(57)【要約】【課題】被測定物体からの強反射光の影響を低減させて被測定物体の撮影を行うことが可能な干渉光計測装置を提供する。【解決手段】干渉光計測装置は、低コヒーレンス光を出力する光源を有する。干渉光学系は、光源からの低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体による信号光の反射光と参照光路を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成して検出する。走査部は、被測定物体に対する信号光の照射位置を走査する。特定部は、信号光の反射光が強反射状態にあるときの走査部による照射位置である強反射位置を特定する。制御部は、強反射位置に対して信号光を再度照射させるときに、光源を制御して低コヒーレンス光の光量を低下させる。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
低コヒーレンス光を出力する光源と、
前記光源からの前記低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体による前記信号光の反射光と参照光路を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成して検出する干渉光学系と、
前記被測定物体に対する前記信号光の照射位置を走査する走査部と、
前記信号光の反射光が強反射状態にあるときの前記走査部による前記照射位置である強反射位置を特定する特定部と、
前記強反射位置に対して前記信号光を再度照射させるときに、前記光源を制御して前記低コヒーレンス光の光量を低下させる制御部と、
を有することを特徴とする干渉光計測装置。
【請求項２】
前記低コヒーレンス光はパルス光であって、
前記制御部は、前記強反射位置に前記信号光を照射するときの前記パルス光のパルス幅を、他の位置に前記信号光を照射するときの前記パルス光のパルス幅より小さくするよう前記光源を制御することにより前記光量を低下させることを特徴とする請求項１に記載の干渉光計測装置。
【請求項３】
前記低コヒーレンス光はパルス光であって、
前記制御部は、前記強反射位置に前記信号光を照射するときの前記パルス光の強度を、他の位置に前記信号光を照射するときの前記パルス光の強度より低くするよう前記光源を制御することにより前記光量を低下させることを特徴とする請求項１に記載の干渉光計測装置。
【請求項４】
前記低コヒーレンス光はパルス光であって、
前記特定部は、
前記走査部による走査に対応して前記パルス光に基づく信号光の強度を検出する検出部を有し、
前記制御部は、前記強反射位置に照射する前記信号光の強度、及びそれ以前に検出された前記信号光の強度の比較を行い、前記強反射位置に照射される前記信号光の強度が、それ以前に検出された前記信号光の強度を超えたときに前記光源を制御することにより前記光量を低下させることを特徴とする請求項１記載の干渉光計測装置。
【請求項５】
前記特定部は、
前記強反射位置を記憶する記憶部を有し、
前記制御部は、前記強反射位置に対して前記信号光を再度照射させるときに、前記光源を制御して前記低コヒーレンス光の光量を低下させることを特徴とする請求項１記載の干渉光計測装置。
【請求項６】
低コヒーレンス光を出力する光源と、
前記光源からの前記低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体による前記信号光の反射光と参照光路を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成して検出する干渉光学系と、
前記被測定物体に対する前記信号光の照射位置を走査する走査部と、
前記信号光の反射光が強反射状態にあるときの前記走査部による前記照射位置である強反射位置を特定する特定部と、
前記強反射位置に対して前記信号光を再度照射させるときに、当該信号光に基づく干渉光の前記干渉光学系による検出時間を短縮する制御部と、
を有することを特徴とする干渉光計測装置。
【請求項７】
前記特定部は、
前記強反射位置を記憶する記憶部を有し、
前記制御部は、前記強反射位置に対して前記信号光を再度照射させるときに、当該信号光に基づく干渉光の前記干渉光学系による検出時間を短縮することを特徴とする請求項６記載の干渉光計測装置。
【請求項８】
前記特定部は、
前記走査部による走査に対応して前記信号光の反射光の強度を検出する検出部と、
前記検出部で検出された強度と閾値とを比較し、前記強度が前記閾値以上であるときに前記反射光が前記強反射状態にあると判定する判定部と、
を有することを特徴とする請求項１または６記載の干渉光計測装置。
【請求項９】
前記特定部は、
前記走査部による走査に対応して前記信号光の反射光の強度を検出する検出部と、
前記検出部で検出された強度のピーク値を求め、当該ピーク値に対応する反射光が前記強反射状態にあると判定する判定部と、
を有することを特徴とする請求項１または６記載の干渉光計測装置。
【請求項１０】
前記干渉光に基づく前記被測定物体の画像を形成する画像形成部を有し、
前記特定部は、
前記画像の各画素の輝度値を検出する輝度値検出部と、
前記検出された輝度値が閾値以上であるときに、前記反射光が前記強反射状態にあると判定する判定部と、
を有することを特徴とする請求項１または６記載の干渉光計測装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、光コヒーレンストモグラフィ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）を用いて被測定物体の計測を行う干渉光計測装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、レーザ光源等からの光ビームを用いて被測定物体の表面形態や内部形態を計測するＯＣＴが注目を集めている。ＯＣＴは、Ｘ線ＣＴのような人体に対する侵襲性を持たないことから、特に医療分野や生物学分野における応用の展開が期待されている。たとえば眼科分野においては、眼底や角膜等の画像を形成する装置が実用化段階に入っている（特許文献１、２参照）。
【０００３】
ＯＣＴを用いた装置は、高精細の画像を取得できる点、更には断層像や３次元画像を取得できる点などにおいて、眼底カメラ等に対して優位性を持つ。
【０００４】
このようにＯＣＴを用いた装置は、被検眼の部位の観察に適用可能である。またＯＣＴは高精細な画像を取得できることから、様々な眼科疾患の診断への応用がなされてきている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平１１−３２５８４９号公報
【特許文献２】特開２００８−７３０９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、ある被測定物体に対して光を照射するときに、当該被測定物体に対して垂直に入射した光の反射光は強度が強くなることが多い。或いは、部位毎に反射率の異なる被測定物体に光を照射したときにも、特定部位からの反射光の強度が強くなる場合がある。
【０００７】
また、被検眼に対してＯＣＴ等で撮影を行う際、撮影前に被検眼の中心（角膜頂点）を撮影光学系の光軸に合わせる処理を行う。
【０００８】
アライメントがされた状態で被検眼に光を照射すると、光の走査位置によっては角膜頂点に入射した光が被検眼内でほとんど散乱せず、そのまま反射光として戻ってくることになる。従って、角膜頂点からの反射光は強度が強くなることが多い。
【０００９】
このような強反射光を含む反射光に基づく干渉像は、その一部（角膜頂点に対応する部分）が飽和してしまうという問題があった。また干渉像の一部が飽和した画像では観察が困難となるため、再度の撮影が必要となり検査者及び被検者にとって煩わしいという問題があった。
【００１０】
この発明は、以上のような問題を解決するためになされたもので、その目的は、被測定物体からの強反射光の影響を低減させて被測定物体の撮影を行うことが可能な干渉光計測装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するために、請求項１に記載の干渉光計測装置は、低コヒーレンス光を出力する光源を有する。干渉光学系は、光源からの低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体による信号光の反射光と参照光路を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成して検出する。走査部は、被測定物体に対する信号光の照射位置を走査する。特定部は、信号光の反射光が強反射状態にあるときの走査部による照射位置である強反射位置を特定する。制御部は、強反射位置に対して信号光を再度照射させるときに、光源を制御して低コヒーレンス光の光量を低下させる。
また、請求項２に記載の干渉光計測装置は、請求項１記載の干渉光計測装置であって、低コヒーレンス光はパルス光である。制御部は、強反射位置に信号光を照射するときのパルス光のパルス幅を、他の位置に信号光を照射するときのパルス光のパルス幅より小さくするよう光源を制御することにより光量を低下させる。
また、請求項３に記載の干渉光計測装置は、請求項１記載の干渉光計測装置であって、低コヒーレンス光はパルス光である。制御部は、強反射位置に信号光を照射するときのパルス光の強度を、他の位置に信号光を照射するときのパルス光の強度より低くするよう光源を制御することにより光量を低下させる。
また、請求項４に記載の干渉光計測装置は、請求項１記載の干渉光計測装置であって、低コヒーレンス光はパルス光である。特定部は、走査部による走査に対応してパルス光に基づく信号光の強度を検出する検出部を有する。制御部は、強反射位置に照射する信号光の強度、及びそれ以前に検出された信号光の強度の比較を行い、強反射位置に照射される信号光の強度が、それ以前に検出された信号光の強度を超えたときに光源を制御することにより光量を低下させる。
また、請求項５に記載の干渉光計測装置は、請求項１記載の干渉光計測装置であって、特定部は、強反射位置を記憶する記憶部を有する。制御部は、強反射位置に対して信号光を再度照射させるときに、光源を制御して低コヒーレンス光の光量を低下させる。
また、請求項６に記載の干渉光計測装置は、低コヒーレンス光を出力する光源を有する。干渉光学系は、光源からの低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体による信号光の反射光と参照光路を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成して検出する。走査部は、被測定物体に対する信号光の照射位置を走査する。特定部は、信号光の反射光が強反射状態にあるときの走査部による照射位置である強反射位置を特定する。制御部は、強反射位置に対して信号光を再度照射させるときに、当該信号光に基づく干渉光の干渉光学系による検出時間を短縮する。
また、請求項７に記載の干渉光計測装置は、特定部が強反射位置を記憶する記憶部を有する。制御部は、強反射位置に対して信号光を再度照射させるときに、当該信号光に基づく干渉光の干渉光学系による検出時間を短縮する。
また、請求項８に記載の干渉光計測装置は、請求項１または６記載の干渉光計測装置であって、特定部は、走査部による走査に対応して信号光の反射光の強度を検出する検出部を有する。判定部は、検出部で検出された強度と閾値とを比較し、強度が閾値以上であるときに反射光が強反射状態にあると判定する。
また、請求項９に記載の干渉光計測装置は、請求項１または６記載の干渉光計測装置であって、特定部は、走査部による走査に対応して信号光の反射光の強度を検出する検出部を有する。判定部は、検出部で検出された強度のピーク値を求め、当該ピーク値に対応する反射光が強反射状態にあると判定する。
また、請求項１０に記載の干渉光計測装置は、請求項１または６記載の干渉光計測装置であって、干渉光に基づく前記被測定物体の画像を形成する画像形成部を有する。特定部は、画像の各画素の輝度値を検出する輝度値検出部を有する。判定部は、検出された輝度値が閾値以上であるときに、反射光が前記強反射状態にあると判定する。
【発明の効果】
【００１２】
この発明に係る干渉光計測装置によれば、特定部により強反射位置を特定する。そして、制御部は強反射位置に対して信号光を再度照射させるときに、光源を制御して低コヒーレンス光の光量を低下させる。従って、被測定物体からの強反射光の影響を低減させて被測定物体の撮影を行うことが可能となる。
【００１３】
また、この発明に係る干渉光計測装置によれば、特定部により強反射位置を特定する。そして、制御部は強反射位置に対して信号光を再度照射させるときに、当該信号光に基づく干渉光の干渉光学系による検出時間を短縮する。従って、被測定物体からの強反射光の影響を低減させて被測定物体の撮影を行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】第１実施形態に係る干渉光測定装置の構成を示す概略図である。
【図２】第１実施形態に係る干渉光測定装置の構成を示す概略図である。
【図３】第１実施形態に係る干渉光測定装置の構成を示す概略ブロック図である。
【図４】第１実施形態に係る干渉光測定装置の動作を示すフローチャートである。
【図５】第１実施形態に係る干渉光測定装置の動作を示すフローチャートである。
【図６】第１実施形態に係る干渉光測定装置の動作を補足する図である。
【図７】第１実施形態に係る干渉光測定装置の動作を補足する図である。
【図８】第１実施形態に係る干渉光測定装置の動作を補足する図である。
【図９】第２実施形態に係る干渉光測定装置の動作を示すフローチャートである。
【図１０】第３実施形態に係る干渉光測定装置の構成を示す概略ブロック図である。
【図１１】第３実施形態に係る干渉光測定装置の動作を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
＜第１実施形態＞
図１から図８を参照して、第１実施形態に係る干渉光計測装置の構成について説明する。
【００１６】
以下の実施形態では、フーリエドメインタイプの光コヒーレンストモグラフィを適用した構成について詳しく説明する。なお、光コヒーレンストモグラフィによって取得される画像をＯＣＴ画像と呼ぶことがある。また、ＯＣＴ画像を形成するための計測動作をＯＣＴ計測と呼ぶことがある。
【００１７】
図１及び図２に示すように、干渉光計測装置１は、眼底カメラユニット２、ＯＣＴユニット１００及び演算制御ユニット２００を含んで構成される。眼底カメラユニット２は、従来の眼底カメラとほぼ同様の光学系を有する。なお、眼底カメラユニット２は、角膜Ｅｃの撮影も可能である。
【００１８】
ＯＣＴユニット１００には、眼底や前眼部（角膜Ｅｃ）のＯＣＴ画像を取得するための光学系が設けられている。演算制御ユニット２００は、各種の演算処理や制御処理等を実行するコンピュータを具備している。
【００１９】
本実施形態を含む以下の実施形態においては、干渉光計測装置１は角膜Ｅｃの計測を行うものとして説明を行う。
【００２０】
＜眼底カメラユニット＞
図１に示す眼底カメラユニット２には、被検眼Ｅの眼底Ｅｆの表面形態を表す２次元画像（眼底像）や角膜Ｅｃの２次元画像を形成するための光学系が設けられている。２次元画像には、観察画像や撮影画像などが含まれる。観察画像は、たとえば、近赤外光を用いて所定のフレームレートで形成されるモノクロの動画像である。撮影画像は、たとえば、可視光をフラッシュ発光して得られるカラー画像である。
【００２１】
眼底カメラユニット２には、従来の眼底カメラと同様に、被検者の顔が動かないように支えるための顎受けや額当てが設けられている。更に、眼底カメラユニット２には、従来の眼底カメラと同様に照明光学系１０と撮影光学系３０が設けられている。照明光学系１０は眼底Ｅｆに照明光を照射する。撮影光学系３０は、この照明光の反射光を撮像装置（ＣＣＤイメージセンサ３５、３８）に導く。また、撮影光学系３０は、ＯＣＴユニット１００からの信号光を角膜Ｅｃに導くとともに、角膜Ｅｃを経由した信号光をＯＣＴユニット１００に導く。
【００２２】
照明光学系１０の観察光源１１は、たとえばハロゲンランプにより構成される。観察光源１１から出力された光（観察照明光）は、曲面状の反射面を有する反射ミラー１２により反射され、集光レンズ１３を経由し、可視カットフィルタ１４を透過して近赤外光となる。更に、観察照明光は、撮影光源１５の近傍にて一旦集束し、ミラー１６により反射され、リレーレンズ１７、１８、絞り１９及びリレーレンズ２０を経由する。そして、観察照明光は、孔開きミラー２１の周辺部（孔部の周囲の領域）にて反射され、対物レンズ２２を経由して角膜Ｅｃを照明する。
【００２３】
観察照明光の角膜Ｅｃからの反射光は、対物レンズ２２により屈折され、孔開きミラー２１の中心領域に形成された孔部を通過し、ダイクロイックミラー５５を透過し、合焦レンズ３１を経由し、ダイクロイックミラー３２により反射される。更に、この角膜反射光は、ハーフミラー４０を透過し、ダイクロイックミラー３３により反射され、集光レンズ３４によりＣＣＤイメージセンサ３５の受光面に結像される。ＣＣＤイメージセンサ３５は、たとえば所定のフレームレートで反射光を検出する。表示装置３には、ＣＣＤイメージセンサ３５により検出された反射光に基づく画像（観察画像）Ｋが表示される。
【００２４】
撮影光源１５は、たとえばキセノンランプにより構成される。撮影光源１５から出力された光（撮影照明光）は、観察照明光と同様の経路を通って角膜Ｅｃに照射される。撮影照明光の角膜反射光は、観察照明光のそれと同様の経路を通ってダイクロイックミラー３３まで導かれ、ダイクロイックミラー３３を透過し、ミラー３６により反射され、集光レンズ３７によりＣＣＤイメージセンサ３８の受光面に結像される。表示装置３には、ＣＣＤイメージセンサ３８により検出された反射光に基づく画像（撮影画像）Ｈが表示される。
【００２５】
ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ）３９は、固視標や視力測定用視標を表示する。固視標は被検眼Ｅを固視させるための視標であり、眼底撮影時やＯＣＴ計測時などに使用される。
【００２６】
ＬＣＤ３９から出力された光は、その一部がハーフミラー４０にて反射され、ダイクロイックミラー３２に反射され、合焦レンズ３１及びダイクロイックミラー５５を経由し、孔開きミラー２１の孔部を通過し、対物レンズ２２により屈折されて眼底Ｅｆに投影される。
【００２７】
ＬＣＤ３９の画面上における固視標の表示位置を変更することにより、被検眼Ｅの固視位置を変更できる。被検眼Ｅの固視位置としては、たとえば従来の眼底カメラと同様に、眼底Ｅｆの黄斑部を中心とする画像を取得するための位置や、視神経乳頭を中心とする画像を取得するための位置や、黄斑部と視神経乳頭との間の眼底中心を中心とする画像を取得するための位置などがある。
【００２８】
更に、眼底カメラユニット２には、従来の眼底カメラと同様にアライメント光学系５０とフォーカス光学系６０が設けられている。アライメント光学系５０は、被検眼Ｅに対する装置光学系の位置合わせ（アライメント）を行うための視標（アライメント視標）を生成する。フォーカス光学系６０は、眼底Ｅｆに対してフォーカス（ピント）を合わせるための視標（スプリット視標）を生成する。
【００２９】
アライメント光学系５０のＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ  Ｅｍｉｔｔｉｎｇ  Ｄｉｏｄｅ）５１から出力された光（アライメント光）は、絞り５２、５３及びリレーレンズ５４を経由してダイクロイックミラー５５により反射され、孔開きミラー２１の孔部を通過し、対物レンズ２２により被検眼Ｅの角膜Ｅｃに投影される。
【００３０】
アライメント光の角膜反射光は、対物レンズ２２及び上記孔部を経由し、その一部がダイクロイックミラー５５を透過し、合焦レンズ３１を通過し、ダイクロイックミラー３２により反射され、ハーフミラー４０を透過し、ダイクロイックミラー３３に反射され、集光レンズ３４によりＣＣＤイメージセンサ３５の受光面に投影される。ＣＣＤイメージセンサ３５による受光像（アライメント視標）は、観察画像Ｋとともに表示装置３に表示される。ユーザは、従来の眼底カメラと同様の操作を行ってアライメントを実施する。また、演算制御ユニット２００がアライメント視標の位置を解析して光学系を移動させることによりアライメントを行ってもよい。
【００３１】
フォーカス調整を行う際には、照明光学系１０の光路上に反射棒６７の反射面が斜設される。フォーカス光学系６０のＬＥＤ６１から出力された光（フォーカス光）は、リレーレンズ６２を通過し、スプリット視標板６３により二つの光束に分離され、二孔絞り６４を通過し、ミラー６５に反射され、集光レンズ６６により反射棒６７の反射面に一旦結像されて反射される。更に、フォーカス光は、リレーレンズ２０を経由し、孔開きミラー２１に反射され、対物レンズ２２により眼底Ｅｆに結像される。
【００３２】
フォーカス光の眼底反射光は、アライメント光の角膜反射光と同様の経路を通ってＣＣＤイメージセンサ３５により検出される。ＣＣＤイメージセンサ３５による受光像（スプリット視標）は、観察画像とともに表示装置３に表示される。演算制御ユニット２００は、従来と同様に、スプリット視標の位置を解析して合焦レンズ３１及びフォーカス光学系６０を移動させてピント合わせを行う。また、スプリット視標を視認しつつ手動でピント合わせを行ってもよい。
【００３３】
ダイクロイックミラー３２の後方には、ミラー４１、コリメータレンズ４２、及びガルバノミラー４３、４４を含む光路が設けられている。この光路はＯＣＴユニット１００に導かれている。
【００３４】
ガルバノミラー４３、４４は、角膜Ｅｃに対する信号光ＬＳの照射位置を操作することができる。すなわちガルバノミラー４４は、ＯＣＴユニット１００からの信号光ＬＳをｘ方向に走査する。ガルバノミラー４３は、信号光ＬＳをｙ方向に走査する。これら二つのガルバノミラー４３、４４により、信号光ＬＳをｘｙ平面上の任意の方向に走査することができる。
【００３５】
＜ＯＣＴユニット＞
ＯＣＴユニット１００には、眼底Ｅｆの断層像や角膜Ｅｃを含む前眼部干渉像を取得するための光学系が設けられている（図２を参照）。この光学系は、従来のフーリエドメインタイプのＯＣＴ装置と同様の構成を有する。すなわち、この光学系は、低コヒーレンス光を参照光と信号光に分割し、眼底Ｅｆや角膜Ｅｃを経由した信号光と参照光路を経由した参照光とを干渉させて干渉光を生成し、この干渉光のスペクトル成分を検出するように構成されている。この検出結果（検出信号）は演算制御ユニット２００に送られる。ＯＣＴユニット１００の光学系が本実施形態における「干渉光学系」に該当する。
【００３６】
光源ユニット１０１は広帯域の低コヒーレンス光Ｌ０を出力する。低コヒーレンス光Ｌ０は、たとえば、近赤外領域の波長帯（約８００ｎｍ〜９００ｎｍ程度）を含み、数十マイクロメートル程度の時間的コヒーレンス長を有する。光源ユニット１０１は、低コヒーレンス光Ｌ０を連続光として照射することが可能である。また、光源ユニット１０１は、低コヒーレンス光Ｌ０をパルス光として照射することが可能である。
【００３７】
光源ユニット１０１から出力された低コヒーレンス光Ｌ０は、光ファイバ１０２によりファイバカプラ１０３に導かれて信号光ＬＳと参照光ＬＲに分割される。なお、ファイバカプラ１０３は、光を分割する手段（スプリッタ；ｓｐｌｉｔｔｅｒ）、及び、光を合成する手段（カプラ；ｃｏｕｐｌｅｒ）の双方の作用を有するが、ここでは慣用的に「ファイバカプラ」と称する。
【００３８】
信号光ＬＳは、光ファイバ１０４により導光され、コリメータレンズユニット１０５により平行光束となる。更に、信号光ＬＳは、各ガルバノミラー４４、４３により反射され、コリメータレンズ４２により集光され、ミラー４１により反射され、ダイクロイックミラー３２を透過し、ＬＣＤ３９からの光と同じ経路を通って角膜Ｅｃに照射される。信号光ＬＳは、角膜Ｅｃにおいて散乱、反射される。この散乱光及び反射光をまとめて信号光ＬＳの反射光（角膜反射光）と称することがある。信号光ＬＳの反射光は、同じ経路を逆向きに進行してファイバカプラ１０３に導かれる。
【００３９】
参照光ＬＲは、光ファイバ１０６により導光され、コリメータレンズユニット１０７により平行光束となる。更に、参照光ＬＲは、ミラー１０８、１０９、１１０により反射され、ＮＤ（Ｎｅｕｔｒａｌ  Ｄｅｎｓｉｔｙ）フィルタ１１１により減光され、ミラー１１２に反射され、コリメータレンズ１１３により参照ミラー１１４の反射面に結像される。参照ミラー１１４に反射された参照光ＬＲは、同じ経路を逆向きに進行してファイバカプラ１０３に導かれる。
【００４０】
ファイバカプラ１０３は、信号光ＬＳの角膜反射光と、参照ミラー１１４に反射された参照光ＬＲとを合波する。これにより生成された干渉光ＬＣは、光ファイバ１１５により導光されて出射端１１６から出射される。更に、干渉光ＬＣは、コリメータレンズ１１７により平行光束とされ、回折格子１１８により分光（スペクトル分解）され、集光レンズ１１９により集光されてＣＣＤイメージセンサ１２０の受光面に投影される。
【００４１】
ＣＣＤイメージセンサ１２０は、たとえばラインセンサであり、分光された干渉光ＬＣの各スペクトル成分を検出して電荷に変換する。ＣＣＤイメージセンサ１２０は、この電荷を蓄積して検出信号を生成する。更に、ＣＣＤイメージセンサ１２０は、この検出信号を演算制御ユニット２００に送る。
【００４２】
この実施形態ではマイケルソン型の干渉計を採用しているが、たとえばマッハツェンダー型など任意のタイプの干渉計を適宜に採用することが可能である。また、ＣＣＤイメージセンサに代えて、他の形態のイメージセンサ、たとえばＣＭＯＳ（Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ  Ｍｅｔａｌ  Ｏｘｉｄｅ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）イメージセンサなどを用いることが可能である。
【００４３】
＜検出光学系＞
本実施形態の眼底カメラユニット２には、信号光信号光ＬＳの角膜反射光を受光し、当該反射光の強度を検出する検出光学系９０が設けられている。検出光学系９０は、ビームスプリッタ９１及び検出部９２を有する。
【００４４】
ビームスプリッタ９１は、ＯＣＴユニット１００からの信号光ＬＳを透過させ、且つ信号光ＬＳの反射光の一部を分離して検出部９２に送る。ビームスプリッタ９１は例えばダイクロイックミラーにより構成されている。ビームスプリッタ９１は、検出光学系９０の光軸と眼底カメラユニット２の光学系の光軸とを合成するものである。
【００４５】
検出部９２は、ビームスプリッタ９１から送られた信号光ＬＳの角膜反射光を受光し、当該反射光の強度を検出する。検出結果は判定部２６１（後述）に送られる。本実施形態では、アライメントがなされた状態において、検出部９２は角膜Ｅｃの頂点と共役な位置に配置される。検出部９２は例えばフォトダイオード等の検出素子と当該検出素子により検出された結果から強度を求める強度検出部（図示なし）により構成されている。
【００４６】
検出光学系９０は、信号光ＬＳの反射光を受光できればよく、その配置は図１に示す位置に限られない。例えば、検出光学系９０をガルバノミラー４３の直前に設けることも可能である。検出光学系９０は、信号光の代わりにＯＣＴユニット１００による干渉光ＬＣの強度を検出することも可能である。また、ビームスプリッタ９１は、検出光学系９０の光軸上（眼底カメラユニット２の光学系の光軸上）に挿脱可能に設けられていてもよい。
【００４７】
＜演算制御ユニット＞
演算制御ユニット２００の構成について説明する。演算制御ユニット２００は、ＣＣＤイメージセンサ１２０から入力される検出信号を解析して角膜ＥｃのＯＣＴ画像を形成する。そのための演算処理は、従来のフーリエドメインタイプのＯＣＴ装置と同様である。
【００４８】
また、演算制御ユニット２００は、眼底カメラユニット２、表示装置３及びＯＣＴユニット１００の各部を制御する。たとえば演算制御ユニット２００は、眼底Ｅｆや角膜Ｅｃの断層像Ｇ（図２を参照）等のＯＣＴ画像を表示装置３に表示させる。
【００４９】
また、眼底カメラユニット２の制御として、演算制御ユニット２００は、観察光源１１、撮影光源１５及びＬＥＤ５１、６１の動作制御、ＬＣＤ３９の動作制御、合焦レンズ３１の移動制御、反射棒６７の移動制御、フォーカス光学系６０の移動制御、各ガルバノミラー４３、４４の動作制御などを行う。
【００５０】
また、ＯＣＴユニット１００の制御として、演算制御ユニット２００は、光源ユニット１０１の動作制御、参照ミラー１１４及びコリメータレンズ１１３の移動制御、ＣＣＤイメージセンサ１２０の動作制御などを行う。
【００５１】
演算制御ユニット２００は、たとえば、従来のコンピュータと同様に、マイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、通信インターフェイスなどを含んで構成される。ハードディスクドライブ等の記憶装置には、干渉光計測装置１を制御するためのコンピュータプログラムが記憶されている。演算制御ユニット２００は、ＣＣＤイメージセンサ１２０からの検出信号に基づいてＯＣＴ画像を形成する専用の回路基板を備えていてもよい。また、演算制御ユニット２００は、キーボードやマウス等の操作デバイス（入力デバイス）や、ＬＣＤ等の表示デバイスを備えていてもよい。
【００５２】
眼底カメラユニット２、表示装置３、ＯＣＴユニット１００及び演算制御ユニット２００は、一体的に（つまり単一の筺体内に）構成されていてもよいし、それぞれ別体として構成されていてもよい。
【００５３】
＜制御系＞
干渉光計測装置１の制御系の構成について図３を参照しつつ説明する。
【００５４】
＜制御ユニット＞
干渉光計測装置１の制御系は、演算制御ユニット２００の制御ユニット２１０を中心に構成される。制御ユニット２１０は、たとえば、前述のマイクロプロセッサ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードディスクドライブ、通信インターフェイス等を含んで構成される。
【００５５】
制御ユニット２１０には、制御部２１１と記憶部２１２が設けられている。制御部２１１は、前述の各種制御を行う。特に、制御部２１１は、眼底カメラユニット２の走査駆動部７０及び合焦駆動部８０、更にＯＣＴユニット１００の光源ユニット１０１及び参照駆動部１３０を制御する。光源ユニット１０１の制御については後述する。
【００５６】
走査駆動部７０は、たとえばサーボモータを含んで構成され、ガルバノミラー４３、４４の向きを各々独立に変更する。走査駆動部７０は、ガルバノミラー４３、４４とともに、この発明の「走査部」の一例を構成する。
【００５７】
合焦駆動部８０は、たとえばパルスモータを含んで構成され、合焦レンズ３１を光軸方向に移動させる。それにより、眼底Ｅｆに向かう光の合焦位置が変更される。
【００５８】
参照駆動部１３０は、たとえばパルスモータを含んで構成され、参照光ＬＲの進行方向に沿って、コリメータレンズ１１３及び参照ミラー１１４を一体的に移動させる。
【００５９】
また、制御部２１１は、記憶部２１２にデータを書き込む処理や、記憶部２１２からデータを読み出す処理を行う。
【００６０】
記憶部２１２は、各種のデータを記憶する。記憶部２１２に記憶されるデータとしては、たとえば、ＯＣＴ画像の画像データ、眼底像の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。
【００６１】
＜画像形成部＞
画像形成部２２０は、ＣＣＤイメージセンサ１２０からの検出信号に基づいて、角膜Ｅｃの断層像の画像データを形成する。この処理には、従来のフーリエドメインタイプの光コヒーレンストモグラフィと同様に、ノイズ除去（ノイズ低減）、フィルタ処理、ＦＦＴ（Ｆａｓｔ  Ｆｏｕｒｉｅｒ  Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）などの処理が含まれている。
【００６２】
画像形成部２２０は、たとえば、前述の回路基板や通信インターフェイス等を含んで構成される。なお、この明細書では、「画像データ」と、それに基づいて呈示される「画像」とを同一視することがある。
【００６３】
＜画像処理部＞
画像処理部２３０は、画像形成部２２０により形成された画像に対して各種の画像処理や解析処理を施す。たとえば、画像処理部２３０は、画像の輝度補正や分散補正等の各種補正処理を実行する。
【００６４】
＜表示部、操作部＞
表示部２４０は、前述した演算制御ユニット２００の表示デバイスを含んで構成される。操作部２５０は、前述した演算制御ユニット２００の操作デバイスを含んで構成される。また、操作部２５０には、眼底観察装置１の筐体や外部に設けられた各種のボタンやキーが含まれていてもよい。たとえば眼底カメラユニット２が従来の眼底カメラと同様の筺体を有する場合、操作部２５０は、この筺体に設けられたジョイスティックや操作パネル等を含んでいてもよい。また、表示部２４０は、眼底カメラユニット２の筺体に設けられたタッチパネルモニタなどの各種表示デバイスを含んでいてもよい。
【００６５】
＜特定部＞
特定部２６０は、判定部２６１を含んで構成されている。本実施形態における「特定部」は、判定部２６１のほか、検出部９２が含まれる。
【００６６】
特定部２６０は、強反射位置を特定する。具体的には、特定部２６０に設けられた判定部２６１において、検出部９２で検出された信号光ＬＳの反射光の強度が閾値以上であるか判定が行われる。そして、判定部２６１は、信号光ＬＳの反射光の強度が閾値以上であれば、当該反射光が強反射状態であると判定する。特定部２６０は、強反射状態である反射光の元となった信号光ＬＳを被測定物体に照射した際のガルバノミラー４３、４４の位置（向き）を特定する。ガルバノミラー４３、４４の位置（向き）は、信号光ＬＳの反射光の受光結果と関連付けられた状態で、記憶部２１２等に記憶されている。
【００６７】
「強反射位置」は、信号光ＬＳの反射光が強反射状態にあるときの走査部による照射位置をいう。「強反射状態」は、信号光の反射光が強すぎるため検出部９２による検出ができない（飽和状態となる）という絶対的な状態、及び反射光の強度を閾値と比較した際にその反射光の強度が閾値よりも高いという相対的な状態のいずれも含む概念である。「閾値」は、強反射状態にあるか否かを区別する値である。例えば、ＣＣＤイメージセンサ１２０により検出できる強度の最大値に基づいて自動的に設定される値である。或いは検査者等が任意に設定してもよい。
【００６８】
なお、被検眼Ｅが固定された状態では、ガルバノミラー４３、４４の位置（向き）と信号光ＬＳが角膜Ｅｃに照射される位置（照射位置）とを同一視できる。「被検眼Ｅが固定された状態」とは、被検眼Ｅに対するアライメント及び固視がなされた状態をいう。
【００６９】
＜信号光の走査及びＯＣＴ画像について＞
ここで、信号光ＬＳの走査及びＯＣＴ画像について説明しておく。
【００７０】
干渉光計測装置１による信号光ＬＳの走査態様としては、たとえば、水平スキャン、垂直スキャン、十字スキャン、放射スキャン、円スキャン、同心円スキャン、螺旋（渦巻）スキャンなどがある。これらの走査態様は、観察部位、解析対象、走査に要する時間、走査の精密さなどを考慮して適宜に選択的に使用される。
【００７１】
ガルバノミラー４３、４４は互いに直交する方向に信号光ＬＳを走査するように構成されているので、信号光ＬＳをｘ方向及びｙ方向にそれぞれ独立に走査できる。更に、ガルバノミラー４３、４４の向きを同時に制御することにより、ｘｙ面上の任意の軌跡に沿って信号光ＬＳを走査することが可能である。それにより、上記のような各種の走査態様を実現できる。
【００７２】
上記のような態様で信号光ＬＳを走査することにより、走査線（走査軌跡）に沿った深度方向（ｚ方向）の断層像を形成することができる。
【００７３】
上記のような信号光ＬＳの走査対象となる被検眼Ｅ上の領域、つまりＯＣＴ計測の対象となる前眼部（角膜Ｅｃ）上の領域を走査領域と呼ぶ。
【００７４】
＜動作＞
次に図４〜図８を参照して、本実施形態に係る干渉光計測装置１において強反射位置を特定する特定動作、及び特定動作で特定された強反射位置を考慮して撮影を行う撮影動作について説明する。ここでは、光源ユニット１０１から照射される光がパルス光であるとして説明を行う。干渉光計測装置１は走査点Ｐｎ（ｎ＝１〜ｋ。図示なし）に向けて順次に信号光ＬＳを照射し、検出された信号光ＬＳの反射光に基づいて、所定の撮影範囲（Ｐ１〜Ｐｋ）における画像を取得することができる。また、以下の説明において、被検眼Ｅは固定された状態にあるものとする。
【００７５】
＜特定動作＞
まず、図４を参照して、強反射位置を特定する動作について説明を行う。ここでは、強反射位置を記憶部２１２に記憶する例について述べる。
【００７６】
制御部２１１は、光源ユニット１０１を制御し、低コヒーレンス光Ｌ０を出力させる。出力された低コヒーレンス光Ｌ０は、ファイバカプラ１０３により信号光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。信号光ＬＳは、ガルバノミラー４３、４４を介して角膜Ｅｃの走査点Ｐ１に照射される（Ｓ１０）。角膜Ｅｃに照射された信号光ＬＳは、角膜Ｅｃ等で反射される。その反射光は、撮影光学系３０に入射する。撮影光学系３０に入射した反射光と参照光ＬＲとに基づく干渉光ＬＣにより、角膜Ｅｃの走査点Ｐ１における画像情報を取得することができる。
【００７７】
ここで、信号光ＬＳの反射光は、ビームスプリッタ９１によりその一部が分離され、検出部９２に導かれる。検出部９２は当該反射光の強度を検出する（Ｓ１１）。検出部９２は、検出した強度を判定部２６１に送る。
【００７８】
判定部２６１は、Ｓ１１で検出された反射光の強度が閾値以上であるか判定する（Ｓ１２）。
【００７９】
反射光の強度が閾値以上であると判定された場合（Ｓ１２でＹの場合）、特定部２６０は、当該反射光の元となった角膜Ｅｃへの信号光の照射位置（ガルバノミラー４３、４４の位置）を強反射位置として特定する（Ｓ１３）。特定部２６０は、Ｓ１３で特定された強反射位置を記憶部２１２に送る。記憶部２１２は、Ｓ１３で特定された強反射位置を患者ＩＤ等と関連付けて記憶する。なお、特定動作と撮影動作を一連の検査で行う場合には、患者ＩＤ等と関連付けは不要である。一方、反射光の強度が閾値よりも低い場合（Ｓ１２でＮの場合）には照射位置の特定（強反射位置としての特定）は行わない。
【００８０】
以上の処理を点Ｐｋまで繰り返すことで所定の撮影範囲における撮影が完了する（Ｓ１４でＹの場合）。所定の撮影範囲における撮影が完了していない場合（Ｓ１４でＮの場合）には、制御部２１１は、ガルバノミラー４３、４４を駆動させることにより、信号光ＬＳの照射位置を走査する（Ｓ１５）。すなわち、制御部２１１は、走査点Ｐ１から走査点Ｐ２に信号光ＬＳの照射位置を変更させ、走査点Ｐ２においてＳ１０〜Ｓ１２（Ｓ１３）の動作を行う。
【００８１】
＜撮影動作＞
次に、図５を参照して、Ｓ１３で特定された強反射位置を考慮して所定の撮影範囲（Ｐ１〜Ｐｋ）に対して再度の撮影を行う場合について説明を行う。被検眼Ｅの固定された状態は、先の撮影（Ｓ１０〜Ｓ１５）における状態と同じである。また、再度の撮影は先の撮影と連続して行われるものとする。
【００８２】
まず、制御部２１１は、信号光ＬＳを照射する走査点Ｐ１がＳ１３で特定された強反射位置であるかどうか判断する（Ｓ２０）。
【００８３】
具体的には、制御部２１１は、信号光ＬＳを照射する位置に対応するガルバノミラー４３、４４の位置が、記憶部２１２に記憶されているＳ１３で特定されたガルバノミラー４３、４４の位置と同じであるか否かを判断する。
【００８４】
走査点Ｐ１がＳ１３で特定された強反射位置であると判断された場合（Ｓ２０でＹの場合）、制御部２１１は、特定された強反射位置に対して照射されるパルス光（信号光ＬＳ）の光量を低下させるための制御を行う（Ｓ２１）。そして、制御部２１１は、光源ユニット１０１を制御して、特定された強反射位置に対して光量を低下させたパルス光（信号光ＬＳ）を照射させる。
【００８５】
信号光ＬＳの光量はパルス光の光量に応じて増減する。従って、パルス光の光量を低下させることは、Ｓ１３で特定された照射位置に照射される信号光ＬＳの光量を低下させることとなる。
【００８６】
パルス光の光量を低下させる具体例としては、制御部２１１が、ある走査点Ｐｎに対して信号光ＬＳを再度照射するときのパルス光のパルス幅が、他の照射位置（走査点Ｐｎ以外の位置）に信号光ＬＳを照射するときのパルス光のパルス幅より小さくなるよう光源ユニット１０１を制御することが挙げられる。この例を図６に示す。
【００８７】
図６は、光源ユニット１０１から照射されるパルス光の一例を示す図である。図６の縦軸はパルス光の強度を表す。横軸はパルス光の照射時間を表す。走査点Ｐｎ（ｎ＝１〜ｋ）に対して照射される信号光ＬＳの元となるパルス光をパルス光Ｌｎ（ｎ＝１〜ｋ）で表す。ここでは、Ｓ１３で特定された強反射位置が走査点Ｐ３であるとして説明を行う。
【００８８】
図６に示すように、制御部２１１は、走査点Ｐ３に対して信号光ＬＳを照射するときのパルス光Ｌ３のパルス幅（照射時間）を、他の走査点Ｐ１、Ｐ２、Ｐ４・・・・Ｐｋに信号光ＬＳを照射するときのパルス光Ｌ１、Ｌ２、Ｌ４・・・・Ｌｋのパルス幅よりも小さくするよう光源ユニット１０１を制御する。信号光ＬＳの強度はパルス光Ｌｎの強度に応じて増減する。従って、パルス幅を小さくすることにより、走査点Ｐ３に照射される信号光ＬＳは光量が弱くなる。つまり、走査点Ｐ３に対して信号光ＬＳの光量を低下させることができる。
【００８９】
ここで、光源ユニット１０１からのパルス光Ｌｎ（信号光ＬＳ）の光量を低下させる制御部２１１の制御動作については上記に限られない。
【００９０】
例えば、図７に示すように、制御部２１１が、走査点Ｐ３に対して信号光ＬＳを照射するときのパルス光Ｌ３のパルス高（光の強度）を、他の走査点Ｐ１、Ｐ２、Ｐ４・・・・Ｐｋに信号光ＬＳを照射するときのパルス光Ｌ１、Ｌ２、Ｌ４・・・・Ｌｋのパルス高よりも低くなるよう光源ユニット１０１を制御することにより光量を低下させることが可能である。
【００９１】
なお、制御部２１１は、パルス幅を小さくし、且つパルス高を低くするよう光源ユニット１０１を制御することにより光量を低下させることも可能である。
【００９２】
或いは、図８に示すように、制御部２１１が、走査点Ｐ３に対して信号光ＬＳを照射するときのパルス光Ｌ３のパルス高（光の強度）と、それ以前に検出されたパルス光（例えばＬ２）の強度の比較を行う。そして、制御部２１１が、走査点Ｐ３に照射されるパルス光Ｌ３のパルス高（光の強度）が、それ以前に検出されたパルス光のパルス高（光の強度）を超えたと判断したときに光源ユニット１０１を制御することが可能である。すなわち、制御部２１１は、光源ユニット１０１を制御して、パルス光Ｌ３の出力を停止させることにより光量を低下させることが可能である。
【００９３】
一方、走査点Ｐ１がＳ１３で特定された強反射位置で無い場合（Ｓ２０でＮの場合）、制御部２１１は光量を低下させずに光源ユニット１０１を駆動させ、走査点Ｐ１に対して信号光ＬＳを照射させる（Ｓ２２）。
【００９４】
以上の処理を点Ｐｋまで繰り返すことで所定の撮影範囲における撮影が完了する（Ｓ２３でＹの場合）。所定の撮影範囲における撮影が完了していない場合（Ｓ２３でＮの場合）には、制御部２１１は、ガルバノミラー４３、４４を駆動させることにより、信号光ＬＳの照射位置を走査する（Ｓ２４）。すなわち、制御部２１１は、走査点Ｐ１から走査点Ｐ２に信号光ＬＳの照射位置を変更させ、走査点Ｐ２においてＳ２０、Ｓ２１（Ｓ２２）の動作を行う。
【００９５】
なお、記憶部２１２に記憶された強反射位置を、経過観察（被検眼Ｅの固定された状態が同一の必要がある）の際に用いることも可能である。この場合、「特定部」には、記憶部２１２も含まれる。
【００９６】
＜作用・効果＞
以上のような干渉光計測装置１の作用及び効果について説明する。
【００９７】
干渉光計測装置１の、光源ユニット１０１は、低コヒーレンス光Ｌ０を出力する。干渉光学系は、光源ユニット１０１からの低コヒーレンス光Ｌ０を信号光ＬＳと参照光ＬＲとに分割し、角膜Ｅｃによる信号光ＬＳの反射光と参照光ＬＲとを重畳させて干渉光ＬＣを生成して検出する。走査部は、角膜Ｅｃに対する信号光ＬＳの照射位置を走査する。特定部２６０は、信号光ＬＳの反射光が強反射状態にあるときの走査部による照射位置（強反射位置）を特定する。制御部２１１は、特定された強反射位置に対して信号光ＬＳを再度照射させるときに、光源ユニット１０１を制御して低コヒーレンス光Ｌ０の光量を低下させる。
【００９８】
特定部２６０は、検出部９２、判定部２６１を有する。検出部９２は、走査部による走査に対応して信号光ＬＳの反射光の強度を検出する。判定部２６１は、検出部９２で検出された強度と閾値とを比較し、当該強度が当該閾値以上であるときに信号光ＬＳの反射光が強反射状態にあると判定する。
【００９９】
このように、干渉光計測装置１によれば、強反射位置に対して信号光を照射するときに、光源ユニット１０１から出力される低コヒーレンス光の光量を低下させることができる。従って、被測定物体からの強反射光の影響を低減させて被測定物体の撮影を行うことが可能となる。
【０１００】
更に、本実施形態における低コヒーレンス光はパルス光である。制御部２１１は、特定された強反射位置に信号光ＬＳを照射するときのパルス光のパルス幅を、他の照射位置に信号光ＬＳを照射するときのパルス光のパルス幅より小さくするよう光源ユニット１０１を制御することにより光量を低下させる。
【０１０１】
また、制御部２１１は、特定された強反射位置に信号光ＬＳを照射するときのパルス光の強度を、他の照射位置に信号光ＬＳを照射するときのパルス光の強度より低くするよう光源ユニット１０１を制御することにより光量を低下させることも可能である。
【０１０２】
或いは、制御部２１１は、強反射位置に照射する信号光ＬＳの強度、及びそれ以前に検出された信号光ＬＳの強度の比較を行い、強反射位置に照射される信号光ＬＳの強度が、それ以前に検出された信号光ＬＳの強度を超えたときに、光源ユニット１０１を制御して光量を低下させることも可能である。
【０１０３】
このように、制御部２１１は、種々の方法を用いて光源ユニット１０１から出力される低コヒーレンス光を低減させることができる。従って、強反射位置からの反射光の強度を低減させることが可能となる。
【０１０４】
＜第１実施形態の変形例＞
第１実施形態における判定部２６１は、検出部９２で検出された信号光ＬＳの強度が閾値以上であるかを判定していたがこれに限られない。
【０１０５】
例えば、判定部２６１は、検出部９２で検出された複数の信号光ＬＳの反射光に対して、その強度のピーク値を求め、当該ピーク値に対応する反射光が強反射状態にあると判定することも可能である。
【０１０６】
つまり、第１実施形態のように個々の走査点Ｐｎにおける反射光の強度を閾値と比較するのではなく、判定部２６１は、所定の撮影範囲（例えば走査点Ｐ１〜Ｐｋ）における全ての点の中からピーク値（１箇所でも複数箇所でもよい）に該当する走査点を求め、その走査点からの反射光が強反射状態にあると判定する。そして特定部２６０は、強反射状態にあるときの走査部による照射位置（ガルバノミラー４３、４４の位置）を特定する。
【０１０７】
この場合には、個々の点において閾値比較を行う場合と比べ、処理速度の向上を図ることができる。
【０１０８】
＜第２実施形態＞
次に、第２実施形態に係る干渉光計測装置について説明する。第１実施形態と共通する部分も多いため、異なる部分についてのみ詳細に説明を行う。
【０１０９】
本実施形態における制御部２１１は、特定部２６０で特定された強反射位置に対して信号光ＬＳを再度照射させるときに、信号光ＬＳに基づく干渉光の干渉光学系による検出時間を短縮する制御を行う。具体的には、制御部２１１は、干渉光学系内に設けられたＣＣＤイメージセンサ１２０の電荷蓄積時間を短くする制御を行う。
【０１１０】
＜撮影動作＞
図９を参照して、特定された強反射位置を考慮して所定の撮影範囲に対して再度の撮影を行う場合について説明を行う。再度の撮影時における被検眼Ｅの固定された状態は、先の撮影における固定された状態と同じであるとする。また、再度の撮影は先の撮影と連続して行われるものとする。なお、強反射位置を特定する動作については、第１実施形態のＳ１０〜Ｓ１５までと同じ動作のため説明を省略する。
【０１１１】
まず、制御部２１１は、信号光ＬＳを照射する走査点Ｐ１が特定された強反射位置であるかどうかの判断を行う（Ｓ３０）。
【０１１２】
具体的には、制御部２１１は、信号光ＬＳを照射する位置におけるガルバノミラー４３、４４の位置が特定されたガルバノミラー４３、４４の位置と同じであるか否かを判断する。
【０１１３】
走査点Ｐ１が特定された強反射位置であると判断された場合（Ｓ３０でＹの場合）、制御部２１１は、走査点Ｐ１に対して照射された信号光ＬＳに基づく干渉光を干渉光学系で検出する時間を短縮する制御を行う（Ｓ３１）。
【０１１４】
具体的には、制御部２１１は、走査点Ｐ１に対して照射された信号光ＬＳに基づく干渉光をＣＣＤイメージセンサ１２０で検出する際の電荷蓄積時間が、他の照射位置（特定された強反射位置以外の位置）に対して照射された信号光ＬＳに基づく干渉光をＣＣＤイメージセンサ１２０で検出する際の電荷蓄積時間よりも短くなるようＣＣＤイメージセンサ１２０を制御する。
【０１１５】
一方、走査点Ｐ１が特定された強反射位置で無い場合（Ｓ３０でＮの場合）、制御部２１１はＣＣＤイメージセンサ１２０をそのまま駆動させ、Ｐ１に対して信号光ＬＳを照射させる（Ｓ３２）。
【０１１６】
以上の処理を点Ｐｋまで繰り返すことで所定の撮影範囲における撮影が完了する（Ｓ３３でＹの場合）。所定の撮影範囲における撮影が完了していない場合（Ｓ３３でＮの場合）には、制御部２１１は、ガルバノミラー４３、４４を駆動させることにより、信号光ＬＳの照射位置を走査する（Ｓ３４）。すなわち、制御部２１１は、走査点Ｐ１から走査点Ｐ２に信号光ＬＳの照射位置を変更させ、走査点Ｐ２においてＳ３０、Ｓ３１（Ｓ３２）の動作を行う。
【０１１７】
なお、記憶部２１２に記憶された強反射位置を、経過観察（被検眼Ｅの固定された状態が同一の必要がある）の際に用いることも可能である。この場合、「特定部」には、記憶部２１２も含まれる。
【０１１８】
＜作用・効果＞
以上のような干渉光計測装置１の作用及び効果について説明する。
【０１１９】
干渉光計測装置１の光源ユニット１０１は、低コヒーレンス光Ｌ０を出力する。干渉光学系は、光源ユニット１０１からの低コヒーレンス光Ｌ０を信号光ＬＳと参照光ＬＲとに分割し、角膜Ｅｃによる信号光ＬＳの反射光と参照光ＬＲとを重畳させて干渉光ＬＣを生成して検出する。走査部は、角膜Ｅｃに対する信号光ＬＳの照射位置を走査する。特定部２６０は、信号光ＬＳの反射光が強反射状態にあるときの走査部による照射位置（強反射位置）を特定する。そして制御部２１１は、特定された強反射位置に対して信号光ＬＳを再度照射させるときに、ＣＣＤイメージセンサ１２０を制御して信号光ＬＳに基づく干渉光の干渉光学系による検出時間を短縮する。
【０１２０】
このように、干渉光計測装置１によれば、干渉光学系による検出時間（ＣＣＤイメージセンサ１２０の電荷蓄積時間）を短縮させることで、反射光の強度が強い場合であってもＣＣＤイメージセンサ１２０に蓄積される電荷を押さえることができる。従って、被測定物体からの強反射光の影響を低減させて被測定物体の撮影を行うことが可能となる。
【０１２１】
＜第３実施形態＞
次に、図１０、図１１を参照して、第３実施形態に係る干渉光計測装置について説明する。第１、２実施形態と共通する部分も多いため、異なる部分についてのみ詳細に説明を行う。
【０１２２】
図１０に示すように、特定部２６０は、判定部２６１と輝度値検出部２６３を含む。
【０１２３】
輝度値検出部２６３は、画像形成部２２０で形成された画像の各画素の輝度値を検出する。
【０１２４】
本実施形態における判定部２６１は、輝度値検出部２６３で検出された輝度値が閾値以上であるときに強反射状態にあると判定する。ここでの「閾値」は、第１実施形態と同様、強反射状態にあるか否かを区別するための値である。
【０１２５】
＜特定動作＞
図１１を参照して、強反射位置を特定する動作について説明を行う。なお、特定された強反射位置を考慮した再度の撮影動作については、第１実施形態のＳ２０〜Ｓ２４、或いは第２実施形態のＳ３０〜Ｓ３４までと同じ動作のため説明を省略する。
【０１２６】
まず、干渉光学系により、角膜ＥｃのＯＣＴ計測を行う（Ｓ４０）。Ｓ４０で得られた撮影結果に基づいて、画像形成部２２０は角膜ＥｃのＯＣＴ画像を形成する（Ｓ４１）。S４１で形成されたＯＣＴ画像における各画素は、ガルバノミラー４３、４４の位置と関連付けられた状態で記憶部２１２等に記憶される。
【０１２７】
次に、輝度値検出部２６３は、Ｓ４１で形成された画像の各画素の輝度値を検出する（Ｓ４２）。
【０１２８】
判定部２６１は、Ｓ４２で検出された各画素の輝度値のうち、閾値以上の画素を強反射状態にあると判定する（Ｓ４３）。
【０１２９】
そして、特定部２６０は、Ｓ４３で判定された画素に関連付けられたガルバノミラー４３、４４の位置（強反射位置）を特定する（Ｓ４４）。特定部２６０は、Ｓ４４で特定された強反射位置を記憶部２１２に送る。記憶部２１２は、Ｓ４４で特定された強反射位置を患者ＩＤ等と関連付けて記憶する。
【０１３０】
＜作用・効果＞
以上のような干渉光計測装置１の作用及び効果について説明する。
【０１３１】
干渉光計測装置１の輝度値検出部２６３は、画像の各画素の輝度値を検出する。判定部２６１は、輝度値検出部２６３により検出された輝度値が閾値以上であるときに強反射状態にあると判定する。
【０１３２】
このように、撮影された画像の各画素における輝度値に基づいて強反射位置を特定することが可能である。従って、被検眼からの強反射光の影響を低減させて被検眼の撮影を行うことが可能となる。
【０１３３】
なお、Ｓ４１で形成された画像を記憶部２１２に記憶しておくこともできる。この場合、過去に撮影した画像から強反射位置を特定できる。すなわち、経過観察等を行う場合であっても、被検眼からの強反射光の影響を低減させて撮影を行うことが可能となる。
【０１３４】
＜第１実施形態から第３実施形態に共通する事項＞
以上に説明した構成は、この発明を好適に実施するための一例に過ぎない。よって、この発明の要旨の範囲内における任意の変形を適宜に施すことが可能である。
【０１３５】
上記実施形態では、被測定物体として生体眼を用いて説明を行ったがこれに限られない。強反射状態が起こる可能性のある被測定物体に対しては、上記実施形態の構成を適用することで強反射光の影響を低減させて撮影を行うことが可能となる。
【０１３６】
具体的には、例えば、生体内の粘膜（胃や大腸等）に対して照射した光の反射光を受光する場合にも強反射状態となる場合がある。このような部位に対して上記実施形態の構成を応用することにより、強反射光の影響を低減させて撮影を行うことが可能となる。
【符号の説明】
【０１３７】
１  眼底観察装置
２  眼底カメラユニット
３  表示装置
１０  照明光学系
１１  観察光源
１５  撮影光源
３０  撮影光学系
３１  合焦レンズ
３５、３８  ＣＣＤイメージセンサ
３９  ＬＣＤ
４３、４４  ガルバノミラー
５０  アライメント光学系
６０  フォーカス光学系
７０  走査駆動部
８０  合焦駆動部
９０  検出光学系
９１  ビームスプリッタ
９２  検出部
１００  ＯＣＴユニット
１０１  光源ユニット
１１４  参照ミラー
１１８  回折格子
１２０  ＣＣＤイメージセンサ
１３０  参照駆動部
２００  演算制御ユニット
２１０  制御ユニット
２１１  制御部
２１２  記憶部
２２０  画像形成部
２３０  画像処理部
２４０  表示部
２５０  操作部
２６０  特定部
２６１  判定部
Ｅ  被検眼
Ｅｆ  眼底
Ｅｃ  角膜
Ｋ  観察画像
Ｈ  撮影画像
Ｇ  断層像
【図１】
2012225826.tif 000003
【図２】
2012225826.tif 000004
【図３】
2012225826.tif 000005
【図４】
2012225826.tif 000006
【図５】
2012225826.tif 000007
【図６】
2012225826.tif 000008
【図７】
2012225826.tif 000009
【図８】
2012225826.tif 000010
【図９】
2012225826.tif 000011
【図１０】
2012225826.tif 000012
【図１１】
2012225826.tif 000013
【手続補正書】
【提出日】平成24年5月31日(2012.5.31)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源と、
前記光源からの光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体による前記信号光の反射光と参照光路を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成して検出する干渉光学系と、
前記被測定物体に対する前記信号光の照射位置を走査する走査部と、
前記信号光の反射光が強反射状態にあるときの前記走査部による前記照射位置である強反射位置を特定する特定部と、
前記強反射位置に対して前記信号光を再度照射させるときに、前記光源を制御して前記光の光量を低下させる制御部と、
を有することを特徴とする干渉光計測装置。
【請求項２】
前記光はパルス光であって、
前記制御部は、前記強反射位置に前記信号光を照射するときの前記パルス光のパルス幅を、他の位置に前記信号光を照射するときの前記パルス光のパルス幅より小さくするよう前記光源を制御することにより前記光量を低下させることを特徴とする請求項１に記載の干渉光計測装置。
【請求項３】
前記光はパルス光であって、
前記制御部は、前記強反射位置に前記信号光を照射するときの前記パルス光の強度を、他の位置に前記信号光を照射するときの前記パルス光の強度より低くするよう前記光源を制御することにより前記光量を低下させることを特徴とする請求項１に記載の干渉光計測装置。
【請求項４】
前記光はパルス光であって、
前記特定部は、
前記走査部による走査に対応して前記パルス光に基づく信号光の強度を検出する検出部を有し、
前記制御部は、前記強反射位置に照射する前記信号光の強度、及びそれ以前に検出された前記信号光の強度の比較を行い、前記強反射位置に照射される前記信号光の強度が、それ以前に検出された前記信号光の強度を超えたときに前記光源を制御することにより前記光量を低下させることを特徴とする請求項１記載の干渉光計測装置。
【請求項５】
前記特定部は、
前記強反射位置を記憶する記憶部を有し、
前記制御部は、前記強反射位置に対して前記信号光を再度照射させるときに、前記光源を制御して前記光の光量を低下させることを特徴とする請求項１記載の干渉光計測装置。
【請求項６】
光源と、
前記光源からの光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体による前記信号光の反射光と参照光路を経由した前記参照光とを重畳させて干渉光を生成して検出する干渉光学系と、
前記被測定物体に対する前記信号光の照射位置を走査する走査部と、
前記信号光の反射光が強反射状態にあるときの前記走査部による前記照射位置である強反射位置を特定する特定部と、
前記強反射位置に対して前記信号光を再度照射させるときに、当該信号光に基づく干渉光の前記干渉光学系による検出時間を短縮する制御部と、
を有することを特徴とする干渉光計測装置。
【請求項７】
前記特定部は、
前記強反射位置を記憶する記憶部を有し、
前記制御部は、前記強反射位置に対して前記信号光を再度照射させるときに、当該信号光に基づく干渉光の前記干渉光学系による検出時間を短縮することを特徴とする請求項６記載の干渉光計測装置。
【請求項８】
前記特定部は、
前記走査部による走査に対応して前記信号光の反射光の強度を検出する検出部と、
前記検出部で検出された強度と閾値とを比較し、前記強度が前記閾値以上であるときに前記反射光が前記強反射状態にあると判定する判定部と、
を有することを特徴とする請求項１または６記載の干渉光計測装置。
【請求項９】
前記特定部は、
前記走査部による走査に対応して前記信号光の反射光の強度を検出する検出部と、
前記検出部で検出された強度のピーク値を求め、当該ピーク値に対応する反射光が前記強反射状態にあると判定する判定部と、
を有することを特徴とする請求項１または６記載の干渉光計測装置。
【請求項１０】
前記干渉光に基づく前記被測定物体の画像を形成する画像形成部を有し、
前記特定部は、
前記画像の各画素の輝度値を検出する輝度値検出部と、
前記検出された輝度値が閾値以上であるときに、前記反射光が前記強反射状態にあると判定する判定部と、
を有することを特徴とする請求項１または６記載の干渉光計測装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
上記目的を達成するために、請求項１に記載の干渉光計測装置は、光源を有する。干渉光学系は、光源からの光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体による信号光の反射光と参照光路を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成して検出する。走査部は、被測定物体に対する信号光の照射位置を走査する。特定部は、信号光の反射光が強反射状態にあるときの走査部による照射位置である強反射位置を特定する。制御部は、強反射位置に対して信号光を再度照射させるときに、光源を制御して光の光量を低下させる。
また、請求項２に記載の干渉光計測装置は、請求項１記載の干渉光計測装置であって、光源からの光はパルス光である。制御部は、強反射位置に信号光を照射するときのパルス光のパルス幅を、他の位置に信号光を照射するときのパルス光のパルス幅より小さくするよう光源を制御することにより光量を低下させる。
また、請求項３に記載の干渉光計測装置は、請求項１記載の干渉光計測装置であって、光源からの光はパルス光である。制御部は、強反射位置に信号光を照射するときのパルス光の強度を、他の位置に信号光を照射するときのパルス光の強度より低くするよう光源を制御することにより光量を低下させる。
また、請求項４に記載の干渉光計測装置は、請求項１記載の干渉光計測装置であって、光源からの光はパルス光である。特定部は、走査部による走査に対応してパルス光に基づく信号光の強度を検出する検出部を有する。制御部は、強反射位置に照射する信号光の強度、及びそれ以前に検出された信号光の強度の比較を行い、強反射位置に照射される信号光の強度が、それ以前に検出された信号光の強度を超えたときに光源を制御することにより光量を低下させる。
また、請求項５に記載の干渉光計測装置は、請求項１記載の干渉光計測装置であって、特定部は、強反射位置を記憶する記憶部を有する。制御部は、強反射位置に対して信号光を再度照射させるときに、光源を制御して光の光量を低下させる。
また、請求項６に記載の干渉光計測装置は、光源を有する。干渉光学系は、光源からの光を信号光と参照光とに分割し、被測定物体による信号光の反射光と参照光路を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成して検出する。走査部は、被測定物体に対する信号光の照射位置を走査する。特定部は、信号光の反射光が強反射状態にあるときの走査部による照射位置である強反射位置を特定する。制御部は、強反射位置に対して信号光を再度照射させるときに、当該信号光に基づく干渉光の干渉光学系による検出時間を短縮する。
また、請求項７に記載の干渉光計測装置は、特定部が強反射位置を記憶する記憶部を有する。制御部は、強反射位置に対して信号光を再度照射させるときに、当該信号光に基づく干渉光の干渉光学系による検出時間を短縮する。
また、請求項８に記載の干渉光計測装置は、請求項１または６記載の干渉光計測装置であって、特定部は、走査部による走査に対応して信号光の反射光の強度を検出する検出部を有する。判定部は、検出部で検出された強度と閾値とを比較し、強度が閾値以上であるときに反射光が強反射状態にあると判定する。
また、請求項９に記載の干渉光計測装置は、請求項１または６記載の干渉光計測装置であって、特定部は、走査部による走査に対応して信号光の反射光の強度を検出する検出部を有する。判定部は、検出部で検出された強度のピーク値を求め、当該ピーク値に対応する反射光が強反射状態にあると判定する。
また、請求項１０に記載の干渉光計測装置は、請求項１または６記載の干渉光計測装置であって、干渉光に基づく前記被測定物体の画像を形成する画像形成部を有する。特定部は、画像の各画素の輝度値を検出する輝度値検出部を有する。判定部は、検出された輝度値が閾値以上であるときに、反射光が前記強反射状態にあると判定する。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
この発明に係る干渉光計測装置によれば、特定部により強反射位置を特定する。そして、制御部は強反射位置に対して信号光を再度照射させるときに、光源を制御して光の光量を低下させる。従って、被測定物体からの強反射光の影響を低減させて被測定物体の撮影を行うことが可能となる。