(57)【要約】【課題】簡便なタッチパネルの検査の可能とし、表示素子上のタッチパネルの検査に好適な検査装置およびタッチパネルの検査方法を提供する。【解決手段】検査装置１を、導電性を有する基板２上に、光導電性を有する層である光導電層３を配置して構成する。検査装置１では、導電性の基板２がグラウンドに接続され、タッチパネル４の上に配置される。そして、光５をタッチパネル４の検査位置に向けて下方側から照射する。タッチパネル４を透過した光５により、光導電層３を照射して受光部６を導電性にして、受光部６を、基板２を介して接地接続させてタッチパネル４の検査を行う。表示素子上のタッチパネル４を検査する場合は、表示素子での表示によって表示素子から放射される光５を用い、光導電層３を照射して受光部６を導電性にしてタッチパネル４の検査を行う。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
タッチパネル上に配置される検査装置であって、
導電性を有する基板上に、光導電性を有する光導電層を配置して構成されることを特徴とする検査装置。
【請求項２】
前記基板は、絶縁性の絶縁基板と当該絶縁基板の前記光導電層側の面に配置された導電層とを有し、導電性を有するように構成されたものであることを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
【請求項３】
前記絶縁基板は透明基板であり、前記導電層は透明導電層であることを特徴とする請求項２に記載の検査装置。
【請求項４】
前記光導電層の周囲を側面側および前記基板が存在する面側からカバーするように、遮光性のカバーを備えることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の検査装置。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれか１項に記載の検査装置を用いたタッチパネルの検査方法であって、
前記検査装置をタッチパネル上に配置し、
前記導電性を有する基板または前記導電層を接地接続するとともに、前記タッチパネルの、前記検査装置の配置されない反検査装置側から、前記タッチパネルの検査位置に向けて光を照射し、
前記タッチパネルを透過した前記光により、前記検査装置の前記光導電層を照射して当該光導電層の受光部を導電性にし、
前記受光部を、前記導電層を介して接地接続させて前記タッチパネルの検査を行うことを特徴とするタッチパネルの検査方法。
【請求項６】
請求項１〜４のいずれか１項に記載の検査装置を用いたタッチパネルの検査方法であって、
前記検査装置を、表示素子上に載置されたタッチパネルの上に配置し、
前記導電性を有する基板または前記導電層を接地接続するとともに、前記タッチパネルの検査位置と対向する位置にある前記表示素子の表示部分で表示を行って、前記表示部分からの光を前記タッチパネルの検査位置に向けて照射し、
前記タッチパネルを透過した前記光により、前記検査装置の前記光導電層を照射して当該光導電層の受光部を導電性にし、
前記受光部を、前記導電層を介して接地接続して前記タッチパネルの検査を行うことを特徴とするタッチパネルの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査装置およびタッチパネル検査方法に関し、特にタッチパネルの検査に用いられる検査装置およびその検査装置を用いたタッチパネルの検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、携帯電話やスマートフォンやＰＤＡ（パーソナルデジタルアシスタント）等の携帯電子機器では、画面の大型化への要求が大きく、スイッチやテンキー等の入力装置を配置できる領域が少なくなっている。また、液晶ディスプレイ等の表示素子に表示された画像を参照しながら表示画像に触れ、操作者に分かりやすく情報の入力ができる情報入力方法の実現が求められている。そのため、最近タッチパネル付きの表示装置への要求が高まっている。
【０００３】
タッチパネルは、上述した液晶ディスプレイ等の表示素子の上に配置され、表示素子上の表示に従い操作者が指やペン等で操作面に触れた場合、そのタッチ位置を検出する入力装置の総称である。タッチパネルにおける接触位置検出の方式としては、抵抗膜方式や静電容量方式等がある。
抵抗膜方式のタッチパネルでは、表面に透明電極の配設された２枚の基板を、互いの透明電極が対向するように離間して配置する。そのため２枚の基板を必要として薄型化が難しい。また、従来の抵抗膜方式タッチパネルでは、基板を押して対向する電極間をショートさせる構造であるため、摩耗等を生じて耐久性に乏しい。
【０００４】
静電容量方式のタッチパネルでは、使用する基板を１枚として薄型化することも可能であり、特に携帯電子機器に好適な方式である。静電容量方式は、人間が導体であり、操作者の指がグランドとして機能することを利用する。例えば、タッチパネルの基板上にマトリクス状に配置されたセンシング用の電極に指がタッチすると、指とそのタッチ位置にある電極との間に容量が形成され、そうした変化を制御回路等により検知する。そして、指のタッチの位置座標情報が読み出され、タッチ位置の検出が行われる。
【０００５】
以上のようなタッチパネルでは、表示素子上での正確なタッチ入力を可能とするよう、タッチ位置の正確な検出が求められる。例えば、静電容量方式のタッチパネルでは、操作面内に、構成部材に起因する容量の分布が形成された場合、微細な容量変化を検出できないことがある。また、タッチパネルを表示素子の上に配置するに際し、所望とする位置に正確に配置されないこと等がある。そうした場合、タッチパネルでは、正確なタッチ位置の検出ができないことがあった。したがって、タッチパネルでは、例えば、製造時等において、タッチ位置の正確な検出ができるか否かを検査する、タッチパネルの検査が非常に重要となる。
【０００６】
タッチパネルの検査に関する技術として、特許文献１には、タッチパネルを載置するステージと、人間の指を代替するペン部材と、ペン部材を支持するアーム部材とを備えたタッチパネルの検査装置が記載されている。この特許文献１に記載のタッチパネルの検査装置では、ステージ上にタッチパネルを載置し、タッチパネル専用のペン部材をアーム部材の先端に固定し、タッチパネルの操作面にペン部材の先端が乗るようにアーム部材を軸支するレール部材の高さを調節し固定する。そして、ペン部材によりタッチパネルの所望の位置に荷重をかけて、タッチパネルの検査を行っている。
【０００７】
また、特許文献２には、静電容量方式のタッチパネルの検査に好適なタッチパネルの検査装置が記載されている。この特許文献２に記載の検査装置は、タッチパネル上に配置される絶縁基板と、その絶縁基板のタッチパネル側の面に形成されている複数の電極と、その複数の電極それぞれを互いに独立に接地させるスイッチとを有する。そして、特許文献２に記載のタッチパネルの検査装置は、タッチパネル上に載置され、検査装置の接地電位となる電極により指のタッチ操作を模擬することができる。その結果、特許文献２に記載のタッチパネルの検査装置では、タッチパネルの所望の位置における検査を簡便に実施することを可能にする。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００３−３０３０５１号公報
【特許文献２】特開２０１０−４４７３０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、特許文献１に記載されたタッチパネルの検査装置では、装置が大規模になってしまう問題や、ペン部材をタッチパネルに直接に当てるため、タッチパネル表面に傷が発生する等の問題があった。さらに、その検査装置は、機械的にペン部材を動作させるため、検査時間が長時間になるという問題もあった。
【００１０】
特許文献２に記載されたタッチパネルの検査装置では、タッチパネルの検査のために、各電極の電位を制御するためのソフトウェアを別途準備する必要が生じる場合があった。そして、近年のタッチパネルでは、タッチ位置の検出精度を向上させるため、電極構造を微細化するとともに、より多数の電極を配置することがある。その場合、特許文献２に記載されたタッチパネルの検査装置では、構成する電極の数が増大し、それら電極の電位の制御に大きな負担が掛かることがあった。
また、特許文献２に記載されたタッチパネルの検査装置では、検査対象となるタッチパネルの所望位置での検査を確実に実現するため、タッチパネルに対し検査装置を正確に載置させる必要がある。すなわち、検査対象であるタッチパネルと検査装置との間で正確な位置合わせが必要となり、タッチパネルの検査作業を煩雑なものとしていた。
【００１１】
また、上述したように、実際に使用する際のタッチパネルは、液晶ディスプレイ等の表示素子の上に配置され、表示素子上の表示に従いタッチ操作がなされて、そのタッチ位置を検出する。したがって、タッチパネルの検査においても、表示素子の上にタッチパネルを配置した状態での検査が求められることがある。その場合、表示素子上の表示に対応させながらタッチパネルの検査をすることが求められる場合がある。しかしながら、特許文献２に記載されたタッチパネルの検査装置では、電極を備えた絶縁基板を表示素子の上のタッチパネル上に配置する必要があり、光透過性の低い絶縁基板に遮蔽されて表示素子上の表示が確認できないことがあった。その結果、実際の表示素子上での表示の位置とタッチパネル上での検査位置との間で整合性がとれているか否かを正確に判断することができないことがあった。
【００１２】
そのため、装置が大規模になることがなく、タッチパネルを傷つけることもなく簡便な方法によりタッチパネルの検査を行うことができ、さらに、実際に表示素子上に配置された状態でのタッチパネルの検査に好適な検査装置およびそれを用いたタッチパネルの検査方法が求められている。
【００１３】
本発明は、以上のタッチパネルの検査に用いられる検査装置やタッチパネルの検査方法の問題に鑑みてなされたものである。
すなわち、本発明の目的は、タッチパネルを傷つけることを抑えて簡便にタッチパネルの検査を行うことができ、実際の表示素子上で行われるタッチパネルの検査にも好適な検査装置およびそれを用いたタッチパネルの検査方法を提供することにある。
【００１４】
本発明の他の目的および利点は、以下の記載から明らかとなるであろう。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明の第１の態様は、タッチパネル上に配置される検査装置であって、
導電性を有する基板上に、光導電性を有する光導電層を配置して構成されることを特徴とする検査装置に関する。
【００１６】
本発明の第１の態様において、基板は、絶縁性の絶縁基板とその絶縁基板の光導電層側の面に配置された導電層とを有し、導電性を有するように構成されたものであることが好ましい。
【００１７】
本発明の第１の態様において、絶縁基板は透明基板であり、導電層は透明導電層であることが好ましい。
【００１８】
本発明の第１の態様において、光導電層の周囲を側面側および基板が存在する面側からカバーするように、遮光性のカバーを備えることが好ましい。
【００１９】
本発明の第２の態様は、本発明の第１の態様の検査装置を用いたタッチパネルの検査方法であって、
本発明の第１の態様の検査装置をタッチパネル上に配置し、
導電性を有する基板または導電層を接地接続するとともに、タッチパネルの、検査装置の配置されない反検査装置側から、タッチパネルの検査位置に向けて光を照射し、
タッチパネルを透過した光により、検査装置の光導電層を照射してその光導電層の受光部を導電性にし、
その受光部を、導電層を介して接地接続させてタッチパネルの検査を行うことを特徴とするタッチパネルの検査方法に関する。
【００２０】
本発明の第３の態様は、本発明の第１の態様の検査装置を用いたタッチパネルの検査方法であって、
本発明の第１の態様の検査装置を、表示素子上に載置されたタッチパネルの上に配置し、
導電性を有する基板または導電層を接地接続するとともに、タッチパネルの検査位置と対向する位置にある表示素子の表示部分で表示を行って、表示部分からの光をタッチパネルの検査位置に向けて照射し、
タッチパネルを透過した光により、検査装置の光導電層を照射してその光導電層の受光部を導電性にし、
その受光部を、導電層を介して接地接続してタッチパネルの検査を行うことを特徴とするタッチパネルの検査方法に関する。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、タッチパネルを傷つけることを抑えて簡便にタッチパネルの検査を行うことができ、実際の表示素子上で行われるタッチパネルの検査にも好適な検査装置およびそれを用いたタッチパネルの検査方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の第１実施形態の検査装置の構造を説明する断面図である。
【図２】本発明の第１実施形態の検査装置を用いたタッチパネルの検査方法を説明する図である。
【図３】本発明の第２実施形態の検査装置の構造を説明する断面図である。
【図４】本発明の第２実施形態の検査装置を用いたタッチパネルの検査方法を説明する図である。
【図５】本発明の第３実施形態の検査装置の構造を説明する断面図である。
【図６】本発明の第４実施形態の検査装置の構造を説明する断面図である。
【図７】本発明の第１実施形態の検査装置を用いた、表示素子上のタッチパネルの検査方法を説明する図である。
【図８】本発明の第２実施形態の検査装置を用いた、表示素子上のタッチパネルの検査方法を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下、適宜図面を用い、本発明の実施形態である検査装置およびタッチパネルの検査方法について説明する。尚、各実施形態を示すそれぞれの図面において、共通する構成要素については同一の符号を付し、重複する説明は可能な限り省略することにする。
【００２４】
［実施の形態１］
図１は、本発明の第１実施形態の検査装置の構造を説明する断面図である。
【００２５】
図１に示すように、本実施形態の検査装置１は、導電性を有する基板２上に（図１では下側にあたる。）、光導電性を有する層である光導電層３を配置して構成される。そして、光導電層３を配置した側から静電容量方式のタッチパネル（図示されない）上に配置され、静電容量方式のタッチパネルに好適な検査装置として使用することができる。
【００２６】
図１に示す本実施形態の検査装置１の基板２は、導電性を有する。基板２は導電性の材料から全体を構成することが可能である。例えば、銅やアルミニウムやステンレス鋼等の金属を用いて基板２を構成することができる。
【００２７】
図１に示す本実施の形態の検査装置１の光導電層３は、光の照射を受けて抵抗値が下がる性質、すなわち上述の光導電性を有する。例えば、光導電層３は、光の照射を受けて抵抗値が下がる性質を備えた材料を用いて形成される。光については、紫外光、可視光、または赤外光とすることが可能であるが、特に可視光の照射を受けて抵抗値が下がる性質を備えた材料を用いて形成されることが好ましい。また、光導電層３の具体的な構成材料としては、アモルファスシリコン、硫化カドミウム（ＣｄＳ)およびセレン化カドミウム（ＣｄＳe)を挙げることができる。光導電層３の厚さについては、導電性の基板２によるタッチパネルへの干渉を抑制できる厚さとすることが好ましい。具体的には、０．１ｍｍ〜２ｍｍの厚さとすることが好ましい。
【００２８】
また、光導電層３については、基板２の全面をカバーするようにベタ状に形成することが可能であるが、タッチパネル（図示されない）の検査位置が予め決められている場合には、その検査位置に対応するように適宜パターニングされた形状を有していてもよい。
尚、基板２と光導電層３との間には、それらを接着するための接着層を設けることも可能である。その場合、その接着層は、導電性の接着剤を用いて構成されることが好ましい。
【００２９】
図２は、本発明の第１実施形態の検査装置を用いたタッチパネルの検査方法を説明する図である。
【００３０】
本実施形態のタッチパネルの検査方法では、本実施形態の検査装置１を用いて静電容量方式であるタッチパネル４の検査を行う。検査装置１では、導電性の基板２がグラウンドに接続され、光導電層３が検査対象であるタッチパネル４の側を向くようにされて、タッチパネル４の上に配置される。このとき、検査装置１の光導電層３は、タッチパネル４と接触する必要はない。後述するように、タッチパネル４の電極（図示されない）と光導電層３との間の容量形成が、タッチパネル４に感知できる水準となるような位置に配置されることが好ましい。
【００３１】
そして、光５をタッチパネル４の下方側から照射する。光５については、可視光等、検査装置１の光導電層３が照射を受けて感応し、光導電層３の抵抗値を低下させる光が選択される。光源としては、太陽光、蛍光灯およびＬＥＤ等を挙げることができる。このとき、光５の照射位置は、タッチパネル４の検査すべき位置となる。
【００３２】
図２に示すように、光５は、検査対象であるタッチパネル４の所望の検査位置に向けて、検査装置１が配置されていない反検査装置側から照射される。光５は、タッチパネル４に到達し、タッチパネル４の検査位置を透過して、タッチパネル４のもう一方の検査装置側に配置された検査装置１に到達する。そして、その光５は、タッチパネル４の検査位置に対向する、検査装置１の光導電層３の特定部分を照射する。光５の照射を受けた光導電層３の部分は受光部６となり、受光部６では抵抗値が低下して導電性を備えた部分として機能する。光導電層３は導電性の基板２上に配置されており、受光部６は、基板２を介して接地接続することになる。その結果、静電容量方式のタッチパネル４では、受光部６と対向する部分、すなわち、光５が透過したタッチパネル４の検査位置において、その部分の電極（図示されない）と受光部６との間で容量が形成されることになる。
【００３３】
そして、そうした電極での容量形成は、タッチパネル４の制御回路（図示されない）等により検知される。すなわち、操作者の指や金属棒等を用いた、タッチパネル４へのタッチ操作が再現されることになる。そして、検査対象であるタッチパネル４では、所望とする検査位置において、高い確実性を持ってタッチ位置の検出検査が行われる。
こうして、本実施形態のタッチパネルの検査方法では、本実施形態の検査装置１を用い、簡便に正確なタッチパネルの検査を行うことができる。
【００３４】
［実施の形態２］
図３は、本発明の第２実施形態の検査装置の構造を説明する断面図である。
【００３５】
図３に示すように、本実施形態の検査装置１１は、絶縁性の基板１２上に、導電性を有する導電層１３を配置し、その導電層１３の上に上述した検査装置１と同様の光導電層３を配置して構成される。そして、検査装置１１は、光導電層３を配置した側から静電容量方式のタッチパネル（図示されない）上に配置され、静電容量方式のタッチパネルに好適な検査装置として使用することができる。
【００３６】
図３に示す本実施形態の検査装置１１の基板１２は、絶縁性の絶縁基板である。例えば、ガラスや樹脂等を用いて構成することができる。そして、基板１２は、ガラスや光透過性の高い樹脂等から構成され、透明基板とすることが可能である。
導電層１３は導電性を有する層であり、銀や銅を含む金属等の導電性材料から構成することが可能である。また、ＩＴＯ（Ｉｎｄｉｕｍ  Ｔｉｎ  Ｏｘｉｄｅ）、ＩＺＯ（Ｉｎｄｉｕｍ  Ｚｉｎｃ  Ｏｘｉｄｅ）、酸化スズ（ＳｎＯ２）およびＺｎＯ（酸化亜鉛）等の光透過性の高い導電膜を形成可能な材料から構成することも可能である。すなわち、導電層１３は、光透過性の高い導電性の材料から構成され、透明導電層とすることが可能である。
【００３７】
尚、導電層１３については、基板１２と光導電層３との間を接着するための接着層とすることも可能である。その場合、その接着層は、導電性の接着剤を用いて構成されることが好ましい。そして、その導電性の接着剤は、光透過性の高い透明接着剤であることがより好ましい。
また、導電層１３については、基板２の全面をカバーするようにベタ状に形成することが可能であるが、タッチパネル４の検査位置が予め決められている場合等では、その検査位置に対応するようにパターニングされた形状を有していてもよい。
【００３８】
図４は、本発明の第２実施形態の検査装置を用いたタッチパネルの検査方法を説明する図である。
【００３９】
本実施形態のタッチパネルの検査方法では、本実施形態の検査装置１１を用いて静電容量方式であるタッチパネル４の検査を行う。検査装置１１では、絶縁性の基板２の上に配置された導電層１３がグラウンドに接続され、光導電層３が検査対象であるタッチパネル４の側を向くようにされて、タッチパネル４の上に配置される。このとき、検査装置１１の光導電層３は、タッチパネル４と接触する必要はない。後述するように、タッチパネル４の電極（図示されない）と光導電層３との間の容量形成が、タッチパネル４に感知できる水準となるような位置に配置されることが好ましい。
そして、光５をタッチパネル４の下方側から照射する。このとき、光５の照射位置は、タッチパネル４の検査すべき位置となる。
【００４０】
図４に示すように、光５は、検査対象であるタッチパネル４の所望とする検査位置に向け、検査装置１１が配置されていない反検査装置側から照射される。光５は、タッチパネル４に到達し、タッチパネル４の検査位置を透過し、タッチパネル４のもう一方の側に配置された検査装置１１に到達する。そして、その光５は、タッチパネル４の検査位置に対向する、検査装置１１の光導電層３の特定部分を照射する。光５の照射を受けた光導電層３の部分は受光部６となり、受光部６では抵抗値が低下して導電性を備えた部分として機能する。光導電層３は基板２上の導電層１３上に配置されており、受光部６は、導電層１３を介して接地接続することになる。その結果、静電容量方式のタッチパネル４では、受光部６と対向する部分、すなわち、光５が透過したタッチパネル４の所望とする検査位置において、その部分の電極（図示されない）と受光部６との間で容量が形成される。
【００４１】
そして、そうした電極での容量形成は、タッチパネル４の制御回路（図示されない）等により検知される。すなわち、操作者の指や金属棒等を用いた、タッチパネル４へのタッチ操作が再現されることになる。そして、検査対象であるタッチパネル４では、所望とする検査位置において、高い確実性を持ってタッチ位置の検出検査が行われる。
こうして、本実施形態のタッチパネルの検査方法では、本実施形態の検査装置１１を用い、簡便に正確なタッチパネルの検査を行うことができる。
【００４２】
このとき、本実施形態のタッチパネルの検査方法では、基板１２と導電層１３が光透過性の高い材料から構成された検査装置１１を用いることができる。そして、その検査装置１１を用い、タッチパネル４上での光５の照射位置を検査装置１１の上方等から確認しながらタッチパネル４の検査を行うことが可能である。その場合、例えば、検査装置１１の基板１２を光透過性の高いガラスや樹脂から構成して透明基板とし、導電層１３を上述したＩＴＯ等の光透過性の高い導電性材料から構成して透明導電層とすることが好ましい。使用する検査装置１１をそのような構成とすることにより、検査対象であるタッチパネル４の検査位置を確認しながら、タッチパネル４の検査を行うことが可能となる。
【００４３】
その場合、上述したように、光導電層３については、基板１２の全面をカバーするようにベタ状に形成することが可能であるが、タッチパネル４の検査位置に対応するように適宜パターニングされた形状を有していてもよい。光導電層３のパターン形状を適宜選択することにより、検査対象であるタッチパネル４の検査位置の確認がより容易となって、タッチパネル４の検査をより正確に行うことが可能となる。
【００４４】
また、本実施形態のタッチパネルの検査方法では、上述のように、使用する検査装置１１の基板１２と導電層１３を光透過性の高い材料から構成することにより、光５の照射方向を検査装置１１が配置された側からとすることも可能である。すなわち、光５を、タッチパネル４の上に配置された検査装置１１の上方から、タッチパネル４の検査位置に向けて照射し、タッチパネル４の検査位置に対向する受光部６を導電性にして接地接続し、タッチパネル４の検査を行うことも可能である。
【００４５】
［実施の形態３］
図５は、本発明の第３実施形態の検査装置の構造を説明する断面図である。
【００４６】
図５に示すように、本実施形態の検査装置２１は、導電性を有する基板２上に、光導電性を有する層である光導電層３を配置するとともに、光導電層３の周囲を側面側および基板２が存在する面側（図５における上面側）からカバーするように、遮光性のカバー２２を設けて構成される。カバー２２は、例えば、図示されない支持部材を介在させて基板２の上に配置する構造とすることが可能である。このとき、カバー２２の内側の面は光の反射を抑制するように加工されていることが好ましい。以上の構成を有する本実施形態の検査装置２１は、上述した本発明の第１実施形態である検査装置１が遮光性のカバー２２を備えた構造を有する。検査装置２１は、静電容量方式のタッチパネル（図示されない）上に配置され、タッチパネルの検査時に遮光して、検査のノイズとなる外光の影響の排除することを可能にする。そして、検査装置２１は、静電容量方式のタッチパネルに好適な検査装置として使用することができる。
【００４７】
本発明の第３実施形態の検査装置を用いたタッチパネルの検査方法については、上述した本発明の第１実施形態の検査装置を用いたタッチパネルの検査方法と同様とすることができる。
【００４８】
［実施の形態４］
図６は、本発明の第４実施形態の検査装置の構造を説明する断面図である。
【００４９】
図６に示すように、本実施形態の検査装置３１は、絶縁性の絶縁基板である基板１２上に、導電性を有する導電層１３を配置する。そして、その導電層１３の上に光導電層３を配置するとともに、光導電層３の周囲を側面側および基板１２が存在する面側（図６における上面側）からカバーするように、遮光性のカバー３２を設けて構成される。カバー３２は、例えば、図示されない支持部材を介在させて基板２の上に配置する構造とすることが可能である。このとき、カバー３２の内側の面は光の反射を抑制するように加工されていることが好ましい。以上の構成を有する本実施形態の検査装置３１は、上述した本発明の第２実施形態である検査装置１１が遮光性のカバー３２を備えた構造を有する。そして、検査装置３１は、静電容量方式のタッチパネル（図示されない）上に配置され、タッチパネルの検査時に遮光して、検査のノイズとなる外光の影響の排除することを可能にする。そして、検査装置３１は、静電容量方式のタッチパネルに好適な検査装置として使用することができる。また、カバー３２は、検査装置３１とカバー３２との間に検査者が介在できるような検査室、例えば、暗室であってもよい。
【００５０】
本発明の第４実施形態の検査装置を用いたタッチパネルの検査方法については、検査に使用する光を、カバー３２でカバーされない側であるタッチパネル（図示されない）の下方側から照射することにより、上述した本発明の第２実施形態の検査装置を用いたタッチパネルの検査方法と同様に実施することができる。
【００５１】
次に、本実施形態の検査装置を用い、表示素子上に配置された状態のタッチパネルを検査する方法について説明する。
【００５２】
［実施の形態５］
図７は、本発明の第１実施形態の検査装置を用いた、表示素子上のタッチパネルの検査方法を説明する図である。
【００５３】
図７に示すように、本実施形態のタッチパネルの検査方法では、本実施形態の検査装置１を用い、表示素子４１上に配置された静電容量方式のタッチパネル４の検査を行う。このとき、検査装置１の光導電層（図示されない）は、タッチパネル４と接触する必要はない。後述するように、タッチパネル４の電極（図示されない）と光導電層（図示されない）との間の容量形成が、タッチパネル４に感知できる水準となるような位置に配置されることが好ましい。
【００５４】
表示素子４１としては、その表示面から観察者側に放射される光の量を制御して表示を行うように構成された表示素子４１が好ましい。例えば、ＬＥＤや蛍光灯等を用いたバックライトを備えた透過型の液晶表示素子や、自発光型のＥＬ表示素子や有機ＥＬ表示素子やＬＥＤ表示素子を挙げることができる。特に、タッチパネルが多用される携帯電子機器の表示素子として好適に使用される透過型の液晶表示素子や有機ＥＬ表示素子が好ましい。
【００５５】
本実施形態のタッチパネルの検査方法では、検査対象となるタッチパネル４を載置した表示素子４１において、タッチパネル４の検査位置である検査部分４２に対向する位置にある表示部分４３で表示を行う。そして、表示部分４３からの光の放射が十分になされるようにする。このとき、表示素子４１の表示部分４３以外の部分では、黒表示をするかまたは表示部分４３に比べて放射される光量が低減されるように制御された表示を行う。
【００５６】
図７に示すように、表示素子４１の表示部分４３から放射された光４５は、タッチパネル４の検査部分４２を透過し、タッチパネル４の上方に配置された検査装置１の光導電層（図示されない）の対向する部分を照射する。光４５の照射を受けた光導電層（図示されない）の部分である受光部６では抵抗値が低下し、導電性を備えた部分として機能する。検査装置１の光導電層（図示されない）は導電性の基板（図示されない）上に配置されており、受光部６は、その基板（図示されない）を介して接地接続することになる。その結果、静電容量方式のタッチパネル４では、受光部６と対向する部分、すなわち、光４５が透過したタッチパネル４の検査部分４２において、タッチパネル４の電極（図示されない）と受光部６との間で容量が形成されることになる。
【００５７】
そして、そうしたタッチパネル４の電極での容量形成は、タッチパネル４の制御回路（図示されない）等により検知される。すなわち、操作者の指や金属棒等を用いた、タッチパネル４へのタッチ操作が再現されることになる。そして、検査対象であるタッチパネル４では、所望とする検査位置において、高い確実性を持ってタッチ位置の検出検査が行われる。
こうして、本実施形態のタッチパネルの検査方法では、本実施形態の検査装置１を用い、検査対象であるタッチパネルを表示素子４１上に載置した状態で、簡便に正確なタッチパネルの検査を行うことができる。
【００５８】
尚、本実施形態のタッチパネルの検査方法では、本実施形態の検査装置２１を用い、検査対象であるタッチパネル４を表示素子４１上に載置した状態で、外光を適宜遮断し、検査のノイズとなる外光の影響の排除しながら、簡便に正確なタッチパネル４の検査を行うことも可能である。
【００５９】
［実施の形態６］
図８は、本発明の第２実施形態の検査装置を用いた、表示素子上のタッチパネルの検査方法を説明する図である。
【００６０】
図８に示すように、本実施形態のタッチパネルの検査方法では、本実施形態の検査装置１１を用い、表示素子４１上に配置された静電容量方式のタッチパネル４の検査を行う。このとき、検査装置１１の光導電層（図示されない）は、タッチパネル４と接触する必要はない。後述するように、タッチパネル４の電極（図示されない）と光導電層（図示されない）との間の容量形成が、タッチパネル４に感知できる水準となるような位置に配置されることが好ましい。
表示素子４１としては、上述した本実施形態の検査装置１を用いた検査方法と同様のものとすることが可能である。
【００６１】
本実施形態のタッチパネルの検査方法では、上述した本実施形態の検査装置１を用いた検査方法と同様に、検査対象となるタッチパネル４を載置した表示素子４１において、タッチパネル４の検査部分４２に対向する位置にある表示部分４３で表示を行う。そして表示部分４３からの光の放射が十分になされるようにする。このとき、表示素子４１の表示部分４３以外の部分では、黒表示をするかまたは表示部分４３に比べて放射される光量が低減されるように制御された表示を行う。
【００６２】
図８に示すように、表示素子４１の表示部分４３から放射された光４５は、タッチパネル４の検査部分４２を透過し、タッチパネル４の上方に配置された検査装置１１の光導電層（図示されない）の対向する部分を照射する。光４５の照射を受けた光導電層（図示されない）の部分である受光部６では抵抗値が低下し、導電性を備えた部分として機能する。検査装置１１の光導電層（図示されない）は導電性の基板（図示されない）上に配置されており、受光部６は、その基板（図示されない）を介して接地接続することになる。その結果、静電容量方式のタッチパネル４では、受光部６と対向する部分、すなわち、光４５が透過したタッチパネル４の検査部分４２において、タッチパネル４の電極（図示されない）と受光部６との間で容量が形成されることになる。
【００６３】
そして、そうしたタッチパネル４の電極での容量形成は、タッチパネル４の制御回路（図示されない）等により検知される。すなわち、操作者の指や金属棒等を用いた、タッチパネル４へのタッチ操作が再現されることになる。そして、検査対象であるタッチパネル４では、所望とする検査位置において、タッチ位置の検出検査が行われる。
【００６４】
このとき、本実施形態のタッチパネルの検査方法では、検査装置１１について、基板（図示されない）と導電層（図示されない）とを光透過性の高い材料から構成し、装置全体の光透過性を高めたものを用いることが可能である。そうすることにより、タッチパネル４上での光４５の照射位置を検査装置１１の上方等から検査者が確認し、そのうえでタッチパネル４の検査を行うことが可能となる。その場合、例えば、検査装置１１の基板（図示されない）を光透過性の高いガラスや樹脂から構成し、導電層（図示されない）を上述したＩＴＯ等の光透過性の高い導電性材料から構成することが好ましい。そのような構成の検査装置１１を用いることにより、本実施形態のタッチパネルの検査方法では、表示素子４１での表示を確認しながら検査対象であるタッチパネル４の検査を行うことが可能となる。そして、表示素子４１の表示部分４３の位置に対する、タッチパネル４上のタッチ位置の整合性を確認しながら、高い確実性を持ってタッチパネル４の検査を行うことが可能となる。
【００６５】
尚、外光によるノイズの発生を防止するために、光導電層の周囲を側面側および基板が存在する面側をカバーする遮光性のカバーを配置することが好ましい。このとき、カバーは暗室のような検査室であってもよく、カバーである検査室の中に、検査装置を備え、検査者が検査室内で検査をすることが好ましい。
【００６６】
またその場合、上述したように、検査装置１１について、光導電層（図示されない）が基板（図示されない）の全面をカバーするようにベタ状に形成されたものを用いることが可能である。また、検査装置１１について、表示素子４１の表示部分４３の表示パターンや、タッチパネル４の検査部分４２の形状と配置等を考慮して、導電層（図示されない）が適宜パターニングされた形状を有するものを用いてもよい。すなわち、表示素子４１が液晶表示素子や有機ＥＬ表示素子である場合、それらの表示パターンを構成する画素電極の形状や配置に対応するように、検査装置１１では、光導電層（図示されない）をパターニングされた形状とすることが可能である。こうして、検査装置１１の光導電層のパターン形状を適宜選択することにより、検査装置１１では、基板（図示されない）上に光導電層（図示されない）の形成されない領域も形成することができる。そして、本実施形態のタッチパネルの検査方法では、表示素子４１での表示を確認しながら行うタッチパネル４の検査をより容易なものとすることができ、タッチパネル４の検査をより正確に行うことが可能となる。
【００６７】
こうして、本実施形態のタッチパネルの検査方法では、本実施形態の検査装置１１を用い、検査対象であるタッチパネル４を表示素子４１上に載置した状態で、簡便に正確なタッチパネルの検査を行うことができる。
【００６８】
尚、本発明は上記各実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において、種々変形して実施することができる。
【符号の説明】
【００６９】
１、１１、２１、３１    検査装置
２、１２    基板
３    光導電層
４    タッチパネル
５、４５    光
６    受光部
１３    導電層
２２、３２    カバー
４１    表示素子
４２    検査部分
４３    表示部分
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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