(57)【要約】      （修正有）【課題】複数のタイバーのバランス調整が容易な射出成形機を提供する。【解決手段】固定金型１１ａと可動金型１１ｂに作用する型締力に応じて伸びるタイバー１６を備える射出成形機１０において、該タイバーには、該タイバーの伸び量を画像計測するためのマーカＭが設けられ、該マーカＭを含む画像を撮像する撮像部と、該撮像部によって撮像された画像を処理する画像処理部を備えることを特徴とする。【選択図】図１
2013126722.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
固定金型と可動金型に作用する型締力に応じて伸びるタイバーを備える射出成形機において、
前記タイバーには、前記タイバーの伸び量を画像計測するためのマーカが設けられることを特徴とする射出成形機。
【請求項２】
前記マーカを含む画像を撮像する撮像部と、
該撮像部によって撮像される画像を画像処理し、該画像中における前記マーカの位置を検出することによって、前記タイバーの伸び量を計測する計測部とをさらに備える請求項１に記載の射出成形機。
【請求項３】
前記タイバーには複数の前記マーカが設けられ、前記複数のマーカは型締め方向と平行な方向に間隔を有し、
前記撮像部は、前記複数のマーカを含む画像を撮像し、
前記計測部は、前記撮像部によって撮像される画像を画像処理し、前記型締め方向と平行な方向におけるマーカ間距離を検出することによって、前記タイバーの伸び量を計測する請求項２に記載の射出成形機。
【請求項４】
前記撮像部によって撮像される画像を画像処理し、前記型締め方向と垂直な方向におけるマーカ間距離を検出することによって、前記タイバーの撓み量を検出する検出部をさらに備える請求項３に記載の射出成形機。
【請求項５】
固定金型が取り付けられる固定プラテンと、
複数の前記タイバーによって前記固定プラテンと連結され、前記固定プラテンと間隔をおいて配設されるベース部材と、
前記各タイバーの前記固定プラテンと前記ベース部材との間の部分の長さを前記タイバー毎に調整可能な調整部とを備え、
該調整部は、前記計測部の計測結果に基づいて、少なくとも１つの前記タイバーの前記部分の長さを調整する請求項２〜４のいずれか一項記載の射出成形機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、射出成形機に関する。
【背景技術】
【０００２】
射出成形機は、金型装置のキャビティ空間に溶融した樹脂を充填し、固化させることによって成形品を成形する（例えば特許文献１参照）。金型装置は固定金型及び可動金型で構成され、型締め時に固定金型と可動金型との間にキャビティ空間が形成される。金型装置の型閉じ、型締め、及び型開きは型締装置によって行われる。
【０００３】
型締装置は、固定金型が取り付けられる固定プラテンと、可動金型が取り付けられる可動プラテンと、固定プラテンと間隔をおいて配置されるベース部材と、固定プラテンとベース部材とを連結する複数（例えば４本）のタイバーとを備える。可動プラテンがタイバーに沿って進退することによって、金型装置の型閉じ、型締め、及び型開きが行われる。
【０００４】
タイバーには、型締力に対応した引張力が加わるので、型締力に比例して弾性的に伸びる。各タイバーの伸び量を計測することで、金型装置に加わる型締力の偏りの程度を知ることができ、型締力の偏りを低減するように複数のタイバーのバランス調整を行うことができる。このバランス調整では、タイバーに対する固定プラテンの位置、又はタイバーに対するベース部材の位置を調整する。
【０００５】
各タイバーの伸び量（歪み）は、各タイバーに取り付けられる接触式の歪みセンサによって計測される。複数の歪みセンサの検出結果に基づいて、複数のタイバーのバランス調整が行われる。バランス調整後に、歪みセンサはタイバーから取り外される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】国際公開第０５／０９００５２号パンフレット
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
従来、複数のタイバーのバランス調整の度に、各タイバーに歪みセンサを取り付けたり取り外したりする作業が煩雑であった。タイバーの周辺には様々な部品が配置されるので、十分な作業スペースの確保が困難なためである。
【０００８】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであって、複数のタイバーのバランス調整が容易な射出成形機の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するため、本発明の一態様による射出成形機は、
固定金型と可動金型に作用する型締力に応じて伸びるタイバーを備える射出成形機において、
前記タイバーには、前記タイバーの伸び量を画像計測するためのマーカが設けられることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、複数のタイバーのバランス調整が容易な射出成形機が提供される。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】第１実施形態による射出成形機の型締め時の状態を示す図である。
【図２】第１実施形態による射出成形機の型開き時の状態を示す図である。
【図３】第１実施形態による射出成形機の撮像部の配置を示す図である。
【図４】第１実施形態による射出成形機の撮像部によって撮像される画像の一部を示す図である。
【図５】第１実施形態の第１変形例による射出成形機の撮像部の配置を示す図である。
【図６】第１実施形態の第２変形例による射出成形機の撮像部の配置を示す図である。
【図７】第２実施形態による射出成形機の型締め時の状態を示す図である。
【図８】第２実施形態による射出成形機の型開き時の状態を示す図である。
【図９】第２実施形態による射出成形機の撮像部の配置を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明を実施するための形態について図面を参照して説明するが、各図面において、同一の又は対応する構成については同一の又は対応する符号を付して説明を省略する。また、型閉じを行う際の可動プラテンの移動方向を前方とし、型開きを行う際の可動プラテンの移動方向を後方として説明する。
【００１３】
［第１実施形態］
本実施形態の射出成形機は、モータ及びトグル機構を用いる方式の型締装置を備える。
【００１４】
図１は、第１実施形態による射出成形機の型締め時の状態を示す図である。図２は、第１実施形態による射出成形機の型開き時の状態を示す図である。
【００１５】
射出成形機１０は、固定金型１１ａが取り付けられる固定プラテン１２と、可動金型１１ｂが取り付けられる可動プラテン１３と、固定プラテン１２と間隔をおいて配設されるベース部材としてのトグルサポート１５と、固定プラテン１２とトグルサポート１５とを連結する複数（例えば４本）のタイバー１６とを備える。固定金型１１ａ及び可動金型１１ｂで金型装置１１が構成される。
【００１６】
固定プラテン１２はフレームＦｒに固定されている。固定プラテン１２に対向して可動プラテン１３が配設される。可動プラテン１３にはタイバー１６を貫通させるための図示されないガイド穴が形成される。尚、ガイド穴の代わりに、切欠部を形成するようにしてもよい。可動プラテン１３は、タイバー１６に沿って進退（図における左右方向に移動）可能に配設される。
【００１７】
トグルサポート１５は、フレームＦｒに移動可能に載置されている。トグルサポート１５と固定プラテン１２との間には、型開閉方向（図における左右方向）に延びる複数のタイバー１６が架設されている。タイバー１６の前端部（図において右端部）には図示されないネジ部が形成され、該ネジ部にナット１４を螺合して締め付けることによって、タイバー１６の前端部が固定プラテン１２に固定される。同様に、タイバー１６の後端部（図において左端部）にはネジ部９１が形成され、該ネジ部９１に螺合されトグルサポート１５に回転可能に支持されるナット９２によって、タイバー１６の後端部がトグルサポート１５に固定される。
【００１８】
トグルサポート１５と可動プラテン１３との間には、トグル機構２０が配設される。トグル機構２０は、例えば、駆動軸２５に取り付けられたクロスヘッド２４、クロスヘッド２４に揺動可能に取り付けられた第２トグルレバー２３、トグルサポート１５に揺動可能に取り付けられた第１トグルレバー２１、及び、可動プラテン１３に揺動可能に取り付けられたトグルアーム２２を有する。第１トグルレバー２１と第２トグルレバー２３との間、及び、第１トグルレバー２１とトグルアーム２２との間は、それぞれ、リンク結合される。このトグル機構２０は、いわゆる内巻五節点ダブルトグル機構であり、上下が対称の構成を有する。
【００１９】
トグルサポート１５の後端部には、トグル機構２０を作動させる型締モータ２６が配設される。型締モータ２６は、回転運動を往復運動に変換するボールねじ機構等からなる運動方向変換装置（図示せず）を備え、駆動軸２５を進退（図における左右方向に移動）させることによって、トグル機構２０を作動させることができる。
【００２０】
型締モータ２６が駆動して、クロスヘッド２４を進退させることによって、トグル機構２０を作動させることができる。この場合、クロスヘッド２４を前進（図における左方向に移動）させると、可動プラテン１３が前進させられて型閉が行われる。そして、型締モータ２６による推進力にトグル倍率を乗じた型締力が発生させられ、その型締力によって型締が行われる。
【００２１】
型締モータ２６の駆動は、制御装置６０によって制御される。制御装置６０は、ＣＰＵ及びメモリなどを備え、ＣＰＵによって演算された結果に応じて、型締モータ２６に電流を供給する。尚、固定プラテン１２、可動プラテン１３、トグルサポート１５、タイバー１６、トグル機構２０、及び型締めモータ２６等で型締装置が構成される。
【００２２】
次に、射出成形機１０の動作について説明する。射出成形機１０の各種動作は、制御装置６０による制御下で行われる。
【００２３】
先ず、制御装置６０は型閉じ工程を制御する。図２の状態（型開きの状態）において、制御装置６０は、型締モータ２６に電流を供給して、型締モータ２６を正方向に駆動させる。駆動軸２５が正方向に回転させられ、駆動軸２５は前進（図において右方向に移動）させられる。よって、クロスヘッド２４が前進させられ、可動プラテン１３が前進して、可動金型１１ｂが固定金型１１ａに当接させられる。
【００２４】
続いて、制御装置６０は型締め工程を制御する。型締め工程では、制御装置６０が型締モータ２６を正方向に更に駆動させて、金型装置１１に型締力が発生する。この間、固定金型１１ａと可動金型１１ｂとの間に形成される図示されないキャビティ空間に溶融した樹脂が充填される。
【００２５】
キャビティ空間内の樹脂が冷却固化すると、制御装置６０は型開き工程を制御する。型開き工程では、制御装置６０は、型締モータ２６を逆方向に駆動して、駆動軸２５を逆方向に回転させる。その結果、クロスヘッド２４が後退させられ、可動プラテン１３が後退して型開きが行われる。
【００２６】
型開工程が完了すると、可動プラテン１３に取り付けられた図示されないエジェクタ装置が作動する。これにより、エジェクタピンが突き出され、可動金型１１ｂ内の成形品は可動金型１１ｂより突き出される。
【００２７】
ところで、各タイバー１６には、型締力に対応して引張力が加わり、型締力に比例して弾性的に伸びる。各タイバー１６の伸び量（歪み）を計測することで、金型装置１１に加わる型締力の偏りの程度を知ることができ、型締力の偏りを低減するように複数のタイバー１６のバランス調整を行うことができる。
【００２８】
各タイバー１６には、各タイバー１６の伸び量の画像計測に用いられるマーカＭが設けられる。各マーカＭは、タイバー１６によって連結される固定プラテン１２とトグルサポート１５との間に配置される。各マーカＭは、可動プラテン１３の移動を妨げないように、型開き時の可動プラテン１３の位置よりも後方、又は型締め時の可動プラテン１３の位置よりも前方に配置されてよい。
【００２９】
マーカＭとしては、例えばシール、光マーカ、又は光反射板等が用いられ、タイバー１６の外周面に取り付けられる。図１及び図２に示すマーカＭは、白いシールに印刷した黒丸である。尚、マーカＭは、タイバー１６の外周面に描画または刻印したものでもよい。
【００３０】
マーカＭは、各タイバー１６に複数（例えば２つ）設けられてよい。各タイバー１６に設けられる２つのマーカＭは、型締め方向と平行な方向（図における左右方向）に間隔を有する。以下、型締め方向と平行な方向を「第１方向」という。
【００３１】
第１方向におけるマーカ間距離Ｌの伸び量δＬは、下記の式（１）から算出される。ここで、マーカ間距離は、２つのマーカＭの中心（本実施形態ではマーカＭの黒丸の中心）間の距離のことである。
δＬ＝Ｌ−Ｌ０・・・（１）
式（１）中、Ｌ０は、各タイバー１６に引張力（及び圧縮力）が生じていないときの、第１方向におけるマーカ間距離を表す。Ｌ０は、例えば定期的に型開き時に計測され、後述の画像処理部８０のメモリ等に記憶されおり、必要に応じて読み出される。
【００３２】
第１方向におけるマーカ間距離Ｌの伸び量δＬは、タイバー１６の伸び量に比例する。比例定数は予め試験等で求められ、画像処理部８０のメモリ等に記憶されており、必要に応じて読み出され、タイバー１６の伸び量の算出に用いられる。タイバー１６の伸び量は、タイバー１６に加わる引張力に比例する。
【００３３】
各タイバー１６に加わる引張力Ｐ（Ｎ）は、下記の式（２）から算出される。
Ｐ＝Ｅ×Ａ×δＬ／Ｌ０・・・（２）
式（２）中、Ｅはタイバー１６のヤング率（Ｎ／ｍ２）、Ａはタイバー１６の断面積（ｍ２）を表す。複数のタイバー１６は略同じヤング率Ｅ、略同じ断面積Ａを有してよい。
【００３４】
型締め時に複数のタイバー１６に加わる引張力Ｐのバラツキが小さいほど、金型装置１１に加わる型締力の偏りが小さい。複数のタイバー１６においてＬ０が同じ場合、式（２）から明らかなように、引張力Ｐのバラツキの代わりに、伸び量δＬのバラツキに基づいて、金型装置１１に加わる型締力の偏りの程度を判断してもよい。
【００３５】
このように、本実施形態では、型締め時に、各タイバー１６に設けられるマーカＭを用いて各タイバー１６の伸び量を画像計測する。なお、画像計測の詳細については後述する。この画像計測では、各タイバー１６に部品を取り付けたり取り外したりする作業が不要である。また、画像計測の結果に基づいて、金型装置１１に加わる型締力の偏りの程度を知ることができ、金型装置１１に加わる型締力の偏りが低減するように複数のタイバー１６のバランス調整を行うことができる。このバランス調整は、上述の如く、各タイバー１６に部品を取り付けたり取り外したりする作業が不要であるので、容易である。
【００３６】
尚、本実施形態のマーカＭは全て（４本）のタイバー１６にそれぞれ設けられているが、簡易的なバランス調整の場合、２本以上のタイバー１６にそれぞれ設けられていればよく、全てのタイバー１６にそれぞれ設けられていなくてよい。例えば図３に示す４本のタイバー１６Ａ〜１６Ｄのうち上側の２本の伸び量は同じ、下側の２本の伸び量は同じであると推定して、上下のバランスを簡易的に調整する場合、上側の２本のうちの１本と、下側の２本のうちの１本とにマーカＭが設けられていればよい。同様に、図３に示す４本のタイバー１６Ａ〜１６Ｄのうち、左側の２本の伸び量は同じ、右側の２本の伸び量は同じであると推定して、左右のバランスを簡易的に調整する場合、左側の２本のうちの１本と、右側の２本のうちの１本とにマーカＭが設けられていればよい。また、上下のバランスと、左右のバランスの両方を簡易的に調整する場合、マーカＭは、４本のタイバー１６Ａ〜１６Ｄのうちの３本に設けられていればよい。また、本実施形態のマーカＭと、従来の型締力センサ（歪みセンサ）とを併用したバランス調整も可能である。
【００３７】
図３は、第１実施形態による射出成形機の撮像部の配置を示す図である。図３において図面を見やすくするため、トグル機構２０等の図示を省略する。
【００３８】
射出成形機１０は、図３に示すように、マーカＭを含む画像を撮像する撮像部７０と、撮像部７０によって撮像された画像を画像処理する画像処理部８０とを備えてよい。撮像部７０及び画像処理部８０は、バランス調整の終了後、射出成形機１０から撤去され、別の射出成形機１０に設置されてもよい。撮像部７０及び画像処理部８０は、タイバー１６から離れた場所に設置されるので、設置や撤去の作業が容易である。尚、本実施形態の射出成形機１０は専用の画像処理部８０を有するが、制御装置６０が画像処理部８０の役割を果たしてもよい。
【００３９】
撮像部７０は、ＣＣＤカメラやＣＭＯＳカメラ等のカメラ７１を含む。カメラ７１は、マーカＭを含む画像を撮像し、撮像した画像データを画像処理部８０に供給する。カメラ７１は、例えば図３に示すように、複数（例えば４本）のタイバー１６Ａ〜１６Ｄに設けられるマーカＭを含む画像を撮像できる位置に配設されてよい。カメラ７１は、タイバー１６Ａ〜１６Ｄの斜め上方、側方、又は上方等に配設される。
【００４０】
ところで、カメラ７１と各タイバー１６との間の距離が遠くなるほど、カメラ７１によって撮像される画像中において、各タイバー１６が短くなり、マーカ間距離が短くなる。
【００４１】
そこで、撮像部７０は、マーカＭの他、射出成形機１０に備えられるスケールＳを含む画像を撮像してもよい。画像中においてスケールＳが示す距離に基づいて、カメラ７１と各タイバー１６との間の距離の影響を取り除くことができる。スケールＳは、型締め時に伸び縮みしない位置に設置され、例えばフレームＦｒに固定される。スケールＳが示す距離（例えば直線状のスケールＳの長さＳＬ）は、定期的に定規等で計測され、画像処理部８０のメモリ等に記憶され、必要に応じて読み出される。
【００４２】
図４は、第１実施形態による射出成形機の撮像部によって撮像される画像の一部を示す図である。図４（ａ）は型締め時の画像、図４（ｂ）は型開き時の画像を示す。図４において図面を見やすくするため、トグル機構２０等の画像の図示を省略する。
【００４３】
撮像部７０によって撮像される画像Ｐには、タイバー１６の画像１６Ｐ（以下、「タイバー画像１６Ｐ」という）と、スケールＳの画像ＳＰ（以下、「スケール画像ＳＰ」という）が含まれている。各タイバー画像１６Ｐには、マーカＭの画像ＭＰ（以下、「マーカ画像ＭＰ」という）が２つ含まれている。
【００４４】
画像処理部８０は、撮像部７０によって撮像された画像Ｐを画像処理する。画像処理部８０は、例えばＣＰＵ、及びメモリ等を含む。画像処理部８０は、メモリ等に格納された各種プログラムをＣＰＵに実行させることで、画像処理部８０が有する後述の各種機能を実現する。ＣＰＵの実行時に発生するデータは、メモリ等に格納される。
【００４５】
画像処理部８０は、撮像部７０によって撮像された画像Ｐを画像処理し、画像中におけるマーカＭの位置を検出することによって、各タイバー１６の伸び量を計測する計測部８１を含む。マーカ画像ＭＰの位置（画像上の座標）を検出する方法としては、例えば微分フィルタを用いる方法、テンプレートを用いる方法等がある。微分フィルタを用いる方法では、画素の輝度（明度）等が急激に変化する位置（本実施形態ではマーカＭの黒丸のエッジの位置）を検出し、マーカ画像ＭＰの中心の画像座標を算出する。テンプレートを用いる方法では、パターンマッチングによってマーカ画像ＭＰの画像座標を検出し、マーカ画像ＭＰの中心の画像座標を算出する。
【００４６】
計測部８１は、タイバー画像１６Ｐ毎に、マーカ画像ＭＰの中心間の第１方向における距離ＬＰを画像計測する。計測部８１は、画像計測の結果に基づいて、第１方向におけるマーカ間距離Ｌの伸び量δＬを算出する。
【００４７】
伸び量δＬは、下記の式（４）から算出される。
δＬ＝Ｌ０×δＬＰ／ＬＰ０・・・（３）
式（３）中、δＬＰ＝ＬＰ−ＬＰ０であって、ＬＰ０は、各タイバー１６に引張力（及び圧縮力）が生じていないときの、マーカ画像ＭＰの中心間の第１方向における距離を表す。ＬＰ０は、例えば、定期的に型開き時のタイバー画像１６Ｐを画像処理して算出されてよい。算出されたＬＰ０は、画像処理部８０のメモリ等に記憶され、必要に応じて読み出され、伸び量δＬの計測に用いられる。
【００４８】
尚、複数のタイバー１６においてＬ０が同じ場合、各タイバー１６の伸び量δＬは下記の式（４）から算出されてもよい。
δＬ＝Ａ×（ＳＰＬ／ＬＰ０）×δＬＰ・・・（４）
式（４）中、Ａは比例定数、ＳＰＬはスケール画像ＳＰが示す距離である。ＳＰＬ／ＬＰ０は、カメラ７１と各タイバー１６との間の距離の影響を取り除くための補正項である。
【００４９】
計測部８１は、画像計測の結果に基づいて、第１方向におけるマーカ間距離Ｌの伸び率δＬ／Ｌを算出しても良い。この伸び率δＬ／Ｌはタイバー１６の伸び率と等しい。
【００５０】
計測部８１は、算出された各タイバー１６の伸び率δＬ／Ｌに基づいて、各タイバー１６に加わる引張力Ｐを算出してもよい。算出には上記の式（２）が用いられる。型締め時に複数のタイバー１６に加わる引張力Ｐのバラツキが小さいほど、金型装置１１に加わる型締力の偏りが小さい。
【００５１】
画像処理部８０は、撮像部７０によって撮像された画像Ｐを画像処理し、画像中におけるマーカＭの位置を検出することによって、タイバー１６の撓み量を検出する検出部８２を含んでもよい。
【００５２】
検出部８２は、タイバー画像１６Ｐ毎に、マーカ画像ＭＰの中心間の第２方向（第１方向と垂直な方向）における距離ＤＰ（図４参照）を計測することによって、各タイバー１６の撓み量を検出することができる。各タイバー１６の撓み量は、距離ＤＰに比例する。比例定数は、予め試験等で求められ、画像処理部８０のメモリ等に記憶されており、必要に応じて読み出され、撓み量の検出に用いられる。
【００５３】
このように、本実施形態では、各タイバー１６に設けられるマーカＭを撮像し、撮像した画像Ｐを画像処理することによって、各タイバー１６の伸び量や撓み量を自動で画像計測することができる。
【００５４】
尚、本実施形態の各タイバー１６には、マーカＭが２つずつ設けられるが、マーカＭの設置数は多種多様であってよい。例えば、各タイバー１６にマーカＭが１つずつ設けられる場合、型開き時のマーカ画像ＭＰの画像座標と、型締め時のマーカ画像ＭＰの画像座標との変化に基づいて各タイバー１６の伸び量や撓み量を自動で画像計測することができる。
【００５５】
射出成形機１０は、バランス調整を自動で行うため、タイバー１６の固定プラテン１２とトグルサポート１５との間の部分１６ａ（以下、「タイバー１６の所定部分１６ａ」という）の長さＷ１（図２参照）をタイバー１６毎に調整可能な調整部９０を備えてよい。
【００５６】
調整部９０は、トグルサポート１５を貫通するタイバー１６の後端部に形成されるネジ部９１、ネジ部９１に螺合されトグルサポート１５に回転可能に支持されたナット９２、及びナット９２を回転させる調整モータ９３等で構成される。ナット９２及びネジ部９１によって運動方向変換部が構成され、該運動方向変換部においてナット９２の回転運動がタイバー１６の直線運動に変換される。
【００５７】
調整モータ９３は、トグルサポート１５に対して固定される。調整モータ９３は、サーボモータであることが好ましく、回転数を検出するエンコーダとしての回転センサ９４を備える。調整モータ９３は、ナット９２の回転量が所定値になるように、回転センサ９４の検出結果に基づいてフィードバック制御される。
【００５８】
調整モータ９３は、複数（例えば４つ）のナット９２に対応して複数（例えば４つ）設けられてよい。尚、調整モータ９３は１つのみ設けられ、調整モータ９３と複数のナット９２との間をナット９２毎に接続、切断するギヤ機構が設けられてもよい。
【００５９】
調整部９０は、計測部８１の計測結果に基づいて、少なくとも１つのタイバー１６の所定部分１６ａの長さＷ１を調整する。この調整は、調整モータ９３を駆動し、ナット９２をネジ部９１に対して所定量回転させ、トグルサポート１５に対するタイバー１６の位置を調整することによって行われる。この調整は、型開きの状態で行われてよい。
【００６０】
調整部９０の動作は、制御装置６０によって制御される。例えば、制御装置６０は、先ず計測部８１の計測結果に基づいて、型締め時における複数のタイバー１６に加わる引張力Ｐのバラツキ（例えば最大値と最小値との差）が設定値以下か否かを判定する。バラツキが設定値を超える場合、例えば、調整部９０は引張力Ｐが最も大きいタイバー１６の所定部分１６ａの長さＷ１を長くする。或いは、調整部９０は引張力Ｐが最も小さいタイバー１６の所定部分１６ａの長さＷ１を短くしてもよい。その後、型締め時における複数のタイバー１６の伸び量を計測部８１が再計測し、再計測の結果に基づいて上記バラツキが設定値以下か否かを制御装置６０が再判定してもよい。再判定の結果、上記バラツキが設定値を超える場合、調整部９０は少なくとも１つのタイバー１６の所定部分１６ａの長さＷ１を調整する。一方、上記バラツキが設定値以下の場合、調整部９０は調整を行わなくてよい。
【００６１】
このようにして、調整部９０は、計測部８１の計測結果に基づいて、少なくとも１つのタイバー１６の所定部分１６ａの長さＷ１を調整して、型締め時に金型装置１１に加わる型締力の偏りを低減する。この調整は、制御装置６０に接続される入力装置（例えばキーボード）がユーザの指示を受け付けたときに行われてもよいし、定期的に自動で行われてもよい。
【００６２】
また、調整部９０は、検出部８２の検出結果に基づいて、少なくとも１つのタイバー１６の所定部分１６ａの長さＷ１を調整してもよい。この調整は、調整モータ９３を駆動し、ナット９２をネジ部９１に対して所定量回転させ、トグルサポート１５に対するタイバー１６の位置を調整することによって行われる。この調整は、型開きの状態で行われてよい。
【００６３】
［第１実施形態の第１変形例］
上記第１実施形態では各タイバー１６のカメラ７１側にマーカＭを設けたのに対し、本変形例では一部のタイバー１６のカメラ７１側とは反対側にマーカＭを設けた点で相違する。以下、相違点を中心に説明する。
【００６４】
図５は、第１実施形態の第１変形例による射出成形機の撮像部の配置を示す図であって、図３に相当する図である。
【００６５】
図中左側の２本のタイバー１６Ａ〜１６Ｂのカメラ７１側にマーカＭが設けられている。一方、図中右側の２本のタイバー１６Ｃ〜１６Ｄのカメラ７１側とは反対側にマーカＭが設けられている。
【００６６】
図中左側の２本のタイバー１６Ａ〜１６Ｂに設けられるマーカＭを撮像するため、マーカＭである光マーカ（例えばＬＥＤ）から出射した光をカメラ７１に向けて反射する反射部材７３が図中左側のタイバー１６Ａ〜１６Ｂに固定されてよい。反射部材７３としては、コーナキューブ等が用いられる。反射部材７３は、図中左側のタイバー１６Ａ〜１６Ｂに設けられる複数のマーカＭに対応して複数設けられてよい。
【００６７】
カメラ７１によって撮像された画像には、各タイバー１６Ａ〜１６Ｄに設けられるマーカＭの画像が含まれる。従って、第１実施形態と同様に、各タイバー１６Ａ〜１６Ｄの伸び量や撓み量を自動で画像計測することができる。
【００６８】
［第１実施形態の第２変形例］
上記第１実施形態ではカメラ７１が１つだけ設けられているのに対し、本変形例ではカメラ７１が複数設けられる点で相違する。以下、相違点を中心に説明する。
【００６９】
図６は、第１実施形態の第２変形例による射出成形機の撮像部の配置を示す図であって、図３に相当する図である。
【００７０】
一のカメラ７１Ｌは、図中左側の２本のタイバー１６Ａ〜１６ＢのマーカＭを撮像できる位置に配設され、他のカメラ７１Ｒは図中右側の２本のタイバー１６Ｃ〜１６ＤのマーカＭを撮像できる位置に配設される。複数のカメラ７１Ｌ、７１Ｒは、略同一のタイミングで撮像した画像データを画像処理部８０に供給する。
【００７１】
複数のカメラ７１Ｌ、７１Ｒによって略同一のタインミグで撮像された複数の画像には、各タイバー１６Ａ〜１６Ｄに設けられるマーカＭの画像が含まれる。従って、第１実施形態と同様に、各タイバー１６Ａ〜１６Ｄの伸び量や撓みを自動で画像計測することができる。
【００７２】
［第２実施形態］
上記第１実施形態の射出成形機は、モータ及びトグル機構を用いる方式の型締装置を備える。これに対し、本実施形態の射出成形機は、型開閉動作にはリニアモータを用い、型締め動作には電磁石の吸着力を利用した型締装置を備える点で相違する。
【００７３】
図７は、第２実施形態による射出成形機の型締め時の状態を示す図である。図８は、第２実施形態による射出成形機の型開き時の状態を示す図である。
【００７４】
射出成形機１１０は、固定金型１１１ａが取り付けられる固定プラテン１１２と、可動金型１１１ｂが取り付けられる可動プラテン１１３と、固定プラテン１１２と間隔をおいて配設されるベース部材としてのリヤプラテン１１５と、固定プラテン１１２とリヤプラテン１１５とを連結する複数（例えば４本）のタイバー１１６とを備える。
【００７５】
固定プラテン１１２は、型開閉方向（図において左右方向）に延びるガイドＧｄに沿って移動可能な位置調整ベースＢａ上に設けられてよい。ガイドＧｄは例えばフレームＦｒ上に敷設される２本のレールよりなる。尚、固定プラテン１１２はフレームＦｒ上に載置されてもよい。固定プラテン１１２と対向して可動プラテン１１３が配設される。
【００７６】
可動プラテン１１３は可動ベースＢｂ上に固定され、可動ベースＢｂはガイドＧｄ上を走行可能である。これにより、可動プラテン１１３は、固定プラテン１１２に対して型開閉方向に移動可能である。可動プラテン１１３には、タイバー１１６を貫通させるための図示されないガイド穴が形成される。尚、ガイド穴の代わりに、切欠部を形成するようにしてもよい。可動プラテン１１３は、タイバー１１６に沿って進退（図における左右方向に移動）可能に配設される。
【００７７】
リヤプラテン１１５は、脚部１１５ａを介してフレームＦｒに固定される。リヤプラテン１１５と固定プラテン１１２との間には、型開閉方向（図２における左右方向）に延びる複数のタイバー１１６が架設されている。タイバー１１６の前端部（図において右端部）にはネジ部１９１が形成され、該ネジ部１９１に螺合され固定プラテン１１２に回転可能に支持されるナット１９２によって、タイバー１１６の前端部が固定プラテン１１２に固定される。タイバー１１６の後端部はリヤプラテン１１５に固定される。
【００７８】
固定プラテン１１２には固定金型１１１ａが、可動プラテン１１３には可動金型１１１ｂがそれぞれ取り付けられ、可動プラテン１１３の進退に伴って固定金型１１１ａと可動金型１１１ｂとが接離させられ、型閉じ、型締め及び型開きが行われる。尚、型締めが行われるのに伴って、固定金型１１１ａと可動金型１１１ｂとの間に図示されないキャビティ空間が形成され、キャビティ空間に溶融した樹脂が充填される。固定金型１１１ａ及び可動金型１１１ｂによって金型装置１１１が構成される。
【００７９】
吸着板１２２は、可動プラテン１１３と平行に配設される。吸着板１２２は取付板１２７を介してスライドベースＳｂに固定され、スライドベースＳｂはガイドＧｄ上を走行可能である。これにより、吸着板１２２は、リヤプラテン１１５よりも後方において進退自在となる。吸着板１２２は、磁性材料で形成されてよい。尚、取付板１２７はなくてもよく、この場合、吸着板１２２はスライドベースＳｂに直に固定される。
【００８０】
ロッド１３９は、後端部において吸着板１２２と連結させて、前端部において可動プラテン１１３と連結させて配設される。したがって、ロッド１３９は、型閉じ時に吸着板１２２が前進するのに伴って前進させられて可動プラテン１１３を前進させ、型開き時に吸着板１２２が後退するのに伴って後退させられて可動プラテン１１３を後退させる。そのために、リヤプラテン１１５の中央部分にロッド１３９を貫通させるためのロッド孔１４１が形成される。
【００８１】
リニアモータ１２８は、可動プラテン１１３を進退させるための型開閉駆動部であって、例えば可動プラテン１１３に連結された吸着板１２２とフレームＦｒとの間に配設される。尚、リニアモータ１２８は可動プラテン１１３とフレームＦｒとの間に配設されてもよい。
【００８２】
リニアモータ１２８は、固定子１２９、及び可動子１３１を備える。固定子１２９は、フレームＦｒ上において、ガイドＧｄと平行に、かつ、スライドベースＳｂの移動範囲に対応させて形成される。可動子１３１は、スライドベースＳｂの下端において、固定子１２９と対向させて、かつ、所定の範囲にわたって形成される。
【００８３】
可動子１３１は、コア１３４及びコイル１３５を備える。そして、コア１３４は、固定子１２９に向けて突出させて、所定のピッチで形成された複数の磁極歯１３３を備え、コイル１３５は、各磁極歯１３３に巻装される。尚、磁極歯１３３は可動プラテン１１３の移動方向に対して直角の方向に、互いに平行に形成される。また、固定子１２９は、図示されないコア、及び該コア上に延在させて形成された図示されない永久磁石を備える。該永久磁石は、Ｎ極及びＳ極の各磁極を交互に着磁させることによって形成される。可動子１３１の位置を検出する位置センサ１５３が配置される。
【００８４】
コイル１３５に所定の電流を供給することによってリニアモータ１２８を駆動すると、可動子１３１が進退させられる。それに伴って、吸着板１２２及び可動プラテン１１３が進退させられ、型閉じ及び型開きを行うことができる。リニアモータ１２８は、可動子１３１の位置が設定値になるように、位置センサ１５３の検出結果に基づいてフィードバック制御される。
【００８５】
尚、本実施の形態においては、固定子１２９に永久磁石を、可動子１３１にコイル１３５を配設するようになっているが、固定子にコイルを、可動子に永久磁石を配設することもできる。その場合、リニアモータ１２８が駆動されるのに伴って、コイルが移動しないので、コイルに電力を供給するための配線を容易に行うことができる。
【００８６】
尚、型開閉駆動部として、リニアモータ１２８の代わりに、回転モータ及び回転モータの回転運動を直線運動に変換するボールネジ機構、又は油圧シリンダ若しくは空気圧シリンダなどの流体圧シリンダなどが用いられてもよい。
【００８７】
電磁石ユニット１３７は、リヤプラテン１１５と吸着板１２２との間に吸着力を生じさせる。この吸着力は、ロッド１３９を介して可動プラテン１１３に伝達し、可動プラテン１１３と固定プラテン１１２との間に型締力が生じる。
【００８８】
尚、固定プラテン１１２、可動プラテン１１３、リヤプラテン１１５、タイバー１１６、吸着板１２２、リニアモータ１２８、電磁石ユニット１３７、及びロッド１３９等で型締装置が構成される。
【００８９】
電磁石ユニット１３７は、リヤプラテン１１５側に形成された電磁石１４９、及び吸着板１２２側に形成された吸着部１５１からなる。吸着部１５１は、吸着板１２２の吸着面（前端面）の所定の部分、例えば、吸着板１２２においてロッド１３９を包囲し、かつ、電磁石１４９と対向する部分に形成される。また、リヤプラテン１１５の吸着面（後端面）の所定の部分、例えば、ロッド１３９のまわりには、電磁石１４９のコイル１４８を収容する溝１４５が形成される。溝１４５より内側にコア１４６が形成される。コア１４６の周りにコイル１４８が巻装される。リヤプラテン１１５のコア１４６以外の部分にヨーク１４７が形成される。
【００９０】
尚、本実施形態においては、リヤプラテン１１５とは別に電磁石１４９が、吸着板１２２とは別に吸着部１５１が形成されるが、リヤプラテン１１５の一部として電磁石を、吸着板１２２の一部として吸着部を形成してもよい。また、電磁石と吸着部の配置は逆であってもよい。例えば、吸着板１２２側に電磁石１４９を設け、リヤプラテン１１５側に吸着部１５１を設けてもよい。
【００９１】
電磁石ユニット１３７において、コイル１４８に電流を供給すると、電磁石１４９が駆動され、吸着部１５１を吸着し、型締力を発生させることができる。
【００９２】
射出成形機１１０のリニアモータ１２８及び電磁石１４９の駆動は、制御装置１６０によって制御される。制御装置１６０は、ＣＰＵ及びメモリなどを備え、ＣＰＵによって演算された結果に応じて、リニアモータ１２８のコイル１３５や電磁石１４９のコイル１４８に電流を供給する。
【００９３】
次に、射出成形機１１０の動作について説明する。射出成形機１１０の各種動作は、制御装置１６０による制御下で行われる。
【００９４】
先ず、制御装置１６０は型閉じ工程を制御する。図８の状態（型開きの状態）において、制御装置１６０は、コイル１３５に電流を供給して、リニアモータ１２８を駆動する。可動プラテン１１３が前進して、可動金型１１１ｂが固定金型１１１ａに当接させられる。このとき、リヤプラテン１１５と吸着板１２２との間、即ち電磁石１４９と吸着部１５１との間には、ギャップが形成される。尚、型閉じに必要とされる力は、型締力と比較されて十分に小さくされる。
【００９５】
続いて、制御装置１６０は型締め工程を制御する。型締め工程では、制御装置１６０は、電磁石１４９のコイル１４８に電流を供給し、電磁石１４９に吸着部１５１を吸着する。この吸着力は、ロッド１３９を介して可動プラテン１１３に伝達し、可動プラテン１１３と固定プラテン１１２との間に型締力が生じる。この間、固定金型１１１ａと可動金型１１１ｂとの間に形成される図示されないキャビティ空間に溶融した樹脂が充填される。キャビティ空間内の樹脂が冷却固化すると、制御装置１６０は電磁石１４９のコイル１４８への電流供給を停止する。
【００９６】
次いで、制御装置１６０は型開き工程を制御する。制御装置１６０は、リニアモータ１２８を駆動する。可動プラテン１１３が後退し、図８に示すように、可動金型１１１ｂが後退して型開きが行われる。
【００９７】
型開工程が完了すると、可動プラテン１１３に取り付けられた図示されないエジェクタ装置が作動する。これにより、エジェクタピンが突き出され、可動金型１１１ｂ内の成形品は可動金型１１１ｂより突き出される。
【００９８】
ところで、各タイバー１１６には、型締力に対応して引張力が加わり、型締力に比例して弾性的に伸びる。各タイバー１１６の伸び量（歪み）を計測することで、金型装置１１１に加わる型締力の偏りの程度を知ることができ、型締力の偏りを低減するように複数のタイバー１１６のバランス調整を行うことができる。
【００９９】
各タイバー１１６には、各タイバー１１６の伸び量の画像計測に用いられるマーカＭが設けられる。各マーカＭは、タイバー１１６によって連結される固定プラテン１１２とリヤプラテン１１５との間に配置される。各マーカＭは、可動プラテン１１３の移動を妨げないように、型開き時の可動プラテン１１３の位置よりも後方、又は型締め時の可動プラテン１１３の位置よりも前方に配置されてよい。
【０１００】
マーカＭは、各タイバー１１６に複数（例えば２つ）設けられてよい。各タイバー１６に設けられる２つのマーカＭは、型締め方向と平行な方向（図における左右方向）に間隔を有する。以下、型締め方向と平行な方向を「第１方向」という。第１方向におけるマーカ間距離Ｌを画像計測することで、各タイバー１１６の伸び量を計測することができる。
【０１０１】
このように、本実施形態では、第１実施形態と同様に、型締め時に、各タイバー１１６に設けられるマーカＭを用いて各タイバー１１６の伸び量を画像計測する。この画像計測では、タイバー１１６に部品を取り付けたり取り外したりする作業が不要である。また、画像計測の結果に基づいて、金型装置１１１に加わる型締力の偏りの程度を知ることができ、金型装置１１１に加わる型締力の偏りが低減するように複数のタイバー１１６のバランス調整を行うことができる。このバランス調整は、上述の如く、各タイバー１１６に部品を取り付けたり取り外したりする作業が不要であるので、容易である。
【０１０２】
尚、本実施形態でも、第１実施形態と同様に、マーカＭは２本以上のタイバー１１６にそれぞれ設けられていればよく、全てのタイバー１１６にそれぞれ設けられていなくてよい。また、本実施形態のマーカＭと、従来の型締力センサ（歪みセンサ）とを併用したバランス調整も可能である。
【０１０３】
図９は、第２実施形態による射出成形機の撮像部の配置を示す図である。図９において図面を見やすくするため、ロッド１３９等の図示を省略する。
【０１０４】
射出成形機１１０は、図９に示すように、マーカＭを含む画像を撮像する撮像部７０と、撮像部７０によって撮像された画像を画像処理する画像処理部８０とを備えてよい。撮像部７０及び画像処理部８０は、バランス調整の終了後、射出成形機１１０から撤去され、別の射出成形機１１０に設置されてもよい。撮像部７０及び画像処理部８０は、タイバー１１６から離れた場所に設置されるので、設置や撤去の作業が容易である。尚、本実施形態の射出成形機１１０は専用の画像処理部８０を有するが、制御装置６０が画像処理部８０の役割を果たしてもよい。
【０１０５】
撮像部７０は、ＣＣＤカメラやＣＭＯＳカメラ等のカメラ７１を含む。カメラ７１は、マーカＭを含む画像を撮像し、撮像した画像データを画像処理部８０に供給する。カメラ７１は、例えば図９に示すように、複数（例えば４本）のタイバー１１６Ａ〜１１６Ｄに設けられるマーカＭを含む画像を撮像できる位置に配設されてよい。
【０１０６】
ところで、カメラ７１と各タイバー１１６との間の距離が遠くなるほど、カメラ７１によって撮像される画像中において各タイバー１１６が小さくなり、各タイバー１１６の画像中におけるマーカ間距離が短くなる。
【０１０７】
そこで、撮像部７０は、マーカＭの他、射出成形機１１０に備えられるスケールＳを含む画像を撮像してもよい。画像中においてスケールＳが示す距離に基づいて、カメラ７１と各タイバー１１６との間の距離の影響を取り除くことができる。スケールＳは、型締め時に伸び縮みしない位置に設置され、例えばフレームＦｒに固定される。スケールＳが示す距離（例えば直線状のスケールＳの長さＳＬ）は、定期的に定規等で計測され、画像処理部８０のメモリ等に記憶され、必要に応じて読み出される。
【０１０８】
尚、カメラ７１は、図５に示すようにタイバーのカメラ側とは反対側に設けられるマーカを撮像してもよい。また、カメラ７１は、図６に示すように複数設けられてもよい。
【０１０９】
画像処理部８０は、撮像部７０によって撮像された画像を画像処理し、画像中におけるマーカＭの位置を検出することによって、各タイバー１１６の伸び量を計測する計測部８１を含む。尚、撮像部７０によって撮像される画像は、図４と同様であるので、図示を省略する。
【０１１０】
計測部８１は、タイバー画像毎に、マーカ画像の中心間の第１方向における距離ＬＰ（図４参照）を画像計測する。計測部８１は、画像計測の結果に基づいて、第１方向におけるマーカ間距離Ｌの伸び量δＬを算出し、タイバー１１６の伸び量を算出する。
【０１１１】
計測部８１は、画像計測の結果に基づいて、第１方向におけるマーカ間距離Ｌの伸び率δＬ／Ｌを算出しても良い。この伸び率δＬ／Ｌはタイバー１１６の伸び率と等しい。
【０１１２】
計測部８１は、算出された各タイバー１１６の伸び率δＬ／Ｌに基づいて、各タイバー１１６に加わる引張力Ｐを算出してもよい。算出には上記の式（２）が用いられる。型締め時に複数のタイバー１１６に加わる引張力Ｐのバラツキが小さいほど、金型装置１１１に加わる型締力の偏りが小さい。
【０１１３】
尚、計測部８１は、画像計測に際し、スケール画像ＳＰが示す距離（例えば直線状のスケール画像ＳＰの長さＳＰＬ）に基づいて、カメラ７１と各タイバー１１６との間の距離の影響を取り除いてよい。
【０１１４】
画像処理部８０は、撮像部７０によって撮像された画像を画像処理し、画像中におけるマーカＭの位置を検出することによって、タイバー１１６の撓み量を検出する検出部８２を含んでもよい。
【０１１５】
検出部８２は、タイバー画像毎に、マーカ画像の中心間の第２方向（第１方向と垂直な方向）における距離ＤＰ（図４参照）を計測することによって、各タイバー１１６の撓み量を検出することができる。各タイバー１１６の撓み量は、距離ＤＰに比例する。比例定数は、予め試験等で求められ、画像処理部８０のメモリ等に記憶されており、必要に応じて読み出され、撓み量の検出に用いられる。
【０１１６】
このように、本実施形態では、各タイバー１１６に設けられるマーカＭを撮像し、撮像した画像を画像処理することによって、各タイバー１１６の伸び量や撓み量を自動で画像計測することができる。
【０１１７】
尚、本実施形態の各タイバー１１６には、マーカＭが２つずつ設けられるが、マーカＭの設置数は多種多様であってよい。例えば、各タイバー１１６にマーカＭが１つずつ設けられる場合、型開き時のマーカ画像ＭＰの画像座標と、型締め時のマーカ画像ＭＰの画像座標との変化に基づいて各タイバー１１６の伸び量や撓み量を自動で画像計測することができる。
【０１１８】
射出成形機１１０は、バランス調整を自動で行うため、タイバー１１６の固定プラテン１１２とリヤプラテン１１５との間の部分１１６ａ（以下、「タイバー１１６の所定部分１１６ａ」という）の長さＷ２（図８参照）をタイバー１１６毎に調整可能な調整部１９０を備えてよい。
【０１１９】
調整部１９０は、固定プラテン１１２を貫通するタイバー１１６の前端部に形成されるネジ部１９１、ネジ部１９１に螺合され固定プラテン１１２に回転可能に支持されたナット１９２、及びナット１９２を回転させる調整モータ１９３等で構成される。ナット１９２及びネジ部１９１によって運動方向変換部が構成され、該運動方向変換部においてナット１９２の回転運動がタイバー１１６の直線運動に変換される。
【０１２０】
調整モータ１９３は、固定プラテン１１２に対して固定される。調整モータ１９３は、サーボモータであることが好ましく、回転数を検出するエンコーダとしての回転センサ１９４を備える。調整モータ１９３は、ナット１９２の回転量が所定値になるように、回転センサ１９４の検出結果に基づいてフィードバック制御される。
【０１２１】
調整モータ１９３は、複数（例えば４つ）のナット１９２に対応して複数（例えば４つ）設けられてよい。尚、調整モータ１９３は１つのみ設けられ、調整モータ１９３と複数のナット１９２との間をナット１９２毎に接続、切断するギヤ機構が設けられてもよい。
【０１２２】
調整部１９０は、計測部８１の計測結果に基づいて、少なくとも１つのタイバー１１６の所定部分１１６ａの長さＷ２を調整する。この調整は、調整モータ１９３を駆動し、ナット１９２をネジ部１９１に対して所定量回転させ、固定プラテン１１２に対するタイバー１１６の位置を調整することによって行われる。この調整は、型開きの状態で行われてよい。
【０１２３】
調整部１９０の動作は、制御装置１６０によって制御される。例えば、制御装置１６０は、先ず計測部８１の計測結果に基づいて、型締め時における複数のタイバー１１６に加わる引張力Ｐのバラツキ（例えば最大値と最小値との差）が設定値以下か否かを判定する。バラツキが設定値を超える場合、例えば、調整部１９０は引張力Ｐが最も大きいタイバー１１６の所定部分１１６ａの長さＷ２を長くする。或いは、調整部１９０は引張力Ｐが最も小さいタイバー１１６の所定部分１１６ａの長さＷ２を短くしてもよい。その後、型締め時における複数のタイバー１１６の伸び量を計測部８１が再計測し、再計測の結果に基づいて上記バラツキが設定値以下か否かを制御装置１６０が再判定してもよい。再判定の結果、上記バラツキが設定値を超える場合、調整部１９０は少なくとも１つのタイバー１１６の所定部分１１６ａの長さＷ２を調整する。一方、上記バラツキが設定値以下の場合、調整部１９０は調整を行わなくてよい。
【０１２４】
このようにして、調整部１９０は、計測部８１の計測結果に基づいて、少なくとも１つのタイバー１１６の所定部分１１６ａの長さＷ２を調整して、型締め時に金型装置１１１に加わる型締力の偏りを低減する。この調整は、制御装置６０に接続される入力装置（例えばキーボード）がユーザの指示を受け付けたときに行われてもよいし、定期的に自動で行われてもよい。
【０１２５】
また、調整部１９０は、検出部８２の検出結果に基づいて、少なくとも１つのタイバー１１６の所定部分１１６ａの長さＷ２を調整してもよい。この調整は、調整モータ１９３を駆動し、ナット１９２をネジ部１９１に対して所定量回転させ、固定プラテン１１２に対するタイバー１１６の位置を調整することによって行われる。この調整は、型開きの状態で行われてよい。
【０１２６】
以上、本発明の実施形態等について説明したが、本発明は、上記の実施形態等に制限されることはなく、本発明の範囲を逸脱することなく、上記の実施形態等に種々の変形や置換を加えることができる。
【０１２７】
例えば、上記の実施形態等において、マーカＭは、複数のタイバーのバランス調整に用いられるが、型締め工程における型締力の計測に用いられてもよい。
【符号の説明】
【０１２８】
１０  射出成形機
１１  金型装置
１１ａ  固定金型
１１ｂ  可動金型
１２  固定プラテン
１３  可動プラテン
１５  トグルサポート（ベース部材）
１６  タイバー
７０  撮像部
７１  カメラ
８０  画像処理部
８１  計測部
８２  検出部
９０  調整部
Ｍ    マーカ
Ｓ    スケール
【図１】
2013126722.tif 000003
【図２】
2013126722.tif 000004
【図３】
2013126722.tif 000005
【図４】
2013126722.tif 000006
【図５】
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【図６】
2013126722.tif 000008
【図７】
2013126722.tif 000009
【図８】
2013126722.tif 000010
【図９】
2013126722.tif 000011