(57)【要約】【課題】  粉砕装置に備えられるスクリーンの損傷を非破壊的に検査して破損を予見し、スクリーンの交換目安を標準化して予防保全に繋げることができるスクリーンの損傷検査方法およびスクリーン損傷検査装置を提供する。【解決手段】  スクリーンの損傷検査方法は、スクリーン損傷検査装置１０により実現され、信号出力工程と損傷判定工程とを含む。信号出力工程では、プローブ１がスクリーン２５の表面に沿って移動し、交流電源２がコイルに交流を流して磁束を発生させ、渦流探傷器３がコイルに誘起される電圧変化を探傷信号として出力する。そして、損傷判定工程では、渦流探傷器３から出力される探傷信号を受信した損傷判定手段４は、探傷信号における、Ｘ方向成分信号の最大値またはＹ方向成分信号の最大値が、それぞれの信号に予め設定される閾値を超える場合に、スクリーン２５に損傷があると判定する。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被粉砕物を粉砕する粉砕装置に備えられ、一定粒径以下に粉砕された被粉砕物が通過する複数の開孔が網目状に形成されるスクリーンの損傷を検査する損傷検査方法であって、
コイルを巻付けたプローブをスクリーンの表面に沿って移動させながら、コイルに交流を流して磁束を発生させ、コイルに誘起される電圧変化を、Ｘ方向成分信号およびＹ方向成分信号からなる電気信号として出力する信号出力工程と、
Ｘ方向成分信号の最大値またはＹ方向成分信号の最大値が、それぞれの信号に予め設定される閾値を超える場合に、スクリーンに損傷があると判定する損傷判定工程と、を含むことを特徴とするスクリーンの損傷検査方法。
【請求項２】
被粉砕物を粉砕する粉砕装置に備えられ、一定粒径以下に粉砕された被粉砕物が通過する複数の開孔が網目状に形成されるスクリーンの損傷を検査するスクリーン損傷検査装置であって、
コイルが巻付けられ、スクリーンの表面に沿って移動するプローブと、
コイルに交流を流す交流電源と、
交流電源によりコイルに交流が流れることによってコイルに誘起される電圧変化を、Ｘ方向成分信号およびＹ方向成分信号からなる電気信号として出力する信号出力器と、
信号出力器から出力される電気信号を受信し、Ｘ方向成分信号の最大値またはＹ方向成分信号の最大値が、それぞれの信号に予め設定される閾値を超える場合に、スクリーンに損傷があると判定する損傷判定手段と、を含むことを特徴とするスクリーン損傷検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、粉砕装置に備えられるスクリーンの損傷検査方法およびスクリーン損傷検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
塩化カリウムを含有するカリ鉱石、アルミナなどの無機材料、合成樹脂などの有機材料からなる固形材料を粉砕し、粒子形状および粒度分布が一定の粉砕物を得る粉砕装置が知られている。このような粉砕装置では、粒径の大きな粉末を分離して所定の粒径範囲内の粉砕物を得るための分級処理として、スクリーン式、遠心分級式、隙間分級式が一般的に用いられる。
【０００３】
スクリーン式の分級処理を行う粉砕装置は、被粉砕物を収容するチャンバ内に、一定粒径以下に粉砕された被粉砕物が通過する複数の開孔が網目状に形成されるスクリーンが設けられて構成される。
【０００４】
粉砕装置において、長期間にわたって粉砕動作が繰返されると、スクリーンの開孔部に損傷（割れ、ひび、傷など）が発生し、隣接する開孔部同士が連結され、最終的にはスクリーンの一部が脱落・破損してしまい、粉砕物にコンタミとして混入してしまう。
【０００５】
粉砕装置に備えられるスクリーンの損傷の検査は、通常、目視にて検査されている。このような目視検査では、微小な損傷を視認することは困難であり、破損の予見には至っておらず、破損後の事後確認となっている。そのため、スクリーンの損傷を非破壊的に検査して破損を予見し、スクリーンの交換目安を標準化して予防保全に繋げることができるスクリーンの損傷検査方法の確立が望まれる。
【０００６】
非特許文献１には、金属導体の損傷を検査する方法として、渦流探傷試験法が開示されている。渦流探傷試験法では、金属導体に時間的に変化する磁束を作用させて、金属導体内部に渦電流を誘導させ、その渦電流の変化を検出することによって金属導体の損傷の有無を検査することができる。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００７】
【非特許文献１】社団法人日本非破壊検査協会、「渦流探傷試験ＩＩ」、１９９５年（平成１８年４月１日、１９９５年版第８刷発行）、Ｐ８１−１１５
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
非特許文献１に開示される渦流探傷試験法は、板状部材の表面、管状部材の内周面などの平滑面の損傷の有無を検査する方法として知られているが、スクリーンのように開孔部を有する部材の損傷検査に対する適用例は示されていない。また、渦流探傷試験法以外でも、スクリーンの損傷を非破壊的に検査できる方法は提案されていないのが現状である。
【０００９】
したがって本発明の目的は、粉砕装置に備えられるスクリーンの損傷を非破壊的に検査して破損を予見し、スクリーンの交換目安を標準化して予防保全に繋げることができるスクリーンの損傷検査方法およびスクリーン損傷検査装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
渦流探傷試験法では、渦電流の変化に基づいて金属導体の損傷の有無を検査するので、スクリーンのような不連続部分となる開孔部を有する部材の損傷を検査する場合には、渦流探傷器より出力される探傷信号の信号値が、損傷部と開孔部とで差がつかないと考えられ、渦流探傷試験法をスクリーンの損傷検査に適用するのは困難であると予想された。
【００１１】
本発明者らは、スクリーンの損傷を非破壊的に検査する方法を検討する過程で、予想に反して、渦流探傷試験法がスクリーンの損傷検査に適用可能であるという事実を見出し、本発明を完成するに至った。
【００１２】
すなわち本発明は、被粉砕物を粉砕する粉砕装置に備えられ、一定粒径以下に粉砕された被粉砕物が通過する複数の開孔が網目状に形成されるスクリーンの損傷を検査する損傷検査方法であって、
コイルを巻付けたプローブをスクリーンの表面に沿って移動させながら、コイルに交流を流して磁束を発生させ、コイルに誘起される電圧変化を、Ｘ方向成分信号およびＹ方向成分信号からなる電気信号として出力する信号出力工程と、
Ｘ方向成分信号の最大値またはＹ方向成分信号の最大値が、それぞれの信号に予め設定される閾値を超える場合に、スクリーンに損傷があると判定する損傷判定工程と、を含むことを特徴とするスクリーンの損傷検査方法である。
【００１３】
また本発明は、被粉砕物を粉砕する粉砕装置に備えられ、一定粒径以下に粉砕された被粉砕物が通過する複数の開孔が網目状に形成されるスクリーンの損傷を検査するスクリーン損傷検査装置であって、
コイルが巻付けられ、スクリーンの表面に沿って移動するプローブと、
コイルに交流を流す交流電源と、
交流電源によりコイルに交流が流れることによってコイルに誘起される電圧変化を、Ｘ方向成分信号およびＹ方向成分信号からなる電気信号として出力する信号出力器と、
信号出力器から出力される電気信号を受信し、Ｘ方向成分信号の最大値またはＹ方向成分信号の最大値が、それぞれの信号に予め設定される閾値を超える場合に、スクリーンに損傷があると判定する損傷判定手段と、を含むことを特徴とするスクリーン損傷検査装置である。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、スクリーンの損傷検査方法は、信号出力工程と、損傷判定工程とを含む。信号出力工程では、コイルを巻付けたプローブをスクリーンの表面に沿って移動させながら、コイルに交流を流して磁束を発生させ、コイルに誘起される電圧変化を、Ｘ方向成分信号およびＹ方向成分信号からなる電気信号として出力する。損傷判定工程では、Ｘ方向成分信号の最大値またはＹ方向成分信号の最大値が、それぞれの信号に予め設定される閾値を超える場合に、スクリーンに損傷があると判定する。これによって、粉砕装置に備えられるスクリーンの損傷を非破壊的に検査して破損を予見し、スクリーンの交換目安を標準化して予防保全に繋げることができる。
【００１５】
また本発明によれば、スクリーン損傷検査装置では、コイルを巻付けたプローブがスクリーンの表面に沿って移動し、交流電源がコイルに交流を流して磁束を発生させ、信号出力器がコイルに誘起される電圧変化を、Ｘ方向成分信号およびＹ方向成分信号からなる電気信号として出力する。そして、信号出力器から出力される電気信号を受信した損傷判定手段は、Ｘ方向成分信号の最大値またはＹ方向成分信号の最大値が、それぞれの信号に予め設定される閾値を超える場合に、スクリーンに損傷があると判定する。これによって、スクリーン損傷検査装置は、粉砕装置に備えられるスクリーンの損傷を非破壊的に検査して破損を予見し、スクリーンの交換目安を標準化して予防保全に繋げることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の実施の一形態に係るスクリーン損傷検査装置１０の構成を示す図である。
【図２Ａ】スクリーン損傷検査装置１０により第１の検査試験を実施したときに用いたスクリーンの状態を示す図である。
【図２Ｂ】スクリーン損傷検査装置１０により第１の検査試験を実施したときに用いたスクリーンの状態を示す図である。
【図３】第１の検査試験において渦流探傷器３から出力された探傷信号の波形を示すグラフである。
【図４】スクリーン損傷検査装置１０による第２の検査試験の方法を示す図である。
【図５】第２の検査試験において渦流探傷器３から出力された探傷信号の波形を示すグラフである。
【図６】スクリーン損傷検査装置１０による第３の検査試験の方法を示す図である。
【図７Ａ】第３の検査試験において渦流探傷器３から出力された探傷信号の波形を示すグラフである。
【図７Ｂ】第３の検査試験において渦流探傷器３から出力された探傷信号の波形を示すグラフである。
【図８】第４の検査試験において渦流探傷器３から出力された探傷信号の信号値とプローブ１のスクリーン端部からの距離との関係を示すグラフである。
【図９Ａ】第５の検査試験において渦流探傷器３から出力された探傷信号の波形を示すグラフである。
【図９Ｂ】第５の検査試験において渦流探傷器３から出力された探傷信号の波形を示すグラフである。
【図１０】スクリーン損傷検査装置１０により第６の検査試験を実施したときに用いたプローブ１１の構成を示す図である。
【図１１Ａ】第６の検査試験において粉砕装置稼動前での渦流探傷器３から出力された探傷信号の波形を示すグラフである。
【図１１Ｂ】第６の検査試験において粉砕装置稼動前での渦流探傷器３から出力された探傷信号の波形を示すグラフである。
【図１２Ａ】第６の検査試験において粉砕装置稼動後での渦流探傷器３から出力された探傷信号の波形を示すグラフである。
【図１２Ｂ】第６の検査試験において粉砕装置稼動後での渦流探傷器３から出力された探傷信号の波形を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
図１は、本発明の実施の一形態に係るスクリーン損傷検査装置１０の構成を示す図である。本実施形態のスクリーン損傷検査装置１０は、被粉砕物を粉砕する粉砕装置２０に備えられる、複数の開孔２５１が網目状に形成されるスクリーン２５の損傷を検査する装置である。まず、図１を用いて粉砕装置２０について説明する。
【００１８】
粉砕装置２０は、塩化カリウムを含有するカリ鉱石、アルミナなどの無機材料、合成樹脂などの有機材料からなる固形材料（被粉砕物）を粉砕する装置である。粉砕装置２０は、チャンバ２１と、回転軸体２２と、ロータ２３と、複数のブレード２４と、スクリーン２５とを含んで構成される。
【００１９】
チャンバ２１は、有底短円筒状に形成され、内部に被粉砕物を収容する。チャンバ２１の底面に対向する開口部は、蓋体によって開閉自在となっている。チャンバ２１を構成する材料としては、金属材料などが挙げられ、本実施形態ではＮＡＳ３０４ＭＫ（ＳＵＳ３０４相当材）である。回転軸体２２は、チャンバ２１の内部に、チャンバ２１の中心軸線と同一直線上となる軸線まわりに回転自在に設けられ、モータなどの駆動手段により回転駆動される。回転軸体２２を構成する材料としては、金属材料などが挙げられ、本実施形態ではＮＡＳ３０４ＭＫ（ＳＵＳ３０４相当材）である。
【００２０】
ロータ２３は、円盤状に形成され、回転軸体２２が中央部に挿通され、回転軸体２２に垂直に固定される。ロータ２３を構成する材料としては、金属材料などが挙げられ、本実施形態ではＮＡＳ３０４ＭＫ（ＳＵＳ３０４相当材）である。
【００２１】
複数のブレード２４は、軸線に関して周方向に等間隔に、ロータ２３から半径方向外方に突出して設けられる。粉砕装置２０では、回転軸体２２の回転に応じてロータ２３が回転され、このロータ２３の回転に応じて複数のブレード２４が回転されて、被粉砕物を粉砕する。ブレード２４を構成する材料としては、金属材料などが挙げられ、本実施形態ではＮＡＳ３０４ＭＫ（ＳＵＳ３０４相当材）である。
【００２２】
スクリーン２５は、チャンバ２１の内周面に間隔をあけて沿うように設けられ、ブレード２４により粉砕された一定粒径以下の被粉砕物が通過する複数の開孔２５１が網目状に形成される。このスクリーン２５は、チャンバ２１内を、一定粒径以下の被粉砕物が収容される領域（チャンバ２１の底面側の領域）と、一定粒径を超える被粉砕物が収容される領域とに仕切る。また、スクリーン２５は、幅方向（チャンバ２１の半径方向に対応する方向）両端部が、円環状の保持部材２６とチャンバ２１の内周面との間に挟み込まれるようにして、ボルト２７によって固定されている。また、スクリーン２５において、１つの開孔２５１の大きさは、１０．０ｍｍ２程度であり、隣接する開孔２５１同士の間隔は１０ｍｍ程度である。また、スクリーン２５の厚み方向一表面の全面積に対する開孔２５１の合計面積の割合は、１２．５％程度である。スクリーン２５を構成する材料としては、金属材料などが挙げられ、本実施形態ではＮＡＳ３０４ＭＫ（ＳＵＳ３０４相当材）である。
【００２３】
このスクリーン２５において、保持部材２６とチャンバ２１の内周面との間に挟み込まれる部分、およびその周辺部分には挟み込みによる応力が集中するので、損傷が発生しやすい。また上記の部分に損傷が発生した場合には、目視で確認するのが困難である。したがって、スクリーン２５の幅方向端部に発生する損傷を、非破壊的に検査することが重要である。
【００２４】
以上のように構成される粉砕装置２０に備えられるスクリーン２５の損傷を検査する、本実施形態のスクリーン損傷検査装置１０は、図１に示すように、プローブ１と、交流電源２と、信号出力器である渦流探傷器３と、損傷判定手段４とを含んで構成される。
【００２５】
プローブ１は、コイルが巻付けられ、スクリーン２５の表面に沿って移動する。プローブ１としては、上置コイル（ＳＫ−０１３、外径４０ｍｍ、アスワン電子社製）、薄肉小径用浸炭測定用上置コイル（Ｓ２−０１７、外径３２ｍｍ、アスワン電子社製）、ボールクロスポイントプローブ（Ｓ２−０１１、外径５ｍｍ、アスワン電子社製）などを挙げることができるが、本実施形態では上置コイル（ＳＫ−０１３、外径４０ｍｍ、アスワン電子社製）を用いる。また、プローブ１は、その外径が２０ｍｍ以上であることが好ましい。これによって、複数の開孔２５１が形成されるスクリーン２５の損傷を、好適に検査することができる。
【００２６】
交流電源２は、プローブ１のコイルに、周波数８０Ｈｚ〜１０ＭＨｚの交流を流す電源である。
【００２７】
渦流探傷器３は、交流電源２によりプローブ１のコイルに交流が流れることによってコイルに誘起される電圧変化を、Ｘ方向成分信号およびＹ方向成分信号からなる電気信号である探傷信号として出力する。本実施形態では、渦流探傷器３として、渦流探傷器（ＡＶ１００ＳＥ、ＧＥ  Ｉｎｓｐｅｃｔｉｏｎ  Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ社製）を用いる。
【００２８】
損傷判定手段４は、パーソナルコンピュータなどによって実現され、渦流探傷器３から出力される探傷信号を受信し、探傷信号における、Ｘ方向成分信号の最大値またはＹ方向成分信号の最大値が、それぞれの信号に予め設定される閾値を超える場合に、スクリーン２５に損傷があると判定する。損傷判定手段４の判定結果を表示パネルなどの表示手段に表示するように構成することにより、スクリーン損傷検査装置１０を操作する操作者は、スクリーン２５に損傷が発生したことを認識することができる。なお、渦流探傷器３から出力される探傷信号の波形を表示手段に表示させるように構成し、Ｘ方向成分信号の最大値またはＹ方向成分信号の最大値が閾値を超えているか否かを、表示される波形から操作者が目視にて判定するようにしてもよい。
【００２９】
以上のように構成されるスクリーン損傷検査装置１０は、本発明に係るスクリーンの損傷検査方法を実現する。本発明に係るスクリーンの損傷検査方法は、信号出力工程と、損傷判定工程とを含む。信号出力工程では、プローブ１がスクリーン２５の表面に沿って移動し、交流電源２がプローブ１のコイルに交流を流して磁束を発生させ、渦流探傷器３がコイルに誘起される電圧変化を探傷信号として出力する。そして、損傷判定工程では、渦流探傷器３から出力される探傷信号を受信した損傷判定手段４は、探傷信号における、Ｘ方向成分信号の最大値またはＹ方向成分信号の最大値が、それぞれの信号に予め設定される閾値を超える場合に、スクリーン２５に損傷があると判定する。これによって、粉砕装置２０に備えられるスクリーン２５の損傷を非破壊的に検査して破損を予見し、スクリーン２５の交換目安を標準化して予防保全に繋げることができる。
【００３０】
次に、スクリーン損傷検査装置１０によりスクリーン２５の損傷を検査した検査試験例について説明する。
【００３１】
＜第１の検査試験＞
図２Ａおよび図２Ｂは、スクリーン損傷検査装置１０により第１の検査試験を実施したときに用いたスクリーンの状態を示す図である。
【００３２】
第１の検査試験では、損傷の発生位置が目視検査により特定されているスクリーン２５を用いて、スクリーン損傷検査装置１０によるスクリーン２５の損傷検査精度を検証した。
【００３３】
第１の検査試験で用いたスクリーン２５には、幅方向一端部に、周方向に間隔をあけて６つの損傷３０ａ，３０ｂ，３０ｃ，３０ｄ，３０ｅ，３０ｆが発生している。損傷３０ａは、図２Ａ（ａ）に示すような２つの開孔２５１が連結される割れ損傷であり、損傷３０ｂは、図２Ａ（ｂ）に示すような４つの開孔２５１が連結される割れ損傷であり、損傷３０ｃは、図２Ａ（ｃ）に示すような２つの開孔２５１が連結される割れ損傷であり、損傷３０ｄは、図２Ｂ（ｄ）に示すような３つの開孔２５１が連結される割れ損傷と脱落損傷との複合損傷であり、損傷３０ｅは、図２Ｂ（ｅ）に示すような３つの開孔２５１が連結される割れ損傷と２つの開孔２５１が連結される割れ損傷との複合損傷であり、損傷３０ｆは、図２Ｂ（ｆ）に示すような５つの開孔２５１が連結される割れ損傷である。
【００３４】
このような損傷が発生したスクリーン２５を展開状態で試験台に載置し、このスクリーン２５の幅方向一端部の表面に沿って、プローブ１を直線的に移動（速度３００ｍｍ／ｓ）させながら、コイルに交流（周波数４０ｋＨｚ）を流して磁束を発生させ、コイルに誘起される電圧変化を渦流探傷器３により探傷信号として出力させた。その結果を図３に示す。
【００３５】
図３は、第１の検査試験において渦流探傷器３から出力された探傷信号の波形を示すグラフである。図３のグラフにおいて、横軸は時間（信号検出時間）（ｓ）であり、縦軸は探傷信号のＸ方向成分信号の振幅値（Ｖ）である。
【００３６】
図３のグラフから明らかなように、渦流探傷器３から出力された探傷信号は、各損傷３０ａ，３０ｂ，３０ｃ，３０ｄ，３０ｅ，３０ｆに対応したピークを有し、損傷の大きさに応じた振幅値を有するものであった。この結果より、スクリーン２５の損傷を検査する方法として、渦流探傷試験法は適用可能であることがわかる。
【００３７】
＜第２の検査試験＞
図４は、スクリーン損傷検査装置１０による第２の検査試験の方法を示す図である。第２の検査試験は、ボルトの存在が探傷信号に影響するかを検証する試験である。図４（ａ）は平面図であり、図４（ｂ）は正面図である。
【００３８】
第２の検査試験では、第１の検査試験と同様に、スクリーン２５を展開状態にして検査を実施した。第２の検査試験で用いたスクリーン２５には、幅方向一端部に、長手方向一端から距離Ｌ２（＝３４５ｍｍ）離れた位置に、長さ２．５ｍｍの割れ損傷３０ｇが発生している。そして、スクリーン２５の裏面側にはボルト２７が、長手方向一端から距離Ｌ１（＝２５０ｍｍ）離れた位置に配設されている。
【００３９】
このスクリーン２５の幅方向一端部の表面に沿って、プローブ１を直線的に移動（速度３００ｍｍ／ｓ）させながら、コイルに交流（周波数４０ｋＨｚ）を流して磁束を発生させ、コイルに誘起される電圧変化を渦流探傷器３により探傷信号として出力させた。その結果を図５に示す。
【００４０】
図５は、第２の検査試験において渦流探傷器３から出力された探傷信号の波形を示すグラフである。図５（ａ）はＸ方向成分信号の波形を示し、図５（ｂ）はＹ方向成分信号の波形を示す。図５（ａ），（ｂ）のグラフにおいて、横軸は時間（信号検出時間）（ｓ）であり、縦軸は探傷信号の各成分信号の振幅値（Ｖ）である。
【００４１】
図５のグラフから明らかなように、渦流探傷器３から出力された探傷信号は、ボルト２７に対応したピークを有さず、損傷３０ｇに対応したピークのみを有するものであった。この結果より、ボルト２７の存在は探傷信号に影響しないことがわかる。
【００４２】
＜第３の検査試験＞
図６は、スクリーン損傷検査装置１０による第３の検査試験の方法を示す図である。粉砕装置２０では、スクリーン２５の幅方向両端部は、渦電流が誘導される保持部材２６とチャンバ２１との間に挟み込まれている。第３の検査試験では、スクリーン２５において、保持部材２６とチャンバ２１との間に挟み込まれている部分に損傷が発生した場合に、その損傷を検出可能であるかを検証した。
【００４３】
第３の検査試験では、第１の検査試験と同様に、スクリーン２５を展開状態にして検査を実施した。第３の検査試験で用いたスクリーン２５には、幅方向一端部に、長手方向一端から距離３４５ｍｍ離れた位置に、長さ２．５ｍｍの割れ損傷３０ｇが発生している。そして、この損傷３０ｇを覆うように、板状の被覆部材３１をスクリーン２５の表面上に載置した。
【００４４】
このスクリーン２５の幅方向一端部の表面に沿って、プローブ１を直線的に移動（速度３００ｍｍ／ｓ）させながら、コイルに交流（周波数４０ｋＨｚ）を流して磁束を発生させ、コイルに誘起される電圧変化を渦流探傷器３により探傷信号として出力させた。その結果を図７Ａおよび図７Ｂに示す。
【００４５】
図７Ａおよび図７Ｂは、第３の検査試験において渦流探傷器３から出力された探傷信号の波形を示すグラフである。図７Ａは、被覆部材３１として、渦電流を誘導させる金属材料からなる部材を用いた場合の探傷信号の波形を示し、図７Ｂは、被覆部材３１として、渦電流を誘導させない樹脂（テトラフルオロエチレン樹脂）材料からなる部材を用いた場合の探傷信号の波形を示す。図７Ａおよび図７Ｂのグラフにおいて、横軸は時間（信号検出時間）（ｓ）であり、縦軸は探傷信号の各成分信号の振幅値（Ｖ）である。
【００４６】
図７Ａおよび図７Ｂのグラフから明らかなように、金属材料からなる被覆部材３１を、損傷３０ｇを覆うように配置した場合でも、樹脂材料からなる被覆部材３１を配置した場合と同様に、渦流探傷器３から出力された探傷信号は、損傷３０ｇに対応したピークを有するものであった。この結果より、スクリーン２５において、渦電流を誘導させる金属材料からなる保持部材２６とチャンバ２１との間に挟み込まれている部分に損傷が発生した場合であっても、その損傷を検出可能であることがわかる。
【００４７】
＜第４の検査試験＞
第４の検査試験では、損傷検出可能な、スクリーン２５の幅方向端部からプローブ１までの離間距離について検証した。
【００４８】
第４の検査試験では、第１の検査試験と同様に、スクリーン２５を展開状態にして検査を実施した。第４の検査試験で用いたスクリーン２５は、第１の検査試験と同一の、６つの損傷３０ａ，３０ｂ，３０ｃ，３０ｄ，３０ｅ，３０ｆが発生したものである。
【００４９】
このスクリーン２５の幅方向一端部の表面に沿って、スクリーン２５端部からの離間距離を０，２，４，６ｍｍで変化させ、プローブ１を直線的に移動（速度３００ｍｍ／ｓ）させながら、コイルに交流（周波数４０ｋＨｚ）を流して磁束を発生させ、コイルに誘起される電圧変化を渦流探傷器３により探傷信号として出力させた。その結果を図８に示す。
【００５０】
図８は、第４の検査試験において渦流探傷器３から出力された探傷信号の信号値とプローブ１のスクリーン端部からの距離との関係を示すグラフである。図８のグラフにおいて、横軸はスクリーン端部からの離間距離（ｍｍ）であり、縦軸は探傷信号の振幅値（Ｖ）である。
【００５１】
図８のグラフから明らかなように、プローブ１のスクリーン２５端部からの離間距離が大きくなると探傷信号の検出感度が低下するが、離間距離６ｍｍまでの範囲であれば、スクリーン２５表面に発生する探傷を十分に検出可能であることがわかる。
【００５２】
＜第５の検査試験＞
第１〜第４の検査試験では、展開状態のスクリーン２５を用いて検査を実施していたが、第５の検査試験では、スクリーン２５を粉砕装置２０に実装した状態で検査を実施した。すなわち、第５の検査試験では、スクリーン２５は、チャンバ２１の内周面に沿うように湾曲した状態である。
【００５３】
この第５の検査試験では、プローブ１は、互いに隣接するブレード２４間に固定し、実装状態のスクリーン２５の幅方向一端部の表面に沿って、回転させて移動（プローブ１先端の周速度３００ｍｍ／ｓ）させながら（１回転）、コイルに交流（周波数４０ｋＨｚ）を流して磁束を発生させ、コイルに誘起される電圧変化を渦流探傷器３により探傷信号として出力させた。その結果を図９Ａおよび図９Ｂに示す。
【００５４】
図９Ａおよび図９Ｂは、第５の検査試験において渦流探傷器３から出力された探傷信号の波形を示すグラフである。図９Ａおよび図９Ｂのグラフにおいて、横軸は時間（信号検出時間）（ｓ）であり、縦軸は探傷信号のＸ方向成分信号の振幅値（Ｖ）である。
【００５５】
図９Ａおよび図９Ｂのグラフから明らかなように、渦流探傷器３から出力された探傷信号は、６つのピーク３０ｈ，３０ｉ，３０ｊ，３０ｋ，３０ｌ，３０ｍを有するものであった。この探傷検査が終了した後、スクリーン２５を粉砕装置２０から取り外し、目視検査にて損傷の有無を判定した。この目視検査の結果、６つのピーク３０ｈ，３０ｉ，３０ｊ，３０ｋ，３０ｌ，３０ｍに対応する損傷がスクリーン２５に発生していることが確認された。この結果より、粉砕装置２０に実装された状態のスクリーン２５においても、その損傷を検出可能であることがわかる。
【００５６】
＜第６の検査試験＞
第５の検査試験では、粉砕装置２０に実装された状態のスクリーン２５の、幅方向一端部の表面に発生した損傷を検査したが、第６の検査試験では、スクリーン２５の幅方向他端部（チャンバ２１の底面側に対応する端部）の表面に発生した損傷を検出可能であるか検証した。
【００５７】
図１０は、スクリーン損傷検査装置１０により第６の検査試験を実施したときに用いたプローブ１１の構成を示す図である。第６の検査試験で用いたプローブ１１は、スクリーン２５の幅方向一端部および他端部の両端部を同時に検査できるようにしたものである。プローブ１１は、第１プローブ部１１１と第２プローブ部１１２とが、連結部１１３を介して固定部材１１４により連結されたものである。第１プローブ部１１１および第２プローブ部１１２は、それぞれプローブ１と同様に構成されたものであり、本実施形態では上置コイル（ＳＫ−０１３、外径４０ｍｍ、アスワン電子社製）を用いる。
【００５８】
第６の検査試験では、プローブ１１は、互いに隣接するブレード２４間に固定し、実装状態のスクリーン２５の幅方向一端部の表面に第１プローブ部１１１が沿い、幅方向他端部の表面に第２プローブ部１１２が沿って、回転させて移動（第１プローブ部１１１先端の周速度３００ｍｍ／ｓ）させながら（１回転）、コイルに交流（周波数４０ｋＨｚ）を流して磁束を発生させ、コイルに誘起される電圧変化を渦流探傷器３により探傷信号として出力させた。その結果を図１１Ａ、図１１Ｂ、図１２Ａおよび図１２Ｂに示す。
【００５９】
図１１Ａおよび図１１Ｂは、第６の検査試験において粉砕装置稼動前での渦流探傷器３から出力された探傷信号の波形を示すグラフである。図１１Ａが、第１プローブ部１１１から検出された探傷信号の波形を示し、図１１Ｂが、第２プローブ部１１２から検出された探傷信号の波形を示す。図１２Ａおよび図１２Ｂは、第６の検査試験において粉砕装置稼動後での渦流探傷器３から出力された探傷信号の波形を示すグラフである。図１２Ａが、第１プローブ部１１１から検出された探傷信号の波形を示し、図１２Ｂが、第２プローブ部１１２から検出された探傷信号の波形を示す。図１１Ａ、図１１Ｂ、図１２Ａおよび図１２Ｂのグラフにおいて、横軸は時間（信号検出時間）（ｓ）であり、縦軸は探傷信号の各成分信号の振幅値（Ｖ）である。
【００６０】
なお、粉砕装置稼動前とは、スクリーン２５が交換直後の新品状態であることを示し、粉砕装置稼動後とは、被粉砕物として、重縮合反応で得られたポリエーテルサルフォンからなる高分子化合物、副生成物（アルカリ金属塩などの無機塩）および溶剤から成る混合物を冷却固化し、粒径５〜１０ｍｍ程度に粗粉砕したものを、５．０ｔ（トン）／バッチ、３バッチ／日で粉砕した後のことを示す。
【００６１】
図１１Ａ、図１１Ｂ、図１２Ａおよび図１２Ｂのグラフから明らかなように、粉砕装置稼動後の検査において渦流探傷器３から出力された探傷信号は、第１プローブ部１１１および第２プローブ部１１２のいずれにおいても、粉砕装置稼動前に比べて大きな振幅値の複数のピークを有するものであった。この探傷検査が終了した後、スクリーン２５を粉砕装置２０から取り外し、目視検査にて損傷の有無を判定した。この目視検査の結果、第１プローブ部１１１および第２プローブ部１１２から検出された複数のピークに対応する損傷がスクリーン２５に発生していることが確認された。この結果より、粉砕装置２０に実装された状態のスクリーン２５において、幅方向一端部および他端部の両端部に発生した損傷を、第１プローブ部１１１および第２プローブ部１１２を有するプローブ１１を用いることによって、同時に検出可能であることがわかる。
【符号の説明】
【００６２】
１，１１  プローブ
２  交流電源
３  渦流探傷器
４  損傷判定手段
１０  スクリーン損傷検査装置
２０  粉砕装置
２１  チャンバ
２２  回転軸体
２３  ロータ
２４  ブレード
２５  スクリーン
【図１】
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【図２Ａ】
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【図２Ｂ】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７Ａ】
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【図７Ｂ】
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【図８】
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【図９Ａ】
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【図９Ｂ】
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【図１０】
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【図１１Ａ】
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【図１１Ｂ】
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【図１２Ａ】
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【図１２Ｂ】
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