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　特願２０００−　１３２０６「マルチビーム記録装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１３年　７月２７日出願公開、特開２００１−２０１７０３〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯・本願発明
　本願は、平成１２年１月２１日の出願であって、その請求項１ないし７に係る発明は、平成１５年７月４日に補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１ないし７に記載された事項により特定されるものであるところ、その請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、次のとおりである。
「【請求項１】副走査線方向に対し揃えられた少なくとも第１および第２光ビームにより記録媒体上を一括走査して前記記録媒体上に情報記録を行う記録装置であって、前記第１および第２光ビームの位置を検出する光ビーム位置検出手段と、前記光ビーム位置検出手段からのビーム位置検出信号に基づいて第１および第２光ビーム間の副走査方向のピッチを検出する副走査ピッチ検出手段と、前記副走査ピッチ検出手段で検出したピッチが規定のピッチからずれていた場合に副走査方向のピッチを制御して、規定のピッチに戻すピッチ制御手段を具備し、前記副走査ピッチ検出手段は、第１および第２光ビームを同時に点灯走査して、前記光ビーム位置検出手段によって前記第１光ビームが検出され前記第２光ビームが検出されない期間Ｔ１を計測し、前記期間Ｔ１と、ビーム速度ｖと、前記光ビーム位置検出手段の辺縁の副走査方向に対するなす角θ１と、を用いて前記第１光ビームと前記第２光ビームのビームピッチを計測することを特徴とする、マルチビーム記録装置。」
　
２．引用刊行物
　これに対して、原査定の理由に引用された特開平１１−１７４３５１号公報（以下、「刊行物１」という。）には、次の記載が認められる。
「【００１６】【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。本発明の実施形態は、レーザビームプリンタへの適用例を示す。本発明の実施形態の全体構成図を図１に示す。図１において、光源１Ａ，１Ｂは例えばレーザダイオードである。光源１Ａ，１Ｂからのレーザ光はコリメータレンズ３Ａ，３Ｂで集束される。ハーフミラー５は、このコリメータレンズ３Ａ，３Ｂからの二方向のレーザ光を入力し、一方向に合成するようになっている。ハーフミラー５は、光軸合成手段に相当する。ポリゴンスキャナ７は、高速で回転され、複数個配設された鏡面により、順次ハーフミラー５からのレーザ光を反射することで、レーザ光を走査するようになっている。ポリゴンスキャナ７は、光走査手段に相当する。ｆθレンズ９は、ポリゴンスキャナ７からのレーザ光を集束させ、図示しない結像面（感光ドラム）に像を結ばせるようになっている。コリメータレンズ３Ａ，３Ｂ、ｆθレンズ９及び簡略のため省略したシリンドリカルレンズ（シリンドリカルレンズは通常ポリゴンスキャナ７の前段及び後段に配設されている）は、光学レンズに相当する。主走査方向検出素子１１は、感光ドラムの横近傍、又は相当する位置に配設されており、そのすぐ背部には図示しないホトダイオード２７が固定されている。主走査方向検出素子１１には、ポリゴンスキャナ７による走査方向に対し垂直方向にスリット１３が開口されている。一方、副走査方向検出素子１５も、感光ドラムの横近傍、又は相当する位置に配設されており、そのすぐ背部には図示しないホトダイオード２９が固定されている。副走査方向検出素子１５には、ポリゴンスキャナ７による走査方向に対し所定の傾斜角度を持たせてスリット１７が開口されている。主走査方向検出素子１１は、走査方向光路間隔検出素子に相当し、副走査方向検出素子１５は、垂直方向光路間隔検出素子に相当する。」
「【００２１】次に、図４（Ａ）に、ポリゴンスキャナ７の走査方向からみて垂直な方向（副走査方向）に位置ずれした２本のレーザ光がスリット１７を通過する場合を示す。このとき、２本のレーザ光がスリット１７を通過する度に波形整形された２つのパルスが変換器より出力される。一方、図４（Ｂ）に、走査方向からみて垂直な方向に一致した２本のレーザ光がスリット１７を通過する場合を示す。このとき、２本のレーザ光がスリット１７を通過すると波形整形された１つのパルスのみが変換器より出力される。即ち、この検出したパルスの間隔が広ければ、２本のレーザ光は、走査方向からみて垂直な方向に離れていることが確認出来、また、パルスが１つに重なっていれば、２本のレーザ光は、走査方向からみて垂直な方向に一致していることが分かる。」
「【００２２】変換器からの出力信号は、制御部３７に入力する。制御部３７ではパルスが１つに重なるように例えばＰＩＤ制御が行われる。そして、その出力信号が主走査方向検出素子１１により検出されたＸ軸方向の変位の場合には、微小駆動アクチュエータ２１Ａ又は微小駆動アクチュエータ２１Ｂを駆動する。また、出力信号が副走査方向検出素子１５により検出されたＹ軸方向の変位の場合には、微小駆動アクチュエータ２３Ａ又は微小駆動アクチュエータ２３Ｂを駆動する。駆動された微小駆動アクチュエータ２１Ａ、２１Ｂ、２３Ａ及び２３Ｂは、数ミクロン単位以下で微小移動する。」
「【００２３】以上により、２本の光路がＸ軸方向及びＹ軸方向ともに一致するように制御が可能となる。但し、主走査方向検出素子１１又は副走査方向検出素子１５の何れかを用いてＸ軸方向又はＹ軸方向のみの調整を行うことも可能である。また、副走査方向検出素子１５からのパルス出力の間隔を調節することによって、２本の光路をＹ軸方向に等間隔に離隔するように制御することも可能である。こうすることで、解像度を２倍に増やすことが出来る。このとき、最初に全てのレーザ光を１つに合わせ、その後、指定量だけ各レーザ光を移動すればよい。このようにすれば、レーザ光源の数が多くなっても、一対の垂直なスリットと、斜めのスリットの受光部だけでよい。従来のように、光源の数に合わせて受光素子の数を増加させる必要が無い。このように、解像度は順次段階的に変化させることが出来る。従来の光路位置検出が、２つの光路それぞれに単独に専用の光検出器を設けていたのに対し、本実施形態では２つの光路の検出を１本のスリット１３又は１７で同時に行うことができるようになった。従って、従来の装置に比べて小型化が可能となった。」
　
３．対比・判断
　本願発明と刊行物１に記載された発明（以下、「引用発明」という。）を対比する。
　引用発明は、光源１Ａ，１Ｂからの２本のレーザ光を用いたレーザプリンタであるから、マルチビーム記録装置である。また、引用発明の「２本のレーザ光」は、図４（Ａ）のように副走査線方向に対し揃えられており、これらが本願発明の「第１及び第２の光ビーム」に相当する。
　また、引用発明の「副走査方向検出素子１５」が本願発明の光ビーム位置検出手段に相当する。
　そして、刊行物１の段落【００２３】には「また、副走査方向検出素子１５からのパルス出力の間隔を調節することによって、２本の光路をＹ軸方向に等間隔に離隔するように制御することも可能である。こうすることで、解像度を２倍に増やすことが出来る。」と記載されているように、副走査方向検出素子１５からのパルス出力の間隔により、２本の光路のＹ軸方向の間隔、すなわち、副走査ピッチを制御することが記載されているから、引用発明は、「副走査ピッチ検出手段」及び「ピッチ制御手段」を有するものと認められる。
　したがって、両者は、ともに
「副走査線方向に対し揃えられた少なくとも第１および第２光ビームにより記録媒体上を一括走査して前記記録媒体上に情報記録を行う記録装置であって、前記第１および第２光ビームの位置を検出する光ビーム位置検出手段と、前記光ビーム位置検出手段からのビーム位置検出信号に基づいて第１および第２光ビーム間の副走査方向のピッチを検出する副走査ピッチ検出手段と、前記副走査ピッチ検出手段で検出したピッチが規定のピッチからずれていた場合に副走査方向のピッチを制御して、規定のピッチに戻すピッチ制御手段を具備する、マルチビーム記録装置。」の発明である点で一致する。
　
　一方、前記副走査ピッチ検出手段について、本願発明は、第１および第２光ビームを同時に点灯走査して、前記光ビーム位置検出手段によって前記第１光ビームが検出され前記第２光ビームが検出されない期間Ｔ１を計測し、前記期間Ｔ１と、ビーム速度ｖと、前記光ビーム位置検出手段の辺縁の副走査方向に対するなす角θ１と、を用いて前記第１光ビームと前記第２光ビームのビームピッチを計測するとされているのに対し、引用発明は、走査方向に対し所定の傾斜角度を持たせたスリットを用いており、このようになっていない点で相違する。
　
　この点について検討するに、光ビーム位置検出手段にスリットを用いないで、例えば３角形の受光面を有するものを用いて、２つの光ビームのビームピッチを計測することが特開平１０−９６８６８号公報（以下、「刊行物２」という。）に記載されている。
　刊行物２の段落【００７８】には、受光面の形状について「図１，図５の実施の形態において、受光素子６４の受光面の形状は図１（ｃ）に示す形状の斜辺の側を、光束を迎え入れる側にしても良く、あるいは上下を逆にして用いても良い。また受光面の形状は、走査直交方向に頂点を向けた２等辺３角形等、種々の形状が可能である。」と記載されている。
　また、刊行物２の段落【００６６】には、ビームピッチの計測について「偏向光束Ｂ１，Ｂ２が受光素子６４の受光面６４Ａを横切るときの速さ：ｖは、ポリゴンミラー４０の回転速度に応じて一義的に定まる。そこで、図２（ｃ）に示すように検出信号：Ｂｅａｍ１，Ｂｅａｍ２の継続時間を、図のようにそれぞれｔ1，ｔ2とし、図１（ｃ）に示すように、受光面６４の斜辺部が底辺部と成す角を角：αとすると「ｖ・（ｔ2−ｔ1）ｔａｎα」は、光スポットＳＰ１，ＳＰ２の副走査方向の間隔（図１（ａ）の間隔：ＰS）に等しい。従って、信号化・演算手段６５に、上記時間：ｔ1，ｔ2の計時機能と、演算：ｖ・（ｔ2−ｔ1）ｔａｎαを行なう機能を持たせておけば、２つの光スポットの走査直交方向のピッチ：ＰSを計測することが可能になる」と記載されている。
　そして、刊行物２の図４の（４−２）には、副走査線方向に対し揃えられた偏向光束Ｂ１，Ｂ２を同時に点灯走査して、Ｂ２が検出され、Ｂ１が検出されない期間がＴ１−Ｔ２として得られることが記載され、この場合、段落【００６６】の記載を参照すれば、光束Ｂ１とＢ２の副走査方向の間隔ＰSは、前記期間（Ｔ１−Ｔ２）、ビーム速度ｖ及び受光面６４の斜辺部が底辺部と成す角αを用いて、ｖ・（Ｔ１−Ｔ２）ｔａｎαと求められることが明らかである。
　してみれば、刊行物２の「偏向光束Ｂ１」、「偏向光束Ｂ２」、「期間（Ｔ１−Ｔ２）」、「速さｖ」及び「角（９０°−α）」がそれぞれ、本願発明の「第２の光ビーム」、「第１の光ビーム」、「期間Ｔ１」、「ビーム速度ｖ」及び「角θ１」に相当し、本願発明は、引用発明における副走査ピッチ検出手段として、刊行物２の図４（４−２）に示されるものを採用することにより、当業者が容易に発明できたものと認められる。
　
４．むすび
　以上のとおり、本願発明は、上記刊行物１に記載された発明に刊行物２に記載された技術を適用することによって、当業者が容易に発明できたものであって、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　よって、結論のとおり審決する。