【手続補正書】
【提出日】平成22年8月20日(2010.8.20)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１９】
図１Ａに示されているように、波長掃引狭帯域レーザー源１００から供給された光又はその他の電磁放射線は、スプリッタ１０５において、基準経路１０６ｂとサンプル経路１０６ａに分割されることが可能である。サンプル経路１０６ａは、光サーキュレータ１２０、二次元ガルバノメーターミラー（二次元ガルバノメータースキャナ）１３０、及び集束レンズ１３５を介して、サンプル１４０に向けられることが可能である。基準光は、基準経路１０６ｂを通して向けられる。この基準経路は、サンプル経路１０６ａの光学経路長に一致させるべく意図されたものであってよい。特定の典型的な構成は、このような機能を実現することが知られている。これらの典型的な構成は、サーキュレータを使用して基準光を可変遅延ライン１１５に向けることが可能であるような図１Ａに示された非反射性経路及び構成を含む。戻ってきた基準光及びサンプル光は、結合器１４５において互いに干渉する。結合器１４５からの出力ビームは、第１偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）１５０ａ及び第２偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）１５０ｂに向けられることが可能である。これらの第１偏光ビームスプリッタ及び第２偏光ビームスプリッタのそれぞれの出力は、第１平衡型レシーバ１５５ａ及び第２平衡型レシーバ１５５ｂに向けられることが可能である。
【手続補正２】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも１つのサンプルに向けられた少なくとも１つの第１電磁放射線と、基準に向けられた少なくとも１つの第２電磁放射線とを含む特定の放射線を提供するべく構成された少なくとも１つの第１構成部と、
特定の断面幅を有する前記少なくとも１つの第１電磁放射線を前記少なくとも１つのサンプルの少なくとも一部分に印加し、少なくとも１つの第３電磁放射線を生成するべく構成された少なくとも１つの第２構成部であって、該少なくとも１つの第２構成部は、前記特定の断面幅に対する０．５の乗数と１００の乗数との間の所定の乗数に相当する距離について特定の軸に沿って、前記少なくとも一部分内で前記少なくとも１つの第１電磁放射線を並進運動させるべく更に構成されるような前記少なくとも１つの第２構成部と、
前記少なくとも１つの第１電磁放射線に関連する前記少なくとも１つの第３電磁放射線と前記少なくとも１つの第２電磁放射線に関連する少なくとも１つの第４電磁放射線との間の干渉を検出するべく構成された少なくとも１つの第３構成部とを有することを特徴とする装置。
【請求項２】
前記所定の乗数の上限は、前記特定の断面幅に対して５０、６０、７０、８０、又は９０の中の少なくとも１つである請求項１記載の装置。
【請求項３】
前記少なくとも１つの第２構成部は、前記特定の軸とは異なる更なる軸に沿って、前記少なくとも一部分内で前記少なくとも１つの第１電磁放射線を並進運動させるべく構成される請求項１記載の装置。
【請求項４】
前記少なくとも一部分に関連する少なくとも１つの画像を前記干渉の関数として生成するべく構成された少なくとも１つの第４構成部を更に有する請求項１記載の装置。
【請求項５】
前記少なくとも１つの第２構成部は、正弦波パターン、三角形パターン、鋸歯パターン、又は螺旋パターンの中の少なくとも１つのものにおいて前記少なくとも一部分内で前記少なくとも１つの第１電磁放射線を並進運動させるべく更に構成される請求項１記載の装置。
【請求項６】
前記少なくとも１つの第２構成部は、前記少なくとも１つの第１電磁放射線の非対称断面エリアを提供するべく更に構成される請求項１記載の装置。
【請求項７】
少なくとも１つのサンプルに向けられた少なくとも１つの第１電磁放射線と、基準に向けられた少なくとも１つの第２電磁放射線とを含む特定の放射線を提供する段階と、
特定の断面幅を有する前記少なくとも１つの第１電磁放射線を前記少なくとも１つのサンプルの少なくとも一部分に印加し、少なくとも１つの第３電磁放射線を生成する段階と、
前記特定の断面幅に対する０．５の乗数と１００の乗数との間の所定の乗数に相当する距離について特定の軸に沿って、前記少なくとも一部分内で前記少なくとも１つの第１電磁放射線を並進運動させる段階と、
前記少なくとも１つの第１電磁放射線に関連する前記少なくとも１つの第３電磁放射線と前記少なくとも１つの第２電磁放射線に関連する少なくとも１つの第４電磁放射線との間の干渉を検出する段階とを有することを特徴とする方法。
【請求項８】
少なくとも１つのサンプルに向けられた少なくとも１つの第１電磁放射線と、基準に向けられた少なくとも１つの第２電磁放射線とを含む特定の放射線を提供するべく構成された少なくとも１つの第１構成部と、
前記少なくとも１つの第１電磁放射線を前記少なくとも１つのサンプルの少なくとも一部分に印加し、少なくとも１つの第３電磁放射線を生成するべく構成された少なくとも１つの第２構成部であって、該少なくとも１つの第２構成部は、前記少なくとも１つの第１電磁放射線の非対称断面エリアを提供するべく更に構成されるような前記少なくとも１つの第２構成部と、
前記少なくとも１つの第１電磁放射線に関連する前記少なくとも１つの第３電磁放射線と前記少なくとも１つの第２電磁放射線に関連する少なくとも１つの第４電磁放射線との間の干渉を検出するべく構成された少なくとも１つの第３構成部と、
前記少なくとも１つの第１電磁放射線の振幅プロファイル又は位相プロファイルの中の少なくとも１つのものを変調するべく構成された少なくとも１つの第４構成部とを有することを特徴とする装置。
【請求項９】
前記少なくとも１つの第１電磁放射線は、特定の軸に沿った特定の断面幅を有しており、前記特定の断面幅は、前記特定の軸以外の任意のその他の軸に沿った前記少なくとも１つの第１電磁放射線の更なる断面幅を上回る請求項８記載の装置。
【請求項１０】
前記少なくとも１つの第１電磁放射線は、特定の軸に沿った特定の断面幅を有しており、前記特定の断面幅は、前記特定の軸と別の軸に沿った前記少なくとも１つの第１電磁放射線の更なる断面幅を少なくとも２倍だけ上回る請求項８記載の装置。
【請求項１１】
前記少なくとも１つの第２構成部は、更なる軸に沿って前記少なくとも一部分内で前記少なくとも１つの第１電磁放射線を並進運動させるべく更に構成され、且つ、前記更なる軸は、前記特定の軸に対してほぼ垂直である請求項１０記載の装置。
【請求項１２】
前記少なくとも１つの第４構成部は、空間光変調構成部、ガルバノメーター構成部、音響−光変調構成部、又は導波路モードスクランブル構成部の中の少なくとも１つのものを含む請求項８記載の装置。
【請求項１３】
少なくとも１つのサンプルに向けられた少なくとも１つの第１電磁放射線と、基準に向けられた少なくとも１つの第２電磁放射線とを含む特定の放射線を提供するべく構成された少なくとも１つの第１構成部と、
前記少なくとも１つの第１電磁放射線を前記少なくとも１つのサンプルの少なくとも一部分に印加し、少なくとも１つの第３電磁放射線を生成するべく構成された少なくとも１つの第２構成部であって、該少なくとも１つの第２構成部は、前記少なくとも１つの第１電磁放射線の非対称断面エリアを提供するべく更に構成されるような前記少なくとも１つの第２構成部と、
前記少なくとも１つの第１電磁放射線に関連する前記少なくとも１つの第３電磁放射線と前記少なくとも１つの第２電磁放射線に関連する少なくとも１つの第４電磁放射線との間の干渉を検出するべく構成された少なくとも１つの第３構成部とを有し、
前記少なくとも１つの第２構成部は、少なくとも１つの非対称導波路ファイバ構成部を含むことを特徴とする装置。
【請求項１４】
前記少なくとも１つの非対称導波路ファイバ構成部は、前記少なくとも１つの第１電磁放射線の少なくとも３つの直交モードを伝播させるべく構成される請求項１３記載の装置。
【請求項１５】
前記少なくとも１つの第２構成部は、前記特定の断面幅に対する０．５の乗数と１００の乗数との間の所定の乗数に相当する距離について特定の軸に沿って、前記少なくとも一部分内で前記少なくとも１つの第１電磁放射線を並進運動させるべく更に構成される請求項８記載の装置。
【請求項１６】
少なくとも１つのサンプルに向けられた少なくとも１つの第１電磁放射線と、基準に向けられた少なくとも１つの第２電磁放射線とを含む特定の放射線を提供する段階と、
前記少なくとも１つの第１電磁放射線を前記少なくとも１つのサンプルの少なくとも一部分に印加し、少なくとも１つの第３電磁放射線を生成する段階と、
前記少なくとも１つの第１電磁放射線の非対称断面エリアを提供する段階と、
前記少なくとも１つの第１電磁放射線に関連する前記少なくとも１つの第３電磁放射線と前記少なくとも１つの第２電磁放射線に関連する少なくとも１つの第４電磁放射線との間の干渉を検出する段階と、
前記少なくとも１つの第１電磁放射線の振幅プロファイル又は位相プロファイルの中の少なくとも１つのものを変調する段階とを有することを特徴とする方法。