(57)【要約】      （修正有）【課題】プリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構を提供する。【解決手段】底台、原料載置構造２０、移動ステージ３０、挟持アーム４０、イメージ取得定位機構５０、原料供給アーム及び原料排出アームを含むプリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構により構成する。移動ステージは、Ｙ軸滑動台３１と、Ｘ軸滑動台３２と、Ｃ軸滑動台３３と、を有し、Ｙ軸滑動台が底台のＹ軸方向に相対して往復滑動移動及び定位を行い、Ｘ軸滑動台がＹ軸滑動台のＸ軸方向に相対して往復滑動移動及び定位を行い、Ｃ軸滑動台がＸ軸滑動台の所定角度に相対して回転及び定位を行い、挟持アームがプリント回路基板を挟持し、イメージ取得定位装置がプリント回路基板に対してイメージ取得、位置校正を行ない、原料供給アームがプリント回路基板を挟持アーム上に移動し、原料排出アームが挟持アーム４０上のプリント回路基板を原料載置構造上２０に移動し、原料供給排出及びプリント回路基板の定位校正効果を達成する。【選択図】図１
0003157582.tif 000002
【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
底台と、
該基台上に設置され、プリント回路基板を載置することに用いる複数の原料載置構造と、
Ｙ軸滑動台と、Ｘ軸滑動台と、Ｃ軸滑動台と、を有し、該Ｙ軸滑動台は、該底台上に滑動設置され、該底台のＹ軸方向に相対して往復滑動移動及び定位を行なうことができ、該Ｘ軸滑動台は、該Ｙ軸滑動台上に滑動設置され、該Ｙ軸滑動台のＸ軸方向に相対して往復滑動移動及び定位を行なうことができ、該Ｃ軸滑動台は、該Ｘ軸滑動台上に滑動設置され、該Ｘ軸滑動台の所定角度に相対して回転及び定位を行なうことができる移動ステージと、
該Ｃ軸の滑動台上に設置され、プリント回路基板を挟持することに用いる挟持アームと、
該底台上に設置され、挟持アーム上のプリント回路基板に対してイメージの取得を行ない、その位置を校正することに用いるイメージ取得定位装置と、
該底台上に設置され、所定の経路に沿って移動することができ、原料載置構造上のプリント回路基板を該挟持アーム上に移動することに用いる原料供給アームと、
該底台上に設置され、所定の経路に沿って移動し、挟持アーム上のプリント回路基板を原料載置構造上に移動することに用いる原料排出アームと、
を含むプリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構。
【請求項２】
前記原料載置構造は、試験待ちのプリント回路基板を載置させる第１原料載置構造と、試験が完成し、異常品と判断されたプリント回路基板を載置させる第２原料載置構造と、試験が完成し、正常品と判断されたプリント回路基板を載置させる第３原料載置構造と、に区分される請求項１記載のプリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構。
【請求項３】
前記原料供給アームは、第１原料載置構造上のプリント回路基板を該挟持アーム上に移動する請求項２記載のプリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構。
【請求項４】
前記原料排出アームは、挟持アーム上のプリント回路基板を該第２原料載置構造又は第３原料載置構造上に移動する請求項２記載のプリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案は、プリント回路基板の試験関連機構に関し、特に、プリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来のプリント回路基板の試験作業は、試験機構の両側にそれぞれ原料供給機構及び原料排出機構を設置し、試験待ちのプリント回路基板を該原料供給機構上に置き、定位を経た後、該試験機構中の伝送し、試験を行い、該プリント回路基板が正常品か否かを判断し、該原料排出機構から送出され、人工で取り出し載置される。
【０００３】
しかしながら、この種の試験方式は、少なくとも３組の機構、即ち、試験機構、原料供給機構、原料出力機構を必要とし、空間をより占有するだけでなく、試験の効率も良好でない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】登録実用新案第３１２７５４４号公報
【考案の概要】
【考案が解決しようとする課題】
【０００５】
これに鑑みて、本考案の主要な目的は、原料の供給、排出及び定位構成の作業を同時完成することができ、その効率を大幅に向上するプリント回路板の原料供給排出及び定位校正機構を提供することにある。
【０００６】
本考案の目的は、体積が比較的小さく、空間をより占有しないプリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
そこで、本考案が提供するプリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構は、底台と、複数の原料載置構造と、移動ステージと、挟持アームと、イメージ取得定位機構と、原料供給アームと、原料排出アームと、を含む。該移動ステージは、Ｙ軸滑動台と、Ｘ軸滑動台と、Ｃ軸滑動台と、を有し、該Ｙ軸滑動台は、該底台上に滑動設置され、該底台のＹ軸方向に相対して往復滑動移動及び定位を行なうことができ、該Ｘ軸滑動台は、該Ｙ軸滑動台上に滑動設置され、該Ｙ軸滑動台のＸ軸方向に相対して往復滑動移動及び定位を行なうことができ、該Ｃ軸滑動台は、該Ｘ軸滑動台上に滑動設置され、該Ｘ軸滑動台の所定角度に相対して回転及び定位を行なうことができ、該挟持アームは、該Ｃ軸の滑動台上に設置され、プリント回路基板を挟持することに用い、該イメージ取得定位装置は、該底台上に設置され、挟持アーム上のプリント回路基板に対してイメージの取得を行ない、その位置を校正することに用い、該原料供給アームは、該底台上に設置され、所定の経路に沿って移動することができ、原料載置構造上のプリント回路基板を該挟持アーム上に移動することに用い、該原料排出アームは、該底台上に設置され、所定の経路に沿って移動し、挟持アーム上のプリント回路基板を原料載置構造上に移動することに用いる。
本発明は、下記の特徴を有する。
（１）底台と、
該基台上に設置され、プリント回路基板を載置することに用いる複数の原料載置構造と、
Ｙ軸滑動台と、Ｘ軸滑動台と、Ｃ軸滑動台と、を有し、該Ｙ軸滑動台は、該底台上に滑動設置され、該底台のＹ軸方向に相対して往復滑動移動及び定位を行なうことができ、該Ｘ軸滑動台は、該Ｙ軸滑動台上に滑動設置され、該Ｙ軸滑動台のＸ軸方向に相対して往復滑動移動及び定位を行なうことができ、該Ｃ軸滑動台は、該Ｘ軸滑動台上に滑動設置され、該Ｘ軸滑動台の所定角度に相対して回転及び定位を行なうことができる移動ステージと、
該Ｃ軸の滑動台上に設置され、プリント回路基板を挟持することに用いる挟持アームと、
該底台上に設置され、挟持アーム上のプリント回路基板に対してイメージの取得を行ない、その位置を校正することに用いるイメージ取得定位装置と、
該底台上に設置され、所定の経路に沿って移動することができ、原料載置構造上のプリント回路基板を該挟持アーム上に移動することに用いる原料供給アームと、
該底台上に設置され、所定の経路に沿って移動し、挟持アーム上のプリント回路基板を原料載置構造上に移動することに用いる原料排出アームと、
を含むプリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構。
（２）前記原料載置構造は、試験待ちのプリント回路基板を載置させる第１原料載置構造と、試験が完成し、異常品と判断されたプリント回路基板を載置させる第２原料載置構造と、試験が完成し、正常品と判断されたプリント回路基板を載置させる第３原料載置構造と、に区分される（１）記載のプリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構。
（３）前記原料供給アームは、第１原料載置構造上のプリント回路基板を該挟持アーム上に移動する（２）記載のプリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構。
（４）前記原料排出アームは、挟持アーム上のプリント回路基板を該第２原料載置構造又は第３原料載置構造上に移動する（２）記載のプリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構。
【考案の効果】
【０００８】
このように、プリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構１００の構造によって、原料の供給排出を独立した機構中に統合し、占有空間を大幅に減少し、且つ該移動ステージ３０がＹ軸、Ｘ軸及びＣ軸の位置調整を行なうことができるので、プリント回路基板の位置をより精確にし、試験の効率を大幅に向上する。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本考案の好適実施例の一側面説明図である。
【図２】図１に示す好適実施例の他側面説明図である。
【図３】図１に示す好適実施例の上面説明図である。
【図４】本考案の好適実施例の他の実施形態の説明図である。
【図５】図１に示す実施例の局部構成部材の動作説明図である。
【図６】図１に示す実施例の局部構成部材の動作説明図である。
【図７】図１に示す実施例の局部構成部材の動作説明図である。
【考案を実施するための形態】
【００１０】
本考案の特徴及び利点を分かり易くする為、以下に好適実施例を挙げ、図面に併せて説明を行なう。
【００１１】
図１〜図７において、本考案の好適実施例が提供するプリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構１００は、底台１０と、複数の原料載置構造２０と、移動ステージ３０と、挟持アーム４０と、イメージ取得定位機構５０と、原料供給アーム６０と、原料排出アーム７０と、を含み、そのうち、図１に示すように、該底台１０は、平面（地面）上に安定固定設置することができる。
【００１２】
図２において、原料載置構造２０は、プリント回路基板を載置させ、試験待ちのプリント回路基板を載置させる第１原料載置構造２１と、試験が完成し、異常品と判断されたプリント回路基板を載置させる第２原料載置構造２２と、試験が完成し、正常品と判断されたプリント回路基板を載置させる第３原料載置構造２３と、に区分される。
【００１３】
図１において、該移動ステージ３０は、Ｙ軸滑動台３１と、Ｘ軸滑動台３２と、Ｃ軸滑動台３３と、を有する。該Ｙ軸滑動台３１は、該底台１０上に滑動設置され、該底台１０のＹ軸方向に相対して往復滑動移動及び定位を行なうことができ、該Ｘ軸滑動台３２は、該Ｙ軸滑動台３１上に滑動設置され、該Ｙ軸滑動台３１のＸ軸方向に相対して往復滑動移動及び定位を行なうことができ、該Ｃ軸滑動台３３は、該Ｘ軸滑動台３２上に滑動設置され、該Ｘ軸滑動台３２の所定角度に相対して回転及び定位を行なうことができる。
【００１４】
図１〜図３において、該挟持アーム４０は、該Ｃ軸滑動台３３上に設置され、プリント回路基板を挟持することに用いる。
【００１５】
図１において、該イメージ取得定位装置５０は、該底台１０上に設置され、挟持アーム上のプリント回路基板に対してイメージの取得を行ない、移動ステージ３０に位置の校正調整を行なわせることに用いる。
【００１６】
図２及び図３において、該原料供給アーム６０は、該底台１０上に設置され、所定の経路に沿って移動することができ、第１原料載置構造２１中の試験待ちプリント回路基板を吸い取り、挟持アーム４０上に載置する。
【００１７】
図２及び図３において、該原料排出アーム７０は、該底台１０上に設置され、所定の経路に沿って移動し、挟持アーム４０上の既に試験を完成したプリント回路基板を吸い取り、試験の判断結果に基づき、異常品の第２原料載置構造２２又は正常品の第３載置構造２３上に差位置する。
【００１８】
上記のように、本考案が提供する好適実施例のプリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構１００の各部構成部材を紹介したが、続いて、本考案の使用方式及び利点を以下に紹介する。
【００１９】
本考案を実際に使用する時、プリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構１００は、試験機構９０の一側に設置され、当然、２組のプリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構１００を試験機構９０の両側に設置する方式（第４実施例参照）を採用することもでき、試験の効率を増進することができる。
【００２０】
本考案の動作方式は、先ず該原料供給アーム６０が第１原料載置構造２１中の試験待ちプリント回路基板９１を吸い取り（図５参照）、該試験待ちプリント回路基板を該挟持アーム４０上に移動し、該挟持アーム４０によって挟持し、該Ｙ軸滑動台３１により該挟持アーム４０上の試験待ちプリント回路基板を該イメージ取得定位装置５０上に移動し（図６参照）、挟持アーム４０上の試験待ちプリント回路基板に対して、イメージ取得作業を行い、その位置の取得イメージが判断する位置偏差に基づき、該Ｙ軸滑動台３１、Ｘ軸滑動台３２、Ｃ軸滑動台３３が必要な位置滑動移動調整を行なうよう制御し、挟持アーム４０上の試験待ちプリント回路基板の位置を試験機構９０中の正確な位置に合わせて進入させるよう調整し、Ｘ軸滑動台３２が移動することによって、挟持アーム４０上の試験待ちプリント回路基板を試験機構９０中に移動し、試験を行い、試験完成後、該Ｘ軸滑動台３２により、挟持アーム４０を移動し、該原料排出アーム７０によって試験を完成したプリント回路基板９１を吸い取り、試験結果に基づき、第２原料載置構造（異常品）２２又は第３原料載置構造（正常品）２３中に載置し（図７参照）、プリント回路基板の試験作業を完成する。
【００２１】
このように、プリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構１００の構造によって、原料の供給排出を独立した機構中に統合し、占有空間を大幅に減少し、且つ該移動ステージ３０がＹ軸、Ｘ軸及びＣ軸の位置調整を行なうことができるので、プリント回路基板の位置をより精確にし、試験の効率を大幅に向上する。
【００２２】
なお、本考案では好ましい実施例を前述の通り開示したが、これらは決して本考案に限定するものではなく、当該技術を熟知する者なら誰でも、本考案の精神と領域を脱しない均等の範囲内で各種の変動や潤色を加えることができることは勿論である。
【符号の説明】
【００２３】
１００  プリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構
１０  底台前支持構造
２０  原料載置構造
２１  第１原料載置構造
２２  第２原料載置構造
２３  第３原料載置構造
３０  移動ステージ
３１  Ｙ軸滑動台
３２  Ｘ軸滑動台
３３  Ｃ軸滑動台
４０  挟持アーム
５０  イメージ取得定位装置
６０  原料供給アーム
７０  原料排出アーム
９０  試験機構
９１  基板
【図１】
0003157582.tif 000003
【図２】
0003157582.tif 000004
【図３】
0003157582.tif 000005
【図４】
0003157582.tif 000006
【図５】
0003157582.tif 000007
【図６】
0003157582.tif 000008
【図７】
0003157582.tif 000009
【手続補正書】
【提出日】平成21年12月9日(2009.12.9)
【手続補正１】
【補正対象書類名】実用新案登録請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
底台と、
該底台上に設置され、プリント回路基板を載置することに用いる複数の原料載置台と、Ｙ軸滑動台と、Ｘ軸滑動台と、Ｃ軸滑動台と、を有し、該Ｙ軸滑動台は、該底台上に滑動設置され、該底台のＹ軸方向に相対して往復滑動移動及び定位を行なうことができ、該Ｘ軸滑動台は、該Ｙ軸滑動台上に滑動設置され、該Ｙ軸滑動台のＸ軸方向に相対して往復滑動移動及び定位を行なうことができ、該Ｃ軸滑動台は、該Ｘ軸滑動台上に滑動設置され、該Ｘ軸滑動台の所定角度に相対して回転及び定位を行なうことができる移動ステージと、該Ｃ軸の滑動台上に設置され、プリント回路基板を挟持することに用いる挟持アームと、該底台上に設置され、挟持アーム上のプリント回路基板に対してイメージの取得を行ない、その位置を校正することに用いるイメージ取得定位装置と、
該底台上に設置され、所定の経路に沿って移動することができ、原料載置台上のプリント回路基板を該挟持アーム上に移動することに用いる原料供給アームと、
該底台上に設置され、所定の経路に沿って移動し、挟持アーム上のプリント回路基板を原料載置台上に移動することに用いる原料排出アームと、
を含むプリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構。
【請求項２】
前記原料載置台は、試験待ちのプリント回路基板を載置させる第１原料載置台と、試験が完成し、異常品と判断されたプリント回路基板を載置させる第２原料載置台と、試験が完成し、正常品と判断されたプリント回路基板を載置させる第３原料載置台と、に区分される請求項１記載のプリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構。
【請求項３】
前記原料供給アームは、第１原料載置台上のプリント回路基板を該挟持アーム上に移動する請求項２記載のプリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構。
【請求項４】
前記原料排出アームは、挟持アーム上のプリント回路基板を該第２原料載置台又は第３原料載置台上に移動する請求項２記載のプリント回路基板の原料供給排出及び定位校正機構。