(57)【要約】【課題】画素欠陥補正処理後の画質が撮影条件に応じて異なるという問題を解決する。【解決手段】撮像装置は、被写体からの光束を受光して、画素データを出力する複数の画素が配列された撮像素子と、欠陥画素から出力された欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す補正手段と、撮像素子の露光時間と撮像感度とを設定する設定手段と、露光時間と撮像感度とを含む撮影条件の組合せを複数のグループに分け、複数のグループのそれぞれと、欠陥画素データのうち画素欠陥補正処理を施す補正対象画素データの個数である補正対象個数とが関連付けされて記録された記録手段と、設定された露光時間と撮像感度とが複数のグループのいずれに属するかを判定する第１判定手段と、を備え、補正手段は、判定されたグループに関連付けされて記録手段に記録されている補正対象個数の欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す。【選択図】図２
2013021443.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被写体からの光束を受光して、画素データを出力する複数の画素が配列された撮像素子と、
前記複数の画素のうちの欠陥画素から出力された欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す補正手段と、
前記撮像素子の露光時間と撮像感度とを設定する設定手段と、
前記撮像素子の露光時間と撮像感度とを含む撮影条件の組合せを複数のグループに分け、前記複数のグループのそれぞれと、複数の前記欠陥画素データのうち前記画素欠陥補正処理を施す補正対象画素データの個数である補正対象個数とが関連付けされて記録された記録手段と、
前記設定手段により設定された前記露光時間と前記撮像感度とが前記複数のグループのいずれに属するかを判定する第１判定手段と、を備え、
前記補正手段は、前記第１判定手段により判定された前記グループに関連付けされて前記記録手段に記録されている前記補正対象個数の前記欠陥画素データに対して前記画素欠陥補正処理を施すことを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
請求項１に記載の撮像装置において、
前記補正対象個数が、前記補正手段によって１回の前記画素欠陥補正処理で補正が施される前記欠陥画素データの上限個数を上回るか否かを判定する第２判定手段をさらに備え、
前記第２判定手段により前記補正対象個数が前記上限個数を上回ると判定された場合には、前記補正手段は、出力レベルが最大の前記欠陥画素データから出力レベルが低くなる順序で前記上限個数に含まれる前記欠陥画素データに対して前記画素欠陥補正処理を施すことを特徴とする撮像装置。
【請求項３】
請求項２に記載の撮像装置において、
前記第２判定手段により前記補正対象個数が前記上限個数を上回ると判定された場合には、前記補正手段は、第１回目の処理において、前記上限個数の前記欠陥画素データに対して前記画素欠陥補正を施し、第２回目以降の処理において、前記上限個数を上回った個数の前記欠陥画素データに対して前記画素欠陥補正を施すことを特徴とする撮像装置。
【請求項４】
請求項１乃至３の何れか一項に記載の撮像装置において、
前記撮像素子の近傍の温度を計測する温度計測手段をさらに備え、
前記記録手段には、前記撮影条件と前記撮像素子の近傍の温度との組合わせを前記複数のグループに分けて、前記複数のグループのそれぞれと前記補正対象個数とが関連付けされて記録され、
前記第１判定手段は、前記設定手段により設定された前記露光時間および前記撮像感度と、前記温度計測手段により計測された前記温度とが属する前記グループを判定することを特徴とする撮像装置。
【請求項５】
請求項１乃至４の何れか一項に記載の撮像装置において、
前記記録手段には、さらに、前記欠陥画素の位置に関する情報が記録されることを特徴とする撮像装置。
【請求項６】
被写体からの光束を受光して、画素データを出力する複数の画素が配列された撮像素子と、
前記複数の画素のうちの欠陥画素から出力された欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す補正手段と、
前記撮像素子の露光時間と撮像感度とを設定する設定手段と、
前記設定手段により設定された前記露光時間と撮像感度とに基づいて、前記露光時間と撮像感度とを含む撮影条件の組合せを複数のグループに分け、前記複数のグループのそれぞれと、複数の前記欠陥画素データのうち前記画素欠陥補正処理を施す補正対象画素データの個数である補正対象個数とが関連付けされて記録されたテーブルからいずれのグループに属するかを判定する判定手段と、を備え、
前記補正手段は、前記判定手段により判定された前記グループに関連付けされて記録されている前記補正対象個数の前記欠陥画素データに対して前記画素欠陥補正処理を施すことを特徴とする撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、撮像素子を構成するフォトダイオードの欠陥に起因して発生する画素欠陥を、静止画をある撮影条件で撮影して登録した画素欠陥の個数分だけ補正する電子カメラが知られている（たとえば特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】国際公開２００５−００４４６７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、登録時の撮影条件と異なる撮影条件で撮影された画像に対して登録された画素欠陥の個数分だけ補正を施す場合、撮影条件に応じて画質が異なるという問題がある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
請求項１に記載の発明による撮像装置は、被写体からの光束を受光して、画素データを出力する複数の画素が配列された撮像素子と、複数の画素のうちの欠陥画素から出力された欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す補正手段と、撮像素子の露光時間と撮像感度とを設定する設定手段と、露光時間と撮像感度とを含む複数の撮影条件の組合せを複数のグループに分け、複数のグループのそれぞれと、複数の欠陥画素データのうち画素欠陥補正処理を施す補正対象画素データの個数である補正対象個数とが関連付けされて記録された記録手段と、設定手段により設定された前記撮像素子の露光時間と撮像感度とが複数のグループのいずれに属するかを判定する第１判定手段と、を備え、補正手段は、第１判定手段により判定されたグループに関連付けされて記録手段に記録されている補正対象個数の欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施すことを特徴とする。
請求項６に記載の発明による撮像装置は、被写体からの光束を受光して、画素データを出力する複数の画素が配列された撮像素子と、複数の画素のうちの欠陥画素から出力された欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す補正手段と、撮像素子の露光時間と撮像感度とを設定する設定手段と、設定手段により設定された露光時間と撮像感度とに基づいて、露光時間と撮像感度とを含む撮影条件の組合せを複数のグループに分け、複数のグループのそれぞれと、複数の欠陥画素データのうち画素欠陥補正処理を施す補正対象画素データの個数である補正対象個数とが関連付けされて記録されたテーブルからいずれのグループに属するかを判定する判定手段と、を備え、補正手段は、判定手段により判定されたグループに関連付けされて記録されている補正対象個数の欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施すことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、設定された撮像素子の露光時間と撮像感度とが属するグループに関連付けされて記録された補正対象個数の欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施すことができる。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】本発明の実施の形態によるカメラの構成を説明する横断面図
【図２】制御回路の機能構成を説明するブロック図
【図３】欠陥画素の特定を説明する図
【図４】撮影条件と欠陥画素データの個数との関係を説明する図
【図５】変形例における撮影条件と欠陥画素データの個数との関係を説明する図
【発明を実施するための形態】
【０００８】
−第１の実施の形態−
図面を参照して、本発明による第１の実施の形態におけるカメラを説明する。図１はデジタルカメラ１の要部構成を示す図である。デジタルカメラ１は、カメラボディ１００と、交換レンズ２００とにより構成され、交換レンズ２００が図示しないマウント部を介してカメラボディ１００に装着される。
【０００９】
交換レンズ２００には、撮影レンズ２０１、絞り２０２等が設けられている。撮影レンズ２０１は、ズーミングレンズやフォーカシングレンズ等の複数の光学レンズ群から構成され、被写体からの光束をその焦点面近傍に結像する。なお、図１では撮影レンズ２０１を説明の都合上１枚のレンズで代表して示している。絞り２０２は、光量調整のために撮影レンズ２０１の光軸中心に開口径が可変な開口を形成する。
【００１０】
カメラボディ１００には、撮像素子１０１、制御回路１０２、液晶表示素子駆動回路１０３、液晶表示素子１０４、接眼レンズ１０５、操作部１０６、メモリカード１０７等が設けられている。撮像素子１０１には、たとえばＣＣＤやＣＭＯＳにより構成される光電変換素子（画素）が二次元状に配置されている。撮像素子１０１は、後述する制御回路１０２の制御に応じて駆動して交換レンズ２００を通過した光束により形成された被写体像を撮像し、撮像して得たアナログの画素データを出力する。
【００１１】
撮像素子１０１は、たとえば、ＩＳＯ１００相当〜ＩＳＯ１６００相当の範囲内において撮像感度（露光感度）を所定のステップで変更可能、すなわち撮像素子１０１からの画素信号の信号出力の動作状態が変更可能に構成されている。撮像感度とは、撮像素子１０１に蓄積される電荷の検出感度、もしくは不図示の増幅回路の増幅利得を変化させる被制御量のことをいう。
【００１２】
制御回路１０２は、図示しないＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭなどを有し、デジタルカメラ１の各構成要素を制御したり、各種のデータ処理を実行する演算回路である。また、制御回路１０２は、撮像素子１０１から出力された画素データに基づいて、焦点検出演算と交換レンズ２００の焦点調節とを行うとともに、画素データを用いて被写体の輝度値を演算し、適正な露光量が得られるように撮影条件、すなわちシャッタ秒時（露光時間）、絞りの値、撮像感度等を演算する。
【００１３】
図２に示すように、制御回路１０２は、撮像制御部１０２ａと、第１画像処理部１０２ｂと、第２画像処理部１０２ｃと、欠陥補正部１０２ｄと、第３画像処理部１０２ｅと、記録部１０２ｆと、検出部１０２ｇと、補正個数制御部１０２ｈとを機能的に備える。撮像制御部１０２ａは、撮像素子１０１の駆動制御および撮像素子１０１からの画素データの読み出し、すなわち撮像素子１０１の電荷蓄積量を制御する。第１画像処理部１０２ｂは、撮像素子１０１から出力されたアナログの画素データに対してデジタル変換等の処理を施して第１画像データを生成する。この場合、第１画像データの画素数は撮像素子１０１の画素数と同一となる。
【００１４】
第２画像処理部１０２ｃは、後述する動画撮影モードやライブビューモードが設定されている場合に、撮像素子１０１から出力された画素データに対して、たとえばデジタルフィルタ等を用いた解像度変換処理を施して、画像サイズを変更（縮小または拡大）して第２画像データを生成する。したがって、第２画像データの画素数は撮像素子１０１の画素数とは異なるものとなる。欠陥補正部１０２ｄは、後述する静止画撮影モードが設定されている場合には、撮像素子１０１に含まれる複数の画素のうち欠陥画素から出力された、第１画像データ上の画素データ（以後、欠陥画素データと呼ぶ）に対して補正処理を施す。また、動画撮影モードまたはライブビューモードが設定され第２画像処理部１０２ｃにより解像度変換処理が施されている場合には、欠陥補正部１０２ｄは、第２画像処理部１０２ｃによる解像度変換処理により欠陥画素に起因して発生した、第２画像データ上の欠陥データに対して画素欠陥補正処理を施す。
【００１５】
第３画像処理部１０２ｅは、第１画像データまたは第２画像データに対して、ホワイトバランス処理、ガンマ補正処理、色補間処理、輪郭強調、ビネット補正などの画像処理を施した後、画像ファイルを生成してメモリカード１０７に記録させる。記録部１０２ｆには、欠陥補正部１０２ｄにより補正が施される欠陥画素の個数を示す補正対象個数と撮影条件とが関連付けされたデータが予め記録されている。検出部１０２ｇは、欠陥画素に起因して第１画像データ上に発生する欠陥画素データの位置を検出する。補正個数制御部１９２は、記録部１０２ｆに記録されたデータに基づいて、欠陥補正部１０２ｄが欠陥画素補正処理を施す欠陥画素データの個数を決定する。なお、欠陥補正部１０２ｄと検出部１０２ｇと補正個数制御部１０２ｈとの詳細については説明を後述する。
【００１６】
図１に示す液晶表示素子駆動回路１０３は、電気的なビューファインダとして機能する。液晶表示素子駆動回路１０３は、撮像素子１０１から読み出された画素信号を用いて制御回路１０２により生成された画像データに対応するライブビュー画像を液晶表示素子１０４に表示させる。その結果、ユーザは接眼レンズ１０５を介してライブビュー画像を観察することができる。メモリカード１０７は、制御回路１０２により生成された画像ファイルを記録する、不揮発性の記録媒体である。
【００１７】
操作部１０６は、ユーザの操作を受け付けるスイッチである。操作部１０６には、電源スイッチ、レリーズスイッチ、その他の設定メニューの表示切換スイッチ、設定メニュー決定ボタン、撮影モードを選択するモード選択ボタンなどが含まれる。撮影モードとしては、静止画撮影モード、動画撮影モード、ライブビュー画像を表示するライブビューモード等が含まれる。
【００１８】
以下の説明は、欠陥画素データに対する補正処理に関連する処理を中心に行う。補正処理に関連する処理として、撮影条件と画素欠陥補正処理を施す補正対象個数とを対応付けたデータの作成処理と、欠陥画素データを補正する補正処理とに分けて説明する。
（１）データ作成処理
デジタルカメラ１の生産調整時に、撮影条件を異ならせた複数種類の条件下で静止画を撮影することにより欠陥画素の個数を検出して、検出した欠陥画素の個数と撮影条件との対応関係を記録部１０２ｆに記録する。この場合、デジタルカメラ１は、静止画モードに設定された状態で、たとえば露光時間、すなわちシャッタ秒時と撮像素子１０１の撮像感度（ＩＳＯ感度）とを変化させて、均一面を有する被写体を撮影する。このときに撮像素子１０１を構成する各画素から出力される画素信号の出力レベルを計測することにより欠陥画素が特定される。
【００１９】
図３を参照して、欠陥画素の特定について説明する。図３（ａ）は、撮像素子１０１を構成する画素１５０の配置を示す。なお、図３（ａ）においては、図の水平方向すなわち画素行方向をｘ軸、垂直方向すなわち画素列方向をｙ軸とする。図３（ｂ）は、第ｎ番目の画素行（ｙ＝ｙｎ）に配列された画素１５０からの画素データの出力レベルを模式的に例示する図である。各画素１５０からの画素データには、基準となる出力レベル（基準出力レベル）よりも出力レベルが高いものと、低いものとが含まれる。図３（ｂ）に示す例では、ｘ座標がｘ１、ｘ４、ｘ５に配置された画素１５０からの画素データの出力レベルは基準出力レベルよりも高いため、画像上では輝点として現れる。また、ｘ座標がｘ２、ｘ３に配置された画素１５０からの画素データの出力レベルは基準出力レベルよりも低い場合には、画像上では黒点として現れる。
【００２０】
本実施の形態では、各画素データのうち、基準出力レベルに対して所定の範囲内の出力レベルを有する画素データは正常な画素から出力され、基準出力レベルに対して所定の範囲外の出力レベルを有する画素データは欠陥画素から出力された欠陥画素データとする。図３（ｂ）に示す例では、図の破線で示す範囲Ｒｅに含まれない画素データ、すなわちｘ座標がｘ２、ｘ４、ｘ５に位置する画素１５０からの画素データが欠陥画素データである。換言すると、ｘ座標がｘ２、ｘ４、ｘ５に位置する画素１５０が欠陥画素として特定される。上記の処理を撮像素子１０１の全ての画素行について行い、ある露光時間および撮像感度の場合での、特定された全ての欠陥画素の位置（座標）と個数が決定される。特定された全ての欠陥画素の座標は欠陥画素位置情報として記録部１０２ｆに記録される。図３（ｂ）の例では、座標（ｘ２，ｙｎ）と（ｘ４，ｙｎ）と（ｘ５，ｙｎ）とが欠陥画素位置情報として記録部１０２ｆに記録される。
【００２１】
図４に露光時間および撮像感度と、欠陥画素の個数との対応関係を示す。図４に示すように、露光時間が長くなる、すなわちシャッタ秒時が低速になる程、欠陥画素の個数が増加する。また、撮像感度（ＩＳＯ感度）が高感度になる程、欠陥画素の個数が増加する。図４に示す露光時間および撮像感度と、欠陥画素の個数との関係により、欠陥補正部１０２ｄにより画素欠陥補正が施される欠陥画素データ、すなわち補正対象データの個数である補正対象個数が決定される。たとえばシャッタ秒時が１６［ｓ］よりも低速、すなわち露光時間が長い場合には、撮像感度に関わらず補正対象個数はＮ個（ＮはＮ≧０を満たす整数）に設定される。シャッタ秒時が１６［ｓ］よりも高速、すなわち露光時間が短い場合には、撮像感度が高いときには補正対象個数はＭ個（ＭはＭ≧０を満たす整数）、撮像感度が低いときには補正対象個数はＬ個（ＬはＬ≧０を満たす整数）に決定される。すなわち、露光時間と撮像感度とが図４の領域Ｒ１に含まれる場合には補正対象個数はＮ個、領域Ｒ２に含まれる場合には補正対象個数はＭ個、領域Ｒ３に含まれる場合には補正対象個数はＬ個となる。なお、本実施の形態においては、Ｎ＞Ｍ＞Ｌの関係を有するものとする。
【００２２】
上記の関係に基づいて、露光時間と撮像感度とを含む複数の撮影条件の組合せを複数のグループに分け、それぞれのグループと補正対象個数とが関連付けされて補正対象個数情報として記録部１０２ｆに記録される。なお、補正対象個数情報はテーブル形式によって記録部１０２ｆに記録されている。図４の領域Ｒ１を満たす撮影条件の組合せ、すなわち撮影条件として露光時間が長い場合を第１グループとし、第１グループと補正対象個数であるＮ個とが関連付けされて記録部１０２ｆに記録される。領域Ｒ２を満たす撮影条件の組合せ、すなわち撮影条件として露光時間が短く撮像感度が高感度の場合を第２グループとし、第２グループと補正対象個数であるＭ個とが関連付けされて記録部１０２ｆに記録される。さらに、領域Ｒ３を満たす撮影条件の組合せ、すなわち撮影条件として露光時間が短く撮像感度が低感度の場合を第３グループとし、第３グループと補正対象個数であるＬ個とが関連付けされて記録部１０２ｆに記録される。
【００２３】
（２）欠陥画素データの補正処理
検出部１０２ｇは、記録部１０２ｆに記録された欠陥画素位置情報に基づいて、第１画像データ上で欠陥画素データの位置（座標）を検出する。そして、検出部１０２ｇは、欠陥画素データの出力レベルが高い順序、すなわち出力レベルが最大のものから降順で欠陥画素データをソートする。
【００２４】
次に、補正個数制御部１０２ｈは、撮影条件と、記録部１０２ｆに記録された補正対象個数情報とを用いて、欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す個数を決定する。この場合、補正個数制御部１０２ｈは、撮影条件、すなわち算出された露光時間と撮像感度とが、第１〜第３グループに分けられたいずれの撮影条件に該当するかを判定する。すなわち、補正個数制御部１０２ｈは、露光時間と撮像感度とが図４に示す領域Ｒ１〜Ｒ３のいずれに含まれるかを判定する。撮影条件が第１グループに該当する場合（露光時間と撮像感度とが領域Ｒ１に含まれる場合）、すなわちシャッタ秒時が長秒時の場合には、補正個数制御部１０２ｈは、欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す個数をＮ個に決定する。撮影条件が第２グループに該当する場合（露光時間と撮像感度とが領域Ｒ２に含まれる場合）、すなわちシャッタ秒時が短秒時かつ撮像感度が高感度の場合には、補正個数制御部１０２ｈは、欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す個数をＭ個に決定する。撮影条件が第３グループに該当する場合（露光時間と撮像感度とが領域Ｒ３に含まれる場合）、すなわちシャッタ秒時が短秒時かつ撮像感度が低感度の場合には、補正個数制御部１０２ｈは、欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す個数をＬ個に決定する。
【００２５】
補正個数制御部１０２ｈにより個数が決定されると、欠陥補正部１０２ｄは、検出部１０２ｇにより検出された欠陥画素データのうち、補正個数制御部１０２ｈにより決定された個数分の欠陥画素データに対して画素欠陥補正を施す。この場合、欠陥補正部１０２ｄは、検出部１０２ｇによりソートされた順序で、補正個数制御部１０２ｈにより決定された個数の欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す。上述したように、検出部１０２ｇは、出力レベルが最大の欠陥画素データから降順で欠陥画素データをソートしている。したがって、欠陥補正部１０２ｄは、欠陥画素データの出力レベルが高い順序、換言すると欠陥画素により影響が顕著なものから順次、画素欠陥補正処理を施す。なお、欠陥補正部１０２ｄは、画素欠陥補正を施す際に、公知のメディアンフィルタ等を用いて、欠陥画素データを周囲の画素データによって置換する。
【００２６】
以上で説明した第１の実施の形態のデジタルカメラ１によれば、以下の作用効果が得られる。
撮像素子１０１は、被写体からの光束を受光して、画素データをそれぞれ出力する複数の画素１５０が配列されている。欠陥補正部１０２ｄは、複数の画素１５０のうちの欠陥画素から出力された欠陥画素データのそれぞれに対して画素欠陥補正処理を施す。制御回路１０２は、撮像素子１０１の露光時間と撮像感度とを設定する。記録部１０２ｆには、撮像素子１０１の露光時間と撮像感度とを含む複数の撮影条件の組合せを第１〜第３グループに分け、第１〜第３グループのそれぞれと、複数の欠陥画素データのうち画素欠陥補正処理を施す補正対象画素データの個数である補正対象個数とが関連付けされて記録されている。補正個数制御部１０２ｈは、制御回路１０２により設定された撮像素子１０１の露光時間と撮像感度とが第１〜第３グループのいずれに属するかを判定する。そして、欠陥補正部１０２ｄは、補正個数制御部１０２ｈにより判定されたグループに関連付けされて記録部１０２ｆに記録されている補正対象個数の欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施すようにした。露光時間、撮像感度が異なる場合には画素欠陥データが発生する個数が異なるので、ある１つの撮影条件に補正対象個数が決定されている場合には、全ての画素欠陥データが補正できない、もしくは補正対象個数が過剰となる。本実施の形態では、複数の撮影条件の組合せを第１〜第３グループに分けて、それぞれのグループに補正対象個数を関連付けているので、補正する欠陥画素データの個数が不足する、または過剰になることを防ぎ、欠陥画素による影響が補正された高画質の画像を生成できる。
【００２７】
−第２の実施の形態−
図面を参照して、本発明の第２の実施の形態によるデジタルカメラ１を説明する。以下の説明では、第１の実施の形態と同じ構成要素には同じ符号を付して相違点を主に説明する。特に説明しない点については、第１の実施の形態と同じである。本実施の形態では、画素欠陥補正を施す欠陥画素データの個数に制限がある点で、第１の実施の形態とは異なる。
【００２８】
本実施の形態の欠陥補正部１０２ｄには、欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す個数に上限が設けられている。この上限の個数は、１つの画素行について設けられるものであってもよいし、１フレームの第１画像データについて設けられるものであってもよい。また、上限個数は、欠陥補正部１０２ｄ以外の内部メモリ（不図示）や外部メモリ（不図示）の容量に基づいて設けられてもよい。以下の説明では、１フレームの第１画像データについて補正個数に上限が設けられているものとして行う。以下、欠陥補正部１０２ｄに設けられた補正個数の上限をＰ個として説明する。
【００２９】
補正個数制御部１０２ｈは、第１の実施の形態と同様にして、撮影条件に基づいて、欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す個数をＮ、Ｍ、Ｌ個のいずれかに決定する。そして、補正個数制御部１０２ｈは、決定した個数と、欠陥補正部１０２ｄに設けられた補正個数の上限であるＰ個とを比較する。補正個数制御部１０２ｈは、露光時間と撮像感度とに基づいて画素欠陥補正処理を施す個数をＮ個に決定したとすると、補正個数の上限であるＰ個との大小を判定する。補正個数の上限であるＰ個がＮ個以上の場合（Ｐ≧Ｎ）には、欠陥補正部１０２ｄは、第１の実施の形態と同様に、補正個数制御部１０２ｈにより決定されたＮ個の欠陥画素データについて画素欠陥補正処理を施す。補正個数の上限であるＰ個のほうが小さい場合（Ｐ＜Ｎ）には、欠陥補正部１０２ｄは、補正個数の上限であるＰ個の欠陥画素データについて画素欠陥補正処理を施す。すなわち、欠陥補正部１０２ｄは、出力レベルが最大のものからＰ番目の出力レベルに含まれる欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す。この場合、検出部１０２ｇによって、出力レベルが高い順序で（Ｐ＋１）番目以降にソートされた欠陥画素データに対しては、欠陥補正部１０２ｄは画素欠陥補正処理を施さない。
【００３０】
以上で説明した第２の実施の形態のデジタルカメラ１によれば、以下の作用効果が得られる。
補正個数制御部１０２ｈは、欠陥補正部１０２ｄによって１回の画素欠陥補正処理で補正が施される欠陥画素データの上限個数のＰ個を上回るか否かを判定する。そして、補正個数制御部１０２ｈにより補正対象個数が上限個数のＰ個を上回ると判定された場合には、欠陥補正部１０２ｄは、出力レベルが最大の欠陥画素データから出力レベルが低くなる順序で上限個数のＰ個に含まれる欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施すようにした。したがって、欠陥補正部１０２ｄの補正個数に制限がある場合には、欠陥画素の影響が大きい欠陥画素データほど欠陥画素補正処理が施されるので、高画質の画像を得ることができる。
【００３１】
−第３の実施の形態−
図面を参照して、本発明の第３の実施の形態によるデジタルカメラ１を説明する。以下の説明では、第１および第２の実施の形態と同じ構成要素には同じ符号を付して相違点を主に説明する。特に説明しない点については、第１および第２の実施の形態と同じである。本実施の形態では、撮影条件により決定された補正個数が欠陥補正部により補正個数の上限を上回る場合に、画素欠陥補正処理を複数回行う点で、第２の実施の形態とは異なる。
【００３２】
第２の実施の形態と同様に、補正個数制御部１０２ｈは、画素欠陥補正処理を施す個数をＮ個に決定する。そして、補正個数の上限であるＰ個の方がＮ個よりも小さい場合（Ｐ＜Ｎ）には、欠陥補正部１０２ｄは、第１回目の処理として、Ｐ個の欠陥画素データについて画素欠陥補正処理を施す。次に、補正個数制御部１０２ｈは、第１回目の処理で画素欠陥補正処理が施されていない、（Ｐ＋１）番目以降にソートされた画素欠陥データの個数、すなわち（Ｎ−Ｐ）個と、補正個数の上限であるＰ個との大小を判定する。（Ｎ−Ｐ）個がＰ個以下であると判定された場合には、欠陥補正部１０２ｄは、第２回目の処理として、（Ｐ＋１）番目以降にソートされた（Ｎ−Ｐ）個の欠陥画素データ、すなわち第１回目の処理で画素欠陥補正処理が施されていない全ての欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す。
【００３３】
（Ｎ−Ｐ）個がＰ個よりも大きいと判定された場合には、欠陥補正部１０２ｄは、第２回目の処理として、（Ｐ＋１）番目以降にソートされたＰ個の欠陥画素データに対して画素欠陥補正処理を施す。第１回目および第２回目の画素欠陥補正処理により補正が施されていない（２Ｐ＋１）番目以降にソートされた（Ｎ−２Ｐ）個の欠陥画素データに対しても、補正個数制御部１０２ｈと欠陥補正部１０２ｄは上述した処理を繰り返し行う。すなわち、Ｎ個の欠陥画素データのすべてに対して欠陥補正部１０２ｄにより画素欠陥補正処理が施されるまで、上記の処理を繰りかえす。
【００３４】
以上で説明した第３の実施の形態のデジタルカメラ１によれば、以下の作用効果が得られる。
補正個数制御部１０２ｈにより補正対象個数が上限個数のＰ個を上回ると判定された場合には、欠陥補正部１０２ｄは、第１回目の処理において、上限個数のＰ個の欠陥画素データに対して画素欠陥補正を施し、第２回目以降の処理において、上限個数のＰ個を上回った個数の欠陥画素データに対して画素欠陥補正を施すようにした。したがって、欠陥補正部１０２ｄによる補正個数に制限がある場合であっても、全ての欠陥画素の影響を補正できるので、画質の向上に寄与できる。
【００３５】
以上で説明した第１〜第３の実施の形態のデジタルカメラ１を、次のように変形できる。
（１）補正対象個数と関連付けされる条件として、露光時間と撮像感度とに加えて、撮像素子１０１近傍の温度を用いてもよい。この場合、撮像素子１０１の近傍が高温であるほど、補正対象個数が多くなるように関連付けされていればよい。換言すると、露光時間と撮像感度と撮像素子の近傍の温度との組合わせを複数のグループに分けて、複数のグループのそれぞれと補正対象個数とが関連付けされて記録されて記録部１０２ｆに記録される。さらに、デジタルカメラ１は、撮像素子１０１の近傍の温度を計測する温度センサを備える。そして、補正個数制御部１０２ｈは、温度センサから入力した温度と、制御回路１０２により設定された露光時間および撮像感度とが、いずれのグループに属するかを判定すればよい。なお、温度センサにより撮像素子１０１の温度を計測してもよい。そして、補正個数制限部１０２ｈは、温度センサから入力した温度と、制御回路１０２により設定された露光時間および撮像感度とが、いずれのグループに属するかを判定すればよい。
【００３６】
（２）複数の撮影条件を第１〜第３グループに分けるものに代えて、第１〜第４グループに分けてもよい。この場合、図５に示すように、領域Ｒ１、すなわち露光時間が長く撮像感度が高感度の撮影条件を第１グループ、領域Ｒ２、すなわち露光時間が短く撮像感度が高感度の撮影条件を第２グループ、領域Ｒ３、すなわち露光時間が短く撮像感度が低感度の撮影条件を第３グループ、領域Ｒ４、すなわち露光時間が長く撮像感度が低感度の撮影条件を第４グループとすることができる。このとき、第１グループの補正対象個数をＮ個、第２グループの補正対象個数をＭ個、第３グループの補正対象個数をＬ個、第４グループの補正対象個数をＯ個とし、たとえば、Ｍ＞Ｏ＞Ｎ＞Ｌの関係が成立するように補正対象個数が設定されればよい。なお、Ｏ個は計測等に基づいて、最適な値として設定されればよい。
【００３７】
また、本発明の特徴を損なわない限り、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想の範囲内で考えられるその他の形態についても、本発明の範囲内に含まれる。説明に用いた実施の形態および変形例は、それぞれを適宜組合わせて構成しても構わない。
【符号の説明】
【００３８】
１０１  撮像素子、  １０２  制御回路、
１０２ｄ  欠陥補正部、  １０２ｆ  記録部、
１０２ｈ  補正個数制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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