(57)【要約】【課題】高周波応答特性を良好にすることができる光軸調整方法を提供する。【解決手段】光軸調整方法は、受光素子１２に対する光ファイバ２２（光学部品）の光軸調整方法であって、単一周波数で強度変調された信号光を光ファイバ２２を介して受光素子１２に入力する工程と、受光素子１２から出力された電気信号に含まれる基本波信号に対する高調波信号のうち、偶数次の高調波の強度が規定値以下となるように、光ファイバ２２と受光素子１２との相対的な位置関係を調節する工程と、を含む。【選択図】図４
2013210560.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
受光素子に対する光学部品の光軸調整方法であって、
単一周波数で強度変調された信号光を前記光学部品を介して前記受光素子に入力する工程と、
前記受光素子から出力された電気信号に含まれる基本波信号に対する高調波信号のうち、偶数次の高調波の強度が規定値以下となるように、前記光学部品と前記受光素子との相対的な位置関係を調節する工程と、を含むことを特徴とする光軸調整方法。
【請求項２】
偶数次の高調波歪みが１０％以下となるように、前記光学部品と前記受光素子との相対的な位置関係を調節することを特徴とする請求項１記載の光軸調整方法。
【請求項３】
前記相対的な位置関係の調節は、前記高調波信号のうちの奇数次の高調波の強度が規定値以上となるように、前記光学部品と前記受光素子との相対的な位置関係を調節する工程を含むことを特徴とする請求項１または２記載の光軸調整方法。
【請求項４】
奇数次の高調波歪みが３０％以上となるように、前記光学部品と前記受光素子との相対的な位置関係を調節することを特徴とする請求項３記載の光軸調整方法。
【請求項５】
前記相対的な位置関係の調節は、前記高調波信号のうちの前記偶数次の高調波の強度と前記高調波信号のうちの奇数次の高調波の強度とが規定値以下となるように、前記光学部品と前記受光素子との相対的な位置関係を調節する工程を含むことを特徴とする請求項１記載の光軸調整方法。
【請求項６】
偶数次の高調波歪みおよび奇数次の高調波歪みが共に１０％以下となるように、前記光学部品と前記受光素子との相対的な位置関係を調節することを特徴とする請求項５記載の光軸調整方法。
【請求項７】
前記信号光の平均強度を異ならせて、前記位置関係の調整を複数回実施し、最適なものを選択することを特徴とする請求項１から６のいずれか一項記載の光軸調整方法。
【請求項８】
前記受光素子に印加する電圧を異ならせて、前記位置関係の調節を複数回実施し、最適なものを選択することを特徴とする請求項１から７のいずれか一項記載の光軸調整方法。
【請求項９】
前記信号光の波長を異ならせて、前記位置関係の調節を複数回実施し、最適なものを選択することを特徴とする請求項１から８のいずれか一項記載の光軸調整方法。
【請求項１０】
前記位置関係の調節を実施するに先立ち、前記受光素子によって検出される光強度が所定の基準値を超える大きさになるように、前記光学部品と前記受光素子との相対的な位置関係を調節する工程をさらに含むことを特徴とする請求項１から９のいずれか一項記載の光軸調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光軸調整方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光軸調整装置は、各種の光学部品を組み合わせて互いの光軸を合致させて固定するための装置である。光学部品の光軸を高精度に一致させてから溶接することによって、光デバイスの光伝達効率を向上させることができ、ノイズ低減に伴って光伝送距離を長くすることができる。例えば、特許文献１は、光ファイバと光素子との光軸の調整方法を開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平７−２３００２５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
光ファイバ等の光学部品と受光素子との光軸の調整方法として、レーザダイオード等の光源から出射される信号光を、光学部品を経由して受光素子に入射させ、受光素子に流れる光電流をモニタしながら行う方法がある。このような光軸調整方法は、通常、受光素子が出力する直流電流をモニタして、光学部品と受光素子との光軸の調整を行っている。
【０００５】
しかしながら、直流電流をモニタして調整を行う方法では、高周波応答特性を直接的に評価した調整を行うことができない。本発明は上記の課題に鑑み、高周波応答特性を良好にすることができる光軸調整方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係る光軸調整方法は、受光素子に対する光学部品の光軸調整方法であって、単一周波数で強度変調された信号光を前記光学部品を介して前記受光素子に入力する工程と、前記受光素子から出力された電気信号に含まれる基本波信号に対する高調波信号のうち、偶数次の高調波の強度が規定値以下となるように、前記光学部品と前記受光素子との相対的な位置関係を調節する工程と、を含むことを特徴とする。本発明に係る光軸調整方法によれば、高周波応答特性を良好にすることができる。
【０００７】
上記光軸調整方法は、偶数次の高調波歪みが１０％以下となるように、前記光学部品と前記受光素子との相対的な位置関係を調節してもよい。
【０００８】
前記相対的な位置関係の調節は、前記高調波信号のうちの奇数次の高調波の強度が規定値以上となるように、前記光学部品と前記受光素子との相対的な位置関係を調節する工程を含んでいてもよい。
【０００９】
上記光軸調整方法は、奇数次の高調波歪みが３０％以上となるように、前記光学部品と前記受光素子との相対的な位置関係を調節してもよい。
【００１０】
前記相対的な位置関係の調節は、前記高調波信号のうちの前記偶数次の高調波の強度と前記高調波信号のうちの奇数次の高調波の強度とが規定値以下となるように、前記光学部品と前記受光素子との相対的な位置関係を調節する工程を含んでいてもよい。
【００１１】
上記光軸調整方法は、偶数次の高調波歪みおよび奇数次の高調波歪みが共に１０％以下となるように、前記光学部品と前記受光素子との相対的な位置関係を調節してもよい。
【００１２】
上記光軸調整方法は、前記信号光の平均強度を異ならせて、前記位置関係の調整を複数回実施し、最適なものを選択してもよい。上記光軸調整方法は、前記受光素子に印加する電圧を異ならせて、前記位置関係の調節を複数回実施し、最適なものを選択してもよい。上記光軸調整方法は、前記信号光の波長を異ならせて、前記位置関係の調節を複数回実施し、最適なものを選択してもよい。
【００１３】
前記位置関係の調節を実施するに先立ち、前記受光素子によって検出される光強度が所定の基準値を超える大きさになるように、前記光学部品と前記受光素子との相対的な位置関係を調節する工程をさらに含んでもよい。
【発明の効果】
【００１４】
本発明に係る光軸調整方法によれば、高周波応答特性を良好にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】図１は、測定系を説明するための模式図である。
【図２】図２（ａ）から図２（ｃ）は、応答波形の測定結果であり、図２（ｄ）から図２（ｆ）は、周波数特性の測定結果である。
【図３】図３（ａ）及び図３（ｂ）は、応答波形の測定結果であり、図３（ｃ）及び図３（ｄ）は、周波数特性の測定結果である。
【図４】図４は、実施例１に係る光軸調整方法を説明するためのフロー図である。
【図５】図５は、実施例２に係る光軸調整方法を説明するためのフロー図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
まず、発明者が行った実験について説明する。図１は、測定系を説明するための模式図である。図１に示すように、実験に用いた測定系は、光ファイバ２２を保持した光コネクタ２０と、光コネクタ２０が差し込まれる光導入口１８（レセプタクル）を側壁に設け、例えばＰＤ（フォトダイオード）である受光素子１２を内部に備えるパッケージ１０を有するＲＯＳＡ（receiver optical sub-assembly）型の受光装置１００を用いる。光ファイバ２２には、例えばＬＤ（レーザダイオード）である発光素子３２から出力される信号光が入射される。発光素子３２は、交流電源３０から単一周波数の正弦波で強度変調された駆動電流が入力される。これにより、発光素子３２は、単一周波数の正弦波で強度変調した信号光を出力する。単一周波数の一例として、受光素子１２が１０Ｇｂｉｔ／ｓｅｃ用である場合、その１／１０にあたる１ＧＨｚが挙げられる。
【００１７】
受光装置１００は、パッケージ１０の内部に、受光素子１２の他に、トランスインピーダンスアンプ（以下、ＴＩＡと称す）１４とレンズ１６とを備える。光ファイバ２２に入射された信号光は、光ファイバ２２を経由した後、レンズ１６によって集光されて受光素子１２で受光される。受光素子１２は、光電変換によって、受光した信号光を電流信号に変換する。電流信号は、ＴＩＡ１４に出力される。ＴＩＡ１４では、入力された電流信号をインピーダンス変換、増幅して、電圧信号として出力する。なお、受光素子１２が出力する電流信号のうちの直流成分は、直流電流計３６によって測定される。
【００１８】
ＴＩＡ１４の後段には、電気スペクトラムアナライザ（以下、ＥＳＡと称す）３８が接続されている。ＴＩＡ１４から出力される電圧信号は、ＥＳＡ３８によって測定される。
【００１９】
次に、発明者が行った実験の具体的内容について説明する。まず、発明者は、図１に示す測定系の一部を変え、ＴＩＡ１４の後段に、ＥＳＡ３８の代わりに、オシロスコープを接続させた。そして、光ファイバ２２と受光素子１２との相対的な位置関係をＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸方向で変えて、光ファイバ２２に入射される単一周波数の正弦波で強度変調された信号光の応答波形をオシロスコープで測定した。ここで、ＴＩＡ１４は、受光素子１２を線形動作型（以下、リニア型と称す）として用いるか、飽和動作型(以下、リミッティング型と称す)として用いるかを決定する機能を有する。リニア型として機能させるＴＩＡ１４を用いた場合とリミッティング型として機能させるＴＩＡ１４を用いた場合とでは、オシロスコープで測定される応答波形が異なる。次に、発明者は、光ファイバ２２と受光素子１２との相対的な位置を、応答波形を測定した位置に固定した状態で、図１に示す測定系のようにＴＩＡ１４の後段にＥＳＡ３８を接続し直して、ＥＳＡ３８で周波数特性を測定した。
【００２０】
まず、受光素子１２をリミッティング型として用いた場合の応答波形と周波数特性との測定結果について説明する。図２（ａ）から図２（ｃ）は、光ファイバ２２と受光素子１２との相対的な位置を異なる３つの位置にした場合の応答波形の測定結果である。図２（ｄ）から図２（ｆ）は、上記の３つの位置での周波数特性の測定結果である。
【００２１】
図２（ａ）では、データ信号の立ち上り時間及び立ち下り時間が早く、且つ波形歪みが小さい（つまり波形対称性が良い）良好な状態となっている。このことから、光ファイバ２２と受光素子１２との光軸の調芯状態が望ましい状態であることが分かる。この場合での周波数特性は、図２（ｄ）に示すように、高調波信号のうちの２次の高調波（ｆ２）、４次の高調波（ｆ４）等の偶数次の高調波の出力は抑えられている。一方、３次の高調波（ｆ３）、５次の高調波（ｆ５）等の奇数次の高調波は大きく出力されていて、基本波（ｆｏ）の強度と奇数次の高調波の強度との差が小さくなっている。
【００２２】
一方、図２（ｂ）では、波形歪みは小さいが、データ信号の立ち上り時間及び立ち下り時間が遅い状態となっている。この場合での周波数特性は、図２（ｅ）に示すように、高調波信号のうちの偶数次の高調波の出力は抑えられている。奇数次の高調波の出力は、図２（ｄ）の場合に比べると小さく、基本波の強度と奇数次の高調波の強度との差は大きくなっている。
【００２３】
また、図２（ｃ）では、データ信号の立ち上り時間及び立ち下り時間が遅く、且つ波形歪みも大きい状態となっている。この場合での周波数特性は、図２（ｆ）に示すように、高調波信号のうちの偶数次の高調波が大きく出力されている。奇数次の高調波の出力は、図２（ｄ）の場合に比べると小さく、基本波の強度と奇数次の高調波の強度との差は大きくなっている。
【００２４】
この結果から、発明者は、受光素子１２をリミッティング型として用いる場合では、高調波信号の偶数次の高調波の強度が小さくなるように調芯することで、波形歪みを小さくでき、高周波応答特性を良好にできるという新たな知見を見出した。また、偶数次の高調波の強度が小さくなるようにし、且つ奇数次の高調波の強度が大きくなるように調芯することで、波形歪みを小さくできると共に、データ信号の立ち上り時間及び立ち下り時間も早くでき、高周波応答特性をより良好にできるという新たな知見を見出した。
【００２５】
次に、受光素子１２をリニア型として用いた場合の応答波形と周波数特性との測定結果について説明する。図３（ａ）及び図３（ｂ）は、光ファイバ２２と受光素子１２との相対的な位置を異なる２つの位置にした場合の応答波形の測定結果である。図３（ｃ）及び図３（ｄ）は、上記２つの位置での周波数特性の測定結果である。
【００２６】
図３（ａ）では、応答波形がきれいな線形となっている。このことから、光ファイバ２２と受光素子１２との光軸の調芯状態が望ましい状態であることが分かる。この場合での周波数特性は、図３（ｃ）に示すように、高調波信号の偶数次の高調波及び奇数次の高調波が共に出力されていない。
【００２７】
一方、図３（ｂ）では、応答波形に歪みが発生している。この場合での周波数特性は、図３（ｄ）に示すように、高調波信号の偶数次の高調波及び奇数次の高調波が出力している。
【００２８】
この結果から、発明者は、受光素子１２をリニア型として用いる場合では、高調波信号の偶数次の高調波及び奇数次の高調波の少なくとも一方の強度が小さくなるように調芯することで、応答波形の歪みを小さくでき、高周波応答特性を良好にできるという新たな知見を見出した。また、高調波信号の偶数次の高調波と奇数次の高調波との両方の強度が小さくなるように調芯することで、応答波形の歪みをより小さくでき、高周波応答特性をより良好にできるという新たな知見を見出した。
【００２９】
そこで、上記実験によって得られた新たな知見を踏まえた実施例について以下に説明する。
【実施例１】
【００３０】
実施例１は、受光素子をリミッティング型として用いる場合に適した光軸調整方法である。図４は、実施例１に係る光軸調整方法を説明するためのフロー図である。実施例１に係る光軸調整方法は、図１に示す測定系を利用するため、図１を併用して説明する。図４に示すように、まず、図１で説明した測定系を利用するために、光ファイバ２２を保持した光コネクタ２０と、光コネクタ２０が差し込まれる光導入口１８を有し、受光素子１２を備える受光装置１００と、を準備する（ステップＳ１０）。
【００３１】
次いで、交流電源３０を用いて、単一周波数の正弦波で強度変調された駆動電流を発光素子３２に入力する。これにより、発光素子３２から単一周波数の正弦波で強度変調された信号光を出射させて、この信号光を光ファイバ２２に入射させる（ステップＳ１２）。
【００３２】
次いで、受光素子１２が光ファイバ２２を経由した信号光を受光することによって出力する電流信号を、ＴＩＡ１４を介して接続されたＥＳＡ３８によって測定して、基本波信号の強度と高調波信号の強度とをモニタする（ステップＳ１４）。
【００３３】
次いで、基本波信号の強度と高調波信号の強度とをモニタしながら、光ファイバ２２と受光素子１２との相対的な位置関係を調節する。具体的には、基本波信号の強度は大きく保ちつつ、高調波信号の偶数次の高調波の強度が規定値以下となり、奇数次の高調波の強度が規定値以上となるように、光ファイバ２２と受光素子１２との相対的な位置関係を調節する（ステップＳ１６）。ここで、規定値として、例えば高調波歪みの値を用いることができ、その値は、受光素子１２の用途に応じて任意に定めることができる。一例として、下記の数１に示す偶数次の高調波歪み（ＨＤｅｖｅｎ）が１０％以下となり、下記の数２に示す奇数次の高調波歪み（ＨＤｏｄｄ）が３０％以上となるように、光ファイバ２２と受光素子１２との位置関係を調節することができる。なお、数１及び数２におけるＶ１は、基本波成分の実効電圧であり、Ｖ２、Ｖ３、Ｖ４・・・は、２次の高調波の実効電圧（Ｖ２）、３次の高調波の実効電圧（Ｖ３）、４次の高調波の実効電圧（Ｖ４）等、高調波成分の実効電圧である。
【数１】
2013210560.tif 000003
【数２】
2013210560.tif 000004
【００３４】
また、高調波歪みの値以外の他の値を用いてもよく、例えば発光素子３２から出力される信号光の強度に対して何％の値という比率値を用いてもよい。一例として、偶数次の高調波の強度の合計値が、発光素子３２の出力信号光の強度に対して定められた比率値以下となり、奇数次の高調波の強度の合計値が、発光素子３２の出力信号光の強度に対して定められた比率値以上となるように、光ファイバ２２と受光素子１２との位置関係を調節してもよい。
【００３５】
なお、高調波の強度は、より高次まで測定することが望ましいが、例えば２次から５次の高調波の強度は応答波形への寄与度が大きいため、２次から５次の高調波の強度を測定して、光ファイバ２２と受光素子１２との位置調節をしてもよい。また、より簡便な方法としては、２次と３次の高調波の強度を測定して、光ファイバ２２と受光素子１２との位置調節をしてもよい。
【００３６】
ステップＳ１６の調節を行うことによって、図２（ａ）及び図２（ｄ）で説明したように、光ファイバ２２と受光素子１２との光軸を望ましい調芯状態にすることができる。光ファイバ２２と受光素子１２との光軸の調芯が終わったら、調節された位置で光導入口１８をパッケージ１０に固定する（ステップＳ１８）。
【００３７】
このように、実施例１の光軸調整方法は、単一周波数で強度変調された信号光を光ファイバ２２（光学部品）を介して受光素子１２に入力する。そして、受光素子１２から出力された電気信号に含まれる基本波信号に対する高調波信号のうち、偶数次の高調波の強度が規定値以下となり、且つ奇数次の高調波の強度が規定値以上となるように、光ファイバ２２と受光素子１２との相対的な位置関係を調節する。このような方法により、受光素子１２をリミッティング型として用いる場合に、図２（ａ）で説明したように、応答波形の歪みを小さく、且つデータ信号の立ち上がり時間及び立ち下り時間を早くでき、高周波応答特性を良好にすることができる。
【００３８】
図２（ａ）から図２（ｆ）に示すように、偶数次の高調波の強度が小さい場合、応答波形の歪みは小さくなる。したがって、光ファイバ２２と受光素子１２との位置関係の調節にあたり、偶数次の高調波歪み（ＨＤｅｖｅｎ）が１０％以下となるようすることが好ましく、５％以下となるようにすることがより好ましく、３％以下となるようにすることがさらに好ましい。
【００３９】
図２（ａ）から図２（ｆ）に示すように、奇数次の高調波の強度が大きい場合、データ信号の立ち上り時間及び立ち下り時間が早くなる。したがって、光ファイバ２２と受光素子１２との位置関係の調節にあたり、奇数次の高調波歪み（ＨＤｅｖｅｎ）が３０％以上となるようすることが好ましく、４０％以上となるようにすることがより好ましく、５０％以上となるようにすることがさらに好ましい。
【００４０】
実施例１では、高調波信号の偶数次の高調波の強度が規定値以下となり、且つ奇数次の高調波の強度が規定値以上となるように、光ファイバ２２と受光素子１２との位置関係を調節する場合を例に示したが、この場合に限られない。少なくとも、高調波信号のうちの偶数次の高調波の強度が規定値以下となるように、光ファイバ２２と受光素子１２との相対的な位置関係を調節することで、図２（ｂ）に示すように、応答波形の歪みを小さくでき、高周波応答特性を良好にすることができる。
【実施例２】
【００４１】
実施例２は、受光素子をリニア型として用いる場合に適した光軸調整方法である。図５は、実施例２に係る光軸調整方法を説明するためのフロー図である。実施例２に係る光軸調整方法も、図１に示す測定系を利用するため、図１を併用して説明する。図５に示すように、まず、図１で説明した測定系を利用するために、光ファイバ２２を保持した光コネクタ２０と、光コネクタ２０が差し込まれる光導入口１８を有し、受光素子１２を備える受光装置１００と、を準備する（ステップＳ２０）。
【００４２】
次いで、交流電源３０を用いて、単一周波数の正弦波で強度変調された駆動電流を発光素子３２に入力する。これにより、発光素子３２から単一周波数の正弦波で強度変調された信号光を出射させて、この信号光を光ファイバ２２に入射させる（ステップＳ２２）。
【００４３】
次いで、受光素子１２が光ファイバ２２を経由した信号光を受光することによって出力する電流信号を、ＴＩＡ１４を介して接続されたＥＳＡ３８によって測定して、基本波信号の強度と高調波信号の強度とをモニタする（ステップＳ２４）。
【００４４】
次いで、基本波信号の強度と高調波信号の強度とをモニタしながら、光ファイバ２２と受光素子１２との相対的な位置関係を調節する。具体的には、基本波信号の強度は大きく保ちつつ、高調波信号の偶数次の高調波の強度と奇数次の高調波の強度とが規定値以下となるように、光ファイバ２２と受光素子１２との相対的な位置関係を調節する（ステップＳ２６）。ここで、規定値としては、例えば高調波歪みの値を用いることができ、その値は、受光素子１２の用途に応じて任意に定めることができる。一例として、実施例１で説明した数１に示す偶数次の高調波歪み（ＨＤｅｖｅｎ）と、数２に示す奇数次の高調波歪み（ＨＤｏｄｄ）とが、共に１０％以下となるように、光ファイバ２２と受光素子１２との位置関係を調節することができる。
【００４５】
また、高調波歪みの値以外の他の値を用いても良く、例えば発光素子３２の出力信号光の強度に対して何％の値という比率値を用いてもよい。一例として、偶数次の高調波の強度の合計値と、奇数次の高調波の強度の合計値とが、発光素子３２の出力信号光の強度に対して定められた比率値以下となるように、光ファイバ２２と受光素子１２との位置関係を調節してもよい。
【００４６】
なお、高調波の強度は、より高次まで測定することが望ましいが、例えば２次から５次の高調波の強度は応答波形への寄与度が大きいため、２次から５次の高調波の強度を測定して、光ファイバ２２と受光素子１２との位置関係を調節してもよい。また、より簡便な方法としては、２次と３次の高調波の強度を測定して、光ファイバ２２と受光素子１２との位置関係を調節してもよい。
【００４７】
ステップＳ２６の調節を行うことによって、図３（ａ）及び図３（ｃ）で説明したように、光ファイバ２２と受光素子１２との光軸を望ましい調芯状態にすることができる。光ファイバ２２と受光素子１２との光軸の調芯が終わったら、調節された位置で光導入口１８をパッケージ１０に固定する（ステップＳ２８）。
【００４８】
このように、実施例２の光軸調整方法は、受光素子１２から出力された電気信号に含まれる基本波信号に対する高調波信号のうちの偶数次の高調波の強度と奇数次の高調波の強度とが規定値以下となるように、光ファイバ２２と受光素子１２との相対的な位置関係を調節する。このような方法により、受光素子１２をリニア型として用いる場合に、図３（ａ）のように、応答波形の歪みを小さくでき、高周波応答特性を良好にすることができる。
【００４９】
図３（ａ）から図３（ｄ）に示すように、偶数次の高調波の強度と奇数次の高調波の強度とが共に小さい場合、応答波形の歪みが小さくなる。したがって、光ファイバ２２と受光素子１２との位置関係の調節にあたり、偶数次の高調波歪み及び奇数次の高調波歪みが共に１０％以下となるようにすることが好ましく、５％以下となるようにすることがより好ましく、３％以下となるようにすることがさらに好ましい。
【００５０】
実施例２では、高調波信号の偶数次の高調波の強度と奇数次の高調波の強度とが規定値以下となるように、光ファイバ２２と受光素子１２との相対的な位置関係を調節する場合を例に示したが、この場合に限られない。高調波信号のうちの少なくとも偶数次の高調波の強度が規定値以下となるように、光ファイバ２２と受光素子１２との位置関係を調節することでも、応答波形の歪みを小さくでき、高周波応答特性を良好にすることができる。この場合、光ファイバ２２と受光素子１２との位置関係の調節にあたり、偶数次の高調波歪み（ＨＤｅｖｅｎ）が１０％以下となるようにすることが好ましく、５％以下となるようにすることがより好ましく、３％以下となるようにすることがさらに好ましい。
【００５１】
また、高調波信号のうちの少なくとも奇数次の高調波の強度が規定値以下となるように、光ファイバ２２と受光素子１２との位置関係を調節してもよい。この場合、光ファイバ２２と受光素子１２との位置関係の調節にあたり、奇数次の高調波歪み（ＨＤｅｖｅｎ）が１０％以下となるようすることが好ましく、５％以下となるようにすることがより好ましく、３％以下となるようにすることがさらに好ましい。
【００５２】
実施例１及び実施例２において、平均強度が異なる複数の信号光に対して、図４のステップＳ１２からステップＳ１６もしくは図５のステップＳ２２からステップＳ２６を繰り返し行い、最適な位置を求めてもよい。このように、信号光の平均強度を異ならせて、光ファイバ２２と受光素子１２との位置関係の調節を複数回実施して、最適な位置を選択することで、受光素子１２に光入力パワー依存がある場合でも、良好な高周波応答特性を得ることができる。
【００５３】
実施例１及び実施例２において、異なる大きさの電圧を受光素子１２に印加して、図４のステップＳ１２からステップＳ１６もしくは図５のステップＳ２２からステップＳ２６を繰り返し行い、最適な位置を求めてもよい。このように、受光素子１２に印加する電圧を異ならせて、光ファイバ２２と受光素子１２との位置関係の調節を複数回実施して、最適な位置を選択することで、受光素子１２に印加電圧依存がある場合でも、良好な高周波応答特性を得ることができる。
【００５４】
実施例１及び実施例２において、波長の異なる複数の信号光に対して、図４のステップＳ１２からステップＳ１６もしくは図５のステップＳ２２からステップＳ２６を繰り返し行い、最適な位置を求めてもよい。このように、信号光の波長を異ならせて、光ファイバ２２と受光素子１２との位置関係の調節を複数回実施して、最適な位置を選択することで、受光素子１２に波長依存がある場合でも、良好な高周波応答特性を得ることができる。波長の例としては、光通信に用いられる１３１０ｎｍ、１４９０ｎｍ、１５５０ｎｍ等が挙げられる。
【００５５】
実施例１及び実施例２において、図４のステップＳ１４もしくは図５のステップＳ２４に先立ち、受光素子１２によって検出される光強度が所定の基準値を超えるように、光ファイバ２２と受光素子１２との相対的な位置関係の調節をする予備調芯を行ってもよい。なお、所定の基準値は任意に定めることができる。この予備調芯は、従来の調芯方法と同じ方法であり、受光素子１２が出力する直流電流を直流電流計３６で測定し、光ファイバ２２と受光素子１２との相対的な位置関係を調節することで実施できる。この予備調芯により、光ファイバ２２と受光素子１２との相対的な位置関係がある程度決まるため、図４のステップＳ１６もしくは図５のステップＳ２６による位置調節を短時間で容易に行うことが可能となる。
【００５６】
実施例１及び実施例２では、受光装置１００は、光ファイバ２２を保持した光コネクタ２０が差し込まれる光導入口１８を有するＲＯＳＡ型の受光装置を用いて説明しているが、それに限定されるものではなく、例えば、光ファイバが直接パッケージに接続される受光装置についても適用可能である。また、光学部品は光ファイバ２２の場合に限らずその他の光学部品の場合でもよい。
【００５７】
以上、本発明の実施例について詳述したが、本発明はかかる特定の実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
【符号の説明】
【００５８】
１０  パッケージ
１２  受光素子
１４  ＴＩＡ
１６  レンズ
１８  光導入口
２０  光コネクタ
２２  光ファイバ
３０  交流電源
３２  発光素子
３６  直流電流計
３８  ＥＳＡ
１００  受光装置
【図１】
2013210560.tif 000005
【図２】
2013210560.tif 000006
【図３】
2013210560.tif 000007
【図４】
2013210560.tif 000008
【図５】
2013210560.tif 000009