(57)【要約】【課題】記録信頼性の高い情報記録装置を提供する。【解決手段】本発明に係る情報記録装置１は、駆動情報取得部４により半導体レーザ２５の動作状態を取得し、駆動情報記憶部５に逐次記録する。駆動情報分析部８は、駆動情報を分析し、半導体レーザ２５の残存寿命を予測し、磁気ヘッド制御部３は残存寿命等に基づいて磁気ヘッド２の制御を行う。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報の記録が可能な磁気記録媒体を加熱するための光発生素子、及び当該磁気記録媒体に情報を記録するための磁界発生素子を有するヘッド部と、
前記光発生素子の動作時における駆動状態を、当該光発生素子の駆動情報として取得する駆動情報取得部と、
前記駆動情報取得部により取得された前記駆動情報を記憶可能な駆動情報記憶部と、
前記ヘッド部の動作を制御するヘッド制御部と、
を備えることを特徴とする情報記録装置。
【請求項２】
前記ヘッド部は、前記磁気記録媒体に記録された情報を読み出すための再生素子をさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の情報記録装置。
【請求項３】
少なくとも２つの前記ヘッド部を備え、
前記ヘッド制御部は、前記ヘッド部を個別に制御することを特徴とする請求項１または２に記載の情報記録装置。
【請求項４】
前記ヘッド制御部は、前記駆動情報に応じて、前記ヘッド部の動作がそれぞれ異なるように、前記ヘッド部を制御することを特徴とする請求項３に記載の情報記録装置。
【請求項５】
前記駆動情報を分析して、前記光発生素子の機能障害に関する特性を予測する駆動情報分析部をさらに備え、
前記駆動情報分析部は、予測した前記特性を前記ヘッド制御部に出力し、
前記ヘッド制御部は、前記駆動情報分析部から出力された前記特性に基づいて、前記ヘッド部の動作を制御することを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【請求項６】
前記駆動情報分析部は、前記駆動情報取得部によって取得された前記駆動情報に基づいて、前記特性を予測することを特徴とする請求項５に記載の情報記録装置。
【請求項７】
前記駆動情報分析部は、前記駆動情報記憶部に記憶された前記駆動情報に基づいて、前記特性を予測することを特徴とする請求項５に記載の情報記録装置。
【請求項８】
前記駆動情報分析部は、前記駆動情報取得部によって取得された駆動情報、および前記駆動情報記憶部に記憶された前記駆動情報に基づいて、前記特性を予測することを特徴とする請求項５に記載の情報記録装置。
【請求項９】
前記特性は、前記光発生素子の残存寿命であることを特徴とする請求項５から８のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【請求項１０】
前記特性は、突発的な劣化要因により生じた前記光発生素子の劣化の有無であることを特徴とする請求項５から８のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【請求項１１】
前記突発的な劣化要因により生じた前記光発生素子の劣化の有無の予測は、前記駆動情報記憶部に記憶された前記駆動情報のうち、予測実行点までの９０％以上、１００％未満期間に記憶された前記駆動情報を用いて予測された前記光発生素子の残存寿命と、前記駆動情報記憶部に記憶された前記駆動情報のうち、前記駆動情報の記憶を開始した時点から１０％以下の期間に記憶された前記駆動情報に基づいて予測した前記光発生素子の残存寿命と、を比較することで行われることを特徴とする請求項１０に記載の情報記録装置。
【請求項１２】
前記駆動情報分析部は、前記特性を示す値が所定の閾値を超えたとき、当該記特性を示す値が所定の閾値を超えたこと利用者に通知させることを特徴とする請求項６から１１のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【請求項１３】
前記ヘッド制御部は、前記特性を示す値が所定の閾値を超えているとき、当該閾値を超えた光発生素子を有するヘッド部の動作内容を、通常の動作内容から変更することを特徴とする請求項６から１２のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【請求項１４】
前記駆動情報は、前記光発生素子の駆動電流または駆動温度を含むことを特徴とする請求項１から１３のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【請求項１５】
情報の記録が可能な磁気記録媒体を加熱するための光発生素子、及び当該磁気記録媒体に情報を記録するための磁界発生素子を有するヘッド部と、
前記光発生素子の動作時における駆動状態を、当該光発生素子の駆動情報として取得する駆動情報取得部と、
前記駆動情報取得部により取得された前記駆動情報で示される値と、予め設定された設定値と比較し、異常を検出する異常検出部と、
前記異常検出部により検出された検出結果に基づいて、前記ヘッド部の動作を制御するヘッド制御部と、
を備えることを特徴とする情報記録装置。
【請求項１６】
前記ヘッド制御部は、前記異常検出部により前記光発生素子の異常が検出されたとき、当該異常が検出された光発生素子を有するヘッド部の動作内容を、通常の動作内容から変更することを特徴とする請求項１５に記載の情報記録装置。
【請求項１７】
前記ヘッド制御部は、前記異常検出部により前記光発生素子の異常が検出されたとき、当該異常が検出された光発生素子の動作を停止させることを特徴とする請求項１５に記載の情報記録装置。
【請求項１８】
前記異常検出部は、前記光発生素子に異常を検出したとき、当該光発生素子に異常が生じたことを利用者に対して通知させることを特徴とする請求項１５から１７のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【請求項１９】
前記ヘッド制御部は、前記ヘッド部による前記磁気記録媒体への新規情報の記録を禁止して、情報の書き換えおよび再生に限定するように当該ヘッド部の動作内容を変更することを特徴とする請求項１３または１６に記載の情報記録装置。
【請求項２０】
前記ヘッド制御部は、前記ヘッド部による前記磁気記録媒体への情報の記録を停止するように当該ヘッド部の動作内容を変更することを特徴とする請求項１３または１６に記載の情報記録装置。
【請求項２１】
情報の記録が可能な磁気記録媒体を加熱するための光発生素子、及び当該磁気記録媒体に情報を記録するための磁界発生素子を有するヘッド部を用いて、情報を記録する記録ステップと、
前記記録ステップにおける前記光発生素子の動作時における駆動状態を、当該光発生素子の駆動情報として駆動情報取得ステップと、
前記駆動情報取得ステップにて取得した前記駆動情報、及び前記駆動情報取得ステップにて取得した前記駆動情報を記憶した当該駆動情報の履歴のいずれか、または双方に応じて、前記ヘッド部の動作を制御するヘッ制御ステップと、
を含むこと特徴とする情報記録装置の制御方法。
【請求項２２】
請求項１から２０のいずれか１項に記載の情報記録装置を備えることを特徴とする計算機。
【請求項２３】
請求項１から２０のいずれか１項に記載の情報記録装置を備えることを特徴とする映像記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ハードディスク等の磁気記録媒体に情報を記録する情報記録装置に関し、より詳細には、半導体レーザを備え、当該半導体レーザの寿命や劣化状態等の予測、または当該半導体レーザに生じた異常の検出が可能な情報記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、情報機器のみならず、テレビや映像記録装置等の家電製品、音楽再生機器等、様々な機器に磁気記録装置が内蔵されており、磁気記録装置の需要は年々高まりつつある。
【０００３】
また、記録される情報量も年々増加しており、磁気記録装置の記録密度を向上させるための技術開発が積極的に行われている。特に近年では、磁気記録装置の高記録密度化に伴い、磁気ヘッド、及び記録媒体（ハードディスク等）の性能向上が求められている。
【０００４】
磁気記録装置において、記録密度を高めるためには、記録媒体のグレイン（粒子）を小さくすることが効果的である。しかし、グレインを小さくすると、グレインの磁化の熱安定性が低下するため、室温における熱エネルギーによって記録ビットが反転してしまう可能性がある。
【０００５】
この問題を解消する方法としては、グレインの異方性エネルギーを大きくすることが効果的であるが、異方性エネルギーを大きくすると、記録媒体の保持力が大きくなる。そのため、既存の磁気ヘッドではグレインの磁化を反転させることができず、情報の記録が困難になるという問題が発生する。
【０００６】
このような問題を解決する方法として、例えば、特許文献１及び特許文献２には、光アシスト磁気記録という方法が提案されている。この方法では、保持力の大きな記録媒体が用いられるが、記録時には、記録媒体の情報記録領域に光照射を行い、光照射領域の温度を上昇させることで保磁力を低下させて情報の記録を行う。情報が記録された記録媒体は、その後冷却され、保持力が大きくなることで熱的安定性が高まる。
【０００７】
このような方式の光アシスト磁気記録では、記録媒体の記録密度は光照射領域のサイズに依存するので、記録密度を高めるために近接場光を利用することが一般的である。例えば、先鋭な構造の近接場光発生部を有する微小な金属片にレーザ光を照射し、表面プラズモンを励起することにより、近接場光発生部の、光の回折限界よりも小さな領域に近接場光を発生させる。この近接場光を記録媒体に照射することにより、記録媒体における微小な領域のみを加熱することが可能になる。
【０００８】
光アシスト磁気記録装置には、小型、且つ、低コストに製造可能な光源として、半導体レーザが一般的に用いられる。半導体レーザは、光アシスト磁気記録装置の基幹部品の１つであり、半導体レーザの特性が光アシスト磁気記録装置の特性に大きく影響を及ぼす。
【０００９】
ここで、一般的に半導体レーザの特性は、使用環境によって影響され易い。例えば、駆動温度（周囲温度）が高くなると発振閾値の上昇、一定電流下での光出力の低下、発光効率の低下等が生じる。また、経年劣化により、同じ使用環境下であっても発振閾値の上昇、光出力の低下が見られる。さらに、半導体レーザは、電源のノイズに弱く、ノイズとして定格電流以上の電流が入力されると不可逆的な劣化が生じることもある。
【００１０】
図１３は、一般的な半導体レーザの駆動時間と駆動電流との関係を表すグラフである。図１３では、半導体レーザの光出力を一定、周囲温度を一定にした状態で、半導体レーザを使用し続けた場合の駆動時間と駆動電流（電流）との関係を示している。
【００１１】
図１３に示されるように、電源ノイズや周囲温度の変動がない状態であっても、半導体内部の欠陥の広がり等により、半導体レーザの駆動電流は駆動時間とともに増加する傾向にある。また、ある駆動時間ｔｚまでは時間に対してほぼ線形に駆動電流が増加するが、駆動時間ｔｚを超えると急速に駆動電流が増加する傾向にある。
【００１２】
そのため、半導体レーザを安定的に利用可能な期間は、駆動時間ｔｚまでの期間であり、一般的に駆動時間ｔｚ、若しくは製造者によって定められた駆動時間ｔｚよりも短い所定の駆動時間が半導体レーザの寿命（耐用期間）とされ、半導体レーザの利用停止や素子交換の目安とされている。
【００１３】
半導体レーザの一般的な寿命は、７，０００〜５０，０００時間程度であるが、動作条件（特に、周囲温度や電源事情等）により半導体レーザの寿命の長さは異なり、過酷な条件（例えば、周囲温度が高い、電源ノイズが多い等）であればあるほど、半導体レーザの寿命は短くなる傾向にある。
【００１４】
ところで、磁気記録装置としてパーソナルコンピュータ等の計算機に内蔵されたハードディスクを想定すると、磁気記録装置の動作条件は個体によって様々である。例えば、計算機が設置されている環境の温度、計算機内部における冷却効率等によって、半導体レーザの駆動温度は異なる。そのため、半導体レーザの寿命は、個体毎に異なる可能性が高い。
【００１５】
半導体レーザの故障は、光アシスト磁気記録装置の記録不良に繋がり、また、上述した半導体レーザの寿命が、磁気記録装置を構成する他の機械部品の寿命よりも短い場合、半導体レーザの寿命が、光アシスト磁気記録装置の寿命となり得る。
【００１６】
従って、光アシスト磁気記録装置の記録特性の安定化とデータ保護との両方の側面から、半導体レーザの寿命予測、及び安定駆動は重要となる。
【００１７】
従来、ハードディスクの寿命（故障）予測としてＳＭＡＲＴ（Ｓｅｌｆ−Ｍｏｎｉｔｏｒｉｎｇ，Ａｎａｌｙｓｉｓ ａｎｄ  Ｒｅｐｏｒｔｉｎｇ  Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ）が利用されてきた。ＳＭＡＲＴは、例えば、シーク回数や読み取りエラーの回数等、数十種類の項目においてハードディスクの駆動履歴を保存しておき、その駆動履歴に基づいて、ハードディスクの特性を自己診断する。このＳＭＡＲＴによって、安定した利用環境下での経年劣化による寿命を予測することが可能であるが、半導体レーザの寿命に関する項目はＳＭＡＲＴに設けられていない。
【００１８】
一方、光アシスト磁気記録素装置において、レーザ素子の光強度を安定化させる手段として、特許文献２には、レーザ素子の駆動温度を検出する構成が開示されている。特許文献２の光アシスト磁気記録装置においては、検出されたレーザ素子の駆動温度と光出力とをフィードバックすることにより、レーザ素子の光出力の安定化を行っている。
【００１９】
また、特許文献３及び特許文献４には、駆動電流と駆動温度との測定値から、レーザ素子の寿命を予測する構成、及び当該構成を備えた装置が開示されている。
【００２０】
具体的には、特許文献３の発光駆動装置においては、レーザ素子の駆動時における駆動温度に基づいて、当該駆動時における駆動温度に対応する劣化閾値電流を、温度補正係数を用いて換算する。そして、レーザ素子の駆動電流が、換算された劣化閾値電流の値を上回った場合に、投入電流を停止することで、発光駆動装置の安定化を行っている。
【００２１】
また、特許文献４の光ディスク装置においては、温度補正係数と駆動温度とを保持しておき、レーザ素子の駆動温度を用いて換算された累積時間を計測して、レーザ素子の累積時間が閾値を超える場合は、レーザ素子の高出力駆動（記録）を禁止し、低出力駆動（再生）のみを許可することで、光ディスク装置の安定化を行っている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００２２】
【特許文献１】特開２０１１−０６０４０８号公報（２０１１年０３月２４日公開）
【特許文献２】特開２０１１−０１４２１４号公報（２０１１年０１月２０日公開）
【特許文献３】特開平８−２７９６４２号公報（１９９６年１０月２２日公開）
【特許文献４】特開２００４−３３５０３０号公報（２００４年１１月２５日公開）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００２３】
しかしながら、特許文献２の構成では、レーザ素子の駆動温度を検出し、リアルタイムに光出力の調整を行うため、レーザ素子の安定駆動には有効であるが、将来のレーザ素子の残存寿命を予測することは不可能である。
【００２４】
また、特許文献３及び特許文献４の構成では、ある時点におけるレーザ素子の残存寿命を予測することはできない。そのため、将来生じ得るレーザ素子の故障に伴う、装置の故障に対して事前に対策を講じることができない。
【００２５】
さらに、特許文献４の光ディスク装置においては、製造者により予め温度補正係数が定められているので、レーザ素子の個体毎のばらつきを補償できない。
【００２６】
本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、第１の目的は、レーザ素子の駆動状態の履歴等に基づいて、ある時点におけるレーザ素子のレーザ素子の残存寿命、及び劣化状態の予測を行い、利用者に情報の通知を行う、若しくは情報の消失を回避する動作を行うことが可能になる情報記録装置を提供することにある。
【００２７】
また、本発明の第２の目的は、レーザ素子の寿命が近い、レーザ素子が既に寿命を越えている、若しくはレーザ素子に突発的な異常が生じたと判断された場合に、記録媒体に記録された情報を保護することが可能になる情報記録装置を提供することである。
【００２８】
これらによって、本発明は、記録信頼性の高い情報記録装置をユーザに提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【００２９】
本発明に係る情報記憶装置は、上記の課題を解決するために、情報の記録が可能な磁気記録媒体を加熱するための光発生素子、及び当該磁気記録媒体に情報を記録するための磁界発生素子を有するヘッド部と、前記光発生素子の動作時における駆動状態を、当該光発生素子の駆動情報として取得する駆動情報取得部と、前記駆動情報取得部により取得された前記駆動情報を記憶可能な駆動情報記憶部と、前記ヘッド部の動作を制御するヘッド制御部と、を備えることを特徴とする。
【００３０】
上記の構成では、駆動情報取得部によって取得された光発生素子の駆動情報を記憶可能な駆動情報記憶部を備える。そのため、上記の構成によれば、光発生素子の駆動情報を過去に遡って参照することが可能になるので、駆動情報の履歴を用いた利用したアプリケーションを適用することで、情報記憶装置に新たな機能を付加することができる。
【００３１】
例えば、駆動情報記憶部に記憶された駆動情報の履歴に基づいて、過去にどの程度の負荷が光発生素子に生じたか等を予測することが可能になる。そのため、光発生素子の残存寿命、及び現在の劣化状態等を正確に予測することが可能になる。
【００３２】
このように、上記の構成によれば、駆動情報を用いて光発光素子の状態を把握することが可能になるので、光発光素子の状態に応じてヘッド制御部がヘッド部を制御することで、誤記録等の発生を抑制することができる。
【００３３】
従って、上記の構成によれば、記録信頼性の高い情報記録装置を実現することができる。
【００３４】
また、本発明に係る情報記憶装置では、前記ヘッド部は、前記磁気記録媒体に記録された情報を読み出すための再生素子をさらに備えることが好ましい。
【００３５】
上記の構成によれば、情報記録媒体に記録された情報の記録、及び再生を単一のヘッド部で行うことができるので、情報記録装置の小型化を図ることが可能になる。また、記録系と再生系とを別々に設ける場合に比べて、情報記録装置の構成を簡略化することができる。
【００３６】
また、本発明に係る情報記憶装置では、少なくとも２つの前記ヘッド部を備え、前記ヘッド制御部は、前記ヘッド部を個別に制御することが好ましい。
【００３７】
また、本発明に係る情報記憶装置では、前記ヘッド制御部は、前記駆動情報に応じて、前記ヘッド部の動作がそれぞれ異なるように、前記ヘッド部を制御することが好ましい。
【００３８】
上記の構成によれば、複数のヘッド部の動作を組み合わせた制御が可能になるので、例えば、光発生素子の状態に応じてヘッド部を使い分けることができる。
【００３９】
従って、上記の構成によれば、光発生素子の状態に応じてヘッド部を使い分けることで、駆動情報に応じた事前の故障対策等を講ずることが可能になるので、単一のヘッド部のみを備える構成に対して、情報記録装置の記録信頼性をさらに向上させることができる。
【００４０】
なお、特許文献３及び特許文献４では、複数のヘッド部を備えた構成は想定されていないため、上記の構成のように、複数のヘッド部を活用して事前の故障対策を講ずることはできない。
【００４１】
また、本発明に係る情報記憶装置では、前記駆動情報を分析して、前記光発生素子の機能障害に関する特性を予測する駆動情報分析部をさらに備え、前記駆動情報分析部は、予測した前記特性を前記ヘッド制御部に出力し、前記ヘッド制御部は、前記駆動情報分析部から出力された前記特性に基づいて、前記ヘッド部の動作を制御することが好ましい。
【００４２】
上記の構成では、光発生素子の機能障害に関する特性を予測する駆動情報分析部をさらに備える。ここで、光発生素子の機能障害に関する特性には、例えば、光発生素子の残存寿命または劣化状態等が含まれる。
【００４３】
上記の構成によれば、駆動情報分析部は、光発生素子の残存寿命または劣化状態等を予測してヘッド制御部に出力するので、ヘッド制御部はこの特性に基づいてヘッド部を制御することができる。
る。
【００４４】
また、本発明に係る情報記憶装置では、前記駆動情報分析部は、前記駆動情報取得部によって取得された前記駆動情報に基づいて、前記特性を予測することが好ましい。
【００４５】
上記の構成によれば、駆動情報取得部によって取得された最新の駆動情報に基づいて、光発生素子の特性を予測することが可能になるので、突発的なノイズの混入による影響等を予測することができる。
【００４６】
また、本発明に係る情報記憶装置では、前記駆動情報分析部は、前記駆動情報記憶部に記憶された前記駆動情報に基づいて、前記特性を予測することが好ましい。
【００４７】
上記の構成によれば、駆動情報記憶部に記憶された駆動情報の履歴に基づいて、光発生素子の特性を予測することが可能になるので、経年劣化等を予測することができる。
【００４８】
また、本発明に係る情報記憶装置では、前記駆動情報分析部は、前記駆動情報取得部によって取得された駆動情報、および前記駆動情報記憶部に記憶された前記駆動情報に基づいて、前記特性を予測することが好ましい。
【００４９】
上記の構成によれば、突発的なノイズをはじめとする短期的な事象と、経年劣化による長期的な事象との両方の影響を含んだ光発生素子の特性を予測することが可能になるので、光発生素子の特性をより正確に予測することができる。
【００５０】
また、本発明に係る情報記憶装置では、前記特性は、前記光発生素子の残存寿命であることが好ましい。
【００５１】
上記の構成によれば、ヘッド制御部は、情報記録装置の残存寿命を得ることができるので、光発生素子の残存寿命に基づいたヘッド部の最適な制御を行うことができる。
【００５２】
また、本発明に係る情報記憶装置では、前記特性は、突発的な劣化要因により生じた前記光発生素子の劣化の有無であることが好ましい。
【００５３】
上記の構成によれば、ヘッド制御部は、突発的な劣化要因により生じた前記光発生素子の劣化を得ることができるので、突発的なノイズの混入による影響等による劣化の有無に基づいたヘッド部の最適な制御を行うことができる。
【００５４】
また、本発明に係る情報記憶装置では、突発的な劣化要因により生じた前記光発生素子の劣化の有無の予測は、前記駆動情報記憶部に記憶された前記駆動情報のうち、予測が実行される時点までの９０％以上、１００％未満の間に記憶された前記駆動情報を用いて予測した前記光発生素子の残存寿命と、前記駆動情報記憶部に記憶された前記駆動情報のうち、前記駆動情報の記憶を開始した時点から１０％未満の間に記憶された前記駆動情報を用いて予測した光発生素子の残存寿命とを比較することで行われることが好ましい。
【００５５】
上記の構成によれば、情報記録装置の出荷時から現時点までの間に、ノイズの混入の有無等の突発的な劣化要因の存在を予測することが可能になる。
【００５６】
また、本発明に係る情報記憶装置では、前記駆動情報分析部は、前記特性を示す値が所定の閾値を超えたとき、当該記特性を示す値が所定の閾値を超えたこと利用者に対して通知させることが好ましい。
【００５７】
上記の構成によれば、例えば、光発生素子の特性として光発生素子の残存寿命が駆動情報分析部によって予測され、閾値として残存寿命１，０００時間が登録されている場合、予測された光発生素子の残存寿命が１，０００時間を切った段階で、駆動情報分析部はその旨を使用者に通知させる。例えば、駆動情報分析部は表示部等に警告画面を表示させることで、利用者は光発生素子の残存寿命が１，０００時間を切ったことを知ることができる。
【００５８】
また、本発明に係る情報記憶装置では、前記ヘッド制御部は、前記特性を示す値が所定の閾値を超えているとき、当該閾値を超えた光発生素子を有するヘッド部の動作内容を、通常の動作内容から変更することが好ましい。
【００５９】
上記の構成では、例えば、特性として光発生素子の残存寿命が駆動情報分析部によって予測され、閾値として残存寿命１，０００時間が登録されていた場合、ヘッド制御部は、予測された光発生素子の残存寿命が１，０００時間を切った段階で、当該ヘッド部の動作を制限したり、情報のバックアップを行う。
【００６０】
従って、上記の構成によれば、光発生素子の劣化の進行を抑制すると共に、磁気記憶部に記憶された情報の保護が可能になる。
【００６１】
また、本発明に係る情報記憶装置では、前記駆動情報は、前記光発生素子の駆動電流または駆動温度を含むことが好ましい。
【００６２】
上記の構成によれば、駆動状態分析部は、駆動電流または駆動温度に基づいて、光発生素子の特性を好適に予測することができる。
【００６３】
本発明に係る情報記憶装置は、上記の課題を解決するために、情報の記録が可能な磁気記録媒体を加熱するための光発生素子、及び当該磁気記録媒体に情報を記録するための磁界発生素子を有するヘッド部と、前記光発生素子の動作時における駆動状態を、当該光発生素子の駆動情報として取得する駆動情報取得部と、前記駆動情報取得部により取得された前記駆動情報で示される値と、予め設定された設定値と比較し、異常を検出する異常検出部と、前記異常検出部により検出された検出結果に基づいて、前記ヘッド部の動作を制御するヘッド制御部と、を備えることを特徴とする。
【００６４】
上記の構成では、ヘッド制御部は、駆動情報取得部によって取得された駆動情報で示される値と、予め設定された設定値とを比較して、前記光発生素子の異常を検出する異常検出部と、前記異常検出部の検出結果に応じて、ヘッド部の動作を制御する。
【００６５】
そのため、上記の構成によれば、突発的な異常が光発生素子に生じた場合、例えば、異常が検出された光発生素子を有するヘッド部の動作を制限または停止させる等の制御が可能になる。
【００６６】
従って、上記の構成によれば、記録信頼性の高い情報記録装置を実現することができる。
【００６７】
また、本発明に係る情報記憶装置では、前記ヘッド制御部は、前記異常検出部により前記光発生素子の異常が検出されたとき、当該異常が検出された光発生素子を有するヘッド部の動作内容を、通常の動作内容から変更することが好ましい。
【００６８】
上記の構成によれば、例えば、異常が検出された光発生素子を有するヘッド部の動作を制限したり、情報のバックアップを行う等の制御が可能になる。
【００６９】
従って、上記の構成によれば、光発生素子の劣化の進行を抑制すると共に、磁気記憶部に記憶された情報の保護が可能になる。
【００７０】
また、本発明に係る情報記憶装置では、前記ヘッド制御部は、前記異常検出部により前記光発生素子の異常が検出されたとき、当該異常が検出された光発生素子の動作を停止させることが好ましい。
【００７１】
上記の構成によれば、光発生素子の更なる劣化の進行を確実に防止することができる。
また、本発明に係る情報記憶装置では、前記異常検出部は、前記光発生素子に異常を検出したとき、当該光発生素子に異常が生じたことを利用者に対して通知させることが好ましい。
【００７２】
上記の構成によれば、光発生素子に異常を検出したとき、異常検出部は、例えば、表示部等に警告画面を表示させることで、利用者は光発生素子に異常が生じたことを知ることができる。
【００７３】
また、本発明に係る情報記憶装置では、前記ヘッド制御部は、前記ヘッド部による前記磁気記録媒体への新規情報の記録を禁止して、情報の書き換えおよび再生に限定するように当該ヘッド部の動作内容を変更することが好ましい。
【００７４】
上記の構成によれば、ヘッド部の動作内容を最低限に抑えることができ、光発生素子の劣化または異常等の進行を抑制することができる。
【００７５】
なお、特許文献４には、光発生素子が寿命に達した際の、光発生素子の動作の制御のみが開示されており、ヘッド部が、光発生素子に加えて磁気記録素子等を有する情報記録装置に、例えば、特許文献３に開示された技術を単に適用しても、上記の構成は見出すことはできない。
【００７６】
また、本発明に係る情報記憶装置では、前記ヘッド制御部は、前記ヘッド部による前記磁気記録媒体への情報の記録を停止するように当該ヘッド部の動作内容を変更することが好ましい。
【００７７】
上記の構成によれば、光発生素子の劣化または異常等の進行を完全に停止させることができる。
【００７８】
本発明に係る情報記憶装置の制御方法は、上記の課題を解決するために、情報の記録が可能な磁気記録媒体を加熱するための光発生素子、及び当該磁気記録媒体に情報を記録するための磁界発生素子を有するヘッド部を用いて、情報を記録する記録ステップと、前記記録ステップにおける前記光発生素子の動作時における駆動状態を、当該光発生素子の駆動情報として駆動情報取得ステップと、前記駆動情報取得ステップにて取得した前記駆動情報、及び前記駆動情報取得ステップにて取得した前記駆動情報を記憶した当該駆動情報の履歴のいずれか、または双方に応じて、前記ヘッド部の動作を制御するヘッ制御ステップと、を含むこと特徴とする。情報記録装置の制御方法。
【００７９】
上記の構成では、駆動情報取得ステップにて取得した駆動情報、及び駆動情報取得ステップにて取得した駆動情報を記憶した当該駆動情報の履歴のいずれか、または双方に応じて、ヘッド部の動作を制御するヘッ制御ステップを含む。
【００８０】
そのため、上記の構成によれば、光発生素子の駆動情報を過去に遡って参照することが可能になるので、駆動情報の履歴を用いた利用したアプリケーションを適用することで、情報記憶装置に新たな機能を付加することができる。
【００８１】
例えば、記憶された駆動情報の履歴に基づいて、過去にどの程度の負荷が光発生素子に生じたか等を予測することが可能になる。そのため、光発生素子の残存寿命、及び現在の劣化状態等を正確に予測することが可能になる。
【００８２】
このように、上記の構成によれば、駆動情報を用いて光発光素子の状態を把握することが可能になるので、光発光素子の状態に応じてヘッド部を制御することで、誤記録等の発生を抑制することができる。
【００８３】
従って、上記の構成によれば、記録信頼性の高い情報記録装置の制御方法を実現することができる。
【００８４】
本発明に係る計算機は、上記の課題を解決するために、上記情報記録装置を備えること特徴とする。
【００８５】
上記の構成によれば、記録信頼性の高いパーソナルコンピュータ等の計算機を実現することができる。
【００８６】
本発明に係る映像記録装置は、上記の課題を解決するために、上記情報記録装置を備えること特徴とする。
上記の構成によれば、記録信頼性の高い映像記録装置を実現することができる。
【発明の効果】
【００８７】
以上のように、本発明に係る情報記憶装置は、上記の課題を解決するために、情報の記録が可能な磁気記録媒体を加熱するための光発生素子、及び当該磁気記録媒体に情報を記録するための磁界発生素子を有するヘッド部と、前記光発生素子の動作時における駆動状態を、当該光発生素子の駆動情報として取得する駆動情報取得部と、前記駆動情報取得部により取得された前記駆動情報を記憶可能な駆動情報記憶部と、前記ヘッド部の動作を制御するヘッド制御部と、を備える。
【００８８】
それゆえ、本発明によれば、記録信頼性の高い映像記録装置を実現することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００８９】
【図１】実施形態１に係る情報記録装置の要部構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示されるヘッドの外観構成を示す斜視図。
【図３】図１に示される異常検出部における処理の流れを示すフローチャートである。
【図４】一般的な半導体レーザの駆動電流−光出力の温度依存性を示すグラフである。
【図５】一般的な半導体レーザの駆動電流−光出力において、正常な場合と端面破壊（ＣＯＤ）が生じた場合とを示すグラフである。
【図６】一般的な半導体レーザの電流−光出力の、素子駆動時間による変化を示すラフである。
【図７】一般的な半導体レーザにおいて、一定の光出力を得るために必要な駆動電流の駆動時間依存性を示すグラフである。
【図８】実施形態１に係る情報記録装置１の変形例の要部構成を示すブロック図である。
【図９】分光素子を備える磁気ヘッドの外観構成を示す斜視図である。
【図１０】一般的な半導体レーザの発振ピーク波長と駆動温度との関係を示す図である。
【図１１】実施形態２に係る計算機の要部構成を示すブロック図である。
【図１２】実施形態３に係る映像記録装置の要部構成を示すブロック図である。
【図１３】一般的な半導体レーザの駆動時間と駆動電流との関係を表すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００９０】
〔実施の形態１〕
以下、本発明に係る情報記録装置の一実施形態について、図１〜図１２に基づいて説明する。
【００９１】
＜情報記録装置の構成＞
まず、図１及び図２を参照して、本実施形態に係る情報記録装置１の構成について説明する。図１は、本実施形態に係る情報記録装置１の要部構成を示すブロック図であり、図２は、図１に示される磁気ヘッド２の外観構成を示す斜視図である。
【００９２】
図１に示されるように、情報記録装置１は、磁気ヘッド（ヘッド部）２、磁気ヘッド制御部（ヘッド制御部）３、駆動情報取得部４、駆動情報記憶部５、異常検出部６、警告情報出力部７、駆動情報分析部８、及びディスク媒体（磁気記録媒体）１０を備えている。
【００９３】
（磁気ヘッド）
磁気ヘッド２は、ディスク媒体１０に対して情報の記録または再生を行うものである。磁気ヘッド２は、スライダ２９と、このスライダ２９に設けられた記録部２１、再生部２２、及び温度センサ２３を有している。
【００９４】
記録部２１は、ディスク媒体１０に対して情報の記録を行うものである。図２に示されるように、記録部２１は、磁場発生部（磁界発生素子）２４、半導体レーザ（光発生素子）２５、受光素子２６、及び近接場光発生部２７を有しており、データアクセス時にディスク媒体１０を走査する。
【００９５】
磁場発生部２４は、発生させた磁場によって、ディスク媒体１０の磁化の方向を変えることによって、ディスク媒体１０に情報を記録するものである。具体的には、磁場発生部２４は、ディスク媒体１０に形成された情報記録領域における磁化の方向を変え、この磁化の方向の違いが情報ビットとしてディスク媒体１０に記録される。磁場発生部２４には、例えば、コイル等が用いられる。
【００９６】
半導体レーザ２５は、近接場光発生部２７に光を照射することで、微小な光スポットを有する近接場光を発生させるものである。近接場光発生部２７において発生した近接場光は、ディスク媒体１０の情報記録領域に照射されて、当該情報記録領域を加熱する。これにより、情報記録領域の温度を上昇させることで保磁力を低下させ、磁場発生部２４によってディスク媒体１０に対して情報の記録を行う。
【００９７】
受光素子２６は、半導体レーザ２５の光出力を検出するものである。受光素子２６には、半導体レーザ２５から発せられる光の波長帯に感度を有するフォトダイオード等が用いられる。受光素子２６は、半導体レーザ２５の、近接場光発生部２７が設けられた面と反対側の面近傍に設けられている。半導体レーザ２５に入力される電流は、後述する磁気ヘッド制御部３によって制御されるが、受光素子２６によって検知される光出力を磁気ヘッド制御部３にフィードバックすることにより、情報記録時の光出力が略一定になるように半導体レーザ２５を制御することができる。
【００９８】
スライダ２９のディスク媒体１０と対向する面はエアベアリング面であり、微細な凹凸が形成されている。このエアベアリング面とディスク媒体１０の表面との間にディスク媒体１０の回転により空気が流入すると、エアベアリング面の凹凸により、圧力の変化が生じて、スライダ２９に浮力が生じる。
【００９９】
一方、スライダ２９のエアベアリング面と反対側の面は、サスペンション３０の一端に接着されている。サスペンション３０は、薄いステンレス板の板金により形成されており、スライダ２９をディスク媒体１０上の所定の位置において押し付けるために利用される。スライダ２９は、このサスペンション３０による押し付け力とスライダ２９の浮力とが釣り合う高さにおいて安定して浮上する。この安定浮上の高さが最適となるように、スライダ２９のエアベアリング面の凹凸形状が調整されている。
【０１００】
サスペンション３０の他端は、磁気ヘッド駆動モータ（図示せず）に接続されており、磁気ヘッド駆動モータは、磁気ヘッド制御部３からの制御信号によって、磁気ヘッド２を所定の位置に移動させるように制御される。
【０１０１】
再生部２２は、ディスク媒体１０に記録された情報の再生を行うものである。再生部２２は、ディスク媒体１０に記録された情報を再生（読込）可能な素子である再生素子２８から構成されており、再生素子２８は、ディスク媒体１０の磁化の方向の違いを検知することが可能である。再生素子２８としては、例えば、一般的なハードディスク装置に用いられているトンネル磁気抵抗（ＴＭＲ）素子、巨大磁気抵抗（ＧＭＲ）素子、面直巨大磁気抵抗（ＣＰＰ−ＧＭＲ）素子等が用いられる。
【０１０２】
なお、磁場発生部２４、及び再生素子２８は、スライダ２９のエアベアリング面側に積層されて形成されている。
【０１０３】
温度センサ２３は、半導体レーザ２５の駆動温度（周囲温度）を検知する温度検出素子である。磁気ヘッド２は、温度センサ２３が検出した駆動温度等を含む検出信号Ｓ２を、駆動情報取得部４に出力する。
【０１０４】
（磁気ヘッド制御部３）
磁気ヘッド制御部３は、磁気ヘッド２の動作を制御するものであり、外部からの入力信号等に応じて磁気ヘッド２の動作を制御する。
【０１０５】
具体的には、磁気ヘッド制御部３は、ヘッド駆動モータ及び半導体レーザ２５等を駆動するための磁気ヘッド制御信号Ｓ１を生成する。そして、磁気ヘッド制御部３は、磁気ヘッド２に生成した磁気ヘッド制御信号Ｓ１に出力して、磁気ヘッド２を制御する。
【０１０６】
また、磁気ヘッド制御部３は、受光素子２６によって検知された光出力を取得したとき、当該光出力に基づいて、情報記録時における半導体レーザ２５の光出力が略一定になるように、半導体レーザ２５に入力される電流を制御する。
【０１０７】
なお、磁気ヘッド制御部３は、通常の情報の記録／再生動作の他に、後述する異常検出部６から出力される異常検出信号Ｓ５、及び駆動情報分析部８から入力される分析信号Ｓ７に基づいて、磁気ヘッド２の動作を制御する。
【０１０８】
（駆動情報取得部４）
駆動情報取得部４は、磁気ヘッド２から出力された検出信号Ｓ２から、半導体レーザ２５の動作時における駆動状態を示す各種のパラメータを、駆動情報として取得するものである。具体的には、駆動情報取得部４は、温度センサ２３によって検知された半導体レーザ２５の駆動温度、半導体レーザ２５の駆動電流、または受光素子２６によって検出された半導体レーザ２５の光出力、シーク回数や読み取りエラーの回数等の駆動情報を検出する。
【０１０９】
駆動情報取得部４は、取得した駆動情報を、駆動情報信号Ｓ３として、駆動情報記憶部５、異常検出部６、及び駆動情報分析部８に出力する。また、駆動情報取得部４は、温度センサ２３によって検知された半導体レーザ２５の駆動温度を磁気ヘッド制御部に出力する。
【０１１０】
（駆動情報記憶部５）
駆動情報記憶部５は、情報の書き込みが可能な記憶媒体であり、駆動情報取得部４から出力された駆動情報信号Ｓ３に示される半導体レーザ２５の駆動情報を逐次記録する。駆動情報記憶部５に記録された駆動情報の履歴は、必要に応じて異常検出部６、及び駆動情報分析部８によって履歴情報信号Ｓ４として読み出される。
【０１１１】
（異常検出部６）
異常検出部６は、情報記録装置１の障害を予測するためのプログラム及び設定値記憶部６０により構成される。設定値記憶部６０には、半導体レーザ２５の駆動状態が異常である否かを判断するための設定値、及び所定の閾値が予め格納されている。
【０１１２】
異常検出部６は、駆動情報取得部４から出力された駆動情報信号Ｓ３に示される駆動情報と、設定値記憶部６０に格納された設定値とを比較して、半導体レーザ２５の異常を検出する。半導体レーザ２５に異常が検出された場合、異常検出部６は、半導体レーザ２５に異常が検出されたことを示す異常検出信号Ｓ５を生成し、磁気ヘッド制御部３、及び警告情報出力部７に出力する。なお、異常検出部６における処理の詳細については、後述する。
【０１１３】
（警告情報出力部７）
警告情報出力部７は、異常検出部６から出力された異常検出信号Ｓ５、及び駆動情報分析部８から出力された制御信号に基づいて、警告情報をユーザに提示（通知）するための処理を行うものである。例えば、警告情報出力部７は、異常検出部６から出力された異常検出信号Ｓ５を取得したとき、表示部等に警告情報を表示させるための警告信号Ｓ６を生成し、表示部（図示せず）等に出力する。これにより、ユーザは、半導体レーザ２５に異常が生じたこと等を知ることができる。
【０１１４】
（駆動情報分析部８）
駆動情報分析部８は、駆動情報を分析して、半導体レーザ２５の機能障害に関する特性を予測するものである。情報記録装置１の残存寿命を予測するためのプログラム、及び登録値記憶部８０により構成される。設定値記憶部６０には、後述する半導体レーザ２５の残存寿命の予測に用いられる値等が予め格納されている。
【０１１５】
駆動情報分析部８は、例えば、外部からの要求に応じて駆動情報記憶部５に記録された駆動情報の履歴を読み出して分析し、半導体レーザ２５の残存寿命を予測する。また、駆動情報分析部８は、駆動情報取得部４から駆動情報信号Ｓ３が出力されたとき、駆動情報信号Ｓ３に示される駆動情報を分析し、半導体レーザ２５の残存寿命を予測する。
【０１１６】
駆動情報分析部８は、半導体レーザ２５の残存寿命の予測結果を分析信号Ｓ７として、磁気ヘッド制御部３に出力する。
【０１１７】
また、駆動情報分析部８は、予測した半導体レーザ２５の残存寿命が、登録値記憶部８０に記憶された閾値を超えたとき、その旨をユーザに提示させる制御信号を警告情報出力部７に出力する。例えば、閾値として残存寿命１，０００時間が登録値記憶部８０に予め登録されている場合、駆動情報分析部８は、予測した半導体レーザ２５の残存寿命が１，０００時間を切った段階で、その旨を使用者に提示させる制御信号を警告情報出力部７に出力する。これにより、ユーザは、半導体レーザ２５の残存寿命が１，０００時間を切ったことを知ることができる。なお、駆動情報分析部８における処理の詳細については、後述する。
【０１１８】
＜異常検出部における処理＞
次に、異常検出部６における処理の詳細について説明する。本実施形態において、情報記録装置１が備える異常検出部６は、半導体レーザ２５の駆動電流の異常を検出する。
【０１１９】
図３は、異常検出部６における処理の流れを示すフローチャートである。図３に示されるように、駆動情報取得部４から半導体レーザ２５の駆動電流及び光出力の値が出力されたとき（Ｓ１０１）、異常検出部６は、半導体レーザ２５の駆動電流及び光出力の値と、設定値記憶部６０に記録された設定値とを比較する（Ｓ１０２）。
【０１２０】
そして、異常検出部６は、半導体レーザ２５の駆動電流及び光出力の値と、設定値記憶部６０に記録された設定値との差分が、所定の閾値以上であるか否かを判定する（Ｓ１０３）。
【０１２１】
半導体レーザ２５の駆動電流及び光出力の値と設定値との差分いずれもが、所定の閾値未満である場合（Ｓ１０３でＮＯ）、異常検出部６は、半導体レーザ２５に異常が生じていないものと判断する。例えば、５ｍＷの光出力を得るために必要な駆動電流の設定値が２０ｍＡであると設定されている場合、検出された駆動電流が１５ｍＡであれば、異常検出部６は、半導体レーザ２５に異常が生じていないものと判断して処理を終了する。
【０１２２】
一方、半導体レーザ２５の駆動電流及び光出力の値と設定値との差分の少なくとも１つが、所定の閾値以上である場合（Ｓ１０３でＹＥＳ）、異常検出部６は、半導体レーザ２５に異常が生じたものと判断する。例えば、５ｍＷの光出力を得るために必要な駆動電流の設定値が２０ｍＡであると設定されている場合、検出された駆動電流が２５ｍＡであれば、異常検出部６は、半導体レーザ２５に異常が生じたものと判断する。
【０１２３】
この場合、異常検出部６は、異常検出信号Ｓ５を生成し、磁気ヘッド制御部３、及び警告情報出力部７に出力する（Ｓ１０４）。
【０１２４】
このような異常検出部６における一連の処理は、一定間隔、または半導体レーザ２５に電流が入力される都度、繰り返し行われる。
【０１２５】
＜駆動情報分析部における処理＞
次に、駆動情報分析部８における処理の詳細について説明する。本実施形態において、情報記録装置１が備える駆動情報分析部８は、半導体レーザ２５の残存寿命の予測を行う。以下では、駆動情報分析部８による半導体レーザ２５の残存寿命の予測の手法について説明する。
【０１２６】
（半導体レーザ２５の一般的な特性）
まず、図４を用いて、一般的な半導体レーザ２５の温度依存性について述べる。図４は、一般的な半導体レーザ２５の駆動電流−光出力の温度依存性を示すグラフである。図４に示されるように、低電流が入力された状態では、半導体レーザ２５からの光出力はほぼ得られないが、ある電流値（発振閾値）を境にしてレーザ発振が生じ、駆動電流の増加と共に光出力が急激に大きくなる。
【０１２７】
ここで、発振閾値以上の電流が入力された場合、（微分効率）＝（光出力の増加量）／（駆動電流の増加量）とおくと、駆動温度の上昇と共に発振閾値は高くなり、微分効率は小さくなる。言い換えると、駆動温度が高くなればなるほどディスク媒体１０への情報の記録に必要な一定の光出力（定格出力）を得るために要する駆動電流は増加する。
【０１２８】
次に、図５を用いて一般的な半導体レーザ２５の特性の劣化の影響について述べる。図５は、一般的な半導体レーザ２５の駆動電流−光出力において、正常な場合と端面破壊（ＣＯＤ）が生じた場合とを示すグラフである。ここでは、劣化の種類としてＣＯＤに関して説明するが、劣化の原因が他の場合であっても同様の傾向を示すことが多い。
【０１２９】
半導体レーザ２５の通常の駆動電流をはるかに超える電流が入力されると、半導体レーザ２５の端部付近が融解し結晶構造が乱れるため、光を吸収するようになる。このような現象は、ＣＯＤと称される。レーザドライバ（磁気ヘッド制御部３）の不安定性や不具合等により大電流が入力されＣＯＤが生じると、図５に示されるように、発振閾値が増加し、微分効率が低下する。一旦ＣＯＤが生じると、発振閾値や微分効率は元に戻らず、急速に劣化が進むことになる。
【０１３０】
次に、図６及び図７を用いて通常使用における半導体レーザ２５の特性変化について述べる。図６は、一般的な半導体レーザ２５の電流−光出力の、素子駆動時間による変化を示すラフであり、図７は、一般的な半導体レーザ２５において、一定の光出力を得るために必要な駆動電流の駆動時間依存性を示すグラフである。
【０１３１】
一般的な半導体レーザ２５は、定められた使用環境（周囲温度）下において、定格出力を超えない範囲で使用された場合であっても、点欠陥の広がり、結晶の酸化、電流による加熱／冷却の繰り返し等による劣化が生じる。図６に示されるように、半導体レーザ２５の駆動時間が長くなるほど発振閾値は増加し、微分効率は低下してくる。つまり、一定の使用環境の下で定格出力を得るために必要な駆動電流は、駆動時間の増加と共に増加する。仮に、半導体レーザ２５が一定温度下で利用された場合、図７に示されるようになる。
【０１３２】
ここで、定格出力を得るために必要な駆動電流が予め定められた設定値（例えば、図７に示されるように定格出力５ｍＷに対して３０ｍＡ）に到達した時をもって半導体レーザ２５の寿命であると判断するとし、５０，０００時間の駆動時間で３０ｍＡに達した場合、半導体レーザの寿命は５０，０００時間であるといえる。
【０１３３】
（半導体レーザ２５の残存寿命予測の原理）
上述したように、半導体レーザ２５の特性（残存寿命）は、使用環境に依存する。一般的にデバイスの劣化は、化学的、物理的なプロセスによるものが多く、駆動温度と寿命との関係として反応速度論モデルが一般的に用いられる。
【０１３４】
特に、半導体デバイスに対する温度ストレスによる寿命の依存性は、アレニウスモデルとして加速寿命試験において利用されており、後述する駆動情報の履歴を利用した残存寿命の予測プロセスの一例として本モデルを利用することができる。
【０１３５】
アレニウスモデルに従って考えると、ある駆動時間ｔにおけるデバイスの劣化度をＢ（ｔ）、比例係数をＡ、活性化エネルギーをＥａ、ボルツマン定数をｋ、駆動時間ｔ’における駆動温度をＴ（ｔ’）とすると、下記の式（１）の関係が成り立つ。
【０１３６】
【数１】
2013077367.tif 000003
【０１３７】
ここで、劣化度Ｂと定格出力を得るために必要な駆動電流の増加量ΔＩｏｐとが比例関係にあるとし、駆動時間ｔにおける駆動電流をＩｏｐ（ｔ）、駆動時間０における駆動電流をＩ＿０、比例係数をＡ’とすると、下記の式（２）及び式（３）が成り立つ。なお、ＣはＣ＝ＡＡ’であり、新たに定められた比例定数である。
【０１３８】
【数２】
2013077367.tif 000004
【０１３９】
【数３】
2013077367.tif 000005
【０１４０】
半導体レーザ２５の寿命とみなされる駆動電流をＩｏｐl、そのときの駆動時間（寿命）をｔｌとすると、下記の式（４）が成り立つ。
【０１４１】
【数４】
2013077367.tif 000006
【０１４２】
駆動温度Ｔが一定でない場合、駆動温度Ｔの値は実測等により求められる。実測の場合、駆動温度Ｔは連続的に与えられることはほとんどなく、離散的である。例えば、ある時間間隔ごとにサンプリングされたデータとして与えられる。この場合、式（２）〜式（４）の積分は近似により計算されることが多い。例えば、長方形近似を用いる場合、式（２）〜式（４）は、下記の式（２）’〜式（４）’のようになる。ただし、ｐは駆動時間ｔｐまでのサンプリング数、ｎは寿命までのサンプリング数である。
【０１４３】
【数５】
2013077367.tif 000007
【０１４４】
【数６】
2013077367.tif 000008
【０１４５】
【数７】
2013077367.tif 000009
【０１４６】
（半導体レーザの残存寿命の計算方法）
次に、ある駆動時間ｔｐにおいて、半導体レーザ２５の残存寿命を予測する方法について具体的に説明する。
【０１４７】
（Ａ−１）既知の駆動電流Ｉｏｐ（ｔｐ）を利用する場合
ある駆動時間ｔｐにおける駆動電流Ｉｏｐ（ｔｐ）が実測により既知であるとし、駆動時間ｔｐから駆動時間ｔｌ（寿命）まで一定の駆動温度Ｔｂをとるという仮定をすると、式（３）及び式（４）から、下記の式（５）が成り立つ。
【０１４８】
【数８】
2013077367.tif 000010
【０１４９】
ここで、ｔｊは半導体レーザ２５の残存寿命であるから、式（５）より半導体レーザ２５の残存寿命を予測することが可能である。
【０１５０】
（Ａ−２）駆動温度の履歴を利用する場合
ある駆動時間ｔｐまでの駆動温度の履歴が実測により既知であるとし、駆動時間ｔｐから駆動時間ｔｌまで一定の駆動温度Ｔｂをとるという仮定をすると、式（４）〜式（６）が成り立つ。
【０１５１】
【数９】
2013077367.tif 000011
【０１５２】
積分の計算に長方形近似を用いる場合、下記の式（６）’が成り立つ。
【０１５３】
【数１０】
2013077367.tif 000012
【０１５４】
式（６）または式（６）’により、半導体レーザ２５の残存寿命を予測することが可能である。上記の（Ａ−１）、（Ａ−２）のいずれの場合も、駆動温度Ｔｂとして駆動時間ｔｐの駆動温度を用いる場合は、半導体レーザ２５の残存寿命の残り時間をずっと駆動温度Ｔｂで使用し続けた場合の残存寿命の予測になる。一方、駆動温度Ｔｂとして、駆動情報の履歴に基づいて駆動時間ｔｌまでの平均駆動温度を利用すれば、駆動時間ｔｌまでの平均的な使用条件の下で使用し続けた場合の残存寿命の予測になる。
【０１５５】
上述したように、式（５）、式（６）、および及び式（６）’に基づいて、半導体レーザ２５の残存寿命を予測するためには、いずれも比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａを何らかの方法により求めておく必要がある。以下では、比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａの求め方について述べる。
【０１５６】
（Ｂ−１）半導体レーザ２５の残存寿命の、実測による比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａの求め方
まずは、半導体レーザ２５を駆動温度一定、光出力一定の条件で駆動した場合の、実測データに基づいた比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａの求め方について述べる。半導体レーザ２５の駆動温度一定、光出力一定の条件で駆動される場合、式（２）は、単純化され下記の式（７）が成り立つ。
【０１５７】
【数１１】
2013077367.tif 000013
【０１５８】
つまり、劣化度Ｂは駆動時間に比例するので、式（３）の駆動電流Ｉｏｐ（ｔ）も駆動時間ｔに比例し、下記の式（８）が成り立つ。
【０１５９】
【数１２】
2013077367.tif 000014
【０１６０】
式（８）から、比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａが一定であれば駆動温度一定の条件下では駆動電流Ｉｏｐは駆動時間ｔに比例することがわかる。つまり、図７に示されるような変化を示す。活性化エネルギーＥａは、劣化の原因となる物理現象が変化しない限り同じ値となり、通常、０．４ｅＶ以上、１．０ｅＶ以下となる。
【０１６１】
式（７）の未知数は、比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａの２種類なので、２つの駆動温度条件下（Ｔ１、Ｔ２）での寿命（ｔ１、ｔ２）が分かれば、比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａを求めることができる。Ｔ１、Ｔ２、ｔ１、ｔ２が実験等により既知の場合、式（８）から式下記の（９）−１、式（９）−２が成り立つ。
【０１６２】
【数１３】
2013077367.tif 000015
【０１６３】
【数１４】
2013077367.tif 000016
【０１６４】
式（９）−１、式（９）−２から比例定数Ｃを消去して変形することにより、下記の式（１０）から活性化エネルギーＥａを求めることができる。
【０１６５】
【数１５】
2013077367.tif 000017
【０１６６】
式（１０）により求めた活性化エネルギーＥａを、式（９）−１若しくは式（９）−２に代入することにより、比例定数Ｃを求めることができる。
【０１６７】
この方法は、情報記録装置１の製造者が、情報記録装置１に搭載するものと同じタイプの半導体レーザ２５を抜き取って異なる２つの駆動温度下での寿命を予測することで実現可能である。このようにして測定した比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａの値を登録値記憶部８０に予め登録しておくことにより半導体レーザ２５の残存寿命の予測に利用することができる。
【０１６８】
（Ｂ−２）半導体レーザ２５の駆動電流及び駆動温度の駆動情報の履歴による比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａの求め方
次に、実際に情報記録装置１が備える半導体レーザ２５の駆動情報の履歴を利用する場合の方法について述べる。
【０１６９】
【表１】
2013077367.tif 000018
【０１７０】
表１に示されるように、駆動情報記憶部５には、駆動時間ｔ、駆動電流Ｉｏｐ、駆動温度Ｔの実測値を逐次保存される。駆動時間ｔｌにおける駆動電流Ｉｏｐの理論値は、式（３）や式（３）’により計算することができるので、式（３）や式（３）’の比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａを未知数として、駆動時間ｔｌ、駆動電流Ｉｏｐ、駆動温度Ｔの実測値を式（３）や式（３）’でフィッティング（例えば、最小二乗法等）することにより、比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａの値を予測することが可能である。
【０１７１】
なお、上記の（Ｂ−１）及び（Ｂ−２）の方法には、それぞれ長所・短所がある。（Ｂ−１）の方法の場合、半導体レーザ２５において比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａの個体差が小さいほど精度の高い残存寿命の予測が可能になる。また、予め比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａを求めておくため、システムが簡単になる。
【０１７２】
一方、（Ｂ−２）の方法の場合、半導体レーザ２５の特性に無視できない程度の個体差が存在したとしても、半導体レーザ２５ごとに比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａが求められるので、残存寿命の予測の精度が向上する。しかしながら、実測データのフィッティングにより比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａを計算する必要があるため、正確な計算のために、多くの比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａをとる必要がある。言い換えると、サンプリング回数を多くする必要がある。また、フィッティングの計算コストが増加する分、（Ｂ−１）よりもシステムの構成が複雑になる。
【０１７３】
また、残存寿命の予測に用いる比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａの値として上記の（Ｂ−２）の方法を用いる場合、フィッティングに用いる駆動時間ｔ、駆動電流Ｉｏｐ、駆動温度Ｔの実測データにより予測される寿命の精度及び意味合いが異なる場合がある。
【０１７４】
すなわち、実測データとして直近のデータのみを利用すると、直近の劣化要因の影響を大きく取り込んだ寿命の予測が可能になる。例えば、後述する異常検出部６のける動作異常検出処理により異常検出信号Ｓ５が出力された場合、異常検出信号Ｓ５が出力された後の実測データのみを用いて求められた比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａを用いることで、半導体レーザ２５に生じた異常を考慮した寿命の予測が可能になり、残存寿命の予測の精度を向上させることが可能になる。
【０１７５】
なお、比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａの求め方については、上述した方法に限定されるのではなく、別の方法により求めても良い。実際には、上述した複数の方法で計算された比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａの値を用いることで、残存寿命の予測の精度を向上させることが可能になる。
【０１７６】
例えば、上記の（Ｂ−１）の方法で求めた比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａを利用して算出した半導体レーザ２５の残存寿命と、上記の（Ｂ−２）の駆動情報の履歴を利用して算出した半導体レーザ２５の残存寿命との比較を行うことにより、半導体レーザ２５の特性の個体差を予測したり、一部の駆動時間（実測データ領域）に限って上記の（Ｂ−２）の方法で計算された予測寿命と、全データを利用して計算された予測寿命とを比較することにより突発的な劣化の影響を考慮することが可能になる。
【０１７７】
例えば、時間０からある駆動時間ｔａまでの全測定データ点数を１００点として、駆動時間０から最初の１０点分（駆動時間０から駆動時間ｔｂまで）の駆動情報を用いて計算された、駆動時間ｔａからの残存寿命が、全駆動情報の履歴に基づく予測残存寿命よりも長い場合、駆動時間ｔｂから駆動時間ｔａまでの間に外部ノイズの混入等による不可逆的な劣化が生じたことがわかる。
【０１７８】
ここまでは、半導体レーザ２５の光出力が一定である場合を述べてきたが、実際の情報記録装置１においては、ディスク媒体１０に照射される近接場光の出力を一定にする必要がある。そのため、半導体レーザ２５以外、例えば、近接場光発生部２７にも経年劣化が存在し時間の経過と共に近接場光への変換効率が変化する場合は、それに伴い半導体レーザ２５の光出力を変化させていく必要が生じる。
【０１７９】
この場合、異なる光出力と駆動電流Ｉｏｐとの関係（Ｉ−Ｐ特性）を複数回測定し、その都度、駆動情報記憶部５に保存しておくことで、式（３）から寿命予測が可能になる。
【０１８０】
例えば、近接場光発生部２７が最も劣化した場合に必要な半導体レーザ２５の光出力が１０ｍＷであると予測される場合、時間０において、光出力１ｍＷから１０ｍＷの時の駆動電流Ｉｏｐ及び駆動温度を測定し、駆動情報記憶部５に格納しておく。その後、ある一定の間隔毎に、同様に光出力１ｍＷから１０ｍＷの時の駆動電流Ｉｏｐ及び駆動温度を測定し、駆動情報記憶部５に格納する。この動作を繰り返すことで、異なる複数の光出力下での駆動電流データを保持できるため、上述の方法を用いて異なる光出力下における残存寿命予測が可能になる。
【０１８１】
また、上述したように複数の光出力に対する駆動電流Ｉｏｐ及び駆動温度の測定を行う代わりに、製造者による工場での抜き取り検査等により、予め複数の光出力下における素子寿命を測定しておき、その値を利用しても良い。
【０１８２】
さらに、別の方法として光出力が一定とみなせる直近の実測データから上記の（Ｂ−２）の方法で求めた比例定数Ｃ及び活性化エネルギーＥａを使うことで寿命予測が可能になる。
【０１８３】
必要な近接場光の光出力は、例えば、テストライトにより求めることが可能である。テストライトとは、ディスク媒体１０の特定の領域にテスト記録用の領域を設けておき、半導体レーザ２５の光出力や磁場発生部２４の磁場強度を変化させて記録を行う。そして、記録されたテスト記録データを実際に再生部２２により再生させ、再生されたデータの信号品質を確認することにより最適な記録条件（光出力及び磁場強度）を見積もる方法である。
【０１８４】
なお、上述した寿命予測方法及びテストライト方法は、上記の方法に限定されることはなく、別の方法を用いても良い。また、従来のハードディスクに用いられてきたＳＭＡＲＴによる寿命予測と併せて用いることにより、半導体レーザ２５以外の部材の劣化状態も含めた残存寿命の予測を行ってもよい。さらに、上述した半導体レーザ２５の特性を用いた残存寿命の予測をＳＭＡＲＴの一部としてＳＭＡＲＴに統合し、ハードディスクの残存寿命の予測手段として用いられても良い。
【０１８５】
＜情報記録装置の動作＞
次に、半導体レーザ２５に異常が検出された場合の情報記録装置の動作、及び半導体レーザ２５の残存寿命を利用した情報記録装置の動作について、図８を参照して具体的に説明する。
【０１８６】
図８は、本実施形態に係る情報記録装置１の変形例の要部構成を示すブロック図である。図８に示されるように、情報記録装置１ａは、３つのディスク媒体１０ａ〜１０ｃ、及びそれぞれに対応して記録／再生が可能な３つの磁気ヘッド２ａ〜２ｃを備えている。
【０１８７】
（半導体レーザ２５に異常が検出された場合の情報記録装置の動作）
（動作例１−１）
複数の磁気ヘッド２ａ〜２ｃを備える情報記録装置１ａにおいて、異常検出部６によって磁気ヘッド２ａ〜２ｃが有する半導体レーザ２５のうち、少なくとも１つの半導体レーザ２５に異常が検出された場合、磁気ヘッド制御部３は、異常が検出された半導体レーザ２５を有する磁気ヘッドに対応するディスク媒体への新規書き込みを行わず、書き換えのみにする。或いは、磁気ヘッド制御部３は、異常が検出されたディスク媒体への書き込み／書き換えを禁止し、読み取り専用にする。これにより、安定した情報の記録が可能となるため、情報記録装置１ａの記録信頼性を向上させることができる。
【０１８８】
（動作例１−２）
また、複数の磁気ヘッド２ａ〜２ｃを備える情報記録装置１ａにおいて、異常検出部６によって磁気ヘッド２ａ〜２ｃが有する半導体レーザ２５のうち、少なくとも１つの半導体レーザ２５に異常が検出された場合、異常検出部６は、異常検出信号Ｓ５を生成し、警告情報出力部７に出力して、表示部等に警告情報を表示させる。
【０１８９】
（動作例１−３）
また、情報記録装置１ａが外部への警告表示手段（例えば、ＬＥＤランプ、音声出力装置等）を有する場合、異常検出部６によって磁気ヘッド２ａ〜２ｃが有する半導体レーザ２５のうち、少なくとも１つの半導体レーザ２５に異常が検出されたとき、前記警告表示手段を介して、別の情報記録装置へのデータ移動を促すメッセージを表示する、或いは警報音を発し、ユーザに知らせてもよい。
【０１９０】
（半導体レーザ２５の残存寿命を利用した情報記録装置の動作）
（動作例１−４）
複数の磁気ヘッド２ａ〜２ｃを備える情報記録装置１ａにおいて、磁気ヘッド制御部３に新規データの書き込み指示が入力された場合、磁気ヘッド制御部３は、駆動情報分析部８から出力された分析信号Ｓ７に示される半導体レーザ２５ごとの残存寿命を比較して、磁気ヘッド２ａ〜２ｃのうち最も半導体レーザ２５の残存寿命が長い磁気ヘッドに対応するディスク媒体を選択してデータの記録を行う。これにより、安定した情報の記録が可能になるため、情報記録装置１ａの記録信頼性を向上させることができる。
【０１９１】
（動作例１−５）
また、磁気ヘッド制御部３は、複数の磁気ヘッド２ａ〜２ｃが有する半導体レーザ２５のうち、少なくとも１つの半導体レーザ２５の残存寿命が予め定められた時間（例えば、１，０００時間）を下回ると、当該半導体レーザ２５を有する磁気ヘッドに対応するディスク媒体への新規書き込みを行わず、書き換えのみにすることにより、当該磁気ヘッドの使用を控える構成であっても良い。
【０１９２】
（動作例１−６）
また、磁気ヘッド制御部３は、複数の磁気ヘッド２ａ〜２ｃが有する半導体レーザ２５のうち、少なくとも１つの半導体レーザ２５が寿命に到達した場合、当該半導体レーザ２５を有する磁気ヘッドに対応するディスク媒体への書き込み／書き換えを禁止し、読み取り専用にする構成であっても良い。
＜変形例１＞
上述の説明では、情報記録装置１は、半導体レーザ２５の特性として、半導体レーザ２５の残存寿命を予測する構成について説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、駆動情報分析部８によって半導体レーザ２５の劣化状態を予測する構成であってもよい。
【０１９３】
この場合、駆動情報分析部８は、半導体レーザ２５の劣化状態として半導体レーザ２５の劣化がアレニウスモデルに沿ったものであるかどうかで判断する。半導体レーザ２５の劣化がアレニウスモデルに沿っている場合、ある駆動時間ｔｐにおける駆動電流の理論値は、式（３）或いは式（３）’により求められる。
【０１９４】
そして、式（３）或いは式（３）’により計算される値と、実測された駆動電流Ｉｏｐの値とを比較すれば、駆動電流の理論値からのずれを特定することができる。このずれは、外部ノイズ等により半導体レーザ２５の正常使用条件下における駆動による劣化以外の劣化、すなわち、突発的な劣化要因が存在したために生じたものである。
【０１９５】
このずれの大きさを用いて半導体レーザ２５の特性のばらつきや、駆動温度以外の劣化要因の存在（例えば、電源ノイズ等）を判定することが可能である。例えば、駆動時間ｔｐにおける半導体レーザ２５の駆動電流Ｉｏｐが式（３）或いは式（３）’から予測される理論値よりも大幅に高い場合、意図しない大電流（例えば、電源ノイズ等）の混入による半導体レーザ２５の突発的な劣化を予測することが可能になる。
【０１９６】
また、駆動電流Ｉｏｐの履歴を参照することにより、駆動電流Ｉｏｐの実測値と理論値とのずれの時間履歴を把握することが可能になり、半導体レーザ２５の劣化の原因が定常的なものなのか、それとも、非定常なものなのかを判定するのに役立てることができる。
【０１９７】
以下では、上述した方法により予測された半導体レーザ２５の劣化状態を利用した情報記録装置１の動作例について、図８に示される情報記録装置１ａを参照して説明する。
【０１９８】
（動作例２−１）
複数の磁気ヘッド２ａ〜２ｃを備える情報記録装置１ａにおいて、磁気ヘッド制御部３に新規データ書き込み指示が入力された場合、磁気ヘッド制御部３は、異常検出部６から出力された異常検出信号Ｓ５に示される磁気ヘッド２ａ〜２ｃごとの半導体レーザ２５の劣化状態を比較して、磁気ヘッド２ａ〜２ｃのうち、最も劣化が少ない半導体レーザ２５を有する磁気ヘッドに対応するディスク媒体を選択して記録動作を行う。これにより、情報記録装置１ａの記録信頼性を向上させることができる。
【０１９９】
（動作例２−２）
また、磁気ヘッド制御部３は、複数の磁気ヘッド２ａ〜２ｃが有する半導体レーザ２５のうち、少なくとも１つの半導体レーザ２５の劣化状態を示す値が、予め設定された設定値（例えば、理論とのずれが５０％）を上回ると、当該半導体レーザ２５を有する磁気ヘッドに対応するディスク媒体への新規書き込みを行わず、書き換えのみにすることにより、当該半導体レーザ２５の使用を極力控える構成であっても良い。若しくは、磁気ヘッド制御部３は、当該半導体レーザ２５を有する磁気ヘッドに対応するディスク媒体への書き込み／書き換えを禁止し、読み取り専用にする構成であっても良い。
＜変形例２＞
上述の説明では、受光素子２６として一般的なフォトダイオードを利用する構成について説明したが、本発明はこれに限定されない。例えば、受光素子２６に代えて分光素子２６ａを用いる構成であってもよい。
【０２００】
図９は、分光素子２６ａを備える磁気ヘッド２ｄの斜視図である。図９に示されるように、磁気ヘッド２ｄは、受光素子２６に代えて分光素子２６ａを有しており、分光素子２６ａは、例えば、フォトニック結晶等とフォトダイオードアレイとを組み合わせた構造になっており、入射光の波長とそれぞれの波長に対する光出力との両方を測定可能である。
【０２０１】
半導体レーザ２５からの光の発振波長領域全体が分光素子２６ａの検出領域にカバーされていれば、測定された全波長の光出力を波長に対して積分することで、半導体レーザ２５の光出力に換算することができる。
【０２０２】
ここで、半導体レーザ２５の駆動温度と波長との関係について述べる。一般的に半導体レーザ２５のバンドギャップ及び屈折率は駆動温度によって変化し、また、半導体内に存在するキャリアのエネルギー分布（擬フェルミ分布）も駆動温度により変化する。さらに、駆動温度により半導体レーザ２５を構成する共振器構造及び利得スペクトルが変化するため、半導体レーザ２５の発光波長は、その発光層の温度によって変化する。
【０２０３】
図１０は、一般的な半導体レーザ２５の発振ピーク波長と駆動温度との関係を示す図である。図１０に示されるように、半導体レーザ２５の発振ピーク波長は、一般的に最も大きな利得を持つ共振器のモードとなる。図１０では、領域Ａ１で示される温度に対する連続的な変化と、領域Ｂ１で示される波長の段階的な変化との両方が合わさった状態を示している。
【０２０４】
領域Ａ１は、共振器の屈折率変化によるモード位置の変化により生じ、領域Ｂ１は、最も大きな利得を持つ共振器のモードが隣のモードに変化することによって生じる（モードホッピング）。図１０に示されるように、半導体レーザ２５の発振ピーク波長と半導体レーザ２５の駆動温度とはほぼ１対１で対応している。言い換えると、半導体レーザ２５の発振ピークから半導体レーザ２５の駆動温度を計測することが可能であり、この方法により計測された駆動温度を上述した半導体レーザ２５の残存寿命の予測に用いることが可能である。
【０２０５】
〔実施形態２〕
本発明の情報記録装置に関する他の実施形態について、図１１に基づいて説明すれば、以下のとおりである。
【０２０６】
なお、説明の便宜上、実施形態１にて説明した図面と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
【０２０７】
本実施形態では、実施形態１で説明した図８に示される情報記録装置１ａを計算機１００に適用した場合について説明する。計算機１００は、例えば、パーソナルコンピュータ等であり、計算やデータ処理、インターネット、メール等の用途に用いられる。
【０２０８】
＜計算機の構成＞
図１１は、本実施形態に係る計算機１００の要部構成を示すブロック図である。図１１に示されるように、計算機１００は、情報記録装置１ａ、計算機制御部１０１、中央演算部１０２、主記憶部１０３、表示部１０４、及び入力インターフェース１０５を備えている。
【０２０９】
計算機制御部１０１は、計算機１００を構成する情報記録装置１ａ、中央演算部１０２、主記憶部１０３、表示部１０４、及び入力インターフェース１０５のそれぞれに接続され、各部の動作の制御を行う。
【０２１０】
情報記録装置１ａは、計算機１００の一部として構成されており、計算機制御部１０１によって情報の入出力及び動作の制御が行われる。情報記録装置１ａは、計算機１００内で情報を記録する部分であり、内部に備えられる半導体レーザ２５の残存寿命や劣化状態の予測を行う。
【０２１１】
＜計算機の動作＞
次に、計算機１００の具体的な動作例について説明する。計算機１００が備える情報記録装置１ａは、下記に示す動作を行う。なお、下記に示す動作と、実施形態１において説明した動作のうち、いずれか１つの動作が行われても良いし、或いは２つ以上の動作が複合的に行われても良い。
【０２１２】
（動作例３−１）
駆動情報分析部８は、情報記録装置１ａが備える駆動情報分析部８によって予測された半導体レーザ２５の残存寿命が、登録値記憶部８０に記憶された閾値（例えば、１，０００時間）を切ったとき、駆動情報分析部８は、警告情報出力部７から計算機制御部１０１に警告信号Ｓ６を出力させる。そして、計算機制御部１０１は、警告情報出力部７から出力された警告信号Ｓ６を取得したとき、情報記録装置１ａの交換を促すメッセージやデータのバックアップ、別の情報記録装置へのデータ移動を促すメッセージを表示させるように表示部１０４を制御する。または計算機制御部１０１は、警報音を発するように音声出力部１０６を制御する。
【０２１３】
（動作例３−２）
また、情報記録装置１ａ自体が外部への警告表示手段（例えば、ＬＥＤランプ、音声出力装置等）を別に備える場合、駆動情報分析部８は、予測した半導体レーザ２５の残存寿命が、登録値記憶部８０に記憶された閾値（例えば、１，０００時間）を切ったとき、警告表示手段を介して、情報記録装置１ａの交換を促すメッセージやデータのバックアップ、別の情報記録装置１ａへのデータ移動を促すメッセージを表示させる構成であっても良い。或いは、警報音を流してユーザに知らせる構成であっても良い。
【０２１４】
（動作例３−３）
また、計算機制御部１０１は、情報記録装置１ａが備える磁気ヘッド２ａ〜２ｃのうち、最も残存寿命が長い半導体レーザ２５を有する磁気ヘッドに対応するディスク媒体を自動的に選択して記録動作を行うように制御する構成であっても良い。これにより、安定した情報の記録が可能となるため、計算機１００の記録信頼性を向上させることができる。
【０２１５】
（動作例３−４）
また、計算機制御部１０１は、情報記録装置１ａが備える駆動情報分析部８によって予測された半導体レーザ２５の残存寿命が、登録値記憶部８０に記憶された閾値（例えば、１，０００時間）を切ったとき、当該半導体レーザ２５を有する磁気ヘッドに対応するディスク媒体への新規書き込みを行わず、書き換えのみにする構成であっても良い。
【０２１６】
（動作例３−５）
また、計算機制御部１０１は、情報記録装置１ａが備える複数の磁気ヘッド２ａ〜２ｃが有する半導体レーザ２５のうち、少なくとも１つの半導体レーザ２５が寿命に到したとき、情報記録装置１ａに対して、当該半導体レーザ２５を有する磁気ヘッドに対応するディスク媒体への書き込み／書き換えを禁止し、読み取り専用にする構成であっても良い。或いは、計算機制御部１０１は、当該ディスク媒体に記録された情報を他の２つのディスク媒体、または別に設けられた情報記録装置（図示せず）へ移す構成であっても良い。
【０２１７】
〔実施形態３〕
本発明の情報記録装置に関する他の実施形態について、図１２に基づいて説明すれば、以下のとおりである。
【０２１８】
なお、説明の便宜上、実施形態１及び実施形態２にて説明した図面と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
【０２１９】
本実施形態では、実施形態１で説明した図８に示される情報記録装置１ａを映像記録装置１１０に適用した場合について説明する。映像記録装置１１０は、映像の録画及び再生等の用途に用いられる。
【０２２０】
＜映像記録装置の構成＞
図１２は、本実施形態に係る映像記録装置１１０の要部構成を示すブロック図である。図１２に示されるように、映像記録装置１１０は、情報記録装置１ａ、中央演算部１０２、主記憶部１０３、入力インターフェース１０５、音声出力部１０６、テレビチューナ１１１、及び装置制御部１１２を備えている。
【０２２１】
テレビチューナ１１１は、テレビ信号が入力され、ユーザによって選択されたチャンネルのテレビ信号を分離するものである。分離されたテレビ信号は、装置制御部１１２により映像に変換され、情報記録装置１ａに記録される。
【０２２２】
情報記録装置１ａは、映像記録装置１１０内で情報が記録される部分であり、内部に備えられる半導体レーザ２５の残存寿命や劣化状態の予測を行う。
【０２２３】
＜映像記録装置の動作＞
次に、映像記録装置１１０の具体的な動作例について説明する。映像記録装置１１０が備える情報記録装置１ａは、下記に示す動作を行う。なお、下記に示す動作と、実施形態１において説明した動作のうち、いずれか１つの動作が行われてもよいし、或いは２つ以上の動作が複合的に行われてもよい。
【０２２４】
（動作例４−１）
駆動情報分析部８は、情報記録装置１ａが備える駆動情報分析部８によって予測された半導体レーザ２５の残存寿命が、登録値記憶部８０に記憶された閾値（例えば、１，０００時間）を切ったとき、駆動情報分析部８は、警告情報出力部７から装置制御部１１２に警告信号Ｓ６を出力させる。そして、装置制御部１１２は、警告情報出力部７から出力された警告信号Ｓ６を取得したとき、計算機制御部１０１は、警報音を発するように音声出力部１０６を制御する。
【０２２５】
（動作例４−２）
また、装置制御部１１２は、磁気ヘッド２ａ〜２ｃのうち、最も残存寿命が長い半導体レーザ２５を有する磁気ヘッドに対応するディスク媒体を自動的に選択して記録動作を行うように制御する構成であっても良い。これにより、安定した情報の記録が可能となるため、計算機１００の記録信頼性を向上させることができる。
【０２２６】
（動作例４−３）
また、装置制御部１１２は、情報記録装置１ａが備える駆動情報分析部８によって予測された半導体レーザ２５の残存寿命が、登録値記憶部８０に記憶された閾値（例えば、１，０００時間）を切ったとき、当該半導体レーザ２５を有する磁気ヘッドに対応するディスク媒体への新規書き込みを行わず、書き換えのみにする構成であっても良い。
【０２２７】
（動作例４−４）
また、装置制御部１１２は、情報記録装置１ａが備える複数の磁気ヘッド２ａ〜２ｃが有する半導体レーザ２５のうち、少なくとも１つの半導体レーザ２５が寿命に到したとき、情報記録装置１ａに対して、当該半導体レーザ２５を有する磁気ヘッドに対応するディスク媒体への書き込み／書き換えを禁止し、読み取り専用にする構成であっても良い。或いは、計算機制御部１０１は、当該ディスク媒体に記録された情報を他の２つのディスク媒体、または別に設けられた情報記録装置（図示せず）へ移す構成であっても良い。
【０２２８】
＜補足＞
なお、本発明は、下記のように表現することも可能である。すなわち、本発明に係る情報記録装置は、光発生素子及び磁界発生素子を備えたヘッドと、前記ヘッドの動作を制御するヘッド制御部と、情報の記録が可能な情報記録媒体と、を有する情報記録装置であって、前記光発生素子の動作状態を検出する光発生素子動作状態検出手段と、前記検出された前記光発生素子の動作状態を記録し、履歴情報として残しておくことが可能な履歴情報記録手段と、を備えることを特徴とする。
【０２２９】
また、本発明に係る情報記録装置は、前記ヘッドが前記情報記録媒体に記録された情報を読み出すことが可能な再生素子を有することを特徴とする。
【０２３０】
また、本発明に係る情報記録装置は、前記情報記録装置は前記ヘッドを２以上有し、前記ヘッド制御部は前記２以上のヘッドを個別に制御することを特徴とする置。
【０２３１】
また、本発明に係る情報記録装置は、前記動作状態を用いて、前記光発生素子の特性を予測し、履歴情報として残すことを特徴とする。
【０２３２】
また、本発明に係る情報記録装置は、前記履歴情報を用いて、前記光発生素子の特性を予測することを特徴とする。
【０２３３】
また、本発明に係る情報記録装置は、前記動作状態と、前記履歴情報の両方を利用して前記光発生素子の特性を予測することを特徴とする。
【０２３４】
また、本発明に係る情報記録装置は、前記動作状態が前記光発生素子の駆動電流及び駆動温度であることを特徴とする。
【０２３５】
また、本発明に係る情報記録装置は、前記光発生素子の特性が残りの素子寿命であることを特徴とする。
【０２３６】
また、本発明に係る情報記録装置は、前記光発生素子の特性が正常使用条件下における駆動による劣化以外の前記光発生素子の劣化要因の有無であることを特徴とする。
【０２３７】
また、本発明に係る情報記録装置は、前記光発生素子の正常使用条件下における駆動による劣化以外の有無の予測は、現時点までの前記履歴情報を９０％以上利用して予測された前記光発生素子の残り寿命と、前記光発生素子の前記履歴情報のうち、履歴取得開始から最初の１０％以内に含まれる情報を元に予測される、前記不可逆的特性要因の有無の予測が行われる時点における前記光発生素子の残りの素子寿命を比較することで行われることを特徴とする。
【０２３８】
また、本発明に係る情報記録装置は、前記予測された特性が予め設定された設定値を超えた場合、前記情報記録装置の利用者に対して出力することを特徴とする。
【０２３９】
また、本発明に係る情報記録装置は、前記予測された特性が予め設定された設定値を超えた場合、前記ヘッド制御部は前記設定値を超えたヘッドの前記光発生素子の動作を通常動作とは異なる動作をさせることを特徴とする。
【０２４０】
また、本発明に係る情報記録装置は、前記ヘッド制御部は、前記履歴情報に基づき、前記２以上の記録ヘッドの動作がそれぞれ異なるように、前記複数の記録ヘッドをそれぞれ制御することを特徴とする。
【０２４１】
また、本発明に係る情報記録装置は、光発生素子及び磁界発生素子を備えたヘッドと、前記ヘッドの動作を制御するヘッド制御部と、情報の記録が可能な情報記録媒体と、前記光発生素子の動作状態を検出する光発生素子動作状態検出手段と、を有する情報記録装置であって、前記検出された光発生素子の動作状態を、前記情報記録装置内に予め設定された設定値と比較し、異常を検出することを特徴とする。
【０２４２】
また、本発明に係る情報記録装置は、前記異常が検出された場合、前記ヘッド制御部は前記光発生素子の動作を通常とは異なる動作をさせることを特徴とする。
【０２４３】
また、本発明に係る情報記録装置は、前記異常が検出された場合、前記ヘッド制御部は前記光発生素子の動作を停止させることを特徴とする。
【０２４４】
また、本発明に係る情報記録装置は、前記異常が検出された場合はこの異常情報を利用者に対して出力することを特徴とする。
【０２４５】
また、本発明に係る情報記録装置は、前記異なる動作が前記ヘッドの新規情報記録を停止し、情報の書き換え及び再生に限定する動作であることを特徴とする。
【０２４６】
また、本発明に係る情報記録装置は、前記異なる動作が前記ヘッドの情報記録を停止する動作であることを特徴とする。
【０２４７】
また、本発明に係る情報記録装置の制御方法は、光発生素子動作検出手段により検出された光発生素子の動作状態を検出するステップと、光発生素子動作状態の履歴情報を検出するステップと、前記動作状態もしくは履歴情報を予め設定された設定値と比較し、障害予測に係る異常を検出するステップと、異常が検出された場合はこの異常情報を出力するステップと、を備えることを特徴とする。
【０２４８】
また、本発明に係る計算機は、前記情報記録装置を備え、若しくは前記情報記録装置の制御方法を実行することを特徴とする。
【０２４９】
また、本発明に係る映像記録装置は、前記情報記録装置を備え、若しくは前記情報記録装置の制御方法を実行することを特徴とする。
【産業上の利用可能性】
【０２５０】
本発明は、ハードディスク等の磁気記録媒体を備えた各種の装置に適用することができる。
【符号の説明】
【０２５１】
１    情報記録装置
１ａ  情報記録装置
２    磁気ヘッド（ヘッド部）
２ａ  磁気ヘッド（ヘッド部）
２ｂ  磁気ヘッド（ヘッド部）
２ｃ  磁気ヘッド（ヘッド部）
２ｄ  磁気ヘッド（ヘッド部）
３    磁気ヘッド制御部（ヘッド制御部）
４    駆動情報取得部
５    駆動情報記憶部
６    異常検出部
７    警告情報出力部
８    駆動情報分析部
１０    ディスク媒体（磁気記録媒体）
２１    記録部
２２    再生部
２３    温度センサ
２４    磁場発生部（磁界発生素子）
２５    半導体レーザ（光発生素子）
２６    受光素子
２６ａ  分光素子
２７    近接場光発生部
２８    再生素子
２９    スライダ
３０    サスペンション
６０    設定値記憶部
８０    登録値記憶部
１００    計算機
１０１    計算機制御部
１０２    中央演算部
１０３    主記憶部
１０４    表示部
１０５    入力インターフェース
１０６    音声出力部
１１０    映像記録装置
１１１    テレビチューナ
１１２    装置制御部
【図１】
2013077367.tif 000019
【図２】
2013077367.tif 000020
【図３】
2013077367.tif 000021
【図４】
2013077367.tif 000022
【図５】
2013077367.tif 000023
【図６】
2013077367.tif 000024
【図７】
2013077367.tif 000025
【図８】
2013077367.tif 000026
【図９】
2013077367.tif 000027
【図１０】
2013077367.tif 000028
【図１１】
2013077367.tif 000029
【図１２】
2013077367.tif 000030
【図１３】
2013077367.tif 000031
【手続補正書】
【提出日】平成24年6月29日(2012.6.29)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報の記録が可能な磁気記録媒体を加熱するための光発生素子、及び当該磁気記録媒体に情報を記録するための磁界発生素子を有するヘッド部と、
前記光発生素子の動作時における駆動状態を、当該光発生素子の駆動情報として取得する駆動情報取得部と、
前記駆動情報取得部により取得された前記駆動情報を記憶可能な駆動情報記憶部と、
前記ヘッド部の動作を制御するヘッド制御部と、
を備えることを特徴とする情報記録装置。
【請求項２】
前記ヘッド部は、前記磁気記録媒体に記録された情報を読み出すための再生素子をさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の情報記録装置。
【請求項３】
少なくとも２つの前記ヘッド部を備え、
前記ヘッド制御部は、前記ヘッド部を個別に制御することを特徴とする請求項１または２に記載の情報記録装置。
【請求項４】
前記ヘッド制御部は、前記駆動情報に応じて、前記ヘッド部の動作がそれぞれ異なるように、前記ヘッド部を制御することを特徴とする請求項３に記載の情報記録装置。
【請求項５】
前記駆動情報を分析して、前記光発生素子の機能障害に関する特性を予測する駆動情報分析部をさらに備え、
前記駆動情報分析部は、予測した前記特性を前記ヘッド制御部に出力し、
前記ヘッド制御部は、前記駆動情報分析部から出力された前記特性に基づいて、前記ヘッド部の動作を制御することを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【請求項６】
前記駆動情報分析部は、前記駆動情報取得部によって取得された前記駆動情報に基づいて、前記特性を予測することを特徴とする請求項５に記載の情報記録装置。
【請求項７】
前記駆動情報分析部は、前記駆動情報記憶部に記憶された前記駆動情報に基づいて、前記特性を予測することを特徴とする請求項５に記載の情報記録装置。
【請求項８】
前記駆動情報分析部は、前記駆動情報取得部によって取得された駆動情報、および前記駆動情報記憶部に記憶された前記駆動情報に基づいて、前記特性を予測することを特徴とする請求項５に記載の情報記録装置。
【請求項９】
前記特性は、前記光発生素子の残存寿命であることを特徴とする請求項５から８のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【請求項１０】
前記特性は、突発的な劣化要因により生じた前記光発生素子の劣化の有無であることを特徴とする請求項５から８のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【請求項１１】
前記突発的な劣化要因により生じた前記光発生素子の劣化の有無の予測は、前記駆動情報記憶部に記憶された前記駆動情報のうち、予測実行点までの９０％以上、１００％未満期間に記憶された前記駆動情報を用いて予測された前記光発生素子の残存寿命と、前記駆動情報記憶部に記憶された前記駆動情報のうち、前記駆動情報の記憶を開始した時点から１０％以下の期間に記憶された前記駆動情報に基づいて予測した前記光発生素子の残存寿命と、を比較することで行われることを特徴とする請求項１０に記載の情報記録装置。
【請求項１２】
前記駆動情報分析部は、前記特性を示す値が所定の閾値を超えたとき、当該記特性を示す値が所定の閾値を超えたことを利用者に通知させることを特徴とする請求項６から１１のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【請求項１３】
前記ヘッド制御部は、前記特性を示す値が所定の閾値を超えているとき、当該閾値を超えた光発生素子を有するヘッド部の動作内容を、通常の動作内容から変更することを特徴とする請求項６から１２のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【請求項１４】
前記駆動情報は、前記光発生素子の駆動電流または駆動温度を含むことを特徴とする請求項１から１３のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【請求項１５】
情報の記録が可能な磁気記録媒体を加熱するための光発生素子、及び当該磁気記録媒体に情報を記録するための磁界発生素子を有するヘッド部と、
前記光発生素子の動作時における駆動状態を、当該光発生素子の駆動情報として取得する駆動情報取得部と、
前記駆動情報取得部により取得された前記駆動情報で示される値と、予め設定された設定値と比較し、異常を検出する異常検出部と、
前記異常検出部により検出された検出結果に基づいて、前記ヘッド部の動作を制御するヘッド制御部と、
を備えることを特徴とする情報記録装置。
【請求項１６】
前記ヘッド制御部は、前記異常検出部により前記光発生素子の異常が検出されたとき、当該異常が検出された光発生素子を有するヘッド部の動作内容を、通常の動作内容から変更することを特徴とする請求項１５に記載の情報記録装置。
【請求項１７】
前記ヘッド制御部は、前記異常検出部により前記光発生素子の異常が検出されたとき、当該異常が検出された光発生素子の動作を停止させることを特徴とする請求項１５に記載の情報記録装置。
【請求項１８】
前記異常検出部は、前記光発生素子に異常を検出したとき、当該光発生素子に異常が生じたことを利用者に対して通知させることを特徴とする請求項１５から１７のいずれか１項に記載の情報記録装置。
【請求項１９】
前記ヘッド制御部は、前記ヘッド部による前記磁気記録媒体への新規情報の記録を禁止して、情報の書き換えおよび再生に限定するように当該ヘッド部の動作内容を変更することを特徴とする請求項１３または１６に記載の情報記録装置。
【請求項２０】
前記ヘッド制御部は、前記ヘッド部による前記磁気記録媒体への情報の記録を停止するように当該ヘッド部の動作内容を変更することを特徴とする請求項１３または１６に記載の情報記録装置。
【請求項２１】
情報の記録が可能な磁気記録媒体を加熱するための光発生素子、及び当該磁気記録媒体に情報を記録するための磁界発生素子を有するヘッド部を用いて、情報を記録する記録ステップと、
前記記録ステップにおける前記光発生素子の動作時における駆動状態を、当該光発生素子の駆動情報として駆動情報取得ステップと、
前記駆動情報取得ステップにて取得した前記駆動情報、及び前記駆動情報取得ステップにて取得した前記駆動情報を記憶した当該駆動情報の履歴のいずれか、または双方に応じて、前記ヘッド部の動作を制御するヘッド制御ステップと、
を含むこと特徴とする情報記録装置の制御方法。
【請求項２２】
請求項１から２０のいずれか１項に記載の情報記録装置を備えることを特徴とする計算機。
【請求項２３】
請求項１から２０のいずれか１項に記載の情報記録装置を備えることを特徴とする映像記録装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３０】
上記の構成では、駆動情報取得部によって取得された光発生素子の駆動情報を記憶可能な駆動情報記憶部を備える。そのため、上記の構成によれば、光発生素子の駆動情報を過去に遡って参照することが可能になるので、駆動情報の履歴を用いた（利用した）アプリケーションを適用することで、情報記憶装置に新たな機能を付加することができる。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４３】
上記の構成によれば、駆動情報分析部は、光発生素子の残存寿命または劣化状態等を予測してヘッド制御部に出力するので、ヘッド制御部はこの特性に基づいてヘッド部を制御することができる。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５６】
また、本発明に係る情報記憶装置では、前記駆動情報分析部は、前記特性を示す値が所定の閾値を超えたとき、当該記特性を示す値が所定の閾値を超えたことを利用者に対して通知させることが好ましい。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７８】
本発明に係る情報記憶装置の制御方法は、上記の課題を解決するために、情報の記録が可能な磁気記録媒体を加熱するための光発生素子、及び当該磁気記録媒体に情報を記録するための磁界発生素子を有するヘッド部を用いて、情報を記録する記録ステップと、前記記録ステップにおける前記光発生素子の動作時における駆動状態を、当該光発生素子の駆動情報として駆動情報取得ステップと、前記駆動情報取得ステップにて取得した前記駆動情報、及び前記駆動情報取得ステップにて取得した前記駆動情報を記憶した当該駆動情報の履歴のいずれか、または双方に応じて、前記ヘッド部の動作を制御するヘッド制御ステップと、を含むこと特徴とする。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００７９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００７９】
上記の構成では、駆動情報取得ステップにて取得した駆動情報、及び駆動情報取得ステップにて取得した駆動情報を記憶した当該駆動情報の履歴のいずれか、または双方に応じて、ヘッド部の動作を制御するヘッド制御ステップを含む。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００８０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００８０】
そのため、上記の構成によれば、光発生素子の駆動情報を過去に遡って参照することが
可能になるので、駆動情報の履歴を用いた（利用した）アプリケーションを適用することで、情報記憶装置に新たな機能を付加することができる。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２３０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２３０】
また、本発明に係る情報記録装置は、前記情報記録装置は前記ヘッドを２以上有し、前記ヘッド制御部は前記２以上のヘッドを個別に制御することを特徴とする。