(57)【要約】【課題】スラリーの混錬度を直接測定することができ、これにより、スラリーの混錬度を精度良く計測することができるスラリー混錬度計測装置を提供すること。【解決手段】スラリー混錬度計測装置１は、鉛直軸線Ｃまわりに回転自在に設けられた円筒状の回転ベース４と、電極７を有する一対の電極棒８と、内部に電極棒８を挿通した状態で支持する筒状部材６と、スラリーの混錬度を算出するために、一対の電極棒８の各電極７間の交流インピーダンスを計測する交流インピーダンス計測器９とを含む。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
スラリーの混錬度を計測するためのスラリー混錬度計測装置であって、
所定の鉛直軸線まわりに回転自在に設けられた円筒状の回転ベースと、電極を有する一対の電極棒と、
互いに間隔を空けた状態で前記回転ベースに固定されて、水平面に交差する所定の方向に沿って延びる複数の筒状部材を有し、前記筒状部材の内部に前記電極棒を挿通した状態で支持する電極棒支持部と、
スラリーの混錬度を算出するために、前記一対の電極棒の各電極間の交流インピーダンスを計測する交流インピーダンス計測器とを含むことを特徴とする、スラリー混錬度計測装置。
【請求項２】
前記回転ベースは、前記鉛直軸線を中心軸線とする円筒と、前記円筒に水平姿勢をなして固定されて、前記複数の筒状部材の上端部を一括して支持する上支持板とを含むことを特徴とする、請求項１に記載のスラリー混錬度計測装置。
【請求項３】
前記複数の筒状部材が、３つ以上の所定数の筒状部材を備えることを特徴とする、請求項１または２に記載のスラリー混錬度計測装置。
【請求項４】
前記複数の筒状部材は、前記回転ベースの周方向に沿って配置されていることを特徴とする、請求項１〜３のいずれか一項に記載のスラリー混錬度計測装置。
【請求項５】
前記回転ベースに対して、前記鉛直軸線まわりの回転駆動力を付与するための回転駆動機構をさらに含むことを特徴とする、請求項１〜４のいずれか一項に記載のスラリー混錬度計測装置。
【請求項６】
前記回転ベースに取り付けられて、流通しているスラリーとの接触により、当該スラリーから力を受けて、前記回転ベースを前記鉛直軸線まわりに回転させるための羽根をさらに含むことを特徴とする、請求項１〜４のいずれか一項に記載のスラリー混錬度計測装置。
【請求項７】
隔壁によって区画されて、前記回転ベースを収容するとともに、スラリーが流通させられる混練度計測処理室と、
前記混練度計測処理室からスラリーを排出するための排出配管と、
前記排出配管を開閉するための排出バルブとをさらに含む、請求項１〜６に記載のスラリー混錬度計測装置である。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、電極スラリー等のスラリーの混錬度を計測するためのスラリー混錬度計測装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、電極スラリー等のスラリーの混錬度（固体粒子の分散度）を計測方法として、次に延べるような種々の方法が知られている。
特許文献１には、電極スラリーのＳＶＩ値（２種の異なるせん断速度における見掛け粘度の比で表される値）を計測し、この計測結果に基づいて、電極スラリーの混錬度を評価する電極スラリーの評価方法（計測方法）が記載されている。
【０００３】
特許文献２には、蛍光物質を電極スラリーに含ませておき、その電極スラリーに光を照射したときに、当該電極スラリーから発光させられる蛍光物質の光量を計測し、そのときの光量に基づいて、電極スラリーの混ざり具合を検査する検査方法（計測方法）が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００１−３１３０２７号公報
【特許文献２】特開２０１０−２７７８２１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１および２記載の計測手法は、あくまでもスラリーの混錬度を間接的に計測するものである。そのため、スラリーの混錬度の計測精度に限界があった。
そこで、この発明は、スラリーの混錬度を直接測定することができ、これにより、スラリーの混錬度を精度良く計測することができるスラリー混錬度計測装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
前記の目的を達成するための請求項１記載の発明は、スラリーの混錬度を計測するためのスラリー混錬度計測装置（１，５１）であって、所定の鉛直軸線（Ｃ）まわりに回転自在に設けられた円筒状の回転ベース（４）と、電極（７）を有する一対の電極棒（８）と、互いに間隔を空けた状態で前記回転ベースに固定されて、水平面に交差する所定の方向に沿って延びる複数の筒状部材（６）を有し、前記筒状部材の内部に前記電極棒を挿通した状態で支持する電極棒支持部（６，２２）と、スラリーの混錬度を算出するために、前記一対の電極棒の各電極間の交流インピーダンスを計測する交流インピーダンス計測器（９）とを含むことを特徴とする、スラリー混錬度計測装置である。
【０００７】
なお、括弧内の英数字は、後述する実施形態における対応構成要素等を表すが、特許請求の範囲を実施形態に限定する趣旨ではない。以下、この項において同じ。
この構成によれば、回転ベースには、水平面に交差する所定の方向に沿って延びる複数の筒状部材が、互いに間隔を空けた状態で固定されている。電極を有する電極棒が筒状部材の内部に挿通された状態で支持されている。各筒状部材の下端部が計測対象のスラリーに浸漬させられた状態で、一対の電極棒の電極がスラリーに浸漬させられていると、スラリーに浸漬されている一対の電極間の交流インピーダンスの値に基づいて、スラリーの混錬度を算出することができる。これにより、スラリーの混錬度を直接測定することができ、その結果、スラリーの混錬度を精度良く計測することができる。
【０００８】
また、前記電極は筒状部材の下端に位置していることが好ましい。この場合、各筒状部材の下端部が計測対象のスラリーに浸漬させられた状態では、一対の電極棒の電極がスラリーに浸漬させられる。
また、この状態で、回転ベースが鉛直軸線まわりに回転されると、各筒状部材も鉛直軸線まわりに回動（公転）させられ、筒状部材の回動によって計測対象のスラリーが撹拌されて混錬される。この場合、スラリーが撹拌されるので、スラリーの混錬状態を低下させることなく、スラリーの混錬度を計測することができる。
【０００９】
請求項２に記載のように、前記回転ベースは、前記鉛直軸線を中心軸線とする円筒（１４）と、前記円筒に水平姿勢をなして固定されて、前記複数の筒状部材の上端部（６Ａ）を一括して支持する上支持板（１５）とを含んでいてもよい。
また、前記回転ベースは、前記円筒に水平姿勢をなして固定されて、前記複数の筒状部材の下端部（６Ｂ）を一括して支持する下支持板（１６）をさらに含んでいてもよい。
【００１０】
さらにまた、前記回転ベースは、前記円筒に水平姿勢に固定されて、前記複数の筒状部材の上下方向の中間部を一括して支持する中間支持板（２３）をさらに含んでいてもよい。この場合、複数の筒状部材の上下方向の中間部を一括して支持する中間支持板が備えられているので、各筒状部材を高い剛性のまま支持することができる。
請求項３記載の発明は、前記複数の筒状部材が、３つ以上の所定数の筒状部材（６）を備えることを特徴とする、請求項１または２記載のスラリー混錬度計測装置である。
【００１１】
この構成によれば、スラリーを撹拌して混錬するための筒状部材が３つ以上の所定数備えられているので、計測対象のスラリーをより一層混錬させることができる。これにより、計測対象のスラリーの混錬状態の低下を、より一層抑制することができる。
また、３つ以上の筒状部材が備えられているので、複数の筒状部材のうち２つの筒状部材には電極棒が装着されるが、その他の筒状部材には電極棒は装着されない。そのため、電極棒を装着すべき筒状部材を選択することにより、一対の電極棒間の距離を異ならせることができる。これにより、一対の電極間の間隔を小幅で変更させることができ、ゆえに、一対の電極間の間隔を変えながらの交流インピーダンス計測も行うことが可能である。
【００１２】
請求項４に記載のように、前記複数の筒状部材は、前記回転ベースの周方向に沿って配置されていてもよい。
また、前記複数の筒状部材が、２つの筒状部材（６）を備えており、各筒状部材に前記電極棒が収容保持されていてもよい。
請求項５記載の発明は、前記回転ベースに対して、前記鉛直軸線まわりの回転駆動力を付与するための回転駆動機構（１７）をさらに含むことを特徴とする、請求項１〜４のいずれか一項に記載のスラリー混錬度計測装置（１）である。
【００１３】
この構成によれば、回転ベースには、回転駆動機構から鉛直軸線まわりの回転駆動力が付与される。したがって、回転ベースを円滑に回転させることができ、スラリーを十分に撹拌することができる。これにより、スラリーの混錬状態を高めることができる。
請求項６記載の発明は、前記回転ベースに取り付けられて、流通しているスラリーとの接触により、当該スラリーから力を受けて、前記回転ベースを前記鉛直軸線まわりに回転させるための羽根（５２）をさらに含むことを特徴とする、請求項１〜４のいずれか一項に記載のスラリー混錬度計測装置（５１）である。
【００１４】
この構成によれば、流通しているスラリーとの接触により、当該スラリーから力を受けて、回転ベースは鉛直軸線まわりに回転させられる。したがって、回転駆動機構を用いることなくスラリーを撹拌することができ、これにより、コストダウンを図ることができる。
また、前記筒状部材は円筒状をなしており、前記電極棒に外嵌されたＯリング（２２）が、前記筒状支持部と前記電極棒との間に介在することにより、前記電極棒が筒状部材に抜け止めされていてもよい。この場合、筒状部材に対する電極棒の抜止めを、比較的簡単な構成で実現することができる。
【００１５】
また、前記電極棒が前記筒状部材に圧入されることにより、前記電極棒が前記筒状部材に抜け止めされていてもよい。この場合、筒状部材に対する電極棒の抜止めを、比較的簡単な構成で実現することができる。
請求項７記載の発明は、隔壁（１２）によって区画されて、前記回転ベースを収容するとともに、スラリーが流通させられる混練度計測処理室（３）と、前記混練度計測処理室からスラリーを排出するための排出配管と、前記排出配管を開閉するための排出バルブとをさらに含む、請求項１〜６に記載のスラリー混錬度計測装置である。
【００１６】
この構成によれば、排出バルブが閉じられることにより、スラリーを混錬度計測処理室内に溜めることができる。また、排出バルブが開かれることにより、混錬度計測処理室内に溜められているスラリーを混錬度計測処理室外に排出することができる。これにより、スラリーの計測を行う場合にだけ混錬度計測処理室内にスラリーを溜めておき、それ以外のときには、混錬度計測処理室にスラリーを流通させることも可能である。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の一実施形態に係るスラリー混錬度計測装置の概略構成を示す断面図である。
【図２】図１に示す回転ベースおよび筒状部材を含む構成の斜視図である。
【図３】図１に示す筒状部材と電極棒とを含む構成の斜視図である。
【図４】図１に示す電極棒の下端部の縦断面図である。
【図５】電極スラリーの混錬状態を示す図である。
【図６】交流インピーダンス法を用いたスラリーの混錬度の計測原理を示す図である。
【図７】本発明の他の実施形態に係るスラリー混錬度計測装置の概略構成を示す断面図である。
【図８】図７の切断面線VIII−VIIIから見た断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下では、本発明の実施の形態を、添付図面を参照して詳細に説明する。
図１は、本発明の一実施形態に係るスラリー混錬度計測装置１の概略構成を示す断面図である。スラリー混錬度計測装置１は、スラリー処理装置２のスラリー流通経路を流通するスラリーの混錬度を計測することができるものである。スラリーとしてリチウム二次電池用電極スラリー等の電極スラリーを例示することができる。この場合、スラリーは、溶剤に、黒鉛等の活物質３０（図５参照。）、結着剤３１（図５参照。バインダ）および増粘剤３２（図５参照。などを混錬（分散）させたペースト状の電池材料である。スラリー処理装置２として、電極スラリーを製造するための電極製造装置等を例示することができる。
【００１９】
スラリー混錬度計測装置１は、内部をスラリーが流通する処理室（混錬度計測処理室）３と、処理室３内に収容されて、鉛直軸線Ｃを中心軸線とする略円筒状の回転ベース４と、処理室３の天面に結合されて、回転ベース４を鉛直軸線Ｃまわりに回転可能に、かつ水平姿勢に支持するベース支持部材５と、回転ベース４に、互いに間隔を空けた状態で固定された複数本（図２ではたとえば１２本）の筒状部材（電極棒支持部）６とを備えている。複数本の筒状部材６は、周方向に等間隔に配置されている。複数の筒状部材６のうち２つの筒状部材６の内部には、電極７を有する電極棒８がそれぞれ収容支持されている。電極７は筒状部材６の下端に位置している。また、スラリー混錬度計測装置１は、一対の電極棒８の各電極７間の交流インピーダンスを計測するための交流インピーダンス計測器９をさらに備えている。また、交流インピーダンス計測器９によって計測された交流インピーダンス値に基づいて、スラリー混錬度計測装置１がスラリーの混錬度を算出している。すなわち、スラリー混錬度計測装置１は、交流インピーダンス法を用いてスラリーの混錬度を計測するための計測装置である。
【００２０】
処理室３は、スラリー処理装置２におけるスラリーを流通させるためのスラリー流通経路の一部として備えられている。スラリー流通経路では、その途中部に配設されたミキサー（撹拌器）によってスラリーを混錬させながら流通させる。処理室３は、隔壁１２によって区画されており、その内部には、回転ベース４、ベース支持部材５および筒状部材６がそれぞれ収容されている。
【００２１】
具体的には、処理室３には、処理室３からスラリーを排出するための排出配管１０の一端が接続されている。排出配管１０の他端は、下流側のスラリー流通経路に接続されている。排出配管１０の途中部には、排出配管１０を開閉するための排出バルブ１１が介装されている。処理室３の内部には、当該処理室３よりも上流側のスラリー流通経路から、混錬状態のスラリーがほぼ常時供給されている。
【００２２】
そのため、排出バルブ１１が閉じられることにより、スラリーを処理室３内に溜めることができるようになっている。また、排出バルブ１１が開かれることにより、処理室３内に溜められているスラリーが、排出配管１０を通って下流側のスラリー流通経路に供給させられる。すなわち、スラリーの計測を行う場合にだけ処理室３内にスラリーを溜めておき、それ以外のときには、処理室３を含むスラリー流通経路をスラリーが絶えず流通されるようになっている。
【００２３】
図２は、回転ベース４および筒状部材６を含む構成の斜視図である。
図１および図２を参照して、回転ベース４は、鉛直軸線Ｃを中心軸線とする円筒１４と、円筒１４の上端に水平姿勢をなして固定されて、鉛直軸線Ｃを中心とする円環板状をなす上支持板１５と、円筒１４の下端に水平姿勢をなして固定されて、鉛直軸線Ｃを中心とする円環板状をなす下支持板１６とを備えている。上および下支持板１５，１６は、互いに等しい内径および外径を有している。上および下支持板１５，１６の内周端が、それぞれ円筒１４の上下端に固定されている。たとえば、円筒１４、上支持板１５および下支持板１６は一体に形成されている。なお、円環板状の上および下支持板１５，１６に代えて、円板状の上および下支持板１５，１６が採用されてもよい。
【００２４】
上および下支持板１５，１６の間には、複数の筒状部材６が配置されている。複数の筒状部材６の上端部６Ａは、上支持板１５によって一括支持される。また、複数の筒状部材６の下端部６Ｂは、下支持板１６によって一括支持されている。上および下支持板１５，１６がそれぞれ円環状をなしているので、複数の筒状部材６は、回転ベース４の周方向に沿って配置されている。
【００２５】
ベース支持部材５は、たとえば処理室３の天面に回転自在に連結されており、回転ベース４を上方から支持している。ベース支持部材５には、モータ等からなる回転駆動機構１７が結合されている。
図３は、筒状部材６と電極棒８とを含む構成の斜視図である。図４は、電極棒８の下端部の縦断面図である。
【００２６】
図１〜図３を参照して、各筒状部材６は、円筒状をなしており、鉛直（水平面に交差する所定の方向）に延びている。各筒状部材６は絶縁材料（たとえばＰＥＥＫ樹脂）を用いて形成されており、その外径および内径は、鉛直方向の各所において同一である。各筒状部材６の内周には、円柱状の電極棒８が挿通されている。
図３および図４を参照して、電極棒８は、円柱状の合成樹脂製の棒ハウジング１９と、棒ハウジング１９の下端面に露出して形成された外郭円筒状（円柱状。とくに図４参照）の電極７と、電極７に一端が接続されて、棒ハウジング１９の中心軸線に沿って当該棒ハウジング１９内を挿通される導電配線２０とを備えている。電極７は、研磨を施しても露出面積が一定に保てるように、外郭円筒状に形成されている。電極７の電極材料としてはＰＦＣＥ（Plastic Formed Carbon Electrode）やＧＣ（Glass Carbon）などを例示することができる。導電配線２０の他端は、交流インピーダンス計測器９に電気的に接続されている。
【００２７】
棒ハウジング１９の径は、その長手方向の各所において同一である。電極棒８の外周の上端部付近の位置にはＯリング（電極棒支持部）２２が外嵌固定されている。電極棒８を、筒状部材６内に上方から挿入し、正規の挿入位置まで押し込む。電極棒８およびＯリング２２が正規の挿入位置まで押し入れられると、Ｏリング２２が筒状部材６の内周に圧接し、これにより、電極棒８の筒状部材６への抜止めが達成される。電極棒８が筒状部材６に対し正規の挿入位置に位置する状態で、電極棒８の下端部は、筒状部材６の下端とほぼ一致している。そのため、電極７は、電極棒８の下端部に位置している。
【００２８】
図２に示すように、この実施形態では、複数の筒状部材６が３つ以上の所定数（図２では１２本）備えられている。そのため、複数の筒状部材６のうち２つの筒状部材６には、電極棒８が装着（挿入）されているが、その他の筒状部材６（図２では１０本の筒状部材６）には電極棒８は装着されていない。したがって、電極棒８を装着すべき筒状部材６を選択することにより、一対の電極棒８間の距離を異ならせることができる。これにより、電極７間の間隔を小幅で変更させることができ、これにより、電極７間の間隔を変えながらの交流インピーダンス計測を行うことも可能である。
【００２９】
図１に示すように、スラリー混錬度計測装置１は、ＣＰＵ、ＲＡＭおよびＲＯＭを含むマイクロコンピュータを含む構成の制御装置（混錬度算出手段）２１を備えている。制御装置２１には、制御対象として回転駆動機構１７および交流インピーダンス計測器９（たとえば、株式会社エヌエフ回路設計ブロック製のＦＲＡ５０９７）が接続されている。交流インピーダンス計測器９による計測結果（すなわち、検出交流インピーダンス等）は、制御装置２１に与えられるようになっている。
【００３０】
図５は、スラリーの一例としての電極スラリーの混錬状態のモデルを示す図である。
電極スラリーは、溶剤に、黒鉛等の活物質３０、結着剤（バインダ）３１および増粘剤３２などを混錬（分散）させたペースト状の電池材料である。一般的に、電極スラリーでは、電極スラリー中に含まれる活物質３０の分散度が良好であるほど、電極性能（つまりは電池性能）が良好とされている。
【００３１】
図５（ａ）は、電極材料における活物質３０の理想的な分散状態（分散度の高い状態）を示す。図５（ａ）に示す理想状態では、各活物質３０が分散して、互いに間隔を隔てており、各活物質３０の周囲が増粘剤３２でコーティングされている。また、隣接する活物質３０の間には、結着剤（バインダ）３１が介在している。
図５（ｂ）は、電極材料における活物質３０の分散度の低い状態を示している。図５（ｂ）に示す状態では、複数の活物質３０が凝集しており、一群の活物質３０を構成している。一群の活物質３０の周囲が増粘剤３２でコーティングされており、その周囲に結着剤３１が分散されている。
【００３２】
次に、交流インピーダンス法による計測原理について説明する。
図６は、交流インピーダンス法を用いたスラリーの混錬度（スラリーにおける活物質３０の分散度）の計測原理を示す図である。図６（ａ）は粒子のナイキストプロット図であり、図６（ｂ）は粒子の等価回路である。
活物質３０の抵抗成分は、（１）粒子内に由来する抵抗成分（粒子内抵抗成分）、（２）粒子と粒子の接触界面（粒界）に由来する抵抗成分（粒界抵抗成分）、および（３）電極７とサンプル界面との抵抗（またはブロッキング）に由来する抵抗成分（電極界面抵抗成分）との３つの抵抗成分を含むと考えられる。交流インピーダンス法を用いた計測では、周波数領域を特定することにより、分散に主として寄与する粒界抵抗成分だけを抽出することができる。つまり、スラリーの交流インピーダンスと、スラリーの混錬度（スラリーに含まれる活物質３０の分散度）との間には相関関係がある。したがって、スラリーの交流インピーダンスを計測することにより、スラリーの混錬度を評価（つまり計測）することができる。
【００３３】
図６（ａ）に示すナイキストプロットでは、横軸（Ｚｒｅ)が抵抗の実数成分で描かれており、縦軸（Ｚｉｍ)が抵抗の虚数成分で描かれている。
粒子のナイキストプロットをモデルで表現するために、図６（ｂ）に示す等価回路を考える。図６（ｂ）に示すように、この等価回路は、第１のＲＣ回路と第２のＲＣ回路とを備えている。第１のＲＣ回路は粒界抵抗成分であり、第２のＲＣ回路は電極界面抵抗成分である。
【００３４】
再び図１を参照して、スラリー混錬度計測装置１を用いたスラリーの計測について説明する。
前述のように、処理室３には、当該処理室３よりも上流側のスラリー流通経路から、混錬状態のスラリーがほぼ常時供給されている。スラリーの計測の際には、制御装置２１は、排出バルブ１１を閉じる。その結果、処理室３の底部にスラリーが溜められる。また、制御装置２１は、回転駆動機構１７を駆動して、回転ベース４の鉛直軸線Ｃまわりの回転を開始させる。
【００３５】
排出バルブ１１が閉じられてから、所定の時間（処理室内のスラリーの嵩が、電極７よりも高い所定位置よりも高くなるのに十分な時間）が経過した後、交流インピーダンス計測器９によって、一対の電極棒８の各電極７間における交流インピーダンスが計測される。交流インピーダンス計測器９による交流インピーダンスの計測は、計測周波数１５ＭＨｚ〜１Ｈｚおよび印加交流電圧０．１（Ｖｐ−ｐ）の条件下で行われる。
【００３６】
その後、交流インピーダンスの計測値が交流インピーダンス計測器９から制御装置２１に与えられ、この値に基づいて、制御装置２１は、スラリーの混錬度を算出する。
以上によりこの実施形態によれば、回転ベース４には、鉛直に延びる複数の筒状部材６が、互いに間隔を空けた状態で固定されている。電極棒８が筒状部材６の内部に挿通された状態で支持されており、筒状部材６の下端に電極棒８の電極７の下端が位置している。そのため、各筒状部材６の下端部６Ｂが計測対象のスラリーに浸漬させられた状態では、一対の電極棒８の電極７がスラリーに浸漬させられる。そして、スラリーに浸漬されている一対の電極７間の交流インピーダンスの値に基づいて、スラリーの混錬度が算出される。交流インピーダンス法を用いて、スラリーの混錬度を直接計測する結果、スラリーの混錬度を精度良く計測することができる。
【００３７】
また、回転ベース４には、回転駆動機構１７から鉛直軸線Ｃまわりの回転駆動力が付与されて、回転ベース４が鉛直軸線Ｃまわりに回転させられる。これにより、各筒状部材６も鉛直軸線Ｃまわりに回動（公転）させられ、筒状部材６の回動によって計測対象のスラリーが撹拌されて混錬される。その結果、スラリーが撹拌され混錬されつつ、スラリーの混錬度が計測されるので、スラリーの混錬状態を低下させることなく、スラリーの混錬度を計測することができる。
【００３８】
また、スラリーを撹拌して混錬するための筒状部材６が３つ以上の所定数備えられているので、計測対象のスラリーをより一層混錬させることができる。これにより、計測対象のスラリーの混錬状態の低下を、より一層抑制することができる。
図７は、本発明の他の実施形態に係るスラリー混錬度計測装置５１の概略構成を示す断面図である。図８は、図７の切断面線VIII−VIIIから見た断面図である。図７および図８に示す実施形態において、図１〜図６に示す実施形態に示された各部に対応する部分には、図１〜図６に示す実施形態と同一の参照符号を付して示し、説明を省略する。図８では、羽根５２および回転ベース４の円筒１４のみを図示し、それ以外の構成は省略する。
【００３９】
図７および図８に示すスラリー混錬度計測装置５１が、スラリー混錬度計測装置１と相違する点は、回転ベース４が、回転駆動機構１７から付与される回転駆動力ではなく、流通しているスラリーからの力を受けて回転ベース４を回転させる点である。回転ベース４には、流通しているスラリーと接触して、当該回転ベース４を鉛直軸線Ｃまわりに回転させる羽根５２が固定されている。
【００４０】
具体的には、羽根５２は、円筒１４の内壁から径方向内側に向けて突出する複数枚（図７および図８ではたとえば４枚）の羽根５２である。これら複数枚の羽根５２は、円筒１４の周方向に等間隔で配置されている。各羽根５２は、鉛直姿勢をなす矩形板状をなしている。
また、スラリー混錬度計測装置５１によるスラリーの混錬度の計測では、スラリーが流れていることが必要である。つまり、スラリーの混錬度の計測中には、処理室３からはスラリーの排出があることが望ましい。そのため、スラリーの計測の際においても、制御装置２１は、排出バルブ１１を開状態のまま閉じない。
【００４１】
また、このスラリー混錬度計測装置５１には、スラリー混錬度計測装置１と異なり、回転駆動機構１７が備えられていない。
この実施形態によれば、流通しているスラリーとの接触により、当該スラリーから力を受けて、回転ベース４は鉛直軸線Ｃまわりに回転させられる。したがって、回転駆動機構１７を用いることなくスラリーを撹拌することができ、これにより、コストダウンを図ることができる。
【００４２】
なお、スラリー混錬度計測装置５１では、排出配管に排出バルブ１１を設けない構成としてもよい。
以上、この発明の２つの実施形態について説明したが、この発明は他の形態でも実施することができる。
たとえば、回転ベース４は、円筒１４に水平姿勢に固定されて、各筒状部材６の上下方向の中間部を一括して支持する中間支持板２３（図１に破線にて図示）をさらに備えていてもよい。この場合、複数の筒状部材６の上下方向の中間部を一括して支持する中間支持板２３が備えられているので、各筒状部材６を高い剛性のまま支持することができる。中間支持板２３は、たとえば、鉛直軸線Ｃを中心とする円環板状をなしており、上および下支持板１５，１６の双方と等しい内径および外径を有している。
【００４３】
回転ベース４に中間支持板２３が備えられる場合には、下支持板１６を省略し、上支持板１５と中間支持板２３とで各筒状部材６を一括して支持する構成が採用されていてもよい。さらに、各筒状部材６の上端部６Ａを上支持板１５で一括して支持してさえいれば、下支持板１６や中間支持板２３を省略し、上支持板１５のみで各筒状部材６を一括して支持する構成が採用されていてもよい。
【００４４】
上支持板１５、下支持板１６および中間支持板２３の諸元は、適宜変更することができる。
各筒状部材６が鉛直に延びているとして説明したが、筒状部材６は鉛直方向に対して傾斜していてもよい。この場合でも、複数の筒状部材６は水平面に対して共通する角度で傾斜していることが望ましい。
【００４５】
筒状部材６として、角筒状（たとえば４角筒状）の筒状部材６を採用することもできる。この場合、筒状部材６の内部に収容される電極棒８が円柱状をなしている場合には、その内周面が、電極棒８の中心軸が中心とする円筒面によって形成されていてもよい。
筒状部材６の本数は２本であってもよい。この場合には、双方の筒状部材６に電極棒８が装着されている。
【００４６】
なお、電極棒８が筒状部材６内に圧入されることにより、電極棒８の筒状部材６への固定が達成されていてもよい。この場合には、筒状部材６の長手方向の少なくとも一箇所において、当該長手方向に直交する面で切断したときの断面径が電極棒８の直径よりも小径になるように、筒状部材６の内周壁および電極棒８の外周壁の少なくとも一方に、膨らみや突起等を形成することもできる。
【００４７】
また、ベース支持部材５として、回転ベース４を下方から支持する構成を採用することもできる。この場合には、すなわち処理室３の底面側に関連してベース支持部材５を設ける必要がある。この場合には、処理室３内に溜められるスラリーが、ベース支持部材５に進入しないように、ベース支持部材５と、処理室３の隔壁１２との間にシール部材を介在させることが望ましい。
【００４８】
さらに、スラリー混錬度計測装置１，５１がスラリー処理装置２に組み込まれている場合を例に挙げて説明したが、スラリー混錬度計測装置１，５１がスラリー処理装置２とは別個に設けられていてもよい。この場合、スラリー混錬度計測装置１，５１は、計測対象のスラリーを溜めるためのスラリー貯留容器を、前記の処理室３に代えて備えるようにしてもよい。この場合にはさらに、スラリー貯留容器に溜められているスラリーに対する浸漬状態／離脱状態を切り変えるために、ベース支持部材５に回転ベース４を昇降させるための昇降駆動機構（モータやボールナット等を含む構成）が結合されていてもよい。
【００４９】
また、計測された交流インピーダンス値に基づいて、スラリー混錬度計測装置１の制御装置２１によってスラリーの混錬度が算出する場合を例に挙げたが、スラリーの混錬度が交流インピーダンス計測器９により算出される構成であってもよいし、スラリーの混錬度を算出するための他の機器を設ける構成であってもよい。さらには、スラリーの混錬度を算出するための機構を省略する構成であってもよい。
【００５０】
スラリー混錬度計測装置１，５１による計測対象のスラリーとして、電極スラリーを例に挙げたが、スラリーに含まれる固体粒子が導電剤である場合には、スラリー混錬度計測装置１，５１の計測対象とすることができ、スラリー混錬度計測装置１，５１により当該導電剤の分散度を計測することができる。
その他、特許請求の範囲に記載された事項の範囲で種々の設計変更を施すことが可能である。
【符号の説明】
【００５１】
１，５１…スラリー混錬度計測装置、２…スラリー処理装置、３…処理室（混錬度計測処理室）、４…回転ベース、６…筒状部材（電極棒支持部）、６Ａ…上端部、６Ｂ…下端部、７…電極、８…電極棒、９…交流インピーダンス計測器、１０…排出配管、１１…排出バルブ、１２…隔壁、１４…円筒、１５…上支持板、１６…下支持板、１７…回転駆動機構、１９…棒ハウジング、２１…制御装置（混錬度算出手段）、２２…Ｏリング（電極棒支持部）、２３…中間支持板、５２…羽根、Ｃ…鉛直軸線
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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