(57)【要約】【課題】作業者の経験や勘などに頼ることなく確実にＸ線透過画像を最適にして、Ｘ線検査をすることができるように調整をする。【解決手段】Ｘ線源１０３から被検体１０１及び標準試験片２にＸ線を照射すると、透過Ｘ線の強度分布に応じたデジタル画像信号がフラット・パネル・ディテクター１０４から出力され、表示装置１０６にＸ線透過画像が表示される。Ｘ線透過画像のうち、標準試験片画像のＭＴＦ値が、検査準備段階で最適撮影ができるよう調整したときに求めた標準試験片画像のＭＴＦ値に一致するように、Ｘ線源１０３の強度を制御するパラメータを調整する。【選択図】図２
2013185960.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
デジタル・ラジオグラフィ検査の調整方法において、
検査準備段階で、検査準備用の被検体を透過してきたＸ線強度分布を示す被検体画像の輝度分布値が予め決めた規定値に収まるように、検査準備用の前記被検体に照射するＸ線の強度を制御する工程と、
実検査段階で、実検査用の被検体を透過してきたＸ線強度分布を示す被検体画像の輝度分布値が、前記検査準備段階での規定値に収まった前記被検体画像の輝度分布値と一致するまで、実検査用の被検体に照射するＸ線の強度を制御する工程と、
を有することを特徴とするデジタル・ラジオグラフィ検査の調整方法。
【請求項２】
検査準備段階では、
実際にＸ線検査をする対象物である被検体と同じ材質・形状・寸法になっている検査準備用の被検体に、Ｘ線検査用の標準試験片を接触して配置し、
前記標準試験片が接触・配置された検査準備用の前記被検体に、Ｘ線源からＸ線を照射し、
Ｘ線が照射されるとＸ線強度分布に応じたデジタル画像信号を出力するセンサ機器に、検査準備用の前記被検体を透過してきたＸ線を照射し、
前記センサ機器から出力される前記デジタル画像信号を基に求めた、Ｘ線の強度分布に応じたＸ線透過画像のうち、検査準備用の前記被検体を透過してきたＸ線強度分布を示す被検体画像の精度が検査対象項目を精度よく検出できる画像精度になるように、前記Ｘ線源から出力されるＸ線の強度を制御するパラメータを調整し、パラメータの調整後に前記標準試験片を透過してきたＸ線強度分布を示す標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値を求め、
実際の検査対象物である被検体をＸ線検査する実検査段階では、
実際にＸ線検査をする検査対象物である被検体に、Ｘ線検査用の標準試験片を接触して配置し、
前記標準試験片が接触・配置された検査対象物である前記被検体に、Ｘ線源からＸ線を照射し、
Ｘ線が照射されるとＸ線強度分布に応じたデジタル画像信号を出力するセンサ機器に、検査対象物である前記被検体を透過してきたＸ線を照射し、
前記センサ機器から出力される前記デジタル画像信号を基に求めた、Ｘ線の強度分布に応じたＸ線透過画像のうち、検査対象物である被検体に接触・配置した前記標準試験片を透過してきたＸ線強度分布を示す標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値が、検査準備段階で求めた標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値に一致するまで、前記Ｘ線源から出力されるＸ線の強度を制御するパラメータを調整することを特徴とするデジタル・ラジオグラフィ検査の調整方法。
【請求項３】
請求項２において、
前記センサ機器は、
フラット・パネル・ディテクター、
または、イメージング・プレート及び画像読取装置を組み合わせたもの、
または、蛍光体板及びデジタルカメラを組み合わせたもの
であることを特徴とするデジタル・ラジオグラフィ検査の調整方法。
【請求項４】
請求項２または請求項３において、
標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値は、
ＭＴＦ（Modulation Transfer Function）値、
または予め決めた特定エリアの輝度の標準偏差値
であることを特徴とするデジタル・ラジオグラフィ検査の調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デジタル・ラジオグラフィ検査の調整方法に関し、撮影画像の検出精度が適正であるかどうかを定量的に評価して、適切な撮影画像が得られるように正確に調整できるようにしたものである。
【背景技術】
【０００２】
配管やタービンの翼などを検査する手法として、デジタル・ラジオグラフィ検査（テスティング）が用いられている。デジタル・ラジオグラフィ（ＤＲ：Digital Radiography）とは、線源から被検体にＸ線を照射し、被検体を透過してきたＸ線をデジタル画像信号に変換し、Ｘ線透過画像として再構成する手法である。
【０００３】
被検体を透過してきたＸ線を受けてデジタル画像信号に変換するセンサ機器としては、フラット・パネル・ディテクター（ＦＰＤ：Flat Panel Detector）や、イメージング・プレート（ＩＰ：Imaging Plate）及び画像読取装置を組み合わせたもの等がある。
【０００４】
フラット・パネル・ディテクター（ＦＰＤ：Flat Panel Detector）は、被検体を透過してきたＸ線が照射されると、照射されたＸ線の強度分布に応じたデジタル画像信号を出力する。
このデジタル画像信号をモニタに送ることにより、モニタ上にＸ線透過画像を表示することができる。
【０００５】
イメージング・プレート（ＩＰ：Imaging Plate）とは、有機フィルムに輝尽性蛍光体を塗布した板である。被検体をＸ線検査するときには、イメージング・プレート（ＩＰ：Imaging Plate）をカセッテ内に収納し、カセッテ内に収納したイメージング・プレート（ＩＰ：Imaging Plate）が、被検体を透過してきたＸ線で照射されるように配置する。
イメージング・プレートにＸ線が照射されると、蛍光体にエネルギーが蓄積され、放射線の吸収量に応じて蛍光体が発光する（輝尽性）。
画像読取装置は、Ｘ線が照射されたイメージング・プレートにレーザー光を照射（走査）することにより受けた放射線量に比例した発光をさせ、その光量をスキャナで読み取り光電変換することにより、デジタル画像信号を出力する。
このデジタル画像信号をモニタに送ることにより、モニタ上にＸ線透過画像を表示することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００２−１６８８０７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところで、従来のデジタル・ラジオグラフィ検査においては、線源の種類や、管電圧、管電流、Ｘ線照射時間などのパラメータについては、図１０に示すように、過去の経験を基にパラメータを仮設定し（ステップ１）、事前に試し撮りを行った後に（ステップ２）、Ｘ線透過画像を作業員が実際に見て（ステップ３）、これらのパラメータ条件が適切か否かを判断していた（ステップ４）。適切な画像でないと判断した場合には、別の値となっているパラメータを仮設定し（ステップ１）、試し撮り（ステップ２）、Ｘ線透過画像の確認（ステップ３）をする。適切な画像であると判断した後、本撮影をしていた（ステップ５）。
そのため、作業員により判断方法が様々であり、また見逃し等が発生する可能性があった。
さらに作業員の工数増加となっていた。
【０００８】
本発明は、上記従来技術に鑑み、作業者の経験や勘などに頼ることなく確実にＸ線透過画像を最適にしてＸ線検査をすることができるように調整をする、デジタル・ラジオグラフィ検査の調整方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決する本発明の構成は、
デジタル・ラジオグラフィ検査の調整方法において、
検査準備段階で、検査準備用の被検体を透過してきたＸ線強度分布を示す被検体画像の輝度分布値が予め決めた規定値に収まるように、検査準備用の前記被検体に照射するＸ線の強度を制御する工程と、
実検査段階で、実検査用の被検体を透過してきたＸ線強度分布を示す被検体画像の輝度分布値が、前記検査準備段階での規定値に収まった前記被検体画像の輝度分布値と一致するまで、実検査用の被検体に照射するＸ線の強度を制御する工程と、
を有することを特徴とするデジタル・ラジオグラフィ検査の調整方法。
【００１０】
また本発明の構成は、
検査準備段階では、
実際にＸ線検査をする対象物である被検体と同じ材質・形状・寸法になっている検査準備用の被検体に、Ｘ線検査用の標準試験片を接触して配置し、
前記標準試験片が接触・配置された検査準備用の前記被検体に、Ｘ線源からＸ線を照射し、
Ｘ線が照射されるとＸ線強度分布に応じたデジタル画像信号を出力するセンサ機器に、検査準備用の前記被検体を透過してきたＸ線を照射し、
前記センサ機器から出力される前記デジタル画像信号を基に求めた、Ｘ線の強度分布に応じたＸ線透過画像のうち、検査準備用の前記被検体を透過してきたＸ線強度分布を示す被検体画像の精度が検査対象項目を精度よく検出できる画像精度になるように、前記Ｘ線源から出力されるＸ線の強度を制御するパラメータを調整し、パラメータの調整後に前記標準試験片を透過してきたＸ線強度分布を示す標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値を求め、
実際の検査対象物である被検体をＸ線検査する実検査段階では、
実際にＸ線検査をする検査対象物である被検体に、Ｘ線検査用の標準試験片を接触して配置し、
前記標準試験片が接触・配置された検査対象物である前記被検体に、Ｘ線源からＸ線を照射し、
Ｘ線が照射されるとＸ線強度分布に応じたデジタル画像信号を出力するセンサ機器に、検査対象物である前記被検体を透過してきたＸ線を照射し、
前記センサ機器から出力される前記デジタル画像信号を基に求めた、Ｘ線の強度分布に応じたＸ線透過画像のうち、検査対象物である被検体に接触・配置した前記標準試験片を透過してきたＸ線強度分布を示す標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値が、検査準備段階で求めた標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値に一致するまで、前記Ｘ線源から出力されるＸ線の強度を制御するパラメータを調整することを特徴とする。
【００１１】
また本発明の構成は、
前記センサ機器は、
フラット・パネル・ディテクター、
または、イメージング・プレート及び画像読取装置を組み合わせたもの、
または、蛍光体板及びデジタルカメラを組み合わせたものであることを特徴とする。
【００１２】
また本発明の構成は、
標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値は、
ＭＴＦ（Modulation Transfer Function）値、
または予め決めた特定エリアの輝度の標準偏差値であることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、Ｘ線透過画像が適切かどうかを自動的に、且つ、人の判断に頼らずに定量的に判定できるため、デジタル・ラジオグラフィ検査方法における調整の工数を削減でき、精度の良い調整を短時間で実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の実施例１における検査準備段階を示す構成図。
【図２】本発明の実施例１における実検査段階を示す構成図。
【図３】標準試験片（Duplex Wire）を示す構成図。
【図４】標準試験片（Duplex Wire）のＸ線透過画像（標準試験片画像）を示す構成図。
【図５】ペア部分とＭＴＦとを示す特性図。
【図６】本発明の実施例１の変形例における実検査段階を示す構成図。
【図７】本発明の実施例２における実検査段階を示す構成図。
【図８】本発明の実施例３における検査準備段階を示す構成図。
【図９】本発明の実施例３における実検査段階を示す構成図。
【図１０】従来手法を示すフローチャート。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本発明の実施の形態について、実施例に基づき詳細に説明する。
【実施例１】
【００１６】
本発明の実施例１について、図１と図２を参照して説明する。図１は検査準備段階の状態を示しており、図２は実際の被検体をＸ線検査する実検査段階の状態を示している。
【００１７】
まず図１を参照して検査準備段階の構成や動作を説明する。
図１に示す被検体１は、実際にＸ線検査をする対象物である配管等の被検体（検査対象物）１０１（図２参照）と、同じ材質・形状・寸法となっている物である。
この被検体１の表面に、Ｘ線検査用の標準試験片２を接触して配置する。標準試験片２としては、例えばDuplex Wireを使用する。Duplex Wireの構成については後述する。
【００１８】
標準試験片２が接触・配置された被検体１を間にして、Ｘ線源３とフラット・パネル・ディテクター４とが相対向して配置されている。Ｘ線源３は、被検体１に対してＸ線を照射する。照射されたＸ線は、被検体１及び標準試験片２を透過してフラット・パネル・ディテクター４に照射される。
Ｘ線源３の管電圧、管電流、Ｘ線照射時間や、Ｘ線源３と被検体１との距離は、Ｘ線源コントローラ５により制御できるようになっている。つまり、Ｘ線源３から被検体１に照射するＸ線の強度に関するパラメータは、Ｘ線源コントローラ５により制御できるようになっている。
【００１９】
フラット・パネル・ディテクター４は、被検体１及び標準試験片２を透過してきたＸ線が照射されると、照射されたＸ線の強度分布に応じたデジタル画像信号Ｓ１を出力する。
このデジタル画像信号Ｓ１は、表示装置６及び画像解析装置７に送られる。
【００２０】
表示装置６では、デジタル画像信号Ｓ１が送られてくると、被検体１及び標準試験片２を透過してきたＸ線の強度分布を示すＸ線透過画像を表示する。
画像解析装置７は、Ｘ線透過画像の輝度の分布状態を示す数値を演算する（演算の詳細は後述する）。
【００２１】
ここで図３を参照して、標準試験片（Duplex Wire）２について説明する。
標準試験片（Duplex Wire）２は、間隔を開けて平行配置した２本で１組となった１０組の金属線２１、２１を、平行に並んだ状態でプラスチック板に取り付けたものである。
つまり第１ペア部Ｐ１から第１０ペア部に、間隔を開けて平行配置した金属線２１、２１がそれぞれ配置されており、しかも、第１ペア部Ｐ１から第１０ペア部Ｐ１０に向かうに従い、金属線２１、２１の線幅及び金属線２１、２１間の線間が、順次、細くなっている。金属線２１、２１としては、例えば鉛線が使用される。またこの例では１０組の金属線２１、２１としたが１０組以外の場合もあり得る。
【００２２】
被検体１に接触・配置された標準試験片（Duplex Wire）２を透過してきたＸ線の強度分布を示すＸ線透過画像は、表示装置６では、例えば図４に示すような画像となって表示される。
【００２３】
図１に戻り検査準備段階の動作を説明する。
表示装置６には、被検体１を透過してきたＸ線の強度分布を示すＸ線透過画像（被検体画像）が表示されるので、作業者は、表示された被検体画像が最適になるように、即ち、被検体画像により検査対象項目（例えば欠陥など）を精度よく検出できる画像になるように、Ｘ線源コントローラ５を操作して、Ｘ線源３の管電圧、管電流、Ｘ線照射時間や、Ｘ線源３と被検体１との距離を制御する。
【００２４】
このようにして表示装置６に表示された被検体画像が最適になったら、被検体１に接触・配置された標準試験片（Duplex Wire）２を透過してきたＸ線の強度分布を示すＸ線透過画像（標準試験片画像、図４に示す画像）を画像解析装置７で画像解析して、標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値を演算する。
【００２５】
具体的には、第１ペア部Ｐ１から第１０ペア部Ｐ１０のＸ線透過画像（標準試験片画像）について、ＭＴＦ（Modulation Transfer Function）値や、標準偏差値（輝度値のバラツキ）を演算して記憶する。なお、ＭＴＦ値は下式で示す値である。
ＭＴＦ＝（最大輝度レベル−最小輝度レベル）／（最大輝度レベル＋最小輝度レベル）
例えば、第１ペア部Ｐ１〜第１０ペア部Ｐ１０においては、金属線２１、２１の線幅を示すＸ線透過画像（標準試験片画像）の部分に最大輝度レベルがあり、金属線２１、２１の線間を示すＸ線透過画像（標準試験片画像）の部分に最小輝度レベルがある。
【００２６】
図５は、このようにして求めた第１ペア部Ｐ１〜第１０ペア部Ｐ１０のＭＴＦを示すものである。
図５において、横軸の１〜１０は第１ペア部Ｐ１〜第１０ペア部Ｐ１０を示し、縦軸はＭＴＦを示す。
この図５の例では、被検体画像が最適になっている場合には、第５ペア部Ｐ５でのＭＴＦが閾値である０．０１を越えて０．０１３になっていることが判明する。
したがって、作業者は、被検体画像が最適になっている場合には、「第５ペア部Ｐ５でのＭＴＦが０．０１３になっていること」を記録しておく。
【００２７】
なお、表示装置６に表示された被検体画像が最適になった状態において、画像処理装置７により画像解析をして、例えば第５ペア部Ｐ５の部分の、金属線２１、２１の線幅部分または金属線２１、２１の線間部分の標準偏差値を求めて、この標準偏差値を記録していてもよい。
【００２８】
次に図２を参照して実際の被検体をＸ線検査する実検査段階の構成や動作を説明する。
図２に示すように、実際にＸ線検査をする対象物である配管等の被検体（検査対象物）１０１の表面に、Ｘ線検査用の標準試験片（Duplex Wire）２を接触して配置する。この標準試験片（Duplex Wire）２は、検査準備段階で用いた標準試験片（Duplex Wire）２と同じスペック（Ｘ線透過特性や試験片構成）のものである。
【００２９】
標準試験片２が接触・配置された実際の被検体１０１を間にして、Ｘ線源１０３とフラット・パネル・ディテクター１０４とを相対向して配置する。Ｘ線源１０３は、被検体１０１に対してＸ線を照射する。照射されたＸ線は、被検体１０１及び標準試験片２を透過してフラット・パネル・ディテクター１０４に照射される。
Ｘ線源１０３の管電圧、管電流、Ｘ線照射時間や、Ｘ線源１０３と被検体１０１との距離は、Ｘ線源コントローラ１０５により制御できる。つまり、Ｘ線源１０３から被検体１０１に照射するＸ線の強度に関するパラメータは、Ｘ線源コントローラ１０５により制御できるようになっている。
【００３０】
フラット・パネル・ディテクター１０４は、被検体１０１及び標準試験片２を透過してきたＸ線が照射されると、照射されたＸ線の強度分布に応じたデジタル画像信号Ｓ２を出力する。
このデジタル画像信号Ｓ２は、表示装置１０６及び画像解析装置１０７に送られる。
【００３１】
表示装置１０６では、デジタル画像信号Ｓ２が送られてくると、被検体１０１及び標準試験片２を透過してきたＸ線の強度分布を示すＸ線透過画像を表示する。
【００３２】
このとき、画像解析装置１０７によりＸ線透過画像（標準試験片画像）を画像解析して、標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値を演算する。具体的には、画像解析装置１０７により、第１ペア部Ｐ１から第１０ペア部のＭＴＦ（Modulation Transfer Function）値を求める。
このとき、検査準備段階で記録したＭＴＦ値である「第５ペア部Ｐ５でのＭＴＦが０．０１３になっている」かどうかを判定し、このようになっていない場合には、画像解析装置１０７は、被検体画像が最適になっていないことを示す警告を発する。
【００３３】
第５ペア部Ｐ５でのＭＴＦが０．０１３になっていないと判定した場合には、作業者は、第５ペア部Ｐ５でのＭＴＦが０．０１３になるまで、Ｘ線源コントローラ１０５を操作して、Ｘ線源１０３の管電圧、管電流、Ｘ線照射時間や、Ｘ線源１０３と被検体１０１との距離を制御する。
【００３４】
または、検査準備段階において、表示装置６に表示された被検体画像が最適になった状態のときの、第５ペア部Ｐ５の部分の標準偏差値を記録していた場合には、実検査段階において、画像解析装置１０７により、第５ペア部Ｐ５の標準偏差値を求める。
そして、実検査段階における第５ペア部Ｐ５の標準偏差値が、検査準備段階における第５ペア部Ｐ５の標準偏差値になっていない場合には、作業者は、実検査段階における第５ペア部Ｐ５の標準偏差値が、検査準備段階における第５ペア部Ｐ５の標準偏差値になるまで、Ｘ線源コントローラ１０５を操作して、Ｘ線源１０３の管電圧、管電流、Ｘ線照射時間や、Ｘ線源１０３と被検体１０１との距離を制御する。
【００３５】
このようにしてＭＴＦ値や標準偏差値をもとに、Ｘ線源１０３の管電圧、管電流、Ｘ線照射時間や、Ｘ線源１０３と被検体１０１との距離を制御することにより、表示部１０６に表示される被検体画像が最適なもの、つまり、検査対象項目（例えば欠陥など）を精度よく検出できる画像となる。
【００３６】
その後は、Ｘ線源１０３の管電圧等のパラメータを固定して、被検体（検査対象物）１０１の各部分をＸ線検査する。
このため、被検体１０１の各部分をＸ線検査して得られる被検体画像は、検査対象項目（例えば欠陥など）を精度よく検出できる画像となる。
【００３７】
このように、本実施例では、実検査段階でのＭＴＦ値や標準偏差値（標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値）が、検査準備段階において最適な被検体画像が得られたときのＭＴＦ値や標準偏差値（標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値）になるように、Ｘ線源１０３のパラメータを調整するため、作業者の経験や勘などに頼ることなく、確実に被検体画像を最適にしてＸ線検査をすることが可能となる。
【００３８】
なお図１及び図２の例では、被検体を透過してきたＸ線を受けて照射されたＸ線の強度分布に応じたデジタル信号を出力するセンサ機器として、フラット・パネル・ディテクター（ＦＰＤ）を用いたが、イメージング・プレート（ＩＰ：Imaging Plate）及び画像読取装置を組み合わせたものを用いることもできる。
【００３９】
さらには、上記のＦＰＤのようなＸ線カメラではなく、図６に示すような、蛍光体板１１０とデジタルカメラ１１１を採用することもできる。
図６の例ではＸ線カメラ（ＦＰＤやＩＰ）を使用しないので、簡易に被検体画像の撮影状態を確認することができる。
【実施例２】
【００４０】
本発明の実施例２について、図７を参照して説明する。
実施例２は、実施例１の手法により、実検査段階でのＭＴＦ値や標準偏差値（標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値）が、検査準備段階において最適な被検体画像が得られたときのＭＴＦ値や標準偏差値（標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値）になるように、Ｘ線源１０３のパラメータを調整した状態において、デジタル画像信号Ｓ２を画像処理装置２０１により、フィルタリング処理や輝度変換処理し、このような処理をしたデジタル画像信号Ｓ３を表示装置１０６に送って被検体画像を表示する場合に用いる。
【００４１】
実施例２では、フィルタリング処理や輝度変換処理をし、このような処理をしたデジタル画像信号Ｓ３が画像解析装置１０７にも送られる。
【００４２】
このとき、画像解析装置１０７により、デジタル画像信号Ｓ３によるＸ線透過画像（標準試験片画像）を画像解析して、標準試験片画像の輝度の分布状態を示す数値を演算する。具体的には、画像解析装置１０７により、第１ペア部Ｐ１から第１０ペア部Ｐ１０のＭＴＦ（Modulation Transfer Function）値を求める。
このとき、検査準備段階で記録したＭＴＦ値である「第５ペア部Ｐ５でのＭＴＦが０．０１３になっている」かどうかを判定し、このようになっていない場合には、画像解析装置１０７は、被検体画像が最適になっていないことを示す警告を発する。
【００４３】
第５ペア部Ｐ５でのＭＴＦが０．０１３になっていないと判定した場合には、作業者は、第５ペア部Ｐ５でのＭＴＦが０．０１３になるまで、画像処理装置２０１でのフィルタリング処理や輝度変換処理の処理程度を調整する。
【００４４】
または、検査準備段階において、表示装置１０６に表示された被検体画像が最適になった状態のときの、第５ペア部Ｐ５の部分の標準偏差値を記録していた場合には、実検査段階において、画像解析装置１０７により、デジタル画像信号Ｓ３による第５ペア部Ｐ５の標準偏差値を求める。
そして、デジタル画像信号Ｓ３による第５ペア部Ｐ５の標準偏差値が、検査準備段階における第５ペア部Ｐ５の標準偏差値になっていない場合には、作業者は、実検査段階における第５ペア部Ｐ５の標準偏差値が、検査準備段階における第５ペア部Ｐ５の標準偏差値になるまで、画像処理装置２０１でのフィルタリング処理や輝度変換処理の処理程度を調整する。
【００４５】
このようにしてＭＴＦ値や標準偏差値をもとに、画像処理装置２０１でのフィルタリング処理や輝度変換処理の処理程度を調整するため、作業者の経験や勘などに頼ることなく、デジタル画像信号Ｓ３による最適な被検体画像を表示装置１０６に表示することができる。
つまり、過不足なく、フィルタリング処理や輝度変換処理を行うことができる。
【実施例３】
【００４６】
次に本発明の実施例３について、図８と図９を参照して説明する。図８は検査準備段階の状態を示しており、図９は実際の被検体をＸ線検査する実検査段階の状態を示している。
【００４７】
まず図８を参照して検査準備段階の構成や動作を説明する。
図８に示す被検体１ａは、実際にＸ線検査をする対象物である配管等の被検体（検査対象物）１０１ａ（図９参照）と、同じ材質・形状・寸法となっている物である。
なお、実際にＸ線検査をする対象物である配管等が被検体（検査対象物）１０１ｂ（図９参照）である場合には、被検体１０１ｂと同じ材質・形状・寸法となっている被検体１ｂを採用し、実際にＸ線検査をする対象物である配管等が被検体（検査対象物）１０１ｃ（図９参照）である場合には、被検体１０１ｃと同じ材質・形状・寸法となっている被検体１ｃを採用する。
【００４８】
被検体１ａの表面に、Ｘ線検査用の標準試験片（Duplex Wire）２ａ、２ｂ、２ｃを接触して配置する。標準試験片２ａ、２ｂ、２ｃに備えた金属線はそれぞれ異なった材質の金属線である。例えば、標準試験片２ａに備えた金属線は鉛線であり、標準試験片２ｂに備えた金属線は銅線であり、標準試験片２ｃに備えた金属線はアルミニウム線である。
【００４９】
標準試験片２ａ、２ｂ、２ｃが接触・配置された被検体１ａを間にして、Ｘ線源３とフラット・パネル・ディテクター４とが相対向して配置されている。Ｘ線源３は、被検体１ａに対してＸ線を照射する。照射されたＸ線は、被検体１ａ及び標準試験片２ａ、２ｂ、２ｃを透過してフラット・パネル・ディテクター４に照射される。
Ｘ線源３の管電圧、管電流、Ｘ線照射時間や、Ｘ線源３と被検体１ａとの距離は、Ｘ線源コントローラ５により制御できるようになっている。つまり、Ｘ線源３から被検体１ａに照射するＸ線の強度に関するパラメータは、Ｘ線源コントローラ５により制御できるようになっている。
【００５０】
フラット・パネル・ディテクター４は、被検体１及び標準試験片２ａ、２ｂ、２ｃを透過してきたＸ線が照射されると、照射されたＸ線の強度分布に応じたデジタル画像信号Ｓ１１を出力する。
このデジタル画像信号Ｓ１１は、表示装置６に送られる。
【００５１】
表示装置６では、デジタル画像信号Ｓ１１が送られてくると、被検体１ａ及び標準試験片２ａ、２ｂ、２ｃを透過してきたＸ線の強度分布を示すＸ線透過画像を表示する。
このとき、Ｘ線源コントローラ５を操作して、Ｘ線源３の管電圧、管電流、Ｘ線照射時間や、Ｘ線源３と被検体１ａとの距離を制御して、Ｘ線透過画像（被検体画像）が明瞭になったときに、標準試験片２ａを透過してきたＸ線強度分布を示すＸ線透過画像（標準試験片画像）が明瞭で、標準試験片２ｂ、２ｃを透過してきたＸ線強度分布を示すＸ線透過画像（標準試験片画像）が不明瞭である場合には、被検体１ａの検査をする場合には、標準試験片２ａが最適であると記録しておく。
【００５２】
被検体１ａの代わりに被検体１ｂを用いた場合において、Ｘ線源コントローラ５を操作して、Ｘ線源３の管電圧、管電流、Ｘ線照射時間や、Ｘ線源３と被検体１ｂとの距離を制御して、Ｘ線透過画像（被検体画像）が明瞭になったときに、標準試験片２ｂを透過してきたＸ線強度分布を示すＸ線透過画像（標準試験片画像）が明瞭で、標準試験片２ａ、２ｃを透過してきたＸ線強度分布を示すＸ線透過画像（標準試験片画像）が不明瞭である場合には、被検体１ｂの検査をする場合には、標準試験片２ｂが最適であると記録しておく。
【００５３】
被検体１ａの代わりに被検体１ｃを用いた場合において、Ｘ線源コントローラ５を操作して、Ｘ線源３の管電圧、管電流、Ｘ線照射時間や、Ｘ線源３と被検体１との距離を制御して、Ｘ線透過画像（被検体画像）が明瞭になったときに、標準試験片２ｃを透過してきたＸ線強度分布を示すＸ線透過画像（標準試験片画像）が明瞭で、標準試験片２ａ、２ｂを透過してきたＸ線強度分布を示すＸ線透過画像（標準試験片画像）が不明瞭である場合には、被検体１ｃの検査をする場合には、標準試験片２ｃが最適であると記録しておく。
【００５４】
次に図９を参照して実際の被検体をＸ線検査する実検査段階の構成や動作を説明する。
図９に示すように、実際にＸ線検査をする対象物である配管等が被検体（検査対象物）１０１ａである場合には、被検体１０１ａの表面に、Ｘ線検査用の標準試験片（Duplex Wire）２ａを接触して配置する。
【００５５】
標準試験片２ａが接触・配置された実際の被検体１０１ａを間にして、Ｘ線源１０３とフラット・パネル・ディテクター１０４とを相対向して配置する。Ｘ線源１０３は、被検体１０１ａに対してＸ線を照射する。照射されたＸ線は、被検体１０１ａ及び標準試験片２ａを透過してフラット・パネル・ディテクター１０４に照射される。
Ｘ線源１０３の管電圧、管電流、Ｘ線照射時間や、Ｘ線源１０３と被検体１０１ａとの距離は、Ｘ線源コントローラ１０５により制御できる。つまり、Ｘ線源１０３から被検体１０１ａに照射するＸ線の強度に関するパラメータは、Ｘ線源コントローラ１０５により制御できるようになっている。
【００５６】
フラット・パネル・ディテクター１０４は、被検体１０１ａ及び標準試験片２ａを透過してきたＸ線が照射されると、照射されたＸ線の強度分布に応じたデジタル画像信号Ｓ１２を出力する。
このデジタル画像信号Ｓ１２は、表示装置１０６に送られる。
【００５７】
表示装置１０６では、デジタル画像信号Ｓ２が送られてくると、被検体１０１ａ及び標準試験片２ａを透過してきたＸ線の強度分布を示すＸ線透過画像を表示する。
【００５８】
このとき、標準試験片２ａを透過してきたＸ線強度分布を示すＸ線透過画像（標準試験片画像）が不明瞭である場合には、標準試験片２ａを透過してきたＸ線強度分布を示すＸ線透過画像（標準試験片画像）が明瞭になるまで、Ｘ線源コントローラ１０５を操作して、Ｘ線源１０３の管電圧、管電流、Ｘ線照射時間や、Ｘ線源１０３と被検体１０１ａとの距離を制御する。
【００５９】
このようにして、標準試験片２ａを透過してきたＸ線強度分布を示すＸ線透過画像（標準試験片画像）が明瞭になるまで、Ｘ線源コントローラ１０５を操作して、Ｘ線源１０３の管電圧、管電流、Ｘ線照射時間や、Ｘ線源１０３と被検体１０１との距離を制御することにより、被検体１０１ａをＸ線検査して得られるＸ線透過画像（被検体画像）は、検査対象項目（例えば欠陥など）を精度よく検出できる画像となる。
【００６０】
実際にＸ線検査をする対象物である配管等が被検体（検査対象物）１０１ｂである場合には、被検体１０１ｂの表面に、Ｘ線検査用の標準試験片（Duplex Wire）２ｂを接触して配置する。
そして標準試験片２ｂを透過してきたＸ線強度分布を示すＸ線透過画像（標準試験片画像）が明瞭になるまで、Ｘ線源コントローラ１０５を操作して、Ｘ線源１０３の管電圧、管電流、Ｘ線照射時間や、Ｘ線源１０３と被検体１０１ｂとの距離を制御する。これにより、被検体１０１ｂをＸ線検査して得られるＸ線透過画像（被検体画像）は、検査対象項目（例えば欠陥など）を精度よく検出できる画像となる。
【００６１】
実際にＸ線検査をする対象物である配管等が被検体（検査対象物）１０１ｃである場合には、被検体１０１ｃの表面に、Ｘ線検査用の標準試験片（Duplex Wire）２ｃを接触して配置する。
そして標準試験片２ｃを透過してきたＸ線強度分布を示すＸ線透過画像（標準試験片画像）が明瞭になるまで、Ｘ線源コントローラ１０５を操作して、Ｘ線源１０３の管電圧、管電流、Ｘ線照射時間や、Ｘ線源１０３と被検体１０１ｃとの距離を制御する。これにより、被検体１０１ｃをＸ線検査して得られるＸ線透過画像（被検体画像）は、検査対象項目（例えば欠陥など）を精度よく検出できる画像となる。
【００６２】
実施例３では、実検査段階において、被検体に応じた最適な検査ができる標準試験片を使用し、標準試験片画像が明瞭になるように、Ｘ線源１０３の管電圧等を制御することにより、作業者の経験や勘などに頼ることなく、当該被検体を示す被検体画像の精度を向上することができる。
【産業上の利用可能性】
【００６３】
本発明は、各種の配管や、ガスタービンにおける高温部品（タービン翼）などをデジタル・ラジオグラフィ検査する場合に利用することができる。
【符号の説明】
【００６４】
１、１ａ、１ｂ、１ｃ、１０１、１０１ａ、１０１ｂ、１０１ｃ  被検体
２、２ａ、２ｂ、２ｃ  標準試験片
２１  金属線
３、１０３  Ｘ線源
４、１０４  フラット・パネル・ディテクター
５、１０５  Ｘ線源コントローラ
６、１０６  表示装置
７、１０７  画像解析装置
１１０  蛍光体
１１１  デジタルカメラ
２０１  画像処理装置
Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３、Ｓ１１、Ｓ１２  デジタル画像信号
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図４】
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