(57)【要約】【課題】設備の設置コストを下げ、且つマイクロドリル研磨時の効率及び品質を有効に向上させる全自動式マイクロドリルの研磨装置及びその研磨方法を提供する。【解決手段】全自動式マイクロドリルの研磨装置及びその研磨方法として、その装置は機台、ブラシ装置、取出しモジュール、挟持モジュール、第１検査モジュール、第２検査モジュール及び研磨モジュールを含む。これらによって、研磨及び検査前のマイクロドリルを該挟持モジュールへ移動し、移動過程で同時に塵除去を行い、続いて第１次検査を行う。合格と判定したものは該研磨モジュールで第１次研磨を行い、不合格のものは不良品区へ送る。第１次研磨が完了した該マイクロドリルは第２次検査へ進み、良品は該放出区へ送り、不良品は前述ステップを繰り返してから第２次研磨へ進み、良品を該放出区へ送り出す。それでも尚、不良品の場合は該不良品区へ移動させ、自動化マイクロドリルの研磨を実現し、その効率と品質を大幅に向上させる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
マイクロドリルを清潔に研磨して研磨状況を検査する全自動式マイクロドリルの研磨装置であって、
装填区と、放出区と、不良品区とを備え、該装填区及び該放出区が一側に平行に設置され、該不良品区が別の側に設置される機台と、
該装填区位置の上方に対応して該機台上に設置されるブラシ装置と、
該装填区の一側に設置される取出しモジュールと、
マイクロドリル回転挟持台と、Ｖ字型槽とを備え、該マイクロドリル回転挟持台が該Ｖ字型槽の一側に設置され、該マイクロドリル回転挟持台により該マイクロドリルの刃面を正向きに回転させて、該Ｖ字型槽上に水平に置かれ、該取出しモジュールの一側に設置され挟持モジュールと、
第１画像センサーを備えていて、該マイクロドリルの刃長、ドリル径、角度補正及びスピンドル回転数を検査し、該マイクロドリル回転挟持台の一側に設置される第１検査モジュールと、
第２画像センサーを備えていて、該マイクロドリルの刃面を検査し、該第１検査モジュールの一側に位置し、且つ該マイクロドリル回転挟持台の一側に傾斜して設置される第２検査モジュールと、
第１砥石車及び第２砥石車を備えていて、該マイクロドリルの刀刃を研磨し、該第１検査モジュール及び該第２検査モジュールの一側に位置し、且つ該挟持モジュールの一側に設置される研磨モジュールと、を備えることを特徴とする、全自動式マイクロドリルの研磨装置。
【請求項２】
前記装填区及び該放出区は、それぞれ輸送ベルトが設置されることを特徴とする、請求項１記載の全自動式マイクロドリルの研磨装置。
【請求項３】
前記ブラシ装置は、複数列のブラシから構成されて該装填区の上方に設置されることを特徴とする、請求項１記載の全自動式マイクロドリルの研磨装置。
【請求項４】
前記取出しモジュールは、取出トングと、荷卸トングとを備え、前記取出トングと、該荷卸トングとは並列に配置されることを特徴とする、請求項１記載の全自動式マイクロドリルの研磨装置。
【請求項５】
前記第１画像センサー及び該第２画像センサーは、電荷結合素子部品（Charge-coupled Device ，CCD）とすることを特徴とする、請求項１記載の全自動式マイクロドリルの研磨装置。
【請求項６】
請求項１記載の全自動式マイクロドリルの研磨装置を利用する全自動式マイクロドリルの研磨方法においで、
研磨及び検査前の複数のマイクロドリルを置いてあるマイクロドリル箱を提供するステップと、
該ブラシ装置で該複数のマイクロドリルに対して塵除去作業を行うステップと、
該マイクロドリルを該挟持モジュールへ挟持移動し、垂直、傾斜及び水平等などの調整を行わせるステップと、
刃長、ドリル径、角度補正及びスピンドル回転数などの状況を検査するように、該マイクロドリルを第１次検査するステップと、
検査合格した該マイクロドリルを第１次研磨し、不合格の該マイクロドリルを該不良品区へ移動するステップと、
刃面の研磨状況を検査し、良品と判定した該マイクロドリルは該放出区へ移動し、不良品の該マイクロドリルは該第１次検査、該第１次研磨及び該第２次検査などをテ繰り返しするように、研磨完了の該マイクロドリルを第２次検査するステップと、
良品の該マイクロドリルであれば該放出区へ移動し、不良品の該マイクロドリルであれば該不良品区へ移動するように、前記のステップで不良品と判定した該マイクロドリルを第２次研磨するステップとを含むことを特徴とする、全自動式マイクロドリルの研磨方法。
【請求項７】
前記該マイクロドリルを該挟持モジュールへ挟持移動するステップに於いて、該取出しモジュールの該取出トングで該マイクロドリルを該挟持モジュールの該マイクロドリル回転挟持台へ挟んで移動することを特徴とする、請求項６記載の全自動式マイクロドリルの研磨方法。
【請求項８】
前記該マイクロドリルの第１次検査ステップは、該第１次検査モジュールの該第１画像センサーで検査を行い、研磨完了の該マイクロドリルの第２次検査ステップは、第２次検査モジュールの該第２画像センサーで検査を行うことを特徴とする、請求項６記載の全自動式マイクロドリルの研磨方法。
【請求項９】
前記マイクロドリルは、該取出しモジュールで該装填区、該放出区及び該不良品区の間を移動することを特徴とする、請求項６記載の全自動式マイクロドリルの研磨方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、研磨設備及び使用方法に関し、特に全自動行程でマイクロドリルを研磨する研磨装置及びその研磨方法に係わる。
【背景技術】
【０００２】
現在、消費性電子製品は軽薄短小及び携帯化の方向へ発展しており、それに使用するプリント配線板及び集積回路基板のサイズも益々軽薄短小化していて、その上に体積が更に小さい電子部品を溶接しなければならない。また該電子部品の接続脚は更に細くて小さいため、マイクロドリルを使用してプリント配線板もしくは集積回路基板上に孔を開ける必要がある。そのマイクロドリルの切刃面は小さく、使用後は摩耗が発生するため、穴あけの品質に影響をする。そのため、一般的に専用のマイクロドリル研磨設備で研磨することで、新しいマイクロドリルを新たに購入するコスト消耗を下げ、且つ穴あけの品質を保っている。
【０００３】
研磨の効率及び研磨品質を有効に向上させるため、一般的には、中華民国特許第５４２０２９号に示すとおり、自動式マイクロドリル研磨設備でマイクロドリルの研磨を行う。それは、機台、機械腕、転換腕、複数組の画像センサー及び研磨装置を含み、該機械腕及び該転換腕は該機台上に設置し、且つ研磨前の該マイクロドリルをドリル出入区に設置し、該研磨装置は該研磨区内に設置する。該複数組の画像センサーは該検査区内に設置し、且つ該複数組の画像センサー及び該研磨装置は該マイクロドリルの刃長及び直径を検査し、定位検査、検査に必要なスピンドル回転数及びその刃面を検査する。
【０００４】
しかしながら、該自動式マイクロドリル研磨設備を使用する場合、マイクロドリルを装填した後、該機械腕で該マイクロドリルを該検査区へ送り、第１画像センサーでその刃長と直径を検査し、次に該転換腕で該マイクロドリルを該研磨区へ送り、該第２画像センサーで該マイクロドリルの定位を検査し、該研磨装置で研磨する。続いて該転換腕で該マイクロドリルを該検査区へ戻し、該第３画像センサーでスピンドル回転数及び刃面を検査し、完成後該機械腕で研磨完了の該マイクロドリルを出す。このように、該自動式マイクロドリル研磨設備は、使用に際し送る時間がかかりすぎ、且つ多数の画像センサーを使用しなければならない。そのため、設備の設置コストが上がってしまうことが、現在の自動式研磨設備の欠点である。
【０００５】
故に上述の欠点から本発明は全自動式マイクロドリルの研磨装置及びその研磨方法を提供し、画像センサー使用の回数を減らすだけでなく、且つ往復移動の回数及び時間も大幅に減らし、設備の設置コストを下げ、且つマイクロドリル研磨時の効率を有効に高め、操作時には２回の検査及び２回の研磨によって研磨後の品質を大幅に高める必要がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】台湾特許第５４２０２９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
解決しようとする問題点は、使用に際し送る時間がかかりすぎ、且つ多数の画像センサーを使用しなければならない。そのため、設備の設置コストが上がってしまい、更にマイクロドリル研磨時の効率及び品質が悪い点である。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
全自動式マイクロドリルの研磨装置及びその研磨方法は、その装置は機台、ブラシ装置、取出しモジュール、挟持モジュール、第１検査モジュール、第２検査モジュール及び研磨モジュールを含む。これらによって、研磨及び検査前のマイクロドリルを該挟持モジュールへ移動し、移動過程で同時に塵除去を行い、続いて第１次検査を行う。合格と判定したものは該研磨モジュールで第１次研磨を行い、不合格のものは不良品区へ送る。第１次研磨が完了した該マイクロドリルは第２次検査へ進み、良品は該放出区へ送り、不良品は前述ステップを繰り返してから第２次研磨へ進み、良品を該放出区へ送り出す。それでも尚、不良品の場合は該不良品区へ移動させることを最も主要な特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明の全自動式マイクロドリルの研磨装置及びその研磨方法は、設備の設置コストを下げ、且つマイクロドリル研磨時の効率及び品質を有効に向上させるという利点がある。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明に係る好ましい実施例の配置態様図である。
【図２】本発明に係る好ましい実施例の装填区、放出区及びブラシ装置の構造態様図である。
【図３】本発明に係る好ましい実施例の不良品区の構造態様図である。
【図４】本発明に係る好ましい実施例の取出しモジュールの構造態様図である。
【図５】本発明に係る好ましい実施例の挟持モジュール及び第１次検査モジュールの構造態様図である。
【図６】本発明に係る好ましい実施例の第２次検査モジュールの構造態様図である。
【図７】本発明に係る好ましい実施例の研磨モジュールの構造態様図である。
【図８】本発明に係る好ましい実施例のマイクロドリル箱で装填区から入る動態態様図である。
【図９】本発明に係る好ましい実施例のマイクロドリルに対してブラシで塵除去作業をする動態態様図である。
【図１０】本発明に係る好ましい実施例の取出トングでマイクロドリルを挟む動態態様図である。
【図１１】本発明に係る好ましい実施例のマイクロドリルをマイクロドリル回転挟持台に差し込む動態態様図である。
【図１２】本発明に係る好ましい実施例のマイクロドリルへの第１次検査を行う動態態様図である。
【図１３】本発明に係る好ましい実施例のマイクロドリルがＶ字型槽に水平倒立で寄りかかる動態態様図である。
【図１４】本発明に係る好ましい実施例のマイクロドリルへの研磨作業を行う動態態様図である。
【図１５】本発明に係る好ましい実施例のマイクロドリルへの第２次検査を行う動態態様図である。
【図１６】本発明に係る好ましい実施例の取出トングでマイクロドリルを挟んでマイクロドリル回転挟持台へ送る動態態様図である。
【図１７】本発明に係る好ましい実施例の取出トング、荷卸トングが良品のマイクロドリルを挟み、マイクロドリルを差し込む動態態様図である。
【図１８】本発明に係る好ましい実施例の荷卸トングがマイクロドリルを挟んで装填区へ送る動態態様図である。
【図１９】本発明に係る好ましい佳実施例の取出トング、荷卸トングが不良品のマイクロドリルを挟み、マイクロドリルを差し込む動態態様図である。
【図２０】本発明に係る好ましい実施例の荷卸トングでマイクロドリルを挟み不良品区へ送る動態態様図である。
【図２１】本発明に係る好ましい実施例の動作フローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
設備の設置コストを下げ、且つマイクロドリル研磨時の効率及び品質を有効に向上させる全自動式マイクロドリル研磨装置を提供することを本発明の目的とする。
【００１２】
上述の目的を達成するため、本発明の全自動式マイクロドリル研磨装置は、マイクロドリルを清潔に研磨し、研磨状況を検査するものとする。それは、機台、ブラシ装置、取出しモジュール、挟持モジュール、第１次検査モジュール、第２次検査モジュール、研磨モジュールを含む。機台は、装填区、放出区及び不良品区を備え、該装填区及び該放出区は機台一側に平行設置し、該不良品区は該機台別一側に設置する。ブラシ装置は、該機台上に設置し、該装填区位置の上方に対応する。取出しモジュールは、該装填区の一側に設置する。挟持モジュールは、該取出しモジュールの一側に設置し、該挟持モジュールはマイクロドリル回転挟持台及び一Ｖ字型槽を備え、該マイクロドリル回転挟持台は該Ｖ字型槽一側に設置する。該マイクロドリル回転挟持台は該マイクロドリル刃面を該Ｖ字型槽上に回転させて正方向、水平に置く。第１次検査モジュールは、該マイクロドリル回転挟持台一側に設置し、該第１次検査モジュールは第１画像センサーを備え、該マイクロドリルの刃長、刃径、角度補正及びスピンドル回転数を検査する。第２検査モジュールは、該マイクロドリル回転挟持台一側に傾斜設置して該第１検査モジュール一側に位置する。更に該第２検査モジュールは第２画像センサーを備え、該マイクロドリルの刃面を検査する。研磨モジュールは、該挟持モジュール一側に設置し、且つ該第１検査モジュール及び該第２検査モジュールの一側に位置する。該研磨モジュールは第１砥石車及び第２砥石車を備え、該マイクロドリルの刀刃を研磨する。
【００１３】
マイクロドリル研磨時の効率及び品質を有効に向上させる該全自動式マイクロドリル研磨装置を使用した研磨方法を提供することを本発明の別の一目的とする。
【００１４】
設備の設置コストを下げ、且つマイクロドリル研磨時の効率及び品質を有効に向上させる全自動式マイクロドリル研磨装置を使用した研磨方法を提供することを本発明の別の一目的とする。
【００１５】
上述の目的を達成するため、研磨方法は、以下のステップを含む。
研磨及び検査前の複数のマイクロドリルを置くマイクロドリル箱を提供する。該ブラシ装置で該複数のマイクロドリルに対して塵除去作業を行う。該マイクロドリルを該挟持モジュールへ挟持移動し、垂直、傾斜及び水平等の調整を行う。第１次検査では該マイクロドリルの刃長、刃径、角度補正及びスピンドル回転数等状況を検査する。検査合格した該マイクロドリルに第１次研磨を行い、不合格の該マイクロドリルは該不良品区へ移動させる。研磨完了の該マイクロドリルに第２次検査を行い、刃面の研磨状況を検査し、良品と判定した該マイクロドリルは該放出区へ移動し、不良品の該マイクロドリルは該第１次検査、該第１次研磨及び該第２次検査等ステップを繰り返す。前ステップで不良品であった該マイクロドリルに第２次研磨を行い、良品の該マイクロドリルは該放出区へ移動させ、尚不良品の該マイクロドリルは該不良品区へ移動させる。
【実施例】
【００１６】
本発明の内容を更に詳しく説明するため、図式と共に実施例で説明する。
【００１７】
図１は、本発明実施例の配置指示図であり、図２〜７は本発明実施例の各部品構造指示図である。図に示すとおり、本発明の全自動式マイクロドリル研磨装置（図未提示）はマイクロドリル１０をきれいに研磨し、研磨状況を検査し、良品のマイクロドリル１１及び不良品のマイクロドリル１２に仕分ける。該全自動式マイクロドリル研磨装置は機台、ブラシ装置４０、取出しモジュール６０、挟持モジュール７０、第１検査モジュール８０、第２検査モジュール１００及び研磨モジュール９０を含む。
【００１８】
図２、３に示すとおり、該機台（図未提示）は装填区２０、放出区３０及び不良品区５０を備え、且つ該装填区２０と該放出区３０は機台一側に相互に平行直伸で設置され、研磨及び検査前のマイクロドリル１０を運んで装填したり、研磨及び検査完了後の良品マイクロドリル１１を運んで放出したりする。該ブラシ装置４０は複数のブラシ毛で構成され、装填区２０上方に設置され、研磨及び検査前のマイクロドリル１０に塵除去作業を行う。更に該装填区２０及び該放出区３０はそれぞれ輸送ベルト（図中に符号なし）を設置する。図３に示すとおり、該不良品区５０は該装填区２０及び該放出区３０と同じく、機台の該装填区２０及び該放出区３０に対応する同側位置に設置され、研磨及び検査完了後の不良品マイクロドリル１２を置く。更に該ブラシ装置４０は該機台上に設置し該装填区２０の上方に対応し、且つ該ブラシ装置４０は複数列のブラシから構成される。
【００１９】
図４、５に示すとおり、該取出しモジュール６０は該装填区２０の一側に設置する。該取出しモジュール６０は該装填区２０及び該挟持モジュール７０の間に設置し、且つ該取出しモジュール６０は取出トング６１及び荷卸トング６２を備え、更に該取出トング６１及び該荷卸トング６２は並列して設置する。更に該挟持モジュール７０は該取出しモジュール６０の一側に設置し、且つ該挟持モジュール７０はマイクロドリル回転挟持台７１及びＶ字型槽７２を備え、更に該マイクロドリル回転挟持台７１は該Ｖ字型槽７２の一側に設置する。該マイクロドリル回転挟持台７１は該研磨及び検査前のマイクロドリル１０を置くのに用い、垂直、水平倒立及び横移動で該研磨及び検査前のマイクロドリル１０の研磨及び検査作業を行い、該マイクロドリル回転挟持台７１前方に設置する該Ｖ字型槽７２は、該研磨及び検査前のマイクロドリル１０の刃身を支えて研磨作業を行う。更に該Ｖ字型槽７２の形状は該マイクロドリル１０の刃身に対応する。操作時、該取出トング６１は装填区２０内の該研磨及び検査前のマイクロドリル１０を挟持して該マイクロドリル回転挟持台７１上へ移動し、続いて該荷卸トング６２が研磨完了検査した該良品のマイクロドリル１１もしくは該不良品のマイクロドリル１２をマイクロドリル回転挟持台７１から挟んで装填区２０もしくは不良品区５０へ移動させる。
【００２０】
図６に示すとおり、該第１検査モジュール８０は、該マイクロドリル回転挟持台７１一側に設置し、且つ該第１次検査モジュール８０は第１画像センサー８１を備えて該挟持モジュール７０の位置で対応する。該第１画像センサー８１では該研磨及び検査前のマイクロドリル１０の刃長、ドリル径、角度補正及びスピンドル回転数定位を検査する。そのうち、刃長検査では該研磨及び検査前のマイクロドリル１０の折損もしくは空洞化を即座に検査判定し、ドリル径検査では該研磨及び検査前のマイクロドリル１０が異物混入か否かを即座に判定し、定位検査では該研磨及び検査前のマイクロドリル１０の画像を撮影し、画素ピッチソフト公式換算によって刃面に必要な補正角度及び研磨スピンドル回転行程を判定する。そのうち、該第1画像センサーは電荷結合素子部品（Charge-coupled Device ，CCD）とする。
【００２１】
図７に示すとおり、該第２検査モジュール１００は、該マイクロドリル回転挟持台７１一側に傾斜して設置し、該第１検査モジュール８０一側に位置する。更に該第２検査モジュール１００は第２画像センサー１０１を備え、該良品のマイクロドリル１１もしくは不良品のマイクロドリル１２の刃面を検査する。そのうち、該第２画像センサーは電荷結合素子部品（Charge-coupled Device ，CCD）とする。
【００２２】
図６に示すとおり、該研磨モジュール９０は、該挟持モジュール７０一側に設置し、該第１検査モジュール８０及び該第２検査モジュール１００の一側に位置する。該研磨モジュール９０は第１砥石車９１及び第２砥石車９２を備え、該研磨及び検査前のマイクロドリル１０の刀刃の研磨作業を行う。
【００２３】
図２１は、本発明に係る好ましい実施例の動作フローチャートである。図８〜２０は、本発明実施例の各ステップに対応した各種動態指示図である。図に示すとおり、マイクロドリル研磨時の効率を高めるため、前述の全自動式マイクロドリル研磨装置の研磨方法は、下記のステップを含む。
【００２４】
Ｓ１は、該複数のマイクロドリル１０を置いたマイクロドリル箱を提供する。（図８及び図２１参照）
【００２５】
Ｓ２は、該ブラシ装置４０で該複数のマイクロドリル１０に対して塵除去作業を行う。（図９及び図２１参照）
【００２６】
Ｓ３は、該マイクロドリル１０を該挟持モジュール７０へ挟持移動し、垂直、傾斜及び水平等に調整する。その動作は該取出しモジュール６０の該取出トング６１を使用し、該マイクロドリル１０を該挟持モジュール７０の該マイクロドリル回転挟持台７１へ挟んで移動する。（図１０、１１及び図２１参照）
【００２７】
Ｓ４は、第１次の該マイクロドリル１０の検査で、該第１次検査モジュール８０の該第１画像センサー８１でマイクロドリル１０の刃長、刃径、角度補正及びスピンドル回転数等状況を検査する。（図１２及び図２１参照）
【００２８】
Ｓ５は、第１次の検査に合格した該マイクロドリル１０を研磨する。不合格の該マイクロドリル１０は該不良品区５０へ移動する。もしも刃長及び刃径が基準であれば、該マイクロドリル回転挟持台７１によって該マイクロドリル１０の刃面を該Ｖ字型槽７２上に回転させて正方向、水平倒立で置き、該マイクロドリル回転挟持台７１から研磨モジュール９０の第１、第２砥石車９１及び９２間で水平横移動して該マイクロドリル１０に対して刀刃研磨作業を行う。もしも刃長及び刃径が基準に合わない時には該取出しモジュール６０の該荷卸トング６２によって該不良のマイクロドリル１２を挟んで不良品区５０へ移動する。（図１３、１４、２０、２１参照）
【００２９】
Ｓ６は、第２次の研磨完了後の該マイクロドリル１０検査で、第２次検査モジュール１００の該第２画像センサー１０１でその刃面の研磨状況を検査し、良品のマイクロドリル１１として判定したものは該放出区３０へ移動させる。不良品のマイクロドリル１２は、該第１次検査、該第１次研磨及び該第２次検査等ステップを繰り返す。その動作は該マイクロドリル回転挟持台７１によって該マイクロドリル１０を特定傾斜角度位置に倒し、該第２画像センサー１０１によって該マイクロドリル１０に対し刃面検査作業を行う(図１５及び図２１参照)。更に該第１次検査、該第１次研磨及び該第２次検査等ステップを繰り返す間、該取出しモジュール６０で該装填区２０へ移動させ、該取出トング６１で研磨及び検査前の該マイクロドリル１０を該マイクロドリル回転挟持台７１上方へ移動させる(図１０、１６及び図２１参照)。次に検査後、もしも良品のマイクロドリル１１であれば該荷卸トング６２で該良品のマイクロドリル１１を挟み、該取出トング６１で研磨及び検査前の該マイクロドリル１０を差し込み、該取出しモジュール６０で該良品のマイクロドリル１１を該装填区２０へ移動させる。検査後、もしも不良品のマイクロドリル１２であれば、ステップ４からステップ６の動作を繰り返す(図１２、１３、１４、１５、１７、１８及び２１参照)。
【００３０】
Ｓ７は、第２次の前ステップで不良品であったマイクロドリル１２の研磨を行う。もしも、良品のマイクロドリル１１であれば、該放出区３０へ移動させる。もしも、不良品のマイクロドリル１２であれば、該不良品区５０へ移動させる。第２次研磨及び検査を経た後、もしも良品のマイクロドリル１１であれば、該荷卸トング６２で該良品のマイクロドリル１１を挟み、該取出トング６１で研磨及び検査前の該マイクロドリル１０を差し込み、該取出しモジュール６０で該良品のマイクロドリル１１を該放出区３０へ移動させる。もしも、それでもまだ不良品のマイクロドリル１２があれば、荷卸トング６２で該マイクロドリル１２を挟み、取出トング６１で研磨及び検査前のマイクロドリル１０を差し込み、該取出しモジュール６０で該不良品のマイクロドリル１２を該不良品区５０へ移動させる(図１７、１８、１９、２０及び２１参照)。
【００３１】
この他、新しく差し込んだ研磨及び検査前の該マイクロドリル１０に対してＳ４〜Ｓ７の動作を繰り返し、複数の個の研磨及び検査前の該マイクロドリル１０の研磨作業を完成する。
【００３２】
上述のとおり、本発明の全自動式マイクロドリルの研磨装置及びその研磨方法は、該第１検査モジュール８０及び該第２検査モジュール１００の使用によって画像センサーの回数が減るため、設置コストが下がる。更に本発明は該取出しモジュール６０及び該挟持モジュール７０によって、操作時に該マイクロドリル１０が移動往復する時間が減るため、該マイクロドリル１０研磨の効率が有効に向上する。更に、該マイクロドリル１０は第１次検査によって合格と判定したものは該研磨モジュール９０内で第１次研磨を行い、不合格と判定したものは即座に不良品区５０へ送る。第１次研磨が完了した該マイクロドリル１０は再び第２次検査を行い、良品は該放出区３０へ送り、不良品は前述第１次検査、第１次研磨及び該第２次検査等ステップを繰り返した後、再び第２次研磨を行い、良品を該放出区３０へ送り出す。それでも尚、不良品の場合は、該不良品区５０へ送る。該マイクロドリル１０は検査及び研磨を繰り返すため、研磨の品質が大幅に向上する。
【００３３】
以上は、本発明の良好な実施例に過ぎず、本発明実施の範囲を制限するものではない。故に、当領域に習熟した者が、本発明と同効果もしくは簡易な変化を実施するかもしれない。拠って本発明の精神から乖離しない各種入替修飾は全て、本発明の請求範囲に含まれるものとする。
【符号の説明】
【００３４】
１０        研磨及び検査前のマイクロドリル
１１        良品のマイクロドリル
１２        不良品のマイクロドリル
２０        装填区
３０        放出区
４０        ブラシ装置
５０        不良品区
６０        取出しモジュール
６１        取出トング
６２        荷卸トング
７０        挟持モジュール
７１        マイクロドリル回転挟持台
７２        Ｖ字型槽
８０        第１検査モジュール
８１        第１画像センサー
９０        研磨モジュール
９１        第１砥石車
９２        第２砥石車
１００        第２検査モジュール
１０１        第２画像センサー
Ｓ１        ステップ
Ｓ２        ステップ
Ｓ３        ステップ
Ｓ４        ステップ
Ｓ５        ステップ
Ｓ６        ステップ
Ｓ７        ステップ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2013018063.tif 000009
【図８】
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【図９】
2013018063.tif 000011
【図１０】
2013018063.tif 000012
【図１１】
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【図１２】
2013018063.tif 000014
【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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