(57)【要約】      （修正有）【課題】マイクロプレートのウェルに分注された試料の光学的特性を測定する測定装置の装置サイズを削減する。【解決手段】整列配置された複数のウェルを有するマイクロプレート１０を、複数のウェルの各々が同一の半径を有する異なる第１の円の円周上を回転するように、同一平面上で回転させる機構１，２，３と、複数のウェルのうち、予め定められたウェルの集合に含まれる各ウェルに保持されている液体の光学的特性を測定する複数の測定部８とを有する。そして、複数の測定部の各々について、当該測定部に含まれる測光部の配置に基づき１つの測定位置が決まっており、上記機構による回転により１つの測定位置を順次通過し且つプレート４上で上記半径を有する１の第２の円の円周上に配置されているウェルの集合に対して、複数の測定部のうち少なくとも１つが設けられている。【選択図】図１
2013210351.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
整列配置された複数の液体保持部を有するプレートを、前記複数の液体保持部の各々が同一の半径を有する異なる第１の円の円周上を回転するように、平面上で回転させる機構と、
前記複数の液体保持部のうち、予め定められた液体保持部の集合に含まれる各液体保持部に保持されている液体の光学的特性を測定する測光部を各々有する複数の測定部と、
を有し、
前記複数の測定部の各々について、当該測定部に含まれる前記測光部の配置に基づき１つの測定位置が決まっており、
前記機構による回転により前記１つの測定位置を順次通過し且つ前記プレート上で前記半径を有する１の第２の円の円周上に配置されている液体保持部の集合に対して、前記複数の測定部のうち少なくとも１つが設けられている
測定装置。
【請求項２】
前記複数の測定部の各々が、前記プレートに対して垂直方向に光を照射する光照射部をさらに含む
請求項１記載の測定装置。
【請求項３】
前記測定位置が、１つの直線上又は複数の平行な直線上に配置されている
請求項１又は２記載の測定装置。
【請求項４】
前記複数の測定部は、
第１の波長の光を照射する第１の光照射部と、前記第１の波長の光により生ずる光学的特性を測定する第１の測定部とを含む第１の種類の複数の測定部と、
第２の波長の光を照射する第２の光照射部と、前記第２の波長の光により生ずる光学的特性を測定する第２の測定部とを含む第２の種類の複数の測定部と、
を含み、
前記第１の種類の複数の測定部についての測定位置と、前記第２の種類の複数の測定部についての測定位置とが異なる
請求項１乃至３のいずれか１つ記載の測定装置。
【請求項５】
前記プレートのある回転において前記光照射部から第１の波長の光を照射し、
前記プレートの前記ある回転とは異なる回転において前記光照射部から第２の波長の光を照射する
請求項２記載の測定装置。
【請求項６】
前記機構が、測定開始前に、回転方向を切り替えることによる液体の撹拌動作又は一定方向の回転による液体の撹拌動作を行う
請求項１乃至５のいずれか１つ記載の測定装置。
【請求項７】
異なる光源又は同一の白色光源の異なる波長の光を切り替えて前記光照射部に出力する切替部
をさらに有する請求項４記載の測定装置。
【請求項８】
前記複数の液体保持部のうち２つの液体保持部の中心間距離がｄであるとすると、
前記複数の液体保持部の４行毎に、
前記半径を有する円の半径が、
｛（ｄ／２）2＋（３ｄ／２）2｝1/2
である請求項１乃至７のいずれか１つ記載の測定装置。
【請求項９】
整列配置された複数の液体保持部を有するプレートを、当該プレートを囲う方形のいずれの辺も平行を保持しつつ、所定の半径で且つ平面上で回転させる機構と、
前記複数の液体保持部のうち予め定められた液体保持部の集合に含まれる各液体保持部に保持されている液体の光学的特性を測定する測光部を各々有する複数の測定部と、
を有し、
前記複数の測定部の各々について、当該測定部に含まれる前記測光部の配置に基づき１つの測定位置が決まっており、
前記機構による回転により前記１つの測定位置を順次通過し且つ前記プレート上で前記所定の半径を有する１つの円の円周上に配置されている液体保持部の集合に対して、前記複数の組み合わせのうち少なくとも１つが設けられている
測定装置。
【請求項１０】
前記複数の測定部の各々が、前記プレートに対して垂直方向に光を照射する光照射部をさらに有する請求項９記載の測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、マイクロプレートのウェルに分注された液体（試料）の光学的特性を測定する測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来のマイクロプレートリーダの測光機構には、主に以下のようなものが存在する。
１．測光部が１つで、測光部又はマイクロプレートを、マイクロプレートの長手方向及びマイクロプレートと同一平面において長手方向と直交する方向に直線的に移動させ、測定を行う。
２．測光部がマイクロプレートのウェルの数だけ用意されており、マイクロプレートを長手方向又はマイクロプレートと同一平面において長手方向と直交する方向に測定位置まで搬送して一回で測定を行う。
３．測光部が、マイクロプレートの長手方向のウェル数又はマイクロプレートと同一平面において長手方向とは直交する方向のウェル数だけ用意され、測光部又はマイクロプレートを、長手方向とは直交する方向又はマイクロプレートと同一平面において長手方向に移動させて測定を行う。
【０００３】
いずれの方法もモータの回転を測光部又はマイクロプレートの直線運動に変換する機構が用いられることになり効率的ではない。また、マイクロプレートを移動させる場合には、マイクロプレートおよそ２枚分の移動空間を要することになり、測定装置のサイズが大きくなってしまう。さらに、ウェル内の試料のため温度制御を行うことになるが、筐体のサイズが大きい場合には、一定温度に保つためにはその分大きな熱量を要することになる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平１１−３７９２９号公報
【特許文献２】特開２００８−２０３８０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従って、本発明の目的は、一側面において、マイクロプレートのウェルに分注された試料等の液体の光学的特性を測定する測定装置の装置サイズを削減するための技術を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の第１の態様に係る測定装置は、（Ａ）整列配置された複数の液体保持部を有するプレートを、前記複数の液体保持部の各々が同一の半径を有する異なる第１の円の円周上を回転するように、平面上で回転させる機構と、（Ｂ）複数の液体保持部のうち、予め定められた液体保持部の集合に含まれる各液体保持部に保持されている液体の光学的特性を測定する測光部を各々有する複数の測定部とを有する。そして、複数の測定部の各々について、当該測定部に含まれる測光部の配置に基づき１つの測定位置が決まっている。そして、上記機構による回転により上記１つの測定位置を順次通過し且つプレート上で上記半径を有する１の第２の円の円周上に配置されている液体保持部の集合に対して、複数の測定部のうち少なくとも１つが設けられている。
【０００７】
このような機構を用いて測定を行うことで、測定装置全体の小型化が可能となる。また、回転は、連続的な場合もあれば間欠的な場合もある。さらに、複数の測定部の各々が、プレートに対して垂直方向に光を照射する光照射部をさらに含むようにしても良い。液体保持部に保持されている液体が自ら発光する場合には光照射部を設けない場合もある。なお、光照射部はそれ自体が光源の場合もあれば、光源から導かれた光を出力する部位の場合もある。
【０００８】
なお、上で述べた測定位置が、１つの直線上又は複数の平行な直線上に配置されている場合もある。このような配置を行うことで、測光部及び光照射部の配置及び配線が容易になる。
【０００９】
さらに、上で述べた複数の測定部は、（ａ）第１の波長の光を照射する第１の光照射部と、第１の波長の光により生ずる光学的特性を測定する第１の測定部とを含む第１の種類の複数の測定部と、（ｂ）第２の波長の光を照射する第２の光照射部と、第２の波長の光により生ずる光学的特性を測定する第２の測定部とを含む第２の種類の複数の測定部とを含むようにしても良い。そして、この場合には、第１の種類の複数の測定部についての測定位置と、第２の種類の複数の測定部についての測定位置とが異なる場合もある。このようにすれば、１回の測定時間を短くすることができる。
【００１０】
また、プレートのある回転において光照射部から第１の波長の光を照射し、プレートの上記ある回転とは異なる回転において光照射部から第２の波長の光を照射するようにしても良い。光照射部の数を増加させない場合であっても、複数の波長の光で測定を行うことできるようになる。
【００１１】
さらに、上で述べた機構が、測定開始前に、回転方向を切り替えることによる液体の撹拌動作又は一定方向の回転による液体の撹拌動作を行うようにしても良い。確実な測定を行うことができるようになる。
【００１２】
また、上で述べた測定装置は、異なる光源又は同一の白色光源の異なる波長の光を切り替えて光照射部に出力する切替部を有する場合もある。光照射部毎に光源を設ける場合に比してメンテナンスが容易になる。
【００１３】
さらに、上記複数の液体保持部のうち２つの液体保持部の中心間距離がｄであるとすると、上記複数の液体保持部の４行毎に、上記半径を有する円の半径が、｛（ｄ／２）2＋（３ｄ／２）2｝1/2である場合もある。上記円がこのような半径を有するものである場合、効率的で好ましい、光照射部及び測光部のグループ分けが行われる。
【００１４】
本発明の第２の態様に係る測定装置は、（Ａ）整列配置された複数の液体保持部を有するプレートを、当該プレートを囲う方形のいずれの辺も平行を保持しつつ、所定の半径で且つ同一平面上で回転させる機構と、（Ｂ）複数の液体保持部のうち予め定められた液体保持部の集合に含まれる各液体保持部に保持されている液体の光学的特性を測定する測光部を各々有する複数の測定部とを有する。そして、上記複数の測定部の各々について、当該測定部に含まれる測光部の配置に基づき１つの測定位置が決まっており、上記機構による回転により上記１つの測定位置を順次通過し且つプレート上で所定の半径を有する１つの円の円周上に配置されている液体保持部の集合に対して、複数の組み合わせのうち少なくとも１つが設けられている。なお、第２の態様においても、上記複数の測定部の各々が、プレートに対して垂直方向に光を照射する光照射部をさらに有するようにしても良い。
【発明の効果】
【００１５】
一側面において、測定装置の装置サイズを削減できるようになる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】図１は、実施の形態に係る測定装置の主要部の概要を示す図である。
【図２】図２は、測定装置の主要部の側面図である。
【図３】図３は、ウェルのグループ分けを説明するための図である。
【図４】図４は、測定位置を説明するための図である。
【図５Ａ】図５Ａは、第１の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図５Ｂ】図５Ｂは、第２の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図５Ｃ】図５Ｃは、第３の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図５Ｄ】図５Ｄは、第４の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図５Ｅ】図５Ｅは、第５の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図５Ｆ】図５Ｆは、第６の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図５Ｇ】図５Ｇは、第７の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図５Ｈ】図５Ｈは、第８の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図６Ａ】図６Ａは、第１の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図６Ｂ】図６Ｂは、第２の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図６Ｃ】図６Ｃは、第３の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図６Ｄ】図６Ｄは、第４の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図６Ｅ】図６Ｅは、第５の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図６Ｆ】図６Ｆは、第６の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図６Ｇ】図６Ｇは、第７の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図６Ｈ】図６Ｈは、第８の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図７】図７は、回転半径とウェルのサイズとの関係を表す図である。
【図８Ａ】図８Ａは、第１の状態を表す図である。
【図８Ｂ】図８Ｂは、第２の状態を表す図である。
【図８Ｃ】図８Ｃは、第３の状態を表す図である。
【図８Ｄ】図８Ｄは、第４の状態を表す図である。
【図８Ｅ】図８Ｅは、第５の状態を表す図である。
【図８Ｆ】図８Ｆは、第６の状態を表す図である。
【図８Ｇ】図８Ｇは、第７の状態を表す図である。
【図８Ｈ】図８Ｈは、第８の状態を表す図である。
【図９】図９は、マイクロプレートを連続して回転させつつ測定する状況を説明するための図である。
【図１０Ａ】図１０Ａは、２つの波長で測定する場合における測定装置の主要部の概要を示す図である。
【図１０Ｂ】図１０Ｂは、２つの波長で測定する場合における測定装置の主要部の上面図である。
【図１１】図１１は、２つの波長で測定する場合における測定装置の主要部の側面図である。
【図１２】図１２は、２つの波長で測定する場合におけるグループ分けを説明するための図である。
【図１３Ａ】図１３Ａは、２つの波長で測定する場合の第１の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図１３Ｂ】図１３Ｂは、２つの波長で測定する場合の第２の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図１３Ｃ】図１３Ｃは、２つの波長で測定する場合の第３の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図１３Ｄ】図１３Ｄは、２つの波長で測定する場合の第４の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図１３Ｅ】図１３Ｅは、２つの波長で測定する場合の第５の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図１３Ｆ】図１３Ｆは、２つの波長で測定する場合の第６の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図１３Ｇ】図１３Ｇは、２つの波長で測定する場合の第７の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図１３Ｈ】図１３Ｈは、２つの波長で測定する場合の第８の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図１４Ａ】図１４Ａは、２つの波長で測定する場合の第１の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図１４Ｂ】図１４Ｂは、２つの波長で測定する場合の第２の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図１４Ｃ】図１４Ｃは、２つの波長で測定する場合の第３の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図１４Ｄ】図１４Ｄは、２つの波長で測定する場合の第４の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図１４Ｅ】図１４Ｅは、２つの波長で測定する場合の第５の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図１４Ｆ】図１４Ｆは、２つの波長で測定する場合の第６の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図１４Ｇ】図１４Ｇは、２つの波長で測定する場合の第７の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図１４Ｈ】図１４Ｈは、２つの波長で測定する場合の第８の状態における測定対象ウェルを説明するための図である。
【図１５】図１５（ａ）は、プレートキャリアの上面図であり、図１５（ｂ）は、プレートキャリアの側面図である。
【図１６】図１６（ａ）は、プレートキャリアにマイクロプレートを載置した状態の上面図であり、図１６（ｂ）は、その側面図である。
【図１７】図１７は、測光部列とプレートキャリア及びマイクロプレートとの関係を表す上面図である。
【図１８】図１８は、図１７における測光部列での断面図である。
【図１９】図１９は、光源部分のバリエーションについて説明するための図である。
【図２０】図２０は、２回転で２つの波長により測定を行う場合における測光部列の断面図である。
【図２１】図２１は、２回転で２つの波長により測定を行う場合における光源部分のバリエーションを示す図である。
【図２２】図２２は、２回転で２つの波長により測定を行う場合における光源部分のバリエーションを示す図である。
【図２３】図２３は、２回転で２つの波長により測定を行う場合における光源部分のバリエーションを示す図である。
【図２４】図２４は、２回転で２つの波長により測定を行う場合における光源部分のバリエーションを示す図である。
【図２５】図２５は、測定装置の制御部関連部分を示す図である。
【図２６】図２６は、ウェルのグループ分けのバリエーションを示す図である。
【図２７】図２７は、ウェルのグループ分けのバリエーションを示す図である。
【図２８】図２８は、光照射部及び測光部の配置のバリエーションを示す図である。
【図２９】図２９は、リファレンス用の光照射部及び測光部を設ける場合の例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
図１に、本発明の実施の形態に係る測定装置の主要部の概要を示す。本実施の形態ではマイクロプレート１０を直線的に移動させるのではなく、上から見ると長方形であるマイクロプレート１０の各辺が移動前後で自身と平行という状態を維持しつつ所定の半径で当該マイクロプレート１０を自身を含む平面に平行に回転させる。図１では、マイクロプレート１０は、簡略化してウェルの集合体として示されている。ここでは８×１２＝９６ウェルの例を示しているが、これ以外のウェル数のマイクロプレートであっても良い。
【００１８】
マイクロプレート１０は、プレートキャリア４上に載置される。このプレートキャリア４は、ステッピングモータであるモータ１により回転させられる。モータ１の回転軸１ａは、マイクロプレート１０の回転半径を規定するアーム２が固定的に連結されている。また、アーム２には、第２の回転軸３の一端が、モータ１の回転軸１ａから回転半径だけ離れた位置に固定的に連結されている。この第２の回転軸３の他端は、プレートキャリア４を支持しており、プレートキャリア４と当該プレートキャリア４のホール４ａにおいて回動可能に連結されている。また、第３の回転軸５の下端は、測定装置の筐体などに設けられたホールにおいて回動可能に連結されており、第３の回転軸５の上端は、アーム６と固定的に連結されている。アーム６には、第４の回転軸７の一端が、第３の回転軸５から回転半径だけ離れた位置に固定的に連結されている。第４の回転軸７の他端は、プレートキャリア４を支持しており、プレートキャリア４のホール４ｂにおいて回動可能に連結されている。なお、アーム２には、第２の回転軸３の一端が、モータ１の回転軸１ａから回転半径だけ離れた位置に回動可能に連結されており、第２の回転軸３の他端が、プレートキャリア４を支持しており、プレートキャリア４と当該プレートキャリア４のホール４ａにおいて固定的に連結されている場合もある。同様に、アーム６には、第４の回転軸７の一端が、第３の回転軸５から回転半径だけ離れた位置に回動可能に連結されており、第４の回転軸７の他端が、プレートキャリア４を支持しており、プレートキャリア４と当該プレートキャリア４のホール４ｂにおいて固定的に連結されている場合もある。
【００１９】
プレートキャリア４の下部には、２列に分かれて１４個の光照射部９ａ乃至９ｇ（一部隠れており図示せず）及び９ｈ乃至９ｎが配置されており、各光照射部９ａ乃至９ｎに対してプレートキャリア４と直交する光軸上に測光部８ａ乃至８ｇ及び８ｈ乃至８ｎが設けられている。上記光照射部は通常この分野で用いられている光を照射するものであればいずれでもよいが、具体的には、例えばランプ (白熱、ハロゲン、キセノン等)、発光ダイオード（ＬＥＤ：Light Emitting Diode）、レーザー等が挙げられる。なお、光照射部から照射される光は、光源から発せられる光を例えば光ファイバー等により導入したものであっても良い。また、このような光源部は、ランプ (白熱、ハロゲン、キセノン等)、発光ダイオード（ＬＥＤ）、レーザー等に、必要に応じて光フィルタ等を備えたものでも良い。上記測光部は、液体保持部に保持されている液体の光学的特性を測定する部位である。この光学的特性としては、具体的には、吸光、呈色、蛍光、発光等が挙げられる。
【００２０】
モータ１の回転軸１ａが回転すると、アーム２が回転軸１ａを中心として回転し、それに連動してプレートキャリア４が回転しようとする。但し、第３の回転軸５、アーム６及び第４の回転軸７によってプレートキャリア４の回転は制限されており、プレートキャリア４（又はマイクロプレート１０を囲む矩形）の各辺が移動前後で自身と平行という状態を維持しつつプレートキャリア４は自身を含む平面に平行に回転することになる。
【００２１】
図２に図１の矢印方向から見た側面図を示す。マイクロプレート１０は、上で述べたようにアーム２で規定される半径で回転移動するので、固定的に配置されている測光部８ａ乃至８ｎと光照射部９ａ乃至９ｎの各ペアを結ぶ光軸１１（図では１１ｈ乃至１１ｎ）を通過する時に測定が行われる。光軸１１が各測定位置をも表している。より具体的には、各測定位置は、プレートと同じ平面上に位置し、光軸とプレートとの接点を表す。図１に示したような９６ウェルのマイクロプレート１０の場合には、このように２列で合計１４個のペアで全てのウェルについて測定できる。
【００２２】
また、このようにマイクロプレート１０を平面上において回転させる場合には、マイクロプレート１０の長辺及び短辺のいずれかの方向にのみ余分なスペースを要することにはならないので、マイクロプレート１０の長辺及び短辺のいずれかの方向に直線的にマイクロプレート１０を移動させる場合の測定装置よりも、小型化が可能となる。また、直線的にマイクロプレート１０を移動させる場合の測定装置と比べると、回転運動を直線運動に変換する機構が不要となり、部品点数を減らすことができ、機構が簡略化される。メンテナンス等も容易になる。さらに、マイクロプレート１０を平面上において回転させる場合には、１回転させると元の位置に戻るので、以下で述べるように次の測定を行う場合においても直ぐに測定を開始できるが、直線的にマイクロプレート１０を移動させる場合には、マイクロプレート１０を初期位置に戻す動作を要することになり、ロスタイムが発生する。
【００２３】
次にマイクロプレート１０の各ウェルに保持された液体をどのように測定するかについて図３乃至図１４Ｈを用いて説明する。ウェルは、マイクロプレート１０が回転する間に固定の測定位置、すなわち光照射部９と測光部８とを結ぶ光軸１１が設けられている位置を通過するウェルのグループに分類される。どのように分類されるかを図３に示す。同一のハッチングが縁に付されたウェルが同一のグループに属する。なお、本実施の形態におけるウェル中の液体は、通常この分野で測定に用いられる試料全てを意味し、各種反応後の溶液であっても、ブランク用の試料であってもよい。また、試薬、添加物等反応に用いられるもの等この分野で通常用いられるものが含まれていてもよい。以下明細書中で記載する液体は、全て同じのものを意味する。
【００２４】
すなわち、光軸１１ａについての光照射部９ａ及び測光部８ａのペアで測定されるのは、グループＡに属するウェルであり、この光軸１１ａの位置を必ず通過する。光軸１１ｂについての光照射部９ｂ及び測光部８ｂのペアで測定されるのは、グループＢに属するウェルであり、この光軸１１ｂの位置を必ず通過する。光軸１１ｃについての光照射部９ｃ及び測光部８ｃのペアで測定されるのは、グループＣに属するウェルであり、この光軸１１ｃの位置を必ず通過する。光軸１１ｄについての光照射部９ｄ及び測光部８ｄのペアで測定されるのは、グループＤに属するウェルであり、この光軸１１ｄの位置を必ず通過する。光軸１１ｅについての光照射部９ｅ及び測光部８ｅのペアで測定されるのは、グループＥに属するウェルであり、この光軸１１ｅの位置を必ず通過する。光軸１１ｆについての光照射部９ｆ及び測光部８ｆのペアで測定されるのは、グループＦに属するウェルであり、この光軸１１ｆの位置を必ず通過する。光軸１１ｇについての光照射部９ｇ及び測光部８ｇのペアで測定されるのは、グループＧに属するウェルであり、この光軸１１ｇの位置を必ず通過する。光軸１１ｈについての光照射部９ｈ及び測光部８ｈのペアで測定されるのは、グループＨに属するウェルであり、この光軸１１ｈの位置を必ず通過する。光軸１１ｉについての光照射部９ｉ及び測光部８ｉのペアで測定されるのは、グループＩに属するウェルであり、この光軸１１ｉの位置を必ず通過する。光軸１１ｊについての光照射部９ｊ及び測光部８ｊのペアで測定されるのは、グループＪに属するウェルであり、この光軸１１ｊの位置を必ず通過する。光軸１１ｋについての光照射部９ｋ及び測光部８ｋのペアで測定されるのは、グループＫに属するウェルであり、この光軸１１ｋの位置を必ず通過する。光軸１１ｌについての光照射部９ｌ及び測光部８ｌのペアで測定されるのは、グループＬに属するウェルであり、この光軸１１ｌの位置を必ず通過する。光軸１１ｍについての光照射部９ｍ及び測光部８ｍのペアで測定されるのは、グループＭに属するウェルであり、この光軸１１ｍの位置を必ず通過する。光軸１１ｎについての光照射部９ｎ及び測光部８ｎのペアで測定されるのは、グループＮに属するウェルであり、この光軸１１ｎの位置を必ず通過する。
【００２５】
このように、各グループは、マイクロプレート１０の回転半径と同じ半径の円の円周上に配置されているウェルを含む。
【００２６】
例えばグループＦに属するウェルについてさらに図４を用いて説明する。なお、以下ウェルを特定するために、行については「ａ」乃至「ｈ」で表し、列については「１」乃至「１２」で表すものとする。グループＦは、図４においてハッチングが付されている８つのウェル「ａ２」「ａ３」「ｂ１」「ｂ４」「ｃ１」「ｃ４」「ｄ２」「ｄ３」を含む。この状態では、ウェル「ｄ２」の位置に測定位置がある。マイクロプレート１０を回転させると、ウェル「ａ２」は、点線の円９１の円周上を移動する。ウェル「ａ３」は、点線の円９８の円周上を移動する。ウェル「ｂ１」は、点線の円９２の円周上を移動する。ウェル「ｂ４」は、点線の円９７の円周上を移動する。ウェル「ｃ１」は、点線の円９３の円周上を移動する。ウェル「ｃ４」は、点線の円９６の円周上を移動する。ウェル「ｄ２」は、点線の円９４の円周上を移動する。ウェル「ｄ３」は、点線の円９５の円周上を移動する。これらの円９１乃至９８の半径は、マイクロプレート１０の回転半径と同じであり、これらの円９１乃至９８の円周はウェル「ｄ２」の位置でのみ交わる。すなわち、このウェル「ｄ２」の位置に光軸１１ｆが通過するように測光部８ｆ及び光照射部９ｆを配置する。他のグループについても同様である。
【００２７】
次に、どのようにマイクロプレート１０が回転して、どのウェルがどの段階で測定されるのかについて図５Ａ乃至図６Ｈを用いて説明する。
【００２８】
第１の状態では、図５Ａ及び図６Ａに示すように、光軸１１ａの位置では、グループＡのウェル「ｄ１２」が測定され、光軸１１ｂの位置では、グループＢのウェル「ｄ１０」が測定され、光軸１１ｃの位置では、グループＣのウェル「ｄ８」が測定され、光軸１１ｄの位置では、グループＤのウェル「ｄ６」が測定され、光軸１１ｅの位置では、グループＥのウェル「ｄ４」が測定され、光軸１１ｆの位置では、グループＦのウェル「ｄ２」が測定される。第１の状態では、光軸１１ｇの位置では、グループＧのウェルは測定されない。さらに、光軸１１ｈの位置では、グループＨのウェル「ｈ１２」が測定され、光軸１１ｉの位置では、グループＩのウェル「ｈ１０」が測定され、光軸１１ｊの位置では、グループＪのウェル「ｈ８」が測定され、光軸１１ｋの位置では、グループＫのウェル「ｈ６」が測定され、光軸１１ｌの位置では、グループＬのウェル「ｈ４」が測定され、光軸１１ｍの位置では、グループＭのウェル「ｈ２」が測定される。第１の状態では、光軸１１ｎの位置では、グループＮのウェルは測定されない。
【００２９】
第２の状態を、図５Ｂ及び図６Ｂに示す。図６Ｂ乃至図６Ｈにおいて矩形Ｏは、第１の状態におけるマイクロプレート１０の外周矩形を表す。このように、マイクロプレート１０の各辺は移動前後で自身と平行という状態を維持しつつ同一平面内を回転していることが分かる。そして、光軸１１ａの位置では、グループＡのウェルは測定されない。光軸１１ｂの位置では、グループＢのウェル「ｄ１１」が測定され、光軸１１ｃの位置では、グループＣのウェル「ｄ９」が測定され、光軸１１ｄの位置では、グループＤのウェル「ｄ７」が測定され、光軸１１ｅの位置では、グループＥのウェル「ｄ５」が測定され、光軸１１ｆの位置では、グループＦのウェル「ｄ３」が測定され、光軸１１ｇの位置では、グループＧのウェル「ｄ１」が測定される。また、光軸１１ｈの位置では、グループＨのウェルは測定されない。光軸１１ｉの位置では、グループＩのウェル「ｈ１１」が測定され、光軸１１ｊの位置では、グループＪのウェル「ｈ９」が測定され、光軸１１ｋの位置では、グループＫのウェル「ｈ７」が測定され、光軸１１ｌの位置では、グループＬのウェル「ｈ５」が測定され、光軸１１ｍの位置では、グループＭのウェル「ｈ３」が測定され、光軸１１ｎの位置では、グループＮのウェル「ｈ１」が測定される。
【００３０】
第３の状態を、図５Ｃ及び図６Ｃに示す。光軸１１ａの位置では、グループＡのウェルは測定されない。光軸１１ｂの位置では、グループＢのウェル「ｃ１２」が測定され、光軸１１ｃの位置では、グループＣのウェル「ｃ１０」が測定され、光軸１１ｄの位置では、グループＤのウェル「ｃ８」が測定され、光軸１１ｅの位置では、グループＥのウェル「ｃ６」が測定され、光軸１１ｆの位置では、グループＦのウェル「ｃ４」が測定され、光軸１１ｇの位置では、グループＧのウェル「ｃ２」が測定される。また、光軸１１ｈの位置では、グループＨのウェルは測定されない。光軸１１ｉの位置では、グループＩのウェル「ｇ１２」が測定され、光軸１１ｊの位置では、グループＪのウェル「ｇ１０」が測定され、光軸１１ｋの位置では、グループＫのウェル「ｇ８」が測定され、光軸１１ｌの位置では、グループＬのウェル「ｇ６」が測定され、光軸１１ｍの位置では、グループＭのウェル「ｇ４」が測定され、光軸１１ｎの位置では、グループＮのウェル「ｇ２」が測定される。  
【００３１】
第４の状態を、図５Ｄ及び図６Ｄに示す。光軸１１ａの位置では、グループＡのウェルは測定されない。光軸１１ｂの位置では、グループＢのウェル「ｂ１２」が測定され、光軸１１ｃの位置では、グループＣのウェル「ｂ１０」が測定され、光軸１１ｄの位置では、グループＤのウェル「ｂ８」が測定され、光軸１１ｅの位置では、グループＥのウェル「ｂ６」が測定され、光軸１１ｆの位置では、グループＦのウェル「ｂ４」が測定され、光軸１１ｇの位置では、グループＧのウェル「ｂ２」が測定される。また、光軸１１ｈの位置では、グループＨのウェルは測定されない。光軸１１ｉの位置では、グループＩのウェル「ｆ１２」が測定され、光軸１１ｊの位置では、グループＪのウェル「ｆ１０」が測定され、光軸１１ｋの位置では、グループＫのウェル「ｆ８」が測定され、光軸１１ｌの位置では、グループＬのウェル「ｆ６」が測定され、光軸１１ｍの位置では、グループＭのウェル「ｆ４」が測定され、光軸１１ｎの位置では、グループＮのウェル「ｆ２」が測定される。  
【００３２】
第５の状態を、図５Ｅ及び図６Ｅに示す。光軸１１ａの位置では、グループＡのウェルは測定されない。光軸１１ｂの位置では、グループＢのウェル「ａ１１」が測定され、光軸１１ｃの位置では、グループＣのウェル「ａ９」が測定され、光軸１１ｄの位置では、グループＤのウェル「ａ７」が測定され、光軸１１ｅの位置では、グループＥのウェル「ａ５」が測定され、光軸１１ｆの位置では、グループＦのウェル「ａ３」が測定され、光軸１１ｇの位置では、グループＧのウェル「ａ１」が測定される。また、光軸１１ｈの位置では、グループＨのウェルは測定されない。光軸１１ｉの位置では、グループＩのウェル「ｅ１１」が測定され、光軸１１ｊの位置では、グループＪのウェル「ｅ９」が測定され、光軸１１ｋの位置では、グループＫのウェル「ｅ７」が測定され、光軸１１ｌの位置では、グループＬのウェル「ｅ５」が測定され、光軸１１ｍの位置では、グループＭのウェル「ｅ３」が測定され、光軸１１ｎの位置では、グループＮのウェル「ｅ１」が測定される。  
【００３３】
第６の状態では、図５Ｆ及び図６Ｆに示すように、光軸１１ａの位置では、グループＡのウェル「ａ１２」が測定され、光軸１１ｂの位置では、グループＢのウェル「ａ１０」が測定され、光軸１１ｃの位置では、グループＣのウェル「ａ８」が測定され、光軸１１ｄの位置では、グループＤのウェル「ａ６」が測定され、光軸１１ｅの位置では、グループＥのウェル「ａ４」が測定され、光軸１１ｆの位置では、グループＦのウェル「ａ２」が測定される。第６の状態では、光軸１１ｇの位置では、グループＧのウェルは測定されない。また、光軸１１ｈの位置では、グループＨのウェル「ｅ１２」が測定され、光軸１１ｉの位置では、グループＩのウェル「ｅ１０」が測定され、光軸１１ｊの位置では、グループＪのウェル「ｅ８」が測定され、光軸１１ｋの位置では、グループＫのウェル「ｅ６」が測定され、光軸１１ｌの位置では、グループＬのウェル「ｅ４」が測定され、光軸１１ｍの位置では、グループＭのウェル「ｅ２」が測定される。第６の状態では、光軸１１ｎの位置では、グループＮのウェルは測定されない。
【００３４】
第７の状態では、図５Ｇ及び図６Ｇに示すように、光軸１１ａの位置では、グループＡのウェル「ｂ１１」が測定され、光軸１１ｂの位置では、グループＢのウェル「ｂ９」が測定され、光軸１１ｃの位置では、グループＣのウェル「ｂ７」が測定され、光軸１１ｄの位置では、グループＤのウェル「ｂ５」が測定され、光軸１１ｅの位置では、グループＥのウェル「ｂ３」が測定され、光軸１１ｆの位置では、グループＦのウェル「ｂ１」が測定される。光軸１１ｇの位置では、グループＧのウェルは測定されない。また、光軸１１ｈの位置では、グループＨのウェル「ｆ１１」が測定され、光軸１１ｉの位置では、グループＩのウェル「ｆ９」が測定され、光軸１１ｊの位置では、グループＪのウェル「ｆ７」が測定され、光軸１１ｋの位置では、グループＫのウェル「ｆ５」が測定され、光軸１１ｌの位置では、グループＬのウェル「ｆ３」が測定され、光軸１１ｍの位置では、グループＭのウェル「ｆ１」が測定される。第７の状態では、光軸１１ｎの位置では、グループＮのウェルは測定されない。
【００３５】
第８の状態を、図５Ｈ及び図６Ｈに示す。そして、光軸１１ａの位置では、グループＡのウェル「ｃ１１」が測定され、光軸１１ｂの位置では、グループＢのウェル「ｃ９」が測定され、光軸１１ｃの位置では、グループＣのウェル「ｃ７」が測定され、光軸１１ｄの位置では、グループＤのウェル「ｃ５」が測定され、光軸１１ｅの位置では、グループＥのウェル「ｃ３」が測定され、光軸１１ｆの位置では、グループＦのウェル「ｃ１」が測定される。第８の状態では、光軸１１ｇの位置では、グループＧのウェルは測定されない。さらに、光軸１１ｈの位置では、グループＨのウェル「ｇ１１」が測定され、光軸１１ｉの位置では、グループＩのウェル「ｇ９」が測定され、光軸１１ｊの位置では、グループＪのウェル「ｇ７」が測定され、光軸１１ｋの位置では、グループＫのウェル「ｇ５」が測定され、光軸１１ｌの位置では、グループＬのウェル「ｇ３」が測定され、光軸１１ｍの位置では、グループＭのウェル「ｇ１」が測定される。第８の状態では、光軸１１ｎの位置では、グループＮのウェルは測定されない。
【００３６】
このように全てのウェルについて１回転で測定を行うことができる。なお、ウェルの行毎又は列毎に測定されるわけではないので、測定結果を制御部のメモリに格納する際に整列して用いることになる。
【００３７】
本実施の形態のようなウェル４行ごとに測光部８及び光照射部９のペアを１列設ける場合は効率的に測光部８及び光照射部９を配置できる。ウェルのサイズは、マイクロプレート１０の種別毎に異なっており、上から見て２つのウェルの中心を結ぶ線分の長さをｄとすると、図７に示すように、回転半径Ｌは、以下に表されるような長さである。
Ｌ＝｛（ｄ／２）2＋（３ｄ／２）2｝1/2
【００３８】
さらに、本実施の形態では、各グループに属するウェルは、マイクロプレート１０の回転半径の円周上に均一に配置されてはいないので、測定位置の光軸がウェルの中心に留まる間に測定を行う場合には、モータ１により間欠的に異なる角度でマイクロプレート１０を回転させることになる。
【００３９】
すなわち、図８Ａの第１の状態で測定を行った後図８Ｂの第２の状態に遷移する場合には、マイクロプレート１０を３６．８７０°回転させる。図８Ｂの第２の状態で測定を行った後図８Ｃの第３の状態に遷移する場合には、マイクロプレート１０を５３．１３０°回転させる。図８Ｃの第３の状態で測定を行った後図８Ｄの第４の状態に遷移する場合には、マイクロプレート１０を３６．８７０°回転させる。図８Ｄの第４の状態で測定を行った後図８Ｅの第５の状態に遷移する場合には、マイクロプレート１０を５３．１３０°回転させる。図８Ｅの第５の状態で測定を行った後図８Ｆの第６の状態に遷移する場合には、マイクロプレート１０を３６．８７０°回転させる。図８Ｆの第６の状態で測定を行った後図８Ｇの第７の状態に遷移する場合には、マイクロプレート１０を５３．１３０°回転させる。図８Ｇの第７の状態で測定を行った後図８Ｈの第８の状態に遷移する場合には、マイクロプレート１０を３６．８７０°回転させる。図８Ｈの第８の状態で測定を行った後図８Ａの第１の状態に遷移する場合には、マイクロプレート１０を５３．１３０°回転させる。
【００４０】
なお、マイクロプレート１０を連続的に回転させる場合もある。連続的に回転させる場合には、１つのウェルの測定に要する時間中に移動する長さｄmがウェルの径からして十分に短くなるように回転速度を決定する。例えば１つのウェルの測定に要する時間が１０ｍｓｅｃの間である場合に、ウェルの内径６ｍｍで１回転１０秒という回転速度であれば、１０ｍｓに移動する長さｄmは０．０８９ｍｍとなる。このように十分短い長さしか移動しないので、図９に示すように、ウェルの中心ｗoと測定位置とが一致する前の長さｄm／２と一致した後の長さｄm／２の合計ｄmで測定を行うことで、ウェルの略中心で測定を行うことができる。
【００４１】
ここまでは１つの波長で測定する場合について説明したが、以下２つの波長を用いて異なる測定位置で測定する場合について説明する。なお、以下では同じ行に第１の波長と第２の波長を互い違いの順で並べている場合について説明するが、第２の波長を第１の波長と同じ位置に設けてもよく、第２の波長を異なる行に設けてもかまわない。但し、第２の波長を異なる行に設ける場合、第１の波長と同じ行に第２の波長を設ける場合に比べて、第２の波長の数を増やす必要がある場合があるので、同じ行に第２の波長を設けるのが好ましい。
【００４２】
図１０Ａに２つの波長で測定する場合における測定装置の主要部の概要を斜視図として、また図１０Ｂに上面図として示す。また、図１０Ｂに示した矢印方向からの側面図を図１１に示す。基本的な構成は図１に示すものと同様であるが、第２の波長のための光照射部１３ａ乃至１３ｑと測光部１２ａ乃至１２ｑとを第１の波長のための光照射部９ａ乃至９ｎと測光部８ａ乃至８ｎに加えて設ける。これらは互い違いの順で並べられている。
【００４３】
そうすると、図１１に示すように、マイクロプレート１０は、上で述べたようにアーム２で規定される半径で回転移動し、固定的に配置されている測光部８ａ乃至８ｎと光照射部９ａ乃至９ｎの各ペアを結ぶ光軸１１（１１ａ乃至１１ｎ。図では１１ｈ乃至１１ｎ）を通過する時に、第１の波長の光により測定が行われる。これに加えて、固定的に配置されている測光部１２ａ乃至１２ｑと光照射部１３ａ乃至１３ｑの各ペアを結ぶ光軸１４（１４ａ乃至１４ｑ。図では１４ｉ乃至１４ｑ）を通過するときに、第２の波長の光により測定が行われる。
【００４４】
図１０Ａ、図１０Ｂ及び図１１に示したような９６ウェルのマイクロプレート１０の場合には、このように２列で合計３０個のペアで全てのウェルについて１回転中２つの波長で測定できる。
【００４５】
また、２つの波長で測定する場合には、各ウェルは、２種類のグループに属する。第１の種類のグループについては、図３を用いて示したような１波長測定の場合と同様である。さらに、第２の種類のグループを、図１２に示す。図１２においても、同一のハッチングが縁に付されたウェルが同一のグループに属する。
【００４６】
すなわち、光軸１４ａについての光照射部１３ａ及び測光部１２ａのペアで測定されるのは、グループＡＡに属するウェルであり、この光軸１４ａの位置を必ず通過する。光軸１４ｂについての光照射部１３ｂ及び測光部１２ｂのペアで測定されるのは、グループＢＢに属するウェルであり、この光軸１４ｂの位置を必ず通過する。光軸１４ｃについての光照射部１３ｃ及び測光部１２ｃのペアで測定されるのは、グループＣＣに属するウェルであり、この光軸１４ｃの位置を必ず通過する。光軸１４ｄについての光照射部１３ｄ及び測光部１２ｄのペアで測定されるのは、グループＤＤに属するウェルであり、この光軸１４ｄの位置を必ず通過する。光軸１４ｅについての光照射部１３ｅ及び測光部１２ｅのペアで測定されるのは、グループＥＥに属するウェルであり、この光軸１４ｅの位置を必ず通過する。光軸１４ｆについての光照射部１３ｆ及び測光部１２ｆのペアで測定されるのは、グループＦＦに属するウェルであり、この光軸１４ｆの位置を必ず通過する。光軸１４ｇについての光照射部１３ｇ及び測光部１２ｇのペアで測定されるのは、グループＧＧに属するウェルであり、この光軸１４ｇの位置を必ず通過する。光軸１４ｈについての光照射部１３ｈ及び測光部１２ｈのペアで測定されるのは、グループＨＨに属するウェルであり、この光軸１４ｈの位置を必ず通過する。  
【００４７】
光軸１４ｉについての光照射部１３ｉ及び測光部１２ｉのペアで測定されるのは、グループＩＩに属するウェルであり、この光軸１４ｉの位置を必ず通過する。光軸１４ｊについての光照射部１３ｊ及び測光部１２ｊのペアで測定されるのは、グループＪＪに属するウェルであり、この光軸１４ｊの位置を必ず通過する。光軸１４ｋについての光照射部１３ｋ及び測光部１２ｋのペアで測定されるのは、グループＫＫに属するウェルであり、この光軸１４ｋの位置を必ず通過する。光軸１４ｌについての光照射部１３ｌ及び測光部１２ｌのペアで測定されるのは、グループＬＬに属するウェルであり、この光軸１４ｌの位置を必ず通過する。光軸１４ｍについての光照射部１３ｍ及び測光部１２ｍのペアで測定されるのは、グループＭＭに属するウェルであり、この光軸１４ｍの位置を必ず通過する。光軸１４ｎについての光照射部１３ｎ及び測光部１２ｎのペアで測定されるのは、グループＮＮに属するウェルであり、この光軸１４ｎの位置を必ず通過する。光軸１４ｐについての光照射部１３ｐ及び測光部１２ｐのペアで測定されるのは、グループＰＰに属するウェルであり、この光軸１４ｐの位置を必ず通過する。光軸１４ｑについての光照射部１３ｑ及び測光部１２ｑのペアで測定されるのは、グループＱＱに属するウェルであり、この光軸１４ｑの位置を必ず通過する。
【００４８】
このように、各グループは、マイクロプレート１０の回転半径と同じ半径の円の円周上に配置されているウェルを含む。
【００４９】
次に、第２の波長の光についての光照射部１３ａ乃至１３ｑと測光部１２ａ乃至１２ｑにより測定を行う場合に、どのウェルがどの段階で測定されるのかについて図１３Ａ乃至図１４Ｈを用いて説明する。
【００５０】
第１の状態では、図１３Ａ及び図１４Ａに示すように、光軸１４ａの位置では、グループＡＡのウェルは測定されない。光軸１４ｂの位置では、グループＢＢのウェル「ｄ１１」が測定され、光軸１４ｃの位置では、グループＣＣのウェル「ｄ９」が測定され、光軸１４ｄの位置では、グループＤＤのウェル「ｄ７」が測定され、光軸１４ｅの位置では、グループＥＥのウェル「ｄ５」が測定され、光軸１４ｆの位置では、グループＦＦのウェル「ｄ３」が測定され、光軸１４ｇの位置では、グループＧＧのウェル「ｄ１」が測定される。光軸１４ｈの位置では、グループＨＨのウェルは測定されない。
【００５１】
第１の状態では、光軸１４ｉの位置では、グループＩＩのウェルは測定されない。さらに、光軸１４ｊの位置では、グループＪＪのウェル「ｈ１１」が測定され、光軸１４ｋの位置では、グループＫＫのウェル「ｈ９」が測定され、光軸１４ｌの位置では、グループＬＬのウェル「ｈ７」が測定され、光軸１４ｍの位置では、グループＭＭのウェル「ｈ５」が測定され、光軸１４ｎの位置では、グループＮＮのウェル「ｈ３」が測定され、光軸１４ｐの位置では、グループＰＰのウェル「ｈ１」が測定される。第１の状態では、光軸１４ｑの位置では、グループＱＱのウェルは測定されない。
【００５２】
第２の状態を、図１３Ｂ及び図１４Ｂに示す。図１４Ｂにおいて矩形Ｏは、第１の状態におけるマイクロプレート１０の外周矩形を表す。このように、マイクロプレート１０の各辺は移動前後で自身と平行という状態を維持しつつ同一平面内で回転している。そして、光軸１４ａの位置では、グループＡＡのウェルは測定されない。光軸１４ｂの位置では、グループＢＢのウェル「ｄ１２」が測定され、光軸１４ｃの位置では、グループＣＣのウェル「ｄ１０」が測定され、光軸１４ｄの位置では、グループＤＤのウェル「ｄ８」が測定され、光軸１４ｅの位置では、グループＥＥのウェル「ｄ６」が測定され、光軸１４ｆの位置では、グループＦＦのウェル「ｄ４」が測定され、光軸１４ｇの位置では、グループＧＧのウェル「ｄ２」が測定される。さらに、光軸１４ｈの位置では、グループＨＨのウェルは測定されない。
【００５３】
第２の状態では、光軸１４ｉの位置では、グループＩＩのウェルは測定されない。光軸１４ｊの位置では、グループＪＪのウェル「ｈ１２」が測定され、光軸１４ｋの位置では、グループＫＫのウェル「ｈ１０」が測定され、光軸１４ｌの位置では、グループＬＬのウェル「ｈ８」が測定され、光軸１４ｍの位置では、グループＭＭのウェル「ｈ６」が測定され、光軸１４ｎの位置では、グループＮＮのウェル「ｈ４」が測定され、光軸１４ｐの位置では、グループＰＰのウェル「ｈ２」が測定される。光軸１４ｑの位置では、グループＱＱのウェルは測定されない。
【００５４】
第３の状態を、図１３Ｃ及び図１４Ｃに示す。光軸１４ａの位置では、グループＡＡのウェルは測定されない。同じく、光軸１４ｂの位置では、グループＢＢのウェルも測定されない。さらに、光軸１４ｃの位置では、グループＣＣのウェル「ｃ１１」が測定され、光軸１４ｄの位置では、グループＤＤのウェル「ｃ９」が測定され、光軸１４ｅの位置では、グループＥＥのウェル「ｃ７」が測定され、光軸１４ｆの位置では、グループＦＦのウェル「ｃ５」が測定され、光軸１４ｇの位置では、グループＧＧのウェル「ｃ３」が測定され、光軸１４ｈの位置では、グループＨＨのウェル「ｃ１」が測定される。
【００５５】
また、第３の状態では、光軸１４ｉの位置では、グループＩＩのウェルは測定されない。さらに、光軸１４ｊの位置でも、グループＪＪのウェルは測定されない。さらに、光軸１４ｋの位置では、グループＫＫのウェル「ｇ１１」が測定され、光軸１４ｌの位置では、グループＬＬのウェル「ｇ９」が測定され、光軸１４ｍの位置では、グループＭＭのウェル「ｇ７」が測定され、光軸１４ｎの位置では、グループＮＮのウェル「ｇ５」が測定され、光軸１４ｐの位置では、グループＰＰのウェル「ｇ３」が測定され、光軸１４ｑの位置では、グループＱＱのウェル「ｇ１」が測定される。
【００５６】
第４の状態を、図１３Ｄ及び図１４Ｄに示す。光軸１４ａの位置では、グループＡＡのウェルは測定されない。光軸１４ｂの位置でも、グループＢＢのウェルは測定されない。光軸１４ｃの位置では、グループＣＣのウェル「ｂ１１」が測定され、光軸１４ｄの位置では、グループＤＤのウェル「ｂ９」が測定され、光軸１４ｅの位置では、グループＥＥのウェル「ｂ７」が測定され、光軸１４ｆの位置では、グループＦＦのウェル「ｂ５」が測定され、光軸１４ｇの位置では、グループＧＧのウェル「ｂ３」が測定され、光軸１４ｈの位置では、グループＨＨのウェル「ｂ１」が測定される。
【００５７】
また、第４の状態を、光軸１４ｉの位置では、グループＩＩのウェルは測定されない。光軸１４ｊの位置では、グループＪＪのウェルも測定されない。光軸１４ｋの位置では、グループＫＫのウェル「ｆ１１」が測定され、光軸１４ｌの位置では、グループＬＬのウェル「ｆ９」が測定され、光軸１４ｍの位置では、グループＭＭのウェル「ｆ７」が測定され、光軸１４ｎの位置では、グループＮＮのウェル「ｆ５」が測定され、光軸１４ｐの位置では、グループＰＰのウェル「ｆ３」が測定され、光軸１４ｑの位置では、グループＱＱのウェル「ｆ１」が測定される。  
【００５８】
第５の状態を、図１３Ｅ及び図１４Ｅに示す。光軸１４ａの位置では、グループＡＡのウェルは測定されない。光軸１４ｂの位置では、グループＢＢのウェル「ａ１２」が測定され、光軸１４ｃの位置では、グループＣＣのウェル「ａ１０」が測定され、光軸１４ｄの位置では、グループＤＤのウェル「ａ８」が測定され、光軸１４ｅの位置では、グループＥＥのウェル「ａ６」が測定され、光軸１４ｆの位置では、グループＦＦのウェル「ａ４」が測定され、光軸１４ｇの位置では、グループＧＧのウェル「ａ２」が測定される。なお、光軸１４ｈの位置では、グループＨＨのウェルは測定されない。
【００５９】
また、第５の状態では、光軸１４ｉの位置では、グループＩＩのウェルは測定されない。光軸１４ｊの位置では、グループＪＪのウェル「ｅ１２」が測定され、光軸１４ｋの位置では、グループＫＫのウェル「ｅ１０」が測定され、光軸１４ｌの位置では、グループＬＬのウェル「ｅ８」が測定され、光軸１４ｍの位置では、グループＭＭのウェル「ｅ６」が測定され、光軸１４ｎの位置では、グループＮＮのウェル「ｅ４」が測定され、光軸１４ｐの位置では、グループＰＰのウェル「ｅ２」が測定される。光軸１４ｑの位置では、グループＱＱのウェルは測定されない。
【００６０】
第６の状態では、図１３Ｆ及び図１４Ｆに示すように、光軸１４ａの位置では、グループＡＡのウェルは測定されない。また、光軸１４ｂの位置では、グループＢＢのウェル「ａ１１」が測定され、光軸１４ｃの位置では、グループＣＣのウェル「ａ９」が測定され、光軸１４ｄの位置では、グループＤＤのウェル「ａ７」が測定され、光軸１４ｅの位置では、グループＥＥのウェル「ａ５」が測定され、光軸１４ｆの位置では、グループＦＦのウェル「ａ３」が測定される。光軸１４ｇの位置では、グループＧＧのウェル「ａ１」が測定される。光軸１４ｈの位置では、グループＨＨのウェルは測定されない。
【００６１】
また、第６の状態では、光軸１４ｉの位置では、グループＩＩのウェルは測定されない。また、光軸１４ｊの位置では、グループＪＪのウェル「ｅ１１」が測定され、光軸１４ｋの位置では、グループＫＫのウェル「ｅ９」が測定され、光軸１４ｌの位置では、グループＬＬのウェル「ｅ７」が測定され、光軸１４ｍの位置では、グループＭＭのウェル「ｅ５」が測定され、光軸１４ｎの位置では、グループＮＮのウェル「ｅ３」が測定され、光軸１４ｐの位置では、グループＰＰのウェル「ｅ１」が測定される。光軸１４ｑの位置では、グループＱＱのウェルは測定されない。
【００６２】
第７の状態では、図１３Ｇ及び図１４Ｇに示すように、光軸１４ａの位置では、グループＡＡのウェル「ｂ１２」が測定され、光軸１４ｂの位置では、グループＢＢのウェル「ｂ１０」が測定され、光軸１４ｃの位置では、グループＣＣのウェル「ｂ８」が測定され、光軸１４ｄの位置では、グループＤＤのウェル「ｂ６」が測定され、光軸１４ｅの位置では、グループＥＥのウェル「ｂ４」が測定され、光軸１４ｆの位置では、グループＦＦのウェル「ｂ２」が測定される。光軸１４ｇの位置では、グループＧＧのウェルは測定されず、光軸１４ｈの位置でも、グループＨＨのウェルは測定されない。
【００６３】
第７の状態では、光軸１４ｉの位置では、グループＩＩのウェル「ｆ１２」が測定され、光軸１４ｊの位置では、グループＪＪのウェル「ｆ１０」が測定され、光軸１４ｋの位置では、グループＫＫのウェル「ｆ８」が測定され、光軸１４ｌの位置では、グループＬＬのウェル「ｆ６」が測定され、光軸１４ｍの位置では、グループＭＭのウェル「ｆ４」が測定され、光軸１４ｎの位置では、グループＮＮのウェル「ｆ２」が測定される。光軸１４ｐの位置では、グループＰＰのウェルは測定されず、光軸１４ｑの位置でも、グループＱＱのウェルは測定されない。
【００６４】
第８の状態を、図１３Ｈ及び図１４Ｈに示す。そして、光軸１４ａの位置では、グループＡＡのウェル「ｃ１２」が測定され、光軸１４ｂの位置では、グループＢＢのウェル「ｃ１０」が測定され、光軸１４ｃの位置では、グループＣＣのウェル「ｃ８」が測定され、光軸１４ｄの位置では、グループＤＤのウェル「ｃ６」が測定され、光軸１４ｅの位置では、グループＥＥのウェル「ｃ４」が測定され、光軸１４ｆの位置では、グループＦＦのウェル「ｃ２」が測定される。光軸１４ｇの位置では、グループＧＧのウェルが測定されず、光軸１４ｈの位置でも、グループＨＨのウェルは測定されない。
【００６５】
また、第８の状態では、光軸１４ｉの位置では、グループＩＩのウェル「ｇ１２」が測定され、光軸１４ｊの位置では、グループＪＪのウェル「ｇ１０」が測定され、光軸１４ｋの位置では、グループＫＫのウェル「ｇ８」が測定され、光軸１４ｌの位置では、グループＬＬのウェル「ｇ６」が測定され、光軸１４ｍの位置では、グループＭＭのウェル「ｇ４」が測定され、光軸１４ｎの位置では、グループＮＮのウェル「ｇ２」が測定される。光軸１４ｐの位置では、グループＰＰのウェルが測定されず、光軸１４ｑの位置でも、グループＱＱのウェルは測定されない。
【００６６】
このように全てのウェルについて１回転で測定を行うことができる。なお、ウェルの行毎又は列毎に測定されるわけではないので、測定結果を制御部のメモリに格納する際に整列して用いることになる。
【００６７】
このように、２つの波長となった場合には、各ウェルが２種類のグループに属しており、同一グループについては同一の測定位置、すなわち測光部及び光照射部の同一のペアで測定される。
【００６８】
このように測光部及び光照射部のペアを増やせば、１回転中に２種類の波長で測定できる。
【００６９】
次に、図１５乃至図２４を用いて、具体的な構成について説明する。図１５（Ａ）及び（Ｂ）に、プレートキャリア４の上面図及び側面図を示す。プレートキャリア４上に設けられた枠４ｃの内側には、マイクロプレート１０の各ウェルの下部に光照射部からの光を出力するためのホール群４ｆが形成されている。また、枠４ｃには押さえ板４ｄ及び４ｅも設けられており、押さえ板４ｄについてはマイクロプレート１０の上面右側を板ばね式に左側に押しつける役割を有しており、押さえ板４ｅについてはマイクロプレート１０の上面下側を板ばね式に上側に押しつける役割を有している。
【００７０】
なお、プレートキャリア４に温度制御のためのヒータが設けられる場合がある。例えば、プレートキャリア４の底板が複数層に分かれており、ホール群４ｆと同じ位置に穴が開いたシート状のヒータ又は透明ヒータを層間に挟み込むようにしても良い。また、プレートキャリア４の底板に溝を切って、ケーブル状のヒータを埋め込む場合もある。場合によっては、プレートキャリア４上部に設けられる蓋側にシート状のヒータを設ける場合もある。また、マイクロプレート１０を直接暖めるのではなく、マイクロプレート１０の周辺の空気を暖めるようにヒータを設けるようにしても良い。
【００７１】
また、図１６（Ａ）及び（Ｂ）に、マイクロプレート１０をプレートキャリア４に載置した際の状態における上面図及び側面図を示す。プレートキャリア４の枠４ｃ内に載置されているマイクロプレート１０は、８行１２列の９６ウェル１０ｂが形成されているマイクロプレートであり、各ウェルの下部には図１５（Ａ）に示したようにホールが形成されている。なお、各ウェルには、液体が注入される。
【００７２】
さらに、図１７に、測定装置の蓋を外した状態で、蓋の下部に設けられる測光部列２１及び２２と、マイクロプレート１０が載置されているプレートキャリア４との関係を上面図として示している。この図では、２波長測定の場合における測光部列２１及び２２が示されており、測光部列２１には、図１０Ｂの上段に示すように、右から、測光部１２ａ，８ａ，１２ｂ，８ｂ，１２ｃ，８ｃ，１２ｄ，８ｄ，１２ｅ，８ｅ，１２ｆ，８ｆ，１２ｇ，８ｇ，１２ｈが設けられている。さらに、測光部列２２には、図１０Ｂの下段に示すように、右から、測光部１２ｉ，８ｈ，１２ｊ，８ｉ，１２ｋ，８ｊ，１２ｌ，８ｋ，１２ｍ，８ｌ，１２ｎ，８ｍ，１２ｐ，８ｎ，１２ｑが設けられている。
【００７３】
図１７に示した上面図に対して測光部列２１の中央における断面図を図１８に示す。測光部列２１の最上部には、上で述べたように、右から、フォトダイオードである測光部１２ａ，８ａ，１２ｂ，８ｂ，１２ｃ，８ｃ，１２ｄ，８ｄ，１２ｅ，８ｅ，１２ｆ，８ｆ，１２ｇ，８ｇ，１２ｈが設けられている。各測光部の下にはレンズ２１ｂ（スペースの都合から測光部１２ａの下部のみに参照符号を付与しているが全て同じ）が設けられており、光照射部から射出され且つマイクロプレート１０のウェルに分注された試料を通過した光を測光部に集光する。なお、レンズ２１ｂの下部には、レンズ２１ｂに併せてホールが形成されているカバー２１ｃも設けられている。
【００７４】
また、測光部列２１の直下には、光照射部列３１が設けられている。測光部列２２の直下にも、光照射部列３２が設けられている。光照射部列３１の最下部には、右から、光照射部１３ａ，９ａ，１３ｂ，９ｂ，１３ｃ，９ｃ，１３ｄ，９ｄ，１３ｅ，９ｅ，１３ｆ，９ｆ，１３ｇ，９ｇ，１３ｈが設けられている。各光照射部の上には、レンズ３１ｂ（スペースの都合から光照射部１３ａの上部のみに参照符号を付与しているが全て同じ）が設けられており、プレートキャリア４のホール４ｆに光照射部からの光を集光するようになっている。なお、レンズ３１ｂの上部には、レンズ３１ｂに併せてホールが形成されているカバー３１ｃも設けられている。
【００７５】
また、光照射部１３ａ，１３ｂ，１３ｃ，１３ｄ，１３ｅ，１３ｆ，１３ｇ，１３ｈには、第２の波長の光を出力するＬＥＤ（Light Emitting Diode）光源からの第２の波長の光が例えば光ファイバで分配されており、このＬＥＤ光源から出力される光がこれらの光照射部から出力される。同様に、光照射部９ａ，９ｂ，９ｃ，９ｄ，９ｅ，９ｆ，９ｇには、第１の波長の光を出力するＬＥＤ光源からの第１の波長の光が例えば光ファイバで分配されており、このＬＥＤ光源から出力される光がこれらの光照射部から出力される。
【００７６】
但し、光照射部１３ａ，１３ｂ，１３ｃ，１３ｄ，１３ｅ，１３ｆ，１３ｇ，１３ｈ自身が第２の波長の光を出力するＬＥＤである場合もある。また、光照射部９ａ，９ｂ，９ｃ，９ｄ，９ｅ，９ｆ，９ｇも自身が第１の波長の光を出力するＬＥＤである場合もある。
【００７７】
なお、このような単色光源を用いるだけではなく、図１９に示すようにランプ又は白色ＬＥＤ光源４４を用いるようにしても良い。ランプ又は白色ＬＥＤ光源４４を用いる場合には、ビームスプリッタ４３にて、光照射部１３ａ，１３ｂ，１３ｃ，１３ｄ，１３ｅ，１３ｆ，１３ｇ，１３ｈ，１３ｉ，１３ｊ，１３ｋ，１３ｌ，１３ｍ，１３ｎ，１３ｐ，１３ｑのためのバンドバスフィルタ４２ａの方向と、光照射部９ａ，９ｂ，９ｃ，９ｄ，９ｅ，９ｆ，９ｇ，９ｈ，９ｉ，９ｊ，９ｋ，９ｌ，９ｍ，９ｎのためのバンドパスフィルタ４２ｂの方向とに光を分割する。バンドパスフィルタ４２ａは、第２の波長の光を通過させ、通過した光はレンズ４１ａで光ファイバ４６ａの端部４５ａに集光される。そして、光ファイバ４６ａを介して、光照射部１３ａ，１３ｂ，１３ｃ，１３ｄ，１３ｅ，１３ｆ，１３ｇ，１３ｈ，１３ｉ，１３ｊ，１３ｋ，１３ｌ，１３ｍ，１３ｎ，１３ｐ，１３ｑから第２の波長の光が出力される。
【００７８】
同様に、バンドパスフィルタ４２ｂは、第１の波長の光を通過させ、通過した光はレンズ４１ｂで光ファイバ４６ｂの端部４５ｂに集光される。そして、光ファイバ４６ｂを介して、光照射部９ａ，９ｂ，９ｃ，９ｄ，９ｅ，９ｆ，９ｇ，９ｈ，９ｉ，９ｊ，９ｋ，９ｌ，９ｍ，９ｎから第１の波長の光が出力される。
【００７９】
上では、２波長測定でもマイクロプレート１０の１回転で１回の測定を完了させる場合の構成例を示したが、２回転で１回の測定を完了させるような構成を採用する場合もある。
【００８０】
この場合には、基本的には図１に示した斜視図のような構成となり、図１８の断面図は、図２０に示すような断面図となる。図２０に示すように、マイクロプレート１０のウェル１つおきに光照射部９と測光部８とのペアが設けられるようになる。そして、光照射部９に接続される光ファイバの光源側の構成は、以下に示すようになる。
【００８１】
図２１の例では、第１の波長の発光素子（例えばＬＥＤ）と第２の波長の発光素子とを含み個別に点灯制御を行うことができる２色光源６１を設け、当該２色光源６１から発せられた光をレンズ６２で光ファイバ６４の端部６３に集光させる。光ファイバ６４の他端は、光照射部９ａ，９ｂ，９ｃ，９ｄ，９ｅ，９ｆ，９ｇ，９ｈ，９ｉ，９ｊ，９ｋ，９ｌ，９ｍ，９ｎに接続されている。すなわち、マイクロプレート１０の１回転目では、第１の波長の光で測定を行い、マイクロプレート１０の２回転目では、第２の波長の光で測定を行う。
【００８２】
なお、このような２色光源を、光照射部９ａ，９ｂ，９ｃ，９ｄ，９ｅ，９ｆ，９ｇ，９ｈ，９ｉ，９ｊ，９ｋ，９ｌ，９ｍ，９ｎに設置するようにしても良い。
【００８３】
また、図２２のような構成を採用するようにしても良い。図２２の例では、第１の波長の光源７１ａと、光源７１ａから出力された光を集光するレンズ７２ａと、第２の波長の光源７１ｂと、光源７１ｂから出力された光を集光するレンズ７２ｂと、２経路の光ファイバ７３ａ及び７３ｂが内蔵されたスライド７３とを用いる。スライド７３から出力された光は、光ファイバ７５の端部７４から入力され、光照射部９ａ，９ｂ，９ｃ，９ｄ，９ｅ，９ｆ，９ｇ，９ｈ，９ｉ，９ｊ，９ｋ，９ｌ，９ｍ，９ｎから出力される。このような構成の場合、第１の波長の光で測定する場合には、光源７１ａを点灯させ、光ファイバ７３ａの出力側と光ファイバ７５の端部７４との位置を合わせるようにスライド７３を移動させて、光照射部９ａ，９ｂ，９ｃ，９ｄ，９ｅ，９ｆ，９ｇ，９ｈ，９ｉ，９ｊ，９ｋ，９ｌ，９ｍ，９ｎから第１の波長の光を出力させる。また、第２の波長の光で測定する場合には、光源７１ｂを点灯させ、光ファイバ７３ｂの出力側と光ファイバ７５の端部７４との位置を併せるようにスライド７３を移動させて、光照射部９ａ，９ｂ，９ｃ，９ｄ，９ｅ，９ｆ，９ｇ，９ｈ，９ｉ，９ｊ，９ｋ，９ｌ，９ｍ，９ｎから第２の波長の光を出力させる。
【００８４】
さらに、図２３のような構成を採用するようにしても良い。図２３の例では、第１の波長の光源８１ａと、光源８１ａから出力された光を集光するレンズ８２ａと、第２の波長の光源８１ｂと、光源８１ｂから出力された光を集光するレンズ８２ｂと、レンズ８２ａで集光された第１の波長の光を通過させる第１の分岐とレンズ８２ｂで集光された第２の波長の光を通過させる第２の分岐とを有する光ファイバ８３とを用いる。光ファイバ８３は、光ファイバ８５の端部８４に接続されている。このような構成の場合、第１の波長の光で測定する場合には、光源８１ａを点灯させて、レンズ８２ａ、光ファイバ８３の第１の分岐と、光ファイバ８５を介して、光照射部９ａ，９ｂ，９ｃ，９ｄ，９ｅ，９ｆ，９ｇ，９ｈ，９ｉ，９ｊ，９ｋ，９ｌ，９ｍ，９ｎから光を出力させる。また、第２の波長の光で測定する場合には、光源８１ｂを点灯させて、レンズ８２ｂ、光ファイバ８３の第２の分岐と、光ファイバ８５を介して、光照射部９ａ，９ｂ，９ｃ，９ｄ，９ｅ，９ｆ，９ｇ，９ｈ，９ｉ，９ｊ，９ｋ，９ｌ，９ｍ，９ｎから光を出力させる。
【００８５】
さらに、図２４のような構成を採用するようにしても良い。図２４の例では、ランプ又は白色ＬＥＤ光源９１と、光源９１から出力された光を集光するレンズ９２と、第１の波長の光を通過させる第１のフィルタ９３ａと第２の波長の光を通過させる第２のフィルタ９３ｂとを有するフィルタスライド９３とを用いる。フィルタスライド９３から出力された光は、光ファイバ９５の端部９４から入力され、光照射部９ａ，９ｂ，９ｃ，９ｄ，９ｅ，９ｆ，９ｇ，９ｈ，９ｉ，９ｊ，９ｋ，９ｌ，９ｍ，９ｎから出力される。第１の波長の光で測定する場合には、第１のフィルタ９３ａがレンズ９２の正面になるようにフィルタスライド９３を移動させて、第１のフィルタ９３ａからの出力光を、光ファイバ９５を介して、光照射部９ａ，９ｂ，９ｃ，９ｄ，９ｅ，９ｆ，９ｇ，９ｈ，９ｉ，９ｊ，９ｋ，９ｌ，９ｍ，９ｎから出力させる。第２の波長の光で測定する場合には、第２のフィルタ９３ｂがレンズ９２の正面になるようにフィルタスライド９３を移動させて、第２のフィルタ９３ｂからの出力光を、光ファイバ９５を介して、光照射部９ａ，９ｂ，９ｃ，９ｄ，９ｅ，９ｆ，９ｇ，９ｈ，９ｉ，９ｊ，９ｋ，９ｌ，９ｍ，９ｎから出力させる。
【００８６】
次に、本実施の形態に係る測定装置の制御部に関連する部分について、図２５を用いて説明する。制御部１００は、測光部８ａ乃至８ｎを含む第１測光部群と、測光部１２ａ乃至１２ｑを含む第２測光部群と、モータ１と、ヒータ１３０と、温度センサ１４０と、データ格納部１１０と、１又は複数の光源１２０とが接続されている。また、制御部１００は、データ整列部１０１と、モータ制御部１０２と、温度制御部１０３と、光源制御部１０４と、分析処理部１０５と、入出力部１０６とを有する。
【００８７】
制御部１００は、入出力部１０６からユーザの指示を受け付けて、測定装置の制御を行う。場合によっては、測定装置にネットワークを介して接続されている他の装置から遠隔制御される場合もある。
【００８８】
データ整列部１０１は、モータ制御部１０２及び光源制御部１０４と連携して、各測光部から測定値を受け取り、マイクロプレート１０のウェル位置と対応付けてデータ格納部１１０に格納する処理を実施する。モータ制御部１０２は、モータ１の回転角度を制御する。温度制御部１０３は、温度センサ１４０において測定された温度データに基づきヒータ１３０を制御することで、測定装置内を予め設定された温度に維持する動作を行う。また、光源制御部１０４は、１又は複数の光源１２０の点灯を制御する。なお、図２２や図２４のようなスライドを用いる場合には、光源制御部１０４は、スライド７３又はフィルタスライド９３を適切な位置に移動させる動作をも行わせる。また、図２１や図２３のような場合には、モータ１の回転に併せていずれかの波長の光を出力させるように点灯制御を行う。
【００８９】
さらに、モータ制御部１０２は、マイクロプレート１０の各ウェルに分注されている液体の撹拌動作をも行わせる。例えば、測定直前に、１０度程度回転させて回転方向を切り替えて、さらに１０度程度回転させて回転方向を切り替えてというような動作を所定時間（例えば数十秒）繰り返し行わせることで、撹拌動作を実施する。なお、一定方向で連続回転させることにより又は間欠的に回転させることにより撹拌する場合もある。
【００９０】
また、データ整列部１０１は、図５Ａ乃至図５Ｈ及び図６Ａ乃至図６Ｈを用いて説明したように、各状態でどの測光部からどのウェルの測定値が得られるかは予め分かっているので、例えば２次元配列Ｄ（ｘ，ｙ）に、得られた測定値を格納する。例えば第１の状態では、測光部８ａからウェル「ｄ１２」の測定値が得られるので、配列Ｄ（４，１２）にこの測定値を格納する。同様に、測光部８ｂからウェル「ｄ１０」の測定値が得られるので、配列Ｄ（４，１０）にこの測定値を格納する。以下同様に第８の状態まで処理すれば、配列Ｄ（ｘ，ｙ）（１≦ｘ≦８，１≦ｙ≦１２）が埋められる。
【００９１】
図１３Ａ乃至図１３Ｈ及び図１４Ａ乃至図１４Ｈを用いる場合には、例えば２つの２次元配列を用意して第１の波長の光による測定値と第２の波長の光による測定値とを格納するようにしても良い。
【００９２】
なお、測定は、例えば３０分間に、３０乃至４５秒間隔で複数回実施する場合もある。
【００９３】
分析処理部１０５は、データ格納部１１０に格納された測定結果を用いて、予め定められた演算を行い、演算結果をデータ格納部１１０に格納する。
【００９４】
例えば、分析処理部１０５は、測定結果に基づき各測定タイミングにおける吸光度を算出し、当該吸光度の変化速度をさらに算出して、予め得られている吸光度の変化速度とある物質の濃度との関係を表すデータから、ウェル内の液体のある物質の濃度を特定し、データ格納部１１０に格納する。なお、他の手法による濃度の定量を行うようにしても良い。
【００９５】
入出力部１０６は、データ格納部１１０に格納されている各種データを、ユーザからの指示に応じて出力する。
【００９６】
以上本発明の実施の形態を説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。
【００９７】
上で述べた例では８×１２＝９６ウェルのマイクロプレート１０を測定する測定装置の例を示したが、他の種類のマイクロプレート１０を測定する測定装置へ変形することも可能である。但し、４行毎に測光部及び光照射部のペアを１行設けると、測光部及び光照射部のペアの数をあまり増加させずに測定装置を構成できる。
【００９８】
また、４行毎に測光部及び光照射部のペアを１行設けるのは好ましい一例に過ぎない。図２６に示すように、８×１２＝９６ウェルのマイクロプレート１０を測定する場合に、２行毎に測光部及び光照射部のペアを設けて、点線の円の円周上に配置されているウェルを１グループとして測定を行うようにしても良い。さらに、重複して測定することになるが、図２７に示すように、８行分の直径を有する円でグループ分けを行うようにしてもよい。図２７の例では、ウェルに付された番号が所属するグループを表し、全部で１６のグループに分けられ、各グループに１つの測光部及び光照射部のペアが設けられれば、１つの波長の光について測定することができる。他のグループ分けも可能である。さらに、３行毎、５行毎などマイクロプレート１０の一辺に含まれるウェルの数の約数以外の数でグループ分けを行う場合もある。
【００９９】
その他、本実施の形態のようにマイクロプレート１０の全てのウェルが同じ回転半径で回転するようにマイクロプレート１０全体を回転させる機構については、他の手法を用いるようにしても良い。また、測光部と光照射部の位置関係を反転させるようにしても良い。さらに、透過光だけではなく蛍光などを測定する場合には、図２８に示すように、マイクロプレート１０の上側又は下側に測光部及び光照射部の両方を設けるようにしても良い。図２８の例では、上側に、測光部８ａ乃至８ｇ（隠れていて図示せず）と対応する光照射部９ａ乃至９ｇ（隠れていて図示せず）とのペアと、測光部８ｈ乃至８ｎと対応する光照射部９ｈ乃至９ｎとのペアとが設けられるようになっている。さらに、光学的特性が例えば化学発光量の場合、光照射部を設けない又は用いない場合もある。なお、図２９に示すように、リファレンス用の光照射部と測定部とのペア１５１を用いるようにしてもよい。これにより、光源の光量をモニタリングして測定中に光量が変化した場合に測定値を補正するなどの処理が可能となる。
【０１００】
さらに、１つの波長による測定及び２つの波長による測定を行う場合を示したが、２つの波長を２回転で測定する手法を変形すれば、３つの波長を３回転で測定したり、４つの波長を４回転で測定するようにしても良い。
【０１０１】
また、制御部１００の少なくとも一部は、プロセッサとプロセッサで実行されるプログラムとの組み合わせにて実現される場合もある。データ格納部１１０は、半導体メモリの場合もあればハードディスクなどの記憶装置の場合もある。
【０１０２】
以上述べた本発明の実施の形態をまとめると、本実施の形態に係る測定装置は、（Ａ）整列配置された複数のウェルを有するマイクロプレートを、複数のウェルの各々が同一の半径を有する異なる第１の円（例えば図４の円９１乃至９８）の円周上を回転するように、同一平面上で回転させる機構（例えばモータ１とアーム２と第２の回転軸３など）と、（Ｂ）複数のウェルのうち、予め定められたウェルの集合に含まれる各ウェルに保持されている液体の光学的特性を測定する測光部を各々有する複数の測定部とを有する。そして、複数の測定部の各々について、当該測定部に含まれる測光部の配置に基づき１つの測定位置が決まっており、上記機構による回転により１つの測定位置を順次通過し且つプレート上で上記半径を有する１の第２の円（例えば図３において縁に同一のハッチングが付されたウェル群の中心を繋ぐ円、図２６及び図２７における円）の円周上に配置されているウェルの集合に対して、複数の測定部のうち少なくとも１つが設けられている。なお、複数の測定部の各々が、プレートに対して垂直方向に光を照射する光照射部をさらに含むようにしても良い。
【符号の説明】
【０１０３】
１  モータ
２  アーム
３  第１の回転軸
４  プレートキャリア
５  第２の回転軸
６  アーム
７  第３の回転軸
８  測光部
９  光照射部
１０  マイクロプレート
１２  測光部
１３  光照射部
１００  制御部
【図１】
2013210351.tif 000003
【図２】
2013210351.tif 000004
【図３】
2013210351.tif 000005
【図４】
2013210351.tif 000006
【図５Ａ】
2013210351.tif 000007
【図５Ｂ】
2013210351.tif 000008
【図５Ｃ】
2013210351.tif 000009
【図５Ｄ】
2013210351.tif 000010
【図５Ｅ】
2013210351.tif 000011
【図５Ｆ】
2013210351.tif 000012
【図５Ｇ】
2013210351.tif 000013
【図５Ｈ】
2013210351.tif 000014
【図６Ａ】
2013210351.tif 000015
【図６Ｂ】
2013210351.tif 000016
【図６Ｃ】
2013210351.tif 000017
【図６Ｄ】
2013210351.tif 000018
【図６Ｅ】
2013210351.tif 000019
【図６Ｆ】
2013210351.tif 000020
【図６Ｇ】
2013210351.tif 000021
【図６Ｈ】
2013210351.tif 000022
【図７】
2013210351.tif 000023
【図８Ａ】
2013210351.tif 000024
【図８Ｂ】
2013210351.tif 000025
【図８Ｃ】
2013210351.tif 000026
【図８Ｄ】
2013210351.tif 000027
【図８Ｅ】
2013210351.tif 000028
【図８Ｆ】
2013210351.tif 000029
【図８Ｇ】
2013210351.tif 000030
【図８Ｈ】
2013210351.tif 000031
【図９】
2013210351.tif 000032
【図１０Ａ】
2013210351.tif 000033
【図１０Ｂ】
2013210351.tif 000034
【図１１】
2013210351.tif 000035
【図１２】
2013210351.tif 000036
【図１３Ａ】
2013210351.tif 000037
【図１３Ｂ】
2013210351.tif 000038
【図１３Ｃ】
2013210351.tif 000039
【図１３Ｄ】
2013210351.tif 000040
【図１３Ｅ】
2013210351.tif 000041
【図１３Ｆ】
2013210351.tif 000042
【図１３Ｇ】
2013210351.tif 000043
【図１３Ｈ】
2013210351.tif 000044
【図１４Ａ】
2013210351.tif 000045
【図１４Ｂ】
2013210351.tif 000046
【図１４Ｃ】
2013210351.tif 000047
【図１４Ｄ】
2013210351.tif 000048
【図１４Ｅ】
2013210351.tif 000049
【図１４Ｆ】
2013210351.tif 000050
【図１４Ｇ】
2013210351.tif 000051
【図１４Ｈ】
2013210351.tif 000052
【図１５】
2013210351.tif 000053
【図１６】
2013210351.tif 000054
【図１７】
2013210351.tif 000055
【図１８】
2013210351.tif 000056
【図１９】
2013210351.tif 000057
【図２０】
2013210351.tif 000058
【図２１】
2013210351.tif 000059
【図２２】
2013210351.tif 000060
【図２３】
2013210351.tif 000061
【図２４】
2013210351.tif 000062
【図２５】
2013210351.tif 000063
【図２６】
2013210351.tif 000064
【図２７】
2013210351.tif 000065
【図２８】
2013210351.tif 000066
【図２９】
2013210351.tif 000067