(57)【要約】【課題】半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査装置において、不用意に画像形成装置における感光体にレーザ光を照射して感光体を露光及び劣化させることなく、画像形成装置に搭載した最終状態での半導体レーザの検査を実施できるようにする。【解決手段】光走査装置２は、光走査装置２に設けられた反射ミラー３０の反射面の方向を所定の方向に調整してから、半導体レーザ２０からレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する検査実施部を有する。上記所定の方向は、上記反射面で反射したレーザ光が、光走査装置２を画像形成装置に搭載した状態での非印字エリアに最終的に照射するような方向とする。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査装置であって、
前記光走査装置に設けられた反射ミラーの反射面の方向を所定の方向に調整してから、前記半導体レーザからレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する検査実施部を有し、
前記所定の方向は、前記反射面で反射したレーザ光が、前記光走査装置を画像形成装置に搭載した状態での非印字エリアに最終的に照射するような方向であることを特徴とする光走査装置。
【請求項２】
レーザ光の前記被走査体上での走査を開始する基準信号を発生させるためにレーザ光を検知する検知センサを備え、
前記反射ミラーは、前記検知センサに向かうレーザ光の光路に影響しない位置であって、且つ前記検知センサに向かうレーザ光の光路より後段に配置されていることを特徴とする請求項１に記載の光走査装置。
【請求項３】
前記反射ミラーは、ステッピングモータにより前記反射面の方向が調整可能に設けられていることを特徴とすることを特徴とする請求項１又は２に記載の光走査装置。
【請求項４】
ポリゴンミラーを有し、前記反射ミラーは、前記ポリゴンミラーより後段に設けられていることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の光走査装置。
【請求項５】
ポリゴンミラーを有し、前記反射ミラーは、前記ポリゴンミラーより前段に設けられていることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の光走査装置。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれか１項に記載の光走査装置を備えた画像形成装置であって、前記検査実施部は、ユーザ操作により若しくは設定されたタイミングで、前記発光検査を実施することを特徴とする画像形成装置。
【請求項７】
半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査装置における半導体レーザ検査方法であって、
前記光走査装置に設けられた反射ミラーの反射面の方向を所定の方向に調整してから、前記半導体レーザからレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する検査工程を有し、
前記所定の方向は、前記反射面で反射したレーザ光が、前記光走査装置を画像形成装置に搭載した状態での非印字エリアに最終的に照射するような方向であることを特徴とする半導体レーザ検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査装置、その光走査装置を備えた画像形成装置、及びその光走査装置における半導体レーザを検査する半導体レーザ検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、画像形成装置には半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査装置（光走査ユニットとも言う）が設けられたものがある。そして、半導体レーザも、他の部品と同様に初期不良を起こすことがあるため、画像形成装置に組み込む前に検査（スクリーニング）がなされている。
【０００３】
例えば特許文献１には、通信用半導体レーザを搭載した光送信モジュールにおいて、スクリーニングを可能に構成する技術が開示されている。
また、特許文献２には、半導体レーザを駆動させて、初期光出力１５ｍＷ以上の光出力にて動作電流一定となるか否かを検査する方法や、光出力１５ｍＷ以上で光出力が一定になるか否かを検査する方法が開示されている。
【０００４】
なお、光走査装置に関し、特許文献３には、レーザ光を反射させる反射面を有するポリゴンミラーをモータで回転させる励磁パターンとは異なる励磁パターンを利用してモータの回転を所定位置に停止させてレーザ照射する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００８−６６３２２号公報
【特許文献２】特開２００８−５３２６８号公報
【特許文献３】特開平１０−４８５５９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、半導体レーザは、静電気に対して非常に弱く、最終形態の製品化までの間に静電気が加わると寿命が大きく変動してしまう。そのため、光走査装置や光走査装置を備えた画像形成装置においても、製品組上げ後の最終状態（画像形成装置に搭載した状態）で半導体レーザの検査を行って、不良である場合には交換することが望まれる。
【０００７】
しかしながら、特許文献１では、検査（試験）を実施できるように光送信モジュール用プリント基板を改良することについて提案されているが、製品組上げ後の最終形態での検査の実施を行うものではない。また、特許文献２に記載の半導体レーザは、製品組上げ後の最終形態での検査の実施を想定したものではない。なお、特許文献３には、半導体レーザのスクリーニングの実施について記載されていない。
【０００８】
本発明は、上述のような実状に鑑みてなされたものであり、その目的は、半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査装置において、不用意に画像形成装置における感光体にレーザ光を照射して感光体を露光及び劣化させることなく、画像形成装置に搭載した最終状態での半導体レーザの検査を実施できるようにすることにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するために、本発明の第１の技術手段は、半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査装置であって、前記光走査装置に設けられた反射ミラーの反射面の方向を所定の方向に調整してから、前記半導体レーザからレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する検査実施部を有し、前記所定の方向は、前記反射面で反射したレーザ光が、前記光走査装置を画像形成装置に搭載した状態での非印字エリアに最終的に照射するような方向であることを特徴としたものである。
【００１０】
第２の技術手段は、第１の技術手段において、レーザ光の前記被走査体上での走査を開始する基準信号を発生させるためにレーザ光を検知する検知センサを備え、前記反射ミラーは、前記検知センサに向かうレーザ光の光路に影響しない位置であって、且つ前記検知センサに向かうレーザ光の光路より後段に配置されていることを特徴としたものである。
【００１１】
第３の技術手段は、第１又は第２の技術手段において、前記反射ミラーは、ステッピングモータにより前記反射面の方向が調整可能に設けられていることを特徴としたものである。
【００１２】
第４の技術手段は、第１〜第３のいずれか１の技術手段において、ポリゴンミラーを有し、前記反射ミラーは、前記ポリゴンミラーより後段に設けられていることを特徴としたものである。
【００１３】
第５の技術手段は、第１〜第３のいずれか１の技術手段において、ポリゴンミラーを有し、前記反射ミラーは、前記ポリゴンミラーより前段に設けられていることを特徴としたものである。
【００１４】
第６の技術手段は、第１〜第５のいずれか１の技術手段における光走査装置を備えた画像形成装置であって、前記検査実施部は、ユーザ操作により若しくは設定されたタイミングで、前記発光検査を実施することを特徴としたものである。
【００１５】
第７の技術手段は、半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査装置における半導体レーザ検査方法であって、前記光走査装置に設けられた反射ミラーの反射面の方向を所定の方向に調整してから、前記半導体レーザからレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する検査工程を有し、前記所定の方向は、前記反射面で反射したレーザ光が、前記光走査装置を画像形成装置に搭載した状態での非印字エリアに最終的に照射するような方向であることを特徴としたものである。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、半導体レーザから出射したレーザ光で被走査体を走査する光走査装置において、半導体レーザの劣化判定等の検査のためにレーザ光を点灯させる場合に、画像形成装置における感光体にレーザ光が照射しないように反射ミラーの角度を調整するので、不用意に感光体にレーザ光を照射して感光体を露光及び劣化させることなく、画像形成装置に搭載した最終状態での半導体レーザの検査を実施することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明に係る光走査装置の一構成例を示す図である。
【図２】図１の光走査装置の詳細な構成例を示す図である。
【図３】図１及び図２の光走査装置を備えた画像形成装置の主要部の構成例を示す図である。
【図４】図２の光走査装置における反射ミラーとその駆動機構の一例を示す図である。
【図５】図２の光走査装置における通常印字時、スクリーニング時の反射ミラーの角度及びレーザ光の光軸を示す図である。
【図６】図１及び図２の光走査装置を備えた画像形成装置で実施される検査方法の一例を説明するためのフロー図である。
【図７】図６の検査方法における半導体レーザ検査を実施するタイミングの一例を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、本発明に係る光走査装置、並びにそれを備えた画像形成装置について、図面を参照しながら説明する。
図１は、本発明に係る光走査装置の一構成例を示す図、図２は、その詳細な構成例を示す図、図３は、図１及び図２の光走査装置を備えた画像形成装置の主要部の構成例を示す図である。
【００１９】
本発明に係る光走査装置は、図１及び図２で例示する光走査装置２のように、半導体レーザ２０を有し、半導体レーザ２０から出射したレーザ光は、画像形成装置に設けられた被走査体としての感光体ドラム１を走査するようになっている。
【００２０】
半導体レーザ２０を用いた光走査装置２は、レーザスキャニングユニット（ＬＳＵ）、レーザ露光ユニットとも言い、以下、ＬＳＵとして説明する。ＬＳＵ２は、ポリゴンミラー（回転多面鏡）２２を有し、画像データに応じて発せられたレーザ光（レーザビーム）が、ポリゴンミラー２２に取り付けられたモータ（ポリゴンモータ）が回転することにより、ポリゴンミラー２２の回転周面上に設けられた反射面（例えば６つの反射面）で反射し、被走査体としての感光体ドラム１上に走査される。このレーザ光はポリゴンミラー２２の回転に従い主走査方向Ａに走査され、また感光体ドラム１のＢ方向（又はその逆方向）への回転によって副走査方向に走査される。
【００２１】
ＬＳＵ２は、ポリゴンミラー２２の他、画像データに応じて半導体レーザ２０から出射された光ビームをポリゴンミラー２２に導くためのレンズやミラー等の光学要素や、ポリゴンミラー２２によって反射された光ビームを感光体ドラム１に導くためのレンズやミラー等の光学要素が配置されている。
【００２２】
前者の光学要素としては、例えば半導体レーザ２０からのレーザ光を入射するコリメータレンズ２１や、図示しないが、コリメータレンズ２１の出射側に設けられた開口板、開口板の開口部分から出射した光を入射するシリンドリカルレンズ、及び、シリンドリカルレンズから出射した光を入射しポリゴンミラー２２の反射面に向けて反射させるミラーなどが挙げられる。
【００２３】
後者の光学要素としては、ポリゴンミラー２２から出射されたレーザ光を通過させ、感光体ドラム１の結像面上で等速走査させるｆ−θレンズ２３や、ｆ−θレンズ２３から出射されたレーザ光を反射して感光体ドラム１側に導く反射ミラー３０、反射ミラー３０で反射したレーザ光を透過させる開口部である防塵ガラス２６などが挙げられる。ここで、反射ミラー３０は、レーザ光の光軸（光路）を変えるために設けられたミラーである。また、反射ミラー３０に付属の各構成要素３１〜３３については、本発明の主たる特徴の一つであり、後述する。
【００２４】
また、ＬＳＵ２は、画像形成装置に、このＬＳＵ２を含めた画像形成装置の全体を制御する制御部と共に設けられる。この制御部は、図３で例示するようにＬＳＵ本体２ａを制御するための制御部（ＬＳＵコントローラ）２ｂと、それを制御する主制御部（図示せず）などに分け構成してもよい。ここで、ＬＳＵ本体２ａは、半導体レーザ（レーザダイオード）２０や反射ミラー３０など、図２で図示した各構成要素を有する。ＬＳＵコントローラ２ｂは、半導体レーザ２０の駆動を行うレーザ駆動部４０、本発明の主たる特徴の一つである、反射ミラー３０の角度を制御するミラー制御部４１などを備える。
【００２５】
その他、画像形成装置におけるＬＳＵ２以外の構成要素については、感光体ドラム１を有し、画像形成を行うプロセス部１０をはじめとする様々な構成要素が設けられているが、既存の技術を適用して構成すればよいため、その説明を省略する。
【００２６】
そして、ＬＳＵ２は、帯電された感光体ドラム１を入力された画像データに応じたレーザ光で露光することにより、その表面に、その画像データに応じた静電潜像を形成する機能を有する。なお、感光体ドラム１上に形成された静電潜像は現像器でトナーにより顕像化される。画像形成装置は、例えばブラック、シアン、マゼンタ、イエローの４色など、複数色により画像を形成する装置であってもよく、その場合、各色用に半導体レーザ２０及び感光体ドラム１を設け、これらをタンデム方式で画像形成するように構成しておけばよい。このような構成の場合、ポリゴンミラー２２は各色で共有させてもよいし、各色用にそれぞれ設けてもよい。
【００２７】
また、画像形成装置は、図１及び図２で例示するようにレーザ光の感光体ドラム１上での走査を開始する基準信号を発生させるためにレーザ光を検知する同期用検知センサ２４を備える。同期用検知センサ２４は、感光体ドラム１に対して主走査方向に走査することを妨害しない位置に設けられており、通常、図１及び図２で示すようにＬＳＵ２に設けられる。
【００２８】
同期用検知センサ２４について、感光体ドラム１上での主走査の開始のためにレーザ光を検知するセンサであるものとして説明する。ここで、ポリゴンミラー２２で反射して感光体ドラムへ向かうレーザ光には、感光体ドラム１上での画像形成に使用されるレーザ光、すなわち主走査方向Ａに走査するための光ビーム（主走査ビームとも言う）がある。なお、レーザ光の光路はＬで示している。この主走査ビームが走査する際に通過する空間領域を画像領域とし、画像領域以外の領域を非画像領域とする。レーザ光が感光体ドラム１を走査するとき、レーザ光は主走査方向Ａのラインを定期的に走査する。このとき感光体ドラム１は回転しているので、感光体ドラム１は一定期間毎に異なる場所を走査されることになる。但し、走査ラインの書き始めの位置は、レーザ光が走査される毎に同一である必要がある。
【００２９】
この走査ラインの書き始めの位置を検出するために、ＬＳＵ２には同期検出装置が設けられている。この同期検出装置は、上述の同期用検知センサ２４と、同期用検知センサ２４に同期検出ビームを導く案内手段である同期検出ビームの折り返しミラー（同期ミラー）２５とを備える。同期用検知センサ２４は、上記非画像領域の光ビームを同期検出ビームとして検出するためのセンサであり、ビーム検出用のＢＤ（Beam Detect）センサである。なお、同期用検知センサ２４と同期ミラー２５との間には、同期用検知センサ２４に同期検出ビームを集光するレンズを設けてもよい。
【００３０】
上記同期検出ビームは、各主走査ビームの最初の照射位置との同期をとるための信号であり、ポリゴンミラー２２を出射した光ビームが、ｆ−θレンズ２３を通過した後に、同期ミラー２５で反射された光ビームである。但し、同期用検知センサ２４及び同期ミラー２５は、図２において点線で図示して他の構成と区別したように、通常印刷時やスクリーニング時のｆ−θレンズ２３と反射ミラー３０との間の光路上には設けられておらず、紙面奥側に設けられている。同期検出ビームは、同期ミラー２５により折り返され、同期用検知センサ２４に到達する。この同期用検知センサ２４は受光量に応じたセンサ信号を出力する。
【００３１】
そして、ＬＳＵコントローラ２ｂのレーザ駆動部４０は、同期用検知センサ２４からのセンサ信号に基づいて、画像書き込み開始位置を決定するための同期信号を生成する。具体的には、同期用検知センサ２４の受光量が、少なくともそのレーザ光が感光体ドラム１を露光して静電潜像を形成するのに必要な光量以上の場合に、同期信号が生成される。このように、同期信号は主走査方向Ａの走査開始基準信号として用いられ、この信号を基準として各ラインの主走査方向Ａの書出し開始位置の同期が取られる。このような同期を行うため、同期ミラー２５は、図２のようにＬＳＵ２内ではなく、主走査方向Ａにおいて、印字エリアの直ぐ近くの非印字エリアを通るレーザ光が当たるように感光体ドラム１の直ぐ近くに設けられていてもよい。
【００３２】
また、同期検出装置は、同期用検知センサ２４で光ビームが検出できない場合にエラー信号を出力する。ＬＳＵ２が組み込まれた画像形成装置では、装置の運転を停止するとともに、例えば所定のサービスコードをその表示画面に表示させることで、走査方向の書き始めの位置の不具合をユーザに知らせる。
【００３３】
４色で画像形成する場合を例に挙げると、主走査方向Ａの書き出し位置を検出する同期用検知センサ２４は、例えばブラック用光ビームの光路上のみに備えられ、４つの光ビームのうちのブラック用の光ビームのみに対応させ、他の色用の光ビームには、これを参照させることにより、予め決定された画像データの書き出し開始タイミングによって走査を開始させるようにしておけばよい。
【００３４】
そして、上述した画像形成装置の制御部は、次に説明する検査実施部における発光検査の実行の制御も行う。ＬＳＵコントローラ２ｂには実行の制御のための命令を画像形成装置の主制御部から受け付けるように構成されており、ＬＳＵ２単独だけでも発光検査を実行できるようにこの命令を検査用の機器に接続することも可能に構成しておけばよい。
【００３５】
この検査実施部は、ＬＳＵ２に設けられた反射ミラー３０の反射面の方向を所定の方向に調整してから、半導体レーザ２０からレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する。スクリーニング用の検知センサ２７は、この出射光を検出するためのビーム検知センサ（ＢＤ）であり、発光強度が適切か否かを検知することができる。上記の検査実施部は、反射ミラー３０、その調整機構である各構成要素３１〜３３、レーザ駆動部４０、ミラー制御部４１などで構成される。また、検知センサ２７からは受光量に応じたセンサ信号が出力されるため、全く発光しない故障だけでなく、そのセンサ信号のレベルにより、半導体レーザ２０の劣化度合いも判定することができる。
【００３６】
ここで、上記所定の方向は、上記反射面で反射したレーザ光が、ＬＳＵ２を画像形成装置に搭載した状態での非印字エリアに最終的に照射するような方向とする。つまり、検知センサ２７は、感光体ドラム１に対して主走査方向に走査することを妨害しない位置、つまり感光体ドラム１へのレーザ光の光路に影響を与えない位置に設けられており、同期用検知センサ２４へのレーザ光の光路にも影響を与えないような位置に設けられている。また、「最終的に照射する」ような方向で上記所定の方向を決めることは、調整対象の反射ミラー３０の他に光軸を変えるミラー等が設けられていてもよいことを意味する。
【００３７】
反射ミラー３０の反射面の調整は構成要素３１〜３３で例示したような調整機構（ミラー駆動機構）をミラー制御部４１が制御することで行う。また、複数のミラーの調整によって最終的に非印字エリアに照射するような方向を、上記所定の方向としてもよい。
【００３８】
また、可動する反射ミラー３０は、図１及び図２で例示したように、同期用検知センサ２４に向かうレーザ光の光路に影響しない位置（光路に被ることがない位置）というだけでなく、同期用検知センサ２４に向かうレーザ光の光路より後段に配置されていることが好ましい。さらに、このような構成により、同期用検知センサ２４とスクリーニング用の検知センサ２７とを共通化するように改良することもでき、共通化することで特別な検知センサを追加することなく、同期用検知センサ２４でスクリーニングが実現可能となり部品数の削減になる。但し、本発明では、反射ミラー３０の後段に同期ミラー２５や同期用検知センサ２４が設けられた構成も採用できる。
【００３９】
以上のように、本発明では、スクリーニングのために半導体レーザ２０を点灯させた時に、図３の光軸Ｌｓで示すように反射ミラー３０の反射面で反射したレーザ光が印字エリアに照射せず非印字エリアに照射するような所定の方向になるように反射角度を調整してから、つまり感光体ドラム１にレーザ光を照射しないようにしてから、発光検査を行う。反射角度の調整は、感光体ドラム１の主走査方向又は副走査方向にずらすように実行してもよいし、主走査方向や副走査方向とは無関係な方向にずらすように実行してもよい。検知センサ２７は、スクリーニングのために半導体レーザ２０を点灯させた時に、反射ミラー３０を介して検知センサ２７の検知面にレーザ光が常に当たるように、上記反射面が上記所定の方向になるように調整した状態で、反射したレーザ光が最終的に照射する位置に受光部を有するように設置される。一方で、印字時には、図３の光軸Ｌｐで示すように反射ミラー３０の反射面で反射したレーザ光が感光体ドラム１の印字エリア（若しくは同期用検知センサ２４側）に出射されるようになっている。
【００４０】
また、各色用に半導体レーザ２０が設けられるＬＳＵ２であって各色用に感光体ドラム１が設けられる画像形成装置については、検査実施部を含むＬＳＵ２も各色用に設けておけば各色用の半導体レーザ２０のスクリーニングが可能であるが、各色について共通化できる構成要素については共通化しておいてもよい。
【００４１】
また、上記検査実施部は、画像形成装置にＬＳＵ２を搭載した場合、ユーザ操作により、若しくは設定されたタイミングで、ＬＳＵ２に設けられた反射ミラー３０の反射面の方向を所定の方向に調整してから、半導体レーザ２０からレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する。無論、ここでの調整は、ユーザ操作を受けて若しくは設定されたタイミングの到来により、自動で行われる。
【００４２】
上記ユーザ操作に関し、ユーザとは画像形成装置を納品する設置者が挙げられ、操作とは操作部から開始指示キーが押下される操作を指す。また、上記設定されたタイミングとしては、出荷状態から最初に電源が投入されたタイミングとしておいてもよいし、最初に電源が投入されたタイミングから所定時間経過したタイミングとしておいてもよい。出荷状態になる手前で今から電源を落として出荷する場面で次回電源が投入されたとき又はそこから所定時間後を上記タイミングとするようにしておけばよい。また、ユーザ操作の場合も設定されたタイミングの場合も、発光検査だけを行うのではなく、半導体レーザ２０の発光検査を少なくとも含むＬＳＵ２自体の検査や画像形成装置自体の検査を併せて開始するようにしておいてもよい。
【００４３】
以上のように、本発明に係るＬＳＵ２は、半導体レーザ２０の劣化判定等の検査（スクリーニング）のためにレーザ光を点灯させる場合に、画像形成装置における感光体ドラム１にレーザ光が照射しないように反射ミラー３０の角度を、上記所定の方向に対応する所定の角度に調整するので、ＬＳＵ２が画像形成装置に搭載された状態で半導体レーザ２０のスクリーニングを実施しても、不用意に感光体ドラム１にレーザ光を照射して感光体を露光及び劣化させることない。
【００４４】
そして、このように、本発明ではＬＳＵ２が搭載された画像形成装置で半導体レーザ２０のスクリーニングを実施するので、装置を設置してから比較的初期に発生しているレーザ劣化を防止することができ、またＬＳＵ２の運搬時やマシン取り付け時に静電気が加わったとしても、例えば寿命の短くなった半導体レーザや点灯しない半導体レーザなどの不良を検出でき、その半導体レーザをはねて新しい半導体レーザに交換することができる。特に、ＬＳＵ２の外側にレーザ端子が剥き出しになっているタイプのものは、より静電気が加わりやすいため、効果的である。
【００４５】
また、本発明に係る画像形成装置は、上記検査実施部で実施した検査の結果を表示する表示部をさらに備えることが好ましい。この表示部としては、操作パネルが利用できるが、外部に接続された表示装置に表示させるようにしてもよい。後者の場合、その表示装置には画像形成装置に接続されたときに検査開始を指示する信号を送るように構成されていてもよく、その場合、上述の設定されたタイミングとしてその信号を受け取ったタイミングとしておけばよい。その他、検査結果は音によりエラーか正常かを知らせるように構成してもよい。
【００４６】
なお、上記所定の方向が防塵ガラス２６を透過しない方向とし、その方向に検知センサ２７を設けたが、上記所定の方向は防塵ガラス２６を透過する方向であっても非印字エリアに向かっていればよい。
【００４７】
次に、図４及び図５を参照しながら、反射ミラー３０の反射面の調整を行うための構成要素３１〜３３で例示したミラー駆動機構、及びそれを制御するミラー制御部４１について説明する。
【００４８】
図４は、図２の光走査装置における反射ミラーとその駆動機構の一例を示す図で、図５は、図２の光走査装置における反射ミラーの角度及びレーザ光の光軸を示す図である。図５（Ａ）、図５（Ｂ）はそれぞれ通常印字時、スクリーニング時における角度及び光軸を示している。
【００４９】
図４で例示するように、反射ミラー３０は、ステッピングモータ３３により反射面の方向が調整可能に設けられている。より具体的には、反射ミラー３０の下部をステンレス板３２等で挟み込んで動作起点とし、ステッピングモータ３３の回転軸に取り付けられたギア３３ａから伝達機構３１に回転が伝えられる。伝達機構３１は、ギア３３ａと歯合うギア３１ａと、ギア３１ａの回転軸となるシャフト３１ｂと、シャフト３１ｂに取り付けられシャフト３１ｂを中心として回転する非円形の柱状のカム部３１ｃ，３１ｄとを備える。
【００５０】
図４では、カム部３１ｃが反射ミラー３０の左端に設けられ、同じシャフト３１ｂに連結されたカム部３１ｄが反射ミラー３０の右端に設けられた例を示している。カム部３１ｃ，３１ｄは、反射ミラー３０のステンレス板３２が設けられた端部とは反対側の端部であって、反射面とは反対側の面に当接するように設けられている。なお、反射ミラー３０の正確な調整のために、カム部をカム部３１ｃ，３１ｄの２箇所に設けた例を示したが、中央位置に１箇所だけ設けるなどしてもよい。
【００５１】
このような反射ミラー３０及びその駆動機構により、ステッピングモータ３３が回転するとカム部３１ｃ，３１ｄが回転し、反射ミラー３０の角度を調整することが可能となっている。通常印刷時には、図５（Ａ）に示したようにレーザ光の光軸Ｌｐが防塵ガラス２６を透過するような方向になるように、反射ミラー３０の反射面の角度が調整される。一方で、スクリーニング時には、図５（Ｂ）に示したようにレーザ光の光軸Ｌｓが検知センサ２７に向かうような方向になるように、反射ミラー３０の反射面の角度が調整される。この例のようにステッピングモータ３３を用いる場合、ステッピングモータ３３のステップ角で、スクリーニング時の所定の角度までパルス数で角度調整が可能となり、また通常の印字時には同パルスで逆に回転させることで元の位置に戻すこともできる。
【００５２】
角度の調整の制御は、上述したようにミラー制御部４１が行う。また、検知センサ２７での検知を行うときのステップ角を、ミラー制御部４１の内部又は外部に別途設けた記憶部に記憶させておけば、上記所定の方向で停止させることや元に戻すことが可能となる。この記憶部としては、ＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory）など、様々な不揮発性メモリが利用できる。無論、反射ミラー３０の調整機構はステッピングモータを動力とするものに限らない。
【００５３】
以上、図１〜図５では、反射ミラー３０が、ポリゴンミラー２２より後段に設けられた例を挙げたが、ポリゴンミラー２２より前段に設けられていてもよい。その場合、スクリーニング時の反射ミラー３０は、その反射面で反射したレーザ光がポリゴンミラー２２に入射しないような角度になるように調整すればよい。
【００５４】
次に、図６及び図７を参照しながら、画像形成装置で実施される検査方法の一例を説明する。図６は、図１及び図２のＬＳＵを備えた画像形成装置で実施される検査方法の一例を説明するためのフロー図である。また、図７は、図６の検査方法における半導体レーザ検査を実施するタイミングの一例を説明するための図である。
【００５５】
まず、ユーザ操作又は設定されたタイミングで、画像形成装置の主制御部がＬＳＵコントローラとの通信チェック、つまりＬＳＵの通信チェックを行う（ステップＳ１）。より具体的には、ステップＳ１において、このマシン（画像形成装置）にＬＳＵが装着されているか否かをチェックする。ステップＳ１でＹＥＳの場合にはステップＳ３へ進み、ＮＯの場合には表示部にエラー表示１を表示させ（ステップＳ２）、処理を終了する。このチェックでは、ＬＳＵの運搬時や取り付け時のＬＳＵ基板破損と、画像形成装置への装着時のコネクタ接触不良を想定しており、このエラー表示１としてはこのいずれかに該当するエラーであることを表示しておけばよい。
【００５６】
画像形成装置の主制御部の制御により、ＬＳＵコントローラは、ステップＳ３において、ポリゴンモータが正常動作しているか否かの動作チェックを行う。以下、この動作チェック以降については、ＬＳＵコントローラが主となって制御を行い、表示部への表示については画像形成装置の主制御部にチェック結果を返せばよい。
【００５７】
ステップＳ３でＹＥＳの場合にはステップＳ５へ進み、ＮＯの場合には表示部にエラー表示２を表示させ（ステップＳ４）、処理を終了する。このチェックでは、ＬＳＵ運搬時の衝撃によりポリゴンモータが破損してしまうことを想定しており、このエラー表示２としては破損している旨を表示しておけばよい。
【００５８】
ステップＳ５の処理として、ＬＳＵコントローラは、反射ミラーを動作させて、光軸をスクリーニング実施位置に変更する。つまり、反射ミラーの反射面を上述した所定の方向への調整を行う。その後、ＬＳＵコントローラは、半導体レーザの強制点灯を開始し（ステップＳ６）、レーザ光をスクリーニング用の検知センサの検知面で検知したか否かを判定する（ステップＳ７）。ステップＳ７でＹＥＳの場合にはステップＳ９へ進み、ＮＯの場合には表示部にエラー表示３を表示させ（ステップＳ８）、その後、後述のステップＳ１２へ進む。ステップＳ７のチェックでは、光軸ケラレ又はレーザ故障があることを想定しており、このエラー表示３としてはそのいずれかに該当するエラーであることを表示しておけばよい。
【００５９】
ステップＳ９の処理として、ＬＳＵコントローラは、所定時間経過したか否かを判定する。この所定時間とは、半導体レーザの故障や劣化が後段のステップＳ１０におけるセンサ信号により検知できる期間であればよい。例えば、図７には市場における半導体レーザの劣化トラブル件数と印刷枚数の関係の例を示しているが、５０００枚の通常印刷（６％印字）でのレーザ照射時間（２分間の連続レーザ照射に相当）を境に故障台数が減っていることから、この例ではこの境（つまり開始から２分後）で故障か否かを判定すればよい。このように、半導体レーザ検査を実施するタイミングの一例として、市場における半導体レーザの劣化トラブル件数と印刷枚数の関係を利用してもよい。
【００６０】
次にＬＳＵコントローラは、ステップＳ９でＮＯの場合にはＹＥＳとなるまで待ち、ＹＥＳとなった時点で、ステップＳ７と同様にレーザ光をスクリーニング用の検知センサの検知面で検知したか否かを判定する（ステップＳ１０）。ステップＳ１０でＹＥＳの場合、ＬＳＵコントローラは、半導体レーザの強制点灯を終了し（ステップＳ１２）、反射ミラーを動作させて光軸を定常位置（感光体ドラム側に向かうような位置）に戻す（ステップＳ１３）。ステップＳ１０でＮＯの場合には、表示部にエラー表示４を表示させ（ステップＳ１１）、その後、ステップＳ１２へ進む。ステップＳ１０のチェックは、本発明の発光検査の主たる部分に該当し、ここではレーザ故障やレーザ劣化があることを想定しており、このエラー表示４としてはそれに該当するエラーであることを表示しておけばよい。
【００６１】
以上、本発明に係る光走査装置、画像形成装置について説明したが、その処理の流れを説明したように、本発明は、光走査装置における半導体レーザ検査方法としての形態も採ることができる。この半導体レーザ検査方法は、光走査装置に設けられた反射ミラーの反射面の方向を所定の方向に調整してから、半導体レーザからレーザ光を強制的に出射させて発光検査を実施する検査工程を有する。また、画像形成装置における半導体レーザ検査方法としての形態も採ることができ、その形態では、ユーザ操作により若しくは設定されたタイミングで発光検査を実施する。上記所定の方向について、並びにその他の応用例については、光走査装置、画像形成装置について説明した通りであり、その説明を省略する。
【符号の説明】
【００６２】
１…感光体ドラム、２…光走査装置（ＬＳＵ）、２ａ…ＬＳＵ本体、２ｂ…ＬＳＵの制御部（ＬＳＵコントローラ）、１０…プロセス部、２０…半導体レーザ、２１…コリメータレンズ、２２…ポリゴンミラー、２３…ｆ−θレンズ、２４…同期用検知センサ、２５…同期ミラー、２６…防塵ガラス、２７…スクリーニング用の検知センサ、３０…反射ミラー、３１…伝達機構、３１ａ…ギア、３１ｂ…シャフト、３１ｃ，３１ｄ…カム部、３２…ステンレス板、３３…ステッピングモータ、３３ａ…ギア、４０…レーザ駆動部、４１…ミラー制御部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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