(57)【要約】【課題】平均値を短時間で取得可能とし、かつ製造コストを低減する。【解決手段】Ｎａ個（６≦Ｎａ）のうちのＭａ個（２≦Ｍａ≦Ｎａ−４）の小さな値の測定値、およびＭｂ個（２≦Ｍｂ≦Ｎａ−４）の大きな値の測定値を除くＬａ個（２≦Ｌａ＝Ｎａ−Ｍａ−Ｍｂ）の平均値を取得する際に、１個目の測定値を領域６ａ，６ｂ，６ｄに記憶させ（ステップ１２〜１４）、Ｋａ個目（２≦Ｋａ≦Ｍａ）の測定値に応じて領域６ａ内の総合計値、領域６ｂ内の第１合計値および領域６ｄ内の測定値を更新し（Ａ処理１０Ａ）、Ｋｂ個目（Ｋｂ＝Ｍａ＋１）からＫｄ個目（Ｍａ＋Ｍｂ＋１≦Ｋｄ≦Ｎａ）までの測定値に応じて総合計値、第１合計値、領域６ｃ内の第２合計値および領域６ｄ，６ｅ内の測定値を更新し（Ｂ処理１０Ｂ、Ｃ処理１０Ｃ、処理１０Ｄ）、その後に総合計値から第１合計値および第２合計値を差し引いた値をＬａで除して平均値を取得する（ステップ１５）。【選択図】図３
2013253860.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
物理量を測定して測定値を出力する測定部と、前記測定部から出力されたＮａ個（Ｎａは、６以上の自然数）の前記測定値のうちのＭａ個（Ｍａは、２以上で（Ｎａ−４）以下の自然数）の小さな値の当該測定値、およびＭｂ個（Ｍｂは、２以上で（Ｎａ−４）以下の自然数）の大きな値の当該測定値を除くＬａ個（Ｌａは、（Ｎａ−Ｍａ−Ｍｂ）であって２以上の自然数）の当該測定値の平均値を取得する処理部とを備えた測定装置であって、
総合計値を記憶可能な総合計値記憶部、第１合計値を記憶可能な第１合計値記憶部、第２合計値を記憶可能な第２合計値記憶部、Ｍａ個の前記測定値を記憶可能な第１測定値記憶部、およびＭｂ個の前記測定値を記憶可能な第２測定値記憶部を備え、
前記処理部は、１個目の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、当該１個目の測定値を前記総合計値として前記総合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該１個目の測定値を前記第１合計値として前記第１合計値記憶部に記憶させると共に、当該１個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させ、Ｋａ個目（Ｋａは、２以上でＭａ以下の各自然数）の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ａ１、処理Ａ２および処理Ａ３を実行し、Ｋｂ個目（Ｋｂは、（Ｍａ＋１））の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ｂ１および処理Ｂ２を実行し、Ｋｃ個目（Ｋｃは、（Ｍａ＋２）以上で（Ｍａ＋Ｍｂ）以下の各自然数）の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ｃ１および処理Ｃ２を実行し、Ｋｄ個目（Ｋｄは、（Ｍａ＋Ｍｂ＋１）以上でＮａ以下の各自然数）の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ｄ１および処理Ｄ２を実行し、前記測定部から出力されたＮａ個目の前記測定値を対象とする前記処理Ｄ１および前記処理Ｄ２を完了したときに、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値から前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値、および前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値を差し引いた値をＬａで除して前記平均値を取得し、
前記処理Ａ１は、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｋａ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ａ２は、前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値に前記Ｋａ個目の測定値を加算して新たな前記第１合計値として当該第１合計値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ａ３は、前記Ｋａ個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ｂ１は、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｋｂ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ｂ２は、前記Ｋｂ個目の測定値が前記第１測定値記憶部に記憶されている前記Ｍａ個の測定値のうちの最大値以上のときに当該Ｋｂ個目の測定値を前記第２合計値として前記第２合計値記憶部に記憶させると共に、当該Ｋｂ個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させ、当該Ｋｂ個目の測定値が前記第１測定値記憶部に記憶されている前記Ｍａ個の測定値のうちの最大値よりも小さいときに当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値を前記第２合計値として前記第２合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値を前記第２測定値記憶部に記憶させると共に、前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値から当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値を差し引いた値に当該Ｋｂ個目の測定値を加算して新たな前記第１合計値として当該第１合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値に代えて当該Ｋｂ個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ｃ１は、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｋｃ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ｃ２は、前記Ｋｃ個目の測定値が前記第１測定値記憶部に記憶されている前記Ｍａ個の測定値のうちの最大値以上のときに前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値に当該Ｋｃ個目の測定値を加算して新たな前記第２合計値として当該第２合計値記憶部に記憶させると共に、当該Ｋｃ個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させ、当該Ｋｃ個目の測定値が前記第１測定値記憶部に記憶されている前記Ｍａ個の測定値のうちの最大値よりも小さいときに前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値に当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値を加算して新たな前記第２合計値として前記第２合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値を前記第２測定値記憶部に記憶させると共に、前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値から当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値を差し引いた値に当該Ｋｃ個目の測定値を加算して新たな前記第１合計値として当該第１合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値に代えて当該Ｋｃ個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ｄ１は、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｋｄ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ｄ２は、前記Ｋｄ個目の測定値が前記第１測定値記憶部に記憶されている前記Ｍａ個の測定値のうちの最大値よりも小さいときに前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値から当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値を差し引いた値に当該Ｋｄ個目の測定値を加算して新たな前記第１合計値として当該第１合計値記憶部に記憶させると共に、当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値に代えて当該Ｋｄ個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させ、当該Ｋｄ個目の測定値が前記第２測定値記憶部に記憶されている前記Ｍｂ個の測定値のうちの最小値よりも大きいときに前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値から当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値を差し引いた値に当該Ｋｄ個目の測定値を加算して新たな前記第２合計値として当該第２合計値記憶部に記憶させると共に、当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値に代えて当該Ｋｄ個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させる処理である測定装置。
【請求項２】
前記第１測定値記憶部は、（Ｍａ＋１）個の前記測定値を記憶可能に構成され、
前記第２測定値記憶部は、（Ｍｂ＋１）個の前記測定値を記憶可能に構成され、
前記処理部は、前記Ｋｄ個目の測定値を前記第１測定値記憶部および前記第２測定値記憶部にそれぞれ記憶させ、かつ、前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値に当該Ｋｄ個目の測定値を加算した値から前記第１測定値記憶部に記憶されている（Ｍａ＋１）個の前記測定値のうちの最大値を差し引いた値を新たな前記第１合計値として当該第１合計値記憶部に記憶させると共に、前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値に当該Ｋｄ個目の測定値を加算した値から前記第２測定値記憶部に記憶されている（Ｍｂ＋１）個の前記測定値のうちの最小値を差し引いた値を新たな前記第２合計値として当該第２合計値記憶部に記憶させた後に、前記第１測定値記憶部に記憶されている（Ｍａ＋１）個の前記測定値のうちの最大値を当該第１測定値記憶部から削除すると共に、前記第２測定値記憶部に記憶されている（Ｍｂ＋１）個の前記測定値のうちの最小値を当該第２測定値記憶部から削除する処理を前記処理Ｄ２として実行する請求項１記載の測定装置。
【請求項３】
物理量を測定して測定値を出力する測定部と、前記測定部から出力されたＮａ個（Ｎａは、６以上の自然数）の前記測定値のうちのＭａ個（Ｍａは、２以上で（Ｎａ−４）以下の自然数）の小さな値の当該測定値、およびＭｂ個（Ｍｂは、２以上で（Ｎａ−４）以下の自然数）の大きな値の当該測定値を除くＬａ個（Ｌａは、（Ｎａ−Ｍａ−Ｍｂ）であって２以上の自然数）の当該測定値の平均値を取得する処理部とを備えた測定装置であって、
総合計値を記憶可能な総合計値記憶部、第１合計値を記憶可能な第１合計値記憶部、第２合計値を記憶可能な第２合計値記憶部、Ｍａ個の前記測定値を記憶可能な第１測定値記憶部、およびＭｂ個の前記測定値を記憶可能な第２測定値記憶部を備え、
前記処理部は、１個目の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、当該１個目の測定値を前記総合計値として前記総合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該１個目の測定値を前記第２合計値として前記第２合計値記憶部に記憶させると共に、当該１個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させ、Ｊａ個目（Ｊａは、２以上でＭｂ以下の各自然数）の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ａａ、処理Ａｂおよび処理Ａｃを実行し、Ｊｂ個目（Ｊｂは、（Ｍｂ＋１））の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ｂａおよび処理Ｂｂを実行し、Ｊｃ個目（Ｊｃは、（Ｍｂ＋２）以上で（Ｍａ＋Ｍｂ）以下の各自然数）の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ｃａおよび処理Ｃｂを実行し、Ｊｄ個目（Ｊｄは、（Ｍａ＋Ｍｂ＋１）以上でＮａ以下の各自然数）の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ｄａおよび処理Ｄｂを実行し、前記測定部から出力されたＮａ個目の前記測定値を対象とする前記処理Ｄａおよび前記処理Ｄｂを完了したときに、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値から前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値、および前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値を差し引いた値をＬａで除して前記平均値を取得し、
前記処理Ａａは、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｊａ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ａｂは、前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値に前記Ｊａ個目の測定値を加算して新たな前記第２合計値として当該第２合計値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ａｃは、前記Ｊａ個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ｂａは、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｊｂ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ｂｂは、前記Ｊｂ個目の測定値が前記第２測定値記憶部に記憶されている前記Ｍｂ個の測定値のうちの最小値以下のときに当該Ｊｂ個目の測定値を前記第１合計値として前記第１合計値記憶部に記憶させると共に、当該Ｊｂ個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させ、当該Ｊｂ個目の測定値が前記第２測定値記憶部に記憶されている前記Ｍｂ個の測定値のうちの最小値よりも大きいときに当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値を前記第１合計値として前記第１合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値を前記第１測定値記憶部に記憶させると共に、前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値から当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値を差し引いた値に当該Ｊｂ個目の測定値を加算して新たな前記第２合計値として当該第２合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値に代えて当該Ｊｂ個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ｃａは、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｊｃ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ｃｂは、前記Ｊｃ個目の測定値が前記第２測定値記憶部に記憶されている前記Ｍｂ個の測定値のうちの最小値以下のときに前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値に当該Ｊｃ個目の測定値を加算して新たな前記第１合計値として当該第１合計値記憶部に記憶させると共に、当該Ｊｃ個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させ、当該Ｊｃ個目の測定値が前記第２測定値記憶部に記憶されている前記Ｍｂ個の測定値のうちの最小値よりも大きいときに前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値に当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値を加算して新たな前記第１合計値として前記第１合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値を前記第１測定値記憶部に記憶させると共に、前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値から当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値を差し引いた値に当該Ｊｃ個目の測定値を加算して新たな前記第２合計値として当該第２合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値に代えて当該Ｊｃ個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ｄａは、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｊｄ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ｄｂは、前記Ｊｄ個目の測定値が前記第２測定値記憶部に記憶されている前記Ｍｂ個の測定値のうちの最小値よりも大きいときに前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値から当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値を差し引いた値に当該Ｊｄ個目の測定値を加算して新たな前記第２合計値として当該第２合計値記憶部に記憶させると共に、当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値に代えて当該Ｊｄ個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させ、当該Ｊｄ個目の測定値が前記第１測定値記憶部に記憶されている前記Ｍａ個の測定値のうちの最大値よりも小さいときに前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値から当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値を差し引いた値に当該Ｊｄ個目の測定値を加算して新たな前記第１合計値として当該第１合計値記憶部に記憶させると共に、当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値に代えて当該Ｊｄ個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させる処理である測定装置。
【請求項４】
前記第１測定値記憶部は、（Ｍａ＋１）個の前記測定値を記憶可能に構成され、
前記第２測定値記憶部は、（Ｍｂ＋１）個の前記測定値を記憶可能に構成され、
前記処理部は、前記Ｊｄ個目の測定値を前記第１測定値記憶部および前記第２測定値記憶部にそれぞれ記憶させ、かつ、前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値に当該Ｊｄ個目の測定値を加算した値から前記第１測定値記憶部に記憶されている（Ｍａ＋１）個の前記測定値のうちの最大値を差し引いた値を新たな前記第１合計値として当該第１合計値記憶部に記憶させると共に、前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値に当該Ｊｄ個目の測定値を加算した値から前記第２測定値記憶部に記憶されている（Ｍｂ＋１）個の前記測定値のうちの最小値を差し引いた値を新たな前記第２合計値として当該第２合計値記憶部に記憶させた後に、前記第１測定値記憶部に記憶されている（Ｍａ＋１）個の前記測定値のうちの最大値を当該第１測定値記憶部から削除すると共に、前記第２測定値記憶部に記憶されている（Ｍｂ＋１）個の前記測定値のうちの最小値を当該第２測定値記憶部から削除する処理を前記処理Ｄｂとして実行する請求項３記載の測定装置。
【請求項５】
物理量を測定して測定値を出力する測定部と、前記測定部から出力されたＮｂ個（Ｎｂは、４以上の自然数）の前記測定値のうちのＭａ個（Ｍａは、２以上で（Ｎｂ−２）以下の自然数）の小さな値の当該測定値を除くＬｂ個（Ｌｂは、（Ｎｂ−Ｍａ）であって２以上の自然数）の当該測定値の平均値を取得する処理部とを備えた測定装置であって、
総合計値を記憶可能な総合計値記憶部、第１合計値を記憶可能な第１合計値記憶部、およびＭａ個の前記測定値を記憶可能な第１測定値記憶部を備え、
前記処理部は、１個目の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、当該１個目の測定値を前記総合計値として前記総合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該１個目の測定値を前記第１合計値として前記第１合計値記憶部に記憶させると共に、当該１個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させ、Ｉａ個目（Ｉａは、２以上でＭａ以下の各自然数）の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ａ１、処理Ａ２および処理Ａ３を実行し、Ｉｂ個目（Ｉｂは、（Ｍａ＋１）以上でＮｂ以下の各自然数）の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ａ４および処理Ａ５を実行し、前記測定部から出力されたＮｂ個目の前記測定値を対象とする前記処理Ａ４および前記処理Ａ５を完了したときに、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値から前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値を差し引いた値をＬｂで除して前記平均値を取得し、
前記処理Ａ１は、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｉａ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ａ２は、前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値に前記Ｉａ個目の測定値を加算して新たな前記第１合計値として当該第１合計値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ａ３は、前記Ｉａ個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ａ４は、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｉｂ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ａ５は、前記Ｉｂ個目の測定値が前記第１測定値記憶部に記憶されている前記Ｍａ個の測定値のうちの最大値よりも小さいときに前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値から当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値を差し引いた値に当該Ｉｂ個目の測定値を加算して新たな前記第１合計値として当該第１合計値記憶部に記憶させると共に、当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値に代えて当該Ｉｂ個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させる処理である測定装置。
【請求項６】
物理量を測定して測定値を出力する測定部と、前記測定部から出力されたＮｂ個（Ｎｂは、４以上の自然数）の前記測定値のうちのＭｂ個（Ｍｂは、２以上で（Ｎｂ−２）以下の自然数）の大きな値の当該測定値を除くＬｂ個（Ｌｂは、（Ｎｂ−Ｍｂ）であって２以上の自然数）の当該測定値の平均値を取得する処理部とを備えた測定装置であって、
総合計値を記憶可能な総合計値記憶部、第２合計値を記憶可能な第２合計値記憶部、およびＭｂ個の前記測定値を記憶可能な第２測定値記憶部を備え、
前記処理部は、１個目の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、当該１個目の測定値を前記総合計値として前記総合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該１個目の測定値を前記第２合計値として前記第２合計値記憶部に記憶させると共に、当該１個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させ、Ｈａ個目（Ｈａは、２以上でＭｂ以下の各自然数）の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ａａ、処理Ａｂおよび処理Ａｃを実行し、Ｈｂ個目（Ｈｂは、（Ｍｂ＋１）以上でＮｂ以下の各自然数）の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ａｄおよび処理Ａｅを実行し、前記測定部から出力されたＮｂ個目の前記測定値を対象とする前記処理Ａｄおよび前記処理Ａｅを完了したときに、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値から前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値を差し引いた値をＬｂで除して前記平均値を取得し、
前記処理Ａａは、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｈａ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ａｂは、前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値に前記Ｈａ個目の測定値を加算して新たな前記第２合計値として当該第２合計値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ａｃは、前記Ｈａ個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ａｄは、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｈｂ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、
前記処理Ａｅは、前記Ｈｂ個目の測定値が前記第２測定値記憶部に記憶されている前記Ｍｂ個の測定値のうちの最小値よりも大きいときに前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値から当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値を差し引いた値に当該Ｈｂ個目の測定値を加算して新たな前記第２合計値として当該第２合計値記憶部に記憶させると共に、当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値に代えて当該Ｈｂ個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させる処理である測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の測定値のうちの小さな値の測定値および大きな値の測定値の少なくとも一方を除く測定値の平均値を取得可能に構成された測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の測定装置として、複数の測定値（電流値）を平均化した平均値に基づいて抵抗値を演算する構成の絶縁抵抗測定装置が特開平８−１２２３７３号公報に開示されている。この絶縁抵抗測定装置による絶縁抵抗の測定処理に際しては、まず、ＡＤコンバータから順次出力される変換値（測定値）に比例定数を乗じて電流値を求め、求めた電流値を電流値Ｉ（１）〜Ｉ（ｎ）として記憶する。また、ｎ回のサンプリングが終了したときに、電流値Ｉ（１）〜Ｉ（ｎ）をソートすることによってｍ個（ｍは、ｎ／２よりも小さな数）の小さな値の電流値、およびｍ個の大きな値の電流値をそれぞれ抽出すると共に、抽出した２ｍ個の電流値を除く（ｎ−２ｍ）個の電流値を平均化して平均値Ｉｍ１を算出する。次いで、予め規定された時間が経過した後に、上記のｎ回のサンプリング時と同様にｎ個の電流値Ｉ（１）〜Ｉ（ｎ）を再び取得し、このｎ個の電流値Ｉ（１）〜Ｉ（ｎ）のうちのｍ個の小さな値の電流値およびｍ個の大きな値の電流値を除く（ｎ−２ｍ）個の電流値を平均化して平均値Ｉｍ２を算出する。
【０００３】
次いで、平均値Ｉｍ１から平均値Ｉｍ２を差し引いた値ｄと電源容量低下判定用しきい値ｄｍａｘとの大小を比較する。この際に、値ｄがしきい値ｄｍａｘ以上のときには、電源電池の容量が低下しているものとして警告表示する。一方、値ｄがしきい値ｄｍａｘよりも小さいときには、平均値Ｉｍ１と平均値Ｉｍ２とを平均化して平均値Ｉｍを算出すると共に、測定用電圧Ｖｃｃの電圧値を平均値Ｉｍで除して絶縁抵抗値Ｒを算出する。これにより、測定処理が完了して、算出された絶縁抵抗値Ｒが表示部に表示される。この場合、この絶縁抵抗測定装置では、ｎ個の電流値のうちのｍ個の小さな値の電流値およびｍ個の大きな値の電流値を除く（ｎ−２ｍ）個の電流値を平均化する構成が採用されており、これにより、測定誤差が生じて過剰に大きな値として測定された電流値や、過剰に小さな値として測定された電流値の影響によって測定精度が低下する事態が回避されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平８−１２２３７３号公報（第３−４頁、第１−６図）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところが、従来の絶縁抵抗測定装置には、以下の解決すべき問題点が存在する。すなわち、従来の絶縁抵抗測定装置では、ｎ回のサンプリングが終了した後に、演算対象の電流値の数が多数のときに、ｎ個の電圧値をソートしてｍ個の小さな値の電流値およびｍ個の大きな値の電流値をそれぞれ抽出すると共に、抽出した２ｍ個の電流値を除く（ｎ−２ｍ）個の電圧値を平均化することで平均値Ｉｍ１，Ｉｍ２を取得する構成が採用されている。この場合、ｎ回のサンプリングが終了した後に、２ｍ個の電流値の抽出処理や、（ｎ−２ｍ）個の電圧値の平均化処理を実行する従来の絶縁抵抗測定装置では、ｎ個の電圧値のすべてを記憶可能な大きな記憶容量を確保する必要がある。このため、従来の絶縁抵抗測定装置では、記憶用のメモリとして大容量のメモリを搭載しなくてはならず、これに起因して、製造コストの低減が困難になっているという問題点がある。
【０００６】
また、従来の絶縁抵抗測定装置では、上記したように、ｎ個の電流値をソートしてｍ個の小さな値の電流値およびｍ個の大きな値の電流値をそれぞれ抽出する構成が採用されている。この場合、複数の値を対象とするソートには長い処理時間を要する。このため、従来の絶縁抵抗測定装置では、ｎ回のサンプリングが終了してから、（ｎ−２ｍ）個の電圧値の平均化処理を開始するまでに長時間を要することから、結果として、平均値Ｉｍ１，Ｉｍ２を短時間で取得するのが困難になっているという問題点も存在する。
【０００７】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、平均値を短時間で取得することができ、しかも、製造コストの低減を図り得る測定装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成すべく、請求項１記載の測定装置は、物理量を測定して測定値を出力する測定部と、前記測定部から出力されたＮａ個（Ｎａは、６以上の自然数）の前記測定値のうちのＭａ個（Ｍａは、２以上で（Ｎａ−４）以下の自然数）の小さな値の当該測定値、およびＭｂ個（Ｍｂは、２以上で（Ｎａ−４）以下の自然数）の大きな値の当該測定値を除くＬａ個（Ｌａは、（Ｎａ−Ｍａ−Ｍｂ）であって２以上の自然数）の当該測定値の平均値を取得する処理部とを備えた測定装置であって、総合計値を記憶可能な総合計値記憶部、第１合計値を記憶可能な第１合計値記憶部、第２合計値を記憶可能な第２合計値記憶部、Ｍａ個の前記測定値を記憶可能な第１測定値記憶部、およびＭｂ個の前記測定値を記憶可能な第２測定値記憶部を備え、前記処理部は、１個目の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、当該１個目の測定値を前記総合計値として前記総合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該１個目の測定値を前記第１合計値として前記第１合計値記憶部に記憶させると共に、当該１個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させ、Ｋａ個目（Ｋａは、２以上でＭａ以下の各自然数）の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ａ１、処理Ａ２および処理Ａ３を実行し、Ｋｂ個目（Ｋｂは、（Ｍａ＋１））の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ｂ１および処理Ｂ２を実行し、Ｋｃ個目（Ｋｃは、（Ｍａ＋２）以上で（Ｍａ＋Ｍｂ）以下の各自然数）の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ｃ１および処理Ｃ２を実行し、Ｋｄ個目（Ｋｄは、（Ｍａ＋Ｍｂ＋１）以上でＮａ以下の各自然数）の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ｄ１および処理Ｄ２を実行し、前記測定部から出力されたＮａ個目の前記測定値を対象とする前記処理Ｄ１および前記処理Ｄ２を完了したときに、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値から前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値、および前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値を差し引いた値をＬａで除して前記平均値を取得し、前記処理Ａ１は、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｋａ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ａ２は、前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値に前記Ｋａ個目の測定値を加算して新たな前記第１合計値として当該第１合計値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ａ３は、前記Ｋａ個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ｂ１は、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｋｂ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ｂ２は、前記Ｋｂ個目の測定値が前記第１測定値記憶部に記憶されている前記Ｍａ個の測定値のうちの最大値以上のときに当該Ｋｂ個目の測定値を前記第２合計値として前記第２合計値記憶部に記憶させると共に、当該Ｋｂ個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させ、当該Ｋｂ個目の測定値が前記第１測定値記憶部に記憶されている前記Ｍａ個の測定値のうちの最大値よりも小さいときに当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値を前記第２合計値として前記第２合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値を前記第２測定値記憶部に記憶させると共に、前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値から当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値を差し引いた値に当該Ｋｂ個目の測定値を加算して新たな前記第１合計値として当該第１合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値に代えて当該Ｋｂ個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ｃ１は、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｋｃ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ｃ２は、前記Ｋｃ個目の測定値が前記第１測定値記憶部に記憶されている前記Ｍａ個の測定値のうちの最大値以上のときに前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値に当該Ｋｃ個目の測定値を加算して新たな前記第２合計値として当該第２合計値記憶部に記憶させると共に、当該Ｋｃ個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させ、当該Ｋｃ個目の測定値が前記第１測定値記憶部に記憶されている前記Ｍａ個の測定値のうちの最大値よりも小さいときに前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値に当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値を加算して新たな前記第２合計値として前記第２合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値を前記第２測定値記憶部に記憶させると共に、前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値から当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値を差し引いた値に当該Ｋｃ個目の測定値を加算して新たな前記第１合計値として当該第１合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値に代えて当該Ｋｃ個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ｄ１は、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｋｄ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ｄ２は、前記Ｋｄ個目の測定値が前記第１測定値記憶部に記憶されている前記Ｍａ個の測定値のうちの最大値よりも小さいときに前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値から当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値を差し引いた値に当該Ｋｄ個目の測定値を加算して新たな前記第１合計値として当該第１合計値記憶部に記憶させると共に、当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値に代えて当該Ｋｄ個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させ、当該Ｋｄ個目の測定値が前記第２測定値記憶部に記憶されている前記Ｍｂ個の測定値のうちの最小値よりも大きいときに前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値から当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値を差し引いた値に当該Ｋｄ個目の測定値を加算して新たな前記第２合計値として当該第２合計値記憶部に記憶させると共に、当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値に代えて当該Ｋｄ個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させる処理である。
【０００９】
また、請求項２記載の測定装置は、請求項１記載の測定装置において、前記第１測定値記憶部は、（Ｍａ＋１）個の前記測定値を記憶可能に構成され、前記第２測定値記憶部は、（Ｍｂ＋１）個の前記測定値を記憶可能に構成され、前記処理部は、前記Ｋｄ個目の測定値を前記第１測定値記憶部および前記第２測定値記憶部にそれぞれ記憶させ、かつ、前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値に当該Ｋｄ個目の測定値を加算した値から前記第１測定値記憶部に記憶されている（Ｍａ＋１）個の前記測定値のうちの最大値を差し引いた値を新たな前記第１合計値として当該第１合計値記憶部に記憶させると共に、前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値に当該Ｋｄ個目の測定値を加算した値から前記第２測定値記憶部に記憶されている（Ｍｂ＋１）個の前記測定値のうちの最小値を差し引いた値を新たな前記第２合計値として当該第２合計値記憶部に記憶させた後に、前記第１測定値記憶部に記憶されている（Ｍａ＋１）個の前記測定値のうちの最大値を当該第１測定値記憶部から削除すると共に、前記第２測定値記憶部に記憶されている（Ｍｂ＋１）個の前記測定値のうちの最小値を当該第２測定値記憶部から削除する処理を前記処理Ｄ２として実行する。
【００１０】
また、請求項３記載の測定装置は、物理量を測定して測定値を出力する測定部と、前記測定部から出力されたＮａ個（Ｎａは、６以上の自然数）の前記測定値のうちのＭａ個（Ｍａは、２以上で（Ｎａ−４）以下の自然数）の小さな値の当該測定値、およびＭｂ個（Ｍｂは、２以上で（Ｎａ−４）以下の自然数）の大きな値の当該測定値を除くＬａ個（Ｌａは、（Ｎａ−Ｍａ−Ｍｂ）であって２以上の自然数）の当該測定値の平均値を取得する処理部とを備えた測定装置であって、総合計値を記憶可能な総合計値記憶部、第１合計値を記憶可能な第１合計値記憶部、第２合計値を記憶可能な第２合計値記憶部、Ｍａ個の前記測定値を記憶可能な第１測定値記憶部、およびＭｂ個の前記測定値を記憶可能な第２測定値記憶部を備え、前記処理部は、１個目の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、当該１個目の測定値を前記総合計値として前記総合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該１個目の測定値を前記第２合計値として前記第２合計値記憶部に記憶させると共に、当該１個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させ、Ｊａ個目（Ｊａは、２以上でＭｂ以下の各自然数）の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ａａ、処理Ａｂおよび処理Ａｃを実行し、Ｊｂ個目（Ｊｂは、（Ｍｂ＋１））の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ｂａおよび処理Ｂｂを実行し、Ｊｃ個目（Ｊｃは、（Ｍｂ＋２）以上で（Ｍａ＋Ｍｂ）以下の各自然数）の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ｃａおよび処理Ｃｂを実行し、Ｊｄ個目（Ｊｄは、（Ｍａ＋Ｍｂ＋１）以上でＮａ以下の各自然数）の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ｄａおよび処理Ｄｂを実行し、前記測定部から出力されたＮａ個目の前記測定値を対象とする前記処理Ｄａおよび前記処理Ｄｂを完了したときに、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値から前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値、および前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値を差し引いた値をＬａで除して前記平均値を取得し、前記処理Ａａは、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｊａ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ａｂは、前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値に前記Ｊａ個目の測定値を加算して新たな前記第２合計値として当該第２合計値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ａｃは、前記Ｊａ個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ｂａは、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｊｂ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ｂｂは、前記Ｊｂ個目の測定値が前記第２測定値記憶部に記憶されている前記Ｍｂ個の測定値のうちの最小値以下のときに当該Ｊｂ個目の測定値を前記第１合計値として前記第１合計値記憶部に記憶させると共に、当該Ｊｂ個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させ、当該Ｊｂ個目の測定値が前記第２測定値記憶部に記憶されている前記Ｍｂ個の測定値のうちの最小値よりも大きいときに当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値を前記第１合計値として前記第１合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値を前記第１測定値記憶部に記憶させると共に、前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値から当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値を差し引いた値に当該Ｊｂ個目の測定値を加算して新たな前記第２合計値として当該第２合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値に代えて当該Ｊｂ個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ｃａは、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｊｃ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ｃｂは、前記Ｊｃ個目の測定値が前記第２測定値記憶部に記憶されている前記Ｍｂ個の測定値のうちの最小値以下のときに前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値に当該Ｊｃ個目の測定値を加算して新たな前記第１合計値として当該第１合計値記憶部に記憶させると共に、当該Ｊｃ個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させ、当該Ｊｃ個目の測定値が前記第２測定値記憶部に記憶されている前記Ｍｂ個の測定値のうちの最小値よりも大きいときに前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値に当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値を加算して新たな前記第１合計値として前記第１合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値を前記第１測定値記憶部に記憶させると共に、前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値から当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値を差し引いた値に当該Ｊｃ個目の測定値を加算して新たな前記第２合計値として当該第２合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値に代えて当該Ｊｃ個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ｄａは、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｊｄ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ｄｂは、前記Ｊｄ個目の測定値が前記第２測定値記憶部に記憶されている前記Ｍｂ個の測定値のうちの最小値よりも大きいときに前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値から当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値を差し引いた値に当該Ｊｄ個目の測定値を加算して新たな前記第２合計値として当該第２合計値記憶部に記憶させると共に、当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値に代えて当該Ｊｄ個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させ、当該Ｊｄ個目の測定値が前記第１測定値記憶部に記憶されている前記Ｍａ個の測定値のうちの最大値よりも小さいときに前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値から当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値を差し引いた値に当該Ｊｄ個目の測定値を加算して新たな前記第１合計値として当該第１合計値記憶部に記憶させると共に、当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値に代えて当該Ｊｄ個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させる処理である。
【００１１】
また、請求項４記載の測定装置は、請求項３記載の測定装置において、前記第１測定値記憶部は、（Ｍａ＋１）個の前記測定値を記憶可能に構成され、前記第２測定値記憶部は、（Ｍｂ＋１）個の前記測定値を記憶可能に構成され、前記処理部は、前記Ｊｄ個目の測定値を前記第１測定値記憶部および前記第２測定値記憶部にそれぞれ記憶させ、かつ、前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値に当該Ｊｄ個目の測定値を加算した値から前記第１測定値記憶部に記憶されている（Ｍａ＋１）個の前記測定値のうちの最大値を差し引いた値を新たな前記第１合計値として当該第１合計値記憶部に記憶させると共に、前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値に当該Ｊｄ個目の測定値を加算した値から前記第２測定値記憶部に記憶されている（Ｍｂ＋１）個の前記測定値のうちの最小値を差し引いた値を新たな前記第２合計値として当該第２合計値記憶部に記憶させた後に、前記第１測定値記憶部に記憶されている（Ｍａ＋１）個の前記測定値のうちの最大値を当該第１測定値記憶部から削除すると共に、前記第２測定値記憶部に記憶されている（Ｍｂ＋１）個の前記測定値のうちの最小値を当該第２測定値記憶部から削除する処理を前記処理Ｄｂとして実行する。
【００１２】
また、請求項５記載の測定装置は、物理量を測定して測定値を出力する測定部と、前記測定部から出力されたＮｂ個（Ｎｂは、４以上の自然数）の前記測定値のうちのＭａ個（Ｍａは、２以上で（Ｎｂ−２）以下の自然数）の小さな値の当該測定値を除くＬｂ個（Ｌｂは、（Ｎｂ−Ｍａ）であって２以上の自然数）の当該測定値の平均値を取得する処理部とを備えた測定装置であって、総合計値を記憶可能な総合計値記憶部、第１合計値を記憶可能な第１合計値記憶部、およびＭａ個の前記測定値を記憶可能な第１測定値記憶部を備え、前記処理部は、１個目の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、当該１個目の測定値を前記総合計値として前記総合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該１個目の測定値を前記第１合計値として前記第１合計値記憶部に記憶させると共に、当該１個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させ、Ｉａ個目（Ｉａは、２以上でＭａ以下の各自然数）の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ａ１、処理Ａ２および処理Ａ３を実行し、Ｉｂ個目（Ｉｂは、（Ｍａ＋１）以上でＮｂ以下の各自然数）の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ａ４および処理Ａ５を実行し、前記測定部から出力されたＮｂ個目の前記測定値を対象とする前記処理Ａ４および前記処理Ａ５を完了したときに、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値から前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値を差し引いた値をＬｂで除して前記平均値を取得し、前記処理Ａ１は、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｉａ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ａ２は、前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値に前記Ｉａ個目の測定値を加算して新たな前記第１合計値として当該第１合計値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ａ３は、前記Ｉａ個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ａ４は、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｉｂ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ａ５は、前記Ｉｂ個目の測定値が前記第１測定値記憶部に記憶されている前記Ｍａ個の測定値のうちの最大値よりも小さいときに前記第１合計値記憶部に記憶されている前記第１合計値から当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値を差し引いた値に当該Ｉｂ個目の測定値を加算して新たな前記第１合計値として当該第１合計値記憶部に記憶させると共に、当該Ｍａ個の測定値のうちの最大値に代えて当該Ｉｂ個目の測定値を前記第１測定値記憶部に記憶させる処理である。
【００１３】
また、請求項６記載の測定装置は、物理量を測定して測定値を出力する測定部と、前記測定部から出力されたＮｂ個（Ｎｂは、４以上の自然数）の前記測定値のうちのＭｂ個（Ｍｂは、２以上で（Ｎｂ−２）以下の自然数）の大きな値の当該測定値を除くＬｂ個（Ｌｂは、（Ｎｂ−Ｍｂ）であって２以上の自然数）の当該測定値の平均値を取得する処理部とを備えた測定装置であって、総合計値を記憶可能な総合計値記憶部、第２合計値を記憶可能な第２合計値記憶部、およびＭｂ個の前記測定値を記憶可能な第２測定値記憶部を備え、前記処理部は、１個目の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、当該１個目の測定値を前記総合計値として前記総合計値記憶部に記憶させ、かつ、当該１個目の測定値を前記第２合計値として前記第２合計値記憶部に記憶させると共に、当該１個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させ、Ｈａ個目（Ｈａは、２以上でＭｂ以下の各自然数）の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ａａ、処理Ａｂおよび処理Ａｃを実行し、Ｈｂ個目（Ｈｂは、（Ｍｂ＋１）以上でＮｂ以下の各自然数）の前記測定値が前記測定部から出力されたときに、処理Ａｄおよび処理Ａｅを実行し、前記測定部から出力されたＮｂ個目の前記測定値を対象とする前記処理Ａｄおよび前記処理Ａｅを完了したときに、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値から前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値を差し引いた値をＬｂで除して前記平均値を取得し、前記処理Ａａは、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｈａ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ａｂは、前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値に前記Ｈａ個目の測定値を加算して新たな前記第２合計値として当該第２合計値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ａｃは、前記Ｈａ個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ａｄは、前記総合計値記憶部に記憶されている前記総合計値に前記Ｈｂ個目の測定値を加算して新たな前記総合計値として当該総合計値記憶部に記憶させる処理であり、前記処理Ａｅは、前記Ｈｂ個目の測定値が前記第２測定値記憶部に記憶されている前記Ｍｂ個の測定値のうちの最小値よりも大きいときに前記第２合計値記憶部に記憶されている前記第２合計値から当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値を差し引いた値に当該Ｈｂ個目の測定値を加算して新たな前記第２合計値として当該第２合計値記憶部に記憶させると共に、当該Ｍｂ個の測定値のうちの最小値に代えて当該Ｈｂ個目の測定値を前記第２測定値記憶部に記憶させる処理である。
【発明の効果】
【００１４】
請求項１記載の測定装置では、１個目の測定値が測定部から出力されたときに、１個目の測定値を、総合計値記憶部、第１合計値記憶部および第１測定値記憶部に記憶させ、Ｋａ個目の測定値が測定部から出力されたときに、処理Ａ１、処理Ａ２および処理Ａ３を実行して、総合計値、第１合計値、および第１測定値記憶部内の測定値を更新し、Ｋｂ個目の測定値が測定部から出力されたときに、処理Ｂ１および処理Ｂ２を実行して、総合計値、第２合計値、および第２測定値記憶部内の測定値と、総合計値、第１合計値、および第１測定値記憶部内の測定値とのいずれかを更新し、Ｋｃ個目の測定値が測定部から出力されたときに、処理Ｃ１および処理Ｃ２を実行して、総合計値、第２合計値、第２測定値記憶部内の測定値、第１合計値、および第１測定値記憶部内の測定値を更新し、Ｋｄ個目の測定値が測定部から出力されたときに、処理Ｄ１および処理Ｄ２を実行して、総合計値、第１合計値、第１測定値記憶部内の測定値、第２合計値、および第２測定値記憶部内の測定値を更新し、測定部から出力されたＮａ個目の測定値を対象とする処理Ｄ１および処理Ｄ２を完了したときに、総合計値記憶部に記憶されている総合計値から第１合計値記憶部に記憶されている第１合計値、および第２合計値記憶部に記憶されている第２合計値を差し引いた値をＬａで除して平均値を取得する。
【００１５】
また、請求項３記載の測定装置では、１個目の測定値が測定部から出力されたときに、１個目の測定値を、総合計値記憶部、第２合計値記憶部および第２測定値記憶部に記憶させ、Ｊａ個目の測定値が測定部から出力されたときに、処理Ａａ、処理Ａｂおよび処理Ａｃを実行して、総合計値、第２合計値、および第２測定値記憶部内の測定値を更新し、Ｊｂ個目の測定値が測定部から出力されたときに、処理Ｂａおよび処理Ｂｂを実行して、総合計値、第１合計値、および第１測定値記憶部内の測定値と、総合計値、第２合計値、および第２測定値記憶部内の測定値とのいずれかを更新し、Ｊｃ個目の測定値が測定部から出力されたときに、処理Ｃａおよび処理Ｃｂを実行して、総合計値、第１合計値、第１測定値記憶部内の測定値、第２合計値、および第２測定値記憶部内の測定値を更新し、Ｊｄ個目の測定値が測定部から出力されたときに、処理Ｄａおよび処理Ｄｂを実行して、総合計値、第２合計値、第２測定値記憶部内の測定値、第１合計値、および第１測定値記憶部内の測定値を更新し、測定部から出力されたＮａ個目の測定値を対象とする処理Ｄａおよび処理Ｄｂを完了したときに、総合計値記憶部に記憶されている総合計値から第１合計値記憶部に記憶されている第１合計値、および第２合計値記憶部に記憶されている第２合計値を差し引いた値をＬａで除して平均値を取得する。
【００１６】
したがって、請求項１または３記載の測定装置によれば、総合計値記憶部、第１合計値記憶部、第２合計値記憶部、第１測定値記憶部および第２測定値記憶部の５つの記憶領域を備えているだけで、Ｎａ個の測定値のうちのＭａ個の小さな値の測定値、およびＭｂ個の大きな値の測定値を除くＬａ個の測定値を平均化して平均値を取得するのに必要な情報を保持することができるため、ｎ個の測定値を記憶可能な大容量の記憶部を必要とする従来の絶縁抵抗測定装置と比較して、製造コストを充分に低減することができる。また、２個目以降の測定値が出力される都度、出力された測定値に応じて総合計値、第１合計値および第２合計値が更新されて、Ｎａ個の測定値についての処理Ｄ１（処理Ｄａ）および処理Ｄ２（処理Ｄｂ）を完了した時点で、Ｎａ個の測定値のうちのＭａ個の小さな値の第１合計値、およびＮａ個の測定値のうちのＭｂ個の大きな値の第２合計値が特定されるため、ｎ個の測定値が揃った時点でこれらをソートしてｍ個の小さな値の合計値やｍ個の大きな値の合計値を抽出する必要がある従来の絶縁抵抗測定装置とは異なり、Ｌａ個の測定値の平均化処理を開始するまでに要する時間を充分に短縮することができる結果、平均値を短時間で取得することができる。
【００１７】
また、請求項２記載の測定装置では、Ｋｄ個目の測定値を第１測定値記憶部および第２測定値記憶部にそれぞれ記憶させ、かつ、第１合計値にＫｄ個目の測定値を加算した値から第１測定値記憶部に記憶されている測定値のうちの最大値を差し引いた値を新たな第１合計値として第１合計値記憶部に記憶させると共に、第２合計値にＫｄ個目の測定値を加算した値から第２測定値記憶部に記憶されている測定値のうちの最小値を差し引いた値を新たな第２合計値として第２合計値記憶部に記憶させた後に、第１測定値記憶部に記憶されている測定値のうちの最大値を削除すると共に、第２測定値記憶部に記憶されている測定値のうちの最小値を削除する処理を処理Ｄ２として実行する。
【００１８】
また、請求項４記載の測定装置では、Ｊｄ個目の測定値を第１測定値記憶部および第２測定値記憶部にそれぞれ記憶させ、かつ、第１合計値にＪｄ個目の測定値を加算した値から第１測定値記憶部に記憶されている測定値のうちの最大値を差し引いた値を新たな第１合計値として第１合計値記憶部に記憶させると共に、第２合計値にＪｄ個目の測定値を加算した値から第２測定値記憶部に記憶されている測定値のうちの最小値を差し引いた値を新たな第２合計値として第２合計値記憶部に記憶させた後に、第１測定値記憶部に記憶されている測定値のうちの最大値を削除すると共に、第２測定値記憶部に記憶されている測定値のうちの最小値を削除する処理を処理Ｄｂとして実行する。
【００１９】
したがって、請求項２または４記載の測定装置によれば、例えば、Ｋｄ個目（Ｊｄ個目）の測定値が出力される都度、その測定値が、第１測定値記憶部内の測定値のうちの最大値以上であるか否か、および第２測定値記憶部内の測定値のうちの最小値以下であるか否かを判別し、その判別結果に応じて、第１合計値や第１測定値記憶部内の測定値を更新したり、第２合計値や第２測定値記憶部内の測定値を更新したりする構成の測定装置とは異なり、Ｋｄ個（Ｊｄ個）の測定値のすべてに関してそれぞれ同じステップ数の処理を実行することで、第１合計値、第２合計値、第１測定値記憶部内の測定値、および第２測定値記憶部内の測定値を正しい値とすることができるため、Ｋｄ個目（Ｊｄ個目）の測定値によって処理Ｄ２（処理Ｄｂ）に要する時間や制御部５にかかる負担が大きく変化することがなく、第１合計値、第２合計値、第１測定値記憶部内の測定値、および第２測定値記憶部内の測定値を確実に更新することができる。
【００２０】
また、請求項５記載の測定装置では、１個目の測定値が測定部から出力されたときに、１個目の測定値を、総合計値記憶部、第１合計値記憶部および第１測定値記憶部にそれぞれ記憶させ、Ｉａ個目の測定値が測定部から出力されたときに、処理Ａ１、処理Ａ２および処理Ａ３を実行して、総合計値、第１合計値、第１測定値記憶部内の測定値を更新し、Ｉｂ個目の測定値が測定部から出力されたときに、処理Ａ４および処理Ａ５を実行して、総合計値、第１合計値、および第１測定値記憶部内の測定値を更新し、測定部から出力されたＮｂ個目の測定値を対象とする処理Ａ４および処理Ａ５を完了したときに、総合計値記憶部に記憶されている総合計値から第１合計値記憶部に記憶されている第１合計値を差し引いた値をＬｂで除して平均値を取得する。
【００２１】
したがって、請求項５記載の測定装置によれば、総合計値記憶部、第１合計値記憶部および第１測定値記憶部の３つの記憶領域を備えているだけで、Ｎｂ個の測定値のうちのＭａ個の小さな値の測定値を除くＬｂ個の測定値を平均化して平均値を取得するのに必要な情報を保持することができるため、ｎ個の測定値を記憶可能な大容量の記憶部を必要とする測定装置と比較して、製造コストを充分に低減することができる。また、２個目以降の測定値が出力される都度、出力された測定値に応じて総合計値および第１合計値が更新されて、Ｎｂ個の測定値についての処理Ａ４および処理Ａ５を完了した時点で、Ｎｂ個の測定値のうちのＭａ個の小さな値の第１合計値が特定されるため、ｎ個の測定値が揃った時点でこれらをソートしてｍ個の小さな値の合計値を抽出する必要がある測定装置とは異なり、Ｌｂ個の測定値の平均化処理を開始するまでに要する時間を充分に短縮することができる結果、平均値を短時間で取得することができる。
【００２２】
また、請求項６記載の測定装置では、１個目の測定値が測定部から出力されたときに、１個目の測定値を、総合計値記憶部、第２合計値記憶部および第２測定値記憶部にそれぞれ記憶させ、Ｈａ個目の測定値が測定部から出力されたときに、処理Ａａ、処理Ａｂおよび処理Ａｃを実行して、総合計値、第２合計値、第２測定値記憶部内の測定値を更新し、Ｈｂ個目の測定値が測定部から出力されたときに、処理Ａｄおよび処理Ａｅを実行して、総合計値、第２合計値、および第２測定値記憶部内の測定値を更新し、測定部から出力されたＮｂ個目の測定値を対象とする処理Ａｄおよび処理Ａｅを完了したときに、総合計値記憶部に記憶されている総合計値から第２合計値記憶部に記憶されている第２合計値を差し引いた値をＬｂで除して平均値を取得する。
【００２３】
したがって、請求項６記載の測定装置によれば、総合計値記憶部、第２合計値記憶部および第２測定値記憶部の３つの記憶領域を備えているだけで、Ｎｂ個の測定値のうちのＭｂ個の大きな値の測定値を除くＬｂ個の測定値を平均化して平均値を取得するのに必要な情報を保持することができるため、ｎ個の測定値を記憶可能な大容量の記憶部を必要とする測定装置と比較して、製造コストを充分に低減することができる。また、２個目以降の測定値が出力される都度、出力された測定値に応じて総合計値および第２合計値が更新されて、Ｎｂ個の測定値についての処理Ａｄおよび処理Ａｅを完了した時点で、Ｎｂ個の測定値のうちのＭｂ個の大きな値の第２合計値が特定されるため、ｎ個の測定値が揃った時点でこれらをソートしてｍ個の大きな値の合計値を抽出する必要がある測定装置とは異なり、Ｌｂ個の測定値の平均化処理を開始するまでに要する時間を充分に短縮することができる結果、平均値を短時間で取得することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】測定装置１のブロック図である。
【図２】測定装置１における記憶部６内に規定された各記憶領域６ａ〜６ｅについて説明するための説明図である。
【図３】平均値取得処理１０のフローチャートである。
【図４】平均値取得処理１０におけるＡ処理１０Ａのフローチャートである。
【図５】平均値取得処理１０におけるＢ処理１０Ｂのフローチャートである。
【図６】平均値取得処理１０におけるＣ処理１０Ｃのフローチャートである。
【図７】平均値取得処理１０におけるＤ処理１０Ｄのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
以下、測定装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００２６】
図１に示す測定装置１は、「測定装置」の一例である絶縁抵抗測定装置であって、測定部２、操作部３、表示部４、制御部５および記憶部６を備えて測定結果（抵抗値）を表示部４に表示させることができるように構成されている。測定部２は、「測定部」の一例であって、測定対象についての各種物理量（電気的パラメータ：電流値、電圧値、抵抗値および位相など：一例として、電流値）を測定可能に構成されている。具体的には、測定部２は、制御部５の制御に従い、測定対象を流れる電流を予め設定されたサンプリング周期でサンプリングして（電流値を測定して）測定データＤｓ（「測定値」のデジタルデータ）を生成すると共に、生成した測定データＤｓを制御部５に出力する。
【００２７】
操作部３は、測定部２による測定処理の条件や表示部４による測定結果の表示条件などの各種動作条件の設定操作を行うための操作スイッチを備え、スイッチ操作に応じた操作信号を制御部５に出力する。表示部４は、制御部５の制御に従い、測定装置１の動作条件を設定するための動作条件設定画面や、測定部２による測定処理の結果を表示するための測定結果表示画面（いずれも図示せず）などを表示する。なお、表示部４を備えた測定装置１を例に挙げて説明するが、外部装置としての表示装置に上記の各種表示画面を表示させる構成を採用することもできる。
【００２８】
制御部５は、測定装置１を総括的に制御する。具体的には、制御部５は、測定部２を制御して測定処理を実行させる。また、制御部５は、「処理部」に相当し、後述するように測定部２から測定データＤｓが出力されたときに、図３に示す平均値取得処理１０を実行して、各測定データＤｓに基づいて特定されるＮａ個の測定値のうちのＭａ個の小さな値の測定値およびＭｂ個の大きな値の測定値を除くＬａ個の測定値の平均値を演算する。さらに、制御部５は、演算した平均値を測定対象についての抵抗値として表示部４に表示させる。記憶部６は、図２に示すように、総合計値記憶領域６ａ（「総合計値記憶部」の一例）、第１合計値記憶領域６ｂ（「第１合計値記憶部」の一例）、第２合計値記憶領域６ｃ（「第２合計値記憶部」の一例）、第１測定値記憶領域６ｄ（「第１測定値記憶部」の一例）、および第２測定値記憶領域６ｅ（「第２測定値記憶部」の一例）を備えて制御部５の演算結果を一時的に記憶する。
【００２９】
この測定装置１によって測定対象の絶縁抵抗を測定する際には、まず、図示しない測定ケーブルを用いて測定部２を測定対象に接続すると共に、操作部３の測定開始スイッチを操作する。これに応じて、制御部５は、測定部２を制御して測定処理を開始させる。この際に、測定部２は、測定ケーブルを介して測定対象に測定用の電圧を印加すると共に、測定対象を流れる電流を所定のサンプリング周期でサンプリングして測定データＤｓを生成し、生成した測定データＤｓを制御部５に順次出力する。なお、下記の例では、一例として、Ｎａ＝３０個の測定値のうちのＭａ＝５個の小さな値の測定値、およびＭｂ＝５個の大きな値の測定値を除くＬａ＝２０個の測定値を平均化して平均値を取得するように予め設定されているものとする。この場合、ＭａおよびＭｂについては、上記の例示のように互いに等しい数に限定されず、任意に規定することができる。
【００３０】
一方、測定部２から１個目の測定データＤｓが出力されたとき（「１個目の測定値が測定部から出力されたとき」の一例）に、制御部５は、図３に示す平均値取得処理１０を開始する。この平均値取得処理１０では、制御部５は、まず、総合計値記憶領域６ａ、第１合計値記憶領域６ｂ、第２合計値記憶領域６ｃ、第１測定値記憶領域６ｄおよび第２測定値記憶領域６ｅを初期化する（ステップ１１）。次いで、制御部５は、測定部２から出力された１個目の測定データＤｓの値を、仮の「総合計値」として総合計値記憶領域６ａに記憶させると共に（ステップ１２）、仮の「第１合計値」として第１合計値記憶領域６ｂに記憶させる（ステップ１３）。続いて、制御部５は、測定部２から出力された１個目の測定データＤｓの値を第１測定値記憶領域６ｄに記憶させた後に（ステップ１４）、図４に示すＡ処理１０Ａを開始する。
【００３１】
このＡ処理１０Ａでは、制御部５は、測定部２から次の測定データＤｓ（この例では、２個目の測定データＤｓ）が出力されたときに（「Ｋａ＝２個目の測定値が測定部から出力されたとき」の一例：ステップ２１）、「総合計値」を演算し、総合計値記憶領域６ａに記憶されている「総合計値」に代えて、演算結果を新たな「総合計値」として総合計値記憶領域６ａに記憶させることによって「総合計値」を更新する（ステップ２２）。具体的には、制御部５は、総合計値記憶領域６ａに記憶されている「総合計値」（この例では、１個目の測定データＤｓの値）に、測定部２から新たに出力された測定データＤｓの値（この例では、Ｋａ＝２個目の測定データＤｓの値）を加算して新たな「総合計値」を算出し、その結果を総合計値記憶領域６ａに上書きする。なお、本例では、上記のステップ２２が「処理Ａ１」に相当する。
【００３２】
次いで、制御部５は、「第１合計値」を演算し、第１合計値記憶領域６ｂに記憶されている「第１合計値」に代えて、演算結果を新たな「第１合計値」として第１合計値記憶領域６ｂに記憶させることによって「第１合計値」を更新する（ステップ２３）。具体的には、制御部５は、第１合計値記憶領域６ｂに記憶されている「第１合計値」（この例では、１個目の測定データＤｓの値）に、測定部２から新たに出力された測定データＤｓの値（この例では、Ｋａ＝２個目の測定データＤｓの値）を加算して新たな「第１合計値」を算出し、その結果を第１合計値記憶領域６ｂに上書きする。なお、本例では、上記のステップ２３が「処理Ａ２」に相当する。
【００３３】
続いて、制御部５は、測定部２から新たに出力された測定データＤｓの値（この例では、Ｋａ＝２個目の測定データＤｓの値）を第１測定値記憶領域６ｄに記憶させる（ステップ２４）。なお、本例では、上記のステップ２４が「処理Ａ３」に相当する。次いで、制御部５は、測定部２からＫａ＝Ｍａ＝５個の測定データＤｓが出力されたか否かを判別する（ステップ２５）。また、Ｋａ＜Ｍａ個のとき（測定部２から出力された測定データＤｓの数がＭａ＝５個よりも少ないとき）には、制御部５は、上記のステップ２１に戻って測定部２から測定データＤｓが出力されたか否かを監視すると共に、測定データＤｓが出力されたときに、ステップ２２以降の上記の処理を再び実行する。
【００３４】
これにより、Ｋａ＝Ｍａ＝５個の測定データＤｓが測定部２から出力されて、その測定データＤｓを対象とする上記のステップ２４の処理を完了したときには、１個目から５個目までの５個の測定データＤｓの値の合計値が「総合計値」として総合計値記憶領域６ａに記憶され、かつ５個の測定データＤｓの値の合計値が「第１合計値」として第１合計値記憶領域６ｂに記憶されると共に、５個の測定データＤｓの各値が第１測定値記憶領域６ｄにそれぞれ記憶された状態となる。また、Ｋａ＝Ｍａ＝５個目の測定データＤｓを対象とする上記のステップ２４の処理を完了したときに（ステップ２５）、制御部５は、このＡ処理１０Ａを終了して、図３に示すように、Ｂ処理１０Ｂ（図５参照）を開始する。
【００３５】
このＢ処理１０Ｂでは、制御部５は、図５に示すように、測定部２から次の測定データＤｓ（この例では、Ｋｂ＝（Ｍａ＋１）＝６個目の測定データＤｓ）が出力されたときに（「Ｋｂ＝６個目の測定値が測定部から出力されたとき」の一例：ステップ３１）、「総合計値」を演算し、総合計値記憶領域６ａに記憶されている「総合計値」に代えて、演算結果を新たな「総合計値」として総合計値記憶領域６ａに記憶させることによって「総合計値」を更新する（ステップ３２）。具体的には、制御部５は、総合計値記憶領域６ａに記憶されている「総合計値」に、測定部２から新たに出力された測定データＤｓの値を加算して新たな「総合計値」を算出し、その結果を総合計値記憶領域６ａに上書きする。なお、本例では、上記のステップ３２が「処理Ｂ１」に相当する。
【００３６】
次いで、制御部５は、測定部２から出力された測定データＤｓの値が、第１測定値記憶領域６ｄ内に記憶されている５つの測定データＤｓの値のうちの最大値以上であるか否かを判別する（ステップ３３）。この際に、測定部２から出力された測定データＤｓの値が、第１測定値記憶領域６ｄ内に記憶されている５つの測定データＤｓの値のうちの最大値以上のときには、制御部５は、測定部２から出力された測定データＤｓの値を、仮の「第２合計値」として第２合計値記憶領域６ｃに記憶させ、かつ、第２測定値記憶領域６ｅに記憶させる（ステップ３４）。なお、この例においては、上記のステップ３４が「処理Ｂ２」に相当する。
【００３７】
また、測定部２から出力された測定データＤｓの値が、第１測定値記憶領域６ｄ内に記憶されている５つの測定データＤｓの値のうちの最大値よりも小さいときには（ステップ３３）、制御部５は、第１合計値記憶領域６ｂ内に記憶されている５つの測定データＤｓの値のうちの最大値を、仮の「第２合計値」として第２合計値記憶領域６ｃに記憶させ、かつ、第２測定値記憶領域６ｅに記憶させる（ステップ３５）。次いで、制御部５は、新たな「第１合計値」を演算して「第１合計値」を更新する（ステップ３６）。具体的には、制御部５は、第１合計値記憶領域６ｂに記憶されている「第１合計値」から、第１測定値記憶領域６ｄ内に記憶されている５つの測定データＤｓの値のうちの最大値を差し引いた値に、測定部２から出力されたＫｂ＝６個目の測定データＤｓの値を加算して新たな「第１合計値」として第１合計値記憶領域６ｂに記憶させることで「第１合計値」を更新する。
【００３８】
続いて、制御部５は、第１測定値記憶領域６ｄ内に記憶されている５つの測定データＤｓの値のうちの最大値に代えて、測定部２から出力されたＫｂ＝６個目の測定データＤｓの値を第１測定値記憶領域６ｄに記憶させる（ステップ３７）。なお、この例においては、上記のステップ３５〜３７が「処理Ｂ２」に相当する。一方、Ｋｂ＝６個目の測定データＤｓを対象とする上記のステップ３４の処理、またはステップ３７の処理を完了したときに、制御部５は、このＢ処理１０Ｂを終了して、図３に示すように、Ｃ処理１０Ｃ（図６参照）を開始する。
【００３９】
このＣ処理１０Ｃでは、制御部５は、図６に示すように、測定部２から次の測定データＤｓ（この例では、Ｋｃ＝（Ｍａ＋２）＝７個目の測定データＤｓ）が出力されたときに（「Ｋｃ＝７個目の測定値が測定部から出力されたとき」の一例：ステップ４１）、「総合計値」を演算し、総合計値記憶領域６ａに記憶されている「総合計値」に代えて、演算結果を新たな「総合計値」として総合計値記憶領域６ａに記憶させることによって「総合計値」を更新する（ステップ４２）。具体的には、制御部５は、総合計値記憶領域６ａに記憶されている「総合計値」に、測定部２から新たに出力された測定データＤｓの値を加算して新たな「総合計値」を算出し、その結果を総合計値記憶領域６ａに上書きする。なお、本例では、上記のステップ４２が「処理Ｃ１」に相当する。
【００４０】
次いで、制御部５は、測定部２から出力された測定データＤｓの値が、第１測定値記憶領域６ｄ内に記憶されている５つの測定データＤｓの値のうちの最大値以上であるか否かを判別する（ステップ４３）。この際に、測定部２から出力された測定データＤｓの値が、第１測定値記憶領域６ｄ内に記憶されている５つの測定データＤｓの値のうちの最大値以上のときには、制御部５は、新たな「第２合計値」を演算して「第２合計値」を更新する（ステップ４４）。具体的には、制御部５は、第２合計値記憶領域６ｃに記憶されている「第２合計値」に、測定部２から出力されたＫｃ＝７個目の測定データＤｓの値を加算して新たな「第２合計値」として第２合計値記憶領域６ｃに記憶させることで「第２合計値」を更新する。次いで、制御部５は、測定部２から出力された測定データＤｓの値を第２測定値記憶領域６ｅに記憶させる（ステップ４５）。なお、この例においては、上記のステップ４４，４５が「処理Ｃ２」に相当する。
【００４１】
また、測定部２から出力された測定データＤｓの値が、第１測定値記憶領域６ｄ内に記憶されている５つの測定データＤｓの値のうちの最大値よりも小さいときには（ステップ４３）、制御部５は、新たな「第２合計値」を演算して「第２合計値」を更新する（ステップ４６）。具体的には、制御部５は、第２合計値記憶領域６ｃに記憶されている「第２合計値」に、第１測定値記憶領域６ｄ内に記憶されている５つの測定データＤｓの値のうちの最大値を加算して新たな「第２合計値」として第２合計値記憶領域６ｃに記憶させることで「第２合計値」を更新する。次いで、制御部５は、第１測定値記憶領域６ｄ内に記憶されている５つの測定データＤｓの値のうちの最大値を第２測定値記憶領域６ｅに記憶させる（ステップ４７）。
【００４２】
続いて、制御部５は、新たな「第１合計値」を演算して「第１合計値」を更新する（ステップ４８）。具体的には、制御部５は、第１合計値記憶領域６ｂに記憶されている「第１合計値」から、第１測定値記憶領域６ｄ内に記憶されている５つの測定データＤｓの値のうちの最大値を差し引いた値に、測定部２から出力されたＫｃ＝７個目の測定データＤｓの値を加算して新たな「第１合計値」として第１合計値記憶領域６ｂに記憶させることで「第１合計値」を更新する。次いで、制御部５は、第１測定値記憶領域６ｄ内に記憶されている５つの測定データＤｓの値のうちの最大値に代えて、測定部２から出力されたＫｃ＝７個目の測定データＤｓの値を第１測定値記憶領域６ｄに記憶させる（ステップ４９）。なお、この例においては、上記のステップ４６〜４９が「処理Ｃ２」に相当する。
【００４３】
一方、上記のステップ４５の処理、または、ステップ４９の処理を完了したときに、制御部５は、測定部２からＫｃ＝（Ｍａ＋Ｍｂ）＝１０個の測定データＤｓが出力されたか否かを判別する（ステップ５０）。また、Ｋｃ＜（Ｍａ＋Ｍｂ）個のとき（測定部２から出力された測定データＤｓの数が１０個よりも少ないとき）には、制御部５は、上記のステップ４１に戻って測定部２から測定データＤｓが出力されたか否かを監視すると共に、測定データＤｓが出力されたときに、ステップ４２以降の上記の処理を再び実行する。
【００４４】
これにより、Ｋｃ＝（Ｍａ＋Ｍｂ）＝１０個の測定データＤｓが測定部２から出力されて、その測定データＤｓを対象とする上記のステップ４５の処理、または、ステップ４９の処理を完了したときには、１個目から１０個目までの１０個の測定データＤｓの値の合計値が「総合計値」として総合計値記憶領域６ａに記憶され、１０個の測定データＤｓの値のうちの小さな値の５つの合計値が「第１合計値」として第１合計値記憶領域６ｂに記憶され、かつ、１０個の測定データＤｓの値のうちの大きな値の５つの合計値が「第２合計値」として第２合計値記憶領域６ｃに記憶されると共に、１０個の測定データＤｓの値のうちの小さな値の５つが第１測定値記憶領域６ｄにそれぞれ記憶され、かつ、１０個の測定データＤｓの値のうちの大きな値の５つが第２測定値記憶領域６ｅにそれぞれ記憶された状態となる。また、Ｋｃ＝（Ｍａ＋Ｍｂ）＝１０個目の測定データＤｓを対象とする上記のステップ４５またはステップ４９の処理を完了したときに（ステップ５０）、制御部５は、このＣ処理１０Ｃを終了して、図３に示すように、Ｄ処理１０Ｄ（図７参照）を開始する。
【００４５】
このＤ処理１０Ｄでは、制御部５は、図７に示すように、測定部２から次の測定データＤｓ（この例では、Ｋｄ＝（Ｍａ＋Ｍｂ＋１）＝１１個目の測定データＤｓ）が出力されたときに（「Ｋｄ＝１１個目の測定値が測定部から出力されたとき」の一例：ステップ６１）、「総合計値」を演算し、総合計値記憶領域６ａに記憶されている「総合計値」に代えて、演算結果を新たな「総合計値」として総合計値記憶領域６ａに記憶させることによって「総合計値」を更新する（ステップ６２）。具体的には、制御部５は、総合計値記憶領域６ａに記憶されている「総合計値」に、測定部２から新たに出力された測定データＤｓの値を加算して新たな「総合計値」を算出し、その結果を総合計値記憶領域６ａに上書きする。なお、本例では、上記のステップ６２が「処理Ｄ１」に相当する。
【００４６】
次いで、制御部５は、「第１合計値」を演算し、第１合計値記憶領域６ｂに記憶されている「第１合計値」に代えて、演算結果を仮の「第１合計値」として第１合計値記憶領域６ｂに記憶させることによって「第１合計値」を更新する（ステップ６３）。具体的には、制御部５は、第１合計値記憶領域６ｂに記憶されている「第１合計値」に、測定部２から新たに出力された測定データＤｓの値を加算して新たな「第１合計値」を算出し、その結果を第１合計値記憶領域６ｂに上書きする。また、制御部５は、「第２合計値」を演算し、第２合計値記憶領域６ｃに記憶されている「第２合計値」に代えて、演算結果を仮の「第２合計値」として第２合計値記憶領域６ｃに記憶させることによって「第２合計値」を更新する（ステップ６４）。具体的には、制御部５は、第２合計値記憶領域６ｃに記憶されている「第２合計値」に、測定部２から新たに出力された測定データＤｓの値を加算して新たな「第２合計値」を算出し、その結果を第２合計値記憶領域６ｃに上書きする。
【００４７】
続いて、制御部５は、測定部２から出力されたＫｄ＝１１個目の測定データＤｓの値を第１測定値記憶領域６ｄに記憶させる（ステップ６５）。この際には、ステップ６５の処理を実行する以前に第１測定値記憶領域６ｄに記憶されていたＭａ＝５個の測定データＤｓの値、およびＫｄ＝１１個目の測定データＤｓの値の合計６個の測定データＤｓの値が第１測定値記憶領域６ｄに記憶された状態となる。次いで、制御部５は、第１合計値記憶領域６ｂに記憶されている「第１合計値」から、第１測定値記憶領域６ｄ内に記憶されている（Ｍａ＋１）＝６個の測定データＤｓの値のうちの最大値を差し引いて新たな「第１合計値」を演算し、演算結果を第１合計値記憶領域６ｂに上書きすることで「第１合計値」を更新する（ステップ６６）。続いて、制御部５は、第１測定値記憶領域６ｄ内に記憶されている（Ｍａ＋１）＝６個の測定データＤｓの値のうちの最大値を削除する（ステップ６７）。
【００４８】
この場合、上記のステップ６５において第１測定値記憶領域６ｄに記憶させたＫｄ個目の測定データＤｓの値がこのステップ６５の処理以前に第１測定値記憶領域６ｄに記憶されていたＭａ＝５個の測定データＤｓ（以下、「既存のＭａ個の測定データＤｓ」ともいう）の値のうちの最大値以上であったときには、上記のステップ６６によって、ステップ６３においてＫｄ個目の測定データＤｓの値が加算された仮の「第１合計値」からＫｄ個目の測定データＤｓの値が差し引かれた値が「第１合計値」として第１合計値記憶領域６ｂに記憶され、かつ、上記のステップ６７によって、Ｋｄ個目の測定データＤｓの値が第１測定値記憶領域６ｄから削除されることとなる。また、上記のステップ６５において第１測定値記憶領域６ｄに記憶させたＫｄ個目の測定データＤｓの値が既存のＭａ個の測定データＤｓの値のうちの最大値よりも小さい値であったときには、上記のステップ６６によって、ステップ６３においてＫｄ個目の測定データＤｓの値が加算された仮の「第１合計値」から既存のＭａ個の測定データＤｓの値のうちの最大値が差し引かれた値が「第１合計値」として第１合計値記憶領域６ｂに記憶され、かつ、上記のステップ６７によって、既存のＭａ個の測定データＤｓの値のうちの最大値が第１測定値記憶領域６ｄから削除されることとなる。
【００４９】
次いで、制御部５は、測定部２から出力されたＫｄ＝１１個目の測定データＤｓの値を第２測定値記憶領域６ｅに記憶させる（ステップ６８）。この際には、ステップ６５の処理を実行する以前に第２測定値記憶領域６ｅに記憶されていたＭｂ＝５個の測定データＤｓの値、およびＫｄ＝１１個目の測定データＤｓの値の合計６個の測定データＤｓの値が第２測定値記憶領域６ｅに記憶された状態となる。続いて、制御部５は、第２合計値記憶領域６ｃに記憶されている「第２合計値」から、第２測定値記憶領域６ｅ内に記憶されている（Ｍｂ＋１）＝６個の測定データＤｓの値のうちの最小値を差し引いて新たな「第２合計値」を演算し、演算結果を第２合計値記憶領域６ｃに上書きすることで「第２合計値」を更新する（ステップ６９）。次いで、制御部５は、第２測定値記憶領域６ｅ内に記憶されている（Ｍｂ＋１）＝６個の測定データＤｓの値のうちの最小値を削除する（ステップ７０）。
【００５０】
この場合、上記のステップ６８において第２測定値記憶領域６ｅに記憶させたＫｄ個目の測定データＤｓの値がこのステップ６８の処理以前に第２測定値記憶領域６ｅに記憶されていたＭｂ＝５個の測定データＤｓ（以下、「既存のＭｂ個の測定データＤｓ」ともいう）の値のうちの最小値以下であったときには、上記のステップ６９によって、ステップ６４においてＫｄ個目の測定データＤｓの値が加算された仮の「第２合計値」からＫｄ個目の測定データＤｓの値が差し引かれた値が「第２合計値」として第２合計値記憶領域６ｃに記憶され、かつ、上記のステップ７０によって、Ｋｄ個目の測定データＤｓの値が第２測定値記憶領域６ｅから削除されることとなる。また、上記のステップ６８において第２測定値記憶領域６ｅに記憶させたＫｄ個目の測定データＤｓの値が既存のＭｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値よりも大きい値であったときには、上記のステップ６９によって、ステップ６４においてＫｄ個目の測定データＤｓの値が加算された仮の「第２合計値」から既存のＭｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値が差し引かれた値が「第２合計値」として第２合計値記憶領域６ｃに記憶され、かつ、上記のステップ７０によって、既存のＭｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値が第２測定値記憶領域６ｅから削除されることとなる。
【００５１】
なお、上記の例では、ステップ６３〜７０が「処理Ｄ２」に相当する。一方、上記のステップ７０の処理を完了したときに、制御部５は、測定部２からＫｄ＝Ｎａ＝３０個の測定データＤｓが出力されたか否かを判別する（ステップ７１）。また、Ｋｄ＜Ｎａ個のとき（測定部２から出力された測定データＤｓの数が３０個よりも少ないとき）には、制御部５は、上記のステップ６１に戻って測定部２から測定データＤｓが出力されたか否かを監視すると共に、測定データＤｓが出力されたときに、ステップ６２以降の上記の処理を再び実行する。
【００５２】
これにより、Ｋｄ＝Ｎａ＝３０個の測定データＤｓが測定部２から出力されて、その測定データＤｓを対象とする上記のステップ７０の処理を完了したときには、１個目から３０個目までの３０個の測定データＤｓの値の合計値が「総合計値」として総合計値記憶領域６ａに記憶され、３０個の測定データＤｓの値のうちの小さな値の５つの合計値が「第１合計値」として第１合計値記憶領域６ｂに記憶され、かつ、３０個の測定データＤｓの値のうちの大きな値の５つの合計値が「第２合計値」として第２合計値記憶領域６ｃに記憶されると共に、３０個の測定データＤｓの値のうちの小さな値の５つが第１測定値記憶領域６ｄにそれぞれ記憶され、かつ、３０個の測定データＤｓの値のうちの大きな値の５つが第２測定値記憶領域６ｅにそれぞれ記憶された状態となる。
【００５３】
また、Ｋｄ＝Ｎａ＝３０個の測定データＤｓが測定部２から出力されて、これら各測定データＤｓの値を対象とする上記のステップ７０を完了したときに（ステップ７１）、制御部５は、このＤ処理１０Ｄを終了して、図２に示すように、総合計値記憶領域６ａに記憶されているＮａ＝３０個の測定データＤｓの値の「総合計値」から、第１合計値記憶領域６ｂに記憶されているＭａ＝５個の測定データＤｓの値の「第１合計値」と、第２合計値記憶領域６ｃに記憶されているＭｂ＝５個の測定データＤｓの値の「第２合計値」とを差し引いた値をＬａ＝Ｎａ−（Ｍａ＋Ｍｂ）＝２０で除すことで「平均値」を演算する（ステップ１５）。
【００５４】
この場合、本例の測定装置１では、Ｎａ＝３０個の測定データＤｓの値のうちのＭａ＝５個の小さな値の測定データＤｓ、およびＭｂ＝５個の大きな値の測定データＤｓの値を除くＬａ＝２０個の測定データＤｓの値を平均化して「平均値」を取得する際に、測定部２から新たな測定データＤｓが出力される都度、その測定データＤｓの値に応じて、総合計値記憶領域６ａ内の「総合計値」、第１合計値記憶領域６ｂ内の「第１合計値」、および第２合計値記憶領域６ｃ内の「第２合計値」を更新すると共に、第１測定値記憶領域６ｄ内の値や第２測定値記憶領域６ｅ内の値を更新する構成が採用されている。したがって、この測定装置１では、測定部２からＮａ個の測定データＤｓが出力された後にＮａ個の測定データＤｓの値をソートする煩雑な処理を実行することなく、Ｍａ＝５個の小さな値の測定データＤｓ、およびＭｂ＝５個の大きな値の測定データＤｓが特定される。
【００５５】
これにより、この測定装置１では、ｎ個の電流値のすべてを記憶しておき、平均値を算出する直前にこのｎ個の電流値をソートしてｍ個の小さな値の電流値、およびｍ個の大きな値の電流値を抽出する構成の従来の絶縁抵抗測定装置とは異なり、Ｍａ＝５個の小さな値の測定データＤｓやＭｂ＝５個の大きな値の測定データＤｓを特定するために実行する処理が、各測定データＤｓの出力時点に分散される分だけ、制御部５にかかる負荷が平均化される。この後、制御部５は、この平均値取得処理１０を終了すると共に、平均値取得処理１０によって取得した「平均値（この例では、電流値）」と、測定部２から印加した測定用電圧の電圧値とに基づき、測定対象の絶縁抵抗値を演算する。また、制御部５は、演算結果を表示部４に表示させる。これにより、抵抗値の測定処理が完了し、測定対象の絶縁抵抗値が表示部４に表示される。
【００５６】
このように、この測定装置１では、１個目の測定データＤｓが測定部２から出力されたときに、１個目の測定データＤｓの値を、総合計値記憶領域６ａ、第１合計値記憶領域６ｂおよび第１測定値記憶領域６ｄに記憶させ、Ｋａ個目の測定データＤｓが測定部２から出力されたときに、処理Ａ１、処理Ａ２および処理Ａ３（Ａ処理１０Ａ）を実行して、「総合計値」、「第１合計値」、および第１測定値記憶領域６ｄ内の測定値を更新し、Ｋｂ個目の測定値が測定部２から出力されたときに、処理Ｂ１および処理Ｂ２（Ｂ処理１０Ｂ）を実行して、「総合計値」、「第２合計値」、および第２測定値記憶領域６ｅ内の測定値と、「総合計値」、「第１合計値」、および第１測定値記憶領域６ｄ内の測定値とのいずれかを更新し、Ｋｃ個目の測定値が測定部２から出力されたときに、処理Ｃ１および処理Ｃ２（Ｃ処理１０Ｃ）を実行して、「総合計値」、「第２合計値」、第２測定値記憶領域６ｅ内の測定値、「第１合計値」、および第１測定値記憶領域６ｄ内の測定値を更新し、Ｋｄ個目の測定値が測定部２から出力されたときに、処理Ｄ１および処理Ｄ２（Ｄ処理１０Ｄ）を実行して、「総合計値」、「第１合計値」、第１測定値記憶領域６ｄ内の測定値、「第２合計値」、および第２測定値記憶領域６ｅ内の測定値を更新し、測定部２から出力されたＮａ個目の測定値を対象とする処理Ｄ１および処理Ｄ２を完了したときに、総合計値記憶領域６ａに記憶されている「総合計値」から第１合計値記憶領域６ｂに記憶されている「第１合計値」、および第２合計値記憶領域６ｃに記憶されている「第２合計値」を差し引いた値をＬａで除して「平均値」を取得する。
【００５７】
したがって、この測定装置１によれば、総合計値記憶領域６ａ、第１合計値記憶領域６ｂ、第２合計値記憶領域６ｃ、第１測定値記憶領域６ｄおよび第２測定値記憶領域６ｅの５つの記憶領域を備えているだけで、Ｎａ個の測定データＤｓのうちのＭａ個の小さな値の測定データＤｓ、およびＭｂ個の大きな値の測定データＤｓを除くＬａ個の測定データＤｓの値を平均化して「平均値」を取得するのに必要な情報を保持することができるため、ｎ個の測定値を記憶可能な大容量の記憶部を必要とする従来の絶縁抵抗測定装置と比較して、製造コストを充分に低減することができる。また、２個目以降の測定データＤｓが出力される都度、出力された測定データＤｓの値に応じて「総合計値」、「第１合計値」および「第２合計値」が更新されて、Ｎａ個の測定データＤｓについての「処理Ｄ１」および「処理Ｄ２」を完了した時点で、Ｎａ個の測定データＤｓのうちのＭａ個の小さな値の「第１合計値」、およびＮａ個の測定データＤｓのうちのＭｂ個の大きな値の「第２合計値」が特定されるため、ｎ個の測定値が揃った時点でこれらをソートしてｍ個の小さな値の合計値やｍ個の大きな値の合計値を抽出する必要がある従来の絶縁抵抗測定装置とは異なり、Ｌａ個の測定値の平均化処理を開始するまでに要する時間を充分に短縮することができる結果、「平均値」を短時間で取得することができる。
【００５８】
また、この測定装置１では、Ｋｄ個目の測定データＤｓの値を第１測定値記憶領域６ｄおよび第２測定値記憶領域６ｅにそれぞれ記憶させ、かつ、「第１合計値」にＫｄ個目の測定データＤｓの値を加算した値から第１測定値記憶領域６ｄに記憶されている測定値のうちの最大値を差し引いた値を新たな「第１合計値」として第１合計値記憶領域６ｂに記憶させると共に、「第２合計値」にＫｄ個目の測定データＤｓの値を加算した値から第２測定値記憶領域６ｅに記憶されている測定値のうちの最小値を差し引いた値を新たな「第２合計値」として第２合計値記憶領域６ｃに記憶させた後に、第１測定値記憶領域６ｄに記憶されている測定値のうちの最大値を削除すると共に、第２測定値記憶領域６ｅに記憶されている測定値のうちの最小値を削除する処理（Ｄ処理１０Ｄにおけるステップ６３〜７０の処理）を「処理Ｄ２」として実行する。
【００５９】
したがって、この測定装置１によれば、例えば、Ｋｄ個目の測定データＤｓが出力される都度、その測定データＤｓの値が、第１測定値記憶領域６ｄ内の測定値のうちの最大値以上であるか否か、および第２測定値記憶領域６ｅ内の測定値のうちの最小値以下であるか否かを判別し、その判別結果に応じて、「第１合計値」や第１測定値記憶領域６ｄ内の測定値を更新したり、「第２合計値」や第２測定値記憶領域６ｅ内の測定値を更新したりする構成の測定装置とは異なり、Ｋｄ個の測定データＤｓのすべてに関してそれぞれ同じステップ数の処理を実行することで、「第１合計値」、「第２合計値」、第１測定値記憶領域６ｄ内の測定値、および第２測定値記憶領域６ｅ内の測定値を正しい値とすることができるため、Ｋｄ個目の測定データＤｓの値によって「処理Ｄ２」に要する時間や制御部５にかかる負担が大きく変化することがなく、「第１合計値」、「第２合計値」、第１測定値記憶領域６ｄ内の測定値、および第２測定値記憶領域６ｅ内の測定値を確実に更新することができる。
【００６０】
なお、「測定装置」の構成は、上記の測定装置１の構成の例に限定されない。例えば、１個目からＭａ＝５個目の測定データＤｓまでの各値を第１測定値記憶領域６ｄに順次記憶させると共に、それらの値の合計値を仮の「第１合計値」として第１合計値記憶領域６ｂに記憶させ、その後に測定部２から出力される測定データＤｓの値に応じて、「第１合計値」、「第２合計値」、第１測定値記憶領域６ｄ内の測定値、および第２測定値記憶領域６ｅ内の測定値を逐次更新する構成の測定装置１を例に挙げて説明したが、１個目からＭｂ個目の測定データＤｓまでの各値を第２測定値記憶領域６ｅに順次記憶させると共に、それらの値の合計値を仮の「第２合計値」として第２合計値記憶領域６ｃに記憶させ、その後に測定部２から出力される測定データＤｓの値に応じて、「第１合計値」、「第２合計値」、第１測定値記憶領域６ｄ内の測定値、および第２測定値記憶領域６ｅ内の測定値を逐次更新する構成を採用することもできる。なお、以下の説明において測定装置１と同様の構成要素については同一の符号を使用することで重複する説明を省略する。
【００６１】
具体的には、上記の測定装置１による平均値取得処理１０のステップ１２〜１４の処理に代えて、１個目の測定データＤｓが測定部２から出力されたときに、１個目の測定データＤｓの値を、総合計値記憶領域６ａ、第２合計値記憶領域６ｃおよび第２測定値記憶領域６ｅに記憶させ、Ｊａ個目（Ｊａは、上記の測定装置１に関する例示におけるＫａと同様の数）の測定データＤｓが測定部２から出力されたときに、上記の平均値取得処理１０におけるＡ処理１０Ａに代えて、後述する処理Ａａ、処理Ａｂおよび処理Ａｃを実行して、「総合計値」、「第２合計値」、および第２測定値記憶領域６ｅ内の測定値を更新し、Ｊｂ個目（Ｊｂは、上記の測定装置１に関する例示におけるＫｂと同様の数）の測定値が測定部２から出力されたときに、上記の平均値取得処理１０におけるＢ処理１０Ｂに代えて、後述する処理Ｂａおよび処理Ｂｂを実行して、「総合計値」、「第１合計値」、および第１測定値記憶領域６ｄ内の測定値と、「総合計値」、「第２合計値」、および第２測定値記憶領域６ｅ内の測定値とのいずれかを更新する。
【００６２】
また、Ｊｃ個目（Ｊｃは、上記の測定装置１に関する例示におけるＫｃと同様の数）の測定値が測定部２から出力されたときに、上記の平均値取得処理１０におけるＣ処理１０Ｃに代えて、後述する処理Ｃａおよび処理Ｃｂを実行して、「総合計値」、「第１合計値」、第１測定値記憶領域６ｄ内の測定値、「第２合計値」、および第２測定値記憶領域６ｅ内の測定値を更新し、Ｊｄ個目（Ｊｄは、上記の測定装置１に関する例示におけるＫｄと同様の数）の測定値が測定部２から出力されたときに、上記の平均値取得処理１０におけるＤ処理１０Ｄに代えて、後述する処理Ｄａおよび処理Ｄｂを実行して、「総合計値」、「第２合計値」、第２測定値記憶領域６ｅ内の測定値、「第１合計値」、および第１測定値記憶領域６ｄ内の測定値を更新し、測定部２から出力されたＮａ個目の測定値を対象とする処理Ｄａおよび処理Ｄｂを完了したときに、上記の平均値取得処理１０におけるステップ１５の処理と同様にして、「平均値」を取得する。
【００６３】
この場合、処理Ａａとしては、総合計値記憶領域６ａに記憶されている「総合計値」にＪａ個目の測定データＤｓの値を加算して新たな「総合計値」として総合計値記憶領域６ａに記憶させる処理を実行する。また、処理Ａｂとしては、第２合計値記憶領域６ｃに記憶されている「第２合計値」にＪａ個目の測定データＤｓの値を加算して新たな「第２合計値」として第２合計値記憶領域６ｃに記憶させる処理を実行する。さらに、処理Ａｃとしては、Ｊａ個目の測定データＤｓの値を第２測定値記憶領域６ｅに記憶させる処理を実行する。
【００６４】
また、処理Ｂａとしては、総合計値記憶領域６ａに記憶されている「総合計値」にＪｂ個目の測定データＤｓの値を加算して新たな「総合計値」として総合計値記憶領域６ａに記憶させる処理を実行する。さらに、処理Ｂｂとしては、Ｊｂ個目の測定データＤｓ値が第２測定値記憶領域６ｅに記憶されているＭｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値以下のときにＪｂ個目の測定データＤｓの値を「第１合計値」として第１合計値記憶領域６ｂに記憶させると共に、Ｊｂ個目の測定データＤｓの値を第１測定値記憶領域６ｄに記憶させ、Ｊｂ個目の測定データＤｓの値が第２測定値記憶領域６ｅに記憶されているＭｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値よりも大きいときにＭｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値を「第１合計値」として第１合計値記憶領域６ｂに記憶させ、かつ、Ｍｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値を第１測定値記憶領域６ｄに記憶させると共に、第２合計値記憶領域６ｃに記憶されている「第２合計値」からＭｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値を差し引いた値にＪｂ個目の測定データＤｓの値を加算して新たな「第２合計値」として第２合計値記憶領域６ｃに記憶させ、かつ、Ｍｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値に代えてＪｂ個目の測定データＤｓの値を第２測定値記憶領域６ｅに記憶させる処理を実行する。
【００６５】
さらに、処理Ｃａとしては、総合計値記憶領域６ａに記憶されている「総合計値」にＪｃ個目の測定データＤｓの値を加算して新たな「総合計値」として総合計値記憶領域６ａに記憶させる処理を実行する。また、処理Ｃｂとしては、Ｊｃ個目の測定データＤｓの値が第２測定値記憶領域６ｅに記憶されているＭｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値以下のときに第１合計値記憶領域６ｂに記憶されている「第１合計値」にＪｃ個目の測定データＤｓの値を加算して新たな「第１合計値」として第１合計値記憶領域６ｂに記憶させると共に、Ｊｃ個目の測定データＤｓの値を第１測定値記憶領域６ｄに記憶させ、Ｊｃ個目の測定データＤｓの値が第２測定値記憶領域６ｅに記憶されているＭｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値よりも大きいときに第１合計値記憶領域６ｂに記憶されている「第１合計値」にＭｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値を加算して新たな「第１合計値」として第１合計値記憶領域６ｂに記憶させ、かつ、Ｍｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値を第１測定値記憶領域６ｄに記憶させると共に、第２合計値記憶領域６ｃに記憶されている「第２合計値」からＭｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値を差し引いた値にＪｃ個目の測定データＤｓの値を加算して新たな「第２合計値」として第２合計値記憶領域６ｃに記憶させ、かつ、Ｍｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値に代えてＪｃ個目の測定データＤｓの値を第２測定値記憶領域６ｅに記憶させる処理を実行する。
【００６６】
また、処理Ｄａとしては、総合計値記憶領域６ａに記憶されている「総合計値」にＪｄ個目の測定データＤｓの値を加算して新たな「総合計値」として総合計値記憶領域６ａに記憶させる処理を実行する。さらに、処理Ｄｂとしては、Ｊｄ個目の測定データＤｓの値が第２測定値記憶領域６ｅに記憶されているＭｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値よりも大きいときに第２合計値記憶領域６ｃに記憶されている「第２合計値」からＭｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値を差し引いた値にＪｄ個目の測定データＤｓの値を加算して新たな「第２合計値」として第２合計値記憶領域６ｃに記憶させると共に、Ｍｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値に代えてＪｄ個目の測定データＤｓの値を第２測定値記憶領域６ｅに記憶させ、Ｊｄ個目の測定データＤｓの値が第１測定値記憶領域６ｄに記憶されているＭａ個の測定データＤｓの値のうちの最大値よりも小さいときに第１合計値記憶領域６ｂに記憶されている「第１合計値」からＭａ個の測定データＤｓの値のうちの最大値を差し引いた値にＪｄ個目の測定データＤｓの値を加算して新たな「第１合計値」として第１合計値記憶領域６ｂに記憶させると共に、Ｍａ個の測定データＤｓの値のうちの最大値に代えてＪｄ個目の測定データＤｓの値を第１測定値記憶領域６ｄに記憶させる処理を実行する。
【００６７】
このような構成の「測定装置」においても、前述した測定装置１と同様にして、総合計値記憶領域６ａ、第１合計値記憶領域６ｂ、第２合計値記憶領域６ｃ、第１測定値記憶領域６ｄおよび第２測定値記憶領域６ｅの５つの記憶領域を備えているだけで、Ｎａ個の測定データＤｓのうちのＭａ個の小さな値の測定データＤｓ、およびＭｂ個の大きな値の測定データＤｓを除くＬａ個の測定データＤｓの値を平均化して「平均値」を取得するのに必要な情報を保持することができるため、ｎ個の測定値を記憶可能な大容量の記憶部を必要とする従来の絶縁抵抗測定装置と比較して、製造コストを充分に低減することができる。また、２個目以降の測定データＤｓが出力される都度、出力された測定データＤｓの値に応じて「総合計値」、「第１合計値」および「第２合計値」が更新されて、Ｎａ個の測定データＤｓについての「処理Ｄａ」および「処理Ｄｂ」を完了した時点で、Ｎａ個の測定データＤｓのうちのＭａ個の小さな値の「第１合計値」、およびＮａ個の測定データＤｓのうちのＭｂ個の大きな値の「第２合計値」が特定されるため、ｎ個の測定値が揃った時点でこれらをソートしてｍ個の小さな値の合計値やｍ個の大きな値の合計値を抽出する必要がある従来の絶縁抵抗測定装置とは異なり、Ｌａ個の測定値の平均化処理を開始するまでに要する時間を充分に短縮することができる結果、「平均値」を短時間で取得することができる。
【００６８】
この場合、上記のような構成の「測定装置」において、Ｊｄ個目の測定データＤｓの値を第１測定値記憶領域６ｄおよび第２測定値記憶領域６ｅにそれぞれ記憶させ、かつ、「第１合計値」にＪｄ個目の測定データＤｓの値を加算した値から第１測定値記憶領域６ｄに記憶されている測定値のうちの最大値を差し引いた値を新たな「第１合計値」として第１合計値記憶領域６ｂに記憶させると共に、「第２合計値」にＪｄ個目の測定データＤｓの値を加算した値から第２測定値記憶領域６ｅに記憶されている測定値のうちの最小値を差し引いた値を新たな「第２合計値」として第２合計値記憶領域６ｃに記憶させた後に、第１測定値記憶領域６ｄに記憶されている測定値のうちの最大値を削除すると共に、第２測定値記憶領域６ｅに記憶されている測定値のうちの最小値を削除する処理を「処理Ｄｂ」として実行する構成を採用することもできる。
【００６９】
このような構成の「測定装置」によれば、前述した測定装置１と同様にして、例えば、Ｊｄ個目の測定データＤｓが出力される都度、その測定データＤｓの値が、第１測定値記憶領域６ｄ内の測定値のうちの最大値以上であるか否か、および第２測定値記憶領域６ｅ内の測定値のうちの最小値以下であるか否かを判別し、その判別結果に応じて、「第１合計値」や第１測定値記憶領域６ｄ内の測定値を更新したり、「第２合計値」や第２測定値記憶領域６ｅ内の測定値を更新したりする構成の測定装置とは異なり、Ｊｄ個の測定データＤｓのすべてに関してそれぞれ同じステップ数の処理を実行することで、「第１合計値」、「第２合計値」、第１測定値記憶領域６ｄ内の測定値、および第２測定値記憶領域６ｅ内の測定値を正しい値とすることができるため、Ｊｄ個目の測定データＤｓの値によって「処理Ｄｂ」に要する時間や制御部５にかかる負担が大きく変化することがなく、「第１合計値」、「第２合計値」、第１測定値記憶領域６ｄ内の測定値、および第２測定値記憶領域６ｅ内の測定値を確実に更新することができる。
【００７０】
また、Ｎａ個の測定値のうちのＭａ個の小さな値の測定値、およびＭｂ個の大きな値の測定値を除くＬａ個の測定値を平均化して平均値を取得する構成の「測定装置」について説明したが、Ｎｂ個の測定値のうちのＭａ個の小さな値の測定値を除くＬｂ個の測定値を平均化して平均値を取得する構成の「測定装置」や、Ｎｂ個の測定値のうちのＭｂ個の大きな値の測定値を除くＬｂ個の測定値を平均化して平均値を取得する構成の「測定装置」やにおいても、製造コストの低減を図りつつ、短時間で「平均値」を取得可能に構成することができる。
【００７１】
具体的には、小さな値の測定値を除くＬｂ個の測定値を平均化して平均値を取得する構成の「測定装置」においては、１個目の測定値が測定部２から出力されたときに、１個目の測定値を、総合計値記憶領域６ａ、第１合計値記憶領域６ｂおよび第１測定値記憶領域６ｄにそれぞれ記憶させ、Ｉａ個目（Ｉａは、２以上でＭａ以下の各自然数）の測定値が測定部２から出力されたときに、処理Ａ１、処理Ａ２および処理Ａ３を実行して、「総合計値」、「第１合計値」、第１測定値記憶領域６ｄ内の測定値を更新し、Ｉｂ個目（Ｉｂは、（Ｍａ＋１）以上でＮｂ以下の各自然数）の測定値が測定部２から出力されたときに、後述する処理Ａ４および処理Ａ５を実行して、「総合計値」、「第１合計値」、および第１測定値記憶領域６ｄ内の測定値を更新し、測定部２から出力されたＮｂ個目の測定値を対象とする処理Ａ４および処理Ａ５を完了したときに、総合計値記憶領域６ａに記憶されている「総合計値」から第１合計値記憶領域６ｂに記憶されている「第１合計値」を差し引いた値をＬｂで除して平均値を取得する。
【００７２】
この場合、上記の処理Ａ４としては、総合計値記憶領域６ａに記憶されている「総合計値」にＩｂ個目の測定データＤｓの値を加算して新たな「総合計値」として総合計値記憶領域６ａに記憶させる処理を実行する。また、処理Ａ５としては、Ｉｂ個目の測定データＤｓの値が第１測定値記憶領域６ｄに記憶されているＭａ個の測定データＤｓの値のうちの最大値よりも小さいときに第１合計値記憶領域６ｂに記憶されている「第１合計値」からＭａ個の測定データＤｓの値のうちの最大値を差し引いた値にＩｂ個目の測定データＤｓの値を加算して新たな「第１合計値」として第１合計値記憶領域６ｂに記憶させると共に、Ｍａ個の測定データＤｓの値のうちの最大値に代えてＩｂ個目の測定データＤｓの値を第１測定値記憶領域６ｄに記憶させる処理を実行する。
【００７３】
このような構成の「測定装置」によれば、総合計値記憶領域６ａ、第１合計値記憶領域６ｂおよび第１測定値記憶領域６ｄの３つの記憶領域を備えているだけで、Ｎｂ個の測定データＤｓのうちのＭａ個の小さな値の測定データＤｓを除くＬｂ個の測定データＤｓの値を平均化して「平均値」を取得するのに必要な情報を保持することができるため、ｎ個の測定値を記憶可能な大容量の記憶部を必要とする測定装置と比較して、製造コストを充分に低減することができる。また、２個目以降の測定データＤｓが出力される都度、出力された測定データＤｓの値に応じて「総合計値」および「第１合計値」が更新されて、Ｎｂ個の測定データＤｓについての「処理Ａ４」および「処理Ａ５」を完了した時点で、Ｎｂ個の測定データＤｓのうちのＭａ個の小さな値の「第１合計値」が特定されるため、ｎ個の測定値が揃った時点でこれらをソートしてｍ個の小さな値の合計値を抽出する必要がある測定装置とは異なり、Ｌｂ個の測定値の平均化処理を開始するまでに要する時間を充分に短縮することができる結果、「平均値」を短時間で取得することができる。
【００７４】
また、大きな値の測定値を除くＬｂ個の測定値を平均化して平均値を取得する構成の「測定装置」においては、１個目の測定値が測定部２から出力されたときに、１個目の測定値を、総合計値記憶領域６ａ、第２合計値記憶領域６ｃおよび第２測定値記憶領域６ｅにそれぞれ記憶させ、Ｈａ個目（Ｈａは、２以上でＭｂ以下の各自然数）の測定値が測定部２から出力されたときに、処理Ａａ、処理Ａｂおよび処理Ａｃを実行して、「総合計値」、「第２合計値」、第２測定値記憶領域６ｅ内の測定値を更新し、Ｈｂ個目（Ｈｂは、（Ｍｂ＋１）以上でＮｂ以下の各自然数）の測定値が測定部２から出力されたときに、後述する処理Ａｄおよび処理Ａｅを実行して、「総合計値」、「第２合計値」、および第２測定値記憶領域６ｅ内の測定値を更新し、測定部２から出力されたＮｂ個目の測定値を対象とする処理Ａｄおよび処理Ａｅを完了したときに、総合計値記憶領域６ａに記憶されている「総合計値」から第２合計値記憶領域６ｃに記憶されている「第２合計値」を差し引いた値をＬｂで除して平均値を取得する。
【００７５】
この場合、上記の処理Ａｄとしては、総合計値記憶領域６ａに記憶されている「総合計値」にＨｂ個目の測定データＤｓの値を加算して新たな「総合計値」として総合計値記憶領域６ａに記憶させる処理を実行する。また、処理Ａｅとしては、Ｈｂ個目の測定データＤｓの値が第２測定値記憶領域６ｅに記憶されているＭｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値よりも大きいときに第２合計値記憶領域６ｃに記憶されている「第２合計値」からＭｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値を差し引いた値にＨｂ個目の測定データＤｓの値を加算して新たな「第２合計値」として第２合計値記憶領域６ｃに記憶させると共に、Ｍｂ個の測定データＤｓの値のうちの最小値に代えてＨｂ個目の測定データＤｓの値を第２測定値記憶領域６ｅに記憶させる処理を実行する。
【００７６】
このような構成の「測定装置」によれば、総合計値記憶領域６ａ、第２合計値記憶領域６ｃおよび第２測定値記憶領域６ｅの３つの記憶領域を備えているだけで、Ｎｂ個の測定データＤｓのうちのＭｂ個の大きな値の測定データＤｓを除くＬｂ個の測定データＤｓの値を平均化して「平均値」を取得するのに必要な情報を保持することができるため、ｎ個の測定値を記憶可能な大容量の記憶部を必要とする測定装置と比較して、製造コストを充分に低減することができる。また、２個目以降の測定データＤｓが出力される都度、出力された測定データＤｓの値に応じて「総合計値」および「第２合計値」が更新されて、Ｎｂ個の測定データＤｓについての「処理Ａｄ」および「処理Ａｅ」を完了した時点で、Ｎｂ個の測定データＤｓのうちのＭｂ個の大きな値の「第２合計値」が特定されるため、ｎ個の測定値が揃った時点でこれらをソートしてｍ個の大きな値の合計値を抽出する必要がある測定装置とは異なり、Ｌｂ個の測定値の平均化処理を開始するまでに要する時間を充分に短縮することができる結果、「平均値」を短時間で取得することができる。
【００７７】
さらに、「測定対象についての物理量」として、電流値、電圧値、抵抗値および位相等）を測定可能に構成した測定装置１を例に挙げて説明したが、これらの物理量に代えて（または、これらの物理量に加えて）温度、湿度、輝度（光度）および照度等の各種の「物理量」を測定する構成を採用することもできる。
【符号の説明】
【００７８】
１  測定装置
２  測定部
５  制御部
６  記憶部
６ａ  総合計値記憶領域
６ｂ  第１合計値記憶領域
６ｃ  第２合計値記憶領域
６ｄ  第１測定値記憶領域
６ｅ  第２測定値記憶領域
１０  平均値取得処理
１０Ａ  Ａ処理
１０Ｂ  Ｂ処理
１０Ｃ  Ｃ処理
１０Ｄ  Ｄ処理
Ｄｓ  測定データ
【図１】
2013253860.tif 000003
【図２】
2013253860.tif 000004
【図３】
2013253860.tif 000005
【図４】
2013253860.tif 000006
【図５】
2013253860.tif 000007
【図６】
2013253860.tif 000008
【図７】
2013253860.tif 000009