(57)【要約】【課題】  線撮像装置における撮像に影響を与える外来磁界を容易に測定することができるようにする。【解決手段】  磁界画像の位置とその位置での画素値を含む磁界画像の特徴量と、Ｘ線撮像装置１００から見たときの磁界発生源Ｈの方向との関係を予めデータベース１１４に記憶しておく。その後、Ｘ線撮像装置１００で撮影されたダーク画像から作成された磁界画像と、データベース１１４に記憶された関係とに基づいて、Ｘ線撮像装置１００から見たときの磁界発生源Ｈの方向を特定する。【選択図】  図１
2013233284.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被写体を透過したＸ線に基づいて当該被写体の画像を撮像するＸ線撮像装置に対する外来磁界を測定する外来磁界測定方法であって、
既知の方向から磁界が印加された状態であり、且つ、被写体がない状態で、Ｘ線を照射せずに前記Ｘ線撮像装置により画像を撮像する撮像工程と、
磁界が印加されていない状態であり、且つ、被写体がない状態で、Ｘ線を照射せずに前記Ｘ線撮像装置により撮像された画像である基準画像と、前記撮像工程により撮像された画像とに基づいて、磁界による影響が抽出された画像である磁界画像を導出する磁界画像導出工程と、
前記磁界画像導出工程により導出された磁界画像の特徴量を導出する磁界画像特徴量導出工程と、
前記磁界画像特徴量導出工程により導出された磁界画像の特徴量と、当該磁界画像に起因する磁界が印加された方向との関係を示す磁界発生源特定情報を記憶媒体に記憶する記憶工程と、を有することを特徴とする外来磁界測定方法。
【請求項２】
磁界発生源の位置を絞り込むに際し、被写体がない状態で、Ｘ線を照射せずに前記Ｘ線撮像装置により画像を撮像する第２の撮像工程と、
前記基準画像と、前記第２の撮像工程により撮像された画像とに基づいて、磁界による影響が抽出された画像である磁界画像を導出する第２の磁界画像導出工程と、
前記第２の磁界画像導出工程により導出された磁界画像の特徴量を導出する第２の磁界画像特徴量導出工程と、
前記第２の磁界画像特徴量導出工程により導出された磁界画像の特徴量と、前記記憶工程により記憶された磁界発生源特定情報とに基づいて、前記Ｘ線撮像装置から見たときの前記磁界発生源が存在する方向を導出する磁界発生源方向導出工程と、を更に有することを特徴とする請求項１に記載の外来磁界測定方法。
【請求項３】
前記第２の磁界画像導出工程により導出された磁界画像に対する周波数解析を行って、前記第２の磁界画像導出工程により導出された磁界画像に含まれる複数の磁界のそれぞれに基づく磁界画像を個別に抽出する磁界画像抽出工程を更に有し、
前記第２の磁界画像特徴量導出工程は、前記磁界画像抽出工程により抽出された磁界画像の特徴量を導出することを特徴とする請求項２に記載の外来磁界測定方法。
【請求項４】
前記磁界発生源方向導出工程により導出された方向に前記Ｘ線撮像装置が移動された後に、被写体がない状態で、Ｘ線を照射せずに前記Ｘ線撮像装置により画像を撮像する第３の撮像工程と、
前記基準画像と、前記第３の撮像工程により撮像された画像とに基づいて、磁界による影響が抽出された画像である磁界画像を導出する第３の磁界画像導出工程と、
前記第３の磁界画像導出工程により導出された磁界画像の特徴量を導出する第３の磁界画像特徴量導出工程と、
前記第３の磁界画像特徴量導出工程により導出された磁界画像と、前記第２の磁界画像特徴量導出工程により導出された磁界画像と、に基づいて、前記Ｘ線撮像装置から見たときの前記磁界発生源の位置を絞り込む位置絞り込み工程と、を更に有することを特徴とする請求項２または３に記載の外来磁界測定方法。
【請求項５】
前記第３の磁界画像導出工程により導出された磁界画像に対する周波数解析を行って、前記第３の磁界画像導出工程により導出された磁界画像に含まれる複数の磁界のそれぞれに基づく磁界画像を個別に抽出する第２の磁界画像抽出工程を更に有し、
前記第３の磁界画像特徴量導出工程は、前記第２の磁界画像抽出工程により抽出された磁界画像の特徴量を導出することを特徴とする請求項４に記載の外来磁界測定方法。
【請求項６】
前記磁界画像の特徴量は、前記磁界画像の複数の位置と、当該位置における画素値との関係を含むことを特徴とする請求項１〜５の何れか１項に記載の外来磁界測定方法。
【請求項７】
被写体を透過したＸ線に基づいて当該被写体の画像を撮像するＸ線撮像装置に対する外来磁界を測定する外来磁界測定装置であって、
既知の方向から磁界が印加された状態であり、且つ、被写体がない状態で、Ｘ線を照射せずに前記Ｘ線撮像装置により撮像された画像を取得する取得手段と、
磁界が印加されていない状態であり、且つ、被写体がない状態で、Ｘ線を照射せずに前記Ｘ線撮像装置により撮像された画像である基準画像と、前記取得手段により取得された画像とに基づいて、磁界による影響が抽出された画像である磁界画像を導出する磁界画像導出手段と、
前記磁界画像導出手段により導出された磁界画像の特徴量を導出する磁界画像特徴量導出手段と、
前記磁界画像特徴量導出手段により導出された磁界画像の特徴量と、当該磁界画像に起因する磁界が印加された方向との関係を示す磁界発生源特定情報を記憶媒体に記憶する記憶手段と、を有することを特徴とする外来磁界測定装置。
【請求項８】
磁界発生源の位置を絞り込むに際し、被写体がない状態で、Ｘ線を照射せずに前記Ｘ線撮像装置により撮像された画像を取得する第２の取得手段と、
前記基準画像と、前記第２の取得手段により取得された画像とに基づいて、磁界による影響が抽出された画像である磁界画像を導出する第２の磁界画像導出手段と、
前記第２の磁界画像導出手段により導出された磁界画像の特徴量を導出する第２の磁界画像特徴量導出手段と、
前記第２の磁界画像特徴量導出手段により導出された磁界画像の特徴量と、前記記憶手段により記憶された磁界発生源特定情報とに基づいて、前記Ｘ線撮像装置から見たときの前記磁界発生源が存在する方向を導出する磁界発生源方向導出手段と、を更に有することを特徴とする請求項７に記載の外来磁界測定装置。
【請求項９】
前記第２の磁界画像導出手段により導出された磁界画像に対する周波数解析を行って、前記第２の磁界画像導出手段により導出された磁界画像に含まれる複数の磁界のそれぞれに基づく磁界画像を個別に抽出する磁界画像抽出手段を更に有し、
前記第２の磁界画像特徴量導出手段は、前記磁界画像抽出手段により抽出された磁界画像の特徴量を導出することを特徴とする請求項８に記載の外来磁界測定装置。
【請求項１０】
前記磁界発生源方向導出手段により導出された方向に前記Ｘ線撮像装置が移動された後に、被写体がない状態で、Ｘ線を照射せずに前記Ｘ線撮像装置により撮像された画像を取得する第３の取得手段と、
前記基準画像と、前記第３の取得手段により取得された画像とに基づいて、磁界による影響が抽出された画像である磁界画像を導出する第３の磁界画像導出手段と、
前記第３の磁界画像導出手段により導出された磁界画像の特徴量を導出する第３の磁界画像特徴量導出手段と、
前記第３の磁界画像特徴量導出手段により導出された磁界画像と、前記第２の磁界画像特徴量導出手段により導出された磁界画像と、に基づいて、前記Ｘ線撮像装置から見たときの前記磁界発生源の位置を絞り込む位置絞り込み手段と、を更に有することを特徴とする請求項８または９に記載の外来磁界測定装置。
【請求項１１】
前記第３の磁界画像導出手段により導出された磁界画像に対する周波数解析を行って、前記第３の磁界画像導出手段により導出された磁界画像に含まれる複数の磁界のそれぞれに基づく磁界画像を個別に抽出する第２の磁界画像抽出手段を更に有し、
前記第３の磁界画像特徴量導出手段は、前記第２の磁界画像抽出手段により抽出された磁界画像の特徴量を導出することを特徴とする請求項１０に記載の外来磁界測定装置。
【請求項１２】
前記磁界画像の特徴量は、前記磁界画像の複数の位置と、当該位置における画素値との関係を含むことを特徴とする請求項７〜１１の何れか１項に記載の外来磁界測定装置。
【請求項１３】
請求項７〜１２の何れか１項に記載の外来磁界測定装置の各手段としてコンピュータを機能させることを特徴とするコンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁界発生源特定装置、磁界発生源特定方法およびコンピュータプログラムに関し、特に、Ｘ線撮像装置における撮像に影響を与える外部の磁界発生源の位置を絞り込むために用いて好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
従来から、Ｘ線発生源から発せられたＸ線を被写体へ照射し、前記被写体を透過したＸ線の強度分布を検出してデジタル画像データへ変換するＸ線撮像装置または前記Ｘ線撮像装置を含んだＸ線撮像システムが製品化されている。
前記Ｘ線撮像装置が画像データを生成する際に、画像データ生成処理あるいは生成した画像データそのもの等に影響を与えるものの１つとしてＸ線撮像装置の使用環境内にある磁界が挙げられる。Ｘ線撮像装置の使用環境内に、時間的に変動する磁界が存在する場合、前記時間的に変動する磁界がＸ線撮像装置内の導体内を通過することで電磁誘導の法則に従って電流・電圧が発生する。そうすると、この電流・電圧が画像データの生成に関わる処理等に影響を与える場合がある。
【０００３】
前記Ｘ線撮像装置の使用環境内に存在する磁界の画像データへの影響を低減するために、当該影響を与える元となる磁界発生源の位置を特定する必要が生じる場合がある。磁界発生源の位置を特定する必要がある場合の一例として、磁界発生源が発する磁界が、必然のものなのか、それとも電気機器の不慮の故障によるものなのかを判断する場合が挙げられる。仮に、磁界発生源が発する磁界が、電気機器の故障によるものであれば、その磁界発生源を修理し、磁界の発生を止める必要がある。また、磁界発生源からの磁界の発生が必然のものであっても、Ｘ線撮像装置の使用環境内に設置しておく必要の無いものであれば、その磁界発生源を別の設置場所に移動させることを検討する必要がある。
【０００４】
磁界発生源が存在する位置を絞り込む、あるいは特定する方法として、幾つかの方法が考えられる。
１つ目の方法としては、磁界を発生させる可能性がある機器を総当たりで停止させ、その機器から発生する磁界がＸ線撮像装置に与える影響の変化を確認する方法がある。
また、２つ目の方法としては、磁束密度を計測可能な市販の磁界測定機を用いて、Ｘ線撮像装置の使用環境内での複数個所で磁束密度の測定を行い、その結果から磁界の分布を推定して磁界発生源を絞り込む方法がある。
また、３つ目の方法としては、複数の磁界検出器を空間内に配置し、各磁界検出器の検出結果を踏まえて磁界発生源の位置を割り出す方法がある（特許文献１を参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１０‐１３９４３６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、前述した１つ目の方法では、磁界を発生させる可能性がある機器を総当たりで停止させるので、機器から発生する磁界がＸ線撮像装置に与える影響を調べなければ、その機器がＸ線撮像装置に影響を与えているかどうかが分からない。よって、Ｘ線撮像装置における撮像に影響を与える機器を特定するのに手間がかかる。
また、前述した２つ目および３つ目の方法では、Ｘ線撮像システム以外の、磁界に関する情報を取得可能な機器を別途用意してＸ線撮像装置の使用環境内に持ち込む必要がある。
このため、より簡便に磁界発生源を特定するか、あるいは少なくともその位置を絞り込みたいという要求があった。
【０００７】
また、前述した１つ目の方法では、磁界を発生させる可能性がある機器を総当たりで停止させる。よって、Ｘ線撮像装置の使用環境内に複数の磁界発生源が存在した場合に全ての磁界発生源についてＸ線撮像装置における撮像に影響を与えているかどうかを調べなければならない。また、停止してはいけない機器については、それがＸ線撮像装置における撮像に影響を与えているどうかを直接的に調べることができない。
また、前述した２つ目および３つ目の方法では、Ｘ線撮像装置の使用環境内に複数の磁界発生源が存在した場合、どの磁界発生源がＸ線撮像装置における撮像に影響を与えているかを判断するための工程が必要であった。
【０００８】
本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであり、Ｘ線撮像装置における撮像に影響を与える外来磁界を容易に測定することができるようにすることを第１の目的とする。
また、Ｘ線撮像装置における撮像に影響を与える磁界発生源の位置を容易に絞り込むことができるようにすることを第２の目的とする。
また、Ｘ線撮像装置の使用環境内に複数の磁界発生源が存在している場合でも、複数の磁界発生源のうち、Ｘ線撮像装置における撮像に影響を与える磁界発生源の位置を絞り込むことができるようにすることを第３の目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の外来磁界測定方法は、被写体を透過したＸ線に基づいて当該被写体の画像を撮像するＸ線撮像装置に対する外来磁界を測定する外来磁界測定方法であって、既知の方向から磁界が印加された状態であり、且つ、被写体がない状態で、Ｘ線を照射せずに前記Ｘ線撮像装置により画像を撮像する撮像工程と、磁界が印加されていない状態であり、且つ、被写体がない状態で、Ｘ線を照射せずに前記Ｘ線撮像装置により撮像された画像である基準画像と、前記撮像工程により撮像された画像とに基づいて、磁界による影響が抽出された画像である磁界画像を導出する磁界画像導出工程と、前記磁界画像導出工程により導出された磁界画像の特徴量を導出する磁界画像特徴量導出工程と、前記磁界画像特徴量導出工程により導出された磁界画像の特徴量と、当該磁界画像に起因する磁界が印加された方向との関係を示す磁界発生源特定情報を記憶媒体に記憶する記憶工程と、を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、既知の方向から磁界が印加された状態であり、且つ、被写体がない状態で、Ｘ線を照射せずにＸ線撮像装置により撮像された画像と基準画像とに基づいて磁界による影響が抽出された磁界画像を導出してその磁界画像の特徴量を導出する。そして、導出した磁界画像の特徴量と、当該磁界画像に起因する磁界が印加された方向との関係を示す磁界発生源特定情報とを記憶媒体に記憶する。したがって、磁界発生源の動作を停止させたり、Ｘ線撮像システム以外の別途の機器を用いたりしなくても、Ｘ線撮像装置における撮像に影響を与える磁界の特性を測定することができる。よって、Ｘ線撮像装置における撮像に影響を与える外来磁界を容易に測定することができる。
また、本発明の他の特徴によれば、磁界発生源の位置を絞り込むに際して得られた磁界画像と、磁界発生源特定情報とに基づいて、Ｘ線撮像装置から見たときの磁界発生源が存在する方向を導出する。したがって、磁界発生源の動作を停止させたり、Ｘ線撮像システム以外の別途の機器を用いたりしなくても、磁界発生源が存在する位置を絞り込むことができる。よって、Ｘ線撮像装置における撮像に影響を与える磁界発生源の位置を容易に絞り込むことができる。
また、本発明の他の特徴によれば、磁界画像に対する周波数解析を行って、磁界画像に含まれる複数の磁界のそれぞれに基づく磁界画像を個別に抽出し、抽出した磁界画像の特徴量を導出する。よって、Ｘ線撮像装置の使用環境内に複数の磁界発生源があったとしても、それら複数の磁界発生源のうち、Ｘ線撮像装置における撮像に影響を与える磁界発生源の位置を絞り込むことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】Ｘ線撮像システムの構成を示す図である。
【図２】Ｘ線撮像装置の概観を示す図である。
【図３】図２とは異なる方向から見たＸ線撮像装置の概観を示す図である。
【図４】各視点Ａ〜Ｃから見たときのＸ線撮像装置を示す図である。
【図５】撮影画像を示す図である。
【図６】撮影画像の第１の特徴を示す図である。
【図７】撮影画像の第２の特徴を示す図である。
【図８】Ｘ軸とＹ軸の中間の方向から磁界が印加された場合の撮影画像の第１の特徴を示す図である。
【図９】Ｘ線撮像システムの動作を説明するフローチャートである。
【図１０】２つの軸で定まる平面上にある磁界発生源の位置を説明する図である。
【図１１】軸上にも２つの軸によって形成される平面上にも存在しない磁界発生源からの磁界の印加方向を説明する図である。
【図１２】軸上にある磁界発生源の位置を特定する方法の一例を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態について説明する。
（第１の実施形態）
まず、本発明の第１の実施形態について説明する。
図１は、Ｘ線撮像システムの構成の一例を示す図である。Ｘ線撮像システムは、大きく分けて、Ｘ線撮像装置１００、コンピュータを備えた処理装置１１０、表示装置を備えた通知部１２０、およびキーボードやポインティングデバイスを備えた入力部１３０を含んでいる。実際にＸ線を被写体に対して曝射し、被写体を透過したＸ線をＸ線撮像装置１００が受けて画像を生成するには、図１に示す構成に加えて、Ｘ線発生機器およびそれに関わる機器（機能）が必要となる。しかしながら、これらの機器は、公知の技術で実現できる。よって、図１では、これらの機器の図示を省略すると共に、ここでは、これらの機器の詳細な説明を省略する。
【００１３】
Ｘ線撮像装置１００は、電気回路１０１、配線ユニット１０２およびセンサ部１０３を有する。電気回路１０１には、センサ部１０３の駆動や画像データの生成に必要な演算機能および制御機能と、生成した画像データの転送に必要な通信機能等が含まれている。
処理装置１１０は、外来磁界測定装置の一例であり、通信部１１１、処理装置制御部１１２、磁界源位置判定部１１３およびデータベース１１４を有する。
【００１４】
図２は、Ｘ線撮像装置１００の概観の一例を模式的に示す図である。図２では、Ｘ線撮像装置１００を、その内部の構成の図示を省略して仮想的に示している。また、図２では、Ｘ線撮像装置１００に対してＸ、Ｙ、Ｚの各軸を定義している。すなわち、Ｚ軸は、Ｘ線撮像装置１００の最も広い面に対して垂直に交わる軸である。Ｙ軸は、Ｘ線撮像装置１００の最も広い面を見た際に、その短辺となる辺によって構成される面に対して垂直に交わる軸である。Ｘ軸は、Ｘ線撮像装置１００の最も広い面を見た際に、その長辺となる辺によって構成される面に対して垂直に交わる軸である。更に、各軸は互いに直交し、且つ、各軸が交差する点はＸ線撮像装置１００の中心点Ａであるとする。
【００１５】
本実施形態では、図２で定義したＸ、Ｙ、Ｚ軸の各方向からＸ線撮像装置１００に向けて磁界を印加すると、Ｘ線撮像装置１００で撮像された画像に現れる磁界の影響の特徴がそれぞれ異なるものとする。更に、Ｘ、Ｙ、Ｚ軸以外の方向から磁界を印加すると、Ｘ線撮像装置１００で撮像された画像に現れる磁界の影響の特徴は、Ｘ、Ｙ、Ｚ軸の各軸の方向の成分の影響が重ね合わさったものになるとする。
すなわち、図２に示す磁界発生源Ｈから磁界が発せられている場合には、その磁界は、Ｘ線撮像装置１００の中心点Ａから見ると、Ｘ、Ｙ、Ｚ軸の各軸の方向の成分を持っている。このため、Ｘ、Ｙ、Ｚ軸の各軸の方向から磁界を印加した際に現れる影響が同時に重ね合わさって、Ｘ線撮像装置１００で撮像された画像に現れる。
【００１６】
ここで、Ｘ線撮像装置１００に対して磁界を印加する方向によって、Ｘ線撮像装置１００で撮像された画像に現れる影響が異なる理由を、その例を挙げながら説明する。図３は、図２とは異なる方向から見たＸ線撮像装置１００の概観の一例を模式的に示す図である。図３では、内部が透過して見える状態のＸ線撮像装置１００を仮想的に示している。
【００１７】
Ｘ線撮像装置１００の内部には、前述の通り、電気回路１０１、配線ユニット１０２ａ、１０２ｂおよびセンサ部１０３が含まれている。配線ユニット１０２ａ、１０２ｂは、電気回路１０１とセンサ部１０３との間の信号のやり取りを仲介するものである。配線ユニット１０２ａ、１０２ｂは、複数の配線が内部に埋め込まれた複数の帯状のケーブルを、センサ部１０３の辺に沿って配置することにより構成される。
【００１８】
また、図３に示す例では、図２で定義したＸ、Ｙ、Ｚ軸の３つの軸をＸ線撮像装置１００に併せて示している。尚、図３中の視点ＡはＺ軸上から、視点ＢはＸ軸上から、視点ＣはＹ軸上から、それぞれＸ線撮像装置１００を見ることを示している。また、Ｘ線撮像装置１００の各面を図３に示すように識別することとする。すなわち、視点Ａから見たＸ線撮像装置１００の面を面ａ、面ａの対面を面ｄとし、視点Ｂから見たＸ線撮像装置１００の面を面ｂ、面ｂの対面を面ｅとし、視点Ｃから見たＸ線撮像装置１００の面を面ｃ、面ｃの対面を面ｆとする。図３に示すように、各軸の方向からＸ線撮像装置１００の方向に磁界を印加すると、軸ごとに磁界を受ける導体の面積が異なることになる。
【００１９】
図４は、各視点Ａ〜Ｃから見たときのＸ線撮像装置１００の一例を示す図である。図４では、外装が透けて見えるものとしてＸ線撮像装置１００を概念的に示す。
図４（ａ）に示すように、視点ＡからはＸ線撮像装置１００の面ａを通して、面ａが視点の方向に向けて配置されているようにセンサ部１０３が見える。当然ながら、このセンサ部１０３の裏には、電気回路１０１が配置されている。
図４（ｂ）に示すように、視点ＢからはＸ線撮像装置１００の面ｂが見え、その筺体の内に、センサ部１０３と電気回路１０１とが互いの面を向かい合わせる形で設置される。また、センサ部１０３と電気回路１０１とは配線ユニット１０２ａによって相互に電気的に接続されている。
【００２０】
図４（ｃ）に示すように、視点ＣからＸ線撮像装置１００を見た様子は、電気回路１０１とセンサ部１０３とが配線ユニット１０２ｂによって相互に接続されていること以外、視点ＢからＸ線撮像装置１００を見た様子とほぼ同じである。尚、図４では、視点Ｂおよび視点ＣからＸ線撮像装置１００を見たときの、電気回路１０１とセンサ部１０３との間の空間が実際よりも広く取られている。しかしながら、これはあくまでも見やすさを重視したためであり、この空間の実際の厚さや面積は図３に示したものとなる。すなわち、Ｘ線撮像装置１００の断面積は、視点Ａから見たとき（ＸＹ平面に沿う断面積）が最も大きく、続いて視点Ｂから見たとき（ＹＺ平面に沿う断面積）、視点Ｃから見たとき（ＸＺ平面に沿う断面積）の順で大きい。
【００２１】
Ｘ線撮像装置１００に対して、各軸の方向のうち１つを選択した上で、その軸に沿う方向に磁界を発生させ、一様な磁界がＸ線撮像装置１００に印加されたと仮定する。この場合、各軸の方向で磁界を受ける導体の面積は異なっている。このため、同様の磁界がＸ線撮像装置１００の各面ａ・ｄ、ｂ・ｅ、ｃ・ｆに入ったとしても、それらの磁界によりＸ線撮像装置に発生する誘導起電力とその誘導起電力による電圧・電流はそれぞれ異なる。
また、各軸の方向から磁界を印加した際に発生する電圧・電流が、画像データの生成に関する電気回路１０１に対して与える影響の度合いや影響の与え方は、当該電圧・電流のＸ線撮像装置１００の内部における発生場所により異なる。尚、ここでは、磁界の大きさ（強さ）は、誘導起電力の大きさを左右するパラメータであり、閉回路に対する誘導起電力の大きさが大きい程、磁界の大きさも大きいものとする。
【００２２】
図３に示すように、電気回路１０１上の領域３０１の部分にセンサ部１０３が出力したデータを増幅した上でデジタル値へと変換する回路があると仮定して、このことの具体例を説明する。尚、以下の説明では、領域３０１の部分をアンプ回路部３０１と称する。誘導起電力によって発生した電圧・電流がアンプ回路部３０１に影響を与えると、当然ながら作成した画像データにも影響が現れることとなる。また、配線ユニット１０２ａは、電気回路１０１が出力した「センサ部１０３を駆動するための信号」を電気回路１０１からセンサ部１０３へと伝達するための配線であると仮定する。一方、配線ユニット１０２ｂは、センサ部１０３が出力する画素の出力データを電気回路１０１へと伝達するための配線であると仮定する。
【００２３】
以上のことを踏まえて、視点Ｂ、視点ＣのそれぞれからＸ線撮像装置１００に磁界が入った際にＸ線撮像装置１００の内部に発生する電圧・電流を考える。
視点ＣからＸ線撮像装置１００に磁界が入ると、当該磁界によって、面ｃに電圧・電流が発生する。この電圧・電流は、アンプ回路部３０１に近い場所で発生し、且つ、当該電流・電圧が発生している配線ユニット１０２ｂは、センサ部１０３から電気回路１０１にセンサ部１０３の出力を伝えるための配線を備える。よって、画像データには、かかる磁界の影響が現れやすい。
【００２４】
一方、視点ＢからＸ線撮像装置１００に磁界が入ると、当該磁界によって、面ｂに電圧・電流が発生する。面ｂでは、配線ユニット１０２ａの実装位置によってアンプ回路部３０１と配線ユニット１０２ａとの位置関係が場所によってそれぞれ異なり、且つ、視点Ｃから見た面ｃと面ｂとでは磁界が透過する面積も異なる。
更に、磁界によって電圧・電流が発生した面ｂ、ｃからアンプ回路部３０１に電圧・電流が届くまでに経由する回路定数も異なる。
以上のことから、視点Ｂから見た面ｂに磁界が印加された場合と、視点Ｃから見た面ｃに磁界が印加された場合とは、画像データに現れる磁界の影響が異なる。
【００２５】
続いて、本実施形態におけるＸ線撮像装置１００の磁界の入射方向と画像データに現れる影響の特徴の一つを例示する。
図５は、Ｘ線撮像装置１００による撮影画像の一例を示す図である。具体的に図５（ａ）は、Ｘ線が無照射の状況下で且つ磁界の影響の無い状況下でＸ線撮像装置１００により得られた撮影画像（以下の説明では「基準画像」と称する）の一例を示す図である。図５（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）は、それぞれ、Ｘ線が無照射の状況下で且つＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸に沿う方向から磁界が印加された状況下でＸ線撮像装置１００により得られた撮影画像の一例を示す図である。
【００２６】
図５（ａ）に示すように、基準画像は、画素値（濃度）が一様な画像となる。一方、Ｘ軸方向からＸ線撮像装置１００に対して磁界を印加した場合には、図５（ｂ）に示すように、横縞状の画像が得られるものとする。また、Ｙ軸方向、Ｚ軸方向からＸ線撮像装置１００に対して磁界を印加した場合にも、図５（ｃ）、図５（ｄ）に示すような特徴が現れるものとする。
【００２７】
図６は、図５に示す撮影画像の第１の特徴量を示す図である。図６（ａ）、図６（ｂ）、図６（ｃ）、図６（ｄ）は、それぞれ図５（ａ）、図５（ｂ）、図５（ｃ）、図５（ｄ）に対応する。図６は、各軸の方向から磁界を印加した際の撮影画像の特徴が判別しやすいようにするための図である。
【００２８】
図６に示す波形は、画素値の最小値もしくは最大値を含む行を同時に表示したものである、よって、図６の各図には、実線と破線の２本の線が引かれている。実線が最大値を含む行を示す波形X-Max、Y-Max、Z-Maxであり、波線が最小値を含む行を示す波形X-Min、Y-Min、Z-Minである。図６に示す各波形における左右端は、図５に示す各撮影画像における左右端と対応しているものとする。また、図６に示す各波形の縦軸の値は、基準画像に一様に分布する画素値を基準とし、この画素値を０として置き換えて示す値である。また、磁界の大きさが大きい程、撮影画像における最大・最小の画素値の絶対値も大きくなる。
【００２９】
また、図７は、図５に示す撮影画像の第２の特徴量を示す図である。図７に示す波形は、図５に示す撮影画像の左端（左）、真ん中（中）、右端（右）において、長辺と平行な方向の１列の画素値を抽出することにより得られる波形である。図７に示す各波形の縦軸の値（画素値）は、あくまでも各軸の方向から磁界を印加した際に、１枚の磁界画像の左端、真ん中、右端での磁界の影響の大小関係がどのようになるかを示したものであり、実際の具体的な値を示すものではない。また、図７に示す各波形は、左端が図５に示す撮影画像の上端に対応し、右端が図５に示す撮影画像の下端に対応しているものと仮定する。
【００３０】
図６と図７に示す撮影画像の特徴量から、磁界の印加方向と撮影画像の特徴量との関係を読みとってみると、磁界を印加する各軸の方向ごとに、撮影画像には固有の特徴があることが分かる。
まず、Ｘ軸方向に印加された磁界の影響を受けた場合には、撮影画像の左端から右端まで一定の値で磁界の影響を受けている事が各図から読みとれる。
【００３１】
次に、Ｙ軸方向に印加された磁界の影響は、撮影画像の左端が最も大きく、且つ右端はほとんどないことが分かる。また、撮影画像の左右端の間については、左端に近くなるほど一定の割合で磁界の影響を受けやすくなっていることが分かる。
次に、Ｚ軸方向に印加された磁界の影響は、撮影画像の左端と右端とで、画素値の値が正負逆転する形で現れ、且つ、撮影画像の中心に近い部分ではほとんどないが分かる。また、画像の中心から左右端へと近づくにつれて磁界の影響を受けやすくなっているが、その変化の割合は途中で変化していることも分かる。
【００３２】
本実施形態におけるＸ線撮像装置１００で得られる撮影画像は、磁界の印加に対して、以上のような特徴を持つものとする。また、各軸上以外の場所に磁界発生源が存在する場合、すなわちＸ線撮像装置１００に対して複数の軸方向の成分を持った磁界が印加される場合の撮影画像には、前述の通り、各軸の方向から磁界を印加した際の特徴が重ね合わされて現れるものとする。すなわち、Ｘ軸とＹ軸の丁度中間の方向からＸ線撮像装置１００に磁界が印加された場合、撮影画像に現れる磁界の影響による特徴は、Ｘ軸方向から磁界を印加した際に現れる特徴とＹ軸方向から磁界を印加した際に現れる特徴とを合わせた特徴となる。
【００３３】
よって、例えば、図６に示したようにして撮影画像の特徴を確認すると、Ｙ軸方向に磁界を印加した際の波形にＸ軸方向から磁界を印加した際の波形を重ねたような図８に示すような波形が得られる。図８は、Ｘ軸とＹ軸の丁度中間の方向からＸ線撮像装置１００に磁界が印加された場合の撮影画像の第１の特徴量の一例を示す図である。図８（ａ）は、Ｘ軸方向から磁界が印加された場合の最大値（最小値）を示す波形X-Max（X-Min）と、Ｙ軸方向から磁界が印加された場合の最大値（最小値）を示す波形Y-Max（Y-Min）とが影響し合った場合の特徴の一例を示す。図８（ｂ）は、Ｘ軸（Ｙ軸）方向から磁界が印加された場合の最大値を示す波形X-Max（X-Max）と、Ｙ軸（Ｘ軸）方向から磁界が印加された場合の最小値を示す波形Y-Min（X-Min）が影響し合った場合の特徴の一例を示す。
【００３４】
以上のＸ線撮像装置１００に関する前提を踏まえ、且つ、Ｘ線撮像装置１００は場所と向きとを変更することが可能であることを前提として、Ｘ線撮像装置１００の使用環境内に１つの磁界発生源が存在する場合に、その位置を絞り込む処理の一例を説明する。図９は、Ｘ線撮像システムの動作の一例を説明するフローチャートである。
【００３５】
まず、図１に示したＸ線撮像システムは、磁界源位置判定部１１３を動作させる。磁界源位置判定部１１３の動作は、ユーザが入力部１３０を用いて動作開始の指示を与えることによって開始させてもよいし、一定時間ごとに開始させてもよい。また、撮影画像が得られたタイミングで、処理装置制御部１１２が撮影画像に磁界の影響があるか否かを判断し、撮影画像に磁界の影響がある場合にその旨を、通知部１２０を介してユーザに通知して、磁界発生源を絞り込む作業への移行をユーザに促してもよい。
【００３６】
磁界源位置判定部１１３が動作を開始すると、磁界源位置判定部１１３は、Ｘ線撮像装置１００を現在の位置から動かさないようにすることを、通知部１２０を介してユーザに通知する。ユーザが入力部１３０を操作することにより、そのことを了解したことを示す情報が入力されると、磁界源位置判定部１１３は、通信部１１１を介して、Ｘ線撮像装置１００に対して画像の撮影を指示する。この指示により、Ｘ線撮像装置１００は、Ｘ線の照射を行わずに画像を撮影し、Ｘ線が無照射の下で磁界の影響を受けた撮影画像を作成する（ステップＳ９０１）。この撮影画像のデータは、通信部１１１を経由して磁界源位置判定部１１３に渡される。尚、以下の説明では、Ｘ線が無照射の状態であり、且つ、被写体としては何も写り込んでいない状態で撮影された画像を、必要に応じて「ダーク画像」と称する。このダーク画像には、磁界の影響を受けているものも、受けていないものも含まれる。
【００３７】
磁界の影響を受けたダーク画像を入手した磁界源位置判定部１１３は、予めデータベース１１４内に保存してある「磁界の影響を受けていないダーク画像（基準画像）」の画素値を、磁界の影響を受けているダーク画像の画素値から減算する（ステップＳ９０２）。これにより、磁界の影響のみが抽出された画像が得られる。以下の説明では、磁界の影響のみが抽出された画像を必要に応じて「磁界画像」と称する。
【００３８】
磁界源位置判定部１１３は、磁界画像を得ると、まず初めに、Ｘ線撮像装置１００の使用環境内の磁界発生源が、Ｘ軸、Ｙ軸、又はＺ軸上にあるか否かを判断する。このために磁界源位置判定部１１３は、図７及び図８に示したような、Ｘ線撮像装置１００に対する磁界の印加方向と、磁界画像に現れる特徴量との関係を示す情報を用いる。この情報は、予めデータベース１１４内に記憶されている。磁界源位置判定部１１３は、この情報をデータベース１１４から参照することができる。
【００３９】
このように、磁界源位置判定部１１３は、磁界の印加方向がＸ軸、Ｙ軸及びＺ軸に沿う方向であるときの磁界画像の特徴量をそれぞれデータベース１１４から読み出す（ステップＳ９０３）。そして、磁界源位置判定部１１３は、磁界画像が特徴量と一致しているか否かを判定することにより、磁界発生源が、Ｘ軸上にあるか否かを判定する（ステップＳ９０４）。
【００４０】
具体的には、例えば、磁界源位置判定部１１３は、各列において、磁界画像の中から最も磁界の影響を受けている画素、すなわち、各列において、最大の画素値（最大値）を持つ画素と最小の画素値（最小値）を持つ画素とを磁界画像から探し出す。仮に磁界発生源がＸ、Ｙ、Ｚ軸の何れかの上に存在した場合には、前述の図７に示すように、磁界画像の左右端の画素値と中心部の画素値との関係に特徴のある情報が得られる。
【００４１】
例えば、各列において、最大値を持つ画素と最小値を持つ画素を磁界画像から探し出した結果、磁界画像の左右端の画素値と中心部の画素値の値がほぼ同じだった場合、磁界源位置判定部１１３は、磁界発生源はＸ軸上に存在すると判断できる。このように判断することができるのは、Ｘ軸方向から磁界が印加された際の磁界画像の特徴が、他の軸方向から磁界が印加された際の特徴の合成では再現できないことに起因する。
裏を返せばＹ軸方向およびＺ軸方向から磁界が印加した場合の特徴が磁界画像に現れた場合には、以下の判断を行う必要がある。すなわち、その特徴が、本当に各軸の方向から磁界が印加された結果として得られた特徴であるのか、それとも２つ以上の軸の方向からの磁界が合成された結果として得られた特徴としているであるのかを判断する必要がある。
【００４２】
このことの一例として、Ｚ軸方向から磁界が印加された際の特徴が磁界画像に現れている場合について説明する。すなわち、図７の「Ｚ軸方向磁界印加」の欄に示すように、画像の左右端で画素値が反転しており、且つ、画像の真ん中では磁界の影響を受けていないような特徴が磁界画像に現れている場合について説明する。このような特徴は、図８（ｂ）（「Ｘ軸、Ｙ軸の特徴が影響した場合２」）に示すように、Ｘ軸方向から磁界が印加された際の特徴量とＹ軸方向から磁界が印加された際の特徴量とが合成された場合でも磁界画像に現れる。つまり、Ｘ軸とＹ軸によって形成される面上（ＸＹ平面上）に磁界発生源が存在している場合にも、Ｚ軸上に磁界発生源が存在している場合と同じ特徴が磁界画像に現れる可能性がある。
【００４３】
そこで、磁界発生源が、Ｙ軸上又はＺ軸上にあるか否かの区別を行う方法として、磁界源位置判定部１１３は、例えば、次の２つの方法の何れかを用いることができる。
まず、磁界画像の長辺方向について左右端と真ん中だけではなく、その他の位置についての特徴量を予め解析しておく。例えば、予め、軸上および軸上を除く各面（ＸＹ平面、ＹＺ平面、ＸＺ平面）上に磁界発生源がある場合に磁界画像に現れる特徴量として、磁界画像の行方向（長辺方向）について左右端と真ん中だけではなく、その他の位置についての特徴量を予め解析しておく。そして、その特徴量を、データベース１１４に格納しておき、この特徴量を用いて、磁界発生源がＹ軸上又はＺ軸上に存在するか否かを判別する。
【００４４】
例えば、Ｚ軸上に存在する磁界発生源から磁界が印加されると、図６（ｂ）（「Ｚ軸方向磁界印加」）に示すように、磁界画像の左右端付近では、波形の傾きは磁界画像の位置によって変化する。一方、ＸＹ平面上に存在する磁界発生源から磁界が印加されると、図８（ｂ）（「Ｘ軸、Ｙ軸の特徴が影響した場合２」）に示すように、磁界画像の左右端付近で波形の傾きは一定となる。よって、磁界源位置判定部１１３は、このような磁界画像の左右端付近での波形の傾きの変化の有無により、磁界発生源が、Ｚ軸上にあるか否かを区別することができる。
【００４５】
このように、磁界源位置判定部１１３は、磁界の印加方向が軸方向を除くＸＹ平面、ＹＺ平面およびＸＺ平面に沿う方向であるときの磁界画像の特徴量をそれぞれデータベース１１４から読み出す。そして、磁界源位置判定部１１３は、磁界の印加方向がＸ軸、Ｙ軸およびＺ軸に沿ときの磁界画像の特徴量と、磁界の印加方向が軸方向を除くＸＹ平面、ＹＺ平面およびＸＺ平面に沿うときの磁界画像の特徴量との何れと磁界画像の特徴量が一致するかを判定する。
そして、磁界の印加方向がＸ軸、Ｙ軸およびＺ軸に沿う方向であるときの磁界画像の特徴量と、得られた磁界画像の特徴量が一致したときに、磁界源位置判定部１１３は、磁界発生源が、Ｙ軸上またはＺ軸上にあると判定する（ステップＳ９０５）。
【００４６】
尚、磁界の印加方向がＸ軸、Ｙ軸およびＺ軸に沿ときの磁界画像の特徴量と、磁界の印加方向が軸方向を除くＸＹ平面、ＹＺ平面およびＸＺ平面に沿うときの磁界画像の特徴量との何れにも、得られた磁界画像の特徴量が一致しない場合もある。この場合、磁界源位置判定部１１３は、ＸＹ平面、ＹＺ平面およびＸＺ平面上にも、Ｘ軸、Ｙ軸およびＺ軸上にも磁界発生源がないと判定する。
また、ここでは、磁界の印加方向が軸方向を除くＸＹ平面、ＹＺ平面およびＸＺ平面に沿う方向であるときの磁界画像の特徴量をそれぞれデータベース１１４から読み出した。しかしながら、磁界の印加方向がＸ軸、Ｙ軸およびＺ軸に沿う方向であるときの磁界画像の特徴量から、これらの特徴量を導出するようにしてもよい。
【００４７】
次に、磁界発生源が、Ｙ軸上又はＺ軸上にあるか否かの区別を行うためのもう一つの方法としてＸ線撮像装置１００を回転させる方法について説明する。
例えば、磁界画像を解析した結果、Ｚ軸方向に磁界を印加した際の特徴が磁界画像に現れたとことが分かったとする。この特徴が、Ｚ軸方向にのみ磁界が印加された結果として得られたものなのかを判断するために、Ｘ線撮像装置１００を、Ｙ軸を中心にして９０度回転させる。このようにＸ線撮像装置１００を動かしてから再度ダーク画像を撮影して磁界画像を作成する。本当にＺ軸方向からに磁界が印加されている場合には、このようにして作成された磁界画像には、Ｘ軸方向から磁界を印加した場合の特徴のみが現れる。
【００４８】
一方、Ｘ軸方向から印加された磁界による特徴とＹ軸方向から印加された磁界による特徴との合成として、Ｚ軸方向から印加された磁界による特徴が現れている場合、磁界画像には、Ｙ軸方向とＺ軸方向から磁界が印加された場合の特徴が合成された特徴が現れる。このようにすることにより、磁界源位置判定部１１３は、磁界発生源が、Ｙ軸上又はＺ軸上にあると判定することができる（ステップＳ９０５）。
【００４９】
このようにＸ線撮像装置１００を回転させて、磁界発生源が、Ｙ軸上又はＺ軸上にあるか否かを判定する場合、磁界源位置判定部１１３は、次のようにする。すなわち、磁界源位置判定部１１３は、Ｘ線撮像装置１００をどの軸方向を中心としてどの方向に何度回転させるかを、通知部１２０を介してユーザに知らせる。そして、ユーザが、入力部１３０を操作することにより、Ｘ線撮像装置１００の回転を行ったことを示す情報が入力されると、磁界源位置判定部１１３は、再度ダーク画像を撮影することをＸ線撮像装置１００に指示する。そして、磁界源位置判定部１１３は、ダーク画像から磁界画像を生成し、磁界発生源がＹ軸上又はＺ軸上にあるか否かを前述したようにして判定する（ステップＳ９０５）。
【００５０】
続いて、磁界源位置判定部１１３は、磁界発生源が２つの軸により定まる平面上にあるか否かを判定する（ステップＳ９０６、Ｓ９０７）。すなわち、磁界源位置判定部１１３は、軸上を除くＸＹ平面、ＸＺ平面またはＹＺ平面上に磁界発生源があるか否かを判定する。この判定の方法として、磁界発生源がＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸の各軸上に存在するか否かを判定するのと同様の方法を用いることができる。具体的には、前述したように、予め、磁界の印加方向が軸方向を除くＸＹ平面、ＹＺ平面およびＸＺ平面に沿う方向であるときの磁界画像の特徴量を調査しておき、その特徴量を、データベース１１４に格納しておく。そして、磁界源位置判定部１１３は、得られた磁界画像の特徴量と、データベース１１４内に格納されている特徴量とを比較する。磁界源位置判定部１１３は、この比較の結果に基づいて、磁界発生源が、軸上を除くＸＹ平面、ＸＺ平面またはＹＺ平面上にあるか否かを判定する。
尚、前述したように、磁界の印加方向がＸ軸、Ｙ軸およびＺ軸に沿う方向であるときの磁界画像の特徴量から、磁界の印加方向が軸方向を除くＸＹ平面、ＹＺ平面およびＸＺ平面に沿う方向であるときの磁界画像の特徴量を導出するようにしてもよい。
【００５１】
ここで、磁界の印加方向が軸方向を除くＸＹ平面、ＹＺ平面およびＸＺ平面に沿う方向であるときの磁界画像の特徴量として、より多くの位置での画素値を収集することで、磁界発生源が、各軸に対してどの程度の角度方向にあるかを判断することができる。
図１０は、２つの軸により定まる平面上にある磁界発生源の位置の一例を説明する図である。例えば、図１０に示すような位置に磁界発生源Ｈがあると仮定する。現在、磁界発生源Ｈと中心点Ａとにより定まる線分と、Ｘ軸、Ｙ軸とが成す角度は等しいとする。この場合、磁界発生源ＨからＸ線撮像装置１００に印加される磁界により、磁界画像の特徴量は、Ｘ軸方向から磁界が印加された場合の特徴量と、Ｙ軸方向から磁界が印加された場合の特徴量とがそれぞれ同じ大きさで合わさった特徴量となる。すなわち、磁界発生源Ｈは、ＸＹ平面上の位置であって、Ｘ軸およびＹ軸の双方から４５度の角度の位置に存在することになる。
【００５２】
また、例えば、図１０において、角度ａが角度ｂよりも大きい場合には、磁界発生源ＨからＸ線撮像装置１００に印加される磁界は、Ｘ軸方向の成分の大きさよりもＹ軸方向の成分の大きさの方が大きい磁界となる。このように、角度ａおよび角度ｂと、磁界画像の特徴量との関係を予め調べてデータベース１１４に保存しておくことで、より詳細に磁界発生源の位置を絞り込むことができる。
【００５３】
以上の方法で、各軸上または各軸のうち２つの軸により定まる平面上に磁界発生源が存在すると断ずることができなかった場合、磁界源位置判定部１１３は、磁界発生源がその他の方向に存在するものと判断する。つまり、Ｘ線撮像装置１００に印加されている磁界は、Ｘ線撮像装置１００から見てＸ軸、Ｙ軸、及びＺ軸の各軸方向の成分を持っていることとなる。この場合、想定できる磁界の印加方向は４通りある。
図１１は、軸上にも２つの軸により定まる平面上にも存在しない磁界発生源からの磁界の印加方向を説明する図である。
【００５４】
図１１において、四角で囲まれた数字で示す領域は、３つの軸により定まる平面によって区切られた領域を示している。また、破線の四角で囲まれた数字で示す領域は、Ｘ線撮像装置１００の裏側（図１１の紙面の奥側）の領域を示しており、実線の四角で囲まれた数字で示す領域は、Ｘ線撮像装置１００の表側（図１１の紙面の手前側）の領域を示す。
【００５５】
前述した４通りの磁界の印加方向は、領域１から領域７に向かう方向或いはその逆の方向と、領域２から領域８に向かう方向或いはその逆の方向と、領域３から領域５に向かう方向とその逆の方向と、領域４から領域６に向かう方向或いはその逆の方向である。これらの磁界の印加方向についても、前述した、２つの軸により定まる平面上の磁界発生源の位置を特定する場合と同じように、予め、各軸からの磁界の角度と、磁界画像の特徴量との関係を詳細に解析してデータベース１１４に格納することで実現できる。このようにして、より詳細に磁界発生源の位置を絞り込むことができる。
【００５６】
以上の処理で、磁界源位置判定部１１３は、磁界発生源が、軸上、２つの軸により定まる平面上、およびそれ以外の位置の何れにあるかを判定することができる。
続いての処理として、まず、磁界発生源が軸上にある場合の処理を説明する。
【００５７】
図１２は、Ｘ軸上にある磁界発生源の位置を特定する方法の一例を説明する図である。仮に磁界発生源Ｈが、図１２に示すＸ軸上の位置にあるとする。磁界源位置判定部１１３は、磁界がＸ軸上に存在することを認識すると、ユーザに対して、Ｘ軸上の方向Ａまたは方向ＢにＸ線撮像装置１００を移動させることを、通知部１２０を介して指示する（ステップＳ９０８）。
【００５８】
例えば、Ｘ線撮像装置１００を、方向Ａに１ｍ動かすことの指示が磁界源位置判定部１１３によって出されたとする。これを受けたユーザは、Ｘ線撮像装置１００を指示通り動かした後に、入力部１３０を操作して、作業が終了したことを処理装置１１０に入力する。これを受けた磁界源位置判定部１１３は、通信部１１１を介して、Ｘ線撮像装置１００に対してダーク画像の撮影を指示する。この指示により、Ｘ線撮像装置１００は、ダーク画像を作成し、ダーク画像のデータを、通信部１１１を介して磁界源位置判定部１１３に送信する（ステップＳ９０９）。
【００５９】
磁界源位置判定部１１３は、ダーク画像を受け取ると、そのダーク画像から磁界画像を作成する（ステップＳ９１０）。そして、磁界源位置判定部１１３は、作成した磁界画像と、Ｘ線撮像装置１００を移動する前の磁界画像とを比較した結果に基づいて磁界の影響がどのように変化したかを確認することにより、磁界発生源の位置が特定できたか否かを判定する（ステップＳ９１１）。
【００６０】
作成した磁界画像の画素値が、Ｘ線撮像装置１００を移動する前の磁界画像の画素値よりも大きくなっている場合には、Ｘ線撮像装置１００が磁界発生源Ｈに近づいたことを示す。例えば、磁界源位置判定部１１３は、磁界画像の画素値の最大値、最小値と基準値との差が、Ｘ線撮像装置１００を移動する前よりも大きくなっている場合に、Ｘ線撮像装置１００が磁界発生源Ｈに近づいたと判定することができる。逆に、小さくなっている場合にはＸ線撮像装置１００が磁界発生源Ｈから遠のいたと判定することができる。
【００６１】
図１２に示す方向ＡにＸ線撮像装置１００を動かすと、磁界発生源ＨからＸ線撮像装置１００が受ける磁界の影響は小さくなっている筈である。よって、磁界源位置判定部１１３は、方向ＢにＸ線撮像装置１００を移動させることを、通知部１２０を介してユーザに対して指示する（ステップＳ９０８）。このような動作を繰り返し行うことにより磁界発生源Ｈの位置を特定することができる。
このように、方向ＢにＸ線撮像装置１００を移動させることをユーザに対して通知する代わりに、中心点（移動前のＸ線撮像装置１００の位置）よりも方向Ｂの方向にＸ線撮像装置１００があることをユーザに対して通知してもよい。
【００６２】
また、Ｘ線撮像装置１００を動かした距離と、磁界画像の特徴量の変化の度合いとの関係を予め解析してデータベース１１４に予め保存しておくことができる。このようにすれば、磁界源位置判定部１１３は、データベース１１４に保存されている関係と実際の関係とを比較した結果に基づいて、Ｘ線撮像装置１００の現在位置と、磁界発生源Ｈとの距離を算出し、通知部１２０を介してユーザに対して通知することができる。
以上のようにして磁界発生源Ｈの位置が特定されると、磁界源位置判定部１１３は、磁界発生源Ｈの位置を、通知部１２０を介してユーザに対して通知する（ステップＳ９１２）。
【００６３】
続いて、２つの軸により定まる平面上に存在する場合の磁界発生源の位置を特定する方法の一例を説明する。
磁界源位置判定部１１３は、軸と直交する面の何れかが磁界の印加方向と直交するようにＸ線撮像装置１００を回転させることを、通知部１２０を介してユーザに対して指示する。
【００６４】
例えば、図１０に示す位置に磁界発生源Ｈが存在しているとする。この場合、磁界源位置判定部１１３は、前述した処理によって磁界発生源ＨとＸ線撮像装置１００の中心点Ａとにより定まる線と、Ｘ軸およびＹ軸とがなす角度をそれぞれ判定または絞り込むことができる。このようにするために、図１０に示す例では、角度ａおよび角度ｂと、磁界の印加方向が軸方向を除くＸＹ平面に沿う方向であるときの磁界画像の特徴量との関係を予め調べてデータベース１１４に保存しておく。そして、磁界源位置判定部１１３は、この関係をデータベース１１４から読み出し（ステップＳ９１３）、この関係と、磁界発生源の特徴量とを比較して、角度ａ及び角度ｂを導出する（ステップＳ９１４）。
【００６５】
そして、磁界源位置判定部１１３は、Ｚ軸を回転軸として角度ａ分だけＸ線撮像装置１００を回転させ、磁界発生源ＨがＸ線撮像装置１００のＸ軸上に位置するようにすることを、通知部１２０を介してユーザに対して指示する（ステップＳ９１５）。
この際、Ｘ線撮像装置１００の軸からの角度の精度が良くないことが分かっている場合がある。この場合には、Ｘ線撮像装置１００を、Ｚ軸を回転軸として角度ａだけ回転させた位置から更に、数度ずつＸ線撮像装置１００を回転させてそれぞれの位置で磁界画像を取得する処理を行う。そして、Ｘ軸方向から磁界が印加された場合の特徴量に最も近い特徴量が磁界画像から得られた角度を探索する。
【００６６】
このような処理をすることで、前述の軸上に磁界発生源Ｈが存在する場合と同様の状況にすることができる。その後、磁界源位置判定部１１３は、先に説明した軸上に磁界発生源が存在する場合と同様の処理を行って、磁界発生源Ｈの位置を特定し、ユーザに通知する（ステップＳ９１６〜Ｓ９１９、Ｓ９１２）。
【００６７】
磁界発生源Ｈが、軸上や、２つの軸により定まる平面上に存在しない場合についても、磁界発生源Ｈが、軸上や、２つの軸により定まる平面上に存在する場合の処理を組み合わせることで、ユーザに対して磁界発生源の位置を通知することができる。
磁界発生源Ｈが、軸上や、２つの軸により定まる平面上に存在しない場合には、前述の通り、磁界の印加方向は、４通りのパターン考えられる（図１１を参照）。
【００６８】
２つの軸によって定まる平面上に存在する磁界発生源の位置を特定する場合には、２つの軸からの角度と、磁界画像の特徴量との関係を利用した。これに対し、３つの軸によって定まる位置に存在する磁界発生源の位置を特定する場合には、３つの軸からの角度と、磁界画像の特徴量との関係を利用する。すなわち、このような関係を予め調べてデータベース１１４に保存しておく。磁界源位置判定部１１３は、この関係をデータベース１１４から読み出し（ステップＳ９２０）、この関係と、磁界発生源の特徴量とを比較して、磁界発生源Ｈと中心点によって定まる線が３つの軸となす角度を導出する（ステップＳ９２１）。
【００６９】
そして、磁界源位置判定部１１３は、この角度に基づいて、磁界発生源ＨがＸ線撮像装置１００の１つの軸上、或いは２つの軸によって構成される平面上に位置するようにすることを、通知部１２０を介してユーザに対して指示する（ステップＳ９２２）。これを受けたユーザは、Ｘ線撮像装置１００を指示通り動かした後に、入力部１３０を操作して、作業が終了したことを処理装置１１０に入力する。これを受けた磁界源位置判定部１１３は、通信部１１１を介して、Ｘ線撮像装置１００に対してダーク画像の撮影を指示する。この指示により、Ｘ線撮像装置１００は、ダーク画像を作成し、ダーク画像のデータを、通信部１１１を介して磁界源位置判定部１１３に送信する（ステップＳ９２３）。
【００７０】
磁界源位置判定部１１３は、ダーク画像を受け取ると、そのダーク画像から磁界画像を作成する（ステップＳ９２４）。そして、磁界源位置判定部１１３は、作成した磁界画像と、Ｘ線撮像装置１００を移動する前の磁界画像とを比較した結果に基づいて磁界の影響がどのように変化したかを確認することにより、磁界発生源の方向を絞り込めたか否かを判定する（ステップＳ９２５）。
【００７１】
ここで、３つの軸によって定まる位置に存在する磁界発生源の位置を特定する場合には、次のようにする必要がある。すなわち、前述した想定しうる４つの磁界の印加方向を基にして、磁界の印加方向と、少なくともＸ線撮像装置１００の軸のうち２つの軸によって構成される面とが重なっている状態にする必要がある。この条件を満たす事が出来れば、これより後の処理は２つの軸によって定まる平面状に磁界発生源が存在する場合と同じ処理によって磁界発生源の位置が判定可能となる。よって、３つの軸によって定まる位置に存在する磁界発生源の位置を特定する場合には、２つの軸によって定まる平面上に存在する磁界発生源の位置を特定する場合に対し、ステップＳ９２５の判定が加わることになる。
【００７２】
ただし、磁界発生源Ｈと中心点Ａによって定まる線が３つの軸となす角度の精度が高ければ、Ｘ線撮像装置１００を回転させて磁界画像を得るだけで磁界の印加方向を特定することができる。また、かかる精度が低い場合でも、２つの軸によって定まる平面上に磁界発生源が存在する場合と同様に、一方向について、数度ずつＸ線撮像装置１００の回転角度を変えたときの何枚かの磁界画像を得ることで、磁界の印加方向を特定することができる。
【００７３】
このような処理をすることで、前述の１つの軸上に磁界発生源Ｈが存在する場合や、２つの軸により定まる平面上に磁界発生源Ｈが存在する場合と同様の状況にすることができる。その後、磁界源位置判定部１１３は、先に説明した１つの軸上、或いは２つの軸によって構成される平面上に磁界発生源が存在する場合と同様の処理を行って、磁界発生源Ｈの位置を特定し、ユーザに通知する（ステップＳ９１３〜Ｓ９１９）。尚、前述の１つの軸上に磁界発生源Ｈが存在する場合には、ステップＳ９２５からステップＳ９１３ではなく、ステップＳ９０８に処理を移すことができる。
【００７４】
以上のように本実施形態では、既知の方向から磁界が印加された状態であり、且つ、被写体がない状態で、Ｘ線を照射せずにＸ線撮像装置１００によりダーク画像が得られると、そのダーク画像を処理装置１１０が取得する取得処理を行う。次に、取得した撮影画像から磁界画像を導出する磁界画像導出処理を行い、その磁界画像の特徴量の一例として、磁界画像の位置とその位置での画素値を含む特徴量を導出する磁界画像特徴量導出処理を行う。次に、導出した磁界画像の特徴量と、Ｘ線撮像装置１００から見たときの磁界発生源Ｈの方向との関係を磁界発生源特定情報の一例として記憶媒体の一例であるデータベース１１４に記憶する記憶処理を行う。よって、Ｘ線撮像装置１００に印加される外来磁界の特性を、磁界を測定するための専用の機器を用いることなく得ることができる。
【００７５】
その後、磁界発生源Ｈの位置を絞り込むに際し、Ｘ線撮像装置１００によりダーク画像を撮影する第２の撮像処理と、そのダーク画像を処理装置１１０が取得する第２の取得処理と、取得したダーク画像から磁界画像を導出する第２の磁界画像導出処理とを行う。そして、導出した磁界画像の特徴量を導出する第２の磁界画像特徴量導出処理を行い、その磁界画像と、データベース１１４に記憶された関係とに基づいて、Ｘ線撮像装置１００から見たときの磁界発生源Ｈの方向を導出する磁界発生源方向導出処理を行う。したがって、Ｘ線撮像装置１００の使用環境内に磁界が存在し、且つ、磁界発生源Ｈを特定する必要がある場合に、磁界を測定するための専用の機器を用いたり、磁界発生源として想定される機器を停止させたりすることなしに磁界発生源Ｈの位置を絞り込める。よって、Ｘ線撮像装置１００における撮像に影響を与える磁界発生源Ｈの位置を容易に絞り込むことができる。
【００７６】
また、Ｘ線撮像装置１００から見たときの磁界発生源Ｈの方向を特定した後、Ｘ線撮像装置１００をその方向に沿って移動させる。そして、Ｘ線撮像装置１００が移動した後に、Ｘ線撮像装置１００によりダーク画像を撮影する第３の撮像処理と、そのダーク画像を処理装置１１０が取得する第３の取得処理と、そのダーク画像から磁界画像を導出する第３の磁界画像導出処理とを行う。そして、導出した磁界画像の特徴量を導出する第３の磁界画像特徴量導出処理を行い、その磁界画像と、移動前のＸ線撮像装置１００で得られたダーク画像から得られた磁界画像とを比較した結果から、磁界発生源Ｈの位置を絞り込む位置絞り処理を行う。よって、Ｘ線撮像装置１００における撮像に影響を与える磁界発生源Ｈの位置をより正確に絞り込むことができる。
【００７７】
（第２の実施形態）
次に、本発明の第２の実施形態について説明する。前述した第１の実施形態では、磁界発生源の数が１つである場合を例に挙げて説明した。これに対し、本実施形態では、磁界発生源の数が２つ以上である場合について説明する。このように、本実施形態は、第１の実施形態に対し、Ｘ線撮像装置１００の使用環境下にある磁界発生源の数が複数になることによる処理が追加されたものである。よって、本実施形態において、第１の実施形態と同一の部分については、図１〜図１１に付した符号と同一の符号を付す等して詳細な説明を省略する。
【００７８】
磁界源位置判定部１１３の処理は、第１の実施形態の処理に、磁界画像に対する周波数解析を加えたものとなる。ここでは、図７に示した撮影画像の第２の特徴を用いて説明する。
前述したように、図７に示す波形は、図５に示す磁界画像の左端（左）、真ん中（中）、右端（右）において、その長辺と平行な方向に１列の画素値を抽出することにより得られる波形である。図７に示す波形は、１つの磁界発生源による磁界の影響を受けた場合の磁界画像から得られた波形である。仮に２つ以上の磁界発生源による磁界の影響を受けた場合に、図７と同じような波形を求めると、２つの磁界による波形が重畳した波形となる。
【００７９】
そこで、本実施形態では、磁界源位置判定部１１３は、磁界画像を算出した後に、図７に示すような波形を導出し、その波形から、Ｘ線撮像装置１００に対して印加されている磁界の周波数解析を行い、その周波数を算出する。
次に、磁界源位置判定部１１３は、算出した周波数について、その中の１つだけが観測できるように、磁界画像に対しフィルター処理を画像に施す。フィルター処理は、電気回路によるものでもソフトウェアによるものでも構わない。また、その実装箇所もＸ線撮像装置１００内であっても処理装置１１０内であっても構わない。以降は、フィルター処理を施した状態で磁界画像を取得する。このようにして取得した磁界画像は、１つの磁界発生源から印加される磁界の影響のみを受けた磁界画像と等しい。したがって、第１の実施形態で説明したのと同じ処理を行うことにより、複数の磁界発生源のうちの１つの位置を絞り込むことができる。よって、磁界源位置判定部１１３は、第１の実施形態と同じ処理を行い、まず１つ目の磁界発生源の位置を特定する情報（またはその位置を絞り込むための情報）を導出して、通知部１２０を介してユーザに対して通知する。
【００８０】
そして、１つ目の磁界発生源に関する処理が終了したら、算出した周波数のその他の周波数だけが個別に観測できるように、磁界画像に対しフィルター処理を施す。そして、磁界源位置判定部１１３は、１つ目の磁界発生源と同様に、２つ目の磁界発生源の位置を特定する情報（またはその位置を絞り込むための情報）を導出して、通知部１２０を介してユーザに対して通知する。このような処理を、全ての磁界発生源の位置を特定する情報（またはその位置を絞り込むための情報）が導出されるまで繰り返し行う。
【００８１】
以上のように本実施形態では、磁界発生源Ｈの方向を求めるに際して得られた磁界画像に対して周波数解析とフィルター処理を行って、磁界画像抽出処理を行う。更に、磁界発生源Ｈの方向を求めてＸ線撮像装置１００を移動させた後に得られた磁界画像に対して周波数解析とフィルター処理を行って、第２の磁界画像抽出処理を行う。したがって、Ｘ線撮像装置１００の使用環境が、複数の磁界発生源が存在する使用環境下であっても、複数の磁界発生源のそれぞれの位置を絞り込むことができる。したがって、Ｘ線撮像装置１００における撮像に影響を与えない磁界発生源からの磁界を専用の機器で測定したり、そのような磁界発生源となる機器を停止させたりする必要がなくなる。よって、磁界発生源についての特定作業を軽減することができる。
【００８２】
尚、前述した実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
【００８３】
（その他の実施例）
本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、まず、以上の実施形態の機能を実現するソフトウェア（コンピュータプログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給する。そして、そのシステム或いは装置のコンピュータ（又はＣＰＵやＭＰＵ等）が当該コンピュータプログラムを読み出して実行する。
【符号の説明】
【００８４】
１００  Ｘ線撮像装置、１１０  処理装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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