(57)【要約】【課題】意図する領域を高精度に隠蔽する、画像処理装置、指定印推定装置、及びプログラムを提供する。【解決手段】処理対象画像内の隠蔽対象領域を、各々処理対象画像とは異なる属性を有すると共に異なる指定方法で指定する予め定められた複数種類の指定印のうちの少なくとも１つが記録された記録領域を示す処理対象画像から、指定印の属性に基づいて指定印画像を分離し、分離された指定印画像のうちの処理対象とする指定印画像に対する外接枠に対して一意に定められた被内包枠を形成し（ステップ１２２Ｃ）、形成された被内包枠内における指定印の占有率に基づいて指定印の種類を推定する（ステップ１２２Ｄ，１２２Ｆ）。【選択図】図１２
2013143594.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像が記録される記録領域内の領域を、各々前記画像の属性と異なる予め定められた属性を有すると共に前記記録領域に記録されることにより異なる指定方法で指定する予め定められた複数種類の指定印のうちの少なくとも１つが記録された記録領域を示す記録領域画像から、処理対象とする指定印に相当する指定印画像を抽出し、抽出した指定印画像に相当する指定印の種類を推定する推定手段と、
前記推定手段によって推定された種類の指定印によって指定された領域を、前記推定手段によって推定された種類の指定印に対して一意に定められた隠蔽方法で隠蔽する隠蔽手段と、
を含む画像処理装置。
【請求項２】
前記複数種類の指定印を、前記記録領域に記録されることにより塗り潰された領域の外接矩形枠に相当する枠で取り囲まれた領域を指定領域とする線分状印、前記記録領域に記録されることにより取り囲まれた領域の外接矩形枠に相当する枠で取り囲まれた領域を指定領域とする曲線枠状印、及び前記記録領域に記録されることにより取り囲まれた領域に相当する領域に内包された領域を指定領域とする多角形枠状印の少なくとも２つを含んで構成した請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記記録領域画像から、前記属性に基づいて前記指定印画像を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段によって抽出された前記指定印画像のうちの処理対象とする指定印画像に対する外接枠に対して一意に定められると共に該外接枠を縁取ることなく該外接枠に内包される被内包枠を形成する形成手段と、を更に含み、
前記推定手段は、前記形成手段によって形成された前記被内包枠内における前記指定印画像の占有率に基づいて前記処理対象とする指定印画像に相当する指定印の種類を推定する請求項１又は請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
画像が記録される記録領域内の領域を、各々前記画像の属性と異なる予め定められた属性を有すると共に前記記録領域に記録されることにより異なる指定方法で指定し、前記記録領域に記録されることにより塗り潰された領域の外接矩形枠に相当する枠で取り囲まれた領域を指定領域とする線分状印、前記記録領域に記録されることにより取り囲まれた領域の外接矩形枠に相当する枠で取り囲まれた領域を指定領域とする曲線枠状印、及び前記記録領域に記録されることにより取り囲まれた領域に相当する領域に内包された領域を指定領域とする多角形枠状印の少なくとも２つを含んで構成した予め定められた複数種類の指定印のうちの少なくとも１つが記録された記録領域を示す記録領域画像から、処理対象とする指定印に相当する指定印画像を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段によって抽出された前記指定印画像に相当する指定印の種類を推定する推定手段と、
を含む指定印推定装置。
【請求項５】
前記抽出手段は、前記記録領域画像から、前記属性に基づいて前記指定印画像を抽出し、
前記抽出手段によって抽出された前記指定印画像のうちの処理対象とする指定印画像に対する外接枠に対して一意に定められると共に該外接枠を縁取ることなく該外接枠に内包される被内包枠を形成する形成手段を更に含み、
前記推定手段は、前記形成手段によって形成された前記被内包枠内における前記指定印画像の占有率に基づいて前記処理対象とする指定印画像に相当する指定印の種類を推定する請求項４に記載の指定印推定装置。
【請求項６】
前記形成手段は、前記被内包枠を前記外接枠の中央部に位置するように形成する請求項４又は請求項５に記載の指定印推定装置。
【請求項７】
前記指定印画像を、連続する特定色の異なる線画像とした請求項４〜請求項６の何れか１項に記載の指定印推定装置。
【請求項８】
前記多角形枠状印は、他の指定印とは異なる指定印であることを表す自他識別印を内包する請求項４〜請求項７の何れか１項に記載の指定印推定装置。
【請求項９】
前記複数種類の指定印の１つを、矩形枠を規定する一方の対角線に相当すると共に該矩形枠で取り囲んだ領域を指定領域とする斜線印とし、
前記抽出手段によって抽出された前記処理対象とする指定印画像の輪郭に相当する線を予め定められた長さの線分単位で分節する分節手段と、
前記分節手段によって分節されて得られた各線分の予め定められた基準線に対する角度と予め定められた基準傾斜線の前記基準線に対する角度との近似度の総和を導出する導出手段と、を更に含み、
前記推定手段は、更に、前記導出手段によって導出された前記総和が閾値以上である場合に前記処理対象とする指定印画像に相当する指定印の種類が前記斜線印であると推定し、前記導出手段によって導出された前記総和が前記閾値以上でない場合に前記処理対象とする指定印画像に相当する指定印の種類が前記斜線印以外の指定印であると推定する請求項４〜請求項８の何れか１項に記載の指定印推定装置。
【請求項１０】
前記複数種類の指定印の１つを、矩形枠を規定する一方の対角線に相当すると共に該矩形枠で取り囲んだ領域を指定領域とする斜線印とし、
前記抽出手段によって抽出された前記処理対象とする指定印画像に対する凸包を形成する凸包形成手段を更に含み、
前記推定手段は、更に、前記抽出手段によって抽出された前記処理対象とする指定印画像に対する外接矩形枠内における前記凸包形成手段によって形成された凸包の占有率が閾値以上の場合に該処理対象とする指定印画像に相当する指定印の種類が前記斜線印であると推定し、前記占有率が前記閾値以上でない場合に該処理対象とする指定印画像に相当する指定印の種類が前記斜線印以外の指定印であると推定する請求項４〜請求項９の何れか１項に記載の指定印推定装置。
【請求項１１】
コンピュータを、
画像が記録される記録領域内の領域を、各々前記画像の属性と異なる予め定められた属性を有すると共に前記記録領域に記録されることにより異なる指定方法で指定する予め定められた複数種類の指定印のうちの少なくとも１つが記録された記録領域を示す記録領域画像から、処理対象とする指定印に相当する指定印画像を抽出し、抽出した指定印画像に相当する指定印の種類を推定する推定手段、
及び、前記推定手段によって推定された種類の指定印によって指定された領域を、前記推定手段によって推定された種類の指定印に対して一意に定められた隠蔽方法で隠蔽する隠蔽手段として機能させるためのプログラム。
【請求項１２】
コンピュータを、
画像が記録される記録領域内の領域を、各々前記画像の属性と異なる予め定められた属性を有すると共に前記記録領域に記録されることにより異なる指定方法で指定し、前記記録領域に記録されることにより塗り潰された領域の外接矩形枠に相当する枠で取り囲まれた領域を指定領域とする線分状印、前記記録領域に記録されることにより取り囲まれた領域の外接矩形枠に相当する枠で取り囲まれた領域を指定領域とする曲線枠状印、及び前記記録領域に記録されることにより取り囲まれた領域に相当する領域に内包された領域を指定領域とする多角形枠状印の少なくとも２つを含んで構成した予め定められた複数種類の指定印のうちの少なくとも１つが記録された記録領域を示す記録領域画像から、処理対象とする指定印に相当する指定印画像を抽出する抽出手段、
及び、前記抽出手段によって抽出された前記指定印画像に相当する指定印の種類を推定する推定手段として機能させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置、指定印推定装置、及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、文字認識を行うことで文字の領域情報に対する隠蔽用のマーカの太さとして適切な太さを設定する技術が開示されている。
【０００３】
特許文献２には、原稿領域からマーキング領域までの任意の幅量を指定し、指定された幅量に基づいて画像処理に係る矩形領域を設定する画像処理装置が開示されている。
【０００４】
特許文献３には、追記画像が線画像又は閉ループ画像であり、追記画像に対する外接矩形によって囲まれた領域に係る所定処理を施す画像処理装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平１０−９１７６８号公報
【特許文献２】特開平７−２０３１８０号公報
【特許文献３】特開２００６−１３３９６０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明の課題は、意図する領域を高精度に隠蔽する、画像処理装置、指定印推定装置、及びプログラムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、請求項１に記載の画像処理装置を、画像が記録される記録領域内の領域を、各々前記画像の属性と異なる予め定められた属性を有すると共に前記記録領域に記録されることにより異なる指定方法で指定する予め定められた複数種類の指定印のうちの少なくとも１つが記録された記録領域を示す記録領域画像から、処理対象とする指定印に相当する指定印画像を抽出し、抽出した指定印画像に相当する指定印の種類を推定する推定手段と、前記推定手段によって推定された種類の指定印によって指定された領域を、前記推定手段によって推定された種類の指定印に対して一意に定められた隠蔽方法で隠蔽する隠蔽手段と、を含んで構成した。
【０００８】
請求項１に記載の画像処理装置を、請求項２に記載の発明のように、前記複数種類の指定印を、前記記録領域に記録されることにより塗り潰された領域の外接矩形枠に相当する枠で取り囲まれた領域を指定領域とする線分状印、前記記録領域に記録されることにより取り囲まれた領域の外接矩形枠に相当する枠で取り囲まれた領域を指定領域とする曲線枠状印、及び前記記録領域に記録されることにより取り囲まれた領域に相当する領域に内包された領域を指定領域とする多角形枠状印の少なくとも２つを含んで構成したものとした。
【０００９】
請求項１又は請求項２に記載の画像処理装置を、請求項３に記載の発明のように、前記記録領域画像から、前記属性に基づいて前記指定印画像を抽出する抽出手段と、前記抽出手段によって抽出された前記指定印画像のうちの処理対象とする指定印画像に対する外接枠に対して一意に定められると共に該外接枠を縁取ることなく該外接枠に内包される被内包枠を形成する形成手段と、を更に含み、前記推定手段が、前記形成手段によって形成された前記被内包枠内における前記指定印画像の占有率に基づいて前記処理対象とする指定印画像に相当する指定印の種類を推定するものとした。
【００１０】
上記課題を解決するために、請求項４に記載の指定印推定装置を、画像が記録される記録領域内の領域を、各々前記画像の属性と異なる予め定められた属性を有すると共に前記記録領域に記録されることにより異なる指定方法で指定し、前記記録領域に記録されることにより塗り潰された領域の外接矩形枠に相当する枠で取り囲まれた領域を指定領域とする線分状印、前記記録領域に記録されることにより取り囲まれた領域の外接矩形枠に相当する枠で取り囲まれた領域を指定領域とする曲線枠状印、及び前記記録領域に記録されることにより取り囲まれた領域に相当する領域に内包された領域を指定領域とする多角形枠状印の少なくとも２つを含んで構成した予め定められた複数種類の指定印のうちの少なくとも１つが記録された記録領域を示す記録領域画像から、処理対象とする指定印に相当する指定印画像を抽出する抽出手段と、前記抽出手段によって抽出された前記指定印画像に相当する指定印の種類を推定する推定手段と、を含んで構成した。
【００１１】
請求項４に記載の指定印推定装置を、請求項５に記載の発明のように、前記抽出手段が、前記記録領域画像から、前記属性に基づいて前記指定印画像を抽出し、前記抽出手段によって抽出された前記指定印画像のうちの処理対象とする指定印画像に対する外接枠に対して一意に定められると共に該外接枠を縁取ることなく該外接枠に内包される被内包枠を形成する形成手段を更に含み、前記推定手段が、前記形成手段によって形成された前記被内包枠内における前記指定印画像の占有率に基づいて前記処理対象とする指定印画像に相当する指定印の種類を推定するものとした。
【００１２】
請求項４又は請求項５に記載の指定印推定装置を、請求項６に記載の発明のように、前記形成手段が、前記被内包枠を前記外接枠の中央部に位置するように形成するものとした。
【００１３】
請求項４〜請求項６の何れか１項に記載の指定印推定装置を、請求項７に記載の発明のように、前記指定印画像を、連続する特定色の異なる線画像としたものとした。
【００１４】
請求項４〜請求項７の何れか１項に記載の指定印推定装置を、請求項８に記載の発明のように、前記多角形枠状印が、他の指定印とは異なる指定印であることを表す自他識別印を内包するものとした。
【００１５】
請求項４〜請求項８の何れか１項に記載の指定印推定装置を、請求項９に記載の発明のように、前記複数種類の指定印の１つを、矩形枠を規定する一方の対角線に相当すると共に該矩形枠で取り囲んだ領域を指定領域とする斜線印とし、前記抽出手段によって抽出された前記処理対象とする指定印画像の輪郭に相当する線を予め定められた長さの線分単位で分節する分節手段と、前記分節手段によって分節されて得られた各線分の予め定められた基準線に対する角度と予め定められた基準傾斜線の前記基準線に対する角度との近似度の総和を導出する導出手段と、を更に含み、前記推定手段が、更に、前記導出手段によって導出された前記総和が閾値以上である場合に前記処理対象とする指定印画像に相当する指定印の種類が前記斜線印であると推定し、前記導出手段によって導出された前記総和が前記閾値以上でない場合に前記処理対象とする指定印画像に相当する指定印の種類が前記斜線印以外の指定印であると推定するものとした。
【００１６】
請求項４〜請求項９の何れか１項に記載の指定印推定装置を、請求項１０に記載の発明のように、前記複数種類の指定印の１つを、矩形枠を規定する一方の対角線に相当すると共に該矩形枠で取り囲んだ領域を指定領域とする斜線印とし、前記抽出手段によって抽出された前記処理対象とする指定印画像に対する凸包を形成する凸包形成手段を更に含み、前記推定手段が、更に、前記抽出手段によって抽出された前記処理対象とする指定印画像に対する外接矩形枠内における前記凸包形成手段によって形成された凸包の占有率が閾値以上の場合に該処理対象とする指定印画像に相当する指定印の種類が前記斜線印であると推定し、前記占有率が前記閾値以上でない場合に該処理対象とする指定印画像に相当する指定印の種類が前記斜線印以外の指定印であると推定するものとした。
【００１７】
上記課題を解決するために、請求項１１に記載のプログラムを、画像が記録される記録領域内の領域を、各々前記画像の属性と異なる予め定められた属性を有すると共に前記記録領域に記録されることにより異なる指定方法で指定する予め定められた複数種類の指定印のうちの少なくとも１つが記録された記録領域を示す記録領域画像から、処理対象とする指定印に相当する指定印画像を抽出し、抽出した指定印画像に相当する指定印の種類を推定する推定手段、及び、前記推定手段によって推定された種類の指定印によって指定された領域を、前記推定手段によって推定された種類の指定印に対して一意に定められた隠蔽方法で隠蔽する隠蔽手段としてコンピュータを機能させるためのものとした。
【００１８】
上記課題を解決するために、請求項１２に記載のプログラムを、画像が記録される記録領域内の領域を、各々前記画像の属性と異なる予め定められた属性を有すると共に前記記録領域に記録されることにより異なる指定方法で指定し、前記記録領域に記録されることにより塗り潰された領域の外接矩形枠に相当する枠で取り囲まれた領域を指定領域とする線分状印、前記記録領域に記録されることにより取り囲まれた領域の外接矩形枠に相当する枠で取り囲まれた領域を指定領域とする曲線枠状印、及び前記記録領域に記録されることにより取り囲まれた領域に相当する領域に内包された領域を指定領域とする多角形枠状印の少なくとも２つを含んで構成した予め定められた複数種類の指定印のうちの少なくとも１つが記録された記録領域を示す記録領域画像から、処理対象とする指定印に相当する指定印画像を抽出する抽出手段、及び、前記抽出手段によって抽出された前記指定印画像に相当する指定印の種類を推定する推定手段としてコンピュータを機能させるためのものとした。
【発明の効果】
【００１９】
請求項１、請求項４、請求項１１及び請求項１２に係る発明によれば、画像が記録される記録領域内の領域を、各々画像の属性と異なる予め定められた属性を有すると共に記録領域に記録されることにより異なる指定方法で指定する予め定められた複数種類の指定印のうちの少なくとも１つが記録された記録領域を示す記録領域画像から、処理対象とする指定印に相当する指定印画像を抽出し、抽出した指定印画像に相当する指定印の種類を推定する構成を有しない場合に比べ、意図する領域が高精度に隠蔽される、という効果が得られる。
【００２０】
請求項２に係る発明によれば、複数種類の指定印を、記録領域に記録されることにより塗り潰された領域の外接矩形枠に相当する枠で取り囲まれた領域を指定領域とする線分状印、記録領域に記録されることにより取り囲まれた領域の外接矩形枠に相当する枠で取り囲まれた領域を指定領域とする曲線枠状印、及び記録領域に記録されることにより取り囲まれた領域に相当する領域に内包された領域を指定領域とする多角形枠状印の少なくとも２つを含んで構成した、との構成を有しない場合に比べ、隠蔽対象として意図する領域が高精度に指定される、という効果が得られる。
【００２１】
請求項３に係る発明によれば、記録領域画像から、属性に基づいて指定印画像を抽出し、抽出された指定印画像のうちの処理対象とする指定印画像に対する外接枠に対して一意に定められると共に外接枠を縁取ることなく外接枠に内包される被内包枠を形成し、形成された被内包枠内における指定印画像の占有率に基づいて処理対象とする指定印画像に相当する指定印の種類を推定する構成を有しない場合に比べ、意図する領域がより一層高精度に隠蔽される、という効果が得られる。
【００２２】
請求項５に係る発明によれば、記録領域画像から、属性に基づいて指定印画像を抽出し、抽出された指定印画像のうちの処理対象とする指定印画像に対する外接枠に対して一意に定められると共に外接枠を縁取ることなく外接枠に内包される被内包枠を形成し、形成された被内包枠内における指定印画像の占有率に基づいて処理対象とする指定印画像に相当する指定印の種類を推定する構成を有しない場合に比べ、指定印の種類が高精度に推定される、という効果が得られる。
【００２３】
請求項６に係る発明によれば、被内包枠を前記外接枠の中央部に位置するように形成する構成を有しない場合に比べ、簡易な構成ながらも指定印の種類が高精度に推定される、という効果が得られる。
【００２４】
請求項７に係る発明によれば、指定印画像を、連続する特定色の異なる線画像とした構成を有しない場合に比べ、記録領域から指定印画像が簡便かつ高精度に抽出される、という効果が得られる。
【００２５】
請求項８に係る発明によれば、多角形枠状印が、他の指定印とは異なる指定印であることを表す自他識別印を内包する構成を有しない場合に比べ、線分状印、曲線枠状印及び多角形枠状印が高精度に推定される、という効果が得られる。
【００２６】
請求項９に係る発明によれば、複数種類の指定印の１つを、矩形枠を規定する一方の対角線に相当すると共に矩形枠で取り囲んだ領域を指定領域とする斜線印とし、抽出された処理対象とする指定印画像の輪郭に相当する線を予め定められた長さの線分単位で分節し、分節されて得られた各線分の予め定められた基準線に対する角度と予め定められた基準傾斜線の基準線に対する角度との近似度の総和を導出し、導出された総和が閾値以上である場合に処理対象とする指定印画像に相当する指定印の種類が斜線印であると推定し、導出された総和が前記閾値以上でない場合に処理対象とする指定印画像に相当する指定印の種類が斜線印以外の指定印であると推定する構成を有しない場合に比べ、斜線印による指定であるか否かが高精度に推定される、という効果が得られる。
【００２７】
請求項１０に係る発明によれば、複数種類の指定印の１つを、矩形枠を規定する一方の対角線に相当すると共に矩形枠で取り囲んだ領域を指定領域とする斜線印とし、抽出された処理対象とする指定印画像に対する凸包を形成し、更に、抽出された処理対象とする指定印画像に対する外接矩形枠内における凸包の占有率が閾値以上の場合に処理対象とする指定印画像に相当する指定印の種類が斜線印であると推定し、占有率が閾値以上でない場合に処理対象とする指定印画像に相当する指定印の種類が斜線印以外の指定印であると推定する構成を有しない場合に比べ、斜線印による指定であるか否かが高精度に推定される、という効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】第１の実施の形態に係る画像処理装置及び画像読取装置の構成の一例を示す構成図である。
【図２】第１の実施の形態に係る画像処理装置の電気系の要部構成の一例を示すブロック図である。
【図３】隠蔽対象領域の従来の指定方法（その１）を示す模式図である。
【図４】隠蔽対象領域の従来の指定方法（その２）を示す模式図である。
【図５】隠蔽対象領域の従来の指定方法（その３）を示す模式図である。
【図６】第１の実施の形態に係る画像処理装置によって隠蔽処理を施すために用いられる指定方法（その１）を説明するための図である。
【図７】第１の実施の形態に係る画像処理装置によって隠蔽処理を施すために用いられる指定方法（その２）を説明するための図である。
【図８】第１の実施の形態に係る画像処理装置によって隠蔽処理を施すために用いられる指定方法（その３）を説明するための図である。
【図９】第１の実施の形態に係る画像処理装置によって隠蔽処理を施すために用いられる指定方法（その４）を説明するための図である。
【図１０】第１の実施の形態に係る隠蔽処理プログラムの処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図１１】第１の実施の形態に係る傾斜近似度導出グラフの一例を示す図である。
【図１２】第１の実施の形態に係る枠利用推定処理プログラムの処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図１３】第１の実施の形態に係る画像処理装置によって隠蔽処理を施すために用いられる指定印（その１）に対する外接枠及び被内包枠の一例を示す模式図である。
【図１４】第１の実施の形態に係る画像処理装置によって隠蔽処理を施すために用いられる指定印（その２）に対する外接枠及び被内包枠の一例を示す模式図である。
【図１５】第１の実施の形態に係る画像処理装置によって隠蔽処理を施すために用いられる指定印（その３）に対する外接枠及び被内包枠の一例を示す模式図である。
【図１６】図６に示す指定方法によって指定された隠蔽対象領域が隠蔽された場合の一例を示す図である。
【図１７】図８に示す指定方法によって指定された隠蔽対象領域が隠蔽された場合の一例を示す図である。
【図１８】図７に示す指定方法によって指定された隠蔽対象領域が隠蔽された場合の一例を示す図である。
【図１９】図９に示す指定方法によって指定された隠蔽対象領域が隠蔽された場合の一例を示す図である。
【図２０】第２の実施の形態に係る隠蔽処理プログラムの処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【図２１】第２の実施の形態に係る画像処理装置によって隠蔽処理を施すために用いられる斜線印に対する凸包の一例を示す模式図である。
【図２２】第２の実施の形態に係る画像処理装置によって隠蔽処理を施すために用いられる曲線枠状印に対する凸包の一例を示す模式図である。
【図２３】第２の実施の形態に係る画像処理装置によって隠蔽処理を施すために用いられる多角形枠状印に対する凸包の一例を示す模式図である。
【図２４】実施の形態に係る指定印画像のノイズ除去方法の一例（その１）の説明に供する説明図である。
【図２５】実施の形態に係る指定印画像のノイズ除去方法の一例（その２）の説明に供する説明図である。
【図２６】実施の形態に係る指定印画像のノイズ除去方法の一例（その３）の説明に供する説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００２９】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態の一例を詳細に説明する。
【００３０】
［第１の実施の形態］
【００３１】
図１には本第１の実施の形態に係る画像処理装置１０が示されている。本第１の実施の形態では、画像処理装置１０としてパーソナル・コンピュータを適用している。なお、これに限らず、例えばマイクロコンピュータであっても良く、後述する隠蔽処理プログラムを実行する能力を有するコンピュータを備えたものであれば如何なるものであっても良い。
【００３２】
図１に示すように、画像処理装置１０には画像読取装置１１が接続されている。画像読取装置１１は、原稿搬送部１２及び画像読取部１４を備えている。なお、原稿搬送部１２と画像読取部１４とは連結部１６によって連結され、原稿搬送部１２は連結部１６を中心として画像読取部１４と接近又は離間する方向へ回転可能とされており、原稿搬送部１２が画像読取部１４と離間する方向へ回転されると後述するプラテンガラス３２が露出される。
【００３３】
原稿搬送部１２は、記録領域に画像が記録された原稿Ｐを置くための原稿台２０を備えており、原稿台２０上に置かれた原稿Ｐは、取り出しロール２２によって一枚ずつ取り出され、搬送路２４に沿って送給される。搬送路２４に沿って送給された原稿Ｐは、搬送ロール対２６によって画像読取部１４による原稿読取位置まで搬送され、原稿Ｐの片面に記録された画像が画像読取部１４によって読み取られた後、原稿読取位置よりも搬送方向下流側に設置された排紙部３０に排紙される。
【００３４】
一方、画像読取部１４は、上面に原稿Ｐを置くための透明なプラテンガラス３２を備えており、前述した原稿読取位置はプラテンガラス３２の上面に位置している。原稿読取位置におけるプラテンガラス３２の下側には、原稿Ｐの表面に向けて照明光を照射する光源３４と、原稿Ｐの表面で反射された反射光を受光する第１反射ミラー３６、第１反射ミラー３６から射出された反射光の進行方向を屈曲させるための第２反射ミラー３８、及び第２反射ミラー３８から射出された反射光の進行方向をさらに他の方向に屈曲させるための第３反射ミラー４０が設けられている。
【００３５】
また、画像読取部１４には、レンズ４２と、受光面上に一列に配列された多数個の光電変換センサを備えた光検出部４４が設けられており、画像読取部１４は、第３反射ミラー４０で反射された反射光を、レンズ４２によって光検出部４４の受光面に結像させることで、原稿Ｐの表面に記録された画像を、光検出部４４によって多数個の画素に分割しかつＲ,Ｇ,Ｂ各色成分に分解して読み取る。
【００３６】
なお、本実施形態では光源３４として蛍光ランプを用いているが、これに限られるものではなく、原稿Ｐの搬送方向と交差する方向に沿って配列された複数のＬＥＤ(Light Emitting Diode）等の他の光源を適用しても良い。また、本第１の実施の形態では、光検出部４４としてＣＣＤ(Charge Coupled Device)ラインセンサを用いているが、これに限られるものではなく、ＣＭＯＳ(Complementary Metal-Oxide Semiconductor)イメージセンサ等の他の固体撮像素子を適用しても良い。
【００３７】
また、本第１の実施の形態に係る画像読取装置１０は、光源３４、第１反射ミラー３６、第２反射ミラー３８及び第３反射ミラー４０が図１の矢印Ａ方向(及びその反対方向)に沿って移動される。これにより、原稿搬送部１２が画像読取部１４と離間する方向へ回転されることで露出されたプラテンガラス３２の上面に原稿Ｐが置かれた場合、光源３４から射出された照明光を原稿Ｐに照射しつつ、矢印Ａ方向に沿って光源３４、第１反射ミラー３６、第２反射ミラー３８及び第３反射ミラー４０を移動させることで、上記原稿Ｐの表面である記録領域(プラテンガラス３２の上面に接触している側の面)に記録された画像が記録領域を含んで（原稿Ｐの全面に亘って）読み取られる。
【００３８】
図２には本第１の実施の形態に係る画像処理装置１０の電気系の要部構成の一例が示されている。図２に示すように、画像処理装置１０は、画像処理装置１０全体の動作を司るＣＰＵ（Central Processing Unit：中央処理装置）１０Ａと、ＣＰＵ１０Ａによる各種処理プログラムの実行時のワークエリア等として用いられるＲＡＭ（Random Access Memory）１０Ｂと、各種制御プログラムや各種パラメータ等が予め記憶されたＲＯＭ（Read Only Memory）１０Ｃと、各種情報を記憶するために用いられる記憶手段としての二次記憶部（一例としてハードディスク装置）１０Ｄと、各種情報を受け付ける受付部（一例としてマウス及びキーボード）１０Ｅと、各種情報を表示する表示部（一例として液晶ディスプレイ）１０Ｆと、プリンタ（画像形成装置）やパーソナル・コンピュータ（ＰＣ）、画像読取装置１１等の外部機器（ここでは一例として画像読取装置１１）に接続され、外部機器への画像情報の送信や外部機器との各種情報の送受信を行う外部インタフェース１０Ｇと、が備えられており、これら各部はアドレスバス、データバス、及び制御バス等のバス１０Ｈを介して互いに電気的に接続されている。
【００３９】
従って、ＣＰＵ１０Ａは、ＲＡＭ１０Ｂ、ＲＯＭ１０Ｃ及び二次記憶部１０Ｄに対するアクセス、受付部１０Ｅを介して受け付けられた各種情報の取得、表示部１０Ｆに対する各種情報の表示、並びに外部インタフェース１０Ｇを介した画像読取装置１１との各種情報の授受を各々行う。
【００４０】
このように構成された画像処理装置１０は、原稿Ｐの記録領域に記録された画像を示す画像情報に対して各種処理を施す機能を有している。例えば、そのうちの１つとして、画像読取装置１１から入力された画像情報により示される画像内の指定された隠蔽すべき領域（以下、「隠蔽対象領域」という。）に対して隠蔽処理を施す隠蔽処理機能が挙げられる。ここで言う「隠蔽」とは、隠蔽対象領域を視認されないように特定色で塗り潰す隠蔽の他に、隠蔽対象領域の一部が視認される模様や絵柄などを重畳するという意味も含む。
【００４１】
画像処理装置１０の隠蔽処理機能を働かせる前提として、先ず、原稿Ｐの記録領域に記録された画像における隠蔽対象領域が指定されなければならない。隠蔽対象領域を指定する方法としては例えば図３〜図５に示す指定方法が知られている。すなわち、図３に示す指定方法は、隠蔽対象領域を線分状の印（以下、「線分状印」という。）によって指定する方法である。しかし、この指定方法は隠蔽対象領域が何行にも及ぶ場合には何行も線分状印を記録しなければならず隠蔽対象領域が例えば何百行、何千行ともなると膨大な手間がかかる。図４に示す指定方法は、多角形枠の印（以下、「多角形印」という。）を用いた指定方法であり、多角形印で取り囲んだ領域が隠蔽対象領域として指定され、多角形印の内側の全領域が一例として図４に示すように塗り潰されて隠蔽される。多角形印を用いた指定方法によれば、場合によっては線分状印に比べ隠蔽対象領域の指定にかかる手間が軽減される。しかし、隠蔽対象領域として意図しない領域が隠蔽されてしまうことがある。図５に示す指定方法は、多角形印で取り囲んだ領域を包含する矩形枠内の全領域を隠蔽対象領域として指定する方法である。この場合も意図しない領域が隠蔽されてしまう虞がある。
【００４２】
これに対し、本第１の実施の形態に係る画像処理装置１０を用いる場合、先ず、ユーザが、各々隠蔽方法が異なる予め定められた複数種類の指定方法から指定方法を選択し、選択した指定方法により原稿Ｐの記録領域に含まれる画像（隠蔽対象となり得る画像）から隠蔽対象とする画像（以下、「隠蔽対象画像」という。）を含む隠蔽対象領域を指定することを前提にしている。すなわち、隠蔽対象領域の指定は、各々指定方法が異なる予め定められた複数種類の指定印が原稿Ｐの記録領域に対して選択的に記録されることによって行われる。そして、画像処理装置１０は、ユーザによって指定された隠蔽対象領域を、隠蔽処理機能を働かせることにより、指定印に対して一意に定められた隠蔽方法で隠蔽する。
【００４３】
上記の複数種類の指定印の一例としては、各々連続する特定色（例えば黒色）で形成された異なる線画が挙げられ、具体的には図６〜図９に示す指定印が挙げられる。連続する線画としたのは、不連続な線画で形成された指定印に比べ、簡便かつ高精度に特定されるからである。しかしながら、指定印を文字画像の上に重ねて記録した場合、例えば図２４に示すようにマーカを示す画像（マーカ画像）が途切れてしまうことが想定される。この場合は、隣り合ったマーカ画像が互いに相違しない色（ここでは一例として黒色）であった場合に塗り潰して（ノイズ除去して）連続したマーカ画像（線画像）に整形する。また、一例として図２５に示すように、枠状の指定印（ここでは一例として楕円状の指定印）であっても、かすれやノイズ、マーカの記録の仕方によりマーカが切断されてしまうことが想定される。この場合は、マーカ画像を膨張させて切断された部分を結合すれば良い。また、この他の整形方法（ノイズ除去方法）としては、一例として図２６に示すように、最小二乗法によって二次元の点列にフィットする最良の楕円を計算し、楕円をフィッティングしてから重なり合った楕円を一つにまとめる方法が挙げられる。
【００４４】
図６〜図９に示す指定印は何れも、記録領域に記録される他の画像の属性とは異なる属性を有する。図６〜図９に示す例では、指定印以外の画像が無彩色（一例として黒色）の色材で記録された画像とされ、指定印は、他の画像に重ねて記録した際に重なった領域において他の画像（指定印の下敷きになった画像）が透過して視認されると共に画像読取装置１１によって認識される有彩色（一例として蛍光ピンク色）の色材を塗布する筆記具（一例として蛍光色マーカ）により記録された太線画とされている。なお、以下では、原稿Ｐの基調色が白色であり、且つ、隠蔽対象画像となり得る画像が白紙の原稿Ｐの記録領域に対して黒色の色材で記録され、原稿Ｐの記録領域に対して指定印が蛍光色マーカ（以下、「マーカ」という。）によって記録されることを前提にして説明する。
【００４５】
図６に示す指定印は、隠蔽対象画像に重ねて記録することにより内包された領域に対する外接矩形枠の内側（ここでは一例として内側全体）を隠蔽対象領域として指定する線分状印である。図７に示す指定印は、隠蔽対象画像に重ねて記録することにより取り囲まれた領域の外接矩形枠の内側（ここでは一例として内側全体）を隠蔽対象領域として指定する曲線枠状の印（以下、「曲線枠状印」という。）である。なお、本第１の実施の形態では、曲線枠状の印に対する外接矩形枠の内側が指定領域とされているが、これに限らず、曲線枠状の印に対する内接矩形枠の内側が指定領域とされても良い。
【００４６】
図８に示す指定印は、隠蔽対象画像に重ねて記録することにより取り囲まれた領域に相当する領域（ここでは一例として全領域）を隠蔽対象領域として指定する多角形枠状の印であって、他の指定印とは異なる指定印であることを表わす自他識別印（ここでは一例として斜線）を内包する多角形枠状の印（以下、「多角形枠状印」という。）である。図９に示す指定印は、隠蔽対象画像に重ねて記録することにより取り囲まれた領域の内側（ここでは一例として内側全体）を隠蔽対象領域として指定する矩形枠（図９に示す破線矩形枠）を規定する一対の対角線のうちの一方の対角線として上記の基準線に対して予め定められた傾斜範囲（一例として４５度±５度、１３５度±５度）内で傾斜している斜線の印（以下、「斜線印」という。）である。
【００４７】
本第１の実施の形態に係る画像処理装置１０では、隠蔽処理機能を実現するための各種処理がソフトウェア構成によって実現される。その一例としては、コンピュータを利用してプログラムを実行する形態が挙げられる。しかし、このようなソフトウェア構成による実現に限られるものではなく、ハードウェア構成や、ハードウェア構成とソフトウェア構成との組み合わせによって実現しても良いことは言うまでもない。
【００４８】
以下では、本第１の実施の形態に係る画像処理装置１０のＣＰＵ１０Ａが隠蔽処理プログラムを実行することにより隠蔽処理機能を実現する場合について説明する。この場合、隠蔽処理プログラムを二次記憶部１０Ｄに予め記憶させておく形態や、記憶内容がコンピュータによって読み取られる記録媒体に記憶された状態で提供される形態、有線または無線による通信手段を介して配信される形態等を適用しても良い。
【００４９】
図１０は、本第１の実施の形態に係る隠蔽処理プログラムの処理の流れの一例を示すフローチャートである。なお、以下の説明では、錯綜を回避するために、画像読取装置１１から画像処理装置１０に取り込まれた画像情報であって、白紙の原稿Ｐの記録領域に対して黒色の色材で記録された場合の記録領域の全面に亘る画像（記録領域画像）を示す画像情報（以下、「処理対象画像情報」という。）を処理対象とした場合について説明する。
【００５０】
図１０のステップ１００では、処理対象画像情報により示される記録領域の画像（以下、「処理対象画像」という。）にマーカによって記録された箇所（マーカ箇所）が記録されているか否かを判定し、否定判定となった場合には本隠蔽処理プログラムを終了する一方、肯定判定となった場合にはステップ１０２に移行する。なお、マーカ箇所か否かは、マーカの属性及び記録領域に記録されるマーカ以外の画像の属性（ここでは一例としてマーカの色と他の画像の色の違い）に基づいて判定される。
【００５１】
ステップ１０２では、処理対象画像に指定印のマーカ箇所とは認められないマーカ箇所（処理対象外マーカ箇所）が存在するか否かを判定する。処理対象外マーカ箇所とは、例えば連続した線画像であるとは認められないマーカ箇所を指し、ここでは、１画素のマーカ箇所又は輪郭の線の長さが（原稿Ｐのサイズの幅＋原稿Ｐのサイズ）／５１２未満の連続する画素の集合体であるマーカ箇所を処理対象外マーカ箇所としている。本ステップ１０２において肯定判定となった場合にはステップ１０４に移行する一方、否定判定となった場合にはステップ１０６に移行する。
【００５２】
ステップ１０４では、処理対象画像から処理対象外マーカ箇所を削除した後、ステップ１０６に移行する。ステップ１０６では、処理対象画像に他にマーカ箇所があるか否かを判定し、否定判定となった場合には本隠蔽処理プログラムを終了する一方、肯定判定となった場合にはステップ１０８に移行する。ステップ１０８では、マーカの属性に基づいて（ここでは一例としてマーカの属性と記録領域に記録されるマーカ以外の画像の属性の違い（黒色か否か）に基づいて）処理対象画像からマーカ箇所を抽出することにより処理対象画像とマーカ箇所とを分離した後、ステップ１１０に移行する。
【００５３】
ステップ１１０では、上記ステップ１０８の処理で分離されて得られたマーカ箇所から１つの連続するマーカ箇所の画像（以下、「処理対象マーカ画像」という。）を取得する。次のステップ１１２では、上記ステップ１１０の処理で取得された処理対象マーカ画像の輪郭に相当する線（ここでは一例として輪郭の線）を予め定められた線分単位（一例として（原稿Ｐのサイズの幅＋原稿Ｐのサイズ）／５１２の長さの線分単位）で分節した後、ステップ１１４に移行する。
【００５４】
ステップ１１４では、上記ステップ１１２の処理で分節されて得られた線分の各々について、線分の基準線（ここでは一例として水平線）に対する角度と基準傾斜線（ここでは一例として水平線に対して４５度傾斜している直線）の基準線に対する角度との近似度（以下、「傾斜近似度」という。）を導出する。本ステップ１１４では、例えば図１１に示す傾斜近似度導出グラフを用いて導出する。傾斜近似度導出グラフは、横軸が基準線に対する０度以上９０度以下の角度を示し、縦軸が横軸で示す角度を３倍した値である傾斜近似度を示すグラフとされている。すなわち、傾斜近似度導出グラフは、横軸の０度及び９０度で縦軸の最小値である４５×０（＝０）となり、横軸の４５度で縦軸の最大値である４５×３（＝１３５）となるように、０度から４５度にかけて加速的に傾斜近似度が上昇すると共に、４５度から９０度にかけては０度から４５度と対称的に傾斜近似度が下降するグラフとされている。従って、線分の基準線に対する角度が４５度に近似していればいるほど傾斜近似度が大きくなる。なお、ここでは、縦軸を「４５×３」としているが、これに限らず、例えば「４５×４」や「４５×５」であっても良く、傾斜近似度導出グラフが横軸の０度以上１８０度以下の範囲で４５度を中心に急峻且つ線対称的に上昇及び下降する値に設定されていれば良い。
【００５５】
次のステップ１１６では、上記ステップ１１４の処理で得られた各線分の傾斜近似度の総和を算出した後、ステップ１１８に移行する。ステップ１１８では、上記ステップ１１６の処理で算出された総和が斜線印判定閾値以上であるか否かを判定し、肯定判定となった場合には上記ステップ１１０の処理で取得された処理対象マーカ画像が斜線印に相当する画像であると推定してステップ１２０に移行する。一方、ステップ１１８において否定判定となった場合には上記ステップ１１０の処理で取得された処理対象マーカ画像が斜線印以外の指定印に相当する画像であると推定してステップ１２２に移行する。斜線印判定閾値は、多様な斜線印の各々について、予め定められた線分単位で分節して得られた各線分の傾斜近似度の総和から得られた斜線印として認められる値の最低値として予め定められた値であって、実験やシミュレーション等を行って得られた結果から定められた値である。なお、斜線印判定閾値は、画像処理装置１０の利用者等による受付部１０Ｅを介した指示に応じて変更されても良いし、指示に応じて変更されない固定値としても良い。
【００５６】
ステップ１２０では、上記ステップ１１０の処理で取得された処理対象マーカ画像が斜線印であることを示す斜線印情報をＲＡＭ１０Ｂの予め定められた記憶領域に記憶した後、ステップ１２４に移行する。
【００５７】
一方、ステップ１２２では、上記ステップ１１０の処理で取得された処理対象マーカ画像が斜線印以外の何れの指定印に相当する画像であるかを枠を利用して推定する枠利用推定処理を実行した後、ステップ１２４に移行する。この枠利用推定処理は、ＣＰＵ１０Ａによって枠利用推定処理プログラムが実行されることによって実現される。図１２は、枠利用推定処理プログラムの処理の流れの一例を示すフローチャートである。
【００５８】
図１２のステップ１２２Ａでは、上記ステップ１１０の処理で取得された処理対象マーカ画像に対する外接枠を形成した後、ステップ１２２Ｂに移行する。なお、本第１の実施の形態では、上記ステップ１２２Ａの処理が実行されることによって、外接枠として、線分状印に相当する処理対象マーカ画像に対しては一例として図１３に示す外接矩形枠５０が形成され、多角形枠状印に相当する処理対象マーカ画像に対しては一例として図１４に示す外接矩形枠５２が形成され、曲線枠状印に相当する処理対象マーカ画像に対しては一例として図１５に示す外接矩形枠５４が形成される。ここでは、外接矩形枠５０，５２，５４を例示しているが、これに限らず、外接円や矩形枠以外の多角形枠であっても良い。
【００５９】
ステップ１２２Ｂでは、上記ステップ１２２Ａの処理で形成された外接枠に対して一意に定められると共にその外接枠を縁取らずにその外接枠に内包される被内包枠を形成した後、ステップ１２２Ｃに移行する。ここで言う「外接枠を縁取らず」とは、言い換えると、外接枠の内輪郭に接しないこと指す。本第１の実施の形態では、上記ステップ１２２Ｂの処理が実行されることによって、被内包枠として、外接矩形枠５０に対しては一例として図１３に示す矩形枠５０Ａが予め定められた位置（例えば外接矩形枠５０の内側の領域であって外接矩形枠５０の内輪郭に接しない領域の中央部）に形成され、外接矩形枠５２に対しては一例として図１４に示す矩形枠５２Ａが予め定められた位置（例えば外接矩形枠５２の内側の領域であって外接矩形枠５２の内輪郭に接しない領域の中央部）に形成され、外接矩形枠５４に対しては一例として図１５に示す矩形枠５４Ａが予め定められた位置（例えば外接矩形枠５４の内側の領域であって外接矩形枠５４の内輪郭に接しない領域の中央部）に形成される。また、ここで言う「中央部」とは、例えば外接枠の中心と被内包枠の中心とを重ねた場合に被内包枠が取り得る領域を指す。また、ここでは、被内包枠として矩形枠５０Ａ，５２Ａ，５４Ａを例示しているが、これに限らず、円や矩形枠以外の多角形枠であっても良い。また、本第１の実施の形態では、被内包枠を、この被内包枠を内包する外接枠を１／２に縮小した枠としているが、これに限らず、被内包枠を外接枠の内輪郭に接触させないように形成すれば良い。つまり、外接枠に接触しないように内包された枠であって予め定められた規則（例えば縦方向の縮小率５０％及び横方向の縮小率３０％の枠とするとの規則、外接枠に対する内接円を１／２に縮小した枠にするとの規則、又は外接枠の内側に予め定められた距離だけオフセットすることによって形成される枠とするとの規則など）に従って定められた枠であれば如何なる枠であっても良い。
【００６０】
ステップ１２２Ｃでは、上記ステップ１２２Ｂの処理で形成された被内包枠における上記ステップ１１０の処理で取得された処理対象マーカ画像の占有率を算出した後、ステップ１２２Ｄに移行する。ステップ１２２Ｄでは、上記ステップ１２２Ｂの処理で形成された被内包枠における上記ステップ１１０の処理で取得された処理対象マーカ画像の占有率が線分・多角形間閾値以上であるか否かを判定し、肯定判定となった場合には上記ステップ１１０の処理で取得された処理対象マーカ画像が線分状印であると推定してステップ１２２Ｅに移行する。線分・多角形間閾値は、多様な線分状印のサンプル（例えば１００００種類以上の線分状印から無作為にサンプリングされた１０００種類の線分状印）及び多様な多角形枠状印のサンプル（例えば１００００種類以上の線分状印から無作為にサンプリングされた１０００種類の多角形枠状印）について、線分状印として認められる値と多角形枠状印として認められる値とが切り分けられる境界値として実験やシミュレーション等を行って予め得られた値である。なお、本第１の実施の形態では、線分・多角形間閾値として５０％を適用しているが、これに限らず、その他の値であっても良い。但し、その場合、後述の多角形・曲線間閾値よりも大きな値でなければならない。
【００６１】
ステップ１２２Ｅでは、上記ステップ１１０の処理で取得された処理対象マーカ画像が線分状印に相当する画像であることを示す線分状印情報をＲＡＭ１０Ｂの予め定められた記憶領域に記憶した後、本枠利用推定処理プログラムを終了する。
【００６２】
一方、ステップ１２２Ｄにおいて否定判定となった場合には上記ステップ１１０の処理で取得された処理対象マーカ画像が多角形枠状印又は曲線枠状印に相当する画像であると推定してステップ１２２Ｆに移行する。ステップ１２２Ｆでは、上記ステップ１２２Ｂの処理で形成された被内包枠における上記ステップ１１０の処理で取得された処理対象マーカ画像の占有率が多角形・曲線間閾値以上であるか否かを判定し、肯定判定となった場合には上記ステップ１１０の処理で取得された処理対象マーカ画像が多角形枠状印に相当する画像であると推定してステップ１２２Ｇに移行する。多角形・曲線間閾値は、多様な多角形枠状印のサンプル（例えば１００００種類以上の多角形枠状印から無作為にサンプリングされた１０００種類の線分状印）及び多様な曲線枠状印のサンプル（例えば１００００種類以上の曲線枠状印から無作為にサンプリングされた１０００種類の曲線枠状印）について、多角形枠状印として認められる値と曲線枠状印として認められる値とが切り分けられる境界値として実験やシミュレーション等を行って予め得られた値である。ここでは、多角形・曲線間閾値として２．５％を適用しているが、これに限らず、その他の値であっても良い。但し、その場合、既述の線分・多角形間閾値よりも小さな値でなければならない。
【００６３】
ステップ１２２Ｇでは、上記ステップ１１０の処理で取得された処理対象マーカ画像が多角形枠状印に相当する画像であることを示す多角形枠状印情報をＲＡＭ１０Ｂの予め定められた記憶領域に記憶した後、本枠利用推定処理プログラムを終了する。
【００６４】
一方、ステップ１２２Ｆにおいて否定判定となった場合には上記ステップ１１０の処理で取得された処理対象マーカ画像が曲線枠状印に相当する画像であると推定してステップ１２２Ｈに移行する。ステップ１２２Ｈでは、上記ステップ１１０の処理で取得された処理対象マーカ画像が曲線枠状印に相当する画像であることを示す曲線枠状印情報をＲＡＭ１０Ｂの予め定められた記憶領域に記憶した後、本枠利用推定処理プログラムを終了する。なお、以下、説明の便宜上、斜線印情報、線分状印情報、多角形枠状印情報及び曲線枠状印情報を区別して説明する必要がない場合は「指定印情報」という。
【００６５】
図１０のステップ１２４では、上記ステップ１２０又は上記ステップ１２２の処理でＲＡＭ１０Ｂに記憶された指定印情報に対して一意に定められた指定方法で処理対象画像における隠蔽対象領域を指定した後、ステップ１２６に移行する。ステップ１２６では、上記ステップ１２４の処理で指定された隠蔽対象領域を、上記ステップ１２４の処理で採用された指定方法に対して一意に定められた隠蔽方法で隠蔽して得られた処理対象画像を表示部１０Ｆに表示する。線分状印情報による指定方法に対して一意に定められた隠蔽方法としては、例えば、外接矩形枠５０の内側の全領域を塗り潰すことで、指定された隠蔽対象領域を隠蔽する方法が挙げられる。これにより、指定された隠蔽対象領域は一例として図１６に示すように隠蔽される。また、多角形枠状印情報による指定方法に対して一意に定められた隠蔽方法としては、例えば、多角形枠状印に相当する画像の輪郭で取り囲まれた領域に相当する領域（ここでは全領域）を塗り潰すことで、指定された隠蔽対象領域を隠蔽する方法が挙げられる。これにより、指定された隠蔽対象領域は一例として図１７に示すように隠蔽される。また、曲線枠状印情報による指定方法に対して一意に定められた隠蔽方法としては、例えば、外接矩形枠５４の内側の全領域を塗り潰すことで、指定された隠蔽対象領域を隠蔽する方法が挙げられる。これにより、指定された隠蔽対象領域は一例として図１８に示すように隠蔽される。なお、図１８に示す例では、破線の曲線が図示されているが、これは曲線枠状印の概略イメージを例示したものであり、実際に表示されるものではない。更に、斜線印情報による指定方法としては、例えば、斜線印に対する外接矩形枠の内側の全領域を塗り潰すことで、指定された隠蔽対象領域を隠蔽する方法が挙げられる。これにより、指定された隠蔽対象領域は一例として図１９に示すように隠蔽される。なお、図１９に示す例では、破線の斜線が図示されているが、これは斜線印の概略イメージを例示したものであり、実際に表示されるものではない。
【００６６】
また、上記ステップ１２６の処理では、隠蔽済みの画像を表示部１０Ｆに表示する形態例を挙げて説明したが、これに限らず、画像処理装置１０にプリンタが接続されているのであれば、プリンタを利用して記録媒体（一例として用紙）に隠蔽済みの画像を記録しても良い。また、隠蔽済みの画像を示す画像情報を二次記憶部１０Ｄに記憶しても良い。また、外部装置に送信して外部装置の記憶手段（一例としてハードディスク装置）に記憶されても良い。
【００６７】
次のステップ１２８では、上記ステップ１０８の処理で分離して得られたマーカ箇所の全てについて上記ステップ１１０〜１２６の処理を終了したか否かを判定し、否定判定となった場合にはステップ１１０に戻る一方、肯定判定となった場合には本隠蔽処理プログラムを終了する。
【００６８】
以上、詳細に説明したように、本第１の実施の形態に係る画像処理装置１０によれば、ＣＰＵ１０Ａによって隠蔽処理プログラムが実行されることによって、処理対象画像内の隠蔽対象領域を、各々処理対象画像の属性とは異なる属性で処理対象画像に重ねて記録されることにより異なる指定方法で指定する予め定められた複数種類の指定印のうちの少なくとも１つが記録された記録領域を示す画像である処理対象画像から、属性に基づいて指定印に相当する画像を抽出し、抽出された指定印に相当する画像のうちの処理対象とする指定印に相当する画像である処理対象マーカ画像に対する外接枠に対して一意に定められた被内包枠を形成し、形成された被内包枠内における指定印に相当する画像の占有率に基づいて処理対象マーカ画像に相当する指定印の種類を推定するので、従来の手法（例えば隠蔽対象領域が１種類の指定印によって指定される手法）に比べ、意図する領域の高精度な指定が実現される。よって、本構成を有しない場合に比べ、隠蔽対象領域として意図する領域に対して高精度に隠蔽処理が施される。
【００６９】
なお、本第１の実施の形態では、多角形枠状印に含まれる自他識別印として斜線を用いた例を挙げて説明したが、この場合、自他識別印としての斜線が斜線印として認識されてしまうことが予想される。しかし、自他識別印としての斜線が斜線印として認識されたとしてもこれが意図する隠蔽対象領域に対して隠蔽が成されないことには繋がらない。なぜならば、仮に自他識別印としての斜線が斜線印として認識され、この斜線に対して上述したように外接矩形枠が形成され、形成された外接矩形枠内の全領域が隠蔽されたとしてもそれは多角形枠状印の中（多角形枠状印を用いて隠蔽対象領域を指定した者の意図する隠蔽対象領域内）を隠蔽することになるからである。よって、その場合は、後に多角形枠状印に取り囲まれた領域の内側の全領域が隠蔽されることにより斜線印として認識された自他識別印の斜線に対する外接矩形枠によっては補い切れなかった領域が隠蔽されることになるため何ら不都合は生じない。
【００７０】
また、本第１の実施の形態では、自他識別印として斜線を用いたが、これに限らず、他の印を用いても良い。例えば、「△」との記号や「＃」との記号などであっても良く、特定色の連続する線画であることが好ましい。このように多角形枠状印が他の指定印と区別される記号であれば如何なる記号であっても良い。
【００７１】
また、本第１の実施の形態では、画像処理装置１０に隠蔽処理機能を与えた場合の形態例を挙げて説明したが、これに限らず、画像読取装置１１に隠蔽処理機能を与えても良い。この場合、画像読取装置１１を制御するコンピュータに対して上述した隠蔽処理プログラムを実行させれば良い。
【００７２】
また、本第１の実施の形態では、画像を隠蔽するために原稿Ｐの記録領域に隠蔽対象となり得る画像が記録されている場合を前提に説明したが、これに限らず、原稿Ｐの記録領域に隠蔽対象となり得る画像が記録されていなくても良い。すなわち、白紙の原稿Ｐの記録領域内の領域を指定し、指定した領域に対して隠蔽処理（例えば塗り潰しや網掛け処理）を施しても良い。
【００７３】
［第２の実施の形態］
【００７４】
上記第１の実施の形態では、傾斜近似度を導出することにより処理対象マーカ画像に相当する指定印が斜線印であるか否かを判定する場合の形態例を挙げて説明したが、傾斜印であるか否かを判定する手段はこれに限定されるものではない。そこで、本第２の実施の形態では、上記第１の実施の形態とは異なる手段を用いて傾斜印であるか否かを判定する場合について説明する。なお、以下では、上記第１の実施の形態で説明した内容と重複する内容については上記第１の実施の形態で記載した符号と相違しない符号を用いてその説明を省略し、上記第１の実施の形態と異なる内容について説明する。
【００７５】
図２０は、本第２の実施の形態に係る隠蔽処理プログラムの処理の流れの一例を示すフローチャートである。図２０に示すフローチャートは、図１０に示すフローチャートに比べ、ステップ１１２，１１４，１１６に代えてステップ２００，２０２を適用した点、及びステップ１１８に代えてステップ２０４を適用した点が異なっている。
【００７６】
ステップ２００では、処理対象マーカ画像に対する外接枠を形成した後、ステップ２０２に移行する。なお、本第２の実施の形態では、上記ステップ２００の処理が実行されることによって、外接枠として、線分状印に相当する処理対象マーカ画像に対しては一例として図１３に示す外接矩形枠５０が形成され、多角形枠状印に相当する処理対象マーカ画像に対しては一例として図１４に示す外接矩形枠５２が形成され、曲線枠状印に相当する処理対象マーカ画像に対しては一例として図１５に示す外接矩形枠５４が形成される。ここでは、外接矩形枠５０，５２，５４を例示しているが、これに限らず、外接円や矩形枠以外の多角形枠であっても良い。
【００７７】
ステップ２０２では、処理対象マーカ画像に対する凸包を形成した後、ステップ２０４に移行する。ここで言う「凸包」とは、点集合の中で最も外側にある点を直線で結んで出来る線分の集合を指す。なお、本第２の実施の形態では、上記ステップ２０２の処理が実行されることによって、凸包として、線分状印に相当する処理対象マーカ画像に対しては一例として図２１に示す凸包５０Ｂが形成され、曲線枠状印に相当する処理対象マーカ画像に対しては一例として図２２に示す凸包５２Ｂが形成され、多角形枠状印に相当する処理対象マーカ画像に対しては一例として図２３に示す凸包５４Ｂが形成される。
【００７８】
ステップ２０４では、上記ステップ２００の処理で形成された外接枠における上記ステップ２０２の処理で形成された凸包の占有率が、凸包の面積に対して予め定められた係数を乗じて得た閾値（斜線判定閾値）以上であるか否かを判定し、肯定判定となった場合にはステップ１２０に移行する一方、否定判定となった場合にはステップ１２２に移行する。なお、この判定方法に限定される必要はなく、例えば「外接枠の面積≧凸包の面積×３００」の関係が成立していれば肯定判定とし、この関係が成立していなければ否定判定としても良い。また、ここでは、斜線判定閾値を凸包の面積に応じて可変される値としたが、これに限らず、指定印毎に一意に割り当てられた固定値としても良い。
【００７９】
以上、詳細に説明したように、本第２の実施の形態に係る画像処理装置１０によれば、ＣＰＵ１０Ａによって本第２の実施の形態に係る隠蔽処理プログラムが実行されることによって、処理対象マーカ画像に対する凸包を形成し、処理対象マーカ画像に相当する画像に対する外接矩形枠内における凸包の占有率が斜線判定閾値以上の場合に処理対象マーカ画像に相当する指定印が斜線印であると推定し、処理対象マーカ画像に対する外接矩形枠内における凸包の占有率が斜線判定閾値未満の場合に処理対象マーカ画像に相当する指定印が斜線印以外の指定印（線分状印、多角形枠状印又は曲線枠状印）であると推定するので、本構成を有しない場合に比べ、記録領域に斜線印が記録されているか否か（隠蔽対象領域が斜線印によって指定されているか否か）が高精度に推定される。
【符号の説明】
【００８０】
１０  画像処理装置
１０Ａ  ＣＰＵ
５０，５２，５４  外接矩形枠
５０Ａ，５２Ａ，５４Ａ  矩形枠
５０Ｂ，５２Ｂ，５４Ｂ  凸包
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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