(57)【要約】【課題】回路基板の検査装置において、残電圧の放電完了を簡単に判定でき、放電が不十分なままの回路基板を製品に組み込むことによる他電子回路の損傷を防ぐ。【解決手段】電源回路基板２の出力端子４、５、６に接続可能な検査端子１９、２０、２１を備え、これら検査端子に、オンオフスイッチ２５、２６、２７を介して電圧計２８を接続し、グランドＧとの間に、残電圧を低下させる放電抵抗ＲＬ１、ＲＬ２、ＲL３と、残電圧により生じる電流によって点灯する発光ダイオードＬＤ１、ＬＤ２、ＬＤ３と、残電圧が有る間だけオンするトランジスタ素子Ｑ１、Ｑ２、Ｑ３とを備える。残電圧の放電が完了すると、トランジスタ素子Ｑ１、Ｑ２、Ｑ３がオフし、発光ダイオードＬＤ１、ＬＤ２、ＬＤ３が消灯する。作業者は、発光ダイオードＬＤ１、ＬＤ２、ＬＤ３の点灯状態（消灯タイミング）を目視することにより、残電圧の放電が完了したことを簡単に判定できる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象とする回路基板の出力端子に接続可能な検査端子と、
前記検査端子とグランドとの間に配置され、前記回路基板側の残電圧を低下させる放電抵抗と、
前記残電圧により生じる電流によって点灯する発光素子と、を備える回路基板の検査装置。
【請求項２】
前記検査端子に接続された検査回路をさらに備え、
前記発光素子が発光ダイオードであり、該発光ダイオードのカソード側にトランジスタ素子が接続され、該トランジスタ素子のベース端子に前記検査端子が接続されていることを特徴とする請求項１に記載の回路基板の検査装置。
【請求項３】
前記トランジスタ素子のベース端子と前記検査端子との間に可変抵抗が配置されていることを特徴とする請求項２に記載の回路基板の検査装置。
【請求項４】
前記検査端子の数は複数であり、これらの検査端子の各々とグランドの間に、それぞれ前記放電抵抗、前記発光ダイオード、前記トランジスタ素子、及び前記可変抵抗が接続された残電圧の放電回路を備えることを特徴とする請求項３に記載の回路基板の検査装置。
【請求項５】
前記複数の検査端子と、検査対象とする回路基板の複数の出力端子との間に、電圧が適合する検査端子と出力端子とを接続するための中継基板を備えることを特徴とする請求項４に記載の回路基板の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回路基板の検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般的に、電子部品が実装された回路基板は、製品に組み込む前に検査用の装置に接続して正常に動作するか否かを検査される。例えば、検査すべき回路基板が電源回路基板であれば、その電源回路基板に商用電源（ＡＣ１００ボルト）を接続して、トランス、整流回路などを動作させ、出力端子にＤＣ５ボルト、ＤＣ７ボルトなどの所定の電圧が正常に出力されているか否かを検査する。
【０００３】
ところが、検査装置の負荷は、通常、製品に組み込まれた状態における負荷よりも小さいので、検査が終了した電源回路基板の容量部分に電圧が残る可能性があり、残電圧が有るまま製品に組み込めば、製品内の他の電子回路を損傷してしまう虞がある。
【０００４】
そこで、検査の終了後に、回路基板内の電圧が残りやすい個所に放電抵抗を接続してグランドに放電するようになった装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。この装置は、電源回路基板のコンデンサにオンオフスイッチを介して放電抵抗を接続すると共に商用電源のコンセント部分にもオンオフスイッチを設け、両スイッチのオンとオフとが逆位置になるようにし、検査終了後に後者のスイッチをオフにして商用電源の接続を断つと、前者のスイッチがオンになることによって残電圧を放電させるようになっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開昭６３−１７２９７２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところが、特許文献１に記載の装置では、個々の回路基板自体に、放電抵抗やオンオフスイッチなどの部品を付加的に搭載しなければならず、回路基板のコストアップにつながる。さらに、作業者は、放電が完了したことを簡単には判定できないために、急ぎの作業であった場合などには、残電圧が完全に放電されていない状態で放電作業を終了させて当該回路基板を製品に組み込んでしまう可能性がある。
【０００７】
実際には、作業者は、経験上知りえた放電に要する最長時間（例えば６０秒）が経過した後にスイッチを切り換えて放電作業を終了し、当該回路基板を製品に組み込むと考えられる。ところが、それではトータルの作業時間が増大する上に、残電圧が放電されないまま製品に組み込まれる場合が生じることを確実に防止することができない。
【０００８】
そこで、本発明は、上記課題を解決するものであり、回路基板のコストアップを防止できる上に、作業者が、放電が完了したことを簡単に判定できるようにして作業時間が増大することを防止できると共に、残電圧の放電が不十分なまま製品に組み込んで他の電子回路を損傷してしまうといった支障が生じることを確実に防止できる回路基板の検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するために、本発明の検査装置は、検査対象とする回路基板の出力端子に接続可能な検査端子と、前記検査端子とグランドとの間に配置され、前記回路基板側の残電圧を低下させる放電抵抗と、前記残電圧により生じる電流によって点灯する発光素子と、を備える。
【００１０】
上記構成によれば、検査装置側にグランドに接続される放電抵抗を備えるので、回路基板に残電圧を除去するための付加的な部品を搭載する必要がなく、コストアップを防止することができる。また、作業者が発光素子の点灯・消灯を目視することにより放電が完了したことを簡単に判定できるので、作業時間が無駄に増大することを防止できると共に、製品に組み込んだときに他の電子回路を損傷してしまうといった支障が生じることを確実に防止できる。
【００１１】
前記検査端子に接続された検査回路をさらに備え、前記発光素子は、発光ダイオードであり、該発光ダイオードのカソード側にトランジスタ素子が接続され、該トランジスタ素子のベース端子に前記検査端子が接続されることが望ましい。上記構成によれば、残電圧の有無に応じて確実に発光ダイオードが点灯・消灯するので、作業者が放電の完了を正確に判定することができる。
【００１２】
前記トランジスタ素子のベース端子と前記検査端子との間に可変抵抗を配置してもよい。上記構成によれば、検査端子に生じる残電圧の大きさが変化してもトランジスタ素子が正しくオンオフするように調整できるので、検査対象とする回路基板の取り換えなどによって残電圧の大きさが変化した場合でも、作業者は発光ダイオードの点灯・消灯を目視することにより放電の完了を正しく判定することができる。
【００１３】
前記検査端子の数は複数であり、これらの検査端子の各々とグランドの間に、それぞれ前記放電抵抗、前記発光ダイオード、前記トランジスタ素子、及び前記可変抵抗が接続された残電圧の放電回路を備えることが望ましい。上記構成によれば、出力端子が複数である回路基板を、効率よく検査した上、残電圧を放電することができる。
【００１４】
前記複数の検査端子と、検査対象とする回路基板の複数の出力端子との間に、電圧が適合する検査端子と出力端子とを接続するための中継基板を備えることが望ましい。上記構成によれば、回路基板側の複数の出力端子と検査装置側の複数の検査端子との接続構造を簡単化することができ、出力端子の態様が異なる種々の回路基板に容易に対応することができる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、検査装置側にグランドに接続される放電抵抗を備えるので、回路基板に残電圧を放電するための付加的な部品を搭載する必要がなく、コストアップを防止することができる。また、作業者が発光素子の点灯・消灯を目視することにより放電が完了したことを簡単に判定できるので、作業時間が無駄に増大することを防止できると共に、製品に組み込んだときに他の電子回路を損傷してしまうといった支障が生じることを確実に防止できる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る回路基板の検査装置のブロック図。
【図２】同第２の実施形態に係る回路基板の検査装置のブロック図。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
（第１の実施形態）
以下、本発明の第１の実施形態に係る回路基板の検査装置について、図１を参照して説明する。本実施形態の回路基板の検査装置１は、特定の電源回路基板２に接続して、３つの出力端子４、５、６の出力電圧が正しく所定の電圧（例えば、ＤＣ５ボルト、ＤＣ７ボルト、ＤＣ１０ボルト）であるか否かを検査するものである。
【００１８】
検査対象の電源回路基板２は、トランス７の１次側に配置されたプラグ８を介して商用電源（ＡＣ１００ボルト）に接続されるダイオードブリッジ９と平滑コンデンサ１０、及びトランス７の２次側に配置されたダイオード１１、１２、１３と平滑コンデンサ１４、１５、１６を備える。平滑コンデンサ１４、１５、１６の負側がグランド端子１７に接続してある。ダイオード１１、１２、１３のカソード側が出力端子４、５、６に接続されている。
【００１９】
回路基板の検査装置１は、フラットケーブル１８を用いて出力端子４、５、６に接続可能になった３つの検査端子１９、２０、２１と、各検査端子１９、２０、２１の接続線２２、２３、２４にオンオフスイッチ２５、２６、２７を介して切換え自在に接続された電圧計２８（検査回路）とを備える。オンオフスイッチ２５、２６、２７は通常オフであり、各出力端子４、５、６の出力電圧を計測するときに、オンオフスイッチ２５、２６、２７を順にオンにすることにより個別に電圧を計測する。電源回路基板２のグランド端子１７は、検査装置１のグランド端子２９と接続され、電圧計２８の一端側と共にグランドＧに接続されている。電圧計２８は、電流計などの他の測定器であってもよい。
【００２０】
各接続線２２、２３、２４には、グランド端子２９の接続線３０との間に電源回路基板２側の残電圧を放電させて低下させる放電抵抗ＲＬ１、ＲＬ２、ＲＬ３と、残電圧によって放電抵抗ＲＬ１、ＲＬ２、ＲＬ３を流れる電流により点灯する発光ダイオードＬＤ１、ＬＤ２、ＬＤ３と、を備える。
【００２１】
各発光ダイオードＬＤ１、ＬＤ２、ＬＤ３のカソード側にはトランジスタ素子Ｑ１、Ｑ２、Ｑ３が接続され、各トランジスタ素子Ｑ１、Ｑ２、Ｑ３のベース端子は、それぞれ抵抗ＲＴ１、ＲＴ２、ＲＴ３を介して検査端子１９、２０、２１に接続されている。
【００２２】
各抵抗ＲＴ１、ＲＴ２、ＲＴ３は、各検査端子１９、２０、２１に残電圧が有るときにトランジスタ素子Ｑ１、Ｑ２、Ｑ３をオンさせ、残電圧がなくなったときにトランジスタ素子Ｑ１、Ｑ２、Ｑ３をオフする値に設定される。具体的には、例えば、出力端子４、５、６からの正常時の出力電圧がＤＣ５ボルト、ＤＣ７ボルト、ＤＣ１０ボルトである場合には、予想される残電圧（Ｖ４、Ｖ５、Ｖ６）の大きさも、Ｖ４≒ＤＣ５ボルト、Ｖ５≒ＤＣ７ボルト、Ｖ６≒ＤＣ１０ボルトである。このことから、各抵抗ＲＴ１、ＲＴ２、ＲＴ３の値は、少なくともＲＴ１＜ＲＴ２＜ＲＴ３になるようにして、残電圧が有るときに各トランジスタ素子Ｑ１、Ｑ２、Ｑ３のベース・エミッタ間にトランジスタの動作電圧（約０．６ボルト）がかかるように設定される。
【００２３】
以上の通りの構成であるので、作業者は、検査に際して、電源回路基板２を検査装置１に接続した後、プラグ８を商用電源に接続し、トランス７、ダイオードブリッジ９などを動作させて出力端子４、５、６に電圧を出力させる。その上で、オンオフスイッチ２５、２６、２７を順に短時間オンにすることにより、個別に各検査端子１９、２０、２１の電圧を計測し、電源回路基板２が正常か否かを検査する。
【００２４】
そして、電圧の計測が終了した後に、プラグ８を商用電源から切り離して電源回路基板２の動作を停止したときに、出力端子４、５、６には、平滑コンデンサ１０、１４、１５、１６などに残る電荷に起因した残電圧が生じる。各抵抗ＲＴ１、ＲＴ２、ＲＴ３は、上記のように予想される残電圧とトランジスタ素子Ｑ１、Ｑ２、Ｑ３の動作電圧を考慮した値に設定されているので、残電圧が有る間はトランジスタ素子Ｑ１、Ｑ２、Ｑ３がオンして、発光ダイオードＬＤ１、ＬＤ２、ＬＤ３が点灯し、放電抵抗ＲＬ１、ＲＬ２、ＲＬ３からグランドＧへの放電が進んで残電圧が無くなると、トランジスタ素子Ｑ１、Ｑ２、Ｑ３がオフして、発光ダイオードＬＤ１、ＬＤ２、ＬＤ３が消灯する。
【００２５】
平滑コンデンサ１４、１５、１６などに残る電荷量は一定ではないので、各出力端子４、５、６の残電圧が放電されるまでの時間は出力端子毎に異なり、発光ダイオードＬＤ１、ＬＤ２、ＬＤ３が消灯するタイミングも異なるが、作業者は、発光ダイオードＬＤ１、ＬＤ２、ＬＤ３を目視しつつ、全てが消灯したことを確認することによって、その時点で電源回路基板２の残電圧が無くなったと判断できる。発光素子を備えない従来装置の場合には、作業者が容易に残電圧の放電の進捗を判断することができないが、本発明の検査装置１では、発光ダイオードＬＤ１、ＬＤ２、ＬＤ３の点灯状態（消灯タイミング）を目視することにより残電圧の放電が完了したことを簡単に判定することができる。
【００２６】
そして、次に、作業者は、電源回路基板２を検査装置１との接続を外した後、製品へと組み込むが、電源回路基板２の残電圧が無くなっていることを、全発光ダイオードＬＤ１、ＬＤ２、ＬＤ３の消灯により確認した上で組み込み作業を行うので、製品の他の電子回路や部品を損傷してしまうことを確実に防止できる。
【００２７】
（第２の実施形態）
本発明の第２の実施形態に係る回路基板の検査装置について、図２を参照して説明する。第２の実施形態に係る回路基板の検査装置５１は、第１の実施形態に係る回路基板の検査装置１とほぼ同様の構成であり、同一の構成部分については、同一の番号を付して説明を省略する。第２の実施形態の検査装置５１は、第１の実施形態の検査装置１と比べて、トランジスタ素子Ｑ１、Ｑ２、Ｑ３のベース端子に接続する抵抗が可変抵抗ＲＶ１、ＲＶ２、ＲＶ３である点と、検査端子１９、２０、２１に中継基板５２が連結され、検査端子１９、２０、２１と出力端子４、５、６との接続の変更が容易になっている点が異なる。
【００２８】
中継基板５２は、出力端子４、５、６に接続される中継端子５２ａ、５２ｂ、５２ｃと、検査端子１９、２０、２１に接続される中継端子５２ｄ、５２ｅ、５２ｆとが、パターン又はジャンパー配線などによって、筋違いのライン又は飛び越したラインに接続される。図２に示す例では、中継端子５２ａは正面の中継端子５２ｄではなく筋違いのライン２３の中継端子５２ｅに接続され、中継端子５２ｂは正面の中継端子５２ｅではなく筋違いのライン２４の中継端子５２ｆに接続され、中継端子５２ｃは正面の中継端子５２ｆではなく飛び越したライン２２の中継端子５２ｄに接続されている。これにより、第１の実施形態とは異なり、出力端子４、５、６は、それぞれ対向する正面ではない検査端子２０、２１、１９に接続される。
【００２９】
中継基板５２は、該中継基板５２だけを、別の接続構造のものに取り換えることにより、検査装置５１の配線構造を大きく変更するなどの検査装置５１自体の設計変更を必要とすることなく、出力端子４、５、６と検査端子１９、２０、２１との接続の仕方を容易に変更できる。
【００３０】
いま、検査装置５１側の検査端子１９、２０、２１は、可変抵抗ＲＶ１、ＲＶ２、ＲＶ３がとり得る抵抗値の範囲の関係上、検査端子１９が低電圧用（例えば、ＤＣ３〜５ボルト）であり、検査端子２０が中電圧用（例えば、ＤＣ６〜８ボルト）であり、検査端子２１が高電圧用（例えば、ＤＣ９〜１２ボルト）であるとする。そして、検査すべき電源回路基板２は、第１の実施形態のものとは異なり、出力端子４、５、６に、それぞれＤＣ７ボルト（中電圧）、ＤＣ１２ボルト（高電圧）、ＤＣ３ボルト（低電圧）が出力されるとする。
【００３１】
このように検査すべき電源回路基板２が仕様の異なるものに変更された場合であっても、出力端子４、５、６は、中継基板５２によって、それぞれ電圧が適合する検査端子２０、２１、１９に接続されるので、残電圧が有る間はトランジスタ素子Ｑ１、Ｑ２、Ｑ３が確実にオンして発光ダイオードＬＤ１、ＬＤ２、ＬＤ３が点灯し、残電圧が無くなったときにトランジスタ素子Ｑ１、Ｑ２、Ｑ３が確実にオフして発光ダイオードＬＤ１、ＬＤ２、ＬＤ３が消灯する。これにより、第１の実施形態と同様に、作業者は、発光ダイオードＬＤ１、ＬＤ２、ＬＤ３の点灯・消灯を目視し、全発光ダイオードＬＤ１、ＬＤ２、ＬＤ３が消灯したタイミングで、電源回路基板２側の残電圧が無くなったことを判定することができる。
【００３２】
また、可変抵抗ＲＶ１、ＲＶ２、ＲＶ３は、所定の範囲内で抵抗値を調整することが可能であるので、例えば、検査すべき電源回路基板２の仕様が変更になり、出力端子５に生じる残電圧の大きさが１２ボルトではなく、９ボルトになったとしても、検査端子２１に接続された可変抵抗ＲＶ３の抵抗値を変更するだけで、新しい電源回路基板２に対応することができる。
【００３３】
なお、上記第１、第２の実施形態では、電源回路基板２側の出力端子数が３個であって、検査装置１、５１側の検査端子数も３個であったが、検査装置１、５１側の検査端子数を電源回路基板２の出力端子数よりも多く設けておき、電源回路基板２側の出力端子を検査装置１、５１側の電圧が適合する特定の検査端子に接続するようにしてもよい。
【００３４】
例えば、検査装置５１の検査端子数をｎ個有し、それぞれに放電抵抗ＲＬ１〜ＲＬｎ、発光ダイオードＬＤ１〜ＬＤｎ、トランジスタ素子Ｑ１〜Ｑｎ、及び可変抵抗ＲＶ１〜ＲＶｎを備える放電回路が接続されたものに構成し、可変抵抗ＲＶ１〜ＲＶｎの値を調整してｎ個の検査端子を順に低電圧用から高電圧用に割り当てることができる。この場合には、１台の検査装置５１を、出力端子数が異なり、かつ各出力端子の出力電圧が種々に異なる電源回路基板２に対応できる汎用のものとすることができる。
【符号の説明】
【００３５】
１  回路基板の検査装置
２  電源回路基板（回路基板）
４  出力端子
５  出力端子
６  出力端子
１９  検査端子
２０  検査端子
２１  検査端子
２８  電圧計（検査回路）
５１  回路基板の検査装置
５２  中継基板
Ｇ  グランド
ＲＬ１  放電抵抗
ＲＬ２  放電抵抗
ＲＬ３  放電抵抗
ＲＶ１  可変抵抗
ＲＶ２  可変抵抗
ＲＶ３  可変抵抗
ＬＤ１  発光ダイオード（発光素子）
ＬＤ２  発光ダイオード（発光素子）
ＬＤ３  発光ダイオード（発光素子）
Ｑ１  トランジスタ素子
Ｑ２  トランジスタ素子
Ｑ３  トランジスタ素子
【図１】
2013238570.tif 000003
【図２】
2013238570.tif 000004