【誤訳訂正書】
【提出日】平成22年5月28日(2010.5.28)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１７】
第１の方法において、今、特に図２だけでなく、図３および図４が参照される。第１ステップ２０ａにおいて、エッジ３０（図３）がシステムにより画像化される。エッジ３０は、画像化要素の垂直線３１または水平線３２（時々ここでは走査線と呼ばれる）に対して大きな角度をなしており、望まれるＭＴＦ測定方向３３に対しておよそ垂直な方向を有している。ここで、エッジの角度は、（画像化要素の）列および行に対する角度のうち小さい方と定義される。実際には、画像が大きくて、エッジ近傍の小さなＲＯＩだけが用いられるかも知れない。また、エッジは、非特許文献１に従った測定で用いられるような、形状および方向を変えた多くの異なる対象物を含んだ、テストパターンにおける対象物のエッジであっても良い。エッジは、大きな角度であるべきだが、対角線（４５度）からおおよそ２度の範囲内以外の角度であるべきである。この方法は、また、水平または垂直からおおよそ２度と同じ位に小さい角度まで用いることができる。上述したことは、エッジの角度であれば良く、本方法が適用される実際の測定角度を制限しないことが強調される。測定角度（回転された座標系における角度と同じ）は完全に任意である。エッジの方向は、上述した例外を除いて、おおよそ測定角度に垂直であるべきである。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３０】
次にステップ２２ｃにおいて、スーパーサンプリングされたＥＳＦがまとめ（ｂｉｎ）られる。すなわち、xij - e(yij) の値により同じビン（ｂｉｎ）に分類されるＥＳＦのすべての値は、ひとまとめにされる（そして、場合により平均化される）。例えば、図４に示されるように、各ピクセル幅（あるピクセルから最近接のピクセルまで、そのようにあるピクセルから水平または垂直な方向に測定される）に対して４つのビン（ｂｉｎ）４１が、ｘ軸に沿って用いることができ、ピクセル幅の１／４の距離で等間隔にｘ軸に沿ったデータが与えられる。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
デジタル画像化システム（５３）の特性を示すための方法であって、
前記デジタル画像化システムにより得られた画像の少なくとも関心領域（３４ａ）におけるエッジ（３０）のおおよその位置を、前記デジタル画像化システムに含まれる画像化要素の配列における画像化要素（３５）の読み取りに基づいて決定するステップ（２０ｂ〜２１ｄ）であって、内挿された読み取りが、前記エッジの前記おおよその位置の決定に用いられ（２１ａ）、前記内挿された読み取りが、前記エッジ（３０）に対しておおよそ垂直な１組の線（３３）に沿った一定間隔の距離で決定される、ステップ（２０ｂ〜２１ｄ）と、
前記エッジに対しておおよそ垂直な１つの線（ｘ）に沿って、前記デジタル画像化システムのスーパーサンプリングされた特性を決定するステップ（２２ａ〜２３ｂ）と、
を備えており、前記画像化要素（３５）の前記配列における水平行（３２）および垂直列（３１）のいずれかと比較して大きな角度であって、前記水平行および前記垂直列の方向に対して２度より大きく、かつ、前記画像化要素の前記配列の前記水平行および前記垂直列の方向に対して４５度の角度にある対角線に対して２度より大きいおきな角度において、前記デジタル画像化システムの特性を示す際に、内挿されていない読み取りだけが、前記デジタル画像化システムの前記スーパーサンプリングされた特性を決定する上で、サンプルとしての使用のために選択される方法。
【請求項２】
前記デジタル画像化システムの前記スーパーサンプリングされた特性が、スーパーサンプリングされたエッジ広がり関数である、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記内挿されていない読み取りが、前記エッジ（３０）に対しておおよそ垂直な線（ｘ）上で、不規則な間隔の点で決定される、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
さらに、一定間隔に平均化されたかまたは組合された読み取り（４１）を得るために、前記内挿されていない画像化要素の読み取りをまとめる（２２ｃ）ステップを備えている、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記関心領域（３４ａ）が、前記エッジに対しておおよそ平行な２つの対向する辺を備えた矩形である、請求項１に記載の方法。
【請求項６】
前記関心領域が、前記画像化要素の前記配列における画像化要素（３５）の水平行（３２）または垂直列（３１）のいずれかに対しておおよそ平行な２つの対向する辺を備えた矩形である、請求項１に記載の方法。
【請求項７】
前記エッジ（３０）の前記おおよその位置を決定する際に、該エッジに対する前記デジタル画像化システムの応答を示す情報の射影が、前記画像化要素の前記配列における画像化要素（３５）の水平行（３２）または垂直列（３１）のいずれかと方向（ｉ，ｊ）が揃えられており、そのことにより、画像化要素の内挿された読み取りを用いる必要性が除外される、請求項１に記載の方法。
【請求項８】
コンピュータが読み取り可能な記憶構造に記憶されたコンピュータプログラムの命令であって、コンピュータプロセッサ（５６）に請求項１に記載の方法のステップを実行させるコンピュータプログラム。
【請求項９】
デジタル画像化システム（５３）の特性を示すための装置であって、
前記デジタル画像化システムにより得られた画像の少なくとも関心領域（３４ａ）におけるエッジ（３０）のおおよその位置を、前記デジタル画像化システムに含まれる画像化要素の配列における画像化要素（３５）の読み取りに基づいて決定する（２０ｂ〜２１ｄ）手段（５６）であって、内挿された読み取りが、前記エッジの前記おおよその位置の決定に用いられ（２１ａ）、前記内挿された読み取りが、前記エッジ（３０）に対しておおよそ垂直な１組の線（３３）に沿った一定間隔の距離で決定される、手段（５６）と、
前記エッジに対しておおよそ垂直な１つの線（ｘ）に沿って、前記デジタル画像化システムのスーパーサンプリングされた特性を決定する（２２ａ〜２３ｂ）手段（５６）と、  を備えており、前記画像化要素（３５）の前記配列における水平行（３２）および垂直列（３１）のいずれかと比較して大きな角度であって、前記水平行および前記垂直列の方向に対して２度より大きく、かつ、前記画像化要素の前記配列の前記水平行および前記垂直列の方向に対して４５度の角度にある対角線に対して２度より大きいおきな角度において、前記デジタル画像化システムの特性を示す際に、内挿されていない読み取りだけが、前記デジタル画像化システムの前記スーパーサンプリングされた特性を決定する上で、サンプルとしての使用のために選択される装置。
【請求項１０】
前記デジタル画像化システムの前記スーパーサンプリングされた特性が、スーパーサンプリングされたエッジ広がり関数である、請求項９に記載の装置。
【請求項１１】
前記内挿されていない読み取りが、前記エッジ（３０）に対しておおよそ垂直な線（ｘ）上で、不規則な間隔の点で決定される、請求項９に記載の装置。
【請求項１２】
さらに、一定間隔に平均化されたかまたは組合された読み取り（４１）を得るために、前記内挿されていない画像化要素の読み取りをまとめる（２２ｃ）手段を備えている、請求項９に記載の装置。
【請求項１３】
前記関心領域（３４ａ）が、前記エッジに対しておおよそ平行な２つの対向する辺を備えた矩形である、請求項９に記載の装置。
【請求項１４】
前記関心領域が、前記画像化要素の前記配列における画像化要素（３５）の水平行（３２）または垂直列（３１）のいずれかに対しておおよそ平行な２つの対向する辺を備えた矩形である、請求項９に記載の装置。
【請求項１５】
前記エッジ（３０）の前記おおよその位置を決定する際に、該エッジに対する前記デジタル画像化システムの応答を示す情報の射影が、前記画像化要素の前記配列における画像化要素（３５）の水平行（３２）または垂直列（３１）のいずれかと方向（ｉ，ｊ）が揃えられており、そのことにより、画像化要素の内挿された読み取りを用いる必要性が除外される、請求項９に記載の装置。
【請求項１６】
エッジを含んだ画像に対応する読み取りを提供するためのデジタル画像化システム（５３）と、
前記画像に対応する前記読み取りに基づいて、前記デジタル画像化システムの特性を示す情報を提供するために、該読み取りに応答する、請求項９に記載の装置と、
を備えたシステム。
【請求項１７】
デジタル画像化システム（５３）の特性を示すためのプロセッサを備えた装置において、前記プロセッサは、
前記デジタル画像化システムにより得られた画像の少なくとも関心領域（３４ａ）におけるエッジ（３０）のおおよその位置を、前記デジタル画像化システムに含まれる画像化要素の配列における画像化要素（３５）の読み取りに基づいて決定し（２０ｂ〜２１ｄ）、その際、内挿された読み取りが、前記エッジの前記おおよその位置の決定に用いられ（２１ａ）、前記内挿された読み取りが、前記エッジ（３０）に対しておおよそ垂直な１組の線（３３）に沿った一定間隔の距離で決定されるようにし、
前記エッジに対しておおよそ垂直な１つの線（ｘ）に沿って、前記デジタル画像化システムのスーパーサンプリングされた特性を決定する（２２ａ〜２３ｂ）、
ように構成されており、前記プロセッサは、さらに、前記画像化要素（３５）の前記配列における水平行（３２）および垂直列（３１）のいずれかと比較して大きな角度であって、前記水平行および前記垂直列の方向に対して２度より大きく、かつ、前記画像化要素の前記配列の前記水平行および前記垂直列の方向に対して４５度の角度にある対角線に対して２度より大きいおきな角度において、前記デジタル画像化システムの特性を示す際に、内挿されていない読み取りだけが、前記デジタル画像化システムの前記スーパーサンプリングされた特性を決定する上で、サンプルとしての使用のために選択される、ように構成されている装置。
【請求項１８】
前記デジタル画像化システムの前記スーパーサンプリングされた特性が、スーパーサンプリングされたエッジ広がり関数である、請求項１７に記載の装置。
【請求項１９】
前記内挿されていない読み取りが、前記エッジ（３０）に対しておおよそ垂直な線（ｘ）上で、不規則な間隔の点で決定されるように、前記プロセッサが構成されている、請求項１７に記載の装置。
【請求項２０】
一定間隔に平均化されたかまたは組合された読み取り（４１）を得るために、前記内挿されていない画像化要素の読み取りをまとめる（２２ｃ）ように、前記プロセッサが、さらに構成されている、請求項１７に記載の装置。
【請求項２１】
前記関心領域（３４ａ）が、前記エッジに対しておおよそ平行な２つの対向する辺を備えた矩形である、請求項１７に記載の装置。
【請求項２２】
前記関心領域が、前記画像化要素の前記配列における画像化要素（３５）の水平行（３２）または垂直列（３１）のいずれかに対しておおよそ平行な２つの対向する辺を備えた矩形である、請求項１７に記載の装置。
【請求項２３】
前記エッジ（３０）の前記おおよその位置を決定する際に、該エッジに対する前記デジタル画像化システムの応答を示す情報の射影が、前記画像化要素の前記配列における画像化要素（３５）の水平行（３２）または垂直列（３１）のいずれかと方向（ｉ，ｊ）が揃えられており、そのことにより、画像化要素の内挿された読み取りを用いる必要性が除外されるように、前記プロセッサが構成されている、請求項１７に記載の装置。