【事件の表示】
　特願２０１５−５２５８８２「調節可能レーザを動的に掃引するためのシステムおよび方法」拒絶査定不服審判事件〔平成２６年　２月１３日国際公開、ＷＯ２０１４／０２３７７０、平成２７年　８月２４日国内公表、特表２０１５−５２４６２１〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
　１　手続の経緯
　本願は、２０１３年（平成２５年）８月７日（パリ条約による優先権主張外国庁受理２０１２年８月７日、欧州特許庁）を国際出願日とする出願であって、その手続の経緯は次のとおりである。
　平成２９年　６月２６日付け：拒絶理由通知書
　平成２９年１１月２８日　　：意見書・手続補正書
　平成３０年　２月２８日付け：拒絶査定（謄本送達：平成３０年３月２日）
　平成３０年　６月１９日　　：審判請求書・手続補正書
　２　本願発明の認定
　本願の請求項１〜２３に係る発明は、平成３０年６月１９日提出の手続補正書により補正された特許請求の範囲の請求項１〜２３に記載された事項により特定されるものと認められるところ、その請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は、以下のとおりのものである。なお、上記補正により、請求項１は補正されていない。
「少なくとも１つの波長掃引から、光学センサのアレイから取得されるセンサ特性を測定する動的に掃引される調節可能レーザシステムであって、
　前記レーザの全波長掃引を任意の特定の順番で複数の領域に分割する手段であって、各領域は、少なくとも１つ以上の隣接する掃引区画を備え、各掃引区画は、開始および停止基準によって参照され、他の掃引区画と比較して異なる長さを伴って選択される、手段と、
　前記調節可能レーザによって掃引された各区画からセンサ特性を決定する手段であって、前記調節可能レーザは、後続の波長掃引のために、センサ特性が決定されている区画のみを調査するであろう、手段と
　を備えている、システム。」
　３　原査定の拒絶の理由
　原査定の拒絶の理由は、次の内容を含むものである。
　本願の請求項１に係る発明は、本願の優先権主張の日（以下「優先日」という。）前に日本国内又は外国において、頒布された又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった下記の引用文献１に記載された発明であるから、特許法第２９条第１項第３号に該当し、特許を受けることができない。
　本願の請求項１に係る発明は、本願の優先日前に日本国内又は外国において、頒布された又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった下記の引用文献１に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　引用文献１：米国特許出願公開第２００７／０２８０７０３号明細書
　４　引用文献１の記載事項及び引用発明１の認定
（１）原査定の拒絶の理由で引用された、本願の優先日前に日本国内又は外国において、頒布された又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった米国特許出願公開第２００７／０２８０７０３号明細書（引用文献１）には、次の事項が記載されていると認められる（下線は当審が付した。以下同じ。）。
　ア　「BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS」
［当審訳：図面の簡単な説明］、
「FIG. 1A illustrates an exemplary transmissive optical sensor system with wavelength sweep control;」（[0011]）
［当審訳：図１Ａは、波長掃引制御部を有する例示的な透過型光学センサシステムを示す。］、
「FIG. 1B illustrates an exemplary reflective optical sensor system with wavelength sweep control;」（[0012]）
［当審訳：図１Ｂは、波長掃引制御部を有する例示的な反射型光学センサシステムを示す。］、
「FIG. 2 illustrates an exemplary wavelength sweeping optical source utilizing a tunable filter;」（[0013]）
［当審訳：図２は、波長可変フィルタを利用した例示的な波長掃引光源を示す。］、
「FIG. 3 illustrates how sweep rates may be varied for different wavelength regions of interest in accordance with embodiments of the present invention;」（[0014]）
［当審訳：図３は、本発明の実施形態において、関心のある異なる波長領域に対して掃引速度がどのように変化し得るかを示す。］、
「FIG. 4 illustrates how optical power may be varied for different wavelength regions of interest in accordance with embodiments of the present invention;」（[0015]）
［当審訳：図４は、本発明の実施形態に従って、関心のある異なる波長領域に対して光パワーがどのように変化し得るかを示す。］、
「FIG. 5 illustrates how wavelength features of interest may shift over time and how sweep rates of corresponding wavelength regions may be adjusted accordingly;」（[0016]）
［当審訳：図５は、関心のある波長特徴が経時的にどのようにシフトし得るか、および対応する波長領域の掃引速度がそれに応じてどのように調整され得るかを示す。］、
「FIG. 6 is a flow diagram of exemplary operations for varying wavelength sweep parameters based on feedback from previous sweeps;」（[0017]）
［当審訳：図６は、前の掃引からのフィードバックに基づいて波長掃引パラメータを変更するための例示的な動作の流れ図である。］、
　イ　「DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT」
［当審訳：好ましい実施形態の説明］、
「Embodiments of the present invention provide for the active control of a light source used to interrogate optical elements having characteristic wavelengths distributed across a wavelength range.」（[0021])
［当審訳：本発明の実施形態は、ある波長範囲にわたって分布した特性波長を有する光学素子を調べるために使用される光源の能動的制御を提供する。］、
「For some embodiments, this active control may include varying sweep rates across different ranges. For example, a sweep rate may be reduced in ranges containing spectral features of interest, allowing more measurements which may lead to increased resolution. On the other hand, the sweep rate may also be increased in order to skip, or otherwise move rapidly through, other ranges (e.g., ranges absent features of interest or ranges corresponding to measured parameters that do not require as high resolution as others or as frequent measurements). Further, for some embodiments, particular ranges (sweep bands) may be adjusted, for example, to follow features of interest as they shift (e.g., change in wavelength) over time.」（[0022]）
［当審訳：いくつかの実施形態では、この能動的制御は、異なる範囲にわたって掃引速度を変えることを含み得る。例えば、関心のあるスペクトル特徴を含む範囲内で掃引速度を減少させることができ、そのことは、分解能の向上につながり得る、より多くの測定を可能にする。他方で、掃引速度はまた、他の範囲（例えば、関心のある特徴を欠く範囲、または、他の範囲ほど高い分解能や頻繁な測定を必要としないような測定パラメータに対応する範囲）をスキップしたり、またはそうでなければ、急速に移動したりするために、増加され得る。さらに、いくつかの実施形態では、特定の範囲（掃引帯域）は、例えば、関心のある特徴が経時的にシフトする（例えば、波長の変化）ときに関心のある特徴に従うように調整することができる。］、
「Different embodiments of the present invention may utilize wavelength sweep control described herein in systems utilizing transmissive or reflective type sensors. Further, embodiments of the present invention may be applied in a number of different sensing applications, including, but not limited to, industrial applications, downhole applications (e.g., in wellbore sensing applications), and subsea applications (e.g., ocean bottom seismic sensing applications).」（[0023]）
［当審訳：本発明の異なる実施形態は、透過型または反射型のセンサを利用するシステムにおいて、本明細書に記載の波長掃引制御を利用することができる。さらに、本発明の実施形態は、産業用途、坑内用途（例えば、坑井検知用途）、および海底用途（例えば、海底地震検知用途）を含むがこれらに限定されない、いくつかの異なる検知用途に適用することができる。］
　ウ　「An Exemplary System」
［当審訳：例示的なシステム］、
「FIG. 1A illustrates an exemplary optical sensor system 100 utilizing wavelength sweep control in accordance with one embodiment of the present invention. As illustrated, the system 100 may include a swept-wavelength optical source 110, one or more transmissive optical elements 120 having one or more spectral features of interest (e.g., a characteristic wavelength), and a sweep control unit 140.」（[0024]）
［当審訳：図１Ａは、本発明の一実施形態による、波長掃引制御を利用する例示的な光センサシステム１００を示す。図示のように、システム１００は、掃引波長光源１１０、１つ以上の関心のスペクトル特徴（例えば、特性波長）を有する１つ以上の透過光学素子１２０、および掃引制御ユニット１４０を含むことができる。］、
「The swept-wavelength optical source 110 produces optical radiation at wavelengths and over wavelength ranges (bandwidths) under the control or influence of the sweep control unit 140. The elements 120 may be interrogated with optical radiation from the optical source 110 that is swept across a spectral range including the spectral features of interest. The elements 120 may be sensitive to parameters (e.g., temperatures, pressures and strain) that effect the attenuation of particular wavelengths of light transmitted through the elements 120 in a known manner.」（[0025]）
［当審訳：
掃引波長光源１１０
「As illustrated in FIG. 2, one embodiment of the optical source 110 may include a broadband source 112 and a tunable filter 114 that may be controlled by the sweep control unit 140. For example, the sweep control unit 140 may control the tunable filter 114 to adjust a wavelength range (or band) to pass with little or no attenuation while blocking wavelengths outside the range. For other embodiments, the optical source 110 may include a light source that can be controlled to generate optical signals of different wavelengths, such as a tunable laser.」（[0026]）
［当審訳：図２に示されるように、光源１１０の一実施形態は、広帯域光源１１２と掃引制御ユニット１４０によって制御することができる調整可能フィルタ１１４とを含むことができる。例えば、掃引制御ユニット１４０は、調整可能フィルタ１１４を制御して、範囲外の波長をブロックしながら、ある波長範囲（または帯域）をほとんどまたは全く減衰することなく通過するように調整することができる。他の実施形態では、
光源１１０は、波長可変レーザ
「Referring back to FIG. 1A, a receiver 130 may include any suitable combination of optical, opto-electronic, and electronic components to process light signals transmitted through the elements 120. Thus, the receiver 130 may be able to generate information about the corresponding parameters, based on the spectral information extracted from the received light. The receiver 130 may include any suitable combination of components that converts optical signals to electrical signals, integrates, filters and produces characteristic wavelength determinations. As an example, for one embodiment, the receiver may include an optical PIN diode, transimpedance amplifier, analog filter, analog-to-digital converter, digital filter and processing unit (e.g., an embedded processor, industrial or personal computer) for wavelength determination.」（[0027]）
［当審訳：再び図１Ａを参照すると、受信機１３０は、要素１２０を介して送信される光信号を処理するための光学、光電子、および電子部品の任意の適切な組み合わせを含み得る。したがって、受信機１３０は、受信した光から抽出されたスペクトル情報に基づいて、対応するパラメータに関する情報を生成することができ得る。受信機１３０は、光信号を電気信号に変換し、統合し、フィルタリングし、そして特徴的な波長決定を生成する構成要素の任意の適切な組み合わせを含み得る。一例として、一実施形態では、受信機は、波長決定のために、光ＰＩＮダイオード、トランスインピーダンス増幅器、アナログフィルタ、アナログデジタル変換器、デジタルフィルタおよび処理ユニット（例えば、内蔵プロセッサ、産業用またはパーソナルコンピュータ）を含み得る。］、
「As illustrated, the sweep control unit 140 may receive, as input, one or more signals from one or more points in the receiver 130 and, in response, may signals that influence the sweep of the optical source 110. Examples of typical parameters that the sweep control unit may influence include, but are not limited to, source wavelength, source wavelength sweep range, sweep rate, and/or source optical output power. These influences may include discontinuous or continuous changes in such parameters, for example, multiple sweep bands (FIG. 3). The sweep control unit signals can influence a sweep as it is in progress and/or influence future sweeps, as will be described in greater detail below.」（[0028]）
［当審訳：図示のように、掃引制御ユニット１４０は、入力として、受信機１３０内の１つ以上の点から１つ以上の信号を受信し、それに応答して、光源１１０の掃引に影響を与える信号を受信する。掃引制御ユニットが影響を及ぼし得る典型的なパラメータの例には、光源波長、光源波長掃引範囲、掃引速度、および／または光源光出力パワーが含まれるが、これらに限定されない。これらの影響は、そのようなパラメータの不連続または連続的な変化、たとえば複数の掃引帯域（図３）、を含み得る。掃引制御ユニット信号は、掃引が進行中であるときに掃引に影響を与えることができ、および／または以下により詳細に説明されるように将来の掃引に影響を与えることができる。］、
「The sweep control unit 140 may be implemented using any suitable processing logic, such as an embedded controller, a programmable logic controller (PLC) or personal computer (PC). While shown as a separate component in the Figures, for some embodiments, the sweep control unit 140 may be integrated into, or be an integral function of the receiver 130, source 110, and/or both.」（[0029]）
［当審訳：掃引制御ユニット１４０は、埋め込み型コントローラ、プログラマブルロジックコントローラ（ＰＬＣ）またはパーソナルコンピュータ（ＰＣ）などの任意の適切な処理ロジックを使用して実装されることができる。図面には別個の構成要素として示されているが、いくつかの実施形態では、掃引制御ユニット１４０は、受信機１３０、光源１１０、および／またはその両方に統合されてもよく、またはそれらの不可欠な機能でもよい。］、
「As illustrated in FIG. 1B, similar techniques may be applied to a system utilizing reflective sensor elements 122, such as Bragg gratings, with the spectral feature of the light reflected dependent upon a sensed parameter. Each Bragg grating 122 may be interrogated by sweeping across a corresponding wavelength range chosen to contain the characteristic wavelength A, accounting for the maximum deviations in center wavelengths (areas of peak reflection) expected over the entire range of measured parameters and over time. During this interrogation, response signals are monitored by the receiver 130 in order to make characteristic wavelength determinations.」（[0030]）
［当審訳：図１Ｂに示されるように、同様の技術が、感知されたパラメータに依存して反射された光のスペクトル特性を用いた、
ブラッグ格子のような反射センサ素子１２２
「Interrogating optical signals from the source 110 may be directed to the gratings 122 via a bi-direction coupler 124 that also directs reflected response signals to the receiver 130. A splitter 122 may also direct a portion of the interrogating optical signals to a reference element 116, allowing the receiver 130 to monitor optical signals produced by the optical source 120 (e.g., the actual wavelength and power).」（[0031]）
［当審訳：光源１１０からの質問光信号は、反射された応答信号を受信機１３０にも向ける双方向カプラ１２４を介してグレーティング１２２に向けることができる。スプリッタ１２２はまた、質問光信号の一部を基準要素１１６に向け、基準要素１１６は、受信機１３０が光源１２０によって生成された光信号（例えば実際の波長およびパワー）を監視することを可能にする。］、
「As previously described, wavelength division multiplexed (WDM) systems, such as the system 200 typically have deadbands between sensor wavelengths, to ensure non-overlapping characteristic wavelengths. In conventional systems, these deadbands add to the total swept wavelength range, thereby increasing overall interrogation time and decreasing the percentage of this time a useful response signal is produced. However, embodiments of the present invention may increase the percentage of time spent producing useful response signals by skipping these deadbands or at least increasing the sweep rate to rapidly sweep through them.」（[0032]）、
［当審訳：前述のように、システム２００のような波長分割多重（ＷＤＭ）システムは、典型的には、
重ならない特性波長を確実にするために、センサ波長間にデッドバンドを有する。
　エ　「Varying Sweep Rates」
「当審訳：掃引速度を変化させること」、
「FIG. 3 illustrates an exemplary spectral response for a system (power of received response signals versus wavelength), with multiple swept ranges 310 containing spectral features of interest 312. As illustrated, regions of interest may be scanned with a first (relatively slow) scan rate, while deadbands 320 may be scanned with a second (relatively faster) scan rate or skipped altogether. For some embodiments, for example, due to limited response time of the source 110 (e.g., due to physical, mechanical, or electrical limitations), it may not be possible to entirely skip a wavelength range and therefore deadbands may be swept with increased sweep rate (relative to the ranges of interest 310).」（[0033]）
［当審訳：図３は、関心あるスペクトル特徴３１２を含む複数の掃引範囲３１０を有する、システムに対する例示的スペクトル応答（波長に対する受信応答信号の強度）を示す。図示のように、関心領域は第１の（比較的遅い）走査速度で走査することができ、デッドバンド３２０は第２の（比較的速い）走査速度で走査することができ、あるいは完全にスキップすることができる。いくつかの実施形態では、例えば、光源１１０の有限な応答時間（例えば、物理的、機械的、または電気的制限による）のために、波長範囲を完全にスキップすることは不可能であり得、それゆえ、デッドバンドは、（関心範囲３１０に比較して）増加された掃引速度で掃引されてもよい。］、
「In either case, controlling the sweep rate in this manner may increase the useful optical energy received from the optical elements in a given interrogation time. As a result, overall interrogation time may be reduced relative to conventional systems or, alternatively, more measurements may be taken in the same interrogation time, allowing an increased “focus” on ranges of interest which may increase accuracy.」（[0034]）
［当審訳：いずれにせよ、このようにして掃引速度を制御することは、所与の質問時間内に光学素子から受け取られる有用な光エネルギーを増加させることができる。結果として、全体の問い合わせ時間が従来のシステムと比較して短縮され得るか、あるいは、同じ問い合わせ時間においてより多くの測定が行われ得、関心のある範囲への「焦点」の増大を可能にし、これは精度を高め得る。］、
「Different sweep rates may also be utilized for different ranges of interest, to interrogate different sensors at different rates, which may provide a great deal of flexibility in overall system design. For example, a first sensor (e.g., having a first characteristic wavelength λ1) may be interrogated using a lower sweep rate than that used to interrogate a second sensor (λ2). As a result, more measurements may be taken for the first sensor, which may be lead to higher accuracy measurements, while the second sensor may be used for more coarse measurements. Using this approach, some sensors may be designated as “high resolution” sensors and interrogated with lower sweep rates (sampled more often) that other sensors.」（[0035]）
［当審訳：異なる掃引速度はまた、異なる速度で異なるセンサを質問するために異なる関心範囲に対して利用されてもよく、これは全体的なシステム設計において大きな柔軟性を提供し得る。例えば、第１のセンサ（第１の特徴の波長λ１を有する）は、第２のセンサ（λ２）を質問するために使用されるよりもより低い掃引速度を使用して質問されることができる。その結果、第１のセンサについてより多くの測定値を取得することができ、それはより高い精度の測定値につながり得る一方で、第２のセンサはより粗い測定値のために使用され得る。このアプローチを使用して、いくつかのセンサは「高解像度」センサとして指定され、他のセンサよりも低い掃引速度（より頻繁にサンプリングされる）で質問され得る。］、
「At a different point in time, it may become desirable to take higher accuracy measurements of the second sensor. Therefore, the sweep rates of different sensors may be changed from one sweep to the next. For example, for some applications, it may only be necessary to take highly accurate measurements of certain parameters in certain situations (e.g., when the parameter is changing rapidly, or has reached a particular threshold value). In some instances, high accuracy measurements (low sweep rate) of a particular parameter may only be made when a coarse measurement of the same parameter (taken in a current or previous sweep) indicates a particular value or range.」（[0036]）
［当審訳：異なる時点で、第２のセンサのより正確な測定値をとることが望ましくなり得る。したがって、異なるセンサの掃引速度は、掃引ごとに変わる可能性がある。例えば、いくつかの用途では、特定の状況において（例えば、パラメータが急速に変化しているとき、または特定の閾値に達したとき）、特定のパラメータの非常に正確な測定を行うことのみが必要であり得る。場合によっては、特定のパラメータの高精度測定（低掃引速度）は、（現在の掃引または前の掃引で行われた）同じパラメータの粗い測定が特定の値または範囲を示すときにのみ行われ得る。］、
「As illustrated in FIG. 4, for some embodiments, the optical power of interrogating light signals may also be varied for different swept ranges (as an alternative to, or in conjunction with, varying sweep rates). For example, optical power may be decreased when sweeping across dead ranges. This approach may allow optical power to be conserved. For some embodiments, reduced optical power may be may be used to scan particular swept ranges, until a particular threshold level of optical response signal is received.」（[0037]）
［当審訳：図４に示されるように、いくつかの実施形態では、問い合わせ光信号の光パワーはまた、異なる掃引範囲に対して（可変掃引速度の代替として、またはそれに共同して）変更されてもよい。例えば、デッドな範囲を横切って掃引するときに、光パワーが低下されてもよい。この手法は、光パワーを節約することを可能にし得る。いくつかの実施形態では、特定の閾値レベルの光応答信号が受信されるまで、低減された光パワーが、特定の掃引範囲を走査するために使用され得る。］、
　オ　「Adjusting Ranges of Interest」
［当審訳：関心範囲を調整すること］、
「Embodiments of the present invention may also allow for only a limited band of wavelengths directly surrounding particular spectral features of interest to be swept by the source. The wavelength sweep control unit may continuously adjust the swept bands/ranges to track these features, should they change in wavelength over time.」（［0039］）
［当審訳：本発明の実施形態はまた、
関心のある特定のスペクトル特徴を直接取り囲む限られた帯域の波長のみが光源によって掃引されることを可能にし得る。波長掃引制御ユニットは、掃引帯域／範囲を連続的に調整してこれらの特徴を追跡し、それらが経時的に波長が変化する場合に備えてもよい。
「For example, as illustrated in FIG. 5, the characteristic wavelength of a first sensor (λ1) may change over time, such that the region of interest, defined by the expected deviation in wavelength of the sensor, may shift over time. A previous region of interest is shown as a dashed line, while the new region of interest is shown as a solid line. In the illustrated example, a positive shift for λ1 is shown. As illustrated in the upper graph of FIG. 5, in response to this shift, the wavelength sweep control 140 may adjust the corresponding swept range (swept with a relatively low sweep rate and/or a relatively high optical power) for λ1 to compensate for the shift. As illustrated, the characteristic frequency for a second sensor (λ2) may shift in the opposite direction, which may cause the wavelength sweep control 140 to adjust the corresponding swept range accordingly.」（[0040]）
［当審訳：例えば、図５に示されるように、第１のセンサの特性波長（λ１）が、時間の経過と共に変化し、センサの波長の予想偏差によって定義された関心領域が、経時的にシフトするかもしれない。以前の関心領域は破線で示され、新しい関心領域は実線で示されている。図示の例では、λ１についてプラスのシフトが示されている。図５の上のグラフに示されるように、このシフトに応答して、波長掃引制御部１４０は、そのシフトを補償するために、λ１に対応する掃引範囲（比較的低い掃引速度及び／又は比較的高い光パワーで掃引される）を調整できる。図示のように、第２のセンサのための特性周波数（λ２）は、反対方向にシフトするかもしれず、このことは、波長掃引制御部１４０に、対応する掃引範囲をそれにしたがって調整させる結果を起こさせることができる。］、
「FIG. 6 is a flow diagram of exemplary operations that may be performed, for example, by the wavelength sweep control 140 to vary wavelength sweep parameters based on feedback from previous sweeps. At step 602, a sweep begins, for example by interrogating optical elements with light signals having a wavelength at a low end of a total range to be swept. As described above, the total range to be swept may be divided into ranges (e.g., ranges of interest and deadbands).」（[0041]）
［当審訳：図６は、例えば、
前の掃引からのフィードバックに基づいて波長掃引パラメータを変更するために波長掃引制御部１４０によって実行され得る例示的な動作
ステップ６０２において、例えば掃引されるべき全範囲の下端にある波長を有する光信号で光学素子を調べることによって掃引が始まる
掃引されるべき全範囲は、範囲（例えば、関心のある範囲およびデッドバンド）に分割されてもよい
［当審訳］
「At step 604, a loop of operations is entered, to be performed for each range. At step 606, a determination is made as to if a current range contains a spectral feature of interest. If the current range does not contain a spectral feature of interest, the range can be skipped or, at least, scanned rapidly, at step 612. If the current range contains a spectral feature of interest, wavelengths in the range may be swept at a specified (relatively slow) sweep rate, at step 608. At step 610, the received power (response signal) may be recorded for later use.」（[0042]）
［当審訳：
ステップ６０４で、各範囲に対して実行されるべき動作のループに入る。ステップ６０６において、現在の範囲が関心のあるスペクトル特徴を含むかどうかに関する決定がなされる。現在の範囲が関心のあるスペクトル特徴を含まない場合、ステップ６１２で、範囲をスキップすることができ
現在の範囲が関心のあるスペクトル特徴を含む場合、ステップ６０８で、範囲内の波長が指定された（比較的遅い）掃引速度で掃引されてもよい。ステップ６１０において、受信強度（応答信号）は後の使用のために記録されてもよい。
「The operations may be repeated (e.g., slowly sweeping ranges of interest and rapidly sweeping deadbands), until all ranges have been swept. At step 614, the swept ranges may be adjusted based on the recorded received power, for example, as described above with reference to FIG. 5. These adjusted swept ranges may then be used in a subsequent sweep. In this manner, the wavelength sweep control 140 may continuously adjust sweep parameters to compensate for changing sensor characteristics.」（[0043]）
［当審訳：
全ての範囲が掃引されるまで、動作は繰り返され
ステップ６１４において、掃引範囲は、
記録された受信強度に基づいて調整されてもよい。これらの調整された掃引範囲は、その後の掃引で使用されてもよい。このようにして、波長掃引制御部１４０は、センサ特性の変化を補償するために掃引パラメータを連続的に調整することができる。
　カ　「5. An apparatus for controlling interrogation of optical elements having characteristic wavelengths spanning a sweep range, comprising:
　circuitry for obtaining feedback regarding one or more parameters of a sweep of wavelengths to interrogate the optical elements; and
　circuitry for adjusting one or more parameters effecting the interrogation, during a current or future sweep, based on the feedback.」（請求項５）
［当審訳：
掃引範囲にわたる特徴的な波長を有する光学素子の問い合わせを制御するための装置であって、
　
光学素子を調べるために波長掃引の１つ以上のパラメータに関するフィードバックを得るための回路と、
　
フィードバックに基づいて、現在または将来の掃引中に、問い合わせを実行する１つ以上のパラメータを調整するための回路とを含む。
「6. The apparatus of claim 5, wherein the circuitry for adjusting one or more parameters effecting the interrogation comprises circuitry for adjusting a sweep rate of one or more sweep ranges.」（請求項６）
［当審訳：請求項５の装置であって、問合せを実行する１つ以上のパラメータを調整するための回路は、１つまたは複数の掃引範囲の掃引速度を調整するための回路を含む。］（当審注：段落冒頭の「The apparatus of claim 6」は、「The apparatus of claim 5」の誤記であると解されるので、誤記を正した上で認定した。）、
「7. The apparatus of claim 5, wherein the circuitry for adjusting one or more parameters effecting the interrogation comprises circuitry for adjusting one or more sweep ranges to track a shift in a characteristic wavelength of one or more of the optical elements.」（請求項７）
［当審訳：請求項５の装置であって、問い合わせを実行する１つ以上のパラメータを調整するための回路は、１つ以上の光学素子の特性波長のシフトを追跡するために１つ以上の掃引範囲を調整するための回路を含む。］（当審注：段落冒頭の「The apparatus of claim 6」は、「The apparatus of claim 5」の誤記であると解されるので、誤記を正した上で認定した。）、
「8. The apparatus of claim 5, wherein the circuitry for adjusting one or more parameters effecting the interrogation comprises circuitry for adjusting at least one of a sweep rate or interrogating optical power based on received optical power.」（請求項８）
［当審注：請求項５の装置であって、問合せを実行する１つ以上のパラメータを調整するための回路は、受信光パワーに基づいて掃引速度または問合せ光パワーのうちの少なくとも１つを調整するための回路を含む。］（当審注：段落冒頭の「The apparatus of claim 6」は、「The apparatus of claim 5」の誤記であると解されるので、誤記を正した上で認定した。）
　キ　図１Ｂ、[0030]及び[0031]から、
反射センサ素子１２２は、複数個が直列に接続されている
　ク　図３から、
ＲＯＩ（関心スペクトル特徴を含む掃引範囲）３１０とデッドバンド３２０の長さが異なってもよい
（２）上記（１）によれば、引用文献１には、次の発明（以下「引用発明１」という。）が記載されていると認められる。なお、参考までに、引用発明１の認定に用いた記載箇所等を括弧内に示してある。
「掃引範囲にわたる特徴的な波長を有する光学素子の問い合わせを制御するための装置であって、
　光学素子を調べるために波長掃引の１つ以上のパラメータに関するフィードバックを得るための回路と、
　フィードバックに基づいて、現在または将来の掃引中に、問い合わせを実行する１つ以上のパラメータを調整するための回路とを含む装置であり、（請求項５）
　波長可変レーザである掃引波長光源１１０を備え、（[0025]、[0026]）
　前記光学素子は、ブラッグ格子のような反射センサ素子１２２であり、反射センサ素子１２２は、複数個が直列に接続されており、（[0030]、上記（１）キ）
　重ならない特性波長を確実にするために、センサ波長間にデッドバンドを有し、（[0032]）
　掃引されるべき全範囲は、範囲（例えば、関心のある範囲およびデッドバンド）に分割されてもよく、（[0041]）
　ＲＯＩ（関心スペクトル特徴を含む掃引範囲）３１０とデッドバンド３２０の長さが異なってもよく、（上記（１）ク））
　関心のある特定のスペクトル特徴を直接取り囲む限られた帯域の波長のみが光源によって掃引されることを可能にし、波長掃引制御ユニットは、掃引帯域／範囲を連続的に調整してこれらの特徴を追跡し、それらが経時的に波長が変化する場合に備えてもよいものであって、（[0039]）
　前の掃引からのフィードバックに基づいて波長掃引パラメータを変更するために波長掃引制御部１４０によって実行され得る例示的な動作は、次のとおりである、
　すなわち、
　ステップ６０２において、例えば掃引されるべき全範囲の下端にある波長を有する光信号で光学素子を調べることによって掃引が始まり、（[0041]）
　ステップ６０４で、各範囲に対して実行されるべき動作のループに入り、
　ステップ６０６において、現在の範囲が関心のあるスペクトル特徴を含むかどうかに関する決定がなされ、
　現在の範囲が関心のあるスペクトル特徴を含まない場合、ステップ６１２で、範囲をスキップすることができ、
　現在の範囲が関心のあるスペクトル特徴を含む場合、ステップ６０８で、範囲内の波長が指定された（比較的遅い）掃引速度で掃引されてもよく、
　ステップ６１０において、受信強度（応答信号）は後の使用のために記録されてもよく、（[0042]）
　全ての範囲が掃引されるまで、動作は繰り返され、
　ステップ６１４において、掃引範囲は、記録された受信強度に基づいて調整されてもよく、これらの調整された掃引範囲は、その後の掃引で使用されてもよく、このようにして、波長掃引制御部１４０は、センサ特性の変化を補償するために掃引パラメータを連続的に調整することができる、（[0043]）
　装置。」
　５　本願発明と引用発明１との対比
（１）本願発明の「少なくとも１つの波長掃引から、光学センサのアレイから取得されるセンサ特性を測定する動的に掃引される調節可能レーザシステムであって、」との特定事項について
　ア　引用発明１の「ブラッグ格子のような反射センサ素子１２２」は、本願発明の「光学センサ」に相当する。そして、引用発明１の「ブラッグ格子のような反射センサ素子１２２」は、「複数個が直列に接続されて」いるから、本願発明でいう「光学センサのアレイ」であるといえる。
　このように、引用発明１は、本願発明の「光学センサのアレイ」を備える。
　イ　引用発明１は、「掃引範囲にわたる特徴的な波長を有する光学素子の問い合わせを制御するための装置」であって、「波長可変レーザである掃引波長光源１１０を備え」ており、「掃引されるべき全範囲は、範囲（例えば、関心のある範囲およびデッドバンド）に分割されてもよ」いから、上記アも踏まえると、本願発明の「少なくとも１つの波長掃引から、光学センサのアレイから取得されるセンサ特性を測定する」「調節可能レーザシステム」であるといえる。
　ウ　引用発明１は、「現在の範囲が関心のあるスペクトル特徴を含まない場合、ステップ６１２で、範囲をスキップすることができ」、「現在の範囲が関心のあるスペクトル特徴を含む場合、ステップ６０８で、範囲内の波長が指定された（比較的遅い）掃引速度で掃引されてもよ」いものであるから、本願発明でいう「動的に掃引される」ものである。
　エ　よって、引用発明１は、本願発明の「少なくとも１つの波長掃引から、光学センサのアレイから取得されるセンサ特性を測定する動的に掃引される調節可能レーザシステムであって、」との特定事項を備える。
（２）本願発明の「前記レーザの全波長掃引を任意の特定の順番で複数の領域に分割する手段であって、各領域は、少なくとも１つ以上の隣接する掃引区画を備え、各掃引区画は、開始および停止基準によって参照され、他の掃引区画と比較して異なる長さを伴って選択される、手段と、」との特定事項について
　ア　引用発明１は、「センサ波長間にデッドバンドを有し」ているものであり、「掃引されるべき全範囲は、範囲（例えば、関心のある範囲およびデッドバンド）に分割されてもよ」いものである。
　ここで、１つの「関心のある範囲」が１つの「センサ波長」を含むと解される。そうすると、「センサ波長間にデッドバンドを有し」ているということは、次の技術的事項、すなわち、引用発明１における「掃引されるべき全範囲」が、「・・・、『関心のある範囲』、『デッドバンド』、『関心のある範囲』、『デッドバンド』、・・・」という順で「範囲」が並んでいる構成となっているという技術的事項、を意味するということができ、この理解は、図３にも沿う。
　そして、かかる構成は、１つの「関心のある範囲」とその右側に隣接する「デッドバンド」とからなる単位集合体を観念すれば、この単位集合体が複数集合したものからなると言い換えられる。
　しかるに、この「単位集合体」をもって、本願発明の「領域」に相当させることができる。そして、引用発明１の「範囲」は本願発明の「掃引区画」に相当するといえることを踏まえれば、引用発明１は、「各領域は、少なくとも１つ以上の隣接する掃引区画を備え」ていることにもなる。
　イ　引用発明１は、「掃引されるべき全範囲は、範囲（例えば、関心のある範囲およびデッドバンド）に分割されてもよ」いものであるから、上記アも踏まえると、本願発明の「前記レーザの全波長掃引を任意の特定の順番で複数の領域に分割する手段」を備えるといえる。
　ウ　引用発明１は、「現在の範囲が関心のあるスペクトル特徴を含まない場合、ステップ６１２で、範囲をスキップすることができ」、「現在の範囲が関心のあるスペクトル特徴を含む場合、ステップ６０８で、範囲内の波長が指定された（比較的遅い）掃引速度で掃引されてもよ」いものである。
　しかるに、このような制御を行うためには、「範囲」の開始点及び停止点が認識されている必要があることが、自明である。そうすると、引用発明１の「範囲」（本願発明の「掃引区画」に相当。）は、本願発明でいう「開始および停止基準によって参照され」ているものと解される。
　エ　引用発明１は、「ＲＯＩ（関心スペクトル特徴を含む掃引範囲）３１０とデッドバンド３２０の長さが異なってもよ」く、「波長掃引制御ユニットは、掃引帯域／範囲を連続的に調整してこれらの特徴を追跡し、それらが経時的に波長が変化する場合に備えてもよいもの」であり、「ステップ６１４において、掃引範囲は、記録された受信強度に基づいて調整されてもよ」いものであるから、本願発明の「各領域は、」「他の掃引区画と比較して異なる長さを伴って選択される」ものといえる。
　オ　よって、引用発明１は、本願発明の「前記レーザの全波長掃引を任意の特定の順番で複数の領域に分割する手段であって、各領域は、少なくとも１つ以上の隣接する掃引区画を備え、各掃引区画は、開始および停止基準によって参照され、他の掃引区画と比較して異なる長さを伴って選択される、手段と、」との特定事項を備える。
（３）本願発明の「前記調節可能レーザによって掃引された各区画からセンサ特性を決定する手段であって、前記調節可能レーザは、後続の波長掃引のために、センサ特性が決定されている区画のみを調査するであろう、手段と」との特定事項について
　引用発明１は、「関心のある特定のスペクトル特徴を直接取り囲む限られた帯域の波長のみが光源によって掃引されることを可能に」するものであって、「ステップ６０４で、各範囲に対して実行されるべき動作のループに入り」、「ステップ６０６において、現在の範囲が関心のあるスペクトル特徴を含むかどうかに関する決定がなされ」、「現在の範囲が関心のあるスペクトル特徴を含まない場合、ステップ６１２で、範囲をスキップすることができ」、「現在の範囲が関心のあるスペクトル特徴を含む場合、ステップ６０８で、範囲内の波長が指定された（比較的遅い）掃引速度で掃引されてもよ」いものである。さらに、引用発明１は、「全ての範囲が掃引されるまで、動作は繰り返され」、「ステップ６１４において、掃引範囲は、記録された受信強度に基づいて調整されてもよく、これらの調整された掃引範囲は、その後の掃引で使用されてもよい」ものである。
　このように、引用発明１は、「関心のあるスペクトル特徴を含む」「範囲」のみが掃引され続けるものである。そして、この「掃引」によって、「光学素子の問い合わせ」を行うとともに「光学素子を調べる」ことになるのであるから、本願発明でいうところの「センサ特性が決定」されることになる。
　よって、引用発明１は、本願発明の「前記調節可能レーザによって掃引された各区画からセンサ特性を決定する手段であって、前記調節可能レーザは、後続の波長掃引のために、センサ特性が決定されている区画のみを調査するであろう、手段と」との特定事項を備える。
（４）本願発明の「システム」との特定事項について
　上記（１）によれば、引用発明１は、本願発明の「システム」との特定事項を備える。
　６　一致点及び相違点の認定・判断
（１）上記５によれば、本願発明と引用発明１とは、
「少なくとも１つの波長掃引から、光学センサのアレイから取得されるセンサ特性を測定する動的に掃引される調節可能レーザシステムであって、
　前記レーザの全波長掃引を任意の特定の順番で複数の領域に分割する手段であって、各領域は、少なくとも１つ以上の隣接する掃引区画を備え、各掃引区画は、開始および停止基準によって参照され、他の掃引区画と比較して異なる長さを伴って選択される、手段と、
　前記調節可能レーザによって掃引された各区画からセンサ特性を決定する手段であって、前記調節可能レーザは、後続の波長掃引のために、センサ特性が決定されている区画のみを調査するであろう、手段と
　を備えている、システム。」である点で一致し、相違点はない。
　したがって、本願発明は、引用発明１である。
（２）仮に、本願発明と引用発明１とが、本願発明の「各領域」に備えられる「各掃引区画は、」「他の掃引区画と比較して異なる長さを伴って」いるのに対し、引用発明１の「各領域」に備えられる「範囲」（上記５（２）ア）は、「他の掃引区画と比較して異なる長さを伴って」いるのか判然としない点で相違するとしても、この相違点は、以下のとおり、格別なものではない。
　すなわち、引用発明１の１つの「領域」に備えられる「範囲」は、「関心のある範囲」とその右側に隣接する「デッドバンド」とからなるところ（上記５（２）ア）、「関心のある範囲」は、「関心のあるスペクトル特徴」を含む範囲である一方、「デッドバンド」は、「重ならない特性波長を確実にするために」設けられるのである。このように、「関心のある範囲」が有する技術的意義とその右側に隣接する「デッドバンド」が有する技術的意義とは異なるのであるから、これらの長さが同じである必然性はなく、むしろ、異なることが通常であると解される。
　そうすると、引用発明１の上記の「関心のある範囲」と「デッドバンド」とを「異なる長さを伴って」いるようにすることは、当業者にとって格別困難なことではないというべきである。
（３）請求人は、審判請求書において、本願発明は、全Ｃバンド範囲にわたって連続的に掃引または調節することができない調節可能レーザを考慮する設計である旨主張する。
　しかしながら、本願発明の「レーザ」が「全Ｃバンド範囲にわたって連続的に掃引または調節することができない」ものであることは、本願発明に特定されていない。
　請求人の主張は、本願発明の特定事項に基づかないものであって、失当である。
　７　むすび
　以上のとおり、本願発明は、引用発明１であるから、特許法第２９条第１項第３号に該当し、特許を受けることができない。また、仮に、本願発明が引用発明１でないとしても、本願発明は、引用発明１に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　よって、結論のとおり審決する。