【事件の表示】
　平成　５年特許願第２９３２４３号「測距装置」拒絶査定不服審判事件〔平成　７年　７月１４日出願公開、特開平　７−１７４５４９〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
【１】（手続の経緯・本願発明）
　本願は、平成５年１１月２４日の出願であって、その請求項１及び２に係る発明は、明細書の特許請求の範囲に記載されたとおりのものと認められるところ、その請求項１には次のとおりに記載されている（以下、請求項１に係る発明を「本願発明」と言う。）。
「【請求項１】　対象物に向けて測距用光を投光する投光手段と、
　上記対象物からの上記測距用光束の反射光を受光し、入射位置に依存する２つの光電変換信号を出力する光位置検出手段と、
　上記光位置検出手段の上記２つの光電変換信号を用いて、上記入射位置に依存する信号を出力する処理手段と、
　上記処理手段の出力に対する補正値であって、回路特性に起因して生じる誤差を補正するための補正値を記憶する記憶手段と、
　上記補正値を用いて上記処理手段の出力を補正して、上記対象物の距離を演算する距離演算手段と、
　を具備し、
　上記補正値を用いて、上記対象物の反射率の変化により顕在化する上記回路特性に起因して生じる誤差を補正することを特徴とする測距装置。」。
　なお、「こと特徴とする」は「ことを特徴とする」の誤記と認められるので、そのように訂正した。
　
【２】（刊行物）
　これに対し、原審における拒絶理由に引用された本願出願前に頒布された刊行物である特開平３−１５４８１４号公報（以下、「刊行物１」という。）は、本願発明と同様、物体に光を照射し、その反射光から物体までの距離を測定する装置に関し、図面と共に以下の記載がある。
ａ．「［産業上の利用分野］
　本発明は、物体の変位量をレーザー等の光を使用して非接触で測定する装置に係わり、特に被測定物の表面状態による出力の直線性の変化、零点位置のずれを補正する機能を有する変位測定装置に関する。」（公報１頁右下欄下から７行〜下から２行）
ｂ．「従来、光スポットの位置検出に２つの出力端をもつフォトダイオードからなる位置検出素子（ＰＳＤ）が使用されている。この位置検出素子は光スポットの位置により２つの出力端の出力電流の比が変化するので、これを利用して光スポット位置を求めるものである。このような位置検出素子を利用し、所定位置から被測定物に対して光を照射したとき、物体の変位に応じてその反射光を受光する位置が変化し、どの位置で受光したかにより物体の変位を測定する反射型変位計が使用されている。このような反射型変位計に使用されている位置検出素子は、２つの出力電流の比により位置を測定するので、本来入射光量に影響されないものであるが、実際には色・光沢・粗さ等の被測定物の表面状態によって反射光量が変化するとどうしても２つの出力電流の比が変化し、出力の直線性、零点位置が変化してしまう。そのため、反射光の光量レベルにより、検出器の位置検出素子からの出力を増幅する増幅器のゲインを手動あるいは自動で適正値に切り換えて出力の直線性、零点位置を安定化させている。」（２頁左上欄１行〜右上欄１行）
上記記載ｂ．から、
・位置検出素子（ＰＳＤ）の出力、したがって変位計の出力には、被測定物からの反射光量の変化によって生じる測定誤差が含まれていること、が読みとれる。
ｃ．「一例として、光源：波長７８０nmのレーザダイオード・・・」（４頁左上欄下から４行〜下から３行）
　上記記載ｂ．ｃ．から、
・被測定物に向けて光を照射するレーザダイオード、
・被測定物からの反射光を受光し、受光位置に依存する２つの出力電流を出力する位置検出素子（ＰＳＤ）、が読みとれる。
ｄ．「本測定装置は、検出器１とコントロール部２０とから構成され、コントロール部２０は増幅演算部２、補正演算部３からなっている。検出器１、及び増幅演算部２は市販されている汎用のアナログ出力型の光学式非接触変位計を使用し、これにアナログ出力を補正する補正演算部３を組み込んで構成し、補正処理後表示し、外部へ出力するようになっている。」（２頁右下欄下から８行〜末行）
ｅ．「補正演算部３は、・・・補正に用いる基準データを保存するＥＥＰＲＯＭ７、・・・を備えている。」（３頁左上欄５行〜下から２行）
ｆ．「このような構成において、先ず測定を行う前に、調整用器具（図示せず）を使用して実変位量と各実変位量での増幅演算部２からの出力を補正用の基準データとして作成する。・・・次に補正データ選択スイッチ１１により測定対象の種類を選択する。・・・次に測定面１７と投・受光面１９間の距離が変位計の基準距離付近になる様調整用器具で合わせる。・・・再度キャリブレーションモード用スイッチ１３を押すと、補正用基準データ保存用のＥＥＰＲＯＭ７内の零点位置のデータ格納領域に、その時の増幅演算部２からの出力のＡ/Ｄ変換値が記憶され、・・・」（３頁左上欄末行〜左下欄３行）
　上記記載ｆ．中、「各実変位量での増幅演算部２からの出力」は、各実変位量に対応するものであると考えられるので、
　上記記載ｂ．〜ｆ．から、
・位置検出素子（ＰＳＤ）の２つの出力電流を用いて、実変位量に対応する値を出力する増幅演算部２、が読みとれる。
　また、上記記載ｂ．ｅ．ｆ．から、
・補正用基準データであって、反射光量の変化によって生じる測定誤差を補正するための補正用基準データを保存するＥＥＰＲＯＭ７、が読みとれる。
ｇ．「次に測定時の補正方法について説明する。
　・・・実際の測定で検出器１からの検出信号が増幅演算部２を介して補正演算部３に入力され、Ａ／Ｄ変換器４を通してＣＰＵ１０に取り込まれる。ＣＰＵ１０では得られた値に基いて基準データを検索し、測定値より大きい値及び小さい値のうち測定値に最も近い２値を捜す。すなわち、測定により得られた値をａ０、補正用基準データで、測定値以上で最も近い値をａ１、測定値以下で最も近い値をａ２、ａ１に対応する真の基準距離からの距離をＡ１、ａ２に対応する真の基準距離からの距離をＡ２とすると、測定値の補正演算部３で補正された値Ａ０は、下記の式により導かれる。
Ａ０＝（Ａ１−Ａ２）・（ａ０−ａ２）/（ａ１−ａ２）＋Ａ２・・・」（３頁右下欄１０行〜４頁左上欄７行）
　上記記載ｆ．に依れば、増幅演算部２からの出力ａ０は（補正前の）実変位量に対応するものであると考えられる。
　そこで、上記記載ｇ．中の式を見ると、上記式は、（補正前の）実変位量を与えるａ０を補正用基準データ（Ａ１、Ａ２、ａ１、ａ２）により補正して、補正された実変位量Ａ０を算出していると解することができる。
このことを考慮すると、上記記載ｇ．から、
・補正用基準データ（Ａ１、Ａ２、ａ１、ａ２）を用いて、増幅演算部２の出力ａ０を補正して、補正された実変位量Ａ０を演算する補正演算部３、が読みとれる。
　
　以上の記載を勘案すると、刊行物１には次の発明が記載されているものと認められる。
（刊行物１に記載された発明）
　被測定物に向けて光を照射するレーザダイオードと、
上記被測定物からの反射光を受光し、受光位置に依存する２つの出力電流を出力する位置検出素子（ＰＳＤ）と、
上記位置検出素子（ＰＳＤ）の２つの出力電流を用いて、実変位量に対応する値を出力する増幅演算部２と、
　補正用基準データ（Ａ１、Ａ２、ａ１、ａ２）であって、反射光量の変化によって生じる測定誤差を補正するための補正用基準データ（Ａ１、Ａ２、ａ１、ａ２）を保存するＥＥＰＲＯＭ７と、
　上記補正用基準データ（Ａ１、Ａ２、ａ１、ａ２）を用いて、増幅演算部２の出力ａ０を補正して、補正された実変位量Ａ０を演算する補正演算部３と、
を具備し、
　上記補正用基準データ（Ａ１、Ａ２、ａ１、ａ２）を用いて、上記被測定物の反射光量の変化によって生じる測定誤差を補正する変位測定装置。
　
【３】（対比）  
　本願発明と刊行物１に記載された発明とを対比する。
　（１）刊行物１に記載された発明における、
「被測定物」、「光」、「照射」、「レーザダイオード」、「反射光」、「受光位置に依存する２つの出力電流「位置検出素子（ＰＳＤ）」、「補正用基準データ（Ａ１、Ａ２、ａ１、ａ２）」、「保存」、「ＥＥＰＲＯＭ７」、「増幅演算部２の出力ａ０」、「補正された実変位量Ａ０」、「補正演算部３」、「変位測定装置」、は、それぞれ、本願発明における、
「対象物」、「測距用光」、「投光」、「投光手段」、「測距用光束の反射光」、「入射位置に依存する２つの光電変換信号」、「光位置検出手段」、「処理手段の出力に対する補正値」、「記憶」、「記憶手段」、「処理手段の出力」、「対象物の距離」、「距離演算手段」、「測距装置」、に相当する。
（２）刊行物１に記載された発明における「実変位量に対応する値」について、
【２】ｂ．の記載に依れば、刊行物１に記載された発明における変位測定装置は、「このような位置検出素子を利用し、所定位置から被測定物に対して光を照射したとき、物体の変位に応じてその反射光を受光する位置が変化し、どの位置で受光したかにより物体の変位を測定する」ものである。
　該記載から、「実変位量に対応する値」である「物体の変位」に応じて「反射光を受光する位置」（すなわち「入射位置」）が変化することが読みとれる。
　したがって、「実変位量に対応する値」は光位置検出手段の入射位置に依存して変化することになるから、刊行物１に記載された発明における「実変位量に対応する値」は、本願発明における「入射位置に依存する信号」に相当し、刊行物１に記載された発明における「実変位量に対応する値を出力する増幅演算部２」は本願発明における「入射位置に依存する信号を出力する処理手段」に相当する。
（３）「誤差」について、
　本願発明では、請求項１中に「回路特性に起因して生じる誤差」（「前者」という）、及び「対象物の反射率の変化により顕在化する上記回路特性に起因して生じる誤差」（「後者」という）という表現が見受けられるが、後者のうち「上記回路特性に起因して生じる誤差」は「上記」と記されていることから見て、前者の誤差と同一と考えられ、ただ、後者では、さらに「対象物の反射率の変化により顕在化する」と規定したものであると捉えることができる。
　ここで、「顕在化する」とはどのような物理的変化あるいは物理的状態に対応する構成を指すのか、必ずしも明確であるとは言えないものの、反射率の変化によって生じるものであることは疑いないところであるから、後者の誤差は、回路特性に起因して生じる誤差のうち、反射率が変化すると明りょうに現れる誤差、というほどの意味であると一応解することができる。
　一方、刊行物１に記載された発明では、誤差は「反射光量の変化によって生じる測定誤差」であるが、【２】ｂ．の記載に依れば、反射光量の変化は被測定物の表面状態によって生じるものであると言え、入射光量に対する反射光量の比は被測定物の表面の反射率を定義づけるという技術常識、さらには、アクティブ測距技術において、同一の被写体距離でも、被写体の反射率によって異なる測距値が得られることは周知である（例えば、特開平１−２９１１１１号公報、１頁右下欄下から３行〜末行の記載参照）ことを考慮すると、刊行物１に記載された発明における「反射光量の変化によって生じる測定誤差」は、反射率の変化によって生じる測定誤差であると捉えることができる。
　そうしてみると、本願発明における「反射率の変化により顕在化する・・回路特性に起因して生じる誤差」（後者の誤差）も、刊行物１に記載された発明における「反射光量の変化によって生じる測定誤差」も、共に「反射率の変化により顕在化する誤差」と言えるものである。
　そして、本願発明における「回路特性に起因して生じる誤差」（前者の誤差）も、刊行物１に記載された発明における「反射光量の変化によって生じる測定誤差」も、共に「誤差」と言えるものである。
　　以上のことを勘案すると、両者は、
　対象物に向けて測距用光を投光する投光手段と、
　上記対象物からの上記測距用光束の反射光を受光し、入射位置に依存する２つの光電変換信号を出力する光位置検出手段と、
　上記光位置検出手段の上記２つの光電変換信号を用いて、上記入射位置に依存する信号を出力する処理手段と、
　上記処理手段の出力に対する補正値であって、誤差を補正するための補正値を記憶する記憶手段と、
　上記補正値を用いて上記処理手段の出力を補正して、上記対象物の距離を演算する距離演算手段と、
　を具備し、
　上記補正値を用いて、上記対象物の反射率の変化により顕在化する誤差を補正する測距装置。
で一致し、次の点で一応相違する。
相違点１
　誤差について
　本願発明では、「回路特性に起因して生じる」誤差であるのに対し、刊行物１に記載された発明では、「反射光量の変化によって生じる」誤差である点。
　
【４】（当審の判断）
　上記相違点１について検討する。
相違点１．について、
　【２】ｂ．の記載に依れば、刊行物１に記載された発明において、誤差は反射光量（すなわ対象物の反射率）の変化によって生じるが、対象物の反射率が変化した結果、測距装置のどのような構成が原因となって誤差が生じるのかについては記載されていない。
　一方、上記記載中には、従来技術に対する説明として、検出器の位置検出素子からの出力を増幅する増幅器のゲインを適性値に調節することにより上記誤差を補正する旨の記載がある。言い換えれば、増幅器のゲイン（すなわち回路特性）が最初から適正であれば、上記誤差は生じないことになり、このことから、上記誤差を引き起こす要因のひとつとして増幅器の回路特性を挙げることができる。
　さらに、
・アクティブ測距方式では、回路特性により測距誤差を生じるものであることは当業者に広く認識された技術的事項である（特開平４−２５７８１６号公報、【０００３】の記載参照）こと、
・【２】ｆ．ｇ．の記載に依れば、刊行物１に記載された発明では、増幅演算部２からの出力ａ１、ａ２と対応する真の基準距離からの距離Ａ１、Ａ２とを補正用の基準データとして補正演算に用いる構成を備えているのであるから、回路特性により測距誤差が生じても、該誤差は増幅演算部２からの出力ａ１、ａ２に取り込まれ、上記補正演算により補正されるものと解されること、
を併せ考慮すると、刊行物１に記載された発明において、「被測定物の反射光量の変化によって生じる測定誤差」の測距装置側における原因として、増幅器の回路特性を想定することは自然であり、このことから、刊行物１に記載された本願発明における「反射光量の変化によって生じる誤差」と本願発明における「回路特性に起因して生じる誤差」との間に格別異なる点はないと言えるから、相違点１は実質的な差異とは言えない。
　なお、原査定の理由となった拒絶の理由では、本願発明は、引用刊行物記載の発明から当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により、特許を受けることができないものであるとするものであるが、平成１４年３月１８日付け意見書において、刊行物１について本願発明と対比して意見が述べられていることから、新規性についても実質的に検討されていると認められる。したがって、本件については、あらためて特許法第２９条第１項第３号に該当する旨の拒絶の理由を通知することなく審決をすることとした。
　
【５】（むすび）
  したがって、本願の請求項１に係る発明は、上記刊行物１に記載された発明と同一であるから、特許法第２９条第１項第３号の規定により特許を受けることが出来ない。
　上記のとおり、本願の請求項１に係る発明が特許を受けることができないものであるから、本願のその余の請求項に係る発明について審究するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって結論のとおり審決する。