本実施形態では、本発明に係る信号レベル変更手段として、直交変調器１４の出力信号を減衰する可変アッテネータ２１を例に挙げているが、本発明はこれに限定されず、直交変調器１４の出力信号の信号レベルを変更するものであればよく、例えば増幅率を可変できる増幅器であってもよい。
【００２７】
増幅器２２は、可変アッテネータ２１の出力信号を増幅するようになっている。この増幅器２２の出力側には、レベル調整器２０におけるレベル調整のための基準点が設けられている。この基準点において所定の電力レベルに設定された信号は、検波器入力レベル設定器２３及びステップＡＴＴ１７に出力される。
【００２８】
検波器入力レベル設定器２３は、入力信号をそのまま通過させる通過部２３ａ、入力信号を所定減衰量で減衰する減衰部２３ｂ、通過部２３ａ及び減衰部２３ｂのいずれか一方を選択する切替スイッチ２３ｃ及び２３ｄを有する。切替スイッチ２３ｃ及び２３ｄは、設定部１９からの設定信号によって動作するようになっている。図示の例は、切替スイッチ２３ｃ及び２３ｄが減衰部２３ｂを選択している状態である。なお、検波器入力レベル設定器２３は、本発明に係る検波レベル設定手段を構成する。
【００２９】
通過部２３ａは、例えば基板上に設けられた導体配線で形成される。減衰部２３ｂは、抵抗器その他の減衰素子や、例えばπ型減衰器のような減衰回路で構成され、入力側及び出力側のインピーダンスと整合されている。なお、図示の例では、減衰部２３ｂの個数を１つとしているが、検波器入力レベル設定器２３が互いに異なる減衰量を有する複数の減衰部２３ｂを備える構成としてもよい。
【００３０】
検波器２４は、検波器入力レベル設定器２３の出力信号を検波し、比較器２７に出力するようになっている。この検波器２４は、本発明に係る検波手段を構成する。
【００３１】
基準値出力部２６は、設定部１９からの設定信号によって設定された基準レベルの信号を生成し、基準レベルの信号を比較器２７に出力するようになっている。
【００３２】
比較器２７は、検波器２４の出力信号レベルと、基準値出力部２６からの基準レベルの信号とを比較して、基準点Ｒの電力レベル（以下「基準点レベル」という。）が例えば−１０ｄＢｍとなるよう、減衰量設定の制御信号を可変アッテネータ２１に出力するようになっている。この比較器２７は、本発明に係る信号レベル制御手段を構成する。
【００３３】
ステップＡＴＴ１７は、前述の可変アッテネータ２１よりも大きいステップ（例えば５ｄＢステップ）で減衰量が設定されるＡＴＴである。すなわち、ステップＡＴＴ１７は比較的大きな減衰量が設定され、前述の可変アッテネータ２１は微細な減衰量が設定される。このステップＡＴＴ１７は、各々の減衰量が予め定められた複数のアッテネータセクションを備え、各アッテネータセクションの減衰量の組み合わせにより、減衰量をステップ可変できるようになっている。ステップＡＴＴ１７は、設定部１９からの設定信号によって設定された減衰量で入力信号を減衰し、試験者が所望する電力レベルのＲＦ試験信号を出力するようになっている。
【００３４】
操作部１８は、試験者が試験条件及び試験手順に関する設定等を行うために操作するものであり、例えば、キーボード、ダイヤル又はマウスのような入力デバイス、これらを制御する制御回路等で構成される。試験者が設定する試験条件としては、例えば、波形データ記憶部１１に記憶された波形データ、ステップＡＴＴ１７が出力するＲＦ試験信号の出力レベル及び無線周波数等がある。
【００３５】
設定部１９は、例えばマイクロコンピュータによって構成されており、装置全体の制御を行うようになっている。また、設定部１９は、試験者が操作部１８を操作して設定した各試験条件に基づき、各試験条件を設定する設定信号を波形データ記憶部１１、局部発振器１５、ステップＡＴＴ１７、検波器入力レベル設定器２３、基準値出力部２６にそれぞれ出力し、各試験条件を設定するようになっている。
【００３６】
ここで、基準値出力部２６に対する設定としては、設定部１９は、例えば、図２に示すような基準値設定テーブルに基づいて、次に示すように動作するようになっている。
【００３７】
基準値設定テーブルは、ユーザが設定する信号発生装置１０の出力レベルに対して、ステップＡＴＴ１７の減衰量、基準点Ｒの目標値、検波器入力レベル設定器２３の設定、基準値出力部２６の出力値を対応させたものである。
【００３８】
図２に示すように、ステップＡＴＴ１７の減衰量は、出力レベルに対して予め定められている。基準点Ｒの目標値は、出力レベルにステップＡＴＴ１７の減衰量を加算した値であり、この項目は基準値設定テーブルから除いてもよい。検波器入力レベル設定器２３の設定は、出力レベルに対して減衰（−２０ｄＢ）か通過（０ｄＢ）かを予め定めたものであって、図示の例では、出力レベルが−９．９ｄＢ以上では減衰、出力レベルが−１０．０以下では通過が設定されるようになっている。基準値出力部２６の出力値は、基準点Ｒの目標値に検波器入力レベル設定器２３での設定による減衰値を加算した値を表している。
【００３９】
例えば、ユーザが信号発生装置１０の出力レベルを＋１０．０ｄＢｍに設定した場合、設定部１９は、基準値設定テーブルに基づき、ステップＡＴＴ１７の減衰量を０ｄＢに設定し、検波器入力レベル設定器２３を減衰部２３ｂの選択に設定し、基準値出力部２６に対し、基準点レベルを＋１０．０ｄＢｍに設定するための制御信号を出力する。この場合、減衰部２３ｂの減衰量に応じて検波器２４の出力レベルが低下するので、基準値出力部２６に対する制御信号は、それに応じたものになる。
【００４０】
また、例えば、ユーザが信号発生装置１０の出力レベルを−１０．０ｄＢｍに設定した場合、設定部１９は、基準値設定テーブルに基づき、ステップＡＴＴ１７の減衰量を２０ｄＢに設定し、検波器入力レベル設定器２３を通過部２３ａの選択に設定し、基準値出力部２６に対し、基準点レベルを＋１０．０ｄＢｍに設定するための制御信号を出力する。
【００４１】
なお、設定部１９は、基準値出力部２６に設定する基準レベルを補正することにより、アナログ回路の周波数特性を補正することもできる。例えば、設定部１９は、増幅器２２、減衰部２３ｂ及び検波器２４の周波数特性を予め求めておき、これらの周波数特性をフラットに補正し、かつ、基準点レベルが所望値となるよう、基準値出力部２６の基準レベルを設定することもできる。
【００４２】
次に、検波器入力レベル設定器２３の機能について説明する。
【００４３】
一般に、信号発生装置のレベル調整器は検波器を備えている。検波器が良好に検波できる電力レベルの範囲、すなわち検波器のダイナミックレンジは、レベル調整器の他の構成要素のダイナミックレンジよりも狭く、検波器のダイナミックレンジがレベル調整器のダイナミックレンジを決定づけている。
【００４４】
本実施形態においては、図３に示すように、検波器２４が良好に検波できる電力レベルの範囲を−５０ｄＢｍ〜−１０ｄＢｍとする。この場合、検波器２４のダイナミックレンジは４０ｄＢであり、これはレベル調整器２０のダイナミックレンジでもある。
【００４５】
また、検波器入力レベル設定器２３の通過部２３ａの減衰量を０ｄＢ、減衰部２３ｂの減衰量を２０ｄＢとする。この場合、検波器入力レベル設定器２３が通過部２３ａを選択している状態では、検波器２４は、基準点レベルが−５０ｄＢｍ〜−１０ｄＢｍのＲＦ信号を検波することができる。一方、検波器入力レベル設定器２３が減衰部２３ｂを選択している状態では、検波器２４は、基準点レベルが−３０ｄＢｍ〜＋１０ｄＢｍのＲＦ信号を検波することができる。
【００４６】
したがって、設定部１９は、例えば、基準点レベルを−５０ｄＢｍ〜−１０ｄＢｍ（−５０ｄＢｍ以上−１０ｄＢｍ未満）に設定する場合はＲＦ信号を通過部２３ａに通し、−１０ｄＢｍ〜＋１０ｄＢｍ（−１０ｄＢｍ以上＋１０ｄＢｍ以下）に設定する場合はＲＦ信号を減衰部２３ｂに通すようにする。その結果、レベル調整器２０のダイナミックレンジは、当初より２０ｄＢ拡大されて６０ｄＢとなる。ここで、ステップＡＴＴ１７の最大減衰量を１２０ｄＢとすると、これにレベル調整器２０のダイナミックレンジ２０ｄＢを加えて最大減衰量１４０ｄＢが得られる。よって、信号発生装置１０は、出力信号のダイナミックレンジを従来よりも２０ｄＢ広範囲化することができる。
【００４７】
次に、本実施形態における信号発生装置１０の動作について図１に示したブロック構成図及び図４に示すフローチャートを用いて説明する。
【００４８】
試験者が操作部１８を操作することにより、試験者が所望する試験条件が入力され、設定部１９によって試験条件が各部に設定される（ステップＳ１１）。具体的には、設定部１９は、波形データ記憶部１１に波形データを指定する信号を、局部発振器１５に局部発振周波数を指定する信号を、ステップＡＴＴ１７に減衰量を指定する信号を、基準値出力部２６に基準値を示す信号をそれぞれ出力する。
【００４９】
設定部１９は、基準点レベルの設定値が、−１０ｄＢｍ〜＋１０ｄＢｍか、−５０ｄＢｍ〜−１０ｄＢｍかを判断する（ステップＳ１２）。
【００５０】
ステップＳ１２において、基準点レベルの設定値が−５０ｄＢｍ〜−１０ｄＢｍの場合は、設定部１９は、検波器入力レベル設定器２３の切替スイッチ２３ｃ及び２３ｄに通過部２３ａを選択させる（ステップＳ１３）。一方、基準点レベルの設定値が−１０ｄＢｍ〜＋１０ｄＢｍの場合は、設定部１９は、検波器入力レベル設定器２３の切替スイッチ２３ｃ及び２３ｄに減衰部２３ｂを選択させる（ステップＳ１４）。
【００５１】
波形データ記憶部１１は、試験者が指定した、Ｉ相成分及びＱ相成分のベースバンドの波形データを、それぞれ、ＤＡＣ１２及び１３に出力する（ステップＳ１５）。
【００５２】
ＤＡＣ１２及び１３は、それぞれ、Ｉ相成分及びＱ相成分のベースバンドの波形データをアナログの波形データに変換し（ステップＳ１６）、直交変調器１４に出力する。
【００５３】
直交変調器１４は、ＤＡＣ１２及び１３からベースバンド信号、局部発振器１５から局部発振信号を入力し、ベースバンド信号と局部発振信号とを乗算することにより、直交変調及び周波数変換を行ってＲＦ信号を生成し（ステップＳ１７）、生成したＲＦ信号をレベル調整器２０に出力する。
【００５４】
レベル調整器２０は、入力したＲＦ信号のレベルを、例えば０ｄＢｍに設定するレベル制御を行って（ステップＳ２０）、ステップＡＴＴ１７に出力する。
【００５５】
ステップＡＴＴ１７は、設定部１９が設定した減衰量でＲＦ信号を減衰し（ステップＳ１８）、ＲＦ試験信号として出力する（ステップＳ１９）。出力先の試験対象は、例えば、移動体通信の端末や基地局、あるいはそれらに用いられるデバイスなどである。
【００５６】
次に、ステップＳ２０におけるレベル調整器２０の動作について、図１に示したブロック構成図及び図５に示したフローチャートに基づき説明する。ここで、レベル調整器２０が基準点レベルを０ｄＢｍに調整する例を挙げる。この場合、検波器入力レベル設定器２３において切替スイッチ２３ｃ及び２３ｄが減衰部２３ｂ側を選択している。
【００５７】
可変アッテネータ２１は、直交変調器１４が出力するＲＦ信号を、比較器２７からの減衰量設定の制御信号に基づいて所定値に減衰し（ステップＳ２１）、増幅器２２に出力する。
【００５８】
増幅器２２は、可変アッテネータ２１が出力するＲＦ信号を所定の増幅率で増幅し（ステップＳ２２）、ステップＡＴＴ１７及び検波器入力レベル設定器２３に出力する。
【００５９】
検波器入力レベル設定器２３は、入力したＲＦ信号を減衰部２３ｂによって２０ｄＢ減衰し（ステップＳ２３）、検波器２４に出力する。
【００６０】
検波器２４は、入力したＲＦ信号を検波し（ステップＳ２４）、検波信号を比較器２７に出力する。
【００６１】
比較器２７は、検波器２４が出力する信号レベルと、基準値出力部２６からの基準信号レベルとを比較して（ステップＳ２５）、基準点レベルが０ｄＢｍとなるよう減衰量設定の制御信号を可変アッテネータ２１に出力する（ステップＳ２６）。ここで、基準信号レベルは、２０ｄＢ減衰されて検波された検波信号のレベルに対応したものになっている。
【００６２】
前述のステップＳ２１〜Ｓ２６の説明では、基準点レベルを０ｄＢｍとし、基準点レベルの設定値が−１０ｄＢｍ〜＋１０ｄＢｍの場合の一例を挙げたものである。準点点レベルの設定値が−５０ｄＢｍ〜−１０ｄＢｍの場合は、検波器入力レベル設定器２３において切替スイッチ２３ｃ及び２３ｄが通過部２３ａ側を選択し、ステップＳ２３においてＲＦ信号を減衰させないで通過させることとなる。
【００６３】
以上のように、本実施形態における信号発生装置１０は、検波器入力レベル設定器２３が、レベル調整器２０の出力信号レベルに基づいてレベル調整器２０の出力信号を通過させ又は減衰することにより、レベル調整器２０の出力信号レベルのダイナミックレンジをより広範囲にすることができる。
【００６４】
したがって、本実施形態における信号発生装置１０は、ステップＡＴＴ１７のアッテネータセクション数を増加することなく、出力信号レベルのダイナミックレンジを広範囲に確保することができる。
【産業上の利用可能性】
【００６５】
以上のように、本発明に係る信号発生装置及び信号発生方法は、ステップアッテネータのアッテネータセクション数を増加することなく、出力信号レベルのダイナミックレンジを広範囲に確保することができるという効果を有し、携帯電話やモバイル端末等の移動通信端末に対する特性試験において試験信号を発生する信号発生装置及び信号発生方法等として有用である。
【符号の説明】
【００６６】
１０  信号発生装置
１１  波形データ記憶部
１２、１３  ＤＡＣ
１４  直交変調器（変調信号生成手段）
１５  局部発振器
１７  ステップＡＴＴ
１８  操作部
１９  設定部
２０  レベル調整器
２１  可変アッテネータ（信号レベル変更手段）
２２  増幅器
２３  検波器入力レベル設定器（検波レベル設定手段）
２３ａ  通過部
２３ｂ  減衰部
２３ｃ、２３ｄ  切替スイッチ
２４  検波器（検波手段）
２６  基準値出力部
２７  比較器（信号レベル制御手段）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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