【事件の表示】
　平成５年特許願第２２１２２４号「磁性材料内部欠陥の漏洩磁束探傷方法及びその装置」拒絶査定不服審判事件〔平成７年３月１７日出願公開、特開平７−７２１２２〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
［１］経緯
　本件は、平成５年９月６日の出願であって、平成１４年６月１１日付け（起案日）の拒絶理由（特３６条４項、５項２号、６項違反）により拒絶査定（１４年１０月８日；起案日）されたところ、平成１４年１１月１４日に審判請求がなされ、平成１４年１２月１６日付けで特許請求の範囲と明細書の記載を補正する手続補正書が提出されたものである。
　
［２］拒絶理由の概要
理由１；本願発明における「磁化力検出器」は、どのようにして被検体が受ける磁化力のみを検出することができるものなのか不明である。
　
理由２；本願発明における「積分処理」は、具体的にどのような技術を意味しているのかが不明瞭である。
　
［３］当審の判断
（１）理由１について
ア　本件の補正された請求項１には、
「前記被検体の表面に磁化力検出器を位置させ、前記磁場検出器の出力信号を前記磁化力検出器の出力信号で補償した後に分岐し、」と記載されているが、被検体の表面に磁化力検出器を位置させて磁化力を検出することができることが不明であり、また、磁場検出器の出力信号を磁化力検出器の出力信号で補償することも不明であるので、当業者は請求項１に記載された発明を容易に理解することも実施することもできず、明細書に記載された発明の効果「本発明によれば、磁化器と被検体の接触状態及び磁化器から漏洩する磁束の影響を受けることなく、しかも近接する複数の内部欠陥の評価まで精度良く行うことができる。」（補正された【００２２】）を実現することができない。
　
イ　補正された発明の詳細な説明には、
「【００１４】
　次に上記のように構成される制御回路を、さらに図２に示す信号処理回路図により詳しく説明する。内部欠陥漏洩磁束密度に比例して内部抵抗値Ｒ1が変化する磁場検出器６と被検体が受けている磁化力に比例して内部抵抗値Ｒ2が変化する磁化力検出器８を差動構成させた信号補償装置１５によって、磁場検出信号は磁化力検出器信号で差動補償され、信号処理装置１６に出力される。・・・」
と記載されているので、磁化力検出器は、被検体の表面からわずかに離れた空間の磁界の強さを抵抗の変化として検出すると解されるが、それは空間での磁界の強さであって、磁化力とは異なる。
　そして、被検体の表面からわずかに離れた空間での磁界の強さと磁化力の関係が本件明細書には記載されておらず、また、磁化力の変動と内部欠陥漏洩磁束とがどのような具体的関係にあるかについても記載されていないから、当業者は、磁場検出器の出力信号を磁化力検出器の出力信号で補償することについて容易に理解することも実施することもできず、本件発明の効果（補正された【００２２】）を実現することができない。
　
ウ　そして、上記の段落【００１４】には、「磁場検出信号は磁化力検出器信号で差動補償され、」と記載され、図７では磁場検出器６と磁化力検出器８とが被検体の表面からわずかに離れた空間に隣接して配置されることが図示され、図２ではＲ１とＲ２がブリッジの２辺に置かれていることが図示されているとしても、内部欠陥は図９の状況や図１１の状況など種々ありうるがどのようにしてＲ１とＲ２の抵抗値を設定するのか、具体的にどの程度の距離で相互に隣接させておくのか不明である。
　
エ　上記の理由から、「本発明の漏洩磁束探傷方法においては、磁場検出器の信号を磁化力検出器の信号で補償しているので、欠陥評価の基になる磁場検出器の信号は、磁性材料と磁化器の接触状態により変化する磁性材料が受けている磁化力の影響を受けることがない。」（補正された【００１１】）の根拠が不明である。
　
（２）理由２について
ア　本件の補正された請求項１には、「・・・一方を微分処理した信号と他方を積分処理した信号とを合成した信号の波形により前記被検体の内部欠陥探傷の評価を行う」と記載されているが、積分処理の結果の波形が不明であり、また微分処理した信号と積分処理した信号の合成の波形が不明であり、かつ、合成された波形により被検体の内部欠陥探傷の評価を行うことの内容も不明であるので、当業者は請求項１に記載された発明を容易に理解することも実施することもできず、明細書に記載された発明の効果（補正された【００２２】）を実現することができない。
　
イ　上記の段落【００１４】の後半には、
「・・・そして増幅された信号は分岐して一方が微分器１８に、他方が積分器１９に出力される。微分器１８では図３に示すようなゆっくりした入力信号波形でも微分回路の時定数（τ＝Ｒ4Ｃ1の値）を小さくすることによって図４に示すような急峻な出力波形が得られ、また、図５に示すように近接した複数の内部欠陥の入力信号でも、出力波形は図６に示すように各欠陥毎に分離されている。なお、微分器１８は、コンデンサＣ1、抵抗Ｒ4それぞれに並列に抵抗Ｒ５、コンデンサーＣ２を入れたことにより、欠陥信号より高い周波数成分（ノイズ）が除去できるものである。また、積分器１９は微分器１８に対し並列に接続し、高い周波数成分を除去して、微分回路と等しいゲインをもたせて、微分器１８と積分器１９との信号を合成して低い周波数（ドリフト）成分を相殺可能にしている。」と記載されている。
　ところで、図２をみると、微分器１８の出力信号線と積分器１９の出力信号線が結線されていることが図示されており、請求項１や【００１４】に記載された「合成」とは微分器１８の出力と積分器１９の出力を信号線の結線により合わせるの意味と解されるが、微分器出力信号線と積分器出力信号線を結線しただけで「低い周波数（ドリフト）成分を相殺可能」にできる根拠が不明である。
　
ウ　さらに、微分器１８により図３の波形から図４に示される波形が得られることが記載・図示されているとしても、分岐した信号の一方（微分器への入力信号）と同じ信号（他方の分岐信号）を積分した結果の波形が図示・説明されておらず不明であって、また、分岐した信号の一方を微分処理した信号と他方を積分処理した信号とを合成した信号の波形についても図示・説明されておらず、さらに、合成した信号の波形からどのようにして被検体の内部欠陥探傷の評価を行うかについても記載されていないから、当業者は、この発明を容易に理解することも実施することもできない。
　
エ　同様の理由から、「信号補償装置により処理された信号を分岐し、一方を微分処理して急峻な出力波形とした信号と他方を積分処理して高い周波数成分を除去した信号とが合成されて低い周波数（ドリフト）成分が除去される」（補正された【００１１】）根拠が不明であって、「近接した複数の内部欠陥から漏洩する巾広く分布した磁束を検出した場合でも夫々欠陥に対応して信号を分離できるので、表示手段に表示される波形から夫々欠陥の評価を容易に行うことができる。」（補正された【００１１】）根拠が不明である。
　
　また、「信号処理装置は信号補償装置の出力信号を増幅処理した後に分岐して、一方を微分処理して急峻な出力波形とした信号と他方を積分処理して高周波成分が除去された信号とが合成されて低周波数成分が取り除かれるので、表示手段に出力される信号にノイズがでることがなく、表示手段に表示される波形は、近接した内部欠陥が近接していてもそれらに対応して分離されたものとなり、内部欠陥を容易に評価できる。」（補正された【００１２】）根拠が不明である。
　
［４］審判請求人は、審判請求書において、
「本願発明の磁化力検出器８は、出願当初明細書の段落番号【００１６】の８〜９行目に記載されている内容から、・・・磁場検出器６が漏洩磁場の垂直方向成分を検出し、・・・磁化力検出器８が漏洩磁場の周辺（裾野をなす）の水平方向成分を検出するようにしているのである（図７には内部欠陥漏洩磁束４が磁化力検出器８に掛かるように記載されていない）。」と主張している。
 しかしながら、そのようなことは明細書にも図面にも記載されていないことである。
 仮に、磁場検出器６が漏洩磁場の垂直方向成分を検出し磁化力検出器８が漏洩磁場の周辺の水平方向成分を検出するものであったとしても、既に指摘した記載不備の理由が該当する。
 
［５］まとめ
　以上のことから、本件出願の特許請求の範囲の記載および発明の詳細な説明の記載は特許法第３６条４項、５項２号、６項に規定する要件を満たしていない。
　よって、結論のとおり審決する。