(57)【要約】少なくとも１つの容量センサを用いて、容量センサ検出を提供するための方法またはセンサ装置は、伝送電極と、受信電極とを備える。伝送電極における刺激が、発生され、信号が、受信電極から受信され、データパケットが、発生され、各パケットは、複数のサンプルを含む。複数のサンプルは、各パケットの中心と比較して、各パケットの開始および終了においてより少ない利得を提供することによって、加重され、加重されたサンプルは、パケット毎に出力信号を発生させるように積分される。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
伝送電極および受信電極を備える少なくとも１つの容量センサを用いて、容量センサ検出を提供するための方法であって、前記方法は、
刺激を前記伝送電極において発生させるステップと、
信号を前記受信電極から受信し、データパケットを発生させるステップであって、各パケットは、複数のサンプルを含む、ステップと、
各パケットの開始および終了において、各パケットの中心と比較して少ない利得を提供することによって、前記複数のサンプルに加重するステップと、
前記加重されたサンプルを積分し、パケット毎に出力信号を発生させるステップと、
を含む、方法。
【請求項２】
刺激は、パルスのシーケンスを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
各パルスは、接地と供給電圧との間で交互する、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
利得分布は、各パケットの中心に対して対称であって、利得分布曲線は、ガウス曲線、ハミング窓、ハニング窓、およびブラックマン窓から成る利得曲線の群から選択される、前記請求項のいずれか１項に記載の方法。
【請求項５】
加重は、利得を列または行から受信されたアナログ信号に適用することによって行われる、前記請求項のいずれか１項に記載の方法。
【請求項６】
加重は、各パケットの後処理の際、利得を前記デジタル信号に適用することよって行われる、前記請求項のいずれか１項に記載の方法。
【請求項７】
前記容量センサは、タッチセンサである、前記請求項のいずれか１項に記載の方法。
【請求項８】
複数のタッチセンサが、列および行を含む行列で配列され、サンプルのパケットは、各列または行から並行してサンプリングされる、請求項７に記載の方法。
【請求項９】
複数のタッチセンサが、列および行を含む行列で配列され、異なる列／行のサンプルのパケットは、多重化を使用して連続してサンプリングされる、請求項７に記載の方法。
【請求項１０】
複数のタッチセンサが、行列で配列される水平および垂直電極によって形成される、請求項７に記載の方法。
【請求項１１】
複数のタッチセンサが、行列で配列され、前記行列の水平および垂直電極は、異なる層内に配列される、請求項７に記載の方法。
【請求項１２】
４つの受信電極が、前記伝送電極と関連付けられ、３次元位置検出センサを形成する、前記請求項のいずれか１項に記載の方法。
【請求項１３】
前記４つの受信電極は、フレーム状方式で配列される、請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
前記４つの受信電極は、ディスプレイまたはタッチパッドセンサを囲繞する、請求項１２または１３に記載の方法。
【請求項１５】
少なくとも１つの容量センサを伴うセンサ装置であって、
刺激を受信するように構成される、伝送電極と、
前記伝送電極と容量結合され、信号を前記伝送電極から受信するように構成される、受信電極と、
前記受信電極と結合され、データパケットを発生させるように構成される、評価回路であって、各パケットは、複数のサンプルを含み、前記複数のサンプルは、各パケットの開始および終了において、各パケットの中心と比較してより少ない利得を提供することによって加重され、前記評価回路はさらに、前記加重されたサンプルを積分し、パケット毎に出力信号を発生させるように構成される、評価回路と、
を備える、センサ装置。
【請求項１６】
前記刺激のパケットは、パルスのシーケンスを含む、請求項１５に記載のセンサ装置。
【請求項１７】
各パルスは、接地と供給電圧との間で交互する、請求項１６に記載のセンサ装置。
【請求項１８】
利得分布は、各パケットの中心に対して対称であり、利得分布曲線は、ガウス曲線、ハミング窓、ハニング窓、およびブラックマン窓から成る利得曲線の群から選択される、請求項１５−１７のいずれか１項に記載のセンサ装置。
【請求項１９】
利得は、前記受信電極から受信されたアナログ信号に適用される、請求項１５−１８のいずれか１項に記載のセンサ装置。
【請求項２０】
利得は、各パケットの後処理の際、前記デジタル信号に適用される、請求項１５−１９のいずれか１項に記載のセンサ装置。
【請求項２１】
複数のタッチセンサが、列および行を含む行列で配列され、サンプルのパケットは、各列または行から並行してサンプリングされる、請求項１５−２０のいずれか１項に記載のセンサ装置。
【請求項２２】
前記容量センサは、タッチセンサである、請求項１５−２１のいずれか１項に記載のセンサ装置。
【請求項２３】
複数のタッチセンサが、列および行を含む行列で配列され、異なる列／行のサンプルのパケットは、多重化を使用して連続してサンプリングされる、請求項２２に記載のセンサ装置。
【請求項２４】
複数のタッチセンサが、行列で配列される水平および垂直電極によって形成される、請求項２２に記載のセンサ装置。
【請求項２５】
複数のタッチセンサが、行列で配列され、前記行列の水平および垂直電極は、異なる層内に配列される、請求項２２に記載のセンサ装置。
【請求項２６】
４つの受信電極が、前記伝送電極と関連付けられ、３次元位置検出センサを形成する、請求項１５−２５のいずれか１項に記載のセンサ装置。
【請求項２７】
前記４つの受信電極は、フレーム状方式で配列される、請求項２６に記載のセンサ装置。
【請求項２８】
前記４つの受信電極は、ディスプレイまたはタッチパッドセンサを囲繞する、請求項２６または請求項２７に記載のセンサ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
（関連特許出願）
本願は、２０１５年１０月７日に出願された同一出願人の米国仮特許出願第６２／２３８，３１８号に対する優先権を主張するものであり、該米国仮特許出願は、あらゆる目的のために参照により本明細書中に援用される。
【０００２】
（技術分野）
本開示は、静電容量測定のための方法およびシステムに関し、より具体的には、低減された雑音を伴う、静電容量測定に関する。
【背景技術】
【０００３】
投影型容量センサは、多くの場合、タッチスクリーン、タッチパッド、またはボタン内に組み込まれる。類似センサは、非タッチ式３次元位置検出センサ装置内で使用される。これらのセンサは、受信電極と、いくつかの実施形態では、また、放出電極とを使用する。２つの電極を使用するとき、一方の電極は、送信機として、他方の電極は、受信機として作用する。行列が、複数のキーが伝送および受信ラインを共有することを可能にするために形成されることができる。実践では、受信電極に接続された測定システムは、次いで、多くの場合、時間多重化方式で使用される。ユーザ入力に対して良好な応答性を保つために、投影型容量デバイスは、電極のメッシュのいくつかの場所を迅速に走査しなければならない。
【０００４】
例えば、標準化試験「ＩＥＣ６１０００−４−６  Ｉｍｍｕｎｉｔｙ  ｔｏ  Ｃｏｎｄｕｃｔｅｄ  Ｄｉｓｔｕｒｂａｎｃｅｓ」は、投影型容量センサの一般的問題を明らかにしている。すなわち、擾乱雑音が若干異なる周波数を伴う信号に重複するとき、所与の周波数において受信電極から弱信号を取得することである。さらに、短走査時間の要件も、近傍周波数を占有する信号と雑音を区別する本問題を悪化させる。
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００５】
ある実施形態によると、伝送電極および受信電極を備える少なくとも１つの容量センサを用いて、容量センサ検出を提供するための方法は、刺激を伝送電極において発生させるステップと、信号を受信電極から受信し、データパケットを発生させるステップであって、各パケットは、複数のサンプルを含む、ステップと、各パケットの開始および終了において、各パケットの中心と比較して少ない利得を提供することによって、複数のサンプルに加重するステップと、加重されたサンプルを積分し、パケット毎に出力信号を発生させるステップとを含んでもよい。
【０００６】
さらなる実施形態によると、刺激は、パルスのシーケンスを含んでいてもよい。さらなる実施形態によると、各パルスは、接地と供給電圧との間で交互してもよい。さらなる実施形態によると、利得分布は、各パケットの中心に対して対称であることができ、利得分布曲線は、ガウス曲線、ハミング窓、ハニング窓、およびブラックマン窓から成る利得曲線の群から選択される。さらなる実施形態によると、加重は、利得を列または行から受信されたアナログ信号に適用することによって行われることができる。さらなる実施形態によると、加重は、各パケットの後処理の際、利得をデジタル信号に適用することよって行われることができる。さらなる実施形態によると、容量センサは、タッチセンサであることができる。さらなる実施形態によると、複数のタッチセンサが、列および行を含む行列で配列されることができ、サンプルのパケットは、各列または行から並行してサンプリングされる。さらなる実施形態によると、複数のタッチセンサが、列および行を含む行列で配列されることができ、異なる列／行のサンプルのパケットは、多重化を使用して連続してサンプリングされる。さらなる実施形態によると、複数のタッチセンサが、行列で配列される水平および垂直電極によって形成されることができる。さらなる実施形態によると、複数のタッチセンサが、行列で配列されことができ、行列の水平および垂直電極は、異なる層内に配列される。さらなる実施形態によると、４つの受信電極が、伝送電極と関連付けられ、３次元位置検出センサを形成することができる。さらなる実施形態によると、４つの受信電極は、フレーム状方式で配列されることができる。さらなる実施形態によると、４つの受信電極は、ディスプレイまたはタッチパッドセンサを囲繞してもよい。
【０００７】
別の実施形態によると、少なくとも１つの容量センサを伴うセンサ装置は、刺激を受信するように構成される、伝送電極と、伝送電極と容量結合され、信号を伝送電極から受信するように構成される、受信電極と、受信電極と結合され、データパケットを発生させるように構成される、評価回路であって、各パケットは、複数のサンプルを含み、複数のサンプルは、各パケットの開始および終了において、各パケットの中心と比較してより少ない利得を提供することによって加重され、評価回路はさらに、加重されたサンプルを積分し、パケット毎に出力信号を発生させるように構成される、評価回路とを備えてもよい。
【０００８】
センサ装置のさらなる実施形態によると、刺激のパケットは、パルスのシーケンスを含んでいてもよい。センサ装置のさらなる実施形態によると、各パルスは、接地と供給電圧との間で交互してもよい。センサ装置のさらなる実施形態によると、利得分布は、各パケットの中心に対して対称であることができ、利得分布曲線は、ガウス曲線、ハミング窓、ハニング窓、およびブラックマン窓から成る利得曲線の群から選択される。センサ装置のさらなる実施形態によると、利得は、受信電極から受信されたアナログ信号に適用されることができる。センサ装置のさらなる実施形態によると、利得は、各パケットの後処理の際、デジタル信号に適用されることができる。センサ装置のさらなる実施形態によると、複数のタッチセンサが、列および行を含む行列で配列されることができ、サンプルのパケットは、各列または行から並行してサンプリングされる。センサ装置のさらなる実施形態によると、容量センサは、タッチセンサであることができる。センサ装置のさらなる実施形態によると、複数のタッチセンサが、列および行を含む行列で配列されることができ、異なる列／行のサンプルのパケットは、多重化を使用して連続してサンプリングされる。センサ装置のさらなる実施形態によると、複数のタッチセンサが、行列で配列される水平および垂直電極によって形成されることができる。センサ装置のさらなる実施形態によると、センサ装置は、行列で配列される複数のタッチセンサを含んでいてもよく、行列の水平および垂直電極は、異なる層内に配列される。センサ装置のさらなる実施形態によると、４つの受信電極が、伝送電極と関連付けられ、３次元位置検出センサを形成することができる。センサ装置のさらなる実施形態によると、４つの受信電極は、フレーム状方式で配列されることができる。センサ装置のさらなる実施形態によると、４つの受信電極は、ディスプレイまたはタッチパッドセンサを囲繞してもよい。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】図１は、タッチセンサ装置の電極行列を示す。
【図２】図２は、第１の実施形態による、刺激および受信された信号のタイミング図を示す。
【図３】図３は、第２の実施形態による、刺激および受信された信号のタイミング図を示す。
【図４】図４は、受信された信号に適用される加重関数の第１の実施形態を示す。
【図５】図５は、ある実施形態による、タッチセンサの例示的回路配列を示す。
【図６】図６は、図５による、種々の信号のタイミング図を示す。
【図７】図７は、ある実施形態による、復調および加重を示す。
【図８】図８は、種々の実施形態による、加重の使用の有無別のスペクトル分析を示す。
【図９】図９は、タッチレスセンサ装置の実施形態を示す。
【図１０】図１０は、組み合わせられたタッチレスおよびタッチセンサ装置の実施形態を示す。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
種々の実施形態によると、提案される解決策は、所与の選択のアクティブ受信またはアクティブ放出電極に対して、複数の測定サンプルを取得し、可変利得を伴うこれらのサンプルを積分するものである。１つのサンプルは、例えば、Ａ／Ｄ回路によって変換される電圧サンプルであるが、概念は、デジタルに限定されず、また、スイッチトキャパシタ回路および電荷集積回路のようなアナログ離散時間回路にも適用される。これらの複数のサンプルは、パケットを形成し、パケットは、アクティブ電極の選択の変化によって境界される。
【００１１】
種々の実施形態によると、例えば、以下の方法が、提案される。すなわち、アクティブ電極の変化に従って、本システムは、パケットの中央まで、測定されるサンプルの重要性を徐々に増加させ、次いで、電極の次の変化前に、その重要性を徐々に減少させる。したがって、変化の後または前に収集されたサンプルは、総合的結果に殆ど寄与しない。
【００１２】
Ａ／Ｄコンバータと連携するとき、ある解決策が、収集されたサンプルの加重平均とともに実装されることができ、加重値は、ルックアップテーブルに由来する。驚くべきことに、かつ注目に値することとして、雑音および信号の周波数分離は、純粋に数学的な後処理動作として、測定が行われた後に達成されることができる。同動作は、信号積分が適切な実装を可能にするために使用され得る前に、サンプル毎に、特定された可変利得を用いて、Ａ／Ｄコンバータ、より一般的には、増幅器の基準レベルを変動させることによって、アナログドメイン内でも実施され得る。
【００１３】
投影型静電容量感知の分野では、雑音および感度の欠如は、一般的懸念である。一般的対策は、より多くのＡＤＣサンプルにわたって結果を平均化することである。より多くのＡＤＣサンプルを取得することは、電力および時間がかかるため、直感的に、より包括的信号を得ようとして、各サンプルの全体的寄与を活用しようとする。しかしながら、直感に反して、種々の実施形態は、先頭および末尾サンプルの寄与を著しく低減させる（但し、全体的に相殺しない）ことを指摘する。
【００１４】
図１は、１つまたはそれを上回る受信機電極（ｒｘｉ）と、１つまたはそれを上回る随意の刺激ノード（ｔｘｊ）とを伴う、典型的例示的投影型静電容量デバイスを示す。典型的には、伝送ラインｔｘｎおよび受信ラインｒｘｎは、伝送ラインが受信ラインに交差するノードが実際のセンサとしての役割を果たすコンデンサを形成するように、行列で配列される。行列は、そうでなければ必要とされるであろうラインの数を減少させる。図１に示される実施例は、２つの受信ラインと、４つの伝送ラインとを使用する。しかしながら、任意の他の数のラインが、設計に応じて使用されてもよい。図１の例示的実施形態における測定または評価回路ＲＸは、本実施例では、２つの受信機電極ｒｘ０およびｒｘ１に接続され、例えば、マイクロコントローラのＩ／Ｏポート等の刺激回路ＴＸは、４つの放出電極ｔｘ０、ｔｘ１、ｔｘ２、およびｔｘ３に接続される。
【００１５】
図２は、実施例として、走査シーケンスで、例えば、３つの放出電極ｔｘ０、ｔｘ１、ｔｘ２に適用される刺激パルスのバーストと、サンプルのパケットを境界する、アクティブ放出電極ｔｘ０、ｔｘ１、ｔｘ２の時間ｔ０、ｔ１、ｔ２．．．における対応する変化とを示す。サンプルは、必ずしも、刺激パルスと同期しないことに留意されたい。第４の伝送ラインは、ここでは、より良好な概観のためだけに使用される。図２では、各受信電極（ｒｘ０、ｒｘ１）は、その独自の測定回路を有し、したがって、測定は、並行して行われることができると仮定される。
【００１６】
しかしながら、マルチプレクサ回路を伴う単一測定回路もまた、可能性として考えられ得るが、ライン毎に反復刺激を要求するであろう。図３は、図２のそのような代替を示す。測定回路は、ここでは、異なる受信電極に対して多重化され、サンプルのパケットｐ０、ｐｌ、ｐ２は、アクティブ受信電極ｒｘ０、ｒｘ１ならびにアクティブ放出電極ｔｘ０、ｔｘ１の変化によって境界される。
【００１７】
図４は、それぞれ、開始および停止時間ｔｉとｔｉ＋１との間で取得されたサンプルのパケットを示す。ここでは、各サンプルは、利得ａ（ａ０、ａ１．．．ｍ、ａｅ）によって加重される。結果として生じる出力は、加重和として示される。遷移ｔｉおよびｔｉ＋１の近傍のサンプルに適用される加重が、パケットの中央におけるサンプル（ａｍ、ａｎ）と比較して、絶対値においてより少ない重要性（ａ０、ａｅ）を得る程度が示される。いくつかの実施形態によると、ガウス加重曲線が、適用されてもよい。最初および最後の測定が中心値より少ない利得を受ける限り、ハミング、ハニング、ブラックマン等の他の分布加重曲線も、適用されてもよい。
【００１８】
図５は、例えば、１つのパケットの取得の際、指５５０によってタッチされるときの、単一容量センサ５３０、５４０を伴う投影型容量システムの実施例を示す。非タッチ実施形態では、検出空間への進入は、１つまたはそれを上回る電極において受信された信号に影響を及ぼすであろう。いくつかの実施形態によると、センサ電極５３０、５４０は、電極の行列の一部であってもよい。容量センサ５３０、５４０は、例えば、マルチプレクサ５０５と、サンプルアンドホールド回路Ｓｓ５１０と、アナログ／デジタルコンバータ５２０と、処理ユニット５７０とを備える、評価回路と結合される。単一センサの場合、マルチプレクサ５０５は、当然ながら、ＡＤＣ５２０が他のアナログ信号をサンプリングするために使用されない限り、必要とされない。伝送電極５３０または行列から選択された伝送電極は、ソースに接続され、刺激ｔｘを発生させ、受信電極５４０または行列からの受信電極のうちの１つが、選択され、そこから、信号ｒｘが、例えば、スイッチＳｓおよびサンプルコンデンサ５１０を用いて、アナログマルチプレクサ５０５によってサンプルアンドホールド回路にフィードされる。刺激は、一連のパルスであることができ、例えば、各パルスは、接地と供給電圧との間で変動する。５０％のデューティサイクルが、パルスのシーケンスのために使用されてもよい。しかしながら、他のデューティサイクルも、適用されてもよい。一実施形態によると、パルスは、以下により詳細に説明されるように、充電／放電スイッチＳｐ、Ｓｎと同期されてもよい。
【００１９】
サンプリングされた信号は、次いで、アナログ／デジタルコンバータ５２０によってデジタル値に変換され、これは、さらなる処理のために、処理ユニット５７０にフィードされる。本実施形態では、指５５０が、電極５３０、５４０の上方のカバー材料５６０にタッチし、また、雑音源（Ｖｎｏｉｓｅ）としても挙動し、受信された電圧（Ｖｒｘ）に影響を及ぼすであろう。しかしながら、例えば、暴露電極を伴う、他の配列も、可能性として考えられる。３次元位置検出のための同一原理を使用する用途が、以下に議論されるであろう。いくつかの実施形態によると、受信電極５４０はまた、以下により詳細に説明されるであろうように、スイッチＳｎ、Ｓｐによって、ＶｄｄまたはＧｎｄに一時的に接続され、一対のサンプル値を発生させることができる。
【００２０】
図６は、例えば、図５に示される配列を使用し得る、一実施形態の種々の信号のタイミング図を示す。図６は、切替シーケンスおよび取得プロセスの一実施形態を示す。各サンプリングサイクルでは、最初に、受信電極５４０は、スイッチＳｎによって、接地に一時的に接続され、信号Ｓｎは、高となる一方、サンプルアンドホールドは、信号Ｓｓが高であるときを追跡している。Ｓｎが、信号Ｓｎが低に戻った後、接続解除されると、正の刺激ｔｘが、放出電極５３０に適用され、Ｖｒｘを上昇させる。刺激ｔｘによって生じる電圧変化に加え、Ｖｒｘもまた、ＳｐまたはＳｎスイッチが接地に対する指の電位の変動に起因してオフにされる限り、変化する。サンプルアンドホールドは、信号Ｓｓが低になると、信号をブロックし、第１または奇数のサンプルが、取得および変換される。次いで、ｔｘが依然として高である間、Ｓｓの立ち下がりエッジ後、スイッチＳｐは、短時間期間にわたって、信号Ｓｐの正のパルスによって閉鎖される。信号Ｓｓは、次いで、高に戻り、トラックアンドホールド回路を再び追跡モードにする。その直後、刺激ｔｘは、接地に戻り、その後、Ｓｓの立ち下がりエッジに伴って、第２または偶数のサンプルが、取得される。本実施例では、値は、０〜４０９５から成った。２０４８における恣意的ピボット値が、サンプルの振幅を指すために使用される。図６は、取得された信号が、接地とＶｄｄとの間で交互に切り替えられ、刺激ｒｘおよび雑音Ｖｎｏｉｓｅによって、これらの開始点から変更されることを示す。したがって、受信電極５４０を接地またはＶｄｄに交互に充電することによって、奇数および偶数サンプルが、取得される。雑音信号が、ＳｎまたはＳｐのいずれかの立ち下がりエッジとＳｓの立ち下がりエッジとの間で上昇するかまたは下降するかに応じて、その寄与は、図６に示されるように、電圧信号Ｖｒｘに加算されるか、またはそこから減算されるかのいずれかとなる。
【００２１】
図７は、復調後の図６のタイミング図に従って取得された信号を示す。測定サンプルは、本実施例では、奇数サンプルを２０４８−値に等しい新しい値と置換し、偶数サンプルを＋値−２０４８に等しい新しい値と置換することによって復調される。本復調動作は、伝送電極５３０に適用される刺激ｔｘが正および負のエッジを交互するという事実を補正する。最後に、本図は、図７の下側曲線における加重後の結果とともに示されるように、パケットの開始および終了の近傍のサンプルが、パケットの中央におけるサンプルと比較して、より小さい加重によって数学的に乗算される程度を図示する。
【００２２】
復調プロセスは、刺激ｔｘを適用する方法に特有である。他のサンプリングスキームも、適用されてもよい。しかしながら、いくつかのサンプルの符号の変化にもかかわらず、その重要性または加重は、依然として、徐々に増加し、次いで、減少する重要性に追従することを示す。
【００２３】
図８は、種々の実施形態の原理を使用せずに記録された雑音レベル（破線ストローク）と、種々の実施形態の原理を使用して記録される雑音レベル（実線ストローク）の実験比較を示す。図から分かるように、雑音床は、有意に改良される。
【００２４】
図１および図５に関して議論されるように、種々の実施形態の原理は、多くのタッチセンサ用途において使用されるように、自己および相互静電容量測定等の種々の静電容量測定方法に適用されることができる。図９は、非タッチ式センサ用途において使用され得る、測定センサ装置の実施例を示す。ここでは、基板９００は、伝送電極９２０と、複数の、ここでは、４つの受信電極９１０ａ、ｂ、ｃ、ｄとを備えてもよい。図９は、例えば、ディスプレイ、キーボード、またはトラックパッドの周囲に配列され得る、フレーム状支持構造９００を示すが、基板のための他の形状および形態も、適用されてもよい。伝送電極９２０は、基板９００の背面全体を被覆してもよく、受信電極９１０ａ、ｂ、ｃ、ｄは、上側に配列されてもよい。そのような配列は、両面印刷回路基板によって提供されることができ、電極は、銅層によって形成される。しかしながら、片面印刷回路基板もまた、使用されてもよく、伝送電極は、単に、受信電極を囲繞してもよい。全ての電極が、所定のジェスチャおよびタッチを検出し、メイン処理システム９３０にフィードされるコマンドを発生させる、ジェスチャ検出コントローラ９４０と結合されてもよい。
【００２５】
図１０は、タッチパッド１０２０と組み合わせられる、類似システム１０００の別の実施形態を示す。ここでは、電極Ａ、Ｂ、Ｃ、およびＤは、タッチパッド１０２０を囲繞し、これは、図１に示される実施形態に類似し得る。タッチパッド１０２０は、タッチコントローラ１０１０と結合されてもよい一方、電極Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄは、３Ｄジェスチャコントローラ１０３０と結合されてもよい。伝送電極（図示せず）は、センサ装置１０００の下方に配列され、３Ｄ−ジェスチャコントローラ１０３０と結合されてもよい。
【００２６】
図９の種々の電極９１０ａ、ｂ、ｃ、ｄまたは図１０の電極Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄから受信された信号は、個別のコントローラ内で並列に、または時間多重化スキームを使用して、受信および変換されてもよい。しかしながら、前述のように、シーケンシャルサンプルを評価するための同種々の原理もまた、これらの非タッチ式容量電極センサ装置に適用される。
【図１】
2018536210.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【国際調査報告】
2018536210.tif 000013
2018536210.tif 000014
2018536210.tif 000015