【手続補正書】
【提出日】平成21年12月14日(2009.12.14)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
それぞれ２つの側壁（２．１、２．２、４．１、４．２）とそれぞれ側壁（２．１、２．２、４．１、４．２）を結合する２つの横壁（２．３、２．４、４．３、４．４）とを備えて可搬形コンテナとして形成される少なくとも２つの建物モジュール（２、４）から成るモジュラー試験装置（１）であって、供試体を受容するための第１試験モジュールとして形成される長さＬ２、幅Ｂ２の少なくとも１つの建物モジュール（２）が設けられており、供給技術を受容するための第１供給モジュールとして形成される長さＬ４、幅Ｂ４の少なくとも１つの建物モジュール（４）が設けられており、第１供給モジュール（４）が第１試験モジュール（２）の上方に配置されており、長さＬ４が長さＬ２よりも短いものにおいて、試験装置（１）を補充する目的で、試験技術を受容するための第１試験技術モジュールとして形成される少なくとも１つの第３建物モジュール（３）が設けられており、第１試験技術モジュール（３）が２つの側壁（３．１、３．２）と側壁（３．１、３．２）を結合する２つの横壁（３．３、３．４）と長さＬ３と幅Ｂ３とを有し、第１試験技術モジュール（３）が側壁（３．１）を第１試験モジュール（２）の横で側壁（２．２）に接して設置可能であり、幅Ｂ４が幅Ｂ２またはＢ３よりも小さいことを特徴とするモジュラー試験装置。
【請求項２】
それぞれ２つの側壁（２．１、２．２、４．１、４．２）とそれぞれ側壁（２．１、２．２、４．１、４．２）を結合する２つの横壁（２．３、２．４、４．３、４．４）とを備えて可搬形コンテナとして形成される少なくとも２つの建物モジュール（２、４）から成るモジュラー試験装置（１）であって、供試体を受容するための第１試験モジュールとして形成される長さＬ２、幅Ｂ２の少なくとも１つの建物モジュール（２）が設けられており、供給技術を受容するための第１供給モジュールとして形成される長さＬ４、幅Ｂ４の少なくとも１つの建物モジュール（４）が設けられており、第１供給モジュール（４）が第１試験モジュール（２）の上方に配置されており、長さＬ４が長さＬ２よりも短いものにおいて、幅Ｂ２が３ｍよりも大きく、幅Ｂ４が幅Ｂ２よりも小さいことを特徴とするモジュラー試験装置。
【請求項３】
幅Ｂ４が幅Ｂ２またはＢ３よりも少なくとも２０％小さく、つまりＢ４／Ｂ２の比またはＢ４／Ｂ３の比が最高で２／２．５であることを特徴とする、請求項１または２記載のモジュラー試験装置。
【請求項４】
Ｂ４／Ｂ２の比またはＢ４／Ｂ３の比が２／３、２／４または２／５に等しいことを特徴とする、請求項１〜３のうちのいずれか一項に記載のモジュラー試験装置。
【請求項５】
試験モジュール（２）および／または試験技術モジュール（３）の総幅Ｂｐがそれらに載置されるすべての供給モジュール（４）の総幅Ｂｖに等しいことを特徴とする、請求項１〜４のうちのいずれか一項に記載のモジュラー試験装置。
【請求項６】
２つ、３つ、４つまたは５つの供給モジュール（４、５、６）が第１試験技術モジュール（３）上と第１試験モジュール（２）上とに設置可能であることを特徴とする、請求項１〜５のうちのいずれか一項に記載のモジュラー試験装置。
【請求項７】
長さＬ４が長さＬ２または長さＬ３よりも少なくとも２０％短いことを特徴とする、請求項１〜６のうちのいずれか一項に記載のモジュラー試験装置。
【請求項８】
長さＬ３が長さＬ２に等しく、幅Ｂ３が幅Ｂ２に等しいことを特徴とする、請求項１〜７のうちのいずれか一項に記載のモジュラー試験装置。
【請求項９】
各建物モジュール（２、３、４）が１つの天壁（２．１０、３．１０、４．１０）と１つの床壁（２．９、３．９、４．９）とを有し、位置および／または種類を予め規定された少なくとも１つの接合部（１５．１、１５．２）が側壁（２．１、２．２、３．１、３．２、４．１、４．２）、天壁（２．１０、３．１０、４．１０）および／または床壁（２．９、３．９、４．９）に設けられており、この接合部を介して１つの建物モジュール（２）から隣接建物モジュール（３、４）へと運転物質および補助物質管路を案内できることを特徴とする、請求項１〜８のうちのいずれか一項に記載のモジュラー試験装置。
【請求項１０】
１つの横壁（２．３、３．３、４．３）が前部横壁として形成され、１つの横壁（２．４、３．４、４．４）が後部横壁として形成されており、前部横壁が、モジュールを装入および／または巡回するための作業扉（７．２、７．３）および／またはドア（７．４、７．５、７．６）を有することを特徴とする、請求項１〜１１のうちのいずれか一項に記載のモジュラー試験装置。
【請求項１１】
制御室モジュール（８）の第１側壁（８．１）が後部横壁（２．４、３．４）に接するように、制御室モジュール（８）として形成される１つの建物モジュールが第１試験モジュール（２）および／または第１試験技術モジュール（３）の後部横壁（２．４、３．４）に接して設置可能であることを特徴とする、請求項１〜１０のうちのいずれか一項に記載のモジュラー試験装置。
【請求項１２】
供給モジュール（４）用建物モジュールは幅Ｂ４が２．４３８ｍ、長さＬ４が６．０９６ｍ、高さＨ４が２．５９０ｍであることを特徴とする、請求項１〜１１のうちのいずれか一項に記載のモジュラー試験装置。
【請求項１３】
試験モジュール（２）および／または試験技術モジュール（３）用建物モジュールは幅Ｂ２＝Ｂ３が３．０４８ｍ〜４．２６７ｍ、長さＬ２＝Ｌ３が７．０ｍ〜９．０ｍ、高さＨ２＝Ｈ３が３．０ｍ〜４．０ｍであることを特徴とする、請求項１〜１２のうちのいずれか一項に記載のモジュラー試験装置。
【請求項１４】
試験技術モジュール（３）および試験モジュール（２）用建物モジュールが全長にわたって自立式に形成されていることを特徴とする、請求項１〜１３のうちのいずれか一項に記載のモジュラー試験装置。
【請求項１５】
供給モジュール（４）と試験モジュール（２）、および／または供給モジュール（４）と試験技術モジュール（３）が、前部横壁（４．３、２．３、３．３）を水平距離Ａだけずらして配置されており、および／または後部横壁（４．４、２．４、３．４）を同一平面にまたはずらして設置されており、供給モジュール（４）の前および／または後で試験モジュール（２）もしくは試験技術モジュール上に通路（１４）が形成されていることを特徴とする、請求項１〜１４のうちのいずれか一項に記載のモジュラー試験装置。
【請求項１６】
第２試験モジュール（２’）として形成される他の１つの建物モジュールが設けられており、第２試験モジュール（２’）が第１試験モジュール（２）の横でその側壁（２．１）に接して設置可能であり、第１試験モジュール（２）と第２試験モジュール（２’）が共通の大型試験モジュールとして形成可能であり、各試験モジュール（２、２’）の側壁（２．１、２．２’）が少なくとも部分的に撤去可能であり、および／または挿通穴Ｔを有することを特徴とする、請求項１〜１５のうちのいずれか一項に記載のモジュラー試験装置。
【請求項１７】
１つの建物モジュールが試験モジュール（２）または試験技術モジュール（３）に対する補充モジュール（３２）として形成されており、試験モジュール（２）または試験技術モジュール（３）の幅Ｂ２またはＢ３が幅Ｂ３２と合わせて１つの供給モジュール（４）の幅Ｂ４の２倍、３倍または４倍となるように、補充モジュール（３２）が幅Ｂ３２を有することを特徴とする、請求項１〜１６のうちのいずれか一項に記載のモジュラー試験装置。
【請求項１８】
請求項１〜１６のうちのいずれか一項に記載の少なくとも１つのモジュラー試験装置を有する試験装置フィールドにおいて、複数のモジュラー試験装置（１、１’）が側壁（２．１、２．１’、３．２、３．２’）を１列に並べて配置され、試験装置列（２３）を形成することを特徴とする試験装置フィールド。
【請求項１９】
少なくとも２つの試験装置列（２３、２３’）が設けられており、試験装置列（２３、２３’）が試験モジュール（２、２’’）の前部横壁（２．３、２．３’）を２ｍ超の距離Ｒとして配置されており、試験モジュール（２、２’’）を搬入搬出するための入替えスペース（９）が試験モジュール（２、２’’）の間に保証されていることを特徴とする、請求項１８記載の試験装置フィールド。
【請求項２０】
入射光用に少なくとも１つの開口部（１０．２）を有する少なくとも１つのホール壁（１０．１）と、請求項１〜１９のうちのいずれか一項に記載の少なくとも１つのモジュラー試験装置（１）、試験装置列（２３）および／または試験装置フィールド（２４）とを有する試験装置ホール（１０）において、少なくとも制御室モジュール（８）に外光が入射するように、制御室モジュール（８）が少なくとも窓要素（８．８）を有する第２側壁（８．２）および／または横壁（８．３、８．４）を開口部（１０．２）に接して配置されていることを特徴とする試験装置ホール。
【請求項２１】
入射光用に少なくとも１つの開口部（１０．２）を有する少なくとも１つのホール壁（１０．１）と、請求項１〜１９のうちのいずれか一項に記載の少なくとも１つのモジュラー試験装置（１）、１つの試験装置列（２３）および／または１つの試験装置フィールド（２４）とを有する試験装置ホール（１０）において、試験モジュール（２）および／または試験技術モジュール（３）が、目視および／または入室のための窓要素（２．５、３．５）および／またはドア要素（２．６、３．６）を有する後部横壁（２．４、３．４）を、窓（１０．２）として形成される開口部またはホール壁（１０．１）に接して配置されており、横壁（２．４、３．４）がホール壁（１０．１）から距離Ｋを有し、ホール壁（１０．１）と横壁（２．４、３．４）との間に制御室区域（８）が生じるようになっていることを特徴とする試験装置ホール。
【請求項２２】
請求項１〜１９のうちのいずれか一項に記載の少なくとも１つのモジュラー試験装置（１）、１つの試験装置列（２３）および／または１つの試験装置フィールド（２４）を有する試験装置ホール（１０）において、ホール中央（１０．８）の制御室モジュール（８、８’’）および／または制御室区域（８’、８’’’）は試験モジュール（２）もしくは試験技術モジュール（３）の前部側壁（２．３、３．３）がホール壁（１０．２、１０．５）の領域に配置されているように配置されており、ホール壁（１０．２、１０．５）は試験モジュールもしくは試験技術モジュールを搬入搬出するための出入口要素（１０．９）を有することを特徴とする試験装置ホール。
【請求項２３】
供給網としておよび技術的建物装備の一部として形成される１つの供給および／または排出バス（１１）が設けられており、このバスを介してさまざまな建物モジュール（２、３、４、５、６）に補助物質および／または電圧を同時に供給可能であることを特徴とする、請求項１８〜２２のいずれか一項に記載の試験装置フィールドまたは試験装置ホール。
【請求項２４】
供給モジュール（４、５、６）が第１試験モジュール（２）の上方で各長辺をこの試験モジュールに対して９０°ずらして配置されていることを特徴とする、請求項１８〜２３のいずれか一項に記載のモジュラー試験装置、試験装置フィールドまたは試験装置ホール。
【請求項２５】
幅Ｂ４が幅Ｂ２またはＢ３よりも少なくとも２０％大きく、つまりＢ４／Ｂ２の比またはＢ４／Ｂ３の比が少なくとも３／２．５であることを特徴とする、請求項２４記載のモジュラー試験装置、試験装置フィールドまたは試験装置ホール。
【請求項２６】
試験モジュール（２）および／または試験技術モジュール（３）の総幅Ｂｐがそれらに載置される供給モジュール（４）の幅Ｂ４に等しいことを特徴とする、請求項２４または２５記載のモジュラー試験装置、試験装置フィールドまたは試験装置ホール。
【請求項２７】
試験装置（２）および／または試験技術モジュール（３）の長さＬ２、Ｌ３がそれらに前後で載置されるすべての供給モジュール（４）の総長さＬｖに等しく、試験モジュール（２）および／または試験技術モジュール（３）に載置されるすべての供給モジュール（４）の総長さＬｖが試験モジュール（２）および／または試験技術モジュール（３）の長さＬ２、Ｌ３よりも少なくとも２０％短いことを特徴とする、請求項２４、２５または２６に記載のモジュラー試験装置、試験装置フィールドまたは試験装置ホール。