(57)【要約】【課題】より精度良く発光装置の発光輝度を目標値にすることのできる技術を提供する。【解決手段】本発明の第１の態様は、独立に発光を制御可能な複数の光源を備える発光装置を有する液晶表示装置であって、入力画像データに基づく画像の領域を分割することにより得られるブロック毎に、そのブロックの発光装置の発光輝度を測定する輝度センサーと、ブロック毎に、そのブロックの発光装置の温度を測定する温度センサーと、ブロック毎の温度センサーの測定値を取得する取得手段と、取得手段で取得された測定値で表される温度と、取得手段で過去に取得された測定値で表される温度との差分がより大きいブロックから順番に、輝度センサーの測定値を取得し、該輝度センサーの測定値に基づいて発光装置の発光輝度を制御する処理を行う発光輝度制御手段と、を有することを特徴とする表示装置である。【選択図】図２
2013167870.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
独立に発光を制御可能な複数の光源を備える発光装置を有する表示装置であって、
入力画像データに基づく画像の領域を分割することにより得られるブロック毎に、そのブロックの発光装置の発光輝度を測定する輝度センサーと、
前記ブロック毎に、そのブロックの発光装置の温度を測定する温度センサーと、
前記ブロック毎の輝度センサーの測定値、及び、前記ブロック毎の温度センサーの測定値を用いて、各ブロックの発光装置の発光輝度を、目標値に近づくように順番に制御する制御手段と、
を有し、
前記制御手段は、
前記ブロック毎の温度センサーの測定値を取得する取得手段と、
前記取得手段で取得された測定値で表される温度と、前記取得手段で過去に取得された測定値で表される温度との差分がより大きいブロックから順番に、輝度センサーの測定値を取得し、該輝度センサーの測定値に基づいて発光装置の発光輝度を制御する処理を行う発光輝度制御手段と、
を有する
ことを特徴とする表示装置。
【請求項２】
前記発光輝度制御手段は、前記差分が互いに等しい複数のブロックが存在する場合に、前記複数のブロックのうち、下側に隣接するブロックの温度のほうが高いブロックの発光装置の発光輝度を優先して制御する
ことを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記発光輝度制御手段は、前記差分が互いに等しい複数のブロックが存在する場合に、前記複数のブロックのうち、下側に隣接するブロックの温度のほうが高いブロックであって、前記下側に隣接するブロックの温度との差分がより大きいブロックの発光装置の発光輝度を優先して制御する
ことを特徴とする請求項１または２に記載の表示装置。
【請求項４】
独立に発光を制御可能な複数の光源を備える発光装置を有する表示装置であって、
入力画像データに基づく画像の領域を分割することにより得られるブロック毎に、そのブロックの発光装置の発光輝度を測定する輝度センサーと、
前記ブロック毎に、そのブロックの発光装置の温度を測定する温度センサーと、
前記ブロック毎の輝度センサーの測定値、及び、前記ブロック毎の温度センサーの測定値を用いて、各ブロックの発光装置の発光輝度を、目標値に近づくように順番に制御する制御手段と、
を有し、
前記制御手段は、
前記ブロック毎の温度センサーの測定値を取得する取得手段と、
ブロック毎に、そのブロックが、前記取得手段で取得された測定値で表される温度が所定の閾値以上の領域である第１の領域か、前記取得手段で取得された測定値で表される温度が所定の閾値未満の領域である第２の領域かを判定する判定手段と、
第１の領域に隣接する第２の領域であるブロックについて、他のブロックより高い頻度で、輝度センサーの測定値を取得し、該輝度センサーの測定値に基づいて発光装置の発光輝度を制御する処理を行う発光輝度制御手段と、
を有する
ことを特徴とする表示装置。
【請求項５】
独立に発光を制御可能な複数の光源を備える発光装置と、入力画像データに基づく画像
の領域を分割することにより得られるブロック毎に、そのブロックの発光装置の発光輝度を測定する輝度センサーと、前記ブロック毎に、そのブロックの発光装置の温度を測定する温度センサーと、を有する表示装置の制御方法であって、
前記ブロック毎の輝度センサーの測定値、及び、前記ブロック毎の温度センサーの測定値を用いて、各ブロックの発光装置の発光輝度を、目標値に近づくように順番に制御する制御ステップを有し、
前記制御ステップは、
前記ブロック毎の温度センサーの測定値を取得する取得ステップと、
前記取得ステップで取得された測定値で表される温度と、前記取得ステップで過去に取得された測定値で表される温度との差分がより大きいブロックから順番に、輝度センサーの測定値を取得し、該輝度センサーの測定値に基づいて発光装置の発光輝度を制御する処理を行う発光輝度制御ステップと、
を含む
ことを特徴とする表示装置の制御方法。
【請求項６】
前記発光輝度制御ステップでは、前記差分が互いに等しい複数のブロックが存在する場合に、前記複数のブロックのうち、下側に隣接するブロックの温度のほうが高いブロックの発光装置の発光輝度が優先して制御される
ことを特徴とする請求項５に記載の表示装置の制御方法。
【請求項７】
前記発光輝度制御ステップでは、前記差分が互いに等しい複数のブロックが存在する場合に、前記複数のブロックのうち、下側に隣接するブロックの温度のほうが高いブロックであって、前記下側に隣接するブロックの温度との差分がより大きいブロックの発光装置の発光輝度が優先して制御される
ことを特徴とする請求項５または６に記載の表示装置の制御方法。
【請求項８】
独立に発光を制御可能な複数の光源を備える発光装置と、入力画像データに基づく画像の領域を分割することにより得られるブロック毎に、そのブロックの発光装置の発光輝度を測定する輝度センサーと、前記ブロック毎に、そのブロックの発光装置の温度を測定する温度センサーと、を有する表示装置の制御方法であって、
前記ブロック毎の輝度センサーの測定値、及び、前記ブロック毎の温度センサーの測定値を用いて、各ブロックの発光装置の発光輝度を、目標値に近づくように順番に制御する制御ステップを有し、
前記制御ステップは、
前記ブロック毎の温度センサーの測定値を取得する取得ステップと、
前記ブロック毎に、そのブロックが、前記取得ステップで取得された測定値で表される温度が所定の閾値以上の領域である第１の領域か、前記取得ステップで取得された測定値で表される温度が所定の閾値未満の領域である第２の領域かを判定する判定ステップと、
第１の領域に隣接する第２の領域であるブロックについて、他のブロックより高い頻度で、輝度センサーの測定値を取得し、該輝度センサーの測定値に基づいて発光装置の発光輝度を制御する処理を行う発光輝度制御ステップと、
を含む
ことを特徴とする表示装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示装置及びその制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、画像表示装置として液晶表示装置が主流になっている。液晶表示装置は、液晶パネルがバックライト（発光装置）から発せられた光を透過させたり、遮ったりすることで画像を表示する表示装置である。
液晶表示装置では、バックライトの光源として発光ダイオード（Ｌｉｇｈｔ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｏｄｅ、以下ＬＥＤ）が使用されることが多くなってきている。
また、液晶表示装置には、画面の領域を分割することにより得られる分割領域毎に、バックライトの発光輝度を制御可能なものがある。以下、そのような制御を、ローカルディミング制御と呼ぶ。ローカルディミング制御は、例えば、分割領域毎にＬＥＤが設けられたバックライトを有する液晶表示装置で行うことができる。
また、液晶表示装置では、バックライトの発光輝度を目標値にするために、液晶表示装置に設けられた輝度センサーの測定値（センサー値）を用いて輝度補正処理が行われることがある。
【０００３】
ローカルディミング制御可能な液晶表示装置における輝度補正処理について詳しく説明する。
図１０（Ａ）は、輝度補正処理の様子を示す図である。図１０（Ａ）〜１０（Ｃ）の例では、画面の領域を破線で分割することにより得られる各領域がブロックである。ブロックと上記分割領域（ローカルディミング制御の１単位）とは同じであってもよいし、異なっていてもよい。輝度補正処理のために、液晶表示装置には、ブロック毎に、そのブロックのバックライトの発光輝度を測定する輝度センサーが設けられている。輝度補正処理は、ブロック毎に行われる。具体的には、ブロック毎に、そのブロックの輝度センサーの測定値（該ブロックの発光輝度）を用いて、該ブロックのバックライトの発光輝度が補正される。輝度センサーによる発光輝度の測定は、正確な測定値（正確な発光輝度）を得るために、測定対象のブロック以外のブロックのＬＥＤを消灯して（測定対象のブロックのＬＥＤのみを点灯して）行われる。そのため、複数のブロックの輝度補正処理を同時に実施することは困難であり、各ブロックの輝度補正処理は所定の順番（具体的には図１０（Ａ）中の矢印の順番）で実施されることが多い。
【０００４】
しかし、このような液晶表示装置では、バックライトの温度に変化が生じることがある。例えば、バックライト付近の基板にチップが存在する場合に、そのチップの発熱により、バックライトの温度が変化する。また、チップの発熱がバックライトの温度に与える影響がブロック間で異なる場合には、バックライトに不均一な温度分布が生じてしまう（ブロック間でバックライトの温度に差が生じてしまう）。例えば、チップ（熱源）が一部のブロックに対してのみ設けられている場合に、バックライトに不均一な温度分布が生じてしまう（図１０（Ｂ））。また、チップがブロック毎に設けられている場合であっても、チップの発熱量は該チップの処理負荷によって変わるため、バックライトに不均一な温度分布が生じることがある。ＬＥＤや輝度センサーは温度特性を有するため、上記温度分布（温度ムラ）が生じると、正確な補正を行うことができず、バックライトの温度による輝度ムラが発生してしまう。
【０００５】
上記課題を解決するための従来技術は、例えば、特許文献１に開示されている。具体的には、特許文献１に開示の技術では、複数ある温度センサーで画面の領域の温度を計測し、画面の一部の領域と他の領域との間に大きな温度差があった場合に、該一部の領域が他
の領域とは異なる駆動条件（例えば印加電圧時間）で駆動される。これにより、画面の領域の温度ムラによる表示への影響が低減され、再現性のよい画像表示が可能となる。
【０００６】
特許文献１に開示の技術を用いることで、バックライトの温度を考慮した輝度補正処理が可能となる。具体的には、図１０（Ｃ）に示すように、液晶表示装置に、ブロック毎に、そのブロックのバックライトの温度を測定する温度センサーを設ければよい。そして、ブロック毎に、そのブロックの温度センサーの測定値（該ブロックの温度）に応じて輝度センサーの測定値を補正すればよい。それにより、バックライトの温度を考慮した輝度補正処理を実現することができる。
【０００７】
しかしながら、上述したように、各ブロックの輝度補正処理（発光輝度の測定）は所定の順番で行われる。そのため、輝度補正処理をしてから次に輝度補正処理をするまでの間の温度変化が大きいブロックでは、輝度補正処理が間に合わず、該ブロック周辺に、該温度変化による輝度ムラ（バックライトの発光輝度のムラ）が生じてしまう。そこのような輝度ムラは、例えば、液晶表示装置の表示モードの切り換え時など、目標輝度が変わることで温度変化が生じるときに生じてしまう。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００７−２９８９５７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
本発明は、より精度良く発光装置の発光輝度を目標値にすることのできる技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の第１の態様は、
独立に発光を制御可能な複数の光源を備える発光装置を有する表示装置であって、
入力画像データに基づく画像の領域を分割することにより得られるブロック毎に、そのブロックの発光装置の発光輝度を測定する輝度センサーと、
前記ブロック毎に、そのブロックの発光装置の温度を測定する温度センサーと、
前記ブロック毎の輝度センサーの測定値、及び、前記ブロック毎の温度センサーの測定値を用いて、各ブロックの発光装置の発光輝度を、目標値に近づくように順番に制御する制御手段と、
を有し、
前記制御手段は、
前記ブロック毎の温度センサーの測定値を取得する取得手段と、
前記取得手段で取得された測定値で表される温度と、前記取得手段で過去に取得された測定値で表される温度との差分がより大きいブロックから順番に、輝度センサーの測定値を取得し、該輝度センサーの測定値に基づいて発光装置の発光輝度を制御する処理を行う発光輝度制御手段と、
を有する
ことを特徴とする表示装置である。
【００１１】
本発明の第２の態様は、
独立に発光を制御可能な複数の光源を備える発光装置を有する表示装置であって、
入力画像データに基づく画像の領域を分割することにより得られるブロック毎に、そのブロックの発光装置の発光輝度を測定する輝度センサーと、
前記ブロック毎に、そのブロックの発光装置の温度を測定する温度センサーと、
前記ブロック毎の輝度センサーの測定値、及び、前記ブロック毎の温度センサーの測定値を用いて、各ブロックの発光装置の発光輝度を、目標値に近づくように順番に制御する制御手段と、
を有し、
前記制御手段は、
前記ブロック毎の温度センサーの測定値を取得する取得手段と、
ブロック毎に、そのブロックが、前記取得手段で取得された測定値で表される温度が所定の閾値以上の領域である第１の領域か、前記取得手段で取得された測定値で表される温度が所定の閾値未満の領域である第２の領域かを判定する判定手段と、
第１の領域に隣接する第２の領域であるブロックについて、他のブロックより高い頻度で、輝度センサーの測定値を取得し、該輝度センサーの測定値に基づいて発光装置の発光輝度を制御する処理を行う発光輝度制御手段と、
を有する
ことを特徴とする表示装置である。
【００１２】
本発明の第３の態様は、
独立に発光を制御可能な複数の光源を備える発光装置と、入力画像データに基づく画像の領域を分割することにより得られるブロック毎に、そのブロックの発光装置の発光輝度を測定する輝度センサーと、前記ブロック毎に、そのブロックの発光装置の温度を測定する温度センサーと、を有する表示装置の制御方法であって、
前記ブロック毎の輝度センサーの測定値、及び、前記ブロック毎の温度センサーの測定値を用いて、各ブロックの発光装置の発光輝度を、目標値に近づくように順番に制御する制御ステップを有し、
前記制御ステップは、
前記ブロック毎の温度センサーの測定値を取得する取得ステップと、
前記取得ステップで取得された測定値で表される温度と、前記取得ステップで過去に取得された測定値で表される温度との差分がより大きいブロックから順番に、輝度センサーの測定値を取得し、該輝度センサーの測定値に基づいて発光装置の発光輝度を制御する処理を行う発光輝度制御ステップと、
を含む
ことを特徴とする表示装置の制御方法である。
【００１３】
本発明の第４の態様は、
独立に発光を制御可能な複数の光源を備える発光装置と、入力画像データに基づく画像の領域を分割することにより得られるブロック毎に、そのブロックの発光装置の発光輝度を測定する輝度センサーと、前記ブロック毎に、そのブロックの発光装置の温度を測定する温度センサーと、を有する表示装置の制御方法であって、
前記ブロック毎の輝度センサーの測定値、及び、前記ブロック毎の温度センサーの測定値を用いて、各ブロックの発光装置の発光輝度を、目標値に近づくように順番に制御する制御ステップを有し、
前記制御ステップは、
前記ブロック毎の温度センサーの測定値を取得する取得ステップと、
前記ブロック毎に、そのブロックが、前記取得ステップで取得された測定値で表される温度が所定の閾値以上の領域である第１の領域か、前記取得ステップで取得された測定値で表される温度が所定の閾値未満の領域である第２の領域かを判定する判定ステップと、
第１の領域に隣接する第２の領域であるブロックについて、他のブロックより高い頻度で、輝度センサーの測定値を取得し、該輝度センサーの測定値に基づいて発光装置の発光輝度を制御する処理を行う発光輝度制御ステップと、
を含む
ことを特徴とする表示装置の制御方法である。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、より精度良く発光装置の発光輝度を目標値にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】実施例１に係る液晶表示装置のハードウエア構成の一例を示すブロック図
【図２】実施例１に係るＣＰＵの機能構成の一例を示すブロック図
【図３】実施例１に係る優先度決定部の処理フローの一例を示すフローチャート
【図４】実施例１に係る優先度決定部の処理フローの一例を示す図
【図５】実施例２に係るＣＰＵの機能構成の一例を示すブロック図
【図６】実施例２に係る領域判定部の処理フローの一例を示すフローチャート
【図７】実施例２に係る実施頻度決定部の処理フローの一例を示すフローチャート
【図８】実施例２に係る実施頻度決定部の処理フローの一例を示す図
【図９】従来と実施例２における輝度測定値の取得順の一例を示す図
【図１０】従来の輝度補正処理の様子を示す図
【発明を実施するための形態】
【００１６】
＜実施例１＞
以下、図面を参照して、本発明の実施例１に係る表示装置及びその制御方法について説明する。実施例１に係る表示装置は、独立に発光を制御可能な複数の光源を備える発光装置を有する。なお、本実施例では、表示装置が、発光装置（バックライト）と液晶パネルを有する液晶表示装置である場合の例を説明するが、表示装置は液晶表示装置に限らない。例えば、液晶パネルの代わりに、発光装置からの光を透過する表示素子として液晶素子以外の表示素子を有する表示パネルが用いられてもよい。
実施例１では、一例として、入力画像データに基づく画像の領域が３行×３列の９個のブロック（図４（Ａ）のブロック１〜９）に分割されているものとする。換言すれば、画面の領域が３行×３列の９個のブロック（図４（Ａ）のブロック１〜９）に分割されている。また、実施例１に係る液晶表示装置は、ブロック毎に、そのブロックのバックライトの発光輝度を測定する輝度センサーを有するものとする。そして、実施例１に係る液晶表示装置は、ブロック毎に、そのブロックの輝度センサーの測定値（輝度測定値）に基づいて該ブロックのバックライトの発光輝度を目標値に近づける輝度補正処理を行う機能を有するものとする。ここで、上記輝度センサーは温度特性を有しており、周囲の温度が変化すると輝度センサーの値も変化する。そのような変化を補正するために、実施例１に係る液晶表示装置は、ブロック毎に、そのブロックのバックライトの温度を測定する温度センサーを有する。温度センサーの数と、輝度センサーの数は同じである。
そして、実施例１に係る液晶表示装置では、より精度良くバックライトの発光輝度が目標値となるように、上記輝度補正処理が行われる。
【００１７】
なお、上述したように、実施例１では、ブロックの数が９個の場合について説明するが、ブロックの数はこれに限らない。ブロックの数は９個より多くてもよいし、少なくてもよい。また、ブロックは、画面の領域をマトリクス状に分割することにより得られる領域に限らない。例えば、ブロックは、画面の領域をストライプ状に分割することにより得られる領域であってもよい。
【００１８】
図１は、実施例１に係る液晶表示装置１００のハードウエア構成の一例を示すハードウエアブロック図である。
レシーバ１０１は、外部から入力された画像データ（画像信号）を取得し、取得した画像データをフォーマット変換等の所定の処理を施して画像処理部１０２へ出力する。画像データは、例えば、ＤｉｓｐｌａｙＰｏｒｔなどの画像入力端子から入力される。
画像処理部１０２は、レシーバ１０１から出力された画像データを、所定の画像処理を施してパネル１０３（液晶パネル）へ出力する。所定の画像処理は、例えば、ガンマ変換処理や色温度（例えば白色の色温度）の変更処理などである。また、所定の画像処理は、バックライト１０８の発光輝度の目標値に基づいて行われる処理であってもよい。例えば、所定の画像処理は、目標値が低い場合（バックライト１０８の明るさを暗くする場合）に、低階調側の階調性を高め、目標値が高い場合（バックライト１０８の明るさを明るくする場合）に、高階調側の階調性を高める画像処理であってもよい。また、所定の画像処理として、１種類の画像処理が行われてもよいし、複数種類の画像処理が行われてもよい。
【００１９】
パネル１０３は、画像処理部１０２から出力された画像データに基づいて透過率が制御される複数の液晶素子を有する液晶パネルである。
バックライト１０８は、ブロック毎に発光輝度を制御可能な構成を有する。具体的には、バックライト１０８は、ブロック毎に光源（ＬＥＤ）を有する。バックライト１０８からの光は、パネル１０３の背面に照射される。
バックライト１０８からの光が、パネル１０３を透過すること、または、パネル１０３で遮られることにより、画像処理部１０２から出力された画像データに基づく画像が画面に表示される。
【００２０】
複数の輝度センサー１０４は、それぞれ、対応するブロックのバックライト１０８（ＬＥＤ）の発光輝度を測定するセンサーである。
複数の温度センサー１０５は、それぞれ、対応するブロックのバックライト１０８（ＬＥＤ）の温度（具体的には、対応するブロックの輝度センサー１０４の周囲の温度）を測定するセンサーである。
【００２１】
ＣＰＵ１０６は、各種制御を実施するＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ
Ｕｎｉｔ）である。具体的には、ＣＰＵ１０６は、ブロック毎の輝度センサー１０４の測定値（輝度測定値）、及び、ブロック毎の温度センサー１０５の測定値（温度測定値）を用いて、各ブロックのバックライト（ＬＥＤ）の発光輝度を、目標値となるように順番に制御する。より具体的には、ＣＰＵ１０６は、ブロック毎の輝度測定値や温度測定値を取得する制御や、それらの測定値（センサー値）の取得方法の制御などを実行する。そして、ＣＰＵ１０６は、ブロック毎に、そのブロックの輝度測定値を補正し、該補正された輝度測定値を用いて、該ブロックのバックライト１０８の発光輝度を目標値とする制御（輝度補正処理；発光輝度制御）を行う。
なお、本実施例では、輝度測定値は、同じブロックの温度測定値に基づいて補正される。但し、補正方法はこれに限らない。輝度測定値は、同じブロックの温度測定値と、該ブロックに隣接するブロックの温度測定値とに基づいて補正されてもよい。
【００２２】
メモリ１０７は、輝度センサー１０４から出力される輝度測定値や、温度センサー１０５から出力される温度測定値などを記憶する。
内部バス１０９は、上述したハードウエアブロック間を、情報（データ）を送受信可能に接続する。
【００２３】
図２は、ＣＰＵ１０６の機能構成の一例を示す機能ブロック図である。
【００２４】
優先度決定部２０１は、後述するセンサー値取得部２０３にブロック毎の温度測定値の取得を指示する。温度測定値の取得指示は定期的に実行される。また、優先度決定部２０１は、ブロック毎に、センサー値取得部２０３で今回取得された温度測定値で表される温度（第１温度）と、センサー値取得部２０３で前回取得され温度測定値で表される温度（第２温度）との差分を算出する。そして、優先度決定部２０１は、上記差分がより大きい
ブロックから順番に輝度補正処理が行われるように、各ブロックの優先度を決定する。具体的には、上記差分がより大きいブロックから順番に、輝度測定値を取得し、該輝度測定値に基づいてバックライト１０８（ＬＥＤ）の発光輝度を制御する処理が行われるように、各ブロックの優先度が決定される。例えば、優先度決定部２０１は、ブロック毎に、上記差分が大きいほど高い優先度を決定する。そして、優先度がより高いブロックから順番に輝度測定値が取得されるように、センサー値取得部２０３にブロック毎の温度測定値の取得を指示する。具体的な優先度の決定方法は後述する。
なお、上記差分は、第１温度から第２温度を減算した値であってもよいし、第２温度から第１温度を減算した値であってもよいし、それらの絶対値であってもよい。
なお、本実施例では、第２温度が、センサー値取得部２０３で前回取得され温度測定値で表される温度であるものしたが、第２温度はこれに限らない。第２温度は、センサー値取得部２０３で過去に取得され温度測定値で表される温度であればよい。例えば、第２温度は、センサー値取得部２０３で前々回取得され温度測定値で表される温度であってもよい。第２温度は、センサー値取得部２０３で所定回数（３回、５回、８回など）前に取得され温度測定値で表される温度であってもよい。
【００２５】
制御量算出部２０２は、バックライトの発光輝度の制御量を算出する。
具体的には、制御量算出部２０２は、ブロック毎に、そのブロックの輝度測定値（後述するセンサー値補正部２０４から出力された輝度測定値）と目標値とから、該ブロックのバックライトの発光輝度の制御量を算出する。具体的には、輝度測定値で表される発光輝度が目標値よりも低い場合には、輝度測定値で表される発光輝度が目標値となるように発光輝度を高める制御量が算出される。輝度測定値で表される発光輝度が目標値よりも高い場合には、輝度測定値で表される発光輝度が目標値となるように発光輝度を低くする制御量が算出される。算出された制御量はバックライト制御部２０５へ出力される。制御量は、センサー値補正部２０４から輝度測定値が出力される度に算出され、出力される。
また、制御量算出部２０２は、画像処理部１０２へ発光輝度の目標値を出力する。そして、画像処理部１０２では、発光輝度の目標値に基づいて画像処理が行われる。
【００２６】
なお、制御量算出部２０２は、画像データと発光輝度の目標値とから、画像データの各画素値の補正量を算出し、画像処理部１０２へ出力してもよい。そして、画像処理部１０２は、各画素の補正量に応じて画像データを補正してもよい。各画素値の補正量は、例えば、画像データと発光輝度の目標値とから算出される画像の輝度に基づいて算出することができる。また、各画素値の補正量は、目標値毎の変換テーブル（入力画素値（変換前）と補正量の対応関係を表すテーブル（または関数））を用いて算出することができる。
なお、制御量算出部２０２は、発光輝度の目標値から、画像データの画像処理後の画素値を算出し、画像処理部１０２へ出力してもよい。そして、画像処理部１０２は、画像データの各画素値を、制御量算出部２０２から出力された値に置き換える処理を行ってもよい。画像処理後の画素値は、例えば、目標値毎の変換テーブル（入力画素値（画像処理前）と出力画素値（画像処理後）の対応関係を表すテーブル（または関数））を用いて算出することができる。
なお、目標値は、例えば、ユーザ操作、入力された画像データ、液晶表示装置１００の周囲の環境などに応じて設定される。目標値は、制御量算出部２０２で設定されてもよいし、他の機能ブロックにより設定されてもよい。目標値は、全てのブロックで共通の値であってもよいし、ブロック毎の値であってもよい。
【００２７】
センサー値取得部２０３は、各ブロックの輝度センサー１０４及び温度センサー１０５からセンサー値を取得する。即ち、センサー値取得部２０３は、各ブロックの輝度測定値と温度測定値を取得する。なお、輝度測定値を取得する機能ブロックと、温度測定値を取得する機能ブロックとは、互いに異なる機能ブロックであってもよい。
バックライト１０８の発光輝度は、変更後、しばらくの間安定しないため、輝度センサ
ー１０４からは、数百ｍｓｅｃおきに輝度測定値を取得することができる。なお、取得する輝度測定値は、取得時の発光輝度を表す値であってもよいし、取得時までの所定期間の発光輝度の平均値を表す値であってもよい。
温度センサー１０５からは、温度測定値を即時取得することができる。例えば、温度センサー１０５からは、温度測定値を数μｓｅｃおきに取得することができる。
本実施例では、各ブロックの温度測定値は、所定の順番で取得される。但し、温度測定値の取得方法はこれに限らない。例えば、各ブロックの温度測定値は、一度に取得されてもよいし、直前に算出された優先度がより高いブロックから順番に取得されてもよい。
そして、本実施例では、各ブロックの輝度測定値は、直前に算出された優先度がより高いブロックから順番に取得される。
【００２８】
センサー値補正部２０４は、ブロック毎に、センサー値取得部２０３で取得された温度測定値を用いて、センサー値取得部２０３で取得された輝度測定値を補正し、制御量算出部２０２へ出力する。本実施例では、輝度測定値を補正するために使用する温度測定値は、輝度補正処理の順番（輝度測定値を取得する順番）を決定するために使用する温度測定値（第１，２温度の温度測定値）とは別に取得される（詳細は後述する）。センサー値補正部２０４は、センサー値取得部２０３で輝度測定値が取得されるたび（センサー値取得部２０３からセンサー値補正部２０４へ輝度測定値が出力されるたび）に、該輝度測定値を補正し、制御量算出部２０２へ出力する。
バックライト制御部２０５は、ブロック毎に、制御量算出部２０２から出力された制御量に応じて、バックライト１０８の発光輝度を制御する。発光輝度の制御は、制御量算出部２０２から制御量が出力されるたびに行われる。
即ち、本実施例では、センサー値取得部２０３により、温度の時間変化量（上記差分）がより大きいブロックから順番に、輝度測定値が取得される。そして、センサー値取得部２０３によりブロックの輝度測定値が取得されるたびに、センサー値補正部２０４、制御量算出部２０２、及び、バックライト制御部２０５により、該ブロックの発光輝度が制御される（該ブロックの輝度補正処理が行われる）。
【００２９】
図３と図４（Ａ）〜４（Ｃ）を用いて、優先度決定部２０１の処理フローの一例を説明する。図３は優先度決定部２０１の処理フローの一例を示すフローチャートである。図４（Ａ）は、各ブロックの第１温度と温度の時間変化量（第１温度と第２温度の差分）の一例を示す図である。図４（Ｂ），４（Ｃ）は、各ブロックの優先度の一例を示す図である。なお、優先度決定部２０１は、図４（Ｂ）に示すような値（ブロック毎の温度、温度の時間変化量（温度差分）、及び、優先度）を記憶可能なメモリを有する。本実施例では、ブロック毎に、そのブロックを識別する識別ＩＤが予め定められており、温度と温度の時間変化量は、対応するブロックの識別ＩＤに関連付けて記録される。
【００３０】
まず、優先度決定部２０１は、センサー値取得部２０３から、各ブロックの現在の温度測定値（全９個）を順次取得する（Ｓ３０１）。
次に、優先度決定部２０１は、メモリ内に温度（第２温度）が記録されているか否かを判定する（Ｓ３０２）。
メモリ内に第２温度が記録されている場合には、Ｓ３０４へ処理が進められる。
メモリ内に第２温度が記録されていない場合には、優先度決定部２０１は、各ブロックの第１温度（Ｓ３０１で取得した温度測定値で表される温度）をメモリ内に記録し、所定時間経過後に、各ブロックの現在の温度測定値を順次取得する（Ｓ３０３）。Ｓ３０３の処理が完了した時点で、メモリ内に記録されている各ブロックの温度は、第２温度となる。そして、Ｓ３０４へ処理が進められる。
【００３１】
Ｓ３０４では、優先度決定部２０１は、ブロック毎に、温度の時間変化量を算出する。具体的には、Ｓ３０１またはＳ３０３で取得された温度測定値で表される温度（第１温度
）と、メモリに記憶されている第２温度との差分が算出される。そして、優先度決定部２０１は、ブロック毎の温度データ（第１温度と温度の時間変化量）をメモリに記録する。具体的には、メモリには、温度データが、ブロック毎に順番に記述される。
次に、優先度決定部２０１は、メモリに記録されている各ブロックの温度データを、Ｓ３０４で算出された差分（温度の時間変化量）が大きい順に並び替える。そして、優先度決定部２０１は、並び替え後の最初（先頭；１番目）から最後（９番目）の温度データに、優先度１（高）〜９（低）をその順番で割り当てる（Ｓ３０５）。即ち、Ｓ３０４で算出された差分がより大きいブロックに対して、より高い優先度が割り当てられる。本処理により、図４（Ｂ）に示すように、各ブロックの優先度が決定される。
【００３２】
そして、優先度決定部２０１は、差分（温度の時間変化量）が互いに等しい複数のブロックが存在するか否かを判定する（Ｓ３０６）。
温度の時間変化量が互いに等しい複数のブロックが存在する場合には、Ｓ３０７へ処理が進められる。
温度の時間変化量が互いに等しい複数のブロックが存在しない場合には、Ｓ３０９へ処理が進められる。
【００３３】
液晶表示装置内において、温度は、下側から上側へ向かって伝わりやすい。そのため、ブロックＡの下側に隣接するブロックＢの温度がブロックＡの温度よりも高い場合、ブロックＢの温度はブロックＡへ伝わりやすい。そのような温度の伝播が生じると、ブロックＡの温度（温度測定値）は変化する。また、ブロックＡとブロックＢの温度差が大きいほど、ブロックＡの温度は大きく変化する。
そこで、Ｓ３０７とＳ３０８では、優先度決定部２０１は、温度の時間変化量が互いに等しい複数のブロックと、それらのブロックの下側に隣接するブロックとの第１温度から、優先度を補正する。具体的には、温度の時間変化量が互いに等しい複数のブロックのうち、下側に隣接するブロックの温度のほうが高いブロック（下側高温ブロック）の発光輝度が優先して制御されるように、優先度が補正される。また、複数の下側高温ブロックが存在する場合には、下側に隣接するブロックの温度との差分がより大きい下側高温ブロックのバックライトの発光輝度が優先して制御されるように、優先度が補正される。換言すれば、温度の時間変化量が互いに等しい複数のブロックのうち、下側に隣接するブロックの温度のほうが高いブロックであって、下側に隣接するブロックの温度との差分がより大きいブロックのバックライトの発光輝度が優先して制御されるように、優先度が補正される。Ｓ３０７では、温度の時間変化量が互いに等しい複数のブロックのうち、下側に隣接するブロックの温度のほうが高いブロックの優先度が補正される。Ｓ３０８では、温度の時間変化量が互いに等しい複数のブロックのうち、下側に隣接するブロックよりも温度が高いブロックの優先度が補正される。優先度決定部２０１は、温度の時間変化量が互いに等しい複数のブロックの優先度を補正した後、メモリに記録されているそれらのブロックの温度データを、補正後の優先度が高い順となるように、並び替える。
Ｓ３０７とＳ３０８の処理の後、Ｓ３０９へ処理が進められる。
【００３４】
図４（Ｂ）の例では、ブロック４，６，８の温度の時間変化量が互いに等しい（１０度）。ブロック４，６，８の第１温度は、それぞれ、１５℃、１５℃、２２℃である。そして、ブロック４の下側に隣接するブロック７の第１温度は１８℃であり、ブロック６の下側に隣接するブロック９の第１温度は２０℃である。ブロック８の下側に隣接するブロックは無い。ブロック４の補正前の優先度は２、ブロック６の補正前の優先度は３、ブロック８の補正前の優先度は４である。
ブロック７，９の第１温度は、それぞれ、ブロック４，６の温度よりも高い。また、ブロック９の第１温度とブロック６の第１温度の差（５℃）は、ブロック７の第１温度とブロック４の第１の温度の差（３℃）より大きい。そのため、ブロック４，６，８の中で、ブロック６の優先度が最も高く、次にブロック４の優先度が高くなるように、ブロック４
，６の優先度が補正される。具体的には、ブロック６の補正後の優先度は２、ブロック４の補正後の優先度は３となる。
そして、ブロック８の下側にはブロックが隣接していないため、ブロック８の優先度は、ブロック４，６の補正後の優先度よりも低い優先度とされる。具体的には、図４（Ｃ）に示すように、ブロック８の補正後の優先度は、補正前の優先度と同じ（４）とされる。なお、ブロック８の下側に、ブロック８の温度よりも低い温度のブロックが隣接している場合にも同様にブロック８の優先度が決定（補正）される。
なお、上述したように、本実施例では、温度の時間変化量が互いに等しい複数のブロックのうち、下側に隣接するブロックの温度のほうが高いブロックの発光輝度が優先して制御されるように、優先度が補正される。そのため、ブロック６の下側に隣接するブロック９の温度がブロック６の温度よりも低い場合には、ブロック４，６，８の中でブロック４の優先度が最も高くなるように、ブロック４，６，８の優先度が補正される。また、ブロック４，８のみの温度の時間変化量が互いに等しい場合（ブロック６の温度の時間変化量が１０度でない場合）にも、ブロック４の優先度がブロック８の優先度よりも高くなるようにそれらの優先度が補正される。
【００３５】
Ｓ３０９では、優先度決定部２０１は、Ｓ３０１〜Ｓ３０８の処理により決定された優先度に応じて、センサー値の取得をセンサー値取得部２０３へ指示する。それにより、センサー値取得部２０３では、Ｓ３０１〜Ｓ３０８の処理により決定された優先度のより高いブロックから順に、温度センサー１０５と輝度センサー１０４の測定値（現在の温度測定値と輝度測定値）が取得され、センサー値補正部２０４へ出力される。ここで取得される温度測定値は、輝度測定値を補正するための温度測定値である。このように、本実施例では、輝度測定値を補正するために使用する温度測定値は、輝度測定値の取得順序を決定するために使用する温度測定値と区別して取得される。なお、輝度測定値を補正するために使用する温度測定値と、輝度測定値の取得順序を決定するために使用する温度測定値とは区別されていなくてもよい。第１温度に基づいて輝度測定値が補正されてもよい。
Ｓ３０９でセンサー値が取得される度に、センサー値補正部２０４、制御量算出部２０２、及び、バックライト制御部２０５により、輝度補正処理が行われる（Ｓ３１０）。
【００３６】
次に、優先度決定部２０１は、全てのブロックについて、輝度補正処理のためのセンサー値が取得されたか否か（全てのブロックの輝度補正処理が完了したか否か）を判定する（Ｓ３１１）。
輝度補正処理のためのセンサー値を取得していないブロックがある場合（全てのブロックの輝度補正処理が完了していない場合）には、Ｓ３０９へ処理が戻される。
全てのブロックについて、輝度補正処理のためのセンサー値が取得された場合（全てのブロックの輝度補正処理が完了した場合）には、本フローが終了される。
なお、図３の処理フローは、常時繰り返し実施されてもよいし、特定の期間にのみ実施されてもよい。特定の期間は、例えば、表示モードが変更された時刻を始点とする所定期間や、液晶表示装置の周囲の温度と、前回輝度補正処理が行われた時の温度との差が所定値以上となった時刻を始点とする所定期間などである。
【００３７】
以上述べたように、本実施例によれば、温度の時間変化がより大きいブロックから順番に、輝度測定値を取得し、バックライトの発光輝度を制御する処理が行われる。それにより、従来よりも精度良くバックライトの発光輝度を目標値にすることができる。
具体的には、温度の時間変化が大きいブロックでは、温度の時間変化が小さいブロックに比べ、バックライトの発光輝度が目標値から大きくずれていると考えられる。発光輝度の目標値からのずれ量がブロック間で異なると、バックライト全体の発光輝度にムラが生じる。本実施例によれば、上記構成により、温度の時間変化が大きいブロックの、輝度補正処理をしてから次に輝度補正処理をするまでの時間を従来よりも短くすることができる。その結果、温度変化によりバックライトの発光輝度が目標値からずれる期間（温度変化
による発光輝度のムラが生じる期間）の長さを従来よりも短くすることができる。そして、バックライトの発光輝度を目標値（目標値に近い輝度）に維持することができる。
また、本実施例によれば、温度の時間変化量が互いに等しい複数のブロックのうち、下側に隣接するブロックの温度のほうが高いブロックであって、下側に隣接するブロックの温度との差分がより大きいブロックのバックライトの発光輝度が優先して制御される。即ち、温度の時間変化量が互いに等しい複数のブロックうち、温度がより大きく変化することが予想されるブロックのバックライトの発光輝度が優先して制御される。それにより、更に精度良くバックライトの発光輝度を目標値にすることができる。具体的には、温度の時間変化が激しいブロックの中で、特に時間変化が大きいブロックの、輝度補正処理をしてから次に輝度補正処理をするまでの時間を優先的に短くすることができる。
【００３８】
なお、本実施例では、輝度測定値が温度測定値に基づいて補正されるものとしたが、そのような補正は行われなくてもよい。温度測定値は、輝度補正処理の順番を決定するためだけに用いられてもよい。
なお、本実施例では、バックライトの光源がＬＥＤの場合の例を示したが、光源はＬＥＤに限らない。光源は、例えば冷陰極管であってもよい。
【００３９】
＜実施例２＞
以下、図面を参照して、本発明の実施例２に係る液晶表示装置及びその制御方法について説明する。なお、以下では、実施例１と異なる機能について詳しく説明し、実施例１と同様の機能については説明を省略する。実施例２に係る液晶表示装置は、ブロック毎に、そのブロックの温度測定値を用いて、該ブロックが安定領域（第１の領域）か不安定領域（第２の領域）かを判定する。安定領域は、温度測定値で表される温度が所定の閾値以上の領域である。不安定領域は、温度測定値で表される温度が所定の閾値未満の領域である。温度の閾値の具体例としては５５度が挙げられる。そして、実施例２に係る液晶表示装置は、安定領域に隣接する不安定領域であるブロックについて、他のブロックより高い頻度で、輝度センサーの測定値を取得し、該輝度センサーの測定値に基づいてバックライトの発光輝度を制御する処理を行う。それにより、従来よりも精度良くバックライトの発光輝度を目標値にすることが可能となる。
【００４０】
実施例２に係る液晶表示装置のハードウエア構成は実施例１と同様であるため、その説明は省略する。
図５は、実施例２に係るＣＰＵ１０６の機能構成の一例を示す機能ブロック図である。
領域判定部５０１は、センサー値取得部２０３にブロック毎の温度測定値の取得を指示する。そして、領域判定部５０１は、ブロック毎に、そのブロックの温度測定値から、該ブロックが安定領域か不安定領域かを判定する。各ブロックの判定結果（安定領域か不安定領域かの判定結果；領域判定結果）は、実施頻度決定部５０２に出力される。
実施頻度決定部５０２は、領域判定部５０１から各ブロックの領域判定結果を取得し、各ブロックの領域判定結果を用いて、各ブロックの輝度補正処理の実施頻度（処理実施頻度）を決定する。具体的には、輝度センサー１０４の測定値（輝度測定値）を取得し、該輝度測定値に基づいてバックライトの発光輝度を制御する処理の実施頻度が決定される。そして、実施頻度決定部５０２は、決定した各ブロックの処理実施頻度に従って、センサー値取得部２０３に各ブロックの輝度測定値の取得を指示する。輝度測定値が取得されるたびに、実施例１と同様に輝度補正処理が行われる。
【００４１】
安定領域と不安定領域が隣接している場合、安定領域の温度が不安定領域に遷移し、不安定領域の温度が短時間で上昇することが予想される。即ち、そのような不安定領域では、バックライトの発光輝度が短時間で目標値から大きくずれ、それによりバックライト全体の発光輝度のムラが発生することが予想される。
そこで、本実施例では、安定領域に隣接する不安定領域であるブロックについて、他の
ブロックより高い処理実施頻度を設定する。その結果、安定領域に隣接する不安定領域であるブロックについて、他のブロックより高い頻度で、輝度測定値を取得し、該輝度測定値に基づいてバックライトの発光輝度を制御する処理が行われる。即ち、温度が短時間で変化してしまうブロック（バックライトの発光輝度が短時間で目標値から大きくずれてしまうブロック）の発光輝度が、他のブロックの発光輝度よりも高頻度で補正（制御）される。その結果、温度変化によりバックライトの発光輝度が目標値からずれる期間の長さを従来よりも短くすることができ、従来よりも精度良くバックライトの発光輝度を目標値にすることができる。
【００４２】
図６を用いて、領域判定部５０１の処理フローの一例を説明する。なお、実施例２では、一例として、画面の領域が４行×６列の２４個のブロック（図８（Ａ）のブロック１〜２４）に分割されているものとする。
まず、領域判定部５０１は、センサー値取得部２０３から、各ブロックの現在の温度測定値（全２４個）を順次取得する（Ｓ６０１）。
次に、領域判定部５０１は、ブロック毎に、そのブロックの温度（Ｓ６０１で取得された温度測定値で表される温度）が所定の閾値以上か否かを判定する（Ｓ６０２）。
領域判定部５０１は、温度が所定の閾値以上のブロックを安定領域と判断し（Ｓ６０３）、温度が所定の閾値未満のブロックを不安定領域と判断する（Ｓ６０４）。所定の閾値は、例えば、所定の電流値でバックライト（ＬＥＤ）を駆動したときの、ＬＥＤの温度の時間変化の傾きが所定値より小さくなる時の温度（飽和したとみなせる温度の最小値）である。
【００４３】
図７と図８（Ａ），８（Ｂ）を用いて、実施頻度決定部５０２の処理フローの一例を説明する。
実施頻度決定部５０２は、図８（Ｂ）に示すような値（ブロック毎の領域判定結果及び処理実施頻度）を記憶可能なメモリを有する。本実施例では、ブロック毎に、そのブロックを識別する識別ＩＤが予め定められており、領域判定結果と処理実施頻度は、対応するブロックの識別ＩＤに関連付けて記録される。
【００４４】
まず、実施頻度決定部５０２は、領域判定部５０１から、各ブロックの領域判定結果を取得し、メモリに記録する（Ｓ７０１）。例えば、領域判定結果として、図８（Ａ）に示すように、ブロック５，６，１１，１２が不安定領域であり、それ以外のブロックが安定領域であることを示す情報が取得される。
次に、実施頻度決定部５０２は、Ｓ７０１で取得した領域判定結果から、安定領域に隣接する不安定領域の数と、それ以外のブロックの数とを算出する（Ｓ７０２）。図８（Ａ）の例では、ブロック５，１１，１２の３つが安定領域に隣接する不安定領域である。そのため、Ｓ７０２では、安定領域に隣接する不安定領域の数が３、それ以外のブロックの数が２１、と算出される。
そして、実施頻度決定部５０２は、安定領域に隣接する不安定領域の処理実施頻度と、それ以外のブロックの処理実施頻度とを算出し、算出結果をメモリに記録する（Ｓ７０３）。
次に、実施頻度決定部５０２は、Ｓ７０３で算出した各ブロックの処理実施頻度に従って、センサー値取得部２０３に各ブロックの輝度測定値の取得を指示する（Ｓ７０４）。
【００４５】
安定領域に隣接する不安定領域の処理実施頻度Ｆ１は、例えば、以下の式１を用いて算出される。式１において、Ｆｕは、各ブロックについて輝度測定値を１回取得する処理を繰り返す場合に、単位時間に取得される１ブロックの輝度測定値の数である。例えば、Ｆｕは、ブロック１の輝度測定値からブロック２４の輝度測定値を、その順番で取得する場合に、単位時間に取得される１ブロックの輝度測定値の数である。Ｃは所定の係数（頻度係数）である。
Ｆ１＝Ｆｕ１×Ｃ  ・・・（式１）
図８（Ａ）の例においてＦｕ１＝２、Ｃ＝２とすると、図８（Ｂ）に示すように、安定領域に隣接する不安定領域であるブロック５，１１，１２の処理実施頻度Ｆ１＝４となる。
【００４６】
また、安定領域に隣接する不安定領域以外のブロックの処理実施頻度Ｆ２は、例えば、以下の式２を用いて算出される。式２において、Ｆｕ２は、単位時間に取得される各ブロックの輝度測定値の総数である。ｎ１は、安定領域に隣接する不安定領域の数である。ｎ２は安定領域に隣接する不安定領域以外のブロックの数である。
Ｆ２＝（Ｆｕ２−（Ｆ１×ｎ１））／ｎ２  ・・・（式２）
図８（Ａ）においてＦｕ２＝４８とすると、Ｆ１＝４（式１より）、ｎ１＝３、ｎ２＝２１であるため、図８（Ｂ）に示すように、安定領域に隣接する不安定領域以外のブロックの処理実施頻度Ｆ２＝１となる（小数点以下は切り捨て）。
【００４７】
なお、処理実施頻度Ｆ１，Ｆ２の算出方法はこれに限らない。安定領域に隣接する不安定領域であるブロックについて、他のブロックより高い処理実施頻度が設定されればよい。
【００４８】
Ｓ７０４の指示により、センサー値取得部２０３は、Ｓ７０３で算出した各ブロックの処理実施頻度に従って、複数の輝度センサー１０４から各ブロックの輝度測定値を取得する。また、輝度測定値が取得されるたびに、実施例１と同様に輝度補正処理が行われる。
図９は、従来と実施例２における輝度測定値の取得順（輝度補正処理の実行順）の一例を示す図である。
従来は、所定の順番で各ブロックの輝度測定値の取得が行われていた。具体的には、図９に示すように、ブロック１の輝度測定値からブロック２４の輝度測定値が、その順番で取得されていた。換言すれば、取得する輝度測定値のブロックが、ブロック１からブロック２４まで順番に切り換えられていた。
実施例２では、Ｓ７０３で算出した各ブロックの処理実施頻度に従って、各ブロックの輝度測定値が取得される。例えば、各ブロックの輝度測定値が、単位時間に、対応する処理実施頻度の回数だけ取得される。具体的には、ブロック５，１１，１２の処理実施頻度は４であるため（図８（Ｂ））、ブロック５，１１，１２の輝度測定値は、単位時間に、４回取得される。図９の例では、最初にブロック５，１１，１２（特定ブロック群）の輝度測定値を取得した後、特定ブロック群の輝度測定値を取得する間隔が一定となるように、単位時間内に特定ブロック群の輝度測定値が３回取得される。また、その他のブロックの輝度測定値は、単位時間に、１回取得される。図９の例では、特定ブロック群の輝度測定値を取得してから次に特定ブロック群の輝度測定値を取得するまでの複数の期間に、特定ブロック群以外の複数のブロックの輝度測定値が、ブロック１からブロック２４まで順番に切り換えられて取得される。
【００４９】
以上述べたように、本実施例によれば、安定領域に隣接する不安定領域であるブロックについて、他のブロックより高い頻度で、輝度センサーの測定値を取得し、該輝度センサーの測定値に基づいてバックライトの発光輝度を制御する処理が行われる。それにより、従来よりも精度良くバックライトの発光輝度を目標値にすることができる。
なお、本実施例では、輝度測定値の補正に用いる温度測定値を温度センサーから取得するタイミングについて明記していないが、そのような温度測定値は輝度測定値を輝度センサーから取得するタイミングで取得すればよい。処理実施頻度を決定するために取得した
温度測定値を用いて輝度測定値が補正されてもよい。
【符号の説明】
【００５０】
１００  液晶表示装置
１０４  輝度センサー
１０５  温度センサー
１０７  ＣＰＵ
１０８  バックライト
２０３  センサー値取得部
２０５  バックライト制御部
５０１  領域判定部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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