(57)【要約】【課題】不要輻射ノイズについての規制を考慮しつつ、β値や変調度などの、スクープ率の悪化に伴いその測定精度が悪化する評価値の測定がより正確に行われるようにする。【解決手段】上記評価値の測定時に対応して、通常再生時に設定される重畳量よりも大きな重畳量が高周波重畳部に設定されるようにする。これにより、β値や変調度などの信号品質評価値の測定がより正確に行われるようにすることができる。【選択図】図３
2013004140.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光源を発光駆動するための駆動信号を生成する駆動信号生成部と、
上記駆動信号に対し高周波重畳を行う高周波重畳部と、
上記レーザ光源より発光されたレーザ光の光記録媒体からの戻り光を受光する受光部と、
上記受光部により得られる受光信号に基づき、信号品質の評価指標となり且つスクープ率の悪化に伴いその値の測定精度が悪化傾向となる評価信号を生成する評価信号生成部と、
上記高周波重畳部の高周波重畳量を指示するための高周波重畳量情報として、通常再生時に設定されるべき高周波重畳量に対応する第１の高周波重畳量情報と、当該第１の高周波重畳量情報が表す高周波重畳量よりも大きな高周波重畳量に対応する第２の高周波重畳量情報とが記憶される記憶部と、
上記評価信号に基づく評価値の測定時に対応して、上記第２の高周波重畳量情報に基づく高周波重畳量が上記高周波重畳部に設定されるように制御する重畳量制御部と
を備える光記録媒体駆動装置。
【請求項２】
上記受光信号に基づき上記光記録媒体の記録情報を再生する再生部を備えると共に、
上記重畳量制御部は、
上記再生部による情報再生のリトライ時に対応して、上記通常再生時に設定されるべき高周波重畳量よりも大きな高周波重畳量が上記高周波重畳部に設定されるように制御する
請求項１に記載の光記録媒体駆動装置。
【請求項３】
上記レーザ光の発光パワーが一定となるように上記駆動信号のレベルを調整するＡＰＣ（Automatic Power Control）制御部を備えると共に、
上記重畳量制御部は、
上記高周波重畳部の高周波重畳量指示値を下げていった際に上記駆動信号のレベルが一定に転じるときの高周波重畳量指示値としての下限重畳指示値を探索し、当該探索により求めた下限重畳量指示値と、上記第１又は第２の高周波重畳量情報とに基づき算出した高周波重畳量指示値を上記高周波重畳部に指示する
請求項１に記載の光記録媒体駆動装置。
【請求項４】
上記第１及び第２の高周波重畳量情報は、所定の上記下限重畳量指示値からのオフセット値として設定された情報であり、
上記重畳量制御部は、
上記探索により求めた下限重畳量指示値に上記第１又は第２の高周波重畳量情報が表すオフセット値を与えた高周波重畳量指示値を上記高周波重畳部に指示する
請求項３に記載の光記録媒体駆動装置。
【請求項５】
上記評価信号生成部は、上記評価信号としてβ値を表す信号を生成する請求項１に記載の光記録媒体駆動装置。
【請求項６】
上記評価信号生成部は、上記評価信号として変調度を表す信号を生成する請求項１に記載の光記録媒体駆動装置。
【請求項７】
上記評価信号生成部は、上記評価信号としてＲＦ信号を生成する請求項１に記載の光記録媒体駆動装置。
【請求項８】
レーザ光源を発光駆動するための駆動信号に対する高周波重畳方法であって、
上記レーザ光源より発光されたレーザ光の光記録媒体からの戻り光についての受光信号に基づき得られる評価値であって、信号品質の評価指標となり且つスクープ率の悪化に伴いその測定精度が悪化傾向となる評価値の測定時に対応して、上記駆動信号に対する高周波重畳量を指示するための高周波重畳量情報として通常再生時に設定されるべき高周波重畳量に対応する第１の高周波重畳量情報と、当該第１の高周波重畳量情報が表す高周波重畳量よりも大きな高周波重畳量に対応する第２の高周波重畳量情報とのうちの、上記第２の高周波重畳量情報に基づく高周波重畳量が設定されるように制御する
高周波重畳方法。
【請求項９】
レーザ光源を発光駆動するための駆動信号に対する高周波重畳を行う光記録媒体駆動装置において実行されるべきプログラムであって、
上記レーザ光源より発光されたレーザ光の光記録媒体からの戻り光についての受光信号に基づき得られる評価値であって、信号品質の評価指標となり且つスクープ率の悪化に伴いその測定精度が悪化傾向となる評価値の測定時に対応して、上記駆動信号に対する高周波重畳量を指示するための高周波重畳量情報として通常再生時に設定されるべき高周波重畳量に対応する第１の高周波重畳量情報と、当該第１の高周波重畳量情報が表す高周波重畳量よりも大きな高周波重畳量に対応する第２の高周波重畳量情報とのうちの、上記第２の高周波重畳量情報に基づく高周波重畳量が設定されるように制御する重畳量制御処理
を上記光記録媒体駆動装置に実行させるプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本技術は、光記録媒体についての少なくとも再生を行う光記録媒体駆動装置として、レーザ駆動電流に対する高周波重畳機能を有する光記録媒体駆動装置とその高周波重畳方法に関する。また、上記光記録媒体駆動装置において実行されるべきプログラムに関する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００２】
【特許文献１】特開２０００−１４９３０２号公報
【背景技術】
【０００３】
例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-lay Disc：登録商標）などの光ディスク記録媒体（以下、光ディスクとも表記）が広く普及している。
【０００４】
これら光ディスクについて記録や再生を行う光記録媒体駆動装置では、レーザ光の発光駆動に際して、リードパワーのような低いパワー発光をさせる場合にレーザ駆動電流に高周波重畳を掛けることで、戻り光ノイズを軽減して安定した発光動作が得られるようにするものがある（例えば上記特許文献１を参照）。
【０００５】
ここで、高周波重畳量が過小であると、データ再生能力の悪化を招いたり、スクープ率（記録マーク及びスペース部の反射光量の明暗によってレーザ出射光量が変動する比率）が悪化してβ値や変調度といった記録信号品質等についての評価値を正確に測定できないという問題が生じる。
この意味で、高周波重畳量は大であることが望ましいと言える。
【０００６】
但し、高周波重畳量を大とすると、不要輻射ノイズが増大してしまうという問題が生じる。このため従来では、不要輻射ノイズとのトレードオフで、高周波重畳量を設定するものとされている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ここで、不要輻射ノイズを考慮すると、法規制遵守のため、比較的大きなマージンをとった低めの高周波重畳量が設定される傾向となる。
しかしながらその場合には、スクープ率を十分に改善することができず、上述のβ値や変調度といった評価値の測定を正確に行うことができないという事態が生じ得る。
【０００８】
本技術はかかる問題点に鑑み為されたものであり、不要輻射ノイズについての規制を考慮しつつ、β値や変調度などの、スクープ率の悪化に伴いその測定精度が悪化する評価値の測定がより正確に行われるようにすることをその課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題の解決のため、本技術では光記録媒体駆動装置として以下のように構成することとした。
つまり、本技術の光記録媒体駆動装置は、レーザ光源を発光駆動するための駆動信号を生成する駆動信号生成部を備える。
また、上記駆動信号に対し高周波重畳を行う高周波重畳部を備える。
また、上記レーザ光源より発光されたレーザ光の光記録媒体からの戻り光を受光する受光部を備える。
また、上記受光部により得られる受光信号に基づき、信号品質の評価指標となり且つスクープ率の悪化に伴いその値の測定精度が悪化傾向となる評価信号を生成する評価信号生成部を備える。
また、上記高周波重畳部の高周波重畳量を指示するための高周波重畳量情報として、通常再生時に設定されるべき高周波重畳量に対応する第１の高周波重畳量情報と、当該第１の高周波重畳量情報が表す高周波重畳量よりも大きな高周波重畳量に対応する第２の高周波重畳量情報とが記憶される記憶部を備える。
また、上記評価信号に基づく評価値の測定時に対応して、上記第２の高周波重畳量情報に基づく高周波重畳量が上記高周波重畳部に設定されるように制御する重畳量制御部を備えるものである。
【００１０】
上記のように本技術では、スクープ率の悪化に伴いその測定精度が悪化傾向となる評価値の測定時に対応して、通常再生時に設定される重畳量よりも大きな重畳量が高周波重畳部に設定されるようにしている。これにより、例えばβ値や変調度などの信号品質評価値の測定がより正確に行われるようにすることができる。
なお、不要輻射ノイズの規制値は時間平均的なものであるため、上記のように評価値測定時としての一時的な期間だけ重畳量を増大させたとしても、法規制の遵守は可能である。
【発明の効果】
【００１１】
本技術によれば、不要輻射ノイズについての規制を考慮しつつ、β値や変調度などの、スクープ率の悪化に伴いその測定精度が悪化する評価値の測定がより正確に行われるようにすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】第１の実施の形態の光記録媒体駆動装置の内部構成を示した図である。
【図２】レーザ発光に係る部分の構成を示した図である。
【図３】第１の実施の形態の高周波重畳手法（評価値測定時の増量）を実現するために実行されるべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
【図４】第１の実施の形態の高周波重畳手法（データリードのリトライ時の増量）を実現するために実行されるべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
【図５】第２の実施の形態の光記録媒体駆動装置の内部構成を示した図である。
【図６】重畳量指示値とレーザ駆動電圧との関係を示した図である。
【図７】第２の実施の形態の高周波重畳手法について説明するための図である。
【図８】第２の実施の形態の高周波重畳手法を実現するために実行されるべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
【図９】第２の実施の形態の高周波重畳手法を実現するための他の例について説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本技術に係る実施の形態について説明する。
なお、説明は以下の順序で行う。
＜１．第１の実施の形態＞
［1-1．光記録媒体駆動装置の構成例］
［1-2．第１の実施の形態の高周波重畳手法］
［1-3．処理手順］
＜２．第２の実施の形態＞
＜３．変形例＞
【００１４】
＜１．第１の実施の形態＞
［1-1．光記録媒体駆動装置の構成例］
図１は、本技術に係る第１の実施の形態としての光記録媒体駆動装置（以下、光ディスク装置１とする）の内部構成を示している。
先ず、図中の光ディスクＤは、円盤状の光記録媒体（光ディスク記録媒体）である。ここで、光記録媒体とは、光の照射により情報の記録又は再生が行われる記録媒体を指す。
【００１５】
光ディスクＤは、光ディスク装置１に装填されると、そのセンターホールがクランプされた状態で図中のスピンドルモータ（ＳＰＭ）２により例えばＣＬＶ（Constant Linear Velocity：線速度一定）方式等の所定の回転制御方式に従って回転駆動される。
【００１６】
光ディスク装置１には、回転駆動される光ディスクＤに対して情報の記録／再生を行うためのレーザ光の照射、及び光ディスクＤに照射された当該レーザ光の反射光（戻り光）を受光するための光学ピックアップＯＰが設けられる。
【００１７】
光学ピックアップＯＰ内には、上記レーザ光の光源となる半導体レーザ（後述するレーザダイオード２０）が設けられる。
また、光学ピックアップＯＰ内には、上記レーザ光を光ディスクＤに集光するための対物レンズ３、及び当該対物レンズ３を光ディスクＤに接離する方向（フォーカス方向）と半径方向（トラッキング方向）とに変位可能に保持し且つ対物レンズ３を光軸に対し傾ける３軸アクチュエータ４が設けられる。
また、光学ピックアップＯＰ内には、対物レンズ３を介して得られる光ディスクＤからの反射光を受光するためのフォトディテクタを具備する受光部が備えられる。
なお、光学ピックアップＯＰ内にはレーザダイオード２０を発光駆動するための駆動回路（後述するレーザ駆動回路２１）や図中のＡＰＣ（Automatic Power Control）回路１０によるＡＰＣ処理で用いられる受光信号ＤＴ-Frを得るためのフロントモニタ（後述するフロントモニタ２２）が設けられるが、これらについては図２により改めて説明する。
【００１８】
光学ピックアップＯＰにおける上記受光部により得られた受光信号（受光信号ＤＴとする）は、信号生成回路５に供給される。
信号生成回路５は、受光信号ＤＴに基づき、所定の演算処理により必要な信号を生成する。
例えば再生データを得るための高周波信号（再生データ信号：以下ＲＦ信号と表記）、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ、及びトラッキングエラー信号ＴＥを生成する。ここで、フォーカスエラー信号ＦＥは光ディスクＤに形成された記録面（反射面）に対するレーザ光の合焦位置の誤差を表す信号である。またトラッキングエラー信号ＴＥは、上記記録面に形成されたトラックに対する上記レーザ光の照射スポットのトラッキング方向における位置誤差を表す信号となる。
また信号生成回路５は、β値及び変調度ｍｏｄとしての評価値（評価信号）を生成する。
ここで、
β＝（Ａ＋Ｂ）／（Ａ−Ｂ）
ｍｏｄ＝（Ａ'−Ｂ'）／Ａ'
である。ただし、Ａ、ＢはそれぞれＡＣカップリング後（ＤＣカット後）のＲＦ信号の最大値、最小値であり、Ａ’、Ｂ’はそれぞれＡＣカップリング前のＲＦ信号の最大値、最小値である。
【００１９】
信号生成回路５が生成したＲＦ信号は、再生処理部６に供給される。再生処理部６は、ＲＦ信号についての２値化処理やエラー訂正処理等の再生処理（データリード処理）を行い、再生データを得る。
またＲＦ信号は、コントローラ１１に供給されて、その振幅値が例えばＦＢ調整時等（ＦＢ：フォーカスバイアス）の評価値として用いられる。
【００２０】
信号生成回路５が生成したフォーカスエラー信号ＦＥ、及びトラッキングエラー信号ＴＥは、サーボ回路７へ供給される。
サーボ回路７は、これらフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥに基づき、フォーカス、トラッキングの各サーボ制御を実現する。
具体的にサーボ回路７は、フォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥに基づきフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号をそれぞれ生成し、これらをアクチュエータドライバ８に与える。
アクチュエータドライバ８は、これらフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号に基づき生成したフォーカスドライブ信号、トラッキングドライブ信号により、３軸アクチュエータ４のフォーカスコイル、トラッキングコイルをそれぞれ駆動する。これにより、３軸アクチュエータ４→信号生成回路５→サーボ回路７→３軸ドライバ８→３軸アクチュエータ４・・・によるフォーカスサーボループ及びトラッキングサーボループがそれぞれ形成される。
【００２１】
また、アクチュエータドライバ８は、コントローラ１１からの指示に基づき、３軸アクチュエータ８による対物レンズ３のチルト量を調整する。
【００２２】
また光ディスク装置１には、記録波形生成部９及びＡＰＣ回路１０が設けられる。
記録波形生成部９には、光ディスクＤに記録されるべき記録データが入力される。記録波形生成部９は、ライトストラテジ調整処理やＯＰＣ（Optimum Power Control）処理によって求められたパルス幅やパルス高さ等についてのパラメータに基づき、上記記録データに応じた記録波形信号ＲＣＰを生成し、これを光学ピックアップＯＰ内のレーザ駆動回路２１（後述する駆動電流制御回路２３）に対して与える。この結果、光ディスクＤに上記記録データに応じた信号記録が為される。
【００２３】
ＡＰＣ回路１０は、前述のフロントモニタ２２からの受光信号ＤＴ-Frに基づき、レーザダイオード２０による発光パワーがコントローラ１１より指示された目標パワーで一定となるようにＡＰＣ処理を行う。
【００２４】
ここで、図２に、光ディスク装置１が有するレーザ発光に係る部分の構成（主に光学ピックアップＯＰ内のレーザ発光に係る部分の構成）を示す。
図示するように光学ピックアップＯＰ内には、レーザ発光に係る構成として、レーザダイオード２０、レーザ駆動回路２１、及びフロントモニタ２２が設けられる。
またこの図２では、図１にも示されるＡＰＣ回路１０、コントローラ１１、重畳制御部１３も併せて示している。
【００２５】
レーザ駆動回路２１は、駆動電流制御回路２３と高周波重畳回路２４とを有する。
駆動電流制御回路２３は、ＡＰＣ回路１０からの駆動信号ＤＰ（駆動電圧）、及び記録時には記録波形信号ＲＣＰに基づき、レーザダイオード２０を発光駆動するためのレーザ駆動電流を生成する。当該レーザ駆動電流は、高周波重畳回路２４を介してレーザダイオード２０に供給される。
【００２６】
高周波重畳回路２４は、上記レーザ駆動電流に対し高周波電流を重畳する。高周波電流の重畳は、戻り光ノイズの軽減のため行われるものである。
この場合の高周波重畳回路２４は、重畳制御部１３からの指示に応じて、上記レーザ駆動電流に対する高周波電流の重畳量を変更可能に構成される。重畳制御部１３は、コントローラ１１からの指示値に応じたレベルによる重畳量指示信号を高周波重畳回路２４に与えることで、高周波電流の重畳量を制御する。
【００２７】
説明を図１に戻す。
コントローラ１１は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）を備えたマイクロコンピュータで構成され、例えば上記ＲＯＭ等に格納されたプログラムに従った処理を実行することで、光ディスク装置１の全体制御を行う。
例えば、コントローラ１１は、β値や変調度ｍｏｄとしての評価値に基づき、ＯＰＣ処理を実行して最適記録パワーを求める。当該ＯＰＣ処理で求めた最適記録パワーの情報は、記録波形生成部９に与えられる。
またコントローラ１１は、ＲＦ信号の振幅値に基づきＦＢ調整処理を実行して最適とされるＦＢ値を求める。当該ＦＢ調整処理で求めた最適ＦＢ値は、サーボ回路７に指示される。
またコントローラ１１は、ＲＦ信号の振幅値に基づきチルト調整処理を実行して最適チルト制御値を求める。求められた最適チルト制御値はアクチュエータドライバ８に指示される。
【００２８】
またコントローラ１１は、ＡＰＣ回路１０に対して目標レーザパワーの指示を行う。
またコントローラ１１は、重畳制御部１３に対する指示を行うことで高周波重畳回路２４による高周波重畳量を制御する。
【００２９】
また、コントローラ１１に対しては、メモリ１２（不揮発性メモリ）が設けられる。
図示するようにメモリ１２には、制御プログラム１２ａ、通常指示値１２ｂ、増量指示値１２ｃが記憶されている。
制御プログラム１２ａは、コントローラ１１に後の図３や図４に示す処理動作を実行させるためのプログラムとなる。
なお、通常指示値１２ｂ、増量指示値１２ｃについては後に改めて説明する。
【００３０】
ここで、上記説明から理解されるように、本実施の形態の光ディスク装置１は、コントローラ１１によって高周波重畳回路２４における高周波重畳量を可変設定できるように構成されている。
従来の光ディスク装置には、高周波重畳量として単に実験的に求めた固定値を設定するものがある。しかし、高周波重畳量を固定値とした場合、光ディスク装置を入れる筐体（例えばパーソナルコンピュータ等）によっては、高周波重畳に伴う不要輻射ノイズが規制値に入らないという事態が生じる虞があった。このため、ＧＮＤ強化や電波吸収シートの追加等といった高コストな対策を採らざるを得なくなるケースがあった。
【００３１】
これに対し、上記のように高周波重畳量を調整可能とする構成によれば、個体ごとに高周波重畳量を調整し得るため、上記のような高コストな対策を講じる必要性は無いものとできる。
【００３２】
［1-2．第１の実施の形態の高周波重畳手法］
ここで、前述もしたように高周波重畳量が過小であると、データ再生能力が悪化したり、スクープ率（マーク又はピットの形成部分とランド部分の反射光量の比）が悪化してβ値や変調度ｍｏｄといった信号品質評価値を正確に測定できないという問題が生じる。
一方で、高周波重畳量を大とすると、不要輻射ノイズが増大するという問題が生じる。
【００３３】
そこで本実施の形態では、前述のように高周波重畳回路２４による高周波重畳量を可変設定可能に構成した上で、β値や変調度ｍｏｄといった信号品質評価値の測定時に、通常再生時における重畳量よりも大きな重畳量を設定することで、不要輻射ノイズについての規制を遵守しつつ、評価値の測定が正確に行われるようにする。
【００３４】
本実施の形態では、通常再生時に対応して設定されるべき高周波重畳量を指示するための情報と、上記評価値の測定時に対応して設定されるべき高周波重畳量を指示するための情報とが予め実験的に求められ、これらが個々の光ディスク装置１に対して予め記憶される。具体的には、図１に示した通常指示値１２ｂ、増量指示値１２ｃである。
【００３５】
ここで、これら通常指示値１２ｂ、増量指示値１２ｃを求めるにあたっては、光ディスク装置１（光学ピックアップＯＰ）の個体ごとのばらつきを考慮すべきとなる。仮に当該ばらつきを考慮せずにそれらの値を定めた場合には、個体によっては不要輻射ノイズを十分に低い値に抑えることができない等の問題が生じる虞があるからである。
この点を考慮し、これら通常指示値１２ｂ、増量指示値１２ｃについては、例えばセンター品（仕様上、中間的な特性を有する製品）などとしての基準となる光ディスク装置１（基準製品とする）の特性に応じた値を、予め実験やシミュレーション等により求めておくなど、個体ばらつきを最大限吸収できるような値を求めておき、その値を各光ディスク装置１に記憶させておくものとする。
このとき、通常指示値１２ｂについては、これに基づく高周波重畳量が設定された場合における不要輻射ノイズの値が規制値に対して十分に低いものとなることを目安に求めればよい。
また、増量指示値１２ｃについては、少なくとも通常指示値１２ｂに基づき設定される高周波重畳量よりも大となる高周波重畳量が得られるように定めればよい。
【００３６】
なお確認のために述べておくと、不要輻射ノイズの規制値は時間平均的な値であるため、評価値測定時としての一時的な期間だけ重畳量を増大させたとしても、法規制の遵守は可能である。
換言すれば、増量指示値１２ｃについては、その不要輻射ノイズの値が規制値に収まるということを条件に定めればよいと言える。
なお、不要輻射ノイズの規制値は、ＱＰ測定の規格に基づくＱＰ検波器の充電時定数、放電時定数、ＱＰ指示計の時定数に基づく測定値となる。従って、不要輻射ノイズの値を規制値に収めるためには、重畳量の調整はもちろん、重畳期間を短くすることも有効となる。
【００３７】
ここで、高周波重畳量の低下、換言すればスクープ率の悪化に応じてその測定精度に悪影響が与えられる信号品質評価値としては、β値や変調度ｍｏｄの他に、ＲＦ信号振幅値も挙げることができる。
このため本実施の形態では、例えばＦＢ調整処理時やチルト調整処理時におけるＲＦ信号振幅値の測定時にも対応して、高周波重畳量を一時的に増大させるということも併せて行う。
【００３８】
また、不要輻射ノイズを考慮すると、データ再生能力がその分犠牲となる。本実施の形態ではこの点を考慮し、データ再生（データリード）のリトライが発生した場合にも、通常指示値１２ｂから増量指示値１２ｃに切り替えることで、高周波重畳量を一時的に増大させるという手法を採る。
このことで、リトライ時の再生能力を向上させて、リトライ成功率の向上を図ることができる。
【００３９】
［1-3．処理手順］
図３及び図４は、上記により説明した第１の実施の形態の高周波重畳手法を実現するために実行されるべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
図３において、図３Ａはβ値又は変調度ｍｏｄの測定時に対応して実行されるべき処理手順を、図３ＢはＲＦ信号振幅の測定時に対応して実行されるべき処理手順をそれぞれ示している。
また図４は、データリードのリトライ時に対応して実行されるべき処理手順を示すものである。
なお、これら図３，図４に示す処理は、図１に示したコントローラ１１が制御プログラム１２ａに基づき実行するものである。
【００４０】
先ず、図３Ａにおいて、ステップＳ１０１では、β値又は変調度ｍｏｄの測定を開始すべき状態となるまで待機する。すなわち、例えばＯＰＣ処理時における評価値測定としての、β値又は変調度ｍｏｄの測定を開始すべき状態となるまで待機するものである。
【００４１】
β値又は変調度ｍｏｄの測定を開始すべき状態となった場合には、ステップＳ１０２において、増量指示値１２ｃを出力する。すなわち、増量指示値１２ｃを重畳制御部１３に出力することで、高周波重畳回路２４において増量指示値１２ｃに応じた重畳量による高周波重畳が行われるようにするものである。
これにより、高周波重畳回路２４による高周波重畳量が、通常指示値１２ｂに応じた重畳量から増大される。
【００４２】
続くステップＳ１０３では、β値又は変調度ｍｏｄの測定終了まで待機する。そして、測定が終了したことに応じ、ステップＳ１０４において通常指示値１２ｂを出力する。すなわち、高周波重畳回路２４による高周波重畳量を通常再生時に対応した重畳量に戻すものである。
当該ステップＳ１０４の処理の実行後、この図に示す処理は終了となる。
【００４３】
続いて、図３Ｂにおいて、ステップＳ２０１では、ＲＦ信号振幅の測定を開始すべき状態となるまで待機する。すなわち、例えばＦＢ調整処理時やチルト調整処理時における評価値測定としての、ＲＦ信号振幅の測定を開始すべき状態となるまで待機するものである。
以降のステップＳ２０２〜ステップＳ２０４の処理については、β値又は変調度ｍｏｄがＲＦ信号振幅値に置き換わる以外はステップＳ１０２〜Ｓ１０４と同様となるので、その説明は省略する。
【００４４】
また、図４に示す処理としては、先ずステップＳ３０１において、データリードのリトライの発生まで待機する。
そして、当該リトライの発生に応じ、ステップＳ３０２において、増量指示値１２ｃを出力する。
【００４５】
増量指示値１２ｃを出力した後は、ステップＳ３０３においてリトライの完了まで待機し、当該リトライの完了に応じて、ステップＳ３０４において通常指示値１２ｂを出力する。
当該ステップＳ３０４の処理の実行後、この図に示す処理は終了となる。
【００４６】
上記のように本実施の形態では、β値や変調度ｍｏｄ、或いはＲＦ信号振幅等といった、スクープ率の悪化に伴いその測定精度が悪化傾向となる評価値の測定時に対応して、通常再生時に設定される重畳量よりも大きな重畳量が高周波重畳回路２４に設定されるようにしている。
これにより、不要輻射ノイズの規制を考慮しつつ、上記評価値の測定がより正確に行われるようにすることができる。
【００４７】
また本実施の形態によれば、データリードのリトライ時にも対応して重畳量を一時的に増大させるものとしている。このことで、リトライの成功率を向上できる。
なお、このことは換言すれば、通常再生時における重畳量を下げる設定が容易に可能となることを意味する。このように通常再生時の重畳量を下げる設定が容易に可能となれば、その分、不要輻射ノイズの値を抑えることができるので、この面でも、前述したような電波吸収シートの追加等の高コストな対策を講じる必要性は無いものとできる。
【００４８】
＜２．第２の実施の形態＞
続いて、第２の実施の形態について説明する。
図５は、第２の実施の形態の光記録媒体駆動装置（光ディスク装置３０とする）の内部構成を示している。
なお図５において、既にこれまでで説明済みとなった部分と同様となる部分については同一符号を付して説明を省略する。
【００４９】
先の図１と比較して分かるように、第２の実施の形態の光ディスク装置３０は、第１の実施の形態の光ディスク装置１との比較で、ＡＰＣ回路１０による駆動信号ＤＰ（駆動電圧）がコントローラ１１に対しても入力され、またメモリ１２内において、制御プログラム１２ａに代えて制御プログラム１２ｄが記憶され、且つ基準下限値Ｍｎ_refが新たに記憶される点が異なる。
制御プログラム１２ｄは、コントローラ１１に後の図８に示す処理を実行させるためのプログラムとなる。
なお、基準下限値Ｍｎ_refについては以下で述べる。
【００５０】
ここで、コントローラ１１による高周波重畳量についての指示値と、実際にレーザ駆動電流に与えられる高周波電流の重畳量との関係は、個体ごとにばらつくことがある。
図６は、高周波重畳量指示値とＬＤ駆動電圧（駆動信号ＤＰ）との関係を示した図である。なおこの図に示す関係は、ＡＰＣ処理が実行されていることを前提としたものである。
【００５１】
この図６に示すように、高周波重畳量指示値を下げていくと、ＬＤ駆動電圧は徐々に上昇する傾向を示す。そして、高周波重畳量指示値が或る値まで低下すると、ＬＤ駆動電圧の上昇が停止し、一定に転じることになる。
ここで、このように高周波重畳量指示値を下げていった際にＬＤ駆動電圧のレベルが一定に転じる際の高周波重畳量指示値を、重畳量下限値Ｍｎと表記（単に下限値Ｍｎとも表記）する。
【００５２】
当該重畳量下限値Ｍｎが、個体ごと（レーザ駆動回路２１としてのＩＣごと）にばらつくことに起因して、高周波重畳回路２４に対する重畳量指示値と実際の高周波重畳量との関係が個体ごとにばらつくものである。
また、このばらつきは、同一個体であっても、温度変化や経年変化により生じ得ることになる。
【００５３】
第２の実施の形態は、このような重畳量下限値Ｍｎのばらつき（重畳量指示値と実際の重畳量との関係のばらつき）を吸収するための手法を提案するものである。
【００５４】
図７は、第２の実施の形態の高周波重畳手法について説明するための図である。
先ず図７Ａにより、下限値Ｍｎと通常指示値１２ｂ・増量指示値１２ｃとの関係について説明する。
先の第１の実施の形態の説明からも理解されるように、通常指示値１２ｂ、増量指示値１２ｃについては、センター品等の基準製品の特性を基準として、前述の条件を満たすようにその具体的な値を定めることで、個体ごとのばらつきを最大限吸収できるように図っている。
しかしながら、実際には上記のように個体ごとに下限値Ｍｎがばらつくため、これら通常指示値１２ｂ・増量指示値１２ｃとしての固定値を使用すると、或る個体では実際の重畳量が小さく、また別の個体では実際の重畳量が大きくなるといった事態が生じ得る。
【００５５】
ここで、図７Ａでは、センター品等の基準製品における下限値Ｍｎ（基準下限値Ｍｎ_refと表記）を例示している。
前述のように通常指示値１２ｂ・増量指示値１２ｃは、基準製品の特性を基準として定められるものである。このとき、実際の高周波重畳量は、図中に斜線で示した部分と表すことができる。この重畳量を、図のように重畳量Ｍrとおく。
この重畳量Ｍrが各個体において設定されるようにすれば、個体ごとのばらつきは吸収されることになる。
【００５６】
図７Ｂは、基準製品とは別の実際の製品についての下限値Ｍｎと通常指示値１２ｂ・増量指示値１２ｃとの関係を例示している。
この製品においては、下限値Ｍｎが、基準製品における基準下限値Ｍｎ_refよりも「α」だけ低い値となっている。このような実際の製品についての下限値Ｍｎを、図のように下限値Ｍｎ_Aと表記する。
【００５７】
この図７Ｂに示す製品において、予め設定された通常指示値１２ｂ・増量指示値１２ｃをそのまま使用した場合には、実際の高周波重畳量（斜線部）は、適正な重畳量Ｍofsに対して図中の「α」に応じた分だけ大きくなってしまうことになる。
【００５８】
そこで、図７Ｃに示すように、通常指示値１２ｂ・増量指示値１２ｃを、上記αに基づき校正することで、適正な重畳量Ｍｒが得られるようにする。
具体的に、上記αは、実際に測定される下限値Ｍｎと、基準製品における基準下限値Ｍｎ_refとの差分である。
先の図５に示したように、第２の実施の形態の光ディスク装置３０では、基準下限値Ｍｎ_refを予めメモリ１２に記憶させておくものとしている。
校正にあたっては、先ずは下限値Ｍｎを実測し、当該下限値Ｍｎと、基準下限値Ｍｎ_refとの差分αを算出する。そして、この差分αに基づき、通常指示値１２ｂ及び増量指示値１２ｃを校正する。具体的には、「通常指示値１２ｂ−α」「増量指示値１２ｃ−α」をそれぞれ計算する。
【００５９】
第２の実施の形態では、このように基準差分値Ｍｎ_refと実測した下限値Ｍｎとの差分αに基づき校正した通常指示値１２ｂ、増量指示値１２ｃを、それぞれ対応するタイミング（ステップＳ１０２、Ｓ１０４、Ｓ２０２、Ｓ２０４、Ｓ３０２、Ｓ３０４）で重畳制御部１３に出力（指示）する。
これにより、個体ごとのばらつきや温度変化・経年変化によるばらつきを適切に吸収することができる。
【００６０】
ここで、個体ごとのばらつきのみを考慮するのであれば、通常指示値１２ｂ・増量指示値１２ｃの校正は、少なくとも光ディスク装置３０の初回起動時にのみ実行すればよいと言える。
温度変化・経年変化によるばらつきも吸収するとしたときは、通常指示値１２ｂ・増量指示値１２ｃの校正は例えば光ディスクＤの装填ごと、所定時間ごと、所定の温度差が生じたごと等に実行することが有効である。
【００６１】
図８は、上記により説明した第２の実施の形態の高周波重畳手法を実現するために実行されるべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
なお、図８に示す処理は図５に示したコントローラ１１が制御プログラム１２ｄに基づき実行するものである。
【００６２】
図８において、ステップＳ４０１では、下限値Ｍｎ_Aの測定条件が成立するまで待機する。具体的には、前述した初回起動時、或いは光ディスクＤの装填、所定時間の経過、所定以上の温度差が生じた等、予め下限値Ｍｎ_Aの測定を実行すべきとして定められた所定の条件が成立するまで待機するものである。
【００６３】
下限値Ｍｎ_Aの測定条件が成立したことに応じては、ステップＳ４０２において、下限値Ｍｎ_Aの探索処理を行う。具体的には、ＡＰＣ回路１０によるＡＰＣが実行される下で、駆動信号ＤＰのレベルをモニタしつつ、重畳制御部１３に出力する指示値を徐々に低下させていくことで、駆動信号ＤＰのレベルが一定に転じたときの指示値を特定する。
【００６４】
ステップＳ４０２による探索処理の実行後は、ステップＳ４０３において、探索により求めた下限値Ｍｎ_Aを記憶するための処理を実行する。例えば、メモリ１２等の所要の記憶手段に下限値Ｍｎ_Aを記憶させる。
【００６５】
続くステップＳ４０４では、基準下限値Ｍｎ_refと下限値Ｍｎ_Aとの差分αを計算する。
そして次のステップＳ４０５において、差分αに基づき重畳量指示値を校正する。具体的には、「通常指示値１２ｂ−α」「増量指示値１２ｃ−α」により、通常指示値１２ｂ、増量指示値１２ｃをそれぞれ校正する。
このステップＳ４０４の処理の実行後、この図に示す処理は終了となる。
【００６６】
なお、図中に破線で囲ったステップＳ４０４及びＳ４０５の校正処理については、上記のように下限値Ｍｎ_Aの測定後に続けて実行する必要性はなく、少なくとも重畳量指示値（通常指示値１２ｂ又は増量指示値１２ｃ）を設定する前までに実行すればよいものである。
【００６７】
上記により説明した第２の実施の形態の高周波重畳手法によれば、各光ディスク装置３０においてその個体の特性に応じた重畳量指示値の校正ができるので、第１の実施の形態との比較でより高精度でピンポイントな制御が可能となる。
このため、不要輻射ノイズの規制に対して、第１の実施の形態の場合よりもマージンを少なく見積もることができる。つまりその分、再生能力や評価値の測定精度の向上を図るようにできる。
或いはマージンを不要輻射ノイズの抑制側に振るものとすれば、第１の実施の形態の場合よりも不要輻射ノイズのさらなる低減を図ることができることにもなる。
【００６８】
また第２の実施の形態によれば、温度変化や経年変化によるばらつきについても吸収することができる。
【００６９】
ところで、下限値Ｍｎ_Aの実測によってばらつきの吸収を図るための手法としては、上記により説明した手法に限定されるべきものではない。
【００７０】
図９は、第２の実施の形態の高周波重畳手法を実現するための他の例について説明するための図である。
図９Ａは、図７Ａと同様、センター品等の基準製品における基準下限値Ｍｎ_refを例示している。また図９Ｂは図７Ｂと同様にばらつきが生じた製品の下限値Ｍｎ_Aを例示している。
ここで、先の図７を参照して分かるように、実際の重畳量にばらつきが生じる要因は、個体ごとの特性や温度変化・経年変化に起因して、下限値Ｍｎがばらつくことにある。
そこで、図９Ｂのように、実際の製品で測定した下限値Ｍｎ_Aに対し、重畳量Ｍｒ（基準下限値Ｍｎ_refからのオフセット）を加算するものとすれば、図７にて説明した手法と同様の結果を得ることができる。
【００７１】
具体的に、この手法においては、基準製品の特性に基づき実験等により求めた重畳量Ｍｒに相当する重畳量指示値を、オフセット値Ｍofsとして各光ディスク装置３０に記憶させておく。すなわち、通常指示値１２ｂについてのオフセット値Ｍofs（Ｍofs-1とする）と、増量指示値１２ｃについてのオフセット値Ｍofs（Ｍofs-2とする）とを予め記憶させておく。
この場合の光ディスク装置３０は、測定条件の成立に応じて下限値Ｍｎ_Aの測定を行い、当該下限値Ｍｎ_Aを例えばメモリ１２等に記憶させる。
そして、実際に通常指示値１２ｂ又は増量指示値１２ｃを設定すべき状態になったことに応じて、上記記憶させておいた下限値Ｍｎ_Aに上記オフセット値Ｍofsを加算して得た重畳量指示値を、ＤＡＣ１３を介して高周波重畳回路２４に指示する。具体的に、通常指示値１２ｂを設定すべき状態となった際には、下限値Ｍｎ_Aにオフセット値Ｍofs-1を加算して得た重畳量指示値を指示し、増量指示値１２ｃを設定すべき状態となった際には、下限値Ｍｎ_Aにオフセット値Ｍofs-2を加算して得た重畳量指示値を指示する。
これにより、図７にて説明した手法と同様に個体ごとのばらつきや温度変化・経年変化によるばらつきを吸収することができる。
【００７２】
なお、上記では実際に重畳量指示値を設定すべき状態となったことに応じて「下限値Ｍｎ_A＋オフセット値Ｍofs」を計算するものとしたが、下限値Ｍｎ_Aの測定に続けて「下限値Ｍｎ_A＋オフセット値Ｍofs」を計算し、その値をメモリ１２等に保持しておくものとしてもよい。
【００７３】
＜３．変形例＞
以上、本技術に係る実施の形態について説明したが、本技術はこれまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
ここで、例えば反射率の高い色素系のディスクの場合には、これよりも反射率の低い相変化ディスクの場合と比較して最適とされる高周波重畳量指示値が異なることが考えられる。
そこで、反射率の異なるディスク種別ごとに対応する通常指示値１２ｂ、増量指示値１２ｃ（或いはオフセット値Ｍofs）を記憶させておき、装填された光ディスクＤのディスク種別に応じた通常指示値１２ｂ、増量指示値１２ｃ（或いは下限値Ｍｎ_A＋Ｍofs）を指示するように構成することもできる。
【００７４】
また、これまでの説明では、β値や変調度ｍｏｄ等といった信号評価値の測定時とデータリードのリトライ時とで、同じ増量指示値１２ｃによる高周波重畳量を設定するものとしたが、β値や変調度ｍｏｄ等の信号評価値の測定精度を最適とする高周波重畳量と、データ再生能力を最適とする高周波重畳量とが異なる場合もあり、共通の増量指示値１２ｃによる高周波重畳を行うと、評価値の測定精度又はリトライ時の再生能力の何れか犠牲となってしまう可能性がある。
そこで、評価値測定時に設定すべき増量指示値（第１の増量指示値とする）と、データリードのリトライ時に設定すべき増量指示値（第２の増量指示値）とを個別に求めておき且つそれらをメモリ１２等に記憶させておき、評価値測定時に対応して上記第１の増量指示値に応じた高周波重畳量を設定し、データリードのリトライ時に対応しては上記第２の増量指示値に応じた高周波重畳量を設定するように構成することもできる。
なおこの手法は、図９のようなオフセット値Ｍofsを用いる場合にも好適に適用できる。
【００７５】
また、これまでの説明では、本技術が光記録媒体についての記録と再生の双方が可能とされた光記録媒体駆動装置に適用される場合を例示したが、本技術は、光記録媒体についての少なくとも再生を行う光記録媒体駆動装置に好適に適用できる。
【００７６】
また、本技術は、以下に示す構成とすることも可能である。
（１）
レーザ光源を発光駆動するための駆動信号を生成する駆動信号生成部と、
上記駆動信号に対し高周波重畳を行う高周波重畳部と、
上記レーザ光源より発光されたレーザ光の光記録媒体からの戻り光を受光する受光部と、
上記受光部により得られる受光信号に基づき、信号品質の評価指標となり且つスクープ率の悪化に伴いその値の測定精度が悪化傾向となる評価信号を生成する評価信号生成部と、
上記高周波重畳部の高周波重畳量を指示するための高周波重畳量情報として、通常再生時に設定されるべき高周波重畳量に対応する第１の高周波重畳量情報と、当該第１の高周波重畳量情報が表す高周波重畳量よりも大きな高周波重畳量に対応する第２の高周波重畳量情報とが記憶される記憶部と、
上記評価信号に基づく評価値の測定時に対応して、上記第２の高周波重畳量情報に基づく高周波重畳量が上記高周波重畳部に設定されるように制御する重畳量制御部と
を備える光記録媒体駆動装置。
（２）
上記受光信号に基づき上記光記録媒体の記録情報を再生する再生部を備えると共に、
上記重畳量制御部は、
上記再生部による情報再生のリトライ時に対応して、上記通常再生時に設定されるべき高周波重畳量よりも大きな高周波重畳量が上記高周波重畳部に設定されるように制御する
上記（１）に記載の光記録媒体駆動装置。
（３）
上記レーザ光の発光パワーが一定となるように上記駆動信号のレベルを調整するＡＰＣ（Automatic Power Control）制御部を備えると共に、
上記重畳量制御部は、
上記高周波重畳部の高周波重畳量指示値を低下させていった際に上記駆動信号のレベルが一定に転じるときの高周波重畳量指示値としての下限重畳指示値を探索し、当該探索により求めた下限重畳量指示値と、上記第１又は第２の高周波重畳量情報とに基づき算出した高周波重畳量指示値を上記高周波重畳部に指示する
上記（１）又は（２）に記載の光記録媒体駆動装置。
（４）
上記第１及び第２の高周波重畳量情報は、所定の上記下限重畳量指示値からのオフセット値として設定された情報であり、
上記重畳量制御部は、
上記探索により求めた下限重畳量指示値に上記第１又は第２の高周波重畳量情報が表すオフセット値を与えた高周波重畳量指示値を上記高周波重畳部に指示する
上記（３）に記載の光記録媒体駆動装置。
（５）
上記評価信号生成部は、上記評価信号としてβ値を表す信号を生成する上記（１）〜（４）に記載の光記録媒体駆動装置。
（６）
上記評価信号生成部は、上記評価信号として変調度を表す信号を生成する上記（１）〜（４）に記載の光記録媒体駆動装置。
（７）
上記評価信号生成部は、上記評価信号としてＲＦ信号を生成する上記（１）〜（４）に記載の光記録媒体駆動装置。
【符号の説明】
【００７７】
１,３０  光ディスク装置、２  スピンドルモータ（ＳＰＭ）、３  対物レンズ、４  ３軸アクチュエータ、５  信号生成回路、６  再生処理部、７  サーボ回路、８  アクチュエータドライバ、１０  ＡＰＣ回路、１１  コントローラ、１２  メモリ、１２ａ,１２ｄ  制御プログラム、１２ｂ  通常指示値、１２ｃ  増量指示値、１３  重畳制御部、２０  レーザダイオード、２１  レーザ駆動回路、２２  フロントモニタ、２３  駆動電流制御回路、２４  高周波重畳回路、Ｍｎ_ref  基準下限値、ＯＰ  光学ピックアップ、Ｄ  光ディスク
【図１】
2013004140.tif 000003
【図２】
2013004140.tif 000004
【図３】
2013004140.tif 000005
【図４】
2013004140.tif 000006
【図５】
2013004140.tif 000007
【図６】
2013004140.tif 000008
【図７】
2013004140.tif 000009
【図８】
2013004140.tif 000010
【図９】
2013004140.tif 000011