【事件の表示】
　平成　６年特許願第　６５３６４号「放射線作像システム、Ｘ線作像システム、入射放射線の分解能の高い画像を発生する方法、及びディジタル形放射線作像システムの分解可能な空間周波数を高める方法」拒絶査定不服審判事件〔平成　７年　２月　７日出願公開、特開平　７−　３７０７５〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続きの経緯
　本願は、平成６年４月４日（パリ条約による優先権主張１９９３年４月５日、米国）の出願であって、平成１５年２月２１日に拒絶査定がなされ、これに対して平成１５年５月２７日に拒絶査定を不服とする審判請求がなされるとともに、同年６月２６日に手続き補正がなされたものである。
　
２．平成１５年６月２６日付けの手続補正の却下について
［補正却下の決定の結論］
　　平成１５年６月２６日付けの手続補正を却下する。
［理由］
　　平成１５年６月２６日付けの手続補正（以下、「本件補正」という。）により、特許請求の範囲は、「【請求項１】 隣り合った画素の間に所定の光センサ画素ピッチを有している複数の画素を含んでおり、所定の作像サイクルに従って複数の逐次的な結像位置のうちの選択された位置に逐次的に設けられるように構成されている光センサ画素配列であって、前記光センサ画素の各々は、それぞれの画像データ信号を発生するように構成されており、前記複数の逐次的な結像位置は、夫々の画素により作像される区域が、該作像区域をオーバーサンプリングするために、前記所定の作像サイクル中に、先行する結像位置に位置づけられる間、夫々の画素により作像される区域の一部にオーバーラップするように構成される光センサ画素配列と、前記光センサ画素により発生されたそれぞれの画像データ信号を受け取るように前記光センサ画素配列に接続されており、前記逐次的な結像位置の各々の位置で前記光センサ画素により作像サイクル中に発生された前記それぞれの画像データ信号をフィルタ未処理データ・セットとして記憶するように構成されている画像プロセッサとを備えており、
該画像プロセッサは、前記データ・セットに選択的にフィルタ作用をかけて、エイリアシングのない前記光センサ配列の画素ピッチにより決定されるナイキスト周波数よりも高い空間周波数を有する細かい分解能のデータ・セットを前記所定の作像サイクル毎に発生するように構成されているぼけ除去フィルタを含んでいる放射線作像システム。
【請求項２】 前記複数の逐次的な結像位置は、第１、第２、第３及び第４の逐次的な結像位置を含んでいる請求項１に記載の作像システム。
【請求項３】 前記第１、第２、第３及び第４の結像位置は、前記光センサ画素配列の動きの選択された軸線に沿って見た隣り合っている逐次的な結像位置の間の距離が、前記画素の前記所定のピッチの実質的に半分であるように設けられている請求項２に記載の作像システム。
【請求項４】 前記第１から第４の結像位置は、前記画素の前記所定のピッチの半分の長さを有する辺を有している四角形の隅を形成するように設けられている請求項３に記載の作像システム。
【請求項５】 前記光センサ画素配列は、Ｎ行及びＭ列に配設されている複数の画素を含んでいる請求項２に記載の作像システム。
【請求項６】 前記画像プロセッサは、前記逐次的な結像位置の各々の位置で、
各々の光センサ画素により発生された１つの画像データ信号を各々のフィルタ未処理データ・セットに記憶するように構成されている請求項５に記載の作像システム。
【請求項７】 前記ぼけ除去フィルタは、該フィルタにより発生された前記細かい分解能のデータ・セットが、前記所定の光センサ画素ピッチの半分の寸法を有する対象を分解することが可能な空間分解能を有するように構成されている請求項７に記載の作像システム。
【請求項８】 前記ぼけ除去フィルタは、Ｆ（Ｗx ，Ｗy ）を所望の分解能の高い画像のフーリエ変換、Ｇ（Ｗx ，Ｗy ）をフィルタ未処理画像のフーリエ変換、Ｈ* （Ｗx ，Ｗy  ）を作像システムの点拡大関数のフーリエ変換、｜Ｈ（Ｗx ，Ｗy  ）｜を作像システムの変調伝達関数、ａを高周波雑音を制限するように一層高い空間周波数におけるＧの振幅を減少させるよう選択された正の定数として、下記の式Ｆ（Ｗx ，Ｗy ）＝Ｇ（Ｗx ，Ｗy  ）Ｈ* （Ｗx ，Ｗy ）／｛｜Ｈ（Ｗx ，Ｗy y）｜2 ＋ａ｝
に従って、前記細かい分解能の画像を形成するように構成されている請求項７に記載の作像システム。
【請求項９】 前記ぼけ除去フィルタは、ｋ（ｍ−ｐ，ｎ−ｑ）をウィーナ・フィルタ・スペクトルＫの逆フーリエ変換、ｇ（ｐ，ｑ）をフィルタ未処理画像として、下記の畳み込み積分ｆ（ｍ，ｎ）＝Σp,q ｋ（ｍ−ｐ，ｎ−ｑ）ｇ（ｐ，ｑ）
に従って、前記細かい分解能の画像を形成するように構成されている請求項７に記載の作像システム。
【請求項１０】 前記画像プロセッサに接続されていると共に、高い分解能のデータ・セットの信号を受け取るように構成されている表示及び解析モジュールを更に含んでいる請求項５に記載の作像システム。
【請求項１１】 前記表示及び解析モジュールは、少なくとも２Ｎ×２Ｍ個の表示画素を有している表示配列を含んでおり、該表示配列は、前記所定の作像画素ピッチの約半分のピッチを有している請求項１０に記載の作像システム。
【請求項１２】 前記所定の作像サイクルに従って、前記光センサ配列を前記結像位置のそれぞれの位置に逐次的に位置決めするように構成されている変位機構を更に含んでいる請求項２に記載の作像システム。
【請求項１３】 前記変位機構は、変位プラットフォームと、当該駆動カムの動きが第１の選択された軸線に沿った前記変位プラットフォームの動きに変換されるように前記変位プラットフォームに接続されている第１の駆動カムと、当該駆動カムの動きが第２の選択された軸線に沿った前記変位プラットフォームの動きに変換されるように前記変位プラットフォームに接続されている第２の駆動カムとを含んでいる請求項１２に記載の作像システム。
【請求項１４】 前記駆動カムの各々は、それぞれのカムが回転するときにそれぞれの前記選択された軸線に沿った前記プラットフォームの変位を起こさせるように選択されているそれぞれの偏心した形状を有している請求項１３に記載の作像システム。
【請求項１５】 前記変位機構は、前記光センサ画素配列が前記それぞれの軸線に沿った前記変位プラットフォームの選択的な動きにより前記結像位置の選択された１つの位置に変位するように前記第１及び第２の軸線の各々が設けられているよう構成されている請求項１４に記載の作像システム。
【請求項１６】 前記光センサ画素の間の前記所定のピッチは、約１００ミクロンである請求項１５に記載の作像システム。
【請求項１７】 入射Ｘ線を検出して作像するように構成されている請求項１６に記載の作像システム。
【請求項１８】 入射放射線の分解能の高い画像を発生する方法であって、
所定の作像サイクルに従って光センサ画素の配列を１番目からＫ番目までの結像位置に逐次的に位置決めする工程であって、前記光センサ画素は、画素の間に所定の光センサ画素ピッチを有している行及び列に前記配列内に設けられており、前記複数の逐次的な結像位置は、夫々の画素により作像される区域が、該作像区域をオーバーサンプリングするために、前記所定の作像サイクル中に、先行する結像位置に位置づけられる間、夫々の画素により作像される区域の一部にオーバーラップするように構成される、逐次的に位置決めする工程と、
前記１番目からＫ番目までの結像位置の各々の位置で発生されたそれぞれの画像データ信号を記憶して、フィルタ未処理データ・セットを形成する工程と、
前記フィルタ未処理データ・セットをぼけ除去フィルタにかけて、前記光センサ配列の画素ピッチにより決定されるナイキスト周波数よりも高い空間周波数を有する高い分解能のデータ・セットを前記所定の作像サイクル毎に形成する工程とを備えており、
前記所定の作像サイクルにおける前記１番目からＫ番目までの結像位置は、エイリアシング誤差が前記高い分解能のデータ・セットにおいて相殺されるように設けられている、入射放射線の分解能の高い画像を発生する方法。
【請求項１９】 前記光センサ画素の配列を逐次的に位置決めする工程は、前記光センサ画素の配列が前記作像サイクルの間に４つの結像位置の各々の位置にそれぞれ設けられるように前記光センサ画素の配列を選択された順序で変位させる工程を含んでいる請求項１８に記載の方法。
【請求項２０】 前記配列を変位させる工程は、互いに直交している第１の軸線及び第２の軸線に沿って前記配列を逐次的に並進させる工程を含んでいる請求項１９に記載の方法。
【請求項２１】 前記４つの結像位置のそれぞれの位置の間の前記第１及び第２の軸線に沿った距離は、前記光センサ画素ピッチの半分に対応している請求項２０に記載の方法。
【請求項２２】 前記フィルタ未処理データをぼけ除去フィルタにかけて、高い分解能のデータ・セットを形成する工程は、前記フィルタ未処理データ・セットをフィルタにかけて、前記光センサ画素ピッチの半分に対応する空間的分解能を有している画像を発生する工程を含んでいる請求項２１に記載の方法。
【請求項２３】 前記フィルタ未処理データ・セットをぼけ除去フィルタにかける工程は、Ｆ（Ｗx ，Ｗy ）を所望の分解能の高い画像のフーリエ変換、Ｇ（Ｗx ，Ｗy  ）をフィルタ未処理画像のフーリエ変換、Ｈ* （Ｗx ，Ｗy ）を作像システムの点拡大関数のフーリエ変換、｜Ｈ（Ｗx ，Ｗy  ）｜を作像システムの変調伝達関数、ａを高周波雑音を制限するように一層高い空間周波数におけるＧの振幅を減少させるよう選択された正の定数として、下記の式Ｆ（Ｗx ，Ｗy  ）＝Ｇ（Ｗx ，Ｗy ）Ｈ* （Ｗx ，Ｗy  ）／｛｜Ｈ（Ｗx ，Ｗy  ）｜2 ＋ａ｝
に従って、前記高い分解能の画像データ・セットを計算する工程を含んでいる請求項２２に記載の方法。
【請求項２４】 前記フィルタ未処理データ・セットをぼけ除去フィルタにかける工程は、ｋ（ｍ−ｐ，ｎ−ｑ）をウィーナ・フィルタ・スペクトルＫの逆フーリエ変換、ｇ（ｐ，ｑ）をフィルタ未処理画像として、下記の畳み込み積分ｆ（ｍ，ｎ）＝Σp,q ｋ（ｍ−ｐ，ｎ−ｑ）ｇ（ｐ，ｑ）
に従って、前記高い分解能の画像データ・セットを計算する工程を含んでいる請求項２３に記載の方法。
【請求項２５】 前記高い分解能のデータを呈示するために表示及び解析モジュールを駆動する工程を更に含んでいる請求項２４に記載の方法。
【請求項２６】 複数の作像装置を含むディジタル形放射線作像システムの分解可能な空間周波数を高める方法であって、
作像されるべき対象の多数回の露出を行う工程であって、前記露出の各々は、それぞれの結像位置で行われ、各々の結像位置は、夫々の結像位置にある作像区域が、先行する結像位置の作像区域の一部にオーバーラップするように他の結像位置に対して所定の空間関係に設けられている、露出を行う工程と、
エイリアシングのないフィルタ未処理データ・セットに発生されたそれぞれの前記露出を登録する工程と、
前記フィルタ未処理データ・セットのぼけを除去して、前記結像装置の画素ピッチにより決定されるナイキスト周波数よりも高い空間周波数を有するエイリアシングのない高い分解能のデータ・セットを前記結像位置に対応した所定の作像サイクル毎に発生する工程と
を備えたディジタル形放射線作像システムの分解可能な空間周波数を高める方法。
【請求項２７】 前記多数回の露出を行う工程は、前記結像位置のそれぞれの位置に設けられるべき光センサ画素の配列を作像サイクルに従って選択的に逐次的に変位させる工程を含んでいる請求項２６に記載の方法。
【請求項２８】 前記データ・セットのぼけを除去する工程は、ウィーナ・フィルタを含んでいるぼけ除去フィルタに前記データ・セットを通す工程を含んでいる請求項２７に記載の方法。
【請求項２９】 前記結像位置は、前記高い分解能のデータ・セットにおいてエイリアシング誤差を相殺するように選択されている請求項２８に記載の方法。
【請求項３０】 隣り合った画素の間に所定の光センサ画素ピッチを有している複数の画素を含んでおり、所定の作像サイクルに従って複数の逐次的な結像位置のうちの選択された位置に逐次的に設けられるように構成されている光センサ画素配列であって、前記光センサ画素の各々は、それぞれの画像データ信号を発生するように構成されており、前記複数の逐次的な結像位置は、夫々の画素により作像される区域が、該作像区域をオーバーサンプリングするために、前記所定の作像サイクル中に、先行する結像位置に位置づけられる間、夫々の画素により作像される区域の一部にオーバーラップするように構成される、光センサ画素配列と、
前記光センサ画素により発生されたそれぞれの画像データ信号を受け取るように前記光センサ画素配列に接続されており、前記逐次的な結像位置の各々の位置で前記光センサ画素により作像サイクル中に発生された前記それぞれの画像データ信号をフィルタ未処理データ・セットとして記憶するように構成されている画像プロセッサであって、該画像プロセッサは、前記データ・セットに選択的にフィルタをかけて、前記光センサ配列の画素ピッチにより決定されるナイキスト周波数よりも高い空間周波数を有するエイリアシングのない細かい分解能のデータ・セットを前記所定の作像サイクル毎に発生するように構成されているぼけ除去フィルタを含んでいる、画像プロセッサと、該画像プロセッサに接続されていると共に、細かい分解能の出力配列を発生するように前記細かい分解能のデータにより駆動されるよう構成されている表示及び解析モジュールとを備えており、
前記細かい分解能の出力配列は、前記光センサ画素配列よりも多数の画素を有しており、細かい分解能の画素の各々は、個別に可変の信号により駆動されるように構成されているＸ線作像システム。
【請求項３１】 前記複数の逐次的な結像位置は、第１、第２、第３及び第４の逐次的な結像位置を含んでいる請求項３０に記載の作像システム。
【請求項３２】 前記第１、第２、第３及び第４の結像位置は、各々の光センサ画素が各々の結像位置において、前記細かい分解能の出力配列内の対応する画素を表すそれぞれ１つの区域の中心に位置するように設けられており、４つの前記結像位置は、前記細かい分解能の出力配列内の画素を表す各々の区域が前記４つの結像位置のうちの１つの位置においてのみ、それぞれの光センサ画素を中心とするように設けられている請求項３１に記載の作像システム。
【請求項３３】 前記光センサ画素配列の動きの選択された軸線に沿って見た隣接している逐次的な結像位置の間の距離は、前記光センサ画素の前記所定のピッチの実質的に半分である請求項３２に記載の作像システム。
【請求項３４】 前記光センサ配列を前記結像位置の選択された１つの位置に選択的に設けるように前記光センサ配列を動かすよう構成されている変位機構を更に含んでおり、該変位機構は、変位プラットフォームと、当該駆動カムの動きが第１の選択された軸線に沿った前記変位プラットフォームの動きに変換されるように前記変位プラットフォームに接続されている第１の駆動カムと、当該駆動カムの動きが第２の選択された軸線に沿った前記変位プラットフォームの動きに変換されるように前記変位プラットフォームに接続されている第２の駆動カムとを含んでいる請求項３３に記載の作像システム。
【請求項３５】 前記駆動カムの各々は、それぞれのカムが回転するときにそれぞれの前記選択された軸線に沿った前記プラットフォームの変位を起こさせるように選択されているそれぞれの偏心した形状を有している請求項３４に記載の作像システム。
【請求項３６】 前記変位機構は、前記光センサ画素配列が前記それぞれの軸線に沿った前記変位プラットフォームの選択的な動きにより前記結像位置の選択された１つの位置に変位するように、前記第１及び第２の軸線の各々が設けられているよう構成されている請求項３５に記載の作像システム。
【請求項３７】 前記光センサ画素配列に光学的に結合されていると共に、作像されるべき対象から来る放射線を受け取るように設けられているシンチレータを更に含んでいる請求項３６に記載の作像システム。
【請求項３８】 前記光センサ配列は、作像システムに入射する放射線が当該材料により吸収されると共に移動性帯電粒子に変換されて前記画像データの信号を発生するような放射線吸収性感光材料を含んでいる請求項３６に記載の作像システム。」と補正された。
　
　上記補正は、特許請求の範囲の請求項１における「該画像プロセッサは、前記データ・セットに選択的にフィルタ作用をかけて、エイリアシングのない前記光センサ配列の画素ピッチにより決定されるナイキスト周波数よりも高い空間周波数を有する細かい分解能のデータ・セットを発生するように構成されているぼけ除去フィルタを含んでいる」について、「該画像プロセッサは、前記データ・セットに選択的にフィルタ作用をかけて、エイリアシングのない前記光センサ配列の画素ピッチにより決定されるナイキスト周波数よりも高い空間周波数を有する細かい分解能のデータ・セットを
前記所定の作像サイクル毎に
　
　そこで、本件補正後の前記請求項１に記載された発明（以下、「本願補正発明」という。）が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか否か（平成１５年改正前特許法第１７条の２第５項において読み替えて準用する同法第１２６条第４項の規定に適合するか）について以下に検討する。
（１）引用例
ア　原査定の拒絶の理由に引用された特開昭６２−０５３６３６号公報（以下、「引用例１」という。）には、
　（ア）　「放射線検出用の単位素子を一次元的或は二次元的に配列したアレー状検出素子上にＸ線透視像を投影する構成で、上記アレー状検出素子上に投影されたＸ線透視像が同素子上で、左右或は上下左右に上記単位素子の配列ピッチの半分の距離だけ移動するようにＸ線源を移動させる手段と、上記アレー状検出素子によって得られる上記Ｘ線源の移動の前後の各位置における画像データを相互補間的に配列して一つの画像データを構成する手段とを備えた撮像装置。」（１頁左下欄、特許請求の範囲）、
　（イ）　「第４図Ｆは撮像素子上の画像の強度分布、同Ｄは撮像素の単位素子の配列を示し、各ますが単位素子を示す。S1は上記撮像素子における各単位素子の出力を示し、S1のグラフで縦方向の矢印は、本発明では各単位素子の出力を画像上のその位置の強度を示しているものとして扱うことを表わしている。第４図Ｄ′は撮像素子を単位素子の配列ピッチＰの1/2だけ右方にずらせた所を示し、S2はその場合の各単位素子の出力を示す。この図で縦方向の矢印は上記S1と同様の意味を表わす。本発明では撮像素子がＤに示す位置にあるときの各単位素子の出力の間にＤ′の位置にある各単位素子の出力を挿入して映像信号とするので、今の場合映像信号はS3のようになり、二つのピークを識別するコントラストは０である。しかしこの状態よりもピークP2が少し右によると、映像信号はS4のようになり、中央の矢印が両側の矢印より低くなつて、２つのピークを識別するコントラストが現れ始める。従つて本発明の場合分解能特性は第６図にα−β−η−ξで示すようになり、分解能はアレー素子の単位素子の配列ピツチ迄拡大されていることが判る。アレー素子の各単位素子の境界には構造的に必然的に放射線に感応しない部分が介在し、このため分解能特性は第７図のα−β−η−ξより更に幾分が向上するものである。この点を第５図で説明する。この図は第４図と同じもので、アレー状撮像素子の各単位素子が斜線を入れた幅の部分で、これがピツチＰで配列されているものとする。撮像素子を単位素子の配列ピツチの1/2だけずらせたときの各単位素子の出力は第５図S2に示すように０に近く、これが同図S1に示す各単位素子の出力の間に挿入されるので、ピークが単位素子の配列ピツチで並んでいても高いコントラストで識別できるのである。」（２頁左下欄〜右下欄）、
　（ウ）　「第１図は本発明の一実施例でＸ線透視撮影装置を示す。１はＸ線源、２は被写体、３は二次元的なアレー状Ｘ線検出器で、各単位素子はシンチレータとホトダイオードと同ホトダイオードの出力をレベル選別するコンパレータとレベル選別された出力を積分する手段とで構成されている。４はＸ線源１を上下方向に移動させる上下駆動装置、５はＸ線源を左右方向に移動させる横駆動装置である。６は撮影装置を制御するコンピュータ、７は画像メモリである。Ｘ線検出器は縦方向256個、横方向256個の単位素子の配列よりなつており、画像メモリ７は512×512の画素に対応するアドレスを有する。駆動装置4,5はＸ線検出器３の一単位素子が画像上で第２図に1,2,3,4の数字で示す四つの位置を順次とるようにＸ線源１を駆動し、コンピュータ６はＸ線検出器３の各画素が第２図の１の位置にあるとき、各画素の出力を読出してそのデータを画像メモリ７の第３図で斜線を入れた画素に対応するアドレスに格納する。次に各単位素子が第２図２の位置にあるときの各単位素子の出力データを第３図で点々を入れた画素に対応するアドレスに格納し、以下同様にして各単位素子の3,4の各位置における出力データを丸印の画素対応アドレス、Ｘ印画素対応アドレスに格納して、512×512画素の画像データをメモリ７内に格納し終る。以後この画像メモリの内容を読出してCRTに表示させるとＸ線透視画像が再現される。」（３頁右上欄〜左下欄）、
　（エ）　「アレー状検出器を用いて画像分解能を上げるのに、アレー状検出器の単位素子の配列ピツチを小さくすることは技術上の飛躍を必要として容易でないが、本発明はアレー状検出器に対して投射像を動かすと云う方法であるから、簡単な構成で画像分解能の向上が得られ、かつ検出器に対して投射画像を動かすのに、放射線源を動かす構成としたので、移動量の拡大ができて移動量の制御が楽になり、３次元的な被検体の透視画像において、特定の面に焦点を合せて撮影できると云つた効果が得られる。」（３頁左下欄〜右下欄）が記載されている。
　これらの記載（ア）〜（エ）及び図面第１図〜第７図によれば、引用例１には「放射線検出用の単位素子を二次元的に配列したアレー状検出素子上にＸ線透視像を投影する構成で、単一のＸ線源と上記アレー状検出素子上に投影されたＸ線透視像が同素子上で、上下左右に上記単位素子の配列ピッチの半分の距離だけ移動するように上記単一のＸ線源を移動させる手段と、上記アレー状検出素子の出力が格納される画像メモリとを有し、上記画像メモリには上記アレー状素子の各単位素子毎に上記Ｘ線源の移動位置と同数のアドレス群を対応させ、Ｘ線源の一つの位置におけるアレー状素子の各単位素子の出力を上記画像メモリのその単位素子に対応するアドレス群中の上記Ｘ線源の一つの位置に対応するアドレスに格納することにより、Ｘ線源の移動の前後の各位置における画像データを相互補間的に配列して一つの画像データを構成するようにした撮像装置」の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されていると認めることができる。
イ　原査定の拒絶の理由に引用された特開平０４−０１８８６９号公報（以下、「引用例２」という。）には、撮像素子の移動方向に合わせて量子化したデ−タを、メモリの記憶番地に生成して、メモリに書込むことにより、光量の減少を生ずることなく、１個の撮像素子で分解能を高く画像情報の撮影ができるようにするものであって、撮像素子１は、駆動回路８によつて駆動される駆動素子３及び駆動素子３と直交する方向に可動な駆動素子４により、ｘｙ平面上で基準点を除いた３方向に移動し、それぞれの位置で被写体を撮影し、得られた画像情報は量子化器２に送られ、量子化され、次に各位置により、アドレス生成回路６でデ−タを記憶するアドレスが生成され、書込み回路７により、メモリ５に記憶するが、位置を移動させ、画像情報を量子化し、アドレスを生成し、メモリにデ−タを書込む全体の制御はコントロ−ル回路で行い、これにより光量の減少を生ずることなく、１個の撮像素子１で分解能を高く画像情報の撮影をすることができる電子式撮像装置が記載されている。
ウ　原査定の拒絶の理由に引用された特開昭６４−０１５０３２号公報（以下、「引用例３」という。）には、デイジタル放射線写真像記録装置と方法であって、移動するＸ線扇形ビ−ムと同期して移動する光検出部材と、デイジタル処理手段とを有し、光検出部材は電気的に列及び行に接続された複数個の電荷転送装置を持ち、信号を光検出部材の移動方向に対して反対方向に同期的にシフトさせることにより、構成及び動作を一層確実とするもの、その構成として、可動の走査部材１８が、複合Ｘ線変換及び光検出部材２８と同期して作動され、その出力信号が、デイジタル処理手段３２を通り、磁気テ−プの様な電子記録手段３４によつて記録され、棒形の可動のシンチレ−タ本体３８が、同時に可動の両方向電荷転送配列４２と一緒に結合した時、複合部材２８を形成し、直接的に光像に変換し、電気信号に変換し、電荷転送装置４４は電気的な相互接続の為、行４６及び列４８に全体的に整合していて、モジユ−ル形に構成することにより、画素の光点とし、光検出器部材４２にある１例の電荷転送装置４４は、互い違いの垂直な列４６に配置され、切れ目のない画素表示を達成するものが記載されている。
エ　原査定の拒絶の理由に引用された特開平０２−３１２４５９号公報（以下、「引用例４」という。）には、ウィーナフィルタを使って撮影光学系に生じたぼけの復元ができることが記載されている。
オ　原査定の拒絶の理由に引用された高木幹雄ほか監修「画像解析ハンドブック」，東京大学出版会，１９９１年１月１７日，ｐ．３９９−４０３（以下、「引用例５」という。）には、「１．２．７．４ウィーナフィルタ　ウィーナフィルタは、原画像との平均２乗誤差を最小とする画像を与える復元作用素として、よく知られている．」が記載され、図１．２．７〜１．２．９には、原画像、劣化画像、ウィーナフィルタによる復元の各画像が図示されており、ウィーナフィルタをぼけ除去フィルタとして使用することが記載されていると認める。
　
（２）対比
　そこで、本件補正発明と引用発明とを対比する。
　引用発明の「放射線検出用の単位素子」は、各単位素子はシンチレータとホトダイオードと同ホトダイオードの出力をレベル選別するコンパレータとレベル選別された出力を積分する手段とで構成されているから、本願補正発明の「光センサ画素」に相当し、そして、引用発明の「アレー状検出素子」は、放射線検出用の単位素子を二次元的に配列したものであるので、本願補正発明の「光センサ画素配列」に相当する。
　引用発明の「上下左右に上記単位素子の配列ピッチの半分の距離だけ移動する」は、駆動装置4,5はＸ線検出器３の一単位素子が画像上で第２図に1,2,3,4の数字で示す四つの位置を順次とるようにＸ線源１を駆動することであるから、本願補正発明の「所定の作像サイクル」に相当する。
　引用発明の「各単位素子の出力」は、本願補正発明の「光センサ画素の各々のそれぞれの画像データ信号」に相当する。
　したがって、本願補正発明と引用発明は、「 隣り合った画素の間に所定の光センサ画素ピッチを有している複数の画素を含んでおり、所定の作像サイクルに従って複数の逐次的な結像を受けるように構成されている光センサ画素配列であって、前記光センサ画素の各々は、それぞれの画像データ信号を発生するように構成される光センサ画素配列と、前記光センサ画素により発生されたそれぞれの画像データ信号を受け取るように前記光センサ画素配列に接続されており、前記逐次的な結像位置の各々の位置で前記光センサ画素により作像サイクル中に発生された前記それぞれの画像データ信号をデータ・セットとして記憶するように構成されている放射線作像システム。」の点で一致し、以下の点で相違する。
　相違点１
　光センサ画素配列が、本願補正発明では、所定の作像サイクルに従って複数の逐次的な結像位置のうちの選択された位置に逐次的に設けられるように構成されているのに対して、引用発明では、定位置に設けられるが、Ｘ線源が移動することによりＸ線透視像が移動するように構成されている点。
　相違点２
　本願補正発明では、前記逐次的な結像位置の各々の位置で前記光センサ画素により作像サイクル中に発生された前記それぞれの画像データ信号をフィルタ未処理データ・セットとして記憶するように構成されている画像プロセッサを備えているのに対して、引用発明では、そのような構成が記載されていない点。
　相違点３
　本願補正発明では、前記複数の逐次的な結像位置は、夫々の画素により作像される区域が、該作像区域をオーバーサンプリングするために、前記所定の作像サイクル中に、先行する結像位置に位置づけられる間、夫々の画素により作像される区域の一部にオーバーラップするように構成されるのに対して、引用発明では、そのように構成されると記載されておらず、また、本願補正発明では、画像プロセッサは、前記データ・セットに選択的にフィルタ作用をかけて、エイリアシングのない前記光センサ配列の画素ピッチにより決定されるナイキスト周波数よりも高い空間周波数を有する細かい分解能のデータ・セットを前記所定の作像サイクル毎に発生するように構成されているぼけ除去フィルタを含んでいるのに対して、引用発明では、ぼけ除去フィルタを含むことについて記載がされていない点。
　
（３）判断
　以下、相違点１〜３について検討する。
  相違点１について
　引用発明と同一技術分野に属する引用例２には、上記のとおり、「撮像素子の移動方向に合わせて量子化したデ−タを、メモリの記憶番地に生成して、メモリに書込むことにより、光量の減少を生ずることなく、１個の撮像素子で分解能を高く画像情報の撮影ができるようにするものであって、撮像素子１は、駆動回路８によつて駆動される駆動素子３及び駆動素子３と直交する方向に可動な駆動素子４により、ｘｙ平面上で基準点を除いた３方向に移動し、それぞれの位置で被写体を撮影し、得られた画像情報は量子化器２に送られ、量子化され、次に各位置により、アドレス生成回路６でデ−タを記憶するアドレスが生成され、書込み回路７により、メモリ５に記憶するが、位置を移動させ、画像情報を量子化し、アドレスを生成し、メモリにデ−タを書込む全体の制御はコントロ−ル回路で行い、これにより光量の減少を生ずることなく、１個の撮像素子１で分解能を高く画像情報の撮影をすることができる電子式撮像装置」が記載され、引用例２に、撮影素子（光センサ画素配列）が、所定の作像サイクルに従って複数の逐次的な結像位置のうちの選択された位置に逐次的に設けられるように構成することが記載されているといえ、この構成も分解能を高めるものであるから、引用発明において、Ｘ線源が移動することによりＸ線透視像を移動する構成に代え、引用例２の構成を採用することは、当業者が、容易に想到できたものである。
　相違点２について
　入力された画像データ信号に、何らかの画像処理を行うために、画像メモリとＣＰＵを含む画像処理のための構成を採用すること及びこの構成を画像プロセッサと称することは、画像処理の技術分野で普通に行われていることであり、引用発明も画像処理の技術分野に属するものであって、引用発明の撮像装置からの画像データ信号に画像処理を行うことも必要に応じ適宜なし得るといえるから、引用発明に画像プロセッサを組み合わせることは格別困難なことではない。そして、引用発明に画像プロセッサを組み合わせる際、引用発明は「前記逐次的な結像位置の各々の位置で前記光センサ画素により作像サイクル中に発生された前記それぞれの画像データ信号をデータ・セットとして記憶するように構成」されているから、この記憶する手段を、画像プロセッサの記憶する手段とすることは、当業者の通常の創作能力をもってするば、適宜なし得ることであり、引用発明の画像データ信号からのデータ・セットはフィルタ処理がなされていないものであるから、フィルタ未処理データ・セットということができる。
　そうすると、引用発明に画像プロセッサを組み合わせ、その画像プロセッサを「前記逐次的な結像位置の各々の位置で前記光センサ画素により作像サイクル中に発生された前記それぞれの画像データ信号をフィルタ未処理データ・セットとして記憶するように構成されている画像プロセッサ」とすることは当業者が容易に想到できたものである。
　相違点３について
　引用発明に記載された単位画素は、物理的に一定の大きさの面積を有しており、第２図の正方形の大きさであり、第４図の単位素子の配列Ｄのように互いに隣接していて、第２図の単位素子の配列ピッチの１／２で移動する軌跡１，２，３，４の数字で示す４つの位置のうち２，３，４が単位画素の正方形上にあることから、複数の逐次的な結像位置は、夫々の画素により作像される区域の一部にオーバーラップしているといえる。
　そうすると、上記相違点１で論じたように、引用発明において、Ｘ線源が移動することによりＸ線透視像を移動する構成に代え、引用例２の構成を採用することは、当業者が、容易に想到できたものであるとともに、その際、複数の逐次的な結像位置は、夫々の画素により作像される区域の一部にオーバーラップしていることは変わりがないから、前記複数の逐次的な結像位置は、夫々の画素により作像される区域が、該作像区域をオーバーサンプリングするために、前記所定の作像サイクル中に、先行する結像位置に位置づけられる間、夫々の画素により作像される区域の一部にオーバーラップするように構成されるといえるから、この点は、当業者が容易に想到できたものである。
　また、画像データの再生の際にぼけ除去フィルタを使用することは周知であり（引用例４，引用例５参照）、コンピュータ（画像プロセッサ）で画像データに選択的等適宜フィルタ作用をかけてフィルタを実現することは慣用手段であり、また、引用発明においても、再生する画像データは、被写体の動き、厚み等特性、特殊な構造の撮像装置を用いたこと、結像位置の画像を合成したものであることから、画像に多少のぼけが生じることは、予想されるところである。さらに、引用発明も第１から第４の結像位置は画素の所定のピッチの半分の長さを有している四角形の隅を形成するように設けられているから、エイリアシングのない前記光センサ配列の画素ピッチにより決定されるナイキスト周波数よりも高い空間周波数を有する細かい分解能のデータ・セットを得るものといえるし、フィルタに所定のタイミングによりデータを発生させることも当業者の通常の創作能力を発揮すると適宜なし得ることである。
　そうすると、上記相違点２で論じたように、引用発明に画像プロセッサを組み合わせることは、当業者が、容易に想到できたものであるとともに、その際、データ・セットに選択的にフィルタ作用をかけて、エイリアシングのない前記光センサ配列の画素ピッチにより決定されるナイキスト周波数よりも高い空間周波数を有する細かい分解能のデータ・セットを前記所定の作像サイクル毎に発生するように構成されているぼけ除去フィルタを含ませることは当業者が、容易に想到できたものである。
　
　また、本願補正発明の奏する作用効果は引用例１〜５に記載された発明及び周知技術の奏す作用効果に比べ格別なものとすることはできない。
　
　したがって、本願補正発明は、引用例１〜５に記載された発明及び周知技術に基づき当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
（４）むすび
　以上のとおり、本件補正は、平成１５年改正前特許法第１７条の２第４項において読み替えて準用する同法第１２６条第３項の規定に違反するものであり、特許法第１５９条第１項において読み替えて準用する特許法第５３条第１項の規定により却下されるべきものである。
　
３．本願発明について
　平成１５年６月２６日付けの手続補正は上記のとおり却下されたので、本願の請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、平成１５年１月１６日付け手続補正書の特許請求の範囲の請求項１に記載された事項により特定される、以下のとおりのものである。
「 隣り合った画素の間に所定の光センサ画素ピッチを有している複数の画素を含んでおり、所定の作像サイクルに従って複数の逐次的な結像位置のうちの選択された位置に逐次的に設けられるように構成されている光センサ画素配列であって、前記光センサ画素の各々は、それぞれの画像データ信号を発生するように構成されており、前記複数の逐次的な結像位置は、夫々の画素により作像される区域が、該作像区域をオーバーサンプリングするために、前記所定の作像サイクル中に、先行する結像位置に位置づけられる間、夫々の画素により作像される区域の一部にオーバーラップするように構成される光センサ画素配列と、
前記光センサ画素により発生されたそれぞれの画像データ信号を受け取るように前記光センサ画素配列に接続されており、前記逐次的な結像位置の各々の位置で前記光センサ画素により作像サイクル中に発生された前記それぞれの画像データ信号をフィルタ未処理データ・セットとして記憶するように構成されている画像プロセッサとを備えており、
該画像プロセッサは、前記データ・セットに選択的にフィルタ作用をかけて、エイリアシングのない前記光センサ配列の画素ピッチにより決定されるナイキスト周波数よりも高い空間周波数を有する細かい分解能のデータ・セットを発生するように構成されているぼけ除去フィルタを含んでいる放射線作像システム。」
（１）引用例
　原査定の拒絶の理由に引用された引用例、及び、その記載事項は、前記「２（１）」に記載したとおりである。
（２）対比・判断
　本願発明は、前記２．で検討した本願補正発明の「該画像プロセッサは、前記データ・セットに選択的にフィルタ作用をかけて、エイリアシングのない前記光センサ配列の画素ピッチにより決定されるナイキスト周波数よりも高い空間周波数を有する細かい分解能のデータ・セットを発生するように構成されているぼけ除去フィルタを含んでいる」から限定事項「前記所定の作像サイクル毎に」を省いたものである。
　そうすると、本願発明の発明特定事項を全て含み、さらに他の要素を付加し、発明特定事項を限定したものに相当する本願補正発明が前記「２．（３）」に記載したとおり、引用例１〜５に記載された発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明も、同様の理由により、引用例１〜５に記載された発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
（３）むすび
　以上のとおり、本願発明は、引用例１〜５に記載された発明及び周知技術に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。したがって、本願は、他の請求項に係る発明について論ずることなく拒絶されるべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。