(57)【要約】【課題】メモリモジュールがマザーボードに搭載された状態でメモリモジュールのテストを行う。【解決手段】メモリモジュールを搭載した状態でマザーボード上に搭載され、マザーボードがメモリモジュールにアクセスする際に発行するＡＣＴコマンドがコマンド入力部１０にて受け付けられた場合に、コマンド変換回路２０が、入力されるEnable信号に応じて、ＡＣＴコマンドをそのまま出力するか、ＡＣＴコマンドを、メモリモジュールのテストを行うＭＲＳコマンドに変換して出力するかを切り替えて動作し、コマンド変換回路２０から出力されたコマンドがコマンド出力部３０を介してメモリモジュールに与えられる。【選択図】図１
2013196443.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
マザーボード上に搭載されたメモリモジュールのテストを行うメモリモジュールテスト装置であって、
前記マザーボード上に搭載可能に構成されるとともに、前記メモリモジュールを搭載可能に構成され、
前記マザーボードにて発行されたコマンドを受け付けるコマンド入力部と、
前記マザーボードが前記メモリモジュールにアクセスする際に発行する第１のコマンドが前記コマンド入力部にて受け付けられた場合に、入力される制御信号に応じて、前記コマンド入力部にて受け付けられた第１のコマンドをそのまま出力するか、前記コマンド入力部にて受け付けられた第１のコマンドを、前記メモリモジュールのテストを行う第２のコマンドに変換して出力するかを切り替えて動作するコマンド変換部と、
前記コマンド変換部から出力されたコマンドを前記メモリモジュールに与えるコマンド出力部とを有するメモリモジュールテスト装置。
【請求項２】
請求項１に記載のメモリモジュールテスト装置において、
前記制御信号を出力する信号出力部を有し、該信号出力部は、前記コマンド変換部にて前記第１のコマンドを前記第２のコマンドに変換するための制御信号を、前記マザーボードから前記メモリモジュールへのアクセスの初期動作時に出力するメモリモジュールテスト装置。
【請求項３】
請求項１に記載のメモリモジュールテスト装置において、
前記制御信号を出力する信号出力部を有し、該信号出力部は外部から操作可能に構成され、外部からの操作に応じて前記制御信号を出力するメモリモジュールテスト装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、メモリモジュールのテストを行うメモリモジュールテスト装置に関し、特に、メモリモジュールがマザーボード上に搭載された状態でメモリモジュールのテストを可能とする技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年の半導体技術の発展により、複数の半導体チップが搭載されたメモリモジュールが用いられている（例えば、特許文献１参照）。このようなメモリモジュールは、パソコン等のマザーボードに搭載されて使用されることになる。
【０００３】
図５は、一般的なメモリモジュールのマザーボードへの搭載状態を示す図である。
【０００４】
図５に示すように、メモリモジュール１０２は、マザーボード１０３に設けられたメモリモジュールソケット１０３ｂに挿入されることによってマザーボード１０３上に搭載される。そして、メモリモジュール１０２の接続端子群１０２ａがメモリモジュールソケット１０３ｂの接続端子群１０３ａと接続され、それにより、マザーボード１０３にて発行されたコマンドがメモリモジュール１０２に与えられ、メモリモジュール１０２に対する情報の書き込みや読み出し等が行われることになる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００５−２０９１６８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述したようなメモリモジュールは、テストを行うためのコマンドが与えられた場合にテストが実行されることになるが、メモリモジュールが搭載されるマザーボードは、メモリモジュールのテストを行うためのコマンドを発行することができない。そのため、メモリモジュールがマザーボードに搭載された状態ではメモリモジュールのテストを行うことができず、メモリモジュールの不良を解析する場合、半導体チップを１枚ずつはがし、テストを行うためのコマンドをテスターで半導体チップに与えることとなる。
【０００７】
その結果、マザーボードに搭載されたメモリモジュールの不良解析に時間とコストがかかってしまうという問題点がある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために本発明は、
マザーボード上に搭載されたメモリモジュールのテストを行うメモリモジュールテスト装置であって、
前記マザーボード上に搭載可能に構成されるとともに、前記メモリモジュールを搭載可能に構成され、
前記マザーボードにて発行されたコマンドを受け付けるコマンド入力部と、
前記マザーボードが前記メモリモジュールにアクセスする際に発行する第１のコマンドが前記コマンド入力部にて受け付けられた場合に、入力される制御信号に応じて、前記コマンド入力部にて受け付けられた第１のコマンドをそのまま出力するか、前記コマンド入力部にて受け付けられた第１のコマンドを、前記メモリモジュールのテストを行う第２のコマンドに変換して出力するかを切り替えて動作するコマンド変換部と、
前記コマンド変換部から出力されたコマンドを前記メモリモジュールに与えるコマンド出力部とを有する。
【０００９】
上記のように構成された本発明においては、マザーボードに搭載された状態で、マザーボードにてメモリモジュールにアクセスするための第１のコマンドが発行されると、この第１のコマンドがコマンド入力部にて受け付けられる。そして、コマンド変換部において、入力される制御信号に応じて、コマンド入力部にて受け付けられた第１のコマンドがそのまま出力されたり、コマンド入力部にて受け付けられた第１のコマンドが、メモリモジュールのテストを行う第２のコマンドに変換されて出力されたりし、このコマンド変換部から出力されたコマンドがコマンド出力部からメモリモジュールに与えられる。
【００１０】
このように、マザーボードに搭載された状態で、マザーボードにてメモリモジュールにアクセスする際に発行された第１のコマンドが、コマンド変換部において、入力される制御信号に応じて、メモリモジュールのテストを行う第２のコマンドに変換されて出力され、この第２のコマンドがメモリモジュールに与えられるので、メモリモジュールがマザーボードに搭載された状態でメモリモジュールのテストを行うことができる。また、コマンド変換部においては、入力される制御信号によっては、マザーボードにて発行された第１のコマンドがそのまま出力され、この第１のコマンドがメモリモジュールに与えられるので、マザーボードからメモリモジュールへのアクセスが制限されてしまうことはない。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、マザーボードに搭載された状態で、マザーボードにてメモリモジュールにアクセスする際に発行された第１のコマンドが、コマンド変換部において、入力される制御信号に応じて、メモリモジュールのテストを行う第２のコマンドに変換されて出力され、この第２のコマンドがメモリモジュールに与えられる構成としたため、メモリモジュールがマザーボードに搭載された状態でメモリモジュールのテストを行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明のメモリモジュールテスト装置の実施の一形態を示す図であり、（ａ）は構成ブロック図、（ｂ）は物理的な構成を示す図である。
【図２】図１に示したコマンド変換回路を説明するための図であり、（ａ）はその概略図、（ｂ）は入出力関係を示す図、（ｃ）は入出力信号を示す図、（ｄ）は（ｃ）に示した入出力信号の状態を示す図である。
【図３】図１に示したメモリモジュールテスト装置の使用方法を説明するための図であり、（ａ）はその使用状態を示す図、（ｂ）はコマンド変換回路の入出力信号及びコマンドを示す図である。
【図４】図１に示したメモリモジュールテスト装置においてEnable信号を発生させる構成を示す図であり、（ａ）は全体の構成ブロック図、（ｂ）は（ａ）に示した信号出力部の一例を示す図、（ｃ）は（ａ）に示した信号出力部の他の例を示す図である。
【図５】一般的なメモリモジュールのマザーボードへの搭載状態を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下に、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
【００１４】
図１は、本発明のメモリモジュールテスト装置の実施の一形態を示す図であり、（ａ）は構成ブロック図、（ｂ）は物理的な構成を示す図である。
【００１５】
本形態は図１に示すように、コマンド入力部１０と、コマンド変換回路２０と、コマンド出力部３０とから構成されている。
【００１６】
コマンド入力部１０は、物理的には入力端子群１１から構成され、このメモリモジュールテスト装置がマザーボード上に搭載された場合に、マザーボードにて発行されたコマンドを受け付ける。
【００１７】
コマンド変換回路２０は、マザーボードがメモリモジュールにアクセスする際に発行する第１のコマンドであるＡＣＴコマンドがコマンド入力部１０にて受け付けられた場合に、入力される制御信号となるEnable信号に応じて、コマンド入力部１０にて受け付けられたＡＣＴコマンドをそのまま出力するか、コマンド入力部１０にて受け付けられたＡＣＴコマンドを、メモリモジュールのテストを行う第２のコマンドであるＭＲＳ（Mode Register Set）コマンドに変換して出力するかを切り替えて動作する。
【００１８】
コマンド出力部３０は、物理的には出力端子群３１から構成され、コマンド変換回路２０から出力されたコマンドをメモリモジュールに与える。
【００１９】
入力端子群１１と出力端子群３１とは、配線２１を介して接続され、配線２１の一部にコマンド変換回路２０が介在している。
【００２０】
以下に、コマンド変換回路２０について説明する。
【００２１】
図２は、図１に示したコマンド変換回路２０を説明するための図であり、（ａ）はその概略図、（ｂ）は入出力関係を示す図、（ｃ）は入出力信号を示す図、（ｄ）は（ｃ）に示した入出力信号の状態を示す図である。
【００２２】
図１に示したコマンド変換回路２０には、コマンド入力部１０にて受け付けられたコマンドと、Enable信号とが入力され、図２（ａ），（ｂ）に示すように、入力されたコマンドがＡＣＴコマンドである場合に、Enable信号が“Ｌ”であると、入力されたＡＣＴコマンドがそのまま出力され、また、Enable信号が“Ｈ”であると、入力されたＡＣＴコマンドがＭＲＳコマンドに変換されて出力される。
【００２３】
その具体的な信号について説明すると、図２（ｃ）に示すように、図１に示したコマンド変換回路２０においては、ＣＫＥ，ＣＳ，ＲＡＳ，ＣＡＳ，ＷＥ信号がそれぞれ入出力されるが、これらがEnable信号に応じて、そのままあるいは変換されて出力されることになる。図２（ｄ）に示すように、入力として、ＣＫＥ＝“Ｈ”，ＣＳ＝“Ｌ”，ＲＡＳ＝“Ｌ”，ＣＡＳ＝“Ｈ”，ＷＥ＝“Ｈ”が入力された場合、Enable信号が“Ｌ”であると、これらの信号が、ＣＫＥ＝“Ｈ”，ＣＳ＝“Ｌ”，ＲＡＳ＝“Ｌ”，ＣＡＳ＝“Ｈ”，ＷＥ＝“Ｈ”としてそのまま出力され、また、Enable信号が“Ｈ”であると、これらの信号が、ＣＫＥ＝“Ｈ”，ＣＳ＝“Ｌ”，ＲＡＳ＝“Ｌ”，ＣＡＳ＝“Ｌ”，ＷＥ＝“Ｌ”に変換されて出力される。
【００２４】
以下に、上述したメモリモジュールテスト装置の使用方法及びその際の動作について説明する。
【００２５】
図３は、図１に示したメモリモジュールテスト装置の使用方法を説明するための図であり、（ａ）はその使用状態を示す図、（ｂ）はコマンド変換回路２０の入出力信号及びコマンドを示す図である。
【００２６】
図１に示したメモリモジュールテスト装置１は、図３（ａ）に示すように、パソコン等のマザーボード３のメモリモジュールソケット３ｂに挿入されることによってマザーボード３上に搭載される。なお、このメモリモジュールソケット３ｂは、通常はメモリモジュール２が挿入されるものである。また、メモリモジュールテスト装置１にメモリモジュール２が搭載される。
【００２７】
このように、メモリモジュールテスト装置１がマザーボード３上に搭載されるとともに、メモリモジュールテスト装置１にメモリモジュール２が搭載されると、マザーボード３の接続端子群３ａとメモリモジュールテスト装置１の入力端子群１１とが電気的に接続されるとともに、メモリモジュール２の接続端子群２ａとメモリモジュールテスト装置１の出力端子群３１とが電気的に接続される。なお、これらマザーボード３の接続端子群３ａとメモリモジュール２の接続端子群２ａとは、マザーボード３上にメモリモジュール２が直接搭載された場合に互いに電気的に接続されるものである。
【００２８】
これにより、マザーボード３とメモリモジュール２とが、メモリモジュールテスト装置１を介して電気的に接続された状態となる。
【００２９】
このような状態において、マザーボード３からメモリモジュール２に対してアクセスする際にＡＣＴコマンドが発行される。このＡＣＴコマンドは、図３（ｂ）に示すように、ＣＫＥ＝“Ｈ”，ＣＳ＝“Ｌ”，ＲＡＳ＝“Ｌ”，ＣＡＳ＝“Ｈ”，ＷＥ＝“Ｈ”の信号からなり、この信号がメモリモジュールテスト装置１のコマンド入力部１０を介してコマンド変換回路２０に入力されると、上述したように、コマンド変換回路２０に入力されるEnable信号が“Ｌ”であると、これらの信号が、ＣＫＥ＝“Ｈ”，ＣＳ＝“Ｌ”，ＲＡＳ＝“Ｌ”，ＣＡＳ＝“Ｈ”，ＷＥ＝“Ｈ”としてそのまま出力され、また、Enable信号が“Ｈ”であると、これらの信号が、ＣＫＥ＝“Ｈ”，ＣＳ＝“Ｌ”，ＲＡＳ＝“Ｌ”，ＣＡＳ＝“Ｌ”，ＷＥ＝“Ｌ”に変換されて出力される。ＣＫＥ＝“Ｈ”，ＣＳ＝“Ｌ”，ＲＡＳ＝“Ｌ”，ＣＡＳ＝“Ｌ”，ＷＥ＝“Ｌ”の信号からなるコマンドは、図３（ｂ）に示すように、メモリモジュール２のテストを行うＭＲＳコマンドである。これにより、マザーボード３からメモリモジュール２に対してアクセスするためにＡＣＴコマンドが発行された際、コマンド変換回路２０に入力されるEnable信号が“Ｈ”であれば、コマンド変換回路２０から出力されたＭＲＳコマンドがコマンド出力部３０を介してメモリモジュール２に対して与えられることになる。
【００３０】
ここで、ＭＲＳコマンドは、上位ビットが使用されていないため、マザーボード３から（ＡＣＴコマンド＋０ｘ２０８６）にアクセスが行われると、メモリモジュールテスト装置１からメモリモジュール２へのＭＲＳアドレスが０ｘ００８６となる。そのため、アドレス０ｘ２０８６に対する実際のアクセスがないことになるが、システムは全てのメモリエリアを使用しているわけではなく、このアドレス０ｘ２０８６のエリアは使用されていないエリアであるため、誤動作が生じることはない。
【００３１】
このように、メモリモジュールテスト装置１がマザーボード３上に搭載されるとともに、メモリモジュールテスト装置１にメモリモジュール２が搭載された状態で、マザーボード３にてＡＣＴコマンドが発行された場合に、コマンド変換回路２０に入力されるEnable信号が“Ｈ”であると、ＡＣＴコマンドがＭＲＳコマンドに変換されてメモリモジュール２に対して与えられることになるので、メモリモジュール２がマザーボード３上に搭載された状態で、マザーボード３となるパソコン等を操作するだけでメモリモジュール２のテストを行うことができる。また、コマンド変換回路２０に入力されるEnable信号が“Ｌ”であれば、マザーボード３にて発行されたＡＣＴコマンドがそのままメモリモジュール２に与えられるので、マザーボード３からメモリモジュール２へのアクセスが制限されてしまうことはない。
【００３２】
以下に、コマンド変換回路２０に入力されるEnable信号について説明する。
【００３３】
図４は、図１に示したメモリモジュールテスト装置１においてEnable信号を発生させる構成を示す図であり、（ａ）は全体の構成ブロック図、（ｂ）は（ａ）に示した信号出力部４０の一例を示す図、（ｃ）は（ａ）に示した信号出力部４０の他の例を示す図である。
【００３４】
図４（ａ）に示すように、図１に示したメモリモジュールテスト装置１において、Enable信号を出力する信号出力部４０を設ける。信号出力部４０から出力されたEnable信号は、上述したようにコマンド変換回路２０に入力される。
【００３５】
信号出力部４０は、マザーボード３上に搭載される増設ボードに設けられる。
【００３６】
例えば、メモリモジュール２には、システムマネジメントバスＳＭＢｕｓが通っているので、そのバスを使用し、図４（ｂ）に示すように、マザーボード３上に搭載される増設ボード４に、マザーボード３からのＳＭＢｕｓ信号に基づいてEnable信号を生成する信号生成回路４１を設ける。信号生成回路４１においては、マザーボード３からメモリモジュール２へのアクセスの初期動作時に、Enable信号が生成されて出力される。このような構成により、通常動作時には、ＭＲＳコマンドがメモリモジュール２に与えられないようになり、メモリモジュール２に対する情報の書き込みや読み出し動作に影響が及ばないようになる。
【００３７】
また、図４（ｃ）に示すように、マザーボード３上に搭載される増設ボード４に、外部から操作可能なスイッチ４２を信号出力部４０として設けることも考えられる。このスイッチ４２は、ＶＤＤまたはＧＮＤの一方と接続可能となっており、外部からの操作によってＶＤＤに接続された場合は、Enable信号として“Ｈ”が出力され、また、外部からの操作によってＧＮＤに接続された場合は、Enable信号として“Ｌ”が出力されることになる。
【符号の説明】
【００３８】
１    メモリモジュールテスト装置
２    メモリモジュール
２ａ，３ａ    接続端子群
３    マザーボード
３ｂ    メモリモジュールソケット
４    増設ボード
１０    コマンド入力部
１１    入力端子群
２０    コマンド変換回路
３０    コマンド出力部
３１    出力端子群
４０    信号出力部
４１    信号生成回路
４２    スイッチ
【図１】
2013196443.tif 000003
【図２】
2013196443.tif 000004
【図３】
2013196443.tif 000005
【図４】
2013196443.tif 000006
【図５】
2013196443.tif 000007