(57)【要約】【課題】光ディスクや光ピックアップユニットに応じて安定して動作することが可能な半導体装置、光ディスク装置及び光ディスクの制御方法を提供する。【解決手段】半導体装置１００は、光ディスクのＢＣＡ領域から読み出したＨＦＰＥ信号を増幅して２値化したＢＣＡ信号を生成するＢＣＡ検出回路１３２と、ＢＣＡ信号をデコードしてＢＣＡデータを再生するＢＣＡデコーダ１３３と、ＢＣＡ検出回路１３２が２値化処理可能な範囲で、ＢＣＡ検出回路１３２がＨＦＰＥ信号を増幅するためのゲインを調整するシステムコントローラ１３０と、を備えるものである。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクのバーストカッティング領域における反射光から生成された第１のアナログ信号を増幅して２値化した第１のデジタル信号を生成するＢＣＡ検出回路と、
前記第１のデジタル信号をデコードしてＢＣＡデータを再生するＢＣＡデコーダと、
前記ＢＣＡ検出回路における前記第１のアナログ信号を増幅するゲインを、前記ＢＣＡ検出回路が２値化処理可能な範囲で調整する制御回路と、
を備えた半導体装置。
【請求項２】
前記ＢＣＡ検出回路の２値化処理可能な範囲は、前記ＢＣＡ検出回路のダイナミックレンジの範囲である、
請求項１に記載の半導体装置。
【請求項３】
前記ＢＣＡ検出回路は、
前記制御回路により調整されるゲインで前記第１のアナログ信号を増幅する第１のゲインアンプと、
前記第１のアナログ信号のトップエンベロープである第１のトップエンベロープ信号と、第１の閾値とを比較して前記第１のデジタル信号を生成する第１のコンパレータ回路とを備える、
請求項１または２に記載の半導体装置。
【請求項４】
前記制御回路は、前記バーストカッティング領域において、前記第１のトップエンベロープ信号が前記第１のコンパレータ回路のダイナミックレンジの範囲内となるように、前記第１のゲインアンプのゲインを調整する、
請求項３に記載の半導体装置。
【請求項５】
前記第１の閾値は、前記第１のトップエンベロープ信号をホールドした第１のトップホールド信号と、前記第１のアナログ信号のボトムエンベロープである第１のボトムエンベロープ信号をホールドした第１のボトムホールド信号との差分に基づいた値である、
請求項３または４に記載の半導体装置。
【請求項６】
前記第１の閾値は、前記第１のトップホールド信号と前記第１のボトムホールド信号の差分を所定倍に乗算した値である、
請求項５に記載の半導体装置。
【請求項７】
前記制御回路は、前記ＢＣＡデコーダにおける前記ＢＣＡデータの再生が失敗した場合、前記第１の閾値を変更する、
請求項３乃至５のいずれか一項に記載の半導体装置。
【請求項８】
前記制御回路は、前記ＢＣＡデコーダにおける前記ＢＣＡデータの再生が失敗した場合、前記乗算する倍率を切り替えることで前記第１の閾値を変更する、
請求項６に記載の半導体装置。
【請求項９】
前記光ディスクのデータ領域における反射光から生成された第２のアナログ信号を増幅して２値化した第２のデジタル信号であるディフェクト信号を生成するディフェクト検出回路を備え、
前記制御回路は、前記再生されたＢＣＡデータにより決定される前記光ディスクのメディア種別に応じて、前記ディフェクト検出回路が前記第２のアナログ信号を増幅するゲインを調整する、
請求項１乃至８のいずれか一項に記載の半導体装置。
【請求項１０】
前記制御回路は、前記ディフェクト検出回路のダイナミックレンジの範囲で、前記第２のアナログ信号を増幅するゲインを調整する、
請求項９に記載の半導体装置。
【請求項１１】
前記ディフェクト検出回路は、
前記制御回路により調整されるゲインで前記第２のアナログ信号を増幅する第２のゲインアンプと、
前記第２のアナログ信号のトップエンベロープである第２のトップエンベロープ信号に基づいた信号または前記第２のアナログ信号のボトムエンベロープである第２のボトムエンベロープ信号に基づいた信号のいずれかと、第２の閾値とを比較して第２のデジタル信号を生成する第２のコンパレータ回路とを備える、
請求項９または１０に記載の半導体装置。
【請求項１２】
前記制御回路は、
前記光ディスクがＨＴＬディスクの場合、前記第２のトップエンベロープ信号が前記第２のコンパレータ回路のダイナミックレンジの範囲内となるように、前記第２のゲインアンプのゲインを調整し、
前記光ディスクがＬＴＨディスクの場合、前記第２のボトムエンベロープ信号が前記第２のコンパレータ回路のダイナミックレンジの範囲内となるように、前記第２のゲインアンプのゲインを調整する、
請求項１１に記載の半導体装置。
【請求項１３】
前記第２のコンパレータ回路は、
前記光ディスクがＨＴＬディスクの場合、前記第２のトップエンベロープ信号と前記第２の閾値とを比較して前記第２のデジタル信号を生成し、
前記光ディスクがＬＴＨディスクの場合、前記第２のボトムエンベロープ信号と前記第２の閾値とを比較して前記第２のデジタル信号を生成する、
請求項１１または１２に記載の半導体装置。
【請求項１４】
前記第２の閾値は、
前記光ディスクがＨＴＬディスクの場合、前記第２のトップエンベロープ信号をホールドした第２のトップホールド信号と第１の基準値との差分を所定倍に乗算した値であり、
前記光ディスクがＬＴＨディスクの場合、前記第２のボトムエンベロープ信号をホールドした第２のボトムホールド信号と第２の基準値との差分を所定倍に乗算した値である、
請求項１１乃至１３のいずれか一項に記載の半導体装置。
【請求項１５】
前記第２のコンパレータ回路は、
前記光ディスクがＤＶＤ−ＲＡＭディスクの場合、前記第２のトップエンベロープ信号をホールドした第２のトップホールド信号と前記第２の閾値とを比較して前記第２のデジタル信号を生成する、
請求項１１乃至１３のいずれか一項に記載の半導体装置。
【請求項１６】
前記制御回路は、
前記光ディスクがＤＶＤ−ＲＡＭディスクの場合、前記第２のトップホールド信号が前記第２のコンパレータ回路のダイナミックレンジの範囲内となるように、前記第２のゲインアンプのゲインを調整する、
請求項１５に記載の半導体装置。
【請求項１７】
前記第２の閾値は、
前記光ディスクがＤＶＤ−ＲＡＭディスクの場合、前記第２のトップホールド信号と第１の基準値との差分を所定倍に乗算した値である、
請求項１５または１６に記載の半導体装置。
【請求項１８】
前記ＢＣＡ検出回路と前記ディフェクト検出回路は共通化された一つの検出回路として構成されている、
請求項９乃至１７のいずれか一項に記載の半導体装置。
【請求項１９】
光ディスクにレーザ光を照射する光ピックアップユニットと、前記光ピックアップユニットの動作を制御する半導体装置を備えた光ディスク装置であって、
前記半導体装置は、
前記光ディスクのバーストカッティング領域における反射光から生成された第１のアナログ信号を増幅して２値化した第１のデジタル信号を生成するＢＣＡ検出回路と、
前記第１のデジタル信号をデコードしてＢＣＡデータを再生するＢＣＡデコーダと、
前記ＢＣＡ検出回路における前記第１のアナログ信号を増幅するゲインを、前記ＢＣＡ検出回路が２値化処理可能な範囲で調整する制御回路と、
を備えた光ディスク装置。
【請求項２０】
光ディスクにレーザ光を照射する光ピックアップユニットと、前記光ピックアップユニットの動作を制御する半導体装置を備えた光ディスク装置の制御方法であって、
前記半導体装置は、
前記光ディスクのバーストカッティング領域における反射光から生成された第１のアナログ信号を増幅して２値化した第１のデジタル信号を生成し、
前記第１のデジタル信号をデコードしてＢＣＡデータを再生し、
前記第１のアナログ信号を増幅するゲインを、前記第１のデジタル信号を生成する回路が２値化処理可能な範囲で調整する、
光ディスク装置の制御方法。
【請求項２１】
光ディスクのバーストカッティング領域またはデータ領域における反射光から生成されたアナログ信号を増幅してＢＣＡ信号またはディフェクト信号を生成する検出回路と、
前記生成されたＢＣＡ信号をデコードしてＢＣＡデータを再生するＢＣＡデコーダと、
前記生成されたディフェクト信号に応じてサーボ信号をホールドするホールド回路と、
前記バーストカッティング領域においては、前記アナログ信号を増幅した信号が前記検出回路のダイナミックレンジの範囲内となるように、前記検出回路における前記アナログ信号を増幅するゲインを調整し、前記データ領域においては、前記再生されたＢＣＡデータにより決定される前記光ディスクのメディア種別に基づいて、前記アナログ信号を増幅した信号が前記検出回路のダイナミックレンジの範囲内となるように前記ゲインを調整する制御回路と、
を備えた光ディスク装置。
【請求項２２】
前記制御回路は、
前記バーストカッティング領域においては、前記アナログ信号のトップエンベロープ信号またはトップホールド信号いずれかが前記検出回路のダイナミックレンジの範囲内となるように調整し、
前記データ領域においては、前記光ディスクのメディア種別に基づいて、前記アナログ信号のトップエンベロープ信号、トップホールド信号、ボトムエンベロープ信号、またはボトムホールド信号のいずれかが前記検出回路のダイナミックレンジの範囲内となるように調整する、
請求項２１に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体装置、光ディスク装置及び光ディスクの制御方法に関し、特に、バーストカッティング領域やデータ領域を有する光ディスクを再生する半導体装置、光ディスク装置及び光ディスクの制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＣＤやＤＶＤ、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ（登録商標））など様々な種別の光ディスクが広く普及し、これらの複数の光ディスクを精度良く再生する光ディスク装置が望まれている。
【０００３】
追記型の光ディスクとして、記録前と記録後の反射率の違いからＬＴＨ（Ｌｏｗ  ｔｏ  Ｈｉｇｈ）方式のＬＴＨディスクとＨＴＬ（Ｈｉｇｈ  ｔｏ  Ｌｏｗ）方式のＨＴＬディスクとが知られている。
【０００４】
ＬＴＨ方式とは、記録するデジタル情報の"１"と"０"に沿い、光ディスクに刻まれた有機色素の記録層にレーザをスポットして照射し、記録前の反射率が低い状態（Ｌｏｗ）から、高い状態へ（Ｈｉｇｈ）へ変化させる方式である。一方、ＨＴＬ方式は、ＬＴＨ方式とは逆に反射率を高い状態から低い状態へ変化させる方式である。
【０００５】
ＢＤ−Ｒでは、書き換え型のＣＤ−ＲＷ／ＤＶＤ−ＲＷやＤＶＤ−ＲＡＭなどの相変化材に近い無機系素材により形成されるＨＴＬディスクが、先行して商品化されたため、一般的に普及している。これに対し、ＬＴＨディスクは、記録層に低価格の有機色素を採用しており、純粋な材料コストでは、金属膜の相変化を使って記録するＨＴＬディスクよりも、安価に製造できるという特徴がある。
【０００６】
例えば、特許文献１〜３には、ＬＴＨディスクやＨＴＬディスクを再生可能な光ディスク装置が記載されている。
【０００７】
図１９は、特許文献１〜３などで使用される一般的な光ディスクの構成を示している。光ディスク９００は、内側より、クランプ孔９０１、ＢＣＡ（Burst Cutting Area）領域９０２、コントロール領域９０３、データ領域９０４から構成されている。
【０００８】
クランプ孔９０１は、再生装置に光ディスクを固定するための孔である。コントロール領域９０３は、物理フォーマット情報などが記録される領域である。データ領域９０４は、ユーザデータが記録される領域である。
【０００９】
ＢＣＡ領域９０２は、著作権保護すなわち不正コピーの防止、更には商品流通のトレーサビリティ等の目的をもって例えばシリアル番号が一枚ごとに記録される領域である。また、ＢＣＡ領域９０２には、ＨＴＬディスクやＬＴＨディスクなどのメディア種別を識別可能なディスクＩＤを含むＢＣＡデータが記録されている。このため、光ディスク装置では、ＢＤディスクが挿入されると、光ディスクのメディアを判別するため、まずＢＣＡ領域の有無も含めてＢＣＡ領域のＢＣＡデータを取得している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開２０１０−１９２１０５号公報
【特許文献２】特開２００７−２０７４２７号公報
【特許文献３】特開２００７−３１７３０２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
特許文献１では、光ディスクの再生を行う際、光ディスク表面にごみが付着していたり傷がついていたりするとサーボ信号が乱れてサーボ動作が不安定になり、リードエラー等の原因になるため、ＲＦ信号からごみや傷などのディフェクト（欠陥）を検出するディフェクト信号を生成し、ディフェクト検出している間はサーボ信号をホールドさせて、サーボ動作を安定化させている。また、特許文献１では、ＨＴＬディスクとＬＴＨディスクに対応するため、ＢＣＡ領域に記録されたＢＣＡデータからＨＴＬディスクかＬＴＨディスクかを判別し、ディフェクトを検出するための信号を切り替えている。
【００１２】
しかしながら、光ディスク装置に光ディスクが挿入されて、ＢＣＡ領域からＢＣＡデータを読み出す段階では、まだディスク種別を判別することはできない。したがって、特許文献１では、光ディスクや光ピックアップユニット等の個体差などによっては、ＢＣＡデータを正常に読み出すことができない場合がある。このため、ＢＣＡデータから正確にディスク種別が判別できないような場合では、光ディスクや光ピックアップユニットに応じて安定した再生動作ができないという問題がある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明に係る半導体装置は、光ディスクのバーストカッティング領域における反射光から生成された第１のアナログ信号を増幅して２値化した第１のデジタル信号を生成するＢＣＡ検出回路と、前記第１のデジタル信号をデコードしてＢＣＡデータを再生するＢＣＡデコーダと、前記ＢＣＡ検出回路における前記第１のアナログ信号を増幅するゲインを、前記ＢＣＡ検出回路が２値化処理可能な範囲で調整する制御回路と、を備えるものである。
【００１４】
本発明に係る光ディスク装置は、光ディスクにレーザ光を照射する光ピックアップユニットと、前記光ピックアップユニットの動作を制御する半導体装置を備えた光ディスク装置であって、前記半導体装置は、前記光ディスクのバーストカッティング領域における反射光から生成された第１のアナログ信号を増幅して２値化した第１のデジタル信号を生成するＢＣＡ検出回路と、前記第１のデジタル信号をデコードしてＢＣＡデータを再生するＢＣＡデコーダと、前記ＢＣＡ検出回路における前記第１のアナログ信号を増幅するゲインを、前記ＢＣＡ検出回路が２値化処理可能な範囲で調整する制御回路と、を備えるものである。
【００１５】
本発明に係る光ディスク装置の制御方法は、光ディスクにレーザ光を照射する光ピックアップユニットと、前記光ピックアップユニットの動作を制御する半導体装置を備えた光ディスク装置の制御方法であって、前記半導体装置は、前記光ディスクのバーストカッティング領域における反射光から生成された第１のアナログ信号を増幅して２値化した第１のデジタル信号を生成し、前記第１のデジタル信号をデコードしてＢＣＡデータを再生し、前記第１のアナログ信号を増幅するゲインを、前記第１のデジタル信号を生成する回路が２値化処理可能な範囲で調整するものである。
【００１６】
本発明に係る光ディスク装置は、光ディスクのバーストカッティング領域またはデータ領域における反射光から生成されたアナログ信号を増幅してＢＣＡ信号またはディフェクト信号を生成する検出回路と、前記生成されたＢＣＡ信号をデコードしてＢＣＡデータを再生するＢＣＡデコーダと、前記生成されたディフェクト信号に応じてサーボ信号をホールドするホールド回路と、前記バーストカッティング領域においては、前記アナログ信号を増幅した信号が前記検出回路のダイナミックレンジの範囲内となるように、前記検出回路における前記アナログ信号を増幅するゲインを調整し、前記データ領域においては、前記再生されたＢＣＡデータにより決定される前記光ディスクのメディア種別に基づいて、前記アナログ信号を増幅した信号が前記検出回路のダイナミックレンジの範囲内となるように前記ゲインを調整する制御回路と、を備えるものである。
【００１７】
本発明では、光ディスクのバーストカッティング領域から読み出した第１のアナログ信号のゲインを最適値に調整するため、光ディスクや光ピックアップユニットに応じて安定して再生動作することができる。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、光ディスクや光ピックアップユニットに応じて安定して再生動作することが可能な半導体装置、光ディスク装置及び光ディスクの制御方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の実施の形態１に係る光ディスク装置の構成を示す構成図である。
【図２】本発明の実施の形態１に係るディフェクト検出回路の構成を示す構成図である。
【図３】本発明の実施の形態１に係るＢＣＡ検出回路の構成を示す構成図である。
【図４】本発明の実施の形態１に係る光ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【図５】本発明の実施の形態１に係る光ディスク装置の参考例の動作を示すフローチャートである。
【図６】本発明の実施の形態１に係る光ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【図７】本発明の実施の形態１に係る光ディスク装置で用いるゲインとエンベロープ信号との関係を示すグラフである。
【図８】本発明の実施の形態１に係る光ディスク装置の動作例を説明するための波形図である。
【図９】本発明の実施の形態１に係る光ディスク装置の動作例を説明するための波形図である。
【図１０】本発明の実施の形態１に係る光ディスク装置の動作例を説明するための波形図である。
【図１１】本発明の実施の形態１に係る光ディスク装置の動作例を説明するための波形図である。
【図１２】本発明の実施の形態１に係る光ディスク装置の動作例を説明するための波形図である。
【図１３】本発明の実施の形態２に係る光ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【図１４】本発明の実施の形態３に係る光ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【図１５】本発明の実施の形態３に係る光ディスク装置の動作例を説明するための波形図である。
【図１６】本発明の実施の形態４に係る光ディスク装置の構成を示す構成図である。
【図１７】本発明の実施の形態４に係るディフェクト／ＢＣＡ検出回路の構成を示す構成図である。
【図１８】本発明の実施の形態４に係る光ディスク装置の動作を示すフローチャートである。
【図１９】一般的な光ディスクの構成を示す構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
（本発明の実施の形態１）
以下、図面を参照して本発明の実施の形態１について説明する。図１は、本発明の実施の形態１に係る光ディスク装置１の構成を示している。この光ディスク装置１は、たとえば、光ディスク４００としてＢＤディスクやＤＶＤディスク、ＣＤディスクなど各種ディスクのデータを再生する装置である。また、光ディスク装置１は、必要に応じて光ディスクにデータを記録することもできる。
【００２１】
光ディスク装置１は、図１に示すように、半導体装置１００、光ピックアップユニット（ＯＰＵ）２００、駆動ドライバ３００、スピンドルモータ４０１を備えている。
【００２２】
光ディスク４００は、ターンテーブルに搭載され、再生動作時において、スピンドルモータ４０１によって一定速度（ＣＡＶ）方式または、一定角速度（ＣＬＶ）方式により、駆動回転される。そして、光ディスク４００に、エンボスピット形態、磁界変調ピット形態、相変化ピット形態、色素変化ピット形態などで記録されているデータが、光ピックアップユニット２００によって読み出される。
【００２３】
光ピックアップユニット２００は、図１に示すように、レーザダイオード２０１、コリメータレンズ２０２、ＡＰＣ用偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）２０３、グレーティング２０４、信号処理用偏光ビームスプリッタ２０５、１／４λ板２０６、ビームエクスパンダ２０７、対物レンズ２０８、集光レンズ２０９、ＦＭＤ（Front Monitor Diode）２１０、検出レンズ２１１、光検出器（ＰＤ：Photo Detector）２１２、ビームエクスパンダ駆動ユニット２１３、アクチュエータ２１４、ＡＰＣ（Auto Power Control）回路２１５、レーザドライバ２１６を備えている。
【００２４】
レーザダイオード２０１は、データの読み出し／書き込み時に、レーザドライバ２１６の駆動信号に応じて、光ディスク４００へレーザ光を照射する半導体レーザである。特に図示しないが、Ｂｌｕ−ｒａｙ用、ＤＶＤ用、ＣＤ用と３波長に対応した、それぞれのレーザダイオードを搭載し、切り替え可能な回路構成となっている。
【００２５】
コリメータレンズ２０２は、レーザダイオード２０１から出射されるレーザ光を平行光にするためのレンズである。ＡＰＣ用偏光ビームスプリッタ２０３は、レーザ光をＦＭＤ２１０でモニターするための偏光板である。グレーティング２０４は、レーザダイオード２０１から出射されるレーザ光から、光ディスク４００のデータの読み出し／書き込みに使用する周波数を抽出するための分光格子である。
【００２６】
信号処理用偏光ビームスプリッタ２０５は、レーザダイオード２０１から出射されるレーザ光を光ディスク４００へ透過させ、光ディスク４００からの反射光を反射して光検出器２１２で検出するための偏光板である。１／４λ板２０６は、レーザダイオード２０１から出力されるレーザ光は複屈折が発生し、光波が楕円状態となっているため、このレーザ光を円状態に補正する波長板である。
【００２７】
ビームエクスパンダ２０７は、凹レンズ２０７ａ及び凸レンズ２０７ｂから構成され、レーザ光の径を拡げるための球面収差補正機構である。ビームエクスパンダ２０７は、凹レンズ２０７ａを光軸に沿って前後に動かしてレーザ光の径を拡げたり、縮めたりすることで、光ディスク４００の保護層の厚みのばらつき等による球面収差を吸収する。
【００２８】
対物レンズ２０８は、ビームエクスパンダ２０７を介して出射されるレーザ光を光ディスク４００の所望の層に焦点（フォーカス）を合わせるための凸レンズである。集光レンズ２０９は、ＡＰＣ用偏光ビームスプリッタ２０３が偏光した光をＦＭＤ２１０に収束させるための凸レンズである。
【００２９】
ＦＭＤ２１０は、ＡＰＣ用偏光ビームスプリッタ２０３が偏光し、集光レンズ２０９が収束させたレーザダイオード２０１のレーザ光をモニターするためのフォトダイオードである。ＦＭＤ２１０は、レーザ光の光量に応じた電流を出力する。
【００３０】
ＡＰＣ回路２１５は、ＦＭＤ２１０からの電流に応じて、レーザドライバ２１６及びレーザダイオード２０１にフィードバック制御する自動出力制御回路である。ＡＰＣ回路２１５は、ＦＭＤ２１０から出力される電流を電流電圧変換し、変換された電圧が一定になるように、レーザドライバ２１６のレーザ電流を制御し、レーザダイオード２０１の出射パワーが一定になるように制御する。レーザドライバ２１６は、レーザダイオード２０１に出力用の電流を加えることで、レーザダイオード２０１のレーザ光出力を制御する駆動回路である。
【００３１】
検出レンズ２１１は、信号処理用偏光ビームスプリッタ２０５から出力された、光ディスク４００からの反射光を光検出器２１２上で焦点を合わせるためのシリンドリカルレンズ等である。光検出器２１２は、検出レンズ２１１で焦点合わせが終わった光ディスク４００からの反射光が所定の光起電力を生じる光量か否かを検出するフォトダイオードの集合体である。
【００３２】
光ディスク４００からの反射光情報は、光検出器２１２によって検出され、受光光量に応じた電気信号すなわち、電流−電圧変換され、半導体装置１００の受光信号処理部１１０に供給される。例えば、光検出器２１２は、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの４つの領域に田の字状に分割されている。そして、光検出器２１２は、４つの各領域で検出された信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを電気信号として出力する。また、信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄとは別にデータを示すＲＦ（Radio Frequency）信号を出力することも可能である。
【００３３】
アクチュエータ２１４は、焦点距離の位置合わせを行う機械的な構成要素である。ビームエクスパンダ駆動ユニット２１３は保護層の厚みのばらつき等による球面収差の調整を行い、アクチュエータ２１４は読み込み／書き込み動作中の焦点位置の微調整を行うための位置制御機構であり、主にコイルと磁石等で構成される。
【００３４】
ビームエクスパンダ駆動ユニット２１３は、ビームエクスパンダ２０７の凹レンズ２０７ａの位置を調整する駆動モジュールである。ビームエクスパンダ駆動ユニット２１３は、ステッピングモータ２１３ａ及びアーム２１３ｂを有しており、ステッピングモータ２１３ａを動作させることで、アーム２１３ｂが支持する凹レンズ２０７ａを移動させる。
【００３５】
アクチュエータ２１４は、対物レンズ２０８の位置を調整するための駆動装置である。例えば、アクチュエータ２１４は、フォーカスコイル、トラッキングコイルによる二軸機構の駆動装置であり、対物レンズ２０８をトラッキング方向、およびフォーカス方向に移動可能に保持している。アクチュエータ２１４により対物レンズ２０８は光ディスク４００に設けられたピットの追従などのために微少な補正を行うことが可能となる。
【００３６】
例えば、実使用時には光検出器２１２と半導体装置１００、駆動ドライバ３００との間でフィードバックループを形成しＦＥ（フォーカスエラー）信号が検出できるように対物レンズ２０８の位置が自動的に補正されながら追従動作する。また、実使用前の事前の設定時には、フィードバックループを切って、上位の回路（例えば後述する半導体装置１００のシステムコントローラ１３０）から位置決めを行うこともできる。
【００３７】
なお、光ピックアップユニット２００全体は、スライダ機構（不図示）によりディスク半径方向に移動可能とされている。光ディスク４００の内周側には、スタートリミットスイッチ（不図示）が備えられており、光ピックアップユニット２００の位置を検出可能となっている。
【００３８】
半導体装置１００は、図１に示すように、受光信号処理部１１０、サーボプロセッサ部１２０及びシステムコントローラ１３０を備えている。
【００３９】
受光信号処理部１１０は、光検出器２１２から入力される各信号をサーボプロセッサ部１２０で処理可能な信号に変換するアナログ回路である。なお、受光信号処理部１１０は、デジタル回路で構成されていても良い。受光信号処理部１１０は、マトリクスアンプ１１１、ＦＥ調整回路１１２、レジスタ１１３を備えている。
【００４０】
マトリクスアンプ１１１は、マトリクス演算処理により、光検出器２１２の信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄから必要な信号を生成する。ここでは、マトリクスアンプ１１１は、信号（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）の演算からフォーカス方向に制御するためのＦＥ信号を生成し、信号（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）の演算からＨＦＰＥ信号（ＲＦ信号）を生成する。
【００４１】
また、光検出器２１２から信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの他にＲＦ信号が入力される場合、ＲＦ信号をＨＦＰＥ信号として出力しても良い。なお、マトリクスアンプ１１１は、その他、トラッキング方向に制御するためのＴＥ（トラッキングエラー）信号やＷｏｂｂｌｅ信号なども生成する。
【００４２】
レジスタ１１３は、ＦＥ信号のバランス／振幅を調整するための調整値（ＦＢＡＬ／ＬＥＢＥＬ）を格納する。この調整値はシステムコントローラ１３０から設定することができる。ＦＥ調整回路１１２は、レジスタ１１３に格納された調整値に応じて、マトリクスアンプ１１１が生成したＦＥ信号のバランス／振幅を調整し、調整後のＦＥ信号を出力する。
【００４３】
なお、ここでは、データを再生・記録するための構成については図示を省略している。例えば、半導体装置１００は、受光信号処理部１１０から出力されるＲＦ信号からデータを再生するデータ復調回路やデータを光ディスクに記録するために変調等を行うデータ変調部などを有している。データ復調回路は、ＲＦ信号に対して、２値化処理や、再生クロック生成処理、記録データフォーマットに対するデコード処理、エラー訂正処理などを行い、また圧縮データが読み出されるシステムの場合は圧縮に対する伸長処理などを行って、再生データを得ることができる。
【００４４】
サーボプロセッサ部１２０は、受光信号処理部１１０により生成されたＦＥ信号などサーボ信号に応じて、駆動ドライバ３００にドライブ信号を出力し、各サーボ動作を制御する。また、サーボプロセッサ部１２０は、システムコントローラ１３０からの指令にしたがって各サーボ動作の制御を行うこともできる。
【００４５】
サーボプロセッサ部１２０は、受光信号処理部１１０から生成されるＦＥ信号からフォーカスドライブ信号を生成しサーボ動作を実行させる。即ち、サーボプロセッサ部１２０は、ＦＥ信号に応じてフォーカスドライブ信号を生成し、駆動ドライバ３００に供給する。そうすると、駆動ドライバ３００は、光ピックアップユニット２００のアクチュエータ２１４におけるフォーカスコイルに電流が流れることで駆動し、フォーカスサーボ動作が行われる。これによって、光ピックアップユニット２００、受光信号処理部１１０、サーボプロセッサ部１２０、駆動ドライバ３００によるフォーカスサーボループが形成される。
【００４６】
なお、サーボプロセッサ部１２０は、ＦＥ信号の制御と同様にして、ＴＥ信号からトラッキングドライブ信号を生成し、トラッキングサーブループを生成して、トラッキングサーボ動作が行われる。
【００４７】
サーボプロセッサ部１２０は、図１に示すように、位相補償回路１２１、ホールド回路１２２、ＦＥ検出部１２３、フォーカス引込回路１２４、スイッチ１２５、加算器１２６、駆動電圧発生回路１２７、ディフェクト（Ｄｅｆｅｃｔ）検出回路１３１、ＢＣＡ検出回路１３２、ＢＣＡデコーダ１３３、レジスタ１３４、ステッピングモータ駆動回路１３５、レジスタ１３６、スピンドルモータ駆動回路１３７を備えている。
【００４８】
位相補償回路１２１は、サーボループを安定させるためにサーボ帯域やＤＣゲインなどを決定する回路である。
【００４９】
ホールド回路１２２は、ディフェクト検出回路１３１が生成するディフェクト信号に応じて、フォーカスドライブ信号をホールドする。ホールド回路１２２は、ディフェクト検出回路１３１により欠陥が検出されている間、フォーカスドライブ信号をホールドして欠陥検出前のＤＣレベルを出力し続ける。
【００５０】
ＦＥ検出部１２３は、受光信号処理部１１０が生成したＦＥ信号に基づいて、フォーカスエラーを検出する。例えば、ＦＥ検出部１２３は、ＦＥ信号と閾値とをコンパレータにより比較し、ＦＥ信号が閾値を超えた回数によりフォーカスエラーを検出する。そして、コンパレータの閾値（コンパレータレベル）や回数はシステムコントローラ１３０からレジスタ（不図示）に設定することができる。
【００５１】
また、ＦＥ検出部１２３は、発生したフォーカスエラーの情報を格納する格納領域（不図示）を有している。例えば、フォーカスエラー情報として、ＦＥ個数／ＦＥレベル／ＦＥ検出時間を格納することができる。そして、システムコントローラ１３０は格納領域にアクセスすることで、フォーカスエラーのＦＥ個数／ＦＥレベル／ＦＥ検出時間等の情報を得ることが出来る。
【００５２】
フォーカス引込回路１２４は、ＦＥ検出部１２３が検出したフォーカスエラーに応じて、スイッチ１２５をＯＮし、ホールド回路１２２と駆動ドライバ３００とを接続する。ＦＥ検出部１２３に閾値／個数を設定することで、フォーカス引込回路１２４を作動させ、スイッチ１２５をＯＮすることでフォーカスループを閉じる（フォーカスを引き込む）。
【００５３】
駆動電圧発生回路１２７は、フォーカスドライブ信号のＦＯＤ（フォーカスドライブ）電圧を生成する回路である。駆動電圧発生回路１２７が生成したＦＯＤ電圧は、加算器１２６により、ファーカスドライブ信号に加算される。システムコントローラ１３０からレジスタ（不図示）にＦＯＤ電圧更新時間、ＦＯＤ更新電圧を設定可能であり、任意のＦＯＤ電圧を生成することができ、フォーカス引込み時に使用する。
【００５４】
ディフェクト検出回路１３１は、受光信号処理部１１０が生成したＨＦＰＥ信号（第２のアナログ信号）に基づいて光ディスク４００のディフェクト（欠陥）を検出するディフェクト信号（第２のデジタル信号）を出力する。後述するように、本実施形態のディフェクト検出回路１３１は、光ディスクの種別に応じてＨＦＰＥ信号のゲインを調整することで、精度よくディフェクト信号を生成する。
【００５５】
ＢＣＡ検出回路１３２は、光ディスク４００のＢＣＡ領域から読み出され、受光信号処理部１１０が生成したＨＦＰＥ信号（第１のアナログ信号）に基づいて、ＢＣＡ信号（第１のデジタル信号）を出力する。ここでは、ＨＦＰＥ信号から生成された２値化信号をＢＣＡ信号と称する。後述するように、本実施形態のＢＣＡ検出回路１３２は、ダイナミックレンジの範囲内の信号となるようにＨＦＰＥ信号のゲインを調整することで、精度よくＢＣＡ信号を生成する。
【００５６】
ＢＣＡデコーダ１３３は、ＢＣＡ検出回路１３２が検出したＢＣＡ信号をデコードし、ＢＣＡデータを再生する。例えば、再生したＢＣＡデータは、システムコントローラ１３０により取得されてメモリに格納される。
【００５７】
レジスタ１３４は、ステッピングモータ２１３ａを駆動するための設定値を格納する。例えば、この設定値は、システムコントローラ１３０から設定される。ステッピングモータ駆動回路１３５は、レジスタ１３４に格納された設定値に応じて、ステッピングモータドライブ信号を生成し、駆動ドライバ３００を介してステッピングモータ２１３ａの動作を制御する。
【００５８】
レジスタ１３６は、スピンドルモータ４０１を駆動するための設定値を格納する。例えば、この設定値は、システムコントローラ１３０から設定される。スピンドルモータ駆動回路１３７は、レジスタ１３６に格納された設定値に応じて、スピンドルモータドライブ信号を生成、駆動ドライバ３００を介してスピンドルモータ４０１の動作を制御する。
【００５９】
システムコントローラ１３０は、光ディスク装置１の各部の動作を制御し、特に、ＡＰＣ回路２１５、レーザドライバ２１６、受光信号処理部１１０及びサーボプロセッサ部１２０の制御を行う。例えば、システムコントローラ１３０は、ＣＰＵ，メモリ等を有しており、制御プログラムを実行することで、光ディスク装置１の各部の制御動作を実現している。
【００６０】
駆動ドライバ３００は、サーボプロセッサ部１２０からの制御信号に応じて、ビームエクスパンダ駆動ユニット２１３内のステッピングモータ２１３ａ、アクチュエータ２１４、スピンドルモータ４０１を駆動する駆動回路である。駆動ドライバ３００からの駆動によって対物レンズ２０８８を動かし、光ディスク４００の適切な層に焦点を合わせ、また、光ディスク４００の回転動作を制御する。
【００６１】
図２は、本発明の実施の形態１に係るディフェクト検出回路１３１の回路構成を示している。図２に示すように、ディフェクト検出回路１３１は、ゲインアンプ１１、ＬＰＦ（ローパスフィルタ）１２、トップエンベロープ回路１３ａ、トップホールド回路１４ａ、減算器１５ａ、ボトムエンベロープ回路１３ｂ、ボトムホールド回路１４ｂ、減算器１５ｂ、乗算器１６、スイッチＳＷ１、スイッチＳＷ２、コンパレータ回路１７、ハザード除去回路１８を備えている。
【００６２】
ゲインアンプ１１は、受光信号処理部１１０からＨＦＰＥ信号が入力され、設定されたゲインでＨＦＰＥ信号を増幅して出力する。ゲインアンプ１１のゲインは、システムコントローラ１３０により、光ディスクの種別に応じて、かつ、ダイナミックレンジの範囲となるように設定される。
【００６３】
ＬＰＦ１２は、ゲインアンプ１１により増幅されたＨＦＰＥ信号が入力され、このＨＦＰＥ信号に重畳した高周波ノイズを除去するためのフィルターである。
【００６４】
トップエンベロープ回路１３ａは、ＬＰＦ１２を通過したＨＦＰＥ信号のトップエンベロープ（上側包絡線）を検出して、ＴＯＰＥＮＶ（トップエンベロープ）信号を出力する。
【００６５】
トップホールド回路１４ａは、トップエンベロープ回路１３ａにより生成されたＴＯＰＥＮＶ信号が入力され、このＴＯＰＥＮＶ信号のトップレベルをホールドしたＴＯＰＨＬＤ（トップホールド）信号を出力する。トップホールド回路１４ａは、時定数が大きい回路構成とすることで、トップレベルをホールドした信号が生成される。
【００６６】
トップホールド回路１４ａにより生成されたＴＯＰＨＬＤ信号は、減算器１５ａにより基準電圧ＶＲＥＦＰＥが差し引かれる。
【００６７】
ボトムエンベロープ回路１３ｂは、ＬＰＦ１２を通過したＨＦＰＥ信号のボトムエンベロープ（下側包絡線）を検出して、ＢＯＴＥＮＶ（ボトムエンベロープ）信号を出力する。
【００６８】
ボトムホールド回路１４ｂは、ボトムエンベロープ回路１３ｂにより生成されたＢＯＴＥＮＶ信号が入力され、このＢＯＴＥＮＶ信号のボトムレベルをホールドしたＢＯＴＨＬＤ（ボトムホールド）信号を出力する。ボトムホールド回路１４ｂは、トップホールド回路１４ａと同様に時定数が大きいため、ボトムレベルをホールドした信号が生成される。
【００６９】
減算器１５ｂにより基準電圧ＶＲＥＦＰＥから、ボトムホールド回路１４ｂにより生成されたＢＯＴＨＬＤ信号が差し引かれる。
【００７０】
スイッチＳＷ１は、トップエンベロープ回路１３ａにより生成されたＴＯＰＥＮＶ信号、または、ボトムエンベロープ回路１３ｂにより生成されたＢＯＴＥＮＶ信号のいずれかを選択して、コンパレータ回路１７へ出力する。スイッチＳＷ１は、システムコントローラ１３０により光ディスクの種別に応じて、接続が切り替えられる。
【００７１】
スイッチＳＷ２は、減算器１５ａ及び減算器１５ｂと乗算器１６との接続を切り替える。スイッチＳＷ２の切り替えにより、ＴＯＰＨＬＤ信号から基準電圧ＶＲＥＦＰＥが差し引かれた信号に対し乗算器１６により所定倍に乗算されて閾値Ｄｆｔｄａｃ（第２の閾値）が生成され、また、基準電圧ＶＲＥＦＰＥからＢＯＴＨＬＤ信号が差し引かれた信号に対し乗算器１６により所定倍に乗算されて閾値Ｄｆｔｄａｃ（第２の閾値）が生成される。スイッチＳＷ２の切り替えにより、生成されるいずれかの閾値Ｄｆｔｄａｃが、乗算器１６からコンパレータ回路１７へ出力される。スイッチＳＷ２は、システムコントローラ１３０により光ディスクの種別に応じて、接続が切り替えられる。
【００７２】
コンパレータ回路１７は、一方の入力端子にスイッチＳＷ１を介してＴＯＰＥＮＶ信号またはＢＯＴＥＮＶ信号のいずれかが入力され、他方の入力端子にスイッチＳＷ２及び乗算器１６を介してＴＯＰＨＬＤ信号またはＢＯＴＨＬＤ信号のいずれかに基づいた閾値Ｄｆｔｄａｃが入力され、２つの入力信号の比較結果をディフェクト信号として出力する。
【００７３】
ハザード除去回路１８は、コンパレータ回路１７が生成したディフェクト信号が入力され、このディフェクト信号に含まれるハザード（ノイズ）を除去して、除去後のディフェクト信号を出力する。
【００７４】
図３は、本発明の実施の形態１に係るＢＣＡ検出回路１３２の回路構成を示している。図３に示すように、ＢＣＡ検出回路１３２は、ゲインアンプ２１、ＬＰＦ（ローパスフィルタ）２２、トップエンベロープ回路２３ａ、トップホールド回路２４ａ、減算器２５、乗算器２６、ボトムエンベロープ回路２３ｂ、ボトムホールド回路２４ｂ、コンパレータ回路２７、ハザード除去回路２８を備えている。なお、ＢＣＡ検出回路１３２の各回路は、ディフェクト検出回路１３１の各回路に対応しており、主な機能は同様であるため、簡略化して説明する。
【００７５】
ゲインアンプ２１は、ＨＦＰＥ信号を設定されたゲインで増幅し、増幅後のＨＦＰＥ信号はＬＰＦ２２を介して出力される。ゲインアンプ２１のゲインは、システムコントローラ１３０により、ＨＦＰＥ信号がダイナミックレンジの範囲内となるように設定される。
【００７６】
トップエンベロープ回路２３ａは、ＬＰＦ２２を通過したＨＦＰＥ信号からＴＯＰＥＮＶ信号を生成する。ディフェクト検出回路１３１のトップエンベロープ回路１３ａとＢＣＡ検出回路１３２のトップエンベロープ回路２３ａとでは、ドルーブレート（ＤｒｏｏｖｅＲａｔｅ：動作速度）が異なっている。光ディスク４００のＢＣＡ領域で読み取られる信号（ＨＦＰＥ）は、光ディスク４００のデータ領域で必要とされるサーボ帯域よりも周波数帯域が高いため、ＢＣＡ検出回路１３２のトップエンベロープ回路２３ａは、ディフェクト検出回路１３１のトップエンベロープ回路１３ａよりも、ドルーブレートが大きく（動作速度が速く）設定されている。各トップエンベロープ回路１３ａ、２３ａのドルーブレートは、システムコントローラ１３０から設定することができる。トップホールド回路２４ａは、ＴＯＰＥＮＶ信号をホールドしたＴＯＰＨＬＤ信号を生成する。
【００７７】
同様に、ボトムエンベロープ回路２３ｂは、ＬＰＦ２２を通過したＨＦＰＥ信号からＢＯＴＥＮＶ信号を生成し、ボトムホールド回路２４ｂは、ＢＯＴＥＮＶ信号をホールドしたＢＯＴＨＬＤ信号を生成する。ＢＣＡ検出回路１３２のボトムエンベロープ回路２３ｂは、ディフェクト検出回路１３１のボトムエンベロープ回路１３ｂよりも、ドルーブレートが大きく設定されている。
【００７８】
減算器２５により、トップホールド回路２４ａにより生成されたＴＯＰＨＬＤ信号から、ボトムホールド回路２４ｂにより生成されたＢＯＴＨＬＤ信号を差し引かれ、さらに、乗算器２６により所定倍に乗算されて、閾値Ｄｆｔｄａｃ（第１の閾値）が生成される。乗算器２６が信号を乗算する倍率は、システムコントローラ１３０により設定される。
【００７９】
コンパレータ回路２７は、一方の入力端子にＴＯＰＥＮＶ信号が入力され、他方の入力端子にＴＯＰＨＬＤ信号とＢＯＴＨＬＤ信号の差に基づいた閾値Ｄｆｔｄａｃが入力され、２つの入力信号の比較結果をＢＣＡ信号として出力する。ハザード除去回路１８は、比較結果のＢＣＡ信号からハザードを除去し出力する。ディフェクト検出回路１３１では、所定の基準電圧ＶＲＥＦＰＥとの差分に基づいて閾値が生成されたが、ＢＣＡ検出回路１３２では、ＴＯＰＨＬＤ信号とＢＯＴＨＬＤ信号との差分に基づいて閾値を生成している。ＢＣＡデータを読み出す段階では、光ディスクの種別が不明であるため、ＴＯＰＨＬＤ信号とＢＯＴＨＬＤ信号とから相対的に閾値を生成することで、精度よくＢＣＡ信号を生成することができる。
【００８０】
次に、本発明の実施の形態１に係る光ディスク装置１の動作について説明する。図４のフローチャートは、光ディスクがセットされてからＢＣＡ領域を読み出す前までの、光ディスク装置１の動作を示している。
【００８１】
図４に示すように、光ディスク４００がセットされると、光ディスク装置１はＢＤレーザをオンにする（Ｓ１０１）。例えば、レーザダイオード２０１は、ＢＤレーザやＤＶＤレーザとして動作するレーザであり、まず、光ディスク４００がＢＤディスクかどうか判定するため、システムコントローラ１３０は、レーザドライバ２１６から駆動制御して、レーザダイオード２０１をＢＤレーザとして発光させる。
【００８２】
次いで、光ディスク装置１は、各種回路のオフセット調整の後（Ｓ１０２）、フォーカススイープを行って（Ｓ１０３）、光ディスク４００がＢＤディスクかどうか判定する（Ｓ１０４）。システムコントローラ１３０は、半導体装置１００、光ピックアップユニット２００、駆動ドライバ３００の各回路を初期設定するためオフセットを調整する。そして、システムコントローラ１３０は、光ディスクが停止した状態で、駆動ドライバ３００からアクチュエータ２１４を駆動制御して対物レンズ２０８をスィープ（上下）させる。このときの光ディスク４００からの反射光の検出により光ディスク４００がＢＤディスクかどうか判定する。
【００８３】
Ｓ１０４において、光ディスク４００がＢＤディスクではないと判定された場合、光ディスク装置１は、ＢＤレーザをオフして（Ｓ１０５）、ＤＶＤディスクの判別を行う（Ｓ１０６）。また、Ｓ１０４において、光ディスク４００がＢＤディスクであると判定された場合、システムコントローラ１３０は、ＢＤディスクをさらに判別するため、駆動ドライバ３００から駆動制御してスピンドルモータ４０１の回転を開始する（Ｓ１０７）。
【００８４】
次いで、光ディスク装置１は、フォーカスサーチ（Ｓ１０８）、フォーカスサーボのオン（Ｓ１０９）を行う。ＦＥ信号に基づいてフォーカス引込回路１２４がフォーカスサーボループを動作させ、駆動ドライバ３００が駆動制御されて、アクチュエータ２１４によりフォーカス方向の位置を調整し、フォーカスサーボをオンにする。
【００８５】
次いで、光ディスク装置１は、光ピックアップユニット２００をＢＣＡ領域に移動する（Ｓ１１０）。システムコントローラ１３０は、ＢＣＡデータを読み出すために、光ピックアップユニット２００をスライダ機構などを使用して光ディスク４００の最内周まで移動させ、ＢＣＡ領域上の位置に停止させる。
【００８６】
ここで、図５を用いて、図４に続く動作として本発明適用前の参考例の動作を説明する。この参考例では、Ｓ１１０の後、ＢＣＡ領域の２値化データ（ＢＣＡ信号）を検出し（Ｓ２０１）、メディアを確定し（Ｓ２０２）、データ領域に移動し（Ｓ２０３）、トラッキングエラー信号のバランス及びレベルを調整し（Ｓ２０４）、トラッキングサーボのオン（Ｓ２０５）を行う。そして、コントロール領域（記録部）に移動し（Ｓ２０６）、ＨＦＰＥゲイン調整（Ｓ２０７）を行う。
【００８７】
図５の参考例では、ＢＣＡ領域でＢＣＡデータを読み出し、コントロール領域でＨＦＰＥゲイン調整を行っている。ＢＣＡデータの読み出す際に、ＨＦＰＥゲインが考慮されていないため、光ディスクによってはＢＣＡデータを正常に読み出せない場合がある。また、光ピックアップをシークさせたフォローイング状態でＨＦＰＥゲインの調整を行うため、調整中に未記録部分に突入している可能性もあり、データのある部分（記録部）で確実にゲイン調整ができているかどうか保障されない。
【００８８】
そこで、本実施形態では、ＢＣＡ領域でＨＦＰＥゲインを調整し、さらに、ＢＣＡ領域のメディア判別に基づいてＨＦＰＥゲインを調整することとした。図６は、図４に続く本発明の実施の形態１の動作を示している。
【００８９】
本実施形態では、図６に示すように、Ｓ１１０の後、光ディスク装置１は、ＢＣＡデータを精度よく読み出すため、ＨＦＰＥゲインを調整する（Ｓ２００）。システムコントローラ１３０は、ＢＣＡ検出回路１３２におけるＴＯＰＥＮＶ信号を参照し、ＴＯＰＥＮＶ信号がダイナミックレンジの範囲内となるように、ＢＣＡ検出回路１３２のゲインアンプ２１のゲインを調整する。例えば、ＴＯＰＥＮＶ信号が、ＴＯＰＥＮＶ信号を比較するコンパレータ回路２７のダイナミックレンジに収まるように調整する。
【００９０】
次いで、光ディスク装置１は、ＢＣＡ領域の２値化データを検出し（Ｓ２０１）、メディアを確定する（Ｓ２０２）。ＢＣＡ検出回路１３２は、調整されたゲインでＨＦＰＥ信号を増幅し、ＴＯＰＥＮＶ信号と閾値とを比較して、２値化データ（ＢＣＡ信号）を生成する。そして、ＢＣＡデコーダが２値化データ（ＢＣＡ信号）をデコードしてＢＣＡデータを再生する。システムコントローラ１３０は、このＢＣＡデータにより光ディスク４００が、ＨＴＬディスクであるか、あるいは、ＬＴＨディスクであるか、メディア種別を確定する。
【００９１】
次いで、光ディスク装置１は、光ピックアップユニット２００をデータ領域に移動し（Ｓ２０３）、トラッキングエラー信号のバランス及びレベルを調整し（Ｓ２０４）、トラッキングサーボをオン（Ｓ２０５）する。ＢＣＡデータの読み取りが終了したため、システムコントローラ１３０は、光ピックアップユニット２００をスライダ機構などを使用して光ディスク４００のデータ領域まで移動させる。サーボプロセッサ部１２０は、ＴＥ信号に基づいてトラッキングサーボループを動作させ、駆動ドライバ３００が駆動制御されて、アクチュエータ２１４によりトラッキング方向の位置を調整し、トラッキングサーボをオンにする。
【００９２】
次いで、光ディスク装置１は、Ｓ２０２のメディア確定結果に応じて次の調整処理を切り替えるためメディア種別を判定する（Ｓ２１０）。システムコントローラ１３０は、メディアに適したＨＦＰＥゲイン調整を行うため、Ｓ２０２でＢＣＡデータにより確定したメディア種別が、ＨＴＬディスクかＬＴＨディスクかどうか判定する。
【００９３】
Ｓ２０２のメディア確定結果がＨＴＬディスクである場合、光ディスク装置１は、ＨＴＬディスクに適したＨＦＰＥゲイン調整を行う（Ｓ２１１）。すなわち、システムコントローラ１３０は、ディフェクト検出回路１３１におけるＴＯＰＥＮＶ信号を参照し、ＴＯＰＥＮＶ信号がダイナミックレンジの範囲内となるように、ディフェクト検出回路１３１のゲインアンプ１１のゲインを調整する。例えば、ＴＯＰＥＮＶ信号が、ＴＯＰＥＮＶ信号を比較するコンパレータ回路１７のダイナミックレンジに収まるように調整する。また、システムコントローラ１３０は、スイッチＳＷ１、スイッチＳＷ２を制御し、コンパレータ回路１７が、ＴＯＰＥＮＶ信号と、ＴＯＰＨＬＤ信号に基づいた閾値Ｄｆｔｄａｃとを比較しディフェクト信号を生成するように設定する。
【００９４】
また、Ｓ２０２のメディア確定結果がＬＴＨディスクである場合、光ディスク装置１は、ＬＴＨディスクに適したＨＦＰＥゲイン調整を行う（Ｓ２１２）。すなわち、システムコントローラ１３０は、ディフェクト検出回路１３１におけるＢＯＴＥＮＶ信号を参照し、ＢＯＴＥＮＶ信号がダイナミックレンジの範囲内となるように、ディフェクト検出回路１３１のゲインアンプ１１のゲインを調整する。例えば、ＢＯＴＥＮＶ信号が、ＴＯＰＥＮＶ信号を比較するコンパレータ回路１７のダイナミックレンジに収まるように調整する。特に、ＢＯＴＥＮＶ信号から想定されるＴＯＰＥＮＶ信号がダイナミックレンジの範囲内となるように、ディフェクト検出回路１３１のゲインアンプ１１のゲインを調整する。また、システムコントローラ１３０は、スイッチＳＷ１、スイッチＳＷ２を制御し、コンパレータ回路１７が、ＢＯＴＥＮＶ信号と、ＢＯＴＨＬＤ信号に基づいた閾値Ｄｆｔｄａｃとを比較しディフェクト信号を生成するように設定する。
【００９５】
Ｓ２００，Ｓ２１１，Ｓ２１２のゲイン調整について、図７を用いてさらに説明する。図７は、ＨＦＰＥゲインとＴＯＰＥＮＶ信号及びＢＯＴＥＮＶ信号の関係の一例を示している。
【００９６】
ここでは、ＢＣＡ検出回路１３１及びディフェクト検出回路１３２のダイナミックレンジを１．４Ｖ〜２．４Ｖとする。本実施形態では、ＴＯＰＥＮＶ信号及びＢＯＴＥＮＶ信号が、このダイナミックレンジの範囲内となるようにゲインアンプ１１及び２１のＨＦＰＥゲインを調整する。ダイナミックレンジの範囲内であれば、信号に歪みがないため、正常にＢＣＡ信号やディフェクト信号を生成することができる。
【００９７】
図７に示すように、ディフェクト検出回路１３１及びＢＣＡ検出回路１３２において、ゲインアンプ１１及び２１のＨＦＰＥゲインを増加すると、ゲイン増加に伴って、ＴＯＰＥＮＶ信号及びＢＯＴＥＮＶ信号のレベルが増大する。そして、ＴＯＰＥＮＶ信号がダイナミックレンジの最大値（上限）に達すると、飽和状態となるため、それ以上にゲインを大きくしてもＴＯＰＥＮＶ信号は大きくならない。つまり、ダイナミックレンジを超えた信号はクリップしてしまい、入力信号から最大値以上の信号が除かれた信号となる。この飽和状態では、正常にＢＣＡ信号やディフェクト信号の生成を行うことができない。
【００９８】
このため、本実施形態では、特に、ＴＯＰＥＮＶ信号がダイナミックレンジの最大値（上限）よりも小さい値となるようにゲインアンプ１１及び２１のゲインを設定する。ここでは、図７（ａ）の７ｄＢが最適なゲインとなる。例えば、ＴＯＰＥＮＶ信号をダイナミックレンジの最大値２．４Ｖよりも０．２Ｖ小さい２．２Ｖ程度とする。ＴＯＰＥＮＶ信号が、ダイナミックレンジの１０％〜２０％程度低くして、最大値からマージンを設けることが好ましい。
【００９９】
Ｓ２００のＢＣＡ領域でのゲイン調整、及び、Ｓ２１１のＨＴＬディスクでのゲイン調整では、未記録部分が最大値となるため、未記録部分のＴＯＰＥＮＶ信号を考慮し、ＴＯＰＥＮＶ信号が最適値の２．２Ｖとなるようにゲインを設定する（図７（ｂ））。
【０１００】
また、Ｓ２１２のＬＴＨディスクでのゲイン調整では、未記録部分が最小値となるため、未記録部分のＢＯＴＥＮＶ信号を考慮して、ＢＯＴＥＮＶ信号からＴＯＰＥＮＶ信号のレベルを想定し、想定したＴＯＰＥＮＶ信号が最適値の２．２Ｖとなるようにゲインを設定する（図７（ｃ））。ＢＯＴＥＮＶ信号からＴＯＰＥＮＶ信号までの幅は、ゲインに応じて想定することができる。例えば、図７のような、ゲインに応じたＢＯＴＥＮＶ信号とＴＯＰＥＮＶ信号の幅が予めわかっていれば、ＢＯＴＥＮＶ信号の最適値が約１．８Ｖと想定することができ、ＢＯＴＥＮＶ信号が１．８Ｖとなるようにゲインを設定する。
【０１０１】
図６及び図７のように、ＢＣＡ領域でＨＦＰＥゲイン調整を行うことで、図５の参考例と比べて、ＢＣＡ内の反射率に適したＨＦＰＥレベルとすることができ、ＢＣＡ信号（ＢＣＡデータ）の検出精度を向上することが可能となる。また、図６及び図７のように、ＢＣＡ領域でメディア判別した結果を元に、ＨＴＬディスクまたはＬＴＨディスクを判別し、ＨＦＰＥゲインを調整することで、記録・未記録部を考慮せずに適切にＨＦＰＥゲインを調整することができる。
【０１０２】
次に、図８〜図１２を用いて、本発明の実施の形態１に係る光ディスク装置１を動作させた場合の波形例について説明する。
【０１０３】
図８〜図１０は、ＢＣＡ検出回路１３２の動作を示す波形例である。図８は、ＨＦＰＥゲインを最適値に調整した場合、図９は、ＨＦＰＥゲインを最適値よりも−１２ｄＢとした場合、図１０は、ＨＦＰＥゲインを最適値よりも＋１２ｄＢとした場合の波形である。
【０１０４】
図８に示すように、ＢＣＡ検出回路１３２にＨＦＰＥ信号５０１が入力される。ＨＦＰＥ信号５０１の波形で大きく下降して突出している部分がＢＣＡデータとして記録されているＢＣＡ記録部分である。
【０１０５】
図８では、最適なゲインでＨＦＰＥ信号５０１が増幅され、そのトップエンベロープによりＴＯＰＥＮＶ信号５０２が生成される。また、ＨＦＰＥ信号５０１のトップエンベロープからボトムエンベロープが差し引かれ、所定倍されて、閾値Ｄｆｔｄａｃ５０３が生成される。ＴＯＰＥＮＶ信号５０２と閾値Ｄｆｔｄａｃ５０３とが比較され、ＴＯＰＥＮＶ信号５０２が閾値Ｄｆｔｄａｃ５０３よりも低い場合にハイレベルとなるＢＣＡ信号５０４が生成される。図８では、ＨＦＰＥゲインが最適であり、ＨＦＰＥ信号５０１（増幅後の信号）がダイナミックレンジ内であるため、ＴＯＰＥＮＶ信号５０２が全てのＢＣＡ記録部分で閾値を跨いで超えており、正確にＢＣＡ信号を生成することができている。
【０１０６】
また、図９に示すように、ＢＣＡ検出回路１３２にＨＦＰＥ信号５１１が入力される。図９では、ＨＦＰＥ信号５１１が−１２ｄＢのゲインで増幅されるため、ＴＯＰＥＮＶ信号５１２において、ＢＣＡ記録部分の突出する振幅が非常に小さくなっている。そうすると、ＢＣＡ記録部分において、ＴＯＰＥＮＶ信号５１２が、閾値Ｄｆｔｄａｃ５１３を跨いで超えることができない場合が生じる。このため、図９（ａ）の部分で、ＢＣＡ記録部分を検出することができず、正確にＢＣＡ信号を生成できていない。
【０１０７】
また、図１０に示すように、ＢＣＡ検出回路１３２にＨＦＰＥ信号５２１が入力される。図１０では、ＨＦＰＥ信号５２１が＋１２ｄＢのゲインで増幅されるため、ダイナミックレンジを超えて信号がクリップし、ＴＯＰＥＮＶ信号５２２のＢＣＡ記録部分の突出する振幅が、ＨＦＰＥ信号５２１と比べて小さくなっている。このため、ＢＣＡ記録部分において、ＴＯＰＥＮＶ信号５２２が、閾値Ｄｆｔｄａｃ５２３を跨いで超えることができない場合が生じる。このため、図１０（ａ）の部分で、ＢＣＡ記録部分を検出することができず、正確にＢＣＡ信号を生成できていない。
【０１０８】
図１１及び図１２は、ディフェクト検出回路１３１の動作を示す波形例である。図１１は、ＨＴＬディスクの場合、図１２は、ＬＴＨディスクの場合の波形である。
【０１０９】
図１１では、ＨＴＬディスクにおいて、ＴＯＰＥＮＶ信号がダイナミックレンジ内となるようにＨＦＰＥゲインが調整されている。図１１に示すように、ディフェクト検出回路１３１にＨＦＰＥ信号５３１が入力される。ＨＦＰＥ信号５３１の波形で大きく下降して凹形となっている部分が光ディスクの欠陥部分である。
【０１１０】
図１１では、最適なゲインでＨＦＰＥ信号５３１が増幅され、そのトップエンベロープによりＴＯＰＥＮＶ信号５３２が生成される。また、ＴＯＰＥＮＶ信号５３２から基準電圧が差し引かれ、所定倍されて、閾値Ｄｆｔｄａｃ５３３が生成される。ＴＯＰＥＮＶ信号５３２と閾値Ｄｆｔｄａｃ５３３とが比較され、ＴＯＰＥＮＶ信号５３２が閾値Ｄｆｔｄａｃ５３３よりも低い場合にハイレベルとなるディフェクト信号５３４が生成される。図１１では、ＨＦＰＥゲインが最適であり、ＨＦＰＥ信号５３１（増幅後の信号）がダイナミックレンジ内であるため、ＴＯＰＥＮＶ信号５３２が全ての欠陥部分で閾値を跨いで超えており、正確にディフェクト信号を生成することができている。
【０１１１】
図１２では、ＬＴＨディスクにおいて、ＢＯＴＥＮＶ信号から想定されるＴＯＰＥＮＶ信号がダイナミックレンジ内となるようにＨＦＰＥゲインが調整されている。図１２に示すように、ディフェクト検出回路１３１にＨＦＰＥ信号５４１が入力される。ＨＦＰＥ信号５４１の波形で大きく下降して凹形となっている部分が光ディスクの欠陥部分である。
【０１１２】
図１２では、最適なゲインでＨＦＰＥ５４１が増幅され、そのボトムエンベロープによりＢＯＴＥＮＶ信号５４２が生成される。また、基準電圧からＢＯＴＥＮＶ信号５４２が差し引かれ、所定倍されて、閾値Ｄｆｔｄａｃ５４３が生成される。ＢＯＴＥＮＶ信号５４２と閾値Ｄｆｔｄａｃ５４３とを比較し、ＢＯＴＥＮＶ信号５４２が閾値Ｄｆｔｄａｃ５４３よりも低い場合にハイレベルとなるディフェクト信号５４４が生成される。図１２では、ＨＦＰＥゲインが最適であり、ＨＦＰＥ信号５４１（増幅後の信号）がダイナミックレンジ内であるため、ＢＯＴＥＮＶ信号５３２が全ての欠陥部分で閾値を跨いで超えており、正確にディフェクト信号を生成することができている。
【０１１３】
以上のように、本実施形態では、ＢＣＡ検出時のＨＦＰＥゲインを最適なゲインに調整するようにした。光ディスクごとに反射率等に個体差があるため、光ディスクによってＨＦＰＥ信号のレベルにばらつきが生じる場合があり、また、光ピックアップユニットでも光検出器の感度等に個体差があるため、光ピックアップユニットによってＨＦＰＥ信号のレベルにばらつきが生じる場合がある。本実施形態では、このような場合でも、ＢＣＡ信号を精度よく生成でき、ＢＣＡデータを正確に読み出すことができる。また、本実施形態では、この読み出したＢＣＡデータから確定されるメディア種別に応じて、ディフェクト検出時のＨＦＰＥゲインを最適なゲインに調整するようにした。これにより、ＨＴＬかＬＴＨかのメディアに応じて精度よくディフェクトを検出することができる。したがって、光ディスクや光ピックアップユニットに応じて、誤動作することなく安定して再生動作することができる。
【０１１４】
（本発明の実施の形態２）
以下、図面を参照して本発明の実施の形態２について説明する。実施の形態１では、ＢＣＡ検出回路におけるＨＦＰＥゲインの調整を行った。本実施形態では、実施の形態１に加えて、さらに、ＢＣＡ検出回路における閾値の変更を行う。なお、その他の構成や動作については、実施の形態１と同様である。
【０１１５】
図１３は、本発明の実施の形態２に係る光ディスク装置１の動作を示している。図１３は、図４に続く動作であり、実施の形態１の図６に対し、Ｓ３０１及びＳ３０２を追加しており、その他については同様である。
【０１１６】
図１３に示すように、Ｓ１１０の後、光ディスク装置１は、ＢＣＡ検出回路１３２のＨＦＰＥゲインを調整し（Ｓ２００）、ＢＣＡ領域の２値化データを検出する（Ｓ２０１）。
【０１１７】
次いで、光ディスク装置１は、ＢＣＡデータの検出が成功したかどうか判定する（Ｓ３０１）。Ｓ３０１でＢＣＡデータの検出が成功した場合には、実施の形態１と同様にＳ２０２以降の動作が実施される。
【０１１８】
Ｓ３０１でＢＣＡデータの検出が失敗した場合には、ＢＣＡ検出回路１３２の閾値Ｄｆｔｄａｃを変更する（Ｓ３０２）。例えば、ＢＣＡデコーダ１３３が正しくＢＣＡデータをデコードできない場合に失敗を検出する。Ｓ２００でＨＦＰＥゲインを調整しても、ＢＣＡデータを正常に読み出せない場合、システムコントローラ１３０は、ＢＣＡ検出回路１３２の乗算器２６の倍率を切り替えることで、閾値Ｄｆｔｄａｃを変更する。そして、変更後の閾値Ｄｆｔｄａｃを用いて、再度、２値化データの検出を行い（Ｓ２０１）、ＢＣＡデータが正常に読み出せるまで、閾値変更を繰り返す。なお、ＢＣＡ検出回路１３２に入力されるＨＦＰＥ信号のレベルが変動しない場合には、図１３のようにＨＦＰＥゲインは調整せずに、閾値変更のみでＢＣＡ検出を行うことが好ましい。
【０１１９】
また、ＢＣＡデータの検出が失敗した場合には、光ピックアップユニット２００がＢＣＡ領域上から外れている恐れがある。このため、ＢＣＡデータの検出が失敗した場合に光ピックアップユニット２００を移動させてもよい。光ビップアップユニット２００を移動した場合には、ＨＦＰＥ信号のレベルが変動するため、閾値変更（Ｓ３０２）と共にＨＦＰＥゲイン調整（Ｓ２００）を行うことが好ましい。
【０１２０】
また、ＢＣＡデータが記録されていない光ディスクも存在する。このため、閾値変更を所定の回数繰り返しても、ＢＣＡデータが読み出せない場合には、ＢＣＡデータが無いディスクとして、その他の方法でメディア種別を判定し、メディアＳ２０２以降の処理を実施する。
【０１２１】
このように、本実施形態では、ＢＣＡ検出回路において、ＢＣＡ検出のための閾値を可変に設定できるようにした。光ディスクによってＨＦＰＥ信号が大きく変化し、ＨＦＰＥゲインの調整だけでは、ＢＣＡデータを読み出せない場合でも、閾値を変更することで、正確にＢＣＡデータを読み出すことが可能となる。
【０１２２】
（本発明の実施の形態３）
以下、図面を参照して本発明の実施の形態３について説明する。実施の形態１では、ＢＣＡ検出回路におけるＨＦＰＥゲインの調整を行い、ＨＴＬディスクとＬＴＨディスクとでディフェクト検出回路におけるＨＦＰＥゲインの調整を行った。本実施形態では、実施の形態１に加えて、さらに、ＤＶＤ−ＲＡＭディスクに最適なディフェクト検出を行う。なお、その他の構成や動作ついては、実施の形態１と同様である。
【０１２３】
図１４は、本発明の実施の形態３に係る光ディスク装置１の動作を示している。図１４は、図４に続く動作であり、実施の形態１の図６に対し、Ｓ２１３及びＳ２１４を追加しており、その他については同様である。
【０１２４】
図１４に示すように、Ｓ２０５の後、光ディスク装置１は、Ｓ２０２のメディア確定結果に応じてメディア種別を判定する（Ｓ２１０）。Ｓ２０２のメディア確定結果がＨＴＬディスクの場合、ＨＴＬディスク用にＨＦＰＥゲイン調整を行い（Ｓ２１１）、２０２のメディア確定結果がＬＴＨディスクの場合、ＬＴＨディスク用にＨＦＰＥゲイン調整を行う（Ｓ２１２）。
【０１２５】
また、本実施形態では、Ｓ２０２のメディア確定結果がＤＶＤ−ＲＡＭディスクである場合には、ＤＶＤ−ＲＡＭディスクに適したＨＦＰＥゲイン調整を行う（Ｓ２１３）。すなわち、システムコントローラ１３０は、ディフェクト検出回路１３１におけるＴＯＰＨＬＤ信号を参照し、ＴＯＰＨＬＤ信号がダイナミックレンジの範囲内となるように、ディフェクト検出回路１３１のゲインアンプ１１のゲインを調整する。この場合、コンパレータ回路１７は、ＴＯＰＨＬＤ信号と、ＴＯＰＨＬＤ信号に基づいた閾値Ｄｆｔｄａｃとを比較しディフェクト信号を生成する。
【０１２６】
ＤＶＤ−ＲＡＭでは、他のＤＶＤやＢＤとは異なり案内溝がなくても記録再生ができるように、アドレス信号としてＰＩＤ（Physical ID）が埋め込まれている。このため、図１５のように、ＤＶＤ−ＲＡＭの場合、ＨＦＰＥ信号５５１は、ＰＩＤの影響による高周波ノイズを含む波形となる。そうすると、ＨＦＰＥ信号５５１のトップエンベロープであるＴＯＰＥＮＶ信号５５３も、同じようにＰＩＤの影響による高周波ノイズを含む波形となる。ＨＦＰＥゲイン調整を行う際に、ＰＩＤの部分を誤ってＨＦＰＥレベルとして取得してしまう問題があった。そのため、正確にディフェクトを検出することができない。このため、本実施形態では、ＴＯＰＥＮＶ信号５５３の代わりに、これをホールドしたＴＯＰＨＬＤ信号５５２を使用する。ＴＯＰＨＬＤ信号５５２は、時定数の高いトップホールド回路により生成されているため、ＰＩＤにより高周波成分が除去された滑らかな波形となる。したがって、ＨＦＰＥゲイン調整を正しくできるため、正確にディフェクトを検出することができる。
【０１２７】
なお、ここでは、ＤＶＤ−ＲＡＭの場合のみ、ホールド信号（ＴＯＰＨＬＤ信号）を用いたが、ＨＦＰＥレベルを取得する速度が低速でもよい場合には、ＨＴＬディスクには、ＴＯＰＨＬＤ信号を用い、ＬＴＨディスクには、ＢＯＴＨＬＤ信号を用いてＨＦＰＥレベル調整を行っても良い。
【０１２８】
（本発明の実施の形態４）
以下、図面を参照して本発明の実施の形態４について説明する。実施の形態１では、ディフェクト検出回路によりディフェクトを検出し、ＢＣＡ検出回路によりＢＣＡ信号を検出した。本実施形態では、１つのディフェクト回路でディフェクトとＢＣＡ信号の両方を検出する。ＢＣＡ領域でＢＣＡ検出する際のＨＦＰＥ信号は、データ領域でディフェクト検出する際のＨＦＰＥ信号と同様の波形となるため、ディフェクト検出回路とＢＣＡ検出回路とを共通化することができる。
【０１２９】
図１６は、本発明の実施の形態４に係る光ディスク装置１の構成を示している。図１６では、実施の形態１の図１と比べて、ディフェクト検出回路１３１及びＢＣＡ検出回路１３２の代わりに、ディフェクト／ＢＣＡ検出回路１３８を設け、さらにスイッチ１３９を有している。
【０１３０】
ディフェクト／ＢＣＡ検出回路１３８は、ＨＦＰＥ信号に基づいたディフェクト／ＢＣＡ検出結果をＢＣＡデコーダ１３３と、スイッチ１３９を介してホールド回路１２２へ出力する。スイッチ１３９は、システムコントローラ１３０に制御されて、ディフェクト／ＢＣＡ検出回路１３８とホールド回路１２２とを接続／切断を切り替える。
【０１３１】
ディフェクト／ＢＣＡ検出回路１３８は、光ディスクのＢＣＡ領域では、ディフェクト検出ではなくＢＣＡ信号の検出を行うため、スイッチ１３９をオフすることで、ホールド回路１２２によるホールドは行わない。また、光ディスクのデータ領域では、ディフェクト検出を行うため、スイッチ１３９をオンすることで、ディフェクトの検出に応じて、ホールド回路１２２によるホールドを行う。
【０１３２】
図１７は、本発明の実施の形態４に係るディフェクト／ＢＣＡ検出回路１３８の回路構成を示している。ディフェクト／ＢＣＡ検出回路１３８は、図２のディフェクト検出回路１３１と図３のＢＣＡ検出回路１３２とを１つの回路に共通化した構成となっている。図１７のディフェクト検出回路１３１は、図２のディフェクト検出回路１３１と比べて、スイッチＳＷ３が追加されており、その他の回路については同様である。
【０１３３】
スイッチＳＷ３は、基準電圧ＶＲＥＦＰＥまたはＢＯＴＨＬＤ信号のいずれかを選択して、減算器１５ａに出力する。スイッチＳＷ３は、システムコントローラ１３０により接続が切り替えられる。減算器１５ａは、ＴＯＰＨＬＤ信号から、スイッチＳＷ３が選択した基準電圧ＶＲＥＦＰＥまたはＢＯＴＨＬＤ信号のいずれかを差し引く。
【０１３４】
また、トップエンベロープ回路１３ａとボトムエンベロープ回路１３ｂとは、ドルーブレートが設定可能である。システムコントローラ１３０は、ＢＣＡ検出時は、トップエンベロープ回路１３ａとボトムエンベロープ回路１３ｂのドルーブレートを通常よりも高速に設定し、ディフェクト検出時は、トップエンベロープ回路１３ａとボトムエンベロープ回路１３ｂのドルーブレートを通常の速度に設定する。
【０１３５】
図１８は、本発明の実施の形態４に係る光ディスク装置１の動作を示している。図１８は、図４に続く動作であり、実施の形態１の図６に対し、Ｓ４０１及びＳ４０２を追加しており、その他については同様である。
【０１３６】
すなわち、Ｓ１１０の後、光ディスク装置１は、ディフェクト／ＢＣＡ検出回路１３８の設定を変更する（Ｓ４０１）。すなわち、ステムコントローラ１３０は、スイッチＳＷ１、ＳＷ２、ＳＷ３を切り替え、コンパレータ回路１７が、ＴＯＰＥＮＶ信号と、ＴＯＰＨＬＤ信号及びＢＯＴＨＬＤ信号の差分による閾値とを比較してＢＣＡ信号を生成するように制御する。また、システムコントローラ１３０は、ディフェクト／ＢＣＡ検出回路１３８によりＢＣＡ検出を行うため、ディフェクト／ＢＣＡ検出回路１３８のトップエンベロープ回路１３ａとボトムエンベロープ回路１３ｂのドルーブレートを通常よりも高速に設定する。また、スイッチ１３９を切り替えて、サーボホールドを無効に設定する。そして、図６と同様に、ＨＦＰＥゲインを調整し（Ｓ２００）、ＢＣＡの２値化データを検出し（Ｓ２０１）、メディアを確定する（Ｓ２０２）。
【０１３７】
次いで、光ディスク装置１は、ディフェクト／ＢＣＡ検出回路１３８の設定を復帰させる（Ｓ４０２）。すなわち、システムコントローラ１３０は、ディフェクト／ＢＣＡ検出回路１３８によりディフェクト検出を行うため、ディフェクト／ＢＣＡ検出回路１３８のトップエンベロープ回路１３ａとボトムエンベロープ回路１３ｂのドルーブレートを通常の設定に回復させる。また、スイッチ１３９を切り替えて、サーボホールドを有効に設定する。例えば、ＨＴＬディスクの場合、システムコントローラ１３０は、スイッチＳＷ３を切り替え、ＴＯＰＨＬＤ信号と基準電圧ＶＲＥＦＰＥの差分から閾値が生成されるように制御する。
【０１３８】
以降の動作は実施の形態１と同様である。
【０１３９】
このように、本実施形態では、ディフェクト検出回路とＢＣＡ検出回路とを１つの回路に共通化した。これにより、回路規模を縮小することができ、コスト削減を図ることができる。
【０１４０】
なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。
【符号の説明】
【０１４１】
１      光ディスク装置
１１    ゲインアンプ
１３ａ  トップエンベロープ回路
１３ｂ  ボトムエンベロープ回路
１４ａ  トップホールド回路
１４ｂ  ボトムホールド回路
１５ａ、１５ｂ  減算器
１６  乗算器
１７    コンパレータ回路
１８    ハザード除去回路
２１    ゲインアンプ
２３ａ  トップエンベロープ回路
２３ｂ  ボトムエンベロープ回路
２４ａ  トップホールド回路
２４ｂ  ボトムホールド回路
２５    減算器
２６    乗算器
２７    コンパレータ回路
２８    ハザード除去回路
１００  半導体装置
１１０  受光信号処理部
１１１  マトリクスアンプ
１１２  ＦＥ調整回路
１１３  レジスタ
１２０  サーボプロセッサ部
１２１  位相補償回路
１２２  ホールド回路
１２３  ＦＥ検出部
１２４  フォーカス引込回路
１２５  スイッチ
１２６  加算器
１２７  駆動電圧発生回路
１３０  システムコントローラ
１３１  ディフェクト検出回路
１３２  ＢＣＡ検出回路
１３３  ＢＣＡデコーダ
１３４  レジスタ
１３５  ステッピングモータ駆動回路
１３６  レジスタ
１３７  スピンドルモータ駆動回路
１３８  ディフェクト／ＢＣＡ検出回路
１３９  スイッチ
２００  光ピックアップユニット
２０１  レーザダイオード
２０２  コリメータレンズ
２０３  ＡＰＣ用偏光ビームスプリッタ
２０４  グレーティング
２０５  信号処理用偏光ビームスプリッタ
２０６  １／４λ板
２０７  ビームエクスパンダ
２０７ａ  凹レンズ
２０７ｂ  凸レンズ
２０８  対物レンズ
２０９  集光レンズ
２１１  検出レンズ
２１２  光検出器
２１３  ビームエクスパンダ駆動ユニット
２１３ａ  ステッピングモータ
２１３ｂ  アーム
２１４  アクチュエータ
２１５  ＡＰＣ回路
２１６  レーザドライバ
３００  駆動ドライバ
４００  光ディスク
４０１  スピンドルモータ
【図１】
2013161489.tif 000003
【図２】
2013161489.tif 000004
【図３】
2013161489.tif 000005
【図４】
2013161489.tif 000006
【図５】
2013161489.tif 000007
【図６】
2013161489.tif 000008
【図７】
2013161489.tif 000009
【図８】
2013161489.tif 000010
【図９】
2013161489.tif 000011
【図１０】
2013161489.tif 000012
【図１１】
2013161489.tif 000013
【図１２】
2013161489.tif 000014
【図１３】
2013161489.tif 000015
【図１４】
2013161489.tif 000016
【図１５】
2013161489.tif 000017
【図１６】
2013161489.tif 000018
【図１７】
2013161489.tif 000019
【図１８】
2013161489.tif 000020
【図１９】
2013161489.tif 000021