(57)【要約】【課題】光の透過率の異なるディスクであっても、正確に検出できるディスク検出技術を提供する。【解決手段】発光部３と、ディスクＤの進行経路を挟んで、発光部３からの光を受光する位置に配置され、発光部３からの光を検知する受光部４とに接続され、発光部３の発光強度の上昇及び下降を、交互に繰り返して行わせる発光強度変更部１０と、発光部３の発光強度の上昇中若しくは下降中に、受光部４の光の検知の有無に応じて、進行経路におけるディスクＤの有無を判定するディスク判定部３０と、を有する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
発光部と、ディスクの進行経路を挟んで、前記発光部からの光を受光する位置に配置され、前記発光部からの光を検知する受光部とに接続され、
前記発光部の発光強度の上昇及び下降を、交互に繰り返して行わせる発光強度変更部と、
前記発光部の発光強度の上昇中若しくは下降中に、前記受光部による光の検知の有無に応じて、前記進行経路におけるディスクの有無を判定するディスク判定部と、
を有することを特徴とするディスク検出装置。
【請求項２】
前記発光強度変更部による発光強度の上昇及び下降は、前記受光部が検知可能な光の強度レベルとなる時間と、前記受光部が検知できない光の強度レベルとなる時間とを、交互に繰り返すように設定されていることを特徴とする請求項１記載のディスク検出装置。
【請求項３】
前記発光部の発光強度の上昇及び下降の一周期において、前記受光部が検知可能な光の強度レベルとなる時間である検知時間を記憶する検知時間記憶部を有し、
光を検知した前記受光部からの信号に基づいて、前記検知時間を判定する検知時間判定部と、
前記検知時間記憶部に記憶された検知時間と、前記検知時間判定部により判定された検知時間とを比較することにより、検知時間が短くなったか否かを判定する検知時間比較部と、
前記検知時間比較部が、検知時間が短くなったと判定すると、前記発光部の発光強度を増加させる発光強度増加部と、
を有することを特徴とする請求項２記載のディスク検出装置。
【請求項４】
前記発光強度変更部は、前記発光部に、前記ディスク判定部がディスクが有ると判定した発光強度を保持させる保持部を有することを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載のディスク検出装置。
【請求項５】
前記発光強度変更部が、発光強度を上昇及び下降させる時間を設定する時間設定部を有することを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載のディスク検出装置。
【請求項６】
発光部と、ディスクの進行経路を挟んで、前記発光部からの光を受光する位置に配置され、前記発光部からの光を検知する受光部に接続されたコンピュータ又は電子回路が、
前記発光部の発光強度の上昇及び下降を、交互に繰り返して行わせる発光強度変更処理と、
前記発光部の発光強度の上昇中若しくは下降中に、前記受光部による光の検知の有無に応じて、前記進行経路におけるディスクの有無を判定する判定処理と、
を実行することを特徴とするディスク検出方法。
【請求項７】
前記発光強度変更処理による発光強度の上昇及び下降は、前記受光部が検知可能な光の強度レベルとなる時間と、前記受光部が検知できない光の強度レベルとなる時間とを、交互に繰り返すことを特徴とする請求項６記載のディスク検出方法。
【請求項８】
前記コンピュータ又は電子回路が、
前記発光部の発光強度の上昇及び下降の一周期において、前記受光部が検知可能な光の強度レベルとなる時間である検知時間を記憶する検知時間記憶処理と、
光を検知した前記受光部からの信号に基づいて、前記検知時間を判定する検知時間判定処理と、
前記検知時間記憶部に記憶された検知時間と、前記検知時間判定部により判定された検知時間とを比較することにより、検知時間が短くなったか否かを判定する検知時間比較処理と、
前記検知時間比較部が、検知時間が短くなったと判定すると、前記発光部の発光強度を増加させる発光強度増加処理と、
を実行することを特徴とする請求項７記載のディスク検出方法。
【請求項９】
発光部と、ディスクの進行経路を挟んで、前記発光部からの光を受光する位置に配置され、前記発光部からの光を検知する受光部に接続されたコンピュータに、
前記発光部の発光強度の上昇及び下降を、交互に繰り返して行わせる発光強度変更処理と、
前記発光部の発光強度の上昇中若しくは下降中に、前記受光部による光の検知の有無に応じて、前記進行経路におけるディスクの有無を判定する判定処理と、
を実行させるディスク検出プログラム。
【請求項１０】
前記発光強度変更処理による発光強度の上昇及び下降は、前記受光部が検知可能な光の強度レベルを超える時間と、前記受光部が検知できない光の強度レベルとなる時間とを、交互に繰り返して行わせることを特徴とする請求項９記載のディスク検出プログラム。
【請求項１１】
前記コンピュータに、
前記発光部の発光強度の上昇及び下降の一周期において、前記受光部が検知可能な光の強度レベルとなる時間である検知時間を記憶する検知時間記憶処理と、
前記発光部の発光強度の上昇及び下降の一周期において、前記受光部が前記発光部からの光を検知できる時間である検知時間を記憶する検知時間記憶処理と、
光を検知した前記受光部からの信号に基づいて、前記検知時間を判定する検知時間判定処理と、
前記検知時間記憶部に記憶された検知時間と、前記検知時間判定部により判定された検知時間とを比較することにより、検知時間が短くなったか否かを判定する検知時間比較処理と、
前記検知時間比較部が、検知時間が短くなったと判定すると、前記発光部の発光強度を増加させる発光強度増加処理と、
を実行させることを特徴とする請求項１０記載のディスク検出プログラム。
【請求項１２】
請求項１〜５のいずれか１項に記載のディスク検出装置を備え、
ディスクの挿入部と、
前記挿入部から挿入されたディスクを搬送する搬送装置と、
を有し、
前記発光部及び受光部は、前記挿入部の近傍に配置されていることを特徴とするディスクローディング装置。
【請求項１３】
請求項１２記載のディスクローディング装置を備え、
前記搬送装置により搬送されたディスクに記録された信号を検出する検出装置を有することを特徴とするディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ディスク装置へのディスクの挿入等を検出する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
情報が記録されたディスクの再生等を行うディスク装置は、挿入されたディスクを再生部まで導くディスクローディング装置を備えている。また、ディスク装置は、ディスクの挿入を検出するディスク検出装置を備えている。ディスクローディング装置は、ディスク検出装置がディスクの挿入を検出すると起動して、ディスクを再生部まで移動させる。
【０００３】
一般的なディスク検出装置は、発光ダイオード（ＬＥＤ）からの光を受光するフォトトランジスタをセンサとして用いている。ディスク検出装置は、ディスク装置に挿入されたディスクがＬＥＤからの光を遮ると、フォトトランジスタが光を検知しなくなるので、ディスクが挿入されたことを検出できる（特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開昭６３−２１６４号公報
【特許文献２】特開２００５−３３１４４７号公報
【特許文献３】特開２００９−１５９９６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、従来のディスク検出装置は、ＬＥＤの制御電圧は変化させず、制御電流や発光強度の設定は常に一定であった。しかし、情報の記録再生用のディスクには、規格、材質等が異なる様々な種類のものが存在する。このため、各ディスクによって、光の透過率が相違する。また、一枚の光ディスクにも、光の透過率が高い部分と、光の透過率が低い部分とが存在する。
【０００６】
このため、設定されたＬＥＤの発光強度が高いと、光の透過率の高いディスクの場合、ＬＥＤからの光を十分に遮ることができない。このため、ディスクが存在しても、フォトトランジスタが光を検知してしまい、ディスクの検出ができない。これに対処するため、ＬＥＤの発光強度を低くすると、フォトトランジスタによる光の検知が不安定になる。
【０００７】
また、ＬＥＤ、フォトトランジスタは、使用期間の経過により劣化して、発光強度、受光感度が変化する場合がある。このような変化は、周囲の温度、汚れの付着等によっても生じる。かかる場合には、ディスクの検出に誤りが生じる可能性がある。
【０００８】
ＬＥＤの発光強度、フォトトランジスタの受光感度の変化を補正して、物体の光の透過率を測定する方法が、特許文献２に記載されている。これは、透過率１００％の場合のフォトトランジスタの出力と、ディスクを透過した場合のフォトトランジスタの出力とを比較して、ディスクの透過率を求める方法である。しかし、この方法は、装置に収容されたディスクの透過率を求めるに過ぎず、初めて挿入されるディスクの透過率の相違に対応して、正確な検出を行うことはできない。
【０００９】
また、特許文献３には、あらかじめ記憶された正常時の受光量の変化パターンと、ディスクの挿入時の受光量の変化パターンとを比較して、異形のディスクや異物の挿入を検知する方法が開示されている。しかし、この方法も、初めて挿入される正常なディスクの透過率の相違に応じて、正確な検出を行うことはできない。
【００１０】
本発明は、以上のような従来技術の問題点を解決するために提案されたものであり、その目的は、光の透過率の異なるディスクであっても、正確に検出できるディスク検出技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記の課題を解決するために、本発明のディスク検出装置は、発光部と、ディスクの進行経路を挟んで、前記発光部からの光を受光する位置に配置され、前記発光部からの光を検知する受光部とに接続され、前記発光部の発光強度の上昇及び下降を、交互に繰り返して行わせる発光強度変更部と、前記発光部の発光強度の上昇中若しくは下降中に、前記受光部による光の検知の有無に応じて、前記進行経路におけるディスクの有無を判定するディスク判定部と、を有することを特徴とする。
以上のような発明では、発光強度が上昇及び下降を繰り返すことにより、常に変化している。このため、高い強度の光では透過してしまう透過率の高いディスクであっても、発光強度が低い時に光を透過しなくなるので、受光部により正確に検知できる。
【００１２】
他の態様は、前記発光強度変更部による発光強度の上昇及び下降は、前記受光部が検知可能な光の強度レベルとなる時間と、前記受光部が検知できない光の強度レベルとなる時間とを、交互に繰り返すように設定されていることを特徴とする。
以上のような態様では、受光部が検知可能な最低限の光の強度レベルまでを検知に用いることができるので、透過率の低いディスクの検出漏れの無い発光強度の設定が容易となる。
【００１３】
他の態様は、前記発光部の発光強度の上昇及び下降の一周期において、前記受光部が検知可能な光の強度レベルとなる時間である検知時間を記憶する検知時間記憶部を有し、光を検知した前記受光部からの信号に基づいて、前記検知時間を判定する検知時間判定部と、前記検知時間記憶部に記憶された検知時間と、前記検知時間判定部により判定された検知時間とを比較することにより、検知時間が短くなったか否かを判定する検知時間比較部と、前記検知時間比較部が、検知時間が短くなったと判定すると、前記発光部の発光強度を増加させる発光強度増加部と、を有することを特徴とする。
【００１４】
以上のような態様では、受光部が受光できる検知時間が短くなったことを判定することにより、発光部の発光強度若しくは受光部の受光感度の低下を検知して、発光部の発光強度を増加させるので、安定した検出を維持できる。
【００１５】
他の態様は、前記発光強度変更部は、前記発光部に、前記ディスク判定部がディスクが有ると判定した発光強度を保持させる保持部を有することを特徴とする。
以上のような態様では、挿入されたディスクの検出に適した発光強度が保持されるので、当該ディスクの排出時も、正確に検出できる。
【００１６】
他の態様は、前記発光強度変更部が、発光強度を上昇及び下降させる時間を設定する時間設定部を有することを特徴とする。
以上のような態様では、時間設定部による時間設定により、種々のディスク検出に適切な周期を決定することができる。
【００１７】
なお、上記の発明は、ディスク検出方法の観点からも、ディスク検出プログラムの観点からも捉えることができる。また、上記のディスク検出装置を有するディスクローディング装置、ディスク装置も本発明の一態様である。
【発明の効果】
【００１８】
以上説明したように、本発明によれば、光の透過率の異なるディスクであっても、正確に検出可能なディスク検出技術を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】ディスク検出装置が適用されるディスク装置の一例を示す概略構成図である。
【図２】ディスク検出装置の一実施形態を示すブロック図である。
【図３】発光部の発光強度が変化する態様を示す図である。
【図４】実施形態のディスク検出処理を示すフローチャートである。
【図５】通常ディスクの検出処理を示す図である。
【図６】透過ディスクの検出処理を示す図である。
【図７】実施形態の光強度増加処理を示すフローチャートである。
【図８】発光強度の低下に応じて発光強度を増加させる態様を示す図である。
【図９】受光強度の低下に応じて発光強度を増加させる態様を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
本発明を実施するための形態（以下、実施形態とする）について、図面を参照して説明する。
［１．構成］
［１−１．ディスク装置］
まず、図１を参照して、本実施形態が適用されるディスク装置１の一例を説明する。
【００２１】
すなわち、ディスク装置１は、筐体２、発光部３、受光部４、搬送装置５、支持装置６、検出装置７、移動装置８を有している。筐体２は、ディスク装置１の各構成部を収容する部材である。この筐体２の一側面には、ディスクＤを挿入する開口である挿入部２ａが設けられている
【００２２】
発光部３及び受光部４は、筐体２内の挿入部２ａの近傍に設けられている。発光部３及び受光部４は、ディスクＤの進行経路を挟んで対向する位置に配設されている。発光部３及び受光部４は、複数組存在してもよい。発光部３は、たとえば、発光ダイオード（ＬＥＤ）である。受光部４は、たとえば、フォトトランジスタである。
【００２３】
受光部４は、発光部３からの光を受光する位置に配置されている。受光部４は、発光部３からの光を検知するとＯＮとなり、検知信号である検出電圧を出力する。また、受光部４は、発光部３からの光を検知しなくなるとＯＦＦとなり、検出電圧を出力しない。
【００２４】
なお、受光部４により検知可能な光の強度には、一定のレベルがある。このため、受光部４は、このレベル以上の強度の光を受光すれば、検出電圧を出力する。しかし、受光部４は、このレベルより低い強度の光を受光しても、検出電圧を出力しない。
【００２５】
搬送装置５は、ディスクＤを搬送する装置である。搬送装置５は、たとえば、ローラ５ａとガイド部５ｂを有している。ローラ５ａは、図示しない駆動源及び駆動機構によって、回動する部材である。ガイド部５ｂは、ローラ５ａとの間でディスクＤを挟持して、ローラ５ａの回転によるディスクＤの移動をガイドする部材である。なお、駆動源及び駆動機構の動作は、駆動制御部２００（図２参照）が制御する。
【００２６】
支持装置６は、ディスクＤを支持して回転させる装置である。支持装置６は、たとえば、ターンテーブル６ａ及びスピンドルモータ６ｂを有している。ターンテーブル６ａは、ディスクＤを支持するテーブルである。スピンドルモータ６ｂは、光ディスクＤを支持したターンテーブル６ａを回転させるモータである。
【００２７】
検出装置７は、ディスクＤに記録された信号を光学的に検出するピックアップである。移動装置８は、検出装置７をディスクＤの半径方向に移動させる装置である。支持装置６、検出装置７、移動装置８等は、図示しない制御装置に接続され、制御装置が駆動、情報の記録再生等の処理を行う。
【００２８】
なお、上記は例示であり、筐体２、発光部３、受光部４、搬送装置５、支持装置６、検出装置７、移動装置８、駆動制御部２００、制御装置等は、一般的に普及しているものを含めて、現在又は将来において利用可能なあらゆる構造のものを適用可能である。
【００２９】
［１−２．ディスク検出装置］
次に、本実施形態のディスク検出装置の構成を、図２のブロック図を参照して説明する。すなわち、ディスク検出装置１００は、発光強度変更部１０、時間設定部２０、ディスク判定部３０、検出信号出力部４０、検知時間判定部５０、検知時間比較部６０、発光強度増加部７０、記憶部８０を有している。
【００３０】
発光強度変更部１０は、発光部３の発光強度の上昇及び下降を、交互に繰り返して行わせる処理部である。この発光強度変更部１０は、上昇部１１、下降部１２、保持部１３及び計測部１４を有している。
【００３１】
上昇部１１は、発光部３の発光強度を上昇させる処理部である。下降部１２は、発光部３の発光強度を下降させる処理部である。保持部１３は、ディスクＤの挿入が検出された発光強度のレベルを、発光部３に保持させる処理部である。計測部１４は、あらかじめ設定された変更時間の経過を計測する処理部である。
【００３２】
発光強度変更部１０による発光強度の上昇及び下降は、図３に示すように、発光部３の制御電圧をパルス駆動させて、制御電流を昇降させることにより行う。この図３に、発光部３としてＬＥＤを用いた場合の光の放射強度である発光強度の変化を示す。図３に示すように、発光部３の発光強度は、制御電流の変化に比例する。このように制御電流を変化させるために、発光強度変更部１０は、制御電圧のパルス幅（一定周期の場合はデューティー比）を変化させる。なお、たとえば、この図３に示す発光強度の波形の最下点から次の最下点までを、一周期とする。また、たとえば、図３に示す受光部４が検知可能な光の強度レベルＸと、上昇及び下降する発光強度の波形が交わる点を、変化点とする。
【００３３】
時間設定部２０は、発光強度変更部１０が発光部３の発光強度を上昇及び下降させる時間を設定する処理部である。この時間設定部２０は、発光強度を上昇させる時間を設定する上昇時間設定部２１と、下降させる時間を設定する下降時間設定部２２とを有する。この時間設定部２０の設定により、発光強度の周期が決定する。周期を短くし過ぎると、後述する検知時間の判定が難しくなるため、それを考慮した適宜の周期とすることが望ましい。
【００３４】
ディスク判定部３０は、受光部４からの検知信号である検出電圧に基づいて、ディスクＤの有無を検知する処理部である。ディスク判定部３０によるディスクＤの有無の検知は、以下のように行う。すなわち、受光部４が発光部３からの光を検知しているＯＮ状態では、ディスク判定部３０は、検知信号によりディスクＤが存在していないと判定する。
【００３５】
この状態から、挿入されたディスクＤによって、発光部３からの光が遮られると、受光部４が光を検知できなくなり、ＯＦＦ状態となる。これにより、受光部４からの検出電圧が無くなるので、ディスク判定部３０は、ディスクＤが挿入されたと判定する。なお、たとえば、図３で示すように、変化点を切り替え点として、受光部４が検知可能な光の強度レベルとなる時間と、検知できない光の強度レベルとなる時間とが、交互に繰り返される場合には、検知可能な光の強度レベルとなる時間に、上記のディスクＤの有無の検知が可能となる。たとえば、検知可能な光の強度レベルとなる時間は、後述する検知時間に相当する。このため、ディスク判定部３０は、上記のように検知信号の有無を判定する判定部とともに、発光強度の上昇により受光部４が検知可能な光の強度レベルとなる時点（変化点）から、後述する記憶部８０に記憶された検知時間の経過を測定する測定部を有していてもよい。つまり、測定部により測定された時間が経過するまでの間に、判定部が検知信号の有無を判定することにより、ディスクＤの有無を検知できる。
【００３６】
また、上記のように、光の透過率の低いディスクＤと光の透過率の高いディスクＤでは、受光部４によりディスクＤの有無を検出可能な発光強度が異なる。透過率の低いディスクＤは、発光部３からの発光強度が強くても、発光部３からの光を十分に遮る。このため、受光部４は光を検知できなくなり、ＯＦＦ状態となる。これにより、ディスクＤを検出できる。
【００３７】
一方、光の透過率の高いディスクＤは、発光部３からの発光強度が強いと、発光部３からの光を十分に遮ることができない。このため、受光部４が検知可能な光の強度のままとなり、この光を受光部４が受光するので、受光部４はＯＦＦ状態とならない。したがって、透過率の高いディスクＤを検知可能な光の強度は、低いレベルとなる。なお、以下の説明では、透過率の低いディスクを通常のディスク、透過率の高いディスクＤを透過ディスクとする。
【００３８】
検出信号出力部４０は、ディスク判定部３０がディスクＤが存在すると判定した場合に、ディスクＤが有ることを示す検出信号を、駆動制御部２００に出力する処理部である。駆動制御部２００は、検出信号が入力された場合に、搬送装置５を作動させる。
【００３９】
検知時間判定部５０は、受光部４からの検知信号に基づいて、受光部４が発光部３からの光を検知できる検知時間を判定する処理部である。上記のように、受光部４により検知可能な光の強度には、一定のレベルがある。そして、発光部３の光の強度は、上記のように、上昇と下降を交互に繰り返す。
【００４０】
この上昇と下降の過程で、受光部４が検知可能な光の強度レベルを通過する。すると、受光部４が検知可能な光の強度レベルとなる時間と、検知できない光の強度レベルとなる時間とが、交互に繰り返される。このうち、受光部４が光を検知している時間が、上記の検知時間である。
【００４１】
受光部４として、フォトトランジスタを用いた場合に、光を検知することにより出力される検出電圧の変化を、図３に示す。この図３では、上述の通り、受光部４が光を検知できる発光部３の発光強度のレベルをＸで示している。図３のｔ１で示すように、Ｘ以上の発光強度に対応するＨレベルの幅が、検知時間判定部５０により判定される検知時間である。
【００４２】
なお、図３は、検出電圧がないＬｏｗレベル（以下、Ｌレベルとする）を１、検出電圧があるＨｉｇｈレベル（以下、Ｈレベルとする）を０、とするローアクティブ（負論理回路）の例である。発光部３の発光強度レベルが、フォトトランジスタをＯＮにするために必要な強度よりも低い場合には、Ｌレベルとなり、当該強度よりも高い場合には、Ｈレベルとなる。
【００４３】
検知時間判定部５０は、Ｈレベルとなってから、Ｌレベルに戻るまでの時間をタイマにより計測することにより、検知時間を判定できる。検知時間判定部５０は、一周期の検知時間で判定しても、所定の複数周期の検知時間の平均により判定してもよい。なお、ハイアクティブ（正論理回路）の場合は、検出電圧がないＬレベルが０、検出電圧があるＨレベルが１となるだけで、実質的には同じである。
【００４４】
検知時間比較部６０は、後述する記憶部８０に記憶された検知時間と、検知時間判定部５０が判定した検知時間とを比較して、検知時間が短くなっているか否かを判定する処理部である。検知時間が短くなる現象は、発光部３の劣化や汚れによる発光強度の低下、受光部４の劣化や汚れによる受光感度の低下が原因で生じる。また、周囲の温度による影響により、検知時間が短くなる場合もある。
【００４５】
つまり、発光強度が上昇と下降を交互に繰り返す過程で、発光強度の低下若しくは受光感度の低下が生じると、検知可能な光の強度レベルとなる領域が狭くなるので、検知時間が短くなる。たとえば、図３で、発光部３の発光強度が低下すると、Ｘのレベルを超える領域が狭くなるので、Ｈの幅が短くなる。
【００４６】
発光強度増加部７０は、検知時間比較部６０が、検知時間が短くなったと判定した場合に、発光強度変更部１０に、発光部３の発光強度の増加を指示する処理部である。この発光強度の増加は、検知時間判定部５０により判定される検知時間が、記憶部８０に記憶された検知時間と一致若しくは同等となるように、上昇部１１及び下降部１２による制御電圧のパルス幅を増大させることにより行う。
【００４７】
記憶部８０は、ディスク検出装置１００の処理に必要な種々の情報を記憶する処理部である。たとえば、記憶部８０は、変更時間、保持強度、検知時間等を記憶する。変更時間は、発光強度変更部１０が発光部３の発光強度を変更させる時間である。この変更時間には、発光強度を上昇させる時間である上昇時間、発光強度を下降させる時間である下降時間が含まれる。この変更時間は、時間設定部２０が設定する。
【００４８】
また、保持強度は、保持部１３によって保持させる発光強度のレベルである。上記のように、制御電圧のパルスによる制御を行う場合には、保持強度は、ディスクＤが挿入された時のパルス幅若しくはこれに対応する制御電流のレベルである。また、検知時間は、受光部４が発光部３の発光を検知可能な時間である。この検知時間が、検知時間が短くなったか否かを判定するための基準となる。検知時間は、デフォルトで設定された時間であってもよいし、使用開始の初期若しくは起動時等に検知時間判定部５０により判定された検知時間を記憶してもよい。
【００４９】
なお、ディスク検出装置１００は、専用の電子回路若しくは所定のプログラムで動作するコンピュータ等によって実現できる。電子回路若しくはコンピュータは、上記の各部の処理を行うＣＰＵ、クロック周波数に基づくタイマ機能、電源機能等を含む。データを含むソフトウェアで処理する範囲、ハードウェアで処理する範囲をどのように構成するかは自由である。以下に説明する手順で本装置の動作を制御する方法、コンピュータプログラム及びこれを記録した記録媒体も、本発明の一態様である。
【００５０】
また、記憶部８０は、コンピュータを構成する各種の記憶媒体により実現できる。記憶媒体としては、典型的には、内蔵されたＲＯＭ、ＲＡＭ等のメモリにより構成できる。ただし、記憶部８０は、現在又は将来において利用可能なあらゆる記憶媒体を利用可能である。記憶媒体におけるどの記憶領域を活用して、記憶部８０を構成するかも自由である。上記の各情報の記憶領域が、各情報の記憶部を構成する。
【００５１】
一時的な記憶領域として使用されるレジスタ、メモリ等も、記憶部８０に含まれる。したがって、上記の各部の処理のために一時的に記憶される記憶領域であっても、記憶部８０として捉えることができる。たとえば、あらかじめ値が記憶されたＲＯＭ、このＲＯＭに記憶された値をＲＡＭに設定することにより、演算処理に用いるという態様も、記憶部８０に含まれる。また、変更時間として設定された上昇時間、下降時間をデクリメントしたり、上昇時間、下降時間に達するまで時間値をインクリメントする場合の作業領域も、記憶部８０に含まれる。
【００５２】
また、図示はしないが、ディスク検出装置１００及び制御装置には、出力部、入力部が接続されている。出力部は、制御装置によって処理されたデータを出力する出力装置である。この出力装置には、音声を出力する場合の音声出力装置、トラック番号、映像、画像等を出力する場合の表示装置等、現在又は将来において利用可能なあらゆる出力装置が含まれる。
【００５３】
入力部は、本実施形態に必要な情報の入力、処理の選択や指示を入力する入力装置である。この入力部としても、現在又は将来において利用可能なあらゆる入力装置が含まれる。なお、上記の他に、ディスク装置１及びその制御に必要な構成については、一般的な技術を適用可能であるため、説明を省略する。
【００５４】
［２．作用］
以上のような構成を有する本実施形態の作用を、図４〜９を参照して説明する。
［２−１．ディスク検出処理］
まず、ディスク検出処理の手順を、図４のフローチャートに従って説明する。すなわち、ディスク装置１の起動により、ディスク検出装置１００の上昇時間設定部２１が、発光部３の光強度の上昇時間を設定する（ステップ０１）。この設定は、上昇時間設定部２１が、記憶部８０におけるＲＯＭからＲＡＭに、上昇時間の値を設定することにより行う。
【００５５】
発光強度変更部１０の上昇部１１は、発光部３の発光強度の上昇を開始させる（ステップ０２）。この上昇中に、ディスク判定部３０は、ディスクＤの挿入の有無を判定する（ステップ０３）。ディスク判定部３０が、ディスクＤが挿入されたと判定した場合（ステップ０４のＹＥＳ）、上昇部１１は、発光部３の発光強度の上昇を停止する（ステップ１３）。保持部１３は、停止時の発光強度を保持する（ステップ１４）。
【００５６】
このような発光強度の上昇時において、ディスク判定部３０が通常ディスクＤの挿入を判定する態様を、図５を参照して説明する。すなわち、発光部３の発光強度が上昇して、受光部４が検出可能な発光強度Ｘを超えると、受光部４の検出電圧がＬレベルからＨレベルに変化する。
【００５７】
この上昇過程で、通常ディスクＤが挿入された場合、通常ディスクＤによって、発光部３からの光がディスクＤによって遮断される。すると、受光部４からの検出電圧がＨレベルからＬレベルに変化する。ディスク判定部３０は、この変化を検知した場合に、ディスクＤが挿入されたと判定する。
【００５８】
上昇部１１は、発光部３の制御電流の上昇を停止させる。このとき、当該ディスクＤを検出可能な発光強度が判明したため、記憶部８０は、この発光強度に対応するパルス幅若しくは制御電流を、保持強度として記憶する。保持部１３は、当該ディスクＤが排出されて取り出されるまで、発光部３の制御電流を、保持強度の値で維持することにより、発光部３の発光強度を保持する。
【００５９】
そして、検出信号出力部４０は、ディスクＤが挿入されたことを検出する検出信号を、駆動制御部２００に出力する（ステップ１５）。これにより、駆動制御部２００は、搬送部５のローラ５ａを回動させるので、ローラ５ａとガイド５ｂに挟持されたディスクＤのローディングが開始する。
【００６０】
また、ディスク判定部３０が、ディスクＤの挿入を検知しない場合（ステップ０４のＮＯ）、計測部１４は、設定された上昇時間が経過したか否かを判定する（ステップ０５）。経過していない場合には（ステップ０５のＮＯ）、上昇部１１による発光強度の上昇と、ディスクＤの挿入判定を継続する（ステップ０３、０４）。計測部１４が、設定された上昇時間が経過したと判定した場合には（ステップ０５のＹＥＳ）、上昇部１１は、発光部３の発光強度の上昇を停止させる（ステップ０６）。
【００６１】
このような計測部１４による時間の判定は、以下のように行う。一例として、上昇時間の設定を１０００ｍｓｃとした場合で述べる。計測部１４は、ディスクＤの挿入が検出されずに、１０００ｍｓｃで設定された時間が０ｍｓｃになっていない場合、進み設定時間として１ｍｓｅｃデクリメントする。計測部１４は、ディスクＤの挿入が検知されない限り、これを繰り返し、設定時間が０ｍｓｃになった時点で、上昇部１１が発光強度の上昇を停止する。
【００６２】
これとは逆に、計測部１４が、初期値を０ｍｓｃとして、ディスクＤの挿入が検知されない限り、１ｍｓｅｃずつインクリメントして行くことも可能である。この場合、計測部１４がインクリメント後の値が、設定時間の１０００ｍｓになった時点で、上昇部１１が発光強度の上昇を停止する。
【００６３】
発光強度の上昇を停止した後、下降時間設定部２２は、発光強度の下降時間を設定する（ステップ０７）。この設定方法は、上記の上昇時間と同様である。そして、下降部１２は、発光部３の発光強度の下降を開始させる（ステップ０８）。
【００６４】
この下降中に、ディスク判定部３０はディスクＤの挿入の有無を判定する（ステップ０９）。ディスク判定部３０が、ディスクＤが挿入されたと判定した場合（ステップ１０のＹＥＳ）、下降部１２は、発光部３の発光強度の下降を停止する（ステップ１３）。保持部１３は、停止時の発光強度を保持する（ステップ１４）。
【００６５】
このような発光強度の下降時において、ディスク判定部３０が透過ディスクＤの挿入を判定する態様を、図６を参照して説明する。すなわち、上記のように、発光強度の上昇により、受光部４が検出可能な発光強度Ｘを超えると、受光部４の検出電圧がＬレベルからＨレベルに変化する。この上昇過程で、透過ディスクＤが挿入されても、発光強度が高いので、発光部３からの光を遮断できない。その後、上記のように、発光強度は上昇から下降へと変化する。
【００６６】
この発光強度の下降過程で、透過ディスクＤであっても透過しない発光強度Ｙになると、透過ディスクＤが発光部３からの光を遮断する。すると、受光部４からの検出電圧がＨレベルからＬレベルに変化する。ディスク判定部３０は、この変化を検知して、ディスクＤが挿入されたと判定する。
【００６７】
下降部１２は、発光部３の制御電流の下降を停止させる。このとき、当該ディスクＤを検出可能な発光強度Ｙが判明したため、記憶部８０は、この発光強度Ｙに対応するパルス幅若しくは制御電流を、保持強度として記憶する。保持部１３は、当該ディスクＤが排出されて取り出されるまで、発光部３の制御電流を、保持強度の値で維持することにより、発光部３の発光強度を保持する。
【００６８】
そして、検出信号出力部４０は、ディスクＤが挿入されたことを検出する検出信号を、駆動制御部２００に出力する（ステップ１５）。これにより、駆動制御部２００は、搬送部５のローラ５ａを回動させるので、ローラ５ａとガイド５ｂに挟持されたディスクＤのローディングが開始する。
【００６９】
また、ディスク判定部３０が、ディスクＤの挿入を検知しない場合（ステップ１０のＮＯ）、計測部１４は、設定された上昇時間が経過したか否かを判定する（ステップ１１）。経過していない場合には（ステップ１１のＮＯ）、下降部１２による発光強度の下降と、ディスクＤの挿入判定を継続する（ステップ０９、１０）。計測部１４が、設定された下降時間が経過したと判定した場合には（ステップ１１のＹＥＳ）、下降部１１は、発光強度の下降を停止する（ステップ１２）。そして、上記のステップ０１以降の処理に戻る。なお、計測部１４による下降時間の判定は、上記の発光強度の上昇時と同様である。
【００７０】
なお、ディスクＤがディスク装置１内に収容されたこと、ディスクＤがディスク装置１から取り出されたことも、ディスク検出装置１００により検出できる。つまり、上記の保持強度で発光している発光部３からの光は、ディスクＤがローディング中は、ディスクＤにより遮られるので、受光部４が光を検知しない。そして、ディスクＤが支持装置６にセットされる位置まで来ると、ディスクＤは、発光部３及び受光部４の検出位置から外れる。これにより、受光部４が再び光を検知できるようになる。この変化をディスク判定部３０が検知することにより、ディスクＤの収容を判定する。
【００７１】
さらに、ディスクＤの排出時には、搬送装置５により排出方向に移動するディスクＤにより発光部３の光が遮られると、受光部４が光を検知しなくなる。そして、発光部３及び受光部４の検出位置をディスクＤが通過して外れると、受光部４が再び光を検知できるようになる。この変化をディスク判定部３０が検知することにより、ディスクＤの排出を判定する。
【００７２】
ディスクＤの排出によりディスクＤが無い状態になってから、再び、上記のように、ディスク検出のための光強度の上昇及び下降の変更制御を行う。なお、上記の例では、発光強度の上昇時に通常ディスクＤを判定し、下降時に透過ディスクＤを判定し場合を説明した。ただし、上昇時であっても、透過ディスクＤを透過しない発光強度の時に、透過ディスクＤが挿入された場合には、上記の通常ディスクＤと同様に、透過ディスクＤを検出できる。また、下降時に通常ディスクＤが挿入された場合にも、光が遮られるので、ディスク判定部３０による判定が可能となる。
【００７３】
以上説明した通り、発光部３の発光強度が一定周期で変化している過程で、受光部４が検出可能な発光強度において、ディスクＤの有無の検出が可能となる。この流れを簡略化すると、以下の(1)〜(4)のようになる。
【００７４】
(1)発光強度低→大で検出……ディスク検出を終える。
(2)発光強度低→大で検出されなかった……次の検出タイミングを見る。
(3)発光強度大→低で検出……ディスク検出を終える。
(4)発光強度大→低で検出されなかった……次の検出タイミングを見る。
【００７５】
［２−２．発光強度、受光感度の低下に対する処理］
上記のように、発光部３及び受光部４は、長期間使用しているうちに、経年劣化や汚れにより、発光強度や受光感度が低下する場合がある。また、使用する環境、特に、温度変化の影響を受けて、発光強度や受光感度が低下する場合がある。
【００７６】
このように、発光強度や受光感度が低下した場合の処理を、図７〜９を参照して説明する。まず、ディスク装置の使用開始の初期時等に、ディスクＤが未挿入の状態で、上記のように、発光強度変更部１０が発光強度の上昇及び下降を繰り返し行なっているとする。
【００７７】
この時、検知時間判定部５０が、受光部４からの検知信号を検出可能な検知時間を判定する。たとえば、図３の例では、ｔ１が検知時間となる。この検知時間は、あらかじめ記憶部８０が記憶する。なお、検知時間は、あらかじめデフォルトで設定され若しくは入力部により入力され、記憶部８０が記憶した検知時間であってもよい。
【００７８】
そして、ディスク装置１の起動時や、ディスクＤを排出した後に、検知時間の変化に対応する処理を、図７のフローチャートに従って説明する。すなわち、上記のように、発光強度変更部１０が、発光部３に発光強度の上昇及び下降を繰り返し行なわせる。この時、検知時間判定部５０が、受光部４からの検知信号に基づいて、検知時間を判定する（ステップ２１）。
【００７９】
検知時間比較部６０は、検知時間判定部２１が判定した検知時間と、あらかじめ記憶部８０が記憶した検知時間とを比較する（ステップ２２）。この比較の結果、検知時間判定部２１が判定した検知時間が変化していないと判定した場合（ステップ２３のＮＯ）、処理を終了する。
【００８０】
検知時間比較部６０が、検知時間が短くなっていると判定した場合（ステップ２３のＹＥＳ）、発光強度増加部７０は、発光強度変更部１０に発光強度の増加を指示する（ステップ２４）。
【００８１】
これにより、発光強度変更部１０が制御電流を増加させることにより、上昇部１１による発光強度の上昇時、下降部１２による発光強度の下降時の発光強度を高める。この発光強度の増加は、検知時間判定部２１により判定される検知時間が、記憶部８０が記憶した検知時間になるまで行う（ステップ２３、２４）。
【００８２】
つまり、図８に示すように、発光部３の発光強度が低下すると、図中ｔ２のように、ｔ１よりも検知時間が短くなる。このため、検知時間がｔ１と同じ時間間隔になるように、発光強度変更部１０は、制御電流を増加させて、発光強度をアップさせる。
【００８３】
また、図９に示すように、受光部４の受光感度が低下しても、図中ｔ２のように、ｔ１よりも検知時間が短くなる。図９では、正常時には発光部３の発光強度がＸの場合に、受光部４が検知できていたが、受光感度の低下により、発光強度がＺでなければ、受光部４が検知できなくなっている。この場合も、検知時間が、t1と同じ時間間隔になるように、発光強度変更部１０が、制御電流を増加させて、発光強度をアップさせる。
【００８４】
以上の処理により、発光部３の発光強度や受光部４の受光感度が低下した場合であっても、これを補正して、検出感度を維持できる。
【００８５】
［３．効果］
本実施形態によれば、一定周期で発光強度を変化させるため、常に複数レベルの発光強度で検出する。しかも、たとえば、２つの最下点の間の一周期において、同じ発光強度のレベルを２回ずつ繰り返す。このように、発光強度が変化するいずれかの過程で、ディスクＤを検出するので、透過率の異なるディスクＤであっても、検出できる可能性が飛躍的に高まる。つまり、光の透過率の低いディスクＤであっても、発光強度が弱いレベルの時に検出できるので、光の透過率にかかわらず、確実な検出が可能となる。
【００８６】
また、発光部３の発光強度や受光部４の受光感度が低下した場合であっても、発光強度を増加させて、検出感度を維持できる。このため、常に安定したディスク検出が可能となる。また、ディスクＤの挿入の検出後は、挿入されたディスクＤのそれぞれに適した発光強度が保持される。このため、当該ディスクの排出時等にも、正確な検出が可能となる。
【００８７】
また、時間設定部２０による時間設定により、種々のディスク検出に対応可能な周期を決定することができる。なお、発光強度変更部１０が、発光部３の制御電圧をパルス制御しているため、消費電力を抑制することもできる。
【００８８】
［４．他の実施形態］
本発明は上記のような実施形態には限定されない。たとえば、発光部の発光強度の振幅、変化率等の設定は、自由に調整可能である。一例として、発光強度変更部による発光部の発光強度を、受光部が検知可能なレベルで、上昇及び下降を繰り返す設定とすることも可能である。この場合にも、発光強度が強いレベルと弱いレベルを繰り返す過程で、ディスクを検出できるので、透過率の異なるディスクを検出できる。ただし、この場合には、透過率の低いディスクの検出漏れが無いように、最下点を設定する必要があるため、設定が容易ではない。このため、上記の実施形態の方が、受光部が検知可能な最低限の光の強度レベルまでを検知に用いることができ、透過率の低いディスクの検出漏れの無い発光強度の設定が容易となる。
【００８９】
また、記憶部が、発光強度の変化の開始から、検出を継続する期限を記憶することもできる。この期限としては、たとえば、発光強度の変化の開始から、上昇及び下降の周期を繰り返す回数若しくは時間とすることが考えられる。
【００９０】
この場合、ディスク検出装置は、周期の繰り返し回数をカウントするカウント部若しくは繰り返しの継続時間を測定する測定部を備える。そして、発光強度の変化の開始から、カウント部若しくは測定部が期限が到来したと判定した場合に、発光強度変更部が発光部の発光強度の変化を停止させる。ディスクが検出されなかった場合、ディスクなしと判断して、出力部がこれを表示する。これにより、ディスク検出のための発光強度の変更処理の負担を、一定の期間に限定できる。
【００９１】
また、発光部と受光部の組は、複数でもよい。この場合、各受光部からの信号をどのように用いるかは自由である。いずれか一組の受光部からの信号に基づいてディスクが検出された場合に、ディスクが存在すると判定してもよい。複数組の受光部からの信号に基づいてディスクが検出された場合に、ディスクが存在すると判定してもよい。
【００９２】
また、上記の実施形態では、発光部をＬＥＤ、受光部をフォトトランジスタとした。また、発光強度の変化方法は、ＬＥＤの制御電圧をパルス駆動させる態様とした。しかし、このような発光部、受光部、変化方法には限定されず、同等の機能であれば、現在又は将来において利用可能なあらゆるものを適用可能である。たとえば、発光部に用いる発光体によっては、電流値を直接変更させることにより、発光強度を変化させることもできる。受光部として、フォトダイオードを用いることもできる。
【００９３】
また、検出するディスクの動作も、ディスクの挿入の有無には限定されない。上記のように、ディスクの再生位置へのセット、排出も検出可能であり、ディスクの位置決めのための検出にも用いることができる。このため、発光部及び受光部の設置位置も、上記の実施形態には限定されない。検出対象となるディスクも、現在又は将来において利用可能なあらゆるディスクを含む。
【００９４】
また、上記のようなディスク検出装置を備えたディスクローディング装置、ディスク装置も、本発明の一態様である。たとえば、上記の搬送装置を含むディスクローディング装置、このディスクローディング装置に上記の検出装置、支持装置等を含むディスク装置を構成してもよい。ディスク装置は、再生専用のものでも、記録再生が可能なものでもよい。
【００９５】
また、上記の各部において値の大小、不一致等を判定する場合に、わずかな相違は同一と判定できるように、相違する値の許容幅として、しきい値を設定してもよい。これにより、相違がしきい値を超える場合は異なる値、相違がしきい値以内の場合は同一の値と判定できる。
【００９６】
さらに、上記の各部が処理する情報の具体的な内容、値は自由であり、特定の内容、数値には限定されない。大小判断、長短判断、一致不一致の判断等において、以上、以下、として値を含めるように判断するか、より大きい、より長い、より小さい、より短い、超える、超えない、として値を含めないように判断するかも自由である。
【符号の説明】
【００９７】
１…ディスク装置
２…筐体
３…発光部
４…受光部
５…搬送装置
５ａ…ローラ
５ｂ…ガイド
６…支持装置
６ａ…ターンテーブル
６ｂ…スピンドルモータ
７…検出装置
８…移動装置
１０…発光強度変更部
１１…上昇部
１２…下降部
１３…保持部
１４…計測部
２０…時間設定部
２１…上昇時間設定部
２２…下降時間設定部
３０…ディスク判定部
４０…検出信号出力部
５０…検知時間判定部
６０…検知時間比較部
７０…発光強度増加部
１００…ディスク検出装置
２００…駆動制御部
【図１】
2013196719.tif 000003
【図２】
2013196719.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2013196719.tif 000009
【図８】
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【図９】
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