【事件の表示】
　特許第３４５１４０４号「セラミック基板」の請求項１に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第３４５１４０４号の請求項１に係る特許を取り消す。
【理　由】
１．手続の経緯
　特許第３４５１４０４号の請求項１に係る発明は、平成５年１２月２４日に特許出願され、平成１５年７月１８日にその特許権の設定登録がなされ、その後、請求項１に係る発明の特許について特許異議申立人　ＴＤＫ株式会社（以下、「申立人」という。）より特許異議の申立てがなされ、平成１６年９月６日付けで取消理由が通知され、その指定期間内である平成１６年１１月１２日に訂正請求がなされ（この訂正請求は、後日取り下げられた。）、平成１７年５月３１日付けで再度取消理由が通知され、その指定期間内である平成１７年８月８日に訂正請求がなされ、その訂正請求に対し平成１７年１１月１７日付けで訂正拒絶理由が通知されたものである。（特許権者からは、この訂正拒絶理由に対し、何等応答はなかった。）
　
２．訂正の適否についての判断
　上記「１．手続の経緯」で記載したとおり、平成１７年８月８日付け訂正請求に対し、平成１７年１１月１７日付けで訂正拒絶理由を通知し、期間を指定して意見書を提出する機会を与えたが、特許権者からは、何等応答がなかった。
　そして、上記の訂正拒絶理由は妥当なものと認められるので、当該訂正は、特許法等の一部を改正する法律（平成６年法律第１１６号）附則第６条第１項の規定によりなお従前の例とされる、特許法第１２０条の４第３項おいて準用する平成６年法律１１６号による改正前の特許法第１２６条第１項ただし書、第２項及び第３項の規定に適合しないので、当該訂正は認められない。
　
３．本件発明
　上記のとおり、平成１７年８月８日付け訂正請求は、その訂正が認められないので、特許第３４５１４０４号の請求項１に係る発明は、特許された明細書の特許請求の範囲請求項１に記載される次のとおりのもの（以下、「本件発明」という。）である。
【請求項１】セラミック基板上にメッキ処理により薄膜コンデンサ用下部電極を形成する工程を有するセラミック基板の製造方法であって、
前記メッキ処理により形成された薄膜コンデンサ用下部電極の厚みＹ（μｍ）が、前記セラミック基板の薄膜コンデンサ形成面に存在する空孔の最大ポア径Ｘ（μｍ）と、Ｙ≧１．１√Ｘの関係を有していることを特徴とするセラミック基板の製造方法。
　
４．平成１７年５月３１日付け取消理由の概要
　本件発明は特殊パラメーターに関するものであるが、該特殊パラメーターは、その条件を満足することによって発明が成立するものとはいえないので、本件発明について、明細書の特許請求の範囲の請求項１には、特許を受けようとする発明の構成に欠くことができない事項のみが記載されているものとは認められず、また、発明の詳細な説明に、当業者が容易にその実施をすることができる程度に、本件発明の目的、構成及び効果が記載されていると認めることもできない。してみれば、本件発明に係る特許は特許法第３６条第４項又は第５項及び第６項の規定に違反してされたものである。 
 　したがって、本件発明についての特許は拒絶の査定をしなければならない特許出願に対してされたものと認める。 
　
５．当審の判断
　本件発明は、明細書に記載の、「グレーズを施さないセラミック基板上に、薄膜コンデンサを形成する場合に適した下部電極を有するセラミック基板の製造方法を提供すること、さらには、高い歩留りを持つコンデンサを得るために必要な下部電極の厚みを有するセラミック基板の製造方法を得ること」（発明の詳細な説明【０００５】）を目的とし、「セラミック基板に存在するポアの大きさから、最低限必要な下部電極のメッキ厚さを算出することにより、極めて容易に、高い歩留まりを有するコンデンサを得られるセラミック基板が提供できる。従って、かかる下部電極を有するセラミック基板上には、薄膜コンデンサを安価に形成することが出来る」（発明の詳細な説明【００２５】）との効果を得るものである。
　一方、明細書の発明の詳細な説明【００１９】の【表２】の番号１１には、『「９９．５％アルミナ，下部電極総厚み：２．５μｍ」の条件で「合格率（歩留り）：７１．９％」なる例』が記載され、斯かる例は、明細書の発明の詳細な説明【００１７】の記載より、『「最大ポア径：５μｍ，下部電極総厚み：２．５μｍ」の条件で「合格率（歩留り）：７１．９％」なる例』であることがわかる。
　上記の例は、本件発明の条件であるところの「薄膜コンデンサ用下部電極の厚みＹ（μｍ）が、前記セラミック基板の薄膜コンデンサ形成面に存在する空孔の最大ポア径Ｘ（μｍ）と、Ｙ≧１．１√Ｘの関係」を有するものであるが、その合格率（歩留り）は７１．９％と、判定基準の９０％（明細書の発明の詳細な説明【００２０】参照）を大きく下回るものである。
　斯かる例から明らかなように、本件発明の特殊パラメーターを満足しても、上記の目的は達しないし、上記の効果は得ることができないといえるから、明細書の特許請求の範囲の請求項１の記載は、特許を受けようとする発明の構成に欠くことができない事項のみが記載されたものとは認められない。
　
　また、明細書の発明の詳細な説明【００２０】には、下記の記載がある。
「ここで、小コンデンサの合格率が９０％以上あることをメッキ厚みの良否の判定基準とした場合、下部電極に最低必要なメッキ厚み（以下必要メッキ厚みという）Ｙと最大ポア径Ｘとの関係は、Ｘが３μｍのときＹは２．１μｍ、Ｘが５μｍのときＹは２．９μｍ、Ｘが２０μｍのときＹは４．９μｍ、Ｘが５０μｍのときＹは７．７μｍというようになり、グラフに表すと図１１のようになる。即ち、Ｙ≧１．１√Ｘであれば、小コンデンサの合格率が９０％以上となることが判る。」
　上記記載を一見すると、本件発明の特殊パラメータであるところの「Ｙ≧１．１√Ｘ」について説明されているが如き見える。
　しかしながら、「Ｙ≧１．１√Ｘ」に、「Ｘ＝３μｍ」、「Ｘ＝５μｍ」を代入した値が、それぞれ、「１．１√３＝１．９μｍ」、「１．１√５＝２．５μｍ」であることを考慮すると、「下部電極に最低必要なメッキ厚み（以下必要メッキ厚みという）Ｙと最大ポア径Ｘとの関係は、Ｘが３μｍのときＹは２．１μｍ」と言いつつ、何故に、特殊パラメータで表すと、Ｘが３μｍのとき必要メッキ厚みＹは、２．１μｍより広範な「１．９μｍ」以上で是と言えるかの点、また、「下部電極に最低必要なメッキ厚み（以下必要メッキ厚みという）Ｙと最大ポア径Ｘとの関係は、・・・Ｘが５μｍのときＹは２．９μｍ」と言いつつ、何故に、特殊パラメータで表すと、Ｘが５μｍのとき必要メッキ厚みＹは、２．９μｍより広範な「２．５μｍ」以上で是と言えるかの点について、技術的に不明である。
　すなわち、上記の明細書の記載で言えば、何故に「即ち、Ｙ≧１．１√Ｘであれば、小コンデンサの合格率が９０％以上となることが判る。」と言えるかについて、技術的に不明な点がある。
　してみれば、明細書の発明の詳細な説明の記載は、本件発明の特殊パラメータであるところの「Ｙ≧１．１√Ｘ」について、実質的に説明するものとなっていないので、明細書の発明の詳細な説明の記載は、当業者が容易にその実施をすることができる程度に、発明の目的、構成及び効果が記載されているとは認められない。
　
６．まとめ
　以上のとおりであるから、本件発明は、特許法第３６条第４項又は第５項及び第６項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、特許異議の申立てがなされた本件発明の特許は、拒絶の査定をしなければならない特許出願に対してされたものと認める。
　よって、特許法等の一部を改正する法律（平成６年法律第１１６号）附則第１４条の規定に基づく、特許法等の一部を改正する法律の施行に伴う経過措置を定める政令（平成７年政令第２０５号）第４条第２項の規定により、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１８年１月１７日（２００６．１．１７）