(57)【要約】    【課題】  測定対象物であるセメント硬化体にひずみゲージを簡便に貼り付けることができ、且つ、精度良くひずみを測定し得るひずみ測定装置を提供することにある。    【解決手段】  セメント硬化体のひずみを測定するためのひずみ測定装置であって、  該セメント硬化体に生じるひずみを電気信号に変換するひずみゲージと、該ひずみゲージよりも大面積なシリコーンゴムシートとが積層され、且つ、前記ひずみゲージが前記シリコーンゴムシートを介して前記セメント硬化体に貼り付けられることで該セメント硬化体に生じるひずみを電気信号に変換する検知部を備えてなり、該シリコーンゴムシートの厚みが０．０５〜０．４ｍｍであることを特徴とするひずみ測定装置を提供する。【選択図】  図１
2013210251.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
セメント硬化体のひずみを測定するためのひずみ測定装置であって、
該セメント硬化体に生じるひずみを電気信号に変換するひずみゲージと、該ひずみゲージよりも大面積なシリコーンゴムシートとが積層され、且つ、前記ひずみゲージが前記シリコーンゴムシートを介して前記セメント硬化体に貼り付けられることで該セメント硬化体に生じるひずみを電気信号に変換する検知部を備えてなり、該シリコーンゴムシートの厚みが０．０５〜０．４ｍｍであることを特徴とするひずみ測定装置。
【請求項２】
前記シリコーンゴムシートの硬度が４０°以上である請求項１記載のひずみ測定装置。
【請求項３】
セメント硬化体のひずみを測定するひずみ測定方法であって、
該セメント硬化体に生じるひずみを電気信号に変換するひずみゲージを、該ひずみゲージよりも大面積なシリコーンゴムシートを介して、前記セメント硬化体に貼り付ける工程を有し、該シリコーンゴムシートの厚みが０．０５〜０．４ｍｍであることを特徴とするひずみ測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ひずみ測定装置、及び、ひずみ測定方法に関し、具体的には、ひずみゲージを備えているひずみ測定装置、及び、セメントが硬化されて得られるセメント硬化体のひずみをひずみゲージで測定するひずみ測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、コンクリートは、打設時には流動しやすい状態となっているが、打設時から時間が経つにつれて徐々に硬化する。この硬化の過程で、コンクリートは、収縮或いは膨張をすることがある。収縮や膨張はコンクリートのひび割れの原因となるので、コンクリートは、硬化しても収縮或いは膨張が生じ難いことが望ましい。
【０００３】
硬化しても収縮或いは膨張し難いコンクリートの配合の調査等の目的で、コンクリートの収縮或いは膨張の指標となるひずみを測定することが行われている。
【０００４】
従来、コンクリートのひずみの測定には、コンクリートに貼り付けられることで該コンクリートに生じるひずみを電気信号に変換するひずみゲージと、該電気信号を数値化して前記ひずみとして表示する表示部と、前記ひずみゲージで得られた電気信号を前記表示部に送信するための導線とを備えているひずみ測定装置が用いられている。該ひずみゲージは、コンクリートに生じるひずみを電気信号に変換する金属抵抗体と、該金属抵抗体に積層された絶縁シートとを備えた構成となっている。
【０００５】
このひずみ測定装置を用いたコンクリートのひずみの測定方法では、コンクリートの表面にひずみゲージを貼り付けることで、該コンクリートに生じたひずみを前記金属抵抗体で電気信号に変換し、前記金属抵抗体から前記表示部に前記電気信号を送信して、該電気信号をひずみとして前記表示部で表示する。
【０００６】
通常、コンクリートのひずみの測定の際には、コンクリートに水分が含まれている状態で、コンクリートにひずみゲージが貼り付けられることとなる。一方で、ひずみゲージの金属抵抗体は、水分に接触するとこの水分由来の電気信号が生じ、それにより、コンクリートのひずみの測定を精度よく実施することができなくなる虞がある。
従って、従来、ひずみゲージをコンクリートに貼り付ける方法としては、コンクリートの表面に、ペースト状の充填材（例えば、ニトロセルロース、アルキド樹脂、顔料、可塑剤、及び、溶剤からなる充填材）を所定の厚みで塗布する工程と、該充填材を乾燥させる工程と、乾燥した該充填材の表面に、接着剤（エポキシ樹脂、ポリエステル、及びシアノアクリレートを主成分とした接着剤）を介してひずみゲージを貼り付ける工程とを有する方法が用いられている（例えば、特許文献１）。
このような方法でひずみゲージをコンクリートに貼り付けることにより、前記充填材が防水部材の役割をして、コンクリートに含まれる水が、ひずみゲージの金属抵抗体に接触し難くなり、コンクリートのひずみを精度良く測定することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００９−２０９６０１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、斯かる方法では、ペースト状の充填材をコンクリート表面に塗布し、該充填材を乾燥させる必要があるので、手間及び時間を要するという問題がある。また、充填材の厚みが不均一であると、精度良くひずみを測定することが難しく、一方、充填材の厚みが均一になるように充填材をコンクリートに塗布するには熟練の技術を要するので、この方法でひずみを測定できる者が限られてしまうという問題もある。
また、このような問題は、コンクリートのひずみの測定に限らず、コンクリート以外のセメント硬化体のひずみの測定においても生じ得る。
【０００９】
本発明は、上記問題点に鑑み、測定対象物であるセメント硬化体にひずみゲージを簡便に貼り付けることができ、且つ、精度良くひずみを測定し得るひずみ測定装置、及び、ひずみ測定方法を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は、セメント硬化体のひずみを測定するためのひずみ測定装置であって、
該セメント硬化体に生じるひずみを電気信号に変換するひずみゲージと、該ひずみゲージよりも大面積なシリコーンゴムシートとが積層され、且つ、前記ひずみゲージが前記シリコーンゴムシートを介して前記セメント硬化体に貼り付けられることで該セメント硬化体に生じるひずみを電気信号に変換する検知部を備えてなり、該シリコーンゴムシートの厚みが０．０５〜０．４ｍｍであることを特徴とするひずみ測定装置にある。
【００１１】
さらに、本発明は、セメント硬化体のひずみを測定するひずみ測定方法であって、
該セメント硬化体に生じるひずみを電気信号に変換するひずみゲージを、該ひずみゲージよりも大面積なシリコーンゴムシートを介して、前記セメント硬化体に貼り付ける工程を有し、該シリコーンゴムシートの厚みが０．０５〜０．４ｍｍであることを特徴とするひずみ測定方法にある。
【００１２】
斯かるひずみ測定装置及びひずみ測定方法によれば、シリコーンゴムシートの厚みが０．０５ｍｍ以上であり、且つ、ひずみゲージよりも大面積なシリコーンゴムシートが、ひずみゲージとセメント硬化体との間に介在するので、セメント硬化体に含まれる水が、ひずみゲージの金属抵抗体に接触し難くなり、その結果、精度良くひずみを測定することができる。
また、シリコーンゴムシートを用いる分、均一に塗布することが要求される充填材の塗布工程を省いても、ひずみゲージの金属抵抗体にセメント硬化体の水を接触し難くしつつ、セメント硬化体へのひずみゲージの貼り付けが容易となる。
さらに、シリコーンゴムシートの厚みが０．４ｍｍ以下であることにより、精度良くひずみを測定することができる。
従って、斯かるひずみ測定装置及びひずみ測定方法によれば、測定対象物であるセメント硬化体にひずみゲージを簡便に貼り付けることができ、且つ、精度良くひずみを測定し得る。
【発明の効果】
【００１３】
以上のように、本発明によれば、測定対象物であるセメント硬化体にひずみゲージを簡便に貼り付けることができ、且つ、精度良くひずみを測定し得るひずみ測定装置、及び、ひずみ測定方法を提供し得る。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】一実施形態に係るひずみ測定装置の検知部がセメント硬化体に貼り付けられた状態の一態様を示す概略図。
【図２】実施例、及び基準例のひずみ測定方法で測定したコンクリートのひずみを示す図（厚み０．２ｍｍにおいて、硬度がひずみに与える影響を示す図。）。
【図３】実施例、比較例、及び基準例のひずみ測定方法で測定したコンクリートのひずみを示す図（硬度５０°において、厚みがひずみに与える影響を示す図。）。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、添付図面を参照しつつ、本発明の一実施形態について説明する。
【００１６】
本実施形態に係るひずみ測定装置は、セメント硬化体のひずみを測定するための装置であり、図１に示すように、該セメント硬化体２に生じるひずみを電気信号に変換するひずみゲージ１１に導線１４が接続された導線付きひずみゲージと、該ひずみゲージ１１よりも大面積で該ひずみゲージに積層されたシリコーンゴムシート１２とを有し、且つ、前記ひずみゲージ１１が前記シリコーンゴムシート１２を介して前記セメント硬化体２に貼り付けられることで該セメント硬化体２に生じるひずみを電気信号に変換する検知部１を備えている。
また、本実施形態に係るひずみ測定装置は、前記電気信号を数値化して前記ひずみとして表示する表示部（図示せず）を備えている。
さらに、本実施形態に係るひずみ測定装置は、前記検知部１の前記導線１４と、前記表示部とを電気的に接続して、ひずみゲージ１１で得られた電気信号を前記表示部に送信するためのリード線（図示せず）を備えた信号送信部をさらに有している。
【００１７】
前記ひずみゲージ１１は、前記ひずみを電気信号に変換する金属抵抗体（図示せず）と、該金属抵抗体（図示せず）を保護する絶縁シート１１ａとを備えてなる。
【００１８】
該絶縁シート１１ａの厚みは、好ましくは０．０２〜０．４ｍｍ、より好ましくは０．０５〜０．２ｍｍである。
本実施形態に係るひずみ測定装置は、該厚みが０．０２ｍｍ以上であることにより、破れ難くなるという利点があり、該厚みが０．４ｍｍ以下であることにより、ひずみの検出精度が高まるという利点がある。
【００１９】
前記絶縁シート１１ａを構成する電気絶縁物としては、従来公知のひずみゲージ用の絶縁シートを構成する電気絶縁物として用いられるものが挙げられ、例えば、ポリエステル、ポリイミド、エポキシ樹脂等が挙げられる。
【００２０】
前記金属抵抗体しては、従来公知のひずみゲージ用の金属抵抗体として用いられるものが挙げられ、例えば、銅とニッケルとの合金、ニッケルとクロムとの合金等で構成された金属箔又は金属線等が挙げられる。
【００２１】
前記導線１４としては、従来公知のひずみゲージに接続される導線として用いられるものが挙げられ、例えば、銅、アルミニウム、銅とアルミニウムとの合金等で構成された金属線等が挙げられる。
【００２２】
前記シリコーンゴムシート１２は、厚みは、０．０５〜０．４ｍｍ、好ましくは０．１〜０．３ｍｍ、より好ましくは０．１〜０．２ｍｍである。
なお、本明細書においては、シリコーンゴムシート１２の長手方向の全長さを該長手方向に５等分した間隔において厚みをノギスで測定し、求められた各測定値の算術平均値をシリコーンゴムシート１２の厚みとする。
また、前記シリコーンゴムシート１２は、好ましくは硬度が、４０°以上、より好ましくは５０°以上である。本実施形態に係るひずみ測定装置は、シリコーンゴムシート１２の硬度が４０°以上であることにより、精度良くひずみを測定することができるという利点がある。
なお、本明細書において、硬度は、デュロメータ（ＪＩＳ  Ｋ  ６２５３：２００６に準拠したタイプＡ）により測定したものを意味する。
さらに、該シリコーンゴムシート１２は、ひずみゲージ１１の片面全体を覆うようひずみゲージ１１に積層されている。
図１を参照しつつ、より具体的に説明すると、図１に例示の態様においては、絶縁シート１１ａの一面側に金属抵抗体が設けられており、前記シリコーンゴムシート１２は、前記金属抵抗体が設けられている面とは反対側の他面側において前記絶縁シート１１ａに接着されて積層されている。しかも、前記シリコーンゴムシート１２と絶縁シート１１ａとは、該絶縁シート１１ａの外縁よりも外側に前記シリコーンゴムシート１２が延出するように積層されている。
なお、前記シリコーンゴムシート１２は、前記絶縁シート１１ａに直接積層されてはおらず、接着剤を介して積層されている。すなわち、本実施形態に係るひずみ測定装置は、前記シリコーンゴムシート１２と前記絶縁シート１１ａとの間に、接着剤層１３を有している。
該接着剤としては、いわゆる瞬間接着剤が挙げられ、具体的には、シアノアクリレート、有機アミン化合物、及び、有機溶剤ノルマルヘプタンの混合物等が挙げられる。この混合物としては、セメダイン社製の「セメダインＰＰＸセット」が挙げられ、「セメダインＰＰＸセット」は、シアノアクリレートを９３質量％含有する接着成分と、有機アミン化合物１質量％と有機溶剤ノルマルヘプタン９９質量％とを含有するプライマーで構成される。
なお、図１の態様では、本実施形態に係るひずみ測定装置は、前記ひずみゲージ１１の片面側のみに前記シリコーンゴムシート１２が積層されているが、前記ひずみゲージの両面に前記シリコーンゴムシートが積層されていてもよい。斯かるひずみ測定装置は、前記ひずみゲージ１１の両面に前記シリコーンゴムシート１２が積層されていることにより、セメント硬化体に含まれている水分や、ひずみの測定を実施する環境の空気に含まれる水分等にひずみゲージがより一層接触し難くなり、その結果、より一層精度良くひずみを測定することができるという利点がある。
【００２３】
前記表示部は、導線１４に接続されており、前記金属抵抗体で得られた電気信号が該導線１４を介して伝達され、該電気信号をひずみとして表示するように構成されている。該表示部は、例えば、データロガー等で構成させる事が出来る。
【００２４】
次に、本実施形態に係るひずみ測定方法について説明する。
【００２５】
本実施形態に係るひずみ測定方法は、前記ひずみ測定装置を用いる方法である。
本実施形態に係るひずみ測定方法は、前記シリコーンゴムシート１２を介して前記ひずみゲージ１１を前記セメント硬化体２に貼り付ける貼り付け工程と、該セメント硬化体２に生じたひずみを前記金属抵抗体で電気信号に変換し、前記信号送信部を介して前記金属抵抗体から前記表示部に前記電気信号を送信して、該電気信号をひずみとして前記表示部で表示する表示工程とを有する。
前記貼り付け工程では、ひずみゲージ１１と、セメント硬化体２との間に、シリコーンゴムシート１２が介在するように、前記検知部１を接着剤を介してセメント硬化体２に貼り付ける。
前記接着剤としては、いわゆる瞬間接着剤を用いることができ、具体的には、シアノクリレート、ポリエステル等を用いることができる。これにより、セメント硬化体２と検知部１のシリコーンゴムシート１２との間に接着剤層３が形成される。
【００２６】
本実施形態に係るひずみ測定方法は、前記シリコーンゴムシート１２を介して前記ひずみゲージ１１を前記セメント硬化体２に貼り付けるので、セメント硬化体２に含まれる水が、ひずみゲージ１１の金属抵抗体に接触し難くなり、その結果、精度良くひずみを測定することができる。
また、本実施形態に係るひずみ測定方法は、シリコーンゴムシート１２を用いる分、均一に塗布することが要求される充填材の塗布工程を省いても、ひずみゲージ１１の金属抵抗体にセメント硬化体２の水を接触し難くしつつ、セメント硬化体２へのひずみゲージ１１の貼り付けが容易となる。
【００２７】
なお、本実施形態に係るひずみ測定装置、及び、ひずみ測定方法は、上記構成に限定されず、適宜設計変更可能である。
【００２８】
例えば、本実施形態に係るひずみ測定方法では、ひずみゲージとシリコーンゴムシートとが予め積層されたものを用いて、前記シリコーンゴムシートを介して該ひずみゲージをセメント硬化体に貼り付けているが、本発明に係るひずみ測定方法では、まず、接着剤を介してセメント硬化体にシリコーンゴムシートを貼り付け、その後、接着剤を介して該シリコーンゴムシートにひずみゲージを貼り付ける工程を採用してもよい。
【実施例】
【００２９】
次に、実施例、比較例、及び基準例を挙げて本発明についてさらに具体的に説明する。
【００３０】
（測定対象物となるコンクリートの供試体の作製）
目標スランプを１８±２ｃｍ、目標空気量を４．５±１．５％にして、表１に示す材料を表２の配合割合で混練してコンクリートを作製し、該コンクリートを円柱状に成形して、円柱状のコンクリートの供試体（直径：１０ｃｍ、高さ：２０ｃｍのセメント硬化体）を３つ作製した（以下、「第１供試体」、「第２供試体」、及び、「第３供試体」ともいう。）。なお、表１では、「Ｗ／Ｃ」は、水セメント比を意味し、「Ｃ×％」は、セメント１００質量部に対する量（質量部）を意味する。また、フレッシュ性状は、表１に示す材料を十分に混練した直後のコンクリートの性状を意味する。
【００３１】
【表１】
2013210251.tif 000003
【００３２】
【表２】
2013210251.tif 000004
【００３３】
（実験１）
円柱状の第１供試体（材齢：７日）を縦置きにして、その側面に、ポリエステルからなる充填材を塗布し、この充填材を硬化させた。この際、硬化した充填材に関し、周方向における幅が１５ｍｍ、上下方向における長さが８０ｍｍ、厚みが約０．１ｍｍとなるように、充填材を塗布した。なお、充填材の塗布箇所は、周方向１８０°離れた２箇所とした。第１供試体に充填材を塗布する作業は、この作業について熟練の技術を有する者が実施した。
そして、硬化した充填材それぞれに、金属抵抗体（Ｃｕ−Ｎｉ系）と、該金属抵抗体に積層され、且つ、ポリエステルで構成された絶縁シート（幅：８ｍｍ、長さ：７４ｍｍ、厚み：約０．１ｍｍ）とからなる市販の導線付きひずみゲージ（（株）東京測器研究所、ポリエステルゲージ、ＰＬ−６０−１１）を、接着剤（シアノアクリレート、（株）東京測器研究所社製、商品名：ＣＮ−Ｅ）を介して貼り付けた（基準例１）。
次に、この充填材を塗布した箇所から４５°、９０°、１３５°周方向に回転した位置に一対のシリコーンゴムシートをそれぞれ接着剤で貼り付け、シリコーンゴムシートそれぞれに、基準例１と同様の導線付きひずみゲージを接着剤を介して貼り付けた。
なお、第１供試体を上方から見た際に、硬化した充填材から９０°回転した位置には、厚みが０．２ｍｍであり、且つ、硬度が５０°であるシリコーンゴムシートを用いた（実施例１−１）。また、第１供試体を上方から見た際に、硬化した充填材から時計回りに４５°回転した位置には、厚みが０．２ｍｍであり、且つ、硬度が７０°であるシリコーンゴムシートを用いた（実施例２）。さらに、第１供試体を上方から見た際に、硬化した充填材から時計回りに１３５°回転した位置には、厚みが０．２ｍｍであり、且つ、硬度が２０°であるシリコーンゴムシートを用いた（実施例３）。
そして、各導線付きひずみゲージの導線と、表示部としてのデータロガー（（株）東京測器研究所、ＴＤＳ３０３）とを信号送信部で電気的に接続し、第１供試体を恒温恒湿室（温度：２０℃、相対湿度６０％）に設置して、恒温恒湿室に設置した時から恒温恒湿室設置後７日、１４日、２８日までの間に生じた第１供試体のひずみ（以下、「経過日数７日、１４日、２８日のひずみ」ともいう）を前記ひずみゲージで測定し、基準例１、実施例１−１、２、３それぞれの測定値の算術平均値（ｎ＝２）を求めた。
【００３４】
（実験２）
基準例１と同様に、充填材の塗布箇所は、周方向１８０°離れた２箇所として、充填材を第２供試体に塗布し、硬化した充填材それぞれに、基準例と同様の導線付きひずみゲージを接着剤を介して貼り付けた（基準例２）。
次に、この充填材を塗布した箇所から４５°、９０°、１３５°周方向に回転した位置に一対のシリコーンゴムシートをそれぞれ接着剤で貼り付け、シリコーンゴムシートそれぞれに、基準例１と同様の導線付きひずみゲージを接着剤を介して貼り付けた。
なお、第２供試体を上方から見た際に、硬化した充填材から９０°回転した位置には、厚みが０．２ｍｍであり、且つ、硬度が５０°であるシリコーンゴムシートを用いた（実施例１−２）。また、第２供試体を上方から見た際に、硬化した充填材から時計回りに４５°回転した位置には、厚みが０．５ｍｍであり、且つ、硬度が５０°であるシリコーンゴムシートを用いた（比較例１）。さらに、第２供試体を上方から見た際に、硬化した充填材から時計回りに１３５°回転した位置には、厚みが０．０５ｍｍであり、且つ、硬度が５０°であるシリコーンゴムシートを用いた（実施例４）。
そして、各導線付きひずみゲージの導線と、表示部としてのデータロガー（（株）東京測器研究所、ＴＤＳ３０３）とを信号送信部で電気的に接続し、第２供試体を恒温恒湿室（温度：２０℃、相対湿度６０％）に設置して、経過日数７日、１４日、２８日の第２供試体のひずみを前記ひずみゲージで測定し、基準例２、実施例１−２、４、及び比較例１それぞれの測定値の算術平均値（ｎ＝２）を求めた。
【００３５】
（実験３）
基準例１と同様に、充填材の塗布箇所は、周方向１８０°離れた２箇所として、充填材を第３供試体に塗布し、硬化した充填材それぞれに、基準例と同様の導線付きひずみゲージを接着剤を介して貼り付けた（基準例３）。
次に、この充填材を塗布した箇所から４５°、９０°、１３５°周方向に回転した位置に一対のシリコーンゴムシートをそれぞれ接着剤で貼り付け、シリコーンゴムシートそれぞれに、基準例１と同様の導線付きひずみゲージを接着剤を介して貼り付けた。
なお、第３供試体を上方から見た際に、硬化した充填材から９０°回転した位置には、厚みが０．０５ｍｍであり、且つ、硬度が７０°であるシリコーンゴムシートを用いた（実施例５）。また、第３供試体を上方から見た際に、硬化した充填材から時計回りに４５°回転した位置には、厚みが０．５ｍｍであり、且つ、硬度が２０°であるシリコーンゴムシートを用いた（比較例２）。さらに、第３供試体を上方から見た際に、硬化した充填材から時計回りに１３５°回転した位置には、厚みが０．５ｍｍであり、且つ、硬度が７０°であるシリコーンゴムシートを用いた（比較例３）。
そして、各導線付きひずみゲージの導線と、表示部としてのデータロガー（（株）東京測器研究所、ＴＤＳ３０３）とを信号送信部で電気的に接続し、第３供試体を恒温恒湿室（温度：２０℃、相対湿度６０％）に設置して、経過日数２８日の第３供試体のひずみを前記ひずみゲージで測定し、基準例３、実施例５、及び比較例２、３それぞれの測定値の算術平均値（ｎ＝２）を求めた。
【００３６】
上記試験の結果を図２、３、及び表３〜５に示す。なお、基準例３による経過日数２８日の第３供試体のひずみの値は、３０８×１０-6であった。
【００３７】
【表３】
2013210251.tif 000005
【００３８】
【表４】
2013210251.tif 000006
【００３９】
【表５】
2013210251.tif 000007
【００４０】
表３に示すように、本発明の範囲内である実施例の方法で測定したひずみは、シリコーンゴムシートの厚みが０．５ｍｍである比較例１〜３の方法に比して、基準例の方法で測定したひずみに近い値を示した。このことから、実施例の方法が、比較例の方法よりも、精度良くひずみを測定できることがわかる。
また、実施例の方法は、基準例の方法に比して、充填材を塗布すること、及び、該充填材が硬化するのを待つことを省くことができるので、ひずみゲージをコンクリートの表面に簡便に貼り付けることができる。
【００４１】
なお、厚みが０．０５ｍｍと薄いシリコーンゴムシートを用いた実施例３の方法では、ひずみゲージを供試体に貼り付ける際に、シリコーンゴムシートが破れる場合があった。このことから、シリコーンゴムシートの厚みが０．１ｍｍ以上であることが好ましいことがわかる。
また、図２及び表４に示すように、シリコーンゴムシートの硬度が４０°以上の実施例１−１、２は、シリコーンゴムシートの硬度が２０°の実施例３に比して、基準例の方法で測定したひずみに近い値を示した。このことから、硬度が４０°以上のシリコーンゴムシートを用いれば、より一層精度良くひずみを測定できる。なお、経過日数が７日の場合には、基準例の方法で得られたひずみに対する実施例のひずみの比が他の経過日数のものよりも、１．００から離れた値になったが、これは、経過日数が短いほどひずみの値自体が小さいので、測定誤差が生じやすい条件となっていたことと考えられる。
【符号の説明】
【００４２】
１：検知部、１１：ひずみゲージ、１１ａ：絶縁シート、１２：シリコーンゴムシート、１３：接着剤層、１４：導線、２：セメント硬化体、３：接着剤層
【図１】
2013210251.tif 000008
【図２】
2013210251.tif 000009
【図３】
2013210251.tif 000010