(57)【要約】      （修正有）【課題】開閉動作を繰り返す被試験接点の寿命試験において消費する電力を大幅に低減した装置を提供する。【解決手段】接点寿命試験用装置として、被試験接点ＴＥＳＴに第１の負荷を通して給電する第１の電源ＡＣ１と、被試験接点ＴＥＳＴに第２の負荷を通して給電する第２の電源ＡＣ２と、被試験接点ＴＥＳＴに第１の電源ＡＣ１又は第２の電源ＡＣ２を切り換え接続する接続切り換え手段ＣＳと、第１の電源ＡＣ１を被試験接点ＴＥＳＴに接続して被試験接点ＴＥＳＴが閉路した後から開路するまでの間の所定時間に第２の電源ＡＣ２を被試験接点ＴＥＳＴに切り換え接続するように接続切り換え手段ＣＳを制御する制御手段とを備え、開閉動作を繰り返す被試験接点ＴＥＳＴの寿命試験を行う。【選択図】図１
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【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
開閉動作を繰り返す被試験接点の寿命試験を行う接点寿命試験用装置であって、
前記被試験接点に第１の負荷を通して給電する第１の電源と、
前記被試験接点に第２の負荷を通して給電する第２の電源と、
前記被試験接点に前記第１の電源又は前記第２の電源を切り換え接続する接続切り換え手段と、
前記第１の電源を前記被試験接点に接続して前記被試験接点が閉路した後から開路するまでの間の所定時間に前記第２の電源を前記被試験接点に切り換え接続するように前記接続切り換え手段を制御する制御手段と
を備えたことを特徴とする接点寿命試験用装置。
【請求項２】
前記接続切り換え手段は、前記被試験接点に前記第１の電源を接続する電磁接触器と半導体スイッチ素子との並列回路、及び前記被試験接点に前記第２の電源を接続する半導体スイッチ素子からなることを特徴とする請求項１に記載の接点寿命試験用装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記被試験接点が閉路したことを検出する検出手段と、前記検出手段により前記被試験接点の閉路を検出したことを条件に前記所定時間が経過するのを判定する判定手段とを有することを特徴とする請求項１又は２のいずれかに記載の接点寿命試験用装置。
【請求項４】
前記制御手段は、前記被試験接点の開閉信号を入力して前記閉路信号より第１の所定時間が経過した第１のタイミングから第２の所定時間が経過した第２のタイミングまで前記第２の電源を前記被試験接点の端子間に切り換え接続するように前記接続切り換え手段を制御することを特徴とする請求項１又は２のいずれかに記載の接点寿命試験用装置。
【請求項５】
前記制御手段は、前記被試験接点の開閉信号を生成すると共に、前記開閉信号の間に前記第２の電源を前記被試験接点の端子間に切り換え接続する切り換え信号を生成する信号生成手段を有することを特徴とする請求項１又は２のいずれかに記載の接点寿命試験用装置。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は、開閉動作を繰り返す被試験接点の寿命試験を行う接点寿命試験用装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電磁接触器やリレー、リミットスイッチ、トグルスイッチ等、接点を有するスイッチには、一般にＪＩＳや電気用品取締法などの国内規格、ＵＬやＣＳＡ、ＶＤＥなどの海外規格が定められている。そのため、それぞれの地域、用途に応じて規格に適合するか否かを試験する装置が必要とされる。接点の通電モードは、通常、突入／定常電流断続、定常電流連続等である。
【０００３】
接点が定常の開路状態から定常の閉路状態に至る、又はその逆に定常の閉路状態から定常の開路状態に至る開閉の瞬間は、動作が不安定になり、突入電流やチャタリング、アーク放電が発生する。その結果、発熱や発熱による接点の溶融、劣化、損傷を引き起し、寿命に大きな影響を及ぼす。接点の寿命試験では、一般に電源、負荷、被試験接点の直列回路で被試験接点を開閉動作することにより行われ、接点の劣化、損傷などの評価により所定の規格を満たすか否かが判定される。
【０００４】
各種接点を有するスイッチの試験装置は従来より幾つか提案されている。それらには例えば、リレー接点投入時に定常状態に比べて過大電流が流れる負荷に使用するリレー実負荷試験装置（例えば、特許文献１参照）、リードスイッチを温度スイッチとして使用した場合と同様の条件で試験できるリードスイッチ寿命試験装置（例えば、特許文献２参照）、被試験接点を所定回数連続して開閉動作させ、その接触抵抗、バウンズ等を測定して被試験接点の寿命試験を行う方法（例えば、特許文献３参照）、各種のスイッチの機械的寿命および電気的寿命を試験する機構を備えたスイッチの耐久試験装置（例えば、特許文献４参照）などがある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特公昭４９−２８２３０号公報
【特許文献２】特開昭５２−２３６４７号公報
【特許文献３】特開昭６２−１９４４７１号公報
【特許文献４】特開平７−１１０２９０号公報
【考案の概要】
【考案が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、一般に開閉動作を繰り返す被試験接点の寿命試験では、被試験接点の定格に見合った電源、負荷を使って長時間にわたって連続して開閉動作試験を行うため、相当の電力を消費する。例えば提案されている従来のリレー実負荷試験装置は、２個の負荷の回路の合成インピーダンスを切り換え制御して試験リレー接点投入時に大電流をランプ負荷時の突入電流に模擬し、試験リレー接点開放時に小電流を平常時電流に模擬することによりリレー実負荷の試験を行うものであり、模擬する負荷の電流に対応して電力を消費することになる。
【０００７】
開閉動作を繰り返す被試験接点において、接点寿命は、閉路時の突入電流、チャタリング、アーク放電、開路時のアーク放電による過渡時の影響が大きいが、それに対し、閉路してから開路に至るまでの間の定常状態での影響は非常に小さいと考えられる。しかし、
接点が開路の状態で端子間に電源から定格電圧を印加して開閉動作を繰り返す接点寿命試験用装置では、閉路の期間中も一様に所定の電力を消費することになる。
【０００８】
本考案は、開閉動作を繰り返す被試験接点の寿命試験において消費する電力を大幅に低減した装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
そのために本考案は、開閉動作を繰り返す被試験接点の寿命試験を行う接点寿命試験用装置であって、前記被試験接点に第１の負荷を通して給電する第１の電源と、前記被試験接点に第２の負荷を通して給電する第２の電源と、前記被試験接点に前記第１の電源又は前記第２の電源を切り換え接続する接続切り換え手段と、前記第１の電源を前記被試験接点に接続して前記被試験接点が閉路した後から開路するまでの間の所定時間に前記第２の電源を前記被試験接点に切り換え接続するように前記接続切り換え手段を制御する制御手段とを備えたことを特徴とする。
【００１０】
さらに、前記接続切り換え手段は、前記被試験接点に前記第１の電源を接続する電磁接触器と半導体スイッチ素子との並列回路、及び前記被試験接点に前記第２の電源を接続する半導体スイッチ素子からなることを特徴とする。
【００１１】
また、前記制御手段は、前記被試験接点が閉路したことを検出する検出手段と、前記検出手段により前記被試験接点の閉路を検出したことを条件に前記所定時間が経過するのを判定する判定手段とを有することを特徴とし、前記制御手段は、前記被試験接点の開閉信号を入力して前記閉路信号より第１の所定時間が経過した第１のタイミングから第２の所定時間が経過した第２のタイミングまで前記第２の電源を前記被試験接点の端子間に切り換え接続するように前記接続切り換え手段を制御することを特徴とし、前記制御手段は、前記被試験接点の開閉信号を生成すると共に、前記開閉信号の間に前記第２の電源を前記被試験接点の端子間に切り換え接続する切り換え信号を生成する信号生成手段を有することを特徴とする。
【考案の効果】
【００１２】
本考案によれば、被試験接点が閉路してから開路するまでの平常通電時に第１の電源から第２の電源に切り換え接続することにより、被試験接点が閉路中の中間における電源電圧を大幅に低くすることができ、電力の消費を抑えることができる。したがって、長時間にわたり開閉動作を繰り返す被試験接点の寿命試験において消費電力を大幅に低減することができ、大きなエコ効果が期待できる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本考案に係る接点寿命試験用装置の実施の形態を説明する図
【図２】本考案に係る接点寿命試験用装置の動作を説明するタイムチャート
【図３】本考案に係る接点寿命試験用装置の動作を説明するフローチャート
【図４】本考案に係る接点寿命試験用装置の切り換え制御回路の実施例を示す図
【図５】本考案に係る接点寿命試験用装置の他の実施例を示す図
【図６】図５に示す実施例の動作を説明するタイムチャート
【図７】制御部において被試験接点ＴＥＳＴの開閉指令信号及び電源の切り換え接触器の切り換え指令信号を生成する実施例を説明する図
【考案を実施するための形態】
【００１４】
以下、本考案の実施の形態を図面を参照しつつ説明する。図１は本考案に係る接点寿命試験用装置の実施の形態を説明する図、図２は本考案に係る接点寿命試験用装置の動作を説明するタイムチャート、図３は本考案に係る接点寿命試験用装置の動作を説明するフロ
ーチャートである。図中、ＡＣ１、ＡＣ２は電源、ＣＳは切り換え接触器、Ｒ１、Ｒ２は負荷抵抗、ＳＷは主回路スイッチ、ＴＴは被試験装置接続端子、ＴＥＳＴは被試験接点を示す。
【００１５】
図１において、電源ＡＣ１は、所定電圧、例えば被試験装置の負荷回路の定格電圧に設定されたものであり、抵抗Ｒ１、切り換え接触器ＣＳのｂ接点を介して被試験装置接続端子ＴＴに接続される。電源ＡＣ２は、電源ＡＣ１の電圧のｎ分の１、例えば１０分の１の電圧に設定されたものであり、抵抗Ｒ２、切り換え接触器ＣＳのａ接点を介して被試験装置接続端子ＴＴに接続される。被試験装置接続端子ＴＴは、被試験装置の開閉動作を繰り返す被試験接点ＴＥＳＴが接続される端子である。負荷抵抗Ｒ１は、電源ＡＣ１から被試験接点ＴＥＳＴに定格電流ｉを供給するように設定され、負荷抵抗Ｒ２は、電源ＡＣ２から被試験接点ＴＥＳＴに定格電流ｉを供給するように設定されている。
【００１６】
切り換え接触器ＣＳは、被試験接点ＴＥＳＴが一定周期で開閉動作を繰り返す試験モードにおいて、電源ＡＣ１から負荷抵抗Ｒ１を介して給電する回路で被試験接点ＴＥＳＴが閉路し、その後、電源ＡＣ２から負荷抵抗Ｒ２を介して給電する回路に切り換える。そして、被試験接点ＴＥＳＴが開路になる直前に再び電源ＡＣ１から負荷抵抗Ｒ１を介して給電する回路に接続を切り換える。なお、ａ接点は、コイルが消勢されているとき開路状態にあり、付勢されて閉路する接点であり、ｂ接点は、コイルが消勢されているとき閉路状態にあり、付勢されて開路する接点である。以下、各リレー、接触器の接点について同様である。
【００１７】
次に、本実施形態に係る接点寿命試験用装置の動作を図２に示すタイムチャート及び図３に示すフローチャートにより説明する。まず、試験開始により、主回路スイッチＳＷをオンにするとともに（ステップＳ１１）、カウンタをリセットして０にクリアする（ステップＳ１２）。ここで、カウンタは、被試験接点ＴＥＳＴの開閉動作回数をカウントするものである。しかる後、被試験接点ＴＥＳＴが閉路になるまで待ち（ステップＳ１３）、被試験接点ＴＥＳＴが閉路になると（ｔ１時）、計時を開始（タイマーを起動）して被試験接点ＴＥＳＴが閉路になってからΔτ１時間が経過するのを待つ（ステップＳ１４）。そして、Δτ１時間が経過すると（ｔ２時に）、切り換え接触器ＣＳを動作させる（ステップＳ１５）。この切り換え接触器ＣＳの動作によりａ接点が閉路し、ｂ接点が開路するので、被試験接点ＴＥＳＴには、電源ＡＣ１から負荷抵抗Ｒ１を介して給電する回路が電源ＡＣ２から負荷抵抗Ｒ２を介して給電する回路に切り換え接続される。
【００１８】
続いて、切り換え接触器ＣＳが動作してａ接点が閉路し、ｂ接点が開路した後、次の計時を開始（タイマーを起動）してΔτ２時間が経過するのを待つ（ステップＳ１６）。そして、Δτ２時間が経過すると（ｔ３時に）、切り換え接触器ＣＳの動作を解除する（ステップＳ１７）。その後、被試験接点ＴＥＳＴが開路になるまで待ち（ステップＳ１８）、被試験接点ＴＥＳＴが開路になると（ｔ４時）、カウンタを＋１して（ステップＳ１９）、試験終了か否かを判断する（ステップＳ２０）。試験終了か否かは、例えばカウンタの値が規定値になったか否かにより判断される。カウンタの値が試験終了とされる規定値に達していない場合にはステップＳ１３に戻り、カウンタの値が規定値になるまで同様の動作が繰り返し実行される。カウンタの値が規定値に達すると試験終了となり、主回路スイッチＳＷをオフにし、被試験接点ＴＥＳＴの開閉動作を停止にする。
【００１９】
ステップＳ１３、Ｓ１８で行う被試験接点ＴＥＳＴの開閉の検出、判定は、例えば被試験装置から開閉の制御信号を入力することにより行うことができるが、一般に開閉の制御信号が入力できる被試験装置は少ない。このような開閉の制御信号を入力できない場合には、図１における負荷抵抗Ｒ１の入力側イと、切り換え接触器ＣＳの出力側ロとの間の電圧で検出することができる。すなわち、負荷抵抗Ｒ１と切り換え接触器ＣＳのｂ接点との
直列回路の両端の電圧は、被試験接点ＴＥＳＴが開路状態にあると検出されず、被試験接点ＴＥＳＴが閉路になると検出することができる。また、被試験装置接続端子ＴＴの両端の電圧を検出し、あるいは被試験装置接続端子ＴＴと直列にＣＴを挿入して電流を検出して被試験接点ＴＥＳＴの開閉を判定してもよい。
【００２０】
図４は本考案に係る接点寿命試験用装置の切り換え制御回路の実施例を示す図、図５は本考案に係る接点寿命試験用装置の他の実施例を示す図、図６は図５に示す実施例の動作を説明するタイムチャートである。図中、ＡＣ１、ＡＣ２は電源、ＭＣは電磁接触器、Ｒ１、Ｒ２は負荷抵抗、Ｌはリアクトル、ＳＷ１は主回路スイッチ、ＳＴは単巻変圧器、ＴＴは被試験装置接続端子、ＴＥＳＴは被試験接点、ＴＲ１、ＴＲ２はトライアック、Ｔ１、Ｔ２はタイムリレー、Ｘ１、Ｘ２は補助リレー、ＰＬはパイロットランプを示す。
【００２１】
図４（ａ）に示す回路は、被試験接点ＴＥＳＴの閉路を検出する接点（ＴＥＳＴ）ａにタイムリレーＴ１を接続して付勢する。そして、タイムリレーＴ１のディレイタイムΔτ１で閉路するａ接点にタイムリレーＴ２を接続するとともに、タイムリレーＴ２のディレイタイムΔτ２で開路するｂ接点と直列にして切り換え接触器ＳＷのコイルを接続する。この回路により図２及び図３で説明した切り換え接触器ＣＳの切り換え制御が実現できる。また、図１に示すイーロ間で被試験接点ＴＥＳＴが閉路したことを電圧リレーＶＲｙで検出し、そのａ接点をタイムリレーＴ１のａ接点に変えることにより、タイムリレーＴ１を省略して構成した回路を示したのが図４（ｂ）である。
【００２２】
図５に示す実施例は、単巻変圧器ＳＴを使って図１に示す電源ＡＣ１、ＡＣ２の端子を取り出すとともに、被試験接点ＴＥＳＴの開閉時に接続する負荷抵抗Ｒ１にリアクトルＬを直列接続している。リアクトルＬは、被試験装置に接続される一般の負荷の力率、例えば０．３〜０．８に合わせるものである。このことにより、被試験装置接続端子ＴＴの閉路時や開路時に実負荷時に近い状態でチャタリングやアーク放電を発生させることができる。また、図１に示す切り換え接触器ＣＳとしてトライアックＴＲ１、ＴＲ２、電磁接触器ＭＣを併用して構成している。
【００２３】
図５（ａ）において、被試験装置接続端子ＴＴには、単巻変圧器ＳＴの一次巻線の出力又は二次巻線の出力が切り換え接続される。単巻変圧器ＳＴの一次巻線の出力には、負荷抵抗Ｒ１とリアクトルＬと電磁接触器ＭＣのａ接点と被試験装置接続端子ＴＴとの直列回路が接続されるとともに、電磁接触器ＭＣのａ接点に並列にトライアックＴＲ１が接続される。また、単巻変圧器ＳＴの二次巻線の出力には、負荷抵抗Ｒ２とトライアックＴＲ２と補助リレーＸ２のａ接点と被試験装置接続端子ＴＴとの直列回路が接続される。トライアックＴＲ１のゲートとバイアス電源（ＤＣ５Ｖ）との間には補助リレーＸのｂ接点が接続され、トライアックＴＲ２のゲートとバイアス電源（ＤＣ５Ｖ）との間には電磁接触器ＭＣのｂ接点と補助リレーＸ２のａ接点との直列回路が接続される。
【００２４】
被試験接点ＴＥＳＴの開閉に伴って電磁接触器ＭＣのコイルの付勢、トライアックＴＲ１、ＴＲ２のゲートを制御する回路構成を示したのが図５（ｂ）である。図５（ｂ）に示す制御回路は、電磁接触器ＭＣ、補助リレーＸ１、Ｘ２、タイムリレーＴ１、Ｔ２、パイロットランプＰＬから構成される。補助リレーＸ１のコイルは、負荷抵抗Ｒ１の入力側（イ）と切り換え接触器ＣＳの出力側（ロ）との間に接続され、被試験接点ＴＥＳＴの開閉を検出するものである。電磁接触器ＭＣのコイルには、補助リレーＸ１のｂ接点とタイムリレーＴ２のａ接点との並列回路が接続される。タイムリレーＴ１のコイルには、補助リレーＸ１のａ接点が接続される。そして、補助リレーＸ２及びタイムリレーＴ２のコイルには、タイムリレーＴ１のａ接点が接続される。
【００２５】
図５に示す実施例の回路の動作を図６に示すタイムチャートを参照して説明する。図５
（ａ）に示す回路において、主回路スイッチＳＷ１を閉路にすることにより、被試験接点ＴＥＳＴを周期Ｔで開閉動作させて試験が開始される。まず、被試験接点ＴＥＳＴが閉路になる以前は、補助リレーＸ１のコイルは付勢されていないので、そのｂ接点を通して電磁接触器ＭＣのコイルが付勢され、それぞれａ接点が閉路し、ｂ接点が開路している。そこで、被試験接点ＴＥＳＴが閉路になると（ｔ１時）、電磁接触器ＭＣのａ接点を通して電流が流れ、補助リレーＸ１のコイルが付勢される。そして、補助リレーＸ１のａ接点の閉路によりタイムリレーＴ１のコイルが付勢されパイロットランプＰＬが点灯し、補助リレーＸ１のｂ接点の開路により電磁接触器ＭＣのコイルが消勢されて、そのａ接点が開路するとともにｂ接点が閉路する。電磁接触器ＭＣのａ接点の開路により、トライアックＴＲ１は、アノード・カソード間にバイアスが印加されてターンオンする。
【００２６】
トライアックＴＲ１だけで、電磁接触器ＭＣのａ接点が並列に接続されていないと、被試験接点ＴＥＳＴが閉路する時に、トライアックＴＲ１がオンの状態にはなく、被試験接点ＴＥＳＴに電源電圧がかかっていないので、本来のチャタリングやアーク放電が発生しない。トライアックＴＲ１に電磁接触器ＭＣのａ接点を並列接続することにより、被試験接点ＴＥＳＴに電源電圧がかかった状態で、使用状態に対応したチャタリングやアーク放電が発生する条件を与えることができる。
【００２７】
タイムリレーＴ１のコイルが付勢され、デレィタイムΔτ１が経過してａ接点が閉路すると（ｔ２時）、補助リレーＸ２及びタイムリレーＴ２のコイルが付勢される。そして、補助リレーＸ２のｂ接点の開路によりトライアックＴＲ１がターンオフすると同時に、補助リレーＸ２のａ接点の閉路によりトライアックＴＲ２がターンオンする。この時点で、被試験接点ＴＥＳＴの接続電源は、単巻変圧器ＳＴの一次側から二次側に切り換え接続される。
【００２８】
さらに、タイムリレーＴ２のコイルが付勢され、デレィタイムΔτ２が経過してａ接点が閉路すると（ｔ３時）、電磁接触器ＭＣのコイルが付勢され、ａ接点が閉路し、ｂ接点が開路する。この時点で、電磁接触器ＭＣのｂ接点の開路によりトライアックＴＲ２がターンオフし、被試験接点ＴＥＳＴの接続電源は、単巻変圧器ＳＴの二次側から一次側に切り換え接続される。
【００２９】
その後、Δτ３が経過して被試験接点ＴＥＳＴが開路すると（ｔ４時）、補助リレーＸ１のコイルが消勢されるので、そのａ接点の開路によりタイムリレーＴ１のコイルが消勢されパイロットランプＰＬが消灯する。さらに、タイムリレーＴ１のａ接点が開路するので、補助リレーＸ２及びタイムリレーＴ２のコイルも消勢されて、初めの状態に戻る。ここでΔτ３は、周期Ｔの２分の１、Δτ１、Δτ２から決まる値（Δτ３＝Ｔ／２−Δτ１−Δτ２）である。以下、周期Ｔで被試験接点ＴＥＳＴが閉路する毎に同様の動作を繰り返す。
【００３０】
図７は制御部において被試験接点ＴＥＳＴの開閉指令信号及び電源の切り換え接触器の切り換え指令信号を生成する実施例を説明する図である。この実施例では、制御パラメータとして周期Ｔ、ディレイタイムΔτ１、Δτ２、Δτ３が予め設定される。そして、図７に示す制御が実行される。図７においては、図３に示すステップＳ１３が被試験接点ＴＥＳＴの閉指令を出力するステップＳ１３′に、図３に示すステップＳ１８が被試験接点ＴＥＳＴの開指令を出力するステップＳ１８′、Δτ３をカウントするＳ１８″となり、さらにステップＳ２１が加えられる。つまり、被試験接点ＴＥＳＴの開閉指令信号を生成するために、Δτ３の時間判定と２分の１周期の時間判定が付加されている。
【００３１】
本実施形態において、開閉動作の周期Ｔが３ｓｅｃ（３０００ｍｓｅｃ）の被試験接点ＴＥＳＴの場合に、例えばΔτ１を２００ｍｓｅｃ、Δτ２を１２００ｍｓｅｃとすると
、図２（ｃ）に示すΔτ３は１００ｍｓｅｃとなる。そして、被試験装置の定格が電圧２５０Ｖ、電流５Ａである場合に、電源ＡＣ１の電圧ｖ１を２５０Ｖ、電流を５Ａとし、電源ＡＣ２の電圧ｖ１を１０分の１の２５Ｖ、電流を５Ａとすると、定格での開閉試験を行うとともに、Δτ２の時間における電力の消費を１０分の１に低減することができる。勿論、試験装置の定格値によっては、さらに第２の電源ＡＣ２の電圧を第１の電源ＡＣ１の電圧の１０分の１よりも下げることができ、大きなエコ効果が期待できる。
【００３２】
なお、本考案は、上記実施の形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。例えば上記実施の形態では、電源の接続切り換えを行うためのスイッチ素子としてトライアックを用いたが、サイリスタやＦＥＴ、ＩＧＢＴ、ＳＩＣ  ＳＩＴその他の半導体スイッチ素子を用いてもよいことはいうまでもない。また、被試験接点ＴＥＳＴが閉路した後のΔτ２の間の通電を無視してもよい場合には、第２の電源の給電系を省くこともできい。その場合には、図１において電源ＡＣ２、負荷抵抗Ｒ２、切り換え接触器ＣＳのａ接点が不要となり、図５においてトライアックＴＲ２を含む回路が不要となる。
【符号の説明】
【００３３】
ＡＣ１、ＡＣ２…電源、ＣＳ…切り換え接触器、Ｒ１、Ｒ２…負荷抵抗、ＳＷ…主回路スイッチ、ＴＴ…被試験装置接続端子、ＴＥＳＴ…被試験接点
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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