【誤訳訂正書】
【提出日】平成21年12月7日(2009.12.7)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
透過回折分析装置のサポート（２３）上の複数のアナライト（２４）の各々に対して透過回折分析を実施するための方法であって、
少なくとも１つの結晶化し得るアナライトが、液状、又は、ゲルの状態でサポート上に配置され、
サポートが、放射線ビーム（２６）に対して動くことができる水平サポート表面を有し、該サポート表面に複数の縦穴を有しており、上記複数の縦穴の各々が、アナライトを受け入れるコンテナーであって、放射線ビームに対し半透明であり、
上記装置が、更に、
サポートを水平移動させる転移器具（２９）と、
放射線ビーム源であって、複数のアナライトの内の上記転移器具によって位置決めされた１つに対して、透過回折分析を実行するため、放射線ビームを、上側又は下側から照射するように方向付ける放射線ビーム源（２２）と、
上記１つのアナライトに放射線ビームを集束させる集束手段（２７）と、
上記１つのアナライトを通った放射線の検出を行う検出器（２５）と、
を含んでおり、
上記方法が、
回折分析前にアナライトをコンテナー内で結晶化する、第１工程と、
放射線ビームで上記位置決めされ、上記第１工程によって結晶化された１つのアナライトを照射する工程であって、上記放射線ビームが、上記放射線ビーム源によって方向付けられると共に、上記集束手段によって上記位置決めされた１つのアナライトに集束され、これによって、回折された放射線のパターンが形成される第２工程と、
上記検出器によって上記回折された放射線のパターンを検出する第３工程と、
サポートの背景回折パターンを決定する第４工程と、
上記背景回折パターンについて、上記検出された回折された放射線のパターンを修正する第５工程と、
複数のアナライトの内の次の１つに透過回折分析を行うため、上記転移器具によってサポートを移動させる第６工程と、
を含んでいる、ことを特徴とする透過回折分析実施のための方法。
【請求項２】
上記装置が、アナライトの温度制御のための熱移送手段を更に備えており、
上記第１工程は、上記熱移送手段がアナライトを乾燥させることによって結晶化を達成する、
請求項１に記載の透過回折分析実施のための方法。
【請求項３】
上記少なくとも１つの結晶化し得るアナライトが、１μｇ以下のものである、
請求項１又は２に記載の透過回折分析実施のための方法。
【請求項４】
請求項１乃至３の何れか１つに記載の方法であって、放射線ビームが上記位置決めされた１つのアナライトを照射する方向、即ち、放射線ビームと水平なサポートとの間の角度が、７５°乃至９０°である方法。
【請求項５】
請求項１乃至３の何れか１つに記載の方法であって、放射線ビームが上記位置決めされた１つのアナライトを照射する方向が、水平なサポートに対して垂直である方法。
【請求項６】
請求項１乃至５の何れか１つに記載の方法であって、
分析中、サポートが上記転移器具によって放射線ビーム源に対して自動的に動かされ、上記放射線ビームによって複数のアナライトの各々が次々と照射される方法。
【請求項７】
請求項１乃至６の何れか１つに記載の方法であって、
複数のアナライトが、サポート上に、アレイ状に並べられている方法。
【請求項８】
請求項７に記載の方法であって、
複数のアナライトが、サポート上に２次元アレイ状に並べられている方法。
【請求項９】
請求項１乃至８の何れか１つに記載の方法であって、
複数のアナライトが、追加のアタッチメントを伴うことなく、配置されている方法。
【請求項１０】
請求項１乃至９の何れか１つに記載の方法であって、
各コンテナーが、異なるアナライトで充填されている方法。
【請求項１１】
請求項１乃至１０の何れか１つに記載の方法であって、
分析中、各コンテナーの頂部が開放されている方法。
【請求項１２】
請求項１乃至１１の何れか１つに記載の方法であって、
コンテナーが１個のアレイ内に配置されている方法。
【請求項１３】
請求項１乃至１２の何れか１つに記載の方法であって、
分析中、１以上のコンテナーがシールされている方法。
【請求項１４】
請求項１乃至１３の何れか１つに記載の方法であって、
サポートが可視光線に対して半透明である方法。
【請求項１５】
請求項１乃至１４の何れか１つに記載の方法であって、
サポートの背景回折パターンを決定する工程と、
該背景回折パターンのために計測されたパターンを修正する工程と、
を含んでいる方法。
【請求項１６】
請求項１乃至１５の何れか１つに記載の方法であって、
大気条件が制御される方法。
【請求項１７】
請求項１乃至１６の何れか１つに記載の方法であって、
複数のアナライトのパウダー回折パターンが、検出され、記録される方法。
【請求項１８】
請求項１乃至１６の何れか１つに記載の方法であって、
複数のアナライトの位相の挙動が映写される方法。
【請求項１９】
請求項１乃至１６の何れか１つに記載の方法であって、
複数のアナライトの同質異像が検出される方法。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】発明の名称
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【発明の名称】透過回折分析を実施するための方法
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００１】
本発明はサポート面上の１個またはそれより多いアナライトの透過回折分析実施のための方法であって、その方法は：
−放射線源により起こされた放射線ビームで上記アナライトの各々を照射し、かつ
−アナライトを通過した後に上記放射線を検出する工程を包含している。
【背景技術】
【誤訳訂正４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００３】
ＵＳ６,１１１,９３０は透過モードと同様に反射モード検出のために好適なＸ線回折メーターを開示している。反射モードではアナライトのためのサポートは水平位置にある。透過モードで分析を行うためにはサポートは角度計の水平軸周りに回され、従ってサポートは基本的には垂直位置を占める。
【誤訳訂正５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００６】
多くの異なるサンプルが回折分析のために提供されると、分析の効率が最大の重要事項となる。所要のサンプル量に関してはるかに効果的な分析方法では、計測時間およびシグナル対ノズル比が回折の透過ジオメトリーとなる。透過回折モードにおいては、反射モードと異なり、前方回折放射線の全体ファンが位置感知放射検出器により計測され、そこでは回折された放射線のファンの小部分のみが計測される。しかしながらパウダー回折の透過ジオメトリーは殆ど使用されておらず、その理由は電子密度の非常に高いサンプルの場合は強力な吸収により傷付けられるからである。また、非常に薄い分析フイルムが好適な結論を得るためには使用されなければならない。それにもかかわらず、薬剤または薬剤候補者のような多くの有機サンプルはパウダー回折データの質を傷付けないために充分に透明である。これらおよび多くの他の場合において、そのようなサンプルに対して透過ジオメトリーの適用は更なる特性化のために充分なシグナル対ノイズ比を得るために実質的に所要計測時間を低減する。処理量を増すために、人が関与することなく多くのアナライトの素速い計測を許容する自動化されたアレイが強く望まれている。この目的のために、全てのサンプルをひとつのアレイフォーマット内に同時に装着し、かつ分析中に上記アレイをひとつのサンプルから次のサンプルへと自動的に移送する便利な方法が採用され得る。
【誤訳訂正６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００７】
ＷＯ−Ａ−００／３６４０５内の場合と同様に、現在までに使用されている透過ジオメトリー内の回折のための全ての構成において、放射ビームは水平でありかつアナライトサポートは実質的に上下の向きに装着され、これは如何なるサンプルも何らかの物理的手段により（セミ）半透明物質に対して接着されるか、または例えば薄い壁のガラスまたは石英毛細管のようなコンテナー内に包み込まれる。この“水平”な構造においては或る実験中に形成されたアナライトは透過回折分析のために別のコンテナーに移されなければならない。これは不便であり、なぜならばそれには時間を要し、かつ追加の処理工程を要するからである。アナライトの取り外しは更にアナライトの結晶化された構造が破損し、またはアナライトが汚染される危険を伴う。更に、公知の装置を使用してアナライトの位相遷移を研究するには不便であり、それは位相のひとつが液体であり、そのときアナライトが放射線ビームに対して落下しまたはシフトするからである。
【誤訳訂正７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１０】
従って本発明の目的は、高シグナル対ノイズ比を持ち、特に得られるアナライトの量が非常に小さいアナライトの透過回折分析実施のための新規かつ代替の方法の提供にある。
【課題を解決するための手段】
【誤訳訂正８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１１】
上記および他の目的はアナライトの透過回折分析実施のための方法により達成され、その方法は：
−放射線源により起こされた放射線ビームで上記アナライトを照射し、かつ
−アナライトを通過した後に上記放射線を検出する工程を包含する方法において、
放射ビームが、アナライトを、支持面に対して、実質的に上下の向きであって、かつ、実質的に垂直な方向から照射するように、回折が実施されることを特徴としている。
【誤訳訂正９】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１４】
当業者は放射線源がそれ自体で実質的に上下の向きの放射線ビームを提供し得ることを理解するであろう。代わりに、本発明の放射線源により提供される放射線ビームの方向は、例えば少なくともひとつの鏡の使用により、透過回折分析の実施前に変更され得る。
【誤訳訂正１０】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１５】
本発明によると、“放射線”で、Ｘ線、ガンマ線、カソード線のような、アナライトの透過回折分析実施のために使用され得るどれかの放射線が意味されている。使用に際し、放射線源はアナライトの上方に、下方を指向して配置され；代わりに上記放射線源はアナライトの下方に上方を指向して配置され得る。
【誤訳訂正１１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１７】
本発明は多数のアナライトの同時審査を許容し、その際上記アナライトは例えばアレイ中に配置され、かつアナライトをそれらが内部に準備されているコンテナーから物理的に取り外す必要がなく、ただし上記コンテナーが使用される放射線に対して半透明であることが条件である。このようにして、好ましくは、上記アナライトは別のコンテナーまたはサポートへ移されない。放射線ビームの方向が実質的に上下の向きであるため、この配列はアナライトを開放コンテナー内またはサポート上に置いて回折のための透過ジオメトリー達成のために不可欠であり、その際上記アナライトを上記コンテナーまたはサポートに対して物理的にまたは別方法で取り付ける必要はない。今や、本発明の方法で２次元アレイ、例えばマイクロチタープレート内の上記アナライトの分析が可能となった。
【誤訳訂正１２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２２】
本発明の方法で、結晶化されたアナライトの回折特性の決定は用意されたアレイ内で好都合に行われ、そこでは結晶化方法が達成されてきた。透過回折ジオメトリーにおいてアレイそれ自体が回折に対して透明でありまたはアレイからの背景回折パターンが決定される必要があり、かつアレイ内の結晶から得られた回折データはこの背景パターンのために訂正される。この回折実験のより従来的な反射ジオメトリーに対して透過ジオメトリー使用の利点は、アナライトのマスユニットに対して実質的に多くのシグナルが計測されることである。このようにして材料量のミリグラムの使用、好ましくはマイクログラム、ナノグラムまたはピコグラムの材料量の使用が可能となり、しかも改良された処理量を達成し得る。
【誤訳訂正１３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２５】
更なる局面において本発明はアナライトの透過回折分析実施のための装置を提供し、その装置が：
−アナライトに対して放射線ビームを向けるようにされた放射線源；
−アナライトを支持するためのサポートであって、そのサポートが放射線に対して半透明であるサポート；および
−アナライトを通過した放射線を検出するための検出器を包含し、
放射線源、アナライトのためのサポートおよび検出器が放射線源により起こされた放射線ビームがアナライトに実質的に上下の向きであって、かつ実質的に垂直方向に衝突するように照射し得るように配置されている。サポートとして、例えば半透明材料の開放コンテナーまたは小さいプレートが使用され得る。
【誤訳訂正１４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２６】
上述のように、放射線源は本質的に垂直な放射線ビームを提供し、このビームは直接的に使用可能である。しかしながら、代わりに、本発明装置の放射線ビームの方向は透過回折分析実施のために、例えば少なくともひとつの鏡の使用により、人工的に実質的な垂直にされ得る。
【誤訳訂正１５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３２】
図１は本発明による典型的な透過モードＸ線回折分析装置の線図を示している。装置１は従来型Ｘ線チューブのような強いＸ線放射線６の源２、複数個のアナライト（被分析体）４のための半透明なマイクロチッタープレートのようなアレイ（配列体）３およびアナライト４を通過した放射線検出のための検出器５を包含している。図示の実施例においてはＸ線放射線６の源２はアナライト４の上方に配置されている。放射線のための検出器５は図示の実施例内においては放射線２の源からアナライト４の反対端部上に配置されていて、放射線６はアナライト４を通過した後に検出されかつ記録される。検出器５は刺激型蛍光イメージプレートのような如何なる好適な検出器であり得る。好ましくは、検出器５は位置感知２Ｄ放射線検出器である。
【誤訳訂正１６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３５】
図２は透過回折分析装置２０を略図的に示しており、装置２０は放射線ビーム２６を発生する放射線源２２を包含しており、このビーム２６は複数のアナライト２４のための共通サポート２３上へと、上下の向きであって、かつ下向きに方向付けられている。このサポート２３は水平方向に保持されておりかつアナライト２４は上記サポート２３上の２軸列内に配置されている。
【誤訳訂正１７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３８】
図３は透過回折分析装置３０を示しており、この装置３０は基本的には装置２０と同じ構成要素を備えている。しかしながら装置３０において、放射線源２２はサポート２３の下側に配置されており、そして、上下の向きであって、かつ上向きのビーム２６を発生する。このビーム２６はアナライト２４に下側から衝突する。検出器２５は回折された放射線の上向きパターンを受け取るためにサポート２３の上方に配置されている。
【誤訳訂正１８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４０】
好ましい実施例においては、アナライトは回折分析前にそれらのコンテナー内に結晶させられるので、アナライトは結晶工程と透過回折分析の間に移送される必要がなくなる。
【誤訳訂正１９】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４５】
アナライトの温度制御のための熱移送手段を設けることもでき、上記手段は例えばアナライトの位相変更または透過回折分析中にアナライトの乾燥を達成する。
【誤訳訂正２０】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４６】
【図１】本発明による透過モードＸ線回折分析装置の線図である。
【図２】本発明による透過回折分析装置の好ましい実施例の略図である。
【図３】本発明による透過回折分析装置の代わりの好ましい実施例の略図である。