(57)【要約】【課題】構成部品をそれほど追加することなく効果的に装置内を冷却可能な光ディスク装置、及び光ディスク装置の制御方法を提供することを課題とする。【解決手段】光ディスクＤにレーザ光を照射する光ディスク装置１であって、光ディスクＤを回転させるモータ２と、レーザ光を照射するレーザ素子の駆動電流及び該レーザ素子の温度変化に基づいて、モータ２の回転速度を増減する制御部７と、を備える。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにレーザ光を照射する光ディスク装置であって、
前記光ディスクを回転させるモータと、
前記レーザ光を照射するレーザ素子の駆動電流及び該レーザ素子の温度変化に基づいて、前記モータの回転速度を増減する制御部と、を備える、
光ディスク装置。
【請求項２】
前記制御部は、前記レーザ素子の駆動電流及び該レーザ素子の温度が増加すると、前記モータを線速度一定の制御から回転速度一定の制御へ切り替える、
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記モータの回転速度を上げた後に前記レーザ素子の駆動電流と該レーザ素子の温度が増加すると、該レーザ素子の発光を停止する、
請求項１または２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記制御部は、前記レーザ素子の温度が所定の温度を超えた場合に前記モータの回転速度を上げ、該モータの回転速度を上げた後に該レーザ素子の駆動電流が所定の閾値を超えた場合に、該レーザ素子の発光を停止する、
請求項１または２に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記制御部は、前記モータの回転速度を増加した状態において、前記光ディスクに記録されたデータの読み取り要求が無い場合は、前記レーザ素子の発光を停止する、
請求項１から４の何れか一項に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
光ディスクにレーザ光を照射する光ディスク装置の制御方法であって、
前記レーザ光を照射するレーザ素子の駆動電流及び該レーザ素子の温度変化に基づいて、前記光ディスクを回転させるモータの回転速度を増減する、
光ディスク装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクにレーザ光を照射して光ディスクからデータを読み取る、あるいは光ディスクにデータを書き込む光ディスク装置、及び光ディスク装置の制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置は、回転する光ディスクにレーザ光を照射してデータの読み書きを行うため、温度上昇に起因する動作不良を防止するための各種制御が行われている（例えば、特許文献１−４を参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−１７９６６２号公報
【特許文献２】特開２００２−４２３６１号公報
【特許文献３】特開２００５−５６４７１号公報
【特許文献４】特開２００９−１４６５５２号公報
【特許文献５】特開２００５−５６４６０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
光ディスクにレーザ光を照射するレーザ素子は、温度による特性変化が著しい。このため、レーザ素子の駆動電流を何ら制御しない場合、温度変化に追従して出力が変動し、レーザ光のパワーが不安定になる。そこで、光ディスク装置では、レーザ光のパワーが一定になるように、レーザ素子の駆動電流の帰還制御が行われている。
【０００５】
ここで、光ディスクの長時間再生などによって光ディスク装置の内部やその周囲の温度が高温になると、例えば、その影響を比較的受けやすい光ピックアップでは、レーザ素子の温度上昇に伴うレーザ光のパワー低下を補償するべく、レーザ素子の駆動電流の帰還制御によって駆動電流が増加し、更なる温度上昇を招くという循環状態に至り、定格電流を超えてレーザ素子の破損に至る虞がある。
【０００６】
本発明は、このような課題に鑑みなされたものであり、それほど構成部品を追加することなく効果的に装置内を冷却可能な光ディスク装置、及び光ディスク装置の制御方法を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するため、本発明は、レーザ光を照射するレーザ素子の駆動電流及び光ディスク装置内の特定の部位の温度に基づいて、モータの回転速度を増減することにした。
【０００８】
詳細には、光ディスクにレーザ光を照射する光ディスク装置であって、前記光ディスクを回転させるモータと、前記レーザ光を照射するレーザ素子の駆動電流及び該レーザ素子の温度変化に基づいて、前記モータの回転速度を増減する制御部と、を備える。
【０００９】
ここで、上記レーザ素子の温度変化とは、レーザ素子の温度を直接測定して温度変化を検知する態様のみならず、レーザ素子の近傍に設置した周辺温度を測定してレーザ素子の温度変化を間接的に検知する態様も含む。
【００１０】
光ディスクは平たい円盤であるため、回転するとディスクの内周側の空気が外周側へ向かい、中心部の気圧が下がる。このため、気圧の下がった光ディスクの中心部に光ディスク装置の内外の空気が流入し、光学ピックアップや周辺の基板類へ流れる気流が発生する。光ディスクの回転速度が速くなれば、この気流も増加し、光学ピックアップやその周辺の基板、集積回路類の冷却が促進される。
【００１１】
光ディスクの増速による冷却効果は、光ディスクに接近する光学ピックアップが、光ディスク装置内の電子機器の中でも比較的高い。このため、上記光ディスク装置では、レーザ光を照射するレーザ素子の駆動電流及びレーザ素子の温度変化に基づいて、光ディスクを回転させるモータの回転速度を増減しているが、光ディスクの回転速度の増加に伴う冷却促進効果は、光ピックアップのみならず、その周辺に設置される電子機器類にも与えられる。
【００１２】
上記光ディスク装置であれば、レーザ素子の駆動電流と温度変化に基づいて光ディスクの回転速度を増減しているため、それほど構成部品を追加しなくても効果的に装置内を冷却することができる。
【００１３】
また、前記制御部は、前記レーザ素子の駆動電流と前記光ディスク装置内の温度が増加すると、前記モータを線速度一定の制御から回転速度一定の制御へ切り替えるものであってもよい。ＣＡＶ制御であれば、光ディスクの回転速度が光学ピックアップの位置に関わらず一定であるため、増速による冷却が効果的に実現される。
【００１４】
また、前記制御部は、前記モータの回転速度を上げた後に前記レーザ素子の駆動電流と前記光ディスク装置内の温度が増加すると、該レーザ素子の発光を停止するものであってもよい。レーザ素子の発光が停止されれば発熱量が減少するので、光ディスクの回転速度を上げた際の冷却が速やかに行われる。
【００１５】
また、前記制御部は、前記レーザ素子の温度が所定の温度を超えた場合に前記モータの回転速度を上げ、該モータの回転速度を上げた後に該レーザ素子の駆動電流が所定の閾値を超えた場合に、該レーザ素子の発光を停止するものであってもよい。モータの回転速度を上げた後にレーザ素子の発光が停止されれば、冷却を速やかに行なうことができる。
【００１６】
また、前記制御部は、前記モータの回転速度を増加した状態において、前記光ディスクに記録されたデータの読み取り要求が無い場合は、前記レーザ素子の発光を停止するものであってもよい。データを読み取る必要が無い場合にレーザ素子の発光が停止されれば増速状態における冷却が更に促進される。
【００１７】
また、本発明は、方法としての側面から捉えることもできる。例えば、本発明は、光ディスクにレーザ光を照射する光ディスク装置の制御方法であって、前記レーザ光を照射するレーザ素子の駆動電流及び該レーザ素子の温度変化に基づいて、前記光ディスクを回転させるモータの回転速度を増減するものであってもよい。
【発明の効果】
【００１８】
構成部品をそれほど追加することなく効果的に装置内を冷却することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】光ディスク装置の構成図である。
【図２】システムコントローラが実行する処理フロー図である。
【図３】制御内容を実施形態と従来例とで比較した図である。
【図４】実験データである。
【図５】変形例に係る光ディスク装置のシステムコントローラが実行する処理フロー図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下、本願発明を実施するための形態を例示的に説明する。以下に示す実施形態は例示であり、本願発明の技術的範囲をこれらに限定するものではない。
【００２１】
＜構成＞
図１は、本実施形態に係る光ディスク装置の構成図である。光ディスク装置１は、光ディスクＤを回転させるスピンドルモータ２や、スピンドルモータ２によって回転される光ディスクＤにレーザ光を照射し、その反射光を検知する光学ピックアップ３を備えており、光ディスクＤのデータを読み取ることができる。
【００２２】
光学ピックアップ３は、半導体のレーザ素子であるレーザダイオード（以下、ＬＤという）や、ＬＤから放射されたレーザ光やその反射光が通過する各種レンズ、ＬＤに向かう反射光を分光するビームスプリッタ、ビームスプリッタによって分光された反射光を検出するフォトダイオード、対物レンズを動かすアクチュエータを備えており、フォトダイオードの信号をＲＦ（高周波）アンプ４へ送る。光学ピックアップ３のアクチュエータは、レーザ光が光ディスクＤの記録層で焦点を結ぶように対物レンズと光ディスクＤとの間の距離を調整するフォーカスサーボ５と、レーザ光がトラックをトレースするように対物レンズの位置を調整するトラッキングサーボ６によって制御される。ＬＤは、出力が一定になるよう、ＡＧＣ（自動利得制御回路）８からの制御信号に基づく駆動電流の帰還制御が行われる。なお、光学ピックアップ３は、ＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤといった赤色系ディスク用、又はＢＤ（Blu-ray（登録商標） Disc）といった青色系ディスク用、或いはこれらを組み合わせたものであってもよい。
【００２３】
フォーカスサーボ５およびトラッキングサーボ６は、システムコントローラ７に制御されており、ＲＦアンプ４を経た光学ピックアップ３のフォトダイオードからの信号が入力されるトラッキング／フォーカスエラーアンプ９において演算された、対物レンズの実際の移動量と制御目標値との誤差に基づく、光学ピックアップ３のアクチュエータの制御を行う。また、トラッキングサーボ６は、連続した誤差信号がシステムコントローラ７から入力されると、スレッドサーボ１０に信号を送って送りモータ１１を作動させ、光学ピックアップ３を光ディスクＤの径方向にスライド移動させる。
【００２４】
スピンドルモータ２は、スピンドルサーボ１２によって制御されている。スピンドルモータ２の回転速度は、基本的に、ＲＦアンプ４の出力信号から抽出されるクロックと既定の内部クロックとが同期するように、システムコントローラ７によって調整される。ここで、システムコントローラ７は、基本的に線速度が一定のＣＬＶ（Constant Linear Velocity）制御でスピンドルモータ２を制御しており、例えば、光ディスクＤがＣＤであり且つ１倍速で再生する場合であれば、ＲＦアンプ４の信号から抽出されるクロックが４．３２１８ＭＨｚとなるようにスピンドルモータ２の回転速度を調整する。システムコントローラ７がスピンドルモータ２の回転速度をこのように調整することにより、光ディスクＤは、基本的に線速度一定で回転することになり、例えば、ＣＤの場合であれば約１．２５ｍ／ｓｅｃ、ＤＶＤであれば約３．５ｍ／ｓｅｃ、ＢＤであれば約５．３ｍ／ｓｅｃで回転することになる。但し、これらの数値はあくまでも各メディアを１倍速で再生する時のものであり、実際には、光ディスク装置１に加わる振動等に起因するデータの読み飛ばし等を考慮し、ＣＤであれば４倍、ＤＶＤやＢＤであれば１．６倍速となるよう、システムコントローラ７がスピンドルモータ２の回転速度を調整する。このため、データが適正に読み取られていれば後述の半導体メモリ１３の空き領域が飽和するが、その場合は光ディ
スクＤのデータを読み取らないで単にトラックをトレースする状態になるようにシステムコントローラ７が制御する。
【００２５】
光学ピックアップ３のフォトダイオードから出力される信号は、ＲＦアンプ４を介してアドレスデコーダ１４やエンコーダ・デコーダ１５へ送られる。アドレスデコーダ１４では、光ディスクＤのグルーブ（溝）に記録されているアドレスの信号が復調されて絶対アドレスが読み出される。また、エンコーダ・デコーダ１５では、ＲＦアンプ４からの信号に対する各種の変調処理や復調処理が施され、例えば、光ディスクＤがＣＤやＤＶＤの場合にはＥＦＭ（Eight Fourteen Modulation）変調後にＣＩＲＣ（Cross Interleaved Reed Solomon Code）処理による誤り訂正が行われ、光ディスクＤがＢＤの場合には１−７ＰＰ（Parity Preserve/Prohibit RMTR）変調後に２つのエラー訂正符号（ＬＤＣ（Long Distance Code）及びＢＩＳ（Burst Indicating Subcode））を組み合わせた誤り訂正が行
なわれる。そして、映像や音声といったコンテンツのデータが出力される。
【００２６】
エンコーダ・デコーダ１５から出力されたデータは、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）で構成される半導体メモリ１３を制御するショックプルーフメモリコントローラ１６によって半導体メモリ１３に一時的に蓄積され、光ディスク装置１に加わった振動等による光学ピックアップ３のデータの読み飛ばしが解消される。なお、半導体メモリ１３の容量は、耐衝撃性能に応じて適宜決定する。
【００２７】
ショックプルーフメモリコントローラ１６から出力されたデータは圧縮されているため、圧縮エンコーダ・デコーダ１７において、光ディスクＤの種類に応じた各種の圧縮・伸張処理が行われる。圧縮エンコーダ・デコーダ１７は、ショックプルーフメモリコントローラ１６から送られるデータや、光ディスク装置１の外部からＡ／Ｄ（Analog to Digital）コンバータ１８を介して入力される映像音声のデータを伸張し、光ディスク装置１の
外部へＤ／Ａ（Digital to Analog）コンバータ１９を介して出力する。
【００２８】
システムコントローラ７は、不揮発性メモリ２０に格納されたプログラムを実行する演算装置であり、操作キー２１への操作に基づいて光ディスク装置１の上記各部を統括的に制御し、その作動状態を表示部２２に表示する。また、システムコントローラ７には、光学ピックアップ３やその周辺の温度を検知する温度センサ（サーミスタ）２３が接続されており、更に、光学ピックアップ３のＬＤの駆動電流の信号線やスピンドルモータ２の回転数の信号線が接続されている。
【００２９】
＜処理フロー＞
図２は、システムコントローラ７が実行する処理フロー図である。システムコントローラ７は、光ディスクＤの再生中、以下の処理フローを実行する。
【００３０】
（ステップＳ１０１）システムコントローラ７は、光ディスクＤの再生中、温度センサ２３の温度が第一の所定温度（以下、高温検知温度１という）を超えているか否かの判定を行なう。この高温検知温度１は、冷却を更に促進する必要があるか否かの判定基準として設定された既定の温度であり、ＬＤの許容温度や冷却の促進に伴うスピンドルモータ２の消費電力の増大などを総合的に勘案して決定された温度である。
【００３１】
（ステップＳ１０２）システムコントローラ７は、温度センサ２３の温度が高温検知温度１を超えたことを検知すると、次に、光学ピックアップ３のＬＤの駆動電流が既定の電流値（ＬＤの仕様に基づいて決定する値であり、以下、検出閾値という）を超えているか否かの判定を行なう。システムコントローラ７は、否定判定の場合に再びステップＳ１０１の処理を行う。ＬＤは、出力が一定になるよう、駆動電流の帰還制御が行われているため、温度が上昇すると特性変化に伴うレーザ光のパワー低下を補償するべく駆動電流が増
加する。本ステップは、温度センサ２３が何らかの理由によりＬＤに影響を与えないような温度変化（外乱）を検知した場合の不要な動作を排除する目的で設けられており、ＬＤの駆動電流に基づく判定処理を行うことで、不用意なスピンドルモータ２の回転速度の変更が防止される。
【００３２】
（ステップＳ１０３）システムコントローラ７は、光学ピックアップ３のＬＤの駆動電流が既定の電流値を超えていれば、スピンドルモータ２の回転速度の制御をＣＬＶ制御から角速度が一定のＣＡＶ（Constant Angular Velocity）制御へ切り替え、そして単位時
間当たりの回転数を上げる。この場合、スピンドルモータ２の回転速度の制御は、ＲＦアンプ４の出力信号から生成されるクロックと既定の内部クロックとを同期させる制御から、スピンドルモータ２から送られる単位時間当たりの回転数と規定の目標回転数（単位時間あたりの回転数）とを一致させる制御へと切り替わる。この目標回転数は、スピンドルモータ２の回転によって光学ピックアップ３の冷却効果が期待される単位時間あたりの回転数であり、ＣＬＶ制御における回転速度よりも速い値に設定されている。ＣＬＶ制御だと光学ピックアップ３の位置によって回転速度が異なるため、増速による冷却効果が光学ピックアップ３の位置に応じて異なってしまうが、ＣＡＶ制御であれば増速による冷却効果が光学ピックアップ３の位置に関わらず同様である。
【００３３】
また、スピンドルモータ２の回転速度の制御をＣＬＶ制御からＣＡＶ制御へ切り替えると、ＲＦアンプ４から出力される信号のクロックも変わるため、システムコントローラ７は、スピンドルモータ２の回転速度の制御が切り替わったことをエンコーダ・デコーダ１５へ通知する。これにより、エンコーダ・デコーダ１５では、ＲＦアンプ４からの信号に対する各種の変調処理や復調処理に用いるクロックの周波数が適切な値に調整される。ＣＡＶ制御は、例えば、映像や音声といったコンテンツのデータではなく、カーナビゲーションシステムの地図データのように高速アクセスが望ましいデータを格納したデータディスクにアクセスする場合に用いる制御方式であり、データの読み書きやランダムアクセスの速さがＣＬＶ制御よりも優れている。ＣＡＶ制御へ切り替え後の角速度の設定値は、予めテーブルに設定されてメモリに格納されたものであるが、少なくともＣＬＶ制御の時よりも光ディスクＤの回転速度が速くなるように設定されており、例えば、光ディスクＤがＤＶＤであれば最外周のトラックにおいて約６倍の読み取り速度となるような角速度が設定されている。光ディスクＤの回転速度が増加すると半導体メモリ１３の空き領域が直ちに飽和し得るが、その場合は光ディスクＤのデータを読み取らないで単にトラックをトレースする状態になるようにシステムコントローラ７が制御する。
【００３４】
光ディスクＤは平たい円盤であるため、回転するとディスクの内周側の空気が外周側へ向かい、中心部の気圧が下がる。このため、気圧の下がった光ディスクＤの中心部に光ディスク装置１の内外の空気が流入し、光学ピックアップ３や周辺の基板類へ流れる気流が発生する。光ディスクＤの回転速度が速くなれば、この気流も増加し、光学ピックアップ３やその周辺の基板、集積回路類の冷却が促進される。なお、光ディスク装置１に冷却ファンが設けられている場合には、これらのファンとの協調制御を行うことで冷却効果を更に促進するようにしてもよい。協調制御を採る場合は、例えば、スピンドルモータ２の回転速度と冷却ファンの回転速度との相関を規定したマップを予め記憶させておき、これに沿った制御を行うようにしてもよいし、各種の演算式を用いたものであってもよい。協調制御を採る場合は、冷却ファンと光ディスクＤとの位置関係や気流の流通経路などを総合的に勘案し制御方法や制御マップ・演算式を検討し、これらに対応するプログラムによりシステムコントローラが制御することになる。
【００３５】
（ステップＳ１０３ａ）システムコントローラ７は、リード要求の有無を判別する。リード要求とは、レーザ光を照射して光ディスクＤの情報を読み取る必要があることを示す情報である。
【００３６】
（ステップＳ１０３ｂ）システムコントローラ７は、リード要求があるとＬＤに駆動電流を流してレーザをオンにする。
【００３７】
（ステップＳ１０３ｃ）一方、システムコントローラ７は、リード要求が無ければＬＤの駆動電流を停止してレーザをオフにする。再生中にリード要求が無くなる場合の例としては、例えば、再生中にチャプターのスキップ操作が行われ、光学ピックアップ３が移動しているような場合である。
【００３８】
（ステップＳ１０４）システムコントローラ７は、温度センサ２３の温度が第二の所定温度（高温検知温度１よりも高い温度であり、以下、高温検知温度２という）を超えているか否かの判定を行なう。この高温検知温度２は、ＬＤやサーボ系を全て停止する必要があるか否かの判定基準として設定された既定の温度であり、ＬＤの許容温度やコンテンツの再生が途切れた場合にユーザへ与える不快感などを総合的に勘案して決定された温度である。
【００３９】
（ステップＳ１０５）システムコントローラ７は、ステップＳ１０４の判定処理が否定判定だった場合、温度センサ２３の温度が第三の所定温度（第一の所定温度よりも低い温度であり、以下、復帰温度という）より下がったか否かの判定を行なう。この復帰温度は、冷却を更に継続する必要があるか否かの判定基準として設定された既定の温度であり、高温検知温度１とのオフセット（適切なヒステリシス動作特性を持つような値）などを総合的に勘案して決定された温度である。システムコントローラ７は、否定判定の場合に再びステップＳ１０４の処理を行う。
【００４０】
（ステップＳ１０６）システムコントローラ７は、温度センサ２３の温度が復帰温度より下がっていれば、スピンドルモータ２の回転速度の制御をＣＡＶ制御から通常のＣＬＶ制御へ戻し、そして単位時間当たりの回転数を下げる。また、スピンドルモータ２の回転速度の制御が切り替わったことをエンコーダ・デコーダ１５へ通知する。これにより、光ディスクＤの回転に伴う冷却効果が元に戻る。
【００４１】
（ステップＳ１０７）一方、システムコントローラ７は、ステップＳ１０４の判定処理が肯定判定だった場合、光学ピックアップ３のＬＤの駆動電流を遮断してＬＤを停止する。
【００４２】
（ステップＳ１０８）システムコントローラ７は、ＬＤを停止した後、トラッキングサーボ６やフォーカスサーボ５を停止する。なお、スピンドルモータ２の回転速度は、ＣＡＶ制御による制御で一定に保たれる。
【００４３】
（ステップＳ１０９）システムコントローラ７は、トラッキングサーボ６やフォーカスサーボ５を停止した後、温度センサ２３の温度が復帰温度より下がったか否かの判定を行なう。システムコントローラ７は、否定判定の場合に再び本ステップＳ１０９の処理を行う。また、システムコントローラ７は、肯定判定の場合、ＬＤに駆動電流を流してレーザ光を光ディスクＤへ照射させる等、光ディスクＤの再生に必要な処理を行い光ディスクＤの再生（ＣＬＶ制御による通常速度による再生）を再開する。尚、光ディスクＤの再生が再開されると、再生中の処理（ステップＳ１０１から）が行われる。
【００４４】
＜効果＞
以上のように構成される光ディスク装置１であれば、ＬＤの駆動電流と温度センサ２３の温度に基づいてスピンドルモータ２の回転速度が増減するため、ＬＤの温度変化に追従してＬＤの駆動電流が増大しても、光ディスクＤの回転速度の増大によって冷却が促進さ
れる。このため、ＬＤの駆動電流の帰還制御に起因するＬＤの破損が防止される。
【００４５】
図３は、本実施形態に係る光ディスク装置１が行なう制御内容と、従来例に係る光ディスク装置が行う制御内容とを比較した図である。従来例に係る光ディスク装置の場合、高温になると動作を停止し、温度が低下すればＣＬＶ制御による通常動作に移行していたため、ＬＤの破損の虞が無いにも関わらず光ディスクの再生が停止したりすることがあり、ユーザのストレスの一因になり得た。一方、本実施形態に係る光ディスク装置１であれば、冷却の要否を温度とＬＤの駆動電流に基づいて判定し、通常動作から動作停止へ至る前に光ディスクの回転速度を上げて冷却の促進を図っている。このため、冷却装置を増設等しなくても、動作停止に至る前に通常動作へ戻る措置が光ディスク装置内で試みられるようになり、ユーザにストレスを与えることがほとんど無くなる。
【００４６】
図４は、本実施形態に係る光ディスク装置１を動作させたときの実験データである。このときの実験環境は、周囲温度が８０℃である。この例では、温度センサ２３を光学ピックアップ３の近傍に設置しているため、温度センサ２３の温度は光学ピックアップ３の温度と同じと仮定する。本実験では、高温検知温度１を１００℃、高温検知温度２を１０５℃、復帰温度を９５℃、検出閾値を１５０ｍＡに設定している。図４の実験データから判るように、温度センサ２３の温度が１００℃を超え、更にＬＤの駆動電流も１５０ｍＡを超えると、光ディスクＤの回転速度が増して冷却が促進される。尚、この状態では光ディスクからのデータは読み取られ、そのデータを用いた音楽再生等の処理は行われる。そして、温度センサ２３の温度が１０５℃に至らないで９５℃よりも下がれば、光ディスクＤの回転速度が通常に戻る。この場合、動作停止に至る前に通常動作へ戻っているので、ユーザにストレスを与えることも無い。一方、光ディスクＤの回転速度を増しても温度センサ２３の温度が１０５℃に至れば、動作停止に至ってしまい、ユーザにストレスを与えることになる。しかしながら、冷却装置を増設等しなくても、動作停止に至る前に通常動作へ戻る措置が光ディスク装置内で試みられるようになるため、従来例に比べてユーザにストレスを与える確率が減ることになる。
【００４７】
なお、上記実施形態では、温度センサ２３の温度やＬＤの駆動電流が増加すると光ディスクＤの回転速度の制御をＣＬＶ制御からＣＡＶ制御へ切り替えていたが、ＣＬＶ制御のまま回転速度を上げてもよい。この場合、上記実施形態では、各メディアを読み取る速度を、ＣＤであれば４倍、ＤＶＤやＢＤであれば１．６倍程度の速度としていたため、これよりも倍数の高い速度にする。また、上記実施形態では、温度センサ２３の温度が高温検知温度２を超えたら光ディスクＤを回転させたままＬＤやトラッキングサーボ６、フォーカスサーボ５を停止させ、温度センサ２３の温度が復帰温度より下がったら再生を再開していたが、温度センサ２３の温度が高温検知温度２を超えたら光ディスク装置１を完全に停止させてもよい。また、上記実施形態では、温度センサ２３の温度やＬＤの駆動電流が閾値を超えるとスピンドルモータ２を増速していたが、温度や駆動電流に比例するようにスピンドルモータ２を増速してもよい。
【００４８】
また、上記実施形態に係る光ディスク装置１は、次のように変形してもよい。以下、上記実施形態の変形例について説明する。下記の変形例は、上記実施形態に係るシステムコントローラ７が実行する処理フローを改変したものであり、温度が上がるとレーザ光を照射させたまま光ディスクＤの回転速度を上げ、温度が更に上がり或いはＬＤの駆動電流が閾値を超えればＬＤをオフにするものである。図５は、本変形例に係るシステムコントローラ７が実行する処理フロー図である。
【００４９】
（ステップＳ２０１）システムコントローラ７は、上述したステップＳ１０１と同様、光ディスクＤの再生中、温度センサ２３の温度が高温検知温度１を超えているか否かの判定を行なう。
【００５０】
（ステップＳ２０２）システムコントローラ７は、温度センサ２３の温度が高温検知温度１を超えていれば、上述したステップＳ１０３と同様、スピンドルモータ２の回転速度の制御をＣＬＶ制御から角速度が一定のＣＡＶ（Constant Angular Velocity）制御へ切
り替え、そして単位時間当たりの回転数を上げる。
【００５１】
（ステップＳ２０２ａ）システムコントローラ７は、上述したステップＳ１０３ａと同様、リード要求の有無を判別する。
【００５２】
（ステップＳ２０２ｂ）システムコントローラ７は、上述したステップＳ１０３ｂと同様、リード要求があるとＬＤに駆動電流を流してレーザをオンにする。
【００５３】
（ステップＳ２０２ｃ）一方、システムコントローラ７は、上述したステップＳ１０３ｃと同様、リード要求が無ければＬＤの駆動電流を停止してレーザをオフにする。
【００５４】
（ステップＳ２０３）システムコントローラ７は、温度センサ２３の温度が復帰温度より下がったか否かの判定を行なう。
【００５５】
（ステップＳ２０４）システムコントローラ７は、温度センサ２３の温度が復帰温度より下がっていれば、スピンドルモータ２の回転速度の制御をＣＡＶ制御から通常のＣＬＶ制御へ戻し、そして単位時間当たりの回転数を下げる。また、スピンドルモータ２の回転速度の制御が切り替わったことをエンコーダ・デコーダ１５へ通知する。これにより、光ディスクＤの回転に伴う冷却効果が元に戻る。
【００５６】
（ステップＳ２０５）システムコントローラ７は、温度センサ２３の温度が高温検知温度２を超えているか、或いは、光学ピックアップ３のＬＤの駆動電流が検出閾値を超えているか否かの判定を行なう。システムコントローラ７は、否定判定を下した場合、再びステップＳ２０２ａの処理を行う。
【００５７】
（ステップＳ２０６）一方、システムコントローラ７は、スピンドルモータ２の回転速度の制御をＣＡＶ制御にしたにも関わらず、温度センサ２３の温度が高温検知温度２を超え、或いは、光学ピックアップ３のＬＤの駆動電流が検出閾値を超えていれば、光学ピックアップ３のＬＤの駆動電流を遮断してＬＤを停止する。
【００５８】
（ステップＳ２０７）システムコントローラ７は、ＬＤを停止した後、トラッキングサーボ６やフォーカスサーボ５を停止する。なお、スピンドルモータ２の回転速度は、ＣＡＶ制御による制御で一定に保たれる。
【００５９】
（ステップＳ２０８）システムコントローラ７は、トラッキングサーボ６やフォーカスサーボ５を停止した後、温度センサ２３の温度が復帰温度より下がったか否かの判定を行なう。システムコントローラ７は、否定判定の場合に再び本ステップＳ２０８の処理を行う。また、システムコントローラ７は、肯定判定の場合、ＬＤに駆動電流を流してレーザ光を光ディスクＤへ照射させる等、光ディスクＤの再生に必要な処理を行い光ディスクＤの再生（ＣＬＶ制御による通常速度による再生）を再開する。尚、光ディスクＤの再生が再開されると、再生中の処理（ステップＳ２０１から）が行われる。
【符号の説明】
【００６０】
１・・光ディスク装置，２・・スピンドルモータ，３・・光学ピックアップ，４・・ＲＦ（高周波）アンプ，５・・フォーカスサーボ，６・・トラッキングサーボ，７・・システムコントローラ，８・・ＡＧＣ（自動利得制御回路），９・・トラッキング／フォーカス
エラーアンプ，１０・・スレッドサーボ，１１・・送りモータ，１２・・スピンドルサーボ，１３・・半導体メモリ，１４・・アドレスデコーダ，１５・・エンコーダ・デコーダ，１６・・ショックプルーフメモリコントローラ，１７・・圧縮エンコーダ・デコーダ，１８・・Ａ／Ｄ（Analog to Digital）コンバータ，１９・・Ｄ／Ａ（Digital to Analog）コンバータ，２０・・不揮発性メモリ，２１・・操作キー，２２・・表示部，２３・・温度センサ（サーミスタ），Ｄ・・光ディスク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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