(57)【要約】【課題】断続する点状や線状の輝度差集合となる表面欠陥情報を良好に保存した圧縮画像を得ることができる。【解決手段】複数の画素よりなる原画像について所定間隔毎に基準画素を設定するとともに、これら基準画素とこれに隣接する左右方向と上下方向の両方向における前後所定数の画素の、画素値の最大値ないし最小値を上記基準画素の新たな画素値として付与し、新たな画素値が付与された上記基準画素によって圧縮画像を構成する。【選択図】        図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素よりなる原画像について所定間隔毎に基準画素を設定するとともに、これら基準画素とこれに隣接する前後所定数の画素の、画素値の最大値ないし最小値を前記基準画素の新たな画素値として付与し、新たな画素値が付与された前記基準画素によって圧縮画像を構成するようにしたことを特徴とする画像処理方法。
【請求項２】
前記前後所定数の画素を、左右方向と上下方向の両方向における前後の画素とした請求項１に記載の画像処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は画像処理方法に関し、特に物品の表面欠陥検査に適した圧縮画像を得ることが可能な画像処理方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
この種の画像処理方法として例えば特許文献１には、原画像から互いに重ならないＭ×Ｎ画素の複数個の画素ブロックを選択し、選択された各画素ブロックを構成する画素の画素値の最大値ないし最小値の比較に基づいて各画素ブロックを構成する新たな一つの画素の画素値を決定して、当該新たな画素で圧縮画像を構成する方法が提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００８−２３６６８６
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、上記従来の画像処理方法では、選択された画素ブロックが並ぶ方向と直交する方向へ直線状に延びるエッジ情報はこれを損なうことなく圧縮画像を得ることができるが、ランダムな点状や線状の輝度差集合体となる表面欠陥の情報を損なうことなく圧縮画像を得ることは困難であるという問題があった。
【０００５】
そこで本発明はこのような課題を解決するもので、断続する点状や線状の輝度差集合となる表面欠陥情報を良好に保存した圧縮画像を得ることが可能な画像処理方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために、本第１発明では、複数の画素よりなる原画像について所定間隔毎に基準画素を設定するとともに、これら基準画素とこれに隣接する前後所定数の画素の、画素値の最大値ないし最小値を前記基準画素の新たな画素値として付与し、新たな画素値が付与された前記基準画素によって圧縮画像を構成するようにしたことを特徴とする。
【０００７】
本第１発明によれば、画素数の多い原画像に存在した、被検物の表面欠陥の情報を損なうことなく画素数の少ない圧縮画像が得られるから、このような圧縮画像を使用して、被検物の表面欠陥を迅速かつ精度良く検出することが可能になる。
【０００８】
また、本第２発明では、前記前後所定数の画素を、左右方向と上下方向の両方向における前後の画素とする。
【０００９】
本第２発明によれば、圧縮画像中に、原画像中の被検物の表面欠陥の情報をさらに良好に保持することができる。
【発明の効果】
【００１０】
以上のように、本発明の画像処理方法によれば、断続する点状や線状の輝度差集合となる表面欠陥情報を良好に保存した圧縮画像を得ることができるから、演算負担が小さくかつ高速に処理できる圧縮画像を使用して、被検物の表面欠陥を迅速かつ精度良く検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の画像処理方法を実施するためのハード構成の一例を示す図である。
【図２】原画像の模式的正面図である。
【図３】中間圧縮画像の模式的正面図である。
【図４】圧縮画像の模式的正面図である。
【図５】本発明の画像処理方法の手順を示すフローチャートである。
【図６】従来の方法で得られる圧縮画像の模式的正面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
なお、以下に説明する実施形態はあくまで一例であり、本発明の要旨を逸脱しない範囲で当業者が行う種々の設計的改良も本発明の範囲に含まれる。
【００１３】
図１には本発明の画像処理方法を実施するためのハード構成を示す。図１において、被検物の表面を撮像するＣＣＤカメラ１が設けられて、これはパソコン２に接続されている。ＣＣＤカメラ１の出力はパソコン２内のバッファ２１に入力した後、パソコン２内のメモリ２２にストアされ、ＣＰＵ２３によって以下に述べる画像処理が行われる。
【００１４】
図２（１）にはＣＣＤカメラ１で撮像された原画像３を示す。原画像３は本実施形態では縦６４個×横６４個＝４０９６個の画素３１から構成されている。これら画素３１のうち図の黒塗りの画素３１ｘはその画素値（輝度値）が他の画素３１に較べて相対的に大きいものであり、これら画素３１ｘは互いに間隔をおいて一見ランダムに分散しているが、断続する点状の表面欠陥を模擬的に示すもので，全体として見ると散点状に描かれた数字「２」を表している。
【００１５】
以下、ＣＰＵ２３による画像処理手順を、図５を参照しつつ説明する。最初に、上記原画像３中に左右上下等間隔（本実施形態では４画素おき）で複数の基準画素３１ｓを設定する（ステップ１０１）。続いて、基準画素３１ｓとその左右方向で隣接する前後３画素の画素値の最大値を、基準画素３１ｓの新たな画素値として付与する（ステップ１０２）。例えば基準画素３１ｓ1については、当該基準画素３１ｓと左右方向で隣接する前後３画素（図２中破線で示す）の中に画素値の相対的に大きな画素は無いため、基準画素３１ｓ1の新たな画素値は相対的に小さい値が付与される。
【００１６】
一方、基準画素３１ｓ2については、当該基準画素３１ｓ2と左右方向で隣接する前後３画素（図２中破線で示す）の中に画素値の相対的に大きな画素３１ｘが含まれるため、基準画素３１ｓ2の新たな画素値は相対的に大きな値が付与される。このようにして、基準画素３１ｘと左右方向で隣接する前後３画素についてその最大値を基準画素３１ｘの新たな画素値として付与し、これら基準画素３１ｘを左右方向で隣接させて図３に示すような中間圧縮画像４を作成する（ステップ１０３）。
【００１７】
続いて今度は、上記中間圧縮画像４において、基準画素３１ｓとその上下方向で隣接する前後３画素の画素値の最大値を、上記基準画素３１ｓの新たな画素値として付与する（ステップ１０４）。例えば基準画素３１ｓ3については、当該基準画素３１ｓ3と上下方向で隣接する前後３画素（図３中破線で示す）の中に画素値の相対的に大きな画素は無いため、基準画素３１ｓ3の新たな画素値は相対的に小さい値が付与される。
【００１８】
一方、基準画素３１ｓ4については、当該基準画素３１ｓ4と上下方向で隣接する前後３画素（図３中破線で示す）の中に画素値の相対的に大きな画素３１ｘが含まれるため、基準画素３１ｓ4の新たな画素値は相対的に大きな値が付与される。このようにして、基準画素３１ｓと上下方向で隣接する前後３画素についてその最大値を基準画素３１ｓの新たな画素値として付与し、これら基準画素３１ｓをさらに上下方向で隣接させて、左右上下のいずれの方向へも隣接した基準画素３１ｓで構成された図４に示すような圧縮画像５を作成する（ステップ１０５）。
【００１９】
このような圧縮画像５は縦１６個×横１６個＝２５６個の画素３１ｓから構成されており、この圧縮画像５においては、相対的に画素値の大きい画素（図の黒塗りの画素）が接近凝集して、連続する数字「２」を表わしている。このように、本実施形態の画像処理方法を使用すると、画像を圧縮しても表面欠陥情報が良好に保存されるから、演算負担が小さくかつ高速に処理できる圧縮画像５を使用して、被検物の表面欠陥を迅速かつ精度良く検出することが可能になる。
【００２０】
これに対して、４０９６個の画素から構成された図２に示す原画像を、既に説明した従来の画像処理方法によって２５６個の画素から構成される圧縮画像６にすると、図６に示すように、画素値の相対的に大きい画素（図６中の黒塗りの画素）によって表示される数字「２」の形状が大きく崩れて、表面欠陥情報が良好に保存されない。
【００２１】
上記実施形態においては、基準画素とこれに隣接する前後３画素の画素値の最大値を、上記基準画素の新たな画素値として付与して圧縮画像を作成したが、基準画素とこれに隣接する前後３画素の画素値の最小値を上記基準画素の新たな画素値として付与して圧縮画像を作成しても良い。また、上下左右のいずれか一方のみの前後３画素の画素値の最大値ないし最小値を基準画素の新たな画素値として設定するようにしても良い。さらに、前後の画素数は３画素に限られないことはもちろんである。また、基準画素を設定する間隔も具体例に応じて適宜変更され得るものである。
【符号の説明】
【００２２】
１…ＣＣＤカメラ、２…パソコン、２１…バッファ、２２…メモリ、２３…ＣＰＵ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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