【手続補正書】
【提出日】平成26年7月31日(2014.7.31)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の方向のサブアレイを特徴付ける少なくとも共通の複数の周期的な値が所定の閾値よりも小さい場合に、１つ又はそれ以上のダイの周期的サブアレイを特徴付ける設計データから、近接基準に適合し、かつ、選択された方向における両立可能な周期性によって特徴付けられる、隣接する周期的サブアレイの対を識別するステップと、
前記識別された隣接する周期的サブアレイの各々の対に対して、それぞれの候補ステッチを定める矩形を生成するステップと、
前記候補ステッチの中で周期的ステッチを識別するステップと、
コンピュータによって、前記周期的ステッチと前記周期的サブアレイとを統合して周期的アレイを作成するステップと、
前記設計データに基づいて生成された前記周期的アレイを使用して、レシピを発生させるステップと、
を含むことを特徴とする方法。
【請求項２】
周期的サブアレイの対は、Ｃ１及びＣ２をそれぞれ所与の方向における前記周期的サブアレイを特徴付ける周期性値として、ｍａｘ｛Ｃ１，Ｃ２｝がｍｉｎ｛Ｃ１，Ｃ２｝で割り切れる場合に、前記所与の方向における両立可能な周期性によって特徴付けられることを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
候補ステッチは、乗数Ｋを正の整数とし、ＬＣＭを所与の方向おけるそれぞれの隣接する周期的サブアレイを特徴付ける周期性値の最小公倍数として、周期性値Ｃｓ＝Ｋ＊ＬＣＭによって前記所与の方向において特徴付けられる場合に、前記周期性基準を満たすことを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記候補ステッチの中で周期的ステッチを識別するステップは、前記候補ステッチ区域内で、前記周期性基準を満たす１つ又はそれ以上の周期的断片を識別するステップを含むことを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記候補ステッチの中で周期的ステッチを識別するステップは、断片化基準を満たす周期的ステッチを識別するステップをさらに含むことを特徴とする、請求項４に記載の方法。
【請求項６】
周期的ステッチは、該周期的ステッチ内の周期的断片の数が断片化閾値より小さく、各断片のそれぞれの方向におけるサイズが断片サイズ閾値より小さくない場合に、断片化基準を満たすことを特徴とする、請求項５に記載の方法。
【請求項７】
前記周期的ステッチと前記周期的サブアレイとを統合して周期的アレイを作成するステップは、
前記識別された各々の対の中の前記サブアレイを連結して、連結サブアレイにするステップと、
１つ又はそれ以上のサブアレイ及びそれらの間のステッチを含む最大周期的グループであって、前記グループ内の隣接するサブアレイのあらゆる対がそれらの間に周期的ステッチを有する連結されたサブアレイであり、それらすべてのサブアレイが前記グループに含まれることで特徴付けられる最大周期的グループを生成するステップと、
１つ又はそれ以上の重ならない均一化最大周期的グループを取得するステップと、
同じ前記均一化最大周期的グループに属するサブアレイ及び周期的ステッチを単一の統合周期的アレイに統合し、このアレイに、それぞれの前記グループを特徴付ける前記周期性値を割り当てるステップと、
を含むことを特徴とする、請求項１に記載の方法。
【請求項８】
前記重ならない均一化最大周期的グループは、それぞれのグループにおける全てのサブアレイに等しい周期性値によって特徴付けされることを特徴とする、請求項７に記載の方法。
【請求項９】
プロセッサと、
前記プロセッサによってアクセス可能なメモリと、
を備えるシステムであって、
前記メモリは、前記プロセッサに、以下の機能、即ち
所定の方向のサブアレイを特徴付ける少なくとも共通の複数の周期的な値が所定の閾値よりも小さい場合に、１つ又はそれ以上のダイの周期的サブアレイを特徴付ける設計データから、近接基準に適合し、かつ、選択された方向における両立可能な周期性によって特徴付けられる、隣接する周期的サブアレイの対を識別するステップと、
前記識別された隣接する周期的サブアレイの各々の対に対して、それぞれの候補ステッチを定める矩形を生成するステップと、
前記候補ステッチの中で周期的ステッチを識別するステップと、
コンピュータによって、前記周期的ステッチと前記周期的サブアレイとを統合して周期的アレイを作成するステップと、
前記設計データに基づいて生成された前記周期的アレイを使用して、レシピを発生させるステップと、
を実行させる機械命令を格納する、
ことを特徴とするシステム。
【請求項１０】
周期的サブアレイの対は、Ｃ１及びＣ２をそれぞれ所与の方向における前記周期的サブアレイを特徴付ける周期性値として、ｍａｘ｛Ｃ１，Ｃ２｝がｍｉｎ｛Ｃ１，Ｃ２｝で割り切れる場合に、前記所与の方向における両立可能な周期性によって特徴付けられることを特徴とする、請求項９に記載のシステム。
【請求項１１】
候補ステッチは、周期性値Ｃｓ＝Ｋ＊ｍａｘ｛Ｃｙ１，Ｃｙ２｝によって所与の方向において特徴付けられる場合に周期性基準を満たし、乗数Ｋは正の整数であり、Ｃ１及びＣ２の各々は、前記所与の方向におけるそれぞれの隣接する周期性サブアレイを特徴付ける周期性値である、請求項９に記載のシステム。
【請求項１２】
前記候補ステッチの中で周期的ステッチを識別するステップは、前記候補ステッチ区域内で、前記周期性基準を満たす１つ又はそれ以上の周期的断片を識別するステップを含むことを特徴とする、請求項９に記載のシステム。
【請求項１３】
前記候補ステッチの中で周期的ステッチを識別するステップは、断片化基準を満たす周期的ステッチを識別するステップをさらに含むことを特徴とする、請求項１２に記載のシステム。
【請求項１４】
周期的ステッチは、該周期的ステッチ内の周期的断片の数が断片化閾値より小さく、各断片のそれぞれの方向におけるサイズが断片サイズ閾値より小さくない場合に、断片化基準を満たすことを特徴とする、請求項１３に記載のシステム。
【請求項１５】
前記周期的ステッチと前記周期的サブアレイとを統合して周期的アレイを作成することは、
前記識別された各々の対の中の前記サブアレイを連結して、連結サブアレイにすることと、
１つ又はそれ以上のサブアレイ及びそれらの間のステッチを含む最大周期的グループであって、前記グループ内の隣接するサブアレイのあらゆる対がそれらに間に周期的ステッチを有する連結されたサブアレイであり、それらすべてのサブアレイが前記グループに含まれることを特徴とする最大周期的グループを生成することと、
１つ又はそれ以上の重ならない均一化最大周期的グループを取得することと、
同じ前記均一化最大周期的グループに属するサブアレイ及び周期的ステッチを単一の統合周期的アレイに統合し、このアレイに、それぞれの前記グループを特徴付ける前記周期性値を割り当てることと、
を含むことを特徴とする、請求項９に記載のシステム。
【請求項１６】
処理システムによって実行されるとき、前記処理システムに、
所定の方向のサブアレイを特徴付ける少なくとも共通の複数の周期的な値が所定の閾値よりも小さい場合に、１つ又はそれ以上のダイの周期的サブアレイを特徴付ける設計データから、近接基準に適合し、かつ、選択された方向における両立可能な周期性によって特徴付けられる、隣接する周期的サブアレイの対を識別するステップと、
前記識別された隣接する周期的サブアレイの各々の対に対して、それぞれの候補ステッチを定める矩形を生成するステップと、
前記候補ステッチの中で周期的ステッチを識別するステップと、
コンピュータによって、前記周期的ステッチと前記周期的サブアレイとを統合して周期的アレイを作成するステップと、
前記設計データに基づいて生成された前記周期的アレイを使用して、レシピを発生させるステップと、
を含む方法を実行させる命令を含むことを特徴とする、非一時的コンピュータ可読媒体。