(57)【要約】【課題】未記録領域で行われるチルト補正の精度向上を図る。【解決手段】再生信号に基づく評価値を最良とするチルト調整値とプッシュプル信号を最大とするチルト調整値との相違情報（例えば比率情報）を予め求めておき、未記録領域ではプッシュプル信号を最大とチルト調整値を探索し、これを上記相違情報により校正してチルト補正を行う。このとき、上記相違情報を求めたときと未記録領域でのチルト探索時とでそれぞれ設定されるフォーカスバイアス値が異なると、正確なチルト補正とすることができない。このため、上記相違情報を、実際に未記録領域でチルト探索する際のフォーカスバイアス値の探索設定手法と同手法で求めたフォーカスバイアス値の設定条件下で求めておくようにする。これにより、相違情報を用いたチルト補正を、より精度良く行うことができる。【選択図】図６
2013004150.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部と、
上記対物レンズを傾けるチルト調整部と、
上記光照射／受光部が上記戻り光を受光して得られる受光信号に基づき上記対物レンズについてのフォーカスサーボ制御を行うフォーカスサーボ制御部と、
上記フォーカスサーボ制御部のフォーカスサーボ制御に伴い形成されるフォーカスサーボループにフォーカスバイアスを付与するフォーカスバイアス付与部と、
上記光照射／受光部がトラッキング方向の分割受光を行って得られる各受光信号に基づいて、これら受光信号の誤差を表すトラッキング方向誤差信号を生成するトラッキング方向誤差信号生成部と
を備えると共に、
上記チルト調整部に異なるチルト調整値を設定したときに得られる上記トラッキング方向誤差信号をそれぞれ取得した結果に基づき、上記トラッキング方向誤差信号を最大としたチルト調整値を求めるチルト調整値探索処理と、
上記光ディスク記録媒体に記録された信号の再生信号に基づいて生成される信号品質評価値を最良とするチルト調整値と、上記トラッキング方向誤差信号を最大とするチルト調整値との相違を表す相違情報であって、上記チルト調整値探索処理の実行時に上記フォーカスバイアス付与部に設定するフォーカスバイアス値についての探索設定手法と同じ探索設定手法により求めたフォーカスバイアス値の設定条件下で予め求められた上記相違情報に基づいて、上記チルト調整値探索処理で求めた上記チルト調整値を校正するチルト調整値校正処理と、
上記チルト調整値校正処理により得たチルト調整値に基づき、上記チルト調整部によるチルト調整を実行させる調整制御処理と
を実行する制御部を備える
光ディスク装置。
【請求項２】
上記相違情報は、
上記信号品質評価値を最良とするチルト調整値と上記トラッキング方向誤差信号を最大とするチルト調整値との比率情報である
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
上記フォーカスバイアス値の探索設定手法は、上記トラッキング方向誤差信号を最大とするフォーカスバイアス値を探索設定する手法とされ、
上記制御部は、上記チルト調整値探索処理の実行前に、
上記トラッキング方向誤差信号を最大とするフォーカスバイアス値を探索し、当該探索により求まったフォーカスバイアス値を上記フォーカスバイアス付与部に設定するフォーカスバイアス調整処理を実行する
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
上記フォーカスバイアス値の探索設定手法は、上記トラッキング方向誤差信号を最大とするフォーカスバイアス値を探索し、当該探索により求まったフォーカスバイアス値に第１のオフセット値を与えたフォーカスバイアス値を設定する手法とされ、
上記制御部は、上記チルト調整値探索処理の実行前に、
上記トラッキング方向誤差信号を最大とするフォーカスバイアス値を探索し、当該探索により求まったフォーカスバイアス値に上記第１のオフセット値を与えたフォーカスバイアス値を上記フォーカスバイアス付与部に設定するフォーカスバイアス調整処理を実行する
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
上記第１のオフセット値は、
当該第１のオフセット値を上記探索設定手法により探索したフォーカスバイアス値に付与したときに、上記対物レンズの傾け角度に対する上記トラッキング方向誤差信号の感度を向上させることができるように求められたものである
請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
上記第１のオフセット値は、
上記探索設定手法により求まる上記トラッキング方向誤差信号を最大とするフォーカスバイアス値の標準値を標準探索フォーカスバイアス値、
上記探索設定手法でフォーカスバイアス値を求めたときのフォーカスバイアス値の調整ばらつきをフォーカスバイアス調整ばらつき、
上記チルト調整値探索処理により目標とするチルト調整精度を最低限確保するために設定されるべきフォーカスバイアス値を精度確保可能フォーカスバイアス値としたとき、
精度確保可能フォーカスバイアス値−標準探索フォーカスバイアス値−フォーカスバイアス調整ばらつき
の値未満という条件、又は、
精度確保可能フォーカスバイアス値＋標準探索フォーカスバイアス値＋フォーカスバイアス調整ばらつき
の値より大という条件を満たすように求められたものである
請求項５に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
上記受光信号に基づき上記信号品質評価値を生成する品質評価値生成部をさらに備えると共に、
上記フォーカスバイアス値の探索設定手法は、上記信号品質評価値を最良とするフォーカスバイアス値を探索設定する手法とされ、
上記制御部は、上記チルト調整値探索処理の実行前に、
上記信号品質評価値を最良とするフォーカスバイアス値を探索し、当該探索により求まったフォーカスバイアス値を上記フォーカスバイアス付与部に設定するフォーカスバイアス調整処理を実行する
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
上記受光信号に基づき上記信号品質評価値を生成する品質評価値生成部をさらに備えると共に、
上記フォーカスバイアス値の探索設定手法は、上記信号品質評価値を最良とするフォーカスバイアス値を探索し、当該探索により求まったフォーカスバイアス値に第２のオフセット値を与えたフォーカスバイアス値を設定する手法とされ、
上記制御部は、上記チルト調整値探索処理の実行前に、
上記信号品質評価値を最良とするフォーカスバイアス値を探索し、当該探索により求まったフォーカスバイアス値に上記第２のオフセット値を与えたフォーカスバイアス値を上記フォーカスバイアス付与部に設定するフォーカスバイアス調整処理を実行する
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
上記第２のオフセット値は、
当該第２のオフセット値を上記探索設定手法により探索したフォーカスバイアス値に付与したときに、上記対物レンズの傾け角度に対する上記トラッキング方向誤差信号の感度を向上させることができるように求められたものである
請求項８に記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
上記第２のオフセット値は、
上記探索設定手法により求まる上記信号品質評価値を最良とするフォーカスバイアス値の標準値を標準探索フォーカスバイアス値、
上記探索設定手法でフォーカスバイアス値を求めたときのフォーカスバイアス値の調整ばらつきをフォーカスバイアス調整ばらつき、
上記チルト調整値探索処理により目標とするチルト調整精度を最低限確保するために設定されるべきフォーカスバイアス値を精度確保可能フォーカスバイアス値としたとき、
精度確保可能フォーカスバイアス値−標準探索フォーカスバイアス値−フォーカスバイアス調整ばらつき
の値未満という条件、又は、
精度確保可能フォーカスバイアス値＋標準探索フォーカスバイアス値＋フォーカスバイアス調整ばらつき
の値より大という条件を満たすように求められたものである
請求項９に記載の光ディスク装置。
【請求項１１】
光ディスク記録媒体に対する対物レンズを介したレーザ光照射及び戻り光の受光が可能に構成され、フォーカスバイアスの調整が可能に構成された光ディスク装置におけるチルト補正方法であって、
異なるチルト調整値を設定して上記対物レンズをそれぞれ異なる角度で傾けさせたときに得られる、トラッキング方向の分割受光を行って得られる各受光信号の誤差を表すトラッキング方向誤差信号をそれぞれ取得した結果に基づき、上記トラッキング方向誤差信号を最大としたチルト調整値を求めるチルト調整値探索手順と、
上記光ディスク記録媒体に記録された信号の再生信号に基づいて生成される信号品質評価値を最良とするチルト調整値と、上記トラッキング方向誤差信号を最大とするチルト調整値との相違を表す相違情報であって、上記チルト調整値探索手順の実行時に設定されるフォーカスバイアス値についての探索設定手法と同じ探索設定手法により求めたフォーカスバイアス値の設定条件下で予め求められた上記相違情報に基づいて、上記チルト調整値探索手順で求めた上記チルト調整値を校正するチルト調整値校正手順と、
上記チルト調整値校正手順により得たチルト調整値に基づき、上記対物レンズの傾けによるチルト調整を実行させる調整制御手順と
を有するチルト補正方法。
【請求項１２】
光ディスク記録媒体に対する対物レンズを介したレーザ光照射及び戻り光の受光が可能に構成され、フォーカスバイアスの調整が可能に構成された光ディスク装置において実行されるべきプログラムであって、
異なるチルト調整値を設定して上記対物レンズをそれぞれ異なる角度で傾けさせたときに得られる、トラッキング方向の分割受光を行って得られる各受光信号の誤差を表すトラッキング方向誤差信号をそれぞれ取得した結果に基づき、上記トラッキング方向誤差信号を最大としたチルト調整値を求めるチルト調整値探索処理と、
上記光ディスク記録媒体に記録された信号の再生信号に基づいて生成される信号品質評価値を最良とするチルト調整値と、上記トラッキング方向誤差信号を最大とするチルト調整値との相違を表す相違情報であって、上記チルト調整値探索処理の実行時に設定されるフォーカスバイアス値についての探索設定手法と同じ探索設定手法により求めたフォーカスバイアス値の設定条件下で予め求められた上記相違情報に基づいて、上記チルト調整値探索処理で求めた上記チルト調整値を校正するチルト調整値校正処理と、
上記チルト調整値校正処理により得たチルト調整値に基づき、上記対物レンズの傾けによるチルト調整を実行させる調整制御処理と
を上記光ディスク装置に実行させるプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本技術は、光ディスク記録媒体についての記録／再生を行う光ディスク装置とそのチルト補正方法、及び光ディスク装置において実行されるべきプログラムに関する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００２】
【特許文献１】特開２００４−２３４７８３号公報
【背景技術】
【０００３】
例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-lay Disc：登録商標）などの光ディスク記録媒体（以下、光ディスクとも表記）が広く普及している。
【０００４】
光ディスクについて記録や再生を行う光ディスク装置では、光ディスクの記録面に対するレーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトを補正する機能を具備するものがある。チルトに伴い生じるコマ収差によりサーボや記録／再生性能の低下が生じることを防止するためである。
【０００５】
チルトの発生は、主として光ディスクの反り等に起因したものである（ディスクチルト）。光ディスク装置では、このようなディスクチルトの補正を、一般的に対物レンズを傾ける（つまり当該対物レンズを介して照射されるレーザ光の光軸を傾ける）ことで行うようにされる。
【０００６】
ここで、チルト補正を行うにあたっては、実際に対物レンズを傾けて複数のチルト位置で信号検出を行った結果に基づき、最適とされる補正量（チルト調整値）を求めるということが行われる（最適チルト調整値の探索）。
すなわち、このような最適チルト調整値の探索結果に基づくチルト補正とすることで、実際の光学ピックアップと光ディスクの組み合わせに応じた適切なチルト補正を実現できる。
【０００７】
このとき、再生専用のＲＯＭディスク等であれば、上記のような最適チルト調整値の探索時の評価指標として再生信号に基づく評価値を使用することができる。
しかしながら、記録可能型ディスクとして、例えば未記録ディスク（ブランクディスク）や一部のみが記録済みのディスクにおいては、探索時の評価指標として再生信号に基づく評価指標を使用できない場合がある。
このため記録可能型ディスクについてのチルト探索時には、プッシュプル信号やトラッキングエラー信号の振幅を評価指標として用いるようにされている（例えば上記特許文献１を参照）。
【０００８】
但し、再生信号に基づく評価指標を用いた場合と比較すると、プッシュプル信号やトラッキングエラー信号振幅を用いる場合は、最適チルト調整値の探索精度が低下する傾向となる。
この点を考慮し、上記特許文献１では、プッシュプル信号やトラッキングエラー信号振幅を用いるチルト調整値の探索精度の向上を図るための技術を提案している。
具体的に、この特許文献１に記載の発明では、既記録区間を利用して再生信号に基づく評価値を用いた最適チルト調整値の探索と、プッシュプル信号振幅を用いた最適チルト調整値の探索とを行い、これらの探索で求まったチルト補正値（Ｓ１,Ｓ２）の差分（ΔＳ）を計算しておくものとしている。その上で、記録開始位置（未記録領域）では、プッシュプル信号振幅を用いた最適チルト調整値の探索を行い、この探索で求まったチルト調整値（Ｓ３）を上記差分を用いて校正した上で、校正後のチルト調整値によりチルト補正を実行するものとしている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、上記特許文献１に記載の従来手法では、チルト調整値の探索時に設定するフォーカスバイアス値については考慮されていない。
チルト調整値（対物レンズ傾け量）に対するプッシュプル信号振幅の変化特性は、その際に設定されているフォーカスバイアス値によって変化するものである。これは、対物レンズを傾けることに起因して、その傾け量に応じたコマ収差以外の他の収差（特に非点収差等）が発生するためである。
従って、上記従来手法において、差分ΔＳを求めたときのフォーカスバイアス値と記録開始位置での最適チルト調整値探索時のフォーカスバイアス値とが大きく異なるときには、記録開始位置で求めたチルト補正値に差分ΔＳを与えたとしても、正確なチルト補正とすることができないものとなる。
【００１０】
本技術はかかる問題点に鑑み為されたもので、未記録領域でのチルト補正の精度向上を図ることをその課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
このため本技術では、光ディスク装置として以下のように構成することとした。
つまり、本技術の光ディスク装置は、光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部を備える。
また、上記対物レンズを傾けるチルト調整部を備える。
また、上記光照射／受光部が上記戻り光を受光して得られる受光信号に基づき上記対物レンズについてのフォーカスサーボ制御を行うフォーカスサーボ制御部を備える。
また、上記フォーカスサーボ制御部のフォーカスサーボ制御に伴い形成されるフォーカスサーボループにフォーカスバイアスを付与するフォーカスバイアス付与部を備える。
また、上記光照射／受光部がトラッキング方向の分割受光を行って得られる各受光信号に基づいて、これら受光信号の誤差を表すトラッキング方向誤差信号を生成するトラッキング方向誤差信号生成部を備える。
また、上記チルト調整部に異なるチルト調整値を設定したときに得られる上記トラッキング方向誤差信号をそれぞれ取得した結果に基づき、上記トラッキング方向誤差信号を最大としたチルト調整値を求めるチルト調整値探索処理と、
上記光ディスク記録媒体に記録された信号の再生信号に基づいて生成される信号品質評価値を最良とするチルト調整値と、上記トラッキング方向誤差信号を最大とするチルト調整値との相違を表す相違情報であって、上記チルト調整値探索処理の実行時に上記フォーカスバイアス付与部に設定するフォーカスバイアス値についての探索設定手法と同じ探索設定手法により求めたフォーカスバイアス値の設定条件下で予め求められた上記相違情報に基づいて、上記チルト調整値探索処理で求めた上記チルト調整値を校正するチルト調整値校正処理と、
上記チルト調整値校正処理により得たチルト調整値に基づき、上記チルト調整部によるチルト調整を実行させる調整制御処理と
を実行する制御部を備えるものである。
【００１２】
上記のように本技術では、トラッキング方向誤差信号を最大とするチルト調整値の探索（チルト調整値探索処理）で求めたチルト調整値を校正するための相違情報（上記信号品質評価値を最小とするチルト調整値とトラッキング方向誤差信号振幅を最大とするチルト調整値との相違情報）を、当該チルト調整値探索処理を行う際に設定されるフォーカスバイアス値の探索設定手法で探索設定したフォーカスバイアス値の設定条件下で予め求めておくものとしている。
つまりこれにより、従来のようにチルト調整値探索処理の際に設定されるフォーカスバイアス値と差分（ΔＳ）を求めたときに設定されるフォーカスバイアス値とが大きく異なる値となってしまう事態の防止を図ることができる。
この結果、トラッキング方向誤差信号を用いた未記録領域におけるチルト補正を、従来よりも精度良く行うことができる。
【発明の効果】
【００１３】
本技術によれば、未記録領域におけるチルト補正を従来よりも精度良く行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】第１の実施の形態としての光ディスク装置の内部構成を示した図である。
【図２】フォーカスバイアスの設定値ごとの、対物レンズ傾け角度に対するＭＰＰ信号振幅の変化特性（及びｉＭＬＳＥの変化特性）をグラフ化して示した図である。
【図３】フォーカスバイアス値と対物レンズ傾け角度とに対するＭＰＰ信号振幅の変化特性（及びｉＭＬＳＥの変化特性）とを等高線マップにより示した図である。
【図４】対物レンズ傾け角度に対するコマ収差、非点収差のそれぞれの変化特性のイメージを示した図である。
【図５】相違情報の具体的な導出例について説明するための図である。
【図６】第１の実施の形態としてのチルト補正手法を実現するために実行されるべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
【図７】第２の実施の形態の光ディスク装置２０の内部構成を示した図である。
【図８】フォーカスバイアス値に与えるべきオフセット値を求める具体的な手法について説明するための図である。
【図９】第２の実施の形態としてのチルト補正手法を実現するために実行されるべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
【図１０】第１の実施の形態の場合にフォーカスバイアス値・球面収差補正値の調整をｉＭＬＳＥを評価指標として用いて行う際に設定されるべき校正用情報の導出手法について説明するための図である。
【図１１】第１の実施の形態の変形例としてのチルト補正手法を実現するために実行されるべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
【図１２】第２の実施の形態の場合にフォーカスバイアス値・球面収差補正値の調整をｉＭＬＳＥを評価指標として用いて行う際に設定されるべきＦＢオフセット値の導出手法について説明するための図である。
【図１３】第２の実施の形態としてのチルト補正手法を実現するために実行されるべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本技術に係る実施の形態について説明する。
なお、説明は以下の順序で行う。
＜１．第１の実施の形態＞
［1-1．光ディスク装置の構成例］
［1-2．最適チルト調整値の探索とフォーカスバイアスとの関係］
［1-3．第１の実施の形態としてのチルト補正手法］
［1-4．処理手順］
＜２．第２の実施の形態＞
［2-1．光ディスク装置の構成例］
［2-2．第２の実施の形態としてのチルト補正手法］
［2-3．処理手順］
＜３．変形例＞
［3-1．第１の実施の形態の変形例］
［3-2．第２の実施の形態の変形例］
［3-3.その他］
【００１６】
＜１．第１の実施の形態＞
［1-1．光ディスク装置の構成例］
図１は、本技術に係る第１の実施の形態としての光ディスク装置（光ディスク装置１とする）の内部構成を示している。
先ず、図中の光ディスクＤは、円盤状の光記録媒体（光ディスク記録媒体）とされる。ここで、光記録媒体とは、光の照射により情報の記録又は再生が行われる記録媒体を指す。
本例の光ディスク装置１は、光ディスクＤとして、少なくともＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）に対応してその記録再生が可能に構成されているとする。
【００１７】
光ディスクＤは、光ディスク装置１に装填されると、図中のスピンドルモータ（ＳＰＭ）２により回転駆動される。
スピンドルモータ２は、後述するスピンドルサーボ回路１５より供給される駆動信号に従って光ディスクＤを回転駆動する。
【００１８】
光ディスク装置１には、上記のように回転駆動される光ディスクＤに対して情報の記録／再生を行うためのレーザ光の照射、及び光ディスクＤに照射された当該レーザ光の反射光（戻り光）を受光するための光学ピックアップＯＰが設けられる。
光学ピックアップＯＰ内には、上記レーザ光の光源となるレーザダイオードが設けられる。また、上記レーザ光を光ディスクＤに集光するための対物レンズ３、及び当該対物レンズ３を光ディスクＤに接離する方向（フォーカス方向）及び半径方向（トラッキング方向）に変位可能に保持する２軸アクチュエータ４が設けられる。さらには、上記反射光を受光するためのフォトディテクタを有する受光部が設けられる。また、光学ピックアップＯＰ内には、上記レーザ光を上記レーザダイオードから上記対物レンズに導き且つ上記反射光を上記フォトディテクタに導くための光学系も備えられる。
【００１９】
また、光学ピックアップＯＰ内には、チルト調整を行うためのチルト調整部５が設けられる。このチルト調整部５は、対物レンズ３を傾けるように構成されており、これにより光ディスクＤの記録面に対するレーザ光の光軸の角度ずれとしてのチルトの調整を行う。
【００２０】
また図示は省略したが、光学ピックアップＯＰ内には、球面収差（ＳＡ）の補正を行うための球面収差補正機構が設けられており、当該球面収差補正機構が後述するＳＡ補正ドライバ１４により駆動されることで、対物レンズ３を介して光ディスクＤに照射されるレーザ光についての球面収差補正が実現されるようになっている。
【００２１】
また、光学ピックアップＯＰ全体は、図中のスライド駆動部６によって、トラッキング方向にスライド移動可能に保持されている。
【００２２】
光学ピックアップＯＰ内における上記レーザダイオードは、レーザドライバ７により発光駆動される。記録時において、レーザドライバ７は、記録処理部８から入力される記録信号に従って上記レーザダイオードを発光駆動するようにされる。
記録処理部８は、入力された記録データに所定の記録変調符号化処理等を施して、上記記録信号を生成する。
【００２３】
光学ピックアップＯＰ内の上記受光部が上記反射光を受光して得られた受光信号は、マトリクス回路９に供給される。
マトリクス回路９は、上記フォトディテクタとしての複数の受光素子からの出力電流に対応して電流電圧変換回路、マトリクス演算／増幅回路等を備え、マトリクス演算処理により必要な信号を生成する。
例えば再生データを得るための高周波信号（再生データ信号：以下ＲＦ信号と表記）、サーボ制御のためのフォーカスエラー信号ＦＥ、及びトラッキングエラー信号ＴＥを生成する。
ここで、フォーカスエラー信号ＦＥは、光ディスクＤに形成された記録面（反射面）に対する上記レーザ光の合焦位置の誤差を表す信号である。またトラッキングエラー信号ＴＥは、上記記録面に形成されたトラック（ピット列又はグルーブ）に対する上記レーザ光の照射スポットのトラッキング方向における位置誤差を表す信号となる。本例の場合、当該トラッキングエラー信号ＴＥとしてはＤＰＰ（Differential Push Pull）法によるトラッキングエラー信号（記録時）、又はＤＰＤ（Differential Phase Detection）法によるトラッキングエラー信号（再生時）を生成する。ここで、周知のようにＤＰＰ法によるトラッキングエラー信号は、ＭＰＰ（Main Push Pull）信号とＳＰＰ（Side Push Pull）信号とに基づき生成されるものである。
また、マトリクス回路９は、グルーブのウォブリングに係る信号、すなわちウォブリングを検出する信号としてウォブル信号ＷＳを生成する。
【００２４】
マトリクス回路９が生成したＲＦ信号は再生処理部１０へ、フォーカスエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥはサーボ回路１２へ、またウォブル信号ＷＳはアドレスデコーダ１１へそれぞれ供給される。
また、マトリスク回路９で生成されるＭＰＰ信号は、コントローラ１７に対して供給される。
【００２５】
再生処理部１０は、ＲＦ信号に対して２値化処理を行うと共に、ＰＬＬ（Phase Locked Loop）による再生クロック生成処理等を行う。
再生処理部１０で得られた再生データ（２値化データ）は、不図示の復調回路に供給され、エラー訂正処理等を施されることになる。
なお、再生処理部１０で再生された上記クロックについてはＣＬＫ-Pと表記する。
【００２６】
また再生処理部１０には、評価器１０ａが設けられる。
評価器１０ａは、ＲＦ信号の２値化処理で得られる２値化データについて、その再生性能（再生信号品質）についての評価指標となる評価値を測定（計算）する。本例の場合、評価器１０ａは当該評価値としてｉＭＬＳＥ (Maximum Likelihood Sequence Estimation）を生成するものとしている。
評価器１０ａにて生成された評価値は、コントローラ１７を始めとした必要な各部に供給される。
【００２７】
アドレスデコーダ１１は、ウォブル信号ＷＳに基づき、グルーブのウォブリングにより記録されたアドレス情報の検出を行う。検出されたアドレス情報はコントローラ１７に供給される。
またアドレスデコーダ１１は、ウォブル信号ＷＳを用いたＰＬＬ処理でクロックＣＬＫ-Rを生成する。このクロックＣＬＫ-Rは、例えば記録時のエンコードクロック等として用いられる。
【００２８】
サーボ回路１２は、マトリクス回路９からのフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥに基づき、フォーカス、トラッキング、スレッドの各種サーボ信号を生成し、サーボ動作を実行させる。すなわち、フォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥに応じてフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号をそれぞれ生成し、これらを２軸ドライバ１３に与える。
２軸ドライバ１３は、これらフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号に基づき生成したフォーカスドライブ信号、トラッキングドライブ信号により、２軸アクチュエータ４のフォーカスコイル、トラッキングコイルをそれぞれ駆動する。これにより、２軸アクチュエータ４→マトリクス回路９→サーボ回路１２→２軸ドライバ１３→２軸アクチュエータ４・・・によるフォーカスサーボループ及びトラッキングサーボループがそれぞれ形成される。
【００２９】
また、サーボ回路１２は、トラッキングエラー信号ＴＥの低域成分として得られるスライドエラー信号や、コントローラ１７からのアクセス実行制御などに基づいてスライドドライブ信号を生成し、スライド駆動部６を駆動する。スライド駆動部６は、図示は省略したが、光学ピックアップＯＰを保持するメインシャフト、スライドモータ、伝達ギア等による機構を有し、上記スライドドライブ信号に応じて上記スライドモータを駆動することで、光学ピックアップＯＰの所要のスライド移動を実現する。
【００３０】
またサーボ回路１２は、フォーカスサーボループに対してフォーカスバイアスを付与可能に構成される。具体的にサーボ回路１２内には、マトリスク回路９から供給されるフォーカスエラー信号ＦＥに対しフォーカスバイアス値を加算する加算器が備えられている。
サーボ回路１２が加算すべきフォーカスバイアス値は、コントローラ１７により指示される。
【００３１】
スピンドルサーボ回路１５は、スピンドルモータ２をＣＬＶ回転（線速度一定回転）させる制御を行う。
スピンドルサーボ回路１５は、前述のアドレスデコーダ１１がウォブル信号ＷＳに対するＰＬＬ処理で生成したクロックＣＬＫ-Rを現在のスピンドルモータ２の回転速度情報として得、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することで、スピンドルエラー信号を生成する。
またデータ再生時においては、再生処理部１０のＰＬＬ処理によって生成されるクロックＣＬＫ-Pが、現在のスピンドルモータ２の回転速度情報となるため、これを所定のＣＬＶ基準速度情報と比較することでスピンドルエラー信号を生成することもできる。
そしてスピンドルサーボ回路１５は、スピンドルエラー信号に応じて生成したスピンドルドライブ信号を出力し、スピンドルモータ２のＣＬＶ回転を実行させる。
またスピンドルサーボ回路１５は、コントローラ１７からのスピンドルキック／ブレーキ制御信号に応じてスピンドルドライブ信号を発生させ、スピンドルモータ２の起動、停止、加速、減速などの動作も実行させる。
【００３２】
ＳＡ補正ドライバ１４は、コントローラ１７から指示される球面収差補正値に基づき光学ピックアップＯＰ内の球面収差補正機構を駆動する。
【００３３】
また、光ディスク装置１には、チルトドライバ１６が備えられている。
チルトドライバ１６は、前述したチルト調整部５に対して対物レンズ３の傾け量を調整するための駆動信号を与えることで、チルト調整を実行させる。チルトドライバ１６に対する対物レンズ３の傾け量（チルト調整値）の指示は、コントローラ１７により行われる。
【００３４】
以上で説明してきたサーボ系及び記録再生系等の各部の動作は、コントローラ１７により制御される。コントローラ１７は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）を備えたマイクロコンピュータで構成され、例えば上記ＲＯＭ等のメモリに格納されたプログラムに従った制御・処理を実行することで、光ディスク装置１の全体制御を行う。
例えばコントローラ１７は、サーボ回路１２に指示を出すことにより、スライド駆動部６によって所定のアドレスに光学ピックアップＯＰを移動させる。またコントローラ１７は、スピンドルサーボ回路１５に対し前述したキック／ブレーキについての制御指示を行う。
【００３５】
またコントローラ１７に対しては、メモリ１８が設けられる。
図示するようにこのメモリ１８には、制御プログラム１８ａ、校正用情報１８ｂが記憶されている。
制御プログラム１８ａは、後の図６に示す処理をコントローラ１７に実行させるためのプログラムとなる。
なお、校正用情報１８ｂについては後に改めて説明する。
【００３６】
［1-2．最適チルト調整値の探索とフォーカスバイアスとの関係］
ここで、本実施の形態においても、未記録領域における最適チルト調整値の探索にあたっては、従来と同様にプッシュプル信号を評価指標として用いる。具体的には、ＭＰＰ信号を最適チルト調整値の探索時の評価指標として用いる。
【００３７】
また、前述のようにＭＰＰ信号を最大とするチルト調整値をそのまま設定したのではチルト補正精度の低下が懸念されるので、ＭＰＰ信号を最大とするチルト調整を、予め求めておいた再生信号品質評価値を最良とするチルト調整値との相違情報を用いて校正することも行う。
【００３８】
このような相違情報を用いた校正を行う際には、実際に未記録領域で行うＭＰＰ信号を用いた最適チルト調整値の探索時と、上記相違情報を求めたときのそれぞれで設定されるフォーカスバイアス値について考慮すべきものとなる。前述したように、これらのフォーカスバイアス値が大きく異なると、チルト補正値（対物レンズ３の傾け量）に対するＭＰＰ信号の変化特性が変化し、探索結果に差が生じてしまうためである。
以下、この点について図２〜図４を参照して説明する。
【００３９】
図２は、フォーカスバイアスの設定値ごとの、対物レンズ傾け角度に対するＭＰＰ信号振幅の変化特性をグラフ化して示している。図２Ａは光ディスクＤが０度傾いている（すなわちディスクチルト＝０°）状態での同特性を示し、図２Ｂは０．５度傾いている（ディスクチルト＝０．５°）状態での同特性を示している。なおこれら図２Ａ,図２Ｂにおいて、■プロットはフォーカスバイアス値＝０のとき、▲プロットはフォーカスバイアス値＝＋３ステップとしたとき、×プロットはフォーカスバイアス値＝＋７ステップとしたとき、＊プロットはフォーカスバイアス値＝−３ステップとしたときのＭＰＰ振幅変化特性をそれぞれ表している。
またこれら図２Ａ,図２Ｂではフォーカスバイアス値＝０のときの対物レンズ傾け角度に対するｉＭＬＳＥの変化特性を◆プロットにより併せて示している。
また図３は、フォーカスバイアス値と対物レンズ傾け角度とに対する、ＭＰＰ信号振幅の変化特性及びｉＭＬＳＥの変化特性をそれぞれ等高線マップにより示している。この図３では、図３Ｃにディスクチルト＝０°時のＭＰＰ振幅変化特性を、また図３Ｄにディスクチルト＝０．５°時のＭＰＰ振幅変化特性を示しており、また図３Ａはディスクチルト＝０°時のｉＭＬＳＥの変化特性、図３Ｂはディスクチルト＝０．５°時のｉＭＬＳＥの変化特性を示している。
また、図４は、対物レンズ傾け角度に対するコマ収差、非点収差のそれぞれの変化特性のイメージを示している。
【００４０】
先ず前提として、ディスクチルト＝０°である場合、対物レンズ３を傾けることによっては、光軸のずれが生じることに起因してコマ収差が発生すると共に、コマ収差以外の他の収差も発生することになる。特に、非点収差も生じる。
この前提を踏まえた上で、図２Ａや図３Ｃに示すディスクチルト＝０の理想的な状態では、対物レンズ３を傾けていくと、コマ収差と共に非点収差が対物レンズ３の傾きと共に増加していくことになる。このときの各収差の発生量の増加のイメージは、それぞれ図４に示す通りである。
このように対物レンズ３の傾け角度に応じて各収差量が増加していくことから、ディスクチルト＝０°時には、対物レンズ傾け角度に対するＭＰＰ振幅変化特性は、図２Ａのように対物レンズ傾け角度＝０°を頂点とした二次曲線的なカーブを描くことになる。このとき、設定されるフォーカスバイアス値ごとに、対物レンズ傾け角度＝０°時のＭＰＰ振幅値がそれぞれ異なる値となる。この振幅値の差は、各フォーカスバイアス値の真の最適フォーカスバイアス値からの差に応じたものである。
【００４１】
一方、ディスクチルト＝０．５°時、すなわち実際の探索時と同様にディスクチルトが生じている状態では、対物レンズ３を傾けていくと、コマ収差が補正されていくことになる。つまりその分、ＭＰＰ振幅は増加傾向となるべきものとなる。
但し実際には、対物レンズ３を傾けると非点収差等の他の収差も生じるので、対物レンズ３の傾きを大としていくと、非点収差等の他の収差の発生に伴ってＭＰＰ振幅を低下させる作用も同時に生じることになる。
図４によれば、対物レンズ３を傾けることによるコマ収差補正に伴うＭＰＰ振幅の増加特性はほぼ線形なものとなるのに対し、非点収差の増大によるＭＰＰ振幅低下特性は二次曲線的なものであることが分かる。
このとき、設定されるフォーカスバイアス値が異なるということは、対物レンズ傾け量＝０（つまりチルト補正なし）におけるＭＰＰ振幅に差があるということになる。このことを考慮して分かるように、図２Ｂ（図３Ｄ）に示すディスクチルト＝０．５°時には、その際に設定されるフォーカスバイアス値が異なると、ＭＰＰ振幅を最大とするチルト調整値にも差が生じるものとなる。すなわち、実際の最適チルト探索時には、その際に設定されるフォーカスバイアス値が異なると、ＭＰＰ振幅を最大とする対物レンズ傾け角度（つまり最適チルト調整値）の探索結果にも差が生じてしまうものである。
【００４２】
［1-3．第１の実施の形態としてのチルト補正手法］
上記の問題点を踏まえ、本実施の形態では、相違情報を求める際に設定するフォーカスバイアス値を、実際に未記録領域でＭＰＰ信号に基づき最適チルト調整値の探索を行う際に設定するフォーカスバイアス値の探索設定手法と同手法で求めたフォーカスバイアス値とする。換言すれば、 ＭＰＰ信号に基づき最適チルト調整値の探索を行う際に設定するフォーカスバイアス値の探索設定手法と同手法で求めたフォーカスバイアス値の設定条件下で、予め上記相違情報を求めておくようにするものである。
【００４３】
図５は、相違情報の具体的な導出例について説明するための図である。
先ず前提として、本実施の形態では、フォーカスバイアス値の調整は、ＭＰＰ信号を用いて行う。具体的に、フォーカスバイアス値の調整は、ＭＰＰ振幅を最大とするフォーカスバイアス値を探索することで行う。
ここで、本例においては、フォーカスバイアス値の調整は、球面収差補正値の調整と同時に行う。具体的には、それぞれ異なる組み合わせによるフォーカスバイアス値と球面収差補正値の設定下でＭＰＰ信号振幅の取得をそれぞれ行い、その結果、ＭＰＰ信号振幅を最大としたフォーカスバイアス値と球面収差補正値との組み合わせを最適値として求めるものである。
【００４４】
また、本実施の形態において、校正用の相違情報は、各光ディスク装置１が個々に求めるのではなく、予め実験等を行って求めておいた相違情報を各光ディスク装置１に予め記憶させておくという手法を採る。
【００４５】
以上の前提を踏まえ、相違情報の具体的な導出例について説明する。
先ずは、ＭＰＰ振幅を最大とするフォーカスバイアス値の標準値（各光ディスク装置１にとって標準的となる値）を求める。具体的に本例の場合、フォーカスバイアス値の探索手法は上述のようにＭＰＰ振幅を最大とするフォーカスバイアス値と球面収差補正値との組み合わせを探索する手法である。このような探索手法で求まるＭＰＰ振幅を最大とする最適フォーカスバイアス値に関して、その標準的な値（以下、標準探索フォーカスバイアス値と称する）を予め実験やシミュレーション等で求めておく。
一例として、実験等により求まった標準探索フォーカスバイアス値は、＋３ステップであったとする。
【００４６】
ここで、本例において、最適とされるフォーカスバイアス値やチルト調整値を求めるにあたって評価指標として用いるＭＰＰ信号は、サーボ回路１２によるトラッキングサーボ制御がオフの状態にて得られるＭＰＰ信号（トラバース信号）であるとする。
【００４７】
このように求めた標準探索フォーカスバイアス値の設定下で、ｉＭＬＳＥを最良とするチルト調整値と、ＭＰＰ信号振幅を最大とするチルト調整値とをそれぞれ求める。
このとき、例えばこれらｉＭＬＳＥ、ＭＰＰ信号を用いたそれぞれの最適チルト調整値の探索時におけるディスクチルト量が０．５度であったとする。そして、この０．５度のディスクチルトに対して、図５に示すようにｉＭＬＳＥを最良とする対物レンズ傾け角度（チルト調整値）は０．５度、ＭＰＰ信号振幅を最大とする対物レンズ傾け角度（チルト調整値）が０．４度であったとする。
【００４８】
相違情報は、このように求めたｉＭＬＳＥを最良とするチルト調整値とＭＰＰ信号振幅を最大とするチルト調整値との比率情報として算出する。すなわち、実際に未記録領域でＭＰＰ信号に基づき最適チルト調整値の探索を行う際に設定するフォーカスバイアス値の探索設定手法と同手法で求めたフォーカスバイアス値の設定条件下で求まった、ｉＭＬＳＥを最良とするチルト調整値と、ＭＰＰ信号振幅を最大とするチルト調整値との比率情報である。
図５に示す例によれば、この場合に求まる比率情報としての相違情報は、０．５／０．４となる。すなわち、「ｉＭＬＳＥを最良とするチルト調整値／ＭＰＰ信号振幅を最大とするチルト調整値」を上記比率情報として求めるものである。
【００４９】
第１の実施の形態では、このようにして実験やシミュレーション等により予め求めておいた相違情報を、各光ディスク装置１に校正用情報１８ｂとして記憶させておく。
光ディスク装置１では、未記録領域でのチルト補正として、このような校正用情報１８ｂを用いたチルト補正を行う。具体的に、コントローラ１７は、ＭＰＰ信号振幅を最大とするチルト調整値を求める最適チルト調整値の探索処理を行い、当該探索処理で求めたチルト調整値に対し、校正用相違情報１８ｂとして記憶された比率情報を係数として乗じる。そして、このように比率情報を乗じて得たチルト調整値を、チルトドライバ１６に指示してチルト補正を実行させるものである。
【００５０】
上記により説明した第１の実施の形態としてのチルト補正手法によれば、校正用の相違情報は、実際の未記録領域での探索時に設定されるフォーカスバイアス値の探索設定手法と同手法で探索設定したフォーカスバイアス値の下で求めたものとなるので、従来のようにチルト調整値探索処理の際に設定されるフォーカスバイアス値と相違情報を求めたときに設定されるフォーカスバイアス値とが大きく異なる値となってしまう事態の防止を図ることができる。
この結果、ＭＰＰ信号を用いた未記録領域におけるチルト補正を、従来よりも精度良く行うことができる。
【００５１】
また、本実施の形態では、校正用の相違情報として、従来のように差分ΔＳを用いるのではなく、比率情報を用いるものとしている。
ここで、ディスクチルトの発生量は、光ディスクＤの半径位置に応じて異なるものであり、内周／外周でその差が大となる。従来手法のように再生信号を得ることのできる内周部分で求めた差分ΔＳを用いた校正とすると、チルト量が大となる外周部分において、適正なチルト補正を行うことができなくなる。
これに対し、比率情報とした本実施の形態によれば、外周側においてチルト量が大となる場合にも対応して、適切にＭＰＰ振幅で求めたチルト調整値を校正でき、この面でもチルト補正の精度向上を図ることができる。
【００５２】
また、本実施の形態によれば、校正用の相違情報は予め求めておいた値を校正用相違情報１８ｂとして各光ディスク装置１に記憶させておくものとしているので、従来手法のように相違情報を光ディスク装置１が探索を行って求めておく必要はない。すなわち、従来手法では、未記録領域でＭＰＰ振幅を用いたチルト調整を行うにあたり再生信号の得られる内周領域にて相違情報を求めるための探索処理を実行する必要があるが、本実施の形態によればそのような処理が不要となる分、未記録領域でのチルト調整に要する時間を短縮することができる。
【００５３】
［1-4．処理手順］
図６は、上記により説明した第１の実施の形態としてのチルト補正方法を実現するために実行されるべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
なお、図６に示す処理はコントローラ１７が制御プログラム１８ａに基づき実行するものである。
また、図６に示す処理が実行されるにあたっては、既にサーボ回路１２によるフォーカスサーボはオンの状態にあるとする。
【００５４】
先ず、ステップＳ１０１では、ＭＰＰ信号を評価指標としてフォーカスバイアス値、球面収差補正値の最適値を探索するための処理を実行する。
すなわち、それぞれ異なる組み合わせによるフォーカスバイアス値と球面収差補正値を逐次サーボ回路１２、ＳＡ補正ドライバ１４に設定した状態で得られるＭＰＰ信号振幅を取得し、その結果に基づき、ＭＰＰ信号振幅を最大としたフォーカスバイアス値と球面収差補正値との組み合わせを最適値として求める。
【００５５】
ステップＳ１０１による探索処理の実行後は、ステップＳ１０２において、探索により求めたフォーカスバイアス値、球面収差補正値を設定するための処理を行う。すなわち、これら探索により求めたフォーカスバイアス値、球面収差補正値をそれぞれサーボ回路１２、ＳＡ補正ドライバ１４に指示して設定させる。
【００５６】
ステップＳ１０２の設定処理の実行後は、ステップＳ１０３において、ＭＰＰ信号を評価指標として最適チルト調整値を探索するための処理を実行する。すなわち、チルトドライバ１６に対して逐次異なるチルト調整値を指示し、各チルト調整値の設定状態で得られたＭＰＰ信号の振幅値を取得し、ＭＰＰ信号振幅を最大としたチルト調整値を求める。
【００５７】
ステップＳ１０３の探索処理の実行後は、ステップＳ１０４において、探索により求めたチルト調整値を校正用情報１８ｂに基づき校正する。具体的に本例の場合は、ステップＳ１０３で求めたチルト調整値に対し、前述した比率情報としての校正用情報１８ｂを係数として乗じる。
【００５８】
続くステップＳ１０５においては、校正後のチルト調整値を設定するための処理を実行する。すなわち、校正後のチルト調整値をチルトドライバ１６に指示して当該チルト調整値に応じたチルト補正を実行させるものである。
当該ステップＳ１０５の処理の実行後、この図に示すチルト補正のための処理は終了となる。
【００５９】
＜２．第２の実施の形態＞
［2-1．光ディスク装置の構成例］
続いて、第２の実施の形態について説明する。
第２の実施の形態は、未記録領域における最適チルト調整値の探索時のフォーカスバイアス値を、最適フォーカスバイアス値から所定値分オフセットさせる手法を採用するものである。
【００６０】
図７は、第２の実施の形態の光ディスク装置２０の内部構成を示した図である。
なお、既に第１の実施の形態において説明済みとなった部分と同様の部分については同一符号を付して説明を省略する。
先の図１と比較して分かるように、第２の実施の形態の光ディスク装置２０は、第１の実施の形態の光ディスク装置１との比較で、メモリ１８内において制御プログラム１８ａに代えて制御プログラム１８ｃが、また校正用情報１８ｂに代えて校正用情報１８ｄがそれぞれ記憶される点が異なる。さらに、この場合のメモリ１８には、ＦＢオフセット値１８ｅが新たに記憶されるものとなる。
制御プログラム１８ｃは、コントローラ１７に後述する図１０に示す処理動作を実行させるためのプログラムとなる。
なお、校正用情報１８ｄの詳細、及びＦＢオフセット値１８ｅについては後述する。
【００６１】
［2-2．第２の実施の形態としてのチルト補正手法］
ここで、先の図２や図３に示したように、対物レンズ傾け角度に対するＭＰＰ信号振幅の変化特性は、設定されるフォーカスバイアス値により異なる特性を示す。
このとき、図２（及び図３Ｃ,図３Ｄ）を参照すると、設定されるフォーカスバイアス値によっては、対物レンズ傾け角度に対するＭＰＰ振幅の変動幅が変化することが分かる。すなわち、設定されるフォーカスバイアス値によって、対物レンズ傾け角度（つまりチルト調整値）に対するＭＰＰ振幅の感度が変化するものである。
【００６２】
このような、フォーカスバイアス値に応じたＭＰＰ振幅の感度変化は、対物レンズ３を傾けた際の、コマ収差の補正度合い（ＭＰＰ振幅増大の度合い）と非点収差の増大度合い（ＭＰＰ振幅の低下の度合い）との関係が、設定されるフォーカスバイアス値によって変化することに起因して生じる。
【００６３】
上記のようなＭＰＰ振幅の感度変化が生じるということは、フォーカスバイアス値（及び球面収差補正値）の調整時におけるＭＰＰ信号振幅の測定誤差等に起因して、フォーカスバイアス値が、ＭＰＰ振幅の感度が低くなる値に調整されてしまうケースが生じ得るということになる。
このようにＭＰＰ振幅の感度が低いフォーカスバイアス値に調整されてしまった場合には、チルト調整値を振って最適チルト調整値の探索を行った際に、ＭＰＰ振幅を最大とするチルト調整値の特定が困難となり、結果、適正なチルト調整値を求めることができない事態に陥る可能性がある。
【００６４】
そこで第２の実施の形態では、未記録領域での最適チルト調整値探索を行う際には、事前のフォーカスバイアス値・球面収差補正値の調整処理（探索処理）で求められたフォーカスバイアス値をそのまま設定するものとはせず、ＭＰＰ振幅の感度が上がる方向にオフセットさせるものとする。
【００６５】
このとき、調整により求まったフォーカスバイアス値に与えるオフセット値は、予め実験やシミュレーション等を行って求めておく。
図８は、探索により求めたフォーカスバイアス値に対して与えるべきオフセット値を求めるための具体的な手法について説明するための図である。
なお図中において、▲プロットはフォーカスバイアス値＝＋３ステップ時、×プロットはフォーカスバイアス値＝＋７ステップ時、■プロットはフォーカスバイアス値＝＋１０ステップ時における対物レンズ傾け角度に対するＭＰＰ振幅変化特性をそれぞれ示している。また図中では、◆プロットにより対物レンズ傾け角度に対するｉＭＬＳＥの変化特性（フォーカスバイアス値＝０）を併せて示している。
【００６６】
先ず前提として、ＭＰＰ信号（トラッキングサーボオフ時）を用いた探索を行う際には、ＭＰＰ信号振幅の測定誤差が生じる点を考慮すべきとなる。すなわち、このようなＭＰＰ信号測定誤差等に起因して生じる、フォーカスバイアス値・球面収差補正値の探索で求まるフォーカスバイアス値のばらつき（フォーカスバイアス調整ばらつき）を考慮すべきものとなる。
例えば、このようなフォーカスバイアス調整ばらつきは、概ね±４ステップであるものとする。
【００６７】
また、オフセット値を導出するにあたっては、ＭＰＰ信号を用いたフォーカスバイアス値（及び球面収差補正値）の探索で求まるフォーカスバイアス値の標準値（つまり前述した標準探索フォーカスバイアス値）を実験やシミュレーション等により求めておく。例えば、標準探索フォーカスバイアス値は、この場合も＋３ステップであるとする。
【００６８】
また、オフセット値の導出にあたっては、対物レンズ傾け角度に対するＭＰＰ振幅の感度として最低限の感度、すなわち目標とするチルト調整精度を確保可能な最低限の感度、を得ることのできるフォーカスバイアス値（以下、精度確保可能フォーカスバイアス値とする）を予め実験やシミュレーション等により求めておく。この精度確保可能フォーカスバイアス値を求めるにあたっては、ＭＰＰ振幅の測定誤差も考慮に入れる。
例えば実験等の結果、精度確保可能フォーカスバイアス値は＋５ステップであったとする。
【００６９】
フォーカスバイアス値に対して与えるべきオフセット値は、以上で説明した調整ばらつき（フォーカスバイアス調整ばらつき）、標準探索フォーカスバイアス値、精度確保可能フォーカスバイアス値に基づき、以下の条件を満たす値として求める。
オフセット値＜精度確保可能フォーカスバイアス値−標準探索フォーカスバイアス値−調整ばらつき
例えば上述の値の例によれば、オフセット値は「５−３−４」より−２ステップ未満とすればよいものとなる。
なおこの場合、ＭＰＰ振幅の感度は、フォーカスバイアス値がプラス極性側に振れることに応じて徐々に低下する傾向となるので、フォーカスバイアス調整ばらつきの値としては、プラス極性側の値（＋４ステップ）を用いることになる。
【００７０】
ここで、フォーカスバイアスの符号は、物理方向に対して向きの定義は適宜決められるものである。またチルトに対するＲＦ信号品質の感度が高くなる方向がマイナス方向とは限らない。
この点を考慮すると、オフセット値としては、上記条件を満たすか、或いは、
オフセット値＞精度確保可能フォーカスバイアス値＋標準探索フォーカスバイアス値＋調整ばらつき
の条件を満たす値の何れかとして定義されるものとなる。
【００７１】
第２の実施の形態の光ディスク装置２０では、このようにして予め求められたオフセット値が、ＦＢオフセット値１８ｅとして記憶される。
【００７２】
ここで、第２の実施の形態では、フォーカスバイアス値・球面収差補正値の探索処理で求められたフォーカスバイアス値を、ＦＢオフセット値１８ｅによりオフセットさせた状態で、未記録領域での最適チルト調整値の探索を行うものである。
すなわち、第２の実施の形態では、第１の実施の形態の場合とは異なる探索設定手法で、フォーカスバイアス値が設定されるものである。
このため第２の実施の形態では、ＭＰＰ振幅を最大とするチルト調整値を校正するための校正用情報として、このような第２の実施の形態としてのフォーカスバイアス値の探索設定手法に応じた校正用情報を予め求めておき、これを校正用情報１８ｄとして光ディスク装置２０に記憶させておくべきものとなる。
具体的に、当該校正用情報１８ｄとしては、フォーカスバイアス値・球面収差補正値の探索処理で求められたフォーカスバイアス値を上述のＦＢオフセット値１８ｅによりオフセットさせたフォーカスバイアス設定条件下で、ｉＭＬＳＥを最良とするチルト調整値とＭＰＰ信号振幅を最大とするチルト調整値とをそれぞれ求め、それらの相違情報として求めたものとする。この場合も相違情報は、これらｉＭＬＳＥを最良とするチルト調整値とＭＰＰ信号振幅を最大とするチルト調整値との比率情報として求める。
【００７３】
確認のため、ＦＢオフセット値１８ｅと校正用情報１８ｄとを用いる第２の実施の形態としてのチルト補正手法について説明しておく。
先ずこの場合も、ＭＰＰ信号振幅を評価指標としてフォーカスバイアス値・球面収差補正値の調整（探索処理）を行う点は第１の実施の形態と同様となる。
そして、第２の実施の形態では、当該調整により求まったフォーカスバイアス値に対し、ＦＢオフセット値１８ｅを加算したフォーカスバイアスの設定状態で、未記録領域での最適チルト調整値の探索を実行する。
このようなフォーカスバイアスの設定状態で行った探索により求めたチルト調整値を、校正用情報１８ｄにより校正する。そして、校正後のチルト調整値を、チルトドライバ１６に設定してチルト補正を実行させる。
【００７４】
このような第２の実施の形態としてのチルト補正手法によれば、ＭＰＰ振幅の測定誤差等に起因して、対物レンズ傾け角度に対するＭＰＰ振幅の感度が低下してしまうフォーカスバイアス値に調整されてしまうようなケースであっても、対物レンズ傾け角度に対するＭＰＰ振幅の感度を上昇させるようにフォーカスバイアス値をオフセットさせることができる。この結果、未記録領域におけるチルト補正精度の向上を図ることができる。
【００７５】
［2-3．処理手順］
図９は、上記により説明した第２の実施の形態としてのチルト補正方法を実現するために実行されるべき具体的な処理の手順を示したフローチャートである。
なお、図９に示す処理は、図７に示したコントローラ１７が制御プログラム１８ｃに基づき実行するものである。
また、図９に示す処理についても、その実行時には既にサーボ回路１２によるフォーカスサーボがオンの状態にあるとする。
【００７６】
図９において、ステップＳ２０１では、図６に示したステップＳ１０１と同様に、ＭＰＰ信号を評価指標としてフォーカスバイアス値、球面収差補正値の最適値を探索する処理を実行する。
そして、続くステップＳ２０２では、図６に示したステップＳ１０２と同様に探索により求めたフォーカスバイアス値、球面収差補正値を設定するための処理を行う。
【００７７】
この場合は、ステップＳ２０２による設定処理の実行後に、ステップＳ２０３においてフォーカスバイアス値をオフセットさせる処理を実行する。すなわち、サーボ回路１２にＦＢオフセット値１８ｅを指示して、ステップＳ２０１・Ｓ２０２により探索・設定されたフォーカスバイアス値にＦＢオフセット値１８ｅがさらに加算されるようにするものである。
【００７８】
ステップＳ２０３のオフセット処理の実行後は、ステップＳ２０４において、ＭＰＰ信号を評価指標として最適チルト調整値を探索するための処理を実行する。このステップＳ２０４の探索処理の内容は、先のステップＳ１０３の探索処理と同様となる。
【００７９】
ステップＳ２０４の探索処理の実行後は、ステップＳ２０５において、探索により求めたチルト調整値を校正用情報１８ｄに基づき校正する。具体的に本例の場合は、ステップＳ２０４で求めたチルト調整値に対し、比率情報としての校正用情報１８ｄを係数として乗じる。
【００８０】
続くステップＳ２０６においては、校正後のチルト調整値を設定するための処理を実行する。すなわち、ステップＳ２０５による校正後のチルト調整値をチルトドライバ１６に指示して当該チルト調整値に応じたチルト補正を実行させる。
このステップＳ２０６の処理の実行後、この図に示すチルト補正のための処理は終了となる。
【００８１】
＜３．変形例＞
以上、本技術に係る各実施の形態について説明したが、本技術はこれまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えばこれまでの説明では、フォーカスバイアス値・球面収差補正値の調整はＭＰＰ信号振幅を評価指標として用いて行う場合を例示したが、フォーカスバイアス値・球面収差補正値の調整は再生信号の品質評価値を指標として行うようにもできる。例えば、ｉＭＬＳＥを評価指標として行うことができる。
以下、フォーカスバイアス値・球面収差補正値の調整をｉＭＬＳＥを評価指標として用いて行う際の具体的なチルト補正手法を、第１の実施の形態の場合と第２の実施の形態の場合とに分けてそれぞれ説明する。
【００８２】
［3-1．第１の実施の形態の変形例］
図１０は、第１の実施の形態の場合にフォーカスバイアス値・球面収差補正値の調整をｉＭＬＳＥを評価指標として用いて行う際に設定されるべき校正用情報の導出手法について説明するための図である。
先ずこの場合、校正用の相違情報を導出するにあたっては、ｉＭＬＳＥを最良とするフォーカスバイアス値の標準値を求める。具体的に、フォーカスバイアス値の探索手法が、ｉＭＬＳＥを最良とするフォーカスバイアス値と球面収差補正値との組み合わせを探索する手法である場合には、当該探索手法で求まるｉＭＬＳＥを最良とするフォーカスバイアス値に関して、その標準的な値（この場合も標準探索フォーカスバイアス値と称する）を予め実験やシミュレーション等で求めておく。
一例として、実験等により求まった標準探索フォーカスバイアス値は「０」であったとする。
【００８３】
そして、このようにｉＭＬＳＥを指標として求めた標準探索フォーカスバイアス値の設定下で、ｉＭＬＳＥを最良とするチルト調整値と、ＭＰＰ信号振幅を最大とするチルト調整値とをそれぞれ求める。
このとき、例えばこれらｉＭＬＳＥ、ＭＰＰ信号を用いたそれぞれの最適チルト調整値の探索時におけるディスクチルト量が図のように０．５度であったとする。そして、この０．５度のディスクチルトに対して、図のようにｉＭＬＳＥを最良とする対物レンズ傾け角度（チルト調整値）は０．５度、ＭＰＰ信号振幅を最大とする対物レンズ傾け角度（チルト調整値）が０．２５度であったとする。
【００８４】
この場合も校正用の相違情報は、上記のようにして求めた、ｉＭＬＳＥを最良とするチルト調整値とＭＰＰ信号振幅を最大とするチルト調整値との比率情報として算出する。具体的には、「ｉＭＬＳＥを最良とするチルト調整値／ＭＰＰ信号振幅を最大とするチルト調整値」による比率情報を求める。
図１０に示す例によれば、この場合に求まる比率情報としての相違情報は０．５／０．２５となる。
このようにして予め求められた相違情報を、各光ディスク装置１に校正用情報１８ｆとして記憶させておく。
【００８５】
確認のため、図１１のフローチャートに、この場合のチルト補正手法の実現のために行われるべき具体的な処理の手順を示しておく。
先の図６と比較して分かるように、この場合は、図６におけるステップＳ１０１のフォーカスバイアス値・球面収差補正値の探索処理に代えて、ｉＭＬＳＥを評価指標として用いたフォーカスバイアス値・球面収差補正値の最適値の探索処理を実行する（Ｓ３０１）。以降におけるステップＳ３０２〜Ｓ３０５の処理については、ステップＳ３０４において図１０により説明した校正用情報１８ｆを用いる点以外は、先のステップＳ１０２〜Ｓ１０５の処理と同様となる。
【００８６】
［3-2．第２の実施の形態の変形例］
図１２は、第２の実施の形態の場合にフォーカスバイアス値・球面収差補正値の調整をｉＭＬＳＥを評価指標として用いて行う際に設定されるべきＦＢオフセット値の導出手法について説明するための図である。
なお図１２において、▲プロットはフォーカスバイアス値＝＋３ステップ時、×プロットはフォーカスバイアス値＝＋５ステップ時における対物レンズ傾け角度に対するＭＰＰ振幅変化特性をそれぞれ表し、◆プロットは対物レンズ傾け角度に対するｉＭＬＳＥの変化特性（フォーカスバイアス値＝０）を表す。
【００８７】
先ず、ｉＭＬＳＥを評価指標としたフォーカスバイアス値・球面収差補正値の調整を行う場合も、その調整ばらつき（フォーカスバイアス調整ばらつき）を考慮に入れるべきものとなる。
また、この場合、オフセット値を導出するにあたっては、ｉＭＬＳＥを評価指標としたフォーカスバイアス値・球面収差補正値の探索で求まるフォーカスバイアス値の標準値（この場合も標準探索フォーカスバイアス値と称する）を実験やシミュレーション等により求めておくようにする。この標準探索フォーカスバイアス値については、先の第１の実施の形態の変形例の場合と同様の値となる。
さらに、オフセット値の導出にあたっては、この場合も対物レンズ傾け角度に対するＭＰＰ振幅の感度として最低限の感度、すなわち目標とするチルト調整精度を確保可能な最低限の感度、を得ることのできるフォーカスバイアス値（この場合も精度確保可能フォーカスバイアス値とする）を予め実験やシミュレーション等により求めておく。この精度確保可能フォーカスバイアス値については、第２の実施の形態の場合と同様の値となる。
【００８８】
この場合において、フォーカスバイアス値に与えるべきオフセット値は、第２の実施の形態の場合と同様、上記調整ばらつき、上記精度確保可能フォーカスバイアス値、上記精度確保可能フォーカスバイアス値に基づき、以下の条件を満たす値として求めればよい。
オフセット値＜精度確保可能フォーカスバイアス値−標準探索フォーカスバイアス値−調整ばらつき
又は、
オフセット値＞精度確保可能フォーカスバイアス値＋標準探索フォーカスバイアス値＋調整ばらつき
【００８９】
この場合の光ディスク装置２０に対しては、このようにして予め求められたオフセット値を、ＦＢオフセット値１８ｇとしてメモリ１８に記憶させておく。
【００９０】
また、この場合における校正用の相違情報は、ｉＭＬＳＥを評価指標としたフォーカスバイアス値・球面収差補正値の調整処理で求められたフォーカスバイアス値を、上記のように求めたＦＢオフセット値１８ｇによりオフセットさせたフォーカスバイアスの設定条件下でｉＭＬＳＥを最良とするチルト調整値とＭＰＰ信号振幅を最大とするチルト調整値とをそれぞれ求め、それらの相違情報として予め求めておく。具体的にこの場合も、相違情報は比率情報（ｉＭＬＳＥを最良とするチルト調整値／ＭＰＰ信号振幅を最大とするチルト調整値）として求めておく。
この場合の光ディスク装置２０には、このように予め求めておいた比率情報としての相違情報を、校正用情報１８ｈとしてメモリ１８に記憶させておく。
【００９１】
図１３のフローチャートは、この場合のチルト補正手法の実現のために行われるべき具体的な処理の手順を示している。
先の図９と比較して分かるように、この場合は、図９に示すステップＳ２０１の探索処理に代えて、ｉＭＬＳＥを評価指標としたフォーカスバイアス値・球面収差補正値の最適値の探索処理を実行する（Ｓ４０１）。
以降のステップＳ４０２〜Ｓ４０６の処理は、ステップＳ４０３において上記のように求めたＦＢオフセット値１８ｇを用い、且つステップＳ４０５において上記のように求めた校正用情報１８ｈを用いる点以外は、ステップＳ２０２〜Ｓ２０６と同様となる。
【００９２】
［3-3.その他］
これまでの説明では、未記録領域での最適チルト調整値の探索時に用いる評価指標として、ＭＰＰ信号を用いる場合を例示したが、未記録領域での最適チルト探索時に用いる評価指標としては、光学ピックアップＯＰ内の受光部がトラッキング方向の分割受光を行って得られる各受光信号の誤差を表すトラッキング方向誤差信号が用いられればよく、必ずしもＭＰＰ信号に限定されるべきものではない。例えば、ＤＰＰ法によるトラッキングエラーＴＥを用いることもできる。
【００９３】
また、ディスクチルト発生量がディスク半径位置に応じて異なることに対応させて、本技術のチルト補正を、半径方向に区切ったエリアごとに分けて実行するようにもできる。
具体的に、例えば第１の実施の形態であれば、少なくともステップＳ１０３〜Ｓ１０５の処理を所定の半径方向エリアごとに実行し、また第２の実施の形態であれば少なくともステップＳ２０３〜Ｓ２０６の処理を半径方向エリアごとに実行するものとすればよい。なお、半径方向エリアの区切りとしては、例えば内周エリア／外周エリアや、内周エリア／中周エリア／外周エリアなどを挙げることができる。
【００９４】
また、これまでの説明では、校正用情報としての相違情報を求める際に必要となる、再生信号（光ディスクＤに記録された信号の再生信号）に基づく評価指標（信号品質評価値）として、ｉＭＬＳＥを用いる場合を例示したが、このような光ディスクＤに記録された信号の再生信号に基づいて生成される信号品質評価値としては、例えばＲＦ信号の振幅値など他の信号品質評価値を用いることもできる。
【００９５】
また、本技術は、以下の（１）〜（１０）に示す構成とすることも可能である。
（１）
光ディスク記録媒体に対して対物レンズを介してレーザ光照射を行うと共に、上記光ディスク記録媒体からの上記レーザ光の戻り光を上記対物レンズを介して受光する光照射／受光部と、
上記対物レンズを傾けるチルト調整部と、
上記光照射／受光部が上記戻り光を受光して得られる受光信号に基づき上記対物レンズについてのフォーカスサーボ制御を行うフォーカスサーボ制御部と、
上記フォーカスサーボ制御部のフォーカスサーボ制御に伴い形成されるフォーカスサーボループにフォーカスバイアスを付与するフォーカスバイアス付与部と、
上記光照射／受光部がトラッキング方向の分割受光を行って得られる各受光信号に基づいて、これら受光信号の誤差を表すトラッキング方向誤差信号を生成するトラッキング方向誤差信号生成部と
を備えると共に、
上記チルト調整部に異なるチルト調整値を設定したときに得られる上記トラッキング方向誤差信号をそれぞれ取得した結果に基づき、上記トラッキング方向誤差信号を最大としたチルト調整値を求めるチルト調整値探索処理と、
上記光ディスク記録媒体に記録された信号の再生信号に基づいて生成される信号品質評価値を最良とするチルト調整値と、上記トラッキング方向誤差信号を最大とするチルト調整値との相違を表す相違情報であって、上記チルト調整値探索処理の実行時に上記フォーカスバイアス付与部に設定するフォーカスバイアス値についての探索設定手法と同じ探索設定手法により求めたフォーカスバイアス値の設定条件下で予め求められた相違情報に基づいて、上記チルト調整値探索処理で求めた上記チルト調整値を校正するチルト調整値校正処理と、
上記チルト調整値校正処理により得たチルト調整値に基づき、上記チルト調整部によるチルト調整を実行させる調整制御処理と
を実行する制御部を備える
光ディスク装置。
（２）
上記相違情報は、
上記信号品質評価値を最良とするチルト調整値と上記トラッキング方向誤差信号を最大とするチルト調整値との比率情報である
上記（１）に記載の光ディスク装置。
（３）
上記フォーカスバイアス値の探索設定手法は、上記トラッキング方向誤差信号を最大とするフォーカスバイアス値を探索設定する手法とされ、
上記制御部は、上記チルト調整値探索処理の実行前に、
上記トラッキング方向誤差信号を最大とするフォーカスバイアス値を探索し、当該探索により求まったフォーカスバイアス値を上記フォーカスバイアス付与部に設定するフォーカスバイアス調整処理を実行する
上記（１）又は（２）に記載の光ディスク装置。
（４）
上記フォーカスバイアス値の探索設定手法は、上記トラッキング方向誤差信号を最大とするフォーカスバイアス値を探索し、当該探索により求まったフォーカスバイアス値に第１のオフセット値を与えたフォーカスバイアス値を設定する手法とされ、
上記制御部は、上記チルト調整値探索処理の実行前に、
上記トラッキング方向誤差信号を最大とするフォーカスバイアス値を探索し、当該探索により求まったフォーカスバイアス値に上記第１のオフセット値を与えたフォーカスバイアス値を上記フォーカスバイアス付与部に設定するフォーカスバイアス調整処理を実行する
上記（１）又は（２）に記載の光ディスク装置。
（５）
上記第１のオフセット値は、
当該第１のオフセット値を上記探索設定手法により探索したフォーカスバイアス値に付与したときに、上記対物レンズの傾け角度に対する上記トラッキング方向誤差信号の感度を向上させることができるように求められたものである
上記（４）に記載の光ディスク装置。
（６）
上記第１のオフセット値は、
上記探索設定手法により求まる上記トラッキング方向誤差信号を最大とするフォーカスバイアス値の標準値を標準探索フォーカスバイアス値、
上記探索設定手法でフォーカスバイアス値を求めたときのフォーカスバイアス値の調整ばらつきをフォーカスバイアス調整ばらつき、
上記チルト調整値探索処理により目標とするチルト調整精度を最低限確保するために設定されるべきフォーカスバイアス値を精度確保可能フォーカスバイアス値としたとき、
精度確保可能フォーカスバイアス値−標準探索フォーカスバイアス値−フォーカスバイアス調整ばらつき
の値未満という条件、又は、
精度確保可能フォーカスバイアス値＋標準探索フォーカスバイアス値＋フォーカスバイアス調整ばらつき
の値より大という条件を満たすように求められたものである
上記（５）に記載の光ディスク装置。
（７）
上記受光信号に基づき上記信号品質評価値を生成する品質評価値生成部をさらに備えると共に、
上記フォーカスバイアス値の探索設定手法は、上記信号品質評価値を最良とするフォーカスバイアス値を探索設定する手法とされ、
上記制御部は、上記チルト調整値探索処理の実行前に、
上記信号品質評価値を最良とするフォーカスバイアス値を探索し、当該探索により求まったフォーカスバイアス値を上記フォーカスバイアス付与部に設定するフォーカスバイアス調整処理を実行する
上記（１）又は（２）に記載の光ディスク装置。
（８）
上記受光信号に基づき上記信号品質評価値を生成する品質評価値生成部をさらに備えると共に、
上記フォーカスバイアス値の探索設定手法は、上記信号品質評価値を最良とするフォーカスバイアス値を探索し、当該探索により求まったフォーカスバイアス値に第２のオフセット値を与えたフォーカスバイアス値を設定する手法とされ、
上記制御部は、上記チルト調整値探索処理の実行前に、
上記信号品質評価値を最良とするフォーカスバイアス値を探索し、当該探索により求まったフォーカスバイアス値に上記第２のオフセット値を与えたフォーカスバイアス値を上記フォーカスバイアス付与部に設定するフォーカスバイアス調整処理を実行する
上記（１）又は（２）に記載の光ディスク装置。
（９）
上記第２のオフセット値は、
当該第２のオフセット値を上記探索設定手法により探索したフォーカスバイアス値に付与したときに、上記対物レンズの傾け角度に対する上記トラッキング方向誤差信号の感度を向上させることができるように求められたものである
上記（８）に記載の光ディスク装置。
（１０）
上記第２のオフセット値は、
上記探索設定手法により求まる上記信号品質評価値を最良とするフォーカスバイアス値の標準値を標準探索フォーカスバイアス値、
上記探索設定手法でフォーカスバイアス値を求めたときのフォーカスバイアス値の調整ばらつきをフォーカスバイアス調整ばらつき、
上記チルト調整値探索処理により目標とするチルト調整精度を最低限確保するために設定されるべきフォーカスバイアス値を精度確保可能フォーカスバイアス値としたとき、
精度確保可能フォーカスバイアス値−標準探索フォーカスバイアス値−フォーカスバイアス調整ばらつき
の値未満という条件、又は、
精度確保可能フォーカスバイアス値＋標準探索フォーカスバイアス値＋フォーカスバイアス調整ばらつき
の値より大という条件を満たすように求められたものである
上記（９）に記載の光ディスク装置。
【符号の説明】
【００９６】
１,２０  光ディスク装置、２  スピンドルモータ（ＳＰＭ）、３  対物レンズ、４  ２軸アクチュエータ、５  チルト調整部、６  スライド駆動部、７  レーザドライバ、８  記録処理部、９  マトリクス回路、１０  再生処理部、１０ａ  評価器、１１  アドレスデコーダ、１２  サーボ回路、１３  ２軸ドライバ、１４  ＳＡ補正ドライバ、１５  スピンドルサーボ回路、１６  チルトドライバ、１７  コントローラ、１８  メモリ、１８ａ,１８ｃ  制御プログラム、１８ｂ,１８ｄ  校正用情報、１８ｅ  ＦＢオフセット値、ＯＰ  光学ピックアップ、Ｄ  光ディスク
【図１】
2013004150.tif 000003
【図２】
2013004150.tif 000004
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
2013004150.tif 000009
【図９】
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【図１０】
2013004150.tif 000011
【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図３】
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