(57)【要約】      （修正有）【課題】表示領域の温度を精度よく検出する事が出来る表示制御装置を提供する。【解決手段】各種の画像が表示される表示領域とは別の領域に設けられたダミー画素領域と、ダミー画素領域の温度を検出する温度検出部と、ダミー画素領域の温度に基づいて、表示領域の各画素に入力される画素信号の信号レベルを調整する表示制御装置および、表示制御方法。【選択図】図１
2013250475.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
各種の画像が表示される表示領域とは別の領域に設けられたダミー画素領域と、
前記ダミー画素領域の温度を検出する温度検出部と、を備える、表示制御装置。
【請求項２】
前記表示領域の代表領域である前記ダミー画素領域に温度検出用信号を入力するパネル駆動部と、
前記ダミー画素領域の温度に基づいて、前記表示領域の各画素に入力される画素信号の信号レベルを調整する調整部と、を備える、請求項１記載の表示制御装置。
【請求項３】
前記調整部は、前記画素信号の最高信号レベルを検出し、前記温度検出用信号の信号レベルを前記画素信号の最高信号レベルとする、請求項２記載の表示制御装置。
【請求項４】
前記表示領域は、複数の分割領域に分割され、
前記調整部は、前記分割領域に入力される画素信号の平均信号レベルを算出し、前記温度検出用信号の信号レベルを前記平均信号レベルの最高信号レベルとする、請求項２記載の表示制御装置。
【請求項５】
前記ダミー画素領域及び前記温度検出部は複数存在し、
前記調整部は、前記表示領域を構成する各画素に入力される画素信号の最高信号レベルを検出し、各ダミー画素領域に入力される温度検出用信号の信号レベルを、前記画素信号の最高信号レベル、前記平均信号レベルの最高信号レベル、及び前記画素信号の全体平均信号レベルのうち、互いに異なる信号レベルとする、請求項４記載の表示制御装置。
【請求項６】
前記ダミー画素領域及び前記温度検出部は複数存在し、
前記調整部は、各ダミー画素領域に同じ信号レベルの温度検出用信号を入力し、前記ダミー画素領域の温度の平均値に基づいて、前記画素信号の信号レベルを調整する、請求項２記載の表示制御装置。
【請求項７】
前記ダミー画素領域及び前記温度検出部は複数存在し、
前記調整部は、各ダミー画素領域に同じ信号レベルの温度検出用信号を入力し、前記ダミー画素領域の温度の最大値に基づいて、前記画素信号の信号レベルを調整する、請求項２記載の表示制御装置。
【請求項８】
前記温度検出部は、前記ダミー画素領域の温度を前記ダミー画素領域の画像表示面側から検出する、請求項１記載の表示制御装置。
【請求項９】
各種の画像が表示される表示領域とは別の領域に設けられたダミー画素領域に温度検出用信号を入力することと、
前記ダミー画素領域の温度に基づいて、前記表示領域の各画素に入力される画素信号の信号レベルを調整することと、を含む、表示制御方法。
【請求項１０】
コンピュータに、
各種の画像が表示される表示領域とは別の領域に設けられたダミー画素領域に温度検出用信号を入力する駆動機能と、
前記ダミー画素領域の温度に基づいて、前記表示領域の各画素に入力される画素信号の信号レベルを調整する調整機能と、を実現させる、プログラム。
【請求項１１】
請求項１０記載のプログラムが記録された、コンピュータが読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、表示制御装置、表示制御方法、プログラム、及び記録媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１〜３に、表示パネルに表示領域及びダミー画素領域を設け、ダミー画素領域の輝度を検出する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１０−２５０１７１号公報
【特許文献２】特開２０１１−２０９４８０号公報
【特許文献３】特開２０１１−２２１３０５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、これらの特許文献は、表示領域の温度について何ら言及していなかった。このため、表示領域の温度を精度よく検出する事が出来る技術が求められていた。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本開示によれば、各種の画像が表示される表示領域とは別の領域に設けられたダミー画素領域と、ダミー画素領域の温度を検出する温度検出部と、を備える、表示制御装置が提供される。
【０００６】
本開示によれば、各種の画像が表示される表示領域とは別の領域に設けられたダミー画素領域に温度検出用信号を入力することと、ダミー画素領域の温度に基づいて、表示領域の各画素に入力される画素信号の信号レベルを調整することと、を含む、表示制御方法が提供される。
【０００７】
本開示によれば、コンピュータに、各種の画像が表示される表示領域とは別の領域に設けられたダミー画素領域に温度検出用信号を入力する駆動機能と、ダミー画素領域の温度に基づいて、表示領域の各画素に入力される画素信号の信号レベルを調整する調整機能と、を実現させる、プログラムが提供される。
【０００８】
本開示によれば、上記プログラムが記録された、コンピュータが読み取り可能な記録媒体が提供される。
【０００９】
本開示によれば、ダミー画素領域の温度を検出することができる。このため、本開示によれば、ダミー画素領域の温度に基づいて、表示領域の温度を予測することができるので、表示領域の温度を精度よく検出することができる。
【発明の効果】
【００１０】
以上説明したように本開示によれば、ダミー画素領域の温度を検出することができる。このため、本開示によれば、ダミー画素領域の温度に基づいて、表示領域の温度を予測することができるので、表示領域の温度を精度よく検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本開示の第１の実施形態に係る表示制御装置の構成を示すブロック図である。
【図２】同実施形態に係る表示パネル等の構成を示す平面図である。
【図３】温度センサの配置の一例を示す側断面図である。
【図４】温度センサの配置の一例を示す側断面図である。
【図５】温度センサの配置の一例を示す側断面図である。
【図６】表示制御装置による処理の手順を示すフローチャートである。
【図７】第１の実施形態の変形例に係る表示パネル等を示す平面図である。
【図８】第２の実施形態に係る表示パネル等の構成を示す平面図である。
【図９】表示制御装置による処理の手順を示すフローチャートである。
【図１０】第３の実施形態に係る表示パネル等の構成を示す平面図である。
【図１１】表示制御装置による処理の手順を示すフローチャートである。
【図１２】環境温度に基づく処理を行う表示制御装置の構成を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下に添付図面を参照しながら、本開示の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
【００１３】
なお、説明は以下の順序で行うものとする。
１．表示制御装置に関する検討
２．第１の実施形態
２−１．表示制御装置の構成
２−２．表示制御装置による処理の手順
２−３．変形例
３．第２の実施形態
３−１．表示制御装置の構成
３−２．表示制御装置による処理の手順
４．第３の実施形態
４−１．表示制御装置の構成
４−２．表示制御装置による処理の手順
４−３．変形例
【００１４】
＜１．表示制御装置に関する検討＞
本発明者は、表示制御装置、特に自発光デバイスを用いた表示制御装置（例えば、有機ＥＬディスプレイ）に関する検討を行うことで、各実施形態に係る表示制御装置に想到するに至った。そこで、まず、本発明者が行った検討について説明する。
【００１５】
自発光デバイスを用いた表示制御装置では、温度により発光効率や輝度の経時変化特性が異なることから、回路基板の環境温度（例えば、表示制御装置の内部温度）を測定し、画像信号を補正する技術が提案されている。図１２に、この技術を適用した表示制御装置１００を示す。表示制御装置１００は、信号検出部１０１、画像補正部１０２、パネル駆動部１０３、表示パネル１０４、画像制御部１０５、及び温度センサ１０６を備える。
【００１６】
信号検出部１０１は、画像信号を検出し、画像補正部１０２及び画像制御部１０５に出力する。画像補正部１０２は、画像制御部１０５から与えられた補正情報に基づいて、画像信号の輝度等を補正し、補正後の画像信号をパネル駆動部１０３に出力する。パネル駆動部１０３は、補正後の画像信号を表示パネル１０４に入力する。表示パネル１０４は、いわゆる自発光デバイス（自発光式の表示パネル）であり、画像信号に応じた画像を表示する。画像制御部１０５は、温度センサ１０６からの環境温度情報に基づいて、画像信号の補正値を決定し、補正値に関する補正情報を画像補正部１０２に出力する。温度センサ１０６は、回路基板に設けられ、回路基板の環境温度を測定する。そして、温度センサ１０６は、環境温度に関する環境温度情報を画像制御部１０５に出力する。したがって、表示制御装置１００は、環境温度に基づいて画像信号の補正を行う。
【００１７】
また、上述した特許文献１〜３には、表示パネルに表示領域及びダミー画素領域を設け、ダミー画素領域の輝度を検出する技術が開示されている。これらの技術は、表示パネルの焼き付きを防止するためのものであり、ダミー画素領域の輝度に基づいて、表示領域に入力される画像信号の輝度を調整する。
【００１８】
一方、表示制御装置は、ユーザが表示領域（表示パネルのうち、各種の画像が表示される領域）に触ることが可能なため、絶対温度（表示領域の温度）の最大値に対して、厳しい規定が設けられていることが多い。そこで、表示領域の温度を所定値以下に抑える必要がある。
【００１９】
しかし、上述した特許文献１〜３に開示された技術は、表示領域の焼き付きを防止することを目的とし、このために、ダミー画素領域の輝度を検出するものである。すなわち、特許文献１〜３は、表示領域及びダミー画素領域の温度に何ら言及していない。したがって、特許文献１〜３に開示された技術では、表示領域の温度を所定値以下に抑えることができない。
【００２０】
一方、表示領域の温度を所定値以下に抑える技術として、表示領域の温度を直接測定する技術が考えられる。しかし、表示領域の温度分布は均一でなく、温度勾配が大きい。また、表示領域の温度は、パネル裏面に取り付けられている電気回路基板からの熱の煽りの影響を大きく受ける。したがって、表示領域の温度を直接測定するためには、表示領域の背面に多くの温度センサを設ける必要がある。したがって、表示領域の温度を測定するために多大なコストが掛かってしまう。
【００２１】
なお、表示領域の温度を均一化する技術として、表示領域の温度を拡散、均一化する追加の素子を表示パネルに設ける技術が考えられる。このような素子としては、例えば、ヒートパイプや温度拡散シートなどが挙げられる。しかし、この技術においても、表示領域の温度を十分に均一化することはできないので、温度センサはなお多数必要であり、しかも、追加の素子を用意する必要がある。したがって、この技術では、さらに多大なコストが掛かってしまう。
【００２２】
一方、環境温度に基づく補正を行う技術を応用することで、表示領域の温度を所定値以下に抑えることも考えられる。この技術では、まず、表示領域にワーストの（全画素または一部の画素に対する輝度が最大となる）画像信号を入力し、この時の環境温度及び表示領域の温度を測定する。そして、表示領域の温度と環境温度との差分△を算出する。そして、環境温度をモニタし、環境温度に差分△を加算した値が所定値を超えた場合には、画像信号の輝度を低くする。したがって、この技術では、表示領域にワーストの画像信号が入力されることが前提となっている。
【００２３】
一方、実際に表示領域に入力される画像信号の輝度は、ワーストの画像信号の輝度以下となるので、表示領域の温度は、環境温度に差分△を加算した値よりも低くなることがほとんどである。しかし、この技術では、環境温度に差分△を加算した値が所定値を超えた場合には、画像信号の輝度を低下させる。したがって、この技術では、画像信号の輝度を過剰に低下させてしまうことが多い。すなわち、この技術では、表示領域の温度を正確に制御することができない。
【００２４】
例えば、ワーストの画像信号入力時の環境温度が４０℃、表示領域の温度が６０℃となり、かつ、所定値が５５℃となる場合を想定する。この場合、差分△は２０℃となる。一方、画像信号がワースト以外であっても、環境温度が４０℃となる場合がある。この場合、表示領域の温度は６０℃より低い（例えば５０℃程度となる）。しかし、この場合であっても、環境温度に差分△を加算した値は所定値を超えるので、この技術では、画像信号の輝度を低下させる。したがって、この技術では、画像信号の輝度を過剰に低下させてしまうことが多い。
【００２５】
画像信号の輝度を過剰に低下させることを防止する技術として、表示領域に入力される画像信号がワーストか否かで制御を切り分ける技術も考えられる。しかし、この技術では、表示領域に入力される画像信号がワースト以外のものである場合に、表示領域の温度を制御することができない。
【００２６】
一方、表示領域の温度を制御する技術として、環境温度と表示領域の温度との相関関係を類推することも考えられるが、環境温度と表示領域の温度との相関関係を類推することは容易ではない。
【００２７】
このため、上述した技術では、表示領域の温度を正確に制御することができなかった。そこで、本発明者は、ダミー画素領域の温度を検出する技術に着目し、この結果、各実施形態に係る技術に想到するに至った。各実施形態に係る技術では、表示領域の温度を正確に制御することができる。すなわち、各実施形態に係る技術では、表示領域の温度（すなわち、実際の画面温度）に応じて発光輝度をより適切な値に調整することができる。また、上述した追加の素子及び表示領域の温度センサが不要となるので、コストも抑えることが可能となる。以下、各実施形態について説明する。
【００２８】
＜２．第１の実施形態＞
［２−１．表示制御装置の構成］
次に、図１〜図５に基づいて、第１の実施形態に係る表示制御装置１０の構成について説明する。表示制御装置１０は、信号検出部１１と、画像補正部１２と、パネル駆動部１３と、画像制御部１４と、温度センサ１５、３０と、表示パネル２０とを備える。なお、表示制御装置１０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ハードディスク、表示パネル、及び温度センサ等のハードウェア構成を有する。ＲＯＭには、表示制御装置１０に、信号検出部１１と、画像補正部１２と、パネル駆動部１３と、画像制御部１４と、を実現させるためのプログラムが記録されている。ＣＰＵは、ＲＯＭに記録されたプログラムを読みだして実行する。したがって、これらのハードウェア構成により、信号検出部１１と、画像補正部１２と、パネル駆動部１３と、画像制御部１４と、温度センサ１５、３０と、表示パネル２０とが実現される。画像補正部１２及び画像制御部１４により調整部１０ａが構成される。
【００２９】
なお、表示制御装置１０は、表示パネル２０、特に表示領域２１を備えていなくてもよい。この場合、表示制御装置１０は、外部の表示パネル２０に接続される。また、表示制御装置１０は、各種の記録媒体からプログラムを取得してもよい。すなわち、本実施形態に係るプログラムは、各種の記録媒体に記録された状態で流通されてもよい。
【００３０】
信号検出部１１は、画像信号を検出し、画像補正部１２及び画像制御部１４に出力する。ここで、画像信号は、１枚の画像（フレーム）に対応する信号であり、複数の画素信号で構成される。各画素信号は、画素の位置と、信号レベル（具体的には、画素の輝度、色度等）とを示す。
【００３１】
画像補正部１２は、画像制御部１４から補正情報を取得し、補正情報に基づいて、画像信号を補正する。ここで、補正情報は、最高信号レベルを有する画素信号（以下、「ピーク画素信号」とも称する）と、ゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋとを示す。画像補正部１２は、画像信号からピーク画素信号を抽出し、ピーク画素信号の信号レベルにゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋを乗じることで、補正信号レベルを算出する。そして、画像補正部１２は、ピーク画素信号の信号レベルを補正信号レベルとする。これにより、画像補正部１２は、画像信号を補正する。すなわち、第１の実施形態では、信号レベルのピーク値を画素単位で検出し、当該ピーク値を均すことで、画像信号を補正する。これにより、表示領域２１の温度を低下させる。画像補正部１２は、補正後の画像信号をパネル駆動部１３に出力する。また、画像補正部１２は、補正信号レベルを有する温度検出用信号を生成し、パネル駆動部１３に出力する。
【００３２】
パネル駆動部１３は、画像補正部１２から与えられた画像信号を表示領域２１に入力する。また、パネル駆動部１３は、画像信号を表示領域２１に入力するタイミングで、温度検出用信号をダミー画素領域２２に入力する。このように第１の実施形態では、画像信号の信号レベルのうち、最も大きい信号レベルをダミー画素領域２２に入力するので、ワースト条件での温度を検出することができる。
【００３３】
画像制御部１４は、表示制御装置１０の各構成要素を制御する他、以下の処理を行う。すなわち、画像制御部１４は、画像信号からピーク画素信号を検出する。すなわち、画像制御部１４は、画素信号の最高信号レベルを検出する。
【００３４】
そして、画像制御部１４は、温度センサ３０からダミー温度情報を取得する。ダミー温度情報は、ダミー画素領域２２の温度を示す。なお、画像制御部１４がダミー温度情報を取得する時点では、ダミー画素領域２２は、前フレームで入力された温度検出用信号によって発熱している。
【００３５】
そして、画像制御部１４は、ダミー温度情報に基づいて、補正の要否を判定する。具体的には、画像制御部１４は、ダミー温度情報に基づいて、ダミー画素領域２２の温度が所定値（すなわち、表示領域２１に許容される温度の最大値）以下であるか否かを判定する。そして、画像制御部１４は、ダミー画素領域２２の温度が所定値を超える場合には、補正が必要と判定する。この場合、表示領域２１のいずれかの領域の温度が所定値を超えている可能性があるからである。一方、画像制御部１４は、ダミー画素領域２２の温度が所定値以下となる場合には、補正は不要であると判定する。
【００３６】
なお、ダミー画素領域２２は、画像制御部１４がダミー温度情報を取得する際には、前フレームで入力された温度検出用信号によって発熱している。すなわち、画像制御部１４は、前フレームの温度検出用信号による発熱状況に基づいて、現フレームでの補正が必要か否かを判定する。
【００３７】
画像制御部１４は、補正が必要と判定した場合には、ピーク画素信号及びゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋに関する補正情報を生成し、画像補正部１２に出力する。ここで、ゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋは１未満の値である。これにより、画像制御部１４は、ピーク画素信号の信号レベルを調整することができる。
【００３８】
ゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋの値は予め設定されていても良いが、都度算出するようにしてもよい。ゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋの算出方法は特に限定されないが、例えば以下の方法が考えられる。すなわち、画像制御部１４は、ダミー画素領域２２の温度と温度検出用信号の信号レベルとの相関関係を示すテーブルを取得する。このテーブルは、例えばＲＯＭに記憶される。そして、画像制御部１４は、所定値以下の温度に対応する信号レベルをテーブルから取得し、この信号レベルを最高信号レベルで除算した値をゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋとする。また、画像制御部１４は、温度センサ１５から環境温度情報を取得する。環境温度情報は、回路基板の環境温度を示す。画像制御部１４は、ダミー温度情報の他、環境温度情報に基づいてゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋを決定してもよい。
【００３９】
温度センサ１５は、表示パネル２０の回路基板に設けられ、回路基板の環境温度を測定する。そして、温度センサ１５は、環境温度に関する環境温度情報を画像制御部１４に出力する。
【００４０】
表示パネル２０は、例えば線順次で駆動する自発光デバイスであり、図１及び図２に示すように、表示領域２１と、ダミー画素領域２２とを備える。表示領域２１は、ユーザが視認する領域であり、画像信号に応じた画像を表示する。なお、表示領域２１は有効画素領域とも称される。表示領域２１は、複数の画素で構成されており、各画素に画素信号が入力される。各画素は、表示素子と、表示素子を駆動する駆動回路（例えばＴＦＴ回路）とを備える。表示領域２１は、通電（すなわち、画像信号の入力）によって発熱する。一方、表示領域２１は、上述したように、ユーザが触ることが可能なため、絶対温度（表示領域の温度）の最大値に対して、厳しい規定が設けられていることが多い。そこで、表示領域の温度を所定値以下に抑える必要がある。
【００４１】
ダミー画素領域２２は、表示領域２１とは別の領域に設けられる。具体的には、ダミー画素領域２２は、ユーザに視認されず、かつ、ダミー画素領域２２の光が表示領域２１に届かない位置に設置される。
【００４２】
ダミー画素領域２２は、表示領域２１と同様の構成を有しており、表示領域２１の代表領域として使用される。すなわち、ダミー画素領域２２は複数の画素で構成されており、各画素に温度検出用信号が入力される。なお、ダミー画素領域２２は、単一画素で構成されていてもよい。ただし、温度の分散等を考慮すると、ダミー画素領域２２は複数の画素で構成されていることが好ましい。各画素は、表示素子と、表示素子を駆動する駆動回路（例えばＴＦＴ回路）とを備える。これらの画素の温度特性（信号レベルと温度との相関関係）は、表示領域２１を構成する画素の温度特性と同じである。したがって、ダミー画素領域２２の温度を検出することで、表示領域２１の温度を類推する事が可能になる。
【００４３】
図３に、ダミー画素領域２２の具体的な構成を示す。ダミー画素領域２２は、駆動回路層２２ａと、発光層２２ｂと、樹脂層２２ｃとを備える。駆動回路層２２ａは、各画素を構成する駆動回路が配置される層であり、表示パネル２０のガラス基板２０ａ上に設けられる。発光層２２ｂは、各画素を構成する発光素子が配置される層である。樹脂層２２ｃは、駆動回路層２２ａ及び発光層２２ｂを保護する。
【００４４】
温度センサ３０は、ダミー画素領域２２の中心部分に設けられ、ダミー画素領域２２の温度を検出する。そして、温度センサ３０は、ダミー画素領域２２の温度に関するダミー温度情報を生成し、画像制御部１４に出力する。
【００４５】
図３に、温度センサ３０の設置位置の具体例を示す。この例では、温度センサ３０は、接触式の温度センサとなっている。また、温度センサ３０は、ガラス基板２０ａ側ではなく、発光層２２ｂ側に設けられる。すなわち、温度センサ３０は、ダミー画素領域２２の温度をダミー画素領域２２の画像表示面側から検出する。
【００４６】
図４に、温度センサ３０の設置位置の他の例を示す。この例では、温度センサ３０は、非接触式の温度センサ（例えば、赤外線温度センサ）となっている。また、温度センサ３０は、ガラス基板２０ａ側ではなく、発光層２２ｂ側に設けられる。すなわち、温度センサ３０は、ダミー画素領域２２の温度をダミー画素領域２２の画像表示面側から検出する。また、温度センサ３０は非接触式なので、樹脂層２２ｃから離れた位置に設けられる。温度センサ３０は、例えば発光層２２ｂに赤外線を照射し、反射された赤外線に基づいて、ダミー画素領域２２の温度を測定する。
【００４７】
図５に、温度センサ３０の設置位置の他の例を示す。この例では、温度センサ３０は、接触式の温度センサとなっている。また、温度センサ３０は、ガラス基板２０ａ側に設けられる。すなわち、温度センサ３０は、ダミー画素領域２２の温度をダミー画素領域２２の裏面側から検出する。
【００４８】
上記の各例のうち、図４に示す例がもっとも好ましい。図４に示す例では、温度センサ３０はダミー画素領域２２の画像表示面側から検出することができる。また、温度センサ３０は非接触式なので、ダミー画素領域２２の放熱を妨げない。すなわち、図４に示す例では、ダミー画素領域２２の周辺の環境と表示領域２１の周辺の環境とがほぼ一致する。したがって、温度センサ３０により測定される温度は、表示領域２１の温度により近くなる。
【００４９】
次に好ましい例は図３に示す例である。図３に示す例では、樹脂層２２ｃによる熱抵抗の影響が考えられるが、温度センサ３０はダミー画素領域２２の画像表示面側から検出することができるからである。図５に示す例では、温度センサ３０は、ガラス基板２０ａによる影響（例えば、ガラス基板２０ａによる温度分散等）を受けるものの、環境温度から類推するよりも高精度にダミー画素領域２２の温度を検出することができる。したがって、図５に示す例でも本実施形態の目的は達成される。
【００５０】
［２−２．表示制御装置による処理の手順］
次に、表示制御装置１０による処理の手順を、図６に示すフローチャートに沿って説明する。
【００５１】
ステップＳ１０において、信号検出部１１は、現フレームの画像信号を検出し、画像補正部１２及び画像制御部１４に出力する。ついで、画像制御部１４は、画像信号からピーク画素信号を検出する。すなわち、画像制御部１４は、画素信号の最高信号レベル（最高輝度、輝度１）を検出する。
【００５２】
ついで、画像制御部１４は、ダミー温度情報を取得し、ダミー温度情報に基づいて、補正の要否を判定する。なお、画像制御部１４がダミー温度情報を取得する時点では、ダミー画素領域２２は、前フレームで入力された温度検出用信号によって発熱している。
【００５３】
具体的には、画像制御部１４は、ダミー温度情報に基づいて、ダミー画素領域２２の温度が所定値以下であるか否かを判定する。そして、画像制御部１４は、ダミー画素領域２２の温度が所定値を超える場合には、補正が必要と判定し、ダミー画素領域２２の温度が所定値以下となる場合には、補正は不要であると判定する。
【００５４】
そして、画像制御部１４は、補正が必要であると判定した場合には、ピーク画素信号及びゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋに関する補正情報を生成し、画像補正部１２に出力する。一方、画像制御部１４は、補正が不要と判定した場合には、ピーク画素信号に関する補正不要情報を画像補正部１２に出力する。
【００５５】
ついで、画像補正部１２は、画像制御部１４から補正情報を取得した場合には、補正情報に基づいて、画像信号を補正する。具体的には、画像補正部１２は、画像信号からピーク画素信号を抽出し、ピーク画素信号の信号レベルにゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋを乗じることで、補正信号レベルを算出する。そして、画像補正部１２は、ピーク画素信号の信号レベルを補正信号レベルとする。これにより、画像補正部１２は、画像信号を補正する。すなわち、第１の実施形態では、信号レベルのピーク値を画素単位で検出し、このピーク値を均すことで、画像信号を補正する。これにより、表示領域２１の温度を低下させる。画像補正部１２は、補正後の画像信号をパネル駆動部１３に出力する。また、画像補正部１２は、補正信号レベルを有する温度検出用信号を生成し、パネル駆動部１３に出力する。
【００５６】
一方、画像補正部１２は、補正不要情報を取得した場合には、画像信号をそのままパネル駆動部１３に出力する。また、画像補正部１２は、画像信号からピーク画素信号を抽出し、ピーク画素信号の信号レベル、すなわち最高信号レベルを有する温度検出用信号を生成し、パネル駆動部１３に出力する。したがって、第１の実施形態では、補正が不要な場合にも、ダミー画素領域２２を発熱させる。これにより、ダミー画素領域２２の温度をより正確に監視することができる。
【００５７】
ステップＳ２０において、パネル駆動部１３は、画像補正部１２から与えられた画像信号を表示領域２１に入力する。また、パネル駆動部１３は、画像信号を表示領域２１に入力するタイミングで、温度検出用信号をダミー画素領域２２に入力する。これにより、ダミー画素領域２２が発熱する。ダミー画素領域２２の温度は、次フレームでの処理に利用される。
【００５８】
なお、表示制御装置１０は、ステップＳ１０、Ｓ２０の処理をすべてのフレームで行なってもよく、所定フレームごとに行なってもよい。後述する各実施形態及び変形例でも同様である。
【００５９】
以上により、第１の実施形態では、表示制御装置１０は、ダミー画素領域２２の温度を検出することができる。そして、表示制御装置１０は、ダミー画素領域２２に温度検出用信号を入力し、ダミー画素領域の温度に基づいて、画像信号の信号レベルを調整する。したがって、表示制御装置１０は、表示領域２１の温度を正確に制御する（検出する）ことができ、ひいては、表示領域２１の温度を所定値以下に抑えることができる。
【００６０】
さらに、第１の実施形態では、温度センサ３０をダミー画素領域２２に追加するだけで、表示領域２１の温度を検出することができるので、より簡易な構成で表示領域２１の温度を検出することができる。したがって、第１の実施形態では、コストも抑えることが可能となる。
【００６１】
さらに、表示制御装置１０は、温度検出用信号の信号レベルをピーク画素信号の最高信号レベルとするので、表示領域２１の温度をより確実に所定値以下に抑えることができる。
【００６２】
さらに、表示制御装置１０は、ダミー画素領域２２の温度をダミー画素領域２２の画像表示面側から検出するので、表示領域２１の温度をより確実に所定値以下に抑えることができる。
【００６３】
［２−３．変形例］
次に、第１の実施形態の変形例について説明する。図２に示すように、第１の実施形態では、表示領域２１の下方にダミー画素領域２２が設けられる。一方、表示パネル２０は、上部の方が高温になりやすい。表示制御装置１０内で生じた熱風は上方に移動するからである。したがって、表示領域２１の上端と下端との温度差が大きくなる場合がある。したがって、上端の温度と下端の温度とのバランスに応じた制御が必要になる場合がある。
【００６４】
そこで、本変形例では、図７に示すように、ダミー画素領域４０、４１及びそれらに対応する温度センサ５０、５１が表示領域２１の上下に設けられる。パネル駆動部１３は、同じ温度検出用信号をダミー画素領域４０、４１に入力する。すなわち、ダミー画素領域４０、４１及び温度センサ５０、５１は同一目的で設置される。
【００６５】
画像制御部１４は、各温度センサ５０、５１から与えられた温度情報に基づいて、ダミー画素領域４０、４１の温度の平均値または最大値を算出する。ここで、画像制御部１４が平均値を採用するか、最大値を採用するかは、表示パネル２０の状況、特性に応じて選択される。
【００６６】
例えば、ダミー画素領域４０の温度は、ダミー画素領域４１の温度よりも大きくなりやすい。ダミー画素領域４０は表示領域２１の上端の近傍に設置され、ダミー画素領域４１は表示領域２１の下端の近傍に設置されるからである。したがって、画像制御部１４が最大値を採用した場合、画像制御部１４は、実質的にダミー画素領域４０の温度を採用することになる。しかし、ダミー画素領域４０とダミー画素領域４１との温度差が非常に大きい場合、ダミー画素領域４０の温度は、表示領域２１の温度、特に下端の温度よりも非常に大きくなる。
【００６７】
したがって、画像制御部１４は、ダミー画素領域４０の温度に基づいて画像信号を調整した場合、表示領域２１の実際の温度に対してマージンを取った調整を行うことになる。この場合であっても、画像制御部１４は、表示領域２１の温度を所定値以下に抑えることができる。しかし、上記のマージンはより小さいことが好ましい。画像信号の過剰な補正を抑制するためである。
【００６８】
そこで、画像制御部１４は、ダミー画素領域４０とダミー画素領域４１との温度差が所定範囲内であれば、ダミー画素領域４０、４１の温度の最大値（実質的には、ダミー画素領域４０の温度）に基づいて画像信号を調整する。一方、画像制御部１４は、温度差が所定範囲を外れる場合には、ダミー画素領域４０、４１の温度の平均値に基づいて、画像信号を調整する。これにより、画像制御部１４は、画像制御部１４は、表示領域２１の温度を所定値以下に抑えつつ、マージンを小さくすることができる。すなわち、画像制御部１４は、表示領域２１の上端の温度と下端の温度とのバランスに応じた制御を行うことができる。なお、画像信号の調整方法は第１の実施形態と同様である。
【００６９】
概略的には、画像制御部１４は、温度の最大値または平均値が所定値を超えるか否かを判定し、温度の最大値または平均値が所定値を超える場合には、上述した補正情報を画像補正部１２に出力する。
【００７０】
以上により、本変形例では、表示制御装置１０は、ダミー画素領域４０、４１に同じ信号レベルの温度検出用信号を入力し、ダミー画素領域４０、４１の温度の平均値に基づいて、画素信号の信号レベルを調整する。したがって、表示制御装置１０は、表示領域２１の温度をより確実に所定値以下に抑えることができる。
【００７１】
また、表示制御装置１０は、ダミー画素領域４０、４１に同じ信号レベルの温度検出用信号を入力し、ダミー画素領域４０、４１の温度の最大値に基づいて、画素信号の信号レベルを調整する。したがって、表示制御装置１０は、表示領域２１の温度をより確実に所定値以下に抑えることができる。なお、この変形例は後述する第２の実施形態に適用されてもよい。この場合、各ダミー温度領域に入力される温度検出用信号は、分割領域２１ａの平均信号レベルのうち、最高信号レベルを有することとなる。
【００７２】
＜３．第２の実施形態＞
［３−１．表示制御装置の構成］
次に、第２の実施形態に係る表示制御装置１０の構成を図８に基づいて説明する。なお、ここでは、第１の実施形態と異なる部分について説明する。図８に示すように、第２の実施形態では、表示領域２１が複数の分割領域（ブロック）２１ａに分割されている。なお、図８では、表示領域２１が２５個の分割領域２１ａに分割されているが、分割領域２１ａの数はこれに限られない。好ましくは、分割領域２１ａの数は２５より非常に多くなる。各分割領域２１ａは、少なくとも２以上の画素で構成される。後述するように、分割領域２１ａの大きさはダミー画素領域２２よりも小さいことが好ましい。
【００７３】
画像制御部１４は、分割領域２１ａに入力される画素信号の平均信号レベルを算出し、平均信号レベルが最大信号レベルとなる分割領域２１ａ（以下、「ピーク分割領域」とも称する）を検出する。すなわち、画像制御部１４は、平均信号レベルの最高信号レベルを検出する。そして、画像制御部１４は、ピーク分割領域及びゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋに関する補正情報を生成し、画像補正部１２に出力する。ここで、ゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋは第１の実施形態と同様の値となる。したがって、画像制御部１４は、ピーク分割領域の信号レベルを調整することとなる。
【００７４】
画像補正部１２は、補正情報を取得した場合には、補正情報に基づいて、画像信号を補正する。具体的には、画像補正部１２は、ピーク分割領域に入力される画像信号の信号レベルにゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋを乗じることで、補正信号レベルを算出する。そして、画像補正部１２は、ピーク分割領域の信号レベルを補正信号レベルとする。これにより、画像補正部１２は、画像信号を補正する。画像補正部１２は、補正後の画像信号をパネル駆動部１３に出力する。また、画像補正部１２は、補正信号レベルを有する温度検出用信号を生成し、パネル駆動部１３に出力する。
【００７５】
すなわち、第２の実施形態では、信号レベルのピーク値をブロック（分割領域）単位で検出し、このピーク値を均すことで、画像信号を補正する。これにより、表示領域２１の温度を低下させる。このような処理を行う理由は以下のとおりである。
【００７６】
すなわち、第１の実施形態は、温度検出用信号の信号レベルをピーク画素信号の信号レベルとした。しかし、ピーク画素信号が入力される画素、すなわちピーク画素は画像信号ごとに異なるので、ピーク画素は頻繁に移動する。また、ピーク画素の温度は周辺の画素に分散する。また、ピーク画素は小さいので、周辺環境の影響を受け易い。したがって、ピーク画素の信号レベルは、表示領域２１の温度に大きな影響を与えない場合がある。
【００７７】
また、この場合、ダミー画素領域２２の温度は、ピーク画素の温度よりも高くなる。ダミー画素領域２２は、複数の画素で構成されているので、ピーク画素よりも温度が分散しにくいからである。したがって、画像制御部１４は、表示領域２１の実際の温度に対してマージンを取った調整を行うことになる。しかし、上述したように、マージンは小さいほうが好ましい。
【００７８】
一方、第２の実施形態は、温度検出用信号の信号レベルをピーク分割領域の信号レベルとする。ピーク分割領域は、少なくとも複数の画素で構成されているので、ピーク画素よりも温度が分散しにくい。したがって、ピーク分割領域の温度は、ダミー画素領域２２の温度により近くなる。言い換えれば、マージンが小さくなる。したがって、第２の実施形態は、表示領域２１の温度をより高精度に制御することができる。
【００７９】
分割領域２１ａの大きさは、上記の趣旨に従って決定される。具体的には、分割領域２１ａの大きさは、分割領域２１ａの温度勾配（信号レベルと温度との相関関係）とダミー画素領域２２の温度勾配とが一致する大きさとなる。これにより、ダミー画素領域２２の温度とピーク分割領域の温度とが一致するので、画像制御部１４は、表示領域２１の温度をより高精度に制御することができる。
【００８０】
また、分割領域２１ａは、ダミー画素領域２２よりも小さいことが好ましい。この理由は以下のとおりである。すなわち、分割領域２１ａがダミー画素領域２２よりも大きいと、これらに同じ信号レベルの画素信号を入力した場合、ダミー画素領域２２の温度が分割領域２１ａの温度よりも低くなる。さらに、ダミー画素領域２２の周辺は発光しないので、ダミー画素領域２２の温度が分割領域２１ａの温度よりも分散しやすい。ダミー画素領域２２の温度が分割領域２１ａの温度よりも低い場合、画像制御部１４は、表示領域２１の温度を所定値以下に抑えるためには、ダミー画素領域２２の温度と分割領域２１ａの温度との差分を考慮する必要がある。したがって、画像制御部１４は、表示領域２１の温度を制御するのに手間がかかる。
【００８１】
一方、分割領域２１ａがダミー画素領域２２よりも小さいと、これらに同じ信号レベルの画素信号を入力した場合、ダミー画素領域２２の温度は分割領域２１ａの温度と同じとなるか、または高くなる。したがって、画像制御部１４は、表示領域２１の温度をより正確かつ高精度に制御することができる。また、分割領域２１ａの大きさはなるべく小さいことが好ましい。
【００８２】
［３−２．表示制御装置による処理の手順］
次に、表示制御装置１０による処理の手順を、図９に示すフローチャートに沿って説明する。まず、ステップＳ３０において、信号検出部１１は、現フレームの画像信号を検出し、画像補正部１２及び画像制御部１４に出力する。ついで、画像制御部１４は、温度センサ３０からダミー温度情報を取得する。なお、画像制御部１４がダミー温度情報を取得する時点では、ダミー画素領域２２は、前フレームで入力された温度検出用信号によって発熱している。
【００８３】
ついで、画像制御部１４は、分割領域２１ａに入力される画素信号の平均信号レベル（輝度１〜２５）を算出する。ついで、ステップＳ４０において、画像制御部１４は、平均信号レベルが最大信号レベル（輝度ｘ）となる分割領域２１ａ、すなわちピーク分割領域を検出する。すなわち、画像制御部１４は、平均信号レベルの最高信号レベルを検出する。
【００８４】
ついで、画像制御部１４は、ダミー温度情報に基づいて、補正の要否を判定する。具体的な処理は第１の実施形態と同様である。画像制御部１４は、補正が必要と判定した場合には、ピーク分割領域及びゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋに関する補正情報を生成し、画像補正部１２に出力する。一方、画像制御部１４は、補正が不要であると判定した場合には、ピーク分割領域に関する補正不要情報をパネル駆動部１３に出力する。
【００８５】
ついで、画像補正部１２は、画像制御部１４から補正情報を取得した場合には、補正情報に基づいて、画像信号を補正する。具体的には、画像補正部１２は、ピーク分割領域に入力される画像信号の信号レベルにゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋを乗じることで、補正信号レベルを算出する。そして、画像補正部１２は、ピーク分割領域の信号レベルを補正信号レベルとする。これにより、画像補正部１２は、画像信号を補正する。画像補正部１２は、補正後の画像信号をパネル駆動部１３に出力する。また、画像補正部１２は、補正信号レベルの平均信号レベルを有する温度検出用信号を生成し、パネル駆動部１３に出力する。
【００８６】
一方、画像補正部１２は、補正不要情報を取得した場合には、画像信号をそのままパネル駆動部１３に出力する。また、画像補正部１２は、ピーク分割領域に入力される画像信号の平均信号レベルを有する温度検出用信号を生成し、パネル駆動部１３に出力する。したがって、第２の実施形態では、補正が不要な場合にも、ダミー画素領域２２を発熱させる。これにより、ダミー画素領域２２の温度をより正確に監視することができる。
【００８７】
ステップＳ５０において、パネル駆動部１３は、画像補正部１２から与えられた画像信号を表示領域２１に入力する。また、パネル駆動部１３は、画像信号を表示領域２１に入力するタイミングで、温度検出用信号をダミー画素領域２２に入力する。これにより、ダミー画素領域２２が発熱する。ダミー画素領域２２の温度は、次フレームでの処理に利用される。
【００８８】
以上により、第２の実施形態では、表示制御装置１０は、温度検出用信号の信号レベルを平均信号レベルの最高信号レベルとするので、表示領域２１の温度をより高精度に制御する（検出する）ことができる。
【００８９】
＜４．第３の実施形態＞
［４−１．表示制御装置の構成］
次に、第３の実施形態に係る表示制御装置１０の構成を図１０に基づいて説明する。なお、ここでは、第１の実施形態と異なる部分について説明する。図１０に示すように、ダミー画素領域６０、６１及びそれらに対応する温度センサ７０、７１が表示領域２１の下方に設けられる。
【００９０】
画像制御部１４は、画像制御部１４は、画像信号からピーク画素信号を検出する。すなわち、画像制御部１４は、画素信号の最高信号レベルを検出する。
【００９１】
そして、画像制御部１４は、温度センサ７０から第１のダミー温度情報を取得し、温度センサ７１から第２のダミー温度情報を取得する。そして、画像制御部１４は、これらのダミー温度情報に基づいて、補正の要否を判定する。具体的には、画像制御部１４は、ダミー画素領域６０、６１の温度が所定値以下であるか否かを判定する。ここで、後述するように、ダミー画素領域６０には、ピーク画素信号の信号レベルを有する温度検出用信号が入力され、ダミー画素領域６１には、全体平均信号レベル（全画素信号の平均信号レベル）を有する温度検出用信号が入力される。
【００９２】
そして、画像制御部１４は、ダミー画素領域６０またはダミー画素領域６１の温度が所定値を超える場合には、補正が必要と判定し、ダミー画素領域６０、６１の温度がいずれも所定値以下となる場合には、補正は不要であると判定する。そして、画像制御部１４は、補正が必要であると判定した場合には、さらに、第１の補正と第２の補正のいずれが必要であるかを判定する。第１の補正は、ピーク画素信号にゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋを乗じる補正であり、第２の補正は、全体平均信号レベルにゲイン係数Ｇ＿Ａｖｅを乗じる補正である。ここで、ゲイン係数Ｇ＿Ａｖｅの値は１未満の値である。ゲイン係数Ｇ＿Ａｖｅは、予め設定されていても良いが、都度算出されてもよい。具体的な算出方法は第１の実施形態と同様である。
【００９３】
画像制御部１４は、ダミー画素領域６０の温度がダミー画素領域６１の温度よりも著しく大きい（これらの差分が所定の判定基準値よりも大きい）場合には、第１の補正が必要であると判定する。一方、画像制御部１４は、ダミー画素領域６０の温度がダミー画素領域６１の温度以上となる場合には、第２の補正が必要であると判定する。
【００９４】
画像制御部１４は、第１の補正が必要と判定した場合には、ピーク画素信号及びゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋに関する第１の補正情報を生成し、画像補正部１２に出力する。一方、画像制御部１４は、第２の補正が必要と判定した場合には、ピーク画素信号及びゲイン係数Ｇ＿Ａｖｅに関する第２の補正情報を生成し、画像補正部１２に出力する。
【００９５】
画像補正部１２は、第１の補正情報を取得した場合には、第１の補正情報に基づいて、画像信号を補正する。具体的には、画像補正部１２は、画像信号からピーク画素信号を抽出し、ピーク画素信号の信号レベルにゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋを乗じることで、補正信号レベルを算出する。そして、画像補正部１２は、ピーク画素信号の信号レベルを補正信号レベルとする。これにより、画像補正部１２は、画像信号を補正する。
【００９６】
画像補正部１２は、補正後の画像信号をパネル駆動部１３に出力する。また、画像補正部１２は、補正信号レベルを有する第１の温度検出用信号を生成し、パネル駆動部１３に出力する。また、画像補正部１２は、補正後の画像信号を構成する全画素信号の信号レベルを算術平均することで、全体平均信号レベルを算出する。そして、画像補正部１２は、全体平均信号レベルを有する第２の温度検出用信号を生成し、パネル駆動部１３に出力する。なお、第１の補正はピーク画素信号のみの補正となるので、全体平均信号レベルは実質的に維持される。
【００９７】
画像補正部１２は、第２の補正情報を取得した場合には、第２の補正情報に基づいて、画像信号を補正する。具体的には、画像補正部１２は、全画素信号にゲイン係数Ｇ＿Ａｖｅを乗じることで、画素信号ごとに補正信号レベルを算出する。そして、画像補正部１２は、各画素信号の信号レベルを補正信号レベルとする。これにより、画像補正部１２は、画像信号を補正する。
【００９８】
画像補正部１２は、補正後の画像信号をパネル駆動部１３に出力する。また、画像補正部１２は、第２の補正情報に基づいて、ピーク画素信号を有する画素、すなわちピーク画素を検出する。そして、画像補正部１２は、ピーク画素の補正信号レベルを有する第１の温度検出用信号を生成し、パネル駆動部１３に出力する。また、画像補正部１２は、補正後の画像信号を構成する全画素信号の信号レベルを算術平均することで、全体平均信号レベルを算出する。そして、画像補正部１２は、全体平均信号レベルを有する第２の温度検出用信号を生成し、パネル駆動部１３に出力する。なお、第２の補正はすべての画素信号に対して行われるので、全体平均信号レベルは補正前より低下する。
【００９９】
パネル駆動部１３は、画像補正部１２から与えられた画像信号を表示領域２１に入力し、このタイミングで、第１の温度検出用信号をダミー画素領域６０に出力し、第２の温度検出用信号をダミー画素領域６１に出力する。
【０１００】
［４−２．表示制御装置による処理の手順］
次に、表示制御装置１０による処理の手順を、図１１に示すフローチャートに沿って説明する。なお、ここでは、補正を行う前の処理から説明する。まず、信号検出部１１は、（現フレームの）画像信号を検出し、画像補正部１２に出力する。
【０１０１】
ついで、ステップＳ６０において、画像補正部１２は、画像信号からピーク画素信号を抽出し、ピーク画素信号の信号レベルを有する第１の温度検出用信号を生成する。画像補正部１２は、画像信号をパネル駆動部１３に出力する。また、画像補正部１２は、第１の温度検出用信号を生成し、パネル駆動部１３に出力する。
【０１０２】
ついで、パネル駆動部１３は、画像補正部１２から与えられた画像信号を表示領域２１に入力し、このタイミングで、第１の温度検出用信号をダミー画素領域６０に出力する。
【０１０３】
ステップＳ７０において、温度センサ７０は、ダミー画素領域６０の温度を検出し、第１の温度情報を画像制御部１４に出力する。
【０１０４】
一方、ステップＳ８０において、画像補正部１２は、画像信号を構成する全画素信号の信号レベルを算術平均することで、全体平均信号レベルを算出する。そして、画像補正部１２は、全体平均信号レベルを有する第２の温度検出用信号を生成し、パネル駆動部１３に出力する。
【０１０５】
ついで、パネル駆動部１３は、画像補正部１２から与えられた画像信号を表示領域２１に入力するタイミングで、第２温度検出用信号をダミー画素領域６１に出力する。
【０１０６】
ステップＳ９０において、温度センサ７１は、ダミー画素領域６１の温度を検出し、第２の温度情報を画像制御部１４に出力する。ステップＳ６０、Ｓ７０の処理と、ステップＳ８０、Ｓ９０の処理とは並行して行われる。
【０１０７】
ステップＳ１００において、信号検出部１１は、（次フレームの）画像信号を検出し、画像補正部１２及び画像制御部１４に出力する。画像制御部１４は、画像信号からピーク画素信号を検出する。すなわち、画像制御部１４は、画素信号の最高信号レベルを検出する。
【０１０８】
そして、画像制御部１４は、第１のダミー温度情報及び第２のダミー温度情報に基づいて、補正の要否を判定する。具体的には、画像制御部１４は、ダミー画素領域６０またはダミー画素領域６１の温度が所定値を超える場合には、補正が必要と判定する。一方、画像制御部１４は、ダミー画素領域６０、６１の温度がいずれも所定値以下となる場合には、補正は不要であると判定する。そして、画像制御部１４は、補正が必要であると判定した場合には、さらに、第１の補正と第２の補正のいずれが必要であるかを判定する。
【０１０９】
画像制御部１４は、ダミー画素領域６０の温度がダミー画素領域６１の温度よりも著しく大きい場合には、第１の補正が必要であると判定する。一方、画像制御部１４は、ダミー画素領域６０の温度がダミー画素領域６１の温度以上となる場合には、第２の補正が必要であると判定する。
【０１１０】
画像制御部１４は、第１の補正が必要と判定した場合には、ピーク画素信号及びゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋに関する第１の補正情報を生成し、画像補正部１２に出力する。一方、画像制御部１４は、第２の補正が必要と判定した場合には、ピーク画素信号及びゲイン係数Ｇ＿Ａｖｅに関する第２の補正情報を生成し、画像補正部１２に出力する。なお、画像制御部１４は、補正が不要と判定した場合には、第１の実施形態と同様の補正不要情報を画像補正部１２に出力する。
【０１１１】
画像補正部１２及びパネル駆動部１３は、補正不要情報を取得した場合には、上述したステップＳ６０〜Ｓ９０と同様の処理を行う。
【０１１２】
一方、画像補正部１２は、第１の補正情報を取得した場合には、第１の補正情報に基づいて、画像信号を補正する。具体的には、画像補正部１２は、画像信号からピーク画素信号を抽出し、ピーク画素信号の信号レベルにゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋを乗じることで、補正信号レベルを算出する。そして、画像補正部１２は、ピーク画素信号の信号レベルを補正信号レベルとする。これにより、画像補正部１２は、画像信号を補正する。
【０１１３】
画像補正部１２は、補正後の画像信号をパネル駆動部１３に出力する。また、画像補正部１２は、補正信号レベルを有する第１の温度検出用信号を生成し、パネル駆動部１３に出力する。また、画像補正部１２は、補正後の画像信号を構成する全画素信号の信号レベルを算術平均することで、全体平均信号レベルを算出する。そして、画像補正部１２は、全体平均信号レベルを有する第２の温度検出用信号を生成し、パネル駆動部１３に出力する。
【０１１４】
画像補正部１２は、第２の補正情報を取得した場合には、第２の補正情報に基づいて、画像信号を補正する。具体的には、画像補正部１２は、全画素信号にゲイン係数Ｇ＿Ａｖｅを乗じることで、画素信号ごとに補正信号レベルを算出する。そして、画像補正部１２は、各画素信号の信号レベルを補正信号レベルとする。これにより、画像補正部１２は、画像信号を補正する。
【０１１５】
画像補正部１２は、補正後の画像信号をパネル駆動部１３に出力する。また、画像補正部１２は、第２の補正情報に基づいて、ピーク画素信号を有する画素、すなわちピーク画素を検出する。そして、画像補正部１２は、ピーク画素の補正信号レベルを有する第１の温度検出用信号を生成し、パネル駆動部１３に出力する。また、画像補正部１２は、補正後の画像信号を構成する全画素信号の信号レベルを算術平均することで、全体平均信号レベルを算出する。そして、画像補正部１２は、全体平均信号レベルを有する第２の温度検出用信号を生成し、パネル駆動部１３に出力する。
【０１１６】
パネル駆動部１３は、画像補正部１２から与えられた画像信号を表示領域２１に入力し、このタイミングで、第１の温度検出用信号をダミー画素領域６０に出力し、第２の温度検出用信号をダミー画素領域６１に出力する。温度センサ７０は、ダミー画素領域６０の温度を測定し、第１の温度情報を画像制御部１４に出力する。温度センサ７１は、ダミー画素領域６１の温度を測定し、第２の温度情報を画像制御部１４に出力する。その後、表示制御装置１０は、本処理を終了する。次サイクル以降は、ステップＳ１００の処理が繰り返し行われる。ステップＳ１００の処理は、毎フレームで行われてもよく、所定フレームごとに行われてもよい。
【０１１７】
第３の実施形態によれば、表示制御装置１０は、各ダミー画素領域に入力される温度検出用信号の信号レベルを、画素信号の最高信号レベル及び画素信号の全体平均信号レベルのうち、互いに異なる信号レベルとする。したがって、表示制御装置１０は、表示領域２１の温度をより高精度に制御する（検出する）ことができる。
【０１１８】
具体的には、表示制御装置１０は、画素信号の最高信号レベルが全体平均信号レベルよりも著しく大きい場合には、第１の補正を行い、画素信号の最高信号レベルが全体平均信号レベル以上となる場合には、第２の補正を行うことができる。したがって、表示制御装置１０は、表示領域２１の温度を段階的に制御することができる。また、第２の補正では、画像信号のコントラストを維持したまま、表示領域２１の温度を低下させることができる。
【０１１９】
［４−２．変形例］
次に、第３の実施形態の変形例を説明する。この変形例は、第１の温度検出用信号の信号レベルを、第２の実施形態で説明した平均信号レベルの最高信号レベルとするものである。この場合、第１の補正は第２の実施形態と同様の処理によって行なわれる。概略的には、画像補正部１２は、ピーク分割領域に入力される画像信号の信号レベルにゲイン係数Ｇ＿Ｐｅａｋを乗じることで、補正信号レベルを算出する。そして、画像補正部１２は、ピーク分割領域の信号レベルを補正信号レベルとする。この場合も第３の実施形態と同様の効果が得られるほか、第２の実施形態と同様の効果も得られる。
【０１２０】
以上、添付図面を参照しながら本開示の好適な実施形態について詳細に説明したが、本開示の技術的範囲はかかる例に限定されない。本開示の技術分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本開示の技術的範囲に属するものと了解される。
【０１２１】
なお、以下のような構成も本開示の技術的範囲に属する。
（１）
各種の画像が表示される表示領域とは別の領域に設けられたダミー画素領域と、
前記ダミー画素領域の温度を検出する温度検出部と、を備える、表示制御装置。
（２）
前記表示領域の代表領域である前記ダミー画素領域に温度検出用信号を入力するパネル駆動部と、
前記ダミー画素領域の温度に基づいて、前記表示領域の各画素に入力される画素信号の信号レベルを調整する調整部と、を備える、前記（１）記載の表示制御装置。
（３）
前記調整部は、前記画素信号の最高信号レベルを検出し、前記温度検出用信号の信号レベルを前記画素信号の最高信号レベルとする、前記（２）記載の表示制御装置。
（４）
前記表示領域は、複数の分割領域に分割され、
前記調整部は、前記分割領域に入力される画素信号の平均信号レベルを算出し、前記温度検出用信号の信号レベルを前記平均信号レベルの最高信号レベルとする、前記（２）記載の表示制御装置。
（５）
前記ダミー画素領域及び前記温度検出部は複数存在し、
前記調整部は、前記表示領域を構成する各画素に入力される画素信号の最高信号レベルを検出し、各ダミー画素領域に入力される温度検出用信号の信号レベルを、前記画素信号の最高信号レベル、前記平均信号レベルの最高信号レベル、及び前記画素信号の全体平均信号レベルのうち、互いに異なる信号レベルとする、前記（４）記載の表示制御装置。
（６）
前記ダミー画素領域及び前記温度検出部は複数存在し、
前記調整部は、各ダミー画素領域に同じ信号レベルの温度検出用信号を入力し、前記ダミー画素領域の温度の平均値に基づいて、前記画素信号の信号レベルを調整する、前記（２）〜（４）のいずれか１項に記載の表示制御装置。
（７）
前記ダミー画素領域及び前記温度検出部は複数存在し、
前記調整部は、各ダミー画素領域に同じ信号レベルの温度検出用信号を入力し、前記ダミー画素領域の温度の最大値に基づいて、前記画素信号の信号レベルを調整する、前記（２）〜（４）のいずれか１項に記載の表示制御装置。
（８）
前記温度検出部は、前記ダミー画素領域の温度を前記ダミー画素領域の画像表示面側から検出する、前記（１）〜（７）のいずれか１項に記載の表示制御装置。
（９）
各種の画像が表示される表示領域とは別の領域に設けられたダミー画素領域に温度検出用信号を入力することと、
前記ダミー画素領域の温度に基づいて、前記表示領域の各画素に入力される画素信号の信号レベルを調整することと、を含む、表示制御方法。
（１０）
コンピュータに、
各種の画像が表示される表示領域とは別の領域に設けられたダミー画素領域に温度検出用信号を入力する駆動機能と、
前記ダミー画素領域の温度に基づいて、前記表示領域の各画素に入力される画素信号の信号レベルを調整する調整機能と、を実現させる、プログラム。
（１１）
前記（１０）記載のプログラムが記録された、コンピュータが読み取り可能な記録媒体。
【符号の説明】
【０１２２】
１０    表示制御装置
１０ａ  調整部
１１    信号検出部
１２    画像補正部
１３    パネル駆動部
１４    画像制御部
１５、３０、５０、５１、７０、７１    温度センサ
２０    表示パネル
２１    表示領域
２２、４０、４１、６０、６１    ダミー画素領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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