(57)【要約】【課題】予め定められた複数の温度区分のうちデータベリファイ制御処理を効果的に省略できる磁気ディスク装置及び同装置におけるデータベリファイ制御方法を提供する。【解決手段】ディスクを備える磁気ディスク装置において、前記ディスクにデータを書き込み当該ディスクからデータを読み出してベリファイするか否かを判定する際に用いられるフラグを、予め定められた複数の温度区分の各々に対応付けて登録するフラグ更新手段と、前記磁気ディスク装置の環境温度を検出する温度検出器と、前記検出された環境温度が、前記複数の温度区分のうちの一温度区分に対応し、且つこの一温度区分に対応付けて前記フラグ更新手段が登録したフラグに応じて前記ベリファイを実行又は非実行とするベリファイ手段とを具備する磁気ディスク装置。【選択図】  図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスクを備える磁気ディスク装置において、
前記ディスクにデータを書き込み当該ディスクからデータを読み出してベリファイするか否かを判定する際に用いられるフラグを、予め定められた複数の温度区分の各々に対応付けて登録するフラグ更新手段と、
前記磁気ディスク装置の環境温度を検出する温度検出器と、
前記検出された環境温度が、前記複数の温度区分のうちの一温度区分に対応し、且つこの一温度区分に対応付けて前記フラグ更新手段が登録したフラグに応じて前記ベリファイを実行又は非実行とするベリファイ手段と、ベリファイと同じタイミングでエラーレイトを測定する手段を具備する磁気ディスク装置。
【請求項２】
前記フラグ更新手段は、ある前記温度区分に対応付けられたフラグがセットされていない場合には、この温度区分よりも常温側の前記温度区分に対応付けられているフラグをセットしていない状態に更新する請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項３】
前記フラグ更新手段は、前記ベリファイの際に同時に実施されるエラーレイト測定においてエラーレイトがしきい値を超える場合は前記一温度区分に対応付けられた当該フラグをセットする請求項１に記載の磁気ディスク装置。
【請求項４】
更にパラメータ調整手段を備え、前記マージンの測定においてエラーレイトがしきい値を超える場合は、前記検出された環境温度に対応付けられたパラメータを当該環境温度において適合するように調整する請求項３に記載の磁気ディスク装置。
【請求項５】
ディスクを備える磁気ディスク装置におけるデータベリファイ制御方法であって、
予め定められた複数の温度区分の各々に対応付けて登録する識別フラグテーブルに、前記ディスクにデータを書き込み当該ディスクからデータを読み出してベリファイするか否かを判定する際に用いられるフラグを登録し、
温度検出器によって検出された前記磁気ディスク装置の環境温度に対応する、前記複数の温度区分のうちの一温度区分を特定し、
前記一温度区分に対応付けて前記識別フラグテーブルに登録されているフラグに応じて前記ベリファイを実行又は非実行とする
データベリファイ制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、磁気ディスク装置及び同装置におけるデータベリファイ制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気ディスク装置では、記録媒体としてのディスク（磁気ディスク）にヘッドによりデータが書き込まれ、また当該ディスクに格納されているデータがヘッドにより読み出される。このヘッドによるデータの書き込み／読み出しは、磁気ディスク装置の環境温度に影響される。そのため、磁気ディスク装置は一般に、当該磁気ディスク装置の環境温度が予め定められた温度範囲（例えば動作保証温度範囲）にある状態において、常に最適なデータの書き込み／読み出しが可能なような仕組みを有している。
【０００３】
この仕組みによれば、磁気ディスク装置の環境温度に応じて、最適な書き込み／読み出しの条件が設定される。書き込み／読み出しの条件として、ライト電流及びライトプリコンペンセイション値等のパラメータが知られている。
【０００４】
そこで、磁気ディスク装置の環境温度に応じて最適なパラメータが設定可能なように、予め定められた温度（温度範囲）Ｔｉ（ｉ＝１，２，…ｎ）に対応付けて、その温度に最適なパラメータが設定されたパラメータテーブルが用いられる。このパラメータテーブルは一般に磁気ディスク装置の製造工程で生成される。
【０００５】
理想的には、想定されうる環境温度全体を含むような パラメータテーブルを
製造過程にて生成する必要があるが、そのためには、多大な工程時間を要し、しかも工程設備で想定されうる環境温度全体を含むように可変に設定できるように対応しておく必要がある。このため、これらの実施が難しい場合には、従来技術では、一部の温度（例えば低温側の温度）Ｔｊについて、当該温度Ｔｊの設定と、当該温度Ｔｊにおける最適なパラメータについて 、サンプル装置での実際の測定結果と、対象装置の測定済みの他の温度環境でのパラメータ値から組み合わせて計算した値を設定値とする場合があった。
【０００６】
しかしパラメータが未調整の環境温度で磁気ディスク装置が使用される場合、ホストからのアクセスの効率がリトライ処理により低下する可能性が無いとはいえない。
【０００７】
例えばこのアクセス効率の低下に対処するために、パラメータを調整する方法に関する制御などが行われている。
特許文献１乃至特許文献３には、光磁気ディスク装置に関し、再生レーザーパワーを温度変化に応じて調整する方法について記載されている。これらの方法では、温度変化が一定のしきい値を超えると、レーザーパワーの再調整を行うとしている。その調整を行う物理的な箇所としては、あらかじめ調整用に用意した領域、またはすでにユーザが使用している領域でもよいとしている。とくに、本参考考案は再生用のレーザーパワーであるため、どちらでも大きな違いはない。また、温度の変化を検出していると、再生パワーの調整作業はその都度行われる。
【０００８】
また特許文献４は、温度に応じて、ライト電流の設定値を変化させるその方法について言及している。この方法では、製造時のデフォルト設定値と、ある温度環境下での装置自身での測定値とを使用している。たとえば、上位装置からアクセスがあり、調整ができない場合にはデフォルト設定値を採用するとしている。
【０００９】
以上、データライト時のパラメータを調整する方法に関する考案が見られる。他方でデータベリファイ制御処理そのものを省略するという要望があるが、かかる要望を実現するための手段は知られていない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開２００５−２２８４７０号公報
【特許文献２】特開２００１−１７６１４１号公報
【特許文献３】特開平０８−２２１７６０号公報
【特許文献４】特開平１１−４５４０６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
本発明は、予め定められた複数の温度区分のうちデータベリファイ制御処理を効果的に省略できる磁気ディスク装置及び同装置におけるデータベリファイ制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記課題を解決するために、実施形態によれば磁気ディスク装置は、ディスクを備える磁気ディスク装置において、前記ディスクにデータを書き込み当該ディスクからデータを読み出してベリファイするか否かを判定する際に用いられるフラグを、予め定められた複数の温度区分の各々に対応付けて登録するフラグ更新手段と、前記磁気ディスク装置の環境温度を検出する温度検出器と、前記検出された環境温度が、前記複数の温度区分のうちの一温度区分に対応し、且つこの一温度区分に対応付けて前記フラグ更新手段が登録したフラグに応じて前記ベリファイを実行または非実行とするベリファイ手段と、ベリファイ処理と同時にエラーレイトを測定できる機能を具備する。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】実施形態の磁気ディスク装置を備えた電子機器の典型的な構成を示すブロック図。
【図２】実施形態で適用されるディスクの記録面のフォーマットの一例を示す概念図。
【図３】実施形態で適用されるパラメータ管理テーブルのデータ構造例を示す図。
【図４】zone３  温度10℃の区分で  verifyが不要になったことを示す識別フラグテーブル。
【図５】実施形態のランダムwrite動作を示すフローチャート。
【図６】実施形態の温度が低い側でverify不要とするときは、より高温側もverify不要とすることを示す説明図。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、実施形態を説明する。
（第１の実施形態）
第１の実施形態を図１乃至図５を参照して説明する。
図１は第１の実施形態に係る磁気ディスク装置を備えた電子機器の典型的な構成を示すブロック図である。図１において、電子機器は、磁気ディスク装置（ＨＤＤ）１０及びホスト（ホストシステム）２０を備えている。電子機器は、例えば、パーソナルコンピュータ、ビデオカメラ、音楽プレーヤー、携帯端末、或いは携帯電話機である。ホスト２０はＨＤＤ１０を当該ホスト２０の記憶装置として利用する。
【００１５】
ＨＤＤ１０は、ヘッドディスクアセンブリ部（ＨＤＡ部）１００と、制御ボード部２００とを備えている。
ＨＤＡ部１００は、例えば２枚のディスク（磁気ディスク）１１０-1及び１１０-2と、スピンドルモータ（ＳＰＭ）１３０と、アクチュエータ１４０と、ヘッドＩＣ１５０と、温度検出器１６０と、振動検出器１７０とを備えている。
【００１６】
ディスク１１０-1及び１１０-2の各々は上側と下側の２つの記録面を備えている。ディスク１１０-1及び１１０-2はＳＰＭ１３０により高速に回転させられる。ディスク１１０-i（ｉ＝１，２）はＣＤＲ（constant density recording）と呼ばれる周知の記録フォーマットを適用している。このためディスク１１０-iの各記録面は、当該ディスク１１-iの半径方向に複数のゾーンに区分して管理される。つまり、ディスク１１０-iの各記録面は、複数のゾーンを備えている。
【００１７】
図２は、ディスク１１０-iの記録面のフォーマットの一例を示す概念図である。図２の例では、作図の都合上、ディスク１１０-iの記録面は４個のゾーンＺ０乃至Ｚ３に区分されている。しかし、ディスク１１０-iの記録面上のゾーンの数は４個に限らない。
【００１８】
ディスク１１０-iのゾーンＺｐ（ｐ＝０，１，２，３）は、当該ゾーンＺｐ内のユーザ領域にデータを書き込む際、または、当該ゾーンＺｐ内のユーザ領域からデータを読み出す際に用いられるパラメータを調整するパラメータ調整処理に用いられるパラメータ調整領域１１１を備えている。第１の実施形態で適用されるパラメータ調整処理は、パラメータ調整領域１１１にデータを書き込んで、そのパラメータ調整領域１１１に書き込まれたデータを読み出して、エラーレイトを算出する動作を、パラメータを変更しながら実行する。
【００１９】
第１の実施形態において、パラメータ調整領域１１１は、ゾーンＺｐ内の中周に位置しており、少なくとも１データトラックを備えているものとする。この場合、パラメータ調整領域１１１を用いたパラメータ調整処理で調整されたパラメータは、ゾーンＺｐ内の全てのデータトラックに対して最適であることが期待される。
【００２０】
なお、例えば、ディスク１１０-iの記録面当たりのゾーンの数が十分多く、十分細かく区分されている場合、パラメータ調整領域１１１がゾーンＺｐの内周または外周側に位置していても構わない。また、パラメータ調整領域１１１が、１データトラックの一部の領域、つまり１データトラックのデータセクタ数よりも少ないデータセクタを備えた領域であっても構わない。
【００２１】
再び図１を参照すると、アクチュエータ１４０はディスク１１０-1のそれぞれの記録面に対応して配置されるヘッド・アームの先端にヘッド（磁気ヘッド）１２０-0及び１２０-1を備えている。アクチュエータ１４０は更に、ディスク１１０-2のそれぞれの記録面に対応して配置されるヘッド・アームの先端にヘッド１２０-2及び１２０-3を有する。ヘッド１２０-0及び１２０-1は、ディスク１１０-1へ／からのデータの書き込み／読み出しに用いられ、ヘッド１２０-2及び１２０-3は、ディスク１１０-2へ／からのデータの書き込み／読み出しに用いられる。
【００２２】
アクチュエータ１４０はボイスコイルモータ（ＶＣＭ）１４１を備えている。アクチュエータ１４０はＶＣＭ１４１によって駆動され、ヘッド１２０-0乃至１２０-3をディスク１１０-1及び１１０-2の半径方向に移動させる。
ＳＰＭ１３０及びＶＣＭ１４１は、後述するモータドライバＩＣ２１０からそれぞれ供給される駆動電流（ＳＰＭ電流及びＶＣＭ電流）により駆動される。
ヘッドＩＣ１５０は、ヘッド１２０-j（ｊ＝０，１，２，３）により読み出された信号（リード信号）を増幅する。ヘッドＩＣ１５０はまた、後述するリード／ライトチャネル２３０から転送されるライトデータをライト電流に変換してヘッド１２０-jに出力する。
【００２３】
温度検出器１６０は、ＨＤＤ１０が使用される環境における温度（環境温度）Ｔを検出する。振動検出器１７０は、ＨＤＤ１０の外部から当該ＨＤＤ１０に加えられる振動を検出する。
【００２４】
制御ボード部２００は、モータドライバＩＣ２１０及びシステムＬＳＩ２２０の２つのＬＳＩを備えている。モータドライバＩＣ２１０は、ＳＰＭ１３０を一定の回転速度で駆動する。モータドライバＩＣ２１０はまた、ＣＰＵ２７０から指定されたＶＣＭ操作量に相当する値の電流（ＶＣＭ電流）をＶＣＭ１４１に供給することで、アクチュエータ１４０を駆動する。
【００２５】
システムＬＳＩ２２０は、リード／ライトチャネル（Ｒ／Ｗチャネル）２３０、ディスクコントローラ（ＨＤＣ）２４０、バッファＲＡＭ２５０、フラッシュメモリ２６０、プログラムＲＯＭ２７０、ＣＰＵ２８０及びＲＡＭ２９０が単一チップに集積されたＳＯＣ（System on Chip）と呼ばれるＬＳＩである。
【００２６】
Ｒ／Ｗチャネル２３０は、リード／ライトに関連する信号処理を行う信号処理デバイスである。Ｒ／Ｗチャネル２３０は、リード信号をデジタルデータに変換し、このデジタルデータからリードデータを復号する。Ｒ／Ｗチャネル２３０はまた、上記デジタルデータからヘッド１２０-jの位置決めに必要なサーボデータを抽出する。Ｒ／Ｗチャネル２３０はまた、ライトデータを符号化する。
【００２７】
ＨＤＣ２４０は、ホスト２０とホストインタフェース２１を介して接続されている。ＨＤＣ２４０は、ホスト２０から転送されるコマンド（ライトコマンド、リードコマンド等）を受信する。ＨＤＣ２４０は、ホスト２０と当該ＨＤＣ２４０との間のデータ転送を制御する。ＨＤＣ２４０は、Ｒ／Ｗチャネル２３０を介して行われるディスク１１０-i（ｉ＝１，２）と当該ＨＤＣ２４０との間のデータ転送を制御する。
【００２８】
バッファＲＡＭ２５０は、ディスク１１０-iに書き込まれるべきデータ及びディスク１１０-iからヘッドＩＣ１５０及びＲ／Ｗチャネル２３０を介して読み出されたデータを一時格納するのに用いられる。
【００２９】
フラッシュメモリ２６０は、書き換え可能な不揮発性メモリである。フラッシュメモリ２６０は、後述するパラメータ管理テーブル２６１や識別フラグテーブル２６４を格納するのに用いられる。
【００３０】
プログラムＲＯＭ２７０は、制御プログラム（ファームウェアプログラム）を予め格納する。なお、制御プログラムがフラッシュメモリ２６０の一部の領域に格納されていても構わない。
【００３１】
ＣＰＵ２８０は、ＨＤＤ１０の主コントローラとして機能する。ＣＰＵ２８０はプログラムＲＯＭ２７０に格納されている制御プログラムに従ってＨＤＤ１０内の他の少なくとも一部の要素を制御する。ＲＡＭ２９０の一部の領域は、ＣＰＵ２８０の作業領域として用いられる。この作業領域には、ＨＤＤ１０のパワーオン時に、フラッシュメモリ２６０に格納されているパラメータ管理テーブル２６１および識別フラグテーブル２６４がロードされる。
【００３２】
図３は、パラメータ管理テーブル２６１のデータ構造例を示す。
パラメータ管理テーブル２６１は、パラメータテーブル２６２とフラグテーブル２６３とを備えている。
パラメータテーブル２６２は、ディスク１１０-1及び１１０-2の記録面に対応するヘッド１２０-j（ｊ＝０，１，２，３）毎で、且つゾーンＺｐ（ｐ＝０，１，２，３）毎に、予め定められた複数の温度区分Ｔｑ（ｑ＝１，２，…ｎ）に対応付けてパラメータを登録する。第１の実施形態では、温度検出器１６０によって温度Ｔが検出された場合、当該温度Ｔが上記複数の温度区分Ｔｑのうちのいずれの温度区分Ｔｑに対応するかが判定される。
【００３３】
第１の実施形態において、パラメータが、温度区分Ｔｑだけでなく、ヘッド１２０-j及びゾーンＺｐにも対応付けられるのは、ＨＤＤ１０の書き込み／読み出しの特性が、温度区分Ｔｑだけでなく、ヘッド１２０-j及びゾーンＺｐによっても異なることを考慮したためである。しかし、パラメータが、温度区分Ｔｑのみに対応付けられていてもよく、温度区分Ｔｑと、ヘッド１２０-j及びゾーンＺｐの一方との組み合わせに対応付けられていてもよい。
【００３４】
第１の実施形態では、ヘッド１２０-jにはヘッド番号ｈ（ｈ＝ｊ）が割り当てられ、ゾーンＺｐにはゾーン番号ｚ（ｚ＝ｐ）が割り当てられている。つまり、パラメータテーブル２６２は、ヘッド番号ｈ（ｈ＝０，１，２，３）及びゾーン番号ｚ（ｚ＝０，１，２，３）の組み合わせ毎に、上記複数の温度区分Ｔｑに対応付けてパラメータを登録する。図３に示すパラメータテーブル２６２は、説明の簡略化のために、パラメータがライト電流のみである場合を想定している。しかし、パラメータがライトプリコンペンセイション値を含んでいてもよい。
【００３５】
フラグテーブル２６３は、ディスク１１０-1及び１１０-2の記録面に対応するヘッド１２０-j毎で、且つゾーンＺｐ毎に、上記複数の温度区分Ｔｑに対応付けてフラグＦを登録する。つまり、フラグテーブル２６３は、ヘッド番号ｈ（ｈ＝０，１，２，３）及びゾーン番号ｚ（ｚ＝０，１，２，３）の組み合わせ毎に、上記複数の温度区分Ｔｑに対応付けてフラグＦを登録する。
【００３６】
フラグテーブル２６３に登録されている、ヘッド１２０-j（ｈ＝ｊ）、ゾーンＺｐ（ｚ＝ｐ）及び温度区分Ｔｑの組み合わせ（ｈ，ｚ，Ｔｑ）に対応するフラグＦは、パラメータテーブル２６２に登録されている当該組み合わせ（ｈ，ｚ，Ｔｑ）に対応するパラメータが、調整済みであるか或いは未調整であるか、つまり調整の有無を示す。図３の例では、フラグＦが“１”の場合、対応するパラメータが調整済みであることを示し、フラグＦが“０”の場合、対応するパラメータが未調整であることを示す。以下の説明では、調整済みを示すラグＦが対応する温度区分Ｔｑを調整済みポイントと呼び、未調整を示すラグＦが対応する温度区分Ｔｑを未調整ポイントと呼ぶ。
【００３７】
図３の例では、作図の都合で、隣接する温度区分Ｔｑ及びＴｑ＋１の間の温度間隔が比較的大きく設定されている。しかし第１の実施形態では、例えば温度検出器１６０によって検出された温度Ｔが温度区分Ｔｑに属する（つまり対応する）場合に、隣接する温度区分Ｔｑ−１またはＴｑ＋１に対応付けられたパラメータを使用しても、正常に読み出し／書き込みが可能な程度に、温度区分が細かく設定されているものとする。この場合、上記検出された温度Ｔが属する温度区分Ｔｑに対応付けられたパラメータを、例えば線形補間処理を必要とすることなく、そのまま用いることができる。このため、読み出し／書き込みに用いられるパラメータ値が最適値に対して乖離するのを防止できる。
【００３８】
また、図３の例では、パラメータ管理テーブル２６１（パラメータテーブル２６２）に登録されるパラメータには、簡略化のために整数が用いられている。しかし、後述する補間処理の高精度化のために、パラメータ管理テーブル２６１に登録されるパラメータとして、小数点付きの数値を用いてもよい。但し、ディスクアクセスのためのパラメータ設定に用いられるレジスタは、一般に整数値を保持する。このため、小数点付きの数値のパラメータを用いる場合には、当該パラメータの整数部を上記レジスタに設定すればよい。また、上記レジスタの分解能、つまり数値“１”に相当する温度差で、温度区分を設定してもよい。このような温度区分を適用した場合、隣接する温度区分に対応付けられたパラメータを使用しても、正常に読み出し／書き込みが可能となることが期待される。但し、“１”より大きい数値に相当する温度差の温度区分でも構わない。
【００３９】
図３のパラメータ管理テーブル２６１は、当該パラメータ管理テーブル２６１を備えたＨＤＤ１０が出荷された時点の状態を示している。図３の例では、パラメータ管理テーブル２６１内のフラグテーブル２６３により、ヘッド番号ｈが０乃至３（ヘッド１２０-0乃至１２０-3）及びゾーン番号ｚが０乃至３（ゾーンＺ０乃至Ｚ３）の組み合わせにおける、温度区分Ｔｑ毎のパラメータのうち、２０℃（いわゆる常温）の温度区分Ｔｑに対応するパラメータのみが調整済みであり、残りの温度区分に対応するパラメータは全て未調整であることが示されている。
【００４０】
このように第１の実施形態では、ＨＤＤ１０を製造する工程において、ヘッド番号ｈ及びゾーン番号ｚの組み合わせ毎に、２０℃の温度区分Ｔｑに対応するパラメータのみが調整される。上記複数の温度区分Ｔｑのうち２０℃を除く全ての温度区分に対応するパラメータには、予め定められたデフォルト値（暫定値）が未調整のパラメータとして用いられる。なお、ＨＤＤ１０を製造する工程におけるパラメータ調整が、例えば６０℃のような、２０℃以外の温度区分で行われてもよく、２０℃及び６０℃のように、２つ以上の温度区分で行われてもよい。
【００４１】
図４は、識別フラグテーブル２６４のデータ構造例を示す。識別フラグテーブル２６４は、パラメータ管理テーブル２６１とは温度区分が異なっていても差し支えない（この例では５度単位に区分されている）。図４に示した構造例では、headの区分は省略されている。この例において、“１”はフラグが立っているセット状態(Verify on)であり、“０”はフラグがクリアされているリセット状態(Verify off)である。このフラグは、Verify処理の実行（on）とするか、非実行（off）とするかを決定するための値である。温度とZoneとのマトリクスで決定され、フラグが設定される設定枠をセルと称する。
【００４２】
次に、図１に示される電子機器におけるＨＤＤ１０の動作について、図５のフローチャートを参照して説明する。
まず、ＨＤＤ１０がパワーオンされた場合、フラッシュメモリ２６０に格納されているパラメータ管理テーブル２６１や識別フラグテーブル２６４が、ＣＰＵ２８０の制御によりＲＡＭ２９０にロードされる。そこで以下の図５の説明では、ＲＡＭ２９０にパラメータ管理テーブル２６１や識別フラグテーブル２６４が格納されているものとする。
【００４３】
ＣＰＵ２８０は、ＨＤＤ１０がパワーオンされている状態では、温度検出器１６０によって検出される温度（つまりＨＤＤ１０の環境温度）Ｔを定常的に、または所定時間間隔で読み込む。そしてＣＰＵ２８０は、複数の温度区分Ｔｑのうち温度Ｔが属する温度区分Ｔｑを特定する。
【００４４】
＜動作１＞
低温でのライト動作が行われるた場合、その温度が、ベリファイ起動条件に達していれば、ＨＤＣ２４０はライト後にベリファイ処理を行い、ビタビマージンまたはエラーレイトを測定する。
【００４５】
たとえば、あるヘッドにて、zone3、温度10℃の環境でＨＤＣ２４０が データ書き込みをおこなうとする。
この場合に、zone3 温度１０℃ に相当する識別フラグテーブル２６４上のセルに’1’ が設定されていれば、verify動作が write動作（ステップＳ１）のあとに起動される（ステップＳ２のｙｅｓ）。 また当該セルに’1’が設定されていなければ次のwrite動作が実行される（ステップＳ２のｎｏ）。
【００４６】
この verify動作では、前述のように、ビタビマージンまたはエラーレイトの測定が同時に行われる（ステップＳ３）。
測定したverifyセクタ数が 前述の規定したセクタ数を満たし（ステップＳ４のｙｅｓ）、エラーレイトが 先に定めたしきい値以内に収まっているとき（ステップＳ５のｙｅｓ）、以降の、zone3 温度10℃の条件での write動作では verify処理が省略できると判定される。このとき、識別フラグテーブル２６４は、ＨＤＣ２４０により図４のように更新される。つまり図４のように、 zone3  / 10℃ のセルが １→０ に更新される。
【００４７】
なお、上記でセクタ数を満たしてないときは（ステップＳ４のｎｏ）、次のwrite動作が実行される。またエラーレイトが 先に定めたしきい値以内に収まっていないときは（ステップＳ５のｎｏ）、当該セルは “１”のままに据え置かれる。すなわち、次に同じ温度が検出された場合、write処理のあとにverify処理が実行されることになる。なお、これまでは低温側での動作を説明してきたが、高温側でも同様の動作が実行されてよい。
【００４８】
（第２の実施形態）
本発明による第２の実施形態を図１乃至図６を参照して説明する。実施形態１と共通する部分は説明を省略する。
図６は、温度が低い側でverify処理が不要と判定されたときに、より高温側（パラメータが調整された常温側）もverify処理が不要とされることを示す説明図である。なお、更に高温側の記載は省略しているが、動作範囲が６５℃までであるとすると２５℃から５℃刻みに６５℃まで識別フラグテーブルを延長しておけばよい。この延長の範囲では、温度が高い側でverify不要と判定したときは、パラメータ調整済みの常温と今回の温度とのあいだの、より低温側（パラメータが調整された常温側）もverify不要とする処理となる。
【００４９】
＜動作２＞
データの書き込み処理を行うときの温度が、５℃である場合の例を説明する。この場合にも動作１と同様の verify処理および、今後のverify 必要性の 是非が判定される。
【００５０】
verify 不要となれば、図６（ａ）のように、テーブルが更新される。
ところで、この場合、まだ zone3 にて 10℃の環境では データの書き込みを行っていなかった場合がある。このような場合、より温度が常温に近い側のテーブルのセルについては、verifyを省略してよいと判断することができる。この場合、テーブルは さらに図６（ｂ）のように更新される。
【００５１】
以上の実施形態の判定処理は、HDDの電源ONのたびにやり直すようにしてもよく、このデータを媒体に記録して、パワーオン時にメモリに展開して、前回の結果を継続するようにしてもよい。
【００５２】
さらに、経年変化に対応するために、一定時間が経過したあとに、定期的にテーブルをデフォルト状態に戻す処理を 施してもよい。
媒体への記録タイミングは、パワーセーブ、unload処理のタイミングで記録されるとしてよい。
エラーレイトが しきい値以内におさまっていない場合には、verify動作の省略を行わない。また、本実施形態によるverify省略条件に達せず、verify動作が必要となる 環境については、設定パラメータの調整を行い、調整が完了した時点で テーブル上の該当箇所を１→０とする。
【００５３】
調整したパラメータは、以後、次回のアクセスに採用することができるようにすることで、verify動作を省略できるようになるからである。
なお、パラメータ調整を行う 手段については、公知技術を用いることとする。
パフォーマンスの低下が許されない環境では、verifyをできるだけ避ける必要があるため、 調整したパラメータを保持しておいて再利用することにより、verifyによるＩ／Ｏ性能の低下を防ぐことができる。
【００５４】
以上の実施形態の効果を挙げる。
（１）verify処理をできるだけ実施しない制御方法による低温条件下または高温条件下の性能低下防止
（２）製造コストの増大防止（温度範囲を限定した初期調整の実施）
以上の実施形態の特徴を挙げる。
a)  head、zone、温度で区分した 区分テーブルに対応してverify必要の箇所、 不要の箇所を識別する為の 識別フラグテーブルを具備することを特徴とする。
【００５５】
b)  常時 温度を監視し、現在の温度が該当するパラメータテーブルの各区分においてverify必要か、不要かを検索する。
c)  必要である場合、write動作の直後にverifyを実施する。このとき、同時にエラーレートを測定する。
d)エラーレートが良好であれば、以後、その区分でのverifyを不要とし、これを示すように 識別フラグのテーブルを更新する。
e)  verify処理不要としたセルよりも既に調整済みと判定、または既にverify不要と判定したセル側にあるセルは、無条件にverify不要と設定する。
【００５６】
なお、この発明は上記実施形態に限定されるものではなく、この外その要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。
また、上記した実施の形態に開示されている複数の構成要素を適宜に組み合わせることにより、種々の発明を形成することができる。例えば、実施の形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除しても良いものである。さらに、異なる実施の形態に係わる構成要素を適宜組み合わせても良いものである。
【符号の説明】
【００５７】
１０…ＨＤＤ（磁気ディスク装置）、２０…ホスト、１１０-1，１１０-2，１１０-i…ディスク、１１１…パラメータ調整領域、１２０-0〜１２０-3…ヘッド、１６０…温度検出器、１７０…振動検出器、２３０…Ｒ／Ｗチャネル（リード／ライトチャネル）、２４０…ＨＤＣ、２６０…フラッシュメモリ、２６２…パラメータテーブル、２６３…フラグテーブル、２６４…識別フラグテーブル、２７０…プログラムＲＯＭ、２８０…ＣＰＵ、２９０…ＲＡＭ、Ｚ０〜Ｚ３…ゾーン。
【図１】
2012160231.tif 000003
【図２】
2012160231.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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