【事件の表示】
　平成　５年特許願第３４５５４７号「スペクトル分布計測装置」拒絶査定不服審判事件〔平成　７年　７月１８日出願公開、特開平　７−１８１０８０〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
［１］手続の経緯
　本願は、平成５年１２月２２日の出願であって、平成１４年４月１７日発送の拒絶理由通知書で通知した拒絶の理由に対して提出された平成１４年６月１４日付けの手続補正書は平成１４年８月６日発送の補正の却下の決定によって却下され、平成１５年１月１４日に拒絶査定（発送日１月２１日）がされたところ、これに対して平成１５年２月２０日に不服の審判の請求がなされ、平成１５年３月２４日付けで手続補正書が提出されたものである。
　
　
［２］理由１
　
１．本願発明
　本願の請求項１〜５に係る発明は平成１５年３月２４日付け手続補正書によって補正された明細書及び図面の記載から見て、その特許請求の範囲の請求項１〜５に記載されたとおりのものであるところ、その請求項２に係る発明（以下、『本願発明１』という）は請求項１を引用するものであって、請求項１の干渉用レーザー光発生手段を被計測パルスレーザー光を発生させる手段とは独立した「標準レーザー光発生装置」と限定したものであり、請求項１を読み込んだ次のとおりであると認める。
　
「被計測パルスレーザー光のスペクトル分布を計測できるスペクトル分布計測装置において、スペクトルが既知の干渉用レーザー光を発生させる独立した標準レーザー光発生装置と、前記独立した標準レーザー光発生装置からの干渉用レーザー光と被計測パルスレーザー光を干渉させてレーザー光ビート成分を得る干渉手段と、前記干渉手段からのレーザー光ビート成分を取込み、そのレーザー光ビート成分をフーリエ変換して被計測パルスレーザー光のスペクトルを測定するスペクトル分析手段とを備えたことを特徴とするスペクトル分布計測装置」
　
２．引用例
（２−１）
　これに対し、原査定の拒絶の理由で引用された特開平５−２５９５６１号公報（以下、『引用例１』という）には、インジェクションロック同調制御装置が記載されており、図面とともに次の事項が記載されている。
ａ．「第１実施例において、マスターレーザ１の出力側には、減衰器２を介してマスターレーザモニター光取り出し用ビームスプリッター２１が設けられ、マスターレーザ光の一部は、このモニター光取り出し用ビームスプリッター２１によって反射され、インジェクションミラー４を介してスレーブレーザ放電部５内に注入される。また、マスターレーザ光の他の一部は、マスターレーザモニター光として、光取り出し用ビームスプリッター２１から同調光学系に取り出される。一方、スレーブレーザの出力ミラー６の出力側には、スレーブレーザモニター光取り出し用ビームスプリッター２２が設けられ、スレーブレーザ放電部５からの出力パルス光の一部はスレーブレーザ出力光となってレーザ発振器外部に取り出され、他の一部はスレーブレーザ出力パルスのモニター光として、このモニター光取り出し用ビームスプリッター２２から同調制御光学系に取出される。」（発明の詳細な説明【００１５】段）
ｂ．「同調制御光学系においては、前記マスターレーザモニター光取り出し用ビームスプリッター２１とスレーブレーザモニター光取り出し用ビームスプリッター２２の後段には、両ビームスプリッター２１，２２からのモニター光の重ね合わせ用ビームスプリッター２３が設けられている。この重ね合わせ用ビームスプリッター２３の後段には波形計測器２４が接続され、この波形計測器２４の出力側に、出力信号をデジタル信号化するためのデジタイザー２５、周波数分析用のＦＦＴ（高速フーリエ変換）アナライザー２６、得られたビート周波数が一定となるように共振器長を変化させるための信号を演算し出力する計算機２７、・・・が順次設けられている。」（発明の詳細な説明【００１６】段）
ｃ．「このような構成を有する第１実施例において、マスターレーザ１からは図２（ａ）に示すような単一周波数のレーザ光が発振される。このマスターレーザ光の一部は、マスターレーザモニター光取り出し用ビームスプリッター２１で反射され、インジェクションミラー４を介してスレーブレーザ共振器の放電部５に注入される。このマスターレーザ光の周波数とスレーブレーザ共振器の共振周波数が近い場合、スレーブレーザはマスターレーザ周波数に最も近い共振周波数で単一周波数発振する。すなわち、図２（ｂ）に示すように、マスターレーザ光に対して周波数差Δｆを有するスレーブレーザ光が発振される。」（発明の詳細な説明【００１７】段）
ｄ．「このスレーブレーザ光は、出力ミラー６からスレーブレーザ共振器外部に取り出され、その光の一部が、取り出し用ビームスプリッター２２からスレーブレーザモニター光として取り出され、更に、重ね合わせ用ビームスプリッター２３に送られる。一方、マスターレーザ光の一部は、マスターレーザモニター光取り出し用ビームスプリッター２１からマスターレーザモニター光として取り出され、更に、重ね合わせ用ビームスプリッター２３に送られる。この重ね合わせ用ビームスプリッター２３で重ね合わされたマスターレーザとスレーブレーザのモニター光の波形を波形計測器２４で計測すると、図２（ｃ）に示すような検出波形が得られる。」（発明の詳細な説明【００１８】段）
ｅ．「このようにして得られた検出波形信号を、デジタイザー２５でデジタル信号化し、更にＦＦＴアナライザー２６で周波数分析すると、マスターレーザ光とスレーブレーザ光の周波数差分のビート周波数成分が、図２（ｄ）のように検出される。そこで、このようにして得られたビート周波数を一定に保つような信号を、計算機２７からピエゾコントローラー２８に送り、ピエゾ素子２９を用いてスレーブレーザ共振器長を変化させる。このようにすると、スレーブレーザ光の発振周波数を、常にマスターレーザの発振周波数を基準とした一定の発振周波数に保つことができる。・・・」（発明の詳細な説明【００１９】段参照）
　
（２−２）
　引用例１に記載されている発明は、インジェクションロック同調制御装置であるが、その制御のために、上述のように干渉用レーザー光と被計測レーザー光を干渉させ、該干渉したレーザー光ビート成分をフーリエ変換して分析しているものであり、特に引用例１の明細書【００１８】【００１９】段及び図面【図２】（ｃ）（ｄ）を参酌すれば、引用例１に記載のインジェクションロック同調制御装置においても、レーザー光ビート成分から周波数のスペクトルをフーリエ変換によって算出しているものと認められる。よって引用例１に記載のインジェクションロック同調制御装置は、その制御装置の中でレーザー光のスペクトルの分布を計測しているものであるので、制御装置の少なくても一部がスペクトル分布計測装置を形成しているものである。
　従って、引用例１には、
「スレーブレーザ光と干渉させる単一周波数のマスターレーザ光を発生するマスターレーザと、
マスターレーザ光とスレーブレーザ光とを重ね合わせてビート周波数成分を得る重ね合わせ用ビームスプリッターと、
該重ね合わせ用ビームスプリッターからのビート周波数成分を取込み、該ビート周波数成分をフーリエ変換して周波数分析するＦＦＴアナライザーとを有するスペクトル分布計測装置」
が記載されているものと認める。
　
３．対比
　本願発明１と引用例１に記載された発明とを対比すると、本願発明１に記載された発明における「スペクトルが既知の干渉用レーザー光」「独立した標準レーザー光発生装置」「レーザー光ビート成分を得る干渉手段」「レーザー光ビート成分」「スペクトル分析手段」はそれぞれ引用例１の、「単一周波数のマスターレーザ光」「マスターレーザ」「重ね合わせ用ビームスプリッター」「ビート周波数成分」「周波数分析用のＦＦＴ（高速フーリエ変換）アナライザ」に相当するものである。また引用例１における「スレーブレーザ光」はパルスレーザー光では無いが本願発明１における「被計測パルスレーザー光」に相当するものと認められる。
　
　従って両者は、
「スペクトルが既知の干渉用レーザー光を発生させる独立した標準レーザー光発生装置と、前記独立した標準レーザー光発生装置からの干渉用レーザー光と被計測レーザー光を干渉させてレーザー光ビート成分を得る干渉手段と、前記干渉手段からのレーザー光ビート成分を取込み、そのレーザー光ビート成分をフーリエ変換するスペクトル分析手段とを備えたことを特徴とするスペクトル分布計測装置。」
である点で一致するが、以下の点において相違している。
　
（相違点１）本願発明１では計測されるレーザー光が「被計測パルスレーザー光」であるのに対し、引用例１に記載されている発明では、計測されるレーザー光が「パルスレーザー光」ではない点。
（相違点２）本願発明１ではスペクトル分析手段が「被計測パルスレーザー光のスペクトルを測定する」のに対し、引用例１に記載されている発明では、スペクトルを測定する旨が明記されていない点。
　
４．判断
　上記の（相違点１）、（相違点２）について検討する。
（４−１）相違点１について
　たとえば特開昭６３−２１８８３０号公報（以下、『周知例１』という）にも記載されているように、パルスレーザー光の周波数を計測するために該被計測パルスレーザー光と干渉用レーザー光とを干渉させレーザー光ビート成分を利用するように為すことは周知な事項と認められる（周知例１の特許請求の範囲参照）。従って、引用例１に記載されている発明においても、上記周知例１のごとく、パルスレーザー光を被計測レーザー光とすることは当業者が容易にできることである。
（４−２）相違点２について
　上記の（２−２）でも検討しているように、引用例１に記載されている発明では、干渉させたレーザー光ビート成分をフーリエ変換して周波数のスペクトルを算出しており、干渉用レーザー光のスペクトルは既知なものである。よって、引用例１に記載されている発明のスペクトル分析手段において、被計測パルスレーザーのスペクトルを算出するように為すことは当業者が容易にできることである。
　
　そして、本願発明の作用効果も、引用例１の記載の発明から当業者が予測できる範囲のものである。
　
５．むすび
　以上のとおり、本願発明は、引用例１に記載された発明及び周知技術に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるので、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　
　
［３］理由２
　
１．
　本願の請求項１〜５に係る発明は平成１５年３月２４日付け手続補正書によって補正された明細書及び図面の記載から見て、その特許請求の範囲の請求項１〜５に記載されたとおりのものであるところ、その請求項３、４に係る発明は請求項１を引用するものであって、請求項１の干渉用レーザー光発生手段が、「被計測パルスレーザー光の一部を取込み当該パルスレーザー光の波長を所定波長だけシフトさせる波長シフト手段」（請求項３）、及び「被計測パルスレーザー光の分配された一方を取込み当該パルスレーザー光の波長を所定波長だけシフトさせる第１の波長シフト手段と、分配された被計測パルスレーザー光の他方を取込み当該パルスレーザー光の波長を所定波長だけシフトさせる第２の波長シフト手段」（請求項４）、からなると限定したものである。
　
２．判断
　請求項１に記載の発明において、干渉用レーザー光発生手段は「スペクトルが既知の干渉用レーザーを発生させる」とされているものであるのに対し、被計測パルスレーザー光のスペクトルは既知ではなく、最終的にスペクトル分析手段において測定されることによって得られる。そのためにスペクトル分析手段の前段において、スペクトルが未知の被計測パルスレーザー光とスペクトルが既知の干渉用レーザー光が干渉させられているものである。
　従って、請求項３、４において、スペクトルが未知の被計測パルスレーザー光の一部を波長シフト手段によって所定波長だけシフトさせることにより干渉用レーザー光を得るとしても、上記の波長シフト手段は、スペクトルが未知のまま単に被計測パルスレーザー光の波長をずらすだけである。よって、波長をシフトされた被計測パルスレーザー光のスペクトルは依然として未知のままであると判断され、これは、請求項３、４が引用する請求項１の干渉用レーザー光発生手段が「スペクトルが既知の干渉用レーザーを発生させる」という記載と明らかに矛盾するものである。すなわち、未知のスペクトルを持つ被計測パルスレーザー光同士を干渉させても、［２］理由１における本願発明１のように、被計測パルスレーザー光のスペクトルが測定できるとする根拠が不明である。
　
３．むすび
　以上のとおり、本件出願の特許請求の範囲の請求項３、４の記載は、特許法第３６条第５項２号、第６項に規定する要件を満たしていない。
　
　
［４］結言
　よって、上記［２］、［３］の理由により、結論のとおり審決する。