(57)【要約】      （修正有）【課題】端子板の挿通孔へのリード線の挿通状態の良否を確実に判定することができ、また挿通不良パターンをも識別できるリード線の挿通検査方法、リード線挿通検査装置並びに太陽電池モジュールの製造方法及び製造システムを提供する。【解決手段】太陽電池モジュール１１６用端子ボックス１に備えられた端子板２０の挿通孔１４に端子板２０の主面側から挿通されたリード線１２６の挿通状態を検査する検査方法であって、挿通孔１４をリード線１２６の挿通方向に跨ぐ区間を測定区間３３として、予め、リード線１２６の挿通状態が正常であるときに光学式変位計２２１により測定した測定区間３３における端子板２０及びリード線１２６の表面形状のプロファイルを基準プロファイルとし、この基準プロファイルと、検査対象について実測した測定区間３３における表面形状の実測プロファイルとを比較することにより、リード線１２６の挿通状態の良否を判定する。【選択図】図１
2013229500.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
太陽電池モジュール用端子ボックスに備えられた端子板の挿通孔に前記端子板の主面側から挿通されたリード線の挿通状態を検査する検査方法であって、
前記挿通孔を前記リード線の挿通方向に跨ぐ区間を測定区間として、予め、前記リード線の挿通状態が正常であるときに光学式変位計により測定した前記測定区間における前記端子板及び前記リード線の表面形状のプロファイルを基準プロファイルとし、この基準プロファイルと、検査対象について実測した前記測定区間における前記表面形状の実測プロファイルとを比較することにより、前記リード線の挿通状態の良否を判定することを特徴とするリード線挿通検査方法。
【請求項２】
請求項１に記載のリード線挿通検査方法において、
前記端子板に、前記挿通孔における前記リード線の挿通方向上流側の端縁から該挿通方向下流側に向かって下降するガイド部が設けられ、
前記端子板の厚みをｄ、前記端子板の主面と前記ガイド部の上面側の先端縁とのレベル差をｂ、前記実測プロファイル上での前記挿通孔の前記挿通方向下流側の端縁と該端縁の下方に位置する前記リード線とのレベル差をｓとして、ｄ≦ｓ＜ｂの関係が成立したとき、前記リード線の挿通状態が正常であると判定することを特徴とするリード線挿通検査方法。
【請求項３】
請求項１に記載のリード線挿通検査方法において、
前記端子板に、前記挿通孔における前記リード線の挿通方向上流側の端縁から該挿通方向下流側に向かって下降するガイド部が設けられ、
前記端子板に、前記測定区間内で前記挿通孔の前記挿通方向下流側に観察用開口部を設け、前記端子板の厚みをｄ、前記端子板の主面と、前記観察用開口部の前記挿通方向上流側の端縁を通る垂線が前記ガイド部の上面を含む仮想面と交差する点とのレベル差をｅ、前記実測プロファイル上での前記観察用開口部の挿通方向上流側の端縁と該端縁の下方に位置する前記リード線とのレベル差をｐとして、ｄ≦ｐ＜ｅの関係が成立したとき、前記リード線の挿通状態が正常であると判定することを特徴とするリード線挿通検査方法。
【請求項４】
請求項２に記載のリード線挿通検査方法において、
前記端子板に、前記測定区間内で前記挿通孔の前記挿通方向下流側に観察用開口部を設け、前記端子板の厚みをｄ、前記端子板の主面と、前記観察用開口部の前記挿通方向上流側の端縁を通る垂線が前記ガイド部の上面を含む仮想面と交差する点とのレベル差をｅ、前記実測プロファイル上での前記観察用開口部の挿通方向上流側の端縁と該端縁の下方に位置する前記リード線とのレベル差をｐとして、ｄ≦ｐ＜ｅの関係が成立したとき、前記リード線の挿通状態が正常であると判定することを特徴とするリード線挿通検査方法。
【請求項５】
請求項３または４に記載のリード線挿通検査方法において、
前記観察用開口部は、前記挿通孔と同幅で且つ幅方向の中心が前記挿通孔の幅方向の中心を通る前記挿通方向に沿う直線上に位置することを特徴とするリード線挿通検査方法。
【請求項６】
請求項３から５までのいずれか１項に記載のリード線挿通検査方法において、
前記観察用開口部は、少なくとも前記挿通孔側の端縁が、前記挿通孔の前記挿通方向下流側の端縁と平行となるように設けたことを特徴とするリード線挿通検査方法。
【請求項７】
請求項３から６までのいずれか１項に記載のリード線挿通検査方法において、
前記実測プロファイル上での前記観察用開口部と前記挿通孔との間における実測主面と、前記基準プロファイル上での主面との間のレベル差の有無を、前記リード線の挿通状態の良否における一つの判定基準とすることを特徴とするリード線挿通検査方法。
【請求項８】
請求項１から７までのいずれか１項に記載のリード線挿通検査方法において、
前記測定区間内で前記挿通孔の前記挿通方向下流側に基準標示部を設け、該基準標示部により前記主面の基準レベルを確定することを特徴とするリード線挿通検査方法。
【請求項９】
請求項８に記載のリード線挿通検査方法において、
前記基準標示部は前記挿通孔の直近に設けたことを特徴とするリード線挿通検査方法。
【請求項１０】
請求項８または９に記載のリード線挿通検査方法において、
前記基準標示部は、前記挿通孔と同幅で且つ幅方向の中心が前記挿通孔の幅方向の中心を通る前記挿通方向に沿う直線上に位置する溝としたことを特徴とするリード線挿通検査方法。
【請求項１１】
請求項８から１０までのいずれか１項に記載のリード線挿通検査方法において、
前記基準標示部は、少なくとも前記挿通孔側の端縁が、前記挿通孔の前記挿通方向下流側の端縁と平行となるように設けたことを特徴とするリード線挿通検査方法。
【請求項１２】
請求項１から１１までのいずれか１項に記載のリード線挿通検査方法において、
前記基準プロファイル上での前記端子板の主面と前記挿通孔の挿通方向上流側におけるリード線の屈曲頂点とのレベル差を基準レベル差とする一方、前記基準プロファイル上での前記端子板の主面と前記実測プロファイル上での前記挿通孔の挿通方向上流側におけるリード線の屈曲頂点とのレベル差を実測レベル差としてこれら２つのレベル差を対比し、前記実測レベル差が前記基準レベル差よりも大きい場合又は前記実測レベル差が無い場合の場合に前記リード線の挿通状態が不良であると判定することを特徴とするリード線挿通検査方法。
【請求項１３】
請求項１から１２までのいずれか１項に記載のリード線挿通検査方法において、
前記実測プロファイル上での前記挿通孔の前記挿通方向下流側における実測主面と、前記基準プロファイル上での主面との間のレベル差の有無を、前記リード線の挿通状態の良否判定における一つの判定基準とすることを特徴とするリード線挿通検査方法。
【請求項１４】
請求項１から１３までのいずれか１項に記載のリード線挿通検査方法において、
前記測定区間における前記端子板及び前記リード線の表面形状のプロファイルを前記リード線の両側縁部に沿った少なくとも２か所にて測定し、
得られた少なくとも２つの実測プロファイルを比較したときの前記挿通孔の前記挿通方向下流側の端縁におけるレベル差の有無を、前記リード線の挿通状態の良否判定における一つの判定基準とすることを特徴とするリード線挿通検査方法。
【請求項１５】
請求項１から１３までのいずれか１項に記載のリード線挿通検査方法において、
前記光学式変位計から、前記挿通方向と交差する方向に幅を有する光を照射して前記リード線の幅方向における最高位を前記測定区間に亘って検出し、これより実測プロファイルを得ることを特徴とするリード線挿通検査方法。
【請求項１６】
請求項１から１５までのいずれか１項に記載のリード線挿通検査方法において、
前記測定プロファイル上の屈曲頂点に散乱光によるノイズ信号が発生した場合に、前記測定区間から離間して再測定区間をとり、
検査対象について再測定して得られた再実測プロファイルと前記基準プロファイルとを比較することにより、前記リード線の挿通状態の良否を判定することを特徴とするリード線挿通検査方法。
【請求項１７】
請求項１から１５までのいずれか１項に記載のリード線挿通検査方法において、
前記測定プロファイル上の屈曲頂点に散乱光によるノイズ信号が発生した場合に、前記ノイズ信号が発生した範囲の測定プロファイルを除外し、
前記除外した測定プロファイルの範囲を仮想線にて補充してノイズ信号を除去したノイズ除去プロファイルを作成し、
前記範囲の最大値を前記ノイズ除去プロファイル上の屈曲頂点とし、前記ノイズ除去プロファイルと前記基準プロファイルとを比較することにより、前記リード線の挿通状態の良否を判定することを特徴とするリード線挿通検査方法。
【請求項１８】
太陽電池モジュールから引き出されたリード線を挿通する挿通孔を有する端子板を備えた端子ボックスを太陽電池モジュールに設置する設置工程と、
前記端子ボックスにおける前記端子板の前記挿通孔に前記リード線を挿通させる挿通工程と、
請求項１から１７までのいずれか１項に記載のリード線挿通検査方法によってリード線の挿通の良否を判定する検査工程と、
を含むことを特徴とする太陽電池モジュールの製造方法。
【請求項１９】
太陽電池モジュール用端子ボックスに備えられた端子板の挿通孔に前記端子板の主面側から挿通されたリード線の挿通状態を検査する検査装置であって、
前記端子板と対向して配置された光学式変位計と、
前記挿通孔を前記リード線の挿通方向に跨ぐ区間を測定区間として、予め、前記リード線の挿通状態が正常であるときに前記光学式変位計により測定した前記測定区間における前記端子板及び前記リード線の表面形状のプロファイルを基準プロファイルとし、この基準プロファイルと、検査対象について実測した前記測定区間における前記表面形状の実測プロファイルとを比較することにより、前記リード線の挿通状態の良否を判定する判定手段と、
が備えられたことを特徴とするリード線挿通検査装置。
【請求項２０】
太陽電池モジュールから引き出されたリード線を挿通する挿通孔を有する端子板を備えた端子ボックスを太陽電池モジュールに設置する設置装置と、
前記端子ボックスにおける前記端子板の前記挿通孔に前記リード線を挿通させる挿通装置と、
請求項１９に記載のリード線挿通検査装置と、
を備えたことを特徴とする太陽電池モジュールの製造システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、太陽電池モジュール用端子ボックスにおけるリード線の挿通検査方法、リード線挿通検査装置並びに太陽電池モジュールの製造方法及び製造システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
太陽電池モジュールは、ガラス基板上に張り付けられた単結晶シリコン・多結晶シリコンからなる複数の結晶太陽電池セルや、ガラス基板上に形成された薄膜光電変換層からなる薄膜太陽電池セルを、樹脂材や保護フィルムなどで封止して形成される。
【０００３】
一般的な太陽電池モジュールでは、発電した電力を外部に取り出す際には、太陽電池セルに接続された出力リード線を、樹脂材や保護フィルムを通して裏面側に引き出し、出力ケーブルを備える端子ボックスに電気的に接続される。該端子ボックスは太陽電池モジュールの裏面に固定される。
【０００４】
従来の端子ボックスとして、太陽電池モジュールにおける電極に接続されるリード線を挿通する挿通孔を有し、挿通孔にリード線を斜め方向に挿通して端子板に電気的に接続するものがある（例えば、特許文献１）。
【０００５】
かかる従来の太陽電池モジュール用の端子ボックスにおいては、端子板とリード線との接続不良の発生を未然に防ぐために、端子板の挿通孔にリード線が確実に挿通されているか否かについて検査を行う必要がある。
【０００６】
そこで、本出願人は、先に、リード線挿通検査方法を新たに提案している。この検査方法は、端子板に、挿通孔に挿通されたリード線の先端部を観察するための観察用開口部を設け、この観察用開口部を通して目視または画像認識によりリード線が確認できるときに正常に挿通されていると判定し、観察用開口部を通してリード線が確認できないときに挿通不良と判定するものである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００５−３５３７３４号公報
【特許文献２】特開平９−２８１１７７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
先に本出願人が提案した上記のリード線挿通検査方法によれば、リード線の挿通状態を確認することができ、端子板とリード線との接続不良の発生を未然に防ぐことができるが、目視または画像認識のいずれを行うにせよさらなる検査精度の向上と検査時間の短縮化が望まれている。
【０００９】
そこで、そのような要望に応える方法として、例えば、特許文献２に開示されているようなレーザ光を利用することが考えられる。この特許文献２に開示された発明は、端子に圧接された被覆電線そのものをレーザ変位計で直接検知してレーザ変位計内に設けられた基準位置からの距離を測定し、その距離と適切な圧接高さに固定された被覆電線の場合についての距離とを比較して圧接状態の良否を判定する被覆電線の圧接の検査方法に係るものである。
【００１０】
しかしながら、特許文献２に開示されている検査方法は、あくまで上方が開放されている被覆電線にレーザ変位計からの光を照射するものにすぎず、太陽電池モジュール用の端子ボックスのような、先端部が端子板の下方に潜っているリード線の挿通孔における挿通状態を検査するのには適するものではなかった。
【００１１】
そこで本発明は、端子板に接続されるリード線が挿通される挿通孔を有し、前記挿通孔に前記リード線が挿通された状態で前記リード線と電気的に接続された端子板が備えられた端子ボックスについて、前記リード線の前記挿通孔への挿通状態の良否を確実に判定することができ、また挿通不良パターンをも識別できるリード線の挿通検査方法、リード線挿通検査装置並びに太陽電池モジュールの製造方法及び製造システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明は、前記課題を解決するために、次のリード線挿通検査方法、リード線挿通検査装置並びに太陽電池モジュールの製造方法及び製造システムを提供する。
【００１３】
（１）リード線挿通検査方法
太陽電池モジュール用端子ボックスに備えられた端子板の挿通孔に前記端子板の主面側から挿通されたリード線の挿通状態を検査する検査方法であって、前記挿通孔を前記リード線の挿通方向に跨ぐ区間を測定区間として、予め、前記リード線の挿通状態が正常であるときに光学式変位計により測定した前記測定区間における前記端子板及び前記リード線の表面形状のプロファイルを基準プロファイルとし、この基準プロファイルと、検査対象について実測した前記測定区間における前記表面形状の実測プロファイルとを比較することにより、前記リード線の挿通状態の良否を判定することを特徴とするリード線挿通検査方法。
【００１４】
（２）リード線挿通検査装置
太陽電池モジュール用端子ボックスに備えられた端子板の挿通孔に前記端子板の主面側から挿通されたリード線の挿通状態を検査する検査装置であって、前記端子板と対向して配置された光学式変位計と、前記挿通孔を前記リード線の挿通方向に跨ぐ区間を測定区間として、予め、前記リード線の挿通状態が正常であるときに前記光学式変位計により測定した前記測定区間における前記端子板及び前記リード線の表面形状のプロファイルを基準プロファイルとし、この基準プロファイルと、検査対象について実測した前記測定区間における前記表面形状の実測プロファイルとを比較することにより、前記リード線の挿通状態の良否を判定する判定手段と、が備えられたことを特徴とするリード線挿通検査装置。
【００１５】
（３）太陽電池モジュールの製造方法
太陽電池モジュールから引き出されたリード線を挿通する挿通孔を有する端子板を備えた端子ボックスを太陽電池モジュールに設置する設置工程と、前記端子ボックスにおける前記端子板の前記挿通孔に前記リード線を挿通させる挿通工程と、上記のリード線挿通検査方法によってリード線の挿通の良否を判定する検査工程と、を含むことを特徴とする太陽電池モジュールの製造方法。
【００１６】
（４）太陽電池モジュールの製造システム
太陽電池モジュールから引き出されたリード線を挿通する挿通孔を有する端子板を備えた端子ボックスを太陽電池モジュールに設置する設置装置と、前記端子ボックスにおける前記端子板の前記挿通孔に前記リード線を挿通させる挿通装置と、上記のリード線挿通検査装置と、を備えたことを特徴とする太陽電池モジュールの製造システム。
【００１７】
本発明に係るリード線挿通検査方法、リード線挿通検査装置並びに太陽電池モジュールの製造方法及び製造システムによれば、短時間で、リード線の挿通孔への挿通状態が正常か或いは挿通不良かを作業者に確実に認識させたり、或いは、前記挿通検査装置及び前記挿通装置で確実に認識させたりすることが可能となる。
【００１８】
本発明において、前記端子板に、前記挿通孔における前記リード線の挿通方向上流側の端縁から該挿通方向下流側に向かって下降するガイド部が設けられ、前記端子板の厚みをｄ、前記端子板の主面と前記ガイド部の上面側の先端縁とのレベル差をｂ、前記実測プロファイル上での前記挿通孔の前記挿通方向下流側の端縁と該端縁の下方に位置する前記リード線とのレベル差をｓとして、ｄ≦ｓ＜ｂの関係が成立したとき、前記リード線の挿通状態が正常であると判定することが好ましい。
【００１９】
この特定事項では、端子板の挿通孔内にリード線が挿通しているか否かについて正確に判定することができる。
【００２０】
本発明において、前記端子板に、前記測定区間内で前記挿通孔の前記挿通方向下流側に観察用開口部を設け、前記端子板の厚みをｄ、前記端子板の主面と、前記観察用開口部の前記挿通方向上流側の端縁を通る垂線が前記ガイド部の上面を含む仮想面と交差する点とのレベル差をｅ、前記実測プロファイル上での前記観察用開口部の挿通方向上流側の端縁と該端縁の下方に位置する前記リード線とのレベル差をｐとして、ｄ≦ｐ＜ｅの関係が成立したとき、前記リード線の挿通状態が正常であると判定することが好ましい。
【００２１】
この特定事項では、端子板の挿通孔内にリード線が最も好ましい位置まで挿通していることを確認することができる。
【００２２】
本発明において、前記観察用開口部は、前記挿通孔と同幅で且つ幅方向の中心が前記挿通孔の幅方向の中心を通る前記挿通方向に沿う直線上に位置することが好ましい。
【００２３】
この特定事項では、観察用開口部と挿通孔の両方を常に測定することができるから、実測プロファイルを確実に実測することができる。
【００２４】
本発明において、前記観察用開口部は、少なくとも前記挿通孔側の端縁が、前記挿通孔の前記挿通方向下流側の端縁と平行となるように設けることが好ましい。
【００２５】
この特定事項では、観察用開口部と挿通孔との間が一定となるため、測定区間が挿通孔に対して端子板の幅方向のいずれに偏位したとしても、実測プロファイルにおける観察用開口部と挿通孔との間の実測値が一定となり、基準プロファイルとの比較がし易くなる。
【００２６】
本発明において、前記実測プロファイル上での前記観察用開口部と前記挿通孔との間における実測主面と、前記基準プロファイル上での主面との間のレベル差の有無を、前記リード線の挿通状態の良否における一つの判定基準とする態様を例示できる。
【００２７】
この特定事項では、リード線が挿通孔に正しく入らずに挿通孔上を通過してリード線の先端部が観察用開口部と挿通孔との間に位置している状態、及び、リード線が挿通孔に正しく入らずに挿通孔上及び観察用開口部上を通過してしまっている状態を確認することができる。
【００２８】
本発明において、前記測定区間内で前記挿通孔の前記挿通方向下流側に基準標示部を設け、該基準標示部により前記主面の基準レベルを確定することが好ましい。
【００２９】
この特定事項では、端子板の主面の基準レベルを、基準標示部がない場合に比べて、容易に確定することができる。
【００３０】
本発明において、前記基準標示部は、前記挿通孔の直近に設けることが好ましい。
【００３１】
この特定事項では、短時間で端子板の主面の基準レベルを確定することができる。
【００３２】
本発明において、前記基準標示部は、前記挿通孔と同幅で且つ幅方向の中心が前記挿通孔の幅方向の中心を通る前記挿通方向に沿う直線上に位置する溝とする態様を例示できる。
【００３３】
この特定事項では、基準標示部と挿通孔の両方を常に測定することができるから、実測プロファイルを確実に実測することができる。また、基準標示部を溝とする場合、端子板の主面を切削加工するだけでよいため、基準標示部の形成が容易である。
【００３４】
本発明において、前記基準標示部は、少なくとも前記挿通孔側の端縁が、前記挿通孔の前記挿通方向下流側の端縁と平行となるように設ける態様を例示できる。
【００３５】
この特定事項では、基準標示部と挿通孔との間が一定となるため、測定区間が挿通孔に対して端子板の幅方向のいずれに偏位したとしても、実測プロファイルにおける基準標示部と挿通孔との間の実測値が一定となり、基準プロファイルとの比較がし易くなる。
【００３６】
本発明において、前記基準プロファイル上での前記端子板の主面と前記挿通孔の挿通方向上流側におけるリード線の屈曲頂点とのレベル差を基準レベル差とする一方、前記基準プロファイル上での前記端子板の主面と前記実測プロファイル上での前記挿通孔の挿通方向上流側におけるリード線の屈曲頂点とのレベル差を実測レベル差としてこれら２つのレベル差を対比し、前記実測レベル差が前記基準レベル差よりも大きい場合又は前記実測レベル差が無い場合に前記リード線の挿通状態が不良であると判定する態様が例示できる。
【００３７】
この特定事項では、端子板の上方にリード線が来ているか来ていないかを判定することができるとともに、リード線の挿通孔内への挿入深さを確認することができる。
【００３８】
本発明において、前記実測プロファイル上での前記挿通孔の前記挿通方向下流側における実測主面と、前記基準プロファイル上での主面との間のレベル差の有無を、前記リード線の挿通状態の良否判定における一つの判定基準とする態様を例示できる。
【００３９】
この特定事項では、リード線が挿通孔に正しく入らずに挿通孔上を通過してしまっている状態を確認することができる。
【００４０】
本発明において、前記測定区間における前記リード線の両側縁部に沿って前記端子板及び前記リード線の表面形状のプロファイルを前記リード線の両側縁部に沿った少なくとも２か所にて測定し、得られた少なくとも２つの実測プロファイルを比較したときの前記挿通孔の前記挿通方向下流側の端縁におけるレベル差の有無を、前記リード線の挿通状態の良否判定における一つの判定基準とする態様を例示できる。
【００４１】
この特定事項では、リード線の先端がその幅方向に傾斜した状態で挿通孔の挿通方向下流側の端縁に当接していることを確認することができる。
【００４２】
本発明において、前記光学式変位計から、前記挿通方向と交差する方向に幅を有する光を照射して前記リード線の幅方向における最高位を前記測定区間に亘って検出し、これより実測プロファイルを得る態様を例示できる。
【００４３】
この特定事項でも、リード線の先端がその幅方向に傾斜した状態で挿通孔の挿通方向下流側の端縁に当接していることを確認することができる。
【００４４】
本発明において、前記測定プロファイル上の屈曲頂点に散乱光によるノイズ信号が発生した場合に、前記測定区間から離間して再測定区間をとり、検査対象について再測定した再実測プロファイルと前記基準プロファイルとを比較することにより、前記リード線の挿通状態の良否を判定する態様を例示できる。
【００４５】
この特定事項では、屈曲頂点付近は散乱光の影響により実測プロファイル上の屈曲頂点に対応する位置にノイズ信号が発生し、正しい実測プロファイルを取ることができない場合、測定区間から離間して再測定区間をとり、屈曲頂点から位置をずらして散乱光の影響を無くし、ノイズ信号の発生が生じない再実測プロファイルを得ることができる。
【００４６】
本発明において、前記測定プロファイル上の屈曲頂点に散乱光によるノイズ信号が発生した場合に、前記ノイズ信号が発生した範囲の測定プロファイルを除外し、前記除外した測定プロファイルの範囲を仮想線にて補充してノイズ信号を除去したノイズ除去プロファイルを作成し、前記範囲の最大値を前記ノイズ除去プロファイル上の屈曲頂点とし、前記ノイズ除去プロファイルと前記基準プロファイルとを比較することにより、前記リード線の挿通状態の良否を判定する態様を例示できる。
【００４７】
この特定事項では、ノイズ信号が発生した範囲の測定プロファイルを除外し、除外した測定プロファイルの範囲を仮想線にて補充してノイズ信号を除去したノイズ除去プロファイルを作成し、ノイズ信号が取り除かれたノイズ除去プロファイルと基準プロファイルとを比較することができる。
【発明の効果】
【００４８】
以上説明したように、本発明に係るリード線の挿通検査方法、リード線挿通検査装置並びに太陽電池モジュールの製造方法及び製造システムによれば、リード線の挿通孔への挿通状態の良否を確実に判定することができ、また挿通不良パターンをも識別できる。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】本発明の実施形態１における太陽電池モジュール用の端子ボックス部分を示す概略断面図である。
【図２】図１に示す端子ボックスにおける端子板部分を上から視た平面図である。
【図３】図１に示す端子ボックスにおける端子板部分を斜め上方から視た斜視図である。
【図４】（ａ）は、リード線が端子板の挿通孔に正常に挿通されている状態を示す挿通孔付近の部分断面図であり、（ｂ）は、その正常な挿通状態に対応する基準プロファイルを示す模式図である。
【図５】（ａ）は、リード線の先端が、挿通孔に入らずに挿通孔の挿通方向下流側の端縁に当接している状態を示す挿通孔付近の部分断面図であり、（ｂ）は、（ａ）の挿通状態に対応する実測プロファイルを示す模式図である。
【図６】（ａ）は、挿通孔へのリード線の挿入深さが浅い状態を示す挿通孔付近の部分断面図であり、（ｂ）は、（ａ）の挿通状態に対応する実測プロファイルを示す模式図である。
【図７】（ａ）は、リード線の先端が、挿通孔に入らずに挿通孔の上方で停まっている状態を示す挿通孔付近の部分断面図であり、（ｂ）は、（ａ）の挿通状態に対応する実測プロファイルを示す模式図である。
【図８】（ａ）は、リード線の先端が、挿通孔に入らずに、端子板の上方に反り返っている状態を示す挿通孔付近の部分断面図であり、（ｂ）は、（ａ）の挿通状態に対応する実測プロファイルを示す模式図である。
【図９】（ａ）は、リード線の先端が、挿通孔及び基準標示部を飛び越えている状態を示す挿通孔付近の部分断面図であり、（ｂ）は、（ａ）の挿通状態に対応する実測プロファイルを示す模式図である。
【図１０】（ａ）は、リード線の先端が、挿通孔を飛び越えて挿通孔と基準標示部との間における主面に当接している状態を示す挿通孔付近の部分断面図であり、（ｂ）は、（ａ）の挿通状態に対応する実測プロファイルを示す模式図である。
【図１１】（ａ）は、リード線の先端が、端子板の上方にも達せず、端子板の挿通方向上流側の端縁に当接している状態を示す挿通孔付近の部分断面図であり、（ｂ）は、（ａ）の挿通状態に対応する実測プロファイルを示す模式図である。
【図１２】（ａ）は、リード線の先端が、端子板の上方にも達せず、端子板の挿通方向上流側に反り返っている状態を示す挿通孔付近の部分断面図であり、（ｂ）は、（ａ）の挿通状態に対応する実測プロファイルを示す模式図である。
【図１３】本発明の実施形態２における太陽電池モジュール用の端子ボックス部分を示す概略断面図である。
【図１４】図１３に示す端子ボックスにおける端子板部分を上から視た平面図である。
【図１５】（ａ）は、リード線が端子板の挿通孔に正常に挿通されている状態を示す挿通孔付近の部分断面図であり、（ｂ）は、その正常な挿通状態に対応する基準プロファイルを示す模式図である。
【図１６】（ａ）は、リード線の先端が、挿通孔に入らずに挿通孔の挿通方向下流側の端縁に当接している状態を示す挿通孔付近の部分断面図であり、（ｂ）は、（ａ）の挿通状態に対応する実測プロファイルを示す模式図である。
【図１７】（ａ）は、挿通孔へのリード線の挿入深さが浅い状態を示す挿通孔付近の部分断面図であり、（ｂ）は、（ａ）の挿通状態に対応する実測プロファイルを示す模式図である。
【図１８】（ａ）は、リード線の先端が、挿通孔に入らずに挿通孔の上方で停まっている状態を示す挿通孔付近の部分断面図であり、（ｂ）は、（ａ）の挿通状態に対応する実測プロファイルを示す模式図である。
【図１９】（ａ）は、リード線の先端が、挿通孔に入らずに、端子板の上方に反り返っている状態を示す挿通孔付近の部分断面図であり、（ｂ）は、（ａ）の挿通状態に対応する実測プロファイルを示す模式図である。
【図２０】（ａ）は、リード線の先端が、挿通孔及び基準標示部を飛び越えている状態を示す挿通孔付近の部分断面図であり、（ｂ）は、（ａ）の挿通状態に対応する実測プロファイルを示す模式図である。
【図２１】（ａ）は、リード線の先端が、挿通孔を飛び越えて挿通孔と基準標示部との間における主面に当接している状態を示す挿通孔付近の部分断面図であり、（ｂ）は、（ａ）の挿通状態に対応する実測プロファイルを示す模式図である。
【図２２】（ａ）は、リード線の先端が、端子板の上方にも達せず、端子板の挿通方向上流側の端縁に当接している状態を示す挿通孔付近の部分断面図であり、（ｂ）は、（ａ）の挿通状態に対応する実測プロファイルを示す模式図である。
【図２３】（ａ）は、リード線の先端が、端子板の上方にも達せず、端子板の挿通方向上流側に反り返っている状態を示す挿通孔付近の部分断面図であり、（ｂ）は、（ａ）の挿通状態に対応する実測プロファイルを示す模式図である。
【図２４】（ａ）は、リード線の先端が、挿通孔及び観察用開口部を飛び越えている状態を示す挿通孔付近の部分断面図であり、（ｂ）は、（ａ）の挿通状態に対応する実測プロファイルを示す模式図である。
【図２５】本発明の実施形態２における太陽電池モジュール用の端子ボックスの観察用開口部の変形例を示す平面図ある。
【図２６】本発明の実施形態２における太陽電池モジュール用の端子ボックスの観察用開口部の他の変形例を示す平面図ある。
【図２７】太陽電池モジュールにおけるリード線を端子ボックスにおける端子板に接続して太陽電池モジュールを製造する製造システムの製造工程を示す概略側面図であって、（ａ）は、太陽電池モジュール本体の裏面に端子ボックスを設置した状態であってリード線を端子板における挿通孔に挿通する前の状態を示す図であり、（ｂ）は、リード線を端子板における挿通孔に挿通している状態を示す図であり、（ｃ）は、挿通孔に挿通されたリード線を検査している状態を示す図である。
【図２８】製造途中段階での太陽電池モジュールの一構成例の説明図であって、（ａ）は、その分解斜視図であり、（ｂ）は、その斜視図である。
【図２９】太陽電池モジュールを示す分解斜視図である。
【図３０】（ａ）は、本発明の実施形態１及び２における変形例を示す端子ボックスの断面図であり、（ｂ）は、本発明の実施形態１及び２における他の変形例を示す端子ボックスの断面図である。
【図３１】（ａ）は、ノイズ信号が発生した場合の実測プロファイルを示す模式図であり、（ｂ）は、（ａ）の実測プロファイをからノイズ信号を除外して作成されたノイズ除去プロファイルを示す模式図である。
【図３２】端子板部分を上から視た平面図である。
【図３３】本発明の実施形態１に係るリード線挿通検査装置の一構成例を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００５０】
以下、本発明に係る２つの実施の形態及び各実施の形態における変形例について図面を参照しながら説明する。これら２つの実施の形態は、主として端子ボックスの端子板における観察用開口部の有無及びこれに起因するリード線挿通検査での検査精度の点で相違するが、端子ボックスが設置される太陽電池モジュールについては両実施の形態において共通するので、先に太陽電池モジュールについて説明した後、各実施の形態について説明する。なお、以下に示す実施の形態はいずれも本発明を具体化した例であって、本発明の技術的範囲を限定する性格のものではない。
【００５１】
［太陽電池モジュールの説明］
まず、太陽電池モジュール１１６の一構成例について、図２８及び図２９を参照しながら説明する。なお、図２８及び図２９並びに後述する各図において、実質的に同じ構成の部材には同一の符号を付している。
【００５２】
図２８は、製造途中段階での太陽電池モジュール１１６の一構成例の説明図である。図２８（ａ）は、その分解斜視図を示しており、図２８（ｂ）は、その斜視図を示している。また、図２９は、太陽電池モジュール１１６を示す分解斜視図である。
【００５３】
太陽電池モジュール１１６は、薄膜太陽電池モジュールとされており、透光性絶縁基板１１１と、一対の太陽電池セル１１５、１１５と、一対のＰ型電極端子部１１７、１１７と、一対のＮ型電極端子部１１８、１１８と、絶縁膜１１９と、一対の正極集電部１２０、１２０と、一対の負極集電部１２１、１２１と、一対の正極リード線１２２、１２２と、一対の負極リード線１２３、１２３とを備えている。
【００５４】
一対の太陽電池セル１１５、１１５は、隣接する個々のセル１１５ａ同士において一方の透明電極膜（図示省略）と他方の裏面電極膜（図示省略）とが互いに接続されることで、個々のセル１１５ａが直列に接続された構成とされている。
【００５５】
一対の太陽電池セル１１５、１１５は、透光性絶縁基板１１１上に、何れも図示を省略した透明導電膜からなる透明電極膜、光電変換層、裏面電極膜がこの順に積層されて形成されている。透光性絶縁基板としては、例えば、ガラスやポリイミドなどの耐熱性樹脂を挙げることができる。透明電極膜としては、例えば、ＳｎＯ２、ＺｎＯ、ＩＴＯなどを挙げることができる。光電変換層としては、代表的には、アモルファスシリコンを例示できる。
【００５６】
具体的には、一対の太陽電池セル１１５、１１５は、細長い短冊状で、透光性絶縁基板１１１のほぼ全幅にわたる長さを有している。
【００５７】
太陽電池モジュール１１６における一方の太陽電池セル１１５の透明電極膜の一端部上に、一方の太陽電池セル１１５とほぼ同一長さの線状のＰ型電極端子部１１７が形成され、一方の太陽電池セル１１５の裏面電極膜の他端部上に、一方の太陽電池セル１１５とほぼ同一長さの線状のＮ型電極端子部１１８が形成されている。また、太陽電池モジュール１１６における他方の太陽電池セル１１５の透明電極膜の一端部上に、他方の太陽電池セル１１５とほぼ同一長さの線状のＰ型電極端子部１１７が形成され、他方の太陽電池セル１１５の裏面電極膜の他端部上に、他方の太陽電池セル１１５とほぼ同一長さの線状のＮ型電極端子部１１８が形成されている。
【００５８】
これら一対のＰ型電極端子部１１７、１１７及び一対のＮ型電極端子部１１８、１１８が電極取り出し部になる。このように同一長とすることにより、一対の太陽電池セル１１５、１１５における個々のセル１１５ａを直列に流れてきた電流が局部的に集中することがなく、その電流を均一に取り出すことができるのでシリーズ抵抗ロスの発生を抑制することができる。
【００５９】
そして、一方のＰ型電極端子部１１７の中央部と、一方のＮ型電極端子部１１８の中央部との間をわたすようにして、かつ、他方のＰ型電極端子部１１７の中央部と、他方のN型電極端子部１１８の中央部との間を開口１１９ａ、１１９ａを介してわたすようにして、太陽電池モジュール１１６の上部に絶縁膜１１９が敷設されている。絶縁膜１１９は、一対の正極リード線１２２、１２２及び一対の負極リード線１２３、１２３が一対のＰ型電極端子部１１７、１１７及び一対のＮ型電極端子部１１８、１１８に重ならないように 敷設されている。絶縁膜１１９としては、熱可塑性の高分子フィルムが好ましく、なかでもＥＶＡ（エチレンビニルアセテート樹脂）製のものが最適である。
【００６０】
一方、一対のＰ型電極端子部１１７、１１７の全面には、一対のＰ型電極端子部１１７、１１７と同形・同大の銅箔からなるバスバーと呼ばれる一対の正極集電部１２０、１２０が、それぞれ、電気的かつ機械的に接合されている。同様に、一対のＮ型電極端子部１１８、１１８の前面には、一対のＮ型電極端子部１１８、１１８と同形・同大の一対の負極集電部１２１、１２１が、それぞれ、電気的かつ機械的に接合されている。これらの接合手段としては、半田付け又は導電性ペーストなどを用いることができる。
【００６１】
絶縁膜１１９上には、フラットケーブルからなる一対の正極リード線１２２、１２２と一対の負極リード線１２３、１２３とが、互いの先端部を幅方向にずらせた平行状態で配置されている。
【００６２】
一対の正極リード線１２２、１２２の一端部は、一対の正極集電部１２０、１２０の中央位置にそれぞれ接続されている。また、一対の正極リード線１２２、１２２の他端部は、太陽電池モジュール１１６本体のほぼ中央部にそれぞれ位置し、かつ、太陽電池モジュール１１６本体の面に対してそれぞれ垂直に折り曲げられて立ち上げられた出力リード線１２６、１２６となっている。同様に、一対の負極リード線１２３、１２３の一端部は、一対の負極集電部１２１の中央位置にそれぞれ接続されている。また、一対の負極リード線１２３、１２３の他端部は、太陽電池モジュール１１６本体のほぼ中央部に位置し、かつ、太陽電池モジュール１１６本体の面に対してそれぞれ垂直に折り曲げられて立ち上げられた出力リード線１２６、１２６となっている。
【００６３】
一対の正極リード線１２２、１２２及び一対の負極リード線１２３、１２３は、正極集電部１２０及び負極集電部１２１と同一材料（すなわち、銅箔）で作られており、各リード線と集電部の接合手段としては半田付け又はスポット溶接などを用いることができる。一対の正極リード線１２２及び一対の負極リード線１２３は、それぞれ、一対の太陽電池セル１１５、１１５上にまたがっているが、一対の太陽電池セル１１５、１１５との間に絶縁膜１１９が介在されているので、一対の太陽電池セル１１５、１１５との短絡を効果的に防止できる。絶縁膜１１９の幅は、一対の正極リード線１２２、１２２及び一対の負極リード線１２３、１２３の幅よりも充分に広いことが望ましく、ここでは、一方の正極集電部１２０から他方の負極集電部１２１まで１枚の帯状シートの形で配置されている。
【００６４】
かかる構成を備えた太陽電池モジュール１１６本体の全面において、図２９に示すように、封止絶縁フィルム１２４と耐候性・高絶縁性のための裏面保護材としてのバックフィルム１２５とがラミネート封止される。このとき、封止絶縁フィルム１２４及びバックフィルム１２５に設けられた４つの貫通孔１２４ａ及び４つの貫通孔１２５ａに、一対の正極リード線１２２、１２２及び一対の負極リード線１２３、１２３の各出力リード線１２６がそれぞれ挿通される。
【００６５】
封止絶縁フィルム１２４としては、絶縁膜１１９と同一材質の熱可塑性の高分子フィルムを用いることが好ましく、なかでもＥＶＡ（エチレンビニルアセテート樹脂）製のものが最適である。このように、封止絶縁フィルム１２４を絶縁膜１１９と同一材質の熱可塑性の高分子フィルムとすることで、ラミネート封止の際の熱融着時に、両者間の分子結合を効果的に進行させることができ、冷却後の一体化を完全に行わせることができる。これにより、太陽電池モジュール１１６の防水性を向上させることが可能となる。
【００６６】
また、バックフィルム１２５としては、ＰＥＴ/Ａｌ/ＰＥＴ（ＰＥＴ:ポリエチレン テレフタレート）の３層構造のものを用いることが好ましい。絶縁膜１１９の厚みとしては、１００μｍ程度を例示でき、封止絶縁フィルム１２４の厚みとしては、６００μｍ程度を例示でき、バックフィルム１２５の厚みとしては、１００μｍ程度を例示できる。
【００６７】
かくして、バックフィルム１２５の貫通孔１２５ａから上方に向けて突出している一対の正極リード線１２２，１２２及び一対の負極リード線１２３，１２３の各出力リード線１２６に、端子ボックス1が取り付けられて電気的に接続されることで、太陽電池モジュール１１６が作製される。
【００６８】
なお、太陽電池モジュール１１６の電極配置構造はあくまで一例であり、このような配置構造に限定されるものではない。例えば、一対の正極リード線１２２、１２２及び一対の負極リード線１２３、１２３の配置位置は、太陽電池モジュール１１６本体の中央部ではなく、一方の端部側に寄っていてもよいし、また、中央部まで引き出す必要もない。
【００６９】
＜実施の形態１＞
［端子ボックスの説明］
図１は、本実施形態における太陽電池モジュール１１６用の端子ボックス１部分を示す概略断面図である。図２は、図１に示す端子ボックス１における端子板２０部分を上から視た平面図である。また、図３は、図１に示す端子ボックス１における端子板２０部分を斜め上方から視た斜視図である。
【００７０】
端子ボックス１は、太陽電池モジュール１１６本体の裏面からバックフィルム１２５を貫通して引き出された出力リード線（以下、単にリード線という）１２６が端子板２０に電気的に接続されている。端子ボックス１は、太陽電池モジュール１１６本体のバックフィルム１２５上に載置固定されるボックスケース１１と、ボックスケース１１上に形成された端子板２０と、上蓋１５とを備えている。
【００７１】
ボックスケース１１は、太陽電池モジュール１１６本体のバックフィルム１２５上に載置固定されるケース本体１２と、ケース本体１２の上部に端子板２０を載置固定するための端子板固定部１３とを備えている。本実施の形態では、ケース本体１２は箱形状とされており、端子板固定部１３は直方体形状に形成されている。なお、図中の符号１７は、バイパスダイオードを示している。
【００７２】
また、端子ボックス１における端子板２０には、太陽電池モジュール１１６におけるリード線１２６を挿通する挿通孔１４と、挿通孔１４におけるリード線の挿通方向上流側の端縁から挿通方向下流側に向かって下降するガイド部１３０と、挿通孔１４の挿通方向下流側に基準標示部２２が設けられている。
【００７３】
基準標示部２２は、挿通孔１４と同幅で且つ幅方向の中心が挿通孔１４の幅方向の中心を通る挿通方向に沿う直線上に位置する溝２２としている。そして、溝２２の挿通孔１４側の端縁２２ｂが、挿通孔１４の挿通方向下流側の端縁１４ｂと平行となるように設けている。基準標示部２２は溝の代わりに突起であっても構わない。
【００７４】
ケース本体１２の底板１２ａには、リード線１２６を裏面から受け入れる開口１２ｂ（図１参照）が設けられている。そして、端子板２０は、太陽電池モジュール１１６におけるリード線１２６を挿通孔１４に外側（図１では上側）から内側（図１では下側）に向けて斜め方向に挿通した状態で電気的に接続される構成とされている。
【００７５】
詳しくは、リード線１２６は、ケース本体１２の底板１２ａにおける開口１２ｂを経て端子板２０側の斜め上方に沿った基端部１２６ａ（図１参照）と、基端部１２６ａからさらに端子板２０側の斜め下方に屈曲して端子板２０における挿通孔１４に挿通される先端部１２６ｂ（図1参照）とを有している。なお、本実施の形態において、リード線１２６は、屈曲頂点Ｑを境として、基端側が基端部１２６ａとされ、先端側が先端部１２６ｂとされている。
【００７６】
［太陽電池モジュールの製造方法及びリード線挿通検査方法の説明］
次に、太陽電池モジュールの製造方法及びその過程で行われるリード線挿通検査方法について説明する。
【００７７】
図２７に示す太陽電池モジュール１１６の製造システムは、設置工程（Ａ）と、挿通工程（Ｂ）と、挿通検査工程（Ｃ）と、半田付け工程（Ｄ）と、仕上げ工程（Ｅ）とを含む製造方法を実施する。以下、各工程について説明する。
【００７８】
―設置工程（Ａ）―
設置工程（Ａ）では、図２７（ａ）に示すように、設置装置３００によって太陽電池モジュール１１６本体の裏面に端子ボックス１を設置する。このとき、太陽電池モジュール１１６におけるリード線１２６は、端子板２０側へ傾いた斜め方向に沿って直線状に形成されている。なお、設置装置３００としては従来公知のものを使用することができる。よって、ここでは設置装置３００についての詳しい説明は省略する。また、設置装置３００に代えて作業者が太陽電池モジュール１１６本体の裏面に端子ボックス１を設置してもよい。
【００７９】
―挿通工程（Ｂ）―
挿通工程（Ｂ）では、図２７（ｂ）に示すように、リード線１２６を端子板２０側へ湾曲させて端子板２０における挿通孔１４にリード線１２６の先端部１２６ｂを挿通する。リード線１２６の先端部１２６ｂの挿通孔１４への挿通については、本実施の形態では、挿通孔１４にリード線１２６を挿通するリード線の挿通装置２００（図２７（ａ）参照）を用いる。挿通装置２００は、端子ボックス１における端子板２０の挿通孔１４にリード線１２６を湾曲させて挿入する挿入加工装置（挿入装置の一例）２１０を備えている。挿入加工装置２１０としては、それには限定されないが、ロボットアームによってリード線１２６を端子板２０側へ湾曲させて挿通孔１４に挿入するものや、治具によってリード線１２６を端子板２０側へ湾曲させて挿通孔１４に挿入するものを例示できる。挿入加工装置２１０として従来公知のものを使用することができる。よって、ここでは挿入加工装置２１０についての詳しい説明は省略する。
【００８０】
―挿通検査工程（Ｃ）―
・挿通検査工程の概要
挿通検査工程（Ｃ）では、後述するリード線挿通検査装置２０１により、すべての端子板２０について、挿通孔１４にリード線１２６が正常に挿通されているか否かについて検査する。具体的には、挿通孔１４をリード線１２６の挿通方向に跨ぐ区間を測定区間３３として、予め、リード線１２６の挿通状態が正常であるときに光学式変位計２２１により測定した測定区間３３における端子板２０及びリード線１２６の表面形状のプロファイルを基準プロファイルとし、この基準プロファイルと、検査対象について実測した測定区間３３における前記表面形状の実測プロファイルとを比較することにより、リード線１２６の挿通状態の良否を判定する（この良否判定の詳細については後述する）。ここで、測定区間３３は、リード線１２６の後述する屈曲頂点Ｑから基準標示部２２までの距離より長くこれら屈曲頂点Ｑ及び基準標示部２２を含むものとしている。この測定区間３３は極力短くすることで挿通検査に要する時間を短縮することができる。また、高さＺ方向の測定区間も狭くすることができ、時間短縮できる。
【００８１】
上記検査の結果、リード線１２６の挿通状態が良であると判定されたならば、次の半田付け工程（Ｄ）に移行する。すなわち、挿通検査工程（Ｃ）は、半田付け工程（Ｄ）の前に実施される。半田付け工程（Ｄ）の前であれば、リード線１２６と端子板２０とは互いにフリー（移動自在）であるので、挿通の手直しが簡単である。
【００８２】
一方、上記検査の結果、リード線１２６の挿通状態が不良であると判定されたならば、リード線１２６の先端部１２６ｂを挿通孔１４へ挿通し直す。リード線１２６の先端部１２６ｂを挿通孔１４へ挿通し直す場合、製造ラインを停止してアラーム等の警報によりリード線１２６の挿通不良が発生したことを作業者に知らせる。そして、挿通不良品を製造ラインから自動で外に搬出させて作業者が挿通し直すか、或いは、その場で作業者が挿通し直す。挿通不良品を製造ラインから自動で外に搬出させる場合、製造ラインをそのまま稼働させ続けることが可能になるとともに、余裕を持って不良となったリード線１２６の再挿通作業を実施することができる。
【００８３】
・リード線挿通検査装置の説明
リード線挿通検査装置２０１は、挿通装置２００に備えられており、端子板２０の上方に端子板２０と対向して配置された光学式変位計２２１と、この光学式変位計２２１により測定した測定区間３３における端子板２０及びリード線１２６の表面形状のプロファイルであって、予め、リード線１２６の挿通状態が正常であるときに測定した基準プロファイルと、検査対象について実測した実測プロファイルとを比較することにより、リード線１２６の挿通状態の良否を判定する判定部２３１とを備えたものである。
【００８４】
光学式変位計２２１としては、スリット光を検査対象に対して投光し、その反射光を受光素子で受光して、受光素子により得られる受光量分布から検査対象の表面形状を計測する、いわゆる光切断方式の光学式変位計か、或いは、スポット光を検査対象に対して一方向に往復走査させてその反射光を受光素子で受光し、受光素子より得られる受光量分布から検査対象の表面形状を計測する、いわゆる光走査方式の光学式変位計のいずれであってもよい。本実施の形態では、光切断方式の光学式変位計を用いている。
【００８５】
この光学式変位計２２１は、図３３に示すように、投光部２２２、受光部２２３、投光制御部２２４、受光制御部２２５、波形生成部２２６、フィードバック制御部２２７、波形処理部２２８、及びプロファイル生成部２２９を備えている。
【００８６】
投光部２２２は、スリット光源２２２ａ及び投光用光学系２２２ｂを含む。スリット光源２２２ａは、例えば、発光ダイオードやレーザダイオードなどの光源と、それらの光源から発生された光をスリット光に整形するためのスリット板が含まれている。これにより、スリット光源２２２ａからは、断面直線状に整形された比較的幅広なビーム（スリット光）が出射される。このスリット光は、投光用光学系２２２ｂにて適宜集光されて上記の測定区間３３に照射され、測定区間３３における端子板２０及びリード線１２６の表面には、スリット光の照射光像が描かれる。
【００８７】
受光部２２３は、受光用光学系２２３ｂ及び、例えば二次元ＣＣＤ等の二次元撮像素子である受光素子２２３ａを含む。上記投光部２２２から投光され、測定区間３３における端子板２０及びリード線１２６の表面で拡散反射されたスリット光の反射光は、受光用光学系２２３ｂを経て受光素子２２３ａの受光面に結像される。
【００８８】
投光制御部２２４は、例えば、上記スリット光源２２２ａの駆動電流を調整することにより、スリット光源２２２ａが発する光の強度を制御する一方、受光制御部２２５は、上記受光素子２２３ａの、例えば露光時間を制御する。
【００８９】
波形生成部２２６は、増幅器及びアナログ／デジタル変換器を含む。受光素子２２３ａにより得られた受光信号は、増幅器により増幅された後にアナログ／デジタル変換器によりアナログ／デジタル変換される。これにより、デジタルの波形データが得られる。
【００９０】
フィードバック制御部２２７は、波形生成部２２６により得られる波形データに基づいて、投光制御部２２４、受光制御部２２５および波形生成部２２６をフィードバック制御する。
【００９１】
波形処理部２２８は、波形生成部２２６により得られる波形データに基づいて、投光部２２２から上記測定区間３３における端子板２０及びリード線１２６の表面の各計測点までの距離を示す距離情報を生成する。
【００９２】
プロファイル生成部２２９は、波形処理部２２８により算出された距離情報に基づいて、測定区間３３における端子板２０及びリード線１２６の表面形状を表すプロファイルデータを生成する。
【００９３】
一方、前記判定部２３１は、図３３に示すように、基準プロファイル記憶部２３２、実測プロファイル記憶部２３３、プロファイル比較部２３４及び制御部２３５を含む。
【００９４】
基準プロファイル記憶部２３２は、上記した光学式変位計２２１のプロファイル生成部２２９で生成されるプロファイルデータのうち、前記基準プロファイルのデータを記憶する。
【００９５】
実測プロファイル記憶部２３３は、光学式変位計２２１のプロファイル生成部２２９で生成されるプロファイルデータのうち、前記実測プロファイルのデータを一時的に記憶する。
【００９６】
プロファイル比較部２３４は、上記基準プロファイル記憶部２３２に記憶されている基準プロファイルと、上記実測プロファイル記憶部２３３に一時的に記憶されている実測プロファイルとを比較し、後述する複数の判定基準による判定を行い、リード線１２６の挿通状態について良否判定を行う。
【００９７】
制御部２３５は、上記基準プロファイル記憶部２３２に対し、基準プロファイルのデータの記憶及び消去を、上記実測プロファイル記憶部２３３に対し、実測プロファイルのデータの記憶及び消去を制御する。また、上記両記憶部２３２、２３３から上記プロファイル比較部２３４への各データの転送及びプロファイル比較部２３４の動作を制御する。
【００９８】
・挿通状態の良否判定の説明
次に、リード線１２６の挿通状態の良否判定について、図４〜図１２を参照して説明する。
【００９９】
図４（ａ）は、リード線１２６が端子板２０の挿通孔１４に正常に挿通されている状態を示す挿通孔１４付近の部分断面図、同図（ｂ）は、その正常な挿通状態に対応する基準プロファイルを示す模式図である。
【０１００】
リード線１２６が端子板２０の挿通孔１４に正しく挿通されている状態（挿通状態が良の状態）とは、図４（ａ）に示すように、リード線１２６の先端が、挿通孔１４の挿通方向下流側の端縁１４ｂの下方を通過するまで端子板２０の下方に潜り込むともに、リード線１２６の屈曲頂点Ｑが端子板２０の主面２０ａから上方で且つ主面２０ａから所定距離の高さａまでに位置している状態としている。ここで、前記した高さａは、後述する不良モード３となってしまう臨界値に相当する実測データａ１を複数集計することから求められたものである。
【０１０１】
この正常な挿通状態をプロファイルで現したのが図４（ｂ）であり、このプロファイルが基準プロファイルである。すなわち、端子板２０の主面２０ａは、基準プロファイル上では水平線１０１で現れ、端子板２０の直上から観て露出しているリード線１２６の表面１２６ｓは、基準プロファイルでは曲線１０２で現れ、端子板２０の挿通孔１４の挿通方向下流側の端縁１４ｂは後述する所定長さｓの下降線１０３で現れる。さらに、端子板２０の主面２０ａにおいて挿通孔１４の挿通方向下流側に設けられた基準標示部２２は、下方に凹む方形波１０４で現れる。この方形波１０４の上端縁でもって主面２０ａの基準レベルが確定されることとなる。
【０１０２】
なお、下降線１０３は、光学変位計２２１からのスリット光の照射時間が短いと、基準プロファイルの解像度が低下するため、下降線１０３は曲線として表示される。
【０１０３】
このような基準プロファイルから正常な挿通状態を定義すると、次のようになる。すなわち、端子板の厚みをｄ、端子板２０の主面２０ａとガイド部１３０の上面側の先端縁１３０ａとのレベル差をｂ、基準プロファイル上での挿通孔１４の挿通方向下流側の端縁１４ｂと該端縁１４ｂの下方に位置するリード線１２６とのレベル差をｓとすると、ｄ≦ｓ＜ｂの関係が成立している。
【０１０４】
なお、基準標示部２２を、上記したような溝とせず、突起とした場合は、基準標示部２２は、上方に突出する方形波で現れるので、その下端縁でもって主面２０ａの基準レベルが確定されることとなる。また、基準標示部２２は、挿通孔１４の直近に設けることが好ましく、その場合、短時間で端子板の主面の基準レベルを確定することができる。また、基準標示部２２は、図示例のように、挿通孔１４と同幅で且つ幅方向の中心が挿通孔１４の幅方向の中心を通る挿通方向に沿う直線上に位置する溝とすることで、基準標示部２２と挿通孔１４の両方を常に測定することができるから、実測プロファイルを確実に実測することができる。また、基準標示部２２を溝としているので、端子板２０の主面２０ａを切削加工するだけでよいため、基準標示部２２の形成が容易である。またさらに、溝は、少なくとも挿通孔１４側の端縁が、挿通孔１４の挿通方向下流側の端縁と平行となるように設けているため、基準標示部２２と挿通孔１４との間が一定となる結果、測定区間が挿通孔１４に対して端子板２０の幅方向のいずれに偏位したとしても、実測プロファイルにおける基準標示部２２と挿通孔１４との間の実測値が一定となり、基準プロファイルとの比較がし易くなる。また、上記したような基準標示部２２を設けない場合は、正常な挿通状態での基準プロファイル上の水平線１０１の部分でもって主面２０ａの基準レベルが確定されることとなる。
【０１０５】
次に、リード線１２６が端子板２０の挿通孔１４に正しく挿通されていない挿通不良の状態について説明するが、この挿通不良の状態（以下、これを不良モードともいう）には複数のパターンが存在するので、以下、各不良モード毎に図５〜図１２を参照して説明した後、これら各不良モードの判定に有効な判定基準について説明する。なお、各図において（ａ）は挿通孔１４付近の部分断面図、（ｂ）は実測プロファイルを示す模式図である。
【０１０６】
□不良モード１
図５に示す不良モード１は、リード線１２６の先端が、挿通孔１４に入らずに挿通孔１４の挿通方向下流側の端縁に当接しているパターンである。
【０１０７】
□不良モード２
図６に示す不良モード２は、挿通孔１４へのリード線１２６の挿入深さが浅いパターンである。
【０１０８】
□不良モード３
図７に示す不良モード３は、リード線１２６の先端が、挿通孔１４に入らずに挿通孔１４の上方で停まっているパターンである。
【０１０９】
□不良モード４
図８に示す不良モード４は、リード線１２６の先端が、挿通孔１４に入らずに、端子板２０の上方に反り返っているパターンである。
【０１１０】
□不良モード５
図９に示す不良モード５は、リード線１２６の先端が、挿通孔１４及び基準標示部２２を飛び越えているパターンである。
【０１１１】
□不良モード６
図１０に示す不良モード６は、リード線１２６の先端が、挿通孔１４を飛び越えて挿通孔１４と基準標示部２２との間における主面２０ａに当接しているパターンである。
【０１１２】
□不良モード７
図１１に示す不良モード７は、リード線１２６の先端が、端子板２０の上方にも達せず、端子板２０の挿通方向上流側の端縁に当接しているパターンである。
【０１１３】
□不良モード８
図１２に示す不良モード８は、リード線１２６の先端が、端子板２０の上方にも達せず、端子板２０の挿通方向上流側に反り返っているパターンである。
【０１１４】
次に、判定基準について説明する。
【０１１５】
○判定基準１
端子板の厚みをｄ、端子板２０の主面２０ａとガイド部１３０の上面側の先端縁１３０ａとのレベル差をｂ、実測プロファイル上での挿通孔１４の挿通方向下流側の端縁１４ｂと該端縁１４ｂの下方に位置するリード線１２６とのレベル差をｓとすると、ｄ≦ｓ＜ｂの関係が成立している場合、挿通状態が正常であると判定し、不成立の場合、挿通状態が不良であると判定する。
【０１１６】
この判定基準１によれば、上記したすべての不良モード１〜８を検出することができる。すなわち、図５〜図１２の各（ｂ）に示すいずれの実測プロファイルにも、挿通孔１４の挿通方向下流側の端縁に相当する位置に所定長さｓの下降線１０３（図４（ｂ）参照）が現れていないことをもって挿通不良であると判定できる。
【０１１７】
以上説明した判定基準１によれば、これだけで挿通状態の良否を確実に判定することができるが、さらにいずれの不良モードであるかについても同時に識別するには、以下に説明する判定基準２及び３の少なくともいずれか一方を判定基準１と併用すればよい。
【０１１８】
○判定基準２
基準プロファイル上での端子板２０の主面２０ａと挿通孔１４の挿通方向上流側におけるリード線１２６の屈曲頂点Ｑとのレベル差を基準レベル差ａとする一方、基準プロファイル上での端子板２０の主面２０ａと実測プロファイル上での挿通孔１４の挿通方向上流側におけるリード線１２６の屈曲頂点Ｑとのレベル差を実測レベル差ａ１としてこれら２つのレベル差を対比し、実測レベル差ａ１が基準レベル差ａよりも大きい場合又は実測レベル差ａ１が０の場合にリード線１２６の挿通状態が不良であると判定する。
【０１１９】
この判定基準２によれば、上記した不良モード１〜８のうち、不良モード３、７及び８を検出することができる。すなわち、不良モード３の場合、図７（ｂ）に示すように、実測レベル差ａ１が基準レベル差ａ（図４（ｂ）参照）より大きいことをもってリード線１２６の先端が挿通孔１４に入らずに挿通孔１４の上方で停まっていると判定できる。不良モード７及び８の場合、図１１（ｂ）及び図１２（ｂ）に示すように、実測レベル差が無い場合であることをもってリード線１２６の先端が、端子板２０の上方にも達せず、端子板２０の挿通方向上流側の端縁に当接していているか、或いは、端子板２０の挿通方向上流側に反り返っていると判定できる。
【０１２０】
○判定基準３
実測プロファイル上での挿通孔１４の挿通方向下流側における実測主面２０ｍと、基準プロファイル上での主面２０ａとの間にレベル差ａ２がある場合、リード線１２６の挿通状態が不良であると判定する。
【０１２１】
この判定基準３によれば、上記した不良モード１〜８のうち、不良モード４、５及び６を検出することができる。すなわち、いずれの不良モードにあっても、図８（ｂ）、図９（ｂ）及び図１０（ｂ）に示すように、実測プロファイル上での挿通孔１４の挿通方向下流側における実測主面２０ｍと、基準プロファイル上での主面２０ａとの間にレベル差ａ２が生じていることをもって、不良モード４、５又は６であると判定できる。
【０１２２】
―半田付け工程（Ｄ）―
半田付け工程（Ｄ）では、リード線１２６の先端部１２６ｂを端子板２０の挿通孔１４との接触部で半田付けする（図示せず）。
【０１２３】
―仕上げ工程（Ｅ）―
仕上げ工程（Ｅ）では、ボックスケース１１と端子板２０との間に充填剤（図示せず）を投入して充填し、さらに、端子ボックス１の上蓋１５（図１参照）を装着する。
【０１２４】
＜実施の形態２＞
本実施の形態は、上述した実施の形態１と、端子ボックスの端子板における観察用開口部の有無及びこれに起因するリード線挿通検査での検査精度の点で相違するだけであるので、実施の形態１と同一構成要素には同一符号を付してその説明を省略し、異なる点についてのみ、以下、図１３、図１４を参照して説明する。
【０１２５】
［端子ボックスの説明］
図１３は、本実施の形態における太陽電池モジュール１１６用の端子ボックス１部分を示す概略断面図である。図１４は、図１３に示す端子ボックス１における端子板２０部分を上から視た平面図である。
【０１２６】
端子板２０には、基準標示部２２の挿通方向下流側に観察用開口部２１が形成されている。この観察用開口部２１は、図示例では、円形とされており、正常に挿通孔１４に挿通されたリード線１２６の先端の直上に配されている。
【０１２７】
なお、観察用開口部２１の形状は、上記したような円形に限るものではなく、例えば、図２５に示すように、挿通孔１４の幅寸法と等しい長軸を有する楕円形や、図２６に示すように、挿通孔１４の幅寸法と等しい長辺を有する長方形であってもよい。観察用開口部２１をこのような楕円形や長方形とした場合、いずれの形状にあっても、幅方向の中心が挿通孔１４の幅方向の中心を通る挿通方向に沿う直線上に位置するように設けるのが好ましい。その場合、観察用開口部２１と挿通孔１４の両方を常に測定することができるから、実測プロファイルを確実に実測することができる。また、観察用開口部２１を長方形とした場合、挿通孔１４側の端縁を、図示例のように、挿通孔１４の挿通方向下流側の端縁と平行すると、観察用開口部２１と挿通孔１４との間が一定となる結果、測定区間３３が挿通孔１４に対して端子板２０の幅方向のいずれに偏位したとしても、実測プロファイルにおける観察用開口部２１と挿通孔１４との間の実測値が一定となり、基準プロファイルとの比較がし易くなる。また、本実施の形態では、挿通孔１４と観察用開口部２１との間に基準標示部２２を介在させているが、図２５及び図２６に示すように、基準標示部２２を省いても構わない。さらに、観察用開口部２１を上記したような楕円形又は長方形とし、この観察用開口部２１と挿通孔１４との間に基準標示部２２を設ける場合、これら３者を相互に同幅とするとともに、幅方向の中心を挿通孔１４の幅方向の中心を通る挿通方向に沿う直線上に位置させることで、観察用開口部２１、基準標示部２２及び挿通孔１４を常に測定することができるから、実測プロファイルを確実に実測することができる。
【０１２８】
・挿通状態の良否判定の説明
次に、リード線１２６の挿通状態の良否判定について、図１５〜図２４を参照して説明する。
【０１２９】
図１５（ａ）は、リード線１２６が端子板２０の挿通孔１４に正常に挿通されている状態を示す挿通孔１４付近の部分断面図、同図（ｂ）は、その正常な挿通状態に対応する基準プロファイルを示す模式図である。
【０１３０】
リード線１２６が端子板２０の挿通孔１４に正しく挿通されている状態（挿通状態が良の状態）とは、図１５（ａ）に示すように、リード線１２６の先端が、端子板２０の下方に潜り込み、端子板２０の主面２０ａと、観察用開口部２１の挿通方向上流側の端縁を通る垂線２１ｄがガイド部の上面を含む仮想面１３２と交差する点２１ｃとの間に位置するとともに、リード線１２６の屈曲頂点Ｑが端子板２０の主面２０ａから上方で且つ主面２０ａから所定距離の高さａまでに位置している状態としている。ここで、前記した高さａは、後述する不良モード３となってしまう臨界値に相当する実測データａ１を複数集計することから求められたものである。
【０１３１】
この正常な挿通状態をプロファイルで現したのが図１５（ｂ）であり、このプロファイルが基準プロファイルである。すなわち、端子板２０の主面２０ａは、基準プロファイル上では水平線１０１で現れ、端子板２０の直上から観て露出しているリード線１２６の表面１２６ｓは、基準プロファイルでは曲線１０２で現れる。また、観察用開口部２１の挿通方向上流側の端縁２１ｂは後述する所定長さｐの垂線１０５で現れる。さらに、端子板２０の主面２０ａにおいて挿通孔１４と観察用開口部２１との間に設けられた基準標示部２２は、下方に凹む方形波１０４で現れる。この方形波１０４の上端縁でもって主面２０ａの基準レベルが確定されることとなる。
【０１３２】
このような基準プロファイルから正常な挿通状態を定義すると、次のようになる。すなわち、端子板の厚みをｄ、端子板２０の主面２０ａと観察用開口部２１の挿通方向上流側の端縁２１ｂを通る垂線２１ｄがガイド部１３０の上面を含む仮想面１３２と交差する点２１ｃとのレベル差をｅ、基準プロファイル上での観察用開口部２１の挿通方向上流側の端縁２１ｂと該端縁２１ｂの下方に位置するリード線１２６とのレベル差をｐとすると、ｄ≦ｐ＜ｅの関係が成立している。
【０１３３】
次に、リード線１２６が端子板２０の挿通孔１４に正しく挿通されていない挿通不良の状態について説明するが、ここでは前記実施の形態１で説明した不良モードと同様の不良モードも含め全不良モードにつて、図１６〜図２４を参照して説明した後、前記実施の形態１で説明した判定基準にさらに追加される判定基準について説明する。なお、以下の説明において、前記実施の形態１と同様の不良モードについては実施の形態１で用いた番号を流用している。各図において（ａ）は挿通孔１４付近の部分断面図、（ｂ）は実測プロファイルを示す模式図である。
【０１３４】
□不良モード１
図１６に示す不良モード１は、リード線１２６の先端が、挿通孔１４に入らずに挿通孔１４の挿通方向下流側の端縁に当接しているパターンである。
【０１３５】
□不良モード２
図１７に示す不良モード２は、挿通孔１４へのリード線１２６の挿入深さが浅いパターンである。
【０１３６】
□不良モード３
図１８に示す不良モード３は、リード線１２６の先端が、挿通孔１４に入らずに挿通孔１４の上方で停まっているパターンである。
【０１３７】
□不良モード４
図１９に示す不良モード４は、リード線１２６の先端が、挿通孔１４に入らずに、端子板２０の上方に反り返っているパターンである。
【０１３８】
□不良モード５
図２０に示す不良モード５は、リード線１２６の先端が、挿通孔１４及び基準標示部２２を飛び越えているパターンである。
【０１３９】
□不良モード６
図２１に示す不良モード６は、リード線１２６の先端が、挿通孔１４を飛び越えて挿通孔１４と基準標示部２２との間における主面２０ａに当接しているパターンである。
【０１４０】
□不良モード７
図２２に示す不良モード７は、リード線１２６の先端が、端子板２０の上方にも達せず、端子板２０の挿通方向上流側の端縁に当接しているパターンである。
【０１４１】
□不良モード８
図２３に示す不良モード８は、リード線１２６の先端が、端子板２０の上方にも達せず、端子板２０の挿通方向上流側に反り返っているパターンである。
【０１４２】
□不良モード９
図２４に示す不良モード８は、リード線１２６の先端が、挿通孔１４及び観察用開口部２１を飛び越えているパターンである。
【０１４３】
次に、判定基準について説明する。
【０１４４】
判定基準１〜３については、前記実施の形態１で説明した通りであり、それによって判定される不良モードについても実施の形態１の場合と同様である。
【０１４５】
○判定基準４
端子板の厚みをｄ、端子板２０の主面２０ａと観察用開口部２１の挿通方向上流側の端縁２１ｂを通る垂線２１ｄがガイド部１３０の上面を含む仮想面１３２と交差する点２１ｃとのレベル差をｅ、実測プロファイル上での観察用開口部２１の挿通方向上流側の端縁２１ｂと該端縁２１ｂの下方に位置するリード線１２６とのレベル差をｐとすると、ｄ≦ｐ＜ｅの関係が成立している場合、挿通状態が正常であると判定する。不成立の場合、この判定結果だけで直ちに挿通状態が不良であるとは判定しない。それは、挿通状態が正常であっても、リード線１２６の先端が観察用開口部２１の下方にきていない場合も上記の条件式が不成立となるからである。したがって、不成立の場合は、前記した判定基準１による判定結果をみて、その結果が良であれば、挿通状態が正常であると判定し、不良であれば、挿通状態が不良であると判定する。すなわち、この判定基準４では、最も好ましい挿通状態であるか否かについて判定することができることから、前記判定基準１よりも高精度に挿通状態の判定を行うことができ、高品質の太陽電池モジュールが得られることとなる。
【０１４６】
この判定基準４によれば、上記したすべての不良モード１〜９の可能性を検出することができる。すなわち、図１６〜図２４の各（ｂ）に示すいずれの実測プロファイルにも、観察用開口部２１の挿通方向上流側の端縁に相当する位置に所定長さｐの垂線１０５（図１５（ｂ）参照）が現れていないことをもって挿通不良の可能性を判定できる。この判定基準４の判定結果が不良となった場合は、上述したように判定基準１により最終的な判定を行うこととなる。
【０１４７】
○判定基準５
実測プロファイル上での観察用開口部２１と挿通孔１４との間における実測主面２０ｍと、基準プロファイル上での主面２０ａとの間のレベル差ａ３の有無を、リード線１２６の挿通状態が不良であると判定する。
【０１４８】
この判定基準５によれば、上記した不良モード１〜８のうち、不良モード４、５、６及び９を検出することができる。すなわち、いずれの不良モードにあっても、図１９（ｂ）、図２０（ｂ）、図２１（ｂ）及び図２４（ｂ）に示すように、実測プロファイル上での観察用開口部２１と挿通孔１４との間における実測主面２０ｍと、基準プロファイル上での主面２０ａとの間にレベル差ａ３が生じていることをもって、不良モード４、５、６又は９であると判定できる。
【０１４９】
本実施の形態においても、前述した判定基準１により挿通状態の良否を確実に判定することができるが、判定基準４を併用することでさらに高精度に挿通状態の判定を行うことができ、また、いずれの不良モードであるかについても同時に識別するには、前記判定基準２と３及び判定基準５の少なくともいずれか一つを併用すればよい。
【０１５０】
＜実施の形態１及び２における変形例１＞
上記の実施の形態１及び２にあっては、１つのスリット光を測定区間３３に照射していることから、図３０（ａ）に示すように、リード線１２６の幅方向の先端がその幅方向に傾斜した状態で挿通孔１４の挿通方向下流側の端縁１４ｂに当接しており、リード線１２６の両側縁のうち下がっている方の側縁に、スリット光が照射された場合、挿通状態が不良であるにも拘らず、前記判定基準１で挿通状態が正常であると誤判定される虞がある。
【０１５１】
このような虞を解消するには、測定区間３３におけるリード線１２６の両側縁部にそれぞれスリット光を照射し、該両側縁に沿って端子板２０及びリード線１２６の表面形状のプロファイルをリード線１２６の両側縁部に沿った少なくとも２か所にて測定し、得られた少なくとも２つの実測プロファイルを比較したときの挿通孔１４の挿通方向下流側の端縁におけるレベル差の有無で良否を判定する判定基準を加えればよい。
【０１５２】
この判定基準を用いれば、リード線１２６の先端がその幅方向に傾斜した状態で挿通孔１４の挿通方向下流側の端縁１４ｂに当接していることを確認することができる。
【０１５３】
なお、上記の判定基準を用いる場合、測定区間３３に相互に平行な少なくとも２本のスリット光を照射するか、或いは、１本のスリット光をリード線１２６の各側縁に順番に照射すればよい。検査時間の短縮化の点からは、複数本のスリット光を照射する方が好ましい。
【０１５４】
また、上記のようにスリット光をリード線１２６の両側縁に照射する代わりに、挿通方向と交差する方向に幅を有するレーザ光を照射してリード線１２６の幅方向における最高位を測定区間３３に亘って検出し、これより実測プロファイルを得るようにしてもよい（図３０（ｂ）参照）。
【０１５５】
この場合も、リード線１２６の先端がその幅方向に傾斜した状態で挿通孔１４の挿通方向下流側の端縁１４ｂに当接していることを確認することができる。
【０１５６】
＜実施の形態１及び２における変形例２＞
上記の実施の形態１、２及び変形例１にあっては、屈曲頂点Ｑを含むリード線１２６にスリット光又はスポット光を照射すると、屈曲頂点Ｑが変曲点であるため屈曲頂点Ｑに照射されたスリット光又はスポット光が散乱し、屈曲頂点Ｑに対応する実測プロファイル上にノイズ信号１０６が生じる場合がある（図３１参照）。ノイズ信号１０６が発生すると、実測プロファイル上での実測レベル差ａ１（図５（ｂ）から図９（ｂ）参照。）が正しく測定されず、特に、実測レベル差ａ１を判定基準とする判定基準２における判定時に誤判定が生じる虞がある。
【０１５７】
このような虞を解消するには、リード線１２６の挿通状態を判定した後に、測定区間３３から離間して再測定区間３３ａをとり、検査対象について再測定した再測定区間３３ａにおける表面形状の再実測プロファイルと基準プロファイルとを比較することにより、リード線１２６の挿通状態の良否を判定すればよい。
【０１５８】
図３２を参照しながら、変形例２を説明する。図３２に端子板２０を上から視た図を示す。
【０１５９】
測定区間３３について実施の形態１及び２で説明した測定を行った結果、図３１に示された実測プロファイルが得られたため、測定区間３３から離間して再測定区間３３ａをとり、再度の実測プロファイル（再実測プロファイル）を実施の形態１又は実施の形態２で説明した方法により作成する。
【０１６０】
この場合、測定区間３３から離間して再測定区間３３ａをとることによって、屈曲頂点Ｑから位置をずらした箇所を測定することができ、散乱光の影響を無くし、ノイズ信号１０６の発生が生じない再実測プロファイルを得ることができ、基準プロファイルを用いて実施の形態１及び２において説明した判定基準１から判定基準５を行うことにより、リード線挿通検査を行うことができる。
【０１６１】
また、ノイズ信号が発生した場合の他のリード線挿通検査方法として、実施の形態１及び２において説明した測定プロファイル上の屈曲頂点に散乱光によるノイズ信号１０６が発生した場合に、ノイズ信号１０６が発生した範囲１０７の測定プロファイルを除外し、除外した測定プロファイルの範囲を仮想線１０８にて補充してノイズ信号を除去したノイズ除去プロファイルを作成し、範囲１０７の最大値をノイズ除去プロファイル上の屈曲頂点とし、ノイズ除去プロファイルと基準プロファイルとを比較することにより、リード線１２６の挿通状態の良否を判定しても構わない。
【０１６２】
この場合、ノイズ信号１０６が発生した測定プロファイルからノイズ部分を取り除き、除外した測定プロファイルの範囲を仮想線１０８にて補充してノイズ除去プロファイルを作成するため、ノイズ信号１０６が除去されたノイズ除去プロファイルを用いて基準プロファイルとノイズ除去プロファイルを比較することができ、実施の形態１及び２において説明した判定基準１から５を用いてリード線の挿通状態の良否を判定することができる。
【符号の説明】
【０１６３】
１        端子ボックス
１４      挿通孔
１４ｂ    （挿通孔の挿通方向下流側の）端縁
２０      端子板
２０ａ    端子板の主面
２０ｍ    実測主面
２１      観察用開口部
２１ｂ    （観察用開口部の挿通方向上流側の）端縁
２１ｃ    交点
２１ｄ    （観察用開口部の挿通方向上流側の端縁を通る）垂線
２２      基準標示部
２２ｂ    （基準標示部の挿通孔側の）端縁
３３      測定区間
１１６    太陽電池モジュール
１２６    リード線
１３０    ガイド部
１３０ａ  （ガイド部の上面側の）先端縁
１３２    仮想面
２００    挿通装置
２０１    リード線挿通検査装置
２２１    光学式変位計
３００    設置装置
Ｑ        屈曲頂点
【図１】
2013229500.tif 000003
【図２】
2013229500.tif 000004
【図３】
2013229500.tif 000005
【図４】
2013229500.tif 000006
【図５】
2013229500.tif 000007
【図６】
2013229500.tif 000008
【図７】
2013229500.tif 000009
【図８】
2013229500.tif 000010
【図９】
2013229500.tif 000011
【図１０】
2013229500.tif 000012
【図１１】
2013229500.tif 000013
【図１２】
2013229500.tif 000014
【図１３】
2013229500.tif 000015
【図１４】
2013229500.tif 000016
【図１５】
2013229500.tif 000017
【図１６】
2013229500.tif 000018
【図１７】
2013229500.tif 000019
【図１８】
2013229500.tif 000020
【図１９】
2013229500.tif 000021
【図２０】
2013229500.tif 000022
【図２１】
2013229500.tif 000023
【図２２】
2013229500.tif 000024
【図２３】
2013229500.tif 000025
【図２４】
2013229500.tif 000026
【図２５】
2013229500.tif 000027
【図２６】
2013229500.tif 000028
【図２７】
2013229500.tif 000029
【図２８】
2013229500.tif 000030
【図２９】
2013229500.tif 000031
【図３０】
2013229500.tif 000032
【図３１】
2013229500.tif 000033
【図３２】
2013229500.tif 000034
【図３３】
2013229500.tif 000035