【手続補正書】
【提出日】平成26年7月7日(2014.7.7)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
対象画像の基準点から前記対象画像内の任意の直線に下した垂線の長さρおよび前記垂線が前記基準点を通る基準軸となす角θを用いて、前記対象画像内の任意の直線を表現することにより、前記対象画像内の任意の点を通る直線をハフ空間内の座標（θ、ρ）に変換するハフ変換部と、
ハフ空間内の各座標（θ、ρ）について、前記ハフ変換部によって変換された回数を集計する集計部と、
ρの値に応じた重みづけにより、各座標（θ、ρ）に関する集計値を補正する補正部と、
補正された集計値が第１の閾値を超える座標（θ、ρ）を特定することにより、前記対象画像における直線を検出する検出部と、
を備える直線検出装置。
【請求項２】
請求項１に記載の直線検出装置において、
前記補正部は、１または複数のρの値の近傍に対して集計値を高く評価する重みづけを行う直線検出装置。
【請求項３】
対象画像の基準点から前記対象画像内の任意の直線に下した垂線の長さρおよび前記垂線が前記基準点を通る基準軸となす角θを用いて、前記対象画像内の任意の直線を表現することにより、前記対象画像内の任意の点を通る直線をハフ空間内の座標（θ、ρ）に変換するハフ変換部と、
ハフ空間内の各座標（θ、ρ）について、前記ハフ変換部によって変換された回数を集計する集計部と、
θの値に応じた重みづけにより、各座標（θ、ρ）に関する集計値を補正する補正部と、
補正された集計値が第１の閾値を超える座標（θ、ρ）を特定することにより、前記対象画像における直線を検出する検出部と、
を備える直線検出装置。
【請求項４】
請求項３に記載の直線検出装置において、
前記補正部は、１または複数のθの値の近傍に対して集計値を高く評価する重みづけを行う直線検出装置。
【請求項５】
対象画像の基準点から前記対象画像内の任意の直線に下した垂線の長さρおよび前記垂線が前記基準点を通る基準軸となす角θを用いて、前記対象画像内の任意の直線を表現することにより、前記対象画像内の任意の点を通る直線をハフ空間内の座標（θ、ρ）に変換するハフ変換部と、
ハフ空間内の各座標（θ、ρ）について、前記ハフ変換部によって変換された回数を集計する集計部と、
ρおよびθの値に応じた重みづけにより、各座標（θ、ρ）に関する集計値を補正する補正部と、
補正された集計値が第１の閾値を超える座標（θ、ρ）を特定することにより、前記対象画像における直線を検出する検出部と、
を備える直線検出装置。
【請求項６】
請求項１ないし請求項５のいずれかに記載の直線検出装置であって、さらに、
ハフ空間内の任意の座標（θ、ρ）に対応する前記対象画像内の直線が、前記対象画像の外周と交わる交点を求めるとともに、交点間の距離を算出する交点間距離算出部と、
前記補正部によって補正された集計値を、さらに交点間距離で正規化し、正規化集計値を算出する正規化部と、
を備え、
前記検出部は、
正規化集計値が第２の閾値を超える座標（θ、ρ）を特定することにより、前記対象画像における直線を検出する直線検出装置。
【請求項７】
請求項１ないし請求項５のいずれかに記載の直線検出装置であって、さらに、
ハフ変換される前の対象画像に対して、アスペクト比を１：１に変換するアスペクト比変換処理を実行することにより、正方画像を生成するアスペクト比変換部、
を備える直線検出装置。
【請求項８】
請求項１ないし請求項７のいずれかに記載の直線検出装置であって、さらに、
前記ハフ変換が行われる前に前記対象画像を２値変換する２値変換部、
を備え、
前記対象画像内のある点がハフ空間内の座標（θ、ρ）に変換されたとき、集計値に１が加算される直線検出装置。
【請求項９】
請求項１ないし請求項７のいずれかに記載の直線検出装置であって、
前記対象画像内のそれぞれの点がハフ空間内の座標（θ、ρ）に変換されたとき、前記対象画像内のそれぞれの点の特徴量の大きさによって重みづけされた値が集計値に加算される直線検出装置。
【請求項１０】
請求項９に記載の直線検出装置であって、
前記特徴量の大きさは線分強度を含む直線検出装置。
【請求項１１】
請求項６に記載の直線検出装置であって、
前記検出部は、前記交点間距離が第３の閾値以下となる直線については、正規化集計値の値によらず直線の検出対象から除外する直線検出装置。
【請求項１２】
請求項６に記載の直線検出装置であって、
前記交点間距離算出部は、
ハフ空間内の座標（θ、ρ）に対応する前記対象画像内の直線の前記交点間距離を算出するとき、ρ＝０と置き換えた上で前記交点間距離を算出する簡易算出部、
を含む直線検出装置。
【請求項１３】
請求項１ないし請求項１２のいずれかに記載の直線検出装置であって、
前記基準点は、前記対象画像内の任意の座標に設定される直線検出装置。
【請求項１４】
請求項１ないし請求項１３のいずれかに記載の直線検出装置であって、さらに、
前記対象画像がカラー画像である場合、ハフ変換が行われる前にカラー画像から輝度画像を生成する輝度画像生成部、
を含む直線検出装置。
【請求項１５】
請求項８に記載の直線検出装置であって、
前記対象画像に特徴量抽出処理が施された後、前記２値変換が行われる直線検出装置。
【請求項１６】
請求項１５に記載の直線検出装置であって、
前記特徴量抽出処理は輪郭抽出処理を含む直線検出装置。
【請求項１７】
対象画像の基準点から前記対象画像内の任意の直線に下した垂線の長さρおよび前記垂線が前記基準点を通る基準軸となす角θを用いて、前記対象画像内の任意の直線を表現することにより、前記対象画像内の任意の点を通る直線をハフ空間内の座標（θ、ρ）に変換するハフ変換工程と、
ハフ空間内の各座標（θ、ρ）について、前記ハフ変換部によって変換された回数を集計する集計工程と、
ρの値に応じた重みづけにより、各座標（θ、ρ）に関する集計値を補正する補正工程と、
補正された集計値が第１の閾値を超える座標（θ、ρ）を特定することにより、前記対象画像における直線を検出する検出工程と、
を備える直線検出方法。
【請求項１８】
対象画像の基準点から前記対象画像内の任意の直線に下した垂線の長さρおよび前記垂線が前記基準点を通る基準軸となす角θを用いて、前記対象画像内の任意の直線を表現することにより、前記対象画像内の任意の点を通る直線をハフ空間内の座標（θ、ρ）に変換するハフ変換工程と、
ハフ空間内の各座標（θ、ρ）について、前記ハフ変換部によって変換された回数を集計する集計工程と、
θの値に応じた重みづけにより、各座標（θ、ρ）に関する集計値を補正する補正工程と、
補正された集計値が第１の閾値を超える座標（θ、ρ）を特定することにより、前記対象画像における直線を検出する検出工程と、
を備える直線検出方法。
【請求項１９】
対象画像の基準点から前記対象画像内の任意の直線に下した垂線の長さρおよび前記垂線が前記基準点を通る基準軸となす角θを用いて、前記対象画像内の任意の直線を表現することにより、前記対象画像内の任意の点を通る直線をハフ空間内の座標（θ、ρ）に変換するハフ変換工程と、
ハフ空間内の各座標（θ、ρ）について、前記ハフ変換部によって変換された回数を集計する集計工程と、
ρおよびθの値に応じた重みづけにより、各座標（θ、ρ）に関する集計値を補正する補正工程と、
補正された集計値が第１の閾値を超える座標（θ、ρ）を特定することにより、前記対象画像における直線を検出する検出工程と、
を備える直線検出方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
請求項４記載の発明は、請求項３に記載の直線検出装置において、前記補正部は、１または複数のθの値の近傍に対して集計値を高く評価する重みづけを行う。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１３】
請求項６記載の発明は、請求項１ないし請求項５のいずれかに記載の直線検出装置であって、さらに、ハフ空間内の任意の座標（θ、ρ）に対応する前記対象画像内の直線が、前記対象画像の外周と交わる交点を求めるとともに、交点間の距離を算出する交点間距離算出部と、前記補正部によって補正された集計値を、さらに交点間距離で正規化し、正規化集計値を算出する正規化部と、を備え、前記検出部は、正規化集計値が第２の閾値を超える座標（θ、ρ）を特定することにより、前記対象画像における直線を検出する。