(57)【要約】【課題】本発明は、歯科用などの光断層画像取得装置に関するもので、正確な断層画像を表示することを目的とするものである。【解決手段】そしてこの目的を達成するために本発明は、干渉部２１で生成された干渉光を演算処理して測定対象の断層画像情報を生成するとともに、表示部１７への出力をする断層画像用演算部２３と、を備え、前記断層画像用演算部２３で演算する断層画像情報は、表示部１７での表示開始位置Ｓから光経路に沿って前方に、前記表示部１７での深度方向の表示距離Ｔの２倍以上の情報を演算処理するとともに、プローブ１の、前記表示部１７での表示開始位置Ｓから光経路に沿って後方に、表示距離Ｔの１倍以上、３倍以下の位置に光透過性カバー体３８を設けた。【選択図】図１２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源と、この光源から出た光を、少なくとも一方と他方に分割する分割部と、この分割された一方の光を、光入出部の光入出開口部の前方の測定対象に向けて照射し、その測定対象からの反射光を、この光入出部から測定光として取り込むブローブと、前記分割部によって分割された他方の光の経路補正を行う参照鏡と、この参照鏡からの経路補正された光と、前記プローブが取り込んだ測定光とを干渉させて干渉光を生成する干渉部と、この干渉部で生成された干渉光を演算処理して測定対象の断層画像情報を生成するとともに、表示部への出力をする断層画像用演算部と、を備え、
前記断層画像用演算部で演算する断層画像情報は、前記表示部での表示開始位置から光経路に沿って前方に、前記表示部での深度方向の表示距離Ｔの２倍以上の情報を演算処理するとともに、前記プローブの、前記表示部での表示開始位置から光経路に沿って後方に、表示距離Ｔの１倍以上、３倍以下の位置に光透過性カバー体を設けた光断層画像取得装置。
【請求項２】
前記断層画像用演算部が断層画像情報を出力する表示部を備えた請求項１に記載の光断層画像取得装置。
【請求項３】
前記光透過性カバー体は、保護カバーとした請求項１または２に記載の光断層画像取得装置。
【請求項４】
前記プローブは、光入出部に設けた光透過性カバー体の前方部分を着脱自在に設けた請求項１から３のいずれか一つに記載の光断層画像取得装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、たとえば、医療用として活用される光断層画像取得装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、医療用として活用される光断層画像取得装置の構成は、以下のような構成となっていた。
【０００３】
すなわち、光源と、この光源から出た光を分割する分割部と、この分割された一方の光を、光屈折部材、または、光透過性カバー体を設けた光入出部から測定対象に向けて照射し、その測定対象からの反射光を、前記光入出部から測定光として取り込むブローブと、前記分割部によって分割された他方の光の経路補正を行う参照鏡と、この参照鏡からの経路補正された光と、前記プローブが取り込んだ測定光と、を干渉させて干渉光を生成する干渉部と、この干渉部で生成された干渉光を演算処理して測定対象の断層画像情報を生成する断層画像用演算部と、を備えた構成となっていた（例えば、これに類似する技術は下記特許文献１に記載されている）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】国際公開第２００７／０６０９７３号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記従来例における課題は、正確な光断層画像が表示できないことであった。
【０００６】
すなわち、上記従来の光断層画像取得装置では、測定対象の断層画像情報を取得するために、光を測定対象に向けて照射し、その測定対象からの反射光を測定光として取り込んでいたプローブを備えていたが、このプローブを測定対象に対して照射しやすいように光軸を変えるための、反射ミラー等の光屈折部材や、プローブの衛生面を向上させるための、光透過性のカバー体を光入出部に備えた構成となっていた。
【０００７】
このようにすると、プローブの光の照射方向を変更できるので、プローブの利便性が向上し、また、光透過性のカバー体を光入出部に設けたことで、唾液等がプローブ内に入ってくるのを防止できるので、プローブの衛生面を向上することができるが、測定対象の断層画像が正確に表示できないという現象が発生した。
【０００８】
本発明者は、このような測定対象の断層画像が正確に取得できない原因を鋭意検討する中で、測定対象に対する光の経路に設けられたプリズム等の光屈折部材や、光透過性のカバー体から後方に反射する微量の光が測定光に混入することが、結論として測定対象の断層画像が正確に表示できない原因であるということを見いだした。
【０００９】
そこで本発明は、正確な断層画像を表示することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
そして、この目的を達成するために本発明は、光源と、この光源から出た光を、少なくとも一方と他方に分割する分割部と、この分割された一方の光を、光入出部の光入出開口部の前方の測定対象に向けて照射し、その測定対象からの反射光を、この光入出部から測定光として取り込むブローブと、前記分割部によって分割された他方の光の経路補正を行う参照鏡と、この参照鏡からの経路補正された光と、前記プローブが取り込んだ測定光とを干渉させて干渉光を生成する干渉部と、この干渉部で生成された干渉光を演算処理して測定対象の断層画像情報を生成するとともに、表示部への出力をする断層画像用演算部と、を備え、前記断層画像用演算部で演算する断層画像情報は、前記表示部での表示開始位置から光経路に沿って前方に、前記表示部での深度方向の表示距離Ｔの２倍以上の情報を演算処理するとともに、前記プローブの、前記表示部での表示開始位置から光経路に沿って後方に、表示距離Ｔの１倍以上、３倍以下の位置に光透過性カバー体を設けた。
【００１１】
これにより所期の目的を達成するものである。
【発明の効果】
【００１２】
以上のように本発明は、光源と、この光源から出た光を、少なくとも一方と他方に分割する分割部と、この分割された一方の光を、光入出部の光入出開口部の前方の測定対象に向けて照射し、その測定対象からの反射光を、この光入出部から測定光として取り込むブローブと、前記分割部によって分割された他方の光の経路補正を行う参照鏡と、この参照鏡からの経路補正された光と、前記プローブが取り込んだ測定光とを干渉させて干渉光を生成する干渉部と、この干渉部で生成された干渉光を演算処理して測定対象の断層画像情報を生成するとともに、表示部への出力をする断層画像用演算部と、を備え、前記断層画像用演算部で演算する断層画像情報は、前記表示部での表示開始位置から光経路に沿って前方に、前記表示部での深度方向の表示距離Ｔの２倍以上の情報を演算処理するとともに、前記プローブの、前記表示部での表示開始位置から光経路に沿って後方に、表示距離Ｔの１倍以上、３倍以下の位置に光透過性カバー体を設けたものであるので、正確な光断層画像を表示することができる。
【００１３】
すなわち、本発明の光断層画像取得装置では、測定対象に光を照射する際に、プローブの光透過性カバー体の界面が、前記表示部での表示開始位置から光経路に沿って後方に表示距離Ｔの１倍以上、３倍以下の位置に発生するように設けるとともに、表示部へ表示する表示距離Ｔ以上の断層画像情報を非表示としたので、正確な光断層画像を表示することができるのである。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の一実施形態の使用例を示す斜視図
【図２】その斜視図
【図３】その表示部の正面図
【図４】その分解斜視図
【図５】その主要部の分解斜視図
【図６】その主要部の分解斜視図
【図７】その電気的なブロック図
【図８】その主要部の使用時の断面図
【図９】その表示部の正面図
【図１０】その干渉光の周波数スペクトラム図
【図１１】その干渉光の周波数スペクトラム図
【図１２】その主要部の断面図
【図１３】その表示部の正面図
【図１４】その主要部の斜視図
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本発明の一実施形態を添付図面を用いて説明する。
【００１６】
図１において、１はプローブ本体で、このプローブ本体１の前方には、光入出部２が突出した状態で装着されている。
【００１７】
あとで詳細に説明するが、この図１に示すように、本実施形態における光断層画像取得装置は、口腔３内に光入出部２を差し入れ、歯４のＸ軸方向の光断層画像をＹ軸方向に連続的に取得するものである。
【００１８】
さて、プローブ本体１は、図２に示すように片手で保持できるようにピストル形状をしており、後端には、ケーブル５を介して制御ボックス６が接続されている。なお、ケーブル５内には、光入出力用や電気的信号用の配線が収納されている。
【００１９】
また、プローブ本体１内には、図４から図９に示すごとく、測定用の近赤外光（１３１０ナノメートル）を平行光とするコリメータレンズ７を有し、このコリメータレンズ７からの近赤外光は、光走査部８で一軸方向に走査され、続いて、それに直交する方向に移動後、再び一軸方向に走査される、つまり、従来のブラウン管テレビにおける画像形成のための走査状態と同じ状態で走査される。
【００２０】
そして、この走査された光が、波長分離プリズム９、反射ミラー１０を介して図２の歯４に図４、図５のごとく照射される。この照射は、図３に示す表示部１２の画像からも理解されるように、歯１１のＸ軸方向に走査され、そのＸ軸方向の走査時における断層画像は、図３上方の表示部１３に表示される。
【００２１】
この表示部１３には、下方の表示部１２では、発見されなかった虫歯１４が断層画像で表示されている。たとえば、虫歯１４は、歯１１の表面では、わずかな黒シミにしか見えなかったものが、断層画像を撮れば表示部１３のごとく、下方には大きく開口した状態であることが確認でき、この時には、直ちに虫歯治療を行うことになる。つまり、早期治療が可能になるものである。
【００２２】
つづいて、次の瞬間には、Ｙ軸方向にわずかに移動した状態で、再びＸ軸方向の走査が行われ、この時の画像は、再び表示部１３に表示される。もちろん、このようにＸ軸方向の走査ごとに、直ちに表示部１３にその断層画像を表示させなくても、後で歯科医の手操作により、画像を１枚ずつ送りながら確認することもできる。
【００２３】
さて、このような画像をつくるために、波長分離プリズム９前方に、図５、図６に示すごとく照明用の発光素子１５が配置され、この発光素子１５からの光は、反射ミラー１０を介して歯１１に照射される。この照射により、歯から反射され、光入出力開口部１０ａから反射ミラー１０に入射した光は、再び反射ミラー１０で反射され、続いて、波長分離プリズム９、内部反射ミラー２８、内部反射ミラー２９を経由して、カメラ１６にて画像として検出され、それが、上述した表示部１２に示す画像となる。
【００２４】
つまり、画像１２は、現在どの歯１１の断層画像を得ようとしているかということを、表示するためのものであって、この表示部１２の画像を見ながら、図４および図５に示す近赤外光の走査が行われる。
【００２５】
このように、図４、図５に示すように、走査された近赤外光は、波長分離プリズム９を直進し、コリメータレンズ７通過した後、ケーブル５を介して、（図２に示すところの）制御ボックス６にもどり、ここで画像処理され、この処理後の画像が図３の表示部１３に表示されている。つまり、図３は、制御ボックス６の表示部１７を示している。
【００２６】
ここで、制御ボックス６における画像処理について説明する。
【００２７】
図７における光源１８は波長掃引光源で、この光源１８から出た光は分割部１９で分割され、その一部がケーブル５を介して光走査部８に供給され、上述した歯４に対する上述したＸ軸方向とＹ軸方向への走査が行われるものとなる。
【００２８】
また、分割部１９で分割された残りの光は、参照鏡２０で反射され、それが干渉部２１に供給される。干渉部２１では、参照用２０で反射された光と、光走査部８、ケーブル５を介して戻った光とを干渉をさせて干渉光を生成する。この干渉光は、受光部２２で電気信号に変換し、さらにこの電気信号をＡ／Ｄ変換した後に、その結果を断層画像用演算部２３に供給する。
【００２９】
断層画像用演算部２３では、干渉光のＡ／Ｄ変換結果に対してＦＦＴ演算を行い、測定対象である歯４の表面形状と、その断層画像情報を取得する。
【００３０】
制御部２４は、観察画像用演算部２５を制御し、図３に示す表示部１２に観察画像をリアルタイムに表示させる。また、断層画像用演算部２３は、制御部２４で制御され、図３に示す表示部１３の断層画像を表示させる。
【００３１】
ここで、表示部１３に断層画像を表示する際に、この断層画像の表示範囲についての説明をする。
【００３２】
上述した分割部１９から参照鏡２０を経由して干渉部２１までの光学経路長Ｘと、分割部１９からプローブの光入出部２の光学経路の先端、つまり、プローブの光入出口を折り返して、干渉部までの光学経路長Ｙ、との差が干渉光のスペクトラムとして現れることになる。ここで、光学経路Ｘ＝Ｙとなる位置が、表示部１３に表示される断層画像の表示開始位置となる。この表示開始位置については、後述の説明に用いることとする。
【００３３】
本実施形態における光走査部８は、図４、図５、図６に示すガルバノミラー２６により、コリメータレンズ７からの近赤外光を一軸方向（図４、図５のＸ方向）に走査し、前記一軸とは直交する他軸方向（図４、図５のＹ方向）に走査するガルバノスキャナ２６、２７を有する。
【００３４】
図８はプローブ本体１の光入出部２が、口腔内に挿入された場合の断面構造を示した図である。上述したように、プローブ本体１の前方には光入出部２が設けられ、その先端には、光偏向部材である反射ミラー１０が設けられ、さらには光透過性のカバー体である保護カバー３８が光入出部２の内部を前後に分けるようにして設けられている。
【００３５】
上述したように、光プローブ本体１側から入射した光は、保護カバー３８を通過し、光屈折部材である反射ミラー１０によって偏向され、開口部３９を通って測定対象である歯４に照射される。歯４に照射された光は、反射して再び開口部３９から反射ミラー１０を経由して、保護カバー３８を通過し、プローブ本体１側に測定光として返っていくのである。
【００３６】
このプローブの開口部３９と歯４の間には、上述した断層画像の表示開始位置となる点Ｓが設定されており、この表示開始位置の点から歯４の表面および、断層方向の画像を取得することになる。
【００３７】
次に、この断層画像についての課題について説明する。
【００３８】
上述したように、測定対象の歯４に光を照射する際に、この光は、プローブ本体１より保護カバー３８の界面４０を透過してプローブ開口部３９から照射されるが、このときに、全ての光が保護カバー３８の界面４０を透過しないで、いくらかの光が後方反射光４１として測定光に混入してプローブ本体１側に返されてしまう。
【００３９】
この後方反射光４１が混入した測定光は、干渉部２１において参照鏡２０からの参照光と干渉して干渉光が生成されるため、干渉光に後方反射光４１が混入してしまうこととなる。その結果、この干渉光から得られる光断層画像は、結果として、正確な測定対象の断層画像を表示できなくなってしまうのである。
【００４０】
では、後方反射光４１が断層画像にどのような影響を及ぼすかについて具体的に説明をする。
【００４１】
図９に歯の光断層画像を示す。表示画面４２には歯の断層画像４３が表示されているが、この表示画面４２の上方には、上述した保護カバー３８の界面４０による後方反射光４１の影響として、界面線４４ａが表示されている。
【００４２】
図８に示すように、保護カバー３８は、プローブの開口部３９よりも後方側の光入出部２内に配置されているので、表示開始位置Ｓよりも後方に位置するために、断層画像情報には実像としては表示されないが、表示開始位置Ｓより前方の表示距離をＴとすると、表示開始位置Ｓより後方の表示距離Ｔ内に保護カバー３８が配置された場合には、この保護カバー３８の界面４０による後方反射光４１の影響は、表示開始位置Ｓよりも前方の表示距離Ｔ内の断層情報に折り返して虚像として表示されることになる。
【００４３】
例えば、表示距離Ｔを７ｍｍとし、歯４が、表示開始位置Ｓの前方４ｍｍの位置にあり、保護カバー３８が表示開始位置Ｓの後方２ｍｍの位置にあった場合には、保護カバー３８の界面４０は、図９の表示画面４２における表示開始位置Ｓの前方２ｍｍの位置に界面線４４ａとして折り返して虚像として表示されてしまうことになる。
【００４４】
さらには、この表示画面４２には横縞のノイズ線４４ｂが重畳して表示されている。
【００４５】
この表示画面４２のＡラインにおける干渉光の周波数スペクトラムを図１０に示す。
【００４６】
測定対象の歯の光断層画像は、干渉光の周波数スペクトラムを解析することにより得ることができる。干渉光の周波数スペクトラムは、その周波数の低い領域からプローブに近い箇所の情報を得ることができる。歯の表面は、この干渉光の周波数スペクトラムの第４のピーク４５に相当しており、歯の深さ方向に相当するスペクトラムは、第４のピーク４５より高い周波数の領域を解析することで得ることができる。
【００４７】
上述した界面線４４ａ（図９に示す）は、図１０における干渉光の周波数スペクトラムの第２のピーク４６ａに相当する。さらには、上述したノイズ線４４ｂ（図９に示す）の周波数スペクトラムは、ある周波数の高調波成分４６ｂとして現れることになる。
【００４８】
これらの高調波成分４６ｂは、歯の深さ方向に相当する周波数成分に重畳するので、フィルター等によって容易に分離することが難しい。
【００４９】
次に表示開始位置Ｓの定義について説明する。まず、図７における分割部１９から参照鏡２０を経由して干渉部２１までの光学経路長Ｘと、分割部１９からプローブの光入出部２を経由して干渉部までの光学経路長Ｙとの差が等しくなる位置を表示開始位置Ｓとする。
【００５０】
では、これら高調波成分４６ｂがどのようにして発生するのかについて説明する。
【００５１】
まず、図８における保護カバー３８の界面４０からの後方反射光４１が混入した干渉光は、受光部２２（図７に示す）で電気信号に変換し、さらにこの電気信号をＡ／Ｄ変換して、ＦＦＴで周波数演算を行っているが、この後方反射光４１の信号強度が強いために、受光部２２（図７に示す）内のＡ／Ｄ変換器の入力レンジを越えてしまい、後方反射光４１の電気信号波形が飽和した矩形波となって取り込まれてしまう。
【００５２】
この結果、後方反射光４１が正しい周波数で演算できなくなるので、その演算結果を表示するとノイズ線４４ｂが発生してしまう。
【００５３】
つまり、ノイズ線４４ｂに対応した高調波成分４６ｂが発生する原因は、保護カバー３８の界面４０からの後方反射光４１の信号強度が大きいために発生してしまうのである。
【００５４】
この高調波成分４６ｂは、保護カバー３８の位置が、図８に示す表示開始位置Ｓに近いほど、感度が高くなるので発生しやすくなる。
【００５５】
さらに、保護カバー３８の界面４０の影響を説明するために、図１１に、プローブ単体、すなわち測定対象である歯４を含まない状態での干渉光のスペクトラムを示す。
【００５６】
図１１の干渉光のスペクトラムにおける第１のピーク４６ａは、保護カバー３８の界面４０からの後方反射光４１によるものであり、複数の高調波４６ｂは、保護カバー３８の界面４０からの後方反射光４１の強度が強すぎる場合に発生するものである。
【００５７】
この後方反射光４１の強度が強すぎる場合とは、保護カバー３８の位置が開口部３９の近傍にある場合には、測定感度が高くなるために後方反射光４１の強度が断層画像において強く出てしまうのである。
【００５８】
以上の説明で本実施形態における、基本的な構成及び課題が理解されたところで、以下、本実施形態における特徴点について説明をする。
【００５９】
図１２に、本実施形態におけるプローブ本体１内と、この前方に配置した光入出部２内の光学系の配置図を示す。
【００６０】
光ファイバ５より照射された光は、コリメートレンズ７、ガルバノスキャナ２６、ガルバノスキャナ２７、レンズ群７ａ、波長分離プリズム９を経由して、光入出部２内に入り、保護カバー３８を透過し、反射ミラー１０で屈折して、測定対象である歯１１に照射される。
【００６１】
図１２におけるＳは、表示開始位置であり、Ｔは、表示開始位置Ｓからの深度方向の表示距離である。
【００６２】
ここで、保護カバー３８は、表示開始位置Ｓから光軸４７に沿って後方に、表示距離Ｔの１倍以上、３倍以下の位置に配置されている。
【００６３】
例えば、本実施形態おいては、表示距離Ｔは、表示開始位置Ｓから７ｍｍ程度で設計されているが、この場合においては、保護カバー３８は、表示開始位置Ｓから光経路に沿って後方に、７ｍｍ〜２１ｍｍの光入出部２内に配置されることになる。
【００６４】
図１３に、上記配置構成における表示画面を示す。
【００６５】
説明を容易にするために、図１２において、歯１１は、表示開始位置Ｓの前方３ｍｍの位置にあり、保護カバー３８は、表示開始位置Ｓの後方１０ｍｍの位置にあるものとする。
【００６６】
次に、図１３における表示画面５０は、本実施形態において、最終的に表示される断層画像になる。
【００６７】
表示画面５１は、本実施形態における表示処理を説明するために設けた表示画面であるが、従来技術では、表示距離Ｔ（７ｍｍ）に対して、２０４８ポイントのサンプル数の干渉光の情報から表示画面５２を生成していたが、本実施形態においては、表示距離Ｔ（７ｍｍ）に対して、この２倍の表示距離となる１４ｍｍ（４０９６ポイント）のサンプル数の干渉光の情報から表示画面を生成する。
【００６８】
具体的には、図７の制御ブロック図における断層画像演算部２３において、表示距離Ｔの２倍の情報を演算することになる。
【００６９】
この理由としては、例えば、保護カバー３８が、表示開始位置Ｓの後方１０ｍｍの位置にあるものとすると、この保護カバー３８の界面４０は、表示画面５１において、表示開始位置Ｓから１０ｍｍの位置５３に折り返して虚像として表示されることになる。この状態において、表示距離Ｔである７ｍｍ以上の領域を非表示として、表示画面５０のごとく表示すると、保護カバー３８の界面４０を表示しないようにできるのである。
【００７０】
さらには、保護カバー３８の界面４０を表示開始位置Ｓから光軸４７に沿って後方に、表示距離Ｔの１倍以上、３倍以下の位置に配置するので、測定感度の高い表示開始位置Ｓ付近から離れた位置に界面４０を配置することとなり、界面４０の後方反射光４１の強度を低減できるため、高調波のノイズの発生を抑えることも可能となる。
【００７１】
図１４に保護カバー３８の構成について示す。
【００７２】
保護カバー３８は、防水カバーの機能も備えており、光入出部２の前方側の空間に対して、後方側を防水する構成となっている。
【００７３】
このため、患者の口腔内に挿入時には、光入出部２の前方側は、開口部３９から、患者の唾液等が侵入してくるために、光入出部２の前方側は着脱可能に構成されている。取り外した光入出部２の前方側２ａは、洗浄され、光入出部２の後方側２ｂも、防水カバー付近は洗浄可能であるので、双方を洗浄した後、次の患者に対して使用可能となるのである。
【産業上の利用可能性】
【００７４】
以上のように本発明は、光源と、この光源から出た光を、少なくとも一方と他方に分割する分割部と、この分割された一方の光を、光入出部の光入出開口部の前方の測定対象に向けて照射し、その測定対象からの反射光を、この光入出部から測定光として取り込むブローブと、前記分割部によって分割された他方の光の経路補正を行う参照鏡と、この参照鏡からの経路補正された光と、前記プローブが取り込んだ測定光とを干渉させて干渉光を生成する干渉部と、この干渉部で生成された干渉光を演算処理して測定対象の断層画像情報を生成するとともに、表示部への出力をする断層画像用演算部と、を備え、前記断層画像用演算部で演算する断層画像情報は、前記表示部での表示開始位置から光経路に沿って前方に、前記表示部での深度方向の表示距離Ｔの２倍以上の情報を演算処理するとともに、前記プローブの、前記表示部での表示開始位置から光経路に沿って後方に、表示距離Ｔの１倍以上、３倍以下の位置に光透過性カバー体を設けたものであるので、正確な光断層画像を表示することができる。
【００７５】
すなわち、本発明の光断層画像取得装置では、測定対象に光を照射する際に、プローブの光透過性カバー体の界面が、前記表示部での表示開始位置から光経路に沿って後方に表示距離Ｔの１倍以上、３倍以下の位置に発生するように設けるとともに、表示部へ表示する表示距離Ｔ以上の断層画像情報を非表示としたので、正確な光断層画像を表示することができるのである。
【００７６】
したがって、たとえば、歯科用光断層画像取得装置として、広く活用が期待されるものである。
【符号の説明】
【００７７】
１  プローブ本体
２  光入出部
３  口腔
４  歯
５  ケーブル
６  制御ボックス
７  コリメータレンズ
８  光走査部
９  波長分離プリズム
１０  反射ミラー
１１  歯
１２  表示部
１３  表示部
１４  虫歯
１５  発光素子
１６  カメラ
１７  表示部
１８  光源
１９  分割部
２０  参照鏡
２１  干渉部
２２  受光部
２３  断層画像用演算部
２４  制御部
２５  観察画像用演算部
２６  ガルバノスキャナ
２７  ガルバノスキャナ
２８  内部反射ミラー
２９  内部反射ミラー
３０  光入出力部マウントスクリュー
３８  保護カバー
３９  開口部
４０  保護カバーの界面
４１  後方反射光
４２  表示画面
４３  歯の断層画像
４４ａ  界面線
４４ｂ  ノイズ線
４５  第２のピーク
４６ａ  第１のピーク
４６ｂ  高調波成分
４７  光軸
４８  プローブ設置部
４９  ＦＦＴ部
５０  表示画面
５１  表示画面
５２  表示画面
５３  折り返し表示位置
【図１】
2012047505.tif 000003
【図２】
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【図３】
2012047505.tif 000005
【図４】
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【図５】
2012047505.tif 000007
【図６】
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【図７】
2012047505.tif 000009
【図８】
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【図９】
2012047505.tif 000011
【図１０】
2012047505.tif 000012
【図１１】
2012047505.tif 000013
【図１２】
2012047505.tif 000014
【図１３】
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【図１４】
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