(57)【要約】      （修正有）【課題】サーボ層と記録層を有する光ディスクに対し、照射ビームの光軸に対するディスクの傾斜状態が変わってしまった場合に於も、適切に追加記録を行う。【解決手段】膜厚方向に積層された１もしくは複数の記録層を含む光ディスクに対して情報の記録を行なう光ディスク装置において、記録層に第１のレーザスポットと第２のレーザスポットを照射する光学系を備え、第１のレーザスポットを用いてトラッキングを行いながら第２のレーザスポットを用いてマークを形成し情報の記録を行う場合に、記録層に形成されるマーク列の半径方向の間隔を調整するトラックピッチ調整を行う。【選択図】図３
2013157045.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
膜厚方向に積層された１もしくは複数の記録層とを含む光ディスクに対して情報の記録を行なう光ディスク装置であって、
前記記録層に第１のレーザスポットと第２のレーザスポットを照射する光学系を備え、
前記第１のレーザスポットを用いてトラッキングを行いながら前記第２のレーザスポットを用いてマークを形成して情報の記録を行う場合に、前記記録層に形成されるマーク列の半径方向の間隔を調整するトラックピッチ調整を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記第１のレーザスポットを用いてトラッキングを行う第１トラッキング制御部を備え、
前記第１トラッキング制御部中の所定の信号に対して所定のオフセットを加算することで前記記録層に形成されるマーク列の半径方向の間隔を調整することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記第１のレーザスポットの出力信号から第１のトラッキングエラー信号を生成する第１トラッキングエラー信号生成部と、
前記第１のトラッキングエラー信号を用いてトラッキングを行う第１トラッキング制御部を備え、
前記第１のトラッキングエラー信号に対して所定のオフセットを加算することで前記記録層に形成されるマーク列の半径方向の間隔を調整することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記第１のレーザスポットの出力信号から第１のトラッキングエラー信号を生成する第１トラッキングエラー信号生成部と、
前記第１のレーザスポットの出力信号から前記第１のレーザスポットから反射された総光量を示す総和信号を生成する総和信号生成部と、
前記第１のトラッキングエラー信号の振幅を前記総和信号で正規化し、第１の正規化トラッキングエラー信号として生成する第１正規化トラッキングエラー信号生成部と、
前記第１の正規化トラッキングエラー信号を用いてトラッキングを行う第１トラッキング制御部を備え、
前記第１の正規化トラッキングエラー信号に対して所定のオフセットを加算することで前記記録層に形成されるマーク列の半径方向の間隔を調整することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記第１のレーザスポットと前記第２のレーザスポットの半径方向の間隔を調整可能な光学素子を備え、
前記光学素子によって、記録層に形成されるマーク列の半径方向の間隔を調整することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記第２のレーザスポットから得られる信号を用いて前記トラックピッチ調整を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記第１のレーザスポットを用いてトラッキングを行う第１トラッキング制御部と、
所定オフセットを出力するオフセット出力部と
前記第１トラッキング制御部中の所定の信号に対して前記オフセット出力部の出力値を加算する加算器と、
前記第２のレーザスポットから第２のトラッキングエラー信号を生成する第２トラッキングエラー信号生成部を備え、
前記トラックピッチ調整は、前記第２トラッキングエラー信号の値が所定の値になるように前記所定オフセットを調整することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記第１のレーザスポットを用いてトラッキングを行う第１トラッキング制御部と、
所定オフセットを出力するオフセット出力部と
前記第１トラッキング制御部中の所定の信号に対して前記オフセット出力部の出力値を加算する加算器と、
前記第２のレーザスポットから第２のトラッキングエラー信号を生成する第２トラッキングエラー信号生成部を備え、
前記トラックピッチ調整は、前記第２トラッキングエラー信号の値が基準電位になるように前記所定オフセットを調整することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項９】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記第１のレーザスポットを用いてトラッキングを行う第１トラッキング制御部と、
所定オフセットを出力するオフセット出力部と
前記第１トラッキング制御部中の所定の信号に対して前記オフセット出力部の出力値を加算する加算器と、
前記第２のスポットから再生信号を生成する再生信号生成部を備え、
前記トラックピッチ調整は、前記再生信号の振幅が最大となるように前記所定オフセットを調整することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１０】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記トラックピッチ調整を実施した後に、前記第１のレーザスポットを用いてトラッキングを行いながら第２のスポットを用いてマークを形成して情報を記録する動作を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１１】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記光ディスクは螺旋状又は同心円状のトラックが形成されたサーボ層と膜厚方向に積層された１もしくは複数の記録層とを含み、
前記光学系は前記サーボ層に第３のレーザスポットを照射し、
前記第１のレーザスポットと前記第２のレーザスポットの半径方向の距離が前記サーボ層のトラックの間隔の整数倍であり、
前記整数をＮとするとき、
前記光ディスクに対する初回記録時には、前記第３のレーザスポットを用いてトラッキングを行いながら（Ｎ＋１）トラック以上の記録を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１２】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記光ディスクは螺旋状又は同心円状のトラックが形成されたサーボ層と膜厚方向に積層された１もしくは複数の記録層とを含み、
前記光学系は前記サーボ層に第３のレーザスポットを照射し、
前記第１のレーザスポットと前記第２のレーザスポットの半径方向の距離が前記サーボ層のトラックの間隔の半分であり、
前記光ディスクに対する初回記録時には、前記第３のレーザスポットを用いてトラッキングを行いながら２トラック以上の記録を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１３】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記光ディスクは螺旋状又は同心円状のトラックが形成されたサーボ層と膜厚方向に積層された１もしくは複数の記録層とを含み、
前記光学系は前記サーボ層に第３のレーザスポットを照射し、
前記第１のレーザスポットと前記第２のレーザスポットの半径方向の距離が前記サーボ層のトラックの間隔の整数倍であり、
前記整数をＮとするとき、
前記光ディスクに対する初回記録時には、前記第３のレーザスポットを用いてトラッキングを行いながら（Ｎ＋１）トラック以上の記録を行い、
前記初回記録によって形成されたマーク列が存在する半径位置において前記トラックピッチ調整を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１４】
螺旋状又は同心円状のトラックが形成されたサーボ層と膜厚方向に積層された複数の記録層とを含む光ディスクに対して、
第１のレーザ光と第２のレーザ光を記録層に照射して情報の記録もしくは再生を行う光ディスク装置であって、
前記光ディスクを所定の回転軸を中心に回転させる光ディスク回転部と、
第１のレーザ光及び第２のレーザ光及び第３のレーザ光を前記光ディスク上に集光させる対物レンズと、
前記対物レンズを駆動するアクチュエータと、
前記第１のレーザ光による反射光量に応じた電気信号を出力する第１の光検出部と、
前記第１の光検出部の出力信号から前記記録層に対する第１のトラッキングエラー信号を生成する第１トラッキングエラー信号生成部と、
前記第１のトラッキングエラー信号に応じて前記アクチュエータを駆動してトラッキング制御を行う第１トラッキング制御部とを備え、
前記第１トラッキング制御部によってトラッキング制御を行いながら前記第２のレーザ光を用いて前記記録層にマークを形成して情報の記録を行う動作を行うより前に、
前記記録層に形成されるマーク列の半径方向の間隔を調整するトラックピッチ調整を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザを用いて光ディスクから情報を再生、または光ディスクに情報を記録する光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ（ＴＭ）規格の光ディスクにおいて、従来の１層、２層に加えて、３層や４層の記録層を有する光ディスクが開発され規格化済みである。今後更なる大容量化を目指し、更なる記録層を有する光ディスクの開発が行われると予想されるが、物理的な溝構造を持つ層を多数、積層していくことはディスクの製造上、困難なことであった。そこで、記録層を多数、積層する場合でも製造が容易となるように、アドレッシング、トラッキングサーボ制御を行うためのアドレスを含む物理的な溝構造を持つ層（以下、サーボ層）を設け、ランド・グルーブ構造と言った物理的な溝構造を持たない記録再生を行う層（以下、記録層）からなる光ディスクが特許文献１で提案されている。このように記録再生を行う層が物理的な溝構造を持たない光ディスクを、以下、グルーブレスディスクと称する。また、特許文献１には、「ガイドトラックに追従しながら記録を行った後、ディスクの経時変化による反りや装置への脱着によって照射ビームの光軸に対するディスクの傾斜状態が変わってしまった場合、ガイドトラックに追従しながら追加記録を行うと、図２(b)に示すように記録済みの記録トラックと追加記録時の記録トラックとの間にずれが生じてしまう。このような記録トラックずれは、トラックピッチむらの原因となり、再生性能の劣化を引き起こすだけでなく、記録済み領域の記録情報に重ねて情報を記録してしまい、記録済み領域の記録情報を破壊してしまう可能性があるという問題があった。」との記載がある。
【０００３】
特許文献２では、「円盤状光記録媒体上に少なくとも第１の光スポットと第２の光スポットを照射し第１の光スポットを用いてトラッキングを行いながら第２のスポットを用いてトラッキングのためのマークあるいは案内溝を形成する」技術が開示されている。またまた「図７（ｂ）は半径方向にそろったサーボ領域５００が割り当てられている場合で、トラッキングはサンプルサーボを用いることができる。アドレス情報はグレーコードかあるいは、ＣＡＰＡ（Ｃｏｍｐｌｉｍｅｎｔａｒｙ  Ａｌｌｏｃａｔｅｄ  Ｐｉｔ  Ａｄｄｒｅｓｓ）の形で読み取る。したがって、第１の光スポット１２１はトラックの間に配置されるスポット間隔は半整数倍となる。」との記載がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１０−４００９３号公報
【特許文献２】特開２００５−３０２０８５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
グルーブレスディスクに対する追加記録を行う上では、照射ビームの光軸に対するディスクの傾斜状態が変わってしまった場合に課題がある。
【０００６】
そこで本発明は、グルーブレスディスクに対して適切に追加記録を行うことができる光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題は特許請求の範囲に記載の発明により解決される。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、グルーブレスディスクに対して適切に追加記録を行うことができる光ディスク装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】実施例１の光ディスク装置を示すブロック構成図である。
【図２】実施例１のサーボエラー信号生成回路１０４を示すブロック構成図である。
【図３】実施例１の信号処理回路１０５を示すブロック構成図である。
【図４】光ディスク１０２の構造と、各レーザスポットを説明する図である。
【図５】実施例１の記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳの働きを説明する図である。
【図６】実施例１のセットアップ処理のフローチャートである。
【図７】実施例１の記録処理のフローチャートである。
【図８】各種動作状態におけるトラッキング制御系及びフォーカス制御系の動作状態と、本明細書において定義した名称を示す対応表である。
【図９】各種動作状態における制御信号の値を示す表である。
【図１０】各種動作状態において対物レンズ及びリレーレンズのフォーカス駆動及びトラッキング駆動がどの駆動信号を用いて行われるかを示す表である。
【図１１】記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を行わずに記録層に対して情報の記録を行う場合の光ディスクとレーザスポットの位置関係を示す図である。
【図１２】記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を行う場合の記録層上のレーザスポットを示す模式図である。
【図１３】実施例１による記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を行う場合の記録層上のレーザスポットを示す模式図である。
【図１４】記録層トラックピッチ調整電圧生成回路が出力する電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊを変更した際の記録層上のレーザスポットを示す模式図である。
【図１５】記録層トラックピッチ調整電圧生成回路が出力する電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊを変更した際のＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号を説明する波形図である。
【図１６】本実施例のトラックピッチ調整を行っている最中の各部の信号と、電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊの最適値を算出する方法を説明する図である。
【図１７】実施例２の記録処理のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【実施例１】
【００１１】
図１は、本発明に従う光ディスク装置の一実施例を示すブロック構成図である。
光ディスク装置１０１は装置に装着された光ディスク１０２にレーザ光を照射することで情報の記録または再生を行い、ＳＡＴＡ（Ｓｅｒｉａｌ  Ａｄｖａｎｃｅｄ  Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ  Ａｔｔａｃｈｍｅｎｔ）などのインターフェースを通じてＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）などのホスト１１４と通信を行う。
【００１２】
光ディスク１０２の構造を図４に例示する。光ディスク１０２はトラック（ガイド溝）の構造を持つサーボ層と、トラックの構造を持たないＮ個の記録層（Ｎ≧１、Ｎは自然数）を有する。本明細書では、サーボ層上のトラックをサーボ層トラックと称する。またサーボ層トラックのピッチ（間隔）を、Ｔｐで表す。以下の説明では、記録膜を塗布された記録面が膜厚方向に積層されて複数の記録層を形成しているものとする。図４において、Ｓ＿ＬＢはサーボ層に照射されるレーザ光、Ｒ＿ＬＢは記録層に照射されるレーザ光を示している。
【００１３】
本実施例の光ディスク装置１０１は対物レンズ１３１１によって、記録層上に記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳと、記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳの、２つのレーザスポットを生じる。またサーボ層に対してサーボ層レーザスポットＳ＿ＬＳを生じることができる。ここで、記録層上に生じる２つのレーザスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳ、Ｒ＿ＳｕｂＬＳの半径方向の距離は、サーボ層のトラックピッチＴｐに略等しくなるように配置する。
【００１４】
次に、本実施例の記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳの働きについて図５を用いて説明する。図５は光ディスク１０２に対して情報を追加記録している際の光ディスク１０２と、各レーザスポットの位置関係を示している。
【００１５】
図５においては、内周から外周に向かって情報を記録していく場合を示している。即ち、記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳよりも内周方向（図５において左方向）は、記録済みのマーク列が存在することになる。記録層上に形成されたマーク列を、本明細書では以下、記録層トラックと称する。
【００１６】
記録中は、記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳを用いてトラッキング制御をかけながら、記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳにて情報の記録を行う。Ｒ＿ＭａｉｎＬＳ、Ｒ＿ＳｕｂＬＳの半径方向の距離は、サーボ層のトラックピッチＴｐに略等しいため、図５に示すように記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳで内周から外周に向かって情報を記録している際、記録中のトラックに隣接する記録層トラック上に記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳを照射することで、Ｔｐだけ外周側の位置に記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳの位置が制御され、情報が記録される。このとき、記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳが照射される記録層トラックのことを、以下、隣接記録層トラックと称する。また本明細書においては、図５に示したように、ディスク面に垂直な方向をフォーカス方向、ディスク半径方向を半径方向、ディスク面に平行な面内において半径方向に垂直な方向を接線方向と、それぞれ称することにする。
【００１７】
本光ディスク装置１０１は、光ピックアップ１０３と、サーボ制御に用いる各種エラー信号を生成するサーボエラー信号生成回路１０４と、信号処理回路１０５と、信号処理回路１０６と、光ディスク１０２を回転するためのスピンドルモータ１０７と、スピンドル駆動回路１０８が生成する回転信号に応じてスピンドルモータ１０７を駆動すると共にスピンドルモータ１０７の回転速度に対応した周波数のＦＧ信号を生成するスピンドル駆動回路１０８と、光ピックアップ１０３中に備えられたアクチュエータ１３１２をフォーカス方向及び半径方向に駆動するアクチュエータ駆動回路１０９と、サーボ層レーザスポットＳ＿ＬＳがフォーカス方向及び半径方向に移動するように、光ピックアップ１０３中に備えられたリレーレンズ１３２１を駆動するリレーレンズ駆動回路１１０と、光ピックアップ１０３中に備えられた球面収差補正素子１３０９を駆動するための収差補正素子駆動回路１１１と、光ピックアップ１０３を光ディスク１０２の半径方向に移動するスライダモータ１１２と、スライダモータ１１２を駆動するスライダ駆動回路１１３を備えている。
【００１８】
次に、本実施例におけるサーボエラー信号生成回路１０４の構成について、図２を用いて説明する。サーボエラー信号生成回路１０４は、記録層トラックと記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳの位置のずれ量を示す記録層Ｓｕｂトラッキングエラー信号Ｒ＿ＳｕｂＴＥを生成する記録層Ｓｕｂトラッキングエラー信号生成回路１４０１と、記録層トラックと記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳの位置のずれ量を示す記録層Ｍａｉｎトラッキングエラー信号Ｒ＿ＭａｉｎＴＥを生成する記録層Ｍａｉｎトラッキングエラー信号生成回路１４０２と、光ディスク１０２のサーボ層トラックとサーボ層レーザスポットＳ＿ＬＳとの位置ずれ量を示すサーボ層トラッキングエラー信号Ｓ＿ＴＥを生成するサーボ層トラッキングエラー信号生成回路１４０３と、光ディスク１０２の記録層とレーザスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳの焦点位置とのずれ量を示す記録層フォーカスエラー信号Ｒ＿ＦＥを生成する記録層フォーカスエラー信号生成回路１４０４と、光ディスク１０２のサーボ層とレーザスポットＳ＿ＬＳの焦点位置とのずれ量を示すサーボ層フォーカスエラー信号Ｓ＿ＦＥを生成するサーボ層フォーカスエラー信号生成回路１４０５を備えている。各エラー信号は、電位Ｖｒｅｆを基準として出力される。
【００１９】
次に、本実施例における信号処理回路１０５の構成について、図３を用いて説明する。信号処理回路１０５は光ディスク装置の各種の信号処理を行う回路であり、電位Ｖｒｅｆを基準として動作する。信号処理回路１０５は、システム制御回路１５０１と、
Ｒ＿ＦＥ信号に応じて対物レンズ１３１１をフォーカス方向に駆動するための信号を生成する記録層フォーカス制御回路１５０２と、Ｒ＿ＦＯＮ信号に基づいて記録層フォーカス制御回路１５０２の出力を切り替えるスイッチ１５０３と、対物レンズ１３１１をフォーカス方向に駆動するための電圧を生成する記録層フォーカス駆動電圧生成回路１５０４と、スイッチ１５０３の出力信号と記録層フォーカス駆動電圧生成回路１５０４の出力信号を加算してＲ＿ＦＯＤ信号として出力する加算器１５０５と、
Ｓ＿ＦＥ信号に応じてリレーレンズ１３２１をフォーカス方向に駆動するための信号を生成するサーボ層フォーカス制御回路１５０６と、Ｓ＿ＦＯＮ信号に基づいてサーボ層フォーカス制御回路１５０６の出力を切り替えるスイッチ１５０７と、リレーレンズ１３２１をフォーカス方向に駆動するための電圧を生成するサーボ層フォーカス駆動電圧生成回路１５０８と、スイッチ１５０７の出力信号とサーボ層フォーカス駆動電圧生成回路１５０８の出力信号を加算してＳ＿ＦＯＤ信号として出力する加算器１５０９と、
Ｓ＿ＴＥ信号に応じてリレーレンズ１３２１もしくは対物レンズ１３１１を半径方向に駆動するための信号を生成するサーボ層トラッキング制御回路１５１０と、Ｓ＿ＴＯＮ信号に基づいてサーボ層トラッキング制御回路１５１０の出力を切り替えてＳ＿ＴＲＤ信号として出力するスイッチ１５１１と、ＲＬ＿ＴＳＥＬ信号に基づいてＳ＿ＴＲＤ信号の出力を切り替えるセレクタ１５１２と、
Ｒ＿ＴＥＳＥＬ信号に基づきＲ＿Ｓｕｂ信号またはＲ＿Ｍａｉｎ信号のいずれかを選択してＲ＿ＴＥ信号として出力するセレクタ１５１３と、Ｒ＿ＴｐＡｄｊ信号を出力する記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４と、セレクタ１５１３の出力信号と記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４の出力信号を加算して出力する加算器１５１５と、加算器１５１５の出力信号に応じて対物レンズ１３１１を半径方向に駆動するための信号を生成する記録層トラッキング制御回路１５１６と、Ｒ＿ＴＯＮ信号に基づいて記録層トラッキング制御回路１５１６の出力を切り替えてＲ＿ＴＲＤ信号として出力するスイッチ１５１７と、ＯＬ＿ＴＳＥＬ信号に基づきＲ＿ＴＲＤ信号またはＳ＿ＴＲＤ信号のいずれかを選択して出力するセレクタ１５１８と、対物レンズ１３１１を半径方向に駆動するための電圧を生成するトラッキング駆動電圧生成回路１５１９と、セレクタ１５１８の出力信号とトラッキング駆動電圧生成回路１５１９の出力信号を加算してＯＬ＿ＴＲＤ信号として信号として出力する加算器１５２０と、
Ｒ＿Ｍａｉｎ信号をモニタする記録層ＭａｉｎＴＥ信号モニタ回路１５２３と、スライダモータ１１２を移動させるための信号を生成するスライダ制御回路１５２１と、スピンドルモータ１０７を回転させるための回転信号を生成するスピンドル制御回路１５２２を備えている。
【００２０】
光ピックアップ１０３はサーボ層にサーボ制御を行うとともに、ディスク上の位置に対応したアドレス及びディスク固有の情報を再生するためのサーボ層光学系と、サーボ層からの距離が異なる複数の記録層にデータを記録・再生するための記録層光学系で構成されている。
【００２１】
まず、記録層光学系の動作について説明する。レーザパワー制御回路１３０１は、システム制御回路１５０１によって制御されており、レーザダイオード１３０２を駆動する電流を出力する。この駆動電流は、レーザノイズを抑制するために数百ＭＨｚの高周波重畳が印加されている。レーザダイオード１３０２は、駆動電流に応じた波形で例えば波長４０５ｎｍのレーザ光Ｒ＿ＬＢを出射する。出射されたレーザ光はコリメータレンズ１３０３にて平行光となり、ビームスプリッタ１３０４で一部が反射し、集光レンズ１３０５によってパワーモニタ１３０６に集光する。パワーモニタ１３０６は、レーザ光の強度に応じた電流または電圧をＲ＿ＰＭ信号としてシステム制御回路１５０１にフィードバックする。これによって光ディスク１０２の記録層に集光するレーザ光Ｒ＿ＬＢの強度が、たとえば２ｍＷなど所望の値に保持される。一方、ビームスプリッタ１３０４を透過したレーザ光Ｒ＿ＬＢは偏光ビームスプリッタ１３０７にて反射し、収差補正素子駆動回路１１１にて駆動される球面収差補正素子１３０９によって収束・発散が制御され、ダイクロイックミラー１３０８を透過する。ダイクロイックミラー１３０８は特定の波長の光を反射し、その他の波長の光を透過する光学素子である。ここでは波長４０５ｎｍの光を透過し、６５０ｎｍの光を反射するものとする。ダイクロイックミラー１３０８を透過したレーザ光Ｒ＿ＬＢは、１／４波長板１３１０にて円偏光となり、対物レンズ１３１１によって光ディスク１０２の記録層にレーザスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳとして集光する。更に図４で説明したように、記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳから半径方向にサーボ層のトラックピッチＴｐだけ離れた位置に、記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳとしても集光する。
【００２２】
ここで、球面収差補正素子１３０９はシステム制御回路１５０１から収差補正素子駆動回路１１１を介してグルーブレスディスクの記録層に応じた所定の位置となるように制御が行われる。光ディスク１０２によって反射したレーザ光Ｒ＿ＬＢは、光ディスク１０２に記録された情報に応じて強度が変調される。１／４波長板１３１０にて直線偏光となり、ダイクロイックミラー１３０８を経て、偏光ビームスプリッタ１３０７および球面収差補正素子１３０９を透過する。透過したレーザ光Ｒ＿ＬＢは、集光レンズ１３１３によってディテクタ１３１４及びディテクタ１３２４に集光する。
【００２３】
ディテクタ１３１４及びディテクタ１３２４はレーザ光Ｒ＿ＬＢの強度を検出し、これに応じた信号を出力する。このとき、ディテクタ１３１４は、記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳにおいて反射した光の強度を検出し、ディテクタ１３２４は、記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳにおいて反射した光の強度を検出する。
【００２４】
ディテクタ１３１４の出力信号はサーボエラー信号生成回路１０４及び再生信号生成回路１０６へ、またディテクタ１３２４の出力信号はサーボエラー信号生成回路１０４へ出力される。
【００２５】
サーボエラー信号生成回路１０４において、記録層フォーカスエラー信号生成回路１４０４は、ディテクタ１３１４から出力された信号から、光ディスク１０２の記録層とレーザスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳの焦点位置とのずれ量を示す記録層フォーカスエラー信号Ｒ＿ＦＥを生成する。またディテクタ１３１４から出力された信号は記録層Ｍａｉｎトラッキングエラー信号生成回路１４０２にも入力され、記録層トラックと記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳの位置のずれ量を示す記録層Ｍａｉｎトラッキングエラー信号Ｒ＿ＭａｉｎＴＥを生成する。更に、ディテクタ１３２４から出力された信号は記録層Ｓｕｂトラッキングエラー信号生成回路１４０１に入力され、記録層トラックと記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳの位置のずれ量を示す記録層Ｓｕｂトラッキングエラー信号Ｒ＿ＳｕｂＴＥを生成する。
【００２６】
サーボエラー信号生成回路１０４で生成されたエラー信号は信号処理回路１０５に入力され、記録層に対するフォーカス制御、トラッキング制御が行われる。
【００２７】
記録層フォーカス制御回路１５０２は、システム制御回路１５０１からの指令信号により、記録層フォーカスエラー信号Ｒ＿ＦＥに対してゲインと位相の補償を行い、記録層に対するフォーカス制御を行うための駆動信号を出力する。記録層フォーカス制御回路１５０２から出力された駆動信号は、スイッチ１５０３、加算器１５０５を介してアクチュエータ駆動回路１０９に入力される。
【００２８】
スイッチ１５０３はシステム制御回路１５０１の出力するＲ＿ＦＯＮ信号に基づき、記録層フォーカス制御回路１５０２の出力信号もしくは基準電位Ｖｒｅｆを選択して出力する。Ｒ＿ＦＯＮ信号としてＨｉｇｈレベルが入力されると、スイッチ１５０３は端子ａを選択して、記録層フォーカス制御回路１５０２の出力信号が加算器１５０５を介してアクチュエータ駆動回路１０９に出力される。一方でＲ＿ＦＯＮ信号としてＬｏｗレベルが入力されると、スイッチ１５０３は端子ｂを選択し、基準電位Ｖｒｅｆを出力する。
【００２９】
この結果、Ｒ＿ＦＯＮ信号は記録層に対するフォーカス制御のオン・オフを指示する信号となる。またスイッチ１５０３は、記録層に対するフォーカス制御のオン、オフを切り替えるスイッチとして機能する。Ｒ＿ＦＯＮ信号がＬｏｗからＨｉｇｈに切り替わることで記録層に対するフォーカス制御がオンされることになり、この動作はフォーカス引き込み動作と呼ばれる。
【００３０】
記録層フォーカス駆動電圧生成回路１５０４は、システム制御回路１５０１からの指令信号により、所定の電圧を出力する。記録層フォーカス駆動電圧生成回路１５０４は例えば、フォーカススイープ動作におけるスイープ電圧や、フォーカスジャンプ時のジャンプ電圧を出力する。記録層フォーカス駆動電圧生成回路１５０４は例えば、一般的なＣＰＵを用いることができる。
【００３１】
加算器１５０５は、スイッチ１５０３の出力信号と記録層フォーカス駆動電圧生成回路１５０４の出力信号を加算し、記録層フォーカス駆動信号Ｒ＿ＦＯＤとしてアクチュエータ駆動回路１０９に出力する。
【００３２】
アクチュエータ駆動回路１０９は、記録層フォーカス駆動信号Ｒ＿ＦＯＤに従って対物レンズ１３１１と一体で動作するように構成されたアクチュエータ１３１２をディスク面に垂直な方向に駆動する。アクチュエータ駆動回路１０９は記録層フォーカス駆動信号Ｒ＿ＦＯＤに応じてアクチュエータ１３１２を駆動することでフォーカス方向に対物レンズ１３１１の位置を変位させ、レーザ光Ｒ＿ＬＢが記録層に合焦するように記録層フォーカスサーボ制御を行う。本明細書では、この制御のことを記録層フォーカス制御と呼ぶ。
【００３３】
記録層トラッキング制御回路１５１６は、システム制御回路１５０１からの指令信号により、記録層トラッキングエラー信号Ｒ＿ＴＥに対してゲインと位相の補償を行い、記録層に対するトラッキング制御を行うための駆動信号を出力する。記録層トラッキング制御回路１５１６から出力された駆動信号は、スイッチ１５１７、セレクタ１５１８、加算器１５２０を介してアクチュエータ駆動回路１０９に入力される。
【００３４】
ここで、記録層トラッキング制御回路１５１６に入力される記録層トラッキングエラー信号Ｒ＿ＴＥは、Ｒ＿Ｓｕｂ信号またはＲ＿Ｍａｉｎ信号のいずれかであり、システム制御回路１５０１からのＲ＿ＴＥＳＥＬ信号に基づき、セレクタ１５１３において信号選択が行われる。Ｒ＿ＴＥＳＥＬ信号としてＨｉｇｈレベルが入力されると、セレクタ１５１３は端子ｇを選択してＲ＿Ｓｕｂ信号を出力し、Ｒ＿ＴＥＳＥＬ信号としてＬｏｗレベルが入力されると、セレクタ１５１３は端子ｈを選択してＲ＿Ｍａｉｎ信号を出力する。
【００３５】
更に、セレクタ１５１３で選択された記録層トラッキングエラー信号Ｒ＿ＴＥは、加算器１５１５にて記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４の出力する信号Ｒ＿ＴｐＡｄｊと加算された後、記録層トラッキング制御回路１５１６に入力される。記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４は、Ｒ＿ＴｐＡｄｊ信号として所定の電圧を出力する。以下、Ｒ＿ＴｐＡｄｊ信号の電圧をＶ＿ＴｐＡｄｊで表す。
【００３６】
スイッチ１５１７はシステム制御回路１５０１の出力するＲ＿ＴＯＮ信号に基づき、記録層トラッキング制御回路１５１６の出力信号もしくは基準電位Ｖｒｅｆを選択して、記録層トラッキング駆動信号Ｒ＿ＴＲＤとして出力する。Ｒ＿ＴＯＮ信号としてＨｉｇｈレベルが入力されると、スイッチ１５１７は端子ｉを選択して、記録層トラッキング制御回路１５１６の出力信号がアクチュエータ駆動回路１０９に出力される。一方でＲ＿ＴＯＮ信号としてＬｏｗレベルが入力されると、スイッチ１５１７は端子ｊを選択し、基準電位Ｖｒｅｆを出力する。
【００３７】
この結果、Ｒ＿ＴＯＮ信号は記録層に対するトラッキング制御のオン・オフを指示する信号となる。またスイッチ１５１７は、記録層に対するトラッキング制御のオン、オフを切り替えるスイッチとして機能する。Ｒ＿ＴＯＮ信号がＬｏｗからＨｉｇｈに切り替わることで記録層に対するトラッキング制御がオンされることになり、この動作はトラック引き込み動作と呼ばれる。
【００３８】
スイッチ１５１７から出力される記録層トラッキング駆動信号Ｒ＿ＴＲＤは、セレクタ１５１８に入力される。セレクタ１５１８においては、システム制御回路１５０１の出力するＯＬ＿ＴＳＥＬ信号に基づき、Ｒ＿ＴＲＤ信号もしくは後述するＳ＿ＴＲＤ信号のいずれかを選択して出力する。ここでは記録層光学系について説明しているため、セレクタ１５１８ではＲ＿ＴＲＤ信号が出力されるものとして説明する。
【００３９】
トラッキング駆動電圧生成回路１５１９は、システム制御回路１５０１からの指令信号により、所定の電圧を出力する。トラッキング駆動電圧生成回路１５１９は例えば、トラックジャンプ時のジャンプ電圧を出力する。またトラッキング駆動電圧生成回路１５１９にはスピンドル駆動回路１０８の出力するＦＧ信号も入力されており、ＦＧ信号を用いて光ディスク１０１の回転に同期してトラックジャンプ時のジャンプ電圧を出力することで、光ディスク１０１の同一のトラックを追従し続ける動作を行うこともできる。トラッキング駆動電圧生成回路１５１９は例えば、一般的なＣＰＵを用いることができる。
【００４０】
加算器１５２０は、セレクタ１５１８の出力信号とトラッキング駆動電圧生成回路１５１９の出力信号を加算し、対物レンズ駆動トラッキング駆動信号ＯＬ＿ＴＲＤとしてアクチュエータ駆動回路１０９に出力する。
【００４１】
アクチュエータ駆動回路１０９は、対物レンズ駆動トラッキング駆動信号ＯＬ＿ＴＲＤに従ってアクチュエータ１３１２を半径方向に駆動することで、対物レンズ１３１１の位置を変位させ、記録層トラック上、もしくはサーボ層トラック上にレーザスポットが照射されるようにトラッキング制御を行う。このように、本実施例におけるアクチュエータ駆動回路１０９は、フォーカス方向に駆動する回路とトラッキング方向に駆動する回路を包含したものである。
【００４２】
以上で説明したように、本実施例の光ディスク装置１０１における記録層に対するトラッキング制御は、セレクタ１５１３でのＲ＿ＴＥ信号の選択状態により、２種類存在する。Ｒ＿ＴＥ信号としてＲ＿ＳｕｂＴＥを用いる場合の制御を、以下では記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御と呼ぶ。これに対し、Ｒ＿ＴＥ信号としてＲ＿ＭａｉｎＴＥを用いる場合の制御を、以下では記録層ＭａｉｎＳｐｏｔトラッキング制御と呼ぶ。
【００４３】
次に、サーボ層光学系について説明する。記録層光学系と同様に、レーザパワー制御回路１３０１はシステム制御回路１５０１によって制御されており、レーザダイオード１３１５を駆動する電流を出力する。レーザダイオード１３１５は例えば波長６５０ｎｍのレーザ光Ｓ＿ＬＢを出射する。レーザ光Ｓ＿ＬＢの一部は、コリメータレンズ１３１６、ビームスプリッタ１３１７、集光レンズ１３１８を経て、パワーモニタ１３１９にてパワーがモニタされる。モニタしたパワーをＳ＿ＰＭ信号としてシステム制御回路１５０１にフィードバックすることで、光ディスク１０２のサーボ層に集光するレーザ光Ｓ＿ＬＢの強度が、たとえば３ｍＷなど所望のパワーに保持される。ビームスプリッタ１３１７を透過したレーザ光Ｓ＿ＬＢは、偏光ビームスプリッタ１３２０を透過し、リレーレンズ１３２１にて収束・発散の制御が行われる。リレーレンズ１３２１を経たレーザ光Ｓ＿ＬＢは、ダイクロイックミラー１３０８にて反射し、１／４波長板１３１０を経て、対物レンズ１３１１により光ディスク１０２のサーボ層にレーザスポットＳ＿ＬＳとして集光する。光ディスク１０２にて反射したレーザ光Ｓ＿ＬＢを偏光ビームスプリッタ１３２０にて反射し、集光レンズ１３２２にてディテクタ１３２３に集光する。
【００４４】
ディテクタ１３２３ではレーザ光の強度を検出し、これに応じた信号を信号処理回路１０６に出力する。信号処理回路１０６は、ディテクタ１３２３から出力されるサーボ層にウォブルして形成されたトラックに対応した信号により光ディスク１０２の回転を制御するための同期信号、記録或いは再生を行う際の基準となるクロック信号を生成するとともに、レーザスポットＳ＿ＬＳが追従しているディスク上の位置に対応したアドレスを再生してシステム制御回路１５０１に出力する。
【００４５】
サーボエラー信号生成回路１０４において、サーボ層フォーカスエラー信号生成回路１４０４は、ディテクタ１３２３から出力された信号から、光ディスク１０２のサーボ層とレーザスポットＳ＿ＬＳの焦点位置とのずれ量を示すサーボ層フォーカスエラー信号Ｓ＿ＦＥを生成する。またディテクタ１３２３から出力された信号はサーボ層トラッキングエラー信号生成回路１４０２にも入力され、サーボ層トラックとレーザスポットＳ＿ＬＳの位置のずれ量を示すサーボ層トラッキングエラー信号Ｓ＿ＴＥを生成する。
【００４６】
サーボエラー信号生成回路１０４で生成されたエラー信号は信号処理回路１０５に入力され、サーボ層に対するフォーカス制御、トラッキング制御が行われる。
【００４７】
サーボ層フォーカス制御回路１５０６は、システム制御回路１５０１からの指令信号により、サーボ層フォーカスエラー信号Ｓ＿ＦＥに対してゲインと位相の補償を行い、サーボ層に対するフォーカス制御を行うための駆動信号を出力する。サーボ層フォーカス制御回路１５０６から出力された駆動信号は、スイッチ１５０７、加算器１５０９を介してリレーレンズ駆動回路１１０に入力される。
【００４８】
スイッチ１５０７はシステム制御回路１５０１の出力するＳ＿ＦＯＮ信号に基づき、サーボ層フォーカス制御回路１５０６の出力信号もしくは基準電位Ｖｒｅｆを選択して出力する。Ｓ＿ＦＯＮ信号としてＨｉｇｈレベルが入力されると、スイッチ１５０７は端子ｃを選択して、サーボ層フォーカス制御回路１５０６の出力信号が加算器１５０９を介してリレーレンズ駆動回路１１０に出力される。一方でＳ＿ＦＯＮ信号としてＬｏｗレベルが入力されると、スイッチ１５０７は端子ｄを選択し、基準電位Ｖｒｅｆを出力する。
【００４９】
この結果、Ｓ＿ＦＯＮ信号はサーボ層に対するフォーカス制御のオン・オフを指示する信号となる。またスイッチ１５０７は、サーボ層に対するフォーカス制御のオン、オフを切り替えるスイッチとして機能する。Ｓ＿ＦＯＮ信号がＬｏｗからＨｉｇｈに切り替わることでサーボ層に対するフォーカス制御がオンされることになり、この動作はフォーカス引き込み動作と呼ばれる。
【００５０】
サーボ層フォーカス駆動電圧生成回路１５０８は、システム制御回路１５０１からの指令信号により、所定の電圧を出力する。サーボ層フォーカス駆動電圧生成回路１５０８は例えば、フォーカススイープ動作におけるスイープ電圧や、フォーカスジャンプ時のジャンプ電圧を出力する。サーボ層フォーカス駆動電圧生成回路１５０８は例えば、一般的なＣＰＵを用いることができる。
【００５１】
加算器１５０９は、スイッチ１５０７の出力信号とサーボ層フォーカス駆動電圧生成回路１５０８の出力信号を加算し、サーボ層フォーカス駆動信号Ｓ＿ＦＯＤとしてリレーレンズ駆動回路１１０に出力する。
【００５２】
リレーレンズ駆動回路１１０は、サーボ層フォーカス駆動信号Ｓ＿ＦＯＤに従ってリレーレンズ１３２１を駆動することで、レーザ光Ｓ＿ＬＢの焦点位置をフォーカス方向に変位させ、レーザ光Ｓ＿ＬＢがサーボ層に合焦するようにフォーカス制御を行う。本明細書では、この制御のことをサーボ層フォーカス制御と呼ぶ。
【００５３】
サーボ層トラッキング制御回路１５１０は、システム制御回路１５０１からの指令信号により、サーボ層トラッキングエラー信号Ｓ＿ＴＥに対してゲインと位相の補償を行い、記録層に対するトラッキング制御を行うための駆動信号を出力する。サーボ層トラッキング制御回路１５１０から出力された駆動信号は、スイッチ１５１１、セレクタ１５１８、加算器１５２０を介してアクチュエータ駆動回路１０９に入力され、同時にスイッチ１５１１、セレクタ１５１７を介してリレーレンズ駆動回路１１０に入力される。
【００５４】
スイッチ１５１１はシステム制御回路１５０１の出力するＳ＿ＴＯＮ信号に基づき、サーボ層トラッキング制御回路１５１０の出力信号もしくは基準電位Ｖｒｅｆを選択して、サーボ層トラッキング駆動信号Ｓ＿ＴＲＤとして出力する。Ｓ＿ＴＯＮ信号としてＨｉｇｈレベルが入力されると、スイッチ１５１１は端子ｉを選択して、サーボ層トラッキング制御回路１５１０の出力信号が出力される。一方でＳ＿ＴＯＮ信号としてＬｏｗレベルが入力されると、スイッチ１５１１は端子ｊを選択し、基準電位Ｖｒｅｆを出力する。
【００５５】
この結果、Ｓ＿ＴＯＮ信号はサーボ層に対するトラッキング制御のオン・オフを指示する信号となる。またスイッチ１５１１は、サーボ層に対するトラッキング制御のオン、オフを切り替えるスイッチとして機能する。Ｓ＿ＴＯＮ信号がＬｏｗからＨｉｇｈに切り替わることでサーボ層に対するトラッキング制御がオンされることになり、この動作はトラック引き込み動作と呼ばれる。
【００５６】
スイッチ１５１１から出力されるサーボ層トラッキング駆動信号Ｓ＿ＴＲＤは、セレクタ１５１８及びセレクタ１５１２に入力される。
【００５７】
セレクタ１５１８においては、システム制御回路１５０１の出力するＯＬ＿ＴＳＥＬ信号に基づき、Ｒ＿ＴＲＤ信号もしくはＳ＿ＴＲＤ信号のいずれかを選択して対物レンズ駆動トラッキング駆動信号ＯＬ＿ＴＲＤとして出力する。ＯＬ＿ＴＳＥＬ信号としてＨｉｇｈレベルが入力されると、セレクタ１５１８は端子ｋを選択してＲ＿ＴＲＤ信号を出力し、ＯＬ＿ＴＳＥＬ信号としてＬｏｗレベルが入力されると、セレクタ１５１８は端子ｌを選択してＳ＿ＴＲＤ信号を出力する。
【００５８】
またセレクタ１５１２においては、システム制御回路１５０１の出力するＲＬ＿ＴＳＥＬ信号に基づき、Ｓ＿ＴＲＤ信号もしくは基準電位Ｖｒｅｆのいずれかを選択してリレーレンズ駆動トラッキング駆動信号ＲＬ＿ＴＲＤとして出力する。ＲＬ＿ＴＳＥＬ信号としてＨｉｇｈレベルが入力されると、セレクタ１５１２は端子ｇを選択してＳ＿ＴＲＤ信号を出力し、ＲＬ＿ＴＳＥＬ信号としてＬｏｗレベルが入力されると、セレクタ１５１２は端子ｈを選択して基準電位Ｖｒｅｆを出力する。
【００５９】
リレーレンズ駆動回路１１０は、トラッキング駆動信号ＲＬ＿ＴＲＤに従ってリレーレンズ１３２１を駆動することで、レーザ光Ｓ＿ＬＢの焦点位置を半径方向に変位させ、サーボ層トラック上にレーザスポットが照射されるようにトラッキング制御を行う。このように、本実施例におけるリレーレンズ駆動回路１１０は、レーザ光Ｓ＿ＬＢの焦点位置をフォーカス方向に駆動する回路とトラッキング方向に駆動する回路を包含したものである。
【００６０】
このように、サーボ層トラッキング駆動信号Ｓ＿ＴＲＤは、ＲＬ＿ＴＳＥＬ信号及びＯＬ＿ＴＳＥＬ信号により、アクチュエータ駆動回路１０９もしくはリレーレンズ駆動回路１１０へと入力される。また、両方へ同時に入力されることはないものとする。言い換えると、本実施例の光ディスク装置１０１におけるサーボ層に対するトラッキング制御は、アクチュエータ１３１２を駆動する回路構成と、リレーレンズ１３２１を駆動する回路構成とを切り替えることができる。
【００６１】
サーボ層に対するトラッキング制御に関して、アクチュエータ１３１２を駆動して行う場合の制御を、以下では対物レンズ駆動サーボ層トラッキング制御と呼ぶ。これに対しリレーレンズ１３２１を駆動して行う場合の制御を、以下ではリレーレンズ駆動サーボ層トラッキング制御と呼ぶ。アクチュエータ１３１２を駆動して行う場合の制御を、以下ではリレーレンズ駆動サーボ層トラッキング制御と呼ぶ。
【００６２】
続いて、記録層とサーボ層で共通な部分について説明する。
【００６３】
スライダ制御回路１５２１では、システム制御回路１５０１からの指令信号により、セレクタ１５１８の出力信号の平均値に基づいてスライダモータ１１２を駆動するスライダ駆動信号ＳＬＤを出力する。このＳＬＤ信号に従ってスライダ駆動回路１１３によりスライダモータ１１２を駆動し、アクチュエータ１３１２がディスク半径方向可動範囲の中心位置近傍で動作するように光ピックアップ１０３をディスク半径方向に移送する。
【００６４】
次に、信号処理回路１０６の働きについて説明する。記録層にデータを記録する場合は、サーボ層トラックをレーザスポットＳ＿ＭａｉｎＬＳが追従するようにトラッキングサーボ制御が行われる。この結果、ディテクタ１３２３からサーボ層からの再生信号が出力されて、信号処理回路１０６に入力される。また、ホスト１１４から入力された記録層に記録するデータ及びデータを記録するディスク上の位置に対応したアドレス情報がシステム制御回路１５０１から信号処理回路１０６に出力される。信号処理回路１０６では入力されたデータ及びアドレス情報をサーボ層から再生された基準クロック信号に基づいて所定の方式で変調し、レーザパワー制御回路１３０１に出力する。レーザパワー制御回路１３０１は信号処理回路１０６の出力に応じた駆動電流をレーザダイオード１３０２に出力し、レーザダイオード１３０２が対応した強度でレーザ光Ｒ＿ＬＢを出射することで光ディスク１０２の記録層に記録が行われる。これにより、ガイド層に形成されたトラックに追従しながら記録層に記録を行うため、ガイド層のトラックのスパイラルと同じ軌跡で記録層に情報の記録が行われる。例えばガイド層のトラックが内周から外周に向かってスパイラル状に形成されていると、記録層により記録される軌跡は全ての層が同じように内周から外周に向かってスパイラル状に形成される。
【００６５】
また、記録層に記録された情報を再生する場合には、記録層に記録された情報の軌跡からなるトラックをレーザスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳが追従するようにトラッキングサーボ制御が行われる。この結果、ディテクタ１３１４から記録層からの再生信号が出力されて、信号処理回路１０６に入力される。信号処理回路１０６では入力された再生信号から光ディスク１０２の回転を制御するための同期信号、再生を行う際の基準となるクロック信号を生成する。また、信号処理回路１０６は再生信号に対して増幅、等化、復号などの処理を行い、復号したデータ及びデータのディスク上の位置に対応したアドレス情報をシステム制御回路１５０１に出力する。システム制御回路１５０１は再生したデータをホスト１１４に出力する。
【００６６】
信号処理回路１０６から出力される同期信号とスピンドル駆動手段１０８から出力されるＦＧ信号はスピンドル制御回路１５２２に入力される。スピンドル制御回路１５２２ではシステム制御回路１５０１からの指令信号により、光ディスク１０２を角速度一定で回転させる場合にはスピンドルモータ１０７の回転速度に対応した周波数のＦＧ信号に基づいたスピンドル駆動信号ＳＰＤを出力し、光ディスク１０２を線速度一定で回転させる場合にはサーボ層もしくは記録層から再生された同期信号に基づいたスピンドル駆動信号ＳＰＤを出力する。スピンドル駆動回路１０８ではＳＰＤ信号に応じてスピンドルモータ１０７を駆動することで光ディスクの回転数が所定の値となるようにスピンドル制御が行われる。
【００６７】
図６に本実施例の光ディスク装置１０１に光ディスク１０２が挿入された時のセットアップ処理のフローチャートを示す。
【００６８】
光ディスク装置１０１に光ディスク１０２が挿入されると、セットアップ処理が開始される（ステップＳ６０１）。セットアップ処理において光ディスク装置はまず、ディスク認識処理を行う（ステップＳ６０２）。ディスク認識処理においては、ディスクの有無の確認やディスク種別の確認を行う。
【００６９】
この動作は例えば、システム制御回路１３０１がレーザパワー制御回路１３０１に指示していずれかのレーザダイオードを発光させ、同時に、システム制御回路１３０１が記録層フォーカス駆動電圧生成回路１５０４に指示して対物レンズ１３１１をディスク面に垂直な方向に駆動することで実現できる。光ディスク１０１にレーザ光を照射された結果、いずれかのディテクタによって反射光が検出され、検出された信号を用いて認識を行うことができる。
【００７０】
次に光ディスク装置は、収差補正素子駆動処理を行う（ステップＳ６０３）。これは後述するフォーカス引き込み処理のための準備であり、所定の収差補正量になるように収差補正素子１３０９を駆動する。
【００７１】
次に光ディスク装置は、リレーレンズ駆動処理を行う（ステップＳ６０４）。これは後述するフォーカス引き込み処理のための準備であり、リレーレンズの位置が所定の位置になるようにリレーレンズ１３２１を駆動する。
【００７２】
ステップＳ６０４の後、光ディスク１０１の記録層に対してフォーカス引き込み処理を行う（ステップＳ６０５）。この処理では、システム制御回路１３０１は記録層フォーカス駆動電圧生成回路１５０４に指示して所定のパターンの電圧を出力すると共に、Ｒ＿ＦＯＮ信号をＬｏｗレベルからＨｉｇｈレベルに変更する。記録層フォーカス駆動電圧生成回路１５０４により対物レンズ１３１１と一体で動作するように構成されたアクチュエータ１３１２がディスク面に垂直な方向に駆動され、Ｒ＿ＦＯＮ信号のレベル変更によりスイッチ１３１１が切り替わって記録層フォーカス制御がオンされる。
【００７３】
ステップＳ６０５の後、光ディスク１０１のサーボ層に対してフォーカス引き込み処理を行う（ステップＳ６０６）。この処理では、システム制御回路１３０１はサーボ層フォーカス駆動電圧生成回路１５０８に指示して所定のパターンの電圧を出力すると共に、Ｓ＿ＦＯＮ信号をＬｏｗレベルからＨｉｇｈレベルに変更する。サーボ層フォーカス駆動電圧生成回路１５０８によりリレーレンズ１３１１が駆動されてレーザ光Ｓ＿ＬＢの焦点位置をフォーカス方向に変位し、Ｓ＿ＦＯＮ信号のレベル変更によりスイッチ１３１１が切り替わってサーボ層フォーカス制御がオンされる。
【００７４】
次に光ディスク装置は、光ディスク１０１の記録層トラックに対してトラック引き込み処理を行う（ステップＳ６０７）。この処理では、システム制御回路１３０１はトラッキング制御に関する制御信号を変更した上で、Ｒ＿ＴＯＮ信号をＬｏｗレベルからＨｉｇｈレベルに変更する。これによりスイッチ１３１１が切り替わり、記録層トラッキング制御がオンされる。
【００７５】
次に挿入された光ディスク１０１に対して、光ディスク装置内の各種パラメータを適正化するための調整処理を行う（ステップＳ６０８）。各種パラメータとは、たとえば記録層フォーカス制御回路１５０２や記録層トラッキング制御回路１５１６の内部に含まれる増幅器の増幅率を光ディスク１０１の反射率にあわせて調節することなどが挙げられる。
【００７６】
ステップＳ６０８を行った後、光ディスク１０１に記録された管理情報を読み出す、管理情報読み出し処理を行う（ステップＳ６０９）。
【００７７】
ステップＳ６０９が完了すると、セットアップ処理が終了する（ステップＳ６１０）。これにより、ホストからの指示を受けて情報の記録または再生を行うことが可能な状態となる。
【００７８】
なお調整処理Ｓ６０７のタイミングはこれに限るものではなく、一部の調整処理を、フォーカス引き込み処理Ｓ６０５の前、または管理情報読み出し処理Ｓ６０９の後などに行ってもよい。
【００７９】
ここで、セットアップ処理が終了した状態の、光ディスク装置１０１のサーボ系の回路構成について説明する。図８から図１０は、各種動作状態における光ディスク装置１０１のトラッキング制御系及びフォーカス制御系の状態を説明するための表である。各表において、動作状態の欄に記載されている名称については、後述する。Ｎｏ欄に示したように、本実施例における光ディスク装置１０１のサーボ系の回路構成は、動作状態によって４つのパターンが存在する。Ｎｏ欄で示した番号を用い、Ｎｏ１の回路構成で動作する状態のことを状態１と称することにする。
【００８０】
図８は、各種動作状態におけるトラッキング制御系及びフォーカス制御系の動作状態と、本明細書において定義した名称を示す表である。各動作状態に対して破線にて２段に分けて記載してあるのは、上段が記録層に対する制御、下段がサーボ層に対する制御を示している。また表中、「−」で記載してある部分は、制御を行わないことを示す。例えば状態１に関しては、記録層に対するフォーカス制御は行うが、記録層に対するトラッキング制御は行わないことを意味する。
【００８１】
図９は、図８で示した制御系の回路構成を実現するためにシステム制御回路１５０１が出力する制御信号の値を示したものである。表中、「ＮｏＣａｒｅ」と記載してある部分は、ＨｉｇｈレベルであってもＬｏｗレベルであってもよいことを示す。
【００８２】
また図１０は、図９で示した制御信号の結果、対物レンズ及びリレーレンズのフォーカス駆動及びトラッキング駆動がどの駆動信号を用いて行われるかを示している。なお、対物レンズをトラッキング方向に駆動する記録層トラッキング制御に関しては、駆動信号の名称がＲ＿ＴＲＤ信号であったとしても、その前段にあるセレクタ１５１３における記録層トラッキングエラー信号Ｒ＿ＴＥの選択状態も重要である。そこで、対物レンズトラッキング駆動がＲ＿ＴＲＤ信号である場合には、Ｒ＿ＴＥ信号としてＲ＿ＳｕｂＴＥ信号、Ｒ＿ＭａｉｎＴＥ信号のいずれを選択しているかについても示している。
【００８３】
セットアップ処理が終了した状態のサーボ系の回路構成は、図８乃至図１０における状態４に相当する。即ち図８に示すように、フォーカス制御に関しては記録層、サーボ層共に制御を行い、トラッキング制御に関しては記録層についてのみ制御を行う。また、その制御は記録層ＭａｉｎＳｐｏｔトラッキング制御である。
【００８４】
図９に示すようにＲ＿ＦＯＮ信号、Ｓ＿ＦＯＮ信号は共にＨｉｇｈであるため、図１０に示すように対物レンズはＲ＿ＦＯＤ信号により、またリレーレンズはＳ＿ＦＯＤ信号により、フォーカス駆動される。
【００８５】
またトラッキング制御に関してはまず、図９に示すようにＲＬ＿ＴＤＥＬ信号がＬｏｗであることから、図１０に示すようにリレーレンズのトラッキング駆動は行われない。またＯＬ＿ＴＳＥＬ信号がＨｉｇｈでＲ＿ＴＯＮ信号がＨｉｇｈであることから、図１０に示すように対物レンズのトラッキング駆動はＲ＿ＴＲＤ信号によって行われる。更にこの時のＲ＿ＴＥＳＥＫ信号はＬｏｗであるため、Ｒ＿ＴＥ信号としてはＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号が選択されている。即ち、図８に示すように記録層ＭａｉｎＳｐｏｔトラッキング制御が行われる。
【００８６】
続いて図７に、ホスト１１４から情報の記録を指示された場合の本実施例の光ディスク装置１０１の記録処理のフローチャートを示す。
【００８７】
ホスト１１４から情報の記録を指示されると、光ディスク装置１０１は記録処理を開始する（ステップＳ７０１）。記録処理において光ディスク装置１０１はまず、現在挿入されている光ディスクにとって、本記録処理による記録が初回の記録であるかどうかの確認を行う（ステップＳ７０２）。これは例えば、図６で示したセットアップ処理におけるステップＳ６０９の管理情報読み出し処理によって読み出された情報から判別することができる。または、実際にステップＳ７０２においてシーク動作を行い、管理情報等を読み出しに行ってもよい。
【００８８】
現在挿入されている光ディスクにとって、本記録処理による記録が初回記録であった場合（ステップＳ７０２でＹｅｓの場合）、光ディスク装置１０１は対物レンズ駆動サーボ層トラッキング制御を開始する（ステップＳ７０３）。この処理においては、図８乃至図１０における動作状態を、状態４から状態１に切り替えることに相当する。
【００８９】
状態１は図８に示すように、フォーカス制御に関しては記録層、サーボ層共に制御を行い、トラッキング制御に関してはサーボ層についてのみ制御を行う。また、その制御は対物レンズ駆動サーボ層トラッキング制御である。
【００９０】
図９に示すようにＲ＿ＦＯＮ信号、Ｓ＿ＦＯＮ信号は共にＨｉｇｈであるため、図１０に示すように対物レンズはＲ＿ＦＯＤ信号により、またリレーレンズはＳ＿ＦＯＤ信号により、フォーカス駆動される。
【００９１】
またトラッキング制御に関してはまず、図９に示すようにＲＬ＿ＴＤＥＬ信号がＬｏｗであることから、図１０に示すようにリレーレンズのトラッキング駆動は行われない。またＯＬ＿ＴＳＥＬ信号がＬｏｗでＳ＿ＴＯＮ信号がＨｉｇｈであることから、図１０に示すように対物レンズのトラッキング駆動はＳ＿ＴＲＤ信号によって行われる。即ち、図８に示すように対物レンズ駆動サーボ層トラッキング制御が行われる。
【００９２】
ステップＳ７０３において状態４から状態１に切り替えることは、例えばまずＳ＿ＴＯＮ信号及びＲ＿ＴＯＮ信号をＬｏｗレベルにしてＳ＿ＴＲＤ信号及びＴ＿ＴＲＤ信号を基準電位Ｖｒｅｆとし、その後にＯＬ＿ＴＳＥＬ信号をＨｉｇｈレベルからＬｏｗレベルに切り替えて回路を変更し、その後にＳ＿ＴＲＤ信号をＨｉｇｈにしてサーボ層に対しトラック引き込みを行うことで実現できる。このように本実施例のトラッキング制御系の回路変更は、トラッキング制御のオン・オフを指示する信号であるＳ＿ＴＯＮ信号及びＲ＿ＴＯＮ信号を共にＬｏｗレベルにした後、回路を切り替える信号であるＯＬ＿ＴＳＥＬ及びＲＬ＿ＴＳＥＬ及びＲ＿ＴＥＳＥＬを必要に応じて切り替え、その後にＳ＿ＴＯＮ信号及びＲ＿ＴＯＮ信号を必要に応じてＨｉｇｈレベルに変更して所望の層に対してトラック引き込みを行うことで実現できる。
【００９３】
ステップＳ７０３の後、光ディスク装置１０１はシステム制御回路１５０１からスライダ制御回路１５２１に対して指令を出し、光ピックアップ１０３が所定の半径に来るように、スライダモータ１１２を駆動させる（ステップＳ７０４）。本実施例においては、所定の半径とは、光ディスク１０２の最内周の半径であるとする。
【００９４】
続いて光ディスク装置１０１は、ホスト１１４から記録を指示された情報の一部を記録する。この時、ディスクの２回転以上は記録を行う（ステップＳ７０５）。この動作を、以下、初回記録と呼ぶ。
【００９５】
ステップＳ７０５にてディスクの２回転以上の情報を記録した後、光ディスク装置１０１は初回記録を停止する（ステップＳ７０６）。
【００９６】
ステップＳ７０６の後、光ディスク装置１０１は対物レンズ駆動サーボ層トラッキング制御を終了する（ステップＳ７０７）。これはＳ＿ＴＯＮ信号をＬｏｗレベルにすることで実現できる。ステップＳ７０７の後は、ステップＳ７０２に戻る。
【００９７】
現在挿入されている光ディスクにとって、本記録処理による記録が初回記録でなかった場合（ステップＳ７０２でＮｏの場合）、ディスク装置１０１はシステム制御回路１５０１からスライダ制御回路１５２１に対して指令を出し、光ピックアップ１０３が所定の半径に来るように、スライダモータ１１２を駆動させる（ステップＳ７０８）。ここで所定の半径とは、ステップＳ７０４と共通の半径であり、光ディスク１０２の最内周の半径である。
【００９８】
なお、ステップＳ７０２でＮｏとなる場合は、ホスト１１４から情報の記録を指示された時点で挿入されている光ディスクが過去に情報が記録されたことがあった場合か、もしくはホスト１１４から情報の記録を指示された時点で挿入されている光ディスクが過去に一度も情報が記録されたことがなく、ホスト１１４から情報の記録を指示された後にステップＳ７０３以降の初回記録を経てステップＳ７０２に戻った場合である。すなわち、ステップＳ７０８以降の処理は、光ディスク１０２の最内周の半径位置が２トラック以上に渡って記録された状態で行われることになる。
【００９９】
ステップＳ７０８の後、光ディスク装置１０１はステップＳ７０９からステップＳ７１６までのトラックピッチ調整を行う。トラックピッチ調整を行う領域は初回記録にて記録された領域であり、本実施例における初回記録はトラックピッチ調整を行うための記録部を作成するための処理と言うこともできる。ステップＳ７０８の後、記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を開始する（ステップＳ７０９）。この処理においては、図８乃至図１０における動作状態を、状態１から状態２に切り替えることに相当する。
【０１００】
続いて光ディスク装置１０１は、同じトラックを追従し続けるように、光ディスク１０１の回転に同期して１トラックジャンプを行う（ステップＳ７１０）。
【０１０１】
ステップＳ７１０の後、光ディスク装置１０１は記録層ＭａｉｎＴＥ信号モニタ回路１５２３でモニタしたＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号の値を記憶する（ステップＳ７１１）。続いて記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４に指示してＲ＿ＴｐＡｄｊ信号の電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊを変更する（ステップＳ７１２）。
【０１０２】
ステップＳ７１２の後、記録層ＭａｉｎＴＥ信号モニタ回路１５２３でモニタしたＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号の情報から、Ｒ＿ＭａｉｎＴＥ信号のレベルが基準電位Ｖｒｅｆを跨いで変化したかどうかを確認する。
【０１０３】
Ｒ＿ＭａｉｎＴＥ信号のレベルが基準電位Ｖｒｅｆを跨いで変化していない場合（ステップＳ７１３でＮｏの場合）、ステップＳ７１１に戻る。即ち、Ｒ＿ＭａｉｎＴＥ信号のレベルが基準電位Ｖｒｅｆを跨いで変化するまで、ステップＳ７１１及びステップＳ７１２を繰り返す動作となる。
【０１０４】
Ｒ＿ＭａｉｎＴＥ信号のレベルが基準電位Ｖｒｅｆを跨いで変化した場合（ステップＳ７１３でＹｅｓの場合）、ステップＳ７１０で開始した光ディスク１０１の回転に同期して１トラックジャンプ動作を停止する（ステップＳ７１４）。
【０１０５】
続いて光ディスク装置１０１は、ステップＳ７１２にて設定した電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊと、その時に記憶されたＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号の値から、記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４が出力する電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊの最適値を算出する（ステップＳ７１５）。
【０１０６】
ステップＳ７１５の後、光ディスク装置１０１は記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４に指示して、Ｒ＿ＴｐＡｄｊ信号の電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊを最適値に変更する（ステップＳ７１６）。
【０１０７】
ステップＳ７１６にてトラックピッチ調整が完了した後、光ディスク装置１０１はリレーレンズ駆動サーボ層トラッキング制御を開始する（ステップＳ７１７）。この処理においては、図８乃至図１０における動作状態を、状態２から状態３に切り替えることに相当する。
【０１０８】
ステップＳ７１７にてリレーレンズ駆動サーボ層トラッキング制御を開始した後、情報の記録を行い、ホスト１１４から記録を指示された情報を全て記録する（ステップＳ７１８）。ステップＳ７０５の初回記録を実施していた場合には、記録された続きから情報の記録を再開するものとする。ステップＳ７１８にて情報の記録を終えると、記録処理を終了する（ステップＳ７１９）。
【０１０９】
ステップＳ７１５におけるＶ＿ＴｐＡｄｊの最適値の算出方法について説明する前にまず、本実施例による効果について説明する。その後に、その目的を達成するためのＶ＿ＴｐＡｄｊの最適値の算出方法について説明する。
【０１１０】
本実施例の効果は、記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を行う場合の課題を解決できる点にある。そのため、はじめに記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を行うことの利点について説明する。続いて、記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を行う場合の課題を説明し、最後に本実施例の効果を説明する。
【０１１１】
まず記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を行う利点について、図１１を用いて説明する。図１１は記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を行わずに記録層に対して情報の記録を行う場合の光ディスク１０２とレーザスポットの位置関係を示している。
【０１１２】
図１１（ａ）は光ディスク１０２が対物レンズに対して傾いていない理想状態を示している。記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を行わない場合、トラッキング制御は本明細書でサーボ層トラッキング制御と称している方式で行う。本実施例と異なり記録層に生じるレーザスポットは一つであり、Ｒ＿ＬＳで表記する。
【０１１３】
即ち、サーボ層に照射されるレーザ光Ｓ＿ＬＢによってサーボ層にサーボ層レーザスポットＳ＿ＬＳを生成し、これを用いてトラッキング制御を行う。一方で、記録層に照射されるレーザ光Ｒ＿ＬＢによって記録層に記録層レーザスポットＲ＿ＬＳを生成し、これを用いて情報の記録を行う。光ディスク１０２が対物レンズに対して傾いていない場合には、サーボ層レーザスポットＳ＿ＬＳと記録層レーザスポットＲ＿ＬＳはディスクに垂直な軸上に位置する。
【０１１４】
一方で、図１１（ｂ）は対物レンズに対して光ディスク１０２が傾いた状態を示しており、Ａは光ディスク１０２が対物レンズに対して傾いていない場合の記録層レーザスポットＲ＿ＬＳの位置を示す。図１１（ｂ）から明らかなように、対物レンズに対して光ディスク１０２が傾いた状態の場合の記録層レーザスポットＲ＿ＬＳは、Ａと一致しない。
【０１１５】
このことから、記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を行わずに記録層に対して情報の記録を行う場合には、光ディスク１０２と対物レンズの相対的な傾きが変化すると記録済みデータを上書きしてしまう等の課題がある。この課題が解決できない場合、途中まで記録したグルーブレスディスクに対する情報の追加記録を行うことができない。
【０１１６】
光ディスク１０２と対物レンズの相対的な傾きが変化する要因としては、温度や湿度による光ディスク自体の反りの変化や、チャッキングによる光ディスク装置１０１と光ディスク１０２の相対的な位置関係の変化などがある。
【０１１７】
これに対し記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御では、図５で説明したように隣接記録層トラックに記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳを照射してトラッキング制御を行い、そこから半径方向にＴｐだけ離れた位置に記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳの位置が制御される。そのため、記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を用いることで、光ディスク１０２と対物レンズの相対的な傾きが変化すると記録済みデータを上書きしてしまう課題を解決できる。即ち記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を用いることで、グルーブレスディスクに対する情報の追加記録が可能になる。
【０１１８】
以上で説明したように、記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御はグルーブレスディスクに対する情報の追加記録を実現できる制御方法である。しかしながら、記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を実現する上では別の課題が存在する。次にこの課題について説明する。
【０１１９】
続いて、記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を行う場合の課題を説明する。図１２は、記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を行う場合の記録層上のレーザスポットを示す模式図である。点線は記録層に形成されるトラックの位置を示し、記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳから半径方向にサーボ層のトラックピッチＴｐだけ離れた位置に、記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳが存在する関係にある。記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳの中心と記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳの中心との距離をｄ、記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳの中心と記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳの中心を結ぶ線分と接線方向とのなす角をθで示している。
【０１２０】
距離ｄや角θの設計中心値は、サーボ層のトラックピッチＴｐを用いて
Ｔｐ＝ｄ＊ｓｉｎθ
の関係式を満たすように選定される。しかしながら実際の光ディスク装置においては、距離ｄや角θは、部品の製造ばらつきや組み立てばらつき等の理由によって、ばらつきが生じる。ばらつきが生じた場合、記録層に形成される記録層トラックのトラックピッチは、設計中心であるＴｐからずれてしまう。
【０１２１】
また光ディスク自体に反りがある場合や、光ディスク装置１０１に対して光ディスク１０２が傾いて装着された場合、光ディスク１０２と対物レンズの相対的な傾きが平行でない場合には、図１２の紙面が傾くことになり、傾いた紙面に照射される２つのレーザスポットのトラック方向の距離は、Ｔｐからずれてしまう。
【０１２２】
記録層トラックのトラックピッチがＴｐからずれてしまうと、シークする際の計算に誤差が生じ、シーク性能が劣化する。また、トラックピッチが小さくなると、隣接マークの影響によって再生性能が劣化してしまう。更に記録層トラックのトラックピッチが変化すると１層あたりの記録容量も変化してしまうため、光ディスク１０２のデータ容量を規定できなくなる。
【０１２３】
即ち、記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を行う場合の課題には、部品の製造ばらつきや組み立てばらつき等の理由によって、記録層に形成される記録層トラックのトラックピッチがＴｐからずれてしまうことである。
【０１２４】
次に本実施例の効果について、図１３を用いて説明する。図１３は、記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を行う場合の記録層上のレーザスポットを示す模式図である。ここは部品の製造ばらつきや組み立てばらつき等の理由によって、記録層に形成される記録層トラックのトラックピッチがＴｐからずれた場合を示しており、トラックピッチがΔＴｐだけ短くなってしまった場合を示している。また内周から外周に向かって情報を記録していく場合を示しているものとする。即ち、図の左方向が内周方向に相当する。
【０１２５】
図１３（ａ）は本実施例を用いずに記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を行った場合を示しており、記録層トラックのトラックピッチはＴｐ−ΔＴｐとなる。これに対し本発明では図１３（ｂ）に示すように、記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳの制御位置を変更する。即ち記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳが、隣接トラックを追従するように制御するのではなく、隣接トラックからΔＴｐだけ外周側の位置に制御する。これにより、記録層トラックのトラックピッチはＴｐとなる。
【０１２６】
このような制御位置の変更は、トラッキングエラー信号にオフセットを印加することで実現できる。本実施例においては、記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４がオフセット出力部として機能する。また、記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４が出力する電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊが、上記オフセットに相当する。
【０１２７】
即ちステップＳ７０９からステップＳ７１６までのトラックピッチ調整では、図１３（ａ）のようにトラックピッチがずれた状態から、記録層トラックのトラックピッチがＴｐとなる図１３（ｂ）の状態にするための電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊを求める調整である。本実施例のトラックピッチ調整では電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊを変更した際のＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号の値をモニタする。この意味について、図１４、図１５を用いて説明する。
【０１２８】
図１４は、電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊを変更した際の記録層上のレーザスポットを示す模式図である。図１４（ａ）は初期状態であり、図１３と同様に記録層トラックのトラックピッチがＴｐ−ΔＴｐの状態を初期状態としている。これに対し図１４（ｂ）は電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊが最適値の状態であり、トラックピッチがＴｐとなる状態である。最適なＶ＿ＴｐＡｄｊの最適値を、Ｖ＿ＢｅｓｔＴｐＡｄｊとする。また図１４（ｃ）は、電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊの値を２×Ｖ＿ＢｅｓｔＴｐＡｄｊとした場合を示している。
【０１２９】
図１４（ａ）、（ｂ）からわかるように、電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊとして最適値Ｖ＿ＢｅｓｔＴｐＡｄｊを印加することで、記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳは外周側にΔＴｐだけ移動する。このことから、図１４（ｃ）は、図１４（ａ）の初期状態から記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳが外周側に２×ΔＴｐだけ移動した状態である。そのため、図１４（ｂ）の最適状態との比較では、記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳが外周側にΔＴｐだけ移動した関係にある。この結果、記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳの半径方向の位置に着目すれば、（ａ）と（ｃ）は最適状態（ｂ）を中心に対称な関係にある。
【０１３０】
この図１４（ａ）、（ｂ）、（ｃ）の場合に、Ｒ＿ＭａｉｎＴＥ信号の値がどうなるかについて、図１５を用いて説明する。
【０１３１】
図１５は、記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳがトラックを横切った場合のＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号の波形を示している。図１５の（ａ）、（ｂ）、（ｃ）はそれぞれ、図１４の（ａ）、（ｂ）、（ｃ）と対応する。Ｒ＿ＭａｉｎＴＥ信号をＤＰＤ（Ｄｉｆｆｅｒｅｎｔｉａｌ  Ｐｈａｓｅ．  Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ）法で生成している場合、図１５に示すようにＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号は三角波となる。図中、傾きが正である領域Ａは負期間領域と呼ばれ、この範囲はトラッキング制御が制御可能な範囲である。Ｂで示す傾きが負の領域では、トラッキング制御ができない領域である。
【０１３２】
記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳが隣接トラック上に照射される時、Ｒ＿ＭａｉｎＴＥ信号は基準電位Ｖｒｅｆの値を取る。そのため、図１５の（ｂ）において、Ｒ＿ＭａｉｎＴＥ信号はＶｒｅｆとなる。また、（ａ）と（ｃ）は、図１５に示すように最適状態（ｂ）を中心に対称な関係になる。これは、Ｒ＿ＭａｉｎＴＥ信号が記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳと隣接トラックの半径方向の距離を示す信号であるためである。
【０１３３】
以上で説明した、記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４が出力する電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊとそのときのＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号の値の関係を元に、本実施例のトラックピッチ調整（ステップＳ７０９からステップＳ７１６）をどのように行うかについて説明する。
【０１３４】
図１６に、本実施例のトラックピッチ調整を行っている最中の各部の信号と、電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊの最適値を算出する方法を示す。
【０１３５】
図１６（ａ）は本実施例のトラックピッチ調整を行っている最中の電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊの値を示し、また図１６（ｂ）はそのときに記録層ＭａｉｎＴＥ信号モニタ回路１５２３でモニタされるＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号の値（ＤＣレベル）を示している。以下、記録層ＭａｉｎＴＥ信号モニタ回路１５２３でモニタされるＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号の値をＭ＿ＴＥと表記する。
【０１３６】
ここでは、ステップＳ７１３にてＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号のレベルが基準電位Ｖｒｅｆを跨いで変化するまでに、ステップＳ７１１のＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号の記憶を４回行った場合を示している。計４回のうち、ｉ回目のＶ＿ＴｐＡｄｊの値をＶ＿ＴｐＡｄｊ［ｉ］、ｉ回目でモニタされるＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号の値をＭ＿ＴＥ［ｉ］で表記している（ｉは１以上４以下の整数）。
【０１３７】
ステップＳ７１２で変更する電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊの変化量は固定値であるので、電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊは階段状に縦軸方向に等間隔で変化する。図１５で説明したことから、記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４が出力する電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊを等間隔で変化させていくことは、記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳが半径方向に等間隔で移動することに相当する。
【０１３８】
一方でＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号のＤＣレベルは、記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳと隣接トラックとの半径方向の距離を示す信号であるので、電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊが図１６（ａ）のように階段状に変化するとき、Ｒ＿ＭａｉｎＴＥ信号のＤＣレベルも図１６（ｂ）に示すように階段状に変化する。
【０１３９】
このようにして得られる、Ｖ＿ＴｐＡｄｊ［ｉ］とＭ＿ＴＥ［ｉ］を、図１６（ｃ）に示すようにＶ＿ＴｐＡｄｊとＭ＿ＴＥのグラフにプロットすると、各データは直線状に並ぶ。ここで、トラックピッチ調整において最終的に求めたい電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊの最適値は、記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳと隣接トラックが重なるようになる電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊの値である。そしてそれは図１４および図１５における（ｂ）の状態である。即ち、記録層ＭａｉｎＴＥ信号モニタ回路１５２３でモニタされるＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号のＤＣレベルが、基準電位Ｖｒｅｆになるような電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊの値を求める。
【０１４０】
従って、図１６（ｃ）で示す４つの計測データに対して近似直線Ｌを求め、Ｌと、Ｍ＿ＴＥ＝Ｖｒｅｆの交点を求め、そのときのＶ＿ＴｐＡｄｊの値が最適値となる。図１６（ｃ）においては、その値をＶ＿ｂｅｓｔとして示している。
【０１４１】
以上が、ステップＳ７１５における電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊの最適値の算出方法である。ステップＳ７１６では、ステップＳ７１５で算出した最適値を設定し、以降はその状態を継続する。
【０１４２】
記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を行う場合の課題は、図１４（ａ）や図１４（ｃ）のように記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＥと記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳの半径方向の距離が、サーボ層のトラックピッチＴｐからずれてしまうことであった。これに対し、上述したトラックピッチ調整を行うことによって、記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳの制御位置を最適な位置に変更し、図１４（ｂ）の状態となるようにすることができる。
【０１４３】
図１４（ｂ）の状態にした上で記録層サブスポットトラッキング制御による情報の記録を行うことで、記録層トラックのトラックピッチをＴｐにすることができる。即ち本実施例の効果は、部品の製造ばらつきや組み立てばらつき等の理由によって、記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＥと記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳの半径方向の距離がサーボ層のトラックピッチＴｐからずれてしまう場合であっても、記録層トラックのトラックピッチをＴｐにすることができる点にある。これにより、シーク性能や再生性能の劣化を抑えることができる。
【０１４４】
ここで、記録層サブスポットトラッキング制御で情報の記録を行うステップＳ７１８においては、既に最適なＶ＿ＴｐＡｄｊが設定された状態である。言い換えれば、記録層サブスポットトラッキング制御による情報の記録を行うより前に、トラックピッチ調整を行う順序になっている。上述したようにトラックピッチ調整は記録層サブスポットトラッキング制御による情報の記録を行う上で必要な調整であるので、この順序である必要があることは明らかである。
【０１４５】
また本実施例ではトラックピッチ調整中は回転に同期して１トラックジャンプを行う動作とした。内周から外周に向かって情報を記録していく場合、トラックピッチ調整中は記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳより１トラック外周側に記録されたトラックがある必要がある。また、トラックピッチ調整はＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号のをモニタするため、ディスク１回転をモニタし、その平均値（即ちＤＣレベル）を用いることが望ましい。以上から、回転に同期して１トラックジャンプを行いながらトラックピッチ調整を行うには、２トラック以上の記録された領域でトラックピッチ調整を行う必要がある。従って、ステップＳ７０５における初回記録においては、ディスクの２回転以上は記録を行う必要がある。
【０１４６】
また図１５では、記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳがトラックを横切った場合のＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号の波形を示したが、Ｒ＿ＳｕｂＴＥ信号についても同様の波形になる。上述したようにトラッキング制御が制御可能な範囲は図１５においてＡで示した負帰還領域であることから、トラックピッチ調整で変更する電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊの値は、Ｒ＿ＳｕｂＴＥ信号に関するデトラック量が負帰還領域を出ない範囲で設定する必要がある。これは図１５の場合で説明すれば、電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊの絶対値が、領域Ａの両端におけるＲ＿ＳｕｂＴＥ信号の絶対値を超えない範囲で設定することに相当する。
【０１４７】
以上の説明では、トラックピッチ調整について、記録層ＭａｉｎＴＥ信号モニタ回路１５２３でモニタされるＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号のＤＣレベルが、基準電位Ｖｒｅｆになるような電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊの値を調整するとした。しかし実際の回路では回路のオフセットが存在し、本実施例では説明を省略したが光ディスク装置１０１にはオフセットを除去する回路が備わっている場合がある。この場合、Ｒ＿ＭａｉｎＴＥ信号の調整目標とする電位は、除去するオフセット量の分だけ、信号処理回路１０５の基準電位Ｖｒｅｆからずれる。従って、より厳密には、記録層ＭａｉｎＴＥ信号モニタ回路１５２３でモニタされるＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号のＤＣレベルが、所定の値になるように調整すると表現したほうが正確である。もちろん、回路オフセットを除去しない光ディスク装置や、回路オフセットが小さい場合、前記所定の値は基準電位Ｖｒｅｆと等しくなる。
【０１４８】
また本実施例では、記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳと隣接トラックの半径方向の距離を示す信号であるＲ＿ＭａｉｎＴＥ信号をモニタしてトラックピッチ調整を行う構成とした。しかしトラックピッチ調整でモニタする信号は、記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳと隣接トラックの半径方向の距離に応じた挙動を示す信号であれば、別の信号を用いても良い。
【０１４９】
このような信号として例えば、再生信号を用いることができる。記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳが隣接トラック上に照射される時、Ｒ＿ＭａｉｎＬＳによって得られる再生信号の振幅は最大となり、記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳが隣接トラックから離れるほど、再生信号の振幅は低下する。即ち、光ディスク装置１０１がＲ＿ＭａｉｎＬＳによって得られる再生信号の振幅をモニタする回路を備え、振幅が最大となるような電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊの値を求めるトラックピッチ調整を行う構成であってもよい。
【０１５０】
以上ではトラックピッチ調整を行う際にモニタする信号として、Ｒ＿ＭａｉｎＴＥ信号とＲ＿ＭａｉｎＬＳによって得られる再生信号の２つを例に説明した。これらは、記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳにおいて反射した光の強度を検出するディテクタ１３１４から生成する点が共通である。即ち、記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳが隣接トラック上に照射されているかどうかを確認する信号は、ディテクタ１３１４の出力を用いればよい。更に言えば、ディテクタ１３１４から生成される信号であれば、上記２つ以外の信号をモニタしても構わないことは明らかである。
【０１５１】
以上の実施例によれば、記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を行う場合の課題を解決でき、記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を適切に行うことが可能になる。
【０１５２】
即ち、光ディスク１０２と対物レンズの相対的な傾きが変化する場合であっても記録済みデータを上書きしてしまうことを防止し、グルーブレスディスクに対する情報の追加記録を行うことが可能になる。またその際、記録層トラックのトラックピッチをサーボ層のトラックピッチＴｐと精度良く一致させることが可能になり、良好なシーク性能や良好な再生性能を達成できる。更には、光ディスク１０２のデータ容量を確実に規定できる。
【０１５３】
このように本実施例によれば、グルーブレスディスクに対して適切に追加記録を行うことができる。
【実施例２】
【０１５４】
実施例１においては、ホスト１１４から情報の記録を指示された場合の記録処理において、光ディスク装置１０１に挿入された光ディスク１０２の記録部を用いてトラックピッチ調整を行う構成とした。これは記録層トラックのトラックピッチがＴｐからずれてしまう課題を解決するためのものであり、その課題が生じる原因は本明細書で２つを挙げている。１つは部品の製造ばらつきや組み立てばらつきであり、もう１つは光ディスク自体の反りや光ディスク１０２装着時の傾きである。
【０１５５】
このうち、支配的な要因が前者であれば、記録層トラックピッチのずれ量はピックアップに固有の値となる。本実施例はこのことに着目した実施の形態である。
【０１５６】
本実施例の光ディスク装置のブロック図は、実施例１のブロック図である図１と共通である。またサーボエラー信号生成回路１０４の構成及び信号処理回路１０５の構成についても実施例１の構成図である図２及び図３と共通である。
【０１５７】
本実施例と実施例１との差異は、ホスト１１４から情報の記録を指示された場合の記録動作のフローチャートである。図１７に、ホスト１１４から情報の記録を指示された場合の本実施例の記録処理のフローチャートを示す。
【０１５８】
ホスト１１４から情報の記録を指示されると、光ディスク装置１０１は記録処理を開始する（ステップＳ１７０１）。記録処理において光ディスク装置１０１はまず、現在挿入されている光ディスクにとって、本記録処理による記録が初回の記録であるかどうかの確認を行う（ステップＳ１７０２）。
【０１５９】
現在挿入されている光ディスクにとって、本記録処理による記録が初回記録であった場合（ステップＳ１７０２でＹｅｓの場合）、光ディスク装置１０１は対物レンズ駆動サーボ層トラッキング制御を開始する（ステップＳ１７０３）。
【０１６０】
ステップＳ１７０３の後、光ディスク装置１０１はシステム制御回路１５０１からスライダ制御回路１５２１に対して指令を出し、光ピックアップ１０３が所定の半径に来るように、スライダモータ１１２を駆動させる（ステップＳ１７０４）。本実施例においては、所定の半径とは、光ディスク１０２の最内周の半径であるとする。
【０１６１】
続いて光ディスク装置１０１は、ホスト１１４から記録を指示された情報の一部を記録する。この時、ディスクの１回転以上は記録を行う（ステップＳ１７０５）。この動作を、以下、初回記録と呼ぶ。
【０１６２】
ステップＳ１７０５にてディスクの１回転以上の情報を記録した後、光ディスク装置１０１は初回記録を停止する（ステップＳ１７０６）。
【０１６３】
ステップＳ１７０６の後、光ディスク装置１０１は対物レンズ駆動サーボ層トラッキング制御を終了する（ステップＳ１７０７）。
【０１６４】
現在挿入されている光ディスクにとって、本記録処理による記録が初回記録でなかった場合（ステップＳ１７０２でＮｏの場合）、光ディスク装置１０１は記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４に指示して、Ｒ＿ＴｐＡｄｊ信号の電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊを所定の値に変更する（ステップＳ１７０８）。この所定の値は、システム制御回路１５０１の内部に備えられた不揮発メモリ（図示しない）に記憶された値を用いる。
【０１６５】
ステップＳ１７１６の後、光ディスク装置１０１は、記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を開始し（ステップＳ１７０９）、続けてリレーレンズ駆動サーボ層トラッキング制御を開始する（ステップＳ１７１０）。
【０１６６】
ステップＳ１７１７にてリレーレンズ駆動サーボ層トラッキング制御を開始した後、情報の記録を行い、ホスト１１４から記録を指示された情報を全て記録する（ステップＳ１７１１）。ステップＳ１７０５の初回記録を実施していた場合には、記録された続きから情報の記録を再開するものとする。ステップＳ１７１１にて情報の記録を終えると、記録処理を終了する（ステップＳ１７１２）。
【０１６７】
本実施例の効果について説明する。前述したように、本実施例は部品の製造ばらつきや組み立てばらつきが支配的な要因となって記録層トラックのトラックピッチがＴｐからずれてしまう課題が引き起こされる場合を想定している。
【０１６８】
ここで言及している部品ばらつきや組み立てばらつきは、ピックアップ１０３を構成する部品に関するものであるためピックアップ１０３に固有の値となる。そのため、実施例１のように記録動作の度にトラックピッチ調整を行う必要はなく、記録層サブスポットトラッキング制御による情報の記録を行うより前に、装置固有の値を設定すればよい。
【０１６９】
これを実現するため本実施例では、光ディスク装置１０１を製造時に記録層上に生じる２つのレーザスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳ、Ｒ＿ＳｕｂＬＳの半径方向の距離を調査し、その調査結果をシステム制御回路１５０１の内部に備えられた不揮発メモリに記憶する。そして記録層サブスポットトラッキング制御による情報の記録を行うより前に、その値を読み出して、記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４の電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊを最適な値に設定する。
【０１７０】
以上の動作により、部品の製造ばらつきや組み立てばらつきが支配的な要因である場合に、実施例１と同等の効果を達成できる。即ち、図１４（ａ）や図１４（ｃ）のように記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＥと記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳの半径方向の距離が、サーボ層のトラックピッチＴｐからずれてしまう場合であっても、上述したトラックピッチ調整を行うことによって、記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳの制御位置を最適な位置に変更し、図１４（ｂ）の状態となるようにすることができる。
【０１７１】
以上の実施例によれば、記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を行う場合の課題を解決でき、記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を適切に行うことが可能になる。
【０１７２】
即ち、光ディスク１０２と対物レンズの相対的な傾きが変化する場合であっても記録済みデータを上書きしてしまうことを防止し、グルーブレスディスクに対する情報の追加記録を行うことが可能になる。またその際、記録層トラックのトラックピッチをサーボ層のトラックピッチＴｐと精度良く一致させることが可能になり、良好なシーク性能や良好な再生性能を達成できる。更には、光ディスク１０２のデータ容量を確実に規定できる。
【０１７３】
このように本実施例によれば、グルーブレスディスクに対して適切に追加記録を行うことができる。
【０１７４】
以上の実施例では、図４を用いて説明したように、光ディスク１０２の構造として、記録膜を塗布された記録面が膜厚方向に積層された構造であるとした。しかし本発明の適用範囲は、図４の構造の光ディスクに限らない。フォーカスエラー信号を生成可能な記録層を有する光ディスクであれば適用可能である。
【０１７５】
即ち、記録膜を塗布された記録面は存在せず、一様な媒体に対して波長４０５ｎｍのレーザ光が照射することで情報の記録もしくは再生が行われる光ディスクであっても、記録層フォーカスエラー信号を生成可能であれば情報記録面にフォーカス制御でき、その面内でのトラッキング制御について本発明を適用することができる。例えば、記録媒体内部における情報の記録位置を特定するための構造を一様な媒体中に有し、前記構造によってディテクタの出力信号から記録層フォーカスエラー信号を生成することで、面状に情報を記録して記録層を形成するような光ディスクに対しては、本発明を同様に適用することが可能である。
【０１７６】
更に以上の実施例の説明において光ディスク１０２はサーボ層を持つ構造としたが、本発明はサーボ層を持たない光ディスクに対しても、適用可能である。なぜなら本発明は記録層に２つのレーザスポットを配置し、片方のレーザスポットでトラッキングを行いながら他方のレーザスポットで記録発光を行う場合に、記録層に形成されるトラックピッチが設計目標値（以上の実施例ではＴｐ）からずれてしまう課題を解決するものである。そのため、本発明はサーボ層を持たない光ディスクに対しても、前記記録層に形成されるマーク列の半径方向の間隔を調整する点に関して、同様に適用可能である。
【０１７７】
以上の実施例においては、例えば実施例１のステップＳ７０１にあるように、初回記録を行うのは、現在挿入されている光ディスクにとって初回の記録を指示された場合のみである。そのため、記録層が複数あった場合でも、そのうちの１つの層に対して初回記録を行って記録部を作成し、その記録部にてトラックピッチ調整を行った。そしてその他の記録層では前記の層でトラックピッチ調整を行った値を用いる動作とした。しかし各層で記録部を作成しトラックピッチ調整を行っても構わない。これにより、層間の厚みが均一でなく、一部の記録層で記録層が傾いていた場合であっても、より正確に記録層トラックのトラックピッチをサーボ層トラックピッチと同一に調整することができる。
【０１７８】
以上の実施例では、初回記録を行う半経位置を光ディスク１０２の最内周とした。しかし初回記録を行う半径位置は、光ディスク１０２上のどの半径位置であってもよい。
【０１７９】
また以上の実施例では、トラックピッチ調整は初回記録を行った半径位置において行う動作とした。しかし前述したように、トラックピッチ調整を行うには２トラック以上の記録された領域が存在すればよい。例えば、現在挿入されている光ディスクにとって初回記録でなく、記録面内に複数の記録部が存在する場合には、そのどの記録部を用いてトラックピッチ調整を行ってもよい。
【０１８０】
更に、以上の実施例における初回記録は、ホスト１１４から情報の記録を指示された後に行う動作としたが、それ以前に行っても良い。例えば、セットアップ処理にて行っても良い。
【０１８１】
更に実施例１の初回記録に関しては、複数の半径位置で記録部を作成し、それぞれの記録部でトラックピッチ調整を行う動作としてもよい。複数の半径位置でトラックピッチ調整を実施し、その結果から半径位置に応じて記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４の出力する電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊの値を変えることで、光ディスク１０２の傾きが半径によって変わる場合であっても、記録層トラックのトラックピッチがサーボ層トラックピッチと同一になるように動作させることができる。半径位置に応じた電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊを決定する方法としては、その一例として、最内周と最外周でトラックピッチ調整を行い、その間の半径では最内周と最外周のそれぞれの調整結果を半径方向に線形補間する方法がある。
【０１８２】
以上の実施例では記録層上に生じる２つのレーザスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳ、Ｒ＿ＳｕｂＬＳの半径方向の距離は、サーボ層のトラックピッチＴｐに略等しくなるように配置した。しかしその距離はＴｐ以外でも構わない。例えばトラックピッチＴｐの整数倍でもよい。例えばその距離がトラックピッチＴｐの２倍である場合、記録中のトラックから２トラック離れた記録層トラック上に記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳを照射することで、Ｔｐの２倍だけ外周側の位置に記録層メインスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳの位置が制御され、情報が記録される。この場合にも、光ディスク１０２と対物レンズの相対的な傾きが変化した場合の記録済みデータの上書きは防止できるため、その場合にも記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御の利点は維持される。
【０１８３】
さらに記録層上に生じる２つのレーザスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳ、Ｒ＿ＳｕｂＬＳの半径方向の距離は、サーボ層のトラックピッチＴｐの半分であっても構わない。トラックピッチＴｐの半分である場合は、特許文献２に記載のあるように例えばサーボ層がＤＶＤ−ＲＡＭのようにＣＡＰＡ（Ｃｏｍｐｌｉｍｅｎｔａｒｙ  Ａｌｌｏｃａｔｅｄ  Ｐｉｔ  Ａｄｄｒｅｓｓ）構造を持つ場合である。この場合、マークはランド及びグルーブの両方に記録されることになるため、マーク列の半径方向の間隔はトラックピッチの半分となる。
【０１８４】
更に、上記のように２つのレーザスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳ、Ｒ＿ＳｕｂＬＳの半径方向の距離をＴｐではなくする場合に、初回記録に関する制約がどうなるかについて説明する。例えば実施例１におけるステップＳ７０５の初回記録では、ディスクの２回転以上は記録を行う必要があった。これに対し、レーザスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳ、Ｒ＿ＳｕｂＬＳの半径方向の距離がサーボ層のトラックピッチＴｐのＮ倍（Ｎ：２以上の整数）の場合、初回記録で記録しなければいけないトラックの本数を考える。内周から外周に向かって情報を記録していく場合、トラックピッチ調整中は記録層サブスポットＲ＿ＳｕｂＬＳよりＮ本のトラックだけ外周側に記録されたトラックがある必要がある。さらにトラックピッチ調整はディスク１回転をかけて信号をモニタすることが望ましい。以上から、回転に同期して１トラックジャンプを行いながらトラックピッチ調整を行うには、（Ｎ＋１）トラック以上の記録された領域でトラックピッチ調整を行う必要がある。そのため初回記録に関して、ディスクの（Ｎ＋１）回転以上は記録を行う必要がある。
【０１８５】
次に、レーザスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳ、Ｒ＿ＳｕｂＬＳの半径方向の距離がサーボ層のトラックピッチＴｐの半分の場合についても、初回記録で記録しなければいけないトラックの本数を考える。この場合、記録層トラックのトラックピッチはＴｐの半分になるが、レーザスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳ、Ｒ＿ＳｕｂＬＳの半径方向の距離は記録層トラックのトラックピッチと同一になる。トラックピッチ調整は記録層に関する調整であるので、記録層において２トラック以上の記録された領域でトラックピッチ調整を行う必要がある点は実施例１と変わらない。即ちレーザスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳ、Ｒ＿ＳｕｂＬＳの半径方向の距離がサーボ層のトラックピッチＴｐの半分の場合の初回記録においては、ディスクの２回転以上は記録を行う必要がある。
【０１８６】
以上の実施例ではＲ＿ＳｕｂＴＥ信号をＤＰＤ法で生成するとしたが、それ以外の生成法を用いる場合も同様に適用可能である。例えば異なるトラッキングエラー信号の生成方法としてＤＰＰ法が知られており、この場合にも前述の負帰還領域に関する議論も含め、同様に適用できる。
【０１８７】
また以上の実施例では、光ディスク装置１０１が記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４を備え、記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４が出力する電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊを調整することでトラックピッチ調整を行う構成とした。しかし本発明は、記録層ＳｕｂＳｐｏｔトラッキング制御を行う場合に記録層に形成される記録層トラックのトラックピッチがＴｐからずれてしまうことを見出し、その課題に対する発明である。そのため、トラックピッチを調整する方法は、記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４が出力する電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊを調整する方法以外でも良い。
【０１８８】
具体的には、光ピックアップ１０３が、記録層上に生じる２つのレーザスポットＲ＿ＭａｉｎＬＳ、Ｒ＿ＳｕｂＬＳの半径方向の距離を調整可能な光学素子を備え、その光学素子を用いて２つのレーザスポットの半径方向の距離を調整する構成としてもよい。
【０１８９】
以上の実施例では、トラッキングエラー信号にオフセットを印加する構成として、トラッキングエラー信号の電圧に対し、記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４が出力する電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊを加算器１５１５にて加算する構成とした。しかしオフセットの加算は、電圧の加算以外の形態をとっても良い。例えば信号処理回路１０５がデジタルのＬＳＩである場合、オフセットの印加はデジタル値の加算と読み替えることができることは自明である。
【０１９０】
また以上の実施例において、記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４が出力する電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊを加算する記録層トラッキングエラー信号Ｒ＿ＴＥは、図２に示すサーボエラー信号生成回路１０４にて生成される。サーボエラー信号生成回路１０４内部の各エラー信号生成回路は、総光量によるＡＧＣ（Ａｕｔｏ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）を行うことが好ましい。記録層Ｓｕｂトラッキングエラー信号生成回路１４０１が総光量によるＡＧＣ、即ちディテクタ１３２４で受光した全電気信号による正規化を行うことで、例えば手前の記録層の記録状態によって反射光量が変化した場合であってもその影響を除去できる。そのため、記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４が出力する電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊを加算する値は、手前の記録層の記録状態によらず一定とすることができる。
【０１９１】
以上の実施例では、記録層トラックピッチ調整電圧生成回路１５１４が出力する電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊが加算する対象として、記録層トラッキング制御回路１５１６の入力信号であるＲ＿ＴＥ信号としたが、電圧Ｖ＿ＴｐＡｄｊを加算する位置は記録層トラッキング制御回路１５１６の内部の信号であってもよい。
【０１９２】
なお、以上の実施例ではレーザダイオード１３０２とレーザダイオード１３１５を駆動するために同一のレーザパワー制御回路１３０１を用いたが、それぞれのレーザダイオードに固有のレーザパワー制御回路を備えても良い。また、球面収差補正素子１３０９は、４０５ｎｍの光学系および６５０ｎｍの光学系の両方に影響する位置に配置されてもよく、たとえば１／４波長板１３１０とダイクロイックミラー１３０８の間に設置しても良い。
【０１９３】
さらに、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
【０１９４】
また、上記の各構成は、それらの一部又は全部が、ハードウェアで構成されても、プロセッサでプログラムが実行されることにより実現されるように構成されてもよい。また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。
【符号の説明】
【０１９５】
１０１…光ディスク装置
１０２…光ディスク
１０３…光ピックアップ
１０４…信号処理回路
１０５…サーボエラー信号生成回路
１０６…信号処理回路
１０７…スピンドルモータ
１０８…スピンドル駆動回路
１０９…アクチュエータ駆動回路
１１０…リレーレンズ駆動回路
１１１…収差補正素子駆動回路
１１２…スライダモータ
１１３…スライダ駆動回路
１１４…ホスト
１３０１…レーザパワー制御回路
１３０２…レーザダイオード
１３０３…コリメータレンズ
１３０４…ビームスプリッタ
１３０５…集光レンズ
１３０６…パワーモニタ
１３０７…偏光ビームスプリッタ
１３０８…ダイクロイックミラー
１３０９…収差補正素子
１３１０…１／４波長板
１３１１…対物レンズ
１３１２…アクチュエータ
１３１３…集光レンズ
１３１４…ディテクタ
１３１５…レーザダイオード
１３１６…コリメータレンズ
１３１７…ビームスプリッタ
１３１８…集光レンズ
１３１９…パワーモニタ
１３２０…偏光ビームスプリッタ
１３２１…リレーレンズ
１３２２…集光レンズ
１３２３…ディテクタ
１３２４…ディテクタ
１４０１…記録層Ｓｕｂトラッキングエラー信号生成回路
１４０２…記録層Ｍａｉｎトラッキングエラー信号生成回路
１４０３…サーボ層トラッキングエラー信号生成回路
１４０４…記録層フォーカスエラー信号生成回路
１４０５…サーボ層フォーカスエラー信号生成回路
１５０１…システム制御回路
１５０２…記録層フォーカス制御回路
１５０３…スイッチ
１５０４…記録層フォーカス駆動電圧生成回路
１５０５…加算器
１５０６…サーボ層フォーカス制御回路
１５０７…スイッチ
１５０８…サーボ層フォーカス駆動電圧生成回路
１５０９…加算器
１５１０…サーボ層トラッキング制御回路
１５１１…スイッチ
１５１２…セレクタ
１５１３…セレクタ
１５１４…記録層トラックピッチ調整電圧生成回路
１５１５…加算器
１５１６…記録層トラッキング制御回路
１５１７…スイッチ
１５１８…セレクタ
１５１９…トラッキング駆動電圧生成回路
１５２０…加算器
１５２１…スライダ制御回路
１５２２…スピンドル制御回路
１５２３…記録層ＭａｉｎＴＥ信号モニタ回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
2013157045.tif 000012
【図１１】
2013157045.tif 000013
【図１２】
2013157045.tif 000014
【図１３】
2013157045.tif 000015
【図１４】
2013157045.tif 000016
【図１５】
2013157045.tif 000017
【図１６】
2013157045.tif 000018
【図１７】
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