【誤訳訂正書】
【提出日】平成22年10月26日(2010.10.26)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１測定電極（８１４ａ）、
該第１測定電極に操作可能に連結された第１導電性トレース（８２６ｃ）を含むセンスライン（８２６）および
底基板１２を含む、寄生抵抗を測定し該寄生抵抗による電圧降下を補償するための構造をもつことを特徴とする電源により電力を供給される電気化学的テストストリップであって、
該第１導電性トレース上の少なくとも１ポイントと電源を接触させるための接触ゾーン（２２）の間の距離が、該第１測定電極上のいずれかのポイントと電源を接触させるための接触ゾーン（２２）との間の距離よりも大きいか、または等しいことを特徴とするテストストリップ。
【請求項２】
さらに第２測定電極（２１６ａ）および
該第２測定電極に操作可能に連結された第２導電性トレース（２２４ｃ）を含む請求項１記載のテストストリップであって、
該第２導電性トレース上の少なくとも１ポイントと電源を接触させるための接触ゾーン（２２）の間の距離が、該第２測定電極上のいずれかのポイントと電源を接触させるための接触ゾーン（２２）との間の距離よりも大きいか、または等しいことを特徴とするテストストリップ。
【請求項３】
該第１測定電極が、複数の第１フィンガーからなることを特徴とする請求項１記載のテストストリップ。
【請求項４】
該第２測定電極が、複数の第２フィンガーからなることを特徴とする請求項２記載のテストストリップ。
【請求項５】
該第１フィンガー上に配置されかつ流体サンプル中で電位を作るように作動する試薬であって、テストストリップにより測定される所望の流体特性を示す試薬をさらに含むことを特徴とする請求項２記載のテストストリップ。
【請求項６】
該第２フィンガー上に配置されかつ流体サンプル中で電位を作るように作動する試薬であって、テストストリップにより測定される所望の流体特性を示す試薬をさらに含むことを特徴とする請求項３記載のテストストリップ。
【請求項７】
該第１導電性トレース上の少なくとも１ポイントが、該第１導電性トレースが該第１測定電極と交差するポイント（１２０６）であることを特徴とする請求項１記載のテストストリップ。
【請求項８】
該第２導電性トレース上の少なくとも１ポイントが、該第２導電性トレースが該第２測定電極と交差するポイント（１２０８）であることを特徴とする請求項２記載のテストストリップ。
【請求項９】
作用電極（８１４ａ）、
該作用電極に操作可能に連結された作用センスライン（８２６）であって、ポイント（１２０６）で該作用電極と交差する作用センスラインおよび
底基板１２を含む、寄生抵抗を測定し該寄生抵抗による電圧降下を補償するための構造をもつことを特徴とする電源により電力を供給される電気化学的テストストリップであって、
該ポイント（１２０６）と該テストストリップ上の該テストストリップ上に該電源を接触させるための接触ゾーン（２２）との間の距離が、該作用電極の部分上のいずれかのポイントと接触ゾーン（２２）との間の距離よりも大きいか、または等しいことを特徴とするテストストリップ。
【請求項１０】
対向電極（２１６ａ）および
該対向電極に操作可能に連結された対向センスライン（２２４）であって、ポイント（１２０８）で該対向電極と交差する対向センスラインをさらに含む請求項８記載のテストストリップであって、
該ポイント（１２０８）と該テストストリップ上の接触ゾーン（２２）との間の距離が、該対向電極の部分上のいずれかのポイントと接触ゾーン（２２）との間の距離よりも大きいか、または等しいことを特徴とするテストストリップ。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１１】
本発明の装置および方法は、幅広い多様なデザインを持ったまた幅広い多様な構築技術およびプロセスを用いて作られるテストストリップを用いて使用されるが、本発明の第１実施の態様のテストストリップは、図２中に概略的に示されかつ一般的には２００で示される。テストストリップ１０の部分と実質的に同一のテストストリップ２００の部分は、同様な参照指示子を用いてマークされる。図２を参照してテストストリップ２００は、５０ｎｍの導電性金層（例えば、スパッタリングまたは蒸着により、非限定的例により）を用いてそのトップ表面上に塗布された厚み３５０μｍのポリエステル（デュポン社から入手可能なメリネックス３２９など）の不透明なピースから形成される底基板１２を含んでいる。それに対してトレースと接触パッドを接続する電極は、例えばレーザー切断法により導電層中にパターンを形成される。レーザー切断法の１つの実施の態様は、石英上クロムマスクを経由して通過するエキシマレーザーにより行われる。クロムにより定められるマスクパターンは、フィールドの他の部分を石英を経由させながら、反射されるレーザーフィールドの部分を生じさせ、蒸着される金上にレーザー光により接触されるパターンを形成する。レーザー切断法は、以下詳細に記述する。例えば、作用電極２１４ａ、対向電極２１６ａおよび対向センス電極２２４ａが図示されたように形成され、各トレース２１４ｃ、２１６ｃおよび２２４ｃにより、各測定接触パッド２１４ｂ、２１５ｂおよび２２４ｂに連結される。当技術でよく知られているように、テストストリップ２００が一度挿入されると、テスト計（示されていない）のコネクター接触により接触されるように、これらの接触パッド２１４ｂ、２１５ｂおよび２２４ｂは、テストストリップ２００上に導電性領域を提供する。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１２】
図２および図３は、テストストリップの対向電極ライン中での寄生Ｉ−Ｒ低下の補償を可能にすることにより、先行技術に基づいて、テストストリップデザインを改良する本発明の実施の態様を示している。図２のテストストリップ２００は、対向センス電極２２４ａ、接触パッド２２４ｂおよびトレース２２４ｃの添加以外は、図１の先行技術テストストリップ１０と実質的には同一である。対向センスライン２２４の付与は、接触パッド２１６ｂおよび２２４ｂの間の寄生抵抗に対して、テスト計（以下記述する）が、補償できるようになる。図３の回路を用いて使用したとき、図２の実施の態様は、テストストリップ２００の対向電極側でのＩ−Ｒ降下に対してのみ補償を行うことに注意すること。本開示を参照して当業者にとっては明白であるように、希望すれば、作用電極側に複製することができるけれども、テストストリップ２００の作用電極側上での寄生抵抗は、この回路を用いても検出できない。さらに、テストストリップの作用電極および対向電極の両電極上の寄生抵抗に対する補償方法は以下に示される。従って図２の対向センスラインは、図３に冠してより詳細に説明されるように、テスト機が対向ライン２１６中でのいかなる寄生抵抗の電圧降下に対しても補償を可能にさせている。
【誤訳訂正４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３５】
図８のテストストリップ８００は作用センス電極８２６ａと、接触パッド８２６ｂと、トレース８２６ｃの付加以外は、図２の第１実施の態様のテストストリップ２００と実質的に同一である。作用センスライン８２６の提供により、テスト機が接触パッド８１４ｂおよび２１６ｂへの接続による接触抵抗により生じるＩ−Ｒ降下に対する補償とトレース８１４ｃおよび２１６ｃのトレース抵抗に対する補償を行うことを可能にする。
【誤訳訂正５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４６】
図１１中に図示されたデザインは、いくつかの性能限界を固有に包含している。ラインＡ−Ａ、Ｂ−Ｂ、Ｃ−Ｃなどは電極２１６ａ、８１４ａ、またはフィンガー１１０４の構造的完全性に欠陥があるかどうかを決めるために疑問できない領域である。例えばトレース抵抗を増加する引っかき傷または該トレースを完全に切断する傷などの、これらの領域における物理的欠陥は、以上記述した品質確認チェックにより検出できない。このことはセンスライン２２４ｃ、８２６ｃがテスト機とラインＡ−Ａとの間にあるポイントでそれぞれの電極トレース２１６ｃ、８１４ｃと連結しているという事実による。従ってラインＡ−ＡとラインＦ−Ｆ間でのテストストリップ１１００に対する損傷は、品質確認テストループの外にあり、また以上記載したＩ−Ｒ降下補償または寄生抵抗閾値試験に対して、なんらインパクトを与えない。従ってセンスライン８２６、２２４は、流体サンプルが得られかつ分析される前にテストストリップ１１００の機能を完全にテストすることを妨げる。それ故に、流体サンプルの望みの特性の最終測定は誤ったものとなる。
【誤訳訂正６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４７】
図１２は、図１１に示されたデザインの欠点を克服するためのより強固なテストストリップデザインを示している。テストストリップ１２００は、それぞれ電極８１４ａ、２１６ａと交差するポイント１２０６、１２０８をそれぞれ持つ作用センスライン８２６および対向センスライン２２４とを包含している。作用センスライン８２６および対向センスライン２２４は、基板１２上の導電性トレースである。ポイント１２０６とテストストリップ１２００用のテスト機中の電源の間の距離（テストストリップの縦軸に平行な面で測定される）は、試薬１８内の作用電極８１４ａの部分上のポイントと電源間の距離より大きいか等しい。同様に、ポイント１２０８とテストストリップ１２００用の電源の間の距離は、試薬１８内の対向電極２１６ａの部分上のポイントと電源間の距離より大きいか等しい。作用センスライン８２６と対向センスライン２２４に、これらの位置にポイント１２０６、１２０８を含ませることは、電源と測定電極フィンガーの間のテストストリップ１２００上の全てのポイントが構造上の完全さおよび寄生抵抗に関して、尋問されるのを可能にしている。図３と組み合わせて図１２から見られるように、電源はコンタクトゾーン（２２）中に位置する接触パッドを経由してテストストリップに連結されている。従って交差ポイント（１２０６、１２０８）とコンタクトゾーン（２２）の間の距離は、電極（８１４ａ、２１６ａ）上のいずれかのポイントとコンタクトゾーン（２２）の間の距離より大きいかまたは等しい。
【誤訳訂正７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４８】
図１１中のデザインとは異なり、図１２中のデザインは、電極２１６ａ、８１４ａおよび関連するフィンガーの構造的欠陥に対して尋問を可能にするように、センスライン２２４、８２６を位置付ける。もし欠陥が見出されると、それは補償可能であるか、または指示することができて、テストストリップ１２００は処理できて新しいテストストリップが使用される。このことは流体サンプルの望みの特性の測定における誤りを除去する助けとなる。