(57)【要約】【課題】  複数の接続部の接続不良の有無を容易に発見できる電気光学装置及び電子機器等を提供すること。【解決手段】  複数の画素電極が形成された第１基板１０と共通電極２４が形成された第２基板２０とを有する電気光学装置は、第１基板に配置されて第２基板の共通電極を駆動する複数の駆動回路１６０と、第１基板と第２基板とを電気的に接続して第１基板に配置された複数の駆動回路の各々の出力線を第２基板の共通電極にそれぞれ接続する複数の接続部５０−１〜５０−４と、複数の接続部の導通を検査する検査回路２００−１〜２００−４とを有し、検査回路は、検査時に、第１基板側から複数の接続部の一つを介して第２基板の共通電極に供給され、かつ、共通電極から複数の接続部の他の一つを介して第１基板側に供給される検査信号が入力される信号入力部２１０を有する。【選択図】      図５
2012159701.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素電極が形成された第１基板と、前記複数の画素電極と対向する共通電極が形成された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される電気光学素子と、を有する電気光学装置において、
前記第１基板に配置され、前記第２基板の前記共通電極を駆動する複数の駆動回路と、
前記第１基板と前記第２基板とを電気的に接続して、前記第１基板に配置された前記複数の駆動回路の各々の出力線を、前記第２基板の前記共通電極にそれぞれ接続する複数の接続部と、
前記複数の接続部の導通を検査する検査回路と、
を有し、
前記検査回路は、検査時に、前記第１基板側から前記複数の接続部の一つを介して前記第２基板の前記共通電極に供給され、かつ、前記共通電極から前記複数の接続部の他の一つを介して前記第１基板側に供給される検査信号が入力される信号入力部を有することを特徴とする電気光学装置。
【請求項２】
請求項１において、
前記検査信号は、前記複数の接続部の一つと直接接続された前記出力線を有する前記複数の駆動回路の一つから供給されることを特徴とする電気光学装置。
【請求項３】
請求項１において、
前記検査回路は、第１の検査回路と、第２の検査回路とを含み、
前記第１の検査回路は前記信号入力部を有し、
前記第２の検査回路は信号出力部を含み、前記信号出力部は、前記検査信号の供給時にアクティブとされる検査信号出力スイッチを介して前記複数の接続部の一つの前記出力線をプルアップまたはプルダウンすることで、前記検査信号の電位を設定することを特徴とする電気光学装置。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれかにおいて、
前記複数の駆動回路の各々は、最終出力段にバッファーを含み、
前記信号入力部は、前記複数の接続部の他の一つと直接接続される前記バッファーの出力線に分岐接続される検査信号入力線を含み、
前記信号入力部に前記検査信号が入力される検査時に、前記信号入力部と接続された前記バッファーの出力端がハイインピーダンスに設定されることを特徴とする電気光学装置。
【請求項５】
請求項４において、
前記バッファーの出力端がハイインピーダンスに設定される間に、前記検査信号入力線の電位を、前記検査信号の電位とは異なる電位に設定する電位設定回路をさらに有することを特徴とする電気光学装置。
【請求項６】
請求項５において、
前記電位設定回路は、検査時にアクティブとなる第１スイッチを介して前記検査信号入力線をプルアップまたはプルダウンすることを特徴とする電気光学装置。
【請求項７】
請求項４乃至６のいずれかにおいて、
前記信号入力部は、
前記検査信号入力線に直列接続され、検査時にアクティブとされる第２スイッチを含み、
前記第２スイッチを介して前記検査信号が記憶される記憶部をさらに有することを特徴とする電気光学装置。
【請求項８】
請求項４乃至７のいずれかにおいて、
前記複数の駆動回路の数をＮ（Ｎは３以上の整数）としたとき、前記Ｎ個の駆動回路の各々は、検査時に異なるタイミングで前記検査信号を出力し、
Ｎ個の信号入力部が設けられ、前記Ｎ個の信号入力部の各々は、前記第１スイッチを介して（Ｎ−１）個の検査信号がそれぞれ記憶される（Ｎ−１）個の記憶部をさらに有することを特徴とする電気光学装置。
【請求項９】
請求項３において、
前記信号入力部は、
前記複数の駆動回路の他の一つの前記出力線に分岐接続される検査信号入力線と、
前記検査信号入力線に直列接続され、検査時にアクティブとされて前記検査信号入力線をプルダウンまたはプルアップして、前記検査信号入力線の電位を前記検査信号の電位と異なる電位に設定する第１スイッチと、
を有し、
前記複数の駆動回路の各々は、最終出力段にバッファーを含み、
前記信号出力部から前記信号入力部に前記検査信号を供給する検査時に、前記信号出力部に接続された前記バッファー及び前記信号入力部に接続された前記バッファーの各々の出力端がハイインピーダンスに設定されることを特徴とする電気光学装置。
【請求項１０】
請求項８または９のいずれかにおいて、
前記記憶部の情報に基づいて異常か否かを判定する判定部と、
前記判定部にて以上と判断されたときに、異常処理を実行する異常処理部と、
をさらに有することを特徴とする電気光学装置。
【請求項１１】
請求項１乃至１０のいずれかに記載の電気光学装置を含むことを特徴とする電子機器。
【請求項１２】
請求項１１おいて、
前記検査時は、バワーオンリセット信号に基づいて設定されることを特徴とする電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、２枚の基板間に液晶等の電気光学素子を有する電気光学装置及び電子機器等に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば液晶装置は、第１，第２基板間に封入された液晶を、第１，第２基板に形成された電極に電圧を印加することにより駆動される。第１基板には複数の画素電極が形成され、第２基板には共通電極が形成される。第１基板には共通電極を駆動する駆動回路が配置される。第１，第２基板同士は複数の接続部により電気的に接続される。第１基板に設けられた駆動回路は、複数の接続部を介して共通電極を駆動する。
【０００３】
特許文献１は、製造時にガラス基板である第１基板の割れや欠けの大きさを判断する目盛りを第１基板に設けて、生産性を向上させる技術を開示している。特許文献２は、液晶表示装置の画素不良である点欠陥を、補助容量信号線及び補助容量信号幹線のインピーダンスを低下させずに修正できる技術を開示している。特許文献３は、第２基板に形成された共通電極（対向電極）の負荷を測定して、その負荷に適した駆動を行う技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１０−１０２１３４号公報
【特許文献２】特開２０１０−９７１００号公報
【特許文献３】特開２００８−８３２８６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
電気光学装置の高精細化により、第１，第２基板間を接続する複数の接続部の一つが外れるだけでも、共通電極の抵抗値が異なり、階調表示が変化する等の表示不良となる。その際、接続不良を含む様々な要因で生ずる表示不良は目視で確認できるが、その原因を突き止めることは困難である。
【０００６】
本発明の幾つかの態様によれば、複数の接続部の接続不良の有無を容易に発見できる電気光学装置及び電子機器等を提供できる。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
（１）本発明の一態様は、複数の画素電極が形成された第１基板と、前記複数の画素電極と対向する共通電極が形成された第２基板と、前記第１基板と前記第２基板との間に配置される電気光学素子と、を有する電気光学装置において、
前記第１基板に配置され、前記第２基板の前記共通電極を駆動する複数の駆動回路と、
前記第１基板と前記第２基板とを電気的に接続して、前記第１基板に配置された前記複数の駆動回路の各々の出力線を、前記第２基板の前記共通電極にそれぞれ接続する複数の接続部と、
前記複数の接続部の導通を検査する検査回路と、
を有し、
前記検査回路は、検査時に、前記第１基板側から前記複数の接続部の一つを介して前記第２基板の前記共通電極に供給され、かつ、前記共通電極から前記複数の接続部の他の一つを介して前記第１基板側に供給される検査信号が入力される信号入力部を有する電気光学装置に関する。
【０００８】
本発明の一態様では、複数の接続部の２つが導通していれば、その２つの接続部を経由して検査信号の電位、電流等が検査回路の信号入力部を介して計測できる。逆に、２つの接続部のいずれか一方が非導通であれば、検査信号の電位、電流等は検査回路の信号入力部を介して計測できない。よって、接続部の数がＭ（Ｍは２以上の整数）であれば、（Ｍ−１）個の接続部の各々から検査信号を供給して、残りの少なくとも１個の接続部を介して検査信号を少なくとも１つの検査回路に供給することで、Ｍ個の接続部のいずれかが非導通であることを、目視に頼らずに検査できる。検査信号が入力される検査回路の数を最大で接続部の数だけ増やせば、接続部のいずれかが非導通であるかを検出することができる。
【０００９】
（２）本発明の一態様では、前記検査信号は、前記複数の接続部の一つと直接接続された前記出力線を有する前記複数の駆動回路の一つから供給することができる。こうして、通常動作時に共通電極を駆動する駆動回路の一つを、検査信号の出力回路として兼用することができる。こうすると、検査信号の出力回路を別個に設ける必要がない。
【００１０】
（３）本発明の一態様では、前記検査回路は、第１の検査回路と、第２の検査回路とを含み、前記第１の検査回路は前記信号入力部を有し、前記第２の検査回路は信号出力部を含み、前記信号出力部は、前記検査信号の供給時にアクティブとされる検査信号出力スイッチを介して前記複数の接続部の一つの前記出力線をプルアップまたはプルダウンすることで、前記検査信号の電位を設定することができる。
【００１１】
こうすると、駆動回路から検査信号を出力させる必要がなく、駆動回路の出力線をプルアップまたはプルダウンすることで検査信号を出力することができる。
【００１２】
（４）本発明の一態様では、前記複数の駆動回路の各々は、最終出力段にバッファーを含み、前記信号入力部は、前記複数の接続部の他の一つと直接接続される前記バッファーの出力線に分岐接続される検査信号入力線を含み、前記信号入力部に前記検査信号が入力される検査時に、前記信号入力部と接続された前記バッファーの出力端がハイインピーダンスに設定されても良い。
【００１３】
こうすると、検査信号は、バッファー側には供給されずに、バッファーの出力線から分岐した検査信号入力線を経由して取り込むことができる。
【００１４】
（５）発明の一態様では、前記バッファーの出力端がハイインピーダンスに設定される間に、前記検査信号入力線の電位を、前記検査信号の電位とは異なる電位に設定する電位設定回路をさらに有することができる。こうすると、バッファーの出力端がハイインピーダンスに設定されても、検査信号入力線がフローティング電位にならず、しかも、検査信号が入力されれば検査信号の電位となり、入力されなければ設定電位となる。これにより、誤測定を低減できる。
【００１５】
（６）発明の一態様では、前記電位設定回路は、検査時にアクティブとなる第１スイッチを介して前記検査信号入力線をプルアップまたはプルダウンすることができる。検査信号がＨＩＧＨであれば検査信号入力線をプルダウンさせればよく、検査信号がＬＯＷであれば検査信号入力線をプルアップすれば良い。こうして、検査信号入力線がフローティング電位にならず、誤測定を低減できる。
【００１６】
（７）本発明の一態様では、前記信号入力部は、前記検査信号入力線に直列接続され、検査時にアクティブとされる第２スイッチを含み、前記第２スイッチを介して前記検査信号が記憶される記憶部をさらに有することができる。これにより、検査結果を記憶部に保持しておくことができる。
【００１７】
（８）本発明の一態様では、前記複数の駆動回路の数をＮ（Ｎは３以上の羅整数）としたとき、前記Ｎ個の駆動回路の各々は、検査時に異なるタイミングで前記検査信号を出力し、Ｎ個の信号入力部が設けられ、前記Ｎ個の信号入力部の各々は、前記第１スイッチを介して（Ｎ−１）個の検査信号がそれぞれ記憶される（Ｎ−１）個の記憶部をさらに有することができる。こうすると、Ｎ×（Ｎ−１）通りの検査結果が得られ、Ｎ個の接続部の量不良の判定に供することができる。
【００１８】
（９）本発明の一態様では、前記信号入力部は、前記複数の駆動回路の他の一つの前記出力線に分岐接続される検査信号入力線と、前記検査信号入力線に直列接続され、検査時にアクティブとされて前記検査信号入力線をプルダウンまたはプルアップして、前記検査信号入力線の電位を前記検査信号の電位と異なる電位に設定する第１スイッチと、有し、前記複数の駆動回路の各々は、最終出力段にバッファーを含み、前記信号出力部から前記信号入力部に前記検査信号を供給する検査時に、前記信号出力部に接続された前記バッファー及び前記信号入力部に接続された前記バッファーの各々の出力端がハイインピーダンスに設定されてもよい。
【００１９】
こうすると、信号出力部がプルアップされれば信号入力部はプルダウンされ、逆に、信号出力部がプルダウンされれば信号入力部はプルアップされ、それにより信号出力部と信号入力部との間で検査信号を流すことが可能となる。
【００２０】
（１０）本発明の一態様では、前記記憶部の情報に基づいて異常か否かを判定する判定部と、前記判定部にて以上と判断されたときに、異常処理を実行する異常処理部と、をさらに有することができる。それにより、接続部の異常を警報し、あるいは通常動作を停止させることができる。
【００２１】
（１１）本発明の他の態様は、上述した電気光学装置を含む電子機器を定義している。
【００２２】
（１２）本発明の他の態様では、前記検査時は、バワーオンリセット信号に基づいて設定することができる。こうすると、電源を立ち上げ毎に検査を実施することができる。よって、経時的に接続部が劣化した場合でも速やかに異常を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明の実施形態に係る電気光学装置の構成例を示す図である。
【図２】図２（Ａ）（Ｂ）は第１，第２基板の平面図である。
【図３】第１，第２基板同士を電気的に接続する接続部を示す模式図である。
【図４】複数の接続部に接続された共通電極の等価回路図である。
【図５】検査回路を示す回路図である。
【図６】接続部の数をＮとしたときにＮ個の検査回路で測定されるＮ×（Ｎ−１）個の検査結果を示す説明図である。
【図７】検査時のタイミングチャートである。
【図８】検査回路の変形例を示す図である。
【図９】検査回路の信号出力部と信号入力部をプルアップまたはプルダウンにより実現する例を示す図である。
【図１０】電子機器のブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
以下、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお以下に説明する本実施形態は特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではなく、本実施形態で説明される構成の全てが本発明の解決手段として必須であるとは限らない。
【００２５】
１．電気光学装置
図１に、電気光学装置の構成例を示す。この電気光学装置は、電気光学パネル１００（狭義には、液晶表示パネル）、走査線駆動回路１１０、データ線駆動回路１２０、表示コントローラー１３０、波形信号供給回路１４０を含む。
【００２６】
図１は、例えば特開２００７−１４８４１７号公報または特開２００１−１００７０７号公報などで知られている等間隔サブフレーム駆動方式にて電気光学パネル１００を駆動するものである。電気光学パネル１００は、表示画像を表示するための複数の画素ＰＸ１１…と、その複数の画素ＰＸ１１…を駆動する複数の画素回路ＰＣ１１…を含む。この画素回路ＰＣ１１…には、ゲート信号ＧＸ１…、データ信号ＳＤ１…、駆動用波形電圧ＳＯＮ，ＳＯＦＦ、共通電極駆動電圧ＶＣＯＭ、サブフレーム同期信号ＳＦ＿ＳＹＮＣが入力される。１つの画素ＰＸ１１…には１つの画素回路ＰＣ１１…が対応し、その画素と画素回路が、ゲートラインとデータラインに沿ってマトリックス状に配置される。例えば、ゲート信号ＧＸ１のラインとデータ信号ＳＤ１のラインの交点には、画素ＰＸ１１と画素回路ＰＣ１１が配置される。
【００２７】
表示コントローラー１３０は、外部のホストコントローラー等からのデータ転送用クロック信号ＤＣＫ、データ信号ＤＡＴＡ、その他の制御信号を受けて、電気光学装置の各構成要素を制御し、電気光学装置の表示制御を行う。また、表示コントローラー１３０は、データ信号ＤＡＴＡに基づいて等間隔サブフレーム駆動用のデータ信号を生成する。すなわち、データ信号ＤＡＴＡの階調データを、オン論理レベルとオフ論理レベルの組み合わせであるサブフレームパターンに変換する。
【００２８】
走査線駆動回路１１０は、電気光学パネル１００に対してゲート信号ＧＸ１〜ＧＸｍ（ｍは自然数）を供給する。ゲート信号ＧＸ１〜ＧＸｍは、画素回路によりデータ信号ＳＤ１〜ＳＤｎが取り込まれるゲートラインを指示する信号である。走査線駆動回路１１０には、表示コントローラー１３０からの水平同期信号ＨＳＹＮＣやサブフレーム同期信号ＳＦ＿ＳＹＮＣ等が入力される。
【００２９】
データ線駆動回路１２０は、電気光学パネル１００に対してデータ信号ＳＤ１〜ＳＤｎを供給する。データ信号ＳＤ１〜ＳＤｎは、各データライン上の画素に対応する等間隔サブフレーム駆動用のデータ信号である。データ線駆動回路１２０には、表示コントローラー１３０からの水平同期信号ＨＳＹＮＣやサブフレーム同期信号ＳＦ＿ＳＹＮＣ、サブフレームパターンに変換されたデータ信号等が入力される。
【００３０】
波形信号供給回路１４０は、電気光学パネル１００に対して、オン駆動用波形電圧ＳＯＮ、オフ駆動用波形電圧ＳＯＦＦ、共通電極駆動電圧ＶＣＯＭを供給する。波形信号供給回路１４０には、温度センサー１５０からの温度検出結果ＴＳや、表示コントローラー１３０からの水平同期信号カウント値ＨＣ、サブフレーム同期信号カウント値ＳＦＣ、サブフレーム同期信号ＳＦ＿ＳＹＮＣが入力される。なお、波形信号供給回路１４０が、共通電極駆動電圧ＶＣＯＭを供給する後述の共通電極駆動回路１６０を含んでいる。
【００３１】
上記の電気光学装置は、例えばＬＣＯＳ（広義には、液晶表示装置）により構成される。ＬＣＯＳとは、シリコン基板（広義には、半導体基板）に画素回路や、配線層、反射電極（画素電極）、液晶層、共通電極が積層されて形成された液晶表示装置である。シリコン基板には、波形信号供給回路１４０等の周辺回路も集積される。ＬＣＯＳは、反射型の液晶表示装置であり、透明な共通電極側から入射された光が液晶層を通過して反射電極により反射され、その反射光が再び液晶層を通過して出射される。表示画像は、その出射光がスクリーン等に投影されることで得られる。
【００３２】
２．第１，第２基板と接続部
図２（Ａ）（Ｂ）は、図１に示す電気光学装置を構成する第１基板１０と第２基板２０を示している。図２（Ａ）に示す第１基板１０は例えば半導体基板にて形成されたアクティブマトリクス基板である。第１基板１０には、画素回路部３０、インターフェース回路４０、図１の走査線駆動回路１１０を２分割して配置された第１，第２走査線駆動回路１１０Ａ，１１０Ｂと、データ線駆動回路１２０とが形成されている。画素回路部３０は、複数の走査線３２（ＧＸ１〜ＧＸｍ）と、複数の走査線３２と交差する複数のデータ線３４（ＳＤ１〜ＳＤｎ）と、複数の走査線３２の各１本と複数のデータ線３４の各１本に各々が接続された複数の画素３６（ＰＣ１１＋ＰＸ１１等）とを含む。なお、図２（Ａ）では図示されていないが、図１の温度センサー１５０を第１基板１０に形成することもできる。
【００３３】
後述するように本実施形態では第１基板１０に検査回路が増設される。検査信号を外部に出力させるために、インターフェース回路４０を入出力可能とするか、あるいは検査回路の信号入力部や信号出力部に接続されるテスト端子を第１基板１０に増設することができる。
【００３４】
例えば、図２（Ａ）に示すインターフェース回路４０は、図１の表示コントローラー１３０と接続されている。図１では、表示コントローラー１３０に、検査信号に基づいて異常か否かを判定する判定部１３２と、判定部１３２にて異常と判断されたときに、異常処理を実行する異常処理部１３４とを設けている。異常処理部１３４は、正常動作時には実施されない処理として、例えば警告などを行うことができる。
【００３５】
一方、ガラス基板である第２基板２０には、図２（Ｂ）に示すように、透明電極（ＩＴＯ）にて共通電極２４が形成されている。この共通電極２４に共通電極駆動電圧ＶＣＯＭを供給して駆動する共通電極駆動回路１６０は、図２（Ａ）に示すように、第１基板１０に設けられている。
【００３６】
このために、第１，第２基板１０，２０同士を電気的に接続している。第１基板１０の複数個所例えば４箇所には、例えばＡｌにて形成された第１パッド１２が形成されている。共通電極駆動回路１６０は、４つの第１パッド１２に対応して４つ設けられている。４つの共通電極駆動回路１６０の各一つが、４つの第１パッド１２の各一つに接続されている。
【００３７】
一方、第２基板２０には、図２（Ｂ）に示すように、第１パッド１２に対応させて、透明電極（ＩＴＯ）により４つの第２パッド２２が形成されている。
【００３８】
図３は、第１，第２基板１０，２０の電気的接続を模式的に示している。第１基板１０の第１パッド１２と第２基板２０の第２パッド２２とは、銀素材にて接続されて、接続部である銀点パッド５０（５０−１〜５０−４）が形成される。
【００３９】
図４は、４つの銀点パッド５０−１〜５０−４に接続された第２基板２０上の共通電極２４の等価回路図である。図４に示すように、共通電極２４が第２基板２０のほぼ全域に形成されることから、共通電極２４は寄生抵抗等に起因した抵抗値を有する。
【００４０】
ここで、４箇所の銀点パッド５０−１〜５０−４が全て接続しているか否かは、銀点パッド５０−１〜５０−４が第１，第２基板１０，２０間に存在するため、目視では判定し難い。特に電気光学パネル１００の高精細化により、第１，第２基板１０，２０間を接続する複数の銀点パッド５０−１〜５０−４の一つが外れるだけでも、共通電極２４の抵抗値が異なってしまう。それにより、階調表示が変化する等の表示不良となる。その際、接続不良を含む様々な要因で生ずる表示不良は目視で確認できるが、その原因を突き止めることは困難である。
【００４１】
３．電気光学装置に内蔵される検査回路
本実施形態では、電気光学装置に内蔵される検査回路を設け、銀点パッド５０−１〜５０−４一つが外れているか否かを検査して、銀点パッド５０−１〜５０−４の導通を検査回路により検査するものである。
【００４２】
図５に示すように、図２（Ａ）に示す第１基板１０に設けられた４つの共通電極駆動回路１６０に隣接して、４つの検査回路２００−１〜２００−４を設けている。なお、図５では２つの銀点パッド５０−１，５０２に接続される２つの検査回路２００−１，２００−２のみを示しているが、他の検査回路２００−３，２００４も同一の構成である。
【００４３】
４つの検査回路２００−１〜２００−４の各々は、検査時に、第１基板１０側から複数の銀点パッド５０−１〜５０−４の一つを介して第２基板２０の共通電極２４に供給され、かつ、共通電極２４から複数の銀点パッド５０−１〜５０−４の他の一つを介して第１基板１０側に供給される検査信号が入力される信号入力部２１０を有する。
【００４４】
図５の例では、銀点パッド５０−２に接続された共通電極駆動回路１６０のバッファー１６２を介して供給される検査信号は、銀点パッド５０−２、共通電極２４、銀点パッド５０−１を介して、検査回路２００−１の信号入力部２１０に供給される。
【００４５】
もし、銀点パッド５０−１，５０−２が導通していれば、検査信号の電位、電流等が検査回路２００−１の信号入力部２１０を介して計測できる。逆に、銀点パッド５０−１，５０−２のいずれか一方が非導通であれば、検査信号の電位、電流等は検査回路２００−１の信号入力部２１０を介して計測できない。
【００４６】
銀点パッド５０−１，５０−２のいずれかが非道通であると測定された場合、いずれか一方を他の銀点パッド５０−３または５０−４に差し替えて検査することで、銀点パッド５０−１，５０−２のいずれが非道通であったかを追求することができる。
【００４７】
このとき、検査信号の供給は、通常動作時にＶＣＯＭ信号を供給する４つの共通電極駆動回路１６０の少なくとも一つを兼用することができる。こうすると、検査信号の出力回路を別個に設ける必要がない。
【００４８】
図５において、検査回路２００−１の信号入力部２１０は、共通電極駆動回路１６０のバッファー１６２の出力線１６４に分岐接続される検査信号入力線２１２を有することができる。また、バッファー１６２の出力端を、検査時にハイインピーダンスに設定することができる。こうすると、検査信号は、バッファー１６２側には供給されずに、共通電極駆動回路１６０の出力線１６４から分岐した検査信号入力線２１２を経由して取り込むことができる。バッファー１６２の出力端をハイインピーダンスにするには、バッファーを構成するＣＭＯＳトランジスタにＶＤＤ電源線及びＶＳＳ電源線を接続する箇所を断続するスイッチを設ければ良い。ＶＤＤ，ＶＳＳ電源が断たれると、バッファーの出力線はフローティング電位となり、ハイインピーダンスとなる。
【００４９】
さらに、バッファー１６２の出力端がハイインピーダンスに設定される間に、検査信号入力線２１２の電位を、検査信号の電位とは異なる電位に設定する電位設定回路２２０をさらに有することができる。こうすると、バッファー１６２の出力端がハイインピーダンスに設定されても、検査信号入力線２１２がフローティング電位にならず、しかも、検査信号が入力されれば検査信号の電位となり、入力されなければ設定電位となる。これにより、誤測定を低減できる。
【００５０】
図５に示す電位設定回路２２０は、検査時にアクティブとなる例えばｎ型トランジスタで形成される第１スイッチ２２２を介して検査信号入力線２１２をプルダウンしている。この場合、検査信号レベルはＨＩＧＨに設定されればよい。逆に、電位設定回路２２０は、検査時にアクティブとなる例えばｐ型トランジスタで形成される第１スイッチ（図示せず）を介して検査信号入力線２１２をプルアップしてもよい。この場合、検査信号レベルはＬＯＷに設定されればよい。なお、図５に示す抵抗器Ｒ１により、ＨＩＧＨである検査信号レベルと接地レベルとの電位差が維持される。また、抵抗器Ｒ２は静電気保護抵抗である。
【００５１】
信号入力部２１０は、検査信号入力線２１２に直列接続され、検査時にアクティブとされる第２スイッチ２１４と、第２スイッチ２１４を介して検査信号が記憶される記憶部２３０をさらに有することができる。これにより、検査結果を記憶部２３０に保持しておくことができる。
【００５２】
図５では共通電極駆動回路１６０の数をＮ（Ｎは３以上の整数）としたとき（本実施形態ではＮ＝４）、Ｎ個の駆動回路１６０の各々は、検査時に異なるタイミングで検査信号を出力することができる。Ｎ個の信号入力部２１０は、第２スイッチ２１４を介して（Ｎ−１）個の検査信号がそれぞれ記憶される（Ｎ−１）個の記憶部例えば第１〜第３ラッチ２３１，２３２，２３３をさらに有することができる。
【００５３】
こうすると、図６に示すように、Ｎ×（Ｎ−１）通りの検査結果を測定することができる。本実施形態ではＮ＝４であるので、４×３＝１２通りの検査結果Ａ〜Ｌが得られる。例えば、銀点パッド５０−１から検査信号を出力して銀点パッド５０−２，５０−３，５０−４を介して検査信号を入力することで、検査結果Ａ〜Ｃが得られる。これにより、４つの銀点パッド５０−１〜５０−４の導通の良不良を判定できる。
【００５４】
第１〜第３ラッチ２３１，２３２，２３３に正しい検査結果をラッチするために、タイミング制御が必要である。図６は、検査時のタイミングチャートである。検査の初期に、第１〜第３ラッチ２３１，２３２，２３３はリセット信号ＲＥＳＴの例えば立ち上がりエッジの時刻ｔ０でリセットされる。リセット信号ＲＥＳＴは検査モード信号であり、例えばバワーオンリセット信号を用いることができる。
【００５５】
本実施形態では、リセット信号ＲＥＳＴにより、第１スイッチ２２２をオンさせて検査信号入力線２１２をプルダウンすると同時に、バッファー１６２の出力端をハイインピーダンスに設定している。これにより、例えば検査回路２００−１の信号入力部２１０で検査信号の入力準備が完了する。
【００５６】
銀点パッド５０−１以外の他の例えば銀点パッド５０−２を介して検査信号がＨＩＧＨ出力される。このとき、銀点パッド５０−１，５０−２の双方が導通していれば信号入力線２１２の電位はＨＩＧＨとなり、銀点パッド５０−１，５０−２の一方が非導通であれば信号入力線２１２の電位はＬＯＷとなる。この信号入力線２１２の電位は、第２のスイッチ２１４がオンしないと、第１ラッチ２３１へ伝送されない。本実施形態では、リセット信号ＲＥＳＴを遅延回路２４０にて遅延させ、遅延されたリセット信号ＲＥＳＴがＨＩＧＨである期間（ｔ１−ｔ６）に亘って、第２スイッチ２１４をオンさせている。
【００５７】
その後、第１クロック信号ＣＬＫ１が第１ラッチ２３１に入力される時刻ｔ２にて初めて、信号入力線２１２の電位が第１ラッチ２３１にてラッチされる（図６の検査結果Ａ）。その後、検査信号の出力が銀点パッド５０−３，５０−４へと順次切り替えられるのに続いて第２，第３クロック信号ＣＬＫ２，ＣＬＫ３が立ち上がり、時刻ｔ３，ｔ４にて図６の検査結果Ｂ，Ｃが、第２，第３ラッチ２３２，２３３にてラッチされる。時刻ｔ６に達すると、検査回路２００−１は非検査時の状態に復帰される。
【００５８】
４．検査回路の他の例
図８は、信号入力部２１０が一つの記憶部例えばラッチ２３０のみを有する例を示している。この場合、クロック信号ＣＬＫを用いずに、リセット信号ＲＥＳＴのみでタイミング制御することができる。図５と同様に、ラッチ２３０のリセットと、第１スイッチ２２２によるプルダウンと、バッファー１６２の出力端のハイインピーダンス設定は、リセット信号ＲＥＳＴの立ち上がりエッジで設定する。第２スイッチ２１４のオン動作は、１段の遅延回路２４０にて遅延させたリセット信号ＲＥＳＴにて実施する点も、図５と同一である。ラッチ２３０へのクロック信号の取り込みを、２段の遅延回路２４１，２４２にて遅延させたリセット信号ＲＥＳＴを用いることで、クロック信号ＣＬＫが不要となる。
【００５９】
５．信号入力部と信号出力部
図９の実施形態では、銀点パッド５０−１に接続された検査回路２００−１に信号入力部３００を設け、銀点パッド５０−２に接続された検査回路２００−２に信号出力部３１０を設けている。
【００６０】
信号入力部３００は、出力線１６４に分岐接続される検査信号入力線３０２と、検査信号入力線３０２に直列接続され、検査時にアクティブとされて検査信号入力線３０２をプルダウンする第１スイッチ３０４とを有する。この第１スイッチ３０４は、バッファー１６２の出力端をハイインピーダンスにする検査時にアクティブとされる。
【００６１】
一方、信号出力部３１０は、信号出力部は、検査信号の供給時にアクティブとされる検査信号出力スイッチ３１２を介して共通電極駆動回路１６０の出力線１６４をプルアップまたはプルダウンすることで、検査信号の電位を設定する。この検査信号出力スイッチ３１２は、バッファー１６２の出力端をハイインピーダンスにする検査時にアクティブとされる。
【００６２】
こうすると、信号出力部３１０から信号入力部３００に向けて図示矢印Ａ方向に電流が流れる。この電流を測定することで、銀点パッド５０−１，５０−２の導通を検査できる。なお、電流測定回路を第１基板１０に設けても良いし、あるいはその電流を外部で検出しても良い。また、図９とは逆に、信号出力部３１０側にてプルダウンさせ、信号入力部３００にてプルアップしても良い。
【００６３】
なお、図９に示す信号入力部３００を、図５に示す信号入力部２１０に置き換えては位置しても良い。これとは逆に、図９に示す信号出力部３１０を図９の銀点パッド５０−２側に配置してもよい。
【００６４】
６．電子機器
図１０のプロジェクター４００は、ライトバルブとして機能する液晶表示装置４１０を含んで構成される。液晶表示装置４１０は、大別して液晶パネル４１２とその駆動回路４１４を含む。プロジェクター４００は、液晶表示装置４１０に加えて、表示情報出力源４２０、表示情報処理回路４３０、クロック発生回路４４０及び電源回路４５０を含んで構成される。表示情報出力源４２０は、ＲＯＭ（Read Only Memory）及びＲＡＭ（Random Access Memory）、光ディスク装置等のメモリー、画像信号を同調して出力する同調回路等を含み、クロック発生回路４４０からのクロック信号に基づいて、所定フォーマットの画像信号等の表示情報を表示情報処理回路４３０に出力する。表示情報処理回路４３０は、増幅・極性反転回路、相展開回路、ローテーション回路、ガンマ補正回路、或いはクランプ回路等を含むことができる。電源回路４５０は、上述の各回路に電力を供給する。
【００６５】
なお、上記のように本実施形態について詳細に説明したが、本発明の新規事項および効果から実体的に逸脱しない多くの変形が可能であることは当業者には容易に理解できる。
【符号の説明】
【００６６】
１０  第１基板、１２  第１パッド、２０  第２基板、２２  第２パッド、５０−１〜５０−４  接続部（銀点パッド）、１００  電気光学パネル、１３２  判定部、１３４  異常処理部、１６０  共通電極駆動回路、２００−１〜２００−４  検査回路、２１０  信号入力部、２１２、検査信号入力線、２１４  第２スイッチ、２２０  電位設定回路、２２２  第１スイッチ、２３０  記憶部、２３１〜２３３  第１〜第３ラッチ、２４０〜２４２  遅延回路、３００  信号入力部、３０２  信号入力線、３０４  第１のスイッチ、３１０  信号出力部、３１２  検査信号出力スイッチ、ＲＥＳＴ  リセット信号
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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