(57)【要約】【課題】蛍光Ｘ線分析法による成分定量において分析精度を向上できる試料の予備成形方法およびそれを用いる成分定量方法を提供することを目的とする。【解決手段】加圧して本成形した後で蛍光Ｘ線分析法に用いられる試料を予備成形する方法であって、平均粒径Ｄ５０が３０μｍ以下の金属または合金粉末を型に充填して成形し、この成形体５のＸ線が照射される面５ａの全面を押込み率を１０〜４０％にして加圧することを特徴とする試料の予備成形方法である。本発明の予備成形方法は、成形体５のＸ線が照射される面５ａの全面を押込み率を１０〜４０％にして加圧する際に、成形体５のＸ線が照射される面の全面を加圧するパンチ４と、このパンチ４を案内するガイド３とを用いるのが好ましく、金属または合金粉末として、希土類−鉄−ホウ素系合金の酸化物粉末を用いるのが好ましい。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
加圧して本成形した後で蛍光Ｘ線分析法に用いられる試料を予備成形する方法であって、
平均粒径Ｄ５０が３０μｍ以下の金属または合金粉末を型に充填して成形し、該成形体のＸ線が照射される面の全面を、下記（１）式により算出される押込み率を１０〜４０％にして加圧することを特徴とする試料の予備成形方法。
Ｐ＝１００×（ｈ１−ｈ２）／ｈ１  ・・・（１）
ここで、加圧前の成形体の高さをｈ１（ｍｍ）、加圧後の成形体の高さをｈ２（ｍｍ）とする。
【請求項２】
前記成形体のＸ線が照射される面の全面を押込み率を１０〜４０％にして加圧する際に、前記成形体のＸ線が照射される面の全面を加圧するパンチと、該パンチを案内するガイドとを用いることを特徴とする請求項１に記載の試料の予備成形方法。
【請求項３】
前記金属または合金粉末として、希土類−鉄−ホウ素系合金の酸化物粉末を用いることを特徴とする請求項１または２に記載の試料の予備成形方法。
【請求項４】
試料を加圧することにより本成形した後で蛍光Ｘ線分析法により成分を定量する方法であって、
前記試料として、請求項１〜３のいずれかに記載の予備成形方法により予備成形した試料を用いることを特徴とする試料の成分定量方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、蛍光Ｘ線分析法に用いられる試料を予備成形する方法およびそれを用いる成分定量方法に関する。さらに詳しくは、蛍光Ｘ線分析法による成分定量において分析精度を向上できる試料の予備成形方法およびそれを用いる成分定量方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
物質の含有成分を定量する方法として蛍光Ｘ線分析法がある。蛍光Ｘ線分析法による成分定量は、例えば、試料台に載置した分析用試料の一つの面にＸ線を照射し、この際に分析用試料から発生する蛍光Ｘ線を測定する蛍光Ｘ線分析装置を用いて行うことができる。
【０００３】
分析用試料は、成分定量の対象が金属または合金の場合、例えば以下の手順により作製することができる。
（ａ）対象の金属または合金をスタンプミル等により粉砕して所定の粒度の粉末とし、
（ｂ）粉末を型に充填して成形体とし、この成形体のＸ線が照射される面を平へらで均しつつ加圧することにより予備成形（１次成形）して試料とし、
（ｃ）予備成形した試料をプレス機によって本成形（２次成形）して分析用試料とする。
【０００４】
上記（ａ）〜（ｃ）の手順による分析用試料の作製では、必要に応じて、粉砕された金属または合金の粉末にバインダーが添加される場合がある。また、粉砕された金属または合金の粉末を酸溶解した後、酸溶解液を濾紙粉末に吸着させ、焼成することにより酸化物として金属または合金を含む粉末として型に充填される場合もある。
【０００５】
このような蛍光Ｘ線分析法による成分定量に関し、従来から種々の提案がなされており例えば特許文献１がある。特許文献１で提案される成分定量方法は、活性金属を有する合金を粉砕してＤ５０＝１０〜４０μｍの粉末とした後、金型およびプレス機を用いて加圧成形（本成形）して分析用試料とする。なお、特許文献１では、前記（ａ）〜（ｃ）の手順からなる分析用試料を作製のうちで（ｂ）の予備成形については記載されていない。
【０００６】
このような特許文献１で提案される成分定量方法は、粉砕してＤ５０＝１０〜４０μｍである合金粉末から試料を作製することにより、分析精度や再現性の低下を生じさせることなく、発火が防止できるとしている。
【０００７】
しかし、前記（ａ）〜（ｃ）の手順により作製した分析用試料および特許文献１で提案される粒径の粉末から作製した分析用試料を用い、蛍光Ｘ線分析法により成分を定量すると、同一の金属または合金粉末から同じ手順により分析用試料を作製した場合でも分析試料ごとに分析結果にばらつきが生じる。このため、蛍光Ｘ線分析法による成分定量では、分析結果のばらつきを低減して分析精度を向上させることが望まれていた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００３−１７２７１４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
前述の通り、従来の蛍光Ｘ線分析法による成分定量では、分析結果にばらつきが生じるので、分析結果のばらつきを低減して分析精度を向上させることが望まれていた。本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、蛍光Ｘ線分析法による成分定量において分析精度を向上できる試料の予備成形方法およびそれを用いる成分定量方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明者らは、従来の蛍光Ｘ線分析法による成分定量で分析結果がばらつく理由について検討した。ここで、前記（ａ）〜（ｃ）の手順による分析用試料の作製では、手順（ｂ）の予備成形で、金属または合金粉末からなる成形体のＸ線が照射される面を平へらで均しつつ加圧する。
【００１１】
予備成形で用いられる平へらは、通常、Ｘ線が照射される面より面積が小さいので、Ｘ線が照射される面は複数回に分けて一部の領域ごとに加圧される。また、平へらによる加圧は、通常、手作業によって行われることから、加圧する力がその都度変化する。このため、予備成形された試料は、Ｘ線照射面の表層部で場所によって粒子密度が変化してばらつく。
【００１２】
さらに、予備成形の平へらによる加圧は作業者の経験に基づく作業になることから、作業者が異なれば加圧する力も変化する。これらから、予備成形された試料は、試料ごとにＸ線照射面の表層部の粒子密度が変化してばらつく。
【００１３】
その結果、プレス機で加圧して本成形された分析用試料においても、Ｘ線が照射される面の表層部における粒子密度にばらつきが生じてしまう。このように分析用試料に生じるＸ線が照射される面の表層部における粒子密度のばらつきが、蛍光Ｘ線分析法による成分定量に分析用試料を用いた場合に分析値をばらつかせることを、本発明者らは見出した。ここで、「表層部」とは、蛍光Ｘ線分析法による成分定量において情報が得られる部分を意味し、通常、Ｘ線が照射される面から１００μｍ程度の範囲となる。
【００１４】
そこで、本発明者らは、種々の試験を行い、鋭意検討を重ねた結果、Ｘ線が照射される面の全面を加圧するパンチと、このパンチを案内するガイドとを用い、金属または合金粉末からなる成形体を加圧して予備成形することにより、Ｘ線が照射される面の表層部における粒子密度を均一にできることを知見した。また、この予備成形された試料を本成形した後で蛍光Ｘ線分析法により成分を定量することにより、分析精度を向上できることを知見した。
【００１５】
本発明は、上記の知見に基づいて完成したものであり、下記（１）〜（３）の試料の予備成形方法および下記（４）の試料の成分定量方法を要旨としている。
【００１６】
（１）加圧して本成形した後で蛍光Ｘ線分析法に用いられる試料を予備成形する方法であって、平均粒径Ｄ５０が３０μｍ以下の金属または合金粉末を型に充填して成形し、該成形体のＸ線が照射される面の全面を、下記（１）式により算出される押込み率を１０〜４０％にして加圧することを特徴とする試料の予備成形方法。
Ｐ＝１００×（ｈ１−ｈ２）／ｈ１  ・・・（１）
ここで、加圧前の成形体の高さをｈ１（ｍｍ）、加圧後の成形体の高さをｈ２（ｍｍ）とする。
【００１７】
（２）前記成形体のＸ線が照射される面の全面を押込み率を１０〜４０％にして加圧する際に、前記成形体のＸ線が照射される面の全面を加圧するパンチと、該パンチを案内するガイドとを用いることを特徴とする上記（１）に記載の試料の予備成形方法。
【００１８】
（３）前記金属または合金粉末として、希土類−鉄−ホウ素系合金の酸化物粉末を用いることを特徴とする上記（１）または（２）に記載の試料の予備成形方法。
【００１９】
（４）試料を加圧することにより本成形した後で蛍光Ｘ線分析法により成分を定量する方法であって、前記試料として、上記（１）〜（３）のいずれかに記載の予備成形方法により予備成形した試料を用いることを特徴とする試料の成分定量方法。
【発明の効果】
【００２０】
本発明の予備成形方法は、成形体のＸ線が照射される面の全面を加圧することにより、予備成形された試料のＸ線が照射される面の表層部における粒子密度を均一にすることができる。このようにＸ線が照射される面の表層部における粒子密度を均一な試料を本成形すれば、本成形された分析用試料もＸ線が照射される面の表層部における粒子密度が均一となり、蛍光Ｘ線分析法による成分定量における分析精度を向上できる。
【００２１】
本発明の成分定量方法は、上述の効果を有する本発明の予備成形方法を用いることから、成分定量の分析精度を向上できる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の予備成形方法による試料の作製手順例を説明する模式図であり、同図（ａ）は型に粉末を充填して成形体とした状態、同図（ｂ）はガイドにパンチを挿入した状態をそれぞれ示す。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下に、本発明の予備成形方法およびそれを用いる成分定量方法について図面を参照しながら説明する。
【００２４】
図１は、本発明の予備成形方法による試料の作製手順例を説明する模式図であり、同図（ａ）は型に粉末を充填して成形体とした状態、同図（ｂ）はガイドにパンチを挿入した状態をそれぞれ示す。同図には、作業台１と、作業台１とともに成形用の型を形成する環状の試料リング２と、成形用の型に充填された金属または合金粉末からなる成形体５と、成形体５を加圧するパンチ４と、パンチ４を案内するガイド３とを示す。
【００２５】
本発明の予備成形方法は、加圧して本成形した後で蛍光Ｘ線分析法に用いられる試料を予備成形する方法であって、平均粒径Ｄ５０が３０μｍ以下の金属または合金粉末を型に充填して成形し、この成形体５のＸ線が照射される面５ａの全面を、前記（１）式で算出される押込み率を１０〜４０％にして加圧することを特徴とする。
【００２６】
金属または合金粉末の平均粒径Ｄ５０を３０μｍ以下と規定するのは、平均粒径Ｄ５０が３０μｍを超えると粒径が大きい粒子の割合が増加し、予備成形および本成形で成形性が悪化することから、分析用試料でＸ線が照射される面の平坦性が悪化する。その結果、蛍光Ｘ線分析による成分定量で乱反射が多くなり、分析精度が低下する。一方、平均粒径Ｄ５０を小さくし過ぎると、パンチおよびガイドを用いて予備成形する場合にパンチとガイドとの隙間に一部の粒子が入り込み、かじり等の不具合を生じさせることから、１μｍ以上とするのが好ましい。
【００２７】
ここで、本発明において平均粒径Ｄ５０とは、体積基準の粒度分布における累積頻度５０％の粒径を意味し、粒度分布はレーザー回折散乱法による測定機を用いるものとする。
【００２８】
本発明の予備成形方法では、平均粒径Ｄ５０が上記範囲である金属または合金粉末を型に充填して成形し、この成形体５のＸ線が照射される面５ａの全面を押込み率を１０〜４０％にして加圧する。従来の従来の蛍光Ｘ線分析法による成分定量では、前述のとおり、Ｘ線が照射される面５ａより面積が小さい平へらを用いて手作業により予備成形を行うことから、予備成形された試料は、Ｘ線照射面の表層部で場所によって粒子密度が変化してばらつく。
【００２９】
一方、本発明の予備成形方法では、成形体５のＸ線が照射される面５ａの全面を加圧する。これにより、成形体５のＸ線が照射される面５ａの全面が同じ力で加圧されるので、Ｘ線が照射される面の表層部における粒子密度が場所によって変化することなく、均一になる。このように予備成形された試料を本成形とすれば、本成形した分析用試料においてもＸ線が照射される面の表層部における粒子密度が均一となり、蛍光Ｘ線分析法による成分定量における分析精度を向上できる。
【００３０】
また、成形体５のＸ線が照射される面５ａの全面を加圧する際、前記（１）式で算出される押込み率を１０〜４０％とする。この前記（１）式で算出される押込み率Ｐは、加圧前後における成形体の高さの変化量（ｈ１−ｈ２、単位：ｍｍ）を加圧前の成形体の高さ（ｈ２、単位：ｍｍ）で除して百分率として表したものである。
【００３１】
このような押込み率が１０％未満であると、成形体のＸ線が照射される面の全面を加圧することにより表層部の粒子密度が均一となる効果がほとんど発揮されず、予備成形された試料でＸ線が照射される面の表層部の粒子密度にばらつきが生じる。このため、本成形された分析用試料も粒子密度がばらつき、割れが生じる。分析用試料に割れが生じた場合、蛍光Ｘ線分析による成分定量において分析結果が大きくばらつき、有効な分析結果を得ることができない。
【００３２】
一方、押込み率が４０％を超えると、粉末の粒子が成形体の外縁に偏ってしまい、予備成形された試料でＸ線が照射される面の表層部の粒子密度にばらつきが生じる。このため、本成形された分析用試料も粒子密度がばらつき、割れが生じる。
【００３３】
このように本発明の予備成形方法は、成形体のＸ線が照射される面の全面を加圧することから、予備成形された試料でＸ線が照射される面の表層部における粒子密度を均一にすることができる。この成形体を本成形すれば、分析用試料もＸ線が照射される面の表層部における粒子密度が均一となり、蛍光Ｘ線分析法による成分定量における分析精度を向上できる。
【００３４】
また、本発明の予備成形方法は、成形体のＸ線が照射される面の全面を加圧する際に、押込み率を上述の範囲内である一定の値に管理すれば、作業者により加圧条件が変化するのを防ぐことができ、予備成形された試料ごとにＸ線照射面の表層部の粒子密度が変化してばらつくのを抑制することができる。その結果、蛍光Ｘ線分析法による成分定量において分析試料ごとに測定値がばらつくのを低減し、分析精度を向上できる。
【００３５】
本発明の予備成形方法は、成形体５のＸ線が照射される面の全面を押込み率を１０〜４０％にして加圧する際に、成形体５のＸ線が照射される面５ａの全面を加圧するパンチ４と、このパンチ４を案内するガイド３とを用いるのが好ましい。以下では、本発明の予備成形方法による処理手順の一例であって、パンチ４およびガイド３を用いる場合の処理手順について前記図１を参照しながら詳細に説明する。
【００３６】
同図（ａ）に示すように、環状の試料リング２の内面および作業台１の平面状の上面によって成形用の型を形成する。試料リング２上にガイド３を配置し、成形用の型に金属または合金粉末を充填し、円盤状の成形体５を成形する。
【００３７】
次に、同図（ｂ）に示すように、ガイド３の中空部に円柱状のパンチ４を挿入する。ガイド３の案内によりパンチ４を移動（下降）させると、成形体５とパンチ４とが接触し、パンチ４は試料リング２の空洞部（型の断面形状）に対応する断面形状を有することから、パンチ４によって成形体５のＸ線が照射される面５ａの全面が加圧される。パンチ４をさらに移動（下降）させて、押込み率が１０〜４０％となるまで移動（下降）させる。
【００３８】
このように、成形体５のＸ線が照射される面５ａの全面を加圧するパンチ４と、このパンチ４を案内するガイド３とを用いることにより、成形体５のＸ線が照射される面５ａの全面を容易に均一に加圧することができる。また、試料リング２上にガイド３を配置した状態で成形用の型に金属または合金粉末を充填すれば、金属または合金粉末の飛散を防止することができる。
【００３９】
同図に示すように環状の試料リング２を用いて円盤状の成形体５を成形する場合、ガイド３の内径Ｄ２（ｍｍ）は、円柱状のパンチ４の外径をＤ１（ｍｍ）として下記（２）式を満足するように設計するのが好ましい。これにより、ガイド３に沿ってパンチ４を平滑に移動させることができるとともに、加圧する際にガイド３とパンチ４との隙間に金属または合金粉末が入り込むのを防止できる。
Ｄ１＋０．０１≦Ｄ２≦Ｄ１＋０．０５  ・・・（２）
【００４０】
また、円柱状のパンチ４の外径をＤ１（ｍｍ）は、試料リング２の内径をＤ３（ｍｍ）として下記（３）式を満足するように設計するのが好ましい。これにより、成形体のＸ線が照射される面５ａの全面を加圧することができるとともに、パンチ４およびガイド３の大型化による作業性の悪化および製作コストの上昇を防止できる。
Ｄ３≦Ｄ１≦Ｄ３＋０．０１  ・・・（３）
【００４１】
パンチ４およびガイド３は、金属または合金粉末を加圧することから、高強度の鋼または合金を用いるのが好ましく、例えばステンレス鋼（ＳＵＳ系）や炭素工具鋼（ＳＫ系）を採用できる。超硬合金（例えばＷＣ−Ｃｏ系やＷＣ−ＴｉＣ−Ｃｏ系）を採用するのがより好ましい。
【００４２】
本発明の予備成形方法は、金属または合金粉末にバインダーを添加して混練してから型に充填してもよい。これにより、予備成形された試料および成形体を本成形した分析用試料の一部が振動等によって粉化するのを防止できる。バインダーとしては、例えば、ステアリン酸、スチレン−マレイン酸共重合物を用いることができる。
【００４３】
本発明の予備成形方法は、金属または合金粉末を酸化物としてから型に充填してもよい。酸化物は、例えば、金属または合金粉末を酸溶解した後、酸溶解液を濾紙粉末に吸着させ、焼成することにより得ることができる。
【００４４】
金属または合金については、特に限定はなく、純金属、合金などを粉末にして用いることができる。金属または合金粉末が加圧した際にスプリングバックが少ない高硬度（高ヤング率）である粉末であれば、本発明による予備成形された試料でＸ線が照射される面の表層部における粒子密度を均一にする効果が大きくなる。このため、本発明の予備成形方法は、希土類−鉄−ホウ素系合金の酸化物粉末から分析用試料を作製する際に好適である。
【００４５】
本発明の成分定量方法は、試料を加圧することにより本成形した後で蛍光Ｘ線分析法により成分を定量する方法であって、試料として上述の本発明の予備成形方法により予備成形した試料を用いることを特徴とする。前述のとおり、本発明の予備成形方法により予備成形した試料はＸ線が照射される面の表層部において粒子密度が均一となることから、本成形された分析用試料でもＸ線が照射される面の表層部において粒子密度が均一となる。このため、本発明の成分定量方法は、蛍光Ｘ線分析法による成分定量において分析精度を向上できる。
【００４６】
本発明の成分定量方法では、試料を加圧することによる本成形を、例えば１軸プレス機といった装置により行うことができる。
【実施例】
【００４７】
本発明の予備成形方法およびそれを用いる成分定量方法による効果を検証するため、下記の試験を行った。
【００４８】
１．成分定量試験
［試験方法］
本試験では、合金の酸化物からなる粉末Ａと、合金の粉末Ｂとを準備し、粉末Ａの準備手順は以下のとおりとした。ストリップキャスト法により鋳造された希土類−鉄−ホウ素系合金（Ｎｄ：３２．３質量％およびＢ：１．０質量％を含有し残部がＦｅからなる合金）の鋳片を水素粉砕した後で篩い目が０．５ｍｍである篩により分級した。その篩下の合金粉末から質量４．２ｇを採取して硝酸（ＨＮＯ3）に加熱溶解し、その溶解液を濾紙粉末に吸着させた後で加熱された鋼板状で灰化した。この灰化物をスタンプミルにより粉砕して粉末状とした後で、電気炉にて一定の条件で加熱することにより焼成し、希土類−鉄−ホウ素系合金の酸化物からなる質量４．５ｇの粉末Ａを得た。
【００４９】
一方、粉末Ｂの準備手順は以下のとおりとした。真空中で混合原料を加熱して溶融し、この溶湯を鋳型に流し込んで合金インゴットを得た。この際、混合原料は合金インゴットの組成がＴｉ：３０質量％およびＮｉ：７０質量％となるように配合した。得られた合金インゴットをスタンプミルで粉砕した後、篩い目が２０μｍである篩いにより分級し、その篩下を質量４．５ｇで採取して粉末Ｂとした。
【００５０】
これら粉末ＡおよびＢについて、レーザー回折散乱法による測定機（株式会社島津製作所製、ＳＡＬＤ３０００Ｓ）を用いて粒度分布を測定し、平均粒径Ｄ５０は粉末Ａが５μｍ、粉末Ｂが１０μｍであった。
【００５１】
本試験の本発明例では、前記図１を用いて説明した手順により、粉末ＡまたはＢを型に充填して成形体とした後、成形体のＸ線が照射される面の全面を押込み率を１９％にして加圧することにより予備成形した。この際、環状の試料リングの寸法は外径が３７．８ｍｍ、内径が３１．０ｍｍであり、パンチの外径は３１．０ｍｍ、ガイドの内径は３１．０３ｍｍであった。パンチおよびガイドにはステンレス鋼（ＳＵＳ３１６）を用いた。この予備成形した試料をプレス機によって本成形して分析用試料とし、プレス機は１軸プレス機を用いて１５０ｋＮの条件で加圧した。
【００５２】
従来例では、上面が平面状の作業台に環状の試料リングを配置し、試料リングの内面と作業台の上面とで形成される型に粉末Ａまたは粉末Ｂを充填し成形体とした。この成形体のＸ線が照射される面（上面）を平へらで均しつつ加圧することにより予備成形して試料とし、予備成形した試料をプレス機によって本成形して分析用試料とした。予備成形の平へらは成形体を加圧する部分が長さ１０ｍｍ、幅１０ｍｍであり、本成形のプレス機は１軸プレス機を用いて１５０ｋＮの条件で加圧した。
【００５３】
粉末Ａについて、本発明例および従来例ともにそれぞれ５個の分析用試料を作製し、それらの分析用試料について蛍光Ｘ線分析装置（株式会社リガク社製、Ｓｉｍｕｌｔｉｘ  １４）によりＮｄ成分を定量した。また、粉末Ｂについても、本発明例および従来例ともにそれぞれ５個の分析用試料を作製し、それらの分析用試料について蛍光Ｘ線分析装置によりＮｉ成分を定量した。蛍光Ｘ線分析装置による成分定量は、測定条件は管電圧を５０ｋＶ、管電流を５０ｍＡ、測定時間を４０秒とした。
【００５４】
［試験結果］
表１に、本発明例または従来例のうちで粉末Ａを用いた各分析用試料で定量されたＮｄ成分の含有量（質量％）についてそれぞれ示す。併せて表１には、本発明例または従来例におけるＮｄ成分の含有量の平均値、標準偏差および変動係数（標準偏差／平均値）も示す。
一方、表２に、本発明例または従来例のうちで粉末Ｂを用いた各分析用試料で定量されたＮｉ成分の含有量（質量％）についてそれぞれ示す。併せて表２には、本発明例または従来例におけるＮｉ成分の含有量の平均値、標準偏差および変動係数（標準偏差／平均値）も示す。
【００５５】
【表１】
2013108778.tif 000003
【００５６】
【表２】
2013108778.tif 000004
【００５７】
表１より、粉末Ａを用いた分析用試料においてＮｄ成分の含有量の標準偏差が、従来例では０．０４となったのに対し、本発明例では０．０２となった。
一方、表２より、粉末Ｂを用いた分析用試料においてＮｉ成分の含有量の標準偏差が、従来例では０．０６となったのに対し、本発明例では０．０３となった。
【００５８】
これらから、合金粉末を型に充填して成形し、この成形体のＸ線が照射される面の全面を加圧することにより、蛍光Ｘ線分析法による成分定量において分析精度を向上できることが明らかになった。
【００５９】
２．予備成形試験
［試験方法］
本試験では、前述の粉末ＡまたはＢを成形体とし、この成形体を前記図１を用いて説明した手順により加圧して予備成形した。予備成形した試料を１軸プレス機を用いて１５０ｋＮの条件で加圧して本成形することにより分析用試料を得た。
【００６０】
本試験では、成形体を加圧して予備成形する際に押込み率を、粉末Ａを用いた場合は８〜４８％で、粉末Ｂを用いた場合は６〜４８％で変化させた。この際、試料リング、パンチおよびガイドは、前述の「１．成分定量試験」の本発明例と同じ寸法および材質のものを用いた。
【００６１】
本試験では、得られた分析用試料のＸ線が照射される面について割れの有無を目視により確認した。後述する表３および表４の割れ評価欄の記号の意味は次の通りである。
○：分析用試料のＸ線が照射される面に割れが確認されなかったことを示す。
×：分析用試料のＸ線が照射される面に割れが確認されたことを示す。
【００６２】
［試験結果］
表３に、粉末Ａを用いた試験における試験番号、区分、加圧前の成形体の高さ（ｈ２）、加圧前の成形体の高さと加圧後の成形体の高さとの差（ｈ１−ｈ２）、押込み率および本成形された分析用試料の割れ評価の結果を示す。
一方、表４に、粉末Ｂを用いた試験における試験番号、区分、加圧前の成形体の高さ（ｈ２）、加圧前の成形体の高さと加圧後の成形体の高さとの差（ｈ１−ｈ２）、押込み率および本成形された分析用試料の割れ評価の結果を示す。
【００６３】
【表３】
2013108778.tif 000005
【００６４】
【表４】
2013108778.tif 000006
【００６５】
表３より、粉末Ａを用いた場合、押込み率が１０％未満の試験番号３−１と、４０％を超えた試験番号３−８および３−９とで、本成形した分析用試料のＸ線が照射される面に割れが確認された。一方、押込み率が１０〜４０％であった試験番号３−２〜３−７では、本成形した分析用試料のＸ線が照射される面に割れが確認されなかった。
【００６６】
表４より、粉末Ｂを用いた場合、押込み率が１０％未満の試験番号４−１と、４０％を超えた試験番号４−８および４−９とで、本成形した分析用試料のＸ線が照射される面に割れが確認された。一方、押込み率が１０〜４０％であった試験番号４−２〜４−７では、本成形した分析用試料のＸ線が照射される面に割れが確認されなかった。
【００６７】
これらから、成形体のＸ線が照射される面の全面を押込み率を１０〜４０％にして加圧することにより、本成形した分析用試料に割れが生じることがなく、その結果、蛍光Ｘ線分析法による成分定量において分析精度を向上できることが明らかになった。
【産業上の利用可能性】
【００６８】
本発明の予備成形方法は、成形体のＸ線が照射される面の全面を加圧することにより、予備成形された試料のＸ線が照射される面の表層部における粒子密度を均一にすることができる。このようにＸ線が照射される面の表層部における粒子密度を均一な試料を本成形すれば、本成形された分析用試料もＸ線が照射される面の表層部における粒子密度が均一となり、蛍光Ｘ線分析法による成分定量における分析精度を向上できる。また、本発明の成分定量方法は、上述の効果を有する本発明の予備成形方法を用いることから、成分定量の分析精度を向上できる。
【００６９】
したがって、本発明の予備成形方法およびそれを用いた成分定量方法を、希土類磁石の原料となる希土類−鉄−ホウ素系合金の製造に適用すれば、希土類−鉄−ホウ素系合金の品質向上に大きく寄与することができる。
【符号の説明】
【００７０】
１：作業台、  ２：試料リング、  ３：ガイド、  ４：パンチ、
５：成形体（試料）、  ５ａ：Ｘ線が照射される面、  Ｄ１：パンチの外径、
Ｄ２：ガイドの内径、  Ｄ３：試料リングの内径
【図１】
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