(57)【要約】【課題】本発明は、テストカードを提供する。【解決手段】本発明のテストカードは、電源インターフェースと、コントローラーと、テストインターフェースと、複数のテストポイントとを備え、テストインターフェースは、電源ピンと、スタートピンと、複数のデータ信号ピンとを備え、電源インターフェースは、コントローラー、電源ピン及び外部電源に接続されて、外部電源からの作動電圧をコントローラー及び電源ピンに提供し、コントローラーは、スタートピンにスタート信号を送信し、複数のデータ信号ピンは、複数のテストポイントにそれぞれに接続され、マザーボードのコネクターをテストインターフェースに接続すると、電源ピン、スタートピン及びデータ信号ピンは、マザーボードのコネクターの対応するピンにそれぞれに接続され、マザーボードがスタート信号を受信すると、システムを運行して、テストポイントにマザーボードのデータ信号を出力する。【選択図】図２
2013068609.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
サーバー内のマザーボードの出力信号をテストするために用いられ、且つ電源インターフェースと、コントローラーと、テストインターフェースと、複数のテストポイントとを備えてなるテストカードであって、
前記テストインターフェースは、電源ピンと、スタートピンと、複数のデータ信号ピンとを備え、
前記電源インターフェースは、前記コントローラーと、電源ピンと、外部電源とに接続されて、前記外部電源からの作動電圧を前記コントローラーと、前記電源ピンとに提供し、
前記コントローラーは、前記スタートピンにスタート信号を送信し、
前記テストインターフェースの複数のデータ信号ピンは、複数の前記テストポイントにそれぞれに接続され、
前記マザーボードのコネクターを前記テストインターフェースに接続すると、前記電源ピン、前記スタートピン及び前記データ信号ピンは、前記マザーボードのコネクターの対応するピンにそれぞれに接続され、前記マザーボードがスタート信号を受信すると、システムを運行して、前記マザーボードのコネクター及び前記テストインターフェースを介して、前記テストポイントに前記マザーボードのデータ信号を出力することを特徴とするテストカード。
【請求項２】
前記テストカードは、前記電源インターフェースに接続される指示ランプをさらに備え、前記指示ランプは、前記電源インターフェースから作動電圧を受けると点灯状態になって、前記コントローラーに電源が入っていることを指示し、前記指示ランプは、前記電源インターフェースから作動電圧を受けないと消灯状態になって、前記コントローラーに電源が入っていないことを指示することを特徴とする請求項１に記載のテストカード。
【請求項３】
前記テストカードは、前記コントローラーに接続されて前記コントローラーを始動するために用いられるスイッチをさらに備え、前記スイッチが押圧されると、前記コントローラーは、前記スタートピンにスタート信号を送信して、前記マザーボードを始動することを特徴とする請求項１に記載のテストカード。
【請求項４】
前記テストカードは、ケースをさらに備え、前記電源インターフェース、前記テストインターフェース、前記指示ランプ、前記スイッチ及び複数の前記テストポイントは、全て前記ケースに設置され、前記コントローラーは、前記ケース内に設置されることを特徴とする請求項２又は３に記載のテストカード。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テストカードに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
高密度モジュールコネクターは、高密度の相互接続と高速の信号整合性の特徴を有するので、ブレードサーバーに広く応用される。高密度モジュールコネクターは、ブレードサーバーのバックプレートに装着され、複数のマザーボードは、高密度モジュールコネクターに差し込まれる。マザーボードの出力信号をテストする場合、高密度モジュールコネクターのインターフェースは、ケーブルを接続してテストすることには不便であるので、直接高密度モジュールコネクターに差し込まれているマザーボードの対応する信号点に対してテストすることを必要とする。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかし、複数のマザーボードは全て高密度モジュールコネクターに差し込まれ、隣り合う２つのマザーボード間の間隔は狭い。テストする際、マザーボードは１つのケース内に設置されるので、直接マザーボードの信号点に対してテストすることは不便である。
【０００４】
本発明の目的は、上記の課題を解決し、ブレードサーバー内のマザーボードの出力信号をテストするテストカードを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明に係るテストカードは、サーバー内のマザーボードの出力信号をテストするために用いられ、且つ電源インターフェースと、コントローラーと、テストインターフェース複数のテストポイントとを備え、前記テストインターフェースは、電源ピンと、スタートピンと、複数のデータ信号ピンとを備え、前記電源インターフェースは、前記コントローラーと、電源ピンと、外部電源とに接続されて、前記外部電源からの作動電圧を前記コントローラー及び前記電源ピンに提供し、前記コントローラーは、前記スタートピンにスタート信号を送信し、前記テストインターフェースの複数のデータ信号ピンは、複数の前記テストポイントにそれぞれに接続され、前記マザーボードのコネクターを前記テストインターフェースに接続すると、前記電源ピンと、前記スタートピンと、前記データ信号ピンとは、前記マザーボードのコネクターの対応するピンにそれぞれに接続され、前記マザーボードがスタート信号を受信すると、システムを運行して、前記マザーボードのコネクター及び前記テストインターフェースを介して、前記テストポイントに前記マザーボードのデータ信号を出力する。
【発明の効果】
【０００６】
本発明のテストカードは、電源インターフェースによってマザーボードに作動電圧を提供し、コントローラーによって前記マザーボードにスタート信号を送信することにより、前記マザーボードを始動してシステムを運行し、テストインターフェースによって前記マザーボードのデータ信号を前記テストカードの対応するテストポイントに出力して、前記マザーボードのデータ信号をテストすることができ、便利である。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】本発明の実施形態に係るテストカードの構造を示す図である。
【図２】図１に示すテストカードでマザーボードの信号をテストしている状態を示す図である。
【図３】図１に示すテストカードでマザーボードの信号をテストする原理を説明するためのブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。
【０００９】
図１〜図３を参照すると、本発明の実施形態に係るテストカード１００は、ブレードサーバー内のマザーボード２００の出力信号をテストするために用いられる。前記テストカード１００は、ケース１０と、電源インターフェース２０と、コントローラー３０と、テストインターフェース４０と、複数のテストポイント５０と、指示ランプ６０と、スイッチ７０と、を備える。前記電源インターフェース２０、前記テストインターフェース４０、複数の前記テストポイント５０、前記指示ランプ６０及び前記スイッチ７０は、全て前記ケース１０に設置され、前記コントローラー３０は、前記ケース１０内に設置される。本実施形態において、前記テストインターフェース４０は、高密度モジュールインターフェースである。他の実施形態において、前記テストインターフェース４０は、その他のインターフェースであってよい。
【００１０】
前記テストインターフェース４０は、電源ピン４２と、スタートピン４４と、複数のデータ信号ピン４６（図３は、ただ１つのデータ信号ピン４６を示した）と、を備える。
【００１１】
前記電源インターフェース２０は、外部電源８０に接続されて作動電圧を受け付けるために用いられる。前記電源インターフェース２０は、前記コントローラー３０と、前記指示ランプ６０と、前記テストインターフェース４０の電源ピン４２とに接続されて、前記作動電圧を前記コントローラー３０と、前記指示ランプ６０と、前記テストインターフェース４０の電源ピン４２とに提供する。
【００１２】
前記指示ランプ６０は、前記コントローラー３０に電源が入っているかどうかを指示するために用いられる。前記指示ランプ６０が作動電圧を受けると、前記指示ランプ６０は点灯状態になって、前記コントローラー３０に電源が入っていることを指示する。前記指示ランプ６０が作動電圧を受けないと、前記指示ランプ６０は消灯状態になって、前記コントローラー３０に電源が入っていないことを指示する。
【００１３】
前記スイッチ７０は、前記コントローラー３０を始動するために用いられる。
【００１４】
前記コントローラー３０は、前記テストインターフェース４０のスタートピン４４にスタート信号を送信するために用いられる。
【００１５】
前記テストインターフェース４０の複数のデータ信号ピン４６は、それぞれに対応する前記テストポイント５０に接続される。各々の前記テストポイント５０の下方には、どの前記データ信号をテストするかを表示する標識がある。
【００１６】
前記マザーボード２００の出力信号をテストする場合、前記マザーボード２００の高密度モジュールコネクター２２０を前記テストカード１００のテストインターフェース４０に接続する。前記テストインターフェース４０の電源ピン４２と、スタートピン４４及びデータ信号ピン４６は、前記高密度モジュールコネクター２２０の対応するピンにそれぞれに接続される。前記テストカード１００の電源インターフェース２０を前記外部電源８０に接続して作動電圧を受け、且つ前記作動電圧を前記コントローラー３０及び前記指示ランプ６０に提供し、且つ前記テストインターフェース４０及び前記高密度モジュールコネクター２２０を介して前記作動電圧を前記マザーボード２００に提供する。前記指示ランプ６０が点灯状態になると、前記コントローラー３０を始動できることを示す。前記スイッチ７０を押圧すると、前記コントローラー３０は、前記テストインターフェース４０及び前記高密度モジュールコネクター２２０を介して前記マザーボード２００にスタート信号を送信して、前記マザーボード２００を始動する。前記マザーボード２００が始動されると、システムを運行して、前記高密度モジュールコネクター２２０及び前記テストインターフェース４０を介して、対応する前記テストポイント５０に対応するデータ信号を出力する。オシログラフ９０をテストしようとするデータ信号に対応する前記テストポイント５０に接続して、前記マザーボード２００の対応するデータ信号をテストすることができる。
【００１７】
他の実施形態において、前記指示ランプ６０を省略してもよい。又、前記スイッチ７０も省略することができ、前記コントローラー３０に電源が入っていると、前記マザーボード２００にスタート信号を送信する。前記テストカード１００は、ただ１つの前記テストポイント５０を備えてもよく、この場合前記マザーボード２００から出力する１つのデータ信号をテストする。
【００１８】
本発明のテストカード１００は、前記電源インターフェース２０によって前記マザーボード２００に作動電圧を提供し、前記コントローラー３０によって前記マザーボード２００にスタート信号を送信することにより、前記マザーボード２００を始動してシステムを運行し、前記テストインターフェース４０によって前記マザーボード２００のデータ信号を前記テストカード１００の対応するテストポイント５０に出力して、使用者は前記オシログラフ９０を前記テストポイント５０に接続して、前記マザーボード２００のデータ信号をテストすることができ、便利である。
【００１９】
以上、本発明を実施形態に基づいて具体的に説明したが、本発明は、上述の実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において、種々の変更が可能であることは勿論であって、本発明の技術的範囲は、以下の特許請求の範囲から決まる。
【符号の説明】
【００２０】
１０  ケース
２０  電源インターフェース
３０  コントローラー
４０  テストインターフェース
４２  電源ピン
４４  スタートピン
４６  データ信号ピン
５０  テストポイント
６０  指示ランプ
７０  スイッチ
８０  外部電源
９０  オシログラフ
１００  テストカード
２００  マザーボード
２２０  高密度モジュールコネクター
【図１】
2013068609.tif 000003
【図２】
2013068609.tif 000004
【図３】
2013068609.tif 000005