(57)【要約】【課題】平均値を短時間で取得可能とし、かつ製造コストを低減する。【解決手段】１個目の測定値が出力されたときに、その測定値を、合計値、最大値および最小値としてそれぞれ記憶させる第１処理を実行し（ステップ１１）、Ｍ個目の測定値が出力されたときに、Ｍ個目の測定値を加算して新たな合計値として記憶させる処理Ａ（ステップ１３，１４）、Ｍ個目の測定値の方が最大値記憶部に記憶されている最大値よりも大きいときにＭ個目の測定値を新たな最大値として記憶させる処理Ｂ（ステップ１５，１６）、Ｍ個目の測定値の方が最小値記憶部に記憶されている最小値よりも小さいときにＭ個目の測定値を新たな最小値として記憶させる処理Ｃを実行し（ステップ１７，１８）、Ｎ個目の測定値を対象とする処理Ａ〜Ｃを完了したときに（ステップ１９）、合計値から最大値および最小値を差し引いた値を（Ｎ−２）で除して平均値を取得する（ステップ２０）。【選択図】図３
2013242203.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
物理量を測定して測定値を出力する測定部と、前記測定部から出力されたＮ個（Ｎは、４以上の自然数）の前記測定値のうちの最大値および最小値を除く（Ｎ−２）個の当該測定値の平均値を取得する処理部とを備えた測定装置であって、
前記測定値の合計値を記憶する合計値記憶部、前記最大値を記憶する最大値記憶部、および前記最小値を記憶する最小値記憶部を備え、
前記処理部は、前記Ｎ個の測定値のうちの１個目の当該測定値が前記測定部から出力されたときに、当該１個目の測定値を前記合計値として前記合計値記憶部に記憶させると共に、当該１個目の測定値を前記最大値として前記最大値記憶部に記憶させ、かつ、当該１個目の測定値を前記最小値として前記最小値記憶部に記憶させる第１処理を実行し、前記Ｎ個の測定値のうちのＭ個目（Ｍは、２以上Ｎ以下の各自然数）の当該測定値が前記測定部から出力されたときに、前記合計値記憶部に記憶されている前記合計値に当該Ｍ個目の測定値を加算して新たな前記合計値として当該合計値記憶部に記憶させる処理Ａと、前記Ｍ個目の測定値が前記最大値記憶部に記憶されている前記最大値よりも大きいか否かを判別して当該Ｍ個目の測定値の方が大きいときに当該Ｍ個目の測定値を新たな前記最大値として当該最大値記憶部に記憶させる処理Ｂと、前記Ｍ個目の測定値が前記最小値記憶部に記憶されている前記最小値よりも小さいか否かを判別して当該Ｍ個目の測定値の方が小さいときに当該Ｍ個目の測定値を新たな前記最小値として当該最小値記憶部に記憶させる処理Ｃとを実行し、前記測定部から出力されたＮ個目の前記測定値を対象とする前記処理Ａ、前記処理Ｂおよび前記処理Ｃを完了したときに、前記合計値記憶部に記憶されている前記合計値から前記最大値記憶部に記憶されている前記最大値と前記最小値記憶部に記憶されている前記最小値とを差し引いた値を（Ｎ−２）で除すことで前記平均値を取得する測定装置。
【請求項２】
物理量を測定して測定値を出力する測定部と、前記測定部から出力されたＮ個（Ｎは、３以上の自然数）の前記測定値のうちの最大値を除く（Ｎ−１）個の当該測定値の平均値を取得する処理部とを備えた測定装置であって、
前記測定値の合計値を記憶する合計値記憶部、および前記最大値を記憶する最大値記憶部を備え、
前記処理部は、前記Ｎ個の測定値のうちの１個目の当該測定値が前記測定部から出力されたときに、当該１個目の測定値を前記合計値として前記合計値記憶部に記憶させると共に、当該１個目の測定値を前記最大値として前記最大値記憶部に記憶させる第２処理を実行し、前記Ｎ個の測定値のうちのＭ個目（Ｍは、２以上Ｎ以下の各自然数）の当該測定値が前記測定部から出力されたときに、前記合計値記憶部に記憶されている前記合計値に当該Ｍ個目の測定値を加算して新たな前記合計値として当該合計値記憶部に記憶させる処理Ａと、前記Ｍ個目の測定値が前記最大値記憶部に記憶されている前記最大値よりも大きいか否かを判別して当該Ｍ個目の測定値の方が大きいときに当該Ｍ個目の測定値を新たな前記最大値として当該最大値記憶部に記憶させる処理Ｂとを実行し、前記測定部から出力されたＮ個目の前記測定値を対象とする前記処理Ａおよび前記処理Ｂを完了したときに、前記合計値記憶部に記憶されている前記合計値から前記最大値記憶部に記憶されている前記最大値を差し引いた値を（Ｎ−１）で除すことで前記平均値を取得する測定装置。
【請求項３】
物理量を測定して測定値を出力する測定部と、前記測定部から出力されたＮ個（Ｎは、３以上の自然数）の前記測定値のうちの最小値を除く（Ｎ−１）個の当該測定値の平均値を取得する処理部とを備えた測定装置であって、
前記測定値の合計値を記憶する合計値記憶部、および前記最小値を記憶する最小値記憶部を備え、
前記処理部は、前記Ｎ個の測定値のうちの１個目の当該測定値が前記測定部から出力されたときに、当該１個目の測定値を前記合計値として前記合計値記憶部に記憶させると共に、当該１個目の測定値を前記最小値として前記最小値記憶部に記憶させる第３処理を実行し、前記Ｎ個の測定値のうちのＭ個目（Ｍは、２以上Ｎ以下の各自然数）の当該測定値が前記測定部から出力されたときに、前記合計値記憶部に記憶されている前記合計値に当該Ｍ個目の測定値を加算して新たな前記合計値として当該合計値記憶部に記憶させる処理Ａと、前記Ｍ個目の測定値が前記最小値記憶部に記憶されている前記最小値よりも小さいか否かを判別して当該Ｍ個目の測定値の方が小さいときに当該Ｍ個目の測定値を新たな前記最小値として当該最小値記憶部に記憶させる処理Ｃとを実行し、前記測定部から出力されたＮ個目の前記測定値を対象とする前記処理Ａおよび前記処理Ｃを完了したときに、前記合計値記憶部に記憶されている前記合計値から前記最小値記憶部に記憶されている前記最小値を差し引いた値を（Ｎ−１）で除すことで前記平均値を取得する測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の測定値のうちの最大値および最小値の少なくとも一方を除く測定値の平均値を取得可能に構成された測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の測定装置として、複数の測定値（電流値）を平均化した平均値に基づいて抵抗値を演算する構成の絶縁抵抗測定装置が特開平８−１２２３７３号公報に開示されている。この絶縁抵抗測定装置による絶縁抵抗の測定処理に際しては、まず、ＡＤコンバータから順次出力される変換値（測定値）に比例定数を乗じて電流値を求め、求めた電流値を電流値Ｉ（１）〜Ｉ（ｎ）として記憶する。また、ｎ回のサンプリングが終了したときに、電流値Ｉ（１）〜Ｉ（ｎ）をソートして最大値および最小値をそれぞれ抽出すると共に、抽出した最大値および最小値を除く（ｎ−２）個の電流値を平均化して平均値Ｉｍ１を算出する。次いで、予め規定された時間が経過した後に、上記のｎ回のサンプリング時と同様にｎ個の電流値Ｉ（１）〜Ｉ（ｎ）を再び取得し、このｎ個の電流値Ｉ（１）〜Ｉ（ｎ）のうちの最大値および最小値を除く（ｎ−２）個の電流値を平均化して平均値Ｉｍ２を算出する。
【０００３】
次いで、平均値Ｉｍ１から平均値Ｉｍ２を差し引いた値ｄと電源容量低下判定用しきい値ｄｍａｘとの大小を比較する。この際に、値ｄがしきい値ｄｍａｘ以上のときには、電源電池の容量が低下しているものして警告表示する。一方、値ｄがしきい値ｄｍａｘよりも小さいときには、平均値Ｉｍ１と平均値Ｉｍ２とを平均化して平均値Ｉｍを算出すると共に、測定用電圧Ｖｃｃの電圧値を平均値Ｉｍで除して絶縁抵抗値Ｒを算出する。これにより、測定処理が完了して、算出された絶縁抵抗値Ｒが表示部に表示される。この場合、この絶縁抵抗測定装置では、平均値Ｉｍ，Ｉｍ２の算出時に、ｎ個の電流値のうちの最大値および最小値を除く（ｎ−２）個の電流値を平均化する構成が採用されており、これにより、測定誤差が生じて過剰に大きな値として測定された電流値や、過剰に小さな値として測定された電流値の影響によって測定精度が低下する事態が回避されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平８−１２２３７３号公報（第３−４頁、第１−６図）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところが、従来の絶縁抵抗測定装置には、以下の解決すべき問題点が存在する。すなわち、従来の絶縁抵抗測定装置では、ｎ回のサンプリングが終了した後に、ｎ個の電圧値をソートして最大値および最小値を抽出すると共に、抽出した最大値および最小値を除く（ｎ−２）個の電圧値を平均化することで平均値Ｉｍ１，Ｉｍ２を取得する構成が採用されている。この場合、ｎ回のサンプリングが終了した後に、最大値および最小値の抽出処理や、（ｎ−２）個の電圧値の平均化処理を実行する従来の絶縁抵抗測定装置では、ｎ個の電圧値のすべてを記憶可能な大きな記憶容量を確保する必要がある。このため、従来の絶縁抵抗測定装置では、記憶用のメモリとして大容量のメモリを搭載しなくてはならず、これに起因して、製造コストの低減が困難になっているという問題点がある。
【０００６】
また、従来の絶縁抵抗測定装置では、上記したように、ｎ個の電流値をソートして最大値および最小値をそれぞれ抽出する構成が採用されている。この場合、複数の値を対象とするソートには長い処理時間を要する。このため、従来の絶縁抵抗測定装置では、ｎ回のサンプリングが終了してから、（ｎ−２）個の電圧値の平均化処理を開始するまでに長時間を要することから、結果として、平均値Ｉｍ１，Ｉｍ２を短時間で取得するのが困難になっているという問題点も存在する。
【０００７】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、平均値を短時間で取得することができ、しかも、製造コストの低減を図り得る測定装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成すべく、請求項１記載の測定装置は、物理量を測定して測定値を出力する測定部と、前記測定部から出力されたＮ個（Ｎは、４以上の自然数）の前記測定値のうちの最大値および最小値を除く（Ｎ−２）個の当該測定値の平均値を取得する処理部とを備えた測定装置であって、前記測定値の合計値を記憶する合計値記憶部、前記最大値を記憶する最大値記憶部、および前記最小値を記憶する最小値記憶部を備え、前記処理部は、前記Ｎ個の測定値のうちの１個目の当該測定値が前記測定部から出力されたときに、当該１個目の測定値を前記合計値として前記合計値記憶部に記憶させると共に、当該１個目の測定値を前記最大値として前記最大値記憶部に記憶させ、かつ、当該１個目の測定値を前記最小値として前記最小値記憶部に記憶させる第１処理を実行し、前記Ｎ個の測定値のうちのＭ個目（Ｍは、２以上Ｎ以下の各自然数）の当該測定値が前記測定部から出力されたときに、前記合計値記憶部に記憶されている前記合計値に当該Ｍ個目の測定値を加算して新たな前記合計値として当該合計値記憶部に記憶させる処理Ａと、前記Ｍ個目の測定値が前記最大値記憶部に記憶されている前記最大値よりも大きいか否かを判別して当該Ｍ個目の測定値の方が大きいときに当該Ｍ個目の測定値を新たな前記最大値として当該最大値記憶部に記憶させる処理Ｂと、前記Ｍ個目の測定値が前記最小値記憶部に記憶されている前記最小値よりも小さいか否かを判別して当該Ｍ個目の測定値の方が小さいときに当該Ｍ個目の測定値を新たな前記最小値として当該最小値記憶部に記憶させる処理Ｃとを実行し、前記測定部から出力されたＮ個目の前記測定値を対象とする前記処理Ａ、前記処理Ｂおよび前記処理Ｃを完了したときに、前記合計値記憶部に記憶されている前記合計値から前記最大値記憶部に記憶されている前記最大値と前記最小値記憶部に記憶されている前記最小値とを差し引いた値を（Ｎ−２）で除すことで前記平均値を取得する。
【０００９】
また、請求項２記載の測定装置は、物理量を測定して測定値を出力する測定部と、前記測定部から出力されたＮ個（Ｎは、３以上の自然数）の前記測定値のうちの最大値を除く（Ｎ−１）個の当該測定値の平均値を取得する処理部とを備えた測定装置であって、前記測定値の合計値を記憶する合計値記憶部、および前記最大値を記憶する最大値記憶部を備え、前記処理部は、前記Ｎ個の測定値のうちの１個目の当該測定値が前記測定部から出力されたときに、当該１個目の測定値を前記合計値として前記合計値記憶部に記憶させると共に、当該１個目の測定値を前記最大値として前記最大値記憶部に記憶させる第２処理を実行し、前記Ｎ個の測定値のうちのＭ個目（Ｍは、２以上Ｎ以下の各自然数）の当該測定値が前記測定部から出力されたときに、前記合計値記憶部に記憶されている前記合計値に当該Ｍ個目の測定値を加算して新たな前記合計値として当該合計値記憶部に記憶させる処理Ａと、前記Ｍ個目の測定値が前記最大値記憶部に記憶されている前記最大値よりも大きいか否かを判別して当該Ｍ個目の測定値の方が大きいときに当該Ｍ個目の測定値を新たな前記最大値として当該最大値記憶部に記憶させる処理Ｂとを実行し、前記測定部から出力されたＮ個目の前記測定値を対象とする前記処理Ａおよび前記処理Ｂを完了したときに、前記合計値記憶部に記憶されている前記合計値から前記最大値記憶部に記憶されている前記最大値を差し引いた値を（Ｎ−１）で除すことで前記平均値を取得する。
【００１０】
また、請求項３記載の測定装置は、物理量を測定して測定値を出力する測定部と、前記測定部から出力されたＮ個（Ｎは、３以上の自然数）の前記測定値のうちの最小値を除く（Ｎ−１）個の当該測定値の平均値を取得する処理部とを備えた測定装置であって、前記測定値の合計値を記憶する合計値記憶部、および前記最小値を記憶する最小値記憶部を備え、前記処理部は、前記Ｎ個の測定値のうちの１個目の当該測定値が前記測定部から出力されたときに、当該１個目の測定値を前記合計値として前記合計値記憶部に記憶させると共に、当該１個目の測定値を前記最小値として前記最小値記憶部に記憶させる第３処理を実行し、前記Ｎ個の測定値のうちのＭ個目（Ｍは、２以上Ｎ以下の各自然数）の当該測定値が前記測定部から出力されたときに、前記合計値記憶部に記憶されている前記合計値に当該Ｍ個目の測定値を加算して新たな前記合計値として当該合計値記憶部に記憶させる処理Ａと、前記Ｍ個目の測定値が前記最小値記憶部に記憶されている前記最小値よりも小さいか否かを判別して当該Ｍ個目の測定値の方が小さいときに当該Ｍ個目の測定値を新たな前記最小値として当該最小値記憶部に記憶させる処理Ｃとを実行し、前記測定部から出力されたＮ個目の前記測定値を対象とする前記処理Ａおよび前記処理Ｃを完了したときに、前記合計値記憶部に記憶されている前記合計値から前記最小値記憶部に記憶されている前記最小値を差し引いた値を（Ｎ−１）で除すことで前記平均値を取得する。
【発明の効果】
【００１１】
請求項１記載の測定装置では、１個目の測定値が測定部から出力されたときに、その測定値を、合計値記憶部、最大値記憶部および最小値記憶部にそれぞれ記憶させる第１処理を実行し、Ｍ個目の測定値が測定部から出力されたときに、処理Ａを実行して合計値を更新すると共に、処理Ｂおよび処理Ｃを実行して必要に応じて最大値や最小値を更新し、Ｎ個目の測定値を対象とする処理Ａ、処理Ｂおよび処理Ｃを完了したときに、合計値記憶部に記憶されている合計値から最大値記憶部に記憶されている最大値と最小値記憶部に記憶されている最小値とを差し引いた値を（Ｎ−２）で除すことで平均値を取得する。
【００１２】
したがって、請求項１記載の測定装置によれば、合計値記憶部、最大値記憶部および最小値記憶部の３つの記憶部を備えているだけで、Ｎ個の測定値のうちの最大値および最小値を除く（Ｎ−２）個の測定値を平均化して平均値を取得するのに必要な情報を保持することができるため、ｎ個の測定値を記憶可能な大容量の記憶部を必要とする従来の絶縁抵抗測定装置と比較して、製造コストを充分に低減することができる。また、２個目以降の測定値が出力される都度、出力された測定値に応じて最大値や最小値が更新されて、Ｎ個の測定値についての処理Ｂおよび処理Ｃを完了した時点で、Ｎ個の測定値のうちの最大値および最小値が特定されるため、ｎ個の測定値が揃った時点でこれらをソートして最大値および最小値を抽出する必要がある従来の絶縁抵抗測定装置とは異なり、（ｎ−２）個の測定値の平均化処理を開始するまでに要する時間を充分に短縮することができる結果、平均値を短時間で取得することができる。
【００１３】
請求項２記載の測定装置では、１個目の測定値が測定部から出力されたときに、その測定値を、合計値記憶部および最大値記憶部にそれぞれ記憶させる第２処理を実行し、Ｍ個目の測定値が測定部から出力されたときに、処理Ａを実行して合計値を更新すると共に、処理Ｂを実行して必要に応じて最大値を更新し、Ｎ個目の測定値を対象とする処理Ａおよび処理Ｂを完了したときに、合計値記憶部に記憶されている合計値から最大値記憶部に記憶されている最大値を差し引いた値を（Ｎ−１）で除すことで平均値を取得する。
【００１４】
したがって、請求項２記載の測定装置によれば、合計値記憶部および最大値記憶部の２つの記憶部を備えているだけで、Ｎ個の測定値のうちの最大値を除く（Ｎ−１）個の測定値を平均化して平均値を取得するのに必要な情報を保持することができるため、ｎ個の測定値を記憶可能な大容量の記憶部を必要とする測定装置と比較して、製造コストを充分に低減することができる。また、２個目以降の測定値が出力される都度、出力された測定値に応じて最大値が更新されて、Ｎ個の測定値についての処理Ｂを完了した時点で、Ｎ個の測定値のうちの最大値が特定されるため、ｎ個の測定値が揃った時点でこれらをソートして最大値を抽出する必要がある測定装置とは異なり、（ｎ−１）個の測定値の平均化処理を開始するまでに要する時間を充分に短縮することができる結果、平均値を短時間で取得することができる。
【００１５】
請求項３記載の測定装置では、１個目の測定値が測定部から出力されたときに、その測定値を、合計値記憶部および最小値記憶部にそれぞれ記憶させる第３処理を実行し、Ｍ個目の測定値が測定部から出力されたときに、処理Ａを実行して合計値を更新すると共に、処理Ｃを実行して必要に応じて最小値を更新し、Ｎ個目の測定値を対象とする処理Ａおよび処理Ｃを完了したときに、合計値記憶部に記憶されている合計値から最小値記憶部に記憶されている最小値を差し引いた値を（Ｎ−１）で除すことで平均値を取得する。
【００１６】
したがって、請求項３記載の測定装置によれば、合計値記憶部および最小値記憶部の２つの記憶部を備えているだけで、Ｎ個の測定値のうちの最小値を除く（Ｎ−１）個の測定値を平均化して平均値を取得するのに必要な情報を保持することができるため、ｎ個の測定値を記憶可能な大容量の記憶部を必要とする測定装置と比較して、製造コストを充分に低減することができる。また、２個目以降の測定値が出力される都度、出力された測定値に応じて最小値が更新されて、Ｎ個の測定値についての処理Ｃを完了した時点で、Ｎ個の測定値のうちの最小値が特定されるため、ｎ個の測定値が揃った時点でこれらをソートして最小値を抽出する必要がある測定装置とは異なり、（ｎ−１）個の測定値の平均化処理を開始するまでに要する時間を充分に短縮することができる結果、平均値を短時間で取得することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】測定装置１のブロック図である。
【図２】測定装置１における記憶部６内に規定された各記憶領域Ａａ〜Ａｃについて説明するための説明図である。
【図３】平均値取得処理１０のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、測定装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１９】
図１に示す測定装置１は、「測定装置」の一例である絶縁抵抗測定装置であって、測定部２、操作部３、表示部４、制御部５および記憶部６を備えて測定結果（抵抗値）を表示部４に表示させることができるように構成されている。測定部２は、「測定部」の一例であって、測定対象についての各種物理量（電気的パラメータ：電流値、電圧値、抵抗値および位相など：一例として、電流値）を測定可能に構成されている。具体的には、測定部２は、制御部５の制御に従い、測定対象を流れる電流を予め設定されたサンプリング周期でサンプリングして（電流値を測定して）測定データＤｓ（「測定値」のデジタルデータ）を生成すると共に、生成した測定データＤｓを制御部５に出力する。
【００２０】
操作部３は、測定部２による測定処理の条件や表示部４による測定結果の表示条件などの各種動作条件の設定操作を行うための操作スイッチを備え、スイッチ操作に応じた操作信号を制御部５に出力する。表示部４は、制御部５の制御に従い、測定装置１の動作条件を設定するための動作条件設定画面や、測定部２による測定処理の結果を表示するための測定結果表示画面（いずれも図示せず）などを表示する。なお、表示部４を備えた測定装置１を例に挙げて説明するが、外部装置としての表示装置に上記の各種表示画面を表示させる構成を採用することもできる。
【００２１】
制御部５は、測定装置１を総括的に制御する。具体的には、制御部５は、測定部２を制御して測定処理を実行させる。また、制御部５は、「処理部」に相当し、後述するように測定部２から測定データＤｓが出力されたときに、図３に示す平均値取得処理１０を実行して、各測定データＤｓに基づいて特定される複数の測定値（「Ｎ個の測定値」の一例）のうちの最大値および最小値を除く測定値の平均値を演算する。さらに、制御部５は、演算した平均値を測定対象についての抵抗値として表示部４に表示させる。記憶部６は、図２に示すように、合計値記憶領域Ａａ（「合計値記憶部」の一例）、最大値記憶領域Ａｂ（「最大値記憶部」の一例）および最小値記憶領域Ａｃ（「最小値記憶部」の一例）を備えて制御部５の演算結果を一時的に記憶する。
【００２２】
この測定装置１によって測定対象の絶縁抵抗を測定する際には、まず、図示しない測定ケーブルを用いて測定部２を測定対象に接続すると共に、操作部３の測定開始スイッチを操作する。これに応じて、制御部５は、測定部２を制御して測定処理を開始させる。この際に、測定部２は、測定ケーブルを介して測定対象に測定用の電圧を印加すると共に、測定対象を流れる電流を所定のサンプリング周期でサンプリングして測定データＤｓを生成し、生成した測定データＤｓを制御部５に順次出力する。なお、下記の例では、一例として、２０個の測定値のうちの最大値および最小値を除く１８個の測定値を平均化して平均値を取得するように予め設定されているものとする（「Ｎ＝２０」の例）。
【００２３】
一方、測定部２から１個目の測定データＤｓが出力されたとき（「Ｎ個の測定値のうちの１個目の測定値が測定部から出力されたとき」の一例）に、制御部５は、図３に示す平均値取得処理１０を開始する。この平均値取得処理１０では、制御部５は、１個目の測定データＤｓの値を仮の「合計値」として合計値記憶領域Ａａに記憶させると共に、１個目の測定データＤｓの値を仮の「最大値」として最大値記憶領域Ａｂに記憶させ、かつ、１個目の測定データＤｓの値を仮の「最小値」として最小値記憶領域Ａｃに記憶させる（「第１処理」の一例：ステップ１１）。次いで、制御部５は、測定部２から次の測定データＤｓ（この例では、２個目の測定データＤｓ）が出力されたか否かを監視する（ステップ１２）。
【００２４】
また、次の測定データＤｓが出力されたとき（「Ｎ個の測定値のうちのＭ＝２個目の測定値が測定部から出力されたとき」の一例）に、制御部５は、合計値記憶領域Ａａに記憶させるべき「合計値」を演算する（ステップ１３）。具体的には、制御部５は、合計値記憶領域Ａａに記憶されている「合計値」（この例では、１個目の測定データＤｓの値）に、測定部２から新たに出力された測定データＤｓの値（この例では、２個目の測定データＤｓの値）を加算して新たな「合計値」を算出する。次いで、制御部５は、合計値記憶領域Ａａに記憶されている「合計値」に代えて、ステップ１３において算出した新たな「合計値」を合計値記憶領域Ａａに記憶させることによって「合計値」を更新する（ステップ１４）。なお、本例では、上記のステップ１３，１４が「処理Ａ」に相当する。
【００２５】
続いて、制御部５は、測定部２から新たに出力された測定データＤｓの値（この例では、Ｍ＝２個目の測定データＤｓの値）が、最大値記憶領域Ａｂに記憶されている「最大値」（この例では、１個目の測定データＤｓの値）よりも大きいか否かを判別する（ステップ１５）。この際に、新たに出力された測定データＤｓの値の方が、最大値記憶領域Ａｂに記憶されている「最大値」よりも大きいときには、制御部５は、最大値記憶領域Ａｂに記憶されている「最大値」に代えて、新たに出力された測定データＤｓの値を新たな「最大値」として最大値記憶領域Ａｂに記憶させることによって「最大値」を更新する（ステップ１６）。なお、本例では、上記のステップ１５，１６が「処理Ｂ」に相当する。
【００２６】
また、新たに出力された測定データＤｓの値が最大値記憶領域Ａｂに記憶されている「最大値」以下のとき（ステップ１５）や、上記のステップ１６の処理を完了したときに、制御部５は、測定部２から新たに出力された測定データＤｓの値（この例では、Ｍ＝２個目の測定データＤｓの値）が、最小値記憶領域Ａｃに記憶されている「最小値」（この例では、１個目の測定データＤｓの値）よりも小さいか否かを判別する（ステップ１７）。この際に、新たに出力された測定データＤｓの値の方が、最大値記憶領域Ａｂに記憶されている「最大値」よりも小さいときには、制御部５は、最小値記憶領域Ａｃに記憶されている「最小値」に代えて、新たに出力された測定データＤｓの値を新たな「最小値」として最小値記憶領域Ａｃに記憶させることによって「最小値」を更新する（ステップ１８）。なお、本例では、上記のステップ１７，１８が「処理Ｃ」に相当する。
【００２７】
さらに、新たに出力された測定データＤｓの値が最小値記憶領域Ａｃに記憶されている「最小値」以上のとき（ステップ１７）や、上記のステップ１８の処理を完了したときに、制御部５は、Ｎ個の測定データＤｓ（この例では、Ｎ＝２０個の測定データＤｓ）が測定部２から出力されたか否かを判別する（ステップ１９）。この際に、Ｎ個の測定データＤｓが測定部２から出力されていないとき（例えば、本例のようにＭ＝２個の測定データＤｓしか出力されていないとき）には、制御部５は、上記のステップ１２に戻って、新たな測定データＤｓが測定部２から出力されたか否かを監視すると共に、新たな測定データＤｓが出力されたときに、上記のステップ１３以降の処理を実行する。
【００２８】
これにより、測定部２からＮ＝Ｍ＝２０個の測定データＤｓが出力されたときには、Ｎ個の測定データＤｓの値の「合計値」が合計値記憶領域Ａａに記憶され、Ｎ個の測定データＤｓの値のうちの「最大値」が最大値記憶領域Ａｂに記憶され、かつ、Ｎ個の測定データＤｓの値のうちの「最小値」が最小値記憶領域Ａｃに記憶された状態となる。一方、Ｎ＝Ｍ＝２０個の測定データＤｓが測定部２から出力されて、これら各測定データＤｓの値を対象とする上記の一連の処理を完了したときに（ステップ１９）、制御部５は、（Ｎ−２）＝１８個の測定データＤｓの値の「平均値」を演算する（ステップ２０）。具体的には、制御部５は、合計値記憶領域Ａａに記憶されている「合計値」から、最大値記憶領域Ａｂに記憶されている「最大値」と、最小値記憶領域Ａｃに記憶されている「最小値」とを差し引いた値を（Ｎ−２）＝１８で除すことで「平均値」を演算する。
【００２９】
この場合、本例の測定装置１では、測定部２から新たな測定データＤｓが出力される都度、その測定データＤｓの値が、最大値記憶領域Ａｂに記憶されている「最大値」よりも大きいかの判別（ステップ１５）、および最小値記憶領域Ａｃに記憶されている「最小値」よりも小さいかの判別（ステップ１７）を実行して、最大値記憶領域Ａｂに記憶されている「最大値」よりも大きいときに「最大値」を更新する（ステップ１６）と共に、最小値記憶領域Ａｃに記憶されている「最小値」よりも小さいときに「最小値」を更新する（ステップ１８）構成が採用されている。したがって、この測定装置１では、測定部２からＮ個の測定データＤｓが出力された後にＮ個の測定データＤｓの値をソートする煩雑な処理を実行することなく、「最大値」および「最小値」が特定される。
【００３０】
これにより、この測定装置１では、ｎ個の電流値のすべてを記憶しておき、平均値を算出する直前にこのｎ個の電流値をソートして最大値および最小値を抽出する構成の従来の絶縁抵抗測定装置とは異なり、「最大値」や「最小値」を特定するために実行する処理が、各測定データＤｓの出力時点に分散される分だけ、制御部５にかかる負荷が平均化される。この後、制御部５は、この平均値取得処理１０を終了すると共に、平均値取得処理１０によって取得した「平均値（この例では、電流値）」と、測定部２から印加した測定用電圧の電圧値とに基づき、測定対象の絶縁抵抗値を演算する。また、制御部５は、演算結果を表示部４に表示させる。これにより、抵抗値の測定処理が完了し、測定対象の絶縁抵抗値が表示部４に表示される。
【００３１】
このように、この測定装置１では、１個目の測定データＤｓの値が測定部２から出力されたときに、その測定データＤｓの値を、合計値記憶領域Ａａ、最大値記憶領域Ａｂおよび最小値記憶領域Ａｃにそれぞれ記憶させる「第１処理」を実行し、Ｍ個目の測定データＤｓの値が測定部２から出力されたときに、「処理Ａ」を実行して「合計値」を更新すると共に（ステップ１３，１４）、「処理Ｂ」および「処理Ｃ」を実行して必要に応じて「最大値」や「最小値」を更新し（ステップ１５〜１８）、Ｎ個目の測定データＤｓの値を対象とする「処理Ａ」、「処理Ｂ」および「処理Ｃ」を完了したときに、合計値記憶領域Ａａに記憶されている「合計値」から最大値記憶領域Ａｂに記憶されている「最大値」と最小値記憶領域Ａｃに記憶されている「最小値」とを差し引いた値を（Ｎ−２）で除すことで「平均値」を取得する。
【００３２】
したがって、この測定装置１によれば、合計値記憶領域Ａａ、最大値記憶領域Ａｂおよび最小値記憶領域Ａｃの３つの記憶領域を備えているだけで、Ｎ個の測定データＤｓの値のうちの「最大値」および「最小値」を除く（Ｎ−２）個の測定データＤｓの値を平均化して「平均値」を取得するのに必要な情報を保持することができるため、ｎ個の測定値を記憶可能な大容量の記憶部を必要とする従来の絶縁抵抗測定装置と比較して、製造コストを充分に低減することができる。また、２個目以降の測定データＤｓが出力される都度、出力された測定データＤｓの値に応じて「最大値」や「最小値」が更新されて、Ｎ個の測定データＤｓについての「処理Ｂ」および「処理Ｃ」を完了した時点で、Ｎ個の測定データＤｓのうちの「最大値」および「最小値」が特定されるため、ｎ個の測定値が揃った時点でこれらをソートして「最大値」および「最小値」を抽出する必要がある従来の絶縁抵抗測定装置とは異なり、（ｎ−２）個の測定値の平均化処理を開始するまでに要する時間を充分に短縮することができる結果、「平均値」を短時間で取得することができる。
【００３３】
なお、「測定装置」の構成は、上記の測定装置１の構成の例に限定されない。例えば、Ｎ個の測定データＤｓの値のうちの「最大値」および「最小値」を除く（Ｎ−２）個の測定データＤｓの値を平均化して「平均値」を取得する際に、「第１処理」、「処理Ａ」、「処理Ｂ」および「処理Ｃ」を実行してＮ個の測定データＤｓの値の「合計値」と、Ｎ個の測定データＤｓの値のうちの「最大値」および「最小値」とを特定する構成の測定装置１について説明したが、Ｎ個の測定データＤｓの値のうちの「最大値」を除く（Ｎ−１）個の測定データＤｓの値を平均化して「平均値」を取得する構成の「測定装置」や、Ｎ個の測定データＤｓの値のうちの「最小値」を除く（Ｎ−１）個の測定データＤｓの値を平均化して「平均値」を取得する構成の「測定装置」においても、製造コストの低減を図りつつ、短時間で「平均値」を取得可能に構成することができる。
【００３４】
具体的には、Ｎ個の測定データＤｓの値のうちの「最大値」を除く（Ｎ−１）個の測定データＤｓの値を平均化して「平均値」を取得する構成の「測定装置」では、１個目の測定データＤｓの値が測定部２から出力されたときに、前述した「第１処理」に代えて、出力された測定データＤｓの値を、合計値記憶領域Ａａおよび最大値記憶領域Ａｂにそれぞれ記憶させる「第２処理」を実行し、Ｍ個目の測定データＤｓの値が測定部２から出力されたときに、「処理Ａ」を実行して「合計値」を更新すると共に、「処理Ｂ」を実行して必要に応じて「最大値」を更新し、Ｎ個目の測定データＤｓの値を対象とする「処理Ａ」および「処理Ｂ」を完了したときに、合計値記憶領域Ａａに記憶されている「合計値」から最大値記憶領域Ａｂに記憶されている「最大値」を差し引いた値を（Ｎ−１）で除すことで「平均値」を取得する。
【００３５】
このような構成を採用した「測定装置」によれば、合計値記憶領域Ａａおよび最大値記憶領域Ａｂの２つの記憶領域を備えているだけで、Ｎ個の測定データＤｓの値のうちの「最大値」を除く（Ｎ−１）個の測定データＤｓの値を平均化して「平均値」を取得するのに必要な情報を保持することができるため、ｎ個の測定値を記憶可能な大容量の記憶部を必要とする測定装置と比較して、製造コストを充分に低減することができる。また、２個目以降の測定データＤｓが出力される都度、出力された測定データＤｓの値に応じて「最大値」が更新されて、Ｎ個の測定データＤｓについての「処理Ｂ」を完了した時点で、Ｎ個の測定データＤｓのうちの「最大値」が特定されるため、ｎ個の測定値が揃った時点でこれらをソートして「最大値」を抽出する必要がある測定装置とは異なり、（ｎ−１）個の測定値の平均化処理を開始するまでに要する時間を充分に短縮することができる結果、「平均値」を短時間で取得することができる。
【００３６】
また、Ｎ個の測定データＤｓの値のうちの「最小値」を除く（Ｎ−１）個の測定データＤｓの値を平均化して「平均値」を取得する構成の「測定装置」では、１個目の測定データＤｓの値が測定部２から出力されたときに、前述した「第１処理」に代えて、出力された測定データＤｓの値を、合計値記憶領域Ａａおよび最小値記憶領域Ａｃにそれぞれ記憶させる「第３処理」を実行し、Ｍ個目の測定データＤｓの値が測定部２から出力されたときに、「処理Ａ」を実行して「合計値」を更新すると共に、「処理Ｃ」を実行して必要に応じて「最小値」を更新し、Ｎ個目の測定データＤｓの値を対象とする「処理Ａ」および「処理Ｃ」を完了したときに、合計値記憶領域Ａａに記憶されている「合計値」から最小値記憶領域Ａｃに記憶されている「最小値」を差し引いた値を（Ｎ−１）で除すことで「平均値」を取得する。
【００３７】
このような構成を採用した「測定装置」によれば、合計値記憶領域Ａａおよび最小値記憶領域Ａｃの２つの記憶領域を備えているだけで、Ｎ個の測定データＤｓの値のうちの「最小値」を除く（Ｎ−１）個の測定データＤｓの値を平均化して「平均値」を取得するのに必要な情報を保持することができるため、ｎ個の測定値を記憶可能な大容量の記憶部を必要とする測定装置と比較して、製造コストを充分に低減することができる。また、２個目以降の測定データＤｓが出力される都度、出力された測定データＤｓの値に応じて「最小値」が更新されて、Ｎ個の測定データＤｓについての「処理Ｃ」を完了した時点で、Ｎ個の測定データＤｓのうちの「最小値」が特定されるため、ｎ個の測定値が揃った時点でこれらをソートして「最小値」を抽出する必要がある測定装置とは異なり、（ｎ−１）個の測定値の平均化処理を開始するまでに要する時間を充分に短縮することができる結果、「平均値」を短時間で取得することができる。
【００３８】
さらに、「測定対象についての物理量」として、電流値、電圧値、抵抗値および位相等）を測定可能に構成した測定装置１を例に挙げて説明したが、これらの物理量に代えて（または、これらの物理量に加えて）温度、湿度、輝度（光度）および照度等の各種の「物理量」を測定する構成を採用することもできる。
【符号の説明】
【００３９】
１  測定装置
２  測定部
５  制御部
６  記憶部
１０  平均値取得処理
Ａａ  合計値記憶領域
Ａｂ  最大値記憶領域
Ａｃ  最小値記憶領域
Ｄｓ  測定データ
【図１】
2013242203.tif 000003
【図２】
2013242203.tif 000004
【図３】
2013242203.tif 000005