【事件の表示】
　上記当事者間の特許第３５４６０４６号発明「回路基板の絶縁検査装置及び絶縁検査方法」の特許無効審判事件について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
　審判費用は、請求人の負担とする。
【理　由】
　
第１　手続の経緯 
　下記１記載の本件特許第３５４６０４６号についての手続の経緯の概要は下記２のとおりである。 
　１　特許出願　　　　　　　　　平成１４年５月１７日
　　　　　　　　　　　　　　　（優先権主張：平成１３年９月２６日）
　　　出願番号　　　　　　　　　特願２００２−１４２６０８号
　　　特許権の設定登録　　　　　平成１６年４月１６日　　 
 
　２　特許無効審判の請求　　　　平成１７年５月３０日 
　　　答弁書（被請求人）の提出　平成１７年８月１２日
　　　弁駁書（請求人）の提出　　平成１７年１１月８日
　
　
第２　本件発明 
　本件特許第３５４６０４６号の請求項１ないし４に係る発明は、特許明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１ないし４に記載された事項により特定される以下のとおりのものである。（以下、請求項１ないし４に係る発明を、「本件発明１」ないし「本件発明４」という。）
　なお、（Ａ１）ないし（Ａ６）及び（Ｂ１）ないし（Ｂ４）は、便宜上付したものである。
【請求項１】
（Ａ１）順次選択される一対の配線パターン間に所定の直流電圧を印加し、前記配線パターン間の電圧が安定する所定のタイミングで、その配線パターン間の電圧値と前記電圧印加により前記配線パターン間に流れる電流値とを検出し、それらの電圧値及び電流値からこの配線パターン間の抵抗値を算出し、この抵抗値に基づいて回路基板の良否判定を行う回路基板の絶縁検査装置において、
（Ａ２）前記電圧印加によって生じる前記配線パターン間の電圧を、その電圧印加開始から前記所定のタイミングまでの間検出する電圧検出手段と、
（Ａ３）前記配線パターン間の電圧について、前記電圧印加により前記配線パターン間に発生したスパークに起因する電圧降下の発生の有無を検出する電圧降下検出手段と、
（Ａ４）前記電圧降下検出手段により電圧降下が検出されると、当該回路基板が不良品であると判定する判定手段と
を備えることを特徴とする回路基板の絶縁検査装置。
【請求項２】
（Ａ５）選択された一対の配線パターン間に所定の直流電圧を印加する際、その配線パターンのうち面積の小さい方の配線パターンを高電位として前記直流電圧を印加する制御部をさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の回路基板の絶縁検査装置。
【請求項３】
（Ａ６）回路基板の良否判定を行う前記所定のタイミングを変更するための操作手段を備えている
ことを特徴とする請求項１または２に記載の回路基板の絶縁検査装置。
【請求項４】
（Ｂ１）順次選択される一対の配線パターン間に所定の直流電圧を印加し、前記配線パターン間の電圧が安定する所定のタイミングで、その配線パターン間の電圧値と前記電圧印加により前記配線パターン間に流れる電流値とを検出し、それらの電圧値及び電流値からこの配線パターン間の抵抗値を算出し、この抵抗値に基づいて回路基板の良否判定を行う回路基板の絶縁検査方法において、
（Ｂ２）前記電圧印加によって生じる前記配線パターン間の電圧を、その電圧印加開始から前記所定のタイミングまでの間検出し、
（Ｂ３）前記配線パターン間の電圧について、前記電圧印加により前記配線パターン間に発生したスパークに起因する電圧降下の発生の有無を検出し、
（Ｂ４）前記電圧降下が検出されると、当該回路基板が不良品であると判定することを特徴とする回路基板の絶縁検査方法。
　
　
第３　請求人の主張の概要 
　１　審判請求書における主張
　　本件発明１ないし４は、本願出願の優先日前に日本国内において頒布された刊行物に記載された発明に基づいて、その発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が特許出願前に容易に発明をすることができたものであるから、本件発明１ないし４に係る特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してなされたものであり、特許法第１２３条第１項第２号に該当し無効とするべきであると主張し、証拠方法として、甲第１号証ないし甲第７号証（後述の「第３」の「３　証拠方法」参照）を提出し、甲各号証について概ね以下の（１）〜（７）のように主張している。
　　（１）甲第１号証には、本件発明１及び４の構成Ａ１及びＢ１に相当する構成が記載されている。
　　（２）甲第２号証には、本件発明１及び４の構成Ａ２及びＢ２に相当する構成が記載されている。
　　（３）甲第３号証には、本件発明１及び４の構成Ａ２及びＢ２に相当する構成並びに本件発明３の構成Ａ６に相当する構成が記載されている。
　　（４）甲第４号証には、本件発明１及び４の構成Ａ３及びＢ３に相当する構成並びに本件発明３の構成Ａ６に相当する構成が記載されている。
　　（５）甲第５号証には、本件発明１及び４の構成Ａ４及びＢ４に相当する構成が記載されている。
　　（６）甲第６号証には、本件発明２の構成Ａ５に相当する構成が記載されている。
　　（７）甲第７号証には、本件発明３の構成Ａ６に相当する構成が記載されている。
　　そして、特許法第２９条第２項違反の理由についての主張は、各本件発明について概略以下の（ア）〜（ウ）のとおりである。
　　（ア）本件発明１及び４について
　　　　本件発明１及び４は、電圧印加によって生じる配線パターン間の電圧をその電圧印加開始から所定のタイミングまでの間検出する電圧検出手段（構成Ａ２，Ｂ２）を備えている点で甲第１号証に記載の発明と相違しているが、構成Ａ２，Ｂ２は、甲第２号証及び甲第３号証に記載されているとおり周知の技術である。また、スパークに起因して電圧降下が発生する点およびそのための電圧検出回路は、甲第４号証により記載されているとおり周知であり、その電圧降下を検出して不良と判定することも甲第５号証に記載されているとおり周知である。当業者であるならば、甲第１号証に記載の発明に甲第２ないし５号証にて周知の技術を適用して、本件発明１及び４のごとく構成することになんら困難性がなく、また、その効果にしても予測し得る範囲内のものに過ぎない。
　　（イ）本件発明２について
　　　　本件発明２の構成Ａ５に相当する構成は、甲第６号証に示されているように周知であり格別のものではない。
　　（ウ）本件発明３について
　　　　本件発明３の構成Ａ６について、甲第３号証には耐圧試験時間を計時する時計部を備えている点が記載されており、甲第４号証には耐電圧試験において信頼性との関係で試験時間を適宜設定する点が記載されており、また、甲第７号証には評価試験とルーチン試験とで試験電圧の印加時間を異にする点が記載されている。したがって、回路基板の良否判定を行う所定のタイミングを変更することは、単なる設計的事項にすぎない。
　
　２　平成１７年１１月７日付け弁駁書における主張 
　　請求人は、弁駁書において、被請求人が答弁書で反論した事項に対し再反論をすることにより、結局のところ、上記「１　審判請求書における主張」と同様に、本件発明１ないし４は、本願出願の優先日前に日本国内において頒布された刊行物に記載された発明に基づいて、その発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が特許出願前に容易に発明をすることができたものであるから、本件発明１ないし４に係る特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してなされたものであり、特許法第１２３条第１項第２号に該当し無効とするべきであると主張している。
　　そして、特に本件発明２及び３については、証拠方法として、甲第８号証及び甲第９号証（後述の「第３」の「３　証拠方法」参照）を追加的に提出し、甲各号証について概ね以下の（８）及び（９）のように主張している。
　　（８）甲第８号証には、本件発明２の構成Ａ５に相当する構成が記載されている。
　　（９）甲第９号証には、本件発明３の構成Ａ６に相当する構成が記載されている。
　
　３　証拠方法 
　　請求人は、「本件の請求項１ないし４に係る各特許発明が特許法第２９条第２項の規定に該当する発明であることを立証する。」（請求書第２２〜２３頁　８ ．証拠方法）ことをその趣旨として、証拠方法として、 
　　（１）甲第１号証：特開２００１−９１５６２号公報
　　（２）甲第２号証：特開平６−９４７８１号公報
　　（３）甲第３号証：特開平７−１５１８２０号公報
　　（４）甲第４号証：大学課程高電圧工学 ｐ１５５〜１７１（編者；中野義映，発行日；昭和４３年３月２０日，株式会社オーム社発行）
　　（５）甲第５号証：特開平５−１５７７９８ 号公報
　　（６）甲第６号証： 日本工業規格ＪＩＳ　Ｃ１３０２‐1９６８　絶縁抵抗計（電池式） ｐ１，６，７
　　（７）甲第７号証：日本工業規格 ＪＩＳ　Ｃ１０１０−１９９８　測定，制御及び研究室用電気機器の安全性　第１部：一般要求事項 ｐ１８，ｐ２７，ｐ８７
を提出している。 
　　さらに、請求人は、弁駁書とともに「本件の請求項１ないし４に係る各特許発明が特許法第２９条第２項の規定に該当する発明であることを追加的に立証する。」（弁駁書第１９頁　８．証拠方法）ことをその趣旨として、甲第８号証及び甲第９号証を証拠方法として提出している。 
　　（８）甲第８号証：電気設備の絶縁診断ｐ１１０（著者；速水敏幸，発行日；平成１３年９月２５日，株式会社オーム社発行の表紙，該当頁および奥付）
　　（９）甲第９号証：日置電機株式会社製の「自動絶縁耐圧試験器３１５３」の取扱説明書ｐ３３，２００１（平成１３）年８月改訂１版の表紙，目次，該当頁および奥付
　
　
第４ 被請求人の主張の概要 
　被請求人は、請求人の主張する無効理由は何らの根拠のないものであり、本件特許は、特許法第１２３条第１項第２号の規定に該当しないとして、請求人の審判請求書における主張に対しては概ね以下のように反論している。
　１　本件発明１及び４について
　　甲第２号証及び甲第３号証には、本件発明１及び４の構成Ａ２及びＢ２に相当する構成についての記載があるとは言えない。また、甲第４号証には、本件発明１及び４の構成Ａ３及びＢ３に相当する構成についての記載があるとは言えない。さらに、甲第５号証には、本件発明１及び４の構成Ａ４及びＢ４に相当する構成についての記載があるとは言えない。
　　したがって、甲第１号証記載の発明に甲第２〜５号証記載の発明を組み合わせて適用したとしても、本件発明１及び４を容易に想到することはできない。
　２　本件発明２について
　　甲第６号証には、本件発明２の構成Ａ５に相当する構成が記載されているとは言えない。
　３　本件発明３について
　　甲第３、４及び７号証には、本件発明３の構成Ａ６に相当する構成が記載されているとは言えない。
　
　
第５　甲各号証の記載事項 
　１　甲第１号証に記載された事項 
　　本件特許に係る出願の優先日前に頒布された刊行物である甲第１号証には、図面とともにつぎの事項が記載されている。 
　（１）「【０００２】【従来の技術】この種の回路基板検査装置として、図３に示す検査装置２１が従来から知られている。この検査装置２１は、制御装置２２と、検査用のプローブ３ａ，３ｂとを備えている。この場合、制御装置２２は、絶縁検査の際に各種制御を実行する制御部３１と、検査電圧を出力する直流電源１５と、プローブ３ａ，３ｂ間を流れる電流の電流値を測定する電流計３２とを備えている。この場合、電流計３２は、切替制御可能な複数の入力レンジを備え、その入力レンジが制御部３１によって切替制御された際には、その各入力レンジ毎に予め規定された所定の変換率でプローブ３ａ，３ｂ間を流れる電流ＩO を電圧変換し、その変換した電圧データＤV を制御部３１に出力する。一方、プローブ３ａ，３ｂは、接触型プローブであって、検査対象の回路基板ＰＣに対してＸ，ＹおよびＺ（上下）方向に移動可能に構成されると共に、絶縁検査時には、回路基板ＰＣ上に形成された導体パターンＰ１，Ｐ２に接触させられる。」
　（２）「【０００３】この検査装置２１では、絶縁検査時には、まず、プローブ３ａ，３ｂが、検査対象の導体パターンＰ１，Ｐ２にそれぞれ接触させられる。次いで、プローブ３ａ，３ｂを介して、直流電源１５の検査電圧を導体パターンＰ１，Ｐ２間に印加する。続いて、電流計３２が、プローブ３ａ，３ｂ間を流れる電流を電流−電圧変換した後、電圧データＤV を制御部３１に出力する。次いで、制御部３１が、電圧データＤV 、および検査電圧の電圧値に基づいて、導体パターンＰ１，Ｐ２間の絶縁抵抗値を演算し、その絶縁抵抗値に基づいて絶縁良否を判定する。」
　（３）「【０００４】この場合、導体パターンＰ１，Ｐ２間の絶縁抵抗値が例えば１００ＭΩ程度の高抵抗のときに絶縁状態が良好と判定される。したがって、絶縁良否を精度良く判定するためには、制御部３１は、電流計３２の入力レンジを分解能が最も細かい小電流用の入力レンジに切替制御し、その際に電流計３２から出力される電圧データＤV に基づいて絶縁良否を判定する。その一方、導体パターンＰ１，Ｐ２間には、一般的には、ある程度の容量が存在する。また、コンデンサのオープンテストを兼用する場合、そのコンデンサが導体パターンＰ１，Ｐ２間に接続されていることもある。このため、両導体パターンＰ１，Ｐ２間に検査電圧を印加した場合、通常、印加直後には、大電流の突入電流が流れ、時間の経過に伴い、その電流値が徐々に減少する。したがって、検査電圧の印加直後の状態では、電流計３２の破損を防止するために、制御部３１は、制御信号ＳS を出力することにより、電流計３２の入力レンジを最も分解能が粗い大電流測定用の入力レンジに切替制御し、電流ＩO の電流値がその大電流測定用の入力レンジの定格電流範囲（例えば、定格電流が１００ｍＡのときには１２０ｍＡ〜１０ｍＡ）の下限値（例えば、この例では１０ｍＡ）よりも低下したときに制御信号ＳS を出力して、その入力レンジよりも小電流用の入力レンジに切替制御する。これらの切替制御を繰り返し行うことにより、いわゆるオートレンジ機能が実現され、電流ＩO の電流値の読取精度が向上されると共に、絶縁検査に最適な入力レンジが複数の入力レンジから自動的に選択される。」
　（４）「【０００５】したがって、このオートレンジ機能によって電流計３２の入力レンジが切替制御される場合、最初に、最も大電流用の入力レンジＡに切替制御されるため、図４に示すように、電流ＩO の電流値が検査電圧を印加した直後の時間ｔ１１の時点で最も大きくなる。次いで、電流ＩO の電流値が時間の経過と共に減少し、その入力レンジＡの定格電流範囲の下限値ＩALまで低下した時間ｔ１２の時点では、制御部３１が、制御信号ＳS を出力することにより、次に大電流用の入力レンジＢにレンジダウンさせる。やがて、時間ｔ１３の時点で入力レンジＢの定格電流範囲の下限値ＩBLまで低下すると、制御部３１が、制御信号ＳS を出力することにより、やや小電流用の入力レンジＣにレンジダウンさせる。次いで、時間ｔ１４の時点で入力レンジＣの定格電流範囲の下限値ＩCLまで低下すると、制御部３１は、制御信号ＳS を出力することにより、最も小電流用の入力レンジＤにレンジダウンさせる。この後、導体パターンＰ１，Ｐ２間の容量が電流ＩO によって充電されるため、電流ＩO の電流値は、時間ｔ１５の時点で、リーク電流程度の電流値に安定する。この際には、制御部３１が、その入力レンジＤに切替制御した状態の電流計３２から出力される電圧データＤV 、および検査電圧の電圧値に基づいて絶縁抵抗値を演算した後、その絶縁抵抗値に基づいて絶縁良否を最終的に判定する。」
　　
　２　甲第２号証に記載された事項 
　　本件特許に係る出願の優先日前に頒布された刊行物である甲第２号証には、図面とともにつぎの事項が記載されている。 
　（１）「【請求項１】ゴム・プラスチック絶縁電力ケーブルの接続部を含むゴム・プラスチック絶縁電力ケーブル線路に対し、．．．直流電圧印加による充電過程での部分放電測定と、．．．充電完了後の直流耐電圧試験と、．．．その直流電圧を放電ギャップで放電させることにより発生する減衰振動波による耐電圧試験とを、直流電圧の正極性と負極性でそれぞれ複数回行うことを特徴とするゴム・プラスチック絶縁電力ケーブル線路の試験方法。」
　（２）「【０００３】ゴム・プラスチック絶縁電力ケーブルは工場で厳密な全長検査を行い出荷されているため、現場での線路竣工試験の検査対象となるのは、布設と接続作業によって発生する欠陥である。具体的には、布設時に発生する欠陥としては外傷があり、接続時に発生する欠陥としては絶縁体内部や異種絶縁体界面への異物や水分の混入、内部・外部半導電層の取り付けミスによる半導電層突起、テープ巻きズレや加熱条件ミスにより発生するボイド、半導電層と絶縁体あるいは絶縁体同士の界面剥離などがある。」
　（３）「【００１７】次に線路１〜７に対し本発明の試験方法により試験を行った結果を説明する。試験方法は次のとおりである。図２に示す回路において、まず．．．直流電圧発生装置Ｊから充電抵抗Ｒを通して試験線路Ｋ（線路１〜７）に負極性直流電圧を充電しながら、その昇圧過程で部分放電測定を行い、次に．．．３５４ｋＶ充電完了後、従来と同じ直流耐電圧試験を行い、その後．．．放電ギャップＭを動作させて減衰振動波を発生させ、減衰振動波による耐電圧試験を行う。」
　（４）「【００２１】前にも説明したように、欠陥の種類によって、負極性直流電圧の印加が有効なもの、正極性直流電圧の印加が有効なもの、減衰振動波の印加が有効なもの、振動性電圧の印加で部分放電が発生するがその進展が遅いものがある。本発明の特徴は、これらの特性に着目して直流電圧と減衰振動波による耐電圧試験を両方行い、しかもそれを正負両極性で行い、さらにトリーの進展を部分放電測定で検出することにある。」
　（５）「【００２２】部分放電の測定にあたっては検出感度の制約があるため、トリーを部分放電測定で検出できる程度まで充分に成長させることが必要であり、そのため電圧印加は１回だけでなく、複数回行うことが必要である。また部分放電測定は、減衰振動波の印加中に行うことは極めて難しいが、充電抵抗Ｒを調整して適当な充電時定数を選定することにより、直流充電中の電圧上昇過程でトリーを進展させるという方法で容易に行うことができる。従来、部分放電測定は大型機器を用いて商用周波または低周波の電圧を印加して行っていたが、本発明によれば部分放電測定を従来の直流耐電圧試験と同等の試験機器で簡単に行うことが可能である。なお商用周波運転開始時には、万が一の残存トリーを確認するため、部分放電測定を行えば万全である。」
　
　３　甲第３号証に記載された事項
　　本件特許に係る出願の優先日前に頒布された刊行物である甲第３号証には、図面とともにつぎの事項が記載されている。
　（１）「【０００２】【従来の技術】耐圧試験装置は、例えば半導体素子などの電子部品である試料に対して高電圧を印加し、その試料に耐圧不良や絶縁不良がないかを試験するものであり、その耐圧不良や絶縁不良などの異常は高電圧を印加したときに試料に流れる電流から検出するようになっている。ここで、従来のこの種の耐圧試験装置では、不良であると判断されたとき、試料に印加される高電圧を高圧リレーなどを用いて切るようになっていた。」
　（２）「【０００３】【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述のように高圧リレーなどを用いて試料に印加されている高電圧を切る方法では、高圧リレーの応答の遅れにより、試料に大電流が流れる時間が長くなり、非破壊試験としては適切ではなかった。また、この種の耐圧試験装置では、試験開始時に高圧リレーなどを投入し、所定電圧の高電圧を試料に印加する場合が多い。しかし、このように高圧リレーを用いて、試験開始時にいきなり高電圧を試料に印加すると、試料が浮遊容量を有する場合、その浮遊容量を充電する充電電流として大きな突入電流が流れ、その充電電流のために正常な試料を不良と判断してしまう恐れがあった。」
　（３）「【００１１】【実施例】図１に本発明の耐圧試験装置を示す。なお、その具体構成を図２に示す。本実施例の耐圧試験装置は、基本的には、試料に印加される直流の高電圧を発生する高電圧発生部１と、試料に印加される高電圧の電圧値を検出する電圧検出部２と、試料に流れる電流を検出する電流検出部３と、試料に印加する高電圧の値を設定する基準電圧を発生する基準電圧発生部４と、この基準電圧発生部４の基準電圧と上記電圧検出部２で検出された電圧値との差を求めその差を無くすように高電圧発生部１から発生する高電圧の電圧値を制御する電圧制御部５と、上記電流検出部３で検出された電流から試料の異常を検出する異常検出部６と、試料に高電圧を印加する時間、つまりは耐圧試験時間を計時する計時部７と、この計時部７で設定された耐圧試験時間の終了時点、及び上記異常検出部６で試料の異常が検出されたとき、試料に印加された高電圧を瞬時に降圧する高電圧除去部８と、耐圧試験の開始時及び終了時に各部に対して処理信号を与える制御部９とで構成してある。」
　（４）「【００１６】電流検出部３としては、高電圧が試料に印加する経路に挿入された電流検出抵抗Ｒ1 を用いてある。ここで、電流検出抵抗Ｒ1 の両端にはリミッタ回路３１を接続してある。このリミッタ回路３１は、万が一電流検出抵抗Ｒ1 に異常に大きな電流が流れたときにも、次に説明する異常検出部６の反転アンプ６１に過大な入力信号が加わることを防止するために設けてある。なお、本実施例では、抵抗で試料に流れる電流を検出するようにしてあるが、例えばカレントトランスなどを用いてもよい。」
　（５）「【００２４】上記積分回路４１の出力は、例えば、図３（ｇ）に示すように、０Ｖから制御電源の電圧まで徐々に上昇する。これにより、基準電圧ＶREF も同図（ｍ）に示すように０Ｖから所定値まで徐々に上昇する。この積分回路４１には、可変抵抗ＶＲ2 を介して入力電圧を印加してあり、この入力電圧を調節することにより、積分回路４１の抵抗ＲI を介してコンデンサＣI を充電する充電電流を可変し、出力電圧ＶC の上昇速度を変化させることができるようにしてある。つまり、試料は形状などによりその浮遊容量が異なるため、試料の種別などに応じて適切に充電電流を小さい値に抑えるために、可変抵抗ＶＲ2 を用いて入力電圧を調節できるようにしてある。」
　（６）「【００４０】次に、良品の試料の耐圧試験を行った場合について説明する。この場合も上記無負荷と殆ど同じに動作する。ここで、良品の試料が浮遊容量を有する場合、その浮遊容量が充電される場合の充電電流が流れる。しかし、本実施例では、無負荷時の動作で説明したように、試験開始時点から基準電圧ＶREF を０Ｖから徐々に増加させ、試料に印加される高電圧も０Ｖから徐々に上昇するようにしてあるので、試料が浮遊容量を有する場合であっても、図４（ｊ）に示すように浮遊容量に流れる電流は小さく抑えられる。このため、規定値の高電圧を試験開始と同時に印加した場合のように、突入電流が流れることがない。なお、このようにして充電電流が小さく抑えてあるので、異常検出部６で異常検出されることはない。」
　（７）「【００４１】そして、試験終了時点で、サイリスタＱ1 をオンすることにより、試料の浮遊容量に蓄積された電荷を、抵抗Ｒ5 ，抵抗Ｒ1 を介して放電する。このようにすれば、試験後に試料に触れても感電する恐れがない。なお、この試験終了時点では、無負荷時と同様に、平滑コンデンサＣ1 の充電電荷も放電される。試料が耐圧不良のものである場合は、図５（ｆ）に示すように、電流検出抵抗Ｒ1 に試料を介して電流が流れる。この電流により電流検出抵抗Ｒ1 の両端に生じる電圧が反転アンプ６１で増幅され、ローパスフィルタ６２及びハイパスフィルタ６３に入力される。ここで、この場合には試料が耐圧不良を起こしているので、試料には高周波的な電流が流れる。なお、ここでいう高周波とは、絶縁不良の際に流れる電流成分の周波数に対して高周波的という意味である。このように耐圧不良の場合には、高周波的な電流が流れるので、この場合の電流に応じた反転アンプ６１の出力はハイパスフィルタ６２を通して、コンパレータＣＭＰ2 に入力される。ここで、この反転アンプ６１の出力が可変抵抗ＶＲ4 で設定された基準電圧ＶREF4を越える場合、コンパレータＣＭＰ2 の出力がハイレベルとなる。この場合には制御回路９４の出力ＱB がハイレベルであるので、アンド回路ＡＮＤ1 の出力がハイレベルとなり、ノア回路ＮＯＲ1 の出力がローレベルとなる。フリップフロップ６４ではそのノア回路ＮＯＲ1 の出力を受けて出力ＱNGが図６（ｈ）に示すようにローレベルになる。このローレベル出力は制御回路９４のクリア入力＊ＣＬＲ3 に入力される。これにより制御回路９４の出力がローレベルになり、立下り検出部９５の出力で負のパルス信号＊ＥSET が生じ、出力回路９６の出力ＱE がハイレベルとなる。この出力回路９６の出力で試験が終了したことを示す。なお、フリップフロップ６４の出力＊ＱNGがローレベルとなることにより、それまでオン状態にあったアナログスイッチＳＷC がオフされ、電圧計Ｍで異常が検出された時点において試料に印加されていた高電圧の値を表示する。試験者は上記電圧計Ｍの表示から試料が異常であることを確認する。」
　（８）「【００４２】次に、試料が絶縁不良を起こしているものである場合について説明する。なお、この場合にも基本的には試料が耐圧不良のものである場合と同様にして異常が検出されるので、絶縁不良の場合に異なる動作についてのみ説明する。このような絶縁不良を起こしている試料には、高電圧を印加すると、低周波的な電流が流れる。この絶縁不良の場合に検出された電流の反転アンプ６１の出力Ｖｉは、ローパスフィルタ６３を通してコンパレータＣＭＰ1 に入力される。このときの反転アンプ６１の出力が図６（ｇ）に示すように可変抵抗ＶＲ3 で設定された基準電圧ＶREF3よりも大きい場合に、コンパレータＣＭＰ3 の出力がハイレベルとなり、アンド回路ＡＮＤ1 の出力がハイレベル、ノア回路ＮＯＲ1 の出力がローレベルとなって、その出力でフリップフロップ６４の出力＊ＱNGが図６（ｈ）に示すようにローレベルとなる。これにより、電圧計ＭにアナログスイッチＳＷC がオフとなったときの高電圧の値が表示され、それにより試料の異常を判別することができる。」
　
　４　甲第４号証に記載された事項
　　本件特許に係る出願の優先日前に頒布された刊行物である甲第４号証には、図面とともにつぎの事項が記載されている。
　（１）「４・７　高電圧試験　高電圧試験は電気機器や電気工作物の絶縁の信頼性や必要な絶縁特性を有しているか否か確かめるために行なう。試験を大別すると第４・６表のようになる。絶縁特性試験は電気機器や電気工作物の絶縁性状の良否を診断するための試験で、非破壊絶縁試験ともいわれる。絶縁耐力試験は電気機器、電気工作物の絶縁が長年月の使用に耐え、安全運転が続けられることを確かめたり、あるいは絶縁破壊電圧やフラッシュオーバ電圧を求めて絶縁設計の参考としたりする試験である。」（第１５５頁第１２〜１９行）」
　（２）「（ｅ）部分放電試験（コロナ試験）　絶縁物中のボイドや油中に生ずるコロナが絶縁破壊に大きな影響を持つので、コロナの測定を行なって絶縁特性を診断する試験である。発電機、変圧器、ケーブル、絶縁材料などに対し広く試験が行われている。」（第１６０頁第５〜１０行）
　（３）「（ｉ）コロナ放電現象　電極間に絶縁物を置き，交流電圧を印加してコロナ放電が生ずる現象を等価回路で表すと第 ４・７７図のようになる。Ｃｇはコロナの発生するギャップ（ボイド）の静電容量，Ｃｂはこれと直列に存在すると考えられる絶縁物の部分の静電容量，ＣａはＣｇ，Ｃｂ以外の電極間の静電容量である。電極間にＶの電圧を加えると、Ｃｇにかかる電圧は
　　ｖｇ ＝ＶＣｂ／Ｃｇ＋Ｃｂ　　（４．５１）
　Ｖ を上昇し、ｖｇがＣｇの火花放電電圧Ｖｇに達するとＣｇに放電が生じ、その端子電圧はｖｒまで急激に降下する。その状態を第４・７８図に示す。ｖｒは実際上ほとんど零と考えてよい。」（第１６０頁第１８行〜第１６１頁第９行）
　（４）「（ｉｉ）コロナ試験回路　基本的な試験回路を第４・８０図に示す。Ｃａは供試物、Ｚｄは検出インピーダンス、Ｚchは電源よりノイズがはいってくるのを防ぐとともに、コロナパルスの電源への流出を防止する閉そく回路である。Zchとしては一般にインダクタンスまたは抵抗が使用される。同図（ａ）の試験回路は接地された大型供試物（発電機、変圧器など）に対するものであり、結合キャパシタンスＣkを通してコロナパルスを測定する。同図（ｂ）は供試物の接地側で測定する試験回路で、Ckはコロナパルスに対する閉回路を構成するため接続される。同図（ｃ）は同一供試物を並列にして外部ノイズを防止し、検出感度を良好とする平衡試験回路である。Zdはコロナパルスの検出インピーダンスで、無誘導抵抗あるいはインダクタンスとキャパシタンスとの並列回路が主として用いられる。コロナ試験における測定項目は、コロナ放電電荷量（前述のQａ）、コロナ開始電圧および消滅電圧、コロナパルス発生ひん度などである。」（第１６２頁第９行〜第１６３頁第４行）
　（５）「長時間電圧印加によるコロナ放電や熱的破壊に基因する絶縁破壊に対しては、１分間耐電圧試験では信頼性が十分でない場合がある。このような場合には長時間交流耐電圧試験が適用される（たとえばケープルの試料試験では６時間加圧する）。試験電圧は常規運転電圧と１分間耐電圧試験との中間の値を採用する。」（第１６５頁第１０〜１４行）
　
　５　甲第５号証に記載された事項
　　本件特許に係る出願の優先日前に頒布された刊行物である甲第５号証には、図面とともにつぎの事項が記載されている。
　（１）「【請求項１】  表裏間を電気的に接続する接続部材を複数個有し、これらの接続部材間の絶縁性能を試験するプリント基板の絶縁試験方法であって、試験対象として選択した１対の接続部材間に低電圧の試験電圧を印加して低電圧での絶縁試験を行い、試験結果が合格であれば、続いて低電圧の試験電圧を遮断することなく高電圧の試験電圧を印加し、高電圧での絶縁試験を行い、低電圧での試験結果が不合格であれば高電圧の絶縁試験は実施しないことを特徴とするプリント基板の絶縁試験方法。」
　（２）「【０００２】【従来の技術】一般に、多層プリント基板は、表裏間を電気的に接続する多ピンネットやスル−ホル等の接続部材を複数個有した各層毎のプリント基板を多層に積層して構成されるが、積層工程前に各層のプリント基板の接続部材間の絶縁性能試験が実施される。」
　（３）「【０００３】この絶縁性能試験方法として、（１）試験対象の接続部材間に高電圧を加え、その時の電圧と電流により絶縁抵抗を求め、その絶縁抵抗が基準値以下であったら絶縁不良個所として認定する方法（２）試験対象の接続部材間に最初に低電圧を加え、その時の電圧と電流により絶縁抵抗を求め、その絶縁抵抗が基準値を超えていたら高電圧を加え、高電圧での絶縁性能を試験し、もし低電圧での絶縁試験において絶縁抵抗が基準値以下であった部分は絶縁不良個所であるので、この部分を絶縁材料でマスクして高電圧での絶縁性能試験に移るといった方法が従来から実施されている。」
　（４）「【０００４】図３にこの（２）の絶縁試験方法の手順を示し、図４に各接続部材に印加される電圧の時間的変化パタ−ンを示している。ここで、図３中のＮ回とは、試験対象を次々に移しながら試験対象の数と同じ回数だけ低電圧または高電圧の絶縁試験を繰り返すことを示している。また、図４中のＬ（ｖ）は低電圧、Ｈ（ｖ）は高電圧を示し、低電圧での試験を終わった後は、試験電圧が遮断され、一定の切り替え時間ｔを経過した後に高電圧が印加されるようになっている。」
　（５）「【０００５】ところが、（１）の試験方法にあっては、接続部材間に一気に高電圧を加えるものであるため、絶縁不良個所があると、その部分が過電流によって焼損し、手直しが不可能になって歩留まりが低下するという問題があった。そこで、（２）の方法が広く用いられている。」
　（６）「【０００７】このような構造のプリント基板１において、接続ピン２および多ピンネット３，４の間の絶縁性能を試験するに当たっては、接続ピン２および多ピンネット３，４のそれぞれに接続する試験子ａ〜ｆと、これらの試験子ａ〜ｆに可変直流電源８の正極または負極を選択的に接続するスイッチ６ａ〜６ｆおよび７ａ〜７ｆと、可変直流電源８の両端に接続した電圧計１０と、可変直流電源８の電流流出経路に挿入した電流計９とを備えた試験回路を用意する。そして、試験開始に際しては可変直流電源８の出力電圧を低電圧に設定する。この後、試験対象として、最初に試験子ａ，ｂが接続された１対の接続ピン２を選択し、この１対の接続ピン２に、スイッチ６ａと７ｂをオンすることによって低電圧の試験電圧を印加する。そして、この印加状態での電流を電流計９で測定し、さらに印加電圧を電圧計１０で測定し、その測定値によって１対の接続ピン２間の絶縁抵抗を調べ、その絶縁抵抗が基準値以下であれば絶縁不良個所として認定する。この後、試験対象として、試験子ｂ，ｃが接続された１対の接続ピン２と多ピンネット３を選択し、この１対の接続ピン２多ピンネット３に、スイッチ６ｂと７ｃをオンすることによって低電圧の試験電圧を印加する。そして、この印加状態での電流を電流計９で測定し、さらに印加電圧を電圧計１０で測定する。」
　（７）「【０００８】このような操作を試験子ｅ，ｆが接続された１対の接続ピン２間の絶縁抵抗の測定が終わるまで繰返し、この低電圧試験が終了したならば、可変直流電源８の出力電圧を高電圧に切り替え、再び、試験子ａ，ｂが接続された１対の接続ピン２を選択し、高電圧での絶縁性能を試験する。そして、試験子ｅ，ｆが接続された１対の接続ピン２間の絶縁抵抗の測定が終わるまで同様の操作を繰返す。」
　（８）「【００１１】【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記（２）の絶縁試験方法にあっては、まず試験対象を絶縁不良箇所が焼損しない程度の低電圧で試験し、続いて一定時間経過後に高電圧での試験に移行する手順をとっているため、２回分の絶縁試験工数がかかり、コストが嵩むという問題があった。」
　（９）「【００１２】本発明の目的は、試験対象の絶縁不良箇所が過電流により焼損されることをなくし、絶縁不良箇所の不良解析または手直しができるようにして品質と歩留まりの向上を図ることと、二度手間をなくすことにより、いままで二回分かかっていた絶縁試験工数を減らし、作業効率の向上を図ることができるプリント基板の絶縁試験方法を提供することである。」
　（１０）「【００１９】この試験手順は、従来の手順と異なるが、試験回路は図５と同じ回路が使用される。この実施例の試験手順においては、まず、従来と同様に、試験対象の接続部材を１対ずつ選択し（ステップＳ１）、この選択した１対の接続部材に対し、絶縁不良箇所が焼損しない程度の低電圧Ｌ（ｖ）を印加し、低電圧での絶縁試験を行い（ステップＳ２）、合格であるかどうかを判定し（ステップＳ３）合格であれば、図２に実線の変化曲線Ｅ１に示すように低電圧Ｌ（ｖ）を０（ｖ）戻すことなく、連続して高電圧Ｈ（ｖ）での絶縁試験を行い（ステップＳ４）、低電圧試験が不合格であれば、現在低電圧を印加している接続部材間には絶縁不良個所があるものと認定し、高電圧試験は実施はしない。」
　
　６　甲第６号証に記載された事項
　　本件特許に係る出願の優先日前に頒布された刊行物である甲第６号証には、図面とともにつぎの事項が記載されている。
　「２．２端子　絶縁電線やケーブルなどの大地に対する絶縁を直流で試験する場合は、これらの心線に接続される電源の極性によって、その絶縁抵抗の測定値が異なることがあり、通常、心線に電源の−極を、大地に＋極を接続して試験した場合は、これと極性を反対にした場合にくらべて測定値が小さく出るのが普通である。したがって使用上の安全を考えて、線路端子は電源の−極側に、接地端子は＋極側に接続するように規定されている。」（第７頁第２〜５行）
　
　７　甲第７号証に記載された事項
　　本件特許に係る出願の優先日前に頒布された刊行物である甲第７号証には、つぎの事項が記載されている。
　（１）「６．８．４電圧試験　電圧試験は、附属書Ｄにおいて規定された値が適用される。絶縁破壊又はフラッシュオーバの繰返しが生じてはならない。コロナ効果及び類似の現象は無視する。交流、直流及びピークインパルスの試験は、択一試験方法である。機器は、三つの試験のうちどれか一つに合格すれば十分である。例えば、簡素化のために交流を選択するか、容量性電流を避けるために直流を選ぶか、又は部品の電力消費を減少するためにインパルス試験を選択してもよい。インパルス試験は、ＩＥＣ６００６０に規定された1.2/50μｓ試験である。試験は最低１ｓの間隔で、各極性ごとに最小限三つのパルスで実施する。交流及び直流試験は、過渡現象が感知できない程度に、１０ｓ以下で徐々に規定値まで電圧を上げ、次いで１ｍｉｎ間維持する。」（第２７頁第２９〜３８行）
　（２）「附属書Ｋ（規定）ルーチン試験　製造業者は、危険な生きている部分があり、かつ、接触可能な導電性部分をもつ製造機器の１００％について、Ｋ．１〜Ｋ．３の試験を実施しなければならない。（中略）Ｋ．３他の回路　正常な使用状態で危険な生きている部分となり得るフローティング入力回路の端子を相互に接続したものを一方に、そして接触可能な導電性部分を相互に接続したものをもう一方として、試験電圧を印加する。また、正常な使用状態で危険な生きている部分となり得るフローティング出力回路の端子を相互に接続したものを一方に、そして接触可能な導電性部分を相互に接続したものをもう一方として、試験電圧を印加する。（中略）試験電圧は、規定値まで２ｓ以内に上昇させ、最短２ｓ間維持する。絶縁破壊又はフラッシュオーバの繰返しが生じてはならない。コロナ効果及び類似の現象は無視する。」（第８７頁）
　
　８　甲第８号証に記載された事項
　　本件特許に係る出願の優先日前に頒布された刊行物である甲第８号証には、図面とともにつぎの事項が記載されている。
　（１）「（ｂ）直流成分法　水トリーに交流電圧を印加すると、図２・４４に示すように、針電極からの整流作用と同様に直流成分電流が流れる。直流成分法は、この作用を利用して、図２・４５に示すような測定回路で、活線下で絶縁体に流れる電流の直流分を測定する方法である。」（第１１０頁）
　（２）「図２・４４直流成分電流発生の原理―水トリーの整流作用モデル―」の図面から、「（ａ）導体電位が負のとき」には、「電荷の供給が多く」、「（ｂ）導体電位が正のとき」には、「電荷の供給が少ない」点が読み取れる。（第１１０頁図２・４４）
　
　９　甲第９号証に記載された事項
　　本件特許に係る出願の優先日前に頒布された刊行物である甲第９号証には、図面とともにつぎの事項が記載されている。
　「設定方法　．．．２．▼／▲キーで試験時間を変更します。・試験時間は０．１ｓずつ増減します。（１００〜９９９ｓのときは１ｓずつ）ＳＨＩＦＴ＋▼／▲キーを押すと１ｓずつ増減します。（１００〜９９９ｓのときは１０ｓずつ）・設定範囲は０．３〜９９９ｓです。・試験時間が必要ないときは、ＯＮ／ＯＦＦキーで試験時間をＯＦＦにしてください。３．設定が終了したら、ＳＴＯＰキーを押してください。（「ＲＥＡＤＹ状態」になります）」（第３３頁）
　
　
第６　当審の判断 
　１　本件発明１について 
　（１）本件発明１と甲第１号証に記載された発明との対比、判断 
　　　ア　甲第１号証に記載された発明 
　　　　上記「第５」の「１」の摘記事項（１）から、甲第１号証には、「検査対象の回路基板ＰＣ」に対して、「検査用のプロ−ブ３ａ、３ｂ」を「回路基板ＰＣ上に形成された導体パターンＰ１、Ｐ２に接触させ」、「絶縁検査」を行う「回路基板検査装置」が記載されていると認められる。 
　　　　また、同摘記事項（２）から、甲第１号証には、当該回路基板「検査装置２１」において、「絶縁検査時」には、「検査対象の導体パターンＰ１、Ｐ２にそれぞれ接触させられ」た「プローブ３ａ、３ｂを介して、直流電源１５の検査電圧を導体パターンＰ１、Ｐ２間に印加」し、「プローブ３ａ、３ｂ間を流れる電流」を「電流計３２」にて「電流−電圧変換した後」、「電圧データＤvおよび検査電圧の電圧値に基づいて、導体パターンＰ１、Ｐ２間の絶縁抵抗値を演算し、その絶縁抵抗値に基づいて絶縁良否を判定する」ことが記載されていると認められる。　　　 
　　　　また、同摘記事項（３）及び（４）から、甲第１号証には、「両導体パターンＰ１，Ｐ２間に検査電圧」の「印加直後」、「大電流の突入電流が流れ、時間の経過に伴い、その電流値が徐々に減少」していき、「時間ｔ15の時点で、リーク電流程度の電流値に安定」してから、「電流計３２から出力される電圧データＤv 、および検査電圧の電圧値に基づいて絶縁抵抗値を演算した後、その絶縁抵抗値に基づいて絶縁良否を最終的に判定する」ことが記載されていると認められる。
　　　　したがって、甲第１号証には、
「回路基板ＰＣ上に形成された導体パターンＰ１、Ｐ２にそれぞれプローブ３ａ、３ｂを接触させて絶縁検査を行う回路基板検査装置であって、プローブ３ａ、３ｂを介して、直流電源１５の検査電圧を導体パターンＰ１、Ｐ２間に印加し、印加直後に発生する大電流の突入電流が時間の経過に伴い徐々に減少し、時間ｔ15の時点でリーク電流程度の電流値に安定してから、プローブ３ａ、３ｂ間を流れる電流を電流計３２にて電流−電圧変換した後、電圧データＤvおよび検査電圧の電圧値に基づいて、導体パターンＰ１、Ｐ２間の絶縁抵抗値を演算し、その絶縁抵抗値に基づいて絶縁良否を判定する回路基板検査装置」の発明（以下、「引用発明１」という。）が記載されているものと認められる。 
　 
　　　イ　本件発明１と引用発明１との対比 
　　　　本件発明１（以下、「前者」という）と引用発明１（以下、「後者」という）とを対比すると、後者における「導体パターンＰ１、Ｐ２」、「直流電源１５の検査電圧」、「導体パターンＰ１、Ｐ２間の絶縁抵抗値」、「絶縁良否を判定」及び「回路基板検査装置」は、それぞれ前者における「一対の配線パターン」、「所定の直流電圧」、「配線パターン間の抵抗値」、「回路基板の良否判定」及び「回路基板の絶縁検査装置」に相当する。
　　　　前者の「配線パターン間の電圧が安定する所定のタイミング」と後者の「時間ｔ15」とは、ともに直流電圧印加開始直後の配線パターン間における電気的な不安定状態が解消する時点（以下、これを「所定のタイミング」という）である点で共通する。 
　　　　したがって、前者と後者とは、ともに「一対の配線パターン間に所定の直流電圧を印加し、所定のタイミングでこの配線パターン間の抵抗値を算出し、この抵抗値に基づいて回路基板の良否判定を行う回路基板の絶縁検査装置」である点で一致し、つぎの相違点ＡないしＣで相違する。 
　　　［相違点Ａ］
　　　　前者では、一対の配線パターンが「順次選択される」ものであり、「配線パターン間の電圧値と前記電圧印加により前記配線パターン間に流れる電流値とを検出し、それらの電圧値及び電流値からこの配線パターン間の抵抗値を算出」しているのに対し、後者では、一対の配線パターンが順次選択されるかどうか不明であり、抵抗値の算出についても、プローブ間を流れる電流を電流計にて電流−電圧変換した後に得られた電圧データおよび検査電圧の電圧値に基づいて、導体パターン間の絶縁抵抗値を演算している点
　
　　　［相違点Ｂ］
　　　　前者では、「所定タイミング」が、配線パターン間の電圧が安定する時点として設定され、「電圧印加によって生じる前記配線パターン間の電圧を、その電圧印加開始から前記所定のタイミングまでの間検出する電圧検出手段」（構成Ａ２）が設けられているのに対して、後者では、「所定タイミング」が、配線パターン間の電流がリーク電流程度の電流値に安定する時点として設定され、構成Ａ２のごとき電圧検出手段を備えていない点
　
　　　［相違点Ｃ］
　　　　前者では、「配線パターン間の電圧について、前記電圧印加により前記配線パターン間に発生したスパークに起因する電圧降下の発生の有無を検出する電圧降下検出手段」（構成Ａ３）及び「電圧降下検出手段により電圧降下が検出されると、当該回路基板が不良品であると判定する判定手段」（構成Ａ４）を設けているのに対し、後者ではそのような構成を備えていない点
　
　　　ウ　判断 
　　　　上記各相違点について検討する。
　　［相違点Ａ］について
　　　　甲第５号証には、「このような構造のプリント基板１において、．．．試験対象として、最初に試験子ａ，ｂが接続された１対の接続ピン２を選択し、．．．この後、試験対象として、試験子ｂ，ｃが接続された１対の接続ピン２と多ピンネット３を選択し、．．．」との記載（「第５」の「５」の摘記事項（６）参照。）があり、また、「このような操作を試験子ｅ，ｆが接続された１対の接続ピン２間の絶縁抵抗の測定が終わるまで繰返し」との記載（同摘記事項（７）参照。）がある。さらに、「この実施例の試験手順においては、．．．試験対象の接続部材を１対ずつ選択し（ステップＳ１）．．．」との記載（同摘記事項（１０）参照。）がある。
　　　　そして、「接続ピン２」、「多ピンネット３」及び「接続部材」に関して、「多層プリント基板は、表裏間を電気的に接続する多ピンネットやスル−ホル等の接続部材を複数個有した各層毎のプリント基板を多層に積層して構成される」と記載（同摘記事項（２）参照。）されているところからみて、本件発明１における「配線パターン」に相当するものが記載されているものと認められる。
　　　　よって、回路基板の絶縁検査装置において、検査対象としての一対の配線パターンを「順次選択」することは、甲第５号証に記載されているとおり周知の技術であって、格別のものではない。
　　　　次に、甲第５号証には、「このような構造のプリント基板１において、接続ピン２および多ピンネット３，４の間の絶縁性能を試験するに当たっては、．．．可変直流電源８の両端に接続した電圧計１０と、可変直流電源８の電流流出経路に挿入した電流計９とを備えた試験回路を用意する。．．．そして、この印加状態での電流を電流計９で測定し、さらに印加電圧を電圧計１０で測定し、その測定値によって１対の接続ピン２間の絶縁抵抗を調べ、その絶縁抵抗が基準値以下であれば絶縁不良個所として認定する。」との記載（「第５」の「５」の摘記事項（６）参照。）があることから、「配線パターン間の電圧値と前記電圧印加により前記配線パターン間に流れる電流値とを検出し、それらの電圧値及び電流値からこの配線パターン間の抵抗値を算出」することは、甲第５号証に記載されているとおり周知であり、格別のものではない。
　
　　［相違点Ｂ］について
　　　　甲第２号証には、「直流電圧印加による充電過程での部分放電測定」と「充電完了後の直流耐電圧試験」を行う点が記載（「第５」の「２」の摘記事項（１）参照。）され、また、「試験方法は次のとおりである。図２に示す回路において、まず．．．直流電圧発生装置Ｊから充電抵抗Ｒを通して試験線路Ｋ（線路１〜７）に負極性直流電圧を充電しながら、その昇圧過程で部分放電測定を行い、次に．．．３５４ｋＶ充電完了後、従来と同じ直流耐電圧試験を行い」との記載（同摘記事項（３）参照。）があり、さらに、「部分放電の測定にあたっては検出感度の制約があるため、トリーを部分放電測定で検出できる程度まで充分に成長させることが必要であり、．．．また部分放電測定は、．．．直流充電中の電圧上昇過程でトリーを進展させるという方法で容易に行うことができる。」との記載（同摘記事項（５）参照。）があることから、「直流電圧印加による充電過程」が終了した時点、すなわち充電完了時点を「電圧が安定する所定のタイミング」としているものと認められる。
　　　　そして、引用発明１では、上記「第５」の「１」の摘記事項（４）の「この後、導体パターンＰ１，Ｐ２間の容量が電流ＩO によって充電されるため、電流ＩO の電流値は、時間ｔ１５の時点で、リーク電流程度の電流値に安定する。」との記載からみて、ｔ１５の時点では、導電パターンＰ１、Ｐ２間の充電は完了しており、この時点でＰ１、Ｐ２間の電圧が安定したものとなっていることは明らかである。
　　　　したがって、上述の甲第２号証の記載に照らせば、配線パターン間の電圧が安定する時点を「所定タイミング」として設定することは、格別のものではない。
　　　　また、甲第３号証には、「試料に印加される高電圧の電圧値を検出する電圧検出部２と、試料に流れる電流を検出する電流検出部３と、．．．上記電流検出部３で検出された電流から試料の異常を検出する異常検出部６、．．．」と記載（「第５」の「３」の摘記事項（３）参照。）されており、甲第３号証の異常検出部６は試験開始時点から動作しているものと認められるから、上述の「所定のタイミング」という時点の存在を前提にして、試験開始時点から所定のタイミングまでの間検出を行うものとすることは、当業者が適宜為し得る設計的事項にすぎない。
　　　　したがって、相違点Ｂついては、甲第２及び３号証にて知られた技術を引用発明１に適用して容易に想到し得るものであり、格別のものではない。
　
　　［相違点Ｃ］について
　　　（構成Ａ３及びＡ４の意義）
　　　　本件発明１において、構成Ａ３及びＡ４を設けた趣旨は、特許明細書の段落【０００７】の「【発明が解決しようとする課題】しかしながら、検査対象の配線パターンＰ１，Ｐ２間に比較的高圧の直流電圧が印加されるため、電圧を印加したのち所定のタイミングｔ２が経過するまでに配線パターン間でスパークが発生する場合があり、これにより配線パターンＰ１，Ｐ２間の絶縁抵抗値Ｒが変化するという不具合がある。例えば図５において、タイミングｔ１でスパークが発生したとすると、点線Ａで示すように、配線パターン間の電圧が一瞬急激に立ち下がり、その後再び上昇するとともに、点線Ｂに示すように大電流が瞬間的に流れ、絶縁抵抗値Ｒは、スパークが発生した瞬間に略０Ωとなったのち再び大きくなることとなる。」という記載からして、電圧が安定する所定のタイミングまでにスパークが発生したか否かを検出し、それによって回路基板の良否を判定する点にある。
　
　　　（甲第４号証開示技術の検討）
　　　　甲第４号証には、絶縁物中のボイドや油中に生ずるコロナの測定を行って絶縁特性を診断する試験において、その前提としてのコロナ放電現象の説明が記載され（「第５」の「４」の摘記事項（１）ないし（３）参照。）、電極間に置かれた絶縁物に交流電圧を印加した場合、電極間電圧が上昇し、コロナの発生するギャップ（ボイド）の端子電圧が火花放電電圧に達すると、放電が生じ、その端子電圧は急激に降下する旨の記載がされている。　　　　そして、その試験回路として、甲第４号証の第１６２頁の第４・８０図に記載された回路構成が挙げられ、コロナ試験における測定項目としては、コロナ放電電荷量（前述のQａ）、コロナ開始電圧および消滅電圧、コロナパルス発生ひん度などであるとしている。（同摘記事項（４）参照。）
　　　　そして、甲第４号証において開示されている「コロナ放電現象」及び「コロナ試験回路」は、その試験対象として「発電機、変圧器、ケーブル、絶縁材料などに」を念頭においており、「コロナ試験における測定項目としては、コロナ放電電荷量（前述のQａ）、コロナ開始電圧および消滅電圧、コロナパルス発生ひん度など」であるとし、かつ、印加電圧として交流が採用されており、本件発明１のごとく、「回路基板」の「配線パターン」を試験対象としたものではなく、甲第４号証の「端子電圧が火花放電電圧に達すると、放電が生じその端子電圧は急激に降下する」旨の記載からすると、この「放電」は火花（スパーク）を含む放電を意味するものと解することができるにしても、所定のタイミングまでにスパークが発生したか否かを検出し、回路基板の良否を判定する点については、何ら記載がなく、その示唆すら見当たらない。
　
　　　（甲第５号証開示技術の検討）
　　　　甲第５号証には、プリント基板の絶縁試験を低電圧の試験電圧を印加して低電圧での絶縁試験を行い、試験結果が合格であれば、続いて低電圧の試験電圧を遮断することなく高電圧の試験電圧を印加し、高電圧での絶縁試験を行い、低電圧での試験結果が不合格であれば高電圧の絶縁試験は実施しないことが記載（「第５」の「５」の摘記事項（１）及び（１０）参照。）されている。
　　　　そして、本件発明１が、スパークの有無検査と絶縁抵抗値による検査の双方を常に並行して行うものに限られず、スパークが検出された場合には絶縁抵抗値による検査を行わないことをも含むものであることは、その特許請求の範囲の第１項の記載及び本件特許公報第９頁の段落【００５０】〜【００５８】の記載並びに図２及び図３を見れば明らかであるから、この点で「低電圧での試験結果が不合格であれば高電圧の絶縁試験は実施しない」という甲第５号証に開示された検査工程と一見すると類似する工程が示されている。
　　　　しかしながら、甲第５号証の「低電圧の絶縁試験」は、「【０００５】ところが、（１）の試験方法にあっては、接続部材間に一気に高電圧を加えるものであるため、絶縁不良個所があると、その部分が過電流によって焼損し、手直しが不可能になって歩留まりが低下するという問題があった。そこで、（２）の方法が広く用いられている。」との記載（「第５」の「５」の摘記事項（５）参照。）からして、電圧が安定する所定のタイミングまでにスパークが発生したか否かを検出し、それによって回路基板の良否を判定するものではないことから、甲第５号証に開示された「低電圧試験が不合格の時点で絶縁不良個所があると認定する点」が、本件発明１の構成Ａ４に相当するということはできない。
　　　　次に、甲第５号証に記載された、上記「第５」の「５」の摘記事項（２）ないし（５）に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたか否か、検討する。
　　　　同摘記事項（２）によれば、「一般に、多層プリント基板は、表裏間を電気的に接続する多ピンネットやスル−ホル等の接続部材を複数個有した各層毎のプリント基板を多層に積層して構成されるが、積層工程前に各層のプリント基板の接続部材間の絶縁性能試験が実施される。」とあり、同摘記事項（３）によれば、「この絶縁性能試験方法として、（１）試験対象の接続部材間に高電圧を加え、その時の電圧と電流により絶縁抵抗を求め、その絶縁抵抗が基準値以下であったら絶縁不良個所として認定する方法．．．が従来から実施されている。」とあり、同摘事項（５）によれば、「ところが、（１）の試験方法にあっては、接続部材間に一気に高電圧を加えるものであるため、絶縁不良個所があると、その部分が過電流によって焼損し、手直しが不可能になって歩留まりが低下するという問題があった。．．．」とされていることから、絶縁性能試験対象であるプリント基板の接続部材間に高電圧を加えて、その時の電圧と電流により絶縁抵抗を求め、その絶縁抵抗が基準値以下であったら絶縁不良個所として認定する方法において、絶縁不良個所があると、その部分に過電流が生じ、試験対象を焼損させてしまうという問題点があることが甲第５号証から看取できる。
　　　　そして、試験対象を焼損させてしまった場合には、あえて試験対象へ手直しを施さずに、単に不良品として判定・排除することで良品判定の精度向上を図り、そのための具体的構成として本件発明１のごとき構成を想到すればよいのではないかということも一応考えられる。
　　　　しかしながら、上記試験対象の焼損は、スパークの発生により生ずる回路基板の絶縁状態の低下と対応するものではなく、「スパークの発生によって何らかの損傷を受けている」（特許明細書段落【０００９】）回路基板を、「絶縁抵抗値に基づく回路基板の良否判定に関係なく不良品であると判定」（同段落【００１５】）するように判定フローを構成し、当該判定フローを実現するための具体的構成として、「スパークに起因する電圧降下の発生の有無」に着目し、それを検出する「電圧降下検出手段」を設けることは、当業者にとって容易であるとは言えない。
　
　　　（甲第２、４及び５号証開示技術の組み合わせの検討）
　　　　上述のとおり甲第４及び５号証に開示された技術は、いずれも電圧が安定する所定のタイミングまでの検出結果を利用しているものではないが、かかる所定のタイミングの存在を前提としてそれまでに検出を行う甲第２号証開示の部分放電測定技術を甲第４号証開示の部分放電測定技術に適用し、これを甲第５号証開示の回路基板の絶縁試験として置き換えれば、相違点Ｃに係る構成Ａ３及びＡ４を容易に導き出せるということも一応考えられる。
　　　　しかし、甲第２号証開示の部分放電測定は、「直流電圧印加」による充電過程において行われているのに対して、甲第４号証開示の部分放電試験は、「交流電圧を印加して」行うものであるから、両者は印加電圧の態様において相違し、甲第２号証開示の部分放電測定技術を甲第４号証開示の技術に適用するには困難性がある。
　　　　加えて、甲第５号証開示の回路基板の絶縁試験はそもそも部分放電試験ではないから、それを部分放電試験に置き換えることにも困難性がある。
　　　　してみれば、甲第２、４及び５号証開示の技術を組み合わせても、相違点Ｃに係る構成Ａ３及びＡ４を容易に導き出せるとは言えない。
　
　　　　以上の検討を整理すると、相違点Ｃに係る構成Ａ３及びＡ４は格別なものではないと言うことはできない。
　　　　なお、甲第１、３、６〜９号証には、相違点Ｃに係る構成Ａ３及びＡ４に関する記載はなく、その示唆もないことから、これらの証拠方法によっても、格別のものではないと言うことはできないこと同様である。
　
　
　　　エ　まとめ
　　　　以上を総合すれば、本件発明１は、甲第１号証〜甲第９号証に記載された発明に基づいて、当業者が特許出願前に容易に発明をすることができたものであると言うことはできない。
　
　
　２　本件発明２及び３について
　　本件発明２及び３は、その請求項の記載形式からして、本件発明１に従属する特許発明であることから、本件発明１が、甲第１〜９号証に記載された発明に基づいて、当業者が特許出願前に容易に発明をすることができたものであると言うことはできないのであるから、本件発明２及び３について、その検討をするまでもなく、甲第１〜９号証に記載された発明に基づいて、当業者が特許出願前に容易に発明をすることができたものであると言うことはできないが、本件発明２及び３についての請求人の主張について検討する。
　［本件発明２］
　　本件発明２の特徴点である構成Ａ５について、請求人は甲第６号証及び甲第８号証を証拠方法として提出し、「絶縁抵抗試験において、面積の小さい方の配線パターンを高電位として直流電圧を印加すれば、スパーク発生時に流れるスパーク電流が、面積が大きい方の配線パターンを高電位とした場合より小さくなることは、当業者にとって自明である」（審判請求書第１５頁最終行〜第１６頁第４行及び弁駁書第１６頁第１７〜２１行）と主張している。
　　しかしながら、「甲第６号証に記載されているのは、絶縁抵抗値の大小について記載しているのみで、スパーク電流の大小に関しては何ら記載がない」（答弁書第１０頁第１〜３行）ことや、心線に接続される電源極性の相違による絶縁抵抗値の大小が個々の面積の大小と関係があることが明らかではないことを鑑みれば、甲第６号証の記載をもって、請求人の上述の主張を採用することはできない。
　　この点に関し、請求人は、弁駁書において、「６ｄ ．　．．．電気設計（とりわけ高電位試験器の設計）に従事している技術者であれば、甲第６号証の記載から、スパーク電流の大小を容易に読み取ることができる。すなわち、請求人が、審判請求書第１５頁１９行〜１６頁４行にかけて説明しているように、心線に電源の−極を、大地に＋極を接続することは大地側を高電位とすることであり、このような場合、これと極性を反対にした場合にくらべて測定値（絶縁抵抗値）が小さく出るということは、絶縁抵抗試験において、測定電圧は一定であるから、電流が多く流れることを意味している。したがって、これとは反対に、心線に電源の十極を、大地に一極を接続して、心線側を高電位とした場合には、測定値が大きく出る、すなわち流れる電流が小さくなることになる。言うまでもなく、心線は大地よりも面積が小さい。よって、絶縁抵抗試験において、面積の小さい方の配線パターンを高電位として直流電圧を印加すれば、スパーク発生時に流れるスパーク電流が、面積が大きい方の配線パターンを高電位とした場合より小さくなることは、当業者にとって自明である。」、「６ｅ．別の観点から言えば、絶縁計測を行う試料は、通常なんらかの浮遊容量をもっている。高電圧印加時には、この浮遊容量に起因して大きな突入電流が流れることがある（甲第３号証第２頁段落番号０００３）。　配線パターンも同様に浮遊容量を持つが、配線パターンの面積の小さい方が浮遊容量も小さく、面積の大きい方が浮遊容量が大きいことは自明である。その結果、面積および浮遊容量の小さい配線パターンを高電位とすれば蓄えられる電荷量は小さく、これに対して、面積および浮遊容量の大きい配線パターンを高電位とすれば蓄えられる電荷量は当然に大きくなる。配線パターン間で発生するスパーク電流の大小は、蓄えられている電荷量の大小に依存することは自明である。」（弁駁書第１５〜１７頁６ｄ．及び６ｅ．）等主張している。
　　しかしながら、仮に心線に接続される電源極性の相違による絶縁抵抗値の大小が、絶縁部分に流れる電流の大小に起因するものであるとしても、それが直流電圧による絶縁抵抗試験を行う前の、スパークの発生する過渡現象時期についても当然、同様に当てはまるとまでは断定できない。
　　また、請求人は、甲第８号証により、「図２・４４（直流成分電流の発生原理−水トリーの整流作用モデル−）には、水トリーに交流電圧を印加した場合の電荷の移動状況が図解されている。　図２・４４（ａ）が導体を負電位，接地された遮蔽銅テープを正電位とした場合で、図２・４４（ｂ）が導体を正電位，接地された遮蔽銅テープを負電位とした場合である。面積的には、導体の方が遮蔽銅テープよりも明らかに小さい。これによれば、図２・４４（ａ）のように、面積的に小さい方の導体を負電位（低電位），面積的に大きい方の遮蔽銅テープを正電位（高電位）とした場合、電荷の供給量が多く（電荷が移動し易くなる、すなわちスパークが発生し易くなる）、これに対して、図２・４４（ｂ）のように、面積的に小さい方の導体を正電位（高電位），面積的に大きい方の遮蔽銅テープを負電位（低電位）とした場合、電荷の供給量が少なく（電荷が移動し難くなる、すなわちスパークが発生し難くなる）ことが理解される。」（弁駁書第１５頁６ｃ．）と主張している。
　　しかしながら、甲第８号証は、「水トリーに交流電圧を印加」した場合に、「（ａ）導体電位が負のとき」には、「電荷の供給が多く」、「（ｂ）導体電位が正のとき」には、「電荷の供給が少ない」ことを示しているのみで、これが「導体」と「遮へい銅テープ」の面積の大小に起因するものなのか定かではなく、そもそも「水トリー」の場合をもって「スパーク」の場合へ適用できるものでもないことから、請求人の上述の主張は採用することができない。
　
　［本件発明３］
　　本件発明３の特徴点である構成Ａ６について、請求人は「甲第４号証には、耐電圧試験時間は信頼性との関係で任意に設定されるべきことが記載されており、また、甲第３号証では、耐圧試験時間の終了時点は計時部７により設定されるとしている。さらに、甲第７号証には、電気機器の安全性についての評価試験（信頼性試験）では、電圧印加時間は１ｍｉｎ 間維持すると規定され、これに対して、生産工程でのルーチン試験では、電圧印加時間は最短２ｓ間維持すると規定されている。このことは、評価試験（信頼性試験）では、所定の試験電圧を１ｍｉｎ（分）間印加したのち良否判定を行い、これに対して、生産工程でのルーチン試験では、所定の試験電圧を最短２ｓ（秒）間維持したのち良否判定を行うことを意味している。すなわち、信頼性を重視する場合には試験電圧の印加時間を長くし（良否判定のタイミングを遅くし）、生産効率（検査効率）を重視する場合には試験電圧の印加時間を短くしてもよい（良否判定のタイミングを早くしてもよい）ことを意味している。したがって、本件の請求項３に係る特許発明の構成要件Ａ６に規定されている「製品の信頼性と検査効率とのバランスを考慮しながら、回路基板の良否判定を行うタイミングを決める」点は、単なる設計的事項にすぎない。」（審判請求書第２１〜２２頁３ｇ．）と主張している。
　　しかしながら、甲第３号証には、「計時部７」が時間変更可能であることは記載されておらず、甲第４号証では、追加の耐電圧検査を別途に行う必要性があることを単に示しているだけであり、甲第７号証では、試験目的に応じて夫々の試験時間が設定されることを示しているに過ぎず、１台の試験装置が検査時間を変更可能にすることまで記載されていない。
　　したがって、甲第３、４及び７号証には、構成Ａ６に相当する構成は記載されておらず、請求人の上述の主張を採用することはできない。
　　さらに、請求人は、弁駁書において、新たに甲第９号証を提出し、「耐圧試験器では、試験時間経過時点で良否判定を行うから、甲第９号証の試験時間変更手段は、正しく本件の請求項３に係る特許発明の構成要件Ａ６の「前記所定のタイミングを変更するための操作手段」に相当するものである。なお、甲第９号証は自動絶縁耐圧試験器についてのものであるが、本件特許の回路基板の絶縁検査装置への適用を阻害する要因は全く見あたらない。よって、本件の請求項３に係る特許発明の構成要件Ａ６に記載されている「回路基板の良否判定を行う前記所定のタイミングを変更するための操作手段を備えている」点についても、特許性はない。」と主張している。
　　しかしながら、本件発明３は、「当該絶縁検査装置の判定タイミングを遅らせれば、その遅らせた分だけスパークの有無をより長い期間監視することになるから、製品の信頼性を向上することができるが、この場合、１回あたりの絶縁検査に要する時間が増加するため、検査効率が低下することになる。」（特許明細書段落【００５９】）との課題の下、「検査者が判定タイミングを変更するための操作部１１と、制御部６内に、上記操作部１１の操作情報を取り込んで上記判定タイミングを変更するタイミング設定部６４とを設け、検査者が、操作部１１を用い、要求される検査精度（製品の信頼性）と検査効率とのバランスを考えて判定タイミングを変更できるようにする」（同段落【００６０】）とし、「タイミングｔ２より所定時間遅らせたタイミングｔ３で判定するように設定した場合、上記実施形態では検出できなかった、タイミングｔ２からタイミングｔ３間にスパーク（点線Ｅで示す）が発生する回路基板を不良品と判定することができるから、上記のように回路基板の出荷先の検査者等が再度基板の絶縁検査を行ったときに不良品と判定されるものが低減され、製品の信頼性を向上することができる。」（同段落【００６１】）という効果を奏するものであるところ、甲第９号証に開示された自動絶縁耐圧試験器における試験時間の変更をするための操作手段が、本件発明３に係る上述のような課題を共有するものとは言えないから、このような操作手段を適用することは困難である。
　　したがって、請求人の上述の主張を採用することはできない。
　
　
　３　本件発明４について
　　本件発明４は、その構成Ｂ１〜Ｂ４を本件発明１の構成Ａ１〜Ａ４とそれぞれ対比して見れば明らかなように、装置の発明から発明のカテゴリーを方法の発明に変えたものであって、実質的に本件発明１と同じものと認められる。
　　したがって、「第６」の「１」と同様の理由により、本件発明４は、甲第１〜９号証に記載された発明に基づいて、当業者が特許出願前に容易に発明をすることができたものであると言うことはできない。
　
　
第７　むすび 
　以上のとおりであるから、請求人の主張及び証拠方法によっては、本件発明１ないし４の特許を無効とすることができない。 
　審判に関する費用については、特許法第１６９条第２項において準用する民事訴訟法第６１条の規定により、請求人が負担すべきものとする。 
　よって、結論のとおり審決する。