(57)【要約】【課題】１つの撮像部によって弾性変形領域から塑性変形領域までの十分な測定範囲を確保しつつ、少なくとも弾性変形領域での歪みを高精度に測定することができる非接触型歪み測定装置、及び非接触型歪み測定方法を提供することを課題とする。【解決手段】本発明は、撮像部３によって取得された試験片２の画像データにおいて撮像部３の撮像視野６内の２つの標点Ｍ１、Ｍ２を演算データとして用いて試験片２の歪みに関する所定の物理量εを求め、演算用データとして用いていた２つの標点Ｍ１、Ｍ２の少なくとも一方が所定の設定領域に到達したとき、又は前記２つの標点領域の位置に基づく値が所定の設定値に達したときに、前記演算用データとして用いる標点２３を当該撮像視野６内に在る２つの標点Ｍ３、Ｍ４に切り換え、これら切り換えられた２つの標点Ｍ３、Ｍ４から前記所定の物理量εを求めることを特徴とする。【選択図】図２
2013221778.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
表面に複数の標点が設けられた試験片における当該試験片の歪みに関する所定の物理量を非接触で測定する非接触型歪み測定装置であって、
前記試験片を撮像する撮像部と、
前記撮像部によって取得した前記試験片の画像データにおいて、１又は複数の標点を含む標点領域であって前記撮像部の撮像視野内の２つの標点領域を演算データとして用いることによって前記所定の物理量を求める測定値演算部と、を備え、
前記測定値演算部は、前記所定の物理量を求めるために演算データとして用いていた前記２つの標点領域の少なくとも一方が所定の設定領域に到達したとき、又は前記２つの標点領域の位置に基づく値が所定の設定値に達したときに、前記演算データとして用いる標点領域を前記撮像視野内に在る２つの標点領域に切り換えることを特徴とする非接触型歪み測定装置。
【請求項２】
前記試験片は、ランダムに配置された複数の標点を表面に備えることを特徴とする請求項１に記載の非接触型歪み測定装置。
【請求項３】
前記試験片は、引張方向に沿って所定の間隔を空けて連続的に並ぶ複数の標点を表面に備えることを特徴とする請求項１に記載の非接触型歪み測定装置。
【請求項４】
前記２つの標点領域の移動に伴って前記撮像視野内に前記２つの標点領域が入るように前記撮像部の位置を制御する駆動部をさらに備えることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の非接触型歪み測定装置。
【請求項５】
表面に複数の標点が設けられた試験片における当該試験片の歪みに関する所定の物理量を非接触で測定する非接触型歪み測定方法であって、
前記試験片を撮像する撮像部によって取得された前記試験片の画像データにおいて、１又は複数の標点を含む標点領域であって前記撮像部の撮像視野内の２つの標点領域を演算データとして用いることによって前記所定の物理量を求める第１の物理量導出工程と、
前記画像データにおいて、前記第１の物理量導出工程で前記所定の物理量を求めるために演算データとして用いていた前記２つの標点領域の少なくとも一方が所定の設定領域に到達したとき、又は前記２つの標点領域の位置に基づく値が所定の設定値に達したときに、前記演算データとして用いる標点領域を前記撮像視野内に在る２つの標点領域に切り換え、これら切り換えられた２つの標点領域から前記所定の物理量を求める第２の物理量導出工程と、を備えることを特徴とする非接触型歪み測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、引張試験等において試験片の歪みを非接触で測定する非接触型歪み測定装置、及び非接触型歪み測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、特許文献１に開示された非接触型歪み測定装置が知られている。この非接触型歪み測定装置は、ビデオカメラ等の撮像部と、前記撮像部によって取得した試験片の画像データから当該試験片の歪みを求める演算部と、を備える。前記非接触型歪み測定装置では、撮像部が２つの標線マークが付された試験片を撮像する。そして、演算部が撮像部によって得られた画像データから標線マーク間の間隔の変化量を検出し、この間隔の変化量に基づいて標線マーク間の試験片の歪みを求める。
【０００３】
この非接触型歪み測定装置によって試験片の弾性変形領域の歪み（図１２参照）を精度よく測定する場合には、分解能の高い撮像部が用いられる。このような分解能の高い撮像部では撮像視野が狭くなるため、試験片に生じる歪み（伸び）が小さくても標線マークが撮像視野から外れる。このため、前記非接触型歪み測定装置では、測定可能な歪みの範囲（公称応力―公称ひずみ線図における横軸の範囲：図１２参照）が狭い。
【０００４】
ここで、測定可能な歪みの範囲を広くするために、試験片の歪みが進行しても撮像視野から標線マークが外れ難いように撮像視野の広い撮像部を用いることが考えられる。しかし、このような撮像視野の広い撮像部では分解能が低くなるため、弾性変形領域の歪みを精度よく測定できない。
【０００５】
そこで、特許文献２には、弾性変形領域における歪みの高精度な測定を可能とし、且つ塑性変形領域も含めた広い範囲の歪みを測定可能な非接触型歪み測定装置が提案されている。
【０００６】
この非接触型歪み測定装置は、２つの撮像部と、演算部と、選択部と、を備える。演算部は、試験片の表面に付された２つの標線マークを撮像部で撮像して得られる画像データから前記２つの標線マーク間の距離の変位量を検出する。続いて、演算部は、この変位量から前記２つの標線マーク間の歪みを求める。選択部は、予め設定された基準に従い、各撮像部からの画像データのうちの一つを選択して前記演算部に供給する。
【０００７】
詳しくは、各撮像部は、撮像素子と、試験片の光学像（光像）を撮像素子の受光面に結像するための光学系とをそれぞれ有する。そして、一方の撮像部（第１撮像部）は、他方の撮像部（第２撮像部）よりも分解能が高い。即ち、第１撮像部は第２撮像部よりも撮像視野が狭い。選択部は、先ず、演算部に第１撮像部からの画像データを供給し、歪みの進行によって試験片の２つの標線マークの少なくとも一方が第１撮像部の撮像視野から外れるタイミングで、演算部に供給する画像データを、第１撮像部による画像データから第２撮像部による画像データに切り換える。
【０００８】
以上の非接触型歪み測定装置では、先ず、分解能の高い第１撮像部により取得した画像データによって弾性変形領域の歪みが精度よく測定される。そして、非接触型歪み測定装置では、歪みの進行に伴って撮像部が切り換えられ、広い範囲の歪みが測定される。即ち、前記非接触型歪み測定装置では、弾性変形領域の歪みに加えて塑性変形領域の歪みも測定される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開平１１−１３２７３１号公報
【特許文献２】特開平１０−２２１０２５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
上記の複数の撮像部を備えた非接触型歪み測定装置では、複数の撮像部間での光学調整（例えば、各撮像部の光学系の光軸を一致させたり、各撮像部の光学系の倍率を一致させたり等）が必要であるが、その手間がかかり、また、十分な測定精度が得られるように前記複数の撮像部間での光学調整を行うのは困難である。
【００１１】
そこで、本発明は、上記問題に鑑み、１つの撮像部によって弾性変形領域から塑性変形領域までの十分な測定範囲を確保しつつ、少なくとも弾性変形領域での歪みを高精度に測定することができる非接触型歪み測定装置、及び非接触型歪み測定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明者は、種々検討した結果、上記目的は、以下の本発明により達成されることを見出した。すなわち、本発明の一態様では、表面に複数の標点が設けられた試験片における当該試験片の歪みに関する所定の物理量を非接触で測定する非接触型歪み測定装置であって、前記試験片を撮像する撮像部と、前記撮像部によって取得した前記試験片の画像データにおいて、１又は複数の標点を含む標点領域であって前記撮像部の撮像視野内の２つの標点領域を演算データとして用いることによって前記所定の物理量を求める測定値演算部と、を備える。そして、前記測定値演算部は、前記所定の物理量を求めるために演算データとして用いていた前記２つの標点領域の少なくとも一方が所定の設定領域に到達したとき、又は前記２つの標点領域の位置に基づく値が所定の設定値に達したときに、前記演算データとして用いる標点領域を前記撮像視野内に在る２つの標点領域に切り換えることを特徴とする。
【００１３】
そして、本発明の他の一態様では、表面に複数の標点が設けられた試験片における当該試験片の歪みに関する所定の物理量を非接触で測定する非接触型歪み測定方法であって、前記試験片を撮像する撮像部によって取得された前記試験片の画像データにおいて、１又は複数の標点を含む標点領域であって前記撮像部の撮像視野内の２つの標点領域を演算データとして用いることによって前記所定の物理量を求める第１の物理量導出工程と、前記画像データにおいて、前記第１の物理量導出工程で前記所定の物理量を求めるために演算データとして用いていた前記２つの標点領域の少なくとも一方が所定の設定領域に到達したとき、又は前記２つの標点領域の位置に基づく値が所定の設定値に達したときに、前記演算データとして用いる標点領域を前記撮像視野内に在る２つの標点領域に切り換え、これら切り換えられた２つの標点領域から前記所定の物理量を求める第２の物理量導出工程と、を備えることを特徴とする。
【００１４】
このような構成の非接触型歪み測定装置、及び非接触型伸び測定方法では、試験片の歪みの進行に伴って前記所定の物理量を求めるための演算データとして用いていた撮像視野内の２つの標点領域の少なくとも一方が所定の設定領域に到達したとき、又は前記２つの標点領域の位置に基づく値が所定の設定値に達したときに、前記演算データとして用いる標点をその時点で撮像視野内に在る２つの標点に切り換えることによって、１つの撮像部によって弾性変形領域から塑性変形領域までの十分な測定範囲を確保しつつ、少なくとも弾性変形領域での歪みを高精度に測定することができる。即ち、試験片に生じる歪みが小さい間（少なくとも弾性変形領域の間）は、撮像視野内の所定の２つの標点領域を演算データに用いて試験片の歪みを精度よく求める。そして、歪みが進行したことによってこれら２つの標点領域を用いて試験片の歪みを測定できなくなる前に演算データに用いる２つの標点をその時点で撮像視野内に在る標点領域に切り換えることで、それ以降の歪みの測定（塑性変形領域での歪みの測定）も可能となる。
【００１５】
尚、上述の非接触型歪み測定装置又は非接触型歪み測定方法によって前記所定の物理量が測定される試験片は、ランダムに配置された複数の標点を表面に備えてもよく、また、引張方向に沿って所定の間隔を空けて連続的に並ぶ複数の標点を表面に備えてもよい。
【００１６】
また、他の一態様では、これら上述の非接触型歪み測定装置は、前記２つの標点領域の移動に伴って前記撮像視野内に前記２つの標点領域が入るように前記撮像部の位置を制御する駆動部をさらに備えてもよい。
【００１７】
かかる構成によれば、演算データとして用いる２つの標点が歪みの進行に伴って同一方向に移動するように試験片が歪む（伸びる）場合に、試験片の歪みの進行に合わせて撮像視野を当該試験片の対応する領域に追従させることができる。
【発明の効果】
【００１８】
以上より、本発明によれば、１つの撮像部によって弾性変形領域から塑性変形領域までの十分な測定範囲を確保しつつ、少なくとも弾性変形領域での歪みを高精度に測定することができる非接触型歪み測定装置、及び非接触型歪み測定方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】第１実施形態における非接触型歪み測定装置の構成を示す図である。
【図２】第１実施形態において試験片の歪みの進行に伴うカメラ視野と各標点との位置関係を示す図である。
【図３】２つの標点を用いて試験片の伸び率を求める演算手法を説明するための図である。
【図４】第１実施形態における非接触型歪み伸び測定装置の動作を示すフローチャートである。
【図５】第２実施形態における非接触型歪み測定装置の構成を示す図である。
【図６】第２実施形態において試験片の歪みの進行に伴うカメラ視野と各標点との位置関係を示す図である。
【図７】第２実施形態における非接触型歪み測定装置の動作を示すフローチャートである。
【図８】複数の標点がランダムに配置された試験片を用いた場合の歪みに関する所定の物理量の測定を説明するための図である。
【図９】他実施形態において試験片の歪みの進行に伴うカメラ視野と各標点との位置関係を示す図である。
【図１０】他実施形態における試験片の歪みの進行とこれに伴う選択標点の切り換えとを説明するための図である。
【図１１】他実施形態における試験片の歪みの進行とこれに伴う選択標点の切り換えとを説明するための図である。
【図１２】公称応力―公称ひずみ線図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、本発明にかかる第１実施形態を図１〜図３に基づいて説明する。なお、各図において同一の符号を付した構成は、同一の構成であることを示し、適宜、その説明を省略する。
【００２１】
本実施形態に係る非接触型歪み測定装置（以下、単に「歪み測定装置」とも称する。）１は、引張試験等の強度試験において試験片２の歪みに関する所定の物理量を測定する。本実施形態では、前記所定の物理量として試験片２の伸び率εが測定される。
【００２２】
尚、歪み測定装置１が測定する前記所定の物理量は、試験片２の伸び率εに限定されない。前記所定の物理量は、試験片２の歪みに関する物量であればよく、例えば、試験片２の歪みそのもの、又は歪み率、破断伸び等であってもよい。
【００２３】
試験片（測定対象物、被検体）２は、測定対象であり、任意の材料であってよい。試験片２は、例えば、圧延鋼板等の金属材料、ゴム又はプラスチック等の樹脂材料、及びコンクリート等である。
【００２４】
試験片２に生じる歪みは、試験片２に所定の外力を作用させることによって与えられる。例えば、引張試験では、試験片２がその両端２１、２２を周知の引張試験機（図示省略）における試験片２を固定するためのチャック（つかみ具）によってクランプされる。そして、試験片２の両端２１、２２に当該両端２１、２２が離間する方向（引張方向：図１においては上下方向）の外力が当該引張試験機によって加えられる。即ち、試験片２に引張方向の外力が作用する。これにより、歪み（伸び）が試験片２に生じる。この試験片２に作用する当該試験片２の両端２１、２２が離間する方向の外力は、試験片２の上端２１を上方に引っ張りつつ、試験片２の下端２２を下方に引っ張ることによって与えられる。
【００２５】
この試験片２は、複数の標点２３、２３、…を表面２４に備える。具体的には、試験片２の表面２４において、複数（図１に示される例では、例えば、４個）の標点２３、２３、…が引張方向に沿って所定の間隔を空けて連続的に設けられている。本実施形態の各標点２３は、円形のいわゆるドットマークであるが、他の形状（例えば、四角等の多角形や、十字等）であってもよい。
【００２６】
これら複数の標点２３、２３、…は、引張方向において、カメラ装置３のカメラ視野（撮像視野）内に収まるように設けられている。
【００２７】
歪み測定装置１は、カメラ装置（撮像部）３と、画像記録部４と、画像処理部５と、を備える。
【００２８】
カメラ装置（撮像部）３は、試験片２をモニタ（観察、監視）するために、試験片２を被写体として撮影（撮像）する。例えば、カメラ装置３は、撮影光学系３１と、撮像素子３２と、画像生成部３３と、を備える。このカメラ装置３は、前記引張試験機のチャックによってクランプされた状態の試験片２に設けられた複数の標点２３、２３、…を撮像できるように配置される。このカメラ装置３は、モノクロカメラであってもよく、また、カラーカメラであってもよい。また、カメラ装置３は、静止画を生成するディジタルスチルカメラであってもよく、また、動画を生成するディジタルビデオカメラであってもよい。
【００２９】
撮影光学系３１は、試験片２の光学像（光像）を撮像素子３２の受光面に結像するための光学系である。
【００３０】
撮像素子３２は、撮影光学系３１によって受光面上に形成された試験片２の光学像を光電変換して光学像における光量に応じた信号（各画素単位で受光された信号の信号列）を生成し、この信号を画像生成部３３へ出力する回路である。例えば、撮像素子３２は、２次元アレイ状に配列された複数の画素（光電変換素子）を備え、ＣＣＤ型やＣＭＯＳ型のイメージセンサ等である。
【００３１】
画像生成部３３は、撮像素子３２によって得られた前記信号に、例えば、黒レベル補正処理、画素補間処理、又はシェーディング補正処理等の周知の画像処理を施すことによってディジタルの画像信号（試験片２の画像データ）を生成して出力する回路である。
【００３２】
画像記録部４は、カメラ装置３（詳しくは画像生成部３３）が出力した画像信号を記録（蓄積、格納）する。この画像記録部４は、例えば、ハードディスク又はメモリ等である。
【００３３】
画像処理部５は、カメラ装置３によって取得した試験片２の画像データから、試験片２の伸び率を求める回路であり、例えば、マイクロプロセッサ、記憶素子、及びその周辺回路を備えたマイクロコンピュータ等によって構成される。そして、画像処理部５は、本実施形態では、機能的に、測定値演算部５０を備える。
【００３４】
測定値演算部５０は、機能的に、選択点設定部５１と、演算部５２と、を有する。測定値演算部５０は、カメラ装置３によって取得した試験片２の画像データから、当該画像データにおいてカメラ視野６内の２つの標点２３、２３を演算データとして用いることによって当該試験片２の歪みに関する所定の物理量（本実施形態では伸び率ε）を求める。
【００３５】
この測定値演算部５０は、例えば、カメラ装置３によって取得した画像データに基づいて試験片２の伸び率εを演算する伸び率測定プログラムの実行によって前記マイクロコンピュータに機能的に構成される。
【００３６】
尚、このような伸び率測定プログラムが前記マイクロコンピュータに格納されていない場合には、これを記録した例えばフレキシブルディスクやＣＤ−ＲＯＭ等の記録媒体から、例えばフレキシブルディスクドライブ装置やＣＤ−ＲＯＭドライブ装置等の外部記憶装置を介して前記マイクロコンピュータにインストールされるように歪み測定装置１が構成されてもよい。また、歪み測定装置１は、この伸び率測定プログラムを管理するサーバコンピュータから通信網及び通信インターフェース装置（ネットワークカード等）を介して伸び率測定プログラムがダウンロードされるように構成されてもよい。
【００３７】
また、本実施形態の歪み測定装置１は、カメラ装置３から試験片２の画像データを略リアルタイムで得ているが、このような態様に限定されない。例えば、歪み測定装置１は、試験片２の伸び率εを測定するための画像データが、このデータを記録した記録媒体によって外部記憶装置を介して当該歪み測定装置１に入力されるように構成されてもよい。また、歪み測定装置１は、このデータを管理するサーバコンピュータから当該データが通信網及び通信インターフェース装置を介して当該歪み測定装置１に入力されるように構成されてもよい。
【００３８】
選択点設定部５１は、画像記録部４に記録された試験片２の画像データにおいて、カメラ装置３のカメラ視野（撮像視野）６内の複数（本実施形態の例では４つ）の標点２３、２３、…の中から所定の２つの標点２３、２３を選択（抽出）し、これらを選択標点（第１の選択標点Ｍ１、第２の選択標点Ｍ２）と設定する。
【００３９】
この選択点設定部５１は、試験片２が伸びる（歪む）ことによって、第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２の少なくとも一方が所定の設定領域６ａ（又は６ｂ）に到達したときに、その時点でカメラ視野６内に在る２つの標点２３、２３を改めて選択し、これらを新たな選択標点（第３の選択標点Ｍ３、及び第４の選択標点Ｍ４）に設定する。
【００４０】
設定領域６ａ（又は６ｂ）は、試験片２の引張方向におけるカメラ視野６の両端部近傍に設定される領域である。具体的に、設定領域６ａ（又は６ｂ）は、引張方向におけるカメラ視野６の端縁（カメラ視野６の内側と外側との境界線）を含むように当該端縁と隣接する領域に設定される領域である。詳しくは、設定領域６ａ（又は６ｂ）は、引張方向におけるカメラ視野６の端縁を含むように当該端縁の内側又は外側に設定される領域である。本実施形態の設定領域６ａは、引張方向におけるカメラ視野６の端縁を含むように当該端縁の外側に設定されている。従って、選択点設定部５１は、第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２の少なくとも一方が設定領域６ａに到達したときに、その時点でカメラ視野６内に在る２つの標点２３、２３を改めて選択し、これらを新たな選択標点（第３の選択標点Ｍ３、第４の選択標点Ｍ４）に設定する。即ち、選択点設定部５１は、第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２の少なくとも一方がカメラ視野６から外れたときに（カメラ視野６の外側に移動したときに）、その時点でカメラ視野６内に在る２つの標点２３、２３を改めて選択し、これらを第３の選択標点Ｍ３及び第４の選択標点Ｍ４に設定する。
【００４１】
尚、設定領域６ｂが引張方向におけるカメラ視野６の端縁を含むように当該端縁の内側に設定されている場合には、第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２の両方がカメラ視野６内に在っても、２つの選択標点を設定しなおす。即ち、設定領域６ｂがカメラ視野６内に設定されると、選択点設定部５１は、先に選択した２つの標点２３、２３（第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２）がカメラ視野６から外れる直前に、選択標点を第３及び第４の選択標点Ｍ３、Ｍ４に切り換える。具体的には、選択点設定部５１は、第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２の少なくとも一方がカメラ視野６内の設定領域６ｂに到達したときに、その時点でカメラ視野６内に在り、且つ、引張方向における前記２つの選択標点Ｍ１、Ｍ２よりも内側（カメラ視野６の中心側）に在る２つの標点２３、２３を改めて選択する。そして、選択点設定部５１は、これらを新たな選択標点（第３の選択標点Ｍ３、及び第４の選択標点Ｍ４）に設定する。
【００４２】
例えば、図２（Ａ）〜図２（Ｃ）に示される例では、選択点設定部５１は、カメラ視野６内の最も上側に位置する標点２３と、最も下側に位置する標点２３と、を選択する。続いて、選択点設定部５１は、前記上側の標点２３を第１の選択標点Ｍ１と設定すると共に、前記下側の標点２３を第２の選択標点Ｍ２と設定する。このように、最も上側の標点２３と最も下側の標点２３とを選択して２つの選択標点の間隔を大きくすることにより、試験片２の伸び率ε（歪み）を精度よく求めることができる。即ち、選択点設定部５１は、第１の選択標点Ｍ１と第２の選択標点Ｍ２との間隔を十分に確保することにより、試験片２の伸び率ε（歪み）を精度よく求めることができる。
【００４３】
そして、選択点設定部５１は、試験片２が伸びて第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２の少なくとも一方がカメラ視野から外れるときに、その時点でカメラ視野６内に在る複数（本実施形態では２つ）の標点２３、２３、…の中から最も上側に位置する標点２３と最も下側に位置する標点２３とを選択する。続いて、選択点設定部５１は、選択した２つの標点２３、２３のうち、前記上側の標点２３を第３の選択標点Ｍ３に設定すると共に、前記下側の標点２３を第４の選択標点Ｍ４に設定する。
【００４４】
演算部５２は、選択点設定部５１によって設定された２つの選択標点Ｍ１、Ｍ２（又はＭ３、Ｍ４）を利用して試験片２の伸び率εを求める。即ち、演算部５２は、選択点設定部５１によって設定された２つの選択標点Ｍ１、Ｍ２（又はＭ３、Ｍ４）を演算データとして用いる。詳しくは、以下に説明する。尚、本実施形態の演算部５２は、２つの選択標点Ｍ１、Ｍ２（又はＭ３、Ｍ４）を利用して試験片２の伸び率εを求めるが、これに限定されない。演算部は、各選択標点Ｍ１、Ｍ２（又はＭ３、Ｍ４）を含む微小領域を第１の選択標点領域及び第２の選択標点領域（又は第３の選択標点領域及び第４の選択標点領域）として以下の処理を行ってもよい。
【００４５】
演算部５２は、選択点設定部５１が第１の選択標点Ｍ１及び第２の選択標点Ｍ２を設定すると、外力作用前の試験片２の画像データから、第１の選択標点Ｍ１と第２の選択標点Ｍ２との間隔（基準長）Ｌ０を求める（図３（Ａ）参照）。この間隔（距離）は、例えば、撮像素子３２の受光面上に形成された第１の選択標点Ｍ１の光学像と第２の選択標点Ｍ２の光学像と間の画素数に基づいて求められる。詳しくは、演算部５２は、第１の選択標点Ｍ１の重心（中心）位置と第２の選択標点Ｍ２の重心（中心）位置との距離を、これら重心位置間に存在する画素数に基づいて求める。尚、各標点２３（ドットパターン）は、撮像素子３２の受光面上に形成された光学像における輝度の違いに基づいて検出される。
【００４６】
次に、演算部５２は、外力作用前の試験片２の画像データと、外力作用後で歪が生じている状態の試験片２の画像データと、から第１の選択標点Ｍ１（第１の選択標点Ｍ１の重心位置）の変位量（第１変位量）ΔＬ１と、第２の選択標点Ｍ２（第２の選択標点Ｍ２の重心位置）の変位量（第２変位量）ΔＬ２と、を求める（図３（Ｂ）参照）。そして、演算部５２は、これら基準長Ｌ０、第１変位量ΔＬ１、及び第２変位量ΔＬ２から以下の式（１）を用いて試験片２の伸び率εを求める。
【００４７】
ε＝（ΔＬ１+ΔＬ２）／Ｌ０      ・・・（１）
この式（１）は、以下のように求められる。
【００４８】
外力作用前の試験片２の画像データにおける第１の選択標点Ｍ１と第２の選択標点Ｍ２との距離（間隔）をＬ０とし、外力作用後で歪みが生じた状態の試験片２の画像データにおける第１の選択標点Ｍ１と第２の選択標点Ｍ２との距離をＬ１０とすると、伸び率εは、以下の式（２）によって与えられる。
【００４９】
ε＝（Ｌ１０−Ｌ０）／Ｌ０      ・・・（２）
ここで、外力作用前後における第１変位量をΔＬ１とし、第２変位量をΔＬ２とすると、以下の式（３）が成り立つ。
【００５０】
Ｌ１０＝ΔＬ１＋Ｌ０＋ΔＬ２      ・・・（３）
これら式（２）及び式（３）から上記の式（１）が導かれる。
【００５１】
尚、第１の選択標点Ｍ１と第２の選択標点Ｍ２とがカメラ装置３のカメラ視野６内において互いに離間する方向に変位したときのΔＬ１とΔＬ２とはプラスの値であり、カメラ影視野６内において同じ方向に変位したときのΔＬ１とΔＬ２とは変位量が大きい方がプラスの値で小さい方がマイナスの値として計算される。
【００５２】
本実施形態の演算部５２は、上記の式（１）を用いて伸び率εを求めているが、これに限定されず、例えば、上記の式（２）等を用いて伸び率εを求めてもよい。この場合、演算部５２は、外力作用前後における第１の選択標点Ｍ１と第２の選択標点Ｍ２との距離Ｌ０、Ｌ１０をそれぞれ求め、これらＬ０、Ｌ１０を上記の式（２）に代入する。
【００５３】
また、演算部５２は、選択点設定部５１が選択標点を新たに設定すると（即ち、第３の選択標点Ｍ３及び第４の選択標点Ｍ４を設定したときには）、上記と同様にして、外力作用前の試験片２の画像データから、第３の選択標点Ｍ３と第４の選択標点Ｍ４との間隔（基準長）Ｌ２０を求め（図２（Ｃ）参照）。そして、選択点設定部５１は、外力作用前の試験片２の画像データと外力作用後で歪が生じている状態の試験片２の画像データとから、第３の選択標点Ｍ３の変位量（第３変位量）ΔＬ３と第４の選択標点Ｍ４の変位量（第４変位量）ΔＬ４とを求める。そして、演算部５２は、これら基準長Ｌ２０、第３変位量ΔＬ３、及び第４変位量ΔＬ４から上記の式（１）を用いて試験片２の伸び率εを求める。尚、基準長Ｌ２０は、上記の式（１）のＬ０に代入し、第３変位量ΔＬ３及び第４変位量ΔＬ４は、上記の式（１）のΔＬ１、ΔＬ２に代入する。
【００５４】
演算部５２は、以上のように求めた試験片２の伸び率εをモニター等の表示装置や印刷装置等の外部出力装置（図示省略）に向けて出力する。
【００５５】
次に、本実施形態の歪み測定装置１の動作について説明する。図４は、第１実施形態における歪み測定装置１の動作を示すフローチャートである。
【００５６】
伸び率側定の準備として、先ず、試験片２の表面２４に複数の標点２３、２３、…が設けられる。この標点２３が設けられた試験片２が引張試験機等に配置される。
【００５７】
このとき、本実施形態の試験片２において、当該試験片２の引張方向における両端の標点２３、２３同士（第１の選択標点Ｍ１と第２の選択標点Ｍ２と）の間隔は、公称応力―公称ひずみ線図（図１２参照）における弾性変形領域全体の歪み（伸び率ε）を測定できるように設定されている。
【００５８】
引張試験が開始されると、カメラ装置３による試験片２の撮影が開始され、画像データ（画像信号）が画像記録部４に記録（蓄積）される（ステップＳ１１）。尚、カメラ装置３による撮影は、試験片２への外力作用前から始められる。
【００５９】
続いて、選択点設定部５１が、画像記録部４に記録された画像データ（詳しくは、試験片２への外力作用前の画像データ）においてカメラ視野６内の複数の標点２３、２３、…のか中から、最も間隔の大きな２つの標点２３、２３を選択（抽出）して、これらを第１の選択標点Ｍ１及び第２の選択標点Ｍ２に設定する（ステップＳ１２）。これら第１の選択標点Ｍ１及び第２の選択標点Ｍ２が設定されると、演算部５２が、画像記録部４に記録された画像データ（詳しくは、外力作用前の画像データと、外力作用後の最新の画像データと）から、外力作用前の試験片２における第１の標点Ｍ１と第２の標点Ｍ２との間隔Ｌ０と、外力作用前後の第１変位量ΔＬ１及び第２変位量ΔＬ２とを求める。そして、演算部５２は、これらと上記の式（１）を用いて、試験片２の伸び率εを求め（ステップＳ１３）、求めた伸び率εを出力する。このように、本実施形態の歪み測定装置１では、先ず、試験片２への外力作用前の間隔が大きな第１の選択標点Ｍ１及び第２の選択標点Ｍ２を選択することによって、公称応力―公称ひずみ線図における弾性変形領域の歪み（伸び率ε）を高精度に測定することができる。
【００６０】
選択点設定部５１は、第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２のいずれか一方が設定領域６ａに到達したか、即ち、第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２の両方がカメラ視野６内に在るか否かを判断する（ステップＳ１４）。選択点設定部５１は、試験片２が伸びて第１の選択標点Ｍ１及び第２の選択標点Ｍ２の少なくとも一方がカメラ視野６から外れた（設定領域６ａに達した）と判断すると（ステップＳ１４：Ｙｅｓ）、伸び率εを求めるために演算データとして用いる２つの標点２３、２３を第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２から第３及び第４の選択標点Ｍ３、Ｍ４に切り換える（設定し直す）（ステップＳ１５）。具体的には、選択点設定部５１は、画像記録部４に記録された（若しくはカメラ装置３によって撮像された）最新の画像データにおいて、第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２の少なくとも一方がカメラ視野６から外れる（設定領域６ａに到達する）と、その時点でカメラ視野６内の複数の標点２３、２３、…の中から、試験片２への外力作用前の画像データにおいてカメラ視野６内に含まれ且つ最新の画像データにおけるカメラ視野６内で最も間隔の大きな２つの標点２３、２３を選択し、これらを第３及び第４の選択標点Ｍ３、Ｍ４と設定する。
【００６１】
続いて、演算部５２は、選択点設定部５１によって第３及び第４の選択標点Ｍ３、Ｍ４が新たに設定されると、画像記録部４に記録された画像データ（詳しくは、外力作用前の画像データと、外力作用後の最新の画像データと）から、外力作用前の試験片２における第３の標点Ｍ３と第４の標点Ｍ４との間隔Ｌ２０と、外力作用前後の第３変位量ΔＬ３及び第４変位量ΔＬ４とを求める。そして、演算部５２は、これらと上記の式（１）を用いて、試験片２の伸び率εを求め（ステップＳ１６）、求めた伸び率εを出力する。
【００６２】
一方、ステップＳ１４において、選択点設定部５１が、第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２のいずれもがカメラ視野６内に在る（設定領域６ａに到達していない）と判断すると（ステップＳ１４：Ｎｏ）、歪み測定装置１は、第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２の少なくとも一方がカメラ視野６から外れる（設定領域６ａに到達する）までステップＳ１１〜ステップＳ１４を繰り返す。
【００６３】
以上の歪み測定装置１によれば、試験片２の歪みの進行に伴って伸び率εを求めるための演算データとして用いていた２つの標点Ｍ１、Ｍ２の少なくとも一方が撮像視野６から外れたとき（所定の設定領域６ａに到達したとき）に、前記演算データとして用いる標点をその時点で撮像視野６内に在る２つの標点Ｍ３、Ｍ４に切り換えることによって、１つの撮像部によって弾性変形領域から塑性変形領域までの十分な測定範囲を確保しつつ、少なくとも弾性変形領域での歪み（伸び率ε）を高精度に測定することができる。即ち、試験片２に生じる歪みが小さい間（少なくとも弾性変形領域の間）は、撮像視野６内の所定の２つの標点Ｍ１、Ｍ２を演算データに用いて試験片２の歪みを精度よく求め、歪みが進行してこれら２つの標点Ｍ１、Ｍ２の少なくとも一方が撮像視野６から外れると（所定の設定領域６ａに到達したときに）、演算データに用いる２つの標点をその時点で撮像視野６内に在る標点Ｍ３、Ｍ４に切り換えることで、それ以降の歪みの測定（塑性変形領域での歪みの測定）も可能となる。
【００６４】
次に、本発明の第２実施形態について図５〜図６（Ｃ）を参照しつつ説明するが、上記第１実施形態と同様の構成には同一符号を用いると共に詳細な説明を省略し、異なる構成ついてのみ詳細に説明する。
【００６５】
本実施形態の歪み測定装置１Ａでは、カメラ駆動部（駆動部）６０を備える点で、第１実施形態の歪み測定装置１と異なる。
【００６６】
このカメラ駆動部６０は、カメラ装置駆動機構６２と、駆動機構制御部６５と、を有する。カメラ駆動部６０は、選択した２つの標点（第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２、及び第３及び第４の選択標点Ｍ３、Ｍ４）の移動に伴ってカメラ視野６内に前記２つの標点（第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２、又は第３及び第４の選択標点Ｍ３、Ｍ４）が入るようにカメラ装置３の位置を制御する。
【００６７】
カメラ装置駆動機構６２は、ガイド部材６３と、図略の駆動機構と、を有する。ガイド部材６３は、試験片２の引張方向（図５の例では上下方向）に延び、カメラ装置３を前記引張方向に案内可能である。前記駆動機構は、ガイド部材６３に取り付けられたカメラ装置３を駆動機構制御部６５からの指示信号に基づいて引張方向に移動（図５の例では上下動）させる。
【００６８】
駆動機構制御部６５は、画像記録部４に記録された（若しくはカメラ装置３によって撮像された）試験片２の最新の画像データから、試験片２の歪み（伸び）に応じたカメラ装置３の移動量（移動速度）を求め、前記駆動機構に指示信号として出力する。
【００６９】
具体的に、駆動機構制御部６５は、引張方向において、第１の選択標点Ｍ１と第２の選択標点Ｍ２との中間位置とカメラ視野６の引張方向における中間位置とが一致するように、カメラ装置３の引張方向における移動量（移動速度）を求め、これを出力する。そして、駆動機構制御部６５は、選択点設定部５１が演算用データとして選択する２つの標点２３、２３を第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２から第３及び第４の選択標点Ｍ３、Ｍ４に切り換えると、第３の選択標点Ｍ３と第４の選択標点Ｍ４との中間位置とカメラ視野６の引張方向における中間位置とが一致するように、カメラ装置３の引張方向における移動量（移動速度）を求め、これを出力する。即ち、駆動機構制御部６５は、引張方向において、第１の選択標点Ｍ１と第２の選択標点Ｍ２との距離がカメラ視野６を越えると（図６（Ｃ）参照）、第３の選択標点Ｍ３と第４の選択標点Ｍ４との中間位置とカメラ視野６の引張方向における中間位置とが一致するように、カメラ装置３の引張方向における移動量（移動速度）を求める。
【００７０】
次に、本実施形態の歪み測定装置１Ａの動作について説明する。図７は、第２実施形態における歪み測定装置１Ａの動作を示すフローチャートである。
【００７１】
伸び率側定の準備として、先ず、試験片２の表面２４に複数の標点２３、２３、…が設けられる。この標点２３が設けられた試験片２が引張試験機等に配置される。
【００７２】
引張試験が開始されると、カメラ装置３による試験片２の撮影が開始され、画像データ（画像信号）が画像記録部４に記録（蓄積）される（ステップＳ２１）。尚、カメラ装置３による撮影は、試験片２への外力作用前から始められる。また、本実施形態における引張試験では、試験片２の下端２２の位置が固定された状態で、上端２１のみが上方へ向けて引っ張られる。
【００７３】
続いて、選択点設定部５１が、画像記録部４に記録された画像データ（詳しくは、試験片２への外力作用前の画像データ）においてカメラ視野６内の複数の標点２３、２３、…の中から、最も間隔の大きな２つの標点２３、２３を選択（抽出）する。そして、選択点設定部５１は、これらを第１の選択標点Ｍ１及び第２の選択標点Ｍ２と設定する（ステップＳ２２）。これら第１の選択標点Ｍ１及び第２の選択標点Ｍ２が設定されると、駆動機構制御部６５は、試験片２の最新の画像データにおける第１の選択点Ｍ１と第２の選択点Ｍ２とから、カメラ装置３の移動量（移動速度）を求め（ステップＳ２３）、前記駆動機構に指示信号を出力する。これにより、試験片２の歪み（伸び）に応じてカメラ装置３（カメラ視野６）が移動する（図６（Ａ）〜図６（Ｂ）参照）。即ち、選択した２つの標点Ｍ１、Ｍ２が歪みの進行に伴って同一方向に移動するように試験片２が歪む（伸びる）場合に、試験片２の歪みの進行に合わせてカメラ視野６を当該試験片２の対応する領域に追従させることができる。
【００７４】
一方、演算部５２は、画像記録部４に記録された画像データから、基準長Ｌ０と第１変位量ΔＬ１及び第２変位量ΔＬ２とを求める（図６（Ｂ）参照）。演算部５２は、これらと上記の式（１）を用いて、試験片２の伸び率εを求め（ステップＳ２４）、求めた伸び率εを出力する。
【００７５】
選択点設定部５１は、第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２がカメラ視野６内に在るかを判断する（ステップＳ２５）。選択点設定部５１は、第１の選択標点Ｍ１及び第２の選択標点Ｍ２の少なくとも一方がカメラ視野６から外れたと判断すると（ステップＳ２５：Ｎｏ）、選択する２つの標点を第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２から第３及び第４の選択標点Ｍ３、Ｍ４に切り換える（ステップＳ２６：図６（Ｃ）参照）。
【００７６】
選択点設定部５１によって選択される２つの標点が第３及び第４の選択標点Ｍ３、Ｍ４に切り換えられると、駆動機構制御部６５は、試験片２の最新の画像データにおける第３の選択点Ｍ３と第４の選択点Ｍ４とから、カメラ装置３の移動量（移動速度）を求め（ステップＳ２７）、前記駆動機構に指示信号を出力する。
【００７７】
続いて、演算部５２は、画像記録部４に記録された画像データ（詳しくは、外力作用前の画像データと、外力作用後の最新の画像データと）から、外力作用前の第３の選択標点Ｍ３と第４の選択標点Ｍ４との間隔Ｌ２０と、外力作用前後の第３変位量ΔＬ３及び第４変位量ΔＬ４とを求める（図６（Ｃ）参照）。演算部５２は、これらと上記の式（１）を用いて、試験片２の伸び率εを求め（ステップＳ２８）、求めた伸び率εを出力する。
【００７８】
一方、ステップＳ２５において、選択点設定部５１が、第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２がカメラ視野６内に在ると判断すると（ステップＳ２５：Ｙｅｓ）、歪み測定装置１Ａは、第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２の少なくとも一方がカメラ視野６から外れるまでステップＳ２１〜ステップＳ２５を繰り返す。
【００７９】
以上の歪み測定装置１Ａによっても、試験片２の歪みの進行に伴って伸び率εを求めるための演算データとして用いていた２つの標点Ｍ１、Ｍ２の少なくとも一方が撮像視野６から外れたときに、前記演算データとして用いる標点をその時点で撮像視野６内に在る２つの標点Ｍ３、Ｍ４に切り換えることによって、１つの撮像部によって弾性変形領域から塑性変形領域までの十分な測定範囲を確保しつつ、少なくとも弾性変形領域での歪み（伸び率ε）を高精度に測定することができる。
【００８０】
尚、本発明の非接触型歪み測定装置、及び非接触型伸び測定方法は、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。
【００８１】
測定値演算部５０の選択点設定部５１によって選択される２つの標点２３、２３を切り換える具体的なタイミングは限定されない。例えば、上記第１及び第２実施形態の選択点設定部５１は、選択された２つの標点２３、２３（第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２）の少なくとも一方が所定の設定領域６ａ（又は６ｂ）に到達したタイミングで、その時点でカメラ視野６内に在る２つの標点２３、２３を改めて選択し、これらを新たな選択標点（第３の選択標点Ｍ３、第４の選択標点Ｍ４）に設定するが、これに限定されない。選択点設定部は、選択された２つの標点領域２３、２３（第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２）の位置に基づく値が所定の設定値に達したときに、その時点でカメラ視野６内に在る２つの標点２３、２３を改めて選択し、これらを新たな選択標点（第３の選択標点Ｍ３、第４の選択標点Ｍ４）に設定してもよい。
【００８２】
例えば、具体的に、選択点設定部は、選択された２つの標点２３、２３（第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２）から試験片２の伸び率εを求め、この伸び率εが所定の設定値に達したタイミングで第３及び第４の選択標点Ｍ３、Ｍ４を設定してもよい。詳しくは、公称応力―公称ひずみ線図における弾性変形領域の上限値（一般値）が例えば０．８％の場合、選択点設定部は、第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２の位置に基づいて演算部５２により求められる伸び率εが１％を超えたときに、その時点でカメラ視野６内に在る２つの標点２３、２３を改めて選択し、これらを新たな選択標点（第３の選択標点Ｍ３、第４の選択標点Ｍ４）に設定してもよい。この場合、第１及び第２の標点Ｍ１、Ｍ２の初期位置（試験片２に引張方向の外力作用前の位置）は、試験片２に外力が作用してその伸び率εが１％になったときに、カメラ視野６内に在るように設定される。
【００８３】
上記第１及び第２実施形態の歪み測定装置１、１Ａでは、試験片２の表面２４に規則的（上記第１及び第２実施形態の例では、引張方向に沿って所定間隔を空けて連続的）に配置されたドットマーク（標点）２３、２３、…を利用して試験片２の伸び率εを求めているが、複数の標点２３、２３、…の配置は、規則的な配置に限定されない。
【００８４】
例えば、図８（Ａ）〜図８（Ｃ）に示されるように、試験片２の表面２４に複数の標点２３ａ、２３ａ、…がランダムに配置されても（設けられても）よい。このランダムに付された複数の標点２３ａ、２３ａ、…は、例えば、試験片２の表面２４にスプレー式の塗料等を噴きつけることによって形成される。
【００８５】
この場合、例えば、演算部は、２つの標点領域１２３、１２３を用いて試験片２の伸び率εを求める。この標点領域１２３は、１又は複数の標点２３ａを含むように設定される微小領域である。例えば、具体的に、第１実施形態の歪み測定装置１の場合では、選択点設定部５１が引張方向においてカメラ視野６の端部から所定の距離だけ内側に入った位置に２つの標点領域１２３、１２３を設定する。続いて、演算部５２がこの２つの標点領域１２３、１２３を利用して試験片２の伸び率εを求める。詳しくは、選択点設定部５１が前記２つの標点領域１２３、１２３を第１及び第２の選択標点領域Ｍ１、Ｍ２とする（図８（Ａ）参照）。続いて、演算部５２が第１及び第２の選択標点領域Ｍ１、Ｍ２を用いて画像記録部４に記録された画像データからＬ０、ΔＬ１、ΔＬ２をそれぞれ求め（図８（Ｂ）参照）、これらを上記の式（１）に代入することにより、弾性変形領域における試験片２の伸び率εを求める。そして、試験片２の歪みに伴って選択点設定部５１が選択する２つの標点を切り換える。即ち、引張方向においてカメラ視野６の端部から所定の距離だけ内側に入った位置に２つの標点領域１２３、１２３を新たに設定し、これらを第３及び第４の選択標点領域Ｍ３、Ｍ４とする。新たな選択標点領域（第３及び第４の選択標点領域Ｍ３、Ｍ４）が設定されると、演算部５２が、外力作用前の画像データからこれらの設定し直した第３及び第４の選択標点領域Ｍ３、Ｍ４に対応する標点領域１２３を求める。続いて、演算部５２は、Ｌ２０、ΔＬ３、ΔＬ４をそれぞれ求め（図８（Ｃ）参照）、これらを上記の式（１）に代入することにより、塑性変形領域における試験片２の伸び率εを求める。
【００８６】
画像記録部４に記録された外力作用前の画像データと、外力作用後の画像データとにおける同一の標点領域１２３の検出（特定）は、外力作用前後の画像データにおけるパターンマッチング等によって行われる。
【００８７】
また、上記第１実施形態の引張試験では、試験片２は、上端が上方に引っ張られつつ、下端が下方に引っ張られているが、試験片２の一方の端部２１（又は２２）の位置が固定された状態で他方の端部２２（又は２１）のみが引っ張られてもよい。
【００８８】
この場合、第２実施形態のようにカメラ装置３が試験片２の歪みの進行と共に移動する構成に限定されない。例えば、選択点設定部が設定する選択標点を切り換えるときに、最初に選択した２つの標点のいずれか一方を、再度、選択してもよい。即ち、選択点設定部５１は、図９（Ａ）〜図９（Ｃ）に示される例のように、試験片２の一方の端部のみが引っ張られることでカメラ視野（測定領域）６内から第１の選択標点Ｍ１のみが外れた場合、２つの標点２３、２３を選択し直すときに、第２の選択標点Ｍ２を再度（続けて）選択する（第４の選択標点Ｍ４とする）と共に、新たに第３の選択標点Ｍ３を選択するように構成されてもよい。
【００８９】
また、上記第１及び第２実施形態の歪み測定装置１、１Ａでは、選択する標点の切り換えを１回しか行わないが、２回以上行われてもよい。この場合には、試験片２の表面２４に、６以上の標点２３、２３、…が設けられるのが好ましい。
【００９０】
上記第１及び第２実施形態の歪み測定装置１、１Ａにおける選択点設定部５１は、新たに選択する標点Ｍ３、Ｍ４を、試験片２への外力作用前からカメラ視野６内に在った標点２３から選択しているが、外力作用後にカメラ視野６内に入ってきた標点２３から選択してもよい。但し、外力作用後にカメラ視野６内に入ってきた標点２３を新たな選択標点Ｍ３及び／又はＭ４とする場合は、上記第１及び第２実施形態の選択点設定部５１のように、外力作用前からカメラ視野６内に在った標点２３、２３を新たな選択標点Ｍ３、Ｍ４とする場合に比べ、求められる試験片２の伸び率εの精度が低くなる。これは、以下の理由による。
【００９１】
外力作用前からカメラ視野６内に在った標点２３、２３を新たな選択標点Ｍ３、Ｍ４とした場合（図１０（Ａ）参照）、上記第１実施形態と同様に、演算部５２は、実測によって得られた第３及び第４の選択標点Ｍ３、Ｍ４の変位量ΔＬ３、ΔＬ４及び第３及び第４の選択標点Ｍ３、Ｍ４の基準長ΔＬ２０（図１０（Ｂ）参照）から、試験片２の伸び率εを求める。
【００９２】
これに対し、選択点設定部が外力作用後にカメラ視野６に入ってきた標点２３を新たな選択標点Ｍ４とする場合（図１１（Ａ）参照）、演算部５２は、新たに選択標点Ｍ４として選択された標点の初期位置（試験片２への外力作用前の位置：図１１（Ａ）における位置Ｐ）Ｐを推定した後に、この初期位置Ｐに基づいて第４の選択標点Ｍ４の推定変位量ΔＬ４ａと、第３及び第４の選択標点Ｍ３、Ｍ４の推定基準長ΔＬ２０ａ（図１１（Ｂ）参照）とを求める。続いて、演算部５２は、実測した第３の選択標点Ｍ３の変位量ΔＬ３と、前記第４の選択標点Ｍ４の推定変位量ΔＬ４ａと、前記第３及び第４の選択標点Ｍ３、Ｍ４の推定基準長ΔＬ２０ａと（図１１（Ｂ）参照）から、試験片２の推定伸び率εを求める。この初期位置Ｐは、第１及び第２の選択標点Ｍ１、Ｍ２を用いて求められた選択標点の切り換え時の試験片２の伸び率εを利用することによって、求めることができる。尚、図１１（Ａ）及び図１１（Ｂ）に示される例の場合、新たな選択標点Ｍ４に選択された標点２３は、外力作用後にカメラ視野６に入ってきたものであり、新たに選択標点Ｍ３に選択された標点２３は、外力作用前からカメラ視野６に在ったものである。詳しくは、選択点設定部５１は、選択標点を切り換えるときに、第２の選択標点Ｍ２を第３の選択標点Ｍ３に設定しなおし、外力作用後にカメラ視野６に入ってきた標点２３を第４の選択標点Ｍ４に設定する。
【００９３】
以上のように、外力作用後にカメラ視野６内に入ってきた標点２３を新たな選択標点Ｍ４とした場合、伸び率εを求めるために用いる選択標点の変位量ΔＬ４ａや基準長ΔＬ２０ａが推定値となるため、実測によって得られる伸び率ε（即ち、上記の例では、外力作用前からカメラ視野６内に含まれる標点２３を選択標点Ｍ４として選択する）に比べ、算出される伸び率εの精度が低くなる。
【００９４】
図１１（Ａ）及び図１１（Ｂ）に示す例では、新たに選択される２つの選択標点Ｍ３、Ｍ４の一方が、外力作用後にカメラ視野６内に入ってきた標点２３であり、他方が、外力作用前からカメラ視野６内に在る標点２３であるが、これに限定されない。新たに選択される２つの選択標点Ｍ３、Ｍ４の両方が、外力作用後にカメラ視野６内に入ってきた標点２３、２３であってもよい。
【符号の説明】
【００９５】
１、１Ａ      歪み測定装置
２            試験片
３            カメラ装置（撮像部）
６            カメラ視野（撮像視野）
６ａ、６ｂ    設定領域
２３、２３ａ  標点
２４          試験片の表面
５０          測定値演算部
５１          選択点設定部
５２          演算部
１２３        標点領域
Ｌ０、Ｌ２０    基準長
Ｍ１          第１の選択標点
Ｍ２          第２の選択標点
Ｍ３          第３の選択標点
Ｍ４          第４の選択標点
ΔＬ１        第１の選択標点の変位量
ΔＬ２        第２の選択標点の変位量
ΔＬ３        第３の選択標点の変位量
ΔＬ４        第４の選択標点の変位量
ε           伸び率
【図１】
2013221778.tif 000003
【図２】
2013221778.tif 000004
【図３】
2013221778.tif 000005
【図４】
2013221778.tif 000006
【図５】
2013221778.tif 000007
【図６】
2013221778.tif 000008
【図７】
2013221778.tif 000009
【図８】
2013221778.tif 000010
【図９】
2013221778.tif 000011
【図１０】
2013221778.tif 000012
【図１１】
2013221778.tif 000013
【図１２】
2013221778.tif 000014