(57)【要約】【課題】一対の電極に銅箔が張り付くことに起因する溶接不良の発生を確実に防止できる抵抗溶接機の電極劣化検出方法を提供する。【解決手段】母材Ｗを溶接する前に、入熱量を変化させて母材Ｗを試験的に溶接し、一対の電極１０に対する銅箔Ｗ２の張り付き有無を入熱量毎に検査することで、検査結果に基づいて入熱量の閾値を設定し、母材Ｗを溶接するときに、溶接時における電流値および電圧値とを測定し、母材Ｗを溶接した後で、溶接時間と測定した電流値および電圧値とに基づいて入熱量を算出し、算出結果と閾値とを比較することで、一対の電極１０の劣化を検出する。【選択図】図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
積層方向一端部および前記積層方向他端部の少なくともいずれか一方に金属箔が積層される母材を一対の電極で加圧した状態で、前記母材に電流を供給して前記母材を溶接する抵抗溶接機の、前記一対の電極の劣化を検出する、抵抗溶接機の電極劣化検出方法であって、
前記母材を溶接する前に、入熱量を変化させて前記母材を試験的に溶接し、前記一対の電極に対する前記金属箔の張り付き有無を入熱量毎に検査することで、前記検査結果に基づいて入熱量の閾値を設定し、
前記母材を溶接するときに、前記溶接時における電流値および電圧値を測定し、
前記母材を溶接した後で、前記溶接時間と前記測定した電流値および電圧値とに基づいて入熱量を算出し、前記算出結果と前記閾値とを比較することで、前記一対の電極の劣化を検出する、
抵抗溶接機の電極劣化検出方法。
【請求項２】
前記母材を溶接する前に、入熱量を変化させて前記母材を試験的に溶接し、前記母材の溶接部の接合強度を入熱量毎に測定することで、前記測定結果に基づいて入熱量と前記溶接部の接合強度との相関関係を算出し、
前記母材を溶接した後で、前記入熱量の算出結果と前記相関関係とに基づいて、前記溶接部の接合強度を推測する、
請求項１に記載の抵抗溶接機の電極劣化検出方法。
【請求項３】
前記金属箔として銅箔を溶接する前記抵抗溶接機の、前記一対の電極の劣化を検出する、
請求項１または請求項２に記載の抵抗溶接機の電極劣化検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、積層方向一端部および積層方向他端部の少なくともいずれか一方に金属箔が積層される母材を抵抗溶接する抵抗溶接機の、一対の電極の劣化を検出する、抵抗溶接機の電極劣化検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、銅箔が積層される母材は、超音波接合によって接合されている。超音波接合では、母材を超音波ヘッドで挟持して加圧するとともに、超音波ヘッドで発生させた超音波で母材を振動させて、母材を接合する。
この場合、母材には、振動の影響でスパッタが発生する可能性がある。従って、二次電池の負極に用いられる銅箔を超音波接合で接合した場合には、二次電池に不具合が生じる可能性がある。
【０００３】
そこで、二次電池の負極に用いられる銅箔を抵抗溶接によって接合することが考えられる。抵抗溶接を行うための抵抗溶接機は、一対の電極で銅箔の積層方向に母材を挟持して加圧するとともに母材に電流を供給し、母材を溶接して接合する。
【０００４】
一対の電極は、溶接を繰り返すことで劣化（酸化）する。このような劣化した一対の電極で、積層方向一端部に銅箔が積層される母材を溶接した場合、積層方向一端側の電極に前記銅箔が張り付く可能性がある。
このような電極に張り付いた銅箔は、一対の電極を母材から離すときに、積層方向に隣接する銅箔から剥がれてしまう。
つまり、抵抗溶接では、一枚の銅板と複数枚の銅箔とを接合する場合や複数枚の銅箔同士を接合する場合等において、銅箔の張り付きに起因する溶接不良が発生する可能性がある。
【０００５】
特許文献１には、研磨した一対の電極を接触させるとともに加圧させた状態でテスト通電を行い、前記テスト通電時の抵抗値に基づいて、一対の電極の研磨異常を検出する技術が開示されている。
【０００６】
仮に、溶接前に特許文献１にあるようなテスト通電を行い、前記テスト通電時の抵抗値に応じて一対の電極を交換する場合には、溶接前の一対の電極の状態に基づいて、一対の電極の劣化度合いを検出することとなる。
このため、一対の電極の劣化度合いを正確に把握できない可能性がある。
【０００７】
また、抵抗溶接機のショット数が所定の回数に達したときに一対の電極を交換することで、銅箔の張り付きを防止する方法が考えられる。
しかし、一対の電極の劣化速度（酸化速度）は、一対の電極のロットバラつきおよび周辺温度等に左右される。このため、抵抗溶接機のショット数では、一対の電極を適切に管理できない可能性がある。
【０００８】
以上のように、従来技術においては、積層方向一端部および積層方向他端部の少なくともいずれか一方に銅箔が積層される母材を抵抗溶接によって接合する場合、銅箔の張り付きに起因する溶接不良の発生を確実に防止することが困難であった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開２００４−３５１４６５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明は、以上の如き状況を鑑みてなされたものであり、金属箔の張り付きに起因する溶接不良の発生を確実に防止できる抵抗溶接機の電極劣化検出方法を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記課題を解決するために、積層方向一端部および前記積層方向他端部の少なくともいずれか一方に金属箔が積層される母材を一対の電極で加圧した状態で、前記母材に電流を供給して前記母材を溶接する抵抗溶接機の、前記一対の電極の劣化を検出する、抵抗溶接機の電極劣化検出方法であって、前記母材を溶接する前に、入熱量を変化させて前記母材を試験的に溶接し、前記一対の電極に対する前記金属箔の張り付き有無を入熱量毎に検査することで、前記検査結果に基づいて入熱量の閾値を設定し、前記母材を溶接するときに、前記溶接時における電流値および電圧値を測定し、前記母材を溶接した後で、前記溶接時間と前記測定した電流値および電圧値とに基づいて入熱量を算出し、前記算出結果と前記閾値とを比較することで、前記一対の電極の劣化を検出する、ものである。
【００１２】
また、前記母材を溶接する前に、入熱量を変化させて前記母材を試験的に溶接し、前記母材の溶接部の接合強度を入熱量毎に測定することで、前記測定結果に基づいて入熱量と前記溶接部の接合強度との相関関係を算出し、前記母材を溶接した後で、前記入熱量の算出結果と前記相関関係とに基づいて、前記溶接部の接合強度を推測する、ものである。
【００１３】
さらに、前記金属箔として銅箔を溶接する前記抵抗溶接機の、前記一対の電極の劣化を検出する、ものである。
【発明の効果】
【００１４】
本発明は、金属箔の張り付きに起因する溶接不良の発生を確実に防止できる、という効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】抵抗溶接機の説明図。（ａ）抵抗溶接機の構成を示す図。（ａ）電流値を示す図。（ｃ）電圧値を示す図。
【図２】溶接時に抵抗溶接機で測定する情報を示す図。（ａ）時間における電流値を示す図。（ｂ）時間における電圧値を示す図。
【図３】一対の電極が劣化した抵抗溶接機の説明図。（ａ）抵抗溶接機の構成を示す図。（ａ）電流値を示す図。（ｃ）電圧値を示す図。
【図４】炉内温度と一対の電極に対する銅箔の張付強度との相関関係を示す図。
【図５】入熱量と一対の電極の温度との相関関係を示す図。
【図６】入熱量および一対の電極に対する銅箔の張り付き有無に関する説明図。
【図７】入熱量の閾値に関する説明図。
【図８】入熱量と接合強度との相関関係を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下では、本実施形態の抵抗溶接機１の電極劣化検出方法（以下、「電極劣化検出方法」と表記する）について説明する。
【００１７】
まず、抵抗溶接機１の構成について説明する。
図１（ａ）に示すように、抵抗溶接機１は、金属板等を積層した母材Ｗを溶接して接合するためのものである。抵抗溶接機１は、一対の電極１０等を具備する。
【００１８】
一対の電極１０は、所定の圧力で母材Ｗを加圧できるように、上下方向の間隔を調整可能に構成される。本実施形態の一対の電極１０は、タングステンチップであるものとする。なお、一対の電極１０は、タングステンチップに限定されるものでない。
抵抗溶接機１は、一対の電極１０間に溶接トランスからの電流を供給可能に構成される。
【００１９】
本実施形態の母材Ｗは、一枚の銅板Ｗ１に複数枚の銅箔Ｗ２を積層することで構成される。つまり、本実施形態の抵抗溶接機１は、上端部に銅箔Ｗ２が積層される母材Ｗを溶接する。
【００２０】
すなわち、本実施形態において、積層方向は上下方向である。また、積層方向一端部は上端部である。
【００２１】
図１に示すように、抵抗溶接機１は、一対の電極１０で母材Ｗを前記積層方向に挟持して、一対の電極１０で母材Ｗを加圧した状態で、母材Ｗ（一対の電極１０間）に所定の大きさの電流を供給することで、母材Ｗを溶接して接合する。
すなわち、抵抗溶接機１では、溶接時に電圧値を制御して、溶接時における電流値が前記所定の大きさの一定値となるように調整している。
【００２２】
図２に示すように、抵抗溶接機１には、時間における電流値、および時間における電圧値を、溶接時に測定可能となるように、例えば、電流計および電圧計等が設置される。すなわち、抵抗溶接機１は、溶接時における電流値および電圧値を測定可能に構成される。
【００２３】
図３（ａ）に示すように、一対の電極１０は、溶接を繰り返し行うことで、酸化が進行して劣化する（図３（ａ）に示す劣化した一対の電極１０Ａ参照）。
劣化した一対の電極１０Ａは、抵抗が増加する。このため、図３（ｂ）および図３（ｃ）に示すように、抵抗溶接機１は、劣化前と比較してより高い電圧を溶接時に印加して、母材Ｗに劣化前と同じ所定の大きさの電流を供給する。
【００２４】
このような劣化した一対の電極１０Ａで母材Ｗを溶接した場合、劣化した上側の電極１０Ａには、上端部の銅箔Ｗ２が張り付く可能性がある。
電極１０Ａに張り付いた上端部の銅箔Ｗ２は、劣化した一対の電極１０Ａを母材Ｗから離すときに、下側に積層される銅箔Ｗ２から剥がれてしまう。この場合には、上端部の銅箔Ｗ２の、上側の電極１０と接触していた部分が浮いてしまい、溶接不良が発生してしまう。
【００２５】
本実施形態の電極劣化検出方法は、一対の電極１０の劣化（酸化）を検出して、上側の電極１０に上端部の銅箔Ｗ２が張り付くこと（銅箔Ｗ２の張り付き）に起因する溶接不良の発生を防止するものである。
【００２６】
なお、母材は、溶接時に銅箔が一対の電極に接触するように積層されていればよい。つまり、母材は、上端部および下端部（積層方向一端部および積層方向他端部）の少なくともいずれか一方に銅箔が積層されていればよい。
【００２７】
また、本実施形態の電極劣化検出方法は、金属箔として銅箔を溶接する抵抗溶接機１の、一対の電極１０の劣化を検出するものとするが、これに限定されるものでない。
すなわち、電極劣化検出方法は、溶接時に、劣化した電極に張り付くような金属箔を溶接する抵抗溶接機の、一対の電極の劣化を検出するものであればよい。
【００２８】
次に、電極劣化検出方法の手順を説明する。
【００２９】
劣化した一対の電極１０Ａは、劣化前と比較して、抵抗が増加するため、溶接時に高温となる。
そこで、まず、電極劣化検出方法では、一対の電極１０の温度と銅箔Ｗ２の張り付きとの相関関係を確認する。
【００３０】
具体的には、電極劣化検出方法では、真空炉内に一つの電極１０をセットするとともに、複数枚の銅箔Ｗ２を当該電極１０に載置する。そして、銅箔Ｗ２にウエイトを載置する。前記ウエイトは、一対の電極１０により母材Ｗを挟持したときに電極１０の先端にかかる圧力と同等の圧力が、銅箔Ｗ２を載置した電極１０の先端にかかるような重さに設定されている。
電極劣化検出方法では、このような状態で真空炉内の温度を所定の温度に調節し、電極１０および銅箔Ｗ２を加熱する。
電極劣化検出方法では、このようにして一つの電極１０に張り付いた銅箔Ｗ２の引張強度を測定する。つまり、銅箔Ｗ２の張付強度を測定する。
【００３１】
図４に示すように、電極劣化検出方法では、銅箔Ｗ２の張付強度の測定を、真空炉内の温度を調節しながら複数回繰り返し行う（図４に示す炉内温度Ａ１〜Ａ５参照）。
【００３２】
図４において、銅箔Ｗ２の張付強度は、真空炉内の温度が高温になるほど大きくなっている。この結果より、一対の電極１０が高温になるほど銅箔Ｗ２が張り付きやすくなることがわかる。
つまり、一対の電極１０の温度と銅箔Ｗ２の張り付きとの間には相関関係がある。
【００３３】
一対の電極１０は、劣化が進行するにつれて抵抗が増加し、溶接時にその温度が上昇する。抵抗の増加に伴って、溶接時に印加する電圧値も増加する（図３（ｃ）参照）。
電圧値の増加に伴って、溶接時における電流値（時間における電流値、図２（ａ）参照）および電圧値（時間における電圧値、図２（ｂ）参照）と、溶接時間との積によって決まる入熱量も増加する。
【００３４】
そこで、電極劣化検出方法では、一対の電極１０の温度を測定可能な測定装置を、抵抗溶接機１に設置し、溶接時における電流値および溶接時間を調整することで入熱量を変化させ、母材Ｗを試験的に溶接する。
測定装置は、母材Ｗを試験的に溶接するときに一時的に設置されるものであり、母材Ｗを試験的に溶接した後で、抵抗溶接機１から撤去される。
【００３５】
図５に示すように、電極劣化検出方法では、試験的に溶接したときの電流値および電圧値と、溶接時間との積により入熱量を算出し、溶接時の一対の電極１０の温度の最大値との関係を確認する。
【００３６】
このとき、電極劣化検出方法では、例えば、新品の一対の電極１０で母材Ｗを溶接したときの入熱量から試験的な溶接を開始し、入熱量を徐々に増加させる。
そして、電極劣化検出方法は、一つの電極１０に銅箔Ｗ２が張り付いたときの炉内温度の中で最も低い温度（図４に示す炉内温度Ａ１参照）に相当する温度まで、一対の電極１０の温度が上昇したときに、試験的な溶接を終了する。
【００３７】
これにより、電極劣化検出方法では、入熱量と一対の電極１０の温度（溶接時の温度の最大値）との相関関係を算出する。
【００３８】
なお、入熱量を変化させるための手段は、本実施形態に限定されるものでない。例えば、劣化度合いの異なる複数の電極に交換しながら母材を試験的に溶接することで、入熱量を変化させても構わない。
また、入熱量を変化させる範囲は、入熱量と一対の電極の温度との相関関係を算出できる範囲であればよい。
【００３９】
図５において、一対の電極１０は、入熱量が増加するほど高温となっている。この結果より、入熱量が増加するほど銅箔Ｗ２が張り付きやすくなることがわかる。
つまり、入熱量と銅箔Ｗ２の張り付きとの間には相関関係がある。
【００４０】
そこで、図６に示すように、電極劣化検出方法では、前記試験的に溶接した母材Ｗの銅箔Ｗ２の張り付き有無を入熱量毎に検査する（図６に示す入熱量Ｂ１〜Ｂ２４参照）。
【００４１】
すなわち、本実施形態では、入熱量と一対の電極１０の温度との相関関係を算出するときに、銅箔Ｗ２の張り付きが発生しない程度に小さい入熱量から、銅箔Ｗ２の張り付きが発生する程度に大きい入熱量までの範囲で、試験的な溶接を行っている。
これにより、電極劣化検出方法では、銅箔Ｗ２の張り付きが発生しなかった母材Ｗと、銅箔Ｗ２の張り付きが発生した母材Ｗとを、それぞれ複数個取得している。
【００４２】
なお、銅箔の張り付き有無を検査するために、別途（入熱量と一対の電極の温度との相関関係を算出するときとは異なる条件で）入熱量を変化させて母材を試験的に溶接しても構わない。
また、入熱量を変化させる範囲は、銅箔の張り付きが発生しない程度に小さい入熱量から、銅箔の張り付きが発生する程度に大きい入熱量までの範囲であればよい。
【００４３】
電極劣化検出方法では、判別分析を用いることで、検査した銅箔Ｗ２の張り付き有無から、どの程度の入熱量で銅箔Ｗ２の張り付きが発生するかを算出する（図６に二点鎖線で示す境目Ｌ１参照）。
なお、図６に示す棒グラフは、判別分析の結果を示すものであり、境目Ｌ１に対応する入熱量を基準（０）として、プラス側（入熱量が少ない側）を張り付き無しのグループ、マイナス側（入熱量が多い側）を張り付き有りのグループとして分割している。
【００４４】
本実施形態の電極劣化検出方法では、算出した銅箔Ｗ２の張り付き有無の境目Ｌ１となる入熱量よりも所定量だけ少ない入熱量を、溶接時における入熱量の閾値として設定する。より詳細には、銅箔Ｗ２の張り付きが発生した入熱量の最小値よりも、所定量だけ少ない入熱量を、溶接時における入熱量の閾値として設定する（図６に示す線Ｌ２参照）。
【００４５】
このように、電極劣化検出方法では、母材Ｗを溶接する前に、入熱量を変化させて母材Ｗを試験的に溶接し、一対の電極１０に対する銅箔Ｗ２の張り付き有無を入熱量毎に検査することで、検査結果に基づいて入熱量の閾値を設定する。
【００４６】
閾値を設定した後で、図１に示すように、電極劣化検出方法では、抵抗溶接機１によって母材Ｗを溶接する。
このとき、電極劣化検出方法では、図２に示すように、溶接時における電流値および電圧値を測定する。
【００４７】
母材Ｗを溶接した後で、電極劣化検出方法では、溶接時間と測定した電流値および電圧値とに基づいて入熱量を算出する。
【００４８】
入熱量を算出した後で、図７に示すように、電極劣化検出方法では、算出した入熱量と閾値とを比較する。
【００４９】
仮に、算出した入熱量が閾値以下である場合、電極劣化検出方法では、一対の電極１０の温度（溶接時の温度の最大値）が、銅箔Ｗ２の張り付きが発生しない程度に低い温度までしか上昇しなかったと判断する。
【００５０】
つまり、電極劣化検出方法では、算出した入熱量が閾値以下である場合、一対の電極１０の劣化が比較的進行していないと判断する。
この場合、電極劣化検出方法では、溶接を継続して行っても、早い段階で銅箔Ｗ２の張り付きが発生しないと判断し、抵抗溶接機１によって継続して母材Ｗを溶接する。
【００５１】
このように算出した入熱量が閾値以下となる場合としては、例えば、新品の一対の電極１０で溶接を行う場合等がある。
仮に、図７に示す点Ｐが新品の一対の電極１０で溶接を行ったときの入熱量である場合、継続して母材Ｗを溶接することで一対の電極１０の劣化が進行し、入熱量は、点Ｐから徐々に増加する（図７に示す矢印参照）。これに伴い、一対の電極１０の温度も上昇する。
【００５２】
一対の電極１０の劣化は、ロットバラつきや周辺温度等に応じて進行する。従って、入熱量は、ロットバラつきや周辺温度等に応じて増加する。
【００５３】
このようにして増加する入熱量が閾値よりも大きくなった場合、電極劣化検出方法では、銅箔Ｗ２の張り付きが発生する可能性がある温度に近い温度まで、一対の電極１０の温度が上昇したと判断する（図７に示す線Ｌ２および範囲Ｒ１参照）。
【００５４】
つまり、電極劣化検出方法では、算出した入熱量が閾値を超えた場合、一対の電極１０の劣化がある程度進行していると判断する。
この場合、電極劣化検出方法では、溶接を継続して行うと、早い段階で銅箔Ｗ２の張り付きが発生すると判断し、一対の電極１０を新品の電極に交換する。
【００５５】
このように、電極劣化検出方法は、入熱量の算出結果と閾値とを比較することで、一対の電極１０の劣化を検出する。
【００５６】
これによれば、電極劣化検出方法は、入熱量（溶接時の一対の電極１０の状態）に基づいて、溶接不良が発生するタイミングを推測できる。
つまり、電極劣化検出方法は、ロットバラつきや周辺温度等に関わらず、一対の電極１０を適切に管理できるため、銅箔Ｗ２の張り付きに起因する溶接不良の発生を確実に防止できる。
【００５７】
従って、電極劣化検出方法によれば、二次電池の負極に用いられる銅箔が、上端部および下端部の少なくともいずれか一方に積層される母材を、抵抗溶接で接合することが可能となる。
つまり、電極劣化検出方法によれば、二次電池の負極に用いられる銅箔を超音波接合する必要がなくなるため、スパッタに起因する二次電池の不具合の発生を防止できる。
また、電極劣化検出方法は、超音波接合で母材Ｗを接合する場合と比較して、母材Ｗの溶接に要するコストを低減できる。
【００５８】
ここで、判別分析により算出した銅箔Ｗ２の張り付き有無の境目Ｌ１を閾値として溶接を行った場合には、閾値に近い入熱量や閾値よりも大きな入熱量で母材Ｗを溶接したときに、銅箔Ｗ２の張り付きが発生する可能性がある（図６に示す境目Ｌ１周辺のデータ参照）。
すなわち、溶接不良による仕損費が発生する可能性がある。
【００５９】
また、このような場合において、銅箔Ｗ２の張り付きが発生することを想定し、例えば、溶接部にレーザを照射して、レーザの遮断状態から銅箔Ｗ２の張り付きを検出する構成が考えられる。
しかし、電極１０に僅かに張り付いただけの銅箔Ｗ２は、積層方向に隣接する銅箔Ｗ２から僅かしか浮き上がらない。つまり、銅箔Ｗ２の張り付き度合いによっては、レーザの遮断状態から銅箔Ｗ２の張り付きを検出できない可能性がある。
つまり、閾値を超えたときに銅箔Ｗ２の張り付きが発生する可能性がある場合には、抵抗溶接後の工程に溶接不良が発生した母材Ｗが流出してしまう可能性がある。
【００６０】
そこで、本実施形態では、銅箔Ｗ２の張り付きが発生した入熱量の最小値よりも、所定量だけ少ない入熱量を閾値として設定することで、入熱量が閾値よりも大きくなった場合でも銅箔Ｗ２の張り付きが発生しないようにしている。
【００６１】
これによれば、電極劣化検出方法は、仕損費の発生を確実に防止できるとともに、溶接不良が発生した母材Ｗが、抵抗溶接後の工程に流出してしまう事態の発生を確実に防止できる。
【００６２】
ここで、本実施形態の電極劣化検出方法を応用し、母材Ｗを試験的に溶接した結果に基づいて一対の電極１０の温度に閾値を設定し、溶接時の一対の電極１０の温度の最大値から、一対の電極１０の劣化を検出する方法が考えられる。
【００６３】
しかし、短時間で行われる抵抗溶接の間に一対の電極１０の温度を測定するためには、高価な測定装置が必要となる。従って、母材Ｗの溶接に要するコストが増大してしまう。特に、複数の抵抗溶接機１で母材Ｗを並行して溶接する場合等においては、抵抗溶接機１の数だけ測定装置が必要となり、コストがさらに増大してしまう。
また、一対の電極１０の温度を測定するために、一対の電極１０の近傍に測定装置を配置する都合上、抵抗溶接機１が設置される設備等の周辺環境によっては、抵抗溶接機１に測定装置を設置することが困難となる場合がある。
【００６４】
つまり、本実施形態のように、入熱量から一対の電極１０の劣化を検出することで、母材Ｗの溶接に要するコストを低減できるとともに、抵抗溶接機１が設置される設備等の周辺環境に関わらず、一対の電極１０の劣化を検出できる。
【００６５】
なお、電極劣化方法は、母材を溶接した後で、溶接部の接合強度を入熱量毎に推測しても構わない。
【００６６】
この場合には、溶接前に入熱量と溶接部の接合強度との相関関係を算出する。
例えば、入熱量と一対の電極１０の温度との相関関係（図５参照）を算出するときに、試験的に溶接した母材Ｗの溶接部の接合強度を入熱量毎に測定し、図８に示すような入熱量と溶接部の接合強度との相関関係を算出する。
【００６７】
なお、入熱量と溶接部の接合強度との相関関係を算出するために、別途（一対の電極の温度と入熱量との相関関係を算出するときとは異なる条件で）入熱量を変化させて母材を試験的に溶接しても構わない。
また、入熱量を変化させる範囲は、入熱量と溶接部の接合強度との相関関係を算出できる範囲であればよい。
【００６８】
このように、電極劣化検出方法は、母材Ｗを溶接する前に、入熱量を変化させて母材Ｗを試験的に溶接し、母材Ｗの溶接部の接合強度を入熱量毎に測定することで、測定結果に基づいて入熱量と溶接部の接合強度との相関関係を算出する。
【００６９】
そして、電極劣化検出方法では、母材Ｗの用途等に応じて設定される溶接部の接合強度の下限Ｃ１および上限Ｃ２に基づいて、入熱量の範囲Ｒ２を設定する。
【００７０】
これによれば、電極劣化検出方法は、溶接時に算出した入熱量が、範囲Ｒ２の範囲内となった場合に、溶接部の接合強度が良好であると判断できる。
また、電極劣化検出方法は、溶接時に算出した入熱量が、範囲Ｒ２の範囲外となった場合、溶接部の接合強度が良好でないと判断できる。
【００７１】
つまり、電極劣化検出方法は、入熱量から溶接部の接合強度を推測することで、溶接後に引張試験を行うことなく、全ての母材Ｗを対象とした強度管理を行うことができる。
【００７２】
従って、電極劣化検出方法は、溶接部の接合強度を測定するための引張試験機ユニットを削減できる。つまり、母材Ｗの溶接に要するコストをさらに低減できる。
また、電極劣化検出方法は、溶接部の接合強度が不足している母材Ｗが、抵抗溶接後の工程に流出してしまう事態の発生を防止できる。
【００７３】
このように、電極劣化検出方法は、母材Ｗを溶接した後で、入熱量の算出結果と相関関係とに基づいて、溶接部の接合強度を推測する。
【符号の説明】
【００７４】
１      抵抗溶接機
１０    一対の電極
１０Ａ  劣化した一対の電極
Ｗ      母材
Ｗ２    銅箔（金属箔）
【図１】
2013184203.tif 000003
【図２】
2013184203.tif 000004
【図３】
2013184203.tif 000005
【図４】
2013184203.tif 000006
【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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