【手続補正書】
【提出日】平成26年6月16日(2014.6.16)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
計測対象物の略深さ方向と深さ方向に略直交する２方向とを３軸とする任意の３次元の直交座標系、又は、略深さ方向と深さ方向に略直交する１方向とを２軸とする任意の２次元の直交座標系を取り、少なくとも１素子の超音波素子を使用して、１つのステアリング角度を有する超音波ステアリングビームで計測対象物を前記深さ方向に略直交する方向に走査することにより得られる３次元又は２次元の超音波エコーデータフレームを生成するステップ（ａ）と、
複数の異なる時相において生成される超音波エコーデータフレームに対して、関心領域内の各関心点において多次元解析信号から求まる各軸方向の瞬時周波数又は関心点を含む局所領域内の超音波エコーデータのスペクトルから求まる各軸方向の第１次モーメントとしての重心周波数が３次元周波数ベクトル（fx,fy,fz）を表す場合に、回転角φ＝tan-1（fy/fx）、極角θ＝cos-1[fz/（fx2+fy2+fz2）1/2]、周波数（fx2+fy2+fz2）1/2に基づいて、又は、該重心周波数が２次元周波数ベクトル（fx,fy）を表す場合に、角度φ＝tan-1（fy/fx）、周波数（fx2+fy2）1/2に基づいて、各関心点におけるビーム方向及び該ビーム方向における周波数を求めるステップ（ｂ）と、
各関心点の複数の異なる時相間の該ビーム方向における変位成分を算出するステップ（ｃ）と、
を具備する変位計測方法。
【請求項２】
ステップ（ｂ）が、各関心点を含む局所領域内の超音波エコーデータの各スペクトルからではなく、関心領域内のエコーデータ全体のスペクトルから求まる各軸方向の第１次モーメントとしての重心周波数が３次元周波数ベクトル（fx,fy,fz）を表す場合に、回転角φ＝tan-1（fy/fx）、極角θ＝cos-1[fz/（fx2+fy2+fz2）1/2]に基づいて、又は、該重心周波数が２次元周波数ベクトル（fx,fy）を表す場合に、角度φ＝tan-1（fy/fx）に基づいて、ビーム方向を求めることを含む、請求項１記載の変位計測方法。
【請求項３】
ステップ（ａ）が、機械的なステアリングを行った場合に、任意の方法又は装置によりステアリング角度を感知して、ビームフォーミング時又はビームフォーミング後に座標系を設定する処理を行うことを含む、請求項１又は２記載の変位計測方法。
【請求項４】
ステップ（ｃ）が、各関心点において求められる複数の異なる時相間の瞬時位相の変化を前記ビーム方向における周波数で割ることにより、前記ビーム方向における変位成分を算出することを含む、請求項１記載の変位計測方法。
【請求項５】
ステップ（ｃ）が、前記ビーム方向に基づいて関心点からの超音波エコーデータを含む超音波エコーデータを回転させ、前記ビーム方向を正面とする新たな直交座標系において前記ビーム方向における変位成分を算出することを含む、請求項１記載の変位計測方法。
【請求項６】
ステップ（ｃ）が、前記ビーム方向に基づいて関心点からの超音波エコーデータを含む超音波エコーデータの多次元スペクトルを分割し、分割された多次元スペクトルから求まる多次元解析信号又はエコーデータフレームからドプラ方程式を得て、それらを連立して解いて求められる変位ベクトルから前記ビーム方向における変位成分を算出することを含む、請求項１記載の変位計測法。
【請求項７】
ステップ（ａ）が、０度のステアリング角度を設定して超音波ステアリングビームを生成することを含む、請求項１〜６のいずれか１項記載の変位計測方法。
【請求項８】
各関心点において、ステップ（ｂ）において求まる前記ビーム方向と、ステップ（ｃ）において求まる前記ビーム方向における変位成分と、任意の方法又は装置により与えられる変位の方向データとを用いて、変位方向における変位を算出するステップ（ｄ）をさらに具備する、請求項１〜７のいずれか１項記載の変位計測方法。
【請求項９】
複数の異なる時相において同一の複数のステアリング角度を有する超音波ステアリングビームで計測対象物を前記深さ方向に略直交する方向に走査することにより得られる複数の３次元又は２次元の超音波エコーデータフレームを生成し、
各関心点において、各々のステアリング角度を有する超音波ステアリングビームについて複数の異なる時相において生成される超音波エコーデータフレームにステップ（ｂ）及び（ｃ）が適用され、
各関心点において求まる複数のビーム方向における変位成分を合成することにより変位ベクトルを算出するステップ（ｄ）をさらに具備する、請求項１〜７のいずれか１項記載の変位計測方法。
【請求項１０】
駆動信号に従って超音波を送信すると共に、超音波エコーを受信して受信信号を出力する少なくとも１つの超音波振動子を含む超音波探触子と、
少なくとも１つの駆動信号を生成すると共に、少なくとも１つの受信信号を処理する駆動・出力調整手段と、
計測対象物の計測対象物の略深さ方向と深さ方向に略直交する２方向とを３軸とする任意の３次元の直交座標系、又は、略深さ方向と深さ方向に略直交する１方向とを２軸とする任意の２次元の直交座標系を取り、少なくとも１つのステアリング角度を有する超音波ステアリングビームで計測対象物を前記深さ方向に略直交する方向に走査することにより得られる３次元又は２次元の超音波エコーデータフレームを生成するように各部を制御する計測制御手段と、
請求項１〜９のいずれか１項記載の変位計測方法におけるステップ（ｂ）及び（ｃ）、又は、ステップ（ｂ）〜（ｄ）を実行するデータ処理部と、
を具備する変位計測装置。
【請求項１１】
前記計測制御手段が、ビームフォーミングに関して、（ｉ）超音波トランスデューサの物理開口の正面方向への超音波ビームを使用することと、（ii）１つのステアリング角度を有する超音波ステアリングビームを使用することと、（iii）該ステアリング角度を基礎とする複数方向の超音波ビームを使用することとの内の少なくとも１つを含むビームフォーミングを、計測対象を決めることにより、変位計測法との組み合わせとして選択可能である、又は、変位計測法との組み合わせとして自動的に選択する機能を有する、請求項１０記載の変位計測装置。
【請求項１２】
前記計測制御手段が、（ｉ）又は（ii）が選択された場合に、前記データ処理手段によってビームフォーミングが行われた後、得られる単一スペクトルの横方向の低周波スペクトル又はビーム方向中心付近のスペクトルを除くことによりビーム方向に直交する方向に変調し、（iii）が選択された場合に、前記データ処理手段によってビームフォーミングが行われた後、得られる複数のスペクトルの中心側のスペクトルを除くことにより中心方向に直交する方向の変調周波数を高くする機能を有する、請求項１１記載の変位計測装置。
【請求項１３】
前記計測制御手段が、前記データ処理手段によってビームフォーミングが行われた後、フーリエ空間において、任意方向の軸に対して対称の位置に存在する独立したスペクトルのいずれか一方の符号を反転させることにより、前記任意方向の軸に対する横方向変調において余弦変調と正弦変調とを反転させる機能を有する、請求項１０〜１２のいずれか１項記載の変位計測装置。
【請求項１４】
前記データ処理部が、超音波エコー信号の高調波信号を用いる、請求項１０〜１３のいずれか１項記載の変位計測装置。
【請求項１５】
前記データ処理部が、造影剤からの超音波エコー信号を用いる、請求項１０〜１４のいずれか１項記載の変位計測装置。
【請求項１６】
前記データ処理部が、算出された変位ベクトル成分又は変位、又はその分布、又はその時系列データに空間微分フィルタ又は時間微分フィルタを施すことにより、歪テンソル成分又は歪、又は、歪速度テンソル成分又は歪速度、又は、加速度ベクトル成分又は加速度、又は、速度ベクトル成分又は速度、又はその分布、又はその時系列をも求める、請求項１０〜１５のいずれか１項記載の変位計測装置。
【請求項１７】
前記データ処理部が、算出された変位ベクトル成分又は変位、歪テンソル成分又は歪、歪速度テンソル成分又は歪速度、主歪又は主歪速度、加速度ベクトル成分又は加速度、速度ベクトル成分又は速度、瞬時位相の変化、ずり波伝搬速度又は伝搬方向、又は、ずり波の振動変位又は振動振幅又はそれらの分布又はそれらの時系列と、超音波エコーデータフレームそのもの又はそれらの重ね合わせを検波して得られる信号又は検波後に重ね合わせして得られる信号と、それら異なる画像の重畳データとの内の少なくとも１つに基づく画像を、計測結果として表示部に表示させる、請求項１０〜１６のいずれか１項記載の変位計測装置。
【請求項１８】
核磁気共鳴信号、電磁波、及び、光の内の少なくとも１つを検出する検出器をさらに具備する、請求項１０〜１７のいずれか１項記載の変位計測装置。
【請求項１９】
前記任意の直交座標系が、デカルト座標系又は極座標系を含む曲線座標系、又は、任意開口面形状に合う直交座標系又は任意開口面形状に捉われない直交座標系である、請求項１〜１８のいずれか１項記載の変位計測装置。
【請求項２０】
請求項１０〜１９のいずれか１項記載の変位計測装置を具備する超音波診断装置。