(57)【要約】【課題】作業効率を高めることが可能なマーキング装置を提供する。【解決手段】ワークに対してマークを描画するマーク描画部と、前記ワークに形成された前記マークの画像を取得する画像取得部と、前記ワークに前記マークを描画させる描画データを生成するとともに、前記ワークに形成される前記マークを検査する検査パターンを設定し、生成された前記描画データに基づき、前記ワークに描画させ、描画させた前記ワークに対して前記検査パターンに対応する箇所の画像を取得させ、取得された画像パターンと前記検査パターンとを比較する制御部と、を備えた。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ワークにマークを描画するマーク描画部と、
描画された前記マークの画像パターンを取得する画像取得部と、
前記ワークに前記マークを描画させる描画データを生成するとともに、前記ワークに描画される前記マークを検査する検査パターンを設定し、生成された前記描画データに基づき、前記ワークに前記マークを描画させ、描画された前記マークに対して前記検査パターンに対応する箇所の前記画像パターンを取得させ、取得された前記画像パターンと前記検査パターンとを比較する制御部と、を備えたことを特徴とするマーキング装置。
【請求項２】
請求項１に記載のマーキング装置において、
前記制御部では、
描画させた前記マークに対して前記検査パターンに対応する箇所を分割して前記画像パターンを取得させることを特徴とするマーキング装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、マーキング装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、電子部品等の表面に文字や記号等のマークを描画するマーキング記録装置として、例えば、電子部品の表面に向けてインクを液滴として吐出するインクジェットヘッドと、電子部品の表面に塗布されたインクを硬化させる硬化手段と、を備えた装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００３−８０６８７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、上記記録装置によってマークが正しく描画されたか否かを検査したり、電子部品をトレイ等の収納容器に収納する場合に、異なる種類の電子部品が混入したか否か等を検査する必要がある。そこで、マークを検査する検査装置が一般的に知られている。このような検査装置では、例えば、ティーチング等の作業により、基準となるマークを基準パターンとして画像として記憶させておき、マークの検査を行う際には、実際に形成されたマークを画像パターンとして取得し、当該画像パターンと基準パターンとを比較することにより合否判定を行うものがある。しかしながら、例えば、電子部品の種類やロット番号等が増加し、マークの種類が膨大になると、その都度ティーチング作業が必要となるため、ティーチング工数が増え、作業効率が低下してしまう、という課題があった。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態または適用例として実現することが可能である。
【０００６】
［適用例１］本適用例にかかるマーキング装置では、ワークにマークを描画するマーク描画部と、描画された前記マークの画像パターンを取得する画像取得部と、前記ワークに前記マークを描画させる描画データを生成するとともに、前記ワークに描画される前記マークを検査する検査パターンを設定し、生成された前記描画データに基づき、前記ワークに前記マークを描画させ、描画された前記マークに対して前記検査パターンに対応する箇所の前記画像パターンを取得させ、取得された前記画像パターンと前記検査パターンとを比較する制御部と、を備えたことを特徴とする。
【０００７】
この構成によれば、描画データが生成され、また、描画されたマークの検査を行うための検査パターンが設定される。当該検査パターンはマーク検査における基準パターンとなるものである。そして、描画データに基づいてワークにマークが描画される。さらに、マークが描画されたワークに対して、検査パターンに対応する箇所の画像パターンが取得される。そして、基準となる検査パターンと取得した画像パターンとを比較する。これにより、例えば、基準パターンと画像パターンが一致した場合には合格とし、基準パターンと画像パターンが不一致の場合には不合格とすることができる。このようにして、マークの検査に用いる基準となる検査パターンが制御部上の入力で容易に設定可能となる。すなわち、予め検査パターンを画像として取り込ませるティーチング作業等を省くことができる。これにより、作業効率を向上させることができる。
【０００８】
［適用例２］上記適用例にかかるマーキング装置の前記制御部では、描画させた前記マークに対して前記検査パターンに対応する箇所を分割して前記画像パターンを取得させることを特徴とする。
【０００９】
この構成によれば、検査パターンに対応するマークの箇所が分割された画像として取得される。従って、例えば、設定された検査パターンに対応するマークの範囲（広さ）よりも画像取得部の画像取得範囲が小さい場合において、検査パターンに対応する箇所を分割して撮像することにより検査パターンの領域に対応させることが可能となり、確実に検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】マーキング装置の構成を示す模式図。
【図２】制御部の動作を示す説明図。
【図３】制御部の動作の示す説明図。
【図４】マーキング装置の制御方法を示すフローチャート。
【図５】マークの撮像方法を示す説明図。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。なお、以下の各図においては、各層や各部材を認識可能な程度の大きさにするため、各層や各部材の尺度を実際とは異ならせて示している。
【００１２】
まず、マーキング装置の構成について説明する。マーキング装置は、ワークにマークを描画するマーク描画部と、描画されたマークの画像パターンを取得する画像取得部と、ワークにマークを描画させる描画データを生成するとともに、ワークに描画されるマークを検査する検査パターンを設定し、生成された描画データに基づき、ワークにマークを描画させ、描画されたマークに対して検査パターンに対応する箇所の画像パターンを取得させ、取得された画像パターンと検査パターンとを比較する制御部と、を備えたものである。以下、詳細に説明する。
【００１３】
図１は、マーキング装置の構成を示す概略図である。なお、本実施形態では、収納容器Ｔに収納されたワークＷの表面に紫外線硬化型インクを用いてマークを行うマーキング装置を例に挙げて説明する。図１に示すように、マーキング装置１は、ヘッド機構部２と、ワーク搬送機構部３と、画像取得機構部４と、制御部７等を備えている。
【００１４】
ヘッド機構部２は、キャリッジユニット２２を備え、キャリッジユニット２２は、マーク描画部としての吐出ヘッド２０と、紫外線を照射する紫外線照射部２７を備えている。吐出ヘッド２０は、例えば、圧力発生手段としての圧電素子を備えたインクジェットヘッドである。なお、圧力発生手段として、振動板と電極との間に静電気を発生させて、静電気力によって振動板を変形させてノズルから液滴を吐出させるいわゆる静電式アクチュエーターなどを使用してもよい。さらには、発熱体を用いてノズル内に泡を発生させ、その泡によって機能液を液滴として吐出させる構成を有する吐出ヘッドであってもよい。また、紫外線照射部２７は、紫外線光源を備え、当該紫外線光源から紫外線が照射される。なお、紫外線光源は、例えば、ＬＥＤ、高圧水銀ランプ、メタルハライドランプ等適宜適用することができる。
【００１５】
キャリッジユニット２２は、Ｙ軸方向に移動可能な走査部（図示せず）に接続され、走査部の駆動により、キャリッジユニット２２を所定の位置に移動させることができる。これにより、キャリッジユニット２２を移動させながら、ワークＷに向けて吐出ヘッド２０から紫外線硬化型インクを吐出するととともに、紫外線照射部２７から紫外線を照射させて紫外線硬化型インクを硬化させることにより、ワークＷ上にマークを描画（形成）することができる。
【００１６】
ワーク搬送機構部３は、ワークＷ（収納容器Ｔ）を載置するワーク載置台３１と、ワーク載置台３１をガイド部３５に倣ってＸ軸方向に移動させるリニアモーター（図示せず）とを備えている。リニアモーターは、ガイド部３５と略平行に配設されており、リニアモーターの駆動によって、ワーク載置台３１をＸ軸方向に移動させることができる。また、移動した任意の位置に保持させることができる。
【００１７】
画像取得機構部４は、ヘッド機構部２によってワークＷに描画されたマークの画像パターンを取得するものである。本実施形態では、Ｘ軸方向において、ヘッド機構部２の下流側に配置されている。画像取得機構部４は、画像取得部５０を備えている。画像取得部５０は、例えば、カメラやスキャナー等である。そして、画像取得部５０をＹ軸方向に移動可能な走査部を備え、当該走査部を駆動させることにより、画像取得部５０をＹ軸方向の所定の位置まで移動させることができる。これにより、画像取得部５０をワークＷに対して所定の位置まで移動させ、ワークＷに形成されたマークの画像パターンを取得することができる。
【００１８】
制御部７は、各種演算を実行するとともに上記機構部等を総括的に制御するものである。本実施形態の制御部７は、ワークＷの種類や描画するマークの態様を設定するワーク情報設定部８（例えば、レイアウター）を有する。図２及び図３は、制御部の動作を示す説明図である。
【００１９】
ワーク情報設定部８では、ワークの情報を入力するワーク情報入力部を備えている。ワーク情報入力部では、対象のワーク情報（ワークサイズ、ワークピッチ等）、描画するマークの情報（文字サイズ、フォント等）、収納容器Ｔの情報（サイズ（ｍ行及びｎ列）、配列数）、ワークＷの収納情報（ｍ行及びｎ列）等を入力する。
【００２０】
入力されたワーク情報に基づいてマークレイアウトＭＬが生成される。生成されたマークレイアウトＭＬは、例えば、表示部８０に表示される。図２に示すように、表示部８０には、レイアウト表示欄８０ａと補助表示欄８０ｂを備えている。レイアウト表示欄８０ａには、ワークパターンＩＷが配列されたマークレイアウトＭＬが表示される。図の例では、４行及び６列の収納容器Ｔに収納されたワークＷのワークパターンＩＷが表示されている。そして、個々のワークパターンＩＷには、マークパターンＩＭ１（例えば、「ＡＢＣＤＥＦ」）が表示される。なお、補助表示欄８０ｂには、例えば、レイアウト表示欄８０ａに表示されたマークレイアウトＭＬの生成条件等が表示される。そして、制御部７では、これらのワーク情報に基づいてワークＷにマークする描画データを生成する。
【００２１】
また、ワーク情報設定部８では、ワークＷに形成されるマークを検査する検査パターンを設定する。具体的には、描画データに基づいてマークが描画されたワークＷに対してマーク検査を行う箇所を設定する。さらに詳細には、図３（ａ）に示すように、ワークパターンＩＷのマークパターンＩＭ１のうち、マーク検査する箇所と設定された領域がコンピュータグラフィックによる画像情報である検査パターンＩＰとして制御部７に記憶される。図３（ａ）の例では、マークパターンＩＭ１（「ＡＢＣＤＥＦ」）の全体が検査パターンＩＰとして設定されている。なお、検査パターンＩＰの設定方法は、ＸＹ座標入力による領域を指定する方法や、マークパターンＩＭ１の文字等を指定する方法等で行うことができる。
【００２２】
また、検査パターンＩＰは分割して設定することもできる。図３（ｂ）の例では、マークパターンＩＭ１（「ＡＢＣＤＥＦ」）を６つの検査パターンＩＰ１〜ＩＰ６（「Ａ」、「Ｂ」、「Ｃ」、「Ｄ」、「Ｅ」、「Ｆ」）に分割している。このように分割して検査パターンＩＰを設定することにより、画像取得部５０の画像取得範囲に対応させることができる。
【００２３】
次に、マーキング装置の制御方法について説明する。図４は、マーキング装置の制御方法を示すフローチャートである。
【００２４】
図４に示すように、まず、ステップＳ１では、ワークＷに描画させる描画データを生成する。具体的には、図２に示したように、ワーク情報を入力し、入力されたワーク情報に基づいて描画データを生成する。
【００２５】
次いで、ステップＳ２では、ワークＷに形成されるマークを検査する検査パターンを設定する。具体的には、図３に示したように、ワークパターンＩＷからマーク検査で検査する検査パターンＩＰを設定する。
【００２６】
次いで、ステップＳ３では、生成された前記描画データに基づき、ワークＷに描画させる。具体的には、ワークＷが収納された収納容器Ｔをワーク載置台３１に載置し、リニアモーターを駆動させてワーク載置台３１をＸ軸方向へ移動させるとともに、ヘッド機構部２の走査部を駆動させ、キャリッジユニット２２をＹ軸方向に往復走査させる。そして、ワークＷに向けて吐出ヘッド２０から紫外線硬化型インクを液滴として吐出し、ワークＷの表面に紫外線硬化型インクを塗布する。さらに、紫外線照射部２７を駆動させ、塗布された紫外線硬化型インクに紫外線を照射させる。これにより、紫外線硬化型インクが硬化され、ワークＷにマークＭが形成される。
【００２７】
ステップＳ４では、描画させたワークＷに対して検査パターンＩＰに対応する箇所の画像を取得させる。図５は、マークの撮像方法を示す説明図である。図５（ａ）に示すように、例えば、図３（ａ）で示したように、検査パターンＩＰ（「ＡＢＣＤＥ」）に対応したワークＷに形成されたマークＭの指定箇所１００を撮像する。具体的には、マークＭが形成されたワークＷが収納された収納容器Ｔが載置されたワーク載置台３１を、リニアモーターの駆動によりＸ軸方向へ移動させるとともに、画像取得機構部４の走査部の駆動により、画像取得部５０をＹ軸方向へ移動させ、マークＭの指定箇所１００を撮像する。これにより、指定箇所１００に対応する画像パターンが取得される。
【００２８】
なお、図３（ｂ）で示したように、分割した検査パターンＩＰ１〜ＩＰ６が設定された場合には、図５（ｂ）に示すように、当該分割した検査パターンＩＰ１〜ＩＰ６に対応したワークＷに形成されたマークＭの各指定箇所１００ａ〜１００ｆを撮像する。これにより、各指定箇所１００ａ〜１００ｆに対応する画像パターンが取得される。
【００２９】
次いで、ステップＳ５では、取得された画像パターンと検査パターンＩＰとを比較する。具体的には、画像パターンと検査パターンＩＰ（「ＡＢＣＤＥ」）とを比較することにより、例えば、基準となる検査パターンＩＰと画像パターンとが一致する場合には合格と判断する。一方、不一致の場合には不合格と判断する。また、画像パターンと検査パターンＩＰとの比較に先立って、取得された画像パターンの２値処理等の画像処理は必要に応じて適宜行ってもよい。
【００３０】
以上、上記実施形態によれば、以下の効果を得ることができる。
【００３１】
描画データが生成され、また、描画されたマークの検査を行うための検査パターンＩＰが設定される。そして、描画データに基づいてワークＷにマークＭが描画される。さらに、マークＭが描画されたワークＷに対して、検査パターンＩＰに対応する箇所の画像パターンが取得される。そして、基準となる検査パターンＩＰと取得した画像パターンとを比較する。これにより、例えば、基準パターンと画像パターンが一致した場合には合格とし、基準パターンと画像パターンが不一致の場合には不合格とすることができる。このようにして、マークの検査に用いる基準となる検査パターンＩＰが制御部７上の入力で容易に設定可能となる。すなわち、予め検査パターンＩＰを画像として取り込ませるティーチング作業等を省くことができる。これにより、容易にマークＭの検査を行うことができ、作業効率を向上させることができる。
【００３２】
なお、本発明は上述した実施形態に限定されず、上述した実施形態に種々の変更や改良などを加えることが可能である。変形例を以下に述べる。
【００３３】
（変形例１）上記実施形態では、全てのワークＷに対してマーク検査を行ったが、これに限定されない。抜き取り検査であってもよい。この場合、制御部７のワーク情報設定部８において、マーク検査を行うワークＷとマーク検査を行わないワークＷとを識別設定してマークレイアウトＭＬを生成する。そして、マーク検査を行うワークＷに対してのみ画像パターンを取得する。このようにすれば、検査工数が削減され、さらに作業効率を高めることができる。
【００３４】
（変形例２）上記実施形態では、マークパターンＩＭ１の全体を検査パターンＩＰとして設定したが、これに限定されない。例えば、マークパターンＩＭ１（「ＡＢＣＤＥＦ」）の一部を検査パターンＩＰ（例えば、「ＡＢＣ」）として設定してもよい。そして、検査パターンＩＰ（例えば、「ＡＢＣ」）に対応するワークＷにおけるマークＭの指定箇所１００を撮像する。このようにすれば、演算処理工数が削減され、さらに、作業効率を高めることができる。
【００３５】
（変形例３）上記実施形態では、１つの収納容器Ｔに対して１つの種類のマークを設定したが、これに限定されない。例えば、１つの収納容器Ｔに対して複数の種類の異なるマークを設定してもよい。この場合、マークの種類毎に色分けして表示してもよい。このようにすれば、さらに、作業効率を高めることができる。
【００３６】
（変形例４）上記実施形態では、図５（ｂ）に示すように、指定箇所１００ａ〜１００ｆに分割し、分割された各指定箇所１００ａ〜１００ｆの各画像パターンと分割された各検査パターンＩＰ１〜ＩＰ６とを比較したが、これに限定されない。取得した指定箇所１００ａ〜１００ｆに対応する各画像パターンを合成して、図５（ａ）に示すように、一つの画像パターンを生成してもよい。そして、生成された画像パターンと検査パターンＩＰとを比較してもよい。このようにすれば、画像パターンと検査パターンとの比較処理工数が低減されるので、作業効率を高めることができる。
【００３７】
（変形例５）上記実施形態では、マーク描画部として吐出ヘッド２０（インクジェットヘッド）を例に挙げて説明したが、これに限定されない。例えば、ワークＷにレーザーを照射してワークＷの表面にマークを形成するレーザー照射ヘッドであってもよい。この場合、紫外線照射部２７は省かれる。このような構成にしても上記同様の効果を得ることができる。
【００３８】
（変形例６）上記実施形態では、画像情報である検査パターンＩＰを制御部７に記憶したが、これに限定されない。たとえば、検査パターンＩＰの領域を特定できる位置情報を記憶し、ステップＳ５において、ワーク情報と該位置情報とから画像情報である検査パターンＩＰを生成し、生成された検査パターンＩＰと取得された画像パターンとを比較することもできる。このような構成にしても上記同様の効果を得ることができる。
【符号の説明】
【００３９】
１…マーキング装置、２…ヘッド機構部、３…ワーク搬送機構部、４…画像取得機構部、７…制御部、８…ワーク情報設定部、２０…吐出ヘッド、２２…キャリッジユニット、２７…紫外線照射部、３１…ワーク載置台、３５…ガイド部、５０…画像取得部、８０…表示部、１００，１００ａ〜１００ｆ…指定箇所。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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