(57)【要約】【課題】本発明は、回路ロード装置を提供することを目的とする。【解決手段】本発明の回路ロード装置は、電圧降下試験器具が生じる降下電圧数値及び電圧降下時間を校正するために用いられ、且つ回路アセンブリー及び前記回路アセンブリーに接続されるスイッチアセンブリーを備え、前記電圧降下試験器具の校正パラメーターに基づいて、前記回路アセンブリーの動作電圧及びパワーを調節して、前記回路ロード装置が前記電圧降下試験器具に接続する場合、前記回路ロード装置の動作電圧及びパワーが、前記電圧降下試験器具が電圧降下試験を行う時に必要とするロードの電圧及びパワーになることにする。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電圧降下試験器具が生じる降下電圧数値及び電圧降下時間を校正するために用いられる回路ロード装置であって、回路アセンブリー及び前記回路アセンブリーに接続されるスイッチアセンブリーを備え、前記電圧降下試験器具の校正パラメーターに基づいて、前記回路アセンブリーの動作電圧及びパワーを調節して、前記回路ロード装置が前記電圧降下試験器具に接続する場合、前記回路ロード装置の動作電圧及びパワーが、前記電圧降下試験器具が電圧降下試験を行う時に必要とするロードの電圧及びパワーになるようにすることを特徴とする回路ロード装置。
【請求項２】
前記スイッチアセンブリーは、電圧制御スイッチ及びパワー制御スイッチを備え、前記電圧制御スイッチによって前記回路ロード装置の動作電圧を調節し、前記パワー制御スイッチによって前記回路ロード装置のパワーを調節することを特徴とする請求項１に記載の回路ロード装置。
【請求項３】
前記回路アセンブリーは、第一レジスターグループ及び第二レジスターグループを備え、前記第一レジスターグループは、前記電圧降下試験器具が提供する電源に接続され、前記第二レジスターグループは、前記パワー制御スイッチを通して前記第一レジスターグループに接続され、前記パワー制御スイッチを切って、前記第二レジスターグループと前記第一レジスターグループとの接続を切る場合、前記回路ロード装置は１つのパワーで動作し、前記パワー制御スイッチを導通して、前記第二レジスターグループ及び前記第一レジスターグループを接続する場合、前記回路ロード装置は他のパワーで動作することを特徴とする請求項２に記載の回路ロード装置。
【請求項４】
前記第一レジスターグループ及び前記第二レジスターグループは同じであり、全て第一レジスターモジュール、第二レジスターモジュール、第三レジスターモジュール及び第四レジスターモジュールを備え、前記パワー制御スイッチは、同時に導通されるか又は同時に切られる４つのサブスイッチを備え、前記第二レジスターグループの第一レジスターモジュールの一端、前記第二レジスターグループの第一レジスターモジュールの第二レジスターモジュールに接続する一端、前記第二レジスターグループの第二レジスターモジュールの第三レジスターモジュールに接続する一端、前記第二レジスターグループの第三レジスターモジュールの第四レジスターモジュールに接続する一端は、別々に１つの前記サブスイッチを通して前記第一レジスターグループの第一レジスターモジュールの一端、前記第一レジスターグループの第一レジスターモジュールの第二レジスターモジュールに接続する一端、前記第一レジスターグループの第二レジスターモジュールの第三レジスターモジュールに接続する一端、前記第一レジスターグループの第三レジスターモジュールの第四レジスターモジュールに接続する一端にそれぞれに接続され、４つの前記サブスイッチが全て切られる場合、前記回路ロード装置は１つのパワーで動作し、４つの前記サブスイッチが全て導通される場合、前記回路ロード装置は他のパワーで動作することを特徴とする請求項３に記載の回路ロード装置。
【請求項５】
前記電圧制御スイッチは、四位選択スイッチであり、その一端は、前記電源の負極に接続され、他端の４つのコンタクトは、別々に前記第一レジスターグループの第一レジスターモジュールの第二レジスターモジュールに接続する一端、前記第一レジスターグループの第二レジスターモジュールの第三レジスターモジュールに接続する一端、前記第一レジスターグループの第三レジスターモジュールの第四レジスターモジュールに接続する一端及び前記第一レジスターグループの第四レジスターモジュールの他端に接続され、前記第一レジスターグループの第一レジスターモジュールの他端は、前記電源の正極に接続され、前記電圧制御スイッチを異なる電圧位に切り替えて、前記回路ロード装置の抵抗値を調節して、前記回路ロード装置の動作電圧を調節することを特徴とする請求項４に記載の回路ロード装置。
【請求項６】
前記回路ロード装置は、前記回路ロード装置に対して放熱する放熱アセンブリーをさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の回路ロード装置。
【請求項７】
前記回路ロード装置は、ハウジングをさらに備え、前記回路アセンブリーは、前記ハウジングの内部に収容され、前記スイッチアセンブリー及び前記放熱アセンブリーは、前記ハウジングの側壁に設置されることを特徴とする請求項６に記載の回路ロード装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回路ロード装置に関するものであり、特に電圧降下試験に用いられる回路ロード装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電源で電子装置に電力を供給する場合、他の装置が電源に電気的に接続するか又は天気変化などの原因による電圧降下を招き、従って電子装置のシャットダウン、再開などの現象が発生して、ユーザーに不便をもたらす。だから、電圧降下に対する電子装置の防護能力を確保するために、電子装置の生産工程では、電圧降下試験器具で電子装置に対して電圧降下試験を行う。
【０００３】
世界各国の電圧は、１００Ｖ、１１０Ｖ、１２７Ｖ、２２０Ｖ、２３０Ｖ、２４０Ｖ、２５０Ｖなどの多種の規格があるので、異なる状況の需要を満足するために、電圧降下試験器具は、多種の電圧を提供することができる。だから、電圧降下試験器具で電子装置に対して電圧降下試験を行う前に、電圧降下試験器具を校正して、電圧降下試験器具が生じる降下電圧数値及び電圧降下時間が電子装置に適合することにする。従来の電圧降下試験器具を校正する方法は、所定の動作電圧及びパワーを有する電子装置を電圧降下試験器具に電気的に接続してテストロードとして、電圧降下試験器具が前記テストロードに対応する電圧を前記電子装置に提供する時に生じる降下電圧数値及び電圧降下時間を測量し、且つ実際の測量結果によって電圧降下試験器具のパラメーターを調整して、測量結果が要求を満足することにする。電圧降下試験器具が他の電圧を提供する時に生じる降下電圧数値及び電圧降下時間を測量しようとする場合、他の電子装置を新しいテストロードとすることを必要とする。このような方法は、複数の異なる規格のテストロードを必要とするので、コストが高く、且つ電圧降下試験器具を校正する過程で異なるテストロードを交換することを必要として、操作が複雑である。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明の目的は、前記課題を解決し、電圧降下試験に用いられる回路ロード装置を提供して、電圧降下試験器具を快速に校正し且つコストが低いという目的に達することである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明に係る回路ロード装置は、電圧降下試験器具が生じる降下電圧数値及び電圧降下時間を校正するために用いられ、且つ回路アセンブリー及び前記回路アセンブリーに接続されるスイッチアセンブリーを備え、前記電圧降下試験器具の校正パラメーターに基づいて、前記回路アセンブリーの動作電圧及びパワーを調節して、前記回路ロード装置が前記電圧降下試験器具に接続する場合、前記回路ロード装置の動作電圧及びパワーが、前記電圧降下試験器具が電圧降下試験を行う時に必要とするロードの電圧及びパワーになることにする。
【発明の効果】
【０００６】
従来の技術に比べて、本発明の回路ロード装置は、電圧降下試験器具に異なるパワー及び動作電圧を有するロードを提供することができ、前記回路ロード装置によって前記電圧降下試験器具に異なるパワー及び動作電圧を有するロードを接続する時の電圧降下時間及び電圧降下数値を校正することができ、従って各々の動作電圧及びパワーに対応して別々に異なる電子装置をロードとすることを必要とせず、コストが低く、且つ操作も便利である。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】本発明の実施形態に係る回路ロード装置の立体組立図である。
【図２】本発明の実施形態に係る回路ロード装置の立体分解図である。
【図３】本発明の実施形態に係る回路ロード装置の回路図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。
【０００９】
図１を参照すると、本発明の実施形態に係る回路ロード装置１００は、電圧降下試験器具（図示せず）を校正するために用いられる。本実施形態において、前記回路ロード装置１００は、異なる動作電圧及びパワーを有するロードを選択的に提供して、前記電圧降下試験器具を校正して、前記電圧降下試験器具に異なるロードを接続する時に生じる降下電圧数値及び電圧降下時間などのパラメーターが要求に符合することにする。本実施形態において、選択可能なロード電圧は、１００Ｖ、１２７Ｖ、２００Ｖ、２４０Ｖを備え、選択可能なロードパワーは、６００Ｗ又は１２００Ｗである。
【００１０】
図２を一緒に参照すると、前記回路ロード装置１００は、ハウジング１０と、回路アセンブリー３０と、スイッチアセンブリー５０と、放熱アセンブリー７０と、を備える。前記ハウジング１０は、前記回路アセンブリー３０を収容するために用いられる。前記回路アセンブリー３０は、校正しようとする電圧降下試験器具に接続されて、前記電圧降下試験器具に所定のパワー及び動作電圧を有するロードを提供するために用いらえる。前記スイッチアセンブリー５０は、電圧制御スイッチ５１及びパワー制御スイッチ５３を備える。前記電圧制御スイッチ５１は、前記電圧降下試験器具の校正しようとするパラメーターに基づいて、前記回路ロード装置１００のロード電圧（１００Ｖ、１２７Ｖ、２００Ｖ又は２４０Ｖである）を切り替えるために用いられ、前記パワー制御スイッチ５３は、前記回路ロード装置１００のロードパワー（６００Ｗ又は１２００Ｗである）を切り替えるために用いられる。前記放熱アセンブリー７０は、前記回路ロード装置１００に対して放熱するために用いられる。
【００１１】
前記ハウジング１０は、矩形の箱であり、底板１１と、前記底板１１に対向する頂板１３と、前記底板１１及び前記頂板１３を接続する側壁１５と、を備える。前記底板１１は、回路アセンブリー３０を積載する。前記底板１１には、複数の放熱孔１１１が互いに離間して設けられ、前記放熱アセンブリー７０と配合して前記回路ロード装置１００に対して放熱するために用いられる。前記側壁１５には、複数の給気口１５１が設けられる。前記放熱アセンブリー７０は、前記給気口１５１に装着される。前記側壁１５には、前記スイッチアセンブリー５０が設置される。前記頂板１３は、前記側壁１５の上方に着脱可能に覆われる。前記頂板１３には、２つの操作部１３１が設置されて、前記頂板１３を便利に取り外すことができる。
【００１２】
図３を一緒に参照すると、前記回路アセンブリー３０は、回路基板３１及び前記回路基板３１に設置される第一レジスターグループ３３及び第二レジスターグループ３５を備える。前記第一レジスターグループ３３は、前記電圧制御スイッチ５１を通して電源９０に接続される。前記第二レジスターグループ３５は、前記第一レジスターグループ３３と完全に同じであり、前記パワー制御スイッチ５３を通して前記第一レジスターグループ３３に接続されて、前記回路ロード装置１００が電圧降下試験器具にパワーが６００Ｗ又は１２００Ｗであるロードを提供するように制御する。本実施形態において、前記電源９０は、前記回路ロード装置１００を校正しようとする電圧降下試験器具に接続する場合、前記電圧降下試験器具が前記回路ロード装置１００に供給する電源である。
【００１３】
前記第一レジスターグループ３３は、第一レジスターモジュール３３１、第二レジスターモジュール３３２、第三レジスターモジュール３３３及び第四レジスターモジュール３３４を備える。前記第一レジスターモジュール３３１、前記第二レジスターモジュール３３２、前記第三レジスターモジュール３３３及び前記第四レジスターモジュール３３４は順次に直列に接続され、前記電圧制御スイッチ５１によって、前記第一レジスターモジュール３３１を前記電源９０に接続するか、前記第一レジスターモジュール３３１及び前記第二レジスターモジュール３３２を直列に接続してから前記電源９０に接続するか、前記第一レジスターモジュール３３１、前記第二レジスターモジュール３３２及び前記第三レジスターモジュール３３３を順次に直列に接続してから前記電源９０に接続するか、又は前記第一レジスターモジュール３３１、前記第二レジスターモジュール３３２、前記第三レジスターモジュール３３３及び前記第四レジスターモジュール３３４を順次に直列に接続してから前記電源９０に接続するかを選択して、前記回路ロード装置１００が提供するロードの電圧が１００Ｖ、１２７Ｖ、２００Ｖ又は２４０Ｖになることにする。
【００１４】
前記第一レジスターモジュール３３１は、並列に接続された３つのレジスターＲ１を備え、前記第二レジスターモジュール３３２は、並列に接続された２つのレジスターＲ２を備え、前記第三レジスターモジュール３３３は、直列に接続された２つのレジスターＲ２を備え、前記第四レジスターモジュール３３４は、１つのレジスターＲ３を備え、前記レジスターＲ１、Ｒ２、Ｒ３の抵抗値は別々に５０Ω、２０Ω及び３０Ωである。前記第一レジスターモジュール３３１の一端は、前記電源９０の正極に接続され、前記第一レジスターモジュール３３１の前記第二レジスターモジュール３３２に接続する一端、前記第二レジスターモジュール３３２の前記第三レジスターモジュール３３３に接続する一端、前記第三レジスターモジュール３３３の前記第四レジスターモジュール３３４に接続する一端及び前記第四レジスターモジュール３３４の他端は、全て前記電圧制御スイッチ５１によって前記電源９０の負極に選択的に接続される。
【００１５】
前記第二レジスターグループ３５は、前記第一レジスターグループ３３と完全に同じであり、第一レジスターモジュール３５１、第二レジスターモジュール３５２、第三レジスターモジュール３５３及び第四レジスターモジュール３５４を備える。前記第一レジスターモジュール３５１の一端、前記第一レジスターモジュール３５１の前記第二レジスターモジュール３５２に接続する一端、前記第二レジスターモジュール３５２の前記第三レジスターモジュール３５３に接続する一端、前記第三レジスターモジュール３５３の前記第四レジスターモジュール３５４に接続する一端は、前記パワー制御スイッチ５３を通して前記第一レジスターグループ３３の第一レジスターモジュール３３１の一端、前記第一レジスターモジュール３３１の前記第二レジスターモジュール３３２に接続する一端、前記第二レジスターモジュール３３２の前記第三レジスターモジュール３３３に接続する一端、前記第三レジスターモジュール３３３の前記第四レジスターモジュール３３４に接続する一端にそれぞれに接続されて、前記パワー制御スイッチ５３によって、前記第二レジスターグループ３５を前記第一レジスターグループ３３に接続するか、又は前記第二レジスターグループ３５と前記第一レジスターグループ３３との接続を切る。
【００１６】
前記スイッチアセンブリー５０の電圧制御スイッチ５１は、四位選択スイッチであり、その一端は、前記電源９０の負極に接続され、他端の４つのコンタクトＫ１、Ｋ２、Ｋ３及びＫ４は、別々に前記第一レジスターモジュール３３１の前記第二レジスターモジュール３３２に接続する一端、前記第二レジスターモジュール３３２の前記第三レジスターモジュール３３３に接続する一端、前記第三レジスターモジュール３３３の前記第四レジスターモジュール３３４に接続する一端及び前記第四レジスターモジュール３３４の他端に接続される。前記電圧制御スイッチ５１を回転して順次にコンタクトＫ１、Ｋ２、Ｋ３及びＫ４に切り替える場合、前記回路ロード装置１００は、電圧が１００Ｖ、１２７Ｖ、３００Ｖ及び２４０Ｖであるロードを電圧降下試験器具に提供する。
【００１７】
前記パワー制御スイッチ５３は、同期制御する４つのサブスイッチ５３１を備え、４つの前記サブスイッチ５３１は同時に導通されるか又は同時に切られて、前記第二レジスターグループ３５を前記第一レジスターグループ３３に接続するか、又は前記第二レジスターグループ３５と前記第一レジスターグループ３３との接続を切る。前記パワー制御スイッチ５３によって前記第二レジスターグループ３５と前記第一レジスターグループ３３との接続を切る場合、即ちただ前記第一レジスターグループ３３が前記電源９０に接続される場合、前記回路ロード装置１００が提供するロードのパワーは６００Ｗであり、前記パワー制御スイッチ５３によって前記第二レジスターグループ３５を前記第一レジスターグループ３３に接続する場合、即ち前記第二レジスターグループ３５及び前記第一レジスターグループ３３が全て前記電源９０に接続される場合、前記回路ロード装置１００が提供するロードのパワーは１２００Ｗである。
【００１８】
前記放熱アセンブリー７０は、複数の前記給気口１５１に設置される複数のファン７１を備え、外界の空気が前記給気口１５１から入って前記放熱孔１１から排出することにして、前記回路ロード装置１００が生じる熱を放熱する。本実施形態において、前記放熱アセンブリー７０は、前記電源９０と異なる他の電源又は電池によって電力を供給されて、前記放熱アセンブリー７０が前記回路ロード装置１００のパワーに影響することを免れ、且つ前記回路ロード装置１００を調整することにより前記放熱アセンブリー７０の正常の動作に影響することを防止する。
【００１９】
前記回路ロード装置１００は、電源スイッチ８０をさらに備え、前記第一レジスターモジュール３３１の一端は、前記電源スイッチ８０を通して前記電源９０の正極に接続され、前記回路ロード装置１００をパワーオンするか又はパワーオフするために用いられる。
【００２０】
前記回路ロード装置１００を使用して電圧降下試験器具を校正する操作方法は、以下のステップを備える。
【００２１】
先ず、前記回路ロード装置１００を電圧降下試験器具に接続すると、前記電圧降下試験器具は前記電源９０を提供して前記回路ロード装置１００に対して電力供給する。
【００２２】
次に、前記電圧降下試験器具の校正要求に基づいて、前記電圧制御スイッチ５１を対応する電圧位に切り替え、前記パワー制御スイッチ５３を対応するパワー位に切り替える。本実施形態において、前記電圧降下試験器具に動作電圧が１００Ｖでありパワーが６００Ｗであるロードを接続する時の電圧降下が正確であるかどうかをテストする場合、前記電圧制御スイッチ５１をコンタクトＫ１に接続し、且つ前記パワー制御スイッチ５３を切る。この時、前記電圧降下試験器具は前記回路ロード装置１００に１００Ｖの電源を提供し、前記回路ロード装置１００の第一レジスターグループ３３の第一レジスターモジュール３３１だけが前記電源９０に接続して、前記回路ロード装置１００の抵抗値Ｒは５０/３Ωであり、電圧は１００Ｖであり、従ってパワーは６００Ｗであり、即ち前記回路ロード装置１００は動作電圧が１００Ｖでありパワーが６００Ｗであるロードを前記電圧降下試験器具に提供することができる。前記電圧降下試験器具に動作電圧が１００Ｖでありパワーが１２００Ｗであるロードを接続する時の電圧降下が正確であるかどうかをテストする場合、前記電圧制御スイッチ５１をコンタクトＫ１に接続し、且つ前記パワー制御スイッチ５３を導通する。この時、前記電圧降下試験器具は前記回路ロード装置１００に１００Ｖの電源を提供し、前記第一レジスターグループ３３の第一レジスターモジュール３３１及び前記第二レジスターグループ３５の第一レジスターモジュール３５１は全て前記電源９０に接続して、前記回路ロード装置１００の抵抗値Ｒは５０/６Ωであり、電圧は１００Ｖであり、従ってパワーは１２００Ｗであり、即ち前記回路ロード装置１００は動作電圧が１００Ｖでありパワーが１２００Ｗであるロードを前記電圧降下試験器具に提供することができる。前記電圧降下試験器具に動作電圧が１２７Ｖ、２００Ｖ又は２４０Ｖであるロードを接続する時の電圧降下が正確であるかどうかをテストする場合、前記電圧制御スイッチ５１を別々にコンタクトＫ２、Ｋ３又はＫ４に接続すると、前記回路ロード装置１００によって要求する電圧及びパワーを有するロードを提供することができる。
【００２３】
次に、オシログラフのような試験装置（図示せず）によって、前記回路ロード装置１００がロードを提供する場合、前記電圧降下試験器具が予定の時間内で予定の電圧を降下することができるかどうかを測量して、測量結果によって前記電圧降下試験器具に対して校正する。
【００２４】
最後に、上述の操作を参照して、前記電圧制御スイッチ５１を順次に１２７Ｖ、２００Ｖ又は２４０Ｖの電圧位に切り替えて、前記電圧降下試験器具に動作電圧が１２７Ｖ、２００Ｖ又は２４０Ｖでありパワーが６００Ｗ又は１２００Ｗであるロードを接続する時の電圧降下数値が正確であるかどうか、及び電圧降下時間が要求を満足するかどうかを測量し、且つ測量結果によって前記電圧降下試験器具に対して校正する。
【００２５】
上述の校正過程において、前記放熱アセンブリー７０は、外界の空気を前記給気口１５１から入れ、且つ前記放熱孔１１１から排出することにより気流循環を形成して、前記回路ロード装置１００が生じる熱を即時に放熱して、前記回路ロード装置１００の正常な動作を確保する。
【００２６】
本発明の回路ロード装置１００は電圧降下試験器具に異なるパワー及び動作電圧を有するロードを提供することができ、前記回路ロード装置１００によって前記電圧降下試験器具に異なるパワー及び動作電圧を有するロードを接続する時の電圧降下時間及び電圧降下数値を校正することができ、従って各々の動作電圧及びパワーに対応して別々に異なる電子装置をロードとすることを必要とせず、コストが低く、且つ操作も便利である。
【００２７】
以上、本発明を実施例に基づいて具体的に説明したが、本発明は、上述の実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において、種種の変更が可能であることは勿論であって、本発明の技術的範囲は、以下の特許請求の範囲から決まる。
【符号の説明】
【００２８】
１０  ハウジング
１１  底板
１３  頂板
１５  側壁
３０  回路アセンブリー
３１  回路基板
３３  第一レジスターグループ
３５  第二レジスターグループ
５０  スイッチアセンブリー
５１  電圧制御スイッチ
５３  パワー制御スイッチ
７０  放熱アセンブリー
８０  電源スイッチ
９０  電源
１００  回路ロード装置
１１１  放熱孔
１３１  操作部
１５１  給気口
３３１，３５１  第一レジスターモジュール
３３２，３５２  第二レジスターモジュール
３３３，３５３  第三レジスターモジュール
３３４，３５４  第四レジスターモジュール
【図１】
2012247412.tif 000003
【図２】
2012247412.tif 000004
【図３】
2012247412.tif 000005