(57)【要約】【課題】ユーザーにとって理解し易い表現形態で任意のトリガ条件を設定できる利便性の高い測定装置を提供すること。【解決手段】レジスタ設定情報に基づき所定のトリガ条件を設定するトリガ設定機能を有する測定装置において、  トリガ条件設定情報を入力するトリガ条件設定入力手段と、このトリガ条件設定入力手段を介して入力されるトリガ条件設定情報を前記レジスタ設定情報に変換するレジスタ設定情報変換手段、を設けたもの。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レジスタ設定情報に基づき所定のトリガ条件を設定するトリガ設定機能を有する測定装置において、
トリガ条件設定情報を入力するトリガ条件設定入力手段と、
このトリガ条件設定入力手段を介して入力されるトリガ条件設定情報を前記レジスタ設定情報に変換するレジスタ設定情報変換手段、
を設けたことを特徴とする測定装置
【請求項２】
前記トリガ条件設定入力手段は前記トリガ条件をスクリプト形式で入力し、
前記レジスタ設定情報変換手段はスクリプト形式で入力されるトリガ条件をトリガ条件スクリプトを解析して前記レジスタ設定情報に変換する機能を有するパーサであることを特徴とする請求項１に記載の測定装置。
【請求項３】
前記トリガ条件設定入力手段は測定装置の外部からトリガ条件のスクリプトをロードするように構成されていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の測定装置。
【請求項４】
前記スクリプトは、ハードウェア検証言語であることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載の測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定装置に関し、詳しくは、トリガ信号に基づいて測定データを取り込むように構成された測定装置の改善に関する。
【背景技術】
【０００２】
たとえば、波形測定装置の一種であるデジタルオシロスコープの機能の一つに、あらかじめ設定されたトリガ条件が成立した場合に、測定波形データを波形メモリに取り込むトリガ機能がある。
【０００３】
図５はトリガ機能に着目した従来のデジタルオシロスコープの構成例を示す概略ブロック図であり、図６は図５の動作の流れを説明するフローチャートである。図５および図６において、入力端子１に入力されるアナログ測定信号は、入力部２で所定の振幅になるように増幅または減衰されてＡ／Ｄ変換器３に入力され、デジタル信号に変換される。
【０００４】
Ａ／Ｄ変換器３で変換されたデジタル信号は、メモリ制御部４を介して波形メモリ５に格納される。波形メモリ５はリングバッファ構造を有するものであり、メモリの全格納領域に波形データが書き込まれると古い波形データから順次破棄される。
【０００５】
演算制御部６には、リスト選択情報変換部６１が設けられている。このリスト選択情報変換部６１は、ユーザーがトリガ条件選択入力部７を介して設定入力する選択情報にしたがって（ステップＳ１）、トリガ生成部８に設けられているトリガ条件テーブルから所望のトリガ条件を１つ読み出すためのリスト選択情報を出力する（ステップＳ２）。
【０００６】
トリガ生成部８は、あらかじめリスト化されている複数のトリガ条件の中から演算制御部６のレジスタ設定に基づく所望の１つを選択する。これにより、トリガ生成部８に設けられているレジスタには、このリスト選択情報に基づいてトリガ条件テーブルから読み出された所望のトリガ条件が設定される（ステップＳ３）。
【０００７】
なお、トリガ条件の変更可能なパラメータに対しては、トリガ条件選択入力部７を介して所望のパラメータ設定が行われる。そして、設定されたトリガ条件が成立すると、トリガ信号をメモリ制御部４に出力する。
【０００８】
メモリ制御部４は、トリガ信号にしたがって波形メモリ５に所定の波形データを取り込むように制御する（ステップＳ４）。この結果、波形メモリ５には、設定したトリガ条件が成立した状態における所定の波形データが格納保存される（ステップＳ５）。
【０００９】
演算制御部６は、トリガ信号にしたがって波形メモリ５に格納保存された波形データを読み出して波形に関連した各種パラメータの測定や統計演算処理などを行い、それらの演算結果を図示しないハードディスクなどのメモリに格納する。
【００１０】
また、演算制御部６は、図示しない操作部を介して設定される表示条件に基づいて、各種測定パラメータを所定の表示形態で表示するための表示制御処理を行い、表示制御処理結果を表示メモリ９に格納するとともに、表示部１０に表示する。
【００１１】
特許文献１には、所定のトリガ条件が成立してから所定時間経過後にトリガをかけるように構成された波形測定装置において、トリガ条件成立時およびトリガ条件成立時から所定時間経過後のいずれにおいても波形測定データを取り込む波形測定データ取込手段を設けた構成が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】特開２００６−３４９３４５公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
しかし、あらかじめリスト化されている複数のトリガ条件の中から１つだけ選択するという従来の構成では、極めて複雑なトリガ条件を設定して波形データを取り込みたいという要求に対応することは困難である。
【００１４】
たとえば、デジタルオシロスコープの測定対象である波形信号のプロトコルも、技術革新に従って常に変化を続けている。その結果、デジタルオシロスコープの開発時点では未知だったプロトコルの波形信号に対するトリガ条件はリスト化されていないことから、それらの波形信号に対して適切なトリガ条件を設定して波形データを取り込むことはできない。
【００１５】
本発明は、このような課題を解決するものであり、その目的は、ユーザーにとって理解し易い表現形態で任意のトリガ条件を設定できる利便性の高い測定装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
このような課題を解決するために、請求項１の発明は、
レジスタ設定情報に基づき所定のトリガ条件を設定するトリガ設定機能を有する測定装置において、
トリガ条件設定情報を入力するトリガ条件設定入力手段と、
このトリガ条件設定入力手段を介して入力されるトリガ条件設定情報を前記レジスタ設定情報に変換するレジスタ設定情報変換手段、
を設けたことを特徴とする。
【００１７】
請求項２の発明は、請求項１に記載の測定装置において、
前記トリガ条件設定入力手段は前記トリガ条件をスクリプト形式で入力し、
前記レジスタ設定情報変換手段はスクリプト形式で入力されるトリガ条件をトリガ条件スクリプトを解析して前記レジスタ設定情報に変換する機能を有するパーサであることを特徴とする。
【００１８】
請求項３の発明は、請求項１または請求項２に記載の測定装置において、
前記トリガ条件設定入力手段は測定装置の外部からトリガ条件のスクリプトをロードするように構成されていることを特徴とする。
【００１９】
請求項４の発明は、請求項１から請求項３のいずれかに記載の測定装置において、
前記スクリプトは、ハードウェア検証言語であることを特徴とする。
【発明の効果】
【００２０】
これらの構成により、ユーザーにとって理解し易い表現形態で任意のトリガ条件を設定でき、利便性の高い測定装置が実現できる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】本発明におけるトリガ条件の設定画面例図である。
【図３】図１の動作の流れを説明するフローチャートである。
【図４】図２の設定画面に表示されているトリガ条件のスクリプトの具体例図である。
【図５】トリガ機能に着目した従来のデジタルオシロスコープの構成例を示す概略ブロック図である。
【図６】図５の動作の流れを説明するフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、本発明の実施形態について詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示すブロック図であって、図５と共通する部分には同一の符号を付けている。図１と図５の相違点は、図１において、演算制御部６には図５のリスト選択情報変換部６１に代えてレジスタ設定情報変換部６２が設けられていることと、図５のトリガ条件選択入力部７に代えてトリガ条件設定入力部１１が設けられていることである。
【００２３】
図２は、本発明におけるトリガ条件の設定画面例図である。ユーザーは、トリガ条件設定入力部１１を操作して、トリガ条件を設定しようとする測定装置の表示部１０の表示画面上に、トリガ条件をスクリプト形式で記述することにより所望のトリガ機能の設定を行う。なお、実機上でのスクリプト形式のトリガ条件入力が困難な場合には、トリガ条件ファイルのロードや通信インタフェースを利用して外部からトリガ条件のスクリプトをロードするようにしてもよい。
【００２４】
トリガ条件がスクリプト形式で入力される場合には、演算制御部６に設けるレジスタ設定情報変換部６２として、トリガ条件スクリプトを解析してレジスタ設定情報に変換し、トリガ生成部８のレジスタ設定を行う機能を有するパーサを用いる。
【００２５】
スクリプトの文法は、トリガ条件の記述が可能であれば形式は問わない。しかし、測定装置がデジタルオシロコープの場合、主なユーザーがハードウェア開発技術者であることから、SystemVerilogのアサーション表記のようなハードウェア検証言語を使用することが適していると考えられる。
【００２６】
図３は、図１の動作の流れを説明するフローチャートである。入力端子１に入力されるアナログ測定信号は、入力部２で所定の振幅になるように増幅または減衰されてＡ／Ｄ変換器３に入力され、デジタル信号に変換される。
【００２７】
Ａ／Ｄ変換器３で変換されたデジタル信号は、メモリ制御部４を介して波形メモリ５に格納される。波形メモリ５はリングバッファ構造を有するものであり、メモリの全格納領域に波形データが書き込まれると古い波形データから順次破棄される。
【００２８】
演算制御部６には、レジスタ設定情報変換部６２が設けられている。このレジスタ設定情報変換部６２は、ユーザーがトリガ条件設定入力部１１を介して設定入力するトリガ条件設定情報にしたがって（ステップＳ１）、トリガ生成部８に設けられているレジスタに書き込むべきレジスタ情報を変換出力する（ステップＳ２）。
【００２９】
これにより、トリガ生成部８に設けられているレジスタには、トリガ条件設定入力部１１を介して設定入力される所望のトリガ条件が設定される（ステップＳ３）。
【００３０】
トリガ生成部８は、設定されたトリガ条件が成立すると、トリガ信号をメモリ制御部４に出力する。
【００３１】
メモリ制御部４は、トリガ信号にしたがって波形メモリ５に所定の波形データを取り込むように制御する（ステップＳ４）。この結果、波形メモリ５には、設定したトリガ条件が成立した状態における所定の波形データが格納保存される（ステップＳ５）。
【００３２】
演算制御部６は、トリガ信号にしたがって波形メモリ５に格納保存された波形データを読み出して波形に関連した各種パラメータの測定や統計演算処理などを行い、それらの演算結果を図示しないハードディスクなどのメモリに格納する。
【００３３】
また、演算制御部６は、図示しない操作部を介して設定される表示条件に基づいて、各種測定パラメータを所定の表示形態で表示するための表示制御処理を行い、表示制御処理結果を表示メモリ９に格納するとともに、表示部１０に表示する。
【００３４】
図４は図２の設定画面に表示されているトリガ条件のスクリプトの具体例図であり、項目番号を付けて示している。これらのスクリプトについて説明する。
1) clk = CH1
基準クロックをチャネル１に入力する。
2) req_busA = CH2 
req_busA信号をチャネル２に入力する。
【００３５】
3) req_busB = CH3 
req_busB信号をチャネル３に入力する。
4) busyA = CH4 // busyA
busyA信号をチャネル４に入力する。
【００３６】
05) busyB = CH5 
busyB信号をチャネル５に入力する。
06) ackA = CH6 
ackA信号をチャネル６に入力する。
【００３７】
07) ackB = CH7 // ackB
ackB信号をチャネル７に入力する。
08) lock_busA = CH8 
lock_busA信号をチャネル８に入力する。
【００３８】
09) lock_busB = CH9 
lock_busB信号をチャネル９に入力する。
10) doneA = CH10 
lock_busA信号をチャネル１０に入力する。
【００３９】
11) doneB = CH11 
lock_busB信号をチャネル１１に入力する。
12) if( $rose(req_busA) && !busyA && !busyB ) 
#1 lock_busB && busyA ##[0:5] ackA ##[1:10] done && !busyA 
req_busA信号の立ち上がりで、busyA信号とbusyB信号の両方がHighではなく、
lock_busB信号とbusyA信号が共にHighであり、その後５クロック以内にackA信号がHighになり、その後１０クロック以内にdoneA信号がHighになった場合、トリガを発生させる。
【００４０】
13) else if( $rose(req_busB) && !busyA && !busyB)
#1 lock_busA && busyB ##[0:10] ackB ##[1:20] done && !busyB
そうではなく、req_busB信号の立ち上がりでbusyA信号とbusyB信号の両方がHighではなく、
lock_busA信号とbusyB信号が共にHighであり、その後10クロック以内にackA信号がHighになり、その後20クロック以内にdoneB信号がHighになった場合、トリガを発生させる。
【００４１】
このようにトリガ条件をスクリプト形式で記述することで、ユーザーが任意のトリガ条件を設定できる。
【００４２】
既存のトリガ機能についても、そのトリガ条件をスクリプト形式で記述することで、ユーザーのトリガ機能に対する理解を容易にできる。
【００４３】
実際に使用しているハードウェア検証用のアサーション表記をトリガ条件の設定に転用することで、デジタルオシロスコープをハードウェア検証装置としても利用できる。
【００４４】
なお、上記実施例では、測定装置がデジタルオシロスコープの例について説明したが、トリガ条件をスクリプト形式で記述することはデジタルオシロスコープ以外の測定器に対して適用可能である。
【００４５】
また、ファームウェアにパーサ機能を組み込むことが困難な場合には、パーサ機能をパソコン上で動作させてトリガ回路のレジスタ設定情報に変換し、そのレジスタ情報を通信インタフェース経由で測定装置にロードする構成にしてもよい。
【００４６】
さらに、トリガ条件をスクリプト以外の形式で記述することも可能である。たとえばLabviewやMatlabのようなビジュアルプログラミング言語環境（プログラム要素をテキストで指定するのではなく、グラフィカルに操作することでプログラムを作成する方式）やExcelのようなスプレッドシート環境でトリガ条件を記述してもよい。
【００４７】
以上説明したように、本発明によれば、ユーザーにとって理解し易い表現形態で任意のトリガ条件を設定できる環境を提供することができ、多機能、複雑化する測定装置の操作性を向上させ、利便性の高い測定装置を実現できる。
【符号の説明】
【００４８】
１  入力端子
２  入力部
３  Ａ／Ｄ変換器
４  メモリ制御部
５  波形メモリ
６  演算制御部
６２  レジスタ設定情報変換部
８  トリガ生成部
９  表示メモリ
１０  表示部
１１  トリガ条件設定入力部
【図１】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図２】
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