(57)【要約】  本発明は、特に、光学源に戻される問題の反射のない自由空間光コヒーレンス断層映像法システム（ＯＣＴ）の、光ビーム干渉システムを空間的にフィルタリングすることを適用する方法及び装置を提供する。本発明は、典型的には望ましくない光学的フィードバックからの光学源の隔離をもたらすように設計されるＯＣＴシステムの基準ビームを空間的にフィルタリングし、それにより、光学源に戻る望ましくない反射を生成しないことを教示する。様々な実施態様が教示される。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射源を含む、
自由空間光コヒーレンス断層映像法システムであって、
前記放射源は、少なくとも１つのプローブビームと、１つの基準ビームとを生成し、当該自由空間光コヒーレンス断層映像法システムの前記基準ビームは、空間的にフィルタリングされ、該空間的にフィルタリングされる基準ビームの部分が、前記空間的にフィルタリングされる基準ビームの前記部分に対応する前記プローブ放射の部分を備える、少なくとも１つの干渉信号を形成し、それにより、該結果として得られる干渉信号を効果的に空間的にフィルタリングする、
自由空間光コヒーレンス断層映像法システム。
【請求項２】
前記基準ビームは、前記基準ビームをある表面に集束させることによって空間的にフィルタリングされ、前記表面は、前記表面の所定の領域で反射的であり、該所定の領域は、前記集束させられる基準ビームのウエストの寸法の１〜４倍と略等しい範囲内にある直径を有する、請求項１に記載の自由空間光コヒーレンス断層映像法システム。
【請求項３】
前記表面の前記所定の領域は、部分的に反射的であり、前記表面の反射率は、８０〜９５パーセントの範囲内にある、請求項２に記載の自由空間光コヒーレンス断層映像法システム。
【請求項４】
前記部分的に反射的な表面は、屈折率分布型レンズの表面である、請求項３に記載の自由空間光コヒーレンス断層映像法システム。
【請求項５】
前記表面の所定の領域で反射的である前記表面は、基準ミラー表面である、請求項２に記載の自由空間光コヒーレンス断層映像法システム。
【請求項６】
８０〜９５パーセントの範囲内の反射率の所定の領域を有する第２の表面を更に含み、前記領域は、前記集束させられる基準ビームのウエストの寸法の１〜４倍と略等しい範囲内にある直径を有し、前記第２の表面は、前記基準ミラー表面からの反射を受けるように方向付けられる、請求項５に記載の自由空間光コヒーレンス断層映像法システム。
【請求項７】
基準放射及びプローブ放射を生成する放射源と、検出器と、基準放射のための経路であって、８０〜９５パーセントの範囲内で反射する部分ミラーを含む経路と、基準ミラーと、プローブ放射のための経路と、前記基準放射及び前記プローブ放射によって形成され且つ前記検出器で受信される干渉信号を捕捉し且つ処理する手段とを含み、
前記部分ミラーは、その反射表面に事前に選択される領域を有することで、前記部分ミラーの前記事前に選択される領域と前記基準ミラーとの間で反射させられる放射が選択され、実質的に全ての他の放射が前記基準信号から濾過される、
改良された自由空間光コヒーレンス断層映像法システム。
【請求項８】
前記部分ミラーの前記事前に選択される領域は、集束させられる基準ビームのウエストの寸法の値の１〜４倍と略等しい範囲内の直径を有する、請求項７に記載の自由空間光コヒーレンス断層映像法システム。
【請求項９】
基準放射及びプローブ放射を生成する放射源と、検出器と、基準放射のための経路と、基準ミラーと、プローブ放射のための経路と、前記基準放射及び前記プローブ放射によって形成され且つ前記検出器で受信される干渉信号を捕捉し且つ処理する手段とを含み、
前記基準ミラーは、その反射表面に事前に選択される領域を有することで、前記所定の領域から反射される放射が選択され、実質的に全ての他の放射が前記基準信号から濾過される、
改良された自由空間光コヒーレンス断層映像法システム。
【請求項１０】
前記基準ミラーの前記事前に選択される領域は、集束させられる基準ビームのウエストの寸法の値の１〜４倍と略等しい範囲内の直径を有する、請求項９に記載の自由空間光コヒーレンス断層映像法システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
（関連出願の参照）
この実用新案登録出願整理番号第ＣＩ１５０１０１ＵＳは、仮出願整理番号第ＣＩ１５０１０１ＰＲの優先権を主張する。この出願は、それらが恰も本明細書中に示されているかのように、それらの全文を参照として援用する、「A  polarized  OCT  system  with  improved  SNR」という名称の米国仮特許出願第６２／０９６，９０９号、整理番号ＣＩ１４１１０１、及び整理番号ＣＩ１４１１０１ＵＳ、米国特許出願第１４／９７５，７４５号、「Multiple  Reference  Non-Invasive  Analysis  System」という名称の米国特許第７，５２６，３２９号、「Frequency  Resolved  Imaging  System」という名称の米国特許第７，７５１，８６２号、及び「Orthogonal  reference  analysis  system  with  enhanced  SNR」という名称の米国特許第８，３１０，６８１号にも関する。
【０００２】
この出願に記載し且つ例示する発明は、組織のような標的の非侵襲的撮像、分析及び測定の分野に関する。用途は、組織の皮下の指紋を撮像すること、非侵襲的に組織を解析して組織又は組織流体中のグルコースの濃度のような検体の濃度を測定すること、内境界膜（ＩＬＭ）と網膜色素上皮（ＰＲＥ）との間の眼の網膜の部分から成る層の厚さのような特定の組織層の厚さを測定することを含むが、これらに限定されない。具体的には、本発明は、皮膚組織及び網膜組織を非限定的に含む組織を撮像し且つ解析するための光コヒーレンス断層映像法（光コヒーレンストモグラフィ)(ＯＣＴ）のような非侵襲性干渉技術の性能を改良することに関する。
【背景技術】
【０００３】
ＯＣＴは、網膜撮像及び解析のような、眼科解析のために組織を撮像するのに一般的に用いられる。ＯＣＴは、皮膚組織を撮像するためにも用いられ、ＯＣＴは、グルコース濃度を測定する技術として探究されている。例えば、Motamedi,  et  al.による「Method  for  noninvasive  analyte  sensing」という名称のMotamediらによる米国特許第６，７２５，０７３号は、ＯＣＴを用いてグルコース濃度を測定することを記載している。
【０００４】
従来技術と一致する、偏光多重基準システムＯＣＴシステムのようなＯＣＴシステムが、図１に描かれている。スーパールミネッセントダイオード（ＳＬＤ）１０１のような広帯域光源が、ファイバコリメータ（図示せず）を用いてある長さの光ファイバ１２３を通じてファイバ結合され、コリメートされた光ビーム１０２を放射し、コリメートされた光ビーム１０２は、半波長板１０４を通じて任意の偏光子１０３を透過され、偏光ビームスプリッタ１０５によって基準放射１０６及びプローブ放射１１２に分割される。光ファイバ１２３の長さは、光学放射をフィルタリングする空間フィルタとして作用し、それにより、干渉信号の質を向上させる。
【０００５】
基準放射１０６は、減衰器１０７及び四分の一波長板１０８を透過させられ、次に、部分反射ミラー１０９を部分的に透過させられて、ボイスコイル又は圧電デバイスのような振動変換デバイス１１１(oscillating
translation device)に取り付けられた基準ミラー１１０に至る。部分ミラー１０９及び基準ミラー１１０の組み合わせは、参照として本明細書に援用する特許に記載されているように複数の基準信号を生成する。
【０００６】
反射された基準放射は四分の一波長板１０８を通じて戻されると、その偏光ベクトルは、偏光ベクトルが偏光ビームスプリッタ１０５によって図１の破線のボックス内に描かれる検出システムに向かって再度方向付けられるように、回転させられる。
【０００７】
プローブ放射１１２は、第２の四分の一波長板１１３を透過させられ、基準経路内の光学素子の影響を補償する反射防止被覆ブランクを透過させられる。プローブ放射１１２は、標的１１５内の成分によって散乱させられる。プローブ放射の一部は、四分の一波長板１１３を通じて後方散乱させられ、四分の一波長板１１３の二度の通過は、その偏光ベクトルを９０度だけ回転させ、それにより、この散乱させられたプローブ放射が、検出系に向かって偏光ビームスプリッタ１０５を透過させられるのを可能にする。
【０００８】
合成された散乱させられたプローブ放射及び反射させられた基準放射は、任意的な第２の半波長板１１６を透過させられて、第２の偏光ビームスプリッタ１１７に至り、第２の偏光ビームスプリッタは、反射させられた基準放射及び散乱させられたプローブ放射の成分の１つのセットを検出器１１８に反射し、反射させられた基準放射及び散乱させられたプローブ放射の成分の直交セットを検出器１１９に送り、それにより、バランスの取れた検出を達成する。
【０００９】
幾つかの実施態様において、任意的な第２の半波長板１１６は存在しないが、第２の偏光ビームスプリッタ１１７は、光ビーム１２０の周りで４５度回転させられるので、偏光ビームスプリッタ１１７は、再び、反射させられた基準放射及び散乱させられたプローブ放射の成分の１つのセットを検出器１１８に反射し、反射させられた基準放射及び散乱させられたプローブ放射の成分の直交セットを検出器１１９に送る。
【００１０】
ＯＣＴシステムの動作は、制御モジュール１２１によって制御される。検出される信号は、処理モジュール１２２によって処理されて、標的の撮像及び解析をもたらす。ＯＣＴシステムは、典型的に、基準放射及びプローブ放射を集束させる１つ又はそれよりも多くのレンズを含む。図１に描く実施態様では、単一のレンズ１２４が、基準放射及びプローブ放射の両方を集束させる。そのようなシステムは、典型的に、１つ又はそれよりも多くの検出器レンズも含む。
【００１１】
描写する実施態様において、コリメートされた光ビーム１０２を放射するスーパールミネッセントダイオード（ＳＬＤ）及びレンズの組み合わせ１０１のような広帯域光源は、コリメートされたビームを光学系の残部に送出するファイバコリメータを介してＳＬＤを結合するファイバを含む。そのようなファイバ結合システムにおいて、ファイバは、高品質のコリメートされたビームを送出する空間フィルタとして作用する。ファイバベースのＯＣＴシステムでは、（自由空間ＯＣＴシステムと対照的に）、ビームスプリッタ機能は、典型的に、ファイバにおいても達成され、従って、広範囲のファイバベースの空間フィルタリングがある。
【００１２】
しかしながら、ＳＬＤ源とコリメートされたビームとの間のファイバ結合のない自由空間ベースのＯＣＴシステムでは、空間フィルタリングの欠如は、ＯＣＴシステムの性能を低下させる。ＳＬＤの出力をピンホールを通じて集束させることによって空間フィルタリングを達成するアプローチは、複雑さを加えることに加えて、反射させてＳＬＤに光を戻すという望ましくない結果を有し、それは許容できない雑音に関連する問題を引き起こし得る。
【００１３】
典型的には偏光成分を用いる、光アイソレータを、ＳＬＤ源とピンホールとの間に設置して、ピンホールからＳＬＤに反射させられて戻る望ましくない光を実質的に低減させることができる。しかしながら、このアプローチは、コスト及び複雑さに関連する追加的な光学部品(optical  component)を必要とする。
【００１４】
ファイバベースのＯＣＴシステムは、光ビームのファイバ空間フィルタリングの利点を有するが、自由空間ＯＣＴシステムは、潜在的に極めて低コストであり、それにより、有意な商業的利点をもたらすという、有意な利点を有する。従って、ＳＬＤに戻される望ましくない反射がなく、追加的な光学部品を必要としない、空間フィルタリングを有する自由空間ＯＣＴシステムの必要は、満たされていない。
【発明の概要】
【００１５】
本明細書に記載する発明は、光学源に戻る問題の反射が実質的にない自由空間光コヒーレンス断層映像法（ＯＣＴ）システムの光ビームに対して空間フィルタリングを適用する方法及び装置を提供する。本発明は、ＯＣＴシステムの基準ビームを空間的にフィルタリングすることを提供する。空間的にフィルタリングされる基準ビームは、空間的にフィルタリングされる基準ビームに対応するプローブ放射の部分との干渉信号を形成するだけであり、それにより、完全な干渉信号を効果的に空間的にフィルタリングする。参照ビームを空間的にフィルタリングすることに起因する望ましくない反射は、望ましくない光学フィードバックからの光学源の隔離を提供するＯＣＴ設計から利益を享受し、それにより、光学源への望ましくない反射を生成せずに空間フィルタリングを達成する。
【００１６】
本発明は、改善された自由空間光学コヒーレンス断層映像法システムを提供する。放射源と、少なくとも１つのプローブビームと、１つの基準ビームとを含む、システムにおいて、本発明のシステムは、基準ビームが空間的にフィルタリングされることで、空間的にフィルタリングされる基準ビームの部分が、空間的にフィルタリングされる基準ビームの部分に対応するプローブ放射の部分を備える、少なくとも１つの干渉信号を形成し、それにより、結果として得られる干渉信号を効果的に空間的にフィルタリングする。
【００１７】
基準ビームは、基準ビームを所定の領域で反射的である表面に集束させることによって空間的にフィルタリングされ、その領域は、コリメートされるビームの直径より実質的に小さい直径を有し、典型的に、集束させられる基準ビームのウエストの寸法の１〜４倍と略等しい範囲内にある。
【００１８】
好適な実施態様において、その領域は、部分的に反射的であり、８０〜９５％の範囲内の反射率を備える。
【００１９】
代替的な実施態様において、部分的に反射的な表面は、屈折率分布型レンズの表面である。
【００２０】
他の実施態様において、所定の反射率の領域を有する表面は、基準ミラーの表面である。その領域は、集束させられる基準ビームのウエストの寸法の１〜４倍と略等しい範囲内の直径を有する。フーリエ領域ＯＣＴ又は従来的な領域ＯＣＴのような、これらの実施形態の一部では、部分ミラーがない。
【００２１】
代替的な実施態様では、反射率の基準ミラー領域に加えて、８０〜９５％の範囲内の反射率の所定の領域も有し、集束させられる基準ビームのウエストの寸法の１〜４倍と略等しい範囲内の直径も有する、追加的な又は第２の表面が、基準ミラー表面からの反射を受けるように方向付けられる。
【００２２】
１つの実施態様において、本発明は、改良された自由空間光コヒーレンス断層映像法システムを提供し、当該システムは、幾つかある必要なコンポーネントの中でも、基準放射及びプローブ放射を生成する放射源と、検出器と、基準放射のための経路であって、（８０〜９５パーセントの範囲内で反射する）部分ミラーを含む経路と、基準ミラーと、プローブ放射のための経路と、基準放射及びプローブ放射によって形成され且つ検出器で受信される干渉信号を捕捉し且つ処理する手段とを含み、改良点は、部分ミラーが、その反射表面に事前に選択される領域を有することで、部分ミラーの事前に選択される領域と基準ミラーとの間で反射させられる放射が選択され、実質的に全ての他の放射が基準信号から濾過されることを含む。
【００２３】
部分ミラーの事前に選択される領域は、集束させられる基準ビームのウエストの寸法の値の１〜４倍と略等しい範囲内の直径を有する。
【００２４】
代替的に、改良された自由空間光コヒーレンス断層映像法システムを提供する実施態様において、当該システムは、基準放射及びプローブ放射を生成する放射源と、検出器と、基準放射のための経路と、基準ミラーと、プローブ放射のための経路と、基準放射及びプローブ放射によって形成され且つ検出器で受信される干渉信号を捕捉し且つ処理する手段とを含む、全ての機能的なコンポーネントを含み、改良点は、基準ミラーが、その反射表面に事前に選択される領域を有することで、所定の領域から反射される放射が選択され、実質的に全ての他の放射が前記基準信号から濾過されることを含む。事前に選択される領域は、集束させられる基準ビームのウエストの寸法の値の１〜４倍と略等しい範囲内の直径を有する。
【００２５】
図面に示されて或いは発明の詳細な説明において議論されて、様々な他の実施態様が本発明に含められている。
【００２６】
図面は、本発明を理解する助けとして意図されている。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】光ビームを空間的にフィルタリングする長さのファイバを用いるＯＣＴシステムを描写する従来技術の例示である。
【００２８】
【図２】基準ビーム及びプローブビームの両方を集束させる単一のレンズを用いる自由空間ＯＣＴシステムを描写する本発明の実施態様の例示である。
【００２９】
【図３】光学源によって放射される光ビームのコリメーション及び調整の両方に対する典型的なアプローチの例示である。
【００３０】
【図４Ａ】削減された面積の反射領域及び部分ミラー光学素子の任意的な角度付き特徴を描写する偏光された部分ミラー光学素子の例示である。
【図４Ｂ】削減された面積の反射領域及び部分ミラー光学素子の任意的な角度付き特徴を描写する偏光された部分ミラー光学素子の例示である。
【図４Ｃ】削減された面積の反射領域及び部分ミラー光学素子の任意的な角度付き特徴を描写する偏光された部分ミラー光学素子の例示である。
【図４Ｄ】削減された面積の反射領域及び部分ミラー光学素子の任意的な角度付き特徴を描写する偏光された部分ミラー光学素子の例示である。
【００３１】
【図５Ａ】本発明の代替的な実施態様を描写している。
【図５Ｂ】本発明の代替的な実施態様を描写している。
【発明を実施するための形態】
【００３２】
本明細書に記載する発明は、光コヒーレンス断層映像法（ＯＣＴ）システムのような干渉光学システムの基準ビームを空間的にフィルタリングし、それにより、関連する干渉信号の信号対雑音比を改善する方法、装置及びシステムを提供する。空間的にフィルタリングされた基準ビームは、基準ビームの空間的にフィルタリングされた部分に対応するプローブ放射の部分だけで干渉信号を形成するので、基準ビームを空間的にフィルタリングすることは、それにより、干渉信号を効果的に空間的にフィルタリングする。
【００３３】
図１は、本明細書において前に議論した。
【００３４】
好適な実施態様が図２に描写されており、多くの点において（同じ番号で示されるような）図１に描写されるシステムと同じである。しかしながら、部分ミラー２０９、そして、任意的に、基準ミラー２１０(reference  mirror)は、異なるものであり、図４においてより詳細に記載されている。その上、コリメートされた光ビーム２０２を出力する光学源２０１(optical  source)は、自由空間構成(free  space  configuration)であり、図３により詳細に描写されている。
【００３５】
図３の破線のボックス３０３は、その光出力が典型的には非球面レンズ（又は代替的にレンズ系）であるレンズ３０５によってコリメートされる、ＴＯ缶（トランジスタアウトライン缶)(transistor  outline  can)(又は代替的にチップレベルデバイス(chip  level  device)）内のＳＬＤ３０４を描写している。代替的な実施態様において、コリメートされたビームは、アナモルフィック対のプリズム３０６及び３０７によって丸くされて、（図２の２０２に対応する）コリメートされた丸いビーム３０８を出力する。
【００３６】
シート４の図４Ａには、図２の基準経路(reference  path)が再び示されており、（図２の）部分ミラー２０９を含む光学素子が、図４Ｂ、４Ｃ及び（任意的に）４Ｄにより詳細に描写されている。光学素子４１２は、片面に部分ミラー面又はコーティング４１３を有する。好適な実施形態において、部分反射ミラーは、８０％〜９５％の範囲内の反射率を有さなければならない。他の表面４１４は、（実施形態に依存して）反射防止コーティングされてよく、コーティングされなくてよく、或いは特定の反射率のためにコーティングされてよい。
【００３７】
図４Ｃは、本発明の鍵となる重要な特徴を描写している。図４Ｃは、図４Ｂの部分ミラー面４１３の端面図を描写しており、部分ミラーが、典型的には、中央にあり、典型的には（必ずしも必要でないが）丸い、小さい領域１５に閉じ込められることを示している。この所定の部分反射領域４１５の最適な大きさは、レンズ１２４によって集束させられる光ビームのビームウエスト(beam  waist)に依存する。
【００３８】
集束ビームのウエストの直径は、コリメートされたビームの直径及び集束レンズの焦点距離に依存する。典型的な用途において、集束ビームのウエストの直径は、２０〜５０ミクロンである。従って、所定の反射領域４１５の直径は、典型的には、２０〜６０ミクロンである。図４Ｄは、図４Ｂと同じ光学系の図を示しており、（図４Ｃの領域４１５に類似する）所定の部分反射領域４１６を含まない表面の任意の傾斜したプロファイル４１７を示している。傾斜したプロファイルは、経路上にない放射を光学系から光学システムの反射領域４１５に導き、それにより、そのような放射が雑音（ノイズ）を生成するのを防止する。
【００３９】
代替的な実施態様において、レンズ１２４は、ホログラフィックレンズ(holographic  lens)である。
【００４０】
幾つかの実施形態において、基準放射(reference  radiation)及びプローブ放射(probe  radiation)の両方を集束させる単一のレンズ１２４が、２つのレンズによって置き換えられている。図５Ａは、図２の単一のレンズ１２４が基準経路内のレンズ５２４によって並びにプローブ経路内のレンズ５２５によって置き換えられた、図２のシステムのサブセットを描写している。幾つかの実施態様において、１つのレンズは、屈折率分布型レンズである。代替的な実施態様において、両方のレンズは、ＧＲＩＮ（gradient  index)(屈折率分布型）レンズである。
【００４１】
縮小された大きさの部分ミラーを有することの効果は、それがピンホールとして効果的に挙動し、それにより、基準ビーム(reference  beam)を空間的にフィルタリングすることである。好適な実施態様において、空間的にフィルタリングされた基準放射の部分でない放射は、（本明細書中に参照として援用する）米国仮特許出願第６２／０９６，９０９号に記載された技法によって伝搬して光学源に戻されることが実質的に防止される。
【００４２】
図４Ｄは、光学素子４１２(optic)の角度付きバージョンを提供する代替的な実施態様を描写しており、４１７によって示すように、部分ミラー４１６は、平坦な表面であるが、光学部品のその側面の残部は傾斜させられている。角度付き光学素子は、それがノイズを発生させ得ないよう、光学系からの望ましくない放射を方向付ける。
【００４３】
（図２の）単一のレンズ１２４が基準経路レンズ５２４及びプローブ経路レンズ５２５と置換されている、シート５の図５Ｂに描写される幾つかの実施態様において、基準経路レンズ５２５及び部分ミラー５２５は、ＧＲＩＮ（勾配屈折率）レンズの面５２８上の縮小された部分反射要素５３０を備えるＧＲＩＮレンズ５２６と置換されており、縮小された面積(area)の部分反射要素の大きさ及び位置は、所望の基準放射のみが縮小された面積の部分反射要素によって反射させられ、それにより、基準放射を空間的にフィルタリングするような、大きさ及び位置である。この実施態様の利点は、縮小された面積の部分反射要素が集束ビームのウエスト内の場所に物理的に固定され、それにより、コンポーネント（構成部品）の整列（位置合わせ）に余り敏感でないことである。
【００４４】
他の実施態様において、基準ミラー２１０を備える光学素子は、縮小された面積の反射領域(region)を含み、幾つかの実施態様において、基準ミラー光学素子の残部も、図４Ｄに描写されるのと同様に傾斜させられる。幾つかの実施態様において、基準ミラー２１０に対するこの変更は、部分ミラー２０９，４１３と類似の変形の代替である。更なる実施態様において、部分ミラー及び基準ミラーの両方は、予め選択された反射率の領域を有し、部分ミラーの場合、反射率は８０〜９５％であり、基準ミラーの場合、反射率は約１００％である。典型的には、縮小された面積の反射要素（部分ミラー又は完全ミラーのいずれか）は円形であるが、幾つかの実施態様では、楕円のような他の形状が好ましい。
【００４５】
好適な実施態様を多重基準ＯＣＴシステムの偏光バージョンに関して記載したが、本発明を任意の（偏光又は非偏光）自由空間ＯＣＴシステムに適用することができ、或いは正に如何なる自由空間干渉計システムにも適用することができる。フーリエ領域(Fourier  domain)ＯＣＴ、従来的な時間領域(time  domain)ＯＣＴ又は全域(full  field)ＯＣＴの場合には、いずれも部分ミラーを必要とせず、基準ミラーは縮小された面積の領域反射要素を含む。
【００４６】
本発明は、一般的に、自由空間ＯＣＴシステムに適用可能であり、空間的にフィルタリングされた基準ビームを提供し、空間的にフィルタリングされた基準ビームの部分は、空間的にフィルタリングされた基準ビームの部分に対応するプローブ放射の部分のみを備える少なくとも１つの干渉信号を形成し、それにより、その結果得られる干渉信号を効果的に空間的にフィルタリングする。
【００４７】
好適な実施態様において、縮小された面積の反射領域は、有効な（又は反射的な）ピンホールとして作用する。他の実施態様では、基準ビームを空間的にフィルタリングするために、１つ又はそれよりも多くの実際のピンホールが使用される。そのようなピンホールは、２０〜６０ミクロンの直径を有する。幾つかの実施態様において、基準ビームは、集束された基準ビームのウエストの小さい丸い部分のみを透過するピンホール内に集束され、それにより、基準ビームを空間的にフィルタリングする。
【００４８】
基準ビームのみを空間的にフィルタリングすることは、その内容を本明細書中に参照として援用する、「A  polarized  OCT  system  with  improved  SNR」という名称の米国仮特許出願第６２／０９６，９０９号に記載されている望ましくない雑音生成光学フィードバックから光学源を隔離する技法の利用を可能にする。幾つかの実施態様において、基準ビームは、集束ビームのウエストに関連する小さな領域でのみ反射する反射面に基準ビームを集束させることによって空間的にフィルタリングされる。
【００４９】
所定の反射領域を有し、反射領域の大きさが集束ビームのウエストに関連する、実施態様において、４１５は、典型的には８０〜９５％の反射率を有する、部分反射面である。幾つかの実施態様において、部分反射面４１５は、ＧＲＩＮレンズの表面４１３である。代替的に、所定の反射領域を有する表面が、基準ミラー面２１０である。
【００５０】
当業者は、本発明の精神及び範囲内で、多くの変更および変形を行い得る。従って、請求項の範囲内で、本発明は、本明細書に具体的に記載される方法と別の方法で実施されてよいことが理解されるべきである。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図４Ｃ】
2018500575.tif 000008
【図４Ｄ】
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【図５Ａ】
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【図５Ｂ】
2018500575.tif 000011
【国際調査報告】
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