【事件の表示】
　特願２００２−１８１９７３「非接触式表面抵抗測定装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１５年　３月１９日出願公開、特開２００３−　８４０２０〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続きの経緯
  本願は、平成１４年６月２１日（優先権主張；平成１３年６月２１日）の出願であって、平成１５年８月１８日付け（発送日；同月２１日）で拒絶査定がなされ、これに対して、同年９月１８日に拒絶査定に対する審判請求がなされるとともに、同年１０月２０日付けで手続補正がなされたものである。
　
２．平成１５年１０月２０日付けの手続補正についての補正却下の決定
［補正却下の決定の結論］
　平成１５年１０月２０日付けの手続補正を却下する。
［理由］
（１）補正後の本願発明
　本件補正は、補正前の特許請求の範囲
「【請求項１】  導電膜に設定間隔を空けて対向させてその導電膜に渦電流を流す渦電流発生部３Ａと、前記導電膜に流れる渦電流を前記導電膜とは離間した状態で検出する渦電流検出部３Ｂ、前記渦電流発生部あるいは渦電流検出部の温度を検出する温度検出部４、前記渦電流発生部に印加する電圧を一定にした状態で、前記渦電流検出部の検出結果及び前記温度検出部の検出結果に基づき、前記導電膜の表面抵抗を算出する算出手段、から主として構成された非接触式表面抵抗測定装置であって、渦電流発生部３Ａ、渦電流検出部３Ｂ、及び温度検出部４を一体にして導電膜側２に配置し、前記算出手段は、前記温度検出部の検出結果が基準温度から外れていると、前記基準温度から外れたことに起因する渦電流の増減量を求めるとともに、前記渦電流の増減量を前記渦電流検出部の検出結果から減じあるいは加える補正を行い、その補正した渦電流の値に基づいて、前記導電膜の表面抵抗を算出することを特徴とする非接触式表面抵抗測定装置。
【請求項２】　前記渦電流発生部３Ａ、渦電流検出部３Ｂ、及び温度検出部４を一体にして導電膜側２に配置したものを、導電膜の製造プロセスの幅方向に複数配置してなることを特徴とする請求項１記載の非接触式表面抵抗測定装置。
【請求項３】　前記渦電流発生部３Ａ、渦電流検出部３Ｂ、及び温度検出部４を一体にして導電膜側２に配置したものを、導電膜の製造プロセスの幅方向に各１個設け、これらを積載して幅方向に走査することができる駆動手段を設けてなることを特徴とする請求項１記載の非接触式表面抵抗測定装置。
 【請求項４】  導電膜に設定間隔を空けて対向させてその導電膜に渦電流を流す渦電流発生部３Ａと、前記導電膜に流れる渦電流を前記導電膜とは離間した状態で検出する渦電流検出部３Ｂ、前記渦電流発生部あるいは渦電流検出部の温度を検出する温度検出部４、前記渦電流発生部に印加する電圧を一定にした状態で、前記渦電流検出部の検出結果及び前記温度検出部の検出結果に基づき、前記導電膜の表面抵抗を算出する算出手段、から主として構成された非接触式表面抵抗測定装置であって、前記渦電流発生部３Ａを導電膜２側に配置し、渦電流検出部３Ｂと温度検出部４とを一体にして基板側１に配置し、前記算出手段は、前記温度検出部の検出結果が基準温度から外れていると、前記基準温度から外れたことに起因する渦電流の増減量を求めるとともに、前記渦電流の増減量を前記渦電流検出部の検出結果から減じあるいは加える補正を行い、その補正した渦電流の値に基づいて、前記導電膜の表面抵抗を算出することを特徴とする非接触式表面抵抗測定装置。」
　を、
「【請求項１】  導電膜に設定間隔を空けて対向させてその導電膜に渦電流を流す渦電流発生部３Ａと、前記導電膜に流れる渦電流を前記導電膜とは離間した状態で検出する渦電流検出部３Ｂ、前記渦電流発生部あるいは渦電流検出部の温度を検出する温度検出部４、前記渦電流発生部に印加する電圧を一定にした状態で、前記渦電流検出部の検出結果及び前記温度検出部の検出結果に基づき、前記導電膜の表面抵抗を算出する算出手段、から主として構成された非接触式表面抵抗測定装置であって、前記算出手段は、前記温度検出部の検出結果が基準温度から外れていると、前記基準温度から外れたことに起因する渦電流の増減量を求めるとともに、前記渦電流の増減量を前記渦電流検出部の検出結果から減じあるいは加える補正を行い、その補正した渦電流の値に基づいて、前記導電膜の表面抵抗を算出し、さらに渦電流発生部３Ａ、渦電流検出部３Ｂ、及び温度検出部４を一体にして導電膜側２に設けたものを、導電膜の製造プロセスの幅方向に複数配置してなることを特徴とする非接触式表面抵抗測定装置。
【請求項２】　導電膜に設定間隔を空けて対向させてその導電膜に渦電流を流す渦電流発生部３Ａと、前記導電膜に流れる渦電流を前記導電膜とは離間した状態で検出する渦電流検出部３Ｂ、前記渦電流発生部あるいは渦電流検出部の温度を検出する温度検出部４、前記渦電流発生部に印加する電圧を一定にした状態で、前記渦電流検出部の検出結果及び前記温度検出部の検出結果に基づき、前記導電膜の表面抵抗を算出する算出手段、から主として構成された非接触式表面抵抗測定装置であって、前記算出手段は、前記温度検出部の検出結果が基準温度から外れていると、前記基準温度から外れたことに起因する渦電流の増減量を求めるとともに、前記渦電流の増減量を前記渦電流検出部の検出結果から減じあるいは加える補正を行い、その補正した渦電流の値に基づいて、前記導電膜の表面抵抗を算出し、さらに前記渦電流発生部３Ａ、渦電流検出部３Ｂ、及び温度検出部４を一体にして導電膜側２に設けたものを、導電膜の製造プロセスの幅方向に１個設け、これらを積載して幅方向に走査することができる駆動手段を設けてなることを特徴とする非接触式表面抵抗測定装置。
【請求項３】　導電膜に設定間隔を空けて対向させてその導電膜に渦電流を流す渦電流発生部３Ａと、前記導電膜に流れる渦電流を前記導電膜とは離間した状態で検出する渦電流検出部３Ｂ、前記渦電流発生部あるいは渦電流検出部の温度を検出する温度検出部４、前記渦電流発生部に印加する電圧を一定にした状態で、前記渦電流検出部の検出結果及び前記温度検出部の検出結果に基づき、前記導電膜の表面抵抗を算出する算出手段、から主として構成された非接触式表面抵抗測定装置であって、前記算出手段は、前記温度検出部の検出結果が基準温度から外れていると、前記基準温度から外れたことに起因する渦電流の増減量を求めるとともに、前記渦電流の増減量を前記渦電流検出部の検出結果から減じあるいは加える補正を行い、その補正した渦電流の値に基づいて、前記導電膜の表面抵抗を算出し、さらに前記渦電流発生部３Ａを導電膜２側に複数配置し、渦電流検出部３Ｂと温度検出部４とを一体にして基板側１に複数配置してなることを特徴とする非接触式表面抵抗測定装置。」
と補正する補正事項を含むものである。
　上記手続補正中、補正前の請求項１及び２に関しては、補正前の請求項１を削除し、請求項の番号を繰り上げて補正後の請求項１とするとともに独立請求項とし、また、記載内容の一部について記載順序等の変更を行ったものである。
  補正前の請求項３に関しては、補正前の請求項１の削除に伴い、請求項の番号を繰り上げて補正後の請求項２とするとともに独立請求項とし、また、補正前の請求項３に記載した発明を特定するために必要な事項である「渦電流発生部３Ａ、渦電流検出部３Ｂ、及び温度検出部４を一体にして導電膜側２に配置したものを、導電膜の製造プロセスの幅方向に各１個設け」の点について「渦電流発生部３Ａ、渦電流検出部３Ｂ、及び温度検出部４を一体にして導電膜側２に設けたものを、導電膜の製造プロセスの幅方向に１個設け」としたものであるが、出願当初の明細書の記載（例えば、請求項３の記載参照。）からみて「各１個」設けるものは、渦電流発生部、渦電流検出部と解されるから、この点は誤記の訂正と認められる。
　補正前の請求項４に関しては、補正前の請求項１の削除に伴い、請求項の番号を繰り上げて補正後の請求項３とし、補正前の請求項４に記載した発明を特定するために必要な事項である「渦電流発生部３Ａを導電膜２側に配置し、渦電流検出部３Ｂと温度検出部４とを一体にして基板側１に配置」の点について「渦電流発生部３Ａを導電膜２側に複数配置し、渦電流検出部３Ｂと温度検出部４とを一体にして基板側１に複数配置」として、「配置」を「複数配置」とする限定を附加したものである。
 したがって、上記手続補正は、特許法等の一部を改正する法律（平成１５年法律第４７号）附則第２条第７項の規定によりなお従前の例によるものとされた同法［第１条の規定］による改正前の特許法（以下、「平成１５年改正前特許法」という。）第１７条の２第４項第１号の請求項の削除、同第２号の特許請求の範囲の減縮、同３号の誤記の訂正を目的とするものに該当する。
　そこで、本件補正後の前記請求項３に記載された事項によって特定される発明（以下、「本願補正発明」という。）が、特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（平成１５年改正前特許法第１７条の２第５項において読み替えて準用する同法第１２６条第４項の規定に適合するか）について以下に検討する。
　
（２）引用刊行物 
（２−１）刊行物１
　原査定の拒絶の理由に引用された本願の優先権主張の日前に頒布された刊行物である特開２０００−２３０９５０号公報（以下、「刊行物１」という。）には、図面とともに、次の事項が記載されている。
１ａ．「【００１０】［構成］導電膜に設定間隔を空けて対向させてその導電膜に渦電流を流す渦電流発生部と、前記導電膜に流れる渦電流を前記導電膜とは離間した状態で検出する渦電流検出部と、前記渦電流発生部と導電膜の間隔を検出する間隔検出部とを所定数づつ設け、前記渦電流発生部に印加する電圧を一定にした状態で、前記渦電流検出部の検出結果と前記間隔検出部の検出結果とに基づいて、前記導電膜の表面抵抗を算出する算出手段を設け、前記算出手段は、前記間隔検出部の検出結果が前記設定間隔から外れていると、前記設定間隔から外れたことに起因する渦電流の増減量を求めるとともに、前記渦電流の増減量を前記渦電流検出部の検出結果から減じあるいは加える補正を行い、その補正した渦電流の値に基づいて、前記導電膜の表面抵抗を算出するよう構成してある。
【００１１】［作用］導電膜に設定間隔を空けて対向させた渦電流発生部で導電膜に渦電流を流す。例えば、渦電流発生部としてのフェライトコアコイルなどのコイルに高周波電圧を印加し、前記コイルを導電膜に近づけることで、導電膜に高周波誘導結合による渦電流を流す。
【００１２】電圧を一定にしておくと、導電膜に流れる渦電流と導電膜の表面抵抗が逆比例（反比例）することから、渦電流を検出することで、渦電流発生部と導電膜を前記設定間隔空けた状態（基準点）での表面抵抗を求めることができる。
【００１３】この場合、予め渦電流と表面抵抗との関係について校正曲線（検量線）を作成しておくと、表面抵抗を求めやすくすることができる。
【００１４】渦電流は、原理的に導電膜と渦電流発生部との間隔が大きくなるにつれて小さくなる傾向がある。
【００１５】そこで、前記間隔検出部の検出結果が前記設定間隔から外れていると、算出手段が、前記設定間隔から外れたことに起因する渦電流の増減量を求めるとともに、前記渦電流の増減量を渦電流検出部の検出結果から減じあるいは加える補正を行い、その補正した渦電流の値に基づいて、導電膜の表面抵抗を算出する。
【００１６】このようにして導電膜の表面抵抗を算出するから、導電膜と渦電流発生部との間隔が変わっても、導電膜の表面抵抗の測定値に誤差が生じにくくなる。
【００１７】また、導電膜の表面抵抗を導電膜に接触することなく測定するから、導電膜に傷がつくのを防止することができる。
【００１８】そして、例えば渦電流発生部と渦電流検出部とを導電膜の製造プロセスの幅方向に複数配置することで、表面抵抗の前記幅方向における分布や表面抵抗の流れ方向のトレンド（経時的変化）を求めることができる。
【００１９】［効果］従って、導電膜の性能劣化あるいは品位の劣化を防止できながら、パスライン変動による測定誤差を抑制できて、インライン連続測定を精度良く行うことができる表面抵抗測定装置を提供することができた。」
１ｂ．「【００２８】図１に、本発明にかかる非接触式の表面抵抗測定装置の構成を示してある。
【００２９】この表面抵抗測定装置は、基板１上の導電膜２に設定間隔を空けて対向させてその導電膜２に渦電流を流す渦電流発生部３Ａと、導電膜２に流れる渦電流を導電膜２とは離間した状態で検出する渦電流検出部３Ｂ（渦電流発生部３Ａとは一体である）とから成る複数（ｎ個）の渦電流センサー３を設け、渦電流発生部３Ａと導電膜２の間隔を検出する複数（ｎ個）の変位センサー４（間隔検出部に相当）を前記渦電流センサー３と一体に設け、渦電流検出部３Ｂの検出結果と変位センサー４の検出結果とに基づいて、導電膜２の表面抵抗を算出するコンピュータ７（算出手段に相当）を設けて構成してある。
【００３０】前記渦電流発生部３Ａはフェライトコアコイルなどのコイルで構成してあり、このコイルに高周波電圧を印加し、コイルを導電膜２に近づけることで導電膜２に高周波誘導結合による渦電流を流す。
【００３１】前記渦電流センサー３と変位センサー４とは、それらに対するセンサーアンプ６にセンサーケーブル５を介して接続してある。また、測定結果を表示するＣＲＴ８と、測定結果を印字出力するプリンタ９と、測定された表面抵抗値が規定された範囲外になったことや異常をオペレータに報知する警報装置１０とを設けてある。
【００３２】前記センサーアンプ６には、高周波発振器と、渦電流のアナログ信号をデジタル信号に変換する第１Ａ／Ｄ変換器と、前記間隔に応じたアナログ信号をデジタル信号に変換する第２Ａ／Ｄ変換器とを設けてある。
【００３３】前記複数の渦電流センサー３と変位センサー４は、導電膜２の製造プロセスにおいて導電膜２の幅方向に配置して、表面抵抗の幅方向の分布や表面抵抗の流れ方向のトレンド（経時的な変化）をコンピュータ７により求めることができるようにしてある。
【００３４】前記コンピュータ７は、前記第１及び第２Ａ／Ｄ変換器によって得られたデジタル信号に基づいてデータ処理し、変位センサー４の検出結果が前記設定間隔から外れていると、設定間隔から外れたことに起因する渦電流の増減量を求めるとともに、前記渦電流の増減量を渦電流検出部３Ｂの検出結果から減じあるいは加える補正を行い、その補正した渦電流の値に基づいて、導電膜２の表面抵抗を算出するよう構成してある。この算出方法については後で詳しく説明する。」
１ｃ．図面の図１に、表面抵抗測定装置の構成の概略が示されている。
　
（２−２）刊行物２
　原査定の拒絶の理由に引用された本願の優先権主張の日前に頒布された刊行物である特開昭６１−１２０９６１号公報（以下、「刊行物２」という。）には、図面とともに、次の事項が記載されている。
２ａ．「１．導電性フイルムの面積抵抗を検査する導電性フイルムの検査装置において、導電性フイルムを移送する移送手段と、導電性フイルムの移送路上に支持部材により設けられた、少なくとも１個の前記面積抵抗を測定する渦電流検出器と、測定雰囲気温度を検出する温度検出器と、渦電流検出器と温度検出器からの信号に基づいて、測定された面積抵抗を温度補正するデータ処理手段とからなることを特徴とする導電性フイルムの検査装置。
・・・
３．前記支持部材が渦電流検出器を導電性フイルム面に平行で、かつその幅方向に所定距離移動させるトラバース手段である特許請求の範囲第１項・・・記載の導電性フイルムの検査装置。」（１ページ「特許請求の範囲」）
２ｂ．「第１，第２図に実施例の全体斜視図とデータ処理手段のブロック図を示す。第１図は導電性フイルムの品質管理を行うための面積抵抗を測定する検査装置の例である。・・・１は渦電流検出器で、取着部材２により、導電性フイルム３の上に、一定の間隔を離して支持部材である後述のトラバース手段に設けている。なおここで渦電流検出器とは、公知の通りコイルを巻いた強磁性体の測定子に高周波電流を流すと交流磁力線が発生し、測定子と一定間隔で配置された導電体に誘起される渦電流を測定するもので、市販品をそのまま適用する。ところで導電性フイルム３の渦電流は、前述の通り、その面積抵抗にほぼ比例するので、渦電流検出器１からの出力信号から面積抵抗が測定できる。」（２ページ左下欄１９行〜右下欄１５行）
２ｃ．「渦電流検出器１は周囲温度の影響を受けやすく、周囲温度の変化により、渦電流検出器１の出力信号と面積抵抗の関係が変化する。この欠点をなくすため温度検出器１４により渦電流検出器１附近の温度を測定し、該温度検出器１４からの信号に基づいて、第２図のデータ処理部１２において、渦電流検出器１の出力信号に温度補正を行ない、測定した面積抵抗の温度の影響を消去している。第１図は渦電流検出器１を３個、導電性フイルム３の幅方向に設けて、各々の渦電流検出器１を取付けている取着部材２をトラバース装置の架台８の上に設けたトラバースモータ９により、渦電流検出器１を導電性フイルム面に平行で、かつ幅方向に所定距離、移動させて導電性フイルム３の幅方向の面積抵抗の測定を可能にしている。」（３ページ左上欄５行〜１９行）
２ｄ．「第３図は渦電流検出器１の出力信号を処理するデータ処理装置の１例で、３個の渦電流検出器１の出力信号を・・・増幅器１１で増幅した後、データ処理部１２で演算処理し、記録部１３で面積抵抗を記録するようにしている。データ処理部１２は、前記渦電流検出器１附近の温度を測定する温度検出器１４からの信号により温度補正を行なっている。なお、温度補正は各温度での渦電流検出器と面積抵抗の較正曲線をデータ処理装置に記憶させ、測定温度により較正曲線を選択し、この較正曲線により面積抵抗を得ることにより行なっている。」（３ページ右上欄１０行〜左下欄１行）
　
（３）対比・判断
　刊行物１には、上記（２−１）の「１ａ．」乃至「１ｃ．」の記載から、以下の発明（以下、「刊行物１記載の発明」という。）が記載されているものと認められる。
「導電膜に設定間隔を空けて対向させてその導電膜に渦電流を流す渦電流発生部３Ａと、前記導電膜に流れる渦電流を前記導電膜とは離間した状態で検出する渦電流検出部３Ｂと、渦電流発生部と導電膜との間隔を検出する変位センサー４と、前記渦電流発生部に印加する電圧を一定にした状態で、前記渦電流検出部の検出結果と前記変位センサーの検出結果とに基づいて、前記導電膜の表面抵抗を算出する算出手段とを設け、前記算出手段は、前記間隔検出部の検出結果が前記設定間隔から外れていると、前記設定間隔から外れたことに起因する渦電流の増減量を求めるとともに、前記渦電流の増減量を前記渦電流検出部の検出結果から減じあるいは加える補正を行い、その補正した渦電流の値に基づいて、前記導電膜の表面抵抗を算出するよう構成するとともに、渦電流発生部３Ａと渦電流検出部３Ｂと変位センサー４とを一体にして複数配置した非接触式の表面抵抗測定装置。」
　
　本願補正発明（前者）と上記刊行物１記載の発明（後者）とを対比する。
・後者の、「導電膜に設定間隔を空けて対向させてその導電膜に渦電流を流す渦電流発生部３Ａ」、「導電膜に流れる渦電流を前記導電膜とは離間した状態で検出する渦電流検出部３Ｂ」は、前者の、「導電膜に設定間隔を空けて対向させてその導電膜に渦電流を流す渦電流発生部３Ａ」、「導電膜に流れる渦電流を前記導電膜とは離間した状態で検出する渦電流検出部３Ｂ」に相当する。
・後者の「渦電流発生部と導電膜との間隔を検出する変位センサー４」と前者の「渦電流発生部あるいは渦電流検出部の温度を検出する温度検出部４」とは、ともに、「渦電流検出部の出力を補正するための補正出力を発生するための測定器」である点で共通する。
・後者の「渦電流発生部に印加する電圧を一定にした状態で、渦電流検出部の検出結果と変位センサーの検出結果とに基づいて、前記間隔検出部の検出結果が前記設定間隔から外れていると、前記設定間隔から外れたことに起因する渦電流の増減量を求めるとともに、前記渦電流の増減量を前記渦電流検出部の検出結果から減じあるいは加える補正を行い、その補正した渦電流の値に基づいて、導電膜の表面抵抗を算出する算出手段」と、前者の「渦電流発生部に印加する電圧を一定にした状態で、渦電流検出部の検出結果及び温度検出部の検出結果に基づき、前記算出手段は、前記温度検出部の検出結果が基準温度から外れていると、前記基準温度から外れたことに起因する渦電流の増減量を求めるとともに、前記渦電流の増減量を前記渦電流検出部の検出結果から減じあるいは加える補正を行い、その補正した渦電流の値に基づいて、導電膜の表面抵抗を算出する算出手段」とは、上記相当関係及び対応関係を勘案すれば、ともに「渦電流発生部に印加する電圧を一定にした状態で、渦電流検出部の検出結果及び渦電流検出部の出力を補正するための補正出力を発生するための測定器の検出結果に基づき、前記算出手段は、前記測定器の検出結果が基準値から外れていると、前記基準値から外れたことに起因する渦電流の増減量を求めるとともに、前記渦電流の増減量を前記渦電流検出部の検出結果から減じあるいは加える補正を行い、その補正した渦電流の値に基づいて、導電膜の表面抵抗を算出する算出手段」である点で共通する。
・後者の「渦電流発生部３Ａと渦電流検出部３Ｂと変位センサー４とを一体にして複数配置」した点の構成と、前者の「渦電流発生部３Ａを導電膜２側に複数配置し、渦電流検出部３Ｂと温度検出部４とを一体にして基板側１に複数配置」した点の構成とは、上記相当関係及び対応関係を勘案すれば、ともに「渦電流検出部３Ｂと測定器とを一体にして複数配置」した点で共通する。
・後者の「非接触式の表面抵抗測定装置」は、前者の「非接触式表面抵抗測定装置」に相当する。
　したがって、両者は、
「導電膜に設定間隔を空けて対向させてその導電膜に渦電流を流す渦電流発生部３Ａと、前記導電膜に流れる渦電流を前記導電膜とは離間した状態で検出する渦電流検出部３Ｂ、前記渦電流検出部の出力を補正するための補正出力を発生するための測定器、前記渦電流発生部に印加する電圧を一定にした状態で、前記渦電流検出部の検出結果及び前記測定器の検出結果に基づき、前記導電膜の表面抵抗を算出する算出手段、から主として構成された非接触式表面抵抗測定装置であって、前記算出手段は、前記測定器の検出結果が基準値から外れていると、前記基準値から外れたことに起因する渦電流の増減量を求めるとともに、前記渦電流の増減量を前記渦電流検出部の検出結果から減じあるいは加える補正を行い、その補正した渦電流の値に基づいて、前記導電膜の表面抵抗を算出し、さらに、渦電流検出部３Ｂと測定器とを一体にして複数配置してなることを特徴とする非接触式表面抵抗測定装置。」
　の点の構成で一致し、以下の点で相違する。
［相違点１］
  測定器に関して、前者が、渦電流発生部あるいは渦電流検出部の温度を検出する温度検出部であるのに対し、後者は、渦電流発生部と導電膜との間隔を検出する変位センサーである点。
［相違点２］
　前者が、渦電流発生部３Ａを導電膜２側に複数配置し、渦電流検出部３Ｂと温度検出部４とを一体にして基板側１に複数配置しているのに対し、後者は、渦電流発生部３Ａと渦電流検出部３Ｂと変位センサー４とを一体にして複数配置している点。
　
　上記各相違点について検討する。
［相違点１］について
  刊行物２には、「渦電流検出器１は周囲温度の影響を受けやすく、周囲温度の変化により、渦電流検出器１の出力信号と面積抵抗との関係が変化する。この欠点をなくすため温度検出器１４により渦電流検出器１附近の温度を測定し、該温度検出器１４からの信号に基づいて、第２図のデータ処理部１２において、渦電流検出器１の出力信号に温度補正を行ない、測定した面積抵抗の温度の影響を消去している。」（（２−２）の「２ｃ．」の記載参照。）、及び、「データ処理部１２は、前記渦電流検出器１附近の温度を測定する温度検出器１４からの信号により温度補正を行なっている。なお、温度補正は各温度での渦電流検出器と面積抵抗の較正曲線をデータ処理装置に記憶させ、測定温度により較正曲線を選択し、この較正曲線により面積抵抗を得ることにより行なっている。」（（２−２）の「２ｄ．」の記載参照。）等の記載があり、これらの記載からみて、刊行物２には、渦電流検出結果から面積抵抗を算出する際に、渦電流検出器附近の温度を測定し、その測定温度により渦電流検出結果を補正することが示されているものと認められるから、このような刊行物２に示される技術事項を刊行物１記載の発明に適用して、相違点１に係る構成とすることは当業者が格別の推考力を要することとは認められない。
［相違点２］について        
　刊行物１にも、センサーの機能は異なるものの渦電流検出部と変位センサーとを一体にして複数配置することが記載され、刊行物２には、渦電流検出器附近に温度検出器を配置することが示されており（（２−２）の「２ｃ．」の記載参照。）、また、一般に、検出素子と感温素子とを一体にし、感温素子の出力で検出素子の出力を温度補償することも周知である（例えば、特開平７−１１１３５５号公報参照。）ことを勘案すれば、相違点２に係る、「渦電流検出部３Ｂと温度検出部４とを一体にして複数配置」する点は、刊行物１及び２の上記記載事項並びに上記周知事項に基づいて、当業者が格別の推考力を要することなくなし得る程度のことと認められる。
　また、渦電流発生部を導電膜側に、渦電流検出部を基板側に配置して抵抗測定を行うことも従来から知られているところであり（例えば、特開平７−１２０５１２号公報参照。）、相違点２に係る「渦電流発生部３Ａを導電膜２側に配置し、渦電流検出部３Ｂを基板側１に配置」する点の構成にも、格別のものは認められない。
　
　そして、本願補正発明による効果も、刊行物１及び２の記載並びに周知事項から当業者が予測しうる範囲内のものにすぎない。
  したがって、本願補正発明は、刊行物１及び２に記載された発明並びに周知事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　
 （４）むすび
  以上のとおり、本件補正は、平成１５年改正前特許法第１７条の２第５項において準用する同法１２６条第４項の規定に違反するものであり、特許法１５９条第１項において読み替えて準用する同法５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
３．本願発明について
　平成１５年１０月２０日付けの手続補正は、上記のとおり却下されたので、本願の請求項１乃至４に係る発明は、平成１５年６月２３日付け手続補正書により補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１乃至４に記載された事項によって特定されるとおりのものと認められる（「２．（１）」の補正前の特許請求の範囲参照。以下、請求項４に係る発明を「本願発明」という。）。
　
４．引用刊行物
　原査定の拒絶の理由に引用された刊行物１及び２並びにその記載事項は、前記「２．（２）」の（２−１）及び（２−２）に記載したとおりのものである。
　
５．対比・判断
　本願発明は、前記「２．」で検討した本願補正発明の「渦電流発生部３Ａを導電膜２側に複数配置し、渦電流検出部３Ｂと温度検出部４とを一体にして基板側１に複数配置」点の「複数配置」について「配置」としたものである。
　そうすると、本願発明の構成要件を全て含み、更に他の構成要件を付加したものに相当する本願補正発明が、前記「２．（３）」に記載したとおり刊行物１及び２記載の発明並びに周知事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明も、同様の理由により、刊行物１及び２記載の発明並びに周知事項に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
６．むすび
　以上のとおりであるから、本願の請求項４に係る発明（本願発明）は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　そして、請求項４に係る発明が特許を受けることができないものであるから、その余の請求項に係る発明について検討するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。