(57)【要約】【課題】廉価な測定装置を使用するとともに、測定方向が異なる種々の被検査部位を、同一方向から容易且つ正確に測定することを可能にする。【解決手段】フレーム部材用検査装置１０は、フレーム部材１２に設けられる被検査部位の位置を測定し、前記測定された位置の精度を検査する。この検査装置１０は、フレーム部材１２を所定の姿勢に保持する保持機構５０と、前記フレーム部材１２の被検査部位に直接装着されるとともに、前記被検査部位に対応し且つ前記フレーム部材１２の横方向に向かう計測孔部８６が設けられる検査治具５２と、前記計測孔部８６を測定して算出される該計測孔部８６の位置情報に基づいて、前記被検査部位の位置精度を検出する測定機構５６Ｌ、５６Ｒとを備えている。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
フレーム部材に設けられる被検査部位の位置を測定する際に、前記被検査部位に直接装着されるフレーム部材用検査治具であって、
前記被検査部位に設けられる孔部に嵌合する芯出し部を有し、前記被検査部位に吸着保持される本体部と、
前記本体部に、前記芯出し部の軸線に沿って設けられる測定面と、
前記測定面に設けられ、前記フレーム部材の横方向に向かう計測孔部と、
を備えることを特徴とするフレーム部材用検査治具。
【請求項２】
フレーム部材に設けられる被検査部位の位置を測定し、前記測定された位置の精度を検査するフレーム部材用検査装置であって、
前記フレーム部材を所定の姿勢に保持する保持機構と、
前記フレーム部材の前記被検査部位に直接装着されるとともに、該被検査部位に対応し且つ前記フレーム部材の横方向に向かう計測孔部が設けられる検査治具と、
前記計測孔部を測定して算出される該計測孔部の位置情報に基づいて、前記被検査部位の位置精度を検出する測定機構と、
を備えることを特徴とするフレーム部材用検査装置。
【請求項３】
請求項２記載のフレーム部材用検査装置において、前記検査治具は、前記被検査部位に設けられる孔部に嵌合する芯出し部を有し、前記被検査部位に吸着保持される本体部と、
前記本体部に、前記芯出し部の軸線に沿って設けられるとともに、前記計測孔部が形成される測定面と、
を備えることを特徴とするフレーム部材用検査装置。
【請求項４】
請求項２又は３記載のフレーム部材用検査装置において、前記測定機構は、二次元測定器及びレーザ変位計を備えることを特徴とするフレーム部材用検査装置。
【請求項５】
フレーム部材に設けられる被検査部位の位置を測定し、前記測定された位置の精度を検査するフレーム部材用検査方法であって、
マスター部材を保持し、前記マスター部材に前記被検査部位に対応して設けられた計測ポイントのティーチングを行う工程と、
前記フレーム部材の前記被検査部位には、該被検査部位に対応し且つ前記フレーム部材の横方向に向かう計測孔部が設けられる検査治具が直接装着されるとともに、前記マスター部材に代えて前記フレーム部材を保持する工程と、
前記計測孔部を測定して該計測孔部の位置情報を算出する工程と、
算出された前記位置情報に基づいて、前記被検査部位の位置精度を検出する工程と、
を有することを特徴とするフレーム部材用検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、フレーム部材に設けられる被検査部位の位置を測定する際に、前記被検査部位に直接装着されるフレーム部材用検査治具、フレーム部材用検査装置及びフレーム部材用検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
フレーム部材、例えば、自動二輪車用フレームには、種々の部品が取り付けられている。このため、フレームが製造された後、前記フレームに設けられている各取り付け部位、例えば、シート取り付け用ボルト孔やカウルクリップ挿入孔等の各種孔部の位置を測定する作業が行われている。さらに、測定された各孔部位置に基づいて、各取り付け部位の位置精度を検出し、フレームの良否を判断する作業が行われている。
【０００３】
例えば、特許文献１に開示されているセンシング方法は、センシング装置により、自動二輪車のフレームの前方側又は後方側の一方向から、所定箇所の全てをセンシングすることを特徴としている。これにより、１台のセンシング装置でフレームをセンシングすることができ、センシングシステムの小型化及び低コスト化が図られる、としている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１０−１４５３４８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、例えば、自動二輪車用フレームに設けられている孔部（被検査部位）は、上下方向、横向き方向（左右方向）の他、斜め方向等、種々の方向に向かって形成されている。このため、特に、測定装置として高価な三次元測定器に代えて、廉価な二次元測定器を使用する際には、孔部の向きに応じて測定プローブや腕の向きを変更させる必要があり、測定作業全体の効率が低下するという問題がある。
【０００６】
本発明は、この種の問題を解決するものであり、廉価な測定装置を使用するとともに、測定方向が異なる種々の被検査部位を、同一方向から容易且つ正確に測定することが可能なフレーム部材用検査治具、フレーム部材用検査装置及びフレーム部材用検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、フレーム部材に設けられる被検査部位の位置を測定する際に、前記被検査部位に直接装着されるフレーム部材用検査治具に関するものである。
【０００８】
このフレーム部材用検査治具は、被検査部位に設けられる孔部に嵌合する芯出し部を有し、前記被検査部位に吸着保持される本体部と、前記本体部に、前記芯出し部の軸線に沿って設けられる測定面と、前記測定面に設けられ、フレーム部材の横方向に向かう計測孔部とを備えている。
【０００９】
また、本発明は、フレーム部材に設けられる被検査部位の位置を測定し、前記測定された位置の精度を検査するフレーム部材用検査装置に関するものである。
【００１０】
このフレーム部材用検査装置は、フレーム部材を所定の姿勢に保持する保持機構と、前記フレーム部材の被検査部位に直接装着されるとともに、前記被検査部位に対応し且つ前記フレーム部材の横方向に向かう計測孔部が設けられる検査治具と、前記計測孔部を測定して算出される該計測孔部の位置情報に基づいて、前記被検査部位の位置精度を検出する測定機構とを備えている。
【００１１】
さらに、このフレーム部材用検査装置では、検査治具は、被検査部位に設けられる孔部に嵌合する芯出し部を有し、前記被検査部位に吸着保持される本体部と、前記本体部に、前記芯出し部の軸線に沿って設けられるとともに、計測孔部が形成される測定面とを備えることが好ましい。
【００１２】
さらにまた、このフレーム部材用検査装置では、測定機構は、二次元測定器及びレーザ変位計を備えることが好ましい。
【００１３】
また、本発明は、フレーム部材に設けられる被検査部位の位置を測定し、前記測定された位置の精度を検査するフレーム部材用検査方法に関するものである。
【００１４】
このフレーム部材用検査方法は、マスター部材を保持し、前記マスター部材に被検査部位に対応して設けられた計測ポイントのティーチングを行う工程と、フレーム部材の前記被検査部位には、該被検査部位に対応し且つ前記フレーム部材の横方向に向かう計測孔部が設けられる検査治具が直接装着されるとともに、前記マスター部材に代えて前記フレーム部材を保持する工程と、前記計測孔部を測定して該計測孔部の位置情報を算出する工程と、算出された前記位置情報に基づいて、前記被検査部位の位置精度を検出する工程とを有している。
【発明の効果】
【００１５】
本発明に係るフレーム部材用検査治具によれば、本体部は、被検査部位に設けられる孔部に対して精度良く装着されるとともに、前記本体部の測定面に設けられている計測孔部は、フレーム部材の横方向に向かって配置されている。従って、測定方向が異なる種々の孔部に対応する各計測孔部は、全てフレーム部材の横方向に向かって配置される。これにより、常に、同一方向（横方向）から各孔部の位置を容易且つ確実に測定することができる。
【００１６】
また、本発明に係るフレーム部材用検査装置によれば、検査治具は、フレーム部材の被検査部位に直接装着されるとともに、前記検査治具に設けられた計測孔部は、常に、前記フレーム部材の横方向に向かって配置されている。このため、測定機構の向きを変更させる必要がなく、簡単且つ廉価な測定機構を用いて、測定方向が異なる種々の孔部の位置を容易且つ確実に測定することが可能になる。これにより、計測孔部の位置情報に基づいて、被検査部位の位置精度を効率的に検出することができる。
【００１７】
さらに、本発明に係るフレーム部材用検査方法によれば、マスター部材を用いて被検査部位に対応する計測ポイントのティーチングが行われた後、フレーム部材を保持する一方、前記フレーム部材には、検査治具が直接装着されている。従って、検査治具に設けられた計測孔部の位置情報に基づいて、被検査部位の位置精度を効率的且つ正確に検出することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の実施形態に係るフレーム部材用検査装置の斜視説明図である。
【図２】フレーム部材の斜視説明図である。
【図３】他の把持部の断面説明図である。
【図４】前記検査装置を構成する検査治具の斜視説明図である。
【図５】前記検査治具の断面図である。
【図６】前記検査装置を構成する他の検査治具の斜視説明図である。
【図７】本発明の実施形態に係るフレーム部材用検査方法を説明するフローチャートである。
【図８】前記検査装置にマスター部材が装着された状態の斜視説明図である。
【図９】ティーチング前のカメラ画像の説明図である。
【図１０】ティーチング後のカメラ画像の説明図である。
【図１１】基準器測定時のカメラ画像の説明図である。
【図１２】前記検査治具のカメラ画像の説明図である。
【図１３】計測孔部のカメラ画像の説明図である。
【図１４】レーザ変位計による照射位置補正の説明図である。
【図１５】前記照射位置補正を説明する前記検査治具の、図１４中、ＸＶ線矢視図である。
【図１６】前記照射位置補正を説明する前記検査治具の、図１４中、ＸＶＩ線矢視図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
図１に示すように、本発明の実施形態に係るフレーム部材用検査装置１０は、フレーム部材、例えば、自動二輪車用フレーム部材１２の各被検査部位の位置を測定し、位置精度を検査する。なお、フレーム部材としては、自動二輪車用の他、種々のフレーム部材が使用可能である。
【００２０】
図２に示すように、フレーム部材１２は、フロントフレーム１４ａとリアフレーム１４ｂとにより構成される。フロントフレーム１４ａは、ヘッドパイプ１６を有し、このヘッドパイプ１６から後方にメインパイプ１８が延在する。メインパイプ１８の後端下部には、支持部２０が設けられる。リアフレーム１４ｂは、メインパイプ１８の後端に溶接される左右一対のチューブ２２を有し、前記チューブ２２とメインパイプ１８とに一対の連結チューブ２４が溶接される。
【００２１】
チューブ２２、２２間には、前方側から後方に、順次、クロスメンバ２６、２８が連結される。各チューブ２２の傾斜部分には、所定位置に筒部３０が上方に向かって形成されるとともに、クロスメンバ２６には、上方から水平方向に傾斜する傾斜筒部３２が設けられる。クロスメンバ２６の延長上に位置して各チューブ２２には、横方向（水平方向）に突出するピン部３４が設けられる。クロスメンバ２８には、一対の筒部３６が上方向に向かって設けられる。
【００２２】
フレーム部材１２の被検査部位として、例えば、ヘッドパイプ１６の軸方向（鉛直方向から所定の角度だけ傾斜する傾斜軸方向）に設けられる孔部３８、各筒部３０に鉛直方向に設けられる孔部４０、傾斜筒部３２に鉛直方向から傾斜して設けられる孔部４２、各筒部３６に鉛直方向に向かって設けられる孔部４４及び各ピン部３４等である。
【００２３】
図１に示すように、検査装置１０は、フレーム部材１２を所定の姿勢に保持する保持機構５０と、前記フレーム部材１２の被検査部位に直接装着される検査治具５２、５４と、前記検査治具５２、５４の測定孔部（後述する）を測定して前記被検査部位の位置精度を検出する測定機構５６Ｌ、５６Ｒとを備える。
【００２４】
保持機構５０は、基台５８を備え、前記基台５８上には、フレーム部材１２の支持部２０を把持する把持部６０が設けられる。この把持部６０は、支持部２０の一方の面側に配置される固定把持部材６２と、前記支持部２０の他方の面側に配置され、シリンダ６４を介して進退可能な可動把持部材６６とを設ける。
【００２５】
図３には、他の把持部６０ａが示される。この把持部６０ａは、支持部２０の両端に嵌合する一対のテーパピン６１と、前記テーパピン６１を進退自在に収容するとともに、前記支持部２０の両端面に押圧される一対の面受け部材６３とを備える。
【００２６】
図１に示すように、基台５８上の先端側には、フレーム部材１２のヘッドパイプ１６の高さ方向を規制する高さ規制部材６８が配置される。基台５８上の後方側には、基板７０を介して基準器７２が配置される。基準器７２は、略Ｌ字状の基準板を基板７０上に立設しており、後述するように、測定器ゼロリセットに用いられる。この基準器７２には、基準点となる基準孔部７４が形成される。
【００２７】
検査治具５２は、図４及び図５に示すように、被検査部位である孔部４０等に嵌合する芯出し部８０を有し、フレーム部材１２に吸着保持される本体部８２と、前記本体部８２に前記芯出し部８０の軸線に沿って設けられる測定面８４と、前記測定面８４に設けられ、前記フレーム部材１２の横方向に向かう計測孔部８６とを備える。
【００２８】
本体部８２は、先端側が小径な円筒形状を有し、内部に段付き孔部８８が形成される。芯出し部８０は、先端がテーパ形状を有するテーパピン９０を備え、前記テーパピン９０は、段付き孔部８８の小径部側に摺動自在に嵌合する。テーパピン９０の後端部には、大径なフランジ部９２が設けられ、前記フランジ部９２は、段付き孔部８８の大径部内に摺動自在に嵌合するとともに、スプリング９４を介して外方（孔部４０等側）に押圧される。テーパピン９０を用いることにより、芯出しが容易且つ正確に行われるとともに、被検査部位である孔部４０、４２及び４４等の孔径が異なっていても、容易に対応可能である。
【００２９】
本体部８２の先端部には、吸着用の磁石９６が埋設される。測定面８４は、本体部８２の上部に取り付けられ、矩形状を有する板状部９８の一方の面に構成される。
【００３０】
検査治具５４は、図６に示すように、各ピン部３４に外装される筒状体で構成される。検査治具５４の全長Ｌ１は、この検査治具５４が外装されるピン部３４の全長Ｌ２よりも長尺（Ｌ１＞Ｌ２）に設定される。検査治具５４の一端側には、測定孔部５４ａがフレーム部材１２の横方向に向かって配置される。
【００３１】
測定機構５６Ｌ、５６Ｒは、同様に構成されており、以下に前記測定機構５６Ｌについて説明し、前記測定機構５６Ｒについては、同一の参照数字を付してその詳細な説明は省略する。
【００３２】
図１に示すように、測定機構５６Ｌは、支持台１００を備え、前記支持台１００上には、矢印Ｂ方向に延在する第１レール部材１０２が固着される。第１レール部材１０２上には、第１スライド部１０４が矢印Ｂ方向に進退自在に配置されるとともに、前記第１スライド部１０４には、矢印Ａ方向に延在する第２レール部材１０６が一体に設けられる。
【００３３】
第２レール部材１０６は、垂直面にガイドレールが設けられるとともに、この第２レール部材１０６には、第２スライド部１０８が矢印Ａ方向に進退自在に取り付けられる。第２スライド部１０８には、矢印Ｃ方向に延在する第３レール部材１１０が設けられる。第３レール部材１１０には、測定器１１２が矢印Ｃ方向に進退可能に取り付けられる。
【００３４】
測定器１１２は、リングライト１１４の中央部に配置される二次元測定器、例えば、ＣＣＤカメラ１１６と、前記ＣＣＤカメラ１１６の側方に配置されるレーザ変位計１１８とを備える。
【００３５】
このように構成される検査装置１０の動作について、本実施形態に係る検査方法との関連で図７に示すフローチャートに沿って、以下に説明する。なお、測定機構５６Ｌ、５６Ｒは、同一の動作をするものであり、以下に前記測定機構５６Ｌについてのみ説明する。
【００３６】
先ず、保持機構５０には、計測対象物であるフレーム部材１２に対応するマスター部材１２０がセットされる（ステップＳ１）。図８に示すように、マスター部材１２０には、フレーム部材１２の被検査部位である筒部３０、３０の孔部４０、４０、傾斜筒部３２の孔部４２、筒部３６、３６の孔部４４、４４及びピン部３４、３４と同一位置に、それぞれ計測ポイントＰ１、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ３及びＰ４、Ｐ４が配置される。
【００３７】
測定機構５６Ｌでは、三軸直交型アクチュエータによって、測定器１１２がマスター部材１２０の各計測ポイントＰ１〜Ｐ４に対応して配置される。その際、計測ポイントＰ１の設計上の位置に対応して、測定器１１２が配置された状態で、この計測ポイントＰ１がＣＣＤカメラ１１６の画像中心Ｏからずれる場合がある（図９参照）。
【００３８】
ここで、カメラ中心Ｏに対して、計測ポイントＰ１の中心位置がＴ軸上（水平方向）（矢印Ａ方向）にＴａ、Ｈ軸上（鉛直方向）（矢印Ｃ方向）にＨａだけずれていることが、ＣＣＤカメラ１１６により検出される。一方、Ｂ軸上（矢印Ｂ方向）に対してＢａだけずれていることが、レーザ変位計１１８により検出される。このため、測定器１１２は、ＣＣＤカメラ１１６による測定値及びレーザ変位計１１８による測定値に基づいて、ティーチングを行う（図１０参照）。
【００３９】
上記と同様にして、他の計測ポイントＰ２、Ｐ３及びＰ４における相対位置を計測し、それぞれティーチングが行われる（ステップＳ２）。そして、マスター部材１２０による計測位置ティーチングが終了すると、ステップＳ３に進んで、前記マスター部材１２０に代えて、フレーム部材（実ワーク）１２が保持機構５０に位置決め保持される。
【００４０】
次いで、ステップＳ４に進んで、基準器７２を用いて測定器１１２のゼロリセット処理が行われる。このゼロリセット処理では、上記のように、測定器１１２のティーチングが終了しており、前記測定器１１２によって基準器７２の基準孔部７４が計測される。
【００４１】
図１１に示すように、ティーチング後の測定器１１２による基準孔部７４の計測時に、前記基準孔部７４の中心位置がＴ軸上でＴｂだけ、Ｈ軸上でＨｂだけ、及びＢ軸上でＢｂだけ、微小変化している際、それぞれの微小変化をゼロにリセットする。すなわち、測定器１１２により検出された基準孔部７４の中心位置は、Ｔ軸上、Ｈ軸上及びＢ軸上で共にゼロにセットされる。これにより、ティーチング時と計測時の前記測定器１１２の位置誤差がキャンセルされる。
【００４２】
ここで、ステップＳ５に進んで、例えば、所定の検査治具５２に設けられている計測孔部８６が、測定器１１２を構成するＣＣＤカメラ１１６により計測される。ＣＣＤカメラ１１６では、検査治具５２の測定面８４に設けられている計測孔部８６を撮像し、円形状が検索される。
【００４３】
そして、図１２に示すように、画像が白黒変換され、白い円（計測孔部８６）の面積重心から、前記計測孔部８６の中心座標が算出される。従って、図１３に示すように、計測孔部８６のＴ軸方向及びＨ軸方向の測定値Δｔ、Δｈが得られ、このΔｔ、Δｈは、レーザ変位計１１８のレーザ照射位置補正量として設定される。
【００４４】
レーザ変位計１１８では、図１４に示すように、レーザ照射位置ＬｂがΔｔ及びΔｈだけずれており（図１４中、二点鎖線参照）、このΔｔ及びΔｈだけ補正することにより、計測孔部８６の中心から同一距離に４つのレーザ照射位置Ｌｂが補正される。
【００４５】
レーザ変位計１１８では、測定面８４に照射された４点のレーザ照射位置Ｌｂから、計測孔部８６中心の奥行き（Ｂ軸方向の位置）が計測される（ステップＳ６）。
【００４６】
その際、検査治具５２の測定面８４には、４点のレーザ照射位置Ｌｂが設定されるため、前記測定面８４の方向が測定器１１２側に向いていればよい。すなわち、図１５に示すように、測定面８４が矢印Ａ方向（水平方向）に対して角度α１°だけ傾斜していても、２点のレーザ照射位置Ｌｂの中間点を検出すればよい。
【００４７】
一方、図１６に示すように、測定面８４が矢印Ｃ方向（鉛直方向）に対して角度α２°だけ傾斜していても、他の２点のレーザ照射位置Ｌｂの中間点を検出すればよい。従って、測定面８４は、測定器１１２側に対してある程度の角度範囲であれば傾斜していてもよく、検査治具５２の取り付け作業が簡素化するとともに、良好な測定作業が遂行可能になる。
【００４８】
このようにして、例えば、筒部３０の孔部４０に装着された検査治具５２の計測孔部８６の位置が計測される。そして、計測孔部８６と孔部４０とのＴ軸方向及びＨ軸方向のオフセット量が、計測位置から差し引かれることにより、前記孔部４０の位置が計測される。また、他の筒部３６の孔部４４及び傾斜筒部３２の孔部４２においても、同様の処理が行われる。
【００４９】
一方、検査治具５４では、筒形状を有しており、その中心位置がピン部３４の中心位置と同心円上に配置されている。従って、検査治具５４の中心位置である測定孔部５４ａの中心が計測されると、この計測値からＢ軸方向のオフセット量を差し引くことにより、前記ピン部３４の位置が得られる。これにより、全ての検査治具５２、５４による計測が完了すると（ステップＳ７中、ＹＥＳ）、計測処理が終了する。
【００５０】
この場合、本実施形態では、検査治具５２は、図５に示すように、芯出し部８０を備えており、この芯出し部８０を構成するテーパピン９０は、スプリング９４の押圧作用下に、被検査部位に設けられた孔部４０、４２及び４４に挿入されて芯出しが行われる。
【００５１】
さらに、本体部８２の先端には、磁石９６が埋設されており、前記本体部８２の先端面は、各被検査部位に対して確実且つ強固に吸着保持される。従って、検査治具５２は、各孔部４０、４２及び４４に対して精度よく装着され、前記孔部４０、４２及び４４と各測定面８４に設けられている計測孔部８６との相対位置精度が良好に向上するという利点がある。
【００５２】
しかも、本体部８２の測定面８４に設けられている計測孔部８６は、フレーム部材１２の横方向（左右方向）に向かって配置されている。すなわち、上方や斜め上方等、種々の異なる方向に向かっている各孔部４０、４２及び４４に対応する各計測孔部８６は、全てフレーム部材１２の横方向に向かって配置されている。これにより、常に、同一方向（横方向から）各計測孔部８６を介して孔部４０、４２及び４４の位置を確実に測定することができる。
【００５３】
このため、検査装置１０では、少なくともフレーム部材１２の側方に配置されている測定機構５６Ｌを用いるだけでよく、必要に応じて前記測定機構５６Ｌと測定機構５６Ｒとを用いるだけでよい。
【００５４】
さらに、測定機構５６Ｌは、フレーム部材１２の横方向からのみ測定することができ、向きの変更が不要になる。従って、測定機構５６Ｌは、三軸直交アクチュエータに搭載された測定器１１２を用いるとともに、前記測定器１１２は、二次元測定器であるＣＣＤカメラ１１６と、レーザ変位計１１８とにより構成することが可能になる。
【００５５】
これにより、高価な三次元測定器を用いる必要がなく、簡単且つ廉価な測定機構５６Ｌを用いて、フレーム部材１２の種々の異なる孔部４０、４２及び４４の位置を容易且つ確実に測定することができる。このため、各検査治具５２の計測孔部８６の位置情報に基づいて、被検査部位である各孔部４０、４２及び４４の位置精度を効率的に検出することが可能になるという効果が得られる。
【００５６】
さらにまた、本実施形態では、マスター部材１２０を用いて被検査部位のティーチングが行われた後、フレーム部材１２を保持する一方、前記フレーム部材１２には、検査治具５２、５４が、直接、装着されている。そして、測定器１１２では、相対計測と検出位置の補正とにより高精度な測定が行われ、計測誤差を可及的に低減させるとともに、計測値のばらつきの低減が図られるという利点がある。
【００５７】
また、測定機構５６Ｌ、５６Ｒを用いることにより、フレーム部材１２の左右から同時に計測を行うことができる。これにより、計測処理の高速化が容易に図られるという効果がある。
【符号の説明】
【００５８】
１０…検査装置                      １２…フレーム部材
３０、３６…筒部                    ３２…傾斜筒部
３４…ピン部                        ３８、４０、４２、４４、８８…孔部
５０…保持機構                      ５２、５４…検査治具
５６Ｌ、５６Ｒ…測定機構            ６０、６０ａ…把持部
６８…高さ規制部材                  ７２…基準器
７４…基準孔部                      ８０…芯出し部
８２…本体部                        ８４…測定面
８６…計測孔部                      ９０…テーパピン
９６…磁石                          ９８…板状部
１１２…測定器                      １１６…ＣＣＤカメラ
１１８…レーザ変位計
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2013079904.tif 000009
【図８】
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【図９】
2013079904.tif 000011
【図１０】
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【図１１】
2013079904.tif 000013
【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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