(57)【要約】      （修正有）【課題】光ディスクに対する光学系の相対角度を速やかに調整可能な光ディスク装置を提供する。【解決手段】光ディスクＤにレーザ光を照射する光ディスク装置１であって、光ディスクＤの径方向とレーザ光を照射する光学ピックアップ３の光軸との相対角度を調整可能な角度調整機構２５と、光ディスクＤの特定の部位に、レーザ光を照射して角度調整機構２５を調整し、該角度調整機構２５の実制御量に基づいて推定した、特定の部位以外の部位にレーザ光を照射する際の角度調整機構２５の推定制御量に従って、角度調整機構２５を制御する制御部７と、を備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにレーザ光を照射する光ディスク装置であって、
前記光ディスクの径方向と前記レーザ光を照射する光学ピックアップの光軸との相対角度を調整可能な角度調整機構と、
前記光ディスクの特定の部位に、前記レーザ光を照射して前記角度調整機構を調整し、該角度調整機構の実制御量に基づいて推定した、該特定の部位以外の部位に該レーザ光を照射する際の該角度調整機構の推定制御量に従って、該角度調整機構を制御する制御部と、を備える、
光ディスク装置。
【請求項２】
前記特定部位は、光ディスクの内周端部に位置することを特徴とする、
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記特定の部位に前記レーザ光を照射する際の前記角度調整機構の制御量と該特定の部位以外の部位に該レーザ光を照射する際の該角度調整機構の制御量との相関を規定したマップ及び前記実制御量に基づいて推定した前記推定制御量に従って、該角度調整機構を制御する、
請求項１または２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記制御部は、光ディスクの挿入時に、前記特定の部位に、前記レーザ光を照射して前記角度調整機構を調整し、該角度調整機構の実制御量を検出することを特徴とする、
請求項１から３の何れか一項に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記制御部は、異常発生時に、異常発生位置付近の部位に前記レーザ光を照射し前記角度調整機構を調整し、該角度調整機構の実制御量に基づいて推定した、前記特定の部位以外の部位に該レーザ光を照射する際の該角度調整機構の推定制御量に従って、該角度調整機構を制御する
請求項１から４の何れか一項に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクにレーザ光を照射して光ディスクからデータを読み取る、あるいはデータを書き込む光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置は、回転する光ディスクにレーザ光を照射してデータの読み書きを行うため、光ディスクに入射したレーザ光が適正に反射することが必要である。ところが、光ディスクは、製造段階における金型成形後の収縮量の差や、保管時の熱的環境の如何によって反りが不可避的に生じる。また、光ディスクの表面に指紋や塵が付着することもある。このため、光ディスク装置には、このような光ディスクが挿入されても適正にアクセスするための各種機能が設けられている（例えば、特許文献１−２を参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１０−１５６２６号公報
【特許文献２】特開２００６−１７９１３６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
光ディスクが反ると、光ディスクに対する光学ピックアップの光軸の傾きが増す。この傾きが増大するとコマ収差が発生し、データの記録再生に支障が生ずる。この傾きの許容度はレーザ光の波長に比例し、レンズの開口率ＮＡ（Numerical Aperture）の３乗に反比例する。光ディスクは、大容量化に伴い短波長化、高ＮＡ化の一途を辿っており、これに伴って傾きの許容度も徐々に制限されている。そこで、光ディスクを光ディスク装置に挿入する都度、傾きの調整を自動的に行なう機能の搭載が必須になりつつあるが、光ディスクの反りによる光ディスクに対する光学ピックアップの光軸の傾きは光ディスクの部位によって異なるため、光ディスクの反りに対応するためには、記録面の各部位（光ディスク全体に渡って測定結果を用いて好ましい制御ができる程度の測定個数）の傾きを光ディスクの挿入の都度に測定するのが好ましい。しかし、測定回数が多い場合や測定のためのピックアップ移動量が長くなると、ユーザ操作の待ち時間（再生開始や選曲操作が可能となるまでの時間）が長くなってしまう問題がある。
【０００５】
本発明は、このような課題に鑑みなされたものであり、光ディスクに対する光学系の相対角度を速やかに調整可能な光ディスク装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、上記課題を解決するため、光ディスクの特定の部位で角度調整機構を調整し、このときの実制御量に基づいて、該特定の部位以外の部位における角度調整機構の制御量を推定する。
【０００７】
詳細には、光ディスクにレーザ光を照射する光ディスク装置であって、前記光ディスクの径方向と前記レーザ光を照射する光学ピックアップの光軸との相対角度を調整可能な角度調整機構と、前記光ディスクの特定の部位に、前記レーザ光を照射して前記角度調整機構を調整し、該角度調整機構の実制御量に基づいて推定した、該特定の部位以外の部位に該レーザ光を照射する際の該角度調整機構の推定制御量に従って、該角度調整機構を制御する制御部と、を備える。
【０００８】
上記光ディスク装置であれば、光ディスクの記録面の各部位における角度調整機構の制御量を、特定の部位でレーザ光を実際に照射して傾きを調整した際の実制御量から推定するので、光学ピックアップを移動させなくても、各部における角度調整の際の推定制御量を決定できる。よって、光ディスクの読み取りを速やかに開始することができる。
【０００９】
なお、前記特定部位は、光ディスクの内周端部に位置するものであってもよい。ここでいう内周端部とは、光ディスクの記録トラックが存在する範囲における最内周部分（例えば１ｃｍ程度）であり、好ましくはＴＯＣ情報等、ディスクの基礎情報が記録された領域、あるいは光ディスクが挿入された時に最初に信号を読み取る（最初のレーザ照射位置）付近である。
【００１０】
また、前記制御部は、前記特定の部位に前記レーザ光を照射する際の前記角度調整機構の制御量と該特定の部位以外の部位に該レーザ光を照射する際の該角度調整機構の制御量との相関を規定したマップ及び前記実制御量に基づいて推定した前記推定制御量に従って、該角度調整機構を制御するものであってもよい。制御部がマップに従って角度調整機構を制御することにより、各種の演算処理の実行に時間を要することなく、光ディスクの読み取りを速やかに開始することができる。
【００１１】
また、前記制御部は、光ディスクの挿入時に、前記特定の部位に、前記レーザ光を照射して前記角度調整機構を調整し、該角度調整機構の実制御量を検出することを特徴とするものであってもよい。光ディスクの挿入時に制御量を推定すれば、光学ピックアップを停止位置からほとんど動かさなくて済むので、光ディスクの各部における角度調整機構の制御量を即座に推定して、光ディスクの読み取りを速やかに開始することができる。
【００１２】
また、前記制御部は、異常発生時に、異常発生位置付近の部位に前記レーザ光を照射し前記角度調整機構を調整し、該角度調整機構の実制御量に基づいて推定した、前記特定の部位以外の部位に該レーザ光を照射する際の該角度調整機構の推定制御量に従って、該角度調整機構を制御するものであってもよい。異常発生時に制御量を推定し直せば、光ディスクの読み取りを継続することができる。
【発明の効果】
【００１３】
光ディスクに対する光学系の相対角度を速やかに調整することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】光ディスク装置の構成図である。
【図２】システムコントローラが実行する処理フロー図である。
【図３】反っているディスクと反っていないディスクとのフォーカス位置のずれを示した図である。
【図４】チルト調整量を示した図である。
【図５Ａ】光ディスクの反り具合を示したマップである。
【図５Ｂ】光ディスクの反り具合を示すマップのデータ群である。
【図６】光ディスクの各部でチルト調整されている様子を示した図である。
【図７】チルト調整が外周側まで行なわれずに傾きのずれが生じた様子を示した図である。
【図８】外周側のみが反っている光ディスクを示した図である。
【図９】変形例に係る光ディスク装置のシステムコントローラが実行する処理フロー図である。
【図１０】光ディスクの反りの有無を光ディスクの各部におけるフォーカス位置から特定する場合の様子を示した図である。
【図１１】反っている光ディスクにおけるフォーカス位置のずれを示した図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本願発明を実施するための形態を例示的に説明する。以下に示す実施形態は例示であり、本願発明の技術的範囲をこれらに限定するものではない。
【００１６】
＜構成＞
図１は、本実施形態に係る光ディスク装置の構成図である。光ディスク装置１は、光ディスクＤを回転させるスピンドルモータ２や、スピンドルモータ２によって回転される光ディスクＤにレーザ光を照射し、その反射光を検知する光学ピックアップ３を備えており、光ディスクＤのデータを読み取ることができる。
【００１７】
光学ピックアップ３は、半導体のレーザ素子であるレーザダイオード（以下、ＬＤという）や、ＬＤから放射されたレーザ光やその反射光が通過する各種レンズ、ＬＤに向かう反射光を分光するビームスプリッタ、ビームスプリッタによって分光された反射光を検出するフォトダイオード、対物レンズを動かすアクチュエータを備えており、フォトダイオードの信号をＲＦ（高周波）アンプ４へ送る。光学ピックアップ３のアクチュエータは、レーザ光が光ディスクＤの記録層で焦点を結ぶように対物レンズと光ディスクＤとの間の距離を調整するフォーカスサーボ５と、レーザ光がトラックをトレースするように対物レンズの位置を調整するトラッキングサーボ６によって制御される。また、光学ピックアップ３には、チルト機構２５が取り付けられており、光ディスクＤの径方向と光学ピックアップ３の光軸との相対角度が調整可能なようになっている。チルト機構２５は、モータの駆動電流等を供給するチルト駆動制御回路２４を介してシステムコントローラ７に制御される。なお、光学ピックアップ３は、ＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤといった赤色系ディスク用、又はＢＤ（Blu-ray（登録商標） Disc）といった青色系ディスク用、或いはこれらを組み合わせたものであってもよい。また、チルト機構２５は、上記のように光学系の傾きを変えるものの他、スピンドルモータの傾きを変えて、光ディスクＤの径方向と光学ピックアップ３の光軸との相対角度を調整するものであってもよい。
【００１８】
フォーカスサーボ５およびトラッキングサーボ６は、システムコントローラ７に制御されており、ＲＦアンプ４を経た光学ピックアップ３のフォトダイオードからの信号が入力されるトラッキング／フォーカスエラーアンプ９において演算された、対物レンズの実際の移動量と制御目標値との誤差（ＬＥ（レンズエラー）信号）に基づく、光学ピックアップ３のアクチュエータの制御を行う。ＬＥ信号は、対物レンズの中央位置からのズレ量を示す信号であり、光ディスクＤからの反射光を検出している受光素子の出力を用いて生成される。ＬＥ信号に基づいてサーボ制御を行うことにより、光ディスクＤの回転による振動で対物レンズが揺れても、対物レンズが適正な位置を保つように制御される。また、トラッキングサーボ６は、連続した誤差信号がシステムコントローラ７から入力されると、スレッドサーボ１０に信号を送って送りモータ１１を作動させ、光学ピックアップ３を光ディスクＤの径方向にスライド移動させる。
【００１９】
スピンドルモータ２は、スピンドルサーボ１２によって制御されている。スピンドルモータ２の回転速度は、挿入された光ディスクＤが映像や音楽コンテンツを収録したものであれば、線速度が一定のＣＬＶ（Constant Linear Velocity）制御、すなわち、ＲＦアンプ４の出力信号のクロックと既定の内部クロックとが同期するように調整される。また、挿入された光ディスクＤがカーナビゲーションシステムの地図データのように高速アクセスが望ましいデータを収録したものであれば、角速度が一定のＣＡＶ（Constant Angular Velocity）制御、すなわち、スピンドルモータ２から送られる単位時間当たりの回転数と目標回転数とが一致するように調整される。
【００２０】
光学ピックアップ３のフォトダイオードから出力される信号は、ＲＦアンプ４を介して
アドレスデコーダ１４やエンコーダ・デコーダ１５へ送られる。アドレスデコーダ１４では、光ディスクＤのグルーブ（溝）に記録されているアドレスの信号が復調されて絶対アドレスが読み出される。また、エンコーダ・デコーダ１５では、ＲＦアンプ４からの信号に対する各種の変調処理や復調処理が施され、例えば、光ディスクＤがＣＤやＤＶＤの場合にはＥＦＭ（Eight Fourteen Modulation）変調後にＣＩＲＣ（Cross Interleaved Reed Solomon Code）処理による誤り訂正が行われ、光ディスクＤがＢＤの場合には１−７ＰＰ（Parity Preserve/Prohibit RMTR）変調後に２つのエラー訂正符号（ＬＤＣ（Long Distance Code）及びＢＩＳ（Burst Indicating Subcode））を組み合わせた誤り訂正が行なわれる。そして、映像や音声といったコンテンツのデータが出力される。
【００２１】
エンコーダ・デコーダ１５から出力されたデータは、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）で構成される半導体メモリ１３を制御するショックプルーフメモリコントローラ１６によって半導体メモリ１３に一時的に蓄積され、光ディスク装置１に加わった振動等による光学ピックアップ３のデータの読み飛ばしが解消される。なお、半導体メモリ１３の容量は、耐衝撃性能に応じて適宜決定する。
【００２２】
また、エンコーダ・デコーダ１５は、光ディスクＤへデータを記録する際には、圧縮エンコーダ・デコーダ１７およびショックプルーフメモリコントローラ１６を介してＡ／Ｄ（Analog to Digital）コンバータ１８から送られるデータをレーザコントローラ２６へ
送る。この場合、エンコーダ・デコーダ１５は、システムコントローラ７の指示に基づいて、ショックプルーフメモリコントローラ１６を介して半導体メモリ１３から記録データを取り出し、その記録データを変調するとともに、エラー訂正コードの付加などを行ない、光ディスク１５への書き込み信号を作成する。レーザコントローラ２６は、レーザ光のパワーやパルス波形を変調信号に基づいて生成し、これを光ピックアップ３に出力する。光ピックアップ３のＬＤでは、レーザコントローラ２６の出力に応じたレーザ光を出射する。
【００２３】
ショックプルーフメモリコントローラ１６から出力されたデータは圧縮されているため、圧縮エンコーダ・デコーダ１７において、光ディスクＤの種類に応じた各種の解凍処理が行われる。圧縮エンコーダ・デコーダ１７は、ショックプルーフメモリコントローラ１６から送られるデータや、光ディスク装置１の外部からＡ／Ｄコンバータ１８を介して入力される映像音声のデータを解凍し、光ディスク装置１の外部へＤ／Ａ（Digital to Analog）コンバータ１９を介して出力する。
【００２４】
システムコントローラ７は、不揮発性メモリ２０に格納されたプログラムを実行する演算装置であり、操作キー２１への操作に基づいて光ディスク装置１の上記各部を統括的に制御し、その作動状態を表示部２２に表示する。また、システムコントローラ７には、光ディスク装置１内の温度を検知する温度センサ（サーミスタ）２３が接続されており、更に、光学ピックアップ３のＬＤの駆動電流の信号線やスピンドルモータ２の回転数の信号線が接続されている。
【００２５】
＜処理フロー＞
図２は、システムコントローラ７が実行する処理フロー図である。システムコントローラ７は、光ディスクＤの挿入を検知すると、以下の処理フローを実行する。
【００２６】
（ステップＳ１０１）システムコントローラ７は、光ディスクＤが挿入されると、挿入された光ディスクＤの判別処理を行う。例えば、ＣＤやＤＶＤとＢＤとの判別であれば、スピンドルモータ２を停止させたままの状態で青色レーザを照射して反射率の測定を行い、或いは光ディスクの基材の厚さを測定し、予め設定されている閾値との比較により行なう。また、記録層が１層のＢＤと２層のＢＤとの判別であれば、フォーカス（焦点）位置を上下させながら青色レーザを照射した際に得られるフォーカスエラー信号のＳ字カーブの個数により行なう。
【００２７】
（ステップＳ１０２）システムコントローラ７は、挿入された光ディスクＤを判別した後、スピンドルサーボ１２を介してスピンドルモータ２を始動し、光ディスクＤを回転させる。
【００２８】
（ステップＳ１０３）システムコントローラ７は、対物レンズの焦点を光ディスクＤの記録面に合わせる、いわゆるフォーカス引き込みを行なう。すなわち、システムコントローラ７は、光ディスクＤが回転し始めたら、光ディスクＤの種類に応じたレーザ光の照射を開始した後にフォーカス位置を上下動（ピックアップと光ディスクとの距離変動）させ、フォーカスエラー信号と強度信号とに基づいて適当なタイミング（サーボロックがかかる範囲にフォーカス位置が入ったタイミング）でサーボループをオンにし、非サーボ制御でのフォーカス位置の上下動を停止する。これにより、対物レンズの焦点が光ディスクＤの記録面に合わさった状態が保たれる。
【００２９】
（ステップＳ１０４）システムコントローラ７は、フォーカス引き込みが完了した後、光ビームの焦点位置（光ビーム照射位置）が光ディスクＤのトラック上となるように対物レンズの位置を合わせる、いわゆるトラッキング引き込みを行なう。すなわち、システムコントローラ７は、フォーカス引き込みが完了した後、非サーボ制御でトラッキングサーボロックがかかる範囲に光ビーム照射位置が入った状態でトラッキング誤差信号に基づくトラッキングサーボループをオンにする。これにより、対物レンズの位置が制御され、光ビームの焦点位置が光ディスクＤのトラックに合わさった状態が保たれる。
【００３０】
（ステップＳ１０５）システムコントローラ７は、トラッキング引き込みが完了した後、チルト調整、すなわち、光ディスクＤに対する光学ピックアップ３の光軸の傾きの調整を行う。すなわち、システムコントローラ７は、トラッキング引き込みが完了した後、エンコーダ・デコーダ１５から出力されるデータのジッターを観測しながら、チルト機構２５で光学ピックアップ３の対物レンズの傾きを適当に動かし、観測されるジッターが最も小さくなるところでチルト機構２５を停止する。このとき、スレッドサーボ１０は、光学ピックアップ３を初期の位置、すなわち、光ディスクＤの内周端部の位置に停止させているため、チルト調整は光ディスクＤの記録面の内周端部の部位で行なわれることになる。
【００３１】
なお、システムコントローラ７は、光ディスクＤが挿入された際に光ディスクＤのＴＯＣ等の基礎情報へ速やかにアクセス可能なように、光ディスクＤの排出時に送りモータ１１を駆動して光学ピックアップ３を初期の位置、すなわち、光ディスクＤの最内周端部付近の所定位置（記録読み込み開始時に最初に光を照射する位置付近）に移動して停止する処理を行っている。もっとも、システムコントローラ７は、ディスク挿入時に光学ピックアップ３を初期の位置、すなわち、光ディスクＤの最内周端部付近の所定位置（記録読み込み開始時に最初に光を照射する位置付近）に移動して停止する処理を行ってもよい。
【００３２】
ここで、光ディスクＤが反っている場合、図３に示すように、反っていない場合に比べてフォーカス位置にずれが生じることが判る。このずれの大きさは、フォーカスサーボ５の印加電圧の大きさから特定することができる。また、図４に示すように、チルト調整量もチルト調整時の制御量から特定することができる。そこで、システムコントローラ７は、チルト調整が完了した後、不揮発性メモリ２３に格納されているマップにアクセスし、光ディスクＤの各部位にレーザ光を照射する際のチルト機構２５の制御量を推定する。システムコントローラ７がアクセスするマップは、図５Ａに示すように、光ディスクの反り具合を、各メーカが製造する光ディスクを多数サンプリングして特定したものであり、フォーカス位置と傾き（チルト角）との相関を光学ピックアップ３の位置毎に規定したものである。図５Ａにおいて「チルト調整位置」と示す位置でフォーカス引き込みとチルト調整を行なえば、その他の位置におけるチルト機構２５の制御量が、図５Ａのマップが示す曲線の傾きから推定できる。つまり、マップは、図５Ｂに示されるようなチルト調整位置におけるチルト調整値とピックアップ位置値をパラメータとし、それらのパラメータ値によってチルト機構２５の制御量が特定されるデータ群となっている。システムコントローラ７は、光ディスクＤの各部位にレーザ光を照射する際のチルト機構２５の制御量を推定した後、光ディスクＤが排出されるまで、この推定制御量に従ってチルト機構２５を制御しながら、光ディスクＤへのアクセスを行なう。なお、光ディスクＤの反りの大きさは温度との相関性が認められるため、例えば、図５Ｂに示すようにマップをデッキ内の温度毎に複数用意しておき（例えば、低温用と高温用など）、温度センサ２３の測定値に応じて参照するマップを切り替えるようにしてもよい。また、推定される各部の反りやフォーカス位置の大きさに、光学ピックアップ３のアクチュエータが調整可能な範囲を逸脱しているものがあれば、当該光ディスクＤは読み取り不可能である旨あるいは読み取り不可能な箇所がある旨のコーションを表示するようにしてもよい。
【００３３】
（ステップＳ１０６）システムコントローラ７は、チルト調整が完了した後、光ディスクＤにアクセスしてＴＯＣ（Table Of Contents）等のデータを取得し、レディ状態、す
なわち、ユーザによる再生操作を待つ状態に移行する。
【００３４】
＜効果＞
以上のように構成される光ディスク装置１であれば、光ディスクＤへの読み書き等のアクセスが行なわれて光学ピックアップ３が送りモータ１１によって光ディスクＤの外周側へ移動しても、図６に示すように、光ディスクＤに対する光学ピックアップ３の光軸の傾きが常に垂直になるように調整される。このため、光ディスクＤが反っていても、光ディスクＤの内周端部から外周側へ至るまでの間、図７に示すような傾きのずれ（Δθ）の増大によるコマ収差の発生が抑えられ、データの記録再生に支障が生ずることなく光ディスクＤへのアクセスを継続できる。また、光ディスクＤの各部位におけるチルト機構２５の制御量を、光ディスクＤの内周端部の部位における実制御量に基づいて推定し、この推定制御量に従ってチルト機構２５を制御しているため、光ディスクＤの挿入直後に送りモータ１１で光学ピックアップ３のスレッド送りを行なって光ディスクＤの各部位における実際の制御量を測定する場合に比べて、ユーザ操作の待ち時間を大幅に短縮できる。光ディスク装置１は、再生と記録の両方を行えるものであってもよいし、再生あるいは記録のみを行うものであってもよいが、チルトの高精度な制御が要求される記録（書き込み）の際にその効果が著しい。
【００３５】
ところで、上記実施形態は、光ディスクＤの内周端部における反りが外周側まで同様に続いている場合に有効であるが、例えば、図８に示すように、光ディスクＤの外周側のみが反っているような場合が考えられる。そこで、このような場合に有効な上記実施形態の変形例を以下に説明する。
【００３６】
図９は、本変形例において、上記システムコントローラ７が実行する処理フロー図である。システムコントローラ７は、光ディスクＤの再生中に読み取りエラーが発生すると、以下の処理フローを実行する。尚、本変形例は、上述の実施例に追加して実施するのが好ましいが（光ディスクＤの再生中に読み取りエラーが発生しない状態では上述の実施例の方法で対処し、読み取りエラーが発生した場合にこの変形例で追加対処する）、上述の実施例は行わず単独で実施してもその効果を生じる。
【００３７】
（ステップＳ２０１）システムコントローラ７は、読み取りエラーが発生すると、フォーカスコイルの印加電圧を観測しながら、図１０に示すように、送りモータ１１で光学ピックアップ３を内周端部や外周側へスレッド送りする。
【００３８】
（ステップＳ２０２）光ディスクＤが反っている場合、図１１に示すように、反っている部位とそれ以外の部位との間でフォーカス位置にずれが生じる。そこで、システムコントローラ７は、光ディスクＤの内周、中周、外周の各部位でフォーカスコイルの印加電圧に差があれば、光ディスクＤが反っていると判定する。一方、フォーカスコイルの印加電圧に差が無く、或いは規定の閾値に収まっていれば、光ディスクＤが反っていないと判定する。
【００３９】
（ステップＳ２０３）システムコントローラ７は、光ディスクＤが反っていた場合、送りモータ１１で光学ピックアップ３を読み取りエラーが発生した場所に移動し、エンコーダ・デコーダ１５から出力されるデータのジッターを観測しながら行なうチルト調整を開始する。
【００４０】
（ステップＳ２０４）システムコントローラ７は、チルト調整を開始した後、「リカバリ中」である旨のコーションを表示部２２に表示する。
【００４１】
（ステップＳ２０５）システムコントローラ７は、チルト調整が完了した後、光ディスクＤのデータが正常に読み出されており、リカバリが成功したか否かをエンコーダ・デコーダ１５のデータエラーレートから判定する。
【００４２】
（ステップＳ２０６）システムコントローラ７は、リカバリが成功した後、「リカバリに成功した」旨のコーションを表示部２２に表示した後、通常の再生を継続する。読み取りエラーが発生してからステップＳ２０６までの一連の処理が完了するまでの間、半導体メモリ１３に蓄積されているデータが空にならなければ、再生中の映像や音声のコンテンツが途切れることもないため、ユーザが不快感を覚えることは無い。尚、このリカバリ処理の場合、チルト調整位置とその位置でのチルト調整結果値に応じてピックアップの各位置での調整値が推定されることになる。例えば、図５Ｂのマップにおけるピックアップ位置（チルト調整位置）Ｐｍと実調整値ｔｎ−ｍから初期位置におけるチルト調整値ＴＬｍを求める（推定する）。そして、その推定した初期位置におけるチルト調整値ＴＬｍと実ピックアップ位置Ｐｘとをパラメータとする実ピックアップ位置Ｐｘにおける調整値ｔｍをマップから求め、チルト制御に用いることとなる。
【００４３】
（ステップＳ２０７）一方、システムコントローラ７は、ステップＳ２０２の処理で光ディスクＤが反っていると判定し、ステップＳ２０５または後述のステップＳ２１０の処理でリカバリが失敗したと判定した場合、読み取りエラーが発生してからの経過時間が規定の時間を越えているか、或いは、リカバリ回数が規定の回数を超えているか否かを判定する。
【００４４】
（ステップＳ２０８）システムコントローラ７は、ステップＳ２０７で否定判定を下した場合、送りモータ１１で光学ピックアップ３を読み取りエラーが発生した場所に移動し、その他のリカバリ処理、すなわち、フォーカス引き込みやトラッキング引き込み等の各種サーボ調整処理を開始する。
【００４５】
（ステップＳ２０９）システムコントローラ７は、その他のリカバリ処理を開始した後、「リカバリ中」である旨のコーションを表示部２２に表示する。よって、ユーザは、光ディスク装置１で実行されている処理の内容を把握することができる。
【００４６】
（ステップＳ２１０）システムコントローラ７は、その他のリカバリ処理を行った後、光ディスクＤのデータが正常に読み出されており、リカバリが成功したか否かをエンコー
ダ・デコーダ１５のデータエラーレートから判定する。システムコントローラ７は、リカバリが成功していた場合は既述のステップＳ２０６の処理を実行し、リカバリが失敗していた場合は既述のステップＳ２０７の処理を実行する。
【００４７】
（ステップＳ２１１）システムコントローラ７は、ステップＳ２０７の処理で肯定判定を下した場合、光ディスクＤの反りの有無に応じて表示するコーションを決定する。
【００４８】
（ステップＳ２１２）すなわち、システムコントローラ７は、光ディスクＤが反っていれば、「ディスクが反っている可能性がある」旨のコーションを表示部２２に表示する。
【００４９】
（ステップＳ２１３）また、システムコントローラ７は、光ディスクＤが反っていなければ、「ディスクに傷や汚れの可能性がある」旨のコーションを表示部２２に表示する。
【００５０】
以上のような変形例であれば、光ディスクＤの読み取りエラーが発生してもリカバリが試みられるので、リカバリが成功すればユーザに煩わしさを覚えさせることが無い。よって、例えば、光ディスクＤが少々反っていても、チルト機構２５によってリカバリ可能な範囲内であれば、チルト調整が試みられてリカバリが成功することにより、ユーザがその光ディスクＤのコンテンツを継続して楽しむことができる。
【符号の説明】
【００５１】
１・・光ディスク装置，２・・スピンドルモータ，３・・光学ピックアップ，４・・ＲＦ（高周波）アンプ，５・・フォーカスサーボ，６・・トラッキングサーボ，７・・システムコントローラ，８・・ＡＧＣ（自動利得制御回路），９・・トラッキング／フォーカスエラーアンプ，１０・・スレッドサーボ，１１・・送りモータ，１２・・スピンドルサーボ，１３・・半導体メモリ，１４・・アドレスデコーダ，１５・・エンコーダ・デコーダ，１６・・ショックプルーフメモリコントローラ，１７・・圧縮エンコーダ・デコーダ，１８・・Ａ／Ｄ（Analog to Digital）コンバータ，１９・・Ｄ／Ａ（Digital to Analog）コンバータ，２０・・不揮発性メモリ，２１・・操作キー，２２・・表示部，２３・・温度センサ（サーミスタ），２４・・チルト駆動制御回路，２５・・チルト機構，２６・・レーザコントローラ，Ｄ・・光ディスク
【図１】
2012169013.tif 000003
【図２】
2012169013.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５Ａ】
2012169013.tif 000007
【図５Ｂ】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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