(57)【要約】【課題】放射線画像撮影装置の品質を高精度に評価することができる評価用画像作成装置を提供する。【解決手段】放射線透過性を有する第１ベース部材を、評価対象とする放射線画像撮影装置で撮影した第１画像を取得し（Ｓ２０５）、第１ベース部材と対応する構成を有する第２ベース部材に放射線遮断性が予め定められた閾値以上の部材からなる予め定められた評価用パターンが設けられたファントムを放射線画像撮影装置で撮影した第２画像を取得し（Ｓ２１３）、第１放射線画像及び第２放射線画像の少なくとも一方を他方に対して移動させるか、または第１放射線画像を変形させて、第１放射線画像及び移動または変形させた第１放射線画像を含む複数の画像から選択した第１画像と、第２放射線画像及び移動させた第２放射線画像を含む複数の画像から選択した第２画像とを合成することを複数回行うことにより複数の評価用画像を作成する（Ｓ２１７）。【選択図】図１０
2013198664.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線透過性を有する第１ベース部材を、評価対象とする放射線画像撮影装置で撮影することによって得られた第１放射線画像を取得する第１取得手段と、
前記第１ベース部材と対応する構成を有する第２ベース部材に放射線遮断性が予め定められた閾値以上の部材からなる予め定められた評価用パターンが設けられたファントムを前記放射線画像撮影装置で撮影することによって得られた第２放射線画像を取得する第２取得手段と、
前記第１放射線画像及び前記第２放射線画像の少なくとも一方を他方に対して移動させるか、または前記第１放射線画像を変形させて、前記第１放射線画像及び移動または変形させた第１放射線画像を含む複数の画像から選択した第１画像と、前記第２放射線画像及び移動させた第２放射線画像を含む複数の画像から選択した第２画像とを合成することを複数回行うことにより複数の評価用画像を作成する作成手段と、
を備えた評価用画像作成装置。
【請求項２】
前記評価対象とする放射線画像撮影装置を、前記ファントムを前記放射線画像撮影装置で撮影することにより得られた第３放射線画像に基づいて評価する事前評価処理が終了した放射線画像撮影装置とし、
前記第１放射線画像を撮影する際の撮影条件、及び前記第２放射線画像を撮影する際の撮影条件を、前記第３放射線画像の信号雑音比と同一または略同一の放射線画像が取得できるように定めた
請求項１記載の評価用画像作成装置。
【請求項３】
前記第１放射線画像を撮影する際の撮影条件、及び前記第２放射線画像を撮影する際の撮影条件は、前記第３放射線画像を撮影する際の撮影条件における放射線の曝射線量をｑとし、前記第２放射線画像を撮影する際の放射線の曝射線量をα×ｑとし、前記第２放射線画像を撮影する際の撮影条件における放射線の曝射線量をβ×ｑとすると、αとβが次の条件を満足するように各曝射線量を定めた
【数１】
2013198664.tif 000015
請求項２記載の評価用画像撮影装置。
【請求項４】
前記作成手段は、前記評価用パターンと、前記ファントムに設けられると共に、放射線遮断性が予め定められた閾値以上の部材からなり、かつ前記評価用パターンの位置を特定する位置特定パターンとが、前記第１画像と前記第２画像との合成領域内に含まれるように、前記第１放射線画像及び前記第２放射線画像の少なくとも一方を他方に対して移動させるか、または前記第１放射線画像を変形させる
請求項１乃至３の何れか１項記載の評価用画像作成装置。
【請求項５】
前記第２画像の各画素の画素値から前記第１画像の前記第２画像の各画素に対応する画素の画素値を減算した差に、前記第１画像の各画素の画素値の平均値を加算した値を合成画像の各画素の画素値とする
請求項１乃至４の何れか１項記載の評価用画像作成装置。
【請求項６】
前記第１取得手段は、複数回の撮影で得られた前記第１放射線画像を複数取得し、
前記第２取得手段は、複数回の撮影で得られた前記第２放射線画像を複数取得する
請求項１乃至５の何れか１項記載の評価用画像作成装置。
【請求項７】
前記作成手段で放射線画像を移動させた場合、
前記第１画像を、前記第１放射線画像、前記第１放射線画像を第１方向へ移動させた放射線画像、前記第１放射線画像を前記第１方向と異なる第２方向へ移動させた放射線画像、及び前記第１放射線画像を回転させた放射線画像から選択した１つの放射線画像とし、
前記第２画像を、前記第２放射線画像、前記第２放射線画像を前記第１方向へ移動させた放射線画像、前記第１放射線画像を前記第２方向へ移動させた放射線画像、及び前記第２放射線画像を回転させた放射線画像から選択した１つの放射線画像とした
請求項１乃至６の何れか１項記載の評価用画像作成装置。
【請求項８】
前記評価対象とする放射線画像撮影装置を、前記ファントムを前記放射線画像撮影装置で撮影することにより得られた第３放射線画像に基づいて評価する事前評価処理が終了した放射線画像撮影装置とし、
前記作成手段は、前記事前評価処理により得られた評価結果が予め定められた条件を満たしていない場合、前記第１取得手段が前記第１放射線画像を取得し、前記第２取得手段が前記第２放射線画像を取得し、前記作成手段が前記複数の評価用画像を作成する
請求項１記載の評価用画像作成装置。
【請求項９】
請求項１乃至８の何れか１項記載の評価用画像作成装置と、
前記作成手段により作成された前記複数の評価用画像に基づいて、評価対象とする前記放射線画像撮影装置を評価する評価手段と、
を備えた評価装置。
【請求項１０】
請求項２または８記載の評価用画像作成装置と、
前記作成手段により作成された前記複数の評価用画像に基づいて、評価対象とする前記放射線画像撮影装置を評価する評価手段と、
前記評価手段による評価結果を、前記事前評価処理により得られた評価結果に換算する換算手段と、
を備えた評価装置。
【請求項１１】
コンピュータを、
放射線透過性を有する第１ベース部材を、評価対象とする放射線画像撮影装置で撮影することによって得られた第１放射線画像を取得する第１取得手段と、
前記第１ベース部材と対応する構成を有する第２ベース部材に放射線遮断性が予め定められた閾値以上の部材からなる予め定められた評価用パターンが設けられたファントムを前記放射線画像撮影装置で撮影することによって得られた第２放射線画像を取得する第２取得手段と、
前記第１放射線画像及び前記第２放射線画像の少なくとも一方を他方に対して移動させるか、または前記第１放射線画像を変形させて、前記第１放射線画像及び移動または変形させた第１放射線画像を含む複数の画像から選択した第１画像と、前記第２放射線画像及び移動させた第２放射線画像を含む複数の画像から選択した第２画像とを合成することを複数回行うことにより複数の評価用画像を作成する作成手段と、
をとして機能させるためのプログラム。
【請求項１２】
放射線透過性を有する第１ベース部材を、評価対象とする放射線画像撮影装置で撮影することによって得られた第１放射線画像を取得する第１取得ステップと、
前記第１ベース部材と対応する構成を有する第２ベース部材に放射線遮断性が予め定められた閾値以上の部材からなる予め定められた評価用パターンが設けられたファントムを前記放射線画像撮影装置で撮影することによって得られた第２放射線画像を取得する第２取得ステップと、
前記第１放射線画像及び前記第２放射線画像の少なくとも一方を他方に対して移動させるか、または前記第１放射線画像を変形させて、前記第１放射線画像及び移動または変形させた第１放射線画像を含む複数の画像から選択した第１画像と、前記第２放射線画像及び移動させた第２放射線画像を含む複数の画像から選択した第２画像とを合成することを複数回行うことにより複数の評価用画像を作成する作成ステップと、
を備えた評価用画像作成方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線画像撮影装置の品質を評価するための評価用画像を生成する評価用画像作成装置、当該評価用画像作成装置を備えた評価装置、当該評価用画像装置において用いられるプログラム、及び、放射線画像撮影装置の品質を評価するための評価用画像を生成する評価用画像作成方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
放射線画像撮影装置を製造して販売する際には、製造された一つ一つの製品について一定以上の品質で放射線画像の撮影が行えるか否かを事前に評価している。国によっては予め定められた評価基準をクリアしていない場合には販売できないように規定されている。また、放射線画像撮影装置が納品された後にも、定期的な品質管理が行われており、放射線画像撮影装置について一定以上の品質が確保されているか否かの評価が行われる。
【０００３】
マンモグラフィ用の放射線画像撮影装置の品質を評価する場合には、当該装置の品質管理のために低コントラスト分解能の試験が実施されている。この試験は、専用のファントムを製造された放射線撮影装置で撮影して撮影された放射線画像を用いて行われるのが一般的である。
【０００４】
例えば、European guidelines for quality assurance in breast（以下、「Ｅｕｒｅｆ」という。）では、直径及び厚みが各々異なる複数の金のディスク（Gold Disk）が配置されたファントム（ＣＤＭＡＭファントム）を用いて、各直径のディスクに対しどの厚さまでのディスクを撮影できるかを試験する方法を推奨している。特にヨーロッパの国々を中心として、上記Ｅｕｒｅｆの方法を参照してマンモグラフィ用の放射線画像撮影装置における品質管理の規格を制定している。なお、上記Ｅｕｒｅｆの方法は、非特許文献１に開示されている。また、上記ＣＤＭＡＭファントムを撮影して得られる放射線画像を表示する方法は、特許文献１に開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】米国特許７，７２９，５２４  Ｂ２号明細書
【非特許文献】
【０００６】
【非特許文献１】"Evaluation of software for reading images of the CDMAM test object to assess digital mammography systems"in Proceedings of SPIE, Vol. 6913, 69131C-1
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上記特許文献１及び非特許文献１に開示されているようなＣＤＭＡＭファントムを用いた場合において、撮影された複数枚の放射線画像の各々で評価にばらつきがあるため、検出精度が問題となることがある。非特許文献１には、この評価のばらつきを低減する手法が開示されているが、ディスクの大きさが直径０．１ｍｍ、厚さ１μｍと小さいため、評価のばらつきを低減してもまだ検出精度は不十分な場合がある。
【０００８】
そこで、検出精度を上げる方法として、評価を行うために使用する放射線画像の枚数を増加させるという解決策が考えられるが、この場合には、十分な検出精度を得るためには統計的な観点から数百枚〜千枚程度の放射線画像が必要となるため、その枚数の放射線画像を撮影する際の作業量、及び撮影した放射線画像を検査する作業量が全く現実的ではない、という問題があった。
【０００９】
本発明は上記問題に鑑みてなされたものであり、放射線画像撮影装置の品質を高精度に評価することができる評価用画像作成装置、評価装置、プログラム及び評価用画像作成方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するために、請求項１記載の評価用画像作成装置は、放射線透過性を有する第１ベース部材を、評価対象とする放射線画像撮影装置で撮影することによって得られた第１放射線画像を取得する第１取得手段と、前記第１ベース部材と対応する構成を有する第２ベース部材に放射線遮断性が予め定められた閾値以上の部材からなる予め定められた評価用パターンが設けられたファントムを前記放射線画像撮影装置で撮影することによって得られた第２放射線画像を取得する第２取得手段と、前記第１放射線画像及び前記第２放射線画像の少なくとも一方を他方に対して移動させるか、または前記第１放射線画像を変形させて、前記第１放射線画像及び移動または変形させた第１放射線画像を含む複数の画像から選択した第１画像と、前記第２放射線画像及び移動させた第２放射線画像を含む複数の画像から選択した第２画像とを合成することを複数回行うことにより複数の評価用画像を作成する作成手段と、を備えている。
【００１１】
請求項１に記載の装置によれば、第１取得手段により、放射線透過性を有する第１ベース部材を、評価対象とする放射線画像撮影装置で撮影することによって得られた第１放射線画像が取得される。
【００１２】
ここで、本発明では、第２取得手段により、前記第１ベース部材と対応する構成を有する第２ベース部材に放射線遮断性が予め定められた閾値以上の部材からなる予め定められた評価用パターンが設けられたファントムを前記放射線画像撮影装置で撮影することによって得られた第２放射線画像が取得され、作成手段により、前記第１放射線画像及び前記第２放射線画像の少なくとも一方を他方に対して移動させるか、または前記第１放射線画像を変形させて、前記第１放射線画像及び移動または変形させた第１放射線画像を含む複数の画像から選択した第１画像と、前記第２放射線画像及び移動させた第２放射線画像を含む複数の画像から選択した第２画像とを合成することを複数回行うことにより複数の評価用画像が作成される。
【００１３】
このように、請求項１記載の装置によれば、第１ベース部材の放射線画像（第１放射線画像）またはファントムの放射線画像（第２放射線画像）の少なくとも一方を他方に対して移動させるか、または第１ベース部材の放射線画像を変形させた上で、第１ベース部材の放射線画像のいずれかとファントムの放射線画像のいずれかとを複数の組み合わせで合成することにより、複数の評価用画像が得られる結果、放射線画像撮影装置の品質を高精度に評価することができる。
【００１４】
なお、本発明は、請求項２に記載の発明のように、前記評価対象とする放射線画像撮影装置を、前記ファントムを前記放射線画像撮影装置で撮影することにより得られた第３放射線画像に基づいて評価する事前評価処理が終了した放射線画像撮影装置とし、前記第１放射線画像を撮影する際の撮影条件、及び前記第２放射線画像を撮影する際の撮影条件を、前記第３放射線画像の信号雑音比と同一または略同一の放射線画像が取得できるように定めるようにしても良い。これにより、複数の評価用画像を容易に作成することができるため、容易に検出精度を向上させることができる。
【００１５】
特に、請求項２記載の発明は、請求項３に記載の発明のように、前記第１放射線画像を撮影する際の撮影条件、及び前記第２放射線画像を撮影する際の撮影条件は、前記第３放射線画像を撮影する際の撮影条件における放射線の曝射線量をｑとし、前記第２放射線画像を撮影する際の放射線の曝射線量をα×ｑとし、前記第２放射線画像を撮影する際の撮影条件における放射線の曝射線量をβ×ｑとすると、αとβが次の条件を満足するように各曝射線量を定めるようにしても良い。
【数１】
2013198664.tif 000003
これにより、複数の評価用画像を容易に作成することができるため、容易に検出精度を向上させることができる。
【００１６】
また、本発明は、請求項４に記載の発明のように、前記作成手段は、前記評価用パターンと、前記ファントムに設けられると共に、放射線遮断性が予め定められた閾値以上の部材からなり、かつ前記評価用パターンの位置を特定する位置特定パターンとが、前記第１画像と前記第２画像との合成領域内に含まれるように、前記第１放射線画像及び前記第２放射線画像の少なくとも一方を他方に対して移動させるか、または前記第１放射線画像を変形させるようにしても良い。これにより、評価の精度を落とさずに複数の評価用画像を作成することができる。
【００１７】
また、本発明は、請求項５に記載の発明のように、前記第２画像の各画素の画素値から前記第１画像の前記第２画像の各画素に対応する画素の画素値を減算した差に、前記第１画像の各画素の画素値の平均値を加算した値を合成画像の各画素の画素値とするようにしても良い。これにより、簡易に複数の評価用画像を作成することができる。
【００１８】
また、本発明は、請求項６に記載の発明のように、前記第１取得手段は、複数回の撮影で得られた前記第１放射線画像を複数取得し、前記第２取得手段は、複数回の撮影で得られた前記第２放射線画像を複数取得するようにしても良い。これにより、より多くの評価用画像を作成することができる。
【００１９】
また、本発明は、請求項７に記載の発明のように、前記作成手段で放射線画像を移動させた場合、前記第１画像を、前記第１放射線画像、前記第１放射線画像を第１方向へ移動させた放射線画像、前記第１放射線画像を前記第１方向と異なる第２方向へ移動させた放射線画像、及び前記第１放射線画像を回転させた放射線画像から選択した１つの放射線画像とし、前記第２画像を、前記第２放射線画像、前記第２放射線画像を前記第１方向へ移動させた放射線画像、前記第１放射線画像を前記第２方向へ移動させた放射線画像、及び前記第２放射線画像を回転させた放射線画像から選択した１つの放射線画像とするようにしても良い。これにより、簡易に複数の評価用画像を作成することができる。
【００２０】
また、本発明は、請求項８に記載の発明のように、前記評価対象とする放射線画像撮影装置を、前記ファントムを前記放射線画像撮影装置で撮影することにより得られた第３放射線画像に基づいて評価する事前評価処理が終了した放射線画像撮影装置とし、前記作成手段は、前記事前評価処理により得られた評価結果が予め定められた条件を満たしていない場合、前記第１取得手段が前記第１放射線画像を取得し、前記第２取得手段が前記第２放射線画像を取得し、前記作成手段が前記複数の評価用画像を作成するようにしても良い。これにより、事前評価処理の評価結果に基づいて、必要に応じて放射線画像撮影装置の品質を高精度に評価することができる。
【００２１】
一方、上記目的を達成するために、請求項９に記載の評価装置は、請求項１乃至８の何れか１項記載の評価用画像作成装置と、前記作成手段により作成された前記複数の評価用画像に基づいて、評価対象とする前記放射線画像撮影装置を評価する評価手段と、を備えている。
【００２２】
従って、請求項９に記載の方法によれば、請求項１に記載の発明と同様に作用するので、請求項１に記載の発明と同様に、放射線画像撮影装置の品質を高精度に評価することができる。
【００２３】
また、上記目的を達成するために、請求項１０に記載の評価装置は、請求項２または８記載の評価用画像作成装置と、前記作成手段により作成された前記複数の評価用画像に基づいて、評価対象とする前記放射線画像撮影装置を評価する評価手段と、前記評価手段による評価結果を、前記事前評価処理により得られた評価結果に換算する換算手段と、を備えている。
【００２４】
従って、請求項１０に記載の方法によれば、請求項１に記載の発明と同様に作用するので、請求項１に記載の発明と同様に、放射線画像撮影装置の品質を高精度に評価することができる。
【００２５】
一方、上記目的を達成するために、請求項１１に記載のプログラムは、コンピュータを、放射線透過性を有する第１ベース部材を、評価対象とする放射線画像撮影装置で撮影することによって得られた第１放射線画像を取得する第１取得手段と、前記第１ベース部材と対応する構成を有する第２ベース部材に放射線遮断性が予め定められた閾値以上の部材からなる予め定められた評価用パターンが設けられたファントムを前記放射線画像撮影装置で撮影することによって得られた第２放射線画像を取得する第２取得手段と、前記第１放射線画像及び前記第２放射線画像の少なくとも一方を他方に対して移動させるか、または前記第１放射線画像を変形させて、前記第１放射線画像及び移動または変形させた第１放射線画像を含む複数の画像から選択した第１画像と、前記第２放射線画像及び移動させた第２放射線画像を含む複数の画像から選択した第２画像とを合成することを複数回行うことにより複数の評価用画像を作成する作成手段と、として機能させる。
【００２６】
従って、請求項１１に記載のプログラムによれば、コンピュータを請求項１に記載の発明と同様に作用させることができるので、請求項１に記載の発明と同様に、放射線画像撮影装置の品質を高精度に評価することができる。
【００２７】
一方、上記目的を達成するために、請求項１２に記載の評価用画像作成方法は、放射線透過性を有する第１ベース部材を、評価対象とする放射線画像撮影装置で撮影することによって得られた第１放射線画像を取得する第１取得ステップと、前記第１ベース部材と対応する構成を有する第２ベース部材に放射線遮断性が予め定められた閾値以上の部材からなる予め定められた評価用パターンが設けられたファントムを前記放射線画像撮影装置で撮影することによって得られた第２放射線画像を取得する第２取得ステップと、前記第１放射線画像及び前記第２放射線画像の少なくとも一方を他方に対して移動させるか、または前記第１放射線画像を変形させて、前記第１放射線画像及び移動または変形させた第１放射線画像を含む複数の画像から選択した第１画像と、前記第２放射線画像及び移動させた第２放射線画像を含む複数の画像から選択した第２画像とを合成することを複数回行うことにより複数の評価用画像を作成する作成ステップとを備えている。
【００２８】
従って、請求項１２に記載の評価用画像作成方法によれば、請求項１に記載の発明と同様に作用するので、請求項１に記載の発明と同様に、放射線画像撮影装置の品質を高精度に評価することができる。
【発明の効果】
【００２９】
本発明によれば、放射線画像撮影装置の品質を高精度に評価することができる、という効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】実施形態に係る評価システムの全体構成を示す構成図である。
【図２】実施形態に係る評価システムのファントムの外観を示す斜視図である。
【図３】（Ａ）は、実施形態に係る評価システムのファントムを示す正面図であり、（Ｂ）は、実施形態に係る評価システムのファントムのＡ−Ａ断面における断面図である。
【図４】一般で使用されているファントムの一例を示す写真である。
【図５】実施形態に係る評価システムのベース部材の外観を示す斜視図である。
【図６】実施形態に係る評価システムにおいて評価対象とする電子カセッテの外観を示す切り欠き斜視図である。
【図７】実施形態に係る評価システムにおいて評価対象とする電子カセッテに設けられた放射線検出器の３画素部分の構成を示す断面模式図である。
【図８】実施形態に係る評価システムにおいて評価対象とする電子カセッテの電気系の要部構成を示す構成図である。
【図９】実施形態に係る第１評価処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。
【図１０】実施形態に係る第２評価処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。
【図１１】実施形態に係る合成画像生成処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。
【図１２】実施形態に係る評価システムにおける評価値の算出方法の説明に供する図である。
【図１３】実施形態に係る評価システムにおけるファントム画像の一例を示す図である。
【図１４】実施形態に係る評価システムにおけるベタ画像の一例を示す図である。
【図１５】（Ａ）は、実施形態に係る評価システムにおいてベタ画像を主方向（ベース部の短手方向；図３（Ａ）に示すＸ軸方向）に平行移動させた上でファントム画像と合成する概略図であり、（Ｂ）は、実施形態に係る評価システムにおけるベタ画像を副方向（ベース部の長手方向；図３（Ａ）に示すＹ軸方向）に平行移動させた上でファントム画像と合成する概略図であり、（Ｃ）は、実施形態に係る評価システムにおいてベタ画像を主方向に平行移動させた上でファントム画像と合成した合成画像であり、（Ｄ）は、実施形態に係る評価システムにおけるベタ画像を副方向に平行移動させた上でファントム画像と合成した合成画像である。
【図１６】（Ａ）は、実施形態に係る評価システムのファントムにおける位置と高さとの関係を示す図であり、（Ｂ）は、実施形態に係る評価システムのファントム画像における位置と出力信号との関係を示す図である。
【図１７】実施形態に係る評価システムにおいて、係数α及び係数βの具体的な値を例として示す表である。
【図１８】（Ａ）乃至（Ｃ）は、実施形態に係る評価システムにおいてベタ画像を移動または変形させる方法の別例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００３１】
以下、本実施形態に係る評価システムについて添付図面を用いて詳細に説明する。
【００３２】
図１は、本実施形態に係る評価システム１の全体構成を示す構成図である。
【００３３】
図１に示すように、本実施形態に係る評価システム１は、放射線画像撮影装置の品質を評価するためのシステムであり、撮影制御装置（以下、「コンソール」という。）２、放射線（本実施形態では、Ｘ線）Ｘを発生させる放射線発生装置３、放射線発生装置３で発生した放射線Ｘにより放射線画像を撮影する放射線画像撮影装置（以下、「電子カセッテ」という。）４、及び、電子カセッテ４の品質を評価するためのファントム５、同様に電子カセッテ４の品質を評価するためのベース部材６、及び、電子カセッテ４の品質を評価する処理を行う評価装置７を備えている。なお、本実施形態に係る評価システム１においては、電子カセッテ４を評価対象として評価を行うが、これに限定されず、任意の放射線画像撮影装置を評価対象として評価を行うことができる。
【００３４】
コンソール２は、通信ケーブル８を介して放射線発生装置３と接続されている。また、コンソール２は曝射スイッチ（図示省略）を備えていて、放射線発生装置３は、この曝射スイッチの操作に基づいて被写体に放射線Ｘを曝射する。コンソール２は、放射線発生装置３による放射線Ｘの曝射のタイミングを取得する。コンソール２が曝射のタイミングを取得する手段としては、曝射同期信号を放射線発生装置３から取得しても、上記曝射スイッチの状態を監視し曝射スイッチが操作された際にその操作内容を取得しても良い。また、コンソール２は、取得した曝射のタイミングに合わせて電子カセッテ４を制御し、撮影データを取得する。
【００３５】
電子カセッテ４は、入射した放射線Ｘから放射線画像を示す画像データを生成して、生成した画像データを無線通信によりコンソール２に送信する。コンソール２は、電子カセッテ４と無線通信が可能に構成されていて、予め定められた無線通信方式で通信を行って、制御信号を伝送することにより電子カセッテ４に対して様々な制御を行う。
【００３６】
図２は、本実施形態に係る評価システム１のファントム５の外観を示す斜視図である。また、図３（Ａ）は、本実施形態に係る評価システム１のファントム５を示す正面図であり、図３（Ｂ）は、本実施形態に係る評価システム１のファントム５のＡ−Ａ断面における断面図である。なお、図２及び図３において、ファントム５に設けられた後述するディスク１１及び格子状のパターン１２についてわかりやすく説明するために、ディスク１１及び格子状のパターン１２を簡略化して描いている。
【００３７】
図２に示すように、ファントム５は、板状のベース部１０を備えている。ベース部１０は、放射線Ｘの透過性を有する部材で形成されているとともに、予め定められた厚さ（本実施形態では、例えば０．５ｍｍ）でかつ評価対象とする放射線画像撮影装置の大きさに応じて予め定められた大きさで形成されている。
【００３８】
また、図２及び図３に示すように、ベース部１０の一方の面には、金属により形成され、各々直径または厚みが異なる複数の円板状のディスク１１が、ディスク１１の厚みの方向がベース部１０の厚みの方向と一致するように設けられている。この複数のディスク１１は、電子カセッテ４の品質の評価に用いられる評価用パターンとして形成されている。すなわち、ファントム５を電子カセッテ４で撮影した際に、撮影された放射線画像において、直径が等しく厚みが異なる複数のディスク１１のうち、どの厚さのディスク１１までを認識できるかを、各々の直径のディスク１１について検査することで、電子カセッテ４の品質の評価が行われる。
【００３９】
なお、ディスク１１を形成する部材は、放射線Ｘの遮断性が予め定められた閾値以上の部材であれば良く、本実施形態では、薄い形状に加工し易い点、錆び難い点、及びコントラスト段差を形成し易い（すなわち厚みの変化に応じて透過率が変化する）点を考慮し、複数のディスク１１は金で形成されている。
【００４０】
また、本実施形態では、ベース部１０の一方の面に複数のディスク１１が貼付されているが、これに限定されず、ファントム５を撮影する際に予め定められた位置に配置された複数のディスク１１が撮影画像によって認識できれば良く、複数のディスク１１がベース部１０に埋め込まれていても良い。
【００４１】
さらに、図２及び図３に示すように、ベース部１０の複数のディスク１１が形成されている面には、予め定められた格子状のパターン１２がフィルムで描かれている。この格子状のパターン１２は、電子カセッテ４の品質の評価の際にディスク１１の位置を特定するための位置特定用パターンとして形成されている。図３（Ａ）に示すように、複数のディスク１１の各々は格子状のパターン１２におけるいずれかの格子の最小単位の枠内に形成されていて、ファントム５を電子カセッテ４で撮影した際に、撮影された放射線画像において格子状のパターン１２を位置基準として複数のディスク１１の各々の位置が特定される。そのため、格子状のパターン１２は、ファントム５を撮影した放射線画像において認識可能であれば良く、格子状のパターン１２を形成する材質は、放射線発生装置３から発生された放射線Ｘを一定以上遮断する材質であれば良い。
【００４２】
図３に示すように、ファントム５において、ベース部１０の格子状のパターン１２が描かれている面上における一方向（例えば図３に示すＸ軸方向）に、厚みが等しいディスク１１が、直径が徐々に大きくなるようにそれぞれ配列されているとともに、当該面上における上記一方向とは異なる一方向（例えば図３に示すＹ軸方向）に、直径が等しいディスク１１が、厚みが徐々に大きくなるようにそれぞれ配列されている。
【００４３】
図４は、一般で使用されているファントムの一例を示す写真である。なお、ファントムを撮影して得られた放射線画像の一例（後述する図１２乃至１４に示す放射線画像）は、図４に示すファントムを撮影して得られた放射線画像である。
【００４４】
図５は、本実施形態に係る評価システムのベース部材６の外観を示す斜視図である。図５に示すように、ベース部材６は、ファントム５のベース部１０と同様の部材、すなわち放射線Ｘの透過性を有する部材で構成されている。また、ベース部材６は、予め定められた厚さ（本実施形態では、例えば２０ｍｍ）及び大きさで形成されている。ただし、ベース部材６は、ベース部１０に金属の円板状のディスク１１及び格子状のパターン１２が設けられていない点でファントム５と異なっている。
【００４５】
なお、放射線画像を取得する際には、ファントム５の上側と下側にそれぞれベース部材６を配置した構成（以下、「構成Ｓｔ」という。）、及びベース部材６にファントム５と同等のＸ線透過率を有する厚さのベース部材６’を加えた構成（以下、「構成Ｂｅｔａ」という。）を撮影対象として撮影を行う。
【００４６】
評価装置７は、電子カセッテ４で撮影した構成Ｓｔの放射線画像を、または構成Ｓｔの放射線画像及び構成Ｂｅｔａの放射線画像の双方の放射線画像をコンソール２から取得して、取得した放射線画像を用いて電子カセッテ４の品質を評価する。評価装置７は、後述する評価処理プログラムを実行するＣＰＵ（Central Processing Unit）７ａ、ＣＰＵが処理を行う際の作業領域となるＲＡＭ（Random Access Memory）７ｂ、当該評価処理プログラムや、当該評価処理プログラムを実行するために必要な情報を記憶するＲＯＭ（Read Only Memory）７ｃ、ユーザ操作により情報を入力する入力部７ｄ、及びコンソール２から取得した放射線画像や評価結果を記憶する記憶部７ｅを備えている。
【００４７】
図６は、本実施形態に係る評価システム１において評価対象とする電子カセッテ４の外観を示す切り欠き斜視図である。
【００４８】
図６に示すように、電子カセッテ４は筐体２０を備えている。この筐体２０は、電子カセッテ４の軽量化を図るために、例えば、カーボンファイバー（炭素繊維）、アルミニウム、マグネシウム、バイオナノファイバ（セルロースミクロフィブリル）、または複合材料等で構成されている。筐体２０の内部には、放射線検出器２１及び鉛板２２が放射線Ｘの照射方向に沿ってこの順に順次積層されて配置されている。また、筐体２０の内部の一端側には、放射線Ｘの照射方向において放射線検出器２１と重ならない位置に、カセッテ制御部や電源部を収容するケース２３が配置されている。
【００４９】
図７は、本実施形態に係る評価システム１において評価対象とする電子カセッテ４に設けられた放射線検出器２１の３画素部分の構成を示す断面模式図である。その他の画素部分についても同一構成であるため図示を省略してある。
【００５０】
図７に示すように、放射線検出器２１は、絶縁性の基板２４の上に、信号出力部２５、センサ部２６、及びシンチレータ（蛍光体膜）２７が順次積層されており、各画素は、信号出力部２５、及びセンサ部２６により構成され、基板２４上に複数配列されている。シンチレータ２７は、センサ部２６の上部（基板２４と対面しない側）に透明絶縁膜２８を介して形成されていて、Ｘ線等の放射線Ｘを光に変換して発光する蛍光体を成膜したものである。放射線検出器２１において、このシンチレータ２７により入射した放射線Ｘが光に変換される。
【００５１】
なお、シンチレータ２７が発する光の波長域は、可視光域（波長３６０ｎｍ〜８３０ｎｍ）であることが好ましく、この放射線検出器３によってモノクロ撮像を可能とするためには、緑色の波長域を含んでいることがより好ましい。
【００５２】
シンチレータ２７に用いられる蛍光体としては、具体的には、放射線ＸとしてＸ線を用いて撮像する場合、ヨウ化セシウム（ＣｓＩ）を含むものが好ましく、Ｘ線照射時の発光スペクトルが４２０ｎｍ〜７００ｎｍにあるＣｓＩ（Ｔｌ）（タリウムが添加されたヨウ化セシウム）を用いることが特に好ましい。なお、ＣｓＩ（Ｔｌ）の可視光域における発光ピーク波長は５６５ｎｍである。
【００５３】
センサ部２６は、上部電極２９ａ、下部電極２９ｂ、及び当該上下の電極間に配置された光電変換膜３０を有する。光電変換膜３０は、シンチレータ２７が発光する光を吸収して電荷が発生する有機光電変換材料により構成されている。
【００５４】
上部電極２９ａは、シンチレータ２７により生じた光を光電変換膜３０に入射させる必要があるため、少なくともシンチレータ２７の発光波長に対して透明な導電性材料で構成することが好ましく、具体的には、可視光に対する透過率が高く、抵抗値が小さい透明導電性酸化物（ＴＣＯ；Transparent Conducting Oxide）を用いることが好ましい。なお、上部電極２９ａとしてＡｕなどの金属薄膜を用いることもできるが、透過率を９０％以上得ようとすると抵抗値が増大し易いため、ＴＣＯの方が好ましい。例えば、ＩＴＯ、ＩＺＯ、ＡＺＯ、ＦＴＯ、ＳｎＯ２、ＴｉＯ２、ＺｎＯ２等を好ましく用いることができ、プロセス簡易性、低抵抗性、透明性の観点からはＩＴＯが最も好ましい。なお、上部電極２９ａは、全画素で共通の一枚構成としてもよく、画素毎に分割してもよい。
【００５５】
光電変換膜３０は、有機光電変換材料を含み、シンチレータ２７により発光した光を吸収するとともに、吸収した光に応じた電荷を発生させる。このように有機光電変換材料を含む光電変換膜３０であれば、可視域にシャープな吸収スペクトルを持ち、シンチレータ２７による発光以外の電磁波が光電変換膜３０に吸収されることがほとんどなく、放射線Ｘが光電変換膜３０で吸収されることによって発生するノイズを効果的に抑制することができる。
【００５６】
光電変換膜３０を構成する有機光電変換材料は、シンチレータ２７により発光した光を最も効率よく吸収するために、その吸収ピーク波長が、シンチレータ２７の発光ピーク波長と近いほど好ましい。有機光電変換材料の吸収ピーク波長とシンチレータ２７の発光ピーク波長とが一致することが理想的であるが、双方の差が小さければシンチレータ２７により発光した光を十分に吸収することが可能である。具体的には、有機光電変換材料の吸収ピーク波長と、シンチレータ２７の放射線Ｘに対する発光ピーク波長との差が、１０ｎｍ以内であることが好ましく、５ｎｍ以内であることがより好ましい。
【００５７】
このような条件を満たすことが可能な有機光電変換材料としては、例えばキナクリドン系有機化合物及びフタロシアニン系有機化合物が挙げられる。例えばキナクリドンの可視域における吸収ピーク波長は５６０ｎｍであるため、有機光電変換材料としてキナクリドンを用い、シンチレータ２７の材料としてＣｓＩ（Ｔｌ）を用いれば、上記ピーク波長の差を５ｎｍ以内にすることが可能となり、光電変換膜３０で発生する電荷量をほぼ最大にすることができる。
【００５８】
放射線検出器２１における電磁波吸収／光電変換部位は、１対の電極２９ａ，２９ｂと、当該電極２９ａ，２９ｂ間に挟まれた有機光電変換膜３０を含む有機層により構成することができる。この有機層は、より具体的には、電磁波を吸収する部位、光電変換部位、電子輸送部位、正孔輸送部位、電子ブロッキング部位、正孔ブロッキング部位、結晶化防止部位、電極、及び層間接触改良部位等の積み重ね、もしくは混合により形成することができる。
【００５９】
上記有機層は、有機ｐ型化合物または有機ｎ型化合物を含有することが好ましい。有機ｐ型半導体（化合物）は、主に正孔輸送性有機化合物に代表されるドナー性有機半導体（化合物）であり、電子を供与しやすい性質がある有機化合物をいう。さらに詳しくは２つの有機材料を接触させて用いたときにイオン化ポテンシャルの小さい方の有機化合物をいう。したがって、ドナー性有機化合物としては、電子供与性のある有機化合物であれば、いずれの有機化合物も使用可能である。
【００６０】
有機ｎ型半導体（化合物）は、主に電子輸送性有機化合物に代表されるアクセプター性有機半導体（化合物）であり、電子を受容しやすい性質がある有機化合物をいう。さらに詳しくは、２つの有機化合物を接触させて用いたときに電子親和力の大きい方の有機化合物をいう。したがって、アクセプター性有機化合物は、電子受容性のある有機化合物であれば、いずれの有機化合物も使用可能である。
【００６１】
この有機ｐ型半導体及び有機ｎ型半導体として適用可能な材料、及び光電変換膜３０の構成については、特開２００９−３２８５４号公報において詳細に説明されているため、説明を省略する。なお、光電変換膜３０は、さらにフラーレン若しくはカーボンナノチューブを含有させて形成してもよい。
【００６２】
光電変換膜３０の厚みは、シンチレータ１３からの光を吸収する点では膜厚は大きいほど好ましいが、ある程度以上厚くなると光電変換膜３０の両端から印加されるバイアス電圧により光電変換膜３０に発生する電界の強度が低下して電荷が収集できなくなるため、３０ｎｍ以上３００ｎｍ以下が好ましく、より好ましくは、５０ｎｍ以上２５０ｎｍ以下、特に好ましくは８０ｎｍ以上２００ｎｍ以下である。
【００６３】
なお、図７に示す放射線検出器２１では、光電変換膜３０は、全画素に渡って共有される一枚構成であるが、画素毎に分割されていてもよい。また、光電変換膜３０は、有機光電変換材料を含まなくても良い。
【００６４】
下部電極２９ｂは、画素毎に分割された薄膜で構成されている。下部電極２９ｂは、透明または不透明の導電性材料で構成することができ、アルミニウム、銀等を好適に用いることができる。また、下部電極２９ｂの厚みは、例えば、３０ｎｍ以上３００ｎｍ以下とすることができる。
【００６５】
センサ部２６では、上部電極２９ａと下部電極２９ｂとの間に所定のバイアス電圧を印加することで、光電変換膜３０で発生した電荷（正孔、電子）のうちの一方を上部電極２９ａに移動させ、他方を下部電極２９ｂに移動させることができる。本実施形態の放射線検出器２１では、上部電極２９ａに配線が接続され、この配線を介してバイアス電圧が上部電極２９ａに印加される。また、バイアス電圧は、光電変換膜２９で発生した電子が上部電極２９ａに移動し、正孔が下部電極２９ｂに移動するように極性が決められているものとするが、この極性は逆であってもよい。
【００６６】
各画素を構成するセンサ部２６は、少なくとも下部電極２９ｂ、光電変換膜３０、及び上部電極２９ａを含んでいればよいが、暗電流の増加を抑制するため、電子ブロッキング膜３１及び正孔ブロッキング膜３２の少なくとも一方を設けることが好ましいが、両方を設けることが特に好ましい。
【００６７】
電子ブロッキング膜３１は、下部電極２９ｂと光電変換膜３０との間に設けることができ、下部電極２９ｂと上部電極２９ａ間にバイアス電圧を印加したときに、下部電極２９ｂから光電変換膜３０に電子が注入されて暗電流が増加してしまうのを抑制することができる。
【００６８】
電子ブロッキング膜３１には、電子供与性有機材料を用いることができる。電子ブロッキング膜３１に用いる材料は、隣接する電極の材料及び隣接する光電変換膜３０の材料等に応じて選択すればよく、隣接する電極の材料の仕事関数（Ｗｆ）より１．３ｅＶ以上電子親和力（Ｅａ）が大きく、かつ、隣接する光電変換膜３０の材料のイオン化ポテンシャル（Ｉｐ）と同等のＩｐもしくはそれより小さいＩｐを持つものが好ましい。この電子供与性有機材料として適用可能な材料については、特開２００９−３２８５４号公報において詳細に説明されているため、説明を省略する。
【００６９】
電子ブロッキング膜３１の厚みは、暗電流抑制効果を確実に発揮させるとともに、センサ部２６の光電変換効率の低下を防ぐため、１０ｎｍ以上２００ｎｍ以下が好ましく、さらに好ましくは３０ｎｍ以上１５０ｎｍ以下、特に好ましくは５０ｎｍ以上１００ｎｍ以下である。
【００７０】
正孔ブロッキング膜３２は、光電変換膜３０と上部電極２９ａとの間に設けることができ、下部電極２９ｂと上部電極２９ａ間にバイアス電圧を印加したときに、上部電極２９ａから光電変換膜３０に正孔が注入されて暗電流が増加してしまうのを抑制することができる。
【００７１】
正孔ブロッキング膜３２には、電子受容性有機材料を用いることができる。正孔ブロッキング膜１２の厚みは、暗電流抑制効果を確実に発揮させるとともに、センサ部２６の光電変換効率の低下を防ぐため、１０ｎｍ以上２００ｎｍ以下が好ましく、さらに好ましくは３０ｎｍ以上１５０ｎｍ以下、特に好ましくは５０ｎｍ以上１００ｎｍ以下である。正孔ブロッキング膜３２に用いる材料は、隣接する電極の材料及び隣接する光電変換膜３０の材料等に応じて選択すればよく、隣接する電極の材料の仕事関数（Ｗｆ）より１．３ｅＶ以上イオン化ポテンシャル（Ｉｐ）が大きく、かつ、隣接する光電変換膜３０の材料の電子親和力（Ｅａ）と同等のＥａもしくはそれより大きいＥａを持つものが好ましい。この電子受容性有機材料として適用可能な材料については、特開２００９−３２８５４号公報において詳細に説明されているため、説明を省略する。
【００７２】
なお、光電変換膜３０で発生した電荷のうち、正孔が上部電極２９ａに移動し、電子が下部電極２９ｂに移動するようにバイアス電圧を設定する場合には、電子ブロッキング膜３１と正孔ブロッキング膜３２との位置を逆に配置すればよい。
【００７３】
また、基板２４において、各画素の下部電極２９ｂに対面する側の面には上述した信号出力部２５が形成されている。信号出力部２５は、下部電極２９ｂに対応して、下部電極２９ｂに移動した電荷を蓄積するコンデンサ３３と、コンデンサ３３に蓄積された電荷を電気信号に変換して出力する電界効果型薄膜トランジスタ（Thin Film Transistor、以下、単に薄膜トランジスタという場合がある。）３４が形成されている。コンデンサ３３及び薄膜トランジスタ３４の形成された領域は、平面視において下部電極２９ｂと重なる部分を有しており、このような構成とすることで、各画素における信号出力部２５とセンサ部２６とが厚さ方向で重なりを有することとなる。なお、放射線検出器２１（画素）の平面積を最小にするために、コンデンサ３３及び薄膜トランジスタ３４の形成された領域が下部電極２９ｂによって完全に覆われていることが望ましい。
【００７４】
コンデンサ３３は、基板２４と下部電極２９ｂとの間に設けられた絶縁膜３５を貫通して形成された導電性材料の配線を介して対応する下部電極２９ｂと電気的に接続されている。これにより、下部電極２９ｂで捕集された電荷をコンデンサ３３に移動させることができる。
【００７５】
薄膜トランジスタ３４は、図示しないゲート電極、ゲート絶縁膜、及び活性層（チャネル層）が積層され、さらに、活性層上にソース電極とドレイン電極が所定の間隔を開けて形成されている。また、基板２４には、絶縁性を確保するための絶縁層、水分や酸素の透過を防止するためのガスバリア層、平坦性あるいは電極等との密着性を向上するためのアンダーコート層等を設けてもよい。
【００７６】
このように、基板２４、絶縁膜３５、下部電極２９ｂ、電子ブロッキング膜３１、光電変換膜３０、正孔ブロッキング膜３２、上部電極２９ａ、及び透明絶縁膜２８が順次積層されることにより、ＴＦＴ基板であるセンサ基板３６が形成されている。なお、電子ブロッキング膜３１及び正孔ブロッキング膜３２の少なくとも一方は、不要な場合には設けなくて良い。
【００７７】
図８は、本実施形態に係る評価システム１において評価対象とする電子カセッテ４の電気系の要部構成を示す構成図である。
【００７８】
図８に示すように、電子カセッテ４に内蔵された放射線検出器２１は、隣り合う２辺の一辺側にゲート線ドライバ４０が配置され、他辺側に信号処理部４１が配置されている。センサ基板３６の個々のゲート配線４２はゲート線ドライバ４０に接続され、センサ基板３６の個々のデータ配線４３は信号処理部４１に接続されている。
【００７９】
センサ基板３６の各薄膜トランジスタ３４は、ゲート線ドライバ４０からゲート配線４２を介して供給される信号により行単位で順にオンされ、オン状態とされた薄膜トランジスタ３４によって読み出された電荷は、電気信号としてデータ配線４３を伝送されて信号処理部４１に入力される。これにより、電荷は行単位で順に読み出され、二次元状の放射線画像が取得可能となる。
【００８０】
図示は省略するが、信号処理部４１は、個々のデータ配線４３毎に、入力される電気信号を増幅する増幅回路およびサンプルホールド回路を備えており、個々のデータ配線４３を伝送された電気信号は増幅回路で増幅された後にサンプルホールド回路に保持される。また、サンプルホールド回路の出力側にはマルチプレクサ、Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換器が順に接続されており、個々のサンプルホールド回路に保持された電気信号はマルチプレクサに順に（シリアルに）入力され、Ａ／Ｄ変換器によってデジタルの画像データへ変換される。
【００８１】
信号処理部４１には画像メモリ４４が接続されており、信号処理部４１のＡ／Ｄ変換器から出力された画像データは画像メモリ４４に順次記憶される。画像メモリ４４は所定枚分の画像データを記憶可能な記憶容量を有しており、放射線画像の撮影が行われる毎に、撮影によって得られた画像データが画像メモリ４４に記憶される。
【００８２】
画像メモリ４４はカセッテ制御部４５と接続されている。カセッテ制御部４５はマイクロコンピュータを含んで構成され、ＣＰＵ４６と、記録媒体としてのＲＯＭ及びＲＡＭを含むメモリ４７と、フラッシュメモリ等からなる不揮発性の記憶部４８とを備えており、電子カセッテ１全体の動作を総括的に制御する。
【００８３】
さらに、カセッテ制御部４５には無線通信部４９接続されている。無線通信部４９は、ＩＥＥＥ（Institute of Electrical and Electronics Engineers）８０２．１１ａ／ｂ／ｇ等に代表される無線ＬＡＮ（Local Area Network）規格に対応しており、無線通信による外部機器との間での各種情報の伝送を制御する。カセッテ制御部４５は、無線通信部４９を介して、コンソールなどの外部装置と無線通信が可能とされており、外部装置との間で各種情報の送受信が可能とされている。
【００８４】
ところで、本実施形態に係る評価システム１では、評価装置７が電子カセッテ４の品質を評価する際に、始めに、事前評価処理としての第１評価処理として、同一の撮影条件によって撮影された複数枚（本実施形態では、例えば８枚）の構成Ｓｔの放射線画像を用いて評価し、電子カセッテ４の品質について合格（予め定められた条件を満たしている）か不合格（予め定められた条件を満たしていない）かの判定を行う。当該第１評価処理で不合格と判定された場合には、評価装置７は、第１評価処理よりも検出精度の高い第２評価処理で評価をさらに行うことで、電子カセッテ４の品質を高精度に評価することができる。
【００８５】
上記第２評価処理では、同一の撮影条件によって撮影された数百枚〜千枚の構成Ｓｔの放射線画像（以下、「ファントム画像」ともいう。）を用いて評価する。撮影枚数が多ければ多いほど検出精度が向上するからである。しかしながら、上述したように、数百枚〜千枚の放射線画像を撮影することは現実的に難しいため、本実施形態では、第２評価処理として、複数枚（本実施形態では、８枚）の構成Ｓｔの放射線画像を撮影するとともに、複数枚（本実施形態では、４枚）の構成Ｂｅｔａの放射線画像（以下、「ベタ画像」ともいう。）を撮影し、ベタ画像を複数種類に移動または変形（本実施形態では、移動させた場合について説明する。）させた上でファントム画像のいずれか１枚とベタ画像のいずれか１枚とをそれぞれ組み合わせて合成することにより、数百枚〜千枚の構成Ｓｔの放射線画像を擬似的に作成して、これを用いて電子カセッテ４の品質を評価する。なお、計算上では、上記のようにベタ画像を各々異なる方法で移動または変形させた上でファントム画像に合成した合成画像を複数作成することで、数百枚〜千枚の構成Ｓｔの放射線画像を撮影した場合と同様の結果が得られる。
【００８６】
例えば４８枚の構成Ｓｔの放射線画像を用いて評価を行った場合には、直径０．１ｍｍ、厚さ１μｍのディスク１１に対して、評価のばらつきを示す変動係数σはσ＝±８〜１０％と考えられる（非特許文献１参照）。放射線Ｘの曝射線量、線質、ＩＰ（放射線画像変換パネル）、読取装置の特性、放射線発生装置３の特性、及びファントム５の個体差等によって評価結果は変化する。それらの要因による評価結果の差異は５％程度以下である場合がある。したがって、放射線画像の枚数が８枚の場合の評価精度では不十分であり、変動係数σ＝±１％程度の精度が必要となる。
【００８７】
しかし、ばらつきσ＝±１％とするには５１２〜８００枚の放射線画像で評価する必要があり、この枚数の放射線画像を取得するための画像取得時間が一般的に１５時間程度必要となる。
【００８８】
そこで、本実施形態では、第２評価処理において、画像取得時間を短縮しつつ評価精度をばらつきσ＝±１％とする方法として下記の（１）乃至（３）を採用した。
（１）ファントム５の上側と下側にそれぞれベース部材６を配置した構成（構成Ｓｔ）に対する第１評価処理での曝射線量より大きな曝射線量で撮影する。
（２）大きな線量で撮影することで改善されたＳ／Ｎ（信号雑音比）を第１評価処理時と同等の値へ変化させるために、ファントム画像にベタ画像を加算した画像を用いてディスク１１の検出を行う。
（３）ベタ画像を平行移動させた移動ベタ画像を複数生成して当該移動ベタ画像とファントム画像とをそれぞれ合成することで、画像取得時間を短縮する。
【００８９】
第２評価処理では、検出精度を上げるために、構成Ｓｔの放射線Ｘの曝射線量を、第１評価処理の放射線Ｘの曝射線量より大きな曝射線量とする。そして第２評価処理において放射線Ｘの曝射線量を大きくして撮影することで改善されたＳ／Ｎを、第１評価処理と同等のＳ／Ｎとするために、ファントム画像にベタ画像を加算した画像を用いて検出を行う。
【００９０】
なお、第２評価処理での曝射線量を第１評価処理での曝射線量より大きくするには、曝射時間を一定として第２評価処理での管電流を第１評価処理での管電流より大きくする、管電流を一定として第２評価処理での曝射時間を第１評価処理での曝射時間より大きくする、または第２評価処理での管電流及び曝射時間を第１評価処理での管電流及び曝射時間より大きくする等の方法がある。
【００９１】
第１評価処理で構成Ｓｔの曝射線量をｑとして取得した画像Ａと、構成Ｓｔの曝射線量をα×ｑとして取得したファントム画像に、構成Ｂｅｔａの曝射線量をβ×ｑとして取得したベタ画像を加算して作成した画像Ｂについて、ディスク１１の検出結果が画像Ａと画像Ｂで等しくなるときのαとβの関係式は下記に示す式（２）となる。なお、当該関係式の導出方法については後述する。
【数２】
2013198664.tif 000004
【００９２】
次に、本実施形態に係る評価システム１の作用について説明する。
【００９３】
図９乃至１１は、本実施形態に係る評価処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。評価装置７のＣＰＵ７ａは、評価処理として、第１評価処理及び第２評価処理を行う。図９は、第１評価処理を行う第１評価処理プログラムの処理の流れを示すフローチャート、図１０及び１１は、第２評価処理を行う第２評価処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。それぞれのプログラムは評価装置７に備えられた記録媒体であるＲＯＭ７ｃの所定領域に予め記憶されている。ＣＰＵ７ａは、予め定められたタイミング（本実施形態では、実行する旨の指示入力が評価装置７の入力部７ｄから行なわれたタイミング）で、当該評価処理プログラム（第１評価処理プログラム及び第２評価処理プログラムを含む）を実行する。
【００９４】
始めに、図９に示すフローチャートに基づいて第１評価処理について説明する。ユーザは、評価システム１による電子カセッテ４の品質の評価を開始する際、例えば、電子カセッテ４の予め定められた位置（ファントム５全体が電子カセッテ４の撮影領域に含まれる位置）に構成Ｓｔを設置する。
【００９５】
ステップＳ１０１において構成Ｓｔが設置された後、ステップＳ１０３において、ＣＰＵ７ａは、構成Ｓｔ及び電子カセッテ４に曝射する放射線Ｘの曝射線量等を示す撮影条件を設定する。この際の撮影条件は、ユーザにより入力部７ｄを介して入力された撮影条件か、第１評価処理プログラムにおいて予め設定されている撮影条件か、または第１評価処理プログラムにおいて予め選択肢として組み込まれている撮影条件のうちユーザにより入力部７ｄを介して選択された撮影条件であっても良い。
【００９６】
ステップＳ１０５において、ＣＰＵ７ａは、放射線発生装置３に放射線Ｘを発生させて、設定された撮影条件で構成Ｓｔに放射線Ｘを曝射させ、電子カセッテ４により構成Ｓｔの放射線画像を撮影する。また、ステップＳ１０７において、ＣＰＵ７ａは、ステップＳ１０５で撮影された放射線画像を示す放射線画像情報を電子カセッテ４から取得して、記憶部７ｅに記憶する。
【００９７】
ステップＳ１０９において、ＣＰＵ７ａは、必要な回数（本実施形態では、８回）の撮影（ステップＳ１０５における撮影）が完了したか否かを判定する。必要な回数の撮影が完了していないと判定された場合は、ＣＰＵ７ａは、予め定められた回数の撮影が完了するまでステップＳ１０５乃至Ｓ１０９の処理を繰り返す。放射線画像の撮影を繰り返す際に、放射線発生装置３による放射線Ｘの発生のオン／オフ状態を切り替えても良く、あるいは、放射線発生装置３による放射線Ｘの発生を継続させつつ、電子カセッテ４において放射線Ｘの曝射線量に応じて１枚の放射線画像の撮影を終了させて次の放射線画像の撮影を開始するようにしても良い。
【００９８】
ここで、ファントム５にはμｍ単位の微小な複数のディスク１１が設けられているが、各々のディスク１１が必ずしも設計通りの形状に形成されているとは限らない。各ファントム５の間でディスク１１の形状が設計と異なっていた場合には、電子カセッテ４によりファントム５が高精度に撮影できていたとしても、ファントム画像を用いた評価結果は同一装置であってもファントム毎に異なる。
【００９９】
そこで、評価装置７は、ファントム５に設けられたディスク１１の各々の形状を補正するためのファントム補正データを予め記憶部７ｅに記憶している。なお、このファントム補正データは、ファントム個体差による評価結果の差異を小さくするためのデータとして予めファントム毎にＣＤＲＯＭ等の記録媒体に記録されている。また、この記録媒体には、格子状のパターン１２によって区切られた最小単位の枠内の位置に対応させて、当該枠内に存在するディスク１１の当該枠内における位置、このディスク１１の直径、及びこのディスク１１の厚みを示す情報がディスクデータとして記録されている。記憶部７ｅには、記録媒体に記録されたこれらのデータが記憶される。
【０１００】
ステップＳ１０９において予め定められた回数の撮影が完了したと判定されると、ステップＳ１１１において、ＣＰＵ７ａは、ファントム５に対応するファントム補正データを取得する。なお、この際の取得方法は、ファントム補正データを記憶部７ｅから取得する方法に限定されず、記憶媒体から取得する方法や電気通信により外部から取得する方法であっても良い。
【０１０１】
ステップＳ１１３において、ＣＰＵ７ａは、ステップＳ１０７にて記憶された予め定められた枚数（本実施形態では、８枚）の撮影画像、及びステップＳ１１１にて取得したファントム補正データを用いて、電子カセッテ４の評価値を算出する。この際の評価値は、以下に説明する算出方法により算出される。
【０１０２】
図１２は、評価値の算出方法の説明に供する図である。本実施形態では、図１２に示すように、ファントム５の放射線画像において、格子状のパターン１２により区切られた最小単位の枠内の領域１２ａにおいて、格子状のパターン１２により区切られた最小単位の枠内に存在するディスク１１と同一形状の検索領域（ウィンド）Ｒを１画素ずつずらしながら、各々の位置で検索領域Ｒ内の画素値の平均値を求め、平均値が最も小さい検索領域Ｒをこの枠内におけるディスク存在領域と判定する。格子状のパターン１２により区切られた最小単位の枠内に存在するディスク１１が撮影できている場合、ディスク１１によって放射線Ｘが遮断されるので、平均値が最も小さい検索領域Ｒがファントム５の放射線画像において当該ディスク１１に対応する領域１１ａに対応するからである。
【０１０３】
ＣＰＵ７ａは、ディスク存在領域と判定された領域と記憶部７ａに記憶されているディスクデータとを比較し、ディスク存在領域と判定された検索領域Ｒが、ファントム５においてディスク１１が実際に設けられている領域と一致（又は略一致）していれば「１」と判定し、一致（又は略一致）していなければ「０」と判定する。ファントム５には、直径及び厚みが異なる複数のディスク１１が設けられているので、撮影した複数枚の放射線画像のうち、当該直径で当該厚みのディスク１１について「１」と判定される確率が所定％以上である場合に、当該直径で当該厚みのディスク１１は官能評価で視認可能であると判定される。そして、各々の直径に対して撮影可能な最小限のディスク１１の厚みが、評価値として導出される。
【０１０４】
ＣＰＵ７ａは、電子カセッテ４の評価値を算出すると、ステップＳ１１５において、算出された評価値が予め定められた判定基準を満たしているか否かを判定する。当該予め定められた判定基準は、ユーザにより入力部７ｄを介して入力され記憶部７ｅに記憶されていても良く、第１評価処理プログラムにより予め設定されていても良い。
【０１０５】
ステップＳ１１５において評価値が予め定められた条件を満たしていると判定された場合は、ステップＳ１１７において、ＣＰＵ７ａは、電子カセッテ４の判定結果を合格とする。そして、ＣＰＵ７ａは、ステップＳ１１７において、当該判定結果を示す情報を記憶部７ｅに記憶して、評価処理プログラムを終了する。なお、判定結果を示す情報には、ステップＳ１０７にて記憶された放射線画像を示す情報、ステップＳ１１３にて算出された評価値を示す情報が含まれていても良い。この場合の評価値は、上述したように、各々の直径に対して撮影可能な最小限のディスク１１の厚みを示す数値でも良く、電子カセッテ４の撮影画像において表現可能なコントラストがパーセンテージで示された数値であっても良く、あるいは、それらの双方の数値であっても良い。
【０１０６】
一方、ステップＳ１１５において評価値が予め定められた条件を満たしていないと判定された場合は、ステップＳ１２１において、ＣＰＵ７ａは、電子カセッテ４の判定結果を不合格とする。そして、ＣＰＵ７ａは、引き続き第２評価処理を行う。
【０１０７】
ここで、図１０に示すフローチャートに基づいて第２評価処理について説明する。
【０１０８】
第２評価処理では、まず、ステップＳ２０１において、ステップＳ１０１と同様に、ユーザは、電子カセッテ４に構成Ｓｔを設置する。なお、第１評価処理で電子カセッテ４に構成Ｓｔを設置し、そのままの状態であった場合、ステップＳ１０１の処理を省略しても良い。
【０１０９】
ステップＳ２０１において構成Ｓｔが設置された後、ステップＳ２０３において、ＣＰＵ７ａは、電子カセッテ４に構成Ｓｔの撮影用の撮影条件を設定する。この際の構成Ｓｔの撮影条件は、第１評価処理プログラムにおいて予め設定されている撮影条件に基づいて以下のように設定される。第１評価処理プログラムにおいて予め設定されている撮影条件における放射線Ｘの曝射線量（第１評価処理プログラムのステップＳ１０３において曝射線量）がｑであった場合、ステップＳ２０３における放射線Ｘの曝射線量は、α×ｑ（α＞１）に設定される。なお、係数αは大きければ大きいほど良く、放射線発生装置３により発生可能な最大限の曝射線量が設定される。
【０１１０】
撮影条件が設定されると、ステップＳ２０５において、ＣＰＵ７ａは、放射線発生装置３に放射線Ｘを発生させて構成Ｓｔに当該放射線Ｘを照射し、電子カセッテ４によりファントム画像を撮影する。また、ステップＳ２０７において、ＣＰＵ７ａは、ステップＳ２０５で撮影された放射線画像を示す放射線画像情報を電子カセッテ４から取得して、評価装置７の記憶部７ｅに記憶する。
【０１１１】
ステップＳ２０８において、ＣＰＵ７ａは、ステップＳ１０９と同様に、予め定められた回数（本実施形態では、８回）の撮影（ステップＳ２０５における撮影）が完了したか否かを判定し、予め定められた回数の撮影が完了するまでステップＳ２０５乃至Ｓ２０８の処理を繰り返す。
【０１１２】
次に、ステップＳ２０９において、ユーザは、電子カセッテ４に構成Ｂｅｔａが設置する。ユーザは、電子カセッテ４の予め定められた位置（構成Ｓｔの設置位置と略同一の位置）に構成Ｂｅｔａを設置する。本実施形態では、ＣＰＵ７ａは、入力部７ｄを介する当該操作入力が行われた場合に構成Ｂｅｔａが設置されたと判定する。
【０１１３】
ステップＳ２０９において構成Ｂｅｔａが設置された後、ステップＳ２１１において、ＣＰＵ７ａは、電子カセッテ４に構成Ｂｅｔａの撮影用の撮影条件を設定する。この際の構成Ｂｅｔａの撮影条件は、ステップＳ２０３において構成Ｓｔの撮影条件を設定する場合と同様に、第１評価処理プログラムにおいて予め設定されている撮影条件に基づいて以下のように設定される。第１評価処理プログラムにおいて予め設定されている撮影条件における放射線Ｘの曝射線量（第１評価処理プログラムのステップＳ１０３において曝射線量）がｑであった場合、ステップＳ２１１における放射線Ｘの曝射線量は、β×ｑ（β＞１）に設定される。なお、この際の係数βは、上記式（２）を満たすように決定される。
【０１１４】
撮影条件が設定されると、ステップＳ２１３において、ＣＰＵ７ａは、放射線発生装置３に放射線Ｘを発生させて構成Ｂｅｔａに放射線Ｘを照射し、電子カセッテ４により構成Ｂｅｔａの放射線画像を撮影する。また、ステップＳ２１５において、ＣＰＵ７ａは、ステップＳ２１３で撮影された放射線画像を示す放射線画像情報を電子カセッテ４から取得して、記憶部７ｅに記憶する。
【０１１５】
ステップＳ２１６において、ＣＰＵ７ａは、ステップＳ１０９と同様に、予め定められた回数（本実施形態では、４回）の撮影（ステップＳ２１３における撮影）が完了したか否かを判定し、予め定められた回数の撮影が完了するまでステップＳ２１３乃至Ｓ２１６の処理を繰り返す。
【０１１６】
ステップＳ２１７において、ＣＰＵ７ａは、ステップＳ２０５にて撮影したファントム画像とステップＳ２１３にて撮影したベタ画像との合成画像を生成する合成画像生成処理を行う。
【０１１７】
ここで、図１１に示すフローチャートに基づいて合成画像生成処理について説明する。
【０１１８】
評価装置７は、ベタ画像を主方向（ベース部１０の短手方向；図３（Ａ）に示すＸ軸方向）及び副方向（ベース部１０の長手方向；図３（Ａ）に示すＹ軸方向）にそれぞれ別々に所定距離（本実施形態では、１ｍｍ）ずつ平行移動させた放射線画像をそれぞれ移動ベタ画像として複数枚作成する。
【０１１９】
まず、ステップＳ３０１において、ＣＰＵ７ａは、ベタ画像における各画素の画素値をそれぞれ主方向に所定画素数だけ平行移動するように移動させることにより、複数種類の移動ベタ画像を作成する。なお、ＣＰＵ７ａは、当該移動ベタ画像を生成する処理を、各々のベタ画像について行う。
【０１２０】
ステップＳ３０３において、ＣＰＵ７ａは、ベタ画像における各画素の画素値をそれぞれ副方向に所定画素数だけ平行移動するように移動させることにより、複数種類の移動ベタ画像を生成する。なお、ＣＰＵ７ａは、当該移動ベタ画像を生成する処理を、各々のベタ画像について行う。
【０１２１】
ステップＳ３０５において、ＣＰＵ７ａは、ファントム画像のうちのいずれか１枚に対して、ベタ画像、またはステップＳ３０１あるいはＳ３０３にて移動した移動ベタ画像のいずれか１枚を合成して合成画像を作成する。なお、ＣＰＵ７ａは、当該合成画像を作成する処理を、全てのファントム画像が全てのベタ画像及び移動ベタ画像に対して合成されるように合成処理を行う。また、ファントム画像とベタ画像の合成する際の画素値Ｘi,jは、ファントム画像の画素値ｆi,j、ベタ画像の画素値ｂi,j、ベタ画像の画素値の平均値ｂａとすると、下記の式（３）で求められる。
【数３】
2013198664.tif 000005
なお、画素値をリニアとした場合は対数で計算する。
【０１２２】
本実施形態では、第２評価処理においてベタ画像を移動させる際に、格子状のパターン１２とベタ画像のエッジとが重ならない範囲内でベタ画像を所定距離ずつ平行移動させる。１枚のベタ画像が主方向にｋ回平行移動可能で、かつ副方向にｈ回平行移動可能であった場合、評価装置７は、ベタ画像１枚を主方向にｋ回平行移動させ、副方向にｈ回平行移動させることによりｋ×ｈ枚の画像を作成することができる。よって、ベタ画像１枚から、平行移動させないベタ画像（撮影されたままの状態のベタ画像）を含め、（ｋ×ｈ＋１）枚のベタ画像を用いることができる。さらに、ファントム画像をｍ枚、ベタ画像をｎ枚撮影した場合、ファントム画像とベタ画像とを各々１枚ずつ選んで合成することを複数回行うことで、ファントム画像とベタ画像との全ての組み合わせについて合成し、計（ｍ×（ｎ×（ｋ×ｈ＋１））枚の合成画像を生成することができる。
【０１２３】
具体的には、本実施形態では、格子状のパターン１２とベタ画像のエッジとが重ならないようにベタ画像を１ｍｍずつ平行移動させる場合に主方向に６ｍｍ平行移動可能であり、副方向にも同様に１ｍｍずつ平行移動させた場合に副方向に±２ｍｍ平行移動可能であった場合を例に挙げると、この場合には、評価装置７は、ベタ画像１枚を主方向に６回平行移動させ、副方向に４回（プラス方向に２回、マイナス方向に２回）平行移動させることにより２４枚の画像を作成することができる。よって、ベタ画像１枚から、平行移動させないベタ画像（撮影されたままの状態のベタ画像）を含め、２５枚のベタ画像を作成することができる。よって、本実施形態で、ファントム画像を８枚、ベタ画像を４枚撮影するため、ファントム画像とベタ画像とを各々１枚ずつ全ての組み合わせで合成した場合、計８００枚 （ ８枚×（４枚×２５枚））の合成画像を生成することができる。
【０１２４】
このように、本実施形態に係る評価システム１では、例えば第１評価処理で８枚のファントム画像で評価を行い不合格となった場合に、第２評価処理で８００枚の合成画像を用いて評価を行うことで、電子カセッテ４の品質を高精度に評価することができる。
【０１２５】
図１３は、本実施形態に係る評価システムにおけるファントム画像の一例を示す図である。また、図１４は、本実施形態に係る評価システムにおけるベタ画像の一例を示す図である。
【０１２６】
図１３に示すように、ファントム画像には格子状のパターン１２が目視できる程度に撮影されていることが理解できる。また、ファントム画像には、目視では確認し難いが、複数のディスク１１のうちの一部が撮影されている。一方、図１４に示すように、ベタ画像には、目視で確認できる物体が撮影されていないことが理解できる。
【０１２７】
図１５（Ａ）は、ベタ画像５ａを主方向に平行移動させた上でファントム画像６ａと合成する概略図であり、図１５（Ｂ）は、ベタ画像５ａを副方向に平行移動させた上でファントム画像６ａと合成する概略図であり、図１５（Ｃ）は、ベタ画像５ａを主方向に平行移動させた上でファントム画像６ａと合成した合成画像であり、図１５（Ｄ）は、ベタ画像５ａを副方向に平行移動させた上でファントム画像６ａと合成した合成画像である。図１５（Ａ）及び（Ｂ）に示すようにベタ画像６ａをファントム画像５ａに対して平行移動させた上でファントム画像５ａとベタ画像６ａとを合成すると、図１５（Ｃ）及び図１５（Ｄ）に示すような放射線画像が撮影される。
【０１２８】
ステップＳ２１９において、ＣＰＵ７ａは、ステップＳ１１３と同様の手法で、ステップＳ３０５にて生成した合成画像から評価値を算出する。
【０１２９】
ステップＳ２２１において、ＣＰＵ７ａは、記憶部７ｅに記憶された換算テーブルを用いて、ステップＳ２１９にて算出した第２評価処理における評価値を、第１評価処理における評価値に換算する。
【０１３０】
第２評価処理の評価結果と第１評価処理の評価結果とが同等となるように第２評価処理による評価結果を第１評価処理による評価結果に換算するための下記の表に示すような換算テーブルを事前に作成して記憶部７ｅに記憶しておくことで、この換算テーブルを用いて第２評価処理の評価結果を第１評価処理の評価結果に換算する。この換算テーブルは、第１評価処理の際の撮影条件、及び第１評価処理と第２評価処理との検出値等に基づいて作成される。
【０１３１】
【表１】
2013198664.tif 000006
【０１３２】
上述したように、第２評価処理の判定結果は、第１評価処理の判定結果に比較して検出精度が高い。よって、「第１評価処理であれば、ａｍｍまで誤差±Δａで読影可能である」と判定された場合であっても、第２評価処理で「この撮影装置は ａｍｍまでの誤差±Δｂ（Δａ＜Δｂ）まで読影可能である」と判定することができる。すなわち、検出精度の高い第２評価処理により読影可能な厚みａｍｍの信頼性が高くなる。
【０１３３】
ステップＳ２２３において、ＣＰＵ７ａは、ステップＳ２２１にて換算された評価値を示す情報を記憶部７ｅに記憶する。なお、換算された評価値を示す情報には、ステップＳ２１７にて合成された放射線画像を示す情報、ステップＳ２１９にて算出された第２評価処理における評価値を示す情報が含まれていても良い。
【０１３４】
ここで、上述した係数α及び係数βの決定方法について説明する。
【０１３５】
図１６（Ａ）は、本実施形態に係る評価システム１のファントム５における位置と高さとの関係を示す図であり、図１６（Ｂ）は、本実施形態に係る評価システム１のファントム画像における位置と出力信号との関係を示す図である。
【０１３６】
結果関係式の導出の仕方について説明する。線量ｑで曝射した場合、信号処理部４１に出力される出力Ｏｎは、
【数４】
2013198664.tif 000007
となる。
【０１３７】
ここで、ノイズをδＯｎと表記する。ノイズは量子ノイズ（本実施形態では、Ｘ線量子ノイズ）が支配的であり、量子ノイズは式（５）の右辺で表される。また、一次関数ｙ＝ｆ（ｘ） のばらつきδｙは下記に示す式（６）となる。
【数５】
2013198664.tif 000008
【０１３８】
構成Ｓｔの評価１における曝射線量をｑとする。また、評価２における構成Ｓｔの曝射線量をα×ｑ、構成Ｂｅｔａの曝射線量をβ×ｑとする。評価２のファントム画像とベタ画像の合成画像のＳ／Ｎが評価１で取得した画像のＳ／Ｎと同等となるときのαとβの関係式を求める。曝射線量をα×ｑとして構成Ｓｔを曝射した場合、読取装置出力Ｏcdは
【数６】
2013198664.tif 000009
となる。
【０１３９】
また、曝射線量をβ×ｑとして構成Ｂｅｔａを曝射した場合、読取装置出力Ｏbetaは
【数７】
2013198664.tif 000010
となる。
【０１４０】
図１６（Ａ）に示すディスク１１の領域 ａ＜ｘ＜ｂにおける、図１６（Ｂ）に示す信号処理部４１に出力される出力Ｏtは、ＯcdとＯbetaを加算した場合、下記の（１１）式で表される。
【数８】
2013198664.tif 000011
【０１４１】
上記より、評価２のファントム画像とベタ画像との合成画像のＳ／Ｎを評価１で取得したファントム画像とベタ画像のＳ／Ｎと同等とするためには、
【数９】
2013198664.tif 000012
となるようにαとβを決定すればよい。
【０１４２】
ここで、
【数１０】
2013198664.tif 000013
なので、
【数１１】
2013198664.tif 000014
となるようにαとβを決定すれば良いことになる。
【０１４３】
図１７は、本実施形態に係る評価システム１において、上記（１５）式から求まる係数α及び係数βの具体的な値を例として示す表である。
【０１４４】
なお、実施形態に係る評価システム１では、第２評価処理において合成画像を生成する際にベタ画像を移動させて移動ベタ画像を生成するが、これに限定されず、ファントム画像を移動させても良い。この場合にも同様に、第２評価処理においてファントム画像を移動させる際に、格子状のパターン１２とベタ画像のエッジとが重ならない範囲内でファントム画像を所定距離ずつ移動させる。
【０１４５】
図１８（Ａ）乃至（Ｃ）は、実施形態に係る評価システム１においてベタ画像を移動または変形させる方法の別例を示す図である。実施形態に係る評価システム１では、合成画像を生成する際にベタ画像をＸ軸方向及びＹ軸方向のいずれか一方に平行移動させるが、これに限定されず、図１８（Ａ）に示すように、ベタ画像６ａをファントム画像５ａに対してＸ軸方向またはＹ軸方向に対して斜め方向に平行移動させても良く、ベタ画像６ａをファントム画像５ａに対して回転移動させても良い。または、ファントム画像をベタ画像に対してＸ軸方向またはＹ軸方向に対して斜め方向に平行移動させても良く、ファントム画像をベタ画像に対して回転移動させても良い。これらの場合にも同様に、第２評価処理においてファントム画像またはベタ画像を移動させる際に、格子状のパターン１２とベタ画像のエッジとが重ならない範囲内でファントム画像またはベタ画像を移動させる。
【０１４６】
また、ステップＳ３０１及びＳ３０３において、ベタ画像を平行移動ではなく回転移動を行っても良く、平行移動及び回転移動の双方の移動を行っても良い。さらに、ステップＳ３０１及びＳ３０３においてベタ画像のみでなくファントム画像についても平行移動または回転移動を行い、ステップＳ３０５においてファントム画像とベタ画像とを合成する際に、移動させたファントム画像と移動させたベタ画像とを合成させても良い。
【０１４７】
図１８（Ｂ）に示すように、ベタ画像６ａの各画素における画素値を、当該画素が存在する領域毎に異なる方向に移動させることによりベタ画像を変形させた変形ベタ画像６ｂを生成した上で、図１８（Ｃ）に示すように、変形ベタ画像６ｂをファントム画像５ａに合成しても良い。なお、ベタ画像の変形方法は、この方法に限定されない。すなわち、ファントム画像における、ファントム５の複数のディスク１１及び格子状のパターン１２に対応する領域の全領域に対して、ベタ画像が合成されれば良い。そのため、この条件を満たしていれば、ベタ画像を拡大また縮小しても良く、あるいはアフィン変換しても良い。
【０１４８】
また、ステップＳ３０１及びＳ３０３においてベタ画像を平行移動、回転移動または変形させてファントム画像を平行移動または回転移動させ、ステップＳ３０５においてファントム画像とベタ画像とを合成する際に、移動させたファントム画像と移動または変形させたベタ画像とを合成させても良い。
【０１４９】
また、実施形態に係る評価システム１では、第１評価処理でファントム画像を８枚撮影して８枚のファントム画像を用いて電子カセッテ４の品質を評価するが、ファントム画像の枚数はこれに限定されず、ファントム画像を１枚撮影して１枚のファントム画像を用いて電子カセッテ４の品質を評価しても良く、または、ファントム画像を複数枚撮影して複数枚のファントム画像を用いて電子カセッテ４の品質を評価しても良い。
【０１５０】
また、実施形態に係る評価システム１では、評価装置７が上述した第１評価処理及び第２評価処理を行うが、これに限定されず、コンソール２が第１評価処理及び第２評価処理を行うようにしても良い。
【符号の説明】
【０１５１】
１…評価システム，２…コンソール，３…放射線発生装置，４…電子カセッテ，５…ファントム，６…ベース部材，７…評価装置，７ａ…ＣＰＵ，７ｂ…ＲＡＭ，７ｃ…ＲＯＭ，７ｄ…入力部，７ｅ…記憶部，８…外部ケーブル，１０…ベース部，１１…ディスク，１１ａ…ディスクに対応する領域，１２…格子状のパターン，１２ａ…格子状のパターンに対応する領域，２０…筐体，２１…放射線検出器，２２…鉛板，２３…ケース，２４…基板，２５…信号出力部，２６…センサ部，２７…シンチレータ，２８…透明絶縁膜，２９ａ…上部電極，２９ｂ…下部電極，３０…光電変換膜，３１…電子ブロッキング膜，３２…正孔ブロッキング膜，３３…コンデンサ，３４…薄膜トランジスタ，３５…絶縁膜，３６…センサ基板，４０…ゲート線ドライバ，４１…信号処理部，４２…ゲート配線，４３…データ配線，４４…画像メモリ，４５…カセッテ制御部，４６…ＣＰＵ，４７…メモリ，４８…記憶部，４９…無線通信部，Ｘ…放射線。
【図１】
2013198664.tif 000016
【図２】
2013198664.tif 000017
【図３】
2013198664.tif 000018
【図５】
2013198664.tif 000019
【図６】
2013198664.tif 000020
【図７】
2013198664.tif 000021
【図８】
2013198664.tif 000022
【図９】
2013198664.tif 000023
【図１０】
2013198664.tif 000024
【図１１】
2013198664.tif 000025
【図１２】
2013198664.tif 000026
【図１６】
2013198664.tif 000027
【図１７】
2013198664.tif 000028
【図１８】
2013198664.tif 000029
【図４】
2013198664.tif 000030
【図１３】
2013198664.tif 000031
【図１４】
2013198664.tif 000032
【図１５】
2013198664.tif 000033