(57)【要約】【課題】本発明は、サージやＥＳＤ等の高電圧が印加されても抵抗値が変動せずかつ電流ノイズ特性が悪化するのを防止できるチップ抵抗器を提供することを目的とするものである。【解決手段】本発明のチップ抵抗器は、抵抗体１３の上面視での単位面積当たりの抵抗値を略均一とし、抵抗体１３にレーザ照射によって形成されたＬ字状の第１、第２のトリミング溝１７、１８を、前記抵抗体１３の前記一対の上面電極１２ａ、１２ｂが向かい合う方向に沿った一方の側面１３ａに始点１７ａ、１８ａを有し、前記一対の上面電極１２ａ、１２ｂが向かい合う方向と直角の垂直部１７ｂ、１８ｂと、この垂直部１７ｂ、１８ｂの先端部１７ｃ、１８ｃから連続して形成された前記一対の上面電極１２ａ、１２ｂが向かい合う方向と平行の水平部１７ｄ、１８ｄとで構成するとともに、前記水平部１７ｄ、１８ｄのそれぞれの先端部１７ｅ、１８ｅを互いに対向させたものである。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
絶縁基板と、この絶縁基板の上面の両端部に設けられた一対の上面電極と、前記絶縁基板の上面に設けられ、かつ前記一対の上面電極間に形成された矩形状の抵抗体と、この抵抗体にレーザ照射によって形成されたＬ字状の第１のトリミング溝、第２のトリミング溝とを備え、前記抵抗体の上面視での単位面積当たりの抵抗値を略均一とし、前記第１、第２のトリミング溝を、前記抵抗体の前記一対の上面電極が向かい合う方向に沿った一方の側面に始点を有し、前記一対の上面電極が向かい合う方向と直角の垂直部と、この垂直部の先端部から連続して形成された前記一対の上面電極が向かい合う方向と平行の水平部とで構成するとともに、前記第１、第２のトリミング溝の水平部の各先端部が互いに対向するように位置させたチップ抵抗器。
【請求項２】
第１、第２のトリミング溝の垂直部の長さを略同一にした請求項１記載のチップ抵抗器。
【請求項３】
第１、第２のトリミング溝を抵抗体の一対の上面電極が向かい合う方向の中心線に対して線対称に配置した請求項１記載のチップ抵抗器。
【請求項４】
第１、第２のトリミング溝のうち少なくとも一方において、その水平部の先端部からさらに連続して第２の垂直部を形成し、かつこの第２の垂直部を前記トリミング溝の始点が形成された抵抗体の一方の側面側に向かうようにするとともに、その先端部を前記抵抗体の一方の側面まで至らないようにした請求項１記載のチップ抵抗器。
【請求項５】
第１、第２のトリミング溝のうち少なくとも一方において、その垂直部と水平部との接続部を円弧状にした請求項１記載のチップ抵抗器。
【請求項６】
絶縁基板と、この絶縁基板の上面の両端部に設けられた一対の上面電極と、前記絶縁基板の上面に設けられ、かつ前記一対の上面電極間に形成された矩形状の抵抗体と、この抵抗体にレーザ照射によって形成された第１のトリミング溝、第２のトリミング溝とを備え、前記抵抗体の上面視での単位面積当たりの抵抗値を略均一とし、前記第１、第２のトリミング溝を、前記抵抗体の前記一対の上面電極が向かい合う方向に沿った一方の側面に始点を有し、その少なくとも一部を円弧状とし、かつ前記第１、第２のトリミング溝の各終端が互いに対向するように位置させたチップ抵抗器。
【請求項７】
絶縁基板と、この絶縁基板の上面の両端部に設けられた一対の上面電極と、前記絶縁基板の上面に設けられ、かつ前記一対の上面電極間に形成された矩形状の抵抗体と、この抵抗体にレーザ照射によって形成されたＬ字状の第１のトリミング溝、第２のトリミング溝とを備え、前記２つのトリミング溝と抵抗体の一方の側面とで囲まれた抵抗体の部分の上面視での単位面積当たりの抵抗値を、他の部分の上面視での単位面積当たりの抵抗値より高くし、前記第１、第２のトリミング溝を、前記抵抗体の前記一対の上面電極が向かい合う方向に沿った一方の側面に始点を有し、前記一対の上面電極が向かい合う方向と直角の垂直部と、この垂直部の先端部から連続して形成された前記一対の上面電極が向かい合う方向と平行の水平部とで構成するとともに、前記第１、第２のトリミング溝の水平部の各先端部が互いに対向するように位置させたチップ抵抗器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、各種電子機器に使用されるチップ抵抗器に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来のこの種のチップ抵抗器は、図６に示すように、絶縁基板１と、この絶縁基板１の上面の両端部に設けられた一対の上面電極２と、絶縁基板１の上面に設けられ、かつ一対の上面電極２間に形成された矩形状の抵抗体３とを備え、抵抗体３には、レーザで切削してＬ字状のトリミング溝４が形成されている。また、トリミング溝４は、一対の上面電極２が向かい合う方向に沿った抵抗体３の一方の側面に始点を有し、一対の上面電極２が向かい合う方向と直角の垂直部４ａと、垂直部４ａの先端部から連続して形成され一対の上面電極２が向かい合う方向と平行の水平部４ｂで構成され、このトリミング溝４によって抵抗値を所定の値になるように調整していた。
【０００３】
さらに、より多くの抵抗値を調整するために、他方の側面に始点を有した他のＬ字状のトリミング溝４を形成する場合もあった。
【０００４】
なお、この出願の発明に関する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献１が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平６−３３８４０６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上記した従来のチップ抵抗器においては、サージやＥＳＤ等の高電圧が一対の上面電極２間に印加されたとき、抵抗体３のトリミング溝４の垂直部４ａを挟んで位置する部分３ａ、３ｂ間の電位差が大きくなるため、トリミング溝４の垂直部４ａが絶縁破壊される場合があり、これにより、抵抗値が変動する可能性があるという課題を有していた。
【０００７】
さらに、抵抗体３のトリミング溝４の水平部４ｂの先端部４ｃ周辺部には電流が集中するが、この部分にはレーザ照射によるマイクロクラックが発生するため、電流ノイズ特性が悪化するという課題を有していた。
【０００８】
本発明は上記従来の課題を解決するもので、サージやＥＳＤ等の高電圧が印加されても抵抗値が変動せずかつ電流ノイズ特性が悪化するのを防止できるチップ抵抗器を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために、本発明は以下の構成を有するものである。
【００１０】
本発明の請求項１に記載の発明は、絶縁基板と、この絶縁基板の上面の両端部に設けられた一対の上面電極と、前記絶縁基板の上面に設けられ、かつ前記一対の上面電極間に形成された矩形状の抵抗体と、この抵抗体にレーザ照射によって形成されたＬ字状の第１のトリミング溝、第２のトリミング溝とを備え、前記抵抗体の上面視での単位面積当たりの抵抗値を略均一とし、前記第１、第２のトリミング溝を、前記抵抗体の前記一対の上面電極が向かい合う方向に沿った一方の側面に始点を有し、前記一対の上面電極が向かい合う方向と直角の垂直部と、この垂直部の先端部から連続して形成された前記一対の上面電極が向かい合う方向と平行の水平部とで構成するとともに、前記第１、第２のトリミング溝の水平部の各先端部が互いに対向するように位置させたもので、この構成によれば、２つのトリミング溝と抵抗体の一方の側面とで囲まれた抵抗体の部分の電位を、一方の上面電極の電位と他方の上面電極の電位との間の電位にすることができるため、高電圧が一対の上面電極間に印加されても、第１、第２のトリミング溝の垂直部を挟んで位置する部分間の電位差を小さくすることができ、これにより、第１、第２のトリミング溝の垂直部が絶縁破壊される可能性を低減できるため、抵抗値が変動するのを防ぐことができる。さらに、一方のトリミング溝の水平部の先端部周辺に流れる電流は、他方のトリミング溝の存在によってその流れが阻害されるため、レーザ照射によるマイクロクラックが発生した第１、第２のトリミング溝の水平部の先端部周辺にはほとんど電流が集中せず、これにより、電流ノイズ特性が悪化するのを防止できるという作用効果を有するものである。
【００１１】
本発明の請求項２に記載の発明は、特に、第１、第２のトリミング溝の垂直部の長さを略同一にしたもので、この構成によれば、一方のトリミング溝の水平部の先端部周辺に流れる電流は、他方のトリミング溝の存在によってその流れがほぼ完全に阻害されるため、この水平部の先端部周辺への電流集中を防ぎ、これにより、電流ノイズ特性が悪化するのをより効果的に防止できるという作用効果を有するものである。
【００１２】
本発明の請求項３に記載の発明は、特に、第１、第２のトリミング溝を抵抗体の一対の上面電極が向かい合う方向の中心線に対して線対称に配置したもので、この構成によれば、２つのトリミング溝と抵抗体の一方の側面とで囲まれた抵抗体の部分の電位を、一対の上面電極間の電位差の略中間の値にすることができるため、高電圧が一対の上面電極間に印加されても、両方のトリミング溝において垂直部を挟んで位置する部分間の電位差を最も小さくすることができ、これにより、第１、第２のトリミング溝の垂直部が絶縁破壊される可能性をより低減できるため、抵抗値が変動するのをより確実に抑えることができるという作用効果を有するものである。
【００１３】
本発明の請求項４に記載の発明は、特に、第１、第２のトリミング溝のうち少なくとも一方において、その水平部の先端部からさらに連続して第２の垂直部を形成し、かつこの第２の垂直部を前記トリミング溝の始点が形成された抵抗体の一方の側面側に向かうようにするとともに、その先端部を前記抵抗体の一方の側面まで至らないようにしたもので、この構成によれば、レーザ照射によるマイクロクラックが発生したトリミング溝の第２の垂直部の先端部周辺へは、他方のトリミング溝の存在によって電流がほとんど流れないため、電流ノイズ特性が悪化するのをより効果的に防止できるという作用効果を有するものである。
【００１４】
本発明の請求項５に記載の発明は、特に、第１、第２のトリミング溝のうち少なくとも一方において、その垂直部と水平部との接続部を円弧状にしたもので、この構成によれば、トリミング溝の垂直部と水平部との接続部周辺への電流集中を防ぐことができるため、この接続部周辺での負荷集中を抑制することができ、これにより、負荷特性を向上させることができ、かつレーザ照射によるマイクロクラックが発生した垂直部の先端部周辺による電流ノイズ特性が悪化するのを防止できるという作用効果を有するものである。
【００１５】
本発明の請求項６に記載の発明は、絶縁基板と、この絶縁基板の上面の両端部に設けられた一対の上面電極と、前記絶縁基板の上面に設けられ、かつ前記一対の上面電極間に形成された矩形状の抵抗体と、この抵抗体にレーザ照射によって形成された第１のトリミング溝、第２のトリミング溝とを備え、前記抵抗体の上面視での単位面積当たりの抵抗値を略均一とし、前記第１、第２のトリミング溝を、前記抵抗体の前記一対の上面電極が向かい合う方向に沿った一方の側面に始点を有し、その少なくとも一部を円弧状とし、かつ前記第１、第２のトリミング溝の各終端が互いに対向するように位置させたもので、この構成によれば、トリミング溝の円弧状の部分周辺へは電流がほとんど集中しないため、この部分での負荷集中を抑制することができ、これにより、負荷特性をより向上させることができるという作用効果を有するものである。
【００１６】
本発明の請求項７に記載の発明は、絶縁基板と、この絶縁基板の上面の両端部に設けられた一対の上面電極と、前記絶縁基板の上面に設けられ、かつ前記一対の上面電極間に形成された矩形状の抵抗体と、この抵抗体にレーザ照射によって形成されたＬ字状の第１のトリミング溝、第２のトリミング溝とを備え、前記２つのトリミング溝と抵抗体の一方の側面とで囲まれた抵抗体の部分の上面視での単位面積当たりの抵抗値を、他の部分の上面視での単位面積当たりの抵抗値より高くし、前記第１、第２のトリミング溝を、前記抵抗体の前記一対の上面電極が向かい合う方向に沿った一方の側面に始点を有し、前記一対の上面電極が向かい合う方向と直角の垂直部と、この垂直部の先端部から連続して形成された前記一対の上面電極が向かい合う方向と平行の水平部とで構成するとともに、前記第１、第２のトリミング溝の水平部の各先端部が互いに対向するように位置させたもので、この構成によれば、抵抗値が変動するのを防止し、電流ノイズ特性が悪化するのを防止でき、さらに、２つのトリミング溝と抵抗体の一方の側面とで囲まれた抵抗体の部分に電流が流れにくくなるため、マイクロクラックが発生した水平部の先端部周辺へ電流が集中するのを防ぎ、電流ノイズ特性が悪化するのを防止することができるという作用効果を有するものである。
【発明の効果】
【００１７】
以上のように本発明のチップ抵抗器は、第１、第２のトリミング溝を、抵抗体の一対の上面電極が向かい合う方向に沿った一方の側面に始点を有し、一対の上面電極が向かい合う方向と直角の垂直部と、この垂直部の先端部から連続して形成された一対の上面電極が向かい合う方向と平行の水平部とで構成するとともに、第１、第２のトリミング溝の水平部の各先端部が互いに対向するように位置させているため、２つのトリミング溝と抵抗体の一方の側面とで囲まれた抵抗体の部分の電位を、一方の上面電極の電位と他方の上面電極の電位との間の電位にすることができ、これにより、高電圧が一対の上面電極間に印加されても、第１、第２のトリミング溝の垂直部を挟んで位置する部分間の電位差を小さくすることができるため、第１、第２のトリミング溝の垂直部が絶縁破壊される可能性を低減でき、この結果、抵抗値が変動するのを防止することができる。さらに、一方のトリミング溝の水平部の先端部周辺に流れる電流は、他方のトリミング溝の存在によってその流れが阻害されるため、レーザ照射によるマイクロクラックが発生した第１、第２のトリミング溝の水平部の先端部周辺にはほとんど電流が集中せず、これにより、電流ノイズ特性が悪化するのを防止できるという優れた効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の一実施の形態におけるチップ抵抗器の断面図
【図２】同チップ抵抗器の主要部の上面図
【図３】同チップ抵抗器の他の例の主要部の上面図
【図４】同チップ抵抗器の他の例の主要部の上面図
【図５】同チップ抵抗器の他の例の主要部の上面図
【図６】従来のチップ抵抗器の主要部の上面図
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明の一実施の形態におけるチップ抵抗器について、図面を参照しながら説明する。
【００２０】
図１は本発明の一実施の形態におけるチップ抵抗器の断面図、図２は同チップ抵抗器の主要部の上面図である。
【００２１】
本発明の一実施の形態におけるチップ抵抗器は、図１、図２に示すように、絶縁基板１１と、この絶縁基板１１の上面の両端部に設けられた一対の上面電極１２ａ、１２ｂと、前記絶縁基板１１の上面に設けられ、かつ前記一対の上面電極１２ａ、１２ｂ間に形成された抵抗体１３と、少なくとも前記抵抗体１３を覆うように設けられた保護膜１４と、前記一対の上面電極１２ａ、１２ｂと電気的に接続されるように前記絶縁基板１１の両端面に設けられた一対の端面電極１５と、前記一対の上面電極１２ａ、１２ｂの一部と前記一対の端面電極１５の表面に形成されためっき層１６とを備えた構成としている。そして、抵抗体１３にはＬ字状の第１のトリミング溝１７、第２のトリミング溝１８の２つのトリミング溝が形成され、この２つのトリミング溝１７、１８はそれぞれ、抵抗体１３の一対の上面電極１２ａ、１２ｂが向かい合う方向に沿った一方の側面１３ａに始点１７ａ、１８ａを有し、一対の上面電極１２ａ、１２ｂが向かい合う方向と直角の垂直部１７ｂ、１８ｂと、この垂直部１７ｂ、１８ｂの先端部１７ｃ、１８ｃから連続して形成された一対の上面電極１２ａ、１２ｂが向かい合う方向と平行の水平部１７ｄ、１８ｄとで構成されている。なお、図２では、保護膜１４、一対の端面電極１５、めっき層１６を省略している。
【００２２】
上記構成において、前記絶縁基板１１は、Ａｌ2Ｏ3を９６％含有するアルミナで構成され、その形状は矩形状（上面視にて長方形）となっている。
【００２３】
また、前記一対の上面電極１２ａ、１２ｂは、絶縁基板１１の上面の両端部に設けられ、Ａｇ系厚膜材料を印刷することによって形成されている。
【００２４】
さらに、前記抵抗体１３は、一対の上面電極１２ａ、１２ｂ間を電気的に接続するように方形状に設けられ、ＲｕＯ2、ＡｇＰｄ、ＣｕＮｉ等によって形成されている。なお、この抵抗体１３の上面はプリコートガラス（図示せず）で覆われている。
【００２５】
さらに、抵抗体１３の上面視での単位面積当たりの抵抗値は略均一となっている。すなわち、抵抗体１３全面にわたって同一の材料を略同一の厚みで形成している。なお、抵抗体１３の一部分を他の部分と異なる抵抗率の材料を用い、他の部分と異なる厚みで形成して、結果的に上面視での単位面積当たりの抵抗値が他の部分と略同一になるようにしてもよい。
【００２６】
そして、前記保護膜１４は、少なくとも上面電極１２の一部が露出し、かつ抵抗体１３および第１、第２のトリミング溝１７、１８を覆うように、ガラスまたはエポキシ樹脂により形成されている。
【００２７】
そしてまた、前記一対の端面電極１５は、絶縁基板１１の両端部に露出した一対の上面電極１２ａ、１２ｂと電気的に接続されるようにＡｇによって形成される。また、この一対の端面電極１５の表面には、Ｎｉめっき層と、このＮｉめっき層を覆うＳｎめっき層とからなるめっき層１６が形成されている。
【００２８】
さらに、前記第１のトリミング溝１７、第２のトリミング溝１８は、それぞれ抵抗体１３にＬ字状に設けられ、抵抗体１３にレーザを照射することにより形成されている。そして、第１のトリミング溝１７は、抵抗体１３の一対の上面電極１２ａ、１２ｂが向かい合う方向（図１では抵抗体１３の長さ方向Ｘ）に沿った一方の側面１３ａに始点１７ａを有し、長さ方向Ｘと直角の垂直部１７ｂと、この垂直部１７ｂの先端部１７ｃから連続して形成された長さ方向Ｘと平行の水平部１７ｄとで構成されている。また、第２のトリミング溝１８は、第１のトリミング溝１７の始点１７ａが形成された同じ側面１３ａに始点１８ａを有しており、さらに、長さ方向Ｘと直角の垂直部１８ｂと、この垂直部１８ｂの先端部１８ｃから連続して形成された長さ方向Ｘと平行の水平部１８ｄとで構成されている。
【００２９】
そして、第１のトリミング溝１７の水平部１７ｄの先端部１７ｅと第２のトリミング溝１８の水平部１８ｄの先端部１８ｅが互いに向き合うように位置している。すなわち、第１のトリミング溝１７の水平部１７ｄの先端部１７ｅが向く方向は、第２のトリミング溝１８を介して反対側の上面電極１２ｂ、第２のトリミング溝１８の水平部１８ｄの先端部１８ｅが向く方向は、第１のトリミング溝１７を介してもう反対側の上面電極１２ａとなるように構成されている。
【００３０】
そしてまた、第１のトリミング溝１７の垂直部１７ｂの長さと、第２のトリミング溝１８の垂直部１８ｂの長さが略同一になっている。そしてさらに、第１のトリミング溝１７の水平部１７ｄの長さと、第２のトリミング溝１８の水平部１８ｄの長さとが略同一になっており、かつ第１のトリミング溝１７と第２のトリミング溝１８を、一対の上面電極１２ａ、１２ｂが向かい合う方向の抵抗体１３の中心線、すなわち、抵抗１３体の長さ方向Ｘの中心線（図２のＡ−Ａ線）に対して線対称に配置している。
【００３１】
上記したように本発明の一実施の形態においては、第１、第２のトリミング溝１７、１８を、抵抗体１３の一対の上面電極１２ａ、１２ｂが向かい合う方向に沿った一方の側面１３ａに始点１７ａ、１８ａを有し、一対の上面電極１２ａ、１２ｂが向かい合う方向と直角の垂直部１７ｂ、１８ｂと、この垂直部１７ｂ、１８ｂの先端部１７ｃ、１８ｃから連続して形成された一対の上面電極１２ａ、１２ｂが向かい合う方向と平行の水平部１７ｄ、１８ｄとで構成するとともに、水平部１７ｄ、１８ｄのそれぞれの先端部１７ｅ、１８ｅが互いに対向するように位置させているため、第１、第２のトリミング溝１７、１８と抵抗体１３の一方の側面１３ａとで囲まれた抵抗体の閉塞部１９の電位を、一方の上面電極１２ａの電位と他方の上面電極１２ｂの電位との間の電位にすることができ、これにより、高電圧が一対の上面電極１２ａ、１２ｂ間に印加されても、第１、第２のトリミング溝１７、１８の垂直部１７ｂ、１８ｂを挟んで位置する部分間の電位差を小さくすることができるため、第１、第２のトリミング溝１７、１８の垂直部１７ｂ、１８ｂが絶縁破壊される可能性を低減でき、この結果、サージやＥＳＤ等の高電圧が印加されても抵抗値が変動するのを防止できるという効果が得られるものである。
【００３２】
すなわち、一対の上面電極１２ａ、１２ｂ間に例えば１０ｋＶの電圧が印加された場合、従来のようにＬ字状の１本のトリミング溝が存在しているだけでは、このトリミング溝を挟んで位置する部分間には場合によっては１０ｋＶ近くの電圧が印加されてトリミング溝が絶縁破壊を起こす可能性があるが、本発明では、第１、第２のトリミング溝１７、１８と抵抗体１３の一方の側面１３ａとで囲まれた抵抗体の閉塞部１９の電位を例えば４ｋＶ〜６ｋＶにすることができるため、トリミング溝１７、１８の垂直部１７ｂ、１８ｂを挟んで位置する部分間にはそれぞれ約４ｋＶ〜６ｋＶの電位差しか生じず、この結果、第１、第２のトリミング溝１７、１８が絶縁破壊を起こす可能性を低減できる。
【００３３】
なお、電位差を低減する目的だけであれば、水平部１７ｄ、１８ｄの長さを短くすればよいが、この場合、所望の抵抗値を得るためには垂直部１７ｂ、１８ｂの長さを長くする必要があるため、負荷特性を著しく低下させてしまう。
【００３４】
また、一方のトリミング溝１７の水平部１７ｄの先端部１７ｅ周辺に流れる電流は、他方のトリミング溝１８の存在によってその流れが阻害されるため、レーザ照射によるマイクロクラックが発生した第１、第２のトリミング溝１７、１８の水平部１７ｄ、１８ｄの先端部１７ｅ、１８ｅ周辺にはほとんど電流が集中せず、これにより、電流ノイズ特性が悪化するのを防止できるという効果も得られる。
【００３５】
さらに、第１のトリミング溝１７の垂直部１７ｂの長さと、第２のトリミング溝１８の垂直部１８ｂの長さを略同一にしているため、一方のトリミング溝１７の水平部１７ｄの先端部１７ｅ周辺に流れる電流を、他方のトリミング溝１８によってその流れがほぼ完全に阻害でき、これにより、この水平部１７ｄ、１８ｄの先端部１７ｅ、１８ｅ周辺への電流集中を防ぎ、電流ノイズ特性が悪化するのをより効果的に防止できる。
【００３６】
そしてさらに、第１のトリミング溝１７の水平部１７ｄの長さと、第２のトリミング溝１８の水平部１８ｄの長さとを略同一にして、第１のトリミング溝１７と第２のトリミング溝１８を、一対の上面電極１２ａ、１２ｂが向かい合う方向の抵抗体１３の中心線、すなわち、抵抗１３体の長さ方向Ｘの中心線（図２のＡ−Ａ線）に対して線対称に配置しているため、第１、第２のトリミング溝１７、１８と抵抗体１３の一方の側面１３ａとで囲まれた抵抗体の閉塞部１９の電位を、一対の上面電極１２ａ、１２ｂ間の電位差の略中間の値、すなわち上述した例では５ｋＶにすることができるため、第１、第２のトリミング溝１７、１８の垂直部１７ｂ、１８ｂに印加される電圧はともに最大でも５ｋＶしか印加されない。そして、閉塞部１９の電位を例えば３ｋＶにすれば、一方のトリミング溝の垂直部には７ｋＶが印加されてしまうが、５ｋＶにすれば両方のトリミング溝１７、１８には５ｋＶより高い電圧は印加されないため、第１、第２のトリミング溝１７、１８が絶縁破壊される可能性をより低減できる。
【００３７】
なお、図３に示すように、第１、第２のトリミング溝１７、１８の水平部１７ｄ、１８ｄの先端部１７ｅ、１８ｅからさらに連続して第２の垂直部１７ｆ、１８ｆを形成し、かつこの第２の垂直部１７ｆ、１８ｆを第１、第２のトリミング溝１７、１８の始点１７ａ、１８ａが形成された抵抗体１３の一方の側面１３ａ側に向かうようにしてもよい。
【００３８】
この構成によって、第２の垂直部の１７ｆ、１８ｆの先端部１７ｇ、１８ｇの周辺部にはレーザ照射によるマイクロクラックが発生するが、この先端部１７ｇ、１８ｇは、他方のトリミング溝の存在によって電流がほとんど流れないため、電流ノイズ特性が悪化するのをより効果的に防止できる。なお、この場合、その先端部１７ｇ、１８ｇが抵抗体１３の一方の側面１３ａまで至らないようにする。
【００３９】
さらに、図４に示すように、第１、第２のトリミング溝１７、１８の垂直部１７ｂ、１８ｂと水平部１７ｄ、１８ｄとの接続部を円弧状にしてもよい。
【００４０】
この構成により、第１、第２のトリミング溝１７、１８の垂直部１７ｂ、１８ｂと水平部１７ｄ、１８ｄとの接続部への電流集中を防ぐことができるため、この接続部周辺での負荷集中を抑制することができ、これにより、負荷特性を向上させることができる。そして、垂直部１７ｂ、１８ｂの先端部１７ｃ、１８ｃ（水平部１７ｄ、１８ｄとの接続部）周辺もレーザ照射によるマイクロクラックが発生するため、垂直部１７ｂ、１８ｂの先端部１７ｃ、１８ｃによって電流ノイズ特性が悪化するのを防止できる。なお、第２の垂直部１７ｆ、１８ｆについても、水平部１７ｄ、１８ｄとの接続部を円弧状にすれば、同様の効果が得られる。
【００４１】
そしてさらに、図５に示すように、第１、第２のトリミング溝１７、１８を円弧状にしたり、円弧状の部分と水平部１７ｄ、１８ｄとを接続したりしてもよい。また、円弧状の部分と垂直部１７ｂ、１８ｂとを接続してもよい。この構成により、第１、第２のトリミング溝１７、１８の円弧状の部分周辺へは電流がほとんど集中しないため、この部分での負荷集中を抑制することができ、これにより、負荷特性をより向上させることができる。なお、この場合、第１のトリミング溝１７の終端１７ｈと、第２のトリミング溝１８の終端１８ｈが互いに対向するように位置させる。
【００４２】
また、抵抗体１３の上面視での単位面積当たりの抵抗値は略均一となっているため、水平部１７ｄ、１８ｄの先端部１７ｅ、１８ｅ周辺への電流集中を防ぐことができる。すなわち、第１、第２のトリミング溝１７、１８と抵抗体１３の一方の側面１３ａとで囲まれた抵抗体の閉塞部１９が、他の部分より厚みが厚くなったり低抵抗材料を用いたりして、単位面積当たりの抵抗値が他の部分より低くなると、この閉塞部１９により多くの電流が流れるようになるため、マイクロクラックが発生した水平部１７ｄ、１８ｄの先端部１７ｅ、１８ｅ周辺へ電流が集中してしまい、電流ノイズ特性が悪化するのを防止することができないからである。
【００４３】
さらに、トリミング溝を２つ形成しているため、抵抗値の修正率が大きくなり、これにより、第１のトリミング溝１７の垂直部１７ｂの長さ、第２のトリミング溝１８の垂直部１８ｂの長さを短くすることができるため、第１、第２のトリミング溝１７、１８と抵抗体１３の他方の側面１３ｂとの幅を広くすることができ、この結果、負荷特性、ＥＳＤ特性等の電気特性を低下させることはない。
【００４４】
なお、第１のトリミング溝１７の水平部１７ｄの先端部１７ｅと第２のトリミング溝１８の水平部１８ｄの先端部１８ｅとは接続させないようにする必要がある。ここで、両者を接続した場合には、第１、第２のトリミング溝１７、１８と抵抗体１３の一方の側面１３ａとで囲まれた抵抗体の閉塞部１９の電位は不安定な状態になるため、一対の上面電極１２ａ、１２ｂ間に高電圧が印加されると、第１のトリミング溝１７と第２のトリミング溝１８をそれぞれ挟んで位置する部分が同時に絶縁破壊を起こす可能性があるからである。そして、トリミング溝１７、１８の破壊により、上面電極１２ａ、抵抗体１３、第１のトリミング溝１７、閉塞部１９、第２のトリミング溝１８、抵抗体１３、上面電極１２ｂという電流経路ができ、抵抗値変動等の不具合が生じる可能性がある。
【００４５】
また、本発明の一実施の形態におけるチップ抵抗器では、一対の第１、第２のトリミング溝１７、１８を抵抗体１３の一方の側面１３ａに形成したが、第１、第２のトリミング溝１７、１８と同じ構成の他のトリミング溝２つを、抵抗体１３の他方の側面１３ｂに形成してトリミング溝を４つとしてもよいし、抵抗体１３の一方の側面１３ａ、他方の側面１３ｂに第１、第２のトリミング溝１７、１８と同じ構成の他のトリミング溝を複数対形成してもよい。
【００４６】
さらに、抵抗体１３の上面視での単位面積当たりの抵抗値は略均一としたが、第１、第２のトリミング溝１７、１８と抵抗体１３の一方の側面１３ａとで囲まれた抵抗体の閉塞部１９の上面視での単位面積当たりの抵抗値を、他の部分の上面視での単位面積当たりの抵抗値より高くしてもよい。これにより、閉塞部１９に電流が流れにくくなるため、マイクロクラックが発生した水平部１７ｄ、１８ｄの先端部１７ｅ、１８ｅ周辺へ電流が集中するのを防ぎ、電流ノイズ特性が悪化するのを防止することができる。このとき、閉塞部１９の厚みを他の部分の厚みより薄くしたり、抵抗率が他の部分の抵抗率より高い材料を用いたりする。
【産業上の利用可能性】
【００４７】
本発明に係るチップ抵抗器は、サージやＥＳＤ等の高電圧が印加されても抵抗値が変動せずかつ電流ノイズ特性が悪化するのを防止できるという効果を有するものであり、特に、各種電子機器に使用されるチップ抵抗器等において有用となるものである。
【符号の説明】
【００４８】
１１  絶縁基板
１２ａ、１２ｂ  一対の上面電極
１３  抵抗体
１３ａ  抵抗体の一方の側面
１７  第１のトリミング溝
１７ａ  第１のトリミング溝の始点
１７ｂ  第１のトリミング溝の垂直部
１７ｃ  第１のトリミング溝の垂直部の先端部
１７ｄ  第１のトリミング溝の水平部
１７ｅ  第１のトリミング溝の水平部の先端部
１７ｆ  第１のトリミング溝の第２の垂直部
１７ｇ  第１のトリミング溝の第２の垂直部の先端部
１７ｈ  第１のトリミング溝の終端
１８  第２のトリミング溝
１８ａ  第２のトリミング溝の始点
１８ｂ  第２のトリミング溝の垂直部
１８ｃ  第２のトリミング溝の垂直部の先端部
１８ｄ  第２のトリミング溝の水平部
１８ｅ  第２のトリミング溝の水平部の先端部
１８ｆ  第２のトリミング溝の第２の垂直部
１８ｇ  第２のトリミング溝の第２の垂直部の先端部
１８ｈ  第２のトリミング溝の終端
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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