(57)【要約】【課題】温度検知手段や試料がなくとも赤外線検出手段４の劣化を判定すること。【解決手段】調理コースを選択する入力手段７と、調理コースを基にして食品を加熱する加熱手段３と、食品より出る赤外線を検出する赤外線検出手段４と、入力手段７で選択された調理コースと赤外線検出手段４での検出結果から赤外線検出手段４の劣化を判定する劣化判定手段２１で構成される加熱調理装置において、劣化判定手段２１は、赤外線検出手段４の検出結果を基にして加熱する食品の温度を計算する温度計算部１０１と、その温度が一定と判定する温度一定判定部１０２と、食品温度が一定の時に食品温度を特徴づける代表温度を決定する代表温度計算部１０３と、第１の所定温度と代表温度とを比較する温度比較部１０４を備え、代表温度が所定温度未満の場合に赤外線検出手段４の劣化を判定する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
使用者が調理コースを選択するための入力手段と、前記入力手段で選択された調理コースを基にして食品を加熱する加熱手段と、前記食品から放射される赤外線を検出する赤外線検出手段と、前記入力手段で選択された調理コースと前記赤外線検出手段での検出結果に基づいて前記赤外線検出手段の劣化を判定する劣化判定手段で少なくとも構成される加熱調理装置において、前記劣化判定手段は、前記赤外線検出手段の検出結果を基にして加熱する食品の温度である食品温度を計算する温度計算部と、前記食品温度が一定であると判定する温度一定判定部と、前記食品温度が一定の時に前記食品温度を特徴づける代表温度を決定する代表温度計算部と、第１の所定温度と前記代表温度とを比較する温度比較部を備え、前記代表温度が前記第１の所定温度未満の場合に前記赤外線検出手段の劣化を判定する加熱調理装置
【請求項２】
前記劣化判定手段は、前記代表温度が前記第１の所定温度以上の場合に、前記代表温度を基にして前記温度計算部を校正する校正部も備える請求項１に記載の加熱調理装置。
【請求項３】
前記劣化判定手段は計時部を備え、前記温度一定判定部は、調理開始時より第２の所定温度以上になった時以降での調理中の前記食品温度において所定時間連続して、前回食品温度との差が第３の所定温度未満である場合で、且つ、前記所定時間前と現在との食品温度の差も前記第３の所定温度未満であると前記食品温度が一定であると判定し、前記代表温度とは、前記判定条件が成立した時点での食品温度である請求項１または２に記載の加熱調理装置。
【請求項４】
前記劣化判定手段は計時部と１回の調理での前記食品温度を履歴として記憶する温度記憶部を備え、前記温度一定判定部は、調理開始時より第２の所定温度以上になった時以降での前記履歴の中で前記所定時間以上連続して、前回食品温度との差が前記第３の所定温度未満である場合で、且つ、連続の始点と終点との食品温度の差も前記第３の所定温度未満である区間があると前記食品温度が一定であると判定し、前記代表温度とは、前記区間内の食品温度の平均値である請求項１または２に記載の加熱調理装置。
【請求項５】
前記加熱調理装置は、駆動手段を備え、前記赤外線検出手段は、放射される赤外線を前記食品の領域毎に検出するとともに前記駆動手段で前記赤外線検出手段の検出領域を変更することで、前記食品の全体から放射される赤外線を検出するものとし、前記劣化判定手段は、前記食品温度が一定である領域が所定個数以上ある場合に劣化を判定する、もしくは、前記校正部によって前記温度計算部を校正する請求項１〜４のいずれか１項に記載の加熱調理装置。
【請求項６】
前記劣化判定手段は、前記校正部の校正結果と、複数回分の調理での算出温度の履歴を分析し、調理回数と校正回数の割合から前記校正部の校正が適切か評価し、前記赤外線検出手段の異常を判定する分析部を備える請求項２〜５のいずれか１項に記載の加熱調理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被加熱物からの赤外線量を検出し、その検出結果に基づいて被加熱物を加熱調理する加熱調理装置における赤外線検出手段の劣化判定、及び、検出結果から算出する算出温度を校正する補正（校正）機能に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、この種の加熱調理装置は、加熱室底面の温度を別途計測する温度計測手段を用いて劣化判定・校正を行うものがある（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
また、修理等を行うサービスマンだけが知っている特殊なキー操作を行って加熱調理装置を特殊な動作モードに入れて、その状態で予め温度を知っている試料を赤外線検出手段に見せて劣化判定・補正を行うものもある（例えば、特許文献２参照）。
【０００４】
更に、加熱調理中に予め温度を知っている試料を赤外線検出手段に見せて検出結果から求まる算出温度を校正するものもある（例えば、特許文献３参照）。
【０００５】
図８は、前記特許文献１に記載された従来の加熱調理装置を示すものである。
【０００６】
図８に示すように、加熱室１に置かれた被加熱物２である食品を加熱する加熱手段３と、被加熱物２から放出される赤外線を検出する赤外線検出手段４と、加熱室１底部に被加熱物２の底面の温度を検知するサーミスタからなる温度検知手段５と、赤外線検出手段４の検出結果を基にして被加熱物２の温度を計算し、その温度に基づいて被加熱物２の加熱調理を制御する制御手段６で構成されている。
【０００７】
そして、制御手段６は、温度検知手段５の検知結果を基にして、前述の赤外線検出手段４の検出結果を使用して行う被加熱物２の温度計算を補正する。
【０００８】
図９は、前記特許文献２に記載された従来の加熱調理装置を示すものである。図９に示すように、調理コースを使用者が選択する為の入力手段７と、加熱室１に置かれた被加熱物２である食品を加熱する加熱手段３と、被加熱物２から放出される赤外線を検出する赤外線検出手段４と、赤外線検出手段４の検出結果を基にして被加熱物２の温度を計算し、その温度に基づいて被加熱物２の加熱調理を制御する制御手段６で構成されている。
【０００９】
そして制御手段６は、調理コースを選択するとは別の特別な操作がされた場合に、既知の所定温度の資料から放出される赤外線を赤外線検出手段４に検出さえることによって前述の赤外線検出手段４の検出結果を使用して行う被加熱物２の温度計算を補正（校正）する。
【００１０】
図１０は、前記特許文献３に記載された従来の加熱調理装置を示すものである。図１０に示すように、加熱室１に置かれた被加熱物２である食品を加熱する加熱手段３と、被加熱物２から放出される赤外線を検出する赤外線検出手段４と、加熱室外にある所定位置８と赤外線検出手段４の向きを被加熱物２に向けるか所定位置８に向けるか切り換える切替手段９とで構成されている。
【００１１】
所定位置８の温度は制御手段６の基準温度検出部６ａによって正確に検出できるものとする。そして、加熱している被加熱物２の温度を計算する場合に、切替手段９を駆動させ温度が分かっている所定位置からの赤外線を赤外線検出手段４が検出することによって、
その検出結果から導かれる情報で補正しながら被加熱物２の温度を計算する。
【００１２】
このようにして、従来の加熱調理装置は、被加熱物２の温度を正確に求めるようにしている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１３】
【特許文献１】特許第３９２５６４４号公報
【特許文献２】特許第３７２５７３８号公報
【特許文献３】特許第３４９１３０２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
しかしながら、前記従来の構成では、下記のような課題がある。
【００１５】
まず特許文献１では、被加熱物である食品の正確な温度を知るための加熱室底面の温度を検知する温度検知手段５を別途備える必要がある。また、温度検知手段５は、常に底面中心部の温度を検知しているので、調理が終了すると赤外線検出手段４の検出範囲を底面中心部となるように別途移動させる必要がある。
【００１６】
被加熱物２が皿などの容器に入れられた場合で、使用者がいたずらに、調理終了後にドアを開けるものの被加熱物を取り出さなかった場合は、温度検知手段５が検知する温度は底面の温度で、赤外線検出手段４が検出する赤外線は被加熱物のものであり、この赤外線を基にして温度を求め、温度検知手段５の検知結果で補正をしてしまう。そうすると間違った温度で調理を進めてしまう恐れがある。
【００１７】
特許文献２では、加熱調理装置を通常の調理コースとは違う特殊なコースに入れる必要がある。そして、サービスマンのみが行うことができるため、修理を依頼した時でしか補正（校正）されない。更に、補正（校正）を行うための予め温度の分かっている試料（沸騰水・氷）を別途準備する必要がある。
【００１８】
特許文献３でも、更に、補正（校正）を行うための予め温度の分かっている試料（所定位置８）を用意する必要がある。また、何回かに１度、所定位置８の温度を赤外線検出手段４が赤外線を検出しにいけるように切替手段９を駆動させる必要がある。補正のための電力消費が発生する。
【００１９】
本発明は、前記従来の課題を解決するもので、別途温度を検知する温度検知手段や、補正のための試料がなくとも赤外線検出手段の検出結果から精度よく被加熱物の温度を計算できるようにすることが可能な加熱調理装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２０】
前記従来の課題を解決するために、本発明の加熱調理装置は、使用者が調理コースを選択するための入力手段と、前記入力手段で選択された調理コースを基にして食品を加熱する加熱手段と、前記食品から放射される赤外線を検出する赤外線検出手段と、前記入力手段で選択された調理コースと前記赤外線検出手段での検出結果に基づいて前記赤外線検出手段の劣化を判定する劣化判定手段で少なくとも構成される加熱調理装置において、前記劣化判定手段は、前記赤外線検出手段の検出結果を基にして加熱する食品の温度（食品温度）を計算する温度計算部と、前記食品温度が一定であると判定する温度一定判定部と、前記食品温度が一定の時に前記食品温度を特徴づける代表温度を決定する代表温度計算部と、第１の所定温度と前記代表温度とを比較する温度比較部を備え、前記代表温度が前記
第１の所定温度未満の場合に前記赤外線検出手段の劣化を判定するとしたものである。
【００２１】
これによって、次のような効果がある。それは、ほうれん草など野菜をゆでる調理コースで被加熱物である食品（野菜）を調理すると、ある時間から温度一定で推移する。その温度は、水分が沸騰する１００℃である。赤外線検出手段が劣化していても温度が一定であることは判別できる。
【００２２】
そのため、温度が一定している時に赤外線検出手段の検出結果を基にして計算される食品（野菜）の温度が所定温度未満であれば、赤外線検出手段が被加熱物（野菜）からの赤外線を十分に検出できていないと考えることができる。つまり、赤外線検出手段の劣化を判定することができる。
【発明の効果】
【００２３】
本発明の加熱調理装置は、特定の調理コースでの被加熱物の温度変化特性を利用して、赤外線検出手段の劣化を判定することである。そうすれば、判定・補正用の温度検知手段が不要であり、判定・補正を行うために特別に用意する試料も不要である。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】実施の形態１における加熱調理装置の構成を示すブロック図
【図２】赤外線検出手段の検出範囲を示した図
【図３】実施の形態１における赤外線検出手段の構成を示す図
【図４】実施の形態１における調理コースがゆで野菜の時の食品温度の時間変化を示す図
【図５】実施の形態１における加熱調理装置のフローチャート
【図６】実施の形態２における加熱調理装置の構成を示すブロック図
【図７】実施の形態２における加熱調理装置のフローチャート
【図８】従来の加熱調理装置の構成を示すブロック図
【図９】従来の加熱調理装置の構成を示すブロック図
【図１０】従来の加熱調理装置の構成を示すブロック図
【発明を実施するための形態】
【００２５】
第１の発明は、使用者が調理コースを選択するための入力手段と、前記入力手段で選択された調理コースを基にして食品を加熱する加熱手段と、前記食品から放射される赤外線を検出する赤外線検出手段と、前記入力手段で選択された調理コースと前記赤外線検出手段での検出結果に基づいて前記赤外線検出手段の劣化を判定する劣化判定手段で少なくとも構成される加熱調理装置において、前記劣化判定手段は、前記赤外線検出手段の検出結果を基にして加熱する食品の温度（食品温度）を計算する温度計算部と、前記食品温度が一定であると判定する温度一定判定部と、前記食品温度が一定の時に前記食品温度を特徴づける代表温度を決定する代表温度計算部と、第１の所定温度と前記代表温度とを比較する温度比較部を備え、前記代表温度が前記第１の所定温度未満の場合に前記赤外線検出手段の劣化を判定するとしたものである。
【００２６】
これによって、次のような効果がある。それは、ほうれん草など野菜をゆでる調理コースで被加熱物である食品（野菜）を調理すると、ある時間から温度一定で推移する。
【００２７】
その温度は、水分が沸騰する１００℃である。赤外線検出手段が劣化していても温度が一定であることは判別できるので、温度が一定している時に赤外線検出手段の検出結果を基にして計算される食品（野菜）の温度が所定温度未満であれば、赤外線検出手段が被加熱物（野菜）からの赤外線を十分に検出できていないと考えることができる。つまり、赤外線検出手段の劣化を判定することができる。
【００２８】
第２の発明は、特に、第１の発明の加熱調理装置の前記劣化判定手段は、前記代表温度が前記第１の所定温度以上の場合に、前記代表温度を基にして前記温度計算部を校正する校正部も備えるとしたものである。
【００２９】
これによって、次のような効果がある。それは、温度一定で推移している時に赤外線検出手段の検出結果を基にして計算される食品（野菜）の温度が第１の所定温度以上であっても、１００℃となるように補正（校正）することによって、食品調理の出来映えをバラツキなくすることができる。
【００３０】
第３の発明は、特に、第１の発明または第２の発明の加熱調理装置の前記劣化判定手段は計時部を備え、前記温度一定判定部は、  調理開始時より第２の所定温度以上になった時以降での調理中の前記食品温度において所定時間連続して、前回食品温度との差が第３の所定温度未満である場合で、且つ、前記所定時間前と現在との食品温度の差も前記第３の所定温度未満であると前記食品温度が一定であると判定し、前記代表温度とは、前記判定条件が成立した時点での食品温度とするものである。
【００３１】
これにより、前記所定時間前と前回食品温度と現在の食品温度だけで、赤外線検出手段の劣化判定を行うことができる。
【００３２】
第４の発明は、特に、第１の発明または第２の発明の加熱調理装置の前記劣化判定手段は計時部と１回の調理での前記食品温度を履歴として記憶する温度記憶部を備え、前記温度一定判定部は、調理開始時より第２の所定温度以上になった時以降での前記履歴の中で前記所定時間以上連続して、前回食品温度との差が前記第３の所定温度未満である場合で、且つ、連続の始点と終点との食品温度の差も前記第３の所定温度未満である区間があると前記食品温度が一定であると判定し、前記代表温度とは、前記区間内の食品温度の平均値であるとしたものである。
【００３３】
これによって、次のような効果がある。それは、赤外線検出手段の検出結果は外乱（ノイズ）の影響を受けるので、温度記憶部で食品温度の履歴をとって、もっとも温度が安定している区間を検出し、その安定している温度の平均値で劣化判定や補正（校正）を行うことによって、精度よく判定や校正を実施することができる。
【００３４】
第５の発明は、特に、第１〜第４のいずれか１項に記載の加熱調理装置は、駆動手段を備え、前記赤外線検出手段は、放射される赤外線を前記食品の部分（領域）毎に検出するとともに前記駆動手段で前記赤外線検出手段の検出領域を変更することで、前記食品の全体から放射される赤外線を検出するものとし、前記劣化判定手段は、前記食品温度が一定である領域が所定個数以上ある場合に劣化を判定する、もしくは、前記校正部によって前記温度計算部を校正するとしたものである。
【００３５】
これによって、次のような効果がある。それは、非加熱物である食品が少量の場合は、前記赤外線検出手段の検出結果から求められる食品温度が急激に変化する場合が多く、外乱（ノイズ）の影響を大きく受けるので、劣化判定・補正（校正）を実施する時を食品がある程度多くある場合のみに限定することができる。
【００３６】
第６の発明は、第２〜第４のいずれか１項に記載の加熱調理装置の前記劣化判定手段は、前記校正部の校正結果と、複数回分の調理での算出温度の履歴を分析し、調理回数と校正回数の割合から前記校正部の校正が適切か評価し、前記赤外線検出手段の異常を判定する分析部を備えるとしたものである。
【００３７】
これによって、次のような効果がある。それは、調理回数をある程度重なると劣化してくるものであるので、頻繁に校正するということは赤外線検出手段の異常と判断できるので、その場合は調理を中断させ、異常状態で調理することを防止することができる。
【００３８】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。なお、本実施の形態によって本発明が限定されるものではない。
【００３９】
（実施の形態１）
図１は、本発明の第１の実施の形態における加熱調理装置の構成を示すブロック図を示すものである。
【００４０】
調理コースを使用者が選択する為の入力手段７と、加熱室１に置かれた被加熱物２である食品を加熱する加熱手段３と、被加熱物２から放出される赤外線を検出する赤外線検出手段４と赤外線検出手段４の検出領域を変更するステッピングモータである駆動手段２０と赤外線検出手段４の検出結果を基にして被加熱物２の温度を計算し、その温度に基づいて被加熱物２の加熱調理を制御するとともに赤外線検出手段４の劣化判定を行う劣化判定手段２１とで構成されている。
【００４１】
加熱手段３は、マグネトロンである。そして、加熱室１の外側に設けられ、アンテナ３ａから発振され導波管３ｂおよび給電口３ｃを介して加熱室１内に高周波を照射することによって被加熱物２を加熱する。給電口３ｃは加熱室１の底面の中心部に設けられている。
【００４２】
赤外線検出手段４は、例えば８素子のサーモパイル型の赤外線センサで構成され、加熱室１の右側面上部に設置され、開口窓４ｆを介して被加熱物２から放出される赤外線を非接触で検出する。そして、駆動手段２０によって、赤外線検出手段４の検出範囲を変更することによって、加熱室１の底面全体を検出範囲とできるようになっている。具体的には、図２で説明する。
【００４３】
図２は、加熱室１の底面における赤外線検出手段の検出範囲を示した図で、赤外線検出手段４の検出範囲毎に記号を振ったものである。８素子で左側から右側にかけての横一列の領域から放出される赤外線を検出し、駆動手段２０で背面からドア側への赤外線検出手段４の検出範囲をＡからＢ、ＢからＣ・・・というように切り換えることによって底面の各領域から放出される赤外線を検出可能としている。
【００４４】
そのため、被加熱物２の温度考える場合は、下記のように考える。被加熱物２の大きさは、この検出範囲（領域）１つよりも大抵大きく、複数の領域をまたがる形となる。その為、まず被加熱物２のおかれている領域を判断する必要がある。そして、その被加熱物２のおかれている領域毎の赤外線検出手段４の検出結果によって求まる温度を被加熱物２の温度と考える。
【００４５】
そして、被加熱物２のおかれている領域は、以下のように判別する。まず、加熱手段３によって加熱されると自身の温度が上昇する。そのため、赤外線検出手段４の検出結果によって求まる温度が調理中に大きく変化する領域を被加熱物２がある領域と判断するとともに、調理開始時に例えば５℃以下の領域がある場合には、その領域も被加熱物２がある領域と判断する。
【００４６】
これは、被加熱物２が冷凍食品などの低温のものであった場合を想定する。おかれていない領域は、常温なので、５℃以下となることはないためである。
【００４７】
また、赤外線検出手段４は、例えば図３のように示される。集光レンズ４ａは、被加熱物２から放出される赤外線を効率よく就航するもので赤外線を透過させる材質（例えばシリコン）からなる。サーモパイル素子４ｂは、集光レンズ４ａで集められた被加熱物２からの赤外線を熱電変換する。増幅回路４ｃは、このサーモパイル素子４ｂの出力信号を例えば１０００倍に増幅する。
【００４８】
いま被加熱物２から集光レンズ４ａを介してサーモパイル素子４ｂに対し赤外線が入射した場合、温接点は冷接点に比べわずかに温度上昇を生じる。サーモパイル素子４ｂはこの温接点と冷接点と間に発生した温度差をゼーベック効果を用いて起電力（例えば１０μＶ／℃）に変換するものである。この起電力は、増幅回路４ｃで増幅され電圧Ｖ１（Ｖ）となる。
【００４９】
一方、冷接点温度検出サーミスタ４ｄは、サーモパイル素子４ｂに熱結合されている。冷接点温度検出サーミスタ４ｄの出力は、さらに直線化回路４ｅで直線化され、冷接点温度に比例する電圧Ｖ２（Ｖ）となる。
【００５０】
赤外線検出手段４は、電圧Ｖ１とＶ２を劣化判定手段２１の温度計算部１０１（後述）に対して出力し、温度情報に変換される。
【００５１】
劣化判定手段２１は、赤外線検出手段４からの検出結果に基ついて被加熱物２の食品温度を計算する温度計算部１０１と、食品温度が一定であると判定する温度計算部１０１と、食品温度が一定の時に食品温度を特徴づける代表温度を決定する代表温度計算部１０３と、食品温度の比較を行う温度比較部１０４と、入力手段７によって選択された調理コースを判定するコース判定部１０５と、加熱手段３を駆動させる加熱手段駆動部１０６と、温度計算部１０１で求めた被加熱物２の食品温度に基づいて加熱手段駆動部１０６を制御する調理制御部１０７と、駆動手段２０を駆動させる駆動手段駆動部１０８と、温度計算部１０１を補正（校正）する校正部１１１と計時部１１２とで構成されている。
【００５２】
ここで、温度計算部１０１とは、赤外線検出手段４の出力（電圧Ｖ１、Ｖ２）とを基にして被加熱物２の食品温度（Ｔ１）を計算する。
【００５３】
一般にステファンーボルツマンの法則に基づき下記式が成り立つ。
【００５４】
Ｖ１＝Ｋ＊（η＊（Ｔ１）＊＊（４）−（Ｔ２）＊＊（４））・・・・・（式１）
ここで、Ｔ１は、被加熱物２の食品温度（Ｋ）、Ｔ２は、冷接点近傍の温度（Ｋ）、ηは、被加熱物２の放射率、Ｋは、定数である。もちろん赤外線検出手段４は、図２で示すように領域毎に検出を行うので、Ｔ１は、領域毎のものである。
【００５５】
そして、被加熱物２の放射率ηを一定（例えば０．９３）、また出力電圧Ｖ２（Ｖ）はＴ２（Ｋ）に比例し、Ｔ２（Ｋ）の変動幅が小さく、被加熱物２が限定された狭い温度帯にあるとした場合には、式１は、下記のような１次式で近似できる。
【００５６】
Ｔ１＝ｋ１＊Ｖ１＋ｋ２＊Ｖ２＋ｋ３・・・・・（式３）
ここで、ｋ１、ｋ２、ｋ３とは、定数Ｋによって定まる値である。
【００５７】
図４は、入力手段７によって、調理コースがゆで野菜を選択された場合の被加熱物２である野菜の食品温度の時間変化を示す図である。図４に示すように調理終了直前は、温度Ｔａで一定の時間帯がある。このＴａは、赤外線検出手段４が劣化していなければ、水の沸点：１００℃である。
【００５８】
このような温度変化を示すのは、水分を沸騰させ野菜を茹でているためである。なので、他のご飯や飲み物を温める調理コースでは到達する温度が６５℃や８０℃といった１００℃以下の温度であるので、このような温度一定の時間帯を検出することはできない。
【００５９】
図５は、本実施の形態における加熱調理装置の動作を示すフローチャートである。
【００６０】
まず使用者によって入力手段７にコースを選択する入力が行われる。本実施の形態では、ゆで野菜コースキーが選択されるとする。その他の調理コースを選択する場合は、あたためキー等の他キーが押下される。どの調理コースが選択されたかは、コース判定部１０５によって判定する。そして、入力手段７の１つであるスタートキーが押下されると調理がスタートする（Ｓ５０１）。
【００６１】
調理が開始されると、調理制御部１０７は、選択された調理コースに応じて、加熱手段駆動部１０６を経由して加熱手段３を駆動させて被加熱物２である食品（野菜）を加熱する（Ｓ５０２）。
【００６２】
食品の加熱が開始すると、駆動手段駆動部１０８は、駆動手段２０を駆動させ、赤外線検出手段４が加熱室内におかれた食品から放出される赤外線を検出できるように赤外線検出手段４の検出範囲（領域）を変更する。
【００６３】
この時、駆動手段２０は、図２のＡ→Ｂ→Ｃ・・・Ｎ・という具合に赤外線検出手段４の領域を変更していく。赤外線検出手段４は、８素子で構成されているので、素子切替を行うことによって、Ａ１〜Ａ８の領域、Ｂ１〜Ｂ８の領域といった具合に食品から放出される赤外線を検出する。
【００６４】
温度計算部１０１は、赤外線検出手段４の検出結果を基にして、領域毎に温度を計算し、食品が置かれている領域を判断し、食品の温度を求めていく。調理中は、各領域からの赤外線検出・温度計算を１回目、２回目といった具体に調理終了と判定されるまで繰り返す（Ｓ５０３）。
【００６５】
そして、駆動手段２０によって、図２の全領域からの赤外線を検出する（１回分の赤外線検出・温度計算が終了する）と、選択された調理コースがゆで野菜か否か判断し（Ｓ５０４）、ゆで野菜でない場合には、ステップ５１０へ進む。
【００６６】
ゆで野菜の場合には、温度一定判定部１０２によって食品の温度が図４に示した温度一定の状態にあるかどうか判定する。この時、温度一定判定部１０２は、各食品が置かれていると判断出来る領域毎にこの判断を行う（Ｓ５０５）。
【００６７】
温度一定の状態にあるか否かの判定は、下記のように考える。まず、食品が置かれている１領域についての温度計算部１０１で求まる食品温度が下記条件を満たす。
（１）８５℃以上
（２）調理開示時より第２の所定温度（５０℃）以上温度が上昇
（３）今回と前回の温度差が第３の所定温度（１℃）未満
（４）条件（３）が連続して１分以上成立する（計時部１１２で時間を計時）
（５）今回と１分前との温度差が第３の所定温度（１℃）未満
そして、上記が成り立つ領域が例えば５つ以上ある場合を温度一定と判定する。その理由は、上記が成り立つ領域が１つとか２つの場合は、被加熱物２の食品（野菜）の量が少量である可能性があるためである。食品量が少量の場合は、多い時と比較して温度が急激に変化する。急激に変化するとノイズの影響を受けるので、ノイズの影響を受けない食品量が多い時にだけ劣化判定を行わせるためである。
【００６８】
なお、本実施の形態では、領域の個数で判断しているが、食品量が少ないと図４の温度一定の状態になるまでの温度上昇の傾きが大きい。そのため、温度上昇の傾きから食品量を判断するようにしても構わない。
【００６９】
Ｓ５０４で温度が一定でない場合にはステップ５１０へ進む。温度が一定の場合は、代表温度計算部１０３は、複数ある温度一定状態と判断した領域の今回の温度計算部１０１で求まる食品温度の平均値を代表温度とする（Ｓ５０６）。
【００７０】
そして、温度比較部１０４は、この代表温度と第１の所定温度である９０℃とを比較し（Ｓ５０７）、９０℃未満の場合には、赤外線検出手段４が劣化している、もしくは、汚れによって検出感度が鈍っていると判断し、加熱調理装置が備える表示手段（図示せず）などに報知するなどし（Ｓ５０８）、被加熱物２である食品の調理を終了させるためにステップ５１１に進む。
【００７１】
９０℃以上の場合でも食品温度が９０℃以上９５℃未満の場合には、校正部１１１によって温度計算部１０１を補正（校正）する（Ｓ５０９）。具体的に本実施の形態では、食品温度と第４の所定温度である１００℃との温度差：ΔＴとすると”ｋ３−ΔＴ”を新しいｋ３とする。本実施の形態では、”食品温度＜１００”と考えているので、ΔＴの絶対値を足し合わせることになる。
【００７２】
”食品温度＜１００”と考える理由は、本実施の形態では赤外線検出手段４が劣化する場合を想定している。そうすると、被加熱物２である食品から放出される赤外線を少なめに検出することになるので、温度計算部１０１で求まる食品温度が低くなるためである。しかし、食品温度が１００℃より大きくなることも考慮に入れた食品温度と１００℃との温度差で判定するようにしてもよい。
【００７３】
更に、劣化によってＶ１のみが変化すると考えるならば、式３は、Ｔ１＝ｋ１＊Ｖ１＋Ｎと考えることもできる。ここでＮは、定数である。そうした場合には、ｋ１を補正（校正）するようにしてもよい。
【００７４】
そして、調理制御部１０７が調理終了か否かを判定する（Ｓ５１０）。この判定は、調理コース毎に違い、ゆで野菜コースならば、温度一定状態が例えば３分以上継続すると終了と判定する。また、調理コースがあたための場合なら、設定された温度に被加熱物２が到達したなら終了するといった具合である。
【００７５】
調理終了と判定されない場合は、加熱を継続し、次回の赤外線検出・温度計算を行うべくステップ５０３へ進む。調理終了と判断された場合には、加熱手段駆動部１０６を経由して加熱手段３を停止させる（Ｓ５１１）。この時、駆動手段駆動部１０８は、駆動手段２０を停止させる。
【００７６】
以上のように、本実施の形態においては、調理コースがゆで野菜の場合の被加熱物２の食品温度の時間変化の特徴である水分の沸点である１００℃一定の時間帯があることを利用することによって、１００℃を見せて赤外線検出手段４の検出結果から求められる食品温度が１００℃でない場合に、判定・補正用の温度検知手段や試料がなくとも劣化判定を行ったり、補正（校正）を行ったりすることが出来るようになり、調理の出来映えにバラツキのない自動調理ができるようになる。
【００７７】
（実施の形態２）
図６は、本発明の第２の実施の形態における加熱調理装置の構成を示すブロック図を示
すものである。
【００７８】
本実施の形態は、実施の形態１の一部を変更したものであり、実施の形態１と比較して、調理開始時から終了までの各領域における温度計算部１０１で求まる食品温度の履歴を記憶する温度記憶部１１３と、温度記憶部１１３に記憶される数回分の調理での算出温度の履歴を分析し、校正部１１１の補正（校正）が正しいか評価する分析部１１４を追加で備えている。
【００７９】
図７は、本実施の形態における加熱調理装置の動作を示すフローチャートである。
【００８０】
まず使用者によって入力手段７にコースを選択する入力が行われる。本実施の形態では、ゆで野菜コースキーが選択されるとする。その他の調理コースを選択する場合は、あたためキー等の他キーが押下される。
【００８１】
どの調理コースが選択されたかは、コース判定部１０５によって判定する。そして、入力手段７の１つであるスタートキーが押下されると調理がスタートする（Ｓ７０１）。
【００８２】
調理が開始されると、調理制御部１０７は、選択された調理コースに応じて、加熱手段駆動部１０６を経由して加熱手段３を駆動させて被加熱物２である食品（野菜）を加熱する（Ｓ７０２）。
【００８３】
食品の加熱が開始すると、駆動手段駆動部１０８は、駆動手段２０を駆動させ、赤外線検出手段４が加熱室内におかれた食品から放出される赤外線を検出できるように赤外線検出手段４の検出範囲（領域）を変更し、温度計算部１０１は、赤外線検出手段４の検出結果を基にして、領域毎に温度を計算し、食品が置かれている領域を判断し、食品温度を求めていく。
【００８４】
調理中は、各領域からの赤外線検出・温度計算を１回目、２回目といった具体に調理終了と判定されるまで繰り返す（Ｓ７０３）。この時、求められた食品温度は、温度記憶部１１３に履歴として記憶していく。
【００８５】
そして、調理制御部１０７が調理終了か否かを判定する（Ｓ７０４）。この判定は、調理コース毎に違い、ゆで野菜コースならば、温度一定状態が例えば３分以上継続すると終了と判定する。
【００８６】
調理終了と判定されない場合は、加熱を継続し、次回の赤外線検出・温度計算を行うべくステップ５０３へ進む。調理終了と判断された場合には、加熱手段駆動部１０６を経由して加熱手段３を停止させる（Ｓ７０５）。この時、駆動手段駆動部１０８は、駆動手段２０を停止させる。
【００８７】
そして、調理が終了すると、選択された調理コースがゆで野菜か否か判断し（Ｓ７０６）、ゆで野菜でない場合には、そのまま終了する。ゆで野菜の場合には、温度一定判定部１０２は、温度記憶部１１３を参照し、今行った調理における各領域毎の食品温度の履歴の中に温度一定である時間帯（区間）があるか否かを確認する（Ｓ７０７）
温度一定の区間あるか否かの判定は、下記のように考える。まず、食品が置かれている１領域についての温度計算部１０１で求めた食品温度が、
（１）８５℃以上
（２）調理開示時より第２の所定温度（５０℃）以上温度が上昇
（３）１つ前との温度差が第３の所定温度（１℃）未満
（４）条件（３）が連続して１分以上成立する区間がある
（５）区間開始時点と終了時点との温度差が第３の所定温度（１℃）未満
そして、上記が成り立つ領域が５つ以上ある場合を温度一定と判定し、それ以外は、温度が一定でないとしてそのまま終了する。温度が一定の場合は、代表温度計算部１０３は、温度一定状態と判断した各領域において、区間での温度計算部１０１で求めた食品温度の平均値（Ａ）を計算し、更に、その各領域毎の平均（Ａ）の平均（Ｂ）を代表温度とする（Ｓ７０８）。
【００８８】
そして、温度比較部１０４は、この代表温度と第４の所定温度である１００℃との差分値：ΔＴを計算し（Ｓ７０９）、ΔＴの絶対値：｜ΔＴ｜が１０℃以上の場合には、赤外線検出手段４が劣化している、もしくは、汚れによって検出感度が鈍っていると判断し、加熱調理装置が備える表示手段（図示せず）などに報知するなどし終了する（Ｓ７１０）。
【００８９】
１０℃未満の場合でも｜ΔＴ｜が５℃以上１０℃未満の場合には、校正部１１１によって温度計算部１０１を補正（校正）する（Ｓ７１１）。具体的に本実施の形態では、”ｋ３−ΔＴ”を新しいｋ３とする。
【００９０】
そして、分析部１１４は、数回分の調理での算出温度の履歴を分析し、調理回数と校正回数の割合が、例えば前回の補正（校正）から調理を１０回もしない間に校正部１１１が補正（校正）を行った場合には、頻繁に校正が行われるということは急速に赤外線検出手段４が劣化していると判断出来るので異常状態であると判定し（Ｓ７１２）、加熱調理装置が備える表示手段（図示せず）などに報知するなどし終了する（Ｓ７１３）。
【００９１】
以上のように、本実施の形態においては、調理コースがゆで野菜の場合の被加熱物２の食品温度の時間変化の特徴である水分の沸点である１００℃一定の時間帯があることを利用することによって、１００℃を見せて赤外線検出手段４の検出結果から求められる食品温度が１００℃でない場合に、判定・補正用の温度検知手段や試料がなくとも劣化判定を行ったり、補正（校正）を行ったりすることが出来るようになり、調理の出来映えにバラツキのない自動調理ができるようになる。
【産業上の利用可能性】
【００９２】
以上のように、本発明にかかる加熱調理装置は、特定の調理コースでの被加熱物の温度変化特性を利用して、補正（校正）のための温度検知手段や試料がなくとも赤外線検出手段の劣化を判定するが可能となるので、修理等でサービスマンが赤外線検出手段を交換した時の赤外線検出手段の校正を行う場合にも適用できる。
【符号の説明】
【００９３】
１  加熱室
２  被加熱物
３  加熱手段
４  赤外線検出手段
７  入力手段
２０  駆動手段
２１  劣化判定手段
１０１  温度計算部
１０２  温度一定判定部
１０３  代表温度計算部
１０４  温度比較部
１０５  コース判定部
１１１  校正部
１１２  計時部
１１３  温度記憶部
１１４  分析部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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