(57)【要約】【課題】工場調整時の温度や調整量によらずに撮影時のシャッター速度の補正値を算出すること【解決手段】撮像装置は、シャッターユニット１１０の周辺の温度を測定する温度計１３４と、温度毎にシャッター速度を補正する温度特性データおよびシャッターユニットの個体差を調整する調整値を測定する際に、温度計によって測定された調整時温度測定値を記憶する不揮発性メモリ１３０と、調整時温度測定値に対応する調整時補正値を温度特性データから取得するとともに、撮影時に温度計によって測定された撮影時温度測定値に対応する撮影時補正値を温度特性データから取得し、撮影時補正値から調整時補正値を減算した補正値によってシャッターユニットのシャッター速度を補正する。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
シャッターユニットを有し、前記シャッターユニットの個体差を調整する調整値を測定し、前記調整値に基づいて前記シャッターユニットの個体差を補正する撮像装置であって、
前記シャッターユニットの周辺の温度を測定する温度計と、
温度毎に前記シャッターユニットのシャッター速度を補正する温度特性データおよび前記調整値を測定する際に、前記温度計によって測定された調整時温度測定値を記憶する不揮発性メモリと、
前記調整時温度測定値に対応する調整時補正値を前記温度特性データから取得するとともに、撮影時に前記温度計によって測定された撮影時温度測定値に対応する撮影時補正値を前記温度特性データから取得し、前記撮影時補正値から前記調整時補正値を減算した補正値によってシャッターユニットのシャッター速度を補正する制御手段とを有することを特徴とする撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、工場調整時には個体ばらつきを吸収するためのシャッター速度補正が行われており、また、撮影時温度によるシャッター速度補正も提案されている。例えば、特許文献１は、基点温度以上の高温では一定値に、基点温度より低温では温度に依存して補正時間を変化させるシャッター速度補正方法を提案している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平０９−３２５３８３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
撮影時シャッター速度補正は、工場調整時とは異なる温度環境下にも適用されてしまうので工場調整時の温度は常温であることが前提となっており、常温でない場合は撮影時の補正値が正しく算出されない可能性がある。
【０００５】
そこで、本発明は、工場調整時の温度や調整量によらずに撮影時のシャッター速度補正値を算出することが可能な撮像装置を提供することを例示的な目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の撮像装置は、シャッターユニットを有し、前記シャッターユニットの個体差を調整する調整値を測定し、前記調整値に基づいて前記シャッターユニットの個体差を補正する撮像装置であって、前記シャッターユニットの周辺の温度を測定する温度計と、温度毎に前記シャッターユニットのシャッター速度を補正する温度特性データおよび前記調整値を測定する際に、前記温度計によって測定された調整時温度測定値を記憶する不揮発性メモリと、前記調整時温度測定値に対応する調整時補正値を前記温度特性データから取得するとともに、撮影時に前記温度計によって測定された撮影時温度測定値に対応する撮影時補正値を前記温度特性データから取得し、前記撮影時補正値から前記調整時補正値を減算した補正値によってシャッターユニットのシャッター速度を補正する制御手段とを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、工場調整時の温度や調整量によらずに撮影時のシャッター速度補正値を算出することが可能な撮像装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】撮像装置のミラーダウン状態を示すブロック図である。
【図２】図１に示す撮像装置のシャッターの正面図である。
【図３】図３（ａ）は図１に示す撮像装置のシャッター速度補正のフローチャートであり、図３（ｂ）はシャッター速度補正値の温度特性を示すグラフである。
【図４】図１に示す撮像装置が撮影要求を受け付けた際の撮影動作完了までのマイクロコンピュータの動作を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
図１は、レンズ交換型の撮像装置（デジタル一眼レフカメラ）の構成を示すブロック図である。図１は、被写体からの光が第１光路を通って位相差方式の焦点検出回路１０９と光学ファインダーに導かれた状態を示している（ミラーダウン）。なお、主ミラー１０６とサブミラー１０７が上方に変位すると被写体からの光が第２光路を通って撮像センサ１１２に導かれる（ミラーアップ）。被写体からの光の光路は第１光路と第２光路との間で切換可能である。
【００１０】
１０１は撮影レンズであり、被写体の焦点調節を行う一又は複数のフォーカスレンズを含む。フォーカスレンズは光軸方向に移動可能に構成されている。１０４は絞りである。１０２は撮影レンズ１０１のフォーカスレンズを光軸方向に移動するＡＦ（自動焦点調節）駆動回路、１０３は撮影レンズ１０１のズームレンズを光軸方向に移動するズーム制御部、１０５は絞り１０４を駆動する絞り駆動回路である。
【００１１】
主ミラー１０６で反射された被写体からの光はペンタプリズム１０８で像反転して不図示の光学ファインダーに入射する。主ミラー１０６は常時は光学ファインダーへと光束を反射するように配置されているが、撮影が行われる場合には、撮像センサ１１２へと光束を導くように上方に跳ね上がり光束中から待避する。主ミラー１０６はその中央部が光の一部を透過できるようにハーフミラーとなっている。サブミラー１０７は主ミラー１０６から透過してきた光束を反射させて焦点検出回路１０９に導く。主ミラー１０６とサブミラー１０７は図１に示すミラーダウン位置と不図示のミラーアップ位置に移動可能に構成されている。
【００１２】
焦点検出回路１０９は、位相差方式の焦点検出を行う。デフォーカス量は、焦点検出回路１０９に設けられた不図示のセンサの出力を演算することによって求められる。マイクロコンピュータ１２３は演算結果を評価してＡＦ駆動部１０２に指示し、フォーカスレンズを駆動させる。
【００１３】
１１０は撮像センサ１１２への露出量を決定するフォーカルプレーンシャッターユニット（以下、単に「シャッター」という）である。図２（ａ）はチャージ完了状態におけるシャッター１１０の正面図であり、図２（ｂ）は図２（ａ）の状態から先幕シャッター羽根群４〜７が走行を完了した状態におけるシャッター１１０の正面図である。
【００１４】
後述するＳＷ１とＳＷ２でレリーズ操作を開始するとミラーアップと共にシャッターセット解除動作が行われ、先幕シャッター羽根群４〜７と後幕シャッター羽根群１０〜１３は図２（ａ）に示す位置に保持される。次に、シャッター走行開始指令が出力されると、先幕シャッター羽根群４〜７が走行する。第１先幕駆動アーム２は走行完了位置にて先幕駆動アーム接触部材１６に衝突し、図２（ｂ）に示す停止位置に達して止まる。
【００１５】
設定時間経過後、後幕シャッター羽根群１０〜１３が走行を開始し、走行完了位置に達すると、第１後幕駆動アーム８と第２後幕駆動アーム９は不図示のストッパーによって止められる。後幕走行完了後は、チャージに移行し、シャッター用モータの回転とともに先幕シャッター羽根群４〜７、後幕シャッター羽根群１０〜１３の順に巻き上がり、図２（ａ）に示すチャージ完了状態で停止する。
【００１６】
シャッター駆動回路（シャッター駆動手段）１１１は測光回路１３２からの測光情報に基づいて、絞り駆動回路１０５と連携しながらシャッター１１０の開閉駆動を制御する。シャッター駆動回路１１１は、不図示のシャッター駆動用のモータ（以下、単に「シャッター用モータ」と称する）とモータ制御回路を有する。
【００１７】
撮像センサ１１２は被写体からの光を光電変換して画像データを生成する。１１３はクランプ回路である。１１４はＡＧＣ回路である。クランプ回路１１３やＡＧＣ回路１１４は、Ａ／Ｄ変換をする前の基本的なアナログ信号処理を行い、マイクロコンピュータ１２３により、クランプレベルやＡＧＣ基準レベルの変更が行われる。１１５はＡ／Ｄ変換器である。Ａ／Ｄ変換器１１５は撮像センサ１１２のアナログ出力信号をデジタル信号に変換する。
【００１８】
１１６は映像信号処理回路であり、Ａ／Ｄ変換器１１５からの画像データに対して画素補間処理や色変換処理を行う。また、映像信号処理回路１１６は、画像データを用いて演算処理を行い、演算結果に基づいてマイクロコンピュータ１２３はシャッター駆動回路１１１、コントラスト検出方式の焦点検出処理、自動露出（ＡＥ）処理の制御を行う。
【００１９】
マイクロコンピュータ（制御手段、プロセッサ）１２３はカメラ本体の全体を制御する。１２４は操作部材である。操作部材１２４は、マイクロコンピュータ１２３にその状態を伝え、マイクロコンピュータ１２３はその操作部材の変化に応じて各部を制御する。
【００２０】
１２５はシャッタースイッチ（ＳＷ１）で、不図示のシャッターボタン（レリーズボタン）が半押しされるとＯＮとなり、ＡＦ処理、測光処理を含む動作開始を指示する。１２６はシャッタースイッチ（ＳＷ２）で、不図示のシャッターボタンが全押しされるとＯＮとなり、撮影に関する一連の処理の動作開始を指示する。撮影に関する処理は、露出処理、現像処理、記録処理、連続撮影を含む。
【００２１】
１３０は不揮発性メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）で、カメラに電源が入れられていない状態でも、データを記憶することができる。本実施例の不揮発性メモリ１３０は、後述するように、工場調整時に温度計１３４が計測した温度測定値Ｔｅ０および調整値ＳＨ＿ａｄｊと、図３（ｂ）に示す温度毎にシャッター速度を補正する温度特性データを記憶する。
【００２２】
測光回路１３２は被写体の明るさを測定し、絞り値とシャッター速度に依存する露出時間を計算するＡＥ処理を行う。
【００２３】
１３３はミラー駆動回路であり、主ミラー１０６とサブミラー１０７の移動（ミラーアップ、ミラーダウン）を行う。ミラー駆動回路１３３は、不図示のミラー駆動用モータ（以下、単に「ミラー用モータ」と称する）とモータ制御回路を有する。
【００２４】
１３４は温度計であり、シャッター１１０の周辺の温度を計測する。
【００２５】
図３（ａ）は、工場調整時、シャッター１１０の個体差を調整する調整値を測定するフローチャートであり、「Ｓ」はステップの略である。シャッター１１０の速度補正動作を行う際には撮像装置を不図示の試験機にセットし、撮像装置と試験機とを電気的に接続した状態で図３（ａ）に示すフローチャートを実行する。
【００２６】
まず、マイクロコンピュータ１２３からの指示に基づいて、温度計１３４で温度計測を行う（Ｓ２０１）。次に、設定速度を予め決められた固定値（ここでは、シャッター速度Ｔｖ＝１／８０００秒）に設定して（Ｓ２０２）シャッター１１０を走行させる（Ｓ２０３）。このとき、不図示の試験機は先幕シャッター羽根群４〜７が所定地点を通過するタイミングと後幕シャッター羽根群１０〜１３が所定地点を通過するタイミングの差を計測し、計測結果を撮像装置のマイクロコンピュータ１２３に送信する。マイクロコンピュータ１２３は試験機から計測結果を受信する（Ｓ２０４）。
【００２７】
マイクロコンピュータ１２３は、Ｓ２０２で設定された理想のシャッター速度と実際のシャッター速度との差分を調整値ＳＨ＿ａｄｊとして不揮発性メモリ１３０に記憶する（Ｓ２０５）。この調整値を撮影時に補正値として加算もしくは減算することで、シャッター露出時間の個体ばらつきを吸収し、適切な露出時間での撮影を行うことができる。調整値ＳＨ＿ａｄｊは、シャッターユニットの個体差を調整する調整値に相当する。
【００２８】
また、マイクロコンピュータ１２３は、Ｓ２０１で計測された温度測定値Ｔｅ０を不揮発性メモリ１３０に記憶する（Ｓ２０６）。この温度測定値は、撮影時の温度測定値Ｔｅに対する補正値を算出する際に使用する。温度測定値Ｔｅ０は、調整値を測定する際に、温度計によって測定された調整時温度測定値に相当する。温度測定値Ｔｅは、撮影時に温度計によって測定された撮影時温度測定値に相当する。
【００２９】
図３（ｂ）は、シャッター速度の補正値の温度特性を示すグラフであり、横軸が温度（℃）であり、縦軸が補正値である。シャッター１１０は、周囲の温度によって先幕シャッター羽根群４〜７および後幕シャッター羽根群１０〜１３が走行する際の抵抗等が変化する。したがって、シャッター１１０周囲の温度によって、理想のシャッター速度と実際のシャッター速度との差を補正する補正値が変化してしまう。図３（ｂ）に示すグラフは理想のシャッター速度と実際のシャッター速度との差を補正する補正値が、シャッター１１０周囲の温度によってどのように変化するのかを示すものである。このような温度特性データは、製造時にテーブルもしくは演算式の形態で不揮発性メモリ１３０に記憶されている。
【００３０】
図３（ｂ）に示すように、工場調整時の温度測定値Ｔｅ０に対応するシャッター速度の調整時補正値はＡｄｊ＿Ｔｅ０となる。また、撮影時の温度測定値Ｔｅに対応する撮影時補正値はＡｄｊ＿Ｔｅとなる。
【００３１】
図４は、撮像装置が撮影要求を受け付けた際の撮影動作完了までのマイクロコンピュータ１２３の動作を示すフローチャートであり、「Ｓ」はステップの略である。また、「Ｙ」ははい（Ｙｅｓ）、「Ｎ」はいいえ（Ｎｏ）を意味する。図４に示すフローはマイクロコンピュータ１２３によって不揮発性メモリ１３０に格納されたコンピュータプログラムに従って行われる。
【００３２】
まず、マイクロコンピュータ１２３は、シャッタースイッチ１２５（ＳＷ１）がオンされたことを検出すると（Ｓ３０１のＹ）、測光回路１３２による測光と焦点検出回路１０９による焦点検出を行わせる（Ｓ３０２）。
【００３３】
次に、マイクロコンピュータ１２３は、シャッタースイッチ１２６（ＳＷ２）がオンされたことを検出すると（Ｓ３０３のＹ）、ミラー用モータへの通電を開始することによってミラーアップを開始する（Ｓ３０４）。ミラーアップが完了すると（Ｓ３０５のＹ）、マイクロコンピュータ１２３はミラー用モータへの通電を停止する。
【００３４】
これと並行して、マイクロコンピュータ１２３は、シャッター用モータの通電を開始することによってシャッター走行準備であるシャッター解除を開始する（Ｓ３０６）。この通電は、チャージ完了状態におけるシャッター幕の保持を解除し、走行準備状態へ移行させるための通電である。シャッター解除が完了すると（Ｓ３０７のＹ）、マイクロコンピュータ１２３はシャッター用モータへの通電を停止する。
【００３５】
マイクロコンピュータ１２３は、ミラーアップが完了し（Ｓ３０５のＹ）、シャッター解除が完了すると（Ｓ３０７のＹ）、Ｓ３０２の測光結果と調整値ＳＨ＿ａｄｊに基づいて設定されたシャッター速度を補正する（Ｓ３０８）。
【００３６】
次に、マイクロコンピュータ１２３は、温度計１３４からシャッター１１０付近の温度測定値Ｔｅを取得し、不揮発性メモリ１３０に記憶されている温度特性データから、温度測定値Ｔｅに対応する補正値Ａｄｊ＿Ｔｅを取得する（Ｓ３０９）。また、マイクロコンピュータ１２３は、不揮発性メモリ１３０に記憶されている温度特性データから、工場調整時に取得した温度測定値Ｔｅ０に対応する補正値Ａｄｊ＿Ｔｅ０を取得する（Ｓ３１０）。そして、マイクロコンピュータ１２３は、補正値Ａｄｊ＿Ｔｅから補正値Ａｄｊ＿Ｔｅ０を減算することによって（Ａｄｊ＿Ｔｅ−Ａｄｊ＿Ｔｅ０）、減算値を撮影時の温度Ｔｅにおけるシャッター速度の補正値として設定する（Ｓ３１１）。
【００３７】
Ｓ３０８にて、調整値ＳＨ＿ａｄｊに基づいて設定されたシャッター速度を補正する際に、温度測定値Ｔｅ０に対応する温度補正も行われてしまう。つまり、調整値ＳＨ＿ａｄｊには、温度測定値Ｔｅ０に対応する調整時補正値Ａｄｊ＿Ｔｅ０が含まれた値となっている。したがって、調整値ＳＨ＿ａｄｊによってシャッター１１０の個体ばらつきによる誤差を補正する場合には、温度測定値Ｔｅ０に対応する調整時補正値Ａｄｊ＿Ｔｅ０だけ減算しなければ、シャッター１１０の個体ばらつきによる誤差を正確に補正することはできない。
【００３８】
その後、マイクロコンピュータ１２３は、設定された補正値に従ってシャッター駆動回路１１１にシャッター１１０を駆動させる（Ｓ３１２）。これにより、静止画撮影が行われる。
【００３９】
シャッター走行後、マイクロコンピュータ１２３はミラー用モータを通電することによってミラーダウンを開始する（Ｓ３１３）。ミラーダウンが完了すると（Ｓ３１５のＹ）、マイクロコンピュータ１２３はミラー用モータへの通電を停止し、焦点検出回路１０９による焦点検出と測光回路１３２による測光を行わせる（Ｓ３１７）。
【００４０】
また、これと並行して、マイクロコンピュータ１２３はシャッター用モータを通電することによってシャッターチャージを開始する（Ｓ３１４）。シャッターチャージが完了すると（Ｓ３１６のＹ）、マイクロコンピュータ１２３はシャッター用モータへの通電を停止する。
【００４１】
Ｓ３１６とＳ３１７の後で、マイクロコンピュータ１２３は処理を終了する。
【００４２】
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
【産業上の利用可能性】
【００４３】
撮像装置は被写体を撮像する用途に適用することができる。
【符号の説明】
【００４４】
１１０              シャッター（シャッターユニット）
１１１              シャッター駆動回路
１２３              マイクロコンピュータ（制御手段）
１３２              測光回路
１３４              温度計
【図１】
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【図３】
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【図４】
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【図２】
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