(57)【要約】【課題】内視鏡の導光部の損傷を確実かつ容易に検出することが可能な内視鏡装置を提供する。【解決手段】内視鏡装置１００の制御装置１３は、内視鏡１１の先端部３５に供給する光を出射する光源４５と、光源４５から出射される光の一部を検出する発光量検出部５１と、光源４５から内視鏡１１の光ファイバ４５Ａに入射されて先端部３５まで伝送される光のうち、光ファイバ４５Ａから戻ってくる戻り光の一部を検出する戻り光検出部４７と、発光量検出部５１にて検出された光の光量情報と、戻り光検出部４７によって検出された戻り光の光量情報との比である発光損失比を算出し、算出した発光損失比の変化に基づいて、内視鏡１１の光ファイバ４５Ａに損傷があるか否かを判定する制御部７３とを備える。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
内視鏡の先端部に供給する光を出射する光源と、
前記光源から出射される光の光量に対応する数値を示す情報である光量情報を取得する光量情報取得部と、
前記光源から前記内視鏡の導光部に入射されて前記先端部まで伝送される光のうち、前記内視鏡の導光部から戻ってくる戻り光の一部を検出する戻り光検出部と、
前記光量情報と、前記戻り光検出部によって検出された戻り光の光量情報との比である発光損失比を算出する発光損失比算出部と、
前記発光損失比算出部によって算出される前記発光損失比の変化に基づいて、前記内視鏡の導光部に損傷があるか否かを判定する損傷判定部と、を備える内視鏡装置。
【請求項２】
請求項１記載の内視鏡装置であって、
前記損傷判定部は、前記発光損失比の変化のパターンに応じて、当該損傷の種類も判定する内視鏡装置。
【請求項３】
請求項２記載の内視鏡装置であって、
前記損傷判定部は、前記発光損失比が任意のタイミングにて閾値以上上昇し、当該上昇後の値が所定時間継続するパターンの場合は、前記損傷の種類が前記導光部の破断であると判定し、前記発光損失比が任意のタイミングにて閾値以上下降し、当該下降後の値が所定時間継続するパターンの場合は前記損傷の種類が前記導光部の潰れであると判定し、前記発光損失比が閾値以上の増減を繰り返すパターンの場合は前記損傷の種類が前記導光部の曲がりであると判定する内視鏡装置。
【請求項４】
請求項２又は３記載の内視鏡装置であって、
前記損傷判定部によって判定された前記損傷の種類が、前記内視鏡の導光部の破断であった場合に前記光源から光の出射を停止又は光量を低下させる制御を行う光源制御部を備える内視鏡装置。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれか１項記載の内視鏡装置であって、
前記光量情報取得部、前記戻り光検出部、前記発光損失比算出部、及び前記損傷判定部は、前記内視鏡が接続される制御装置に内蔵される内視鏡装置。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれか１項記載の内視鏡装置であって、
装着される前記内視鏡の識別情報を取得する内視鏡識別情報取得部と、
前記損傷判定部によって前記内視鏡の導光部に損傷があると判定された場合に、当該内視鏡の識別情報と前記損傷があることを示す情報とを対応付けて記憶部に記憶する記憶制御部と、
起動時に前記内視鏡識別情報取得部によって取得された前記識別情報に、前記損傷があることを示す情報が対応付けて前記記憶部に記憶されている場合に、警告を行う警告部と、を備える内視鏡装置。
【請求項７】
請求項１〜６のいずれか１項記載の内視鏡装置であって、
前記光源はレーザ光源であり、
前記導光部は１本の光ファイバである内視鏡装置。
【請求項８】
内視鏡の先端部に光を供給する光源から出射される光の光量に対応する数値を示す情報である光量情報を取得する光量情報取得ステップと、
前記光源から前記内視鏡の導光部に入射されて前記内視鏡の先端部まで伝送される光のうち、前記内視鏡の導光部から戻ってくる戻り光のうちの一部を検出する戻り光検出ステップと、
前記光量情報と、前記戻り光検出ステップによって検出した戻り光の光量情報との比である発光損失比を算出する発光損失比算出ステップと、
前記発光損失比算出ステップにより算出される前記発光損失比の変化に基づいて、前記内視鏡の導光部に損傷があるか否かを判定する損傷判定ステップと、を備える内視鏡装置の安全管理方法。
【請求項９】
請求項８記載の内視鏡装置の安全管理方法であって、
前記損傷判定ステップでは、前記発光損失比の変化のパターンに応じて、当該損傷の種類も判定する内視鏡装置の安全管理方法。
【請求項１０】
請求項９記載の内視鏡装置の安全管理方法であって、
前記損傷判定ステップでは、前記発光損失比が任意のタイミングにて閾値以上上昇し、当該上昇後の値が所定時間継続するパターンの場合は、前記損傷の種類が前記導光部の破断であると判定し、前記発光損失比が任意のタイミングにて閾値以上下降し、当該下降後の値が所定時間継続するパターンの場合は前記損傷の種類が前記導光部の潰れであると判定し、前記発光損失比が閾値以上の増減を繰り返すパターンの場合は前記損傷の種類が前記導光部の曲がりであると判定する内視鏡装置の安全管理方法。
【請求項１１】
請求項９又は１０記載の内視鏡装置の安全管理方法であって、
前記損傷判定ステップによって判定した前記損傷の種類が、前記内視鏡の導光部の破断であった場合に前記光源から光の出射を停止又は光量を低下させる制御を行う光源制御ステップを備える内視鏡装置の安全管理方法。
【請求項１２】
請求項８〜１１のいずれか１項記載の内視鏡装置の安全管理方法であって、
前記内視鏡装置に装着される前記内視鏡の識別情報を取得する内視鏡識別情報取得ステップと、
前記損傷判定ステップによって前記内視鏡の導光部に損傷があると判定された場合に、当該内視鏡の識別情報と前記損傷があることを示す情報とを対応付けて記憶部に記憶する記憶制御ステップと、
起動時に取得した前記識別情報に、前記損傷があることを示す情報が対応付けて前記記憶部に記憶されている場合に、警告を行う警告ステップと、を備える内視鏡装置の安全管理方法。
【請求項１３】
請求項８〜１２のいずれか１項記載の内視鏡装置の安全管理方法であって、
前記光源はレーザ光源であり、
前記導光部は１本の光ファイバである内視鏡装置の安全管理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、内視鏡装置及び内視鏡装置の安全管理方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
医療用分野において、患者の体内等の被検体の内部を観察するために、内視鏡が広く用いられている。このような内視鏡は、湾曲自在な湾曲部と硬質の先端部とを先端側に有して被検体の内部に挿入される細長の挿入部を備え、挿入部の先端には観察手段が設けられている。
【０００３】
そして、被検体の内部に挿入部を挿入して基端側の操作部で湾曲部を湾曲させて先端の向きを調整することで、被検体の内部において、先端の観察手段よって所望の観察位置を観察することが可能となっている。
【０００４】
一方、内視鏡によって観察する被検体の内部は、観察手段によって観察するのに十分な明るさを有していないことが多い。このため、内視鏡には、被検体の内部を照明するための照明装置が内蔵されている。
【０００５】
このような照明装置としては、挿入部の基端側に設けられて励起光としてレーザ光を発する光源部と、挿入部の基端から先端に配設されて光源から発せられたレーザ光を導光する導光部としてのライトガイドと、挿入部の先端に設けられてライトガイドによって導光されたレーザ光を励起光として照明光を発する蛍光部材とを備えるものが提案されている（例えば、特許文献１、２参照）。
【０００６】
このような照明装置によれば、ハロゲンランプ等の光源を使用した場合に比べて小型で消費電力を抑えることができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００６−２９６６５６号公報
【特許文献２】特開２００６−２８８５３５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、特許文献１、２の内視鏡装置において、挿入部は被検体の内部に直接挿入する部位であり、その先端側に位置する湾曲部や、更に先端側に位置する先端部等は、挿入時に被検体からの抵抗によって損傷を受け易い部位である。
【０００９】
特に、湾曲部は、外部との気密性や水密性を確保しつつ、基端側からの操作によって所定の方向に湾曲可能な構造にする必要があり、複雑な構造で、それ故に損傷を受け易い部位である。そして、これら挿入部の内、先端側に位置する湾曲部や先端部が損傷した場合には、内部に配設されたライトガイドが損傷するおそれがあり、基端側から導光された励起光であるレーザ光がライトガイドから漏れ、その漏れ光によって、挿入部に内包された部材が損傷を受けるおそれがある。
【００１０】
ライトガイドの損傷を検出するために、ライトガイドから出射される光量を常時モニタすることが考えられる。しかし、一般に、内視鏡照明は、撮影条件によって照明光強度を逐次変化させているため、ライトガイドから出射される光量をモニタするだけでは、ライトガイドの損傷による光量変化なのか、照明光強度制御による光量変化なのかを区別することが難しく、損傷を検出することが難しい。
【００１１】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、内視鏡の導光部の損傷を確実かつ容易に検出して安全性を高めることが可能な内視鏡装置及び内視鏡装置の安全管理方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の内視鏡装置は、内視鏡の先端部に供給する光を出射する光源と、前記光源から出射される光の光量に対応する数値を示す情報である光量情報を取得する光量情報取得部と、前記光源から前記内視鏡の導光部に入射されて前記先端部まで伝送される光のうち、前記内視鏡の導光部から戻ってくる戻り光の一部を検出する戻り光検出部と、前記光量情報と、前記戻り光検出部によって検出された戻り光の光量情報との比である発光損失比を算出する発光損失比算出部と、前記発光損失比算出部によって算出される前記発光損失比の変化に基づいて、前記内視鏡の導光部に損傷があるか否かを判定する損傷判定部と、を備えるものである。
【００１３】
本発明の内視鏡導光部の安全管理方法は、内視鏡の先端部に光を供給する光源から出射される光の光量に対応する数値を示す情報である光量情報を取得する光量情報取得ステップと、前記光源から前記内視鏡の導光部に入射されて前記内視鏡の先端部まで伝送される光のうち、前記内視鏡の導光部から戻ってくる戻り光のうちの一部を検出する戻り光検出ステップと、前記光量情報と、前記戻り光検出ステップによって検出した戻り光の光量情報との比である発光損失比を算出する発光損失比算出ステップと、前記発光損失比算出ステップにより算出される前記発光損失比の変化に基づいて、前記内視鏡の導光部に損傷があるか否かを判定する損傷判定ステップと、を備えるものである。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、内視鏡の導光部の損傷を確実かつ容易に検出して安全性を高めることが可能な内視鏡装置及び内視鏡装置の安全管理方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明の一実施形態を説明するための内視鏡装置１００の概略構成を示す外観図
【図２】図１に示す内視鏡装置１００における内視鏡１１と制御装置１３の内部構成を示す図
【図３】図１に示す内視鏡装置１００における内視鏡１１の光ファイバ４５Ａに破断による損傷があった場合の発光損失比の時間変化を例示した図
【図４】図１に示す内視鏡装置１００における内視鏡１１の光ファイバ４５Ａに曲げによる損傷があった場合の発光損失比の時間変化を例示した図
【図５】図１に示す内視鏡装置１００における内視鏡１１の光ファイバ４５Ａに潰れによる損傷があった場合の発光損失比の時間変化を例示した図
【図６】図１に示す内視鏡装置１００の動作を説明するためのフローチャート
【図７】図２に示す内視鏡装置の変形例を示す図
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。
【００１７】
図１は、本発明の一実施形態を説明するための内視鏡装置１００の概略構成を示す外観図である。図２は、図１に示す内視鏡装置１００における内視鏡１１と制御装置１３の内部構成を示す図である。
【００１８】
内視鏡装置１００は、内視鏡１１と、この内視鏡１１が接続される制御装置１３と、画像情報等を表示する表示部１５と、入力操作を受け付ける入力部１７とを備える。内視鏡１１は、内視鏡挿入部１９の先端から照明光を出射する照明光学系と、被観察領域を撮像する撮像素子２１（図２参照）を含む撮像光学系とを有する、電子内視鏡である。
【００１９】
内視鏡１１は、被検体内に挿入される内視鏡挿入部１９と、内視鏡挿入部１９の先端の湾曲操作や観察のための操作を行う操作部２３と、内視鏡１１を制御装置１３に着脱自在に接続するコネクタ部２５Ａ，２５Ｂとを備える。
【００２０】
なお、図示はしないが、操作部２３及び内視鏡挿入部１９の内部には、組織採取用処置具等を挿入する鉗子チャンネルや、送気・送水用のチャンネル等、各種のチャンネルが設けられる。
【００２１】
内視鏡挿入部１９は、可撓性を持つ軟性部３１と、湾曲部３３と、先端部（以降、内視鏡先端部とも呼称する）３５とを備える。
【００２２】
内視鏡先端部３５には、図２に示すように、被観察領域へ光を照射する照射口３７Ａと、被観察領域の画像情報を取得するＣＣＤ(Charge Coupled Device）イメージセンサやＣＭＯＳ(Complementary Metal-Oxide Semiconductor）イメージセンサ等の撮像素子２１と、撮像素子２１の受光面前方に配置される対物レンズユニット３９とが設けられている。また、内視鏡挿入部１９の照射口３７Ａには、カバーガラスやレンズ（不図示）が配置される。
【００２３】
内視鏡挿入部１９内には、コネクタ部２５Ａから先端部３５まで光を導く導光部としての光ファイバ４５Ａと、撮像素子２１にスコープケーブル６３によって接続され、撮像素子２１から出力される撮像画像信号をデジタル信号に変換するＡＤ変換器６５とが設けられている。光ファイバ４５Ａは、シングルモードファイバ、マルチモードファイバ等の１本の光ファイバであり、非バンドル型である。
【００２４】
先端部３５には、光ファイバ４５Ａと照射口３７Ａとの間に蛍光体５７が設けられており、光ファイバ４５Ａを伝送されてきた光が蛍光体５７に入射すると、蛍光体５７が励起されて照射口３７Ａから外部へと照明光が出射される。
【００２５】
湾曲部３３は、軟性部３１と先端部３５との間に設けられ、操作部２３に配置されたアングルノブ２２の回動操作により湾曲自在にされている。
【００２６】
この湾曲部３３は、内視鏡１１が使用される被検体の部位等に応じて、任意の方向、任意の角度に湾曲でき、内視鏡先端部３５の照射口３７Ａ及び撮像素子２１の観察方向を、所望の観察部位に向けることができる。
【００２７】
制御装置１３は、内視鏡先端部３５の照射口３７Ａに供給する光を発生する光源装置４１と、撮像素子２１からの撮像画像信号（ＡＤ変換器６５でデジタル変換後の撮像画像信号）を画像処理するプロセッサ４３とを備え、これらはコネクタ部２５Ａ，２５Ｂを介して内視鏡１１と接続される。
【００２８】
また、プロセッサ４３には、前述の表示部１５と入力部１７が接続されている。プロセッサ４３は、内視鏡１１の操作部２３や入力部１７からの指示に基づいて、内視鏡１１から伝送されてくる撮像信号を画像処理し、表示用画像を生成して表示部１５に表示させる。
【００２９】
光源装置４１は、内視鏡先端部３５に伝送する光を出射する光源４５と、光源４５を制御する光源制御部７５と、光源４５から出射された光の一部を検出する発光量検出部５１と、光源４５から出射されて内視鏡１１の光ファイバ４５Ａに入射された光のうち、光源装置４１に戻ってくる戻り光の一部を検出する戻り光検出部４７と、光源４５に接続される光ファイバ４５Ｃと、戻り光検出部４７に接続される光ファイバ４７Ａと、発光量検出部５１に接続される光ファイバ５１Ａと、コネクタ部２５Ａに接続される光ファイバ４５Ｂと、光ファイバ４５Ｂ，４５Ｃ，４７Ａ，５１Ａをそれぞれ光学的に接続するファイバカプラ５２とを備える。
【００３０】
光源４５は、ＬＤ（Ｌａｓｅｒ  Ｄｉｏｄｅ）、ＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｏｄｅ）等によって所定波長域の光を光ファイバ４５Ｃに出射する。
【００３１】
ファイバカプラ５２は、光ファイバ４５Ｃを伝送されてきた光の一部を光ファイバ５１Ａに伝送し、当該光の残りを光ファイバ４５Ｂに伝送するように構成される。また、ファイバカプラ５２は、光ファイバ４５Ｂに伝送されて、光ファイバ４５Ｂから光ファイバ４５Ａに伝送された光のうち、光ファイバ４５Ａからファイバカプラ５２に戻ってくる光（戻り光）の一部を光ファイバ４７Ａに伝送し、当該戻り光の残りを光ファイバ４５Ｃに伝送するように構成される。
【００３２】
発光量検出部５１は、例えばフォトダイオードであり、光源４５から出射された光の一部を受光し、その光の光量に応じた信号を、光源４５から出射された光に対応する数値を示す光量情報として制御部７３に出力する。
【００３３】
戻り光検出部４７は、例えばフォトダイオードであり、光源４５から出射されて内視鏡１１の光ファイバ４５Ａに入射された光のうち、光源装置４１に戻ってくる戻り光の一部を受光し、受光した光の光量に応じた信号を、当該戻り光の光量を示す光量情報として制御部７３に出力する。
【００３４】
プロセッサ４３は、内視鏡１１のＡＤ変換器６５に接続され、ＡＤ変換器６５から出力される撮像画像信号を画像処理して表示用画像等を生成する画像処理部６７と、制御装置１３全体を統括制御する制御部７３とを備える。
【００３５】
制御部７３は、光源制御部７５を制御して、光源４５からの光の出射のオンオフ制御や発光量制御等を行う。また、制御部７３には、戻り光検出部４７によって検出された戻り光の光量情報と、発光量検出部５１によって検出された光源光の光量情報とが入力される。
【００３６】
制御部７３は、戻り光検出部４７によって検出された戻り光の光量情報と、発光量検出部５１によって検出された光源光の光量情報との比（例えば、光源光の光量情報に対する、戻り光の光量情報の割合を％で示したもの）である発光損失比を算出し、この発光損失比の変化に基づいて、内視鏡１１の光ファイバ４５Ａに損傷があるか否かを判定し、その判定結果に応じた制御を実施する。
【００３７】
例えば、内視鏡１１の光ファイバ４５Ａに破断による損傷が発生した場合には、その破断位置において戻り光が多く発生する。つまり、この場合には、図３に示すように、破断が起きた時刻ｔ１以降、発光損失比が例えば３％〜７％程度の範囲で急激に上昇し、その後、破断前の値に戻ることはない。
【００３８】
そこで、制御部７３は、所定時刻おきに上記発光損失比を算出してこれを履歴として記憶しておき、この履歴を解析する。そして、発光損失比があるタイミングで閾値以上上昇して所定時間戻らない場合には、光ファイバ４５Ａに破断による損傷があると判定する。
【００３９】
また、内視鏡１１の光ファイバ４５Ａに曲げによる損傷が発生した場合には、その曲げ位置において戻り光が増減を繰り返す。つまり、この場合には、図４に示すように、曲げが起きた時刻ｔ１以降、発光損失比が最大幅数％〜数十％程度の範囲で増減を繰り返し、一定の値をとることはない。
【００４０】
そこで、制御部７３は、発光損失比の履歴を解析し、発光損失比が閾値以上の増減を繰り返していることを検出した場合には、光ファイバ４５Ａに曲げによる損傷があると判定する。
【００４１】
また、内視鏡１１の光ファイバ４５Ａに潰れによる損傷が発生した場合には、その潰れ位置において戻り光が遮られる。つまり、この場合には、図５に示すように、潰れが起きた時刻ｔ１以降、発光損失比が急激に低下し、その後、潰れ前の値に戻ることはない。
【００４２】
そこで、制御部７３は、発光損失比の履歴を解析し、発光損失比があるタイミングで閾値以上低下して所定時間戻らない場合には、光ファイバ４５Ａに潰れによる損傷があると判定する。
【００４３】
このように、制御部７３は、発光損失比の変化をモニタすることで、光ファイバ４５Ａに損傷があるか否かだけでなく、損傷があった場合には、発光損失比の変化のパターンに応じて、その損傷の内容をも判定することができる。
【００４４】
次に、内視鏡装置１００の動作について説明する。図６は、図１に示す内視鏡装置１００の動作を説明するためのフローチャートである。
【００４５】
光源４５から光が出射されると、この光が光ファイバ４５Ｃを伝送されてファイバカプラ５２に到達し、ここでのその一部（ここでは全体の１％とする）が光ファイバ５１Ａに入射され、残りの９９％が光ファイバ４５Ｂに入射される。光ファイバ５１Ａに入射した光は、発光量検出部５１に入射し、ここでその光量が検出され、その光量を示す発光量の光量情報が制御部７３によって取得される（ステップＳ１）。
【００４６】
光ファイバ４５Ｂに入射された光は光ファイバ４５Ａに入射され、先端部３５まで伝送されて、蛍光体５７に入射する。光ファイバ４５Ａの終端部では戻り光（当該終端部に達した光の例えば３％程度の光量）が発生し、この戻り光は、光ファイバ４５Ａを伝送されて光ファイバ４５Ｂに入射する。
【００４７】
光ファイバ４５Ｂに入射された戻り光は、その一部（ここでは全体の１％とする）が光ファイバ４７Ａに入射され、残りの９９％が光ファイバ４５Ｃに入射される。戻り光は、光源４５から出射される光に対して非常に少ない光量であるため、光ファイバ４５Ｃに入射されても問題はない。光ファイバ４７Ａに入射した光は、戻り光検出部４７に入射し、ここでその光量が検出され、その光量を示す戻り光の光量情報が制御部７３によって取得される（ステップＳ２）。
【００４８】
次に、制御部７３は、ステップＳ１で取得した発光量の光量情報と、ステップＳ２で取得した戻り光の光量情報との比である発光損失比を算出し、これを内部の記憶部７３ａに記憶する（ステップＳ３）。
【００４９】
次に、制御部７３は、記憶部７３ａに記憶されている発光損失比の履歴を解析し（ステップＳ４）、その解析結果に基づいて、内視鏡１１に内蔵される光ファイバ４５Ａに損傷があるか否かを判定する（ステップＳ５）。
【００５０】
例えば、制御部７３は、発光損失比が、ある時刻において当該時刻よりも前の時刻で得られた発光損失比に対して閾値Ｔｈ１以上上昇していた場合、又は、発光損失比が、ある時刻において当該時刻よりも前の時刻で得られた発光損失比に対して閾値Ｔｈ１以上下降していた場合、つまり、発光損失比がある時刻で大きく変化していたときには、内視鏡１１に内蔵される光ファイバ４５Ａに損傷があると判定する。閾値Ｔｈ１については、光ファイバ４５Ａに任意のタイミングで“破断”、“曲げ”、“潰れ”の各損傷を与えたときの発光損失比の時間変化を事前に求めておき、各損傷が発生した時点での発光損失比の増減量のうち最も小さい値を閾値Ｔｈ１とすればよい。このようにすることで、閾値Ｔｈ１以上の発光損失比の変化があった場合には、“破断”、“曲げ”、“潰れ”のいずれかの損傷が起きていると判断することができる。
【００５１】
一方、制御部７３は、発光損失比が、ある時刻において当該時刻よりも前の時刻で得られた発光損失比に対して閾値Ｔｈ１以上上昇していない場合、又は、発光損失比が、ある時刻において当該時刻よりも前の時刻で得られた発光損失比に対して閾値Ｔｈ１以上下降していない場合、つまり、発光損失比がほぼ一定で推移している場合には、内視鏡１１に内蔵される光ファイバ４５Ａに損傷がないと判定する。
【００５２】
ステップＳ５において光ファイバ４５Ａに損傷があると判定した場合、制御部７３は、その損傷の種類を判定可能か否か、を判定する（ステップＳ６）。
【００５３】
例えば、ステップＳ３で算出した発光損失比が、その直前に算出した発光損失比に対して閾値Ｔｈ１以上上昇していたり、閾値Ｔｈ１以上下降していたりした場合でも、図３〜５に示したように、これ以降の時刻（時刻ｔ１以降の時刻）において算出される発光損失比が一定値になるか、増減するかによって、損傷の種類は異なる。
【００５４】
そのため、光ファイバ４５Ａに損傷があると判定しても、その判定した時点が、ちょうど損傷が起きた時点であった場合には、損傷の種類までは判定することができない。したがって、損傷の種類を判定するには、発光損失比に大きな変化があってから所定期間における発光損失比の推移を見る必要がある。
【００５５】
このために、ステップＳ６では、発光損失比が閾値Ｔｈ１以上上昇した時刻、発光損失比が閾値Ｔｈ１以上下降した時刻から上記所定期間が経過したか否かを判定し、上記所定期間が経過している場合には、損傷の内容を判定可能であると判定してステップＳ７に処理を移行し、上記所定期間が経過していない場合には、損傷の内容を判定不可能であると判定してステップＳ１に処理を移行する。
【００５６】
ステップＳ７では、発光損失比が閾値Ｔｈ１以上上昇してから所定期間の間、発光損失比がほぼ変化していない場合（図３に示すような場合）には、損傷の種類が光ファイバ４５Ａの破断によるものであると判定される。
【００５７】
また、発光損失比が閾値Ｔｈ２以上下降してから所定期間の間、発光損失比がほぼ変化していない場合（図５に示すような場合）には、損傷の種類が光ファイバ４５Ａの潰れによるものであると判定される。
【００５８】
また、発光損失比が閾値Ｔｈ１以上上昇又は発光損失比が閾値Ｔｈ１以上下降してから所定期間の間、発光損失比が閾値Ｔｈ２以上の増減を繰り返している場合（図４に示すような場合）には、損傷の種類が光ファイバ４５Ａの曲げによるものであると判定される。閾値Ｔｈ２は、光ファイバ４５Ａに“曲げ”の損失を与えたときの発光損失比の変化を予め求めておき、この変化に応じて決めればよい。
【００５９】
ステップＳ７の判定の結果、損傷の種類が“破断”であった場合（ステップＳ８：破断）、制御部７３は、光源制御部７５に対して光源４５からの光の出射を停止させる指示を出し、この指示により、光源４５からの光の出射が停止される（ステップＳ９）。なお、制御部７３は、損傷の種類が“破断”であった場合に、光源制御部７５に対して光源４５から出射させる光量を安全性が確保される程度に少なくする指示を行って、光源４５からの出射光量を落とすようにしてもよい。
【００６０】
ステップＳ９で光源４５がＯＦＦになった後、制御部７３は、内視鏡１１の光ファイバ４５Ａが破断によって損傷していることを示すメッセージを表示部１５に表示させて、内視鏡装置１００の使用者に対して警告を行う（ステップＳ１０）。
【００６１】
一方、損傷の種類が“曲げ”又は“潰れ”であった場合は、“破断”のときに比べて、光源４５からの光が内視鏡挿入部１９内に漏れだすといった危険性は低い。また、光源４５からの光が先端部３５までは到達するため、内視鏡画像が多少は暗くなるものの、検査を継続することは可能である。
【００６２】
そのため、ステップＳ７の判定の結果、損傷の種類が“曲げ”又は“潰れ”であった場合（ステップＳ８：曲げ,潰れ）、制御部７３は、光源４５はＯＦＦにせずに（又は光源４５から出射させる光の光量を落とさずに）、内視鏡１１の光ファイバ４５Ａが曲げ又は潰れによって損傷していることを示すメッセージを表示部１５に表示させて、内視鏡装置１００の使用者（術者）に対して警告を行う（ステップＳ１１）。ステップＳ１１の後は、ステップＳ１以降の処理が行なわれる。これにより、術者は自身の判断により内視鏡検査を継続して行うことができる。
【００６３】
以上のように、内視鏡装置１００は、光源４５から発光される光の発光量に対する、光ファイバ４５Ａから戻ってくる戻り光の光量の割合を、発光損失比として算出し、この発光損失比の変化に基づいて、光ファイバ４５Ａに損傷があるか否かを判定する。
【００６４】
光源４５から出射される光の光量が逐次変化する場合でも、光ファイバ４５Ａに損傷がなければ、発光損失比は一定の値となる。つまり、発光損失比が変化するのは、光ファイバ４５Ａに損傷が発生しているときだけである。内視鏡装置１００によれば、光ファイバ４５Ａの損傷を、この発光損失比の変化を見るだけで検出することができ、確実かつ容易に光ファイバ４５Ａの損傷を検出することができる。
【００６５】
また、内視鏡装置１００によれば、光ファイバ４５Ａに損傷があると判定した場合に、その損傷の種類も判定することができる。そして、その損傷の種類が“破断”の場合には、光源４５をＯＦＦ又は光量を落として警告を行うため、内視鏡１１の安全性を確保することができる。
【００６６】
また、損傷の種類が“曲げ”又は“潰れ”の場合には、光源４５をＯＦＦせずに又は光量を落とさずに警告を行って検査を継続できるようにしているため、術者の判断で検査を継続することもでき、内視鏡検査効率が低下するのを防ぐことができる。
【００６７】
また、内視鏡装置１００によれば、内視鏡１１の構成は従来と変更する必要がないため、既存の内視鏡１１をそのまま使用することができ、内視鏡装置１００の導入コストを低く抑えることができる。
【００６８】
なお、図６のフローチャートにおいて、ステップＳ６、Ｓ７，Ｓ８，Ｓ１１を省略し、ステップＳ５：ＹＥＳの後にステップＳ９に移行するようにしてもよい。つまり、光ファイバ４５Ａに損傷があるか否かを判定し、損傷があると判定した場合は、その損傷の種類に関わらず、光源４５をＯＦＦにして警告を行うようにしてもよい。
【００６９】
ステップＳ１０やステップＳ１１にて警告を行うことで、損傷のあった内視鏡１１は次回の検査には通常使用されないと思われるが、何らかの理由により、その損傷のあった内視鏡１１を再び使用してしまうことも考えられる。
【００７０】
内視鏡装置１００では、発光損失比の変化に基づいて、光ファイバ４５Ａの損傷の有無を判定している。このため、元々損傷のある内視鏡１１については、その損傷内容が“破断”や“曲げ”であった場合には、発光損失比が元々高い値や低い値にあり、変化しないため、損傷を検出することができない。
【００７１】
そこで、一旦損傷があると判定された内視鏡１１に対しては、その内視鏡１１の識別情報と、損傷があることを示す情報とを対応付けて記憶部７３ａに記憶しておく。
【００７２】
例えば、図６のフローチャートにおいてステップＳ５：ＹＥＳのときに、制御部７３が、内視鏡１１から識別情報を取得し、その識別情報と、損傷があることを示す損傷有り情報とを対応付けて記憶部７３ａに記憶しておく。
【００７３】
そして、内視鏡１１が装着された制御装置１３の起動時には、制御部７３が、内視鏡１１から識別情報を取得し、当該識別情報に損傷有り情報が対応付けて記憶されていた場合には、“内視鏡の光ファイバが損傷しています。交換してください”等のメッセージを表示部１５に表示させて、警告を行って、光源４５からの発光を停止させる処理を行えばよい。
【００７４】
このようにすることで、損傷がある内視鏡１１が使用されてしまう可能性を減らすことができ、安全性を更に高めることができる。
【００７５】
なお、図２に示す内視鏡装置１００において、発光量検出部５１と光ファイバ５１Ａは省略することができる。
【００７６】
この場合は、制御部７３が、光源４５から出射される光の光量を示す光量情報を光源制御部７５から取得し、この光量情報と、戻り光検出部４７によって検出された戻り光の光量情報との比を発光損失比として算出すればよい。
【００７７】
又は、光源４５から出射される光の光量は、光源４５を駆動する際の駆動電流値と対応する（相関がある）ため、この駆動電流値を光源制御部７５から取得し、この駆動電流値と、戻り光検出部４７によって検出された戻り光の光量情報との比を発光損失比として算出してもよい。
【００７８】
このようにすることで、光源装置４１内の構成を簡略化することができ、コストを削減することができる。また、発光量検出部５１を省略できるため、光源４５から出射された光を全て光ファイバ４５Ａに入射させることができ、光量の増加を図ることができる。
【００７９】
図７は、図２に示す内視鏡装置の変形例である内視鏡装置２００の制御装置１３と内視鏡１１の内部構成を示す図である。図７において図２と同じ構成には同一符号を付してある。
【００８０】
図７に示す内視鏡装置２００は、光源装置４１に、光源４５から出射される光を光ファイバ４５Ｃ側の第一方向とその方向に直交する第二方向に２分岐する分岐ミラー５３を追加し、光ファイバ５１Ａを削除し、発光量検出部５１が、分岐ミラー５３によって第二方向に分岐された光を受光して、その光量を検出するものとした点を除いては、図２に示す構成と同じである。
【００８１】
図７に示したような構成であっても、図２に示した内視鏡装置１００と同じ効果を得ることができる。また、図７に示した構成によれば、光源装置４１内の光ファイバの配線を簡略化することができる。
【００８２】
以上説明したように、本明細書には次の事項が開示されている。
【００８３】
開示された内視鏡装置は、内視鏡の先端部に供給する光を出射する光源と、前記光源から出射される光の光量に対応する数値を示す情報である光量情報を取得する光量情報取得部と、前記光源から前記内視鏡の導光部に入射されて前記先端部まで伝送される光のうち、前記内視鏡の導光部から戻ってくる戻り光の一部を検出する戻り光検出部と、前記光量情報と、前記戻り光検出部によって検出された戻り光の光量情報との比である発光損失比を算出する発光損失比算出部と、前記発光損失比算出部によって算出される前記発光損失比の変化に基づいて、前記内視鏡の導光部に損傷があるか否かを判定する損傷判定部と、を備えるものである。
【００８４】
開示された内視鏡装置は、前記損傷判定部は、前記発光損失比の変化のパターンに応じて、当該損傷の種類も判定するものである。
【００８５】
開示された内視鏡装置は、前記損傷判定部は、前記発光損失比が任意のタイミングにて閾値以上上昇し、当該上昇後の値が所定時間継続するパターンの場合は、前記損傷の種類が前記導光部の破断であると判定し、前記発光損失比が任意のタイミングにて閾値以上下降し、当該下降合後の値が所定時間継続するパターンの場合は前記損傷の種類が前記導光部の潰れであると判定し、前記発光損失比が閾値以上の増減を繰り返すパターンの場合は前記損傷の種類が前記導光部の曲がりであると判定するものである。
【００８６】
開示された内視鏡装置は、前記損傷判定部によって判定された前記損傷の種類が、前記内視鏡の導光部の破断であった場合に前記光源から光の出射を停止又は光量を低下させる制御を行う光源制御部を備えるものである。
【００８７】
開示された内視鏡装置は、前記光量情報取得部、前記戻り光検出部、前記発光損失比算出部、及び前記損傷判定部は、前記内視鏡が接続される制御装置に内蔵されるものである。
【００８８】
開示された内視鏡装置は、装着される前記内視鏡の識別情報を取得する内視鏡識別情報取得部と、前記損傷判定部によって前記内視鏡の導光部に損傷があると判定された場合に、当該内視鏡の識別情報と前記損傷があることを示す情報とを対応付けて記憶部に記憶する記憶制御部と、起動時に前記内視鏡識別情報取得部によって取得された前記識別情報に、前記損傷があることを示す情報が対応付けて前記記憶部に記憶されている場合に、警告を行う警告部と、を備えるものである。
【００８９】
開示された内視鏡装置は、前記光源はレーザ光源であり、前記導光部は１本の光ファイバであるものである。
【００９０】
開示された内視鏡装置の安全管理方法は、内視鏡の先端部に光を供給する光源から出射される光の光量に対応する数値を示す情報である光量情報を取得する光量情報取得ステップと、前記光源から前記内視鏡の導光部に入射されて前記内視鏡の先端部まで伝送される光のうち、前記内視鏡の導光部から戻ってくる戻り光のうちの一部を検出する戻り光検出ステップと、前記光量情報と、前記戻り光検出ステップによって検出した戻り光の光量情報との比である発光損失比を算出する発光損失比算出ステップと、前記発光損失比算出ステップにより算出される前記発光損失比の変化に基づいて、前記内視鏡の導光部に損傷があるか否かを判定する損傷判定ステップと、を備えるものである。
【００９１】
開示された内視鏡装置の安全管理方法は、前記損傷判定ステップでは、前記発光損失比の変化のパターンに応じて、当該損傷の種類も判定するものである。
【００９２】
開示された内視鏡装置の安全管理方法は、前記損傷判定ステップでは、前記発光損失比が任意のタイミングにて閾値以上上昇し、当該上昇後の値が所定時間継続するパターンの場合は、前記損傷の種類が前記導光部の破断であると判定し、前記発光損失比が任意のタイミングにて閾値以上下降し、当該下降後の値が所定時間継続するパターンの場合は前記損傷の種類が前記導光部の潰れであると判定し、前記発光損失比が閾値以上の増減を繰り返すパターンの場合は前記損傷の種類が前記導光部の曲がりであると判定するものである。
【００９３】
開示された内視鏡装置の安全管理方法は、前記損傷判定ステップによって判定した前記損傷の種類が、前記内視鏡の導光部の破断であった場合に前記光源から光の出射を停止又は光量を低下させる制御を行う光源制御ステップを備えるものである。
【００９４】
開示された内視鏡装置の安全管理方法は、前記内視鏡装置に装着される前記内視鏡の識別情報を取得する内視鏡識別情報取得ステップと、前記損傷判定ステップによって前記内視鏡の導光部に損傷があると判定された場合に、当該内視鏡の識別情報と前記損傷があることを示す情報とを対応付けて記憶部に記憶する記憶制御ステップと、起動時に取得した前記識別情報に、前記損傷があることを示す情報が対応付けて前記記憶部に記憶されている場合に、警告を行う警告ステップと、を備えるものである。
【００９５】
開示された内視鏡装置の安全管理方法は、前記光源はレーザ光源であり、前記導光部は１本の光ファイバであるものである。
【符号の説明】
【００９６】
１００  内視鏡装置
１１  内視鏡
３５  内視鏡先端部
４５  光源
４５Ａ  光ファイバ（導光部）
４７  戻り光検出部
５１  発光量検出部
７３  制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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