(57)【要約】【課題】光ディスクライブラリ装置において、各光ディスク装置の使用頻度の偏りによる劣化を防ぐこと。【解決手段】複数の光ディスク装置を使用した光ディスクライブラリ装置において、光ディスク装置により光ディスクに情報を記録又は再生を実施する前に、自己監視情報を光ディスク監視部から取得し、前記自己監視情報に含まれる使用頻度情報又は劣化情報に基づいて光ディスク装置の使用優先順位を評価し、前記使用優先順位に基づいて情報の記録又は再生に使用する光ディスク装置を選択することを特徴とする光ディスクライブラリ装置。【選択図】図４
2013062006.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに記録再生が可能な複数の光ディスク装置から使用する光ディスク装置を選択する光ディスクライブラリ装置であって、
前記複数の光ディスク装置を制御するライブラリ制御部と、
前記複数の光ディスク装置の状態を監視し、前記光ディスク装置の使用頻度情報を含む自己監視情報を保存する光ディスク装置監視部と、を有し、
光ディスク装置によって光ディスクに対する情報の記録又は再生を実施する前に、前記自己監視情報を前記光ディスク監視部から取得し、前記自己監視情報に含まれる使用頻度情報又は劣化情報に基づいて前記光ディスク装置の使用優先順位を評価し、前記使用優先順位に基づいて情報の記録又は再生に使用する光ディスク装置を選択することを特徴とする光ディスクライブラリ装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスクライブラリ装置であって、
前記自己監視情報に含まれる前記劣化情報には、レーザ微分係数、シーク失敗回数、再生エラー回数又は交替先記録回数のうち少なくとも１つが含まれることを特徴とする光ディスクライブラリ装置。
【請求項３】
光ディスクに記録再生が可能な複数の光ディスク装置から使用する光ディスク装置を選択する光ディスク装置選択方法であって、
光ディスク装置が光ディスクに記録又は再生を実施する前に、前記複数の光ディスク装置の自己監視情報を取得する自己監視情報取得ステップと、
前記自己監視情報に基づいて前記光ディスク装置の使用優先順位を評価する使用優先順位評価ステップと、
前記使用優先順位に基づいて使用する光ディスク装置を選択する光ディスク装置選択ステップと、を含むことを特徴とする光ディスク装置選択方法。
【請求項４】
請求項３に記載の光ディスク装置選択方法であって、
前記自己監視情報取得ステップで取得する自己監視情報には、前記光ディスク装置の使用頻度情報を含むことと、
前記使用優先順位評価ステップは、前記使用頻度情報に基づき評価することを特徴とする光ディスク装置選択方法。
【請求項５】
光ディスクに記録再生が可能な複数の光ディスク装置から使用する光ディスク装置を選択する光ディスク装置選択方法であって、
光ディスク装置が光ディスクに記録又は再生を実施する前に、前記複数の光ディスク装置の自己監視情報を取得する自己監視情報取得ステップと、
前記自己監視情報に基づいて前記光ディスク装置の劣化状態を評価する劣化状態評価ステップと、
前記自己監視情報に基づいて前記光ディスク装置の使用優先順位を評価する使用優先順位評価ステップと、
前記使用優先順位に基づいて使用する光ディスク装置を選択する光ディスク装置選択ステップと、を含むことを特徴とする光ディスク装置選択方法。
【請求項６】
請求項５に記載の光ディスク装置選択方法であって、
前記自己監視情報取得ステップで取得する自己監視情報には、前記光ディスク装置の使用頻度情報と劣化情報を含み、
前記劣化状態評価ステップは、前記劣化情報に基づき評価し、劣化していると評価した光ディスク装置を選択しないよう制御し、
前記使用優先順位評価ステップは、前記使用頻度情報に基づき評価することを特徴とする光ディスク装置選択方法。
【請求項７】
請求項５に記載の光ディスク装置選択方法であって、
前記劣化状態評価ステップにおける、前記光ディスク装置の劣化状態を評価する際に用いる前記自己監視情報には、レーザ微分係数、シーク失敗回数、再生エラー回数又は交替先記録回数のうち少なくとも１つが含まれることを特徴とする光ディスク装置選択方法。
【請求項８】
光ディスクに記録再生が可能な複数の光ディスク装置から使用する光ディスク装置を選択する光ディスクライブラリ装置であって、
前記複数の光ディスク装置を制御するライブラリ制御部と、
前記複数の光ディスク装置の状態を監視し、前記光ディスク装置の記録使用時間及び再生使用時間に関する情報を含む自己監視情報を保存する光ディスク装置監視部とを有し、
光ディスク装置によって光ディスクに対する情報の記録又は再生を実施する前に、前記自己監視情報を前記光ディスク監視部から取得し、前記自己監視情報に含まれる前記記録使用時間及び前記再生使用時間に関する情報に基づいて前記光ディスク装置の使用優先順位を評価し、前記使用優先順位に基づいて情報の記録又は再生に使用する光ディスク装置を選択することを特徴とする光ディスクライブラリ装置。
【請求項９】
請求項８に記載の光ディスクライブラリ装置であって、
前記光ディスク装置監視部が保存する前記自己監視情報には、前記光ディスク装置の劣化情報を含み、
前記光ディスク装置の使用優先順位を評価する際、前記劣化情報に基づき評価し、劣化していると評価した光ディスク装置を選択しないよう制御することを特徴とする光ディスクライブラリ装置。
【請求項１０】
請求項９に記載の光ディスクライブラリ装置であって、
前記自己監視情報に含まれる前記劣化情報には、レーザ微分係数、シーク失敗回数、再生エラー回数又は交替先記録回数のうち少なくとも１つが含まれることを特徴とする光ディスクライブラリ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置に係り、特に複数の光ディスク装置を使用した光ディスクライブラリ装置において各光ディスク装置の使用状態を管理し、使用する光ディスク装置を選択する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には「インターフェース変換機において上位装置より発行されるロード・コマンドの発行回数をカウントし、イジェクト時もしくはリード／ライト系コマンド受信時に、ドライブからシーク動作回数及びライト・ブロック数を採取し、蓄積する手段を設ける。又、それぞれに閾値を持ち、蓄積した統計情報を閾値と比較し、閾値を超えている場合はドライブを寿命モード到達状態にする。寿命モード到達状態時には、上位装置からのコマンド処理を制限する手段を設けることで、寿命領域に到ったことを検知することが出来る。」と記載されている。
【０００３】
特許文献２には、「ハードディスク装置の使用履歴を管理しておき、決定された使用個数分のハードディスク装置を該使用履歴に基づいて選定する。使用履歴には、ハードディスク装置が内部で管理する管理情報（たとえば、ＳＭＡＲＴ（Self-Monitoring Analysisand Reporting Technology）を利用してもよいし、当該情報処理装置が独自に各ハードディスク装置の使用回数、使用時間を管理してもよい。たとえば、使用回数や使用時間の少ないものから優先的に選定すれば、各ハードディスク装置の使用頻度が均等化される。」との記載がある。
【０００４】
特許文献３には「図５を用いて、光ディスク装置２０４における寿命モード到達設定処理について説明する。本処理は、寿命に到達したドライブ２１０の使用を出来なくするか否かを決定づけるものである。まず、ステップ５００においてなされる寿命管理処理（図３、図４に相当）の後、ステップ５０１において予め設定された閾値と比較し、閾値オーバーと判断された場合、ステップ５０２において当該ドライブ２１０を寿命モード到達設定にする。このように、寿命閾値を超えたドライブは自動的に寿命モードに設定されるのであるが、上位装置からＳＣＳＩインターフェースを介して抑止をする手段を設けることも可能である。」との記載がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平１０−１６２４０２号公報
【特許文献２】特開２００７−１６４９１２号公報
【特許文献３】特開２００６−１８９５５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
光ディスク装置は、光ピックアップやスピンドルモータなど多数の部品で構成されており、光ディスクの情報記録又は情報再生などを行うことで、装置内の部品が劣化することで故障、又は動作が不安定になるため、部品の劣化状態を推測し装置寿命を管理する必要がある。
【０００７】
特に、複数の光ディスク装置を使用した光ディスクライブラリ装置では、特定の光ディスク装置の使用頻度が高いことにより劣化した場合、劣化した光ディスク装置の信頼性が保障できないため光ディスクライブラリ装置全体の信頼性を損なう可能性がある。そのため、各光ディスク装置の使用状態又は劣化状態を評価、管理することが装置全体の信頼性を確保維持するために重要である。
【０００８】
光ディスク装置の寿命を管理する技術としては、上記の特許文献１及び３があり、光ディスク装置の寿命を検知することで使用禁止又は書き込み動作を禁止する処理を行なっているが、寿命に至るまでに情報の記録又は再生に使用する光ディスク装置の選択を制御する点については考慮されていない。
【０００９】
ハードディスク装置における使用頻度均等化に関して特許文献３があるが、使用履歴としてハードディスク装置のロード回数等を評価することに留まり、光ディスク装置に応じた項目や劣化状態等を評価することは考慮されいない。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記の課題を解決するため、本発明では一例として特許請求の範囲記載の構成を用いる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によると、データの記録または再生に使用する光ディスク装置を適切に選択することにより、特定の光ディスク装置への使用頻度の偏りを防ぎ、光ディスクライブラリ装置全体の信頼性を確保することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】実施例における光ディスクライブラリ装置のブロック図
【図２】実施例における光ディスク装置のブロック図
【図３】実施例における光ディスクライブラリ装置の処理動作フローチャート例
【図４】第１の実施例における光ディスク装置選択処理のフローチャート
【図５】実施例における使用頻度情報の例
【図６】第２の実施例における光ディスク装置選択処理のフローチャート
【図７】実施例における劣化情報の例
【図８】第３の実施例における光ディスク装置選択処理のフローチャート
【図９】第３の実施例における光ディスク装置選択処理の変形例のフローチャート
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明を実施するための形態について図を用いて説明する。
【実施例１】
【００１４】
本発明の第１の実施例としての光ディスクライブラリ装置の構成ならびに動作を、図面を参照しながら記述する。図１は第１実施例における光ディスクライブラリ装置のブロック図である。本実施例の光ディスクライブラリ装置１０は、ライブラリ制御部１１と、チェンジャー機構１２と、光ディスク４０を複数収納するラック１３と、ホストインターフェース１４と、ドライブインターフェース１５と光ディスク装置監視部１６と、光ディスク監視データベース１７と、光ディスク装置監視データベース１８と、複数の光ディスクドライブ３０とで構成される。
【００１５】
光ディスクライブラリ装置１０は、ホストインターフェース１４を介してホストコンピュータ２０と接続され、記録や再生といった各種コマンドと記録するデータを受信し、コマンドの実行結果と再生したデータを送信する。
【００１６】
ラック１３は複数のスロットを備えており、各スロットには１枚ずつ光ディスク４０を収納することができる。
【００１７】
ライブラリ制御部１１は光ディスクライブラリ装置１０の動作全般を制御する機能を備えており、チェンジャー機構１２を動作させてラック１３から所定の光ディスク４０を取り出し、所定の光ディスク装置３０まで搬送して挿入する。あるいは逆に、所定の光ディスク装置３０から排出された光ディスク４０を、ラック１３の所定のスロットに搬送して収納する。また、ドライブインターフェース１５を介して各光ディスク装置３０と接続されており、所定の光ディスク装置３０に対して記録や再生といった各種コマンドと記録するデータを送信し、コマンドの実行結果と再生したデータおよび後述する自己監視情報を受信する。また、ライブラリ制御部１１にある光ディスク装置選択部１７では、光ディスク装置監視部１６を介して各光ディスク装置３０の使用頻度情報又は劣化情報を評価し、それらに応じた処理を行う。
【００１８】
光ディスク装置監視部１６は、ライブラリ制御部１１から受け取った自己監視情報に基づいて、すべての光ディスク装置３０の使用頻度情報、劣化情報を評価し、管理する機能を備えている。また、評価結果をライブラリ制御部１１に渡す。
【００１９】
光ディスク装置監視データベース１８は光ディスク装置監視部１６が各々の光ディスク装置３０の状態を管理するためのデータベースである。データベースは光ディスク装置監視部１６によって情報の更新と読み出しが行われる。
【００２０】
図２は第１実施例における光ディスク装置３０のブロック図である。本実施例の光ディスク装置３０はドライブ制御部３１と、光ピックアップ３２と、ドライブメモリ３３と、コントローラインターフェース３４と、自己監視情報記録部３５と、ディスク回転機構５０と、スライダ機構５１と、サーボ制御部５２と、サーボ信号生成部５３と、再生信号生成部５４と、再生信号２値化部５５と、エンコーダ部５６と、デコード部５７で構成される。
【００２１】
ドライブ制御部３１は、光ディスク３０の動作全般を制御する。即ち、サーボ制御部５２を介して、ディスク回転機構５０に装着された光ディスク４０の回転制御を行い、スライダ機構５１を駆動して光ピックアップ３２を光ディスク４０の半径方向に変位させるシーク制御及び送り制御を行い、光ピックアップ３２の対物レンズを駆動してフォーカス制御及びトラッキング制御を行う。
【００２２】
また、ドライブ制御部３１は、光ピックアップ３２のレーザ発光を制御する。記録時には、コントローラインターフェース３４を介してライブラリ制御部１１から送られてきた記録データ信号を、エンコード部５６で所定の変調規則によるＮＲＺＩ信号に変換してドライブ制御部３１に供給し、ドライブ制御部３１はこのＮＲＺＩ信号に対応した記録ストラテジ（発光パルス）に変換し、所定の光強度およびパルス列でレーザを発光させる。
【００２３】
光ディスク４０からの反射光量は光ピックアップ３２の光検出器で受光されて電気信号に光電変換され、サーボ信号生成部５３と再生信号生成部５４に送られる。サーボ信号生成部５３は、装着された光ディスク４０に好適な検出方法で各種のサーボ信号を選択して生成し、ドライブ制御部３１に供給する。サーボ信号には少なくともフォーカス誤差信号とトラッキング誤差信号とが含まれる。ドライブ制御部３１は、これらサーボ信号に基づき、前述したようにサーボ制御部５２を介して対物レンズを駆動し、フォーカスサーボおよびトラッキングサーボを動作させる。
【００２４】
再生信号生成部５４は、波形等化回路とＡ／Ｄコンバータとを備えており、光ピックアップ３２から供給されたアナログの再生信号に対して、所定の波形等化の後、標本化および量子化を行ってディジタル信号に変換し、再生信号２値化部５５に供給する。
【００２５】
再生信号２値化部５５は、トランスバーサルフィルタと、ビタビ復号回路を備える。再生信号生成部５４から供給されたディジタル信号はトランスバーサルで所定のＰＲクラスに等化され、ビタビ復号回路で最尤復号を行って、この等化波形を所定の変調規則に基づくＮＲＺＩ信号に変換する。再生信号２値化部５５で生成されたＮＲＺＩ信号は、デコーダ部５７によってデータの訂正処理などを行って再生データ信号に変換され、コントローラインターフェース３４を介してライブラリ制御部１１に送られる。
【００２６】
またドライブ制御部３１は、自己監視情報記録部３５を介して、光ディスク装置３０の自己監視情報を、各自己監視情報に関するイベントが発生する毎にドライブメモリ３３に記録する。自己監視情報は、光ディスク装置３０のパワーオン時間、レーザ発光時間、レーザ微分係数（Ｉ−Ｌ特性の傾き）、ディスク回転機構の起動時間、シーク動作回数と距離、光ディスク４０の挿入／排出回数、記録時間とブロック数、再生時間とブロック数など、光ディスク装置の使用履歴や状態及び性能に関する各種データである。
【００２７】
第１実施例の光ディスクライブラリ装置が使用する光ディスク装置を選択する処理動作について、図３と図４のフローチャートを使用し、詳細に説明する。
【００２８】
ライブラリ制御部１１はホストコンピュータ２０から発行された記録（又は再生）の命令を受け取ると（Ｓ１００）、記録（又は再生）処理を実行するために、ライブラリ制御部１１にある光ディスク装置選択部１７により使用する光ディスク装置３０を選択する（Ｓ１１０）。ここでは、複数の光ディスク装置３０（便宜上、装置Ａ〜Ｄの4台）から使用する光ディスク装置３０を選択する例で説明する。
【００２９】
光ディスク装置選択部１７は、光ディスク装置監視部１６を介して光ディスク装置監視データベース１８にある各光ディスク装置の自己監視情報を取得する（Ｓ１１１）。この自己監視情報には、使用頻度情報を利用する。使用頻度情報の例としては、パワーオン時間、レーザ発光時間、ディスク回転機構の起動時間、シーク動作回数と距離、光ディスク４０の挿入／排出回数などがある。光ディスク装置３０を構成する各々の部品又は動作には仕様があるため、これらの情報を利用し、各光ディスク装置３０の使用優先順位を評価し、管理する（Ｓ１１２）。
【００３０】
以下に評価方法の例として、図５に記載のパワーオン時間、レーザ発光時間、ディスク回転機構の起動時間の３項目ついて評価を行う場合について説明する。各項目の仕様値、自己監視情報値は図５を参照し、例えば下記の計算式（数１）を利用し、比較可能にするための規格化行う。計算式（数１）は、使用時間が長くなることで自己監視情報値が増加するため、規格値Ｍは大きな値になる。
【００３１】
【数１】
2013062006.tif 000003
【００３２】
各光ディスク装置３０（装置Ａ〜Ｄ）について、上記式（数１）により算出した規格値Ｍａ、Ｍｂ、Ｍｃ、Ｍｄの比較を行うことで、優先順位の評価を行う。例えば、規格値の関係がＭａ＞Ｍｂ＞Ｍｃ＞Ｍｄの場合、光ディスク装置３０の優先順位の評価結果は装置Ｄ、装置Ｃ、装置Ｂ、装置Ａの順になる。ここで、下記条件（数２）を適用することも可能である。条件（数２）を適用した場合、仕様値を超えた光ディスク装置３０の使用を防ぐことが可能である。
【００３３】
【数２】
2013062006.tif 000004
【００３４】
上記では３項目について評価する例を説明したが、例えば１項目の場合は計算式（数３）、５項目の場合は計算式（数４）を利用することで算出できる。
【００３５】
【数３】
2013062006.tif 000005
【００３６】
【数４】
2013062006.tif 000006
【００３７】
さらに、上記計算式では加算により規格化を行ったが、計算式（数５）にように乗算により規格化してもよい。1項目又は複数の項目を使用する場合については、省略する。
【００３８】
【数５】
2013062006.tif 000007
【００３９】
次に、（Ｓ１１２）の評価結果を参照し使用する光ディスク装置３０を選択する(Ｓ１１３)。例えば、前述した規格値の関係がＭａ＞Ｍｂ＞Ｍｃ＞Ｍｄの場合、光ディスク装置３０の優先順位の評価結果は装置Ｄ、装置Ｃ、装置Ｂ、装置Ａの順になる。この場合、最も優先順位の高い光ディスク装置３０は装置Ｄとなり、使用する光ディスク装置３０として選択される。
【００４０】
ここで、記録（又は再生）処理を実行している光ディスク装置３０がある例について、光ディスク装置３０の優先順位の評価結果が装置Ｄ、装置Ｃ、装置Ｂ、装置Ａの順になった場合で説明する。例えば、装置Ｄと装置Ｃが記録（又は再生）処理を実行している場合、使用する光ディスク装置３０は、装置Ｂが選択される。
【００４１】
さらに、記録（又は再生）処理を実行している光ディスク装置３０がある場合、（Ｓ１１１）の自己監視情報受信時に除外する方法、（Ｓ１１２）の優先順位評価時に除外する方法も可能であるが、説明は省略する。
【００４２】
使用する光ディスク装置３０が選択されると、チェンジャー機構１２を動作させてラック１３から所定の光ディスク４０を取り出し、選択された光ディスク装置３０まで搬送して挿入する（Ｓ１２０）。そして、ホストコンピュータ２０から発行された記録（又は再生）の命令を実行し（Ｓ１３０）、実行後に自己監視情報の更新を行う（Ｓ１４０）。自己監視情報の更新においては、光ディスク装置３０は自己監視情報を更新してライブラリ制御部１１に送信し、ライブラリ制御部１１は受け取った自己監視情報を光ディスク装置監視部１６に渡し、光ディスク監視データベース１８の更新を行う。次回光ディスク装置選択時には、更新された自己監視情報を使用できる。
【００４３】
以上に述べたように、本発明の第１実施例によれば、光ディスクライブラリ装置において、各々の光ディスク装置の使用頻度情報を基に使用優先順位を評価することで、光ディスクの使用状態の均等化を図ることが可能である。
【実施例２】
【００４４】
第１実施例において、各々の光ディスク装置３０の使用頻度情報を基に光ディスク装置３０の選択を行った。しかし、光ディスク装置３０には装置毎の個体差、又は環境による不慮の劣化などがある。この場合、使用頻度情報のみでは劣化状態が把握できないため、自己監視情報として劣化情報を使用して光ディスク装置３０の選択を行う。他の構成は、第１実施例と同様であり、説明は省略する。
【００４５】
第２実施例の光ディスクライブラリ装置が使用する光ディスク装置を選択する処理動作について、図６のフローチャートを使用し、詳細に説明する。Ｓ１１４において、各光ディスク装置の自己監視情報として使用頻度情報と劣化情報の取得を行う。劣化情報の例としては、レーザ微分係数（Ｉ−Ｌ特性の傾き）、シーク失敗回数、再生エラー回数、交替先記録回数などがある。光ディスク装置３０を構成する各々の部品が劣化傾向にあるとき、これらの情報から劣化状態を評価する（Ｓ１１５）。
【００４６】
以下に評価方法の例として、図７に記載のレーザ微分係数、シーク失敗回数、再生エラー回数、交替先記録回数の４項目ついて評価を行う場合について説明する。レーザ微分係数は、式（数６）のように初期値からの変化率に対して閾値を設定することで、レーザの劣化状態を察知することが可能である。
【００４７】
【数６】
2013062006.tif 000008
【００４８】
シーク失敗回数、再生エラー回数、交替先記録回数では、初期値からの増加回数に対して閾値を設定することで、光ディスク装置３０全体の劣化状態を察知することができる。上記記載の４項目に対して閾値を超えた項目がある場合、劣化状態にある光ディスク装置３０を評価し、選択しない制御を行う。そして、すべての項目で閾値範囲内の光ディスク装置３０に対して優先順位の評価を行う。優先順位の評価（Ｓ１１６）と光ディスク装置３０の選択は第１実施例と同様であり、省略する。
【００４９】
以上に述べたように、本発明の第２実施例によれば、光ディスクライブラリ装置において、各々の光ディスク装置の劣化情報を評価することで、不慮の劣化を察知することが可能になる。
【実施例３】
【００５０】
本実施例においては、各光ディスク装置の自己監視情報として使用時間を用いて優先順位の評価を行う例について説明をする。装置構成自体は実施例１と同様であるため説明を省略する。
【００５１】
光ディスク装置がレーザ発光を行う場合、その使用時間に従って、レーザダイオードの劣化が生じる。さらに、当該劣化はレーザパワーに応じて劣化が進むため、光ディスク使用時間のみを把握しても、適切な評価を行うことはできない。そこで、本実施例では、光ディスク装置において記録用レーザパワーと再生用レーザパワーとが異なる点を考慮して、使用する光ディスクの優先順位を評価する。第３実施例の光ディスクライブラリ装置が使用する光ディスク装置を選択する処理動作について、図８のフローチャートに基づき、詳細に説明する。Ｓ１１８において、各光ディスク装置の自己監視情報としてデータ記録に使用された時間（以下、記録使用時間と称する。）に関する情報及びデータ再生に使用された時間（以下、再生使用時間と称する。）に関する情報の取得を行う。Ｓ１１９において、取得した各光ディスク装置の記録使用時間及び再生使用時間に関する当該情報から、優先順位の評価を行う。より具体的には、例えば、光ディスク装置においてデータ記録時のレーザパワーの方が、データ再生時のレーザパワーよりも大きいことに着目し、記録使用時間には所定の係数Ａを乗じて、再生使用時間には所定の係数Ｂを乗じ、且つＡ＞Ｂの関係とし、両者の和を評価することで、実質的な合計使用時間（以下、実質使用時間評価値と称する。）の評価を行う。すなわち、レーザパワーの高い記録時にはレーザダイオードの劣化度合いが大きくなる点を考慮し、光ディスク使用時間を評価する際、記録使用時間と再生使用時間とで、記録使用時間への重み付けを大きくして評価を行う。これにより、単に光ディスク装置の使用時間を評価する場合に比べ、より適切にレーザダイオードへの負荷を分散させることができ、各光ディスク装置の寿命を均等化することができる。Ｓ１１Ａでは、上記Ｓ１１９で評価した使用時間に基づき、記録使用時間への重み付けを考慮した上記実質使用時間評価値の低い（すなわち、実質的な使用時間が少ない）光ディスク装置を優先して選択する。
【００５２】
なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。
【００５３】
例えば、上述した第３の実施例において、第２の実施例の構成を加え、図９に示す処理を行ってもよい。図９では、Ｓ１１Ｃにおいて、実施例２で述べた光ディスク装置の劣化状態の評価を行う。さらに、Ｓ１１Ｄにおいて、各光ディスク装置の記録使用時間及び再生使用時間に関する当該情報から、優先順位の評価を行う。上記Ｓ１１Ｃにおいて、実施例２において説明した劣化状態を示す項目で閾値を超えた項目がある場合、Ｓ１１Ｅでは劣化状態にある光ディスク装置を選択しない制御を行った上で、残りの各光ディスク装置から上記実質使用時間評価値の低い（すなわち、実質的な使用時間が少ない）光ディスク装置を優先して選択するようにしてもよい。このように、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。
【符号の説明】
【００５４】
１０・・・光ディスクライブラリ装置、１１・・・ライブラリ制御部、１２・・・チェンジャー機構、１３・・・ラック、１４・・・ホストインターフェース、１５・・・ドライブインターフェース、１６・・・光ディスク装置監視部、１７・・・光ディスク装置選択部、１８・・・光ディスク装置監視データベース、２０・・・ホストコンピュータ、３０・・・光ディスク装置、３１・・・ドライブ制御部、３２・・・光ピックアップ、３３・・・ドライブメモリ、３４・・・コントローラインターフェース、３５・・・自己監視情報記録部、４０・・・光ディスク、５０・・・ディスク回転機構、５１・・・スライダ機構、５２・・・サーボ制御部、５３・・・サーボ信号生成部、５４・・・再生信号生成部、５５・・・再生信号２値化部、５６・・・エンコード部、５７・・・デコード部
【図１】
2013062006.tif 000009
【図２】
2013062006.tif 000010
【図３】
2013062006.tif 000011
【図４】
2013062006.tif 000012
【図５】
2013062006.tif 000013
【図６】
2013062006.tif 000014
【図７】
2013062006.tif 000015
【図８】
2013062006.tif 000016
【図９】
2013062006.tif 000017