(57)【要約】【課題】  電子体温計の製造工程におけるコストの削減を図る。【解決手段】  本発明に係る電子体温計の製造方法は、温度計測を行うためのサーミスタが接続された回路を基板上に搭載する工程と、前記基板を本体ケース内に挿入するとともに、前記サーミスタを金属キャップ内に固定する工程と、少なくとも前記金属キャップの全体を恒温槽内に浸水させる工程と、温度計測に用いられる校正値が算出済みか否かを判定する工程と、前記校正値が算出済みでないと判定された場合に、前記金属キャップの全体が前記恒温槽内に浸水された状態で、前記温度計測の結果に基づいて前記校正値を算出し、記憶手段に記憶する工程とを有する。【選択図】  図３
2013072733.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
温度計測を行うためのサーミスタを含む電子体温計の製造方法であって、
前記サーミスタが接続された回路を基板上に搭載する工程と、
前記基板を本体ケース内に挿入するとともに、前記サーミスタを金属キャップ内に固定する工程と、
少なくとも前記金属キャップの全体を恒温槽内に浸水させる工程と、
前記温度計測に用いられる校正値が算出済みか否かを判定する工程と、
前記校正値が算出済みでないと判定された場合に、前記金属キャップの全体が前記恒温槽内に浸水された状態で、前記温度計測の結果に基づいて前記校正値を算出し、記憶手段に記憶する工程と
を有することを特徴とする電子体温計の製造方法。
【請求項２】
前記回路上に電池を搭載し、Ｏ−リングを介して筐体キャップを前記本体ケースに装着する工程を更に備えることを特徴とする請求項１に記載の電子体温計の製造方法。
【請求項３】
前記本体ケースと前記筐体キャップとをネジ止めする工程を更に備えることを特徴とする請求項２に記載の電子体温計の製造方法。
【請求項４】
前記本体ケースと前記筐体キャップとの接合部の全周を超音波により融着させる工程を更に備えることを特徴とする請求項２に記載の電子体温計の製造方法。
【請求項５】
前記判定する工程は、前記記憶手段に既に前記校正値が記憶されている場合に、前記校正値が算出済みであると判定することを特徴とする請求項１に記載の電子体温計の製造方法。
【請求項６】
前記判定する工程は、前記記憶手段の所定のアドレスに、前記校正値を算出したことを示すコードが既に記憶されている場合に、前記校正値が算出済みであると判定することを特徴とする請求項１に記載の電子体温計の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子体温計の製造方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電子体温計の分野では、従来より、温度変化に伴うサーミスタの抵抗変化を測定するための技術として、単一入力積分型Ａ／Ｄ変換回路やＣＲ発振回路が用いられてきた。
【０００３】
単一入力積分型Ａ／Ｄ変換回路とは、所定の電源電圧を印加した場合に、サーミスタの抵抗変化に比例する量の電荷を蓄積するとともに、当該蓄積した電荷を放電した場合に、抵抗変化に比例する時間のＯＮ信号を出力することが可能な回路である。
【０００４】
当該単一入力積分型Ａ／Ｄ変換回路を用いた電子体温計では、上記回路に、更に、基準抵抗体を介して電荷を蓄積する系を付加し、サーミスタを介して蓄積した電荷を放電した場合の放電時間と、基準抵抗体を介して蓄積した電荷を放電した場合の放電時間との比に所定の係数（校正値）を積算することで、温度の算出を行っている（例えば、下記特許文献１参照）。
【０００５】
一方、ＣＲ発振回路を用いた電子体温計では、所定の電圧で印加されることで発振するサーミスタとコンデンサとによる発振回路と、所定の電圧で印加されることで発振する基準抵抗体とコンデンサとによる発振回路とを設け、サーミスタとコンデンサとによる発振周波数と、基準抵抗体とコンデンサとによる発振周波数との比に所定の係数（校正値）を積算することで、温度の算出を行っている。
【０００６】
ここで、温度の算出に用いられるこれらの係数は、特にサーミスタの温度特性のバラツキと、サーミスタが接続された回路の個体差とを考慮する必要があるため、回路ごとに校正を行うことにより算出を行っている。
【０００７】
具体的には、電子体温計の製造工程のうち、当該回路が搭載された基板を、電子体温計の筐体に組み込む前の段階で、校正設備に電気的に接続したうえで、サーミスタの部分を恒温槽に入れることで、当該校正処理を行っている。
【０００８】
図６は、当該校正処理を含む電子体温計の製造工程を模式的に示した図である。図６に示すように、ステップＩでは、基板上に回路が搭載され、ステップＩＩでは、回路が搭載された基板が校正設備に電気的に接続される。そして、ステップＩＩＩでは、絶縁性の高い液体（ガルデン；テクノ・アルファ社製の登録商標）が３７℃に制御された恒温槽内に、サーミスタの部分が浸水され、校正設備にて校正処理が実行される。その後、ステップＩＶでは、校正設備から取り外され、ステップＶにて基板に電源（電池）が搭載された後、ステップＶにおいて、筐体内に基板が固定される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開２０１０−０１４５０１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、上述のような製造工程の場合、電子体温計の筐体に組み込む前の基板が恒温槽に入れられるため、電気的な短絡が発生しないよう、恒温槽には、絶縁性の高い液体を使用する必要がある。このため、製造コストがかかるという問題がある。
【００１１】
本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、電子体温計の製造工程におけるコストの削減を図ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記の目的を達成するために本発明に係る電子体温計の製造方法は以下のような構成を備える。即ち、
温度計測を行うためのサーミスタを含む電子体温計の製造方法であって、
前記サーミスタが接続された回路を基板上に搭載する工程と、
前記基板を本体ケース内に挿入するとともに、前記サーミスタを金属キャップ内に固定する工程と、
少なくとも前記金属キャップの全体を恒温槽内に浸水させる工程と、
前記温度計測に用いられる校正値が算出済みか否かを判定する工程と、
前記校正値が算出済みでないと判定された場合に、前記金属キャップの全体が前記恒温槽内に浸水された状態で、前記温度計測の結果に基づいて前記校正値を算出し、記憶手段に記憶する工程とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、電子体温計の製造工程におけるコストの削減を図ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】図１は、本発明の一実施形態にかかる電子体温計１００の外観構成を示す図である。
【図２】図２は、電子体温計１００の機能構成を示す内部ブロック図である。
【図３】図３は、電子体温計１００の校正処理及び温度計測処理プログラムの流れを示すフローチャートである。
【図４】図４は、電子体温計１００の体温測定処理プログラムの流れを示すフローチャートである。
【図５】図５は、電子体温計１００の製造工程の流れを模式的に示した図である。
【図６】図６は、従来の電子体温計の製造工程の流れを模式的に示した図である。
【図７】図７は、従来の電子体温計の校正処理及び温度計測処理プログラムの流れを示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、必要に応じて添付図面を参照しながら本発明の一実施形態を詳細に説明する。
【００１６】
［第１の実施形態］
＜１．電子体温計の外観構成＞
図１は、本発明の一実施形態にかかる電子体温計１００の外観構成を示す図であり、図１の（Ａ）は平面図を、図１の（Ｂ）は底面図をそれぞれ示している。１０１は本体ケース（筺体）、１０２は筐体キャップで、後述する制御部２２０等の電子回路、電池（電源部）２３０等が収納される。本体ケース（筐体）１０１と筐体キャップ１０２とは、ネジ１０６によりネジ止めされている。なお、ネジ１０６によるネジ止めに代えて、本体ケース（筐体）１０１と筐体キャップ１０２とをＯ−リングを介して係合させた後、本体ケース（筐体）１０１と筐体キャップ１０２との接合部を全周にわたって超音波により融着させるようにしてもよい。
【００１７】
１０３は、ステンレス製の金属キャップで、内部には温度を計測するためのサーミスタ（詳細は後述）等が収納される。１０４は電源ＯＮ／ＯＦＦスイッチであり、１回押圧すると電源部がＯＮとなり、再度押圧すると電源部がＯＦＦとなる。
【００１８】
なお、電源ＯＮ／ＯＦＦスイッチ１０４に対しては、更に、バックライトの点灯／消灯機能や、ブザーＯＮのＯＮ／ＯＦＦ機能をもたせるようにしてもよい。あるいは、電子体温計１００の収納ケース（不図示）内に永久磁石を設け、かつ、電子体温計１００の電源ＯＮ／ＯＦＦスイッチ１０４の代わりに、マグネットリードスイッチを配することで、電子体温計１００を収納ケースから取り出すたびに、電源がＯＮされるように構成してもよい。
【００１９】
１０５は表示部であり、被検者の体温を表示する。１０５ａは表示部１０５を覆う透明の窓部材であり、該窓部材１０５ａと本体ケース（筐体）１０１とは、好ましくは二色整形により、液密に形成される。
【００２０】
＜２．電子体温計の機能構成＞
図２は本実施形態にかかる電子体温計１００の機能構成を示す内部ブロック図である。
【００２１】
電子体温計１００は、発振回路部２１０と、制御部２２０と、電源部２３０と、表示部２４０と、音声出力部２５０とを備える。
【００２２】
発振回路部２１０は、互いに並列に接続された基準抵抗体２１１及びサーミスタ２１２が、それぞれコンデンサ２１３に直列に接続されている。そして、基準抵抗体２１１とコンデンサ２１３とを含む系の両端、及びサーミスタ２１２とコンデンサ２１３とを含む系の両端には、電圧切替部２２１を介してそれぞれ交互に電圧Ｖが印加され、放電されるように構成されている。
【００２３】
ここで、基準抵抗体２１１は、周辺温度の変動に関わらず、抵抗値が一定の抵抗素子である。このため、電圧Ｖが一定の場合、基準抵抗体２１１を介してコンデンサ２１３に蓄電された電荷が放電された場合の放電時間は一定となる。
【００２４】
一方、サーミスタ２１２は、周辺温度の変動に応じて、抵抗値が変動する抵抗素子である。このため、サーミスタ２１２を介してコンデンサ２１３に蓄電された電荷が放電された場合の放電時間は、周辺温度に応じて変動する。
【００２５】
つまり、電圧Ｖが一定の場合、基準抵抗体２１１を介して蓄電された電荷が放電された際の放電時間は常に一定となり、サーミスタ２１２を介して蓄電された電荷が放電された際の放電時間は周辺温度に依存することとなる。
【００２６】
制御部２２０は、電圧切替部２２１と、Ａ／Ｄ変換部２２２と、演算部２２３と、記憶部２２４とを備える。
【００２７】
電圧切替部２２１は、温度計測が開始された場合に、発振回路部２１０に配された基準抵抗体２１１とサーミスタ２１２とに交互に電圧Ｖを印加するための切り替えを行う。
【００２８】
Ａ／Ｄ変換部２２２は、コンパレータを備え、電圧切替部２２１を介して印加された電圧Ｖの所定割合の電圧（例えば、０．２５Ｖ）以上の電圧をコンデンサ２１３が有している間、所定の信号を出力する。これにより、Ａ／Ｄ変換部２２２からは、ディジタル信号として、放電時間に応じたＯＮ信号が出力される。このように、コンデンサ２１３とＡ／Ｄ変換部２２２とは、単一入力積分型Ａ／Ｄ変換回路を形成する。
【００２９】
演算部２２３は、ＣＰＵとメモリとを備え、記憶部２２４に記憶されたプログラム（校正処理及び温度計測処理プログラム２２５、体温測定処理プログラム２２６等）を実行することにより、各種機能を実現する。なお、以下では、演算部２２３において実現される各種機能のうち、主に、校正処理機能、温度計測処理機能ならびに体温測定処理機能について詳説する。
【００３０】
校正処理を実行する場合も温度計測処理を実行する場合も、演算部２２３では、Ａ／Ｄ変換部２２２より出力されるディジタル信号のＯＮ時間（放電時間）を計測する。具体的には、基準抵抗体２１１を介してコンデンサ２１３に蓄積された電荷を放電した際の放電時間と、サーミスタ２１２を介してコンデンサ２１３に蓄積された電荷を放電した際の放電時間とを計測する。
【００３１】
そして、演算部２２３では、校正処理中にあっては、計測したそれぞれの放電時間に基づいて、温度の算出に用いられる係数（校正値）αを算出し、記憶部２２４に記憶する。一方、温度計測処理中にあっては、計測したそれぞれの放電時間と、記憶部２２４に記憶されている係数αとを用いて、下式に基づいて、温度を算出する。
【００３２】
Ｔ＝３７℃×（Ｔth／Ｔref）×α・・・（１）
α＝Ｔref37／Ｔth37            ・・・（２）
なお、上式において、３７℃は基準温度であり、後述する校正処理における恒温槽の水温である。
【００３３】
また、Ｔref37は、校正処理において、当該基準温度のもと、基準抵抗体２１１とコンデンサ２１３の系の両端に電圧Ｖを印加・放電した場合に計測された放電時間を示している。また、Ｔth37は、校正処理において、当該基準温度のもと、サーミスタ２１２とコンデンサ２１３の系の両端に電圧Ｖを印加・放電した場合に計測された放電時間を示している。
【００３４】
さらに、Ｔrefは、温度計測処理において、基準抵抗体２１１とコンデンサ２１３の系の両端に電圧Ｖを印加・放電した場合に計測した放電時間を示している。また、Ｔthは、温度計測処理において、サーミスタ２１２とコンデンサ２１３の系の両端に電圧Ｖを印加・放電した場合に計測した放電時間を示している。
【００３５】
記憶部２２４は、各種プログラムのほか、校正処理により算出された係数αを記憶する。記憶された係数αは、温度計測処理時に、演算部２２３によって読み出され、温度Ｔの算出に用いられる。また、記憶部２２４は、校正処理が完了したことを示す校正済みコードを記憶する。これにより、演算部２２３では、電子体温計１００が、校正処理済みであるか否かを認識することができる。更に、記憶部２２４は、温度計測処理時にあっては、算出された温度に基づいて演算された被検者の体温データを記憶する。
【００３６】
電源部２３０は、電子体温計１００の各部（２１０、２２０、２４０）に電力を供給する。電源ＯＮ／ＯＦＦスイッチ１０４が押圧されることにより、電源部２３０では各部に電力を供給し、演算部２２３では、校正処理及び温度計測処理プログラム、または体温測定処理プログラムを実行開始する。また、電源ＯＮ／ＯＦＦスイッチ１０４が更に押圧されることにより、電源部２３０から各部への電力の供給が切断される。
【００３７】
表示部２４０（図１の表示部１０５に対応）は、体温測定処理において、算出された温度に基づいて演算された被検者の体温を表示する。また、記憶部２２４に記憶された、被検者の過去の体温データを表示する。音声出力部２５０は、被検者の体温が演算された場合に、被検者に音声を出力する。
＜３．校正処理及び温度計測処理プログラムの流れ＞
次に、電子体温計１００における校正処理及び温度計測処理プログラムの流れについて説明する。
＜３．１  一般的な電子体温計の校正処理及び温度計測処理プログラムの流れ＞
はじめに、対比のために一般的な電子体温計の校正処理及び温度計測処理プログラムの流れについて説明する。図７は、一般的な電子体温計の校正処理及び温度計測処理プログラムの流れを示すフローチャートである。
【００３８】
校正設備に対して、基板が電気的に接続されると、図７に示すフローチャート（校正処理及び温度計測処理プログラムの実行）が開始される。ステップＳ７０１では、基板側にて、初期化処理を実行することで、演算部内のメモリをクリアする。
【００３９】
ステップＳ７０２では、校正処理時に短絡させるべき端子が、短絡されているか否かを基板側にて判定する。ステップＳ７０２において、端子が短絡されていると判定された場合には、ステップＳ７１１に進み、校正設備からの指示のもと、校正処理を開始する。
【００４０】
ステップＳ７１１では、基板側にて、校正設備よりサーミスタ２１２を介してコンデンサ２１３に蓄積された電荷を放電した際の放電時間を計測する旨の指示が入力されたか否かを判定する。ステップＳ７１１において、校正設備より指示が入力されたと判定された場合には、ステップＳ７１２に進み、サーミスタ２１２を介してコンデンサ２１３に電荷を蓄積した後、放電することで、放電時間（Ｔth）を計測する。また、計測した放電時間（Ｔth）を、校正設備に送信する。
【００４１】
ステップＳ７１３では、基板側にて、校正設備より基準抵抗体２１１を介してコンデンサ２１３に蓄積された電荷を放電した際の放電時間を計測する旨の指示が入力されたか否かを判定する。ステップＳ７１３において、校正設備より指示が入力されたと判定された場合には、ステップＳ７１４に進み、基準抵抗体２１１を介してコンデンサ２１３に電荷を蓄積した後、放電することで、放電時間（Ｔref）を計測する。また、計測した放電時間（Ｔref）は、校正設備に送信する。
【００４２】
校正設備では、基板より送信された放電時間（Ｔth、Ｔref）に基づいて、上記（２）式を用いて係数αを算出した後、基板に対して、当該算出した係数αを送信する。
【００４３】
ステップＳ７１５では、校正設備より、係数αが送信されたか否かを判定し、送信されたと判定された場合には、ステップＳ７１６に進み、校正設備より送信された係数αを記憶部に記憶した後、校正処理及び温度計測処理プログラムを終了する。
【００４４】
一方、ステップＳ７０２において、端子が短絡されていないと判定された場合には、ステップＳ７２１に進み、基板側にて温度計測処理を開始する。
【００４５】
ステップＳ７２１では、記憶部に記憶されている係数αを読み出し、ステップＳ７２２では、サーミスタを介してコンデンサに蓄積された電荷を放電した際の放電時間（Ｔth）を計測する。
【００４６】
更に、ステップＳ７２３では、基準抵抗体を介してコンデンサに蓄積された電荷を放電した際の放電時間（Ｔref）を計測する。
【００４７】
ステップＳ７２４では、ステップＳ７２１で読み出された係数αと、ステップＳ７２２において計測された放電時間（Ｔth）と、ステップＳ７２３において計測された放電時間（Ｔref）とに基づいて、上式（１）を用いて、温度を算出する。
【００４８】
ステップＳ７２５では、ステップＳ７２４において算出した温度データを体温測定プログラムに送信する。
【００４９】
ステップＳ７２６では、温度計測終了指示があったか否かを判定し、温度計測終了指示がないと判定された場合には、ステップＳ７２２に戻り、温度計測処理を継続する。一方、ステップＳ７２６において、温度計測終了指示があったと判定された場合には、校正処理及び温度計測処理プログラムを終了する。
＜３．２  本実施形態に係る電子体温計の校正処理及び温度計測処理プログラムの流れ＞
次に、電子体温計１００における校正処理及び温度計測処理プログラム２２５について図３を用いて説明する。図３は、電子体温計１００における校正処理及び温度計測処理プログラム２２５の流れを示すフローチャートである。
【００５０】
ステップＳ３０１では、初期化処理を実行することで、演算部２２３内のメモリをクリアする。
【００５１】
ステップＳ３０２では、係数（校正値）αを算出済みであるか否かを判定する。具体的には、記憶部２２４を参照し、所定のアドレスに校正済みコードが記憶されているか否かを判定する。ステップＳ３０２において校正済みコードが記憶されていないと判定された場合には、校正処理が実行されていないと判断し、ステップＳ３１１に進み、校正処理を開始する。
【００５２】
ここで、本実施形態に係る電子体温計１００の場合、基板を筐体に固定した後に、校正処理を実行することを前提としているため、一般的な電子体温計のように、基板上の端子を短絡させることで、校正処理を開始させるといった構成にすることができない。そこで、本実施形態に係る電子体温計１００では、記憶部２２４の所定のアドレスに記憶された校正済みコードの有無により、判定する構成とした。
【００５３】
ステップＳ３１１では、校正条件が成立したか否かを判定する。なお、校正条件とは、サーミスタ２１２が、基準温度（例えば、３７℃）に制御された恒温槽内に浸水されることで、温度が上昇した後、平衡に達した（所定の範囲内に収束した）状態を指す。
【００５４】
具体的には、サーミスタ２１２を介してコンデンサ２１３に蓄積された電荷を放電した際の放電時間を計測する処理を、所定周期毎に繰り返す。これにより、演算部２２３では、温度上昇の傾向を検知した後に、温度が平衡状態に達したことを認識することができる（係数αが算出されていないため、正確な温度を算出することはできないが、温度上昇中であること、ならびに、温度が平衡状態に達したこと、等を認識することはできる）。
【００５５】
なお、このように、温度が平衡状態に達したことを校正条件としたのは、温度上昇中の結果に基づいて、係数αを算出してしまうと、誤差が生じてしまうからであり、一般的な電子体温計の場合には、校正設備に接続され、校正設備側からの指示に基づいて動作する構成としていたのに対して、本実施形態に係る電子体温計１００の場合、電子体温計１００自身で、計測開始タイミングを判断するからである。
【００５６】
ステップＳ３１１において、校正条件が成立したと判定された場合には、ステップＳ３１２に進み、サーミスタ２１２を介してコンデンサ２１３に蓄積された電荷を放電した際の放電時間（Ｔth）を計測する。
【００５７】
更に、ステップＳ３１３では、基準抵抗体２１１を介してコンデンサ２１３に蓄積された電荷を放電した際の放電時間（Ｔref）を計測する。
【００５８】
ステップＳ３１４では、ステップＳ３１２において計測された放電時間（Ｔth）と、ステップＳ３１３において計測された放電時間（Ｔref）とに基づいて、上式（２）を用いて係数αを算出する。
【００５９】
ステップＳ３１５では、初期化処理を実行し、演算部２２３のメモリに記憶されたデータをクリアする。更に、ステップＳ３１６では、ステップＳ３１４において算出された係数αを記憶部２２４に記憶する。更に、ステップＳ３１７で、校正済みコードを記憶部２２４の所定のアドレスに記憶した後、校正処理を終了する。これにより、以降、演算部２２３では、電子体温計１００が校正処理済みであると認識することができる。
【００６０】
一方、ステップＳ３０２において、校正済みコードが記憶部２２４に記憶されていると判定された場合には、校正処理が既に実行されていると判断し、ステップＳ３２１に進み、温度計測処理を開始する。
【００６１】
ステップＳ３２１では、記憶部２２４に記憶されている係数αを読み出し、ステップＳ３２２では、サーミスタ２１２を介してコンデンサ２１３に蓄積された電荷を放電した際の放電時間（Ｔth）を計測する。
【００６２】
更に、ステップＳ３２３では、基準抵抗体２１１を介してコンデンサ２１３に蓄積された電荷を放電した際の放電時間（Ｔref）を計測する。
【００６３】
ステップＳ３２４では、ステップＳ３２１で読み出された係数αと、ステップＳ３２２において計測された放電時間（Ｔth）と、ステップＳ３２３において計測された放電時間（Ｔref）とに基づいて、上式（１）を用いて、温度を算出する。
【００６４】
ステップＳ３２５では、ステップＳ３２４において算出した温度データを体温測定処理プログラム２２６に送信する。
【００６５】
ステップＳ３２６では、温度計測終了指示があったか否かを判定し、温度計測終了指示がないと判定された場合には、ステップＳ３２２に戻り、温度計測処理を継続する。一方、ステップＳ３２６において、温度計測終了指示があったと判定された場合には、校正処理及び温度計測処理プログラム２２５を終了する。
【００６６】
＜４．体温測定処理プログラムの流れ＞
次に、電子体温計１００における体温測定処理プログラム２２６の流れについて説明する。なお、ここでは、平衡温予測式の体温測定処理の流れについて説明するが、本発明はこれに限定されず、実測式の電子体温計、予測／実測式の電子体温計にも適用可能である。
【００６７】
電源がＯＮされ、被検体の計測部位に装着されると、電子体温計１００では、所定の周期で温度計測を開始し、取得された温度データの時間変化に基づいて、被検体の体温を予測演算する。
【００６８】
図４は、電子体温計１００における体温測定処理プログラム２２６の流れを示すフローチャートである。以下、図４を用いて電子体温計１００における体温測定処理の流れを説明する。
【００６９】
電子体温計１００の電源部２３０がＯＮされると、図４に示す体温測定処理プログラム２２６が実行開始される。なお、並行して、図３の温度計測処理が開始され（校正処理及び温度計測処理プログラム２２５が実行され、ステップＳ３０２において校正済みと判断されることにより、温度計測処理が開始され）、所定間隔、例えば、０．５秒おきに算出された温度データが出力されるため、ステップＳ４０１ではこれを取得する。
【００７０】
ステップＳ４０２では、体温測定開始条件が成立したか否かを判断する。具体的には、前回の温度計測により算出された温度データの値（つまり、０．５秒前の温度データの値）からの上昇度が、所定の値（例えば、１℃）以上となったか否かを判断する。
【００７１】
上昇度が所定の値以上となったと判断した場合には、体温測定開始条件が成立したと判断し、当該温度データを計測したタイミングを、予測体温演算の基準点（ｔ＝０）として設定する。つまり、電子体温計１００では、急激な温度上昇が計測されると、被検者が、所定の計測部位（例えば、腋下）に電子体温計１００を装着したものとみなす。
【００７２】
ステップＳ４０２において、体温測定開始条件が成立したと判断した場合には、ステップＳ４０３に進み、温度データの取り込みを開始する。具体的には、出力された温度データと、当該温度データを計測したタイミングとを、時系列データとして演算部２２３内のＲＡＭに記憶する。
【００７３】
ステップＳ４０４では、ステップＳ４０３において記憶された温度データを用いて、所定の予測式により、予測体温を演算する。
【００７４】
ステップＳ４０５では、基準点（ｔ＝０）から所定時間（例えば２５秒）、経過した後に、ステップＳ４０４において算出された一定区間（例えば、ｔ＝２５〜３０秒）における予測値が、予め設定された予測成立条件を満たすか否かを判断する。具体的には、所定の範囲（例えば、０．１℃）以内に収まっているか否かを判断する。
【００７５】
ステップＳ４０５において、予測成立条件を満たすと判断された場合には、ステップＳ４０６に進み、温度計測の終了を指示する（これにより、図３の温度計測処理は、ステップＳ３２６にて終了する）。ステップＳ４０７では、予測体温の演算が終了した旨の音声を出力し、表示部２４０に、演算された予測体温を表示する。
【００７６】
一方、ステップＳ４０５において、予測成立条件を満たさないと判断された場合には、ステップＳ４０９に進む。ステップＳ４０９では、基準点（ｔ＝０）から所定時間（例えば４５秒）経過したか否かを判断し、経過したと判断された場合には、温度計測を強制終了する。なお、強制終了した場合には、その際に演算されていた予測体温を、表示部２４０に表示する（ステップＳ４０７）。
【００７７】
ステップＳ４０８では、体温測定終了指示を受け付けたか否かを判断する。ステップＳ４０８において、体温測定終了指示を受け付けていないと判断された場合には、ステップＳ４０２に戻る。
【００７８】
一方、ステップＳ４０８において、体温測定終了指示を受け付けたと判断された場合には、体温測定処理プログラム２２６を終了し、電源部２３０をＯＦＦにする。
【００７９】
＜５．電子体温計の製造工程の流れ＞
次に、電子体温計１００の製造工程について説明する。図５は、図３に示す校正処理及び温度計測処理プログラム２２５が格納された電子体温計の製造工程を模式的に示した図である。図５に示すように、ステップＩでは、サーミスタ２１２が接続された回路が基板上に回路が搭載され、ステップＩＩでは、基板が本体ケース１０１内に挿入され、サーミスタ２１２が金属キャップ１０３内に接着剤で固定される。
【００８０】
ステップＩＩＩでは、電子体温計１００が校正設備に接続され（複数の電子体温計１００を接続することができる）、少なくとも金属キャップ１０３の全体が恒温槽内に浸水され、校正処理が実行される。なお、少なくともここまでの工程は自動で行われる。
【００８１】
更に、ステップＩＶでは、電池が挿入され回路上に搭載されるとともに、Ｏ−リング及び筐体キャップ１０２の本体ケース（筐体）１０１への装着が行われる（この工程は、自動で行われても、手動で行われてもよい）。なお、この後、必要に応じて本体ケース１０１と筐体キャップ１０２との接合部を、全周にわたって超音波溶着するとともに、窓部材１０５ａと本体ケース（筐体）１０１とを二色成形により液密に形成することで、電子体温計１００の液密性が保たれる（この場合には、電池交換ができない）。
【００８２】
一方、超音波溶着しない場合には、筐体キャップ１０２は本体ケース１０１に対して、ネジによりネジ止めされる（この工程は、自動で行われても、手作業で行われてもよい。なお、この場合には、電池交換が可能となる）。
【００８３】
以上の説明から明らかなように、本実施形態に係る電子体温計１００では、校正処理及び温度計測処理プログラム２２５を配する構成とした。そして、当該プログラムにおいて、校正済みコードに基づいて校正済みか否かを判断し、校正済みでないと判断した場合に、自動的に校正処理を実行し、係数αを求める構成とした。
【００８４】
これにより、校正処理に際して基板上の端子を短絡させる必要がなくなり、製造工程において、サーミスタが接続された基板を筐体に固定した後に、校正処理を実行することが可能となった。
【００８５】
この結果、恒温槽に、フロリナートやガルデン等の絶縁性の高い（つまり不活性な）液体を使用する必要がなくなり、水を利用することができるようになったため、製造コストを削減させることが可能となった。
【００８６】
また、本実施形態に係る電子体温計１００では、上記校正処理を開始させるにあたり、校正条件が成立するまで待機し、校正条件が成立したことを契機として、放電時間の計測を行う構成とした。
【００８７】
これにより、温度の算出に用いられる係数を、誤差なく算出することが可能となった。
【００８８】
［第２の実施形態］
上記第１の実施形態では、単一入力積分変換回路を用いた電子体温計について説明したが、本発明はこれに限定されず、例えば、サーミスタ、基準抵抗体、コンデンサで構成されるＣＲ発振回路を用いた電子体温計に対しても適用可能である。この場合、サーミスタとコンデンサによる発振周波数、基準抵抗体とコンデンサによる発振周波数の比に基づいて、温度計測処理を行うことで、係数（校正値）αを算出する。
【００８９】
また、上記第１の実施形態では、記憶部２２４の所定のアドレスに校正済みコードが記憶されているか否かにより、電子体温計１００が校正処理済みであるか否かを判断する構成としたが、本発明はこれに限定されず、記憶部２２４に係数（校正値）αが記憶されているか否かにより、電子体温計１００が校正済みであるか否かを判断するように構成してもよい。
【符号の説明】
【００９０】
１００：電子体温計、１０１：本体ケース（筺体）、１０２：筐体キャップ、１０３：金属キャップ、１０４：電源ＯＮ／ＯＦＦスイッチ、１０５：表示部、１０６：ネジ、２１１：基準抵抗体、２１２：サーミスタ、２１３：コンデンサ、２２１：電圧切替部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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