【手続補正書】
【提出日】平成21年12月2日(2009.12.2)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線走査システムと、ワークステーションと、前記Ｘ線走査システムを前記ワークステーションに接続するように構成された接続手段とを有するネットワーク検査システムであって、前記Ｘ線走査システムは、走査容積の周りに延在し、放射されるＸ線が前記走査容積を通過できるように配向された複数の点状放射源を構成するＸ線放射源と、同様に前記走査容積の周りに延在し、前記点状放射源からの前記走査容積を通過したＸ線を検出し、前記検出されたＸ線に基づく出力信号を生成するように構成されたＸ線検出器アレーと、前記走査容積を通過して物品が運ばれるように構成されたコンベヤとを備えることを特徴とするネットワーク検査システム。
【請求項２】
前記Ｘ線放射源は電子ビームを複数の各電子源位置から発生させるように構成された電子源を備え、前記電子ビームはそれぞれＸ線をアノード上の各Ｘ線放射源位置から発生させるように構成されていることを特徴とする請求項１に記載のネットワーク検査システム。
【請求項３】
前記電子源位置は前記走査容積の周りに配置されていることを特徴とする請求項２に記載のネットワーク検査システム。
【請求項４】
前記走査容積の複数の部分におけるＸ線の減衰レベルを示す減衰データを前記検出器出力信号から生成するように構成された処理手段を更に有する請求項１に記載のネットワーク検査システム。
【請求項５】
前記走査装置はコンベヤに沿って移動するような各物品の複数の領域を走査するように構成され、前記減衰データは各前記領域の部分の減衰レベルを示すことを特徴とする請求項４に記載のネットワーク検査システム。
【請求項６】
前記減衰データは走査された物品の画像を生成するのに適した画像データ形式であることを特徴とする請求項４に記載のネットワーク検査システム。
【請求項７】
前記画像データは３次元断層撮影画像を生成するのに適していることを特徴とする請求項６に記載のネットワーク検査システム。
【請求項８】
前記画像データから得られる画像を表示するように構成された表示手段を更に有することを特徴とする請求項６記載のネットワーク検査システム。
【請求項９】
前記減衰データを解析し、前記減衰データのパラメータに基づく出力信号を生成するように構成された解析手段を有することを特徴とする請求項４に記載のネットワーク検査システム。
【請求項１０】
前記解析手段は各前記物品を複数の区分の１つに割り当てるように構成されていることを特徴とする請求項９に記載のネットワーク検査システム。
【請求項１１】
少なくとも部分的には前記解析手段からの前記出力信号に基づき前記物品を仕分けするように構成された仕分け手段を更に有する請求項１０に記載のネットワーク検査システム。
【請求項１２】
前記解析手段は使用者入力部から生成される使用者入力信号を受信し、少なくとも部分的には前記使用者入力信号に基づき前記物品を割り当てるように構成されていることを特徴とする請求項９に記載のネットワーク検査システム。
【請求項１３】
前記走査システムは１セットの走査データを生成するように構成され、前記ネットワーク検査システムは複数のワークステーションを備え、前記接続手段は前記走査システムを各前記ワークステーションに接続するように構成され、前記ネットワーク検査システムはどの前記ワークステーションが前記走査システムからの前記走査データを受信するかを選択するように構成された切換手段をさらに有することを特徴とする請求項１に記載のネットワーク検査システム。
【請求項１４】
前記ネットワーク検査システムは走査データのセットを生成するようにそれぞれ構成された複数の走査システムを備え、前記接続手段は各前記走査システムを前記ワークステーションに接続するように構成され、前記ネットワーク検査システムはどの前記走査データのセットを前記ワークステーションに送るかを選択するように構成された切換手段をさらに有する請求項１に記載のネットワーク検査システム。
【請求項１５】
前記ネットワーク検査システムは走査データのセットを生成するようにそれぞれ構成された複数の走査システムと、複数のワークステーションとを備え、前記接続手段は各前記走査システムを各前記ワークステーションに接続するように構成され、前記ネットワーク検査システムはどの前記ワークステーションが各前記走査システムからの各データのセットを受信するかを選択するように構成された切換手段をさらに有する請求項１に記載のネットワーク検査システム。
【請求項１６】
各走査システムは複数の物品それぞれに対する画像データのセットと、前記物品が割り当てられた区分に対応する割り当てデータのセットを生成するように構成され、前記切換手段は各物品に対する前記画像データを同じ物品に対する前記割り当てデータと同じ前記ワークステーションに送られるように構成されていることを特徴とする請求項１５に記載のネットワーク検査システム。
【請求項１７】
前記Ｘ線検出器アレーは前記Ｘ線放射源に関して、軸方向にずれていることを特徴とする請求項１から１６のいずれか１項に記載のネットワーク検査システム。
【請求項１８】
物品を仕分けする仕分けシステムであって、各物品の複数の走査領域を走査することによって走査装置出力を生成するように構成された断層撮影走査装置と、前記走査装置出力を解析して各物品を複数の区分の１つに少なくとも部分的には前記走査装置出力に基づき割り当てるように構成された解析手段と、物品を少なくとも部分的には前記物品が割り当てられた区分に基づき仕分けするように構成された仕分け手段とを有する仕分けシステム。
【請求項１９】
前記仕分け手段は前記物品を搬入箇所で受け入れ、各前記区分の１つにそれぞれ対応する複数の搬出箇所の１つに各前記物品を転送するように構成されていることを特徴とする請求項１８に記載の仕分けシステム。
【請求項２０】
前記物品を前記搬入箇所と、更なる走査装置に運ぶように構成された搬入コンベヤを更に有し、各前記走査装置は物品を前記走査装置に通して運ぶように構成された走査コンベヤと、物品を前記搬入コンベヤから各前記走査コンベヤ上に仕分けするように構成された仕分け手段を有することを特徴とする請求項１９に記載の仕分けシステム。
【請求項２１】
前記搬入コンベヤは前記走査コンベヤよりも速く移動するように構成されていることを特徴とする請求項２０に記載の仕分けシステム。
【請求項２２】
前記物品を前記走査装置の搬出箇所と、更なる走査装置から運ぶように構成された搬出コンベヤを更に備え、各前記走査装置は物品を前記走査装置に通して運ぶように構成された走査コンベヤと、物品を各前記走査コンベヤから前記搬入コンベヤ上に仕分けするように構成された仕分け手段を有することを特徴とする請求項１９に記載の仕分けシステム。
【請求項２３】
前記搬出コンベヤは前記走査コンベヤよりも速く移動するように構成されていることを特徴とする請求項２２に記載の仕分けシステム。
【請求項２４】
画像を前記走査装置出力から生成するように構成された画像化手段と、使用者が使用者入力信号を発生させることができるように構成された使用者入力部を更に有し、前記解析手段は前記物品を少なくとも部分的には前記使用者入力信号に基づき割り当てるように構成されていることを特徴とする請求項１８に記載の仕分けシステム。
【請求項２５】
前記解析手段は前記走査装置出力に基づく各物品の仮割り当てと、前記走査装置出力と前記使用者入力とに基づく各物品の最終割り当てとを生成するように構成されていることを特徴とする請求項２４に記載の仕分けシステム。
【請求項２６】
各物品を前記走査装置から前記仕分け手段に運び、前記使用者が前記使用者入力信号を発生させることができる間、各物品の前記走査と仕分けの間に遅延時間を設けるように構成された搬送手段を更に有する請求項２５に記載の仕分けシステム。
【請求項２７】
各前記区分は、これに対応するコンベヤを有し、前記仕分けシステムは更に前記コンベヤの１つの上で物品を走査するように構成された予備走査装置と、前記予備走査装置が前記物品を適切な前記区分に割り当てるべきと判断した場合、物品を前記コンベヤの１つから他の前記コンベヤへ転送するように構成された更なる仕分け手段とを有することを特徴とする請求項１８に記載の仕分けシステム。
【請求項２８】
前記解析手段は複数の走査装置を備え、前記仕分けシステムは更に、物品を複数の搬入コンベヤから受け入れるように構成された環状コンベヤと、物品を前記環状コンベヤから取り込み、前記物品を各前記走査装置の１つに転送するように構成された複数の仕分け装置とを備えることを特徴とする請求項１８に記載の仕分けシステム。
【請求項２９】
対象物を走査して前記対象物の断層撮影Ｘ線画像を構成する走査データを生成するように構成された走査装置と、前記走査データを解析して前記画像データの少なくとも１つのパラメータを抽出して前記対象物を少なくとも１つの前記パラメータに基づいて複数の区分の１つに割り当てるように構成された処理手段とを有するＸ線走査システム。
【請求項３０】
対象物を搬入部で受け入れ、前記対象物が割り当てられた前記区分に基づき複数の搬出部の１つに前記対象物を転送するように構成された仕分け手段を更に有する請求項２９に記載のＸ線走査システム。
【請求項３１】
前記走査データは散乱データを含むように構成されていることを特徴とする請求項２９に記載のＸ線走査システム。
【請求項３２】
前記走査データは投影画像を形成するように構成されていることを特徴とする請求項２９に記載のＸ線走査システム。
【請求項３３】
前記処理手段は前記画像の領域を識別し、前記領域の１つを解析することによって前記パラメータを識別するように構成されていることを特徴とする請求項２９に記載のＸ線走査システム。
【請求項３４】
前記処理手段は、前記画像の画素が領域に属するかどうかを、前記画素に対応する値を相当する前記領域に対応する値と比較することにより判定し、所定の関係が前記２つの値の間に成り立つ場合、前記領域の前記画素を含めるように構成されていることを特徴とする請求項３３に記載のＸ線走査システム。
【請求項３５】
デジタル画像の領域を識別する手段であって、
ａ）前記領域の初期領域を定めるステップと、
ｂ）前記初期領域の外部の画素を識別するステップと、
ｃ）前記画素の対応する値を判定するステップと、
ｄ）前記初期領域の対応する値を判定するステップと、
ｅ）前記値を比較し、所定の関係が前記２つの値の間に成り立つ場合、前記領域の前記画素を含めるステップとを有する手段。
【請求項３６】
前記画素は前記初期領域に隣接することを特徴とする請求項３５に記載の手段。
【請求項３７】
前記領域に隣接する全ての画素が調べられ、前記領域に加える画素がなくなるまで、ステップｂ）からｅ）を繰り返すステップを更に有する請求項３５に記載の手段。
【請求項３８】
前記値は明度値であることを特徴とする請求項３５に記載の手段。
【請求項３９】
前記所定の関係は前記初期領域における平均明度の所定の範囲内にある前記画素の明度から成ることを特徴とする請求項３８に記載の手段。
【請求項４０】
デジタル画像の領域を識別するシステムであって、請求項３５に記載のステップを実行するように構成された処理手段を有するシステム。
【請求項４１】
前記処理手段は前記走査データから複数のパラメータを抽出するように構成され、前記走査データから各パラメータを抽出する操作を並行して行うように構成された複数のパラメータ抽出モジュールを有することを特徴とする請求項２９に記載のＸ線走査システム。
【請求項４２】
前記パラメータから情報を得るように構成された決定木を更に有する請求項２９に記載のＸ線走査システム。
【請求項４３】
走査装置と処理手段を有し、前記走査装置は複数の点状放射源からＸ線を発生させるように構成されたＸ線放射源と前記Ｘ線を検出するように構成された第１と第２の検出器アレーとを有し、前記処理手段は前記第１の検出器アレーからの信号を処理して走査された対象物の断層撮影画像データを生成し、前記第２の検出器アレーからの信号を処理して、走査された前記対象物の投影画像データを生成するように構成され、前記処理手段は走査された前記対象物の前記断層撮影画像データと前記投影画像データを処理して走査された前記対象物を複数の区分の１つに割り当てるように構成されていることを特徴とするＸ線走査仕分けシステム。
【請求項４４】
各前記第２の検出器アレーはデータ収集手段に接続され、前記データ収集手段は前記第２の検出器アレーの各センサーから同時にデータを収集して前記投影画像データを生成するように構成されていることを特徴とする請求項４３に記載のＸ線走査仕分けシステム。
【請求項４５】
前記データ収集手段は、２つの各点状放射源が動作している時、前記第２の検出器アレーの前記センサーからデータを収集して、２セットの投影画像データを生成するように構成されていることを特徴とする請求項４４に記載のＸ線走査仕分けシステム。
【請求項４６】
前記処理手段は前記２セットの投影画像データを合成して３次元画像を生成するように構成されていることを特徴とする請求項４５に記載のＸ線走査仕分けシステム。