(57)【要約】【課題】遅延干渉計の位相を最適値に調整する時間を従来よりも短縮する。【解決手段】差動Ｍ相位相シフト変調方式によって変調された光信号を受信する光受信装置１０１において、遅延干渉計３−１，３−２の各々には、分岐部２で分岐された光信号が個別に入力される。バランス検波器４Ａ，４Ｂの各々は対応の遅延干渉計の出力を検波する。再生部７は、各バランス検波器の出力に基づいて、Ｎビットのデータを順次再生する。誤り訂正部８は、再生部７によって順次再生されたＮビットのデータの誤り訂正を行なう。位相補正部１５Ｂは、少なくとも一部のビットパターンについて、各ビットパターンが別の１または複数のビットパターンに誤って識別される確率である誤識別率を、誤り訂正部８の訂正結果に基づいて検出し、検出したビットパターンの誤識別率に基づいて、遅延干渉計３−１，３−２のうち少なくとも１つの位相の設定値を補正する。【選択図】図８
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｍ＝２N（Ｎは２以上の整数）である差動Ｍ相位相シフト変調方式によって変調された光信号を受信する光受信装置であって、
受信した光信号をＭ／２個に分岐する分岐部と、
前記分岐部で分岐された光信号が個別に入力され、各々が、入力された光信号を２つの分岐成分に分岐し、分岐した一方の分岐成分を他方の分岐成分に対して１シンボル遅延させるとともにいずれか一方の分岐成分の位相を設定された位相だけシフトさせ、その後、両分岐成分を結合して出力するＭ／２組の遅延干渉計と、
前記Ｍ／２組の遅延干渉計にそれぞれ対応し、各々が対応の遅延干渉計の出力を検波するＭ／２組のバランス検波器と、
前記Ｍ／２組のバランス検波器の出力に基づいて、Ｎビットのデータを順次再生する再生部と、
前記再生部によって順次再生されたＮビットのデータの誤り訂正を行なう誤り訂正部と、
少なくとも一部のビットパターンについて、各ビットパターンが別の１または複数のビットパターンに誤って識別される確率である誤識別率を、前記誤り訂正部の訂正結果に基づいて検出し、検出したビットパターンの誤識別率に基づいて、前記Ｍ／２組の遅延干渉計のうち少なくとも１つの位相の設定値を補正する位相補正部とを備えた光受信装置。
【請求項２】
前記位相補正部は、
少なくとも一部のビットパターンについて各ビットパターンの誤識別率を検出し、検出した複数の誤識別率を相互に比較する識別精度比較部と、
位相の設定値が最適値からずれている可能性のある遅延干渉計について、位相の設定値を増加させるのか減少させるのかを、前記識別精度比較部の比較結果に基づいて判別する判別部とを含む、請求項１に記載の光受信装置。
【請求項３】
前記識別精度比較部は、前記少なくとも一部のビットパターンについて、前記再生部の再生データの誤り率が最小のときに検出された誤識別率と、現在の誤識別率との偏差を算出し、算出した複数の偏差を相互に比較する、請求項２に記載の光受信装置。
【請求項４】
前記位相補正部は、前記再生部の再生データから得られた各ビットパターンの出現頻度と、検出したビットパターンの誤識別率との両方に基づいて、前記Ｍ／２組の遅延干渉計のうち少なくとも１つの位相の設定値を補正する、請求項１に記載の光受信装置。
【請求項５】
Ｍ＝２N（Ｎは２以上の整数）である差動Ｍ相位相シフト変調方式によって変調された光信号を受信する光受信装置であって、
受信した光信号をＭ／２個に分岐する分岐部と、
前記分岐部で分岐された光信号が個別に入力され、各々が、入力された光信号を２つの分岐成分に分岐し、分岐した一方の分岐成分を他方の分岐成分に対して１シンボル遅延させるとともにいずれか一方の分岐成分の位相を設定された位相だけシフトさせ、その後、両分岐成分を結合して出力するＭ／２組の遅延干渉計と、
前記Ｍ／２組の遅延干渉計にそれぞれ対応し、各々が対応の遅延干渉計の出力を検波するＭ／２組のバランス検波器と、
前記Ｍ／２組のバランス検波器の出力に基づいて、Ｎビットのデータを順次再生する再生部と、
前記再生部の再生データから得られた各ビットパターンの出現頻度に基づいて、前記Ｍ／２組の遅延干渉計のうち少なくとも１つの位相の設定値を補正する位相補正部とを備えた光受信装置。
【請求項６】
前記位相補正部は、
各ビットパターンの出現頻度または所定数のビットパターンによって構成される複数のグループの各々の出現頻度を検出し、検出した複数の出現頻度を相互に比較する出現頻度比較部と、
位相の設定値が最適値からずれている可能性のある遅延干渉計について、位相の設定値を増加させるのか減少させるのかを、前記出現頻度比較部の比較結果に基づいて判別する判別部とを含む、請求項５に記載の光受信装置。
【請求項７】
前記出現頻度比較部は、各ビットパターンまたは前記複数のグループの各々について、前記再生部の再生データの誤り率が最小のときに検出された出現頻度と、現在の出現頻度との偏差を算出し、算出した複数の偏差を相互に比較する、請求項６に記載の光受信装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、ＤＱＰＳＫ（Differential  Quadrature  Phase  Shift  Keying：差動四相位相シフト変調）方式などの、差動Ｍ相位相シフト変調方式で変調された光信号を受信する光受信装置およびその制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光通信システムにおいて、従来から強度変調方式が用いられてきたが、信号対雑音比の向上が困難なために近年の通信トラフィックの急増に対応しきれなくなってきた。そこで、信号対雑音比の向上が可能なＤＱＰＳＫ方式などの差動Ｍ相位相シフト変調方式が主流になりつつある。たとえばＤＱＰＳＫ方式では、２ビットのビットパターン（０，０）（０，１）（１，１）（１，０）に対して、位相０，π／２，π，３π／２が割り当てられ、先に送信した搬送波と次に送信する搬送波の位相を割り当てられた位相だけ変化させることで任意のビットパターンが送信される。
【０００３】
差動Ｍ相位相シフト変調方式によって変調された光信号を受信側で復調するために、一般に遅延干渉計が用いられる。たとえば、特開２００８−７２５５５号公報（特許文献１）に記載された光受信装置は、可変分散補償器と、遅延干渉計と、復調部と、監視部と、設定部とを含む。可変分散補償器は、受信した光信号に対して可変な分散補償量によって分散補償を行なう。遅延干渉計は、可変分散補償器から出力された光信号を２つに分岐させ、一方の分岐成分を１シンボル遅延させ、他方の分岐成分を可変な位相量によって位相制御し、２つの分岐成分を干渉させる。復調部は、遅延干渉計から出力される干渉結果を電気信号に変換することによって復調する。監視部は、復調部から出力される復調電気信号の誤り率などのエラー状態を監視する。設定部は、エラー状態情報を監視しながら可変分散補償器の分散補償量と遅延干渉計の位相量とを交互に変化させることで、エラー状態が良好（たとえば、誤り率が最小）となる分散補償量および位相量を探索して設定する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００８−７２５５５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、遅延干渉計の位相制御量は、光信号の波長レベルで精密に調整する必要があるため、適切な値に調整するまでには時間がかかる。上記の特開２００８−７２５５５号公報（特許文献１）に記載された光受信装置の場合には、記憶部に記憶された過去の設定値または他のチャネルの設定値などを利用することによって、適切な値に設定するまでの時間短縮が図られている。しかしながら、最も近い波長のチャネルの設定値を初期値として利用できたとしても、その後は、誤り率が最小となるように試行錯誤的に位相を調整するので、最適値に位相を調整するまでに比較的長時間を要することになってしまっていた。さらには、位相調整中の段階では、かえって誤り率を劣化させる場合もあり得た。
【０００６】
この発明の目的は、遅延干渉計の位相を最適値に調整する時間を従来よりも短縮することが可能な光受信装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
この発明は一局面において、Ｍ＝２N（Ｎは２以上の整数）である差動Ｍ相位相シフト変調方式によって変調された光信号を受信する光受信装置であって、分岐部と、Ｍ／２組の遅延干渉計と、Ｍ／２組のバランス検波器と、再生部と、誤り訂正部と、位相補正部とを備える。分岐部は、受信した光信号をＭ／２個に分岐する。各遅延干渉計は、分岐部で分岐された光信号が個別に入力され、入力された光信号を２つの分岐成分に分岐し、分岐した一方の分岐成分を他方の分岐成分に対して１シンボル遅延させるとともにいずれか一方の分岐成分の位相を設定された位相だけシフトさせ、その後、両分岐成分を結合して出力する。Ｍ／２組のバランス検波器は、Ｍ／２組の遅延干渉計にそれぞれ対応し、各々が対応の遅延干渉計の出力を検波する。再生部は、Ｍ／２組のバランス検波器の出力に基づいて、Ｎビットのデータを順次再生する。誤り訂正部は、再生部によって順次再生されたＮビットのデータの誤り訂正を行なう。位相補正部は、少なくとも一部のビットパターンについて、各ビットパターンが別の１または複数のビットパターンに誤って識別される確率である誤識別率を、誤り訂正部の訂正結果に基づいて検出し、検出したビットパターンの誤識別率に基づいて、Ｍ／２組の遅延干渉計のうち少なくとも１つの位相の設定値を補正する。
【発明の効果】
【０００８】
この発明によれば、誤り訂正部の訂正結果に基づいて検出されたビットパターンの誤識別率に基づいて、遅延干渉計の位相の設定値が補正されるので、各遅延干渉計の位相を最適値に調整する時間を従来よりも短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の実施の形態１による光受信装置１００の構成を示すブロック図である。
【図２】ツインフォトダイオード４Ａ，４Ｂの出力について説明するための図である。
【図３】遅延干渉計３−２に設けられた移相器１２−２によるシフト量と、ツインＰＤ４Ｂの差動出力との関係を示す図である。
【図４】遅延干渉計３−１に設けられた移相器１２−１によるシフト量と、ツインＰＤ４Ａの差動出力との関係を示す図である。
【図５】移相器１２−１，１２−２の位相がそれぞれ＋π／４，−π／４からずれた場合における各ビットパターンの識別精度の変化および出現頻度の変化をまとめたものである。
【図６】図１の出現頻度比較部９、判別部１０および制御部１１による遅延干渉計３−１，３−２の位相調整手順を示すフローチャートである。
【図７】実施の形態１の変形例による光受信装置において、遅延干渉計３−１，３−２の位相調整手順を示すフローチャートである。
【図８】本発明の実施の形態２による光受信装置１０１の構成を示すブロック図である。
【図９】図８の識別精度比較部１３、判別部１０および制御部１１による遅延干渉計３−１，３−２の位相調整手順を示すフローチャートである。
【図１０】実施の形態２の変形例１による光受信装置において、遅延干渉計３−１，３−２の位相調整手順を示すフローチャートである。
【図１１】実施の形態２の変形例２による光受信装置において、遅延干渉計３−１，３−２の位相調整手順を示すフローチャートである。
【図１２】実施の形態２の変形例３による光受信装置において、遅延干渉計３−１，３−２の位相調整手順を示すフローチャートである。
【図１３】本発明の実施の形態３による光受信装置１０２の構成を示すブロック図である。
【図１４】図１３の出現頻度比較部９、識別精度比較部１３、判別部１０および制御部１１による遅延干渉計３−１，３−２の位相調整手順を示すフローチャートである。
【図１５】遅延干渉計３−１，３−２の両方の位相がずれている場合の識別精度の変化を説明するための図である。
【図１６】図５のＡ〜Ｄの場合と図１５のＥ〜Ｈの場合とを考慮したときの遅延干渉計３−１，３−２の位相のずれ方の判別方法について説明するための図である。
【図１７】この発明の実施の形態５による光受信装置１０３の構成を示すブロック図である。
【図１８】ツインフォトダイオード４Ａ，４Ｂ，４Ｃ，４Ｄの出力について説明するための図である。
【図１９】図１７の各遅延干渉計に設けられた移相器による位相のシフト量とツインＰＤの差動出力との関係を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、この発明の実施の形態について図面を参照して詳しく説明する。なお、同一または相当する部分には同一の参照符号を付して、その説明を繰返さない。
【００１１】
＜実施の形態１＞
この発明は、差動Ｍ相位相シフト変調方式（Ｍ＝２Nであって、Ｎは２以上の自然数）を用いて、Ｎビットの送信データで変調された光信号を受信する光受信装置に適用可能である。以下では、Ｍ＝４（Ｎ＝２）の場合、つまりＤＱＰＳＫ変調方式を用いて、２ビットの送信データで変調された光信号を受信する場合について説明する。
【００１２】
［光受信装置の構成］
図１は、本発明の実施の形態１による光受信装置１００の構成を示すブロック図である。図１を参照して、光受信装置１００は、平面光回路１と、バランス検波器４Ａ，４Ｂと、トランスインピーダンスアンプ５−１，５−２と、クロック・データ・リカバリ（ＣＤＲ：Clock  Data  Recovery）回路６−１，６−２と、再生部７と、誤り訂正部８と、出現頻度比較部９と、判別部１０と、制御部１１とを含む。出現頻度比較部９、判別部１０、および制御部１１によって、遅延干渉計３−１，３−２のうち少なくとも１つの位相の設定値を調整する位相補正部１５Ａが構成される。なお、再生部７、誤り訂正部８、出現頻度比較部９、および判別部１０は、たとえば、マイクロコンピュータを用いて実現することができる。
【００１３】
平面光回路１は、分岐部２と、遅延干渉計３−１，３−２とを含む。平面光回路１において、光受信装置１００に入力された光信号ＬＳは分岐部２において２分岐され、２分岐された光信号は遅延干渉計３−１，３−２にそれぞれ入力される。なお、一般の差動Ｍ相位相シフト変調方式用の光受信装置の場合には、分岐部２において光信号ＬＳはＭ／２個に分岐され、分岐後の信号光はＭ／２組の遅延干渉計に個別に入力される。バランス検波器は、遅延干渉計にそれぞれ対応してＭ／２組設けられる。
【００１４】
遅延干渉計３−１に入力された光信号は、第１のアームと第２のアームとに分岐される。第１のアームの光路長は第２のアームの光路長よりも光信号のパルス時間間隔（１シンボル）に相当するτだけ長い。さらに、第２のアームに分岐された光信号成分の位相は、移相器（フェーズシフタ）１２−１によって規定値である＋π／４だけシフトされる。移相器１２−１の位相は、＋π／４に等しくなるように制御部１１によって設定される。その後、第１アームと第２のアームとが近接することによって、両アームを通過する光信号成分は結合し、相互に干渉する。なお、移相器１２−１を第１のアームに設けてもよく、この場合には、移相器１２−１を通過する光信号の位相は、−π／４だけシフトされる。
【００１５】
遅延干渉計３−２の構成は、遅延干渉計３−１の構成と同様である。ただし、遅延干渉計３−２の場合には、第２のアームに設けられた移相器１２−２によって、第２のアームに分岐された光信号成分の位相は−π／４だけシフトされる。なお、移相器１２−２を第１のアームに設けてもよく、この場合には、移相器１２−２を通過する光信号の位相は、＋π／４だけシフトされる。
【００１６】
遅延干渉計３−１の出力はバランス検波器４Ａに入力される。バランス検波器４Ａは、直列接続されたフォトダイオード（ＰＤ：Photo-Diode）４−１，４−２（ツインフォトダイオードとも称する）を含む。フォトダイオード４−１，４−２は逆バイアスされている。これらのフォトダイオード４−１，４−２の差動出力がトランスインピーダンスアンプ５−１に入力される。同様に、遅延干渉計３−２の出力は、フォトダイオード４−３，４−４によって構成されるバランス検波器４Ｂに入力される。これらのフォトダイオード４−３，４−４の差動出力がトランスインピーダンスアンプ５−２に入力される。
【００１７】
図２は、ツインフォトダイオード４Ａ，４Ｂの出力について説明するための図である。ＤＱＰＳＫ方式では、隣接シンボル間の位相差が０，π／２，π，３π／２の４通りあり、これらの位相差に対して２ビットのビットパターン（０，０）（０，１）（１，１）（１，０）がそれぞれ割当てられる。
【００１８】
図２を参照して、遅延干渉計３−１の場合には、隣接シンボル間の位相差に対して＋π／４が加えられるので、加算後の位相差Δφは、π／４，３π／４，５π／４，７π／４となる。ＰＤ４−１に生成される光電流はcos2（Δφ／２）に比例し、ＰＤ４−２に生成される光電流はsin2（Δφ／２）に比例する。ツインＰＤ４Ａの差動出力はそれらの差、すなわち、
sin2（Δφ／２）−cos2（Δφ／２）                                  …(1)
に比例する。
【００１９】
遅延干渉計３−２の場合には、隣接シンボル間の位相差に対して−π／４が加えられるので、加算後の位相差Δφは、−π／４，π／４，３π／４，５π／４となる。ツインＰＤ４Ｂの差動出力は、加算後の各位相差Δφを上式（１）に代入することによって得られる値に比例する。
【００２０】
ここで、たとえばツインＰＤ４Ａ，４Ｂの差動出力がマイナスの場合を０、プラスの場合を１として、遅延干渉計３−２，遅延干渉計３−１の順に出力データを並べると（すなわち、遅延干渉計３−２の出力を上位ビットとし、遅延干渉計３−１の出力を下位ビットとすると）、隣接シンボル位相差０，π／２，π，３π／２に対して（０，０）（０，１）（１，１）（１，０）のビットパターンがそれぞれ復調されることになる。
【００２１】
再び図１を参照して、各ビットパターンを実際に復調するために、トランスインピーダンスアンプ５−１，５−２は、ツインＰＤ４Ａ，４Ｂから出力された電流信号を電圧信号に変換し、変換後の電圧信号をＣＤＲ回路６−１，６−２にそれぞれ入力する。
【００２２】
ＣＤＲ回路６−１，６−２は、入力された電気信号からクロック信号を抽出し、当該クロック信号に同期して、電気信号を“１”か“０”に識別する。
【００２３】
再生部７は、ＣＤＲ回路６−１，６−２での識別結果に基づいて２ビットのデータを順次再生して出力する。
【００２４】
誤り訂正部８は、ＣＤＲ回路６−１，６−２での識別結果の誤りを、公知の誤り訂正技術を適用して訂正する。
【００２５】
［遅延干渉計３−１，３−２の位相の設定値がずれた場合の出力変化］
図３は、遅延干渉計３−２に設けられた移相器１２−２によるシフト量と、ツインＰＤ４Ｂの差動出力との関係を示す図である。
【００２６】
図４は、遅延干渉計３−１に設けられた移相器１２−１によるシフト量と、ツインＰＤ４Ａの差動出力との関係を示す図である。図３、図４では、送信された２ビットのビットパターン（０，０）（０，１）（１，１）（１，０）（隣接シンボル間の位相差０，π／２，π，３π／２にそれぞれ対応する）の各々に対してツインＰＤの出力の計算結果が示される。
【００２７】
図１、図３を参照して、遅延干渉計３−２に設けられた移相器１２−２の位相が−π／４に正確に設定されているとする。この場合、送信されたデータが（０，０）（０，１）（隣接シンボル間の位相差が０，π／２）のときには、ツインＰＤ４Ｂの出力はマイナスとなるので、送信データの上位ビットは“０”と識別される。送信データが（１，１）（１，０）（隣接シンボル間の位相差がπ，３π／２）のときには、ツインＰＤ４Ｂの出力はプラスとなるので、送信データの上位ビットは“１”と識別される。
【００２８】
これに対して、遅延干渉計３−２に設けられた移相器１２−２の位相の設定値が−π／４よりもプラス側へずれた場合には（図３のＡ）、各送信データの上位ビットが“０”または“１”に識別される確率は次のように変化する。すなわち、送信データが（０，０）（位相差が０）のときにはツインＰＤ４Ｂの差動出力はよりマイナスに変化するために、送信データの上位ビットは“０”と正しく識別される確率がより高くなる。送信データが（０，１）（位相差がπ／２）のときにはツインＰＤ４Ｂの差動出力はプラス方向に変化するために、送信データの上位ビットは“１”と誤って識別される確率が高くなる。送信データが（１，１）（位相差がπ）のときにはツインＰＤ４Ｂの差動出力はよりプラスに変化するために、送信データの上位ビットは“１”と正しく識別される確率がより高くなる。送信データが（１，０）（位相差が３π／２）のときにはツインＰＤ４Ｂの差動出力はマイナス方向に変化するために、送信データの上位ビットは“０”と誤って識別される確率が高くなる。
【００２９】
上記の結果、本来、２ビットのビットパターン（０，０）（０，１）（１，１）（１，０）が等確率で現れるのに対して、遅延干渉計３−２に設けられた移相器１２−２の位相が−π／４よりもプラス側へずれた場合には、（０，０）（１，１）の現れる確率が高くなる。
【００３０】
同様に、遅延干渉計３−２に設けられた移相器１２−２の位相が−π／４よりもマイナス側へずれた場合には（図３のＢ）、各送信データの上位ビットが“０”または“１”に識別される確率は次のように変化する。すなわち、送信データが（０，０）（位相差が０）のときにはツインＰＤ４Ｂの差動出力はプラス方向に変化するために、送信データの上位ビットは“１”と誤って識別される確率が高くなる。送信データが（０，１）（位相差がπ／２）のときにはツインＰＤ４Ｂの差動出力はよりマイナスに変化するために、送信データの上位ビットは“０”と正しく識別される確率がより高くなる。送信データが（１，１）（位相差がπ）のときにはツインＰＤ４Ｂの差動出力はマイナス方向に変化するために、送信データの上位ビットは“０”と誤って識別される確率が高くなる。送信データが（１，０）（位相差が３π／２）のときにはツインＰＤ４Ｂの差動出力はよりプラスに変化するために、送信データの上位ビットは“１”と正しく識別される確率がより高くなる。
【００３１】
上記の結果、本来、２ビットのビットパターン（０，０）（０，１）（１，１）（１，０）が等確率で現れるのに対して、遅延干渉計３−２に設けられた移相器１２−２の位相が−π／４よりもマイナス側へずれた場合には、（０，１）（１，０）の現れる確率が高くなる。
【００３２】
次に図１、図４を参照して、遅延干渉計３−１に設けられた移相器１２−１の位相が＋π／４に正確に設定されているとする。この場合、送信されたデータが（０，０）（１，０）（隣接シンボル間の位相差が０，３π／２）のときには、ツインＰＤ４Ａの出力はマイナスとなり、送信データの下位ビットは“０”と識別される。送信データが（０，１）（１，１）（隣接シンボル間の位相差がπ／２，π）のときには、ツインＰＤ４Ａの出力はプラスとなり、送信データの下位ビットは“１”と識別される。
【００３３】
これに対して、遅延干渉計３−１に設けられた移相器１２−１の位相が＋π／４よりもプラス側へずれた場合には（図４のＣ）、各送信データの下位ビットが“０”または“１”に識別される確率は次のように変化する。すなわち、送信データが（０，０）（位相差が０）のときにはツインＰＤ４Ａの差動出力はプラス方向に変化するために、送信データの下位ビットは“１”と誤って識別される確率が高くなる。送信データが（０，１）（位相差がπ／２）のときにはツインＰＤ４Ａの差動出力はよりプラスに変化するために、送信データの下位ビットは“１”と正しく識別される確率がより高くなる。送信データが（１，１）（位相差がπ）のときにはツインＰＤ４Ａの差動出力はマイナス方向に変化するために、送信データの下位ビットは“０”と誤って識別される確率が高くなる。送信データが（１，０）（位相差が３π／２）のときにはツインＰＤ４Ａの差動出力はよりマイナスに変化するために、送信データの下位ビットは“０”と正しく識別される確率がより高くなる。
【００３４】
上記の結果、本来、２ビットのビットパターン（０，０）（０，１）（１，１）（１，０）が等確率で現れるのに対して、遅延干渉計３−１に設けられた移相器１２−１の位相が＋π／４よりもプラス側へずれた場合には、（０，１）（１，０）の現れる確率が高くなる。
【００３５】
同様に、遅延干渉計３−１に設けられた移相器１２−１の位相が＋π／４よりもマイナス側へずれた場合には（図４のＤ）、各送信データの下位ビットが“０”または“１”に識別される確率は次のように変化する。すなわち、送信データが（０，０）（位相差が０）のときにはツインＰＤ４Ａの差動出力はよりマイナスに変化するために、送信データの下位ビットは“０”と正しく識別される確率がより高くなる。送信データが（０，１）（位相差がπ／２）のときにはツインＰＤ４Ａの差動出力はマイナス方向に変化するために、送信データの下位ビットは“０”と誤って識別される確率が高くなる。送信データが（１，１）（位相差がπ）のときにはツインＰＤ４Ａの差動出力はよりプラスに変化するために、送信データの下位ビットは“１”と正しく識別される確率がより高くなる。送信データが（１，０）（位相差が３π／２）のときにはツインＰＤ４Ａの差動出力はプラス方向に変化するために、送信データの下位ビットは“１”と誤って識別される確率が高くなる。
【００３６】
上記の結果、本来、２ビットのビットパターン（０，０）（０，１）（１，１）（１，０）が等確率で現れるのに対して、遅延干渉計３−１に設けられた移相器１２−１の位相が＋π／４よりもマイナス側へずれた場合には、（０，０）（１，１）の現れる確率が高くなる。
【００３７】
図５は、移相器１２−１，１２−２の位相がそれぞれ＋π／４，−π／４からずれた場合における各ビットパターンの識別精度の変化および出現頻度の変化をまとめたものである。
【００３８】
図５を参照して、移相器１２−１，１２−２によって設定される位相のずれ方は、図３に示したＡ，Ｂの場合と図４に示したＣ，Ｄの場合との４通りある。Ａ，Ｄの場合には（０，０）（１，１）のビットパターンが現れる確率が増加し、Ｂ，Ｃの場合には（０，１）（１，０）のピットパターンが現れる確率が増加する。
【００３９】
［出現頻度比較部９、判別部１０および制御部１１の動作］
図６は、図１の出現頻度比較部９、判別部１０および制御部１１による遅延干渉計３−１，３−２の位相調整手順を示すフローチャートである。以下、図１、図６を参照して、出現頻度比較部９、判別部１０および制御部１１の動作について詳しく説明する。
【００４０】
まずステップＳ１１０で、再生部７によって、受信した光信号ＬＳから２ビットのデジタルデータが再生される。通常の信号では、遅延干渉計３−１，３−２の位相が最適値に設定されているときには、２ビットのビットパターン（０，０）（０，１）（１，１）（１，０）の各々は等確率で現れる。実際の信号に代えて、（０，０）（０，１）（１，１）（１，０）の各ビットパターンが等確率で現れるテストデータを用いてもよい。
【００４１】
次に、出現頻度比較部９は、再生部７によって順次再生されたデータを、（０，０）（１，１）のビットパターンからなる第１グループと、（０，１）（１，０）のビットパターンからなる第２グループとに分類する。そして、出現頻度比較部９は、いずれのグループの出現頻度のほうが大きいのか、グループごとの出現頻度を比較する（ステップＳ１２０，Ｓ１３０，Ｓ１４０）。なお、各ビットパターンの出現頻度を個別に比較して、４つのビットパターンのうち出現頻度の大きい２個のビットパターンを選択するようにしても構わない。
【００４２】
判別部１０は、出現頻度比較部９による比較結果に基づいて、現在の位相の設定値が最適値よりもずれている可能性のある遅延干渉計について、位相ずれを補正するために、現在の位相の設定値よりも増加するのか減少するのかを判別する。具体的な手順は以下のとおりである。なお、上記の第１、第２グループの出現頻度を比較するだけでは、遅延干渉計３−１，３−２のうち、どちらの遅延干渉計の位相がずれているのかまでは特定することができない。
【００４３】
（０，０）（１，１）の出現頻度のほうが大きい場合には（ステップＳ１３０でＹＥＳ）、図５（Ａ），（Ｄ）のいずれかの場合に該当する。そこで、判別部１０は、遅延干渉計３−１，３−２の一方を選択する。判別部１０は、遅延干渉計３−１を選択した場合には、移相器１２−１の位相をプラス側にずらすように制御部１１に指令する。判別部１０は、遅延干渉計３−２を選択した場合には、移相器１２−２の位相をマイナス側にずらすように制御部１１に指令する。制御部１１は、判別部１０からの指令に従って、判別部１０によって選択された遅延干渉計の位相の設定値を、現在の設定値から増加または減少させる（ステップＳ１５０）。
【００４４】
逆に（０，１）（１，０）の出現頻度のほうが大きい場合には（ステップＳ１４０でＹＥＳ）、図５（Ｂ），（Ｃ）のいずれかの場合に該当する。そこで、判別部１０は、遅延干渉計３−１，３−２の一方を選択する。判別部１０は、遅延干渉計３−１を選択した場合には、移相器１２−１の位相をマイナス側にずらすように制御部１１に指令する。判別部１０は、遅延干渉計３−２を選択した場合には、移相器１２−２の位相をプラス側にずらすように制御部１１に指令する。制御部１１は、判別部１０からの指令に従って、判別部１０によって選択された遅延干渉計の位相の設定値を、現在の設定値から増加または減少させる（ステップＳ１６０）。
【００４５】
ステップＳ１５０またはＳ１６０が実行された後に、ステップＳ１１０からの手順が再び実行される。前回のステップＳ１５０で遅延干渉計３−１の位相をプラス側にずらすように調整したにも拘らず、（０，０）（１，１）の出現頻度がさらに増加した場合には、判別部１０は、今回のステップＳ１５０では、もう一方の遅延干渉計３−２を選択し、移相器１２−２の位相をマイナス側にずらずように制御部１１に指令する。逆に、前回のステップＳ１５０で遅延干渉計３−２の位相をマイナス側にずらすように調整したにも拘らず、（０，０）（１，１）の出現頻度がさらに増加した場合には、判別部１０は、今回のステップＳ１５０では、もう一方の遅延干渉計３−１を選択し、移相器１２−１の位相をプラス側にずらずように制御部１１に指令する。
【００４６】
同様に、前回のステップＳ１６０で遅延干渉計３−１の位相をマイナス側にずらすように調整したにも拘らず、（０，１）（１，０）の出現頻度がさらに増加した場合には、判別部１０は、今回のステップＳ１６０では、もう一方の遅延干渉計３−２を選択し、移相器１２−２の位相をプラス側にずらずように制御部１１に指令する。逆に、前回のステップＳ１６０で遅延干渉計３−２の位相をプラス側にずらすように調整したにも拘らず、（０，１）（１，０）の出現頻度がさらに増加した場合には、判別部１０は、今回のステップＳ１６０では、もう一方の遅延干渉計３−１を選択し、移相器１２−１の位相をマイナス側にずらずように制御部１１に指令する。
【００４７】
上記の一連の手順による遅延干渉計３−１，３−２の位相の調整は、（０，１）（１，０）の出現頻度と（０，０）（１，１）の出現頻度とが等しくなるまで（ステップＳ１３０でＮＯかつステップＳ１４０でＮＯとなるまで）繰返される。こうして遅延干渉計３−１，３−２の位相の設定値が最適値にロックされる。
【００４８】
出現頻度比較部９によってグループごとの出現頻度を相互に比較しない場合には、図５に示したＡ〜Ｄの４通りを順次試していく必要がある。このため、遅延干渉計３−１，３−２の位相調整を開始してから最適値にロックするまでに比較的長時間を要することになる。これに対して、実施の形態１による光受信装置１００のように、第１グループ（０，０）（１，１）の出現頻度が大きいのか、第２グループ（０，０）（１，１）の出現頻度が大きいのかを判別することによって、図５に示したＡ〜Ｄの４通りの位相の設定値のずれ方を２通りの場合に絞ることができる。この結果、遅延干渉計３−１，３−２の位相調整に要する時間を短縮することができる。
【００４９】
［実施の形態１の変形例］
上記の実施の形態１では、遅延干渉計３−１，３−２の位相が最適値に設定されたときには、２ビットのビットパターン（０，０）（０，１）（１，１）（１，０）の各々が等確率で現れることを前提としていた。この変形例では、光受信装置の特性の偏りなどが原因で、遅延干渉計３−１，３−２の位相が最適値に設定されたとしても、（０，０）（０，１）（１，１）（１，０）の各々の出現頻度が等しくならない場合について説明する。
【００５０】
図７は、実施の形態１の変形例による光受信装置において、遅延干渉計３−１，３−２の位相調整手順を示すフローチャートである。
【００５１】
図１、図７を参照して、まず始めに、予め再生部７で順次再生されたデータの誤り率が最小になるように遅延干渉計３−１，３−２の位相が調整される。誤り率は、誤り訂正部８に入力されるデータ総数に対する、誤っていたデータ数の割合で表される。この初回の位相調整のみは、従来の方法で行なわれる。出現頻度比較部９は、このように誤り率が最小となるように調整された状態で、第１グループ（０，０）（１，１）の出現頻度と第２グループ（０，１）（１，０）の出現頻度とを検出し、これらの出現頻度を基準値として記憶する（ステップＳ１０５）。
【００５２】
次に、再生部７によって、現時点で受信した光信号ＬＳから２ビットのデジタルデータが再生される（ステップＳ１１０）。
【００５３】
出現頻度比較部９は、現在の受信信号から再生されたデータを用いて第１および第２のグループの出現頻度を検出し、グループごとに、現時点での出現頻度と予め記憶された誤り率最小のときの出現頻度との偏差を算出する（ステップＳ１１５）。そして、出現頻度比較部９は、第１グループ（０，０）（１，１）の出現頻度の偏差のほうが大きいのか、第２のグループ（０，１）（１，０）の出現頻度の偏差のほうが大きいのか、グループごとの出現頻度の偏差を比較する（ステップＳ１２０Ａ，１３０Ａ，Ｓ１４０Ａ）。第１グループ（０，０）（１，１）の出現頻度の偏差のほうが大きい場合は（ステップＳ１３０ＡでＹＥＳ）、図５（Ａ），（Ｄ）の場合のいずれかに該当し、第２グループ（０，１）（１，０）の出現頻度の偏差のほうが大きい場合は（ステップＳ１４０ＡでＹＥＳ）、図５（Ｂ），（Ｃ）の場合のいずれかに該当する。
【００５４】
判別部１０は、出現頻度比較部９による比較結果に基づいて、現在の位相の設定値が最適値よりもずれている可能性のある遅延干渉計について、位相ずれを補正するために、現在の位相の設定値よりも増加するのか減少するのかを判別する。具体的な手順は、図６のステップＳ１５０，Ｓ１６０と同様であるので、説明を繰返さない。なお、上記の第１、第２グループの出現頻度の偏差を比較するだけでは、遅延干渉計３−１，３−２のうち、どちらの遅延干渉計の位相がずれているのかまでは特定することができない。
【００５５】
なお、差動Ｍ相位相変調方式では、各遅延干渉計で設定する位相がずれると、受信品質が低下し、誤り率の劣化が発生する。このため、各遅延干渉計の位相が精度良く調整された状態を維持しなければならない。各遅延干渉計の位相は、温度変化や経年等により変化するので、位相調整を継続的に行なう必要がある。この位相調整の際、上記のステップＳ１０５は初回のときだけ実行すればよいので、２回目以降については、現在の出現頻度のみを検出することによって、従来よりも短時間で遅延干渉計３−１，３−２の位相を調整することができる。
【００５６】
＜実施の形態２＞
図８は、本発明の実施の形態２による光受信装置１０１の構成を示すブロック図である。図８の光受信装置１０１は、出現頻度比較部９に代えて識別精度比較部１３を含む点で図１の光受信装置１００と異なる。識別精度比較部１３は、全ビットパターン（０，０）（０，１）（１，１）（１，０）のうち少なくとも一部のビットパターンについて、各ビットパターンが別の１または複数のビットパターンに誤って識別される確率である誤識別率を、誤り訂正部８の訂正結果に基づいて検出する。そして、識別精度比較部１３は、検出した複数の誤識別率を相互に比較する。なお、識別精度比較部１３、判別部１０、および制御部１１によって、遅延干渉計３−１，３−２のうち少なくとも１つの位相の設定値を調整する位相補正部１５Ｂが構成される。
【００５７】
具体的に、識別精度比較部１３は、（０，１）が（１，１）と誤って識別される第１の場合の確率と、（０，０）が（１，０）と誤って識別される第２の場合の確率と、（０，０）が（０，１）と誤って識別される第３の場合の確率と、（０，１）が（０，０）と誤って識別される第４の場合の確率とを比較する。遅延干渉計３−１，３−２の位相が最適値に設定されている場合には、原理的にこれら第１〜第４の場合の確率は等しくなるはずであるが、位相がずれている場合にはこれらの確率は等しくならない。
【００５８】
図５（Ａ）のように遅延干渉計３−２の位相の設定値が−π／４よりもプラス側にずれている場合には、（０，１）が（１，１）と誤って識別される第１の場合の確率が増加する。
【００５９】
図５（Ｂ）のように遅延干渉計３−２の位相の設定値が−π／４よりもマイナス側にずれている場合には、（０，０）が（１，０）と誤って識別される第２の場合の確率が増加する。
【００６０】
図５（Ｃ）のように遅延干渉計３−１の位相の設定値が＋π／４よりもプラス側にずれている場合には、（０，０）が（０，１）と誤って識別される第３の場合の確率が増加する。
【００６１】
図５（Ｄ）のように遅延干渉計３−１の位相の設定値が＋π／４よりもマイナス側にずれている場合には、（０，１）が（０，０）と誤って識別される第４の場合の確率が増加する。したがって、上記の第１〜第４の各場合の確率を比較することによって、図５（Ａ）〜（Ｄ）のどの場合に該当するか、すなわち、位相の設定値が最適値よりもずれている遅延干渉計を特定するとともに、特定した遅延干渉計の位相の設定値がプラス側にずれているのか、マイナス側にずれているのかを判別することができる。この判別は、図８の判別部１０によって行なわれる。図８のその他の点は図１の場合と同じであるので、同一または相当する部分には同一の参照符号を付して説明を繰返さない。
【００６２】
図９は、図８の識別精度比較部１３、判別部１０および制御部１１による遅延干渉計３−１，３−２の位相調整手順を示すフローチャートである。
【００６３】
図８、図９を参照して、ステップＳ２１０で、再生部７によって、受信した光信号ＬＳから２ビットのデジタルデータが順次再生される。再生されたデジタルデータの誤りは、誤り訂正部８によって公知の誤り訂正技術を用いて訂正される。
【００６４】
次に、識別精度比較部１３は、誤り訂正部８の訂正結果に基づいて、（０，１）が（１，１）と誤って識別される第１の場合の確率と、（０，０）が（１，０）と誤って識別される第２の場合の確率と、（０，０）が（０，１）と誤って識別される第３の場合の確率と、（０，１）が（０，０）と誤って識別される第４の場合の確率とを比較する（ステップＳ２１１）。
【００６５】
（０，１）が（１，１）と誤って識別される第１の場合の確率が最も大きい場合には（ステップＳ２１２でＹＥＳ）、図５（Ａ）に該当するので、判別部１０は、遅延干渉計３−２の位相を現在の設定値よりもマイナス側にずらずように制御部１１に指令する。制御部１１は、判別部１０の指令に従って、遅延干渉計３−２に設けられた移相器１２−２の位相を調整する（ステップＳ２１６）。
【００６６】
（０，０）が（１，０）と誤って識別される第２の場合の確率が最も大きい場合には（ステップＳ２１３でＹＥＳ）、図５（Ｂ）に該当するので、判別部１０は、遅延干渉計３−２の位相を現在の設定値よりもプラス側にずらずように制御部１１に指令する。制御部１１は、判別部１０の指令に従って、遅延干渉計３−２に設けられた移相器１２−２の位相を調整する（ステップＳ２１７）。
【００６７】
（０，０）が（０，１）と誤って識別される第３の場合の確率が最も大きい場合には（ステップＳ２１４でＹＥＳ）、図５（Ｃ）に該当するので、判別部１０は、遅延干渉計３−１の位相を現在の設定値よりもマイナス側にずらずように制御部１１に指令する。制御部１１は、判別部１０の指令に従って、遅延干渉計３−１に設けられた移相器１２−１の位相を調整する（ステップＳ２１８）。
【００６８】
（０，１）が（０，０）と誤って識別される第４の場合の確率が最も大きい場合には（ステップＳ２１５でＹＥＳ）、図５（Ｄ）に該当するので、判別部１０は、遅延干渉計３−１の位相を現在の設定値よりもプラス側にずらずように制御部１１に指令する。制御部１１は、判別部１０の指令に従って、遅延干渉計３−１に設けられた移相器１２−１の位相を調整する（ステップＳ２１９）。
【００６９】
上記の調整手順は、上記の第１〜第４の場合の確率が等しくなるまで（すなわち、ステップＳ２１２〜Ｓ２１５の全てでＮＯとなるまで）繰返される。こうして遅延干渉計３−１，３−２の位相の設定値が最適値にロックされる。
【００７０】
識別精度比較部１３によって第１〜第４の場合の誤識別率を相互に比較しない場合には、図５に示したＡ〜Ｄの４通りを順次試していく必要がある。このため、遅延干渉計３−１，３−２の位相調整を開始してから最適値にロックするまでに比較的長時間を要することになる。これに対して、実施の形態２による光受信装置１０１のように、第１〜第４の場合の誤識別率をそれぞれ検出し、検出した複数の誤識別率を相互に比較することによって、位相が最適値からずれた遅延干渉計を特定することができるとともに、位相ずれを補正するために、特定した遅延干渉計の位相を増加させるのか減少させるのかを判別することができる。この結果、遅延干渉計３−１，３−２の位相調整に要する時間を従来よりも短縮することができる。さらに、各遅延干渉計の位相の設定値が最適値からずれるほど誤り率が増大するため、仮に識別精度比較部１３による比較結果に基づいた位相調整を行なわない場合には、位相調整中に誤り率を劣化させる可能性があるが、本実施の形態の光受信装置１０１によれば誤り率の増加を抑制することができる。
【００７１】
［実施の形態２の変形例１］
上記の実施の形態１では、遅延干渉計３−１，３−２の位相が最適値に設定されたときには、上記の第１〜第４の場合の誤識別率が互いに等しくなることを前提としていた。この変形例では、光受信装置の特性の偏りなどが原因で、遅延干渉計３−１，３−２の位相が最適値に設定されたとしても、第１〜第４の場合の誤識別率が互いに等しくならない場合について説明する。
【００７２】
図１０は、実施の形態２の変形例１による光受信装置において、遅延干渉計３−１，３−２の位相調整手順を示すフローチャートである。
【００７３】
図８、図１０を参照して、まず始めに、予め再生部７で順次再生されたデータの誤り率が最小になるように遅延干渉計３−１，３−２の位相が調整される。この初回の位相調整のみは、従来の方法で行なわれる。識別精度比較部１３は、このように誤り率が最小となるように調整された状態で、（０，１）が（１，１）と誤って識別される第１の場合の確率と、（０，０）が（１，０）と誤って識別される第２の場合の確率と、（０，０）が（０，１）と誤って識別される第３の場合の確率と、（０，１）が（０，０）と誤って識別される第４の場合の確率とを検出し、検出したこれらの４パターンの確率を記憶する（ステップＳ２０１）。
【００７４】
次に、再生部７によって、受信した現時点での光信号ＬＳから２ビットのデジタルデータが再生される(ステップＳ２１０）。
【００７５】
次に、識別精度比較部１３は、現時点での再生データに基づいて（０，１）が（１，１）と誤って識別される第１の場合の確率（誤識別率）と、（０，０）が（１，０）と誤って識別される第２の場合の確率と、（０，０）が（０，１）と誤って識別される第３の場合の確率と、（０，１）が（０，０）と誤って識別される第４の場合の確率とを検出する。識別精度比較部１３は、第１〜第４の場合の各々について、ステップＳ２０１で記憶した誤り率が最小のときに検出された誤識別率と現在検出されている誤識別率との偏差を算出する（ステップＳ２１１Ａ）。そして、識別精度比較部１３は、算出した第１〜第４の場合の誤識別率の偏差を相互に比較する（ステップＳ２１２Ａ〜ステップＳ２１５Ａ）。
【００７６】
（０，１）が（１，１）と誤って識別される第１の場合の誤識別率の偏差が最も大きい場合には（ステップＳ２１２ＡでＹＥＳ）、図５（Ａ）に該当するので、判別部１０は、遅延干渉計３−２の位相を現在の設定値よりもマイナス側にずらずように制御部１１に指令する。制御部１１は、判別部１０の指令に従って、遅延干渉計３−２に設けられた移相器１２−２の位相を調整する（ステップＳ２１６）。
【００７７】
（０，０）が（１，０）と誤って識別される第２の場合の誤識別率の偏差が最も大きい場合には（ステップＳ２１３ＡでＹＥＳ）、図５（Ｂ）に該当するので、判別部１０は、遅延干渉計３−２の位相を現在の設定値よりもプラス側にずらずように制御部１１に指令する。制御部１１は、判別部１０の指令に従って、遅延干渉計３−２に設けられた移相器１２−２の位相を調整する（ステップＳ２１７）。
【００７８】
（０，０）が（０，１）と誤って識別される第３の場合の誤識別率の偏差が最も大きい場合には（ステップＳ２１４ＡでＹＥＳ）、図５（Ｃ）に該当するので、判別部１０は、遅延干渉計３−１の位相を現在の設定値よりもマイナス側にずらずように制御部１１に指令する。制御部１１は、判別部１０の指令に従って、遅延干渉計３−１に設けられた移相器１２−１の位相を調整する（ステップＳ２１８）。
【００７９】
（０，１）が（０，０）と誤って識別される第４の場合の誤識別率の偏差が最も大きい場合には（ステップＳ２１５ＡでＹＥＳ）、図５（Ｄ）に該当するので、判別部１０は、遅延干渉計３−１の位相を現在の設定値よりもプラス側にずらずように制御部１１に指令する。制御部１１は、判別部１０の指令に従って、遅延干渉計３−２に設けられた移相器１２−１の位相を調整する（ステップＳ２１９）。
【００８０】
上記の調整手順は、第１〜第４の場合の誤識別率の偏差が０になるまで（すなわち、ステップＳ２１２Ａ〜Ｓ２１５Ａの全てでＮＯとなるまで）繰返される。こうして遅延干渉計３−１，３−２の位相の設定値が最適値にロックされる。
【００８１】
［実施の形態２の変形例２］
実施の形態２では、（０，０）（０，１）が誤って識別される確率が増加する場合に着目したが、（１，１）（１，０）が誤って識別される確率が増加する場合に着目してもよい。
【００８２】
すなわち、図５（Ａ）のように遅延干渉計３−２の位相の設定値が−π／４よりもプラス側にずれている場合には、（１，０）が（０，０）と誤って識別される第５の場合の確率が増加する。
【００８３】
図５（Ｂ）のように遅延干渉計３−２の位相の設定値が−π／４よりもマイナス側にずれている場合には、（１，１）が（０，１）と誤って識別される第６の場合の確率が増加する。
【００８４】
図５（Ｃ）のように遅延干渉計３−１の位相の設定値が＋π／４よりもプラス側にずれている場合には、（１，１）が（１，０）と誤って識別される第７の場合の確率が増加する。
【００８５】
図５（Ｄ）のように遅延干渉計３−１の位相の設定値が＋π／４よりもマイナス側にずれている場合には、（１，０）が（１，１）と誤って識別される第８の場合の確率が増加する。したがって、上記の第５〜第８の場合の誤識別率を相互に比較することによって、図５（Ａ）〜（Ｄ）のどの場合に該当するか、すなわち、位相の設定値が最適値よりもずれた遅延干渉計を特定することができる。
【００８６】
図１１は、実施の形態２の変形例２による光受信装置において、遅延干渉計３−１，３−２の位相調整手順を示すフローチャートである。図１１のフローチャートは、前述の第１〜第４の場合の誤識別率にそれぞれ代えて、上記の第５〜第８の場合の誤識別率がそれぞれ用いられる点で、図９のフローチャートと異なる。図１１のその他の点は、図９の場合と同じであるので同一または相当するステップには、同一の参照符号を付して説明を繰返さない。
【００８７】
［実施の形態２の変形例３］
実施の形態２の変形例１では、（０，０）（０，１）が誤って識別される確率の偏差が増加する場合に着目したが、（１，１）（１，０）が誤って識別される確率の偏差が増加する場合に着目してもよい。
【００８８】
図１２は、実施の形態２の変形例３による光受信装置において、遅延干渉計３−１，３−２の位相調整手順を示すフローチャートである。図１２のフローチャートは、前述の第１〜第４の場合の誤識別率にそれぞれ代えて、上記の第５〜第８の場合の誤識別率がそれぞれ用いられる点で、図１０のフローチャートと異なる。図１２のその他の点は、図１０の場合と同じであるので同一または相当するステップには、同一の参照符号を付して説明を繰返さない。
【００８９】
＜実施の形態３＞
図１３は、本発明の実施の形態３による光受信装置１０２の構成を示すブロック図である。図１３の光受信装置１０２は、実施の形態１で説明した出現頻度比較部９と、実施の形態２で説明した識別精度比較部１３との両方を含む点で、実施の形態１，２による光受信装置１００，１０１と異なる。判別部１０は、出現頻度比較部９による比較結果と識別精度比較部１３による比較結果との両方に基づいて、遅延干渉計３−１，３−２のうち位相の設定値が最適値よりもずれている遅延干渉計を特定するとともに、位相ずれを補正するために、特定した遅延干渉計の位相の設定値を現在の設定値よりも増加するのか減少するのかを判別する。図１３において、出現頻度比較部９、識別精度比較部１３、判別部１０、および制御部１１によって、遅延干渉計３−１，３−２のうち少なくとも１つの位相の設定値を調整する位相補正部１５Ｃが構成される。図１３のその他の点は図１、図８の場合と同じであるので、同一または相当する部分には同一の参照符号を付して説明を繰返さない。
【００９０】
図１４は、図１３の出現頻度比較部９、識別精度比較部１３、判別部１０および制御部１１による遅延干渉計３−１，３−２の位相調整手順を示すフローチャートである。
【００９１】
図１３、図１４を参照して、ステップＳ３０１で、再生部７によって、受信した光信号ＬＳから２ビットのデジタルデータが順次再生される。
【００９２】
次に、出現頻度比較部９は、再生部７によって順次再生されたデータを、（０，０）（１，１）のビットパターンからなる第１グループと（０，１）（１，０）のビットパターンからなる第２グループとに分類し、いずれのグループの出現頻度のほうが大きいのか、グループごとの出現頻度を比較する（ステップＳ３０２，Ｓ３０３，Ｓ３０４）。
【００９３】
（０，０）（１，１）の出現頻度のほうが大きい場合には（ステップＳ３０３でＹＥＳ）、図５（Ａ），（Ｄ）に該当する。この場合、識別精度比較部１３は、（０，１）が（１，１）と誤って識別される第１の場合の確率と、（０，１）が（０，０）と誤って識別される第４の場合の確率とを比較する（ステップＳ３０５）。
【００９４】
（０，１）が（１，１）と誤って識別される第１の場合の確率が最も大きい場合には（ステップＳ３０６でＹＥＳ）、図５（Ａ）に該当するので、判別部１０は、遅延干渉計３−２の位相を現在の設定値よりもマイナス側にずらずように制御部１１に指令する。制御部１１は、判別部１０の指令に従って、遅延干渉計３−２に設けられた移相器１２−２の位相を調整する（ステップＳ３０７）。
【００９５】
（０，１）が（０，０）と誤って識別される第４の場合の確率が最も大きい場合には（ステップＳ３０６でＮＯ）、図５（Ｄ）に該当するので、判別部１０は、遅延干渉計３−１の位相を現在の設定値よりもプラス側にずらずように制御部１１に指令する。制御部１１は、判別部１０の指令に従って、遅延干渉計３−１に設けられた移相器１２−１の位相を調整する（ステップＳ３０８）。
【００９６】
一方、（０，１）（１，０）の出現頻度のほうが大きい場合には（ステップＳ３０４でＹＥＳ）、図５（Ｂ），（Ｃ）の場合に該当する。この場合、識別精度比較部１３は、（０，０）が（１，０）と誤って識別される第２の場合の確率と、（０，０）が（０，１）と誤って識別される第３の場合の確率とを比較する（ステップＳ３０９）。
【００９７】
（０，０）が（１，０）と誤って識別される第２の場合の確率が最も大きい場合には（ステップＳ３１０でＹＥＳ）、図５（Ｂ）に該当するので、判別部１０は、遅延干渉計３−２の位相を現在の設定値よりもプラス側にずらずように制御部１１に指令する。制御部１１は、判別部１０の指令に従って、遅延干渉計３−２に設けられた移相器１２−２の位相を調整する（ステップＳ３１１）。
【００９８】
（０，０）が（０，１）と誤って識別される第３の場合の確率が最も大きい場合には（ステップＳ３１０でＮＯ）、図５（Ｃ）に該当するので、判別部１０は、遅延干渉計３−１の位相を現在の設定値よりもマイナス側にずらずように制御部１１に指令する。制御部１１は、判別部１０の指令に従って、遅延干渉計３−１に設けられた移相器１２−１の位相を調整する（ステップＳ３１２）。
【００９９】
上記の一連の手順による遅延干渉計３−１，３−２の位相の調整は、（０，１）（１，０）の出現頻度と（０，０）（１，１）の出現頻度とが等しくなるまで（ステップＳ３０３でＮＯかつステップＳ３０４でＮＯとなるまで）繰返される。こうして遅延干渉計３−１，３−２の位相の設定値が最適値にロックされる。
【０１００】
出現頻度比較部９による出現頻度の比較および識別精度比較部１３による誤識別率の比較を行なわない場合には、図５に示したＡ〜Ｄの４通りを順次試していく必要がある。このため、遅延干渉計３−１，３−２の位相調整を開始してから最適値にロックするまでに比較的長時間を要することになる。これに対して、実施の形態３の光受信装置１０２によれば、位相が最適値からずれた遅延干渉計を特定することができるとともに、特定した遅延干渉計の位相を増加させるのか減少させるのかを判別することができる。この結果、遅延干渉計３−１，３−２の位相調整に要する時間を従来よりも短縮することができる。さらに、各遅延干渉計の位相の設定値が最適値からずれるほど誤り率が増大するため、仮に出現頻度比較部９および識別精度比較部１３による比較結果に基づいた位相調整を行なわない場合には、位相調整中に誤り率を劣化させる可能性があるが、本実施の形態の光受信装置１０２によれば誤り率の増加を抑制することができる。
【０１０１】
なお、図１４のステップＳ３０５，Ｓ３０６では、第１の場合の誤識別率と第４の場合の誤識別率との比較を行なったが、これに代えて（１，０）が（０，０）と誤って識別される第５の場合の確率と、（１，０）が（１，１）と誤って識別される第８の場合の確率との比較を行なってもよい。さらに、図１４のステップＳ３１０，Ｓ３１１では、第２の場合の誤識別率と第３の場合の誤識別率との比較を行なったが、これに代えて（１，１）が（０，１）と誤って識別される第６の場合の確率と、（１，１）が（１，０）と誤って識別される第７の場合の確率との比較を行なってもよい。
【０１０２】
光受信装置の特性の偏りなどが原因で、遅延干渉計３−１，３−２の位相が最適値に設定されたとしても、上記の第１、第２グループの出現頻度が互いに等しくならない場合、さらには上記の第１〜第４の場合の誤識別率が互いに等しくならない場合には、実施の形態１の変形例および実施の形態２の変形例１と同様の方法を用いることができる。すなわち、再生部７の再生データの誤り率が最小になるように遅延干渉計３−１，３−２の位相が調整された状態で、第１、第２グループの出現頻度と、第１〜第４の場合の誤識別率とがそれぞれ検出され記憶される。ステップＳ３０２〜Ｓ３０４では、第１、第２の各グループごとに、現時点での出現頻度と誤り率最小のときの出現頻度との偏差が算出され、算出された２個の出現頻度の偏差が相互に比較される。ステップＳ３０５，Ｓ３０６，Ｓ３０９，Ｓ３１０では、上記の第１〜第４の場合ごとに、現時点での誤識別率と誤り率最小のときの誤識別率との偏差が算出され、算出された４個の誤識別率の偏差が相互に比較される。
【０１０３】
＜実施の形態４＞
実施の形態４では、遅延干渉計３−１，３−２の両方の位相がずれている場合を考慮したときの位相調整方法について説明する。光受信装置の構成は、図８で示した実施の形態２の場合と同様である。
【０１０４】
図１５は、遅延干渉計３−１，３−２の両方の位相がずれている場合の識別精度の変化を説明するための図である。図１５に示すようにＥ〜Ｈの４通りが考えられる。
【０１０５】
まず、図１５（Ｅ）の場合、すなわち、遅延干渉計３−２の位相が−π／４よりもプラス側にずれ（図３のＡ）、遅延干渉計３−１の位相が＋π／４よりもプラス側にずれた（図４のＣ）場合について説明する。この場合、（０，０）の上位ビットは“０”と正しく識別される確率がより高くなり、下位ビットは“１”と誤って識別される確率が高くなる。したがって、（０，０）が（０，１）と誤って識別される確率が増加する。同様に、図１５（Ｅ）の場合には、（０，１）が（１，１）と誤って識別される確率が増加し、（１，１）が（１，０）と誤って識別される確率が増加し、（１，０）が（０，０）と誤って識別される確率が増加する。
【０１０６】
次に、図１５（Ｆ）の場合、すなわち、遅延干渉計３−２の位相が−π／４よりもマイナス側にずれ（図３のＢ）、遅延干渉計３−１の位相が＋π／４よりもマイナス側にずれた（図４のＤ）場合について説明する。この場合、（０，０）の上位ビットは“１”と誤って識別される確率が高くなり、下位ビットは“０”と正しく識別される確率がより高くなる。したがって、（０，０）が（１，０）と誤って識別される確率が増加する。同様に、図１５（Ｆ）の場合には、（０，１）が（０，０）と誤って識別される確率が増加し、（１，１）が（０，１）と誤って識別される確率が増加し、（１，０）が（１，１）と誤って識別される確率が増加する。
【０１０７】
次に、図１５（Ｇ）の場合、すなわち、遅延干渉計３−２の位相が−π／４よりもプラス側にずれ（図３のＡ）、遅延干渉計３−１の位相が＋π／４よりもマイナス側にずれた（図４のＤ）場合について説明する。この場合、（０，０）の上位ビットは“０”と正しく識別される確率がより高くなり、下位ビットは“０”と正しく識別される確率がより高くなる。したがって、（０，０）が（０，０）と正しく識別される確率がより増加する。同様に、図１５（Ｇ）の場合には、（０，１）が（１，０）と誤って識別される確率が増加し、（１，１）が（１，１）と正しく識別される確率がより増加し、（１，０）が（０，１）と誤って識別される確率が増加する。
【０１０８】
次に、図１５（Ｈ）の場合、すなわち、遅延干渉計３−２の位相が−π／４よりもマイナス側にずれ（図３のＢ）、遅延干渉計３−１の位相が＋π／４よりもプラス側にずれた（図４のＣ）場合について説明する。この場合、（０，０）の上位ビットは“１”と誤って識別される確率が高くなり、下位ビットは“１”と誤って識別される確率が高くなる。したがって、（０，０）が（１，１）と誤って識別される確率が増加する。同様に、図１５（Ｈ）の場合には、（０，１）が（０，１）と正しく識別される確率がより増加し、（１，１）が（０，０）と誤って識別される確率が増加し、（１，０）が（１，０）と正しく識別される確率がより増加する。
【０１０９】
図１６は、図５のＡ〜Ｄの場合と図１５のＥ〜Ｈの場合とを考慮したときの遅延干渉計３−１，３−２の位相のずれ方の判別方法について説明するための図である。
【０１１０】
図１６を参照して、図８の識別精度比較部１３は、誤り訂正部８による訂正結果に基づいて、
・（０，０）が（１，１）と誤って識別される確率
・（０，０）が（１，０）と誤って識別される確率
・（０，０）が（０，１）と誤って識別される確率
・（０，１）が（１，０）と誤って識別される確率
・（０，１）が（１，１）と誤って識別される確率
・（０，１）が（０，０）と誤って識別される確率
を相互に比較する。
【０１１１】
（０，０）が（１，１）と誤って識別される確率が最も高い場合には、図８の判別部１０は、遅延干渉計３−２の位相が−π／４よりもマイナス側にずれ、遅延干渉計３−１の位相が＋π／４よりもプラス側にずれている（図１５（Ｈ））と判別する。
【０１１２】
（０，０）が（１，０）と誤って識別される確率が最も高い場合には、図５（Ｂ）または図１５（Ｆ）に該当する。そこで、識別精度比較部１３は、（０，１）が（０，０）と誤って識別される確率と、（１，１）が（０，１）と誤って識別される確率とをさらに比較する。（０，１）が（０，０）と誤って識別される確率のほうが大きい場合には、判別部１０は、遅延干渉計３−２の位相が−π／４よりもマイナス側にずれ、遅延干渉計３−１の位相が＋π／４よりもマイナス側にずれている（図１５（Ｆ））と判別する。（１，１）が（０，１）と誤って識別される確率のほうが大きい場合には、判別部１０は、遅延干渉計３−２の位相が−π／４よりもマイナス側にずれ、遅延干渉計３−１の位相が最適である（図５（Ｂ））と判別する。
【０１１３】
（０，０）が（０，１）と誤って識別される確率が最も高い場合には、図５（Ｃ）または図１５（Ｅ）に該当する。そこで、識別精度比較部１３は、（０，１）が（１，１）と誤って識別される確率と、（１，１）が（１，０）と誤って識別される確率とをさらに比較する。（０，１）が（１，１）と誤って識別される確率のほうが大きい場合には、判別部１０は、遅延干渉計３−２の位相が−π／４よりもプラス側にずれ、遅延干渉計３−１の位相が＋π／４よりもプラス側にずれている（図１５（Ｅ））と判別する。（１，１）が（１，０）と誤って識別される確率のほうが大きい場合には、判別部１０は、遅延干渉計３−２の位相が最適であり、遅延干渉計３−１の位相が＋π／４よりもプラス側にずれている（図５（Ｃ））と判別する。
【０１１４】
（０，１）が（１，０）と誤って識別される確率が最も高い場合には、判別部１０は、遅延干渉計３−２の位相が−π／４よりもプラス側にずれ、遅延干渉計３−１の位相が＋π／４よりもマイナス側にずれている（図１５（Ｇ））と判別する。
【０１１５】
（０，１）が（１，１）と誤って識別される確率が最も高い場合には、図５（Ａ）または図１５（Ｅ）に該当する。そこで、識別精度比較部１３は、（０，０）が（０，１）と誤って識別される確率と、（１，０）が（０，０）と誤って識別される確率とをさらに比較する。（０，０）が（０，１）と誤って識別される確率のほうが大きい場合には、判別部１０は、遅延干渉計３−２の位相が−π／４よりもプラス側にずれ、遅延干渉計３−１の位相が＋π／４よりもプラス側にずれている（図１５（Ｅ））と判別する。（１，０）が（０，０）と誤って識別される確率のほうが大きい場合には、判別部１０は、遅延干渉計３−２の位相が−π／４よりもプラス側にずれ、遅延干渉計３−１の位相が最適である（図５（Ａ））と判別する。
【０１１６】
（０，１）が（０，０）と誤って識別される確率が最も高い場合には、図５（Ｄ）または図１５（Ｆ）に該当する。そこで、識別精度比較部１３は、（０，０）が（１，０）と誤って識別される確率と、（１，０）が（１，１）と誤って識別される確率とをさらに比較する。（０，０）が（１，０）と誤って識別される確率のほうが大きい場合には、判別部１０は、遅延干渉計３−２の位相が−π／４よりもマイナス側にずれ、遅延干渉計３−１の位相が＋π／４よりもマイナス側にずれている（図１５（Ｆ））と判別する。（１，０）が（１，１）と誤って識別される確率のほうが大きい場合には、判別部１０は、遅延干渉計３−２の位相が最適であり、遅延干渉計３−１の位相が＋π／４よりもマイナス側にずれている（図５（Ｄ））と判別する。
【０１１７】
判別部１０は、上記の判別手順によって、位相の設定値が最適値よりもずれた遅延干渉計を特定することができ、特定した遅延干渉計の位相を増加させるのか減少させるのかを判別することができる。そして、上記手順で比較した各パターンの確率が等しくなるまで、遅延干渉計の位相の調整を繰返すことによって、位相の設定値を最適値に調整することができる。
【０１１８】
上記の判別手順を実行しない場合には、図５（Ａ）〜（Ｄ）と図１５（Ｅ）〜（Ｈ）の合計８通りを順次試していく必要がある。このため、遅延干渉計３−１，３−２の位相調整を開始してから最適値にロックするまでに比較的長時間を要することになる。これに対して、実施の形態４の光検出装置によれば、位相が最適値からずれた遅延干渉計を特定することができるとともに、特定した遅延干渉計の位相を増加させるのか減少させるのかを判別することができるので、遅延干渉計３−１，３−２の位相調整に要する時間を従来よりも短縮することができる。さらに、各遅延干渉計の位相の設定値が最適値からずれるほど誤り率が増大するため、仮に上記の判別手順によらない場合には位相調整中に誤り率を劣化させる可能性があるが、実施の形態４の場合には上記の判別手順を実行することによって誤り率の増加を抑制することができる。
【０１１９】
上記の実施の形態４では、遅延干渉計３−１，３−２の位相が最適値に設定されたときには、各場合の誤識別率が互いに等しくなることを前提としていた。光受信装置の特性の偏りなどが原因で、遅延干渉計３−１，３−２の位相が最適値に設定されたとしても、各場合の誤識別率が互いに等しくならない場合には、実施の形態２の変形例１の場合と同様の方法を用いるのがよい。すなわち、再生部７で再生されたデータの誤り率が最小になるように遅延干渉計３−１，３−２の位相が調整された状態で、図１６の各場合の誤識別率が予め検出され記憶される。そして、図１６の各場合ごとに、現時点で検出された誤識別率と、誤り率最小のときに検出された誤識別率との偏差が算出され、算出された複数の誤識別率の偏差が相互に比較される。
【０１２０】
なお、実施の形態４では、ビットパターンが誤って識別される誤識別率が増加する場合について着目し、算出した各場合の誤識別率を相互に比較した。これに対して、ビットパターンが正しく識別される確率が増加する場合について着目し、正しく識別される確率を各ビットパターンごとに比較してもよい。
【０１２１】
＜実施の形態５＞
実施の形態１〜４では、差動Ｍ相位相シフト変調方式（Ｍ＝２Nであって、Ｎは２以上の自然数）において、Ｎ＝２の場合、すなわちＤＱＰＳＫ変調方式について説明したが、この発明は、Ｎ＝２に限らず、Ｎが２以上である任意の自然数の場合に適用可能である。実施の形態５では、Ｎ＝３の場合、すなわちＤ８ＰＳＫ（Differential  8-Phase  Shift  Keying）変調方式の場合について簡単に説明する。
【０１２２】
図１７は、この発明の実施の形態５による光受信装置１０３の構成を示すブロック図である。図１７を参照して、光受信装置は、平面光回路１と、バランス検波器（ツインＰＤ）４Ａ，４Ｂ，４Ｃ，４Ｄと、トランスインピーダンスアンプ５−１，５−２，５−３，５−４と、ＣＤＲ回路６−１，６−２，６−３，６−４と、再生部７と、誤り訂正部８と、識別精度比較部１３と、判別部１０と、制御部１１とを含む。平面光回路１は、光受信装置１０３に入力された光信号ＬＳを４分岐する分岐部２と、分岐された光信号が個別に入力される遅延干渉計３−１，３−２，３−３，３−４とを含む。遅延干渉計３−１に設けられた移相器１２−１の位相は＋３π／８に設定される。遅延干渉計３−２に設けられた移相器１２−２の位相は−π／８に設定される。遅延干渉計３−３に設けられた移相器１２−３の位相は＋π／８に設定される。遅延干渉計３−４に設けられた移相器１２−４の位相は−３π／８に設定される。識別精度比較部１３、判別部１０、および制御部１１によって、遅延干渉計３−１〜３−４のうち少なくとも１つの位相の設定値を調整する位相補正部１５Ｄが構成される。
【０１２３】
なお、図１７の光受信装置１０３は、図８の光受信装置１０１に設けられた遅延干渉計、ツインＰＤ、トランスインピーダンスアンプ、およびＣＤＲ回路の各個数を２個から４個の増加したものであり、各構成要素の機能は既に説明したとおりである。以下の説明では、図１、図８の光受信装置１００，１０１と同一または相当する部分については同一の参照符号を付して説明を繰返さない。
【０１２４】
図１８は、ツインフォトダイオード４Ａ，４Ｂ，４Ｃ，４Ｄの出力について説明するための図である。Ｄ８ＰＳＫ方式では、隣接シンボル間の位相差が０，π／４，π／２，３π／４，π，５π／４，３π／２，７π／４の８通りある。これらの位相差に対応して、３ビットのビットパターン（０，０，１）（０，０，０）（１，０，０）（１，０，１）（１，１，１）（１，１，０）（０，１，０）（０，１，１）がそれぞれ割り当てられるものとする。
【０１２５】
図１８を参照して、遅延干渉計３−１の場合には、隣接シンボル間の位相差に対して＋３π／８が加算される。したがって、加算後の位相差Δφは、３π／８，５π／８，７π／８，９π／８，１１π／８，１３π／８，１５π／８，１７π／８となる。ツインＰＤ４Ａから出力される光電流は、＋３π／８シフト後の位相差Δφを前述の式（１）に代入して得られた値に比例する。ツインＰＤ４Ｂ，４Ｃ，４Ｄについても同様である。
【０１２６】
図１９は、図１７の各遅延干渉計に設けられた移相器による位相のシフト量とツインＰＤの差動出力との関係を示す図である。図１９では、３ビットのビットパターン（０，０，１）（０，０，０）（１，０，０）（１，０，１）（１，１，１）（１，１，０）（０，１，０）（０，１，１）の各々に対して、ツインＰＤの出力の計算結果が示される。以下、図１７、図１９を参照して、各遅延干渉計に設けられた移相器の設定値が最適値よりずれた場合に、３ビットデータの識別精度がどのように変化について説明する。
【０１２７】
(i)  遅延干渉計３−１の位相の設定値が＋３π／８よりも増加した場合、（０，０，０）に着目すると、ツインＰＤ４Ａの出力は増加する。したがって、より差動出力の大きい（１，０，０）および（１，０，１）に（０，０，０）が誤って識別される確率が増加する。
【０１２８】
(ii)  遅延干渉計３−１の位相の設定値が＋３π／８よりも減少した場合、（１，１，１）に着目すると、ツインＰＤ４Ａの出力は増加する。したがって、より差動出力の大きい（１，０，０）および（１，０，１）に（１，１，１）が誤って識別される確率が増加する。
【０１２９】
(iii)  遅延干渉計３−２の位相の設定値が−π／８よりも増加した場合、（１，０，１）に着目すると、ツインＰＤ４Ｂの出力は増加する。したがって、より差動出力の大きい（１，１，１）および（１，１，０）に（１，０，１）が誤って識別される確率が増加する。
【０１３０】
(iv)  遅延干渉計３−２の位相の設定値が−π／８よりも減少した場合、（０，１，０）に着目すると、ツインＰＤ４Ｂの出力は増加する。したがって、より差動出力の大きい（１，１，１）および（１，１，０）に（０，１，０）が誤って識別される確率が増加する。
【０１３１】
(v)  遅延干渉計３−３の位相の設定値が＋π／８よりも増加した場合、（１，０，０）に着目すると、ツインＰＤ４Ｃの出力は増加する。したがって、より差動出力の大きい（１，０，１）および（１，１，１）に（１，０，０）が誤って識別される確率が増加する。
【０１３２】
(vi)  遅延干渉計３−３の位相の設定値が＋π／８よりも減少した場合、（１，１，０）に着目すると、ツインＰＤ４Ｃの出力は増加する。したがって、より差動出力の大きい（１，０，１）および（１，１，１）に（１，１，０）が誤って識別される確率が増加する。
【０１３３】
(vii)  遅延干渉計３−４の位相の設定値が−３π／８よりも増加した場合、（１，１，１）に着目すると、ツインＰＤ４Ｄの出力は増加する。したがって、より差動出力の大きい（１，１，０）および（０，１，０）に（１，１，１）が誤って識別される確率が増加する。
【０１３４】
(viii)  遅延干渉計３−４の位相の設定値が−３π／８よりも減少した場合、（０，１，１）に着目すると、ツインＰＤ４Ｄの出力は増加する。したがって、より差動出力の大きい（１，１，０）および（０，１，０）に（０，１，１）が誤って識別される確率が増加する。
【０１３５】
したがって、上記の(i)〜(viii)の場合のうち、どの場合の確率が最も増加しているかを識別精度比較部１３によって検出することによって、遅延干渉計３−１，３−２，３−３，３−４のうち位相の設定値が最適値よりもずれている遅延干渉計を特定するとともに、特定した遅延干渉計の位相ずれの方向（増加または減少）を判別することができる。たとえば、上記の場合(iv)、すなわち、（１，１，０）が（１，０，１）および（１，１，１）に誤って識別される確率が増加している場合には、図１７の判別部１０は、遅延干渉計３−２の位相の設定値が−π／８よりも減少していると判別する。
【０１３６】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものでないと考えられるべきである。この発明の範囲は上記した説明ではなくて請求の範囲によって示され、請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【符号の説明】
【０１３７】
１  平面光回路、２  分岐部、３−１〜３−４  遅延干渉計、４−１〜４−８  フォトダイオード、４Ａ〜４Ｄ  バランス検波器（ツインフォトダイオード）、５−１〜５−４  トランスインピーダンスアンプ、６−１〜６−４  ＣＤＲ回路、７  再生部、８  誤り訂正部、９  出現頻度比較部、１０  判別部、１１  制御部、１２−１〜１２−４  移相器、１３  識別精度比較部、１５Ａ〜１５Ｄ  位相補正部、１００〜１０３  光受信装置。
【図１】
2012253400.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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