(57)【要約】【課題】工数や工程負荷を増大することなしに、個々の基板に適切な駆動条件を設定することが可能なインクジェット記録ヘッドの検査方法および検査装置を提供する。【解決手段】個々の記録ヘッドの記録検査工程のたびに、限界パルスを予測する際の補正値を更新する。これにより、限られた数のテストパターンの記録と画像処理から限界パルス幅を判定することが可能となり、検査工程に係る工程負荷や消費時間を従来よりも抑えることが出来る。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
熱エネルギを発生する電気熱変換素子に電圧パルスを印加することにより、インクを吐出するインクジェット記録ヘッドの検査方法であって、
前記電気熱変換素子の抵抗値を測定する測定工程と、
前記測定工程によって得られた前記抵抗値に基づいて、前記インクジェット記録ヘッドがインクを吐出することが可能な最低限のエネルギを前記電気熱変換素子から発生させるために必要な電圧パルスのパルス幅に相当する限界パルス幅を予測する予測工程と、
前記予測工程で予測された前記限界パルス幅から、段階的にパルス幅を増減した複数のパルス幅それぞれについてテストパターンを記録する記録工程と、
前記テストパターンの画像を読み取って前記限界パルス幅を判定する判定工程と、
該判定工程で判定された前記限界パルスと、前記予測工程で予測された前記限界パルスの差分を求める工程と、
前記差分に基づいて、前記予測工程で限界パルスを予測するための補正値を設定する工程と
を有することを特徴とするインクジェット記録ヘッドの検査方法。
【請求項２】
前記判定工程において、前記テストパターンから前記限界パルス幅を判定することが出来ないと判断した場合に、前記記録工程で使用した前記複数のパルス幅とは異なる複数のパルス幅を使用して再び前記テストパターンを記録し、当該テストパターンの画像を再び読み取って前記限界パルス幅を判定する工程を、
更に有することを特徴とする請求項1に記載のインクジェット記録ヘッドの検査方法。
【請求項３】
前記予測工程によって予測された前記限界パルスに対し所定のマージンを加算することによって得られたパルス幅を用いて、前記テストパターンとは異なるパターンを記録する工程と、
前記パターンの画像を読み取ることによって前記インクジェット記録ヘッドが規格外であるか否かを判定する工程を
更に有することを特徴とする請求項１または２に記載のインクジェット記録ヘッドの検査方法。
【請求項４】
前記限界パルス幅あるいは該限界パルス幅に所定のマージンを加算したパルス幅の情報を前記インクジェット記録ヘッドのメモリに記憶する工程を更に有することを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載のインクジェット記録ヘッドの検査方法。
【請求項５】
前記判定工程は、前記テストパターンにおける複数のパルス幅それぞれに対応した複数のパターンそれぞれについて求めたドット被覆率に従って、前記限界パルス幅を判定することを特徴とする請求項１乃至４の何れかに記載のインクジェット記録ヘッドの検査方法。
【請求項６】
熱エネルギを発生する電気熱変換素子に電圧パルスを印加することにより、インクを吐出するインクジェット記録ヘッドの検査装置であって、
前記電気熱変換素子の抵抗値を測定する測定手段と、
前記測定手段によって得られた前記抵抗値に基づいて、前記インクジェット記録ヘッドがインクを吐出することが可能な最低限のエネルギを前記電気熱変換素子から発生させるために必要な電圧パルスのパルス幅に相当する限界パルス幅を予測する予測手段と、
前記予測手段で予測された前記限界パルス幅から、段階的にパルス幅を増減した複数のパルス幅それぞれについてテストパターンを記録する記録手段と、
前記テストパターンの画像を読み取って前記限界パルス幅を判定する判定手段と、
該判定手段で判定された前記限界パルスと、前記予測手段で予測された前記限界パルスの差分を求める手段と、
前記差分に基づいて、前記予測手段で限界パルスを予測するための補正値を設定する手段と
を備えることを特徴とするインクジェット記録ヘッドの検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、熱エネルギを利用して吐出口からインク滴を吐出させるインクジェット記録ヘッドにおいて、記録紙などの被記録材に所定の検査画像を形成し、この検査画像からヘッドの特性を評価するインクジェット記録ヘッドの検査方法および装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電気熱変換素子を備え、熱エネルギを利用してインクを吐出するインクジェット記録ヘッド（以下、単に記録ヘッドとも言う）は、半導体と同様な工程によって製造されるのが一般である。すなわちインクジェット記録ヘッドは、基板上に電気熱変換素子や配線を形成する配線基板形成工程、配線基板上にインク流路を形成するノズル形成工程、基板上への駆動素子の実装およびその他の部品の組立を行う組立工程を経て製造される。更に、完成された記録ヘッドに対しては、その記録ヘッドの記録品位や吐出性能を確認し、個々の記録ヘッド特有のパラメータを設定するために、記録検査工程が施される。
【０００３】
一般に、このような記録検査工程においては、まず、インクジェット記録ヘッドを駆動する際の電圧もしくはパルス幅を段階的に変化させながら所定のパターンを記録する。次に、記録した画像から各記録素子の記録状態を観察して、吐出することが可能な駆動電圧もしくはパルス幅の限界値を測定する。そして、測定された限界値に別途実験で求められたマージン値を加え、このようにして得た値（電圧あるいはパルス幅）をそのインクジェット記録ヘッドの最適な駆動条件として設定する。
【０００４】
最適な駆動条件すなわち最適な駆動電圧やパルス幅は、記録ヘッド間（厳密には基板間）の様々なばらつきに影響を受け、基板ごとに個体差があることが知られている。よって、上記のような検査工程では、最適駆動条件を導くための限界値と成りうる範囲すなわち製造後の基板のばらつきの範囲において、駆動条件を段階的に変化させながら複数のパターンを記録して、それぞれの駆動条件に対する記録状態を確認する必要がある。しかし、限界値と成りうる駆動条件の範囲は十分に広いため、従来では記録すべきパターンの数も多くなり、検査工程のために多大な工数や時間が費やされてしまっていた。
【０００５】
但し、最適な駆動条件や限界値については確かに基板ごとに個体差はあるが、主に基板上に備えられた電気熱変換素子の抵抗値や、基板を保護するための保護膜の厚さによる影響が大きいことが知られている。よって、基板ごとに電気熱変換素子の抵抗値を予め測定し、得られた抵抗値からある程度適切な駆動条件を推定することも可能である。また、特許文献１には、記録ヘッドの記録検査工程において、電気熱変換素子の抵抗値と共に上記保護膜の膜圧を測定し、これら２種類の値に基づいて最適な駆動条件を設定する方法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平０６−３２０７２９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、基板ごとに電気熱変換素子の抵抗値を測定し、抵抗値のみから適切な駆動条件を推定する場合には、推定した最適な駆動条件と実際に最適な駆動条件との間に、保護膜のばらつきに起因するずれが発生する場合があった。このような場合、実使用においては、最適な駆動条件で記録ヘッドを使用することが出来なくなってしまう。
【０００８】
また、特許文献１のように、電気熱変換素子の抵抗値と共に基板の保護膜の膜圧を測定する場合には、膜圧測定のための工数や測定機構が必要となり、むしろ工程負荷が増大されてしまう。
【０００９】
本発明は上記問題点を解決するためになされたものである。よってその目的とするところは、工数や工程負荷を増大することなしに、個々の基板に適切な駆動条件を設定することが可能なインクジェット記録ヘッドの検査方法および検査装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
そのために本発明は、熱エネルギを発生する電気熱変換素子に電圧パルスを印加することにより、インクを吐出するインクジェット記録ヘッドの検査方法であって、前記電気熱変換素子の抵抗値を測定する測定工程と、前記測定工程によって得られた前記抵抗値に基づいて、前記インクジェット記録ヘッドがインクを吐出することが可能な最低限のエネルギを前記電気熱変換素子から発生させるために必要な電圧パルスのパルス幅に相当する限界パルス幅を予測する予測工程と、前記予測工程で予測された前記限界パルス幅から、段階的にパルス幅を増減した複数のパルス幅それぞれについてテストパターンを記録する記録工程と、前記テストパターンの画像を読み取って前記限界パルス幅を判定する判定工程と、該判定工程で判定された前記限界パルスと、前記予測工程で予測された前記限界パルスの差分を求める工程と、前記差分に基づいて、前記予測工程で限界パルスを予測するための補正値を設定する工程とを有することを特徴とする。
【００１１】
また、熱エネルギを発生する電気熱変換素子に電圧パルスを印加することにより、インクを吐出するインクジェット記録ヘッドの検査装置であって、前記電気熱変換素子の抵抗値を測定する測定手段と、前記測定手段によって得られた前記抵抗値に基づいて、前記インクジェット記録ヘッドがインクを吐出することが可能な最低限のエネルギを前記電気熱変換素子から発生させるために必要な電圧パルスのパルス幅に相当する限界パルス幅を予測する予測手段と、前記予測手段で予測された前記限界パルス幅から、段階的にパルス幅を増減した複数のパルス幅それぞれについてテストパターンを記録する記録手段と、前記テストパターンの画像を読み取って前記限界パルス幅を判定する判定手段と、該判定手段で判定された前記限界パルスと、前記予測手段で予測された前記限界パルスの差分を求める手段と、前記差分に基づいて、前記予測手段で限界パルスを予測するための補正値を設定する手段とを備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、個々の記録ヘッドの記録検査工程のたびに、限界パルスを予測する際の補正値を更新する。これにより、限られた数のテストパターンの記録と画像処理から限界パルス幅を判定することが可能となり、検査工程に係る工程負荷や消費時間を従来よりも抑えることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】インクジェット記録ヘッドの検査装置の構成を示す図である。
【図２】インクジェット記録ヘッドの記録検査工程を説明するためのフローチャートである。
【図３】第１のテストパターンを示す図である。
【図４】第２のテストパターンを示す図である。
【図５】実施例２の第２のテストパターンの例を示した図である。
【図６】実施例２の第２のテストパターンの例を示した図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
［実施例１］
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
【００１５】
図１は、出荷前のインクジェット記録ヘッドに対する記録検査工程を行う際の、検査装置の構成を示す図である。図１において、１０１は制御用コンピュータである。制御用コンピュータ１０１内には、ディスプレイ出力用のＶＧＡボード１０３が内蔵され、モニタ１０２における画像表示を制御する。また、ヘッドドライバ１０４、画像処理ボード１０５、モータコントロールボード１０６、演算処理部１０７も、制御用コンピュータ１０１に内蔵され、後述する記録走査工程の各工程は、制御用コンピュータ１０１が一括して行うようになっている。ここで、ヘッドドライバ１０４は、インクジェット記録ヘッド１１０を駆動する信号を出力するための回路である。画像処理部１０５は、ＣＣＤカメラ１１５が読み取った画像データを処理するための回路である。モータコントロールボード１０６は、記録ヘッド１１０によって記録が行われる被記録材１１８を記録ヘッド１１０に対し相対的に移動させるために、ペーパーステージ１１７を移動させるための回路である。更に、演算処理部１０７は、画像処理部１０５から得られた画像データに対し、高速演算処理を実行するための回路である。
【００１６】
ヘッドドライバ１０４から出力される記録信号は、ここに接続された記録信号変換基板１０８において、インクジェット記録ヘッド１１０からインクを吐出するための駆動信号に変換される。このような駆動信号は、インクジェット記録ヘッド１１０を装着するためのキャリッジ１０９に設置された不図示のコンタクトプローブユニットを介して、インクジェット記録ヘッド１１０に送信される。当該駆動信号により、インクジェット記録ヘッド１１０の個々の記録素子に備えられた電気熱変換素子に所定の電圧パルスが印加され、個々の記録素子で熱エネルギが発生する結果、個々の記録素子からインク滴１１１が吐出される。吐出されたインク滴１１１は、被記録材１１８に着弾し、被記録材１１８にドットが形成される。
【００１７】
被記録材１１８はペーパーステージ１１７の上に敷かれ、バキューム等によりペーパーステージ１１７に吸着されている。これにより、被記録材１１８は、ペーパーステージ１１７上での位置が固定されると共に、記録ヘッド１１０の吐出口面との距離も一定に保たれる。一方、ペーパーステージ１１７には、ステージ位置情報を取得する為のエンコーダが配備されている。ステージコントローラ１１６は、モータコントロールボード１０６の指示に従い、エンコーダから得られる情報を基に、ペーパーステージ１１７を移動させ、記録ヘッド１１０やＣＣＤカメラ１１５に対する被記録材１１８の位置をコントロールする。なお、ここで使用する被記録材１１８は、表面が吐出材料でコーティングされたインクジェット専用紙であり、着弾されたインク滴１１１は、略均一に吸収されて、比較的均整の取れた円形のドットが形成されるようになっている。
【００１８】
ＣＣＤカメラ１１５の画角内であって撮影可能な被記録材１１８の表面は、電源１１３に接続された照明１１４によって光が照射される。本実施例における照明１１４は、耐久性や光量安定性も確保できるＬＥＤ照明であり、ＲＧＢそれぞれの波長を有する光を照射する。本実施例で使用するＣＣＤカメラ１１５はラインセンサ型のＣＣＤカメラであり、ペーパーステージ１１７を移動させながらの複数回の撮影によって、被記録材１１８上の所定の領域の画像が取得される形態となっている。但し、画像処理部１０５の処理能力が十分に高く、高速処理が可能であれば、エリアセンサ型のＣＣＤカメラを使用することも出来る。以上のような構成において、画像処理コントローラ１１２は、被記録材１１８に記録されたテストパターンに対し、ＲＧＢそれぞれの光量をコントロールしながら照射を行い、ＣＣＤカメラ１１５によって撮影した画像データを画像処理部１０５へ送信する。
【００１９】
図２は、本実施例におけるインクジェット記録ヘッドの記録検査工程を説明するためのフローチャートである。本処理が開始されると、制御用コンピュータ１０１は、まずステップＳ４０１にて、記録ヘッド１１０と記録検査装置に設けられたキャリッジ１０９との間のコンタクトチェックを行い、両者の電気的接続を確認する。
【００２０】
次に、ステップＳ４０２において、記録ヘッドに配備された電気熱変換素子の抵抗測定を行う。抵抗の測定は、実際にインクの吐出に用いる電気熱変換素子の抵抗値を実測してもよいが、上記吐出に用いる電気熱変換素子と同様の製法で製造された擬似的な電気熱変換素子の抵抗測定で代替することも出来る。
【００２１】
続くステップＳ４０３では、ステップＳ４０２で測定した抵抗値に基づいて、テストパターンを記録する際に用いる駆動パルスのパルス幅を設定する。そのために、制御用コンピュータ１０１は、まず得られた抵抗値からその記録ヘッドの吐出に必要と思われる最低限のエネルギを生み出すために必要なパルス幅（以下、限界パルス幅と称す）を算出する。そして、この限界パルス幅に対し所定のマージンを加算した値を、当該記録ヘッドの適切なパルス幅として仮設定する。尚、本例では予測された限界パルス幅が０．９０μｓｅｃであったと仮定する。
【００２２】
本実施例では、タクトロスを回避するため、いずれの記録ヘッドにおいても、記録する際に用いる電圧パルスの電圧値は一定値に固定している。よって、個々の記録ヘッドの吐出に必要なエネルギのばらつきは、このように、駆動パルスのパルス幅で調整するようにしている。
【００２３】
ステップＳ４０４では、ステップＳ４０３で設定された適切なパルス幅に基づいて、第１のテストパターンを記録する。
【００２４】
図３は、第１のテストパターンを示す図である。図において、ｘ方向は、記録ヘッド１１０における複数の記録素子の配列方向に一致している。複数の記録素子において互いに所定の間隔をおいて吐出させながら、被記録材１１８をｙ方向に移動させることにより、図３のようなドットパターンが得られる。このようなパターンでは、複数のドット１１４が十分に分離して配置されており、個々のドットを個々の記録素子に対応づけることが出来る。すなわち第１のテストパターンからは、個々の記録素子の吐出が正常に行われているか否か、ドットの大きさや吐出方向は正常の範囲であるか否かを確認することが出来る。なお、被記録材１１８を載せたペーパーステージ１１７の移動速度は、記録ヘッドの吐出周波数および、ドット間の好適な距離によって調整されればよい。例えば本実施例では２５ｉｎｃｈ／ｓｅｃとしている。
【００２５】
ステップＳ４０５では、ステップＳ４０３で予測された限界パルス幅に基づいて、第２のテストパターンを記録する。
【００２６】
図４は、第２のテストパターンを示す図である。図３と同様、記録素子はｘ方向に配列し、被記録材１１８はｙ方向に搬送される。第２のテストパターンでは、１つの記録素子が５回連続して吐出を行い、５ドット分が連続したパターン１１９が個々の記録素子について記録されている。そして、このような全記録素子に対応するパターン１１９を、本実施例では９段階のパルス幅について記録する。これらパルス幅ごとのパターンを、図３ではＮｏ．１９〜Ｎｏ．１１で示している。
【００２７】
ここで言う９段階のパルス幅とは、ステップＳ４０３で予測した限界パルス幅（０．９０）を中心に、０．０２μｓｅｃずつ段階的にパルス幅を増減した９段階のパルス幅を示す。具体的には、図４におけるＮｏ．１５で使用する駆動パルスのパルス幅が予測された限界パルスに相当し、０．９０μｓｅｃである。そして、Ｎｏ．１６では０．９２μｓｅｃ、Ｎｏ．１７では０．９４μｓｅｃとなり、Ｎｏ．１８では０．９６μｓｅｃ、Ｎｏ．１９では０．９８μｓｅｃのパルス幅で各パターンが記録される。パルス幅が短くなるほど電気熱変換素子に与えられるエネルギは少なくなるので、吐出量や吐出安定性は徐々に低下し、やがて吐出が行われなくなる。図４では、Ｎｏ．１７までは薄弱な吐出が行われているがＮｏ．１６では完全に吐出が行われなくなった状態を示している。このような第２のテストパターンからは、実際の限界パルス幅を判定することが出来る。
【００２８】
なお、第２のテストパターンを記録するために用いられる複数のパルス幅は、実際には例えばＮｏ．１〜Ｎｏ．３０のように更に多くのパルス幅が用意され、予め制御用コンピュータ１０１のメモリに格納されている。但し本実施例の様に、ステップＳ４０２で得られた電気熱変換素子の抵抗値から限界パルス幅がある程度予測されれば、ステップＳ４０５では上記全種類のパルス幅についてではなく、限界パルス幅を基準とした数段階のパルス幅についてパターンを記録すればよい。本実施例ではこのように、予め測定した電気熱変換素子の抵抗値に基づいて限界パルス幅の予測範囲を限定することにより、記録検査工程に係る工数や工程負荷ひいては時間を減少させる。
【００２９】
続くステップＳ４０６では、ステップＳ４０４で記録した第１のテストパターンの画像読み込みを行う。この際、制御用コンピュータ１０１は、まず、被記録材１１８に記録された第１のテストパターンの先頭が、ＣＣＤカメラ１１５の測定エリアに位置するまで、ペーパーステージ１１７を移動する。そして、第１のテストパターンが、ＣＣＤの配列方向と交差する方向にＣＣＤの読み取り周期に応じて移動するように、ペーパーステージ１１７を移動させる。ペーパーステージ１１７の移動速度は、個々のＣＣＤの読み取り周期や画像処理コントローラの処理速度に応じて調整されればよいが、本実施例では、例えば２５ｉｎｃｈ／ｓｅｃとしている。
【００３０】
更にステップＳ４０７では、ステップＳ４０５で記録した第２のテストパターンの画像読み取りを行う。読み取り方法はステップＳ４０６で説明した第１のテストパターンの場合と同じである。
【００３１】
ステップＳ４０８では、ステップＳ４０６およびステップＳ４０７で読み取った画像に対して所定の画像処理を施し、画像判定を行う。具体的には、まず読み込んだ画像に対し、シェーディング補正、２値化処理、ノイズ除去などの画像処理を行う。以上の処理は第１のテストパターンに対しても第２のテストパターンに対しても同様である。
【００３２】
その後第１のテストパターンに対しては、被記録材１１８に形成されたドット１１４それぞれについてのｘｙ座標上の重心位置を求め、複数のドットの重心位置から最小二乗法によって個々のドットの理想のｘｙ座標を求める。そして、理想の位置に対する実際の記録位置のずれ量を各ドット（すなわち各記録素子）について算出し、予め定められたずれ量の閾値と比較する。更に、個々のドットの面積から各ドットの直径を求め、やはり予め定められた閾値と比較する。
【００３３】
本実施例において、ずれ量の閾値はｘ方向ｙ方向共に３４μｍとする。そしてずれ量がこれよりも大きなドットが存在する場合、当該記録ヘッドは規格外とする。また、ドット径についての閾値は２０μｍとし、これよりも小さなドットが存在する場合についても、当該記録ヘッドは規格外とする。
【００３４】
一方、第２のテストパターンに対しては、再度図４を参照するに、同種類のパルス幅で記録したテストパターンが占める面積Ｓ１と、個々の記録素子が記録したテストパターン１１９の面積の和Ｓ２を求め、パルス幅ごとにドット被覆率Ｓ３＝Ｓ２／Ｓ１を算出する。そして、このようなドット被覆率を９段階のパルス幅について、すなわちＮｏ．１１〜Ｎｏ．１９について求める。本実施例において、ドット被覆率Ｓ３の閾値は１．０％とする。そして例えば、ドット被覆率Ｓ３が１．０％を上回るのがＮｏ．１７〜Ｎｏ．１９で、ドット被覆率Ｓ３が１．０％を下回るのがＮｏ．１１〜Ｎｏ．１６であったとすると、Ｎｏ．１６で使用したパルス幅を当該記録ヘッドの限界パルス幅と判定する。
【００３５】
更に、判定された限界パルスがステップＳ４０３で予測された限界パルスと一致しているか否かを判断し、一致していない場合は両者の差を求める。上記例の場合は、ステップ４０３で予測した限界パルスは０．９０μｓｅｃであるがステップＳ４０８で実判定した限界パルスは０．９２μｓｅｃであったので、その差は０．０２μｓｅｃ（テーブル番号の1つ分）となる。
【００３６】
このように、ステップＳ４０３で予測された限界パルスと実判定された限界パルスとの間にずれがある場合は、ステップＳ４１０に進む。そして、ステップＳ４０２で測定した抵抗値から設定される限界パルス幅を、現状よりも上記差分だけずらすような補正値を設定する。このようにすることによって、次の記録ヘッドに対する検査工程では、ステップＳ４０２で本例と同じ抵抗値が測定されたとてしても、第２のテストパターンではＮｏ．１２〜Ｎｏ．２０のようなＮｏ．１６を中心とする９つのパターンが記録されるようになる。
【００３７】
続くステップＳ４０９では、ステップＳ４０８の判定結果を記録ヘッドのＲＯＭに書き込む。具体的には、当該ヘッドが記録位置およびドット径において規格内であるか否か、ステップＳ４０８で判定した限界パルス幅、また限界パルス幅に所定のマージンを加えた当該記録ヘッドに特有の適切なパルス幅、などを記憶する。また、この外、記録ヘッドのＩＤや製造された日付等も記憶する。
【００３８】
本実施例ではこのように、個々の記録ヘッドの記録検査工程のたびに、限界パルスを予測する際の補正値を更新する。これにより、第２のテストパターンで記録する９つのパターンでは、限界パルスのパターンが常に中央近傍に配置させるようになる。その結果、限界パルス幅のパターンが第２のテストパターンからはみ出すことが抑制され、いずれの記録ヘッドの記録検査工程においても、記録検査工程の第２のテストパターンでは、９つ分のパターンを記録するだけで限界パルスを判定することが出来るようになる。
【００３９】
［実施例２］
本実施例においても、実施例１と同様の検査装置を用い、図４で示したフローチャートに従って記録ヘッドの記録検査工程を実行する。本実施例では、ステップＳ４０５で記録する第２のテストパターンにおいて、限界パルス幅が判定できなかった場合について説明する。  
【００４０】
図５は、本実施例のステップＳ４０５で記録された第２のテストパターンの例を示した図である。ここでは、記録された９つのパターン全てにおいてドット被覆率Ｓ３が１．０％を上回っている例が示されている。このような場合、本実施例では、ドット被覆率Ｓ３が最も１．０％に近いＮｏ．１１に連続する９個のパターン、すなわちＮｏ．２〜Ｎｏ．１０について再度第２のテストパターンを記録して、限界パルス幅を判定する。そして得られた限界パルス幅とステップＳ４０３で予測した限界パルスとの差分から、実施例１と同様に、抵抗値から設定される限界パルス幅を、現状よりも上記差分だけずらすような補正値を設定する。
【００４１】
一方、図６は、本実施例のステップＳ４０５で記録された第２のテストパターンの別例を示した図である。ここでは、記録された９つのパターン全てにおいてドット被覆率Ｓ３が１．０％を下回っている例が示されている。このような場合、本実施例では、ドット被覆率Ｓ３が最も１．０％に近いＮｏ．１９に連続する９個のパターン、すなわちＮｏ．２０〜Ｎｏ．１８について再度第２のテストパターンを記録して、最低限の吐出可能なパルスを判定する。そして得られた最低限の吐出可能なパルスのＮｏ．とＮｏ．１５とのずれ量から、実施例１と同様に、抵抗値から設定される限界パルス幅を、現状よりも上記差分だけずらすような補正値を設定する。
【００４２】
このような本実施例によれば、現在検査中の記録ヘッドについて、第２のテストパターンで限界パルス幅が判定できなかった場合は、第２のテストパターンのために更に９個分のパターンの記録と画像処理を行わなくてはならない。しかし、次回の記録ヘッドの検査工程では、最低限の吐出可能駆動パルスのパターンを、９つのパターンの中央に配置させる可能性を高めることが出来る。これにより、多数の記録ヘッドに対する検査工程全般において、工程負荷や消費時間を従来よりも抑えることが出来る。
【符号の説明】
【００４３】
１０１  制御用コンピュータ
１０４  ヘッドドライバ
１０５  画像処理部
１０７  演算処理部
１１０  インクジェット記録ヘッド
１１２  画像処理コントローラ
１１４  ドット
１１５  ＣＣＤカメラ
１１８  被記録材
１１９  ５ドット連続パターン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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