(57)【要約】【課題】基板上に、お互いに電気的に独立して形成された配線パターンの検査方法であって、簡便で効率よく、短期で検査のできる配線パターンの検査方法を提供することを課題とする。【解決手段】隣接する配線パターン間（Ｘ１−Ｘ２間）の一方の端部１を接続し、他方の端部を次に隣接する配線パターンＸ３の端部１１に接続する接続工程と、接続された端部を介して配線パターン間を導通検査する検査工程と、接続した部位を削除する削除工程と、からなることを特徴とする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板上に、お互いに電気的に独立して形成された配線パターンの検査方法であって、
隣接する配線パターン間の一方の端部を接続する接続工程と、
接続された端部を介して配線パターン間を導通検査する検査工程と、
接続した部位を削除する削除工程と、
からなることを特徴とする配線パターンの検査方法。
【請求項２】
接続工程が、隣接する配線パターン間の一方の端部を接続し、他方の端部を次に隣接する配線パターンの端部に接続することを特徴とする請求項１に記載の配線パターンの検査方法。
【請求項３】
接続工程で、隣接する配線パターンの接続は、配線パターンの形成と同時に行い、接続することを特徴とする請求項１または２に記載の配線パターンの検査方法。
【請求項４】
接続工程で、隣接する配線パターンの接続は、導電部材を配線パターンの端部に組み合わせた治具を押し当てて、接続することを特徴とする請求項１または２に記載の配線パターンの検査方法。
【請求項５】
接続工程で、同じ配列位置に分離して配置された配線パターンを、導電部材を配線パターンの端部に組み合わせた治具を押し当てて、接続することを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載の配線パターンの検査方法。
【請求項６】
配線パターンが、タッチパネル用配線であることを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載の配線パターンの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、配線パターンの検査方法に関し、特に、基板上に、お互いに電気的に独立して形成された配線パターンの検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、表示画面に、タッチパネル方式を利用した表示装置が開発され、市販されている。これは、利用者が、表示画面に直接指やペンで触れることによって、表示装置に対する情報入力を行うものである。このため、表示画面上で指やペンが触れた位置をセンサで電気信号化する必要があり、多数のセンサ用の電極を直列接続した配線を基板上に、Ｘ軸方向と、Ｙ軸方向に、配線同士が電気的に独立するように、設けている。Ｘ軸方向と、Ｙ軸方向の配線上に設けられた電極のパターンは、それぞれ上面から見てお互いに重ならないように配置している。それぞれ軸方向に設けたセンサの配線密度が分解能を決定するため、多数のセンサ電極の配線を必要とされている（特許文献１）。
【０００３】
図４は、このような配線パターンの一部分を模式的に示した説明図である。図で、横方向の座標軸をＸ軸とする。左右方向に順次、多数のセンサ用の電極を直列接続した配線パターンＸ１、Ｘ２、Ｘ３、・・・を配置して、その座標情報を表す。縦方向の座標軸をＹ軸とする。下より上方向に順次、多数のセンサ用の電極を直列接続した配線パターンＹ１、Ｙ２、Ｙ３、・・・を配置して、その座標情報を表す。電極のパターンは、それぞれ上面から見てお互いに重ならないように配置している。両配線パターンの間には絶縁層が設けられており、指やペンで触れることによって、容量値が変化し、配線パターンの端部に設けられた信号取り出し線から、その変化を電気信号に変えることにより、座標値の情報を外部に出力する。信号取り出し線は、表示画面の領域を避け、基板の外周部に設けられている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１０−７２５８１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
このようなタッチパネルセンサ部分の配線パターンの導通をそれぞれ検査する場合、膨大な電気的に独立した配線パターンを測定する能力や、微細な配線パターン端子へ高精度で測定電極プローブの位置合わせを行う能力が要求される。このため、検査機や測定治具は高価になり、測定時間も長くなる。
【０００６】
本発明は、基板上に、お互いに電気的に独立して形成された配線パターンの検査方法であって、簡便で効率よく、短期で検査のできる配線パターンの検査方法を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は係る課題に鑑みなされたものであり、請求項１の発明は、
基板上に、お互いに電気的に独立して形成された配線パターンの検査方法であって、
隣接する配線パターン間の一方の端部を接続する接続工程と、
接続された端部を介して配線パターン間を導通検査する検査工程と、
接続した部位を削除する削除工程と、
からなることを特徴とする配線パターンの検査方法としたものである。
【０００８】
本発明の請求項２の発明は、
接続工程が、隣接する配線パターン間の一方の端部を接続し、他方の端部を次に隣接する配線パターンの端部に接続することを特徴とする請求項１に記載の配線パターンの検査方法としたものである。
【０００９】
本発明の請求項３の発明は、
接続工程で、隣接する配線パターンの接続は、配線パターンの形成と同時に行い、接続することを特徴とする請求項１または２に記載の配線パターンの検査方法としたものである。
【００１０】
本発明の請求項４の発明は、
接続工程で、隣接する配線パターンの接続は、導電部材を配線パターンの端部に組み合わせた治具を押し当てて、接続することを特徴とする請求項１または２に記載の配線パターンの検査方法としたものである。
【００１１】
本発明の請求項５の発明は、
接続工程で、同じ配列位置に分離して配置された配線パターンを、導電部材を配線パターンの端部に組み合わせた治具を押し当てて、接続することを特徴とする請求項１〜４のいずれかに記載の配線パターンの検査方法としたものである。
本発明の請求項６の発明は、
配線パターンが、タッチパネル用配線であることを特徴とする請求項１〜５のいずれかに記載の配線パターンの検査方法としたものである。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の配線パターンの検査方法は以上のような構成であって、隣接する配線パターン間の一方の端部を接続して検査するので、簡便で効率よく、短期で検査のできる配線パターンの検査方法とすることが出来る。また、このような方法でタッチパネル用配線の検査をし、同様の効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の配線パターンの検査方法の実施形態に係る配線パターンの一例を、上面で見た説明図である。
【図２】本発明の配線パターンの検査方法の実施形態に係る配線パターンの他の例を、上面で見た説明図である。
【図３】本発明の配線パターンの検査方法の実施形態に係る配線パターンのその他の例を、上面で見た説明図である。
【図４】タッチパネル方式を利用した表示画面の従来の配線パターンの例を、上面で見た説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下本発明を実施するための形態につき説明する。図１は、本発明の配線パターンの検査方法の実施形態に係る配線パターンの一例を、上面で見た説明図である。本配線パターンは、図４のパターンに対し、本発明に利用できる配線パターンの端部を接続したものである。
【００１５】
図１では、隣接する配線パターン間の一方の端部が接続されている。
Ｘ軸方向では、Ｘ１−Ｘ２、Ｘ３−Ｘ４、Ｘ５−Ｘ６・・・などの間の一方の端部（図ではＹ軸方向の下端部分）が、接続部位１で接続されている。
Ｙ軸方向では、Ｙ１−Ｙ２、Ｙ３−Ｙ４、Ｙ５−Ｙ６・・・などの間の一方の端部（図ではＸ軸方向の左端部分）が、接続部位２で接続されている。
【００１６】
また、他方の端部を、次に隣接する配線パターンの端部に接続している。
Ｘ軸方向では、Ｘ１−Ｘ２、Ｘ３−Ｘ４、Ｘ５−Ｘ６・・・のＹ軸方向の上端部分を、次に隣接する配線パターンの端部（Ｘ１−Ｘ２に対しＸ３の端部、Ｘ３−Ｘ４に対しＸ５の端部・・・）に、接続部位１１で接続している。
Ｙ軸方向では、Ｙ１−Ｙ２、Ｙ３−Ｙ４、Ｙ５−Ｙ６・・・のＸ軸方向の右端部分を、次に隣接する配線パターンの端部（Ｙ１−Ｙ２に対しＹ３の端部、Ｙ３−Ｙ４に対しＹ５の端部・・・）に、接続部位２１で接続している。
【００１７】
本形態例の配線パターンの検査方法は、基板上に、お互いに独立して形成された配線パターンの検査方法であることを前提とする。隣接する配線パターン間（Ｘ１−Ｘ２間）の一方の端部（図ではＹ軸方向の下端部分）を、接続部位１で接続する工程と、接続された端部（接続部位１）を介して配線パターン間（Ｘ１−Ｘ２間）を導通検査（図ではＹ軸方向の上端部分間で測定）する工程と、接続した部位１を削除する工程と、からなる検査方法である。
【００１８】
あるいは、隣接する配線パターン間の一方の端部を接続し（Ｘ１−Ｘ２間）、他方の端部（Ｙ軸方向の上端部分）を次に隣接する配線パターンの端部（Ｘ３の端部）に接続し、Ｘ１（Ｙ軸方向の上端部分）−Ｘ３（Ｙ軸方向の下端部分）間をテスタ３で測定して同通検査することもできる。
【００１９】
また、図１のように連続して各配線パターンを接続し、両端間（図ではＸ１〜Ｘ６の上端部分間）をテスタ３で測定し、異常があれば、範囲を狭めてさらに測定してもよい。この場合、異常な配線パターンを特定しやすく、好ましい。測定パターンの数を減らせるので、測定時間を短時間とすることができる。
【００２０】
接続部位のパターンは、測定器で測定しやすくするため、測定器の接続部分の形状に合わせ、パターン形成することが好ましい。テスタ３等での位置合わせが容易にできる。
【００２１】
以上の測定方法は、Ｙ軸方向に対しても同様に測定できる。
【００２２】
配線パターンの接続は、配線パターンの形成と同時に行い、接続できる。すなわち、配線パターンと接続部位１、２を同時に形成する。あるいは、導電部材を配線パターンの端部に組み合わせた治具を押し当てて、接続することもできる。このように複数種類の治具を用意した場合、隣接する配線パターン間に組み合わせた治具を利用し、接続できるが、複数の隣接する配線パターン間に組み合わせた治具で接続しても良い。例えば、Ｘ１−Ｘ２、Ｘ３−Ｘ４、Ｘ５−Ｘ６・・・・・・などの間をそれぞれ同時に接続する導電部材を設けた治具を利用することもできる。この場合、異常な配線パターンを特定しやすく、好ましい。また、図２のように、配線パターンが分割されていた場合、分割されている部分の配線パターン間に組み合わせた治具を利用して接続部位すると、接続部位を除くのが簡単にできるので、さらに好ましい。あるいは図３に示すように、同じ配列位置に分離して配置された配線パターンを、治具を用いて接続してもよい。このように接続部位が簡単に除去できない場合は、このような治具を利用することができる。
【００２３】
接続部位の除去は、表示画面を避けた基板の外周部に形成しているので、機械的に除去できるが、エッチングで除去するのが好ましく採用できる。治具を利用する場合は、単に治具をはずせばよいので、さらに好ましい。
【００２４】
本発明の配線パターンの検査方法は以上のような構成であって、隣接する配線パターン間の一方の端部を接続して検査するので、効率よく、短期で検査のできる配線パターンの検査方法とすることが出来る。
【００２５】
また、さらに隣接する配線パターン間の一方の端部を接続し、他方の端部を次に隣接する配線パターンの端部に接続し、これを繰り返して接続することによって、全配線パターンを接続した検査から、最小に接続した配線パターンの検査までできるので、さらに効率よく、短期で検査できる。
【符号の説明】
【００２６】
１・・・Ｘ軸方向の一方の接続部位
１１・・・Ｘ軸方向の他方の接続部位
２・・・Ｙ軸方向の一方の接続部位
２１・・・Ｙ軸方向の他方の接続部位
３・・・テスタ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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