【手続補正書】
【提出日】平成26年7月1日(2014.7.1)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
帯電部材と該帯電部材によって接触帯電される電子写真感光体を有するプロセスカートリッジにおいて、
該帯電部材は、導電性基体、および該導電性基体上に形成された導電性樹脂層を有し、該導電性樹脂層は、バインダー、導電性微粒子及び開口を有するボウル形状の樹脂粒子を含有し、該帯電部材の表面は、該ボウル形状の樹脂粒子の該開口に由来する凹部と、該ボウル形状の樹脂粒子の該開口のエッジに由来する凸部とを有し、
該電子写真感光体は、支持体、および該支持体上に形成された感光層を有し、該電子写真感光体の表面層が、下記の樹脂（α）、樹脂（β）及び化合物（γ）を含有することを特徴とする電子写真プロセスカートリッジ：
樹脂（α）：末端にシロキサン構造を有さないポリカーボネート樹脂、および末端にシロキサン構造を有さないポリエステル樹脂からなる群より選択される少なくとも１種の樹脂；
樹脂（β）：末端にシロキサン構造を有するポリカーボネート樹脂、末端にシロキサン構造を有するポリエステル樹脂、及び末端にシロキサン構造を有するアクリル樹脂からなる群より選択される少なくとも１種の樹脂；
化合物（γ）：安息香酸メチル、安息香酸エチル、酢酸ベンジル、３−エトキシプロピオン酸エチル、およびジエチレングリコールエチルメチルエーテルからなる群より選択される少なくとも１種の化合物。
【請求項２】
前記樹脂（α）が、下記式（Ａ）で示される繰り返し構造単位を有するポリカーボネート樹脂Ａである請求項１に記載のプロセスカートリッジ：
【化１】
2014142506.tif 000001
［式（Ａ）中、Ｒ２１〜Ｒ２４は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を示す。Ｘ１は、単結合、シクロヘキシリデン基、または下記式（Ｃ）で示される構造を有する２価の基を示す。
【化２】
2014142506.tif 000002
［式（Ｃ）中、Ｒ４１およびＲ４２は、それぞれ独立に、水素原子、メチル基、またはフェニル基を示す。］］。
【請求項３】
前記ポリカーボネート樹脂Ａが、下記式（Ａ−１）〜（Ａ−８）で示される構造単位から選ばれるいずれか１つの構造単位のみを有するポリマーまたはいずれか２つもしくはそれ以上の構造単位の組み合わせからなるポリマーである請求項２に記載のプロセスカートリッジ：
【化３】
2014142506.tif 000003
【請求項４】
前記樹脂（α）が、下記式（Ｂ）に示される繰り返し構造単位を有するポリエステル樹脂Ｂである請求項１に記載のプロセスカートリッジ：
【化４】
2014142506.tif 000004
［式（Ｂ）中、Ｒ３１〜Ｒ３４は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を示す。Ｘ２は、単結合、シクロヘキシリデン基、または下記式（Ｃ）で示される構造を有する２価の基を示す。Ｙ１は、ｍ−フェニレン基、ｐ−フェニレン基、または２つのｐ−フェニレン基が酸素原子を介して結合した２価の基を示す。
【化５】
2014142506.tif 000005
［式（Ｃ）中、Ｒ４１およびＲ４２は、それぞれ独立に、水素原子、メチル基、またはフェニル基を示す。］］。
【請求項５】
前記ポリエステル樹脂Ｂが、下記式（Ｂ−１）〜（Ｂ−９）で示される構造単位から選ばれるいずれか１つの構造単位のみを有するポリマーまたはいずれか２つもしくはそれ以上の構造単位の組み合わせからなるポリマーである請求項４に記載のプロセスカートリッジ：
【化６】
2014142506.tif 000006
【化７】
2014142506.tif 000007
【請求項６】
前記樹脂（β）が、下記式（Ａ’）で示される繰り返し構造単位と下記式（Ｄ）で示される末端構造とを有するポリカーボネート樹脂Ａ’である請求項１〜５のいずれか一項に記載のプロセスカートリッジ：
【化８】
2014142506.tif 000008
［式（Ａ’）中、Ｒ２５〜Ｒ２８は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を示す。Ｘ３は、単結合、シクロヘキシリデン基、または下記式（Ｃ’）で示される構造を有する２価の基を示す。
【化９】
2014142506.tif 000009
［式（Ｃ’）中、Ｒ４３およびＲ４４は、それぞれ独立に、水素原子、メチル基、またはフェニル基を示す。］］、
【化１０】
2014142506.tif 000010
［式（Ｄ）中、ａおよびｂは、括弧内の構造単位の繰り返し数を示し、ａの平均値は２０以上、１００以下であり、ｂの平均値は１以上、１０以下である。］。
【請求項７】
前記樹脂（β）が、下記式（Ｂ’）で示される繰り返し構造単位と下記式（Ｄ）で示される末端構造とを有するポリエステル樹脂Ｂ’である請求項１〜５のいずれか一項に記載のプロセスカートリッジ：
【化１１】
2014142506.tif 000011
［式（Ｂ’）中、Ｒ３５〜Ｒ３８は、それぞれ独立に、水素原子またはメチル基を示す。Ｘ４は、単結合、シクロヘキシリデン基、または下記式（Ｃ’）で示される構造を有する２価の基を示す。Ｙ２は、ｍ−フェニレン基、ｐ−フェニレン基、または２つのｐ−フェニレン基が酸素原子を介して結合した２価の基を示す。
【化１２】
2014142506.tif 000012
［式（Ｃ’）中、Ｒ４３およびＲ４４は、それぞれ独立に、水素原子、メチル基、またはフェニル基を示す。］］、
【化１３】
2014142506.tif 000013
［式（Ｄ）中、ａおよびｂは、括弧内の構造単位の繰り返し数を示し、ａの平均値は２０以上、１００以下であり、ｂの平均値は１以上、１０以下である。］。
【請求項８】
前記ボウル形状の樹脂粒子が、樹脂製のシェルを有し、該シェルの一部が欠損してなる開口を有し、かつ、球状の凹部を有する粒子である請求項１〜７のいずれか一項に記載のプロセスカートリッジ。
【請求項９】
前記ボウル形状の樹脂粒子の球状の凹部の内壁に沿って導電性樹脂層が形成されている請求項８に記載のプロセスカートリッジ。
【請求項１０】
請求項１〜９のいずれか一項に記載のプロセスカートリッジを有する電子写真装置。 
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００４７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００４７】
【化１１】
2014142506.tif 000014
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５９】
【化１５】
2014142506.tif 000015
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００８０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００８０】
表面層中における化合物（γ）の含有量は、以下に示す測定方法により求めることができる。測定にはＨＰ７６９４  Ｈｅａｄｓｐａｃｅ  ｓａｍｐｌｅｒ（アジレント・テクノロジー（株）製）と、ＨＰ６８９０  ｓｅｒｉｅｓ  ＧＳ  Ｓｙｓｔｅｍ（アジレント・テクノロジー（株）製）を用いる。製造した電子写真感光体の表面層を５ｍｍ×４０ｍｍ片（試料片）に切り出し、バイアル瓶に入れ、ヘッドスペースサンプラー（ＨＰ７６９４  Ｈｅａｄｓｐａｃｅ  ｓａｍｐｌｅｒ）の設定をＯｖｅｎ  １５０℃、Ｌｏｏｐ  １７０℃、Ｔｒａｎｓｆｅｒ  Ｌｉｎｅ  １９０℃に設定し、発生したガスをガスクロマトグラフィー（ＨＰ６８９０  ｓｅｒｉｅｓ  ＧＳ  Ｓｙｓｔｅｍ）で測定する。該表面層の質量は、測定後、バイアル瓶から取り出した試料片の質量と、表面層を剥がした該試料片の質量の差分から求める。表面層を剥がした試料片とは、製造した電子写真感光体をメチルエチルケトンに５分間浸漬し、表面層を剥がした後、１００℃で５分間乾燥し、上記と同様に５ｍｍ×４０ｍｍ片（試料片）に切り出したものである。このようにして表面層中の化合物（γ）の含有量が測定される。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１３１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１３１】
懸濁重合は、モノマーや溶媒の気化による蒸発や揮散を防止するため、耐圧容器を用い、密閉下で行うことが好ましい。また、分散機で懸濁してから、耐圧容器に移して懸濁重合してもよく、耐圧容器内で懸濁させて重合してもよい。重合温度は、５０℃〜１２０℃が好ましい。本範囲内であれば、十分な重合度を有する目的とする重合体を得ることができる。重合は、大気圧下で行ってもよいが、上記熱膨張マイクロカプセルに内包させる物質を気化させないために加圧下（大気圧に０．１〜１ＭＰａを加えた圧力下）で行うことが好ましい。重合終了後は、遠心分離や濾過によって、固液分離及び洗浄を行ってもよい。固液分離や洗浄を行う場合、その後、熱膨張マイクロカプセルを構成する樹脂の軟化温度以下にて乾燥や粉砕してもよい。乾燥及び粉砕は、既知の方法により行うことができ、気流乾燥機、順風乾燥機及びナウターミキサーを使用できる。また、乾燥及び粉砕は粉砕乾燥機によって同時に行うこともできる。界面活性剤及び分散安定剤は、製造後に洗浄濾過を繰り返すことにより除去することができる。