(57)【要約】【課題】何らかの原因で強度画像や距離画像内の画素値が異常値になっている場合でも、目標物を検出することができるレーダ画像処理装置及びレーダ画像処理方法を得ることを目的とする。【解決手段】目標領域検出処理部１２が、目標候補画素設定処理部１１により設定された目標候補画素と特定物が不明な画素（目標物、背景領域及びクラッタ領域のいずれも構成していない画素）とから構成される和集合の領域の空間的な大きさが、予め設定されている目標物の空間的な大きさと近似しているか否かを判定する。【選択図】図１
2012255657.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電磁波を空間に放射して反射波を受信するレーダの高度角度情報を用いて、上記電磁波の反射点までの距離値が画素値である距離画像を三次元化することで、上記反射点の高度値が画素値である高度画像を生成する高度画像生成手段と、上記高度画像生成手段により生成された高度画像内の各画素値と所定の閾値を比較することで、目標物を構成している可能性がある高度画像内の画素を検出するとともに、上記反射点における信号強度値が画素値である強度画像内の各画素値と所定の閾値を比較することで、上記目標物を構成している可能性がある強度画像内の画素を検出する目標物構成画素検出手段と、上記目標物構成画素検出手段により検出された高度画像内の画素の中で、上記目標物構成画素検出手段により検出された強度画像内の画素と同じ位置にある画素を目標候補画素に設定する目標候補画素設定手段と、上記高度画像生成手段により生成された高度画像及び上記強度画像を構成している画素の中で、上記目標物以外を構成している画素を検出する目標物以外構成画素検出手段と、上記高度画像生成手段により生成された高度画像及び強度画像内の画素の中で、上記目標物構成画素検出手段及び上記目標物以外構成画素検出手段により検出された画素以外の画素と上記目標候補画素設定手段により設定された目標候補画素とから構成される和集合の領域の空間的な大きさが、予め設定されている上記目標物の空間的な大きさと近似しているか否かを判定する近似判定手段とを備えたレーダ画像処理装置。
【請求項２】
目標物以外構成画素検出手段は、高度画像生成手段により生成された高度画像及び強度画像を構成している画素の中で、背景領域を構成している画素及びクラッタ領域を構成している画素を検出することを特徴とする請求項１記載のレーダ画像処理装置。
【請求項３】
距離画像内の画素値に応じて強度画像内の画素値を補正し、画素値補正後の強度画像を目標物構成画素検出手段及び目標物以外構成画素検出手段に出力する画素値補正手段を設けたことを特徴とする請求項１または請求項２記載のレーダ画像処理装置。
【請求項４】
近似判定手段は、目標物構成画素検出手段及び目標物以外構成画素検出手段により検出された画素以外の画素が異常値であるか否かを判定し、上記画素に係る信号強度値及び距離値が異常値であれば、上記画素を和集合の領域を構成している画素から除外することを特徴とする請求項１から請求項３のうちのいずれか１項記載のレーダ画像処理装置。
【請求項５】
高度画像生成手段により生成された高度画像及び強度画像を構成している画素の中で、略同一値の画素値を有する画素が集まっている領域、あるいは、画素値が連続的に変化している画素が集まっている領域を特定して、上記高度画像及び上記強度画像を上記領域単位に分割する画像分割手段を設け、
目標物構成画素検出手段、目標候補画素設定手段と、目標物以外構成画素検出手段及び近似判定手段が、上記画像分割手段により分割された領域単位に各々の処理を実施することを特徴とする請求項１から請求項４のうちのいずれか１項記載のレーダ画像処理装置。
【請求項６】
高度画像生成手段が、電磁波を空間に放射して反射波を受信するレーダの高度角度情報を用いて、上記電磁波の反射点までの距離値が画素値である距離画像を三次元化することで、上記反射点の高度値が画素値である高度画像を生成する高度画像生成処理ステップと、目標物構成画素検出手段が、上記高度画像生成処理ステップで生成された高度画像内の各画素値と所定の閾値を比較することで、目標物を構成している可能性がある高度画像内の画素を検出するとともに、上記反射点における信号強度値が画素値である強度画像内の各画素値と所定の閾値を比較することで、上記目標物を構成している可能性がある強度画像内の画素を検出する目標物構成画素検出処理ステップと、目標候補画素設定手段が、上記目標物構成画素検出処理ステップで検出された高度画像内の画素の中で、上記目標物構成画素検出処理ステップで検出された強度画像内の画素と同じ位置にある画素を目標候補画素に設定する目標候補画素設定処理ステップと、目標物以外構成画素検出手段が、上記高度画像生成処理ステップで生成された高度画像及び上記強度画像を構成している画素の中で、上記目標物以外を構成している画素を検出する目標物以外構成画素検出処理ステップと、近似判定手段が、上記高度画像生成処理ステップで生成された高度画像及び強度画像内の画素の中で、上記目標物構成画素検出処理ステップ及び上記目標物以外構成画素検出処理ステップで検出された画素以外の画素と上記目標候補画素設定処理ステップで設定された目標候補画素とから構成される和集合の領域の空間的な大きさが、予め設定されている上記目標物の空間的な大きさと近似しているか否かを判定する近似判定処理ステップとを備えたレーダ画像処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、空間に放射された電磁波の反射波から得られる強度画像（反射点の信号強度が画素値である画像）と距離画像（反射点までの距離値が画素値である画像）から目標物を検出するレーダ画像処理装置及びレーダ画像処理方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
以下の特許文献１に開示されているレーダ画像処理装置では、電磁波を空間に放射して反射波を受信するレーダから、その電磁波の反射点までの距離値が画素値である距離画像を入力すると、そのレーダが設置されている高度とビーム角度（ビーム走査方向であるアジマス方向の角度、エレベーション方向の角度）を用いて、その距離画像を三次元化することで、その反射点の高度値が画素値である高度画像を生成している。
このレーダ画像処理装置では、高度画像を生成すると、その高度画像内の各画素値と所定の閾値を比較することで、目標物を構成している画素を検出する。
なお、このレーダ画像処理装置では、目標物の誤検出を防止するため、雑音や電磁波の干渉によって画素値が異常値になっている場合、その画素を検出対象の画素から除外するようにしている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１０−１９７３７８号公報（段落番号［０００７］）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来のレーダ画像処理装置は以上のように構成されているので、画素値が異常値である画素を検出対象の画素から除外することで目標物の誤検出を防止している。しかし、画素値が異常値である画素が目標物を構成している画素である可能性は排除できず、画素値が異常値である画素が目標物を構成している画素である場合もある。このような場合には、当該画素を検出対象の画素から除外することで、目標物を見逃すことになり、目標物の検出性能が劣化してしまう課題があった。
【０００５】
この発明は上記のような課題を解決するためになされたもので、何らかの原因で強度画像や距離画像内の画素値が異常値になっている場合でも、目標物を検出することができるレーダ画像処理装置及びレーダ画像処理方法を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明に係るレーダ画像処理装置は、電磁波を空間に放射して反射波を受信するレーダの高度角度情報を用いて、その電磁波の反射点までの距離値が画素値である距離画像を三次元化することで、その反射点の高度値が画素値である高度画像を生成する高度画像生成手段と、高度画像生成手段により生成された高度画像内の各画素値と所定の閾値を比較することで、目標物を構成している可能性がある高度画像内の画素を検出するとともに、その反射点における信号強度値が画素値である強度画像内の各画素値と所定の閾値を比較することで、目標物を構成している可能性がある強度画像内の画素を検出する目標物構成画素検出手段と、目標物構成画素検出手段により検出された高度画像内の画素の中で、目標物構成画素検出手段により検出された強度画像内の画素と同じ位置にある画素を目標候補画素に設定する目標候補画素設定手段と、高度画像生成手段により生成された高度画像及び強度画像を構成している画素の中で、目標物以外を構成している画素を検出する目標物以外画素検出手段とを設け、近似判定手段が、高度画像生成手段により生成された高度画像及び強度画像内の画素の中で、目標物構成画素検出手段及び目標物以外画素検出手段により検出された画素以外の画素と目標候補画素設定手段により設定された目標候補画素とから構成される和集合の領域の空間的な大きさが、予め設定されている上記目標物の空間的な大きさと近似しているか否かを判定するようにしたものである。
【発明の効果】
【０００７】
この発明によれば、電磁波を空間に放射して反射波を受信するレーダの高度角度情報を用いて、その電磁波の反射点までの距離値が画素値である距離画像を三次元化することで、その反射点の高度値が画素値である高度画像を生成する高度画像生成手段と、高度画像生成手段により生成された高度画像内の各画素値と所定の閾値を比較することで、目標物を構成している可能性がある高度画像内の画素を検出するとともに、その反射点における信号強度値が画素値である強度画像内の各画素値と所定の閾値を比較することで、目標物を構成している可能性がある強度画像内の画素を検出する目標物構成画素検出手段と、目標物構成画素検出手段により検出された高度画像内の画素の中で、目標物構成画素検出手段により検出された強度画像内の画素と同じ位置にある画素を目標候補画素に設定する目標候補画素設定手段と、高度画像生成手段により生成された高度画像及び強度画像を構成している画素の中で、目標物以外を構成している画素を検出する目標物以外画素検出手段とを設け、近似判定手段が、高度画像生成手段により生成された高度画像及び強度画像内の画素の中で、目標物構成画素検出手段及び目標物以外画素検出手段により検出された画素以外の画素と目標候補画素設定手段により設定された目標候補画素とから構成される和集合の領域の空間的な大きさが、予め設定されている上記目標物の空間的な大きさと近似しているか否かを判定するように構成したので、何らかの原因で強度画像や距離画像内の画素値が異常値になっている場合でも、目標物を検出することができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】この発明の実施の形態１によるレーダ画像処理装置を示す構成図である。
【図２】この発明の実施の形態１によるレーダ画像処理装置の処理内容（レーダ画像処理方法）を示すフローチャートである。
【図３】検出マップ作成処理部４によりフラグが設定された検出マップの一例を示す説明図である。
【図４】第１の検出マップ更新処理部６によりフラグが設定された検出マップの一例を示す説明図である。
【図５】第２の検出マップ更新処理部８によりフラグが設定された検出マップの一例を示す説明図である。
【図６】第３の検出マップ更新処理部１０によりフラグが設定された検出マップの一例を示す説明図である。
【図７】目標候補画素設定処理部１１により設定された目標候補画素を示す説明図である。
【図８】目標領域検出処理部１２により特定された和集合の領域を示す説明図である。
【図９】この発明の実施の形態２によるレーダ画像処理装置を示す構成図である。
【図１０】この発明の実施の形態３によるレーダ画像処理装置を示す構成図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
実施の形態１．
図１はこの発明の実施の形態１によるレーダ画像処理装置を示す構成図である。
図１のレーダ画像処理装置では、電磁波を空間に放射して反射波を受信するレーダから強度画像（反射点の信号強度が画素値である画像）と距離画像（反射点までの距離値が画素値である画像）が与えられ、また、レーダの高度角度情報（例えば、レーダが設置されている高度、電磁波のビーム走査角度（アジマス方向の角度、エレベーション方向の角度））が与えられるものとする。
【００１０】
図１において、強度値補正処理部１は距離画像内の画素値に応じて強度画像内の画素値を補正し、画素値補正後の強度画像を背景検出処理部３に出力する処理を実施する。なお、強度値補正処理部１は画素値補正手段を構成している。３次元変換処理部２はレーダの高度角度情報を用いて、距離画像を三次元化することで、反射点の高度値が画素値である高度画像を生成し、その高度画像を背景検出処理部３に出力する処理を実施する。なお、３次元変換処理部２は高度画像生成手段を構成している。
【００１１】
背景検出処理部３は強度値補正処理部１から出力された強度画像を構成している画素の中で、背景領域を構成している画素（目標物以外を構成している画素）を検出するとともに、３次元変換処理部２から出力された高度画像を構成している画素の中で、背景領域を構成している画素を検出する処理を実施する。
また、背景検出処理部３は強度値補正処理部１から出力された強度画像及び３次元変換処理部２から出力された高度画像をクラッタ検出処理部５に出力する処理を実施する。
【００１２】
検出マップ作成処理部４は強度画像及び高度画像を構成している画素と同数のフラグ（例えば、強度画像及び高度画像が「ｍ×ｎ画素」の画像であれば、ｍ×ｎ個のフラグ）を保持する検出マップを作成し、背景検出処理部３により検出された画素（背景領域を構成している画素）に対応するフラグを“１”、それ以外の画素に対応するフラグを“０”に設定する処理を実施する。
【００１３】
クラッタ検出処理部５は背景検出処理部３から出力された強度画像を構成している画素の中で、クラッタ領域を構成している画素（目標物以外を構成している画素）を検出するとともに、背景検出処理部３から出力された高度画像を構成している画素の中で、クラッタ領域を構成している画素を検出する処理を実施する。
また、クラッタ検出処理部５は背景検出処理部３から出力された強度画像及び高度画像を高度値閾値処理部７及び強度値閾値処理部９に出力する処理を実施する。
【００１４】
第１の検出マップ更新処理部６は検出マップ作成処理部４により作成された検出マップ内のフラグのうち、クラッタ検出処理部５により検出された画素（クラッタ領域を構成している画素）に対応するフラグを“１”に設定し、その検出マップを第２の検出マップ更新処理部８に出力する処理を実施する。
なお、背景検出処理部３、検出マップ作成処理部４、クラッタ検出処理部５及び第１の検出マップ更新処理部６から目標物以外構成画素検出手段が構成されている。
【００１５】
高度値閾値処理部７はクラッタ検出処理部５から出力された高度画像内の各画素値と閾値Ａを比較することで、目標物を構成している可能性がある高度画像内の画素を検出する処理を実施する。
第２の検出マップ更新処理部８は第１の検出マップ更新処理部６から出力された検出マップ内のフラグのうち、高度値閾値処理部７により検出された画素（目標物を構成している可能性がある高度画像内の画素）に対応するフラグを“１”に設定し、その検出マップを第３の検出マップ更新処理部１０に出力する処理を実施する。
【００１６】
強度値閾値処理部９はクラッタ検出処理部５から出力された強度画像内の各画素値と閾値Ｂを比較することで、目標物を構成している可能性がある強度画像内の画素を検出する処理を実施する。
第３の検出マップ更新処理部１０は第２の検出マップ更新処理部８から出力された検出マップ内のフラグのうち、強度値閾値処理部９により検出された画素（目標物を構成している可能性がある強度画像内の画素）に対応するフラグを“１”に設定し、その検出マップを目標領域検出処理部１２に出力する処理を実施する。
なお、高度値閾値処理部７、第２の検出マップ更新処理部８、強度値閾値処理部９及び第３の検出マップ更新処理部１０から目標物構成画素検出手段が構成されている。
【００１７】
目標候補画素設定処理部１１は高度値閾値処理部７により検出された画素と強度値閾値処理部９により検出された画素の論理積を求めることにより、目標物を構成している可能性がある高度画像内の画素の中で、目標物を構成している可能性がある強度画像内の画素と同じ位置にある画素を目標候補画素に設定する処理を実施する。なお、目標候補画素設定処理部１１は目標候補画素設定手段を構成している。
【００１８】
目標領域検出処理部１２は目標候補画素設定処理部１１により設定された目標候補画素と第３の検出マップ更新処理部１０から出力された検出マップ内のフラグ“０”に対応する画素とから構成される和集合の領域を特定し、その和集合の領域の空間的な大きさが、予め設定されている目標物の空間的な大きさと近似しているか否かを判定する処理を実施する。
目標領域検出処理部１２は和集合の領域の空間的な大きさが、目標物の空間的な大きさと近似していれば、目標物を検出した旨を示す目標検出情報を出力する。なお、目標領域検出処理部１２は近似判定手段を構成している。
【００１９】
図１の例では、レーダ画像処理装置の構成要素である強度値補正処理部１、３次元変換処理部２、背景検出処理部３、検出マップ作成処理部４、クラッタ検出処理部５、第１の検出マップ更新処理部６、高度値閾値処理部７、第２の検出マップ更新処理部８、強度値閾値処理部９、第３の検出マップ更新処理部１０、目標候補画素設定処理部１１及び目標領域検出処理部１２のそれぞれが専用のハードウェア（例えば、ＣＰＵを実装している半導体集積回路、あるいは、ワンチップマイコンなど）で構成されているものを想定しているが、レーダ画像処理装置がコンピュータで構成されていてもよい。
レーダ画像処理装置がコンピュータで構成される場合、強度値補正処理部１、３次元変換処理部２、背景検出処理部３、検出マップ作成処理部４、クラッタ検出処理部５、第１の検出マップ更新処理部６、高度値閾値処理部７、第２の検出マップ更新処理部８、強度値閾値処理部９、第３の検出マップ更新処理部１０、目標候補画素設定処理部１１及び目標領域検出処理部１２の処理内容を記述しているプログラムをコンピュータのメモリに格納し、当該コンピュータのＣＰＵが当該メモリに格納されているプログラムを実行するようにすればよい。
図２はこの発明の実施の形態１によるレーダ画像処理装置の処理内容（レーダ画像処理方法）を示すフローチャートである。
【００２０】
次に動作について説明する。
電磁波を空間に放射して反射波を受信するレーダから強度画像、距離画像及びレーダの高度角度情報が与えられるが、電磁波の反射点における信号強度値は、レーダから反射点までの相対距離が長い程、減衰が大きくなる。
そこで、強度値補正処理部１は、強度画像内の画素値である強度値が相対距離の影響を受けないようにするために、距離画像内の画素値に応じて強度画像内の画素値を補正する（図２のステップＳＴ１）。
具体的には、強度画像を構成している画素に対応している距離画像内の画素（同じ位置に存在している画素）の画素値である距離値が“Ｌ”である場合、例えば、レーザ光を送受するレーザレーダ（光波レーダ、ライダ）では、受信強度値は相対距離の２乗に反比例するため、その距離値Ｌの２乗を係数Ｃとし、その係数Ｃを強度画像内の画素値である強度値に乗算することで、その強度値を補正する。
Ｃ＝Ｌ２
補正後の強度値＝補正前の強度値×Ｃ
【００２１】
３次元変換処理部２は、レーダから距離画像を受けると、そのレーダの高度角度情報を用いて、その距離画像を三次元化することで３次元画像（反射点の高度値、奥行及び幅を要素とする画像）を生成する。
そして、３次元変換処理部２は、その３次元画像の１要素である反射点の高度値を画素値とする高度画像を生成する（ステップＳＴ２）。
距離画像の三次元化方法は公知の技術であり、特に問わないが、例えば、特許文献１に開示されている方法を用いることができる。
【００２２】
背景検出処理部３は、強度値補正処理部１から画素値補正後の強度画像を受けると、その強度画像を構成している画素の中で、背景領域を構成している画素（目標物以外を構成している画素）を検出する（ステップＳＴ３）。
また、背景検出処理部３は、３次元変換処理部２から高度画像を受けると、その高度画像を構成している画素の中で、背景領域を構成している画素を検出する（ステップＳＴ３）。
【００２３】
ここで、背景領域を構成している画素を検出する方法は、公知の方法を使用すればよいが、例えば、背景が地面であれば、高度画像では、高度値がレーダの高度値分だけ低い値を持ち、かつ、高度値の標準偏差が相対的に小さくなることを利用する方法が考えられる。
具体的には、高度画像内の任意領域（例えば、目標物の空間的な大きさよりも大きな領域）の高度値の平均値と標準偏差値を算出し、その平均値がほぼ０で（すなわち、レーダとの相対高度がレーダの高度情報として得られる高度値とほぼ等しく）、かつ、その標準偏差値が所定値よりも小さければ、その任意領域は背景（地面）であると判定し、その標準偏差値が所定値よりも大きければ、その任意領域は背景（地面）以外であると判定する方法である。
また、背景が地面であれば、強度画像では、強度値が相対的に低い値になることを利用する方法が考えられる。
具体的には、強度画像内の画素値が所定値より小さければ、その画素値を有する画素は、背景（地面）を構成している画素であると判定し、強度画像内の画素値が所定値より大きければ、その画素値を有する画素は、背景（地面）以外を構成している画素であると判定する方法である。
【００２４】
検出マップ作成処理部４は、強度画像及び高度画像を構成している画素と同数のフラグ（例えば、強度画像及び高度画像が「ｍ×ｎ画素」の画像であれば、ｍ×ｎ個のフラグ）を保持する検出マップを作成する。
検出マップ作成処理部４は、背景検出処理部３が背景領域を構成している画素を検出すると、その画素に対応するフラグを“１”に設定し、それ以外の画素に対応するフラグを“０”に設定する（ステップＳＴ４）。
図３は検出マップ作成処理部４によりフラグが設定された検出マップの一例を示す説明図である。
図３では、画像上部や左端などが背景領域である例を示している。
なお、図３では、図面を見易くするため“０”のフラグは記述しておらず、空白の欄には、“０”のフラグが設定されているものとする。
【００２５】
クラッタ検出処理部５は、背景検出処理部３から画素値補正後の強度画像を受けると、その強度画像を構成している画素の中で、クラッタ領域を構成している画素（目標物以外を構成している画素）を検出する（ステップＳＴ５）。
また、クラッタ検出処理部５は、背景検出処理部３から高度画像を受けると、その高度画像を構成している画素の中で、クラッタ領域を構成している画素を検出する（ステップＳＴ５）。
【００２６】
クラッタ領域を構成している画素の検出処理は、目標物が持ち得る画素値（信号強度値、高度値）以外の画素値を有する物体をクラッタとして検出するものである。
例えば、市街地において、普通自動車が検出対象の目標物である場合、街路樹や建物がクラッタとなる。
具体的には、予め、クラッタ検出処理部５がクラッタ（例えば、街路樹、建物）の画素値Ｐｃ（信号強度値、高度値）を記憶しておき、例えば、下記の式（１）に示すように、強度画像及び高度画像内の画素値Ｐが、クラッタの画素値Ｐｃの±１０％の範囲内であれば、その画素値Ｐを有する画素は、クラッタ領域を構成している画素であると判定する。
Ｐｃ×０．９  ≦  Ｐ  ≦  Ｐｃ×１．１                        （１）
【００２７】
第１の検出マップ更新処理部６は、クラッタ検出処理部５がクラッタ領域を構成している画素を検出すると、検出マップ作成処理部４により作成された検出マップ内のフラグのうち、クラッタ領域を構成している画素に対応するフラグを“１”に設定して、その検出マップを第２の検出マップ更新処理部８に出力する（ステップＳＴ６）。
図４は第１の検出マップ更新処理部６によりフラグが設定された検出マップの一例を示す説明図である。
図４では、画像中央の下部にクラッタ領域がある例を示している。
ここでは、クラッタ領域を構成している画素に対応するフラグに“１”を設定する例を示しているが、クラッタの種類に応じたフラグを設定するようにしてもよい。
例えば、クラッタが街路樹であれば“２”を設定し、クラッタが建物であれば“３”を設定するなどが考えられる。
【００２８】
高度値閾値処理部７は、クラッタ検出処理部５から高度画像を受けると、その高度画像内の各画素値Ｐと閾値Ａを比較することで、目標物を構成している可能性がある高度画像内の画素を検出する（ステップＳＴ７）。
例えば、下記の式（２）に示すように、高度画像内の画素値Ｐが閾値Ａより大きければ、その画素値Ｐを有する画素は、目標物を構成している可能性がある画素であると判定する。
Ｐ  ≧  Ａ                                                  （２）
下記の式（３）に示すように、高度画像内の画素値Ｐが、閾値Ａ１の±１０％の範囲内であれば、その画素値Ｐを有する画素は、目標物を構成している可能性がある画素であると判定するようにしてもよい。
Ａ１×０．９  ≦  Ｐ  ≦  Ａ１×１．１                      （３）
【００２９】
第２の検出マップ更新処理部８は、高度値閾値処理部７が、目標物を構成している可能性がある高度画像内の画素を検出すると、第１の検出マップ更新処理部６から出力された検出マップ内のフラグのうち、目標物を構成している可能性がある高度画像内の画素に対応するフラグを“１”に設定し、その検出マップを第３の検出マップ更新処理部１０に出力する（ステップＳＴ８）。
図５は第２の検出マップ更新処理部８によりフラグが設定された検出マップの一例を示す説明図である。
図５では、画像中央より右側に目標物を構成している可能性がある画素がある例を示している。
【００３０】
強度値閾値処理部９は、クラッタ検出処理部５から強度画像を受けると、その強度画像内の各画素値Ｐと閾値Ｂを比較することで、目標物を構成している可能性がある強度画像内の画素を検出する（ステップＳＴ９）。
例えば、下記の式（４）に示すように、強度画像内の画素値Ｐが閾値Ｂより大きければ、その画素値Ｐを有する画素は、目標物を構成している可能性がある画素であると判定する。
Ｐ  ≧  Ｂ                                                  （４）
下記の式（５）に示すように、強度画像内の画素値Ｐが、閾値Ｂ１の±１０％の範囲内であれば、その画素値Ｐを有する画素は、目標物を構成している可能性がある画素であると判定するようにしてもよい。
Ｂ１×０．９  ≦  Ｐ  ≦  Ｂ１×１．１                      （５）
【００３１】
第３の検出マップ更新処理部１０は、強度値閾値処理部９が、目標物を構成している可能性がある高度画像内の画素を検出すると、第２の検出マップ更新処理部８から出力された検出マップ内のフラグのうち、目標物を構成している可能性がある高度画像内の画素に対応するフラグを“１”に設定し、その検出マップを目標領域検出処理部１２に出力する（ステップＳＴ１０）。
図６は第３の検出マップ更新処理部１０によりフラグが設定された検出マップの一例を示す説明図である。
図６では、画像中央より右側に目標物を構成している可能性がある画素がある例を示しているが、高度値閾値処理部７により検出された画素と若干ずれている。
【００３２】
目標候補画素設定処理部１１は、高度値閾値処理部７及び強度値閾値処理部９が、目標物を構成している可能性がある高度画像内の画素を検出すると、高度値閾値処理部７により検出された画素と強度値閾値処理部９により検出された画素の論理積を求めることにより、目標物を構成している可能性がある高度画像内の画素の中で、目標物を構成している可能性がある強度画像内の画素と同じ位置にある画素を目標候補画素に設定する（ステップＳＴ１１）。
図７は目標候補画素設定処理部１１により設定された目標候補画素を示す説明図である。
図７の例では、高度値閾値処理部７により検出された画素と強度値閾値処理部９により検出された画素が若干ずれているので、目標候補画素に設定される画素の個数は８個である。
【００３３】
図６の検出フラグにおいて、“０”のフラグに対応する画素は、背景領域やクラッタ領域に属しておらず、また、目標候補画素にも設定されていない画素である。つまり、何を構成している画素であるのか不明な画素である（例えば、画素値である信号強度値や距離値がレーダにおけるセンサの飽和レベル付近であるために、正確な値が得られていない等の場合には、不明な画素になる）。
しかし、このような不明な画素は、目標物を構成している画素である場合があるため、実際の目標物を構成している画素は、図７に示すように、目標候補画素設定処理部１１により設定された目標候補画素だけでなく、“０”のフラグに対応する画素を含むことがある。
【００３４】
目標領域検出処理部１２は、目標候補画素設定処理部１１が目標候補画素を設定すると、その目標候補画素と第３の検出マップ更新処理部１０から出力された検出マップ内のフラグ“０”に対応する画素とから構成される和集合の領域を特定する（ステップＳＴ１２）。
図８は目標領域検出処理部１２により特定された和集合の領域を示す説明図である。
図８の例では、和集合の領域に含まれている画素の個数は１４個である。
【００３５】
目標領域検出処理部１２は、和集合の領域を特定すると、その和集合の領域の空間的な大きさが、予め設定されている目標物の空間的な大きさと近似しているか否かを判定する（ステップＳＴ１３）。
具体的には、和集合の領域に含まれている画素の個数がＷであり、予め設定されている目標物の空間的な大きさに対応する画素数がＹであるとき、画素数Ｗが画素数Ｙに対して±Ｎ個の範囲内であれば、和集合の領域の空間的な大きさが、目標物の空間的な大きさと近似していると判定する。
【００３６】
図８の例では、和集合の領域に含まれている画素の個数は１４個であり、実際の目標物を構成している画素の個数は１２個であるため（図７を参照）、Ｎが２以上であれば、近似していると判定される。
もし、この実施の形態１のように、和集合の領域を特定せずに、目標候補画素設定処理部１１により設定された目標候補画素の個数を画素数Ｙと比較して目標物を検出する場合、目標候補画素の個数は８個であるため、Ｎが４以上でなければ、目標物を検出することができず、検出性能が劣化する。
【００３７】
目標領域検出処理部１２は、和集合の領域の空間的な大きさが、目標物の空間的な大きさと近似していれば、目標物を検出した旨を示す目標検出情報を出力する（ステップＳＴ１４）。
ここでは、説明の簡単化のために、画素数を比較することで、空間的な大きさが近似しているか否かを判定しているが、３次元変換処理部２により生成された３次元画像の要素である奥行や幅の情報を用いて、和集合の領域の空間的な大きさを算出して、目標物の空間的な大きさと近似しているか否かを判定するようにしてもよい。
【００３８】
以上で明らかなように、この実施の形態１によれば、電磁波を空間に放射して反射波を受信するレーダの高度角度情報を用いて、その電磁波の反射点までの距離値が画素値である距離画像を三次元化することで、その反射点の高度値が画素値である高度画像を生成する３次元変換処理部２と、３次元変換処理部２により生成された高度画像内の各画素値と閾値Ａを比較することで、目標物を構成している可能性がある高度画像内の画素を検出する高度値閾値処理部７と、強度画像内の各画素値と閾値Ｂを比較することで、目標物を構成している可能性がある強度画像内の画素を検出する強度値閾値処理部９と、高度値閾値処理部７により検出された高度画像内の画素の中で、強度値閾値処理部９により検出された強度画像内の画素と同じ位置にある画素を目標候補画素に設定する目標候補画素設定処理部１１と、高度画像及び強度画像を構成している画素の中で、背景領域を構成している画素を検出する背景検出処理部３と、高度画像及び強度画像を構成している画素の中で、クラッタ領域を構成している画素を検出するクラッタ検出処理部５とを設け、目標領域検出処理部１２が、目標候補画素設定処理部１１により設定された目標候補画素と特定物が不明な画素（目標物、背景領域及びクラッタ領域のいずれも構成していない画素）とから構成される和集合の領域の空間的な大きさが、予め設定されている目標物の空間的な大きさと近似しているか否かを判定するように構成したので、何らかの原因で強度画像や距離画像内の画素値が異常値になっている場合でも、目標物を検出することができる効果を奏する。
【００３９】
即ち、何を構成している画素であるのか不明な画素（背景領域やクラッタ領域に属しておらず、目標候補画素にも設定されていない画素）も目標候補画素に含めて、目標物を検出するようにしているので、何を構成している画素であるのか不明な画素が、実際には目標物を構成している画素であるような場合に、目標物を見逃してしまう不具合の発生を防止することができる効果を奏する。
【００４０】
また、この実施の形態１によれば、距離画像内の画素値に応じて強度画像内の画素値を補正し、画素値補正後の強度画像を背景検出処理部３に出力する強度値補正処理部１を設けているので、各反射点までの距離の差が大きい場合でも、正確な強度値が得られるようになり、目標物の検出性能を高めることができる効果を奏する。
【００４１】
実施の形態２．
図９はこの発明の実施の形態２によるレーダ画像処理装置を示す構成図であり、図において、図１と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
異常値判定処理部２１は第３の検出マップ更新処理部１０から出力された検出マップ内のフラグ“０”に対応する画素に係る信号強度値及び距離値が異常値であるか否かを判定し、その画素に係る信号強度値及び距離値が異常値であれば、その画素に対応するフラグを“０”から“１”に変更する処理を実施する。なお、異常値判定処理部２１は近似判定手段を構成している。
【００４２】
図９の例では、レーダ画像処理装置の構成要素である強度値補正処理部１、３次元変換処理部２、背景検出処理部３、検出マップ作成処理部４、クラッタ検出処理部５、第１の検出マップ更新処理部６、高度値閾値処理部７、第２の検出マップ更新処理部８、強度値閾値処理部９、第３の検出マップ更新処理部１０、目標候補画素設定処理部１１、異常値判定処理部２１及び目標領域検出処理部１２のそれぞれが専用のハードウェア（例えば、ＣＰＵを実装している半導体集積回路、あるいは、ワンチップマイコンなど）で構成されているものを想定しているが、レーダ画像処理装置がコンピュータで構成されていてもよい。
レーダ画像処理装置がコンピュータで構成される場合、強度値補正処理部１、３次元変換処理部２、背景検出処理部３、検出マップ作成処理部４、クラッタ検出処理部５、第１の検出マップ更新処理部６、高度値閾値処理部７、第２の検出マップ更新処理部８、強度値閾値処理部９、第３の検出マップ更新処理部１０、目標候補画素設定処理部１１、異常値判定処理部２１及び目標領域検出処理部１２の処理内容を記述しているプログラムをコンピュータのメモリに格納し、当該コンピュータのＣＰＵが当該メモリに格納されているプログラムを実行するようにすればよい。
【００４３】
上記実施の形態１では、目標候補画素と検出マップ内のフラグ“０”に対応する画素とから構成される和集合の領域を特定するものを示したが、フラグ“０”に対応する画素の中には、その画素の画素値が明らかに異常値であることが分かる場合がある。
画素値が明らかに異常値である場合も、上記実施の形態１と同様に、当該画素を和集合の領域に含めて、目標物を検出することは可能であるが、画素値が明らかに異常値である場合、その画素に対応するフラグを“０”から“１”に変更して、その画素を和集合の領域を構成している画素から除外するようにしてもよい。
なお、何を構成している画素であるのか特性することができず、フラグが“０”に設定されていても、その画素の画素値が明らかな異常値でなければ、その画素に対応するフラグは“１”に変更することはない。
【００４４】
次に動作について説明する。
異常値判定処理部２１を実装している点以外は、上記実施の形態１と同様であるため、異常値判定処理部２１の処理内容だけを説明する。
異常値判定処理部２１は、第３の検出マップ更新処理部１０から出力された検出マップ内のフラグ“０”に対応する画素に係る信号強度値及び距離値が異常値であるか否かを判定するが、信号強度値及び距離値がレーダのセンサにおける飽和レベルに近い場合、信号強度値及び距離値が正常な値にならず、異常値となることがある。
そこで、異常値判定処理部２１は、信号強度値及び距離値が飽和値であるか否かを判定し、飽和値であれば、その信号強度値及び距離値が異常値であると認定し、その信号強度値等を有する画素に対応するフラグを“０”から“１”に変更する。
【００４５】
飽和値であるか否かを判定する方法としては、強度画像及び距離画像における所定領域内の画素の平均値及び標準偏差値を算出し、その平均値がセンサの設計値として得られる飽和レベルに近く、かつ、その標準偏差値が所定の閾値よりも小さければ、飽和値であると認定する方法が考えられる。
なお、信号強度値及び距離値がセンサの飽和レベルに近い場合、目標物との相対距離が近い、あるいは、目標物の有効反射断面積が大きい、あるいは、レーザレーダの場合には、目標物の色が白色に近いことが考えられる。
【００４６】
ここでは、信号強度値及び距離値が飽和値であるか否かを判定するものを示したが、例えば、レーザレーダにおいて、黒色の物体、物体の影又は鏡面反射に起因する低信号対雑音比の画素であれば、その画素の信号強度値及び距離値が異常値であると判定するようにしてもよい。
低信号対雑音比の画素であるか否かを判定する方法としては、低信号対雑音比の画素は孤立して存在することが少ないため、飽和画素ではない異常値の画素の分布を調べ、それらの画素が所定範囲内に密に分布していれば、それらの画素は低信号対雑音比の画素であると認定する方法が考えられる。
なお、低信号対雑音比の画素である場合には、レーザレーダの場合には、目標物の色が黒色に近い、あるいは、鏡面反射していることが推測される。
【００４７】
また、レーザレーダの場合、スペックルノイズやショットノイズ等のレーザ光の物理的な要因による雑音画素を検出し、その雑音画素の信号強度値及び距離値は異常値であると判定するようにしてもよい。
雑音画素であるか否かを判定する方法としては、雑音画素は比較的狭い領域に、孤立点状に分布することが多いため、異常値の画素の分布を調べ、所定範囲内に孤立点として分布している画素は雑音画素であると認定する方法が考えられる。
【００４８】
実施の形態３．
図１０はこの発明の実施の形態３によるレーダ画像処理装置を示す構成図であり、図において、図９と同一符号は同一または相当部分を示すので説明を省略する。
画像分割処理部２２は高度画像及び強度画像を構成している画素の中で、略同一値の画素値を有する画素、あるいは、画素値が連続的に変化している画素が集まっている領域を特定して、上記高度画像及び強度画像を上記領域単位に分割する処理を実施する。なお、画像分割処理部２２は画像分割手段を構成している。
【００４９】
図１０の例では、レーダ画像処理装置の構成要素である強度値補正処理部１、３次元変換処理部２、画像分割処理部２２、背景検出処理部３、検出マップ作成処理部４、クラッタ検出処理部５、第１の検出マップ更新処理部６、高度値閾値処理部７、第２の検出マップ更新処理部８、強度値閾値処理部９、第３の検出マップ更新処理部１０、目標候補画素設定処理部１１、異常値判定処理部２１及び目標領域検出処理部１２のそれぞれが専用のハードウェア（例えば、ＣＰＵを実装している半導体集積回路、あるいは、ワンチップマイコンなど）で構成されているものを想定しているが、レーダ画像処理装置がコンピュータで構成されていてもよい。
レーダ画像処理装置がコンピュータで構成される場合、強度値補正処理部１、３次元変換処理部２、画像分割処理部２２、背景検出処理部３、検出マップ作成処理部４、クラッタ検出処理部５、第１の検出マップ更新処理部６、高度値閾値処理部７、第２の検出マップ更新処理部８、強度値閾値処理部９、第３の検出マップ更新処理部１０、目標候補画素設定処理部１１、異常値判定処理部２１及び目標領域検出処理部１２の処理内容を記述しているプログラムをコンピュータのメモリに格納し、当該コンピュータのＣＰＵが当該メモリに格納されているプログラムを実行するようにすればよい。
【００５０】
上記実施の形態１，２では、強度画像及び高度画像を構成している画素毎に、目標物、背景領域、クラッタ領域及び判定不能のいずれに属しているかを分類しているが、略同一値の画素値を有する画素、あるいは、画素値が連続的に変化している画素が集まっている領域は、同一の物体を構成している画素が集まっている領域である可能性が高いので、画像分割処理部２２の後段の処理部（背景検出処理部３、検出マップ作成処理部４、クラッタ検出処理部５、第１の検出マップ更新処理部６、高度値閾値処理部７、第２の検出マップ更新処理部８、強度値閾値処理部９、第３の検出マップ更新処理部１０、目標候補画素設定処理部１１、異常値判定処理部２１及び目標領域検出処理部１２）が、領域単位に各々の処理を実施することで（例えば、当該領域に属している１つの画素を代表画素として、その代表画素が有する画素値を使用して処理する。あるいは、当該領域に属している画素が有する画素値の平均値を使用して処理する。）、演算量を削減するようにしてもよい。
【００５１】
次に動作について説明する。
画像分割処理部２２は、高度画像及び強度画像内の各画素値を参照して、高度画像及び強度画像を分割する。
即ち、画像分割処理部２２は、下記のようにして、高度画像及び強度画像を分割する。（１）画像の所定領域内において、隣接している画素の画素値（強度値、高度値）がほぼ同一の値（例えば、画素値の差分が３％未満）であれば、その隣接している画素を同一の領域に分類する
（２）画像の所定領域内において、隣接している画素の画素値（強度値、高度値）が連続的に変化していれば、その隣接している画素を同一の領域に分類する
【００５２】
画像分割処理部２２の後段の処理部は、上述したように、画像分割処理部２２により分割された領域単位に各々の処理を実施する。
同一の領域に属している画素は、同一の物体を構成している画素が集まっている領域である可能性が高いので、画像分割処理部２２の後段の処理部が、領域単位に各々の処理を実施しても、目標物の検出性能の低下を招く可能性は低い。
なお、画像分割処理部２２の後段の処理部が、領域単位に各々の処理を実施することで、大きな演算量の削減効果が得られる。また、領域内に存在する少量の判定不能画素（画素値が異常値である画素）の影響を低減できる可能性がある。
【００５３】
なお、本願発明はその発明の範囲内において、各実施の形態の自由な組み合わせ、あるいは各実施の形態の任意の構成要素の変形、もしくは各実施の形態において任意の構成要素の省略が可能である。
【符号の説明】
【００５４】
１  強度値補正処理部（画素値補正手段）、２  ３次元変換処理部（高度画像生成手段）、３  背景検出処理部（目標物以外構成画素検出手段）、４  検出マップ作成処理部（目標物以外構成画素検出手段）、５  クラッタ検出処理部（目標物以外構成画素検出手段）、６  第１の検出マップ更新処理部（目標物以外構成画素検出手段）、７  高度値閾値処理部（目標物構成画素検出手段）、８  第２の検出マップ更新処理部（目標物構成画素検出手段）、９  強度値閾値処理部（目標物構成画素検出手段）、１０  第３の検出マップ更新処理部（目標物構成画素検出手段）、１１  目標候補画素設定処理部（目標候補画素設定手段）、１２  目標領域検出処理部（近似判定手段）、２１  異常値判定処理部（近似判定手段）、２２  画像分割処理部（画像分割手段）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
2012255657.tif 000006
【図５】
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【図６】
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【図７】
2012255657.tif 000009
【図８】
2012255657.tif 000010
【図９】
2012255657.tif 000011
【図１０】
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