(57)【要約】【課題】半導体発光素子の温度変化による分光分布変動の影響を抑える。【解決手段】半導体発光素子を備えた発光装置と、発光装置を液晶パネルのバックライトとして用いた液晶表示装置とを備えた電子機器であって、半導体発光素子の温度に応じた分光分布を取得するためのデータを記録した温度毎分光分布算出用データと、液晶パネルの波長毎透過率特性とに基づいて、温度毎の補正値を算出する温度毎補正値算出部と、半導体発光素子の温度を測定する温度測定部と、算出された温度毎の補正値から、測定された温度に対応した補正値を取得する補正値取得部と、取得した補正値に基づいて、液晶パネルに供給する駆動信号を補正する駆動回路部とを備えた電子機器。【選択図】図２
2013134307.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体発光素子を備えた発光装置と、
前記発光装置を液晶パネルのバックライトとして用いた液晶表示装置とを備えた電子機器であって、
前記半導体発光素子の温度に応じた分光分布を取得するためのデータを記録した温度毎分光分布算出用データと、前記液晶パネルの波長毎透過率特性とに基づいて、温度毎の補正値を算出する温度毎補正値算出部と、
前記半導体発光素子の温度を測定する温度測定部と、
算出された温度毎の補正値から、測定された温度に対応した補正値を取得する補正値取得部と、
取得した補正値に基づいて、前記液晶パネルに供給する駆動信号を補正する駆動回路部と、を備えたことを特徴とする電子機器。
【請求項２】
前記液晶パネルの波長毎透過率特性は、液晶パネルのサブ画素におけるカラーフィルタの波長毎透過率であることを特徴とする請求項１に記載の電子機器。
【請求項３】
半導体発光素子を備えた発光装置と、
前記発光装置を試料への照射用光源として用い、前記試料からの反射光の分光分布を測定する分光測定器とを備えた電子機器であって、
前記半導体発光素子の温度を測定する温度測定部と、
前記半導体発光素子の温度に応じた分光分布を算出するためのデータを記録した温度毎分光分布算出用データに基づいて、測定された温度における分光分布と、基準温度における分光分布との波長毎の強度比率を算出する温度補正値算出部と、
算出された波長毎の強度比率に基づいて、測定された試料からの反射光の分光分布を補正する分光分布補正部と、を備えたことを特徴とする電子機器。
【請求項４】
半導体発光素子を備えた発光装置の前記半導体発光素子の温度を測定する温度測定部と、
前記半導体発光素子の分光分布を測定し、測定された温度と対応付けて分光分布温度特性データとして記録する分光分布温度特性データ作成部と、
前記分光分布温度特性データに基づいて、基準温度における分光分布と他の温度における分光分布との強度比率を示す波長毎の温度特性の近似式を算出し、前記半導体発光素子の温度に応じた分光分布を算出するためのデータを記録した温度毎分光分布算出用データとして出力する温度特性近似式算出部と、を備えたことを特徴とする分光分布温度特性測定装置。
【請求項５】
前記半導体発光素子の温度を変化させる温度変更部をさらに備えたことを特徴とする請求項４に記載の分光分布温度特性測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体発光素子の温度変化による分光分布変動の影響を抑える技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
発光素子としてＬＥＤ（Light Emitting Diode）を用いたＬＥＤ発光装置が、電子機器の光源として広く用いられている。ＬＥＤ発光装置４００は、例えば、図８に示すように、複数個のＬＥＤを並べて、発光パネル４１０を形成し、ＬＥＤ駆動回路４２０によって各ＬＥＤを発光させる。
【０００３】
図９は、ＬＥＤ発光装置４００を、カラー表示を行なう液晶表示装置５００のバックライトに用いた場合の構成例を示すブロック図である。本図に示すように、液晶表示装置５００は、液晶パネル５１０と、外部の制御装置からのＲＧＢ信号に基づいて液晶パネル５１０に駆動信号を出力する駆動回路部５２０とを備えている。
【０００４】
駆動回路部５２０は、駆動信号により、液晶パネル５１０の各画素におけるＲＧＢサブ画素のそれぞれの透過率を調整することでＲＧＢ信号が示す色の表示を行なっている。そして、液晶を透過したＲＧＢそれぞれの出力量が均一のときに、ホワイト表示となるようにホワイトバランスを設定している。
【０００５】
例えば、ＬＥＤ発光装置の出力光の波長毎の強度、すなわち分光分布をＳ（λ）、液晶パネル５１０の各画素におけるＲＧＢサブ画素のそれぞれのフィルタの透過率をｒ（λ）、ｇ（λ）、ｂ（λ）とすると、原理的には、ホワイト表示時に［数１］が成り立つように駆動信号ｒ0、ｇ0、ｂ0が調整される。
【数１】
2013134307.tif 000003
【０００６】
図１０は、ＬＥＤ発光装置４００を分光測定器６００の照明の光源に用いた場合の構成例を示すブロック図である。ただし、本図は説明を簡単にするため、光を均一にする積分球、ミラー、レンズ等の機構を省略している。
【０００７】
本図に示すように、試料台６１０上の試料６８０からの反射光の波長と強度とを測定して分光分布データ６９０を出力する分光測定器６００は、受光部６２０と、光ファイバ６３０と、分光分布測定部６４０とを備えている。
【０００８】
光源として用いられるＬＥＤ発光装置４００からの照射光は、試料６８０で反射し、受光部６２０に入射する。そして、光ファイバ６３０を介して分光分布測定部６４０に導かれる。分光分布測定部６４０は、反射光の波長毎の強度を測定し、分光分布データ６９０を作成する。
【０００９】
作成された分光分布データ６９０から、ＬＥＤ発光装置４００の照射光の分光分布を基準とした反射光の波長毎の強度変化が算出され、試料６８０の分析が行なわれる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開２００５−３３８０２１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
一般に、ＬＥＤ等の半導体発光素子は、温度特性を有しており、温度により光量が変動する。図１１に示すように、変動の度合いは波長毎に異なることが多いため、色合いが温度によって異なることになる。
【００１２】
例えば、ＬＥＤ発光装置４００を液晶表示装置５００のバックライトに用いた場合に、ＬＥＤの温度変化により、分光分布がＳ（λ）からＳ'（λ）に変化したとすると、［数１］が成り立たなくなり、同じ駆動信号ｒ0、ｇ0、ｂ0でホワイト表示すると、ホワイトバランスがずれてしまう。上述のように、温度変化による変動の度合いは波長毎に異なるため、オフセット等により一律に補正することはできず、従来、ホワイトバランスのずれを抑えるために、温度を一定に保つ等の対策がとられている。
【００１３】
また、ＬＥＤ発光装置４００を分光測定器６００の光源に用いた場合に、ＬＥＤの温度変化により分光分布が変動すると、試料６８０からの反射光の分光分布も変動してしまい、試料６８０の分析精度が低下してしまう。分析精度の低下を抑えるために、温度変化に対応して校正処理を行なうことが考えられるが、校正処理を行なうためには、測定を中断しなければならず、測定コストに影響を与えてしまう。分析精度の低下を抑えつつ測定コストへの影響を避けるためには、やはり温度を一定に保つ対策を取らざるを得ない。
【００１４】
しかしながら、液晶表示装置５００、分光測定器６００において、ＬＥＤの温度一定に保つことは実際上困難である。また、温度を一定に保つために温度制御機構を別途設けるとすると、その分コストが上昇することになる。そこで、本発明は、半導体発光素子の温度変化による分光分布変動の影響を抑えることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上記課題を解決するため、本発明の第１の態様である電子機器は、半導体発光素子を備えた発光装置と、前記発光装置を液晶パネルのバックライトとして用いた液晶表示装置とを備えた電子機器であって、前記半導体発光素子の温度に応じた分光分布を取得するためのデータを記録した温度毎分光分布算出用データと、前記液晶パネルの波長毎透過率特性とに基づいて、温度毎の補正値を算出する温度毎補正値算出部と、前記半導体発光素子の温度を測定する温度測定部と、算出された温度毎の補正値から、測定された温度に対応した補正値を取得する補正値取得部と、取得した補正値に基づいて、前記液晶パネルに供給する駆動信号を補正する駆動回路部と、を備えたことを特徴とする。
【００１６】
ここで、前記液晶パネルの波長毎透過率特性は、液晶パネルのサブ画素におけるカラーフィルタの波長毎透過率とすることができる。
【００１７】
上記課題を解決するため、本発明の第２の態様である電子機器は、半導体発光素子を備えた発光装置と、前記発光装置を試料への照射用光源として用い、前記試料からの反射光の分光分布を測定する分光測定器とを備えた電子機器であって、前記半導体発光素子の温度を測定する温度測定部と、前記半導体発光素子の温度に応じた分光分布を算出するためのデータを記録した温度毎分光分布算出用データに基づいて、測定された温度における分光分布と、基準温度における分光分布との波長毎の強度比率を算出する温度補正値算出部と、算出された波長毎の強度比率に基づいて、測定された試料からの反射光の分光分布を補正する分光分布補正部と、を備えたことを特徴とする。
【００１８】
上記課題を解決するため、本発明の第３の態様である分光分布温度特性測定装置は、半導体発光素子を備えた発光装置の前記半導体発光素子の温度を測定する温度測定部と、前記半導体発光素子の分光分布を測定し、測定された温度と対応付けて分光分布温度特性データとして記録する分光分布温度特性データ作成部と、前記分光分布温度特性データに基づいて、基準温度における分光分布と他の温度における分光分布との強度比率を示す波長毎の温度特性の近似式を算出し、前記半導体発光素子の温度に応じた分光分布を算出するためのデータを記録した温度毎分光分布算出用データとして出力する温度特性近似式算出部と、を備えたことを特徴とする。
【００１９】
ここで、前記半導体発光素子の温度を変化させる温度変更部をさらに備えることができる。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、半導体発光素子の温度変化による分光分布変動の影響を抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本実施形態に係る分光分布温度特性測定装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本実施形態に係る液晶表示装置の構成を示すブロック図である。
【図３】本実施形態に係る分光測定器の構成を示すブロック図である。
【図４】本実施形態に係る分光分布温度特性測定装置の動作を説明するフローチャートである。
【図５】本実施形態に係る液晶表示装置における温度毎ＲＧＢ補正値データ作成動作を説明するフローチャートである。
【図６】本実施形態に係る液晶表示装置におけるＲＧＢ駆動信号補正動作を説明するフローチャートである。
【図７】本実施形態に係る分光測定器における分光分布補正動作を説明するフローチャートである。
【図８】ＬＥＤ発光装置の構成例を示すブロック図である。
【図９】ＬＥＤ発光装置を液晶表示装置のバックライトに用いた場合の構成を示すブロック図である。
【図１０】ＬＥＤ発光装置を分光測定器の照明の光源に用いた場合の構成を示すブロック図である。
【図１１】温度変化によるＬＥＤの分光分布の変動を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図１は、本実施形態に係る分光分布温度特性測定装置の構成を示すブロック図である。本図に示すように、分光分布温度特性測定装置１００は、ＬＥＤ発光装置４００の分光分布温度特性データ１６０を作成し、このデータに基づいて温度毎分光分布算出用データ１７０を出力する装置である。なお、ＬＥＤ発光装置４００は、従来のＬＥＤ発光装置と同様であり、発光パネル４１０、ＬＥＤ駆動回路４２０を備えた構成とすることができる。
【００２３】
分光分布温度特性測定装置１００は、分光分布測定部１１０、分光分布温度特性データ作成部１２０、温度変更部１３０、温度測定部１４０、温度特性近似式係数算出部１５０を備えている。
【００２４】
分光分布測定部１１０は、ＬＥＤ発光装置４００が照射する光を受光し、波長毎の強度を測定し、分光分布を取得する。
【００２５】
分光分布温度特性データ作成部１２０は、分光分布測定部１１０の測定結果に基づいて、ＬＥＤ発光装置４００の分光分布温度特性データ１６０を作成する。分光分布温度特性データ１６０は、ＬＥＤの温度毎の分光分布を記録したデータである。温度は一般の使用環境として想定される所定の範囲とすることができ、等間隔、不等間隔のいずれであってもよい。このため、分光分布温度特性データ作成部１２０は、温度変更部１３０を制御してＬＥＤ発光装置４００のＬＥＤ付近の温度を変更し、温度測定部１４０で、ＬＥＤ発光装置４００のＬＥＤ付近の温度を測定する。
【００２６】
温度変更部１３０は、冷却器、加熱器等を備えており、ＬＥＤ発光装置４００のＬＥＤ付近に配置され、ＬＥＤ発光装置４００のＬＥＤ付近の温度を変更する。ただし、ＬＥＤ発光装置４００のＬＥＤ付近の温度を変更する機構は冷却器、加熱器に限られない。
【００２７】
温度測定部１４０は、ＬＥＤ発光装置４００のＬＥＤ付近に配置され、ＬＥＤ発光装置４００のＬＥＤ付近の温度を測定し、分光分布温度特性データ作成部１２０に出力する。ただし、ＬＥＤ駆動電圧値等のＬＥＤ温度と相関を持つ物理量を測定することで、間接的にＬＥＤ付近の温度を推定するようにしてもよい。
【００２８】
温度特性近似式係数算出部１５０は、分光分布温度特性データ１６０を参照して、あらかじめ定められた基準温度の分光分布と、他の温度の分光分布との強度の比率を波長毎に算出する。そして、波長毎に温度と強度比率との関係を表わす近似式を求め、その近似式の係数と、基準温度における分光分布Ｓ0（λ）とを温度毎分光分布算出用データ１７０として出力する。温度と強度比率との関係を表わす近似式は、例えば、［数２］に示す２次式を用いることができる。
【数２】
2013134307.tif 000004
【００２９】
本式は、波長λについて、温度Ｔのときの光強度と、基準温度のときの光強度との比率がＲであることを示しており、本式を近似的に満たす係数ａλ、ｂλ、ｃλを波長毎に算出する。係数ａλ、ｂλ、ｃλが記録された温度毎分光分布算出用データ１７０により、ＬＥＤ発光装置４００の温度Ｔにおける分光分布が、基準温度における分光分布からどの程度変動しているかを把握することができる。すなわち、基準温度における分光分布Ｓ0（λ）から、図１１に示したような温度Ｔにおける分光分布ＳT（λ）を得ることができる。ただし、近似式の係数ではなく、温度毎の分光分布自体を温度毎分光分布算出用データ１７０に記録するようにしてもよい。また、係数が等しい波長はまとめて表現することができる。
【００３０】
温度毎分光分布算出用データ１７０は、ＬＥＤ発光装置４００毎に異なるため、ＬＥＤ発光装置４００のプロファイルデータとして扱うことができ、ＬＥＤ発光装置４００を光源として用いる装置に読み込ませることで、ＬＥＤ発光装置４００に対応した補正を行なうことができるようになる。
【００３１】
なお、分光分布温度特性測定装置１００の機能ブロックの一部または全部をＬＥＤ発光装置４００に組み込むようにしてもよい。例えば、温度変更部１３０、温度測定部１４０をＬＥＤ発光装置４００内に設けるようにしてもよい。
【００３２】
次に、本発明を適用した液晶表示装置を備えた電子機器について図２のブロック図を参照して説明する。本図に示すように、液晶表示装置２００は、バックライトにＬＥＤ発光装置４００を用いており、ＬＥＤ発光装置４００に対応した温度毎分光分布算出用データ１７０を読み込んで、駆動信号の温度補正を行なうことで安定したホワイトバランスのカラー表示を行なえるようになっている。
【００３３】
液晶表示装置２００は、液晶パネル２１０、温度毎ＲＧＢ補正値算出部２２０、温度測定部２３０、ＲＧＢ補正値取得部２４０、駆動回路部２５０を備えている。
【００３４】
液晶パネル２１０は、各画素がＲＧＢのサブ画素から構成されている。ＲＧＢのサブ画素は、それぞれ透過率ｒ（λ）、ｇ（λ）、ｂ（λ）のカラーフィルタで覆われており、駆動回路部２５０からの駆動信号に基づいてサブ画素液晶の透過率を変更し、バックライトであるＬＥＤ発光装置４００からの光を透過させることでカラー表示が行なえるようになっている。
【００３５】
温度毎ＲＧＢ補正値算出部２２０は、ＬＥＤ発光装置４００の温度毎分光分布算出用データ１７０を読み込んで、温度毎ＲＧＢ補正値データ２７０を生成する。この際に、液晶パネル２１０の波長毎ＲＧＢ透過率データ２６０を参照する。
【００３６】
波長毎ＲＧＢ透過率データ２６０は、ＲＧＢカラーフィルタの波長毎の透過率ｒ（λ）、ｇ（λ）、ｂ（λ）を記録したデータである。すなわち、基準温度におけるＬＥＤ発光装置４００の分光分布をＳ0（λ）とすると、上述の［数１］が成り立っている（ただし、式中のＳ（λ）をＳ0（λ）と読み替えるものとする）。
【００３７】
温度毎ＲＧＢ補正値データ２７０は、ＲＧＢ駆動信号に対する補正値を温度毎に定めたデータである。温度毎ＲＧＢ補正値算出部２２０は、ある温度ＴにけるＬＥＤ発光装置の分光分布ＳT（λ）を、温度毎分光分布算出用データ１７０に基づいて算出する。そして、温度Ｔにおけるホワイトバランスを示す［数３］が成り立つような補正値ｒT、ｇT、ｂTを算出する。
【数３】
2013134307.tif 000005
【００３８】
温度毎ＲＧＢ補正値算出部２２０は、補正値ｒT、ｇT、ｂTを、所定範囲内の温度Ｔ毎に算出し、算出された補正値ｒT、ｇT、ｂTを温度毎ＲＧＢ補正値データ２７０として記録する。
【００３９】
温度測定部２３０は、ＬＥＤ発光装置４００のＬＥＤ付近に配置され、ＬＥＤ発光装置４００のＬＥＤ付近の温度を測定し、ＲＧＢ補正値取得部２４０に通知する。
【００４０】
ＲＧＢ補正値取得部２４０は、温度毎ＲＧＢ補正値データ２７０を参照し、温度測定部２３０が測定した温度Ｔに対応した補正値ｒT、ｇT、ｂTを取得して駆動回路部２５０に通知する。
【００４１】
駆動回路部２５０は、外部の制御装置から入力されるＲＧＢ信号に基づいて液晶パネル２１０に駆動信号を出力する。本実施形態では、駆動回路部２５０は、ＲＧＢ補正値取得部２４０が取得した補正値ｒT、ｇT、ｂTに基づいて駆動信号を補正する出力補正部２５１を備えている。
【００４２】
出力補正部２５１は、ＲＧＢ信号に対応した駆動信号ｒs、ｇs、ｂsに対して、補正値ｒT、ｇT、ｂTを乗じた値を補正済駆動信号として液晶パネル２１０に出力する。補正値ｒT、ｇT、ｂTは、温度測定部２３０が測定した温度においてホワイトバランスが整うように設定された値である。このため、液晶表示装置２００は、温度変化によりＬＥＤ発光装置４００の分光分布が変動しても、基準温度と同じ色合いで表示することができるようになる。
【００４３】
なお、液晶表示装置２００に、分光分布温度特性測定装置１００の機能ブロックの一部、または全部を含めたり、液晶表示装置２００の機能ブロックの一部または全部をＬＥＤ発光装置４００に含めるようにしてもよい。
【００４４】
次に、本発明を適用した分光測定器を備えた電子機器について図３のブロック図を参照して説明する。本図に示すように、分光測定器３００は、照明の光源にＬＥＤ発光装置４００を用いており、ＬＥＤ発光装置４００に対応した温度毎分光分布算出用データ１７０を読み込んで、分光分布の温度補正を行なうことで安定した分光分布測定を行なえるようになっている。
【００４５】
試料台３１０上の試料からの反射光の分光分布を測定する分光測定器３００は、受光部３２０、光ファイバ３３０、分光分布測定部３４０、温度測定部３５０、温度補正値算出部３６０、分光分布補正部３７０を備えている。
【００４６】
受光部３２０、光ファイバ３３０、分光分布測定部３４０は、従来の分光測定器６００と同様である。すなわち、光源として用いられるＬＥＤ発光装置４００からの照射光は、試料３１２で反射し、受光部３２０に入射する。そして、光ファイバ３３０を介して分光分布測定部３４０に導かれる。分光分布測定部３４０は、反射光の波長毎の強度を測定し、分光分布データ３８０を作成する。
【００４７】
温度測定部３５０は、ＬＥＤ発光装置４００のＬＥＤ付近に配置され、ＬＥＤ発光装置４００のＬＥＤ付近の温度を測定し、温度補正値算出部３６０に通知する。
【００４８】
温度補正値算出部３６０は、温度毎分光分布算出用データ１７０を参照して、温度測定部３５０が測定した温度のときの光強度と、基準温度のときの光強度との比率を波長毎に算出して、分光分布補正部３７０に通知する。ある波長λについての温度Ｔにおける強度比率Ｒは［数２］にしたがって算出することができるため、この演算を各波長について行なえばよい。
【００４９】
分光分布補正部３７０は、分光分布測定部３４０が測定した分光分布データ３８０の各波長に、温度補正値算出部３６０が算出した対応する波長の強度比率の逆数を乗じて、補正後分光分布データ３８２を生成する。補正後分光分布データ３８２は、基準温度におけるＬＥＤから照射されたときの試料３１２からの反射光の分光分布とみなすことができる。このため、温度変化によりＬＥＤ発光装置４００の分光分布が変動しても、試料３１２の分析精度の低下を防止することができる。
【００５０】
次に、図１に示した分光分布温度特性測定装置１００の動作について、図４のフローチャートを参照して説明する。分光分布温度特性測定装置１００は、温度測定部１４０で、ＬＥＤ発光装置４００のＬＥＤ付近の温度を測定する（Ｓ１０１）。このとき、ＬＥＤ付近の初期温度を所定の温度にセットしておいてもよい。
【００５１】
次いで、分光分布測定部１１０が、ＬＥＤ発光装置４００の分光分布を測定する（Ｓ１０２）。測定した分光分布は、測定された温度と関連付けて分光分布温度特性データ１６０として記録する。
【００５２】
あらかじめ定めておいた測定する温度範囲について、測定すべき温度がある場合（Ｓ１０３：Ｎｏ）には、温度変更部１３０によりＬＥＤ付近の温度を変更させる（Ｓ１０４）。そして、温度を測定し（Ｓ１０１）、分光分布を測定する処理（Ｓ１０２）を繰り返す。このとき、基準温度における分光分布を測定対象に含めるようにする。
【００５３】
既定の温度範囲での測定が終了すると（Ｓ１０３：Ｙｅｓ）、温度特性近似式係数算出部１５０が、分光分布温度特性データ１６０を参照して、あらかじめ定められた基準温度の分光分布と、他の温度の分光分布との強度の比率を波長毎に算出する（Ｓ１０５）。そして、温度と強度比率との関係を表わす［数２］に示した近似式の係数を算出して、基準温度時の分光分布Ｓ0（λ）とともに温度毎分光分布算出用データ１７０として記録する（Ｓ１０６）。
【００５４】
次に、図２に示した液晶表示装置２００における温度毎ＲＧＢ補正値データ作成動作について図５のフローチャートを参照して説明する。本処理は、基本的に１度行なえばよい。ただし、温度毎分光分布算出用データ１７０が変更された場合には再度行なうようにする。
【００５５】
まず、温度毎ＲＧＢ補正値算出部２２０が、ＬＥＤ発光装置４００の温度毎分光分布算出用データ１７０を取得する（Ｓ２０１）。また、液晶パネル２１０のカラーフィルタについての波長毎ＲＧＢ透過率データ２６０を取得する（Ｓ２０２）。波長毎ＲＧＢ透過率データ２６０は、液晶パネル２１０の仕様や、実測等によりあらかじめ取得しておき、液晶表示装置２００内に記録しておく。
【００５６】
そして、温度毎ＲＧＢ補正値算出部２２０が、温度毎ＲＧＢ補正値データ２７０と、波長毎ＲＧＢ透過率データ２６０とから、［数３］にしたがって温度毎に補正値ｒT、ｇT、ｂTを算出し、温度毎ＲＧＢ補正値データ２７０として記録する（Ｓ２０３）。
【００５７】
次に、図２に示した液晶表示装置２００におけるＲＧＢ駆動信号補正動作について、図６のフローチャートを参照して説明する。本処理は、例えば、液晶表示装置２００の起動時や、起動してから所定時間経過時等に繰り返し行なうようにする。また、温度変化を検出した場合に行なうようにしてもよい。
【００５８】
まず、温度測定部２３０が、ＬＥＤ発光装置４００のＬＥＤ付近の温度を測定する（Ｓ３０１）。そして、ＲＧＢ補正値取得部２４０が測定温度に対応した補正値ｒT、ｇT、ｂTを温度毎ＲＧＢ補正値データ２７０から取得する（Ｓ３０２）。
【００５９】
外部の制御装置から入力されるＲＧＢ信号に基づく表示に際し、出力補正部２５１は、ＲＧＢ信号に対応した駆動信号ｒs、ｇs、ｂsに対して、補正値ｒT、ｇT、ｂTを乗じた値を補正済駆動信号として液晶パネル２１０に出力する（Ｓ３０３）。この処理は、表示毎に行なうようにする。これにより、リアルタイムで温度補正がなされ、ＬＥＤの温度変化にかかわらずホワイトバランスが整った表示となる。
【００６０】
次に、図３に示した分光測定器３００における分光分布補正動作について、図７のフローチャートを参照して説明する。まず、試料３１２からの反射光、あるいは、試料３１２を介さない直接光の分光分布の測定に先立ち、温度測定部３５０が、ＬＥＤ発光装置４００のＬＥＤ付近の温度を測定する（Ｓ４０１）。
【００６１】
そして、温度補正値算出部３６０が、温度毎分光分布算出用データ１７０を参照して、測定された温度における光強度と、基準温度における光強度との比率を波長毎に算出する（Ｓ４０２）。
【００６２】
以降は、分光分布測定部３４０が、試料３１２からの反射光の分光分布を測定して、分光分布データ３８０を生成する（Ｓ４０３）。そして、分光分布補正部３７０が、分光分布データ３８０の各波長に対して、温度補正値算出部３６０が算出した対応する波長の強度比の逆数を乗じて、補正後分光分布データ３８２を生成する処理（Ｓ４０４）を測定が終了するまで繰り返す（Ｓ４０５）。
【００６３】
これにより、ＬＥＤの温度変化にかかわらず、試料３１２からの分光分布が、基準温度における分光分布と同じになるため、温度変化による試料３１２の分析精度の低下を防止することができる。
【００６４】
なお、本実施形態では、半導体発光素子の温度変化による分光分布変動に着目したが、圧力、湿度、ＬＥＤを駆動する順電圧Ｖｆ等によって分光分布が変動する場合には、圧力、湿度、Ｖｆ等の変化に対応した補正にも本発明を適用することができる。Ｖｆを用いる場合には、ＬＥＤ駆動回路から電圧値を読み取ることができるため、温度等の測定部を省くことができる。また、温度毎ＲＧＢ補正値データ２７０に記録された補正値ｒT、ｇT、ｂTを人為的に変化させることにより、所望の補正を行なうことができる。さらには、温度毎ＲＧＢ補正値データ２７０と実際に測定された分光分布から、ＬＥＤ温度を推定することも可能となる。
【符号の説明】
【００６５】
１００…分光分布温度特性測定装置、１１０…分光分布測定部、１２０…分光分布温度特性データ作成部、１３０…温度変更部、１４０…温度測定部、１５０…温度特性近似式係数算出部、１６０…分光分布温度特性データ、１７０…温度毎分光分布算出用データ、２００…液晶表示装置、２１０…液晶パネル、２２０…温度毎ＲＧＢ補正値算出部、２３０…温度測定部、２４０…ＲＧＢ補正値取得部、２５０…駆動回路部、２５１…出力補正部、２６０…波長毎ＲＧＢ透過率データ、２７０…温度毎ＲＧＢ補正値データ、３００…分光測定器、３１０…試料台、３１２…試料、３２０…受光部、３３０…光ファイバ、３４０…分光分布測定部、３５０…温度測定部、３６０…温度補正値算出部、３７０…分光分布補正部、３８０…分光分布データ、３８２…補正後分光分布データ、４００…ＬＥＤ発光装置、４１０…発光パネル、４２０…ＬＥＤ駆動回路、５００…液晶表示装置、５１０…液晶パネル、５２０…駆動回路部、６００…分光測定器、６１０…試料台、６２０…受光部、６３０…光ファイバ、６４０…分光分布測定部、６８０…試料、６９０…分光分布データ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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