【手続補正書】
【提出日】平成25年12月17日(2013.12.17)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
２重エネルギー投影データ（６２、６４）を収集するための方法であって、
低ｋＶｐの各放出に対して低ｋＶｐ投影データの対応組（６４）が収集されかつ高ｋＶｐの各放出に対して高ｋＶｐ投影データ（６２）の対応組が収集されるように低ｋＶｐ及び高ｋＶｐに対応するＸ線を交互に放出するステップであって、低ｋＶｐ投影データ（６４）または高ｋＶｐ投影データ（６２）を単独で取った場合の総計組では全角度分解能が提供されないが低ｋＶｐ投影データ（６４）と高ｋＶｐ投影データ（６２）からなる合成組では全角度分解能が提供されるようにした放出ステップと、
低ｋＶｐ投影データ（６４）と高ｋＶｐ投影データ（６２）の合成データを用いて混合ｋＶｐ画像（６８）を作成するステップ（６６）と、
前記混合ｋＶｐ画像（６８）に基づいてシード画像（８２）を抽出するステップ（８０）と、
更新済み画像（８８）が作成されるように前記シード画像（８２）を更新するステップ（８６）と、
密度投影（１０２）が全角度分解能で作成されるように前記更新済み画像（８８）を再投射するステップ（１００）と、
少なくとも一部で作成した前記密度投影（１０２）に基づいて高ｋＶｐ画像（１１４）、低ｋＶｐ画像（１１２）、材料分解画像（１１８、１２０）または単色画像（１２４）のうちの１つまたは幾つかを作成するステップと、
を含む方法。
【請求項２】
シード画像（８２）を更新する前記ステップ（８６）は、基礎材料分解処理（９０）から作成した疎サンプリング投影（９２、９４）を用いるステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
シード画像（８２）を更新する前記ステップ（８６）は、差分画像を作成し該差分画像をシード画像（８２）に足し合わせて更新済み画像（８８）を作成するステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
少なくとも一部で作成した密度投影（１０２）に基づいて高ｋＶｐ画像（１１４）、低ｋＶｐ画像（１１２）、材料分解画像（１１８、１２０）または単色画像（１２４）のうちの１つまたは幾つかを作成する前記ステップは、低ｋＶｐ投影データ組（６４）または高ｋＶｐ投影データ組（６２）に関する１つまたは複数の不足の角度ビューを計算するステップを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
２重エネルギー投影データを収集するための方法であって、
低ｋＶｐの各放出に対して低ｋＶｐ投影データの対応組（６４）が収集されかつ高ｋＶｐの各放出に対して高ｋＶｐ投影データ（６２）の対応組が収集されるように低ｋＶｐ及び高ｋＶｐに対応するＸ線を交互に発生させるステップと、
低ｋＶｐ投影データ（６４）と高ｋＶｐ投影データ（６２）の合成データを用いて混合ｋＶｐ画像（６８）を作成するステップ（６６）と、
前記混合ｋＶｐ画像（６８）に基づいて１つの基礎材料を近似しているシード画像（８２）を抽出するステップ（８０）と、
更新済み画像（８８）が作成されるように前記シード画像（８２）を更新するステップ（８６）と、
密度投影（１０２）が全角度分解能で作成されるように前記更新済み画像（８８）を再投射するステップ（１００）と、
低ｋＶｐ投影データ組（６４）または高ｋＶｐ投影データ組（６２）に対する不足の角度ビューを計算するために前記作成した密度投影（１０２）を用いるステップと、
少なくとも一部で低ｋＶｐ投影データ組（６４）または高ｋＶｐ投影データ組（６２）に対する１つまたは複数の前記計算した不足の角度ビューに基づいて高ｋＶｐ画像（１１４）、低ｋＶｐ画像（１１２）、材料分解画像（１１８、１２０）または単色画像（１２４）のうちの１つまたは幾つかを作成するステップと、
を含む方法。
【請求項６】
前記低ｋＶｐ投影データ組（６４）と高ｋＶｐ投影データ組（６２）のうちの一方または両方によって提供される角度レンジが全角度未満である、請求項５に記載の方法。
【請求項７】
前記混合ｋＶｐ画像（６８）は、低ｋＶｐと高ｋＶｐの中間のｋＶｐで作成するとした画像と等価である、請求項５または６に記載の方法。
【請求項８】
シード画像（８２）を抽出する前記ステップ（８０）はハウンスフィールド値（ＨＵ）しきい値または切り出し方式を利用するステップを含む、請求項５乃至７のいずれかに記載の方法。
【請求項９】
前記シード画像（８２）は全角度分解能を有する、請求項５乃至８のいずれかに記載の方法。
【請求項１０】
シード画像（８２）を更新する前記ステップ（８６）は、直接投影ベースの基礎材料分解（９０）からの疎サンプリング投影（９２、９４）によってシード画像（８２）を更新するステップ（８６）を含む、請求項５乃至９のいずれかに記載の方法。
【請求項１１】
低ｋＶｐ及び高ｋＶｐでＸ線（１６）を放出することが可能なＸ線源（１２）と、
前記放出されたＸ線（１６）に応答して信号を生成することが可能な検出器アセンブリ（２２）と、
低ｋＶｐの各放出に対して低ｋＶｐ投影データの対応組（６４）が収集されかつ高ｋＶｐの各放出に対して高ｋＶｐ投影データ（６２）の対応組が収集されるように検出器アセンブリ（２２）が発生させた信号を収集するように構成されたデータ収集システム（３４）であって、低ｋＶｐ投影データ（６４）または高ｋＶｐ投影データ（６２）を単独で取った場合の総計組では全角度分解能が提供されないが低ｋＶｐ投影データ（６４）と高ｋＶｐ投影データ（６２）からなる合成組では全角度分解能が提供されるようなデータ収集システム（３４）と、
１つまたは複数のアルゴリズムを実行するように構成された画像処理回路（３７）であって、該アルゴリズムは該画像処理回路（３７）による実行の際に、
低ｋＶｐ投影データ（６４）と高ｋＶｐ投影データ（６２）の合成データを用いて混合ｋＶｐ画像（６８）を作成すること（６６）、
前記混合ｋＶｐ画像（６８）に基づいてシード画像（８２）を抽出すること（８０）、
更新済み画像（８８）を作成するように前記シード画像（８２）を更新すること（８６）、
密度投影（１０２）が全角度分解能で作成されるように前記更新済み画像（８８）を再投射すること（１００）、
少なくとも一部で前記作成した密度投影（１０２）に基づいて高ｋＶｐ画像（１１４）、低ｋＶｐ画像（１１２）、材料分解画像（１１８、１２０）または単色画像（１２４）のうちの１つまたは幾つかを作成すること、
を行っている画像処理回路（３７）と、
を備える多重エネルギー撮像システム（１０）。
【請求項１２】
前記シード画像（８２）は、基礎材料分解処理（９０）から作成した疎サンプリング投影（９２、９４）を用いて更新される（８６）、請求項１１に記載の多重エネルギー撮像システム（１０）。
【請求項１３】
前記シード画像（８２）は、差分画像を作成し該差分画像をシード画像（８２）に足し合わせて更新済み画像（８８）を作成することによって更新される（８６）、請求項１１または１２に記載の多重エネルギー撮像システム（１０）。
【請求項１４】
前記１つまたは複数の高ｋＶｐ画像（１１４）、低ｋＶｐ画像（１１２）、材料分解画像（１１８、１２０）または単色画像（１２４）は、低ｋＶｐ投影データ組（６４）または高ｋＶｐ投影データ組（６２）に関する１つまたは複数の不足の角度ビューを計算することによって作成される、請求項１１乃至１３のいずれかに記載の多重エネルギー撮像システム（１０）。
【請求項１５】
前記混合ｋＶｐ画像（６８）は、低ｋＶｐと高ｋＶｐの中間のｋＶｐで作成するとした画像と等価である、請求項１１乃至１４のいずれかに記載の多重エネルギー撮像システム（１０）。