(57)【要約】【課題】製造歩留まりの向上を図ることが可能な赤外線センサチップの製造方法を提供する。【解決手段】半導体ウェハを用意し、この半導体ウェハから複数個の赤外線センサチップを製造する赤外線センサチップの製造方法であって、半導体ウェハの用意にあたっては、１個の単結晶半導体インゴット３００を元に形成された複数枚の単結晶半導体ウェハ３０１の中から検査用として抜き取った単結晶半導体ウェハ３０１ｂの形状および結晶性それぞれについて、予め規定した検査項目の検査を行い、検査規格を満足した検査用の単結晶半導体ウェハ３０１ｂの形成元の単結晶半導体インゴット３００から形成した他の単結晶半導体ウェハ３０１ａを半導体ウェハとして用意する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体ウェハを用意し、前記半導体ウェハから複数個の赤外線センサチップを製造する赤外線センサチップの製造方法であって、前記半導体ウェハの用意にあたっては、１個の単結晶半導体インゴットを元に形成された複数枚の単結晶半導体ウェハの中から検査用として抜き取った単結晶半導体ウェハの形状および結晶性それぞれについて、予め規定した検査項目の検査を行い、検査規格を満足した検査用の前記単結晶半導体ウェハの形成元の前記単結晶半導体インゴットから形成した他の前記単結晶半導体ウェハを前記半導体ウェハとして用意することを特徴とする赤外線センサチップの製造方法。
【請求項２】
前記結晶性についての前記検査項目として、結晶欠陥密度を含むことを特徴とする請求項１記載の赤外線センサチップの製造方法。
【請求項３】
前記結晶性についての前記検査項目として、酸素濃度を含むことを特徴とする請求項１または請求項２記載の赤外線センサチップの製造方法。
【請求項４】
前記形状についての前記検査項目として、厚みばらつきを含むことを特徴とする請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載の赤外線センサチップの製造方法。
【請求項５】
前記形状についての前記検査項目として、オリエンテーションフラット面の面方位を含むことを特徴とする請求項１ないし請求項４のいずれか１項に記載の赤外線センサチップの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、赤外線センサチップの製造方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来から、赤外線センサチップとして、シリコン基板の一表面側に熱型赤外線検出部とＭＯＳトランジスタとを有する赤外線センサが知られている（例えば、特許文献１，２）。
【０００３】
特許文献１に記載された赤外線センサは、図３０に示すように、シリコン基板２０１の一表面側に、熱型赤外線検出部２０３とＭＯＳトランジスタ２０４とを有する複数の画素２０２が形成されている。この赤外線センサは、シリコン基板２０１における各熱型赤外線検出部２０３それぞれに対応する部位ごとに、熱絶縁用の空洞２１１が形成されている。シリコン基板２０１としては、上記一表面が（１００）面のシリコン基板が用いられている。
【０００４】
熱型赤外線検出部２０３は、シリコン基板２０１の上記一表面側における熱型赤外線検出部２０３の形成予定領域Ａ１に形成されている。この熱型赤外線検出部２０３は、シリコン基板２０１の上記一表面側に形成された矩形枠状の支持部２３３ａと、支持部２３３ａの内側に配置される矩形状の赤外線吸収部２３３ｂと、支持部２３３ａと赤外線吸収部２３３ｂとを連結する２つの梁部２３３ｃとを有している。
【０００５】
熱型赤外線検出部２０３は、シリコン基板２０１の上記一表面側に形成された熱絶縁用シリコン酸化膜２３１と熱絶縁用シリコン窒化膜２３２との積層膜からなる熱絶縁層２３３と、熱絶縁層２３３上に形成された熱電対型の感温部２３６と、熱絶縁層２３３の表面側で感温部２３６を覆うように形成された層間絶縁膜２４９と、層間絶縁膜２４９上のパッシベーション膜２６０との積層構造部をパターニングすることにより形成されている。なお、感温部２３６は、熱絶縁層２３３上に形成されたｎ形ポリシリコン層２３４とｐ形ポリシリコン層２３５とを有しており、ｎ形ポリシリコン層２３４およびｐ形ポリシリコン層２３５それぞれの大部分が、層間絶縁膜２４９により覆われている。
【０００６】
また、ＭＯＳトランジスタ２０４は、シリコン基板２０１の上記一表面側で、各画素２０２それぞれにおけるＭＯＳトランジスタ２０４の形成予定領域Ａ２に形成されている。ここで、ＭＯＳトランジスタ２０４は、シリコン基板２０１の上記一表面側にｐ＋形ウェル領域２４１が形成され、ｐ＋形ウェル領域２４１内に、ｎ＋形ドレイン領域２４３とｎ＋形ソース領域２４４とが離間して形成されている。また、ｐ＋形ウェル領域２４１においてｎ＋形ドレイン領域２４３とｎ＋形ソース領域２４４との間に位置する部位の上には、シリコン酸化膜（熱酸化膜）からなるゲート絶縁膜２４５を介してポリシリコン層からなるゲート電極２４６が形成されている。また、ｎ＋形ドレイン領域２４３上にはドレイン電極２４７が形成され、ｎ＋形ソース領域２４４上にはソース電極２４８が形成されている。
【０００７】
また、上述の赤外線センサは、層間絶縁膜２４９上に形成された複数のパッド２８０（図３０（ａ）参照）を備えており、パッシベーション膜２６０に、パッド２８０を露出させる開口部（図示せず）が形成されている。
【０００８】
また、特許文献１には、上述の赤外線センサの製造方法が提案されている。この赤外線センサの製造方法によれば、シリコン基板２０１の上記一表面側における熱型赤外線検出部２０３の形成予定領域Ａ１に圧縮応力を有する熱絶縁用シリコン酸化膜２３１と引張応力を有する熱絶縁用シリコン窒化膜２３２との積層膜からなる熱絶縁層２３３を形成する。その後、シリコン基板２０１の上記一表面側におけるＭＯＳトランジスタ２０４の形成予定領域Ａ２に、ｐ＋形ウェル領域２４１を形成する。その後、シリコン基板２０１の上記一表面側を熱酸化することによりゲート絶縁膜２４５を形成する。その後、熱絶縁層２３３上に感温部２３６の構成要素を形成してから、ｐ＋形ウェル領域２４１内にｎ＋形ドレイン領域２４３およびｎ＋形ソース領域２４４を形成する。その後、シリコン基板２０１の上記一表面側に層間絶縁膜２４９を形成した後、各パッド２８０などの基礎となる金属膜を成膜してから当該金属膜をパターニングすることで各パッド２８０などを形成する。続いて、層間絶縁膜２４９の表面側にパッシベーション膜２６０を形成する。その後、上記積層構造部をパターニングすることにより、複数のスリット２１３を形成する。その後、パッシベーション膜２６０に上記開口部を形成することで各パッド２８０を露出させる。その後、スリット２１３を通してアルカリ系溶液によりシリコン基板２０１を異方性エッチングすることによってシリコン基板２０１に空洞２１１を形成する。なお、上述の製造方法では、空洞２１１を形成する空洞形成工程が終了するまでの全工程をウェハレベル（ウェハの状態）で行い、空洞形成工程が終了した後、個々の赤外線センサに分離する分離工程を行うようにしいている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開２０１０−４８８０３号公報
【特許文献２】特開２０１１−２７６５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
ところで、特許文献１に記載された赤外線センサの製造方法や特許文献２に記載された赤外線センサの製造方法では、ロット間で製造歩留まりがばらついてしまうことがあった。
【００１１】
本発明は上記事由に鑑みて為されたものであり、その目的は、製造歩留まりの向上を図ることが可能な赤外線センサチップの製造方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の赤外線センサチップの製造方法は、半導体ウェハを用意し、前記半導体ウェハから複数個の赤外線センサチップを製造する赤外線センサチップの製造方法であって、前記半導体ウェハの用意にあたっては、１個の単結晶半導体インゴットを元に形成された複数枚の単結晶半導体ウェハの中から検査用として抜き取った単結晶半導体ウェハの形状および結晶性それぞれについて、予め規定した検査項目の検査を行い、検査規格を満足した検査用の前記単結晶半導体ウェハの形成元の前記単結晶半導体インゴットから形成した他の前記単結晶半導体ウェハを前記半導体ウェハとして用意することを特徴とする。
【００１３】
この赤外線センサチップの製造方法において、前記結晶性についての前記検査項目として、結晶欠陥密度を含むことが好ましい。
【００１４】
この赤外線センサチップの製造方法において、前記結晶性についての前記検査項目として、酸素濃度を含むことが好ましい。
【００１５】
この赤外線センサチップの製造方法において、前記形状についての前記検査項目として、厚みばらつきを含むことが好ましい。
【００１６】
この赤外線センサチップの製造方法において、前記形状についての前記検査項目として、オリエンテーションフラット面の面方位を含むことが好ましい。
【発明の効果】
【００１７】
本発明の赤外線センサチップの製造方法においては、製造歩留まりの向上を図ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】実施形態の赤外線センサチップの製造方法の説明図である。
【図２】実施形態の赤外線センサチップの不良品の発生原因の一例の推測モデル図である。
【図３】実施形態の赤外線センサチップの要部説明図である。
【図４】ＬＴＶと線幅変動量との関係図である。
【図５】実施形態の赤外線センサチップの不良品の発生原因の他の例の推測モデル図である。
【図６】実施形態の赤外線センサチップの製造方法における検査項目の説明図である。
【図７】実施形態における赤外線センサチップの平面レイアウト図である。
【図８】実施形態における赤外線センサチップの等価回路図である。
【図９】実施形態における赤外線センサチップの要部等価回路図である。
【図１０】実施形態における赤外線センサチップの画素部の平面レイアウト図である。
【図１１】実施形態における赤外線センサチップの画素部の概略平面レイアウト図である。
【図１２】実施形態における赤外線センサチップの画素部の要部を示し、（ａ）は平面レイアウト図、（ｂ）は（ａ）のＤ−Ｄ’断面に対応する概略断面図である。
【図１３】実施形態における赤外線センサチップの画素部の要部を示し、（ａ）は平面レイアウト図、（ｂ）は（ａ）のＤ−Ｄ’断面に対応する概略断面図である。
【図１４】実施形態における赤外線センサチップの画素部の要部の平面レイアウト図である。
【図１５】実施形態における赤外線センサチップの画素部の要部の平面レイアウト図である。
【図１６】実施形態における赤外線センサチップの画素部の要部を示し、（ａ）は平面レイアウト図、（ｂ）は（ａ）のＤ−Ｄ’断面に対応する概略断面図である。
【図１７】実施形態における赤外線センサチップの冷接点を含む要部を示し、（ａ）は平面レイアウト図、（ｂ）は概略断面図である。
【図１８】実施形態における赤外線センサチップの温接点を含む要部を示し、（ａ）は平面レイアウト図、（ｂ）は概略断面図である。
【図１９】実施形態における赤外線センサチップの画素部の要部の概略断面図である。
【図２０】実施形態における赤外線センサチップの画素部の要部の概略断面図である。
【図２１】実施形態における赤外線センサチップの要部説明図である。
【図２２】実施形態における赤外線センサチップに関し、（ａ）は要部の平面レイアウト図、（ｂ）は、（ａ）のツェナダイオードの拡大図、（ｃ）はツェナダイオードの概略断面図である。
【図２３】実施形態の赤外線センサチップの製造方法を説明するための主要工程断面図である。
【図２４】実施形態の赤外線センサチップの製造方法を説明するための主要工程断面図である。
【図２５】実施形態の赤外線センサチップの製造方法を説明するための主要工程断面図である。
【図２６】実施形態の赤外線センサチップの製造方法を説明するための主要工程断面図である。
【図２７】実施形態における赤外線センサチップの他の構成例の要部概略断面図である。
【図２８】実施形態における赤外線センサチップの更に他の構成例の要部概略断面図である。
【図２９】実施形態における赤外線センサチップの別の構成例の要部概略断面図である。
【図３０】従来例の赤外線センサを示し、（ａ）は概略平面図、（ｂ）は要部概略平面図、（ｃ）は（ｂ）のＤ−Ｄ’概略断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
まず、本実施形態における赤外線センサチップについて図７〜図２２に基づいて説明する。
【００２０】
赤外線センサチップ１００は、図７に示すように、ｉ×ｊ個（図示例では、８×８個）の画素部２が、半導体基板１の一表面側においてｉ行ｊ列（図示例では、８行８列）の２次元アレイ状に配置されている。なお、図示例では、ｉ＝８、ｊ＝８としてあるが、ｉ≧２、ｊ≧２であればよい。
【００２１】
画素部２は、図８〜図１３に示すように、赤外線による熱エネルギを電気エネルギに変換する熱電変換部である感温部３０および感温部３０の出力電圧を取り出すためのＭＯＳトランジスタ４を具備している。
【００２２】
上述のＭＯＳトランジスタ４は、図１２、図１３、図２０に示すように、半導体基板１の上記一表面側に形成された第１導電形のウェル領域４１内で、第２導電形のソース領域４４と第２導電形のドレイン領域４３とが離間して形成されている。本実施形態では、ウェル領域４１がチャネル形成用領域を構成している。なお、図８には、第１導電形をｐ形、第２導電形をｎ形としてＭＯＳトランジスタ４をｎチャネルＭＯＳトランジスタとした場合の赤外線センサチップ１００の等価回路図を示してある。また、図８の等価回路図では、感温部３０を抵抗の図記号で表してある。
【００２３】
また、図８、図１０、図１２から分かるように、赤外線センサチップ１００は、各列のｊ個（８個）の画素部２の感温部３０の一端がＭＯＳトランジスタ４のソース領域４４−ドレイン領域４３を介して各列ごとに共通接続されたｊ個（８個）の第１の配線１０１を備えている。
【００２４】
また、赤外線センサチップ１００は、各行の感温部３０に対応するＭＯＳトランジスタ４のゲート電極４６が各行ごとに共通接続されたｉ個（８個）の第２の配線１０２と、各行のＭＯＳトランジスタ４のウェル領域４１が各列ごとに共通接続されたｊ個（８個）の第３の配線１０３と、各列のｉ個（８個）の感温部３０の他端が各列ごとに共通接続されたｊ個（図８に図示した例では、８個）の第４の配線１０４とを備えている。
【００２５】
上述の赤外線センサチップ１００は、第１の配線１０１が各別に接続された出力用のｊ個の第１のパッドＶout1〜Ｖout8と、第２の配線１０２が各別に接続された画素部選択用のｉ個の第２のパッドＶsel1〜Ｖsel8と、各第３の配線１０３が共通接続された第３のパッドＶchと、第４の配線１０４が共通接続された基準バイアス用の第４のパッドＶrefinとを備えている。しかして、赤外線センサチップ１００は、全ての感温部３０の出力を時系列的に読み出すことができるようになっている。例えば、赤外線センサチップ１００を制御する制御手段であるＩＣ素子によって、ＭＯＳトランジスタ４が順次、オン状態になるように各画素部２を選択するための第２のパッドＶsel1〜Ｖsel8の電位を制御することで、ＩＣ素子が、各画素部２の出力電圧を順次読み出すことができる。なお、各パッドＶout1〜Ｖout8、Ｖsel1〜Ｖsel8、Ｖch、Ｖrefinそれぞれについて区別する必要がない場合には、説明の便宜上、各パッドＶout1〜Ｖout8、Ｖsel1〜Ｖsel8、Ｖch、Ｖrefinのいずれも、パッド８０として説明する。
【００２６】
ここで、第１のパッドＶout1〜Ｖout8の電位をＶout、第２のパッドＶsel1〜Ｖsel8の電位をＶs、第３のパッドＶchの電位をＶwell、第４のパッドＶrefinの電位をＶref、感温部３０の出力電圧をＶo、チャネル形成用領域であるウェル領域４１とソース領域４４とで構成される第１の寄生ダイオードおよびウェル領域４１とドレイン領域４３とで構成される第２の寄生ダイオードのしきい値電圧をＶthとする。上述のＩＣ素子は、ＭＯＳトランジスタ４がｎＭＯＳトランジスタである場合、第２の配線１０２に接続されたｉ個（８個）のＭＯＳトランジスタ４をオン状態とする際の第２のパッドＶsel1〜Ｖsel8の電位ＶsをＶon、第２の配線１０２に接続されたｉ個（８個）のＭＯＳトランジスタをオフ状態とする際の第２のパッド１０２の電位ＶsをＶoffとし、第２のパッドＶsel1〜Ｖsel8の電位ＶsをＶonとしたときに、
−Ｖth＜｛Ｖwell−（Ｖref＋Ｖo）｝＜Ｖth
の関係を満たすように設定されたＶref、Ｖwellの条件で赤外線センサチップ１００を制御することが好ましい。
【００２７】
また、ＩＣ素子は、ＭＯＳトランジスタ４がｐＭＯＳトランジスタである場合、
−Ｖth＜｛（Ｖref＋Ｖo）−Ｖwell｝＜Ｖth
の関係を満たすように設定されたＶref、Ｖwellの条件で赤外線センサチップ１００を制御することが好ましい。
【００２８】
本実施形態では、半導体基板１として第２導電形のシリコン基板を用いており、第１の寄生ダイオードおよび第２の寄生ダイオードの逆方向のブレークダウン電圧が−１０Ｖ程度になる一方で、Ｖthが０．６Ｖ〜０．７Ｖ程度となる。そこで、ＩＣ素子が、例えば、第４のパッドＶrefの電位Ｖrefを１．２Ｖ、第３のパッドＶchの電位Ｖwellを１．２Ｖ、第２の配線１０２に接続されたｉ個（８個）のＭＯＳトランジスタ４をオン状態とする際の第２のパッドＶsel1〜Ｖsel8の電位ＶｓであるＶonを５Ｖとすれば、ＭＯＳトランジスタ４がオンとなり、第１のパッドＶout1〜Ｖout8から画素部２の出力電圧（Ｖref＋Ｖo）を読み出すことが可能となる。また、第２の配線１０２に接続されたｉ個（８個）のＭＯＳトランジスタ４をオフ状態とする際の第２のパッドＶsel1〜Ｖsel8の電位ＶｓであるＶoffを０Ｖとすれば、ＭＯＳトランジスタ４がオフとなり、第１のパッドＶout1〜Ｖout8から画素部２の出力電圧は読み出されない。
【００２９】
また、赤外線センサチップ１００は、各ＭＯＳトランジスタ４のゲート電極４６・ソース電極４８間に過電圧が印加されるのを防止するために、各第２の配線１０２それぞれにカソードが接続された複数のツェナダイオードＺＤ（図８、図９、図２２参照）を備えている。ここで、ツェナダイオードＺＤは、図２２に示すように、半導体基板１の上記一表面側に形成された第１導電形の第１拡散領域８１内に第２導電形の第２拡散領域８２が形成されたものである。そして、赤外線センサ１００は、各ツェナダイオードＺＤの第１拡散領域８１が共通接続された第５のパッドＶzdを備えており、第５のパッドＶzdの電位をＶhogoとするとき、ＩＣ素子は、ＶhogoとＶwellとを異ならせることが好ましい。ここで、ＩＣ素子は、例えば、上述のように、第３のパッドＶchの電位Ｖwellを１．２Ｖとする場合、第５のパッドＶzdの電位Ｖhogoを０Ｖとすることが好ましい。
【００３０】
また、赤外線センサチップ１００は、半導体基板１が接続された基板バイアス用の第６のパッドＶsuを備えており、第６のパッドＶsuの電位をＶsubとするとき、ＩＣ素子が、Ｖwell＝Ｖsubとすることが好ましい。すなわち、ＩＣ素子は、例えば、上述のように、第３のパッドＶchの電位Ｖwellを１．２Ｖとする場合、第６のパッドＶsuの電位Ｖsubを１．２Ｖとすることが好ましい。なお、図９の等価回路図には、ウェル領域４１と半導体基板１とで構成される第３の寄生ダイオードＤ３、第１拡散領域８１と半導体基板１とで構成される第４の寄生ダイオードＤ４も記載してある。また、第５のパッドＶzdおよび第６のパッドＶsuも、それぞれ、図７におけるパッド８０を構成しているので、説明の便宜上、区別する必要がない場合には、いずれも、パッド８０として説明する。
【００３１】
赤外線センサ１００は、感温部３０が埋設された熱型赤外線検出部３とＭＯＳトランジスタ４とを有する複数（ｉ×ｊ個）の画素部２が、半導体基板１の上記一表面側において２次元アレイ状に配置されている。ここで、半導体基板１の上記一表面は、Ｓｉ（１００）面としてある。感温部３０は、複数個（ここでは、６個）のサーモパイル３０ａ（図１０参照）を直列接続することにより構成されている。
【００３２】
各画素部２の熱型赤外線検出部３は、半導体基板１の上記一表面側において熱型赤外線検出部３の形成用領域Ａ１（図１２、図１３参照）に形成されている。また、各画素部２のＭＯＳトランジスタ４は、半導体基板１の上記一表面側においてＭＯＳトランジスタ４の形成用領域Ａ２（図１２、図１３参照）に形成されている。
【００３３】
赤外線センサチップ１００は、図１０〜図１３に示すように、半導体基板１の上記一表面側において熱型赤外線検出部３の一部の直下に空洞部１１が形成されている。熱型赤外線検出部３は、半導体基板１の上記一表面側で空洞部１１の周部に形成された支持部３ｄと、半導体基板１の上記一表面側で平面視において空洞部１１を覆う第１の薄膜構造部３ａとを備えている。第１の薄膜構造部３ａは、赤外線を吸収する赤外線吸収部３３を備えている。ここで、第１の薄膜構造部３ａは、空洞部１１の周方向に沿って並設され支持部３ｄに支持された複数の第２の薄膜構造部３ａａと、隣接する第２の薄膜構造部３ａａ同士を連結する連結片３ｃ（図１０参照）とを有している。なお、図１０における熱型赤外線検出部３では、複数の線状のスリット１３を設けることにより、第１の薄膜構造部３ａが６つの第２の薄膜構造部３ａａに分離されている。以下では、赤外線吸収部３３（第１の赤外線吸収部３３と称する）のうち第２の薄膜構造部３ａａそれぞれに対応して分割された各部位を第２の赤外線吸収部３３ａと称する。
【００３４】
熱型赤外線検出部３は、第２の薄膜構造部３ａａごとにサーモパイル３０ａが設けられている。ここで、サーモパイル３０ａは、温接点Ｔ１が、第２の薄膜構造部３ａａに設けられ、冷接点Ｔ２が、支持部３ｄに設けられている。要するに、温接点Ｔ１は、熱型赤外線検出部３において空洞部１１に重なる領域に形成され、冷接点Ｔ２は、熱型赤外線検出部３において空洞部１１に重ならない領域に形成されている。
【００３５】
また、熱型赤外線検出部３の感温部３０は、各サーモパイル３０ａごとに出力を取り出す場合に比べて温度変化に対する出力変化が大きくなる接続関係で、全てのサーモパイル３０ａが電気的に接続されている。図１０における感温部３０は、６個のサーモパイル３０ａを直列接続してある。ただし、上述の接続関係は、複数個のサーモパイル３０ａの全てを直列接続する接続関係に限らない。例えば、赤外線センサ１００は、それぞれ３個のサーモパイル３０ａの直列回路を並列接続した感温部３０とすれば、６個のサーモパイル３０ａが並列接続されている場合や、各サーモパイル３０ａごとに出力を取り出す場合に比べて、感度を高めることができる。しかも、このような赤外線センサ１００は、６個のサーモパイル３０ａの全てが直列接続されている場合の感温部３０に比べて、感温部３０の電気抵抗を低くできて熱雑音が低減されるから、Ｓ／Ｎ比が向上する。
【００３６】
熱型赤外線検出部３では、第２の薄膜構造部３ａａごとに、支持部３ｄと第２の赤外線吸収部３３ａとを連結する２つの平面視短冊状のブリッジ部３ｂｂ，３ｂｂが空洞部１１の周方向に離間して形成されている。これにより、赤外線センサチップ１００は、２つのブリッジ部３ｂｂ，３ｂｂと第２の赤外線吸収部３３ａとを空間的に分離し空洞部１１に連通する平面視コ字状のスリット１４が形成されている。熱型赤外線検出部３のうち、平面視において第１の薄膜構造部３ａを囲む部位である支持部３ｄは、矩形枠状の形状となっている。なお、ブリッジ部３ｂｂは、上述の各スリット１３，１４により、第２の赤外線吸収部３３ａおよび支持部３ｄそれぞれとの連結部位以外の部分が、第２の赤外線吸収部３３ａおよび支持部３ｄと空間的に分離されている。ここで、第２の薄膜構造部３ａａは、支持部３ｄからの延長方向の寸法を９３μｍ、この延長方向に直交する幅方向の寸法を７５μｍとし、各ブリッジ部３ｂｂの幅寸法を２３μｍ、各スリット１３，１４の幅を５μｍに設定してあるが、これらの値は一例であって特に限定するものではない。
【００３７】
第１の薄膜構造部３ａは、半導体基板１の上記一表面側に形成された熱酸化膜１ｂと、熱酸化膜１ｂ上に形成されたシリコン窒化膜３２と、シリコン窒化膜３２上に形成された感温部３０と、シリコン窒化膜３２の表面側で感温部３０を覆うように形成された層間絶縁膜５０と、層間絶縁膜５０上に形成されたパッシベーション膜６０との積層構造部をパターニングすることにより形成されている。層間絶縁膜５０は、ＢＰＳＧ膜により構成してある。パッシベーション膜６０は、ＰＳＧ膜と当該ＰＳＧ膜上に形成されたＮＳＧ膜との積層膜により構成してあるが、これに限らず、例えば、シリコン窒化膜により構成してもよい。
【００３８】
上述の熱型赤外線検出部３では、シリコン窒化膜３２のうち第１の薄膜構造部３ａのブリッジ部３ｂｂ，３ｂｂ以外の部位が第１の赤外線吸収部３３を構成している。また、支持部３ｄは、熱酸化膜１ｂとシリコン窒化膜３２と層間絶縁膜５０とパッシベーション膜６０とで構成されている。
【００３９】
また、赤外線センサチップ１００は、層間絶縁膜５０とパッシベーション膜６０との積層膜が、半導体基板１の上記一表面側において、熱型赤外線検出部３の形成用領域Ａ１とＭＯＳトランジスタ４の形成用領域Ａ２とに跨って形成されている。そして、赤外線センサチップ１００は、この積層膜のうち、熱型赤外線検出部３の形成用領域Ａ１に形成された部分が赤外線吸収膜７０（図１２（ｂ）、図１３（ｂ）参照）を兼ねている。ここで、赤外線吸収膜７０の屈折率をｎ２、検出対象の赤外線の中心波長をλとするとき、赤外線吸収膜７０の厚さｔ２をλ／４ｎ２に設定するようにしているので、検出対象の波長（例えば、８〜１２μｍ）の赤外線の吸収効率を高めることができ、高感度化を図れる。例えば、ｎ２＝１．４、λ＝１０μｍの場合には、ｔ２≒１．８μｍとすればよい。なお、本実施形態では、層間絶縁膜５０の膜厚を０．８μｍ、パッシベーション膜６０の膜厚を１μｍ（ＰＳＧ膜の膜厚を０．５μｍ、ＮＳＧ膜の膜厚を０．５μｍ）としてある。
【００４０】
また、各画素部２は、空洞部１１の内周形状が矩形状である。各画素部２における連結片３ｃは、図１０および図１６（ａ）に示すように、平面視Ｘ字状に形成されており、第２の薄膜構造部３ａａの延長方向に交差する斜め方向において隣接する第２の薄膜構造部３ａａ，３ａａ同士、第２の薄膜構造部３ａａの延長方向において隣接する第２の薄膜構造部３ａａ，３ａａ同士、第２の薄膜構造部３ａａの延長方向に直交する方向において隣接する第２の薄膜構造部３ａａ，３ａａ同士を連結している。
【００４１】
サーモパイル３０ａは、シリコン窒化膜３２上で第２の薄膜構造部３ａａと支持部３ｄとに跨って形成されたｎ形ポリシリコン層３４とｐ形ポリシリコン層３５との一端部同士を第２の赤外線吸収部３３ａの赤外線入射面側で金属材料（例えば、Ａｌ−Ｓｉなど）からなる接続部３６により電気的に接続した複数個（図１０に示した例では、９個）の熱電対を有している。また、サーモパイル３０ａは、半導体基板１の上記一表面側で互いに隣り合う熱電対のｎ形ポリシリコン層３４の他端部とｐ形ポリシリコン層３５の他端部とが金属材料（例えば、Ａｌ−Ｓｉなど）からなる接続部３７により接合され電気的に接続されている。ここで、サーモパイル３０ａは、ｎ形ポリシリコン層３４の上記一端部とｐ形ポリシリコン層３５の上記一端部と接続部３６とで温接点Ｔ１を構成している。また、ｎ形ポリシリコン層３４の上記他端部とｐ形ポリシリコン層３５の上記他端部と接続部３７とで冷接点Ｔ２を構成している。なお、赤外線センサチップ１００は、ｎ形ポリシリコン層３４、ｐ形ポリシリコン層３５の各々において、上述のブリッジ部３ｂｂ，３ｂｂに形成されている部位および半導体基板１の上記一表面側のシリコン窒化膜３２上に形成されている部位でも赤外線を吸収することができる。
【００４２】
また、赤外線センサチップ１００は、空洞部１１の形状が、四角錐状であり、平面視における中央部の方が周部に比べて深さ寸法が大きくなっているので、第１の薄膜構造部３ａの中央部に温接点Ｔ１が集まるように各画素部２におけるサーモパイル３０ａの平面レイアウトを設計してある。ここで、図１０の上下方向における真ん中の２つの第２の薄膜構造部３ａａでは、図１０および図１４に示すように、３つの第２の薄膜構造部３ａａの並設方向に沿って温接点Ｔ１を並べて配置してある。これに対し、図１０の上下方向における上側の２つの第２の薄膜構造部３ａａでは、図１０および図１５に示すように、３つの第２の薄膜構造部３ａａの並設方向において真ん中の第２の薄膜構造部３ａａに近い側に温接点Ｔ１を集中して配置してある。また、図１０の上下方向における下側の２つの第２の薄膜構造部３ａａでは、３つの第２の薄膜構造部３ａａの並設方向において真ん中の第２の薄膜構造部３ａａに近い側に温接点Ｔ１を集中して配置してある。しかして、本実施形態の赤外線センサチップ１００では、図１０の上下方向における上側、下側の第２の薄膜構造部３ａａの複数の温接点Ｔ１の配置が、真ん中の第２の薄膜構造部３ａａの複数の温接点Ｔ１の配置と同じである場合に比べて、温接点Ｔ１の温度変化を大きくできるので、感度を向上させることが可能となる。なお、本実施形態では、空洞部１１の最深部の深さを所定深さｄｐ（図１２（ｂ）、図１３（ｂ）参照）とするとき、所定深さｄｐを２００μｍに設定してあるが、この値は一例であり、特に限定するものではない。
【００４３】
また、第２の薄膜構造部３ａａは、シリコン窒化膜３２の赤外線入射面側においてサーモパイル３０ａを形成していない領域に、赤外線を吸収するｎ形ポリシリコン層からなる赤外線吸収層３９が形成されている。この赤外線吸収層３９は、第２の薄膜構造部３ａａの反りを抑制する機能も有している。また、隣接する第２の薄膜構造部３ａａ，３ａａ同士を連結する連結片３ｃには、当該連結片３ｃを補強するｎ形ポリシリコン層からなる補強層３９ｂ（図１６参照）が設けられている。ここで、補強層３９ｂは、赤外線吸収層３９と連続一体に形成されている。しかして、赤外線センサ１００では、連結片３ｃが補強層３９ｂにより補強されているので、使用中の外部の温度変化や衝撃に起因して発生する応力による破損を防止することが可能となり、また、製造時の破損を低減でき、製造歩留まりの向上を図ることが可能となる。なお、本実施形態では、図１６に示す連結片３ｃの長さ寸法Ｌ１を２４μｍ、幅寸法Ｌ２を５μｍ、補強層３９ｂの幅寸法Ｌ３を１μｍに設定してあるが、これらの数値は一例であり、特に限定するものではない。ただし、半導体基板１としてシリコン基板を用いており、補強層３９ｂがｎ形ポリシリコン層により形成される場合には、空洞部１１の形成時に補強層３９ｂがエッチングされるのを防止するために、補強層３９ｂの幅寸法は、連結片３ｃの幅寸法よりも小さく設定し、平面視において補強層３９ｂの両側縁が連結片３ｃの両側縁よりも内側に位置する必要がある。
【００４４】
また、赤外線センサチップ１００は、図１６および図２１（ｂ）に示すように、連結片３ｃの両側縁と第２の薄膜構造部３ａａの側縁との間にそれぞれ面取り部３ｄ，３ｄが形成され、Ｘ字状の連結片３ｃの略直交する側縁間にも面取り部３ｅが形成されている。しかして、赤外線センサ１００では、図２１（ａ）に示すように面取り部が形成されていない場合に比べて、連結片３ｃと第２の薄膜構造部３ａａとの連結部位での応力集中を緩和でき、製造時に発生する残留応力を低減できるとともに製造時の破損を低減でき、製造歩留まりの向上を図れる。また、赤外線センサチップ１００は、使用中の外部の温度変化や衝撃に起因して発生する応力による破損を防止できる。なお、図１６に示した例では、各面取り部３ｄ，３ｅをＲ（アール）が３μｍのＲ面取り部としてあるが、Ｒ面取り部に限らず、例えば、Ｃ面取り部としてもよい。
【００４５】
また、赤外線センサチップ１００は、図１０、図１４、図１５に示すように、各熱型赤外線検出部３に、支持部３ｄと一方のブリッジ部３ｂｂと第２の赤外線吸収部３３ａと他方のブリッジ部３ｂｂと支持部３ｄとに跨るように引き回されたｎ形ポリシリコン層からなる故障診断用配線（故障診断用のヒータ）１３９を設けて、全ての故障診断用配線１３９を直列接続してある。しかして、赤外線センサ１００のｉ×ｊ個の故障診断用配線１３９の直列回路へ通電することで、ブリッジ部３ｂｂの折れなどの破損の有無を検出することが可能である。
【００４６】
要するに、赤外線センサチップ１００は、製造途中での検査時や使用時において、ｉ×ｊ個の故障診断用配線１３９の直列回路への通電の有無によって、ブリッジ部３ｂｂの折れや故障診断用配線１３９の断線などを検出することが可能である。また、赤外線センサチップ１００では、上述の検査時や使用時において、ｉ×ｊ個の故障診断用配線１３９の直列回路へ通電して各感温部３０の出力を検出することにより、感温部３０の断線の有無や感度のばらつき（感温部３０の出力のばらつき）などを検知することが可能となる。ここにおいて、感度のばらつきに関しては、画素部２ごとの感度のばらつきを検知することが可能であり、例えば、第１の薄膜構造部３ａの反りや第１の薄膜構造部３ａの半導体基板１へのスティッキングなどに起因した感度のばらつきを検知することが可能となる。ここで、赤外線センサチップ１００では、平面視において、故障診断用配線１３９を複数の温接点Ｔ１の群の付近において折り返され蛇行した形状としてある。したがって、この赤外線センサチップ１００では、故障診断用配線１３９へ通電することにより発生するジュール熱によって、各温接点Ｔ１を効率良く温めることが可能となる。上述の故障診断用配線１３９は、ｎ形ポリシリコン層３４およびｐ形ポリシリコン層３５と同一平面上に同一厚さで形成されている。
【００４７】
上述の赤外線吸収層３９および故障診断用配線１３９は、ｎ形ポリシリコン層３４と同じｎ形不純物（例えば、リンなど）を同じ不純物濃度（例えば、１０１８〜１０２０ｃｍ−３）で含んでおり、ｎ形ポリシリコン層３４と同時に形成されている。また、ｐ形ポリシリコン層３５のｐ形不純物として例えばボロンを採用すればよく、不純物濃度を例えば１０１８〜１０２０ｃｍ−３程度の範囲で適宜設定すればよい。本実施形態の赤外線センサチップ１００では、ｎ形ポリシリコン層３４およびｐ形ポリシリコン層３５それぞれの不純物濃度が１０１８〜１０２０ｃｍ−３であり、熱電対の抵抗値を低減でき、Ｓ／Ｎ比の向上を図ることが可能となる。なお、赤外線吸収層３９および故障診断用配線１３９は、ｎ形ポリシリコン層３４と同じｎ形不純物を同じ不純物濃度でドーピングしてあるが、これに限らず、例えば、ｐ形ポリシリコン層３５と同じ不純物を同じ不純物濃度でドーピングしてもよい。
【００４８】
ところで、赤外線センサチップ１００は、ｎ形ポリシリコン層３４、ｐ形ポリシリコン層３５、赤外線吸収層３９、および故障診断用配線１３９の屈折率をｎ１、検出対象の赤外線の中心波長をλとするとき、ｎ形ポリシリコン層３４、ｐ形ポリシリコン層３５、赤外線吸収層３９、および故障診断用配線１３９それぞれの厚さｔ１をλ／４ｎ１に設定するようにしている。しかして、赤外線センサチップ１００では、検出対象の波長（例えば、８〜１２μｍ）の赤外線の吸収効率を高めることができ、高感度化を図ることが可能となる。例えば、ｎ１＝３．６、λ＝１０μｍの場合には、ｔ１≒０．６９μｍとすればよい。
【００４９】
また、本実施形態では、ｎ形ポリシリコン層３４、ｐ形ポリシリコン層３５、赤外線吸収層３９、および故障診断用配線１３９それぞれの不純物濃度が１０１８〜１０２０ｃｍ−３であるので、赤外線の吸収率を高くしつつ赤外線の反射を抑制することができて、感温部３０の出力のＳ／Ｎ比を高めることが可能となる。また、本実施形態における赤外線センサチップ１００では、赤外線吸収層３９および故障診断用配線１３９をｎ形ポリシリコン層３４と同一工程で形成できるから、低コスト化を図れる。
【００５０】
また、赤外線センサチップ１００は、図１３、図１７、図１８に示すように、感温部３０の接続部３６と接続部３７とが、半導体基板１の上記一表面側において、層間絶縁膜５０によって絶縁分離されている。すなわち、温接点Ｔ１側の接続部３６は、層間絶縁膜５０に形成したコンタクトホール５０ａ１，５０ａ２を通して、両ポリシリコン層３４，３５の上記各一端部と電気的に接続されている。また、冷接点Ｔ２側の接続部３７は、層間絶縁膜５０に形成されたコンタクトホール５０ａ３，５０ａ４を通して、両ポリシリコン層３４，３５の上記各他端部と電気的に接続されている。
【００５１】
また、ＭＯＳトランジスタ４は、上述のように、半導体基板１の上記一表面側においてＭＯＳトランジスタ４の形成用領域Ａ２に形成されている。
【００５２】
ＭＯＳトランジスタ４は、図１２、図１３、図２０に示すように、半導体基板１の上記一表面側に第１導電形であるｐ形（ｐ＋）のウェル領域４１が形成され、ウェル領域４１内に、第２導電形であるｎ形（ｎ＋）のドレイン領域４３と第２導電形であるｎ形（ｎ＋）のソース領域４４とが離間して形成されている。さらに、ウェル領域４１内には、ドレイン領域４３とソース領域４４とを囲む第１導電形であるｐ形（ｐ＋＋）のチャネルストッパ領域４２が形成されている。
【００５３】
ウェル領域４１においてドレイン領域４３とソース領域４４との間に位置する部位の上には、シリコン酸化膜（熱酸化膜）からなるゲート絶縁膜４５を介してｎ形ポリシリコン層からなるゲート電極４６が形成されている。
【００５４】
また、ドレイン領域４３上には、金属材料（例えば、Ａｌ−Ｓｉなど）からなるドレイン電極４７が形成され、ソース領域４４上には、金属材料（例えば、Ａｌ−Ｓｉなど）からなるソース電極４８が形成されている。
【００５５】
ゲート電極４６、ドレイン電極４７およびソース電極４８は、上述の層間絶縁膜５０によって絶縁分離されている。ここで、ドレイン電極４７は、層間絶縁膜５０に形成したコンタクトホール５０ｄを通してドレイン領域４３と電気的に接続され、ソース電極４８は、層間絶縁膜５０に形成したコンタクトホール５０ｅを通してソース領域４４と電気的に接続されている。
【００５６】
赤外線センサチップ１００の各画素部２では、図８、図１０に示すように、ＭＯＳトランジスタ４のソース電極４８と感温部３０の一端とが電気的に接続され、感温部３０の他端が第４の配線１０４に電気的に接続されている。また、各画素部２では、ＭＯＳトランジスタ４のドレイン電極４７が、第１の配線１０１と電気的に接続され、ゲート電極４６が、ｎ形ポリシリコン配線からなる第２の配線１０２と電気的に接続されている。また、各画素部２では、図１２、図１３に示すように、ＭＯＳトランジスタ４のチャネルストッパ領域４２上に、金属材料（例えば、Ａｌ−Ｓｉなど）からなる電極４９が形成されている。しかして、ウェル領域４１は、チャネルストッパ領域４２および電極４９を介して、第３の配線１０３と電気的に接続されている。なお、電極４９は、層間絶縁膜５０に形成したコンタクトホール５０ｆを通してチャネルストッパ領域４２と電気的に接続されている。
【００５７】
また、上述のツェナダイオードＺＤは、図２２に示すように、第１拡散領域８１上にアノード電極８３が形成され、第２拡散領域８２上に２つのカソード電極８４ａ，８４ｂが形成されている。このツェナダイオードＺＤは、アノード電極８３が、第５のパッドＶzdと電気的に接続され、一方のカソード電極８４ａが、１つの第２の配線１０２を介して当該第２の配線１０２に接続されたＭＯＳトランジスタ４のゲート電極４６と電気的に接続され、他方のカソード電極８４ｂが、当該第２の配線１０２に接続された第２のパッドＶsel1〜Ｖsel8の１つと電気的に接続されている。
【００５８】
上述の赤外線センサチップ１００によれば、通電されることにより発生するジュール熱によって温接点Ｔ１を温める故障診断用配線１３９を備えているので、故障診断用配線１３９へ通電してサーモパイル３０ａの出力を測定することにより、サーモパイル３０ａの断線などの故障の有無を判断することが可能となって、信頼性の向上を図れる。しかも、赤外線センサチップ１００は、故障診断用配線１３９が、熱型赤外線検出部３において半導体基板１の空洞部１１に重なる領域でサーモパイル３０ａと重ならないように配置されているので、故障診断用配線１３９によるサーモパイル３０ａの温接点Ｔ１の熱容量の増大を防止でき、感度および応答速度の向上を図ることが可能となる。
【００５９】
ここで、赤外線センサチップ１００は、使用時において自己診断を行わない通常時において、故障診断用配線１３９も外部からの赤外線を吸収するので、複数の温接点Ｔ１の温度の均一化を図れ、感度の向上を図ることが可能となる。なお、赤外線センサチップ１００では、赤外線吸収層３９および補強層３９ｂも外部からの赤外線を吸収するので、複数の温接点Ｔ１の温度の均一化を図れ、感度の向上を図ることが可能となる。また、赤外線センサチップ１００の使用時の自己診断は、例えば、上述のＩＣ素子に設けられた自己診断回路により定期的に行うようにすればよいが、必ずしも定期的に行う必要はない。
【００６０】
また、赤外線センサチップ１００は、第１の薄膜構造部３ａが、複数の線状のスリット１３を設けることによって、空洞部１１の内周方向に沿って並設されそれぞれ熱型赤外線検出部３において空洞部１１を囲む部位である支持部３ｄから内方へ延長された複数の第２の薄膜構造部３ａａに分離されている。そして、赤外線センサチップ１００は、各第２の薄膜構造部３ａａごとにサーモパイル３０ａの温接点Ｔ１が設けられるとともに、各サーモパイル３０ａごとに出力を取り出す場合に比べて温度変化に対する出力変化が大きくなる接続関係で全てのサーモパイル３０ａが電気的に接続されているので、応答速度および感度の向上を図ることが可能となる。また、赤外線センサチップ１００では、隣接する第２の薄膜構造部３ａａ，３ａａ同士を連結する連結片３ｃが形成されていることにより、各第２の薄膜構造部３ａａの反りを低減でき、構造安定性の向上を図れ、感度が安定する。
【００６１】
また、赤外線センサチップ１００は、ｎ形ポリシリコン層３４とｐ形ポリシリコン層３５と赤外線吸収層３９と補強層３９ｂと故障診断用配線１３９とが同一の厚さに設定されているので、第２の薄膜構造部３ａａの応力バランスの均一性が向上し、第２の薄膜構造部３ａａの反りを抑制することができ、製品ごとの感度のばらつきや、画素部２ごとの感度のばらつきを低減することが可能となる。
【００６２】
また、赤外線センサチップ１００は、故障診断用配線１３９が、第１の熱電要素であるｎ形ポリシリコン層３４もしくは第２の熱電要素であるｐ形ポリシリコン層３５と同じ材料により形成されているので、故障診断用配線１３９を第１の熱電要素もしくは第２の熱電要素と同時に形成することが可能となり、製造プロセスの簡略化による低コスト化を図れる。
【００６３】
また、赤外線センサチップ１００は、赤外線吸収部３３および故障診断用配線１３９を備えた複数の画素部２が、半導体基板１の上記一表面側で２次元アレイ状に設けられているので、製造時や使用時の自己診断に際して各画素部２それぞれの故障診断用配線１３９に通電することにより、各画素部２それぞれの感温部３０の感度のばらつきを把握することが可能となる。
【００６４】
ところで、熱酸化膜１ｂにおけるパッド８０の形成予定領域（パッド形成領域）は、半導体基板１の上記一表面側において、シリコン窒化膜３２を有する熱型赤外線検出部３の形成用領域Ａ１を避けて設定してある。
【００６５】
以下、赤外線センサチップ１００の基本的な製造方法の一例について図２３〜図２７を参照して説明する。
【００６６】
第２導電形のシリコン基板からなる半導体基板１の上記一表面側に第１の所定膜厚（例えば、０．３μｍ）の第１のシリコン酸化膜３１と第２の所定膜厚（例えば、０．１μｍ）のシリコン窒化膜３２との積層膜からなる絶縁層を形成する絶縁層形成工程を行う。その後、フォトリソグラフィ技術およびエッチング技術を利用して当該絶縁層のうち熱型赤外線検出部３の形成用領域Ａ１に対応する部分の一部を残してＭＯＳトランジスタ４の形成用領域Ａ２に対応する部分をエッチング除去する絶縁層パターニング工程を行うことによって、図２３（ａ）に示す構造を得る。ここにおいて、第１のシリコン酸化膜３１は、半導体基板１を所定温度（例えば、１１００℃）で熱酸化することにより形成してあり、シリコン窒化膜３２は、ＬＰＣＶＤ法により形成している。また、上記絶縁層のエッチングは、反応性イオンエッチング（ＲＩＥ）装置により行っているが、エッチング装置は特に限定するものではない。
【００６７】
上述の絶縁層パターニング工程の後、半導体基板１の上記一表面側に第１導電形であるｐ形（ｐ＋）のウェル領域４１を形成するウェル領域形成工程を行う。続いて、半導体基板１の上記一表面側におけるウェル領域４１内に第１導電形であるｐ形（ｐ＋＋）のチャネルストッパ領域４２を形成するチャネルストッパ領域形成工程を行う。その後、ＭＯＳトランジスタ４のしきい値電圧Ｖthを制御するためのイオン注入工程を行うことによって、図２３（ｂ）に示す構造を得る。ここで、ウェル領域形成工程では、まず、半導体基板１の上記一表面側の露出部位を所定温度で熱酸化することにより第２のシリコン酸化膜５１を選択的に形成する。その後、ウェル領域４１を形成するためのフォトマスクを利用したフォトリソグラフィ技術およびエッチング技術を利用して第２のシリコン酸化膜５１をパターニングする。続いて、第１導電形の不純物（ここでは、ｐ形の不純物であり、例えば、ボロンなど）のイオン注入を行ってから、ドライブインを行うことにより、ウェル領域４１を形成する。また、本実施形態では、ウェル領域形成工程において、ウェル領域４１の形成と同時に、ツェナダイオードＺＤの第１拡散領域８１も形成するようにしている。また、チャネルストッパ領域形成工程およびイオン注入工程それぞれにおいてイオン注入後に、ドライブインを行うことで半導体基板１の上記一表面側を所定温度で熱酸化することにより第３のシリコン酸化膜５２を選択的に形成する。赤外線センサチップ１００では、第１のシリコン酸化膜３１と第２のシリコン酸化膜５１と第３のシリコン酸化膜５２とで、半導体基板１の上記一表面側の熱酸化膜１ｂを構成している。
【００６８】
上述のイオン注入工程の後、第２導電形であるｎ形（ｎ＋）のドレイン領域４３および第２導電形であるｎ形（ｎ＋）のソース領域４４を形成するソース・ドレイン形成工程を行う。このソース・ドレイン形成工程では、ウェル領域４１におけるドレイン領域４３およびソース領域４４それぞれの形成予定領域に第２導電形の不純物（ここでは、ｎ形の不純物であり、例えば、リンなど）のイオン注入を行ってから、ドライブインを行うことによって、ドレイン領域４３およびソース領域４４を形成する。また、本実施形態では、ソース・ドレイン形成工程において、ドレイン領域４３およびソース領域４４の形成と同時に、ツェナダイオードＺＤの第２拡散領域８２も形成するようにしている。
【００６９】
ソース・ドレイン形成工程の後、半導体基板１の上記一表面側に例えば熱酸化により所定膜厚（例えば、６００Å）のシリコン酸化膜からなるゲート絶縁膜４５を形成するゲート絶縁膜形成工程を行う。続いて、半導体基板１の上記一表面側の全面にゲート電極４６、第２の配線１０２（図１０参照）、ｎ形ポリシリコン層３４、ｐ形ポリシリコン層３５、赤外線吸収層３９および故障診断用配線１３９の基礎となる所定膜厚（例えば、０．６９μｍ）のノンドープポリシリコン層をＬＰＣＶＤ法により形成するポリシリコン層形成工程を行う。その後、フォトリソグラフィ技術およびエッチング技術を利用して上記ノンドープポリシリコン層のうちゲート電極４６、第２の配線１０２、ｎ形ポリシリコン層３４、ｐ形ポリシリコン層３５、赤外線吸収層３９および故障診断用配線１３９それぞれに対応する部分が残るように上記ノンドープポリシリコン層をパターニングするポリシリコン層パターニング工程を行う。続いて、上記ノンドープポリシリコン層のうちｐ形ポリシリコン層３５に対応する部分にｐ形の不純物（例えば、ボロンなど）のイオン注入を行ってからドライブインを行うことによりｐ形ポリシリコン層３５を形成するｐ形ポリシリコン層形成工程を行う。その後、上記ノンドープポリシリコン層のうちｎ形ポリシリコン層３４、赤外線吸収層３９、故障診断用配線１３９、ゲート電極４６および第２の配線１０２に対応する部分にｎ形の不純物（例えば、リンなど）のイオン注入を行ってからドライブインを行うことによりｎ形ポリシリコン層３４、赤外線吸収層３９、故障診断用配線１３９、ゲート電極４６および第２の配線１０２を形成するｎ形ポリシリコン層形成工程を行うことによって、図２４（ａ）に示す構造を得る。なお、ポリシリコン層パターニング工程では、ＲＩＥ装置により上記ノンドープポリシリコン層の不要部分をエッチングしているが、エッチング装置は特に限定するものではない。また、ｐ形ポリシリコン層形成工程とｎ形ポリシリコン層形成工程との順序は逆でもよい。
【００７０】
上述のｐ形ポリシリコン層形成工程およびｎ形ポリシリコン層形成工程が終了した後、半導体基板１の上記一表面側に層間絶縁膜５０を形成する層間絶縁膜形成工程を行う。続いて、フォトリソグラフィ技術およびエッチング技術を利用して層間絶縁膜５０に各コンタクトホール５０ａ１，５０ａ２，５０ａ３，５０ａ４，５０ｄ，５０ｅ，５０ｆ（図１６、図１７、図１９参照）を形成するコンタクトホール形成工程を行うことによって、図２４（ｂ）に示す構造を得る。層間絶縁膜形成工程では、半導体基板１の上記一表面側に所定膜厚（例えば、０．８μｍ）のＢＰＳＧ膜を常圧ＣＶＤ法により堆積させてから、所定温度（例えば、８００℃）でリフローすることにより平坦化された層間絶縁膜５０を形成する。また、コンタクトホール形成工程において、層間絶縁膜５０のうち熱酸化膜１ｂにおけるパッド８０の形成予定領域上に形成されている部分を除去するようにしている。なお、コンタクトホール形成工程では、層間絶縁膜５０に、ツェナダイオードＺＤのカソード電極８４ａ，８４ｂ、アノード電極８３のそれぞれに対応するコンタクトホール５０ｇ，５０ｈ，５０ｉも形成する（図２２参照）。また、コンタクトホール形成工程では、ＲＩＥ装置によるドライエッチングを行ってから、ウェットエッチングを行うようにしている。ドライエッチングの終了時は、層間絶縁膜５０のジャストエッチング時で管理するようにしているが、これはエッチング時間で管理してもよいし、周知の終点検出の方法（例えば、レーザ光を干渉させて膜厚変化を測定することでエッチングの終点を検出する方法など）を利用して管理してもよい。また、コンタクトホール形成工程でドライエッチングを行う際のエッチング装置は、ＲＩＥ装置に限らず、他のドライエッチング装置でもよい。
【００７１】
上述のコンタクトホール形成工程の後、半導体基板１の上記一表面側の全面に接続部３６，３７、ドレイン電極４７、ソース電極４８、第４の配線１０４、第１の配線１０１、第３の配線１０３、各パッド８０、カソード電極８４ａ，８４ｂ、アノード電極８３などの基礎となる所定膜厚（例えば、１μｍ）の金属膜（例えば、Ａｌ−Ｓｉ膜）をスパッタ法などにより形成する金属膜形成工程を行う。続いて、フォトリソグラフィ技術およびエッチング技術を利用して金属膜をパターニングすることで接続部３６，３７、ドレイン電極４７、ソース電極４８、第４の配線１０４、第１の配線１０１、第３の配線１０３、各パッド８０、カソード電極８４ａ，８４ｂ、アノード電極８３などを形成する金属膜パターニング工程を行うことによって、図２５（ａ）に示す構造を得る。なお、金属膜パターニング工程におけるエッチングはＲＩＥ装置により行っているが、エッチング装置は特に限定するものではない。また、この金属膜パターニング工程を行うことにより、温接点Ｔ１および冷接点Ｔ２が形成される。
【００７２】
上述の金属膜パターニング工程の後、半導体基板１の上記一表面側（つまり、層間絶縁膜５０の表面側）に所定膜厚（例えば、０．５μｍ）のＰＳＧ膜と所定膜厚（例えば、０．５μｍ）のＮＳＧ膜との積層膜からなるパッシベーション膜６０を常圧ＣＶＤ法により形成するパッシベーション膜形成工程を行うことによって、図２５（ｂ）に示す構造を得る。
【００７３】
上述のパッシベーション膜形成工程の後、第１のシリコン酸化膜３１、シリコン窒化膜３２、層間絶縁膜５０、パッシベーション膜６０などを有し且つ感温部３０などが埋設された積層構造部をパターニングすることにより、第２の薄膜構造部３ａａおよび連結片３ｃを形成する積層構造部パターニング工程を行うことによって、図２６（ａ）に示す構造を得る。この積層構造部パターニング工程において、積層構造部をパターニングすることにより、各スリット１３，１４を形成している。積層構造部パターニング工程では、フォトリソグラフィ技術およびエッチング技術を利用して積層構造部をパターニングしている。ここで、積層構造部パターニング工程におけるエッチングは、ＲＩＥ装置により行っているが、エッチング装置は特に限定するものではない。
【００７４】
上述の積層構造部パターニング工程の後、フォトリソグラフィ技術およびエッチング技術を利用してパッシベーション膜６０に各パッド８０を各別に露出させる各開口部（図示せず）を形成する開口部形成工程を行う。ここで、開口部形成工程におけるエッチングはＲＩＥ装置により行っている。
【００７５】
次に、各スリット１３，１４をエッチング液導入孔としてエッチング液を導入し半導体基板１を異方性エッチング（結晶異方性エッチング）することにより半導体基板１に空洞部１１を形成する空洞部形成工程を行うことで、図２６（ｂ）に示す構造の赤外線センサ１００を得る。ここで、空洞部形成工程では、エッチング液として所定温度（例えば、８５℃）に加熱したＴＭＡＨ溶液を用いているが、エッチング液はＴＭＡＨ溶液に限らず、他のアルカリ系溶液（例えば、ＫＯＨ溶液など）を用いてもよい。いずれにしても、空洞部形成工程では、積層構造部をエッチングマスクとしてウェットエッチングを行う。なお、空洞部形成工程が終了するまでの全工程はウェハレベルで行うので、空洞部形成工程が終了した後、個々の赤外線センサ１００に分離（裁断）する分離工程を行えばよい。
【００７６】
本実施形態の赤外線センサチップ１００の製造方法は、ウェハプロセス（前工程とも呼ばれる）を前提としており、半導体ウェハから複数個の赤外線センサチップ１００を製造する。
【００７７】
そこで、本実施形態の赤外線センサチップ１００の製造方法では、まず、半導体ウェハを用意する。半導体ウェハは、半導体基板１の基礎となるものであり、半導体基板１がシリコン基板の場合には、シリコンウェハである。また、半導体ウェハとしては、端面が面取りされたものを用意する。ここで、「端面が面取りされた」とは、円柱状の単結晶半導体インゴット３００（図１（ａ）参照）からウェハ状に切断した後、外周面（端面）と切断面との交点である角を削り落とす面取り加工が施されていることを意味する。「面取り」は、「ベベル（bevel）」、「ベベリング（beveling）」、「エッジラウンディング（edge rounding）」などとも呼ばれる。面取り加工では、面取り研削を行ってから、化学エッチングを行い、更に鏡面研磨を行うことが好ましい。面取り加工による仕上がり形状は、「edge profile（端面形状）」として一定の形状範囲に入るように、例えば、日本電子工業振興協会（ＪＥＩＤＡ）や、ＳＥＭＩ（Semiconductor Equipment and Materials International）により、標準規格が設定されている。単結晶半導体インゴット３００は、半導体ウェハの半導体材料により形成されたインゴットである。例えば、半導体ウェハがシリコンウェハの場合、単結晶半導体インゴット３００は、単結晶シリコンのインゴット（シリコンインゴットとも呼ばれる）である。
【００７８】
半導体ウェハを用意した後、上述の図２３〜図２７を参照して説明した各工程を半導体ウェハ３０１に対して行う。
【００７９】
ところで、半導体ウェハの用意にあたっては、１個の単結晶半導体インゴット３００（図１（ａ）参照）を元に形成された複数枚の単結晶半導体ウェハ３０１（図１（ｂ）参照）の中から検査用として抜き取った単結晶半導体ウェハ３０１（３０１ｂ）（図１（ｃ）参照）の形状および結晶性それぞれについて、予め規定した検査項目の検査を行い、検査規格を満足した検査用の単結晶半導体ウェハ３０１ｂの形成元の単結晶半導体インゴット３００から形成した他の単結晶半導体ウェハ３０１（３０１ａ）を半導体ウェハとして用意する。
【００８０】
単結晶半導体ウェハ３０１ｂの結晶性についての検査項目としては、結晶欠陥密度を含んでいることが好ましい。
【００８１】
結晶欠陥密度として密度を検査する結晶欠陥は、転位や、酸化有機積層欠陥（ＯＳＦ：Oxidationinduced Stacking Fault）が好ましい。ここで、結晶欠陥密度として転位密度を検査する単結晶半導体ウェハ３０１ｂと、結晶欠陥密度としてＯＳＦ密度を検査する単結晶半導体ウェハ３０１ｂとは、１個の単結晶半導体インゴット３００を元に形成された複数枚の単結晶半導体ウェハ３０１の中から、少なくとも１枚ずつ抜き取ることが好ましい。
【００８２】
ここにおいて、単結晶半導体ウェハ３０１ｂの転位密度の検査にあたっては、まず、単結晶半導体ウェハ３０１ｂの欠陥を光学顕微鏡などにより光学的に評価する目的で用いるエッチング液に、単結晶半導体ウェハ３０１ｂを浸漬させる。単結晶半導体ウェハ３０１ｂがシリコンウェハの場合、エッチング液としては、六価クロムを使用しない選択エッチング液（非クロムエッチング液）が好ましく、例えば、液組成が、ＨＦ：ＨＮＯ３：ＣＨ３ＣＯＯＨ：Ｈ２Ｏ＝１：１２．７：３：５．７の選択エッチング液を用いることが好ましい。エッチング液から単結晶半導体ウェハ３０１ｂを取り出して純水などにより洗浄した後、乾燥させ、その後、光学顕微鏡などにより、単結晶半導体ウェハ３０１ｂの転位密度を確認する。転位密度は、単結晶半導体ウェハ３０１ｂの主表面の数ヶ所で測定し、その平均値を用いることが好ましい。本実施形態では、転位密度として、単位面積当りのエッチピットの数（ＥＰＤ：etch pit density）を採用するようにし、ＥＰＤの検査規格を５０個／ｃｍ２以下とすることが好ましい。ＥＰＤは、より小さな値が好ましく、ＥＰＤが０個／ｃｍ２の場合、その単結晶半導体ウェハ３０１ｂを、いわゆる無転位結晶（dislocation free crystal）とみなすことができる。
【００８３】
また、単結晶半導体ウェハ３０１ｂのＯＳＦ密度の検査にあたっては、まず、単結晶半導体ウェハ３０１ｂの表面に酸化膜（ここでは、シリコン酸化膜）を形成する。酸化膜の形成方法として、ウェット酸化（wet oxidation）法を適用する。単結晶半導体ウェハ３０１ｂがシリコンウェハの場合、ウェット酸化法による酸化の条件としては、例えば、パイロジェニック酸化法で、酸化温度を１１４０℃、酸化時間を２時間とすればよいが、この条件は一例であり、特に限定するものではない。
【００８４】
単結晶半導体ウェハ３０１ｂの表面に酸化膜を形成した後、単結晶半導体ウェハ３０１ｂのＯＳＦを光学顕微鏡などにより光学的に評価する目的で用いるエッチング液に、単結晶半導体ウェハ３０１ｂを浸漬させる。単結晶半導体ウェハ３０１ｂがシリコンウェハの場合、エッチング液としては、六価クロムを使用しない選択エッチング液（非クロムエッチング液）が好ましく、例えば、液組成が、ＨＦ：ＨＮＯ３：ＣＨ３ＣＯＯＨ：Ｈ２Ｏ＝１：１２．７：３：５．７の選択エッチング液を用いることが好ましい。エッチング液から単結晶半導体ウェハ３０１ｂを取り出して純水などにより洗浄した後、乾燥させ、その後、光学顕微鏡などにより、単結晶半導体ウェハ３０１ｂのＯＳＦ密度を確認する。ＯＳＦ密度は、単結晶半導体ウェハ３０１ｂの主表面の数ヶ所で測定し、その平均値を用いることが好ましい。本実施形態では、ＯＳＦ密度として、単位面積当りのエッチピットの数（ＥＰＤ：etch pit density）を採用するようにし、ＥＰＤの検査規格を５０個／ｃｍ２以下とすることが好ましい。ＥＰＤは、より小さな値が好ましく、ＥＰＤが０個／ｃｍ２の場合、その単結晶半導体ウェハ３０１ｂを、いわゆる無転位結晶（dislocation free crystal）とみなすことができる。
【００８５】
ところで、上述の赤外線センサチップ１００の製造方法では、半導体基板１を結晶異方性エッチングすることで空洞部１１を形成する際に、半導体基板１の上記一表面側において、支持部３ｄの下側にアンダーカット（サイドエッチング）が生じる。図２（ａ）、（ｂ）に、アンダーカットに起因して形成される空洞部１１の形状を破線で示してある。しかしながら、例えば、図２（ｂ）に模式的に示すように支持部３ｄの下側において半導体基板１に結晶欠陥３０５があると、空洞部１１を形成するエッチングの際に、アンダーカット量が多くなり、空洞部１１が冷接点Ｔ２の鉛直下方の位置にまで形成された不良品が発生してしまう懸念があった。このような不良品では、支持部３ｄにおいて半導体基板１から浮いた部分にある冷接点Ｔ２が存在し、この冷接点Ｔ２の温度が安定せずにセンサ特性が低下してしまうという懸念や、熱型赤外線検出部３の機械的強度が低下し、熱型赤外線検出部３が破損してしまう懸念がある。
【００８６】
なお、図２（ｂ）では、空洞部１１がプロセス設計通りに形成された場合の空洞部１１の内側面である（１１１）面の位置を破線で示してあり、結晶欠陥３０５に起因してアンダーカット量が多くなった場合の空洞部１１の内側面である（１１１）面の位置を実線で示してある（図２（ｂ）では、前者の場合の空洞部１１の内側面の位置から後者の場合の空洞部１１の内側面の位置への変位方向を模式的に示している）。
【００８７】
赤外線センサチップ１００は、上述のように、８×８個（＝６４個）の画素部２が８行８列の２次元アレイ状に配置されている。したがって、赤外線センサチップ１００は、半導体基板１の上記一表面側に８×８個の空洞部１１が形成されている。上述の赤外線センサチップ１００の製造方法では、平面視における空洞部１１の開口サイズを図３に示すように２００μｍ×２５０μｍとし、空洞部１１の最深部の所定深さｄｐ（図１２（ｂ）、図１３（ｂ）参照）を２００μｍとした一実施例の場合、支持部３ｄの下側において横方向へのアンダーカット量（サイドエッチング量）は５μｍ程度である。図３において、ハッチングを施した部位は、支持部３ｄにおいて下側がアンダーカットされている領域１１ａ（以下、アンダーカット領域１１ａと称する）を模式的に示している。
【００８８】
上述の一実施例の製造方法において、赤外線センサチップ１００の１チップ当りのアンダーカット領域１１ａの面積は、
（２１０μｍ×２６０μｍ−２００μｍ×２５０μｍ）×６４＝０．１４５６ｍｍ２
となる。
【００８９】
これに対して、例えば、結晶欠陥密度が５０個／ｃｍ２（＝１個／２ｍｍ２）であるとすると、チップ不良率は、
（０．１４５６／２）×１００＝７％
となる。
【００９０】
したがって、チップ不良率を７％以下にするためには、結晶欠陥密度の検査規格を５０個／ｃｍ２以下と規定すればよい。これに対して、検査用の単結晶半導体ウェハ３０１ｂの結晶欠陥密度が５０個／ｃｍ２以下であれば、この検査用の単結晶半導体ウェハ３０１ｂの形成元の単結晶半導体インゴット３００から形成した他の単結晶半導体ウェハ３０１ａを半導体ウェハとして用意することにより、半導体ウェハの結晶欠陥密度に起因した空洞部１１のアンダーカット量の増大を抑制することが可能となる。これにより、支持部３ｄにおいて半導体基板１から浮いた部分にある冷接点Ｔ２が存在してしまう不良品の発生を抑制することが可能となり、製造歩留まりの向上を図ることが可能となる。
【００９１】
また、単結晶半導体ウェハ３０１ｂの結晶性についての検査項目としては、酸素濃度を含んでいる。単結晶半導体ウェハ３０１ｂの酸素濃度の測定方法としては、赤外線吸収測定法が好ましい。本実施形態では、酸素濃度の検査規格を、１．７×１０１８atoms／ｃｍ３以下とすることが好ましい。単結晶半導体ウェハ３０１ｂの酸素濃度が１．７×１０１８atoms／ｃｍ３以下であれば、半導体ウェハ中の不純物である酸素により誘起されて発生する転位に起因した空洞部１１のアンダーカット量の増大を抑制することが可能となる。これにより、支持部３ｄにおいて半導体基板１から浮いた部分にある冷接点Ｔ２が存在してしまう不良品の発生を抑制することが可能となり、製造歩留まりの向上を図ることが可能となる。
【００９２】
また、上述の赤外線センサチップ１００の製造方法は、上述のようにフォトリソグラフィ技術およびエッチング技術を利用して上記ノンドープポリシリコン層のうちゲート電極４６、第２の配線１０２、ｎ形ポリシリコン層３４、ｐ形ポリシリコン層３５、赤外線吸収層３９および故障診断用配線１３９それぞれに対応する部分が残るように上記ノンドープポリシリコン層をパターニングするポリシリコン層パターニング工程を備えている。しかしながら、このポリシリコン層パターニング工程におけるフォトリソグラフィ工程で、半導体ウェハの厚みばらつきに起因してデフォーカスが発生し、ポリシリコン層パターニング工程における寸法変換差が大きくなって断線が起こり、製造歩留まりが低下してしまうことがあった。
【００９３】
そこで、単結晶半導体ウェハ３０１ｂの形状についての検査項目としては、特にポリシリコン層パターニング工程のフォトリソグラフィ工程で重要となる厚みばらつきを含んでいる。
【００９４】
ここで、単結晶半導体ウェハ３０１ｂの検査項目として適用する厚みばらつきとしては、例えば、ウェハ裏面基準での微小エリアの厚みばらつきとして規格化されているＳＢＩＲ（Site Backsurface-referenced Ideal plane/RangeまたはSite Back Ideal Range）、ＬＴＶ（Local ThicknessVariation）や、ウェハの表面基準（front side reference）での微小エリアの厚みばらつきとして規格化されているＳＦＱＲ（Site Frontsite least squares focal plane site Range）や、ウェハの裏面基準（back side reference）でのウェハ全体の厚みばらつきとして規格化されているＧＢＩＲ（Global Backside Ideal focal plane Range）、ＴＴＶ（Total Thickness Variation）などがある。上述の「微小エリア」は、ウェハをある一定の方法で分割したときの１区画（リソグラフィ工程において１回の露光で光が照射される領域である１ショット）に対応しており、「サイト（site）」と同じ意味である。
【００９５】
ショットサイズを１８ｍｍ□とした例について、半導体ウェハのＬＴＶと上記ポリシリコン層パターニング工程でパターニングされたポリシリコン層の線幅変動量との関係を調べた結果を図４に示す。ここで、線幅変動量は、ＬＴＶを０と仮定した場合の所定パターン（ここでは、ｐ形ポリシリコン層３５に対応するパターン）のポリシリコン層の設計線幅に対する変動量である。図４から、ＬＴＶが大きくなるにつれて線幅変動量が大きくなる傾向があることが分かる。また、図４中に示した近似直線と横軸との交点が０．６μｍ程度であるから、線幅変動量が略零となるように線幅変動を抑制するには、少し余裕を見て検査規格を例えばＬＴＶ≦０．５μｍとすればよい。したがって、単結晶半導体ウェハ３０１ｂの検査項目として厚みばらつきを採用し、検査規格を満足した単結晶半導体ウェハ３０１ｂの形成元の単結晶半導体インゴット３００から形成した他の単結晶半導体ウェハ３０１ａを半導体ウェハとして用意することにより、赤外線センサチップ１００の構成要素が、半導体ウェハの厚みばらつきに起因して断線したり欠落したりした不良品の発生を抑制することが可能となる。これにより、製造歩留まりの向上を図ることが可能となる。ここで、構成要素としては、例えば、ゲート電極４６、第２の配線１０２、ｎ形ポリシリコン層３４、ｐ形ポリシリコン層３５、赤外線吸収層３９および故障診断用配線１３９などがある。
【００９６】
ＳＢＩＲは、ＬＴＶと同じ定義であるから、検査規格をＳＢＩＲ≦０．５μｍとすることが好ましい。また、ＳＦＲＱ、ＧＢＩＲ、ＴＴＶなどについても、０．５μｍ以下とすることが好ましい。また、ＳＢＩＲやＬＴＶのような裏面基準の厚みばらつきを採用するかＳＦＱＲのような表面基準での厚みばらつきを採用するかは、フォトリソグラフィ工程での露光方式に基づいて適宜選択すればよい。
【００９７】
なお、ＳＥＭＩ規格では、直径が１００ｍｍ（４インチ）、直径が１５０ｍｍ（６インチ）、直径が２００ｍｍ（８インチ）、直径が３００ｍｍ（１２インチ）のシリコンウェハの厚みは、それぞれ、５２５μｍ、６２５μｍ、７２５μｍ、７７５μｍである。また、これらのシリコンウェハの厚み公差は、いずれも±２５μｍである。
【００９８】
また、単結晶半導体ウェハ３０１ｂの形状についての検査項目としては、オリエンテーションフラット面３０１ｃの面方位を含んでいる。一般的に、主表面が（１００）面のシリコンウェハのオリエンテーションフラット面（本明細書中では、主オリエンテーションフラット面を意味している）の面方位は〔０−１１〕であり、公差は±１°程度である。ここで、面方位に関して、負の指数については、“−”の符号を指数の左側に付けて表している。
【００９９】
上述の赤外線センサチップ１００の製造方法では、上述の積層構造部パターニング工程のフォトリソグラフィ工程において、半導体ウェハとして用いている単結晶半導体ウェハ３０１（図５（ａ）参照）のオリエンテーションフラットＯＦを基準としてフォトマスクの位置合わせを行う。ここにおいて、図５（ｂ）に示すようにオリエンテーションフラット面３０１ｃの面方位が規定の面方位である〔０−１１〕からずれている場合には、空洞部１１の形成領域が、図５（ａ）に示すようにオリエンテーションフラット面３０１ｃの面方位が〔０−１１〕からずれていない場合の空洞部１１の形成領域とは異なってしまう懸念がある。すなわち、図５（ａ）では、平面視矩形状の開口形状の空洞部１１の２辺がオリエンテーションフラットＯＦと平行となるのに対し、図５（ｂ）では、オリエンテーションフラットＯＦと平行となる辺がなくなり、結果的に赤外線センサチップ１００のセンサ特性が低下したり、熱型赤外線検出部３の機械的な強度が低下してしまう懸念がある。すなわち、図５（ｂ）の場合には、空洞部１１が冷接点Ｔ２の鉛直下方の位置にまで形成された不良品が発生してしまう懸念があった。このような不良品では、支持部３ｄにおいて半導体基板１から浮いた部分にある冷接点Ｔ２が存在し、この冷接点Ｔ２の温度が安定せずにセンサ特性が低下してしまうという懸念や、熱型赤外線検出部３の機械的強度が低下し、熱型赤外線検出部３が破損してしまう懸念がある。
【０１００】
そこで、本実施形態では、オリエンテーションフラット面３０１ｃの面方位の検査規格を〔０−１１〕±０．５°に設定している。オリエンテーションフラット面３０１ｃの面方位の測定方法としては、例えば、Ｘ線回折法を採用することが好ましい。
【０１０１】
本実施形態の赤外線センサチップ１００の製造方法では、オリエンテーションフラット面３０１ｃの面方位の検査規格を〔０−１１〕±０．５°に設定していることにより、半導体ウェハ３０２のオリエンテーションフラット面３０１ｃの面方位のずれに起因して空洞部１１の形状が設計形状からずれてしまうのを抑制することが可能となる。その結果、支持部３ｄにおいて半導体基板１から浮いた部分にある冷接点Ｔ２が存在してしまう不良品の発生を抑制することが可能となり、製造歩留まりの向上を図ることが可能となる。
【０１０２】
以上説明した本実施形態の赤外線センサチップ１００は、半導体ウェハを用意し、この半導体ウェハから複数個の赤外線センサチップ１００を製造する赤外線センサチップ１００の製造方法であって、半導体ウェハの用意にあたっては、１個の単結晶半導体インゴット３００を元に形成された複数枚の単結晶半導体ウェハ３０１の中から検査用として抜き取った単結晶半導体ウェハ３０１ｂの形状および結晶性それぞれについて、予め規定した検査項目の検査を行い、検査規格を満足した検査用の単結晶半導体ウェハ３０１ｂの形成元の単結晶半導体インゴット３００から形成した他の単結晶半導体ウェハ３０１ａを半導体ウェハとして用意する。これにより、本実施形態の赤外線センサチップ１００の製造方法によれば、半導体ウェハの形状や結晶性などの性状に起因してウェハ工程（前工程）で生じる不良品の発生をウェハ工程よりも前で未然に防ぐことが可能となり、製造歩留まりの向上を図ることが可能となる。
【０１０３】
上述の赤外線センサチップ１００では、半導体基板１として上記一表面が（１００）面の単結晶のシリコン基板を用いて、エッチング速度の結晶面方位依存性を利用した異方性エッチングにより形成する空洞部１１を四角錐状の形状としてあるが、四水錘状の形状に限らず、四角錐台状の形状でもよい。また、半導体基板１の上記一表面の面方位は特に限定するものではなく、例えば、半導体基板１として上記一表面が（１１０）面の単結晶のシリコン基板を用いてもよい。
【０１０４】
また、半導体基板１の導電形は、ｎ形に限らず、例えば、図２７〜図２９に示すようにｐ形でもよい。図２７は、ｐ形の半導体基板１がチャネル形成用領域を構成し、ドレイン領域４３およびソース領域４４の導電形をｎ形（ｎ＋）とする例である。また、図２８は、ｐ形の半導体基板１に形成したｐ形（ｐ＋）のウェル領域４１がチャネル形成用領域を構成し、ドレイン領域４３およびソース領域４４の導電形をｎ形（ｎ＋）とする例である。また、図２９は、ｐ形の半導体基板１に形成したｎ形のウェル領域４１がチャネル形成用領域を構成し、ドレイン領域４３およびソース領域４４の導電形をｐ形（ｐ＋）とする例である。
【０１０５】
なお、上述の赤外線センサチップ１００において、半導体基板１の空洞部１１は、半導体基板１の厚み方向に貫通する形で形成してもよく、この場合は、空洞部１１を形成する空洞部形成工程において、半導体基板１の上記一表面とは反対の他表面側から、半導体基板１における空洞部１１の形成予定領域を、例えばＩＣＰ型のドライエッチング装置を用いた異方性エッチング技術を利用して形成すればよい。また、赤外線センサチップ１００は、熱電変換部である感温部３０を具備する複数の画素部２が半導体基板１の一表面側においてアレイ状に配置されているが、構造は特に限定するものではなく、感温部３０を構成するサーモパイル３０ａの数も複数に限らず、１つでもよい。また、感温部３０は、１ないし複数のサーモパイル３０ａにより構成されるものに限らず、例えば、熱電対でもよいし、抵抗ボロメータでもよいし、焦電素子でもよく、感温部３０の構成に応じて、ＩＣ素子の回路構成を適宜変更すればよい。また、赤外線センサチップ１００は、感温部３０を１つだけ備えたものでもよい。
【符号の説明】
【０１０６】
３００  単結晶半導体インゴット
３０１  単結晶半導体ウェハ
３０１ｂ  検査用の単結晶半導体ウェハ
３０１ａ  他の単結晶半導体ウェハ
３０１ｃ  オリエンテーションフラット面
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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