(57)【要約】【課題】被検体とあわせて被検体以外の物体を撮影する場合において、この物体により発生するアーチファクトや、この物体自体の像を補正可能とする。【解決手段】Ｘ線源と、Ｘ線検出器と、画像データ生成部と、を備え、被検体とあわせて被検体とは異なる物体を撮影するＸ線診断装置である。Ｘ線源は、被検体に向けてＸ線を照射する。Ｘ線検出器は、被検体を透過したＸ線の強度を検出する。画像データ生成部は、Ｘ線検出器で検出されたＸ線の強度に基づいてＸ線画像を生成する。また、Ｘ線診断装置は、補正対象像検出部と、画像処理部と、を備える。補正対象像検出部は、Ｘ線画像中から、物体の像、または物体の形状に基づき形成された像を補正対象像として検出する。画像処理部は、補正対象像の輝度値と、補正対象像に隣接する部分の輝度値との差が所定値以下となるように、補正対象像に対して画像処理を施す。【選択図】図２
2013146490.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体に向けてＸ線を照射するＸ線源と、
前記被検体を透過した前記Ｘ線の強度を検出するＸ線検出器と、
前記Ｘ線検出器で検出された前記Ｘ線の強度に基づいてＸ線画像を生成する画像データ生成部と、
を備え、前記被検体とあわせて前記被検体とは異なる物体を撮影するＸ線診断装置であって、
前記Ｘ線画像中から、前記物体の像、または前記物体の形状に基づき形成された像を補正対象像として検出する補正対象像検出部と、
前記補正対象像の輝度値と、前記補正対象像に隣接する部分の輝度値との差が所定値以下となるように、前記補正対象像に対して画像処理を施す画像処理部と、
を備えたＸ線診断装置。
【請求項２】
前記形状を示すパターン情報を記憶するパターン情報記憶部を備え、
前記補正対象像検出部は、前記パターン情報と前記前記Ｘ線画像に含まれる像とを比較し、当該パターン情報と一致する像を、前記補正対象像として検出することを特徴とする請求項１に記載のＸ線診断装置。
【請求項３】
前記物体の像、または前記物体の形状に基づき形成された像は円形であり、
前記補正対象像検出部は、前記Ｘ線画像中から、円形状の像を抽出し、抽出された当該像を前記補正対象像として検出することを特長とする請求項１に記載のＸ線診断装置。
【請求項４】
前記形状を示すパターン情報を記憶するパターン情報記憶部を備え、
前記補正対象像検出部は、前記Ｘ線画像に含まれる像の中から、円形状または直線により形成された形状の像を抽出し、前記パターン情報と抽出された当該像とを比較し、当該パターン情報と一致する像を前記補正対象像として検出することを特徴とする請求項１に記載のＸ線診断装置。
【請求項５】
前記パターン情報記憶部は、前記被検体の身体的な特徴を示す患者情報、及び前記被検体に対する検査の種別を示す検査情報のうち少なくともいずれかを含む属性情報と、前記パターン情報とをあらかじめ関連付けて記憶し、
前記補正対象像検出部は、あらかじめ入力された前記属性情報に対応する前記パターン情報を前記パターン情報記憶部から抽出し、抽出された当該パターン情報と一致する像を、前記補正対象像として検出することを特徴とする請求項２または請求項４に記載のＸ線診断装置。
【請求項６】
前記物体は、開口部を有し、内部に前記被検体を配置するためのケースであり、
するＸ線診断装置であって、
前記補正対象像検出部は、前記ケース内に配置された前記被検体が、前記ケースごと撮影されたＸ線画像中から、前記開口部と同じ形状の像を前記補正対象像として検出し、
前記画像処理部は、前記補正対象像の輝度値と、前記補正対象像に隣接する部分の輝度値との差が所定値以下となるように、前記補正対象像の輝度値を低減させることを特徴とする請求項１乃至請求項５のいずれか一つに記載のＸ線診断装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、Ｘ線診断装置の技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線診断装置は、Ｘ線管から患者にＸ線を照射し、被検体を透過したＸ線をＸ線検出器などにより捕らえて、その透過線量に比例した陰影像であるＸ線画像を生成する。そして、医師や検査技師等の操作者（以下、単に「操作者」という）は、Ｘ線診断装置で生成されるＸ線画像を観察することで、被検体の診断を行う。
【０００３】
一方で、Ｘ線診断装置により被検体の撮影を行うときに、被検体以外の物体をあわせて撮影する必要がある場合がある。例えば、ＮＩＣＵ（Ｎｅｏｎａｔａｌ  Ｉｎｔｅｎｓｉｖｅ  Ｃａｒｅ  Ｕｎｉｔ）等で、クベース（保育器）に入れられている新生児や未熟児を、クベースごと撮影する場合がある。このような場合において、例えば、クベースの穴が開いている面を含んで撮影を行うと、穴以外の部分はクベースを透過するためＸ線が減衰するが、穴の部分はＸ線が阻害されない。そのため、穴の部分の輝度が他の部分の輝度よりも高くなるため、穴の形状のアーチファクトが発生する。
【０００４】
また、他の一例として、Ｘ線画像中の距離の指標として、校正物体と呼ばれる長さの分かっている物体を被検体とあわせて撮影する場合がある。Ｘ線画像中に写った校正物体の像は、Ｘ線画像中の距離の算出が終われば不要となる。
【０００５】
このように、被検体以外の物体を被検体とあわせて撮影するときには、この物体により発生するアーチファクトや、この物体の像がＸ線画像中に写り込む場合がある。このようなアーチファクトや像は、読影を阻害する場合があり、Ｘ線画像中におけるこれらの像に対して、他の像とは異なる補正を行う必要がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平９−２０６３４５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
この発明の実施形態は、被検体とあわせて被検体以外の物体を撮影する場合において、この物体により発生するアーチファクトや、この物体自体の像を補正可能とすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、この実施形態は、Ｘ線源と、Ｘ線検出器と、画像データ生成部と、を備え、被検体とあわせて被検体とは異なる物体を撮影するＸ線診断装置である。Ｘ線源は、被検体に向けてＸ線を照射する。Ｘ線検出器は、被検体を透過したＸ線の強度を検出する。画像データ生成部は、Ｘ線検出器で検出されたＸ線の強度に基づいてＸ線画像を生成する。また、Ｘ線診断装置は、補正対象像検出部と、画像処理部と、を備える。補正対象像検出部は、Ｘ線画像中から、物体の像、または物体の形状に基づき形成された像を補正対象像として検出する。画像処理部は、補正対象像の輝度値と、補正対象像に隣接する部分の輝度値との差が所定値以下となるように、補正対象像に対して画像処理を施す。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本実施形態に係るＸ線診断装置の概略図である
【図２】本実施形態に係るＸ線診断装置のブロック図である。
【図３Ａ】Ｘ線画像の一例を示した図である。
【図３Ｂ】Ｘ線画像の一例を示した図である。
【図４】本実施形態に係るＸ線診断装置の一連の動作を示したフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
本実施形態に係るＸ線診断装置の概略的な構成について図１を参照しながら説明する。本実施形態に係るＸ線診断装置は、装置本体４００と、アーム４０１と、Ｘ線発生部２１と、撮影台２２とを含んで構成されている。
【００１１】
アーム４０１は、Ｘ線発生部２１を所定の位置に保持する保持部である。アーム４０１の一端は装置本体４００に固定されており、他端にはＸ線発生部２１が保持されている。Ｘ線発生部２１は、所定の照射領域に向けてＸ線を照射するための構成である。このようなＸ線診断装置では、Ｘ線発生部２１によるＸ線の照射領域内の所定の位置（以降では、「撮影位置」と呼ぶ）に撮影台２２を配置してＸ線撮影を行う。撮影台２２は、天板２２１と、Ｘ線検出器２２２とを含んで構成される。撮影台２２が撮影位置に配置されたときに、Ｘ線発生部２１及びＸ線検出器２２２が対向するように配置される。また、Ｘ線発生部２１及びＸ線検出器２２２の間には、被検体Ｐ１を載置するための天板２２１が介在する。即ち、Ｘ線撮影時には、Ｘ線発生部２１は、天板２２１に載置された被検体Ｐ１に向けてＸ線を照射する。Ｘ線検出器２２２は、Ｘ線発生部２１から照射されたＸ線を検出する。
【００１２】
本実施形態に係るＸ線診断装置は、例えば、被検体Ｐ１と、被検体Ｐ１とは異なる物体とをあわせて撮影する場合を想定している。具体的な一例として、図１に示すようにクベース５００に入れられた被検体Ｐ１を、クベース５００ごと撮影する場合がある。このクベース５００には、上部に開口部５０１が設けられている。図１に示すように、クベース５００上部からＸ線を照射して、クベース５００ごと被検体Ｐ１の撮影を行うと、クベース５００の素材を透過した部分と、開口部５０１を透過した部分（クベース５００の素材が介在しない部分）とでＸ線の強度が異なる。図３Ａに、このような場合におけるＸ線画像の一例に示す。開口部５０１に相当する領域はＸ線が減衰しないため、その他の領域、即ち、クベース５００の素材を透過した領域に比べてＸ線の強度が高くなり輝度が上がる。そのため、図３Ａに示すように、Ｘ線画像Ｅ１中に開口部５０１の形状のアーチファクトＥＱ１が発生する。
【００１３】
また、クベース５００にいられた被検体Ｐ１を撮影する場合に限らず、被検体とは異なる物体を、被検体とあわせて撮影する場合がある。この一例として、被検体Ｐ２とあわせて校正物体を撮影する場合がある。校正物体とは、校正物体とは、大きさが既知である物体であり、この校正物体を被検体とあわせて撮影することで、この校正物体の像をＸ線画像中の距離（例えば、１ピクセル当たりの距離）の指標とすることが可能となる。例えば、図３Ｂは、被検体Ｐ２と校正物体とをあわせて撮影した場合のＸ線画像の一例を示す。Ｘ線診断装置は、図３Ｂに示すように、Ｘ線画像Ｅ２中に写り込んだ校正物体の像ＥＱ２を基に、Ｘ線画像Ｅ２中の距離（例えば、１ピクセル当たりの距離）を算出することが可能となる。なお、この校正物体の像ＥＱ２は、Ｘ線画像Ｅ２中の距離を算出した後は不要となる。
【００１４】
上述したような、図３Ａに示したアーチファクトＥＱ１や、図３Ｂに示した校正物体の像ＥＱ２は、読影を阻害する場合がある。そのため、本実施形態に係るＸ線診断装置は、Ｘ線画像中（即ち、画像データ中）における、アーチファクトＥＱ１や校正物体の像ＥＱ２等の像を特定し、この像に対して補正を施す。以降では、この補正の動作も含めて、本実施形態に係るＸ線診断装置の具体的な構成について、図２を参照しながら説明する。図２は、本実施形態に係るＸ線診断装置のブロック図である。なお、以降では、Ｘ線画像中におけるアーチファクトＥＱ１や校正物体の像ＥＱ２を示す像を「補正対象像」と呼ぶ場合がある。
【００１５】
図２に示すように、本実施形態に係るＸ線診断装置は、システム制御部１０と、Ｘ線制御部１１と、高電圧発生部１２と、Ｘ線発生部２１と、撮影台２２と、画像データ生成部３１と、補正対象像検出部３２と、パターン情報記憶部３３１と、患者情報記憶部３３２と、画像処理部３４と、表示制御部３５と、表示部３６とを含んで構成される。
【００１６】
Ｘ線発生部２１は、Ｘ線管２１１と、Ｘ線絞り２１２と、面積線量計２１３とを含んで構成されている。Ｘ線管２１１は、フィラメントより放出された電子を高電圧によって加速させ、陽極となるターゲットに衝突させることでＸ線を発生させ、照射窓から外部に照射する。ターゲットの材料としては、例えば、タングステンが用いられる。Ｘ線絞り２１２は、Ｘ線管２１１の照射窓に設けられており、複数枚の鉛羽で構成されている。Ｘ線絞り２１２は、Ｘ線管２１１から照射されたＸ線により、観察部位以外の不要な部分を被曝させないために、所定の照射野のサイズに絞り込む。また、Ｘ線絞り２１２の出射側には、アクリル等で形成されハレーションを防止するために、照射野内の所定の領域のＸ線を所定量だけ減衰させる補償フィルタを設けてもよい。
【００１７】
面積線量計２１３は、Ｘ線絞り２１２を通過したＸ線の線量を検出する。面積線量計２１３は、検出されたＸ線の線量を電荷に変換し、Ｘ線の照射強度、照射面積及び照射時間に略比例した面積線量の出力信号として出力する。面積線量計２１３は、測定されたＸ線の線量を、基準位置におけるＸ線の照射領域の面積で除算することで面積線量を算出する。換言すると、面積線量計２１３は、単位面積あたりのＸ線の照射強度を示す信号を面積線量として出力する。
【００１８】
高電圧発生部１２は、Ｘ線管２１１の陰極から発生する熱電子を加速するために、陽極と陰極の間に印加する高電圧を発生させる。高電圧発生部１２の動作は、Ｘ線制御部１１により制御される。具体的には、Ｘ線制御部１１は、システム制御部１０からＸ線の照射条件を示す制御情報を受ける。Ｘ線制御部１１は、この制御情報に基づき、高電圧発生部１２を動作させるための管電流、管電圧、Ｘ線パルス幅、照射周期（レート間隔）、透視区間等からなるＸ線照射条件を示す情報を生成する。Ｘ線制御部１１は、この情報に基づき高電圧発生部１２の動作を制御する。
【００１９】
Ｘ線検出器２２２は、例えば、マトリクス状に配置された複数の半導体検出素子を有するフラットパネルディテクタ（ＦＰＤ：平面型Ｘ線検出器）で構成される。Ｘ線検出器２２２は、所定の照射野でＸ線発生部２１から照射されたＸ線の強度を半導体検出素子ごとに検出する。なお、ＦＰＤの天板２２１側の面上に、被検体Ｐ１の所定部位を透過したＸ線の散乱光をカットするＸ線グリッドを設けてもよい。Ｘ線検出器２２２は、半導体検出素子ごとに検出されたＸ線の強度を電気信号に変換し画像データとして、画像データ生成部３１に出力する。画像データ生成部３１については後述する。なお、Ｘ線検出器２２２は、ＦＰＤに代えてＸ線Ｉ．Ｉ．（イメージ・インテンシファイア）とＸ線ＴＶカメラとの組み合わせにより構成してもよい。
【００２０】
画像データ生成部３１は、Ｘ線検出器２２２から画像データを受けて、この画像データに画像演算を施す。具体的な一例として、画像データ生成部３１は、造影剤注入前後の画像データ間サブトラクションによるＤＳＡ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｕｂｔｒａｃｔｉｏｎ  Ａｎｇｉｏｇｒａｐｈｙ）画像データやロードマップ画像データ、長尺画像データなどを生成するための画像演算を行う。
【００２１】
また、画像データ生成部３１は、例えば図３Ｂに示すように、画像データ中に校正物体の像ＥＱ２が含まれる場合に、この像を基にＸ線画像中の距離（換言すると、１ピクセル当たりの距離）を算出する。例えば、図３Ｂは、被検体Ｐ２と校正物体をあわせて撮影した場合のＸ線画像Ｅ２を示している。図３Ｂに示すように、Ｘ線画像Ｅ２には、被検体Ｐ２の像とあわせて、校正物体の像ＥＱ２が写り込む。画像データ生成部３１は、Ｘ線画像Ｅ２を示す画像データ中における校正物体の像ＥＱ２を示す情報（ピクセルデータ）を基に、１ピクセル当たりの距離を算出する。なお、画像データ生成部３１は、画像データ中から校正物体の像ＥＱ２を示す情報を検出するために、事前に諧調調整等の画像処理を施してもよい。画像データ生成部３１は、算出された距離を示す情報を画像データに付帯させる。
【００２２】
画像データ生成部３１は、画像データに対して上述した画像演算を施した後に、この画像演算が施された画像データを補正対象像検出部３２に出力する。
【００２３】
補正対象像検出部３２は、画像データ生成部３１から画像演算後の画像データを受ける。補正対象像検出部３２は、抽出部３２１と、比較部３２２とを含んで構成されており、これらの構成とともに、受けた画像データに含まれる補正対象像を特定する。以下に、補正対象像検出部３２、抽出部３２１、及び比較部３２２の具体的な動作について説明する。
【００２４】
補正対象像検出部３２は、受けた画像データに対しエッジ検出の処理を施す。エッジ検出の処理の一例として、補正対象像検出部３２は、画像データ中において隣接するピクセル間の階調の変化量を算出し、算出された変化量が所定の値以上となる部分をエッジとして検出する。
【００２５】
次に、補正対象像検出部３２は、エッジが検出された画像データを抽出部３２１に出力する。抽出部３２１は、この画像データに対して、例えばＨｏｕｇｈ変換等のパターン抽出の処理を施す。これにより、抽出部３２１は、エッジにより囲まれた領域として示された像の中から、直線により構成される形状や円形状等の所定形状の像を抽出する。また、抽出部３２１は、抽出された所定形状の像の大きさを測定し、所定の大きさの像に絞り込むように動作させてもよい。これにより、例えば、頭部等の円形状に近い部位と、開口部５０１の像とを区別することが可能となる。抽出部３２１は、受けた画像データと抽出された所定形状の像を示す情報とを比較部３２２に出力する。
【００２６】
比較部３２２は、抽出部３２１から画像データと所定形状の像を示す情報とを受ける。また、補正対象像の形状及び大きさに基づきあらかじめ生成されたパターン情報がパターン情報記憶部３３１に記憶されている。このパターン情報には、そのパターンに対応する補正対象像の種別を示す情報（以降では対象像種別）が関連付けられている。この対象像種別には、例えば、開口部５０１により形成されたアーチファクトＥＱ１を示す情報や、校正物体の像ＥＱ２を示す情報が含まれる。比較部３２２は、このパターン情報をパターン情報記憶部３３１から読み出す。比較部３２２は、受けた所定形状の像を示す情報と、読み出されたパターン情報との間でパターンマッチングを行い、このパターン情報に一致する像を補正対象像として特定する。
【００２７】
なお、補正対象像の候補が複数存在する場合には、その候補ごとにパターン情報をあらかじめ生成し、パターン情報記憶部３３１に記憶させてもよい。パターン情報が複数存在する場合には、例えば、これらのパターン情報を検査条件（例えば、クベース５００の使用の有無や、校正物体の使用の有無）と関連付けて記憶させるとよい。このような構成とする場合には、例えば、比較部３２２は、システム制御部１０から検査条件を示す情報を受けて、複数のパターン情報の中から、その検査条件に関連付けられたパターン情報を抽出する。システム制御部１０については後述する。これにより、比較部３２２は、全てのパターン情報についてパターンマッチングを行う必要がなくなり、パターンマッチングに係る処理負荷を軽減することが可能となる。
【００２８】
また、被検体Ｐ１の身体的な特長を示す患者情報を記憶する患者情報記憶部３３２を設け、この患者情報とパターン情報とを関連付けてもよい。
【００２９】
例えば、被検体Ｐ１の身長に応じて、複数種類の大きさのクベース５００が存在する場合には、クベース５００ごとに発生するアーチファクトＥＱ１の形状や大きさが異なる場合がある。このような場合には、クベース５００ごとにパターン情報をあらかじめ生成しておき、このパターン情報を患者情報に含まれる身長を示す情報と関連付けておく。このような構成とすることで、比較部３２２は、被検体の患者情報を基に、使用されているクベース５００の種類を特定し、特定されたクベース５００に対応するパターン情報を抽出することが可能となる。
【００３０】
また、校正物体等のように被検体とともに撮影する物体（例えば、クベース５００や校正物体）の使用の有無と、検査の種別を示す検査情報とをあらかじめ関連付けておいてもよい。このような構成とすることで、例えば、比較部３２２は、システム制御部１０から検査の種別を示す情報を受けて、被検体とともに撮影される物体を特定することが可能となる。これにより、比較部３２２は、特定された物体に対応するパターン情報を抽出することが可能となる。なお、患者情報や検査情報等のように、パターン情報に関連付けられた情報が「属性情報」に相当する。
【００３１】
補正対象像を特定したら、比較部３２２は、特定に用いたパターン情報に関連付けられた対象像種別を抽出し、特定された補正対象像を示す情報に抽出された対象像種別を関連付ける。比較部３２２は、対象像種別が関連付けられた補正対象像を示す情報と、画像データとを画像処理部３４に出力する。
【００３２】
なお、上記では、抽出部３２１及び比較部３２２を動作させる例について説明したが、抽出部３２１及び比較部３２２のいずれかのみを動作させてもよい。例えば、円形状のアーチファクトが発生することが事前に分かっている場合には、抽出部３２１は、画像データ中から円形状の像を抽出し、この像を補正対象像として特定してもよい。この場合には、抽出部３２１は、補正対象像を示す情報に、あらかじめ決められた対象像種別（例えば、アーチファクトを示す種別）を関連付けて画像処理部３４に出力する。また、比較部３２２は、画像データ中のエッジにより構成される領域が示す像とパターン情報とを比較し、パターン情報に一致する像を補正対象像として特定してもよい。以上のようにして、補正対象像検出部３２は、アーチファクトＥＱ１や校正物体の像ＥＱ２のように、被検体の像とは異なる像を補正対象像として特定し、これを示す情報を画像処理部３４に出力する。
【００３３】
画像処理部３４は、比較部３２２から補正対象像を示す情報と画像データとを受ける。画像処理部３４は、受けた補正対象像を示す情報に関連付けられた対象像種別を抽出し、この対象像種別を基に補正対象像の種別を特定する。これにより、画像処理部３４は、その補正対象像が、例えば、アーチファクトＥＱ１か、または、校正物体の像ＥＱ２なのかを特定する。
【００３４】
画像処理部３４は、対象像種別と所定の画像処理とをあらかじめ関連付けて記憶している。例えば、アーチファクトＥＱ１は、その周囲よりも輝度値が高いためアーチファクトとして顕在化している。そのため、画像処理部３４は、補正対象像（即ち、アーチファクトＥＱ１）の輝度値を低減する処理を、アーチファクトＥＱ１に対応する対象像種別に関連付けられて記憶している。また、校正物体の像ＥＱ２は、読影時には不要となるため、この像を除去することが望まれる。そのため、画像処理部３４は、補正対象像のピクセルを周囲のピクセルで上書きすることで補正対象像を削除する処理を、校正物体の像ＥＱ２に対応する対象像種別に関連付けられて記憶している。換言すると、画像処理部３４は、補正対象像の輝度値と、補正対象像に隣接する部分の輝度値との差が所定値以下となるように画像データを補正する。
【００３５】
即ち、画像処理部３４は、補正対象像の種別を特定した後に、画像データ中の補正対象像に対して、特定された種別に関連付けられた画像処理を施す。これにより、補正対象像の種別に応じて画像処理が施され、画像データ中の補正対象像が補正される。
【００３６】
画像処理部３４は、補正対象像に対する補正を行った後に、画像データ中の補正対象像以外の部分に対して、所定の画像処理を実行するように動作させてもよい。例えば、補正対象像以外の部分に対して、アンシャープマスク等の強調処理を施すように動作させてもよい。また、画像処理部３４は、補正対象像以外の部分に限らず、補正対象像も含めて画像データ全体に対して所定の画像処理を施すように動作させてもよい。
【００３７】
また、画像処理部３４は、補正対象像の種別（対象像種別）に応じて画像処理を特定できればよく、その方法は上記の例に限定されない。例えば、画像処理部３４が、属性情報を受けて、この属性情報を基に対象像種別を特定し、この対象像種別に対応する画像処理を画像データに施すように動作させてもよい。
【００３８】
画像処理部３４は、画像処理が施された画像データを表示制御部３５に出力する。これを受けて、表示制御部３５は、この画像データに基づきＸ線画像を表示部３６に表示させる。
【００３９】
システム制御部１０は全システムの制御中心を構成し、操作者により入力されたＸ線の照射条件をＸ線検査の条件として受けて、Ｘ線制御部１１の動作を制御する。具体的には、システム制御部１０は、操作者により入力されたＸ線の照射条件を基に制御信号を生成し、この制御信号によりＸ線制御部１１の動作を制御する。この制御信号により、Ｘ線制御部１１は、高電圧発生部１２を動作させてＸ線発生部２１からＸ線を照射させる。
【００４０】
また、システム制御部１０は、操作者により入力された検査の種別を示す検査情報（例えば、クベース５００の使用の有無や、校正物体の使用の有無）を受けて、この検査情報を補正対象像検出部３２に出力するように動作させてもよい。このようにシステム制御部１０を動作させることで、補正対象像検出部３２は、クベース５００の使用の有無や、校正物体の使用の有無を認識し、対応するパターン情報を読み出すことが可能となる。
【００４１】
次に、本実施形態に係るＸ線診断装置の一連の動作について、図４を参照しながら説明する。図４は、本実施形態に係るＸ線診断装置の一連の動作を示したフローチャートである。
【００４２】
（ステップＳ１１）
システム制御部１０は、操作者により入力されたＸ線の照射条件を基に制御信号を生成し、この制御信号によりＸ線制御部１１の動作を制御する。この制御信号により、Ｘ線制御部１１は、高電圧発生部１２を動作させてＸ線発生部２１からＸ線を照射させる。
【００４３】
Ｘ線検出器２２２は、所定の照射野でＸ線発生部２１から照射されたＸ線の強度を半導体検出素子ごとに検出する。Ｘ線検出器２２２は、半導体検出素子ごとに検出されたＸ線の強度を電気信号に変換し画像データとして、画像データ生成部３１に出力する。
【００４４】
画像データ生成部３１は、Ｘ線検出器２２２から画像データを受けて、この画像データに画像演算を施す。画像データ生成部３１は、画像データに対して上述した画像演算を施した後に、この画像演算が施された画像データを補正対象像検出部３２に出力する。
【００４５】
（ステップＳ１２）
補正対象像検出部３２は、画像データ生成部３１から画像演算後の画像データを受ける。補正対象像検出部３２は、受けた画像データに対しエッジ検出の処理を施す。エッジ検出の処理の一例として、補正対象像検出部３２は、画像データ中において隣接するピクセル間の階調の変化量を算出し、算出された変化量が所定の値以上となる部分をエッジとして検出する。
【００４６】
（ステップＳ１３）
次に、補正対象像検出部３２は、エッジが検出された画像データを抽出部３２１に出力する。抽出部３２１は、この画像データに対して、例えばＨｏｕｇｈ変換等のパターン抽出の処理を施す。これにより、抽出部３２１は、エッジにより囲まれた領域として示された像の中から、直線により構成される形状や円形状等の所定形状の像を抽出する。抽出部３２１は、画像データと抽出された所定形状の像を示す情報とを比較部３２２に出力する。
【００４７】
比較部３２２は、抽出部３２１から画像データと所定形状の像を示す情報とを受ける。また、補正対象像の形状及び大きさに基づきあらかじめ生成されたパターン情報がパターン情報記憶部３３１に記憶されている。このパターン情報には、そのパターンに対応する補正対象像の種別を示す情報（以降では対象像種別）が関連付けられている。比較部３２２は、このパターン情報をパターン情報記憶部３３１から読み出す。比較部３２２は、受けた所定形状の像を示す情報と、読み出されたパターン情報との間でパターンマッチングを行い、このパターン情報に一致する像を補正対象像として特定する。
【００４８】
補正対象像を特定したら、比較部３２２は、特定に用いたパターン情報に関連付けられた対象像種別を抽出し、この対象像種別を特定された補正対象像を示す情報に関連付ける。比較部３２２は、対象像種別が関連付けられた補正対象像を示す情報と、画像データとを画像処理部３４に出力する。
【００４９】
（ステップＳ１４）
画像処理部３４は、比較部３２２から補正対象像を示す情報と画像データとを受ける。画像処理部３４は、受けた補正対象像を示す情報に関連付けられた対象像種別を抽出し、この対象像種別を基に補正対象像の種別を特定する。
【００５０】
画像処理部３４は、対象像種別と所定の画像処理とをあらかじめ関連付けて記憶している。画像処理部３４は、補正対象像の種別を特定した後に、画像データ中の補正対象像に対して、特定された種別に関連付けられた画像処理を施す。これにより、補正対象像の種別に応じて画像処理が施され、画像データ中の補正対象像が補正される。
【００５１】
（ステップＳ１５）
画像処理部３４は、補正対象像に対する補正を行った後に、画像データ中の補正対象像以外の部分に対して、所定の画像処理を実行するように動作させてもよい。例えば、補正対象像以外の部分に対して、アンシャープマスク等の強調処理を施すように動作させてもよい。また、画像処理部３４は、補正対象像以外の部分に限らず、補正対象像も含めて画像データ全体に対して所定の画像処理を施すように動作させてもよい。
【００５２】
画像処理部３４は、画像処理が施された画像データを表示制御部３５に出力する。これを受けて、表示制御部３５は、この画像データに基づきＸ線画像を表示部３６に表示させる。
【００５３】
以上のように、本実施形態に係るＸ線診断装置は、あらかじめ決められた形状の像を補正対象像として特定し、その補正対象像に対して、補正対象像の種別に応じた画像処理を施す。これにより、例えば、図３Ａに示すようなクベース５００の開口部５０１により発生したアーチファクトＥＱ１や、図３Ｂに示すような校正物体の像ＥＱ２のように、読影時には不要となる像を特定して補正することが可能となる。
【００５４】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載されたその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【００５５】
１０  システム制御部
１１  Ｘ線制御部
１２  高電圧発生部
２１  Ｘ線発生部
２１１  Ｘ線管
２１２  Ｘ線絞り
２１３  面積線量計
２２  撮影台
２２１  天板
２２２  Ｘ線検出器
３１  画像データ生成部
３２  補正対象像検出部
３２１  抽出部
３２２  比較部
３３１  パターン情報記憶部
３３２  患者情報記憶部
３４  画像処理部
３５  表示制御部
３６  表示部
４００  装置本体
４０１  アーム
５００  クベース
５０１  開口部
【図１】
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【図２】
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【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図４】
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