(57)【要約】【課題】本発明は、複数の周波数帯域のＥＭＣテストを行うことができる電波暗室を提供する。【解決手段】本発明の電波暗室は、半球状の周壁及び底面を備え、前記周壁及び前記底面が囲んでシールドルームを形成し、前記周壁の内表面は電波吸収材により覆われ、前記底面は、円形であり且つ１つの直径に沿って２つの半円形の底面に分けられ、１つの半円形の底面は、反射接地平板であり、他の１つの半円形の底面の表面は、電波吸収材により覆われる。【選択図】図１
2013123050.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
半球状の周壁及び底面を備え、前記周壁及び前記底面が囲んでシールドルームを形成し、前記周壁の内表面は電波吸収材により覆われる電波暗室であって、
前記底面は、円形であり且つ１つの直径に沿って２つの半円形の底面に分けられ、１つの半円形の底面は、反射接地平板であり、他の１つの半円形の底面の表面は、電波吸収材により覆われることを特徴とする電波暗室。
【請求項２】
前記シールドルームには、回転台、テストベンチ及びアンテナアレイが設置され、前記回転台は、円形の前記底面の円心位置に設置され、前記テストベンチは、前記回転台に放置されて供試装置を載置するために用いられ、前記アンテナアレイは、円形の前記底面の周縁に等間隔に放置されることを特徴とする請求項１に記載の電波暗室。
【請求項３】
前記アンテナアレイは、円形の前記底面の直交する２つの直径の両端にそれぞれに放置される低周波水平アンテナ、低周波垂直アンテナ、高周波水平アンテナ及び高周波垂直アンテナを備え、前記アンテナアレイのアンテナは、前記供試装置にちょうど向かい合うことを特徴とする請求項２に記載の電波暗室。
【請求項４】
前記低周波水平アンテナ及び前記低周波垂直アンテナは、反射接地平板とする半円形の前記底面に放置され、前記高周波水平アンテナ及び前記高周波垂直アンテナは、電波吸収材により覆われる半円形の前記底面に放置されることを特徴とする請求項３に記載の電波暗室。
【請求項５】
前記周壁を覆う電波吸収材の表面に緊密に配列された複数の錐部の頂端は、垂直に供試装置を指すことを特徴とする請求項２に記載の電波暗室。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電磁両立性をテストするために用いられる電波暗室に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般的に電波暗室を利用して電磁両立性（Ｅｌｅｃｔｒｏ  Ｍａｇｎｅｔｉｃ  Ｃｏｍｐａｔｉｂｉｌｉｔｙ，ＥＭＣ）テストを行う。電波暗室は、全無響室及び半無響室に分けられ、全無響室の内表面全体は電波吸収材で覆われ、半無響室の一部分の内表面は電波吸収材で覆われる。コンピューターなどの電子製品は、ＥＭＣテストを行う場合、低周波数帯（３０ＭＨｚ〜１ＧＨｚ）及び高周波数帯（１ＧＨｚ〜６ＧＨｚ）の２つの周波数帯域でテストすることを必要とする。一般的に低周波数帯テストは半無響室で行い、高周波数帯テストは全無響室で行う。したがって、異なる周波数帯域のＥＭＣテストを行う場合、テストしようとする電子装置を全無響室と半無響室との間で移動させなければならないので、人力、時間が追加的に必要となる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
本発明の目的は、前記課題を解決し、複数の周波数帯域のＥＭＣテストを行うことができる電波暗室を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明に係る電波暗室は、半球状の周壁及び底面を備え、前記周壁及び前記底面が囲んでシールドルームを形成し、前記周壁の内表面は電波吸収材により覆われ、前記底面は、円形であり且つ１つの直径に沿って２つの半円形の底面に分けられ、１つの半円形の底面は、反射接地平板であり、他の１つの半円形の底面の表面は、電波吸収材により覆われる。
【発明の効果】
【０００５】
本発明の電波暗室は、半無響室及び全無響室の両方の機能を有するので、電波暗室でＥＭＣテストを行う場合、電子装置を全無響室と半無響室との間で移動することを必要とせず、従って人力、時間を追加する必要がなく、テスト時間を短縮し、且つテストの安定性を確保する。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】本発明の実施形態に係る電波暗室の概略図である。
【図２】図１に示す電波暗室の断面図である。
【図３】図１に示す電波暗室の別の角度の断面図である。
【発明を実施するための形態】
【０００７】
以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。
【０００８】
図１及び図２を参照すると、本発明の実施形態に係わる電波暗室１００は、コンピューター、液晶表示装置、携帯電話などの電磁輻射源に対してＥＭＣテストを行うために用いられる。電波暗室１００は、周壁１０と、底面２０と、回転台３０と、アンテナアレイ４０と、を備える。周壁１０は半球状であり、底面２０は円形であり、周壁１０及び底面２０が囲んで、略半球状のシールドルーム１１０を形成する。回転台３０及びアンテナアレイ４０は、全てシールドルーム１１０の内部に位置し、且つ底面２０に放置される。回転台３０及びアンテナアレイ４０は、互いに離間している。
【０００９】
周壁１０の内表面は、電波吸収材１６により覆われる。電波吸収材１６の表面には、緊密に配列された複数の錐部１６２が形成されており、電磁波を吸収するために用いられる。各々の錐部１６２の頂端は、周壁１０の半径方向に沿って延在されて、シールドルーム１１０の中心位置を指す。  
【００１０】
底面２０は、円形であり、この円形の１つの直径に沿って底面２０を第一底面２２及び第二底面２４に分けられている。第一底面２２は、反射接地平板であり、第二底面２４の表面は、電波吸収材１６により覆われ、電波吸収材１６の表面に緊密に配列された複数の錐部１６２の頂端は、シールドルーム１１０の中心位置を指すので、電波暗室１００の内部は異なる類型の２つの電波暗室に分けられ、即ち第一底面２２及びその上方の周壁１０が囲んで半無響室１３０を形成し、第二底面２４及びその上方の周壁１０が囲んで全無響室１５０を形成する。
【００１１】
回転台３０は、円形の底面２０の円中心位置に位置する。回転台３０にテストベンチ３２を積載して、テストベンチ３２に供試装置（Ｅｑｕｉｐｍｅｎｔ  Ｕｎｄｅｒ  Ｔｅｓｔ，ＥＵＴ）５０を載置し、供試装置５０は、ＥＭＣテストにおける電磁輻射源であり、コンピューター、液晶表示装置、携帯電話などであることができる。テストベンチ３２は、底面２０に対して所定の高さを有する。
【００１２】
図１及び図３を参照すると、アンテナアレイ４０は、低周波水平アンテナ４２と、低周波垂直アンテナ４４と、高周波水平アンテナ４６と、高周波垂直アンテナ４８と、を備える。低周波水平アンテナ４２、低周波垂直アンテナ４４、高周波水平アンテナ４６及び高周波垂直アンテナ４８は、円形の底面２０の周縁に等間隔に放置され、換言すると円形の底面２０の直交する２つの直径の両端にそれぞれに配置される。低周波水平アンテナ４２及び低周波垂直アンテナ４４は、第一底面２２に放置されて半無響室１３０に位置し、高周波水平アンテナ４６及び高周波垂直アンテナ４８は、第二底面２４に放置されて全無響室１５０に位置する。アンテナアレイ４０は、供試装置５０から所定距離に離間し、アンテナアレイ４０の受信部は、ちょうど供試装置５０に向かい合う。
【００１３】
周壁１０を覆う電波吸収材１６の表面に緊密に配列された複数の錐部１６２の頂端は、垂直的に供試装置５０を指す。供試装置５０が作動する時に生じるノイズ及び他のテストに必要としない電磁波は、周壁１０の電波吸収材１６に吸収されて、アンテナアレイ４０に反射されて、テストを妨害することを免れる。
【００１４】
電波暗室１００を利用して、供試装置５０に対してＥＭＣテストを行う時、低周波数帯（３０ＭＨｚ〜１ＧＨｚ）及び高周波数帯（１ＧＨｚ〜６ＧＨｚ）の２つの周波数帯域でテストすることを必要とするばかりでなく、各々の周波数帯域でアンテナを別々に水平極性及び垂直極性に設定してテストすることを必要とする。本実施形態において、先ず低周波数帯域で低周波水平アンテナ４２を使用してテストする。供試装置５０をオンさせ、受信機（図示せず）を低周波水平アンテナ４２に接続する。低周波水平アンテナ４２は供試装置５０から生じる作動信号を受信して電気信号に変換し、受信機は電気信号を読み取り、
供試装置５０によって放射された信号の強度を測定する。それから受信機を低周波垂直アンテナ４４に接続して、低周波数帯域で低周波垂直アンテナ４４を使用してテストし、続いて受信機を高周波水平アンテナ４６に接続して、高周波数帯域で高周波水平アンテナ４６を使用してテストし、最終に受信機を高周波垂直アンテナ４８に接続して、高周波数帯域で高周波垂直アンテナ４８を使用してテストして、ＥＭＣテストを終了する。
【００１５】
アンテナアレイ４０の隣り合う２つのアンテナの間の距離は３ｍより大きく、従ってアンテナアレイ４０の隣り合う２つのアンテナの間に相互カップリング効果が発生することを免れ、テスト結果の正確性を高める。
【００１６】
電波暗室１００は、円形の底面２０を２つの半円形の底面に分け、１つの半円形の底面は反射接地平板とし、他の１つの半円形の底面は電波吸収材１６により覆われて、電波暗室１００が半無響室及び全無響室の両方の機能を有することにする。電波暗室１００において、半無響室１３０に低周波水平アンテナ４２及び低周波垂直アンテナ４４を放置し、全無響室１５０に高周波水平アンテナ４６及び高周波垂直アンテナ４８を放置して、ＥＭＣテストを行う場合、電波暗室１００を利用して低周波数帯域テスト及び高周波数帯域テストを行うことができ、供試装置５０を全無響室と半無響室との間で移動することを必要としない。アンテナアレイ４０は、水平極性のアンテナ及び垂直極性のアンテナを含むので、異なる周波数帯域テストにおいて、アンテナを別々に水平極性及び垂直極性に設定すために、アンテナアレイ４０の各々のアンテナの極性を再び調整することを必要としない。したがって、テスト過程において、アンテナの極性を調節しなくてもよく、且つ全無響室と半無響室との間でテスト設備及び供試装置５０を移動しなくてもよいので、人力、時間を追加する必要がなく、テスト時間を短縮し、且つテストの安定性を確保する。
【００１７】
以上、本発明を実施例に基づいて具体的に説明したが、本発明は、上述の実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において、種々の変更が可能であることは勿論であって、本発明の技術的範囲は、以下の特許請求の範囲から決まる。
【符号の説明】
【００１８】
１０  周壁
１６  電波吸収材
２０  底面
２２  第一底面
２４  第二底面
３０  回転台
３２  テストベンチ
４０  アンテナアレイ
４２  低周波水平アンテナ
４４  低周波垂直アンテナ
４６  高周波水平アンテナ
４８  高周波垂直アンテナ
５０  供試装置
１００  電波暗室
１１０  シールドルーム
１３０  半電波暗室
１５０  全電波暗室
１６２  錐部
【図１】
2013123050.tif 000003
【図２】
2013123050.tif 000004
【図３】
2013123050.tif 000005