(57)【要約】冷媒中の不純物（例えば、塩化メチル（Ｒ４０）またはクロロジフルオロメタン（Ｒ２２））を検出する方法及び分析器であって、冷媒分析器（１２）が、好適には電気化学センサである第２の検知デバイス（１８）と流体連通する、好適には非分散型赤外線センサ（ＮＤＩＲ）である第１の検知デバイス（１６）を含む方法及び分析器。第１の検知デバイスは、冷媒の第１の特徴（例えばＩＲ範囲内の吸光度）を決定するように構成され、第２の検知デバイスは、冷媒の第２の特徴（例えばｐｐｍｖにおける濃度）を検出するように構成される。好適には、冷媒分析器は、不純物を検出するシステム（１０）の一部であり、さらに好適には流量調整器（２０）、スクラバ（２４）及びプロセッサ（２２）を備える。スクラバは好適には、第１の検知デバイスと流体連通し、好ましくはアルミナ（ＡＩ２０３、酸化アルミニウム）を備えるパッキング材料を備える。
2018529936.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
冷媒分析器を利用して冷媒中の不純物を検出する方法であって、前記冷媒分析器が、第２の検知デバイスと流体連通する第１の検知デバイスを備え、前記方法が、
（ａ）冷媒の第１の特徴を検出するために前記第１の検知デバイスを経由して前記冷媒を通過させることと、
（ｂ）前記冷媒の第２の特徴を検出するために前記第２の検知デバイスを経由して前記冷媒を通過させることと、
を含む前記方法。
【請求項２】
前記第１の特徴が、前記冷媒による光の波長の吸収を含む、請求項１に記載の前記方法。
【請求項３】
前記第１の特徴が、前記冷媒による光の波長の吸収を含み、前記波長が、約１５，５００ナノメ−トル以下である、先行請求項のいずれか一項に記載の前記方法。
【請求項４】
前記第２の特徴が、検知した出力に少なくとも部分的に基づいて計測される濃度レベルを含む、先行請求項のいずれか一項に記載の前記方法。
【請求項５】
前記第２の特徴が、検知した出力に少なくとも部分的に基づいて計測される濃度レベルを含み、前記計測される濃度レベルが、約１０００ｐｐｍｖ以上である、先行請求項のいずれか一項に記載の前記方法。
【請求項６】
スクラバを経由して前記冷媒を通過させることをさらに含む、先行請求項のいずれか一項に記載の前記方法。
【請求項７】
前記スクラバを経由して前記冷媒を通過させることをさらに含み、前記スクラバが、アルミナを備えるパッキング材料を備える、先行請求項のいずれか一項に記載の前記方法。
【請求項８】
前記スクラバを経由して前記冷媒を最初に通過させることをさらに含む、請求項１〜５に記載の前記方法。
【請求項９】
前記冷媒を第１の冷媒の流れと第２の冷媒の流れに分割することと、前記第１の冷媒の流れは前記スクラバを経由して通過させるが、前記第２の冷媒の流れは前記スクラバを経由して通過させないこととをさらに含む、先行請求項のいずれか一項に記載の前記方法。
【請求項１０】
（ｃ）汚染物質が存在すると決定したかどうかを表示するために前記冷媒分析器を動作させること、
をさらに含む、先行請求項のいずれか一項に記載の前記方法。
【請求項１１】
冷媒分析器であって、
第１の検知デバイスであって、前記第１の検知デバイスが、少なくとも冷媒の第１の特徴を決定するように構成される、前記第１の検知デバイスと、
前記第１の検知デバイスと流体連通する第２の検知デバイスであって、前記第２の検知デバイスが、少なくとも前記冷媒の第２の特徴を決定するように構成される、前記第２の検知デバイスと
を備える前記冷媒分析器。
【請求項１２】
前記第１の検知デバイスと流体連通するスクラバをさらに備える、請求項１１に記載の前記冷媒分析器。
【請求項１３】
前記スクラバが、アルミナを備えるパッキング材料を備える、請求項１２に記載の前記冷媒分析器。
【請求項１４】
前記第１の検知デバイスが、非分散型赤外線センサを備える、請求項１１〜１３のいずれか一項に記載の前記冷媒分析器。
【請求項１５】
前記第２の検知デバイスが、電気化学センサを備える、請求項１１〜１４のいずれか一項に記載の前記冷媒分析器。
【請求項１６】
前記第１の検知デバイス及び前記第２の検知デバイスと通信するプロセッサをさらに備える、請求項１１〜１５のいずれか一項に記載の前記冷媒分析器。
【請求項１７】
前記第１の特徴が、前記冷媒による光の波長の吸収を含む、請求項１１〜１６のいずれか一項に記載の前記冷媒分析器。
【請求項１８】
前記第１の特徴が、前記冷媒による光の波長の吸収を含み、前記波長が、約１５，５００ナノメ−トル以下である、請求項１７に記載の前記冷媒分析器。
【請求項１９】
前記第２の特徴が、検知した出力に少なくとも部分的に基づいて計測される濃度レベルを含む、請求項１１〜１８のいずれか一項に記載の前記冷媒分析器。
【請求項２０】
前記計測される濃度レベルが、約１０００ｐｐｍｖ以上である、請求項１９に記載の前記冷媒分析器。
【請求項２１】
前記スクラバが、前記第１の検知デバイスの流動方向上流にある、請求項１１〜２０のいずれか一項に記載の前記冷媒分析器。
【請求項２２】
前記スクラバが、前記第２の検知デバイスの流動方向上流にある、請求項１１〜２１のいずれか一項に記載の前記冷媒分析器。
【請求項２３】
前記スクラバ及び前記第２の検知デバイスに動作可能に結合された流量調整器をさらに備え、前記流量調整器が、第１の冷媒の流れ及び第２の冷媒の流れを作るように構成される、請求項１１〜２２のいずれか一項に記載の前記冷媒分析器。
【請求項２４】
前記第１の冷媒の流れが、前記スクラバを経由して通過し、前記第２の冷媒の流れが、前記スクラバを経由して通過しない、請求項２３に記載の前記冷媒分析器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
現在開示している実施形態は、一般的に冷媒ガスに含まれる不純物の識別及び分析のために使用するデバイスに関し、より具体的には冷媒分析器及び冷媒分析器の使用方法に関する。
【０００２】
関連出願の相互参照
本出願は、２０１５年７月２８に出願され、発明の名称「冷媒分析器及び冷媒分析器の使用方法」を有する米国仮特許出願第６２／１９７，７７８号に対する優先権を主張する国際特許出願であり、その全体は本明細書に組み込まれる。
【背景技術】
【０００３】
クロロメタンとしても知られる塩化メチル（Ｒ４０）のような偽造冷媒が、冷媒システムで発見されている。Ｒ４０は毒性を有し、引火性が高く、かつアルミニウムと反応する。アルミニウムとＲ４０の反応生成物は、空気に触れると自然燃焼する可能性のあるトリメチルアルミニウムを含み得る。そのため、偽造冷媒、すなわちＲ４０の検出を支援するデバイスが必要とされている。
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００４】
一態様において、冷媒分析器を利用して冷媒中の不純物を検出する方法であって、冷媒分析器が、第２の検知デバイスと流体連通する第１の検知デバイスを含む方法が提供される。この方法は、冷媒の第１の特徴を検出するために第１の検知デバイスを経由して冷媒を通過させることと、冷媒の第２の特徴を検出するために第２の検知デバイスを経由して冷媒を通過させることとを含む。
【０００５】
一態様において、冷媒分析器が提供される。冷媒分析器は、少なくとも冷媒の第１の特徴を決定するように構成される第１の検知デバイスと、少なくとも冷媒の第２の特徴を決定するように構成される、第１の検知デバイスと流体連通する第２の検知デバイスとを含む。
【図面の簡単な説明】
【０００６】
【図１】多数のセンサを含むガス検出器の概略図を示す。
【図２】多数のセンサ及びスクラバを含むガス検出器の概略図を示す。
【図３】構成要素である光センサの概略図を示す。
【図４】構成要素である電気化学センサの概略図を示す。
【図５】対象の冷媒を検出する方法の概略フロー図を示す。
【図６】冷媒不純物を検出するための論理チャートを示す。
【図７】種々のスクラブ機能によって冷媒不純物を識別及び定量化するための論理チャートを示す。
【発明を実施するための形態】
【０００７】
本開示の原理の理解を促すため、次に、図面に示した実施形態を参照し、具体的な用語を用いてこれらの実施形態を説明する。しかし、それによって本開示の範囲を限定するものでないことが理解されるだろう。
【０００８】
図１は冷媒内の不純物、すなわち塩化メチルを検出するシステムを示し、このシステムは、一般的に参照符号１０で表す。システム１０は、冷媒容器１４と流体連通する冷媒分析器１２を含む。
【０００９】
冷媒分析器１２は、少なくとも冷媒の第１の特徴を決定するように構成された第１の検知デバイス１６を含む。ある実施形態において、第１の特徴は、冷媒によって吸収される電磁エネルギーの波長を含む。１実施形態において、波長は、約１５，５００ナノメートル以下である。例えば、第１の検知デバイス１６は、少なくとも冷媒中の低濃度不純物を検出するように構成される。ある実施形態において、第１の検知デバイス１６は、非分散型赤外線センサを含む。
【００１０】
冷媒分析器１２は、第１の検知デバイス１６と流体連通する第２の検知デバイス１８をさらに含む。第２の検知デバイス１８は、少なくとも冷媒の第２の特徴を決定するように構成される。ある実施形態において、第２の特徴は、検知した電子出力に少なくとも部分的に基づいて計測した濃度レベルを含む。１実施形態において、計測した濃度レベルは、体積ベースで約１０００パーツ・パー・ミリオン（ｐｐｍｖ）以上である。ある実施形態において、第２の検知デバイス１８は電気化学センサを含む。代替として、検査対象の冷媒は、図１に示すように連続してではなく、第１の検知デバイス１６及び第２の検知デバイス１８に平行に供給されてもよい。
【００１１】
図１の実施形態において、冷媒分析器１２は、第１の検知デバイス１６と流体連通する第１の流量調整器２０を含む。第１の流量調整器２０は、冷媒容器１４から冷媒分析器１２を経由する冷媒の流量を少なくとも調整するように構成される。冷媒分析器１２は、第１の検知デバイス１６及び第２の検知デバイス１８と電気通信するプロセッサ２２をさらに含み得る。プロセッサ２２は、第１の検知デバイス１６及び第２の検知デバイス１８からデータを受信し及び／または汚染物質が検出された場合、警告信号を生成するように構成される。
【００１２】
図２に示すように、冷媒分析器１２は、第１の検知デバイス１６及び第２の検知デバイス１８と流体連通するスクラバ２４を含み得る。ある実施形態において、スクラバ２４は、多孔質アルミナスクラバを含む。例えば、こういったスクラバ２４は、Ｒ４０をその表面に吸着するアルミナペレットが詰まったカートリッジを含み得る。こういったカートリッジは、現場の技術者が容易に使用できるように、再利用可能であるか、詰め替え可能であるか、交換可能であるか、あるいは前述の少なくとも１つを含む組み合わせであり得る。スクラバ２４は、不純物を正確に識別しかつ定量化するため、冷媒中のいくらかの不純物を選択的に除去して、第１の検知デバイス１６と第２の検知デバイス１８との間で区別可能な応答を起こすように構成される。
【００１３】
図２において、冷媒分析器１２は、第１の検知デバイス１６、第１の流量調整器２０及びドライスクラバ２４と流体連通する第２の流量調整器２６をさらに含み得る。第１の流量調整器２０は、少なくとも冷媒分析器１２を経由する冷媒の流量を調整するように構成され得る。第２の流量調整器２６（例えば、自動式３方向バルブを非限定的な1例とする）は、第１の検知デバイス１６に入る冷媒の流れがスクラバ２４を経由するかスクラバ２４を迂回するかの方向付けが可能である。
【００１４】
図３は、後端部３０、先端部３２、入口３４及び出口３６を含むサンプルチャンバ２８を含み得る第１の検知デバイス１６を示す。サンプルチャンバ２８は、冷媒がその組成を変えることなくその中を通って流れることを可能にするように構成され得る。例えば、冷媒は、入口３４を経由してサンプルチャンバ２８に入り、出口３６を経由して出て行ってもよい。
【００１５】
第１の検知デバイス１６は、赤外線ランプ３８をさらに含む。赤外線ランプ３８は、サンプルチャンバ２８内のいずれか、またはサンプルチャンバ２８に隣接して配置され得る。例えば、赤外線ランプ３８は、サンプルチャンバ２８の後端部３０に隣接して配置され得る。赤外線ランプ３８は、赤外光がサンプルチャンバ２８を経由するよう方向付けるよう構成され得る。第１の検知デバイス１６は、光学フィルタ４０をさらに含み得る。光学フィルタ４０は、サンプルチャンバ２８内、またはサンプルチャンバ２８に隣接して配置され得る。例えば、光学フィルタ４０は、サンプルチャンバ２８の先端部３２に隣接して配置され得る。光学フィルタ４０は、選択したガス分子が吸収し得る波長領域を除く全ての光を取り除くように構成され得る。
【００１６】
例えば、光学フィルタ４０は、約１５，５００ナノメートル以下の波長を透過するように構成され得る。対象の冷媒の存在を検出するため、光学フィルタ４０は、約１３，０００ナノメートル以上で約１５，０００ナノメートル以下の波長を透過し得る。
【００１７】
第１の検知デバイス１６は、非分散型赤外線センサ４２をさらに含む。非分散型赤外線センサ４２は、光学フィルタ４０に隣接し、赤外線ランプ３８に面するように配置され得る。例えば、光学フィルタ４０は、赤外線ランプ３８と非分散型赤外線センサ４２との間に配置され得る。非分散型赤外線センサ４２は、光がサンプルチャンバ２８内の冷媒と光学フィルタ４０を透過した後、赤外線ランプ３８からの光のエネルギーを計測し得る。非分散型赤外線センサ４２が光学フィルタ４０を透過する波長範囲内の光を検出した場合、このことは、サンプルチャンバ内の冷媒が偽物であることを示し得る。
【００１８】
第１の検知デバイス１６は、非分散型赤外線センサ４２及び赤外線ランプ３８に動作可能に結合されたコントローラ４４をさらに含み得る。コントローラ４４は、データを非分散型赤外線センサ４２から受信し、電力信号を赤外線ランプ３８に提供するように構成され得る。
【００１９】
第１の検知デバイス１６は、サンプルチャンバ２８に隣接して配置した基準チャンバ４６をさらに含むことができ、基準チャンバ４６は、その中に配置した基準サンプルを含む。基準チャンバ４６は、サンプルチャンバ２８内の冷媒の読取り精度を高めるため、非分散型赤外線センサ４２に対して基準を提供するように構成され得る。例えば、いくつかの非限定的な例を挙げると、基準サンプルは、冷媒（例えばＲ１３４ａ）または空気を含み得る。
【００２０】
図４は、第２の検知デバイス１８を示す。図示した実施形態において、第２の検知デバイス１８は、検知電極５０とカウンタ電極５２との間に配置した固体高分子電解質（ＳＰＥ）（すなわち、イオン伝導性高分子またはイオン伝導性高分子浸透多孔質マトリクス）４８から成る膜電極アセンブリ（ＭＥＡ）を含む。集電装置／ガス拡散媒体５４及び５６は、電極に取り付けられており、計測及び／または制御デバイス６０を含む回路５８に接続されている。いくつかの実施形態において、任意の基準電極（不図示）が、ＳＰＥ４８と接触し、電気的に計測及び／または制御デバイス６０に接続されることによって、コンパクトで一体化されたマルチプルセンサデバイスが可能になる。
【００２１】
ハウジング６２は、冷媒が流れるための開口部６４及び６６を含む。１つだけ非限定的な例を挙げると、ＭＥＡの端部は、ゴムのようなシール材から形成したシール６８に対して密閉される。シール６８は、テストガス及び基準ガスをＭＥＡの対向する両側に確実に保持するが、技術上周知の他の技術（例えば、ハウジングの複数の端部に密閉したフレーム（不図示）内に電気化学センサ１８を配置する）が利用されてもよい。
【００２２】
集電装置５４、５６は、多孔質導電性メッシュまたはフェルトから形成され得、テスト済みの冷媒及び基準ガス（例えば空気）が電極５０、５２の表面に到達するのを可能にするガス拡散媒体としても機能できるような厚さで表される。いくつかの非限定的な例を挙げると、検知電極５０及びカウンタ電極５２のそれぞれに関連する集電装置／ガス拡散媒体５４及び５６は、黒鉛化炭素、チタン、（例えば、ルテニウム、ロジウム、パラジウム、銀、金、オスミウム、イリジウム、プラチナ等の）貴金属またはステンレス鋼のような耐酸化材料から形成され得る。計測及び／または制御デバイス６０は、電圧計、アンペア計、定電位回路、マイクロプロセッサ、電子制御ユニット（ＥＣＵ）、または前述の少なくとも1つを含む組み合わせ、または電圧計測及び／またはアンペア計測機能が一体化した類似の電子デバイスを含むことができ、電気化学センサ１８の動作中に検知電極５０とカウンタ電極５２の間にバイアス電圧を印加することもできる。
【００２３】
第２の検知デバイス１８は、密閉チャンバ７０をさらに含んでもよく、密閉チャンバ７０はまた塩水溶液または酸性溶液７２のような液状材料を含み、ガス透過膜７４によってカウンタ電極５２との接触から隔離され得る。液状材料は、密閉チャンバ７０内の湿度値を調整するように構成される。例えば、この湿度値を約６０パーセントの相対湿度以下の値に調整し得る。
【００２４】
図５は、冷媒分析器１０を用いて、対象の冷媒（例えばＲ４０などの偽造冷媒）を検出するため、一般的に参照符号１００で示す方法の概略フロー図を示す。方法１００は、冷媒の第１の特徴を検出するために、第１の検知デバイス１６を経由して冷媒を流通させるステップ１０２を含む。例えば、図１及び３を参照すると、冷媒容器１４は、冷媒分析器１２に動作可能に結合され、冷媒は、冷媒容器１４から第１のバルブ２０を経由して第１の検知デバイス１６内に流れる。第１の検知デバイス１６は、非分散型赤外線センサ４２を動作させることによって、約１５，５００ナノメートル以下の波長、例えば約１３，０００ナノメートル以上で約１４，４００ナノメートル以下の波長におけるエネルギーレベルを検出する。
【００２５】
冷媒は、サンプルチャンバ２８を通って流れるため、コントローラ４４は、赤外線ランプ３８を動作させてサンプルチャンバ２８に光を通す。光学フィルタ４０は、約１５，５００ナノメートル未満の波長、またはいくつかの実施形態においては、約１３，０００ナノメートル以上で約１４，４００ナノメートル以下の波長を透過する。非分散型赤外線センサ４２は、光学フィルタ４０を透過可能な波長を検出する。１３，０２０ナノメートルから１４，４００ナノメートルの範囲内で検出された波長が冷媒容器１４に存在する偽造冷媒Ｒ４０を示すことが理解されるだろう。
【００２６】
ステップ１０２は、ドライスクラバ２４を経由して冷媒を流通させることをさらに含み得る。汚染物質が第２の検知デバイス１８内で検出されないシナリオにおいて、冷媒は、スクラバ２４を通過する。例えば、図２を参照すると、冷媒は、第１のバルブ２０を経由して冷媒分析器に入り、スクラバ２４の方に方向づけられ、ここでスクラバ２４は、第１の検知デバイス１６を経由して流通する前に、冷媒中のいくらかの不純物を除去する。
【００２７】
方法１００は、冷媒の第２の特徴を検出するために、第２の検知デバイス１８を経由して冷媒を流通させるステップ１０４をさらに含む。例えば、図１及び４を参照すると、冷媒は、第２の検知デバイス１８を通過し続け、ここで、制御デバイス６０は、検知した出力値、例えばカウンタ電極５６と比較した検知電極５４における電圧または電流を計測する。制御デバイス６０は、検知した出力値に基づいて計測した冷媒中の汚染物質の濃度を決定する。
【００２８】
方法１００は、汚染物質が存在すると決定したかどうかを表示するために冷媒分析器１２を動作させるステップ１０６をさらに含み、その濃度範囲は、ここで開示した装置及び方法を用いて推定される。例えば、第１の検知デバイス１６及び第２の検知デバイス１８は、汚染物質の存在を示す信号を個々に生成し得る。図６及び７に示すように、第１の検知デバイス１６及び第２の検知デバイス１８の出力は、不純物を正確に識別及び定量化するために分析され得る。
【００２９】
代替として、第１の検知デバイス１６及び第２の検知デバイス１８は、データをプロセッサ２２に送信し得る。図６及び７に示すように、プロセッサ２２は、第１の検知デバイス１６及び第２の検知デバイス１８が受信したデータを分析し、冷媒中の汚染物質の存在を決定し得る。
【００３０】
図６は、冷媒分析器１２内で使用し得る論理を示す。シナリオ１において、第１の検知デバイス１６及び第２の検知デバイス１８は、ここで定義するパラメータ内の汚染物質を有する冷媒に対する応答を生成する。例として、プロセッサ２２は、Ｒ４０の存在を示す信号を生成し得る。シナリオ２において、第１の検知デバイス１６は、汚染物質に対する応答を生成するが、この汚染物質が第２の検知デバイス１８内で検出できない場合、プロセッサ２２は、１０００ｐｐｍｖ未満または第２の検知デバイス１８に関連する検出限界未満の濃度レベルのＲ４０またはＲ２２の存在を示す信号を生成し得る。シナリオ１及び２からの出力が不十分であると考えられる場合、汚染物質を識別するために図２に示す実施形態を用いる。このスキームは、図７にシナリオ３として示す。
【００３１】
図７は、図２に示したような冷媒分析器１２内の論理の実施形態を示す。シナリオ２において、第１の検知デバイス１６の出力が、これらの種に対する吸収特性に基づいて、Ｒ２２からＲ４０を区別するために十分な解決をもたらさない場合、スクラバ２４の支援でさらなる分析が行われるべきである。決定論理が、図７のシナリオ３として提示されている。
【００３２】
シナリオ３．１において、冷媒がスクラバ２４を通過した後、波長の吸収が減少する場合、プロセッサ２２は、Ｒ４０及びＲ２２両方の存在を示す信号を１０００ｐｐｍｖ未満の濃度レベルで生成し得る。シナリオ３．２において、冷媒がスクラバ２４を通過した後なんの変化も無い場合、プロセッサ２２は、１０００ｐｐｍｖ未満または第２の検知デバイス１８に関連する検出限界未満の濃度レベルでＲ２２のみの存在を示す信号を生成し得る。いくつかの実施形態において、プロセッサ２２は、濃度レベルを示すことなくＲ２２、Ｒ４０または前述の少なくとも１つを含む組み合わせのような不純物の存在を示す信号を生成し得る。このように、冷媒分析器１２は、冷媒が偽造冷媒で汚染されているかどうかの２値表示を提供し得る。
【００３３】
従って、本実施形態は、高い感度を有する第１の検知デバイス１６と高度に選択的な第２の検知デバイス１８を組み合わせた冷媒分析器１２を含むことによって、異なる複数の応答を生成し、冷媒中の汚染物質の検出を可能にすることが理解されるだろう。高い感度を有する第１の検知デバイス１６は、最低１０ｐｐｍｖの不純物（例えばＲ２２、Ｒ４０など）の濃度、例えば１０ｐｐｍｖから１０,０００ｐｐｍｖの濃度、１０ｐｐｍｖから２０００ｐｐｍｖの濃度または１０ｐｐｍｖから１,０００ｐｐｍｖの濃度を検出することができる。高度に選択的な第２の検出デバイス１８は、Ｒ４０に対して感度（すなわち、単位濃度毎の信号強度）を有するが、この感度は、冷媒分析器１２を通過する冷媒サンプル内に存在し得る他の不純物の感度の無限倍、例えば、２から１０００倍大きい感度である。
【００３４】
実施形態１：冷媒分析器を利用して冷媒中の不純物を検出する方法であって、この冷媒分析器が、第２の検知デバイスと流体連通する第１の検知デバイスを含み、この方法が、冷媒の第１の特徴を検出するために第１の検知デバイスを経由して冷媒を通過させることと、冷媒の第２の特徴を検出するために第２の検知デバイスを経由して冷媒を通過させることとを含む方法。
【００３５】
実施形態２：実施形態１の方法であって、第１の特徴が波長を含む方法。
【００３６】
実施形態３：先行実施形態のいずれか１つの方法であって、第１の特徴が波長を含み、この波長が約１５，５００ナノメートル以下である。
【００３７】
実施形態４：先行実施形態のいずれか１つの方法であって、第２の特徴が、検知した出力に少なくとも部分的に基づいて計測した濃度レベル含む方法。
【００３８】
実施形態５：先行実施形態のいずれか１つの方法であって、第２の特徴が、検知した出力に少なくとも部分的に基づいて計測した濃度レベルを含み、測定された濃度レベルが、約１０００ｐｐｍｖ以上である方法。
【００３９】
実施形態６：先行実施形態のいずれか１つの方法であって、スクラバを経由して冷媒を通過させることをさらに含む方法。
【００４０】
実施形態７：先行実施形態のいずれか１つの方法であって、スクラバを経由して冷媒を通過させることをさらに含み、スクラバが、アルミナを備えるパッキング材料を備える方法。
【００４１】
実施形態８：先行実施形態のいずれか１つの方法であって、スクラバを経由して冷媒を最初に通過させることをさらに含む方法。
【００４２】
実施形態９：先行実施形態のいずれか１つの方法であって、冷媒を第１の冷媒の流れと第２の冷媒の流れとに分割することと、第１の冷媒の流れはスクラバを経由して通過させるが、第２の冷媒の流れはスクラバを経由して通過させないこととをさらに含む方法。
【００４３】
実施形態１０：先行実施形態のいずれか１つの方法であって、汚染物質が存在すると決定したかどうかを表示するために冷媒分析器を動作させることをさらに含む方法。
【００４４】
実施形態１１：少なくとも冷媒の第１の特徴を決定するように構成された第１の検知デバイスと、少なくとも冷媒の第２の特徴を決定するように構成された、第１の検知デバイスと流体連通する第２の検知デバイスとを備える冷媒分析器。
【００４５】
実施形態１２：第１の検知デバイスと流体連通するスクラバをさらに備える、実施形態１１の冷媒分析器。
【００４６】
実施形態１３：実施形態１２の冷媒分析器であって、スクラバが、アルミナを備えるパッキング材料を備える冷媒分析器。
【００４７】
実施形態１４：実施形態１１〜１３のいずれか１つの冷媒分析器であって、第１の検知デバイスが、非分散型赤外線センサを備える冷媒分析器。
【００４８】
実施形態１５：実施形態１１〜１３のいずれか１つの冷媒分析器であって、第２の検知デバイスが、電気化学センサを備える冷媒分析器。
【００４９】
実施形態１６：実施形態１１〜１５のいずれか１つの冷媒分析器であって、第１の検知デバイス及び第２の検知デバイスと通信するプロセッサをさらに備える冷媒分析器。
【００５０】
実施形態１７：実施形態９〜１６のいずれか１つの冷媒分析器であって、第１の特徴が、波長を含む冷媒分析器。
【００５１】
実施形態１８：実施形態１７の冷媒分析器であって、波長が、約１５，５００ナノメ−トル以下である冷媒分析器。
【００５２】
実施形態１９：実施形態１１〜１８のいずれか１つの冷媒分析器であって、第２の特徴が、検知した出力に少なくとも部分的に基づいて計測した濃度レベルを含む冷媒分析器。
【００５３】
実施形態２０：実施形態１９の冷媒分析器であって、計測した濃度レベルが、約１０００ｐｐｍｖ以上である冷媒分析器。
【００５４】
実施形態２１：実施形態１１〜２０のいずれか１つの冷媒分析器であって、スクラバが、第１の検知デバイスの流動方向上流にある冷媒分析器。
【００５５】
実施形態２２：実施形態１１〜２１のいずれか１つの冷媒分析器であって、スクラバが、第２の検知デバイスの流動方向上流にある冷媒分析器。
【００５６】
実施形態２３：実施形態１１〜２２のいずれか１つの冷媒分析器であって、スクラバ及び第２の検知デバイスに動作可能に結合された流量調整器をさらに備え、流量調整器が、第１の冷媒の流れ及び第２の冷媒の流れを作るように構成される冷媒分析器。
【００５７】
実施形態２４：実施形態２３の冷媒分析器であって、第１の冷媒の流れがスクラバを経由して通過し、第２の冷媒の流れがスクラバを経由して通過しない冷媒分析器。
【００５８】
本開示は、図面及び上述の詳細な説明において詳細に図示及び説明されているが、この開示は、例示と考えられるべきであり、その性質上限定的ではなく、したがって、特定の実施形態のみが図示及び説明されていて、本開示の精神と一致する全ての変形及び変更が保護されるべきであることが理解される。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【国際調査報告】
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