(57)【要約】      （修正有）【課題】信号記録密度を従来よりも高めて、記録容量のさらなる拡大を図る。【解決手段】凸状ビットの形成部と非形成部とが交互に配置され、且つ再生解像度の限界値よりも短い区間内に上記ビットの形成部と非形成部との組が収まるように上記ビットの形成が行われている光記録媒体を用いる。該光記録媒体に対して上記ビットの形成部に第１の信号を記録し、上記ビットの非形成部に第２の信号を記録し、再生解像度の限界値よりも短い区間内に少なくとも２種の信号を記録して、記録密度を向上する。再生は、信号光と参照光とを用いるホモダイン検波を採用し、上記ビットの形成部と非形成部との段差に応じて信号光と参照光とに位相差が生じることを利用して、ビット非形成部を対象とした第１の再生動作とビット形成部を対象とした第２の再生動作とをそれぞれ異なる位相差状態による信号光と参照光の組を用いて行い、２種の記録信号の読み分けを可能とする。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
凸状のビットの形成部と非形成部とが交互に配置され、且つ再生解像度の限界値よりも短い区間内に上記ビットの形成部と非形成部との組が収まるように上記ビットの形成が行われている光記録媒体に対して、光照射を行う光照射部と、
上記光照射部による照射光についての変調を行って、上記ビットの形成部を対象とした第１の信号の記録と、上記ビットの非形成部を対象とした第２の信号の記録とを行う記録部と、
を備える記録装置。
【請求項２】
上記光照射部は、
上記ビットの形成部の長さと非形成部の長さとが共に０．５Ｔ（Ｔはチャネルクロック）分の長さとされた上記光記録媒体に対して光照射を行う
請求項１に記載の記録装置。
【請求項３】
上記光記録媒体には、
上記再生解像度の限界値よりも短い区間内に上記ビットの形成部と非形成部との組が収まるように上記ビットの形成が行われた記録エリアと、それぞれその長さが再生解像度の限界値よりも長い上記ビットの形成部と非形成部とが所定パターンで配列された同期エリアとが形成されており、
上記同期エリアの再生信号に基づき、上記記録エリアにおけるビットの形成周期に応じたビットクロックを生成するクロック生成部を備え、
上記記録部は、
上記クロック生成部が生成した上記ビットクロックに基づき上記ビットの形成部を対象とした第１の信号の記録と、上記ビットの非形成部を対象とした第２の信号の記録とを行う
請求項１に記載の記録装置。
【請求項４】
上記光記録媒体において、
上記同期エリアに形成される上記ビットの長さが上記記録エリアに形成されるビットの長さの整数倍の長さとされ、
上記クロック生成部は、
上記同期エリアのビットの形成周期に応じた同期エリアクロックを生成した後、該同期エリアクロックを逓倍して上記ビットクロックを生成する
請求項３に記載の記録装置。
【請求項５】
上記記録部は、
上記ビットクロックと上記第１の信号とに基づき、上記ビットの形成部を対象とした記録を行うための第１記録信号を生成し、且つ上記ビットクロックと上記第２の信号とに基づき、上記ビットの非形成部を対象とした記録を行うための第２記録信号を生成すると共に、
上記第１記録信号と上記第２記録信号とを合成して得た合成記録信号に基づき上記照射光についての変調を行うことで、上記ビットの形成部を対象とした上記第１の信号の記録と、上記ビットの非形成部を対象とした上記第２の信号の記録とを行う
請求項３に記載の記録装置。
【請求項６】
上記記録部は、
上記第１の信号と上記ビットクロックとの論理和により上記第１記録信号を生成し、上記第２の信号と上記ビットクロックの反転信号との論理和により上記第２記録信号を生成する
請求項５に記載の記録装置。
【請求項７】
凸状のビットの形成部と非形成部とが交互に配置され、且つ再生解像度の限界値よりも短い区間内に上記ビットの形成部と非形成部との組が収まるように上記ビットの形成が行われている光記録媒体に照射される照射光についての変調を行って、上記ビットの形成部を対象とした第１の信号の記録と、上記ビットの非形成部を対象とした第２の信号の記録とを行う
記録方法。
【請求項８】
凸状のビットの形成部と非形成部とが交互に配置され、且つ再生解像度の限界値よりも短い区間内に上記ビットの形成部と非形成部との組が収まるように上記ビットの形成が行われていると共に、上記ビットの形成部と非形成部とをそれぞれ対象として個別に信号記録が行われた光記録媒体に対して、同一光源より出射された光を分光して得た２つの光のうち一方の光を照射してその反射光を信号光として得ると共に、上記分光して得た２つの光のうち他方の光をミラーに対して照射してその反射光を参照光として得る信号光・参照光生成部と、
上記信号光・参照光生成部で得られた上記信号光と上記参照光とを入力し、上記信号光と上記参照光との重ね合わせ光を受光するように構成された受光光学系と、
上記他方の光の上記ミラーに対する入射光軸に平行な方向に上記ミラーを駆動して上記参照光の位相を変化させることで、上記信号光と上記参照光との位相差を調整可能とされたミラー駆動部と、
上記受光光学系で得られた受光信号に基づき上記信号光に基づく再生信号を得る再生動作として、上記ビットの非形成部に記録された信号についての再生動作である第１の再生動作を、第１の位相差状態とされた上記信号光と上記参照光とを用いて行い、上記ビットの形成部に記録された信号についての再生動作である第２の再生動作を、上記第１の位相差状態とは異なる第２の位相差状態とされた上記信号光と上記参照光とを用いて行う再生部と
を備える再生装置。
【請求項９】
上記受光光学系は、
上記信号光・参照光生成部が生成した上記信号光と上記参照光に基づき、それぞれの位相差の差が１８０°となる第１の信号光と参照光の組と第２の信号光と参照光の組とを生成し、上記第１の信号光と参照光の組を受光して第１の受光信号を得、上記第２の信号光と参照光の組を受光して第２の受光信号を得るように構成されており、
上記再生部は、
上記信号光に基づく再生信号を、上記第１の受光信号と上記第２の受光信号との差分を計算して得る
請求項８に記載の再生装置。
【請求項１０】
上記再生部は、
上記第１の再生動作と上記第２の再生動作のうち一方を行った後、上記ミラーの位相を上記ビットの形成部と非形成部との段差の大きさに応じた分変化させて、他方の再生動作を実行する
請求項９に記載の再生装置。
【請求項１１】
上記光記録媒体には、
上記再生解像度の限界値よりも短い区間内に上記ビットの形成部と非形成部との組が収まるように上記ビットの形成が行われた記録エリアと、それぞれその長さが再生解像度の限界値よりも長い上記ビットの形成部と非形成部とが所定パターンで配列された同期エリアとが形成されており、
上記再生部は、
上記第１の再生動作を、上記同期エリア内の上記ビットの形成部における上記再生信号の振幅がゼロとなるように上記ミラーの位相を調整した第１のミラー位相状態と、上記同期エリア内の上記ビットの非形成部における上記再生信号の振幅がゼロとなるように上記ミラーの位相を調整した第２のミラー位相状態のうち、何れか一方のミラー位相状態下にて実行した後、上記第２の再生動作を、他方のミラー位相状態下にて実行する
請求項１０に記載の再生装置。
【請求項１２】
上記受光光学系は、
上記ミラー駆動部によって上記信号光・参照光生成部から出力される上記信号光と上記参照光との位相差が０°となるように調整された場合における位相差が０°となる上記信号光と上記参照光の組と、上記ミラー駆動部によって上記信号光・参照光生成部から出力される上記信号光と上記参照光との位相差が０°となるように調整された場合における位相差が１８０°となる上記信号光と上記参照光の組とを生成すると共に、上記位相差が０°となる上記信号光と上記参照光の組を受光して上記第１の受光信号を得、上記位相差が１８０°となる上記信号光と上記参照光の組を受光して上記第２の受光信号を得るように構成されており、
上記再生部は、
上記第１の再生動作を上記第１のミラー位相状態下にて実行した後、上記第２の再生動作を上記第２のミラー位相状態下にて実行する
請求項１１に記載の再生装置。
【請求項１３】
上記受光光学系は、
上記ミラー駆動部によって上記信号光・参照光生成部から出力される上記信号光と上記参照光との位相差が０°となるように調整された場合における位相差が９０°となる上記信号光と上記参照光の組と、上記ミラー駆動部によって上記信号光・参照光生成部から出力される上記信号光と上記参照光との位相差が０°となるように調整された場合における位相差が２７０°となる上記信号光と上記参照光の組とを生成すると共に、上記位相差が９０°となる上記信号光と上記参照光の組を受光して上記第１の受光信号を得、上記位相差が２７０°となる上記信号光と上記参照光の組を受光して上記第２の受光信号を得るように構成されており、
上記再生部は、
上記第１の再生動作を上記第２のミラー位相状態下にて実行した後、上記第２の再生動作を上記第１のミラー位相状態下にて実行する
請求項１１に記載の再生装置。
【請求項１４】
凸状のビットの形成部と非形成部とが交互に配置され、且つ再生解像度の限界値よりも短い区間内に上記ビットの形成部と非形成部との組が収まるように上記ビットの形成が行われていると共に、上記ビットの形成部と非形成部とをそれぞれ対象として個別に信号記録が行われた光記録媒体に対して、同一光源より出射された光を分光して得た２つの光のうち一方の光を照射してその反射光を信号光として得ると共に、上記分光して得た２つの光のうち他方の光をミラーに対して照射してその反射光を参照光として得る信号光・参照光生成部と、上記信号光・参照光生成部で得られた上記信号光と上記参照光とを入力し、上記信号光と上記参照光との重ね合わせ光を受光するように構成された受光光学系と、上記他方の光の上記ミラーに対する入射光軸に平行な方向に上記ミラーを駆動して上記参照光の位相を変化させることで、上記信号光と上記参照光との位相差を調整可能とされたミラー駆動部とを備える再生装置における再生方法であって、
上記受光光学系で得られた受光信号に基づき上記信号光に基づく再生信号を得る再生動作として、上記ビットの非形成部に記録された信号についての再生動作である第１の再生動作を、第１の位相差状態とされた上記信号光と上記参照光とを用いて行い、上記ビットの形成部に記録された信号についての再生動作である第２の再生動作を、上記第１の位相差状態とは異なる第２の位相差状態とされた上記信号光と上記参照光とを用いて行う
再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本技術は、光の照射により信号の記録が行われる光記録媒体について記録を行う記録装置とその方法とに関する。また、光記録媒体について再生を行う再生装置とその方法とに関する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００２】
【特許文献１】特開２０１０−２７１６９号公報
【特許文献２】特開２００６−７３０８７号公報
【背景技術】
【０００３】
光の照射により信号の記録／再生が行われる光記録媒体として、例えばＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc：登録商標）などのいわゆる光ディスク記録媒体（以下、単に光ディスクとも表記）が普及している。
【０００４】
光ディスクを始めとして一般的に記録媒体については、記録密度を向上させて大記録容量化を図ることが望まれる。
大記録容量化を図る上では、記録マークを縮小化させて半径方向密度や線方向密度を詰める手法が採られている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、光学系の解像度には限界があり、通常は回折限界を超えた密度で信号を記録／再生することはできない。
【０００６】
本技術は上記問題点に鑑み為されたもので、信号記録密度を従来よりも高めて、記録容量のさらなる拡大を図ることをその課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題の解決のため、本技術では記録装置を以下のように構成することとした。
すなわち、本技術の記録装置は、凸状のビットの形成部と非形成部とが交互に配置され、且つ再生解像度の限界値よりも短い区間内に上記ビットの形成部と非形成部との組が収まるように上記ビットの形成が行われている光記録媒体に対して、光照射を行う光照射部を備える。
また、上記光照射部による照射光についての変調を行って、上記ビットの形成部を対象とした第１の信号の記録と、上記ビットの非形成部を対象とした第２の信号の記録とを行う記録部を備えるものである。
【０００８】
また、本技術では再生装置を以下のように構成することとした。
すなわち、本技術の再生装置は、凸状のビットの形成部と非形成部とが交互に配置され、且つ再生解像度の限界値よりも短い区間内に上記ビットの形成部と非形成部との組が収まるように上記ビットの形成が行われていると共に、上記ビットの形成部と非形成部とをそれぞれ対象として個別に信号記録が行われた光記録媒体に対して、同一光源より出射された光を分光して得た２つの光のうち一方の光を照射してその反射光を信号光として得ると共に、上記分光して得た２つの光のうち他方の光をミラーに対して照射してその反射光を参照光として得る信号光・参照光生成部を備える。
また、上記信号光・参照光生成部で得られた上記信号光と上記参照光とを入力し、上記信号光と上記参照光との重ね合わせ光を受光するように構成された受光光学系を備える。
また、上記他方の光の上記ミラーに対する入射光軸に平行な方向に上記ミラーを駆動して上記参照光の位相を変化させることで、上記信号光と上記参照光との位相差を調整可能とされたミラー駆動部を備える。
また、上記受光光学系で得られた受光信号に基づき上記信号光に基づく再生信号を得る再生動作として、上記ビットの非形成部に記録された信号についての再生動作である第１の再生動作を、第１の位相差状態とされた上記信号光と上記参照光とを用いて行い、上記ビットの形成部に記録された信号についての再生動作である第２の再生動作を、上記第１の位相差状態とは異なる第２の位相差状態とされた上記信号光と上記参照光とを用いて行う再生部を備えるものである。
【０００９】
上記のように本技術の記録装置（記録方法）では、凸状のビットの形成部と非形成部とが交互に配置され、且つ再生解像度の限界値よりも短い区間内に上記ビットの形成部と非形成部との組が収まるように上記ビットの形成が行われている光記録媒体を用いるものとしている。そして該光記録媒体に対して、上記ビットの形成部を対象とした第１の信号の記録と、上記ビットの非形成部を対象とした第２の信号の記録とを行うものとしている。
これにより、再生解像度の限界値よりも短い区間内に少なくとも２種の信号（記録符号）を記録でき、従来よりも信号記録密度の向上が図られる。
また、上記本技術の再生装置（再生方法）では、上記信号光と上記参照光との重ね合わせ光を受光して得た受光信号に基づき上記信号光に基づく再生信号を得るホモダイン検波による再生動作を前提とした上で、上記ビットの非形成部に記録された信号についての再生動作である第１の再生動作を、第１の位相差状態とされた上記信号光と上記参照光とを用いて行い、上記ビットの形成部に記録された信号についての再生動作である第２の再生動作を、上記第１の位相差状態とは異なる第２の位相差状態とされた上記信号光と上記参照光とを用いて行うものとしている。
このようにビット非形成部を対象とした第１の再生動作とビット形成部を対象とした第２の再生動作とを、それぞれ異なる位相差状態による信号光と参照光の組を用いて行うことで、ビットの形成部と非形成部との段差に応じて信号光と参照光とに位相差が生じることを利用して、ビット非形成部の記録信号とビット形成部の記録信号との読み分けを行うことが可能となる。
【発明の効果】
【００１０】
上記のように本技術によれば、信号記録密度を従来よりも高めて、記録容量のさらなる拡大を図ることができる。また同時に、高密度に記録された信号の再生を可能とすることで、記録容量の拡大化を許容できる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】実施の形態で用いる光記録媒体の断面構造図である。
【図２】実施の形態で用いる光記録媒体の記録面の一部の構造を模式的に表した斜視図である。
【図３】実施の形態で用いる光記録媒体のエリア構造についての説明図である。
【図４】実施の形態の記録手法についての説明図である。
【図５】実施の形態の記録手法で用いる各種信号を示したタイミングチャートである。
【図６】実施の形態の記録手法による記録信号を通常の再生装置で再生した場合に得られる再生信号を例示した図である。
【図７】ホモダイン方式による信号再生を行うための光学系の構成を例示した図である。
【図８】位相調整のためのフィードバック制御の具体的な内容についての説明図である。
【図９】参照光ミラー位相とホモダイン再生信号との関係についてのシミュレーションを行った結果を示した図である。
【図１０】実施の形態の記録／再生装置の内部構成を示したブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
なお、説明は以下の順序で行うものとする。
＜１．実施の形態で用いる光記録媒体＞
＜２．実施の形態の記録手法＞
＜３．実施の形態の再生手法＞
［3-1．ホモダイン検波について］
［3-2．具体的な再生手法］
＜４．実施の形態の記録／再生装置の構成＞
＜５．変形例＞
【００１３】
＜１．実施の形態で用いる光記録媒体＞
図１及び図２により、実施の形態で用いる光記録媒体（以下、光ディスク１とする）の構造について説明する。
図１は光ディスク１の断面構造図、図２は光ディスク１の記録面の構造を斜視図により模式的に示している。
【００１４】
先ず、光ディスク１は、円盤状の光記録媒体とされる。ここで、光記録媒体とは、光の照射により信号の記録又は再生が行われる記録媒体を総称したものである。
【００１５】
図１に示されるようにこの場合の光ディスク１は、上層側から順にカバー層２、記録層３、及び基板４が形成されて成る。光ディスク１に対しては、記録／再生のための光がカバー層２側から入射されることとなり、上記「上層側」とは、このように記録／再生のための光が入射する側を「上面」とした場合の上下の概念に従ったものである。
【００１６】
基板４は、例えばポリカーボネート等の樹脂材料で構成される。
基板４の表面上には、図２に示されるような凸状のビットＢＴが配列されている。
基板４上において、ビットＢＴが配列されて成るビット列は、光ディスク１の半径方向に複数配列されている。
本例の場合、ビット列はスパイラル状に形成され、これによってビット列が半径方向において複数配列された状態が得られる。
【００１７】
ビット列上には、図２中のスクリーン部で表すように記録膜（反射膜）が形成されている。
この記録膜は、所要の記録パワーによる光照射に応じて記録マークが形成され、且つ入射光を反射するように構成されている。
本例の場合、上記記録膜は、基板４上の全面（ビット列が半径位置ｒｓから半径位置ｒｅまで形成されているとしたとき、少なくとも半径位置ｒｓ〜ｒｅまでの領域における全面）にわたって形成するものとはせず、図のようにビット列とビット列との間に記録膜の非形成部が与えられるようにして形成されている。具体的にこの場合、記録膜の幅（半径方向における長さ）は、ビットＢＴの幅（半径方向における長さ）と略一致させるものとしている。
【００１８】
図１に示す記録層３は、このようにビット列上に記録膜が成膜されて形成されたものとなる。
【００１９】
ここで、後に改めて説明もするが、本実施の形態の記録手法では、それぞれその線方向の長さが再生解像度の限界値よりも短いビットＢＴの形成部と非形成部とに信号を記録し分ける。このことに対応させるべく、本例では、いわゆる筆先記録を可能とするため、ＰＴＭ(Phase Transition Mastering)方式による記録（熱記録）を採用するものとしている。
本例において基板４上に成膜される上記記録膜の材料（記録材料）には、熱記録を可能とする記録材料が用いられる。具体的には、レーザ光照射に伴う熱反応により感光し記録マークが形成される材料である。
ここで、ＰＴＭ方式としての熱記録で用いられる記録材料としては、例えば無機系のレジスト材料を挙げることができる。
【００２０】
また図１において、カバー層２は、記録層３を保護するために設けられたものであり、例えば紫外線硬化樹脂や熱可塑性樹脂等の樹脂材料で構成される。
カバー層２は、図２に示されるようにビットＢＴが形成され且つ記録膜が成膜された基板４の表面側に対して、例えば紫外線硬化樹脂や熱可塑性樹脂などのカバー層２の基となる材料を塗布した上で、該塗布された樹脂材料に硬化処理（紫外線照射又は温度変化の付与）を施して形成されたものとなる。
【００２１】
ここで、上記のような構造を有する光ディスク１について、図２に示されるような半径方向に配列された各ビット列のことをトラックと称する。また、これら半径方向に配列されたビット列の形成間隔をトラックピッチＴｐとする。
また、図２に示すように、ビット列上におけるビットＢＴの非形成部のことを凹部αとも表記する。また、ビット列上におけるビットＢＴの形成部のことを凸部βとも表記する。
また、これら凹部αと凸部βとの段差（ビットＢＴの形成部と非形成部との段差）を図のように「ΔＤ」とする。
【００２２】
ここで、本例では、記録再生の光学条件として、ＢＤ（Blu-ray Disc）と同等の光学条件を採用する場合を挙げる。具体的に、記録再生波長λ＝４０５ｎｍ程度、ＮＡ＝０．８５、ビームスポット半径が２９０ｎｍ程度（０．６１・λ／ＮＡ）、トラックピッチＰｔが３２０ｎｍ程度である。
【００２３】
この前提の下で、本例では、ビットＢＴの線方向（半径方向に直交する方向：径方向）の長さを、チャネルクロック（１Ｔ）を基準として、０．５Ｔ分の長さに設定するものとしている。
ここで、ＢＤの最短マーク長である２Ｔの長さは１５０ｎｍ程度であり、０．５Ｔの長さは３７．５ｎｍ程度となる。
また、ビット列上におけるビットＢＴの非形成部の線方向の長さも０．５Ｔ分の長さとされる。つまりこの場合のビット列は、線方向の長さ＝０．５ＴのビットＢＴが１Ｔの周期で配列されているものである。
なお、図２は記録面の一部のみを示すものであるので、ビットＢＴの形成周期が１Ｔとされるビット列のみが形成されたものとなっているが、図３により後述もするように、本例の光ディスク１においては記録面の全域にわたってこのような１Ｔの形成周期によるビット列が形成されている訳ではない。
【００２４】
また本例では、ビットＢＴの半径方向の長さは、トラックピッチＴｐの１／３程度に設定している。具体的には、およそ１０６ｎｍ程度である。
また本例では、段差ΔＤ＝λ／８に設定している。
【００２５】
なお確認のため述べておくと、ＢＤの場合、再生解像度の限界値は０．２５・λ／ＮＡ＝１１９ｎｍ程度である。
【００２６】
図３は、光ディスク１のエリア構造についての説明図である。
この図３に示されるように、光ディスク１には、図２に示したように線方向の長さ＝０．５ＴのビットＢＴが１Ｔの周期で形成された「データ記録エリア」のみでなく、これらデータ記録エリアの間に、それぞれその長さが再生解像度の限界値よりも長いビットＢＴの形成部（凸部β）と非形成部（凹部α）とが所定パターンで配列された「Ｓｙｎｃエリア」が挿入される。
具体的に本例の場合、Ｓｙｎｃエリアにおける凹部αの線方向の長さは４Ｔ、凸部βの線方向の長さも４Ｔとしている。この場合のＳｙｎｃエリアはこれら４Ｔの凹部αと４Ｔの凸部βとが交互に配列されている。
また、Ｓｙｎｃエリアにおいても、段差ΔＤはデータ記録エリア内の段差ΔＤと同じである（本例ではΔＤ＝λ／８）。
また、Ｓｙｎｃエリアは、所定の配置間隔で各データ記録エリアの間に配置されている。
【００２７】
Ｓｙｎｃエリアは、データ記録エリア内のビットＢＴの形成周期に応じたクロックを生成可能とするために設けられる。
このＳｙｎｃエリア内での凹部α／凸部βに応じた再生信号振幅の変化を利用してクロックを生成可能とするために、該Ｓｙｎｃエリア内における凹部αと凸部βの線方向の長さは、再生解像度の限界値よりも長く設定している。
また、Ｓｙｎｃエリアである旨を検出可能とすべく、該Ｓｙｎｃエリア内の凹部α／凸部βの形成パターンは予め定められた所定パターンとする。
なお、これらの点に鑑みれば、Ｓｙｎｃエリア内の凹部α／凸部βの形成パターンは、先に例示した４Ｔ／４Ｔのパターンに限定されるべきものではなく、前述もしたように、それぞれその長さが再生解像度の限界値よりも長い凸部βと凹部αとが所定パターンで配列されていればよいものである。
【００２８】
＜２．実施の形態の記録手法＞
本実施の形態では、光ディスク１の記録面の構造を上記により説明した構造とした上で、データ記録エリア内において、凹部αを対象とした第１の信号の記録と、凸部βを対象とした第２の信号の記録とを行うことで、再生解像度の限界値よりも短い区間内に２種の信号（記録符号）の記録が可能となるようにし、記録密度の向上を図る。
【００２９】
図４は、このような実施の形態としての記録手法についての説明図である。
図４において、図４Ａはデータ記録エリア内に形成されたビット列の一部を抽出して示している。図のように白抜きが凹部α、黒塗りが凸部βを表す。
また図４Ｂは凹部αを対象として記録されるべき信号（記録変調符号化後の信号：以下凹側記録信号と表記）の波形、図４Ｄは凸部βを対象として記録されるべき信号（記録変調符号化後の信号：以下凸側記録信号と表記）の波形をそれぞれ示している。
この場合、図４Ｂに示す凹側記録信号は、「・・・０１１１００００００１１００１１０００００１１１１００・・・」である。また図４Ｄに示す凸側記録信号は、「・・・０００１１０００１１１１００１１１００００１１１１１０・・・」である。
ここで、本例の場合、符号「１」がマーク有り、符号「０」はマーク無しに対応するものとする。
【００３０】
図４Ｃは、データ記録エリア内に形成された凹部αのうち、図４Ｂに示す凹側記録信号に応じてマークが形成されるべき凹部αを抽出して示している。
図４Ａに示される凹部αに左端側から順に番号を振ったとき、図４Ｂに示す凹側記録信号に応じてマークが形成されるべき凹部αは、図４Ｃに示されるように２〜４番目の凹部α、及び１１，１２番目の凹部α、及び１５，１６番目の凹部α、及び２２〜２５番目の凹部αである。
【００３１】
また図４Ｅは、データ記録エリア内に形成された凸部βのうち、図４Ｄに示す凸側記録信号に応じてマークが形成されるべき凸部βを抽出して示している。
図４Ａに示される凸部βに左端側から順に番号を振ったとき、図４Ｄに示す凸側記録信号に応じてマークが形成されるべき凸部βは、図４Ｅに示されるように４，５番目の凸部β、及び９〜１２番目の凸部β、及び１５〜１７番目の凸部β、及び２２〜２６番目の凸部βである。
【００３２】
図４Ｆは、この場合に記録されるべき凹側記録信号と凸側記録信号とに応じてデータ記録エリア内にてマークが形成されるべき凹部αと凸部βを示している。この図４Ｆは、図４Ｃに示される凹部αと図４Ｅに示される凸部βとを重ね合わせたものと換言できる。
そして図４Ｇは、図４Ｆに示されるマーク記録状態を実現するための記録波形を示している。
【００３３】
凹側記録信号をデータ記録エリア内の凹部αを対象として記録し、凸側記録信号をデータ記録エリア内の凸部βを対象として記録することで記録密度の向上を図る上では、それら凹側記録信号と凸側記録信号とに基づき、図４Ｇに示される記録波形を生成できればよい。
【００３４】
本例では、図４Ｇに示されるような記録波形を正確に生成するために、データ記録エリア内の凹部αと凸部βのタイミングを表すクロックＣＬＫを生成する。具体的には、データ記録エリア内の凹凸の形成周期を表すクロックＣＬＫ（ビットクロック）を生成するものである。
【００３５】
このクロックＣＬＫは、Ｓｙｎｃエリアを利用したタイミング同期を行うことで生成する。具体的には、ＰＬＬ（Phase Locked Loop）回路によるクロック生成を基本として、エッジ位置（凹部α／凸部βのエッジ位置）のサンプリングをＳｙｎｃエリアごとに間欠的に行うものである。
本例では、このようないわばサンプルサーボ的なクロック生成動作により、先ずはＳｙｎｃエリア内での凹部α／凸部βの形成周期に応じたクロック（以下、基準クロックＣＬＫ_rと表記）を生成する。つまり本例の場合は、４Ｔ／４Ｔの周期による基準クロックＣＬＫ_rを先ずは生成することになる。
そして、この基準クロックＣＬＫ_rを逓倍して、ビットＢＴの形成周期に応じたクロックＣＬＫ、つまり本例の場合は１Ｔの周期によるクロックＣＬＫを生成する。具体的に本例の場合は、基準クロックＣＬＫ_rの周波数を８倍に逓倍して１Ｔ周期のクロックＣＬＫを生成する。
【００３６】
図５は、このようなクロックＣＬＫを始めとした、実施の形態の記録手法で用いる各種信号を示したタイミングチャートである。
図５ＡはクロックＣＬＫ、図５Ｂは凹側記録信号、図５Ｃは凸側記録信号の波形をそれぞれ示している。図５Ｄは、図５Ｂの凹側記録信号に応じたマークの記録タイミングを表す凹側記録パルス、図５Ｅは図５Ｃの凸側記録信号に応じたマークの記録タイミングを表す凸側記録パルスの波形をそれぞれ示し、図５Ｆは、図５Ｄの凹側記録パルスと図５Ｅの凸側記録パルスとを合成して得られる合成記録パルスの波形を示している。
【００３７】
先ず前提として、本例の場合、クロックＣＬＫは、その立ち上がりタイミングが凸部β→凹部αのエッジ位置を表し、立ち下がりタイミングが凹部α→凸部βのエッジ位置を表すようにして生成されているとする。
この前提の下で、凹側記録信号（図５Ｂ）に応じたマークの形成タイミングを表す凹側記録パルス（図５Ｄ）を生成するにあたっては、クロックＣＬＫと凹側記録信号とのＡＮＤ（論理和）をとる。これにより、凹側記録パルスとして、凹側記録信号によりマークを記録すべきとされる凹部αのタイミングを適正に表した信号を得ることができる。
一方、凸側記録信号（図５Ｃ）に応じたマークの形成タイミングを表す凸側記録パルス（図５Ｅ）を生成するにあたっては、クロックＣＬＫの反転信号と凸側記録信号とのＡＮＤをとる。これにより、凸側記録パルスとして、凸側記録信号によりマークを記録すべきとされる凸部βのタイミングを適正に表した信号を得ることができる。
【００３８】
このようにクロックＣＬＫと凹側／凸側記録信号のそれぞれの記録信号とに基づき凹側記録パルス、凸側記録パルスを得た上で、図５Ｆに示されるようにこれら凹側記録パルスと凸側記録パルスとを合成した合成記録パルスを得て、該合成記録パルスに基づき記録光源（本例の場合は後述するレーザ１１）を発光駆動する。
これにより、データ記録エリア内における凹部αを対象とした凹側記録信号の記録と凸部βを対象とした凸側記録信号の記録とが実現される。すなわち、再生解像度の限界値よりも短い区間内に２種の信号（記録符号）を埋め込むことができ、従来よりも記録密度の向上が図られる。
【００３９】
＜３．実施の形態の再生手法＞
［3-1．ホモダイン検波について］
ここで、これまでの説明からも理解されるように本実施の形態の光ディスク１には、０．５ＴのビットＢＴが０．５Ｔ間隔でモノトーン状に配列され、凹部αと凸部βとにそれぞれ別の信号が記録されるものとなる。
このような光ディスク１の再生にあたり、単純に通常の手法での読み出しを行ったとしても、再生信号には凹部αの記録信号と凸部βの記録信号とが混在して、適正な再生結果を得ることはできないこととなる。
【００４０】
図６は、光ディスク１についての再生を通常の手法で行った際の再生信号波形（アイパターン）の例を示している。
このように通常手法による再生では、再生信号のアイパターンの「アイ」が潰れており、凹部αの記録信号と凸部βの記録信号とが混在していることが分かる。
【００４１】
このような凹部αと凸部βとの記録信号の混在を防止してそれらを適正に読み分けるべく、本実施の形態では、ホモダイン検波を利用した再生手法を採用する。
以下、ホモダイン検波方式による信号再生手法について説明しておく。
【００４２】
図７は、ホモダイン方式による信号再生を行う再生装置が備える主に光ピックアップＯＰの内部構成について説明するための図である。
なお図中において、光ディスク１とスピンドルモータ（ＳＰＭ）２８とを除いた部分が、光ピックアップＯＰとなる。
【００４３】
図７において、光ディスク１は、再生装置に装填されると、そのセンターホールが不図示のターンテーブル上でクランプされ、図中のスピンドルモータ２８によって回転駆動可能な状態とされる。
光ピックアップＯＰは、スピンドルモータ２８により回転駆動される光ディスク１についての少なくとも再生を行うためのレーザ光を照射するように構成されている。
【００４４】
光ピックアップＯＰ内には、レーザ光源となるレーザ（半導体レーザ）１１が設けられている。
該レーザ１１より出射されたレーザ光は、コリメーションレンズ１２を介して平行光となるようにされた後、λ／２板（１／２波長板）１３を介してＰＢＳ（偏光ビームスプリッタ）１４に入射する。
【００４５】
このとき、ＰＢＳ１４は、例えばＰ偏光を透過しＳ偏光を反射するように構成されているとする。その上で、λ／２板１３の取り付け角度（レーザ光の入射面内において光軸を中心した回転角度）は、ＰＢＳ１４を透過して出力される光（Ｐ偏光成分）と反射して出力される光（Ｓ偏光成分）との比率（すなわちＰＢＳ１４による分光比）がほぼ１：１となるように調整されているとする。
【００４６】
ＰＢＳ１４にて反射されたレーザ光は、λ／４板（１／４波長板）１５を介した後、２軸アクチュエータ１７により保持された対物レンズ１６を介して光ディスク１の記録面に集光するように照射される。
【００４７】
２軸アクチュエータ１７は、対物レンズ１６をフォーカス方向（光ディスク１に接離する方向）及びトラッキング方向（ディスク半径方向に平行な方向：上記フォーカス方向とは直交する方向）に変位可能に保持する。
この場合の２軸アクチュエータ１７にはフォーカスコイル、トラッキングコイルが備えられており、これらフォーカスコイル、トラッキングコイルにそれぞれ後述するフォーカスドライブ信号ＦＤ、トラッキングドライブ信号ＴＤが供給されることで、対物レンズ１６が上記フォーカス方向、上記トラッキング方向にそれぞれ変位される。
【００４８】
光ディスク１の記録面（前述した記録膜）にレーザ光が照射されることに応じては、記録面からの反射光（信号光）が得られる。該反射光は、対物レンズ１６→λ／４板１５を介した後、前述したＰＢＳ１４に入射する。
ＰＢＳ１４に入射した上記反射光（復路光）は、λ／４板１５による作用と上記記録面における反射時の作用とにより、その偏光方向が、レーザ１１側から入射し該ＰＢＳ１４にて反射される光（往路光とする）の偏光方向に対して９０°異なったものとなっている。すなわち、上記反射光はＰ偏光でＰＢＳ１４に入射する。
このため、復路光としての上記反射光はＰＢＳ１４を透過する。
なお、このようにＰＢＳ１４を透過することになる、光ディスク１の記録信号を反映した反射光のことを、信号光と称する。
【００４９】
また、図７において、レーザ１１より出射されＰＢＳ１４を透過したレーザ光（Ｐ偏光）は、ホモダイン方式における参照光として機能する。
ＰＢＳ１４を透過した参照光は、図中のλ／４板１８を介した後、１軸アクチュエータ２０により保持されたミラー１９にて反射されて、再びλ／４板１８を通過する。その上で、図のようにＰＢＳ１４に入射する。
ここで、１軸アクチュエータ１９は、後述する参照光の位相調整（信号光と参照光の位相差の調整）のために設けられたものであり、ミラー１９を、該ミラー１９に入射する参照光の光軸と平行な方向に変位可能に保持している。
【００５０】
上記のようにＰＢＳ１４に入射する参照光（復路光）は、λ／４板１８による作用とミラー１９での反射時の作用とにより、その偏光方向が往路光としての参照光とは９０°異なるものとされる（つまりＳ偏光となる）。従って、上記復路光としての参照光は、ＰＢＳ１４にて反射されることとなる。
【００５１】
図中では、このようにＰＢＳ１４にて反射された参照光を破線矢印により示している（図中「ｒｅｆ」）。
また図中では、前述のようにＰＢＳ１４を透過した信号光については実線矢印により示している（図中「ｓｉｇ」）。
【００５２】
図のように、ＰＢＳ１４によっては、これら信号光と参照光とが重ね合わされた状態で同方向に出射される。具体的にこの場合、信号光と参照光とはそれらの光軸が一致するように重ね合わされた状態で同方向に出射される。
【００５３】
ＰＢＳ１４から出力された信号光と参照光の重ね合わせ光は、ＰＢＳ２１に入射する。
ＰＢＳ２１は、Ｐ偏光の一部を透過させ、Ｓ偏光をほぼ１００％反射するように構成されている。これにより当該ＰＢＳ２１では、信号光の一部が透過、一部が反射し、参照光はほぼ１００％反射されることになる。
【００５４】
ここで、ＰＢＳ２１を透過した信号光は、集光レンズ２２を介して信号光受光部２３の受光面上に集光する。
信号光受光部２３は、主として対物レンズ１６のフォーカスサーボ、トラッキングサーボを行うためのフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥを生成するための受光部として設けられたものとなる。
図示されるように、信号光受光部２３にて得られた受光信号については、受光信号Ｄ_sgと表記する。
【００５５】
また、ＰＢＳ２１を反射した信号光と参照光は、λ／２板２４を介した後、ＰＢＳ２５に入射する。このＰＢＳ２５は、先のＰＢＳ１４と同様にＰ偏光を透過しＳ偏光を反射するように構成されている。
図のようにＰＢＳ２５を透過した光は、集光レンズ２６を介して第１ホモダイン検波用受光部ＰＤ１の受光面上に集光し、またＰＢＳ２５にて反射された光は集光レンズ２７を介して第２ホモダイン検波用受光部ＰＤ２の受光面上に集光する。
【００５６】
ここで、λ／２板２４は、ＰＢＳ２１側より入射する信号光と参照光の偏光方向を、光の進行方向に対し時計回りに４５°回転させるようにその取り付け角度（回転角度）が調整されている。
また、ＰＢＳ２５によっては、その透過光と反射光とによって、信号光・参照光の双方が、それぞれ偏光方向の直交する光に分光されることになる。
【００５７】
このとき、ＰＢＳ２５を透過した信号光・参照光の組は、共にＰ偏光であり、従ってこれらの光は同位相の光として第１ホモダイン検波用受光部ＰＤ１に集光される。つまりこの結果、第１ホモダイン検波用受光部ＰＤ１側では、信号光に対し、該信号光と同位相の参照光が合成された（光干渉した）光が受光されることになる。
図示するように、当該第１ホモダイン検波用受光部ＰＤ１による受光信号については、受光信号Ｄ_hm1と表記する。
【００５８】
一方、ＰＢＳ２５にて反射された信号光・参照光の組については、上述のようにλ／２板２４によりそれらの光の偏光方向が時計回りに４５°回転されることと、ＰＢＳ２５の分光面上での反射時の作用とにより、参照光の位相が、信号光の位相に対して１８０°異なるようにされる。
このことで、第２ホモダイン検波用受光部ＰＤ２側では、信号光に対して、該信号光とは逆位相となる参照光が合成された（光干渉した）光が受光されることになる。
当該第２ホモダイン検波用受光部ＰＤ２による受光信号については、受光信号Ｄ_hm2と表記する。
【００５９】
なお確認のため述べておくと、第１ホモダイン検波用受光部ＰＤ１で受光される信号光・参照光の組の位相差と、第２ホモダイン検波用受光部ＰＤ２で受光される信号光・参照光の位相差との差は１８０°である。
【００６０】
ここで、ホモダイン検波方式では、上記のようにして得た受光信号Ｄ_hm1と受光信号Ｄ_hm2、すなわち位相差０°となるように生成した信号光と参照光との干渉光についての受光信号と、位相差１８０°となるように生成した信号光と参照光との干渉光についての受光信号とに基づき、信号再生を行う。
具体的には、いわゆる差動検出として、受光信号Ｄ_hm1と受光信号Ｄ_hm2との差分を計算する。このような差動検出により、受光信号Ｄ_hm1と受光信号Ｄ_hm2に含まれているノイズ成分を相殺して、参照光の強度によって増幅された信号光の成分を得ることが可能となる。
本例では、差動検出として、受光信号Ｄ_hm1を「ＩA」、受光信号Ｄ_hm2を「ＩB」と表したとき、「ＩB−ＩA」による計算を行うものとする。
【００６１】
［3-2．具体的な再生手法］
ここで、本例の光ディスク１のように、再生解像度の限界値よりも短い長さによる凹部αと凸部βとを交互に配列させ、凹部αと凸部βのそれぞれに別の信号記録を行うとした場合、ホモダイン検波で検出される光強度Ｅ（光検出部上での電場）は、次の［式１］のように、凹部αの反射光成分（α）と凸部βの反射光成分（β）とが混在したものとして表すことができる。
【数１】
2013229082.tif 000003
但し、ｉは凹部αと凸部βとの段差に応じた位相ずれ成分（本例の場合はλ／８）、Ｇは参照光の振幅、φは信号光と参照光の位相差を表す。また、ｅはexponentialの略である。
【００６２】
この前提によると、信号ＩA、信号ＩBは次の［式２］のように表すことができる。
【数２】
2013229082.tif 000004
また［式２］によると、上述した差動検出により得られる信号ＩB−ＩAは、次の［式３］に表すものとなる。
【数３】
2013229082.tif 000005
【００６３】
ここで、上記［式３］によると、前述したような本実施の形態としての記録が行われた場合における信号ＩB−ＩAは、凹部αの反射光成分（α）と凸部βの反射光成分（β）とが合成された成分が、参照光の強度（Ｇ）に応じて増幅されていることが分かる。
この点より、通常のホモダイン検波方式に従って単純に信号ＩB−ＩAを演算したのみでは、凹部αの記録信号と凸部βの記録信号とが混在して、信号の読み分けができないことが分かる。
【００６４】
このとき、［式３］によれば、信号ＩB−ＩAの値は、信号光と参照光との位相差（φ）に応じて変化することが分かる。
本実施の形態ではこの点に鑑み、凹部αを対象とした再生動作と、凸部βを対象とした再生動作とを、それぞれ位相差状態が異なる信号光と参照光の組を用いて行うこととする。
このように凹部αを対象とした再生動作と凸部βを対象とした再生動作とを、それぞれ異なる位相差状態による信号光と参照光の組を用いて行うものとすることで、凹部αと凸部βとの段差ΔＤの大きさに応じて信号光と参照光とに位相差が生じることを利用して、凹部αの記録信号と凸部βの記録信号との読み分けを行うことが可能となる。
【００６５】
具体的な手法として、本例では、凹部αを対象とした再生動作と凸部βを対象とした再生動作とで、ミラー１９の位相を変化させる。確認のため述べておくと、ミラー１９の位相は、参照光の位相を決定づけるものとなる。ひいては、信号光と参照光との位相差φを決定づけるものである。以下、ミラー１９の位相については、「参照光ミラー位相ｍφ」と表記する。
【００６６】
参照光ミラー位相ｍφの調整によって、凹部αの再生時には、信号光と参照光の位相差φを凹部αの記録信号を抽出可能な値に設定し、凸部βの再生時には、位相差φを凸部βの記録信号を抽出可能な値に設定する。これにより、凹部αの記録信号と凸部βの記録信号との読み分けを可能とする。
【００６７】
ここで、以下、凹部αと凸部βとの読み分けにあたり、凹部αの再生時と凸部βの再生時とで設定されるべき具体的な位相差φについて説明する。
先ず、前提として、以下の説明においては、フォーカスサーボ制御により、対物レンズ１６の焦点位置が凹部αに一致するように調整されているとする。
また、このように焦点位置が凹部αに一致する状態を基準として、参照光ミラー位相ｍφの値を定義する。具体的にここでは、焦点位置が凹部αに一致するときに得られる信号光との位相差を０°とする参照光ミラー位相ｍφを、ｍφ＝０°と定義する。
確認のため述べておくと、この定義下におけるｍφ＝０°とは、ＰＢＳ１４から出力される信号光と参照光との位相差φが０°であることと同義である。
【００６８】
上記の前提の下で、再生位置が凹部α上、凸部β上にそれぞれ位置する場合を考える。
先ず、ｍφ＝０°の調整状態を考える。
この場合、再生位置が凹部α上にあるときは、第１ホモダイン検波用受光部ＰＤ１側で受光される信号光・参照光の組の位相差はφ＝０°、第２ホモダイン検波用受光部ＰＤ２側で受光される信号光・参照光の組の位相差はφ＝１８０°となる。
一方、再生位置が凸部β上である状態では、信号光と参照光との間（ＰＢＳ１４から出力される信号光と参照光との間）には、段差ΔＤ＝λ／８に応じた分の位相差（＝３６０÷８×２＝９０°）が生じる。従ってこのとき、第１ホモダイン検波用受光部ＰＤ１側の信号光・参照光の組の位相差はφ＝９０°、第２ホモダイン検波用受光部ＰＤ２側の信号光・参照光の組の位相差はφ＝２７０°となる。
よって、φｍ＝０°時は、凹部αについてはφ＝０°のＩA、φ＝１８０°のＩBによる信号ＩB−ＩAが計算され、凸部βについては、φ＝９０°のＩA、φ＝２７０°のＩBによる信号ＩB−ＩAが計算される。
【００６９】
ここで、再生位置が凸部β上であるときに得られる上記φ＝９０°の信号光・参照光の組、及び上記φ＝２７０°の信号光・参照光の組は、それぞれ光干渉しない。よって、再生位置が凸部β上のときに得られる信号ＩB−ＩAの値は、（マークの形成有無に関わらず）常に「０」となる。つまりこの結果、ｍφ＝０°に調整された状態下では、信号ＩB−ＩAに凸部βの記録信号成分が含まれないものとなり、逆に凹部αの記録信号成分のみが含まれることとなる。
このようにして、ｍφ＝０°に調整することにより、信号ＩB−ＩAとして、凹部αの記録信号が抽出された再生信号を得ることができる。
【００７０】
ここで、上記説明によれば、凹部α／凸部βの何れかの記録信号を抽出するためには、参照光ミラー位相ｍφを段差ΔＤに応じて変化させればよいことに気づく。
このため、凸部βの記録信号が抽出されるようにするためには、本例において段差ΔＤ＝λ／８が設定されることに対応して、ｍφ＝９０°に調整するものとすればよい。
このようにｍφ＝９０°に調整されている下では、再生位置が凹部α上であるときは信号光と参照光との間にｍφ＝９０°に応じた９０°の位相差が生じる。従って、この場合において第１ホモダイン検波用受光部ＰＤ１側で受光される信号光・参照光の組の位相差はφ＝９０°、第２ホモダイン検波用受光部ＰＤ２側で受光される信号光・参照光の組の位相差はφ＝２７０°となる。
一方で、凸部β上に位置する状態では、ｍφ＝９０°に調整されたことにより、前述のようにｍφ＝０°時に生じていた信号光と参照光との間の９０°の位相差が相殺される。従ってこの場合、第１ホモダイン検波用受光部ＰＤ１側で受光される信号光・参照光の組の位相差はφ＝０°、第２ホモダイン検波用受光部ＰＤ２側で受光される信号光・参照光の組の位相差はφ＝１８０°となる。
このことから、ｍφ＝９０°時には、凹部αで得られる信号ＩB−ＩAの値は（マークの形成有無に関わらず）常に「０」となって、信号ＩB−ＩAとして凸部βの記録信号が抽出された再生信号を得ることができる。
【００７１】
ところで、信号光の位相は、実際にはディスクの面ぶれに応じて変化し得るものである。このため実際には、参照光ミラー位相ｍφを例えば上記の０°、９０°に固定してしまうと、読み分けのために必要とされる上記の正しい信号光・参照光の位相差状態を維持することができなくなってしまう。
【００７２】
そこで、ミラー１９の位相は、再生信号（この場合は信号ＩB−ＩA）に基づくフィードバック制御により調整する。
ここで、このような再生信号に基づくフィードバック制御を行う上で注意すべきであるのは、データ記録エリア内では、前述したような凹部α／凸部βの信号の混在が起こるという点である（フィードバック制御を開始する時点ではミラー１９の位相が未調整のため）。当然のことながら、このように各信号が混在する状態では、適正な再生信号振幅の検出ができず、正確なミラー位相調整を行うことができない。
【００７３】
このため、ミラー１９の位相調整のためのフィードバック制御についても、先のクロックＣＬＫの生成と同様、Ｓｙｎｃエリアを用いて行うものとする。
前述のようにＳｙｎｃエリアでは、再生解像度の限界値に対して十分なマージンをとった長さの凹部αと凸部βとが配列されているので、再生信号（信号ＩB−ＩA）の振幅値を適正に検出できる。
【００７４】
図８により、このような位相調整のためのフィードバック制御の具体的な内容について説明する。
この図８では、Ｓｙｎｃエリア内における参照光ミラー位相ｍφと信号ＩB−ＩAの振幅との関係を示している。
図８において、図８ＡはＳｙｎｃエリアに形成された凹部αと凸部βとを表す。図８Ｂ〜図８Ｅは、それぞれ参照光ミラー位相ｍφを０°（図８Ｂ）、９０°（図８Ｃ）、１８０°（図８Ｄ）、２７０°（図８Ｅ）とした際にＳｙｎｃエリア内で得られる信号ＩB−ＩAの波形を示している。
【００７５】
この図８を参照して分かるように、Ｓｙｎｃエリア内においては、参照光ミラー位相ｍφの変化に応じて、信号ＩB−ＩAの波形が変化する。
具体的に、図８Ｂに示すｍφ＝０°時における信号ＩB−ＩAは、凹部αにおいてピークレベル、凸部βにおいてボトムレベルを迎えるようにしてその振幅が増減する。
また図８Ｃに示すｍφ＝９０°時における信号ＩB−ＩAは、逆に凸部βにおいてピークレベル、凹部αにおいてボトムレベルを迎えるようにしてその振幅が増減する。
ここで、これらｍφ＝０°時とｍφ＝９０°時の信号ＩB−ＩAの波形は、それぞれボトムレベルが０であり、ピークレベルが正の値となる。
【００７６】
また、図８Ｄに示すｍφ＝１８０°時における信号ＩB−ＩAは、凹部αにおいてピークレベル、凸部βにおいてボトムレベルを迎えるようにしてその振幅が増減するが、図８Ｂとの違いは、ピークレベルが０となりボトムレベルが負の値となることである。
また図８Ｅに示すｍφ＝２７０°時における信号ＩB−ＩAは、凸部βにおいてピークレベル、凹部αにおいてボトムレベルを迎えるようにしてその振幅が増減し、図８Ｄと同様にピークレベルが０、ボトムレベルが負の値となる。
【００７７】
この図８によれば、ｍφ＝０°として凹部αの記録信号が抽出されるようにするためには、Ｓｙｎｃエリア内の凸部βにおける信号ＩB−ＩAのボトムレベルが「０」となるように参照光ミラー位相ｍφを調整すればよいことが分かる。
一方、ｍφ＝９０°として凸部βの記録信号が抽出されるようにするには、Ｓｙｎｃエリア内の凹部αにおける信号ＩB−ＩAのボトムレベルが「０」となるように参照光ミラー位相ｍφを調整すればよいことが分かる。
【００７８】
なお、Ｓｙｎｃエリア内ではマークが非形成であるため、該Ｓｙｎｃエリア内において凸部β及び凹部αは共にミラー面である。
この点を考慮すると、上記のようにｍφ＝０°として、Ｓｙｎｃエリア内における凸部βの振幅が「０」となるということは、データ記録エリアにおいても凸部βの振幅は常時「０」となることを意味する。すなわち、マークの記録有無に関わらず、凸部βでの振幅は常に「０」となるものである。
この点からも、ｍφ＝０°により凹部αの記録信号を抽出できることが分かる。
また、ｍφ＝９０°とすると、Ｓｙｎｃエリア内の凹部αにおける振幅が「０」となる。このようにＳｙｎｃエリア内における凹部αの振幅が「０」となるということは、データ記録エリアにおいても凹部αの振幅はマークの形成有無に関わらず常時「０」となるものであり、従ってこの点からも、ｍφ＝９０°とすることで、凸部βの記録信号を抽出できることが分かる。
【００７９】
なお、図８Ｄに示すｍφ＝１８０°時には、図８Ｂに示すｍφ＝０°時の信号ＩB−ＩAの反転信号が得られることが分かる。このことからも理解されるように、ｍφ＝１８０°とすれば、凹部αの記録信号の反転信号を抽出できる。
また、図８Ｅに示すｍφ＝２７０°時には、図８Ｃに示すｍφ＝９０°時の信号ＩB−ＩAの反転信号が得られることが分かる。従ってｍφ＝２７０°とすれば、凸部βの記録信号の反転信号を抽出することができる。
【００８０】
ここで、上述のようにＳｙｎｃエリア内の凸部βにおける信号ＩB−ＩAのボトムレベルが「０」となるように参照光ミラー位相ｍφを調整（ｍφ＝０°）して凹部αの記録信号成分のみが抽出される状態を、先の［式３］等に基づき表現すると、次の［式４］のように表すことができる。
【数４】
2013229082.tif 000006
【００８１】
一方で、Ｓｙｎｃエリア内の凹部αにおける信号ＩB−ＩAのボトムレベルが「０」となるように参照光ミラー位相ｍφを調整（ｍφ＝９０°）して凸部βの記録信号成分のみが抽出される状態を、同様に先の［式３］等に基づき表現すると、次の［式５］のように表すことができる。
【数５】
2013229082.tif 000007
【００８２】
上記のような再生信号の振幅値に基づくフィードバック制御によって参照光ミラー位相ｍφを調整することで、信号光と参照光との位相差φが、凹部α／凸部βの記録信号を抽出可能な値で一定となるようにすることができる。
ここで、この場合の位相調整は、Ｓｙｎｃエリアを利用して行うことからも理解されるように、サンプルサーボ的に行われるものである。
具体的にこの場合のミラー１９の位相制御は、Ｓｙｎｃエリアごとに再生信号振幅をサンプリングし、その結果に基づき、凹部αの再生時には該Ｓｙｎｃエリア内の凸部βにおける信号ＩB−ＩAのボトムレベルが「０」となるように、また凸部βの再生時には該Ｓｙｎｃエリア内の凹部αにおける信号ＩB−ＩAのボトムレベルが「０」となるように、それぞれミラー１９の位相を制御する。
【００８３】
図９は、参照光ミラー位相ｍφとホモダイン再生信号としての信号ＩB−ＩAとの関係についてのシミュレーションを行った結果を示している。
図９Ａはｍφ＝−９０°（２７０°）、図９Ｂはｍφ＝３０°、図９Ｃはｍφ＝１５０°、図９Ｄはｍφ＝２４０°としたときの信号ＩB−ＩAのアイパターンをそれぞれ示している。
なお、シミュレーションではＮＡ＝０．８５、λ＝４０５ｎｍ、１Ｔ＝７５ｎｍ、Ｔｐ＝０．３２μｍ、ΔＤ＝λ／８とした。また、記録変調方式にはＲＬＬ（１−７）ＰＰ変調方式を採用した。
【００８４】
この図９のシミュレーションでは、図９Ｂに示すｍφ＝３０°時に凹部αの記録信号が抽出され、また図９Ｄに示すｍφ＝２４０°時に凸部βの記録信号の反転信号が抽出されるものとなった。なお、図９Ｂではアイパターンと共に抽出された凹部αの記録信号波形を併せて示し、また図９Ｄではアイパターンと共に抽出された凸部βの記録信号の反転信号の波形を併せて示している。
【００８５】
ここで、先の図８では、Ｓｙｎｃエリア内の凸部βにおける信号ＩB−ＩAのボトムレベルが「０」となるように参照光ミラー位相ｍφを調整すれば凹部αの信号を抽出でき、またＳｙｎｃエリア内の凹部αにおける信号ＩB−ＩAのボトムレベルが「０」となるように参照光ミラー位相ｍφを調整すれば凸部βの信号を抽出できるものとして説明したが、このとき注意すべきであるのは、ホモダイン再生信号には、信号光の成分（ＡＣ成分）と共に参照光の成分（ＤＣ成分）が含まれているという点である。
先の図８の説明は、ホモダイン再生信号としての信号ＩB−ＩAの振幅が０となるときに信号光の成分も０となる理想的な状態を前提としたものである。
【００８６】
しかしながら実際には、ホモダイン再生信号としての信号ＩB−ＩAの振幅を０としても、それに含まれる信号光成分の振幅が０とならない場合があり得る。つまりこのことから、ホモダイン再生信号の振幅が０となるときの位相差φが、該再生信号中に含まれる信号光の成分の振幅が０となるときの位相差φと一致しない場合があるものである。
その場合には、凹部α側の信号を抽出するための位相差φは０°ではなく、例えば図９のシミュレーション結果のように３０°などとなる場合があり得る。
【００８７】
信号光成分の振幅が０とならなければ、前述のような凹部α／凸部βのみの信号抽出を適正に行うことができない。
そこで、上記のように信号ＩB−ＩAの振幅を０としても信号光成分の振幅が０とならない場合、つまりはホモダイン再生信号の振幅が０となるときの位相差φが該再生信号中に含まれる信号光の成分の振幅が０となるときの位相差φと一致しない場合には、先に説明したようなミラー１９の位相調整のためのフィードバック制御系に入力する信号ＩB−ＩAに対し、信号光成分の振幅を０とするためのオフセット値を与えればよい。このようなオフセット値の付与が行われる下で、前述のような、Ｓｙｎｃエリア内の凸部βにおける信号ＩB−ＩAのボトムレベルを「０」、或いはＳｙｎｃエリア内の凸部βにおける信号ＩB−ＩAのボトムレベルを「０」とするミラー１９の位相調整が行われることにより、それらＳｙｎｃエリア内の凸部β／凹部αにおける信号光成分の振幅が０となるようにすることができる。つまりこの結果、凹部α／凸部βの信号を適切に抽出することができる。
なお、上記のようなオフセット値の付与は、例えばフォーカスサーボループに対して適切なフォーカスアイアスを与えることと同様なものである。
【００８８】
上記により説明した実施の形態としての再生手法では、参照光ミラー位相ｍφの調整により、凹部αを対象とした再生動作と凸部βを対象とした再生動作とをそれぞれ適切な位相差状態による信号光・参照光の組を用いて行うようにしたことで、凹部α／凸部βの信号を適切に読み分けることができる。
凹部α／凸部βの信号としての高密度記録された信号の読み分けが可能となることで、光ディスク１の記録容量の拡大化を許容することができる。
【００８９】
＜４．実施の形態の記録／再生装置の構成＞
図９は、これまでで説明した実施の形態としての記録／再生手法を実現するための記録／再生装置（以下、記録再生装置１０とする）の内部構成を示したブロック図である。
ここで、実施の形態の記録再生装置１０が備える光ピックアップＯＰの構成は、先の図７に示したものと同様である。
図９において、光ピックアップＯＰの内部構成については、先の図７に示したもののうち、レーザ１１、２軸アクチュエータ１７、及び１軸アクチュエータ２０のみを抽出して示している。
また、図９においてはスピンドルモータ２８の図示は省略している。
【００９０】
先ず、記録再生装置１０には、先の図７に示した信号光受光部２３にて得られる受光信号Ｄ_sgに基づき対物レンズ１６についてのトラッキング／フォーカスサーボ制御等を実現するための構成として、マトリクス回路３０、サーボ回路３１、２軸ドライバ３２が備えられている。
【００９１】
マトリクス回路３０は、受光信号Ｄ_sgに基づき、フォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥを生成する。
また本例の場合、前述したクロックＣＬＫの生成を通常の再生信号（信号光を受光して得られる再生信号）を用いて行う関係から、マトリクス回路３０は、受光信号Ｄ_sgに基づきＲＦ信号（和信号）を生成する。
【００９２】
サーボ回路３１は、マトリクス回路３０で生成されたフォーカスエラー信号ＦＥ、トラッキングエラー信号ＴＥに対して所定のサーボ演算処理（位相補償やループゲイン付与など）を行って、フォーカスサーボ信号ＦＳ、トラッキングサーボ信号ＴＳをそれぞれ生成する。
【００９３】
２軸ドライバ３２は、サーボ回路３１で得られたフォーカスサーボ信号ＦＳ、トラッキングサーボ信号ＴＳに基づきフォーカスドライブ信号ＦＤ、トラッキングドライブ信号ＴＤを生成し、これらのドライブ信号ＦＤ，ＴＤにより２軸アクチュエータ１７のフォーカスコイル、トラッキングコイルをそれぞれ駆動する。
これにより、対物レンズ１６についてのフォーカスサーボ制御、トラッキングサーボ制御が実現される。
【００９４】
また、記録再生装置１０には、前述したクロックＣＬＫと、Ｓｙｎｃエリアの形成間隔を表す同期信号Ｓｙｎｃとを生成するためのクロック・同期信号生成部３９が設けられる。図示するようにこのクロック・同期信号生成部３９には、マトリクス回路３０で生成されたＲＦ信号が入力される。
クロック・同期信号生成部３９は、ＰＬＬ回路を備えて構成される。
クロック・同期信号生成部３９は、入力されるＲＦ信号に基づき同期信号Ｓｙｎｃを生成すると共に、先に説明したようなＳｙｎｃエリア内でのエッジ位置のサンプリングを行って、その結果に基づき前述したようにＳｙｎｃエリア内の凹凸の形成周期を表す基準クロックＣＬＫ_rを生成する。そして、このように生成した基準クロックＣＬＫ_rを逓倍して、データ記録エリア内のビットＢＴの形成周期を表すクロックＣＬＫ（本例の場合は１Ｔの周期）を生成する。
【００９５】
また記録再生装置１０には、先の図５にて説明した実施の形態としての記録手法を実現するための構成として、変調部３３−α、変調部３３−β、凹側記録パルス生成部３４−α、凸側記録パルス生成部３４−β、合成部３６、及びレーザ駆動部３７が設けられる。
【００９６】
変調部３３−αには、凹部αを対象として記録されるべき凹側記録データが入力される。変調部３３−αは、上記凹側記録データに対してエラー訂正符号の付加処理や所定の記録変調符号化処理を施すことで、前述した凹側記録信号（「０」「１」による記録変調符号列）を得る。
【００９７】
また、変調部３３−βには、凸部βを対象として記録されるべき凸側記録データが入力され、該変調部３３−βは、上記凸側記録データに対してエラー訂正符号の付加処理や所定の記録変調符号化処理を施すことで、前述した凸側記録信号（「０」「１」による記録変調符号列）を得る。
【００９８】
凹側記録パルス生成部３４−αは、変調部３３−αで得られた凹側記録信号とクロックＣＬＫとに基づき、凹側記録信号に応じたマークの記録タイミングを表す凹側記録パルスを生成する。具体的に凹側記録パルス生成部３４−αは、凹側記録信号とクロックＣＬＫとのＡＮＤをとることで上記凹側記録パルスを生成する。
【００９９】
また、凸側記録パルス生成部３４−βには、変調部３３−βで得られた凸側記録信号と、図中の反転回路３５で得られるクロックＣＬＫの反転信号（クロックＣＬＫ’と表記する）とが入力される。凸側記録パルス生成部３４−βは、凸側記録信号とクロックＣＬＫ’とのＡＮＤをとることで、凸側記録信号に応じたマークの記録タイミングを表す凸側記録パルスを生成する。
【０１００】
合成部３６は、凹側記録パルス生成部３４−αで得られた凹側記録パルスと凸側記録パルス生成部３４−βで得られた凸側記録パルスとを合成（加算）することで、先の図５Ｆに示したような合成記録パルスを生成する。
【０１０１】
レーザ駆動部３７は、記録時に対応してコントローラ４４から為される指示に基づき、上記合成記録パルスに基づいたレーザ１１の発光駆動を行う。これにより、データ記録エリア内における凹部αを対象とした凹側記録信号の記録と凸部βを対象とした凸側記録信号の記録とが実現される。
なおレーザ駆動部３７は、再生時には、コントローラ４４からの指示に基づきレーザ１１を再生パワーにより連続発光させる。
【０１０２】
なお、光ディスク１へのデータ記録は、Ｓｙｎｃエリアを跨いで行われるべきものである。この点から、本例の記録再生装置１０においては、例えば合成部３６が同期信号Ｓｙｎｃに基づいてＳｙｎｃエリアごとに記録を中断させる制御を行う。具体的に合成部３６は、同期信号Ｓｙｎｃから特定されるＳｙｎｃエリア区間での合成記録パルスの出力を停止することで、Ｓｙｎｃエリアを跨いだ記録が実現されるようにする。
【０１０３】
また、記録再生装置１０には、参照光ミラー位相ｍφの調整を行うためのミラー位相制御部４０及びミラー駆動部４１が設けられる。
ミラー位相制御部４０には、減算部３８で得られる信号ＩB−ＩAが入力される。ここで減算部３８は、受光信号Ｄ_hm1と受光信号Ｄ_hm2とを入力し、「Ｄ_hm2−Ｄ_hm1」による減算を行うことで信号ＩB−ＩAを得る。
【０１０４】
ミラー位相制御部４０は、入力される信号ＩB−ＩAに基づき、Ｓｙｎｃエリア内の凸部βにおける信号ＩB−ＩAのボトムレベルを「０」とするようにミラー１９の位相を制御する第１位相制御と、Ｓｙｎｃエリア内の凹部αにおける信号ＩB−ＩAのボトムレベルを「０」とするようにミラー１９の位相を制御する第２位相制御とを、コントローラ４４の指示に基づき実行する。
【０１０５】
ここで、信号ＩB−ＩAのボトムレベルをＳｙｎｃエリア内の凸部β／凹部αで「０」とする位相制御の実現にあたっては、例えば以下のような２段階の調整とすることが考えられる。
例えば、上記第１位相制御については、先ずはＳｙｎｃエリア内の凹部α→凸部βのエッジ近傍での信号ＩA−ＩBの振幅が低下傾向となるようにミラー１９の位相を調整する（第１調整段階）。そして、該第１調整段階の後、さらにミラー１９の位相を凸部βでの信号ＩA−ＩBの振幅の最低値が０で維持されるように調整する（第２調整段階）。
また、上記第２位相制御も同様に、先ずはＳｙｎｃエリア内の凸部β→凹部αのエッジ近傍での信号ＩA−ＩBの振幅が低下傾向となるようにミラー１９の位相を調整する（第１調整段階）。そして、該第１調整段階の後、さらにミラー１９の位相を凹部αでの信号ＩA−ＩBの振幅の最低値が０で維持されるように調整する（第２調整段階）。
なおこのような位相制御において、Ｓｙｎｃエリア内での凹部α／凸部βのエッジタイミングは、同期信号ＳｙｎｃやクロックＣＬＫに基づき知ることができる。
【０１０６】
ミラー駆動部４１は、上記のような位相制御に伴いミラー位相制御部４０より出力されるミラー位相制御信号に基づくミラー駆動信号を生成し、該ミラー駆動信号により１軸アクチュエータ２０を駆動する。これにより、ミラー１９の位相調整が実現される。
【０１０７】
なお、先に述べたように、ホモダイン再生信号（ＩB−ＩA）の振幅を０としても信号光成分の振幅が０とならない場合（ホモダイン再生信号の振幅が０となるときの位相差φが、該再生信号中に含まれる信号光成分の振幅が０となるときの位相差φと一致しない場合）には、ミラー１９の位相調整のためのフィードバック制御系（減算部３８→ミラー位相制御部４０→ミラー駆動部４１→１軸アクチュエータ２０）に対し、信号光成分の振幅を０とするためのオフセット値を与えるべきである。
具体的にこの場合は、例えばミラー位相制御部４０において信号ＩB−ＩAに上記オフセット値を加算し、該オフセット値の加算後の信号ＩB−ＩAについて、Ｓｙｎｃエリア内の凸部βにおける信号ＩB−ＩAのボトムレベルを「０」とするようにミラー１９の位相を制御する位相制御と、Ｓｙｎｃエリア内の凹部αにおける信号ＩB−ＩAのボトムレベルを「０」とするようにミラー１９の位相を制御する位相制御とを実行するものとすればよい。
【０１０８】
また記録再生装置１０には、２値化回路４２、及び復調部４３が設けられる。
２値化回路４２は、減算部３８で得られた信号ＩB−ＩAをクロックＣＬＫに基づき２値化する。
復調部４３は、２値化回路４２で得られた２値化信号について記録変調符号の復号化・エラー訂正処理などの所定の復調処理を行うことで、前述の第１位相制御／第２位相制御の実行状態に応じて、凹側記録データ／凸側記録データを復元した再生データを得る。
【０１０９】
コントローラ４４は、例えばＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）を備えたマイクロコンピュータで構成され、例えば上記ＲＯＭ等に格納されたプログラムに従った処理を実行することで、記録再生装置１０の全体制御を行う。
特に、本例におけるコントローラ４４は、記録時に対応して以下のような制御を行う。
つまり記録時には、先ずはサーボ回路３１に対する指示を行って、フォーカスサーボ制御及びトラッキングサーボ制御を実行させる。このことに応じ、クロック・同期信号生成回路３９によりクロックＣＬＫと同期信号Ｓｙｎｃの生成が行われる。その後、変調部３３−α、３３−βに対する凹側記録データ、凸側記録データの入力を開始し、これらデータの記録動作を実行させる。
【０１１０】
また、コントローラ４４は、再生時には凹部α側を対象とした再生動作と凸部β側を対象とした再生動作との切り替えを実現するための制御を行う。
具体的に、凹部αを対象とした再生時には、ミラー位相制御部４０に対して前述した第１位相制御の実行を指示し、また凸部βを対象とした再生時にはミラー位相制御部４０に前述した第２位相制御の実行を指示する。
このような制御が行われることで、凹部α／凸部βの信号の読み分けが実現される。
【０１１１】
＜５．変形例＞
以上、本技術に係る実施の形態について説明したが、本技術としてはこれまでで説明した具体例に限定されるべきものではない。
例えばこれまでの説明では、データ記録エリア内でのビットＢＴの形成部と非形成部との長さを０．５Ｔとしたが、これらの長さについてはチャネルクロックの偶数分の１とすることができる。
またビットＢＴの形成部と非形成部の長さは、必ずしも一致させる必要はない。これらビットＢＴの形成部と非形成部の長さについては、従来よりも記録密度の向上を図る上では、再生解像度の限界値よりも短い区間内にビットＢＴの形成部と非形成部との組が収まるように設定すればよい。
【０１１２】
また、段差ΔＤについても、例示したλ／８に限定されるべきものではない。
【０１１３】
またこれまでの説明では、参照光ミラー位相ｍφを、Ｓｙｎｃエリア内の凸部βにおける信号ＩB−ＩAのボトムレベルが「０」（つまりｍφ＝０°）、又はＳｙｎｃエリア内の凹部αにおける信号ＩB−ＩAのボトムレベルが「０」（つまりｍφ＝９０°）となるようにそれぞれ調整する場合を例示したが、先の図８によれば、ｍφ＝１８０°又はｍφ＝２７０°としても、それぞれ凸部βでの信号ＩB−ＩAの振幅が「０」、凹部αでの信号ＩB−ＩAの振幅が「０」となるので、それぞれ凹部αの信号／凸部βの信号を抽出可能であることが分かる。
そこで、凹部αを対象とした再生時には、Ｓｙｎｃエリア内の凸部βにおける信号ＩB−ＩAのピークレベルが「０」となるように参照光ミラー位相ｍφを調整（ｍφ＝１８０°）し、逆に凸部βを対象とした再生時には、Ｓｙｎｃエリア内の凹部αにおける信号ＩB−ＩAのピークレベルが「０」となるように参照光ミラー位相ｍφを調整（ｍφ＝２７０°）するものとしてもよい。
但しこれらの場合には、信号ＩB−ＩAの振幅が反転することとなるので、その点を考慮した信号再生（例えば反転回路を設ける等）を行う。
【０１１４】
また、これまでの説明では、参照光ミラー位相ｍφを０°（又は１８０°）／９０°（又は２７０°）に調整し、再生対象とする側の信号の抽出効果が最大限に得られるようにするものとしたが、読み分けにあたって目標とすべき参照光ミラー位相ｍφの値は、これら０°（又は１８０°）／９０°（又は２７０°）に限定されるべきものではない。
ここで、先の図８の説明によると、参照光ミラー位相ｍφを変化させることによっては、凹部α／凸部βのうち再生対象とする側の記録信号成分を増大させ、同時に非再生対象とする側の記録信号による影響（クロストーク成分）を低減できることが理解できる。この点を考慮すれば、本実施の形態の再生手法としては、上述のように参照光ミラー位相ｍφを０°／９０°となるように調整して非再生対象の側の記録信号によるクロストークの影響を完全に排除することに限定されず、少なくとも  非再生対象の側の記録信号が低減されるように位相調整を行うことで、クロストーク成分の抑制を図り、相対的に再生対象の側の信号成分が抽出されるようにすることができる。クロストーク成分が完全に除去されず多少重畳していたとしても、例えばその後の信号処理等によってその除去を図ることもできる。つまり、読み分けを可能とするためには、参照光ミラー位相ｍφの調整は、前述のような０°（又は１８０°）／９０°（又は２７０°）とする調整に限らず、少なくとも非再生対象側からのクロストーク成分の抑制が図られるように調整すればよいものである。
この点に鑑みれば、凹部α／凸部βの信号の読み分けにあたっては、少なくとも、凹部αを対象とした再生動作と凸部βを対象とした再生動作とを、それぞれ異なる位相差状態による信号光と参照光の組を用いて行うものとすればよいことが分かる。
【０１１５】
また、これまでの説明では、Ｓｙｎｃエリアは４Ｔ／４Ｔ間隔としたが、Ｓｙｎｃエリアにおける凹部αと凸部βの長さは、再生解像度の限界値に対してマージンをとった値とすればよく、少なくとも２Ｔ／２Ｔ以上などに設定すればよい。
【０１１６】
また、これまでの説明では、凹部αを対象とした再生と凸部βを対象とした再生とを共通のレーザ光源を用いて行うものとしたので、これらの再生を時間をずらして行う（いわゆる２度読み）ものとしたが、例えば光ピックアップＯＰを２つ設ける（例えば対向配置）などして、凹部αの再生と凸部βの再生とを同時に実行するように構成することもできる。
【０１１７】
また、これまでの説明では、本技術が光記録媒体についての記録と再生の双方が可能な記録再生装置に適用される場合を例示したが、本技術は、光記録媒体についての少なくとも記録機能のみが与えられた（再生機能が省略された）記録装置、又は少なくとも再生機能のみが与えられた（記録機能が省略された）再生装置の何れに対しても好適に適用可能なものである。
【０１１８】
また、本技術は以下に示す構成を採ることもできる。
（１）
凸状のビットの形成部と非形成部とが交互に配置され、且つ再生解像度の限界値よりも短い区間内に上記ビットの形成部と非形成部との組が収まるように上記ビットの形成が行われている光記録媒体に対して、光照射を行う光照射部と、
上記光照射部による照射光についての変調を行って、上記ビットの形成部を対象とした第１の信号の記録と、上記ビットの非形成部を対象とした第２の信号の記録とを行う記録部と、
を備える記録装置。
（２）
上記光照射部は、
上記ビットの形成部の長さと非形成部の長さとが共に０．５Ｔ（Ｔはチャネルクロック）分の長さとされた上記光記録媒体に対して光照射を行う
上記（１）に記載の記録装置。
（３）
上記光記録媒体には、
上記再生解像度の限界値よりも短い区間内に上記ビットの形成部と非形成部との組が収まるように上記ビットの形成が行われた記録エリアと、それぞれその長さが再生解像度の限界値よりも長い上記ビットの形成部と非形成部とが所定パターンで配列された同期エリアとが形成されており、
上記同期エリアの再生信号に基づき、上記記録エリアにおけるビットの形成周期に応じたビットクロックを生成するクロック生成部を備え、
上記記録部は、
上記クロック生成部が生成した上記ビットクロックに基づき上記ビットの形成部を対象とした第１の信号の記録と、上記ビットの非形成部を対象とした第２の信号の記録とを行う
上記（１）又は（２）何れかに記載の記録装置。
（４）
上記光記録媒体において、
上記同期エリアに形成される上記ビットの長さが上記記録エリアに形成されるビットの長さの整数倍の長さとされ、
上記クロック生成部は、
上記同期エリアのビットの形成周期に応じた同期エリアクロックを生成した後、該同期エリアクロックを逓倍して上記ビットクロックを生成する
上記（３）に記載の記録装置。
（５）
上記記録部は、
上記ビットクロックと上記第１の信号とに基づき、上記ビットの形成部を対象とした記録を行うための第１記録信号を生成し、且つ上記ビットクロックと上記第２の信号とに基づき、上記ビットの非形成部を対象とした記録を行うための第２記録信号を生成すると共に、
上記第１記録信号と上記第２記録信号とを合成して得た合成記録信号に基づき上記照射光についての変調を行うことで、上記ビットの形成部を対象とした上記第１の信号の記録と、上記ビットの非形成部を対象とした上記第２の信号の記録とを行う
上記（３）又は（４）何れかに記載の記録装置。
（６）
上記記録部は、
上記第１の信号と上記ビットクロックとの論理和により上記第１記録信号を生成し、上記第２の信号と上記ビットクロックの反転信号との論理和により上記第２記録信号を生成する
上記（５）に記載の記録装置。
（７）
凸状のビットの形成部と非形成部とが交互に配置され、且つ再生解像度の限界値よりも短い区間内に上記ビットの形成部と非形成部との組が収まるように上記ビットの形成が行われていると共に、上記ビットの形成部と非形成部とをそれぞれ対象として個別に信号記録が行われた光記録媒体に対して、同一光源より出射された光を分光して得た２つの光のうち一方の光を照射してその反射光を信号光として得ると共に、上記分光して得た２つの光のうち他方の光をミラーに対して照射してその反射光を参照光として得る信号光・参照光生成部と、
上記信号光・参照光生成部で得られた上記信号光と上記参照光とを入力し、上記信号光と上記参照光との重ね合わせ光を受光するように構成された受光光学系と、
上記他方の光の上記ミラーに対する入射光軸に平行な方向に上記ミラーを駆動して上記参照光の位相を変化させることで、上記信号光と上記参照光との位相差を調整可能とされたミラー駆動部と、
上記受光光学系で得られた受光信号に基づき上記信号光に基づく再生信号を得る再生動作として、上記ビットの非形成部に記録された信号についての再生動作である第１の再生動作を、第１の位相差状態とされた上記信号光と上記参照光とを用いて行い、上記ビットの形成部に記録された信号についての再生動作である第２の再生動作を、上記第１の位相差状態とは異なる第２の位相差状態とされた上記信号光と上記参照光とを用いて行う再生部と
を備える再生装置。
（８）
上記受光光学系は、
上記信号光・参照光生成部が生成した上記信号光と上記参照光に基づき、それぞれの位相差の差が１８０°となる第１の信号光と参照光の組と第２の信号光と参照光の組とを生成し、上記第１の信号光と参照光の組を受光して第１の受光信号を得、上記第２の信号光と参照光の組を受光して第２の受光信号を得るように構成されており、
上記再生部は、
上記信号光に基づく再生信号を、上記第１の受光信号と上記第２の受光信号との差分を計算して得る
上記（７）に記載の再生装置。
（９）
上記再生部は、
上記第１の再生動作と上記第２の再生動作のうち一方を行った後、上記ミラーの位相を上記ビットの形成部と非形成部との段差の大きさに応じた分変化させて、他方の再生動作を実行する
上記（７）又は（８）何れかに記載の再生装置。
（１０）
上記光記録媒体には、
上記再生解像度の限界値よりも短い区間内に上記ビットの形成部と非形成部との組が収まるように上記ビットの形成が行われた記録エリアと、それぞれその長さが再生解像度の限界値よりも長い上記ビットの形成部と非形成部とが所定パターンで配列された同期エリアとが形成されており、
上記再生部は、
上記第１の再生動作を、上記同期エリア内の上記ビットの形成部における上記再生信号の振幅がゼロとなるように上記ミラーの位相を調整した第１のミラー位相状態と、上記同期エリア内の上記ビットの非形成部における上記再生信号の振幅がゼロとなるように上記ミラーの位相を調整した第２のミラー位相状態のうち、何れか一方のミラー位相状態下にて実行した後、上記第２の再生動作を、他方のミラー位相状態下にて実行する
上記（７）乃至（９）何れかに記載の再生装置。
（１１）
上記受光光学系は、
上記ミラー駆動部によって上記信号光・参照光生成部から出力される上記信号光と上記参照光との位相差が０°となるように調整された場合における位相差が０°となる上記信号光と上記参照光の組と、上記ミラー駆動部によって上記信号光・参照光生成部から出力される上記信号光と上記参照光との位相差が０°となるように調整された場合における位相差が１８０°となる上記信号光と上記参照光の組とを生成すると共に、上記位相差が０°となる上記信号光と上記参照光の組を受光して上記第１の受光信号を得、上記位相差が１８０°となる上記信号光と上記参照光の組を受光して上記第２の受光信号を得るように構成されており、
上記再生部は、
上記第１の再生動作を上記第１のミラー位相状態下にて実行した後、上記第２の再生動作を上記第２のミラー位相状態下にて実行する
上記（１０）に記載の再生装置。
（１２）
上記受光光学系は、
上記ミラー駆動部によって上記信号光・参照光生成部から出力される上記信号光と上記参照光との位相差が０°となるように調整された場合における位相差が９０°となる上記信号光と上記参照光の組と、上記ミラー駆動部によって上記信号光・参照光生成部から出力される上記信号光と上記参照光との位相差が０°となるように調整された場合における位相差が２７０°となる上記信号光と上記参照光の組とを生成すると共に、上記位相差が９０°となる上記信号光と上記参照光の組を受光して上記第１の受光信号を得、上記位相差が２７０°となる上記信号光と上記参照光の組を受光して上記第２の受光信号を得るように構成されており、
上記再生部は、
上記第１の再生動作を上記第２のミラー位相状態下にて実行した後、上記第２の再生動作を上記第１のミラー位相状態下にて実行する
上記（１０）に記載の再生装置。
【符号の説明】
【０１１９】
１  光ディスク、２  カバー層、３  記録層、４  基板、ＢＴ  ビット、ＯＰ  光ピックアップ、１０  記録再生装置、１１  レーザ、１２  コリメーションレンズ、１３,２４  λ／２板、１４,２１,２５  ＰＢＳ、１５,１８  λ／４板、１６  対物レンズ、１７  ２軸アクチュエータ、１９  ミラー、２０  １軸アクチュエータ、２２,２７,２８  集光レンズ、２３  信号光受光部、ＰＤ１  第１ホモダイン検波用受光部、ＰＤ２  第２ホモダイン検波用受光部、２８  スピンドルモータ（ＳＰＭ）、３０  マトリクス回路、３１  サーボ回路、３２  ２軸ドライバ、３３−α,３３−β  変調部、３４−α  凹側記録パルス生成部、３４−β  凸側記録パルス生成部、３６  合成部、３７  レーザ駆動部、３８  減算部、３９  クロック・同期信号生成部、４０  ミラー位相制御部、４１  ミラー駆動部、４２  ２値化回路、４３  復調部、４４  コントローラ
【図１】
2013229082.tif 000008
【図２】
2013229082.tif 000009
【図３】
2013229082.tif 000010
【図４】
2013229082.tif 000011
【図５】
2013229082.tif 000012
【図６】
2013229082.tif 000013
【図７】
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【図８】
2013229082.tif 000015
【図９】
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【図１０】
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