(57)【要約】【課題】平面状の記録再生層を有する光記録媒体の再生時に、ディスク表面の変形を含む欠陥が存在した状態で記録動作が行われた媒体においても、欠陥前後における連続したマーク列へのトラッキングを維持できるようにする。【解決手段】欠陥全体、あるいは一部のトラッキング動作の方法として、再生動作によってマーク列から得られたトラッキング制御信号に、フォーカス制御信号成分を加減算した信号を用いてトラッキング制御をおこなうことで、欠陥前後においてトラッキング位置を矯正した状態での再生動作を行なわせる。【選択図】図１０
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
トラッキング制御用の凹凸または溝を有するサーボ層と、予め積層されまたは事後的に形成されるトラッキング制御用の凹凸を有さない記録再生層と、を備えている光記録媒体の再生方法であって、マーク列を利用した位相差検出法又はマーク列を利用したプッシュプル法によって得られたトラッキング制御信号に、フォーカス制御信号を加減算してトラッキング制御をおこなうことを特徴とする光記録再生方法。
【請求項２】
フォーカス制御信号もしくはトラッキング制御信号の振幅に応じた係数をフォーカス制御信号に乗じて、トラッキング制御信号に加減算することを特徴とする請求項１に記載の光記録再生方法。
【請求項３】
フォーカス制御信号もしくはトラッキング制御信号の振幅の値が一定の閾値を超えたときのみ、フォーカス制御信号をトラッキング制御信号に加減算することを特徴とする請求項１又は２に記載の光記録再生方法。
【請求項４】
再生信号の欠落部直前のみ、フォーカス制御信号をトラッキング制御信号に加減算することを特徴とする請求項１乃至３いずれかに記載の光記録再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、トラッキング制御用の凹凸が無く、平面状の記録再生層を有する光記録媒体に対して情報を記録再生する光記録再生方法に関し、表面に局所的な変形を有する光記録媒体に記録されたデータを安定して読み取ることを実現する光記録再生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ディジタル動画コンテンツの視聴や、ディジタルデータの記録のために、ＣＤ−ＤＡ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ＋／−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ（ＢＤ）などの光記録媒体が広く利用されている。この中でも、次世代型ＤＶＤ規格の一つとされるＢＤは、記録再生に用いるレーザー光の波長を４０５ｎｍと短くし、対物レンズの開口数を０．８５に設定している。ＢＤ規格に対応した光記録媒体側は、０．３２μｍのピッチでトラックが形成される。このようにすることで、光記録媒体の１つの記録再生層に対して２５ＧＢ以上の記録再生を可能にしている。
【０００３】
ところで、動画やデータの容量は今後益々増大することが予想される。従って、光記録媒体における記録再生層を多層化することで光記録媒体の容量を増大させる方法が検討されている。ＢＤ規格の光記録媒体では、６層〜８層の記録再生層を設けることで、２００ＧＢもの超大容量を実現する技術も報告されている
【０００４】
一方、光記録媒体において記録再生層を多層化する場合、各記録再生層に対してグルーブ／ランド等のトラッキング制御用の凹凸を形成しようとすると、媒体構成が複雑となり、偏芯調整などの作業が困難になることが懸念される。また、記録再生層を設けるごとに凹凸を形成するための母型となるスタンパが必要となり、多層化すればするほど、このスタンパを使う回数が増え製造コストが増大する。
【０００５】
そこで近年、光記録媒体において、凹凸や溝を有するトラッキング制御用のサーボ層と、少なくとも情報記録エリアには凹凸や溝を有さない記録再生層（以降平面状の記録再生層）を別々に設けるようにし、トラッキング制御専用のビームを用いてサーボ層からトラッキング信号を得ながら、記録再生専用のビームによって記録再生層に情報を記録する技術が提案されている（特許文献１、２  非特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００８−９７６９３号公報
【特許文献２】特開２００８−９７６９４号公報
【非特許文献】
【０００７】
【非特許文献１】M.Ogasawara et. al.、 Jpn. J. Appl. Phys.、 50 (2011) 09MF01.
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
平面状の記録再生層を有する光記録媒体の課題のひとつに、記録時にはこの平面状の記録再生層とは別に設けた凹凸や溝を有するサーボ層を用いて、少なくともトラッキングサーボを行い一連の記録を完結されても、再生時は平面状の記録再生層に形成された記録マーク列を用いてトラッキング制御を行うため、光入射面に形成されるカバー層中に存在する気泡等が原因で表面形状の均一性が悪化する場合等、記録マーク列の読み取り精度が悪化すると、再生信号品質のみならずトラッキング精度が悪化し、最悪の場合トラッキングが破綻してデータを読み誤るという平面状の記録再生層を有する光記録媒体特有の課題がある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明者らの鋭意研究によって、前記目的は以下の手段によって達成される。
【００１０】
即ち、前記目的を達成する本発明は、トラッキング制御用の凹凸または溝を有するサーボ層と、予め積層されまたは事後的に形成されるトラッキング制御用の凹凸を有さない記録再生層と、を備えている光記録媒体の再生方法であって、マーク列を利用した位相差検出法（ＤＰＤ法）又はマーク列を利用したプッシュプル法（ＰＰ法）によって得られたトラッキング制御信号に、フォーカス制御信号を加減算してトラッキング制御をおこなうことを特徴とする光記録再生方法である。
【００１１】
前記目的を達成する前記光記録再生方法において、フォーカス制御信号もしくはトラッキング制御信号の振幅に応じた係数をフォーカス制御信号に乗じてトラッキング制御信号に加減算することを特徴とする。
【００１２】
前記目的を達成する前記光記録再生方法において、フォーカス制御信号もしくはトラッキング制御信号の振幅の値が一定の閾値を超えたときのみフォーカス制御信号をトラッキング制御信号に加減算することを特徴とする。
【００１３】
前記目的を達成する前記光記録再生方法において、再生信号の欠落部直前のみ、フォーカス制御信号をトラッキング制御信号に加減算することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、平面状の記録再生層とは別に設けた凹凸や溝を有するサーボ層を用いて、少なくともトラッキングサーボを行い一連の記録を行う光記録媒体において、カバー層中に存在する気泡等が原因で表面形状の均一性が悪化する場合等、再生時に記録マークの読み取り精度が悪化しても、平面状の記録再生層に形成された記録マーク列を用いて適切な位置でトラッキング制御を行うため、安定的なトラッキングを継続させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明の実施形態に係る光記録媒体の記録再生を行う光記録再生装置および光ピックアップの構造を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施形態に係る光記録媒体の積層構造を示す断面図である。
【図３】本発明の実施形態に係る記録された光記録媒体の記録再生層とカバー層の構造を示す断面図と平面図である。
【図４】本発明の実施形態に係る記録された光記録媒体の記録再生層とカバー層の構造を示す断面図と平面図である。
【図５】図３の媒体を再生したときに得られるエラー信号、制御信号、再生信号である。
【図６】図３の媒体を再生したときの再生ビームの軌跡の模式図である。
【図７】図４の媒体を再生したときに得られるエラー信号、制御信号、再生信号である。
【図８】本記録再生方法によって得られる制御信号、エラー信号である。
【図９】図４の媒体を通常の方法で再生したときの再生ビームの軌跡の模式図である。
【図１０】図４の媒体を本発明の方法で再生したときの再生ビームの軌跡の模式図である。
【図１１】本記録再生方法における制御信号の処理回路の模式図である。
【図１２】本記録再生方法における制御信号の処理の適用手順の一例である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明の実施の形態について添付図面を参照して説明する。
【００１７】
図１には本発明を実現する光記録媒体１０と光ピックアップ９０の構成が示されている。光ピックアップ９０は、第１光学系１００と、第２光学系２００を備える。第１光学系１００は、光記録媒体１０の記録再生層群１４に対して記録・再生を行う光学系となる。第２光学系２００は、第１光学系１００を利用して記録再生層群１４に情報を記録する際に、後述するサーボ層１８を利用してトラッキング制御を行う光学系となる。
【００１８】
第１光学系１００の光源１０１から出射された、青色波長３８０〜４５０ｎｍ（ここでは４０５ｎｍ）となる発散性の記録再生用のビーム１７０は、球面収差補正手段１９３を備えたコリメートレンズ１５３を透過し、偏光ビームスプリッタ１５２に入射する。偏光ビームスプリッタ１５２に入射したビーム１７０は、偏光ビームスプリッタ１５２を透過して、更に４分の１波長板１５４の透過によって円偏光に変換された後、第２光学系２００のビームスプリッタ２６０に入射する。このビームスプリッタ２６０は、透過率が大きく、且つ反射率が小さく設定されている。具体的に反射率に対する透過率の比率が１０倍又はそれ以上に設定される。従って、ビーム１７０はビームスプリッタ２６０を透過して、対物レンズ１５６で収束ビームに変換される。このビーム１７０は、光記録媒体１０の内部に形成された、記録再生対象となる記録再生層群１４又はサーボ層１８のいずれかに集光される。
【００１９】
対物レンズ１５６の開口はアパーチャ１５５で制限され、開口数ＮＡを０．７０〜０．９０（ここでは０．８５）としている。例えば記録再生層群１４で反射されたビーム１７０は、対物レンズ１５６、ビームスプリッタ２６０、及び４分の１波長板１５４を透過して往路とは９０度異なる直線偏光に変換された後、偏光ビームスプリッタ１５２で反射される。
【００２０】
偏光ビームスプリッタ１５２で反射されたビーム１７０は、集光レンズ１５９を透過して収束光に変換され、シリンドリカルレンズ１５７を経て、光検出器１３２に入射する。ビーム１７０には、シリンドリカルレンズ１５７を透過する際、非点収差が付与される。
【００２１】
光検出器１３２は、図示しない４つの受光部を有し、それぞれ受光した光量に応じた電気信号を出力する。これら電気信号から、非点収差法によるフォーカス制御信号、再生時に限定される位相差検出法（以下ＤＰＤ法）もしくはプッシュプル法（以下  ＰＰ法）による信号、および光記録媒体１０に記録された情報の再生信号等が生成される。フォーカス制御信号およびトラッキング制御信号は、所望のレベルに増幅および位相補償が行われ、さらにトラッキング制御信号は  フォーカス制御信号と  DPD法もしくはPP法による信号と再生信号による演算処理を行われた後、アクチュエータ１９１および１９２にフィードバック供給されてトラッキング制御をする。
【００２２】
第２光学系２００の光源２０１から出射された赤色波長６３０〜６８０ｎｍ（ここでは６５０ｎｍ）となる発散性のビーム２７０は、球面収差補正手段２９３を備えたコリメートレンズ２５３を透過し、偏光ビームスプリッタ２５２に入射する。偏光ビームスプリッタ２５２に入射したビーム２７０は、偏光ビームスプリッタ２５２を透過して、更に第２光学系用の４分の１波長板２５４を透過して円偏光に変換された後、波長選択フィルター２６０で反射されて、第１光学系１００と共有される偏光ビームスプリッタ１５２を透過する。このビーム２７０は更に対物レンズ１５６で収束ビームに変換されて、光記録媒体１０の内部に形成されたサーボ層１８に集光される。サーボ層１８で反射されたビーム２７０は、対物レンズ１５６、及び偏光ビームスプリッタ１５２を透過して第２光学系２００の波長選択フィルター２６０で反射し、４分の１波長板２５４において往路とは９０度異なる直線偏光に変換された後、偏光ビームスプリッタ２５２で反射される。偏光ビームスプリッタ２５２で反射されたビーム２７０は、集光レンズ２５９を透過して収束光に変換され、シリンドリカルレンズ２５７を経て、光検出器２３２に入射する。ビーム２７０には、シリンドリカルレンズ２５７を透過する際、非点収差が付与される。
【００２３】
光検出器２３２は、図示しない４つの受光部を有し、それぞれ受光した光量に応じた電気信号を出力する。これら電気信号から、非点収差法によるフォーカスエラー（ＦＥ）信号、プッシュプル法によるトラッキングエラー（ＴＥ）信号が生成される。なお、サーボ層１８にも情報が記録されている場合は再生信号も生成される。
【００２４】
第１光学系１００による記録再生層群１４への情報の記録時は、第２光学系２００のＴＥ信号について、所望のレベルに増幅および位相補償が行われた後、アクチュエータ１９１および１９２にフィードバック供給されてトラッキング制御がなされる。この結果、第２光学系２００のトラッキング制御に基づいて、第１光学系１００が記録再生層群１４に情報を記録するようになっている。なお、本実施形態では、記録再生層群１４に記録済みの情報を再生する際は、記録再生層群１４上の記録マーク１９を利用して第１光学系１００が独自にトラッキング制御するようにしている。
【００２５】
図２には、本実施形態の光記録媒体１０の断面構造が拡大して示されている。
【００２６】
光記録媒体１０は、外径が約１２０ｍｍ、厚みが約１．２ｍｍの円盤形状となっている。この光記録媒体１０は、光入射面１０Ａ側から、カバー層１１、記録再生層群１４及び中間層群１６、バッファ層１７、サーボ層１８、支持基板１２を備えて構成される。
【００２７】
記録再生層群１４は、ここでは第１〜第６記録再生層１４Ａ〜１４Ｆを備えて構成されており、それぞれに情報を記録できる構造となっており、材料組成及び膜厚が、実質的に同一である記録再生層で構成されている。この第１〜第６記録再生層１４Ａ〜１４Ｆは、トラッキング制御用の凹凸や溝を有さない平面構造となっており、第１光学系１００から高エネルギーとなる記録用のビーム１７０が照射されると、記録マークが形成される。なお、この記録再生層群１４の種類として、情報の追記が出来るが書き換えが出来ない追記型記録再生層と、情報の書き換えが可能な書換型記録再生層がある。
【００２８】
支持基板１２は、光記録媒体に求められる厚み（約１．２ｍｍ）を確保するための、厚さ１．０ｍｍで直径１２０ｍｍとなる円盤形状の基板であり、この支持基板１２の光入射面１０Ａ側の面にサーボ層１８が形成される。具体的には、支持基板１２における光入射面１０Ａ側に、その中心部近傍から外縁部に向けてランド１８Ａおよびグルーブ１８Ｂが螺旋状に形成される。このランド１８Ａおよびグルーブ１８Ｂが、トラッキング制御用の凹凸となり、第２光学系２００のビーム２７０がガイドされるようになっている。
【００２９】
なお、支持基板１２の材料としては種々の材料を用いることが可能であり、例えば、ガラス、セラミックス、樹脂を利用できる。これらのうち成形の容易性の観点から樹脂が好ましい。樹脂としてはポリカーボネイト樹脂、オレフィン樹脂、アクリル樹脂、エポキシ樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリエチレン樹脂、ポリプロピレン樹脂、シリコーン樹脂、フッ素系樹脂、ＡＢＳ樹脂、ウレタン樹脂等が挙げられる。これらの中でも、加工性などの点からポリカーボネイト樹脂やオレフィン樹脂が特に好ましい。なお、支持基板１２は、ビーム２７０の光路とならないことから、高い光透過性を有している必要はない。
【００３０】
支持基板１２の上に形成されるサーボ層１８は、支持基板１２の表面に記録層を形成することによって構成される。従って、このサーボ層１８は、トラッキング制御用の凹凸を備えた記録層となり、第２光学系２００によって高エネルギーのビーム２７０が照射されると、化学的又は物理的特性の変化によって光反射率が変化し情報が記録される。勿論、サーボ層１８はトラッキング制御用の光反射膜としても機能させる。なお、記録層の種類は特に限定されず、例えば、無機材料や有機色素材料等を用いた記録膜を採用できる。また、記録層における記録手法についても、追記型や書換型などを適宜採用できる。なお、このサーボ層１８において情報の記録機能が不要な場合は、Ａｇ等の金属層を形成して、単純な光反射膜として機能させれば良い。支持基板１２にはプリピットやグルーブといった凹凸の形で手前層の最適記録パワーや記録パワー範囲、透過率などが記録されている。
【００３１】
サーボ層１８におけるトラッキング制御用の凹凸のトラックピッチＰは、ここでは、記録再生層１４Ａ〜１４Ｆに記録予定とされる記録マークのトラックピッチの２倍に設定される。具体的に、記録再生層１４Ａ〜１４Ｆに記録予定とされるトラックピッチは、ＢＤ規格との互換性のために０．３２μｍ前後としていることから、サーボ層１８のグルーブ／ランドのトラックピッチＰは０．６４μｍ前後に設定される。０．６４μｍ前後のトラックピッチＰであれば、比較的長い赤色波長領域のビーム２７０であっても十分なトラッキングが可能である。特に本実施形態では、グルーブとランドの双方を利用してトラッキング制御を行うようにしているので、結果として、凹凸のピッチは０．６４μｍ前後となるが、記録再生層１４Ａ〜１４Ｆに記録される記録マークのトラックピッチは、その半分の０．３２μｍ前後とすることができる。従って、サーボ層１８のトラックピッチを小さくしなくても、記録再生層群１４の記録マークのトラックピッチを２倍にできるので、記録容量を増大させることができる。
【００３２】
バッファ層１７は、光透過性のアクリル系の紫外線硬化型樹脂により構成されており、ここでは９０μｍの膜厚に設定されている。
【００３３】
バッファ層１７の光入射面１０Ａ側に積層される第１〜第６記録再生層１４Ａ〜１４Ｆは、材料組成及び膜厚が、実質的に同一となっており、追記型記録膜の両外側に誘電体膜を積層した３層構造となっている（図示省略）。なお、この第１〜第６記録再生層１４Ａ〜１４Ｆは、第１光学系１００における青色波長領域（短い波長）のビーム１７０に対して光反射率・吸収率・透過率等が最適化されており、一方で、第２光学系２００の赤波長領域（長い波長）のビーム２７０は十分透過するようになっている。
【００３４】
各記録再生層の誘電体膜は、追記型記録膜を保護するという基本機能に加えて、記録マーク１９の形成前後における光学特性の差を拡大させる役割も果たす。
【００３５】
なお、ビーム１７０を照射した場合に、誘電体膜に吸収されるエネルギーが大きいと記録感度が低下しやすい。従って、これを防止するためには、これらの誘電体膜の材料として、３８０ｎｍ〜４５０ｎｍ（特に４０５ｎｍ）の波長領域において低い吸収係数（ｋ）を有する材料を選択することが好ましい。なお、本実施の形態においては、誘電体膜の材料としてＴｉＯ２を用いている。
【００３６】
誘電体膜に挟まれる追記型記録膜は不可逆的な記録マーク１９が形成される膜であり、記録マーク１９が形成された部分とそれ以外の部分（ブランク領域）は、ビーム１７０に対する反射率が大きく異なる。この結果、データの記録・再生を行うことができる。なお、この追記型記録膜についても、トラッキング制御用の第２光学系２００のビーム２７０の赤色波長領域においては高い透過性を有する。
【００３７】
追記型記録膜は、Ｂｉ及びＯを含む材料を主成分として形成される。この追記型記録膜は、無機反応膜として機能し、レーザー光の熱による化学的又は物理的な変化で反射率が大きく異なるようになっている。具体的な材料としては、Ｂｉ−Ｏを主成分とするか、又は、Ｂｉ−Ｍ−Ｏ（ただしＭは、Ｍｇ、Ｃａ、Ｙ、Ｄｙ、Ｃｅ、Ｔｂ、Ｔｉ、Ｚｒ、Ｖ、Ｎｂ、Ｔａ、Ｍｏ、Ｗ、Ｍｎ、Ｆｅ、Ｚｎ、Ａｌ、Ｉｎ、Ｓｉ、Ｇｅ、Ｓｎ、Ｓｂ、Ｌｉ、Ｎａ、Ｋ、Ｓｒ、Ｂａ、Ｓｃ、Ｌａ、Ｎｄ、Ｓｍ、Ｇｄ、Ｈｏ、Ｃｒ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ｃｕ、Ｇａ、Ｐｂの中から選択される少なくとも１種の元素）を主成分とすることが好ましい。なお、本実施形態では、追記型記録膜の材料として、Ｂｉ−Ｇｅ−Ｏを用いている。
【００３８】
なお、ここでは第１〜第６記録再生層１４Ａ〜１４Ｆにおいて追記型記録膜を採用する場合を示したが、繰り返し記録が可能な相変化記録膜を採用することも可能である。この場合の相変化記録膜は、ＳｂＴｅＧｅを主成分とすることが好ましい。
【００３９】
中間層群１６は、光入射面１０Ａから近い側から順番に第１〜第５中間層１６Ａ〜１６Ｅを有しており、第１〜第６記録再生層１４Ａ〜１４Ｆの間に積層される。各中間層１６Ａ〜１６Ｅは、アクリル系またはエポキシ系の紫外線硬化型樹脂によって構成される。この中間層１６Ａ〜１６Ｅの膜厚は、積層数を増大させるためには２０μｍ以下に設定することが好ましく、第１中間層１６Ａが１６μｍ、第２中間層１６Ｂが１２μｍ、第３中間層１６Ｃが１６μｍ、第４中間層１６Ｄが１２μｍ、第５中間層１６Ｅが１６μｍとなる。つまり、２種類の膜厚（１６μｍ、１２μｍ）の中間層が交互に積層されている。この結果、第１〜第６記録再生層１４Ａ〜１４Ｆの層間距離として、光入射面側から順番に第１距離（１６μｍ）と、この第１距離と異なる第２距離（１２μｍ）が交互に設定されることになる。また、第１距離と第２距離の差は４μｍに設定される。このようにすると、層間クロストークが低減される。勿論、全ての中間層群１６の膜厚を同じに設定しても良い。
【００４０】
カバー層１１は、中間層群１６と同様に光透過性のアクリル系の紫外線硬化型樹脂により構成されており、１００μｍの膜厚に設定されている。
【００４１】
光記録媒体１０は、前記のように構成される結果、サーボ層１８は、光入射面１０Ａから２６２μｍの距離に位置しており、また、記録再生層群１４の中で光入射面１０Ａから最も遠い第６記録再生層１４Ｆは、光入射面１０Ａから１７２μｍの距離に位置しており、第５記録再生層１４Ｅは光入射面１０Ａから１５６μｍ、第４記録再生層１４Ｄは光入射面１０Ａから１６４μｍ、第３記録再生層１４Ｃは光入射面１０Ａから１２８μｍ、第２記録再生層１４Ｂは光入射面１０Ａから１１６μｍ、そして、光入射面１０Ａに最も近い第１記録再生層１４Ａは、光入射面１０Ａから１００μｍの距離に位置することになる。また、記録再生層群１４の全体的な厚み（第１記録再生層１４Ａ〜第６記録再生層１４Ｆ間の距離）は７２μｍとなる。
【００４２】
また、本実施形態の光記録媒体１０では、サーボ層１８が、記録再生層群１４と比較して光入射面１０Ａから遠い位置に配置されている。このようにすると、トラッキング用のランド１８Ａ及びグルーブ１８Ｂが、記録再生層群１４に照射される記録再生用のビーム１７０に悪影響を与えることを低減できる。
【００４３】
次に、本実施形態の光記録媒体１０の製造方法について説明する。
【００４４】
まず、金属スタンパを用いることによる、ポリカーボネイト樹脂の射出成形法により、グルーブおよびランドが形成された支持基板１２を作製する。射出成形の型を利用して、この支持基板１２には、記録再生層群１４のアドレス情報、記録再生パワー等を含む記録条件、記録再生層１４Ａ〜１４Ｆの位置又は層間距離など、媒体製造時に予め保持させておくべき基本情報がプリフォーマットされる。具体的には、ランド１８Ａ又はグルーブ１８Ｂのウォブルを利用して、基本情報や手前層の最適記録パワー情報等がプリフォームされる。なお、プリフォームされる形態は、ランドグルーブに限らず、ピットでも構わない。更に、支持基板１２上に成膜されたサーボ層１８にプリライトの形態で、基本情報や手前層の最適記録パワー情報等を記録しても良い。また、支持基板１２の作製は射出成形法に限られず、２Ｐ法や他の方法によって作製しても構わない。
【００４５】
その後、支持基板１２におけるグルーブ及びランドが設けられた側の表面にサーボ層１８を形成する。サーボ層１８は、誘電体膜、追記型記録膜、誘電体膜の順に気相成長法を用いて形成し、記録膜として機能させる。更に、サーボ層１８の上にバッファ層１７を形成する。バッファ層１７は、例えば、粘度調整されたアクリル系またはエポキシ系の紫外線硬化型樹脂をスピンコート法等により皮膜し、これに対して紫外線を照射して硬化することにより形成する。なお、紫外線硬化性樹脂の代わりに、光透過性樹脂からなる光透過性シートを接着剤や粘着剤等を用いてサーボ層１８の上に貼り付けることで形成することもできる。
【００４６】
次に、第６記録再生層１４Ｆを形成する。具体的には、誘電体膜、追記型記録膜、誘電体膜の順に気相成長法を用いて形成する。中でもスパッタリング法を用いることが好ましい。その後、第６記録再生層１４Ｆの上に第５中間層１６Ｅを形成する。第５中間層１６Ｅは、例えば、粘度調整された紫外線硬化型樹脂をスピンコート法等により皮膜し、その後、この紫外線硬化性樹脂に紫外線を照射して硬化することにより形成する。この手順を繰り返すことで、第５記録再生層１４Ｅ、第４中間層１６Ｄ、第４記録層再生層１４Ｄ、第３中間層１６Ｃ・・・と順番に積層していく。
【００４７】
第１記録再生層１４Ａまで完成したら、その上にカバー層１１を形成してこの光記録媒体１０が完成する。なおカバー層１１は、例えば、粘度調整されたアクリル系またはエポキシ系の紫外線硬化型樹脂をスピンコート法等により皮膜し、これに対して紫外線を照射して硬化することにより形成する。なお、本実施形態では前記製造方法を説明したが、本発明は前記製造方法に特に限定されるものではなく、他の製造技術を採用することもできる。
【００４８】
次に、本実施形態の光記録媒体１０に情報を記録再生する光記録再生方法について説明する。
【００４９】
図３のＡは本実施の記録媒体１０に記録マーク列を記録した後の断面図を示し、図３のＢは平面図を示している。図４のＡは本実施の記録媒体１０を製造する際にカバー層１１を形成する樹脂中に欠陥３００を含んでその周囲に膜厚変動部３０１を生じ、その状態で連続して記録マーク列を記録した時の断面図を示し、図４のＢは平面図を示している。
【００５０】
この図のように、欠陥３００の直下付近では記録マーク列が形成されない領域３０２が生じる。これは、第１光学系１００を用いた記録再生層群１４への情報の記録時において、厚み変動部３０１に記録面に対するフォーカス制御を行っていても、欠陥３００による幅広い厚み変動分布３０１周囲の範囲を記録する際には、記録光の入射角度やカバー層の厚みが変わることで本来の記録マークが形成できない状態がおきるからである。
【００５１】
図５には図３でのトラッキング制御をおこなっている再生ビームから得られたフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、再生信号及びフォーカスエラー信号を元に生成されたフォーカス制御信号、およびトラッキング制御信号を示している。
【００５２】
記録媒体１０が正常に製造され、記録マーク列も正常に形成されているため、再生したときの各種エラー信号及び各種制御信号は特にノイズは見られず、記録マーク列を示す再生信号のみ変調された電圧が示されている。
【００５３】
図６は図４の記録マーク列を用いてトラッキング制御を行った場合の再生ビームの軌跡を示している。記録マーク列が正常に記録されているため、マーク列の直上を正しくトラッキングしていることを示している。
【００５４】
図７には図４でのトラッキング制御をおこなっている再生ビームから得られたフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、再生信号及びフォーカスエラー信号を元に生成されたフォーカス制御信号、およびトラッキング制御信号を示している。
【００５５】
記録媒体１０中には欠陥３００が存在し、膜厚変動部３０１が存在し、膜厚変動部３０１があるにもかかわらずフォーカス制御をするためには、フォーカス制御信号は膜厚変動３０１を打ち消すように生成されている必要がある。図７のＢはフォーカス制御信号が膜厚変動３０１を打ち消すように生成されたフォーカス制御信号を示す。フォーカス制御信号は膜厚変動３０１に対応した電圧プロファイルをもつことがわかる。フォーカスエラー信号図７のＡはフォーカス制御をおこなっているためおおよそフラットになっている。
【００５６】
またトラッキングエラー信号図７のＣは、マーク列が存在している範囲においてはトラッキングをおこなっているためおおよそフラット（ゼロ電圧）となっているが、マークが欠落している場所ではトラッキングエラー信号がマーク列から得られないためにフラット（ゼロ電圧）となっており、結果的に膜厚変動部３００があるにもかかわらずフラットになっている。
【００５７】
ここで膜厚変動部３０１は、ビーム集光部のサイズに対して大きく、形状的には記録マーク列に対して非対称で、膜厚変動部によるレンズ効果を有するため、仮に記録マークが直線的に記録されていたとしても、トラック方向に対してオフセットを持っているかのように再生される。
【００５８】
したがって、上述のようにトラッキングエラー信号に膜厚変動部があるにもかかわらずフラットにするために、膜厚変動部３０１の領域においては、トラッキング制御信号にはこのオフセットを打ち消すように電圧プロファイルをもつことになる。さらにその中でマーク列がまったく存在しない３０２の領域においてはトラッキングエラー信号がゼロ電圧となるためにトラッキング制御信号はゼロ電圧となるプロファイルとなる。図７のＤはこのようにトラッキング制御されたトラッキング制御信号を示している。
【００５９】
図７のＥの再生信号はマーク列を再生している部分ではマーク列に対応した変調振幅を有し、マーク列が存在しない３０２の領域においては一定の電圧のプロファイルとなっている。
【００６０】
前記のようにトラッキング制御をされると図９で見られるように膜厚変動部３００に再生ビームが到達するとマーク列に対してオフセットをもって進行し、記録マーク列が存在しない部分を通過した後オフセットの量により、図９のように、連続したマーク列にトラッキングできずに隣接のマーク列にトラッキングを継続させてしまう事態が起きる。
【００６１】
本発明では、第１光学系１００を用いて情報記録面１４上へのフォーカス制御および、記録されたマーク列に  図１１で示すような演算回路を用いてトラッキング制御を行う。
【００６２】
従来の再生におけるトラッキング制御において、膜厚変動３０１をまたいでマーク列のトラッキングエラーを小さくするようにトラッキング制御をすると、膜厚変動３０１のレンズ効果及び形状の非対称性のため、トラッキングオフセットを生じた。
【００６３】
したがって、このオフセットを生じずにトラッキングをするためには、膜厚変動３０１によるレンズ効果及び形状の非対称性をキャンセルすればよいが、このレンズ効果と非対称性は図７のＢで示されるフォーカス制御信号に現れているので、トラッキング制御信号に対してフォーカス制御信号を適切な加減算をすることにより、トラッキングオフセットを減ずることが可能となる。
【００６４】
図７のＤで示されるトラッキング制御信号から、図７のＢで示されるフォーカス制御信号に適切な係数を乗じ減算し算出した新たなトラッキング制御信号を図８のＡで示す。
【００６５】
図８のＡで示されるトラッキング制御信号によりトラッキング制御をおこなうと、トラッキングエラー信号は図８のＢで示すように欠陥前後でオフセットを持つことになるが、実際の再生ビームの軌跡は図１０で示すようになり記録マークの欠落部の前後において連続したマーク列にトラッキングが可能となる。
【００６６】
さらに好ましい方法として、フォーカス制御信号もしくはトラッキング制御信号の振幅に応じた係数をフォーカス制御信号に乗じてトラッキング制御信号に加減算する。
【００６７】
たとえば、フォーカス制御信号やトラッキング制御信号を生成するために、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号を元に演算されるが、個々の光検出器の感度ばらつきや、周波数フィルター処理や電圧レベル調整などを経ているため、フォーカス制御信号の単純な加減算だけでは、欠陥周囲で最適なトラッキング制御信号を生成出来ない場合がある。したがって、欠陥周囲で生成されたフォーカス制御信号もしくはトラッキング制御信号の欠陥起因による振幅電圧に対応した係数をフォーカス制御信号に乗じ、これをトラッキング制御信号に加減算することで欠陥によるトラッキングのズレをより小さくする事ができる。
【００６８】
さらに好ましい方法として、トラッキング制御信号へのフォーカス制御信号の加減算はフォーカス制御信号の値、もしくはトラッキング制御信号の値が一定の閾値を超えた段階でのみおこなう。
【００６９】
たとえば、微小な膜厚分布や回転させている媒体の面振れは、フォーカス制御信号の振幅に影響を与えるが、これらの振幅は、前記のトラッキングに大きく影響を与えるものより小さい。さらに、実質的にはトラッキング制御には影響を与えない。したがって、一定の閾値を超えた段階でのみフォーカス制御信号をトラッキング制御信号に加減算することにより、無用なオフセットを与えることによる再生信号の悪化を防ぐことができる。
【００７０】
また 好ましい方法として、トラッキング制御信号へのフォーカス制御信号の加減算は、再生信号が欠落するまでの段階のみでおこなう。
【００７１】
図８Ｂで示されるとおり、トラッキング制御信号へのフォーカス制御信号の加減算は、欠落部及び欠落部以降において不要なトラッキングのオフセットを与え、さらに欠落部以降でトラッキングエラー信号の増大をまねくオフセット状態が存在する可能性を意味する。しかし、欠落部以降で正しいマーク列でトラッキングした場合においては、以降のトラッキング制御は、フォーカス制御信号を加減算せずに読み取られるマークに対する追従操作の最適な条件でおこなうことが、トラッキング精度をより高め、さらに再生信号をより早く良好に得る動作となる。
【００７２】
なお、再生信号が欠落する段階とは、具体的には再生信号において、再生される変調信号中のもっとも長い信号より長いブランク状態が続いた場合に再生信号の欠落とみなすことができる。
【実施例】
【００７３】
［実施例１］
前記製造方法で作成した媒体で、１１中に５０μｍの気泡をもった媒体に、第１の光学系として波長４０５ｎｍ、開口数０．８５及び第２の光学系として波長６５０ｎｍ、開口数０．６０を有した光ディスク評価機において、グルーブピッチ０．６４μｍのサーボ層を第２光学系でＰＰ法によるランドグルーブトラッキングをおこないながら、かつ第１光学系で記録再生層１４Ａにフォーカス制御をおこないながら、記録再生層１４Ａに気泡を中心として前後５００μｍの範囲で円周状に、２５ＧＢ/Ｌａｙｅｒの密度で記録をおこなった。
【００７４】
続いて第１光学系を用いて記録再生層１４Ａに記録された記録マーク列でＤＰＤ法を用いたトラッキング及びフォーカスをおこないながら記録マーク列の再生をおこなった。
【００７５】
その結果、本実施例のようにＤＰＤ信号から作られたトラッキング制御信号からフォーカス制御信号を減じた新たなトラッキング制御信号によりトラッキングをおこなったところ、連続したアドレスで再生された。
【００７６】
欠陥の直後のマーク列での平均的なＪｉｔｔｅｒ値は９％であり、周囲に欠陥の無いマーク列での平均的なＪｉｔｔｅｒ値は７．５％であった。
【００７７】
［実施例２］
実施例１で記録された媒体を、本実施例のようにＤＰＤ信号から作られたトラッキング制御信号からフォーカス制御信号を減じた新たなトラッキング制御信号により、再生信号の欠落直前までトラッキングをおこなったところ、連続したアドレスで再生された。
【００７８】
欠陥の直後のマーク列での平均的なＪｉｔｔｅｒ値は７．６％であり、周囲に欠陥の無いマーク列での平均的なＪｉｔｔｅｒ値は７．５％と同様の値が得られた。
【００７９】
［比較例］  
実施例１で記録された媒体を、ＤＰＤ法から作られたトラッキング制御信号のみでトラッキングをおこなったところ欠陥の周囲で連続したアドレスで再生がおこなわれなかった。
【００８０】
なお本実施形態の光記録媒体１０では、サーボ層１８を、光入射面１０Ａを基準として記録再生層群１４よりも遠い側に配置する場合に限って示したが、本発明はこれに限定されない。また。記録再生層群１４として記録再生層を６層備える場合に限って示したが、本発明はこれに限定されない。
【００８１】
なお、本実施形態では、記録再生層群において、２種類の層間距離（１６μｍ、１２μｍ）を交互に設定する場合を示したが、本発明はこれに限定されず、３種類以上の層間距離を組み合わせても良い。勿論、全て同じ膜厚に設定しても良い。
【００８２】
更に本実施形態では、支持基板１２ないしサーボ層１８は、トラッキング制御用のグルーブおよびランドを備えた記録層であるが、本発明はこれに限定されず、ピットや記録マークを用いたサーボ層でトラッキング制御を行う事も可能である。
【産業上の利用可能性】
【００８３】
本発明の光記録媒体の再生方法は、映像や音声、或いはコンピュータのデータ等の情報を光ディスクに記録、さらに当該ディスクから情報を再生する光ディスク装置に適用する事ができる。
【符号の説明】
【００８４】
１０              光記録媒体
１１              カバー層
１２              支持基板
１４              記録再生層群
１６              中間層群
１７              バッファ層
１８              サーボ層
７０              光記録再生装置
９０              光ピックアップ
１０１            第１光学系の光源
１３２            第１光学系の光検出器
１７０            第１光学系の記録再生用のビーム
１９１，１９２    アクチュエータ
２０１            第２光学系の光源
２３２            第２光学系の光検出器
２７０            第２光学系の再生用のビーム
３００            欠陥
３０１            膜厚変動部
３０２            記録マーク列が形成されない領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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