【誤訳訂正書】
【提出日】平成22年9月3日(2010.9.3)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００５】
１組のセンサを製造するプロセスは必ずしも理想的ではなく、そのため、これらのセンサが位置合せ不良になり、この位置合せ不良によって電磁界の検出に望ましくない影響が生じている。この望ましくない影響によってアクチュエータの位置の計算が影響され、そのために計算された位置が不正確になり、このアクチュエータの計算位置の不正確さにより、延いてはバルブの推定状態が不正確になっている。原子核発生器の冷却あるいは食物処理のような特定の状況においては、このような不正確性が壊滅的な結果を招くことになる。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００６】
したがって、アクチュエータの位置の検出を強化するためのシステムおよび方法が必要である。
概要
アクチュエータの位置を検出するためのシステムおよび方法を考察する。例示する態様は、アクチュエータの位置を検出するためのシステムを備えている。アクチュエータの位置を検出するためのシステムは、アクチュエータに結合された、磁界を放射する磁気源と、磁界の角度に基づいた応答を生成する少なくとも２つのセンサと、その応答を受け取り、少なくとも２つのセンサの位置合せ不良に起因する望ましくない影響が存在する中で、磁気源の強化された位置を生成するためのアナライザとを備えている。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１３】
特定の状況においては、１組のセンサ１１０のいずれか１つに、製造に起因するセンサ位置合せ不良が生じており、このような位置合せ不良によって、応答１１７の補償に誤差をもたらす望ましくない影響が生じている。本発明の実施形態は、応答１１７を受け取り、１組のセンサ１１０の少なくとも１つのセンサの位置合せ不良に起因する望ましくない影響が存在するにもかかわらず磁気源１０６の強化された位置を生成するアナライザ（図示せず）を提供している。一実施形態では、強化された位置は、１つの量と３つの調整の合計になっている。３つの調整の各々は、正弦波調整である。
【誤訳訂正４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１４】
以上、本発明の様々な実施形態によってもたらされる調整により、磁気源１０７の計算位置の精度が向上するばかりでなく、センサの位置合せ不良に起因する望ましくない影響が補償されることについて考察した。このような調整については、以下でさらに考察する。
【誤訳訂正５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１６】
図２Ａは、本発明の一態様によるシステムの正面図である。システム２００は、アクチュエータ（図示せず）に取り付けられた磁石２０６を備えている。磁石２０６は、矢印２０１０および２０１１で示す方向に沿って縦方向に移動する。磁石２０６が放射する磁界を１組のセンサ２１０が検出している。１組のセンサ２１０には、センサ２１２０、２１２１、２１２２、２１２３、２１２４、２１２５、２１２６、および２１２７が含まれている。１組のセンサ２１０の少なくとも１つは位置合せ不良である。本発明による少なくとも１つの実施形態なくしては、このような位置合せ不良によって、磁石２０６の位置の計算に誤差が生じる。システム２００は、本発明による少なくとも１つの実施形態の恩恵を受けているため、磁石２０６の位置の計算が強化され、位置合せ不良に起因する誤差が補償されている。
【誤訳訂正６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１７】
図２Ｂは、本発明の一態様による１組のセンサ２１０の近接図である。図２Ｂは、１組のセンサ２１０の製造中に生じ得る様々なタイプの調整不良を示している。１組のセンサ２１０は、センサ２１２０を備えている。センサ２１２０は、所望の正規の水平位置１２４０、および所望の正規の垂直位置１２２に位置しているため、位置合せ不良ではない。また、１組のセンサ２１０は、センサ２１２１を備えている。センサ２１２１は、所望の正規の水平位置１２４１、および所望の正規の垂直位置１２２の両方に対して位置合せ不良である。また、１組のセンサ２１０は、センサ２１２２を備えている。センサ２１２２は、回転方向に対して位置合せ不良である。本発明の実施形態により、図２Ｂに示すタイプの位置合せ不良に起因する誤差が補償される。
【誤訳訂正７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１８】
図２Ｃは、本発明の一態様による正面図である。図２Ｃは、磁石２０６の計算に誤差をもたらすランナウト位置合せ不良を示している。磁石２０６は、線２０１０および２０１１で示す方向を、磁石２０６と１組のセンサ２１０の間の間隙が、位置から位置へ非等距離になるように移動する。本発明の実施形態により、図２Ｃに示すランナウトに起因する誤差が補償される。
【誤訳訂正８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１９】
図２Ｄは、本発明の一態様によるシステムの側面図である。図２Ｄは、磁石２０６の計算に誤差をもたらすスキュー位置合せ不良を示している。磁石２０６は、線２２５０および２２５１で示す方向を移動する。所望の方向は、センサ２１２を含む１組のセンサ２１０（前のページおよびこのページ）に対して縦の方向である。本発明の実施形態により、図２Ｄに示すスキューに起因する誤差が補償される。
【誤訳訂正９】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２２】
図３Ｂは、センサの位置合せ不良、望ましくない間隙距離、ランナウト、およびスキューなど、様々な製造欠陥に起因する望ましくない影響を特性化した誤差曲線３２０のグラフ３０２を示したものである。この誤差曲線３２０は、誤差の大きさを表す縦座標軸３２２、および計算位置の端数値を表す横座標軸３２４上にグラフ化されている。したがって誤差曲線３２０が正弦波状の実施形態では、計算位置は、誤差曲線３２０の周期を画定している。
【誤訳訂正１０】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２８】
グラフ３０４には曲線３３２が含まれている。曲線３３２は、第２の所定間隙において、２つのセンサの間で測定した応答曲線３１０の勾配を表している。応答曲線３１０は、望ましくない影響が存在する中で測定された曲線である。これらの望ましくない影響は、少なくとも１つのセンサの位置合せ不良、ランナウト、あるいはスキューに起因している。曲線３３２、３３４および３３６から、望ましくない影響と応答曲線３１０の最大勾配の間には相関がある、という１つの観察を引き出すことができる。したがって現場で容易に計算することができる応答曲線３１０の最大勾配を使用して大きさＡ、ＢおよびＣを引き出し、望ましくない影響を補償することができる。
【誤訳訂正１１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２９】
以上、応答曲線３１０の最大勾配を使用して、いくつかの情報を特性化することができることを考察した。第１に、最大勾配を使用して、磁気源と１組のセンサの間の間隙の変動を特性化することができた。第２に、最大勾配を使用して、位置合せ不良、ランナウト、あるいはスキューに起因する望ましくない影響を特性化することができた。最大勾配は現場で容易に測定することができるため、最大勾配を使用して大きさＡ、ＢおよびＣを決定することができた。磁気源の位置の初期推定値を調整するために、これらの３つの大きさが少なくとも３つの正弦波項に使用されていることを思い出されたい。
【誤訳訂正１２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３０】
図３Ｄは、応答曲線３１０の三次曲線適合と、２つのセンサ間の磁気源の位置との間の関係を表すグラフ３０６を示したものである。これら２つのセンサには、３３８に配置されたセンサ、および３４０に配置された別のセンサが含まれている。グラフ３０６には、磁気源の位置を表す横座標軸３６８が含まれている。縦座標軸３７０は、応答曲線３１０の三次曲線適合の最大および最小の距離を表している。
【誤訳訂正１３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３１】
グラフ３０６には、３つの曲線３５２、３５４および３５６が含まれている。これらの曲線は、応答曲線３１０の三次曲線適合を取るプロセス、三次曲線適合の最大を決定するプロセス、三次曲線適合の最小を決定するプロセス、および最大と最小の間の距離を決定するプロセスから引き出される曲線である。曲線３５２、３５４および３５６の各データ・ポイントは、最大と最小の間の距離から引き出されている。以下、この距離を「分離」として定義する。
【誤訳訂正１４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３３】
グラフ３０６には曲線３５２が含まれている。曲線３５２には、最小分離３６２が含まれている。応答曲線３１０は、望ましくない影響が存在する中で測定された曲線である。これらの望ましくない影響は、少なくとも１つのセンサの位置合せ不良、ランナウト、あるいはスキューに起因している。曲線３５２、３５４および３５６から、望ましくない影響と応答曲線３１０の最小分離の間には相関がある、という１つの観察を引き出すことができる。したがって現場で容易に測定することができる応答曲線３１０の最小分離を使用して大きさＡ、ＢおよびＣを引き出し、望ましくない影響を補償することができる。
【誤訳訂正１５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４０】
他の実施形態では、磁石の計算位置を強化するための方法がプロセス４００に含まれている。プロセス４００には、計算位置を計算するステップ、計算位置の誤差関数を形成するステップ、および強化計算位置を生成するための計算位置を調整するステップが含まれている。このように強化された計算位置は、実質的に真の位置である。このような調整は、磁石を検出するためのセンサの位置合せ不良に起因する望ましくない影響が存在する中で実行される。計算ステップには、センサの応答から補間を形成するステップが含まれている。形成するステップには、誤差関数を少なくとも３つの補償関数の合計に分解するステップが含まれている。分解するステップには、磁石とセンサの間の間隙の関数として、少なくとも３つの補償関数の各補償関数の大きさを決定するステップが含まれている。決定するステップには、応答の最大勾配に関連する間隙の関数を決定するステップが含まれている。各補償関数の大きさは、複数の所定の最大勾配に対する各補償関数の複数の所定の大きさに適合するようになされている。
【誤訳訂正１６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４２】
選択するステップには、複数の最大応答勾配を、磁気源と少なくとも２つのセンサの間の複数の所定の間隙に対する複数の振幅成分に相関させることに基づく補償技法を選択するステップが含まれている。また、選択するステップには、複数の最小応答分離を、磁気源と少なくとも２つのセンサの間の複数の所定の間隙に対する複数の振幅成分に相関させることに基づく補償技法を選択するステップが含まれている。最小分離は、複数の分離の最小になるように画定される。各分離は、応答に対する三次曲線適合の最大と最小の間の距離になるように画定される。