(57)【要約】      （修正有）【課題】作業スペースがなく視準作業が行い難い場所であっても、容易に測定を行うことができる電子レベルを提供する。【解決手段】標尺に刻印されたパターンからの反射光を受光し、視準位置の高さ及び標尺迄の距離を求める電子レベルであって、電子レベルは電子レベル本体と、電子レベル本体に収納され標尺を視準する視準光学系１４と、反射光の一部を受光するラインセンサ１５と、ラインセンサ１５からの信号を基に視準位置の高さ及び標尺迄の距離を演算すると共に、粗測定モードと精密測定モードで測定を制御する制御演算部１６とを具備し、制御演算部１６により粗測定モードが開始され、測定によりラインセンサ１５からの受光信号に基づきパターンを検出することで精密測定モードへと測定モードの切替えを行う。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
標尺に刻印されたパターンからの反射光を受光し、視準位置の高さ及び前記標尺迄の距離を求める電子レベルであって、該電子レベルは電子レベル本体と、該電子レベル本体に収納され前記標尺を視準する視準光学系と、反射光の一部を受光するラインセンサと、該ラインセンサからの信号を基に視準位置の高さ及び前記標尺迄の距離を演算すると共に、粗測定モードと精密測定モードで測定を制御する制御演算部とを具備し、該制御演算部により粗測定モードが開始され、測定により前記ラインセンサからの受光信号に基づき前記パターンを検出することで精密測定モードへと測定モードの切替えを行うことを特徴とする電子レベル。
【請求項２】
前記制御演算部は、粗測定モードで前記ラインセンサからの受光信号により前記標尺を検出し、更に前記パターンを検出することで精密測定モードに変更し、前記受光信号により前記標尺を検出できなかった場合は粗測定モードに変更する請求項１の電子レベル。
【請求項３】
前記視準光学系が対物レンズ部と接眼レンズ部とを有し、前記対物レンズ部は被写界深度の深い光学系にて構成された請求項１又は請求項２の電子レベル。
【請求項４】
設定を行う操作部及び測定結果を表示する表示部とを更に具備し、前記操作部と前記表示部と前記接眼レンズ部とが前記電子レベル本体の上面に設けられた請求項３の電子レベル。
【請求項５】
設定を行う操作部及び測定結果を表示する表示部とを更に具備し、前記操作部と前記表示部と前記接眼レンズ部とが前記電子レベル本体の背面部に設けられ、該背面部が上方を向く様回転可能である請求項３の電子レベル。
【請求項６】
前記視準光学系の光軸と平行にガイドレーザを射出するレーザ射出機構を更に具備する請求項１〜請求項５の内いずれかの電子レベル。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、標尺のパターン像を電気信号に変換し、得られた電気信号から視準高さ及び前記標尺迄の距離を求める電子レベルに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
レベルは高低差を測定する測量装置であり、従来のレベルは測定目標地点に設置した標尺を作業者が望遠鏡で視準し、標尺に描かれた数値を目視で読取る測量装置であった為、作業者が標尺の目盛りを読み間違う虞れがあった。
【０００３】
標尺の目盛り読み間違いを防止する為、標尺を視準し、描かれたパターンを受光素子で受光し、電気信号に変換して位置を計算し、数値として表示する電子レベルや電子レベル用標尺も開発されているが、高低差を自動的に求める前段階として、作業者が目視により正確に電子レベルで電子レベル用標尺を視準する必要があり、又視準作業は電子レベル用標尺を移動する度に行う必要がある為、作業の能率が悪かった。
【０００４】
更に、従来の電子レベルでは、測定の状況に応じて、測定するモードを作業者がメニューから手動で切替える必要がある為、時間が掛り、作業の能率が悪かった。
【０００５】
尚、特許文献１には、発光手段を駆動して光を射出し、電子レベル用標尺の反射部材で光を反射させ、回転駆動手段を駆動させ電子レベルを回動させて反射光が受光手段に入射するのを確認した後、対物レンズ部の合焦作業が行われ、反射光が光電変換されて信号が演算処理手段に取込まれ、該演算処理手段により表示器に高低差及び水平距離等の演算結果が表示される標尺検出機能付き電子レベル及び標尺が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平６−２４１７９１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は斯かる実情に鑑み、作業スペースがなく視準作業が行い難い場所であっても、容易に測定を行うことができる電子レベルを提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、標尺に刻印されたパターンからの反射光を受光し、視準位置の高さ及び前記標尺迄の距離を求める電子レベルであって、該電子レベルは電子レベル本体と、該電子レベル本体に収納され前記標尺を視準する視準光学系と、反射光の一部を受光するラインセンサと、該ラインセンサからの信号を基に視準位置の高さ及び前記標尺迄の距離を演算すると共に、粗測定モードと精密測定モードで測定を制御する制御演算部とを具備し、該制御演算部により粗測定モードが開始され、測定により前記ラインセンサからの受光信号に基づき前記パターンを検出することで精密測定モードへと測定モードの切替えを行う電子レベルに係るものである。
【０００９】
又本発明は、前記制御演算部は、粗測定モードで前記ラインセンサからの受光信号により前記標尺を検出し、更に前記パターンを検出することで精密測定モードに変更し、前記受光信号により前記標尺を検出できなかった場合は粗測定モードに変更する電子レベルに係るものである。
【００１０】
又本発明は、前記視準光学系が対物レンズ部と接眼レンズ部とを有し、前記対物レンズ部は被写界深度の深い光学系にて構成された電子レベルに係るものである。
【００１１】
又本発明は、設定を行う操作部及び測定結果を表示する表示部とを更に具備し、前記操作部と前記表示部と前記接眼レンズ部とが前記電子レベル本体の上面に設けられた電子レベルに係るものである。
【００１２】
又本発明は、設定を行う操作部及び測定結果を表示する表示部とを更に具備し、前記操作部と前記表示部と前記接眼レンズ部とが前記電子レベル本体の背面部に設けられ、該背面部が上方を向く様回転可能である電子レベルに係るものである。
【００１３】
更に又本発明は、前記視準光学系の光軸と平行にガイドレーザを射出するレーザ射出機構を更に具備する電子レベルに係るものである。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、標尺に刻印されたパターンからの反射光を受光し、視準位置の高さ及び前記標尺迄の距離を求める電子レベルであって、該電子レベルは電子レベル本体と、該電子レベル本体に収納され前記標尺を視準する視準光学系と、反射光の一部を受光するラインセンサと、該ラインセンサからの信号を基に視準位置の高さ及び前記標尺迄の距離を演算すると共に、粗測定モードと精密測定モードで測定を制御する制御演算部とを具備し、該制御演算部により粗測定モードが開始され、測定により前記ラインセンサからの受光信号に基づき前記パターンを検出することで精密測定モードへと測定モードの切替えを行うので、手動での測定モードの設定や作業者による細かな視準作業が不要となり、作業労力の低減及び作業時間の短縮が図れると共に、作業スペースのない狭い場所でも容易に測定を行うことができる。
【００１５】
又本発明によれば、前記制御演算部は、粗測定モードで前記ラインセンサからの受光信号により前記標尺を検出し、更に前記パターンを検出することで精密測定モードに変更し、前記受光信号により前記標尺を検出できなかった場合は粗測定モードに変更するので、測定を行う毎に測定モードを手動で変更する必要がなく、作業労力の低減を図ることができる。
【００１６】
又本発明によれば、前記視準光学系が対物レンズ部と接眼レンズ部とを有し、前記対物レンズ部は被写界深度の深い光学系にて構成されたので、合焦作業を省略、或は簡略化することができ、より作業労力の低減及び作業時間の短縮を図ることができる。
【００１７】
又本発明によれば、設定を行う操作部及び測定結果を表示する表示部とを更に具備し、前記操作部と前記表示部と前記接眼レンズ部とが前記電子レベル本体の上面に設けられたので、設定や測定結果の確認を前記電子レベル本体の後方から行う必要がなくなり、作業スペースのない狭い場所に於ける測定をより容易に行うことができる。
【００１８】
又本発明によれば、設定を行う操作部及び測定結果を表示する表示部とを更に具備し、前記操作部と前記表示部と前記接眼レンズ部とが前記電子レベル本体の背面部に設けられ、該背面部が上方を向く様回転可能であるので、設定や測定結果の確認を前記電子レベル本体の後方から行う必要がなくなり、作業スペースのない狭い場所に於ける測定をより容易に行うことができる。
【００１９】
更に又本発明によれば、前記視準光学系の光軸と平行にガイドレーザを射出するレーザ射出機構を更に具備するので、作業者が前記標尺に前記対物レンズ部を向ける作業をより容易に行うことができるという優れた効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明の第１の実施例に係る電子レベルの斜視図である。
【図２】本発明の第１の実施例に係る電子レベルの斜視図である。
【図３】前記電子レベルによる標尺の測定を説明する斜視図である。
【図４】前記標尺に刻印されたパターンの一例を示す説明図である。
【図５】前記電子レベルの光学系を示す概略構成図である。
【図６】本発明の第１の実施例に係る電子レベルによる測定を説明するフローチャートである。
【図７】本発明の第２の実施例に係る電子レベルの斜視図である。
【図８】該電子レベルの光学系を示す概略構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、図面を参照しつつ本発明の実施例を説明する。
【００２２】
先ず、図１〜図３に於いて、第１の実施例に於ける電子レベル１及び電子レベル用標尺２について説明する。
【００２３】
前記電子レベル１は、電子レベル本体３と、目標地点を照準する為の照準器４と、前記電子レベル本体３を支え整準する基盤部５と、目標地点にある前記電子レベル用標尺２を視準する接眼レンズ部６と、目標地点に視準を併せる合焦ノブ７と、視準方向を調整する方向調整ノブ８と、前記電子レベル用標尺２からの反射光が入射する望遠鏡の対物レンズ部９と、電源スイッチや測定モードの切替えを行うメニューボタン等が配置される操作部１１と、現在の測定モードや測定結果等が表示される表示部１２等から構成されている。
【００２４】
前記操作部１１は、連続して粗測定を行うことで前記電子レベル用標尺２のパターンをサーチし補足する為の高速連続測定モード（粗測定モード）、パターン補足後に精密測定を１度だけ行う精密単回測定モード、精密測定を連続して行う精密連続測定モード（精密測定モード）、規定回数行われた精密測定の平均値を測定値として前記表示部１２に表示する精密平均モード等の各種モードの切替えを、前記メニューボタンを介して行える様になっている。
【００２５】
尚、本実施例に於いては、前記対物レンズ部９に被写界深度の深い光学系が使用されており、固定焦点とすることで合焦作業を不要とするか、或は距離別に段階設定できる機構を採用し容易に合焦作業が行える様になっている。
【００２６】
又、前記電子レベル用標尺２には、真直な基体に所定のパターン、例えばバーコード１３が印刷或は刻設（以下、刻印）されたものであり、前記基体に刻印される前記バーコード１３のパターンはいくつかの種類が用いられている。尚、前記電子レベル用標尺２は、巻取り可能な帯状の基体に前記バーコード１３を刻印したコンベックスであってもよい。
【００２７】
例えば、前記バーコード１３は、図４に示される様に、第１のパターンＡと第２のパターンＢと第３のパターンＲが等間隔（ｐ）で繰返し配置されている。即ち、３種のパターンを１ブロックとして各ブロックが連続して形成されており、最も下側に配置されたブロックを０ブロックと定義し、Ｒ（０）、Ａ（０）、Ｂ（０）と刻印すれば、Ｒ（１）、Ａ（１）、Ｂ（１）、Ｒ（２）、Ａ（２）、Ｂ（２）、…と繰返し配置されている。尚、全てのパターンが等間隔ｐで繰返されているので、この間隔に対応した信号を基準信号とし、該基準信号を基に視準高さを取得することができる。
【００２８】
次に、図５に於いて、本発明に係る前記電子レベル１の概略構成を説明する。
【００２９】
該電子レベル１は視準光学系１４、ラインセンサ１５、制御演算部１６を有しており、更に前記視準光学系１４は合焦レンズ９ａを含む前記対物レンズ部９、光軸の自動補償機構である自動補正部１７、ビームスプリッタ１８、前記接眼レンズ部６を有している。
【００３０】
前記ビームスプリッタ１８は、前記視準光学系１４に入射する前記電子レベル用標尺２からの反射光を分割し、分割された一方は前記接眼レンズ部６に入射し、他方は前記ラインセンサ１５に受光される様になっている。
【００３１】
前記制御演算部１６は、前記ラインセンサ１５に受光された反射光をＡ／Ｄ変換し、Ａ／Ｄ変換した信号を読込むと共に信号の取込みを制御しており、取込んだ該信号を処理して前記バーコード１３のパターンを読取り、視準位置の高さを演算し、更にパターンの像の大きさから前記電子レベル用標尺２迄の距離を演算する様になっている。又、前記制御演算部１６はＲＯＭ等の記憶部１９を有しており、該記憶部１９にはパラメータや定数、演算式等のデータや、測定を行う為のプログラム、測定モードを切替えるプログラム等が格納されている。
【００３２】
前記自動補正部１７は、１対の正立プリズム２１ａ，２１ｂと、常に反射面が水平となる様吊下げられた鏡面体２２を有しており、前記視準光学系１４の光軸が傾いていた場合であっても、反射光が重力により常に水平な前記鏡面体２２に反射されることで、前記正立プリズム２１ｂより射出される反射光の光軸は水平に補償される。
【００３３】
次に、図６のフローチャートを参照して、前記電子レベル１を用いた測定について説明する。
【００３４】
前記操作部１１の電源スイッチを押下することで、電源が投入される。尚、本実施例に於ける前記電子レベル１は、電源が投入され、測定開始が入力されることで、自動的に粗測定を高速で繰返す高速連続測定モードが実行され、高速連続測定モードにて前記バーコード１３のサーチが開始される様になっている。
【００３５】
測定処理を開始する前段階として、前記操作部１１より高速連続測定モードにて粗測定を行う時間間隔、精密連続測定モードにて精密測定を行う時間間隔、精密測定を行う回数、シャッタの露光時間等の初期設定が行われる。例えば、粗測定に対して１０倍のレートで精密測定を行う様設定し、又７回以上等複数回の測定結果が得られる様な時間間隔で精密測定を行う様設定する。
【００３６】
ＳＴＥＰ：０１  初期設定が終了した後、粗測定が行われている状態で、作業者が前記基盤部５を介して前記電子レベル本体３を回転させるか、或は前記電子レベル１を持って、前記対物レンズ部９を前記電子レベル用標尺２の方向へと向ける。
【００３７】
粗測定では所定の時間間隔、例えば０．１秒間隔で高速連続測定が行われている。粗測定が行われている過程では、前記制御演算部１６が前記ラインセンサ１５からの信号を監視し、前記視準光学系１４の視野内に前記電子レベル用標尺２が入ったかどうか判断される。即ち、前記ラインセンサ１５からの信号に基づき前記電子レベル用標尺２が電気的にサーチされる。作業者が前記電子レベル本体３を回転させ、前記電子レベル用標尺２からの反射光が入射し、前記ラインセンサ１５からの受光信号に基づき、前記制御演算部１６が前記電子レベル用標尺２の存在を確認すると、受光信号を処理することで、反射光の光量等の情報を含む捕捉範囲のデータである第１データが取得される。
【００３８】
ＳＴＥＰ：０２  該第１データが取得されると、前記制御演算部１６により、取得された前記第１データの受光光量が適正であるかが判断される。尚、前記電子レベル本体３は、継続して回転されているものとする。
【００３９】
ＳＴＥＰ：０３  ＳＴＥＰ：０２にて前記第１データの光量が適正であると判断されると、次に前記制御演算部１６は前記第１データ中（捕捉範囲内）に前記バーコード１３が存在するかどうかを判断する。前記第１データ中に前記バーコード１３が僅かでも存在していた場合には、前記表示部１２にその旨を表示する、或はアラームにて通知することで、前記第１データ中に前記バーコード１３が存在することを作業者に知らせる。作業者は、前記表示部１２の表示或はアラームの通知により、前記方向調整ノブ８等を用いて前記電子レベル本体３の水平角の微調整（スキャン）を行う。
【００４０】
ＳＴＥＰ：０４  ＳＴＥＰ：０２にて前記第１データの受光光量が適正ではないと判断されると、前記制御演算部１６は判断結果に基づきシャッタの露光時間を演算し、演算結果を設定に反映させた後に、再度ＳＴＥＰ：０１にて前記第１データの取得が行われ、ＳＴＥＰ：０２にて再度受光光量の判断が行われる。
【００４１】
ＳＴＥＰ：０５  ＳＴＥＰ：０３にて前記第１データ中に前記バーコード１３が検出されると、次に該バーコード１３のラインが全長に亘って前記第１データ中に存在する、即ち前記バーコード１３が有効コード範囲Ｗ内（精密測定可能な範囲内）に存在するかどうかが判断される。
【００４２】
尚、ＳＴＥＰ：０３にて該バーコード１３が前記第１データ中に存在しなかったと判断された場合には、作業者は前記電子レベル本体３の水平角の調整を継続し、前記制御演算部１６は再度ＳＴＥＰ：０１〜ＳＴＥＰ：０３の処理を行う。
【００４３】
ＳＴＥＰ：０６  ＳＴＥＰ：０５にて有効コード範囲内に前記バーコード１３が存在すると判断されると、測定モードが高速連続測定モードから精密連続測定モードへと自動的に切替えられる。更に、前記制御演算部１６は、前記表示部１２にその旨を表示する、或はＳＴＥＰ：０３とは異なったアラームにて通知することで、有効コード範囲内に前記バーコードが存在することを作業者に知らせる。作業者が有効コード範囲内に前記バーコード１３が存在することを認識し、前記電子レベル本体３の水平角の微調整を停止する。測定モードが切替えられることで、粗測定を連続して実行する前記バーコード１３のサーチが停止され、前記バーコード１３を前記ラインセンサ１５が捉えている状態で精密測定が行われる。該精密測定でも、粗測定と同様、前記制御演算部１６に前記ラインセンサ１５から出力される信号を処理することで、反射光の光量等の情報を含むデータである第２データが取得される。
【００４４】
尚、ＳＴＥＰ：０５にて有効コード範囲内に前記バーコード１３が存在しないと判断された場合には、再度ＳＴＥＰ：０１〜ＳＴＥＰ：０４の処理が行われる様になっており、作業者は前記バーコード１３が有効コード範囲内に検出される迄、前記電子レベル１の水平角の微調整を行う。
【００４５】
ＳＴＥＰ：０７  ＳＴＥＰ：０６にて前記第２データが取得されると、前記制御演算部１６により取得された前記第２データの受光光量が適正であるかが判断される。
【００４６】
ＳＴＥＰ：０８  ＳＴＥＰ：０７にて取得された前記第２データの光量が適正であると判断されると、次に前記制御演算部１６が前記第２データに基づき前記バーコード１３のパターンを読取り、視準位置の高さが演算されると共に、前記バーコード１３のパターン像の大きさから前記電子レベル用標尺２迄の距離が演算される。
【００４７】
尚、ＳＴＥＰ：０７にて前記第２データの受光光量が適正ではないと判断されると、ＳＴＥＰ：０６にて取得された該第２データの光量に応じてシャッタの露光時間を演算し、演算結果を設定に反映させた後に、再度ＳＴＥＰ：０１にて前記第１データの取得が行われ、ＳＴＥＰ：０２〜ＳＴＥＰ：０６が再度実行される。
【００４８】
ＳＴＥＰ：０９  ＳＴＥＰ：０８にて前記バーコード１３のパターンの読取りが行われると、次に測定結果が正常であったかどうかが判断される。
【００４９】
ＳＴＥＰ：１０  ＳＴＥＰ：０９にて測定結果が正常であったと判断されると、次に初期設定に於いて規定された回数だけ精密測定が行われたかどうかが判断される。
【００５０】
尚、ＳＴＥＰ：０９にて距離や高さが正常に測定できなかったと判断される場合として、例えばＳＴＥＰ：０５にて有効コード範囲内に前記バーコード１３が検出され、精密連続測定モードに切替えられた後に更に前記電子レベル本体３の水平角を変位させてしまうことで、該電子レベル本体３がオーバランし、前記バーコード１３が有効コード範囲外に出てしまった場合等が挙げられる。測定結果が異常と判断されることで、前記制御演算部１６は測定モードを精密連続測定モードから高速連続測定モードへと再度切替え、ＳＴＥＰ：０１にて再度前記第１データの取得が行われ、ＳＴＥＰ：０２〜ＳＴＥＰ０８が再度実行される。
【００５１】
ＳＴＥＰ：１１  ＳＴＥＰ：１０にて精密測定が規定回数行われたと判断されると、前記制御演算部１６により規定回数行われた精密測定の測定結果の平均値が演算され、該平均値が測定値として前記表示部１２に表示される。
【００５２】
尚、ＳＴＥＰ：１０にて精密測定が規定回数行われていないと判断されると、規定回数に達する迄、ＳＴＥＰ：０６〜ＳＴＥＰ：０９が繰返される。
【００５３】
尚、本実施例の前記電子レベル１は、操作により測定の終了が選択される迄測定が続行されるので、測定値が前記表示部１２に表示された後、再度ＳＴＥＰ：０６にて第２データの取得が行われ、操作により測定の終了が選択される迄各処理が繰返される。
【００５４】
上述の様に、本実施例では、電源が投入され、測定開始が入力されることで自動的に粗測定が開始され、作業者は前記電子レベル本体３を前記電子レベル用標尺２に向け、更に前記電子レベル本体３を水平方向に回転させるだけで前記電子レベル用標尺２に刻印された前記バーコード１３を前記電子レベル本体３が検出し、自動的に測定モードが切替り、精密測定が行われる様になっているので、作業者が精密測定を行う為に前記操作部１１の前記メニューボタンを介して手動で測定モードの設定を行う必要がなく、作業労力の低減及び作業時間の短縮を図ることができる。
【００５５】
又、作業者が前記対物レンズ部９を前記電子レベル用標尺２がある方向に向け、更に回転させるだけで自動的に前記バーコード１３を検出し、精密測定を行う様になっているので、作業者による細かな視準作業が不要となり、作業労力の低減及び作業時間の短縮を図ることができる。
【００５６】
又、作業者による視準作業を行うことなく自動で精密測定が行われる様になっているので、建築物の内装や配管等、作業スペースがなく、作業者が入込むのが困難な狭い場所での測定も容易に行うことができ、前記電子レベル１の利便性を向上させることができる。
【００５７】
又、前記対物レンズ部９を従来の光学系から被写界深度の深い光学系へと変更することで、オートフォーカス機能を設ける必要がなく、コストの低減を図り得ると共に、合焦作業を省略、或は簡略化することができ、一層作業労力の低減及び作業時間の短縮を図ることができる。
【００５８】
更に、本実施例は電源を投入し、測定開始を入力して自動的に粗測定を開始させ、前記バーコード１３の検出により自動的に精密測定を開始させる様設定するだけでよいので、従来の電子レベルの機械構成や回路構成を大きく変更する必要がなく、低コストでの実現が可能となる。
【００５９】
尚、本実施例では、作業者による視準作業が不要であるので、視準を行う為の前記照準器４は省略可能である。
【００６０】
又、前記電子レベル用標尺２の幅を広くすることで、前記電子レベル１がより前記バーコード１３を検出し易くなり、更に利便性を向上させることができる。
【００６１】
次に、図７、図８に於いて、本発明の第２の実施例について説明する。尚、図７、図８中、図１、図５中と同等のものには同符号を付し、その説明を省略する。
【００６２】
第２の実施例に於ける電子レベル１は、電子レベル本体３の上面に操作部１１及び表示部１２が設けられると共に、電子レベル用標尺２（図２参照）から反射された反射光の一部がビームスプリッタ１８によって上方に反射され、接眼レンズ部６に入射する様に構成されている。
【００６３】
第２の実施例に於いては、前記電子レベル１を上方から操作できると共に、測定結果の確認を行えるので、作業者が前記電子レベル１の後方より前記操作部１１を介して操作を行い、又前記表示部１２の確認を行う必要がなく、より作業スペースのない狭い場所での測定が可能となり、前記電子レベル１の利便性を更に向上させることができる。
【００６４】
尚、第２の実施例に於いては、前記接眼レンズ部６、前記操作部１１、前記表示部１２を前記電子レベル本体３の上面に設けているが、第１の実施例と同様、前記接眼レンズ部６、前記操作部１１、前記表示部１２を前記電子レベル本体３の背面部に設け、該背面部を該電子レベル本体３に対して回転可能に設け、背面部を回転することで該背面部が上方を向く様構成してもよい。
【００６５】
又、前記電子レベル１に前方に向ってガイドレーザを射出するレーザ射出機構を追加し、視準方向を目視で確認できる様にし、作業者が前記電子レベル１を前記電子レベル用標尺２の方向へ向ける作業をより容易となる様にしてもよい。
【００６６】
又、表示装置を別途設け、或は前記表示部１２を着脱可能とし、取得されたデータをケーブル又は無線通信で前記表示装置或は前記表示部１２に送信する様構成することで、作業者が前記表示装置或は前記表示部１２を楽な姿勢で確認できる様にしてもよい。
【符号の説明】
【００６７】
１              電子レベル
２              電子レベル用標尺
３              電子レベル本体
６              接眼レンズ部
９              対物レンズ部
１１            操作部
１２            表示部
１３            バーコード
１４            視準光学系
１５            ラインセンサ
１６            制御演算部
１７            自動補正部
１８            ビームスプリッタ
１９            記憶部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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