(57)【要約】【課題】光学箱に蓋部材の取付作業を行うことで発生した走査線の傾きを、蓋部材の取付後の工程において簡単な構成で再調整することを可能とし、生産性やサービス性を低下させず、走査線の照射位置を高精度に調整する。【解決手段】ビス締め部３５で光学箱２９と蓋部材４０とが固定された状態で、折り返しミラー２７を変位させて被走査面におけるレーザ光の結像位置を調整するために、ビス締め部３５を支点として光学箱２９が変形することで、折り返しミラー２７が支持されている光学箱２９の折り返しミラー載置部２７１，２７２が変位するように、対向している光学箱２９と蓋部材４０との領域のうちビス締め部３５が設けられていない領域を相対的に接近又は離間させる方向に変位させる。【選択図】図２
2012242757.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を出射する光源と、
前記光源から出射されたレーザ光を偏向走査する偏向走査手段と、
前記偏向走査手段により偏向走査されたレーザ光を、装置本体外部の被走査面に結像させるための光学手段と、
前記光源、前記偏向走査手段及び前記光学手段が収容される光学箱と、
前記光学箱を閉塞する蓋部材と、
を備えた光学走査装置であって、
対向している前記光学箱と前記蓋部材との領域のうちの一部に、前記光学箱と前記蓋部材とを固定する固定部が設けられ、
前記固定部で前記光学箱と前記蓋部材とが固定された場合に、前記光学箱に変形が生じ得る光学走査装置において、
前記固定部で前記光学箱と前記蓋部材とが固定された状態で、
前記光学手段を変位させて、前記被走査面における前記レーザ光の結像位置を調整するために、
前記固定部を支点として前記光学箱が変形することで、前記光学手段が支持されている前記光学箱の支持部が変位するように、対向している前記光学箱と前記蓋部材との領域のうち前記固定部が設けられていない領域を相対的に接近又は離間させる方向に変位させる変位手段を備えることを特徴とする光学走査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複写機やレーザビームプリンタ等に用いられる光学走査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般的に、光学走査装置は半導体レーザ、偏向器、結像手段、折り返しミラー等の光学部品、及びそれらを保持、内包する光学箱、光学箱を密閉する蓋部材で構成されている。従来、光学箱への蓋部材の取り付け方法としては、特許文献１に開示されるように、光学箱と蓋部材に位置決め手段を設け、ビス等の締結手段によって固定していた。
ここで、光学走査装置は感光体上での走査線の照射位置等の諸特性を満足するために、光学走査装置を構成している光学部品は光学箱に精度良く組み付けられている。しかし、光学箱に蓋部材の取り付け作業を行うことで、光学箱が変形し、光学部品の姿勢及び位置が狂い、走査線の傾きが発生してしまうことが懸念されている。特にカラー画像形成装置においては、走査線の傾きが各色間で発生すると色ずれとなり、画像欠陥となる。
そこで、特許文献２において、光学箱に蓋部材を取り付けた後に、蓋部材の開口部から工具を挿入し、光学箱内の光学部品を位置調整する構成が開示されている。また特許文献３において、光学箱を画像形成装置にある受台の固定部にくさび状のスペーサを介して固定し、スペーサを移動させることで、固定部の取り付け座面の高さを変化させ、光学箱を微少に変形させることで、走査線の傾きを調整する構成が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平９−２５８１２９号公報
【特許文献２】特開２０００−１００３５号公報
【特許文献３】特開２０００−２４９９５３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献２においては、蓋部材に光学部品の位置を調整するための開口部が必要となり、開口部からの汚れの侵入によって、光量が低下し、画像品質の悪化が懸念される。開口部からの汚れの侵入を防ぐために、シール等の防塵手段を貼り付けることになるが、作業工程が増えてしまい、生産性の低下が懸念される。また、開口部から光学部品を調整するための工具が挿入されるため、感光体の鉛直方向下側に光学走査装置を配置した構成においては、調整工具によって走査線が遮断され、走査線の照射位置を測定することができなくなることが懸念される。
【０００５】
特許文献３においては、画像形成装置に光学走査装置を取り付けた状態で、走査線の傾き調整を行うことができるものの、光学走査装置単品において走査線の傾きを調整する構成については開示されていない。市場において光学走査装置の交換が必要になった場合は、ユーザ先等の場において走査線の傾きを調整しなければならず、作業が複雑で、光学走査装置の交換にかかる時間が長くなり、サービス性が低下することが懸念される。
【０００６】
本発明は、光学箱に蓋部材の取付作業を行うことで発生した走査線の傾きを、蓋部材の取付後の工程において簡単な構成で再調整することを可能とし、生産性やサービス性を低下させず、走査線の照射位置を高精度に調整することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために本発明にあっては、
レーザ光を出射する光源と、
前記光源から出射されたレーザ光を偏向走査する偏向走査手段と、
前記偏向走査手段により偏向走査されたレーザ光を、装置本体外部の被走査面に結像させるための光学手段と、
前記光源、前記偏向走査手段及び前記光学手段が収容される光学箱と、
前記光学箱を閉塞する蓋部材と、
を備えた光学走査装置であって、
対向している前記光学箱と前記蓋部材との領域のうちの一部に、前記光学箱と前記蓋部材とを固定する固定部が設けられ、
前記固定部で前記光学箱と前記蓋部材とが固定された場合に、前記光学箱に変形が生じ得る光学走査装置において、
前記固定部で前記光学箱と前記蓋部材とが固定された状態で、
前記光学手段を変位させて、前記被走査面における前記レーザ光の結像位置を調整するために、
前記固定部を支点として前記光学箱が変形することで、前記光学手段が支持されている前記光学箱の支持部が変位するように、対向している前記光学箱と前記蓋部材との領域のうち前記固定部が設けられていない領域を相対的に接近又は離間させる方向に変位させる変位手段を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、光学箱に蓋部材の取付作業を行うことで発生した走査線の傾きを、蓋部材の取付後の工程において簡単な構成で再調整することを可能とし、生産性やサービス性を低下させず、走査線の照射位置を高精度に調整することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】実施形態の画像形成装置の概略構成を示す断面図
【図２】実施形態における光学走査装置の内部構成を説明するための概略斜視図
【図３】実施形態のビス締めによるトルクと位置決め部にかかる力の関係を示した図
【図４】実施形態の光学箱と走査線の様子を示した図
【図５】実施例１の調整部材について説明するための概略断面図
【図６】実施例１の調整部材の移動後の光学走査装置を説明する図
【図７】実施例１の光学箱の変形と走査線の傾きをシミュレートした結果を示す図
【図８】実施例１の調整部材の移動量と走査線の傾き量との関係を示す図
【図９】実施例２における光学走査装置の内部構成を示す概略斜視図
【図１０】実施例２の調整手段を説明するための概略断面図
【図１１】実施例２の光学箱の変形と走査線の傾きをシミュレートした結果を示す図
【図１２】調整手段の変形例を示す概略斜視図
【図１３】調整手段による隙間の調整量と走査線の傾き量との間の関係を示す図
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下に図面を参照して、この発明を実施するための形態を例示的に詳しく説明する。ただし、この実施の形態に記載されている構成部品の寸法、材質、形状それらの相対配置等は、発明が適用される装置の構成や各種条件により適宜変更されるべきものであり、この発明の範囲を以下の実施の形態に限定する趣旨のものではない。
本発明はカラーレーザプリンタやデジタル複写機等の電子写真方式を用いた画像形成装置に関するものであって、更に詳しくは光源からのレーザ光を偏向して像担持体上を走査する光学走査装置に関するものである。
【００１１】
（画像形成装置）
図１は、本発明の実施形態における画像形成装置１５の概略構成を示す断面図である。
同図において、１６ａ，１６ｂは後述する構成よりなる第１，第２の光学走査装置であって、画像形成装置１５の鉛直方向下側に配置され、各々おおよそ同一の構成を有する光学走査装置である。本実施形態においては、画像情報に基づいて各々光変調された各レーザ光３Ｃ，３Ｙ，３Ｍ，３Ｋが光学走査装置１６ａ，１６ｂから出射され、各々対応する像担持体としての感光体１Ｃ，１Ｙ，１Ｍ，１Ｋ面上を照射することで、各感光体上に潜像が形成される。ここで、感光体１Ｃ，１Ｙ，１Ｍ，１Ｋの表面はそれぞれ、光学走査装置の装置本体外部の被走査面に相当する。
【００１２】
この潜像は、１次帯電器２Ｃ，２Ｙ，２Ｍ，２Ｋによって各々一様に帯電している感光体１Ｃ，１Ｙ，１Ｍ，１Ｋ面上に形成されており、現像器４Ｃ，４Ｙ，４Ｍ，４Ｋによって各々、シアン，イエロー，マゼンタ，ブラックのトナー像に可視像化される。トナー像は、転写ベルト７上を搬送されてくる記録材８に転写ローラ５Ｃ，５Ｙ，５Ｍ，５Ｋによって順に転写される。このようにして、記録材８上にカラー画像が形成される。
【００１３】
記録材８は給送トレイ９上に積載されており、給送ローラ１０によって１枚ずつ順に給送され、レジストローラ１１によって画像の書き出しタイミングに同期をとって転写ベルト７上に送り出される。そして、転写ベルト７上を精度よく搬送されている間に感光体１Ｃ，１Ｙ，１Ｍ，１Ｋ面上に形成されたシアンの画像、イエローの画像、マゼンタの画像、ブラックの画像が、順に記録材８上に転写されてカラー画像が形成される。
駆動ローラ１２は転写ベルト７の送りを精度よく行っており、回転ムラの小さな図示しない駆動モータと接続している。記録材８上に形成されたカラー画像は定着器１３によって熱定着された後、排出ローラ１４等によって搬送されて装置外に排出される。
【００１４】
（光学走査装置）
図２は、本実施形態における光学走査装置１６ｂ（１６ａも同一構成）の内部構成を説明するための概略斜視図である。ここでは、光学走査装置１６ｂについて説明するが、光学走査装置１６ａも同様の構成となっている。ここで、本実施例では、説明の便宜上、偏向走査手段としての回転多面鏡２１の回転軸方向をＺ方向とし、感光体１Ｃ，１Ｙ，１Ｍ，１Ｋの回転軸方向をＹ方向とし、Ｙ方向に直交し、かつＺ方向に直交する方向をＸ方向とする。また、Ｙ方向を左右方向とする場合もある。
【００１５】
Ｚ方向に沿って配設された光源としての半導体レーザ３０Ｋ，３０Ｍから出射されたレーザ光３（３Ｋ，３Ｍ）は、コリメータレンズ３１Ｋ，３１Ｍ、シリンドリカルレンズ３２を透過した後、回転多面鏡２１に集光される。
回転多面鏡２１は、スキャナモータ２３によって高速に回転駆動され、入射したレーザ光３Ｋ，３Ｍを同方向に偏向する。偏向されたレーザ光３Ｋは、第１ｆθレンズ２０を通過し、折り返しミラー２５に反射された後、第２ｆθレンズ２４Ｋを通過し、折り返しミラー２６により反射され、防塵ガラス２８Ｋを通過して、図１に示す感光体１Ｋ上に集光（結像）される。このように、レーザ光３Ｋが感光体１Ｋ上に偏向走査されることで、感光体１Ｋ上に静電潜像が形成される。
【００１６】
また、偏向された第２のレーザ光３Ｍは、第１ｆθレンズ２０を通過し、第２ｆθレンズ２４Ｍを通過した後、折り返しミラー２７に反射され、防塵ガラス２８Ｍを通過して、図１に示す感光体１Ｍ上に集光される。このように、レーザ光３Ｍが感光体１Ｍ上に偏向走査されることで、感光体１Ｍ上に静電潜像が形成される。ここで、折り返しミラー２５、折り返しミラー２６、折り返しミラー２７は、光学手段を構成している。
【００１７】
上述した回転多面鏡やスキャナモータ、更に折り返しミラー、ｆθレンズ等の光学部品（光学手段）は、樹脂製の光学箱２９に内包（収容）され、その光学箱２９は蓋部材４０
によって密閉（閉塞）される。
光学箱２９には、画像形成装置１５の枠体に高精度に取り付けられるために、３箇所の固定部５１，５２，５３が設けられている。固定部５１，５２，５３が、画像形成装置１５の枠体にバネ等の弾性部材を用いて支持（固定）されることで、光学走査装置１６ｂが画像形成装置１５に取り付けられることになる。
なお、説明の便宜上、図２では光学部品を内包した光学箱２９と蓋部材４０とを分割して斜視図を示したが、実際には光学箱２９と蓋部材４０はビス等の取り付け手段によって締結された状態で、画像形成装置１５内部に配設されることで使用されるものである。
そこで、光学箱２９と蓋部材４０とを取り付ける構成について、以下に説明する。
【００１８】
（蓋部材の取り付け）
図２に示すように、光学箱２９を密閉する蓋部材４０は、その前縁部７１と後縁部７０を取り付け手段により光学箱２９に対して取り付けられている。
後縁部７０においては、光学箱２９と蓋部材４０との位置決め手段（位置決め部）が設けられている。この位置決め手段は、光学箱に一体成形されたピン３３，３４と、蓋部材４０に設けられた丸穴４１、長穴４２で構成されている。この位置決め手段によって蓋部材４０が光学箱２９に対し所定の位置に位置決め保持された状態で、ビス３６によってビス締め部（固定部）３５がビス締めされることで、蓋部材４０が光学箱２９に締結される（取り付けられる、固定される）。ここで、ビス締め部３５は、対向している光学箱２９と蓋部材４０との領域のうちの一部に設けられている。
【００１９】
また、蓋部材４０の前縁部７１においては、蓋部材４０や光学箱２９に一体成形されたフック７２ａ，７２ｂ等によって、蓋部材４０と光学箱２９とが緩く取り付けられている。その結果、蓋部材４０と光学箱２９とが接触する箇所は、光学箱２９に設けられた受部６１，６２及び、蓋部材４０と光学箱２９との間に配設された後述の調整手段に設けられた受部６３に限定される。
これにより、蓋部材４０と光学箱２９は、受部６１，６２，６３の３点を結んでできる三角形７３で形成される面で取り付けられることになる。このように、成形による反りが蓋部材４０に発生し、蓋部材４０と光学箱２９との平面度に誤差が生じた場合であっても、蓋部材４０と光学箱２９との取り付け精度を悪化させないように構成されている。
【００２０】
しかし、蓋部材４０と光学箱２９は深さを有する形状であって、それぞれの周囲の壁がお互いにオーバラップして密閉されている。このため、受部６１，６２，６３の３点以外にも、周囲の壁同士が接触することになり、蓋部材４０と光学箱２９とが取り付けられる場合、蓋部材４０と光学箱２９とが互いに歪みを発生させることが懸念される。このように、本実施形態における光学走査装置１６ｂにおいては、ビス締め部３５でビス締めされることで蓋部材４０と光学箱２９とが固定された場合に、光学箱２９に変形が生じ得る。
【００２１】
図３は、ビス締めによるトルクと位置決め部にかかる力の関係を示した図である。
図３に示すように、蓋部材４０はビス締めトルクＴによって、光学箱２９に対してビス締めトルクＴの方向に連れ回ることとなる。このような場合には、蓋部材４０の位置決め手段である丸穴４１、長穴４２が光学箱２９側のピン３３，３４と突き当たってしまい、光学箱２９のピン３３，３４に矢印方向の力Ｆ１，Ｆ２が加わることとなる。
このように、ピン３３，３４に力が働くことで、光学箱２９が変形してしまうことが懸念される。さらに、図３の紙面鉛直方向におけるビス締めの推進力によっても、蓋部材４０と光学箱２９とが互いに力を及ぼし合い、各々が歪んでしまうことが懸念される。
【００２２】
図２に示すような略四角形を有した光学箱２９に対して、蓋部材４０と光学箱２９との受部を前述した３点（受部６１，６２，６３）とした構成においては、後縁部７０側を主として支持することができる。しかし、３点目の受部６３は前縁部７１のＹ方向中央付近
にあり、前述した三角形７３の領域からはみ出す領域（例えば領域７４）が存在することになる。
このような領域７４は外部からの力に対して弱く、蓋部材４０や光学箱２９が変形してしまう場合には、蓋部材４０や光学箱２９の変形がより大きくなる場所（領域）になってしまうことが懸念される。領域７４付近には、折り返しミラー２７が搭載されているため、蓋部材４０や光学箱２９の変形の影響を大きく受けてしまい、蓋部材４０や光学箱２９が変形した場合には、折り返しミラー２７の姿勢が変動することになる。
【００２３】
さらに、光学走査装置１６ｂは、光学走査装置の調整治具や画像形成装置に対しても、３箇所の固定部５１，５２，５３に取り付けられており、前縁部７１はＹ方向の略中央部に位置する固定部５３のみでＺ方向を支持されている。このため、蓋部材４０や光学箱２９が変形してしまう場合には、前述したように三角形７３の領域からはみ出した箇所の歪みはより大きくなってしまうことが懸念される。
したがって、蓋部材無しで、光学部品の位置調整を行い走査線の傾き（被走査面におけるレーザ光の結像位置）を調整したとしても、蓋部材の取り付けによって走査線の傾きが変動し、画像品質が悪化してしまうことが懸念される。ここで、光学部品の位置調整は、光学走査装置と被走査面とを位置決めする調整治具を用いて行うか、光学走査装置を画像形成装置に装着した状態で行われる。
【００２４】
図４（ａ）は、蓋部材４０の取り付け前の走査線の位置を示す図であり、図４（ｂ）は、蓋部材４０の取り付けによって発生する光学箱２９の変形をシミュレーションした結果を示す図である。なお、これ以降説明するシミュレーションについては、前縁部側に有る折り返しミラー２７及びその載置部（２７１，２７２）の変動についてのみ説明することとする。折り返しミラー２６（図２）においては、折り返しミラー２７と同様の変形が発生し、同様に走査線位置も変動するものであるため、説明を省略する。ここで、折り返しミラー載置部２７１，２７２は、光学箱の支持部に相当する。
【００２５】
折り返しミラー２７は折り返しミラー載置部２７１，２７２に搭載され、蓋部材４０の取り付け前の光学箱２９は変形がほとんど無い。このときのレーザ光３Ｍは、図４（ａ）に示すように、所望の面上を走査する走査線Ｌ１（実線）として示すことができる。
これに対して、前述したように光学箱２９は周囲を壁で囲われているため、ビス締めによる力Ｆ１，Ｆ２によって後縁部７０に歪みが生じた場合、その歪は、前縁部７１にも伝わり、前縁部７１においても歪みが生じることになる（図４（ｂ））。
【００２６】
これによって、光学箱２９は左右で捩れて変形し、折り返しミラー載置部２７１，２７２が左右で逆方向に捩れている。折り返しミラー載置部２７１，２７２の変形は、図４（ｂ）で＋Ｚ方向に特に大きく変動しており、走査線は−Ｘ方向に変動して、変形後のレーザ光３Ｍは、走査線Ｌ１’（実線）で示すような傾きが発生することになる。ここで、図４（ｂ）において、変動前の走査線をＬ１（破線）で示している。
このような走査線傾きの調整方法について、以下の実施例１，２で詳細に説明する。なお、上述した構成と同様の構成部分については同一の符号を付して、その説明は省略する。
【００２７】
（実施例１）
以下、蓋部材４０の取り付けによって発生した走査線の変動を再調整するための調整手段について、実施例１として図２，５，６を用いて説明する。
本実施例では、前縁部７１における蓋部材４０と光学箱２９との接触箇所を移動できるように構成したものである。前縁部７１における蓋部材４０と光学箱２９との接触箇所を移動することで、対向している光学箱２９と蓋部材４０との領域のうちビス締め部３５が設けられていない領域を相対的に接近又は離間させる方向に変位させている。
このような構成によって、互いの歪みの状態を変えることができるため、蓋部材４０の取り付けによって走査線の位置が変動した場合でも、適当に前記接触箇所を移動させることで、走査線を元の位置に戻すことが可能となる。
図５は、本実施例の調整手段としての調整部材６０について説明するための概略断面図である。図６は、調整部材６０の移動後における光学走査装置について説明するための概略斜視図である。ここで、本実施例の調整手段は、変位手段に相当する。
【００２８】
蓋部材４０の取り付け時において、蓋部材４０は光学箱２９にある少なくとも３箇所の受部（蓋受部）６１，６２，６３に支持されている。このうち受部６３は、調整部材６０に設けられた蓋部材４０の裏面と接触する接触部であって、調整部材６０は光学箱２９の外壁（側壁）２９Ｗに取り付けられている。すなわち、調整部材６０は光学箱２９の外壁（側壁）２９Ｗと蓋部材４０とに挟持されるように配設されている。また、調整部材６０は外壁２９Ｗの幅に対応した溝形状６４が設けられており、外壁２９Ｗをガイドにして±Ｙ方向への移動が可能になっている。
【００２９】
前述した蓋部材４０の取り付けによって走査線の位置変動が発生して、所望の走査線の位置を得ることができなかった場合、調整部材６０を用いて、走査線の位置の再調整を行う。
具体的には、図６に示すように調整部材６０の取っ手６６を工具又は作業者が保持して、調整部材６０を±Ｙ方向へ移動させることによって、受部６３の位置を変化させる。すると、図示しない蓋部材は、光学箱２９の新たな受部６１，６２，６３’の３箇所で支えられることになる。ここで、蓋部材取り付け時の受部６１，６２，６３（図２）と、調整部材移動時の受部６１，６２，６３’（図６）とを比較すると、光学箱２９に対する蓋部材から受ける荷重の位置が変化し、光学箱２９の変形の様子も変化することになる。
【００３０】
蓋部材４０の取り付け後に調整部材６０を移動させ、調整部材６０の移動可能範囲の一端にあるときの光学箱２９の変形をシミュレーションした結果を図７に示す。
調整部材６０が移動可能範囲の一端Ｅ１にあるとき、光学箱２９は蓋部材４０から荷重Ｆ３を受けることになる。荷重Ｆ３は、光学走査装置の画像形成装置への固定部５１，５２，５３を結んで出来る三角形の領域の外側に有り、外部からの力によって発生する変形が大きくなる場所に位置している。このとき、図４（ｂ）を用いて説明したように、ビス締めによる力Ｆ１，Ｆ２によって、光学箱２９にある折り返しミラー載置部２７１，２７２が＋Ｚ方向に大きく変動しようとする。
しかし、本実施例では、図７に示すように、荷重Ｆ３によって光学箱２９を−Ｙ方向側において−Ｚ方向に変形させ、結果として得られる光学箱２９の変形を小さくできたことがわかる。
【００３１】
荷重Ｆ３によって、光学箱２９の−Ｙ方向側における変動と、＋Ｙ方向側における変動とに差を発生させることによって、光学箱２９はＸ方向に左右で捩れて変形し、折り返しミラー２７（図２）の載置部２７１，２７２が左右で逆方向に捩れることになる。これによって、光学箱２９は蓋部材４０取り付け時に発生した光学箱２９の捩れた変形状態（図４（ｂ））を相殺するように変形することになる。このことで、レーザ光３Ｍの走査線位置Ｌ１１（実線）を得ることができ、蓋部材４０の取り付け前に得られた走査線位置Ｌ１（破線）と同程度の走査線傾きを得ることができる。
【００３２】
つまり本実施例では、蓋部材４０が後縁部７０で取り付け固定された光学箱２９において、前縁部７１が歪み、折り返しミラー載置部の捩れによって走査線の傾きが生じた場合に、前縁部７１において蓋部材４０からの荷重点を適宜移動させることを特徴とする。このように前縁部７１において蓋部材４０からの荷重点を適当に移動させることで、ビス３６によって締結されるビス締め部３５を支点として光学箱２９を変形させ、折り返しミラ
ー載置部２７１，２７２を変位させることができる。これにより、前縁部７１の歪みを相殺することができるので、折り返しミラー２７を変位させることができ、走査線の傾きを低減することが可能となる。
【００３３】
特に、調整部材６０の位置は、光学走査装置の画像形成装置への固定部５１，５２，５３を結んで出来る三角形７３’（図７）の領域の外側に設けると、光学箱２９の変形調整を効果的に行うことができる。固定部５１，５２，５３は、外部からの応力に対して剛性が有り、光学箱２９に発生する変形が最も小さい領域である。
その反面、三角形領域の外側は剛性が他よりも弱く、外部からの応力によって発生する光学箱２９の変形が大きくなる領域である。このため、三角形領域の外側に蓋部材４０からの荷重を加えることによって、走査線の傾き調整の敏感度を高くすることができ、走査線の傾きを調整しやすくすることができる。
【００３４】
上述したように本発明者は、鋭意検討の結果、調整部材６０の移動量と走査線の傾き量との関係は、図８に示すように相関関係があることを確認した。すなわち、調整部材６０を移動させる（図６記載の−Ｙ方向）ことによって、走査線の傾きを変えることができ、蓋部材４０を光学箱２９にビス締結した後にも、走査線の傾きを調整することができることを確認した。
【００３５】
以上説明したように、本実施例によれば、光学箱２９に蓋部材４０を取り付けた後に、調整手段によって光学箱２９と蓋部材４０に応力を発生させ光学箱２９と蓋部材４０とに変形を発生させることで、走査線の傾きを再調整することができる。これにより、被走査面上のレーザ光の照射位置を高精度に得ることができる。このように、簡単な構成で走査線の再調整を行うことができるので、生産性やサービス性を低下させず、高精度な走査線を得ることが可能な光学走査装置を提供することができる。
なお、本実施例においては調整部材６０を−Ｙ方向側に移動させた場合について検討したが、これは図２記載の前縁部７１に設けられたフック７２ａ，７２ｂによって、調整部材６０の移動範囲が限定されるためである。フック７２ａ，７２ｂ等の形状を最適化することによって、調整部材６０の移動可能範囲は、＋Ｙ、−Ｙ方向どちらの方向にも設けることが可能である。
【００３６】
（実施例２）
次に、実施例２について、図９，１０を用いて説明する。図９は、本実施例における光学走査装置の内部構成を示す概略斜視図である。図１０は、本実施例の調整手段を説明するための概略断面図であり、（ａ）は拡大図、（ｂ）は調整手段としてのネジ部材を締め付け時の状態について説明するための図である。
【００３７】
本実施例では、光学箱２９に蓋部材４０を取り付けるために複数の受部（取り付け部）６１，６２，８３，８４が設けられている。受部６１，６２，８３，８４は、光学箱２９と蓋部材４０とが接触した受部６１，６２，８３、及び、光学箱２９と蓋部材４０とが隙間８８を有し非接触となる受部８４から成る。なお、受部６１，６２の構成は実施例１と同様である。
受部８４において、蓋部材４０には貫通穴４３が設けられると共に、光学箱２９にはネジ部材８６を取り付けるための取り付け部８７が設けられている。ここで、ネジ部材８６と取り付け部８７は、変位手段（調整手段）を構成している。
このように、本実施例では調整手段としてネジ部材８６を用いており、ネジ部材８６は、貫通穴４３を介して取り付け部８７に取り付けられる。
そして、ネジ部材８６を回転させて締め付けたり、緩めたりすることによって、隙間８８の大きさ（量）が変化し、蓋部材４０と光学箱２９は共に変形することになる。ネジ部材８６を回転させて締め付けたり、緩めたりすることによって、対向している光学箱２９
と蓋部材４０との領域のうちビス締め部３５が設けられていない領域を相対的に接近又は離間させる方向に変位させている。
【００３８】
図１０（ｂ）に示すように、ネジ部材８６の締め付けによって、光学箱２９と蓋部材４０とに荷重Ｆ４が発生する。荷重Ｆ４は、蓋部材４０と光学箱２９とを互いに引き付け合い、ビス締め部３５を支点として、蓋部材４０を矢印Ｂ方向に、光学箱２９を矢印Ｃ方向にそれぞれ変形させる。これによって、光学箱２９が変形することで、光学箱２９にある折り返しミラー載置部２７１，２７２が変形することになる。
【００３９】
ここで蓋部材４０の取り付け後に、調整手段の締め付けによって隙間８８の量を小さくした場合の光学箱２９の変形をシミュレーションした結果を図１１に示す。
図４（ｂ）を用いて説明したのと同様に、ビス締めによる力Ｆ１，Ｆ２によって、光学箱２９にある折り返しミラー載置部２７１，２７２が＋Ｚ方向に大きく変動しようとする。しかし、本実施例では、図１１に示すように、荷重Ｆ４によって光学箱２９を−Ｙ方向側において−Ｚ方向に変形させることができ、結果として得られる光学箱２９の変形を小さくできることがわかる。
【００４０】
荷重Ｆ４によって、光学箱２９の−Ｙ方向側における変動と、＋Ｙ方向側における変動とに差を発生させることによって、光学箱２９にある折り返しミラー載置部２７１，２７２が左右非対称に変形することになる。これによって、光学箱２９は蓋部材取り付け時に発生した光学箱２９の変形状態（図４（ｂ））を相殺するように変形することになる。これにより、レーザ光３Ｍの走査線位置Ｌ１２（実線）を得ることができ、蓋部材４０の取り付け前に得られた走査線位置Ｌ１’（破線）と同程度の走査線傾きを得ることができる。
【００４１】
つまり蓋部材４０が後縁部７０に取り付け固定された光学箱２９において前縁部７１が歪み、折り返しミラー載置部の捩れによって走査線の傾きが生じた場合に、本実施例では、蓋部材４０の取り付け部において蓋部材４０と光学箱２９とに荷重を加えている。これにより、前縁部７１の歪みを相殺する状態を作り出すことができるので、折り返しミラー２７を変位させることができ、走査線の傾きを低減することが可能となる。
【００４２】
本実施例では、調整手段としてネジ部材を例に挙げて説明したが、これに限定されるものではない。図１２は、調整手段の変形例を示す概略斜視図である。例えば、図１２（ａ）に示すような板状部材１８６を、光学箱２９に備えられた調整手段保持部１８７に取り付け、板状部材１８６を回転させることで、蓋部材４０と光学箱２９とを変形させてもよい。
同様に、図１２（ｂ）に示すようなくさび形状をした調整部材２８６を、光学箱２９に備えられた調整手段保持部２８７に取り付け、調整部材２８６を移動させることで、蓋部材４０と光学箱２９とを変形させてもよい。
【００４３】
本発明者は、鋭意検討の結果、調整手段による隙間の調整量と走査線の傾き量との間には、図１３に示すような相関関係があることを確認した。すなわち、調整手段によって光学箱２９と蓋部材４０との間の隙間量を調整することによって、走査線の傾きを変化させることができ、蓋部材４０を光学箱２９にビス締結した後にも、走査線の傾きを再調整することができることを確認した。
以上説明したように、本実施例においても、実施例１同様の効果を得ることができる。
【符号の説明】
【００４４】
２１…回転多面鏡、２５…折り返しミラー、２６…折り返しミラー、２７…折り返しミラー、２９…光学箱、３０…半導体レーザ、４０…蓋部材、６０…調整部材、２７１，２
７２…折り返しミラー載置部
【図１】
2012242757.tif 000003
【図２】
2012242757.tif 000004
【図３】
2012242757.tif 000005
【図４】
2012242757.tif 000006
【図５】
2012242757.tif 000007
【図６】
2012242757.tif 000008
【図７】
2012242757.tif 000009
【図８】
2012242757.tif 000010
【図９】
2012242757.tif 000011
【図１０】
2012242757.tif 000012
【図１１】
2012242757.tif 000013
【図１２】
2012242757.tif 000014
【図１３】
2012242757.tif 000015