【手続補正書】
【提出日】平成26年6月10日(2014.6.10)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】撮像方法および撮像装置
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００１】
本発明は、撮像装置及び撮像方法に関し、特に眼科診療等に用いられる撮像方法及び撮像装置に関する。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明に係る被検査物の撮像方法は、複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と、前記複数の測定光に対応する複数の参照光とによる複数の合成光に基づいて、前記被検査物の複数の断層画像を取得する撮像方法であって、前記複数の断層画像のズレ量が所定のレベル以下となるように装置状態を補正する工程と、前記補正された装置状態で、前記複数の断層画像を取得する工程と、を有することを特徴とする。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
また、上記課題を解決するために、本発明に係る撮像装置は、複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と、前記複数の測定光に対応する複数の参照光とによる複数の合成光に基づいて、前記被検査物の複数の断層画像を取得する撮像装置であって、前記複数の断層画像のズレ量が所定のレベル以下となるように装置状態を補正する補正手段と、前記補正された装置状態で、前記複数の断層画像を取得する取得手段と、を有することを特徴とする。
【手続補正５】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と、前記複数の測定光に対応する複数の参照光による複数の合成光に基づいて、前記被検査物の複数の断層画像を取得する撮像方法であって、
前記複数の断層画像のズレ量が所定のレベル以下となるように装置状態を補正する工程と
前記補正された装置状態で、前記複数の断層画像を取得する工程と、
を有することを特徴とする撮像方法。
【請求項２】
前記補正する工程では、予め記憶されている前記複数の測定光に関する情報に基づいて前記装置状態を補正することを特徴とする請求項１に記載の撮像方法。
【請求項３】
予め記憶されている前記複数の測定光に関する情報に基づいて前記複数の断層画像の補正を行う工程を更に有することを特徴とする請求項１記載の撮像方法。
【請求項４】
前記情報に基づき、前記被検査物を前記複数の測定光を走査することにより前記複数の合成光を取得することを特徴とする請求項２記載の撮像方法。
【請求項５】
前記複数の断層像の補正を行う工程の後に、前記複数の断層画像が重なる領域である境界領域の検索を行う工程と、前記境界領域における前記複数の断層画像のズレの補正を行う工程と、を有することを特徴とする請求項３記載の撮像方法。
【請求項６】
複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と、前記複数の測定光に対応する複数の参照光とによる複数の合成光に基づいて、前記被検査物の複数の断層画像を取得する撮像方法であって、
重なり合う領域を有する複数の第１の断層画像を生成するための各々の前記第１の断層画像に応じた前記複数の測定光を用いて複数の前記第１の断層画像を生成して記憶する工程と、
記憶された複数の前記第１の断層画像に基づいて、装置状態を補正して、前記重なり合う領域における複数の前記第１の断層画像の各々のズレ量を所定のレベル以下とする工程と、
前記装置状態の補正を行った後に、前記複数の測定光を前記被検査物に照射することにより、前記複数の測定光各々に応じた複数の合成光を取得する工程と、
複数の前記合成光の各々に基づき、前記重なり合う領域を有し且つ前記合成光に対応する複数の第２の断層画像を生成する工程と、
複数の前記第２の断層画像における前記重なり合う領域において複数の前記第２の断層画像各々についての連続性を担保する補正を行う工程と、
を有することを特徴とする撮像方法。
【請求項７】
複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と前記複数の測定光に対応する複数の参照光とによる複数の合成光に基づいて、前記被検査物の複数の断層画像を取得する工程と、
前記複数の測定光に関する情報に基づいて、前記複数の断層画像の補正を行う工程と、
を有することを特徴とする撮像方法。
【請求項８】
前記情報が、前記複数の測定光に対して交差する面における前記複数の測定光の位置、倍率、前記複数の測定光の軸方向のズレ、分解能の内の少なくともいずれかに関する情報であることを特徴とする請求項２乃至７のいずれか１項に記載の撮像方法。
【請求項９】
前記情報が、模型眼を用いて取得されることを特徴とする請求項２乃至８のいずれか１項に記載の撮像方法。
【請求項１０】
前記装置状態の補正は、前記複数の測定光に対応する複数のコヒーレンスゲートの位置および複数の撮像領域の位置の少なくとも何れかを変更して行われることを特徴とする請求項１乃至９のいずれか１項に記載の撮像方法。
【請求項１１】
前記補正する工程では、前記情報に基づいて、前記複数の測定光の射出位置を変更して前記装置状態の補正を行うことを特長とする請求項２に記載の撮像方法。
【請求項１２】
前記補正する工程では、前記情報に基づいて、前記複数の測定光の前記被検査物上のスキャン角度を変更して前記装置状態の補正を行うことを特長とする請求項２に記載の撮像方法。
【請求項１３】
請求項１乃至１２のいずれか一項に記載の撮像方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項１４】
複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と、前記複数の測定光に対応する複数の参照光による複数の合成光に基づいて前記被検査物の複数の断層画像を取得する撮像装置であって、
前記複数の断層画像の各々のズレ量が所定のレベル以下となるように装置状態を補正する補正手段と、
前記複数の測定光を前記被検査物に照射することにより、それぞれの合成光を取得する手段と、
前記補正された装置状態で、前記複数の断層画像を取得する取得手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項１５】
前記補正手段は、予め記憶されている前記複数の測定光に関する情報に基づいて前記装置状態を補正することを特徴とする請求項１４記載の撮像装置。
【請求項１６】
予め記憶されている前記複数の測定光に関する情報に基づいて前記複数の断層画像を補正する断層画像補正手段を更に有することを特徴とする請求項１４又は１５に記載の撮像装置。
【請求項１７】
前記補正手段が、前記複数の参照光の光路長を制御する制御手段を有し、
前記制御手段は、前記複数の測定光の深さ方向の前記被検査物における撮像範囲がそれぞれ同じになるように制御することを特徴とする請求項１４乃至１６の何れか一項に記載の撮像装置。
【請求項１８】
前記補正手段が、前記複数の参照光の光路長を制御する制御手段を有し、
前記制御手段は、前記複数の測定光の深さ方向の前記被検査物における撮像範囲の少なくとも一つを他と異なるように制御することを特徴とする請求項１４乃至１６のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項１９】
複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と、前記複数の測定光に対応する複数の参照光とによる複数の合成光に基づいて、前記被検査物の複数の断層画像を取得する撮像方法であって、
重なり合う領域を有する複数の第１の断層画像を生成するための各々の前記第１の断層画像に応じた前記複数の測定光を用いて複数の前記第１の断層画像を生成して記憶する手段と、
前記記憶する手段に記憶された複数の前記第１の断層画像に基づいて、装置状態を補正して、前記重なり合う領域における複数の前記第１の断層画像の各々のズレ量を所定のレベル以下とする手段と、
前記装置状態の補正を行った後に、前記複数の測定光を前記被検査物に照射することにより、前記複数の測定光各々に応じた複数の合成光を取得する手段と、
複数の前記合成光の各々に基づき、前記重なり合う領域を有し且つ前記合成光に対応する複数の第２の断層画像を生成する手段と、
複数の前記第２の断層画像における前記重なり合う領域において複数の前記第２の断層画像各々についての連続性を担保する補正を行う補正手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２０】
複数の測定光を照射した被検査物からの複数の戻り光と前記複数の測定光に対応する複数の参照光による複数の合成光に基づいて、前記被検査物の複数の断層画像を取得する手段と、
前記複数の測定光に関する情報に基づいて、前記複数の断層画像の補正を行う手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２１】
前記情報が、前記複数の測定光に対して交差する面における前記複数の測定光の位置、倍率、前記複数の測定光の軸方向のズレ、分解能の内の少なくともいずれかに関する情報であることを特徴とする請求項１４乃至２０のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項２２】
前記情報が、模型眼を用いて取得されることを特徴とする請求項１４乃至２１のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項２３】
前記装置状態の補正は、前記複数の測定光に対応するコヒーレンスゲートの位置および複数の撮像領域の位置の少なくとも何れかを変更して行われることを特徴とする請求項１５記載の撮像装置。
【請求項２４】
前記補正手段は、前記情報に基づいて、前記複数の測定光の射出位置を変更して前記装置状態の補正を行うことを特長とする請求項１４に記載の撮像装置。
【請求項２５】
前記補正手段は、前記情報に基づいて、前記複数の測定光の前記被検査物上のスキャン角度を変更して前記装置状態の補正を行うことを特長とする請求項１６に記載の撮像装置。