(57)【要約】【課題】記録マークの形成部と非形成部との反射率差が低い場合にもＳＮＲ良く信号再生を行うことができる再生手法を実現する。【解決手段】それぞれの照射スポットが先行、後行の関係となるように例えばＰ偏光とＳ偏光とを光記録媒体の記録層に対して照射し、上記記録層を介した上記Ｐ偏光、上記Ｓ偏光を重ね合わせた上で、この重ね合わせ光を偏光板を介して受光する。例えばＰ偏光とＳ偏光のうち一方がマーク上に位置し他方がマークの非形成部に位置するという状態では、Ｐ偏光とＳ偏光とに光路差（位相差）が生じ、それらの重ね合わせ光の偏光方向が変化する。一方、Ｐ偏光、Ｓ偏光の双方がマークの形成部又は非形成部にある状態では偏光方向に変化は生じない。このような偏光方向の変化が、上記偏光板により受光光量の変化として検出され、信号再生が可能となる。【選択図】図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
それぞれの照射スポットが先行、後行の関係となるように第１の光と該第１の光とは偏光方向が略直交する第２の光とを光記録媒体の記録層に対して照射する光照射部と、
上記記録層を介した上記第１の光、上記第２の光を重ね合わせる補正光学系と、
上記補正光学系で得られた上記第１の光と上記第２の光の重ね合わせ光が入射される偏光板と、
上記偏光板を介した上記重ね合わせ光を受光する受光部と、
上記受光部による受光信号に基づき信号再生を行う再生部と
を備える再生装置。
【請求項２】
上記光照射部は、
共通光源より発せられた光を偏光ビームスプリッタを用いてＰ偏光とＳ偏光とに分離することで上記第１の光と上記第２の光を得る
請求項１に記載の再生装置。
【請求項３】
上記光照射部は、
上記第１の光又は上記第２の光の少なくとも一方の光軸をずらすことで上記先行、後行の関係が得られるように上記照射スポットを形成し、
上記補正光学系は、
上記記録層を介した上記第１の光、上記第２の光の光軸を一致させるように構成されている
請求項１に記載の再生装置。
【請求項４】
上記第１の光の照射スポットと上記第２の光の照射スポットの間隔が上記記録層における最短マーク長以下に設定されている
請求項１に記載の再生装置。
【請求項５】
上記記録層には、マークがポジション記録されており、
上記再生部は、
上記受光信号から上記マークの有無のパターンを検出した結果に基づき信号再生を行う
請求項１に記載の再生装置。
【請求項６】
上記再生部は、
上記受光信号についてのピーク検出を行った結果に基づき上記マークの有無を判定して上記信号再生を行う
請求項５に記載の再生装置。
【請求項７】
上記記録層はバルク状の記録層とされ、該記録層には屈折率変調マークが形成されており、
上記補正光学系は、
上記記録層を透過した上記第１の光、上記第２の光を入射してそれらを重ね合わせる
請求項１に記載の再生装置。
【請求項８】
上記記録層は反射膜を有しており、
上記補正光学系は、
上記記録層の上記反射膜にて反射された上記第１の光、上記第２の光を入射してそれらを重ね合わせる
請求項１に記載の再生装置。
【請求項９】
それぞれの照射スポットが先行、後行の関係となるように第１の光と該第１の光とは偏光方向が略直交する第２の光とを光記録媒体の記録層に対して照射する光照射手順と、
上記記録層を介した上記第１の光、上記第２の光を重ね合わせる補正手順と、
上記補正手順により得た上記第１の光と上記第２の光の重ね合わせ光を、偏光板を介して受光する受光手順と、
上記受光手順による受光信号に基づき信号再生を行う再生手順と
を有する再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本技術は、光記録媒体についての再生を行う再生装置とその方法とに関する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００２】
【特許文献１】特開２００８−１３５１４４号公報
【特許文献２】特開２００８−１７６９０２号公報
【背景技術】
【０００３】
光の照射により信号の記録／再生が行われる光記録媒体として、例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などの光ディスク記録媒体（以下、光ディスクとも表記）が普及している。
【０００４】
これらＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤなど現状において普及しているものの次世代を担うべき光ディスクとして、先に本出願人は、上記特許文献１や上記特許文献２に記載されるようないわゆるバルク記録型の光ディスクを提案している。
【０００５】
ここで、バルク記録とは、例えば図１３に示すようにして少なくともカバー層１０１とバルク層（記録層）１０２とを有する光記録媒体（バルク型記録媒体１００とする）に対し、逐次焦点位置を変えてレーザ光照射を行ってバルク層１０２内に多層記録を行うことで、大記録容量化を図る技術である。
【０００６】
バルク層１０２は、例えば反射膜が複数形成されるという意味での明示的な多層構造を有するものではない。すなわち、バルク層１０２においては、通常の多層ディスクが備えているような記録層ごとの反射膜、及び案内溝は設けられていないものである。
【０００７】
上記のようなバルク記録に関して、上記特許文献１には、いわゆるマイクロホログラム方式と呼ばれる記録技術が開示されている。
マイクロホログラム方式では、バルク層１０２の記録材料として、いわゆるホログラム記録材料が用いられる。ホログラム記録材料としては、例えば光重合型フォトポリマ等が広く知られている。
【０００８】
マイクロホログラム方式は、ポジ型マイクロホログラム方式とネガ型マイクロホログラム方式とに大別される。
ポジ型マイクロホログラム方式は、対向する２つの光束（光束Ａ、光束Ｂ）を同位置に集光して微細な干渉縞（ホログラム）を形成し、これを記録マークとする手法である。
また、ネガ型マイクロホログラム方式は、ポジ型マイクロホログラム方式とは逆の発想で、予め形成しておいた干渉縞をレーザ光照射により消去して、当該消去部分を記録マークとする手法である。具体的に、ネガ型マイクロホログラム方式では、記録動作を行う前に、予めバルク層１０２に対して干渉縞を形成するための初期化処理を行う。すなわち、平行光による光束Ｃ，Ｄを対向して照射し、それらの干渉縞をバルク層１０２の全体に形成しておくものである。そして、このように初期化処理により予め干渉縞を形成しておいた上で、消去マークの形成による情報記録を行う。具体的には、任意の層位置にフォーカスを合わせた状態で記録すべき情報に応じたレーザ光照射を行うことで、消去マークによる情報記録を行うものである。
【０００９】
また、本出願人は、マイクロホログラム方式とは異なるバルク記録の手法として、例えば特許文献２に開示されるようなボイド（空孔、空包）を記録マークとして形成する記録手法も提案している。
ボイド記録方式は、例えば光重合型フォトポリマなどの記録材料で構成されたバルク層１０２に対して、比較的高パワーでレーザ光照射を行い、上記バルク層１０２内に空孔を記録する手法である。特許文献２に記載されるように、このように形成された空孔部分は、バルク層１０２内における他の部分と屈折率が異なる部分となり、それらの境界部分で光の反射率が高められることになる。従って上記空孔部分は記録マークとして機能し、これによって空孔マークの形成による情報記録が実現される。
【００１０】
このようなボイド記録方式は、ホログラムを形成するものではないため、記録にあたっては片側からの光照射を行えば済むものとできる。すなわち、ポジ型マイクロホログラム方式の場合のように２つの光束を同位置に集光して記録マークを形成する必要は無いものとできる。
また、ネガ型マイクロホログラム方式との比較では、初期化処理を不要にできるというメリットがある。
なお、特許文献２には、ボイド記録を行うにあたり記録前のプリキュア光の照射を行う例が示されているが、このようなプリキュア光の照射は省略してもボイドの記録は可能である。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
しかしながら、上記により説明したようなバルク記録方式では、記録層ごとに反射膜が形成されるものではないため、記録マークの反射光量が微小なものとなる。このため、信号再生時のＳＮＲ（信号対雑音比）の向上が困難であり、エラーレートの低減が困難なものとされている。
【００１２】
本技術はこのような問題点に鑑みなされたものであり、記録マークの形成部と非形成部との反射率差が低い場合にもＳＮＲ良く信号再生を行うことができる再生手法を実現することをその課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記課題の解決を図るべく、本技術では再生装置として以下のような構成を提案する。
すなわち、本技術の再生装置は、それぞれの照射スポットが先行、後行の関係となるように第１の光と該第１の光とは偏光方向が略直交する第２の光とを光記録媒体の記録層に対して照射する光照射部を備える。
また、上記記録層を介した上記第１の光、上記第２の光を重ね合わせる補正光学系を備える。
また、上記補正光学系で得られた上記第１の光と上記第２の光の重ね合わせ光が入射される偏光板を備える。
また、上記偏光板を介した上記重ね合わせ光を受光する受光部を備える。
また、上記受光部による受光信号に基づき信号再生を行う再生部を備えるものである。
【００１４】
上記構成において、第１の光（例えばＰ偏光）と第２の光（例えばＳ偏光）とが共に記録層におけるマークの非形成部分に位置しているときには、これら第１の光と第２の光の光路長（位相）に差は生じない。このとき、第１の光と第２の光の重ね合わせ光は所定の偏光方向を有する（４５°偏光）。上記偏光板は、例えばこのような所定の偏光方向による光を選択的に透過するようにその光学基準軸を調整しておく。この場合、上記のように第１の光と第２の光が共にマークの非形成部分にあるときの受光信号レベルは最大となる。
一方で、例えば第１の光と第２の光のうち一方がマーク上に位置し他方がマークの非形成部に位置するという状態では、第１の光と第２の光とに光路差（位相差）が生じ、それらの重ね合わせ光の偏光方向が上記所定の偏光方向から変化する。このため、例えば上記の偏光板の設定の下では、第１の光と第２の光の重ね合わせ光の透過光量が減少して、受光信号レベルは低下するものとなる。
このようなマークの有無に応じた受光信号レベルの変化を利用して、上記再生部が信号再生を行うことができる。
記録層に対して照射した光の偏光状態の変化を利用した再生手法であるため、マークの形成部と非形成部との反射率差が低い場合にもＳＮＲ良く信号再生を行うことができる。
【発明の効果】
【００１５】
上記のように本技術によれば、記録マークの形成部と非形成部との反射率差が低い場合にもＳＮＲ良く信号再生を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】実施の形態で対象とする光記録媒体の断面構造図である。
【図２】記録／再生時の位置制御手法についての説明図である。
【図３】実施の形態の再生装置が備える主に光学系の構成について説明するための図である。
【図４】実施の形態の再生装置全体の内部構成について説明するための図である。
【図５】図３に示した光学系のうち実施の形態の再生手法に係る要部の構成を抽出して示した図である。
【図６】実施の形態の再生手法の基本原理についての説明図である。
【図７】マークサイズとＰ偏光、Ｓ偏光のスポットサイズとの関係を例示した図である。
【図８】マークポジション記録により記録層に形成されたマーク列と読出信号の振幅との関係、及び具体的な符号判定手法についての説明図である。
【図９】実施の形態としての再生手法を実現するための構成についての説明図である。
【図１０】反射型の光記録媒体の断面構造図である。
【図１１】反射型の光記録媒体に対応した光ピックアップの構成例を示した図である。
【図１２】Ｐ偏光とＳ偏光のスポット間距離についての説明図である。
【図１３】バルク記録方式についての説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、発明を実施するための形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
なお、説明は以下の順序で行うものとする。
＜１．実施の形態で対象とする光記録媒体の例＞
＜２．位置制御手法について＞
＜３．実施の形態の再生装置の構成＞
＜４．実施の形態の再生手法＞
＜５．変形例＞
【００１８】
＜１．実施の形態で対象とする光記録媒体の例＞
図１は、実施の形態の再生装置が対象とする光記録媒体の断面構造図を示している。
実施の形態で対象とする光記録媒体は、いわゆるバルク記録型の光記録媒体とされ、以下、バルク型記録媒体１と称する。
なお、光記録媒体とは、光の照射により記録信号の再生が行われる記録媒体を総称したものである。
【００１９】
バルク型記録媒体１は、ディスク状の光記録媒体とされる。
バルク型記録媒体１は、後述する再生装置により回転駆動された状態にてレーザ光照射が行われてマーク記録（情報記録）及び再生が行われる。
【００２０】
図１に示されるように、バルク型記録媒体１には、上層側から順にカバー層２、選択反射膜３、中間層４、バルク層５が形成されている。
ここで、本明細書において「上層側」とは、後述する実施の形態の再生装置側からのレーザ光が入射する面を上面としたときの上層側を指す。
【００２１】
また、本明細書においては「深さ方向」という語を用いるが、この「深さ方向」とは、上記「上層側」の定義に従った上下方向（縦方向）と一致する方向（すなわち再生装置側からのレーザ光の入射方向に平行な方向：フォーカス方向）を指すものである。
【００２２】
バルク型記録媒体１において、上記カバー層２は、例えばポリカーボネートやアクリルなどの樹脂で構成され、図示するようにその下面側には、記録／再生位置を案内するための位置案内子が形成されている。
この場合、上記位置案内子としては、連続溝（グルーブ）、又はピット列としての案内溝により形成される。案内溝は、例えばスパイラル状に形成されているものとする。
例えば案内溝がピット列で形成される場合、ピットとランドの長さの組み合わせにより位置情報（絶対位置情報：例えば回転角度情報や半径位置情報など、以下アドレス情報とも称する）が記録される。或いは、案内溝がグルーブとされる場合、当該グルーブを周期的に蛇行（ウォブリング）させて形成することで、該蛇行の周期情報により位置情報の記録が行われる。
カバー層２は、このような案内溝（凹凸形状）が形成されたスタンパを用いた射出成形などにより生成される。
【００２３】
また、上記のような案内溝が形成された上記カバー層２の下面側には、選択反射膜３が成膜される。
そして該選択反射膜３の下層側には、中間層４（接着層）を介してバルク層５が形成されている。
中間層４は、例えばＵＶ硬化樹脂や熱可塑性樹脂などで構成され、カバー層２の上記選択反射膜３の形成面側にこれらＵＶ硬化樹脂などの中間層４の形成材料が塗布され、該塗布面にバルク層５としての材料が押し当てられた状態で硬化処理が施されることで、選択反射膜３の下層側に中間層４を介してバルク層５が形成（接着）された状態が得られる。
【００２４】
ここで、先の図１３の説明からも理解されるように、バルク記録方式において、記録層としてのバルク層５には、例えば反射膜が複数形成されるという意味での明示的な多層構造を有するものではない。すなわち、バルク層５においては、通常の多層ディスクが備えているような記録層ごとの反射膜、及び案内溝は設けられていないものである。
このことから、マークの未記録時には、記録層に対して照射したレーザ光によるサーボをかけることができない。
【００２５】
そこで、実際においてバルク型記録媒体１に対しては、上記のように案内溝を有する基準となる反射面（基準面Ｒｅｆ）を、バルク層５の外部に対して設けるものとしている。
また、その上で、バルク型記録媒体１に対しては、後の図２でも説明するように、マークの記録や再生のためにバルク層５を対象として照射されるべきレーザ光（以下、記録層用レーザ光と表記）と、位置制御用のレーザ光として上記基準面Ｒｅｆを対象として照射されるべき基準面用レーザ光とを照射するようにされる。
図２に示されるように、これら記録層用レーザ光と基準面用レーザ光とは、共通の対物レンズを介してバルク型記録媒体１に照射される。
【００２６】
このとき、基準面用レーザ光は、基準面Ｒｅｆにて反射されてその戻り光に基づく位置制御が行われるべきものとなる。一方、記録層用レーザ光は、基準面Ｒｅｆの下層側に形成されたバルク層５に到達してマークの記録や再生に用いられるべきものとなる。
このためバルク記録方式では、基準面用レーザ光として記録層用レーザ光とは波長帯の異なるレーザ光を用いるものとした上で、基準面Ｒｅｆとしての反射面を形成するための反射膜として、上記のように選択反射膜３を設けるものとしている。具体的に該選択反射膜３としては、基準面用レーザ光と同波長帯による光は反射し、それ以外の波長による光は透過するという波長選択性を有する反射膜とされる。
【００２７】
ここで、バルク層５の材料（記録材料)としては、例えば先に説明したポジ型マイクロホログラム方式やネガ型マイクロホログラム方式、ボイド記録方式など、採用するバルク記録の方式に応じて適宜最適なものが採用されればよい。
なお、本技術で対象とする光記録媒体に係るマーク記録方式は特に限定されるべきものではなく、バルク記録方式の範疇において任意の方式が採用されればよい。
一例として、本例ではボイド（空包）記録方式が採用されるものとして以下の説明を続ける。先の説明から理解されるように、ボイド記録方式では空包をマークとして形成する方式であり、この場合のマークは他の部分と屈折率が異なるものとなる。換言すれば、屈折率変調マークが形成されるものである。
【００２８】
＜２．位置制御手法について＞
図２は、バルク記録媒体１に対するマークの記録／再生時の位置制御手法についての説明図である。
先ず、案内溝や反射膜の形成されていないバルク層５に対して多層記録を行うとしたときには、バルク層５内の深さ方向においてマークを記録する層位置を何れの位置とするかを予め設定しておくことになる。図中では、バルク層５内においてマークを形成する層位置（マーク形成層位置：情報記録層位置とも表記する）として、第１情報記録層位置Ｌ１〜第５情報記録層位置Ｌ５の計５つの情報記録層位置Ｌが設定された場合を例示している。図示するように第１情報記録層位置Ｌ１は、案内溝が形成された選択反射膜３（基準面Ｒｅｆ）からフォーカス方向（深さ方向）に第１オフセットｏｆ-L1分だけ離間した位置として設定される。また、第２情報記録層位置Ｌ２、第３情報記録層位置Ｌ３、第４情報記録層位置Ｌ４、第５情報記録層位置Ｌ５は、それぞれ基準面Ｒｅｆから第２オフセットｏｆ-L2分、第３オフセットｏｆ-L3分、第４オフセットｏｆ-L4分、第５オフセットｏｆ-L5分だけ離間した位置として設定される。
【００２９】
なお、情報記録層位置Ｌの数は５に限定されるべきものではない。
【００３０】
マークが未だ形成されていない記録時においては、記録層用レーザ光に基づいてフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行うことはできない。従って、記録時における対物レンズのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御は、位置制御用光としての基準面用レーザ光の反射光に基づき、当該基準面用レーザ光の照射スポット位置が基準面Ｒｅｆ上の案内溝に追従するように対物レンズの位置制御を行うことで実現する。
上述のように基準面用レーザ光と記録層用レーザ光は共通対物レンズを介して照射されるので、記録層用レーザ光についても同様に位置制御の作用が得られるものとなる。
【００３１】
但し、記録層用レーザ光は、マーク記録のために選択反射膜３よりも下層側に形成されたバルク層５に到達させる必要がある。このため、この場合の光学系には、対物レンズのフォーカス機構とは別途に、記録層用レーザ光の合焦位置を独立して調整するためのフォーカス機構が設けられることになる（本例では後の図３に示すフォーカス機構１７が該当）。
【００３２】
このようなフォーカス機構により記録層用レーザ光の合焦位置を基準面Ｒｅｆからオフセットｏｆ-L分だけオフセットさせた位置に設定することで、所要の情報記録層位置Ｌに対してマークの記録を行うことができる。
【００３３】
また、マーク記録が行われたバルク層５についての再生時には、既記録マーク列の変調を受けた光が得られるので、記録層用レーザ光を利用したフォーカスサーボやトラッキングサーボを行うことができる。
そこで再生時には、記録層用レーザ光についての受光信号を利用して対物レンズのトラッキングサーボ制御を行う。
ここで、再生時のフォーカスサーボ制御については、記録層用レーザ光の受光信号に基づいて行うことになるが、この場合、制御対象としては対物レンズ、或いは上述のフォーカス機構の何れとしてもフォーカスサーボを実現することができる。
但し本例では、再生時において基準面用レーザ光による基準面Ｒｅｆ上のアドレス情報の読み出しが可能となるようにするため、再生時における記録層用レーザ光についてのフォーカスサーボは上述のフォーカス機構を制御することで実行するものとする。
【００３４】
＜３．実施の形態の再生装置の構成＞
続いて、本技術に係る実施の形態としての再生装置の構成について図３及び図４を参照して説明する。
ここで、実施の形態の再生装置は、バルク型記録媒体１についての再生機能と共に記録機能も有する。この意味で以下、実施の形態の再生装置については記録再生装置１０と表記する。
【００３５】
図３は、記録再生装置１０が備える主に光学系の構成について説明するための図である。具体的には、記録再生装置１０が備える光ピックアップＯＰの内部構成を主に示している。
【００３６】
図３において、記録再生装置１０に装填されたバルク型記録媒体１は、当該記録再生装置１０における所定位置においてそのセンターホールがクランプされるようにしてセットされ、図中のスピンドルモータ（ＳＰＭ）４０による回転駆動が可能な状態に保持される。
本例では、バルク型記録媒体１の回転駆動方式としてＣＬＶ方式（線速度一定方式）が採用されているとする。
光ピックアップＯＰは、スピンドルモータ４０により回転駆動されるバルク型記録媒体１に対して記録層用レーザ光、基準面用レーザ光を照射する。
【００３７】
光ピックアップＯＰ内には、記録層用レーザ光の光源となる記録層用レーザ１１と、基準面用レーザ光の光源となる基準面用レーザ３４とが設けられる。
ここで、先に述べたように記録層用レーザ光と基準面用レーザ光とはそれぞれ波長帯の異なる光を用いる。本例の場合、記録層用レーザ光の波長はおよそ４０５ｎｍ程度（いわゆる青紫色レーザ光）、基準面用レーザ光の波長はおよそ６５０ｎｍ程度（赤色レーザ光）とされているとする。
【００３８】
光ピックアップＯＰ内には、記録層用レーザ光と基準面用レーザ光のバルク型記録媒体１への共通の出力端となる対物レンズ１９が設けられる。  
さらに、この場合の光ピックアップＯＰは、バルク型記録媒体１を透過した記録層用レーザ光を受光するいわゆる透過型の構成が採用されており、図のように対物レンズ１９に対を為す対物レンズ２１が、バルク型記録媒体１を介して対物レンズ１９とは反対側となる位置に対して設けられる。
図のように対物レンズ２１に対しては、対物レンズ１９を介してバルク層５内の所要の情報記録層位置Ｌに焦点を結んだ後の発散光による記録層用レーザ光が入射される。
光ピックアップＯＰには、このように対物レンズ２１に入射する記録層用レーザ光を受光するための受光部として、再生用受光部３０、及びサーボ用受光部３３がそれぞれ設けられる。
また光ピックアップＯＰには、基準面用レーザ光の基準面Ｒｅｆからの反射光を受光するための基準面用受光部３９も設けられている。
【００３９】
先ずは、記録層用レーザ光の照射／受光系の構成から見ていく。
記録層用レーザ１１より出射された記録層用レーザ光は、１／２波長板１２によりその偏光方向が調整される。
本例の場合、１／２波長板１２は記録層用レーザ光を４５°偏光とするようにその取り付け角度が調整（つまり光学基準軸が調整）されている。
【００４０】
１／２波長板１２を介した記録層用レーザ光は、ＰＢＳ（偏光ビームスプリッタ）１３に入射する。
ＰＢＳ１３は、その選択反射面がＰ偏光を透過しＳ偏光を反射するように構成されている。従ってＰＢＳ１３に入射した記録層用レーザ光は、そのＰ偏光成分が透過しＳ偏光成分が反射することで、結果としてＰ偏光とＳ偏光とに分光される。
ＰＢＳ１３を透過したＰ偏光は図のようにＰＢＳ１６の選択反射面の一方の面側に入射する。
【００４１】
ＰＢＳ１３で反射されたＳ偏光は、図中のミラー１４及びミラー１５を介してＰＢＳ１６の選択反射面の他方の面側に入射する。
このとき、ミラー１４、ミラー１５の配置位置や配置角度は、ＰＢＳ１６で出力されるＳ偏光とＰ偏光の光軸に所定のずれを生じさせるように調整されている。なお、このようなミラー１４及びミラー１５の光軸調整によって実現するＰ偏光の照射スポット位置とＳ偏光の照射スポット位置との関係については後述する。
【００４２】
ＰＢＳ１６は、その選択反射面において、Ｐ偏光は透過しＳ偏光を反射するようにされる。上記のようにＳ偏光側の光軸がミラー１４，１５により調整されているので、Ｐ偏光とＳ偏光は図のように光軸がずれた状態でＰＢＳ１６より出射される。
【００４３】
ＰＢＳ１６より出射されたＰ偏光とＳ偏光は、フォーカス機構１７に入射する。
フォーカス機構１７は、例えば光源（記録層用レーザ１１）に近い側に固定レンズ、対物レンズ１９に近い側に可動レンズが配置され、該可動レンズが光源側又は対物レンズ１９側に駆動されることで記録層用レーザ光（Ｐ偏光及びＳ偏光）の合焦位置を調整することが可能に構成される。
具体的に、該フォーカス機構１７によっては対物レンズ１９に入射する記録層用レーザ光のコリメーション状態（収束光／平行光／発散光の遷移状態）が変化され、これによって記録層用レーザ光の合焦位置を独立して調整することが可能とされる。
【００４４】
フォーカス機構１７を介したＰ偏光及びＳ偏光は、ダイクロイックミラー１８に入射する。
ダイクロイックミラー１８は、その選択反射面が、記録層用レーザ光と同波長帯の光は透過し、それ以外の波長による光は反射するように構成されている。従って上記のように入射したＰ偏光及びＳ偏光は、ダイクロイックミラー１８を透過する。
【００４５】
ダイクロイックミラー１８を透過したＰ偏光及びＳ偏光は、図示するように対物レンズ１９を介することで、バルク型記録媒体１（バルク層５）上の異なる位置（面内方向上の異なる位置）にそれぞれ焦点を結ぶ。なお確認のため述べておくと、Ｐ偏光及びＳ偏光は同じフォーカス機構１７及び対物レンズ１９を介して照射されることから、その合焦位置（フォーカス方向における合焦位置）は同じとなる。
【００４６】
ここで、対物レンズ１９は、第１レンズアクチュエータ２０により少なくともバルク型記録媒体１の半径方向（トラッキング方向）及びフォーカス方向に変位可能に保持されている。
第１レンズアクチュエータ２０には、フォーカスコイル、トラッキングコイルが備えられ、それぞれに駆動信号（後述するフォーカス駆動信号ＦＤ、トラッキング駆動信号ＴＤ）が与えられることで、対物レンズ１９をフォーカス方向、トラッキング方向にそれぞれ変位させる。
【００４７】
前述のように、バルク層５内で焦点を結んだ後の記録層用レーザ光は、対物レンズ２１に入射する。
対物レンズ２１は、第２レンズアクチュエータ２２により少なくともトラッキング方向及びフォーカス方向に変位可能に保持されている。先の第１レンズアクチュエータ２０と同様、第２レンズアクチュエータ２２には、フォーカスコイル、トラッキングコイルが備えられ、それぞれに駆動信号（後述するフォーカス駆動信号ＦＤ'、トラッキング駆動信号ＴＤ'）が与えられることで、対物レンズ２１をフォーカス方向、トラッキング方向にそれぞれ変位させる。
【００４８】
対物レンズ２１を介したＰ偏光及びＳ偏光は、ＰＢＳ２３に入射する。
ＰＢＳ２３は、Ｐ偏光を透過、Ｓ偏光を反射するように構成される。ＰＢＳ２３を透過したＰ偏光はＰＢＳ２６の選択反射面の一方の面側に入射する。
【００４９】
ＰＢＳ２３にて反射されたＳ偏光は、ミラー２４及びミラー２５を介して、ＰＢＳ２６の選択反射面の他方の面側に入射する。
この場合、ミラー２４、ミラー２５の配置位置や配置角度は、ＰＢＳ２６より出力されるＰ偏光とＳ偏光の光軸のずれを補正するように調整されている。具体的には、再生用受光部３０及びサーボ用受光部３３の受光面上でＰ偏光とＳ偏光のスポット位置が重なるように調整されているものである。
【００５０】
ＰＢＳ２６は、Ｐ偏光を透過しＳ偏光を反射する。このようなＰＢＳ２６による選択反射によって、該ＰＢＳ２６からは、Ｐ偏光とＳ偏光の重ね合わせ光が出射される。
【００５１】
ＰＢＳ２６より出射されたＰ偏光とＳ偏光の重ね合わせ光は、ＢＳ（無偏光ビームスプリッタ）２７に入射して、所定の分光比（例えば１：１）により分光される。
図のようにＢＳ２７により分光された一方の光は再生用受光部３０側の受光光学系に導かれ、他方の光はサーボ用受光部３３側の受光光学系に導かれる。
【００５２】
具体的に、再生用受光部３０側の光学系において、ＢＳ２７で分光された一方の光は、偏光板２８、及び集光レンズ２９を介して再生用受光部３０の受光面上に集光する。
ここで、再生用受光部３０による受光信号については、受光信号ＤＴ-rdと表記する。
【００５３】
また、サーボ用受光部３３側の光学系において、ＢＳ２７で分光された他方の光は、ミラー３１にてその光軸が略９０°折り曲げられるようにして反射された後、シリンドリカルレンズ３２を介してサーボ用受光部３３の受光面上に集光する。
この場合、サーボ用受光部３３は、非点収差法によるサーボ方式に対応すべく、その受光領域が複数（例えば４つ）に分割され、複数の受光素子から成る。
以下、サーボ用受光部３３で得られる複数の受光素子による受光信号を総括して、受光信号ＤＴ-svと表記する。
【００５４】
続いて、基準面用レーザ光についての光学系において、基準面用レーザ３４より出射された基準面用レーザ光は、図のようにＰＢＳ３５に入射する。ＰＢＳ３５は、このように基準面用レーザ３４側から入射した基準面用レーザ光（往路光）は透過するように構成される。
【００５５】
ＰＢＳ３５を透過した基準面用レーザ光は、１／４波長板３６を介してダイクロイックミラー１８に入射する。
先に述べたように、ダイクロイックミラー１８は、記録層用レーザ光と同波長帯の光は透過しそれ以外の波長による光は反射するように構成されているため、基準面用レーザ光はダイクロイックミラー１８にて反射され、図のように対物レンズ１９を介してバルク型記録媒体１（基準面Ｒｅｆ）に照射される。
【００５６】
また、このようにバルク型記録媒体１に基準面用レーザ光が照射されたことに応じて得られる反射光（基準面Ｒｅｆからの反射光）は、対物レンズ１９を介した後ダイクロイックミラー１８で反射され、１／４波長板３６を介してＰＢＳ３５に入射する。
このようにバルク型記録媒体１側から入射した基準面用レーザ光の反射光（復路光）は、１／４波長板３６の作用とバルク型記録媒体１での反射時の作用とにより、往路光とはその偏光方向が９０°異なるものとされ、従って復路光としての基準面用レーザ光の反射光はＰＢＳ３５にて反射される。
【００５７】
ＰＢＳ３５にて反射された基準面用レーザ光の反射光は、ミラー３７にてその光軸が９０°折り曲げられるようにして反射された後、シリンドリカルレンズ３８を介して基準面用受光部３９の受光面上に集光する。
ここで、基準面用受光部３９としても非点収差法によるサーボ方式に対応するべく複数の受光素子（例えば４つ）を備えており、以下、基準面用受光部３９としての複数の受光素子で得られる受光信号を総括して受光信号ＤＴ-refと表記する。
【００５８】
ここで、図示による説明は省略するが、実際において記録再生装置１０には、上記により説明した光ピックアップＯＰ全体をトラッキング方向にスライド駆動するスライド駆動部が設けられ、当該スライド駆動部による光ピックアップＯＰの駆動により、レーザ光の照射位置を広範囲に変位させることができるようにされている。
【００５９】
図４は、記録再生装置１０の全体的な内部構成を示している。
なお図４において、光ピックアップＯＰの内部構成については、図３に示した構成のうち記録層用レーザ１１、基準面用レーザ３４、第１レンズアクチュエータ２０、第２レンズアクチュエータ２２、及びフォーカス機構１７のみを抽出して示している。
【００６０】
図４において、記録処理部４１は、バルク層５に対して記録されるべきデータ（図中、記録データ）を処理するために設けられる。
記録処理部４１は、入力された記録データに対してエラー訂正符号の付加やインターリーブ処理、所定の記録変調符号化、アドレス情報の付加を行うなどして、バルク層５に実際に記録される例えば「０」「１」の２値データ列である記録変調データ列を得る。
【００６１】
ここで、後述もするように本例ではバルク層５にはマークエッジ記録ではなくマークポジション記録を行うものとされる。従って記録処理部４１が行う上記記録変調符号化は、マークポジション記録に対応したものとなる。
【００６２】
確認のため述べておくと、ここで言うマークポジション記録とは、単純にマークの形成有無によりチャネルデータ「０」「１」を判定する記録手法を指すものである。具体的には、所定長のマークが所定周期で配列されるモノトーン状のマーク列を基準としたとき、そのマーク列上においてマークが形成されるべき部分にマークが形成されている場合には例えばチャネルデータ「１」、逆に該マークが形成されるべき部分にマークが形成されていない場合には例えばチャネルデータ「０」とするものである。
【００６３】
発光駆動部４２は、記録時には、記録処理部４１から入力される上記変調データ列に基づくレーザ駆動信号Ｄ1を生成し、該レーザ駆動信号Ｄ1により記録層用レーザ１１を記録パワーにより発光駆動する。
また発光駆動部４２は、再生時には、後述するコントローラ５５からの指示に基づき記録層用レーザ１１を再生パワーにより連続発光させるためのレーザ駆動信号Ｄ1を生成し、該レーザ駆動信号Ｄ1に基づき記録層用レーザ１１を発光駆動する。
【００６４】
また、発光駆動部４３は、コントローラ５５からの指示に基づき、基準面用レーザ３４を再生パワーにより連続発光させるためのレーザ駆動信号Ｄ2を生成し、該レーザ駆動信号Ｄ2に基づき基準面用レーザ３４を発光駆動する。
【００６５】
図３に示した再生用受光部３０により得られた受光信号ＤＴ-rdは、Ｉ／Ｖ変換アンプ４４に入力される。
Ｉ／Ｖ変換アンプ４４は受光信号ＤＴ-rdを電圧信号に変換し、その結果を信号ＳＲとして再生処理部４５に出力する。
【００６６】
再生処理部４５は、信号ＳＲについて所定の再生処理を実行することで、上述の記録データを復元（再生）した再生データを得る。
なお、上記再生処理の具体的な内容、及び再生処理部４５の内部構成については後に改めて説明する。
【００６７】
信号生成部４６には、図３に示した基準面用受光部３９からの受光信号ＤＴ-refが入力される。
信号生成部４６は、受光信号ＤＴ-refとしての複数の受光素子からの受光信号をＩ／Ｖ変換すると共に、その結果に基づき、マトリクス演算処理により必要な各種の信号を生成する。
具体的には、フォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-ref（基準面用レーザ光の基準面Ｒｅｆに対するフォーカス誤差を表す信号）、及びトラッキングサーボ制御のためのトラッキングエラー信号ＴＥ-ref（基準面Ｒｅｆ上の位置案内子に対する基準面用レーザ光の照射スポットの半径方向における位置誤差を表す信号）を生成する。
また信号生成部４６は、基準面Ｒｅｆに記録された位置情報を検出するための信号として、位置情報検出用信号Ｄpsを生成する。この位置情報検出用信号Ｄpsとしては、案内溝がピット列で形成される場合には和信号を生成し、案内溝がウォブリンググルーブで形成される場合にはプッシュプル信号を生成する。
【００６８】
信号生成部４６で生成された位置情報検出用信号Ｄpsは、アドレス検出部４７に対して供給される。アドレス検出部４７は、位置情報検出用信号Ｄpsに基づき基準面Ｒｅｆに記録された位置情報（アドレス情報ＡＤＲとする）を検出する。検出されたアドレス情報ＡＤＲはコントローラ５５に供給される。
【００６９】
また、信号生成部４６で生成されたフォーカスエラー信号ＦＥ-ref、トラッキングエラー信号ＴＥ-refは、基準面用サーボ回路４８に対して供給される。
基準面用サーボ回路４８は、コントローラ５５からの指示に応じ、フォーカスエラー信号ＦＥ-refに基づいてフォーカスサーボ信号ＦＳ-ref（基準面用レーザ光の焦点位置を基準面Ｒｅｆ上に追従させるための信号）を生成し、またトラッキングエラー信号ＴＥ-refに基づいてトラッキングサーボ信号ＴＳ-ref（基準面用レーザ光の照射スポットを基準面Ｒｅｆ上の位置案内子に追従させるための信号）を生成する。
【００７０】
また、基準面用サーボ回路４８は、コントローラ５５からの指示に応じて、トラッキングサーボをオフとして基準面用レーザ光の照射スポットを他のトラックにジャンプさせるトラックジャンプ動作の実行制御も行う。
【００７１】
基準面用サーボ回路４８で得られたフォーカスサーボ信号ＦＳ-refは、ドライバ５１に供給される。
また、トラッキングサーボ信号ＴＳ-ref（上記トラックジャンプ時にはジャンプパルスやブレーキパルス等となる）はスイッチＳＷ１に対して供給される。
【００７２】
ドライバ５１は、基準面用サーボ回路４８から入力されたフォーカスサーボ信号ＦＳ-refに基づきフォーカス駆動信号ＦＤを生成し、該フォーカス駆動信号ＦＤにより第１レンズアクチュエータ２０のフォーカスコイルを駆動する。これにより、対物レンズ１９が、基準面用レーザ光の焦点位置を基準面Ｒｅｆに追従させるようにして駆動される。
【００７３】
またこの場合、ドライバ５１により生成されたフォーカス駆動信号ＦＤは、反転回路５２に入力される。該反転回路５２にて極性反転されたフォーカス駆動信号ＦＤ（フォーカス駆動信号ＦＤ'と表記）は、第２レンズアクチュエータ２２に供給され、これにより第２レンズアクチュエータ２２のフォーカスコイルはフォーカス駆動信号ＦＤ'により駆動されることになる。
この結果、図３に示した対物レンズ２１は対物レンズ１９のフォーカス方向の駆動に応じて連動して駆動されるものとなり、結果、対物レンズ２１の出射光（受光部側への出射光）が平行光状態を保つように図られる。
【００７４】
なお本例の場合、このような基準面用レーザ光の反射光に基づく対物レンズのフォーカス制御は記録時と再生時の双方に対応して実行されるものである。
【００７５】
また、信号生成部４９には、図３に示したサーボ用受光部３３からの受光信号ＤＴ-svが入力される。
信号生成部４９は、受光信号ＤＴ-svとしての各受光素子からの受光信号についてＩ／Ｖ変換を行うと共に、その結果に基づき、フォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-sv（記録層用レーザ光のマーク列に対するフォーカス誤差を表す信号）、及びトラッキングサーボ制御のためのトラッキングエラー信号ＴＥ-sv（記録層用レーザ光の照射スポットのマーク列に対する半径方向における位置誤差を表す信号）を生成する。
これらフォーカスエラー信号ＦＥ-sv、トラッキングエラー信号ＴＥ-svは、記録層用サーボ回路５０に対して供給される。
【００７６】
記録層用サーボ回路５０は、コントローラ５５からの指示に応じて、フォーカスエラー信号ＦＥ-sv、トラッキングエラー信号ＴＥ-svのそれぞれに基づき、フォーカスサーボ信号ＦＳ-sv、トラッキングサーボ信号ＴＳ-svを生成する。フォーカスサーボ信号ＦＳ-svは、記録層用レーザ光の合焦位置を再生対象とする情報記録層位置（マーク形成層位置）Ｌｎに追従させる（フォーカス誤差をキャンセルする）ための信号となる。またトラッキングサーボ信号ＴＳ-svは、記録層用レーザ光のスポット位置をマーク列に追従させる（トラッキング誤差をキャンセルする）ための信号となる。
【００７７】
また、記録層用サーボ回路５０は、コントローラ５５からの指示に応じ、トラッキングサーボをオフとして記録層用レーザ光の照射スポットを他のマーク列にジャンプさせるトラックジャンプ動作の実行制御も行う。
【００７８】
記録層用サーボ回路５０で生成されたトラッキングサーボ信号ＴＳ-sv（上記トラックジャンプ時にはジャンプパルスやブレーキパルス等となる）は、前述したスイッチＳＷ１に供給される。
また、フォーカスサーボ信号ＦＳ-svは、スイッチＳＷ２に供給される。
【００７９】
ここで、先の説明からも理解されるように、対物レンズ１９についてのトラッキングサーボ制御は、記録時には基準面用レーザ光に基づき行われ、再生時には記録層用レーザ光に基づき行われるべきものとなる。
スイッチＳＷ１は、このような記録時／再生時のトラッキングサーボ切り替えを実現するために設けられたものとなる。
【００８０】
スイッチＳＷ１は、コントローラ５５からの指示に基づき、記録時に対応しては基準面用サーボ回路４８の出力信号を選択し、再生時に対応しては記録層用サーボ回路５０からの出力信号を選択するようにされる。
スイッチＳＷ１の選択出力は、ドライバ５１に対して供給される。
【００８１】
ドライバ５１は、スイッチＳＷ１が選択出力した信号に基づくトラッキング駆動信号ＴＤを生成し、該トラッキング駆動信号ＴＤに基づき第１レンズアクチュエータ２０のトラッキングコイルを駆動する。
これにより記録時に対応しては基準面用サーボ回路４８が出力したトラッキングサーボ信号ＴＳ-refに基づく対物レンズ１９のトラッキングサーボ制御が実現され、また再生時に対応しては記録層用サーボ回路５０が出力したトラッキングサーボ信号ＴＳ-svに基づく対物レンズ１９のトラッキングサーボ制御が実現される。
【００８２】
またこの場合、ドライバ５１により生成されたトラッキング駆動信号ＴＤは、反転回路５３に入力される。該反転回路５３にて極性反転されたトラッキング駆動信号ＴＤ（トラッキング駆動信号ＴＤ'と表記）は、第２レンズアクチュエータ２２に供給され、これにより第２レンズアクチュエータ２２のトラッキングコイルはトラッキング駆動信号ＴＤ'により駆動されることになる。
この結果、図３に示した対物レンズ２１は、対物レンズ１９のトラッキング方向の駆動に応じて連動して駆動されるものとなり、結果、対物レンズ１９による出射光（バルク層５を介した記録層用レーザ光）が対物レンズ２１に適正に入射されず、信号再生やサーボ制御を適正に行うことができないといった事態の発生の防止が図られる。
【００８３】
ここで、スイッチＳＷ２に対しては、前述した記録層用サーボ回路５０からのフォーカスサーボ信号ＦＳ-svが入力されると共に、コントローラ５５からのオフセットｏｆ-Lが入力される。
先の説明からも理解されるように、フォーカス機構１７による記録層用レーザ光のフォーカス制御に関しては、記録時には、先の図２に示したようなオフセットｏｆ-Lの付与により行われ、再生時には、フォーカスサーボ信号ＦＳ-svに基づき行われるべきものとなる。スイッチＳＷ２はこのようなフォーカス制御の切り替えのために設けられる。
【００８４】
具体的に、スイッチＳＷ２は、コントローラ５５からの指示に基づき、記録時に対応してはコントローラ５５が出力するオフセットｏｆ-Lを選択するようにされ、再生時に対応しては記録層用サーボ回路５０からのフォーカスサーボ信号ＦＳ-svを選択するようにされる。
スイッチＳＷ２の選択出力はドライバ５４に供給される。
【００８５】
ドライバ５４は、スイッチＳＷ２の出力信号に基づくフォーカス駆動信号ＦＤ-svを生成し、該フォーカス駆動信号ＦＤ-svによりフォーカス機構１７を駆動する。これにより、記録時にはオフセットｏｆ-Lに基づくフォーカス制御、つまりは記録層用レーザ光の合焦位置を記録対象とする情報記録層位置Ｌｎに一致させるフォーカス制御が実現され、再生時には、フォーカスサーボ信号ＦＳ-svに基づくフォーカスサーボ制御（つまり記録層用レーザ光の合焦位置を再生対象とする情報記録層位置Ｌｎに追従させるフォーカス制御）が実現される。
【００８６】
コントローラ５５は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）などのメモリ（記憶装置）を備えたマイクロコンピュータで構成され、例えば上記ＲＯＭ等に記憶されたプログラムに従った処理を実行することで、記録再生装置１０の全体制御を行う。
例えばコントローラ５５は、前述したように予め各層位置Ｌに対応して設定されたオフセットｏｆ-Lの値に基づいて、記録時における記録層用レーザ光の合焦位置の制御（設定）を行う。具体的には、前述のスイッチＳＷ２に対するオフセットｏｆ-Lの出力、及びスイッチＳＷ２の切り替え制御を実行するものである。
【００８７】
またコントローラ５５は、基準面用サーボ回路４８や記録層用サーボ回路５５、及びスイッチＳＷ１に対する指示を行うことで、バルク型記録媒体１に対する記録／再生時の各場合に応じた手法でのトラッキングサーボが実行されるように制御を行う。
【００８８】
また、コントローラ５５は、アドレス検出部４７で検出されたアドレス情報ＡＤＲに基づきシーク動作制御（記録／再生開始位置への移動制御）も行う。
ここで、シーク時には、基準面Ｒｅｆ上での移動を行うため、スイッチＳＷ１には基準面用サーボ回路４８の出力信号を選択させることになる。
なお、シーク時における対物レンズ１９のフォーカスサーボ制御は、基準面用サーボ回路４８が生成するフォーカスサーボ信号ＦＳ-refに基づき行われる。
【００８９】
＜４．実施の形態の再生手法＞
続いて、上記により説明した記録再生装置１０により実現する実施の形態としての再生手法について説明する。
図５は、図３に示した光学系のうち実施の形態の再生手法に係る要部の構成を抽出して示している。
先に説明したように記録層用レーザ光は１／２波長板１２に入射する。本例の場合、記録層用レーザ光は１／２波長板１２を介することで４５°偏光となる。
【００９０】
４５°偏光とされた記録層用レーザ光は、ＰＢＳ１３によりＰ偏光とＳ偏光とに分光された後、ミラー１４、ミラー１５、ＰＢＳ１６により光軸がずれた関係で対物レンズ１９に入射する。
対物レンズ１９を介したＰ偏光、Ｓ偏光は、バルク型記録媒体１における再生対象とする情報記録層位置Ｌｎ上のそれぞれ異なる位置に集光する。
【００９１】
再生対象とする情報記録層位置Ｌｎに焦点を結んだ後のＰ偏光、Ｓ偏光は、対物レンズ２１を介することで平行光となるようにされる。そして、対物レンズ２１を介したＰ偏光、Ｓ偏光は、ＰＢＳ２３、ミラー２４、ミラー２５、ＰＢＳ２６による補正光学系に入射する。この補正光学系により、前述のようにＰ偏光とＳ偏光の重ね合わせ光が得られる。
このＰ偏光とＳ偏光の重ね合わせ光は、偏光板２８を介して再生用受光部３０により受光される。
【００９２】
本例の場合、偏光板２８は、４５°偏光を選択的に透過するようにその光学基準軸が調整されている。換言すれば、４５°偏光に対して透過率が最大となり、４５°偏光から偏光方向が９０°ずれた偏光（１３５°偏光）に対して透過率が最小となるものである。
【００９３】
ここで、上記補正光学系により得られるＰ偏光とＳ偏光の重ね合わせ光は、バルク層５に形成されたマーク部分の通過に応じて偏光方向が４５°から変化することになる。
以下、この点につき図６を参照して説明する。
【００９４】
図６は、実施の形態の再生手法の基本原理についての説明図である。
この図６では、バルク型記録媒体１の回転に伴いＰ偏光、Ｓ偏光がバルク層５に形成されたマークＭを通過する様子（図中の左側）と、その際のＰ偏光、Ｓ偏光の位相状態（図中の中央）、及びＰ偏光とＳ偏光の重ね合わせ光の偏光方向と受光量の関係（図中の右側）を示している。
具体的に、図６ＡではＰ偏光とＳ偏光が共にマークＭの非形成部分（スペース部分）にある状態、図６ＢではＰ偏光のみがマークＭの形成部分にある状態、図６ＣではＰ偏光とＳ偏光が共にマークＭの形成部分にある状態についてそれぞれ示している。
【００９５】
先ず前提として、本実施の形態の再生手法では、Ｐ偏光とＳ偏光は、それらの照射スポットが先行スポットと後行スポットの関係となるように照射する。具体的に本例では、Ｐ偏光の照射スポットが先行スポット、Ｓ偏光の照射スポットが後行スポットとなるように、前述のＰＢＳ１３、ミラー１４、ミラー１５、ＰＢＳ１６による光軸調整が為される。
なお、ここで言う「先行」「後行」とは、同一トラック上での関係を意味するものであり、両スポットのトラッキング方向における位置は一致しているものとする。
【００９６】
図６Ａ、及び図６Ｃを参照して分かるように、両ビームが共にマークＭの形成部分又は非形成部分にあるときは、Ｐ偏光とＳ偏光の光路長（偏光板２８までの光路長）が一致し、Ｐ偏光とＳ偏光とに位相差は生じない。
これらの状態においては、偏光板２８に入射するＰ偏光とＳ偏光の重ね合わせ光は、１／２波長板１２を介した後の偏光方向から変化が生じず、従って４５°偏光のままとなる。
この結果、図６Ａ及び図６Ｃの状態では、偏光板２８を透過する光量が最大となり、再生用受光部３０による受光量としても最大となる。
【００９７】
一方、図６ＢのようにＰ偏光、Ｓ偏光の何れか一方のみがマークＭの形成部分にある状態では、マークＭの形成部分の屈折率がマークＭの非形成部分と異なることに起因して、Ｐ偏光とＳ偏光とに該屈折率の差に応じた光路長差が生じる（図中のΔ）。つまりこれに起因して、Ｐ偏光とＳ偏光とに位相差が生じる。
図中では、このようにＰ偏光、Ｓ偏光の何れか一方のみがマークＭの形成部分にある状態で生じる位相差が１８０°であるものとしている。
従ってこの場合、Ｐ偏光とＳ偏光の重ね合わせ光の偏光方向は図のように１３５°となり、結果、偏光板２８の透過光量は最小となって、再生用受光部３０による受光量としても最小となる。
【００９８】
このように本実施の形態の再生手法では、マークＭの通過に伴いＰ偏光とＳ偏光との間に生じる位相差に起因した受光量の変化を利用して、信号再生を行うものである。
【００９９】
ここで、図６で説明した受光量変化の態様は、Ｐ偏光とＳ偏光のスポットサイズがマークサイズに対して非常に小さいことを前提としている。
この場合、再生用受光部３０の受光信号ＤＴ-rdに基づき得られる信号ＳＲとしては、Ｐ偏光とＳ偏光が共にマークＭの非形成部分にあるときにその振幅が最大、Ｐ偏光がマークＭの前方エッジ部分に達しＳ偏光が未だマークＭの非形成部分にある状態で振幅が最小となり、その後、Ｐ偏光がマークＭ上、Ｓ偏光がマークの非形成部分にある間は最小値を維持する。
そして、Ｓ偏光もマークＭに達したとき、振幅が再び最大に戻り、その後Ｐ偏光とＳ偏光がマークＭ上にある状態では振幅は最大値を維持し、Ｐ偏光がマークＭの後方エッジに達し、Ｓ偏光が未だマークＭ上にあるときに再び振幅が最小となる。その後、Ｐ偏光とＳ偏光が共にマークＭの非形成部分にある状態となったときに振幅は最大値に戻る。
【０１００】
このように本実施の形態では、信号ＳＲとして、マークＭのエッジ部分に対応してその振幅が減少する波形を得ることができる。この場合には、例えば信号ＳＲのエッジ間の時間長を検出することで、マークエッジ記録された信号を適正に再生可能となる。
【０１０１】
しかしながら実際において、ビームスポットのサイズはマークサイズに対して或る程度の大きさを有するように設定されることになる。
例えばＢＤの場合であれば、最短マーク長Ｌ＝０．１５μｍ程度に対して、スポットサイズＳ_pは、
Ｓ_p＝０．８２λ／ＮＡ＝０．３９μｍ
程度のサイズを設定している。
【０１０２】
図７は、最短マーク長ＬによるマークＭが間隔Ｌによりモノトーン状に形成された際のマークＭのサイズとＰ偏光、Ｓ偏光のスポットＳｐのサイズとの関係を示している。
ここで、図のようにＰ偏光のスポットＳｐは「Ｓｐ-P」、Ｓ偏光のスポットＳｐは「Ｓｐ-S」と表記する。
【０１０３】
この図７を参照して分かるように、実際に想定され得るマークＭとスポットＳｐのサイズとの関係によると、先の図６Ｂに示したように、Ｐ偏光とＳ偏光のうち一方のみがマークＭ上のみに位置し、他方のみがマークＭの非形成部分のみに位置するという状態は（このように最短マークが連続した区間では）得られないことが分かる。
この点を考慮すると、上述したような信号ＳＲのエッジ検出によって単純にマークエッジ記録された信号を再生することが困難であることが分かる。
【０１０４】
そこで本例では、マークエッジ記録ではなくマークポジション記録を採用する場合を例示する。
具体的にこの場合のマークポジション記録は、最短マーク長ＬによるマークＭのモノトーン信号（共に長さＬによるマークＭとスペースとの交互配列）を基準として、マークＭの形成有無により符号「０」「１」を表現するものであるとする。より具体的に、本例では、長さＬによる間隔を空けた位置ごとに、長さＬによるマークＭが形成されるべき位置としての「符号記録位置」が設定され、該符号記録位置にマークＭが形成されていれば符号「１」、非形成であれば符号「０」を表すものとする。
【０１０５】
そしてこの前提の下で、本実施の形態では、Ｐ偏光のスポットＳｐ-PとＳ偏光のスポットＳｐ-Sとの間隔Ｄを、少なくとも最短マーク長Ｌ以下に設定する。
ここで、スポット間隔Ｄは、図７に示されるように、Ｐ偏光のスポットＳｐ-Pの中心とＳ偏光のスポットＳｐ-Sの中心との線方向（トラック長手方向）における距離を意味するものである。
本例では、最短マーク長Ｌ＝０．１５μｍに対して、間隔Ｄ＝０．１０μｍと設定したものとする。
【０１０６】
図８Ａは、マークポジション記録によりバルク層５に形成されたマーク列と信号ＳＲの振幅との関係を例示している。
具体的にこの図８Ａでは、符号「１００１０１１１０１」がマークポジション記録された際のマーク列と信号ＳＲの振幅との関係を示している。なお図中では実線が信号ＳＲの波形を表し、破線はマークのｏｎ／ｏｆｆを表す。
また図中では、先行スポットであるＰ偏光のスポットＳｐ-Pの中心位置を基準としたときの信号ＳＲとマーク列との関係を表している。
【０１０７】
先の図６にて説明した基本原理によれば、先の図７に例示したようにスポットＳｐのサイズがマークサイズに対して或る程度大きいものとされる場合には、スポットＳｐ-P内でマークが占める面積と、スポットＳｐ-S内でマークが占める面積との差に応じて信号ＳＲの振幅が変化することになる。
この結果、符号「１００１０１１１０１」の記録状態に対しては、図示するような信号ＳＲの波形が得られることになる。
【０１０８】
この図８Ａによれば、信号ＳＲには、マーク１箇所につき２つのピークが得られることが分かる。
従って、信号ＳＲについてピーク検出を行うことで、その結果に基づきマークの存在（すなわち符号「１」）を検出できる。
【０１０９】
符号「０」（すなわちマーク無し）の検出は、マークポジション記録において、マークが形成されるべき位置としての「符号記録位置」の間隔が既知である点を利用して行う。
具体的に、マークポジション記録においては、「符号記録位置」の間隔は規格上既知の情報である（本例では長さＬごとの間隔となる）。
上述のように、信号ＳＲについてピーク検出を行うことで、符号「１」の位置が特定できるので、該符号「１」の検出位置間の間隔が、上記のように既知である符号記録位置間の間隔との関係でどの程度の長さになるかにより、符号「１」間に存在する符号「０」の個数を特定することができる。例えば、符号「１」の検出位置間の間隔の長さが、既知の符号記録位置間の間隔の長さに対して３倍程度の長さとなっていれば、それら符号「１」の検出位置間には２つの符号記録位置が存在していると推定できるので、その場合における符号「１」の検出位置間の符号「０」の数は２と判定できるものである。
【０１１０】
図８Ｂは、具体的な符号判定手法についての説明図である。なお、図８Ｂでは信号ＳＲの波形として、図８Ａと同様に符号「１００１０１１１０１」の記録状態で得られる波形を示している。
先ず本例では、上述のピーク検出のため、信号ＳＲに対して図のような閾値ｔｈを設定する。
この閾値ｔｈは、図８Ａに示したようにマークＭの形成／非形成部分の通過に応じて得られる信号ＳＲの最大値と最小値の中間近傍の値を設定すればよい。
信号ＳＲの振幅値が閾値ｔｈを超えた（閾値ｔｈより小となった）位置を、ピーク位置として検出する。
【０１１１】
ここで、前述のようにピーク位置は１つのマークにつき２つ検出されることになるが、本実施の形態では、このように１マークにつき２つ検出されるピーク位置のうち、何れか一方のみを有効ピーク位置として検出する。例えば本例では、時間軸上において前方側のピーク位置のみを有効ピーク位置として検出する。
【０１１２】
また、本例の符号判定手法では、上述した「符号記録位置間の間隔」を利用した符号判定を実現するべく、当該「符号記録位置間の間隔」に応じた時間長を求める（以下、このような符号記録位置間の時間長を時間長Ｔｒと表記する）。
この符号記録位置間の時間長Ｔｒは、例えば既知である符号記録位置間の間隔の値と、線速度の情報とに基づき得ることができる。具体的には、符号記録位置間の間隔の値を線速度の値で除算することで、符号記録位置間の時間長Ｔｒが求まる。
【０１１３】
本例では、上述したような有効ピーク位置の検出を行うものとした上で、検出された有効ピーク間の時間長（以下、時間長Ｔp-pとする）が、上記のようにして求まる符号記録位置間の時間長Ｔｒの何倍に相当するかに応じて、符号「１」の間の符号「０」の個数を求める。
具体的には、時間長Ｔp-pが時間長Ｔｒのｎ倍近傍であれば、有効ピーク位置の検出で判定された符号「１」の間の符号「０」の数を「ｎ−１」と判定する。
【０１１４】
ここで、本例では、上記ｎの数について０．５未満のマージンｍを設ける。具体的には、例えば時間長Ｔp-pが時間長Ｔｒの１．５倍より大で且つ２．５倍未満であれば符号「１」の間の符号「０」の数を「１」と判定するというように、時間長Ｔp-pが時間長Ｔｒのｎ±ｍ倍の範囲内であれば、符号「１」の間の符号「０」の数を「ｎ−１」と判定するものとする。
【０１１５】
例えば上記のような手法により、マークポジション記録された符号を適正に判定することができる。
【０１１６】
図９は、上記により説明した実施の形態としての再生手法を実現するための構成についての説明図である。具体的にこの図９では、先の図４に示した再生処理部４５の内部構成を示している。
【０１１７】
図９に示されるように、再生処理部４５内には、ピーク検出部６０、符号判定部６１、及び復調部６２が設けられる。
先の図４に示した信号ＳＲは、再生処理部４５内のピーク検出部６０に入力される。
ピーク検出部６０は、閾値ｔｈに基づき、信号ＳＲのピーク検出を行う。具体的に本例の場合は、閾値ｔｈより小となる部分を信号ＳＲのピークとして検出する。
【０１１８】
符号判定部６１は、ピーク検出部６０によるピーク検出結果と、入力される線速度情報Ｉｒとに基づき、符号「０」「１」の判定を行う。具体的に本例では、先に説明した有効ピーク位置間の時間長Ｔp-pと符号記録位置間の時間長Ｔｒとに基づく符号判定手法により符号「０」「１」の判定を行う。
すなわち、ピーク検出部６０で検出されるピーク位置のうち有効ピーク位置（本例では前方側のピーク位置）間の時間長Ｔp-pを逐次計測すると共に、該時間長Ｔp-pの値を、入力される線速度情報Ｉｒと既知の符号記録位置間の間隔の値とから求まる時間長Ｔｒの値で除算する。そして、該除算により求まった値に応じて、符号「１」の間の符号「０」の数を判定する。具体的には、該除算により求まった値に応じて、時間長Ｔp-pが時間長Ｔｒのｎ±ｍ倍の範囲内であれば、符号「１」の間の符号「０」の数を「ｎ−１」と判定するものである。
このようにして、記録された符号「０」「１」を適正に判定することができる。
なお、線速度情報Ｉｒは、スピンドルモータ４０の回転速度情報と現在の再生半径位置の情報とから求められるものであり、例えばコントローラ５５より入力される。なおこの線速度情報Ｉｒについては、例えば規格上定められた固定値を用いてもよい。
【０１１９】
復調部６２は、上記のような符号判定部６１による符号判定結果に基づき得られる符号列（再生符号列）に対して、所定の復調処理を施すことで、先の図４で説明した記録データを復元した再生データを得る。
具体的にこの場合の復調部６２は、上記再生符号列に対して記録変調符号の復号化やデインターリーブ処理、エラー訂正処理などの所定の復調処理を実行して上記再生データを得る。
【０１２０】
上記により説明したように、本実施の形態では、バルク層５に対してＰ偏光とＳ偏光とを先行／後行スポットを形成するように照射し、これらＰ偏光とＳ偏光との重ね合わせ光を偏光板２８を介して受光するようにしている。そしてこの構成の下で、バルク層５上のマークＭの形成状態に応じて生じる上記重ね合わせ光の偏光方向の変化を利用して、信号再生を行うものとしている。
【０１２１】
このような実施の形態としての再生手法は、記録層に対して照射した光の偏光状態の変化を利用した再生手法となるため、マークＭの形成部と非形成部との反射率差が低い場合にもＳＮＲ良く信号再生を行うことができる。
【０１２２】
＜５．変形例＞
以上、本技術に係る実施の形態について説明したが、本技術としてはこれまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えば、これまでの説明では、再生対象とする光記録媒体がバルク状の記録層を有するバルク型記録媒体とされる場合を例示したが、本技術は、バルク状の記録層ではなく、例えば次の図１０に示されるような複数の記録膜が形成された多層構造を有する記録層が設けられた光記録媒体（多層記録媒体６５とする）に対しても好適に適用できるものである。
【０１２３】
図１０において、多層記録媒体６５は、上層側から順にカバー層２、選択反射膜３、及び中間層４が形成される点は図１に示したバルク型記録媒体１と同様となるが、この場合はバルク層５に代えて、図のように半透明記録膜６６と中間層４とが所定回数繰り返し積層された層構造を有する記録層が積層される。図のように最下層に形成された半透明記録膜６６は、基板６７上に積層されている。なお、最下層に形成される記録膜については全反射記録膜を用いることができる。
なお、注意すべきは、上記半透明記録膜６６には、グルーブやピット列の形成に伴う位置案内子が形成されていないという点である。つまりこの多層記録媒体６５としても、位置案内子は基準面Ｒｅｆとしての１つの層位置に対してのみ形成されているものである。
【０１２４】
このような多層記録媒体６５の記録層においては、反射膜として機能する半透明記録膜６６が形成されているため、Ｐ偏光及びＳ偏光は該半透明記録膜６６からの反射光として装置側に戻されるべきものとなる。
【０１２５】
図１１は、上記のような反射型の多層記録媒体６５に対応して再生を行うための光ピックアップＯＰ'の構成を例示した図である。
なお図１１において、既にこれまでで説明済みとなった部分と同様となる部分については同一符号を付して説明を省略する。
【０１２６】
先の図３と比較して分かるように、この場合の光ピックアップＯＰ'は、光ピックアップＯＰとの比較で、光記録媒体の透過光を入射するための対物レンズ２１と第２レンズアクチュエータ２２とが省略され、またフォーカス機構１７とＰＢＳ１６との間にＢＳ７０が挿入された点が異なる。
この場合、半透明記録膜６６にて反射されたＰ偏光、Ｓ偏光は、対物レンズ１９を介して平行光となるようにされた後、図のようにダイクロイックミラー１８、フォーカス機構１７を介して、ＢＳ７０に入射する。
ＢＳ７０はこのように反射光として得られたＰ偏光、Ｓ偏光のそれぞれ一部を反射する。
【０１２７】
ＢＳ７０にて反射されたＰ偏光、Ｓ偏光は、図３に示した光ピックアップＯＰが備えていたものと同様の補正光学系（ＰＢＳ２３、ミラー２４、ミラー２５、ＰＢＳ２６）を介して重ね合わされた後、ＢＳ２７で分光されてそれぞれ再生用の受光光学系（偏光板２８、集光レンズ２９、再生用受光部３０）とサーボ用の受光光学系（ミラー３１、シリンドリカルレンズ３２、サーボ用受光部３３）とに導かれる。
【０１２８】
ここで、このような反射型の光記録媒体に対応した光ピックアップＯＰ'の構成とすれば、対物レンズ２１及び第２レンズアクチュエータ２２を省略できると共に、対物レンズ２１を対物レンズ１９と連動して位置制御するための構成も省略することができるという利点がある。
また、このような反射型の構成においては、マークＭが未記録状態であっても半透明記録膜６６からの反射光を得ることができるため、記録時のフォーカスサーボ制御を記録層用レーザ光の反射光に基づき行うことができる。
【０１２９】
なお、図１０や図１に示した光記録媒体に関しては、基準面Ｒｅｆが記録層の上層側に対して設けられるものとしたが、基準面Ｒｅｆは記録層の下層側に対して設けることもできる。
【０１３０】
また、これまでの説明では、光源より発せられた光の偏光方向を１／２波長板１２により調整して、Ｐ偏光とＳ偏光とを分光するＰＢＳ１３に対して４５°偏光が入力されるようにしたが、このことで、該ＰＢＳ１３における分光比を１：１とできる。但し、１／２波長板１２を介さずとも４５°偏光が得られる場合、或いは分光比を１：１とする必要性がない場合等には、１／２波長板１２は省略することができる。
【０１３１】
また、これまでの説明では、４５°偏光の入射時に透過光量が最大となるように偏光板２８の光学基準軸を調整する例を挙げたが、該光学基準軸の調整手法はこれに限定されるべきものではなく、例えば１３５°偏光の入射時に透過光量が最大となるようにするなど、他の調整手法により受光量の差が生じるようにしても良い。
【０１３２】
またこれまでの説明ではスペースを符号「０」、マークＭを符号「１」とする場合を例示したが、これらの関係は逆とすることもできる。
【０１３３】
また、符号「０」「１」の具体的な判定手法についても、先に例示したものに限定されるべきではない。
例えば先の説明では、時間長Ｔｒを線速度情報Ｉｒから求めるものとしたが、時間長Ｔｒは、マークの形成周期に応じたクロックを生成した上で、該クロックに基づき得るようにすることもできる。
或いは、このようなクロックを生成する場合には、該クロックに基づき符号記録位置のタイミングを推定して、有効ピーク位置間の符号記録位置の数としての符号「０」の個数を求めることもできる。
【０１３４】
また、これまでの説明では、Ｐ偏光とＳ偏光のスポット間距離Ｄを０．１０μｍに設定する場合を例示したが、該スポット間距離Ｄは、前述のような実施の形態としての再生手法を実現する上では、少なくとも最短マーク長Ｌ以下であればよい。
ここで、本技術において、Ｐ偏光とＳ偏光は、先行／後行スポットの形成するように照射されるものであるため、図１２Ａに示されるようにこれらのスポットＳｐの間には図中の「ｄ」のようなずれ（線方向におけるずれ）が必ず生じるものである。
このようなずれｄが僅かでもあれば、図１２Ｂ、図１２Ｃに示すようなマークＭのエッジ部分にて、Ｐ偏光とＳ偏光に位相差を生じさせることができ、それに応じた振幅変化を得ることができる。
【０１３５】
但し、このようなずれｄが過大であると、先の図７に示したような実際上のマークサイズとスポットサイズとの関係を考慮した場合に、マークＭの形成状態に応じた振幅変化を、符号「０」「１」の判定ができるという観点において適正に得ることができない虞がある。
【０１３６】
そこで、スポット間距離Ｄには、上述のように「最短マーク長Ｌ以下」との条件を課す。
このような条件により、例えば先に説明したようなマークポジション記録を前提とした場合に、符号「０」「１」の判定を比較的簡易な手法（ピーク検出）で行うことができる。
【０１３７】
なお確認のため述べておくと、上記スポット間距離Ｄの条件は、Ｐ偏光とＳ偏光の重ね合わせ光の偏光方向をマークの形成状態に応じて変化させるという観点において、必須となる条件を示したものではない。
ここで、「Ｐ偏光とＳ偏光の重ね合わせ光の偏光方向がマークの形成状態に応じて変化する」という点は、本技術の再生手法が成り立つ上で基本的な前提条件となるが、該前提条件が成り立つ上では、スポット間距離Ｄが僅かでもあればよい。換言すれば、Ｐ偏光とＳ偏光がそれぞれ先行／後行スポットの関係となるように照射されれば足るものである。
【０１３８】
また、これまでの説明では、第１の光、第２の光としてＰ偏光、Ｓ偏光を用いるものとしたが、これら第１の光、第２の光としてはＰ偏光、Ｓ偏光に限らず偏光方向が直交する関係にある光を用いることができる。
ここで、図６にて説明した基本原理によれば、第１の光と第２の光の偏光方向が完全に直交していなくとも、マークＭの形成状態に応じた振幅変化を検出することが可能であることが分かる。従って本技術において、第１の光、第２の光としては、それらの偏光方向が完全に直交関係にある場合のみでなく、略直交する関係であれば足るものである。
【０１３９】
またこれまでの説明では、本技術の再生手法がマークポジション記録された信号についての再生手法に適用される場合を例示したが、本技術はマークエッジ記録された信号についての再生手法としても好適に適用可能なものである。
【０１４０】
また、これまでの説明では、基準面Ｒｅｆが記録層（マークＭの記録層）の上層側に設けられた光記録媒体について本技術を適用する場合を例示したが、本技術は、基準面Ｒｅｆが記録層の下層側に設けられた光記録媒体についても好適に適用できるものである。
【０１４１】
またこれまでの説明では、本技術が光記録媒体（記録層）についての再生と共に記録も可能な記録再生装置に適用される場合を例示したが、本技術は光記録媒体（記録層）についての記録機能が省略された再生専用装置（再生装置）にも好適に適用できる。
【０１４２】
また本技術は以下に示す構成を採ることもできる。
（１）
それぞれの照射スポットが先行、後行の関係となるように第１の光と該第１の光とは偏光方向が略直交する第２の光とを光記録媒体の記録層に対して照射する光照射部と、
上記記録層を介した上記第１の光、上記第２の光を重ね合わせる補正光学系と、
上記補正光学系で得られた第１の光と上記第２の光の重ね合わせ光が入射される偏光板と、
上記偏光板を介した上記重ね合わせ光を受光する受光部と、
上記受光部による受光信号に基づき信号再生を行う再生部と
を備える再生装置。
（２）
上記光照射部は、
共通光源より発せられた光を偏光ビームスプリッタを用いてＰ偏光とＳ偏光に分離することで上記第１の光と上記第２の光を得る
上記（１）に記載の再生装置。
（３）
上記光照射部は、
上記第１の光又は上記第２の光の少なくとも一方の光軸をずらすことで上記先行、後行の関係が得られるように上記照射スポットを形成し、
上記補正光学系は、
上記記録層を介した上記第１の光、上記第２の光の光軸を一致させるように構成されている
上記（１）又は（２）何れかに記載の再生装置。
（４）
上記第１の光の照射スポットと上記第２の光の照射スポットの間隔が上記記録層における最短マーク長以下に設定されている
上記（１）乃至（３）何れかに記載の再生装置。
（５）
上記記録層には、マークがポジション記録されており、
上記再生部は、
上記受光信号から上記マークの有無のパターンを検出した結果に基づき信号再生を行う
上記（１）乃至（４）何れかに記載の再生装置。
（６）
上記再生部は、
上記受光信号についてのピーク検出を行った結果に基づき上記マークの有無を判定して上記信号再生を行う
上記（５）に記載の再生装置。
（７）
上記記録層はバルク状の記録層とされ、該記録層には屈折率変調マークが形成されており、
上記補正光学系は、
上記記録層を透過した上記第１の光、上記第２の光を入射してそれらを重ね合わせる
上記（１）乃至（６）何れかに記載の再生装置。
（８）
上記記録層は反射膜を有しており、
上記補正光学系は、
上記記録層の上記反射膜にて反射された上記第１の光、上記第２の光を入射してそれらを重ね合わせる
上記（１）乃至（６）何れかに記載の再生装置。
【符号の説明】
【０１４３】
１  バルク型記録媒体、２  カバー層、３  選択反射膜、Ｒｅｆ  基準面、４  中間層、５  バルク層、Ｌ  情報記録層位置（マーク形成層位置）、ＯＰ,ＯＰ'  光ピックアップ、１１  記録層用レーザ、１２  １／２波長板、１３,１６,２３,２６,３５  ＰＢＳ（偏光ビームスプリッタ）、１４,１５,２４,２５,３１,３７  ミラー、１７  フォーカス機構、１８  ダイクロイックミラー、１９,２１  対物レンズ、２０  第１レンズアクチュエータ、２２  第２レンズアクチュエータ、２７,７０  ＢＳ（無偏光ビームスプリッタ）、２８  偏光板、２９  集光レンズ、３０  再生用受光部、３２,３８  シリンドリカルレンズ、３３  サーボ用受光部、３４  基準面用レーザ、３６  １／４波長板、３９  基準面用受光部、４０  ＳＰＭ（スピンドルモータ）、４４  Ｉ／Ｖ変換アンプ、４５  再生処理部、５５  コントローラ、６０  ピーク検出部、６１  符号判定部、６２  復調部、６５  多層記録媒体、６６  半透明記録膜、６７  基板
【図１】
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【図２】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
2013222492.tif 000009
【図９】
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【図１０】
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【図１２】
2013222492.tif 000012
【図１３】
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【図３】
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【図１１】
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