【事件の表示】
　平成　７年特許願第１０６６４９号「光記録再生装置」拒絶査定不服審判事件〔平成　８年１１月２２日出願公開、特開平　８−３０６０６０〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
　
１．手続の経緯
　本件審判の請求に係る出願（以下、「本願」という。）は、平成７年４月28日の特許出願であって、平成15年10月24日に拒絶の理由が通知され、平成15年12月８日に意見書が提出されたが、平成16年６月15日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、平成16年７月22日に拒絶査定不服の審判が請求され、平成16年８月20日付けで手続補正書が提出されたものである。そして、平成18年３月６日付けで審尋がなされたところ、請求人から何らの応答もなかった。
　
２．本願発明
　平成16年８月20日付け手続補正は、補正前の請求項１を削除し、補正前の請求項２、３の項番を繰り上げて新たに請求項１、２とするものであるから、特許法第17条の２第４項第１号に規定する請求項の削除を目的とするものに該当する。
　本願の請求項１、２に係る発明は、平成16年８月20日付けの手続補正により補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１、２に記載された事項により特定されるとおりの光記録再生装置と認められるところ、請求項１の記載は次のとおりである。
　
「【請求項１】
　レーザ光を発生する半導体レーザ、前記レーザ光を記録媒体に照射し光信号を検出するための光学系、前記光信号を電気変換する変換部が設けられた光ピックアップと、
　半導体レーザを駆動する半導体レーザ駆動回路系、再生信号を得る処理を行う再生回路系、サーボ制御を行うサーボ回路系、システムの制御を行うシステム制御系及び外部ホストコンピュータなど外部装置とのインターフェース部が設けられた制御基板と、
　前記光ピックアップの個々の特性情報または前記特性の補正値を記録する記憶手段と、
　前記記憶手段に外部およびまたは装置内部のシステム制御系から記録データの書き込み及び読み出しを行うインターフェースを備えた光ピックアップを設けたことを特徴とする光記録再生装置。」
（以下、「本願発明」という。）
　
３．引用例　　
　一方、原査定の拒絶の理由で引用された、本願出願前に頒布された刊行物である特開平7-57289号公報（以下、「引用例１」という。）は、光ディスク装置に関するもので、図面とともに次の技術事項が記載されている（なお、下線は当審で付与した。）。
 ア)「〔産業上の利用分野〕
　
本発明は、レーザ光を用いて記録、再生を行う光磁気ディスク装置等の光ディスク装置に関する
 イ)「〔発明が解決しようとする課題〕
　上記のような従来のものにおいては、次のような課題があった。
　i)（実際には丸数字の１）：光ディスクは、レーザ光を用いて記録、再生を行っている。従って、前記レーザ光の通過する光学系に、ゴミ、埃等が付着していると、見掛け上、レーザパワーが低下し、正常な記録、再生が困難となる。
　ii)（実際には丸数字の２）：特に、一般のオフィス等では、埃、塵、煙草の煙等が多数存在し、このような環境下で光ディスクが使用されると、エラーが発生し易くなる。
　本発明は、このような従来の課題を解決し、埃、塵、煙草の煙等が多数存在している環境下で光ディスクを使用しても、エラーの発生を抑えられるようにすることを目的とする。」（段落［0008］〜［0009］）
 ウ）「〔作用〕
　上記構成に基づく本発明の作用を、図１に基づいて説明する。
　光ディスク装置１に光ディスク21（媒体）を挿入した時、先ず、リード／ライト回路５から光学ヘッド15へデータを送り、光ディスク21にデータを記録する。
　次に、光ディスク21に記録したデータを再生し、再生波形判定回路６により、再生信号の振幅の大きさをチェックする。このチェックにより、その値が、予め設定された大きさの範囲内にあることを確認する。また、通常の記録後の信号再生時にも、前記の範囲内にあることを確認する。
　そして、再生信号の大きさが前記範囲内にない場合（再生信号の大きさが上限、下限の閾値範囲外）には、光パワーセンサ導入機構26を駆動し、光パワーセンサ22を、光ディスク面のレーザ光照射位置に導入して、レーザ光の強さを測定する。
　この場合、光量制御部12により、光学ヘッド15内に設けたレーザ光源の光量を制御し、ライト、リード、イレーズの各パワーで発光するようにして測定する。また、光パワーセンサ22で測定したセンサモニタ値は、光パワーセンサ制御部25から制御部４へ送り、該制御部４内で、前記センサモニタ値と、予め設定されたパワー設定値とを比較する。
　その結果、測定したレーザ光の強さが、予め設定されているパワー設定値より外れていた場合には、光量制御部12により、レーザ光の強さを前記パワー設定値と同じ値に調整する。」（段落［0017］〜［0021］）
 エ）「§１：光ディスク装置の構成の説明・・・図２参照
　図２は光ディスク装置のブロック図である。
　図示のように、光ディスク装置１には、コントローラ３、制御部４、リード／ライト回路（Ｒ／Ｗ回路）５、再生波形判定回路６、バイアス磁石制御部７、センサ駆動モータ制御部８、センサ制御部９、イジェクトモータ制御部10、サーボ制御部11、光量制御部12、センサ駆動モータ13、イジェクトモータ14、光学ヘッド15、バイアス磁石16、スピンドルモータ18、スピンドルモータ制御部19、光パワーセンサ22、ストッパ23、イジェクトアーム24等が設けてある。
　この光ディスク装置１は、ホスト（HOST）２に接続して使用するものであり、該ホスト２からのアクセスにより、光ディスク21に対し、光学ヘッド15を用いてデータのリード、ライトが行われる。前記各部の機能等は次の通りである。
　(1) ：
コントローラ３は、ホスト２との間でコマンドのやり取り（ホストインターフェース制御）を行ったり、光ディスク装置内部の各種制御を行う
　(2) ：
制御部４は、コントローラ３との間でのコマンドのやり取りや、バイアス磁石制御部７、センサ駆動モータ制御部８、センサ制御部９、イジェクトモータ制御部10、サーボ制御部11、光量制御部12等に対する制御等を行う
　(3) ：
リード／ライト回路（Ｒ／Ｗ回路）５は、コントローラからの指示により、光ディスク21（媒体）に対するデータのリード／ライト処理を行う
　(4) ：再生波形判定回路６は、光ディスク（媒体）から再生した再生信号を、予め設定してある比較値と比較するものである。
　(5) ：バイアス磁石制御部７は、媒体へのデータ書き込み時に、バイアス磁石16を制御するものである。
　(6) ：センサ駆動モータ制御部８は、センサ駆動モータ13の制御を行うものである。
　(7) ：センサ制御部９は、光パワーセンサ22でレーザ光の測定をする際の制御を行うものである。なお、レーザ光の測定時には、このセンサ制御部９で光パワーセンサ22の出力信号を検出し、検出した値をセンサモニタ値として制御部４へ送る。
　(8) ：イジェクトモータ制御部10は、制御部４の指示により、光ディスク21のイジェクト（排出）を行うためのイジェクトモータ14を制御するものである。
　(9) ：サーボ制御部11は、制御部４の指示により、光学ヘッド15の駆動制御（サーボ制御）を行うものである。
　(10)：
光量制御部12は、制御部４の指示により、光学ヘッド15内の光源（例えばレーザダイオード）に対し、光量制御（例えば、レーザダイオードの電流制御）を行う
　(11)：センサ駆動モータ13は、光パワーセンサ22を駆動するものである。
　(12)：イジェクトモータ14は、光ディスク21をイジェクト（排出）するためのモータである。
　(13)：
光学ヘッド15は、内部にレーザ光源（例えば、レーザダイオード）を備え、光ディスク21に対し、データのリード、ライト、イレーズ等を行う
　(14)：バイアス磁石16は、光ディスク21へのデータの書き込み時、及び消去時に使用するものである。
　(15)：スピンドルモータ18は、光ディスク21を回転させるためのモータである。
　(16)：スピンドルモータ制御部19は、スピンドルモータ18の回転制御を行うものである。
　(17)：
光パワーセンサ22は、光ディスク面のレーザ照射位置に挿入され、レーザ光の強さを測定するためのセンサ
 オ）「§２：再生波形判定回路、及び制御部の詳細な説明・・・図３参照
　図３は図２の一部詳細図であり、Ａは再生波形判定回路のブロック図、Ｂは制御部のブロック図である。以下、図３に基づいて、再生波形判定回路、及び制御部を更に詳細に説明する。
　i)（実際には丸数字の１）：再生波形判定回路６には、RAM37と、比較部27を設ける。前記RAM37は、比較値（再生信号振幅の上限値、及び下限値）を設定するためのメモリであり、前記比較値は、例えば、装置の立ち上げ時等に上位装置から転送してRAM37に格納する。
　この比較値は、ホスト２、またはコントローラ３に保持していたデータを、制御部４を介してRAM37へ転送しても良く、また、ホスト側の入力装置から入力しても良い。
　比較部27では、前記RAM37の比較値と、光ディスク21から再生した再生信号とを比較（大きさの比較）し、その比較結果に基づいて、診断フラグ（後述する）をオンにするための信号を制御部４へ出力する。
　ii)（実際には丸数字の２）：前記
制御部４には、ROM29と、比較補正部28と、フラグ部38を設ける
RAM29は、予めパワー設定値（リード、ライト、イレーズの各パワー設定値）を設定しておく不揮発性のメモリ
　この場合、診断フラグ39は、再生波形判定回路６の比較部27からの信号により、制御部４が設定するフラグ（オン／オフ設定）であり、警告フラグ40は、比較補正部28からの信号に基づいて、制御部４が設定するフラグ（オン／オフ設定）である。
　また、
比較補正部28は、センサ制御部９を介して光パワーセンサ22から送られてきたセンサモニタ値（レーザ光の強さ）を、ROM29のパワー設定値と比較して、光量制御部12に対し、レーザ光の強さを調整するための指示値（レーザダイオードのパワー指示値）を出力する
　この場合、
センサモニタ値（レーザ光の強さ）が、予め設定したリード、ライト、イレーズの各パワー設定値より外れていた場合には、前記光量制御部１２に対し、レーザ光の強さを前記パワー設定値と同じ値に調整するように光量調整の指示を出す
 カ）「§８：パワー校正時の処理説明・・・図10、図11参照
　図10はパワー校正時の処理フローチャート１、図11はパワー校正時の処理フローチャート２である。以下、図10、図11に基づいて、パワー校正時の処理を説明する。なお、S21〜S30は各処理番号を示す。
　光ディスク装置は、何らかの処理を実行する場合、必ず、以下に示すパワー校正ルーチンを通過する。
　先ず、コントローラ３は、制御部４内のフラグ部38に設定されている診断フラグ39をチェックし（S21）、診断フラグ39がオフ（レーザ光が正常な状態）であれば、パワー校正ルーチンは処理終了となる。
　しかし、診断フラグ39がオン（ON）であれば（レーザ光が正常でない状態）、媒体が装着されていないことを確認する（S22）。もし媒体が装着されている場合には、媒体（光ディスク）を排出する（S23）。この場合、制御部４からの指示により、イジェクトモータ制御部10が、イジェクトモータ14を駆動制御して、媒体の排出を行う。
　制御部４は、媒体が装着されていないことを確認したら（S22）、センサ駆動モータ制御部８へ指示を出し、該センサ駆動モータ制御部８の制御により、センサ駆動モータ13を駆動して、光パワーセンサ22を媒体面のレーザ光照射位置に導入する（S24）。
　光パワーセンサ22の導入が終了すると、制御部４から、光量制御部12に対し、ライト、リード、イレーズの各パワーで発光するように指令を出し、光学ヘッド15内のレーザ光源（レーザダイオード）を、前記各パワーで発光させる。そして、光パワーセンサ２２で、前記各パワーでのレーザ光の強さを測定する（S25）。
　その後、
光パワーセンサ22で測定したセンサモニタ値を、制御部４内の比較補正部28に入力し、該比較補正部28において、その時の光パワーセンサモニタ値と、ROM29内のパワー設定値との比較を行う
　その結果、前記センサモニタ値が、パワー設定値から外れていない場合（S26）には、レーザ光の見掛け上の強さの変化による再生信号振幅の変化とは考えられない（他の原因と考えられる）ので、処理を終了する。
　しかし、前記
センサモニタ値が、パワー設定値から外れている場合（S26）には、比較補正部28から、光量制御部12に対し、パワー調整するように指示を出して、レーザ光源のパワー調整をする
　この時、比較補正部28では、パワー調整の指示値が、予め設定されたレーザ光源（レーザダイオード：LD）の消費する電力の最大値より大きくなるか否かを判断する（S27）。
　その結果、パワー調整の指示値が、予め設定されたレーザ光源の消費する電力の最大値より大きくならなければ、比較補正部28から、光量制御部12に対し、レーザ光源のパワーが、ROM29内の各パワー設定値（ライト、リード、イレーズの各パワー設定値）と等しくなるように、パワー調整の指示を出して、レーザ光源のパワー調整をする（S30）。」（段落［0079］〜［0085］）
　
　上記摘記事項及び図面の記載を参酌すると、引用例１には、次の発明が記載されているものと認める。
　
　「レーザ光を発生する半導体レーザ46、前記レーザ光を光ディスク21に照射し反射光を検出するための可動光学系及び固定光学系52、前記反射光を受光して受光信号を得る光学ヘッド15と、
　光ディスク21に照射するレーザ光の強さを制御する光量制御部12と、
　光ディスク21に対するデータのリード／ライト処理を行うリード／ライト回路（R/W回路）５と、
　光学ヘッド15の駆動制御（サーボ制御）を行うサーボ制御部11と、
　サーボ制御部11、光量制御部12等に対する制御を行う制御部４と、
　外部ホスト（ホストコンピュータ）２との間でコマンドのやりとり（ホストインターフェース制御）を行うコントローラ３を備え、
　前記制御部４には、レーザパワー設定値（リード、ライト、イレーズの各パワー設定値）を設定しておく不揮発性のメモリであるROM29を設け、
　光パワーセンサ22で測定したセンサモニタ値を、前記制御部４内の比較補正部28に入力し、該比較補正部28において、そのときの光パワーセンサモニタ値とROM29内のパワー設定値との比較を行い、前記センサモニタ値がパワー設定値から外れている場合(図10のS26)には、比較補正部28から、光量制御部12に対し、パワー調整するように指示を出して、半導体レーザのパワー調整を行う
　光ディスク装置。」
　
３．対　比
　本願発明と引用例１に記載された発明とを対比する。
　
　引用例１に記載された発明における「光学ヘッド」は、半導体レーザ、可動及び固定光学系を有し、光ディスクからの反射光を受光して受光信号を得るものであり、光信号を電気信号に変換する変換部を有するものであることは明らかであるから、本願発明における「光ピックアップ」に相当する。
　引用例１に記載された発明における「光量制御部」は、光学ヘッド（光ピックアップ）内の半導体レーザに対し、光量制御（例えば、レーザダイオードの電流制御）を行うものであるから、本願発明における「半導体レーザ駆動回路系」に相当する。
　引用例１に記載された発明における「リード／ライト回路（Ｒ／Ｗ回路）」は、光ディスクに対するデータのリード／ライトを行うものであり、リード即ち再生信号を得る処理を行うという意味で本願発明における「再生回路」に相当する。
　引用例１に記載された発明における「サーボ制御部」は、本願発明における「サーボ制御系」のことである。
　引用例１に記載された発明における「制御部」は、コントローラとの関係でコマンドのやりとりや、サーボ制御部（サーボ制御系）、光量制御部（半導体レーザ駆動回路系）等に対する制御を行うものであり、光ディスク装置（システム）全体の制御を行うものといえるから、その意味で本願発明における「システム制御系」に相当する。
　引用例１に記載された発明における「コントローラ」は、外部ホスト（ホストコンピュータ）つまり外部装置との間でコマンドのやりとり（ホストインターフェース制御）を行うものであり、その意味で本願発明における「インターフェース部」に相当する。
　引用例１に記載された発明における「ROM29」は、レーザパワー設定値（リード、ライト、イレーズの各パワー設定値）を設定しておくメモリ（記憶手段）であり、半導体レーザを含む光学ヘッド（光ピックアップ）の設定値を記憶するという意味に限って本願発明における「記憶手段」と共通する。
　引用例１に記載された発明が対象とする「光ディスク装置」は、本願発明が対象とする「光記録再生装置」のことである。
　
　そうすると、本願発明と引用例１に記載された発明とは次の点で一致する。
 一致点
　レーザ光を発生する半導体レーザ、前記レーザ光を記録媒体に照射し光信号を検出するための光学系、前記光信号を電気変換する変換部が設けられた光ピックアップと、
　半導体レーザを駆動する半導体レーザ駆動回路系、再生信号を得る処理を行う再生回路系、サーボ制御を行うサーボ回路系、システムの制御を行うシステム制御系及び外部ホストコンピュータなど外部装置とのインターフェース部が設けられ、
　前記光ピックアップの設定値を記録する記憶手段と、
　を設けた光記録再生装置。
　
そして、次の各点で相違する。
 相違点
(a) 本願発明においては、半導体レーザ駆動回路系、再生回路系、サーボ回路系、システム制御系及びインターフェース部を「制御基板」上に設けるものであるのに対し、引用例１に記載された発明においては、このような基板について特に示されていない点（以下、「相違点ａ」という。）。
(b) 記憶手段に記録する設定値に関し、本願発明においては、光ピックアップの個々の特性情報または前記特性の補正値であるのに対し、引用例１に記載された発明においては、予め定められた設定値である点（以下、「相違点ｂ」という。）。
(c) 本願発明においては、光ピックアップに、記憶手段に記録データの書き込み及び読み出しを行うインターフェースを備えるものであるのに対し、引用例１に記載された発明においては、光学ヘッド（光ピックアップ）にこのようなインターフェースを設けることは示されていない点（以下、「相違点ｃ」という。）。
　
４．当審の判断
　そこで、上記各相違点について検討する。
　
（相違点ａについて）
　同一基板上に互いに関連する複数の回路部分を設けることは、例を挙げるまでもなく本願出願前にごく周知の技術に過ぎない（因みに、原査定の拒絶の理由で引用された特開平6-267101号公報においても、互いに関連する複数の回路部分から構成される半導体レーザ制御回路１は集積回路化されていることが明らかである（特に、段落［0021］等。））。
　したがって、引用例１に記載された発明においても、光量制御部（半導体レーザ駆動回路系）、リード／ライト回路（再生回路系）、サーボ制御部（サーボ回路系）、制御部（システム制御系）、及びコントローラ（インターフェース部）を一つの基板（制御基板）上に設けることは当業者が必要に応じて適宜容易に想到できたものである。
　
（相違点ｂ、ｃについて）
　光記録再生装置において、光学ヘッド（光ピックアップ）のレーザダイオードの電流−光出力特性は個々の装置によってばらつくので、発光量に対応する駆動電流値との関係を表す情報（特性情報）を、光学ヘッド（光ピックアップ）本体に設けたPROM（記憶手段）に記憶させておくことは、例えば、審尋において引用された特開平4-258820号公報にもみられるように本願出願前に周知の技術である。
　してみると、引用例１に記載された発明においても、上記周知技術を参酌すれば、ROM29（記憶手段）を制御部（システム制御系）に設ける替わりに光学ヘッド（光ピックアップ）に設け、予め定められた設定値として個々の光学ヘッド（光ピックアップ）におけるレーザの発光量に対応する駆動電流値との関係を表す情報（特性情報）を記録するように構成することは当業者が容易に想到できたものというべきである。
　その場合、制御部（システム制御系）からROM29（記憶手段）に（特性）情報を書き込み及び読み出しを行う必要があることを考えると、書き込み及び読み出しのためのインターフェースを光学ヘッド（光ピックアップ）に備えるようにすることは技術上むしろ当然のことに過ぎない。
　
　そして、上記各相違点の判断を総合しても、本願発明の奏する効果は引用例１から当業者が十分に予測できたものであって格別のものとはいえない。　
　
５．むすび
　以上のとおり、本願の請求項１に係る発明は、引用例１に記載された発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものと認められるので、特許法第29条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、本願は、その余の請求項について論及するまでもなく、拒絶すべきものである。
　
　よって、結論のとおり審決する。