(57)【要約】【課題】ＤＶＤを記録媒体とする光ディスク装置において、記録媒体として一回限り記録が可能なＤＶＤ−Ｒを使用する場合、セットアップ時のＯＰＣと記録開始後のＷＯＰＣでは、光ディスクに照射するレーザ光の記録パワーと信号波形の設定を、短時間で行う必要がある。【解決手段】記録パワーに対する、ジッタ、ベータ、ＰＩエラーの特性ほか、２Ｔパルスの発生数の特性を測定する。例えばＷＯＰＣにおいて、所定の時間おきに記録パワーを再設定する場合には、２Ｔパルスの発生数に応じて再設定する。これにより簡単で短時間に記録パワーと信号波形を定めることができる。【選択図】図７
2013033574.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体である光ディスクにレーザ光を照射して情報データを記録する光ディスク装置であって、
記録する前記情報データに基づいて前記レーザ光を発生させるためのレーザ光源駆動部と、
該レーザ光源駆動部により駆動されて前記レーザ光を発生し前記光ディスクに照射するレーザ光源と、
前記光ディスクから反射された前記レーザ光を受光して前記光ディスクに記録された情報データを読取り電気信号に変換する光検出器と、
該光検出器が変換して得た前記電気信号が供給され該電気信号が有する所定の時間長のパルス信号を検出するパルス検出部と、
前記光ディスク装置の動作を制御するシステム制御部を有し、
該システム制御部は、
前記パルス検出部が検出した前記パルス信号の検出結果に基づき前記レーザ光源が発生するレーザ光の記録パワーを設定するよう、前記レーザ光源駆動部を制御することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置において、前記パルス検出部は、記録される前記情報データが有するパルスよりも時間長が短いパルスを検出することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスク装置において、前記光ディスクがＤＶＤである場合には、前記パルス検出部は、２Ｔパルスを検出することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記光検出器が変換して得た前記電気信号が供給され該電気信号が有するパルス信号のベータを検出するベータ検出部を有し、
前記システム制御部は、
前記ベータ検出部が検出したベータの検出結果と、前記パルス検出部が検出した前記パルス信号の検出結果に基づき前記レーザ光源が発生するレーザ光の記録パワーを設定するよう、前記レーザ光源駆動部を制御することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記光検出器が変換して得た前記電気信号が供給され該電気信号が有するパルス信号のジッタを検出するジッタ検出部を有し、
前記システム制御部は、
前記ジッタ検出部が検出したジッタの検出結果と、前記パルス検出部が検出した前記パルス信号の検出結果に基づき前記レーザ光源が発生するレーザ光の記録パワーを設定するよう、前記レーザ光源駆動部を制御することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記光検出器が変換して得た前記電気信号が供給され該電気信号が有するデータの誤りを検出する誤り検出部を有し、
前記システム制御部は、
前記誤り検出部が検出したデータの誤りの検出結果と、前記パルス検出部が検出した前記パルス信号の検出結果に基づき前記レーザ光源が発生するレーザ光の記録パワーを設定するよう、前記レーザ光源駆動部を制御することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
請求項６に記載の光ディスク装置において、前記システム制御部は、前記誤り検出部が検出したＰＩエラーの検出結果に基づき前記レーザ光源が発生するレーザ光の記録パワーを設定するよう、前記レーザ光源駆動部を制御することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
記録媒体である光ディスクにレーザ光を照射して情報データを記録する光ディスク装置における、前記情報データを記録する前の段階であるセットアップ時の記録パワーの制御方法であって、
前記記録パワーに対する、再生信号のジッタ、及び記録する前記情報データが有するパルスよりも時間長が短いパルスの検出数を含むパラメータを測定する測定ステップと、
該測定ステップにおいて測定された前記パラメータに基づき前記記録パワーを第１の値に設定する第１の設定ステップと、
記録する前記情報データが有するパルスよりも時間長が短いパルスの検出数を再度測定し、該測定結果に基づき前記決定ステップで決定された前記第１の値を補正して前記記録パワーを第２の値に設定する第２の設定ステップ
を有することを特徴とする光ディスク装置における記録パワーの制御方法。
【請求項９】
記録媒体である光ディスクにレーザ光を照射して情報データを記録する光ディスク装置における、前記情報データの記録を開始した後の段階で用いられる記録パワーの制御方法であって、
前記記録パワーに対する、記録する前記情報データが有するパルスよりも時間長が短いパルスの検出数を含むパラメータを測定する測定ステップと、
該測定ステップにおいて測定された前記パラメータに基づき前記記録パワーを設定する設定ステップ
を有することを特徴とする光ディスク装置における記録パワーの制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置、及び光ディスク装置における記録パワーの制御方法に係り、特に光ディスクに照射するレーザ光の記録パワーと信号波形の設定を短時間で行う光ディスク装置、及び光ディスク装置における記録パワーの制御方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置の分野では、記録媒体である光ディスクに対して情報を記録するに際し、照射するレーザ光の記録パワーと信号波形を短時間で設定するための技術が重要である。
特許文献１においては、記録したテストデータを再生した際のスペース値の異常を検出して、レーザ光の記録パワーの誤った設定を防止する技術が開示されている。
特許文献２においては、記録したテストデータを再生した際のベータ値とジッタ分布に基づき、最適記録パワーを設定する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００３−９１８２３号公報
【特許文献２】特開２００７−３３５０４２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
光ディスク装置の分野では情報の記録媒体として、高速度記録が容易であり、価格が廉価である追記型光ディスクが汎く用いられている。該光ディスクは、ＤＶＤ−Ｒ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｋ  Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）、ＢＤ−Ｒ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｋ  Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）の名称で広く知られている。追記型光ディスクは情報の記録が一回だけ可能な記録媒体であり、誤った条件で情報を記録しないようにすることが重要である。このため、例えば記録動作中における周辺温度の変化により最適記録パワーが変わった際には、短時間で記録パワーを補正せねばならない。
【０００５】
特許文献１と特許文献２に開示する技術においては、光ディスク装置のセットアップ時に記録再生した複数の信号のマーク（スペース）値を用いて、レーザ光の記録パワーを定めているが、過程が複雑であり、記録パワーと信号波形を設定するまでの時間が長いという問題がある。
本発明の目的は前記した問題に鑑み、光ディスクに照射するレーザ光の記録パワーと信号波形の設定を短時間で行う光ディスク装置、及び光ディスク装置における記録パワーの制御方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
前記課題を解決するため本発明は、記録媒体である光ディスクにレーザ光を照射して情報データを記録する光ディスク装置であって、記録する前記情報データに基づいて前記レーザ光を発生させるためのレーザ光源駆動部と、該レーザ光源駆動部により駆動されて前記レーザ光を発生し前記光ディスクに照射するレーザ光源と、前記光ディスクから反射された前記レーザ光を受光して前記光ディスクに記録された情報データを読取り電気信号に変換する光検出器と、該光検出器が変換して得た前記電気信号が供給され該電気信号が有する所定の時間長のパルス信号を検出するパルス検出部と、前記光ディスク装置の動作を制御するシステム制御部を有し、該システム制御部は、前記パルス検出部が検出した前記パルス信号の検出結果に基づき前記レーザ光源が発生するレーザ光の記録パワーを設定するよう、前記レーザ光源駆動部を制御することを特徴としている。
【０００７】
また本発明は、記録媒体である光ディスクにレーザ光を照射して情報データを記録する光ディスク装置における、前記情報データを記録する前の段階であるセットアップ時の記録パワーの制御方法であって、前記記録パワーに対する、再生信号のジッタ、及び記録する前記情報データが有するパルスよりも時間長が短いパルスの検出数を含むパラメータを測定する測定ステップと、該測定ステップにおいて測定された前記パラメータに基づき前記記録パワーを第１の値に設定する第１の設定ステップと、記録する前記情報データが有するパルスよりも時間長が短いパルスの検出数を再度測定し、該測定結果に基づき前記決定ステップで決定された前記第１の値を補正して前記記録パワーを第２の値に設定する第２の設定ステップを有することを特徴としている。
【０００８】
また本発明は、記録媒体である光ディスクにレーザ光を照射して情報データを記録する光ディスク装置における、前記情報データの記録を開始した後の段階で用いられる記録パワーの制御方法であって、前記記録パワーに対する、記録する前記情報データが有するパルスよりも時間長が短いパルスの検出数を含むパラメータを測定する測定ステップと、該測定ステップにおいて測定された前記パラメータに基づき前記記録パワーを設定する設定ステップを有することを特徴としている。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、光ディスクに照射するレーザ光の記録パワーと信号波形の設定を短時間で行う光ディスク装置、及び光ディスク装置における記録パワーの制御方法を提供でき、記録媒体の有効利用と光ディスク装置の動作速度の向上に寄与できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の一実施例における光ディスク装置のブロック図である。
【図２】レーザ光の記録パワーとベータの関係の一例を示す特性図である。
【図３】レーザ光の記録パワーと各パラメータの関係の一例を示す特性図である。
【図４】再生されたパルス波形の一例を示す波形図である。
【図５】レーザ光の記録パワーに対するベータと２Ｔパルス発生頻度の関係の一例を示す特性図である。
【図６】本発明の一実施例におけるセットアップ時のＯＰＣの動作フロー図である。
【図７】本発明の一実施例におけるＷＯＰＣの動作フロー図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明の実施例につき図面を用いて説明する。本実施例は前記したように、特に光ディスクに照射するレーザ光の記録パワーと信号波形の設定に係るものであるが、これに関して詳しく説明する前に、本実施例が適用される光ディスク装置全体の構成について述べる。
図１は、本発明の一実施例における光ディスク装置のブロック図である。図１の光ディスク装置は、ＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）をはじめとするホスト装置（図示せず）からの制御に基づき、光ディスク１に例えば映像や音声に係るデータを記録し、また再生する。以下では、ホスト装置との関係については省略し、本実施例の直接関わる光ディスク装置（ドライブ装置）について述べることとする。
【００１２】
記録媒体である光ディスク１は、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｋ）、ＤＶＤ、ＢＤなどである。もちろん、ＢＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒをはじめとする一回のみ記録が可能な追記型、ＢＤ−ＲＥやＤＶＤ−ＲＡＭをはじめとする書換え型のいずれを用いても良い。
装着された光ディスク１は、シャフト２Ａを介してスピンドルモータ２により回転駆動される。そのための駆動制御信号は、システム制御部１５が有する回転制御部１５Ａから供給されている。図示していないが、スピンドルモータ２は回転数検出部を含んでおり、スピンドルモータ２の回転数に関する情報を回転制御部１５Ａに供給している。
【００１３】
光ピックアップ３は、レーザ光束３Ｅを光ディスク１の記録面に照射し、データを記録または再生する。すなわち、記録する符号化データに基づき変調されたレーザ光がＬＤ（Ｌａｓｅｒ  Ｄｉｏｄｅ）をはじめとする半導体レーザ光源３Ａで発生され、ビームスプリッタ３Ｂを通過し、立上げミラー３Ｃで反射され、対物レンズ３Ｄで光ディスク１に対してフォーカス合せをされてレーザ光束３Ｅとされ、光ディスク１の記録面に照射され、データを記録する。データを再生する際は、光ディスク１の記録ピットに応じて変調された反射光であるレーザ光束３Ｅが、対物レンズ３Ｄを介して立上げミラー３Ｃで反射され、ビームスプリッタ３Ｂの接合面でも反射され、光検出器３Ｆで電気信号に変換されながら、再生信号として検出される。なお、ここで示した光ピックアップ３の構成は簡略化された一例である。例えば拡散光を平行光に変換するコリメートレンズをさらに有し、また構成要素の配列が異なるものなど別な例もあるが、本実施例においては、いずれを用いても良い。
【００１４】
光ピックアップ３は、スレッド機構（図示せず）に搭載されており、光ディスク１に対し半径方向に移動して所定のトラック位置においてデータの記録再生を行う。また対物レンズ３Ｄはアクチュエータ（図示せず）に搭載されており、システム制御部１５が有するフォーカス／トラッキング制御部１５Ｂで生成される制御信号に基づき、レーザ光束３Ｅが光ディスク１の所定の記録トラック上に正しくフォーカスし、トラックトレースするように位置を微調整される。
【００１５】
次に信号回路部の動作について説明する。まずデータ記録時は、ホスト装置（図示せず）から入力端子４Ａを介して、入出力回路５に記録データが供給される。元の信号が動画像の映像信号である場合には、例えばＭＰＥＧ（Ｍｏｖｉｎｇ  Ｐｉｃｔｕｒｅ  Ｅｘｐｅｒｔｓ  Ｇｒｏｕｐ）方式によりデータ圧縮された記録データが供給される。これはバッファメモリ６に一時的に格納される。記録信号処理回路７は、メモリ６から所定量のデータを読み出したうえで、エラー訂正符号を付加し、また符合の発生確率に応じた符号化のための変調処理などを行って記録信号を生成する。ライトパルス生成回路８は前記した記録信号を受けて、これをレーザ発光パルス列に変換する。さらにＬＤＤ（Ｌａｓｅｒ  Ｄｉｏｄｅ  Ｄｒｉｖｅｒ）９は前記レーザ発光パルス列を受けて、さきのＬＤ（３Ａ）を駆動できるように電力増幅して、ピックアップ３のＬＤ（３Ａ）に供給する。これにより、記録信号は光ディスク１へ記録される。
【００１６】
なお、ライトパルス生成回路８は生成するレーザ発光パルス列の波形に関し、ＬＤＤ９はＬＤ（３Ａ）に供給するレーザ発光パルス列の振幅に関し、システム制御部１５が有する発光制御部１５Ｃから供給される制御信号によって制御されている。即ち、光ディスク１に照射するレーザ光の記録パワーと信号波形は、発光制御部１５Ｃからの制御に応じて、ライトパルス生成回路８とＬＤＤ９により設定される。
【００１７】
一方再生時には、光検出器３Ｆで検出された電気信号としての再生信号が、ＡＦＥ（Ａｎａｌｏｇ  Ｆｒｏｎｔ  Ｅｎｄ）回路１０に供給される。ＡＦＥ回路１０は、ディジタル記録であっても本質的にはアナログ信号として扱うべき段階での、前記再生信号の処理を行う。これはプッシュプル信号処理回路１０Ａ（図中のＰＰ処理）とＥＱ（Ｅｑｕａｌｉｚｅｒ）回路１０Ｂを含んでいる。プッシュプル信号処理回路１０Ａは、再生信号を演算処理してＴＥ（Ｔｒａｃｋｉｎｇ  Ｅｒｒｏｒ）信号や信号やＦＥ（Ｆｏｃｕｓ  Ｅｒｒｏｒ）信号を生成し、システム制御部１５のフォーカス／トラッキング制御部１５Ｂに供給する。フォーカス／トラッキング制御部１５Ｂは、供給されたＴＥ信号やＦＥ信号に基づきトラッキング用とフォーカス用のサーボ信号を生成し、光ピックアップ３に供給してその動作を制御する。なお、ＴＥ信号やＦＥ信号の詳しい生成方法については、本発明の主眼ではないので記載を省略する。
【００１８】
一方ＥＱ回路１０Ｂにおいて再生信号は、光ピックアップ３と光ディスク１でデータを記録再生した際の、振幅や位相の周波数特性が等化され、再生信号の波形が記録時の信号波形に極力近づくようにされる。次いで二値化／ストローブ回路１１では、再生信号が二値化されたうえで、再生された動作クロック（ＤＶＤの場合は、２６．１６ＭＨｚ）に基づき再生データとして確定される。さらにＤＥＭ（Ｄｅｍｏｄｕｌａｔｏｒ）回路１２で、前記した記録信号処理回路７での符号化変調処理が復調され、ＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ  Ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）回路１３で記録再生過程におけるエラー訂正処理が施される。これはＥＣＣＤＥＴ（Ｄｅｔｅｃｔｏｒ）回路１４で、前記した記録信号処理回路７で付加されたエラー訂正符号に基づいてエラーを検出した際に機能する。ＥＣＣ回路１３において必要なエラー訂正を施された再生データは、バッファメモリ６に一時的に格納される。バッファメモリ６に格納された再生データは、入出力回路５と出力端子４Ｂを介してホスト装置（図示せず）へ逐次転送される。
【００１９】
なお、さきのＥＣＣＤＥＴ回路１４の出力は、システム制御部１５にも供給されている。例えば、一度記録されたデータが、再生時にＥＣＣ回路１３でエラー訂正できる程度の品質で記録できたかをシステム制御部１５が確認する（ベリファイと呼ぶ）際に、前記出力が使用される。また後記するように、本実施例においてＰＩ（Ｐａｒｉｔｙ  Ｉｎｎｅｒ）エラーに基づいて、光ディスク１に照射するレーザ光の記録パワー、または信号波形をシステム制御部１５が設定する際にも、前記出力が使用される。
【００２０】
さらに図１においては、再生信号における２Ｔパルスの発生頻度を検出するための２Ｔパルス検出回路１６と、再生信号のベータを検出するためのベータ検出回路１７を備えている。
ＤＶＤにおいては、記録再生されるパルス信号は３Ｔから１１Ｔ、及び１４Ｔパルス（１Ｔはクロック信号であって２６．１６ＭＨｚ）である。即ち、クロック信号に対して３倍から１１倍、及び１４倍の周期を有するパルスである。したがい、２Ｔパルスが再生信号に含まれていれば、何らかの異常があることとなる。本発明の実施例においては後に詳しく説明するように、所定数以上の２Ｔパルスが発生した場合に、例えばレーザ光の記録パワーの設定が不適当であると判定することを、一つの特徴としている。このため、２Ｔパルス検出回路１６が設けられている。２Ｔパルス検出回路１６には、二値化／ストローブ回路１１で再生データが確定された後の再生データが供給される。２Ｔパルスの検出結果は、システム制御部１５に供給される。
【００２１】
二値化／ストローブ回路１１は、再生データを確定するためのクロック信号を有している。このクロック信号は再生信号から得られた周期が１Ｔの信号であり、立上り、及び立下りのエッジはジッタと呼ばれる時間軸変動を有している。後記するように、ジッタもレーザ光の記録パワーに対する依存性を有しているため、これを最適値とするように記録パワーを制御する方法もある。このためには、二値化／ストローブ回路１１または２Ｔパルス検出回路１６でジッタを検出して、システム制御部１５に供給すると良い。ここでは、２Ｔパルス検出回路１６でジッタも検出する例を示す。
【００２２】
また、後に詳しく説明するが、例えばレーザ光の記録パワーに応じて再生信号におけるベータが変化するため、これを最適値とするように記録パワーを制御する方法もある。ベータとは、光ディスクから再生された再生パルスの高電位側（光ディスクのピットに相当する）と低電位側（光ディスクのランドに相当する）の振幅中心電位のシフト量を示す。一般には、周期の長いパルスは短いパルスと比較してシフト量が少ないため、１１Ｔパルスの振幅中心電位に対する３Ｔパルスの振幅中心電位の差を求め、パルス振幅に対する割合（％）を求めてベータとしている。これを求めるため、図１においてはベータ検出回路１７が設けられている。ベータの検出には、ＡＦＥ回路１０以下での信号処理を行う前の再生信号を用いる必要があるため、例えば光検出器３Ｆの出力を用いて検出される。その検出結果は、システム制御部１５に供給される。
【００２３】
以上のように本実施例においては、レーザ光の記録パワーと信号波形を設定するために、２Ｔパルス検出回路１６、ベータ検出回路１７をはじめ、前記したジッタ検出部を有し、これらで検出された情報をシステム制御部１５に供給しても良く、またＥＣＣＤＥＴ回路１４で得たＰＩエラーの情報を同じ目的でシステム制御部１５に供給しても良い。しかし、最も代表的な特徴は、２Ｔパルス検出回路１６で検出された情報に基づき、発光制御回路１５Ｃがレーザ光の記録パワーと信号波形を制御することにある。
図１で示した構成要素の内いくつかは、ハードウェア的な構成要素ではなく、ソフトウェア、またはファームウェアによる処理プログラムにより実施されても良い。ベータ検出回路１７は、ＡＦＥ回路１０と同じ半導体基板上に形成されても良い。また、２Ｔパルス検出回路１６は、ＤＥＭ回路１２と同じ半導体基板上に形成されても良い。さらには、図１で示した構成要素のうち、電気回路的な構成要素の多く、又は全てが同じ半導体基板上に形成されても良い。
【００２４】
次に、レーザ光の記録パワーと各パラメータの関係について説明する。
図２は、レーザ光の記録パワーとベータの関係の一例を示す特性図である。
図３は、レーザ光の記録パワーと各パラメータの関係の一例を示す特性図であり、パラメータとして、２Ｔマーク数（２Ｔパルスのマーク長に相当したマークの検出数）、ジッタとＰＩエラーが示されている。以下、図２と図３を対応させながら説明を続ける。
【００２５】
図２において、レーザ光の記録パワー（横軸）が増加すると、光ディスク上においてランドの領域に対してピットの領域が増加するために、ベータ（縦軸）が単調に増加している。一般には、ベータが０となる付近に記録パワーの最適値が存在する。
図３において、レーザ光の記録パワー（横軸）が増加すると、２Ｔマーク数、ジッタ、ＰＩエラーのいずれにおいても図の中央付近で最小となる領域があり、この領域に記録パワーの最適値が存在する。
【００２６】
しかしながら、図２でベータがゼロとなる記録パワーと、図３で各パラメータが最小となる記録パワーは必ずしも一致せず、いくらかの差があることが知られている。このため従来は、ベータを含む複数のパラメータを参照しながらも、例えばＰＩエラー、或いはジッタが最小となる記録パワーを最も重視して、記録パワーを定めるようにしていた。このため、定められた記録パワーにおけるベータは、必ずしも０ではなかった。
【００２７】
本発明の実施例においては、前記したような複数のパラメータを参照しながら最適記録パワーを定める方法を、必要に応じて使用するようにしてはいるが、従来とは異なり、２Ｔマーク（またはスペース）の検出結果を優先して記録パワーを定めることを、一つの特徴としている。或いは、２Ｔマーク（またはスペース）の検出結果のみを用いて記録パワーを定めても良い。
【００２８】
本実施例で２Ｔパルスに相当するマークやスペースの数を用いる理由は、図３で示すように、記録パワーが最適値からずれた際の増加が急峻であり、また検出が容易であって、短時間で正確なパワー制御ができるためである。特に、２Ｔパルスのマーク数、スペース数のみに基づいて制御すれば、他のパラメータよりも短時間に制御を完結でき、そのための制御部のハードウェアやソフトウェアも小規模で済ませることができるという効果がある。
【００２９】
図３における破線の矢印につき、（１）と（３）は２Ｔマークの検出数が所定の動作範囲となる記録パワーの上限と下限を示す。（０）は（１）と（３）の間に存在する例えばＰＩエラー、或いはジッタが最小となる記録パワーである。（２）と（４）は動作限界となる記録パワーの上限と下限を示す。記録パワーが（２）よりも大きい、または（４）よりも小さい場合には、例えばＥＣＣ回路１３における再生時のエラー訂正処理が、所定の品質を満たさなくなる。（１）と（２）における２Ｔマーク検出の所定数は、システム制御部１５が内蔵する記憶部（図示せず）に記憶されている。（３）は（１）と、（４）は（２）とで２Ｔマーク検出の所定数は同等である。
【００３０】
なお、例えば（１）と（２）においては、２Ｔマークではなく、２Ｔスペースの検出数により前記した記録パワーの上限を規定しても良い。後記するように記録パワーの変化に伴い、２Ｔマークよりも２Ｔスペースの検出数に先に変化が現れることがある。この場合は２Ｔスペースを用いると、より精度良く記録パワーを設定することができる。
図２における破線の矢印は、図３の同じ括弧内番号の矢印に相当する点を表わしている。前記したように、ＰＩエラー、或いはジッタが最小となる記録パワーにおけるベータは、０とは限らない。
【００３１】
次に、再生信号における３Ｔパルスに重畳されるジッタと、２Ｔパルスに相当するマークとスペースの発生について説明する。前記したようにＤＶＤの場合、光ディスクに記録された信号には２Ｔパルスは存在しない。再生信号から２Ｔパルスに相当するマークかスペースが検出されたとすれば、例えば３Ｔパルスの波形が崩れて発生したこととなる。
図４は、再生されたパルス波形の一例を示す波形図であり、パルスは３Ｔパルスであるとする。
図５は、レーザ光の記録パワーに対する２Ｔパルス発生頻度とベータの関係の一例を示す特性図であり、発生した２Ｔパルスの成分が２Ｔマークである場合と２Ｔスペースである場合に分けて示している。
【００３２】
図４において、レーザ光の記録パワーを上昇させると３Ｔパルスのマーク部が広がり、これに伴いスペース部が短くなる。但し、記録層の感度ムラ、レーザ光の強度の時間変動をはじめとする要因のために、一様にマーク部が広がるのではなく、マーク部とスペース部の境界におけるジッタの増加として現れる。
図５で示すように、前記ジッタの増加により、まず２Ｔスペースが検出される。２Ｔスペースは、記録パワーの増大に伴い、例えば３Ｔパルスのスペース部が短縮されることにより、順次増大する。さらに記録パワーを増加させると３Ｔパルスのマーク部が壊されるため、２Ｔマークが検出される。２Ｔマークは記録パワーの増大に伴い、急激に増大する。このため、２Ｔパルス成分の検出をすることによる記録パワーの制御は、短時間で精度良く行うことができる。
なお、レーザ光の記録パワーが過大な場合に３Ｔパルスのマーク部が壊される現象は、３Ｔパルスに隣接して周期の長いパルスが記録された場合に多発し、隣接したパルスのマーク部が広がるに伴い、３Ｔパルスのマーク部が破壊されることに起因すると言われる。
【００３３】
次に、以上で示したブロック図、特性図、波形図を参照しながら、本発明の実施例の動作フロー図を説明する。
図６は、本発明の一実施例におけるセットアップ時のＯＰＣの動作フロー図である。
周知のとおり、光ディスク装置におけるレーザ光の記録パワーを設定するＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）動作には、実際に情報データを記録する前の段階、即ちセットアップ状態でのＯＰＣと、情報データの記録中に随時行われるＷＯＰＣ（Ｗａｌｋｉｎｇ  ＯＰＣ）の二つがある。図６では、このうち特にセットアップ時のＯＰＣを表わしている。
【００３４】
ステップＳ６１では、システム制御部１５は、発光制御部１５ＣからＬＤＤ９を制御して光ディスク１の所定位置に所定のパルス信号を記録して再生し、レーザ光の記録パワーに対する再生信号のベータ、ジッタ、２Ｔマーク、２Ｔスペースを検出して、図２、図３と図５で一例を示した特性に対応する特性を測定する。ジッタ、或いは２Ｔマークと２Ｔスペースは２Ｔ検出回路１６で、ベータはベータ検出回路１７で検出されて、システム制御部１５に供給される。
【００３５】
次にステップＳ６２では、システム制御部１５は、ステップＳ６１で得た記録パワーに対するベータの関係から、ベータが最小となる記録パワーを求める。
次にステップＳ６３では、システム制御部１５は、ステップＳ６１で得た記録パワーに対するジッタの関係から、ジッタが最小となる記録パワーを求める。さらにステップＳ６２で得た記録パワー値も参照し、双方を考慮して記録パワーを決定する。
【００３６】
さらにステップＳ６４以下のステップでは、ステップＳ６３で決定された記録パワーの妥当性を、２Ｔマーク、２Ｔスペースの発生数を参照して確認する。
ステップＳ６４では、システム制御部１５は、図３又は図５における（１）を定める２Ｔマーク又は２Ｔスペースの発生数の所定値（１）と比較して、現在の２Ｔマーク又は２Ｔスペースの発生数が少ないか否かを判定する。
【００３７】
ステップＳ６４での判定の結果、２Ｔマーク又は２Ｔスペースの発生数が所定値（１）よりも少ない場合には（図中のＹＥＳ）、ステップＳ６３で決定された記録パワーは妥当な値と考えられる。このためステップＳ６５では、システム制御部の発光制御部１５Ｃは、レーザ光の記録パワーをステップＳ６３で決定されたパワーに設定するようＬＤＤ９を制御して、フローを終了する。
ステップＳ６４での判定の結果、現在の２Ｔマーク又は２Ｔスペースの発生数が所定値（１）よりも多い場合には（図中のＮＯ）、ステップＳ６３で決定された記録パワーは妥当な値ではないと考えられるため、ステップＳ６６に到る。
【００３８】
ステップＳ６６では、システム制御部１５は、図３又は図５における（２）を定める２Ｔマーク又は２Ｔスペースの発生数の所定値（２）と比較して、現在の２Ｔマーク又は２Ｔスペースの発生数が少ないか否かを判定する。
ステップＳ６６での判定の結果、現在の２Ｔマーク又は２Ｔスペースの発生数が所定値（２）よりも少ない場合には（図中のＹＥＳ）、ステップＳ６３で決定された記録パワーはやや妥当ではないながら、極端に最適値からずれてはいないと考えられる。このためステップＳ６７では、システム制御部の発光制御部１５Ｃは、レーザ光の記録パワーをステップＳ６３で決定されたパワーよりも、所定量△１だけ小さく設定するようＬＤＤ９を制御して、フローを終了する。△１は、図３又は図５の（１）における記録パワーと（２）における記録パワーの差の、例えば１／２倍から等倍程度とすると良い。また記録パワーを前記したように小さく設定することにより、妥当な値となったか否かをさらに判定するため、ステップＳ６７の終了後にステップＳ６４に戻るフローがあっても良い。
【００３９】
ステップＳ６６での判定の結果、現在の２Ｔマーク又は２Ｔスペースの発生数が所定値（２）よりも多い場合には（図中のＮＯ）、ステップＳ６３で決定された記録パワーは妥当でなく、再生時のエラー訂正が充分にできないまでに状態が良くないと考えられる。このためステップＳ６８では、システム制御部の発光制御部１５Ｃは、レーザ光の記録パワーをステップＳ６３で決定されたパワーよりも、所定量△２だけ小さく設定するようＬＤＤ９を制御して、フローを終了する。△２は、図３又は図５の（２）における記録パワーと（０）における記録パワーの差に対して、例えば同等程度とすると良い。また記録パワーを前記したように小さく設定することにより、妥当な値となったか否かをさらに判定するため、ステップＳ６８の終了後にステップＳ６４に戻るフローがあっても良い。
なお、これまで図６においては、ステップＳ６３で記録パワーが大きめに決定された場合を述べているが、小さめに決定された場合、即ち図３で（３）（４）の方向に決定された場合も同様であり、ステップＳ６７とＳ６８においては逆に記録パワーを大きい方向に設定し直せば良いことは言うまでもない。
【００４０】
前記したとおり、図６は外部のホスト装置から供給されたユーザデータを実際に記録するに先立って行われる、プリセット時のＯＰＣ動作を示す。この場合は、例えばＤＶＤ−Ｒのように１回のみ記録可能な記録媒体を使用する場合であっても、実際にユーザデータを記録している場合と比べれば、さほど高速なＯＰＣ動作は要求されない。したがい、例えばベータ、ジッタ、２Ｔパルスの発生数を含めて多くのパラメータに基づき、レーザ光の記録パワーを設定している。しかし、プリセット時のＯＰＣ動作において、図４のステップＳ６４以降を使用して２Ｔパルスの発生数のみから、記録パワーを設定するようにしても良く、この場合は設定をさらに短時間で行う効果がある。
【００４１】
次に、図６で述べたセットアップ時のＯＰＣを行い、さらに実際にユーザデータの記録を開始した後に随時行われる、ＷＯＰＣの動作について説明する。
図７は、本発明の一実施例におけるＷＯＰＣの動作フロー図である。なお、図７ではＷＯＰＣを行う以前、情報データの記録を開始する以前に行われるセットアップ状態のＯＰＣのステップも、ステップＳ７１とＳ７２として最初の部分に含まれている。
【００４２】
ステップＳ７１は図６のステップＳ６１に、ステップＳ７２は図６のステップＳ６２に対応したセットアップ時のＯＰＣ動作を行う。なお、ここでは一例としてシステム制御部１５がＥＣＣＤＥＴ回路１４から供給されたＰＩエラーの情報も含めて、レーザ光の記録パワーを決定する例を示している。ＤＶＤの場合、ＰＩエラーの情報はＰＯ（Ｐａｒｉｔｙ  Ｏｕｔｅｒ）エラーの情報と比較して１６倍の頻度で得ることができるので、ＰＩエラーを利用した方が、より精度の良い検出をすることができる。
【００４３】
セットアップ時のＯＰＣが終了した後ステップＳ７３では、システム制御部１５は、ユーザデータの記録を開始し、さらに発光制御部１５Ｃを用いて例えば分オーダの時間おきにＷＯＰＣを実施して、温度をはじめとする周辺環境の変化に対応するべく、改めて記録パワーを設定する。この段階のＷＯＰＣにおいては、２Ｔパルスの発生数のみならず、ＰＩエラー、ベータ、ジッタをはじめとするパラメータを含めて、レーザ光の記録パワーを設定し直しても良い。例えば、図３におけるジッタ又はＰＩエラーが最小となるベータ（図中の（０）でのベータに相当し、目標ベータとも呼ぶ）を目標として、レーザ光の記録パワーを設定し直すと良い。
【００４４】
一方でＷＯＰＣは、ユーザデータを記録中の限られた時間で行われる必要がある。また、前記したように、例えばＤＶＤ−Ｒでは記録エリアを無駄なく使用するためにも、記録パワーが短時間で妥当な値に設定される必要がある。このため、本実施例においては、以下で述べるＷＯＰＣ動作では２Ｔパルスの発生数を検出することにより、レーザ光の記録パワーを設定し直すようにしている。
ステップＳ７４では、システム制御部１５は、図３又は図５における（１）を定める２Ｔマーク又は２Ｔスペースの発生数の所定値（１）と比較して、現在の２Ｔマーク又は２Ｔスペースの発生数が少ないか否かを判定する。
【００４５】
ステップＳ７４での判定の結果、現在の２Ｔマーク又は２Ｔスペースの発生数が所定値（１）よりも少ない場合には（図中のＹＥＳ）、ステップＳ７３で決定された記録パワーは妥当な値と考えられる。このためステップＳ７５では、システム制御部の発光制御部１５Ｃは、レーザ光の記録パワーをステップＳ７３で決定されたパワー、例えばベータが目標ベータとなるパワーに設定するようＬＤＤ９を制御して、フローを終了する。
ステップＳ７４での判定の結果、現在の２Ｔマーク又は２Ｔスペースの発生数が所定値（１）よりも多い場合には（図中のＮＯ）、ステップＳ７３で決定された記録パワーは既に妥当な値ではないと考えられるため、ステップＳ７６に到る。
【００４６】
ステップＳ７６では、システム制御部１５は、図３又は図５における（２）を定める２Ｔマーク又は２Ｔスペースの発生数の所定値（２）と比較して、現在の２Ｔマーク、２Ｔスペースの発生数が少ないか否かを判定する。
ステップＳ７６での判定の結果、現在の２Ｔマーク又は２Ｔスペースの発生数が所定値（２）よりも少ない場合には（図中のＹＥＳ）、ステップＳ６３で決定された記録パワーはやや妥当ではないながら、極端に最適値からずれてはいないと考えられる。
【００４７】
このためステップＳ７７では、システム制御部の発光制御部１５Ｃは、ベータが図２の（１）から目標の（０）の方向に変化するよう、レーザ光の記録パワーをステップＳ７３で決定されたパワーよりも所定量△１だけ小さくするよう、ＬＤＤ９を制御する。さらに必要に応じて、ＷＯＰＣを行う時間間隔を短くし、周辺環境の変化に素早く対応できるようにして、フローを終了する。△１は、図３又は図５の（１）を定める記録パワーと（２）を定める記録パワーの差の、例えば１／２倍から等倍程度とすると良い。また記録パワーを前記したように小さく設定することにより、妥当な値となったか否かをさらに判定するため、ステップＳ７７の終了後にステップＳ７４に戻るフローがあっても良い。
ステップＳ７６での判定の結果、現在の２Ｔマーク又は２Ｔスペースの発生数が所定値（２）よりも多い場合には（図中のＮＯ）、ステップＳ７３で決定された記録パワーは妥当でなく、再生時のエラー訂正が充分にできないほどに状態が良くないと考えられる。
【００４８】
このためステップＳ７８では、システム制御部の発光制御部１５Ｃは、ベータが図２の（２）から目標の（０）の方向に変化するよう、レーザ光の記録パワーをステップＳ７３で決定されたパワーよりも所定量△２だけ小さく設定するよう、ＬＤＤ９を制御する。△２は、図３又は図５の（２）を定める記録パワーと（０）を定める記録パワーの差に対して、例えば同等程度とすると良い。さらに必要に応じて、ＷＯＰＣで多用されるように発光制御部１５Ｃがライトパルス生成回路８を制御してレーザ光の信号波形を調整することで、さらに２Ｔパルスの発生を低減するようにして、フローを終了する。また記録パワーを前記したように小さく設定することにより、妥当な値となったか否かをさらに判定するため、ステップＳ７８の終了後にステップＳ７４に戻るフローがあっても良い。
なお、これまで図７においては、ステップＳ７３で決定された記録パワーが周辺環境の変化により過大となった場合を述べているが、過小となった場合、即ち図３で（３）（４）の方向となった場合も同様であり、ステップＳ７７とＳ７８においては逆に記録パワーを大きい方向に設定し直せば良いことは言うまでもない。
ここまで示した実施形態は一例であって、本発明を限定するものではない。例えば図１のブロック図、図６と図７のフロー図において、本発明の趣旨に基づきながら異なる実施形態を考えられるが、いずれも本発明の範疇にある。
【符号の説明】
【００４９】
１：光ディスク、３：光ピックアップ、８：ライトパルス生成回路、９：ＬＤＤ、１０：ＡＦＥ回路、１３：ＥＣＣ回路、１４：ＥＣＣＤＥＴ回路、１５：システム制御部、１５Ｃ：発光制御部、１６：２Ｔパルス検出回路、１７：ベータ検出回路。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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