(57)【要約】【課題】環境温度の変化による影響を適切に抑制して、光パワーを適切に制御できる、光ディスク装置を提供する。【解決手段】光ディスク装置１は、光源１２２と、光源１２２から出射される光の光パワーを検出するパワー検出部１２９と、パワー検出部１２９の周辺温度を検出する温度検出部３０と、パワー検出部１２９の温度ドリフト特性に関わる情報が記憶される記憶部２０ａと、記憶部２０ａに記憶される前記情報を利用してパワー検出部１２９に関わる温度補正を行いながら、前記光パワーを制御する制御部２０と、を備え、記憶部２０ａに記憶される前記情報が更新される。【選択図】図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源から出射される光の光パワーを検出するパワー検出部を用いて、前記光パワーを制御する方法であって、
前記パワー検出部の周辺温度が異なる２以上のタイミングで、前記パワー検出部の出力値を取得して、前記パワー検出部の温度ドリフト特性を取得する第１のステップと、
前記温度ドリフト特性に基づいて、前記パワー検出部のゲインを変更するか否かを決定する第２のステップと、
前記ゲインが変更されない場合には、先に取得した前記温度ドリフト特性に基づいて前記パワー検出部に関わる温度補正を行うことに決定し、前記ゲインが変更される場合には、前記温度ドリフト特性を新たに取得し直して、前記新たに取得した温度ドリフト特性に基づいて前記パワー検出部に関わる温度補正を行うことに決定する第３のステップと、
決定された前記温度補正に用いる温度ドリフト特性と、測定された前記パワー検出部の周辺温度とに基づいて前記温度補正を行いながら前記光パワーの制御を行う第４のステップと、
を備える、光パワーの制御方法。
【請求項２】
前記温度補正に用いる温度ドリフト特性から得られる温度補正情報が記憶部に記憶されている、請求項１に記載の光パワー制御方法。
【請求項３】
前記第１から第３のステップが、前記パワー検出部を備える装置の組み立て時に行われ、前記第４のステップが組み立てられた装置において実行される、請求項１又は２に記載の光パワーの制御方法。
【請求項４】
前記温度ドリフト特性を取得する際に、前記パワー検出部の周辺温度を変動させるために前記光源が発光される、請求項１から３のいずれかに記載の光パワーの制御方法。
【請求項５】
光源と、
前記光源から出射される光の光パワーを検出するパワー検出部と、
前記パワー検出部の周辺温度を検出する温度検出部と、
前記パワー検出部の温度ドリフト特性に関わる情報が記憶される記憶部と、
前記記憶部に記憶される前記情報を利用して前記パワー検出部に関わる温度補正を行いながら、前記光パワーを制御する制御部と、
を備える光ディスク装置であって、
前記記憶部に記憶される前記情報が更新される、光ディスク装置。
【請求項６】
前記制御部は、所定のタイミングで前記パワー検出部の温度ドリフト特性を取得して、前記記憶部に記憶される前記情報を更新する、請求項５に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記制御部は、所定のタイミングで前記パワー検出部の温度ドリフト特性を取得して、前記パワー検出部のゲインを変更するか否かを決定するとともに、前記ゲインを変更する場合に、変更後のゲインを用いて前記温度ドリフト特性を新たに取得して前記記憶部に記憶される前記情報を更新する、請求項５又は６に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置、及び、光パワーの制御方法に関し、特に、光パワーを検出するパワー検出部の出力が環境温度の変化によって変動する影響を抑制して、光パワーを制御する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクに記録される情報を再生する場合や、光ディスクに情報を記録する場合に、従来、光ディスク装置が使用されている。光ディスク装置においては、再生や記録の品質を安定させるために、光ディスクに照射される光の光パワーを一定に制御しながら、光ディスクの再生や記録が行われるのが一般的である。
【０００３】
すなわち、光ディスク装置には、光源から出射される光の光パワーを検出するパワー検出部（フロントモニタディテクタ；ＦＭＤ）が備えられる。そして、光ディスク装置では、このパワー検出部で検出される光の光パワー（強度）が一定になるようにフィードバック制御（ＡＰＣ；Auto Power Control）が行われながら、光ディスクの再生や記録が行われる。
【０００４】
なお、特許文献１には、照射パワーの制御を高精度で行うべく、光学部品や電子部品の温度特性を考慮した補正を行って、ＡＰＣを行う技術が開示される。この中には、ＦＭＤの検出感度の温度変化に対する変動を補正するために、温度変化に応じてＦＭＤの感度係数を変更して、ＡＰＣ回路のパワー目標値を計算することが開示される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００８−１１７４８８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
パワー検出部から出力される出力値（電圧）は、温度（パワー検出部の周辺温度）変化に応じて変動する。このため、温度変化が生じた場合に、ＡＰＣを行っているにもかかわらず、光ディスクに照射される光のパワーが変動して、記録や再生の品質がばらつくことが懸念される。すなわち、パワー検出部から出力される出力値が温度変化に伴って変動する影響を抑制して、光ディスクに照射する光のパワーの変動を小さくすることが望まれる。
【０００７】
また、例えば、光ディスク装置が使用されているうちに、パワー検出部の温度特性が変動することも考えられる。この場合、単に予め記憶させておいたデータを使用して補正するだけでは、正しい補正ができない可能性がある。このような温度特性の経年変化も加味して温度変化による影響を正しく補正し、光ディスクに照射する光のパワーの変動を小さくすることが望まれる。
【０００８】
以上の点に鑑みて、本発明の目的は、環境温度の変化による影響を適切に抑制して、光パワーを適切に制御できる、光ディスク装置及び光パワーの制御方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために本発明の光パワー制御方法は、光源から出射される光の光パワーを検出するパワー検出部を用いて、前記光パワーを制御する方法であって、前記パワー検出部の周辺温度が異なる２以上のタイミングで、前記パワー検出部の出力値を取得して、前記パワー検出部の温度ドリフト特性を取得する第１のステップと、前記温度ドリフト特性に基づいて、前記パワー検出部のゲインを変更するか否かを決定する第２のステップと、前記ゲインが変更されない場合には、先に取得した前記温度ドリフト特性に基づいて前記パワー検出部に関わる温度補正を行うことに決定し、前記ゲインが変更される場合には、前記温度ドリフト特性を新たに取得し直して、前記新たに取得した温度ドリフト特性に基づいて前記パワー検出部に関わる温度補正を行うことに決定する第３のステップと、決定された前記温度補正に用いる温度ドリフト特性と、測定された前記パワー検出部の周辺温度とに基づいて前記温度補正を行いながら前記光パワーの制御を行う第４のステップと、を備える構成（第１の構成）とされる。なお、前記第１のステップにおいて前記パワー検出部の出力を取得するに際しては、前記光源は無発光であってよい。
【００１０】
本構成によれば、パワー検出部のゲインが適切に設定された状態で光パワーの制御が行われる。また、本構成によれば、パワー検出部の周辺温度の変動に合わせてパワー検出部に関わる温度補正（パワー検出部からの出力値の補正のみならず、光パワーの制御目標値の補正も含む趣旨である）が適切に行われつつ、光パワーの制御が行われることになる。すなわち、本構成によれば、環境温度の変化による影響を適切に抑制して、光パワーを適切に制御できる。
【００１１】
上記第１の構成の光パワーの制御方法において、前記温度補正に用いる温度ドリフト特性から得られる温度補正情報が記憶部に記憶されている構成（第２の構成）としてもよい。
【００１２】
上記第１又は第２の構成の光パワー制御方法において、前記第１から第３のステップが、前記パワー検出部を備える装置の組み立て時に行われ、前記第４のステップが組み立てられた装置において実行される構成（第３の構成）であっても構わない。
【００１３】
上記第１から第３のいずれかの構成の光パワーの制御方法において、前記温度ドリフト特性を取得する際に、前記パワー検出部の周辺温度を変動させるために前記光源が発光される構成（第４の構成）であってもよい。
【００１４】
上記目的を達成するために本発明の光ディスク装置は、光源と、前記光源から出射される光の光パワーを検出するパワー検出部と、前記パワー検出部の周辺温度を検出する温度検出部と、前記パワー検出部の温度ドリフト特性に関わる情報が記憶される記憶部と、前記記憶部に記憶される前記情報を利用して前記パワー検出部に関わる温度補正を行いながら、前記光パワーを制御する制御部と、を備える光ディスク装置であって、前記記憶部に記憶される前記情報が更新される構成（第５の構成）になっている。
【００１５】
本構成によれば、パワー検出部の温度ドリフト特性が、例えば装置の長年の使用等によって変動した場合でも、環境温度の変化による影響を適切に抑制して、光ディスクに照射する光の光パワーを適切に制御可能である。
【００１６】
上記第５の構成の光ディスク装置において、前記制御部は、所定のタイミングで前記パワー検出部の温度ドリフト特性を取得して、前記記憶部に記憶される前記情報を更新する構成（第６の構成）であってもよい。
【００１７】
上記第５又は第６の構成の光ディスク装置において、前記制御部は、所定のタイミングで前記パワー検出部の温度ドリフト特性を取得して、前記パワー検出部のゲインを変更するか否かを決定するとともに、前記ゲインを変更する場合に、変更後のゲインを用いて前記温度ドリフト特性を新たに取得して前記記憶部に記憶される前記情報を更新する構成（第７の構成）であってもよい。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、環境温度の変化による影響を適切に抑制して、光パワーを適切に制御できる、光ディスク装置及び光パワーの制御方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】第１実施形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図
【図２】第１実施形態に係る光ディスク装置が備える光ピックアップの外観構成を示す概略平面図
【図３】第１実施形態に係る光ディスク装置が備える光ピックアップの光学構成を説明するための概略平面図
【図４】第１実施形態に係る光ディスク装置が備えるパワー検出器に関わる調整フローを示すフローチャート
【図５】第１実施形態に係る光ディスク装置において実行されるＡＰＣの処理フローを示すフローチャート
【図６】第２実施形態の光ディスク装置において実行される、パワー検出器に関わる調整の手順を示すフローチャート
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、本発明の光ディスク装置、及び、光パワーの制御方法の実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。
【００２１】
（第１実施形態）
図１は、第１実施形態に係る光ディスク装置１の構成を示すブロック図である。図１においては、理解を容易にするために、光ディスクＤも合わせて示している。図１に示すように、光ディスク装置１はスピンドルモータ１１を備える。このスピンドルモータ１１は、その出力軸が光ディスクＤを着脱自在に保持するターンテーブル（図示せず）に連結されている。このため、スピンドルモータ１１を駆動させることによって、ターンテーブルに保持された光ディスクＤが回転される。
【００２２】
光ディスク装置１は、光ディスクＤに光を照射するとともに光ディスクＤで反射される光を受光する光ピックアップ１２を備える。この光ピックアップ１２は、光ディスクＤに記録される情報を読み取ったり、光ディスクＤに情報を書き込んだりするための装置である。以下、図２及び図３を参照しながら、光ピックアップ１２の構成について詳細に説明する。
【００２３】
なお、図２は、第１実施形態に係る光ディスク装置１が備える光ピックアップ１２の外観構成を示す概略平面図である。図２に示される光ピックアップ１２で光ディスクＤから情報を読み取ったり、光ディスクＤに情報を書き込んだりする場合、光ディスクＤは紙面手前側に配置されることになる。また、図３は、第１実施形態に係る光ディスク装置１が備える光ピックアップ１２の光学構成を説明するための概略平面図である。図３においては、理解を容易にするために、光ディスクＤの一部も合わせて示している。
【００２４】
光ピックアップ１２は、情報の読み取りや書き込みを行う上で必要となる各種の部材が搭載されるベース部１２１を有する。ベース部１２１は、その左右の端部に設けられる軸受け部１２１ａ、１２１ｂを利用して、光ディスク装置１内に配置される２本のガイドシャフトＧＳに摺動可能に支持される。なお、２本のガイドシャフトＧＳは、光ディスクＤの半径方向（ラジアル方向）と平行に配置されている。
【００２５】
本実施形態では、ベース部１２１の移動はスレッドモータ１３（図１参照）を用いて行われる。例えば、スレッドモータ１３の駆動によってリードスクリュ（不図示）が回転される構成が採用される。そして、リードスクリュの回転を直線方向の動きに変換する変換機構（不図示；例えばティースやナット部材を利用する機構）を利用して、ベース部１２１がラジアル方向に移動される構成が採用される。ベース部１２１がラジアル方向に移動されることで、光ピックアップ１２は、回転する光ディスクＤの所望のアドレスにアクセス可能になる。
【００２６】
図３に示すように、ベース部１２１に搭載される各種の部材には、半導体レーザ１２２（本発明の光源の一例）と、第１のビームスプリッタ１２３と、コリメートレンズ１２４と、第２のビームスプリッタ１２５と、対物レンズ１２６と、光検出器１２７と、ミラー１２８と、パワー検出器１２９（本発明のパワー検出部の一例）と、が含まれる。なお、図３において半導体レーザ１２２が破線で示されているのは、半導体レーザ１２２が紙面手前側に位置するためである。
【００２７】
半導体レーザ１２２から出射された光は、その全部或いは一部が第１のビームスプリッタ１２３で反射され、コリメートレンズ１２４を透過する。コリメートレンズ１２４を透過した光は、その一部が第２のビームスプリッタ１２５で反射されて対物レンズ１２６に送られる。対物レンズ１２６は、第２のビームスプリッタ１２５で反射された光を光ディスクＤの情報記録面ＲＳに集光する。
【００２８】
光ディスクＤで反射された戻り光は、対物レンズ１２６を透過した後、第２のビームスプリッタ１２５で反射される。その後、戻り光は、コリメートレンズ１２４、第１のビームスプリッタ１２３を順に透過して、光検出器１２７に至る。光検出器１２７は、入射した光を光電変換して、信号処理部１４（図１参照）に出力する。
【００２９】
コリメートレンズ１２４から第２のビームスプリッタ１２５に入射された光の一部は、第２のビームスプリッタ１２５を透過する。第２のビームスプリッタ１２５を透過した光は、ミラー１２８によって反射されてパワー検出器１２９に至る。パワー検出器１２９は、半導体レーザ１２２から出射される光の光パワー（レーザパワー）を検出するために配置され、いわゆるフロントモニタ用のディタクタとして機能する。パワー検出器１２９は、ベース部１２１に取り付けられる（図１において裏面側に取り付けられる）回路基板ＰＢ上に配置される。パワー検出器１２９周辺の回路基板ＰＢ上には、サーミスタ３０（図１参照；本発明の温度検出部の一例）が配置される。
【００３０】
対物レンズ１２６は、ベース部１２１内に埋め込まれるようにして取り付けられるアクチュエータ１２０（図２参照）に搭載され、フォーカス方向（光ディスクＤに対して接離する方向；図２において紙面に垂直な方向）やトラッキング方向（ラジアル方向に平行な方向；図２において上下方向）への移動が可能になっている。
【００３１】
なお、アクチュエータ１２０は、対物レンズ１２６を保持するレンズホルダ１２０ａを有し、レンズホルダ１２０ａをワイヤ１２０ｂで揺動可能に支持する構成のものである。そして、コイル及び磁石を利用して発生させた力でレンズホルダ１２０ａ（すなわち対物レンズ１２６）を動かすものである。このようなタイプのアクチュエータは公知であるので、ここでは、その構成に関する詳細な説明は省略する。
【００３２】
図１に戻って、信号処理部１４は、光検出器１２７（図２及び図３参照）から出力される電気信号を演算処理して、再生ＲＦ信号、フォーカスエラー（ＦＥ）信号、トラッキングエラー（ＴＥ）信号等を生成する。
【００３３】
記録再生部１５は、デコーダ及びエンコーダを備える。記録再生部１５は、信号処理部１４から出力された再生ＲＦ信号を復号化して再生データを取り出し、インターフェース（不図示）を介して外部に再生データの出力を行う。また、記録再生部１５は、インターフェースを介して外部から入力されたデータを符号化して記録信号に変換する。
【００３４】
サーボ制御部１６は、ＦＥ信号に基づいてフォーカスドライブ信号を生成したり、ＴＥ信号に基づいてトラッキングドライブ信号を生成したりする。生成されたフォーカスドライブ信号及びトラッキングドライブ信号はドライバ１７に出力される。ドライバ１７は、これらの信号に基づいてアクチュエータ１２０（図２参照）を駆動する。ドライバ１７は、その他、コントローラ２０及びサーボ制御部１６からの指令に基づいて、スピンドルモータ１１やスレッドモータ１３を駆動させる。
【００３５】
ＬＤＤ（Laser Diode Driver）１８は、光ピックアップ１２の半導体レーザ１２２（図３参照）に対してレーザ発光のための駆動信号を供給する。レーザパワー制御部１９は、コントローラ２０からの指令に従って半導体レーザ１２２から出射される光の光パワー（レーザパワー）が、一定の目標値になるようにＬＤＤ１８に対して制御信号を送る。レーザパワー制御部１９は、いわゆるＡＰＣ駆動回路として機能する。
【００３６】
コントローラ２０（本発明の制御部の一例）は、例えばマイクロコンピュータによって構成され、光ディスク装置１を構成する各部が実行すべき動作に応じて適宜制御処理を実行したり、また、制御に必要となる演算処理を実行したりする。コントローラ２０には、ＲＯＭ（Read Only Memory）及びＲＡＭ（Random Access Memory）を含むメモリ２０ａが含まれる。ＲＯＭには、コントローラ２０が各種処理を行う上で必要となる各種のパラメータや動作プラグラムが記憶されている。ＲＡＭはワーク領域として用いられ、また、各種情報の格納領域とされる。
【００３７】
このコントローラ２０には、光ピックアップ１２のパワー検出器１２９（図３参照）からの出力値が入力される。また、コントローラ２０には、光ピックアップ１２の回路基板ＰＢ（図２参照）上に配置されるサーミスタ３０で検出される温度情報が入力される。コントローラ２０は、入力されたパワー検出器１２９の出力情報及び温度情報に基づいてレーザパワー制御部１９に指令を出す。
【００３８】
次に、以上のように構成される光ディスク装置１における、パワー検出器１２９に関わる温度補正を行うための調整について、図４を参照しながら説明する。なお、図４は、第１実施形態に係る光ディスク装置１が備えるパワー検出器１２９に関わる調整フローを示すフローチャートである。図４に示す調整フローは、光ディスク装置１の組み立て時に行われるものであるが、光ディスク装置１によって実行される光パワーの制御方法（パワー検出器１２９の温度特性による影響を抑制して光パワーを制御する方法）に含まれるものである。
【００３９】
パワー検出器１２９に関わる調整を行うにあたって、まず、パワー検出器１２９の感度が予め設定される範囲（性能範囲）内に収まっているか否かが確認される（ステップＳ１）。ここで言う感度は、入力光量に対する出力電圧量の比である。パワー検出器１２９に所定の光量の光を入射して、所定の範囲内の感度が得られるか否かが確認される。ゲイン（パワー検出器１２９のアンプゲイン）調整によって得られる感度が、所定の範囲から外れる場合には（ステップＳ１でＮｏ）、そのパワー検出器は不良品として使用されない。
【００４０】
パワー検出器１２９の感度が所定の範囲内である場合（ステップＳ１でＹｅｓ）、パワー検出器１２９から出力される電圧値、及び、パワー検出器１２９の周辺温度が測定される（ステップＳ２）。この際、半導体レーザ（ＬＤ）１２２は発光していない。また、パワー検出器１２９のゲインは、ステップＳ１で所定の範囲内の感度が得られたゲインとされている。更に、パワー検出器１２９の周辺温度は光ピックアップ１２に備えられるサーミスタ３０によって測定される。
【００４１】
次に、半導体レーザ１２２が所定の期間、発光される（ステップＳ３）。これは、パワー検出器１２９の周辺温度を変化させる目的で行われる。半導体レーザ１２２が所定の期間、発光された後（半導体レーザ１２２オフ）、パワー検出器１２９から出力される電圧値、及び、パワー検出器１２９の周辺温度が測定される（ステップＳ４）。この場合のパワー検出器１２９のゲインはステップＳ１と同じである。また、パワー検出器１２９の周辺温度はサーミスタ３０によって測定される。
【００４２】
ステップＳ２とステップＳ４の測定結果に基づいて、パワー検出器１２９から出力される電圧値に関する温度ドリフト特性（電圧値と温度との関係）を取得する（ステップＳ５）。取得した温度ドリフト特性を利用して、パワー検出器１２９の基準温度（例えば２５℃等）における感度を求め、当該感度が所定の範囲内であるか否かを確認する（ステップＳ６）。基準温度の感度が容易に求められるように、ステップＳ１において（感度の取得時において）、パワー検出器１２９の周辺温度の測定をしておいてもよい。また、基準温度の感度を求めるために、パワー検出器１２９の周辺温度を測定しつつ、パワー検出器１２９に所定光量の光を入射してパワー検出器１２９からの出力値（電圧値）を測定してもよい。
【００４３】
基準温度における感度が所定の範囲内である場合（ステップＳ６でＹｅｓ）、ステップＳ２及びＳ４時に使用したゲインでパワー検出器１２９が使用されること、及び、ステップＳ５で取得された温度ドリフト特性に基づいてパワー検出器１２９から出力される電圧値の補正を行うことが決定される。そして、決定された温度ドリフト特性に基づいて、パワー検出器１２９から出力される電圧値に対する補正式（或いは補正テーブル）が求められ、当該温度補正情報（補正式或いはテーブル）がメモリ２０ａ（詳細にはＲＯＭ）に記憶される（ステップＳ７）。
【００４４】
基準温度における感度が所定の範囲外である場合（ステップＳ６でＮｏ）、パワー検出器１２９のゲインが変更される（ステップＳ８）。変更したゲインを用いて、ステップＳ２からステップＳ６と同様の手順で、ステップＳ９からステップＳ１３が行われる。ステップＳ１３で基準温度における感度が所定の範囲内である場合には（ステップＳ１３でＹｅｓ）、ステップＳ７に進んで、新たに得られた温度ドリフト特性に基づいて、パワー検出器１２９から出力される電圧値に対する補正式（或いは補正テーブル）が求められ、当該温度補正情報（補正式或いはテーブル）がメモリ２０ａ（詳細にはＲＯＭ）に記憶される。
【００４５】
一方、ステップＳ１３で基準温度における感度が所定の範囲外である場合には（ステップＳ１３でＮｏ）、基準温度における感度が所定の範囲内となるまで、ステップＳ８以降が繰り返される。
【００４６】
次に、以上のようにメモリ２０ａに記憶された温度補正情報を用いて実行される、光ディスク装置１の自動パワー制御（ＡＰＣ）について図５を参照しながら説明する。なお、図５は、第１実施形態に係る光ディスク装置１において実行されるＡＰＣの処理フローを示すフローチャートである。
【００４７】
コントローラ２０は、再生や記録の指令を受けると、ＡＰＣを開始させる。ＡＰＣの開始にあたって、コントローラ２０は、サーミスタ３０から温度（パワー検出器１２９の周辺温度）を取得する（ステップＳ２１）。そして、コントローラ２０は、取得した温度情報と、メモリ２０ａに記憶される温度補正情報（上述のパワー検出器１２９の調整フローでメモリ２０ａに記憶した情報）とに基づいて、パワー検出器１２９から出力される出力値（電圧値）を補正する（ステップＳ２２）。
【００４８】
コントローラ２０からの指令にしたがってレーザパワー制御部１９は、補正した電圧値と、目標の電圧値とを比較して、比較結果に基づいてＬＤＤ１８を制御する。これによって、半導体レーザ１２２（ＬＤ）の出力が調整される（ステップＳ２３）。目標の電圧値は、例えば、再生指令や記録指令を受けたコントローラ２０によって適宜決定される。補正した電圧値が目標の電圧値と同一であると判断される場合には、現在の半導体レーザ１２２の出力が維持される。補正した電圧値が目標の電圧値とずれていると判断される場合には、ずれ量に応じて現在の半導体レーザ１２２の出力が変更される。半導体レーザ１２２の出力をどの程度変更するかは、例えば予め実験等によって得られた式にしたがって決定されればよい。
【００４９】
ＬＤの出力調整が行われると、コントローラ２０は再生（或いは記録）が終了であるか否かを確認する（ステップＳ２４）。再生（或いは記録）が終了である場合（ステップＳ２４でＹｅｓ）、コントローラ２０はＡＰＣを終了させる。再生（或いは記録）が終了でない場合（ステップＳ２４でＮｏ）、コントローラ２０は温度取得のタイミングであるか否かを確認する（ステップＳ２５）。温度取得のタイミングは、例えば予め決められた一定期間毎等とされる。
【００５０】
温度取得のタイミングであると判断された場合、コントローラ２０は、新たにサーミスタ３０から温度（パワー検出器１２９の周辺温度）を取得する（ステップＳ２６）。新たに温度が取得されると、ステップＳ２２に戻って、新たに取得した温度情報にしたがって、ステップＳ２２以降が行われる。
【００５１】
本実施形態の構成では、光ディスク装置１の組み立て時に、パワー検出器１２９のゲイン調整が適切に行われている。そして、ＡＰＣが実行されている場合において、パワー検出器１２９の周辺温度の変動に合わせてパワー検出器１２９の出力値が補正されつつ、半導体レーザ１２２から出射される光の光パワーが制御される構成になっている。このために、本実施形態の光ディスク装置１では、環境温度の変化による影響を適切に抑制して、光ディスクＤに照射する光の光パワーを適切に制御可能である。
【００５２】
（第２実施形態）
次に、第２実施形態の光ディスク装置について説明する。第２実施形態の光ディスク装置の構成は、第１実施形態の光ディスク装置１の構成と概ね同様である。第２実施形態の光ディスク装置の説明にあたっては、第１実施形態と重複する部分については同一の符号を付して説明する。以下、第１実施形態と異なる点に絞って説明を行う。
【００５３】
第２実施形態の光ディスク装置１は、パワー検出器１２９のゲイン設定と、メモリ２０ａに記憶される温度補正情報が適宜更新される点に特徴を有する。これについて、図６を参照しながら説明する。図６は、第２実施形態の光ディスク装置１において実行される、パワー検出器１２９に関わる調整の手順を示すフローチャートである。なお、図６に示す調整フローは、組み立て済みの光ディスク装置によって実行されるものである。
【００５４】
コントローラ２０は、パワー検出器１２９に関わる調整が実行される所定のタイミングであるか否かを確認する（ステップＳ３１）。この所定のタイミングとしては、例えば、光ディスク装置１の電源オン時、電源オフ時、電源オン時において検出される温度が所定の範囲内でない場合、再生や記録の開始前、使用開始から一定期間を経過した場合など、様々なタイミングが挙げられる。
【００５５】
コントローラ２０は、所定の調整タイミングであると判断すると、パワー検出器１２９から出力される出力値（電圧値）の温度ドリフト特性を取得する（ステップＳ３２）。温度ドリフト特性は、第１実施形態における装置組み立て時の調整フロー（図４参照）と同様に、半導体レーザ１２２の発光前後における、温度（パワー検出器１２９の周辺温度）及び出力電圧（無発光時のパワー検出器１２９の出力電圧）を測定して取得してもよい。また、例えば、再生や記録の終了後に、半導体レーザ１２２が無発光である場合の温度及び出力電圧を測定してメモリ２０ａに記憶しておき、これと、所定のタイミング（例えば電源オン時）における無発光時の温度及び出力電圧の測定結果とから、温度ドリフト特性を得るようにしてもよい。
【００５６】
温度ドリフト特性を取得すると、コントローラ２０は、取得した温度ドリフト特性を利用して、パワー検出器１２９の基準温度（例えば２５℃等）における感度を求め、当該感度が所定の範囲内であるか否かを確認する（ステップＳ３３）。基準温度の感度を計算で求められるように、例えば、装置組み立て時における温度ドリフト特性と基準温度における感度とをメモリ２０ａに記憶しておくようにしてもよい。また、組み立て時に、感度とゲインとの関係を調べて、これらの関係式をメモリ２０ａに記憶しておくようにしてもよい。
【００５７】
基準温度における感度が所定の範囲内である場合（ステップＳ３３でＹｅｓ）、コントローラ２０は、ステップＳ３２で取得した温度ドリフト特性に基づいて、パワー検出器１２９から出力される電圧値に対する補正式（或いは補正テーブル）を求める。そして、コントローラ２０は、メモリ２０ａに既に記憶されている温度補正情報（補正式或いはテーブル）を、新たに求めた温度補正情報に更新する（ステップＳ３４）。これにより、パワー検出器１２９に関わる調整フローが終了する。
【００５８】
一方、基準温度における感度が所定の範囲外である場合（ステップＳ３３でＮｏ）、コントローラ２０は、パワー検出器１２９のゲインを変更させる（ステップＳ３５）。変更されたゲインを用いて、コントローラ２０は、パワー検出器１２９の温度ドリフト特性を取得する（ステップＳ３６）。温度ドリフト特性は、半導体レーザ１２２の発光前後における、温度（パワー検出器１２９の周辺温度）及び出力電圧（無発光時のパワー検出器１２９の出力電圧）を測定して取得すればよい。
【００５９】
コントローラ２０は、取得した温度ドリフト特性から得られる、パワー検出器１２９の基準温度における感度が所定の範囲内である場合には（ステップＳ３７でＹｅｓ）、新たに得られた温度ドリフト特性に基づいて、パワー検出器１２９から出力される電圧値に対する補正式（或いは補正テーブル）を求める。そして、コントローラ２０は、メモリ２０ａに既に記憶されている温度補正情報（補正式或いはテーブル）を、新たに求めた温度補正情報に更新する（ステップＳ３４）。
【００６０】
一方、取得した温度ドリフト特性から得られる、パワー検出器１２９の基準温度における感度が所定の範囲外である場合には（ステップＳ３７でＮｏ）、コントローラ２０は、基準温度における感度が所定の範囲内となるまで、ステップＳ３５以降を繰り返し実行する。
【００６１】
なお、以上のように得られる温度補正情報を用いた自動パワー制御（ＡＰＣ）は、第１実施形態の場合と同様（図５参照）であるので、ここでは説明を省略する。
【００６２】
本実施形態では、パワー検出器１２９のゲイン設定、及び、メモリ２０ａに記憶される温度補正情報（パワー検出器１２９から出力される出力値を補正するための情報）が適宜更新される。このために、本実施形態の光ディスク装置１では、環境温度の変化による影響を適切に抑制して、光ディスクＤに照射する光の光パワーを適切に制御可能である。
【００６３】
（その他）
以上に示した実施形態は本発明の例示であり、本発明の適用範囲は、以上に示した実施形態の構成に限定されるものではない。
【００６４】
例えば、以上においては、パワー検出器１２９における温度ドリフト特性による影響を抑制するために、パワー検出器１２９から出力される出力値を補正する構成にした。しかし、本発明はこの構成に限定される趣旨ではない。すなわち、パワー検出器１２９における温度ドリフト特性に基づいてＡＰＣの目標値を変更する構成にして、温度ドリフト特性による影響を抑制しても構わない。本発明の「パワー検出部に関わる温度補正」には、このような態様も含まれる。
【００６５】
また、以上においては、温度ドリフト特性を得る際の温度が２点のみとされた。しかし、これに限らず、温度ドリフト特性を得る際の温度は３点以上であっても構わない。
【００６６】
また、以上においては、光ディスク装置に備えられる、光源（半導体レーザ）や対物レンズの数が１つとされたが、これらの数は適宜変更されて構わない。
【００６７】
また、以上に示した実施形態では、光ディスク装置が再生及び記録が可能である構成としたが、再生と記録とのうち、いずれか一方のみを行う光ディスク装置にも本発明は適用可能である。
【産業上の利用可能性】
【００６８】
本発明は、例えばＢＤレコーダ、ＤＶＤレコーダ、ＢＤプレーヤ、ＤＶＤプレーヤ等に適用可能である。
【符号の説明】
【００６９】
１  光ディスク装置
２０  コントローラ（制御部）
２０ａ  メモリ（記憶部）
３０  サーミスタ（温度検出部）
１２２  半導体レーザ（光源）
１２９  パワー検出器（パワー検出部）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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