【誤訳訂正書】
【提出日】平成22年4月12日(2010.4.12)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ファイバーを使用する、溶融物のサンプルの冷却曲線及び／または加熱曲線の測定方法であって、
溶融物と直接的に接触する少なくとも部分的な表面を有する浸漬端を有する光ファイバー（２）にして、該浸漬端を耐熱性のサンプル受容チャンバーから空間を置く状態下に包囲した光ファイバーを用意すること、
光ファイバー（２）の浸漬端を溶融物（３）内に浸漬させ、該浸漬端の、何れも溶融物と直接的に接触する少なくとも部分的な表面である、端面と側壁の一部とを共に溶融物（３）と直接接触する状態に持ち来し、サンプル受容チャンバー内に溶融物のサンプルを形成すること、
溶融物のサンプルを含んだサンプル受容チャンバー及び光ファイバー（２）を溶融物（３）から引き抜くこと、
光ファイバー（２）から得られ、測定装置（９）に送られる信号を参照して、溶融物のサンプルが冷却する間の冷却曲線及び／または、凝固した溶融物のサンプルを加熱する間の加熱曲線を測定すること、
を含む方法。
【請求項２】
光ファイバー（２）の、溶融物（３）と直接接触する状態に持ち来される側壁の一部の長さが、溶融物（３）と直接接触する状態に持ち来たされる光ファイバー（２）の端面の径の少なくとも１０倍である請求項１の方法。
【請求項３】
光ファイバー（２）の、溶融物（３）と直接接触する状態に持ち来される側壁の一部の長さが、溶融物（３）と直接接触する状態に持ち来たされる光ファイバー（２）の端面の径の少なくとも３０倍である請求項１の方法。
【請求項４】
光ファイバー（２）の浸漬端を溶融物（３）に浸漬させた後、サンプル受容チャンバーを減圧させ、溶融物をサンプル受容チャンバー内に引き込ませる請求項１〜３のいずれか１つに記載の方法。
【請求項５】
冷却曲線を測定した後、光ファイバー（２）を再度溶融物（３）に浸漬させてサンプル受容チャンバー内の圧力を増大させ、溶融物をサンプル受容チャンバーから押し出す請求項４の方法。
【請求項６】
冷却曲線及び／または加熱曲線を測定した後、光ファイバー（２）の浸漬端が使用不可能になったときに該浸漬端及びサンプル受容チャンバーの端を、溶融物の残留物と共に切り取る請求項４の方法。
【請求項７】
溶融物（３）の浴の温度も測定される請求項１〜６のいずれか１つに記載の方法。
【請求項８】
光ファイバー（２）の浸漬端が少なくとも断続的に振動させられる請求項１〜７のいずれか１つに記載の方法。
【請求項９】
溶融物の液相線温度及び／または固相線温度及び／または相転移温度が決定される請求項１〜８のいずれか１つに記載の方法。
【請求項１０】
溶融物のサンプルの冷却曲線及び／または加熱曲線を測定するための装置であって、
浸漬端を有する光ファイバー（２）と、
該光ファイバー（２）の支持体（１）と、
測定装置（９）にして、光ファイバーにより得られる信号を検出及び処理するために光ファイバー（２）の一端を接続した測定装置（９）と、
を含み、
光ファイバー（２）の浸漬端が、該浸漬端の端面及び側壁の一部に、溶融物と直接的に接触する少なくとも部分的な表面を有すると共に、耐熱性のサンプル受容チャンバーで、該サンプル受容チャンバーから空間を置く状態下に包囲される装置。
【請求項１１】
光ファイバー（２）の側壁の、溶融物と直接的に接触する少なくとも部分的な表面の長さが、光ファイバー（２）の端面の、溶融物と直接的に接触する少なくとも部分的な表面の径の少なくとも１０倍である請求項１０の装置。
【請求項１２】
光ファイバー（２）の側壁の、溶融物と直接的に接触する少なくとも部分的な表面の長さが、光ファイバー（２）の端面の、溶融物と直接的に接触する少なくとも部分的な表面の径の少なくとも３０倍である請求項１０の装置。
【請求項１３】
光ファイバー（２）の端面が、溶融物と直接的に接触する少なくとも部分的な表面を有している請求項１０〜１２のいずれか１つに記載の装置。
【請求項１４】
光ファイバー（２）が石英ガラスまたはサファイアから形成される請求項１０〜１３のいずれか１つに記載の装置。
【請求項１５】
サンプル受容チャンバーが管状に形成される請求項１０〜１４のいずれか１つに記載の装置。
【請求項１６】
サンプル受容チャンバーが石英ガラスから形成される請求項１０〜１５のいずれか１つに記載の装置。
【請求項１７】
サンプル受容チャンバーが金属またはセラミックから形成される請求項１０〜１５のいずれか１つに記載の装置。
【請求項１８】
サンプル受容チャンバーの端にスラグキャップが配置される請求項１０〜１７のいずれか１つに記載の装置。
【請求項１９】
サンプル受容チャンバーが加圧または減圧を生成するために装置（１１）に空気力学的に接続される請求項１０〜１８のいずれか１つに記載の装置。
【請求項２０】
光ファイバー（２）が振動器に接続される請求項１０〜１９のいずれか１つに記載の装置。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００１】
本発明は光ファイバーを利用した、溶融した塊（溶融物）の冷却曲線及び（または）溶融サンプルの加熱曲線に関する。そこにおいて、少なくとも部分的に自由表面（free surface）を有する光ファイバーの浸漬端は、浸漬端が溶融物内に浸漬される状態で、光ファイバーが溶融物内に浸漬され、それによりサンプル受容チャンバー内にサンプルが形成されるように（または、サンプルが溜まるように）、耐熱性のサンプル受容チャンバー（または、サンプル受容室）による空間（または、サンプル受容チャンバーによって形成される空間）で囲まれており、その後にサンプルを含んだサンプル受容チャンバー及び光ファイバーが溶融金属から引き抜かれ、サンプルの冷却曲線及び（または）、サンプルの事前の凝固の後の加熱中の温度特性（または、加熱曲線）が光ファイバーによって得られ、測定装置に転送される信号への参照とともに測定される。さらに、本発明は対応する装置及びそれの使用方法に関する。本発明において、溶融物は鉄、銅、または鋼鉄等の純金属、合金、及び氷晶石の溶融物、溶融塩、溶融ガラスを含む。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１５】
光ファイバー２は溶融金属３に面する側の端部で、端面と側壁の両方に自由表面を有し、光ファイバー２の自由表面の長さは端面から縦軸方向に測ったときに、溶融金属３に浸漬される光ファイバー２の端面の径の３０倍以上である。光ファイバー２は、測定のために、それの浸漬端が溶融物３中に入るように浸漬される。そしてその状態で、支持管１または外装管１４内が減圧され、溶融物の一部１５が管内に引き込まれる。支持管１または外装管１４の底部のこの部分はサンプル受容チャンバーを形成する。サンプリング装置はサンプル受容チャンバー及びその中に含まれるサンプル（サンプル受容チャンバー内に引き込まれた溶融金属３の一部１５）とともに溶融金属３から引き抜かれる。溶融金属３の外部において、温度は溶融金属３に比べ大幅に低いので、サンプルは冷やされ、光ファイバー２によって得られ、測定装置９に転送（または、送信）される放射信号への参照とともに冷却曲線が記録される。ここで、測定において黒体放射の効果が利用される。 冷却曲線に加え、または、冷却曲線の代わりに、サンプルは、例えばサンプリング装置のサンプル受容チャンバーの溶融物への浸漬によって、凝固／冷却の後に加熱／溶融されてもよい。この様式により、冷却曲線と同様に加熱曲線が温度−時間グラフとして記録及び評価されてもよい。