(57)【要約】【課題】試験器が接続状態の電圧試験プラグをテストターミナルに抜き差しすることを阻止できる電圧試験プラグを提供する。【解決手段】電圧試験プラグ１０は、フレーム１と複数の接続端子２で構成している。フレーム１は、前面に端子板１１を配置し、後面に絶縁板１３を突出している。絶縁板１３をテストターミナル８０に挿入した状態では、中心接続端子２１は、電気装置８ｒに接続している。中心接続端子２１に試験器９のケーブル９ｗを接続した状態では、中心接続端子２１が螺進して、ラック・ピニオン機構によりストップピン１３１・１３２・１３３の先端部を絶縁板１３の側面から突出する。そして、試験器９が接続状態の電圧試験プラグ１０をテストターミナル８０に抜き差しすることを阻止できる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気装置に接続した第１ねじ端子、及び外部電源回路に接続した第２ねじ端子を外部に有し、前記第１ねじ端子に接続した第１コンタクト、及びこの第１コンタクトに対向配置され、前記第２ねじ端子に接続した第２コンタクトを内部に有する箱状のテストターミナルに挿入され、前記電気装置を試験するときには、前記第１コンタクトと前記第２コンタクトとの接続が切り離されて、前記第１コンタクト及び前記第１ねじ端子を介して、試験器を前記電気装置に接続可能な電圧試験プラグであって、
端子板を一方の面に配置し、前記第１コンタクトと前記第２コンタクトとの間に挿入可能な平板状の絶縁板を他方の面から突出させた箱状のフレームと、
外周に雄ねじ部を有し、前記試験器に接続可能な棒状の中心接続端子、この中心接続端子に螺合した導電性を有する筒状のカップリング、及び絶縁部材を介して前記カップリングの周囲を保持する外部接続端子で構成され、前記端子板に配置された一つ以上の接続端子と、を備え、
前記絶縁板は、
一方の面に形成され、前記第１コンタクトに接触できると共に、前記カップリングの後端部に接続した帯状の第１電極板と、
他方の面に形成され、前記第２コンタクトに接触できると共に、前記外部接続端子の後端部に接続した帯状の第２電極板と、
基端部にラックを形成し、当該絶縁板を前記テストターミナルに挿入する方向と直交する方向に移動可能に当該絶縁板の内部に保持された一つ以上のストップピンと、を有し、
前記中心接続端子は、
前部に固定された絶縁性を有するつまみと、
後部に形成され、前記ラックと噛み合い可能なピニオンと、を有し、
前記つまみを一方の方向に回転して、前記試験器の端末を接続した状態では、一つ以上の前記ストップピンの先端部が前記端子板の側面から突出している電圧試験プラグ。
【請求項２】
前記接続端子は、前記端子板の外部に突出するように配置され、前記外部接続端子を保持する絶縁性を有するベゼルを更に有し、
前記ベゼルは、測定ピンを挿入可能な第１貫通穴を有し、
前記測定ピンを第１貫通穴に挿入した状態では、当該測定ピンの先端部が前記外部接続端子に接触する請求項１記載の電圧試験プラグ。
【請求項３】
前記ベゼルは、導電性を有するボルト部材の軸部が挿入可能な第２貫通穴を更に有し、
前記外部接続端子、前記絶縁部材、及び前記カップリングは、前記第２貫通穴と同心上に形成され、前記ボルト部材の軸部と螺合可能な貫通した雌ねじ穴を有し、
前記中心接続端子は、前記つまみを他方の方向に回転して、前記試験器の端末を接続困難な状態では、前記ボルト部材の軸部の先端縁が陥没可能な窪みを外周に有し、
前記ボルト部材を前記外部接続端子に螺合すると共に、前記窪みに当接して、前記外部接続端子と前記中心接続端子を短絡させる請求項２記載の電圧試験プラグ。
【請求項４】
前記テストターミナルは、前記ストップピンの先端部に係止可能な係合穴を内側面に有する請求項１から３のいずれかに記載の電圧試験プラグ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電圧試験プラグに関する。特に、テストターミナルに接続して、電力用配電盤や継電器盤などの電気装置を保守、又は点検するときに用いられる電圧試験プラグの構造に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、電力用配電盤、継電器盤、又は制御装置などの電気装置を保守、又は点検するときには、電気装置に備わる電圧回路を機能試験することがある。この場合、電気装置と外部電源回路（例えば、電力系統）とが電気接続されたテストターミナルに電圧試験プラグを挿入すると、電気装置と外部電源回路を切り離すことができる。そして、この電圧試験プラグに試験器を接続して、テストターミナルを介して、試験電圧を電気装置の電圧回路に印加できる。
【０００３】
図１１は、従来技術による電圧試験プラグの構成を示す図であり、図１１（Ａ）は、電圧試験プラグの斜視図、図１１（Ｂ）は、電圧試験プラグの平面図である。図１２は、従来技術による電圧試験プラグ及びテストターミナルの縦断面図であり、図１２（Ａ）は、電圧試験プラグをテストターミナルに挿入する前の状態図、図１２（Ｂ）は、電圧試験プラグをテストターミナルに挿入する途上の状態図、図１２（Ｃ）は、電圧試験プラグをテストターミナルに完全に挿入した状態図である。
【０００４】
又、図１３は、従来技術による短絡金具付き電圧試験プラグの構成を示す図であり、図１３（Ａ）は、短絡金具付き電圧試験プラグの斜視分解組立図、図１３（Ｂ）は、短絡金具付き電圧試験プラグの縦断面図である。
【０００５】
図１１又は図１２を参照すると、従来技術による電圧試験プラグ７０は、箱状のフレーム７と四つの接続端子７ｔで構成している。図示された電圧試験プラグ７０は、四極の電圧試験プラグを例示している。フレーム７は、絶縁性の端子板７１と絶縁性のカバー７２で構成している。端子板７１には、接続端子７ｔを取り付けている。接続端子７ｔは、スタッガード（千鳥格子）状に配列されている。カバー７２は、端子板７１の後面側を覆っている。なお、図１２では、下段側の接続端子７ｔの図示を省略している。
【０００６】
図１１又は図１２を参照すると、電圧試験プラグ７０は、平板状の絶縁板７３を更に備えている。絶縁板７３は、カバー７２の後面側に突出するように配置されている。絶縁板７３は、その一方の面（上面）に、４つの帯状の上側電極板７３ａを取り付けている。これらの上側電極板７３ａは、略平行に延びるように配置されている。又、絶縁板７３は、その他方の面（下面）に、４つの帯状の下側電極板７３ｂを取り付けている。これらの下側電極板７３ｂは、略平行に延びるように配置されている。上側電極板７３ａと下側電極板７３ｂとは、絶縁板７３を間にして相反する面に配置されている。
【０００７】
図１１又は図１２を参照すると、接続端子７ｔは、前部端子７１ｔと後部端子７２ｔで構成している。前部端子７１ｔは、導電性を有する棒状のねじ端子７１ａで構成され、先端部側の外周には雌ねじを形成している。ねじ端子７１ａは、導電性を有するつまみ７１ｂを先端部側に螺合させている。又、ねじ端子７１ａは、上側電極板７３ａの端部を基端部側に固定している（図１２参照）。つまみ７１ｂを回して、試験器９から延出するケーブル９ｗの端末をねじ端子７１ａに締結すると、試験器９と上側電極板７３ａを電気接続できる。
【０００８】
図１１又は図１２を参照すると、後部端子７２ｔは、導電性を有する円筒状のねじ端子７２ａで構成され、先端部側の外周には雄ねじを形成している。ねじ端子７２ａは、絶縁部材を介して、ねじ端子７１ａを保持すると共に、導電性を有するナット部材７２ｂを先端部側に螺合させている。又、ねじ端子７２ａは、下側電極板７３ｂの端部を基端部側に固定している（図１２参照）。つまり、ねじ端子７２ａと下側電極板７３ｂは、電気的に接続されている。ナット部材７２ｂを回して、図示しないケーブルの端末をねじ端子７２ａに締結できる。
【０００９】
図１２を参照すると、テストターミナル８０は、配電盤などの機器１００に取り付けられている。テストターミナル８０は、内部に空洞を有する箱形のケース８１で構成され、絶縁性を有する前面板８１ｆに設けた矩形の開口８ｋから電圧試験プラグ７０（絶縁板７３）を挿入できる（図１２（Ａ）参照）。
【００１０】
図１２を参照すると、ケース８１の後面には、端子板８１ｒを配置している。端子板８１ｒには、一組のねじ端子８１ｔ・８２ｔを取り付けている。上段のねじ端子８１ｔには、継電器盤などの電気装置８ｒを電気接続している。下段のねじ端子８２ｔには、外部電源回路８ｐを電気接続している。
【００１１】
図１２を参照すると、テストターミナル８０は、一対の対向するベローズ形の第１コンタクト８１ａ・第２コンタクト８１ｂをケース８１の内部に備えている。又、テストターミナル８０は、一対の圧縮コイルばね８２ａ・８２ｂ、及び一対の帯状の導電板８３ａ・８３ｂをケース８１の内部に備えている。
【００１２】
図１２（Ａ）を参照すると、導電板８３ａは、ねじ端子８１ｔに端部が接続されると共に、第１コンタクト８１ａに接続している。そして、第１コンタクト８１ａの基端部は、導電板８３ｂに導通した分岐導電板８３ｄに接触している。同様に、導電板８３ｂは、ねじ端子８２ｔに端部が接続されると共に、第２コンタクト８１ｂに接続している。そして、第２コンタクト８１ｂの基端部は、導電板８３ａに導通した分岐導電板８３ｃに接触している。このように、電圧試験プラグ７０をテストターミナル８０に挿入しない状態では、電気装置８ｒと外部電源回路８ｐとが電気接続されている。
【００１３】
図１２（Ａ）に示された状態から、図１２（Ｂ）に示すように、電圧試験プラグ７０をテストターミナル８０に挿入すると、上側電極板７３ａを第１コンタクト８１ａに接続できると共に、下側電極板７３ｂを第２コンタクト８１ｂに接続できる。
【００１４】
図１２（Ｂ）に示された状態から、図１２（Ｃ）に示すように、電圧試験プラグ７０をテストターミナル８０に完全に挿入すると、圧縮コイルばね８２ａに抗して、第１コンタクト８１ａの基端部側を変位させ、分岐導電板８３ｄとの接続を切り離すことができる。同時に、圧縮コイルばね８２ｂに抗して、第２コンタクト８１ｂの基端部側を変位させ、分岐導電板８３ｃとの接続を切り離すことができる。つまり、電気装置８ｒと外部電源回路８ｐとの接続を切り離すことができる。そして、テストターミナル８０を介して、試験器９の試験電圧を電気装置８ｒの電圧回路に印加できる。
【００１５】
図１２（Ｃ）に示すように、電圧試験プラグ７０をテストターミナル８０に完全に挿入した状態では、電気装置８ｒと外部電源回路８ｐとの接続が切り離されているので、電気装置８ｒに電源を供給することが困難である。そこで、図１３に示される短絡金具７ｓを用いれば、電圧試験プラグ７０をテストターミナル８０に完全に挿入した状態で、電気装置８ｒと外部電源回路８ｐを電気接続できる。
【００１６】
図１３を参照すると、短絡金具７ｓは、両端部が屈曲された導電性を有する帯板状の部材で構成されている。短絡金具７ｓは、ねじ端子７１ａに嵌合可能なＵ字状の切り欠き穴を開口した第１舌片７１ｓを一方の端部に備えている。又、短絡金具７ｓは、ねじ端子７２ａに嵌合可能なＵ字状の切り欠き穴を開口した第２舌片７２ｓを他方の端部に備えている。つまみ７１ｂを回して、第１舌片７１ｓをねじ端子７１ａに接続でき、ナット部材７２ｂを回して、第２舌片７２ｓをねじ端子７２ａに接続できる。そして、電気装置８ｒと外部電源回路８ｐを電気接続できる（図１３（Ｂ）参照）。
【００１７】
ところで、図１２（Ｂ）に示されるように、試験器９を電圧試験プラグ７０に接続した状態で、電圧試験プラグ７０をテストターミナル８０に抜き差しする場合がある。この場合、瞬間的に、電気装置８ｒと外部電源回路８ｐが接続されると共に、試験器９と外部電源回路８ｐが接続されることにより、外部電源回路８ｐが過負荷状態になり、外部電源回路８ｐに備えたヒューズが切れる、又は電気装置８ｒが誤動作するなどの不具合を発生させることがある。
【００１８】
このような不具合を解消するため、試験器によって継電器盤などの電気装置を試験するときに、電気装置又は外部電源回路に誤動作又は損傷が生じることのない、電圧試験プラグ及びテストターミナルが開示されている（例えば、特許文献１参照）。
【００１９】
特許文献１による電圧試験プラグは、試験器が非接続であることを確認する確認回路を内部に備えている。一方、特許文献１によるテストターミナルは、試験器が接続された電圧試験プラグを阻止又はロックする電気ソレノイドを備えている。これにより、試験器が接続状態の電圧試験プラグをテストターミナルに抜き差しすることを阻止できる。したがって、電気装置又は外部電源回路に誤動作又は損傷が生じることを防止できる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００２０】
【特許文献１】特開平７−１２８４４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００２１】
しかし、特許文献１による電圧試験プラグは、試験器が非接続であることを確認する確認回路を内部に備えている。又、特許文献１によるテストターミナルは、電気ソレノイドを備えている。したがって、特許文献１による電圧試験プラグ及びテストターミナルは、構成を複雑にしているという問題がある。
【００２２】
試験器が接続状態の電圧試験プラグをテストターミナルに抜き差しすることを阻止できると共に、構成が簡易な電圧試験プラグが求められている。そして、以上のことが本発明の課題といってよい。
【００２３】
本発明は、このような課題に鑑みてなされたものであり、試験器が接続状態の電圧試験プラグをテストターミナルに抜き差しすることを阻止できると共に、構成が簡易な電圧試験プラグを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２４】
本発明者は、試験器を電圧試験プラグに接続するために、試験器の端末を中心接続端子に締結すると、中心接続端子の螺旋運動がラック・ピニオン機構によりストップピンの進退運動に変換されることにより、電圧試験プラグの側面にストップピンの先端部が突出して、試験器が接続状態の電圧試験プラグをテストターミナルに抜き差しすることを阻止できることにより、これらの課題を解消できると考え、これに基づいて、以下のような新たな電圧試験プラグを発明するに至った。
【００２５】
（１）本発明による電圧試験プラグは、電気装置に接続した第１ねじ端子、及び外部電源回路に接続した第２ねじ端子を外部に有し、前記第１ねじ端子に接続した第１コンタクト、及びこの第１コンタクトに対向配置され、前記第２ねじ端子に接続した第２コンタクトを内部に有する箱状のテストターミナルに挿入され、前記電気装置を試験するときには、前記第１コンタクトと前記第２コンタクトとの接続が切り離されて、前記第１コンタクト及び前記第１ねじ端子を介して、試験器を前記電気装置に接続可能な電圧試験プラグであって、端子板を一方の面に配置し、前記第１コンタクトと前記第２コンタクトとの間に挿入可能な平板状の絶縁板を他方の面から突出させた箱状のフレームと、外周に雄ねじ部を有し、前記試験器に接続可能な棒状の中心接続端子、この中心接続端子に螺合した導電性を有する筒状のカップリング、及び絶縁部材を介して前記カップリングの周囲を保持する外部接続端子で構成され、前記端子板に配置された一つ以上の接続端子と、を備え、前記絶縁板は、一方の面に形成され、前記第１コンタクトに接触できると共に、前記カップリングの後端部に接続した帯状の第１電極板と、他方の面に形成され、前記第２コンタクトに接触できると共に、前記外部接続端子の後端部に接続した帯状の第２電極板と、基端部にラックを形成し、当該絶縁板を前記テストターミナルに挿入する方向と直交する方向に移動可能に当該絶縁板の内部に保持された一つ以上のストップピンと、を有し、前記中心接続端子は、前部に固定された絶縁性を有するつまみと、後部に形成され、前記ラックと噛み合い可能なピニオンと、を有し、前記つまみを一方の方向に回転して、前記試験器の端末を接続した状態では、一つ以上の前記ストップピンの先端部が前記端子板の側面から突出している。
【００２６】
（２）前記接続端子は、前記端子板の外部に突出するように配置され、前記外部接続端子を保持する絶縁性を有するベゼルを更に有し、前記ベゼルは、測定ピンを挿入可能な第１貫通穴を有し、前記測定ピンを第１貫通穴に挿入した状態では、当該測定ピンの先端部が前記外部接続端子に接触することが好ましい。
【００２７】
（３）前記ベゼルは、導電性を有するボルト部材の軸部が挿入可能な第２貫通穴を更に有し、前記絶縁部材、前記外部接続端子、及び前記カップリングは、前記第２貫通穴と同心上に形成され、前記ボルト部材の軸部と螺合可能な貫通した雌ねじ穴を有し、前記中心接続端子は、前記つまみを他方の方向に回転して、前記試験器の端末を接続困難な状態では、前記ボルト部材の軸部の先端縁が陥没可能な窪みを外周に有し、前記ボルト部材を前記外部接続端子に螺合すると共に、前記窪みに当接して、前記外部接続端子と前記中心接続端子を短絡させることが好ましい。
【００２８】
（４）前記テストターミナルは、前記ストップピンの先端部に係止可能な係合穴を内側面に有することが好ましい。
【発明の効果】
【００２９】
本発明による電圧試験プラグは、試験器を電圧試験プラグに接続するために、試験器の端末を中心接続端子に締結すると、中心接続端子の螺旋運動がラック・ピニオン機構によりストップピンの進退運動に変換されることにより、絶縁板の側面にストップピンの先端部が突出して、試験器が接続状態の電圧試験プラグをテストターミナルに抜き差しすることを阻止できる。
【００３０】
本発明による電圧試験プラグは、試験器が非接続であることを確認する確認回路を必要とせず、試験器が接続された電圧試験プラグを阻止又はロックする電気ソレノイドを必要としないので、構成が簡易である。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本発明の一実施形態による電圧試験プラグの構成を示す斜視図である。
【図２】前記実施形態による電圧試験プラグの構成を示す平面図であり、フレームを横断面で示している。
【図３】図２のＡ−Ａ矢視断面図である。
【図４】図２のＢ−Ｂ矢視断面図である。
【図５】前記実施形態による電圧試験プラグに備わる接続端子の斜視分解組立図である。
【図６】前記実施形態による電圧試験プラグに備わる接続端子の要部を拡大した縦断面図である。
【図７】前記実施形態による電圧試験プラグの平面図であり、ストップピンの先端部が絶縁板の側面から突出した状態図である。
【図８】図７のＡ−Ａ矢視断面図であり、電圧試験プラグに備わる接続端子に試験器の端末を接続した状態図である。
【図９】前記実施形態による電圧試験プラグの要部を拡大した縦断面図であり。図９（Ａ）は、ストップピンの先端部が絶縁板の側面から突出する前の状態図、図９（Ｂ）は、ストップピンの先端部が絶縁板の側面から突出した状態図である。
【図１０】前記実施形態による電圧試験プラグに適合するテストターミナルの図であり、図１０（Ａ）は、テストターミナルの右側面図、図１０（Ｂ）は、テストターミナルの左側面図である。
【図１１】従来技術による電圧試験プラグの構成を示す図であり、図１１（Ａ）は、電圧試験プラグの斜視図、図１１（Ｂ）は、電圧試験プラグの平面図である。
【図１２】従来技術による電圧試験プラグ及びテストターミナルの縦断面図であり、図１２（Ａ）は、電圧試験プラグをテストターミナルに挿入する前の状態図、図１２（Ｂ）は、電圧試験プラグをテストターミナルに挿入する途上の状態図、図１２（Ｃ）は、電圧試験プラグをテストターミナルに完全に挿入した状態図である。
【図１３】従来技術による短絡金具付き電圧試験プラグの構成を示す図であり、図１３（Ａ）は、短絡金具付き電圧試験プラグの斜視分解組立図、図１３（Ｂ）は、短絡金具付き電圧試験プラグの縦断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００３２】
以下、図面を参照して本発明を実施するための形態を説明する。
［電圧試験プラグの構成］
最初に、本発明の一実施形態による電圧試験プラグの構成を説明する。図１は、本発明の一実施形態による電圧試験プラグの構成を示す斜視図である。図２は、前記実施形態による電圧試験プラグの構成を示す平面図であり、フレームを横断面で示している。図３は、図２のＡ−Ａ矢視断面図である。図４は、図２のＢ−Ｂ矢視断面図である。
【００３３】
図５は、前記実施形態による電圧試験プラグに備わる接続端子の斜視分解組立図である。図６は、前記実施形態による電圧試験プラグに備わる接続端子の要部を拡大した縦断面図である。なお、従来技術で説明した符号と同じ符号を付した構成品は、その作用を同じとするので、以下では説明を割愛する場合がある。
【００３４】
図１から図３を参照すると、本発明の一実施形態による電圧試験プラグ１０は、箱状のフレーム１と四つの接続端子２で構成している。図示された電圧試験プラグ１０は、四極の電圧試験プラグを例示している。フレーム１は、絶縁性のカバー１２の前面に絶縁性の端子板１１を取り付けている。端子板１１には、接続端子２を取り付けている。接続端子２は、一列に配置されている。
【００３５】
図１から図３を参照すると、電圧試験プラグ１０は、平板状の絶縁板１３を更に備えている。絶縁板１３は、カバー１２の後面側に突出するように配置されている。絶縁板１３は、その一方の面（上面）に、４つの帯状の第１電極板１３ａを取り付けている。これらの第１電極板１３ａは、略平行に延びるように配置されている。又、絶縁板１３は、その他方の面（下面）に、４つの帯状の第２電極板１３ｂを取り付けている。これらの第２電極板１３ｂは、略平行に延びるように配置されている。第１電極板１３ａと第２電極板１３ｂとは、絶縁板１３を間にして相反する面に配置されている。
【００３６】
図１又は図２を参照して、テストターミナル８０の前部に設けた開口８ｋに絶縁板１３を挿入すると、第１コンタクト８１ａと第２コンタクト８１ｂの接続を切り離して、第１電極板１３ａを第１コンタクト８１ａに接続できる（図１２（Ｃ）参照）。そして、電気装置８ｒを第１電極板１３ａに接続できる（図１２（Ｃ）参照）。
【００３７】
又、図１又は図２を参照して、テストターミナル８０の前部に設けた開口８ｋに絶縁板１３を挿入すると、第１コンタクト８１ａと第２コンタクト８１ｂの接続を切り離して、第２電極板１３ｂを第２コンタクト８１ｂに接続できる（図１２（Ｃ）参照）。そして、外部電源回路８ｐを第２電極板１３ｂに接続できる（図１２（Ｃ）参照）。
【００３８】
図３又は図５及び図６を参照すると、接続端子２は、棒状の中心接続端子２１、筒状のカップリング２２、及び筒状の外部接続端子２３で構成している。中心接続端子２１は、先端部側の外周に雄ねじ部２１１を形成し、絶縁性を有するつまみ２１ａを先端部に固定している。カップリング２２は、雌ねじ部２２１を中心部に有し（図５参照）、中心接続端子２１と螺合している。又、カップリング２２の後端部には、第１電極板１３ａの端部を固定している。つまみ７１ｂを回して、試験器９から延出するケーブル９ｗの端末を中心接続端子２１に締結すると、試験器９と第１電極板１３ａを電気接続できる（図１参照）。
【００３９】
図３又は図５及び図６を参照すると、外部接続端子２３は、絶縁部材２３ａを介してカップリング２２の周囲を保持している。なお、絶縁部材２３ａと外部接続端子２３は、適宜な結合手段を用いて一体化している。又、外部接続端子２３の後端部には、第２電極板１３ｂの端部を固定している。
【００４０】
図３又は図５及び図６を参照すると、接続端子２は、絶縁性を有するベゼル２４を更に備えている。ベゼル２４は、四角の筒状に形成され、内部に外部接続端子２３を圧入して、外部接続端子２３を保持できる。
【００４１】
図２又は図４を参照すると、絶縁板１３は、ストップピン１３１・１３２・１３３を内部に保持している。これらのストップピン１３１・１３２・１３３は、テストターミナル８０に挿入する方向と直交する方向に移動可能に保持されている（図１参照）。又、これらのストップピン１３１・１３２・１３３は、ラック１３ｒを基端部に形成している（図９参照）。
【００４２】
一方、図３から図５を参照すると、中心接続端子２１は、ラック１３ｒと噛み合い可能なピニオン２１ｐを後部に形成している。つまみ２１ａを把持して、一方の方向（右ねじが進行する方向）に回転すると、ピニオン２１ｐの回転運動がストップピン１３１・１３２・１３３の直線運動に変換されて、ストップピン１３１・１３２・１３３の先端部を絶縁板１３の側面から突出できる。
【００４３】
図３又は図５及び図６を参照すると、ベゼル２４は、第１貫通穴２４１を上壁に開口している。図示しない測定ピンを第１貫通穴２４１に挿入すると、外部接続端子２３に接触でき、外部接続端子２３→第２電極板１３ｂ→第２コンタクト８１ｂ→導電板８３ｂ→ねじ端子８２ｔの経路を経て（図１２（Ｃ）参照）、前記測定ピンを外部電源回路８ｐに接続できる。そして、前記測定ピンを用いて、外部電源回路８ｐの電圧などを測定できる。
【００４４】
図３又は図５及び図６を参照すると、ベゼル２４は、第２貫通穴２４２を上壁に開口している。第２貫通穴２４２には、導電性を有するボルト部材３の軸部３ａを挿入できる（図５参照）。
【００４５】
又、図５及び図６を参照すると、外部接続端子２３、絶縁部材２３ａ、及びカップリング２２は、ボルト部材３の軸部３ａと螺合可能な貫通した雌ねじ穴２３２を形成している。雌ねじ穴２３２は、外部接続端子２３、絶縁部材２３ａ、及びカップリング２２を組み立てて、一体化したときに加工され、第２貫通穴２４２と同心上に配置されている（図６参照）。そして、ボルト部材３の頭部３ｂを回転すると、軸部３ａを雌ねじ穴２３２に螺合できる（図６参照）。
【００４６】
図５を参照すると、中心接続端子２１は、ボルト部材３の軸部３ａの先端縁が陥没可能な窪み２１２を外周に形成している。つまみ２１ａを他方の方向（右ねじが後退する方向）に回転して、試験器９の端末を中心接続端子２１に接続困難な状態では（図１参照）、ボルト部材３の軸部３ａの先端縁を窪み２１２に陥没できる。そして、ボルト部材３で中心接続端子２１と外部接続端子２３を導通（短絡）できる。
【００４７】
［電圧試験プラグの作用］
次に、実施形態による電圧試験プラグ１０の構成品を補足しながら、電圧試験プラグ１０の作用及び効果を説明する。図７は、前記実施形態による電圧試験プラグの平面図であり、ストップピンの先端部が絶縁板の側面から突出した状態図である。図８は、図７のＡ−Ａ矢視断面図であり、電圧試験プラグに備わる接続端子に試験器の端末を接続した状態図である。
【００４８】
図９は、前記実施形態による電圧試験プラグの要部を拡大した縦断面図であり。図９（Ａ）は、ストップピンの先端部が絶縁板の側面から突出する前の状態図、図９（Ｂ）は、ストップピンの先端部が絶縁板の側面から突出した状態図である。
【００４９】
図１０は、前記実施形態による電圧試験プラグに適合するテストターミナルの図であり、図１０（Ａ）は、テストターミナルの右側面図、図１０（Ｂ）は、テストターミナルの左側面図である。
【００５０】
図１を参照して、試験器９のケーブル９ｗの端末を圧着したＵ字型の圧着端子９ｔを中心接続端子２１の外周方向から挿入し、つまみ２１ａを時計方向に回転すると、中心接続端子２１が螺進して、絶縁ワッシャ２ｗとつまみ２１ａの間に圧着端子９ｔを挟持でき、試験器９と中心接続端子２１を電気接続できる（図８参照）。なお、つまみ２１ａの基端部には、導電部材が圧入されている。
【００５１】
図８に示すように、試験器９が接続された電圧試験プラグ１０がテストターミナルに挿入された状態では（図１２（Ｃ）参照）、中心接続端子２１→カップリング２２→第１電極板１３ａ→第１コンタクト８１ａ→導電板８３ａ→ねじ端子８１ｔの経路を経て（図１２（Ｃ）参照）、試験器９を電気装置８ｒに接続している。そして、試験電圧を電気装置８ｒの電圧回路に印加できる。
【００５２】
図３に示された状態から、試験器９のケーブル９ｗを接続するために、中心接続端子２１を螺進させると、中心接続端子２１の後部に形成されたピニオン２１ｐとストップピン１３１・１３２・１３３に形成したラック１３ｒが噛み合っているので、これらのストップピン１３１・１３２・１３３の先端部を絶縁板１３の側面から突出できる（図７又は図９（Ｂ）参照）。
【００５３】
図７又は図８に示された電圧試験プラグ１０は、絶縁板１３の側面からストップピン１３１・１３２・１３３の先端部が突出しているので、テストターミナル８０の前部に設けた開口８ｋに挿入することは困難である（図１参照）。
【００５４】
又、図１０を参照して、テストターミナル８０には、ストップピン１３１・１３２・１３３の先端部が係合する係止穴８３１・８３２・８３３をそれらの側面板の内側から外側に向けて開口しておくこと好ましく、図７又は図８に示された電圧試験プラグ１０をテストターミナル８０から引き出すことが阻止できる（図１２（Ｃ）参照）。
【００５５】
このように、実施形態による電圧試験プラグ１０は、試験器９を電圧試験プラグ１０に接続するために、試験器９のケーブル９ｗの端末を中心接続端子２１に締結すると、中心接続端子２１の螺旋運動がラック・ピニオン機構によりストップピン１３１・１３２・１３３の進退運動に変換されることにより、絶縁板１３の側面にストップピン１３１・１３２・１３３の先端部が突出して、試験器９が接続状態の電圧試験プラグ１０をテストターミナル８０に抜き差しすることを阻止できる。
【００５６】
図８に示された状態から、つまみ２１ａを反時計方向に回転すると、中心接続端子２１が後進するので、圧着端子９ｔを中心接続端子２１から取り外すことができる（図１参照）。又、中心接続端子２１の後進に連動して、ストップピン１３１・１３２・１３３の先端が絶縁板１３の側面から後退するので（図２又は図９（Ａ）参照）、電圧試験プラグ１０をテストターミナル８０から取り外すことができる。
【００５７】
図１又は図２を参照して、実施形態による電圧試験プラグ１０をテストターミナル８０に挿入した状態で、外部電源回路８ｐを測定したい場合は、図３又は図６に示されるように、中心接続端子２１を後退させて試験器９の接続を切り離し、図示しない測定ピンを第１貫通穴２４１に挿入すると、外部接続端子２３に測定ピンの先端部を接触でき、外部電源回路８ｐの電圧などを測定できる。
【００５８】
又、図１又は図２を参照して、実施形態による電圧試験プラグ１０をテストターミナル８０に挿入した状態で、中心接続端子２１と外部接続端子２３とを短絡させたい場合には、つまり、電気装置８ｒと外部電源回路８ｐを接続したい場合は、接続端子２にボルト部材３を締結することで、中心接続端子２１と外部接続端子２３とを短絡できる。この場合、中心接続端子２１が後退しているので、試験器９のケーブル９ｗを接続することが防止される。
【００５９】
図３又は図６を参照すると、外部電源回路８ｐに接続した外部接続端子２３は、その端面が絶縁性を有するベゼル２４の端面から奥に位置しているので、人体（指）などが外部接続端子２３に接触することを防止できる。
【００６０】
本発明は、試験器が接続状態の電圧試験プラグをテストターミナルに抜き差しするなどのヒューマンエラーを阻止できると共に、構成が簡易な電圧試験プラグを提供きる。
【符号の説明】
【００６１】
１  フレーム
２  接続端子
８ｐ  外部電源回路
８ｒ  電気装置
９  試験器
１０  電圧試験プラグ
１１  端子板
１３  絶縁板
１３ａ  第１電極板
１３ｂ  第２電極板
１３ｒ  ラック
２１  中心接続端子
２１ａ  つまみ
２１ｐ  ピニオン
２２  カップリング
２３  外部接続端子
２３ａ  絶縁部材
８０  テストターミナル
８１ａ  第１コンタクト
８１ｂ  第２コンタクト
８１ｔ  第１ねじ端子
８２ｔ  第２ねじ端子
１３１・１３２・１３３  ストップピン
２１１  雄ねじ部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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