(57)【要約】【課題】運転状態において、パワー素子の状態を精度よく判別すること。【解決手段】射出成形機１０は、パワー素子１２１と、パワー素子１２１へ電流指令を送出する指令部１２２と、電流指令に基づいてパワー素子１２１の温度変動を予測する温度変動予測部１２３と、温度変動予測部１２３によって予測される温度変動に基づいてパワー素子１２１の寿命を算出する寿命算出部１２４とを備える。【選択図】図１
2013129179.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
パワー素子と、
前記パワー素子へ電流指令を送出する指令部と、
前記電流指令に基づいて前記パワー素子の温度変動を予測する温度変動予測部と、
前記温度変動予測部によって予測される前記温度変動に基づいて前記パワー素子の寿命を算出する寿命算出部と
を備える射出成形機。
【請求項２】
前記寿命算出部は、前記温度変動予測部によって予測される前記温度変動に基づいて前記パワー素子の損傷度を算出し、前記損傷度の累積値に基づいて前記パワー素子の寿命を算出する請求項１に記載の射出成形機。
【請求項３】
前記温度変動予測部は、１回の射出ショットにおいて前記パワー素子に生じる上昇方向または下降方向の温度変動のそれぞれの変動幅を予測し、
前記寿命算出部は、前記温度変動予測部によって予測される変動幅毎に、前記損傷度を算出する請求項２に記載の射出成形機。
【請求項４】
前記温度変動予測部は、前記電流指令に含まれる変動のうち、閾値よりも小さい変動を無視する請求項１から３のいずれか１つに記載の射出成形機。
【請求項５】
前記寿命算出部によって算出される前記寿命に応じて対処を実行する対処部をさらに備える請求項１から４のいずれか１つに記載の射出成形機。
【請求項６】
前記対処部は、前記パワー素子の寿命の残りが所定値より短くなった場合に、報知を行う請求項５に記載の射出成形機。
【請求項７】
前記対処部は、前記パワー素子の寿命の残りが所定値より短くなった場合に、前記パワー素子の交換のための処理を実行する請求項５または６に記載の射出成形機。
【請求項８】
前記寿命算出部によって算出される前記損傷度に応じて対処を実行する対処部をさらに備える請求項２または３に記載の射出成形機。
【請求項９】
前記対処部は、前記損傷度が所定値より大きい場合に、警告を行う請求項８に記載の射出成形機。
【請求項１０】
前記パワー素子を冷却する冷却部をさらに備え、
前記対処部は、前記損傷度が所定値より大きい場合に、前記パワー素子の冷却効果が高まるように前記冷却部を制御する請求項８または９に記載の射出成形機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、パワー素子を含む射出成形機に関する。
【背景技術】
【０００２】
射出成形機の点検方式として、射出成形機の各部を定められた条件で駆動する時に必要とされるサーボモータの駆動電流や定められた条件で射出動作を行った時の射出圧力に基づいて駆動電流や射出圧力の許容値を設定すると共に、これらの許容値を予めＲＯＭに格納しておく技術が提案されている（特許文献１）。提案されている技術によれば、定期点検時に射出成形機の各部を定められた条件で駆動して各軸サーボモータの駆動電流や射出圧力を検出し、各軸の駆動電流や射出圧力の値が許容値の範囲にあるか否かが判定される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平５−１１１９３５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記の点検方式は、無負荷状態の駆動電流を基にして状態判別を行う。しかしながら、サーボモータを駆動するサーボアンプの状態は、運転状況に応じて大きく変化する。このため、無負荷状態の駆動電流を基にする状態判別では、運転状態のサーボアンプの状態を正しく判別できないことがある。本発明は、運転状態において、サーボアンプに含まれるパワー素子の状態を精度よく判別することができる射出成形機を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明に係る射出成形機は、１つの態様として、パワー素子と、前記パワー素子へ電流指令を送出する指令部と、前記電流指令に基づいて前記パワー素子の温度変動を予測する温度変動予測部と、前記温度変動予測部によって予測される前記温度変動に基づいて前記パワー素子の寿命を算出する寿命算出部とを備える。
【発明の効果】
【０００６】
本発明に係る射出成形機は、運転状態において、パワー素子の状態を精度よく判別することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】図１は、射出成形機の構成を示す図である。
【図２】図２は、パワー素子の寿命線の例を示す図である。
【図３】図３は、電流指令および予測される温度変動の例を示す図である。
【図４】図４は、パワー素子の寿命の算出について説明するための図である。
【図５】図５は、寿命予測処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図６】図６は、パワー素子の構成の例を示す断面図である。
【図７】図７は、パワー素子の熱回路網モデルの例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下に、本発明に係る射出成形機の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施例によりこの発明が限定されるものではない。また、この実施例における構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のもの、いわゆる均等の範囲のものが含まれる。
【実施例】
【０００９】
まず、図１を参照しながら、本実施例に係る射出成形機１０の構成について説明する。図１に示す管理システム１は、管理装置２と、射出成形機１０とを含む。管理装置２および射出成形機１０は、有線または無線のネットワーク３によって互いに通信可能に接続される。
【００１０】
管理装置２は、射出成形機１０の状態を監視し、監視している状態に応じた処理を実行する。管理装置２は、射出成形機１０と同じ敷地内に設置されてもよいし、遠隔地に設置されてもよい。
【００１１】
射出成形機１０は、樹脂製品等を射出成形によって製造するために用いられる。射出成形機１０は、電動射出成形部１１と、制御部１２と、冷却ファン１３と、表示部１４と、ランプ１５とを含む。電動射出成形部１１は、サーボモータ等を用いて射出成形を行う。制御部１２は、電動射出成形部１１を制御する。冷却ファン１３は、パワー素子１２１を冷却する。表示部１４は、射出成形機１０の運転状況等に関する情報を表示する。ランプ１５は、射出成形機１０の運転状況等に応じて発光する。
【００１２】
制御部１２は、パワー素子（を含む駆動回路）１２１と、指令部１２２と、温度変動予測部１２３と、寿命算出部１２４と、対処部１２５と、記憶部１２６とを含む。パワー素子１２１は、電動射出成形部１１を駆動するための電流を制御する。指令部１２２は、予め定められた圧力で射出成形が行われるように、パワー素子１２１に電流指令を送出する。
【００１３】
温度変動予測部１２３は、指令部１２２が送出する電流指令に基づいて、パワー素子１２１の温度変動を予測する。寿命算出部１２４は、温度変動予測部１２３によって予測される温度変動に基づいて、パワー素子１２１の寿命を算出する。対処部１２５は、寿命算出部１２４によって算出される寿命に基づいて、必要に応じた対処を行う。記憶部１２６は、温度変動予測部１２３、寿命算出部１２４、および対処部１２５の処理に必要な情報および処理結果を記憶する。
【００１４】
温度変動予測部１２３、寿命算出部１２４、および対処部１２５は、電子回路によって実現されてもよいし、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）、ＭＣＵ（Ｍｉｃｒｏ  Ｃｏｎｔｒｏｌ  Ｕｎｉｔ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ−Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｇａｔｅ  Ａｒｒａｙ）等の演算回路と演算回路によって実行されるソフトウェアとの組み合わせによって実現されてもよい。記憶部１２６は、フラッシュメモリ、ＳＲＡＭ等の各種の記憶デバイスを含んでよい。
【００１５】
次に、図２を参照しながら、パワー素子１２１における温度変動と寿命の関係について説明する。図２は、パワー素子１２１の寿命線の例を示す図である。パワー素子１２１は、運転パターンに応じて出力の大きさを変動させる。このため、パワー素子１２１には、運転時に温度変動が生じる。この温度変動の大きさは、パワー素子１２１の寿命に影響を与える。具体的には、図２の寿命線Ｌが示すように、パワー素子１２１は、運転時の温度変動ΔＴが大きいほど少ない射出ショット数で寿命に達する。
【００１６】
例えば、パワー素子１２１の温度変動がΔＴａで運転される射出成形機Ａと、パワー素子１２１の温度変動がΔＴｂで運転される射出成形機Ｂと、パワー素子１２１の温度変動がΔＴｃで運転される射出成形機Ｃとがあるものとする。ΔＴａ＞ΔＴｂ＞ΔＴｃの関係がある場合、射出ショット数が同じであっても、射出成形機Ａのパワー素子１２１は既に寿命を迎え、射出成形機Ｂのパワー素子１２１は寿命の残りが少なく、射出成形機Ｃのパワー素子１２１は寿命まで十分な余裕があるということが起こりうる。
【００１７】
パワー素子１２１の寿命線は、例えば、パワー素子１２１を製造するメーカから提供される。パワー素子１２１の寿命線は、データまたは関数として記憶部１２６に記憶される。
【００１８】
次に、図３を参照しながら、温度変動予測部１２３による温度変動の予測について説明する。図３は、１回の射出ショットにおいて指令部１２２が送出する電流指令の例と、電流指令に基づいて温度変動予測部１２３が予測する温度変動の例とを示している。図３に示す電流指令は、最も高いピークＰ１と、ピークＰ１に先行しピークＰ１よりも低いピークＰ３と、ピークＰ３に先行しピークＰ３よりも低いピークＰ２と、ピークＰ１の後続であり、最も低いピークＰ４とを含んでいる。
【００１９】
温度変動予測部１２３は、まず、電流指令のそれぞれのピークに対応してパワー素子１２１の温度がどこまで上昇するかを算出する。すなわち、温度変動予測部１２３は、電流指令のピーク毎に、パワー素子１２１の最高温度を算出する。電流指令をパワー素子１２１の温度へ換算する方式については後述する。
【００２０】
続いて、温度変動予測部１２３は、それぞれの最高温度の前後でのパワー素子１２１の温度の変化を算出する。温度変動予測部１２３は、少なくとも、あるピークに対応する最高温度に達したパワー素子１２１の温度が、次のピークに対応する最高温度に達するまでの間にどこまで低下するかを算出する。すなわち、温度変動予測部１２３は、電流指令のピーク間毎に、パワー素子１２１の最低温度を算出する。温度変動予測部１２３は、所定の時間間隔毎にパワー素子１２１の温度を算出することによって、パワー素子１２１の最低温度を算出してもよい。温度変動予測部１２３は、温度が上昇する傾きおよび温度が低下する傾きに基づいて、パワー素子１２１の最低温度を算出してもよい。
【００２１】
続いて、温度変動予測部１２３は、電流指令のピーク毎に、ピークに対応する最高温度と、ピークと次のピークの間での最低温度と差を算出する。電流指令の最後のピークに関しては、温度変動予測部１２３は、ピークに対応する最高温度と、周囲温度（非通電時のパワー素子１２１の温度）または次の射出ショットの開始時のパワー素子１２１の温度との差を算出する。温度変動予測部１２３は、こうして算出したそれぞれの差を、１回の射出ショットにおけるパワー素子１２１の温度変動の予測結果として出力する。
【００２２】
温度変動予測部１２３は、電流指令の変動のうち、変動が閾値よりも小さい変動を無視する。すなわち、温度変動予測部１２３は、電流指令の変動のうち、パワー素子１２１の温度変動に与える影響が小さい変動を無視する。図３に示す例では、ピークＰ４が無視される。このように、温度変動に影響の小さい変動を無視することにより、精度を確保しつつ、演算量を削減できる。
【００２３】
図３に示す例では、温度変動予測部１２３は、ΔＴ２、ΔＴ３、およびΔＴ１を、１回の射出ショットにおけるパワー素子１２１の温度変動の予測結果として出力する。ΔＴ２は、ピークＰ２に対応する最高温度と、ピークＰ２とピークＰ３の間での最低温度との差である。ΔＴ３は、ピークＰ３に対応する最高温度と、ピークＰ３とピークＰ１の間での最低温度との差である。ΔＴ１は、ピークＰ１に対応する最高温度と、周囲温度との差である。
【００２４】
図３では、温度変動予測部１２３が、温度の下降幅のそれぞれを、１回の射出ショットにおけるパワー素子１２１の温度変動の予測結果として出力する例を示した。しかしながら、温度変動予測部１２３は、温度の上昇幅のそれぞれを、１回の射出ショットにおけるパワー素子１２１の温度変動の予測結果として出力してもよい。例えば、図３に示す例の場合、周囲温度と、ピークＰ２に対応する最高温度との差をΔＴ２として出力し、ピークＰ２とピークＰ３の間での最低温度と、ピークＰ３に対応する最高温度との差をΔＴ３として出力し、ピークＰ３とピークＰ１の間での最低温度と、ピークＰ１に対応する最高温度との差をΔＴ１として出力してもよい。
【００２５】
次に、図４を参照しながら、寿命算出部１２４によるパワー素子１２１の寿命の算出について説明する。寿命算出部１２４は、温度変動による損傷度の累積値をパワー素子１２１の寿命として算出する。本実施例では、損傷度の累積値は、射出ショット数に応じて０から増大する値である。パワー素子１２１は、損傷度の累積値が１となる際に破損するとみなされる。
【００２６】
１回の射出ショットでパワー素子１２１にΔＴ１の温度変動が生じる場合、パワー素子１２１が寿命に達するまでの総射出ショット数は、寿命線Ｌより、Ｎ１である。この場合、射出ショット１回当たりのパワー素子１２１の損傷度は、１／Ｎ１であり、射出ショット数がｎ１のときの損傷度の累積値は、ｎ１／Ｎ１である。
【００２７】
同様に、１回の射出ショットでパワー素子１２１にΔＴ２の温度変動が生じる場合、パワー素子１２１が寿命に達するまでの総射出ショット数は、寿命線Ｌより、Ｎ２である。この場合、射出ショット１回当たりのパワー素子１２１の損傷度は、１／Ｎ２であり、射出ショット数がｎ２のときの損傷度の累積値は、ｎ２／Ｎ２である。
【００２８】
同様に、１回の射出ショットでパワー素子１２１にΔＴ３の温度変動が生じる場合、パワー素子１２１が寿命に達するまでの総射出ショット数は、寿命線Ｌより、Ｎ３である。この場合、射出ショット１回当たりのパワー素子１２１の損傷度は、１／Ｎ３であり、射出ショット数がｎ３のときの損傷度の累積値は、ｎ３／Ｎ３である。
【００２９】
図３に示したように、１回の射出ショットでパワー素子１２１にΔＴ１、ΔＴ２、およびΔＴ３の温度変動が生じる場合、パワー素子１２１は、それぞれの温度変動による損傷度を合計した分だけ寿命の残りが短くなる。すなわち、この場合、射出ショット１回当たりのパワー素子１２１の損傷度は、（１／Ｎ１）＋（１／Ｎ２）＋（１／Ｎ３）であり、射出ショット数がｎのときの損傷度の累積値は、（ｎ／Ｎ１）＋（ｎ／Ｎ２）＋（ｎ／Ｎ３）である。
【００３０】
次に、図５を参照しながら、パワー素子１２１の寿命の予測に関する射出成形機１０の動作について説明する。図５は、射出成形機１０による寿命予測処理の処理手順を示すフローチャートである。図５に示すように、温度変動予測部１２３は、指令部１２２からパワー素子１２１へ送出される電流指令を検出する（ステップＳ１０１）。
【００３１】
温度変動予測部１２３は、検出した電流指令に基づいて、１回の射出ショットにおけるパワー素子１２１の温度変動を算出する（ステップＳ１０２）。温度変動予測部１２３は、射出ショット毎に温度変動を算出してもよいし、同じ運転パターンで射出成形機１０が運転される間は、最初に一度だけ温度変動を算出してもよい。予期しない変調が生じる場合に備えて、温度変動予測部１２３は、同じ運転パターンで射出成形機１０が運転される間も、一定時間毎または一定の射出ショット数毎に温度変動を算出してもよい。
【００３２】
続いて、寿命算出部１２４が、温度変動予測部１２３によって算出された温度変動と、射出ショット数と、寿命線Ｌとから、パワー素子１２１の損傷度を算出する（ステップＳ１０３）。そして、寿命算出部１２４は、損傷度の累積値を算出する（ステップＳ１０４）。
【００３３】
続いて、対処部１２５が、寿命算出部１２４によって算出された損傷度の累積値が閾値よりも大きいかを判定する。閾値は、パワー素子１２１が寿命の残りが少ないことを破損前に検出できるように、１よりも小さい値（例えば、０．８）に設定される。損傷度の累積値が閾値よりも大きくない場合（ステップＳ１０５，Ｎｏ）、ステップＳ１０１以降が再び実行される。損傷度の累積値が閾値よりも大きい場合（ステップＳ１０５，Ｙｅｓ）、対処部１２５が、対処を実行する（ステップＳ１０６）。
【００３４】
このように、パワー素子１２１の寿命を予測することにより、パワー素子１２１が故障して射出成形機１０が稼働できなくなり、製品の生産に支障が出ることを抑止できる。さらに、パワー素子１２１の対処を計画的に行うことができる。
【００３５】
図５のステップＳ１０６において対処部１２５が実行する対処としては、以下のようなものが考えられる。例えば、対処部１２５は、ランプ１５の点灯または表示部１４への情報の表示によって、パワー素子１２１の寿命の残りが少ないことを報知してもよい。対処部１２５は、損傷度の累積値の変化に応じて、ランプ１５の色、ランプ１５の点滅パターン、表示部１４に表示する情報の内容、表示部１４に情報を表示する態様の少なくとも１つを変化させてもよい。対処部１２５は、警告メッセージを表示するように管理装置２に要求してもよい。
【００３６】
あるいは、対処部１２５は、パワー素子１２１の発注処理を実行してもよい。対処部１２５は、パワー素子１２１の発注処理を実行するように管理装置２に要求してもよい。対処部１２５は、発注処理を実行するための発注画面を表示部１４または管理装置２に表示させてもよい。交換用の部品を社内に在庫しておく場合、対処部１２５は、パワー素子１２１が在庫しているかを確認し、在庫が存在しない場合に上記のいずれかの処理を行ってもよい。このように、新しいパワー素子１２１を事前に発注することにより、パワー素子１２１の破損による射出成形機１０の稼働停止時間を短縮することができる。
【００３７】
あるいは、対処部１２５は、射出成形機１０のメンテナンスを担当している企業のシステムに通知を行ってもよい。このような通知により、パワー素子１２１の点検および交換等の作業を、計画的に行い易くなる。
【００３８】
上記の対処に代えて、または上記の対処に加えて、対処部１２５は、図５のステップＳ１０３で算出される損傷度に基づく対処を実行してもよい。例えば、対処部１２５は、損傷度が所定の値よりも大きい場合には、表示部１４またはランプ１５を用いて、過剰な負荷が生じていることを通知してもよい。あるいは、対処部１２５は、損傷度が所定の値よりも大きい場合には、冷却ファン１３等を用いて、パワー素子１２１の冷却効果が高まるように制御してもよい。パワー素子１２１の冷却には、水冷式の冷却装置、または冷却素子を用いてもよい。
【００３９】
上記の対処は、対処部１２５の通知を受けた管理装置２の制御によって実行されてもよい。
【００４０】
次に、図６および図７を参照しながら、電流指令をパワー素子１２１の温度へ換算する方式について説明する。図６は、パワー素子１２１の構成の例を示す断面図である。図７は、図６に示すパワー素子１２１の熱回路網モデルの例を示す図である。電流指令をパワー素子１２１の温度へ換算する機能は、図７に示すようなモデルに基づいてパワー素子１２１の温度をシミュレートし、シミュレーションの結果から換算式または換算表を導出することにより実現できる。
【００４１】
図６に示すように、パワー素子１２１は、ＩＧＢＴ（Ｉｎｓｕｌａｔｅｄ  Ｇａｔｅ  Ｂｉｐｏｌａｒ  Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）およびＤｉｏｄｅ等の回路が形成されるシリコンチップ１２１ａと、絶縁性を有する基板１２１ｂと、ケース１２１ｃと、ヒートシンク１２１ｄとを有する。シリコンチップ１２１ａは、アルミ等のワイヤ１２１ｅによって、パワー素子１２１の外部と電気的に接続される。シリコンチップ１２１ａとワイヤ１２１ｅの接合部分には、ジャンクション１２１ｆが形成される。
【００４２】
シリコンチップ１２１ａは、半田等の接合部材によって、基板１２１ｂの一方の面と接合される。基板１２１ｂの他方の面は、半田等の接合部材によって、ケース１２１ｃの内面と接合される。ヒートシンク１２１ｄ上には、シリコンチップ１２１ａおよび基板１２１ｂ等を収容するケース１２１ｃが、１乃至複数個搭載される。
【００４３】
ヒートシンク１２１ｄ上にケース＿１からケース＿ｎのｎ個のケース１２１ｃが搭載されている場合のパワー素子１２１の熱回路網モデルは、図７に示す通りである。この熱回路網モデルから、ケース＿１の温度Ｔｃ＿１は、以下の様に表現される。
【００４４】
Ｔｊ（ＩＧＢＴ）  −  Ｔｃ＿１
＝  Ｒｔｈ（ｊ−ｃ＿１）：ＩＧＢＴ  ×  Ｐ（ＩＧＢＴ）
Ｔｊ（Ｄｉｏｄｅ）−  Ｔｃ＿１
＝  Ｒｔｈ（ｊ−ｃ＿１）：Ｄｉｏｄｅ  ×  Ｐ（Ｄｉｏｄｅ）
Ｔｃ＿１  −  Ｔｆ
＝  Ｒｔｈ（ｃ＿１−ｆ）  ×  （Ｐ（ＩＧＢＴ）＋Ｐ（Ｄｉｏｄｅ））
【００４５】
ここで、Ｔは、温度（単位は℃）であり、Ｒｔｈは、熱抵抗（単位は℃／ＷまたはＫ／Ｗ）であり、Ｐは、発熱量（熱移動量、単位はＷ）である。ｊは、ジャンクションを示し、ｆは、ヒートシンク１２１ｄを示す。熱抵抗は、事前に見積もっておいてよい。発熱量は、入力電流（電流指令）から推算される。
【００４６】
他のケース＿２〜ケース＿ｎの温度も同様に表現される。パワー素子１２１全体の温度は、以下の様に表現される。
【００４７】
Ｔｆ  −  Ｔａ  ＝  Ｒｔｈ（ｆ−ａ）
×  （Ｐ（ｃ＿１）＋Ｐ（ｃ＿２）＋・・・＋Ｐ（ｃ＿ｎ））
【００４８】
ここで、Ｔａは、周囲温度である。Ｐ（ｃ＿１）は、ケース＿１からヒートシンク１２１ｄへの熱移動量である。図７の例の場合、
Ｐ（ｃ＿１）  ＝  Ｐ（ＩＧＢＴ）  ＋  Ｐ（Ｄｉｏｄｅ）
である。
【００４９】
周囲温度Ｔａおよび電流指令を入力として与えて上記の式を解くことにより、各ジャンクションの温度を算出することができる。こうして得られる各ジャンクションの温度は、入力された周囲温度Ｔａおよび電流指令に対応するパワー素子１２１の温度として用いられる。
【００５０】
なお、上記の実施例で示した本発明の態様は、本発明の要旨を逸脱しない範囲で任意に変更することができる。例えば、上記の実施例で温度変動予測部１２３、寿命算出部１２４、および対処部１２５が実行することとした処理を管理装置２が実行してもよい。すなわち、射出成形機１０が、指令部１２２の電流指令に関する情報を管理装置２へ送信し、管理装置２がパワー素子１２１の温度変動および寿命を予測してもよい。あるいは、射出成形機１０が、温度変動予測部１２３が予測したパワー素子１２１の温度変動に関する情報を管理装置２へ送信し、管理装置２がパワー素子１２１の寿命を予測してもよい。
【００５１】
温度変動予測部１２３は、指令部１２２から送出される電流指令に代えて、あるいは、電流指令に加えて、パワー素子１２１の近傍に設けられた温度センサの検出結果に基づいて、パワー素子１２１の温度変動を予測してもよい。
【符号の説明】
【００５２】
１  管理システム
２  管理装置
３  ネットワーク
１０  射出成形機
１１  電動射出成形部
１２  制御部
１２１  パワー素子
１２１ａ  シリコンチップ
１２１ｂ  基板
１２１ｃ  ケース
１２１ｄ  ヒートシンク
１２１ｅ  ワイヤ
１２１ｆ  ジャンクション
１２２  指令部
１２３  温度変動予測部
１２４  寿命算出部
１２５  対処部
１２６  記憶部
１３  冷却ファン
１４  表示部
１５  ランプ 
【図１】
2013129179.tif 000003
【図２】
2013129179.tif 000004
【図３】
2013129179.tif 000005
【図４】
2013129179.tif 000006
【図５】
2013129179.tif 000007
【図６】
2013129179.tif 000008
【図７】
2013129179.tif 000009