(57)【要約】【課題】多重周波の回復電圧波形から規約値を求めるべく、原点から波高部までに存在する隆起部と、波高部に対する隆起部との間に引く共通接線を容易に生成すること。【解決手段】多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形記憶部20と、過渡回復電圧波形を時間微分する波形変換部12と、変換した波形から定数を減算して積分する波形演算部12Ａと、積分した波形中の２つの隆起の各最大値の一致を判定する波高判定部13と、各最大値が一致したと判定するまで、前記波形演算部での定数を調整する調整部12Ｂと、一致を判定した２点に対応する前記過渡回復電圧波形の２点を検出する接点検出部14と、検出した２点を通る第１の接線を生成する第１の接線生成部15とを備える。【選択図】図１
2013253824.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形記憶部と、
前記波形記憶部が記憶する過渡回復電圧波形を時間微分する波形変換部と、
前記波形変換部で変換した波形から定数を減算して積分する波形演算部と、
前記波形演算部で積分した波形中の２つの隆起の各最大値の一致を判定する波高判定部と、
前記波高判定部で各最大値が一致したと判定するまで、前記波形演算部での定数を調整する調整部と、
前記波高判定部で一致を判定した２点に対応する前記過渡回復電圧波形の２点を検出する接点検出部と、
前記接点検出部で検出した２点を通る第１の接線を生成する第１の接線生成部と
を備えたことを特徴とする過渡回復電圧測定装置。
【請求項２】
多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形記憶部と、
前記波形記憶部が記憶する過渡回復電圧波形を時間微分する波形変換部と、
前記波形変換部で変換した波形から定数を減算して積分する波形演算部と、
前記波形演算部で積分した波形中の２つの隆起部の各最大値の一致を判定する波高判定部と、
前記波高判定部で各最大値が一致したと判定するまで、前記波形演算部での定数を調整する調整部と、
前記波高判定部で一致を判定した２点に基づき、前記過渡回復電圧波形の２つの隆起部間に第１の接線を生成する第１の接線生成部と
を備えたことを特徴とする過渡回復電圧測定装置。
【請求項３】
前記接点検出部は、
前記波高判定部により一致を判定した２点における２つの時刻を判定する時刻判定部と、
前記波形記憶部が記憶する過渡回復電圧波形中の前記時刻判定部で判定した時刻に対応する２点を判定する接点判定部と
を備えたことを特徴とする請求項１記載の過渡回復電圧測定装置。
【請求項４】
前記第１の接線生成部は、前記波高判定部で一致を判定した２点を通る接線に基づいて第１の接線を生成することを特徴とする請求項２記載の過渡回復電圧測定装置。
【請求項５】
前記波形記憶部が記憶する原点から過渡回復電圧波形に引いた第２の接線を生成する第２の接線生成部と、
前記第２の接線生成部で生成した第２の接線と、前記第１の接線生成部で生成した第１の接線との交点を算出する第１の交点算出部と、
前記第１の交点算出部で算出した第１の交点に基づき、過渡回復電圧の規約値を算出する規約値算出部と
をさらに備えたことを特徴とする請求項１または２記載の過渡回復電圧測定装置。
【請求項６】
前記波形記憶部が記憶する過渡回復電圧波形の最大波高値を通り、時間軸と平行な第３の接線を生成する第３の接線生成部と、
前記第３の接線生成部で生成した第３の接線と、前記第１の接線生成部で生成した第１の接線との交点を算出する第２の交点算出部と、
前記第２の交点算出部で算出した第２の交点に基づき、過渡回復電圧の規約値を算出する規約値算出部と
をさらに備えたことを特徴とする請求項１または２記載の過渡回復電圧測定装置。
【請求項７】
多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形工程と、
前記波形記憶工程で記憶した過渡回復電圧波形を時間微分する波形変換工程と、
前記波形変換工程で変換した波形から定数を減算して積分する波形演算工程と、
前記波形演算工程で積分した波形中の２つの隆起の各最大値の一致を判定する波高判定工程と、
前記波高判定工程で各最大値が一致したと判定するまで、前記波形演算工程での定数を調整する調整工程と、
前記波高判定工程で一致を判定した２点に対応する前記過渡回復電圧波形の２点を検出する接点検出工程と、
前記接点検出工程で検出した２点を通る第１の接線を生成する第１の接線生成工程と
を有したことを特徴とする過渡回復電圧測定方法。
【請求項８】
多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形記憶工程と、
前記波形記憶部で記憶した過渡回復電圧波形を時間微分する波形変換工程と、
前記波形変換工程で変換した波形から定数を減算して積分する波形演算工程と、
前記波形演算工程で積分した波形中の２つの隆起部の各最大値の一致を判定する波高判定工程と、
前記波高判定工程で各最大値が一致したと判定するまで、前記波形演算工程での定数を調整する調整工程と、
前記波高判定工程で一致を判定した２点に基づき、前記過渡回復電圧波形の２つの隆起部間に第１の接線を生成する第１の接線生成工程と
を有したことを特徴とする過渡回復電圧測定方法。
【請求項９】
コンピュータが実行可能なプログラムであって、
前記コンピュータに、
多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形処理と、
前記波形記憶処理で記憶した過渡回復電圧波形を時間微分する波形変換処理と、
前記波形変換処理で変換した波形から定数を減算して積分する波形演算処理と、
前記波形演算処理で積分した波形中の２つの隆起の各最大値の一致を判定する波高判定処理と、
前記波高判定処理で各最大値が一致したと判定するまで、前記波形演算処理での定数を調整する調整処理と、
前記波高判定処理で一致を判定した２点に対応する前記過渡回復電圧波形の２点を検出する接点検出処理と、
前記接点検出処理で検出した２点を通る第１の接線を生成する第１の接線生成処理と
を実行させることを特徴とする過渡回復電圧測定プログラム。
【請求項１０】
コンピュータが実行可能なプログラムであって、
前記コンピュータに、
多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形記憶処理と、
前記波形記憶部で記憶した過渡回復電圧波形を時間微分する波形変換処理と、
前記波形変換処理で変換した波形から定数を減算して積分する波形演算処理と、
前記波形演算処理で積分した波形中の２つの隆起部の各最大値の一致を判定する波高判定処理と、
前記波高判定処理で各最大値が一致したと判定するまで、前記波形演算処理での定数を調整する調整処理と、
前記波高判定処理で一致を判定した２点に基づき、前記過渡回復電圧波形の２つの隆起部間に第１の接線を生成する第１の接線生成処理と
を実行させることを特徴とする過渡回復電圧測定プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、たとえば遮断器が電流を遮断した後の過渡回復電圧の規約値を求めるべく、過渡回復電圧の波形に接線を引くための過渡回復電圧測定装置、過渡回復電圧測定方法及び過渡回復電圧測定プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
遮断器が電流を遮断した後には、遮断器の接点間に、過渡回復電圧と呼ばれる電圧が発生する。この過渡回復電圧は、単一周波または多重周波の波形となる。この波形から、波高値や上昇値などの過渡回復電圧を表現するための規約値（パラメータ）を読み取ることができる。（非特許文献１参照）
単一周波の波形の場合には、２パラメータ法により過渡回復電圧を表現する。  
２パラメータ法では、波高値及び初期波高時間（あるいは上昇率）の２つのパラメータにより過渡回復電圧を表現する。
【０００３】
図４は、単一周波の波形から２つのパラメータを求める手法を説明する図である。まず、過渡回復電圧波形Ｖに対し、原点から接線αを引いてその接点をＳ１とする。さらに、過渡回復電圧波形Ｖのピークとなる波高部（波高部Ｕｃ）の位置で、時間軸と平行な接線βを引く。この接線βと過渡回復電圧波形Ｖの接点をＳ２とする。そして、接線αと接線βとの交点Ｃを求める。この交点Ｃに対する時間を、初期波高時間ｔ３とする。
【０００４】
一方、多重周波の波形では、４パラメータ法により過渡回復電圧を表現する。４パラメータ法では、初期波高値、初期波高時間（または上昇率）、波高値及び波高時間の計４つのパラメータにより、過渡回復電圧を表現できる。
【０００５】
図５は、多重周波の波形から４つのパラメータを求める手法を説明する図である。まず、前記図４で示した２パラメータ法の各接線α，βのほかに、過渡回復電圧波形Ｖ１上の原点と波高部との間に存在する隆起部Ａ１と、波高部に対応する隆起部Ａ２との間に、共通接線γを引く。そして、共通接線γと接線α，βとの交点Ｃ１，Ｃ２を求める。接線αと共通接線γとの交点Ｃ２の電圧を波高値Ｕｃ、同交点Ｃ２に対する時間を波高時間ｔ２とする。
【０００６】
なお前記図５において、隆起部Ａ１での共通接線γとの接点をＳ３、隆起部Ａ１の過渡回復電圧波形Ｖのピーク値をＰ１とする。同様に、隆起部Ａ２での共通接線γとの接点をＳ４、隆起部Ａ２の過渡回復電圧波形Ｖのピーク値をＰ２とする。このピーク値Ｐ２は、接線βとの接点Ｓ２と共通となる。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００７】
【非特許文献１】電気学会  電気規格調査標準規格  交流遮断器  JEC-2300-1998
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ところで、ある曲線における接線の傾きは、その曲線の微分値となる。したがって、曲線上の２点間の共通接線を引くとき、曲線の微分値が同じになる２点を求めることが必要となる。
【０００９】
しかし、微分値が同じになる２点を通る直線には、共通ではないが、互いに平行な２直線も含まれる。このため、微分値が同じになる２点間に引いた直線が、必ずしも共通の接線とは限らない。
【００１０】
そのため、一般的に曲線上の２点間に共通接線を引くことは困難であった。特に、コンピュータによって演算を行なう場合には、演算量が膨大となる可能性が高かった。
【００１１】
本発明が解決しようとする課題は、多重周波の回復電圧波形から過渡回復電圧規約値を求めるために、原点から波高部までに存在する隆起部と、波高部に対する隆起部との間に引く共通接線を容易に生成することが可能な過渡回復電圧装置、過渡回復電圧測定方法及び過渡回復電圧プログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
実施形態に係る過渡回復電圧測定装置は、多重周波からなる過渡回復電圧波形を記憶する波形記憶部と、前記波形記憶部が記憶する過渡回復電圧波形を時間微分する波形変換部と、前記波形変換部で変換した波形から定数を減算して積分する波形演算部と、前記波形演算部で積分した波形中の２つの隆起の各最大値の一致を判定する波高判定部と、前記波高判定部で各最大値が一致したと判定するまで、前記波形演算部での定数を調整する調整部と、前記波高判定部で一致を判定した２点に対応する前記過渡回復電圧波形の２点を検出する接点検出部と、前記接点検出部で検出した２点を通る第１の接線を生成する第１の接線生成部とを備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、多重周波の回復電圧波形から過渡回復電圧規約値を求めるために、原点から波高部までに存在する隆起部と、波高部に対する隆起部との間に引く共通接線を容易に生成することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の一実施形態に係る過渡回復電圧測定装置の構成を示すブロック図。
【図２】同実施形態に係る測定処理の内容を示すフローチャート。
【図３】同実施形態に係る接線生成処理を説明する図。
【図４】２パラメータ法による規約値を求める方法を説明する図。
【図５】４パラメータ法による規約値を求める方法を説明する図。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、図面を参照して一実施形態について説明する。  
［構成］  
図１は、一実施形態に係る過渡回復電圧測定装置１の構成を示すブロック図である。本実施形態の過渡回復電圧測定装置１は、コンピュータを所定のプログラムで制御することによって、あるいは専用のハードウェアを有する電子回路によって実現できる。前記前者の場合のプログラムは、コンピュータのハードウェアを物理的に活用することで、以下に述べるような各部の処理を現実するものである。なお、各部の処理を実行する方法、プログラム及びプログラムを記憶した記憶媒体も、本実施形態の一態様である。また、前記後者のハードウェアを有する電子回路で処理する範囲、プログラムを含むソフトウェアで処理する範囲をどのように設定するかは、特定の態様に限定されない。
【００１６】
過渡回復電圧測定装置１は、波形処理部１０、記録部２０、入力部３０、及び出力部４０を有する。
【００１７】
入力部３０は、この過渡回復電圧測定装置１に必要な情報の入力、処理の選択や指示を入力する。この入力部３０としては、たとえば、キーボード、マウス、タッチパネル（表示装置に構成されたものを含む）等が考えられる。ただし、現在または将来において利用可能なあらゆる入力装置を含む。また、入力部３０には、通常の監視用配線や通信ネットワークからの入力を受け付けるインターフェース等も含む。
【００１８】
測定処理部１０は、後述するようなプログラムの働きにより機能する波形生成部１１、波形変換部１２、波高判定部１３、接点検出部１４、接線生成部１５、交点検出部１６、及びパラメータ算出部１７を有する。
【００１９】
波形生成部１１は、入力部３０から入力した過渡回復電圧の検出値に基づいて、過渡回復電圧波形を生成する。
【００２０】
波形変換部１２は、波形生成部１１で生成した過渡回復電圧波形を変換する。この波形変換部１２は、演算部１２Ａと調整部１２Ｂとを有する。
【００２１】
演算部１２Ａは、所定の式に基づく演算により、過渡回復電圧波形を変換した波形を生成する。本実施形態では、たとえば、時間微分を行なう。
【００２２】
調整部１２Ｂは、演算部１２Ａが生成する波形が変化するように、所定の式のパラメータを変更する。本実施形態では、たとえば、定数を引き算させ、積分をさせる処理を行なう。
【００２３】
波高判定部１３は、波形変換部１２によって変換した波形に対し、最大値（ピーク値）が同じとなる２点が存在するか否かを判定する。
【００２４】
接点検出部１４は、波高判定部１３が判定した２点に対応する過渡回復電圧波形上の２点を検出する。本実施形態において、たとえば、波高判定部１３が、時刻判定部、接点判定部としての機能を有する。時刻判定部は、波高判定部１３が判定した時刻に対応する過渡回復電圧波形の２点を判定処理する。
【００２５】
接線生成部１５は、４パラメータ法に必要となる接線を生成する。この接線生成部１５は、第１接線、第２接線、及び第３の接線を生成する。このため、接線生成部１５は、第１の接線生成部、第２の接線生成部、第３の接線生成部としての機能を有する。
【００２６】
第１の接線は、接点判定部１４によって求めた２点を通る接線（後述する接線Ｌ１）である。第２の接線は、原点から過渡回復電圧波形への接線である（後述する接線α）。第３の接線は、過渡回復電圧波形の最大値（ピーク値）を接点とする時間軸と平行な接線（後述する接線β）である。なお、第２の接線及び第３の接線それぞれの生成は、周知技術であるため、説明を省略する。
【００２７】
交点検出部１６は、第１の接線、第２の接線及び第３の接線の交点を検出する。この交点検出部１６は、第１の交点及び第２の交点を検出する。このため、交点検出部１６は、第１の交点検出部、第２の交点検出部としての機能を有する。第１の交点は、第１の接線と第２の接線との交点である。第２の交点は、第１の接線と第３の接線との交点である。
【００２８】
パラメータ算出部１７は、４パラメータ法の４つのパラメータ（規約値）を算出する処理部である。このため、パラメータ算出部１７は、初期波高値算出部、初期波高時間（あるいは初期上昇率）算出部、波高値算出部、波高時間算出部としての機能を有する。
【００２９】
初期波高値及び初期波高時間は、第１の交点から求めることができる。波高値及び波高時間は、第２の交点から求めることができる。これらの手法は、周知技術であるため、説明を省略する。
【００３０】
記憶部２０は、測定処理部１０の処理に必要なデータ、検出部、演算結果、生成されたデータ等各種の情報を記憶する。なお、過渡回復電圧波形については、波形生成部１１により生成されたものを記憶しても良いし、あるいは、あらかじめ外部において生成されてから入力部３０で入力されたものを記憶してもよい。つまり、本実施形態では、測定処理部１０が処理可能な状態となるように、過渡回復電圧波形が記憶されていればよい。このような過渡回復電圧波形を記憶した領域が、波形記憶部を構成する。
【００３１】
また、記憶部２０には、測定処理部１０の処理に必要な各種の設定を記憶した設定記憶部も構成される。この設定には、たとえば、演算式、演算式に用いるパラメータの初期値、その変化量等の各種の処理の基準が含まれる。記憶部２０に記憶される情報は、たとえば入力部３０を介して外部から入力された情報でもよい。
【００３２】
このような記憶部２０は、典型的にはコンピュータに内蔵、またはコンピュータに外部接続された各種メモリ、ハードディスク、光ディスク等により構成できるが、現在または将来において利用可能なあらゆる記憶媒体を利用可能とする。
【００３３】
演算に用いるレジスタ等も、記憶部２０の一部として捉えることができる。すでに情報が記憶された記憶媒体を、その媒体用の読み取り装置に装着することにより、測定処理部１０において利用可能となる態様でもよい。
【００３４】
出力部４０は、各種データ、過渡回復電圧波形、変換された波形、接線、交点、演算されたパラメータ値等を、管理者、操作者等も含むユーザが認識可能となるように出力する。この出力部４０としては、たとえば表示装置、プリンタ等が考えられる。但し、現在または将来において利用可能なあらゆる出力装置を含む。
【００３５】
［動作］  
次いで前記実施形態の動作について図２及び図３を用いて説明する。  
図２は、前記過渡回復電圧測定装置１で実行する処理内容を示すフローチャートである。まず波形生成部１１が、予め記憶部２０に記憶されるか、あるいは外部から入力部３０を介して入力し、記録部２０に記憶させた過渡回復電圧検出値に基づいて、過渡回復電圧波形を生成して記録部２０に記憶させる（ステップＳ０１）。
【００３６】
図３（Ａ）は、このとき生成した過渡回復電圧波形Ｖ１を例示する。この波形Ｖ１は多重周波からなる波形であり、遮断器電流を遮断した後の過渡回復電圧（ＴＲＶ）の波形として考えられる。電圧波形の場合、横軸（Ｘ軸）を時間（μｓ）、縦軸（Ｙ軸）を電圧（ｋＶ）として生成する。
【００３７】
同図（Ａ）中、Ｌ１は、本実施形態で生成することを目的とする接線（後述する第１の接線）である。この接線Ｌ１は、後述する過程での処理の結果、波形Ｖ１における原点から波高部の間の隆起部Ａ１と、波高部に対応する隆起部Ａ２との間に引かれる。この波形Ｖ１において、接線Ｌ１を引いたときに接点となる２点をａ点及びｂ点とする。
【００３８】
なお、波形Ｖ１に関しては、予め生成されて記憶部２０に記憶されている過渡回復電圧波形を用いてもよい。
【００３９】
波形変換部１２の調整部１２Ｂは、演算部１２Ａで波形を時間微分した後（ステップＳ０２）、定数を引き算し（ステップＳ０３）、その差に対して積分を施すことで元の過渡回復電圧波形を変換する（ステップＳ０４）。
【００４０】
図３（Ｂ）は、前記図３（Ａ）の過渡回復電圧波形Ｖ１を微分した時間微分波形Ｖ２を示す。さらに図３（Ｃ）は、前記図３（Ｂ）の時間微分波形Ｖ２に対し、予め設定された定数を減算した変形波形Ｖ３を示す。この減算の結果としての差分波形に対して定数積分を施すことで、変換波形を得る。
【００４１】
波高判定部１３は、変換された波形において、最大値（ピーク値）を判定し（ステップＳ０５）、この最大値に一致する値を示す点があるか否かを比較判定する（ステップＳ０６）。
【００４２】
この判定の結果、最大値が一致しない場合には、波高判定部１３の判定に基づいて調整部１２Ｂが、所定の基準に従って引き算する定数の値を変更して調整した上で（ステップＳ０７）、前記ステップＳ０３からの処理に戻る。
【００４３】
こうして前記ステップＳ０３〜Ｓ０７の処理を繰返し実行することで、２つの最大値が一致するまで減算に用いる定数を調整しながら処理を続行する。
【００４４】
しかして、２つの最大値が一致した場合、ステップＳ０６で波高判定部１３が一致を判定すると、次いで接点検出部１４がそれら２つの最大値に対応する過渡回復電圧波形での２点（接点）を検出する（ステップＳ０８）。
【００４５】
この２点の判定は、たとえば前記接点検出部１４に設定された時刻判定部、接点判定部によって行なう。すなわち、時刻判定部が、最大値の２点の時刻を求める。そして、接点判定部が、その時刻における過渡回復電圧波形の２点を判定する。
【００４６】
図３（Ｄ）は、前記図３（Ｃ）の波形Ｖ３を定数積分した波形Ｖ４である。同図（Ｄ）中、Ｌ２は、波形Ｖ１を変換した波形Ｖ２が最大値（ピーク値）と同じとなる２点が存在するに至った場合に、その２点に接する接線である。
【００４７】
ここで、波形Ｖ１と接線Ｌ１との接点となる前記ａ点及びｂ点に対応する点が、変換された波形Ｖ４上ではａ′点及びｂ′点となる。これらａ′点及びｂ′点は、元のａ点及びｂ点と、横軸の時間値ｔａ，ｔｂは同じである。
【００４８】
前記波形Ｖ３におけるａ点とｂ点は、時間に対応する値が０となるように、定数を適切に設定して積分の演算処理を施すことにより、ａ′点及びｂ′点の間に引いた接線Ｌ２が横軸と平行となる。
【００４９】
そこで、波形Ｖ１を前述した如く変換した波形Ｖ４において、ａ′点及びｂ′点の値が同じになるように定数を減算して積分の演算処理を実行し、図３（Ｄ）に示した時間値ｔａ，ｔｂを求める。これら時間値ｔａ，ｔｂは、そのまま元の波形Ｖ１における接線Ｌ１が接するａ点及びｂ点の横軸の値となる。これにより、元の波形Ｖ１におけるａ点及びｂ点の値が導出できるため、接線Ｌ１を簡単に引くことができる。
【００５０】
具体的に過渡回復電圧測定装置１では、接線生成部１５が、接点検出部１４が検出した２つの接点を通る直線を、第１の接線（図３（Ａ）のＬ１，図５のγ参照）として生成する（ステップＳ０９）。また、接線生成部１５は、原点から過渡回復電圧波形への接線を、第２の接線（図５のα参照）として生成する（ステップＳ１０）。そして、交点検出部１６が、第１の接線と第２の接線との交点を、第１の交点（図５（Ａ）のＣ１参照）として検出する（ステップＳ１１）。
【００５１】
パラメータ算出部１７は、交点検出部１６が検出した第１の交点に基づいて、初期波高値Ｕ１及び初期波高時間ｔ１（あるいは初期上昇率）を算出し（ステップＳ１２）、記録部２０に記憶させる。
【００５２】
さらに、接線生成部１５は、波高値における時間軸と平行なる接線を、第３の接線（図５のβ参照）として生成する（ステップＳ１３）。そして、交点検出部１６が第１の接線と第３の接線との交点を、第２の交点（図５のＣ２参照）として検出する（ステップＳ１４）。
【００５３】
パラメータ算出部１７は、第２の交点に基づいて、既に判定済の波高値Ｕｃ及び波高時間ｔ２を算出して記録部２０に記憶させ（ステップＳ１５）、以上で図２に示す一連の処理を終了する。
【００５４】
なお、前記一連の処理で算出された各パラメータは、過渡回復電圧波形とともに記憶部２０に記憶される。これらのパラメータは、入力部３０での操作に応じて、記録部２０に記憶された内容を出力部４０に出力させる等により利用可能となる。
【００５５】
[効果]  
以上詳述した如く本実施形態によれば、多重周波となる過渡回復電圧において、波高部と原点との間に存在する隆起部と、波高部に対応する隆起部との間に引く共通接線を、簡易な演算処理により高速に生成することができる。このため、４パラメータ法における規約値を、高速に求めることができる。
【００５６】
特に、演算処理において調整する要素が減算で用いる定数１つであり、コンピュータで構成する過渡回復電圧測定装置１のソフトウェア実行時の演算処理の負担が軽く、高速に算出できる。
【００５７】
なお、前記した処理手順は、前記図２のフローチャートで示した例には限定されない。たとえば、前記の実施形態においては第１の接線を生成した後に、第２の接線、第３の接線を順に生成した。しかし、過渡回復電圧波形に対する第２の接線、第３の接線は、どの段階で求めてもよい。少なくとも過渡回復電圧波形が存在すれば、第２の接線及び第３の接線のいずれか一方、もしくは双方は、第１の接線の生成前に予め生成しておくことも可能である。
【００５８】
たとえば、図２におけるステップＳ０１の波形生成の処理後に、ステップＳ１０での第２の接戦を生成する処理を行ない、その後、ステップＳ０３以降の処理を行なうようにしてもよい。または、ステップＳ０１の波形生成の処理後に、ステップＳ１２での初期波高値及び初期波高時間の算出処理を行ない、その後に前記ステップＳ０３以降の処理を行なうようにしてもよい。
【００５９】
さらに、ステップＳ０１の波形生成の処理後に、ステップ１０及びステップ１３の処理を行ない、その後、ステップ０３以降の処理を行なうようにしてもよい。なお、交点の検出も、２接線の生成毎に行なうのではなく、すべての接線を生成した後にまとめて行なってもよい。
【００６０】
また、前記の「隆起部」とは、波形が上昇と下降を示す部分を広く含む意であり、「凸部」、「突出部」等とも言い換えることもできる。また、極性が逆の場合には、波形が窪んでいて「窪み部」、「凹部」、「凹み部」等とも言えるような部分についても、前記の「隆起部」と実質的には同じである。また、表示画面上で極性を反転させれば、「隆起」も「窪み」も同様となる。
【００６１】
また、波形変換部１２の調整部１２Ｂによる調整の対象となる値（減算に用いる定数）について、初期値や変化量（インクリメント、デクリメント、増分、差分等）をどのように設定するかは、自由である。たとえば、変化量を大きくして処理速度を早くしてもよいし、変化量を小さくして精度を高めてもよい。さらに、処理の開始時は、変化量を大きく設定し、処理が進行するに従って（所定の時間経過後、所定の回数変化後、所定の変化量だけで変化した後、等々）、変化量を小さくすることにより、処理速度と精度を最適化してもよい。また、たとえば、波形の極性が逆となる場合等に、減算が加算になるような場合、変化させる定数の値が増加ではなく、減少となる場合等があっても、実質的には同じ処理である。
【００６２】
また、前記の実施形態においては、接線検出部１４における時刻判定部が、波高判定部１３が判定した２点の時刻を求め、波高判定部が、その時刻に対応する過渡回復電圧波形の２点を判定している。ここで、時間、時刻は、２次元座標の横軸（Ｘ軸）を意味する。このため、時刻判定部による判定処理は、２点に対応する横軸の値を判定する判定処理と同じである。つまり、接点検出部による接線の検出は、２点の直上の（横軸の値を同じくする）２点を検出できればよい。したがって、接線検出部１４は、最大値の２点と横軸の値が一致する過渡回復電圧波形の２点を求める処理を行なえばよい。
【００６３】
また、前記の実施形態における測定装置、測定処理における「測定」とは、波形を表現するための情報を得ることを含む広い意味である。たとえば、各種情報の収集、検出、生成、算出、判定、特定等を含む。したがって、接線の生成、規約値の算出等も「測定」に含まれる。
【００６４】
このため、前記の実施形態における過渡回復電圧測定装置及び測定処理は、第１の接線を生成するための構成及び処理について着目すると、過渡回復電圧波形の接線生成装置、接線生成方法、接線生成プログラムとしても表現できる。これに対応する前記の実施形態の構成は、たとえば、波形生成部１１（または予め生成された波形の記憶部）、波形変換部１２、波高判定部１３、接点検出部１４、接線生成部１５等が挙げられる。
【００６５】
また、前記の実施形態における過渡回復電圧測定装置及び測定処理は、４パラメータ法の規約値を算出するための構成及び処理について着目すると、過渡回復電圧の規約値（パラメータ）算出装置、算出方法、算出プログラムとしても表現できる。これに対応する前記の実施形態の構成としては、たとえば、前記の接線生成装置の構成に、交点検出部１６、パラメータ算出部１７を加えたものが挙げられる。
【００６６】
さらに、前記の実施形態において対象となる波形は、過渡回復電圧の波形に限定されず、波形一般に適用することもできる。つまり、波形の接線生成装置、接線生成方法及び接線生成プログラムとしても把握できる。これに対応する前記の実施形態の構成は、たとえば、前記の接線生成装置おいて、波形生成部１１により生成される波形（もしくははあらかじめ生成され、波形記憶部に記憶された波形）を、一般の波形（多重周波を含む）としたものが考えられる。
【００６７】
以上、本発明の一実施形態を説明したが、実施形態は例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の趣旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行なうことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
【符号の説明】
【００６８】
１…過渡回復電圧測定装置、１０…波形処理部、１１…波形生成部、１２…波形変換部、１２Ａ…演算部、１２Ｂ…調整部、１３…波高判定部、１４…接点検出部、１５…接線生成部、１６…交点検出部、１７…パラメータ算出部、２０…記録部、３０…入力部、４０…出力部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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