(57)【要約】【課題】フレキシブルディスクの製造コストの削減を図る。【解決手段】フレキシブルディスクと共に回転駆動するターンテーブルに対して位置案内子を形成し、当該位置案内子が形成されたターンテーブルに照射した第２の光の戻り光に基づき、フレキシブルディスクに照射される第１の光の位置制御を行う。このようにすることで、フレキシブルディスク側に対して位置案内子を形成することなく、第１の光の位置制御、すなわちフレキシブルディスクに対する光照射位置の制御を行うことができる。フレキシブルディスクに対する位置案内子の形成工程を省略できることで、フレキシブルディスクの製造コストの削減を図ることができる。【選択図】図２
2013020660.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の厚みを有するスペーサを介してフレキシブルディスクを保持すると共に、上記フレキシブルディスクとの間に空気を流入するための穴部が形成されたターンテーブルと、
上記フレキシブルディスクを上記ターンテーブルと共に回転駆動する回転駆動部と、
上記フレキシブルディスクを対象とした第１の光の照射と上記ターンテーブルを対象とした第２の光の照射とを行う共に、これら第１の光と第２の光の照射に応じてそれぞれ得られる戻り光の受光を行う光照射・受光部と
を備えると共に、
上記ターンテーブルに、上記光照射・受光部による光照射位置を案内するための位置案内子が形成され、
上記光照射・受光部で得られる上記第２の光の戻り光についての受光信号に基づき、上記第１の光の照射位置を制御する位置制御部を備える
光ディスク装置。
【請求項２】
上記光照射・受光部は、
上記第１の光と上記第２の光とを共通の対物レンズを介して照射するように構成されており、
上記位置制御部は、
上記第２の光についての受光信号に基づいて上記対物レンズの位置を制御することで、上記第１の光についての位置制御を行う
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
上記ターンテーブルは、
上記フレキシブルディスクよりも上記光照射・受光部に対して近い側に配置されている
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
上記第１の光と上記第２の光は波長が異なり、上記位置案内子に応じた戻り光を得るための反射膜が上記第２の光を選択反射する波長選択膜で構成されている
請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
上記ターンテーブルは、
上記フレキシブルディスクよりも上記光照射・受光部に対して遠い側に配置されている
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
上記光照射・受光部は、
上記フレキシブルディスクに記録を行うための記録光を上記第１の光として照射すると共に、隣接トラックサーボ用のＡＴＳ光をさらに照射するように構成され、
上記位置制御部は、
上記対物レンズを上記フレキシブルディスクの半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に駆動するトラッキング機構と、
上記第２の光についての受光信号に基づき、上記位置案内子に対する上記第２の光の照射スポット位置の誤差を表す基準面側トラッキング誤差信号を生成する基準面側トラッキング誤差信号生成部と、
上記基準面側トラッキング誤差信号に対してトラッキングサーボのためのフィルタ処理を施して、上記基準面側トラッキング誤差信号が表すトラッキング誤差をキャンセルするための基準面側トラッキングサーボ信号を生成する基準面側トラッキングサーボ信号生成部と、
上記基準面側トラッキングサーボ信号に基づき上記トラッキング機構を駆動するトラッキング駆動部と、
上記光照射・受光部により得られる上記ＡＴＳ光についての受光信号に基づき、上記フレキシブルディスクに上記記録光の照射に応じて記録されたマーク列に対する上記ＡＴＳ光の照射スポット位置の誤差を表すＡＴＳ側トラッキング誤差信号を生成するＡＴＳ側トラッキング誤差信号生成部と、
上記ＡＴＳ側トラッキング誤差信号に対してトラッキングサーボのためのフィルタ処理を施して、上記ＡＴＳ側トラッキング誤差信号が表すトラッキング誤差をキャンセルするためのＡＴＳ制御信号を生成するＡＴＳ制御信号生成部と、
上記ＡＴＳ制御信号を、上記基準面側トラッキングサーボ信号生成部を含むトラッキングサーボループに対して与える信号付与部とを有する
請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
所定の厚みを有するスペーサを介してフレキシブルディスクを保持すると共に、上記フレキシブルディスクとの間に空気を流入するための穴部と、光照射位置を案内するための位置案内子とが形成されたターンテーブルを、上記フレキシブルディスクと共に回転駆動する回転駆動手順と、
上記フレキシブルディスクを対象とした第１の光の照射と上記ターンテーブルを対象とした第２の光の照射とを行う共に、これら第１の光と第２の光の照射に応じてそれぞれ得られる戻り光の受光を行う光照射・受光手順と、
上記光照射・受光手順で得られる上記第２の光についての受光信号に基づき、上記第１の光の照射位置を制御する位置制御手順と
を有する位置制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本技術は、フレキシブルディスクについての少なくとも記録を行う光ディスク装置と、そのような光ディスク装置における照射光の位置制御方法とに関する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００２】
【特許文献１】特開２００７−１２２１３号公報
【特許文献２】特開２００８−６５９２８号公報
【背景技術】
【０００３】
光の照射により信号の記録／再生が行われる光記録媒体として、例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などのいわゆる光ディスク記録媒体（以下、単に光ディスクとも表記）が普及している。
【０００４】
近年、光ディスクについての大記録容量化を図るための種々の手法が提案されており、中でも、その厚さを例えば０．１mm程度に薄くしたフレキシブルディスクが注目されている。
このフレキシブルディスクは、基板の厚さを薄くすることで体積当たりの記録容量を稼ぐものであり、例えば自重で撓む程度の可撓性を有するという意味においてのフレキシブル性を有する。
このようなフレキシブルディスクを用いた具体的な記録媒体の態様としては、カートリッジ型のものを挙げることができる。すなわち、フレキシブルディスクを多数格納したカートリッジ媒体とすることで、体積当たりの記録容量の増大化を図るというものである。
【０００５】
ここで、フレキシブルディスクは、上述のような可撓性を有するディスク（いわゆるペラペラ状態のディスク）とされるので、通常の光ディスクのようにこれを単体で回転駆動してしまうと、適正に信号の記録／再生を行うことが困難となる。
そこで、例えば上記特許文献１や特許文献２に開示されるように、フレキシブルディスクについての記録／再生を行う従来の光ディスク装置としては、フレキシブルディスクと共に一体的に回転駆動されることで当該フレキシブルディスクを水平な状態に保つための機構（スタビライザ）を設けるようにされている。
【０００６】
図２８は、従来の光ディスク装置の構成例について説明するための図である。
図２８Ａは、従来の光ディスク装置の構成のうち、主にフレキシブルディスク１０１の回転駆動系の構成のみを抽出して示した断面図である。
また図２８Ｂは、ターンテーブル１０２の平面図である。
【０００７】
この図に示す光ディスク装置では、図中のターンテーブル１０２が上述のスタビライザとしての機能を担うものとなる。
具体的に、この場合の光ディスク装置は、フレキシブルディスク１０１が、スペーサ１０８を介してターンテーブル１０２により保持されるように構成されている。この場合、スペーサ１０８はターンテーブル１０２に対して一体的に形成されている。
図のようにスペーサ１０８は、フレキシブルディスク１０１の内周部分（データ記録領域よりも内周側となる部分）に位置するように形成されている。
また、スペーサ１０８の周囲には、複数の貫通孔１０５が形成されている。
【０００８】
上記のようにフレキシブルディスク１０１がスペーサ１０８を介してターンテーブル１０２により保持された状態で、図中のクランパ１０３によってフレキシブルディスク１０１とターンテーブル１０２とがクランプされる。そしてその状態で、フレキシブルディスク１０１とターンテーブル１０２とが一体的に回転駆動されることになる。
このように回転駆動されるフレキシブルディスク１０１に対して、図中の光ピックアップ１０６により記録や再生のための光照射が行われる。
この場合、ターンテーブル１０２は、フレキシブルディスク１０１よりも光ピックアップ１０６に対して近い側に配置されているので、当該光ピックアップ１０６によるフレキシブルディスク１０１への光照射は、ターンテーブル１０２を介して行うことが前提とされている。このため、ターンテーブル１０２は、例えばガラス基板等の透明材料により構成される。
【０００９】
ここで、上記のようにスペーサ１０８を介してフレキシブルディスク１０１がターンテーブル１０２に保持された状態として、回転駆動が行われる前の段階では、フレキシブルディスク１０１は自重によりその外周部が撓んでターンテーブル１０２と接することになる。つまりこの段階では、スペーサ１０８による作用はディスクの内周部分のみで得られているものである。
【００１０】
一方、前述のようにターンテーブル１０２とフレキシブルディスク１０１とが一体的に回転駆動された場合には、図中の破線矢印で示すような空気の流れが生じることになる。これは、ターンテーブル１０２に形成された貫通孔１０５による作用である。
このような空気の流れが生じることで、フレキシブルディスク１０１における、スペーサ１０８に保持される以外の部分を押し上げる力（揚力）が生じ、結果、フレキシブルディスク１０１が全体にわたって水平に保持されることになる。換言すれば、ターンテーブル１０２との間隔が全体にわたって均一に保たれるものである。
この結果、フレキシブルディスク１０１に対して安定した記録又は再生を行うことが可能となる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
ここで、フレキシブルディスク１０１は、その薄さのため、通常の光ディスクのように射出成形を利用した基板作製を行うことが極めて困難となる。
このため、フレキシブルディスク１０１は、そのディスク基板として、一定厚のシートをディスク状に打ち抜いて作成したシート状の基板を用いるようにされている。
【００１２】
図２９は、従来のフレキシブルディスク１０１の製造手法（図２９Ａ）、及びフレキシブルディスク１０１の断面構造（図２９Ｂ）を示している。
図２９Ａに示されるように、従来のフレキシブルディスク１０１の製造手法では、先ずシート状の基板材料をディスク状に打ち抜いて、シート状の基板を作製する（図２９Ｂにおける基板１０１-1）。
そして当該基板１０１-1上に対し、トラッキングサーボを可能とするための案内溝の形成を行う。案内溝の形成は、いわゆる２Ｐ法により行われる。具体的には、例えばＵＶレジンを塗布後、当該ＵＶレジンに対して案内溝転写用のスタンパを押し当てた状態で紫外線照射による硬化処理を施すことなどで行う。
図２９Ｂでは、このような案内溝の形成後のＵＶレジンをＵＶレジン１０１-2と示している。
【００１３】
このように案内溝を形成したＵＶレジン１０１-2に対し、記録膜と保護膜の塗布を行う。これにより、図２９Ｂに示される記録膜１０１-3、及び保護膜１０１-4が形成される。
【００１４】
ここで、上記説明からも理解されるように、フレキシブルディスク１０１についても、ＣＤ，ＤＶＤ，ＢＤ等と同様にトラッキングサーボを可能とするための案内溝を形成するようにされるが、前述のように、フレキシブルディスク１０１の基板については射出成形による作製が困難であるため、案内溝の形成は、上記のように２Ｐ法により行われている。
【００１５】
しかしながら、２Ｐ法による案内溝形成工程は、比較的高コストとなることが問題となる。
特に、フレキシブルディスク１０１は、前述のように実際には多数をカートリッジ内に格納して製品とすることが想定されているので、ディスク１枚ごとに案内溝形成工程を要することは、製品の大幅なコストアップに繋がり、現実的ではない。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
そこで、本技術では上記のような問題点に鑑み、光ディスク装置として以下のように構成することとした。
すなわち、所定の厚みを有するスペーサを介してフレキシブルディスクを保持すると共に、上記フレキシブルディスクとの間に空気を流入するための穴部が形成されたターンテーブルを備える。
また、上記フレキシブルディスクを上記ターンテーブルと共に回転駆動する回転駆動部を備える。
また、上記フレキシブルディスクを対象とした第１の光の照射と上記ターンテーブルを対象とした第２の光の照射とを行う共に、これら第１の光と第２の光の照射に応じてそれぞれ得られる戻り光の受光を行う光照射・受光部を備える。
その上で、本技術の光ディスク装置では、上記ターンテーブルに、上記光照射・受光部による光照射位置を案内するための位置案内子が形成される。
さらに、上記光照射・受光部で得られる上記第２の光の戻り光についての受光信号に基づき、上記第１の光の照射位置を制御する位置制御部を備えるものである。
【００１７】
また本技術では、位置制御方法として以下のようにすることとした。
すなわち、所定の厚みを有するスペーサを介してフレキシブルディスクを保持すると共に、上記フレキシブルディスクとの間に空気を流入するための穴部と、光照射位置を案内するための位置案内子とが形成されたターンテーブルを、上記フレキシブルディスクと共に回転駆動する回転駆動手順を有する。
また、上記フレキシブルディスクを対象とした第１の光の照射と上記ターンテーブルを対象とした第２の光の照射とを行う共に、これら第１の光と第２の光の照射に応じてそれぞれ得られる戻り光の受光を行う光照射・受光手順を有する。
また、上記光照射・受光手順で得られる上記第２の光についての受光信号に基づき、上記第１の光の照射位置を制御する位置制御手順を有するものである。
【００１８】
上記のように本技術では、ターンテーブルに対して位置案内子を形成し、当該位置案内子が形成されたターンテーブルに照射した第２の光の戻り光に基づき、フレキシブルディスクに照射される第１の光の位置制御を行うようにしている。
このようにすることで、フレキシブルディスク側に対して位置案内子を形成することなく、第１の光の位置制御、すなわちフレキシブルディスクに対する光照射位置の制御を行うことができる。
フレキシブルディスクに対する位置案内子の形成工程を省略できることで、フレキシブルディスクの製造コストの削減を図ることができる。
また、位置案内子の形成工程が不要となれば、その分、フレキシブルディスクの歩留まりを向上できる。つまりこの点でも、フレキシブルディスクの製造コスト削減が図られる。
【発明の効果】
【００１９】
本技術によれば、フレキシブルディスクに対する位置案内子の形成工程を省略することができ、その結果、フレキシブルディスクの製造コスト削減を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】実施の形態の光ディスク装置が記録又は再生の対象とするフレキシブルディスク１の断面構造図である。
【図２】第１の実施の形態としての光ディスク装置が有する主にディスクの回転駆動系の構成について説明するための図である。
【図３】ターンテーブルに形成される案内溝について説明するための図である。
【図４】記録用レーザ光と基準面サーボ用レーザ光とについて説明するための図である。
【図５】対物レンズのレンズシフトに伴い情報記録位置ずれが生じる原理について説明するための図である。
【図６】ＡＴＳについて説明するための図である。
【図７】ＡＴＳで生じるトラッキング誤差成分の発散のイメージを示した図である。
【図８】ＡＴＳ＋において照射すべき各レーザ光について説明するための図である。
【図９】ＡＴＳ＋の概念について説明するための図である。
【図１０】実施の形態の光ディスク装置が備える主に光学系の構成について説明するための図である。
【図１１】実施の形態の光ディスク装置の全体的な内部構成を示した図である。
【図１２】基準面の表面を一部拡大して示した平面図である。
【図１３】基準面全体におけるピットの形成態様について説明するための図である。
【図１４】アドレス情報のフォーマットについて説明するための図である。
【図１５】ターンテーブルの回転駆動に伴い基準面上をレーザ光のスポットが移動する様子と、その際に得られるｓｕｍ信号、ｓｕｍ微分信号、及びＰＰ（プッシュプル）信号の波形との関係を模式的に示した図である。
【図１６】ピークポジション検出の具体的手法について説明するための図である。
【図１７】ピークタイミングを表すタイミング信号から生成されたクロックと、該クロックに基づき生成された各selector信号の波形と、基準面に形成された各ピット列（の一部）との関係を模式化して示した図である。
【図１８】チルトやレンズシフトに伴う反射光の受光スポット位置ずれについて説明するための図である。
【図１９】各トラッキングエラー信号の生成手法について説明するための図である。
【図２０】スポット位置が半径方向に変位する際に得られる各トラッキングエラー信号の波形を示した図である。
【図２１】線形トラッキング誤差信号の生成イメージ図である。
【図２２】線形トラッキング誤差信号の具体的な生成手法について説明するための図である。
【図２３】実施の形態の光ディスク装置が備える信号生成部（基準面側トラッキング誤差信号生成部）の内部構成を主に示した図である。
【図２４】クロック生成回路の内部構成を示した図である。
【図２５】各位相トラッキング誤差信号生成回路の内部構成を示した図である。
【図２６】第２の実施の形態としての光ディスク装置が有する主にディスクの回転駆動系の構成について説明するための図である。
【図２７】第２の実施の形態で照射すべき各レーザ光の様子を示した図である。
【図２８】従来の光ディスク装置の構成例について説明するための図である。
【図２９】従来のフレキシブルディスクの製造手法（図２９Ａ）、及びフレキシブルディスクの断面構造（図２９Ｂ）を示した図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、本技術に係る実施の形態について説明する。
なお、説明は以下の順序で行う。
＜１．第１の実施の形態＞
［1-1．フレキシブルディスクの構造］
［1-2．回転駆動系の構成］
［1-3．位置制御手法について］
［1-4．光ディスク装置の構成］
［1-5．まとめ］
［1-6．１／２トラック幅以上のスポット位置ずれが生じる場合への対策］
（１．スポット位置ずれに伴う問題点）
（２．基準面の構造）
（３．アドレス情報について）
（４．サーボ対象ピット列の選択手法）
（５．プッシュプル信号をサンプリングする手法の問題点とその対策）
（６．線形トラッキング誤差信号の生成手法）
（７．信号生成部の具体的構成例）
＜２．第２の実施の形態＞
＜３．変形例＞
【００２２】
＜１．第１の実施の形態＞
［1-1．フレキシブルディスクの構造］
図１は、実施の形態の光ディスク装置が記録又は再生の対象とするフレキシブルディスク１の断面構造図である。
ここで、「フレキシブルディスク」とは、その厚さが通常の光ディスク記録媒体よりも薄く形成されたことで、例えば自重で撓む程度の可撓性を有するという意味においてフレキシブル性を有する光ディスク記録媒体を意味する。具体的には、例えばその厚さが少なくとも０．３mm程度以下の光ディスク記録媒体を指すものとする。
なお、光ディスク記録媒体とは、光の照射により信号の記録又は再生が行われる円盤状の記録媒体を意味するものである。
【００２３】
図１に示すように、フレキシブルディスク１には、シート基板２、記録膜３、保護膜４が同順で形成されている。
シート基板２は、上記フレキシブル性を有する程度にその厚さが薄く形成された基板となる。当該シート基板２は、例えば先の図２９Ａにて説明したように所定の厚さに調整されたシート状材料をディスク状に打ち抜くことで形成することができる。
シート基板２の材料としては、例えばポリカーボネート等を挙げることができる。
【００２４】
記録膜３は、記録パワーによる光照射に応じてその集光点近傍にマークが形成される記録材料層と、当該記録材料層を介した光を反射するための反射材料層とを有して構成される。
また、保護膜４は、上記記録膜３の保護のために設けられる。当該保護膜４は、例えばＵＶレジン等の樹脂材料をスピンコート法などで塗布することで形成することができる。
【００２５】
なお、フレキシブルディスク１の厚さは特に限定されるべきものではないが、本例の場合、例えば０．１mm（１００μｍ）程度に設定されているとする。
【００２６】
［1-2．回転駆動系の構成］
図２は、第１の実施の形態としての光ディスク装置（光ディスク装置１０）が有する主にディスクの回転駆動系の構成について説明するための図である。
図２Ａでは回転駆動系の構成を断面図により示し、図２Ｂは本実施の形態の光ディスク装置１０が有するターンテーブル１３の平面図を示している。
なお、図２Ａでは、光ディスク装置１０が備える光ピックアップ１１も併せて示している。
【００２７】
この図においては、回転駆動系の構成として、ターンテーブル１３と、当該ターンテーブル１３と光ディスク装置１０に装填されたフレキシブルディスク１とを固定するクランパ１２、クランパ１２’とが示されている。
【００２８】
図示するようにフレキシブルディスク１は、スペーサ１３Ａを介して、ターンテーブル１３により保持される。スペーサ１３Ａは、ターンテーブル１３に対し一体的に形成されている。
図のようにスペーサ１３Ａは、フレキシブルディスク１の内周部分（データ記録領域よりも内周側となる部分）に位置するように形成されている。
また、ターンテーブル１３におけるスペーサ１３Ａの周囲となる部分には、図のように複数の貫通孔１３Ｂが形成されている。
【００２９】
上記のようにフレキシブルディスク１がスペーサ１３Ａを介してターンテーブル１３により保持された状態で、クランパ１２とクランパ１２’とによってフレキシブルディスク１とターンテーブル１３とが固定される。
この場合、クランパ１２’は、後述するスピンドルモータ４９（図１１）の回転軸と接続されている。従って、上記のようにクランパ１２とクランパ１２’とにより固定が行われた状態でスピンドルモータ４９が回転することで、ターンテーブル１３とフレキシブルディスク１とが一体的に回転駆動されることになる。
なお、本例の場合、ターンテーブル１３は、そのセンターホールにおいてクランパ１２’と嵌合されるものであり、クランパ１２’とは別体に形成されている。
【００３０】
第１の実施の形態の場合、ターンテーブル１３は、フレキシブルディスク１よりも光ピックアップ１１に対して近い側に配置される。すなわち、光ピックアップ１１によるフレキシブルディスク１への光照射は、ターンテーブル１３を介して行うことが前提とされるものである。
【００３１】
ここで、上記のようにスペーサ１３Ａを介してフレキシブルディスク１がターンテーブル１３に保持された状態として、スピンドルモータ４９による回転駆動が行われる前の段階では、フレキシブルディスク１は、自重によりその外周部が撓んでターンテーブル１３と接することになる。つまりこの段階では、スペーサ１３Ａによる作用はディスクの内周部分のみで得られているものである。
【００３２】
これに対し、ターンテーブル１３とフレキシブルディスク１とが一体的に回転駆動された場合には、図中の破線矢印で示すような空気の流れが生じることになる。具体的には、ターンテーブル１３の回転に伴い貫通孔１３Ｂから吸入される空気が、当該ターンテーブル１３とフレキシブルディスク１との間に流入するものである。
このような空気の流れが生じることで、フレキシブルディスク１における、スペーサ１３Ａに保持される以外の部分を押し上げる力（揚力）が生じ、結果、フレキシブルディスク１が全体にわたって水平に保持されることになる。換言すれば、ターンテーブル１３とフレキシブルディスク１との間隔が全体にわたって均一に保たれるものである。
この結果、フレキシブルディスク１に対して安定した記録又は再生を行うことが可能となる。
【００３３】
このとき、フレキシブルディスク１とターンテーブル１３との間に形成される空気層の厚さ（厚さＤairとする）は、１００μｍ以上５００μｍ以下であることが好ましい。本例の場合、厚さＤairは１００μｍ程度に設定されているとする。
なお確認のため述べておくと、当該厚さＤairは、スペーサ１３Ａの厚さに応じた値となる。
【００３４】
ここで、前述したように、フレキシブルディスクについては、その薄さから、案内溝の形成を射出成形を利用して行うことが非常に困難とされるため、２Ｐ法による案内溝形成を行うようにされている。
しかしながら、２Ｐ法による案内溝の形成工程は高コストであり、フレキシブルディスクの製造コストの増加を招いてしまう。
【００３５】
そこで本実施の形態では、案内溝をフレキシブルディスク側に形成するものとはせず、ターンテーブル１３側に形成するという手法を採る。
【００３６】
図３は、ターンテーブル１３に形成される案内溝について説明するための図である。
図３Ａは、ターンテーブル１３に形成される案内溝を平面図により模式的に示し、図３Ｂはターンテーブル１３の断面構造を示している。なお図３Ｂにおいて、スペーサ１３Ａや貫通孔１３Ｂの図示は省略している。
【００３７】
図３Ｂに示されるように、ターンテーブル１３には、保護膜１３-1、反射膜１３-2、案内溝転写膜１３-3、基板１３-4が同順で形成されている。
基板１３-4は、例えばガラス等の透明材料で構成される。
また、案内溝転写膜１３-3は、案内溝が転写された膜である。具体的に、この場合の案内溝転写膜１３-3は、ＵＶレジン等の紫外線硬化樹脂を用いて２Ｐ法により案内溝を転写して形成されたものとなる。
案内溝としては、グルーブ又はピット列によるものを形成することができる。本例の場合、当該案内溝の形成により、絶対位置情報（半径位置情報、回転角度情報）の記録が行われているとする。
【００３８】
反射膜１３-2は、光ピックアップ１１より照射される後述の基準面サーボ用レーザ光を反射するために設けられる。
なお詳細については後述するが、当該反射膜１３-2は、フレキシブルディスク１を対象として照射されるレーザ光は透過するように構成されるものとなる。つまり、先の図２Ａを参照して分かるように、本実施の形態では光ピックアップ１１から見てターンテーブル１３の奥側にフレキシブルディスク１が配置されることになるので、当該反射膜１３-2としては、フレキシブルディスク１を対象として照射される光を透過するように構成されるべきものとなる。
【００３９】
ここで、後の説明により明らかとなるように、反射膜１３-2に形成される反射面、すなわち、案内溝の形成に伴う凹凸が与えられた反射面は、フレキシブルディスク１を対象として照射される光の位置制御（特にトラッキングサーボ制御）を行うにあたって基準となる反射面となる。
この点より以下、反射膜１３-2の反射面のことを、基準面Ｒｅｆと表記する。
【００４０】
保護膜１３-1は、反射膜１３-2を保護するために設けられる。この保護膜１３-1は、先の保護膜４と同様に、例えばＵＶレジン等の樹脂材料をスピンコート法などで塗布して形成することができる。
【００４１】
ここで、ターンテーブル１３の厚さについては特に限定されるべきものではないが、本例では、例えば５００μｍ程度に設定されているとする。
【００４２】
なお、図３Ａにおいては、ターンテーブル１３における案内溝を、模式的にスパイラル状の案内溝として示しているが、ターンテーブル１３における案内溝の具体的な形成態様についてはスパイラル状に限定されるべきものではない。
【００４３】
［1-3．位置制御手法について］
ここで、先の図１から明らかなように、本実施の形態では、フレキシブルディスク１に案内溝を形成していない。このため、未だ記録の行われていないフレキシブルディスク１について記録を行うとしたときは、ターンテーブル１３に対して形成された案内溝を利用して、記録光についての位置制御を行うことになる。
【００４４】
具体的に、ターンテーブル１３に形成された案内溝を利用して記録光についての位置制御を行うとしたときは、図４に示すように、記録光（記録用レーザ光）の照射と、ターンテーブル１３の基準面Ｒｅｆを対象とした基準面サーボ用レーザ光の照射とを、共通の対物レンズを介して行う。
本実施の形態では、ターンテーブル１３の方がより対物レンズに対して近い側に配置されるので、図のように、基準面サーボ用レーザ光の合焦位置よりも、記録用レーザ光の合焦位置の方が奥側（対物レンズに対してより遠い側）となるように光学系を設計する。
具体的にこの場合は、対物レンズを介して照射される基準面サーボ用レーザ光が基準面Ｒｅｆに対して合焦しているときに、同じ対物レンズを介して照射される記録用レーザ光がフレキシブルディスク１の記録膜３に合焦する状態が得られるように、光学系を設計しておく。
またこのとき、これら基準面サーボ用レーザ光と記録用レーザ光の光軸は図のように一致させるものとしておく（図中一点鎖線）
【００４５】
また、記録を行うためには、記録用レーザ光は基準面Ｒｅｆを通過してその奥側に位置する記録膜３に到達させる必要がある。このため本実施の形態では、記録用レーザ光と基準面サーボ用レーザ光の波長を異ならせるものとし、且つ、基準面Ｒｅｆとしての反射面を形成する反射膜１３-2として、基準面サーボ用レーザ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するという波長選択性を有する反射膜を用いるものとしている。
ここで、基準面サーボ用レーザ光の波長は６５０nm程度、記録用レーザ光の波長は４０５nm程度であるとする。
【００４６】
このような態様により各レーザ光を照射するものとすれば、記録用レーザ光についての位置制御、特にトラッキング方向の位置制御は、以下のようにして行うことができる。
すなわち、基準面サーボ用レーザ光の反射光に基づき、当該基準面サーボ用レーザ光のスポット位置が基準面Ｒｅｆ上の案内溝に追従するように、対物レンズのトラッキング方向の位置制御を行うというものである。
このようにすることで、同じ対物レンズを介して照射される記録用レーザ光の照射スポットについても、そのトラッキング方向における位置を基準面サーボ用レーザ光と同様に制御することができる。
【００４７】
但し、このように２つのレーザ光を共通の対物レンズを介してそれぞれ異なる深さ位置に合焦させ、基準面Ｒｅｆからの反射光に基づき対物レンズの位置制御を行うという手法を採る場合には、偏芯に伴う対物レンズのレンズシフトの発生等に起因して、２つのレーザ光の照射スポット間にトラッキング方向における位置ずれが生じることが分かっている。
すなわち、上記により説明したままの位置制御手法を採る場合には、例えば偏芯が大であると、基準面Ｒｅｆの案内溝に対して情報記録位置のトラッキング方向におけるずれが生じてしまい、結果、意図した位置への情報記録を行うことができなくなってしまう。
【００４８】
図５は、対物レンズのレンズシフトに伴い情報記録位置ずれが生じる原理について説明するための図である。
図５において、図５（ａ）は、案内溝が形成されたターンテーブル１３に偏芯が無く対物レンズのレンズシフトが生じていない理想的な状態を、また図５（ｂ）は紙面左方向（外周方向であるとする）のレンズシフトが生じた場合（＋方向の偏芯と称する）、図５（ｃ）は紙面右方向（内周方向であるとする）のレンズシフトが生じた場合（−方向の偏芯と称する）をそれぞれ示している。
【００４９】
先ず、図中の中心軸ｃは、光学系を設計する上で設定された中心軸であり、図５（ａ）に示す理想状態においては、対物レンズの中心は当該中心軸ｃに一致している。
【００５０】
これに対し、図５（ｂ）に示すような＋方向のレンズシフトが生じた場合は、対物レンズの中心が光学系の中心軸ｃに対して＋方向にシフトする。
このとき、基準面サーボ用レーザ光（図中の柄付きの光線）と記録用レーザ光（図中の白抜きの光線）は、前述のように共通の対物レンズを介して照射するが、それぞれの合焦位置は異ならせる必要があるので、例えば図のように基準面サーボ用レーザ光は対物レンズに平行光で入射させ、記録用レーザ光については対物レンズに発散光で入射させるなど、対物レンズに入射させる各レーザ光のコリメーション状態（収束／平行／発散）を異ならせるようにされている。
このため、同じレンズシフトに対し、基準面サーボ用レーザ光の照射スポットが移動する量と記録用レーザ光のスポット位置が移動する量とに差が生じるものとなり、結果、上記のような＋方向への対物レンズのシフトに対しては、図のように、記録用レーザ光のスポット位置（つまり情報記録位置）が、基準面サーボ用レーザ光のスポット位置に対して、レンズシフト量に応じた分だけ＋方向に変化してしまうこととなる（図中、ずれ量＋ｄ）。
【００５１】
また、図５（ｃ）に示すような−方向のレンズシフトが生じた場合には、記録用レーザ光による情報記録位置は、図のようにレンズシフト量に応じた分だけ−方向に変化することとなる（図中ずれ量−ｄ）。
【００５２】
ここで、上記では、情報記録位置のずれの要因として偏芯に起因する対物レンズのレンズシフトを主なものとして説明したが、情報記録位置のずれは、チルトの発生に応じても同様に生じるものである。
【００５３】
上記のような情報記録位置ずれの問題を回避するための１つの対策としては、情報記録位置の変動以上に、基準面Ｒｅｆのトラックピッチを広げておくということを挙げることができる。
しかしながらこの手法では、レンズシフト等の最大発生量が不確定であるため、どの程度トラックピッチを広げるかも不確定であるという問題がある。また、何よりトラックピッチの拡大により記録容量の低下を招いてしまうことが問題となる。
【００５４】
そこで、情報記録位置ずれの問題を回避するための有効な手法として、いわゆるＡＴＳ（Adjacent Track Servo：隣接トラックサーボ）の手法を採ることが考えられる。このＡＴＳは、元々はハードディスクドライブにおけるセルフサーボトラックライタ（ＳＳＴＷ）として検討されていたものである。
【００５５】
図６は、ＡＴＳについて説明するための図である。
図のようにＡＴＳでは、記録用スポットＳrecと隣接トラックサーボ用スポットＳatsとを光記録媒体上（本実施の形態ではフレキシブルディスク１上）に形成するようにされる。これらスポットＳrecとスポットＳatsは、それぞれその元となる光線を共通の対物レンズを介して光記録媒体に照射することで形成される。このとき、各スポットＳ間の距離は固定とする。
【００５６】
ＡＴＳでは、記録用スポットＳrecを先行スポット（つまり記録の進行方向が内周→外周である場合には外周側）とし、隣接トラックサーボ用スポットＳatsを後行スポットとして、記録用スポットＳrecによって形成したマーク列を対象として、隣接トラックサーボ用スポットＳatsによりトラッキングサーボをかける。つまりは、記録用スポットＳrecが形成した１本前のトラックに、隣接トラックサーボ用スポットＳatsが追従するように対物レンズのトラッキングサーボ制御を行うというものである。
【００５７】
このようなＡＴＳによれば、トラックピッチは各スポットＳ間の距離で一定とできるので、偏芯等の影響によってトラックが重なってしまう（情報記録位置が重なってしまう）という問題は生じないようにできる。すなわち、上述のように偏芯等に起因する情報記録位置のずれを考慮してトラックピッチを余分に広げたりするといった必要は無いものとできる。
【００５８】
しかしながら、ＡＴＳにおいて、隣接トラックサーボ用スポットＳatsを用いたトラッキングサーボを従来行われているトラッキングサーボの手法と同様の手法で行った場合には、周回を重ねるごとにトラッキング誤差成分が次第に増大し、発散してしまうことが判明した。
図７は、発散のイメージを示している。この図７に示すように、ＡＴＳを行うことによっては、トラッキング誤差成分（図中POSITION）が時間と共に発散してしまう。
【００５９】
この点より、従来のＡＴＳでは、トラッキングサーボ制御を安定して行うことが非常に困難とされる。
【００６０】
そこで本実施の形態では、記録光についての位置制御手法として、いわゆるＡＴＳ＋の手法を採用する。
図８は、ＡＴＳ＋において照射すべき各レーザ光について説明するための図である。
図のようにＡＴＳ＋を実現するにあたっては、案内溝が形成された基準面Ｒｅｆを対象とした基準面サーボ用レーザ光（図中柄付きの光線）と共に、記録用スポットＳrecを形成するための記録用レーザ光、及び隣接トラックサーボ用スポットＳatsを形成するためのＡＴＳ光を、共通の対物レンズを介して照射する。
この場合も記録用レーザ光は、基準面サーボ用レーザ光が基準面Ｒｅｆに合焦している状態で、記録膜３に合焦するようにしておく。同様に、ＡＴＳ光についても基準面サーボ用レーザ光が基準面Ｒｅｆに合焦している状態で、記録膜３に合焦するようにしておく。
なお確認のため述べておくと、この場合も記録用スポットＳrecと隣接トラックサーボ用スポットＳatsの配置関係は、先の図６で説明したものと同様である。
【００６１】
図９は、ＡＴＳ＋の概念について説明するための図である。
この図９に示すように、ＡＴＳ＋では、先ず、基準面サーボ用レーザ光のトラッキングエラー信号にトラッキングサーボ制御のためのフィルタ処理を施す基準面側サーボフィルタと、当該ＡＴＳ側サーボフィルタの出力に基づき対物レンズをトラッキング方向に変位可能に保持するアクチュエータを駆動するためのトラッキングドライバとが設けられる。
つまりＡＴＳ＋では、基準面サーボ用レーザ光のトラッキングエラー信号に基づき対物レンズのトラッキングサーボ制御を行うトラッキングサーボループ（基準面側サーボ制御系とする）が形成されていることになる。
【００６２】
その上で、ＡＴＳ＋では、このような基準面側サーボ制御系と共に、ＡＴＳによるサーボ制御系が構成されるようにしている。具体的には、ＡＴＳ光のトラッキングエラー信号にトラッキングサーボ制御のためのフィルタ処理を施すＡＴＳ側サーボフィルタと、当該ＡＴＳ側サーボフィルタにより生成されたトラッキングサーボ信号を、上記基準面側のトラッキングサーボループに対して与える加算部とを設けるようにしている。
これは、上記ＡＴＳ側サーボフィルタによるトラッキングサーボ信号を、上記基準面側サーボ制御系の目標値（制御目標値）として与えるように構成しているものである。或いは、上記基準面側サーボ制御系としてのトラッキングサーボループをマイナーループとして、上記ＡＴＳ側サーボフィルタによるトラッキングサーボ信号を当該マイナーループの目標値として入力していると換言することもできる。
【００６３】
このような構成とした場合、ＡＴＳ制御系のトラッキング誤差は、主に、対物レンズのレンズシフトやチルトによって生じる先の図５にて説明したようなスポット位置ずれに起因して生じることになる。
そして、このようなＡＴＳ側のトラッキング誤差情報が、上記基準面側サーボ制御系の制御目標値として与えられることで、ＡＴＳ光のスポットＳatsが、マーク列に追従するように対物レンズが駆動されることになる。
このことからも理解されるように、ＡＴＳ＋としても、ＡＴＳ単体とする場合と同様に、記録マーク列が隣接マーク列に重なったり交差するといった事態の発生を防止できるものとなる。
【００６４】
ここで、上記説明からも理解されるように、基準面側サーボフィルタを含む上記基準面側サーボ制御系は、主に、通常の外乱成分（つまり上記のようなレンズシフト等に伴うスポット位置ずれの要因となるディスク偏芯成分等よりも高い周波数の外乱成分）に追従する機能を担わせるべきとなる。
この意味で、上記基準面側サーボ制御系の制御帯域は、通常のサーボ制御系とする場合と同等の制御帯域に設定する。具体的に本例の場合、上記基準面側サーボ制御系の制御帯域は１０ｋHz程度に設定する。
【００６５】
一方、ＡＴＳ側サーボフィルタを含むＡＴＳ制御系については、上記通常の外乱成分への追従はさせるべきではないので、その制御帯域は、少なくとも上記基準面側サーボ制御系の制御帯域よりも低い周波数帯域に設定する。具体的に本例の場合、ＡＴＳ制御系の制御帯域（ＡＴＳ側サーボフィルタのカットオフ周波数）としては１ｋHz程度に設定している。
【００６６】
上記のように基準面側サーボ制御系としてのトラッキングサーボループ（マイナーループ）に対してＡＴＳ制御系の制御信号を付与するようにしたＡＴＳ＋によれば、従来のＡＴＳ制御系単体とした場合に生じていた、先の図７に示したような発散を防止することができる。すなわち、記録マーク列の重なりや交差の発生を防止することのできるトラッキングサーボ制御を、従来のＡＴＳ単体とする場合よりも安定なものとして実現することができるものである。
【００６７】
［1-4．光ディスク装置の構成］
以上の前提を踏まえ、本実施の形態の光ディスク装置１０の具体的な構成について説明する。
図１０は、光ディスク装置１０が備える主に光学系の構成について説明するための図である。具体的には、光ディスク装置１０が備える光ピックアップ１１の内部構成を主に示している。
なお図１０では、ターンテーブル１３に形成される基準面Ｒｅｆとフレキシブルディスク１が有する記録膜３も併せて示している。
【００６８】
図１０において、光ピックアップ１１内には、記録用レーザ光の光源となる記録用レーザ１５ｒと、記録時におけるＡＴＳ光の照射及び再生時における記録信号の読み出し（及びサーボ制御）を行うためのレーザ光を照射するための光源であるＡＴＳ・再生時用レーザ１５apが設けられる。
また光ピックアップ１１には、基準面サーボ用レーザ光の光源である基準面サーボ用レーザ２８が設けられる。
ここで、先に述べたように記録用レーザ光とサーボ用レーザ光とはそれぞれ波長帯の異なる光を用いる。
また、ＡＴＳ光や信号読み出しのための再生光として機能すべき、ＡＴＳ・再生時用レーザ１５apを光源とするレーザ光（以下、単にＡＴＳ光と称する）としては、記録用レーザ光と同波長とする。つまり本例の場合は、４０５ｎｍ程度である。
【００６９】
なお、上記のように本例の場合、ＡＴＳ光は、記録用レーザ光とは別光源で照射するものとしているが、記録用レーザ光とＡＴＳ光の光源は共通化することもできる。その場合、共通の光源からグレーティング等により記録用レーザ光とＡＴＳ光とを生成するものとすればよい。
また、再生時における記録膜３についての信号読出やサーボ制御に用いるレーザ光についても、記録用レーザ光の光源と共通化することもできる。
【００７０】
光ピックアップ１１において、記録用レーザ１５ｒより出射された記録用レーザ光及びＡＴＳ・再生時用レーザ１５apから出射されたＡＴＳ光は、共にコリメーションレンズ１６を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ１７に入射する。
偏光ビームスプリッタ１７は、このように光源側から入射した記録用レーザ光・ＡＴＳ光を透過するように構成されている。
【００７１】
偏光ビームスプリッタ１７を透過した記録用レーザ光・ＡＴＳ光は、固定レンズ１８、可動レンズ１９、及びレンズ駆動部２０から成るエキスパンダに入射する。このエキスパンダは、光源に近い側が固定レンズ１８とされ、光源に遠い側に可動レンズ１９が配置され、レンズ駆動部２０によって上記可動レンズ１９が入射光の光軸に平行な方向に駆動されることで、記録用レーザ光・ＡＴＳ光についての合焦位置の調整が可能とされる。このエキスパンダにより、図中の対物レンズ２４のフォーカス制御とは別途に、記録用レーザ光・ＡＴＳ光について独立したフォーカス制御を行うことができる。
後述もするように、当該エキスパンダにおけるレンズ駆動部２０は、図１１に示すコントローラ４８の指示に応じて駆動されることになる。
【００７２】
上記エキスパンダを構成する固定レンズ１８及び可動レンズ１９を介した各レーザ光は、図のようにミラー２１にて反射された後、１／４波長板２２を介してダイクロイックプリズム２３に入射する。
ダイクロイックプリズム２３は、その選択反射面が、記録用レーザ光・ＡＴＳ光と同波長帯の光は反射し、それ以外の波長による光は透過するように構成されている。従って上記のようにして入射した各レーザ光は、ダイクロイックプリズム２３にて反射される。
【００７３】
ダイクロイックプリズム２３で反射された各レーザ光は、図示するように対物レンズ２４を介して記録膜３に照射（集光）される。
【００７４】
ここで、このように記録用レーザ光・ＡＴＳ光が対物レンズ２４を介して照射されることによっては、記録膜３において、先の図６に示したような記録用スポットＳrec、隣接トラックサーボ用スポットＳatsが形成される。
この場合の光学系は、これら記録用スポットＳ_recと隣接トラックサーボ用スポットＳ_atsとの位置関係が、予め設定された位置関係で固定となるように設計されている。
【００７５】
対物レンズ２４に対しては、当該対物レンズ２４をフォーカス方向（バルク型記録媒体１に対して接離する方向）、及びトラッキング方向（上記フォーカス方向に直交する方向：バルク型記録媒体１の半径方向に平行な方向）に変位可能に保持する２軸アクチュエータ２５が設けられる。
この場合の２軸アクチュエータ２５には、フォーカスコイル、トラッキングコイルが備えられ、それぞれに駆動信号（後述する駆動信号ＦＤ、ＴＤ）が与えられることで、対物レンズ２４をフォーカス方向、トラッキング方向にそれぞれ変位させる。
【００７６】
ここで、記録時や再生時においては、上記のように記録膜３に対してＡＴＳ光が照射されることに応じて、当該ＡＴＳ光の反射光が得られる。
このように得られたＡＴＳ光の反射光は、対物レンズ２４を介してダイクロイックプリズム２３に導かれ、当該ダイクロイックプリズム２３にて反射される。
ダイクロイックプリズム２３で反射されたＡＴＳ光の反射光は、１／４波長板２２→ミラー２１→エキスパンダ（可動レンズ１９→固定レンズ１８）を介した後、偏光ビームスプリッタ１７に入射する。
【００７７】
ここで、このように偏光ビームスプリッタ１３に入射するＡＴＳ光の反射光（復路光）は、１／４波長板２２による作用と記録膜３での反射時の作用とにより、ＡＴＳ・再生時用レーザ１５ap側から偏光ビームスプリッタ１７に入射した光（往路光）とはその偏光方向が９０度異なるようにされる。この結果、上記のようにして入射したＡＴＳ光の反射光は、偏光ビームスプリッタ１７にて反射される。
【００７８】
このように偏光ビームスプリッタ１７にて反射されたＡＴＳ光の反射光は、集光レンズ２６を介して第１受光部２７の受光面上に集光する。
ここで、図示による説明は省略するが、第１受光部２７は複数の受光素子（この場合は４つであるとする）を備えて構成される。以下、第１受光部２７としての複数の受光素子で得られる受光信号については、これらを総括して受光信号ＤＴ-apと表記する。
【００７９】
また、光ピックアップ１１内には、上記により説明した記録用レーザ光・ＡＴＳ光についての光学系の構成に加えて、基準面サーボ用レーザ２８より出射された基準面サーボ用レーザ光を対物レンズ２４に導き且つ、当該対物レンズ２４に入射した基準面サーボ用レーザ光の反射光を検出（受光）するための光学系が形成される。
【００８０】
図示するように基準面サーボ用レーザ２８より出射された基準面サーボ用レーザ光は、コリメーションレンズ２９を介して平行光となるようにされた後、偏光ビームスプリッタ３０に入射する。偏光ビームスプリッタ３０は、このように基準面サーボ用レーザ２８側から入射した基準面サーボ用レーザ光（往路光）は透過するように構成される。
【００８１】
偏光ビームスプリッタ３０を透過したサーボ用レーザ光は、１／４波長板３１を介してダイクロイックプリズム２３に入射する。
先に述べたように、ダイクロイックプリズム２３は記録用レーザ光・ＡＴＳ光と同波長帯の光は反射しそれ以外の波長による光は透過するように構成されているため、上記基準面サーボ用レーザ光はダイクロイックプリズム２３を透過し、対物レンズ２４を介して基準面Ｒｅｆに照射（集光）される。
【００８２】
また、当該基準面サーボ用レーザ光の反射光（基準面Ｒｅｆからの反射光）は、対物レンズ２４を介した後ダイクロイックプリズム２３を透過し、１／４波長板３１を介して偏光ビームスプリッタ３０に入射する。
先のＡＴＳ光の場合と同様に、このように対物レンズ２４側から入射した基準面サーボ用レーザ光の反射光（復路光）は、１／４波長板３１の作用と基準面Ｒｅｆでの反射時の作用とにより、往路光とはその偏光方向が９０度異なるものとされ、従って復路光としての基準面サーボ用レーザ光の反射光は偏光ビームスプリッタ３０にて反射される。
【００８３】
偏光ビームスプリッタ３０にて反射された基準面サーボ用レーザ光の反射光は、集光レンズ３２を介して第２受光部３３の受光面上に集光する。
この第２受光部３３としても複数の受光素子（例えば４つ）を備え、以下、第２受光部３３としての複数の受光素子で得られる受光信号を総括して受光信号ＤＴ-svと表記する。
【００８４】
ここで、図示による説明は省略するが、実際において光ディスク装置には、上記により説明した光ピックアップ１１全体をトラッキング方向にスライド駆動するスライド駆動部が設けられ、当該スライド駆動部による光ピックアップ１１の駆動により、レーザ光の照射位置を広範囲に変位させることができるようにされている。
【００８５】
図１１は、光ディスク装置１０の全体的な内部構成を示している。
なお図１１において、光ピックアップ１１の内部構成については、図１０に示した構成のうち記録用レーザ１５ｒ、レンズ駆動部２０、２軸アクチュエータ２５のみを抽出して示している。
【００８６】
図１１において、光ディスク装置１０の光ピックアップ１１の外部には、スピンドルモータ４９が設けられる。先の説明からも理解されるように、当該スピンドルモータ４９によっては、ターンテーブル１３とフレキシブルディスク１とが一体的に回転駆動されることになる。
【００８７】
また、光ピックアップ１１の外部においては、記録用レーザ光、ＡＴＳ光に係る信号処理系として、図中の記録処理部３５、マトリクス回路３６、再生処理部３７、再生時用サーボ回路３８、及びＡＴＳ側サーボフィルタ３９が設けられている。
【００８８】
記録処理部３５には、フレキシブルディスク１に対して記録すべきデータ（記録データ）が入力される。記録処理部３５は、入力された記録データに対してエラー訂正符号の付加や所定の記録変調符号化、アドレス情報の付加を行うなどして、フレキシブルディスク１（記録膜３）に実際に記録される例えば「０」「１」の２値データ列である記録変調データ列を得る。
そして、当該記録変調データ列に基づき生成した記録パルス信号ＲＣＰにより、光ピックアップ１１内の記録用レーザ１５ｒを発光駆動する。
【００８９】
マトリクス回路３６には、前述した第１受光部２７からの受光信号ＤＴ-apが入力される。
マトリクス回路３６は、受光信号ＤＴ-apに基づき、マトリクス演算処理により必要な各種の信号を生成する。
【００９０】
ここで、本例の場合、記録膜３に対してマーク列により記録された信号の再生時（ユーザデータの再生時）には、ＡＴＳ光を、再生用のレーザ光として使用するものとしている。なお且つ再生時には、ＡＴＳ光の反射光に基づき既記録マーク列を対象としたフォーカスサーボ制御及びトラッキングサーボ制御を行うものとしている。
【００９１】
このことに対応してマトリクス回路３６では、受光信号ＤＴ-apに基づき、上述した記録変調データ列の再生信号に相当する高周波信号（和信号：以下、再生信号ＲＦとする）、フォーカスサーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ-ap（マーク列に対するフォーカス誤差を表す信号）、トラッキングサーボ制御のためのトラッキングエラー信号ＴＥ-ap（隣接トラックサーボ用スポットＳatsの既記録マーク列に対する半径方向における位置誤差を表す信号）を生成するように構成される。
【００９２】
マトリクス回路３６にて生成された再生信号ＲＦは、再生処理部３７に供給される。
また、フォーカスエラー信号ＦＥ-apは、再生時用サーボ回路３８に対して供給される。
また、トラッキングエラー信号ＴＥ-apは、再生時用サーボ回路３８に対して供給されると共に、記録時における前述したＡＴＳ＋としての位置制御に用いられるべく、ＡＴＳ側サーボフィルタ３９に対しても供給される。
【００９３】
再生処理部３７は、再生信号ＲＦについて２値化処理や記録変調符号の復号化・エラー訂正処理など、上述した記録データを復元するための再生処理を行い、上記記録データを再生した再生データを得る。
また再生処理部３７はマーク列により記録されたデータ中に埋め込まれたアドレス情報の検出も行う。図示は省略しているが、検出されたアドレス情報はコントローラ４８に供給される。
【００９４】
再生時用サーボ回路３８は、コントローラ４８からの指示に応じて、フォーカスエラー信号ＦＥ-ap、トラッキングエラー信号ＴＥ-apのそれぞれに基づき、フォーカスサーボ信号ＦＳ-ap、トラッキングサーボ信号ＴＳ-apを生成する。ここでフォーカスサーボ信号ＦＳ-apは、ＡＴＳ光の合焦位置を記録膜３に追従させる（つまりフォーカス誤差をキャンセルする）ための信号となる。またトラッキングサーボ信号ＴＳ-apは、ＡＴＳ光のスポット位置をマーク列に追従させる（トラッキング誤差をキャンセルする）ための信号となる。
これらフォーカスサーボ信号ＦＳ-ap、トラッキングエラー信号ＴＳ-apは、再生時において使用されるものである。
図示するようにフォーカスサーボ信号ＦＳ-apはセレクタ４４に供給され、トラッキングエラー信号ＴＳ-apはセレクタ４５に対して供給される。
【００９５】
ＡＴＳ側サーボフィルタ３９は、先の図９に示したＡＴＳ側サーボフィルタに相当する。
ＡＴＳ側サーボフィルタ３９は、コントローラ４８からの指示に応じて、トラッキングエラー信号ＴＥ-apに基づきトラッキングサーボ信号ＴＳ-atsを生成する。
具体的に、ＡＴＳ側サーボフィルタ３９は、トラッキングエラー信号ＴＥ-apに対し位相補償等のトラッキングサーボのためのフィルタ処理を施して、上記トラッキングエラー信号ＴＥ-apが表すトラッキング誤差をキャンセルするための上記トラッキングサーボ信号ＴＳ-atsを生成する。
このとき、ＡＴＳ側フィルタ３９としては、例えば全積分や一次のＬＰＦ（ローパスフィルタ）など、ＡＴＳのループにピークを生じさせない構成とする。
図示するようにトラッキングサーボ信号ＴＳ-atsは、加算部４３に対して供給される。
なお先の図９の説明からも理解されるように、本例の場合、ＡＴＳ側サーボフィルタ３９のカットオフ周波数は例えば１ｋHz程度に設定されるものである。
【００９６】
また、光ディスク装置１０には、基準面サーボ用レーザ光の反射光についての信号処理系として、信号生成部４０、基準面側サーボフィルタ４１、及び記録時用フォーカスサーボ回路４２が設けられる。
【００９７】
信号生成部４０は、図１０に示した第２受光部３３における複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-svに基づき、必要な信号を生成する。
具体的に信号生成部４０は、受光信号ＤＴ-svに基づき、基準面Ｒｅｆに形成された位置案内子（トラック）に対するサーボ用レーザ光の照射スポット位置の半径方向における位置誤差を表すトラッキングエラー信号ＴＥ-svを生成する。
また信号生成部４０は、記録時におけるフォーカスサーボ制御を行うための信号として、基準面Ｒｅｆ（選択反射膜３）に対するサーボ用レーザ光のフォーカス誤差を表すフォーカスエラー信号ＦＥ-svを生成する。
【００９８】
なお、後の説明より明らかとなるように、本例の光ディスク装置１０には、実際には、基準面Ｒｅｆに記録された位置情報を検出するための構成（図２３におけるselector信号選択回路５６、アドレス検出回路５７）が設けられ、これに対応して信号生成部４０は、位置情報検出用の信号も生成することになる。
図１１では説明の便宜上、これら基準面Ｒｅｆの位置情報検出のための構成については省略しているが、その具体的説明については後に改めて行うこととする。
【００９９】
信号生成部４０により生成されたフォーカスエラー信号ＦＥ-svは、記録時用フォーカスサーボ回路４２に対して供給される。
記録時用フォーカスサーボ回路４２は、コントローラ４８からの指示に応じ、フォーカスエラー信号ＦＥ-svに基づいてフォーカスサーボ信号ＦＳ-svを生成し、これを上述したセレクタ４４に対して出力する。
【０１００】
ここで、セレクタ４４は、コントローラ４８から指示に応じて、記録時には記録時用フォーカスサーボ回路４２からのフォーカスサーボ信号ＦＳ-sv（つまり基準面サーボ用レーザ光の焦点位置を基準面Ｒｅｆに追従させるためのサーボ制御信号）を選択するようにされ、再生時には、再生時用サーボ回路３８からのフォーカスサーボ信号ＦＳ-ap（ＡＴＳ光の焦点位置を記録膜３に追従させるためのサーボ制御信号）を選択するようにされる。
【０１０１】
セレクタ４４により選択されたフォーカスサーボ信号ＦＳは、フォーカスドライバ４６に供給される。
フォーカスドライバ４６は、供給されたフォーカスサーボ信号ＦＳに基づき生成したフォーカス駆動信号ＦＤにより２軸アクチュエータ２５のフォーカスコイルを駆動する。
これにより、記録時に対応しては、対物レンズ２４が、基準面サーボ用レーザ光の焦点位置を基準面Ｒｅｆに追従させるようにして駆動され、また再生時に対応しては、対物レンズ２４がＡＴＳ光の焦点位置を記録膜３に追従させるようにして駆動されるようになる。
【０１０２】
なお、先の図４や図８にて説明したように、本例の場合、基準面サーボ用レーザ光が基準面Ｒｅｆに合焦する際に、記録用レーザ光及びＡＴＳ光の合焦位置が記録膜３に合致するように光学系が設計されているものとしている。
従って、上記のように記録時に対応して基準面サーボ用レーザ光の焦点位置を基準面Ｒｅｆに追従させるように対物レンズ２４のフォーカスサーボ制御が行われる状態では、記録用レーザ光・ＡＴＳ光の合焦位置が記録膜３に一致するようにされる。
なおこのとき、前述のエキスパンダによって、記録用レーザ光・ＡＴＳ光の合焦位置の微調整を行うことが可能とされる。
【０１０３】
また、信号生成部４０により生成されたトラッキングエラー信号ＴＥ-svは、基準面側サーボフィルタ４１に供給される。
基準面側サーボフィルタ４１は、コントローラ４８からの指示に応じ、トラッキングエラー信号ＴＥ-svに基づいて、基準面サーボ用レーザ光のスポット位置を基準面Ｒｅｆ上の案内溝に追従させる（トラッキング誤差をキャンセルする）ためのトラッキングサーボ信号ＴＳ-svを生成する。
基準面側サーボフィルタ４１は、トラッキングエラー信号ＴＥ-svに対して位相補償等のトラッキングサーボのためのフィルタ処理を施して上記トラッキングサーボ信号ＴＳ-svを生成する。
なお先の図９による説明から理解されるように、本例の場合、基準面側サーボ制御系の制御帯域は例えば１０ｋHz程度に設定されるものである。
【０１０４】
基準面側サーボフィルタ４１により生成されたトラッキングサーボ信号ＴＳ-svは、加算部４３に対して供給される。
加算部４３は、トラッキングサーボ信号ＴＳ-svと、前述のようにＡＴＳ側サーボフィルタ３９から供給されるトラッキングサーボ信号ＴＳ-atsとを加算し、その結果をトラッキングサーボ信号ＴＳ-arfとしてセレクタ４５に出力する。
【０１０５】
セレクタ４５は、コントローラ４８からの指示に応じ、記録時には加算部４３からのトラッキングサーボ信号ＴＳ-arfを選択し、再生時には再生時用サーボ回路３８からのトラッキングサーボ信号ＴＳ-apを選択する。
【０１０６】
セレクタ４５により選択されたトラッキングサーボ信号ＴＳは、トラッキングドライバ４７に供給される。
トラッキングドライバ４７は、供給されたトラッキングサーボ信号ＴＳに基づき生成したトラッキング駆動信号ＴＤにより、２軸アクチュエータ２５のトラッキングコイルを駆動する。
これにより、再生時に対応しては、対物レンズ２４が上記トラッキングサーボ信号ＴＳ-apに基づき、ＡＴＳ光のスポット位置がマーク列に追従するように駆動されることとなる。
そして、記録時に対応しては、対物レンズ２４が、上記トラッキングサーボ信号ＴＳ-arfとしての、ＡＴＳ光のトラッキング誤差成分とサーボ用レーザ光のトラッキング誤差成分との双方を反映したサーボ制御信号に基づき駆動されることになる。すなわち、先に述べたＡＴＳ＋としてのトラッキングサーボ制御が実現されるものである。
【０１０７】
コントローラ４８は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）やＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）などのメモリ（記憶装置）を備えたマイクロコンピュータで構成され、例えば上記ＲＯＭ等に記憶されたプログラムに従った制御・処理を実行することで、光ディスク装置１０の全体制御を行う。
例えばコントローラ４８は、記録時と再生時とで、それぞれ対応する手法でのフォーカスサーボ、トラッキングサーボが行われるようにするための制御を行う。
具体的に本例の場合、フォーカスサーボ側については、記録時において、基準面サーボ用レーザ光の反射光に基づき対物レンズ２４のフォーカスサーボ制御が実行されるように、記録時用フォーカスサーボ回路４２にフォーカスサーボ信号ＦＳ-svを生成させ且つ、セレクタ４４により当該フォーカスサーボ信号ＦＳ-svを選択させる。
また再生時には、ＡＴＳ光のマーク列からの反射光に基づき対物レンズ２４のフォーカスサーボ制御を実行させるべく、再生時用サーボ回路３８にフォーカスサーボ信号ＦＳ-apを生成させ且つ、セレクタ４４により当該フォーカスサーボ信号ＦＳ-apを選択させる。
また、トラッキングサーボ側については、記録時には、前述のＡＴＳ＋としてのトラッキングサーボ制御が実行されるように、基準面側サーボフィルタ４１、ＡＴＳ側サーボフィルタ３９にトラッキングサーボ信号ＴＳ-sv、トラッキングサーボ信号ＴＳ-atsの生成をそれぞれ実行させ且つ、セレクタ４５に、これらの合成成分としてのトラッキングサーボ信号ＴＳ-arfを選択させる。
また再生時には、ＡＴＳ光の反射光に基づく対物レンズ２４のトラッキングサーボ制御が実行されるべく、再生時用サーボ回路３８にトラッキングサーボ信号ＴＳ-apを生成させ且つ、セレクタ４５に当該トラッキングサーボ信号ＴＳ-apを選択させる。
【０１０８】
またコントローラ４８は、レンズ駆動部２０に対して駆動信号Ｄlnを供給することで、可動レンズ１９の位置制御、すなわち記録用レーザ光・ＡＴＳ光の合焦位置の調整を実行させることができる。
【０１０９】
［1-5．まとめ］
これまでの説明のように、本実施の形態の光ディスク装置１０では、ターンテーブル１３に対して案内溝を形成し、このように案内溝が形成されたターンテーブル１３に照射した基準面サーボ用レーザ光の戻り光に基づき、フレキシブルディスク１に照射される記録用レーザ光についてのトラッキングサーボ制御を行うようにしている。
このようにすることで、フレキシブルディスク１側に案内溝を形成することなく、記録用レーザ光についてのトラッキングサーボ制御を行うことができる。
フレキシブルディスク１に対する案内溝の形成工程を省略できることで、フレキシブルディスク１の製造コストの削減を図ることができる。
【０１１０】
また、案内溝の形成工程が不要となれば、その分、フレキシブルディスク１の歩留まりを向上できる。つまりこの点でも、フレキシブルディスク１の製造コスト削減が図られる。
【０１１１】
［1-6．１／２トラック幅以上のスポット位置ずれが生じる場合への対策］
（１．スポット位置ずれに伴う問題点）
ここで、前述もしたように、ＡＴＳ＋では、ＡＴＳ側のトラッキング誤差情報が基準面側サーボ制御系の制御目標値として与えられることで、ＡＴＳ光のスポット位置がマーク列に対して追従するように制御されることになる。
すなわち、このことを裏返すと、基準面サーボ用レーザ光のスポット位置は、上記ＡＴＳ側のトラッキング誤差情報としての、図５に示したようなスポット位置ずれ（情報記録位置のずれ）に応じた分だけ、基準面Ｒｅｆ上のサーボ対象とするトラックからオフセットされる場合があるということになる。
【０１１２】
この場合において、図５に示したようなスポット位置ずれ量は、場合によっては複数トラック幅分に及ぶ可能性がある。すなわち、例えばターンテーブル１３やフレキシブルディスク１の作製精度が比較的低く、偏芯やチルトの発生量が比較的大となる場合には、スポット位置ずれ量としてもその分大となり、これに伴って基準面Ｒｅｆの１トラック幅以上のスポット位置ずれが生じる可能性もある。
【０１１３】
このようにスポット位置ずれ量が大であると、基準面側サーボ制御系におけるエラー信号も大となり、これに伴ってトラッキングサーボが外れてしまう可能性がある。これは、例えばプッシュプル信号等の通常のトラッキングエラー信号では、スポット位置が対象とするトラックから１／２トラック分以上離間してしまうとその波形に折り返しが生じ、これに伴ってトラッキングサーボ制御を適正に行うことが不能となるためである。
【０１１４】
そこで以下では、スポット位置ずれ量が基準面Ｒｅｆ上のトラック幅換算で１／２トラック分以上に生じる場合にも、トラッキングサーボ制御状態を維持できるようにするための対策の一例について説明しておく。
具体的に、この場合の対策としては、トラッキングエラー信号ＴＥ-svとして、１／２トラック幅以上のトラッキング誤差が生じた場合にも波形の折り返しを生じさせずその誤差量を線形に表すことのできる、線形トラッキング誤差信号を生成するという手法を挙げる。
【０１１５】
（２．基準面の構造）
先ず、線形トラッキング誤差信号の生成にあたっては、基準面Ｒｅｆに形成される案内溝として、以下で説明するようなピット列を形成することになる。
図１２及び図１３を参照して、ターンテーブル１３の基準面Ｒｅｆ上におけるピット列の形成態様について説明する。
図１２は、基準面Ｒｅｆの表面を一部拡大した平面図である。
この図１２においては、紙面の左側から右側に向かう方向をピット列の形成方向、つまりはトラックの形成方向（線方向）としている。この場合、基準面サーボ用レーザ光の照射スポットは、ターンテーブル１３の回転駆動に伴い、紙面の左側から右側に移動するものとする。
また、上記ピット列の形成方向と直交する方向（紙面の縦方向）は、ターンテーブル１３の半径方向である。
【０１１６】
また図１２において、図中の白丸で示すＡ〜Ｆは、ピットの形成可能位置を表す。すなわち、基準面Ｒｅｆにおいて、ピットは、当該ピットの形成可能位置においてのみ形成されるものであって、ピットの形成可能位置以外にはピットの形成が行われない。
また、図中のＡ〜Ｆの符号の別はピット列の別（半径方向において配列されるピット列の別）を表し、これらＡ〜Ｆの符号に付される数字はピット列上におけるピットの形成可能位置の別を表す。
【０１１７】
ここで、図中の黒太線で表す間隔は、対物レンズ２４の基準面サーボ用レーザ光についての実効的な開口数（ＮＡ）と、基準面サーボ用レーザ光の波長との関係で実現可能な最小トラックピッチ（従来限界トラックピッチ）を表している。このことからも理解されるように、この場合の基準面Ｒｅｆでは、Ａ〜Ｆの計６本のピット列が、従来限界の１トラック幅内に形成されている、すなわち半径方向における光学限界を超えるピッチで配列されていることになる。
【０１１８】
但し、従来限界の１トラック幅内にこれら複数のピット列を単純に配列したのみでは、ピット列形成方向においてピットの形成位置が重なってしまう虞があり、つまりはピット列形成方向におけるピットの間隔が光学限界を超えてしまう虞がある。
【０１１９】
そこで、本例においては、従来限界の１トラック幅内に配列される上記Ａ〜Ｆの複数のピット列間で、ピット列形成方向におけるピット同士の間隔が光学限界を超えないようにするべく、以下のような条件を定めている。
すなわち、
１）Ａ〜Ｆの各ピット列において、ピットの形成可能位置の間隔を所定の第１の間隔に制限する。
２）このようにピットの形成可能位置の間隔が制限されたＡ〜Ｆの各ピット列を、それぞれのピットの形成可能位置がピット列形成方向において所定の第２の間隔ずつずれたものとなるようにして配列する（つまり上記第２の間隔で各ピット列の位相をずらす）。
というものである。
【０１２０】
ここで、半径方向に配列されるＡ〜Ｆのピット列におけるそれぞれのピットの形成可能位置のピット列形成方向における間隔（上記第２の間隔）をｎとおく。このとき、上記２）の条件が満たされるようにＡ〜Ｆの各ピット列が配列されることで、ピット列Ａ−Ｂ、ピット列Ｂ−Ｃ、ピット列Ｃ−Ｄ、ピット列Ｄ−Ｅ、ピット列Ｅ−Ｆ、及びピット列Ｆ−Ａの各ピット形成可能位置間の間隔は、図示するように全てｎとなる。
また、Ａ〜Ｆの各ピット列におけるピット形成可能位置の間隔（上記第１の間隔）は、この場合はＡ〜Ｆまでの計６つのピット列位相を実現するものとしているので、６ｎとなる。
【０１２１】
本例において、基準面Ｒｅｆにおけるサーボ用レーザ光による情報再生及びサーボ制御は、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）の場合と同様の波長λ＝６５０nm程度、開口数ＮＡ＝０．６５程度の条件で行うものとしている。このことに対応して本例では、各ピット形成可能位置の区間長はＤＶＤにおける最短マークと同じ３Ｔ分（Ｔはチャネルビット）の区間長とし、またピット列形成方向におけるＡ〜Ｆの各ピット形成可能位置のエッジ間の間隔も、同様の３Ｔ分の長さに設定している。つまりこのことによると、ｎ＝６Ｔとなる。
この結果、上記１）２）の条件が満たされるものとなっている。
【０１２２】
ここで、基準面Ｒｅｆ全体におけるピットの形成態様について理解するために、図１３を参照してより具体的なピット列の形成手法について説明する。
なお図１３では、図示の都合上、ピット列の種類（位相）がＡ〜Ｃの３種のみとされた場合を例示している。
また図中において、黒丸はピット形成可能位置を表す。
【０１２３】
この図１３を参照して分かるように、基準面Ｒｅｆにおいては、それぞれ位相の異なる複数種のピット列（図１３ではＡ〜Ｃの３種としているが実際にはＡ〜Ｆの６種となる）を１セットとし、該複数種のピット列の１セットがスパイラル状に形成されている。
このことで、上記複数種のピット列のうちの所要の１種のピット列を対象としたトラッキングサーボをかけ続けることで、スポット位置はスパイラル状の軌跡を描くことになる。
【０１２４】
また、基準面Ｒｅｆにおいて、ピットは、ＣＡＶ（Constant Angular Velocity）方式により形成されたものとなる。このことから、図示するように複数種のピット列の個々は、半径方向において、そのピットの形成位置（ピットの形成可能位置）が同じ角度位置に揃えられるものとなる。
【０１２５】
ここで、このように基準面ＲｅｆにてピットをＣＡＶ方式で記録するのは、ディスク上のどの領域においても図１２に示したようなＡ〜Ｆの各ピット列の位相関係が保たれるようにするためである。
【０１２６】
（３．アドレス情報について）
続いて、図１４により、基準面Ｒｅｆに記録されるアドレス情報のフォーマットの一例について説明する。
なお、以下、図１７までの説明においては、便宜上、トラッキングエラー信号（個々のトラッキングエラー信号）としてはプッシュプル信号に基づく信号を生成することを前提とする。
後の説明により明らかとなるように、実際の構成では、トラッキングエラー信号としてｓｕｍ信号（和信号）に基づく信号を生成することになる。
【０１２７】
図１４において、先ず図１４（ａ）は、それぞれ異なるピット列位相を有するようにされた各ピット列（Ａ〜Ｆ）のピット形成可能位置の関係を模式化して示している。なお図１４（ａ）においては「＊」マークによりピット形成可能位置を表している。
【０１２８】
ここで、後述もするように、本例では、これらＡ〜Ｆのピット列のうちから１つのピット列を選択し、該選択した１つのピット列を対象としてトラッキングサーボをかけるようにされている。
但し、このとき問題となるのは、Ａ〜Ｆの各ピット列は半径方向において光学限界を超えたピッチで配列されているという点である。すなわち、この場合において基準面サーボ用レーザ光の照射スポットがトラック上を移動（走査）して得られるトラッキングエラー信号（プッシュプル信号）としては、Ａ〜Ｆの全てのピットを反映したものとなってしまうので、該トラッキングエラー信号に基づきトラッキングサーボをかけたとしても、選択した１つのピット列を追従することはできない。
このため、本例では、選択したピット列におけるピット形成可能位置のタイミングにおけるトラッキングエラー信号をサンプルし、該サンプルしたトラッキングエラー信号の値に基づいて（いわば間欠的に）トラッキングサーボをかけるということをその基本概念とする。
【０１２９】
そして、これと同様に、アドレス情報を読む場合にも、選択したピット列に記録される情報のみが選択的に読み出されるように、該選択したピット列のピット形成可能位置のタイミングにおける和信号（ｓｕｍ信号）をサンプルし、その値に基づいてアドレス情報を検出するという手法を採る。
【０１３０】
このような情報検出の手法に対応するため、本例では、ピット形成可能位置におけるピットの形成有無により、チャネルビット（記録符号）の「０」「１」を表現するフォーマットを採用するものとしている。すなわち、１つのピット形成可能位置が、１チャネルビット分の情報を担うものである。
【０１３１】
その上で、このようなチャネルビットの複数個による「０」「１」のデータパターンにより、データビットの１ビットを表現するものとしている。
具体的に本例では、図１４（ｂ）に示されるように、チャネルビット４つ分でデータビットの「０」「１」を表現するものとし、例えば４チャネルビットのパターン「１０１１」がデータビット「０」、４チャネルビットのパターン「１１０１」がデータビット「１」を表すものとしている。
【０１３２】
このとき重要であるのは、チャネルビット「０」が連続しないという点である。つまり、チャネルビット「０」が連続してしまうということは、上述のようにトラッキングエラー信号を間欠的に用いてサーボを行うということを基本としたときに、エラー信号が得られない期間が連続してしまうということ意味するので、これに伴い、トラッキングサーボの精度を確保することが非常に困難となってしまうためである。
このため本例では、例えば上記のようなデータビットの定義により、チャネルビット「０」が連続しないという条件が満たされるようにしている。すなわち上記のようなデータビットの定義により、トラッキングサーボの精度低下が最小限に抑えられるようにしているものである。
【０１３３】
図１４（ｃ）は、シンクパターンの一例を示している。
例えばシンクパターンについては、図示するように１２チャネルビットで表現するものとし、前半の８ビットを上記データビットの定義に当てはまらないチャネルビットパターン「１１１１１１１１」とし、その後の４チャネルビットのパターンでシンクの別（種類）を表すものとしている。具体的に、上記８ビットに続く４チャネルビットのパターンが「１０１１」であればＳｙｎｃ１、「１１０１」であればＳｙｎｃ２としている。
【０１３４】
基準面Ｒｅｆにおいては、アドレス情報が、上記のようなシンクの後に続けて記録されているものとする。
ここで前述もしたように、アドレス情報としては、ディスク上の絶対位置情報（半径位置の情報、及び回転角度情報）を記録する。
なお確認のために述べておくと、本例では従来限界の１トラック幅内にＡ〜Ｆの複数本のピット列を配列するものとしているが、アドレス情報の記録は、各ピット列の半径位置が個別に表されるように（各ピット列の識別が可能となるように）、ピット列ごとに個別の情報が割り振られるようにして行う。すなわち、従来限界の１トラック幅内に配列されるＡ〜Ｆの各ピット列に対し同じアドレス情報を記録するものではない。
【０１３５】
なお、図１４の説明からも理解されるように、基準面Ｒｅｆに対しては、ピットがポジション記録されていることになる。ポジション記録とは、ピット（或いはマーク）の形成部分をチャネルデータ「１」、それ以外の部分をチャネルデータ「０」とする記録手法を指すものである。
【０１３６】
（４．サーボ対象ピット列の選択手法）
上記のように従来の１トラック幅内に複数配列されるようにして形成されたピット列のうちから、任意のピット例を対象としてトラッキングサーボをかけるための手法は、具体的には以下で説明する手法をその基本とする。
【０１３７】
図１５は、回転駆動に伴い基準面Ｒｅｆ上を基準面サーボ用レーザ光のスポットが移動する様子と、その際に得られるｓｕｍ信号、ｓｕｍ微分信号、及びプッシュプル信号ＰＰ（ＰＰ信号とも表記する）の波形との関係を模式的に示している。
上記ｓｕｍ信号は、図１０に示した第２受光部３３としての複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-svの和信号であり、上記ｓｕｍ微分信号はｓｕｍ信号を微分して得られる信号である。
ここで、この図では説明の便宜上、図中の各ピット形成可能位置の全てにピットが形成されているものとする。
【０１３８】
図示するようにして、ターンテーブル１３の回転に伴い基準面サーボ用レーザ光のビームスポットが移動することに伴っては、ｓｕｍ信号は、Ａ〜Ｆの各ピットのピット列形成方向における配置間隔に応じた周期でその信号レベルがピークを迎えることになる。つまりこのｓｕｍ信号は、Ａ〜Ｆの各ピットのピット列形成方向における間隔（形成周期）を表していることになる。
【０１３９】
ここで、この図の例では基準面サーボ用レーザ光のスポットがピット列Ａ上に沿って移動するものとしているので、上記ｓｕｍ信号は、ピット列形成方向におけるピットＡの形成位置の通過時にピーク値が最大（絶対値）となり、またピットＢ〜ピットＤの各形成位置にかけて徐々にピーク値が減少していく傾向となる。そしてその後、ピットＥの形成位置→ピットＦの形成位置の順でピーク値は上昇傾向に転じ、再びピットＡの形成位置に至ることでピーク値が最大となる。すなわち、ピット列形成方向における上記ピットＥ、Ｆの形成位置においては、外周側に隣接するピット列Ｅ、Ｆにおけるピットの影響を受けるので、ｓｕｍ信号のピーク値はピットＥ、Ｆの形成位置ごとで順に上昇することになる。
【０１４０】
また、上記ｓｕｍ信号を微分して生成されるｓｕｍ微分信号、及びトラッキング誤差信号としてのＰＰ信号としては、それぞれ図示するような波形が得られる。
上記ｓｕｍ微分信号は、各ピット列Ａ〜Ｆのピット形成位置（厳密にはピット形成可能位置である）のピット列形成方向における間隔に応じたクロックＣＬＫを生成するために用いられることになる。
【０１４１】
具体的に、クロックＣＬＫとしては、ｓｕｍ微分信号を用いることで、各ピットのセンター位置（ピークポジション）に相当する位置（タイミング）を立ち上がり位置（タイミング）とする信号を生成する。
クロックＣＬＫの生成手法としては、次の図１６に示されるように、先ずは所定の閾値Ｔｈ１でｓｕｍ信号をスライスした信号と、同様に所定の閾値Ｔｈ２でｓｕｍ微分信号をスライスした信号とを生成する。そして、これらのＡＮＤをとることで、上記ピークポジションに相当する立ち上がりタイミングを有するタイミング信号を生成する。
クロックＣＬＫは、このように生成したタイミング信号を入力信号（参照信号）としたＰＬＬ（Phase Locked Loop）処理を行うことで生成する。
【０１４２】
図１７は、上記の手順により生成されたクロックＣＬＫと、該クロックＣＬＫに基づき生成された各selector信号の波形と、基準面Ｒｅｆに形成された各ピット列（の一部）との関係を模式化して示している。
この図からも明らかなように、クロックＣＬＫとしては、ピットＡ〜Ｆの形成間隔に応じた周期を有する信号となる。具体的には、ピットＡ〜Ｆのピークポジションにその立ち上がりタイミングを有する信号となる。
【０１４３】
このようなクロックＣＬＫから、Ａ〜Ｆの個々のピット形成可能位置のタイミングを表す６種のselector信号を生成する。
具体的にこれらselector信号としては、それぞれ上記クロックＣＬＫを１／６に分周して生成されたものとなっており、且つそれぞれの位相が１／６周期ずつずれたものとなっている。換言すれば、これら各selector信号は、それぞれの立ち上がりタイミングが１／６周期ずつずれたものとなるように、クロックＣＬＫをそれぞれのタイミングで１／６に分周して生成されるものである。
【０１４４】
これらselector信号は、それぞれ、Ａ〜Ｆの対応するピット列のピット形成可能位置のタイミングを表す信号となる。従って、これらselector信号を生成した上で、任意のselector信号を選択し、該選択したselector信号が表すタイミングでトラッキングエラー信号（プッシュプル信号）をサンプルホールドすることで、Ａ〜Ｆのうちの１つのピット列に追従するためのトラッキングエラー信号を得ることができる。すなわち、このように生成したトラッキングエラー信号に基づき対物レンズ２４についてのトラッキングサーボ制御を行うことで、Ａ〜Ｆのピット列のうちの任意のピット列（つまりトラック）上に基準面サーボ用レーザ光のスポットをトレースさせることが可能となる。
【０１４５】
（５．プッシュプル信号をサンプリングする手法の問題点とその対策）
ここで、上記による説明では、サーボ対象として任意のピット列を選択するにあたり、そのためのトラッキングエラー信号としてプッシュプル信号をサンプルホールドした信号を用いるものとしたが、このようにプッシュプル信号を用いる場合には、いわゆるチルト（skew）や対物レンズ２４のレンズシフトに起因して、正確なトラッキング誤差情報を得ることができない虞がある。
【０１４６】
図１８は、チルトやレンズシフトに伴う反射光の受光スポット位置ずれについて説明するための図であり、図１８（ａ）はチルト・レンズシフトが生じていない理想状態における第２受光部３３上の反射光スポット（受光スポット）を示し、図１８（ｂ）はチルト・レンズシフトが生じた場合における第２受光部３３上の反射光スポットを示している。
なおこれら図１８（ａ）（ｂ）において、反射光スポット内に示した斜線部は、ディスク上に形成されたピットからの一次回折光成分の重畳領域（プッシュプル信号成分重畳領域）を表している。
【０１４７】
先ず前提として、プッシュプル信号（ＰＰ）は、図中の受光素子Ａ，Ｂの組及び受光素子Ｃ，Ｄの組がそれぞれディスクの半径方向に対応する方向に隣接する組であるとした場合、
ＰＰ＝（Ａi＋Ｂi）−（Ｃi＋Ｄi）  ・・・［式１］
により計算されるものである。但し［式１］において、Ａi，Ｂi，Ｃi，Ｄiはそれぞれ受光素子Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄの受光信号である。
【０１４８】
ここで、サーボ用レーザ光の照射スポットは、対象とするピット列上を正確にトレースしていると仮定する。その場合において、チルト・レンズシフトが生じていない図１８（ａ）の理想状態であれば、上記[式１]に従って計算されるプッシュプル信号ＰＰの値は「０」となる。
これに対し、図１８（ｂ）に示すようなチルト・レンズシフトに伴う反射光スポット位置ずれが生じている場合、[式１]により計算されるプッシュプル信号ＰＰの値は、本来得られるべき「０」とは異なる値となってしまい、誤差が生じるものとなる。
【０１４９】
このことからも理解されるように、プッシュプル信号ＰＰには、チルトやレンズシフトに伴うオフセットが生じる。
【０１５０】
このようなチルトやレンズシフトに伴うオフセット成分が無視できる程度であれば、上記で説明したままのトラッキングエラー信号の生成手法は有効であるが、トラッキングサーボ制御の安定性の向上を図るにあたっては、トラッキングエラー信号には上記のようなオフセット成分が重畳しないことが望ましい。
【０１５１】
従来、チルトやレンズシフトに伴うオフセットの影響を回避するためのトラッキングエラー検出手法としては、いわゆる３スポット法が知られているが、該３スポット法は、グレーティング等の光学部品の追加が必要であり、その分、部品コストや調整コストの増加を招く。
また、上記オフセットの影響を回避するためのトラッキングエラー検出手法としてはＤＰＰ（Differential Push Pull）法も知られているが、該ＤＰＰ法としても同様にグレーティング等の追加が必要であり、部品コスト、調整コストの増加を招く。
【０１５２】
これら従来のトラッキングエラー検出手法が有する問題点の解決を図りつつ、チルト・レンズシフトに伴うオフセット成分の影響を回避するために、本例では、以下で説明するようなｓｕｍ信号を用いる手法によりトラッキングエラー信号を生成するものとしている。
【０１５３】
図１９は、ピット列ごとの各トラッキングエラー信号の生成手法について説明するための図である。
なおこの図１９では、基準面Ｒｅｆに形成された各ピット列Ａ〜Ｆと、そのうちのピット列Ｄ上をトレースするようにトラッキングサーボがかけられている状態での基準面サーボ用レーザ光のスポット位置の移動軌跡（斜線部）と、該サーボ用レーザ光の移動に伴い得られるｓｕｍ信号の波形とを示している。
【０１５４】
例えばこの図１９に示されるように、基準面サーボ用レーザ光のスポットがピット列Ｄ上を正確にトレースしている場合、ｓｕｍ信号の値としては、ピット列Ｄ上のピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ）において最小値をとり、該ピット列Ｄに対する位相差が大となるピット列ほど、そのピット形成位置での値が徐々に大となる傾向となる。
このとき、ｓｕｍ信号の値は、ピット列Ｄに対しそれぞれ隣接する（つまり同じ位相差を有する）ピット列Ｃ、ピット列Ｅのそれぞれのピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ−１、ｎ＋１）にて同じ値をとり、また、ピット列Ｄに対しそれぞれ同じ距離（半径方向における距離）だけ離間した（つまり同じ位相差を有する）ピット列Ｂ、ピット列Ｆのそれぞれのピット形成位置と一致するタイミング（図中ｎ−２、ｎ＋２）においても同じ値をとることになる。
【０１５５】
ここで、図中に示す状態とは異なり、基準面サーボ用レーザ光のスポットがピット列Ｄ上から半径方向にずれた位置をトレースしたとすると、上記ピット列Ｄに対する位相差が等しいそれぞれのピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号の値には、ずれが生じることが分かる。
つまりこのことからも理解されるように、トラッキングサーボの対象とするピット列に対する位相差が等しい各ピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号の値は、上記トラッキングサーボの対象とするピット列に対するトラッキング方向の誤差を反映していることになる。具体的に、トラッキング誤差情報は、上記位相差が等しい各ピット列の組における各ピット形成位置でのｓｕｍ信号の値の差分を計算することで得ることができる。
【０１５６】
この点を踏まえ本例では、具体的に以下のようにしてｓｕｍ信号に基づくトラッキングエラー信号の生成を行う。
すなわち、先ずはトラッキング誤差の検出対象としたいピット列に対して位相差が等しい２つのピット列を選出する。具体的に本例の場合は、対象とするピット列にそれぞれ隣接するピット列を選出するものとする。
その上で、これら選出した各ピット列のピット形成可能位置に対応するタイミング（図１２におけるｎ−１とｎ＋１が該当）で、ｓｕｍ信号の値をサンプリングし、それらサンプリングしたｓｕｍ信号の値の差分を計算する。該計算結果が、トラッキング誤差の検出対象としたいピット列についてのトラッキングエラー信号となる。
【０１５７】
（６．線形トラッキング誤差信号の生成手法）
上記のような手法により、ピット列Ａ〜Ｆの各ピット列ごとのトラッキングエラー信号を生成することができる。
ここで、本例では、これらピット列Ａ〜Ｆが従来の１トラック幅内に形成されていることから、ピット列Ａ〜Ｆとしての各位相のピット列ごとのトラッキングエラー信号は、同時並行的に生成することができる。つまり、ピット列Ａ〜Ｆの個々について、上記手法によるトラッキングエラー信号の生成を個々に行うトラッキングエラー信号生成部を設けることで、ピット列Ａ〜Ｆの個々についてのトラッキングエラー信号を同時並行して得ることができるものである。
以下、このように同時並行的に得ることのできる、ピット列Ａ,Ｂ,Ｃ,Ｄ,Ｅ,Ｆについての個々のトラッキングエラー信号のことを、それぞれトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ,ＴＥ_Ｂ,ＴＥ_Ｃ,ＴＥ_Ｄ,ＴＥ_Ｅ,ＴＥ_Ｆと表記する。
【０１５８】
本例では、これらトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆを同時並行的に得るようにした上で、前述したスポット位置ずれに伴ってサーボ用レーザ光のスポット位置が半径方向に変位する際に、これらトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆのゼロクロス点近傍の波形を順次繋ぎ合わせるようにすることで、線形トラッキング誤差信号を得る。
【０１５９】
図２０は、基準面サーボ用レーザ光のスポット位置が半径方向に変位する際に得られるトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの各波形を示している。
この図２０を参照して分かるように、前述したスポット位置ずれに起因して基準面サーボ用レーザ光のスポット位置が半径方向に変位される際には、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの個々は、正弦波状に変化する。この場合、ピット列は１トラック幅内に６つ配列されるので、これらトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの位相は、図のように６０°ずつずれた関係となる。
【０１６０】
ここで、仮に、ピット列Ａを対象としたトラッキングサーボがかけられているとすると、スポット位置は、図中に示すトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ上において、その負→正のゼロクロス点にあると表現することができる。
そしてその状態から、前述のスポット位置ずれに伴う制御目標値の変化によりスポット位置が徐々に半径方向に変位していくとすると、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａの振幅が徐々に上昇していくことになる。
このとき、図中時点ｔ１としての、スポット位置がピット列Ａ上から１／１２トラック分（３０°）移動した時点では、ピット列Ａに隣接するピット列Ｂに対するトラッキング誤差を表すトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｂの振幅値（絶対値）が、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａの振幅値（絶対値）と一致することが分かる。つまりこの時点ｔ１は、スポット位置が、半径方向におけるピット列Ａとピット列Ｂとの中間点に至った時点となる。
以降も同様に、図中の時点ｔ２はピット列Ｂとピット列Ｃとの中間点、時点ｔ３はピット列Ｃとピット列Ｄとの中間点、時点ｔ４はピット列Ｄとピット列Ｅとの中間点、時点ｔ５はピット列Ｅとピット列Ｆとの中間点、時点ｔ６はピット列Ｆとピット列Ａとの中間点を表すものとなる。
【０１６１】
この点からも理解されるように、スポット位置が半径方向に変位していく状態では、図中の黒太線で表すように、スポット位置が各エラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの直線区間（ゼロクロス点近傍の区間）を順次通過していくことになる。
【０１６２】
本実施の形態ではこの点に着目して、次の図２１に示すように、スポット位置が半径方向に移動していく際の各トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆのゼロクロス点近傍の波形を繋ぎ合わせることで、１／２トラック幅以上のトラッキング誤差を線形に表すことのできる線形トラッキング誤差信号を生成する。
なお、図２１では、最初にサーボＯＮとしたピット列（つまりサーボ対象とするピット列）がピット列Ｄとされた場合での線形トラッキング誤差信号の生成イメージを示している。
【０１６３】
図２２は、図２１に示したような線形トラッキング誤差信号（以下、リニアエラー信号とも称する）の具体的な生成手法について説明するための図である。
なお、この図２２においては、基準面サーボ用レーザ光のスポット位置が半径方向に移動している際に得られるトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの波形を示している。
【０１６４】
先ず、図２２を参照して分かるように、スポット位置が半径方向に移動することに応じては、時間経過と共に、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅の大小関係に変化が生じる。
リニアエラー信号の生成にあたっては、予め、これらトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅の大小関係の別ごとにｃａｓｅ分けをしておく。具体的にこの場合は、ピット列位相が６種とされることに応じ、ｃａｓｅとしてはｃａｓｅ１〜ｃａｓｅ１２に分けられることになる。
これらｃａｓｅ１〜ｃａｓｅ１２の定義は、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅をＡ〜Ｆとすると、以下に表すものとなる。
ｃａｓｅ１：Ｅ＜Ｆ＜Ｄ＜Ａ＜Ｃ＜Ｂ
ｃａｓｅ２：Ｅ＜Ｄ＜Ｆ＜Ｃ＜Ａ＜Ｂ
ｃａｓｅ３：Ｄ＜Ｅ＜Ｃ＜Ｆ＜Ｂ＜Ａ
ｃａｓｅ４：Ｄ＜Ｃ＜Ｅ＜Ｂ＜Ｆ＜Ａ
ｃａｓｅ５：Ｃ＜Ｄ＜Ｂ＜Ｅ＜Ａ＜Ｆ
ｃａｓｅ６：Ｃ＜Ｂ＜Ｄ＜Ａ＜Ｅ＜Ｆ
ｃａｓｅ７：Ｂ＜Ｃ＜Ａ＜Ｄ＜Ｆ＜Ｅ
ｃａｓｅ８：Ｂ＜Ａ＜Ｃ＜Ｆ＜Ｄ＜Ｅ
ｃａｓｅ９：Ａ＜Ｂ＜Ｆ＜Ｃ＜Ｅ＜Ｄ
ｃａｓｅ１０：Ａ＜Ｆ＜Ｂ＜Ｅ＜Ｃ＜Ｄ
ｃａｓｅ１１：Ｆ＜Ａ＜Ｅ＜Ｂ＜Ｄ＜Ｃ
ｃａｓｅ１２：Ｆ＜Ｅ＜Ａ＜Ｄ＜Ｂ＜Ｃ
【０１６５】
本例では、各トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅を逐次モニタし、上記のように定義される各ｃａｓｅの別を判定する。そして、このように判定したｃａｓｅごとに、以下で示す計算を行うことにより、リニアエラー信号を生成する。
なお、以下で示す計算例は、図２２に示されるように最初にサーボＯＮとしたピット列がピット列Ｄとされた場合を前提としている。換言すれば、当該ピット列Ｄ上にスポットが位置している状態がリニアエラー信号のゼロ点であることを前提としている。
ここで、下記計算例において、Ｐ(ｎ)は各時刻におけるリニアエラー信号の出力値を表し、Ａ〜Ｆはそれぞれトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅値を表す。
また、Ｐｐｒｅｖは、直前のｃａｓｅからの切り替わりタイミングにおける、当該直前のｃａｓｅで選択されていたトラッキングエラー信号ＴＥ（ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの何れか）の振幅値を表すものである。
さらに、ＨＰＫは、ｃａｓｅの切り替わりタイミングにおける、当該ｃａｓｅの切り替わりに応じて新たに選択されたトラッキングエラー信号ＴＥ（ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの何れか）の振幅値を表すものである。
ｃａｓｅ１・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐｐｒｅｖ＋Ｄ
ｃａｓｅ２・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐｐｒｅｖ−ＨＰＫ＋Ｃ
ｃａｓｅ３・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐｐｒｅｖ＋Ｃ
ｃａｓｅ４・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐｐｒｅｖ−ＨＰＫ＋Ｂ
ｃａｓｅ５・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐｐｒｅｖ＋Ｂ
ｃａｓｅ６・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐｐｒｅｖ−ＨＰＫ＋Ａ
ｃａｓｅ７・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐｐｒｅｖ＋Ａ
ｃａｓｅ８・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐｐｒｅｖ−ＨＰＫ＋Ｆ
ｃａｓｅ９・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐｐｒｅｖ＋Ｆ
ｃａｓｅ１０・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐｐｒｅｖ−ＨＰＫ＋Ｅ
ｃａｓｅ１１・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐｐｒｅｖ＋Ｅ
ｃａｓｅ１２・・・Ｐ(ｎ)＝Ｐｐｒｅｖ−ＨＰＫ＋Ｄ
【０１６６】
この計算例を参照して分かるように、本例では、スポット位置が半径方向に移動する際の各位相のトラッキング誤差信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆの振幅の大小関係が変化する所定のタイミングごとに、スポット位置の移動方向側に隣接するピット列についてのトラッキング誤差信号ＴＥを順次繋ぎ合わせていくことで、リニアエラー信号を生成するようにされている。
具体的に、本例では、上記所定のタイミングが、ｃａｓｅ１／ｃａｓｅ２の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ３／ｃａｓｅ４の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ５／ｃａｓｅ６の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ７／ｃａｓｅ８の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ９／ｃａｓｅ１０の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ１１／ｃａｓｅ１２の切り替わりタイミングとされた上で、これら所定のタイミングごとに、スポット位置の移動方向側に隣接するピット列についてのトラッキングエラー信号ＴＥを順次選択するようにされる。そしてこれと共に、上記所定のタイミングごとに、その時点でリニアエラー信号として出力していた値（Ｐｐｒｅｖ）から新たに選択したトラッキングエラー信号ＴＥの上記所定のタイミングでの値（ＨＰＫ）を減算して得た値を基準値（Ｐｐｒｅｖ−ＨＰＫ）とし、当該基準値に対して、上記新たに選択したトラッキングエラー信号の値を加算して得た値（Ｐ(ｎ)）を、リニアエラー信号の値として順次出力するようにされている。
【０１６７】
このような手法によって、スポット位置が半径方向（外周方向、内周方向の双方）に移動している状態において、先の図２１に示したような各位相のトラッキングエラー信号ＴＥのゼロクロス点近傍の波形を繋ぎ合わせたものとしてのリニアエラー信号を生成することができる。換言すれば、サーボＯＮしたピット列（トラック）からのトラッキング誤差量が、トラッキングエラー信号ＴＥの折り返しが生じるような誤差量であっても、そのトラッキング誤差量をほぼ線形な形で表すトラッキング誤差信号を生成できるものである。
【０１６８】
このようなリニアエラー信号（トラッキングエラー信号ＴＥ-sv）に基づくトラッキングサーボ制御が行われることで、前述のスポット位置ずれが１／２トラック幅以上に生じるような場合でも、トラッキングサーボが外れないようにすることができる。
【０１６９】
（７．信号生成部の具体的構成例）
図２３は、上記の対策を施すとした際に光ディスク装置１０が備えるべき信号生成部４０の内部構成を主に示した図である。
なお図２３では、先に述べた位置情報（アドレス情報）検出のために光ディスク装置１０に備えられる構成として、selector信号選択回路５６とアドレス検出回路５７を併せて示している。また、先の図１１に示したコントローラ４８も併せて示している。
【０１７０】
図示するように信号生成部４０内には、マトリクス回路５０、クロック生成回路５１、selector信号生成回路５２、エラー信号生成回路５３、ｃａｓｅ判定回路５４、及びリニアエラー信号生成回路５５が設けられている。
【０１７１】
マトリクス回路５０は、図１０に示した第２受光部３３における複数の受光素子からの受光信号ＤＴ-svに基づき、前述したフォーカスエラー信号ＦＥ-sv、及び和信号としてのｓｕｍ信号を生成する。
先に説明したように、フォーカスエラー信号ＦＥ-svは記録時用フォーカスサーボ回路４２に対して供給される。
ｓｕｍ信号は、図示するようにクロック生成回路５１、エラー信号生成回路５３、及びアドレス検出回路５７に対して供給される。
【０１７２】
クロック生成回路５１は、先に説明した手順に従ってクロックＣＬＫを生成する。
図２４は、クロック生成回路５１の内部構成を示している。
図２４において、クロック生成回路５１内にはスライス回路５１Ａ、ｓｕｍ微分回路５１Ｂ、スライス回路５１Ｃ、ＡＮＤゲート回路５１Ｄ、及びＰＬＬ回路５１Ｅが設けられる。
ｓｕｍ信号は、図示するようにスライス回路５１Ａとｓｕｍ微分回路５１Ａとに入力される。スライス回路５１Ａは、設定された閾値Ｔｈ１に基づき上記ｓｕｍ信号をスライスし、その結果を上記ＡＮＤゲート回路５１Ｄに出力する。
上記ｓｕｍ微分回路５１Ｂは、ｓｕｍ信号を微分して先に説明したｓｕｍ微分信号を生成する。上記スライス回路５１Ｃは、設定された閾値Ｔｈ２に基づき、上記ｓｕｍ微分回路５１Ｂにより生成されたｓｕｍ微分信号をスライスし、その結果を上記ＡＮＤゲート回路５１Ｄに出力する。
ＡＮＤゲート回路５１Ｄは、上記スライス回路５１Ａからの出力と上記スライス回路５１Ｃからの出力とのＡＮＤをとり、これによって先に説明したタイミング信号を生成する。
ＰＬＬ回路５１Ｅは、このようにＡＮＤゲート回路５１Ｄで得られたタイミング信号を入力信号としてＰＬＬ処理を行って、クロックＣＬＫを生成する。
【０１７３】
図２３に戻り、クロック生成回路５１により生成されたクロックＣＬＫは、selector信号生成回路５２に対して供給される。
selector信号生成回路５２は、クロックＣＬＫに基づき、Ａ〜Ｆの各ピット列のそれぞれのピット形成可能位置のタイミングを表す６種のselector信号を生成する。具体的にselector信号生成回路５２は、クロックＣＬＫを１／６に分周した信号として、それぞれ位相が１／６周期ずつずれた信号を生成することで、上記６種のselector信号を得る。
以下、これら６種のselector信号についてはそれぞれselector信号Ｓ_Ａ,Ｓ_Ｂ,Ｓ_Ｃ,Ｓ_Ｄ,Ｓ_Ｅ,Ｓ_Ｆと表記する。
【０１７４】
selector信号Ｓ_Ａ〜Ｓ_Ｆは、エラー信号生成回路５３に供給されると共に、selector信号選択回路５６に対しても供給される。
【０１７５】
エラー信号生成回路５３は、上記selector信号Ｓ_Ａ〜Ｓ_Ｆとｓｕｍ信号とに基づき、ピット列Ａ〜Ｆのそれぞれについてのトラッキングエラー信号ＴＥ（ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆ）を生成する。
【０１７６】
図２５は、エラー信号生成回路５３の内部構成を示している。
この図２５を参照して分かるように、エラー信号生成回路５３内には、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆとしての６種のエラー信号ＴＥを生成するために、２つのサンプルホールド回路と減算部とによるエラー信号生成部がｓｕｍ信号に対して６つ並列に設けられている。
具体的には、サンプルホールド回路ＳＨ-A1とサンプルホールド回路ＳＨ-A2と減算部５３Ａとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａを生成するエラー信号生成部と、サンプルホールド回路ＳＨ-B1とサンプルホールド回路ＳＨ-B2と減算部５３Ｂとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｂを生成するエラー信号生成部と、サンプルホールド回路ＳＨ-C1とサンプルホールド回路ＳＨ-C2と減算部５３Ｃとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃを生成するエラー信号生成部と、サンプルホールド回路ＳＨ-D1とサンプルホールド回路ＳＨ-D2と減算部５３Ｄとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄを生成するエラー信号生成部と、サンプルホールド回路ＳＨ-E1とサンプルホールド回路ＳＨ-E2と減算部５３Ｅとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅを生成するエラー信号生成部と、サンプルホールド回路ＳＨ-F1とサンプルホールド回路ＳＨ-F2と減算部５３Ｆとによりトラッキングエラー信号ＴＥ_Ｆを生成するエラー信号生成部とが設けられている。
【０１７７】
サンプルホールド回路ＳＨ-A1はselector信号Ｓ_Ｆが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-A2はselector信号Ｓ_Ｂが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５３Ａはサンプルホールド回路ＳＨ-A1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-A2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａを生成する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ-B1はselector信号Ｓ_Ａが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-B2はselector信号Ｓ_Ｃが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５３Ｂはサンプルホールド回路ＳＨ-B1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-B2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｂを生成する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ-C1はselector信号Ｓ_Ｂが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-C2はselector信号Ｓ_Ｄが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５３Ｃはサンプルホールド回路ＳＨ-C1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-C2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｃを生成する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ-D1はselector信号Ｓ_Ｃが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-C2はselector信号Ｓ_Ｅが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５３Ｄはサンプルホールド回路ＳＨ-D1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-D2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｄを生成する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ-E1はselector信号Ｓ_Ｄが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-E2はselector信号Ｓ_Ｆが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５３Ｅはサンプルホールド回路ＳＨ-E1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-E2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｅを生成する。
また、サンプルホールド回路ＳＨ-F1はselector信号Ｓ_Ｅが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、サンプルホールド回路ＳＨ-F2はselector信号Ｓ_Ａが表すタイミングでｓｕｍ信号をサンプルホールドし、減算部５３Ｆはサンプルホールド回路ＳＨ-F1の出力からサンプルホールド回路ＳＨ-F2の出力を減算することで、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ｆを生成する。
【０１７８】
説明を図２３に戻す。
エラー信号生成回路５３により生成されたトラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆは、ｃａｓｅ判定回路５４に供給されると共に、リニアエラー信号生成回路５５にも供給される。
【０１７９】
ｃａｓｅ判定回路５４は、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆに基づき、先に説明したｃａｓｅ１〜ｃａｓｅ１２の別を判定し、その判定結果を表す判定信号Ｄｃｓをリニアエラー信号生成回路５５、及びselector信号選択回路５６に供給する。
具体的にこの場合は、各ｃａｓｅの切り替わりタイミングを検出し、上記判定信号Ｄｃｓとしてはｃａｓｅの切り替わりタイミングとｃａｓｅの別とを表す信号を生成・出力する。
【０１８０】
リニアエラー信号生成回路５５は、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆと判定信号Ｄｃｓとに基づき、前述したリニアエラー信号を生成する。具体的には、先に計算例として示した各ｃａｓｅごとの計算式のうち、上記判定信号Ｄｃｓが表すｃａｓｅに対応する計算式に従った計算を行うことで、リニアエラー信号としてのトラッキングエラー信号ＴＥ-svを生成する。
なお、リニアエラー信号生成回路５５に対しては、コントローラ４８より、基準面側サーボ制御系のトラッキングサーボがＯＮとされるタイミングに応じてリセット信号が与えられ、リニアエラー信号生成回路５５は当該リセット信号に応じて、上記リニアエラー信号としてのトラッキングエラー信号ＴＥ-svの値を０リセットする。
リニアエラー信号生成回路５５により生成されたトラッキングエラー信号ＴＥ-svは、図１１に示される基準面側サーボフィルタ４１に供給される。
【０１８１】
selector信号選択回路５６は、selector信号生成回路５２から供給されるselector信号Ｓ_Ａ〜Ｓ_Ｆのうちから、判定信号Ｄｃｓに基づく１つのselector信号をselector信号Ｓ_Adとして選択し、当該selector信号Ｓ_Adをアドレス検出回路５７に出力する。
具体的に、selector信号選択回路５６は、判定信号Ｄｃｓにより表されるｃａｓｅ１〜ｃａｓｅ１２についての各切り替わりタイミングのうちの所定のタイミングで、selector信号Ｓ_Adとして出力するselector信号Ｓを、それまで出力していたselector信号Ｓに隣接するselector信号Ｓ（つまりそれまで出力していたselector信号Ｓがそのピット形成可能位置のタイミングを表すピット列に対して、スポットの移動方向側に隣接するピット列に対応するselector信号Ｓ）に切り替える。つまり本例の場合は、ｃａｓｅ１／ｃａｓｅ２の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ３／ｃａｓｅ４の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ５／ｃａｓｅ６の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ７／ｃａｓｅ８の切り替わりタイミング、ｃａｓｅ９／ｃａｓｅ１０の切り替わりタイミング、及びｃａｓｅ１１／ｃａｓｅ１２の切り替わりタイミングにおいて、selector信号Ｓ_Adとして出力するselector信号Ｓを、それまで出力していたselector信号Ｓに隣接するselector信号Ｓに切り替える。
【０１８２】
アドレス検出回路５７は、selector信号Ｓ_Adが表すピット形成可能位置のタイミング（この場合はselector信号Ｓ_AdがＨレベルの区間）で、ｓｕｍ信号の値をサンプリングした結果に基づき、基準面Ｒｅｆに記録されたアドレス情報を検出する。
ここで、先の図１４を参照して説明したように、本例の場合、各ピット列のアドレス情報は、そのピット列におけるピット形成可能位置でのピット形成有無を１チャネルビットの情報として記録されるものである。これに応じアドレス検出回路５７は、上記selector信号Ｓ_Adの立ち上がりタイミングでｓｕｍ信号の値を識別することで、１チャネルビットの「０」「１」のデータ識別を行い、その結果に基づき、先の図１４で説明したフォーマットに従ったアドレスデコード処理を行うことで、記録されたアドレス情報の検出（再生）を行う。
アドレス検出回路５７で検出されたアドレス情報は、コントローラ４８に対して供給される。
【０１８３】
ここで、上記のselector信号選択回路５６の動作によれば、selector信号Ｓ_Adとしては、スポット位置に最寄りのピット列についてのselector信号Ｓが選択されることになる。
これによりアドレス検出回路５７は、スポット位置に最寄りのピット列に記録されたアドレス情報を適正に検出することができる。
【０１８４】
コントローラ４８は、上記のような信号処理部４０の構成に対応して、以下の処理も行うようにされる。
すなわち、コントローラ４８は、基準面サーボ用レーザ光についてのトラッキングサーボに関して、サーボ対象とするピット列をピット列Ａ〜Ｆの何れかに選択する（つまりサーボＯＮとするピット列を選択する）としたときは、リニアエラー信号生成回路５５に対し、トラッキングエラー信号ＴＥ_Ａ〜ＴＥ_Ｆのうちサーボ対象とすべきとして選択したピット列についてのトラッキングエラー信号ＴＥを選択出力するように指示を行う。
また、前述もしたように、このように或るピット列を対象にサーボＯＮしたことに応じては、リニアエラー信号（ＴＥ-sv）の振幅を０リセットするための指示をリニアエラー信号生成回路５５に対して行うことになる。
【０１８５】
上記のような構成により、基準面側サーボ制御系によるトラッキングサーボ制御が、線形トラッキング誤差信号に基づき行われるようにすることができる。これにより、前述したレンズシフト等に伴うスポット位置ずれが１／２トラック幅以上に生じるような場合でもトラッキングサーボが外れないようにできる。つまりその結果、偏芯等の抑制のために要求されるターンテーブル１３やフレキシブルディスク１の作製精度の緩和が図られるようにでき、その結果、コスト削減を図ることができる。
【０１８６】
なお、１／２トラック幅以上のスポット位置ずれが生じる場合への対策例としては、上記により説明した手法に限定されるべきものではない。
例えば、偏芯やチルトに起因するスポット位置ずれ量を対物レンズ２４の位置センサ等の検出手段を用いて検出できる場合には、当該検出手段で検出されるスポット位置ずれ量に応じたオフセット信号を基準面側サーボ制御系のトラッキングエラー信号ＴＥ-sv（もちろんリニアエラー信号ではない）に対して加算する等の構成を採ることで、同様に１／２トラック幅以上のスポット位置ずれが生じる場合への対策となる。
【０１８７】
＜２．第２の実施の形態＞
続いて、第２の実施の形態について説明する。
図２６は、第２の実施の形態としての光ディスク装置が有する主にディスクの回転駆動系の構成について説明するための図である。
先の図２の場合と同様、図２６Ａでは回転駆動系の構成を断面図により示し、図２６Ｂはターンテーブル１３の平面図を示している。
なお図２６Ａでは、この場合の光ディスク装置が備える光ピックアップ１１も併せて示している。
【０１８８】
ここで、第２の実施の形態の光ディスク装置は、第１の実施の形態の光ディスク装置１０との比較で回転駆動系の構成が主に異なるものである。従って、第２の実施の形態の光ディスク装置の構成に関して、光ピックアップ１１の内部構成や光ディスク装置全体の内部構成については改めての図示による説明は省略する。
なお、光ピックアップ１１についてはその一部が第１の実施の形態の場合と異なるものとなるが、これについては後に説明する。
また、第２の実施の形態において、既に第１の実施の形態で説明した部分と同様となる部分については同一符号を付して説明を省略する。
【０１８９】
図２６と先の図２とを比較して分かるように、第２の実施の形態は、フレキシブルディスク１とターンテーブル１３の配置関係を第１の実施の形態とは逆転したものとなる。具体的に、この場合のターンテーブル１３は、フレキシブルディスク１よりも光ピックアップ１１に遠い側に配置され、フレキシブルディスク１が光ピックアップ１１により近い側に配置されるものである。
図２と比較して分かるように、この場合のターンテーブル１３は、第１の実施の形態とはその上下を逆向きに配置することになる。つまり、この場合はフレキシブルディスク１が下側に配置されるので、スペーサ１３Ａが下側に凸となるようにターンテーブル１３を配置するものである。
【０１９０】
このような構成によっても、フレキシブルディスク１とターンテーブル１３とが一体的に回転駆動されることで、図中の破線矢印で表すような空気の流れが生じることとなり、第１の実施の形態の場合と同様、フレキシブルディスク１を水平に保つことができる。
【０１９１】
図２７は、第２の実施の形態で照射すべき各レーザ光の様子を示している。
第２の実施の形態の光ディスク装置としても、記録時にはＡＴＳ＋による位置制御を行う。このため、図のように基準面サーボ用レーザ光（図中の柄付きの光線）と、記録用スポットＳrecを形成する記録用レーザ光と、隣接トラックサーボ用スポットＳatsを形成するＡＴＳ光とを照射するようにされる。
【０１９２】
但し、この場合は、第１の実施の形態の場合とはフレキシブルディスク１とターンテーブル１３の配置関係が逆となるので、図のように、基準面サーボ用レーザ光はより奥側に、また記録用レーザ光及びＡＴＳ光はより手前側に合焦するように照射することになる。つまりこの場合の光ピックアップ１１は、このような合焦位置関係が得られるように設計されることになる。
なおこの場合も、基準面サーボ用レーザ光が基準面Ｒｅｆに合焦する際に、記録用レーザ光及びＡＴＳ光が記録膜３に合焦するように光学系を設計するという点については同様となる。
【０１９３】
ここで、この図２７によると、第２の実施の形態の場合は、基準面サーボ用レーザ光が、フレキシブルディスク１の記録膜（反射膜）３を透過するように構成する必要があることが分かる。
つまり第２の実施の形態においては、当該記録膜３に形成すべき反射膜として、半透明膜、或いは波長選択膜（記録用レーザ光・ＡＴＳ光を選択的に反射）を形成するものとなる。
但し、図２７によると、ターンテーブル１３に形成される反射膜１３-2については、第１の実施の形態の場合のような波長選択膜を設ける必要性は無いものとできる。０
【０１９４】
＜３．変形例＞
以上、本技術に係る各実施の形態について説明してきたが、本技術は、これまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えば、フレキシブルディスク１の構造や形成材料、ターンテーブル１３の構造や形成材料については、例示したものに限定されるべきものでなく、実際の実施形態に応じて適宜最適とされるものが採用されればよい。
例えば、ターンテーブル１３に対してスペーサ１３Ａが一体的に形成されるものとしたが、スペーサ１３Ａはターンテーブル１３と別体に形成することもできる。
【０１９５】
また、これまでの説明では、記録時における対物レンズ２４のフォーカスサーボ制御は、基準面サーボ用レーザ光の反射光に基づき行うものとしたが、これに代えて、ＡＴＳ光の反射光に基づく対物レンズ２４のフォーカスサーボ制御を行うようにしてもよい。
【０１９６】
また、フレキシブルディスク１を対象とした照射光についての位置制御の具体的な手法としては、ＡＴＳ＋の手法に限定されるべきものではなく、もちろん他の手法を採ることができる。例えば、偏芯やチルトの発生を十分に抑えることができる場合等には、先の図４にて説明したような基準面サーボ用レーザ光と記録用レーザ光の２ビームのみによる位置制御手法を採用することもできる。
【０１９７】
また、これまでの説明では、フレキシブルディスク１を対象とした照射光についての位置制御として、記録時においてのみターンテーブル１３に形成された案内溝に基づく位置制御を行うものとしたが、再生時においても上記案内溝に基づく位置制御を行うようにすることもできる。
【０１９８】
また、これまでの説明では、フレキシブルディスク１を、記録膜３が１つのみのいわゆる単層ディスクとする場合を例示したが、記録膜を複数形成した多層ディスクとすることもできる。
その場合、フレキシブルディスク１を対象とした照射光についての合焦位置の選択（記録／再生対象とする記録膜３の選択）は、前述のエキスパンダにより行うものとすればよい。
【０１９９】
また、これまでの説明では、基準面Ｒｅｆにトラッキングサーボのために形成する位置案内子として、案内溝を形成することとしたが、位置案内子としては、溝によるもの以外にも、例えばマークの記録によるものとすることもできる。
【０２００】
また、本技術は、以下に示す構成とすることもできる。
（１）
所定の厚みを有するスペーサを介してフレキシブルディスクを保持すると共に、上記フレキシブルディスクとの間に空気を流入するための穴部が形成されたターンテーブルと、
上記フレキシブルディスクを上記ターンテーブルと共に回転駆動する回転駆動部と、
上記フレキシブルディスクを対象とした第１の光の照射と上記ターンテーブルを対象とした第２の光の照射とを行う共に、これら第１の光と第２の光の照射に応じてそれぞれ得られる戻り光の受光を行う光照射・受光部と
を備えると共に、
上記ターンテーブルに、上記光照射・受光部による光照射位置を案内するための位置案内子が形成され、
上記光照射・受光部で得られる上記第２の光の戻り光についての受光信号に基づき、上記第１の光の照射位置を制御する位置制御部を備える
光ディスク装置。
（２）
上記光照射・受光部は、
上記第１の光と上記第２の光とを共通の対物レンズを介して照射するように構成されており、
上記位置制御部は、
上記第２の光についての受光信号に基づいて上記対物レンズの位置を制御することで、上記第１の光についての位置制御を行う
上記（１）に記載の光ディスク装置。
（３）
上記ターンテーブルは、
上記フレキシブルディスクよりも上記光照射・受光部に対して近い側に配置されている
上記（１）又は（２）に記載の光ディスク装置。
（４）
上記第１の光と上記第２の光は波長が異なり、上記位置案内子に応じた戻り光を得るための反射膜が上記第２の光を選択反射する波長選択膜で構成されている
上記（３）に記載の光ディスク装置。
（５）
上記ターンテーブルは、
上記フレキシブルディスクよりも上記光照射・受光部に対して遠い側に配置されている
上記（１）又は（２）に記載の光ディスク装置。
（６）
上記光照射・受光部は、
上記フレキシブルディスクに記録を行うための記録光を上記第１の光として照射すると共に、隣接トラックサーボ用のＡＴＳ光をさらに照射するように構成され、
上記位置制御部は、
上記対物レンズを上記フレキシブルディスクの半径方向に平行な方向であるトラッキング方向に駆動するトラッキング機構と、
上記第２の光についての受光信号に基づき、上記位置案内子に対する上記第２の光の照射スポット位置の誤差を表す基準面側トラッキング誤差信号を生成する基準面側トラッキング誤差信号生成部と、
上記基準面側トラッキング誤差信号に対してトラッキングサーボのためのフィルタ処理を施して、上記基準面側トラッキング誤差信号が表すトラッキング誤差をキャンセルするための基準面側トラッキングサーボ信号を生成する基準面側トラッキングサーボ信号生成部と、
上記基準面側トラッキングサーボ信号に基づき上記トラッキング機構を駆動するトラッキング駆動部と、
上記光照射・受光部により得られる上記ＡＴＳ光についての受光信号に基づき、上記フレキシブルディスクに上記記録光の照射に応じて記録されたマーク列に対する上記ＡＴＳ光の照射スポット位置の誤差を表すＡＴＳ側トラッキング誤差信号を生成するＡＴＳ側トラッキング誤差信号生成部と、
上記ＡＴＳ側トラッキング誤差信号に対してトラッキングサーボのためのフィルタ処理を施して、上記ＡＴＳ側トラッキング誤差信号が表すトラッキング誤差をキャンセルするためのＡＴＳ制御信号を生成するＡＴＳ制御信号生成部と、
上記ＡＴＳ制御信号を、上記基準面側トラッキングサーボ信号生成部を含むトラッキングサーボループに対して与える信号付与部とを有する
上記（２）〜（５）に記載の光ディスク装置。
【符号の説明】
【０２０１】
１  フレキシブルディスク、２  シート基板、３  記録膜、４  保護膜、１０  光ディスク装置、１１  光ピックアップ、１２,１２’  クランパ、１３  ターンテーブル１３、１３Ａ  スペーサ、１３Ｂ  貫通孔、１３-1  保護膜、１３-2  反射膜、１３-3  案内溝転写膜、１３-4  基板、１５ｒ  記録用レーザ、１５ap  ＡＴＳ・再生時用レーザ、１６,２９  コリメーションレンズ、１７,３０  偏光ビームスプリッタ、１８  固定レンズ、１９  可動レンズ、２０  レンズ駆動部、２１  ミラー、２２,３１  １／４波長板、２３  ダイクロイックプリズム、２４  対物レンズ、２５  ２軸アクチュエータ、２６,３２  集光レンズ、２７  第１受光部、２８  基準面サーボ用レーザ、３３  第２受光部、３５  記録処理部、３６  マトリクス回路、３７  再生処理部、３８  再生時用サーボ回路、３９  ＡＴＳ側サーボフィルタ、４０  信号生成部、４１  基準面側サーボフィルタ、４２  記録時用フォーカスサーボ回路、４３  加算部、４４,４５  セレクタ、４６  フォーカスドライバ、４７  トラッキングドライバ、４８  コントローラ、４９  スピンドルモータ（ＳＰＭ）、５１  クロック生成回路、５１Ａ,５１Ｃ  スライス回路、５１Ｂ  ｓｕｍ微分回路、５１Ｄ  ＡＮＤゲート回路、５１Ｅ  ＰＬＬ回路、５２  selector信号生成回路、５３  エラー信号生成回路、ＳＨ-A1〜ＳＨ-F2  サンプルホールド回路、５３Ａ〜５３Ｆ  減算部、５４  ｃａｓｅ判定回路、５５  リニアエラー信号生成回路、５６  selector信号選択回路、５７  アドレス検出回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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