(57)【要約】【課題】ＩＣを確実に保護する。【解決手段】入力ラインを介して入力される信号を監視する監視用ＩＣを保護する保護回路であって、電流を吸い込むシンク機能を有さない電源と上記入力ラインとを接続する第一接続ライン上においてアノードを上記入力ライン側に接続しカソードを当該電源側に接続したダイオードと、上記第一接続ライン上の上記ダイオードと電源との間の接続点とグラウンドとを接続する第二接続ライン上においてアノードをグラウンド側に接続しカソードを当該接続点側に接続したツェナーダイオードと、を備える構成とした。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力ラインを介して入力される信号を監視する監視用ＩＣを保護する保護回路であって、
電流を吸い込むシンク機能を有さない電源と上記入力ラインとを接続する第一接続ライン上においてアノードを上記入力ライン側に接続しカソードを当該電源側に接続したダイオードと、
上記第一接続ライン上の上記ダイオードと電源との間の接続点とグラウンドとを接続する第二接続ライン上においてアノードをグラウンド側に接続しカソードを当該接続点側に接続したツェナーダイオードと、を備えることを特徴とする保護回路。
【請求項２】
入力ラインを介して入力される信号を監視する監視用ＩＣを保護する保護回路を搭載する電子機器であって、
上記保護回路は、
電流を吸い込むシンク機能を有さない電源と上記入力ラインとを接続する第一接続ライン上においてアノードを上記入力ライン側に接続しカソードを当該電源側に接続したダイオードと、
上記第一接続ライン上の上記ダイオードと電源との間の接続点とグラウンドとを接続する第二接続ライン上においてアノードをグラウンド側に接続しカソードを当該接続点側に接続したツェナーダイオードと、を備えることを特徴とする電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、保護回路および電子機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＥＳＤダイオードを用いた回路構成が知られている（特許文献１〜４参照。）。
様々な電子機器において、所定の入力ラインを介して入力される信号を監視する監視用ＩＣが搭載されている。このようなＩＣに対して当該入力ラインを介して過電圧・過電流が入力された場合、ＩＣの故障、破壊に繋がる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００８‐３１２１５８号公報
【特許文献２】特表２００７‐５１１８９８号公報
【特許文献３】特表２００６‐５０３５４０号公報
【特許文献４】特表２０００‐５１０６５３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
そのため上記監視用ＩＣを保護することが求められている。
しかし従来においては、このような監視用ＩＣを過電圧・過電流から保護するために十分な回路構成が提示されておらず、そのため監視用ＩＣを確実に保護できているとは言い難かった。
【０００５】
本発明は上記課題を解決するためになされたものであり、過電圧・過電流からＩＣを確実に保護することが可能な保護回路および電子機器を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の態様の一つは、入力ラインを介して入力される信号を監視する監視用ＩＣを保護する保護回路であって、電流を吸い込むシンク機能を有さない電源と上記入力ラインとを接続する第一接続ライン上においてアノードを上記入力ライン側に接続しカソードを当該電源側に接続したダイオードと、上記第一接続ライン上の上記ダイオードと電源との間の接続点とグラウンドとを接続する第二接続ライン上においてアノードをグラウンド側に接続しカソードを当該接続点側に接続したツェナーダイオードとを備える構成としてある。
【０００７】
当該構成によれば、入力ラインに過電圧・過電流の信号が入力された場合、第一接続ライン上のダイオードが導通し、次に第二接続ライン上のツェナーダイオードが導通し、かかる過大な信号はグラウンドに流れる。そのため、監視用ＩＣに過電圧・過電流が入力されることが防止され、当該ＩＣの故障、破壊が確実に防止される。つまり、入力ラインとシンク機能を持たない電源とを接続した回路構成においても、ツェナーダイオードがシンク機能を発揮することで、監視用ＩＣを適切に保護することができる。ツェナーダイオードは、より具体的には、応答速度の速いＥＳＤ(Electro-Static Discharge; 静電気放電)保護用ダイオード（ＥＳＤダイオード）であってもよい。
本発明の技術的思想は、保護回路としてだけでなく、当該保護回路を搭載する電子機器の発明、例えば、当該保護回路を搭載する光ピックアップの発明としても把握できる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本実施形態の保護回路を示す図である。
【図２】本実施形態の保護回路に対する比較例の保護回路を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
図１は、本実施形態にかかる保護回路１０を示している。図１に示すように、保護回路１０においては、信号入力端子１１を有する入力ラインＬ０の他端が、監視用ＩＣ１２の端子１２ａに接続している。信号入力端子１１には、外部から監視用ＩＣ１２による監視対象となる所定の信号が入力され、監視用ＩＣ１２は、この信号のレベルを端子１２ａを介して監視（モニター）する機能を有している。
【００１０】
入力ラインＬ０を介して入力される信号レベルを監視する監視用ＩＣ１２は様々な電子機器に搭載することができ、そのため本実施形態の保護回路１０が搭載される電子機器１４は特に限定されない。一例として、保護回路１０が搭載される電子機器１４は、光ディスクの読取りや光ディスクへの書込みを行なう光学ドライブを構成する光ピックアップである。光ピックアップは、光ディスクに照射するレーザー光を発する光源１４ａや、光ディスクからの反射光を受光するための受光部１４ｂを備える。監視用ＩＣ１２は、具体的には、このような受光部１４ｂに搭載され、反射光に応じた電気信号を入力し、その信号レベルを監視する。監視結果は、所定の制御部に適宜フィードバックされ、例えば、サーボ制御や収差補正等に利用される。
【００１１】
入力ラインＬ０は、その途中位置において接続ラインＬ１（第一接続ライン）と接続している。接続ラインＬ１は、保護回路１０が搭載される電子機器が備える電源（電源装置）１３と入力ラインＬ０とを接続する。本実施形態では、電源１３は、電流を吸い込むいわゆるシンク機能を有さない電源装置である。接続ラインＬ１の途中には、アノードを入力ラインＬ０側に接続しカソードを電源１３側に接続したダイオードＤ１が配設されている。ダイオードＤ１は電源１３から入力ラインＬ０側への電流の流れ込み（逆流）を防止するための素子である。
【００１２】
接続ラインＬ１は、ダイオードＤ１と電源１３との間の位置（接続点Ｐ）において、接続ラインＬ２（第二接続ライン）と接続している。接続ラインＬ２は、接続点ＰとグラウンドＧＮＤとを接続する。接続ラインＬ２の途中には、アノードをグラウンドＧＮＤ側に接続しカソードを接続点Ｐ側に接続したＥＳＤダイオードＤ２が配設されている。ＥＳＤダイオードＤ２は、所定値（ツェナー電圧）以上の電圧が印加された場合に電流を流す特性を有している。
【００１３】
図２は、保護回路１０に対する比較例としての保護回路２０を示している。図２においては、保護回路１０と共通の構成に対しては共通の符号を付している。図２から判るように、保護回路２０では、入力ラインＬ０と電源１３とが接続ラインＬ１（およびダイオードＤ１）を介して接続されているが、図１のような接続ラインＬ２およびＥＳＤダイオードＤ２は存在しない。このような保護回路２０では、入力ラインＬ０に過電圧が印加され過電流が入力された場合、電源１３がシンク機能を有さないために過電流が監視用ＩＣ１２にも流れ込み、監視用ＩＣ１２を保護できない。
【００１４】
一方、図１に示した保護回路１０によれば、入力ラインＬ０に過電圧が印加され過電流が入力された場合、ダイオードＤ１が導通し、次にＥＳＤダイオードＤ２が導通し、かかる過電流がグラウンドＧＮＤへ流れる。そのため、過電圧・過電流が監視用ＩＣ１２に入力されることが防止され、監視用ＩＣ１２が確実に保護される。つまり本実施形態によれば、入力ラインＬ０とシンク機能を持たない電源１３とを接続した回路構成においても、ＥＳＤダイオードＤ２がシンク機能を発揮することで、監視用ＩＣ１２を適切に保護することができる。
【符号の説明】
【００１５】
１０…保護回路、１１…信号入力端子、１２…監視用ＩＣ、１２ａ…端子、１３…電源、１４…電子機器、Ｄ１…ダイオード、Ｄ２…ＥＳＤダイオード、Ｌ０…入力ライン、Ｌ１，Ｌ２…接続ライン
【図１】
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【図２】
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