(57)【要約】【課題】光ノードの光コンポーネントの動作検証を低コストかつ高効率に実現する。【解決手段】  光ノード装置は、送信器が接続される少なくとも１つの第１のポートと、受信器が接続される少なくとも１つの第２のポートと、一部が第１のポートとのみ選択的に接続され、他の一部が第２のポートとのみ選択的に接続される少なくとも２つの第３のポートと、第３のポートの２つである第６のポート及び第７のポートを接続する光伝送路と、を備え、第１のポートの１つである第４のポートが第６のポートと、第２のポートの１つである第５のポートが第７のポートと、それぞれ接続可能に構成される。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
送信器が接続される少なくとも１つの第１のポートと、
受信器が接続される少なくとも１つの第２のポートと、
一部が前記第１のポートとのみ選択的に接続され、他の一部が前記第２のポートとのみ選択的に接続される少なくとも２つの第３のポートと、
前記第３のポートの２つである第６のポート及び第７のポートを接続する光伝送路と、
を備え、
前記第１のポートの１つである第４のポートが前記第６のポートと、前記第２のポートの１つである第５のポートが前記第７のポートと、それぞれ接続可能に構成される、光ノード装置。
【請求項２】
前記第１のポートと、前記第１のポートとのみ選択的に接続される前記第３のポートと、を備える第１の光トランシーバー集約器、及び、
前記第２のポートと、前記第２のポートとのみ選択的に接続される前記第３のポートと、を備える第２の光トランシーバー集約器と、
を備える、請求項１に記載された光ノード装置。
【請求項３】
前記第１の光トランシーバー集約器は前記第３のポートに合波側ポートが接続される第１の光波長多重合分波器を備え、
前記第２の光トランシーバー集約器は前記第３のポートに合波側ポートが接続される第２の光波長多重合分波器を備える、
請求項２に記載された光ノード装置。
【請求項４】
前記送信器及び前記受信器を選択し、選択された前記送信器及び前記受信器を前記第４のポート及び前記第５のポートにそれぞれ接続し、前記送信器、前記受信器、前記第１の光トランシーバー集約器及び前記第２の光トランシーバー集約器の動作検証を行う動作検証制御部をさらに備える、請求項２又は３に記載された光ノード装置。
【請求項５】
前記第５のポートと前記受信器との間に透過波長を設定可能な可変波長選択器をさらに備え、
前記第１の光トランシーバー集約器は前記第１のポートに入力された複数の光を合流させて前記第６のポートに出力するアグリゲーション機能を備え、
前記第２の光トランシーバー集約器は前記第７のポートに入力された光を分岐させて前記第２のポートに出力するマルチキャスト機能を備え、
前記第１及び第２の光波長多重合分波器は波長周回性を備える、請求項３に記載された光ノード装置。
【請求項６】
前記送信器及び前記受信器を選択し、選択された前記送信器及び前記受信器を前記第４のポート及び前記第５のポートにそれぞれ接続し、前記送信器、前記受信器、前記第１の光トランシーバー集約器及び前記第２の光トランシーバー集約器の動作検証を行い、前記可変波長選択器の透過波長と前記光送信機の送信波長とを変化させて、前記可変波長選択器の波長可変特性及び前記送信機の波長可変特性を検証する動作検証制御部を備える、請求項５に記載された光ノード装置。
【請求項７】
前記第１の光トランシーバー集約器が備える前記第３のポートから出力される光を２以上に分岐し、前記分岐した一の光を前記光伝送路に出力し、前記分岐した他の光をネットワークに出力する光分岐器と、
前記ネットワークから自光ノード宛に伝送された光と前記光伝送路を伝送された光とを結合して前記第２の光トランシーバー集約器が備える前記第３ポートのいずれかのポートに入力する光結合器と、
をさらに備える請求項２に記載された光ノード装置。
【請求項８】
前記送信器及び前記受信器の少なくとも一方は待機時に一部の機能を停止する複数の待機モードを備え、
前記動作検証制御部は前記待機モードのうちより高速に起動が可能な待機モードで待機している前記送信器又は前記受信器に対してのみ動作検証を実施する、請求項４又は６に記載された光ノード装置。
【請求項９】
前記動作検証で故障が検知された前記送信器又は前記受信器と前記動作検証で故障が検知されなかった前記送信器又は前記受信器との間でさらに動作検証を実施する故障検知制御部を備える、請求項４、６及び８のいずれかに記載された光ノード装置。
【請求項１０】
一部が送信器が接続される少なくとも１つの第１のポートとのみ選択的に接続され他の一部が受信器が接続される少なくとも１つの第２のポートとのみ選択的に接続される第３のポートの２つである第６のポートと第７のポートとを光伝送路で接続し、
前記第１のポートの１つである第４のポートと前記第６のポートとを接続し、
前記第２のポートの１つである第５のポートと前記第７のポートとを接続する、光ノード装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ノード装置及び光ノード装置の制御方法に関し、特に、光通信で用いられる波長パス多重分離挿入機能を備えた光ノード装置及び光ノード装置の制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
将来の通信量の増大とサービスの多様化に伴うネットワークの高度化に向けて、光通信ネットワークにおいては、ＤＷＤＭ技術及びＷＳＳを用いたＯＸＣ技術の導入が進められている。ＤＷＤＭ（ｄｅｎｓｅ  ｗａｖｅｌｅｎｇｔｈ  ｄｉｖｉｓｉｏｎ  ｍｕｌｔｉｐｌｅｘｉｎｇ、高密度波長多重）技術は、Ｐｏｉｎｔ−ｔｏ−Ｐｏｉｎｔの大容量接続を可能とする。ＷＳＳ（ｗａｖｅｌｅｎｇｔｈ  ｓｅｌｅｃｔ  ｓｗｉｔｃｈ、波長選択スイッチ）及びＯＸＣ（ｏｐｔｉｃａｌ  ｃｒｏｓｓ  ｃｏｎｎｅｃｔ、光クロスコネクト）技術は、光ノード装置において３以上の方路の切り替え機能を実現する。ＷＳＳ及びＯＸＣ技術の導入により、使用状況に応じたより好ましい形態となるように光通信ネットワークを構築することができる。
【０００３】
ＤＷＤＭ技術が適用された光ノード装置には、任意の光トランシーバーから所望の波長の光を所望の方路と接続できる光トランシーバー集約器を配置することが望ましい。
【０００４】
図１８は、非特許文献１に記載された光トランシーバー集約器の構成図である。図１８に示す光トランシーバー集約器１８０４は、周回性光波長多重合分波器１８０３と、アグリゲーション／マルチキャスト機能を有するマトリクススイッチ１８０２とを組み合わせて構成される。マトリクススイッチ１８０２の入出力ポート群の一方は周回性光波長多重合分波器１８０３に接続され、他方は光トランシーバー群１８０１を構成する光トランシーバー１８０１ａ〜１８０１ｇのそれぞれの送信器に接続されている。
【０００５】
なお、図１８においては、周回性光波長多重合分波器１８０３には周回性ＡＷＧ（ｃｙｃｌｉｃ  ａｒｒａｙｅｄ  ｗａｖｅｇｕｉｄｅ  ｇｒａｔｉｎｇ、ｃ−ＡＷＧ）が用いられている。
【０００６】
光トランシーバー１８０１ａ〜１８０１ｇは波長可変レーザを備えており、送信波長を制御することが可能である。また、マトリクススイッチ１８０２の経路は外部から制御可能である。このような構成を備えることにより、光トランシーバー集約器１８０４は、光トランシーバー群１８０１が送信する光の波長及び方路を自由に設定できる。
【０００７】
ここで、光トランシーバー集約器１８０４は、その設定する経路に従って所定の方路と所定の光トランシーバー１８０１ａ〜１８０１ｇとの間で光を送信（Ａｄｄ）あるいは受信（Ｄｒｏｐ）するように、その内部の経路を設定する。光ノード装置のこの送受信機能はＡｄｄ／Ｄｒｏｐ機能と呼ばれる。
【０００８】
図１８は、光トランシーバー１８０１ａ〜１８０１ｇの送信器が送信する光を方路へ追加（Ａｄｄ）する構成について示したものである。各方路から受信した光を光トランシーバー１８０１ａ〜１８０１ｇにおいて抽出（Ｄｒｏｐ）するためにも同様の構成の光トランシーバー集約器１８０４を用いることができる。光をＤｒｏｐする際には、方路から受信した光が所望の光トランシーバーの受信器で受信されるようにマトリクススイッチ１８０２が制御される。
【０００９】
また、非特許文献２は、ＷＳＳ及びトランシーバー集約器を用いた光メッシュノード装置の構成を開示している。図１９は、非特許文献２に開示された光メッシュノード装置の構成を簡略化した光ノード装置の構成を示す図である。
【００１０】
図１９に記載された光ノード装置８００は、光スプリッタ１９０７、ＷＳＳ１９０６、光トランシーバー集約装置１９０３及び光トランシーバー群１９０１を備える。光トランシーバー集約装置１９０３は、光トランシーバー集約器１９０２ａ及び１９０２ｂを備える。また、光トランシーバー群１９０１は複数の光トランシーバーで構成される。そして、光トランシーバーは、光トランシーバー集約器１９０２ａ及び１９０２ｂに接続されている。
【００１１】
光ノード装置８００は、方路１及び方路２のそれぞれの接続点に光スプリッタ１９０７及びＷＳＳ１９０６を備えている。光スプリッタ１９０７は、ある方路（例えば方路１）から受信する光を他の方路（例えば方路２）と光トランシーバー集約装置１９０３側とに分岐する。
【００１２】
ここで、光トランシーバー集約装置１９０３を経由せずに方路１と方路２とが直接接続されるようにＷＳＳ１９０６を設定することにより、光ノードでＡｄｄ／Ｄｒｏｐを行わないチャネルを光信号のまま通過させる（光カットスルー）ことが可能である。光カットスルー機能を備える光ノード装置８００は、各方路から同時にＡｄｄ／ｄｒｏｐされるパスの数だけの光トランシーバーを最低限備えればよい。すなわち、カットスルー機能によって、光ノード装置が備える光トランシーバーの数を抑制することができる。
【００１３】
光トランシーバー集約器１９０２ａ及び１９０２ｂは、例えば図１８に記載した光トランシーバー集約器１８０４を用いて構成してもよい。光トランシーバー集約器１９０２ａは、光スプリッタ１９０７で分岐された方路１及び方路２からの光が光トランシーバー群１９０１の所定の光トランシーバーで受信（Ｄｒｏｐ）されるように内部の経路を接続する。光トランシーバー集約器１９０２ｂは、光トランシーバー群１９０１の光トランシーバーが送信した光が、所定の方路１または方路２のうち所定の方路に送信（Ａｄｄ）されるように内部の経路を接続する。
【００１４】
本願に関連して、特許文献１は、光トランシーバーの内部でループバックさせる構成を備えた光トランシーバーを開示している。また、特許文献２は、光分岐挿入回路と光路切り替えスイッチを備えたノード装置の構成を開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１５】
【特許文献１】再公表特許ＷＯ２００９−０３８１２１号
【特許文献２】特開２０００−３５４００６号
【非特許文献】
【００１６】
【非特許文献１】Mizutani et al、“Demonstration of multi-degree color/direction-independent waveguide-based transponder-aggregator for flexible optical path networks”、 Proc. ECOC2010 P3.11、Optical Communication (ECOC)、 2010 36th European Conference and Exhibition on、2010年9月
【非特許文献２】B. C. Collings, ”Wavelength Selectable Switches and Future Photonic Network Applications” Photonics in Switching, 2009. PS '09. International Conference on、2009年9月
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
図１９に示した光ノード装置８００において、光トランシーバー群１９０１から待機中の光トランシーバーを選択して新規にパスを接続する際に、選択された光トランシーバーが故障している可能性がある。そして、パスを接続する際に故障した光トランシーバーが選ばれると、他の光トランシーバーを再選択してパスを再設定しなければならない。このため、接続完了までの時間が増大したり、故障した光コンポーネントの探索及びその修理のために光ノードの利用効率が悪化したりするという問題が発生する。また、新しいパスの経路となるマトリクススイッチ等の他の光コンポーネントが故障している場合にも同様の問題が発生する。
【００１８】
しかしながら、非特許文献１及び非特許文献２は、光トランシーバーやマトリクススイッチ等の光コンポーネントの動作検証を行うための構成を開示していない。
【００１９】
その結果、図１８に示した光トランシーバー集約器１８０４や図１９に示した光ノード装置８００には、光コンポーネントに故障が発生するとパスの設定に時間を要することにより信頼性が低下したり、光ノードの利用効率が低下したりする場合があるという課題があった。
【００２０】
特許文献１は、光トランシーバー内に光スイッチを配置し、ループバックによって光トランシーバー自体の故障を検出する構成を開示している。しかし、特許文献１に記載された構成は、光トランシーバー以外の光コンポーネントの故障を検出することができないという課題がある。さらに、全ての光トランシーバーに光スイッチによるループバック機構を持たせることは、システムのコスト増を招くという課題もある。
【００２１】
また、特許文献２は光ノードに関する技術を開示しているが、光ノードを構成する光コンポーネントに対する動作検証機能を実現するための構成を記載していない。
【００２２】
［発明の目的］
本発明の目的は、光ノード装置で用いられる光コンポーネントの動作検証と故障箇所の検知とを行うことにより、光ノード装置の信頼性及び利用効率を向上させるための技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００２３】
本発明の光ノード装置は、送信器が接続される少なくとも１つの第１のポートと、受信器が接続される少なくとも１つの第２のポートと、一部が第１のポートとのみ選択的に接続され、他の一部が第２のポートとのみ選択的に接続される少なくとも２つの第３のポートと、第３のポートの２つである第６のポート及び第７のポートを接続する光伝送路と、を備え、第１のポートの１つである第４のポートが第６のポートと、第２のポートの１つである第５のポートが第７のポートと、それぞれ接続可能に構成される。
【００２４】
本発明の光ノード装置の制御方法は、一部が送信器が接続される少なくとも１つの第１のポートとのみ選択的に接続され他の一部が受信器が接続される少なくとも１つの第２のポートとのみ選択的に接続される第３のポートの２つである第６のポートと第７のポートとを光伝送路で接続し、第１のポートの１つである第４のポートと第６のポートとを接続し、第２のポートの１つである第５のポートと第７のポートとを接続する。
【発明の効果】
【００２５】
本発明の光ノード装置は、光コンポーネントの動作検証と故障箇所の検知とを行うことにより、光ノード装置の信頼性及び利用効率を向上させることができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】第１の実施形態の光ノード装置の構成図である。
【図２】待機光トランシーバー群の動作検証スケジュールを示す図である。
【図３】待機光トランシーバー１と待機光トランシーバー２とが選定された場合の動作検証のフローを示す図である。
【図４】図３に示した動作検証における制御フローを示す図である。
【図５】第１の実施形態の手順１における待機光トランシーバーの接続関係を示す図である。
【図６】待機光トランシーバーの送信部と受信部とが切り替わった状態を示す図である。
【図７】故障状態管理テーブルの例である。
【図８】故障検出制御部による故障箇所検出手順を示す図である。
【図９】第２の実施形態の光ノード装置の構成図である。
【図１０】第２の実施形態における待機光トランシーバー群の動作検証スケジュールを示す図である。
【図１１】図１０の光トランシーバー群のスケジュール管理から、待機光トランシーバー１、光トランシーバー集約装置、動作検証制御部の時間ごとの状態遷移とコマンドの流れを取り出して示した図である。
【図１２】図１１に示した動作検証における制御手順を示す図である。
【図１３】第２の実施形態における待機光トランシーバーの接続関係を示す図である。
【図１４】波長可変制御の検証手順を示す図である。
【図１５】故障検出制御部による故障箇所検出制御手順を示す図である。
【図１６】第３の実施形態での動作検証制御部と待機光トランシーバー群のスケジュールを示す図である。
【図１７】アグリゲーション／マルチキャスト機能を用いた場合の待機光トランシーバーの接続関係を示す図である。
【図１８】非特許文献１に記載された光トランシーバー集約器の構成図である。
【図１９】非特許文献２に開示された光メッシュノード装置の構成を簡略化した光ノード装置の構成を示す図である。
【図２０】第４の実施形態の光ノードの構成例である。
【発明を実施するための形態】
【００２７】
［構成の説明］
【００２８】
［第１の実施形態］
次に、本発明の第１の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００２９】
図１は、本発明の第１の実施形態の光ノード装置の構成図である。図１の光ノード装置１００は、光トランシーバー集約器１０４ａ及び１０４ｂ、ループバック光ファイバ１０９並びに光トランシーバー群１０１を備える。さらに、光ノード装置１００は、動作検証制御部１０５及び故障検知制御部１０６を備える。
【００３０】
光ノード装置１００は、光ネットワークの方路１〜ｘに接続された光ファイバからなる光ファイバ群と接続され、ｘ本の方路と接続された光ファイバ群との間で光を送受信（Ａｄｄ／Ｄｒｏｐ）する。光ノード装置１００は、光ファイバ群から光信号を受信するＤｒｏｐ側に光トランシーバー集約器１０４ａを備え、光ファイバ群へ光信号を送信するＡｄｄ側に光トランシーバー集約器１０４ｂを備えている。
【００３１】
光トランシーバー集約器１０４ａは、方路１〜ｘ毎に備えられた波長多重合分波器１０３と、マトリクススイッチ１０２ａとを備える。光トランシーバー集約器１０４ｂは、方路１〜ｘごとに備えられた波長多重合分波器１０３と、マトリクススイッチ１０２ｂとを備える。マトリクススイッチ１０２ａ、１０２ｂは、例えばＭＥＭＳ（Ｍｉｃｒｏ  Ｅｌｅｃｔｒｏ  Ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ  Ｓｙｓｔｅｍｓ）ベースのスイッチを用いて実現できる。ここで、光トランシーバー集約器１０４ａ及び１０４ｂの各方路について同一の波長多重合分波器１０３を使用してよい。
【００３２】
マトリクススイッチ１０２ａ、１０２ｂの光ファイバ群側には「（方路数×波長多重数）＋１」の数のポートが用意される。そして、波長多重合分波器１０３の分波側の各ポートはマトリクススイッチ１０２ａ、１０２ｂの光ファイバ群側の各ポートに接続されている。そして、それぞれのマトリクススイッチ１０２ａ、１０２ｂの光ファイバ群側の１ポートが、ループバック光ファイバ１０９で互いに接続されている。
【００３３】
一方、光ノード装置でのＡｄｄ／Ｄｒｏｐ率に応じた数の光トランシーバーを備える光トランシーバー群１０１が、マトリクススイッチ１０２ａ、１０２ｂの光トランシーバー側のポートと接続されている。
【００３４】
第１の実施形態において、例えば、方路数を３、各方路での波長多重数を５０とし、Ａｄｄ／Ｄｒｏｐ率が最大２０％である場合を考える。Ａｄｄ／Ｄｒｏｐ率とは、各方路へのパス数の総和のうち、光ノード装置において同時にＡｄｄ／Ｄｒｏｐされるパスの比率である。そして、方路数が３、各方路の波長多重数が５０の場合には各方路側（図１の光ファイバ群側）のパスの本数の総和は５０×３＝１５０である。従って、Ａｄｄ／Ｄｒｏｐ率が２０％であれば、Ａｄｄ／Ｄｒｏｐのために配置される光トランシーバーは１５０×０．２＝３０台となる。
【００３５】
すなわち、マトリクススイッチ１０２ａ、１０２ｂの光ファイバ群側に必要なポート数は、１５０ポートにループバック光ファイバ１０９用の１ポートを加えて１５１ポートとなる。一方、マトリクススイッチの光トランシーバー側のポート数は光トランシーバーの台数分のポート、すなわち３０ポートとなる。従って、第１の実施形態で用いられるマトリクススイッチの大きさは、１５１×３０ポートとなる。
【００３６】
さらに、光ノード装置１００は、動作検証制御部１０５と故障検知制御部１０６を備え、光トランシーバー群１０１の各光トランシーバー及び光トランシーバー集約器１０４ａ、１０４ｂを制御する。なお、光ノード装置１００は、Ａｄｄ／Ｄｒｏｐ動作を行うための制御部を備えている。しかし、それらの構成は公知でありまた本願の内容とは直接関連しないためここでは図面への記載及び説明を省略する。
【００３７】
［動作の説明］
第１の実施形態における動作検証制御部１０５と故障検知制御部１０６の動作を以下に説明する。
【００３８】
まず、動作検証における、運用に供されていない待機中の光トランシーバー（以下、「待機光トランシーバー」という。）のスケジュール手段について述べる。
【００３９】
動作検証制御部１０５は、光トランシーバー集約器１０４ａ、１０４ｂに接続される光トランシーバー群から、待機光トランシーバーを２台選定する。そして、動作検証制御部１０５は、選定した待機光トランシーバーを所定の時期に動作させ、当該待機光トランシーバーにおける送信器および受信器の動作検証処理を開始させるスケジュール手段を備えている。
【００４０】
図２に、待機光トランシーバー群２０３の動作検証スケジュールを示す。待機光トランシーバー群２０３は、ｎ台の待機光トランシーバー１〜ｎの集合を示す。動作検証制御部１０５は、定期的な検証期間２０１の間に待機光トランシーバー１〜ｎの動作検証を行う。検証期間２０１において、動作検証制御部１０５は、待機光トランシーバーを順に２台ずつ選定し、後述する手順で選定した待機光トランシーバーの動作検証を行う。そして、全ての待機光トランシーバー２０３の動作検証が終了すると、故障検知制御部１０６は、検証結果に応じて故障個所の検知を行う。
【００４１】
故障検知制御部１０６は、動作検証において問題が発生した場合に故障箇所の検知を行う。検証期間２０１の終了後、所定の待機期間２０２が経過すると、動作検証制御部１０５は再度検証を開始する。
【００４２】
動作検証制御部１０５は、待機光トランシーバーの動作検証を行わない待機期間２０２の間は不要な機能を停止して、電力消費を抑えている。また、選定した待機光トランシーバーの動作検証を連続して実施することで、待機光トランシーバーの立ち上げや立ち下げによる待ち時間を短縮し、待機期間２０２を長く取ることができる。その結果、動作検証制御部１０５の電力消費を抑制することができる。
【００４３】
待機期間２０２の長さは、光ノード装置１００が接続されたネットワークに求められる信頼性に応じて決定されてもよい。例えば、１日の中でネットワークの使用量が小さい深夜を待機期間とし、その他の時間は１時間おきに動作検証するスケジュールとしてもよい。ネットワークの使用頻度が高い時期に定期的に動作検証を行うことで、使用の直前に動作検証が行われた待機光トランシーバーを、待機状態から運用状態に移行させることができる。あるいは、逆に、動作検証をネットワークの使用量が少ない時間帯に行うことで、光ノード装置のピーク消費電力を抑制するようにしてもよい。
【００４４】
また、光トランシーバーの起動時間はその内部の機能部ごとに異なっている。このため、起動時間が長い機能部を待機期間中に停止させるためには、待機時間２０２を長くする必要がある。すなわち、待機期間２０２を適切に設定することで、各光トランシーバーの不要な機能を停止することが可能となり、光ノード装置１００の電力消費をさらに抑制することが可能である。所定の機能部を停止させ、低電力消費状態にある待機光トランシーバーの起動時間は５０ｍｓｅｃから１０ｓｅｃ程度である。そのため、上述のスケジュールでは、起動時間の比較的長い光トランシーバーであっても、待機期間中は機能を全て停止させておくことが可能である。
【００４５】
ただし、新しいパスの割り当てに要する時間を短くするためには、待機光トランシーバーを高速に起動できることが必要である。このため、一部の待機光トランシーバーでは起動時間の比較的長い機能部を動作させたままとしておき、高速で起動できる待機モードとして待機させてもよい。そして、高速で起動できる待機モードの待機光トランシーバーのみを動作検証し、その他の待機光トランシーバーは起動時間の比較的長い機能部をも停止させて電力の低い待機モードで待機させておいてもよい。
【００４６】
次に前述のスケジュールにて動作検証制御部から選定された待機光トランシーバー２台の動作検証制御について、図３の制御フローを元に説明する。
【００４７】
図３は、図２の待機光トランシーバー群２０３から、待機光トランシーバー１と待機光トランシーバー２とが選定された場合の動作検証のフローを示す図である。図３には、待機光トランシーバー１、２及び光トランシーバー集約器１０４、動作検証制御部１０５の状態遷移とコマンドの流れを示している。なお、ここでは光トランシーバー集約器１０４ａと１０４ｂとを合わせて光トランシーバー集約器１０４と記載する。また、図４は、図３に示した動作検証における制御フローを示す図である。以下の手順１〜手順７に動作検証のフローを説明する。なお、以下の説明において、ａ１〜ａ２１は図３の各フロー及び図４のそれぞれの手順に対応する。
【００４８】
（手順１）動作検証を行う待機光トランシーバーの選定
動作検証制御部１０５は、待機光トランシーバー群２０３の中から動作検証を行う２台の待機光トランシーバー１、２を選定する。そして、動作検証制御部１０５は、選定した待機光トランシーバー１、２に起動指示を行う（ａ１）。２台の待機光トランシーバーは動作検証制御部１０５からの起動指示に従って導通評価モードに移行する（ａ２、ａ３）。導通評価モードは、待機光トランシーバー１、２の間で導通時間評価を行うためのモードである。それぞれの待機光トランシーバーの送信側は、導通評価モードにおいてフレーム長の短いＯＴＮ（ｏｐｔｉｃａｌ  ｔｒａｎｓｐｏｒｔ  ｎｅｔｗｏｒｋ）フレームを送出する手段を備える。待機光トランシーバーの受信側は、導通評価モードにおいてＯＴＮフレームを受信し、受信したＯＴＮフレームが正しく受信できたか判断する手段を備える。
【００４９】
図５は、第１の実施形態の手順１における待機光トランシーバー１、２の接続関係を示す図である。動作検証制御部１０５は、図５に示すように待機光トランシーバー１と待機光トランシーバー２とがループバック光ファイバ１０９で接続されるように、光トランシーバー集約器１０４に対してパス設定指示を出す（ａ４）。この指示に基づいて、マトリクススイッチ１０２ｂは待機光トランシーバー１とループバック光ファイバ１０９とを接続する。また、この指示に基づいて、マトリクススイッチ１０２ａはループバック光ファイバ１０９と待機光トランシーバー２とを接続する。
【００５０】
（手順２）起動時間確認（待機光トランシーバー１→２）
起動時間３０１は、光トランシーバー集約器のパス設定時間と、待機光トランシーバーの起動時間から決まる全体の起動時間である。待機光トランシーバー２は、光信号を検知すると、その旨を動作検証制御部１０５に返信する。動作検証制御部１０５は、その返信を受信した時間と起動指示を出した時間との差分を求め、起動時間３０１を確認する（ａ５）。
【００５１】
起動時間３０１が所定の時間内であれば、その旨をメモリに記録する。そして、次の手順３（ａ６）に進み導通時間の確認を実施する。
【００５２】
起動時間３０１が所定の時間を越えている等の問題があった場合には、待機光トランシーバー１の送信器、待機光トランシーバー２の受信器または光トランシーバー集約器１０４の光路に問題がある可能性がある。この場合には、起動時間３０１の確認結果に問題があった旨をメモリに記録し、待機光トランシーバー１、２の動作検証を終了する。そして、次の待機光トランシーバーの動作検証へと移る（ａ２１）。故障個所の検知は、動作検証終了後、故障検知制御部１０６により行われる。
【００５３】
ここで、メモリとして例えば半導体メモリやハードディスク等の記憶装置が利用できるが、これらには限定されない。また、メモリが備えられる場所は特に制限はなく、例えば動作検証制御部１０５がメモリを備えていてもよい。
【００５４】
（手順３）導通時間確認（待機光トランシーバー１→２）
手順３では、対向する待機光トランシーバー間が同期され導通が開始するまでの時間である導通時間３０２を確認する。手順１において、２台の待機光トランシーバー１、２は導通評価モードに設定されている。そして、受信側の待機光トランシーバー２ではＯＴＮフレームが正常に受信されるかどうかを検査している。待機光トランシーバー２は、ＯＴＮフレームが一定回数連続して受信された場合には、導通確認信号を待機光トランシーバー２から動作検証制御部１０５へ送る。動作検証制御部１０５は、導通確認信号を受け取った時間と起動指示を出した時間との差分を求め、導通時間３０２を確認する（ａ６）。
【００５５】
導通時間３０２が所定の時間内であれば、その旨をメモリに記録する。そして、手順４に進む。
【００５６】
導通時間３０２が所定の時間を越える等の問題があった場合には、待機光トランシーバー１、２の少なくとも一方の同期回路に問題がある可能性がある。この場合、導通時間の確認結果に問題があった旨をメモリに記録し、待機光トランシーバー１、２の動作検証を終了する。そして、次の待機光トランシーバーの動作検証へと移る（ａ２１）。故障個所の特定は、動作検証終了後、故障検知制御部１０６により行われる。
【００５７】
（手順４）機能検証（待機光トランシーバ１→２）
動作検証制御部１０５は、２台の待機光トランシーバー１、２に対し、機能検証モードへの変更を通知する。その通知に基づいて、待機光トランシーバー１、２は機能検証モードへ移行し（ａ７、ａ８）、機能検証が実施される（ａ９）。第１の実施形態における機能検証は、以下の２種類である。第１の機能検証では、特定の“０”、“１”信号のテストパターンを用意し、その信号がエラーフリーで伝送できるかを検証する。第２の機能検証は、誤り訂正に関する機能検証である。第２の機能検証では、誤りを含むフレームをテストパターンとして用いて導通の確認を行い、受信側の光トランシーバー２においてエラー訂正機能が正しく動作しているかを検証する。
【００５８】
手順４における機能検証に問題がなければ、その旨をメモリに記録する。そして、次の手順５に進み送信器と受信器とを切り替えて起動時間確認を実施する。
【００５９】
手順４の機能検証で問題があった場合には、少なくとも一方の光トランシーバーの電気回路部に問題がある可能性がある。この場合は、機能検証結果に問題があった旨をメモリに記録し、待機光トランシーバー１、２の動作検証を終了する。そして、次の待機光トランシーバーの動作検証へと移る（ａ２１）。故障個所の特定は、動作検証終了後、故障検知制御部１０６により行われる。
【００６０】
（手順５）起動時間確認（待機光トランシーバー２→１）
手順５では、待機光トランシーバー２から待機光トランシーバー１への方向の新しいパスに対し、手順１と同様の手順を実施する。動作検証制御部１０５は、待機光トランシーバー１、２に対し、送信器と受信器とを切り替え、それぞれを導通評価モードとする指示を出す。そして、その指示に基づいて、待機光トランシーバー１、２は機能検証モードへ移行する（ａ１０、ａ１１）。このとき、待機光トランシーバー１の送信光はオフ状態に変更され、ネットワークに不要な光が漏れないようにされる。また、光トランシーバー集約器１０４に対し、待機光トランシーバー２から待機光トランシーバー１に向かうパスを設定する指示を出す。光トランシーバー集約器１０４はその指示に基づいて待機光トランシーバー２から待機光トランシーバー１に向かうパスを設定する（ａ１２）。
【００６１】
図６は、手順５において、待機光トランシーバー１、２の送信部と受信部とが切り替わった状態を示す図である。図６においては、待機光トランシーバー２の送信器が出力した光はマトリクススイッチ１０２ｂ、ループバック光ファイバ１０９、マトリクススイッチ１０２ａを経由して待機光トランシーバー１の受信器で受信される。
【００６２】
その後、光トランシーバー集約器１０４のパス設定時間と、手順５と同様に測定された待機光トランシーバー１、２の起動時間とから決まる起動時間３０３が評価される。すなわち、受信側の光トランシーバー１は、光信号を検知すると、その旨を動作検証制御部１０５に返信する。動作検証制御部１０５は、その返信を受信した時間と起動指示を出した時間との差分を求め、起動時間３０３を確認する（ａ１３）。
【００６３】
起動時間３０３が所定の時間内であれば、その旨をメモリに記録する。そして、次の手順６（ａ１４）に進み導通時間を確認する。起動時間３０３が所定の時間を越える等の問題があった場合には、待機光トランシーバー２の送信器、待機光トランシーバー１の受信器または光トランシーバー集約器１０４の光学部品に問題がある可能性がある。この場合、起動時間３０３の確認結果に問題があった旨をメモリに記録し、待機光トランシーバー１、２の動作検証を終了する。そして、次の待機光トランシーバーの動作検証へと移る（ａ２１）。故障個所の特定は、動作検証終了後、故障検知制御部１０６により行われる。
【００６４】
（手順６）導通時間確認（待機光トランシーバー２→１）
手順６では、待機光トランシーバー２から待機光トランシーバー１の方向に対して手順３と同様の検証を実施する。
【００６５】
手順６では、待機光トランシーバー１、２への起動指示から、待機光トランシーバー２から待機光トランシーバー１への通信が同期され導通するまでの時間３０４を確認する。手順５において、２つの待機光トランシーバーは導通評価モードに設定されている。そして、受信側の待機光トランシーバー１ではＯＴＮフレームが正常に受信できているかどうかをモニタしている。待機光トランシーバー１は、ＯＴＮフレームが一定回数連続して受信されたことを検知すると、導通確認信号を待機光トランシーバー１から動作検証制御部１０５へ送る。動作検証制御部１０５では、その導通確認信号を受け取った時間と起動指示を出した時間の差分を求め、導通時間３０４を確認する（ａ１４）。
【００６６】
導通時間３０４が所定の時間内であれば、その旨をメモリに記録する。そして、次の手順７へ進み機能検証を実施する。導通時間３０４の遅延が大きく、所定の時間を越える等の問題があった場合には、少なくとも一方の待機光トランシーバーの同期回路に問題がある可能性がある旨をメモリに記録し、待機光トランシーバー１、２の動作検証を終了する。そして、次の待機光トランシーバーの動作検証へと移る（ａ２１）。故障個所の特定は、動作検証終了後、故障検知制御部１０６により行われる。
【００６７】
（手順７）機能検証（待機光トランシーバー２→１）
新しい光パス（待機光トランシーバー２→１）に対し、手順４と同様の機能検証を実施する。
【００６８】
動作検証制御部１０５は、待機光トランシーバー１、２に対して機能検証モードへの変更を通知する。その通知に基づいて待機光トランシーバー１、２は機能検証モードへ移行し（ａ１５、ａ１６）、機能検証が実施される（ａ１７）。
【００６９】
機能検証に問題がなければ、その旨をメモリに記録し、待機光トランシーバー１、２の機能検証を終了する。そして、次の待機光トランシーバーの動作検証に移る。
【００７０】
一連の動作検証が終了すると、待機光トランシーバー１、２は、共に光出力が停止された待機モードで待機する（ａ１８、ａ１９）。光トランシーバー集約器１０４は、次に動作検証を行う待機光トランシーバー３、４のパスを設定する（ａ２０）。
【００７１】
機能検証で問題が発見された場合は、少なくとも一方の待機光トランシーバーの電気回路に問題がある可能性がある。この場合は、機能検証結果に問題があった旨をメモリに記録し、待機光トランシーバー１、２の動作検証を終了する。そして、動作検証終了後、故障検知制御部１０６により故障箇所が検出される。
【００７２】
上記の手順１〜手順７の動作検証手順を待機光トランシーバー群２０３の全ての待機光トランシーバー１〜ｎに実施することで、待機光トランシーバー群２０３と光トランシーバー集約器１０４ａ、１０４ｂの動作検証が行われる。そして、動作検証結果に基づいて、新しいパスの立上げの際に故障が発見されていない光トランシーバーを選択することができる。
【００７３】
次に故障検出制御について説明する。図７は、故障状態管理テーブルの例である。故障状態管理テーブルは、手順１〜７の過程でメモリに記録された動作検証結果に基づいて作成される。故障状態管理テーブルには、動作検証を行った待機光トランシーバーの番号と、送信側及び受信側について問題が発生した手順と問題の内容とを記録している。
【００７４】
送信器と受信器とを対向させて行う動作検証では、送信器と受信器とのどちらで故障が起きているかを知ることが困難な場合がある。このため、たとえ一方の光トランシーバーのみが故障している場合でも、一旦は両方の光トランシーバーを故障として扱う必要があった。しかしながら、第１の実施の形態の光ノード装置１００では、以下に示す故障検出手順により、いずれの光トランシーバーが故障しているか判断できる。また、マトリクススイッチ１０２ａまたは１０２ｂが故障していることを検出することも可能である。その結果、光ノード装置１００が備える光コンポーネントの故障個所の特定を効率的に行うことが可能となる。
【００７５】
図８は、故障検出制御部１０６による故障箇所検出手順を示す図である。以下の説明において、ｓ１〜ｓ８は図８の各手順に対応する。
【００７６】
図８において、まず初めに、故障状態管理テーブルから「異常」とされた光トランシーバーの有無を確認する（ｓ１）。異常とされた光トランシーバーが存在する場合（ｓ１：有）、異常とされた待機光トランシーバーの中から１台と、待機光トランシーバーの中から正常状態であることが判明している１台を選ぶ（ｓ２、ｓ３）。この２台の光トランシーバーにおいて手順１〜手順７で示した動作検証手順を再度実施する（ｓ４）。
【００７７】
この検証により問題が生じた場合（ｓ５：有）は、異常状態の光トランシーバーが故障しているものとして、その光トランシーバーをパス設定の際の選択対象から削除する（ｓ６）。一方、ｓ４における動作検証において問題が生じなかった場合（ｓ５：無）は、故障状態管理テーブルの記載を修正する（ｓ７）。すなわち、ｓ７では故障状態管理テーブル上で故障状態と記録されていた待機光トランシーバーの状態を、正常状態に修正する。
【００７８】
その後、故障状態管理テーブル上に異常ありとされた待機光トランシーバーの有無の確認を繰り返す。そして、パス設定の際の選択対象から削除されていない待機光トランシーバーに「異常」状態が無くなった時（ｓ１：無）、故障箇所検出制御を終了する（ｓ８）。
【００７９】
ここで、最初の動作検証において故障状態と判断された２台の待機光トランシーバーが、故障検出手順においていずれも正常と判断された場合（ｓ７）について考える。このような場合には、動作検証の際の待機光トランシーバーには異常がなく、光トランシーバー集約器１０４ａ、１０４ｂの少なくとも一方が故障している可能性がある。例えば、マトリクススイッチ１０２ａまたは１０２ｂの一部が故障しており、動作検証の際に形成されたパスにのみ影響が現れたような場合が相当する。
【００８０】
このような場合、正常な待機光トランシーバーを用いてマトリクススイッチ１０２ａ、１０２ｂに設定されるパスを変えながら動作試験を行い、異常が発生する条件を調査することで、故障している光コンポーネント（待機光トランシーバーまたは光トランシーバー集約器１０２ａ、１０２ｂ）あるいはその故障個所を絞り込むことが可能である。
【００８１】
故障検出手順において故障と判断された光コンポーネントの情報は別途管理者に通知される。管理者は、故障検出制御の実行結果及び故障状態管理テーブルの異常個所の記載に基づいて、必要に応じて光コンポーネントを交換または修理する。光トランシーバーの交換または修理においても、故障検出手順の実行結果から送信器、受信器のどちらに故障が生じているか、あるいは光トランシーバー集約器１０２ａ、１０２ｂが故障しているかを知ることができる。このため、光トランシーバー及び光ノード装置で用いられる光コンポーネントの故障原因の調査、交換及び修理に要するコストが低減される。
【００８２】
このように、第１の実施形態の光ノード装置は、待機中の光コンポーネントの動作検証と故障箇所の検知とを行うことができる。その結果、第１の実施形態の光ノード装置は、光ノード装置の信頼性及び利用効率を向上させることができるという効果を奏する。
【００８３】
また、第１の実施形態の光ノード装置は、故障している光コンポーネントあるいはその故障個所を検知することが可能であるので、光ノードの故障調査に伴う運用費用を削減できるという効果も奏する。
【００８４】
なお、第１の実施形態の光ノード装置１００は、光トランシーバー群１０１を含まない構成としてもよい。
【００８５】
さらに、第１の実施形態の光ノード装置は、以下のような最小構成でも実現される。すなわち、光ノード装置は、送信器が接続される少なくとも１つの第１のポートと、受信器が接続される少なくとも１つの第２のポートとを備える。そして、光ノード装置は、一部が第１のポートとのみ選択的に接続され、他の一部が第２のポートとのみ選択的に接続される少なくとも２つの第３のポートとを備える。さらに、光ノード装置は、第３のポートの２つである第６のポート及び第７のポートを接続する光伝送路と、を備える。そして、第１のポートの１つである第４のポートが第６のポートと、第２のポートの１つである第５のポートが第７のポートと、それぞれ接続可能に構成される。
【００８６】
このような最小構成を備える光ノード装置は、第１のポートの１つである第４のポートに待機中の光トランシーバーの送信器を接続する。そして、第２のポートの１つである第５のポートに待機中の光トランシーバーの受信器を接続する。
【００８７】
送信器、受信器及び光ノード装置をこのように接続することで、送信器が送信した光を光ノード装置を経由して受信器で受信することができる。
【００８８】
すなわち、上記の最小構成を備える光ノード装置も、図１で説明した光ノード装置１００と同様に、第１の実施形態の光ノード装置は、待機中の光コンポーネントの動作検証と故障箇所の検知とを行うことができる。その結果、最小構成を備える光ノード装置も、光ノード装置１００と同様の効果を奏する。
【００８９】
［第２の実施形態］
［構成の説明］
次に、本発明の第２の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００９０】
図９は、本発明の第２の実施形態の光ノード装置の構成図である。図９を参照すると、第２の実施形態の光ノード装置２００は、光トランシーバー集約器９０７ａ及び９０７ｂ、ループバック光ファイバ９０４並びに光トランシーバー群９０１を備える。さらに、光ノード装置２００は、動作検証制御部９０５及び故障検知制御部９０６を備える。
【００９１】
光トランシーバー集約器９０７ａは、合分波波長に周回性を有する周回性光波長多重合分波器９０３と、アグリゲーション／マルチキャスト機能を有するマトリクススイッチ９０２ａと、波長可変選択フィルタ９０８とを備える。光トランシーバー集約器９０７ｂは、周回性光波長多重合分波器９０３と、アグリゲーション／マルチキャスト機能を有するマトリクススイッチ９０２ｂとを備える。
【００９２】
アグリゲーション／マルチキャスト機能は、マトリクススイッチ９０２ａ、９０２ｂを光スプリッタあるいは光カップラーとして使用するための機能である。アグリゲーション／マルチキャスト機能により、マトリクススイッチに入力された光を複数の光路に分配したり、複数の光路の光を合流させたりすることが可能となる。
【００９３】
光ノード装置２００においては、周回性光波長多重合分波器９０３として非特許文献１に記載されているものと同様の周回性ＡＷＧを用いている。また、アグリゲーション／マルチキャスト機能を備えるマトリクススイッチ９０２ａ、９０２ｂとして、ＰＬＣで作成されたマッハツェンダー干渉計型スイッチによるマトリクススイッチを用いている。そして、マトリクススイッチ９０２ａ、９０２ｂは、マッハツェンダー干渉計型スイッチの中間状態を精密に制御することでアグリゲーション／マルチキャスト機能を実現することができる。
【００９４】
周回性光波長多重合分波器９０３は、光ファイバ群側（合波側）に、接続される方路数分のポートを備えている。光ファイバ群側の各ポートは対応する方路によって光ネットワークに接続されている。そして、周回性光波長多重合分波器９０３の光トランシーバー群側（分波側）に各方路の波長多重数分のポートを備えており、光トランシーバー群側の各ポートはマトリクススイッチ９０２のネットワーク側のポートと接続されている。
【００９５】
マトリクススイッチ９０２ａ、９０２ｂの光トランシーバー群側には、光ノード２００における最大Ａｄｄ／Ｄｒｏｐ数のポートが備えられる。そして、マトリクススイッチ９０２ａ、９０２ｂの光トランシーバー群側には、光トランシーバー群９０１が接続される。ここで、Ｄｒｏｐ側にはマトリクススイッチ９０２ａがマルチキャストした波長多重信号から任意の所望の波長を取り出すために、マトリクススイッチ９０２ａと光トランシーバー群９０１との間に波長可変選択フィルタ９０８が配置される。
【００９６】
マトリクススイッチ９０２ａ、９０２ｂの光ファイバ群側には、方路数に対して１ポート多いポートが備えられる。マトリクススイッチ９０２ｂとマトリクススイッチ９０２ａとはループバック光ファイバ９０４によって互いに接続される。
【００９７】
光ノード装置２００は、使用されていない待機光トランシーバーの動作検証のための制御を行う動作検証制御部９０５及び故障検知制御部９０６を備える。動作検証制御部９０５は、光トランシーバー群及び光トランシーバー集約器９０７ａ、９０７ｂを制御する。故障検知制御部９０６は、動作検証の結果に基づいて故障個所の検知を行う。
【００９８】
なお、光ノード装置２００は、通常のＡｄｄ／Ｄｒｏｐ動作などを制御する既存の制御部を備えているが、Ａｄｄ／Ｄｒｏｐ動作を行うための構成は周知であり本願とは直接関連しないので図面への記載及び詳細な説明は省略する。
【００９９】
第２の実施形態では、第１の実施形態と比較してさらにマトリクススイッチ９０２ａ、９０２ｂのサイズを小さく抑えることが可能である。たとえば、第１の実施形態と同様に方路数を３、各方路での波長多重数を５０とし、Ａｄｄ／Ｄｒｏｐ率を最大２０％とした光ノード装置を考える。第２の実施形態の光ノード装置２００においては、周回性光波長多重合分波器９０３の光トランシーバー側の各ポートには、３本の方路に対応する３個の波長の光が多重されている。このため、周回性光波長多重合分波器９０３の光トランシーバー側のポート数は波長数１５０の３分の１である５０でよい。その結果、マトリクススイッチ９０２ａ、９０２ｂのポート数は第１の実施形態では１５１×３０であったのに対し、第２の実施形態では５１×３０と小さくできる。これは、周回性光波長多重合分波器９０３の光トランシーバー側のポートにも光信号が波長多重されるからである。従って、第２の実施形態では、第１の実施形態と比較して、さらに装置サイズの小型化とコストの低減とを実現することができる。
【０１００】
［動作の説明］
第２の実施形態における待機光トランシーバー群に対する動作検証制御部９０５と故障検知制御部９０６の動作を以下に説明する。
【０１０１】
まず、動作検証制御でのスケジュール手段について述べる。図１０に、第２の実施形態における待機光トランシーバー群の動作検証スケジュールを示す。図９に示した動作検証制御部９０５は、光トランシーバー集約器９０７ａ、９０７ｂに接続される待機光トランシーバー群（図１０の１００１）に対し、１台ずつ所定の時期に動作させ、光トランシーバーにおける光送受信器における送信器および受信器の動作検証処理を開始させるスケジューリング手段を備えている。
【０１０２】
動作検証制御部９０５は定期的に動作し、検証期間１００２では１台の光トランシーバーの動作検証を行う。動作検証において問題が発見された場合、続いて故障検知制御部９０６により故障箇所の検知を行う。この動作を全ての待機光トランシーバーにおいて繰り返し実施する。なお、第２の実施形態において検証間隔１００３は５分とした。第２の実施の形態のスケジュールでは、検証時には少なくとも１台の待機光トランシーバーの動作検証が実施される。
【０１０３】
新規に１本のパスを設定する必要が生じた場合には、少なくとも１台の光トランシーバーの動作が検証されていればよい。従って、第２の実施の形態においては、マトリクススイッチ９０２ａ、９０２ｂの設定により、１台のみの光トランシーバーを用いて動作検証用の光を送受信している。
【０１０４】
次に、図１０に示したスケジュールにて待機光トランシーバーの動作検証を行う手順を図１１及び図１２を参照して説明する。
【０１０５】
図１１は、図１０に示した待機トランシーバー群１００１の動作検証スケジュールから、待機光トランシーバー１と光トランシーバー集約器９０７ａ、９０７ｂそして、動作検証制御部９０５の時間ごとの状態遷移とコマンドの流れを取り出して示したものである。以下、光トランシーバー集約器９０７ａと９０７ｂとを総称して光トランシーバー集約器９０７と記載する。また、図１２は、図１１に示した動作検証における制御手順を示す図である。以下に手順１〜手順７の手順を順に説明する。なお、以下の説明において、ｂ１〜ｂ１０は図１２のそれぞれの手順に対応する。
【０１０６】
（手順１）待機光トランシーバーの選定
動作検証制御部９０５は、待機光トランシーバー群１００１の中から動作検証を行う１台の待機光トランシーバーを選定する。そして、動作検証制御部９０５は、手順１で選定した待機光トランシーバー１に起動指示を出す（ｂ１）。待機光トランシーバー１は、動作検証制御部９０５からの起動指示に基づいて導通評価モードに移行する（ｂ２）。導通評価モードは、第１の実施の形態と同様である。
【０１０７】
図１３は、第２の実施形態における待機光トランシーバーの接続関係を示す図である。動作検証制御部９０５からは光トランシーバー集約器９０７に対し、図１３に示す経路で待機光トランシーバー１の送信器の出力が待機光トランシーバー１の受信器で受信されるようにパスの設定指示を出す。マトリクススイッチ９０２ａ、９０２ｂは待機光トランシーバー１が送信した光がマトリクススイッチ９０２ａ、ループバック光ファイバ９０４、マトリクススイッチ９０２ｂを経由して待機光トランシーバー１で受信されるように経路を接続する（ｂ３）。
【０１０８】
（手順２）起動時間確認
待機光トランシーバー１は、送信器が出力した光信号を受信器で検知した後、光信号を検知したことを動作検証制御部９０５に返信する。動作検証制御部９０５は、その返信を受信した時間と起動指示を出した時間の差分を求め、起動時間１１０１を確認する（ｂ４）。
【０１０９】
起動時間１１０１が所定の時間内であれば、その旨をメモリに記録し、次の手順３の導通時間確認を実施する。起動時間１１０１が所定の時間を越える場合は、待機光トランシーバー１の送信器、受信器または光トランシーバー集約器の光学部品に問題があるとして起動時間の確認結果をメモリに記録し、動作検証終了後故障検知制御部９０６による故障箇所の検知を行う（ｂ１０）。
【０１１０】
（手順３）導通時間確認
第１の実施形態における手順３と同様に、導通時間１１０２を確認する。待機光トランシーバー１の受信器でＯＴＮフレーム受信が一定回数連続して受信されたことを検知した後、待機光トランシーバー１は、導通確認信号を動作検証制御部９０５へ送る。動作検証制御部９０５では、その導通確認信号を受け取った時間と起動指示を出した時間との差分を求め、導通時間１１０２を確認する（ｂ５）。
【０１１１】
導通時間１１０２が所定の時間内であれば、その旨をメモリに記録し、手順４の動作検証を実施する。導通時間１１０２が所定の時間を越える場合は、待機光トランシーバー１の同期回路に問題がある可能性があるとして導通時間の確認結果をメモリに記録し、故障検知制御部９０６により故障箇所の検知を行う（ｂ１０）。
【０１１２】
（手順４）機能検証
動作検証制御部９０５は、待機光トランシーバー１に対し、機能検証モードへの変更を通知する（ｂ６）。その通知に基づいて、待機光トランシーバー１は機能検証モードへ移行し、動作検証制御部９０５によって機能検証が実施される（ｂ７）。第２の実施形態における機能検証では、第１の実施形態の手順４で示した２種類の機能検証に加えて、待機光トランシーバー１及び波長可変選択フィルタ９０８の波長可変制御検証が実施される。第１の実施形態の手順４で示した２種類の機能検証については、送受信する待機光トランシーバーが同一であること以外は第２の実施形態でも同様であるので説明を省略する。
【０１１３】
波長可変制御検証は、待機光トランシーバー１とそれに接続されている波長可変選択フィルタ９０８の波長可変特性を検証するものである。図１４に波長可変制御の検証手順を示す。波長可変選択フィルタ９０８と待機光トランシーバー１の送信器の待機時の設定波長は光ノード装置２００の既定値として決められている。第２の実施形態においては、待機時の設定波長は、使用する波長帯域の中心波長λｃにて設定されている。手順２及び手順３で実施する起動時間及び導通時間の検証並びに機能検証は、この初期波長λｃにて実施されてもよい。
【０１１４】
波長可変検証においては、図１４に示すように、まず波長可変選択フィルタ９０８の透過波長をλｃから評価用の波長λｘに変更する（ｓ２１）。波長可変選択フィルタ９０８の透過波長が変更されたことにより受信器で受信される光が遮断されたことを確認する（ｓ２２、ｓ２３）。ｓ２３で光が遮断されていない場合は波長可変選択フィルタ９０８が故障しているものと判断する（ｓ３０）。
【０１１５】
その後、待機光トランシーバー１の波長をλｃから評価用のλｘに変更する（ｓ２４）。ｓ２３で光が遮断されていた場合は、受信器で光が再び検知されることを確認する（ｓ２５、ｓ２６）。光が検知されれば異常はないと判断し（ｓ２７）、波長可変選択フィルタ９０８及び待機光トランシーバー１の設定波長をλｘからλｃに変更する（ｓ２８）。ｓ２６で光が検知されない場合は待機光トランシーバー１が故障していると判断する（ｓ２９）。これにより、待機光トランシーバー１と波長可変フィルタ９０８との波長可変機能の機能検証及び故障個所の検知を行うことができる。
【０１１６】
１台の待機光トランシーバーの動作検証を実施して問題がなければ、光トランシーバー１と波長可変選択フィルタ９０８の波長はλｘからλｃへ戻され、送信器は光出力を停止した待機モードで待機する（ｂ８）。光トランシーバー集約器９０７は、次に動作検証を行う待機光トランシーバー２の光パスを設定する（ｂ９）。なお、待機光トランシーバーの動作検証を実施して問題がなければ、故障検知制御部９０６を起動することなく、待機光トランシーバー２への動作検証に移ってもよい。
【０１１７】
手順４の機能検証で問題が生じた場合は、待機光トランシーバー１の電気回路が故障している可能性がある旨をメモリに記録し、故障検知制御部９０６により故障箇所の検知を行う（ｂ１０）。
【０１１８】
このように、第２の実施形態では、光トランシーバー集約器９０７ａが本来備える波長可変選択フィルタ９０８を動作検証のために活用することで、光ノード装置のコストを上昇させることなく光トランシーバー９０２ａ、９０２ｂ及び波長可変選択フィルタ９０８の動作検証を行うことができる。
【０１１９】
なお、第１の実施形態においても、波長可変選択フィルタ９０８を別途用意することで第２の実施形態と同様な波長可変制御の検証が可能である。
【０１２０】
次に、故障検知制御部９０６が行う故障検出制御について説明する。図１５に故障検出制御部による故障箇所検出制御手順を示す。
【０１２１】
図１５において、動作検証において異常が確認された場合（ｓ３１：異常有）、正常な光トランシーバーを１台選定する（ｓ３２）。ここでは、故障が検出された待機光トランシーバー１よりも以前に評価して問題のなかった待機光トランシーバーを選ぶ。そして、故障が検出された待機光トランシーバー１と正常な待機光トランシーバーとの２台の光トランシーバーを対向させて、第１の実施形態の手順１〜手順７の動作検証及び故障検出手順を実施する（ｓ３３）。この検証により光ノード装置内の故障した光コンポーネントの故障箇所を検知する。
【０１２２】
待機光トランシーバー１に再度異常が確認された場合は、待機光トランシーバー１がノードで使われないように、待機光トランシーバー１をパス設定の際の選択対象から削除する（ｓ３４）。そして、別の待機中の光トランシーバーの動作検証を図１０のスケジュール及び図１２の動作検証フローに従って引き続き実施する（ｓ３５）。なお、動作検証において問題が生じなかった場合は、故障箇所検出手順を行わず、別の待機中の光トランシーバーの動作検証を行う（ｓ３５）。
【０１２３】
ここで、動作検証において故障状態と判断された待機光トランシーバー１が、故障検出手順において正常と判断された場合について考える。このような場合には、待機光トランシーバー１には異常がなく、光トランシーバー集約器９０７ａ、９０７ｂの少なくとも一方が故障している可能性がある。例えば、マトリクススイッチ９０２ａ、９０２ｂを構成するＭＥＭＳの一部が故障しており、動作検証の際に形成されたパスにのみ故障の影響が現れたような場合が相当する。
【０１２４】
このような場合、待機光トランシーバーを用いてマトリクススイッチ９０２ａ、９０２ｂに設定されるパスを変えながら動作試験を行い、異常が発生する条件を調査することで、故障している光コンポーネントあるいはその故障個所を絞り込むことが可能である。故障と判断された光コンポーネントの情報は別途管理者に通知され、必要に応じて交換あるいは修理される。
【０１２５】
第２の実施形態では、１台ずつ待機光トランシーバーの動作検証及び故障個所の検知を実施する。このため、動作検証による故障個所がより容易に調査できるので、故障した光コンポーネントの交換または修理に必要なコストが低減される。また、第２の実施形態では、他の全ての待機光トランシーバーの動作検証結果を故障状態管理テーブルに記録しておく必要がない。従って、故障状態管理テーブルのためのメモリの使用量を削減できる。
【０１２６】
また、第２の実施形態の光ノード装置は、このように１台の光トランシーバーのみを用いて動作検証を実施することで、動作検証制御部９０５及び故障検知制御部９０６の構成をより簡単にできるという効果がある。第１の実施形態では動作検証制御部１０５において２台の光トランシーバーの管理を行う必要があった。これに対して、第２の実施形態では、動作検証中に動作検証制御部９０５が管理する光トランシーバーは１台のみでよい。その結果、第２の実施形態では、第１の実施形態と比較して、動作検証制御部９０５が行う制御が単純化され、動作検証制御部９０５のコスト減、消費電力低減が可能となる。なお、故障箇所を管理者に示すために管理テーブルを用意して故障内容を記録してもよい。
【０１２７】
以上説明したように、第２の実施形態の光ノード装置は、周回性光波長多重合分波器を用いることで、第１の実施形態の効果に加えて、更なる小型化・低コスト化が可能なであるという効果を奏する。
【０１２８】
［第３の実施形態］
次に、本発明の第３の実施形態について説明する。第３の実施形態の光ノード装置の構成は図９に示した第２の実施形態の光ノード装置２００と同じであるが、待機光トランシーバーに対するスケジュール管理が異なる。
【０１２９】
図１６に、第３の実施形態での動作検証制御部と待機光トランシーバー群のスケジュールを示す。待機光トランシーバー群１６０１は、待機光トランシーバー１〜１６からなる。待機光トランシーバー１〜１６に対するスケジュール管理は第２の実施形態とは異なっているが、第３の実施形態の光ノードの構成は第２の実施形態と同様であるので、以下においては図９を参照して構成を説明する。
【０１３０】
図１７は、光ノード装置２００の、第３の実施形態における動作を説明するための図である。光ノード装置２００は、同時に複数の待機光トランシーバーの動作検証を行う際に、図１７に示すように、マトリクススイッチ９０２ａ、９０２ｂのアグリゲーション／マルチキャスト機能を用いている。アグリゲーション／マルチキャスト機能により、複数の波長の光をマトリクススイッチ９０２ｂで合流させ、マトリクススイッチ９０２ａで分岐させることが可能である。波長可変選択フィルタ９０８は、マトリクススイッチ９０２ａで分岐された光のうち、それぞれの待機光トランシーバーの受信器が受信しようとする波長のみを透過する。
【０１３１】
このため、動作検証を行う際には、図１７にλａ、λbとして示されているように、待機光トランシーバーの設定波長は互いに重ならないように設定される。すなわち、動作検証制御部９０５は、同時に動作検証を行う待機光トランシーバーの送受信波長をそれぞれ異なるように設定する。
【０１３２】
動作検証制御部９０５は定期的に待機光トランシーバーの動作検証を行う。そして、動作検証制御部９０５は、動作検証を行う動作期間１６０２では同時に８台の待機光トランシーバーの動作検証を行う。第３の実施形態における動作検証は、第２の実施形態と同様に１台ずつ、それぞれの待機光トランシーバーの送信器と受信器との間で実施される。動作検証において問題が生じた場合、第２の実施形態と同様に故障検知制御部９０６により故障箇所の検知を行う。この動作を全ての待機光トランシーバーにおいて繰り返し実施する。なお、第３の実施形態では、動作検証間隔を２０分とし、検証を行わない待機期間１６０３を４０分とすることで、１時間毎に８台の待機光トランシーバーの動作検証が行われるとした。
【０１３３】
このようにそれぞれの待機光トランシーバーの送信器と受信器との間を接続し、さらに、複数台の待機光トランシーバーの動作検証を一括して実施することで、評価時間を短縮できる。その結果、第３の実施形態は、第１の実施形態と比較して、さらに待機時間を長く取ることが可能となる。そして、待機期間中の動作検証制御部は、使用しない機能の動作を停止することで、電力消費を抑えることができる。さらに、待機期間をさらに長く取ることが可能となることにより、待機光トランシーバーにおいても起動時間がより長い機能部を停止しておくことが可能となり、さらに高い省電力効果を得ることができる。
【０１３４】
なお、同時に動作検証する待機光トランシーバーの数は８台以下が望ましい。光ノード装置２００は、同時に複数の待機光トランシーバーの動作検証を行う際に、図１７に示すように、マトリクススイッチ９０２ａ、９０２ｂのアグリゲーション／マルチキャスト機能を用いている。このアグリゲーション／マルチキャスト数Ｎを増やしていくと、マトリクススイッチ９０２の分岐損失はマトリクススイッチ１台あたり−１０ｌｏｇ（１／Ｎ）ｄＢとなる。光トランシーバー間での動作検証を行うためには、待機光トランシーバー間の損失は２０ｄＢ以下であることが望ましい。この場合、２台のマトリクススイッチや波長可変選択フィルタの過剰損失を含めた損失が、２０ｄＢ以下である必要があり、そのためにはＮは８以下であることが好ましい。ただし、第３の実施形態の効果は、マトリクススイッチ９０２の損失が大きい場合でも失われるものではない。
【０１３５】
［第４の実施形態］
図２０は、本発明の第４の実施形態の光ノード装置の構成例を示す図である。光ノード装置９００は、光スプリッタ２００４、２００７及び２００８、ＷＳＳ２００６、波長ブロッカー２００５、光トランシーバー集約装置２００３を備える。光トランシーバー集約装置２００３は、光トランシーバー集約器２００２ａ及び２００２ｂを備える。また、光トランシーバー集約器２００２ａ、２００２ｂには、複数の光トランシーバーからなる光トランシーバー群２００１が接続されている。
【０１３６】
光ノード装置９００は、方路１及び方路２のそれぞれの接続点に光スプリッタ２００７及びＷＳＳ２００６を備えている。光スプリッタ２００７は、ある方路（例えば方路１）から受信する光を他の方路（例えば方路２）と光トランシーバー集約装置２００３側とに分岐する。
【０１３７】
ここで、各方路が直接接続されるようにＷＳＳ２００６を設定することにより、光ノード装置９００は、光ノードでＡｄｄ／Ｄｒｏｐを行わないチャネルを光信号のままある方路から他の方路へ通過させる（光カットスルー）。光カットスルー機能により、光ノード装置が備える光トランシーバーの数を抑制することができる。
【０１３８】
光トランシーバー集約器２００２ａ及び２００２ｂは例えばマトリクススイッチである。光トランシーバー集約器２００２ａは、光スプリッタ２００７で分岐された方路１及び方路２からの光が所定の光トランシーバーで受信（Ｄｒｏｐ）されるように内部の経路を接続する。
【０１３９】
ここで、光スプリッタ２００４及び２００８は、図２０に示すように、ループバック光ファイバ２００９によって同一の方路の分岐側で互いに接続されている。このように接続することで、光トランシーバーが送信した光をループバックさせる経路を方路毎に構成することが可能である。ループバックの経路は、光トランシーバーの送信器、光トランシーバー集約器２００２ｂ、光スプリッタ２００４、ループバック光ファイバ２００９、光スプリッタ２００８、光トランシーバー集約器２００２ａ、光トランシーバーの受信器、の順となる。ここで波長ブロッカーは、また、検証用の光のエネルギーがネットワーク側に漏れないようにするために設けられている。また、光スプリッタ２００４に代えて、光スイッチを用いてもよい。
【０１４０】
このような構成を備える光ノード装置９００は、光トランシーバーで送受信される光が光トランシーバー集約器２００２ａ及び２００２ｂ、光スプリッタ２００４及び２００８を通過するように動作検証のための経路が設定される。
【０１４１】
そして、光トランシーバー群２００１から２台の待機光トランシーバーを選択し、上述の動作検証のための経路を用いて第１の実施形態で説明した手順と同様の動作検証を行うことができる。光トランシーバーの送受信に異常があった場合には、待機光トランシーバーまたは動作検証の経路上に異常があることを発見できる。また、第１の実施形態で説明したように、異常が発見された待機光トランシーバーと正常な待機光トランシーバーとを対向させて動作試験を行うことにより、故障個所が光トランシーバーであるかあるいはそれ以外の光コンポーネントであるかを検知することが可能である。
【０１４２】
すなわち、第４の実施形態の光ノード装置も、第１の実施形態の光ノード装置と同様の、以下の効果を奏する。
【０１４３】
すなわち、第４の実施形態の光ノード装置は、信頼性の高い光ノード装置を実現できるという効果を奏する。
【０１４４】
さらに、第４の実施形態の光ノード装置は、故障している光コンポーネントあるいはその故障個所を検知することが可能であるので、光ノードの故障調査に伴う運用費用を削減できるとともに、光コンポーネントの交換及び修理時間の短縮により光ノードの利用効率が向上するという効果を奏する。
【０１４５】
なお、第１から第３の実施形態で説明した光ノード装置１００及び２００も、第４の実施形態で説明した光カットスルー機能を備えていてもよい。すなわち、光ノード装置１００及び２００も、図２０に記載した各方路の入口または出口に配置された光スプリッタ２００７及びＷＳＳ２００６を配置した構成を備えていてもよい。この構成を備えることにより、光ノード装置１００及び２００においても、光カットスルー機能が実現される。
【０１４６】
以上、第１〜第４の実施形態について説明したが、これらは本発明の代表的な実施形態に過ぎず、各実施の形態で示した要素の組み合わせや、紹介した要素に類似の構成を用いて課題を解決してもよい。
【０１４７】
例えば、各実施形態で示した光トランシーバーは、中継器である光トランスポンダーでも良い。また、ループバック用光ファイバは２本あるいは以上あっても良い。さらに、各実施形態で示した動作検証スケジュールは一例であり、その他のスケジュールでも可能である。例えば、検証結果に高い信頼性が必要なネットワークを構築している場合、より高い頻度で検証を実施してもよい。あるいは、常時いずれかの待機光トランシーバーの動作検証が実施されるスケジュールとすることもできる。
【０１４８】
また、第２及び第３の実施形態においては、故障している可能性のある光トランシーバーが動作検証の時点で特定できる。このため、動作検証で異常が認められた場合には動作試験中の光トランシーバーの故障であると判断してもよい。この場合、故障箇所検知手段を省略することが可能であるので、第２及び第３の実施形態の光ノード装置において、さらに制御が単純化されコストが低減されるという効果を奏する。
【０１４９】
なお、本願の実施形態は以下の付記のようにも記載されうるが、以下には限定されない。
［付記１］
送信器が接続される少なくとも１つの第１のポートと、
受信器が接続される少なくとも１つの第２のポートと、
一部が前記第１のポートとのみ選択的に接続され、他の一部が前記第２のポートとのみ選択的に接続される少なくとも２つの第３のポートと、
前記第３のポートの２つである第６のポート及び第７のポートを接続する光伝送路と、
を備え、
前記第１のポートの１つである第４のポートが前記第６のポートと、前記第２のポートの１つである第５のポートが前記第７のポートと、それぞれ接続可能に構成される、光ノード装置。
【０１５０】
［付記２］
前記第１のポートと、前記第１のポートとのみ選択的に接続される前記第３のポートと、を備える第１の光トランシーバー集約器、及び、
前記第２のポートと、前記第２のポートとのみ選択的に接続される前記第３のポートと、を備える第２の光トランシーバー集約器と、
を備える、付記１に記載された光ノード装置。
【０１５１】
［付記３］
前記第１の光トランシーバー集約器は前記第３のポートに合波側ポートが接続される第１の光波長多重合分波器を備え、
前記第２の光トランシーバー集約器は前記第３のポートに合波側ポートが接続される第２の光波長多重合分波器を備える、
付記２に記載された光ノード装置。
【０１５２】
［付記４］
前記送信器及び前記受信器を選択し、選択された前記送信器及び前記受信器を前記第４のポート及び前記第５のポートにそれぞれ接続し、前記送信器、前記受信器、前記第１の光トランシーバー集約器及び前記第２の光トランシーバー集約器の動作検証を行う動作検証制御部をさらに備える、付記２又は３に記載された光ノード装置。
【０１５３】
［付記５］
前記第５のポートと前記受信器との間に透過波長を設定可能な可変波長選択器をさらに備え、
前記第１の光トランシーバー集約器は前記第１のポートに入力された複数の光を合流させて前記第６のポートに出力するアグリゲーション機能を備え、
前記第２の光トランシーバー集約器は前記第７のポートに入力された光を分岐させて前記第２のポートに出力するマルチキャスト機能を備え、
前記第１及び第２の光波長多重合分波器は波長周回性を備える、付記３に記載された光ノード装置。
【０１５４】
［付記６］
前記送信器及び前記受信器を選択し、選択された前記送信器及び前記受信器を前記第４のポート及び前記第５のポートにそれぞれ接続し、前記送信器、前記受信器、前記第１の光トランシーバー集約器及び前記第２の光トランシーバー集約器の動作検証を行い、前記可変波長選択器の透過波長と前記光送信機の送信波長とを変化させて、前記可変波長選択器の波長可変特性及び前記送信機の波長可変特性を検証する動作検証制御部を備える、付記５に記載された光ノード装置。
【０１５５】
［付記７］
前記第１の光トランシーバー集約器が備える前記第３のポートから出力される光を２以上に分岐し、前記分岐した一の光を前記光伝送路に出力し、前記分岐した他の光をネットワークに出力する光分岐器と、
前記ネットワークから自光ノード宛に伝送された光と前記光伝送路を伝送された光とを結合して前記第２の光トランシーバー集約器が備える前記第３ポートのいずれかのポートに入力する光結合器と、
をさらに備える付記２に記載された光ノード装置。
【０１５６】
［付記８］
前記送信器及び前記受信器の少なくとも一方は送信機能及び受信機能を備える光トランシーバーである、付記１乃至７のいずれかに記載された光ノード装置。
【０１５７】
［付記９］
前記動作検証制御部は所定の動作検証期間中に複数の前記送信機及び前記受信器に対し逐次動作検証を実施する、付記４又は６に記載された光ノード装置。
【０１５８】
［付記１０］
前記動作検証制御部は所定の動作検証期間中に各１台の前記送信器及び前記受信器に対し動作検証を実施する、付記４又は６に記載された光ノード装置。
【０１５９】
［付記１１］
前記送信器及び前記受信器の少なくとも一方は待機時に一部の機能を停止する複数の待機モードを備え、
前記動作検証制御部は前記待機モードのうちより高速に起動が可能な待機モードで待機している前記送信器又は前記受信器に対してのみ動作検証を実施する、付記４、６、９及び１０のいずれかに記載された光ノード装置。
【０１６０】
［付記１２］
前記動作検証制御部はネットワークの使用状況に応じて所定の時間に前記動作検証を実施する、付記４、６、９乃至１１のいずれかに記載された光ノード装置。
【０１６１】
［付記１３］
前記動作検証制御部は前記光トランシーバーの起動時間を検証する機能を備える、付記４、６、９乃至１２のいずれかに記載された光ノード装置。
【０１６２】
［付記１４］
前記動作検証で故障が検知された前記送信器又は前記受信器と前記動作検証で故障が検知されなかった前記送信器又は前記受信器との間でさらに動作検証を実施する故障検知制御部を備える、付記４、６、９乃至１３のいずれかに記載された光ノード装置。
【０１６３】
［付記１５］
前記動作検証制御部は、所定の動作検証期間中に前記送信器及び前記受信器を備える光トランシーバーを選択し前記動作検証を実施する、付記４、６、９乃至１４に記載された光ノード装置。
【０１６４】
［付記１６］
一部が送信器が接続される少なくとも１つの第１のポートとのみ選択的に接続され他の一部が受信器が接続される少なくとも１つの第２のポートとのみ選択的に接続される第３のポートの２つである第６のポートと第７のポートとを光伝送路で接続し、
前記第１のポートの１つである第４のポートと前記第６のポートとを接続し、
前記第２のポートの１つである第５のポートと前記第７のポートとを接続する、光ノード装置の制御方法。
【産業上の利用可能性】
【０１６５】
本発明の活用例として、以下の２つが考えられる。１つは、光通信ネットワークのコアやメトロ領域での光ノードへの適用である。もう１つは、データセンターやスーパーコンピュータなどの光トランシーバーを用いる大規模装置への適用である。
【符号の説明】
【０１６６】
１００、２００、８００、９００  光ノード装置
１０１、９０１、１８０１、１９０１、２００１  光トランシーバー群
１０２ａ、１０２ｂ  マトリクススイッチ
１８０１ａ〜１８０１ｇ  光トランシーバー
１０４ａ、１０４ｂ、９０７ａ、９０７ｂ、１８０４、１９０２ａ、１９０２ｂ、２００２ａ、２００２ｂ  光トランシーバー集約器
１０３  波長多重合分波器
１０９、９０４、２００９  ループバック光ファイバ
１０５、９０５  動作検証制御部
１０６、９０６  故障検知制御部
２０１、１００２、１６０２  検証期間
２０２、１００３、１６０３  待機期間
２０３、１００１、１６０１  待機光トランシーバー群
３０１、３０３  起動時間
３０２、３０４  導通時間
９０２ａ、９０２ｂ、１８０２  マトリクススイッチ
９０３、１８０３  周回性光波長多重合分波器
９０８  波長可変選択フィルタ
１８０５  光ファイバ群
１９０３、２００３  光トランシーバー集約装置
１９０６、２００６  ＷＳＳ
１９０７、２００４、２００７、２００８  光スプリッタ
２００５  波長ブロッカー
【図１】
2013005388.tif 000003
【図２】
2013005388.tif 000004
【図３】
2013005388.tif 000005
【図４】
2013005388.tif 000006
【図５】
2013005388.tif 000007
【図６】
2013005388.tif 000008
【図７】
2013005388.tif 000009
【図８】
2013005388.tif 000010
【図９】
2013005388.tif 000011
【図１０】
2013005388.tif 000012
【図１１】
2013005388.tif 000013
【図１２】
2013005388.tif 000014
【図１３】
2013005388.tif 000015
【図１４】
2013005388.tif 000016
【図１５】
2013005388.tif 000017
【図１６】
2013005388.tif 000018
【図１７】
2013005388.tif 000019
【図１８】
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【図１９】
2013005388.tif 000021
【図２０】
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