(57)【要約】【課題】本発明はディスプレイシステムに適用されることができるアクティブ有機発光ディスプレイに関する。【解決手段】予め準備された校正データをアナログ校正信号Ｓｃｏｒに変換し、このアナログ校正信号Ｓｃｏｒに応じて駆動信号を生成するデータ駆動部１２０と、第１及び第２電源ＥＬＶＤＤ、ＥＬＶＳＳの供給を受ける電源端の間に連結された有機発光ダイオードＯＬＥＤを含み、予め設定されたプログラミング区間Ｐ１では前記駆動信号に応じて校正データに相応する値を充電すると共に劣化検出のために前記駆動信号を検出し、予め設定されたホールディング区間Ｐ２では予め設定されたプログラミング区間で充電された値に応じて有機発光ダイオードＯＬＥＤに電流が流れるようにする画素部１５０と、前記プログラミング区間Ｐ２で、前記画素部１５０の有機発光ダイオードＯＬＥＤの劣化情報を有する劣化電圧Ｖｄを検出するＡＤＣ１６０とを含むことができる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
予め準備された校正データをアナログ校正信号に変換し、このアナログ校正信号に応じて駆動信号を生成するデータ駆動部と、
第１及び第２電源の供給を受ける電源端の間に連結された有機発光ダイオードを含み、予め設定されたプログラミング区間では前記駆動信号に応じて校正データに相応する値を充電すると共に劣化検出のために前記駆動信号を検出し、予め設定されたホールディング区間では前記プログラミング区間で充電された値に応じて有機発光ダイオードに電流が流れるようにする画素部と、
前記プログラミング区間で、前記画素部の有機発光ダイオードの劣化情報を有する前記駆動信号を劣化電圧として検出するＡＤＣと
を含むアクティブ有機発光ディスプレイ。
【請求項２】
前記画素部は、
前記第１電源の供給を受ける電源端と有機発光ダイオードの間に直列に連結された第１及び第２ＭＯＳトランジスタと、
前記第１及び第２ＭＯＳトランジスタ間の第１接続ノードと前記データ駆動部の間に連結された第３ＭＯＳトランジスタと、
前記第２ＭＯＳトランジスタのゲートと前記第１接続ノードの間に連結された充電キャパシタと、
前記第２ＭＯＳトランジスタのドレインに連結されたドレインと前記第２ＭＯＳトランジスタのゲートに連結されたソースを有する第４ＭＯＳトランジスタと
をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載のアクティブ有機発光ディスプレイ。
【請求項３】
前記画素部は、
前記プログラミング区間では、前記第２、第３及び第４ＭＯＳトランジスタがターンオンされ、前記第１ＭＯＳトランジスタがターンオフされ、
前記ホールディング区間では、前記第１及び第２ＭＯＳトランジスタがターンオンされ、前記第３及び第４ＭＯＳトランジスタがターンオフされるようになされることを特徴とする請求項２に記載のアクティブ有機発光ディスプレイ。
【請求項４】
前記画素部は、
前記プログラミング区間では、前記データ駆動部の駆動信号が第２及び第３ＭＯＳトランジスタを経て前記有機発光ダイオードに流れ、前記充電キャパシタに校正データに相応する値を保存し、
前記ホールディング区間では、前記充電キャパシタに保存された値に応じて電流が前記第１電源端から第１及び第２ＭＯＳトランジスタを経て前記有機発光ダイオードに流れるようになされることを特徴とする請求項２または３に記載のアクティブ有機発光ディスプレイ。
【請求項５】
前記ＡＤＣは、
前記プログラミング区間で、前記データ駆動部の駆動信号が入力される前記画素部の入力ノードから前記有機発光ダイオードの劣化情報を有する劣化電圧を検出するようになされることを特徴とする請求項１から４の何れか１項に記載のアクティブ有機発光ディスプレイ。
【請求項６】
前記ＡＤＣからのデジタル劣化電圧を利用して劣化補償のための劣化補償信号を生成する補償部と、
前記劣化補償信号を利用して入力データを劣化が補償された校正データに変換し、前記データ駆動部に提供する変換部と
をさらに含むことを特徴とする請求項１から５の何れか１項に記載のアクティブ有機発光ディスプレイ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ディスプレイシステムに適用されることができるアクティブ有機発光ディスプレイに関し、特に、プログラミング区間で劣化検知を行うことにより、より迅速な劣化検知が可能となり、これによって劣化補償も迅速に行うことができるアクティブ有機発光ディスプレイに関する。
【背景技術】
【０００２】
一般的に、次世代ディスプレイ素子として注目を集めている有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）を、大型のディスプレイパネル化のためにアクティブマトリクス構造に構成するようになることをアクティブマトリクスＯＬＥＤ（略称、「ＡＭＯＬＥＤ」）という。
【０００３】
このようなＡＭＯＬＥＤは追加光源を必要としないため、追加光源を提供するバックライトユニット（ＢＬＵ）を利用するＬＣＤパネルに比べて、明るさ、厚さ、鮮明度、速度及び電力消耗などの面において優れた性能を示す。
【０００４】
しかしながら、ＡＭＯＬＥＤの欠点はピクセル（ｐｉｘｅｌ）とピクセルの間の単一性と時間による単一性が非常に低いという点であり、このような単一性を補正するための回路が必要となる。
【０００５】
通常、ＡＭＯＬＥＤの駆動方式には、大別して電流駆動方式と電圧駆動方式がある。ＡＭＯＬＥＤの電圧駆動方式は、トランジスタの移動度（Ｍｏｂｉｌｉｔｙ）や閾値（Ｔｈｒｅｓｈｏｌｄ）電圧の劣化によって出力が変わるという欠点がある。
【０００６】
このような閾値電圧の劣化による欠点を解消するためには、劣化を補正するための補償回路が必要となり、また、ＡＭＯＬＥＤの電圧駆動方式では、劣化された程度を検知する区間がさらに必要であるため、劣化検出及び劣化補償にかかる時間が長くなるという問題点がある。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明の目的は上述した従来技術の問題点を解決するためのものであり、本発明は、プログラミング区間で劣化検知を行うことにより、より迅速な劣化検知が可能となり、これによって劣化補償も迅速に行うことができるアクティブ有機発光ディスプレイを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上述した本発明の課題を解決するための本発明の第１技術的な側面は、予め準備された校正データをアナログ校正信号に変換し、このアナログ校正信号に応じて駆動信号を生成するデータ駆動部と、第１及び第２電源の供給を受ける電源端の間に連結された有機発光ダイオードを含み、予め設定されたプログラミング区間では上記駆動信号に応じて校正データに相応する値を充電すると共に劣化検出のために上記駆動信号を検出し、予め設定されたホールディング区間では予め設定されたプログラミング区間で充電された値に応じて有機発光ダイオードに電流が流れるようにする画素部と、上記プログラミング区間で、上記画素部の有機発光ダイオードの劣化情報を有する上記駆動信号を劣化電圧として検出するＡＤＣ（Ａｎａｌｏｇ−Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ）とを含むアクティブ有機発光ディスプレイを提案することにある。
【０００９】
また、本発明の第１技術的な側面において、上記画素部は、上記第１電源の供給を受ける電源端と有機発光ダイオードの間に直列に連結された第１及び第２ＭＯＳトランジスタと、上記第１及び第２ＭＯＳトランジスタ間の第１接続ノードと上記データ駆動部の間に連結された第３ＭＯＳトランジスタと、上記第２ＭＯＳトランジスタのゲートと上記第１接続ノードの間に連結された充電キャパシタと、上記第２ＭＯＳトランジスタのドレインに連結されたドレインと上記第２ＭＯＳトランジスタのゲートに連結されたソースを有する第４ＭＯＳトランジスタとをさらに含むことを特徴とする。
【００１０】
上記画素部は、上記プログラミング区間では、上記第２、第３及び第４ＭＯＳトランジスタがターンオンされ、上記第１ＭＯＳトランジスタがターンオフされ、上記ホールディング区間では、上記第１及び第２ＭＯＳトランジスタがターンオンされ、上記第３及び第４ＭＯＳトランジスタがターンオフされるようになされることを特徴とする。
【００１１】
上記画素部は、上記プログラミング区間では、上記データ駆動部の駆動信号が第２及び第３ＭＯＳトランジスタを経て上記有機発光ダイオードに流れ、上記充電キャパシタに校正データに相応する値を保存し、上記ホールディング区間では、上記充電キャパシタに保存された値に応じて電流が上記第１電源端から第１及び第２ＭＯＳトランジスタを経て上記有機発光ダイオードに流れるようになされることを特徴とする。
【００１２】
上記ＡＤＣは、上記プログラミング区間で、上記データ駆動部の駆動信号が入力される上記画素部の入力ノードから上記有機発光ダイオードの劣化情報を有する劣化電圧を検出するようになされることを特徴とする。
【００１３】
また、本発明の第１技術的な側面によるアクティブ有機発光ディスプレイは、上記ＡＤＣからのデジタル劣化電圧を利用して劣化補償のための劣化補償信号を生成する補償部と、上記劣化補償信号を利用して入力データを劣化が補償された校正データに変換し、上記データ駆動部に提供する変換部とをさらに含むことを特徴とする。
【００１４】
また、本発明の第２技術的な側面は、予め準備された校正データをアナログ校正信号に変換し、このアナログ校正信号に応じて駆動信号を生成するデータ駆動部と、第１及び第２電源の供給を受ける電源端の間に連結された有機発光ダイオードを含み、予め設定されたプログラミング区間では上記駆動信号に応じて校正データに相応する値を充電すると共に劣化検出のために上記駆動信号を検出し、上記ホールディング区間では予め設定されたプログラミング区間で充電された値に応じて有機発光ダイオードに電流が流れるようにする画素部と、上記ホールディング区間で、上記画素部の有機発光ダイオードの劣化情報を有する劣化電圧を検出し、デジタル劣化電圧に変換するＡＤＣと、上記ＡＤＣからのデジタル劣化電圧を利用して劣化補償のための劣化補償信号を生成する補償部と、上記劣化補償信号を利用して入力データを劣化が補償された校正データに変換し、上記データ駆動部に提供する変換部とを含むアクティブ有機発光ディスプレイを提供することにある。
【００１５】
本発明の第２技術的な側面において、上記画素部は、上記第１電源の供給を受ける電源端と有機発光ダイオードの間に直列に連結された第１及び第２ＭＯＳトランジスタと、上記第１及び第２ＭＯＳトランジスタ間の第１接続ノードと上記データ駆動部の間に連結された第３ＭＯＳトランジスタと、上記第２ＭＯＳトランジスタのゲートと上記第１接続ノードの間に連結された充電キャパシタと、上記第２ＭＯＳトランジスタのドレインに連結されたドレインと上記第２ＭＯＳトランジスタのゲートに連結されたソースを有する第４ＭＯＳトランジスタとをさらに含むことを特徴とする。
【００１６】
上記画素部は、上記プログラミング区間では、上記第２、第３及び第４ＭＯＳトランジスタがターンオンされ、上記第１ＭＯＳトランジスタがターンオフされ、上記ホールディング区間では、上記第１及び第２ＭＯＳトランジスタがターンオンされ、上記第３及び第４ＭＯＳトランジスタがターンオフされるようになされることを特徴とする。
【００１７】
上記画素部は、上記プログラミング区間では、上記データ駆動部の駆動信号が第２及び第３ＭＯＳトランジスタを経て上記有機発光ダイオードに流れ、上記充電キャパシタに校正データに相応する値を保存し、上記ホールディング区間では、上記充電キャパシタに保存された値に応じて電流が上記第１電源端から第１及び第２ＭＯＳトランジスタを経て上記有機発光ダイオードに流れるようになされることを特徴とする。
【００１８】
上記ＡＤＣは、上記プログラミング区間で、上記データ駆動部の駆動信号が入力される上記画素部の入力ノードから上記有機発光ダイオードの劣化情報を有する劣化電圧を検出し、デジタル劣化電圧に変換するようになされることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によると、プログラミング区間で劣化検知を行うことにより、より迅速な劣化検知が可能となり、これによって劣化補償も迅速に行うことができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイのブロック図である。
【図２】本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイの動作フローチャートである。
【図３】本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイのタイムチャートである。
【図４】本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイに対するプログラミング区間での動作説明図である。
【図５】本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイに対するホールディング区間での動作説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、本発明の実施例を添付した図面を参照して説明する。
【００２２】
本発明は以下に説明する実施例に限定されず、本発明の実施例は本発明の技術的思想に対する理解を容易にするために用いられる。本発明に参照された図面において、実質的に同一の構成と機能を有した構成要素は、同一の符号を用いる。
【００２３】
図１は本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイのブロック図である。
【００２４】
図１を参照すると、本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイは、予め準備された校正データをアナログ校正信号Ｓｃｏｒに変換し、このアナログ校正信号Ｓｃｏｒに応じて駆動信号を生成するデータ駆動部１２０を含むことができる。
【００２５】
また、本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイは、第１電源ＥＬＶＤＤ及び第２電源ＥＬＶＳＳの供給を受ける電源端の間に連結された有機発光ダイオードＯＬＥＤを有し、上記プログラミング区間Ｐ１では上記駆動信号に応じて校正データに相応する値を充電すると共に劣化検出のために上記駆動信号を検出し、上記ホールディング区間Ｐ２では予め設定されたプログラミング区間で充電された値に応じて有機発光ダイオードＯＬＥＤに電流が流れるようにする画素部１５０を含むことができる。
【００２６】
本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイは、上記プログラミング区間Ｐ１で、上記画素部１５０の有機発光ダイオードＯＬＥＤの劣化情報を有する駆動信号に該当される劣化電圧Ｖｄを検出し、デジタル劣化電圧に変換するＡＤＣ（Ａｎａｌｏｇ−Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ）１６０を含むことができる。
【００２７】
上記画素部１５０は、上記第１電源ＥＬＶＤＤの供給を受ける電源端と有機発光ダイオードＯＬＥＤの間に直列に連結された第１及び第２ＭＯＳトランジスタＰＭ１、ＰＭ２と、上記第１及び第２ＭＯＳトランジスタ間の第１接続ノードＮＣ１と上記データ駆動部１２０の間に連結された第３ＭＯＳトランジスタＰＭ３と、上記第２ＭＯＳトランジスタＰＭ２のゲートと上記第１接続ノードＮＣ１の間に連結された充電キャパシタＣｃｈａと、上記第２ＭＯＳトランジスタＰＭ２のドレインに連結されたドレインと上記第２ＭＯＳトランジスタＰＭ２のゲートに連結されたソースを有する第４ＭＯＳトランジスタＰＭ４とをさらに含むことができる。
【００２８】
上記画素部１５０は、上記プログラミング区間Ｐ１では、上記第２、第３及び第４ＭＯＳトランジスタＰＭ２、ＰＭ３、ＰＭ４がターンオンされ、上記第１ＭＯＳトランジスタＰＭ１がターンオフされ、上記ホールディング区間Ｐ２では、上記第１及び第２ＭＯＳトランジスタＰＭ１、ＰＭ２がターンオンされ、上記第３及び第４ＭＯＳトランジスタＰＭ３、ＰＭ４がターンオフされるようになされることができる。
【００２９】
また、上記画素部１５０は、上記プログラミング区間Ｐ１では、上記駆動信号が第２及び第３ＭＯＳトランジスタＰＭ２、ＰＭ３を経て上記有機発光ダイオードＯＬＥＤに流れ、上記充電キャパシタＣｃｈａに校正データに相応する値を保存するようになされることができる。
【００３０】
そして、上記画素部１５０は、上記ホールディング区間Ｐ２では、上記充電キャパシタＣｃｈａに保存された値に応じて電流が上記第１電源端から第１及び第２ＭＯＳトランジスタＰＭ１、ＰＭ２を経て上記有機発光ダイオードＯＬＥＤを経て、第２電源端に流れるようになされることができる。
【００３１】
上記ＡＤＣ１６０は、上記プログラミング区間Ｐ１で、上記データ駆動部１２０の駆動信号が入力される上記画素部１５０の入力ノードＮｉｎから上記有機発光ダイオードの劣化情報を有する劣化電圧を検出するようになされることができる。
有機発光ダイオードの劣化に応じて、有機発光ダイオードのインピーダンスは変化する。また、有機発光ダイオードのインピーダンスの変化に応じて、画素部１５０の入力ノードＮｉｎにおける電圧は変化する。したがって、有機発光ダイオードの劣化に応じて、画素部１５０の入力ノードＮｉｎにおける電圧が変化する。つまり、画素部１５０の入力ノードＮｉｎの電圧（駆動信号）Ｖｄは、画素部１６０の有機発光ダイオードの劣化情報を含んでいる。したがって、ＡＤＣ１６０で検出される電圧は画素部１６０の有機発光ダイオードの劣化情報を含んでおり、劣化電圧であると理解できる。
【００３２】
また、本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイは、上記ＡＤＣ１６０からのデジタル劣化電圧ＶＤｄを利用して劣化補償のための劣化補償信号Ｓｃｏｎを生成する補償部１７０と、上記劣化補償信号Ｓｃｏｎを利用して入力データＤｉｎを劣化が補償された校正データに変換し、上記データ駆動部１２０に提供する変換部１１０とをさらに含むことができる。
【００３３】
図２は本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイの動作フローチャートである。図２において、Ｓ１００はプログラミング区間Ｐ１を開始する段階を示し、Ｓ２００は劣化検知動作を行う段階を示し、Ｓ３００はプログラミング区間Ｐ１を終了し、ホールディング区間Ｐ２を開始する段階を示す。そして、Ｓ４００はホールディング区間Ｐ２で上記劣化検知に基づいて劣化補償を行う段階を示す。
【００３４】
図３は本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイのタイムチャートである。図３において、Ｐ１はプログラミング区間を意味し、Ｐ２はホールディング区間を意味して、Ｓｓｃａｎは上記画素部１５０の第３ＭＯＳトランジスタＰＭ３のゲートに印加されるゲート信号であり、
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は第１ＭＯＳトランジスタのゲートに供給される上記Ｓsｃａnの反転信号である。そして、ＶＤｄは上記ＡＤＣ１６０から出力されるデジタル劣化電圧である。
【００３５】
図４は本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイに対するプログラミング区間での動作説明図であり、図５は本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイに対するホールディング区間での動作説明図である。
【００３６】
図４でＰＨｉは、本発明のアクティブ有機発光ディスプレイにおいて、プログラミング区間Ｐ１での電流経路を意味し、ＰＨｄｅｔは劣化検出経路を意味する。図５でＰＨｉは、本発明のアクティブ有機発光ディスプレイにおいて、ホールディング区間Ｐ２での電流経路を意味する。
【００３７】
以下、本発明の作用及び効果を添付した図面に基づいて説明する。
【００３８】
図１から図５を参照して本発明によるアクティブ有機発光ディスプレイに対して説明するにあたり、予め設定されたプログラミング区間Ｐ１とホールディング区間Ｐ２とに区分して説明する。
【００３９】
まず、本発明のアクティブ有機発光ディスプレイのプログラミング区間Ｐ１での動作を説明する。
【００４０】
図１及び図２を参照すると、本発明のデータ駆動部１２０は、プログラミング区間に該当する動作を開始し、予め準備された校正データをアナログ校正信号Ｓｃｏｒに変換し、このアナログ校正信号Ｓｃｏｒに応じて駆動信号を生成して画素部１５０に供給する（図２のＳ１００）。
【００４１】
この際、画素部１５０で、上記プログラミング区間Ｐ１では上記駆動信号に応じて校正データに相応する値を充電することができる。
【００４２】
即ち、上記画素部１５０で、上記プログラミング区間Ｐ１では、上記第２、第３及び第４ＭＯＳトランジスタＰＭ２、ＰＭ３、ＰＭ４がターンオンされ、上記第１ＭＯＳトランジスタＰＭ１がターンオフされる。
【００４３】
これにより、上記画素部１５０は図４に図示されたように、上記プログラミング区間Ｐ１では、上記駆動信号が第２及び第３ＭＯＳトランジスタＰＭ２、ＰＭ３を経て上記有機発光ダイオードＯＬＥＤに流れ、結局、上記充電キャパシタＣｃｈａに校正データに相応する値を保存することができる。
【００４４】
これと同時に、図２及び図３に図示したように本発明のＡＤＣ１６０は、上記プログラミング区間Ｐ１で、上記データ駆動部１２０の駆動信号が入力される上記画素部１５０の入力ノードＮｉｎから上記有機発光ダイオードの劣化情報を有する劣化電圧を検出することができる。
【００４５】
次いで、本発明の補償部１７０は、上記ＡＤＣ１６０からのデジタル劣化電圧ＶＤｄを利用して劣化補償のための劣化補償信号Ｓｃｏｎを生成し、変換部１１０に提供することができる。
【００４６】
この際、上記変換部１１０は、上記劣化補償信号Ｓｃｏｎを利用して入力データＤｉｎを劣化が補償された校正データに変換し、上記データ駆動部１２０に提供する。
【００４７】
これにより、上述したように、上記データ駆動部１２０は、上記校正データをアナログ校正信号Ｓｃｏｒに変換し、このアナログ校正信号Ｓｃｏｒに応じて駆動信号を生成することができる。
【００４８】
一方、本発明の変換部１１０は、入力データＤｉｎを劣化が補償された校正データに変換し、上記データ駆動部１２０に提供することができる。
【００４９】
以下、本発明のアクティブ有機発光ディスプレイのホールディング区間Ｐ２での動作を説明する。
【００５０】
図１を参照すると、まず、本発明の画素部１５０で、上記ホールディング区間Ｐ２では予め設定されたプログラミング区間で充電された値に応じて有機発光ダイオードＯＬＥＤに電流が流れるようにする。
【００５１】
即ち、上記画素部１５０で、上記ホールディング区間Ｐ２では、上記第１及び第２ＭＯＳトランジスタＰＭ１、ＰＭ２がターンオンされ、上記第３及び第４ＭＯＳトランジスタＰＭ３、ＰＭ４がターンオフされる。
【００５２】
これにより、上記画素部１５０は、上記ホールディング区間Ｐ２では、上記充電キャパシタＣｃｈａに保存された値に応じて電流が上記第１電源端から第１及び第２ＭＯＳトランジスタＰＭ１、ＰＭ２を経て上記有機発光ダイオードＯＬＥＤに流れるようになる。
【００５３】
上述のような本発明によると、出力に対するトランジスタの移動度と閾値電圧の劣化などの影響を受けずに、エージング（Ａｇｉｎｇ）と温度、工程上の劣化を補償することができる。
【００５４】
また、補償電流駆動方式を利用して、ＯＬＥＤを駆動する電流に対するトランジスタの移動度と閾値電圧の劣化の影響を除去することができ、さらに、ＯＬＥＤの劣化程度を検知する区間を別途設けなくてもプログラミング区間で劣化検知がなされるため、画面をディスプレイしながら劣化を補償することができる。
【符号の説明】
【００５５】
１１０  変換部
１２０  データ駆動部
１５０  画素部
１６０  ＡＤＣ
１７０  補償部
ＰＭ１、ＰＭ２  第１及び第２ＭＯＳトランジスタ
ＰＭ３  第３ＭＯＳトランジスタ
Ｃｃｈａ  充電キャパシタ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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