(57)【要約】【課題】特定のガス濃度の検出精度をより高めることができるガス検出装置を提供する。【解決手段】発熱抵抗体１５と、環境温度を測定する測温抵抗体１６と、発熱抵抗体１５の温度が高い高温期間と、温度が低い低温期間と、における発熱抵抗体１５の端子間電圧および測温抵抗体１６の抵抗値に基づく環境温度を用いて、被検出雰囲気の可燃性ガス濃度を求める演算部３０と、が設けられ、演算部３０は、１つの高温期間や低温期間への切り替え開始から所定の待ち時間が経過した以降の対象期間よりも短い所定の時間間隔で取得した端子間電圧に基づく移動平均後処理後の高温平均値や低温平均値を可燃性ガスの濃度を求めるのに用いる。このとき、移動平均処理は、所定の時間間隔で取得された直近の取得値から、高温期間や低温期間の対象期間に取得可能な取得値の数よりも多い所定数だけ前に取得された取得値までの複数の取得値に基づいて実行されることを特徴とする。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検出雰囲気内に配置されて、自身の温度変化により抵抗値が変化する発熱抵抗体と、
前記発熱抵抗体への通電状態を所定の周期で切り替える制御を行うことにより、前記発熱抵抗体の温度を、予め設定された２つの異なる温度の間で交互に切り替える通電制御部と、
前記被検出雰囲気の温度である環境温度の変化により抵抗値が変化する測温抵抗体と、
前記発熱抵抗体の温度を前記２つの異なる温度のうちの高温側に制御する高温期間における端子間電圧、前記２つの異なる温度のうちの低温側に制御する低温期間における前記発熱抵抗体の端子間電圧、前記測温抵抗体の抵抗値から求められる前記環境温度、を用いて、前記被検出雰囲気に含まれる可燃性ガスの濃度を演算により求める演算部と、
が設けられたガス検出装置であって、
前記演算部は、１つの前記高温期間および前記低温期間のうち、それぞれの期間への切り替え開始から所定の待ち時間が経過した以降の対象期間に対して、前記対象期間よりも短い所定の時間間隔で前記端子間電圧の取得を行うとともに、
前記可燃ガスの濃度を求める際の前記高温期間における前記端子間電圧、および、前記低温期間における前記端子間電圧として、前記対象期間に取得された前記高温期間における前記端子間電圧の取得値および前記低温期間における前記端子間電圧の取得値のそれぞれに基づく移動平均処理により得られた高温平均値、および、低温平均値を用いるように構成されており、
前記移動平均処理は、前記所定の時間間隔で取得された直近の前記取得値から、前記高温期間および前記低温期間のそれぞれの対象期間に取得可能な前記取得値の数よりも多い所定数だけ前に取得された前記取得値までの複数の前記取得値に基づいて実行されることを特徴とするガス検出装置。
【請求項２】
前記演算部は、前記待ち時間中は前記端子間電圧の取得を禁止し、前記対象期間は前記端子間電圧の取得を許可することを特徴とする請求項１記載のガス検出装置。
【請求項３】
前記演算部は、前記待ち時間に関わらず前記取得値を前記所定の時間間隔で連続して取得し、
連続して取得された複数の前記取得値のうち、前記対象期間に取得された前記取得値に基づいて前記移動平均処理を実行することを特徴とする請求項１記載のガス検出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、可燃性ガスの濃度測定や漏えい検知などに用いられるガス検出装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、環境保護や自然保護などの社会的要求から、高い効率を有し、かつ、環境への負荷が少ないエネルギー源として、燃料電池の研究が活発に行われている。燃料電池の中で、固体高分子型燃料電池（ＰＥＦＣ）が、作動温度が低く出力密度が高いなどの利点により、家庭用のエネルギー源、または、車載用のエネルギー源として着目されている。固体高分子型燃料電池は、他の燃料と比較して漏れが発生しやすい水素を燃料として用いている。そのため、固体高分子型燃料電池を実用化するためには、水素漏れを検知するガス検知器が必要になると考えられている。
【０００３】
また、固体高分子型燃料電池と同様に、水素を燃料とした環境への負荷が少ないエネルギー源として、水素内燃機関の研究も活発に行われている。水素内燃機関についても、実用化するためには、水素漏れを検知するガス検知器が必要になると考えられている。
【０００４】
これまでは、被検出雰囲気の熱伝導率を利用して、被検出雰囲気に含まれる特定の可燃性ガスの濃度を検出するガス検出装置が知られている（例えば、特許文献１参照。）。このガス検出装置では、ガス検出装置の発熱抵抗体に供給される電流の値を、少なくとも３段階以上にステップ状に変化させ、それぞれの電流の値を規定の時間連続して保持している。そして、それぞれの電流値に対する発熱抵抗体の端子間電圧を規定の時間が経過した後に測定することにより、測定値から被検出雰囲気に含まれる特定の可燃性ガスの濃度を検出している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特許第４１６５３００号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述のガス検出装置により特定の可燃性ガス濃度の検出精度を高めるためには、発熱抵抗体の端子間電圧を安定して取得する必要がある。しかしながら、発熱抵抗体に供給される電流値をステップ状に変化させると、その後しばらく発熱抵抗体の端子間電圧は、特定の可燃性ガス濃度とは無関係に、その値が大きく変動して不安定となる。その結果、特定の可燃性ガス濃度の検出精度を高めることは困難であるという問題があった。
【０００７】
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであって、特定のガス濃度の検出精度をより高めることができるガス検出装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本発明は、以下の手段を提供する。
本発明のガス検出装置は、被検出雰囲気内に配置されて、自身の温度変化により抵抗値が変化する発熱抵抗体と、前記発熱抵抗体への通電状態を所定の周期で切り替える制御を行うことにより、前記発熱抵抗体の温度を、予め設定された２つの異なる温度の間で交互に切り替える通電制御部と、前記被検出雰囲気の温度である環境温度の変化により抵抗値が変化する測温抵抗体と、前記発熱抵抗体の温度を前記２つの異なる温度のうちの高温側に制御する高温期間における端子間電圧、前記２つの異なる温度のうちの低温側に制御する低温期間における前記発熱抵抗体の端子間電圧、前記測温抵抗体の抵抗値から求められる前記環境温度、を用いて、前記被検出雰囲気に含まれる可燃性ガスの濃度を演算により求める演算部と、が設けられたガス検出装置であって、前記演算部は、１つの前記高温期間および前記低温期間ののうち、それぞれの期間への切り替え開始から所定の待ち時間が経過した以降の対象期間に対して、前記対象期間よりも短い所定の時間間隔で前記端子間電圧の取得を行うとともに、前記可燃ガスの濃度を求める際の前記高温期間における前記端子間電圧、および、前記低温期間における前記端子間電圧として、前記対象期間に取得された前記高温期間における前記端子間電圧の取得値および前記低温期間における前記端子間電圧の取得値のそれぞれに基づく移動平均処理により得られた高温平均値、および、低温平均値を用いるように構成されており、前記移動平均処理は、前記所定の時間間隔で取得された直近の前記取得値から、前記高温期間および前記低温期間のそれぞれの対象期間に取得可能な前記取得値の数よりも多い所定数だけ前に取得された前記取得値までの複数の前記取得値に基づいて実行されることを特徴とする。
【０００９】
本発明のガス検出装置によれば、発熱抵抗体の温度制御が変更されてから所定の待ち時間が経過した以降の対象期間に対して、高温期間および低温期間のそれぞれにおける端子間電圧の取得値の移動平均値（つまり、高温時平均値、低温時平均値）が求められる。移動平均処理で用いられる端子間電圧の取得値の数は、高温期間や低温期間の対象期間で取得される取得値の数よりも多い所定数である。つまり、移動平均処理の対象となる期間には、複数の高温期間の対象期間または複数の低温期間の対象期間が含まれる。そのため、１つの高温期間または１つの低温期間で取得される取得値のみで移動平均処理を行う場合と比較して、より多くの取得値を用いて移動平均処理を行うため、平均値である高温時平均値、低温時平均値の精度の向上を図ることができる。
【００１０】
また、本発明のガス検出装置は、発熱抵抗体の温度制御が変更されてから発熱抵抗体の端子間電圧の値が安定するのに必要な所定の待ち時間が経過した以降の対象期間を対象にして、安定後の端子間電圧の取得値に対する移動平均処理を行っている。そのため、上述の安定後の端子間電圧の値を移動平均処理した端子間電圧を用いて可燃性ガスの濃度を演算により求めることとなり、不安定な端子間電圧も利用して可燃性ガスの濃度を求める場合と比較して、可燃性ガスの検出精度が高くなる。
【００１１】
上記発明において前記演算部は、前記待ち時間中は前記端子間電圧の取得を禁止し、前記対象期間は前記端子間電圧の取得を許可することが好ましい。
【００１２】
このように、演算部は、発熱抵抗体の温度制御が変更されてから待ち時間が経過するまで、端子間電圧の取得を行わないことにより、移動平均処理に用いられないデータの取得が抑制される。そのため、移動平均処理に用いられる端子間電圧の取得値などのデータの記憶に必要とされる容量の増加が抑制される。
【００１３】
上記発明において前記演算部は、前記待ち時間に関わらず前記取得値を前記所定の時間間隔で連続して取得し、連続して取得された複数の前記取得値のうち、前記対象期間に取得された前記取得値に基づいて前記移動平均処理を実行することが好ましい。
【００１４】
このように、演算部は発熱抵抗体の端子間電圧の取得値を所定の時間間隔で取得し続けて記憶し、移動平均処理にて高温平均値、低温平均値を求める場合には、記憶された取得値の中から、高温期間、低温期間のそれぞれの対象期間に取得された取得値を対象にして移動平均処理を行うことにより、高温期間または低温期間の中で端子間電圧の取得を行うか否かの許可判定を行う必要がなくなる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明のガス検出装置によれば、１つの高温期間および低温期間への切り替え開始から所定の待ち時間が経過した以降の対象期間よりも短い所定の時間間隔で端子間電圧の取得を行い、取得した端子間電圧に基づく移動平均後処理後の高温平均値や低温平均値を可燃性ガスの濃度を求めるのに用いつつ、移動平均処理を、所定の時間間隔で取得された直近の取得値から、高温期間および低温期間の対象期間に取得可能な取得値の数よりも多い所定数だけ前に取得された取得値までの複数の取得値に基づいて実行するため、特定のガス濃度の検出精度をより高めることができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施形態に係る可燃性ガス検出装置の全体構成を説明する図である。
【図２】図１のガス検出素子の構成を説明する図である。
【図３】図１の演算部における移動平均処理を説明するフローチャートである。
【図４】図１の演算部における移動平均処理を説明するフローチャートである。
【図５】図１の演算部におけるガス濃度の演算処理を説明するフローチャートである。
【図６】図１の発熱抵抗体の端子間電圧の時間変化、および、発熱抵抗体の温度の時間変化を説明するグラフである。
【図７】低温期間ｔの後半期間ｔ／２または高温期間ｔの後半期間ｔ／２を説明するグラフである。
【図８】移動平均処理と端子間電圧の取得との関係を説明する模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の第一実施形態に係る可燃性ガス検出装置１ついて図１から図８を参照して説明する。図１は、本実施形態の可燃性ガス検出装置１の全体構成を説明する図である。
【００１８】
本実施形態の可燃性ガス検出装置（ガス検出装置）１は、被検出雰囲気に含まれる可燃性ガスである水素ガスの濃度を検出する装置であり、熱伝導式のガス検出装置である。例えば、燃料電池自動車の客室内に設置され、水素の漏れを検出する目的等に用いられるものである。
【００１９】
可燃性ガス検出装置１には、図１に示すように、水素ガス濃度を検出するガス検出素子１０と、ガス検出素子１０を制御する制御部２０と、ガス検出素子１０の出力信号に基づいて水素ガス濃度を演算する処理を少なくとも実行する演算部３０と、制御部２０および演算部３０に電力を供給する直流電源４０と、が主に設けられている。
【００２０】
ガス検出素子１０は、凹部１３が形成された裏面が被検出雰囲気に晒された状態で配置されるものである。ガス検出素子１０は、図２（ａ）の平面視図、および、図２（ｂ）のＡ−Ａ線矢視断面図に示すように、平板状に形成された基部１１と、基部１１の一方の面（以下、「表面」と表記する。）に配置された複数の電極１２と、他方の面（以下、「裏面」と表記する。）に形成された凹部１３と、が主に設けられている。
【００２１】
基部１１は、ガス検出素子１０の本体を構成するものであり、本実施形態では、縦横ともに数ｍｍ程度の大きさ、例えば３ｍｍ×３ｍｍ程度の大きさに形成されたシリコンからなる矩形状の板部材である。基部１１に対して複数の電極や、凹部１３などを形成する技術としては、シリコン基板に対して行われるマイクロマシニング技術（マイクロマシニング加工）などを例示することができる。
【００２２】
基部１１は、シリコン基板１１１と、シリコン基板１１１の表面に形成された絶縁層１１２から構成されている。シリコン基板１１１の裏面の中央には、平面視においてシリコン基板１１１をほぼ正方形に除去した凹部１３が形成されている。凹部１３の底部では絶縁層１１２が露出している。言い換えると、基部１１には、絶縁層１１２を薄膜とするダイヤフラム構造が形成されている。
【００２３】
絶縁層１１２における凹部１３に対応する領域には、言い換えると、凹部１３の底面を構成する領域には、線状の発熱抵抗体１５が渦巻き状に埋設されている。また、絶縁層１１２における他方の辺（図２（ａ）の上側の辺）には、被検出雰囲気の温度を測定する測温抵抗体１６が埋設されている。
【００２４】
このように凹部１３を形成して、発熱抵抗体１５が設けられる絶縁層１１２の下方を空間部とすることにより、発熱抵抗体１５が周囲と熱的に絶縁され、昇温、降温を短時間で行うことができ、発熱抵抗体１５の消費電力を低減することができる。
【００２５】
なお、絶縁層１１２は、単一の材料で形成されていてもよいし、異なる材料を用いて複数層を成すように形成されていてもよい。また、絶縁層１１２を構成する絶縁性材料としては、例えば、酸化ケイ素（ＳｉＯ2）や窒化珪素（Ｓｉ3Ｎ4）を挙げることができる。
【００２６】
発熱抵抗体１５は、自身の温度変化により抵抗値が変化する材料であって、温度抵抗係数が大きな導電性材料から形成されたものである。測温抵抗体１６は、電気抵抗が温度に比例して変化す導電性材料から形成されたものであり、本実施形態では、温度の上昇に伴って抵抗値が増大する導電性材料から形成された例に適用して説明する。発熱抵抗体１５および測温抵抗体１６は、同じ材料から形成されていてもよく、本実施形態では発熱抵抗体１５および測温抵抗体１６が白金（Ｐｔ）から形成されている例に適用して説明する。
【００２７】
測温抵抗体１６は、上述の抵抗値の変化に基づく電位差が増幅されて後述する温度検出信号ＶＴとして出力されるものである。本実施形態において、測温抵抗体１６から出力される温度検出信号ＶＴは、ガス検出素子１０が晒される被検出雰囲気の温度が予め設定された基準温度の時に、所定の電位差である基準値となる例に適用して説明する。
【００２８】
電極１２は、基部１１の表面のうち、対向する一方の辺および他方の辺（図２（ａ）の下側の辺および上側の辺）の近傍に形成された電極であり、例えばアルミニウム（Ａｌ）または金（Ａｕ）を用いて形成されたものである。電極１２のうち、一方の辺に接近して配置された２つが第１電極１２１、第１接地電極１２２であり、他方の辺に接近して配置された２つが第２電極１２３、第２接地電極１２４である。
【００２９】
なお、第１電極１２１は後述する通電制御回路２１の接続点Ｐ＋に接続され、第２電極１２３は後述する温度調整回路２５の接続点Ｐ−に接続されている。第１接地電極１２２および第２接地電極１２４は制御部２０と共通のグランドラインに接続されている。
【００３０】
基部１１、より詳細には絶縁層１１２の内部には、配線１７および配線膜１８が設けられている。配線１７および配線膜１８は、発熱抵抗体１５と、第１電極１２１および第１接地電極１２２と、を電気的に接続するものである。基部１１の表面に形成される第１電極１２１および第１接地電極１２２と、絶縁層１１２の内部に形成される配線膜１８とは、導電性を有するコンタクトホールによって電気的に接続されている。言い換えると、発熱抵抗体１５は、一端において第１電極１２１と導通可能に接続され、他端において第１接地電極１２２と導通可能に接続されている。
【００３１】
また、絶縁層１１２の内部には、測温抵抗体１６と、第２電極１２３および第２接地電極１２４と、を電気的に接続する配線膜（図示せず）も設けられている。言い換えると、測温抵抗体１６は、一端において第２電極１２３と導通可能に接続され、他端において第２接地電極１２４と導通可能に接続されている。なお、配線１７および配線膜１８を構成する材料としては、発熱抵抗体１５および測温抵抗体１６を構成する材料と同じ材料を用いることができる。
【００３２】
制御部２０には、図１に示すように、発熱抵抗体１５への通電制御を行うと共に発熱抵抗体１５の両端電圧（端子間電圧）に対応する検出信号Ｖ１を出力する通電制御回路（通電制御部）２１と、測温抵抗体１６への通電を行うと共に被検出雰囲気の温度に係る温度検出信号ＶＴ（温度電圧ＶＴとも表記する。）を出力する温度調整回路２５と、が設けられている。
【００３３】
通電制御回路２１は、発熱抵抗体１５の温度を一定温度に保つ回路である。通電制御回路２１には、発熱抵抗体１５を含むホイートストンブリッジ回路であるブリッジ回路２１０と、ブリッジ回路２１０で検出される電位差を増幅する増幅回路２２０と、増幅回路２２０の出力に従ってブリッジ回路２１０に流れる電流を増減調整する電流調整回路２３０とが設けられている。
【００３４】
ブリッジ回路２１０は、発熱抵抗体１５と、２つの第１ブリッジ固定抵抗２１１および第２ブリッジ固定抵抗２１２と、抵抗値を切替可能な可変抵抗部２１３からなる回路である。第１ブリッジ固定抵抗２１１は発熱抵抗体１５と直列接続されるものであり、第１ブリッジ固定抵抗２１１の発熱抵抗体１５側の端部ＰＧは接地され、第２ブリッジ固定抵抗２１２側の端部は電源側である電流調整回路２３０に接続されている。また、第２ブリッジ固定抵抗２１２は可変抵抗部２１３と直列接続されるものであり、第２ブリッジ固定抵抗２１２の可変抵抗部２１３側の端部ＰＧは接地され、第１ブリッジ固定抵抗２１１側の端部は電源側である電流調整回路２３０に接続されている。
【００３５】
第１ブリッジ固定抵抗２１１と発熱抵抗体１５との接続点Ｐ＋は、第１固定抵抗２２２を介して演算増幅器２２１の非反転入力端子に接続されている。接続点Ｐ＋の電位は、検出信号Ｖ１として演算部３０に供給されている。また、第２ブリッジ固定抵抗２１２と可変抵抗部２１３との接続点Ｐ−は、第２固定抵抗２２３を介して演算増幅器２２１の反転入力端子に接続されている。
【００３６】
可変抵抗部２１３は、抵抗値を切り替えることで、ブリッジ回路２１０のバランスを変化させるものである。可変抵抗部２１３には、抵抗値の異なる２個の第１固定抵抗２１４および第２固定抵抗２１５と、第１固定抵抗２１４および第２固定抵抗２１５のいずれか一方を有効に動作させる切替スイッチ２１６と、が設けられている。切替スイッチ２１６は、演算部３０から出力された切替信号ＣＧ１に従って切り替え動作を行うものである。
【００３７】
なお、第１固定抵抗２１４は、発熱抵抗体１５が高温側の第１設定温度ＣＨ（例えば、４００℃）となる抵抗値を有するものである。また、第２固定抵抗２１５は、発熱抵抗体１５が第１設定温度ＣＨより低く設定された低温側の第２設定温度ＣＬ（例えば、３００℃）となる抵抗値を有するものである。
【００３８】
増幅回路２２０は差動増幅回路であって、演算増幅器２２１と、演算増幅器２２１の反転入力端子および非反転入力端子のそれぞれに接続された第１固定抵抗２２２および第２固定抵抗２２３と、演算増幅器２２１の反転入力端子と出力端子との間に並列接続された第３固定抵抗２２４およびコンデンサ２２５と、によって構成された周知の回路である。
【００３９】
増幅回路２２０は、非反転入力端子の入力電圧が反転入力端子の入力電圧より大きい場合には、出力である調整信号Ｃの値が大きくなる。その結果、ブリッジ回路２１０に流れる電流が減少する。逆に、非反転入力端子の入力電圧が反転入力端子の入力電圧より小さい場合には、調整信号Ｃの値が小さくなる。その結果、ブリッジ回路２１０に流れる電流が増大する。
【００４０】
電流調整回路２３０のスイッチング回路２３２は、ブリッジ回路２１０に直流電源Ｖｃｃを供給する電源ラインと電流調整回路２３０の通電状態を変化させる制御ラインＣＬ１とに接続され、演算部３０からの作動許可信号Ｓ１に従ってオン，オフ動作するトランジスタからなり、このトランジスタがオンしている所定期間、起動信号Ｓ１１を制御ラインＣＬ１に出力するように構成されている。なお、トランジスタがオンする所定期間は、後述する調整信号Ｃの出力を妨げないように予め設定されている。
【００４１】
電流調整回路２３０の電流調整回路２３１は、上記電源ラインとブリッジ回路２１０とに接続され、制御ラインＣＬ１を流れる信号に従って通電状態（オン抵抗）が変化するトランジスタからなる。具体的には、スイッチング回路２３２の出力である起動信号Ｓ１１に従って、ブリッジ回路２１０へ電流供給を開始する。そして、ブリッジ回路２１０への電流供給が開始されると、増幅回路２２０の出力である調整信号Ｃに従って、調整信号Ｃが大きいほど、オン抵抗が大きくなって、ブリッジ回路２１０に流れる電流が減少し、逆に、調整信号が小さいほど、オン抵抗が小さくなって、ブリッジ回路２１０に流れる電流が増大するように構成されている。
【００４２】
上述の構成を有する通電制御回路２１は、直流電源４０からブリッジ回路２１０への通電が開始されると、増幅回路２２０および電流調整回路２３０は、接続点Ｐ＋と接続点Ｐ−との間に生じる電位差がゼロになるようにブリッジ回路２１０に流れる電流を調整する。これにより、発熱抵抗体１５の抵抗値、言い換えると発熱抵抗体１５の温度が、可変抵抗部２１３によって決まる一定値、言い換えると、第１設定温度ＣＨまたは第２設定温度ＣＬに制御される。
【００４３】
具体的には、被検出雰囲気中の可燃性ガスの含有量が変化することにより、発熱抵抗体１５から可燃性ガスに奪われる熱量が、発熱抵抗体１５において発生する熱量より大きくなった場合には、発熱抵抗体１５の温度が低下して、発熱抵抗体１５の抵抗値が減少する。逆に、発熱抵抗体１５から可燃性ガスに奪われる熱量が、発熱抵抗体１５において発生する熱量より小さくなった場合には、発熱抵抗体１５の温度が上昇して、発熱抵抗体１５の抵抗値が増大する。
【００４４】
上述のように発熱抵抗体１５の抵抗値が減少すると、増幅回路２２０および電流調整回路２３０は、ブリッジ回路２１０に流れる電流、言い換えると、発熱抵抗体１５において発生する熱量を増大させる。逆に、発熱抵抗体１５の抵抗値が増大すると、ブリッジ回路２１０に流れる電流、言い換えると、発熱抵抗体１５において発生する熱量を減少させる。このようにして、増幅回路２２０および電流調整回路２３０は、発熱抵抗体１５の抵抗値、言い換えると発熱抵抗体１５の温度を一定の値に保つ。
【００４５】
接続点Ｐ＋の電位を表す検出信号Ｖ１を測定することにより、発熱抵抗体１５に流れる電流の大きさ、即ち、発熱抵抗体１５の温度、言い換えると抵抗値を一定に保つために必要な熱量が判る。つまり、発熱抵抗体１５から可燃性ガスへ奪われる熱量が判り、奪われる熱量は水素ガスの濃度に依存するため、検出信号Ｖ１を測定することにより、可燃性ガスの水素ガス濃度が判る。
【００４６】
温度調整回路２５には、測温抵抗体１６を含むホイーストーンブリッジであるブリッジ回路２５０と、ブリッジ回路２５０から得られる電位差を増幅する増幅回路２６０と、が設けられている。
【００４７】
ブリッジ回路２５０は、測温抵抗体１６と、３個の第１ブリッジ固定抵抗２５１、第２ブリッジ固定抵抗２５２、第３ブリッジ固定抵抗２５３からなる回路である。第１ブリッジ固定抵抗２５１は測温抵抗体１６と直接接続されるものであり、第１ブリッジ固定抵抗２５１の測温抵抗体１６側の端部は接地され、第２ブリッジ固定抵抗２５２側の端部は電源に接続されている。また、第２ブリッジ固定抵抗２５２は第３ブリッジ固定抵抗２５３に直列接続されるものであり、第２ブリッジ固定抵抗２５２の第３ブリッジ固定抵抗２５３側の端部は接地され、第１ブリッジ固定抵抗２５１側の端部は電源に接続されている。
【００４８】
第１ブリッジ固定抵抗２５１と測温抵抗体１６との接続点Ｐ−は、第２温調抵抗２６３を介して演算増幅器２６１の反転入力端子に接続されている。第２ブリッジ固定抵抗２５２と第３ブリッジ固定抵抗２５３との接続点Ｐ＋は、第１温調固定抵抗２６２を介して演算増幅器２６１の非反転入力端子に接続されている。また、演算増幅器２６１の出力は、温度検出信号ＶＴとして演算部３０に供給されている。
【００４９】
増幅回路２６０は差動増幅回路であって、演算増幅器２６１と、演算増幅器２６１の反転入力端子および非反転入力端子のそれぞれに接続された第１温調固定抵抗２６２および第２温調抵抗２６３と、演算増幅器２６１の反転入力端子と出力端子との間に並列接続された第３固定抵抗２６４と、コンデンサ２６５によって構成された周知の回路である。
【００５０】
演算部３０は、温度調整回路２５から出力される温度検出信号ＶＴと、通電制御回路２１から出力される検出信号Ｖ１に基づき水素ガス濃度を演算するものである。演算部３０は、直流電源４０から給電が開始されて起動するものであり、起動後、演算部３０は各部を初期化してガス濃度演算処理を開始するものである。
【００５１】
演算部３０には、ガス濃度演算処理などの各種の演算処理を実行する中央演算装置（ＣＰＵ）や、ＣＰＵで各種の演算処理を実行させる各種のプログラムやデータなどを格納するＲＯＭやＲＡＭなどの記憶部や、各種信号を入出力するためのＩＯポートや、計時用タイマー等が設けられている（図示せず。）。
【００５２】
上述の記憶装置には、温度換算データと、湿度換算データと、濃度換算データとが少なくとも記憶されている。温度換算データは、被検出雰囲気の環境温度Ｔと上述の温度検出信号ＶＴでもある温度電圧ＶＴとの相関関係を表すものである。湿度換算データは、被検出雰囲気内の湿度Ｈと、高温時電圧ＶＨ、低温時電圧ＶＬおよび温度電圧ＶＴとの相関関係を表すものである。濃度換算データは、高温時電圧ＶＨまたは低温時電圧ＶＬと、可燃性ガスのガス濃度Ｘとの相関関係を表すものである。本実施形態では、高温時電圧ＶＨと、可燃性ガスのガス濃度Ｘとの相関関係を表す濃度換算データを用いる例に適用して説明する。なお、各換算データは、換算用マップデータや換算用計算式等からなるものであり、実験等により得られたデータに基づいて予め作成されたものである。
【００５３】
上述の湿度換算データには、環境温度Ｔ（ひいては温度電圧ＶＴ）と後述する電圧比ＶＣ（０）との相関関係を表す電圧比換算用マップデータ、および、後述する電圧比差ΔＶＣと湿度Ｈとの相関関係を表す湿度換算用マップデータが含まれている。
【００５４】
上述の濃度換算データには、温度電圧ＶＴと後述する高温時電圧ＶＨ（０）との相関関係を表す高温時電圧換算用マップデータ、高温時電圧ＶＨおよび湿度Ｈと後述する高温時電圧変化ΔＶＨ（Ｈ）との相関関係を表す湿度電圧変化換算用マップデータ、および、温度電圧ＶＴおよび高温時電圧ＶＨと後述するガス感度Ｇ（ＶＴ）との相関関係を表すガス感度換算用マップデータが含まれている。
【００５５】
次に、本実施形態の可燃性ガス検出装置１による水素ガス濃度の検出について説明する。具体的には演算部３０において実行されるガス濃度の演算処理について、図３、図４および図５のフローチャートを参照しながら説明する。
【００５６】
なお、ガス濃度Ｘを求める演算では、低温時電圧ＶＬまたは高温時電圧ＶＨのいずれかから濃度換算データを用いてガス濃度Ｘを求め、さらには、温度電圧ＶＴから温度換算データを用いて環境温度Ｔを求め、演算結果であるガス濃度Ｘを、同じく演算結果である環境温度Ｔだけを用いて補正する方法もあるが、ここでは、環境温度Ｔに加えて湿度Ｈを用いてガス濃度Ｘを求めるものとする。
【００５７】
水素ガス濃度を検出する際に可燃性ガス検出装置１は、図６（ａ）および図６（ｂ）に示すように、一定の周期時間ｔの間（以下「低温期間ｔ」と表記する。）発熱抵抗体１５の設定温度を低温側の第２設定温度ＣＬに保持する制御の処理と、一定の周期時間ｔの間（以下「高温期間ｔ」と表記する。）高温側の第１設定温度ＣＨに保持する制御の処理と、を交互に繰り返し行う。
【００５８】
具体的には、可燃性ガス検出装置１の演算部３０が切替信号ＣＧ１を出力することにより、低温期間ｔの間、ブリッジ回路２１０の抵抗値、即ち、発熱抵抗体１５の端子間電圧を低温時電圧ＶＬに保持する制御の処理と、高温期間ｔの間、発熱抵抗体１５の端子間電圧を高温時電圧ＶＨに保持する制御と、を交互に繰り返し行う。
【００５９】
本実施形態では、低温期間ｔおよび高温期間ｔが同一周期、すなわち、同じ２００ｍｓである例に適応して説明する。なお、低温期間ｔおよび高温期間ｔの１サイクルである２ｔの長さは、長くても５秒以下であることが望ましい。１サイクルの長さが長くなると、環境変化に対する出力の追従性、言い換えると出力の精度が悪くなるためである。
【００６０】
この状態において、演算部３０は図３および図４のフローチャートに関する制御処理と、図５のフローチャートに関する制御処理と、を同時進行で行う。ここでは、図３および図４のフローチャートに関する制御処理について先に説明した後、図５のフローチャートに関する制御処理を説明する。
【００６１】
まず演算部３０は、図３に示すように、制御処理が開始されると、発熱抵抗体１５の温度を高温に保持する制御を行うとともに、測温抵抗体１６に通電を開始する制御を実行する（Ｓ１０）。なお、制御処理開始時には、後述するカウンタＮが０の値にセットされる。その後演算部３０は、直前の処理が行われてから（ここではＳ１０の制御から）１０ｍｓを経過したか否かの判定を行う（Ｓ１１）。１０ｍｓを経過していない場合（ＮＯの場合）にはＳ１１の判定を繰り返し行い、１０ｍｓを経過したと判定された場合には、演算部３０はカウンタＮの数を１つ増やすカウントアップの処理を行う（Ｓ１２）。
【００６２】
なお、Ｓ１１の判定としては、Ｓ１０の通電処理からの経過時間の判定の他に、Ｓ１６でカウンタＮが１１以上でないと判定されてからの経過時間の判定や、Ｓ２０でカウンタＮが２０でないと判定されてからの経過時間の判定も行われる。さらには、Ｓ３４の通電処理からの経過時間の判定も行われる。
【００６３】
Ｓ１２のカウントアップの処理を行うと演算部３０は、カウンタＮの値が１０であるか否かの判定を行う（Ｓ１３）。カウンタＮの値が１０であると判定された場合（ＹＥＳの場合）には、演算部３０は、温度調整回路２５から出力される測温抵抗体１６の温度電圧ＶＴを、電圧ＶＴＨとして取得し、記憶する処理を行う（Ｓ１４）。つまり、高温期間ｔが開始されてから１００ｍｓ後に１点のみ電圧ＶＴＨが取得されて記憶される。
【００６４】
その後演算部３０は、Ｓ１４で記憶した電圧ＶＴＨと、１つ前の処理サイクルで記憶された電圧ＶＴＬの平均値（（ＶＴＨ＋ＶＴＬ）／２）である平均電圧ＶＴａｖを求める処理を行う（Ｓ１５）。ここで、電圧ＶＴＬが記憶されていない場合には、電圧ＶＴＨがそのまま平均電圧ＶＴａｖとして用いられる。
【００６５】
Ｓ１３でカウンタＮの値が１０でない場合（ＮＯの場合）、または、Ｓ１５の処理が行われた後、演算部３０は、カウンタＮの値が１１以上であるか否かの判定を行う（Ｓ１６）。カウンタＮの値が１１以上でないと判定された場合（ＮＯの場合）には、演算部３０は上述のＳ１１に戻り上述の処理を繰り返す。
【００６６】
Ｓ１６の判定でカウンタＮの値が１１以上であると判定された場合（ＹＥＳの場合）には、演算部３０は、発熱抵抗体１５の高温期間ｔにおける両端電圧（端子間電圧）として高温時電圧ＶＨを取得し、取得した値（取得値）である高温時電圧ＶＨを記憶する（Ｓ１７）。記憶される高温時電圧ＶＨの数は予め定められており、既に定められた数の高温時電圧ＶＨが記憶されている場合には、最も古い高温時電圧ＶＨに、直近に取得された高温時電圧ＶＨを上書き保存する。本実施形態では予め定められた数を５０個の例に適用して説明する。
【００６７】
次に演算部３０は、取得された高温時電圧ＶＨの数が５０個以上であるか否かの判定処理を行う（Ｓ１８）。取得された高温時電圧ＶＨの数が５０個以上と判定された場合（ＹＥＳの場合）には、演算部３０は高温時電圧移動平均値（高温平均値）ＶＨａｖの算出処理を行う（Ｓ２０）。
【００６８】
高温時電圧移動平均値ＶＨａｖが算出されると、または、Ｓ１８で取得された高温時電圧ＶＨの数が５０個未満と判定された場合（ＮＯの場合）には、演算部３０は、カウントＮの値が２０であるか否かの判定を行う（Ｓ２０）。カウントＮの値が２０でないと判定された場合（ＮＯの場合）には、上述のＳ１１に戻って上述の処理を繰り返し行う。その一方で、Ｓ２０でカウントＮの値が２０であると判定された場合（ＹＥＳの場合）には、演算部３０は、カウントＮの値を０とする（リセットする）処理を行う（Ｓ２１）。
【００６９】
その後演算部３０は、図４に示すように、発熱抵抗体１５の温度を低温に保持する制御を実行する（Ｓ２２）。その後演算部３０は、Ｓ２２の制御から１０ｍｓを経過したか否かの判定を行う（Ｓ２３）。１０ｍｓを経過していない場合（ＮＯの場合）にはＳ２３の判定を繰り返し行い、１０ｍｓを経過したと判定された場合には、演算部３０はカウンタＮの数を１つ増やすカウントアップの処理を行う（Ｓ２４）。
【００７０】
なおＳ２３では、Ｓ２２の通電処理からの経過時間の判定の他に、Ｓ２８でカウンタＮが１１以上でないと判定されてからの経過時間の判定や、Ｓ３２でカウンタＮが２０でないと判定されてからの経過時間の判定も行われる。
【００７１】
以降の処理内容はＳ１３からＳ２１までの処理とほぼ同様である。
つまり、Ｓ２４のカウントアップの処理を行うと演算部３０は、カウンタＮの値が１０であるか否かの判定を行う（Ｓ２５）。カウンタＮの値が１０であると判定された場合（ＹＥＳの場合）には、演算部３０は、温度調整回路２５から出力される温度電圧ＶＴを、電圧ＶＴＬとして取得し、記憶する処理を行う（Ｓ２６）。つまり、低温期間ｔが開始されてから１００ｍｓ後に１点のみ電圧ＶＴＬが取得されて記憶される。
【００７２】
その後演算部３０は、Ｓ２６で記憶した電圧ＶＴＬと、Ｓ１４で記憶された電圧ＶＴＨの平均値（（ＶＴＨ＋ＶＴＬ）／２）である平均電圧ＶＴａｖを求める処理を行う（Ｓ２７）。
【００７３】
Ｓ２５でカウンタＮの値が１０でない場合（ＮＯの場合）、または、Ｓ２７の処理が行われた後、演算部３０は、カウンタＮの値が１１以上であるか否かの判定を行う（Ｓ２８）。カウンタＮの値が１１以上でないと判定された場合（ＮＯの場合）には、演算部３０は上述のＳ２３に戻り上述の処理を繰り返す。
【００７４】
Ｓ２８の判定でカウンタＮの値が１１以上であると判定された場合（ＹＥＳの場合）には、演算部３０は、発熱抵抗体１５の低温期間ｔにおける両端電圧（端子間電圧）として低温時電圧ＶＬを取得し、取得した値（取得値）である低温時電圧ＶＬを記憶する（Ｓ２９）。記憶される低温時電圧ＶＬの数は予め定められており、既に定められた数の低温時電圧ＶＬが記憶されている場合には、最も古い低温時電圧ＶＬに、直近に取得された低温時電圧ＶＬを上書き保存する。
【００７５】
次に演算部３０は、取得された低温時電圧ＶＬの数が５０個以上であるか否かの判定処理を行う（Ｓ３０）。取得された低温時電圧ＶＬの数が５０個以上と判定された場合（ＹＥＳの場合）には、演算部３０は低温時電圧移動平均値（低温平均値）ＶＬａｖの算出処理を行う（Ｓ３１）。
【００７６】
低温時電圧移動平均値ＶＬａｖが算出されると、または、Ｓ３０で取得された低温時電圧ＶＬの数が５０個未満と判定された場合（ＮＯの場合）には、演算部３０は、カウントＮの値が２０であるか否かの判定を行う（Ｓ３２）。カウントＮの値が２０でないと判定された場合（ＮＯの場合）には、上述のＳ２３に戻って上述の処理を繰り返し行う。その一方で、Ｓ３２でカウントＮの値が２０であると判定された場合（ＹＥＳの場合）には、演算部３０は、カウントＮの値を０とする（リセットする）処理を行う（Ｓ３３）。
【００７７】
その後、演算部３０は、発熱抵抗体１５の温度を高温に保持する制御を実行する（Ｓ３４）。その後演算部３０は、図３のＳ１１に戻り上述の処理を繰り返し実行する。
【００７８】
上述したように、図３および図４のフローチャートに基づく処理を実行することにより、演算部３０は、低温期間ｔの低温時電圧ＶＬを取得した時に低温時電圧ＶＬの移動平均処理を実行し、高温期間ｔの高温時電圧ＶＨを取得した時に高温時電圧ＶＨの移動平均処理を実行する。
【００７９】
移動平均処理が行われる低温時電圧ＶＬは、図７に示すように、複数の低温期間ｔにおける後半期間ｔ／２（低温期間ｔの開始後ｔ／２からｔまでの間の期間）に取得されたものである。同様に、移動平均処理が行われる高温時電圧ＶＨは、高温期間ｔにおける後半期間ｔ／２に取得されたものである。
【００８０】
本実施形態では、低温期間ｔおよび高温期間ｔの開始後、１００ｍｓから２００ｍｓまでの間の期間に取得された低温時電圧ＶＬおよび高温時電圧ＶＨに基づいて移動平均処理が行われる。その一方で、発熱抵抗体１５の端子間電圧が安定していない低温期間ｔおよび高温期間ｔの前半期間ｔ／２である０ｍｓから１００ｍｓまでの間の期間（温度の切り替え過渡期）の端子間電圧は移動平均処理に用いられない。
【００８１】
なお、本実施形態では、温度の切り替え過渡期の長さが、低温期間ｔや高温期間ｔの１／２である例に適用して説明したが、１／２よりも長い所定の期間であってもよいし、１／２よりも短い所定の期間であってもよく、特に限定するものではない。
【００８２】
図８（ａ）から図８（ｃ）に示すように、発熱抵抗体１５の端子間電圧を取得する周期は１０ｍｓであるため、本実施形態における一つの低温期間ｔの後半期間ｔ／２、または、高温期間ｔの後半期間ｔ／２で取得される端子間電圧は１０個（図８では黒塗りの丸で示している。）である。移動平均処理に用いられる端子間電圧の数は５０個であるため、連続する５または６の低温期間ｔで取得された端子間電圧ＶＬを用いて、または、連続する５または６の高温期間ｔで取得された端子間電圧ＶＨを用いて、それぞれ移動平均処理が行われる。
【００８３】
また移動平均処理は、発熱抵抗体１５の端子間電圧の取得と同様に１０ｍｓの周期で行われ、移動平均処理を行う毎に５０個の端子間電圧の更新が行われている。つまり、直近に取得された端子間電圧が移動平均処理に用いられるとともに、５０個の端子間電圧の中で最も古い端子間電圧が移動平均処理から除かれている（図８（ｂ）および図８（ｃ）では灰色の丸で示している。）。
【００８４】
次に図５のフローチャートに関する制御処理であるガス濃度の演算処理について説明する。
図５に示すように、演算部３０においてガス濃度の演算処理が実行されると、まず、図３のフローチャートに関する制御処理で求められて記憶されている低温時電圧移動平均値ＶＬａｖ、高温時電圧移動平均値ＶＨａｖおよび平均電圧（温度電圧）ＶＴａｖを取得する処理が実行される（Ｓ１１０）。
【００８５】
演算部３０は、低温時電圧移動平均値ＶＬａｖ、高温時電圧移動平均値ＶＨａｖおよび平均電圧ＶＴａｖの取得ができたか否かの判定処理を行う（Ｓ１１５）。取得できていないと判定された場合（ＮＯの場合）には、再び上述のＳ１１０に戻り、低温時電圧移動平均値ＶＬａｖ、高温時電圧移動平均値ＶＨａｖおよび平均電圧ＶＴａｖの取得処理を行う。
【００８６】
Ｓ１１５で低温時電圧移動平均値ＶＬａｖ、高温時電圧移動平均値ＶＨａｖおよび平均電圧ＶＴａｖを取得できたと判定された場合（ＹＥＳの場合）には、演算部３０は低温時電圧移動平均値ＶＬａｖおよび高温時電圧移動平均値ＶＨａｖと、下記の式（１）と、に基づいて電圧比ＶＣを算出する演算処理を実行する（Ｓ１２０）。
【００８７】
ＶＣ＝ＶＨａｖ／ＶＬａｖ  …（１）
この演算処理と並行して、演算部３０は、平均電圧ＶＴａｖおよび電圧比換算用マップデータに基づいて、環境温度Ｔひいては平均電圧ＶＴａｖにおけるガス濃度Ｘ、および、湿度Ｈがゼロのときの電圧比ＶＣ（０）を算出する演算処理を実行する（Ｓ１３０）。
【００８８】
その後演算部３０は、Ｓ１２０において算出した電圧比ＶＣ、および、Ｓ１３０において算出した電圧比ＶＣ（０）を、下記の式（２）の入力値として、平均電圧ＶＴａｖにおける電圧比差ΔＶＣを算出する演算処理を実行する（Ｓ１４０）。
【００８９】
ΔＶＣ＝ＶＣ−ＶＣ（０）  …（２）
次に演算部３０は、Ｓ１４０において算出した電圧比差ΔＶＣ、および、湿度換算用マップデータに基づいて、電圧比差ΔＶＣのときの湿度Ｈを算出する演算処理を実行する（Ｓ１５０）。
【００９０】
湿度Ｈの演算処理と並行して、演算部３０は、高温時電圧移動平均値ＶＨａｖおよび平均電圧ＶＴａｖと、高温時電圧換算用マップデータと、に基づいて、環境温度Ｔひいては平均電圧ＶＴａｖにおけるガス濃度Ｘ、および、湿度Ｈがゼロのときの高温時電圧ＶＨ（０）を算出する演算処理を実行する（Ｓ１６０）。
【００９１】
続いて演算部３０は、Ｓ１１０で取得された高温時電圧移動平均値ＶＨａｖ、および、Ｓ１５０にて算出した湿度Ｈ、並びに、湿度電圧変化換算用マップデータに基づいて、高温時電圧移動平均値ＶＨａｖのうちの湿度Ｈに起因する電圧変化分を表す高温時電圧変化ΔＶＨ（Ｈ）を算出する演算処理を実行する（Ｓ１７０）。
【００９２】
そして演算部３０は、Ｓ１１０で取得された高温時電圧移動平均値ＶＨａｖ、Ｓ１６０において算出した高温時電圧ＶＨ（０）、および、Ｓ１７０において算出した高温時電圧変化ΔＶＨ（Ｈ）を、下記の式（３）の入力値として、高温時電圧移動平均値ＶＨａｖのうちの可燃性ガスに起因する電圧変化分を表す高温時電圧変化ΔＶＨ（Ｇ）を算出する演算処理を実行する（Ｓ１８０）。
【００９３】
ΔＶＨ（Ｇ）＝ＶＨａｖ−ＶＨ（０）−ΔＶＨ（Ｈ）  …（３）
高温時電圧変化ΔＶＨ（Ｇ）の演算処理と並行して、演算部３０は、Ｓ１１０で取得された高温時電圧移動平均値ＶＨａｖおよび平均電圧ＶＴａｖ、並びに、ガス感度換算用マップデータに基づいて、高温時電圧移動平均値ＶＨａｖについて、平均電圧ＶＴａｖ毎に予め設定された可燃性ガスに対する感度（単位はガス濃度Ｘの逆数）を表すガス感度Ｇ（ＶＴ）を算出する演算処理を実行する（Ｓ１９０）。
【００９４】
最後に演算部３０は、Ｓ１８０において算出した高温時電圧変化ΔＶＨ（Ｇ）、および、Ｓ１９０において算出したガス感度Ｇ（ＶＴ）を、下記の式（４）の入力値として、可燃性ガス（水素）のガス濃度Ｘを算出する演算処理を実行する（Ｓ２００）。
【００９５】
Ｘ＝ΔＶＨ（Ｇ）／Ｇ（ＶＴ）  …（４）
ガス濃度Ｘの算出を行うと、演算部３０はＳ１１０の処理から１０ｍｓが経過したか否かの判定を行う（Ｓ２１０）。１０ｍｓが経過していないと判定された場合（ＮＯの場合）には、上述のＳ１１０に戻り上述の処理を繰り返し実行する。
【００９６】
なお、本実施形態では、第１設定温度ＣＨを４００℃に設定し、第２設定温度ＣＬを３００℃に設定している例に適用して説明する。そのため、４００℃に対応する発熱抵抗体１５の両端電圧が高温時電圧ＶＨとなり、３００℃に対応する発熱抵抗体１５の両端電圧が低温時電圧ＶＬとなっている。この第１設定温度ＣＨと第２設定温度ＣＬとの差（設定温度差）を１００℃とすることにより、高温時電圧ＶＨと低温時電圧ＶＬとの比における高分解能を確保することができる。高温時電圧ＶＨと低温時電圧ＶＬとの比における分解能を確保するためには、設定温度差を５０℃以上にして、被検出雰囲気内の湿度Ｈを精度よく算出する必要があるからである。
【００９７】
上記の構成の可燃性ガス検出装置１によれば、発熱抵抗体１５の温度制御が変更されてから所定の期間（待ち時間）ｔ／２が経過した以降の後半期間（対象期間）に対して、高温期間ｔおよび低温期間ｔのそれぞれにおける端子間電圧（発熱抵抗体１５の両端電圧）の値（取得値）の移動平均値（高温時電圧移動平均値ＶＨａｖ、低温時電圧移動平均値ＶＬａｖ）が求められる。移動平均処理で用いられる端子間電圧の取得値の数は、高温期間ｔや低温期間ｔの後半期間（対象期間）で取得される取得値の数よりも多い所定数である。つまり、移動平均処理の対象となる期間には、複数の高温期間ｔまたは複数の低温期間ｔの後半期間（対象期間）が含まれる。そのため、１つの高温期間ｔまたは１つの低温期間ｔで取得される取得値のみで移動平均処理を行う場合と比較して、より多くの取得値を用いて移動平均処理を行うため、平均値である高温時電圧移動平均値ＶＨａｖ、低温時電圧移動平均値ＶＬａｖの精度の向上を図ることができる。
【００９８】
また可燃性ガス検出装置１は、発熱抵抗体１５の温度制御が変更されてから発熱抵抗体１５の端子間電圧の値を安定させる期間（待ち時間）ｔ／２が経過した以降の後半期間（対象期間）を対象にして、安定後の端子間電圧の取得値に対する移動平均処理を行っている。そのため、上述の安定後の端子間電圧の値を移動平均処理した端子間電圧を用いて可燃性ガスの濃度Ｘを演算により求めることとなり、不安定な端子間電圧も利用して可燃性ガスの濃度Ｘを求める場合と比較して、可燃性ガスの検出精度が高くなる。
【００９９】
また、発熱抵抗体１５の温度制御が変更されてから期間ｔ／２（待ち時間）が経過するまで、端子間電圧の取得を行わないことにより、移動平均処理に用いられないデータの取得を抑制することができる。そのため、移動平均処理に用いられる端子間電圧の取得値などのデータの記憶に必要とされる記憶部の容量増加を抑制することができる。
【０１００】
なお、上述の実施形態のように、演算部３０は低温期間ｔの後半期間ｔ／２または高温期間ｔの後半期間ｔ／２のみ、発熱抵抗体１５の端子間電圧の取得処理を実行してもよいし、前半期間ｔ／２を含めて常に発熱抵抗体１５の端子間電圧の取得処理を実行してもよい。ただし、このとき、低温期間ｔの前半期間ｔ／２または高温期間ｔの前半期間ｔ／２に取得した端子間電圧は、移動平均処理には用いず、読み捨てるものとする。
【０１０１】
このように、演算部３０は発熱抵抗体１５の端子間電圧の値を常に取得し続けて記憶し、端子間電圧の値の移動平均処理を行う場合には、記憶された取得値の中から、発熱抵抗体１５の温度制御が変更されてから期間ｔ／２（待ち時間）が経過した以降に取得された取得値を用いることにより、高温期間または低温期間の中で端子間電圧の値の取得を行うか否かの許可判定を行う必要がなくなる。
【符号の説明】
【０１０２】
１…可燃性ガス検出装置（ガス検出装置）、１５…発熱抵抗体、１６…測温抵抗体、２１…通電制御回路（通電制御部）、３０…演算部、ＣＨ…第１設定温度（高温）、ＣＬ…第２設定温度（低温）、Ｔ…環境温度
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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