【手続補正書】
【提出日】平成25年12月24日(2013.12.24)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像光学系の異なる瞳領域を通過した第一光束及び第二光束をそれぞれ光電変換する第一画素及び第二画素を含む撮像素子を用いて得られた画像を処理する画像処理装置であって、
特定の前記第一画素が欠陥画素である場合には該特定の第一画素の近傍の前記第一画素の画素値を用いて、また、特定の前記第二画素が欠陥画素である場合には該特定の第二画素の近傍の前記第二画素の画素値を用いて該欠陥画素を補間する第一欠陥補間手段と、
特定の前記第一画素が欠陥画素である場合には該特定の第一画素の近傍の同一マイクロレンズ内の前記第一画素及び前記第二画素の画素値の比を用いて該欠陥画素を補間し、特定の前記第二画素が欠陥画素である場合には該特定の第二画素の近傍の同一マイクロレンズ内の前記第一画素及び前記第二画素の画素値の比を用いて該欠陥画素を補間する第二欠陥補間手段と、
複数の前記第一画素及び複数の前記第二画素の出力を用いて合焦度を評価する合焦度評価手段と、
前記合焦度評価手段により評価された前記合焦度に基づいて、前記第一欠陥補間手段の出力と前記第二欠陥補間手段の出力の合成比を変える合成比変更手段と、
前記合成比変更手段の出力を用いて撮影画像を生成する信号処理手段と、
を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記合成比変更手段は、前記合焦度評価手段により評価された前記合焦度が第一の合焦度の場合には、前記第二欠陥補間手段の出力の比を第一の値とし、前記合焦度が前記第一の合焦度よりも大きい第二の合焦度の場合には、前記第二欠陥補間手段の出力の比を前記第一の値よりも大きい第二の値とすることを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記合成比変更手段は、前記合焦度評価手段により評価された前記合焦度が高くなるにつれて前記第二欠陥補間手段の出力の比を大きくし、該合焦度が低くなるにつれて前記第一欠陥補間手段の出力の比を大きくするように、第一欠陥補間手段の出力と第二欠陥補間手段の出力の合成比をなだらかに変えることを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記合焦度はデフォーカス量であり、
前記合成比変更手段は、前記デフォーカス量がゼロの場合に前記第二欠陥補間手段の出力を１００％とし、該デフォーカス量が所定値以上の場合に前記第一欠陥補間手段の出力を１００％とするように前記合成比を変えることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記合成比変更手段は、被写界深度が第一の深度の場合には、前記第二欠陥補間手段の出力の比を第一の値とし、被写界深度が前記第一の深度よりも深い第二の深度の場合には、前記第二欠陥補間手段の出力の比を前記第一の値よりも大きい第二の値とすることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記合成比変更手段は、被写界深度が浅くなるにつれて前記第一欠陥補間手段の比を大きくし、該被写界深度が深くなるにつれて前記第二欠陥補間手段の比を大きくするように、該第一欠陥補間手段の出力と該第二欠陥補間手段の出力の前記合成比を変えることを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記合焦度評価手段は、前記第一光束及び前記第二光束の位相差を利用して前記合焦度を評価することを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項８】
前記合焦度評価手段は、前記第一欠陥補間手段の出力を利用して前記合焦度を評価することを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の画像処理装置。
【請求項９】
撮像光学系の異なる瞳領域を通過した第一光束及び第二光束をそれぞれ光電変換する第一画素及び第二画素を含む撮像素子を用いて得られた画像を処理する画像処理方法であって、
特定の前記第一画素が欠陥画素である場合には該特定の第一画素の近傍の前記第一画素の画素値を用いて、また、特定の前記第二画素が欠陥画素である場合には該特定の第二画素の近傍の前記第二画素の画素値を用いて該欠陥画素を補間する第一欠陥補間ステップと、
複数の前記第一画素及び複数の前記第二画素の出力を用いて合焦度を評価する合焦度評価ステップと、
特定の前記第一画素が欠陥画素である場合には該特定の第一画素の近傍の同一マイクロレンズ内の前記第一画素及び前記第二画素の画素値の比を用いて該欠陥画素を補間し、特定の前記第二画素が欠陥画素である場合には該特定の第二画素の近傍の同一マイクロレンズ内の前記第一画素及び前記第二画素の画素値の比を用いて該欠陥画素を補間する第二欠陥補間ステップと、
前記合焦度評価手段により評価された前記合焦度に基づいて、前記第一欠陥補間手段の出力と前記第二欠陥補間手段の出力の合成比を変える合成比変更ステップと、
前記合成比変更ステップで得られた出力を用いて撮影画像を生成する信号処理ステップと、
を有することを特徴とする画像処理方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００７】
本発明の一側面としての画像処理装置は、撮像光学系の異なる瞳領域を通過した第一光束及び第二光束をそれぞれ光電変換する第一画素及び第二画素を含む撮像素子を用いて得られた画像を処理する画像処理装置であって、特定の前記第一画素が欠陥画素である場合には該特定の第一画素の近傍の前記第一画素の画素値を用いて、また、特定の前記第二画素が欠陥画素である場合には該特定の第二画素の近傍の前記第二画素の画素値を用いて該欠陥画素を補間する第一欠陥補間手段と、特定の前記第一画素が欠陥画素である場合には該特定の第一画素の近傍の同一マイクロレンズ内の前記第一画素及び前記第二画素の画素値の比を用いて該欠陥画素を補間し、特定の前記第二画素が欠陥画素である場合には該特定の第二画素の近傍の同一マイクロレンズ内の前記第一画素及び前記第二画素の画素値の比を用いて該欠陥画素を補間する第二欠陥補間手段と、複数の前記第一画素及び複数の前記第二画素の出力を用いて合焦度を評価する合焦度評価手段と、前記合焦度評価手段により評価された前記合焦度に基づいて、前記第一欠陥補間手段の出力と前記第二欠陥補間手段の出力の合成比を変える合成比変更手段と、前記合成比変更手段の出力を用いて撮影画像を生成する信号処理手段と、を有する。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
本発明の他の側面としての画像処理方法は、撮像光学系の異なる瞳領域を通過した第一光束及び第二光束をそれぞれ光電変換する第一画素及び第二画素を含む撮像素子を用いて得られた画像を処理する画像処理方法であって、特定の前記第一画素が欠陥画素である場合には該特定の第一画素の近傍の前記第一画素の画素値を用いて、また、特定の前記第二画素が欠陥画素である場合には該特定の第二画素の近傍の前記第二画素の画素値を用いて該欠陥画素を補間する第一欠陥補間ステップと、複数の前記第一画素及び複数の前記第二画素の出力を用いて合焦度を評価する合焦度評価ステップと、特定の前記第一画素が欠陥画素である場合には該特定の第一画素の近傍の同一マイクロレンズ内の前記第一画素及び前記第二画素の画素値の比を用いて該欠陥画素を補間し、特定の前記第二画素が欠陥画素である場合には該特定の第二画素の近傍の同一マイクロレンズ内の前記第一画素及び前記第二画素の画素値の比を用いて該欠陥画素を補間する第二欠陥補間ステップと、前記合焦度評価手段により評価された前記合焦度に基づいて、前記第一欠陥補間手段の出力と前記第二欠陥補間手段の出力の合成比を変える合成比変更ステップと、前記合成比変更ステップで得られた出力を用いて撮影画像を生成する信号処理ステップと、を有する。