【事件の表示】
　特願２０１５−　８９２８７「光学分析装置」拒絶査定不服審判事件〔平成２８年１２月　８日出願公開、特開２０１６−２０６０５１、請求項の数（２）〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　原査定を取り消す。
　本願の発明は、特許すべきものとする。
【理　由】
第１　手続きの経緯
　本願は、平成２７年４月２４日の出願であって、平成３０年４月２７日付けで拒絶理由が通知され、同年６月１３日付けで意見書及び手続補正書が提出され、同年８月３０日付けで拒絶査定（以下、「原査定」という。）されたところ、同年１１月２日に拒絶査定不服審判の請求がなされ、同時に手続補正がなされたものである。
第２　原査定の概要
　原査定（平成３０年８月３０日付け拒絶査定）の概要は次のとおりである。
　本願請求項１に係る発明は、以下の引用文献１−３に基づいて、また、本願請求項２に係る発明は、以下の引用文献１−４に基づいて、その発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者（以下、「当業者」という。）が容易に発明できたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
引用文献１：国際公開第２００５／０７３４０７号
引用文献２：特開平１０−１６０６６６号公報（周知技術を示す文献）
引用文献３：特開２００６−２２６９６９号公報（周知技術を示す文献）
引用文献４：米国特許第８７２９５０２号明細書（周知技術を示す文献）
第３　審判請求時の補正について
　審判請求時の補正は、特許法第１７条の２第３項から第６項までの要件に違反しているものとはいえない。
　審判請求時の補正によって請求項１に係る発明の「吸光データと蛍光データとを取得する」「前記試料」が「同一」であるとした補正は、「吸光データと蛍光データとを取得する」「前記試料」を限定する補正であるから、特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。また、「吸光データと蛍光データとを取得する」「前記試料」が「同一」であるとした事項は、本願明細書の発明の詳細な説明の段落【００２４】等に記載されているから、「吸光データと蛍光データとを取得する」「前記試料」が「同一」であるとした事項は、当初明細書等に記載された事項であり、新規事項を追加するものではないといえる。
　そして、「第４　本願発明」から「第６　対比・判断」までに示すように、補正後の請求項１、２に係る発明は、独立特許要件を満たすものである。
第４　本願発明
　本願請求項１及び２に係る発明（以下、それぞれ「本願発明１」及び「本願発明２」という。）は、平成３０年１１月２日付けの手続補正で補正された特許請求の範囲の請求項１及び２に記載された事項により特定される発明であり、以下のとおりの発明である。
「　　【請求項１】
　a)測定対象である試料に光を照射する、半導体発光素子を光源とした光照射部と、
　b)前記光照射部から前記試料に対して照射された光に対し該試料を透過した光を検出可能な位置に配置された光検出部と、
　c)点灯及び消灯を繰り返すように前記光源を駆動する光源駆動部と、
　d)前記光源が点灯及び消灯を繰り返しているときに前記光検出部で連続的に得られる検出信号の中で、前記光源が点灯するように駆動されている期間中の少なくとも一部の期間に得られた検出信号を前記試料による吸収を反映した吸光データとして抽出する動作と、前記光源が点灯するように駆動されている状態から消灯するように駆動された直後に得られた検出信号を前記試料からの蛍光を反映した蛍光データとして抽出する動作と、を繰り返し行うことで、同一の前記試料に対する吸光データと蛍光データとを取得する信号処理部と、
　を備えることを特徴とする光学分析装置。
　　【請求項２】
　請求項１に記載の光学分析装置であって、
　前記光源として発光波長の相違する複数の半導体発光素子を用い、前記光源駆動部は、複数の光源を同時に点滅させるように又は複数の光源の一つを選択的に点滅させるようにそれら複数の光源を駆動することを特徴とする光学分析装置。」
第５　引用文献、引用発明等
１　引用文献１について
（１）引用文献１に記載された事項
　原査定の拒絶の理由に引用された引用文献１には、図面とともに次の事項が記載されている。（下線は、当審にて付した。）
（引１ａ）「[0029] Figure 1 illustrates 
an advanced integrated circuit (AIC) biochip 100 which uses time-varying excitation radiation to distinguish target analytes using lifetime differentiation
Biochip 100 includes excitation light source 102, such as a LED or laser. Light modulator 104 or equivalent receives light from light source 102 and provides a pulsed light output. Alternatively, the light source provided can itself be a modulated light source. 
Reflective optic 115 directs the light beams produced by diffracting optic/focusing lens 108 towards probes 116-119 et al. on microarray 121.
[0030] Assuming fluorescent spectroscopy is used, the resulting fluorescence signals produced if binding events take place at any of the respective probes 116-119 et al. is directed via the GRIN lens array 131 toward integrated electrooptic chip 140. 
A detection wavelength selection filter 132 is preferably included to pass the detection signal of interest and to eliminate background signals as well as the laser (or LED) scattered light. Following wavelength selective filtering, the detection (e.g. fluorescent) signal reaches chip 140.
 [0031]
 Chip 140 includes integrated electrooptics, such as a photosensor microarray 142 based on an array of optoelectronic transducers, such as photodiodes, phototransistors or avalanche diodes.
寿命の違いを使って、目標となる分析物を識別する、時間的に変化する励起光を使用した先進集積回路（ＡＩＣ）バイオチップ１００
バイオチップ１００は、ＬＥＤやレーザのような励起光源１０２を含む
光変調器１０４又はそれと同等のものが光源１０２からの光を受け、パルス光出力を提供する。あるいは、提供された光源自体が変調光源であり得る
反射光学素子１１５は、回折格子／集束レンズ１０８によって生成された光ビームを、マイクロアレイ１２１上のプローブ１１６-１１９などに向ける。
[0030]蛍光分光法が使用されると仮定すると、もし結合現象がそれぞれのプローブ１１６−１１９などにおいて起こるなら、蛍光発光信号が引き起こした結果が集積された電気光学チップ１４０に向かってＧＲＩＮレンズアレイ１３１に対して向けられる。
検出波長選択フィルタ１３２は、関心のある信号を通過させ、レーザ（又はＬＥＤ）散乱光と同様にバックグラウンド信号を除去するために含まれる。波長選択フィルタの後、検出（例えば蛍光）信号はチップ１４０に到達する
[0031]
チップ１４０は、フォトダイオード、フォトトランジスタまたはアバランシェダイオードなどの、光電子トランスジューサーのアレイからなるフォトセンサーマイクロアレイ１４２のような電気光学集積回路を含む。
（引１ｂ）「[0046] 
The AIC system 100 can measure optical signals from a wide variety of spectroscopic processes, including absorption, fluorescence
　　　 
(1) absorption: instantaneous with excitation
 　　　
(2) fluorescence: 10
-10
  sec to 10
-8
  sec
　　　 (3) phosphorescence: 10-6  to 10-3  sec
　　　 (4) scattering: almost instantaneous with excitation
[0047] Two methods of measuring emanated signals that permit determination of lifetimes comprise time-resolved and phase-resolved methods. Time-resolved and phase- resolved methods can improve the signal-to-noise values mainly by differencing the actual signal of interest from the background noise (a DC signal).
[0048] In the time-resolved method, a pulsed excitation signal is used. The width of the excitation is generally much shorter than the emission or other process of interest, so that the excitation width is much shorter than the lifetime or lifetimes (also referred to as decay time(s)) of the samples. If it is desired to measure the lifetime, the time-dependent emanated intensity I(t) can be measured following the excitation pulse. The decay time (τ) can then be calculated from the slope of a plot of log I(t) versus t, where I is the intensity and t is time, or from the time at which the emanated signal intensity (I) decreases to 1/e (about 37%) of the initial emanated intensity value I(t=0).
[0049] To measure the emission (or other emanated signal) intensity free from influence from the excitation pulse 215, the detection process can begin after a delay time (dt) sufficiently after the excitation pulse such that the excitation pulse intensity has decreased close to zero as shown in FIG. 2 A. In this method, the decay curve 210 represents the detection signal to be analyzed. Different compounds generally provide different characteristic decay time(s). Thus, compounds present in samples can be identified on the basis of their decay times, such as the time to reach 1/e of the initial emanated intensity value at the end of the excitation pulse 215.
[0050] Alternatively, different compounds having different decay times can be differentiated by using different delay times (dT) 225 and gate times (ΔT) 230 as shown in FIG. 2B. The gate time (ΔT) corresponds to the time window (portion) of the decay curve 245 in which detection takes place. For example, the emission of a compound having a short decay time could be detected using a short gate time, while a longer decay time sample would require a longer gate to properly register to provide a good signal-to-noise value. To distinguish between two compounds with only one being present, but not knowing which one, two measurements can be performed using two different (short and long) gate times. If the measurements using two gate times show the same results (same signal intensities), it could be concluded that the compound with the short decay time is present, as all the short- decay emission fits in the two gate windows. However, if the two gate times produce different results, such as the signal obtained with the short gate time is lower than the signal with the longer gate time, it could be concluded that the compound present was the one having a long gate time. Similar variations could be performed using a fixed gate time and varying the delay time. A long delay time would cause the measurement to miss short-decay emissions, but register long-decay emissions. A short delay time would register both emissions.
[0051]
 An important source of noise in many measurement situations is DC noise from the background. Improvement in signal-to-noise can be achieved by using multiple periodic excitation pulses, 
ＡＩＣシステム１００は、吸収、蛍光、
を含む多種多様な分光プロセスからの光学信号を測定することができる
（１）吸収：励起を伴う瞬間
（２）蛍光：１０
−１０
〜１０
−８
秒
（３）燐光：１０−６〜１０−３秒
（４）散乱：励起に伴うほとんど瞬間
［0047］寿命の決定を可能にする放射された信号を測定する2つの方法は、時間分解法と位相分解法である。時間分解法と位相分解法は、バックグラウンドノイズ（ＤＣ信号から重要な実際の信号を分離することによって、主にＳＮ比を改善することができる。
[0048]時間分解法では、パルス励起信号が使用される。励起の幅は、一般に放出又は他の重要なプロセスよりもはるかに短いので、励起幅は寿命又はサンプルの寿命（減衰時間とも呼ばれる）よりもはるかに短い。寿命を測定することが望ましい場合は、時間依存放射強度Ｉ（ｔ）が励起パルスに続いて測定される。減衰時間（Ｔ）は、ｌｏｇ（ｔ）対ｔのプロットの傾きから（ここでＩは強度、ｔは時間である。）、または、放射された信号強度（Ｉ）が初期発散強度値Ｉ（ｔ＝０）の１／ｅ（おおよそ３７％）に減少した時間から、計算できる。
［0049］励起パルスからの影響を受けずに放射（他の放射された信号）の強度を図るために、図２Ａに見られるように、励起パルスの強度が０近くまで減少するような励起パルスになるまで十分な遅延時間の後、検出プロセスは開始される。この方法において、減衰曲線は分析されるべき検出信号を表す。異なる化合物は一般に異なる特徴的な崩壊時間(ｓ)を提供する。したがって、試料中に存在する化合物は、励起パルス２１５の終わりの初期発散強度値の１／ｅに達する時間であるそれらの崩壊時間に基づいて同定される。
［0050］あるいは、異なる崩壊時間を持つ異なる化合物が、図２Ｂで示されるような異なる遅延時間(ｄＴ)２２５及びゲート時間(ΔＴ)２３０を使用することによって区別することができる。ゲート時間(ΔＴ)は、検出が行われる減衰曲線２４５の時間窓(部分)に対応する。例えば、短い崩壊時間を持つ化合物の放射は、短いゲート時間を使うことによって検出される、一方、より長い崩壊時間の試料は良好なＳＮ比を提供し適切に登録するために、より長いゲートを必要とする。一つのみが存在するが、どちらが存在しているかわからないような、二つの化合物を区別するには、二つの異なる（短い及び長い）ゲート時間を使うことで二つの測定が実施できる。二つのゲート時間を使った測定が同じ結果（同じ信号強度）を示した場合、全ての短崩壊放射が二つのゲート窓に収まるので、短崩壊時間を持つ化合物が存在すると結論付けることができる。しかしながら、短いゲート時間で得られた信号が、より長いゲート時間で得られた信号より低いなどの二つのゲート時間が異なる結果を示した場合は、化合物の存在は、長いゲート時間のものであると結論付けることができる。同じようなバリエーションは固定されたゲート時間と変化する遅延時間を使用することで実施できる。長い遅延時間は、短崩壊放出を見逃すことになるが、長崩壊放出は記録される。短い遅延時間は、どちらも記録される。
［0050］
多くの測定環境からの重要な雑音のソースは、バックグラウンドからのＤＣ雑音である。ＳＮの改善は、複数の周期的な励起パルスを使うことによって
達成される
（引1ｃ）「[0070] Figure 6 shows 
an AIC Biochip System 600 with pulsed excitation and gated detection using analog gated integration
The laser driver module 615 triggers laser 620 to produce laser pulses which are used to excite the target sample/bioprobe 625 on a microarray sampling platform or other substrate. Optics/filter 630 is used to isolate the fluorescence emission from other interferences such as laser scattering and background noise. The isolated emission is detected by the CMOS sensing element 635, which converts the luminescence signal into an electrical signal. The electric signal is amplified by amplifier 640 and fed into a gated integrator 645. The gated integrator 645 opens
the detection gate only when it receives a signal from a gate generator 647, which is triggered by a delay generator 648. The delay generator 648 is run by the same excitation pulses
but provides a time delay (δt) between the excitation pulses and the opening of the detection gate.
Fluorescence emission from different probes having different decay times τ can also be discriminated by using different δt values optimized to the target probe decay times.
アナログゲート積分を使ったパルス励起とゲート検出を用いたＡＩＣバイオチップ６００
レーザドライバーモジュール６１５は、マイクロアレイサンプルプラットフォーム又は他の基板上の目的試料／バイオプローブ６２５を励起するためのレーザーパルスを生成するためにレーザ６２０を誘引する
光学素子／フィルタ６３０は、レーザ放射やバックグラウンドノイズのような他の干渉から蛍光発光を分離するために使われる。分離された放射は、発光信号を電気信号に変換するＣＭＯＳ検知素子６３５によって検出される
電気信号は、増幅器６４０によって増幅され、ゲート積分器６４５に送られ
ゲート積分器６４５は、遅延発生器６４８によりトリガされるゲート積分器からの信号を受信した時のみ
検出ゲート
を開く
遅延発生器６４８は、
励起パルスと検出ゲートの開放の間の時間遅延（δｔ）を与え
異なる崩壊時間Ｔを持つ異なるプローブからの蛍光放射は、目標プローブの崩壊時間に最適化された異なるδｔを使うことによって区別することもできる
（引１ｄ）「
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
（２）引用文献１に記載された発明
ア　上記（引１ａ）より、引用文献１には、
「寿命の違いを使って、目標となる分析物を識別する、時間的に変化する励起光を使用した先進集積回路（ＡＩＣ）バイオチップ１００において、
　バイオチップ１００は、ＬＥＤやレーザのような励起光源１０２を含み、
　光変調器１０４又はそれと同等のものが光源１０２からの光を受け、パルス光出力を提供するか、提供された光源自体が変調光源であり得、
　反射光学素子１１５は、回折格子／集束レンズ１０８によって生成された光ビームを、マイクロアレイ１２１上のプローブ１１６-１１９などに向け、
　検出信号はチップ１４０に到達し、
　チップ１４０は、光電子トランスジューサーのアレイからなるフォトセンサーマイクロアレイ１４２、フォトダイオード、フォトトランジスタまたはアバランシェダイオードなどのような、電気光学集積回路を含む
　バイオチップ１００」
が記載されている。
イ　上記（引１ｄ）の図１より、測定時には「マイクロアレイ１２１上のプローブ１１６-１１９など」には試料が配置されている点及び「チップ１４０」に到達した「検出信号」は、「マイクロアレイ１２１上のプローブ１１６-１１９など」を透過した光である点が見て取れる。
ウ　上記（引１ｂ）より、引用文献１には、
「ＡＩＣシステム１００は、吸収、蛍光、を含む多種多様な分光プロセスからの光学信号を測定することができ、
放射される放射線の寿命は、
（１）吸収：励起を伴う瞬間
（２）蛍光：１０−１０〜１０−８秒」
である点及び
「多くの測定環境からの重要な雑音のソースは、バックグラウンドからのＤＣ雑音であ」り、「ＳＮの改善は、複数の周期的な励起パルスを使うこと」である点が、記載されている。
エ　上記（引１ｃ）に記載された「アナログゲート積分を使ったパルス励起とゲート検出を用いたＡＩＣバイオチップ６００」は、上記（引１ａ）に記載された「バイオチップ１００」を「アナログゲート積分を使ったパルス励起とゲート検出を用いた」場合のものとして記載されたものであるから、「ＡＩＣバイオチップ６００」の基本的な構成は、「バイオチップ１００」のものと同じであることは明らかである。そして、「バイオチップ１００」の「励起光源１０２」、「チップ１４０」及び試料が配置されている「マイクロアレイ１２１上のプローブ１１６-１１９など」は、それぞれ「ＡＩＣバイオチップ６００」の「レーザ６２０」、「ＣＭＯＳ検知素子６３５」及び「マイクロアレイサンプルプラットフォーム又は他の基板上の目的試料／バイオプローブ６２５」に相当するから、「ＡＩＣバイオチップ６００」の「ＣＭＯＳ検知素子６３５によって検出される」「分離された放射」は、「レーザ６２０」により、「マイクロアレイサンプルプラットフォーム又は他の基板上の目的試料／バイオプローブ６２５」に照射され、「マイクロアレイサンプルプラットフォーム又は他の基板上の目的試料／バイオプローブ６２５」を透過した光であると認められる。
　また、「ＡＩＣバイオチップ６００」が測定する「分離された放射」は、「励起パルスと検出ゲートの開放の間の時間遅延（δｔ）」を変更することにより、「バイオチップ１００」と同様に、蛍光以外に吸収も測定できることは明らかである。
　そして、「レーザドライバーモジュール６１５」が「レーザ６２０」に生成する「レーザーパルス」が、「ＳＮの改善のため、複数の周期的な励起パルスを使うこと」も明らかである。
オ　上記ア〜エ及び（引１ｃ）より、引用文献１には、以下の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されていると認められる。
「アナログゲート積分を使ったパルス励起とゲート検出を用いたＡＩＣバイオチップ６００であって、
　レーザドライバーモジュール６１５は、マイクロアレイサンプルプラットフォーム又は他の基板上の目的試料／バイオプローブ６２５を励起するためのレーザーパルスを生成するためにレーザ６２０を誘引し、
　光学素子／フィルタ６３０は、レーザ放射やバックグラウンドノイズのような他の干渉から蛍光発光を分離するために使われ、
　分離された放射は、発光信号を電気信号に変換するＣＭＯＳ検知素子６３５によって検出され、
　電気信号は、増幅器６４０によって増幅され、ゲート積分器６４５に送られ、
　ゲート積分器６４５は、遅延発生器６４８によりトリガされるゲート積分器からの信号を受信した時のみ検出ゲートを開き、
　遅延発生器６４８は、励起パルスと検出ゲートの開放の間の時間遅延（δｔ）を与え、
　異なる崩壊時間Ｔを持つ異なるプローブからの蛍光放射は、目標プローブの崩壊時間に最適化された異なるδｔを使うことによって区別することができ、
　ＣＭＯＳ検知素子６３５によって検出される分離された放射は、レーザ６２０により、マイクロアレイサンプルプラットフォーム又は他の基板上の目的試料／バイオプローブ６２５に照射され、マイクロアレイサンプルプラットフォーム又は他の基板上の目的試料／バイオプローブ６２５を透過した光であり、
　励起パルスと検出ゲートの開放の間の時間遅延（δｔ）を変更することにより、蛍光以外に吸収も測定し、
　レーザドライバーモジュール６１５が生成するレーザーパルスは、複数の周期的な励起パルスである
　ＡＩＣバイオチップ６００。」
２　引用文献２について
　原査定の拒絶の理由に引用された引用文献２には、図面とともに次の事項が記載されている。
（引２ａ）「【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従って、上記従来構成では、外乱光を遮断するために、測定に手間がかかるものとなって、測定作業効率を低下させる不都合があった。又、このような不都合を回避するために、光源部からの光をいわゆるチョッパにより断続して一定周期のパルス光とした状態で、照射部から試料に照射し、受光部にて受光した光からそのパルス光と同期して変化する成分を抽出することにより、外乱光の影響を抑制する技術も考えられているが、回転駆動機構等を備えたチョッパが必要となって分光分析装置の装置構成が大型化してしまう不都合がある。本発明は、上記実情に鑑みてなされたものであって、その目的は、構成の複雑化を可及的に抑制しながら、測定作業効率の向上を図る点にある。」
（引２ｂ）「【発明の実施の形態】以下、本発明を、測定対象の試料Ｓである青果物に含まれる成分を求める場合に適用した実施の形態を図面に基づいて説明する。図１に示すように、分光分析装置１は、光源部ＬＳと、光源部ＬＳからの測定用光線を試料Ｓに照射する照射部１３と、試料Ｓからの透過光を受光する受光部１４と、照射部１３と受光部１４との間で、それらの何れに対しても近い位置に位置する試料載置部１５と、受光部１４が受光した透過光を検出する受光素子６と、受光素子６にて検出した光の強度に基づいて試料Ｓに含まれる成分を求める分光分析手段としての分析部ＡＮとを備えている。
【００１０】照射部１３は、保持部１３ａと、試料Ｓに密着して外部からの光を遮光する椀形状のゴム製パッド１３ｂにより構成してある。同様に、受光部１４も、保持部１４ａと椀形状のゴム製パッド１４ｂにより構成してある。試料載置部１５には、上面が下に凸に湾曲した試料載置面を有する試料載置台１５ａが取り付けられ、測定対象の試料Ｓを試料載置部１５へ載置し易くしている。
【００１１】光源部ＬＳには、光源である半導体レーザ素子２と半導体レーザ素子２の出射光を集光する集光レンズ３とが取付台４に固定されて備えられている他、分光分析装置１の下部筐体１ａ内に収納されている状態で、半導体レーザ素子２に駆動電流を供給するレーザ駆動回路５が備えられている。レーザ駆動回路５は、図３（イ）に示すように、半導体レーザ素子２への注入電流を設定周期の繰り返し信号である正弦波信号で変調するものであり、レーザ駆動手段として機能する。レーザ駆動回路５には、その変調のために正弦波発振回路５ａが備えられ、正弦波発振回路５ａの発振周波数ｆ０にて注入電流を変調する。この注入電流の変調に応じて、半導体レーザ素子２の出射光強度は、図３（ロ）に示すように、正弦波状に変化する。
【００１２】分析部ＡＮは、分光分析装置１の下部筐体１ａ内に備えられ、図２に示すように、主に、バンドパスフィルタ回路７，掛け算回路８，ローパスフィルタ回路９及びマイクロコンピュータを利用して構成される演算装置１０からなる。バンドパスフィルタ回路７は、受光素子６の検出信号から、上記半導体レーザ素子２の変調周波数ｆ０付近の周波数の信号を選択的に通過させ、掛け算回路９は、そのバンドパスフィルタ回路７の出力と、レーザ駆動回路５の正弦波発振回路５ａの周波数ｆ０の正弦波信号とを掛け算し、ローパスフィルタ回路９は、掛け算回路９に出力のうち低周波数成分の信号のみを通過させる。つまり、バンドパスフィルタ回路７からローパスフィルタ回路９に至る回路は、いわゆるロックインアンプを構成しており、受光素子６の検出信号から、半導体レーザ素子２に対する変調信号である設定周期の繰り返し信号と同期して変化する信号成分を抽出するのである。従って、受光部１４に外部光が進入して、受光素子６に入射しての、その外部光すなわち外乱光の影響を低減した状態で測定できる。
【００１３】演算装置１０は、ローパスフィルタ回路９からの入力信号から、試料Ｓの透過率を演算し、試料Ｓに含まれる成分を求める。試料Ｓにグルコースが含まれているか否かを判断したい場合を例にとって具体的に説明すると、グルコースは、７５０ｎｍ，８３０ｎｍ，９１５ｎｍ，１０３０ｎｍ，１０８０ｎｍ，１２０５ｎｍ，１２６０ｎｍ及び１３８０ｎｍ等の波長で特徴的な吸収特定を有するので、半導体レーザ素子２として例えば１２６０ｎｍの発光波長を有するＩｎＧａＡｓＰ系のものを採用して、それの測定用光線の試料Ｓでの吸光度から、試料Ｓにグルコースが含まれているか否かを判定できる。このグルコース以外にも、種々の成分の吸収特性に応じた発光波長を選択して使用することで、種々の成分を求めることができる。
【００１４】実際の測定作業では、作業者が、試料載置台１５ａ上の試料Ｓを測定済みのものから未測定のものに取り替える作業及び図示しない測定開始指示用のスイッチを入り操作する作業を順次繰り返し、連続的に複数の試料Ｓの測定を行う。測定作業時においては、試料載置部１５は周囲が開放されており、測定済みの試料Ｓと未測定の試料Ｓとの交換を容易に行える。又、上述のように、外部光が入射してもその影響を排除して測定できるので、試料載置部１５が、測定対象の試料Ｓを試料載置台１５ａ上に載置したときの状態を維持したままで、すなわち、外部光が照射される状態のままで測定を行える。」
３　引用文献３について
　原査定の拒絶の理由に引用された引用文献３には、図面とともに以下の事項が記載されている。
（引３ａ）「【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
　しかし、特許文献１の分析装置では、試料９６が発する反応光を高感度で検出できない。
【００１０】
　この問題について、一例として、試薬９６が蛍光分子を含む場合を説明する。レーザビーム１００が試料９６および試薬９３に照射されると、照射された部分において、試料９６に含まれる蛍光分子が蛍光を発する。特許文献１の分析装置は、この蛍光を、光ピックアップ内の対物レンズ１０２を通じて検出する。ここで、照射されたレーザビーム１００の一部は、試料９６に到達する前に、反射膜９８によって反射される。特許文献１の分析装置は、この反射光も、対物レンズ１０２を通じて検出する。反射光を蛍光と同時に検出するため、検出される蛍光に、励起光の一部（レーザビームの反射光）が混入する。この反射光は、検出光におけるバックグラウンド光（背景光）となり、検出光をサンプリングした反応光量信号におけるノイズ成分となる。このノイズ成分は、反応光量信号のＳ／Ｎ比（シグナル／ノイズ比率）を低下させる。
【００１１】
　このように、特許文献１の分析装置では、試料９６が発する反応光を、高感度で検出できない。
【００１２】
　本発明は、上記問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、照射した光ビームの反射光などのバックグラウンド光の混入を低減することによって、分析対象物が発する発光を高感度で検出できる分析装置を提供することにある。」
（引３ｂ）「【００８０】
　図３に示す例では、時刻ｔ０において、パルス化された光ビームを照射する。そして、光ビームを照射してから、時間ｔｄ（０＜ｔｄ＜τ）が経過した後において、光学ピックアップ６２を通じて、蛍光を検出する。この時刻ｔｄが、蛍光をサンプリングするサンプルタイミングである。このようにすれば、光ビームの照射を停止した後の、光ビームの照射を休止している休止期間であって、かつ、蛍光の寿命よりも前の期間において、蛍光を検出できる。これにより、蛍光に、光ビームの反射光および迷光が混入することを避けることができる。そのため、蛍光のみを高感度で検出できる。なお、たとえτ以後でも蛍光強度が十分に得られるならば、ｔｄ＞τとしてもよいが、通常はなるべく大きな蛍光強度を得るために、０＜ｔｄ＜τする方が好ましい。
【００８１】
　分析装置６０では、光ビーム照射の休止期間において、光ビームの反射光および迷光が、完全に消失していることが望ましい。しかし、現実には、蛍光を検出するとき、反射光および迷光が完全に消失している状態にすることは、困難である。そこで、蛍光検出時における感度を低下させない程度に、反射光および迷光が減衰していればよい。すなわち、蛍光の減衰後の期間を、光ビーム照射の休止期間としてよい。なお、ｔｄ後の蛍光強度の減衰分だけ感度が低下することになるが、この感度低下が迷光や反射光による感度低下よりも十分に小さければ、ｔｄは自由に設定することができる。
【００８２】
　以上に、図３を参照して、パルス化された光ビームを一回照射した場合における、蛍光の検出手順を説明した。しかし、分析装置６０では、蛍光を検出するために、パルス化された光ビームを複数回照射してもよい。これにより、蛍光検出時における感度を、さらに向上できる。そこで、この例について、以下に、図３を参照して説明する。図４は、パルス化された光ビームを複数回、連続して照射し、蛍光を複数回検出する際の、光ビームの照射および蛍光の検出のタイミングを示す図である。
【００８３】
　図４に示す例では、パルス化された光ビームを、周期Ｔの間隔で、時刻ｔ１、ｔ２、ｔ３、ｔ４、・・・において、複数回照射する。このときの光ビームの照射幅ｔｐは、上述したように、１ｎｓ〜１０ｎｓである。
【００８４】
　時刻ｔ１において光ビームを照射した後、蛍光分子が発する蛍光は、次第に減衰する。しかし、最初の光ビームを照射してからＴ秒後（繰り返して照射する光ビームの周期Ｔに相当）の時刻ｔ２に、再び、同一パルス幅の光ビームを照射する。このため、蛍光分子は、同一強度の光ビームによって再び励起され、同一強度の蛍光を発する。したがって、蛍光の強度が完全に減衰して、零になってしまうことはない。
【００８５】
　本実施形態では、使用する蛍光分子の寿命τに応じて、周期Ｔの値を適宜設定する。たとえば、Ｔ＝τ／２とすると、ピレンを使用する場合、周期Ｔを６５ｎｓに設定する。ＡＮＳやＤＮＳ-ＣＩを使用する場合、周期Ｔを、ピレンを用いる場合と比べてより短い、５〜６ｎｓに設定する。
【００８６】
　蛍光の寿命τに比べて、パルス化された光ビームの照射期間ｔｐを、できるだけ短くすることが好ましい。光ビームの照射期間ｔｐを短くするほど、蛍光に混入される光ビームの反射光および迷光の割合が、より小さくなる。したがって、蛍光検出時における感度をさらに向上できる。
【００８７】
　そこで、分析装置６０では、照射時間ｔｐをできるだけ短くし、かつ、蛍光寿命τができるだけ長い蛍光分子を使用することが好ましい。たとえば、ｔｐ＝１ｎｓ、Ｔ＝６５ｎｓ、かつ、τ＝１３０ｎｓの条件では、光ビームを、周期Ｔの１／６５の期間、照射することになる。これにより、光ビームの照射を停止した後の、残りの大部分の期間において、蛍光のみを検出できる。」
４　引用文献４について
　原査定の拒絶の理由で引用された引用文献４には、図面とともに以下の事項が記載されている。
（引４ａ）「FIG. 3 shows the emission spectra of the two LEDS used as excitation sources. As can been seen, the green LED has an emission peak of 525 nm and extends about 100 nm, and the blue/UV has an emission peak of 400 nm and extends about 50 nm. There is no significant overlap in emission spectra.」（第９欄５４-５８行、当審訳：「図３は、励起光源として使用される二つのＬＥＤの放射スペクトルを表す。図示したとおり、緑色ＬＥＤは、５２５ｎｍをピークに１００ｎｍの幅の放射であり、青色／紫外は４００ｎｍをピークに５０ｎｍの幅の放射である。放射スペクトルには、優位な重複は存在しない。」）
（引４ｂ）「The modulation frequencies for the LEDs were chosen to be 2 and 3 KHz, well below either cutoff. The input voltage ranges on the LED are picked so as to not saturate the detector when both LEDS are on and give clean signals for both 2 kHz and 3 kHz signal.」（第１０欄２６-３０行、当審訳：「ＬＥＤのための変調周波数は、2ないし３ＫＨｚであるように選択された、以下のいずれかを遮断する。ＬＥＤに入力電圧範囲がピッキングされる両方のＬＥＤがオンの時には、検出器を飽和させない、２ｋＨｚおよび３ｋＨｚ信号のクリーンな信号を得ることができる。」）
第６　対比・判断
１　本願発明１について
（１）対比
　本願発明１と引用発明とを対比する。
ア　引用発明の「ＡＩＣバイオチップ６００」、「レーザ６２０」及び「マイクロアレイサンプルプラットフォーム又は他の基板上の目的試料／バイオプローブ６２５」は、それぞれ、本願発明１の「光学分析装置」、「光照射部」及び「測定対象である試料」に相当する。そして、引用発明の「マイクロアレイサンプルプラットフォーム又は他の基板上の目的試料／バイオプローブ６２５を励起するためのレーザーパルスを生成するレーザ６２０」は、本願発明の「測定対象である試料に光を照射する」、「光照射部」に相当する。
イ　引用発明の「ＣＭＯＳ検知素子６３５」は、本願発明の「光検出部」に相当する。そして、引用発明の「ＣＭＯＳ検知素子６３５によって検出される分離された放射は、レーザ６２０により、マイクロアレイサンプルプラットフォーム又は他の基板上の目的試料／バイオプローブ６２５に照射され、マイクロアレイサンプルプラットフォーム又は他の基板上の目的試料／バイオプローブ６２５を透過した光であ」るから、引用発明の「ＣＭＯＳ検知素子６３５」は、「マイクロアレイサンプルプラットフォーム又は他の基板上の目的試料／バイオプローブ６２５に照射され、マイクロアレイサンプルプラットフォーム又は他の基板上の目的試料／バイオプローブ６２５を透過した光」を検出可能な位置に配置されているといえる。
　すると、引用発明の「ＣＭＯＳ検知素子６３５」と本願発明１の「光検出部」とは、「前記光照射部から前記試料に対して照射された光に対し該試料を透過した光を検出可能な位置に配置された」点で一致する。
ウ　引用発明の「レーザドライバーモジュール６１５」は、本願発明１の「光源駆動部」に相当する。そして、引用発明の「レーザドライバーモジュール６１５が生成するレーザーパルスは、複数の周期的な励起パルスである」から、引用発明の「レーザドライバーモジュール６１５」は、点灯及び消灯を繰り返すように「レーザ６２０」を駆動するから、引用発明の「レーザドライバーモジュール６１５」と、本願発明１の「光源駆動部」とは、「点灯及び消灯を繰り返すように前記光源を駆動する」点で一致する。
エ　引用発明の「ＣＭＯＳ検知素子６３５によって検出され」た「電気信号」は、「増幅器６４０によって増幅され、ゲート積分器６４５に送られ、ゲート積分器６４５は、遅延発生器６４８によりトリガされるゲート積分器からの信号を受信した時のみ検出ゲートを開き、遅延発生器６４８は、励起パルスと検出ゲートの開放の間の時間遅延（δｔ）を与え」、「目標プローブの崩壊時間に最適化された異なるδｔを使うことによって」、「異なる崩壊時間Ｔを持つ異なるプローブからの蛍光放射」を「区別」しているから、引用発明の「増幅器６４０」、「ゲート積分器６４５」及び「遅延発生器６４８」は、本願発明の「信号処理部」に相当する。
オ　以上、ア〜エより、本願発明１と引用発明とは、次の一致点及び相違点を有する。
（一致点）「a)測定対象である試料に光を照射する、光照射部と、
　b)前記光照射部から前記試料に対して照射された光に対し該試料を透過した光を検出可能な位置に配置された光検出部と、
　c)点灯及び消灯を繰り返すように前記光源を駆動する光源駆動部と、
　d)信号処理部と、
　を備えることを特徴とする光学分析装置。」
（相違点１）光照射部が、本願発明１は「半導体発光素子を光源とした」ものであるのに対し、引用発明はそのような特定がされていない点。
（相違点２）信号処理部が、本願発明１は、「前記光源が点灯及び消灯を繰り返しているときに前記光検出部で連続的に得られる検出信号の中で、前記光源が点灯するように駆動されている期間中の少なくとも一部の期間に得られた検出信号を前記試料による吸収を反映した吸光データとして抽出する動作と、前記光源が点灯するように駆動されている状態から消灯するように駆動された直後に得られた検出信号を前記試料からの蛍光を反映した蛍光データとして抽出する動作と、を繰り返し行うことで、同一の前記試料に対する吸光データと蛍光データとを取得する」ものであるのに対し、引用発明は、「目標プローブの崩壊時間に最適化された異なるδｔを使うことによって」、「異なる崩壊時間Ｔを持つ異なるプローブからの蛍光放射」を「区別」しているものの、「前記光源が点灯及び消灯を繰り返しているときに前記光検出部で連続的に得られる検出信号の中で」、「同一の前記試料に対する吸光データと蛍光データとを取得する」点について特定されていない点。
（２）判断
　事案に鑑み、相違点２について検討する。
　引用発明は、「励起パルスと検出ゲートの開放の間の時間遅延（δｔ）を変更することにより、蛍光以外に吸収も測定」できるものであるものの、引用文献１には、「複数の周期的な励起パルス」により検出された「電気信号」から、「吸収」及び「蛍光」のデータを同時に取得できる旨の記載はない。また、引用文献２〜４においても、「前記光源が点灯及び消灯を繰り返しているときに前記光検出部で連続的に得られる検出信号の中で」、「同一の前記試料に対する吸光データと蛍光データとを取得する」点について記載されていない。そして、蛍光の強度は透過光の強度に比べると低いことが自明であって、蛍光と透過光から測定される吸光とを、同じ検出器で測定することが困難であることに鑑みると、引用発明が、蛍光と吸光とが測定できるものであるからといって、それらを、連続的に得られる検出信号から取得することは、当業者が容易に想到できたことであるとはいえない。
　したがって、相違点１について判断するまでもなく、本願発明１は、引用発明及び引用文献２ないし４に記載された技術事項に基づいて、当業者が容易に想到できたものであるとはいえない。
２　本願発明２について
　本願発明２も、本願発明１の「前記光源が点灯及び消灯を繰り返しているときに前記光検出部で連続的に得られる検出信号の中で」、「同一の前記試料に対する吸光データと蛍光データとを取得する」と同一の構成を備えるものであるから、本願発明１と同じ理由により、当業者であっても、引用発明、引用文献２ないし４に記載された技術的事項に基づいて容易に発明できたものとはいえない。
第７　原査定について
　本願発明１及び２は、「前記光源が点灯及び消灯を繰り返しているときに前記光検出部で連続的に得られる検出信号の中で」、「同一の前記試料に対する吸光データと蛍光データとを取得する」という事項を有するものとなっており、当業者であっても、原査定において引用された引用文献１〜４に基づいて、容易に発明できたものとはいえない。
　したがって、原査定の理由を維持することはできない。
第８　むすび
　以上のとおり、原査定の理由によっては、本願を拒絶することはできない。
　また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり審決する。