(57)【要約】【課題】安全で、より均一な磁場を発生し、且つ操作に便利な電磁妨害抵抗値をテストするための装置を提供すること。【解決手段】本発明に係る電磁妨害抵抗値をテストする装置は、ブラケット、誘導コイル及び該誘導コイルに電気的に接続される計器ボックスを備える。前記ブラケットは、キャリアブロック及び支持ロッドを備え、前記キャリアブロックの少なくとも１つの側面には、ガウスメータの本体を固定するための係止スロットが設けられ、前記誘導コイルは、円環コイル及びコネクタを備え、前記支持ロッドの一端は、前記コネクタ内に固定され、前記支持ロッドの他端は、前記円環コイルの直径方向に沿って円環コイルの円心位置まで延伸し、前記ガウスメータのプローブは、前記支持ロッドの他端により支持され、また、前記支持ロッドの他端は、前記円環コイルの円心位置と前記コネクタとの間の任意の位置に調節可能である。【選択図】図１
2013117530.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ブラケット、誘導コイル及び該誘導コイルに電気的に接続される計器ボックスを備える電磁妨害抵抗値をテストする装置であって、
前記ブラケットは、キャリアブロック及び支持ロッドを備え、前記キャリアブロックの少なくとも１つの側面には、ガウスメータの本体を固定するための係止スロットが設けられ、前記誘導コイルは、円環コイル及び該円環コイルを前記キャリアブロックに装着するためのコネクタを備え、前記支持ロッドの一端は前記コネクタ内に固定され、前記支持ロッドの他端は、前記円環コイルの直径方向に沿って円環コイルの円心位置まで延伸し、前記ガウスメータのプローブは、前記支持ロッドの他端により支持され、また、前記支持ロッドの他端は、前記円環コイルの円心位置と前記コネクタとの間の任意の位置に調節可能であることを特徴とする電磁妨害抵抗値をテストする装置。
【請求項２】
前記ブラケットは、ベースと、該ベースの周縁部に連接される位置決めスタンドと、前記ベースの上面の中央部に該ベースに対して垂直に設置される固定ロッドと、を更に備え、前記位置決めスタンドは、前記ブラケットを固定して位置決めする又は前記ブラケットを移動し、前記固定ロッドは、前記キャリアブロックを貫通して、該キャリアブロックを支持することを特徴とする請求項１に記載の電磁妨害抵抗値をテストする装置。
【請求項３】
前記位置決めスタンドは、少なくとも三つのロッド状の支持脚と、各々の支持脚に装着されるキャスター及び固定脚と、を備え、該キャスターは、前記ブラケットを移動させるために用いられ、前記固定脚は、位置決めスタンドを支持し且つ前記固定脚の長さを調節可能なスピンネジを含み、該スピンネジが回転されると、前記固定脚は、地面に接地して前記ブラケットの位置を固定する或いは前記ブラケットの鉛直高さを微調整することを特徴とする請求項２に記載する電磁妨害抵抗値をテストする装置。
【請求項４】
前記キャリアブロックは、互いに間隔をあけて設けられ、且つ軸線が互いに垂直である垂直貫通孔及び水平貫通孔を有し、前記固定ロッドが前記垂直貫通孔を貫通するため、前記キャリアブロックは、前記固定ロッドに沿って上下に移動可能であり、前記誘導コイルのコネクタは、前記水平貫通孔内に収納されることを特徴とする請求項２または３に記載する電磁妨害抵抗値をテストする装置。
【請求項５】
前記円環コイルは、コイル本体及び延伸端を含み、且つ前記コネクタを軸として任意の角度に回転可能であり、延伸端は、前記コネクタ内に収納されることを特徴とする請求項１から４のいずれか一項に記載の電磁妨害抵抗値をテストする装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電磁妨害抵抗値をテストする装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電磁互換性（Ｅｌｅｃｔｒｏｍａｇｎｅｔｉｃ  Ｃｏｍｐａｔｉｂｉｌｉｔｙ，ＥＭＣ）電源周波数磁界（Ｐｏｗｅｒ  Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ  Ｍａｇｎｅｔｉｃ  Ｆｉｅｌｄ）の妨害抵抗値をテストする際、主なテスト機器の一つとして使用されているものに、誘導コイルがある。該誘導コイルは、電源に接続された後、電源により通電され、その後誘導コイルによって囲まれた空間内に、一定の強度及び周波数を有する磁場を発生する。
【０００３】
通常、操作員は、妨害抵抗値をテストする際に、先ずガウスメータを自身で持って、該ガウスメータを前記誘導コイルにより囲まれた空間内に設置して、誘導コイルが発生した磁場の強度を測定する。次いで、誘導コイルが発生した磁場の強度を測定した後、測定対象物（一般的には家庭用、商業用及び工業用の電気装置）を、磁場空間内に設置して、該測定対象物の磁場に対する妨害抵抗値を測定する。しかし、このような測定方法では、操作員の体に一定の影響を与え、また、磁場空間は、より均一な磁場環境でなければならないため、均一な磁場環境でない場合、不正確なテスト結果を招く恐れがある。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
そこで、本発明は、上記の問題点を考慮してなされたものであり、安全で、より均一な磁場を発生し、且つ操作に便利な電磁妨害抵抗値をテストするための装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記の目的を達成するために、本発明に係る電磁妨害抵抗値をテストする装置は、ブラケット、誘導コイル及び該誘導コイルに電気的に接続される計器ボックスを備える。前記ブラケットは、キャリアブロック及び支持ロッドを備え、前記キャリアブロックの少なくとも１つの側面には、ガウスメータの本体を固定するための係止スロットが設けられ、前記誘導コイルは、円環コイル及び該円環コイルを前記キャリアブロックに装着するためのコネクタを備え、前記支持ロッドの一端は、前記コネクタ内に固定され、前記支持ロッドの他端は、前記円環コイルの直径方向に沿って円環コイルの円心位置まで延伸し、前記ガウスメータのプローブは、前記支持ロッドの他端により支持され、また、前記支持ロッドの他端は、前記円環コイルの円心位置と前記コネクタとの間の任意の位置に調節可能である。
【発明の効果】
【０００６】
従来の技術と異なり、本発明の電磁妨害抵抗値をテストする装置の誘導コイルは、磁場の分布がより均一で且つ有効磁場面積がより大きい円環コイルを採用する。また、本発明の電磁妨害抵抗値をテストする装置は、そのキャリアブロックに設けられた係止スロット及び支持ロッドの一端に位置するクリップを介して、ガウスメータの本体及びプローブをそれぞれ支持するので、操作員は、ガウスメータを自身で握って、それを誘導コイルの中に設置せずとも、誘導コイルが発生した磁場の強度を測定できる。つまり、操作員はガウスメータを固定し、測定中の誘導コイルから遠く離れているので、操作員の人体への影響を低減させることができる。また、本発明は、支持ロッドのクリップの位置を、誘導コイルの直径方向に沿って変えることにより、クリップにより挟持されるガウスメータのプローブによって、誘導コイル内の異なる位置での強度を測定することができる。これにより、本発明の電磁妨害抵抗値をテストする装置は、操作に便利であり、且つより安全である。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】本発明の実施形態に係る電磁妨害抵抗値をテストする装置の斜視図である。
【図２】図１に示した電磁妨害抵抗値をテストする装置の分解図である。
【図３】誘導コイルが発した磁力線が測定対象物をＸ軸方向に貫通する時を示す図である。
【図４】誘導コイルが発した磁力線が測定対象物をＹ軸方向に貫通する時を示す図である。
【図５】誘導コイルが発した磁力線が測定対象物をＺ軸方向に貫通する時を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
図１及び図２に示すように、本発明の実施形態に係る電磁妨害抵抗値をテストする装置１００は、ブラケット１０、誘導コイル５０及び計器ボックス９０を備える。誘導コイル５０は、ブラケット１０により支持され、且つ計器ボックス９０に電気的に接続される。
【０００９】
ブラケット１０は、ベース１２と、ベース１２の周縁部に連接される位置決めスタンド２０と、ベース１２の中央部に該ベース１２に対して垂直に設置される固定ロッド３０と、該固定ロッド３０にスライド可能に装着されるキャリアブロック４０と、該キャリアブロック４０に連接される支持ロッド６０と、を備える。
【００１０】
ベース１２は円形の板体である。位置決めスタンド２０は、少なくとも三つのロッド状の支持脚２２と、各々の支持脚２２に装着されるキャスター２４及び固定脚２６と、を備える。三つの支持脚２２は、ベース１２の側面に互いに間隔をあけて固定されて、ブラケット１０全体の安定性を保持する。キャスター２４は、支持脚２２のベース１２に固定される一端から遠い側の他端の底面に設けられ、電磁妨害抵抗値をテストする装置１００全体を移動させることに用いられる。各々の固定脚２６は、支持脚２２におけるキャスター２４の外側に設けられて、位置決めスタンド２０を支持し、且つ固定脚２６の長さを調節可能なスピンネジ２６２をそれぞれ備える。位置決めスタンド２０を指定した位置まで移動させた後、該スピンネジ２６２を回転させて、固定脚２６を下方へ伸ばす。これにより、各々の固定脚２６は地面とそれぞれ接地し、ブラケット１０を位置決めすることができる。各々の固定脚２６が地面にそれぞれ接地された後、更にスピンネジ２６２を回転させて固定脚２６を下方へ延在させることによって、電磁妨害抵抗値をテストする装置１００の鉛直高さを微調整することもできる。また、三つのスピンネジ２６２の回転量を調節することで、ベース１２を水平状態に調整することができる。位置決めスタンド２０を移動させる場合、スピンネジ２６２を回転させて固定脚２６を上方に移動させることにより、固定脚２６と地面との接触を解除した後、キャスター２４を用いてブラケット１０を移動させれば良い。
【００１１】
固定ロッド３０は円柱体であり、ベース１２の上面の中央部に該ベース１２に対して垂直に設置固定される。
【００１２】
キャリアブロック４０には、垂直貫通孔４１と、水平貫通孔４２と、垂直開口４０１及び水平開口４０２と、が設けられている。垂直貫通孔４１及び水平貫通孔４２は、互いに間隔をあけて設けられ、且つ両者の軸線は直交している。垂直開口４０１は、垂直貫通孔４１の軸線方向に沿ってキャリアブロック４０を貫通し、垂直貫通孔４１の側面とキャリアブロック４０の外部とを連通させるように垂直貫通孔４１と連通している。水平開口４０２は、水平貫通孔４２の軸線方向に沿ってキャリアブロック４０を貫通し、水平貫通孔４２の側面とキャリアブロック４０の外部とを連通させるように水平貫通孔４２と連通している。固定ロッド３０は、キャリアブロック４０の垂直貫通孔４１を貫通する。これにより、キャリアブロック４０は固定ロッド３０の長さ方向に沿って移動することができる。また、該キャリアブロック４０の側面には、垂直開口４０１及び水平開口４０２をそれぞれ貫通し、且つ垂直開口４０１の面及び水平開口４０２の面に対してそれぞれ垂直に移動する２つのネジ４４が設けられている。垂直開口４０１の面に直交して設けられる一つのネジ４４を回転することにより、垂直開口４０１の幅を調節し、キャリアブロック４０の固定ロッド３０に対する位置を固定する又はキャリアブロック４０を移動させることができる。
【００１３】
また、キャリアブロック４０の互いに直交する（つまり、隣り合う）２つの側面には、係止スロット４３がそれぞれ設けられている。この係止スロット４３は、ガウスメータ（図示せず）を装着することに用いられる。該ガウスメータは、誘導コイル５０が発生した磁場の強度を検出することに用いられ、一般的には本体とプローブとに分けられる。本体は、操作員（つまり、測定者）が数値を読み取ることに用いられ、且つ係止スロット４３内に装着される。プローブは、誘導コイル５０が発生した磁場の強度を測定する。また、操作員に対する利便性から、操作員と電磁妨害抵抗値をテストする装置１００との相対位置に基づいて、ガウスメータをキャリアブロック４０の別の異なる側面の係止スロット４３に固定することもできる。
【００１４】
電磁妨害抵抗値をテストする装置１００の、テスト過程において発生する磁場が、テスト基準値に一致することを確保し、且つテスト結果をより正確にするために、電磁互換性電源周波数磁界の妨害抵抗値をテストする前に、先ずガウスメータを用いて、当該電磁妨害抵抗値をテストする装置１００が発生した磁場の強度を較正するのが好ましい。
【００１５】
誘導コイル５０は、円環コイル５２及び円柱状のコネクタ５４を備える。円環コイル５２は、コイル本体及び延伸端を含み、且つコネクタ５４を軸として任意の角度に回転できる。円環コイル５２の延伸端は、コネクタ５４内に収納される。コネクタ５４は、キャリアブロック４０の水平貫通孔４２内に部分的に収納される。水平開口４０２の面に対して垂直に設けられるネジ４４を回転して、水平開口４０２を狭くすることにより、コネクタ５４を水平貫通孔４２内に強固に固定させることができる。また、これとは逆に、該ネジ４４を回転して、水平開口４０２を広げれば、誘導コイル５０のコネクタ５４を、水平貫通孔４２内で回転させることができる。本実施形態の円環コイル５２が発生する磁場の分布は、一般のコイルが発生する磁場の分布より更に均一であり、且つ有効磁場の面積も更に大きい。
【００１６】
支持ロッド６０は伸縮可能な三段式の構造であり、その一端はコネクタ５４内に固定され、他端は誘導コイル５０の円心位置（図１を参照）まで延伸する又は収縮してコネクタ５４内に収納（図２を参照）される。また、必要に応じて支持ロッド６０の長さを調節して、支持ロッド６０に図１及び図２に示すこれら２つの最終位置（円心位置及びコネクタ５４内の位置）の間で任意の長さに延伸することもできる。また、支持ロッド６０のコネクタ５４から離れた一端には、クリップ６１が設けられている。当該クリップ６１は、ガウスメータのプローブを挟持するための開閉式クリップである。本発明において、操作員はガウスメータの本体を１つの係止スロット４３内に設置し、プローブをクリップ６１内に設置することができるので、操作員がガウスメータを自身で持って誘導コイル５０に対して測定する必要がないため、人体への影響を低減させることができる。
【００１７】
また、操作員は、支持ロッド６０の延在範囲内で、当該支持ロッド６０を任意の長さに調節して、プローブをクリップ６１に従って移動させることにより、誘導コイル５０内の異なる位置での磁場の強度を測定することができる。誘導コイル５０は、支持ロッド６０を軸として任意の角度で回転することができる。ネジ４４を上方に移動させて、水平開口４０２を広げた後、誘導コイル５０を回転させて誘導コイル５０が発生する磁場を変化させた後、ネジ４４を再度下方に回転させて、水平開口４０２内を狭くして、水平開口４０２で誘導コイル５０を緊密に挟持すれば、当該誘導コイル５０が発生する磁場を反転させることができる。
【００１８】
計器ボックス９０は、シールド網を有するリード線３００を介して、円環コイル５２の延伸端と電気的に接続し、且つ誘導コイル５０に通電する。当該リード線３００のシールド網構造は、外界干渉信号のリード線３００に対する干渉を阻止し、計器ボックス９０が出力した信号を維持する。従来の計器ボックスと同様に、当該計器ボックス９０は、連続して調節可能な電流を出力できる。計器ボックス９０が出力した電流は、誘導コイル５０に伝送される。また、計器ボックス９０は、ブラケット１０のベース１２及び位置決めスタンド２０の上に載せて、ブラケット１０と共に移動させる又は静止させることができる。
【００１９】
誘導コイル５０が通電すると、環状の電気回路が形成される。アンペアの法則によると、誘導コイル５０が形成した環状回路により包囲された空間内に磁場が発生する。従って、計器ボックス９０が出力した電流の大小を調節することで、誘導コイル５０が形成した磁場の強度を調節することができる。
【００２０】
図３に示すように、電磁妨害抵抗値をテストする装置１００によって電磁互換性電源周波数磁界の妨害抵抗値をテストする際、先ず、正常に作動している測定対象物４００（家庭用、商業用或いは工業用の電気／電子装置）を誘導コイル５０により囲まれている空間内にセットして、計器ボックス９０が出力した電流の大小を調節する。次いで、誘導コイル５０が発生した磁場の強度を調節することにより、測定対象物４００における、異なる磁場強度の環境下での正常に作動する能力を測定することができる。
【００２１】
さらに、磁力線が測定対象物４００を三つの軸方向で貫通する際のそれぞれ状況をテストする際、図３に示すように、先ず測定対象物４００を誘導コイル５０により囲まれている空間内にセットする。誘導コイル５０が通電された後に発する磁力線は、測定対象物４００をＸ軸方向に貫通し、この際測定対象物４００の該磁場環境下での作動能力を測定する。図４に示すように、誘導コイル５０を回転して、別の位置において誘導コイル５０によって測定対象物４００を囲むと、誘導コイル５０が通電された後に発する磁力線は、測定対象物４００をＹ軸方向に貫通し、この際測定対象物４００の該磁場環境下での作動能力を測定する。図５に示すように、誘導コイル５０を回転して、さらに別の位置において誘導コイル５０によって測定対象物４００を囲むと、誘導コイル５０が通電された後に発する磁力線は、測定対象物４００をＺ軸方向に貫通し、この際測定対象物４００の該磁場環境下での作動能力を測定する。このようにして、磁力線が測定対象物４００をＸ、Ｙ、Ｚの三つの軸方向にそれぞれ貫通する際のテストを行うことができる。
【００２２】
上記の実施形態によれば、本発明の電磁妨害抵抗値をテストする装置１００の誘導コイル５０は、磁場の分布がさらに均一で且つ有効磁場面積がより大きい円環コイル５２を採用する。また、本発明の電磁妨害抵抗値をテストする装置１００は、そのキャリアブロック４０に設けられた係止スロット４３及び支持ロッド６０の一端に位置するクリップ６１を介して、ガウスメータの本体及びプローブをそれぞれ支持することができるので、操作員は、ガウスメータを自身で持って、それを誘導コイル５０の中に設置せずとも、誘導コイルが発生した磁場の強度を測定できる。つまり、操作員はガウスメータを固定し、測定中の誘導コイル５０から遠く離れているので、操作員の人体への影響を低減させることができる。また、本発明は、支持ロッド６０のクリップ６１の位置を誘導コイル５０の直径方向に沿って変えることにより、クリップ６１により支持されているガウスメータのプローブによって、誘導コイル５０内の異なる位置での強度を測定することができる。従って、本発明の電磁妨害抵抗値をテストする装置１００は、操作に便利であり、且つより安全である。
【００２３】
以上、本発明の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の範囲内で種々の変形又は修正が可能であり、該変形又は修正も又、本発明の特許請求の範囲内に含まれるものであることは、言うまでもない。
【符号の説明】
【００２４】
１０        ブラケット
１２        ベース
２０        位置決めスタンド
２２        支持脚
２４        キャスター
２６        固定脚
３０        固定ロッド
４０        キャリアブロック
４１        垂直貫通孔
４２        水平貫通孔
４３        係止スロット
４４        ネジ
５０        誘導コイル
５２        円環コイル
５４        コネクタ
６０        支持ロッド
６１        クリップ
９０        計器ボックス
１００      電磁妨害抵抗値をテストする装置
２６２      スピンネジ
３００      リード線
４００      測定対象物
４０１      垂直開口
４０２      水平開口
【図１】
2013117530.tif 000003
【図２】
2013117530.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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