【事件の表示】
　平成１１年特許願第５２３４４４号「表面レーザークリーニングの監視方法及び装置」拒絶査定不服審判事件〔平成１１年５月６日国際公開、ＷＯ９９／２２２２３、平成１２年１１月２１日国内公表、特表２０００−５１５６４１〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
［１］手続の経緯
　本願は、１９９８年１０月１５日（パリ条約による優先権主張　外国庁受理１９９７年１０月２４日　イギリス国）を国際出願日とする出願であって、平成１３年８月３１日の拒絶理由に対して、手続補正書と意見書が平成１４年３月１１日付けで提出されたが、平成１４年８月２日に拒絶査定がなされ、この査定を不服として、審判請求がなされた。
　
［２］本願の請求項１ないし６に係る発明は補正された明細書および図面の記載からみて特許請求の範囲の請求項１ないし６に係るものと認められるところ、請求項１に係る発明は次のとおりである。（以下、「本願発明」という。）
「クリーニングレーザーからのレーザー照射によって人工的に造られた構成要素の表面をクリーニングする方法であって、クリーニングレーザーからのレーザーにより、クリーニングされるべき、あるいはクリーニングされる、又はクリーニングされた、前記表面が、紫外線照射の下で蛍光を発する同表面上の蛍光性汚染物質を励起させるのに十分な紫外線照射によって照射され、前記蛍光の強度又は蛍光の減衰速度が前記表面上の汚染物質の領域と厚みとを指示するように測定され、前記測定された強度又は減衰速度が、前記クリーニングレーザーの動作パラメータを制御できるように変更させるために利用されることを特徴とするレーザー照射による表面レーザークリーニング方法。」
　
［３］刊行物に記載された事項
ア　原査定の拒絶の理由に引用された国際公開９５−２４２７９号パンフレット（以下、「刊行物１」という。）には、次の事項が記載されている。
１−１
「１　構造体の表面に存在する被膜をレーザビームによって除去する被膜除去装置であって、
　レーザビーム照射及び被膜除去動作を制御するための制御装置と、
　該制御装置から発せられるレーザビーム照射信号に基づいてレーザビームを構造体表面に照射するレーザ装置と、
　前記制御装置から発せられる動作信号に基づいて前記レーザ装置によるレーザビーム照射位置を構造体上で走査させる走査装置と、
　被膜の除去状態を監視しその状態に関するデータを出力する監視装置とを備えており、
　前記制御装置は、構造体表面各部の座標データ及び各座標位置についてのレーザビーム照射仕様を入力するための設定部と、該設定部の座標データに基づいて前記走査装置の動作信号を発する走査制御部と、該設定部のレーザビーム照射仕様に基づきレーザビームの走査に連動してレーザビーム照射信号を発する照射制御部とを備えていることを特徴とする被膜除去装置。」（特許請求の範囲、請求項１）
　
１−２
「制御装置５０は、上記入力装置４０で設定された条件およひ対象の形状に応じて、予め設定された手順（プログラム）に従って、レーザ装置１０および光学系２０の動作を制御して、構造体表面に単位時間当たりに照射されるレーザビームの出力を調整すると供に、監視装置３０からの情報に基づいて、単位領域Ｓを移動させる指示を出力する。このため、制御装置５０は、入力装置４０から入力された対象に関する情報および各種制御パラメータに基づいて、予め設定されたプログラムに従って、
レーザ駆動装置１２に対して、レーザの発光パルス幅、発光周期、発光タイミング等の各種制御信号を送ると共に、これと同期して、パルスモータ２２に、その駆動制御信号、駆動タイミング信号等の各種制御信号を送る。また、照明装置３１および撮像装置３２に対して、対象物の照明および撮影の指示を送る。さらに、単位領域における被膜除去が終了するごとに、送り装置６０に、送りを指示する送り指令信号を出力する。」（１０頁１３ないし２５行）
　
１−３
「次に、各シーケンサ８０の動作について、図５を参照して説明する。・・・そして、手順にしたがって、被膜除去動作を開始する。
　まず、これから被膜除去を行なう単位領域Ｓについて、除去前撮像を行なう（ステップ５０２）。・・・撮像装置３２は、この映像データをディジタル信号として出力する。ＣＰＵ８０１は、この信号をメモリ８０２に格納する。
　各シーケンサ８０は、撮像装置３２からの映像信号を取り込んで、メモリ８０２に格納する。次に、インタフェース８４を介してレーザ装置１０およびパルスモータ２２を起動して、被膜除去を開始する。すなわち、単位領域に対して、レーザビームの照射を行なう。
　・・・
　単位領域Ｓについて、１回のスキャニングが終わると、ＣＰＵ８０１は、撮像装置３２に、当該単位領域Ｓについての撮像を行なわせ、その映像信号を取り込む（ステップ５０４）。そして、得られた映像信号をメモリ８０２に蓄積してある映像データと比較して、被膜が除去されていれば、除去収量と判定し、除去されていなければ、被膜が除去されるまで、上記ステップ５０３からの手順を、その単位領域Ｓについて繰り返す（ステップ５０５）。」（１４頁９ないし１５頁９行）
　
１−４
「上記実施例では、監視データ処理部３３において、対象の色の比較を行なって、被膜が除去できたか否か判定しているが、本発明は、これに限定されない。例えば、監視装置は、構造体の単位領域を照明しその領域の反射光を受光して、スペクトル分析する手段と、その分析結果に基づいて、その領域へのレーザビームの照射を続け
るか、終了させるかを判定する手段とを有する構成としてもよい。・・・さらに、この判別を構造体表面までの距離の変化により行うようにすることもできる。」（１６頁１４ないし２４行）
　
イ　同じく引用された特開平３−２５２５１２号公報（以下、「刊行物２」という。）には、次の事項が記載されている。
「すなわち、該先願技術によるオンライン測定法は、走行するシート面の皮膜に紫外線を照射し、励起により発生する蛍光線の強度を高感度ＴＶカメラで検知したのち、画像処理手段を介して皮膜量または皮膜厚さとして定量化することを要旨としており、・・・主要部とするものである。」（２頁右上欄１２ないし左下欄３行）
　
ウ　同じく引用された特開平５−２３２０４２号公報（以下、「刊行物３」という。）には、次の事項が記載されている。
「接点リレーの表面の汚れを検査する方法において、リレー接点部分に可視、紫外領域の励起光を照射し、該励起光強度および該励起光の試料への照射領域より生じる蛍光強度を測定することによりリレー接点表面に存在している異物の分布状態およびその量を評価することを特徴とする表面検査方法。」（特許請求の範囲、請求項１）
　
［４］対比・判断
ア　刊行物１に記載された被膜除去装置の動作に関する記載において、構造体の表面に存在する被膜をレーザービームの照射によって除去していることは、「クリーニングレーザーからのレーザー照射によって人工的に造られた構成要素の表面の汚染物質をクリーニングする方法」とみることができ、また、被膜除去開始前と被膜除去のためにレーザー照射スキャニングをした後に構造体の表面の被膜の除去状態を監視していることは、「クリーニングレーザーからのレーザーにより、クリーニングされるべき、あるいはクリーニングされる、又はクリーニングされた、前記表面が、前記表面上の汚染物質の領域の状態を指示するように測定され」とみることができ、刊行物１に記載された装置のクリーニングレーザーの照射などの動作がクリーニングレーザーの動作パラメータにより制御されていることは明らかであるから、刊行物１に記載されたレーザー照射による表面レーザークリーニング方法と本願発明とは、
「クリーニングレーザーからのレーザー照射によって人工的に造られた構成要素の表面をクリーニングする方法であって、クリーニングレーザーからのレーザーにより、クリーニングされるべき、あるいはクリーニングされる、又はクリーニングされた、前記表面が、前記表面上の汚染物質の領域の状態を指示するように測定され、前記測定された領域の状態が、前記クリーニングレーザーの動作パラメータを制御できるように利用されることを特徴とするレーザー照射による表面レーザークリーニング方法。」として一致し、次の点で相違する。
　
相違点；
　本願発明では、「前記表面が、紫外線照射の下で蛍光を発する同表面上の蛍光性汚染物質を励起させるのに十分な紫外線照射によって照射され、前記蛍光の強度又は蛍光の減衰速度が前記表面上の汚染物質の領域と厚みとを指示するように測定され、前記測定された強度又は減衰速度が、前記クリーニングレーザーの動作パラメータを制御できるように変更させるために利用される」のに対し、刊行物１に記載された発明では、測定手法として例示されたものには紫外線照射による汚染物質からの蛍光の強度又は蛍光の減衰度について示されておらず、また、測定結果はクリーニングレーザーの照射の繰り返しなどのためにクリーニングレーザーの動作パラメータを制御できるように利用されているにとどまる点。
　
イ　相違点について検討するに、刊行物１には被膜の除去状態を監視しその状態に関するデータを出力する測定手法として、「レーザビーム照射前と照射後との表面色彩の変化」、「レーザビーム照射前と照射後との表面反射光スペクトル分析の変化」、「レーザビーム照射前と照射後との構造体表面までの距離の変化」が例示されており（上記１−４の記載参照）、これらの測定原理が異なるものであることからみて構造物表面の被膜の状態を測定できる他の測定手法も採用可能であることは当業者にとって明らかであって、同様の測定のために利用される刊行物２や刊行物３に記載されている公知の技術、すなわち、構造体の表面に紫外線を照射し、同表面上の膜や汚染物質から発生する蛍光の強度を検知して、膜量、膜厚、異物の分布状態、異物の量などを測定する技術、を刊行物１に記載された発明に採用することは当業者が容易に想到しうることである。
　そして、刊行物１に記載された発明におけるクリーニングレーザーの基本動作は入力装置から設定される可変のクリーニングレーザーの動作パラメータを基に制御されている（上記１−２、１−３の記載参照）のであって、刊行物２や刊行物３に記載されている技術を採用した際には構造物表面の被膜や汚染物質の領域と厚みが蛍光の強度として測定できるのであるから、その測定した領域と厚みなどを加味してクリーニングすべく、測定された蛍光の強度が、クリーニングレーザーの動作パラメータを制御できるように変更させるために利用されることとするのは、一般に物体の表面に存在する異物や汚染物質を除去する際には、その範囲や状態を加味した作業により除去することが広く行われていることからみて、当業者が適宜なしうることである。
　
ウ　したがって、本願発明は、刊行物１ないし刊行物３に記載された発明に基いて当業者が容易に発明をすることができたものと認められる。
　
［５］結論
　以上のとおりであるから、本願の請求項１に係る発明は特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができず、他の請求項に係る発明についての検討・判断を示すまでもなく、本件出願は拒絶されるべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。