(57)【要約】【課題】点滅欠陥画素の欠陥画素補正による解像感の劣化を抑えた画像を提供する。【解決手段】撮影条件と点滅欠陥画素補正レベルと画像合成枚数を対応付けた点滅欠陥画素補正テーブルを有し、点滅欠陥画素補正テーブルに従って所定数の画像合成と点滅欠陥画素補正を行い、点滅欠陥画素補正対象の画素数を減少させることを特徴とする撮像装置。【選択図】図９
2013219665.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素を有する撮像素子を備えた撮像装置であり、
前記撮像素子により被写体を撮影して画像信号を出力する撮像手段と、
前記撮像手段による撮影の異なる撮影条件と各撮影条件に対応した少なくとも欠陥画素の第１の補正条件及び第２の補正条件とを保持する保持手段と、
前記撮影条件の非露光状態において前記撮像手段から出力される画像信号を用いて、前記保持手段に保持されている前記撮影条件に対応する第１の補正条件に従って欠陥画素を検出し、該検出された欠陥画素の情報を前記保持手段に保持する欠陥画素検出手段と
前記被写体の撮影条件および前記保持手段に保持された前記撮影条件に対応する第２の補正条件に従って前記撮像手段で前記被写体を撮影し、当該撮影で得た画像信号を合成する画像合成手段と、
前記画像合成手段で合成された画像信号に対して、前記保持手段に保持されている前記欠陥画素の情報に従って欠陥画素の補正を行なう欠陥画素補正手段と、を備えることを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記保持手段に保持されている第１の補正条件は、各撮影条件に対応した欠陥レベルの情報であり、前記第２の補正条件は前記画像合成手段よる合成数の情報であり、当該欠陥レベルは、前記撮影条件で前記撮像手段から出力された前記画像信号に基づいて決定され、前記合成数は前記欠陥画素検出手段で検出された欠陥画素の情報と対応していることを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記画像合成手段は、前記被写体を前記撮像手段で前記合成数だけ撮影して得られた画像信号を加算し、当該加算の結果を前記合成数で平均化することで画像信号を合成することを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記保持手段は、前記欠陥レベルに基づく判定レベルを保持し、前記欠陥画素検出手段は判定対象の画素とその周辺画素との差分値を前記判定レベルと比較して欠陥画素を検出することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか一項に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記判定レベルは、非定常的に異常なレベルを出力する点滅欠陥画素の判定レベルであることを特徴とする請求項４に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記欠陥画素補正手段は、前記補正される欠陥画の周囲の画素を用いた補間処理で該欠陥画素を補正することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか一項に記載の撮像装置。
【請求項７】
前記撮影条件は、ＩＳＯ感度であることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか一項に記載の撮像装置。
【請求項８】
複数の画素を有し、被写体を撮影して画像信号を出力する撮像素子の欠陥画素の補正方法であり、
前記被写体の異なる撮影条件と各撮影条件に対応した少なくとも欠陥画素の第１の補正条件及び第２の補正条件とを保持手段に保持する保持ステップと、
前記撮影条件の非露光状態において前記撮像素子から出力される画像信号を用いて、前記保持手段に保持されている前記撮影条件に対応する第１の補正条件に従って欠陥画素を検出し、該検出された欠陥画素の情報を前記保持手段に保持する欠陥画素検出ステップと
前記被写体の撮影条件および前記保持手段に保持された前記撮影条件に対応する第２の補正条件に従って前記被写体を撮影し、当該撮影で得た画像信号を合成する画像合成ステップと、
前記画像合成ステップで合成された画像信号に対して、前記保持手段に保持されている前記欠陥画素の情報に従って欠陥画素の補正を行なう欠陥画素補正ステップと、を備えることを特徴とする欠陥画素の補正方法。
【請求項９】
コンピュータを、
複数の画素を有する撮像素子により被写体を撮影して画像信号を出力する撮像手段を備えた撮像装置の制御方法において、
前記撮像手段による撮影の異なる撮影条件と各撮影条件に対応した少なくとも欠陥画素の第１の補正条件及び第２の補正条件とを保持する保持手段と、
前記撮影条件の非露光状態において前記撮像手段から出力される画像信号を用いて、前記保持手段に保持されている前記撮影条件に対応する第１の補正条件に従って欠陥画素を検出し、該検出された欠陥画素の情報を前記保持手段に保持する欠陥画素検出手段と
前記被写体の撮影条件および前記保持手段に保持された前記撮影条件に対応する第２の補正条件に従って前記撮像手段で前記被写体を撮影し、当該撮影で得た画像信号を合成する画像合成手段と、
前記画像合成手段で合成された画像信号に対して、前記保持手段に保持されている前記欠陥画素の情報に従って欠陥画素の補正を行なう欠陥画素補正手段と、を備えることを特徴とする撮像装置。
として機能させるプログラム。
【請求項１０】
請求項９のプログラムを記録したコンピュータが読み取り可能な記録媒体。
【請求項１１】
コンピュータを、請求項１乃至７のいずれか一項に記載された撮像装置の各手段として機能させるプログラム。
【請求項１２】
コンピュータを、請求項１乃至７のいずれか一項に記載された撮像装置の各手段として機能させるプログラムを格納した記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は撮像装置及びその制御方法に関し、特に撮像装置が用いる撮像素子の欠陥画素の補正技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
撮像素子であるＣＭＯＳセンサ、ＣＣＤ等を構成する多くの画素には、結晶欠陥やダストなどにより正規の出力信号を発生しない欠陥画素が存在することが知られている。欠陥画素は、その出力信号レベルの時間的な変化の有無で主に２種類に分類できる。
【０００３】
１つは、定常的に正規のレベルの出力信号を発生しない（本発明では異常出力と呼ぶ）定常欠陥画素、他の１つは、正規の出力信号と異常出力信号とが非定常的に出力される点滅欠陥画素である（ＲＴＳ(Random Telegraph Signal)ノイズとも言われる）。
【０００４】
ＣＭＯＳセンサにおいては、定常欠陥画素と点滅欠陥画素では、異常出力時の出力特性として異なる特性を持つことが知られている。定常欠陥画素では、ダスト、開口むら等の感度依存性欠陥を除いた場合、受光部の結晶欠陥による白点欠陥が多くを占める。よって、本願では白点欠陥画素を定常欠陥画素と定義する。
【０００５】
この白点欠陥は暗信号増加を伴うため、異常出力レベルは、温度および蓄積時間に依存し、ほぼ安定的に発生する特性を有する。
【０００６】
一方、点滅欠陥画素は結晶欠陥が発生する箇所が定常欠陥画素の場合の受光部とは異なるため、異常出力レベルは温度および蓄積時間にほとんど依存せず、欠陥レベルも、プラス方向、ほぼ０、マイナス方向の３種類をランダムに発生する特性を有する。
【０００７】
次に、点滅欠陥画素の結晶欠陥が発生する箇所を、図１０を用いて説明する。
【０００８】
図１０は、ＣＭＯＳセンサの画素回路の一般的な構成を示す。
同図において、１００１は受光部であるフォトダイオード（ＰＤ）、１００２は蓄積された電荷をリセットするリセットＭＯＳトランジスタ、１００３は電荷検出を行うフローティングディフュージョン（ＦＤ）である。また、１００４は画素ソースフォロアＭＯＳトランジスタである。
【０００９】
上述の定常欠陥画素の多くは、ＰＤ部（１００１）の結晶欠陥に因るものである。
【００１０】
一方、点滅欠陥画素は、画素ソースフォロア部（１００４）の結晶欠陥により、ＭＯＳトランジスタの界面準位で電子が捕獲、放出を繰り返すことでＲＴＳノイズを発生することによると考えられている。
【００１１】
上述した、非定常的に信号を出力する点滅欠陥画素の検出方法および補正方法として、以下が提案されている（特許文献１）。
【００１２】
複数の撮像によって得られる複数枚の検出対象画像データの各位置の画素の画素値の最大値を画素値とする最大値画像データと、欠陥画素検出用のしきい値を比較する。この比較により、点滅欠陥画素および異常出力レベルを検出し、異常レベルに基づき、そのレベルが大きい上位Ｎ個の欠陥画素を選択することで、異常出力レベルが大きい画素値の補正を優先的に行っている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１３】
【特許文献１】特開２００８−１３１２７３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
昨今のデジタルスチルカメラ、デジタルビデオカメラでは、
１、多画素化により撮像素子の微細化が進み、点滅欠陥画素の個数が一段と増加し、また
２、高感度化により、点滅欠陥画素の補正対象数が増加している。
【００１５】
１、２の事情により、上述の特許文献１に開示された従来技術では、本来補正すべき点滅欠陥画素の数の増加に対し、レベルが大きい上位の欠陥画素のみでは欠陥画素補正数に不足が生じ、高感度撮影時に白点キズが目立つケースがあった。
【００１６】
この対策として、本来補正すべき点滅欠陥画素全てに対して補正を行うと、全画素数に対し点滅欠陥画素の占める割合が大きくなり、欠陥画素補正の誤補正の頻度が増えて解像度劣化問題が生じる。
【００１７】
特に、点滅欠陥画素の発生箇所である画素ソースフォロア部は、周囲の画素で共有に使用されるケースが昨今多い。例えば、画素ソースフォロア部を縦４画素で共有している場合、縦4画素が連なって点滅欠陥画素となる可能性が高い。すなわち欠陥画素が画面内のある領域に集中してしまうことになる。
【００１８】
通常、欠陥画素の補正は欠陥画素の周囲画素からの補間で行い、値を置き換える処理をする。欠陥画素が特定の画像領域に集中する場合や、全画素に対し欠陥画素の占める割合が大きい場合では、欠陥画素の周囲の画素も欠陥画素になる可能性が高くなり、周囲画素からの補間が正しい値の置き換えにならない頻度が高くなる。
【００１９】
低周波の被写体撮影時では影響が小さいが、高周波成分が含まれた被写体、例えばビル等を遠くから撮影した場合等では、周囲画素からの補間処理が正しい値の置き換えにならない頻度が高くなり、著しく解像度が劣化してしまう。
【００２０】
また、欠陥画素の補正対象数を増やすことは、欠陥画素のアドレスやレベルを記憶するためのメモリの容量を大きくする必要があるため、撮像装置のコストアップにもつながるという問題も発生する。
【００２１】
本発明はこのような従来技術の課題に鑑みてなされたもので、撮像装置のコストアップなしに、欠陥画素の補正対象の数の増加を抑制し、かつ解像度の劣化を低減することが可能な撮像装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００２２】
本発明によれば、撮像装置は、複数の画素を有する撮像素子により被写体を撮影して画像信号を出力する撮像手段をそなえ、撮像素子により被写体を撮影して画像信号を出力する撮像手段と、撮像手段による撮影の異なる撮影条件と各撮影条件に対応した少なくとも欠陥画素の第１の補正条件及び第２の補正条件とを保持する保持手段と、撮影条件の非露光状態において撮像手段から出力される画像信号を用いて、保持手段に保持されている撮影条件に対応する第１の補正条件に従って欠陥画素を検出し、該検出された欠陥画素の情報を保持手段に保持する欠陥画素検出手段と、被写体の撮像条件および保持手段に保持された撮影条件に対応する第２の補正条件に従って撮像手段で被写体を撮影し、当該撮影で得た画像信号を合成する画像合成手段と、画像合成手段で合成された画像信号に対して、保持手段に保持されている欠陥画素の情報に従って欠陥画素の補正を行なう欠陥画素補正手段と、を備える。
【発明の効果】
【００２３】
本発明によれば、点滅欠陥画素の欠陥画素補正対象の数の増加を抑制し、かつ点滅欠陥画素補正による解像感の劣化を抑えた画像を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】本発明の実施形態に係る撮像装置であるデジタルスチルカメラのブロック図
【図２】本発明の第一の実施例に係わる点滅欠陥画素補正動作のフローチャートを示す図
【図３】本発明の第一の実施例に係わる点滅欠陥画素補正テーブルの生成動作のフローチャートを示す図
【図４】本発明の第一の実施例に係わる点滅欠陥画素検出動作のフローチャートを示す図
【図５】本発明の第一の実施例に係わる画像合成と点滅欠陥画素補正動作のフローチャートを示す図
【図６】欠陥画素の欠陥レベル推移を模式的に表す図
【図７】ＩＳＯを固定して画像合成枚数を変えたときの点滅欠陥画素数の変化を示す図
【図８】補正する点滅欠陥画素数と画像合成枚数との対応表を示す図
【図９】点滅欠陥画素補正テーブルを示す図
【図１０】ＣＭＯＳセンサの一般的な画素回路の構成を示す図
【図１１】ベイヤー配列での画素配列を示す図
【発明を実施するための形態】
【００２５】
以下、添付図面を参照して、本発明の例示的な実施形態を詳細に説明する。
【００２６】
図１は本発明の一実施形態に係る撮像装置の一例としてのデジタルスチルカメラのブロック図である。
図において、１０２は光電変換素子である撮像素子であり、被写体の光学像を画素単位のアナログ映像信号に変換して出力する。本実施形態では撮像素子１０２はＣＭＯＳイメージセンサとする。レンズ１００は被写体の光学像を撮像素子１０２上に結像する。メカニカルシャッター（メカシャッター）１０１は、レンズ１００と撮像素子１０２との間の光路を開閉させる。タイミングジェネレータ（ＴＧ）１０３は、撮像素子１０２の駆動信号を生成する。レンズ１００、メカニカルシャッター１０１と撮像素子１０２とは、本実施形態に係わる撮像装置の撮像手段を構成する。
【００２７】
Ａ／Ｄ変換部１０４は撮像素子１０２から出力されるアナログ画像信号をデジタル画像信号(画像データ)へ変換する。デジタル画像信号はＲＡＷ画像データとして、記憶部１０５の画像用メモリ１０６に一時記憶させる。画像用メモリ１０６は例えばＤＲＡＭで構成される。
【００２８】
記憶部１０５は例えば半導体記憶装置から構成され、画像用メモリ１０６、欠陥画素情報メモリ１０７、欠陥画素補正テーブル１０８、欠陥画素検出条件テーブル１０９を有する。
【００２９】
欠陥画素判定部１１０は、欠陥画素の種類の判別と異常出力信号レベルの判定を行う。本実施形態において、欠陥画素判定部１１０は点滅欠陥画素と定常欠陥画素の判別を行うが、他の種類を判別可能に構成してもよい。
【００３０】
欠陥画素補正部１１１は、欠陥画素判定部１１０で欠陥画素と判定された画素について、欠陥画素判定部１１０で判別された欠陥画素の種別に応じて補正を行う。
【００３１】
画像処理部１１２は、画像用メモリ１０６に一時記憶されたＲＡＷ画像データに予め定められた画像処理を適用し、最終的な出力画像フォーマット、例えばＤＣＦ(Design rule for camera file system)に準拠したＪＰＥＧ形式の画像データに変換する。そして、画像処理部１１２は、例えば半導体メモリカードである記録媒体１１３に、撮像画像データを最終画像フォーマットで記録する。
【００３２】
制御部１１４は例えばＣＰＵ、ＲＯＭ及びＲＡＭを含み、ＲＯＭに記憶されたプログラムをＲＡＭに展開してＣＰＵで実行することにより、後述する欠陥画素の検出処理や補正処理を始めとしたデジタルスチルカメラ全体の動作を制御する。
【００３３】
操作部１１６は電源ＯＮ／ＯＦＦボタン、シャッターボタン、メニューボタン、方向キー、決定ボタンなど、各種ボタンやキーなどを有する入力デバイス群である。操作部１１６は、デジタルスチルカメラ１２０の操作者がデジタルスチルカメラ１２０に各種の指示を与えるために用いられる。操作部１１６の操作は、制御部１１４によって検出される。
【実施例１】
【００３４】
次に、図２、図３、図４および図５のフローチャートを用いて、本発明の第一の実施例に係わる欠陥画素の補正動作を説明する。
【００３５】
図２は、本実施例に係わる欠陥画素の補正動作全体のフローチャートを示す図、図３は、図２のＳ２０１の動作の詳なフローチャートを示す図である。また、図４は、図２のＳ２０２の動作の詳細なフローチャートを示す図、図５は、図２のＳ２０３の動作の詳細なフローチャートを示す図である。
【００３６】
まず、図２のフローチャートを用いて本実施例の欠陥画素の補正動作全体の流れを説明する。
【００３７】
Ｓ２０１は、点滅欠陥画素の補正対象数が少なくなるように、撮影条件に対応した点滅欠陥画素の補正条件を与える補正テーブルを作成する動作である。詳細については図３のフローチャートを用いて説明する。この動作は、後述するように、カメラの設計段階において行なうが、製品段階において変更、更新できるようにしてもよい。
【００３８】
Ｓ２０２は、点滅欠陥画素補正テーブルの補正対象となる点滅欠陥画素を検出する動作である。点滅欠陥画素検出の動作の詳細は、図４のフローチャートを用いて説明する。
【００３９】
Ｓ２０３は画像の撮影時に行なう欠陥画素の補正動作である。Ｓ２０２で検出された点滅欠陥画素をＳ２０１で作成された点滅欠陥画素補正テーブルに従って、所定枚数の画像の撮像、合成処理を行った後、欠陥画素補正（例えば補間処理）を行う動作である。
【００４０】
次に、Ｓ２０１の詳細フローである、図３のフローチャートを説明する。本実施例では、点滅欠陥画素補正テーブルの作成をカメラ設計段階で行なうものとして説明する。
【００４１】
まず、Ｓ３０２でＩＳＯ感度毎に、欠陥画素補正閾値、すなわち補正すべき欠陥レベルを決定する。補正すべき欠陥レベルとは、最終的な出力画像フォーマット（本実施例ではＪＰＥＧ）上で、白点キズ、黒点キズとして目立ち始めるレベルを表している。
【００４２】
図９は、各ＩＳＯ感度と補正すべき欠陥レベルの関係の一例を示す図で、各ＩＳＯ感度に対して、補正すべき欠陥レベルがＣＭＯＳのアナログ信号レベル（ｍＶ）で記載されている。これらのアナログ信号レベル（ｍＶ）は、最終的な出力画像フォーマット（本実施例ではＪＰＥＧ）上で、目立ち始めるレベルを複数シーンの実写を行って決定することが望ましい。
【００４３】
次にＳ３０３で、各ＩＳＯ感度において、図９の補正すべき欠陥レベルで点滅欠陥画素の検出を行い、Ｓ３０４において、検出される点滅欠陥画素の個数の全体画素数に対する比率を算出する。なお、本実施例では点滅欠陥画素数を全画素数に対する比率で表わし(図８及び９)、また、点滅欠陥画素の検出方法は、後術する図４のフローチャートによる動作と同様に行われる。
【００４４】
次にＳ３０５で、図８の点滅欠陥画素の数と画像合成枚数のテーブルに従って、Ｓ３０４で算出した比率（点滅欠陥画素の数）に応じた画像合成枚数を決定する。
【００４５】
例えば、ＩＳＯ感度４００の場合、補正すべき欠陥レベル４ｍＶ（第１の補正条件）で点滅欠陥画素の検出調整を行った結果、検出数として全画素数に対する比率が０．３１％であった場合、図８のテーブルから、該当する画像合成枚数(第２の補正条件)、３を決定する。
【００４６】
なお、ここで画像合成とは一般的に同一被写体の複数枚撮影を行い、画像を加算平均処理して最終的に１枚の画像とする信号処理のことである。例えば、本発明の実施形態に係わる撮像装置の撮像素子１０２のＣＭＯＳセンサの画素を原色ベイヤー配列とした場合、Ｇｒｅｅｎの色フィルタを有する１画素に着目すれば、当該画素のｎ枚撮影時のＧｒｅｅｎの加算平均出力値を、次のように表わす。
［式１］
ＧＡｖｅ＝（Ａ1＋・・・＋Ａn）/n
なお、式中、Ａ1、Ａ２、・・・Ａnは、各撮影画像での上記画素の値である。ここで、本実施例に従って画像合成を行うことにより、点滅欠陥画素の補正対象画素数を減らせる理由を図６および図７を用いて説明する。
【００４７】
図６（ａ）は、一つの定常欠陥画素（本願では受光部の結晶欠陥による白点欠陥として説明している）の撮影毎の欠陥レベルの推移を表している。
【００４８】
通常、定常欠陥画素は、温度、露光時間が同じ条件であれば、図６（ａ）のようにレベル変動の小さい安定した欠陥レベルの推移を示す特性を持つ。
【００４９】
一方、点滅欠陥画素は非定常的に異常なレベルを出力する。点滅欠陥画素のある一つの画素の欠陥レベルの推移は、図６（b）に示すように、欠陥レベルがプラス方向、ほぼ０、マイナス方向の３種類がランダムに発生する推移を示す特性を持つ。
【００５０】
図６中の点線は、欠陥レベルを撮影枚数毎に加算平均した場合の推移を示す。特徴的なのは、点滅欠陥画素の加算平均の推移が、撮影枚数を重ねる毎に、欠陥レベルの０に近づくことである。この現象は、原理的に欠陥レベルがプラス方向、ほぼ０、マイナス方向にランダムに発生していることによるものである。
【００５１】
本実施例では、この特性を生かし、補正すべき点滅欠陥画素の数が増加する撮影条件の場合には、画像合成枚数を増やす、すなわち加算平均枚数を増やすことで、補正すべき点滅欠陥画素総数の増加を抑制している。
【００５２】
図７は、ＩＳＯが８００の場合の、画像合成枚数と補正すべき点滅欠陥画素の数の推移を示す。同図によれば、画像合成枚数を増やせば増やすほど、補正すべき点滅欠陥画素数が減少していく特性を有していることが分かる。従って、点滅欠陥画素が多いほど画像合成枚数を増やすことで点滅欠陥画素の補正による画質劣化を抑制することが可能となる。図８の表は、この点を考慮して作成されている。
【００５３】
例えば、ＩＳＯ８００の場合の画像合成枚数を決定する場合、点滅欠陥画素の補正総数を点線以下に抑えたい場合、図７のグラフから画像合成枚数、５が決定される。
【００５４】
上記の手法で、各ＩＳＯ毎について画像合成枚数を決定した結果の表が図８である。
【００５５】
上述の通り、図８に基づいて、撮影条件（ＩＳＯ感度）と補正条件（補正すべき欠陥レベル、欠陥画素の検出数、画像の合成数）との関係を規定する点滅欠陥補正テーブルを作成し、欠陥画素補正テーブル１０８に記録する。図９はこのように作成された欠陥画素補正テーブル１０８を示す。
【００５６】
次に、Ｓ２０２の詳細フローである、図４のフローチャートを説明する。
なお、図４のフローチャートは、点滅欠陥画素の検出動作である。ここでは点滅欠陥画素の検出をデジタルスチルカメラの動作開始時に行う一例を示すが、カメラ動作終了時、またはカメラ動作中のいずれかのタイミングで、またはデジタルスチルカメラ出荷前の工場調整で行っても構わない。
【００５７】
点滅欠陥画素の欠陥レベルは、前述の通り温度依存性がほとんどないため、本実施例では定常欠陥画素の影響を受けにくいデジタルスチルカメラの温度が低い状態である電源オン動作時に点滅欠陥画素の検出を行う。
【００５８】
まず、図４フローチャートのＳ４０１で、撮影者が撮影を開始するために、デジタルスチルカメラの電源オン動作を開始する。
【００５９】
カメラ電源ＯＮ動作の開始後、欠陥画素検出用ダーク画像撮影のために、Ｓ４０２でメカシャッター１０１を閉じる（非露光状態）。次に、Ｓ４０３で点滅欠陥撮影条件を、欠陥画素検出条件テーブル１０９から取得し、取得した撮影条件でダーク画像の撮影を行う。
【００６０】
点滅欠陥画素の検出は、定常欠陥画素を分離して検出できるように、温度が低く、かつ蓄積時間が短い条件にすることが望ましい。
【００６１】
また、点滅欠陥画素の欠陥レベルはプラス方向、ほぼ０、マイナス方向、の３種類をランダムに発生する特性を持つことから、複数回の撮影を行って決定するのが望ましい。具体的には、複数回の撮影中の各画素のプラス方向またはマイナス方向の最大出力レベルを点滅欠陥画素異常出力レベルとする、ピークホールド方式で検出することが望ましい。
【００６２】
最大出力レベルを検出するには撮影回数は多い方が望ましいが、当然のことながら撮影時間が増加するため、撮影時間と撮影回数の検出効率度合いを考慮して、バランスの取れた撮影回数とすることが望ましい。
【００６３】
Ｓ４０３において点滅欠陥画素検出の撮影条件下でダークＲＡＷ画像を撮影した後は、Ｓ４０４およびＳ４０５でＲＡＷ画像の各画素について欠陥画素の判定を行う。
【００６４】
欠陥画素の判定方法の例を、図１１を用いて説明する。この方法は、判定対象の画素と同色の周辺画素との差分値を計算して欠陥画素の判定を行う方法である。
【００６５】
図１１は、原色ベイヤー配列の一部（５×５）領域のみを示す図である。
【００６６】
今、判定対象の画素を領域の中心にある画素Ｒ33とした場合、判定対象の画素の同色周囲画素、即ち図の画素Ｒ11、Ｒ13、Ｒ15、Ｒ31、Ｒ35、Ｒ51、Ｒ53、Ｒ55 の画素値の平均値をＡＶＥＲ33とする。
［式２］
ＡＶＥＲ33 ＝（Ｒ11+ Ｒ13+ Ｒ15+ Ｒ31+ Ｒ35+ Ｒ51+ Ｒ53+ Ｒ55）/ 8
であり、この加算平均値ＡＶＥＲ33とＲ33との差分値ＤＲ33を、
［式３］
ＤＲ33 ＝｜Ｒ33 −ＡＶＥＲ33 ｜
とする（Ｓ４０４）。
【００６７】
そしてＳ４０５で、点滅欠陥画素の判定レベルをＫｔとし、ＫｔとＤＲ33との比較を行う。
【００６８】
欠陥画素の判定しきい値Ｋｔは、点滅欠陥画素検出撮影条件と定常欠陥画素検出撮影条件が異なることから、点滅欠陥画素検出用と定常欠陥画素検出用、それぞれを設定することが望ましい。
【００６９】
また、欠陥画素の判定しきい値については、事前に撮像素子１０２の所定の撮影条件で、撮像素子間のばらつきを含めたデータ取りを行って決定し、欠陥画素検出条件テーブル１０９に記録する。このしきい値を図９の補正すべき欠陥レベルに基づいて適宜決定することで、上述した点滅欠陥画素の検出調整を行なうことが可能となる。
【００７０】
Ｓ４０５においてＫｔ≧ＤＲ33の場合は、Ｒ33は正規の値を出力している、すなわち点滅欠陥画素ではないと判断する（Ｓ４０７）。
【００７１】
Ｋｔ＜ＤＲ33の場合は、Ｒ33は点滅欠陥画素であると判断し、当該画素Ｒ33のＸアドレスとＹアドレス及び欠陥レベルを、欠陥画素情報メモリ１０７に記録する。
【００７２】
次に、Ｒ33の欠陥画素情報が欠陥画素情報メモリ１０７に記録されていない場合は、新規に記録する。既に、Ｒ33の欠陥画素情報（例えば定常欠陥画素）が欠陥画素情報メモリ１０７に記録されている場合は、既記録欠陥画素情報と点滅欠陥画素アドレス情報をまとめて欠陥画素情報メモリ１０７に記録する（Ｓ４０６）。
【００７３】
Ｓ４０４−Ｓ４０８と同様の動作を、欠陥画素検出領域の全画素について繰り返し行い、点滅欠陥画素の検出を終了する（Ｓ４０９）。
【００７４】
次に、Ｓ２０３の詳細フローである、図５のフローチャートを説明する。
なお、図５は、Ｓ２０１で作成された点滅欠陥画素補正テーブルを使用して撮影を行なう動作のフローチャートである。
【００７５】
Ｓ４０９で点滅欠陥画素の検出を終了した後、ユーザーが操作部１１６を操作して撮影の開始状態に入る（Ｓ５０１）。
【００７６】
ユーザーにより操作部１１６のシャッターボタンが半押しされた状態で、ＩＳＯ感度、シャッタースピード、絞り等の撮影条件を記録する（Ｓ５０２）。
【００７７】
次にＳ５０３で、Ｓ２０１で作成した点滅欠陥画素補正テーブルを参照することで、Ｓ５０２で記録された撮影条件から、画像の合成数を決定する（Ｓ５０４）。
【００７８】
決定された画像合成枚数に従って、画像合成部１１５で前述の式１の通り枚数分の画像の加算平均処理を行う（Ｓ５０５）。そして加算平均処理後の画像に対して、欠陥画素補正部１１１で、欠陥画素情報メモリ１０７に記録してアドレスア情報に従って欠陥画素補正を行う（Ｓ５０６）。
【００７９】
なお、本実施例では、画像合成方法として加算平均処理を行う例を示したが、最終的に平均化される処理であればその他の方法でも構わない。
【００８０】
Ｓ５０６の欠陥画素補正の一例として、補正対象の画素に隣接する同色画素から補間する方法を以下に説明する。
【００８１】
図１１のＲ33が欠陥画素の場合、隣接同色の上下または左右の画素から補間する。上下方向または左右方向どちらから補正処理を行うかは、予め設定しておくか、または被写体に応じて適応的に判断しても良い。これらは、製品後に適宜プログラムを修正して更新することにより対処できる
上下方向の補完方法の一例としては、
［式４］
Ｒ33＝（Ｒ31＋Ｒ35）÷２
により画素Ｒ33の補間を行なう。
他方、左右方向の補完方法の一例としては、
［式５］
Ｒ33＝（Ｒ13＋Ｒ53）÷２
により画素Ｒ33の補間を行なう。
【００８２】
Ｓ５０６の欠陥画素補正を、欠陥画像情報メモリ１０７に記録されている欠陥画素全てに対して行い、画像処理部１１１で画像処理を行って最終的な出力画像フォーマットの画像データとして、記録媒体１１３に記録し、撮影を完了する。
上述した本発明の実施例によれば、点滅欠陥画素の検出の調整と検出数に応じた数の画像の合成を行なうことにより、欠陥画素の補正対象の数の増加を抑制し、かつ解像度の劣化を低減することが可能となる。
【００８３】
また、上述した実施形態において図２乃至５に示した各処理は、各処理の機能を実現する為のプログラムをメモリから読み出して制御部１１４のＣＰＵが実行することによりその機能を実現させるものである。
【００８４】
尚、上述した構成に限定されるものではなく、図２乃至５に示した各処理の全部または一部の機能を専用のハードウェアにより実現してもよい。また、上述したメモリは、光磁気ディスク装置、フラッシュメモリ等の不揮発性のメモリや、ＣＤ−ＲＯＭ等の読み出しのみが可能な記録媒体、ＲＡＭ以外の揮発性のメモリから構成されてよい。また、それらの組合せによるコンピュータ読み取り、書き込み可能な記録媒体より構成されてもよい。
【００８５】
また、図２乃至５に示した各処理の機能を実現する為のプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行することにより各処理を行っても良い。なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、ＯＳや周辺機器等のハードウェアを含むものとする。具体的には、記憶媒体から読み出されたプログラムが、コンピュータに挿入された機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに書きこまれる。その後、そのプログラムの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵなどが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含む。
【００８６】
また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ＲＯＭ、ＣＤ−ＲＯＭ等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、一定時間プログラムを保持しているものも含むものとする。例えば、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムが送信された場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発メモリ（ＲＡＭ）である。
【００８７】
また、上記プログラムは、このプログラムを記憶装置等に格納したコンピュータシステムから、伝送媒体を介して、あるいは、伝送媒体中の伝送波により他のコンピュータシステムに伝送されてもよい。ここで、プログラムを伝送する「伝送媒体」は、インターネット等のネットワーク（通信網）や電話回線等の通信回線（通信線）のように情報を伝送する機能を有する媒体のことをいう。
【００８８】
また、上記プログラムは、前述した機能の一部を実現する為のものであっても良い。さらに、前述した機能をコンピュータシステムに既に記録されているプログラムとの組合せで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であっても良い。
【００８９】
また、上記のプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体等のプログラムプロダクトも本発明の実施形態として適用することができる。上記のプログラム、記録媒体、伝送媒体およびプログラムプロダクトは、本発明の範疇に含まれる。
【００９０】
上記実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の一例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち本発明はその技術思想、またはその主要な特徴から逸脱することはなく、様々な形で実施することが出来る。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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