(57)【要約】【課題】被乾燥物の過熱を低減することができるインクジェット記録装置を提供する。【解決手段】被乾燥物を乾燥させる遠赤外線を発生する発生装置（１０４）と、被乾燥物を搬送する搬送路（１０５）と、前記発生装置（１０４）と前記搬送路（１０５）との間に配置されており、前記発生装置（１０４）と前記搬送路（１０５）とを離隔するとともに、前記発生装置（１０４）から発生される遠赤外線を前記搬送路（１０５）へ誘導する誘導部（１０１）と、を備える。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被乾燥物を乾燥させる遠赤外線を発生する発生装置と、
被乾燥物を搬送する搬送路と、
前記発生装置と前記搬送路との間に配置されており、前記発生装置と前記搬送路とを離隔するとともに、前記発生装置から発生される遠赤外線を前記搬送路へ誘導する誘導部と、
を備えることを特徴とするインクジェット記録装置。
【請求項２】
前記誘導部に配置されており、前記発生装置から発生され前記誘導部を通って前記搬送路へ誘導される遠赤外線を遮光および／または反射するための機構をさらに備え、
前記機構を駆動することにより、前記搬送路へ誘導される遠赤外線の量の調整をすることを特徴とする請求項１に記載のインクジェット記録装置。
【請求項３】
被乾燥物に対して記録されたインクの量に応じて前記調整をすることを特徴とする請求項２に記載のインクジェット記録装置。
【請求項４】
前記機構の駆動を制御する制御部をさらに有し、
前記制御部は、前記インクの量および前記機構の駆動の状態について、予め格納した対応関係に基づき前記制御をすることを特徴とする請求項３に記載のインクジェット記録装置。
【請求項５】
前記搬送路における被乾燥物の詰まりが生じた場合に前記調整をすることを特徴とする請求項２に記載のインクジェット記録装置。
【請求項６】
前記搬送路における前記被乾燥物の詰まりを検知するセンサをさらに備え、
前記センサが前記詰まりを検知した信号に応じて前記調整をすることを特徴とする請求項５に記載のインクジェット記録装置。
【請求項７】
前記発生装置は、遠赤外線放射部と前記遠赤外線放射部を加熱するためのヒータとを有し、前記ヒータにより加熱された前記遠赤外線放射部から遠赤外線を発生することを特徴とする請求項１に記載のインクジェット記録装置。
【請求項８】
前記発生装置は、遠赤外線放射部を有し、前記遠赤外線放射部に通電することによって駆動されて、前記遠赤外線放射部から遠赤外線を発生することを特徴とする請求項１に記載のインクジェット記録装置。
【請求項９】
前記発生装置の温度を検出する温度センサをさらに備え、
前記制御部は、前記温度センサにより検出した温度が遠赤外線の波長を得るための温度となるように前記発生装置の駆動の制御をすることを特徴とする請求項４に記載のインクジェット記録装置。
【請求項１０】
前記搬送路における被乾燥物の詰まりが生じた場合に、前記発生装置の駆動を停止するとともに、前記機構を駆動することにより前記搬送路へ誘導される遠赤外線を遮断することを特徴とする請求項２に記載のインクジェット記録装置。
【請求項１１】
インクジェット記録装置によってインクが記録された被乾燥物を乾燥させる遠赤外線乾燥装置であって、
前記被乾燥物を乾燥させるための遠赤外線を発生する発生装置と、
前記被乾燥物と前記発生装置とを離隔するとともに、前記発生装置から発生された遠赤外線を前記被乾燥物へ向けて誘導するための誘導部と、
を備えることを特徴とする遠赤外線乾燥装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、遠赤外線発生装置を有するインクジェット記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、記録媒体に記録されたインクを乾燥させるために遠赤外線乾燥装置を備えるインクジェット記録装置が知られている。特許文献１は、２〜１０００μｍの波長を発生させる遠赤外線ヒータを記録媒体の搬送方向において記録部の上流側および／または下流側に設け、熱および遠赤外線によって記録媒体の記録面および／または非記録面を加熱する方式を開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平０２−１８２４６１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記特許文献１におけるインクジェット記録装置においては、記録媒体（以下「被乾燥物」という。）と遠赤外線ヒータとの間の距離が近い。そのため、熱源である遠赤外線ヒータの輻射熱による被乾燥物の過熱によって、被乾燥物を乾燥しすぎる事態等が起こり易い。被乾燥物を乾燥しすぎると、被乾燥物の表面の劣化や被乾燥物に記録されたインクの成分変化により、良好な品質の記録物を得ることができなくなる。
【０００５】
被乾燥物の過熱は、特に、遠赤外線ヒータの近辺に被乾燥物が止まった場合に生じやすい。したがって、特に乾燥部（被乾燥物を搬送する搬送路における遠赤外線発生装置の近傍部分）に被乾燥物が止まっている際に被乾燥物の過熱を防止することのできるインクジェット記録装置に対する要求がある。
【０００６】
本発明は上記課題に鑑みてなされたものである。その目的は、乾燥効率を低下させずに被乾燥物の過熱を防止することができるインクジェット記録装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明のインクジェット記録装置は、被乾燥物を乾燥させる遠赤外線を発生する発生装置と、被乾燥物を搬送する搬送路と、前記発生装置と前記搬送路との間に配置されており、前記発生装置と前記搬送路とを離隔するとともに、前記発生装置から発生される遠赤外線を前記搬送路へ誘導する誘導部と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明のインクジェット記録装置においては、発生装置と搬送路との間に遠赤外線の誘導部を設けることにより、発生装置と搬送路とを離隔する。
【０００９】
本発明の構成によれば、発生装置から発生する熱は誘導部を伝達するうちに発散されて被乾燥物へ伝わりにくくなるので、この熱による被乾燥物の過熱を防止することができる。また、発生装置と被乾燥物とが物理的に離隔されるので、発生装置の動作を停止した際に発生装置の熱源の蓄熱により被乾燥物が乾燥される現象を低減させることができ、被乾燥物の過熱を防止することができる。
【００１０】
さらに、本発明の構成によれば、発生装置から発生する遠赤外線を、誘導部により被乾燥物へ向けて誘導することができるので、被乾燥物を効率よく乾燥することができる。
【００１１】
このようにして、本発明の構成によれば、乾燥効率を低下させずに被乾燥物の過熱を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の実施形態に係るインクジェット記録装置の全体構成図である。
【図２】本発明の実施形態に係るインクジェット記録装置の主要部分の概略図である。
【図３】図２のインクジェット記録装置における遠赤外線乾燥装置の制御部のブロック図である。
【図４】（ａ）および（ｂ）は図２のインクジェット記録装置における遠赤外線乾燥装置の制御動作を説明するためのフローチャートである。
【図５】インク量に対するシャッターの開閉量のデータテーブルの一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
本発明に係るインクジェット記録装置１１０の実施形態について、図１から図５を参照して説明する。
【００１４】
（インクジェット記録装置１１０の全体構成）
図１は、本実施形態に係るインクジェット記録装置１１０の全体構成図である。同図に示すとおり、インクジェット記録装置１１０は、被乾燥物入力部１１１（給紙部）、記録部１１２、乾燥部１１３、及び被乾燥物出力部１１４（排紙部）を備える。
【００１５】
被乾燥物入力部１１１は被乾燥物のインクジェット記録装置１１０への入り口である。被乾燥物入力部１１１からインクジェット記録装置１１０内に入った被乾燥物は記録部１１２へ搬送される。図示しないが、記録部１１２はキャリッジを備えており、キャリッジには複数のノズルを有する記録ヘッドが搭載されている。このノズルからインクを吐出することにより被乾燥物に対して記録がされる。
【００１６】
記録部１１２における被乾燥物への記録が終了すると、被乾燥物は乾燥部１１３へ搬送される。乾燥部１１３には遠赤外線乾燥装置１００が設けられており、乾燥部１１３にて被乾燥物の乾燥をする。乾燥部１１３における乾燥が終了すると、被乾燥物は被乾燥物出力部１１４から出される。上記の被乾燥物の移動は搬送路１０５によりなされる。
【００１７】
（インクジェット記録装置１１０の主要部分）
図２は、本発明に係るインクジェット記録装置１１０の主要部分の概略図である。同図に示すように、本発明に係るインクジェット記録装置１１０は遠赤外線乾燥装置１００と搬送路１０５と被乾燥物詰まりセンサ１０９とを有する。搬送路１０５は遠赤外線乾燥装置１００の近傍へ被乾燥物を搬送する。そのため、搬送路１０５は遠赤外線乾燥装置１００の近傍に配置される。また、搬送路１０５の近傍には被乾燥物詰まりセンサ１０９が設けられている。被乾燥物詰まりセンサ１０９は被乾燥物の詰まりを検出する。被乾燥物詰まりセンサ１０９としては、フォトセンサ、超音波センサ等を用いることできる。
【００１８】
次に遠赤外線乾燥装置１００について説明する。遠赤外線乾燥装置１００は、遠赤外線発生装置１０４と、断熱材１０６と、遠赤外線誘導部１０１と、温度センサ１０７と、遮光および／または反射機構１０８とによって構成されている。以下の実施形態においては、遮光および／または反射機構１０８としてシャッター１０８を用いて説明する。
【００１９】
遠赤外線乾燥装置１００において、遠赤外線発生装置１０４と搬送路１０５との間には遠赤外線誘導部１０１が設けられている。遠赤外線発生装置１０４から放射された遠赤外線は、遠赤外線誘導部１０１の内部を通り搬送路１０５上に搬送されてきた被乾燥物へ向かって照射される。このように被乾燥物へ遠赤外線が照射されることにより、被乾燥物が乾燥される。
【００２０】
遠赤外線発生装置１０４は、遠赤外線を発生させる装置である。遠赤外線発生装置１０４はヒータ１０２および遠赤外線放射部１０３により構成されている。ヒータ１０２は通電されることにより、熱を発する。ヒータ１０２から発生した熱により遠赤外線放射部１０３が加熱されて、当該加熱された遠赤外線放射部１０３から遠赤外線が発生する。
【００２１】
遠赤外線発生装置１０４をヒータ１０２および遠赤外線放射部１０３により構成する場合、遠赤外線放射部１０３は、比較的低い温度において遠赤外線を放射し始めるものを用いることができる。遠赤外線放射部１０３としては、例えば、酸化アルミニウム（Ａｌ2Ｏ3）石英、パイレックス（登録商標）などを用いることが考えられる。この場合、遠赤外線発生装置１０４は、遠赤外線放射部１０３およびヒータ１０２を隣接させた状態、又は両者を密着させた状態により構成される。このように構成することによって、ヒータ１０２の発した熱を遠赤外線放射部１０３へ効率的に伝えることができる。
【００２２】
また、ヒータ１０２を用いずに直接、遠赤外線放射部１０３に通電して遠赤外線を発生させることもできる。その際には、遠赤外線放射部１０３として炭化ケイ素（ＳｉＣ）や二酸化ケイ素（ＳｉＯ2）などのセラミックスを用いる。直接、遠赤外線放射部１０３に通電することによって、ヒータ１０２および遠赤外線放射部１０３を備える構成と比べて、温度上昇が早く、遠赤外線放射部１０３をより均一に暖めることができる。したがって、遠赤外線放射部１０３から放射される遠赤外線の波長もより均一にすることができる。
【００２３】
直接、通電することによって利用できるセラミックスは抵抗発熱体であるヒータ１０２と組み合わせても遠赤外線を放射することができる。
【００２４】
断熱材１０６は、遠赤外線発生装置１０４を覆うことによって、熱を遠赤外線発生装置１０４から発散させずに遠赤外線発生装置１０４内にとどめ、遠赤外線発生装置１０４の温度低下を防いで、遠赤外線放射部１０３からの遠赤外線の発生を促すものである。
【００２５】
断熱材１０６は、遠赤外線発生装置１０４における遠赤外線誘導部１０１に対向する面以外の面を覆う。遠赤外線誘導部１０１に対向する面を断熱材１０６により覆わないのは、遠赤外線発生装置１０４における遠赤外線放射部１０３から遠赤外線誘導部１０１への遠赤外線の放射を妨げないようにするためである。他の面を断熱材１０６により覆うのは、遠赤外線放射部１０３に対しヒータ１０２が供給した熱を外部に発散させにくくし、遠赤外線放射部１０３の遠赤外線を放射する効率を下がりにくくするためである。
【００２６】
断熱材１０６の素材としては、ロックウールやバルクファイバーのような断熱素材を用いることができる。
【００２７】
次に、遠赤外線誘導部１０１について説明する。遠赤外線誘導部１０１は、遠赤外線発生装置１０４から放射された遠赤外線を搬送路１０５へ向けて誘導するものである。そのため、遠赤外線誘導部１０１は遠赤外線発生装置１０４と搬送路１０５との間であり、遠赤外線発生装置１０４における遠赤外線放射部１０３の配置側に配置される。このように配置されることにより、遠赤外線誘導部１０１が遠赤外線発生装置１０４と搬送路１０５とを離隔する。遠赤外線発生装置１０４から発生した遠赤外線がこの遠赤外線誘導部１０１を通ることにより、遠赤外線を被乾燥物へ向けて照射させることができる。
【００２８】
遠赤外線発生装置１０４からは、上述のように、遠赤外線とともに遠赤外線を放射させるための熱が発生する。この熱は、遠赤外線誘導部１０１を伝達するうちに発散される。したがって、遠赤外線誘導部１０１の長さ、すなわち遠赤外線発生装置１０４と搬送路１０５との間の距離を好適に設定することにより、この熱が被乾燥物へ与える影響を低減させることができる。
【００２９】
図２に示すように、遠赤外線誘導部１０１は屈曲した形状をしている。これは、遠赤外線発生装置１０４から発生した遠赤外線を屈曲部において反射させながら効率的に被乾燥物へ照射させるためである。しかしながら、遠赤外線誘導部１０１の形状はこれに限定されるものではない。すなわち、遠赤外線発生装置１０４から発生した遠赤外線を反射させながら効率的に被乾燥物へ照射することができるような形状であればよい。遠赤外線誘導部１０１の形状としては、例えば、Ｕ字型、Ｓ字型等の形状を適用することができる。
【００３０】
さらに、遠赤外線誘導部１０１を上述のような形状とすることにより、インクジェット記録装置の大型化を伴うことなく、遠赤外線発生装置１０４と搬送路１０５との間に遠赤外線誘導部１０１を設けることができる。
【００３１】
遠赤外線誘導部１０１と搬送路１０５との間を被乾燥物が通過するときに、被乾燥物の通過面の全体に遠赤外線誘導部１０１から誘導された遠赤外線が照射されるように、遠赤外線誘導部１０１は搬送路１０５の幅方向を覆うような形状とすることもできる。
【００３２】
遠赤外線誘導部１０１の長さ、すなわち遠赤外線発生装置１０４と搬送路１０５との間の距離が大きい方が、遠赤外線発生装置から発生する熱による被乾燥物の過熱が生じにくいが、インクジェット記録装置の大型化が必要とされるおそれがある。
【００３３】
一方、遠赤外線誘導部１０１の長さ、すなわち遠赤外線発生装置１０４と搬送路１０５との間の距離が小さい方が、一般に、赤外線発生装置から発生する遠赤外線による被乾燥物の乾燥効率が高い。したがって、遠赤外線誘導部１０１の長さ、すなわち遠赤外線発生装置１０４と搬送路１０５との間の距離は、遠赤外線発生装置の熱および遠赤外線が被乾燥物へ伝わる程度、ならびに装置の大型化への影響等の種々の要因を勘案して適宜決定することができる。
【００３４】
遠赤外線誘導部１０１は、遠赤外線の反射効率の高い金属アルミニウム、ステンレス、金、銀などにより作製され、又はこれらにより内部コーティングされて作製される。
【００３５】
温度センサ１０７は遠赤外線発生装置１０４の温度を測定するものである。そのため、温度センサ１０７は遠赤外線発生装置１０４の近傍に配置されている。より詳細には、遠赤外線発生装置１０４における遠赤外線放射部１０３の配置側の近傍に配置されている。
【００３６】
遠赤外線放射部１０３の放出する遠赤外線の波長は、遠赤外線放射部１０３の温度によって変わってくる。そのため、遠赤外線の波長を安定させる必要がある。そこで、温度センサ１０７により遠赤外線発生装置１０４の温度を測定して、その値によって遠赤外線発生装置１０４を制御する。そうすることにより、遠赤外線発生装置１０４内にある遠赤外線放射部１０３の温度を制御する。温度の制御について、詳細は後述する。温度センサ１０７としては、サーミスタ、熱電対や放射温度計などを用いることができる。
【００３７】
シャッター１０８は、遠赤外線発生装置１０４から被乾燥物への遠赤外線の照射量の調整、及び遠赤外線発生装置１０４から被乾燥物への遠赤外線を遮断するものである。実施形態において、シャッター１０８は遠赤外線誘導部１０１における搬送路１０５側に配置されている。しかしながら、シャッター１０８を配置する場所については、これに限定されない。すなわち、シャッター１０８は遠赤外線発生装置１０４から搬送路１０５への遠赤外線の照射量の調整および遮断をすることができる位置に配置されればよい。
【００３８】
シャッター１０８は遠赤外線誘導部１０１と同様の金属により作製される。シャッター１０８としてはスライドシャッター等を用いることができる。
【００３９】
図２において図示されていないが、本発明に係るインクジェット記録装置１１０は、インク量センサ２０３も有している。インク量センサ２０３は被乾燥物に対する記録に使用されたインク量をはかる。
【００４０】
（制御）
図３は、本発明に係るインクジェット記録装置１１０における遠赤外線乾燥装置１００の制御部２００のブロック図である。同図に示すように、温度センサ１０７からの信号、被乾燥物詰まりセンサ１０９からの信号、およびインク量センサ２０３からの信号を、制御部２００において受信する。
【００４１】
詳細は後述するが、制御部２００の所定のメモリにはインク量に対するシャッター１０８の開閉量のデータテーブル（対応関係）が予め格納されている。
【００４２】
受信した信号や上記データテーブルを用いて、制御部２００から遮光および／または反射機構駆動装置２０２（以下、実施形態においては、「シャッター駆動装置２０２」という。）に対して信号を送り、シャッター１０８の状態を決定する。
【００４３】
また、被乾燥物に対する記録前に制御部２００よりヒータドライバ２０１に対して信号を送り、遠赤外線発生装置１０４を制御させる。このとき温度センサ１０７によって遠赤外線発生装置１０４の温度を測定して、この結果を制御部２００へ送ることにより遠赤外線発生装置１０４の温度の変動が少なくなるようにして、遠赤外線発生装置１０４から発生させる遠赤外線の波長を安定させる。
【００４４】
遠赤外線発生装置１０４から発生させる遠赤外線の波長は、２〜１０００μｍであれば被乾燥物の乾燥に利用できる。例えば、水分に吸収されるスペクトルの範囲に当たる波長３〜１６μｍの遠赤外線を発生する範囲を持つ材料を遠赤外線発生装置１０４に使用して温度を制御すれば、水分に対しての乾燥効果が高まる。
【００４５】
遠赤外線の波長が目標の波長域にて安定して、被乾燥物に対する記録が開始されたら、制御部２００による制御によりシャッター駆動装置２０２を起動して、シャッター１０８を開く。次に、被乾燥物に対する記録中に使用したインク量を、インク量センサ２０３においてはかる。このインク量のデータを記録終了後にインク量センサ２０３から制御部２００に送り、制御部２００によりシャッター１０８の開閉量を調整するようにシャッター駆動装置２０２を操作する。
【００４６】
遠赤外線誘導部１０１の近傍の搬送路１０５上において被乾燥物が詰まった場合、被乾燥物を乾燥させるためにシャッター１０８が開いている状態においての被乾燥物の詰まりとなる。この場合、被乾燥物詰まりセンサ１０９が被乾燥物の詰まりを検知する。被乾燥物詰まりセンサ１０９からの信号による制御部２００からの操作により、ヒータドライバ２０１がヒータ１０２の動作を停止することができる。しかし、ヒータ１０２の動作が停止したとしても、ヒータ１０２が被乾燥物の近傍にある場合、温度がすぐに下がらずに過熱が起こりかねない。
【００４７】
本発明に係るインクジェット記録装置１１０の場合、遠赤外線は遠赤外線誘導部１０１により誘導されるが、熱は遠赤外線誘導部１０１を伝達する間に発散されるため、被乾燥物へ伝わりにくい。さらに、本発明において、ヒータ１０２と搬送路１０５上にある被乾燥物とは、その間に遠赤外線誘導部１０１を挟んでおり、その距離は従来の構成に比べて離れているため、ヒータ１０２の熱が被乾燥物へ伝わりにくい。
【００４８】
したがって、本発明に係るインクジェット記録装置１１０においては、搬送路１０５上に被乾燥物が詰まった場合であっても、ヒータの近傍を被乾燥物が搬送される従来の構成に比べて、被乾燥物への過熱を抑えることができる。
【００４９】
詳細は後述するが、シャッター１０８を設けることにより、被乾燥物の詰まりを被乾燥物詰まりセンサ１０９が検知した場合、被乾燥物への乾燥を続けないようにするためにシャッター１０８を閉じることもできる。したがって、被乾燥物への過熱を防止することもできる。つまり、遠赤外線発生装置１０４への電流遮断後も、ヒータ１０２に熱が残存し、当該熱が遠赤外線放射部１０３へ伝わり、遠赤外線放射部１０３から遠赤外線を放射してしまう状況においても、被乾燥物の過熱を防止することができる。
【００５０】
図４は、図２のインクジェット記録装置１１０における遠赤外線乾燥装置１００の制御動作を説明するためのフローチャートである。以下、本発明に係るインクジェット記録装置１１０における遠赤外線乾燥装置１００の制御動作について図４（ａ）を参照して説明する。
【００５１】
被乾燥物への遠赤外線の照射前は、制御部２００がシャッター駆動装置２０２を制御することにより、シャッター１０８を閉じている（Ｓ１０１）。こうすることによって、遠赤外線発生装置１０４の温度が安定するまでの間に不要な遠赤外線を照射しない効果、および熱を外部に逃さずに温度が安定するまでの時間を短縮する効果を得ることができる。
【００５２】
被乾燥物への遠赤外線の照射を準備する際、温度センサ１０７により遠赤外線発生装置１０４の温度を測定する。測定した温度データを制御部２００内のメモリに格納されている遠赤外線放射部１０３の温度に対して出力される遠赤外線の波長のデータテーブルと照らし合わせる。そして、所望の遠赤外線の波長となる目標温度において安定するようにヒータドライバ２０１を制御部２００によって制御する（Ｓ１０２）。そして、被乾燥物に対する記録開始までに遠赤外線を照射できる状態にするためにスタンバイする（Ｓ１０３）。
【００５３】
遠赤外線発生装置１０４の温度が安定して所望の波長の遠赤外線を照射できる状態となったら（Ｓ１０４、Ｓ１０５）、被乾燥物に対する記録を開始する（Ｓ１０６）。
【００５４】
その際、被乾燥物に対する記録に使用したインク量をはかる（Ｓ１０７）。その後、制御部２００によりシャッター駆動装置２０２を制御して（Ｓ１０８）、シャッター１０８を開いて遠赤外線の照射を開始する。
【００５５】
記録中に、記録が要求通りされる場合と記録が要求通りされない場合とがある。要求通り記録がされると（Ｓ１０９）、記録が終了する（Ｓ１１０）。記録が終了すると（Ｓ１１０）、制御部２００がシャッター駆動装置２０２を制御してシャッター１０８を閉じ（Ｓ１１１）、制御部２００がヒータドライバ２０１の制御をしてヒータ１０２への通電を停止して（Ｓ１１２）、動作を停止する。
【００５６】
要求通り記録がされない場合（Ｓ１０９）、エラーとなるので、エラーを処理して（Ｓ１１３）、シーケンス制御により（Ｓ１１４）要求通りの記録が終了しないまま記録を終了する。
【００５７】
図４（ｂ）に示すように、被乾燥物への記録中、制御部２００はヒータドライバ２０１を常に制御して（Ｓ１１５）、温度を一定の範囲内に抑えて波長を安定させている。
【００５８】
この動作により、搬送路１０５に搬送されてくる被乾燥物に対して遠赤外線が遠赤外線誘導部１０１を通り照射される。遠赤外線誘導部１０１は遠赤外線発生装置１０４から発生した遠赤外線を搬送路１０５へ誘導する。遠赤外線発生装置１０４から発生した熱は遠赤外線誘導部１０１を伝達するうちに発散される。そのため、遠赤外線は遠赤外線誘導部１０１を通り被乾燥物へ伝わるが、熱は被乾燥物へ伝わりにくい。
【００５９】
遠赤外線は、被乾燥物に記録されたインクの水分に反応するため被乾燥物の媒体自体には反応しにくい。そのため、被乾燥物へ遠赤外線が照射されても被乾燥物の媒体自体は発熱しにくい。したがって、被乾燥物の過熱を低減することができる。また、被乾燥物に対する乾燥方法に主に遠赤外線を用いることにより、被乾燥物の乾燥時において熱による被乾燥物の過熱を低減することができる。
【００６０】
（被乾燥物が詰まった場合の動作）
被乾燥物に記録がされた後に、搬送路１０５上における遠赤外線誘導部１０１の付近において被乾燥物が詰まった場合の動作について、図４を参照して説明する。
【００６１】
遠赤外線誘導部１０１の近傍において、被乾燥物が詰まった場合（Ｓ１０９の検知の一例）、被乾燥物詰まりセンサ１０９が被乾燥物の詰まりを検知する。この際、被乾燥物の詰まりを検知した時点においてヒータ１０２の動作を停止するように制御部２００よりヒータドライバ２０１の制御をする。
【００６２】
ヒータ１０２の動作を停止しても遠赤外線放射部１０３に蓄積された熱によって、しばらくの間、遠赤外線放射部１０３から搬送路１０５へ遠赤外線が照射され続ける。この遠赤外線の照射を放置すると、被乾燥物の過熱や搬送路１０５の過熱による劣化につながるため、この被乾燥物や搬送路１０５への遠赤外線の照射を遮る必要がある。
【００６３】
他方、遠赤外線発生装置１０４の温度が低下すると、次の記録処理の際に遠赤外線発生装置１０４の温度を再度上昇させる必要があるので次の記録処理の準備のための時間を長く要することとなる。したがって、この被乾燥物の詰まり処理後のスタンバイ時間をできるだけ短くするようにする必要もある。
【００６４】
この場合に、制御部２００よりシャッター駆動装置２０２を制御して、シャッター１０８を閉じる（Ｓ１１３、Ｓ１１４の一例）。この動作により、被乾燥物や搬送路１０５への遠赤外線の継続的な照射を止めることができるので、被乾燥物の詰まり時においても被乾燥物の過熱や搬送路１０５の過熱による劣化を防ぐことができる。他方、シャッター１０８を閉じることにより遠赤外線発生装置１０４から熱が逃げることを防止できるので、遠赤外線発生装置１０４の温度低下をできるだけ抑えることができる。したがって、被乾燥物詰まり処理後のスタンバイ時間も短縮することができる。
【００６５】
（インク量に応じた遠赤外線の照射）
インク量に応じた遠赤外線の照射について説明する。被乾燥物に対する記録後に遠赤外線誘導部１０１の近傍へ被乾燥物が運ばれてくるとする。シャッター１０８が開いた状態において遠赤外線誘導部１０１の近傍へ被乾燥物が運ばれた際に被乾燥物への記録量が少ない場合、遠赤外線の照射量に対するインクの水分量が少ないことによって被乾燥物に記録されたインクを乾燥しすぎるおそれがある。遠赤外線によってインクを乾燥しすぎると被乾燥物へ記録されたインクの成分変化や被乾燥物の表面の劣化により、良好な記録が維持できなくなる。
【００６６】
このような事態を防ぐために、被乾燥物の記録量（使用したインク量）に応じて照射する遠赤外線の照射量を調整する手段が必要である。
【００６７】
遠赤外線の照射量は遠赤外線放射部１０３の持つ熱の量によって増減することもできる。しかしながら、遠赤外線放射部１０３へ加える熱の量を増減して遠赤外線の照射量を調整しようとすると、遠赤外線の波長も変化してしまうため望ましくない。また、遠赤外線放射部１０３には蓄積されている熱もあるため、加える熱の量の調整が難しくなってしまう。そのため、遠赤外線の照射量を調整できる機構が必要である。
【００６８】
そこで、遠赤外線の照射量を調整するため、制御部２００によりシャッター駆動装置２０２を制御して、シャッター１０８の開閉量を調整することによって遠赤外線の照射量を調整する。上述のように、制御部２００の所定のメモリにはインク量に対するシャッター１０８の開閉量のデータテーブルが予め格納されている。
【００６９】
図５はインク量に対するシャッター１０８の開閉量のデータテーブルの一例を示す図である。同図に示すように、インク量の最小値を０、最大値を１００とする。
【００７０】
インク量が最大値の１００である場合、シャッター１０８の開閉量は１００パーセントであり、シャッター１０８は全部開いている。インク量が７５である場合、シャッター１０８の開閉量は７５パーセントである。インク量が５０である場合、シャッター１０８の開閉量は５０パーセントであり、シャッター１０８は半分開いている状態となる。インク量が２５である場合、シャッター１０８の開閉量は２５パーセントである。インク量が最小値の０である場合、シャッター１０８の開閉量は５パーセントである。
【００７１】
インク量が０である場合もシャッター１０８を閉じていないのは、被乾燥物の乾燥に使用するためである。すなわち、被乾燥物の記録されていない部分にも遠赤外線を照射することによって、被乾燥物全体の温度を略均一にして、被乾燥物の乾燥効率を高めるためである。
【００７２】
このデータテーブルは被乾燥物の過熱を防ぐためにシャッター１０８において遠赤外線の照射量を調整すると同時に、被乾燥物に対する記録量に応じて最適な乾燥状態とすることにより、良好な記録品質を維持できるようにするために用いられる。
【００７３】
以下、図３および図４を参照してシャッター１０８の動作について説明する。
【００７４】
まず、被乾燥物に対する記録後に、インク量センサ２０３から制御部２００に対し被乾燥物へ記録されたインク量が送られる（Ｓ１０７）。次にインク量のデータを受け取った制御部２００がシャッター１０８の開閉量のデータテーブルを参照して、シャッター駆動装置２０２を制御することによりシャッター１０８の開閉量を調整して、遠赤外線の照射量の調整をする（Ｓ１０８）。
【００７５】
この動作により、被乾燥物への記録量が少なく乾燥させるインク量が少ない場合においても、乾燥させるインク量に対して遠赤外線の照射量が多いという状況を低減させることができる。したがって、被乾燥物へ記録されたインク量に応じて遠赤外線の照射量を適宜調整することができる。
【００７６】
なお、実施形態においては遠赤外線乾燥装置１００の内部に遠赤外線発生装置１０４を設けている構成について説明したが、本発明はこれに限定されない。遠赤外線乾燥装置１００のような筐体を設けずに遠赤外線発生装置１０４をインクジェット記録装置の内部に直接的に設置する構成においても本発明を適用することができる。つまり、遠赤外線発生装置１０４と搬送路１０５との間に遠赤外線誘導部１０１を設ける構成であれば、本発明の効果を奏することができる。
【符号の説明】
【００７７】
１０１  遠赤外線誘導部
１０４  遠赤外線発生装置
１０５  搬送路
１１０  インクジェット記録装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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