【手続補正書】
【提出日】平成26年7月15日(2014.7.15)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
アナログ信号と参照信号との比較結果を示す比較結果信号を出力する比較器と、前記比較結果信号に基づいてデジタル信号を保持するメモリとを含む回路部を複数有し、該複数の回路部が、それらの一部から成る第１の回路部と、該第１の回路部以外の少なくとも一部から成る第２の回路部とを含み、前記アナログ信号をデジタル信号に変換するアナログデジタル変換回路であって、前記第１の回路部に含まれる第１のメモリに第１のデジタル信号を保持させるための第１のテスト信号、及び、前記第２の回路部に含まれる第２のメモリに前記第１のデジタル信号とは異なる信号値の第２のデジタル信号を保持させるための第２のテスト信号を、前記第１及び第２のメモリにそれぞれ供給するテスト信号供給部と、
出力比較部と、
前記第１及び第２のメモリのそれぞれが保持したデジタル信号を前記出力比較部に転送する転送部と、を備え、前記出力比較部において、前記第１のメモリから転送されたデジタル信号と前記第１のデジタル信号とを比較し、さらに、前記第２のメモリから転送されたデジタル信号と前記第２のデジタル信号とを比較することによって、前記第１及び第２のメモリの検査を行うことを特徴とするアナログデジタル変換回路。
【請求項２】
複数の前記第１のメモリと、複数の前記第２のメモリとが互いに隣接して交互に並んで配置されていること
を特徴とする請求項１に記載のアナログデジタル変換回路。
【請求項３】
複数の前記メモリに供給する信号を、前記比較器から出力される前記比較結果信号と、前記テスト信号供給部から供給される前記第１又は第２のテスト信号と、のいずれかに切り替える選択部をさらに有することを特徴とする請求項１または２に記載のアナログデジタル変換回路。
【請求項４】
前記転送部は、前記第１及び第２のメモリがそれぞれ保持したデジタル信号を前記出力比較部に転送する第１及び第２の転送回路を有し、前記第１の転送回路は前記第１のメモリが保持したデジタル信号を転送し、前記第２の転送回路は前記第２のメモリが保持したデジタル信号を転送し、
前記出力比較部において、前記第１の転送回路が転送したデジタル信号と第１のデジタル信号とを比較し、また、前記第２の転送回路が転送したデジタル信号と前記第２のデジタル信号とを比較することで前記第１及び第２のメモリの検査を行うことを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載のアナログデジタル変換回路。
【請求項５】
前記テスト信号供給部が前記第１のメモリに前記第１のテスト信号を供給し、前記第２のメモリに前記第２のテスト信号を供給した後、前記第１の転送回路は前記第１のメモリが保持したデジタル信号と前記第２のメモリが保持したデジタル信号とを交互に転送し、さらに、前記第２の転送回路は前記第１のメモリが保持したデジタル信号と前記第２のメモリが保持したデジタル信号とを交互に転送し、
前記出力比較部において、前記第１及び第２の転送回路のそれぞれから、前記第１及び第２のデジタル信号が交互に転送されるかを検出することで、前記転送部の検査を行うことを特徴とする請求項４に記載のアナログデジタル変換回路。
【請求項６】
前記転送部は、前記第１及び第２のメモリがそれぞれ保持したデジタル信号を前記出力比較部に転送する第１及び第２の転送回路を有し、
前記第１及び第２のメモリの前記検査の代わりに、
前記テスト信号供給部が前記第１のメモリに前記第１のテスト信号を供給し、前記第２のメモリに前記第２のテスト信号を供給した後、前記第１の転送回路は前記第１のメモリが保持したデジタル信号と前記第２のメモリが保持したデジタル信号とを交互に転送し、さらに、前記第２の転送回路は前記第１のメモリが保持したデジタル信号と前記第２のメモリが保持したデジタル信号とを交互に転送し、前記出力比較部において、前記第１及び第２の転送回路のそれぞれから、前記第１及び第２のデジタル信号が交互に転送されるかを検出することで、前記転送部と前記第１及び第２のメモリの検査を行うことを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載のアナログデジタル変換回路。
【請求項７】
前記第１のメモリが保持したデジタル信号を前記第１および第２の転送回路が同期して転送する動作と、前記第２のメモリが保持したデジタル信号を前記第１および第２の転送回路が同期して転送する動作とを時分割で行い、
前記出力比較部において、前記第１の転送回路と前記第２の転送回路とが転送するデジタル信号を互いに比較することで前記転送部の検査を行うことを特徴とする請求項５又は６に記載のアナログデジタル変換回路。
【請求項８】
前記第１の転送回路にデジタル信号を転送する前記メモリと、前記第２の転送回路にデジタル信号を転送する前記メモリとが交互に並んでおり、
前記第１の転送回路にデジタル信号を転送する前記第１のメモリと、前記第２の転送回路にデジタル信号を転送する前記第１のメモリとが互いに隣接して配置された第１の組と、
前記第１の転送回路にデジタル信号を転送する前記第２のメモリと、前記第２の転送回路にデジタル信号を転送する前記第２のメモリとが互いに隣接して配置された第２の組と、を有し、
前記第１の組と前記第２の組とが交互に並んでいることを特徴とする請求項５〜７のいずれかに記載のアナログデジタル変換回路。
【請求項９】
クロック信号を計数したカウント信号を、複数の前記メモリに共通して供給するカウンタをさらに有し、
前記第１のメモリは前記第１のテスト信号に基づいて前記カウント信号をデジタル信号として保持し、前記第２のメモリは前記第２のテスト信号に基づいて前記カウント信号をデジタル信号として保持することを特徴とする請求項１〜８のいずれかに記載のアナログデジタル変換回路。
【請求項１０】
クロック信号を複数の前記メモリに供給するクロック信号供給部をさらに有し、
複数の前記メモリの各々が前記クロック信号を計数したカウント信号を生成するカウンタを有し、
前記第１のメモリは前記第１のテスト信号に基づいて前記カウント信号をデジタル信号として保持し、前記第２のメモリは前記第２のテスト信号に基づいて前記カウント信号をデジタル信号として保持することを特徴とする請求項１〜８のいずれかに記載のアナログデジタル変換回路。
【請求項１１】
アナログ信号と参照信号との比較結果を示す比較結果信号を出力する比較器と、前記比較結果信号に基づいてデジタル信号を保持するメモリとを含む回路部を複数有し、該複数の回路部が、それらの一部から成る第１の回路部と、該第１の回路部以外の少なくとも一部から成る第２の回路部とを含み、前記アナログ信号をデジタル信号に変換するアナログデジタル変換回路であって、
テスト装置に備えられたテスト信号供給部に、前記第１の回路部に含まれる第１のメモリ及び前記第２の回路部に含まれる第２のメモリを接続するための第１の端子と、同じく前記テスト装置に備えられた出力比較部に接続するための第２の端子と、前記第１及び第２のメモリのそれぞれが保持したデジタル信号を前記第２の端子を介して前記出力比較部に転送する転送部とを備え、
前記テスト信号供給部から前記第１のメモリに第１のデジタル信号を保持させるための第１のテスト信号、及び、前記第２のメモリに第２のデジタル信号を保持させるための第２のテスト信号を、前記第１及び第２のメモリにそれぞれ供給した後、前記出力比較部において、前記第１のメモリから転送されたデジタル信号と前記第１のデジタル信号とを比較し、また、前記第２のメモリから転送されたデジタル信号と前記第２のデジタル信号とを比較することによって、前記第１及び第２のメモリの検査を行うことを特徴とするアナログデジタル変換回路。
【請求項１２】
さらに、第３及び第４のメモリと、前記第１及び第２のメモリから前記第３及び第４のメモリへそれぞれデジタル信号を転送するメモリ間転送部とを有し、前記第１及び第２のメモリのそれぞれが保持したデジタル信号が前記第３及び第４のメモリを介して前記転送部に転送されることを特徴とする請求項１〜１１のいずれかに記載のアナログデジタル変換回路。
【請求項１３】
請求項１〜１２のいずれかに記載のアナログデジタル変換回路と、
各々が光電変換部を含む複数の画素が複数列状に配置された画素部とを有し、
前記画素部の各列から出力されたアナログ信号が、前記アナログデジタル変換回路の各回路部の前記比較器に入力するように構成されたことを特徴とする撮像装置。
【請求項１４】
請求項１３の撮像装置と、
前記撮像装置から出力されたデジタル信号を処理する信号処理部と、
を有することを特徴とする撮像システム。
【請求項１５】
アナログ信号と参照信号との比較結果を示す比較結果信号を出力する比較器と、前記比較結果信号に基づいてデジタル信号を保持するメモリとを含む回路部を複数有し、該複数の回路部が、それらの一部から成る第１の回路部と、該第１の回路部以外の少なくとも一部から成る第２の回路部とを含み、前記アナログ信号をデジタル信号に変換するアナログデジタル変換回路の検査方法であって、
前記第１の回路部に含まれる第１のメモリに第１のデジタル信号を保持させるための第１のテスト信号を供給し、前記第２の回路部に含まれる第２のメモリに前記第１のデジタル信号とは異なる信号値の第２のデジタル信号を保持させるための第２のテスト信号を供給する工程と、
前記第１のメモリに保持されたデジタル信号と前記第１のデジタル信号とを比較し、また、前記第２のメモリに保持されたデジタル信号と前記第２のデジタル信号とを比較する工程と、
によって前記第１及び第２のメモリの検査を行うことを特徴とするアナログデジタル変換回路の検査方法。
【請求項１６】
前記アナログデジタル変換回路は、複数の前記第１のメモリと、複数の前記第２のメモリとが互いに隣接して交互に並んで配置されており、更に、前記第１及び第２のメモリに保持されたデジタル信号と前記第１及び第２のデジタル信号とをそれぞれ比較する出力比較部と、前記第１及び第２のメモリのそれぞれが保持したデジタル信号を前記出力比較部に転送する転送部とを備え、
前記転送部によって、前記出力比較部に前記第１のメモリの保持するデジタル信号と、前記第２のメモリの保持するデジタル信号とが交互に転送されることを特徴とする請求項１５に記載のアナログデジタル変換回路の検査方法。
【請求項１７】
前記アナログデジタル変換回路は、更に、前記第１及び第２のメモリに保持されたデジタル信号を前記第１及び第２のデジタル信号と比較する出力比較部と、前記第１及び第２のメモリがそれぞれ保持したデジタル信号を前記出力比較部に転送する第１及び第２の転送回路を含む転送部とを有し、
前記第１の転送回路は前記第１のメモリが保持したデジタル信号を転送し、前記第２の転送回路は前記第２のメモリが保持したデジタル信号を転送し、
前記出力比較部において前記第１の転送回路が転送したデジタル信号と第１のデジタル信号とを比較し、また、前記第２の転送回路が転送したデジタル信号と前記第２のデジタル信号とを比較することで前記第１及び第２のメモリの検査を行うことを特徴とする請求項１５または１６に記載のアナログデジタル変換回路の検査方法。
【請求項１８】
前記第１のメモリに前記第１のテスト信号を供給し、前記第２のメモリに前記第２のテスト信号を供給した後、前記第１及び第２の転送回路のそれぞれが、前記第１のメモリから転送されたデジタル信号と、前記第２のメモリから転送されたデジタル信号とを交互に転送し、
前記出力比較部において、前記第１及び第２の転送回路のそれぞれから、前記第１及び第２のデジタル信号が交互に転送されるかを検出することで、前記転送部の検査を行うことを特徴とする請求項１７に記載のアナログデジタル変換回路の検査方法。
【請求項１９】
前記アナログデジタル変換回路は、更に、前記第１及び第２のメモリに保持されたデジタル信号を前記第１及び第２のデジタル信号と比較する出力比較部と、前記第１及び第２のメモリがそれぞれ保持したデジタル信号を前記出力比較部に転送する第１及び第２の転送回路を含む転送部とを有し、
前記第１及び第２のメモリの前記検査の代わりに、
前記第１のメモリに前記第１のテスト信号を供給し、前記第２のメモリに前記第２のテスト信号を供給した後、前記第１及び第２の転送回路のそれぞれが、前記第１のメモリから転送されたデジタル信号と、前記第２のメモリから転送されたデジタル信号とを交互に転送し、前記出力比較部において、前記第１及び第２の転送回路のそれぞれから、前記第１及び第２のデジタル信号が交互に転送されるかを検出することで、前記転送部と前記第１及び第２のメモリの検査を行うことを特徴とする請求項１５又は１６に記載のアナログデジタル変換回路の検査方法。
【請求項２０】
前記第１のメモリが保持したデジタル信号を前記第１および第２の転送回路が同期して転送する動作と、前記第２のメモリが保持したデジタル信号を前記第１および第２の転送回路が同期して転送する動作とを時分割で行い、
前記出力比較部において、前記第１の転送回路と前記第２の転送回路とが転送するデジタル信号を互いに比較することで前記転送部の検査を行うことを特徴とする請求項１７〜１９のいずれかに記載のアナログデジタル変換回路の検査方法。
【請求項２１】
各々が光電変換部を含む複数の画素が複数列状に配置された画素部と、
前記画素部の各列から出力されたアナログ信号をデジタル信号に変換するアナログデジタル変換回路とを有し、前記アナログデジタル変換回路が、前記アナログ信号と参照信号との比較結果を示す比較結果信号を出力する比較器と、前記比較結果信号に基づいてデジタル信号を保持するメモリとを含む回路部を複数有し、該複数の回路部が、それらの一部から成る第１の回路部と、該第１の回路部以外の少なくとも一部から成る第２の回路部とを含む撮像装置の検査方法であって、
テストパターンを前記画素部で撮像することによって、前記第１の回路部に含まれる第１の比較器から第１のメモリに第１のデジタル信号を保持させるための第１のテスト信号を供給し、前記第２の回路部に含まれる第２の比較器から第２のメモリに前記第１のデジタル信号とは異なる信号値の第２のデジタル信号を保持させるための第２のテスト信号を供給する工程と、
前記第１のメモリに保持されたデジタル信号と前記第１のデジタル信号とを比較し、また、前記第２のメモリに保持されたデジタル信号と前記第２のデジタル信号とを比較する工程と、
によって前記第１及び第２のメモリの検査を行うことを特徴とする撮像装置の検査方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００５】
本発明は上記の課題を鑑みて為されたものであり、一の態様は、アナログ信号と参照信号との比較結果を示す比較結果信号を出力する比較器と、前記比較結果信号に基づいてデジタル信号を保持するメモリとを含む回路部を複数有し、該複数の回路部が、それらの一部から成る第１の回路部と、該第１の回路部以外の少なくとも一部から成る第２の回路部とを含み、前記アナログ信号をデジタル信号に変換するアナログデジタル変換回路であって、前記第１の回路部に含まれる第１のメモリに第１のデジタル信号を保持させるための第１のテスト信号、及び、前記第２の回路部に含まれる第２のメモリに前記第１のデジタル信号とは異なる信号値の第２のデジタル信号を保持させるための第２のテスト信号を、前記第１及び第２のメモリにそれぞれ供給するテスト信号供給部と、出力比較部と、前記第１及び第２のメモリのそれぞれが保持したデジタル信号を前記出力比較部に転送する転送部とを備え、前記出力比較部において、前記第１のメモリから転送されたデジタル信号と前記第１のデジタル信号とを比較し、さらに、前記第２のメモリから転送されたデジタル信号と前記第２のデジタル信号とを比較することによって、前記第１及び第２のメモリの検査を行うことを特徴とするアナログデジタル変換回路である。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
別の態様は、アナログ信号と参照信号との比較結果を示す比較結果信号を出力する比較器と、前記比較結果信号に基づいてデジタル信号を保持するメモリとを含む回路部を複数有し、該複数の回路部が、それらの一部から成る第１の回路部と、該第１の回路部以外の少なくとも一部から成る第２の回路部とを含み、前記アナログ信号をデジタル信号に変換するアナログデジタル変換回路の検査方法であって、前記第１の回路部に含まれる第１のメモリに第１のデジタル信号を保持させるための第１のテスト信号を供給し、前記第２の回路部に含まれる第２のメモリに前記第１のデジタル信号とは異なる信号値の第２のデジタル信号を保持させるための第２のテスト信号を供給する工程と、前記第１のメモリに保持されたデジタル信号と前記第１のデジタル信号とを比較し、また、前記第２のメモリに保持されたデジタル信号と前記第２のデジタル信号とを比較する工程と、によって前記第１及び第２のメモリの検査を行うことを特徴とするアナログデジタル変換回路の検査方法である。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００７】
別の態様は、各々が光電変換部を含む複数の画素が複数列状に配置された画素部と、前記画素部の各列から出力されたアナログ信号をデジタル信号に変換するアナログデジタル変換回路とを有し、前記アナログデジタル変換回路が、前記アナログ信号と参照信号との比較結果を示す比較結果信号を出力する比較器と、前記比較結果信号に基づいてデジタル信号を保持するメモリとを含む回路部を複数有し、該複数の回路部が、それらの一部から成る第１の回路部と、該第１の回路部以外の少なくとも一部から成る第２の回路部とを含む撮像装置の検査方法であって、テストパターンを前記画素部で撮像することによって、前記第１の回路部に含まれる第１の比較器から第１のメモリに第１のデジタル信号を保持させるための第１のテスト信号を供給し、前記第２の回路部に含まれる第２の比較器から第２のメモリに前記第１のデジタル信号とは異なる信号値の第２のデジタル信号を保持させるための第２のテスト信号を供給する工程と、前記第１のメモリに保持されたデジタル信号と前記第１のデジタル信号とを比較し、また、前記第２のメモリに保持されたデジタル信号と前記第２のデジタル信号とを比較する工程と、によって前記第１及び第２のメモリの検査を行うことを特徴とする撮像装置の検査方法である。