(57)【要約】      （修正有）【課題】複数の被測定装置（ＤＵＴ）の光学的性質を測定することが可能である発光部品測定システムおよびその方法を提供する。【解決手段】各ＤＵＴ２は、最初の光線を出力するために電気を受け取ることが可能であり、各最初の光線は、第１の波長範囲を有する。発光部品測定システム１は、濾波装置１４および検出装置１６を備える。濾波装置１４は、前記最初の光線の対応する第３の波長を濾波することができてかつ同時に複数の第１の濾波済光線２４を出力することができる第１の濾波部分１４２を備える。各第１の濾波済光線２４は、それぞれ第２の波長範囲を有する。前記検出装置１６は、濾波装置１４から出力される光線を受光してそれに応じて光データを生成する。【選択図】図２Ａ
2012225901.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定装置（ＤＵＴ）の光学的性質を測定するための、発光部品測定システムであって、前記ＤＵＴが電気を受け取ってかつ第１の波長範囲を備えた最初の光線を出力し、前記測定システムが、
前記最初の光線の第３の波長範囲を濾波してかつ第２の波長範囲を備えた第１の濾波済光線を出力するための第１の濾波部分を備える、濾波装置と、
前記第１の濾波部分から出力される前記第１の濾波済光線を受光してかつそれに応じて第１のデータを生成するための、検出装置と、を備えるシステム。
【請求項２】
前記最初の光線を前記検出装置上に焦点合わせさせるための、前記ＤＵＴと前記濾波装置との間に構成される光デバイス、を更に備える請求項１の発光部品測定システム。
【請求項３】
前記最初の光線を前記検出装置上に焦点合わせさせるための、前記濾波装置と前記検出装置との間に構成される光デバイス、を更に備える請求項１の発光部品測定システム。
【請求項４】
前記濾波装置が、前記最初の光線の第５の波長範囲を濾波してかつ第４の波長範囲を備えた第２の濾波済光線を出力するための第２の濾波部分を更に備え、前記第４の波長範囲が、前記第２の波長範囲と異なる、ことを特徴とする請求項１の発光部品測定システム。
【請求項５】
前記濾波装置が、前記第１の濾波部分と前記第２の濾波部分の位置の間で切り替えをするために前記濾波装置を回転させるための回転装置を備える、ことを特徴とする請求項４の発光部品測定システム。
【請求項６】
前記検出装置が、前記第２の濾波部分から出力される前記第２の濾波済光線を受光してかつそれに応じて第２のデータを生成する、ことを特徴とする請求項４の発光部品測定システム。
【請求項７】
前記第１のデータおよび前記第２のデータに従って前記最初の光線の相対的強度−波長グラフを生成するための、算出装置、を更に備える請求項６の発光部品測定システム。
【請求項８】
前記検出装置が、単色の電荷結合素子モジュールまたは単色のＣＭＯＳモジュールを備える、ことを特徴とする請求項１の発光部品測定システム。
【請求項９】
発光部品測定方法であって、
被測定装置（ＤＵＴ）であって、電気を受け取ってかつ第１の波長範囲を備えた最初の光線を出力する前記ＤＵＴを準備するステップと、
前記最初の光線の第３の波長範囲を濾波してかつ第２の波長範囲を備えた第１の濾波済光線を出力するステップと、
第１のデータを生成するために前記第１の濾波済光線を測定するステップと、
前記最初の光線の第５の波長範囲を濾波してかつ第４の波長範囲を備えた第２の濾波済光線を出力するステップと、
第２データを生成するために前記第２の濾波済光線を測定するステップと、
前記第１のデータおよび前記第２のデータに従って前記最初の光線の相対的強度−波長グラフを生成するステップと、を含む方法。
【請求項１０】
請求項９の発光部品測定方法であって、さらに以下のステップ、すなわち、
前記最初の光線の前記相対的強度−波長グラフに従って前記ＤＵＴの照度、光束、色温度、演色評価数またはＣＩＥｘ，ｙ座標を算出するステップを含む方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、発光部品測定システムに、およびより詳しくは、発光部品の光学的性質を得るために複数の発光部品を濾波して分析するための濾波装置を利用する発光部品測定システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
発光部品の生産性が高まるにつれて、発光部品を測定する要求もまた増大してきた。図１を参照すると、図１は従来技術の模式図である。従来技術の発光部品測定は、全光束および色温度、演色評価数またはＣＩＥｘ，ｙ座標のような他の光学特性を測定する分光計９２および輝度計９４と協働される積分球９０を利用する。
【０００３】
従来技術の積分球９０は、高度に反射する内面を備えた中空球体であり、それは、球体の内部または球体の外側の特定のウィンドウの近くの場所上に構成される被測定装置（ＤＵＴ）によって放出される光線を集めるための効果的な装置である。積分球９０の原理は、以下の諸ステップ：ほぼ１００％の反射率で球体内に反射される光源を反射するステップと、球体の表面上の各ゾーンの照度が、数回の反射の後で同じであることを想定するステップと、所定の領域のうちの１つの照度をそれに応じて測定してかつ積分球９０の所定の領域と内部の領域との間の面積比率を逓倍するステップと、発光部品の全光束を得るステップと、を備える。
【０００４】
さらに、分光計９２は予め所定の波長範囲内の光源を測定するための装置である。従来技術の分光計９２は、システムを通過する光の強度を変えるための光学格子およびプリズムのような分散部品を備える。分光計９２の原理は、以下の諸ステップ：分光計の入射スリット内に混合光線を放出するステップと、光学コリメータによって混合光線を平行光線に変換するステップと、分散するための回折格子を通して平行光線を通すステップと、を備える。要約すると、分光計９２は回折格子によって更に分析するために光を分散させる。
【０００５】
それゆえに、各積分球は理論的には毎回、１個の発光部品だけを測定することができる。さらに、分光計は高価でかつ積分球と協働しなければならない。それは測定のコストを増大することに至る。
【０００６】
さらに、従来技術で検知部品として太陽電池を利用する技術がある。しかしながら、それは光の強度を分析することができるだけであり、しかし、発光部品の色温度および他の光学的性質は分析されることができない。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
従来技術の前記課題からみて、それゆえに、安価で、効率的でかつ発光部品の光の強度、色温度および他の光学的性質を自動的に測定することが可能である装置および方法を開発する方法が、産業内に推進されるべき目標および必要な方向性である。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
従来技術の前記課題からみて、本発明の１つの有効範囲は、被測定装置（ＤＵＴ）の光学的性質を測定するための発光部品測定システムを提供することであり、ＤＵＴは電気を受け取ってかつ第１の波長範囲を備えた最初の光線を出力する。本発明の発光部品測定システムは、濾波装置および検出装置を備える。濾波装置は、最初の光線の第３の波長範囲を濾波してかつ第２の波長範囲を備えた第１の濾波済光線を出力するための第１の濾波部分を備える。検出装置は、第１の濾波部分から出力される第１の濾波済光線を受光してかつそれに応じて第１のデータを生成する。
【０００９】
実際には、発光部品測定システムは、最初の光線を検出装置に焦点合わせさせるための、ＤＵＴと濾波装置との間に構成される、光デバイスを更に備える。さらに、光デバイスがまた、最初の光線を検出装置に焦点合わせさせるために、濾波装置と検出装置との間に構成されることもできる。
【００１０】
実際には、濾波装置は最初の光線の第５の波長範囲を濾波して第４の波長範囲を備えた第２の濾波済光線を出力するための第２の濾波部分を更に備え、第４の波長範囲は、第２の波長範囲と異なる。加えて、濾波装置は第１の濾波部分と第２の濾波部分の位置間の切り替えをするために濾波装置を回転させるための回転装置を備える。さらに、検出装置は第２の濾波部分から出力される第２の濾波済光線を受光してかつそれに応じて第２のデータを生成する。
【００１１】
さらに、本発明は、第１のデータおよび第２のデータに従って最初の光線の相対的強度−波長グラフを生成するための算出装置を更に備えることができる。
【００１２】
加えて、実際には、検出装置は単色の電荷結合素子モジュールまたは単色のＣＭＯＳモジュールを備える。
【００１３】
さらに、本発明の別の有効範囲は発光部品測定方法であって、被測定装置（ＤＵＴ）であって、電気を受け取ってかつ第１の波長範囲を備えた最初の光線を出力するＤＵＴを準備するステップと、最初の光線の第３の波長範囲を濾波してかつ第２の波長範囲を備えた第１の濾波済光線を出力するステップと、第１のデータを生成するために第１の濾波済光線を測定するステップと、最初の光線の第５の波長範囲を濾波してかつ第４の波長範囲を備えた第２の濾波済光線を出力するステップと、第２のデータを生成するために第２の濾波済光線を測定するステップと、第１のデータおよび第２のデータに従って最初の光線の相対的強度−波長グラフを生成するステップと、を含む方法を提供することである。
【００１４】
さらに、実際には、前記方法は以下のステップ：最初の光線の相対的強度−波長グラフに従ってＤＵＴの照度、光束、色温度、演色評価数またはＣＩＥｘ，ｙ座標を算出するステップを更に備える。
【００１５】
従来技術と比較して、本発明は複数の発光部品を同時に測定することができるシステム及びそれの方法を提供する。加えて、本発明は濾波装置が、種々の濾波状態を利用してＤＵＴから出力される光線を濾波し、かつ、測定結果を得るために種々の濾波済光線を分析するための、測定システム内に創造的に集積化されるようにする。本発明は、すべての測定を１から数十さらに数百まで、数の限界を増大し、それが発光部品測定システムの効率を数十から数百倍に上昇させる。
【００１６】
本発明の目標は以下の図および図面内に例示される好ましい実施態様の以下の詳細な説明を読み取った後に当業者にとって間違いなく明らかになるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】従来技術の模式図である。
【図２Ａ】本発明の一実施態様の発光部品測定システムの模式図である。
【図２Ｂ】本発明の一実施態様の最初の光線の相対的強度−波長グラフである。
【図２Ｃ】本発明の一実施態様の第１の濾波済光線の相対的強度−波長グラフである。
【図３Ａ】本発明の一実施態様の発光部品測定システムの模式図である。
【図３Ｂ】本発明の一実施態様の最初の光線の相対的強度−波長グラフである。
【図３Ｃ】本発明の一実施態様の第１の濾波済光線の相対的強度−波長グラフである。
【図３Ｄ】本発明の一実施態様の濾波装置の平面図である。
【図４】本発明の別の実施態様の発光部品測定システムの模式図である。
【図５】本発明の別の実施態様の発光部品測定システムの模式図である。
【図６】本発明の別の実施態様の発光部品測定システムの模式図である。
【図７】本発明の一実施態様の発光部品測定方法の流れ図である。
【図８】本発明の別の実施態様の分析データの模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
図２Ａおよび図３Ａを参照されたい。図２Ａおよび図３Ａは、本発明の一実施態様の発光部品測定システムの模式図である。発光部品測定システム１は、複数の被測定装置（ＤＵＴ）２の光学的性質を同時に測定することが可能である。各ＤＵＴ  ２は、最初の光線２２を出力するために電気を受け取ることが可能であり、各最初の光線は、第１の波長範囲２２２を有する。本発明の実施態様において、発光部品測定システム１は光デバイス１２、濾波装置１４および検出装置１６を備える。
【００１９】
本発明の本実施態様では、ＤＵＴ  ２はキャリア上に構成されて発光部品測定システム１内にセットされる。複数のＤＵＴ  ２が、最初の光線２２をそれぞれ出力するために電気を受け取る。複数の最初の光線２２が、最初の光線２２を検出装置１６上に焦点合わせさせるために光デバイス１２を通過する。図２Ａに示すように、各最初の光線２２は濾波装置１４の第１の濾波部分１４２によって濾波されて第１の濾波済光線２４になる。各ＤＵＴ  ２に対応する第１の濾波済光線２４は、それぞれ対応する検出装置１６によって受光される。検出装置１６は、それぞれ第１のデータを生成し、各第１のデータが、前記ＤＵＴ  ２の各々に対応しており、および、第１のデータは、最初の光線２２の第２の波長範囲２２４の光学的性質を得るために、分析するための算出装置１８に送信される。図３Ａに示すように、濾波装置１４はスイッチが第２の濾波部分１４４をＤＵＴ  ２の上にセットするようにし、各最初の光線２２は、濾波装置１４の第２の濾波部分１４４によって濾波されて第２の濾波済光線２６になる。各ＤＵＴ  ２に対応する第２の濾波済光線２６は、それぞれ検出装置１６の対応する感知モジュールによって受光される。感知モジュールは、第２のデータをそれぞれ生成し、各第２のデータが、前記ＤＵＴ  ２の各々に対応しており、および、第２のデータが、最初の光線２２の第４の波長範囲２２８の光学的性質を得るために、分析するための算出装置１８に送信される。算出装置１８は、カーブフィッティングおよび多段アルゴリズムによって各ＤＵＴの第１のデータおよび第２のデータを分析して算出することを通して各ＤＵＴ  ２の最初の光線２２の波長範囲の光学的性質を得ることが可能で、そして次に、分析データを要約する。前記分析データは、ＤＵＴの照度、光束、色温度、演色評価数またはＣＩＥｘ，ｙ座標、ピッチ波長（λｐ）、主波長（λｄ）および半値幅（ＦＷＨＭ）を備えることができる。
【００２０】
ＤＵＴ  ２は、電気を光に変えることができる発光部品の各々を指す。本発明の本実施態様では、ＤＵＴ  ２はＬＥＤベアダイである。より詳しくは、ＤＵＴ  ２はウエハから分割されてきちんと配置されるＬＥＤベアダイである。しかしながら、発光部品はＬＥＤベアダイに限られず、発光部品は、また、レーザダイオードチップ、ｕｖダイオードチップまたは光線を出力するために電気を受け取ることができるその他の半導体素子であることもできる。
【００２１】
前記ＤＵＴ  ２の光学的性質は、光線の光束、波長範囲、相対的強度、色温度またはＣＩＥｘ，ｙ座標のような、電気を受け取ったＤＵＴ  ２から出力される光線の特性である。前記最初の光線２２は各ＤＵＴ  ２によって生成される光線であり、および、最初の光線２２は第１の波長範囲２２２を有する。
【００２２】
システム内の光線の焦点距離を調整するために、ＤＵＴ  ２と濾波装置１４との間に光デバイス１２が構成される。本発明の実施態様において、光デバイス１２は、複数のＤＵＴ  ２から出力される各最初の光線２２の焦点距離を調整するためにかつ各最初の光線２２の焦点距離が前記検出装置１６の対応する表面上にセットされるようにするために、複数のＤＵＴ  ２と濾波装置１４との間に構成される。
【００２３】
本発明の実施態様では、光デバイス１２はアークレンズである。しかしながら、光デバイスはアークレンズに限られず、光デバイスはまた、マイクロレンズ組または焦点距離を同時に調整する機能を備えたその他の光デバイスであることもできる。ターゲットが最初の光線、第１の濾波済光線または第２の濾波済光線であるので、光デバイス１２はＤＵＴ  ２と濾波装置１４との間の対応する位置に構成される。
【００２４】
濾波装置１４は、入射光線を濾波して濾波済光線を出力する。濾波装置１４は所定の波長範囲内の光線だけが通過することを可能にし、および、所定の波長の外の光線は濾波装置１４によって反射されるかまたは吸収される。
【００２５】
本発明の実施態様において、濾波装置１４は色環である。一般に、色環は種々の波長範囲内の色分解フィルタの組合せであり、色環は、入射光線に色分解を処理することが可能であり、かつ入射光線がカラー画像の色分解および結像のために処理されることができてかつ最後に他の部品を通してフルカラーの画像に投影されることができるように、所定の光路上で順序よく種々の単色光を分離するための回転装置（図内に図示せず）によって回転される。本発明の実施態様では、前記回転装置は高速モータである。
【００２６】
カラープロジェクタ、大サイズカラー映写ＴＶまたは光学映写装置内に適用される従来技術の色環と比較して、本発明の色環は、撮像以外のために、測定して分析するための必要な波長範囲を収集するために、ＤＵＴ  ２から出力される光線およびＤＵＴ  ２から出力される光線の不必要な波長範囲を濾波する。
【００２７】
図２Ａおよび図３Ａをもう一度参照されたい。本発明の本実施態様では、濾波装置１４は第１の濾波部分１４２および第２の濾波部分１４４を備える。第１の濾波部分１４２は、各最初の光線２２の第１の波長範囲２２２の第３の波長範囲２２６を濾波してかつ第２の波長範囲２２４を備えた第１の濾波済光線２４を出力する。第２の波長範囲２２４のサイズおよび値は、第１の濾波部分１４２内に使用される材料の特性に対応する。さらに、第２の濾波部分１４４は最初の光線２２の第１の波長範囲２２２の第５の波長範囲２２９を濾波してかつ第４の波長範囲２２８を備えた第２の濾波済光線２６を出力し、第４の波長範囲２２８は、第２の波長範囲２２４と異なる。さらに、本発明の濾波装置１４は２つの濾波部分に限られず、設計の要件として、濾波装置１４は２つを超える濾波部分を有することができる。
【００２８】
図３Ｄを参照されたい。図３Ｄは、本発明の一実施態様の濾波装置の平面図である。本発明の濾波装置１４は、第１の濾波部分１４２および第２の濾波部分１４４を備える。本発明の実施態様では、濾波装置１４は６つの濾波部分を備える。しかしながら、濾波部分の数は６つに限られず、測定の要件として、濾波装置はまた、６つを超えるまたは未満の濾波部分を備えることができ、各濾波部分に対する波長は、一般に異なる。
【００２９】
さらに、本発明の濾波装置１４は色環に限られず、設計の要件として、濾波装置はまた、異なる波長を備えた複数のフィルターガラスおよび対応する波長を備えた光線を濾波するための所定の波長を備えたフィルターガラスを切替える従来のスイッチング機構を利用することもできる。
【００３０】
図２Ｂおよび図２Ｃを参照されたい。図２Ｂは、本発明の一実施態様の最初の光線の相対的強度−波長グラフである。図２Ｃは、本発明の一実施態様の第１の濾波済光線の相対的強度−波長グラフである。本発明の本実施態様では、第１の波長範囲２２２は３９０ナノメートルから５１０ナノメートルまでである。第２の波長範囲２２４は、４５５ナノメートルから４６０ナノメートルまでである。第３の波長範囲２２６は、３９０ナノメートルから４５４ナノメートルまでおよび４６１ナノメートルから５１０ナノメートルまでである。最初の光線２２が第１の濾波部分１４２を通過するにつれて、第３の範囲２２６内の波長は第１の濾波済光線２４を生成するために除去される。第１の濾波済光線２４の波長範囲は、第１の波長範囲２２２マイナス第３の波長範囲２２６の波長範囲であり、これは、第２の波長範囲２２４に等しい。しかしながら、各波長範囲の単位のサイズは５ナノメートルに限られず、波長範囲の単位のサイズは、自由に調整されることが可能である。
【００３１】
図３Ｂおよび図３Ｃを参照されたい。図３Ｂは、本発明の一実施態様の最初の光線の相対的強度−波長グラフである。図３Ｃは、本発明の一実施態様の第１の濾波済光線の相対的強度−波長グラフである。本発明の本実施態様では、第１の波長範囲２２２は３９０ナノメートルから５１０ナノメートルまでである。第４の波長範囲２２８は、４６０ナノメートルから４６５ナノメートルまでであり、ならびに、第５の波長範囲２２９は３９０ナノメートルから４５９ナノメートルまで、および４６６ナノメートルから５１０ナノメートルまでである。最初の光線２２が第２の濾波部分１４４を通過するにつれて、第５の波長範囲２２９内の光線は第２の濾波済光線２６を生成するために除去される。第２の濾波済光線２６の波長範囲は、第１の波長範囲２２２マイナス第５の波長範囲２２９の波長範囲であり、これは、第４の波長範囲２２８に等しい。
【００３２】
検出装置１６は、複数の第１の濾波済光線２４を受光してかつそれに応じて複数の対応する光データを生成する。本発明の実施態様では、検出装置１６は感知モジュールを備える。感知モジュールは、単色の電荷結合素子モジュールである。本発明の実施態様では、各ＤＵＴ  ２はそれぞれ対応する感知モジュールを有し、各感知モジュールは、マトリックス配列である。加えて、前記感知モジュールは電荷結合素子モジュールに限られず、それは、また、ＣＭＯＳモジュールであることもできる。さらに、前記電荷結合素子モジュールおよびＣＭＯＳモジュールは単色のタイプに限られず、設計の要件として、それはまた、カラータイプであることもできる。しかしながら、カラー感知モジュールが赤、緑および青画素から成るので、分解能は、定数の画素に対して単色の感知モジュールの３分の１である。
【００３３】
図４を参照されたい。図４は、本発明の別の実施態様の発光部品測定システムの模式図である。本発明の本実施態様では、濾波装置１４から出力される光線の焦点距離を調整するために、濾波装置１４と検出装置１６との間に光デバイス１２が構成される。
【００３４】
図５を参照されたい。図５は、本発明の別の実施態様の発光部品測定システムの模式図である。本発明の本実施態様では、濾波装置１４から出力される光線の焦点距離を調整するために、光デバイス１２が濾波装置１４の上面または底面上に構成される。加えて、光デバイス１２はまた、部品の数を減少させるために濾波装置１４と組み合わせることもできる。
【００３５】
図６を参照されたい。図６は、本発明の別の実施態様の発光部品測定システムの模式図である。本発明の本実施態様では、本発明の発光部品測定システム１は単一ＤＵＴ  ２の測定に適用され、および、光デバイスが選択的に省略される。ＤＵＴ  ２の最初の光線２２の相違のために、ＤＵＴ  ２が失う光線の比率は、検出装置１６とＤＵＴ  ２との間の距離と同じであり、それゆえに、ＤＵＴ  ２から出力される光線の光学的性質は、測定結果を調整することを通して得られることが可能である。したがって、本発明の本実施態様では、光デバイスは必要でない。
【００３６】
図７を参照されたい。図７は、本発明の一実施態様の発光部品測定方法の流れ図である。本発明は加えて、発光部品測定方法を提供し、それが複数のＤＵＴの光学的性質を同時に測定する。本発明の方法は、Ｓ１からＳ７のステップを備え、Ｓ１のステップでは、被測定装置（ＤＵＴ）を準備する。ＤＵＴは、電気を受け取って第１の波長範囲を備えた最初の光線を出力する。Ｓ２のステップでは、最初の光線の第３の波長範囲を濾波して第２の波長範囲を備えた第１の濾波済光線を出力する。Ｓ３のステップでは、第１のデータを生成するために第１の濾波済光線を測定する。Ｓ４のステップでは、最初の光線の第５の波長範囲を濾波して第４の波長範囲を備えた第２の濾波済光線を出力する。Ｓ５のステップでは、第２のデータを生成するために第２の濾波済光線を測定する。Ｓ６のステップでは、第１のデータおよび第２のデータに従って最初の光線の相対的強度−波長グラフを生成する。Ｓ７のステップでは、最初の光線の相対的強度−波長グラフに従ってＤＵＴの照度、光束、色温度、演色評価数またはＣＩＥｘ，ｙ座標を算出する。
【００３７】
複数の第１の濾波済光線を測定することによって生成される前記複数の対応する第１のデータは、検出装置が第１のデータを生成するように、第１の濾波済光線を測定するために前記システムの検出装置を利用することによって実現される。複数の第２の濾波済光線を測定することによって生成される前記複数の対応する第２のデータは、検出装置が第２のデータを生成するように、第２の濾波済光線を測定するために前記システムの検出装置を利用することによって実現される。前記第１のデータおよび第２のデータは、座標、値または他のテキストデータを備えることができる。
【００３８】
本発明の実施態様では、第１のデータおよび第２のデータは第１の濾波済光線および第２の濾波済光線に属する第２の範囲および第４の範囲の相対的強度の最大座標値である。しかしながら、第１のデータおよび第２のデータは前記座標値に限られていない。ユーザの要件として、それはまた、座標値または最小値、平均値もしくは他の計算によって算出される対応する値であることもできる。
【００３９】
図８を参照されたい。図８は、本発明の別の実施態様の分析データの模式図である。本発明の本実施態様では、第１のデータ２２４２および第２のデータ２２８２の座標値が第１の濾波済光線または第２の濾波済光線に従って算出された後で、第１のデータ２２４２および第２のデータ２２８２が、ユーザに対して各ＤＵＴの光学的性質を示すために、第１の濾波済光線または第２の濾波済光線に対応する分析データに配置されて要約される。分析データは、第１の濾波済光線の第１のデータ２２４２または第２の濾波済光線の第２のデータ２２８２によって備えられるデータを分析することによって得られるデータである。
【００４０】
本発明の本実施態様では、本発明は、各ＤＵＴの最初の光線の各波長範囲の光学的性質を得て、分析データに要約するために、各ＤＵＴの第１のデータ２２４２および第２のデータ２２８２を分析して算出するためにカーブフィッティングおよび多段アルゴリズムを利用し、前記分析データは、ＤＵＴのＣＩＥｘ，ｙ座標、ピッチ波長（λｐ）、主波長（λｄ）および半値幅（ＦＷＨＭ）を備えることができる。本発明の実施態様では、分析データは相対的強度−波長グラフである。しかしながら、分析データは相対的強度−波長グラフに限られず、それはまた、照度、光束、色温度、演色評価数またはＣＩＥｘ，ｙ座標を備えるテキストまたは画像データであることもできる。
【００４１】
従来技術と比較して、本発明は複数の発光部品を同時に測定することができるシステムおよびその方法を提供する。加えて、本発明は濾波装置を、ＤＵＴから出力される光線を濾波するために種々の濾波状態を利用するための、かつ、測定結果を得るために種々の濾波済光線を分析するための、測定システム内に創造的に集積化されるようにする。本発明は、すべての測定を１から数十さらに数百まで、数の限界を増大し、それが発光部品測定システムの効率を何倍にも上昇させる。
【００４２】
本発明がそれの好ましい実施態様を参照して例示されて記載されたとはいえ、それが決してこの種の実施態様の詳細に限定されず、添付の請求項の範囲内で多数の変更が可能であるように理解されるべきである。
【符号の説明】
【００４３】
１  発光部品測定システム
２  被測定装置（ＤＵＴ）
１２  光デバイス
１４  濾波装置
１６  検出装置
１８  算出装置
２２  最初の光線
２４  第１の濾波済光線
２６  第２の濾波済光線
９０  積分球
９２  分光計
９４  輝度計
１４２  第１の濾波部分
１４４  第２の濾波部分
２２２  第１の波長範囲
２２４  第２の波長範囲
２２６  第３の波長範囲
２２８  第４の波長範囲
２２９  第５の波長範囲
２２４２  第１のデータ
２２８２  第２のデータ
【図１】
2012225901.tif 000003
【図２Ａ】
2012225901.tif 000004
【図２Ｂ】
2012225901.tif 000005
【図２Ｃ】
2012225901.tif 000006
【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図３Ｃ】
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【図３Ｄ】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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