(57)【要約】【課題】更新されたベースとなるライトストラテジ（ＷＳＴ）に基づいて固有ＷＳＴを新たに作成することにより、書き込み精度をより向上させることのできる光ディスク記録装置を提供する。【解決手段】本発明にかかる光ディスク記録装置は、光ディスクに対応したＷＳＴを作成するための基になるベースＷＳＴを記憶するベースＷＳＴ記憶手段と、ベースＷＳＴに基づいて作成された光ディスクごとに固有のＷＳＴを記憶する固有ＷＳＴ記憶手段と、ベースＷＳＴ記憶手段に記憶されているベースＷＳＴと、固有ＷＳＴ記憶手段に記憶されている、固有ＷＳＴの作成元になっているベースＷＳＴとが異なるか否かを判断して、異なる場合に、光ディスクに対応する固有ＷＳＴを、ベースＷＳＴ記憶手段に記憶されているベースＷＳＴにより作成する固有ＷＳＴ作成手段と、を有する。【選択図】図２
2012128932.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに対応したライトストラテジを作成するための基になるベースライトストラテジを記憶するベースライトストラテジ記憶手段と、
前記ベースライトストラテジに基づいて作成された前記光ディスクごとに固有のライトストラテジを記憶する固有ライトストラテジ記憶手段と、
前記ベースライトストラテジ記憶手段に記憶されている前記ベースライトストラテジと、前記固有ライトストラテジ記憶手段に記憶されている、前記固有ライトストラテジの作成元になっているベースライトストラテジとが異なるか否かを判断して、異なる場合に、前記光ディスクに対応する固有ライトストラテジを、前記ベースライトストラテジ記憶手段に記憶されているベースライトストラテジにより作成する固有ライトストラテジ作成手段と、
を有することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項２】
前記ベースライトストラテジ記憶手段に記憶されている前記ベースライトストラテジを更新するベースライトストラテジ更新手段を有し、当該ベースライトストラテジ更新手段は、前記ベースライトストラテジを更新する際に異なる識別情報を付与して前記ベースライトストラテジ記憶手段に記憶し、
前記固有ライトストラテジ作成手段は、前記固有ライトストラテジを作成する際に、その作成元になっているベースライトストラテジの前記識別情報を付与して、前記固有ライトストラテジ記憶手段に、作成した固有ライトストラテジを記憶させておいて、前記判断の際に前記識別情報が一致するか否かを判断することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装置。
【請求項３】
前記固有ライトストラテジ記憶手段が新たに記憶した固有ライトストラテジによる書き込み品質と、前記固有ライトストラテジ記憶手段に記憶されている固有ライトストラテジによる書き込み品質とを比較する比較手段をさらに有し、
前記比較手段は、前記新たに作成した固有ライトストラテジの品質が優れている場合に、前記新たに作成した固有ライトストラテジを前記固有ライトストラテジ記憶手段に記憶することを特徴とする請求項１または２に記載の光ディスク記録装置。
【請求項４】
光ディスクに対応したライトストラテジを作成するための基になるベースライトストラテジを記憶するステップと、
前記ベースライトストラテジに基づいて作成された前記光ディスクごとに固有のライトストラテジを記憶するステップと、
前記記憶されたベースライトストラテジと、前記記憶された固有ベースライトストラテジの作成元になっているベースライトストラテジとが異なるか否かを判断するステップと、
を含み、
異なると判断される場合に、前記光ディスクに対応する固有ライトストラテジを、前記記憶されたベースライトストラテジにより作成するステップをさらに含むことを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項５】
前記記憶されたベースライトストラテジを更新するステップをさらに含み、
前記ベースライトストラテジを更新するステップは、
前記ベースライトストラテジを更新する際に異なる識別情報を付与して前記ベースライトストラテジ記憶手段に記憶するステップと、
固有のライトストラテジを記憶するステップにおいて、前記固有ライトストラテジを作成する際に、その作成元になっているベースライトストラテジの前記識別情報を付与して、作成した固有ライトストラテジを記憶させておいて、前記判断の際に前記識別情報が一致するか否かを判断するステップと、
をさらに含むことを特徴とする請求項４に記載の光ディスク記録方法。
【請求項６】
前記新たに作成された固有ライトストラテジによる書き込み品質と、前記新たに作成される前の固有ライトストラテジによる書き込み品質とを比較するステップをさらに有し、
前記書き込み品質を比較するステップは、前記新たに作成した固有ライトストラテジの品質が優れている場合に、前記新たに作成した固有ライトストラテジを記憶するステップをさらに含むことを特徴とする請求項４または５に記載の光ディスク記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク記録装置および光ディスク記録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
記録パルス（レーザ）を照射して光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置では、ライトストラテジ（Ｗｒｉｔｅ  Ｓｔｒａｔｅｇｙ：ＷＳＴ）が利用される。ＷＳＴとは、記録パルス波形の立ち上がりおよび立ち下がりのタイミングと、立ち上がりエッジから立ち下がりエッジまでの信号幅を規定するパラメータである。ＷＳＴを利用することによって、個々の光ディスクの記録層の組成、記録時の記録速度や温度などの記録条件に適した記録動作ができ、高い精度で情報を記録することができる。
【０００３】
ＷＳＴは、個々の光ディスクに対し固有のＷＳＴとして保存されている。このようなＷＳＴは通常、既存の光ディスクに対して、各々の光ディスクの識別コード（ＭＩＤ（Ｍａｎｕｆａｃｔｕｒｅｒ’ｓ  Ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）コード）に対応して保存されている（このよう既存の光ディスクに対応したＷＳＴを既存ＷＳＴという）。
【０００４】
一方、既存ＷＳＴのない光ディスクに対しては、その光ディスクに対応した新たな専用のＷＳＴを作成する技術がある。この技術によれば、あらかじめ標準となる記録ライトストラテジ（ベースＷＳＴという）を用意しておき、このベースＷＳＴを使用して作り出すことで、書き込みの精度を向上させている。そしてその光ディスクに対して新たに作成したＷＳＴは、光ディスク記録装置等の記憶部に記憶され、それ以後、その光ディスクに対応した固有のＷＳＴ（固有ＷＳＴという）として使用される（特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００５−２９３６７３号公報
【特許文献２】特開２００７−２１３７３１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上記従来技術では、装置内であらかじめＭＩＤコードはわかっているが、既存ＷＳＴの存在しない光ディスクに対して新たに作成された固有ＷＳＴは、一度光ディスク記録装置等に記憶されると、書き換えられることがない。一方、ＷＳＴを作成するための元になるベースＷＳＴは、それ自体が精度向上のために更新されることがある。しかし、光ディスクの作成済み固有ＷＳＴとして記憶されたＷＴＳは更新されない。
【０００７】
このため、新たな光ディスク用として作成済みの固有ＷＳＴは、その元になるベースＷＳＴが精度向上のために更新しているにもかかわらず、低精度のままとなってしまうことがある。
【０００８】
本願発明は、このような課題に基づいてなされたものであり、更新されたベースＷＳＴに基づいて固有ＷＳＴを新たに作成することにより、書き込み精度をより向上させることのできる光ディスク記録装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するための本発明による光ディスク記録装置は、光ディスクに対応したＷＳＴを作成するための基になるＷＳＴを記憶するＷＳＴ記憶手段と、前記ＷＳＴに基づいて作成された前記光ディスクごとに固有のＷＳＴを記憶する固有ＷＳＴ記憶手段と、前記ＷＳＴ記憶手段に記憶されている前記ＷＳＴと、前記固有ＷＳＴ記憶手段に記憶されている、前記固有ＷＳＴの作成元になっているＷＳＴとが異なるか否かを判断して、異なる場合に、前記光ディスクに対応する固有ＷＳＴを、前記ＷＳＴ記憶手段に記憶されているＷＳＴにより作成する固有ＷＳＴ作成手段と、を有することを特徴とする。
【００１０】
この結果、更新されたベースＷＳＴに基づいて固有ＷＳＴが作成され、記録パワー最適化工程（ＯＰＣ：Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）を実行できるので、書き込み精度をより向上させることができる。
【００１１】
上記目的を達成するための本発明による光ディスクの記録方法は、光ディスクに対応したＷＳＴを作成するための基になるベースＷＳＴを記憶するステップと、前記ベースＷＳＴに基づいて作成された前記光ディスクごとに固有のＷＳＴを記憶するステップと、前記記憶されたベースＷＳＴと、前記記憶された固有ベースＷＳＴの作成元になっているベースＷＳＴとが異なるか否かを判断するステップと、を含み、異なると判断される場合に、前記光ディスクに対応する固有ＷＳＴを、前記記憶されたベースＷＳＴにより作成するステップをさらに含むことを特徴とする。
【００１２】
この結果、更新されたベースＷＳＴに基づいて新たに作成されたＷＳＴと、過去に設定されて記憶されたＷＳＴとの記録特性についての品質が比較され、より確実に高精度のＷＳＴによる記録を実行することができる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、ベースＷＳＴが更新される場合においても、更新されたベースＷＳＴにより、より高精度で情報を記録できる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の実施形態における光ディスク記録装置のブロック図である。
【図２】第１実施形態にかかる、ＷＳＴを調整して記録動作を実行するための処理を示すフローチャートである。
【図３】第１実施形態にかかる、新たに作成または更新されたＷＳＴが記憶される形態を概略的に示す図である。
【図４】第２実施形態にかかる、ＷＳＴを調整して記録動作を実行するための処理を示すフローチャートである。
【図５】第２実施形態にかかる、ＷＳＴの品質を比較するための処理を示すフローチャートである。
【図６】第２実施形態による効果を示す表およびグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本発明の実施形態を添付した図面を参照して説明する。
【００１６】
図１は、本発明の実施形態における光ディスク記録装置のブロック図である。
【００１７】
図１に示されるように、本実施形態の光ディスク記録装置２００は、半導体レーザにより光ディスク１に情報を記録したり、記録された情報を再生したりするために使用される。光ディスク記録装置２００は、光ピックアップ１０、ヘッドアンプ２０、二値化回路３０、デコーダ４０、ＭＩＤコード検出部５０、クロックズレ測定部６０、ＲＡＭ７０、データ弁別演算部８０、ＲＯＭ９０、ＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ  Ｅｒａｓａｂｌｅ  ＰＲＯＭ）１００、ライトストラテジ演算部１１０、記録パルス調整部１２０、エンコーダ１３０、レーザ駆動部１４０および制御部１５０を有する。
【００１８】
光ディスク１は、たとえば、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ±Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＢＤ−Ｒ、ＢＤ−ＲＥ、ＢＤ−ＲＯＭ等である。光ディスク１は、記録層の記録条件（組成、蓄熱、記録速度の違い等）の個体差があるため、個別に最適化されたライトストラテジ（既存ライトストラテジ）および記録時のレーザ照射パワーについての情報を含む記録パラメータで情報を記録する必要がある。光ディスク１の記憶領域には、光ディスク１のＭＩＤコード、製造メーカ、型番等の固有情報が予め記録されている。また、光ディスク１の記憶領域は、設定された記録パラメータの精度が良いか否かを判断するための、テスト記録を行うためのテスト領域を含む。
【００１９】
光ピックアップ１０は、光ディスク１にレーザパルス光を照射するとともに、光ディスク１からの反射光を受光するためのものである。具体的には、光ピックアップ１０は、レーザ光源、光学部品および受光部を有し、スピンドルモータ（不図示）により回転された光ディスク１にレーザパルス光を照射するとともに、光ディスク１の記録面で反射された反射光を受光する。レーザ光源としては、レーザダイオードなどの発光素子が用いられる。光学部品は、コリメータレンズ、フォーカスアクチュエータあるいはトラッキングアクチュエータによって駆動される対物レンズ、偏光ビームスプリッタ、シリンドリカルレンズ等を含む。受光部は、光ディスク１の記録面で反射されたレーザ光を受光して電気信号に変換する複数の受光素子を含む。
【００２０】
ヘッドアンプ２０は、ＲＦ信号（データ信号)、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号を生成するために使用される。ＲＦ信号は、受光部の各分割領域への反射光量の総和を示す信号であり、光ディスク１からの反射光を検出し、当該反射光に基づいて反射光量を演算することで生成される。フォーカスエラー信号は、光ピックアップ１０の照射レーザの焦点ズレを検出する信号であり、たとえば、非点収差法によって生成される。トラッキングエラー信号は、光ピックアップ１０の照射レーザのトラックズレを検出する信号であり、たとえばプッシュプル法によって生成される。
【００２１】
二値化回路３０は、ヘッドアンプ２０により生成されたＲＦ信号をハイまたはローの二値化信号に変換するものである。すなわち、二値化回路３０は、記録情報のマークおよびスペースに応じた２値のデジタル信号を生成する再生信号生成回路である。たとえば、二値化回路３０は、ヘッドアンプ２０から出力される３Ｔ，４Ｔ，５Ｔ，．．．のアナログ信号を、２値化された方形波に変換するための閾値を、常に調節している。
【００２２】
デコーダ４０は、二値化回路３０により生成された二値化信号を、所定形式で復号化し再生信号として出力する。また、デコーダ４０は、再生信号から基準クロック信号を抽出する。
【００２３】
以上のとおり、光ピックアップ１０から照射されたレーザ光は、光ディスク１の記録面で反射され、反射光は光ピックアップ１０に内蔵された受光部によって取り込まれ、電気信号に変換される。受光部から出力された電気信号は、ヘッドアンプ２０により演算および増幅されたのち二値化回路３０に伝達され、デコーダ４０を介して再生信号として出力される。
【００２４】
次に、ヘッドアンプ２０および二値化回路３０から出力された信号を処理し、記録パラメータ（ＷＳＴおよび照射パワー）を設定する構成について説明する。
【００２５】
ＭＩＤコード検出部５０は、光ディスクを識別するためのＩＤ番号であるＭＩＤコードを検出する。また、ＭＩＤコード検出部５０は、ＭＩＤコードの他、ＷＳＴごとのシリアル番号またはＷＳＴデータについてのチェックサム（Ｃｈｅｃｋ  Ｓｕｍ）もしくはＣＲＣ（Ｃｙｃｌｉｃ  Ｒｅｄｕｎｄａｎｃｙ  Ｃｈｅｃｋ）−１６等により得られる値を、ＷＳＴの識別情報として検出する。
【００２６】
クロックズレ測定部６０は、記録された情報を再生信号として読み出し、当該再生信号とクロックエッジからのズレを測定するためのものである。具体的には、クロックズレ測定部６０は、二値化回路３０により生成された二値化信号と、デコーダ４０で抽出された基準クロックとに基づいて、それぞれに対応するエッジのズレをクロックエッジズレとして測定する。たとえば、スペースパルスに対応するハイ値からマークパルスに対応するロー値になる立ち下がりのエッジと、基準クロックの対応するエッジとのズレを測定する。同様に、ロー値（マークパルス）からハイ値（スペースパルス）になる立ち上がりのエッジと基準クロックの対応するエッジのズレを測定する。
【００２７】
ＲＡＭ７０は、クロックズレ測定部６０によって測定されたクロックエッジのズレに関するデータを一時的に記憶するために使用され、たとえば、ＤＲＡＭ（Ｄｙｎａｍｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）により構成される。具体的には、記憶されるデータとしては、各記録パルスまたはマーク長やスペース長別およびマークとスペースの組み合わせ別に分類されたクロックエッジズレ等である。
【００２８】
データ弁別演算部８０は、ＲＡＭ７０に格納されたクロックエッジズレのデータを記録パルスまたはマーク長やマークとスペースの組み合わせ別に弁別し、各種演算を実行するために使用する。具体的には、データ弁別演算部８０は、まず、ＲＡＭ７０に格納されたクロックエッジズレのデータから、必要に応じたデータを弁別する。次に、演算において、各種信号のサンプル数比に基づくズレ、各信号分布の理論中心値からのズレ量（デビエーション）、時間差ジッタ（Ｄａｔａ  ｔｏ  Ｃｌｏｃｋ（Ｄ２Ｃ）ジッタ）、マークエッジ変化量に基づく相関関数、熱干渉効果による隣接エッジの影響等が演算される。
【００２９】
ＲＯＭ９０、ＥＥＰＲＯＭ１００およびＷＳＴ演算部１１０は、一体として、光ディスク１に情報を記録するための照射パワーおよびＷＳＴを含む記録パラメータを設定および記憶するための設定手段および記憶手段を構成する。
【００３０】
ＲＯＭ９０は、特に、ベースＷＳＴ記憶手段として、光ディスク記録装置２００のベースＷＳＴを記憶するために使用される。ベースＷＳＴは、光ディスク記録装置の設計者によって計算されて用意され、光ディスク記録装置２００の固有情報に関連付けられた既定のＷＳＴである。ＲＯＭ９０は、記憶された内容を後から書き換え可能なように、フラッシュメモリ等から構成されうる。
【００３１】
ＥＥＰＲＯＭ１００は、ＷＳＴ演算部１１０において演算されるＷＳＴを記憶する。また、ＲＯＭ９０には、光ディスク記録装置２００のベースＷＳＴが更新された場合、更新されたベースＷＳＴが記憶される。ベースＷＳＴは、ＷＳＴを作成するための基となるベースＷＳＴが、光ディスク記録装置２００の製造業者によって新たに作成および供給され、光ディスク記録装置２００に記憶されることにより更新される。ベースＷＳＴを更新するために、光ディスク記録装置２００にネットワークを介して接続されたＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）（不図示）等が使用されてもよい。ＥＥＰＲＯＭ１００には、光ディスク１の新たに作成された固有ＷＳＴが記憶される。すなわち、ＥＥＰＲＯＭ１００は、固有ＷＳＴ記憶手段として機能する。なお、ＷＳＴが新たに記憶される際、ＭＩＤコード、ＷＳＴのパラメータ（データ）および固有ＷＳＴの元となったベースＷＳＴから一意に決まるベースＷＳＴの識別情報（たとえばＣＲＣ−１６等の値）が共に記憶される。
【００３２】
ＷＳＴ演算部１１０は、データ弁別演算部８０において弁別されたデータに基づいてＷＳＴを演算し、算出されたＷＳＴを記録パルス調整部１２０に出力する。特定の記録条件下において、記録パルスで形成されるマークエッジのズレ量を補正するために演算されたＷＳＴは、新たなＷＳＴとして設定され、記録パルス調整部１２０に出力されると同時に、ＥＥＰＲＯＭ１００に出力され記憶される。つまり、固有ＷＳＴ作成手段としてのＷＳＴ演算部１１０により、ＷＳＴが自動調整されて、記憶される。ＥＥＰＲＯＭ１００に固有ＷＳＴが存在しない初回のＷＳＴ演算においては、ＲＯＭ９０からベースＷＳＴが読み出され、新たなＷＳＴとして記録パルス調整部１２０に出力される。ベースＷＳＴが更新されている場合も、更新後のベースＷＳＴがＲＯＭ９０から読み出され、同様に新たなベースＷＳＴとして記録パルス調整部１２０に出力される。また、新たなＷＳＴの識別情報がＷＳＴ演算部１１０により演算され、記憶情報としてのＭＩＤコードおよび識別情報が、ＷＳＴデータと共に出力されてＥＥＰＲＯＭ１００に記憶される。ここで記憶されるＷＳＴデータは、既存ＷＳＴのない光ディスクに対する固有ＷＳＴとして記憶されるものである。
【００３３】
なお、この固有ＷＳＴの算出の詳細については、周知の事項（たとえば特許文献２）であるので、詳細な説明を省略する。
【００３４】
光ディスク記録装置２００の基本的な機能および動作は、一般に普及している光ディスク記録装置と同様である。その基本的機能および動作については周知の事項であるので、詳細な説明は省略するが、ＷＳＴに基づいて記録動作を自動調整して記録パワーを最適化する処理は概略以下のとおりである。
【００３５】
まず、記録情報および光ディスク１に対応する記録パラメータ（照射パワー、ＷＳＴ）が読み出される。光ディスク１に既存または固有ＷＳＴがない場合は、ＲＯＭ９０に記憶されたベースＷＳＴが読み出される。
【００３６】
当該記録パラメータに従って、半導体レーザを駆動するための記録パルスを処理する動作は、以下の通りである。光ディスク記録装置２００は、記録情報であるデータの記録信号が入力されると、エンコーダ１３０および記録パルス調整部１２０を介して記録パルスを形成し、その記録パルスをレーザ駆動部１４０に入力することで光ディスクにパルスレーザを照射し、マークおよびスペースの列情報を形成しデータを記録する。
【００３７】
エンコーダ１３０は、記録信号をたとえば１−７ＰＰ変調信号に変換して、記録パルス調整部１２０に出力する回路である。１−７ＰＰ変調信号は、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ（登録商標）の場合、２Ｔ〜９Ｔまでのマーク長さと、２Ｔ〜９Ｔまでのスペース長さとからなる。
【００３８】
記録パルス調整部１２０は、入力された１−７ＰＰ変調信号から記録パルスを形成する際に、設定された記録パラメータに基づいて記録パルスを調整し、レーザ駆動部１４０に出力するために使用される。
【００３９】
レーザ駆動部１４０は、光ピックアップ１０のレーザを駆動する。具体的には、レーザ駆動部１４０は、記録パルス調整部１２０で生成された記録パルスを、光ピックアップ１０のレーザダイオードに供給することによりレーザダイオードを駆動する。
【００４０】
以上のとおり、エンコーダ１３０に入力された記録信号は、１−７ＰＰ変調信号のようなマークパルスとスペースパルスを含むようにパルスパターン化されたのち、記録パルス調整部１２０に出力される。記録パルス調整部１２０では、ＷＳＴ演算部１１０で設定されたＷＳＴに従って、パルスパターンを調整された記録パルスが生成され、レーザ駆動部１４０に供給される。そして、記録パルスに従ってレーザ駆動部１４０が駆動され、照射されたパルスレーザにより光ディスク１の記録面に情報が記録される。
【００４１】
制御部１５０は、光ディスク記録装置２００の記録動作および再生動作を制御するものである。具体的には、制御部１５０は、通常の記録動作および再生動作に関する制御機能に加え、記録パルスの照射パワーおよびＷＳＴの調整、比較、記憶ならびに更新に関する制御機能も有する。
【００４２】
なお、光ディスク記録装置２００は、それぞれ上述した構成要素以外の構成要素を含んでいてもよく、あるいは、上述した構成要素のうちの一部が含まれていなくてもよい。
【００４３】
以上のとおり、本実施形態の光ディスク記録装置２００の記録系および再生系における信号処理の概略を説明した。本実施形態の光ディスク記録装置の他の構成要素については、従来の光ディスク装置と同様であるのでその説明を省略する。
【００４４】
（第１実施形態）
以下に、本発明の第１の実施形態にかかる、ＷＳＴを調整して記録動作を実行する処理について説明する。
【００４５】
図２は第１実施形態にかかる、ＷＳＴを調整して記録動作を実行するための処理を示すフローチャート、図３は本実施形態にかかる新たに作成または更新されたＷＳＴが記憶される形態を概略的に示す図である。本実施形態にかかる処理は、光ディスク記録装置２００のベースＷＳＴが更新された後、光ディスク１に記録動作がなされる前に実行される。
【００４６】
図２に示されるように、まず、ＭＩＤコードが取得される（Ｓ１０１）。このステップでは、光ディスク記録装置２００にローディングされている光ディスク１の識別情報であるＭＩＤコードが、ＭＩＤコード検出部５０により検出される。
【００４７】
続いて、ＥＥＰＲＯＭ１００に記憶された固有ＷＳＴがあるか否かが判断される（Ｓ１０２）。なお、ＲＯＭ９０に光ディスク１のＭＩＤコードに一致する既存ＷＳＴが存在する場合は、この既存ＷＳＴを使用するため除外する。このステップでは、光ディスク１の固有ＷＳＴが検出された時、光ディスク１のＭＩＤコードに一致する事後的に作成された固有ＷＳＴがある場合は、固有ＷＳＴが検出される。既存および固有ＷＳＴが両方ともないと判断される場合、後述のステップＳ１０７に処理が進む。
【００４８】
一方、固有ＷＳＴがＥＥＰＲＯＭ１００に有ると判断される場合（Ｓ１０２：ＹＥＳ）、検出された固有ＷＳＴのベースＷＳＴとＲＯＭ９０に記憶されたベースＷＳＴとが比較される（Ｓ１０３）。このステップでは、ステップＳ１０２で検出された固有ＷＳＴに付された、作成元となるベースＷＳＴの識別情報と、ＲＯＭ９０に記憶された、ベースＷＳＴの識別情報とが比較される。識別情報が比較されることによって、ベースＷＳＴが更新されたか否かが判断されうる。
【００４９】
続いて、同一のベースＷＳＴであるか否かが判断される（Ｓ１０４）。このステップでは、ステップＳ１０３で比較されたベースＷＳＴが、同一であるか否かが判断される。同一のベースＷＳＴではないと判断される場合（Ｓ１０４：ＮＯ）、後述のステップＳ１０７に処理が進む。
【００５０】
一方、同一のベースＷＳＴであると判断される場合（Ｓ１０４：ＹＥＳ）、固有ＷＳＴが読み出される（Ｓ１０５）。このステップでは、ベースＷＳＴと、光ディスク１に最適化された固有ＷＳＴの作成元となるベースＷＳＴが同一であると判断されたので、新たに固有ＷＳＴは自動調整されない。後続の処理において使用するために、ステップＳ１０２で検出された固有ＷＳＴが読み出される。
【００５１】
続いて、ＯＰＣが実行される（Ｓ１０６）。このステップでは、ステップＳ１０５において読み出された固有ＷＳＴを使用して、記録パワーの最適化が実行される。
【００５２】
ステップＳ１０７では、ＲＯＭ９０からベースＷＳＴが読み出される。具体的には、ステップＳ１０２において固有ＷＳＴがないと判断された光ディスク１に対して、ベースＷＳＴを基に新たな固有ＷＳＴを自動調整して作成するために、ベースＷＳＴが読み出される。ステップＳ１０４において、固有ＷＳＴの基となるベースＷＳＴが、ＲＯＭ９０のベースＷＳＴと同一ではないと判断された場合にも、このステップが実行される。
【００５３】
続いて、ベースＷＳＴに基づいて、ＷＳＴが自動調整される（Ｓ１０８）。このステップでは、ベースＷＳＴに基づいてＷＳＴの最適化がなされ、固有ＷＳＴとして新たにＷＳＴが作成され、この固有ＷＳＴに基づいてＯＰＣが実行される。すなわち、固有ＷＳＴが既に存在しても、ステップＳ１０４で作成元となるベースＷＳＴが異なると判断された場合は、更新されたベースＷＳＴに基づいて固有ＷＳＴが新たに作成される。
【００５４】
続いて、作成された固有ＷＳＴの識別情報が記憶される（Ｓ１０９）。このステップでは、ステップＳ１０８において新たに作成された固有ＷＳＴについての識別情報として、当該固有ＷＳＴのベースＷＳＴの識別情報が生成され、ＭＩＤコードおよびＷＳＴデータと共にＥＥＰＲＯＭ１００に記憶される。ＭＩＤコード、ベースＷＳＴの識別情報およびＷＳＴデータが記憶される形態は、図３に示される通りである。図３に示されるように、ベースＷＳＴの識別情報は、ＭＩＤコードおよびＷＳＴデータと共に記憶されうる。なお、ベースＷＳＴの識別情報としては、任意に当てられたシリアル番号でもよいし、ベースＷＳＴの弁別性を向上するために、当該ベースＷＳＴデータのチェックサムまたはＣＲＣ−１６等を算出して得られた値を識別情報としてもよい。
【００５５】
続いて、情報記録が実行される（Ｓ１１０）。つまり、データが固有ＷＳＴを使用して光ディスク１に書き込まれる。そして、ＷＳＴを調整して記録動作を実行する処理が終了される。
【００５６】
以上のように、本実施形態では、更新されたベースＷＳＴに基づいて固有ＷＳＴが作成され、ＯＰＣを実行できるので、書き込み精度をより向上させることができる。また、本実施形態では、個々のベースＷＳＴに特有の識別番号によりベースＷＳＴを識別できるので、ベースＷＳＴが更新されたか否かを容易かつ確実に判断できる。
【００５７】
（第２実施形態）
以下に、本発明の第２の実施形態にかかる、ＷＳＴを調整して記録動作を実行する処理について説明する。
【００５８】
図４は第２実施形態にかかる、ＷＳＴを調整して記録動作を実行するための処理を示すフローチャート、図５は第２実施形態にかかる、ＷＳＴの品質を比較するための処理を示すフローチャート、図６は第２実施形態にかかる効果を示す表およびグラフである。なお、本実施形態にかかるＷＳＴを調整して記録動作を実行するための処理のうち、第１実施形態にかかるＷＳＴを調整して記録動作を実行するための処理と同様の処理については、その説明を省略する。
【００５９】
図４に示されるように、まず、ＭＩＤコードが取得される（Ｓ２０１）。このステップは、上述のステップＳ１０１と同様である。
【００６０】
続いて、固有ＷＳＴがあるか否かが判断される（Ｓ２０２）。このステップは、上述のステップＳ１０２と同様である。固有ＷＳＴがないと判断される場合（Ｓ２０２：ＮＯ）、後述のステップＳ２１１に処理が進む。
【００６１】
一方、固有ＷＳＴが有ると判断される場合（Ｓ２０２：ＹＥＳ）、検出された固有ＷＳＴのベースＷＳＴと、ＲＯＭ９０のベースＷＳＴとが比較される（Ｓ２０３）。このステップは、上述のステップＳ１０３と同様である。
【００６２】
続いて、同一のベースＷＳＴであるか否かが判断される（Ｓ２０４）。このステップは、上述のステップＳ２０４と同様である。同一のベースＷＳＴではないと判断される場合（Ｓ２０４：ＮＯ）、後述のステップＳ２０７に処理が進む。
【００６３】
続くステップＳ２０５およびＳ２０６は、上述の図２におけるステップＳ１０５および１０６と同様である。
【００６４】
ステップＳ２０７では、更新されたベースＷＳＴが読み出される。具体的には、ステップＳ２０４において、更新されたベースＷＳＴと固有ＷＳＴのベースＷＳＴとが同一ではないと判断されたので、更新されたベースＷＳＴに基づいてＷＳＴを新たに自動調整して作成するために、更新されたベースＷＳＴが読み出される。
【００６５】
続いて、更新されたベースＷＳＴに基づいて、ＷＳＴが自動調整される（Ｓ２０８）。このステップでは、上述のステップＳ１０８と同様、更新されたベースＷＳＴに基づいて新たな固有ＷＳＴが作成され、この新固有ＷＳＴに基づいてＯＰＣが実行される。
【００６６】
続いて、既存のＷＳＴと自動調整された固有ＷＳＴとの品質が比較される（Ｓ２０９）。このステップでは、ステップＳ２０２で読み出された旧固有ＷＳＴと、ステップＳ２０８で新たに作成された新固有ＷＳＴとの品質が、試験的な記録を行うことによって比較される。
【００６７】
図５に示されるように、まず、旧固有ＷＳＴについて記録が実行される（Ｓ３０１）。このステップでは、ステップＳ２０２で検出された旧固有ＷＳＴに基づいて、光ディスク１のテスト領域を利用して、試験的な記録動作が実行される。
【００６８】
続いて、ジッタが計測される（Ｓ３０２）。このステップでは、ステップＳ３０１で記録された情報を再生して得られるＲＦ信号のジッタが算出される。ジッタは、たとえばデータ弁別演算部８０によって算出される。
【００６９】
続いて、新固有ＷＳＴについて記録が実行される（Ｓ３０３）。このステップでは、ステップＳ２０８で新たに作成された新固有ＷＳＴに基づいて、試験的な記録動作が実行される。
【００７０】
続いて、ジッタが計測される（Ｓ３０４）。このステップでは、ステップＳ３０３で記録された情報を再生して得られるＲＦ信号のジッタが算出される。
【００７１】
続いて、ジッタの小さいＷＳＴを固有ＷＳＴとして記憶する（Ｓ３０５）。このステップでは、ステップＳ３０２およびＳ３０４において計測されたジッタが小さい方のＷＳＴを新たな固有ＷＳＴとして選択し、光ディスク１の固有ＷＳＴとして設定される。
【００７２】
続いて、図４に戻って、固有ＷＳＴとして設定されたＷＳＴが記憶される（Ｓ２１０）。記憶される内容およびその態様は、図３に示される通りである。
【００７３】
ステップＳ２１１〜Ｓ２１４の処理は、上述のステップＳ１０７〜１１０の処理と同様である。
【００７４】
図６は、本実施形態による効果を示す表およびグラフである。図６（Ａ）は更新前のベースＷＳＴ（ＷＳＴ１）および更新後のＷＳＴ（ＷＳＴ２）の特性を示す表、図６（Ｂ）および（Ｃ）はＷＳＴ１およびＷＳＴ２に基づいて記録されたデータのＤ２Ｃジッタを比較するグラフ、図６（Ｄ）は図６（Ｂ）および（Ｃ）に示される、各々のベースＷＳＴと当該ベースＷＳＴのエッジ最適化工程（ＥＰＯ）後のβ値２％における各々のＤ２Ｃジッタの程度を示す表、図６（Ｅ）は図６（Ｂ）および（Ｃ）に示される、各々のベースＷＳＴのＥＰＯ後のβに対するＤ２Ｃジッタを比較するグラフである。
【００７５】
具体的には、図６（Ｂ）および（Ｃ）は、図６（Ａ）に示される各々のベースＷＳＴにより生成されるジッタと、各々のＷＳＴを最適化（ＥＰＯ）した後のＷＳＴにより生成されるジッタとを比較する図である。図６（Ｂ）および（Ｃ）では、β値（％）に対するＤ２Ｃ  Ｊｉｔｔｅｒ（ジッタ）の値（％）がプロットされている。なお、β値とは、β＝（Ａ−Ｂ）／（Ａ＋Ｂ）＊１００（ＡはＲＦ信号のピーク値を表す正の整数、ＢはＲＦ信号のボトム値を表す正の整数）により得られる値である。
【００７６】
図６（Ｄ）に示されるように、ＷＳＴ１およびＷＳＴ２のＥＰＯ後のβ＝２％におけるジッタはそれぞれ８．５１と８．２０であり、ＷＳＴ１および２間にさほど大きな差異がないように思われる。しかし、図６（Ｅ）に示されるように、各々のベースＷＳＴのＥＰＯ後のグラフを比較すると、βマージンが異なることが解る。すなわち、図６（Ｆ）に示される通り、図６（Ｅ）に基づいて、ジッタ１５％におけるβ値の上限および下限値を各々のベースＷＳＴについて比べた場合、βマージンは、更新されたＷＳＴ２では２２．１％と、更新前のＷＳＴ１による１９．０％より大きくなっていることがわかる。つまり、更新されたＷＳＴ２による記録特性の方が、更新前のＷＳＴ１による記録特性よりも優れていることがわかる。
【００７７】
以上のように、本実施形態では、更新されたベースＷＳＴに基づいて新たに作成されたＷＳＴと、過去に設定されて記憶されたＷＳＴとの記録特性についての品質を比較することによって、より確実に高精度のＷＳＴによる記録を実行することができる。
【００７８】
以上本発明を適用した実施形態を説明したが、本発明は、このような実施形態に限定されるものではない。たとえば、本実施形態にかかる処理は、光ディスク記録装置２００のベースＷＳＴが更新された後、光ディスクがローディングされた時に実行されると述べた。しかし、これに限定されない。任意のタイミングで実行されうる。
【００７９】
また、上記実施形態では、ジッタを比較してジッタの少ないＷＳＴを固有ＷＳＴとして採用する形態について述べた。しかし、これに限定されない。ジッタのみではなく、ＰＩエラー（内部パリティ（ＰＩ）内のデータ誤り）値の比較、または、ＷＳＴ記録後パワー振り記録を実行して、規定ジッタ（またはＰＩエラー）以下となるβの範囲（βマージン）を比較する方法を採用しても良い。
【００８０】
上記実施形態では、新たに作成された固有ＷＳＴの記憶部として、ＥＥＰＲＯＭ１００が使用されると述べた。しかし、これに限定されない。光ディスク装置２００にネットワークを介して接続されるＰＣ（不図示）の記憶部を、光ディスク装置２００が読み書き可能なように構成しても良い。
【００８１】
なお、図６に示されるデータを、第２実施形態による効果として述べたが、第１実施形態についても、ベースＷＳＴを更新することにより、高精度のＷＳＴによる記録を実行できるという同様の効果が奏される。
【００８２】
そのほか、本願の特許請求の範囲に記載した技術思想の範囲でさまざまな変形形態が可能であることは言うまでもない。
【符号の説明】
【００８３】
１  光ディスク、
１０  光ピックアップ、
２０  ヘッドアンプ、
３０  二値化回路、
４０  デコーダ、
５０  ＭＩＤコード検出部、
６０  クロックズレ測定部、
７０  ＲＡＭ、
８０  データ弁別演算部、
９０  ＲＯＭ、
１００  ＥＥＰＲＯＭ、
１１０  ＷＳＴ演算部、
１２０  記録パルス調整部、
１３０  エンコーダ、
１４０  レーザ駆動部、
１５０  制御部、
２００  光ディスク記録装置。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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