【手続補正書】
【提出日】平成25年12月9日(2013.12.9)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ガラス容器成形プロセスをモニタリングする方法であって、前記成形プロセスが、成形機によって実現され、前記成形機が複数の独立した区画を含み、前記区画の各々が、ガラス容器がそこで形成される少なくとも１つの成形ステーションを有し、この方法が、前記高温ガラス容器によって放出される放射に感応する測定装置で、前記成形機のすぐ後ろで高温ガラス容器によって放出される放射を測定するステップを含み、前記測定装置が、各高温ガラス容器の画像を生成し、前記画像が、有限数の画像ラインにより画定される関連する画像の領域内に構成され、各画像ラインが有限数の画素を有する方法において、
各成形ステーションから測定した各ガラス容器ごとに、
ａ．こうしたガラス容器に関するすべての前記画像ラインのすべての前記画素のデジタル値を合計することによって、各ガラス容器ごとに放射測定値の和を求めるステップと、
ｂ．こうしたガラス容器に関するこのような画像ラインのすべての前記画素の前記デジタル値を合計することによって、各ガラス容器について各画像ラインごとにライン放射測定値を求めるステップと、
ｃ．こうしたガラス容器の各画像ラインごとの前記ライン放射測定値を、こうしたガラス容器に関する前記放射測定値の和で除算することによって、各ガラス容器ごとに測定値の比の曲線を求め、これにより、前記ガラス容器がそれらの成形ステーションから前記測定装置へ移動するときの前記ガラス容器がさらされる状況及びパラメータの変化から結果として生じる、前記ガラス容器によって放出される放射の量の変化を補償するステップとをさらに含むことを特徴とする方法。
【請求項２】
前記方法は、各成形ステーションからの前記ガラス容器が比較される、形成された容器の種類に特有の基準を生成するために、
ｄ．すべて又は選択された数の成形ステーションから作られる所定の数の前記ガラス容器に対する前記測定値の比の曲線の対応する点を平均することにより、基準曲線を求めるステップ
をさらに含むことを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記基準曲線とともに前記成形ステーションにおいて生成されたガラス容器間の差に関する情報を生じるために、
ｅ．前記測定値の比の曲線から前記基準曲線を減算し、その結果を前記基準曲線で除算することによって、各成形ステーションからの各ガラス容器ごとに相対差曲線を求めるステップ
をさらに含むことを特徴とする、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
ｆ．各高温ガラス容器の前記相対差曲線を所定の公差曲線と比較するステップと、
ｇ．前記相対差曲線が少なくとも１つの点で前記公差曲線を超える場合に、警告信号を生成するステップと
をさらに含むことを特徴とする、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記成形プロセスを自動で制御するため、
ｈ．各高温ガラス容器の前記相対差曲線を成形プロセス制御装置に送信するステップ
をさらに含むことを特徴とする、請求項３に記載の方法。
【請求項６】
前記測定が、０．７マイクロメートルと３．０マイクロメートルの間の放射波長に対して行われることを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項７】
ガラス容器成形プロセスをモニタリングするシステムであって、前記成形プロセスが、成形機によって実現され、前記成形機が、制御装置によって制御され、複数の独立した区画を含み、前記区画がそれぞれ、ガラス容器が形成される少なくとも１つの成形ステーションを有し、このシステムが、前記成形機のすぐ後ろで前記成形ステーションからの前記高温ガラス容器によって放出される放射に感応し、各高温ガラス容器の画像を生成する少なくとも１つの測定装置であって、前記画像が有限数の画像ライン内に構成され、各画像ラインが有限数の画素を有する、測定装置と、計算し、比較し、他の装置と連絡する処理装置と、を備えるシステムにおいて、
前記処理装置がさらに、各成形ステーションから測定した各ガラス容器ごとに、
ａ．こうしたガラス容器に関するすべての前記画像ラインのすべての前記画素のデジタル値を合計することによって、各ガラス容器ごとに放射測定値の和を求めるステップと、
ｂ．こうしたガラス容器に関するこのような画像ラインのすべての前記画素の前記デジタル値を合計することによって、各ガラス容器について各画像ラインごとにライン放射測定値を求めるステップと、
ｃ．こうしたガラス容器の各画像ラインごとの前記ライン放射測定値を、こうしたガラス容器に関する前記放射測定値の和で除算することによって、各ガラス容器ごとに測定値の比の曲線を求め、これにより、前記ガラス容器がそれらの成形ステーションから前記測定装置へ移動するときの前記ガラス容器がさらされる状況及びパラメータの変化から結果として生じる、前記ガラス容器によって放出される放射の量の変化を補償するステップと
を実行するようにプログラムされることを特徴とするシステム。
【請求項８】
前記処理装置がさらに、
ｄ．すべてまたは選択した数の成形ステーションから作られる所定の数の前記容器に対する前記測定値の比の曲線の対応する点を平均することによって、基準曲線を求めるステップ
を実行するようにプログラムされることを特徴とする、請求項７に記載のシステム。
【請求項９】
前記処理装置がさらに、
ｅ．各高温ガラス容器に関する前記測定値の比の曲線から前記基準曲線を減算し、その結果を前記基準曲線で除算することによって、各高温ガラス容器ごとに相対差曲線を求めるステップ
を実行するようにプログラムされることを特徴とする、請求項８に記載のシステム。
【請求項１０】
前記処理装置がさらに、
ｆ．各高温ガラス容器の前記相対差曲線を所定の公差曲線と比較するステップと、
ｇ．前記相対差曲線が少なくとも１つの点で前記公差曲線を超える場合に、警告信号を生成するステップと
を実行するようにプログラムされることを特徴とする、請求項９に記載のシステム。
【請求項１１】
前記成形プロセスを制御するため、前記処理装置がさらに、
ｈ．各高温ガラス容器の前記相対差曲線を前記制御装置に送信するステップ
を実行するようにプログラムされることを特徴とする、請求項７に記載のシステム。
【請求項１２】
前記測定装置が、０．７マイクロメートルと３．０マイクロメートルの間の放射波長に感応することを特徴とする、請求項７に記載のシステム。
【請求項１３】
前記測定装置が、
短波長赤外線（ＳＷＩＲ）カメラを備えることを特徴とする、請求項１２に記載のシステム。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３７】
[0037]本発明のこれらの利点および他の利点は、図面を参照すると最も良く理解される。
本発明は、以下の態様に関し得る。
（態様１）ガラス容器成形プロセスをモニタリングする方法であって、前記成形プロセスが、成形機によって実現され、前記成形機が複数の独立した区画を含み、前記各区画が、ガラス容器がそこで形成される少なくとも１つの成形ステーションを有し、この方法が、前記高温ガラス容器によって放出される放射に感応する測定装置で、前記成形機のすぐ後ろで高温ガラス容器によって放出される放射に比例するデジタル値を判定するステップを含み、前記測定装置が、各高温ガラス容器のデジタル画像を生成し、前記デジタル画像が、有限数の画像ラインで構成され、各画像ラインが有限数の画素を有し、各画素がデジタル値を有する方法において、各成形ステーションから測定した各ガラス容器ごとに、ａ．こうしたガラス容器に関するすべての前記画像ラインのすべての前記画素の前記デジタル値を合計することによって、各ガラス容器ごとに放射測定値の和を求めるステップと、ｂ．こうしたガラス容器に関するこのような画像ラインのすべての前記画素の前記デジタル値を合計することによって、各ガラス容器について各画像ラインごとにライン放射測定値を求めるステップと、ｃ．こうしたガラス容器の各画像ラインごとの前記ライン放射測定値を、こうしたガラス容器に関する前記放射測定値の和で除算することによって、各ガラス容器ごとに測定値の比の曲線を求めるステップとをさらに含むことを特徴とする方法。
（態様２）ｄ．所定の数の前記ガラス容器に対する前記複数の測定値の比の曲線に基づいて、基準曲線を求めるステップをさらに含む、態様１の方法。
（態様３）ｅ．各ガラス容器に関する前記測定値の比の曲線から前記基準曲線を減算し、その結果を前記基準曲線で除算することによって、各ガラス容器ごとに相対差曲線を求めるステップをさらに含む、態様２の方法。
（態様４）ｆ．各高温ガラス容器の前記相対差曲線を所定の公差曲線と比較するステップと、ｇ．前記相対差曲線が少なくとも１つの点で前記公差曲線を超える場合に、警告信号を生成するステップとをさらに含む、態様３の方法。
（態様５）前記成形機が制御装置によって動作され、ｈ．前記成形プロセスを自動的に制御するために、各高温ガラス容器の前記相対差曲線を前記制御装置に送信するステップをさらに含む、態様３の方法。
（態様６）前記測定装置が、０．７ミクロンと３．０ミクロンの間の放射波長に感応する、態様１の方法。
（態様７）ガラス容器成形プロセスをモニタリングするシステムであって、前記成形プロセスが、成形機によって実現され、前記成形機が、制御装置によって制御され、複数の独立した区画を含み、前記各区画が、ガラス容器がそこで形成される少なくとも１つの成形ステーションを有し、このシステムが、前記高温ガラス容器によって放出される放射に感応し、前記成形機のすぐ後ろで各高温ガラス容器の画像を生成する少なくとも１つの測定装置であって、前記画像が有限数の画像ラインで構成され、各画像ラインが有限数の画素を有する、測定装置と、計算し、比較し、他の装置と連絡する処理装置とを備えるシステムにおいて、前記処理装置がさらに、各成形ステーションから測定した各ガラス容器ごとに、ａ．こうしたガラス容器に関するすべての前記画像ラインのすべての前記画素のデジタル値を合計することによって、各ガラス容器ごとに放射測定値の和を求めるステップと、ｂ．こうしたガラス容器に関するこのような画像ラインのすべての前記画素の前記デジタル値を合計することによって、各ガラス容器について各画像ラインごとにライン放射測定値を求めるステップと、ｃ．こうしたガラス容器の各画像ラインごとの前記ライン放射測定値を、こうしたガラス容器に関する前記放射測定値の和で除算することによって、各ガラス容器ごとに測定値の比の曲線を求めるステップとを実行するようにプログラムされることを特徴とするシステム。
（態様８）前記処理装置がさらに、ｄ．すべてまたは選択した数の成形ステーションから作られる所定の数の前記容器に対する前記測定値の比の曲線を平均することによって、基準曲線を求めるステップを実行するようにプログラムされる、態様７のシステム。
（態様９）前記処理装置がさらに、ｅ．各高温ガラス容器に関する前記測定値の比の曲線から前記基準曲線を減算し、その結果を前記基準曲線で除算することによって、各高温ガラス容器ごとに相対差曲線を求めるステップを実行するようにプログラムされる、態様８のシステム。
（態様１０）前記処理装置がさらに、ｆ．各高温ガラス容器の前記相対差曲線を所定の公差曲線と比較するステップと、ｇ．前記相対差曲線が少なくとも１つの点で前記公差曲線を超える場合に、警告信号を生成するステップとを実行するようにプログラムされる、態様９のシステム。
（態様１１）各高温ガラス容器の前記相対差曲線が、前記成形プロセスを自動的に制御するように前記制御装置に送信される、態様９のシステム。
（態様１２）前記処理装置がさらに、ｈ．前記成形プロセスを自動的に制御するために、各高温ガラス容器の前記相対差曲線を前記制御装置に送信するステップを実行するようにプログラムされる、態様７のシステム。
（態様１３）前記測定装置が、０．７ミクロンと３．０ミクロンの間の放射波長に感応する、態様７のシステム。
（態様１４）前記測定装置が、短波長赤外線（ＳＷＩＲ）カメラを備える、態様１２のシステム。
（態様１５）Ｉ．Ｓ．機で形成された高温ガラス容器によって放出される放射を使用してガラス容器成形プロセスをモニタリングする方法であって、前記ガラス容器の形成後すぐかつ冷却前に、各高温ガラス容器によって放出される放射を測定するステップと、前記測定ステップに基づいて、各高温ガラス容器ごとにライン放射測定値曲線ならびに放射測定値の和を求めるステップと、前記ライン放射測定値曲線を前記放射測定値の和で除算することによって、各成形ステーションから各容器ごとに測定値の比の曲線を求めるステップとを含む、方法。
（態様１６）複数の容器に関する前記測定値の比の曲線に基づいて基準測定値の比の曲線を求めるステップをさらに含む、態様１５の方法。
（態様１７）前記各高温ガラス容器の測定値の比の曲線から前記基準測定値の比の曲線を減算し、その結果を前記基準測定値の比の曲線で除算することによって、各高温ガラス容器ごとに相対差曲線を求めるステップをさらに含む、態様１６の方法。
（態様１８）各高温ガラス容器の前記相対差曲線を所定の公差曲線と比較するステップをさらに含む、態様１７の方法。
（態様１９）前記相対差曲線が少なくとも１つの点で前記公差曲線を超える場合に、警告信号を生成するステップをさらに含む、態様１８の方法。
（態様２０）前記成形プロセスを自動的に制御するために、各高温ガラス容器の相対差曲線を使用するステップをさらに含む、態様１７の方法。
（態様２１）前記放射測定ステップが、０．７ミクロンと３．０ミクロンの間の放射波長に感応する、態様１５の方法。
（態様２２）Ｉ．Ｓ．機で形成された高温ガラス容器によって放出される放射を使用してガラス容器成形プロセスをモニタリングするシステムであって、前記ガラス容器の形成後すぐかつ冷却前に、各高温ガラス容器によって放出される放射を測定する測定装置と、前記測定値に基づいて、各高温ガラス容器ごとのライン放射測定値の曲線ならびに放射測定値の和を求める処理装置とを備え、前記処理装置がさらに、前記ライン放射測定値の曲線を前記放射測定値の和で除算することによって、各成形ステーションからの各容器ごとに測定値の比の曲線も求める、システム。
（態様２３）前記処理装置がさらに、複数の容器に関する前記測定値の比の曲線に基づいて基準測定値の比の曲線を求める、態様２２のシステム。
（態様２４）前記処理装置がさらに、各高温ガラス容器の前記測定値の比の曲線から前記基準測定値の比の曲線を減算し、その結果を前記基準測定値の比の曲線で除算することによって、各高温ガラス容器ごとに相対差曲線を求める、態様２３のシステム。
（態様２５）前記処理装置がさらに、各高温ガラス容器の前記相対差曲線を所定の公差曲線と比較する、態様２４のシステム。
（態様２６）前記相対差曲線が少なくとも１つの点において前記公差曲線を超える場合に、前記処理装置がさらに、警告信号を生成する、態様２５のシステム。
（態様２７）各高温ガラス容器の前記相対差曲線が、前記成形プロセスを自動的に制御するために使用される、態様２４のシステム。
（態様２８）前記測定装置が、短波長赤外線（ＳＷＩＲ）カメラを備える、態様２２のシステム。