(57)【要約】【課題】本発明は、プラスチックカード基材層を含め、プラスチックフイルムを少なくとも３層以上積層した多層構成よりなる各種磁気カード及びＩＣカードの各層の層間の剥離力を検査する装置であって、積層体であるカードの表面になにもキズなどをつけたり、粘着剤を残したりすること無く、再現性良くかつ効率的に積層間の剥離力検査、評価ができる方法とその装置を提供するものである。【解決手段】触針部材の先端を、前記プラスチックカードの基材層とその上に積層されたプラスチックフイルム層の層間に押し当てて、前記プラスチックカードの上方のある一定の角度を保って、ある範囲内の押し圧で平行に押し続けると、その押し圧が上記の層間の接着力、密着力より強い場合には、前記触針の先端がその層間に存在する接着剤層中に刺さり込み、その上に積層されたプラスチックフイルム層だけを剥がすことができる。【選択図】図１
2012247305.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プラスチックカード基材層を含め、プラスチックフイルムを少なくとも３層以上積層した多層構成よりなる各種磁気カードまたはＩＣカードの各層の層間の剥離力を検査する装置であって、
前記カードを載置し、前記剥離検査をするための水平なステージと、
前記カードを前記ステージの所定の位置に保持・固定するための位置決め機構と、
前記カードの層と層の間に押し当てる触針部材と、
前記触針部材を保持し、前記触針部材の上に応力逃がしバネを具備し、縦方向に、前記触針部材を平行移動スライドできる治具Ａと、
前記治具Ａを保持し、前記治具Ａの上部に設けたレバーと、
このレバーを用いて前記治具Ａを前記ステージに対して、上方に一定角度を持って、平行移動スライドできる治具Ｂと、
を備えたことを特徴とするプラスチックカードの層間の剥離検査装置。
【請求項２】
前記触針部材の触針の先端が、先端の角度を水平方向に対して３０°〜６０°の範囲で可変とし、先端Ｒを０．０１ｍｍ〜０．０５ｍｍの範囲で可変とし、先端の幅を４ｍｍ〜５ｍｍの範囲で可変としてなるものであり、
前記先端を前記カードの層間に押し当てて剥離検査する際の押し圧と押し角度が、押し角度３０°〜６０°の範囲で可変とし、押し圧２Ｎ〜５Ｎの範囲で可変としてなるものであることを特徴とする請求項１に記載のプラスチックカードの層間の剥離検査装置。
【請求項３】
前記触針の先端が前記カードの各層の層間に押し当てる押し圧が６Ｎ以上になったときに、前記治具Ａの前記触針部材の上に設けた応力逃がしバネの圧力が解除され、縦方向に、前記触針部材を平行移動スライドさせることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載のプラスチックカードの層間の剥離検査装置。
【請求項４】
請求項１乃至請求項３のいずれかに記載の剥離検査装置を用いて、前記プラスチックカードの各層の層間の剥離力を検査することを特徴とする方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プラスチック製の磁気カード及びＩＣカードなどの多層構成（積層）にて製造されるカードの層と層の剥離力の検査方法や装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、クレジットカード、キャッシュカードのプラスチック材料を多層に積層した構成の磁気カード及びＩＣカードなどが、有効期限の期間内に剥がれたり、カードの層間で浮きが発生して膨れてきて機械に掛かりにくくなったり、というトラブルが発生することがある。
【０００３】
これらのカードの層間での剥がれや、カードの層間で浮き自体は、致命的損傷ではないが、実は、磁気カードやＩＣカードなどのように磁気記録層やＩＣチップにも損傷を与えていた場合は、致命的損傷となってしまう。
【０００４】
そのため、プラスチック材料を多層に積層した構成の磁気カード及びＩＣカードなどの場合には、各層間での接着力、密着力を可能ならば、非破壊にて検査しておく必要がある。
【０００５】
透明基材に対する薄膜層の付着強度を評価する試験方法としてＪＩＳ、Ｋ５４００で規定されている方法に碁盤目法、碁盤目テープ法、及びＸカットテープ法がある。また、ＪＩＳ、ＡＳＴＭ、ＩＳＯの規格に曲げ試験がある。このような方法を定量的に効率良く行う提案が特許文献１等によってなされている。
【０００６】
従来の試験方法のうち、碁盤目法は試験片上の膜を貫通して基材面に達する切り傷を碁盤目状につけ、膜の付着状態を目視により観察する方法である。しかし、切り傷周辺の付着状態の目視観察は定量的でなく、付着の微妙な差異まで判別して観察することは困難である。
【０００７】
碁盤目テープ法は、試験片上の膜を貫通して基材面に達する切り傷を碁盤目状につけ、この碁盤目の上に粘着テープを貼り、消しゴムでこすって薄膜層と粘着テープを密着させ、粘着テープを剥がした後の薄膜層の付着状態を目視で観察する方法である。しかしこの方法においては、薄膜層と粘着テープとの密着を得る為に消しゴムでこする際、脆い膜ではそれ自体が層破壊を起こし、正確な薄膜層の付着力を測定することができない問題がある。また、人為的な要素が多く含まれる試験方法である為、試験方法自体及びその測定結果が再現性に乏しいという欠点がある。
【０００８】
また、Ｘカットテープ法は試験片上の薄膜層を貫通して、基材面に達するＸ印状の切り傷をカッターナイフで付け、その上に粘着テープを貼りつけて引き剥がし、基材と、又は薄膜層との付着性の優劣を調べる方法である。しかし、この方法も碁盤目法、碁盤目テープ法と同様、測定方法として定量的でない上、粘着テープとの密着を得る為に消しゴムでこする際、膜に損傷を与えてしまう危険性があるという欠点を有している。
【０００９】
また、図７、図８のように、プラスチッグ製カード（２０）にセロハンテープなどの粘着テープ（２１）を密着させて、次にその粘着テープ（２１）を剥がし、カード基材（２０）の上に積層されているオーバーシート（２３）の剥離の有無を確認する粘着テープ剥離検査法もあるが、粘着テープ（２１）の接着力よりも、オーバーシート（２３）とカード基材（２２）間の接着力が大きい場合、オーバーシート（２３）は剥がれないが、逆に粘着テープ（２１）の粘着力のほうが大きい場合は、オーバーシート（２３）が剥がれるものである。
【００１０】
つまり、この粘着テープ（２１）を用いる方法においては、積層シート表面に直接貼り付けて、剥がす剥離力にて剥離評価、検査を行うため、磁気カード及びＩＣカードなどにおいては、試験した際に粘着剤の粘着成分が表面に残る、および精度よく検査したい場合には、使用するテープの粘着力を安定させる必要があるし、粘着テープ（２１）を貼りつけて引き剥がしという剥離動作自体も安定させる必要があるものである。
【００１１】
つまり、この粘着テープ（２１）を用いる方法は、あくまでも粘着テープ（２１）の粘着力との比較であって、その粘着テープ（２１）の粘着力の範囲より外れる接着力、密着力、粘着力は、測定が困難となるものである。
【００１２】
また曲げ試験について、特許文献２に係る発明の従来法の図９に示す４点曲げ試験を例として説明する。歪ゲージ（３６）を取付けた試験片（３３）を２箇所の下部支点（３５）により支持し、上部支点（３４）により図面下部方向に荷重をかけ、光学顕微鏡（３５）により剥離状態と、その時の試験片（３３）の歪（曲率半径）を測定するものである。この方法は、非接触試験であり、膜に対しなにも触れさせることなく薄膜層（３２）の剥離の様子が観察可能である。しかし、試験片（３３）が薄く、剥離が発生する曲率半径が小さい試験片（３３）の測定では支点間隔が狭くなり、観察および支点間隔の制御が困難となる問題がある。
【００１３】
特許文献２に係る発明は、図１１に示すように可撓性の透明基材上（４４）の片側に１層またはそれ以上の薄膜層（４５）を有する積層体の薄膜層（４５）の密着強度評価方法において、薄膜層（４５）を内側にして積層体（４６）を湾曲させて湾曲部を形成した試験片（４６）を、薄膜層（４５）の劣化加速試験の装置内に投入し所定の試験条件で劣化加速試験を完了した後、湾曲部の薄膜層（４４）の層間の剥離状態を観察し、評価することにより、層間剥離が観察された試験片（４６）を選別し、該試験片（４６）の湾曲部の曲率半径の距離値を用いて、密着強度を数値により評価することを特徴とするものである。
【００１４】
また特許文献２に係る発明は、図１０に示すように前記湾曲部の形成が、所定の曲率のある、観察窓（４１）をもった冶具（４０）を用いて、該冶具（４０）の曲率をもった面に沿って試験片（４６）を固定し、薄膜層（４５）を内側にして湾曲部を形成するものであって、剥離状態の観察は、冶具（４０）の観察窓（４１）を通して湾曲部における試験片（４６）の薄膜層（４５）の剥離状態を観察するものである。
【００１５】
また特許文献２に係る発明は、前記試料片（４６）が、同一なる曲率半径を持つ複数よりなるグループであって、該グループを劣化加速試験に投入し、所定の条件下で劣化加速試験を完了した後、その薄膜層（４５）の剥離状態を同時に観察するものである。
【００１６】
また特許文献２に係る発明は、前記試料片（４６）は、異なる曲率半径を持つ複数種よりなるグループであって、該グループを劣化加速試験に投入し、所定の条件下で劣化加速試験を完了した後、その薄膜層（４５）の剥離状態を同時に観察するものである。
【００１７】
つまり特許文献２に係る発明は、積層体の薄膜層（４５）形成面を内側に湾曲させて固定し、数種類の曲率を作成したものを劣化加速試験に投入し、光学顕微鏡（４２）により薄膜層（４５）の剥離が発生したときの曲率の半径値を用いて数値判定することで、積層体およびその薄膜層（４５）の表面に何も触れさせることなく、効率的、かつ簡易的に透明基材（４４）と薄膜層（４５）との密着強度の測定をすることができ、得られた測定結
果は密着強度の微小な差異を曲率半径の大きさとして定量的に示すことができるというものである。
【００１８】
しかしながら、特許文献２に係る方法では、試験片（４６）状態における劣化加速試験に対する耐性の評価は可能ではあるが、製品完成直後の検査工程に用いることができない。また、湾曲治具（４）に固定し、形状を変化させるため、磁気カード及びＩＣカードなど外観が重視される製品の生産における検査などには不向きである上、生産上必要な全数検査をおこなうことが作業工数上、非常に困難である。
【００１９】
特許文献３に係る発明は、積層シートの剥離性評価装置であって、前記積層シートからなる試験片の長手方向の一端部を挟持して固定する固定チャックと、試験片の他端部を挟持するとともに移動可能な移動チャックと、前記移動チャックの移動方向を規定して、前記試験片の長手方向に移動チャックを移動可能とする移動チャック案内台と、前記試験片の長手方向に引張り力を与えるべく、前記移動チャックに所定の力を加える加重機構と、前記試験片の一方の面に接する第１のローラーと他方の面に接する第２のローラーにより、前記試験片を長手方向に沿って２箇所で曲げ変形させるしごきローラー対を具備したしごきユニットと、前記しごきユニットを往復移動させる駆動機構と、を具備し、前記しごきユニットを往復移動させ、試験片の剥離性の評価が可能であることを特徴とする積層シートの剥離性評価装置とその方法である。
【００２０】
すなわち特許文献３に係る発明において、積層シートの剥離性評価装置では、積層シートの試験片をしごくことにより剥離させ、試験片の剥離に要した前記ローラーの往復回数により積層シートの剥離性を評価するため、現場操業レベルにおいても作業が簡便となるものである。
【００２１】
しかしながら特許文献３に係る発明においては、積層シートを２つのローラーでしごいて、しごきの荷重と、積層シートが剥離した時点でのしごきの回数によって剥離性を評価するものである。つまり、この方法においても、試験片状態での評価は可能ではあるが、磁気カード及びＩＣカードなどの小切れ製品の製品状態での剥離検査とするのは困難である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００２２】
【特許文献１】特開平０５−１８２２５５号公報
【特許文献２】特開２００５−３１５６８４号公報
【特許文献３】特開２０１０−１２７６２３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００２３】
本発明は、前記問題点について鑑みられたものであり、その目的とするところは、プラスチック製の磁気カード及びＩＣカードなどの多層構成（積層）にて製造されるカードの層と層の剥離力の検査方法や装置に関して、積層体であるカードの表面になにもキズなどをつけたり、粘着剤を残したりすること無く、再現性良くかつ効率的に積層間の剥離力や密着性を評価する方法、および積層間の剥離力や密着性を検査、評価するための装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００２４】
請求項１の発明は、プラスチックカード基材層を含め、プラスチックフイルムを少なくとも３層以上積層した多層構成よりなる各種磁気カード及びＩＣカードの各層の層間の剥離力を検査する装置であって、
前記カードを載置し、前記剥離検査をするための水平を保っているステージと、
前記カードを前記ステージの所定の位置に保持・固定するための位置決め機構と、
前記カードの層と層の間に押し当てる触針部材と、
前記触針部材を保持し、前記触針部材の上に応力逃がしバネを具備し、
縦方向に、前記触針部材を平行移動スライドできる治具Ａと、
前記治具Ａを保持し、前記治具Ａの上部に設けたレバーを用いて、
前記治具Ａを前記ステージに対して、上方に一定角度を持って、平行移動スライドできる治具Ｂと、
を備えていることを特徴とする前記カードの各層の層間の剥離力を検査する装置である。
【００２５】
請求項２の発明は、前記触針部材の触針の先端は、先端の角度を３０°〜６０°の範囲で可変とし、先端Ｒを０．０１ｍｍ〜０．０５ｍｍの範囲で可変とし、先端の幅を４ｍｍ〜５ｍｍの範囲で可変としてなるものであり、
前記先端を前記カードの層間に押し当てて剥離検査する際の押し圧と押し角度が、押し角度３０°〜６０°の範囲で可変とし、押し圧２Ｎ〜５Ｎの範囲で可変としてなるものであることを特徴とする請求項１の発明に記載の前記カードの各層の層間の剥離力を検査する装置である。
【００２６】
請求項３の発明は、前記触針の先端が前記カードの各層の層間に押し当てる押し圧が６Ｎ以上になったときに、前記治具Ａの前記触針部材の上に設けた応力逃がしバネの圧力が解除され、縦方向に、前記触針部材を平行移動スライドさせることを特徴とする請求項１又は請求項２の発明に記載の前記カードの各層の層間の剥離力を検査する装置である。
【００２７】
請求項４の発明は、請求項１乃至請求項３の発明のいずれか記載の装置を用いて、前記カードの各層の層間の剥離力を検査することを特徴とする方法である。
【発明の効果】
【００２８】
本発明は、プラスチックカード基材層を含め、プラスチックフイルムを少なくとも３層以上積層した多層構成よりなる各種磁気カード及びＩＣカードの各層の層間の剥離力を検査する装置を用いてであって、積層体であるカードの表面になにもキズなどをつけたり、粘着剤を残したりすること無く、再現性良くかつ効率的に積層間の剥離力検査、評価ができる方法とその装置を提供するものである。
【００２９】
請求項１の発明に記載の前記触針の先端を、前記プラスチックカードの基材層とその上に積層されたプラスチックフイルム層の層間、つまり前記プラスチックカードの基材層の界面の最端部とその上に積層されたプラスチックフイルム層の界面の最端部の境の断面部に押し当てて、前記プラスチックカードの上方のある一定の角度を保って、押し圧２Ｎ〜５Ｎの範囲内の圧力で平行に押し続けると、その押し圧が前記プラスチックカードの基材層とその上に積層されたプラスチックフイルム層との間の接着力、密着力より強い場合には、前記触針の先端がその層間に存在する接着剤層中に刺さり込み、その上に積層されたプラスチックフイルム層だけを剥がすことができる。
【００３０】
一方、前記プラスチックカードの基材層とその上に積層されたプラスチックフイルム層との間の接着力、密着力のほうが、前記触針の先端のその押し圧よりも大きい場合には、前記治具Ａの前記触針部材の上に設けた応力逃がしバネの圧力が解除され、前記触針の先端は前に進むことができずに、縦方向に、前記先端部を含め、前記触針部材が平行移動スライドさせられてしまうことが起こる。
【００３１】
つまり、層間の接着力、密着力が弱いときは、前記触針の先端が前に進み上層を剥がしてしまうが、層間の接着力、密着力が強いときは、キズつきや剥がれや破壊は起こらずに
、前記触針の先端を縦方向に移動させてしまうので、容易に、短時間で層間の接着力、密着力の判断ができる効果を有するものである。
【００３２】
また、本発明の方法は、前記の粘着テープのような相対的な剥離力検査ではなく、押し圧２Ｎ〜５Ｎの範囲内で測ることのできる絶対的な剥離力検査であるので、再現性、信頼性の高い検査が、製造ラインの中でも、できるという効果を有するものである。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】図１の（ａ）は本発明のプラスチックカード（１４）の層間剥離検査装置の模式断面略図である。図１の（ｂ）は図１の（ａ）の前記治具Ａ（６）の前記触針部材（５）および前記治具Ｂ（８）の断面拡大略図である。
【図２】図２の（ａ）は、本発明のプラスチックカード（１４）の層間剥離検査装置にて被検査体であるカード（１４）への剥離検査を開始し、そのカードの上層（３）を剥離した場面の模式断面略図である。図２の（ｂ）は図２の（ａ）の前記治具Ａ（６）の前記触針部材（５）および前記治具Ｂ（８）の断面拡大略図である。
【図３】図３は、本発明のプラスチックカード（１４）の層間剥離検査装置の全体平面略図である。
【図４】図４は、本発明のプラスチックカード（１４）の層間剥離検査の実施前の前記治具Ａ（６）の前記触針部材（５）および前記治具Ｂ（８）の断面拡大略図である。
【図５】図５は、本発明のプラスチックカード（１４）の層間剥離検査開始後での層間接着力、密着力不良による剥離現象における前記触針部材（５）および前記治具Ｂ（８）の断面拡大略図である。つまり、接着剤塗工異常の場合に起こる現象を表した断面略図である。
【図６】図６は、本発明のプラスチックカード（１４）の層間剥離検査開始後での層間接着力、密着力正常による現象における前記触針部材（６）および前記治具Ｂ（８）の断面拡大略図である。つまり、図６は、接着剤塗工正常の場合に起こる現象を表した断面略図であり、カードの層間において剥離が起こらない場合は、前記治具Ａ（６）の前記触針部材（５）は、ある一定以上の応力を受けると前記治具Ｂ（８）のＹ軸方向（１５）への平行移動は起こらずに、前記治具Ａ（６）のバネ（１３）を押し上げ前記治具Ａ（６）の上向き方向、つまりＸ軸方向（１６）への平行移動が起こり、縦方向に上昇したときの前記治具Ａ（６）の前記触針部材（５）および前記治具Ｂ（８）の断面拡大略図である。
【図７】図７（ａ）は、従来技術のプラスチッグ製カード（２０）にセロハンテープなどの粘着テープ（２１）を密着させて、次にその粘着テープ（２１）を剥がし、カード基材（２２）の上に積層されているオーバーシート（２３）の剥離の有無を確認する粘着テープ剥離検査法の、プラスチッグ製カード（２０）に粘着テープ（２１）を密着させたときの平面略図である。図７（ｂ）は、図７（ａ）の断面略図であり、粘着テープ（２１）をカード表面の端に密着させ、１０〜２０ｍｍを掴み代としてカードの端から、はみ出すように貼ったときの断面略図である。
【図８】図８は、図７（ａ）、（ｂ）におけるカード（２０）を固定し、カード（２０）の端より掴み出した粘着テープ（２１）の掴みシロを掴み、カードに対して９０°の角度で真上に１０００ｍｍ／秒のスピードで引き上げ、剥がすときの模式断面略図である。
【図９】図９（ａ）は、特許文献２に係る発明の従来図の４点曲げ試験を例として説明図であり、歪ゲージ（３６）を取付けた試験片（３３）を２箇所の下部支点（３５）により支持し、上部支点（３４）により図面下部方向に荷重をかけ、光学顕微鏡（３５）により剥離状態と、その時の試験片（３３）の歪（曲率半径）を測定するときの模式平面略図である。図９（ｂ）は、図９（ａ）の積層体である試験片（３３）の断面略図である。
【図１０】図１０（ａ）は、特許文献２に係る発明における試験片の曲率保持治具（４０）の概略側断面図である。１０（ｂ）は、図１０（ａ）の曲率保持治具（４０）を上から観た概略平面図である。（４１）は観察窓である。
【図１１】図１１は、特許文献２に係る発明における試験片（４６）を固定する際の曲率保持治具（４０）の側面略図である。
【発明を実施するための形態】
【００３４】
本発明は、図１のようにプラスチックカード（１４）の基材層（２）を含め、プラスチックフイルムを少なくとも３層以上積層した多層構成よりなる各種磁気カード及びＩＣカードの各層の層間の剥離力を検査する装置であり、水平なステージ（１）に前記カード（１４）を載置し、前記カード（１４）の層と層の間に触針部材（５）の先端を押し当てながら、前記ステージ（１）に対して、上方に一定角度を持って、平行移動スライド（１５）させることによって、図２のように前記カード（１４）の上層（３）を剥離していくことができることを特徴とする前記カード（１４）の各層の層間の剥離力を検査する装置およびそれを用いた検査方法である。
【００３５】
本発明に用いるプラスチックカード（１４）の基材層（２）を含め、プラスチックフイルムを少なくとも３層以上積層した多層構成よりなる各種磁気カード及びＩＣカードとしては、接触型ＩＣモジールを有する接触型ＩＣカード、デュアルインターフェイス型ＩＣカード、非接触型ＩＣカード、そして磁気カードなどがある。
【００３６】
本発明のカードに用いるプラスチック材料としては、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ、ＰＥＴ−Ｇ）、ポリエチレンナフタレート、ポリカーボネート、ナイロン、ポリスチレン、ポリ塩化ビニル（ＰＶＣ）、ポリアクリロニトリルが使用できるが、特にカード基材としてのコアシートとしては、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ、ＰＥＴ−Ｇ）やポリ塩化ビニル（ＰＶＣ）が好ましく使用できる。
【００３７】
また、カード基材（２）の両面か片面に積層するオーバーシート（２）、（１２）としては、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ、ＰＥＴ−Ｇ）、ポリエチレンナフタレート、ポリカーボネート、ナイロン、ポリスチレン、ポリ塩化ビニル（ＰＶＣ）、ポリアクリロニトリルが使用できるが、さらにその上層に、ハードコート層や、静電気防止コート層を設けることもできる。
【００３８】
前記カード（１４）は、前記カード基材（２）を２層以上か、前記カード基材（２）の両面にオーバーシート（２）、（１２）を積層した計３層以上のプラスチック材料からなり、各々のカードは、各層間を接着剤または熱ラミネートにて接着または接合されている。
【００３９】
前記触針部材（５）としては、ステンレスの材質のものが使用でき、例としては、ＳＵＳ３０４が好ましく使用できる。
【００４０】
図１（ｂ）、図２（ｂ）の示すように前記触針部材（５）の先端（９）は、先端（９）の角度（１７）を３０°〜６０°の範囲で可変とし、先端Ｒを０．０１ｍｍ〜０．０５ｍｍの範囲で可変とし、先端（９）の幅を４ｍｍ〜５ｍｍの範囲で可変としてなる仕様にするものとする。
【００４１】
そして、前記先端（９）を前記カード（１４）の層間に押し当てて剥離検査する際の押し圧と押し角度（１７）としては、押し角度３０°〜６０°の範囲で、かつ押し圧２Ｎ〜５Ｎの範囲にて、検査を行うものとする。
【００４２】
カードの層間の接着、密着が不良の場合には、つまり、前記先端（９）のその押し圧が前記プラスチックカードの基材層とその上に積層されたプラスチックフイルム層との間の
接着力、密着力より強い場合には、図５のように、前記触針の先端（９）が前記治具Ｂ（８）のＹ方向（１５）にスライドしつつ進むことができ、その層間に存在する接着剤層中に刺さり込み、その上に積層されたプラスチックフイルム層（３）だけを剥がすことができる。
【００４３】
なお、図５のように、前記触針の先端（９）をカード（１４）の層間に押し当てて、前記治具Ｂ（８）のＹ方向（１５）にスライドさせる際には、前記治具Ａ（６）の前記触針部材（５）の上に設けた持手レバー（７）を持ちつつＹ方向（１５）に移動スライドさせるものとする。
【００４４】
カード（１４）の層間の接着、密着が良、正常の場合には、つまり、前記先端（９）のその押し圧より前記プラスチックカード（１４）の基材層（２）とその上に積層されたプラスチックフイルム層（３）との間の接着力、密着力が強い場合には、図６のように、前記触針（５）の先端（９）がその層間に存在する接着剤層中に刺さり込むことができず、前記治具Ａ（６）の前記触針部材（５）の上に設けた応力逃がしバネ（１３）の圧力が解除され、前記触針（５）の先端（９）は前に進むことができずに、Ｘ方向（１６）に、縦方向に、押し上げられ、前記先端部（９）を含め、前記触針部材（５）がＸ方向（１６）に平行移動スライドさせられてしまうことが起こる。つまり、前記層間に剥離は発生せず、カードの層間の接着、密着が良、正常であると判断されるのである。
【００４５】
つまり、層間の接着力、密着力が弱いときは、前記触針（５）の先端（９）が前に進み上層を剥がしてしまうが、層間の接着力、密着力が強いときは、キズつきや剥がれや破壊は起こらずに、前記触針（５）の先端（９）を縦方向に移動、押し上げさせてしまうので、前記治具Ａ（６）の前記触針部材（５）が、Ｙ方向（１５）に移動、スライドしていれば、良品で、Ｘ方向（１６）に、縦方向に、押し上げられ、平行移動スライドしていれば不良品であると、容易に、短時間で層間の接着力、密着力の検査ができるものである。
【００４６】
以下に、本発明の具体的な実施例について説明する。
【実施例１】
【００４７】
３層構成の磁気カードを作成する、層の構成は、全版サイズの厚さ０．６ｍｍのポリ塩化ビニルシート（ＰＶＣ）をカード基材（コアシート材）として、そのコアシート材の表裏両面に厚さ０．１ｍｍのオーバーシートとしてポリエステル系シート（ＰＥＴ−Ｇ）の３層構成とし、そのコアシート材の両面にポリエステル系接着剤を塗工し、そのオーバーシートを貼り合わせ、１００〜１２０℃の温度にて熟成を施して後、抜き加工を行い、小切れカードサイズにした。
【００４８】
なお、比較対象として、上記接着剤を塗工しないものも作成したが、１００〜１２０℃の温度にて低温熱ラミネート加工にて貼り合わせて作成し、同様に抜き加工を行い、小切れカードサイズにした。
【００４９】
剥離検査装置としては、図１、図３の示したものを使用した。
【００５０】
上記にて作成した、カードをテスージ（１）の上に載せ、カードの隣り合う２辺（カードの長辺、短辺）に図３のように位置決め固定ピン（４）を配置し、残りの他の２辺（前記２辺とは異なる長辺、短辺）には、カードの端を押圧できる移動可能なバネ付位置決めピン（１１）を配置して、位置決めした。
【００５１】
前記治具Ａ（６）の前記触針部材（５）の先端（９）（ステンレス製：ＳＵＳ３０４）を、カードのコアシート層（２）とオーバーシート層（３）の間に押し当てつつ、図２の
ように前記治具Ａ（６）の前記触針部材（５）の上に設けた持手レバー（７）を握り、前記治具Ｂ（８）のＹ方向（１５）に前記治具Ａ（６）の前記触針部材（５）の先端部（９）を５ｍｍ移動させた。
【００５２】
上記の検査を、前記層間に接着剤層を設けたカード１０枚と前記層間に接着剤層を設けない低温ラミネート加工したカード１０枚の計２０枚に対して行った。
【００５３】
上記の検査結果は、接着剤が正常に塗工されているカードは、つまり前記層間に接着剤層を設けたカード１０枚の場合は、前記層間において、図６の示すように、すべて剥離は発生しなかった。
【００５４】
この場合、図６の示すように、前記触針部材（５）の上に設けた、剥離力調整機能の前記バネ（１３）が縮みきってしまい、持手レバー（７）を移動させるための力がカード全体に掛かることにより、オーバーシートだけでなくカード全体をステージから持ち上がっており、オーバーシートとコアカード間の層間剥離が発生しないことから、剥がれのない正常な製品という判断ができる。
【００５５】
一方、前記層間に接着剤層を設けない低温ラミネート加工したカード１０枚の検査結果は、すべて、上層のオーバーシートがコアシートから剥離が起こっていた。
【００５６】
この場合、図５の示すように、前記治具Ａ（６）の前記触針部材（５）の先端部（９）が、前記層間に刺さり込み、上層のオーバーシートをコアシートから剥離させたものである。すなわち、前記層間に接着剤層を設けない低温ラミネート加工したカード１０枚はすべて、剥離が発生し、不良な製品という判断ができる。
【００５７】
一方、従来法の粘着シートを用いる方法でも、前記層間に接着剤層を設けたカード１０枚と前記層間に接着剤層を設けない低温ラミネート加工したカード１０枚に対して、比較の検査を試みた。
【００５８】
従来法の粘着シートでの結果は、前記層間に接着剤層を設けたカード１０枚に対しては、本発明の結果と同様、すべて剥離は発生しなかったが、前記層間に接着剤層を設けない低温ラミネート加工したカード１０枚に対しては、本発明の結果とはまったく異なる結果で、２０パーセントしか、剥離が発生しなかったというものであった。つまり前記層間に接着剤層を設けない低温ラミネート加工したカード１０枚に対しては、２０パーセントしか、不良が発見されなかったこととなる。（表１）
【００５９】
以下に前記層間に接着剤層を設けない低温ラミネート加工したカード１０枚ずつで、本発明の方法と粘着シートでの方法の結果を表にしたものを記載する。
【表１】
2012247305.tif 000003
【００６０】
粘着テープ剥離方法では、検出できなかった上記カードの８０パーセントは、低温熱ラミネート加工したカードではあっても、粘着テープでは検出できない密着強度を有していたためである。
【符号の説明】
【００６１】
１、カード固定ステージ
２、カード基材層
３、１２、オーバーシート（カード積層層）
４、位置決め固定ピン
５、本発明の前記触針部材
６、前記治具Ａ
７、持手レバー（前記治具Ａ全体をＹ方向に平行移動するのに、この持手レバーを握りながら行う）
８、前記治具Ｂ
９、前記触針部材の先端部
１０、押し圧角度
１１、位置決め移動ピン（バネなどによる押当式）
１３、バネ
１４、本発明のカード
１５、Ｙ方向（前記治具Ｂの平行移動の進行方向）
１６、Ｘ方向（前記治具Ａの前記触針部材の平行移動の進行方向）
２０、カード
２１、粘着テープ
２２、カード基材層
２３、２４、カードオーバーシート
３０、光学顕微鏡
３１、透明基材
３２、薄膜層
３３、試験片
３４、上部支点
３５、下部支点
３６、歪ゲージ
４０、曲率保持治具
４１、観察窓
４２、光学顕微鏡
４３、端部固定手段
４４、透明基材
４５、薄膜層
４６、試験片
【図７】
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【図８】
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【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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