(57)【要約】【課題】所定の電圧値の検出に適した電気回路とその製造方法を提供する。【解決手段】コンパレーターと、基準電圧生成回路と、第１の電源との接続側に設けられた第１のヒューズを有する第１のユニットと、第２の電源との接続側に設けられた第２のヒューズを有する第２のユニットと、を含み、前記第１のユニットと前記第２のユニットとが縦列接続され、前記第１の電圧は前記第１のユニットと前記第２のユニットとの間の所定の位置における電圧であり、前記基準電圧生成回路は、前記第１の電源及び前記第２の電源から前記基準電圧を生成し、前記第１のヒューズ及び前記第２のヒューズを切断しない状態で前記コンパレーターの出力が変化するときの前記第１の電源の電圧を測定する第１の工程と、前記第１の工程における測定結果に基づき、前記第１のヒューズ及び前記第２のヒューズの切断を行う第２の工程と、を有する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１ノードの電圧と基準電圧との比較を行うコンパレーターと、
前記基準電圧を生成する基準電圧生成回路と、
第１の電源と前記第１ノードとの間に設けられた第１のユニットと、
前記第１の電源よりも電位が低い第２の電源と前記第１ノードとの間に設けられた第２のユニットと、
を含み、
前記第１のユニットと前記第２のユニットとが縦列接続され、
前記第１のユニットは、第１の抵抗と前記第１の抵抗に並列接続された第１のヒューズとを有し、
前記第２のユニットは、第２の抵抗と前記第２の抵抗に並列接続された第２のヒューズとを有する電気回路において、
前記第１のヒューズ及び前記第２のヒューズを切断しない状態で、前記第１の電源の電圧を変化させて、前記コンパレーターの出力が変化するときの前記第１の電源の電圧を測定する第１の工程と、
前記第１の工程における測定結果に基づき、前記第１のヒューズ及び前記第２のヒューズの切断を行う第２の工程と、を有することを特徴とする電気回路の製造方法。
【請求項２】
前記第２の工程は、予め作成された第１のテーブルに基づいて行われ、
前記第１のテーブルは、前記第２のヒューズを切断する場合に用いられる第２のテーブルと、
前記第２のヒューズを切断しない場合に用いられる第３のテーブルと、を含むことを特徴とする請求項１に記載の電気回路の製造方法。
【請求項３】
前記第２の工程において、
前記測定結果が所定の電圧より大きい場合は、前記第２のテーブルが使用され、
前記測定結果が所定の電圧以下の場合は、前記第３のテーブルが使用されることを特徴とする請求項２に記載の電気回路の製造方法。
【請求項４】
第１ノードの電圧と基準電圧との比較を行うコンパレーターと、
前記基準電圧を生成する基準電圧生成回路と、
第１の電源と前記第１ノードとの間に設けられた第１のユニットと、
前記第１の電源よりも電位が低い第２の電源と前記第１ノードとの間に設けられた第２のユニットと、
を含み、
前記第１のユニットと前記第２のユニットとが縦列接続され、
前記第１のユニットは、第１の抵抗と前記第１の抵抗に並列接続された第１のヒューズとを有し、
前記第２のユニットは、第２の抵抗と前記第２の抵抗に並列接続された第２のヒューズとを有することを特徴とする電気回路。
【請求項５】
前記第１のユニットと前記第１の電源との間に接続された第３のユニットとを有し、
前記第３のユニットは、第３の抵抗と前記第３の抵抗に並列に接続された第１のトランジスターを含み、前記第１のトランジスターのゲートは前記コンパレーターの出力により制御されることを特徴とする請求項４に記載の電気回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気回路の製造方法及び電気回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、半導体集積回路上に形成される様々な回路素子には特性上のバラツキが存在する場合がある。該バラツキは、たとえば、抵抗の抵抗値であったりトランジスターのスレッショルド電圧値であったりする。該バラツキが発生する要因のひとつは、製造工程における条件のバラツキがある。量産時において、製造工程の管理の精度を高めても常に同じ条件下で製造することは難しく、これが回路素子の特性のバラツキをもたらすと考えられる。回路素子の特性のバラツキは半導体集積回路に動作の違いをもたらし、場合によってはこの動作の違いが無視できないときがある。このような回路素子の特性のバラツキを調整するための調整回路の例が特許文献１に記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−２３３９２２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１に記載されている調整回路（分圧回路）は、分圧回路における合成抵抗を変えずに分圧電圧を変える回路である。分圧回路における電圧降下を一定としたまま分圧電圧を変えることで基準電圧Ｖｒｅｆのバラツキに対応したものであり、調整回路に供給される電源電圧が一定であることを前提としたものである。このため、該電源電圧が一定でない状態が発生する場合は、出力電圧に誤差が生じる。電源電圧の制御に所定の電圧値の検出が必要となる場合があるが、このような用途には上記した調整回路による設定方法は適さないと考えられる。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は、上述した問題若しくは課題の少なくともひとつを解決するためになされたものであり、以下の適用例若しくは実施形態として実現することが可能である。
【０００６】
［適用例１］
本適用例にかかる電気回路の製造方法は、第１ノードの電圧と基準電圧との比較を行うコンパレーターと、前記基準電圧を生成する基準電圧生成回路と、第１の電源と前記第１ノードとの間に設けられた第１のユニットと、前記第１の電源よりも電位が低い第２の電源と前記第１ノードとの間に設けられた第２のユニットと、を含み、前記第１のユニットと前記第２のユニットとが縦列接続され、前記第１のユニットは、第１の抵抗と前記第１の抵抗に並列接続された第１のヒューズとを有し、前記第２のユニットは、第２の抵抗と前記第２の抵抗に並列接続された第２のヒューズとを有する電気回路において、前記第１のヒューズ及び前記第２のヒューズを切断しない状態で、前記第１の電源の電圧を変化させて、前記コンパレーターの出力が変化するときの前記第１の電源の電圧を測定する第１の工程と、前記第１の工程における測定結果に基づき、前記第１のヒューズ及び前記第２のヒューズ回路の切断を行う第２の工程と、を有することを特徴とする。
【０００７】
この方法によれば、第１ノードの電圧と、基準電圧生成回路が生成する基準電圧とがコンパレーターにより比較され、該コンパレーターの出力の値が変化したときの第１の電源の電圧値を測定する第１の工程と、該第１の工程における測定結果に基づき第１のユニット及び第２のユニットのヒューズの切断を行うことで、第２の工程を行った後の回路を、コンパレーター、第１の抵抗及び第２の抵抗の製造における電気的特性のバラつきによる影響を抑えて第１の電源における所定の電圧値の検出をより正確に行うことができる回路とすることができる。
【０００８】
第１の電源の検出精度を高めるためには、第１のユニットの分解能が高いことが好ましい。第１のユニットに含まれる並列接続された第１の抵抗及び第１のヒューズは、少なくともひとつの第１のヒューズが切断される可能性があるものであれば、複数あってもよい。複数有することで、それぞれの第１の抵抗の抵抗値を異なるものにすることができ、製造時における調整の幅を広げることができる。また、上記した分解能は、第１のユニットと第２のユニットとを組み合わせて構成することで、第１のユニットのみで構成するよりも、第１のユニットにおける第１の抵抗及び第１のヒューズの個数を少なくすることが可能である。
【０００９】
［適用例２］
上記適用例にかかる電気回路の製造方法において、前記第２の工程は、予め作成された第１のテーブルに基づいて行われ、前記第１のテーブルは、前記第２のヒューズを切断する場合に用いられる第２のテーブルと、前記第２のヒューズを切断しない場合に用いられる第３のテーブルと、を含むことが好ましい。
【００１０】
この方法によれば、第２の工程における第１のヒューズの切断及び第２のヒューズの切断を予め作成された第１のテーブルに基づいて行うことで、製造における処理を簡潔なものとすることができる。また、第１のテーブルを第２のヒューズを切断する場合に用いる第２のテーブルと第２のヒューズを切断しない場合に用いる第３のテーブルとに分けることで、第１のヒューズの切断に用いる際のテーブルのサイズを小さくすることができ、テーブルの扱いを容易にすることができる。
【００１１】
［適用例３］
上記適用例にかかる電気回路の製造方法において、前記第２の工程において、前記測定結果が所定の電圧より大きい場合は、前記第２のテーブルが使用され、前記測定結果が所定の電圧以下の場合は、前記第３のテーブルが使用されることが好ましい。
【００１２】
この方法によれば、第１の工程における測定結果が所定の電圧よりも大きい場合は第２のテーブルを使用し、該測定結果が所定の電圧よりも小さい場合は第３のテーブルを使用することで、所定の電圧を閾値として扱うことで製造におけるテーブル選択の制御を容易にすると共に、第２のテーブル及び第３のテーブルをこのように設定することにより、第１の抵抗の抵抗値及び第２の抵抗の抵抗値の組合せの構成をより狭めることになり、回路の製造のバラつきを低減することを図ることができる。
【００１３】
［適用例４］
本適用例にかかる電気回路は、第１ノードの電圧と基準電圧との比較を行うコンパレーターと、前記基準電圧を生成する基準電圧生成回路と、第１の電源と前記第１ノードとの間に設けられた第１のユニットと、前記第１の電源よりも電位が低い第２の電源と前記第１ノードとの間に設けられた第２のユニットと、を含み、前記第１のユニットと前記第２のユニットとが縦列接続され、前記第１のユニットは、第１の抵抗と前記第１の抵抗に並列接続された第１のヒューズとを有し、前記第２のユニットは、第２の抵抗と前記第２の抵抗に並列接続された第２のヒューズとを有することを特徴とする。
【００１４】
この構成によれば、第１ノードの電圧と基準電圧との比較を行うコンパレーターと、前記基準電圧を生成する基準電圧生成回路と、第１の電源と第１ノードとの間に設けられた第１のユニットと、前記第１の電源よりも電位が低い第２の電源と第１ノードとの間に設けられた第２のユニットと、を含み、前記第１のユニットと前記第２のユニットとが縦列接続され、第１のユニットは、第１の抵抗と前記第１の抵抗に並列接続された第１のヒューズとを有し、第２のユニットは、第２の抵抗と前記第２の抵抗に並列接続された第２のヒューズとを有することで、上述した第１の工程及び第２の工程を用いることが可能な電気回路とすることができる。
【００１５】
第１の電源の検出精度を高めるためには、第１のユニットの分解能が高いことが好ましい。第１のユニットに含まれる並列接続された第１の抵抗及び第１のヒューズは、少なくともひとつの第１のヒューズが切断される可能性があるものであれば、複数あってもよい。複数有することで、それぞれの第１の抵抗の抵抗値を異なるものにすることができ、製造時における調整の幅を広げることができる。また、上記した分解能は、第１のユニットと第２のユニットとを組み合わせて構成することで、第１のユニットのみで構成するよりも、第１のユニットにおける第１の抵抗及び第１のヒューズの個数を少なくすることが可能である。
【００１６】
［適用例５］
上記適用例にかかる電気回路において、前記第１のユニットと前記第１の電源との間に接続された第３のユニットとを有し、前記第３のユニットは、第３の抵抗と前記第３の抵抗に並列に接続された第１のトランジスターを含み、前記第１のトランジスターのゲートは前記コンパレーターの出力により制御されることが好ましい。
【００１７】
この構成によれば、コンパレーターの出力により第１のトランジスターのゲートを制御することで、コンパレーターの出力の値が変化するのに応じて第１のトランジスターをオンとすることができる。第１のトランジスターがオンとなることにより、第３の抵抗をバイパスする電流がながれ、第３の抵抗の値で決まる所定の値分第１の電圧の値が上昇する。これによりコンパレーターの出力が変化した後に第１の電源の振れ若しくはノイズ等によりコンパレーターの出力の値が乱れることを防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】第１実施形態における製造方法の一部を示すフローチャート。
【図２】第１実施形態における本発明のブロック回路図。
【図３】基準電圧生成回路のブロック回路図。
【図４】第２実施形態における本発明のブロック回路図。
【図５】ヒューズ設定テーブルの例。
【図６】第１実施形態における変形例のブロック回路図。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、図を用いて本発明の実施形態について説明する。
【００２０】
（第１実施形態）
まず、本発明の製造方法を適用する電気回路の説明を行い、次に製造方法の説明を行う。
【００２１】
図２に、本発明の製造方法を適用する回路１００を示す。回路１００は、第１ユニット１１０、第２ユニット１２０、第３の抵抗１２３、コンパレーター１３０及び基準電圧生成回路１４０を有する。
【００２２】
第１ユニット１１０は、第１の抵抗１１１及び第１のヒューズ１１２が並列接続された回路が複数個縦列接続された構造を有する回路であり、第４の抵抗１２４を介して第１電源（Ｖ１）に接続されている。縦列接続されたそれぞれの第１の抵抗１１１の抵抗値は同じであってもよいし、異なっていてもよい。たとえば、複数ある第１の抵抗１１１の各々の抵抗値のそれぞれが、第１の抵抗１１１の中の最小の抵抗値の倍数となるように構成することでもよい。回路１００の使用目的により、第１ユニット１１０の構成は異なってくるものと考えられる。
【００２３】
第２ユニット１２０は、第２の抵抗１２１と第２のヒューズ１２２とが並列接続された回路を有し、第１電源（Ｖ１）よりも低い電圧の第２電源（Ｖ２）に第３の抵抗１２３を介して接続されている。図２中、第１の電圧ＶＤＩＶで示した電圧は、第１ユニット１１０と第２ユニット１２０との間の所定の位置における電圧値である。第１の電圧ＶＤＩＶは、第１ユニット１１０の抵抗値と第４の抵抗１２４の抵抗値とを合わせた抵抗値、及び、第２ユニット１２０の抵抗値と第３の抵抗１２３の抵抗値とをあわせた抵抗値との比（以下の記載において分圧比と記載することがある）によって定まる値であり、第１電源（Ｖ１）の電圧値と第２電源（Ｖ２）の電圧値との間の電圧値となる。
【００２４】
基準電圧生成回路１４０は、基準電圧ＶＲＥＦを生成する回路である。基準電圧生成回路１４０は第１電源（Ｖ１）及び第２電源（Ｖ２）に接続されており、生成される基準電圧ＶＲＥＦは第１電源（Ｖ１）の電圧値と第２電源（Ｖ２）の電圧値との間の電圧値となる。
【００２５】
図３に、基準電圧生成回路１４０の回路図を示す。基準電圧生成回路１４０は、デプレッションタイプのトランジスター１４１とエンハンスメントタイプのトランジスター１４２を縦列接続した構成を有する。トランジスター１４１及びトランジスター１４２は共にＮｃｈトランジスターである。トランジスター１４１のソース端子が第１電源（Ｖ１）に接続され、トランジスター１４２のソース端子が第２電源（Ｖ２）に接続されている。基準電圧ＶＲＥＦは、トランジスター１４１及びトランジスター１４２が共にオンの間は、トランジスター１４１におけるソース端子及びドレイン端子の間の抵抗値とトランジスター１４２におけるソース端子及びドレイン端子の間の抵抗値とによって分圧される電圧値となる。
【００２６】
コンパレーター１３０は、第１の電圧ＶＤＩＶと基準電圧ＶＲＥＦとの比較を行う部分である。第１の電圧ＶＤＩＶの電圧が基準電圧ＶＲＥＦの電圧よりも低い場合と第１の電圧ＶＤＩＶの電圧が基準電圧ＶＲＥＦの電圧以上の場合とで出力値（比較結果ＣＭＰ）が異なる。回路１００の出力信号のひとつである比較結果ＣＭＰは、基準電圧ＶＲＥＦと第１の電圧ＶＤＩＶとを比較した結果である。従って、回路１００の使用目的により第１ユニット１１０の構成が異なってくると上述したが、トランジスター１４１及びトランジスター１４２の特性をどのようにするかも回路１００の使用目的により決められるものと考えられる。第１ユニット１１０を構成する第１の抵抗１１１及び第１のヒューズ１１２の個数は特に限定されるものではないが、本実施形態においては、第１ユニット１１０は、並列接続された第１の抵抗１１１及び第１のヒューズ１１２の回路が８個縦列に接続された構成を有するものとする。
【００２７】
次に、回路１００の製造における本発明にかかる部分の製造方法について説明する。図１に示したのは本発明にかかる部分のフローチャート１０である。フローチャート１０におけるスタートの時点においては、第１のヒューズ１１２及び第２のヒューズ１２２のいずれも切断されていない。回路１００は、フローチャート１０の処理を行うことが可能な所定の製造装置にセッティングされている。
【００２８】
まず、第１電源（Ｖ１）の初期値を設定する（Ｓ００１）。初期値は、第２電源（Ｖ２）の電圧よりも高い電圧であればよい。しかしながら、比較結果ＣＭＰの変化が起こる電圧値が予想できる場合には、予想できる電圧値に近い電圧値に設定することがコスト低減に繋がり好ましい。
【００２９】
次に、第１電源（Ｖ１）の電圧値を変更（Ｓ００２）し、比較結果ＣＭＰの値が変化したかどうかを検出する（Ｓ００３）。変化が検出できない場合は、Ｓ００２及びＳ００３の処理を繰り返す。比較結果ＣＭＰが変化を検出した場合は、変化したときの第１電源（Ｖ１）の電圧値を抽出する（Ｓ００４）。尚、フローチャート１０においては、第１電源（Ｖ１）の電圧値を変化させること（Ｓ００２）と変化を検出すること（Ｓ００３）とを別々な処理として記載したが、製造装置が第１電源（Ｖ１）の電圧値を連続的に変化させることが可能なものであれば、第１電源（Ｖ１）の電圧値を連続的に変化させながら比較結果ＣＭＰの変化を検出するようにしてもよい。
【００３０】
次に、抽出した電圧値でテーブルを参照し、テーブルで示された第１のヒューズ１１２及び第２のヒューズ１２２の切断を行い（Ｓ００５）、フローチャート１０の処理を終了する。
【００３１】
Ｓ００５の処理で用いるテーブルの例を図５にテーブル２０として示す。テーブル２０は、選択番号、第１電源（Ｖ１）、第２ユニット及び第１ユニットと記載した列から構成され、第１ユニットの列は更に数字を記載した列に分割されている。上述したように、本実施形態における第１ユニット１１０は８個の第１の抵抗１１１を有する。８個の第１の抵抗１１１はそれぞれ抵抗値が異なり、第１ユニットの列を分割している数字は、それぞれがひとつの第１の抵抗１１１に対応している。
【００３２】
第１ユニットの列を分割している数字は、対応する第１の抵抗１１１の抵抗値を示唆する数字である。８個の第１の抵抗１１１の中で、抵抗値が最小である第１の抵抗１１１の抵抗値をＲとする。このときに、第１ユニットの列を分割している数字の中で「１」の列で示されているのが、抵抗値が最小（２0×Ｒ）である第１の抵抗１１１に対する処理である。第１ユニットの列を分割している数字の中で「２」の列で示されているのは抵抗値が２1×Ｒの第１の抵抗１１１に対する処理である。同様に、第１ユニットの列を分割している数字の中で「１２８」の列で示されているのは抵抗値が２7×Ｒの第１の抵抗１１１に対する処理である。テーブル２０の記載において、「○」は該当する第１の抵抗１１１に並列接続された第１のヒューズ１１２若しくは第２の抵抗１２１に並列接続された第２のヒューズ１２２の切断を行うことを示し、「×」は該当する第１の抵抗１１１に並列接続された第１のヒューズ１１２若しくは第２の抵抗１２１に並列接続された第２のヒューズ１２２の切断を行わないことを示す。
【００３３】
テーブル２０の第１電源（Ｖ１）の列は、フローチャート１０におけるＳ００４の処理で抽出された電圧値を示し、該当する電圧値を含む列に記載された「○」又は「×」の処理がＳ００５の処理として行われる。
【００３４】
選択番号は、Ｓ００５における処理の場合の数を示すものである。従って、製造上有り得ない処理の場合を含む必要はない。本実施形態におけるテーブル２０は、６８８通りの場合を想定したものである。この選択番号は、製造装置の制御情報として用いることができる。例えば、Ｓ００４における検出結果を選択番号で置き換えて、製造装置の処理を該選択番号の値に対応した処理として実行することで、製造装置内における情報の伝達量を少なくすることができる。
【００３５】
尚、テーブル２０は、第２のヒューズ１２２の処理の違いにより２つのテーブルに分割されている。第２のヒューズ１２２を切断する処理に対応するのがテーブル２１であり、第２のヒューズ１２２を切断しない処理に対応するのがテーブル２２である。テーブル２１とテーブル２２は、選択番号によって切り分けることが可能である。従って、選択番号を用いることで、第２ユニットで示した列の情報を省略することも可能となる。
【００３６】
回路１００は、第１電源（Ｖ１）若しくは第２電源（Ｖ２）の変動を検出する回路と見ることができる。たとえば、第２電源（Ｖ２）がＧＮＤレベルに固定されている場合には、第１電源（Ｖ１）のＧＮＤレベルに対しての電圧の変動を検出するための回路として使用することができる。電源の電圧監視が必要な装置の中に回路１００を組み込むことで、該装置における電源の電圧監視が可能となる。ここで、該装置の電源電圧がＲＶとなったことを検出するとする。この場合、第１電源（Ｖ１）は該装置の電源に接続される。回路１００は、第１電源（Ｖ１）の電圧値がＲＶとなったときに比較結果ＣＭＰの値が変化するように設定されていればよい。
【００３７】
しかしながら、第１の抵抗１１１、第２の抵抗１２１、第３の抵抗１２３、トランジスター１４１及びトランジスター１４２などは製造バラつきがあり、第１電源（Ｖ１）がＲＶとなったときに比較結果ＣＭＰが変化しない場合がある。製造バラつきは一様ではないので、製造された回路１００毎に個別の設定が必要になる。このためには、製造された回路１００の特性を検査した上で、この検査結果に基づいた設定が該回路１００に対して行われることが好ましい。
【００３８】
製造された回路１００のひとつの特性は、第１のヒューズ１１２及び第２のヒューズ１２２のいずれも切断しない状態で比較結果ＣＭＰが変化するときの第１電源（Ｖ１）の電圧値（以降、検査値と記載する）を検査することで求めることができる。製造上のバラつきは、検査値がどの値であるかにより示さていると考えられる。この検査の処理がフローチャート１０におけるＳ００２、Ｓ００３及びＳ００４である。
【００３９】
検査値に対応した補正が行えるように第１のヒューズ１１２及び第２のヒューズ１２２の切断状態を規定したテーブル２０を予め作成し、テーブル２０に従った第１のヒューズ及び第２のヒューズの切断を行う（フローチャート１０におけるＳ００５）ことで、組み込んだ装置の電源電圧の検出を正確に行える回路１００の製造が可能となる。
【００４０】
また、装置により使用される電源電圧の電圧値は様々であるが、第１のヒューズ１１２及び第２のヒューズ１２２の少なくともひとつを切断することで、分圧比が変わることから、テーブル２０の情報を変更することで、どのような電圧値の装置に対しても用いることができる。
【００４１】
また、第２のユニットのヒューズを切断しない状態におけるＶＤＩＶとＶＲＥＦとの電位差が小さくなるように調整することで、上記の第１の工程の実施に要する時間の短縮を図ることも可能である。
【００４２】
尚、上記したものに比べて第１のヒューズ１１２及び第２のヒューズ１２２の切断の状態を定義するテーブルはテーブル２０より複雑になるが、図６に示すように第２ユニット１２０を第１ユニット１１０と同様な構成とすることも、本発明の変形例のひとつである。
【００４３】
（第２実施形態）
本実施形態の説明においては、第１実施形態と同様の構成については同じ符号を付し、その説明を省略する。図４に、本実施形態の説明に用いる回路２００を示す。回路２００は、第１実施形態で説明した回路１００に第３ユニット２５０を付加したものである。第３ユニット２５０は第１ユニット１１０と第１電源（Ｖ１）との間に直列的に付加されている。従って、第１の電圧ＶＤＩＶは、第１ユニット１１０及び第３ユニット２５０によって定まる抵抗値と、第３の抵抗１２３及び第２ユニット１２０によって定まる抵抗値とによって定まる電圧値となる。回路２００は、第１電源（Ｖ１）が所定の電圧よりも高くなったことを検出するのに、第１実施形態で説明した回路１００よりも適したものとなっている。
【００４４】
第３ユニット２５０は第５の抵抗２５１とトランジスター２５２とを有する。また、インバーター２６０は、コンパレーター１３０の出力極性とトランジスター２５２のゲート端子との極性を合わせるためのものである。比較結果ＣＭＰが変化するまでは、トランジスター２５２はオフであり、第１電源（Ｖ１）が所定の電圧値よりも低い状態から所定の電圧値となり比較結果ＣＭＰが変化すると、トランジスター２５２はオンになる。トランジスター２５２がオンになることにより、第３ユニット２５０における抵抗値が小さくなり第１の電圧ＶＤＩＶの電位がより高くなる。従って、第１電源（Ｖ１）が所定の電圧値になったときに、第１電源（Ｖ１）の揺れやノイズ等により比較結果ＣＭＰの出力が振れることを防ぎ、回路２００の動作を安定したものとすることができる。
【００４５】
上記の本発明は上記の実施形態に限定されるものでなく、本発明の主旨を逸脱しない範囲で広く適用可能である。たとえば、上記の実施形態においてはＮ型トランジスターのＶｔｈ差を用いた基準電圧源を使用したが、Ｐ型トランジスターのＶｔｈ差を用いた基準電圧源や仕事関数差による基準電圧源やバンドギャップレファレンス回路を用いた場合においても適用は可能である。
【符号の説明】
【００４６】
１０…フローチャート、２０…テーブル、２１…テーブル、２２…テーブル、１００…回路、１１０…第１ユニット、１１１…第１の抵抗、１１２…第１のヒューズ、１２０…第２ユニット、１２１…第２の抵抗、１２２…第２のヒューズ、１２３…第３の抵抗、１２４…第４の抵抗、１３０…コンパレーター、１４０…基準電圧生成回路、１４１…トランジスター、１４２…トランジスター、２００…回路、２５０…第３ユニット、２５１…第５の抵抗、２５２…トランジスター、２６０…インバーター。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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