【手続補正書】
【提出日】平成22年2月10日(2010.2.10)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の扇形電場であって、前記第１の扇形電場は、第１の方向に移送中のイオンを受け取り、かつ前記第１の方向とは反対の第２の方向にイオンを排出するように構成される、第１の扇形電場と、
第２の扇形電場であって、前記第２の扇形電場は、前記第１の扇形電場に直交するように配置され、更に、第３の方向に移送中のイオンを受け取り、かつ前記第３の方向とは反対の第４の方向にイオンを排出するように構成される、第２の扇形電場と
を含む質量分析器。
【請求項２】
前記第１の扇形電場は、（ｉ）１つの１８０°扇形電場、または（ｉｉ）複数の第１の扇形電場区分であって、それぞれが扇形角度を有し、かつ前記複数の第１の扇形電場区分の扇形角度の合計は１８０°である、複数の第１の扇形電場区分、を含む、請求項１に記載の質量分析器。
【請求項３】
前記質量分析器は、前記第１の扇形電場内に設けられるイオン入口ポートであって、使用時にイオン源からのイオンが前記イオン入口ポートを介して前記質量分析器中に導入される、イオン入口ポートをさらに含む、請求項１又は２に記載の質量分析器。
【請求項４】
前記第２の扇形電場は、（ｉ）１つの１８０°扇形電場、または（ｉｉ）複数の第２の扇形電場区分であって、それぞれが扇形角度を有し、かつ前記複数の第２の扇形電場区分の扇形角度の合計は１８０°である、複数の第２の扇形電場区分、を含む、請求項１〜３のいずれかに記載の質量分析器。
【請求項５】
前記質量分析器は、前記第２の扇形電場内に設けられるイオン出口ポートであって、使用時にイオンが前記イオン出口ポートを介して前記質量分析器から出射する、イオン出口ポートをさらに含む、請求項１〜４のいずれかに記載の質量分析器。
【請求項６】
前記質量分析器は、１つ以上のさらなる扇形電場をさらに含み、前記１つ以上のさらなる扇形電場のそれぞれは、（ｉ）１つの１８０°扇形電場、または（ｉｉ）複数の扇形電場区分であって、それぞれが扇形角度を有し、かつ前記複数の扇形電場区分の扇形角度の合計は１８０°である、複数の扇形電場区分、を含む、請求項１〜５のいずれかに記載の質量分析器。
【請求項７】
前記第１の扇形電場は、実質的に細長く、前記第２の扇形電場および前記１つ以上のさらなる扇形電場は千鳥状に配置される、請求項６に記載の質量分析器。
【請求項８】
前記質量分析器は、イオン検出器と、イオンを前記イオン検出器上へ偏向するための１つ以上の偏向電極とをさらに含む、請求項１〜７のいずれかに記載の質量分析器。
【請求項９】
イオンを質量分析する方法であって、
イオンを第１の扇形電場に渡す工程であって、前記第１の扇形電場は、第１の方向に移送中のイオンを受け取り、かつ前記第１の方向とは反対の第２の方向にイオンを排出するように構成される、第１の扇形電場である、工程と、
次いで、イオンを第２の扇形電場に渡す工程であって、前記第２の扇形電場は、前記第１の扇形電場に直交するように配置され、更に、第３の方向に移送中のイオンを受け取り、かつ前記第３の方向とは反対の第４の方向にイオンを排出するように構成される、第２の扇形電場である、工程と
を含む方法。
【請求項１０】
前記方法は、
前記第１の扇形電場と前記第２の扇形電場とを含む閉ループ質量分析器を準備する工程と、
イオンを前記質量分析器を１周または１旋回以上させる工程であって、前記質量分析器を１周する間にイオンは、
（ｉ）前記第２の扇形電場に第１の位置で入射し、ｘ−ｚ平面において１８０°回転され、そして第２の位置で出現し、
（ｉｉ）次いで、フィールドフリー領域を通り、
（ｉｉｉ）次いで、前記第１の扇形電場に第１の位置で入射し、ｙ−ｚ平面において１８０°回転され、そして第２の位置で出現し、
（ｉｖ）次いで、フィールドフリー領域を通り、
（ｖ）次いで、前記第２の扇形電場に第３の位置で入射し、ｘ−ｚ平面において１８０°回転され、そして第４の位置で出現し、
（ｖｉ）次いで、フィールドフリー領域を通り、
（ｖｉｉ）次いで、前記第１の扇形電場に第３の位置で入射し、ｙ−ｚ平面において１８０°回転され、そして第４の位置で出現し、
（ｖｉｉｉ）次いで、フィールドフリー領域を通り、
前記ｘ−ｚ平面は、前記ｙ−ｚ平面と直交する、工程と
を含む、請求項９に記載のイオンを質量分析する方法。
【請求項１１】
前記方法は、
前記第１の扇形電場と前記第２の扇形電場とを含む開ループ質量分析器を準備する工程であって、前記第２の扇形電場は細長い扇形電場であり、前記開ループ質量分析器は、前記第１の扇形電場に直交するように配置された第３の扇形電場をさらに含む、工程と、
イオンが、
（ｉ）前記第１の扇形電場に第１の位置で入射し、ｙ−ｚ平面において１８０°回転され、そして第２の位置で出現し、
（ｉｉ）次いで、フィールドフリー領域を通り、
（ｉｉｉ）次いで、前記第２の扇形電場に第１の位置で入射し、ｘ−ｚ平面において１８０°回転され、そして第２の位置で出現し、
（ｉｖ）次いで、フィールドフリー領域を通り、
（ｖ）次いで、前記第１の扇形電場に第３の位置で入射し、ｙ−ｚ平面において１８０°回転され、そして第４の位置で出現し、
（ｖｉ）次いで、フィールドフリー領域を通り、
（ｖｉｉ）次いで、前記第３の扇形電場に第１の位置で入射し、ｘ−ｚ平面において１８０°回転され、そして第２の位置で出現し、
前記ｘ−ｚ平面は、前記ｙ−ｚ平面と直交する、
ようにさせる工程と
を含む、請求項９に記載のイオンを質量分析する方法。
【請求項１２】
第１の扇形電場と、
第２の扇形電場であって、前記第２の扇形電場は、前記第１の扇形電場に直交するように配置される、第２の扇形電場と、
イオンを第１の方向に集束させるための１つ以上の第１のイオン光学デバイスと、
イオンを前記第１の方向と直交する第２の方向に集束させるための１つ以上の第２のイオン光学デバイスと
を含む質量分析器。
【請求項１３】
前記１つ以上の第１および／または第２のイオン光学デバイスは、（ｉ）１つ以上の四重極ロッドセット、（ｉｉ）１つ以上の静電レンズ構成体、または（ｉｉｉ）１つ以上のアインツェルレンズ構成体を含む、請求１２に記載の質量分析器。
【請求項１４】
イオンを質量分析する方法であって、
イオンを第１の扇形電場に渡す工程と、
次いで、イオンを第２の扇形電場に渡す工程であって、前記第２の扇形電場は、前記第１の扇形電場に直交するように配置される、工程と
を含み、前記方法は、さらに、
イオンを１つ以上の第１のイオン光学デバイスを用いて第１の方向に集束させる工程と、
イオンを１つ以上の第２のイオン光学デバイスを用いて前記第１の方向と直交する第２の方向に集束させる工程と
を含む方法。
【請求項１５】
マルチターン飛行時間質量分析器であって、
第１の扇形電場と、
第２の扇形電場であって、前記第２の扇形電場は、前記第１の扇形電場に直交するように配置される、第２の扇形電場と、
１つ以上の検出器プレートであって、前記１つ以上の検出器プレートを通るイオンが前記１つ以上の検出器プレート上へ電荷が誘導されるようにする１つ以上の検出器プレートと、
前記質量分析器の１周または１旋回当りのイオンの飛行時間を決定するためのフーリエ変換解析手段と
を含む、マルチターン飛行時間質量分析器。
【請求項１６】
イオンを分析する方法であって、
第１の扇形電場と、第２の扇形電場とを含み、前記第２の扇形電場は、前記第１の扇形電場に直交するように配置される、マルチターン飛行時間質量分析器を準備する工程と、
１つ以上の検出器プレートであって、前記１つ以上の検出器プレートを通るイオンが前記１つ以上の検出器プレート上へ電荷が誘導されるようにする１つ以上の検出器プレートを提供することによってイオンを検出する工程と、
前記質量分析器の１周または１旋回当りのイオンの飛行時間を決定するためのフーリエ変換解析手段を用いる工程と
を含む方法。
【請求項１７】
使用時に、イオンが第１の平面および前記第１の平面と直交する第２の平面において移送される、閉ループ飛行時間またはフーリエ変換質量分析器。
【請求項１８】
イオンを分析する方法であって、
閉ループ飛行時間またはフーリエ変換質量分析器を準備する工程と、
イオンを第１の平面および前記第１の平面と直交する第２の平面において移送する工程と
を含む方法。