(57)【要約】【課題】焼き付きによる劣化を補正する。【解決手段】連続的に入力される画像データを所定の間隔でサンプリングするサンプリング部と、サンプリング部でサンプリングされた画像データに基づく画像の階調値を劣化量に変換する階調値劣化量変換部と、階調値劣化量変換部により変換された劣化量を用いて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出し、蓄積する劣化量蓄積部と、劣化量蓄積部に蓄積された劣化量差の解消に必要な補正量を、補正期間内の予測劣化量に基づいて算出する補正量算出部と、算出された補正量で対応画素の階調値を補正する劣化量差補正部とを備える。本技術は、自発光素子のディスプレイに適用できる。【選択図】図６
2013142775.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
連続的に入力される画像データを所定の間隔でサンプリングするサンプリング部と、
前記サンプリング部でサンプリングされた前記画像データに基づく画像の階調値を劣化量に変換する階調値劣化量変換部と、
前記階調値劣化量変換部により変換された劣化量を用いて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出し、蓄積する劣化量蓄積部と、
前記劣化量蓄積部に蓄積された劣化量差の解消に必要な補正量を、補正期間内の予測劣化量に基づいて算出する補正量算出部と、
算出された補正量で対応画素の階調値を補正する劣化量差補正部と
を備える表示装置。
【請求項２】
前記サンプリング部は、等間隔で前記画像データをサンプリングする
請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記サンプリング部は、ランダムな間隔で前記画像データをサンプリングする
請求項１に記載の表示装置。
【請求項４】
前記サンプリング部は、画像内を複数の領域に分割し、等間隔に前記領域内の画像データをサンプリングする
請求項１に記載の表示装置。
【請求項５】
前記サンプリング部は、画像内を複数の領域に分割し、ランダムな間隔で前記領域内の画像データをサンプリングする
請求項１に記載の表示装置。
【請求項６】
前記サンプリング部は、画像内を格子状の領域に分割し、等間隔またはランダムな間隔で前記領域内の画像データをサンプリングする
請求項１に記載の表示装置。
【請求項７】
前記劣化量蓄積部は、サンプリングされた画像データ単位で発生する劣化量の短周期単位の累積値を蓄積する短周期劣化量蓄積部と、
前記累積値に基づいて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出する劣化量差算出部と、
短周期単位で算出される劣化量差の累積値を蓄積する長周期劣化量蓄積部と
を備える請求項１に記載の表示装置。
【請求項８】
連続的に入力される画像データを所定の間隔でサンプリングするサンプリング部と、
前記サンプリング部でサンプリングされた前記画像データに基づく画像の階調値を劣化量に変換する階調値劣化量変換部と、
前記階調値劣化量変換部により変換された劣化量を用いて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出し、蓄積する劣化量蓄積部と、
前記劣化量蓄積部に蓄積された劣化量差の解消に必要な補正量を、補正期間内の予測劣化量に基づいて算出する補正量算出部と、
算出された補正量で対応画素の階調値を補正する劣化量差補正部と
を備える電子機器。
【請求項９】
連続的に入力される画像データを所定の間隔でサンプリングし、
サンプリングされた前記画像データに基づく画像の階調値を劣化量に変換し、
変換された劣化量を用いて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出し、蓄積し、
蓄積された劣化量差の解消に必要な補正量を、補正期間内の予測劣化量に基づいて算出し、
算出された補正量で対応画素の階調値を補正する
ステップを含む表示方法。
【請求項１０】
連続的に入力される画像データを所定の間隔でサンプリングし、
サンプリングされた前記画像データに基づく画像の階調値を劣化量に変換し、
変換された劣化量を用いて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出し、蓄積し、
蓄積された劣化量差の解消に必要な補正量を、補正期間内の予測劣化量に基づいて算出し、
算出された補正量で対応画素の階調値を補正する
ステップを含む処理を実行するコンピュータ読み取り可能なプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本技術は、表示装置、電子機器、表示方法、並びにプログラムに関する。詳しくは、長時間の使用により劣化した画素を適切な補正値を用いて補正する表示装置、電子機器、表示方法、並びにプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビジョン受像機などの製品で広く普及している。現在、液晶ディスプレイパネルが多く採用されているが、自発光素子で形成された有機ＥＬディスプレイなども採用されつつある。
【０００３】
有機ＥＬ素子などの自発光素子には、発光量や発光時間に応じて劣化する特性がある。一方で、自発光表示装置に表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば、時刻表示領域（固定表示領域）では、他の表示領域（動画表示領域）に比べて輝度劣化が早く進行する。
【０００４】
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。すなわち、画素毎に発光量が異なるため、画素毎に劣化率が異なり、それが焼き付きとなって視認されてしまう。現在、“焼き付き”現象の改善策として様々な手法が検討されている。例えば特許文献１には、入力表示データ（階調値）を積算し、その積算値に対応する補正値をテーブルメモリより読み出す手法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０００−１３２１３９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１に記載されている補正の手法では、積算値の算出や蓄積を実時間で実行するために、積算値の最大値に対応するバス幅の更に２倍のバス幅がデータの読み書きのために必要となる。すなわち、劣化を補正するために、各画素の累積劣化量を保存し、その累積劣化量から各画素に適正な補正値を用いて補正することで、焼き付きを視認されないようにするには、各画素の累積劣化量を保存するためにメモリが必要となり、大容量のメモリが必要とされる。
【０００７】
また、高速で変化する映像信号をサンプリングするため、容量に加えて、大きなメモリ帯域も必要となる。近年、パネルが大型化、高精細化されることにより、高速で処理できるより高い処理能力、より大きなメモリ帯域が必要となる。
【０００８】
本技術は、このような状況に鑑みてなされたものであり、画素の劣化を補正するための処理に必要とされるメモリの容量や、帯域を削減することができるようにするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本技術の一側面の表示装置は、連続的に入力される画像データを所定の間隔でサンプリングするサンプリング部と、前記サンプリング部でサンプリングされた前記画像データに基づく画像の階調値を劣化量に変換する階調値劣化量変換部と、前記階調値劣化量変換部により変換された劣化量を用いて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出し、蓄積する劣化量蓄積部と、前記劣化量蓄積部に蓄積された劣化量差の解消に必要な補正量を、補正期間内の予測劣化量に基づいて算出する補正量算出部と、算出された補正量で対応画素の階調値を補正する劣化量差補正部とを備える。
【００１０】
前記サンプリング部は、等間隔で前記画像データをサンプリングするようにすることができる。
【００１１】
前記サンプリング部は、ランダムな間隔で前記画像データをサンプリングするようにすることができる。
【００１２】
前記サンプリング部は、画像内を複数の領域に分割し、等間隔に前記領域内の画像データをサンプリングするようにすることができる。
【００１３】
前記サンプリング部は、画像内を複数の領域に分割し、ランダムな間隔で前記領域内の画像データをサンプリングするようにすることができる。
【００１４】
前記サンプリング部は、画像内を格子状の領域に分割し、等間隔またはランダムな間隔で前記領域内の画像データをサンプリングするようにすることができる。
【００１５】
前記劣化量蓄積部は、サンプリングされた画像データ単位で発生する劣化量の短周期単位の累積値を蓄積する短周期劣化量蓄積部と、前記累積値に基づいて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出する劣化量差算出部と、短周期単位で算出される劣化量差の累積値を蓄積する長周期劣化量蓄積部とを備えるようにすることができる。
【００１６】
本技術の一側面の電子機器は、連続的に入力される画像データを所定の間隔でサンプリングするサンプリング部と、前記サンプリング部でサンプリングされた前記画像データに基づく画像の階調値を劣化量に変換する階調値劣化量変換部と、前記階調値劣化量変換部により変換された劣化量を用いて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出し、蓄積する劣化量蓄積部と、前記劣化量蓄積部に蓄積された劣化量差の解消に必要な補正量を、補正期間内の予測劣化量に基づいて算出する補正量算出部と、算出された補正量で対応画素の階調値を補正する劣化量差補正部とを備える。
【００１７】
本技術の一側面の表示方法は、連続的に入力される画像データを所定の間隔でサンプリングし、サンプリングされた前記画像データに基づく画像の階調値を劣化量に変換し、変換された劣化量を用いて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出し、蓄積し、蓄積された劣化量差の解消に必要な補正量を、補正期間内の予測劣化量に基づいて算出し、算出された補正量で対応画素の階調値を補正するステップを含む。
【００１８】
本技術の一側面のプログラムは、連続的に入力される画像データを所定の間隔でサンプリングし、サンプリングされた前記画像データに基づく画像の階調値を劣化量に変換し、変換された劣化量を用いて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出し、蓄積し、蓄積された劣化量差の解消に必要な補正量を、補正期間内の予測劣化量に基づいて算出し、算出された補正量で対応画素の階調値を補正するステップを含む処理を実行するコンピュータ読み取り可能なプログラムである。
【００１９】
本技術の一側面の表示装置、電子機器、表示方法、およびプログラムにおいては、連続的に入力される画像データが所定の間隔でサンプリングされ、サンプリングされた画像データに基づく画像の階調値が劣化量に変換され、変換された劣化量が用いられて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差が算出され、蓄積される。そして、蓄積された劣化量差の解消に必要な補正量が、補正期間内の予測劣化量に基づいて算出され、算出された補正量で対応画素の階調値が補正される。
【発明の効果】
【００２０】
本技術の一側面によれば、画素の劣化を補正するための処理に必要とされるメモリの容量や、帯域を削減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】有機ＥＬディスプレイの概略構成例を示す図である。
【図２】焼き付き補正部の内部構成例を示す図である。
【図３】階調値と劣化率との対応関係を保持する変換テーブル例を示す図である。
【図４】焼き付き現象の補正処理原理を説明する図である。
【図５】各信号処理部間を接続するビット幅を示す図である。
【図６】焼き付き補正部の他の内部構成例を示す図である。
【図７】サンプリングのタイミングについて説明するための図である。
【図８】サンプリング調整部１０１の内部構成例を示す図である。
【図９】サンプリングのタイミングについて説明するための図である。
【図１０】サンプリング調整部１０１の内部構成例を示す図である。
【図１１】サンプリングのタイミングについて説明するための図である。
【図１２】サンプリングのタイミングについて説明するための図である。
【図１３】格子状で領域分けしたときについて説明するための図である。
【図１４】本技術の応用形態にかかる表示装置を備えたテレビジョンセットを示す斜視図である。
【図１５】記録媒体について説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下に、本技術の実施の形態について図面を参照して説明する。
【００２３】
［有機ＥＬディスプレイへの適用例］
以下に説明する本技術は、表示装置に適用でき、表示装置として、有機ＥＬディスプレイに適用できるため、有機ＥＬディスプレイを例にあげて説明する。しかしながら、有機ＥＬディスプレイに本技術の適用が限定されるわけではなく、有機ＥＬディスプレイ以外の表示装置に対しても本技術を適用できる。
【００２４】
図１に、有機ＥＬディスプレイの実施の形態を示す。有機ＥＬディスプレイは、自発光表示装置の一例である。有機ＥＬディスプレイ１０は、焼き付き補正部１１と有機ＥＬパネルモジュール１２で構成される。焼き付き補正部１１は、補正対象画素と基準画素との間に発生した劣化量差の検出処理と、劣化量差を補正期間内に解消する補正処理とを交互に実行する処理デバイスである。
【００２５】
有機ＥＬパネルモジュール１２は、自発光素子に有機ＥＬ素子を使用する表示デバイスである。有機ＥＬパネルモジュール１２は、有効表示領域とその駆動回路（データドライバ、スキャンドライバ等）で構成する。有効表示領域には、有機ＥＬ素子がマトリクス状に配置される。なお、発光色は、Ｒ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の三色の場合を例として説明するが、三色以外の発光色であっても、以下に説明する本技術を適用することはできる。ここでは、これら三色を一組として表示上の１画素が形成されているとして説明を続ける。
【００２６】
［焼き付き補正部１１の基本構成］
図２に、焼き付き補正部１１の基本構成例を示す。焼き付き補正部１１は、階調値／劣化量変換部３１、短時間劣化量蓄積部３２、累積劣化量蓄積部３３、補正値算出部３４、および劣化補正部３５で構成される。
【００２７】
階調値／劣化量変換部３１は、有機ＥＬパネルモジュール１２に実際に供給される映像信号（階調値）を劣化量パラメータに変換する処理デバイスである。階調値を劣化量パラメータに変換するのは、有機ＥＬ素子の劣化量が階調値に必ずしも比例しないことを補正するためである。そこで、階調値／劣化量変換部３１を配置し、各発光色に対応する各画素の階調値を劣化量に変換する。本実施の形態では、階調値と有機ＥＬ素子の劣化量との関係を実験により求め、その対応関係データを一覧表として保存するとして説明を続ける。
【００２８】
図３に、階調値／劣化量変換テーブルの一例を示す。図３に示す階調値／劣化量変換テーブルの場合、階調値には劣化率と劣化量とが関連づけられて保存されている。劣化率とは、単位時間当たりの劣化量を意味する。従って、劣化量は、劣化率に発光時間ｔを乗算することで求めることができる。なお、ここでは劣化率を例にあげて説明するが、劣化率以外の劣化量パラメータを用いることも可能であり、劣化率以外の劣化量パラメータを用いたとしても、以下に説明する本技術を適用することはできる。
【００２９】
短時間劣化量蓄積部３２は、有効表示領域を構成する各画素（補正対象画素）と基準画素との劣化量差を算出する処理デバイスであり、比較的短い時間の劣化量を蓄積するデバイスである。基準画素は、焼き付き補正の実行時に補正基準となる。本実施の形態の場合、有効表示領域を構成する全画素の平均階調値で発光する画素を想定する。基準画素は表示パネル上に実際に用意しても良いし、信号処理によって仮想的に用意しても良い。短時間劣化量蓄積部３２は、補正対象画素の劣化量から基準画素の劣化量を減算し、その差分値を劣化量差として算出する。
【００３０】
例えば、発光期間をｔ１、補正対象画素の劣化率をα１、基準画素の劣化率をα２とした場合、理論上の劣化量差Ｙは、次式により算出することができる。
Ｙ＝（α１−α２）・ｔ１
【００３１】
この式により求められる劣化量差Ｙが正値の場合、補正対象画素の劣化が基準画素よりも進んでいることを意味する。一方、劣化量差Ｙが負値の場合、補正対象画素の劣化が基準画素よりも遅れていることを意味する。
【００３２】
累積劣化量蓄積部３３は、基準画素の劣化量の累積値と各画素（補正対象画素）の劣化量差の累積値とを保存する記憶領域又は記憶装置である。例えば、半導体メモリ、ハードディスク装置、その他の磁気記憶媒体、光ディスク、その他の光記憶媒体が使用される。補正値算出部３４は、画素毎に算出された劣化量差を補正期間（将来期間）内に解消するのに必要な補正量を、基準画素の予測劣化量に基づいて算出する処理デバイスである。
【００３３】
図４に、補正値算出部３４による補正量の算出原理を示す。図４は、補正期間ｔ２内に、直前期間（劣化量差蓄積期間）ｔ１で発生した劣化量差をゼロにするための条件を表している。なお、図４では、基準画素に対応する劣化量の推移を破線で示し、補正対象画素に対応する劣化量の推移を実線で示す。補正期間ｔ２の予測劣化率をβ２とする場合、補正対象画素の予測劣化率β１は、直前期間ｔ１に発生した劣化量差Ｙ（＝（α１−α２）・ｔ１）を用い、次式として表される。
β１＝β２−Ｙ／ｔ２＝β２−（α１−α２）・ｔ１／ｔ２
【００３４】
補正値算出部３４は、階調値／劣化量変換テーブル（図３）を参照し、算出された劣化率β１に対応する階調値を求める。なお、この階調値は、補正後の映像信号に求められる階調値である。補正値算出部３４は、この階調値を満たすように補正対象画素の予測階調値からあるべき階調値（β１に対応する）を減算し、補正対象画素に対する補正量を算出する。
【００３５】
例えば、予測階調値の方があるべき階調値よりも大きい場合には、補正値は負値になる。また、予測階調値の方があるべき階調値よりも小さい場合には、補正値は正値になる。劣化補正部３５は、算出された補正量で対応画素の階調値を補正する処理デバイスである。例えば、劣化補正部３５は、入力映像信号に階調値を加算する処理を実行する。
【００３６】
なおここでは、このような焼き付きに関する補正が行われるとして説明を続けるが、上記したように劣化量を合わせるのではなく、輝度を合わせるように補正するように構成することも可能である。ここで、劣化なしの画素Ａの輝度を輝度Ａ、劣化量がα１の画素Ｂの輝度を輝度Ｂ、劣化量がα２の画素Ｃの輝度を輝度Ｃとする。但し、劣化量α１＜劣化量α２とする。よって、最も劣化しているのは画素Ｃである。
【００３７】
このような場合、最も劣化している画素Ｃの輝度Ｃに、他の画素の輝度を合わせる補正がされる。すなわち、画素Ａの輝度Ａを、輝度Ｃになるように補正し、画素Ｂの輝度Ｂを、輝度Ｃになるように補正することで、画素Ａ、画素Ｂ、画素Ｃの全ての画素の輝度を、輝度Ｃにすることができる。このように、劣化していない画素の信号を下げることで、輝度が同じになるように補正されるようにしても良い。
【００３８】
または、劣化していない画素Ａの輝度Ａに、他の画素の輝度を合わせる補正がされるようにすることも可能である。すなわち、画素Ｂの輝度Ｂを、輝度Ａになるように補正し、画素Ｃの輝度Ｃを、輝度Ａになるように補正することで、画素Ａ、画素Ｂ、画素Ｃの全ての画素の輝度を、輝度Ａにすることができる。このように、劣化した画素の信号を上げることで、輝度が同じになるように補正されるようにしても良い。
【００３９】
このような補正を行う場合、図４を参照して説明した補正と比較し、補正期間に係わらず、劣化量がわかれば、補正を行う（輝度を合わせる）ことが可能となる。いずれの補正の仕方を用いても、以下に説明するように、本技術によれば、このような補正を行うために必要とされるデータ量を適切に削減することが可能となるため、補正の精度を落とすことなく、使用するメモリの容量を削減することができる。
【００４０】
なおここでは、図２に示したように、短時間劣化量蓄積部３２と累積劣化量蓄積部３３をそれぞれ備える構成を例として挙げて説明を続けるが、１つの蓄積部として構成することも可能である。
【００４１】
［システムの実現に必要となるメモリ容量とバス幅について］
焼き付き補正部１１の実現に必要となるメモリ容量とバス幅を説明する。以下では、１００％輝度で有機ＥＬパネルモジュール１２を継続的に発光する場合における輝度劣化の半減期を３万時間とする。この場合、半減期分の総劣化量を蓄積するのに必要なデータ幅は以下の式で求めることができる。まず、半減期に相当するフレーム数を求める。なお、１秒間当たりのフレーム数は６０フレームとする。
半減期までのフレーム数＝３００００時間×６０分×６０秒×６０フレーム
【００４２】
半減期は、輝度レベルが１００％から５０％に低下するのに要する期間をいう。従って、１フレーム当たりの輝度レベルの劣化量（％）は、次式で与えられる。
１フレーム当たりの劣化量（％）＝５０％÷（３００００×６０×６０×６０）
＝７．７１６×１０−９
【００４３】
ただし、この値は１００％輝度が継続的に出力された場合の値であり、実際の映像信号は任意の階調値を採る。例えば、階調の分解能が２５６（８ビット）の場合、１フレーム当たりの劣化量（％）を表現するには、少なくとも次式で与えられるだけのビット幅が必要になる。
１フレーム当たりの劣化量（％）＝７．７１６×１０−９÷２５６
＝３×１０−１１（４０ビット幅）
【００４４】
すなわち、リアルタイム（１フレーム毎）で発生する劣化量の演算と蓄積には、４０ビット幅のデータ処理が必要になる。図５に、この処理動作を実現する処理デバイスとバス幅との関係を示す。例えば階調値／劣化量変換部３１と短時間劣化量蓄積部３２との間には、基本発光色別に各４０ビット、計１２０ビット分のデータ線が必要となる。
【００４５】
また例えば、短時間劣化量蓄積部３２と累積劣化量蓄積部３３との間には、基本発光色別にロード用とリード用の各４０ビット、計２４０ビットが必要となる。２倍のデータ幅が必要になるのは、保存された劣化量差を計算処理する場所にまずロードし、計算された値を保存する読み書き処理を同時刻に実行するためである。このように、劣化量を保存する期間が長いほど、又は、階調の分解能が小さいほどデータ幅が大きくなる。
【００４６】
そこで、メモリ容量とバス幅の削減を可能とする焼き付き補正部について説明する。図６は、焼き付き補正部の他の構成を示す図である。図６に示した焼き付き補正部１００は、図２に示した焼き付き補正部１１に対して、サンプリング調整部１０１を追加した構成とされている点が異なり、他の部分は同様である。図２に示した焼き付き補正部１１と図６に示した焼き付き補正部１００のうち、同様の部分には、同一の符号を付し、適宜説明を省略する。また図６に示した焼き付き補正部１００は、図２に示した焼き付き補正部１１と同じく、表示装置の一部分を構成する。
【００４７】
図６に示した焼き付き補正部１００のサンプリング調整部１０１は、劣化補正部３５から供給される映像信号（フレーム）の全フレームを処理対象とするのではなく、間引いたサンプリングを行う機能である。このサンプリングは、等間隔に行われる、ランダムに行われる、分けられた領域毎に行われる、またはこれらの組み合わせで行われる。このようなサンプリング調整部１０１が行うサンプリングの調整について、以下に説明する。
【００４８】
［等間隔にサンプリングする場合について］
まず、図７を参照し、等間隔にサンプリングが行われる場合を例にあげて説明する。参考のために、図７Ａにサンプリングを行わない場合を示す。そして図７Ｂに等間隔にサンプリングが行われる場合を示す。図７において、数字が内側に記載された四角形はそれぞれ１フレームを表し、四角形の内側に記載された数字はフレーム番号を表す。図中、右に行くほど（数字が大きくなるほど）、時間軸が進んでいくことを表す。また、図中、上向きの矢印はサンプリングしている位置（フレーム）を表す。
【００４９】
図７Ａを参照するに、例えば、図２に示した階調値／劣化量変換部３１には、劣化補正部３５からフレーム番号１乃至１０のフレームが供給される。階調値／劣化量変換部３１は、フレーム番号１乃至１０のフレームを、供給された順に処理する。よって、図７Ａに示すように、フレーム番号１乃至１０の全てのフレームがサンプリングされ、処理されることになる。
【００５０】
これに対して、図６に示した階調値／劣化量変換部３１には、サンプリング調整部１０１を介して、劣化補正部３５から供給されるフレームが供給される。サンプリング調整部１０１は、例えば、図７Ｂのように供給されるフレームから所定のフレームをサンプリングする。
【００５１】
すなわち図７Ｂに示した例では、サンプリング調整部１０１には、劣化補正部３５から、フレーム番号１乃至１０のフレームが供給される。サンプリング調整部１０１は、供給されるフレーム番号１乃至１０の内、フレーム番号５のフレームとフレーム番号１０のフレームをサンプリングし、後段の階調値／劣化量変換部３１に出力する。よって、階調値／劣化量変換部３１は、フレーム番号５とフレーム番号１０のフレームを処理することになる。
【００５２】
図７Ｂに示した例では、５フレーム毎にサンプリングが実施される例を示した。すなわち、５フレームに１回のサンプリングが行われる例を示した。フレーム番号１乃至５が供給される期間を期間Ｍとし、フレーム番号６乃至１０が供給される期間を期間Ｎとすると、期間Ｍと期間Ｎから、それぞれ１フレームずつサンプリングされることになる。この場合、期間Ｍと期間Ｎは、同一の長さの期間である。よって、等間隔にサンプリングが行われることになる。
【００５３】
このようにして、所定の期間からサンプリングされたフレームは、その期間内の他のフレームを代表する代表フレームとして扱われる。代表フレームは、その期間内のフレームは、全てその代表フレームと同じ発光していたと見なし、処理するために設けられている。すなわちこの場合、期間Ｍの代表フレームは、フレーム番号５のフレームであり、フレーム番号１乃至５の各フレームは、フレーム番号５のフレームと同一の発光で発光したとして扱われる。同様に、期間Ｎの代表フレームは、フレーム番号１０のフレームであり、フレーム番号６乃至１０の各フレームは、フレーム番号１０のフレームと同一の発光で発光したとして扱われる。
【００５４】
このように、この例の場合、５フレーム毎に１フレームがサンプリングされ、処理されるようにした場合、蓄積される累計劣化量のデータは１／５となる。すなわち、短時間劣化量蓄積部３２に蓄積されるデータ量は、１／５となり、累積劣化量蓄積部３３に蓄積されるデータ量も、１／５となる。
【００５５】
このように、累積劣化量蓄積部３３に蓄積される累積劣化量の値が小さくなるので、補正値算出部３４は、累積劣化量を全フレームサンプリングの時と比べて「間引き数倍」の劣化量に換算する処理を実行する。この場合、「間引き数倍」は５倍となる。すなわちこの場合、１枚の代表フレームを５枚分のフレームとして扱うため、代表フレームの値を５倍することで、５枚分のフレームを処理した場合と同等の累積劣化量が累積され、補正値が算出される。
【００５６】
このように、フレームを間引く処理を行うサンプリング調整部１０１の構成は、図８に示したようにすることができる。サンプリング調整部１０１は、サンプリング部１２１とサンプリングタイミング生成部１２２とから構成される。サンプリング部１２１は、サンプリングタイミング生成部１２２により指示されるタイミングで、供給されるフレームをサンプリングする。
【００５７】
例えば、上記した例のように、５フレーム毎にサンプリングする場合、サンプリングタイミング生成部１２２は、５フレーム目のときに、サンプリング部１２１に指示を出し、サンプリング部１２１は、その指示に基づき、劣化補正部３５から供給されるフレームを後段の階調値／劣化量変換部３１に出力する。このようにしてサンプリング調整部１０１においてサンプリングが行われる。
【００５８】
上記したように、このようにフレームを間引いて処理することで、蓄積されるデータ量を小さくすることが可能となる。しかしながら、１枚の代表フレームを所定枚数（例えば、５枚）分のフレームとして扱うため、全てのフレームを処理する場合と比較し、誤差が発生する可能性がある。仮に誤差が発生しても、以下の理由から、その誤差による影響は少ない。
【００５９】
例えば、静止画像が有機ＥＬパネルモジュール１２に映し出されているような場合、５枚のフレームが全て同じ画像となるため、１枚の代表フレームを５枚分のフレームとして扱っても、誤差が発生しないことは明らかである。動画像が映し出されているような場合、１フレーム毎に画像が入れ替わる可能性がある。よって、５フレームをそれぞれ処理する場合と、５フレームから１フレームを代表フレームとして処理する場合とでは、誤差が発生する。しかしながら、動画像の場合はフレーム毎に画像が入れ替わるため、平均化され、そもそも焼き付きが発生しづらい状況である。
【００６０】
また、激しく輝度が入れ替わるような動画像は少なく、換言すれば、激しく輝度が入れ替わるようなシーンが比較的長い時間継続するようなことは少なく、徐々に変わっていくシーンが多い。例えば、５フレームなどの短い時間を観察した場合、その５フレームの全フレームにわたり激しく輝度が入れ替わることは少なく、徐々に変化するという特徴を動画像は有している。よって、例えば、時間的に隣接するフレーム同士を比較した場合、類似した画像であり、輝度などにあまり変化がない（大きな変化はない）と考えられる。
【００６１】
このようなことから、サンプリングの間隔が短い場合には、誤差が視認されず、誤差の影響も少なく、許容できる範囲内に収めることが可能である。さらに、以下に説明するように、ランダムな間隔でサンプリングを行うことで、誤差を低減させるように構成することもできる。
【００６２】
［ランダムにサンプリングする場合について］
図９を参照し、ランダムな間隔でサンプリングが行われる場合を例にあげて説明する。参考のために、図９Ａに上述した等間隔でサンプリングを行う場合を示す。また図９Ｂにランダムな間隔でサンプリングが行われる場合を示す。図９においても、図７と同じく、数字が内側に記載された四角形はそれぞれ１フレームを表し、四角形の内側に記載された数字はフレーム番号を表す。図中、右に行くほど（数字が大きくなるほど）、時間軸が進んでいくことを表す。また、図中、上向きの矢印はサンプリングしている位置（フレーム）を表す。
【００６３】
図９Ａは、上述した等間隔にサンプリングを行う例である。図９Ａに示した例では、フレーム番号１乃至１８が図示してあり、そのうち、フレーム番号５、フレーム番号１０、およびフレーム番号１５がサンプリングされることを示している。この場合も、５フレーム毎にサンプリングが行われる例を示している。
【００６４】
図９Ｂは、ランダムな間隔でサンプリングを行う例である。ランダムな間隔でサンプリングを行う場合であっても、基本的には、等間隔にサンプリングを行う場合を基準としている。図９Ｂを参照するに、サンプリングされるのは、フレーム番号７、フレーム番号１１、フレーム番号１８のフレームである。
【００６５】
フレーム番号７のフレームがサンプリングされるのは、フレーム番号５に発生された乱数の２が加算された結果である。同様に、フレーム番号１１のフレームがサンプリングされるのは、フレーム番号１０に発生された乱数の１が加算された結果である。さらに同様に、フレーム番号１８のフレームがサンプリングされるのは、フレーム番号１５に発生された乱数の３が加算された結果である。
【００６６】
このように、等間隔のタイミングに加え、乱数分だけサンプリングするフレーム位置をずらすことで、ランダムな間隔でサンプリングが行われるように構成することが可能となる。
【００６７】
なお、この場合、５フレームずつにサンプリングするというタイミングが基準となっているため、乱数として発生されるのは、０、１、２、３、４のいずれかである。例えば、フレーム番号５のフレームがサンプリングされるときに発生された乱数が“０”であった場合、フレーム番号５のフレームがサンプリングされる。同様に、乱数が“１”であった場合、フレーム番号６のフレームがサンプリングされ、乱数が“２”であった場合、フレーム番号７のフレームがサンプリングされ、乱数が“３”であった場合、フレーム番号８のフレームがサンプリングされ、乱数が“４”であった場合、フレーム番号９のフレームがサンプリングされる。
【００６８】
仮に、乱数が“５”であった場合、フレーム番号１０のフレームがサンプリングされることになる。フレーム番号１０のフレームは、基準とされている等間隔のタイミングでもサンプリングされる可能性があるフレームであり、乱数が“０”であった場合、サンプリングされるフレームである。よって、期間毎に１枚のフレームがサンプリングされるべきであるのに、フレームがサンプリングされない機関が存在するなど、不具合が発生してしまう。このような理由から、乱数として５以上の値が発生しないように制御される必要がある。
【００６９】
このように乱数が用いられることでランダムな間隔でサンプリングが行われるように構成された場合、サンプリング調整部１０１の構成は、図１０に示すような構成とされる。図１０に示したサンプリング調整部１０１は、サンプリング部１２１、サンプリングタイミング生成部１２２、および乱数生成部１４１から構成されている。図１０に示したサンプリング調整部１０１は、図８に示したサンプリング調整部１０１に、乱数生成部１４１を追加した構成とされている。
【００７０】
図８に示したサンプリング調整部１０１と同じく、サンプリング部１２１は、サンプリングタイミング生成部１２２の指示に基づき、供給されるフレームから所定のフレームをサンプリングし、後段の階調値／劣化量変換部３１に出力する。サンプリングタイミング生成部１２２は、等間隔にサンプリングするときの値、例えば、５を保持しており、その値に、乱数生成部１４１で発生され供給される乱数の値を加算することで、サンプリングするタイミングを生成する。
【００７１】
このようにランダムにサンプリングする場合も、上記した等間隔にサンプリングする場合と同じく、短時間劣化量蓄積部３２に蓄積されるデータ量と累積劣化量蓄積部３３に蓄積されるデータ量を削減することができる。
【００７２】
このように、累積劣化量蓄積部３３に蓄積される累積劣化量の値が小さくなるので、補正値算出部３４においては、累積劣化量を全フレームサンプリングの時と比べて「間引き数倍」の劣化量に換算する処理を実行する。この場合、「間引き数倍」は（５＋乱数の値）倍となる。すなわちこの場合、１枚の代表フレームを５乃至９枚の分のフレームとして扱うため、代表フレームの値を５乃至９倍することで、５乃至９枚分のフレームを処理した場合と同等の累積劣化量が累積され、補正値が算出される。
【００７３】
このようにランダムにサンプリングする場合、等間隔にサンプリングする場合と比較して、以下のような効果をさらに期待できる。すなわちまず、ランダムにサンプリングすることで、誤差を吸収することが可能となる。上記したように、静止画像のときには、等間隔にサンプリングするときも誤差は発生しないが、動画像の時には誤差が発生する可能性がある。
【００７４】
例えば、激しく輝度が入れ替わるような動画像を処理する場合を考える。このような動画像を等間隔にサンプリングすると、例えば、サンプリングの間隔と、輝度が低いフレームが来る間隔が一致するような場合、輝度が低いフレームが代表フレームとして処理されることになる。このような場合、代表フレームは輝度が低いフレームであるが、代表フレーム以外は輝度が高いフレームとなる可能性があるために、誤差が発生し、その誤差が蓄積されてしまう可能性がある。
【００７５】
しかしながら、ランダムな間隔でサンプリングを行うことで、仮に等間隔で輝度が入れ替わるような動画像であっても、代表フレームが、輝度の高いフレームとなるときと、輝度の低いフレームとなるときとを分散させることが可能となる。その結果、誤差が発生する可能性が低減し、誤差が蓄積されてしまうようなことを防ぐことが可能となる。換言すれば、周期的な動画像の場合、等間隔での間引きサンプリングを行う場合、平均化されずに誤差が蓄積されてしまう可能性があるが、ランダムな間隔でサンプリングを行うことで、平均化され、誤差が蓄積するようなことを防ぐことが可能となる。
【００７６】
［領域を分け等間隔でサンプリングする場合について］
上記した実施の形態においては、等間隔、またはランダムにサンプリングを行う場合を例にあげて説明した。換言すれば、時間的に分割してサンプリングを行う場合を例にあげて説明した。次に、時分割に分割し、さらに１フレームを複数の領域に分割し、領域毎にサンプリングする場合を説明する。この場合も時分割の方法として、等間隔にサンプリングを行う場合と、ランダムな間隔でサンプリングを行う場合とがある。まず、等間隔にサンプリングする場合を例にあげて説明する。
【００７７】
図１１を参照し、１フレームが複数の領域に分割されサンプリングが行われる場合について説明する。参考のために、図１１Ａに上述した領域を分割せずに、等間隔でサンプリングを行う場合を示す。また図１１Ｂに領域を分割し、等間隔でサンプリングが行われる場合を示す。図１１においても、図７や図９と同じく、数字が内側に記載された四角形はそれぞれ１フレームを表し、四角形の内側に記載された数字はフレーム番号を表す。図中、右に行くほど（数字が大きくなるほど）、時間軸が進んでいくことを表す。また、図中、上向きの矢印はサンプリングしている位置（フレーム）を表す。
【００７８】
図１１Ａは、上述した等間隔にサンプリングを行う例である。この場合、図１１Ａ中、左側に示したように、１回のサンプリングで１フレーム分のデータが取得される。すなわち例えば、５フレームずつ等間隔にサンプリングされる場合、フレーム番号５のフレームの１フレーム分のデータがサンプリングされ、フレーム番号１０のフレームの１フレーム分のデータがサンプリングされ、フレーム番号１５のフレームの１フレーム分のデータがサンプリングされる。
【００７９】
これに対して、図１１Ｂに示したように、領域を分割し、等間隔でサンプリングが行われる場合、各領域のデータが、等間隔にサンプリングされる。図１１Ｂ中、左側に示したように、１フレームを領域Ｘ、領域Ｙ、および領域Ｚの３領域に分割する。１回のサンプリングで、これらの３領域のいずれかの１領域内のデータが取得される。例えば、図１１Ｂ中、右側に示したようにサンプリングされる。
【００８０】
フレーム番号５のフレームの領域Ｘ内のデータがサンプリングされ、フレーム番号６のフレームの領域Ｙ内のデータがサンプリングされ、フレーム番号７のフレームの領域Ｚ内のデータがサンプリングされる。この場合、３回のサンプリングで１フレーム分のデータが取得される。
【００８１】
同様に、フレーム番号１０のフレームの領域Ｘ内のデータがサンプリングされ、フレーム番号１１のフレームの領域Ｙ内のデータがサンプリングされ、フレーム番号１２のフレームの領域Ｚ内のデータがサンプリングされることで、１フレーム分のデータが取得される。
【００８２】
領域Ｘに注目したとき、フレーム番号５、フレーム番号１０、フレーム番号１５のフレームがサンプリングされるため、５フレームずつ等間隔にサンプリングされていることになる。同様に、領域Ｙに注目したとき、フレーム番号６、フレーム番号１１、フレーム番号１６のフレームがサンプリングされるため、５フレームずつ等間隔にサンプリングされていることになる。さらに同様に、領域Ｚに注目したとき、フレーム番号７、フレーム番号１２、フレーム番号１７のフレームがサンプリングされるため、５フレームずつ等間隔にサンプリングされていることになる。このように、１つの領域に注目したときには、等間隔にサンプリングされていることになる。
【００８３】
このように、１フレームを複数の領域に分け、時分割でサンプリングするようにした場合、サンプリング調整部１０１の構成は、図８に示したような構成とすることができる。図８に示した構成は、等間隔にサンプリングするときのサンプリング調整部１０１の構成であるが、サンプリング部１２１が、サンプリングタイミング生成部１２２の指示に基づきサンプリングする際、所定の領域内のデータを抽出し、後段に出力する点が上記した場合と異なる。
【００８４】
また、サンプリング調整部１０１から後段の階調値／劣化量変換部３１に出力されるデータ量は、この場合、１フレームの１／３のデータ量となる。同様に、階調値／劣化量変換部３１から短時間劣化量蓄積部３２に出力されるデータ量と、短時間劣化量蓄積部３２から累積劣化量蓄積部３３に出力されるデータ量も、１／３のデータ量となる。よって、これらのメモリの帯域幅を１／３まで低減することが可能となる。すなわち、１フレームを複数の領域に分け、時分割にサンプリングするように構成することで、メモリの帯域幅を大幅に削減することが可能となる。
【００８５】
また、上記してきた実施の形態と同じく、全てのフレームを処理するのではなく、間引いて処理するため、短時間劣化量蓄積部３２や累積劣化量蓄積部３３を構成するメモリの容量を削減することも可能となる。
【００８６】
［領域を分けランダムな間隔でサンプリングする場合について］
次に、１フレームを複数の領域に分割し、ランダムな間隔でサンプリングする場合について説明する。図１２に、１フレームが複数の領域に分割され、ランダムな間隔でサンプリングが行われる場合について説明するための図を示す。参考のために、図１２Ａに上述した領域を分割し、等間隔でサンプリングを行う場合を示す。また図１２Ｂに領域を分割し、ランダムな間隔でサンプリングが行われる場合を示す。図１２においても、図７、図９、図１１と同じく、数字が内側に記載された四角形はそれぞれ１フレームを表し、四角形の内側に記載された数字はフレーム番号を表す。図中、右に行くほど（数字が大きくなるほど）、時間軸が進んでいくことを表す。また、図中、上向きの矢印はサンプリングしている位置（フレーム）を表す。
【００８７】
図１２Ａに示した例は、図１１Ｂを参照して説明したように、１フレームが３領域に分割され、等間隔にサンプリングされるため、例えば、領域Ｘに注目したとき、５フレームずつ、すなわちこの場合、フレーム番号５、フレーム番号１０、およびフレーム番号１５のフレームがサンプリングされる。
【００８８】
図１２Ｂは、領域を分割し、ランダムな間隔でサンプリングを行う例である。図９Ｂを参照して説明した場合と同じく、この場合も、ランダムな間隔でサンプリングを行う場合であっても、基本的には、等間隔にサンプリングを行う場合を基準としている。図１２Ｂを参照するに、領域Ｘに注目したとき、サンプリングされるのは、フレーム番号５、フレーム番号１１、フレーム番号１８のフレームである。
【００８９】
フレーム番号５のフレームがサンプリングされるのは、フレーム番号５に発生された乱数の０が加算された結果である。同様に、フレーム番号１１のフレームがサンプリングされるのは、フレーム番号１０に発生された乱数の１が加算された結果である。さらに同様に、フレーム番号１８のフレームがサンプリングされるのは、フレーム番号１５に発生された乱数の３が加算された結果である。
【００９０】
領域Ｙは、領域Ｘがサンプリングされたフレームの次のフレームからサンプリングされる領域である。そのような領域Ｙに注目したとき、サンプリングされるのは、フレーム番号６、フレーム番号１２、フレーム番号１９（不図示）のフレームである。同様に領域Ｚは、領域Ｙがサンプリングされたフレームの次のフレームからサンプリングされる領域であり、そのような領域Ｚに注目したとき、サンプリングされるのは、フレーム番号７、フレーム番号１３、フレーム番号２０（不図示）のフレームである。
【００９１】
このように、所定の領域を基準とし、その基準となる領域のサンプリングのタイミングをランダムにすることで、１フレームを複数の領域に分割し、ランダムな間隔でサンプリングすることが可能となる。
【００９２】
なお、この場合、５フレームずつにサンプリングするというタイミングが基準となっており、かつ、３つの領域に分割されているため、乱数として発生されるのは、０、１、２のいずれかである。例えば、フレーム番号５のフレームがサンプリングされるときに発生された乱数が“２”であった場合、フレーム番号７のフレームがサンプリングされる。この場合、フレーム番号７のフレームから領域Ｘがサンプリングされ、フレーム番号８のフレームから領域Ｙがサンプリングされ、フレーム番号９のフレームから領域Ｚがサンプリングされる。
【００９３】
このような状態のときに、フレーム番号１０に発生された乱数が“０”であっても、フレーム番号１０のフレームから領域Ｘがサンプリングされるため、同一のフレームから複数の領域がサンプリングされるようなことが発生するようなことはない。
【００９４】
しかしながら仮に、乱数として“３”以上も発生するように設定してあった場合、フレーム番号１０のフレームから、領域Ｚと領域Ｘがサンプリングされる可能性がある。よって、上記したように、乱数としては、０、１、２のいずれかが発生されるように制限が加えられる必要がある。この制限は、等間隔のサンプリングを何フレーム毎に行うか、また１フレームを何領域に分割するかにより決定される制限である。
【００９５】
このように乱数が用いられることでランダムな間隔でサンプリングが行われるように構成された場合、サンプリング調整部１０１の構成は、図１０に示すような構成とされる。図１０に示したサンプリング調整部１０１と同じく、サンプリング部１２１は、サンプリングタイミング生成部１２２の指示に基づき、供給されるフレームから所定のフレームをサンプリングし、サンプリングタイミング生成部１２２は、乱数生成部１４１により生成される乱数を基準となる値に加算した値でタイミングを生成する。
【００９６】
さらに１フレームを複数の領域に分割してサンプリングするようにした場合、サンプリング部１２１が、サンプリングタイミング生成部１２２の指示に基づきサンプリングする際、所定の領域内のデータを抽出し、後段に出力する。
【００９７】
このような構成とした場合も、サンプリング調整部１０１から後段の階調値／劣化量変換部３１に出力されるデータ量は、この場合、１フレームの１／３のデータ量となる。同様に、階調値／劣化量変換部３１から短時間劣化量蓄積部３２に出力されるデータ量と、短時間劣化量蓄積部３２から累積劣化量蓄積部３３に出力されるデータ量も、１／３のデータ量となる。よって、これらのメモリの帯域幅を１／３まで低減することが可能となる。すなわち、１フレームを複数の領域に分け、時分割にサンプリングするように構成することで、メモリの帯域幅を大幅に削減することが可能となる。
【００９８】
また、上記してきた実施の形態と同じく、全てのフレームを処理するのではなく、間引いて処理するため、短時間劣化量蓄積部３２や累積劣化量蓄積部３３を構成するメモリの容量を削減することも可能となる。
【００９９】
上述した領域を分け等間隔でサンプリングする実施の形態と、領域を分けランダムな間隔でサンプリングする実施の形態においては、１フレームを３つの領域に分け、時分割にサンプリングする例を挙げて説明したが、３つの領域に限定されるわけではなく、さらに多くの領域に分けても良いし、２領域などでも良い。ただし、領域を分割しすぎると、１領域のサンプリングの間隔が長くなってしまい、誤差が累積されやすくなるため、誤差が累積されづらい分割数に設定されることが好ましい。
【０１００】
また、図１１Ｂの左側や図１２の左側に示した例では、縦方向に３領域に分けたが、横方向に３領域（複数の領域）に分けるようにしても良い。さらに、領域の形状は、四角形状に限らず、例えば、図１３に示すような市松模様の形状でも良い。図１３Ａに示した市松模様を市松模様Ａとし、図１３Ｂに示した市松模様を市松模様Ｂとする。市松模様は、図１３に示したように格子状の模様である。
【０１０１】
図１３に示した市松模様Ａと市松模様Ｂのうち、斜線部がサンプリング時にサンプリングされる画素（画素群）である。１つの斜線部の四角形が、１つの画素に対応し、１画素毎に交互に配置された画素からそれぞれデータがサンプリングされるようにしても良いし、複数の画素で構成される画素群に対応し、画素群毎に交互に配置された画素群からそれぞれデータがサンプリングされるようにしても良い。
【０１０２】
また、１つの斜線部の四角形が画素群に対応する場合、図１３に示したように、１つの四角形の形状が、正方形であっても良いし、長方形であっても良い。また長方形にした場合、例えば、有機ＥＬパネルモジュール１２（図１）の縦横比に対応する縦横比の長方形とすることも可能である。
【０１０３】
このように市松模様Ａと市松模様Ｂを用いてサンプリングする場合、１フレームが２つの領域に分割された場合と考えられる。すなわち、所定の時刻に取得された１フレーム内から市松模様Ａが適用され、該当する領域からデータが抽出され、次の時刻に取得された１フレーム内から市松模様Ｂが適用され、該当する領域からデータが抽出される。このように２回のサンプリングにより、１枚のフレーム分のデータが取得される。
【０１０４】
このように市松模様を適用してサンプリングを行うことで、以下のような効果を期待できる。図１１や図１２を参照して説明したように、１フレームを複数の領域（領域Ｘ，Ｙ，Ｚ）に分割し、領域毎にサンプリングを行う場合、領域毎に扱うフレームが異なり、蓄積される劣化量が異なってくる可能性がある。領域毎に蓄積される劣化量が異なってくる場合、それが誤差となりユーザに視認されてしまう可能性がある。
【０１０５】
誤差は輝度差となって現れる。例えば、このような誤差は、領域の境界が線としてユーザに視認されてしまう可能性がある。輝度差は面積が小さければ視認されにくい特徴がある。そこで、仮に誤差が発生してしまったとしても、領域の分け方を図１３に示したような市松模様にすることで、輝度差が生じている面積を小さくすることが可能となり、誤差を視認されにくくすることが可能となる。
【０１０６】
図１１乃至図１３を参照して説明したように、１フレームを複数の領域に分割し、サンプリングを行うようにした場合、各領域の大きさは固定としても良いが、可変としても良い。例えば、図１１Ｂの左側に示した例のように、縦方向に３領域に分けられた場合であり、仮に、１フレームが縦方向に３０ラインある場合、１領域は１０ラインと固定されていても良いし、サンプリング毎に異なるライン数とされる可変でも良い。
【０１０７】
可変にした場合、３回のサンプリングで３領域からそれぞれサンプリングされたときには、３０ライン分のデータが取得されるように、各領域のライン数が設定される。例えば、領域Ｘが８ライン、領域Ｙが１４ライン、領域Ｚが８ラインといったように設定される。このように領域の大きさを可変とすることで、領域の境界上に現れる領域間の誤差を分散させることが可能となり、誤差がユーザに視認される可能性を低減させることが可能となる。
【０１０８】
［等間隔を可変とすることについて］
上述した実施の形態においては、サンプリングの間隔は、等間隔で行うとして説明した。ランダムな間隔でサンプリングする場合においても、等間隔なサンプリングのタイミングを基準としてサンプリングが行われるとして説明した。この等間隔を、上記した実施の形態においては、５フレームとして説明したが、この５フレームという間隔は、固定値としても良いし、可変値としても良い。
【０１０９】
例えば、ここで静止画像が映し出されるときと動画像が映し出されるときを考える。静止画像の場合、同一画像のフレームが所定の時間、連続して映し出されることになる。近年、テレビジョン受像機においても、放送されている番組を表示するだけでなく、デジタルスチルカメラなどで撮影された静止画像を、スライドショーなどと称される機能により表示することができる機器が増加しつつある。
【０１１０】
そのようなスライドショーなどと称される機能により静止画像がテレビジョン受像機に表示される場合、所定の時間（時間Ａと記述する）、同一の静止画像が表示され、その時間Ａが経過した後、次の静止画像に表示が切り替えられといったような表示が繰り返される。このような場合には、同一の静止画像が表示されている時間Ａの間は、そのうちの１枚のフレームを代表フレームとして処理しても誤差が発生することはない。そのようなことを考慮し、同一の静止画像が表示されている時間Ａを、等間隔の時間に設定し、その時間Ａ毎にサンプリングが行われるようにしても良い。
【０１１１】
また、静止画像が切り替わるタイミングでサンプリングされるようにしても良い。例えば、スライドショーが実行されているとき、ユーザにより時間Ａが経過していなくても次の静止画像に表示が切り替えられることがある。このようなときには、静止画像の表示の切り替わりを検知し、そのタイミングでサンプリングが行われるようにしても良い。
【０１１２】
このような画像の切り替わりを利用してサンプリングが行われるようにした場合、動画像においても、例えば、シーンチェンジなどを検出し、その検出に対応して、サンプリングする間隔（フレーム数）を可変とするようにしても良い。
【０１１３】
本実施の形態を適用することで、有機ＥＬパネルモジュール１２の焼き付きを補正するための処理を行う焼き付き補正部１００（図６）における累積劣化量を蓄積するサンプリングをする際、上記したように、サンプリングするフレームを間引いたり、領域毎にサンプリングしたりすることで、精度を落とすことなく、使用するメモリの容量を削減することができる。また、領域毎にサンプリングする場合には、さらにメモリの帯域を削減することも可能となる。
【０１１４】
以上説明した本発明における表示装置（焼き付き補正部１００）は、フラットパネル形状を有し、様々な電子機器、例えば、デジタルカメラ、ノート型パーソナルコンピュータ、携帯電話、ビデオカメラなどに適用可能である。電子機器に入力された、若しくは、電子機器内で生成した駆動信号を画像若しくは映像として表示するあらゆる分野の電子機器のディスプレイに適用することが可能である。以下この様な表示装置が適用された電子機器の例を示す。電子機器は基本的に情報を処理する本体と、本体に入力する情報若しくは本体から出力された情報を表示する表示器とを含む。
【０１１５】
図１４は本技術が適用されたテレビジョン受像機であり、フロントパネル２１２、フィルターガラス２１３等から構成される映像表示画面２１１を含み、本技術の表示装置を、その映像表示画面２１１に用いることにより作製される。
【０１１６】
また本技術は、デジタルカメラにも適用できる。デジタルカメラは、撮像レンズ、フラッシュ用の発光部、表示部、コントロールスイッチ、メニュースイッチ、シャッター等を含み、本技術の表示装置を、その表示部に用いることにより作製される。
【０１１７】
また本技術は、ノート型パーソナルコンピュータにも適用できる。ノート型パーソナルコンピュータの本体には、文字等を入力するとき操作されるキーボードが含まれ、本体カバーには画像を表示する表示部が含まれ、本技術の表示装置を、その表示部に用いることによりノート型パーソナルコンピュータは作製される。
【０１１８】
また本技術は、携帯端末装置にも適用できる。携帯端末装置は、上側筐体、下側筐体、連結部（例えば、ヒンジ部）、ディスプレイ、サブディスプレイ、ピクチャーライト、カメラ等を含む。本技術の表示装置を、そのディスプレイやサブディスプレイに用いることにより携帯端末装置は作製される。
【０１１９】
また本技術は、ビデオカメラに適用できる。ビデオカメラは、本体部、前方を向いた側面に被写体撮影用のレンズ、撮影時のスタート／ストップスイッチ、モニター等を含み、本技術の表示装置を、そのモニターに用いることにより作製される。
【０１２０】
［記録媒体について］
上述した一連の処理は、ハードウエアにより実行することもできるし、ソフトウエアにより実行することもできる。一連の処理をソフトウエアにより実行する場合には、そのソフトウエアを構成するプログラムが、コンピュータにインストールされる。ここで、コンピュータには、専用のハードウエアに組み込まれているコンピュータや、各種のプログラムをインストールすることで、各種の機能を実行することが可能な、例えば汎用のパーソナルコンピュータなどが含まれる。
【０１２１】
図１５は、上述した一連の処理をプログラムにより実行するコンピュータのハードウエアの構成例を示すブロック図である。コンピュータにおいて、ＣＰＵ（Central Processing Unit）３０１、ＲＯＭ（Read Only Memory）３０２、ＲＡＭ（Random Access Memory）３０３は、バス３０４により相互に接続されている。バス３０４には、さらに、入出力インタフェース３０５が接続されている。入出力インタフェース３０５には、入力部３０６、出力部３０７、記憶部３０８、通信部３０９、及びドライブ３１０が接続されている。
【０１２２】
入力部３０６は、キーボード、マウス、マイクロフォンなどよりなる。出力部３０７は、ディスプレイ、スピーカなどよりなる。記憶部３０８は、ハードディスクや不揮発性のメモリなどよりなる。通信部３０９は、ネットワークインタフェースなどよりなる。ドライブ３１０は、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、又は半導体メモリなどのリムーバブルメディア３１１を駆動する。
【０１２３】
以上のように構成されるコンピュータでは、ＣＰＵ３０１が、例えば、記憶部３０８に記憶されているプログラムを、入出力インタフェース３０５及びバス３０４を介して、ＲＡＭ３０３にロードして実行することにより、上述した一連の処理が行われる。
【０１２４】
コンピュータ（ＣＰＵ３０１）が実行するプログラムは、例えば、パッケージメディア等としてのリムーバブルメディア３１１に記録して提供することができる。また、プログラムは、ローカルエリアネットワーク、インターネット、デジタル衛星放送といった、有線または無線の伝送媒体を介して提供することができる。
【０１２５】
コンピュータでは、プログラムは、リムーバブルメディア３１１をドライブ３１０に装着することにより、入出力インタフェース３０５を介して、記憶部３０８にインストールすることができる。また、プログラムは、有線または無線の伝送媒体を介して、通信部３０９で受信し、記憶部３０８にインストールすることができる。その他、プログラムは、ＲＯＭ３０２や記憶部３０８に、あらかじめインストールしておくことができる。
【０１２６】
なお、コンピュータが実行するプログラムは、本明細書で説明する順序に沿って時系列に処理が行われるプログラムであっても良いし、並列に、あるいは呼び出しが行われたとき等の必要なタイミングで処理が行われるプログラムであっても良い。
【０１２７】
また、本明細書において、システムとは、複数の装置により構成される装置全体を表すものである。
【０１２８】
なお、本技術の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本技術の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
【０１２９】
なお、本技術は以下のような構成も取ることができる。
【０１３０】
（１）
連続的に入力される画像データを所定の間隔でサンプリングするサンプリング部と、
前記サンプリング部でサンプリングされた前記画像データに基づく画像の階調値を劣化量に変換する階調値劣化量変換部と、
前記階調値劣化量変換部により変換された劣化量を用いて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出し、蓄積する劣化量蓄積部と、
前記劣化量蓄積部に蓄積された劣化量差の解消に必要な補正量を、補正期間内の予測劣化量に基づいて算出する補正量算出部と、
算出された補正量で対応画素の階調値を補正する劣化量差補正部と
を備える表示装置。
（２）
前記サンプリング部は、等間隔で前記画像データをサンプリングする
前記（１）に記載の表示装置。
（３）
前記サンプリング部は、ランダムな間隔で前記画像データをサンプリングする
前記（１）に記載の表示装置。
（４）
前記サンプリング部は、画像内を複数の領域に分割し、等間隔に前記領域内の画像データをサンプリングする
前記（１）に記載の表示装置。
（５）
前記サンプリング部は、画像内を複数の領域に分割し、ランダムな間隔で前記領域内の画像データをサンプリングする
前記（１）に記載の表示装置。
（６）
前記サンプリング部は、画像内を格子状の領域に分割し、等間隔またはランダムな間隔で前記領域内の画像データをサンプリングする
前記（１）に記載の表示装置。
（７）
前記劣化量蓄積部は、サンプリングされた画像データ単位で発生する劣化量の短周期単位の累積値を蓄積する短周期劣化量蓄積部と、
前記累積値に基づいて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出する劣化量差算出部と、
短周期単位で算出される劣化量差の累積値を蓄積する長周期劣化量蓄積部と
前記（１）に記載の表示装置。
（８）
連続的に入力される画像データを所定の間隔でサンプリングするサンプリング部と、
前記サンプリング部でサンプリングされた前記画像データに基づく画像の階調値を劣化量に変換する階調値劣化量変換部と、
前記階調値劣化量変換部により変換された劣化量を用いて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出し、蓄積する劣化量蓄積部と、
前記劣化量蓄積部に蓄積された劣化量差の解消に必要な補正量を、補正期間内の予測劣化量に基づいて算出する補正量算出部と、
算出された補正量で対応画素の階調値を補正する劣化量差補正部と
を備える電子機器。
（９）
連続的に入力される画像データを所定の間隔でサンプリングし、
サンプリングされた前記画像データに基づく画像の階調値を劣化量に変換し、
変換された劣化量を用いて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出し、蓄積し、
蓄積された劣化量差の解消に必要な補正量を、補正期間内の予測劣化量に基づいて算出し、
算出された補正量で対応画素の階調値を補正する
ステップを含む表示方法。
（１０）
連続的に入力される画像データを所定の間隔でサンプリングし、
サンプリングされた前記画像データに基づく画像の階調値を劣化量に変換し、
変換された劣化量を用いて、補正対象画素と基準画素の間の劣化量差を算出し、蓄積し、
蓄積された劣化量差の解消に必要な補正量を、補正期間内の予測劣化量に基づいて算出し、
算出された補正量で対応画素の階調値を補正する
ステップを含む処理を実行するコンピュータ読み取り可能なプログラム。
【符号の説明】
【０１３１】
１１  焼き付き補正部，  １２  有機ＥＬパネルモジュール，  ３１  階調値／劣化量変換部，  ３２  短時間劣化量蓄積部，  ３３  累積劣化量蓄積部，  ３４  補正値算出部，  ３５  劣化補正部，  １００  焼き付き補正部，  １０１  サンプリング調整部，  １２１  サンプリング部，  １２２  サンプリングタイミング生成部，  １４１  乱数生成部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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