(57)【要約】【課題】複数の信号源がある場合は、解析のための計算量が多くなってしまう。【解決手段】本発明における電子機器設計システムは、電子機器の設計情報に基づいて、観測点を信号ポートとして、また複数の信号源を観測ポートとして設定する信号源・観測点設定部と、観測点から複数の信号源までのそれぞれの伝達特性を計算する伝達特性解析部と、複数の信号源におけるそれぞれの伝達特性と波形とを演算処理し、複数の信号源から観測点に伝わる波形を合成する特性合成部とを有し、合成した波形を出力することを特徴とする。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子機器の設計情報に基づいて、観測点を信号ポートとして、また複数の信号源を観測ポートとして設定する信号源・観測点設定部と、
前記観測点から前記複数の信号源までのそれぞれの伝達特性を計算する伝達特性解析部と、
前記複数の信号源におけるそれぞれの前記伝達特性と波形とを演算処理し、前記複数の信号源から前記観測点に伝わる波形を合成する特性合成部とを有し、
前記合成した波形を出力することを特徴とする電子機器設計システム。
【請求項２】
前記合成した波形が判定基準内であるか否かを判定する判定部と、
前記合成した波形が判定基準内でない場合、前記設計情報に部品を追加、あるいは変更を行なう部品追加変更部とを備えることを特徴とする請求項１に記載の電子機器設計システム。
【請求項３】
前記電子機器に搭載している部品の解析用モデルなどの情報をあらかじめ記憶している部品モデル記憶部と、
前記部品モデル記憶部に保存された情報に基づいて、前記信号源となる部品を選択する信号源選択部とを備えることを特徴とする請求項１または２のいずれか一項に記載の電子機器設計システム。
【請求項４】
前記伝達特性は、周波数特性、またはインパルス応答波形であることを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の電子機器設計システム。
【請求項５】
前記判定部は、前記合成した波形の振幅値が前記判定基準内であるか否かを判定することを特徴とする請求項２に記載の電子機器設計システム。
【請求項６】
前記部品追加変更部は、容量性素子を追加することで前記合成した波形の振幅を減少させることを特徴とする請求項２に記載の電子機器設計システム。
【請求項７】
電子機器の設計情報を入力し、
前記設計情報に基づいて、観測点を信号ポートとして、また複数の信号源を観測ポートとして設定し、
前記観測点から前記複数の信号源までのそれぞれの伝達特性を計算し、
前記複数の信号源におけるそれぞれの前記伝達特性と波形とを演算処理し、前記複数の信号源から前記観測点に伝わる波形を合成し、
前記合成した波形を出力することを特徴とする電子機器設計方法。
【請求項８】
前記合成した波形が判定基準内であるか否かを判定し、
前記合成した波形が判定基準内でない場合、前記電子機器の設計情報に部品を追加、あるいは変更を行なうことを特徴とする請求項７に記載の電子機器設計方法。
【請求項９】
前記電子機器に搭載している部品の解析用モデルの情報に基づいて、信号源となる部品を選択することを特徴とする請求項７に記載の電子機器設計方法。
【請求項１０】
請求項７〜９のいずれか一項に記載の設計方法を実行させるための電子機器設計用プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器装置を設計するためのツールとして用いられる設計システムなどに関し、特に、複数の信号源がある電子機器の設計を支援する電子機器設計システム、電子機器設計方法、及び電子機器設計用プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、半導体技術の飛躍的な進歩によって、ＬＳＩ（Large Scale Integration）などを含む電子機器装置の高性能化及び高速動作化が進んでいる。そのため、電子機器装置の設計や検証などに要するコストも高騰化してきている。
【０００３】
そこで電子機器装置における電源の設計コストを低減化させるために、設計の段階において電子機器装置のシミュレーションによる検証が盛んに行われている。このようなシミュレーションによる検証をすることによって、電子機器装置における電源の設計の良し悪しや問題点などを判断することができる。
【０００４】
これによって、電子機器装置の試作後に再設計を行わなければならないといった問題を解決することができるため、電子機器装置における設計コストの低減化を図ることが可能となる。
【０００５】
シミュレーションを用いることで、電子機器装置の設計を支援する技術も種々開示されている。例えば、特許文献１では、電源パターンをメッシュに分割後にモデル化し、また信号源となるノイズ信号を出す波紋を接続しモデル化する。そして電源ノイズ解析モデルを作成し、モデルをシミュレータで解析することで評価を行う。
【０００６】
また特許文献２では、信号源となる波源から周波数特性を取得し、その周波数特性を元にモーメント法を用いて各周波数での特性を解析する。そして得られた周波数特性から逆フーリエ変換を用いて、時間波形を求めることで評価を行う。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００４‐３３４６５４号公報
【特許文献２】特開平１０‐３１９０６９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、特許文献1や特許文献２の解析方法を用いたとしても、解析の対象として複数の信号源がある場合は、解析のための計算量が多くなってしまう。なお複数の信号源を解析する方法として、信号源ごとに解析をする手法と、複数の信号源の特性をすべていれて一度に解析する手法がある。
【０００９】
信号源ごとに解析する場合、信号源の数だけの解析を行う必要があり計算量が増大してしまうという問題がある。また複数の信号源の特性をすべて入れ一度に解析する場合、複数の信号源から発生する信号パターンの組み合わせを考慮すると、入力する信号波形が組み合わせの数だけ長くなるため、解析の計算量が多くなってしまう問題がある。
【００１０】
そこで本発明は、上記課題を解決する電子機器システム、電子機器方法、及び電子機器用プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明における電子機器設計システムは、電子機器の設計情報に基づいて、観測点を信号ポートとして、また複数の信号源を観測ポートとして設定する信号源・観測点設定部と、観測点から複数の信号源までのそれぞれの伝達特性を計算する伝達特性解析部と、複数の信号源におけるそれぞれの伝達特性と波形とを演算処理し、複数の信号源から観測点に伝わる波形を合成する特性合成部とを有し、合成した波形を出力することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明における電子機器システム、電子機器方法、及び電子機器用プログラムによれば、解析の計算量を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明に係る第１の実施形態の設計システムの構成を示すブロック図である。
【図２】本発明に係る第１の実施形態の処理フローを示すフローチャートである。
【図３】本発明に係る第２の実施形態の設計システムの構成を示すブロック図である。
【図４】本発明に係る第２の実施形態の処理フローを示すフローチャートである。
【図５】本発明に係る第３の実施形態の設計システムの構成を示すブロック図である。
【図６】本発明に係る第３の実施形態の処理フローを示すフローチャートである。
【図７】本発明に係る第４の実施形態の設計システムの構成を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下に、本発明を実施するための好ましい形態について図面を用いて説明する。但し、以下に述べる実施形態には、本発明を実施するために技術的に好ましい限定がされているが、発明の範囲を以下に限定するものではない。
【００１５】
〔第１の実施形態〕次に、第１の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。図１は、本実施形態における電子機器システム１０のブロック図を示す。
【００１６】
〔構成の説明〕図１に示すように、本実施形態における電子機器システム１０は、入力部１と、部品モデル記憶部２と、信号源・観測点設定部３と、伝達特性解析部４と、特性合成部５と、出力部６とを備えている。
【００１７】
入力部１は、信号源・観測点設定部３と接続している。そして入力部１は、電子機器における配線パターンや搭載している部品の情報などの電子機器の設計情報、またシミュレーション条件や観測点などのシミュレーション設定情報が入力されると、その情報を信号源・観測点設定部３に送信する。
【００１８】
なお電子機器の設計情報は、プリント配線基板の配線パターンや、搭載されている部品の種類、その部品の位置などを含む。またＬＳＩなどの信号源となる部品から発生する電流波形や、それらの波形の組み合わせのパターンなど電子機器の動作にかかわる情報や、信号源となる部品が配置される位置やその特性を含む。
【００１９】
その他に部品の等価回路モデル、動作波形、基準となる振幅、振幅を抑える対策部品などの電子機器の設計情報や、波形を観測したいポイントや解析内での時間などのシミュレーション設定情報なども含む。これらの情報のデータは、CAD(computer aided design)データからの読み込みや、キーボードやマウスからの入力で実現される。
【００２０】
観測点の情報とは、例えば電流もしくは電圧などの波形を観測したい配線パターンの位置もしくは観測したい部品などである。このようにして入力された情報は電子データとして記憶装置に保管することもでき、入力部１の入力の代わりにこのような電子データを使うこともできる。
【００２１】
部品モデル記憶部２は、信号源・観測点設定部３と接続しており、記憶装置として各種データを格納するデータベースであり、電子機器に搭載している部品の解析用モデルなどの情報をあらかじめ記憶している。
【００２２】
信号源・観測点設定部３は、入力部１と部品モデル記憶部２と接続している。信号源・観測点設定部３は、入力部１から入力される電子機器の設計情報と、部品モデル記憶部２より取り出した部品の情報に基づいて、信号源となる点を観測ポートとして自動的に設定する機能を有する。また同様に、信号源・観測点設定部３は、観測点と設定された点を信号ポートとして自動的に設定する機能を有する。
【００２３】
つまり信号源・観測点設定部３は、複数の信号源を観測ポートとして設定し、観測点を信号ポートとして設定することで、複数の観測ポートと１つの信号ポートを生成する機能を有する。
【００２４】
伝達特性解析部４は、信号源・観測点設定部３と接続しており、入力された電子機器の設計情報とシミュレーション設定情報に基づいて、信号ポートから複数の観測ポートまでの伝達特性を一斉に計算する。なお伝達特性としては、例えば周波数特性や、インパルス応答波形を用いることができるが、これに限定されない。
【００２５】
伝達特性の計算については特に限定されず、例えば配線パターンを等価回路モデルに変換し、部品モデル記憶部２に登録されている部品のモデルと接続し、SPICE（Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis）のシミュレータで、伝達特性を求めてもよい。またモーメント法を用いて伝達特性を求める方法や、有限要素法による電磁界シミュレーションなどを用いてもよい。
【００２６】
特性合成部５は、伝達特性解析部４と接続しており、電子機器の設計情報もしくは部品モデルに基づき、各信号源から発生する波形と、伝達特性解析部４で計算した各信号源における各伝達特性とを演算することで、各信号源から観測点までの波形を求める。
【００２７】
そして特性合成部５は、各信号源から観測点までのそれぞれの波形をすべて合成することで、観測点における波形を計算する機能を有する。これをすべての組み合わせに対して行い、すべての組み合わせに対する波形を得る。
【００２８】
つまり特性合成部５は、特定の信号源から発生する波形と、特定の信号源から観測点までの伝達特性とを演算することで、上記の信号源から観測点までの波形を計算する。同様にして、それぞれの信号源から観測点までの波形を計算する。そして全ての信号源から観測点までの波形を合成することで、観測点における波形の計算を行う。
【００２９】
なお特性合成部５が行う具体的な合成については、例えば周波数特性を求めていた場合、信号波形をフーリエ変換し周波数特性を得て掛け合わせ、逆フーリエ変換により波形を得ることができる。またインパルス応答波形を求めた場合は、畳み込み演算により波形を得ることができる。すべての信号源に対し波形を求め、各信号源からの波形を足し合わせ、組み合わせに対する信号波形を求める。
【００３０】
出力部６は、特性合成部５と接続しており、特性合成部５で計算された波形をディスプレイ装置や印刷装置などに出力する機能を有する。
【００３１】
〔動作の説明〕図２は本実施形態の設計システム１０における設計方法の処理を示すフローチャートである。この設計方法について、以下詳細に説明を行う。
【００３２】
ますＳ１において、入力部１は、電子機器における配線パターンや搭載している部品などの電子機器の設計情報や、シミュレーション条件や観測点などシミュレーション設定情報を入力する。次に、Ｓ２に処理を進める。
【００３３】
次にＳ２において、信号源・観測点設定部３は、入力部１から入力される電子機器の設計情報と部品モデル記憶部２の情報より、信号源となる点を観測ポートとして、また観測点と設定された点を信号ポートとして自動的に設定する。これにより、複数の信号源を観測ポートとして、また観測点を信号ポートとしてそれぞれ設定することで、複数の観測ポートと１つの信号ポートを生成する。次に、Ｓ３に処理を進める。
【００３４】
次にＳ３において、伝達特性解析部４は、伝達特性のシミュレーションを行う。つまり伝達特性解析部４は、入力された電子機器の設計情報とシミュレーション設定情報に基づいて、信号ポートから複数の観測ポートまでのそれぞれの伝達特性を一斉に計算する。次に、Ｓ４に処理を進める。
【００３５】
次にＳ４において、特性合成部５は、電子機器の設計情報と部品モデル記憶部２に基づいて各信号源から発生する波形と、伝達特性解析部４で計算した各信号源と観測点の伝達特性を演算することで各信号源から観測点に伝わる波形を算出する。
【００３６】
そして各信号源から観測点に伝わる波形を合成することで、観測点での波形を計算する。なお信号源における波形の計算は、すべての信号源に対し求め、すべての信号源からの波形を足し合わせ、組み合わせに対する信号波形を求める。次に、Ｓ５に処理を進める。
【００３７】
次にＳ５において、出力部６は特性合成部５で計算された波形を出力する。これらの手順により、電子機器の解析の計算量を減少させる電子機器設計方法を提供できる。
【００３８】
〔効果の説明〕特許文献1や特許文献２のように、領域を区切り多くのメッシュを作成して解析を行う場合、解析に掛かる計算量が多くなり、信号源の数にあわせて計算量が増大してしまう問題があった。
【００３９】
つまり信号源ごとに解析する場合、信号源の数だけの解析を行う必要があり計算量が増大してしまうという問題があった。また複数の信号源の特性をすべて入れ一度に解析する場合、複数の信号源から発生する信号パターンの組み合わせを考慮すると、入力する信号波形が組み合わせの数だけ長くなるため、同様に解析の計算量が多くなってしまう問題があった。
【００４０】
多くの電子機器は、信号源と線形な特性を持つ回路網へと置き換えることができる。そして複数の信号源から、観測点までの特性は可逆性(相反定理)を有している。つまり、信号源から観測点までの特性と、観測点から信号源までの特性は等しい。
【００４１】
通常、信号源から観測点までの伝達特性を求めるため、信号源に信号ポート、観測点に観測ポートを置き特性を算出する。しかし、本実施形態における電子機器設計システム１０は、観測点を信号ポートとして設定し、信号源を観測ポートとして設定することで特性を求めても同じ伝達特性を得ることができる。
【００４２】
そこで信号源・観測点設定部３は、信号ポートと観測ポートの設定を通常と入れ替える、つまり、観測源に信号ポート、信号源に観測ポートと設定する。そして、伝達特性解析部４が観測点から複数の信号源まで伝達特性を求めることで、一度に複数の信号源から観測点までの伝達特性が求めることができる。
【００４３】
その結果、各信号源から観測点までのそれぞれの伝達特性を一度の計算で求めることが出来るため、計算量の多い伝達特性の解析に要する計算量を削減することができる。また、各信号源から発生する波形と、各伝達特性とを演算することで各信号源から観測点に伝わる波形を算出に要する計算量についても低減することができる。
【００４４】
〔第２実施形態〕次に、第２の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。図３は、本実施形態における電子機器システム１０のブロック図である。
【００４５】
〔構成の説明〕図３に示すように、本実施形態の電子機器システム１０は、判定部７と、部品追加変更部８と、対策部品記憶部９とを備えている。それ以外の構成、接続関係は、第１の実施形態と同様であり、入力部１と、部品モデル記憶部２と、信号源・観測点設定部３と、伝達特性解析部４と、特性合成部５と、出力部６とを備えている。
【００４６】
判定部７は、特性合成部５と接続しており、特性合成部５で計算した観測点における波形と判定基準とを比較する。そして判定部７は、特性合成部５が計算した観測点における波形が、判定基準内に入っていれば、出力部６に電子機器の設計情報を出力する。
【００４７】
一方、判定基準に入っていなければ、部品追加変更部８に電子機器の設計情報を出力する機能を有する。例えば判定部７は、観測点における波形の振幅値が所定の大きさ以内であるか否かで判定するが、これに限定されない。
【００４８】
部品追加変更部８は、判定部７と接続しており、入力された電子機器の設計情報に、対策部品記憶部９に格納されている部品情報の部品を追加、もしくは変更する機能を有する。そして部品追加変更部８は、変更した電子機器の設計情報を入力された情報として、再度、信号源・観測点設定部３に送信し、伝達特性解析部４と、特性合成部５とを動作させ、変更した電子機器情報における波形の計算を行う。
【００４９】
例えば、部品を追加、変更する例として、部品追加変更部８は、入力部１から入力された振幅を減少させるために、キャパシタなどの容量性素子を追加することもできるが、これに限定されない。
【００５０】
出力部６は、判定基準内に入った電子機器の設計情報を出力する。つまり判定装置６は、特性合成部５が計算した波形が判定基準内になるまで、電子機器の設計情報の変更を繰り返すことにより、判定基準を満たす電子機器の設計情報を出力することができる。
【００５１】
〔動作の説明〕図４は本実施形態の設計システム１０における設計方法の処理を示すフローチャートである。この設計方法について、以下詳細に説明を行う。
【００５２】
まずＳ１１において、入力部１は、電子機器における配線パターンや搭載している部品などの電子機器の設計情報や、シミュレーション条件や観測点などシミュレーション設定情報を入力する。次に、Ｓ１２に処理を進める。
【００５３】
次にＳ１２において、信号源・観測点設定部３は、入力部１から入力される電子機器の設計情報と部品モデルの情報より、信号源となる点を観測ポートとして、また観測点と設定された点を信号ポートとして自動的に設定する。
【００５４】
その結果、信号源・観測点設定部３は、複数の信号源を観測ポートとして、また観測点を信号ポートとして設定することで、複数の観測ポートとひとつの信号ポートを生成する。次に、Ｓ１３に処理を進める。
【００５５】
次にＳ１３において、伝達特性解析部４は、伝達特性のシミュレーション算出を行い、入力された電子機器の設計情報とシミュレーション設定情報に基づいて、信号ポートから各観測ポートまでのそれぞれの伝達特性を一斉に計算する。次に、Ｓ１４に処理を進める。
【００５６】
次にＳ１４において、特性合成部５は、電子機器の設計情報もしくは部品モデルから各信号源から発生する波形と、伝達特性解析部４で計算した各信号現における伝達特性を演算することで各信号源から観測点に伝わる波形を算出する。そして各信号源における波形を合成することで、観測点での波形を計算する。次に、Ｓ１５に処理を進める。
【００５７】
次にＳ１５において、判定部７は特性合成部５が計算した観測点での波形と判定基準とを比較し、判定基準内に入っていれば、Ｓ１６に進む。一方、特性合成部５が計算した観測点における波形が判定基準に入っていなければ、Ｓ１７に進む。
【００５８】
次にＳ１７において、部品追加変更部８は電子機器の設計情報に、対策部品記憶部９が有する部品情報の部品を追加、もしくは変更する。そして変更した電子機器の設計情報を入力として、再度、Ｓ１２処理を進める。
【００５９】
Ｓ１６において、出力部６は判定基準内に入った電子機器の設計情報を出力する。
【００６０】
〔効果の説明〕本実施例における電子機器システム１０は、判定部７が判定基準を満たすまで、部品追加変更部８は部品の追加・変化を行うため、判定基準を満たす電子機器の設計情報を出力する設計方法を実現することできる。
【００６１】
〔第３の実施形態〕次に、第３の実施形態について図５を参照して詳細に説明する。図５は、本実施形態に置ける電子機器システム１０のブッロク図である。
【００６２】
〔構成の説明〕図５に示すように、本実施形態の電子機器システム１０は、信号源選択部１１を備えている。それ以外の構成、接続関係は、第１の実施形態と同様であり、入力部１と、部品モデル記憶部２と、信号源・観測点設定部３と、伝達特性解析部４と、特性合成部５と、出力部６とを備えている。
【００６３】
信号源選択部１１は、部品モデル記憶部２と信号源・観測点設定部３に接続している。そして信号源選択部１１は、部品モデル記憶部２に格納された情報に基づいて、信号源となる部品を選択する機能を有する。選択された部品が信号源である場合、その情報を信号源・観測点設定部３に送信する。なお信号源選択部１１は、すべての部品を判断するまで繰り返す。
【００６４】
〔動作の説明〕図６は、第１の実施形態におけるＳ１とＳ２の処理、つまり観測点に信号ポート、信号源に観測ポートを設定する詳細な処理を示すフローチャートである。この設定方法について、以下詳細に説明を行う。
【００６５】
ますＳ２１において、入力部１は、電子機器における配線パターンや搭載している部品などの電子機器の設計情報や、シミュレーション条件や観測点などシミュレーション設定情報を入力する。次に、Ｓ２２に処理を進める。
【００６６】
次にＳ２２において、信号源選択部１１は、電子機器の設計情報に基づいて信号源となる部品を１つ選択する。なお観測点での観測として電圧波形を得たいときは信号源として電流源を設定する。一方、観測点での観測として電流波形を得たいときには信号源として電圧源を設定する。次に、Ｓ２３に処理を進める。
【００６７】
次に、Ｓ２３において信号源選択部１１は、部品モデル記憶部２に保存された情報に基づいて、選択した部品が信号源か信号源ではないかを判定する。選択した部品が信号源である場合、Ｓ２４に処理を進める。一方、選択した部品が信号源でない場合、Ｓ２５に処理を進める。
【００６８】
次に、Ｓ２４において、信号源・観測点設定部３は信号源と判定された部品を、観測ポートとして設定する。また観測点と設定された点を信号ポートとして設定する。なお観測点での観測として電圧波形を得たいときには、鳳・テブナンの定理を用いて、電流源とインピーダンスとの等価回路に変換し、電流源の代わりに電圧を測定するポートを観測点に設定する。次に、Ｓ２５に処理を進める。
【００６９】
次に、Ｓ２５において信号源選択部１１は、すべての部品を選択した場合、信号源となる部品を選択する処理を終了する。なお、すべての部品を選択していない場合、Ｓ２２に処理を戻す。
【００７０】
〔効果の説明〕本実施形態における電子機器システム１０は、部品モデル記憶部２に保存された情報に基づいて、信号源選択部１１が選択した部品について信号源であるか、信号源ではないかを判定する。つまり信号源選択部１１は、すべての信号源について判定を行うため、信号源が複数ある場合に、信号源を見落とすことを防ぐことができ高精度に電子機器の設計を行うことができる。
【００７１】
〔第４の実施形態〕図７は、本発明の係る電子機器システム１０をプログラムによって構成した場合のブロック図を示す。
【００７２】
図７に示す本実施形態の電子機器システム１０は、第１〜３の実施形態の電子機器方法をプログラムによって構成した場合の、プログラムとそのプログラムによって動作されるコンピュータの構成を説明するための図である。
【００７３】
本実施形態における電子機器システム１０は、入力装置２０、コンピュータ３０、記憶装置４０、出力装置５０、及び電子機器解析プログラム記憶領域６０によって構成されている。
【００７４】
すなわち入力装置２０から入力されたプログラムは、コンピュータ３０に読み込まれて、コンピュータ３０の動作が制御される。例えばコンピュータ３０は、入力装置２０から入力する所定のプログラムをインストールすることで、このプログラムを電子機器解析プログラム記憶領域６０に格納する。
【００７５】
なお第１〜３の実施形態における設計方法は、コンピュータ３０がプログラムを読み込むことによって実現される。したがって上記の設計方法の各処理の過程は、プログラムの形式でコンピュータ３０読み取り可能な記録媒体に記憶されており、このプログラムをコンピュータ３０が読み出して実行することによって、前述した各処理が行われる。
【００７６】
ここで、コンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、磁気ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、フレキシブルディスク、フラッシュメモリ、半導体メモリなどをいう。また、このプログラムを通信回線によって外部のコンピュータに配信し、この配信を受けたコンピュータが当該プログラムを実行するようにしてもよい。
【００７７】
また、上記プログラムは、前述した設計方法の機能の一部を実現するためのものであってもよい。さらに、前述した電子機器方法の機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であってもよい。
【００７８】
また、各構成における動作の過程は、コンピュータ３０に実行させるためのプログラムや、このプログラムとしてコンピュータ読み取り可能な記録媒体として利用可能であり、コンピュータシステムが読み出して実行することによって、上記処理が行われる。
【００７９】
なお、ここで言う「コンピュータシステム」とは、ＣＰＵ及び各種メモリやＯＳ、周辺機器等のハードウェアを含むものである。また、「コンピュータシステム」は、ＷＷＷシステムを利用している場合であれば、ホームページ提供環境（あるいは表示環境）も含むものとする。
【００８０】
さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムが送信された場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリ（例えばＤＲＡＭ（Ｄｙｎａｍｉｃ  Ｒａｎｄａｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ））のように、一定時間プログラムを保持しているものも含むものとする。
【００８１】
また、上記プログラムは、このプログラムを記憶装置等に記憶したコンピュータシステムから、伝送媒体を介して、あるいは、伝送媒体中の伝送波により他のコンピュータシステムに伝送されてもよい。ここで、プログラムを伝送する「伝送媒体」は、インターネット等のネットワーク（通信網）や電話回線等の通信回線（通信線）のように情報を伝送する機能を有する媒体のことをいう。
【００８２】
また、上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良い。さらに、前述した機能をコンピュータシステムに既に記録されているプログラムとの組合せで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であっても良い。
【符号の説明】
【００８３】
１    入力部
２    部品モデル記憶部
３    信号源・観測点設定部
４    伝達特性解析部
５    特性合成部
６    出力部
７    判定部
８    部品追加変更部
９    対策部品記憶部
１０    電子機器システム
２０    入力装置
３０    コンピュータ
４０    記憶装置
５０    出力装置
【図１】
2013167960.tif 000003
【図２】
2013167960.tif 000004
【図３】
2013167960.tif 000005
【図４】
2013167960.tif 000006
【図５】
2013167960.tif 000007
【図６】
2013167960.tif 000008
【図７】
2013167960.tif 000009