(57)【要約】      （修正有）【課題】長期間に渡り使用可能で低コストである、集積回路とテスト回路基板を電気的に接続するためのテスト伝導器を提供する。【解決手段】実装空間６１に集積回路４を収容し、複数の端子４１が複数の導電部８２をテスト回路基板５側に押した際には、各伝導部材８の延伸部８３が本体部８１を支点として第１の方向に回転し、伝導部材８に対応するフレキシブルボディ９が変形することにより弾性エネルギーが蓄積される。集積回路を実装空間から取り外した際には、フレキシブルボディに蓄積された弾性エネルギーが解放され、フレキシブルボディに対応する伝導部材の本体部を支点として、複数の導電部が第１の方向とは逆の第２の方向に回転して実装空間６１に突出する。【選択図】図７
0003215561.tif 000002
【実用新案登録請求の範囲】
【請求項１】
ベース中に画成された実装空間に複数の端子を有する集積回路を収容した状態で、前記ベースの下に配置されたテスト回路基板と前記集積回路の複数の端子とを電気的に接続することにより前記集積回路をテストするためのテスト伝導器において、
前記ベースに設けられると共に前記実装空間に位置決めされ、且つ耐熱性材料で形成された複数の伝導部材と、
一端が前記複数の伝導部材にそれぞれ当接し又は接続されると共に、他端が前記ベースに当接し又は固定され、且つ可撓性と耐熱性を有する部材からなるフレキシブルボディとを備え、
前記複数の伝導部材は、それぞれ、
前記テスト回路基板と電気的に接続される本体部と、
前記本体部から前記実装空間に突出するよう延伸した導電部と、
前記本体部における前記導電部に対して反対側へ延伸する延伸部とを備え、
前記実装空間に前記集積回路を収容した状態で、前記複数の端子が前記複数の導電部を前記テスト回路基板側に押した際、各前記伝導部材は前記本体部が支点となり前記延伸部が第１の方向に回転し、前記伝導部材に対応する前記フレキシブルボディが変形することにより弾性エネルギーが蓄積され、
また、前記集積回路を前記実装空間から取り外し、前記フレキシブルボディに蓄積された弾性エネルギーが解放されることで、前記フレキシブルボディに対応する前記伝導部材の前記本体部を支点として、前記複数の導電部が前記第１の方向とは逆の第２の方向に回転することにより前記実装空間に突出する
ことを特徴とするテスト伝導器。
【請求項２】
各前記フレキシブルボディは対応する前記伝導部材と一体形成されている
ことを特徴とする請求項１に記載のテスト伝導器。
【請求項３】
前記フレキシブルボディは、それぞれ
前記ベースに接触すると共に断面視にて渦巻き状を呈する蓄積部と、
前記蓄積部から延伸し、且つ前記伝導部材と一体形成された接続部とを備える
ことを特徴とする請求項２に記載のテスト伝導器。
【請求項４】
前記ベースに設けられ、前記複数の伝導部材を前記実装空間に位置決めするための絶縁軸を備える
ことを特徴とする請求項１に記載のテスト伝導器。
【請求項５】
各前記伝導部材のそれぞれの延伸部は、それぞれ前記テスト回路基板から遠ざかる方向で前記本体部から延伸した先端側に、前記フレキシブルボディの方向に延伸する下フック部が形成され、
前記フレキシブルボディは、
前記ベースに接続された固定部と、
前記固定部から前記延伸部へ延伸する上フック部とを備え、
前記上フック部と前記下フック部は互いに係合する
ことを特徴とする請求項４に記載のテスト伝導器。
【考案の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本考案はテスト伝導器に関し、特に集積回路とテスト回路基板を電気的に接続するためのテスト伝導器に関する。
【背景技術】
【０００２】
図１〜図４を参照して従来のテスト伝導器について説明する。ここで、図１は従来のテスト伝導器の分解斜視図である。また、図２〜図４は従来におけるテスト伝導器の側面の断面図である。
【０００３】
複数の端子１１（角度の関係で図２では一つしか図示していない）を具備する集積回路１をパッケージした後、通常はテスト回路基板２と電気的に接続することが必要とされる。このようにして集積回路１が導通できたか否か検査するが、ここで電気的に接続するための部品としてはテスト伝導器が挙げられる。従来のテスト伝導器３は、ベース３１と、ベース３１に設けられた４つのゴム軸体３２と、それぞれ回転可能にゴム軸体３２に取り付けられた複数の伝導部材３３を備える。
【０００４】
伝導部材３３は、回転可能にゴム軸体３２に対応するよう設けられた本体部３３１と、本体部３３１の上端に形成されると共に、集積回路１と電気的に接続するための上伝導端３３２と、本体部３３１の下端に形成されると共に、テスト回路基板２と電気的に接続するための下伝導端３３３を備える。
【０００５】
上伝導端３３２は端子１１に対して初期位置（解放位置）とシフト位置の間で移動できる。図２に示すとおり、端子１１が上伝導端３３２に接触したばかりのとき、上伝導端３３２は初期位置に位置し、且つ上伝導端３３２はそれぞれ端子１１の外側（図２において右側）に接触する。図３に示すように、集積回路１を下向きに伝導部材３３へ押し付けたとき、上伝導端３３２はシフト位置に位置する。
【０００６】
このとき、本体部３３１は対応するゴム軸体３２を支点として回転する。従来のテスト伝導器はこのように動作するので、第１に、回転後にゴム軸体３２が凹むように変形することによって、弾性変形によるエネルギーを蓄積する。また、第２に、上伝導端３３２は、集積回路１によって押し付けられて下へ移動するだけでなく、端子１１の外側から端子１１の内側へ徐々にシフトし、このようなシフト機構により、上伝導端３３２は確実に外側から内側へ端子１１上を移動するので、全ての端子１１がテスト回路基板２と電気的に接続することを確保して、集積回路１のテストができる。
【０００７】
また、図４に示すように、集積回路１を取り外した後は、ゴム軸体３２の弾性変形が解放され、上伝導端３３２がシフト位置から初期位置（解放位置）に戻ることにより、次の集積回路１のテストができるようになる。
【０００８】
以上のように、ゴム軸体３２を用いてシフトによる弾性変形とそれを戻す機構を採用することにより、集積回路１をテストすることができ、またテスト後に上伝導端３３２が元の位置に戻ることを繰り返すことで、大量生産のニーズを満足する。
【考案の概要】
【考案が解決しようとする課題】
【０００９】
しかし、伝導部材３３は一般に導電性が高いものを使用する必要があり、且つ熱に対しても強い金属材料が好ましいが、ゴム軸体３２は耐熱性に優れないので、集積回路１が高温に耐え得るかどうかの回路テストを行なうときに、ゴム軸体３２が長時間に渡り高温下にさらされると、永久的に変形し、柔らかくなってしまうので、上述した弾性変形と復元の原理を利用したテスト機能が失われてしまう恐れがある。このため、ゴム軸体３２を取り換えるためのコストと時間が余計に必要となる問題がある。
【００１０】
本考案は、このような問題に鑑みて、長期間に渡り使用可能で低コストのテスト伝導器を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
このような問題を解決するため、本考案は以下の構成を備える。ベース中に画成された実装空間に複数の端子を有する集積回路を収容した状態で、前記ベースの下に配置されたテスト回路基板と前記集積回路の複数の端子とを電気的に接続することにより前記集積回路をテストするためのテスト伝導器において、前記ベースに設けられると共に前記実装空間に位置決めされ、且つ耐熱性材料で形成された複数の伝導部材と、一端が前記複数の伝導部材に当接し又は接続されると共に、他端が前記ベースに当接し又は固定され、且つ可撓性部材からなるフレキシブルボディとを備え、前記複数の伝導部材は、それぞれ、前記テスト回路基板と電気的に接続される本体部と、前記本体部から前記実装空間に突出するよう延伸した導電部と、前記本体部における前記導電部に対して反対側へ延伸する延伸部とを備え、前記実装空間に前記集積回路を収容した状態で、前記複数の端子が前記複数の導電部を前記テスト回路基板側に押した際、前記導電部で押された各前記伝導部材は前記本体部が支点となり前記延伸部が第１の方向に回転し、前記伝導部材に対応する前記フレキシブルボディが変形することにより弾性エネルギーが蓄積され、また、前記集積回路を前記実装空間から取り外し、前記フレキシブルボディに蓄積された弾性エネルギーが解放されることで、前記フレキシブルボディに対応する前記伝導部材の前記本体部を支点として、前記複数の導電部が前記第１の方向とは逆の第２の方向に回転することにより前記実装空間に突出する。
【考案の効果】
【００１２】
集積回路を実装空間に収容した状態で、端子が導電部をテスト回路基板側に押したとき、本体部が支点となり延伸部が第１の方向に回転すると、フレキシブルボディが変形することにより弾性エネルギーが蓄積される。集積回路を実装空間から取り外し、フレキシブルボディに蓄積された弾性エネルギーが解放されることで、本体部を支点として、導電部が第１の方向とは逆の第２の方向に回転することにより実装空間に突出し、且つフレキシブルボディは温度が高い状況下での使用にも耐え得るので、伝導部材に元の位置に戻ろうとする力が働くと共に、高温環境下でテストを行なっても従来よりも長い期間にわたり使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】従来のテスト伝導器の分解斜視図である。
【図２】従来のテスト伝導器の側面の断面図である。
【図３】従来のテスト伝導器の側面の断面図である。
【図４】従来のテスト伝導器の側面の断面図である。
【図５】本考案のテスト伝導器の分解斜視図である。
【図６】図５を他の角度から見た斜視図である。
【図７】フレキシブルボディが通常の状態の時の断面図である。
【図８】集積回路を下向きに複数の伝導部材へ押し付けて、フレキシブルボディに力を蓄積させた状態の断面図である。
【図９】集積回路を取り外した後、フレキシブルボディが力を蓄積した状態から通常の状態に戻った断面図である。
【図１０】本考案のテスト伝導器の第２の実施形態を示した断面図であり、フレキシブルボディの通常の状態を示した図である。
【図１１】第２の実施形態においてフレキシブルボディに力を蓄積させた状態の断面図である。
【図１２】本考案のテスト伝導器の第３の実施形態を示した断面図であり、フレキシブルボディの通常の状態を示した図である。
【図１３】第３の実施形態においてフレキシブルボディに力を蓄積させた状態の断面図である。
【考案を実施するための形態】
【００１４】
図５〜図７を参照して、本考案のテスト伝導器の第１の実施形態を説明する。
【００１５】
テスト伝導器は、電気的な接続を得るために所定の方向に沿って配列された複数（ただし、端子４１は図７では角度の関係で１個しか示されていない）の端子４１を備える集積回路４と、テスト回路基板５とを電気的に接続するためのものである。
【００１６】
本実施形態においてテスト伝導器は、ベース６と、それぞれベース６に設けられる４個の絶縁軸７及び４組の伝導部材（接点レバー）８と、それぞれ伝導部材８よりも上側でベース６に接続される４組のフレキシブルボディ（片持ちばね）９とを含む。
【００１７】
図７に記載されたテスト回路基板５は、ベース６の下に配置される。
【００１８】
ベース６は、図５に示すように、外形が略「回の字型」に形成され、内側に略矩形状の実装空間６１を画成する。４個の絶縁軸７は、それぞれ９０°ずつ角度を変えながら全体として略四角形を形成するように、且つ実装空間６１の４つの辺にそれぞれ沿う方向に配置されて、ベース６に設けられる。
【００１９】
４組の伝導部材８は、４つの絶縁軸７が配置された方向にそれぞれ対応するようにベース６に設けられ、実装空間６１に位置決めされる。ここで、４組のフレキシブルボディ９は、図５に示すように、それぞれ櫛歯状に形成され、板状の共通部から枝分かれした複数本の葉部によって構成される。なお、図７では角度の関係で１個の葉部と１個の共通部しか示されていない。
【００２０】
図５に示すように、実装空間６１には、ベース６の頂面に形成されると共に集積回路４を収容する収容溝６１１が設けられる。４個のアセンブリスロット６１２は、図６に示すように、それぞれベース６の底面で、収容溝６１１の各辺に沿って位置するので、図７に示すようにテスト回路基板５の上方に位置することとなる。
【００２１】
図７に示すように、伝導部材８はアセンブリスロット６１２に位置する本体部８１と、本体部８１から収容溝６１１の方向へ突出した導電部８２を備える。また、伝導部材８は、一端が本体部８１に連結し、他端が導電部８２に対して遠ざかる方向に、且つフレキシブルボディ９が通常の状態の時の図７においてテスト回路基板５と略平行となるように本体部８１から延伸する延伸部８３を備える。
【００２２】
本体部８１はテスト回路基板５に当接して電気的な接続を得るために用いられる。導電部８２は集積回路４の端子４１に接触して電気的な接続を得るために用いられる。このような構成でベース６を用いることにより、伝導部材８を実装空間６１に位置決めすることができるが、絶縁軸７によって更に強力な位置決め効果を得られる。
【００２３】
フレキシブルボディ（片持ちばね）９の一端はベース６に固定され、他端はそれぞれ延伸部８３に当接する。ここで、フレキシブルボディ９の材料は曲げることができる（可撓性部材で形成される、即ち、形状復元性を有する）と共に高温に耐えられるエンジニアリングプラスチックが好ましく、例えば、TORLON（登録商標）、EKH-SS11、WPC1000…等の従来から使われている高温に耐えられるプラスチック材料が好ましい。
【００２４】
各延伸部８３は本体部８１からテスト回路基板５とは離れる方向へ延伸した側８３１の端部からフレキシブルボディ９の方向へ延伸した下フック部８３２を備える。各フレキシブルボディ９はベース６に接続された固定部９１と、固定部９１から延伸部８３へ延伸した上フック部９２を備える。上フック部９２はそれぞれ対応する下フック部８３２と相互に係合する。そのため、フレキシブルボディ９と対応した伝導部材８は互いに接続された状態を保つことができる。
【００２５】
図７〜図８を参照して説明する。フレキシブルボディ９は通常状態（解放位置）と力を蓄えた状態の間で切り換えられる。以下、その切り換えの仕組みを説明する。集積回路４がテスト回路基板５の方向に押されて導電部８２と当接したとき、導電部８２及び延伸部８３は対応する本体部８１が（接点レバーの）支点となり第１の方向へ回転する。ここで第１の方向は図７、図８では反時計回りである。
【００２６】
延伸部８３が回転すると、少なくとも一つのフレキシブルボディ９が延伸部８３に押され、少なくとも一つのフレキシブルボディ９が変形され（図８を参照）、通常状態から力を蓄えた状態に変換されると同時に、変形により弾性エネルギーが蓄積される。
【００２７】
図８〜図９を参照して説明する。集積回路４が収容溝６１１から取り出され、導電部８２に接触しないとき、少なくとも一つのフレキシブルボディ９は蓄積された弾性エネルギーを解放して（復元力を生じて）延伸部８３を押す。
【００２８】
このようにして、導電部８２を動かし、延伸部８３に対応する本体部８１が支点となって第１の方向とは逆の第２の方向（図９では時計回り）へ回転し、導電部８２は収容溝６１１の方向へ突出する。なお、少なくとも一つのフレキシブルボディ９が変形によって蓄積された弾性エネルギーを完全に解放した後は、通常状態に戻る。
【００２９】
図７〜図９を参照して第１の実施形態を更に説明する。ここで、図７はフレキシブルボディ９が通常の状態の時の断面図であり、図８は集積回路４を下向きに複数の伝導部材８へ押し付けて、フレキシブルボディ９に力を蓄積させた状態の断面図であり、図９は集積回路４を取り外した後、フレキシブルボディ９が力を蓄積した状態から通常の状態に戻った断面図である。
【００３０】
図７に示すように、集積回路４の端子４１が伝導部材８に接触する際、導電部８２は端子４１の外側に接触する。この際、フレキシブルボディ９はまだ延伸部８３によって変形が生じておらず、通常の状態である。
【００３１】
図８に示すように、集積回路４がテスト回路基板５の方向へ下向きに押されたとき、導電部８２に対して下向きの力が作用され（即ち、集積回路４の端子４１が導電部８２をテスト回路基板５の方向へ押す）、導電部８２と延伸部８３は本体部８１が支点となって回転することにより、以下の２つの作用効果を得ることができる。
【００３２】
第１に、導電部８２を、本体部８１を支点としてテスト回路基板５の方向へ近づかせるように回転する（図８において反時計回りに回転する）と、端子４１の高さが徐々に下向きに移動する他、導電部８２が端子４１に対して接触している位置も、端子４１の外側から内側にシフトするので、このようなシフト機構を用いることにより、外側から内側へ端子４１をなぞることができ、各端子４１は、いずれもテスト回路基板５と電気的な接続が確保され、集積回路４のテストが行なえる。
【００３３】
第２に、本体部８１を支点としてテスト回路基板５から離れるように回転する（第１の方向である反時計回りに回転する）延伸部８３は、対応するフレキシブルボディ９に対して上向きに力を作用させるので、フレキシブルボディ９に変形を生じさせる。変形後のフレキシブルボディ９は通常状態から力を蓄えた状態となり、延伸部８３の作用する力は弾性エネルギーに変換される。
【００３４】
特に、フレキシブルボディ９は高温に耐え得る材料で形成されているので、テスト時に高温になっても影響を受けにくく、変形や軟化（クリープなど）によって弾性エネルギーを蓄積・解放する原理が失われてテスト機能が損なわれたり、度々部品を交換しなければならなかったりと言った問題が生じにくい。そのため、第１の実施形態は高温が発生し得るテストを行なうことに適している。
【００３５】
図９に示すように、集積回路４が収容溝６１１から取り出されたとき、フレキシブルボディ９の弾性エネルギーが解放されるので、延伸部８３は対応する本体部８１を支点として下向きに回転し（第２の方向である時計回りに回転し）、本体部８１に連結している導電部８２はこの回転に伴って、対応する本体部８１を支点として上向きに回転する。このようにすることにより、導電部８２は収容溝６１１の方向へ突出する。フレキシブルボディ９が、蓄積された弾性エネルギーを解放し終わった後は、通常状態に戻ると共に、伝導部材８も元の位置に戻り、次の集積回路４のテストを続けて行なうことができる。
【００３６】
図１０〜図１１を参照して本考案のテスト伝導器の第２の実施形態を説明する。ここで、図１０は、本考案のテスト伝導器の第２の実施形態を示した断面図であり、フレキシブルボディ９の通常の状態を示した図である。図１１は第２の実施形態においてフレキシブルボディ９に力を蓄積させた状態の断面図である。
【００３７】
第２の実施形態は多くの構成が第１の実施形態と共通するが、以下の通り３つの異なる構成を有する。一つ目の異なる点は、第２の実施形態は図９で説明した絶縁軸７を含まないことである。即ち、ベース６のみを使用することにより、伝導部材８を実装空間６１に位置決めする。
【００３８】
二つ目の異なる点は、第２の実施形態は伝導部材８と同じ数量のフレキシブルボディ９を備えることである。フレキシブルボディ９はそれぞれ伝導部材８と一体形成される。なお、図１０の断面図から明らかなように、フレキシブルボディ９は、第１の実施形態と異なり共通部と葉部とから構成されずに、第１の実施形態における葉部に相当する部分のみで構成される。
【００３９】
ここで、フレキシブルボディ９は伝導部材８よりも更に細長く形成されるが、フレキシブルボディ９の材料は伝導部材８と同様である。しかし、第２の実施形態では、第１の実施形態と異なり、伝導部材８とフレキシブルボディ９が一体形成される都合上、導電性、耐熱性及び可撓性（形状復元性）を有する金属であることが好ましい。このため、優れた耐熱性を備える。一方、フレキシブルボディ９の形状は伝導部材８よりも更に細長い形状を含むので、力を受けたときに伝導部材８よりも更に容易に変形し易い。このため、通常状態と力を蓄積した状態の間での変換がし易い。
【００４０】
三つ目の異なる点は、フレキシブルボディ９と伝導部材８が一体形成されていることにより、第２の実施形態では、各フレキシブルボディ９は図９で説明した固定部９１と上フック部９２を含まない。また、各延伸部８３も下フック部８３２を含まない。ただし、一体形成されているので、フレキシブルボディ９と伝導部材８の接続関係は維持することができる。
【００４１】
図１１に示すように、導電部８２が集積回路４の端子４１によって下向きに押されたときに、フレキシブルボディ９は上向きに凸となるように変形し、力を蓄積した状態に換わる。集積回路４がテスト回路基板５から離れた方向へ移動したときは、図１０に示すように、フレキシブルボディ９は弾性エネルギーを解放すること（復元力）により、第２の実施形態は第１の実施形態と同様に耐熱性があり、且つ伝導部材８がテスト後に元の位置に戻るという効果を得ることができる。
【００４２】
図１２〜図１３を参照して本考案のテスト伝導器の第３の実施形態を説明する。図１２はフレキシブルボディ９の通常の状態を示した図である。図１３は第３の実施形態においてフレキシブルボディ９に力を蓄積させた状態の断面図である。
【００４３】
第３の実施形態は第２の実施形態と多くの構成が共通するが、以下の点が異なる。フレキシブルボディ９は、一端がベース６に接触すると共に断面視にて渦巻き状、又はＣ字型に延伸した蓄積部（ねじりばね部）９３と、蓄積部９３から更に延伸し、対応する伝導部材８と一体形成された接続部９４を備える。第３の実施形態でも、第２の実施形態と同様に耐熱性を有すると共に、フレキシブルボディ９の復元力により、伝導部材８が元の位置に戻ろうとする効果を奏する。また、渦巻き状の蓄積部９３によって、限られた空間内においても有効に弾性エネルギーを蓄積できる。
【００４４】
特に、第１の実施形態の図８で説明したように、フレキシブルボディ９の一端は伝導部材８に当接し、他端はベース６に固定されるので、伝導部材８がフレキシブルボディ９に力を施したとき、変形が生じて力が蓄積される状態に切り換わる。
【００４５】
ただし、フレキシブルボディ９と、ベース６及び伝導部材８との接続関係はこれには限られず、フレキシブルボディ９を通常状態と力を蓄積させた状態との間で切り換えることができさえすれば、本考案の効果を奏し得る。
【００４６】
すなわち、図１１に示した第２の実施形態、或いは図１３に示した第３の実施形態の様に、フレキシブルボディ９の一端を伝導部材８と一体形成し、他端をベース６に当接・固定させたものに限らず、ベース６の形状を変更することによって位置決めの効果を発揮しても良い。
【００４７】
よって、伝導部材８に力を施したとき、一端が伝導部材８と接続され、他端がベースによって位置決めされたフレキシブルボディ９は、上述した実施形態と同様に変形して力を蓄積させる状態に切り換わることができるので、耐熱性を有すると共に伝導部材８が元の位置に戻ろうとする機能（フレキシブルボディ９に蓄積された弾性エネルギーを解放しようとする機能）を発揮できる。
【００４８】
以上のように、本考案のテスト伝導器は集積回路４によって導電部８２を押し付け、導電部８２を本体部８１を支点として回転させ、延伸部８３を伴って回転すると共に対応するフレキシブルボディ９に力を施し、フレキシブルボディ９は力が施されると変形して、通常状態から力が蓄積された状態に切り換わるので、力が蓄積された後は、伝導部材８には元の位置に戻ろうとする力が働く。また、フレキシブルボディ９は温度が高い状況下での使用にも耐え得るので、高温環境下でテストを行なっても従来よりも長い期間にわたり使用することができ、本考案の目的を達成し得る。
【００４９】
以上の説明は、本考案の実施形態に過ぎず、これを以って実用新案登録請求の範囲を限定するものではない。また、本考案の実用新案登録請求の範囲及び明細書の内容に簡単な付加や変化を加えたに過ぎないものについても、実用新案登録請求の範囲に記載された考案の技術的範囲に属するものとする。
【符号の説明】
【００５０】
４      集積回路
４１    端子
５      テスト回路基板
６      ベース
６１    実装空間
６１１  収容溝
７      絶縁軸
８      伝導部材
８１    本体部
８２    導電部
８３    延伸部
８３２  下フック部
９      フレキシブルボディ
９１    固定部
９２    上フック部
９３    蓄積部
９４    接続部
【図１】
0003215561.tif 000003
【図２】
0003215561.tif 000004
【図３】
0003215561.tif 000005
【図４】
0003215561.tif 000006
【図５】
0003215561.tif 000007
【図６】
0003215561.tif 000008
【図７】
0003215561.tif 000009
【図８】
0003215561.tif 000010
【図９】
0003215561.tif 000011
【図１０】
0003215561.tif 000012
【図１１】
0003215561.tif 000013
【図１２】
0003215561.tif 000014
【図１３】
0003215561.tif 000015