(57)【要約】      （修正有）【課題】非破壊検査を行った場合に、電池などの蓄電素子の容器の内部に撮像された物体が異物であるか否かを容易に判定することができる蓄電素子を提供する。【解決手段】正極板と負極板とを有する電極体と、電極体を収容する容器とを備える蓄電素子であって、非破壊検査で検出することが可能な参照物１２７を備える。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
正極と負極とを有する電極体と、前記電極体を収容する容器とを備える蓄電素子であって、
非破壊検査で検出することが可能な参照部を備える
蓄電素子。
【請求項２】
前記参照部は、前記容器の内部に配置される
請求項１に記載の蓄電素子。
【請求項３】
前記電極体は、前記正極および前記負極と、セパレータとが積層され、かつ、捲回されることにより成り、
前記参照部は、前記電極体の最内周に配置される
請求項１または２に記載の蓄電素子。
【請求項４】
前記参照部は、サイズが０．１〜５．０ｍｍである
請求項１から３のいずれか１項に記載の蓄電素子。
【請求項５】
請求項１から４のいずれか１項に記載の蓄電素子を撮像し、
撮像された撮像結果から前記蓄電素子の内部に配置される参照部を認識し、
前記参照部を認識した認識結果と前記撮像結果との比較に基づいて、前記蓄電素子に異常があるか否かを判定する
非破壊検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、蓄電素子および蓄電素子についての非破壊検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、燃料電池の内部の試料の異常を非破壊的に検出する非破壊検査装置がある（特許文献１参照）。特許文献１の技術では、解析手段で解析された固有振動数と測定手段によって測定された共振周波数とを比較して試料の特性を同定することにより、試料の特性が既知である場合に、試料の内部に生じる異常、例えば、亀裂や剥離等の欠陥や、内部応力などを非破壊的に検出している。
【０００３】
ところで、従来、溶接などの電池の製造時に、金属粒子などの異物が電池の容器の内部に混入される場合がある。この場合に、異物のサイズや位置によっては電池の内部において絶縁不良などの異常作動をする恐れがある。このため、製造後の電池に対してＣＴスキャンなどの非破壊検査を行うことにより、電池の内部に電池に悪影響を及ぼす異物があるか否かの判定を行なっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１０−２４９６２９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、ＣＴスキャンなどの非破壊検査装置によって電池の内部の非破壊検査を行う場合、例えば、異物を見分ける比較対象が、例えば電池内部の集電体やリベットなどであり、それらは電池の種類やサイズによって異なるため、撮像された物体のサイズや位置を正確に判定することが難しいという問題がある。また、非破壊検査の結果として撮像されるデータにはノイズが含まれるため、撮像された物体が異物であるかノイズであるかを判定することは難しいという問題がある。このため、電池内部において撮像された物体が異物であるか否かを正確に判定するには、検査者に経験が必要であり、検査者に負担がかかっている。
【０００６】
そこで、本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、非破壊検査を行った場合に、電池などの蓄電素子の容器の内部に撮像された物体が異物であるか否かを容易に判定することができる蓄電素子を提供することを目的とする。また、その蓄電素子の異常の有無の判定を非破壊検査で行う方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、正極と負極とを有する電極体と、前記電極体を収容する容器とを備える蓄電素子であって、非破壊検査で検出することが可能な参照部を備える。
【０００８】
これによれば、非破壊検査で検出することが可能な参照部を有するため、蓄電素子の性能に悪影響を及ぼす異物が製造時に混入された場合であっても、非破壊検査により参照部を認識した結果を利用することにより異物を判定する際のノイズの影響を低減することができる。このため、検査者は、非破壊検査を行うことにより蓄電素子内部に異物が混入されているか否かを容易に判別することができる。
【０００９】
また、前記参照部は、前記容器の内部に配置されてもよい。
【００１０】
これによれば、非破壊検査で検出することが可能な参照部を容器内部に有するため、蓄電素子の性能に悪影響を及ぼす異物が製造時に混入された場合であっても、非破壊検査の結果からノイズの影響を低減することができる。このため、検査者は、非破壊検査を行うことにより蓄電素子内部に異物が混入されているか否かを容易に判別することができる。
【００１１】
また、前記電極体は、前記正極および前記負極と、セパレータとが積層され、かつ、捲回されることにより成り、前記参照部は、前記電極体の最内周に配置されてもよい。
【００１２】
また、前記参照部は、サイズが０．１〜５．０ｍｍであってもよい。
【００１３】
これによれば、参照部のサイズを、異物であると判定されるサイズと同じ０．１〜５．０ｍｍとしているため、参照部が非破壊検査において認識されたサイズを異物の判定に利用できる。
【００１４】
また、上記目的を達成するために、請求項１から４のいずれか１項に記載の蓄電素子を撮像し、撮像された撮像結果から前記蓄電素子の内部に配置される参照部を認識し、前記参照部を認識した認識結果と前記撮像結果との比較に基づいて、前記蓄電素子に異常があるか否かを判定する。
【００１５】
これによれば、電池の内部の異常を容易に判別することができる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明に係る蓄電素子によれば、非破壊検査を行うことにより蓄電素子内部に異物が混入されているか否かを容易に判別することができる。また、本発明に係る非破壊検査方法によれば、電池の内部の異常を容易に判別することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の実施の形態１の蓄電素子の外観を模式的に示す斜視図である。
【図２】蓄電素子の容器本体を分離させた場合の構成を示す斜視図である。
【図３】電極体の外観を模式的に示す斜視図である。
【図４】参照物の配置位置と巻芯の構成とを示す図である。
【図５】非破壊検査装置の概略を示す図である。
【図６】非破壊検査装置の機能ブロック図である。
【図７】非破壊検査方法の処理を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。なお、以下で説明する実施の形態は、いずれも本発明の好ましい一具体例を示すものである。以下の実施の形態で示される形状、材料、構成要素、構成要素の配置位置および接続形態などは、一例であり、本発明を限定する主旨ではない。本発明は、特許請求の範囲だけによって限定される。よって、以下の実施の形態における構成要素のうち、本発明の最上位概念を示す独立請求項に記載されていない構成要素については、本発明の課題を達成するのに必ずしも必要ではないが、より好ましい形態を構成するものとして説明される。
【００１９】
（実施の形態１）
図１は、蓄電素子の外観を模式的に示す斜視図である。図２は、蓄電素子の容器本体を分離させた場合の構成を示す斜視図である。
【００２０】
蓄電素子１０は、電気を充電し、また、電気を放電することのできる二次電池であり、より具体的には、リチウムイオン二次電池などの非水電解質電池である。
【００２１】
同図に示すように、蓄電素子１０は、容器１００と、正極端子２００と、負極端子３００とを備え、容器１００は、上壁である蓋板１１０を備えている。また、容器１００内方には、電極体１２０と、正極集電体１３０と、負極集電体１４０とが配置されている。
【００２２】
なお、蓄電素子１０の容器１００の内部には電解液などの液体が封入されているが、当該液体の図示は省略する。また、蓄電素子１０は、非水電解質電池には限定されず、非水電解質電池以外の二次電池であってもよいし、キャパシタであってもよい。
【００２３】
容器１００は、金属からなる矩形筒状で底を備える容器本体１１１と、当該容器本体１１１の開口を閉塞する金属製の蓋板１１０とで構成されている。また、容器１００は、電極体１２０等を内部に収容後、蓋板１１０と容器本体１１１とが溶接等されることにより、内部を密封することができるものとなっている。
【００２４】
電極体１２０は、正極と負極とセパレータとを備え、電気を蓄えることができる部材である。具体的には、電極体１２０は、負極と正極との間にセパレータが挟み込まれるように、セパレータを介して負極および正極を捲回して形成され、全体が長円形状とされている。なお、同図では、電極体１２０の形状としては長円形状を示したが、円形状または楕円形状でもよい。
【００２５】
正極端子２００は、電極体１２０の正極に電気的に接続された電極端子であり、負極端子３００は、電極体１２０の負極に電気的に接続された電極端子である。つまり、正極端子２００および負極端子３００は、電極体１２０に蓄えられている電気を蓄電素子１０の外部空間に導出し、また、電極体１２０に電気を蓄えるために蓄電素子１０の内部空間に電気を導入するための金属製の電極端子である。また、正極端子２００および負極端子３００は、電極体１２０の上方に配置された蓋板１１０に取り付けられている。
【００２６】
正極集電体１３０は、電極体１２０の正極と容器１００の側壁との間に配置され、正極端子２００と電極体１２０の正極とに電気的に接続される導電性と剛性とを備えた部材である。なお、正極集電体１３０は、電極体１２０の正極と同様、アルミニウムで形成されている。
【００２７】
負極集電体１４０は、電極体１２０の負極と容器１００の側壁との間に配置され、負極端子３００と電極体１２０の負極とに電気的に接続される導電性と剛性とを備えた部材である。なお、負極集電体１４０は、電極体１２０の負極と同様、銅で形成されている。
【００２８】
図３は、電極体の外観を模式的に示す斜視図である。図４は、参照物の配置位置と巻芯の構成とを示す図である。
【００２９】
電極体１２０は、図３に示すように、活物質が表面に塗布された正極板１２２および負極板１２３と、２枚のセパレータ１２４、１２５とが交互に積層されるように、巻芯１２６を中心（最内周）として捲回されて成る。つまり、電極体１２０は、正極板１２２と、第一セパレータ１２４と、負極板１２３と、第二セパレータ１２５とがこの順に積層されてなる多層体１２１が、断面が長円形状になるように巻芯１２６の外周に捲回されることにより成る。
【００３０】
さらに詳しくは、正極板１２２と負極板１２３は、セパレータ１２４、１２５を介し、長尺帯状の幅方向（Ｙ方向）に互いにずらして、当該幅方向に沿う回転軸を中心に長円形状に捲回されている。そして、正極板１２２および負極板１２３は、それぞれのずらす方向の端縁部を活物質層の非形成部とすることにより、捲回軸の一端側には、正極活物質層が形成されていない正極基材であるアルミニウム箔が露出し、捲回軸の他端側には、負極活物質層が形成されていない負極基材である銅箔が露出している。また、電極体１２０の捲回軸方向（Ｙ方向）の両端部には正極集電体１３０および負極集電体１４０が上記捲回軸方向（Ｙ方向）と垂直方向（Ｚ方向）に延びて配置されている。
【００３１】
正極板１２２は、アルミニウムからなる長尺帯状の正極集電体シートの表面に、正極活物質層が形成されたものである。なお、本発明に係る蓄電素子１０に用いられる正極板１２２は、特に従来用いられてきたものと異なるところはなく、通常用いられているものが使用できる。
【００３２】
例えば、正極活物質としては、ＬｉＭＰＯ４、ＬｉＭＳｉＯ４、ＬｉＭＢＯ３（ＭはＦｅ、Ｎｉ、Ｍｎ、Ｃｏ等から選択される１種または２種以上の遷移金属元素）等のポリアニオン化合物、チタン酸リチウム、マンガン酸リチウム等のスピネル化合物、ＬｉＭＯ２（ＭはＦｅ、Ｎｉ、Ｍｎ、Ｃｏ等から選択される１種または２種以上の遷移金属元素）等のリチウム遷移金属酸化物等を用いることができる。
【００３３】
負極板１２３は、銅からなる長尺帯状の負極集電体シートの表面に、負極活物質層が形成されたものである。なお、本発明に係る蓄電素子１０に用いられる負極板１２３は、特に従来用いられてきたものと異なるところはなく、通常用いられているものが使用できる。
【００３４】
例えば、負極活物質としては、リチウムイオンを吸蔵放出可能な負極活物質であれば、適宜公知の材料を使用できる。例えば、リチウム金属、リチウム合金（リチウム−アルミニウム、リチウム−鉛、リチウム−錫、リチウム−アルミニウム−錫、リチウム−ガリウム、およびウッド合金等のリチウム金属含有合金）の他、リチウムを吸蔵・放出可能な合金、炭素材料（例えば黒鉛、難黒鉛化炭素、易黒鉛化炭素、低温焼成炭素、非晶質カーボン等）、金属酸化物、リチウム金属酸化物（Ｌｉ４Ｔｉ６Ｏ１２等）、ポリリン酸化合物などが挙げられる。
【００３５】
巻芯１２６は、ポリプロピレン、ポリエチレン等の絶縁性を有する長尺帯状の材料からなる。また、巻芯１２６は、図３に示すように、３つ折りにされた状態でＹ方向に沿って延びる溶着部１２９において溶着されて成る。電極体１２０の最内周となる巻芯１２６には、参照部としての参照物１２７が粘着テープ１２８によりテープ留めされている。
【００３６】
参照物１２７は、Ｘ線により検出可能な金属粒子から成る。参照物１２７は、粒子径が０．１〜５．０ｍｍであることが好ましい。なお、参照物１２７は、金属粒子などの球体に限らずに金属片であってもよい。このように、参照物１２７が金属片である場合、そのサイズは、上記のように０．１〜５．０ｍｍであることが好ましい。また、参照物１２７は、２つ以上配置されてもよい。複数の参照物１２７を配置する場合には、サイズの異なる参照物を配置することが好ましく、これにより、より確実に判別することが可能となる。また、参照物１２７としては、Ｘ線により検出可能な物質であればよい。なお、「Ｘ線により検出可能」とは、例えばＸ線を照射して撮像した場合に、あらかじめ定められた輝度値よりも大きい値で撮像されることを言う。
【００３７】
図５は、本実施の形態１に係る蓄電素子の非破壊検査方法を行うための非破壊検査装置の概略を示す図である。図６は、非破壊検査装置の機能ブロック図である。
【００３８】
非破壊検査装置４００は、Ｘ線照射部４１０と、移動部４２０と、撮像部４３０と、表示部４４０と、制御部４５０とを備える。本実施の形態の非破壊検査装置４００は、ＣＴスキャン装置である。
【００３９】
Ｘ線照射部４１０は、非破壊検査の対象となる物体（本実施の形態では蓄電素子１０）に、Ｘ線を照射するＸ線管である。
【００４０】
移動部４２０は、非破壊検査の対象となる物体を載せるための台座であって、Ｘ方向、Ｙ方向、およびＺ方向に移動可能であり、また、Ｚ方向に平行な仮想線を軸として回転可能な台座である。
【００４１】
撮像部４３０は、蓄電素子１０を透過したＸ線を蛍光体に当てることにより可視光変換し、可視光変更された光をＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅ）イメージセンサ、ＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ  Ｍｅｔａｌ  Ｏｘｉｄｅ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）イメージセンサなどの固体撮像素子により検出するＸ線検出器である。撮像部４３０は、一度の非破壊検査において、移動部４２０が蓄電素子１０を載せて移動（主に回転移動）させながら複数回（例えば、３００〜２０００回）撮像する。これにより、蓄電素子１０に対して３６０度全方向からのＸ線透過画像データが得られる。
【００４２】
表示部４４０は、撮像部４３０によって撮像された結果である複数のＸ線透過画像データが制御部４５０により画像処理された後の任意の断面図を表示する。表示部４４０は、例えばＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｔ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ：液晶表示装置）である。
【００４３】
制御部４５０は、Ｘ線照射部４１０、移動部４２０、撮像部４３０および表示部４４０の各部の制御を行う。制御部４５０は、照射制御部４５１、移動制御部４５２、撮像制御部４５３、表示制御部４５４、認識部４５５および異常判定部４５６を備えている。制御部４５０は、例えば、パーソナルコンピュータである。
【００４４】
照射制御部４５１は、Ｘ線照射部４１０を制御する。具体的には、照射制御部４５１は、Ｘ線照射部４１０により移動部４２０上に載せられた蓄電素子１０に対して、Ｘ線を照射させる。
【００４５】
移動制御部４５２は、移動部４２０を制御して、移動部４２０上に載せられた蓄電素子１０の中心が撮像部４３０の中心において撮像されるように、Ｘ方向、Ｙ方向およびＺ方向に移動させる。その後に、移動制御部４５２は、移動部４２０を制御して、撮像部４３０の中心において撮像される位置に移動された蓄電素子１０をＺ方向に平行な仮想線を軸として３６０度回転移動させる。
【００４６】
撮像制御部４５３は、移動制御部４５２が移動部４２０を制御して蓄電素子１０を３６０度回転移動させている間に、予め定められたタイミングで複数回（例えば、３００〜２０００回）撮像部４３０に撮像させる。
【００４７】
表示制御部４５４は、撮像部４３０により撮像された結果である複数のＸ線透過画像データに基づいて、任意の位置の断面画像データを生成し、生成した断面画像データが示す断面画像を表示部４４０に表示させる。
【００４８】
認識部４５５は、表示制御部４５４により生成された断面画像に基づいて、蓄電素子１０内部に備えられる参照物１２７を認識する。具体的には、認識部４５５は、蓄電素子１０内部において予め定められた参照物１２７の位置に基づいて、生成された断面画像のうちで当該位置に対応する領域であって、予め定められた輝度値を超えている領域を、参照物１２７が撮像された領域であると認識する。つまり、認識部４５５は、参照物１２７を認識した結果として、断面画像において映し出された予め定められた輝度値を超えた領域の集合のサイズと、予め定められた参照物１２７のサイズとの対応付けを認識結果として生成する。なお、認識部４５５は、表示制御部４５４により生成された断面画像に基づいて参照物１２７を認識しているが、これに限らずに、撮像部４３０により撮像された結果である複数のＸ線透過画像データに基づいて参照物１２７を認識してもよい。
【００４９】
異常判定部４５６は、認識部４５５により生成された認識結果と、表示制御部４５４により生成された断面画像との比較に基づいて、蓄電素子１０に異常があるか否かを判定する異常判定を行う。具体的には、異常判定部４５６は、認識部４５５により生成された認識結果に基づいて、蓄電素子１０内部を撮像した撮像結果の中に、蓄電素子１０の性能に悪影響を及ぼす異物があるか否かを判定することにより上記異常判定を行う。つまり、断面画像のうちの予め定められた輝度値よりも大きい輝度値を有する画素の領域（高輝度画素領域）のサイズが、認識部４５５により生成された参照物１２７の認識結果（参照物１２７のサイズ）を基準として生成される異物を判定するための数値範囲（判定数値範囲）に、含まれていれば、蓄電素子１０に異常があると判定する。例えば、高輝度画素領域の最大幅が異物サイズ（例えば０．１〜５．０ｍｍ）に含まれるか否かを判定する。そして、高輝度画素領域のサイズが判定数値範囲に含まれている場合には、高輝度画素領域が、蓄電素子１０の性能に悪影響を及ぼす異物が存在する領域であることを示している。これにより、異常判定部４５６は、蓄電素子１０に異物が混入されていることを判定できる。また、当該数値範囲に含まれている輝度値の集合（領域）がない場合には、蓄電素子１０に異物が混入されていないことを判定することになる。なお、異常判定部４５６により、蓄電素子１０に異常があると判定された場合には、表示制御部４５４が、蓄電素子１０内部において撮像された異物の位置、形状およびサイズを示す情報を表示部４４０に表示することにより検査者に通知する。なお、異常判定部４５６は、表示制御部４５４により生成された断面画像に基づいて異常判定を行なっているが、これに限らずに、撮像部４３０により撮像された結果である複数のＸ線透過画像データに基づいて異常判定を行なってもよい。
【００５０】
図７は、非破壊検査装置が行う非破壊検査方法の処理を示すフローチャートである。
【００５１】
撮像部４３０は、Ｘ線照射部４１０により蓄電素子１０にＸ線が照射され、かつ、蓄電素子１０が移動部４２０によりＺ方向に平行な仮想軸を中心として３６０度回転移動された状態で、蓄電素子１０のＸ線透過画像を撮像する（Ｓ１１）。
【００５２】
次に、表示制御部４５４は、撮像部４３０により撮像された結果である複数のＸ線透過画像データに基づいて、任意の位置の断面画像データを生成し、生成した断面画像データが示す断面画像を表示部４４０に表示させる（Ｓ１２）。
【００５３】
認識部４５５は、表示制御部４５４により生成された断面画像に基づいて、蓄電素子１０内部に備えられる参照物１２７を認識する（Ｓ１３）。
【００５４】
異常判定部４５６は、認識部４５５により生成された認識結果と、表示制御部４５４により生成された断面画像との比較に基づいて、蓄電素子１０に異常があるか否かを判定する（Ｓ１４）。
【００５５】
蓄電素子１０に異常があると異常判定部４５６により判定された場合には（Ｓ１４：Ｙｅｓ）、表示制御部４５４が、蓄電素子１０内部において撮像された異物の位置、形状およびサイズを示す情報を表示部４４０に表示させることにより、異物の位置、形状およびサイズを検査者に通知して（Ｓ１５）、非破壊検査方法にかかる処理を終了する。
【００５６】
一方で、異常判定部４５６により蓄電素子１０に異常が無いと判定された場合には（Ｓ１４：Ｎｏ）、表示制御部４５４が、蓄電素子１０に異常が無いことを示す情報を表示部４４０に表示させることにより、蓄電素子１０に異常が無いことを検査者に通知して（Ｓ１６）、非破壊検査方法にかかる処理を終了する。
【００５７】
本実施の形態に係る蓄電素子１０によれば、非破壊検査で検出することが可能な参照部としての参照物１２７を容器１００内部に有するため、蓄電素子の性能に悪影響を及ぼす異物が製造時に混入された場合であっても、非破壊検査の結果からノイズの影響を低減することができる。このため、検査者は、非破壊検査を行うことにより蓄電素子１０に異物が混入されているか否かを容易に判別することができる。
【００５８】
また、本実施の形態に係る蓄電素子１０によれば、電極体１２０の最内周に参照部としての参照物１２７が設けられる。電極体１２０の最内周は、絶縁性を有する巻芯１２６により構成されており、巻芯１２６の内側に参照物１２７が設けられているため、蓄電素子１０の性能に参照物１２７が悪影響を及ぼすことを低減することができる。
【００５９】
また、本実施の形態に係る非破壊検査方法によれば、Ｘ線を蓄電素子１０に対して照射することにより撮像された撮像結果から、蓄電素子１０の内部に配置される参照部としての参照物１２７を認識し、参照物１２７を認識した認識結果と撮像結果との比較に基づいて、蓄電素子１０に異常があるか否かを判定する。このように、参照物１２７を認識した結果を利用して判別すべき異物の判定を行なっているため、蓄電素子の性能に悪影響を及ぼす異物が製造時に混入された場合であっても、非破壊検査の結果からノイズの影響を低減することができる。このため、検査者は、非破壊検査を行うことにより蓄電素子１０に異物が混入されているか否かを容易に判別することができる。
【００６０】
なお、上記実施の形態に係る蓄電素子１０によれば、参照部としての参照物１２７が電極体１２０の最内周に設けられているが、参照物１２７が蓄電素子１０内部において絶縁性が確保されていればその配置場所は電極体１２０の最内周に限らない。また、参照物１２７は、金属製であることに限定されず、セラミックス製であってもよい。参照物１２７がセラミックス製である場合には、参照物１２７は蓄電素子１０の内部のどの位置にあってもほとんど悪影響を及ぼさないため、任意の位置であってよい。さらに、参照部としては、参照物１２７のように独立した別体で構成されているが、他の構成要素と一体化されていてもよい。例えば、容器１００の内壁に形成した凸部、正極集電体１３０または負極集電体１４０に形成した凸部などを参照部としてもよいし、凸部でなくても凹部であってもよい。つまり、非破壊検査において検出可能な形態であれば、参照物１２７に限るものではない。
【００６１】
また、上記実施の形態に係る蓄電素子１０によれば、参照物１２７が設けられる巻芯１２６は、長尺帯状の材料を３つ折りにされた状態で溶着されることにより形成されるが、この形態に限らずに、例えば、扁平形状の板状部材に捲回装置の巻軸を挿入するための孔が設けられている巻芯であってもよい。
【００６２】
また、上記実施の形態に係る非破壊検査方法によれば、ＣＴスキャン装置によって蓄電素子１０の内部の画像を得ているが、これに限らずに、Ｘ線装置、Ｘ線以外の放射線（例えばガンマ線）装置を用いて行なってもよいし、超音波装置を用いて行なってもよい。なお、Ｘ線による非破壊検査以外の検査で検出する場合には、参照物１２７は、非破壊検査で検出することが可能な物質であればよく、Ｘ線により検出可能な物質に限定されない。
【００６３】
以上、本発明の蓄電素子および非破壊検査方法について、実施の形態に基づいて説明したが、本発明は、この実施の形態に限定されるものではない。本発明の趣旨を逸脱しない限り、当業者が思いつく各種変形を本実施の形態に施したものや、異なる実施の形態における構成要素を組み合わせて構築される形態も、本発明の範囲内に含まれる。
【産業上の利用可能性】
【００６４】
本発明の一態様に係る蓄電素子は、非破壊検査を行うことにより蓄電素子内部に異物が混入されているか否かを容易に判別することができる蓄電素子等として有用である。
【符号の説明】
【００６５】
１０  蓄電素子
１００  容器
１１０  蓋板
１１１  容器本体
１２０  電極体
１２１  多層体
１２２  正極板
１２３  負極板
１２４  第一セパレータ
１２５  第二セパレータ
１２６  巻芯
１２７  参照物
１２８  粘着テープ
１２９  溶着部
１３０  正極集電体
１４０  負極集電体
２００  正極端子
３００  負極端子
４００  非破壊検査装置
４１０  Ｘ線照射部
４２０  移動部
４３０  撮像部
４４０  表示部
４５０  制御部
４５１  照射制御部
４５２  移動制御部
４５３  撮像制御部
４５４  表示制御部
４５５  認識部
４５６  異常判定部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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