(57)【要約】【課題】コネクタハウジングの前端に嵌合装着される半挿入検知用治具におけるランスチェックピンの長さを短縮して、ランスチェックピンの強度向上により、半挿入検知用治具の耐久性や信頼性を向上させることができる端子半挿入検知構造を提供すること。【解決手段】コネクタハウジング２１には、ランス２３の先端とコネクタハウジング２１の前端とを連結し、ランス２３の撓み変位に伴って、ランス撓み空間２４側に撓み変位する可撓性バンド部２６と、該可撓性バンド部２６のランス撓み空間２４側の面に隆起形成されたピン当て部２７と、を備え、コネクタハウジング２１に装着された端子金具１１が半挿入状態のときには、コネクタハウジング２１のランス位置チェック用孔２５に挿入されたランスチェックピン３２の先端がピン当て部２７に突き当たって、ランスチェックピン３２の進入が規制される。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
コネクタハウジングは、端子金具が挿入される端子収容孔と、前記端子収容孔に突出する係止突起を備えると共に前記端子収容孔への前記端子金具の挿入に伴い前記係止突起が前記端子収容孔の外に逃げるように撓み変位した後に前記端子金具が正規位置まで挿入されたときに撓み変位が戻って前記係止突起により前記端子金具を抜け止め状態とするランスと、前記ランスの撓み変位を許容するランス撓み空間と、前記コネクタハウジングの前端側から前記端子収容孔の貫通方向に沿って前記ランス撓み空間に連通したランス位置チェック用孔と、を備え、
前記コネクタハウジングの前端に嵌合装着される半挿入検知用治具は、前記ランス位置チェック用孔に挿入されるランスチェックピンと、該ランスチェックピンと平行に設けられて、前記ランスチェックピンのランス位置チェック用孔への進入に伴い前記端子収容孔に進入する導通ピンとを備え、
前記端子金具が正規位置に到達しておらず、前記ランスが前記ランス撓み空間に撓み変位している状態では、前記ランスチェックピンのランス位置チェック用孔への進入が不足して、前記導通ピンと前記端子金具との接触が得られなくなることで、前記端子金具が半挿入状態であることを検知する端子半挿入検知構造であって、
前記コネクタハウジングには、前記ランスの先端とコネクタハウジングの前端とを連結し、前記ランスの撓み変位に伴って、前記ランス撓み空間側に撓み変位する可撓性バンド部と、該可撓性バンド部の前記ランス撓み空間側の面に隆起形成されて、前記可撓性バンド部がランス撓み空間側に撓み変位した状態では、前記ランス位置チェック用孔に挿入された前記ランスチェックピンの先端と突き当たって、前記ランスチェックピンの進入を規制するピン当て部と、を備えたことを特徴とする端子半挿入検知構造。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、端子金具が装着されたコネクタハウジングの前端に半挿入検知用治具を装着して、前記コネクタハウジング内の端子金具が半挿入状態であるか否かを検知する端子半挿入検知構造に関する。
【背景技術】
【０００２】
図７は、従来の端子半挿入検知構造を示したものである。
この端子半挿入検知構造は、下記特許文献１に開示されたもので、雌型の端子金具１０１が装着されたコネクタハウジング１１１の前端に半挿入検知用治具１２１を嵌合装着して、コネクタハウジング１１１内の端子金具１０１が半挿入状態であるか否かを検知する。
【０００３】
コネクタハウジング１１１は、端子金具１０１が挿入される端子収容孔１１２と、端子収容孔１１２に突出する係止突起１１３ａを備えるランス１１３と、ランス撓み空間１１４と、ランス位置チェック用孔１１５と、を備える。
【０００４】
ランス１１３は、端子金具１０１の挿入方向（図７の矢印Ｘ１方向）に沿ってコネクタハウジング１１１の基端側から延出した弾性片１１３ｂの先端に、係止突起１１３ａを備えた構成である。係止突起１１３ａは、雌型の端子金具１０１の箱部１０２の後端の凹部１０３に係合することで、端子金具１０１の抜け止めを行う。
【０００５】
ランス１１３は、端子収容孔１１２への端子金具１０１の挿入に伴い、係止突起１１３ａが端子収容孔１１２の外に逃げるように撓み変位した後に、端子金具１０１が正規位置まで挿入されたときに撓み変位が戻って、係止突起１１３ａにより端子金具１０１を抜け止め状態とする。
【０００６】
ランス撓み空間１１４は、端子収容孔１１２の外側に形成されていて、端子金具１０１の挿入に伴うランス１１３の撓み変位を許容する。
【０００７】
ランス位置チェック用孔１１５は、コネクタハウジング１１１の前端側から端子収容孔１１２の貫通方向に沿ってランス撓み空間１１４に連通している。
【０００８】
コネクタハウジング１１１の前端に嵌合装着される半挿入検知用治具１２１は、ランス位置チェック用孔１１５に挿入されるランスチェックピン１２２と、導通ピン１２３と、を備える。導通ピン１２３は、ランスチェックピン１２２と平行に設けられており、ランスチェックピン１２２のランス位置チェック用孔１１５への進入に伴い端子収容孔１１２に進入する。
【０００９】
以上に説明した端子半挿入検知構造では、端子金具１０１が正規位置に到達して、ランス１１３により正常に端子金具１０１が抜け止めされている端子完全挿入状態では、コネクタハウジング１１１の前端に嵌合装着された半挿入検知用治具１２１は、図７に示すように、ランスチェックピン１２２がランス１１３と干渉せずにランス撓み空間１１４に挿入され、同時に、導通ピン１２３が端子金具１０１の先端に当接して、導通ピン１２３と端子金具１０１とが電気的に接続された状態になる。従って、導通ピン１２３による導通チェックによって、端子金具１０１が端子完全挿入状態であることが判る。
【００１０】
一方、コネクタハウジング１１１の端子収容孔１１２に挿入された端子金具１０１が、正規位置に到達しておらず、ランス１１３がランス撓み空間１１４に撓み変位している状態では、コネクタハウジング１１１の前端に半挿入検知用治具１２１が嵌合装着されたとき、ランスチェックピン１２２の先端がランス１１３の先端に衝突して、ランスチェックピン１２２のランス位置チェック用孔１１５への進入が途中で止まってしまう。
【００１１】
従って、ランスチェックピン１２２のランス位置チェック用孔１１５への進入が不足して、導通ピン１２３と端子金具１０１との接触が得られなくなることで、端子金具１０１が半挿入状態であることが検知される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】特開平７−１６１４２９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
ところが、特許文献１に記載のように、端子金具１０１が半挿入状態のときには、ランスチェックピン１２２の先端がランス１１３の先端に当接するために、ランスチェックピン１２２のランス位置チェック用孔１１５への進入が不足して、導通ピン１２３と端子金具１０１とが非接触になる端子半挿入検知構造では、図７に示すように、ランスチェックピン１２２のランス位置チェック用孔１１５に進入する部分の長さＬ１を、コネクタハウジング１１１の前端からランス１１３の先端までの距離Ｌ２よりも大きくしなければならず、ランスチェックピン１２２の長さが長大化し、ランスチェックピン１２２の強度が低下するという問題が生じた。
【００１４】
ランスチェックピン１２２の強度が低下すると、半挿入検知用治具１２１をコネクタハウジング１１１の前端に嵌合装着した際に、ランスチェックピン１２２に変形や破損が生じ易く、ランスチェックピン１２２の耐久性低下や、端子半挿入検知の信頼性低下といった重大が欠陥を招くおそれがあった。
【００１５】
そこで、本発明の目的は、上記課題を解消することに係り、コネクタハウジングの前端に嵌合装着される半挿入検知用治具におけるランスチェックピンの長さを短縮して、ランスチェックピンの強度向上により、半挿入検知用治具の耐久性や信頼性を向上させることができる端子半挿入検知構造を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
本発明の前述した目的は、下記の構成により達成される。
（１）コネクタハウジングは、端子金具が挿入される端子収容孔と、前記端子収容孔に突出する係止突起を備えると共に前記端子収容孔への前記端子金具の挿入に伴い前記係止突起が前記端子収容孔の外に逃げるように撓み変位した後に前記端子金具が正規位置まで挿入されたときに撓み変位が戻って前記係止突起により前記端子金具を抜け止め状態とするランスと、前記ランスの撓み変位を許容するランス撓み空間と、前記コネクタハウジングの前端側から前記端子収容孔の貫通方向に沿って前記ランス撓み空間に連通したランス位置チェック用孔と、を備え、
前記コネクタハウジングの前端に嵌合装着される半挿入検知用治具は、前記ランス位置チェック用孔に挿入されるランスチェックピンと、該ランスチェックピンと平行に設けられて、前記ランスチェックピンのランス位置チェック用孔への進入に伴い前記端子収容孔に進入する導通ピンとを備え、
前記端子金具が正規位置に到達しておらず、前記ランスが前記ランス撓み空間に撓み変位している状態では、前記ランスチェックピンのランス位置チェック用孔への進入が不足して、前記導通ピンと前記端子金具との接触が得られなくなることで、前記端子金具が半挿入状態であることを検知する端子半挿入検知構造であって、
前記コネクタハウジングには、前記ランスの先端とコネクタハウジングの前端とを連結し、前記ランスの撓み変位に伴って、前記ランス撓み空間側に撓み変位する可撓性バンド部と、該可撓性バンド部の前記ランス撓み空間側の面に隆起形成されて、前記可撓性バンド部がランス撓み空間側に撓み変位した状態では、前記ランス位置チェック用孔に挿入された前記ランスチェックピンの先端と突き当たって、前記ランスチェックピンの進入を規制するピン当て部と、を備えたことを特徴とする端子半挿入検知構造。
【００１７】
上記（１）の構成によれば、コネクタハウジングに装着された端子金具が正規位置に到達しておらず、コネクタハウジング内のランスがランス撓み空間に撓み変位している状態で、コネクタハウジングの前端に半挿入検知用治具が嵌合装着されると、半挿入検知用治具のランスチェックピンの先端が、ランスの先端よりもコネクタハウジングの前端寄りに装備されたピン当て部に当接して、ランスチェックピンのランス位置チェック用孔への進入が不足する。従って、ランスチェックピンの進入に伴って端子収容孔に進入する導通ピンも進入不足となって、導通ピンと端子金具とが非接触状態となり、端子金具が半挿入状態であることが検知される。
【００１８】
そして、上記（１）の構成によれば、ランスチェックピンのランス位置チェック用孔に進入する部分の長さは、コネクタハウジングの前端からピン当て部までの距離より大きければ良く、コネクタハウジングの前端からランスの前端までの距離よりも大きな長さを設定していた従来の場合と比較すると、ランスチェックピンの長さを短縮して、ランスチェックピンの強度を向上させることができる。そして、ランスチェックピンの強度向上により、半挿入検知用治具の耐久性や信頼性を向上させることができる。
【発明の効果】
【００１９】
本発明による端子半挿入検知構造によれば、ランスチェックピンのランス位置チェック用孔に進入する部分の長さは、コネクタハウジングの前端からピン当て部までの距離より大きければ良く、コネクタハウジングの前端からランスの前端までの距離よりも大きな長さを設定していた従来の場合と比較すると、ランスチェックピンの長さを短縮して、ランスチェックピンの強度を向上させることができ、ランスチェックピンの強度向上により、半挿入検知用治具の耐久性や信頼性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明に係る端子半挿入検知構造の一実施形態の分解斜視図である。
【図２】図１に示した一実施形態の構成部品の側面図である。
【図３】（ａ）は図１に示したコネクタハウジングの外観斜視図、（ｂ）は（ａ）のコネクタハウジングの正面図、（ｃ）は（ｂ）のＡ−Ａ断面図である。
【図４】（ａ）は図１に示したコネクタハウジングの前端に嵌合装着された半挿入検知用治具によって、端子金具の装着状態が完全挿入状態と判定される状態を示す縦断面図、（ｂ）は図１に示したコネクタハウジングの前端に嵌合装着された半挿入検知用治具によって、端子金具の装着状態が半挿入状態と判定される状態を示す縦断面図である。
【図５】（ａ）は図１に示した半挿入検知用治具をコネクタハウジングの前端に嵌合装着可能にセットした半挿入検知装置の斜視図、（ｂ）は（ａ）の半挿入検知装置において、挿入検知用治具をコネクタハウジングの前端に嵌合装着させた状態の斜視図である。
【図６】図５に示した半挿入検知装置の拡大斜視図である。
【図７】従来の端子半挿入検知構造の概略説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、本発明に係る端子半挿入検知構造の好適な実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。
【００２２】
図１〜図４は本発明に係る端子半挿入検知構造の一実施形態を示したもので、図１は本発明に係る端子半挿入検知構造の一実施形態の分解斜視図、図２は図１に示した一実施形態の構成部品の側面図、図３（ａ）は図１に示したコネクタハウジングの外観斜視図、図３（ｂ）は図３（ａ）のコネクタハウジングの正面図、図３（ｃ）は図３（ｂ）のＡ−Ａ断面図、図４（ａ）は図１に示したコネクタハウジングの前端に嵌合装着された半挿入検知用治具によって、端子金具の装着状態が完全挿入状態と判定される状態を示す縦断面図、図４（ｂ）は図１に示したコネクタハウジングの前端に嵌合装着された半挿入検知用治具によって、端子金具の装着状態が半挿入状態と判定される状態を示す縦断面図である。
【００２３】
この一実施形態の端子半挿入検知構造は、雌型の端子金具１１が装着されたコネクタハウジング２１の前端に半挿入検知用治具３１を嵌合装着して、コネクタハウジング２１内の端子金具１１が半挿入状態であるか否かを検知する。
【００２４】
端子金具１１は、図１及び図２に示すように、不図示の雄型の端子金具の先端部が嵌合する箱部１２と、被覆電線２の外部被覆部２ａを固定する被覆加締め片１３と、被覆電線２の導体部２ｂを圧着固定する導体加締め片１４とを備えている。
【００２５】
また、箱部１２の前端には、後述する半挿入検知用治具３１の導通ピンが当接する導通チェック面１５が設けられている。更に、箱部１２の後端には、後述するコネクタハウジング２１内のランスが係合するランス係止部１６が設けられている。
【００２６】
コネクタハウジング２１は、図１及び図２に示すように、端子金具１１が挿入される端子収容孔２２と、ランス２３と、ランス撓み空間２４と、ランス位置チェック用孔２５と、可撓性バンド部２６と、ピン当て部２７と、を備える。また、コネクタハウジング２１は、図３に示すように、その上部外面に、相手のコネクタハウジングとの嵌合状態をロックするロックアーム２９を備えている。
【００２７】
本実施形態のコネクタハウジング２１の場合、端子収容孔２２は、図３に示すように、上下方向に２段、幅方向に６列に配列されている。また、コネクタハウジング２１の後端（基端）に開放する端子収容孔２２の後端側２２ａは、端子金具１１の挿入口となるため、前端側よりも広口に開口している。
【００２８】
更に、端子収容孔２２の先端部には、不図示の雄型の端子金具の先端部が挿通される端子挿通口２２ｂと、後述の半挿入検知用治具３１の導通ピンが挿通される導通ピン挿通口２２ｃと、が形成されている。
【００２９】
ランス２３は、端子金具１１の挿入方向（図１の矢印Ｘ２方向）に沿ってコネクタハウジング２１の基端側から延出した弾性片２３ｂと、端子収容孔２２に突出するように弾性片２３ｂの先端側に突設された係止突起２３ａと、を備えた構成である。
【００３０】
このランス２３は、図４（ｂ）に示すように、端子収容孔２２への端子金具１１の挿入に伴い係止突起２３ａが端子収容孔２２の外に逃げるようにランス撓み空間２４側に撓み変位して、端子金具１１の挿入を許容する。そして、端子金具１１が正規位置まで挿入されたときには、図４（ａ）に示すように、係止突起２３ａがランス係止部１６に係合することで撓み変位が戻って、係止突起２３ａにより端子金具１１を抜け止め状態とする。
【００３１】
係止突起２３ａは、雌型の端子金具１１の箱部１２の後端のランス係止部１６に係合することで、端子金具１１の抜け止めを行う。
【００３２】
ランス撓み空間２４は、端子収容孔２２の外側に並走状態に形成されていて、端子金具１１の挿入に伴うランス２３の撓み変位を許容する。
【００３３】
ランス位置チェック用孔２５は、コネクタハウジング２１の前端側から端子収容孔２２の貫通方向に沿ってランス撓み空間２４に連通している。
【００３４】
可撓性バンド部２６は、ランス２３の先端とコネクタハウジング２１の前端とを連結していて、図４（ｂ）に示すように、ランス２３の撓み変位に伴って、ランス撓み空間２４側に撓み変位する。この可撓性バンド部２６を備えたことで、ランス２３の自由端側がコネクタハウジング２１の前端側に弾性的に連結され、ランス２３が両持ち梁状態になっている。
【００３５】
また、可撓性バンド部２６は、薄肉のバンド状で、図４（ａ）に示すように、ランス２３が正常に端子金具１１のランス係止部１６に係合している状態では、ランス撓み空間２４側に撓み変位することはなく、後述の半挿入検知用治具３１のランスチェックピン３２のランス撓み空間２４への進入を邪魔しない。
【００３６】
ピン当て部２７は、可撓性バンド部２６のランス撓み空間２４側の面に隆起形成されている。このピン当て部２７は、図４（ｂ）に示すように、可撓性バンド部２６がランス撓み空間２４側に撓み変位した状態では、ランス位置チェック用孔２５に挿入された半挿入検知用治具３１のランスチェックピン３２の先端と突き当たって、ランスチェックピン３２の進入を規制する。
【００３７】
半挿入検知用治具３１は、図１及び図２に示すように、ランスチェックピン３２と、導通ピン３３と、を備える。
【００３８】
ランスチェックピン３２は、ランス位置チェック用孔２５に挿入される軸部材で、端子金具１１が正規位置に到達しておらず、図４（ｂ）に示すように、ランス２３及び可撓性バンド部２６がランス撓み空間２４に撓み変位している状態では、先端３２ａがピン当て部２７に突き当たって、ランス位置チェック用孔２５への挿入が途中で止まる。また、ランスチェックピン３２は、端子金具１１が完全挿入状態になっていて、ランス２３及び可撓性バンド部２６がランス撓み空間２４に撓み変位していない状態では、図４（ａ）に示すように、ランス位置チェック用孔２５に挿通された際に、ピン当て部２７には干渉せず、ピン当て部２７の上を越えて、ピン当て部２７の奥まで挿通するように、長さが設定されている。
【００３９】
導通ピン３３は、ランスチェックピン３２と平行に設けられて、ランスチェックピン３２のランス位置チェック用孔２５への進入に伴い、端子収容孔２２の先端の導通ピン挿通口２２ｃに進入する。
【００４０】
この導通ピン３３は、図４（ａ）に示したように、端子金具１１が完全挿入状態になっていて、ランスチェックピン３２のランス位置チェック用孔２５への挿入が正常に完了するときには、端子収容孔２２内の端子金具１１の導通チェック面１５に当接して、端子金具１１と電気的に接続状態になる。また、導通ピン３３は、図４（ｂ）に示したように、端子金具１１が半挿入状態になっていて、ランス２３及び可撓性バンド部２６がランス撓み空間２４に撓み変位のために、ランスチェックピン３２のランス位置チェック用孔２５への挿入が途中で止まる場合には、端子金具１１とは非接触の状態となり、端子金具１１との導通が得られなくなることで、端子金具１１が半挿入状態であることを検知することができる。
【００４１】
以上の半挿入検知用治具３１による端子半挿入検知処理は、図５及び図６に示す半挿入検知装置５１を使って行われる。
【００４２】
半挿入検知装置５１は、治具保持手段５２と、基台５３と、ハウジング固定部５４と、操作ハンドル部５５と、を備えている。
【００４３】
治具保持手段５２は、コネクタハウジング２１における端子収容孔２２の配列ピッチに対応して、複数の半挿入検知用治具３１の基端部を保持する。この治具保持手段５２に保持した複数の半挿入検知用治具３１は、該治具保持手段５２のスライド操作により、一括してコネクタハウジング２１に挿入することができる。
【００４４】
基台５３は、治具保持手段５２を、図６に示す矢印Ｘ３方向に、スライド可能に支持する。図６の矢印Ｘ３方向は、治具保持手段５２が保持している半挿入検知用治具３１をコネクタハウジング２１に嵌合させる方向である。
【００４５】
ハウジング固定部５４は、端子金具１１を収容したコネクタハウジング２１を固定支持する機構である。該ハウジング固定部５４は、コネクタハウジング２１の前端面を治具保持手段５２側に対向させて、コネクタハウジング２１を固定支持する。
【００４６】
操作ハンドル部５５は、治具保持手段５２をコネクタハウジング２１に向かってスライド操作する部位である。この操作ハンドル部５５は、図５（ａ）に示す状態から、図５（ｂ）に示すように、ハウジング固定部５４側に倒すことで、治具保持手段５２に支持されている半挿入検知用治具３１を、コネクタハウジング２１に向かってスライド移動させる。
【００４７】
操作ハンドル部５５は、操作力を軽減するために、てこ機構等の倍力機構を介して、治具保持手段５２をスライドさせる。
【００４８】
以上に説明した一実施形態の端子半挿入検知構造では、コネクタハウジング２１に装着された端子金具１１が正規位置に到達しておらず、コネクタハウジング２１内のランス２３がランス撓み空間２４に撓み変位している状態で、コネクタハウジング２１の前端に半挿入検知用治具３１が嵌合装着されると、半挿入検知用治具３１のランスチェックピン３２の先端３２ａが、ランス２３の先端よりもコネクタハウジング２１の前端寄りに装備されたピン当て部２７に当接して、ランスチェックピン３２のランス位置チェック用孔２５への進入が不足する。
【００４９】
従って、ランスチェックピン３２の進入に伴って端子収容孔２２に進入する導通ピン３３も進入不足となって、導通ピン３３と端子金具１１とが非接触状態となり、端子金具１１が半挿入状態であることが検知される。
【００５０】
そして、以上に説明した一実施形態の端子半挿入検知構造では、ランスチェックピン３２のランス位置チェック用孔２５に進入する部分の長さは、コネクタハウジング２１の前端からピン当て部２７までの距離より大きければ良く、コネクタハウジングの前端からランスの前端までの距離よりも大きな長さを設定していた従来の場合と比較すると、ランスチェックピン３２の長さを短縮して、ランスチェックピン３２の強度を向上させることができる。そして、ランスチェックピン３２の強度向上により、半挿入検知用治具３１の耐久性や信頼性を向上させることができる。
【００５１】
なお、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、適宜、変形、改良、等が可能である。その他、上述した実施形態における各構成要素の材質、形状、寸法、数、配置箇所、等は本発明の目的を達成できるものであれば任意であり、限定されない。
【符号の説明】
【００５２】
１１  端子金具
１２  箱部
１５  導通チェック面
１６  ランス係止部
２１  コネクタハウジング
２２  端子収容孔
２２ｃ  導通ピン挿通口
２３  ランス
２４  ランス撓み空間
２５  ランス位置チェック用孔
２６  可撓性バンド部
２７  ピン当て部
３１  半挿入検知用治具
３２  ランスチェックピン
３３  導通ピン
【図１】
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【図２】
2012084402.tif 000004
【図３】
2012084402.tif 000005
【図４】
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【図５】
2012084402.tif 000007
【図６】
2012084402.tif 000008
【図７】
2012084402.tif 000009