【事件の表示】
　平成　８年特許願第２４９６４１号「液晶パネルの検査方法」拒絶査定不服審判事件〔平成１０年　４月１４日出願公開、特開平１０−　９６９５１〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１　手続きの経緯
　平成　８年　９月２０日　特許出願
　平成１４年　７月３１日　拒絶理由通知
　平成１４年１０月　７日　手続補正
　平成１５年　４月１０日　拒絶査定
　平成１５年　５月２２日　審判請求
　
２　本願の請求項に係る発明
　本願の請求項に係る発明は、平成１４年１０月７日付手続補正書で補正された明細書及び図面の記載からみて、特許請求の範囲の請求項１ないし２に記載された事項により特定されるとおりのものと認められるところ、その請求項１に係る発明は下記のものである(以下、「本願発明」という。)。
　
　　　　　　　　　　　　　　　記
　
【請求項１】　絶縁性基板上に、走査線、データ線及びスイッチング素子が形成され、前記走査線、前記データ線及び前記スイッチング素子上に絶縁膜が形成され、該絶縁膜上に画素電極が形成されたアクティブ基板と、絶縁性基板上に透明電極が形成された対向基板とを対向配置させ、該基板間には配向膜及び液晶層が挾持されてなる液晶パネルの検査方法において、
　前記データ線の１本おきに、対向電極の電位を中心として極性が異なる信号を入力することを特徴とする液晶パネルの検査方法。
　
３　引用例の記載等
　原査定の拒絶の理由に引用された特開平６−２５０１９７号公報(以下、「引用例」という。)には、図面とともに以下の記載がある。
(1)　「【請求項１】　マトリクス状に配置された画素電極と、これら画素電極に対応させて垂直ライン方向に延在され、表示信号が印加されるデータ線と、これらデータ線と前記画素電極との間に接続されたアクティブ素子と、前記画素電極に対応させて水平ライン方向に延在され、印加される走査信号により前記アクティブ素子のオン、オフを制御する走査線とが形成されてなる第１の基板と、共通電極が形成されてなる第２の基板とを対向させ、これら第１及び第２の基板間に液晶を封入してなるアクティブマトリクス型液晶表示パネルにおいて、前記第１の基板に、絶縁層で被覆され、かつ、前記データ線との電気的接触を図るための窓を形成してなる第１の検査用領域と、絶縁層で被覆され、かつ、前記走査線との電気的接触を図るための窓を形成してなる第２の検査用領域とが設けられていることを特徴とするアクティブマトリクス型液晶表示パネル。」
　
(2)　「【０００１】【産業上の利用分野】　本発明は、画素をマトリクス状に配列させると共に、各画素ごとにアクティブ素子を形成し、各画素に記憶動作を行わせるように構成されるアクティブマトリクス型液晶表示パネルに関する。
【０００２】【従来の技術】　従来、アクティブマトリクス型液晶表示パネルとして、図２２に概略的平面図を示すようなものが知られている。
【０００３】　図中、１はアクティブ素子として薄膜トランジスタ（thin film transistor．以下、ＴＦＴという）基板、２1、２2・・・２640はＴＦＴ基板１に形成されている表示信号が印加されるデータ線である。
【０００４】　また、３は奇数ラインのデータ線２1、２3・・・２639に表示信号を印加するための表示信号印加領域、４は偶数ラインのデータ線２2、２4・・・２640に表示信号を印加するための表示信号印加領域である。
【０００５】　また、５1、５2・・・５480は同じくＴＦＴ基板１に形成されている走査信号が印加される走査線、６はこれら走査線５1、５2・・・５480に走査信号を印加するための走査信号印加領域である。
【０００６】　また、図２３は、このＴＦＴ基板１の平面構造を概略的に示す平面図であり、図中、７11、７12・・・７24は画素ごとに設けられている画素電極、８11、８12・・・８24はアクティブ素子をなすＴＦＴである。
【０００７】　また、図２２において、９はＴＦＴ基板１に対向して設けられている共通電極が形成されてなる対向基板であり、この対向基板９とＴＦＴ基板１との間に液晶が封入されている。
【０００８】　かかるアクティブマトリクス型液晶表示パネルについては、データ線２1、２2・・・２640の短絡、断線及び走査線５1、５2・・・５480の短絡、断線というパターン不良の検出が不可欠とされている。」
　
(3)　「【００１９】（１）構成
　図１は本発明の一実施例を概略的に示す平面図である。図中、１０は表示信号が印加されるデータ線、走査信号が印加される走査線、画素を構成する画素電極、アクティブ素子としてのＴＦＴ等が形成されてなるＴＦＴ基板、１１は共通電極が形成されてなる対向基板であり、これらＴＦＴ基板１０と対向基板１１との間に液晶が封入されている。
【００２０】　また、１２1、１２2・・・１２640は垂直ライン方向に延在されているデータ線、１３は奇数ラインのデータ線１２1、１２3・・・１２639に表示信号を印加するための表示信号印加領域、１４は偶数ラインのデータ線１２2、１２4・・・１２640に表示信号を印加するための表示信号印加領域である。
【００２１】　また、１５1、１５2・・・１５480は水平方向に延在されている前述の走査線、１６はこれら走査線１５1、１５2・・・１５480に走査信号を印加するための走査信号印加領域である。
【００２２】　また、１７、１８は検査用領域であり、図２は検査用領域１７の一部を拡大して示す平面図、図３は図２のＡ−Ａ線に沿った断端面図、図４は図２のＢ−Ｂ線に沿った断端面図である。
【００２３】　図中、１９はＴＦＴ基板１０を構成する透明ガラス板、２０はＳiＮからなる最終保護膜、２１2n、２１2n+1・・・２１2n+4は、それぞれ、データ線１２2n、１２2n+1・・・１２2n+4と電気的接触を図るための窓、２２2n、２２2n+1・・・２２2n+4はＩＴＯ膜である。なお、データ線１２1、１２2・・・１２640はチタンＴiで形成されている。
【００２４】　また、図５は検査用領域１８の一部を拡大して示す平面図、図６は図５のＣ−Ｃ線に沿った断端面図、図７は図５のＤ−Ｄ線に沿った断端面図である。
【００２５】　図中、２３はＳiＮからなるゲート絶縁膜、２４2n、２４2n+1・・・２４2n+4は、それぞれ、走査線１５2n、１５2n+1・・・１５2n+4と電気的接触を得るための窓、２５2n、２５2n+1・・・２５2n+4はＩＴＯ膜である。なお、走査線１５1、１５2・・・１５480はチタンＴiで形成されている。」
　
(4)　「【００３５】（ｂ）データ線の短絡、断線の検査方法（その２）
　図１１はデータ線１２1、１２2・・・１２640の短絡、断線の検査方法の他の例を説明するための図である。なお、この図１１においても、最終保護膜２０は、その図示を省略している。
【００３６】　まず、図１１（Ａ）に示すように、偶数ラインのデータ線１２2、１２4・・・１２640を偶数ラインの窓２１2、２１4・・・２１640を介して導電性ゴム２６で短絡すると共に、奇数ラインのデータ線１２1、１２3・・・１２639を奇数ラインの窓２１1、２１3・・・２１639を介して導電性ゴム２７で短絡する。
【００３７】　また、図１１（Ｂ）に示すように、偶数ラインの走査線１５2、１５4・・・１５480を偶数ラインの窓２４2、２４4・・・２４480を介して導電性ゴム２８で短絡すると共に、奇数ラインの走査線１５1、１５3・・・１５479を奇数ラインの窓２４1、２４3・・・２４479を介して導電性ゴム２９で短絡する。
【００３８】　そして、偶数ラインのデータ線１２2、１２4・・・１２640及び奇数ラインのデータ線１２1、１２3・・・１２639にそれぞれ導電性ゴム２６、２７を介して反転関係にある黒表示信号を印加する。
【００３９】　他方、偶数ラインの走査線１５2、１５4・・・１５480及び奇数ラインの走査線１５1、１５3・・・１５479にはそれぞれ導電性ゴム２８、２９を介して書込み信号を印加する。
【００４０】　ここに、例えば、走査線１５1、１５2・・・１５480に断線がなく、データ線１２1、１２2・・・１２640にも短絡、断線がない場合には、図１１（Ａ）に示すように、表示画面３０は、偶数番目の垂直ライン３１2、３１4・・３１640も黒、奇数番目の垂直ライン３１1、３１3・・・３１639も黒という完全な黒画面となる。
【００４１】　これに対して、データ線１２1、１２2・・・１２640のいずれかに短絡がある場合、例えば、データ線１２2n+2、１２2n+3間に短絡がある場合には、表示画面３０は、図１２に示すように、垂直ライン３１2n+2、３１2n+3は白となってしまい、図１１（Ａ）に示す期待する画面とは異なるものとなってしまう。
【００４２】　また、偶数ラインのデータ線１２2、１２4・・・１２640のいずれかに断線がある場合、例えば、データ線１２2n+2に断線がある場合には、表示画面３０は、図１３に示すように、垂直ライン３１2n+2は、断線部より下方の画素が白ないし灰色となってしまい、図１１（Ａ）に示す期待する画面とは異なるものとなってしまう。」
　
(5)　「【００５２】（３）作用、効果
　以上のように、本実施例においては、最終保護膜２０で被覆された検査用領域１７、１８が形成されており、検査用領域１７には、データ線１２1、１２2・・・１２640と電気的接触を図るための窓２１1、２１2・・・２１640が形成されており、検査用領域１８には、走査線１５1、１５2・・・１５480と電気的接触を図るための窓２４1、２４2・・・２４480が形成されている。
【００５３】　また、検査用領域１７では、偶数ラインの窓２１2、２１4・・・２１640及び奇数ラインの窓２１1、２１3・・・２１639は水平ライン方向に平行に形成されており、検査用領域１８では、偶数ラインの窓２４2、２４4・・・２４480及び奇数ラインの窓２４1、２４3・・・２４479は垂直ライン方向に平行に形成されている。
【００５４】　この結果、偶数ラインのデータ線１２2、１２4・・・１２640は、窓２１2、２１4・・・２１640を介して導電性ゴム２６で短絡することができ、奇数ラインのデータ線１２1、１２3・・・１２639は、窓２１1、２１3・・・２１639を介して導電性ゴム２７で短絡することができる。
【００５５】　また、偶数ラインの走査線１５2、１５4・・・１５480は、窓２４2、２４4・・・２４480を介して導電性ゴム２８で短絡することができ、奇数ラインの走査線１５1、１５3・・・１５479は、窓２４1、２４3・・・２４479を介して導電性ゴム２９で短絡することができる。
【００５６】　そこで、このような状態とした上で、導電性ゴム２６、２７、２８、２９に前述のように、所定の信号を印加して、所定の画面を表示させることで、データ線１２1、１２2・・・１２640の短絡、断線及び走査線１５1、１５2・・・１５480の短絡、断線というパターン不良を検査することができる。
【００５７】　即ち、本実施例によれば、簡単な検査方法で、データ線１２1、１２2・・・１２640の短絡、断線及び走査線１５1、１５2・・・１５480の短絡、断線というパターン不良を正確に検出することができる。」
　
　したがって、引用例には以下の発明(以下、「引用発明」という。)が記載されている。
「透明ガラス板上に、走査線、データ線、及び、アクティブ素子としてのＴＦＴ、画素を構成する画素電極が形成されたＴＦＴ基板と、共通電極が形成されてなる対向基板とを対向させ、該基板間には液晶が封入されてなるアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法において、
　偶数ラインのデータ線及び奇数ラインのデータ線にそれぞれ導電性ゴムを介して反転関係にある黒表示信号を印加するアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法。」
　
４　対比
　そこで、本願発明と引用発明を比較すると、以下のとおりである。
(1)　引用発明の「透明ガラス基板」、「走査線」、「データ線」、「アクティブ素子としてのＴＦＴ」、「画素を構成する画素電極」、「ＴＦＴ基板」、「共通電極」、「対向基板」、「液晶」及び「アクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法」は、それぞれ、本願発明の「絶縁性基板」、「走査線」、「データ線」、「スイッチング素子」、「画素電極」、「アクティブ基板」、「透明電極」、「対向基板」、「液晶層」及び「液晶パネルの検査方法」に相当する。
(2)　引用発明の「対向させ」及び「封入され」と本願発明の「対向配置させ」及び「挾持され」とは、それぞれ、技術的に見て同じ事項を表している。
(3)　引用発明の透明電極が絶縁性基板上に形成されたものであること、及び、引用発明の基板間には配向膜が挾持されていることは、技術的に見て自明である。
　
　したがって、本願発明と引用発明とは、
「絶縁性基板上に、走査線、データ線及びスイッチング素子、画素電極が形成されたアクティブ基板と、絶縁性基板上に透明電極が形成された対向基板とを対向配置させ、該基板間には配向膜及び液晶層が挾持されてなる液晶パネルの検査方法」
　の点で一致し、以下の点で一応相違している。
　
(相違点１)
　本願発明のアクティブ基板は「前記走査線、前記データ線及び前記スイッチング素子上に絶縁膜が形成され、該絶縁膜上に」画素電極が形成されたものであるのに対し、引用例の図２２、２３には概略図しか示されておらず、引用発明のＴＦＴ基板がこのようなものか不明である点。
　
(相違点２)
　本願発明の液晶パネルの検査方法は「前記データ線の１本おきに、対向電極の電位を中心として極性が異なる信号を入力する」構成を有するのに対し、引用発明の検査方法は「偶数ラインのデータ線及び奇数ラインのデータ線にそれぞれ導電性ゴムを介して反転関係にある黒表示信号を印加する」構成を有する点。
　
５　判断
(相違点１について)
　本願発明は液晶パネルの検査方法に関するものであるから、検査対象である液晶パネルの構成に差異があるからといって本願発明の構成に差異があるとはいえない。
　あるいは、ＴＦＴ基板として、走査線、データ線及びスイッチング素子上に絶縁膜が形成され、該絶縁膜上に画素電極が形成されたものはごく一般的なものであるから(例えば、特開平８−１６０４５４号公報、特開平８−２４０８１６号公報、特開平２−２４８９２７号公報を参照。)、引用発明がこのような液晶パネルを検査対象とすることに困難性はない。
　なお、この点に関する審判請求人の主張については、相違点２の判断と併せて後で検討する。
　
(相違点２について)
　引用発明の「反転関係にある黒表示信号」に関して、引用例の図１１を参照すれば、偶数ラインに印加される黒表示信号と奇数ラインに印加される黒表示信号は横線で示された電位を中心として極性が異なっている。そして引用例の図８の白表示信号波形も併せて参照すれば、この横線で示された電位が対向電極の電位に相当するものであることが理解できる。
　また、引用発明の「偶数ラインのデータ線及び奇数ラインのデータ線にそれぞれ導電性ゴムを介して反転関係にある黒表示信号を印加する」構成は、例えば偶数ラインに着目すれば、本願発明の「前記データ線の１本おきに、対向電極の電位を中心として極性が異なる信号を入力する」構成と同じ技術内容を示すものである。
　そうしてみれば、引用発明のアクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査方法は本願発明と同じ構成を有するものといえ、相違点２は、実質的には相違点とはいえない。
　
　なお、審判請求人は審判請求書(平成１５年６月２３日付手続補正書により補正されたもの)において以下のとおり主張している。
「請求項１に係る発明である液晶パネルの検査方法は、絶縁性基板上に、走査線、データ線およびスイッチング素子が形成され、走査線、データ線およびスイッチング素子上に絶縁膜が形成され、絶縁膜上に画素電極が形成されたアクティブ基板と、絶縁性基板上に透明電極が形成された対向基板とを対向配置させ、基板間には配向膜および液晶層が挟持(当審注：「挾持」の誤記)されてなる液晶表示パネルの検査方法において、
　『（構成Ａ）：データ線の１本おきに、対向電極の電位を中心として極性が異なる信号を入力する』ことを特徴としている。
　上記の構成において、対向電位を中心（基準）として極性が異なる信号を偶数番目のデータ線と奇数番目のデータ線に入力することによって、画素電極間にリークがあった場合に、画素電極間にリークの発生している箇所の表示状態を、周辺の表示に対して異ならせて、画素電極間のリークを検出している。
　これに対し、引用文献１には、『データ線および走査線と画素電極とが、アクティブ素子を介して接続されるアクティブマトリクス基板において、偶数番目のデータ線および奇数番目のデータ線が、それぞれ導電性ゴムで接続され、偶数番目のデータ線を接続する導電性ゴムおよび奇数番目のデータ線を接続する導電性ゴムに、それぞれ反転関係にある黒表示信号を印加することによって、短絡箇所のあるデータ線の垂直ラインを白表示として、データ線の短絡を検出すること』が開示されている。
　しかし、引用文献１には、上記の構成Ａとすること、および、画素電極間のリークが発生している箇所の画素電極の表示を白表示とすることによって画素電極間のリークを検出することは開示されていない。
　また、引用文献１の構成では、データ線間の短絡した箇所の上流側（データ線の検査信号入力側）は、電圧波形の振幅が徐々に低下するので、下流側（データ線の検査信号入力側とは反対側）と表示が異なる。すなわち、下流側の白表示に対して、黒に近い表示が発生する。そのため、引用文献１に構成Ａを適用したとしても、本発明のような作用効果を奏することはできない。もし、黒に近い表示を白表示とする場合には、対向電極を各データ線に沿ったストライプ状の電極とし、短絡箇所の上流側で対向電圧を画素電極の電位の変化に合わせて極性反転した波形にする必要がある。また、引用文献１には、対向電極の信号波形については、記載されていない。
　本発明では、画素電極間にリークが生じ、隣接する画素電極間で画素電極の電位が平均化され、平均化されたリーク画素電極の電位と対向電極の電位差がない場合、白表示になる。
　また、本発明では、画素電極間のリークが生じた画素電極の電位は、保持される。そのため、画素電極間のリークが生じた画素電極とトランジスタを介して接続されるデータ線から、検査信号の供給を受ける他の複数の画素電極には、同様の電位は供給されない。これは、極めて複数の画素に一定の電位が書き込まれるため、リークした画素電極の電位変化の影響をほとんど受けないからである。したがって、本発明では、リークした画素電極のある箇所は、連結した白表示となり、これによって、画素電極間のリークのみを容易に検出することができる。
　以上のように、本発明と引用文献１とでは、構成および作用効果が異なり、また技術的課題も異なる。」
　
　しかしながら、上記主張については以下のとおり判断する。
(1)　引用発明が上記の構成Ａを有することは、既に述べたとおりである。
(2)　本願発明は「データ線の１本おきに、対向電極の電位を中心として極性が異なる信号を入力する」ステップは有するものの、「画素電極間のリークが発生している箇所の画素電極の表示を白表示とすることによって画素電極間のリークを検出する」ステップは包含していない。したがって、画素電極間のリークを検出する検査方法であることを前提とした審判請求人の主張は、特許請求の範囲の記載に基づくものではない。
(3)　なお、本願発明の検査対象である液晶パネルは、絶縁膜がデータ線上を含めて形成されていること及び該絶縁膜上に画素電極が形成されていることまでは特定されているが、データ線の真上に絶縁膜を介して画素電極が形成されかつ隣接する画素電極がデータ線上で近接していることまでは特定されていない。したがって、検査対象である液晶パネルの構成を考慮したとしても、本願発明が画素電極間のリークを検出する検査方法であると見ることはできない。
(4)　引用発明には検査項目としてデータ線の短絡、断線のみが例示されているが、仮に隣り合う画素電極間にリークがあれば、やはり引用例の図１１(Ａ)に示す期待する画面とは異なる表示画面となる。したがって、仮に本願発明が画素電極間のリークを検出する検査方法であると見ることができたとしても、それは引用発明の検査方法から容易に発明できたものである。
　したがって、審判請求人の主張は採用できない。
　
６　むすび
　以上のとおり、本願発明は、引用例に記載された発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　よって、結論のとおり審決する。