【事件の表示】
　特願２００３−　１０７２７「光ヘッド装置、光情報装置及びハイブリッド素子」拒絶査定不服審判事件〔平成１５年　８月１５日出願公開、特開２００３−２２８８５４〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
Ｉ．手続の経緯
　本件審判の請求に係る出願（以下「本願」という。）は、平成６年７月４日に出願された特願平６−１５２１５８号の一部を、平成１５年１月２０日付けで分割したものであって、平成１６年６月２１日付けで拒絶すべきものである旨の査定がなされたものである。そして、平成１６年７月２９日付けで特許法第１２１条第１項の審判が請求されたものである。
　
　
II．本願発明について
　１．本願発明
　本願の請求項１〜９に記載された発明は、平成１６年４月２３日付けの手続補正によって補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１〜９に記載されたとおりのものと認められるところ、そのうち請求項１に係る発明は（以下「本願発明」という。）次のとおりのものと認める。
「【請求項１】　放射光源と、前記放射光源からの光ビームを受け情報媒体上へ微小スポットに収束する集光光学系と、前記情報媒体で反射した光ビームを受け光電流を出力する複数の光検出部を含む光検出器と、前記情報媒体で反射した光ビームを回折光として回折させ、前記光検出器へ光ビームを導くためのホログラムとを具備し、
　前記ホログラムは、所定の一方向の直線偏光光は回折せず、前記一方向に対して直角な方向の直線偏光光を回折する偏光異方性のホログラムであり、
　前記ホログラムは、情報媒体で反射された光ビームを受けるほぼ中心を原点として、Ｙ軸を前記情報媒体のピット列または溝方向とほぼ一致する方向（すなわちタンジェンシャル方向）、Ｘ軸をＹ軸とほぼ垂直な方向とした仮想のＸ−Ｙ座標系を定義したときに、前記Ｘ−Ｙ座標系の各象限をそれぞれ分割された回折領域として全面を４分割され、各回折領域を時計回りに領域Ａ、領域Ｂ、領域Ｃ、領域Ｄとし、
　前記領域Ａから回折する−Ｎ次の回折光のみを前記光検出器の検出領域ＡＭで受光して出力ａｍを取り出し、
　前記領域Ｂから回折する−Ｎ次の回折光のみを前記光検出器の検出領域ＢＭで受光して出力ｂｍを取り出し、
　前記領域Ｃから回折する−Ｎ次の回折光のみを前記光検出器の検出領域ＣＭで受光して出力ｃｍを取り出し、
　前記領域Ｄから回折する−Ｎ次の回折光のみを前記光検出器の検出領域ＤＭで受光して出力ｄｍを取り出し、
　さらに、出力信号の位相を比較する位相比較回路を具備し、前記位相比較回路によって前記出力ａｍ、ｂｍ、ｃｍ、ｄｍのすべてを用いて得られる位相差を用いてトラッキングエラー信号を得るとともに、
　前記ホログラムは＋Ｎ次の回折光を回折し、
　前記光検出器は前記領域Ａ〜Ｄとは別個の＋Ｎ次回折光受光領域を具備し、
　前記＋Ｎ次の回折光を前記＋Ｎ次回折光受光領域で受光して得た信号を利用して、フォーカスエラー信号を検出することを特徴とする光ヘッド装置。」
　
　２．刊行物及びその記載
　原査定の拒絶理由通知に引用された特開平３−６２３２７号公報（以下「刊行物１」という。）には光ピックアップ装置に関するものであり、以下の記載がある。（なお、下線は当審で付与）
　 (2-1)本実施例に係る光ピックアップ装置11はコンパクトディスク、ビデオディスク等の再生専用型の光ディスクの再生装置として使用されるものである。第２図に示すように、
光発生手段としての半導体レーザ12の出射光は回折素子13を介してコリメートレンズ14に到り、コリメートレンズ14で平行光とされた後、対物レンズ15に到達する。上記のコリメートレンズ14及び対物レンズ15は光学系を構成する。
　
対物レンズ15を透過した光束は、光ディスク16上に予めピットとして記録された記録情報を読み取るべく、光ディスク16上のピットに集光される。
光ディスク16から反射された光束は、対物レンズ15及びコリメートレンズ14を通過し、回折素子13にてＸ方向に回折された１次回折光が光検出器17に導かれるようになっている。
　第１図（ｂ）に示すように、
検出器17は、光ディスク16のトラック方向であるＹ方向に延びる分割線17hと、光ディスク16のラジアル方向であるＸ方向に延びる分割線17gとにより、それぞれ矩形形状を成す４つの光検出部17a〜17dに分割されている。光検出部17a〜17dは、それぞれ回折素子13の後述する各領域13a〜13dに対応し、各領域13a〜13dからの回折光を受光するようになっている。
　第３図に示すように、
回折素子13は、光ディスク16のトラック方向に延びる分割線13iと光ディスク16のラジアル方向に延びる分割線13jとにより４つの領域13a〜13dに分割されている。
　回折素子13の各領域13a〜13dには、光ディスク16からの反射光をそれぞれＸ方向に回折させるための格子13e・13e…〜13h・13hが形成されている。半導体レーザ12と光ディスク16を結ぶ光軸Ｌ1を中心とする一方の対角線位置の２つの領域13a・13cの格子13e・13e…〜13g・13g…は、フォーカスエラーのない上記光学系の合焦時に、光ディスク16から反射され、領域13a・13cで回折された光束が光検出器17の手前の同一点f１で焦点を結ぶように、方向及びピッチが定められている。
　一方、上記光軸Ｌ1を中心とする他方の対角線位置の２つの領域13b・13dにおける格子13f・13f…〜13h・13h…は、上記の合焦時に光ディスク16から反射され、領域13b・13dで回折された光束が光検出器17より遠方の同一点f２で焦点を結ぶように方向及びピッチが定められている。上記の焦点位置f１とf２とはともに、上記の光束Ｌ1と回折素子13との交点と、光検出器17上の分割線17g・17h同士の交点とを結ぶ回折光の光軸Ｌ２上に位置し、かつ、上記の合焦時に、光検出器17が焦点位置f１・f２のほぼ中間位置に存在するように設定されている。」（第４頁右下欄第２行〜第５頁右上欄第１７行目）
　 (2-2)「次に、トラッキングエラー信号ＲＥＳは、いわゆるヘテロダイン法により求められる。
　すなわち、第６図（ｂ）に示すように、光ディスク16上のピットＣが整列されたトラックの中央に光スポットＤが照射されていて、トラッキングエラー信号が生じていない場合、光スポットＤがピットＣ上に差し掛かった時点、つまり、ピットＣ上を通過し始めた時点での光ディスク16からの反射光の回折素子13上での光束Ｅの明暗パターンは第７図（ｂ）の如くに、図中上部と下部で明るく、中央部で暗くなる。この場合、光束Ｅの明暗パターンは左右対称であるため、上記の対角線差信号は“０”となる。
　第６図（ａ）の如く、光ディスク16上で光スポットＤがトラック中央から図中左側にずれてトラッキングエラー信号を生じた場合、光スポットＤがピットＣ上に差し掛かった時点での回折素子13上での光束Ｅの明暗パターンは第７図（ａ）の如く、図中左上部と右下部で明るくなり、中央部で暗くなる。この時、光検出器17上の検出部17a・17cの受光量は対称的に大きくなり、一方、光検出部17b・17dの受光量は相対的に小さくなるので、上記の対角線差信号（Ｓａ＋Ｓｃ）−（Ｓｂ＋Ｓｄ）は正の値となる。
　又、光スポットＤがトラック中央から左側にずれている状態で光スポットＤがピットＣを通過し終える時点での回折素子13での光束Ｅの明暗パターンは第７図（ｃ）の如く、図中右上部と左下部で明るく、中央部で暗くなる。この時、光検出部17a・17cの受光量は相対的に小さくなり、光検出部17b・17dの受光量相対的に大きくなるので、上記対角線差信号（Ｓａ＋Ｓｃ）−（Ｓｂ＋Ｓｄ）は負の値となる。
　従って、光ディスク16上の光スポットＤがピットＣに対し左側にずれている場合、記対角線差信号（Ｓａ＋Ｓｃ）−（Ｓｂ＋Ｓｄ）は、光ディスク16上の光スポットＤがピットＣ上を矢印Ａ方向に移動するに伴って概略第８図中（ｂ）の如くに、ほぼ正弦波状の曲線を描く。
　一方、第６図（ｃ）の如く、光ディスク16上で光スポットＤがトラック中央から図中右側にずれてトラッキングエラー信号を生じた場合、光スポットＤがピットＣ上に差し掛かった時点での回折素子13上での光束Ｅの明暗パターンは第７図（ｃ）の如くになる。この時、光検出部17a・17cの受光量は相対的に小さくなり、光検出部17b・17cの受光量は相対的に大きくなるので、上記の対角線差信号は負の値となる。
　又、光スポットＤがトラック中央から右側にずれている状態で光スポットＤがピットＣを通過し終える時点での回折素子13上での光束Ｅの明暗パターンは第７図（ａ）の如くになる。この時、光検出部17A・17cの受光量は相対的に大きくなり、光検出部17b・17dの受光量は相対的に小さくなるので、上記の対角線差信号は正の値となる。
　従って、光ディスク16上の光スポットＤがピットＣに対し右側にずれている場合、上記の対角線差信号（Ｓａ＋Ｓｃ）−（Ｓｂ＋Ｓｄ）は、光スポットＤがピットＣ上を矢印Ａ方向に移動するに伴って概略第８図中（ｃ）の如くに、ほぼ正弦波状の曲線を描く。但し、この場合の正弦波の位相は、光スポットＤがピットＣに対し左側にずれている場合とは１８０°異なっている。
　一方、上記和信号Ｓａ＋Ｓｂ＋Ｓｃ＋Ｓｄは、光ディスク16上の光スポットＤがピットＣ上を通過するに伴って、第８図中（ａ）に示す如くの正弦波状の曲線を描く。この正弦波の位相はフォーカスエラーが生じているか否かにかかわらずほぼ一定である。そして、光ディスク16上で光スポットＤが左側にずれている場合に対角線差信号が描く正弦波（第８図中（ｂ））は、和信号の正弦波（第８図中（ａ））に対し位相が９０°遅れており、一方、光ディスク16上で光スポットＤが右側にずれている場合に対角線差信号が描く正弦波（第８図中（ｃ））は、和信号の正弦波に対し位相が９０°進んでいる。
　従って、図示しない
トラッキングエラー検出手段にて対角線差信号を和親号の位相を比較することにより、光スポットＤがいずれの側にずれているかの検出が行える。
　 (2-3)「以下、記録情報、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号の検出につき述べる。
　半導体レーザー12から出射され、光ディスク16で反射されて、回折素子13の領域13aで回折された光束は焦点位置f１で一旦収束し、反転することにより、光検出器17における光検出部17aに扇形の光スポットP１を形成する。又、光ディスク16から反射され、領域13aと同一対角線上の領域13cで回折された光束は、上記と同一の焦点位置f１で一旦収束し、反転することにより、光検出器17の光検出部17cに扇形の光スポットP３を形成する。
　一方、光ディスク16から反射され、回折素子13の領域13bで回折された光束は、光検出器17の手前で収束することなく、光検出部17b上に扇形の光スポットP2を形成する。更に、光ディスク16から反射され、回折素子13における領域13bと同一対角線上の領域13dで回折された光束は光検出器17の手前側で収束することなく、光検出部17d上に扇形の光スポットP４を形成する。
　そして、対物レンズ15と光ディスク16間の距離が適正な合焦状態では、光検出器17が２つの焦点位置f１・f２のほぼ中間位置に存在しているので、第１図（ｂ）に示すように、各光スポットP１〜P４の大きさは等しくなる。従って、各光検出部17a〜17dの出力信号Ｓａ〜Ｓｄは等しくなる。
　一方、光ディスク16が対物レンズ15に接近し過ぎてフォーカスエラー状態になると、上記の焦点位置f１が光検出器17に接近する一方、焦点位置f２が光検出器17から遠ざかるので、第１図（a）のように、光スポットP１・P２は縮小し、逆に、光スポットP１・P４は拡大する。その場合、個々の光スポットP１〜P４の光量自体は大きさにより変化しないが、実際には、第４図の如く、分割線17g・17hが所定の幅（例えば、５μｍ程度）を有し、かつ、各光スポットP１〜P４の扇形の弦の部分が分割線17g・17hの中央線上に位置するとともに、分割線17g・17h上では光信号に対する感度がなくされるか又は減衰させられている。そして、第１図（ａ）及び第４図の状態では、光スポットP１・P３の方が光スポットP２・P４に比して分割線17g・17h上にはみ出している割合（面積率）が大きいため、光検出部17a・１７cの出力信号Ｓａ・Ｓｃが検出部17b・17dの出力信号Ｓｂ・Ｓｄより小さくなる。
　逆に、光スポット16が対物レンズ15から離れ過ぎてフォーカスエラー状態となると、第１図（ｃ）のように、光スポットP１・P３が拡大する一方、光スポットP２・P４が縮小するため、光検出部17a・17cの出力信号Ｓａ・Ｓｃが光検出部17b・17dの出力信号Ｓｂ・Ｓｄより大きくなる。
　従って、
フォーカスエラー信号ＦＥＳは、回折信号13の一方の対角線位置の２つの領域13a・13cに対応する光検出部17a・17cの出力信号Ｓａ・Ｓｃの和と、回折素子13の他方の対角線位置の２つの領域13b・13dに対応する光検出部17b・17dの出力信号Ｓｂ・Ｓｄの和との差（以下、対角線差信号と呼ぶ）により求められる。すなわちフォーカスエラー信号ＦＥＳは、図示しないフォーカスエラー検出手段によりＦＥＳ＝（Ｓａ+Ｓｃ）−（Ｓｂ＋Ｓｄ）の演算により求められ、このＦＥＳが“０”となるように図示しないフォーカスサーボ系により対物レンズが駆動される。
　
　以上の記載を、各図面を参照して、整理すると、刊行物１には以下のとおりの発明が記載されているものと認める。
　「光発生手段として半導体レーザ12の出射光は回折素子13を介してコリメートレンズ14に到り、コリメートレンズ14で平行光とされた後、対物レンズ15に到達する光学系であり、
　対物レンズ15を透過した光束は、光ディスク16上に予めピットとして記録された記録情報を読み取るべく集光され、
　光ディスク16から反射された光束は、対物レンズ15及びコリメートレンズ14を通過し、回折素子13にてＸ方向に回折された１次回折光が光検出器17に導かれるようになっていて、上記回折素子13は、光ディスク16のトラック方向に延びる分割線13iと光ディスク16のラジアル方向に延びる分割線13jとにより４つの領域13a〜13dに分割されており、
　検出器17は、光ディスク16のトラック方向であるＹ方向に延びる分割線17hと、光ディスク16のラジアル方向であるＸ方向に延びる分割線17gとにより、それぞれ矩形形状を成す４つの光検出部17a〜17dに分割されていて、光検出部17a〜17dは、それぞれ回折素子13の後述する各領域13a〜13dに対応し、各領域13a〜13dからの回折光を受光するようになっていて、
　トラッキングエラー検出手段は対角線差信号を和親号の位相を比較することにより、光スポットＤがいずれの側にずれているかの検出し、
　フォーカスエラー信号ＦＥＳは、回折信号13の一方の対角線位置の２つの領域13a・13cに対応する光検出部17a・17cの出力信号Ｓａ・Ｓｃの和と、回折素子13の他方の対角線位置の２つの領域13b・13dに対応する光検出部17b・17dの出力信号Ｓｂ・Ｓｄの和との差ＦＥＳ＝（Ｓａ+Ｓｃ）−（Ｓｂ＋Ｓｄ）の演算により求め“０”となるようにフォーカスサーボ系により対物レンズが駆動される光ピックアップ装置。」（以下「刊行物１発明」という。また、記号が図面との対応を明確にするために付した。）
　
　同じく、特開平５−１０９１１１号公報（以下「刊行物２」という。）には光ヘッド装置に関するものであり、以下の記載がある。（なお、下線は当審で付与）
　 (2-4)「【００１４】【実施例】以下図面を用いて本発明の実施例を説明する。図１は本発明の第１の実施例の構成図である。２は半導体レーザ等の放射光源である。この光源から出射した直線偏光の光ビーム３（レーザ光）は液晶ホログラム１７０を透過して１／４波長板１５によって円偏光に変えられて対物レンズ４に入射し、情報媒体５上に集光される。情報媒体５で反射して円偏光の回転方向が逆になったた光ビ−ムはもとの光路を逆にたどって１／４波長板１５によって始めとは９０゜回転した直線偏光になり、液晶ホログラム１７０に入射する。この
液晶ホログラム１７０から生じる＋１次回折光６４と−１次回折光６５はそれぞれ光検出器１００と光検出器１０１に入射する。光検出器１００及び１０１の出力を演算することによって、サーボ信号及び、情報信号を得ることができる。特に、情報媒体上での反射光の対物レンズ４への入射光量変化から情報を読み取る場合は、液晶ホログラム１７０から生じる＋１次回折光６４と−１次回折光６５をそれぞれ光検出器１００と光検出器１０１で受光して、光検出器１００及び１０１の出力の和信号または、この和信号の交流成分をもって情報信号検出を行うことができる。
　【００１５】ここで液晶ホログラム１７０は図２に示すように２枚の透明基板（たとえばガラス）９、液晶１７および透明電極１６からなる。なお、配向剤や液晶のシール剤も用いる場合が多いが、本発明とは直接関係ないので省略する。
　【００１６】本発明では透明電極１６の片方をホログラムパタ−ンにする。そして透明電極１６に電圧を印加する。このときの様子を図３に示す。図３は液晶ホログラム１７０を図２の上側から見たものである。ここで２１、２１ａ、２１ｂはいずれも液晶分子の配向方向を模式的に示したものである。電圧を印加しない時（ａ）では、液晶分子はラビングや配向剤によって一方向に配向している。電圧を印可すると（ｂ）のように両面に透明電極のあるところだけ電圧が掛かって配向方向が変わる。即ち電圧がかかったところの液晶分子は上下の電極方向が長軸になる。
（ｂ）において黒丸（・）で示されているのは液晶分子が紙面に垂直に立っている様子を示している。（ｂ）の状態でＹ方向（偏光方向０゜）の直線偏光の光ビームが入射すると、２１ａ、２１ｂに示すとおり液晶分子の長軸と短軸の屈折率の違いによって回折が起こる。しかし、Ｘ方向（偏光方向９０゜）の直線偏光の光ビームは（ｂ）の状態では２１ａ、２１ｂに対して共に短軸方向の屈折率だけを感じることになるので回折が起こらない。このように本発明で用いる液晶ホログラムは従来例と同様、偏光異方性を持つ
　
　３．本願発明と刊行物１発明との対比及び判断
　 (3-1)対比
　　i．刊行物発明１における「半導体レーザ」「光ディスク」「光検出器」及び「回折素子」は、本願発明の「放射光源」「情報媒体」「光検出器」及び「光ビームを回折光として回折」に相当するものであるから、刊行物発明１の「光発生手段として半導体レーザ12の出射光は回折素子13を介してコリメートレンズ14に到り、コリメートレンズ14で平行光とされた後、対物レンズ15に到達する光学系であり、対物レンズ15を透過した光束は、光ディスク16上に予めピットとして記録された記録情報を読み取るべく集光され、光ディスク16から反射された光束は、対物レンズ15及びコリメートレンズ14を通過し、回折素子13にてＸ方向に回折された１次回折光が光検出器17に導かれ」は、本願発明の「放射光源と、前記放射光源からの光ビームを受け情報媒体上へ微小スポットに収束する集光光学系と、前記情報媒体で反射した光ビームを受け光電流を出力する複数の光検出部を含む光検出器と、前記情報媒体で反射した光ビームを回折光として回折」に相当する。
　　ii．刊行物発明１における回折素子であるが、半導体レーザ12と光ディスク16を結ぶ光軸Ｌ1を中心として、「回折素子13は、光ディスク16のトラック方向に延びる分割線13iと光ディスク16のラジアル方向に延びる分割線13jとにより４つの領域13a〜13dに分割」というものであるから、これは本願発明の「情報媒体で反射された光ビームを受けるほぼ中心を原点として、Ｙ軸を前記情報媒体のピット列または溝方向とほぼ一致する方向（すなわちタンジェンシャル方向）、Ｘ軸をＹ軸とほぼ垂直な方向とした仮想のＸ−Ｙ座標系を定義したときに、前記Ｘ−Ｙ座標系の各象限をそれぞれ分割された回折領域として全面を４分割」に相当する。
　　iii．回折光と検出器との関係において、刊行物発明１での「光検出器に導かれる１次回折光」は本願発明での「−Ｎ次」に、また刊行物発明では上記(2-1)ないし第３図を参酌して、回折素子の各回折領域は時計回りに区分されているものであるから、刊行物発明１に記載の「検出器17は、光ディスク16のトラック方向であるＹ方向に延びる分割線17hと、光ディスク16のラジアル方向であるＸ方向に延びる分割線17gとにより、それぞれ矩形形状を成す４つの光検出部17a〜17dに分割されていて、光検出部17a〜17dは、それぞれ回折素子13の後述する各領域13a〜13dに対応し、各領域13a〜13dからの回折光を受光」は、本願発明の「各回折領域を時計回りに領域Ａ、領域Ｂ、領域Ｃ、領域Ｄとし、　前記領域Ａから回折する−Ｎ次の回折光のみを前記光検出器の検出領域ＡＭで受光して出力ａｍを取り出し、　前記領域Ｂから回折する−Ｎ次の回折光のみを前記光検出器の検出領域ＢＭで受光して出力ｂｍを取り出し、　前記領域Ｃから回折する−Ｎ次の回折光のみを前記光検出器の検出領域ＣＭで受光して出力ｃｍを取り出し、　前記領域Ｄから回折する−Ｎ次の回折光のみを前記光検出器の検出領域ＤＭで受光して出力ｄｍを取り出し、」に相当する。
　　iv．トラッキング信号であるが、刊行物発明１における「対角線差信号を和親号の位相を比較することにより、光スポットＤがいずれの側にずれているかの検出」とは、和信号が（Ｓａ＋Ｓｂ＋Ｓｃ＋Ｓｄ）で対角線差信号（（Ｓａ＋Ｓｃ）−（Ｓｂ＋Ｓｄ））で位相比較手法であるから（上記(2-2)参照）、これは本願発明の「出力信号の位相を比較する位相比較回路を具備し、前記位相比較回路によって前記出力ａｍ、ｂｍ、ｃｍ、ｄｍのすべてを用いて得られる位相差を用いてトラッキングエラー信号を得る」に相当する。
　　v．トラッキング信号であるが、刊行物発明１における「回折信号13の一方の対角線位置の２つの領域13a・13cに対応する光検出部17a・17cの出力信号Ｓａ・Ｓｃの和と、回折素子13の他方の対角線位置の２つの領域13b・13dに対応する光検出部17b・17dの出力信号Ｓｂ・Ｓｄの和との差ＦＥＳ＝（Ｓａ+Ｓｃ）−（Ｓｂ＋Ｓｄ）の演算により求め“０”となるように」は、本願発明の「Ｎ次の回折光を前記Ｎ次回折光受光領域で受光して得た信号を利用して、フォーカスエラー信号を検出」に相当する。
　　vi．刊行物発明１における「光ピックアップ装置」は、本願発明の「光ヘッド装置」に相当する。
　
　結局、両発明の［一致点］及び［相違点］は、以下のとおりである。
　
　［一致点］
　「放射光源と、前記放射光源からの光ビームを受け情報媒体上へ微小スポットに収束する集光光学系と、前記情報媒体で反射した光ビームを受け光電流を出力する複数の光検出部を含む光検出器と、前記情報媒体で反射した光ビームを回折光として回折させ、
　情報媒体で反射された光ビームを受けるほぼ中心を原点として、Ｙ軸を前記情報媒体のピット列または溝方向とほぼ一致する方向（すなわちタンジェンシャル方向）、Ｘ軸をＹ軸とほぼ垂直な方向とした仮想のＸ−Ｙ座標系を定義したときに、前記Ｘ−Ｙ座標系の各象限をそれぞれ分割された回折領域として全面を４分割され、各回折領域を時計回りに領域Ａ、領域Ｂ、領域Ｃ、領域Ｄとし、
　前記領域Ａから回折する−Ｎ次の回折光を前記光検出器の検出領域ＡＭで受光して出力ａｍを取り出し、
　前記領域Ｂから回折する−Ｎ次の回折光を前記光検出器の検出領域ＢＭで受光して出力ｂｍを取り出し、
　前記領域Ｃから回折する−Ｎ次の回折光を前記光検出器の検出領域ＣＭで受光して出力ｃｍを取り出し、
　前記領域Ｄから回折する−Ｎ次の回折光を前記光検出器の検出領域ＤＭで受光して出力ｄｍを取り出し、
　さらに、出力信号の位相を比較する位相比較回路を具備し、前記位相比較回路によって前記出力ａｍ、ｂｍ、ｃｍ、ｄｍのすべてを用いて得られる位相差を用いてトラッキングエラー信号を得るとともに、
　Ｎ次の回折光を前記Ｎ次回折光受光領域で受光して得た信号を利用して、フォーカスエラー信号を検出することを特徴とする光ヘッド装置。」
　
　［相違点］
　a．回折素子であるが、本願発明のものは「所定の一方向の直線偏光光は回折せず、前記一方向に対して直角な方向の直線偏光光を回折する偏光異方性」の機能をもつ「ホログラム」であるが、刊行物発明１は回折素子というだけの記載しかない点。
　b．フォーカスエラー検出であるが、本願発明のものは回折素子として±Ｎ次光を得るホログラムを用いることを前提として、±Ｎ次回折の内の−Ｎ次回折光をトラッキングエラー信号に、＋Ｎ次回折光をフォーカス信号に使うとするもので、トラッキング検出とフォーカス検出とで区分しているが、刊行物発明のものは一方の次数光のみでトラッキング信号及びフォーカス信号を得ている点。
　
　 (3-2)判断
　上記a．に関して、「所定の一方向の直線偏光光は回折せず、前記一方向に対して直角な方向の直線偏光光を回折する偏光異方性のホログラム」を回折素子として、光ヘッド装置に用いていくことは上記刊行物２に記載があるから（上記(2-4)参照）、上記刊行物発明１においても、回折素子として偏光異方性のホログラムを採用、上記相違点a．のように構成していくことは当業者が容易に想到できるものである。
　上記b．であるが、上記a．で回折素子として偏光異方性のホログラムを使うことで光源を中心として−Ｎ次回折光及び＋Ｎ次回折光からの各回折光を、左右の領域に分割して光検出器の受光領域で受光することの記載がある。そして、±次回折光のうちで−Ｎ次回折光を受光してトラッキング信号検出用にのみ、＋Ｎ次回折光を受光してフォーカス信号検出にのみ、利用していくことは周知である（一例：特開昭６２−２１７４２５号公報の第３頁左下欄第３行〜右下欄第９行目）。
　刊行物１発明のものにおいても上記相違点b．のように構成していくことは当業者が必要に応じて適宜なし得るものである。　
　
　なお、請求人は理由で「本願は上記課題を考慮して、＋Ｎ次の回折光をフォーカス信号の検出に用い、−Ｎ次の回折光を別途トラッキング信号の検出に有効活用しており、フォーカスエラー信号の検出を行う為の、戻り光の、フォトディテクタ上のスポット形状の設計自由度が高くなるという・・・特有の効果を奏します。」と、＋Ｎ次の回折光及び−Ｎ次の回折光を有効に使うことの主張をしているが±Ｎ次回折光をすべて（−Ｎ次光の回折光及び＋Ｎ次光の回折光を混在しながらも）使ってトラッキングないしフォーカスサーボしていくこと自体は当該分野ではきわめて普通の構成事項である。
　むしろ、刊行物１発明のように、不感帯を設けることでトラッキングないしフォーカスサーボを一つの検出器で可能としていくことの方が、コンパクト化ないし簡易的な検出手法等の観点からある意味技術的な困難性を解消しての工夫の存在が認められるものあって、少なくとも、上記相違点b．の構成事項に特段有利な技術的意義の発見はできない。
　
　
　III．むすび
　以上のとおりであるから、本願請求項１に係る発明は、刊行物１，２及び周知技術から、当業者が容易に想到できたものと認められるので、特許法第２９条第２項の規定により、特許を受けることができないものである。
　したがって、本願は、その余の請求項について論及するまでもなく、拒絶すべきものである。
　
　よって、結論のとおり審決する。