(57)【要約】【課題】検査用アレイ型電子部品の個数を極力減らし、電子回路を小型にすることができるとともに、電子回路のコストを低減させることができる電子回路の提供。【解決手段】第２ネットワーク抵抗２４において複数の抵抗器のうち機能回路１２に対して未使用となっている抵抗器に対応する一対の電極２４ｃ、２４ｃに接続された一対のチェックランド２４ｂ、２４ｂを備え、検査装置の一対の検査電極を一対のチェックランド２４ｂ、２４ｂに接続させて、当該チェックランド２４ｂ、２４ｂに対応する第２ネットワーク抵抗２４の検査を実施させることにより、第２ネットワーク抵抗２４の検査に代える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
一対の電極を有する電子素子を複数含むアレイ型電子部品を有し、その複数の電子素子のうち少なくとも一つが所定の機能を実現する機能回路に組込まれた電子回路において、
前記アレイ型電子部品において前記複数の電子素子のうち前記機能回路に対して未使用となっている電子素子に対応する一対の電極に接続された一対の検査用ランドを備え、前記アレイ型電子部品の検査を行う検査装置における一対の検査電極を前記一対の検査用ランドに接続させて、前記機能回路に対して未使用となっている前記アレイ型電子部品の電子素子の検査を実施させることにより、前記アレイ型電子部品の検査の代わりとすることを特徴とする電子回路。
【請求項２】
前記アレイ型電子部品の前記複数の電子素子と電気的特性を異にする複数の電子素子が一体となり、全ての前記複数の電子素子が前記機能回路に対して使用されている異型アレイ型電子部品を有する場合、
前記異型アレイ型電子部品と同型であり、かつ電気的特性が同程度の検査用アレイ型電子部品、及び前記検査用アレイ型電子部品の電子素子に対応する一対の電極に接続された一対の検査用ランドを有する検査用回路を備え、前記検査用回路の前記一対の検査用ランドに前記検査装置における前記一対の検査電極を接続させて、前記異型アレイ型電子部品の電子素子の検査を実施させることにより、前記異型アレイ型電子部品の検査の代わりとすることを特徴とする請求項１に記載の電子回路。
【請求項３】
前記機能回路を検査するためのグランドに接続されたグランド検査用ランドを備え、
前記グランド検査用ランドは、前記アレイ型電子部品において前記機能回路に対して未使用となっている電子素子に対応する一対の電極に接続された一対の検査用ランドの一方を兼ねていることを特徴とする請求項１又は２に記載の電子回路。
【請求項４】
前記アレイ型電子部品における電子素子は、抵抗器を含んでいることを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の電子回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
複数の抵抗器を一体化したアレイ型電子部品の検査技術として、特許文献１、２に記載の技術が知られている。特許文献１、２には、検査装置から立設された複数の検査用の端子に検査対象となるアレイ型電子部品の電極を接触させることにより、当該電子部品を検査する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】第２５３１２６１号公報
【特許文献２】特開平４−２１５０７０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上述した特許文献１、２の検査方法とは異なり、電子回路に設けられた所定の機能を実現する機能回路に複数のアレイ型電子部品を接続させた上で、当該電子部品の電極に検査装置の検査電極を接続することで当該電子部品の検査を実施する方法が知られている。このような検査をインサーキット検査と呼んでいる。しかし、アレイ型電子部品の小型化に伴い、当該電子部品の電極の間隔が狭くなるため、検査電極を目標とする電極に接続することが困難となる。そこで、本出願人が考案したインサーキット検査では、機能回路に組込まれたアレイ型電子部品と同型であり、かつ同程度の電気的特性（例えば抵抗値）を有する検査用アレイ型電子部品、及び検査用ランドとを有し、機能回路とは独立した検査用回路を設け、当該検査用ランドに検査電極を接続して、検査用アレイ型電子部品の検査を実施することで、機能回路のアレイ型電子部品の検査の代わりとしている。
【０００５】
しかし、このような方法によるインサーキット検査では、機能回路に組込まれたアレイ型電子部品とは別に検査用アレイ型電子部品を必要とする。このため、電子回路が大型化し、電子回路のコストが上昇してしまうおそれがある。
【０００６】
本発明は、上述の問題点に鑑みてなされたものであって、その目的は、電子回路を小型にすることができるとともに、電子回路のコストを低減させることができる電子回路を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために請求項１の発明は、一対の電極を有する電子素子を複数含むアレイ型電子部品を有し、その複数の電子素子のうち少なくとも一つが所定の機能を実現する機能回路に組込まれた電子回路において、
アレイ型電子部品において複数の電子素子のうち機能回路に対して未使用となっている電子素子に対応する一対の電極に接続された一対の検査用ランドを備え、アレイ型電子部品の検査を行う検査装置における一対の検査電極を一対の検査用ランドに接続させて、機能回路に対して未使用となっているアレイ型電子部品の電子素子の検査を実施させることにより、アレイ型電子部品の検査の代わりとすることを特徴としている。
【０００８】
請求項１の発明よれば、少なくとも一つの電子素子が機能回路に組込まれるアレイ型電子部品が、検査装置によって検査されるので、当該アレイ型電子部品と同型であり、かつ電気的特性が同程度の検査用アレイ型電子部品を別に用意する必要がなくなる。これによれば、検査用アレイ型電子部品の個数を極力減らすことができる。その結果、電子回路を小型にすることができるとともに、電子回路のコストを低減させることができる。
【０００９】
請求項２の発明は、アレイ型電子部品の複数の電子素子と電気的特性を異にする複数の電子素子が一体となり、全ての複数の電子素子が機能回路に対して使用されている異型アレイ型電子部品を有する場合、
異型アレイ型電子部品と同型であり、かつ電気的特性が同程度の検査用アレイ型電子部品、及び検査用アレイ型電子部品の電子素子に対応する一対の電極に接続された一対の検査用ランドを有する検査用回路を備え、検査用回路の一対の検査用ランドに検査装置における一対の検査電極を接続させて、異型アレイ型電子部品の電子素子の検査を実施させることにより、異型アレイ型電子部品の検査の代わりとすることを特徴としている。
【００１０】
請求項２の発明によれば、検査用回路における検査用アレイ型電子部品によって、機能回路の異型アイレ型電子部品の検査が行えるので、電子素子の一つが機能回路に対して未使用となっているアレイ型電子部品とは異なり、アレイ型電子部品の電子素子が機能回路に対して全て使用されているものが機能回路に組込まれている電子回路であっても、複数種類のアレイ型電子部品の検査を実施することが可能となる。
【００１１】
請求項３の発明は、機能回路を検査するためのグランドに接続されたグランド検査用ランドを備え、グランド検査用ランドは、アレイ型電子部品において機能回路に対して未使用となっている電子素子に対応する一対の電極に接続された一対の検査用ランドの一方を兼ねていることを特徴としている。
【００１２】
通常、電子回路は、機能回路を検査するためのグランド検査用ランドを備えている。請求項３の発明によれば、グランド検査用ランドは、アレイ型電子部品において機能回路に対して未使用となっている電子素子に対応する一対の電極に接続された一対の検査用ランドの一方を兼ねているので、電子回路を簡素化することができ、さらに電子回路の小型化及びコスト低減効果を向上させることができる。
【００１３】
請求項４の発明は、アレイ型電子部品における電子素子は、抵抗器を含んでいることを特徴としている。
【００１４】
請求項４の発明によれば、検査する対象となるアレイ型電子部品として、複数の抵抗器を一体化してアレイ型とした電子部品に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明の第１実施形態による電子回路の回路構成を示す図である。
【図２】本発明の第２実施形態による電子回路の回路構成を示す図である。
【図３】比較例による電子回路の回路構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明の第１実施形態による燃料供給システムについて、図面に基づいて説明する。なお、各実施形態において対応する構成要素には同一の符号を付すことにより、重複する説明を省略する。
【００１７】
（第１実施形態）
電子回路１００は、基板１６、配線１８、２０、複数の第１ネットワーク抵抗２２、複数の第２ネットワーク抵抗２４、二つのチェックランド２４ｂ、一つの第１検査用抵抗２６、二つのチェックランド２６ｂ等から構成されている。基板１６には、配線１８、第１ネットワーク抵抗２２、第２ネットワーク抵抗２４、チェックランド２４ｂ等からなる機能回路１２と、配線２０、第１検査用抵抗２６、チェックランド２６ｂ等からなる検査用回路１４とが形成される。
【００１８】
ここで、第１、第２ネットワーク抵抗２２、２４及び第１検査用抵抗２６について説明する。
【００１９】
第１、第２ネットワーク抵抗２２、２４及び第１検査用抵抗２６は、それぞれ複数の抵抗器を一体化したアレイ型電子部品である。第１ネットワーク抵抗２２は、第１の抵抗値を有する４つの抵抗器２１を一体化したアレイ型電子部品であり、抵抗器２１に対応した一対の電極２２ａを４組備える。第２ネットワーク抵抗２４は、第１の抵抗値とは異なる第２の抵抗値を有する４つの抵抗器２３を一体化したアレイ型電子部品であり、抵抗器２３に対応する一対の電極２４ａ、２４ｃを４組備える。また、第１検査用抵抗２６は、それぞれ第１の抵抗値を有する４つの抵抗器２５を一体化したアレイ型電子部品であり、抵抗器２５に対応する一対の電極２６ａを４組備える。第１検査用抵抗２６は、第１ネットワーク抵抗２２と同型であり、かつ同程度の抵抗値（電気的特性）を有する。
【００２０】
基板１６の表面、裏面、又は内部には機能回路１２及び検査用回路１４の一部を構成する配線１８、２０が配索されている。機能回路１２が形成される領域には、複数の第１ネットワーク抵抗２２、及び複数の第２ネットワーク抵抗２４が設置され、第１ネットワーク抵抗２２の電極２２ａ及び第２ネットワーク抵抗２４の電極２４ａに、配線１８が接続されている。チェックランド２４ｂ、２４ｂは、第２ネットワーク抵抗２４において機能回路１２に対して未使用となっている抵抗器２３に対応する一対の電極２４ｃに接続されている。また、検査用回路１４が形成される領域には、第１検査用抵抗２６が設置され、第１検査用抵抗２６の電極２６ａに、配線２０が接続されている。また、配線２０には、チェックランド２６ｂ、２６ｂが接続されている。
【００２１】
図１に示すように、第１ネットワーク抵抗２２において、それぞれの抵抗２２の電極２２ａは全て配線１８に接続されている。一方、複数の第２ネットワーク抵抗２４のうち一つの抵抗２４における一つの抵抗器２３は機能回路１２に対して使用されておらず、当該抵抗器２３に対応する一対の電極２４ｃは配線１８に接続されていない。他の抵抗２４における抵抗器２３は機能回路１２に対して使用されており、他の抵抗２４の電極２４ａは全て配線１８に接続されている。一対の電極２４ｃには、二つのチェックランド２４ｂ、２４ｂがそれぞれ接続されている。チェックランド２４ｂ、２４ｂは、第２ネットワーク抵抗２４を検査するための検査装置の検査電極が接続される部位であり、これらチェックランド２４ｂ、２４ｂに検査電極が接続されることにより、検査装置による第２ネットワーク抵抗２４の検査が実施可能となる。
【００２２】
第１検査用抵抗２６において、少なくとも一つの抵抗器２５に対応する一対の電極２６ａには、配線２０を介して二つのチェックランド２６ｂ、２６ｂがそれぞれ接続されている。これらチェックランド２６ｂ、２６ｂに検査電極が接続されることにより、検査装置による第１検査用抵抗２６の検査が実施可能となる。
【００２３】
以上、本実施形態による電子回路１００の回路構成を説明した。次に、本実施形態の効果を説明するために、比較例となる電子回路３００の回路構成を説明する。比較例による電子回路３００において、本実施形態の電子回路１００の回路構成と同じ部材等については、本実施形態を同じ符号で表すとともに、同じ符号の部材についての説明は省略する。ここでは、本実施形態の電子回路１００と異なる部分のみを説明する。
【００２４】
図３に示すように、比較例による電子回路３００は、検査用回路１４に第２検査用抵抗２８がさらに組込まれている点が、本実施形態の電子回路１００と異なる。第２検査用抵抗２８は、それぞれ第２の抵抗値を有する４つの抵抗器２７を一体化したアレイ型電子部品であり、抵抗器２７に対応する一対の電極２８ａを４組備える。第２検査用抵抗２８は、第２ネットワーク抵抗２４と同型であり、かつ同程度の抵抗値（電気的特性）を有する。第２検査用抵抗２８において、少なくとも一つの抵抗器２７に対応する一対の電極２８ａには、配線２０を介して、二つのチェックランド２８ｂ、２８ｂがそれぞれ接続されている。なお、この比較例の電子回路３００において、一方のチェックランド２８ｂは、第１検査用抵抗２６のチェックランド２６ｂと共通となっている。
【００２５】
以上、比較例による電子回路３００の回路構成について説明した。次に、本実施形態による電子回路１００と比較例による電子回路３００の作用効果について説明する。まず、比較例による電子回路３００を用いてネットワーク抵抗の検査について説明する。
【００２６】
第１、第２ネットワーク抵抗２２、２４は、インサーキット検査によって検査される。しかし、電子回路３００には、第１、第２ネットワーク抵抗２２、２４がそれぞれ複数個、機能回路１２に接続されているので、当該抵抗２２、２４の全てを検査することは現実的でない。
【００２７】
ここで、ネットワーク抵抗は、複数の抵抗器を一体としたものであるので、ネットワーク抵抗の複数の抵抗器は同じ工程で製造される。また、ネットワーク抵抗は、同型であり、かつ同程度の抵抗値を有するネットワーク抵抗毎にロット管理されるのが一般的である。そこで、本願出願人が考案したインサーキット検査では、ネットワーク抵抗の抵抗器が同一行程で製造されること、ネットワーク抵抗が型毎にロット管理されていることに着目し、一つのネットワーク抵抗において、一つの抵抗器を検査することで、ネットワーク抵抗の検査の実施に代え、さらに一つのネットワーク抵抗を検査することで、機能回路に設けられたネットワーク抵抗の検査の実施に代えている。
【００２８】
しかし、第１、第２ネットワーク抵抗２２、２４のそれぞれの電極２２ａ、２４ａの間隔は、抵抗２２、２４の小型化に伴い狭くなるので、検査装置の検査電極を目標とする電極２２ａ、２４ａに接続することが困難となる。そこで、比較例による電子回路３００では、機能回路１２とは別に、第１、第２ネットワーク抵抗２２、２４のそれぞれと同型であり、かつ同程度の抵抗値を有する第１、第２検査用抵抗２６、２８、配線２０、及びチェックランド２６ｂ、２８ｂからなる検査用回路１４を設けている。そして、チェックランド２６ｂ、２８ｂに検査装置の一対の検査電極を接続し、第１、第２検査用抵抗２６、２８の検査を実施する。具体的には、チェックランド２６ｂ、２６ｂに一対の検査電極を接続して、抵抗器２５の検査を実施することにより、第１検査用抵抗２６の検査を行う。そして、チェクランド２８ｂ、２８ｂに一対の検査電極を接続して、抵抗器２７の検査を実施することにより、第２検査用抵抗２８の検査を行う。これらの検査の実施によって、機能回路１２の第１、第２ネットワーク抵抗２２、２４の検査の実施の代わりとしている。このように機能回路１２とは別の検査用回路１４に第１、第２検査用抵抗２６、２８及びチェックランド２６ｂ、２８ｂを組込むことによれば、一対の検査電極の接続を確実とすることができ、ネットワーク抵抗の確実な実施を達成できる。しかし、この比較例による電子回路３００では、第１、第２ネットワーク抵抗２２、２４に対して、それぞれ第１、第２検査用抵抗２６、２８が必要となり、検査用回路１４が大型化する。よって、電子回路３００では、検査用抵抗の設置個数及び検査用回路１４の大型化について改善の余地がある。
【００２９】
これに対し、本実施形態による電子回路１００は、第２ネットワーク抵抗２４において機能回路１２に対して未使用となっている抵抗器２３に対応する一対の電極２４ｃに接続する二つのチェックランド２４ｂ、２４ｂを備えている。そして、検査用回路１４には、第１検査用抵抗２６、さらに当該抵抗２６に接続されるチェックランド２６ｂ、２６ｂが設けられる。本実施形態による電子回路１００では、検査用回路１４のチェックランド２６ｂ、２６ｂに検査装置の一対の検査電極を接続して、抵抗器２５の検査を実施することにより、第１検査用抵抗２６の検査を実施する。その後、第２ネットワーク抵抗２４の一対の電極２４ａに接続されたチェックランド２４ｂ、２４ｂに一対の検査電極を接続して、抵抗器２３の検査を実施することにより、第２ネットワーク抵抗２４の検査を実施する。本実施形態では、これらの検査の実施によって、第１、第２ネットワーク抵抗２２、２４の検査の代わりとしている。
【００３０】
本実施形態の電子回路１００では、先にも述べたが、第２ネットワーク抵抗２４に対応するチェックランド２４ｂ、２４ｂによって第２ネットワーク抵抗２４の検査を実施している。このことによれば、比較例による電子回路３００と異なり、検査用回路１４に第２検査用抵抗２８（図３参照）が不要となり、検査用回路１４を小型化することができる。その結果、電子回路１００を小型化することができるとともに、電子回路１００のコストを低減することができる。
【００３１】
なお、本実施形態において、抵抗器２３が請求項に記載の「電子素子」に相当し、第２ネットワーク抵抗２４が請求項に記載の「アレイ型電子部品」に相当し、第１ネットワーク抵抗２２が請求項に記載の「異型アレイ型電子部品」に相当する。また、一対の電極２４ｃが請求項に記載の「アレイ型電子部品において複数の電子素子のうち機能回路に対して未使用となっている電子素子に対応する一対の電極」に相当し、その一対の電極２４ｃに接続されるチェックランド２４ｂ、２４ｂが請求項に記載の「一対の検査用ランド」に相当する。また、第１検査用抵抗２６が請求項に記載の「第１検査用アレイ型電子部品」に相当する。
【００３２】
（第２実施形態）
第１実施形態において電子回路１００は、第２ネットワーク抵抗２４の未使用となっている一対の電極２４ｃにチェックランド２４ｂ、２４ｂをそれぞれ接続するとともに、検査用回路１４において第１検査用抵抗２６の一対の電極２６ａにチェックランド２６ｂ、２６ｂをそれぞれ接続する回路構成となっていた。
【００３３】
これに対し、第２実施形態による電子回路２００は、機能回路１２の電気的導通等を検査するためのグランド検査用ランド３０を備えている。そして、このグランド検査用ランド３０は、第２ネットワーク抵抗２４の一対の電極２４ｃのうちの一方の電極２４ｃに接続されるとともに、第１検査用抵抗２６のうちの一対の電極２６ａのうちの一方の電極２６ａに接続されている。即ち、グランド検査用ランド３０は、二つのチェックランド２４ｂ、２４ｂのうちの一方を兼ねている。
【００３４】
このように電子回路２００を構成することによれば、グランド検査用ランド３０を、第１検査用抵抗２６に対するチェックランド２６ｂ、２６ｂの一方のチェックランド２６ｂとするとともに、第２ネットワーク抵抗２４に対するチェックランド２４ｂ、２４ｂの一方のチェックランド２４ｂとすることができる。よって、それぞれのネットワーク抵抗２４、２６に対応するチェックランド２４ｂ、２６ｂの数を減らすことが可能となり、電子回路２００をより簡素化することができる。その結果、電子回路２００の小型化及びコスト低減効果を向上させることができる。
【００３５】
（その他の実施形態）
以上、本発明による第１、２実施形態について説明したが、本発明は、上記先の実施形態に限定して解釈されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々の実施形態及び組み合わせに適用することができる。
【００３６】
先の第１、第２実施形態では、検査対象となる電子部品がネットワーク抵抗であったが、アレイ型電子部品であれば、先の実施形態を活用することができる。例えば、複数のコンデンサを一体化させアレイ型電子部品とした集合コンデンサにも活用することができる。
【００３７】
先の第１、第２実施形態では、第１ネットワーク抵抗２２の全ての電極２２ａには、配線１８が接続され、未使用となる抵抗器２１がなかったが、第１ネットワーク抵抗２２に未使用となる抵抗器２２があれば、第２ネットワーク抵抗２４と同様に、その未使用となっている抵抗器２２に対応する一対の電極に第１ネットワーク抵抗用のチェックランドを接続するようにしても良い。このようにすれば、図１及び図２に示す第１検査用抵抗２６も不要となり、電子回路１００、２００をさらに小型化でき、かつコストを低減させることができる。
【符号の説明】
【００３８】
１２  機能回路、１４  検査用回路、１６  基板、１８  配線、２０  配線、２１  抵抗器、２２  第１ネットワーク抵抗（アレイ型電子部品）、２２ａ  電極、２３  抵抗器、２４  第２ネットワーク抵抗（アレイ型電子部品、検査用アレイ型電子部品）、２４ａ  電極、２４ｂ  チェックランド（検査用ランド）、２４ｃ  電極、２５  抵抗器、２６  第１検査用抵抗（検査用アレイ型電子部品）、２６ａ  電極、２６ｂ  チェックランド、２７  抵抗器、２８  第２検査用抵抗、２８ａ  電極、２８ｂ  チェックランド、３０  グランド検査用ランド、１００  電子回路、２００  電子回路、３００  電子回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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