(57)【要約】【課題】電波の照射によって不正行為を行うことが困難な弾球遊技機を提供することを目的とする。【解決手段】主制御装置に接続された第１球検出スイッチの球検出信号の入力態様に基づいて、主制御装置が遊技球の入球判定を実施したことを条件に、サブ制御装置に入球コマンドを送信し、サブ制御装置に、該サブ制御装置に接続された第２球検出スイッチの球検出信号の入力態様に基づいて入球フラグを設定し、受信した入球コマンドと設定した入球フラグに基づいて入球口への異常入球を監視する。【選択図】図９
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
遊技盤面上に配置される入球口と、
該入球口に入球した遊技球を遊技盤裏面側へと取り込む球通路と、
該球通路に設けられる第１球検出スイッチと、
該第１球検出スイッチの上流側又は下流側のいずれかに設けられた第２球検出スイッチと、
を備えた弾球遊技機において、
前記第１球検出スイッチから出力される信号を主制御装置に、前記第２球検出スイッチから出力される信号をサブ制御装置に、それぞれ入力するよう構成し、
前記主制御装置に、
所定時間ごとに実行する定期割込処理にて前記第１球検出スイッチの出力態様を監視し、該出力態様が所定条件１を満たすことを条件に第１入球フラグを設定する第１入球フラグ設定手段と、
前記サブ制御装置に、
所定時間ごとに実行する定期割込処理にて前記第２球検出スイッチの出力態様を監視し、該出力態様が所定条件２を満たすことを条件に第２入球フラグを設定する第２入球フラグ設定手段を、それぞれ有し、前記所定条件１と前記所定条件２とを異なる条件に設定し、
前記第１入球フラグが設定されることを条件に、前記サブ制御装置へと第１入球コマンドを出力する出力手段を前記主制御装置に設け、
前記第１入球コマンドの受信及び前記第２入球フラグの設定に基づいて異常な入球であるか否かを判定する異常入球判定手段を前記サブ制御装置に備えたことを特徴とする弾球遊技機。
【請求項２】
前記第１球検出スイッチ又は前記第２球検出スイッチの少なくとも一方は、遊技球の非検出時にＨｉ信号を、遊技球の検出時にＬｏｗ信号を出力する構成としたことを特徴とする請求項１記載の弾球遊技機。
【請求項３】
前記第１球検出スイッチ又は前記第２球検出スイッチのいずれか一方は、遊技球の非検出時にＨｉ信号を、遊技球の検出時にＬｏｗ信号を出力する構成とし、他方は、遊技球の非検出時にＬｏｗ信号を、遊技球の検出時にＨｉ信号を出力する構成としたことを特徴とする請求項１乃至請求項２記載の弾球遊技機。
【請求項４】
前記第１球検出スイッチを遊技球の非検出時にＨｉ信号を、遊技球の検出時にＬｏｗ信号を出力する構成としたことを特徴とする請求項１乃至請求項３記載の弾球遊技機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、不正行為による遊技球の入賞を検出可能とするパチンコ遊技機に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
多くのパチンコ遊技機の入賞口には、遊技球の入球を検出するための検出スイッチとして近接スイッチが設けられており、主制御装置の定時割込処理によって検知する検出スイッチの検出状態に基づいて遊技球の入球を確認する構成となっている。
【０００３】
パチンコ遊技機においては、様々な種類の不正行為が後を絶たないが、その中でも、入賞口に配置された検出スイッチを誤動作させることによって不正に賞球を得る電波ゴトや、遊技球の流下経路を変化させて所定の入賞口への入賞率を高める釘曲げゴトや、磁石ゴト（ブドウゴト）のように、遊技中にゴト器具を用いて行う不正行為（所謂ローテクゴト）が増加している。
【０００４】
この様な状況に対して、遊技機自体やその近傍に枠閉鎖センサ、電波センサ、磁力センサ等を設けて不正行為を監視しているが、なかなか効果が得られていない。特に上記した電波ゴトに対しては、一つの入賞口に対して近接スイッチを２個配置（ダブルセンサ）することによって、電波ゴトを検知する発明も開示されている＜特許文献１＞＜特許文献２＞。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００４−１４７６８７号公報
【特許文献２】特開２０１０−２３０４５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、特許文献１及び２は、単に検出するはずのない、若しくは常時検出している一方のスイッチの検出状態のみを監視していればよいため電波の照射を行う不正の監視制御を簡素にできるものの、遊技球の検出を行う他方の検出スイッチのみに局所的に電波を照射することで、難なく不正行為を行うことができる。また、主制御装置は規則によってＲＯＭ容量が定められており、不正対策プログラムを主制御装置に搭載するためには、遊技に係る一部の制御プログラムを非搭載とするなど、遊技性の一部を犠牲にしなければならないこともあった。
【０００７】
そこで、本発明は、上記問題に鑑み、Ｗセンサとして２つの検出スイッチが遊技球の入球を検出する構成とし、各検出スイッチの入球判定方法を異ならせることで、電波の照射を行って不正行為を行うことを困難としながら、主制御装置の負担を軽減することによって、遊技性の低下を避けることが可能な弾球遊技機を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
請求項１記載の弾球遊技機は、
遊技盤面上に配置される入球口と、
該入球口に入球した遊技球を遊技盤裏面側へと取り込む球通路と、
該球通路に設けられる第１球検出スイッチと、
該第１球検出スイッチの上流側又は下流側のいずれかに設けられた第２球検出スイッチと、
を備えた弾球遊技機において、
前記第１球検出スイッチから出力される信号を主制御装置に、前記第２球検出スイッチから出力される信号をサブ制御装置に、それぞれ入力するよう構成し、
前記主制御装置に、
所定時間ごとに実行する定期割込処理にて前記第１球検出スイッチの出力態様を監視し、該出力態様が所定条件１を満たすことを条件に第１入球フラグを設定する第１入球フラグ設定手段と、
前記サブ制御装置に、
所定時間ごとに実行する定期割込処理にて前記第２球検出スイッチの出力態様を監視し、該出力態様が所定条件２を満たすことを条件に第２入球フラグを設定する第２入球フラグ設定手段を、それぞれ有し、前記所定条件１と前記所定条件２とを異なる条件に設定し、
前記第１入球フラグが設定されることを条件に、前記サブ制御装置へと第１入球コマンドを出力する出力手段を前記主制御装置に設け、
前記第１入球コマンドの受信及び前記第２入球フラグの設定に基づいて異常な入球であるか否かを判定する異常入球判定手段を前記サブ制御装置に備えたことを特徴とする弾球遊技機である。
【０００９】
第１球検出スイッチと第２球検出スイッチとは、主制御装置が実行する定時割込処理毎にスイッチ信号の出力態様が検知可能なものであればよく、遊技球の移動に応じた光の遮断や磁束の変化で遊技球を検出するスイッチとしてもよい。
【００１０】
主制御装置が定期割込処理によって監視する第１球検出スイッチの出力態様は、遊技球の検出状態を示す態様か又は非検出状態を示す態様としてもよく、第１入球フラグを設定する所定条件１は、第１球検出スイッチが出力するスイッチ信号の検出状態と非検出状態に基づくものでもよい。また、サブ制御装置が定期割込処理によって監視する第２球検出スイッチの出力態様は、遊技球の検出状態を示す態様か又は非検出状態を示す態様としてもよく、第２入球フラグを設定する所定条件２は、第２球検出スイッチが出力するスイッチ信号の検出状態と非検出状態に基づくものでもよい。
【００１１】
「第１入球コマンドの受信及び前記第２入球フラグの設定に基づいて異常な入球であるか否かを判定する異常入球判定手段」は、各球検出スイッチの配置位置に則して入球コマンドの受信と第２入球フラグの設定が行われたか否かを判定する構成であればよく、上流側の第１入球フラグが設定（入球コマンドを受信）された後に下流側の第２入球フラグが所定時間内に設定されたか否か、又は上流側の第２入球フラグが設定された後に下流側の第１入球フラグ（入球コマンド）が所定時間内に設定（受信）されたか否かを判定しても良い。また、異常状態と判定した場合は、異常状態の種類に応じてエラー報知を実施する構成が好適である。
【００１２】
請求項２記載の弾球遊技機は、
前記第１球検出スイッチ又は前記第２球検出スイッチの少なくとも一方は、遊技球の非検出時にＨｉ信号を、遊技球の検出時にＬｏｗ信号を出力する構成としたことを特徴とする請求項１記載の弾球遊技機である。
【００１３】
「少なくとも一方は、遊技球の非検出時にＨｉ信号を、遊技球の検出時にＬｏｗ信号を出力する」とは、どちらか一方が所謂ノーマルクローズ型の球検出スイッチであってもよいし、両方のスイッチとがノーマルクローズ型の球検出スイッチであってもよい。なお、ノーマルクローズ型の球検出スイッチでは、遊技球の検出時（Ｌｏｗ（０）状態）のみ電波の影響により出力信号が電波の周期に応じて変化し、ノーマルオープン型の球検出スイッチでは、遊技球の非検出時（Ｌｏｗ（０）状態）に電波の影響により出力信号が電波の周期に応じて変化する。
【００１４】
請求項３記載の弾球遊技機は、
前記第１球検出スイッチ又は前記第２球検出スイッチのいずれか一方は、遊技球の非検出時にＨｉ信号を、遊技球の検出時にＬｏｗ信号を出力する構成とし、他方は、遊技球の非検出時にＬｏｗ信号を、遊技球の検出時にＨｉ信号を出力する構成としたことを特徴とする請求項１乃至請求項２記載の弾球遊技機である。
【００１５】
「いずれか一方は、遊技球の非検出時にＨｉ信号を、遊技球の検出時にＬｏｗ信号を出力する構成とし、他方は、遊技球の非検出時にＬｏｗ信号を、遊技球の検出時にＨｉ信号を出力する構成」とは、第１球検出スイッチがノーマルクローズ型の場合は第２球検出スイッチがノーマルオープン型とし、第１球検出スイッチがノーマルオープン型の場合は第２球検出スイッチがノーマルクローズ型としてもよい。
【００１６】
請求項４記載の弾球遊技機は、
前記第１球検出スイッチを遊技球の非検出時にＨｉ信号を、遊技球の検出時にＬｏｗ信号を出力する構成としたことを特徴とする請求項１乃至請求項３記載の弾球遊技機である。
【００１７】
主制御装置に接続する球検出スイッチをノーマルクローズ型のスイッチとする構成であり、主制御装置に接続されていれば上流側に配置しても良いし下流側に配置しても良い。
【発明の効果】
【００１８】
請求項１記載の弾球遊技機によれば、所定条件１と所定条件２とで、例えば、遊技球検出状態を示す出力態様の連続回数が異なるように設定したことで、電波を二つの球検出スイッチに照射した際に、一方の入球フラグ設定手段では入球フラグを設定し、他方の入球フラグ設定手段では入球フラグが設定されないという不整合が生じ、正常な遊技球の入球ではないことが容易に判断することができる。更に、遊技球の入球をサブ制御装置で行うことにより、主制御装置の処理負担を軽減して遊技性の低下を避けることが可能となる。
【００１９】
請求項２記載の弾球遊技機によれば、少なくとも一方をノーマルクローズ型の球検出スイッチとしたことで、電波ゴトが遊技球の検出を示すＬｏｗ信号出力時のみ可能となるため、不正行為の難易度を高めることができる。
【００２０】
請求項３記載の弾球遊技機によれば、敢えて他方に遊技球の非検出状態時にＬｏｗ信号を、検出状態時にＨｉ信号を出力するノーマルオープン型の球検出スイッチを採用することで、他方は遊技球の非検出状態を示すＬｏｗ信号出力時のみ電波ゴトが可能となり、一方は遊技球の検出状態を示すＬｏｗ信号出力時のみで電波ゴトが可能となるため、さらに不正行為の何度を高めることが可能となる。
【００２１】
請求項４記載の弾球遊技機によれば、主制御装置に接続する第１球検出スイッチをノーマルクローズタイプの球検出スイッチとしたことで、遊技球の検出状態を示すＬｏｗ信号出力時のみ電波ゴトが可能となるため、不正行為によって得られる不等な利益を低下させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】遊技盤８の正面図。
【図２】遊技機の電気的構成を示すブロック図。
【図３】主制御装置５０が実行するメインルーチンを示すフローチャート。
【図４】実施例１における左一般入賞口３５ａの断面図。
【図５】実施例１において、主制御装置５０が検知する上流側に配置された左１一般入賞口スイッチ３５ｂ（ＮＣ）が検出状態となった場合の入球判定条件を示すタイミングチャートとスイッチデータバッファの入球判定パターン。
【図６】実施例１において、主制御装置５０が実行する左１スイッチ入球判定処理１を示すフローチャート。
【図７】実施例１において、サブ統合制御装置５３が検知する下流側に配置された左２一般入賞口スイッチ３５ｃ（ＮＣ）が検出状態となった場合の入球判定条件を示すタイミングチャートとスイッチデータバッファの入球判定パターン。
【図８】実施例１において、サブ統合制御装置５３が実行する左２スイッチ入球判定処理１を示すフローチャート。
【図９】実施例１において、サブ統合制御装置５３が実行する入球判定処理１を示すフローチャート。
【図１０】実施例１において、左一般入賞口３５ａへの遊技球入球時に、４ｍｓ周期の電波が左１一般入賞口スイッチ３５ｂと左２一般入賞口スイッチ３５ｃとに照射された場合の入球判定を示すタイミングチャート。
【図１１】実施例１において、左一般入賞口３５ａへの遊技球入球時に、８ｍｓ周期の電波が左１一般入賞口スイッチ３５ｂと左２一般入賞口スイッチ３５ｃとに照射された場合の入球判定を示すタイミングチャート。
【図１２】実施例２において、サブ統合制御装置５３が検知する下流側に配置された左２一般入賞口スイッチ３５ｃ（ＮＯ）が検出状態となった場合の入球判定条件を示すタイミングチャートとスイッチデータバッファの入球判定パターン。
【図１３】実施例２において、左一般入賞口３５ａへの遊技球入球時に、４ｍｓ周期の電波が左１一般入賞口スイッチ３５ｂと左２一般入賞口スイッチ３５ｃとに照射された場合の入球判定を示すタイミングチャート。
【図１４】実施例２において、左一般入賞口３５ａへの遊技球入球時に、８ｍｓ周期の電波が左１一般入賞口スイッチ３５ｂと左２一般入賞口スイッチ３５ｃとに照射された場合の入球判定を示すタイミングチャート。
【図１５】実施例３における左一般入賞口３５ａの断面図。
【図１６】実施例３において、サブ統合制御装置５３が実行する入球判定処理３を示すフローチャート。
【図１７】実施例３において、左一般入賞口３５ａへの遊技球入球時に、４ｍｓ周期の電波が左１一般入賞口スイッチ３５ｂと左２一般入賞口スイッチ３５ｃとに照射された場合の入球判定を示すタイミングチャート。
【図１８】実施例３において、左一般入賞口３５ａへの遊技球入球時に、８ｍｓ周期の電波が左１一般入賞口スイッチ３５ｂと左２一般入賞口スイッチ３５ｃとに照射された場合の入球判定を示すタイミングチャート。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下、本発明の実施形態について図面を用いて説明する。尚、本発明の実施の形態は、下記の実施形態に何ら限定されることはなく、本発明の技術的範囲に属する限り種々の形態を採りうる。
【実施例１】
【００２４】
図１は、本実施例におけるパチンコ機の遊技盤８の正面図である。なお、このパチンコ機の全体的な構成は公知技術に従っているので図示及び説明は省略する。遊技盤８には公知のガイドレール２５ａ、２５ｂによって囲まれた略円形の遊技領域２６が設けられ、多数の遊技釘２７が植設されている。遊技領域２６の略中央には、窓部２８ａを有する液晶枠飾り２８が設けられており、演出図柄表示装置５４ｂ（図２参照）のＬＣＤ画面が遊技者から視認可能に構成され、図示しない公知のワープ入口、ワープ通路、ステージ等も設けられている。
【００２５】
また、窓部２８ａの上方左には、７セグメントＬＥＤ等の発光部材により構成される第１特別図柄表示装置２９、上方右には左と同一部材の第２特別図柄表示装置３０と、中央には４個の発光部材で構成される第２特別図柄保留数表示装置３０ａが設けられており、窓部２８ａ下には同様に４個の発光部材で構成される第１特別図柄保留数表示装置２９ａが設けられている。
【００２６】
液晶枠飾り２８の左右両側又は左側には普通図柄作動ゲート４２が設けられており、下側には第１始動口３１と開放時のみ入賞可能となる普通電動役物４０が第２始動口３２として設けられている。また普通電動役物４０には、７セグメントＬＥＤ等の発光部材により構成される普通図柄表示装置４１が配置されている。第２始動口３２の下方には、アタッカー式の大入賞口３３ａを備える大入賞口ユニット３３が配置され、該大入賞口ユニット３３の下方にはアウト口３４が設けられている。大入賞口３３ａの左側には４個のＬＥＤで構成される普通図柄保留数表示装置４１ａが設けられている。また、大入賞口ユニット３３の左側には、左一般入賞口３５ａ（本発明の入球口に該当）が備えられる入賞口ユニット３５が設けられ、大入賞口ユニット３３の右側にも、右一般入賞口３５ａ（本発明の入球口に該当）が備えられる入賞口ユニット３５が設けられている。
【００２７】
上記のように遊技盤８を構成することによって、普通図柄作動ゲート４２に遊技球が入球（普通図柄作動スイッチ４２ａ（図２参照）が遊技球を検出し入賞と判定）すると、普通図柄表示装置４１で普通図柄が変動表示を開始し、所定時間後に停止した普通図柄の態様に応じて、普通電動役物４０の羽根部材が駆動して、普通電動役物４０への入球が可能となるように構成されている。尚、本実施形態におけるパチンコ機では、普通電動役物４０の羽根部材が駆動する開放時間は、通常時は０．３秒（１回）、時短状態（開放延長状態）では５．０秒（１回）である。また、遊技球が１個入賞した際に獲得する賞球数は、第１始動口３１と第２始動口３２は３個、大入賞口３３ａは１４個、左右一般入賞口３５ａは１０個に設定されている。
【００２８】
また、左一般入賞口３５ａに遊技球が入球すると、主制御装置５０に接続された左１一般入賞口スイッチ３５ｂ（図２参照）（本発明の第１球検出スイッチに該当）が遊技球を検出した後に、サブ統合制御装置５３に接続された左２一般入賞口スイッチ３５ｃ（図２参照）（本発明の第２検出スイッチに該当）が該遊技球を検出するように配置され、同様に、右一般入賞口３５ａに遊技球が入球すると、主制御装置５０に接続された右１一般入賞口スイッチ３５ｄ（図２参照）（本発明の第１検出スイッチに該当）が遊技球を検出した後に、サブ統合制御装置５３に接続された右２一般入賞口スイッチ３５ｅ（図２参照）（本発明の第２検出スイッチに該当）が該遊技球を検出するように配置されている。
【００２９】
第１始動口３１に遊技球が入球（第１始動口スイッチ３１ａ（図２参照）が遊技球を検出し入賞と判定）すると、第１特別図柄表示装置２９において第１特別図柄が変動を開始し、所定時間後に停止する。また、第２始動口３２である普通電動役物４０に遊技球が入球（第２始動口スイッチ３２ａ（図２参照）が遊技球を検出し入賞と判定）すると、第２特別図柄表示装置３０において第２特別図柄が変動表示を開始し、所定時間後に停止する。
【００３０】
第１特別図柄及び第２特別図柄の変動中は、窓部２８ａに配置された演出図柄表示装置５４ｂにおいて各々の特別図柄の変動に連動した演出態様を表示する。また、第１特別図柄と第２特別図柄は、第１始動口と第２始動口への入球順に関係なく、第２特別図柄の変動停止を優先して実施する。具体的には、第１特別図柄の保留記憶がある場合、第２特別図柄の変動が停止し且つ第２特別図柄保留記憶が無い状態となって、第１特別図柄保留記憶分の変動を開始する。第１特別図柄及び第２特別図柄の態様に応じて大入賞口ユニット３３の扉部材が駆動して、大入賞口３３ａへの入球が可能となるように構成されている。
【００３１】
続いて、図２に本実施例におけるパチンコ機の電気配線を示すブロック図を示し説明する。図２には煩雑になる電源の供給系統に関する記載は行わないが、電源が必要な制御装置若しくはアクチュエータ類には、電源装置（図示せず）から直接的又は間接的に供給される構成となっている。尚、遊技盤８を装着するパチンコ機本体に関する部品は図示を省略している。
【００３２】
主制御装置５０の入力端には、遊技盤中継端子板を介して第１始動口３１に入球した遊技球を検出する第１始動口スイッチ３１ａと、第２始動口３２である普通電動役物４０に入球した遊技球を検出する第２始動口スイッチ３２ａと、普通図柄作動ゲート４２に入球した遊技球を検出する普通図柄作動スイッチ４２ａと、大入賞口３３ａに入球した遊技球を検出するカウントスイッチ３３ｂと、左一般入賞口３５ａに入球した遊技球を検出する左１一般入賞口スイッチ３５ｂ（本発明の第１球検出スイッチに該当）と、右一般入賞口３５ａに入球した遊技球を検出する右１一般入賞口スイッチ３５ｄ（本発明の第１球検出スイッチに該当）とが接続されている。
【００３３】
また、裏配線中継端子板を介して前面枠が閉鎖していることを検出する前面枠閉鎖スイッチと、意匠枠が閉鎖していることを検出する意匠枠閉鎖スイッチと、が接続されている。なお、主制御装置５０の入力端に接続された各種入賞検出スイッチ（第１始動口スイッチ３１ａ、第２始動口スイッチ３２ａ、普通図柄作動スイッチ４２ａ、カウントスイッチ３３ｂ、左１一般入賞口スイッチ３５ｂ、右１一般入賞口スイッチ３５ｄ、）は、電波（電磁波）ゴトに有効（遊技球検出状態時のみ電波の影響を受ける）なスイッチとしてノーマルクローズタイプ（ＮＣタイプ）の近接スイッチ（遊技球通過孔を備えた形状）を用いている。
【００３４】
主制御装置５０の出力端には、遊技盤中継端子板を介して大入賞口３３ａの扉部材を駆動する大入賞口ソレノイドと、普通電動役物４０の羽根部材を駆動する普通電役ソレノイドとが接続されており、図柄表示装置中継端子板を介して第１特別図柄を表示する第１特図表示装置と、第１特別図柄の保留数を表示する第１特図保留数表示装置と、第２特別図柄を表示する第２特図表示装置と、第２特別図柄の保留数を表示する第２特図保留数表示装置と、普通図柄を表示する普通図柄表示装置と、普通図柄の保留数を表示する普図保留数表示装置とが接続されており、裏配線中継端子板及び外部接続端子板を介して図示しないホールコンピュータと、が接続されている。
【００３５】
主制御装置５０はＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等の電気部品を備えており、搭載するＲＯＭに記憶されたプログラムに従ってＣＰＵにて処理を実行し、入力される各種検出信号などに基づいて遊技の進行に関わる各種コマンド等を生成し、払出制御装置５１及びサブ統合装置５３に出力する。ここで、主制御装置５０と払出制御装置５１とは双方向通信回路として構成され、主制御装置５０とサブ統合制御装置５３とは主制御装置５０からサブ統合制御装置５３への一方向通信回路として構成されている。
【００３６】
払出制御装置５１の入力端には、裏配線中継端子板を介して球タンク又はタンクレール内の遊技球が不足していることを検出する球切れスイッチと、裏配線中継端子板及び払出中継端子板を介して払い出した遊技球を検出する払出スイッチと、各種端子板を介することなく下皿への経路に遊技球が多数あることを検出する満杯スイッチと、エラー解除スイッチ７６と、が接続されている。払出制御装置５１の出力端には、裏配線中継端子板及び払出中継端子板を介して遊技球を上皿へと払い出す払出モータと、球切れ表示ＬＥＤと、下皿満杯表示ＬＥＤと、異常状態報知ＬＥＤ７５と、エラーＮＯ表示ＬＥＤ７４と、が接続されている。
【００３７】
払出制御装置５１はＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等の電気部品を備えており、搭載するＲＯＭに記憶されたプログラムに従ってＣＰＵにて処理を実行し、入力される各種検出信号ならびに主制御装置５０から入力されるコマンドに基づいて遊技球の払い出しに関わる各種コマンド等を生成し、主制御装置５０及び発射制御装置に出力する。ここで、払出制御装置５１と主制御装置５０とは双方向通信回路として構成され、払出制御装置５１と発射制御装置とは払出制御装置５１から発射制御装置への一方向通信回路として構成されている。
【００３８】
また、払出制御装置５１は、外部接続端子板を介して賞球に関する情報などをホールコンピュータに送信するほか、発射制御装置に対して発射停止信号を送信する。発射制御装置は発射モータを制御して、遊技球を遊技領域２６に遊技球を発射させる。なお、発射制御装置には払出制御装置５１以外に発射ハンドルからの回動量信号、タッチスイッチからのタッチ信号、発射停止スイッチから発射停止スイッチ信号が入力される。
【００３９】
回動量信号は、遊技者が発射ハンドルを操作することで出力され、タッチ信号は遊技者が発射ハンドルを触ることで出力され、発射停止スイッチ信号は、遊技者が発射停止スイッチを押すことで出力される。なお、タッチ信号が発射制御装置に入力されていなければ、遊技球は発射できないほか、発射停止スイッチ信号が入力されているときには、遊技者が発射ハンドルを触っていても遊技球は発射出来ないようになっている。
【００４０】
サブ統合制御装置５３の入力端には、遊技者により操作可能な遊技スイッチと、左１一般入賞口スイッチ３５ｂの下流に配置された左２一般入賞口スイッチ３５ｃ（本発明の第２球検出スイッチに該当）と、右１一般入賞口スイッチ３５ｄの下流に配置された右２一般入賞口スイッチ３５ｅ（本発明の第２球検出スイッチに該当）とが接続されている。なお、本実施例では、左２一般入賞口スイッチ３５ｃと右２一般入賞口スイッチ３５ｅもノーマルクローズタイプの近接スイッチとなっている。サブ統合制御装置５３の出力端には、図示しない意匠枠及び遊技盤８に備えられる各種ＬＥＤ・ランプと、前面枠及びスピーカユニットに備えられるスピーカと、が接続されている。尚、サブ統合制御装置５３と主制御装置５０とは主制御装置５０からサブ統合制御装置５３への一方向通信回路として構成され、サブ統合制御装置５３と演出図柄制御装置とはサブ統合制御装置５３から演出図柄制御装置への一方向通信回路として構成されている。
【００４１】
サブ統合制御装置５３はＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等の電気部品を備えており、搭載するＲＯＭに記憶されたプログラムに従ってＣＰＵにて処理を実行し、入力される遊技スイッチの入力ならびに主制御装置５０から入力されるコマンドに基づいて演出に関わる各種コマンド等を生成し、演出図柄ユニットの演出図柄制御装置に出力する。
【００４２】
また、サブ統合制御装置５３には、音量を調節する音量調節スイッチが備えられ、音量調節スイッチの状態（位置）を検出し、その検出結果とスピーカへ送信する内容とを判断し、スピーカから出力する音量をソフト的に制御するように構成されている。
【００４３】
演出図柄制御装置は、サブ統合制御装置５３から受信したデータ及びコマンド（共に主制御装置５０から送信されてきたものとサブ統合制御装置５３が生成したものとがある）に基づいて演出図柄表示装置を制御して、演出図柄等の演出画像を窓部２８ａに表示させる。
【００４４】
また、サブ統合制御装置５３には、主制御装置５０から受信する左入球コマンドと、左２一般入賞口スイッチ３５ｃの遊技球検出信号に基づいて、左一般入賞口３５ａへの遊技球の入球状況を監視し、主制御装置５０から受信する右入球コマンドと、右２一般入賞口スイッチ３５ｅの遊技球検出信号に基づいて、右一般入賞口３５ａへの遊技球の入球状況を監視する構成を備えており、詳細については後述する。
【００４５】
次に、図３を用いて、主制御装置５０が実行するメインルーチンについて説明する。図３に示すフローチャートは、主制御装置５０のマイコンにより実行されるメイン処理を表したものであり、約２mＳ毎のハード割り込みにより定期的に実行される処理である。本実施形態では、Ｓ１０〜Ｓ７０までの各処理は割り込み処理において１回だけ実行される処理であって「本処理」と称し、この本処理を実行して余った時間内に時間の許す限り繰り返し実行されるＳ７５、Ｓ８０の処理を「残余処理」と称する。
【００４６】
マイコンによるハード割り込みが実行されると、まず正常割り込みであるか否かが判断される（Ｓ１０）。この判断処理は、メモリとしてのＲＡＭの所定領域の値が所定値であるか否かを判断することにより行われ、マイコンにより実行される処理が本処理に移行したとき、通常の処理を実行して良いのか否かを判断するためのものである。正常割り込みでない場合としては、電源投入時又はノイズ等によるマイコンの暴走等が考えられるが、マイコンの暴走は近年の技術の向上によりほとんど無いものと考えて良いので、たいていが電源投入時である。電源投入時にはＲＡＭの所定領域の値が所定値と異なる値となっている。
【００４７】
正常割り込みでないと判断されると（Ｓ１０：ｎｏ）、前記メモリの所定領域に所定値を書き込む特別図柄及び普通図柄を初期図柄とする等のメモリの作業領域への各初期値の書き込み、即ち初期設定が為され（Ｓ１３）、残余処理に移行する。
【００４８】
正常割り込みとの肯定判断がなされると（Ｓ１０：ｙｅｓ）、各種乱数についての更新処理が順次行なわれる。まず初期値乱数１の更新処理が実行される（Ｓ１５）。この処理は、初期値乱数１の値について、この処理を実行する毎に＋１するインクリメント処理であり、この処理実行前の初期値乱数１の値に＋１するが、この処理を実行する前の乱数値が最大値である「３９６６」のときには次回の処理で初期値である「０」に戻り、「０」〜「３９６６」までの３９６７個の整数を繰り返し昇順に作成する。
【００４９】
Ｓ１５の処理後には、初期値乱数２の更新処理が実行される（Ｓ２０）。この処理はＳ１５の処理と同様に初期値乱数２の値について、実行毎に＋１するインクリメント処理である。違いは、初期値乱数１の最大値が「３９６６」であるのに対して初期値乱数２の最大値が「９９７」であるということである。よって、この処理を実行する前の初期値乱数２の乱数値が最大値である「９９７」のときは次回の処理で初期値である「０」に戻る。尚、初期値乱数１は大当り判定（特別図柄の抽選）に使用するものであり、初期値乱数２は当り判定（普通図柄の抽選）に使用するものである。
【００５０】
Ｓ２０に続く大当り判定用乱数更新処理（Ｓ２５）は、初期値乱数１、初期値乱数２の更新処理と同様に処理を実行する毎に＋１するインクリメント処理であるが、最大値である「３９６６」に至ると次回の処理では、そのときの前記初期値乱数１の値を初期値（以下、「更新初期値」という。）とし、更に割り込み毎に＋１する処理を続行して更新初期値より「１」少ない値（以下、「更新最大値」という。）に至れば次回の処理では、更にそのときの初期値乱数１の値を初期値とし「０」〜「３９６６」までの３９６７個の整数値を繰り返し作成する。
【００５１】
即ち、割り込み処理毎に＋１し、乱数を構成する要素を「０」〜「３９６６」までの整数値とすることは前記初期値乱数１と何等変わることはないが、今回の更新最大値に至れば次回の割り込み処理ではそのときの更新初期値を初期値とし更新最大値に至るまで割り込み毎に＋１し、更に次回の更新初期値を初期値とする構成である。これにより、大当り判定用乱数は、乱数を構成する要素を「０」〜「３９６６」までの３９６７個の整数値とし、割り込み処理毎に＋１するが、更新最大値に至れば、次回の割り込み処理ではそのときの初期値乱数１により決定される値に変更されるので、当否乱数の値を予測不可能にすることができる。また、更新初期値と更新最大値とにより決定される乱数の構成要素は従来の当否乱数と同じ「０」〜「３９６６」の３９６７個の整数値と何等変わることがないので乱数を構成する要素の出現率を均一にしている。
【００５２】
尚、通常確率状態時の当選値の数は１０で、値は「７７５」〜「７７７」、「１７７５」〜「１７７７」、「２７７４」〜「２７７７」であり、高確率状態時の当選値の数は１００で、値は「７７５」〜「７７７」、「１３１４」〜「１３３３」、「１７５８」〜「１７７７」、「２７５８」〜「２７７７」、「３３１４」〜「３３３３」である。Ｓ２５に続く当り判定用乱数更新処理（Ｓ３０）は、初期値乱数１、初期値乱数２の更新処理と同様に処理を実行する毎に＋１するインクリメント処理であるが、最大値である「９９６」に至ると次回の処理では、そのときの前記初期値乱数２の値を初期値（以下、「更新初期値」という。）とし、更に割り込み毎に＋１する処理を続行して更新初期値より「１」少ない値（以下、「更新最大値」という。）に至れば次回の処理では、更にそのときの初期値乱数２の値を初期値とし「０」〜「９９６」までの９９７個の整数値を繰り返し作成する。
【００５３】
即ち、割り込み処理毎に＋１し、乱数を構成する要素を「０」〜「９９６」までの整数値とすることは前記初期値乱数２と何等変わることはないが、今回の更新最大値に至れば次回の割り込み処理ではそのときの更新初期値を初期値とし更新最大値に至るまで割り込み毎に＋１し、更に次回の更新初期値を初期値とする構成である。これにより、当り判定用乱数は、乱数を構成する要素を「０」〜「９９６」までの９９７個の整数値とし、割り込み処理毎に＋１するが、更新最大値に至れば、次回の割り込み処理ではそのときの初期値乱数１により決定される値に変更されるので、当否乱数の値を予測不可能にすることができる。また、更新初期値と更新最大値とにより決定される乱数の構成要素は従来の当否乱数と同じ「０」〜「９９６」の９９７個の整数値と何等変わることがないので乱数を構成する要素の出現率を均一にしている。尚、通常確率状態時の当選値の数は１０で、値は「３１」〜「４０」であり、高確率状態時の当選値の数は９６６で、値は「３１」〜「９９６」である。
【００５４】
大当り図柄決定用乱数更新処理（Ｓ３５）は「０」〜「１９」の２０個の整数を繰り返し作成するカウンタとして構成され、本処理毎に＋１され最大値を超えると初期値である「０」に戻る構成になっており、この２０個の乱数値により２０種類の大当り図柄より１つの大当り図柄が決定され、第１特別図柄、第２特別図柄共に同じ大当り図柄を使用する構成になっている。
【００５５】
第１始動口３１に入賞したことに起因して行われる大当り抽選（遊技者にとって有利な特別遊技状態を発生させるか否かを抽選する）で大当りと判断される確率と第２始動口３２に入賞したことに起因して行われる大当り抽選で大当りと判断される確率は、通常遊技状態では１／３９６.７、高確率遊技状態では１／  ３９．６７で同じであるが、大当りした際に行われる大当り遊技の内容が第１始動口３１に入球して大当りになった場合よりも第２始動口３２に入球して大当りになった場合のほうが、大当り遊技中に多く賞球が得られる大当りになる確率が高くなっている。なお、確変大当りになる確率は第１始動口３１に入球して抽選が行われた場合と第２始動口３２に入球して抽選が行われた場合とで変化はない（同じ確率である）。
【００５６】
小当り図柄決定用乱数更新処理（Ｓ４０）は「０」〜「９」の１０個の整数を繰り返し作成するカウンタとして構成され、本処理毎に＋１されて最大値を超えると初期値である「０」に戻る。小当りを示す図柄は２種類であり、小当り図柄決定用乱数によって、どちらの小当りを示す図柄を選択するか決定する。尚、小当りを示す図柄は、第１特別図柄、第２特別図柄とも同じになっている。また、ハズレを示す特別図柄も第１特別図柄、第２特別図柄で同じになっており、ハズレを示す図柄は「−−」の１種類になっているので外れ図柄を決定するための乱数は備えていない。また、普通図柄の当り図柄もハズレ図柄も共に１種類しか存在しないので当り図柄又はハズレ図柄を決定するための乱数は備えていない。
【００５７】
リーチ判定用乱数更新処理（Ｓ４５）は「０」〜「２２８」の２２９個の整数を繰り返し作成するカウンタとして構成され、本処理毎で＋１され最大値を超えると初期値である「０」に戻る。なお、通常確率状態時で変動時間短縮機能未作動時に当選する値の数は２１個で、値は「０」〜「２０」であり、通常確率状態時で変動時間短縮機能作動時に当選する値の数は５個で、値は「０」〜「４」であり、高確率状態時に当選する値の数は６個で、値は「０」〜「５」である。
【００５８】
変動パターン決定用乱数の更新処理（Ｓ５０）は、「０」〜「１０２０」の１０２１個の整数を繰り返し作成するカウンタとして構成され、本処理毎で＋１され最大値を超えると初期値である「０」に戻る。尚、大当り判定用乱数、大当り図柄決定用乱数、小当り図柄決定用乱数、リーチ判定用乱数、変動パターン決定用乱数は第１始動口３１又は第２始動口３２に遊技球が入賞（第１始動口スイッチ３１ａ又は第２始動スイッチ３２ａが遊技球を検出し入賞と判定）することで抽出され、当り判定用乱数は普通図柄作動ゲート４２を遊技球が通過（普通図柄作動スイッチ４２ａが遊技球を検出し入賞と判定）することで抽出される。
【００５９】
続く入賞確認処理（Ｓ５５）では、遊技領域２６に設けられた各入賞口へ遊技球が正規に入球したか否か及び普通図柄作動ゲート４２を遊技球が正規に通過したか否かを判定する処理である。判定内容の詳細は後述するが、この入賞確認処理において遊技球の正規入賞と判定されることによって、各入賞口への入賞に基づく賞球の払出し（払出制御装置５１への賞球コマンド送信）、等が実施される。
【００６０】
続いては、大当りか否かを判定する条件成立判定手段としての特図当否判定処理（Ｓ６０）、普通図柄抽選が当りか否かを判定する普図当否判定処理（Ｓ６５）行う。この特図当否判定処理（Ｓ６０）、普図当否判定処理（Ｓ６５）が終了すると、画像出力処理等の各出力処理（Ｓ７０）が実行される。
【００６１】
各出力処理（Ｓ７０）では、遊技の進行に応じて演出図柄制御装置５４ａ、払出制御装置５１、発射制御装置、サブ統合制御装置５３、大入賞口ソレノイド、普電役物ソレノイド等に対して各々出力処理を実行する。即ち、入賞確認処理（Ｓ５５）により遊技盤８に設けた各入賞口へ遊技球が入賞したことが確認されたときには、賞球としての遊技球を払い出すべく払出制御装置５１に賞球データ（賞球コマンド）を出力する処理を、遊技機に異常があるときにはエラー中であることを報知すべく演出図柄制御装置５４ａ及びホールコンピュータ等にエラー信号を出力する処理を各々実行する。
【００６２】
本処理に続く前述の残余処理は、初期値乱数１の更新処理（Ｓ７５）、初期値乱数２の更新処理（Ｓ８０）から構成されるが、各々前述したＳ１５、Ｓ２０の処理と全く同じ処理である。この処理は無限ループを形成し、次の割り込みが実行されるまで、時間の許される限り繰り返し実行される。前述したＳ１０〜Ｓ７０までの本処理を実行するのに必要とされる時間は、大当り処理を実行（特別遊技の実行）するか否か、特別図柄（第１又は第２）の表示態様の相違等により割り込み毎に異なる。この結果、残余処理を実行する回数も割り込み毎に異なり、割り込み処理が１回実行されることにより初期値乱数１、初期値乱数２の更新される（加算される）値も一律ではなくなる。これにより、初期値乱数１が大当り判定用乱数と、初期値乱数２が当り判定用乱数と同期する可能性はなくなる。尚、本実施形態においては、大当り判定用乱数の更新は初期値乱数１の値により変更され、当り判定用乱数は初期値乱数２の値により変更される構成なので同期の虞は全くない。
【００６３】
次に、図４に示した左一般入賞口３５ａの断面図を用いて、本発明の、「入球口に入球した遊技球を遊技盤裏面側へと取り込む球通路と、該球通路に設けられる第１球検出スイッチと、該第１球検出スイッチの上流側又は下流側のいずれかに設けられた第２球検出スイッチと」の構成を説明する。なお、本実施例においては、右一般入賞口３５ａと右１一般入賞口スイッチ３５ｄと右２一般入賞口３５ｅの構成も本発明の構成に該当するが、左一般入賞口３５ａと同一の構成であるため説明は割愛する。
【００６４】
図４（１）に示す左一般入賞口３５ａ（本発明の入球口に該当）の断面図では、図の左側が遊技盤の表面側となり、右側が裏面側となっている。本実施例では、遊技領域に設けられた左一般入賞口３５ａに遊技球が入球すると、球通路を流下して遊技盤裏面側に誘導された後、主制御装置５０に接続された左１一般入賞口スイッチ３５ｂ（以下左１スイッチ３５ｂ）の通過孔を通過し、次にサブ統合制御装置５３に接続された左２一般入賞口スイッチ３５ｃ（以下左２スイッチ３５ｃ）の通過孔を通過する構成となっている。なお、それぞれの通過孔を遊技盤の表面側に配置する構成や、左１スイッチ３５ｂの通過孔を遊技盤の表面側に配置し、左２スイッチ３５ｃの通過孔を遊技盤裏面側に配置する構成も考えられる。
【００６５】
図４（２）は、左１スイッチ３５ｂを上側に配置し、左２スイッチ３５ｃを下側に配置する構成において、好適なスイッチの配置位置を示した図である。遊技球Ａの位置は、図の左１スイッチ３５ｂによる検出可能範囲の上端位置を示している。また遊技球Ｂの位置は、図の左１スイッチ３５ｂによる検出可能範囲の下端位置を示し、遊技球Ｃの位置は図の左２スイッチ３５ｃによる検出可能範囲の上端位置を示している。
【００６６】
図に示すスイッチ同士の相互干渉を防止するのに必要な距離（２０．０）は、二つの検出スイッチを最も接近して配置した場合となり、この配置が遊技盤裏面又は遊技盤表面における二つの検出スイッチの配置スペースを最も少なくする配置構成となり、限られた遊技盤面及び遊技盤裏面のスペースを効率よく使用することができる。また、上記した検出可能範囲とは、遊技球を上から下へと流下させたときに、遊技球を必ず検出する範囲の上限位置（Ａ）から検出距離だけ下方へと移動させた位置（Ｂ）までの範囲を意味する。
【００６７】
本実施例では、ＡＢ間の１３．４ｍの検出可能範囲を遊技球が流下する時間は、概ね１０〜１４ｍｓで平均１２ｍｓとなり、ＡＣ間２０．１ｍの区間を遊技球が流下する時間（左１スイッチ３５ｂが遊技球の検出を開始してから左２スイッチ３５ｃが該遊技球の検出を開始するまでの時間差）は、概ね１５〜２１ｍｓで平均１８ｍｓとなる。
【００６８】
次に、図５のタイミングチャートを用いて、左一般入賞口３５ａに遊技球が入球した場合に、主制御装置５０が実施する左１スイッチ３５ｂの入球判定タイミング（左１入球フラグ設定タイミング）を説明する。
【００６９】
（１）は、上流側に配置され主制御装置５０に接続された左１スイッチ３５ｂ（ＮＣ）が遊技球を検出した場合に、入球判定の結果として左１入球フラグ（本発明の第１入球フラグに該当）を設定するタイミングを示したタイミングチャートである。なお、ＮＣタイプのスイッチ信号の態様は、検出スイッチから主制御装置５０には反転して入力されるため、主制御装置５０が受信する信号内容は遊技球検出状態ではＨｉ（１）、非検出状態ではＬｏｗ（０）（ＮＯタイプと同一）となる。
【００７０】
上流側に配置されたＮＣタイプの近接スイッチである左１スイッチ３５ｂ（ＮＣ）が、遊技球の非検出状態Ｈｉ（１）で遊技球を検出し、ＳＷ信号が検出状態Ｌｏｗ（０）に変化すると、主制御装置５０の定時割込処理の間隔が２ｍｓであるため、ＳＷ信号の変化から２ｍｓ以内に検出状態への変化を検知する。主制御装置５０が実行する左１スイッチ３５ｂの入球判定では、「定時割込処理でスイッチ信号が非検出状態Ｈｉ（１）から検出状態Ｌｏｗ（０）に変化したことを検知し、更に３回連続した定時割込処理においてＳＷ信号が検出状態Ｌｏｗ（０）を維持」したことを検知した時点で、遊技球が入球したと判断し左１入球フラグを設定する。従って「」内の内容が本発明の所定条件１に該当する。
【００７１】
次に、下の図を用いて、上記した左１スイッチ３５ｂの入球判定を実行するために主制御装置５０が備えるスイッチデータバッファの構成と、入球判定を行うスイッチデータパターン（スイッチデータ検出パターン）を説明する。スイッチデータバッファは、主制御装置５０が定時割込処理を実施する毎に検知する入賞口に配置された近接スイッチの非検出状態「０」又は検出状態「１」を、所定期間記憶する一時記憶領域となる。
【００７２】
具体的には、スイッチデータバッファは８ｂｉｔの記憶領域で構成され、定時割込処理毎に以前に記憶したスイッチデータを上位にシフトしながら下位から新しいデータを書込み更新する構成となっている。但し、上位からデータを書き込む構成も考えられる。また、新しいデータを書き込む際のシフト処理によって記憶領域から消失するデータを所定期間記憶する記憶領域又はカウンタを設ける構成も考えられるし、スイッチデータバッファを１６ｂｉtとする構成も考えられる。
【００７３】
左１スイッチ３５ｂのスイッチデータバッファでは、（１）（ａ）の太枠に示すように、下位５ｂｉｔが非検出状態「０」から検出状態「１」に変化した後に検出状態「１」を３回維持した状態を示すスイッチデータ検出パターン「０１１１１」となった場合に入球と判定し、左１入球フラグを設定する入球処理と共に、左一般入賞口３５ａにおける図３Ｓ５５で説明した入賞確認処理を実施する構成となっている。
【００７４】
次に、本実施例において主制御装置５０が実行する左１スイッチ入球判定処理１を、図６のフローチャートを用いて説明する。この左１スイッチ入球判定処理１は、本発明の第１入球フラグ設定手段に該当すると共に、第１入球フラグが設定されることを条件に、サブ制御装置へと第１入球コマンドを出力する出力手段を含む処理となる。
【００７５】
左１スイッチ入球判定処理１を開始すると、定時割込処理で検知した左１スイッチ３５ｂのスイッチ信号が「１」か否か判定する（Ｓ１００）。肯定判定なら（Ｓ１００：ｙｅｓ）、スイッチデータバッファのシフト処理として、最も古い記憶内容を消去すると共に残りの記憶内容の記憶位置を１ｂｉｔ繰上げ（Ｓ１０５）、シフト処理によって空いた下位１ｂｉｔ目に「１」を書き込む（Ｓ１１０）。次に、Ｓ１０５とＳ１１０の処理によって更新された下位５ｂｉｔのスイッチデータパターンが、左１スイッチ３５ｂの入球処理を実施するパターンとしてデータテーブルに記憶された「０１１１１」と一致するか否か判定する（Ｓ１１５）。否定判定なら（Ｓ１１５:ｎｏ）リターンし、肯定判定なら（Ｓ１１５：ｙｅｓ）、入賞処理として、入賞確認バッファの該当するｂｉｔ位置に「１」を書き込む入力エッジ処理を行い（Ｓ１２０）、入球処理として左１入球フラグに１を設定し（Ｓ１２５）、サブ統合制御装置５３に（左）入球コマンドを送信し（S１３０）リターンする。尚、S１３０が本発明の出力手段に該当する。
【００７６】
Ｓ１００が否定判定なら（Ｓ１００：ｎｏ）、Ｓ１０５と同様のスイッチバッファのシフト処理として、最も古い記憶内容を消去すると共に残りの記憶内容の記憶位置を１ｂｉｔ繰上げ（Ｓ１３５）、シフト処理によって空いた下位１ｂｉｔ目に「０」を書き込み（Ｓ１４０）リターンする。
【００７７】
次に、図７のタイミングチャートを用いて、左一般入賞口３５ａに遊技球が入球した場合に、サブ統合制御装置５３が実施する左２スイッチ３５ｃの入球判定タイミング（左２入球フラグ設定タイミング）を説明する。
【００７８】
（１）は、下流側に配置されサブ統合制御装置５３に接続された左２スイッチ３５ｃ（ＮＣ）が遊技球を検出した場合に、入球判定の結果として左２入球フラグ（本発明の第２入球フラグに該当）を設定するタイミングを示したタイミングチャートである。
【００７９】
下流側に配置されたＮＣタイプの近接スイッチである左２スイッチ３５ｃ（ＮＣ）が、遊技球の非検出状態Ｈｉ（１）で遊技球を検出し、ＳＷ信号が検出状態Ｌｏｗ（０）に変化すると、サブ統合制御装置５３の定時割込処理の間隔も２ｍｓであるため、ＳＷ信号の変化から２ｍｓ以内に検出状態への変化を検知する。サブ統合制御装置５３が実行する左２スイッチ３５ｃの入球判定では、「定時割込処理でスイッチ信号が非検出状態Ｈｉ（１）から検出状態Ｌｏｗ（０）に変化したことを検知し、更に次の定時割込処理においてＳＷ信号が検出状態Ｌｏｗ（０）を維持」したことを検知した時点で、遊技球が入球したと判断し左２入球フラグを設定する。従って「」内の内容が本発明の所定条件２に該当し、所定条件１と所定条件２とでは異なる内容（検出状態の維持回数が３回と1回）となっている。
【００８０】
次に、下の図を用いて、上記した左２スイッチ３５ｃの入球判定を実行するためにサブ統合制御装置５３が備えるスイッチデータバッファの構成と、入球判定を行うスイッチデータパターン（スイッチデータ検出パターン）を説明する。左２スイッチ３５ｃ用のスイッチデータバッファは、サブ統合制御装置５３が定時割込処理を実施する毎に検知する左２スイッチ３５ｃの非検出状態「０」又は検出状態「１」を、所定期間記憶する一時記憶領域となる。
【００８１】
具体的には、サブ統合制御装置５３が備えるスイッチデータバッファも８ｂｉｔの記憶領域で構成され、定時割込処理毎に以前に記憶したスイッチデータを上位にシフトしながら下位から新しいデータを書込み更新する構成となっている。但し、上位からデータを書き込む構成も考えられる。また、新しいデータを書き込む際のシフト処理によって記憶領域から消失するデータを所定期間記憶する記憶領域又はカウンタを設ける構成も考えられるし、スイッチデータバッファを１６ｂｉtとする構成も考えられる。
【００８２】
左２スイッチ３５ｃのスイッチデータバッファでは、（１）（ａ）の太枠に示すように、下位３ｂｉｔが非検出状態「０」から検出状態「１」に変化した後に検出状態「１」を１回維持した状態を示すスイッチデータ検出パターン「０１１」となった場合に入球と判定し、左２入球フラグを設定する入球処理を実施する構成となっている。
【００８３】
次に、本実施例においてサブ統合制御装置５３が実行する左２スイッチ入球判定処理１を、図８のフローチャートを用いて説明する。この左２スイッチ入球判定処理１は、本発明の第２入球フラグ設定手段に該当する処理となる。
【００８４】
左２スイッチ入球判定処理１を開始すると、サブ統合制御装置５３の定時割込処理で検知した左２スイッチ３５ｃのスイッチ信号が「１」か否か判定する（Ｓ１５０）。肯定判定なら（Ｓ１５０：ｙｅｓ）、スイッチデータバッファのシフト処理として、最も古い記憶内容を消去すると共に残りの記憶内容の記憶位置を１ｂｉｔ繰上げ（Ｓ１５５）、シフト処理によって空いた下位１ｂｉｔ目に「１」を書き込む（Ｓ１６０）。次に、Ｓ１５５とＳ１６０の処理によって更新された下位３ｂｉｔのスイッチデータパターンが、左２スイッチ３５ｃの入球処理を実施するパターンとしてサブ統合制御装置５３が備えるデータテーブルに記憶された「０１１」と一致するか否か判定する（Ｓ１６５）。否定判定なら（Ｓ１６５:ｎｏ）リターンし、肯定判定なら（Ｓ１６５：ｙｅｓ）、入球処理として左２入球フラグに１を設定し（Ｓ１７０）、リターンする。
【００８５】
Ｓ１５０が否定判定なら（Ｓ１５０：ｎｏ）、Ｓ１５５と同様のスイッチバッファのシフト処理として、最も古い記憶内容を消去すると共に残りの記憶内容の記憶位置を１ｂｉｔ繰上げ（Ｓ１７５）、シフト処理によって空いた下位１ｂｉｔ目に「０」を書き込み（Ｓ１８０）リターンする。
【００８６】
次に、本実施例においてサブ統合制御装置５３が実行する、主制御装置５０からの入球コマンドの受信と左２入球フラグの設定を基に遊技球の入球状況を監視する入球判定処理１を、図９のフローチャートを用いて説明する。この入球判定処理１は本発明の異常入球判定手段に該当する処理となる。
【００８７】
入球判定処理１を開始すると、タイマフラグが０か否か判定する（Ｓ２００）。タイマフラグは、サブ統合制御装置５３が記憶する値であり、値が「０」のときは、主制御装置５０から（左）入球コマンドを受信する毎にカウントを開始するタイマが未作動であることを、値が「１」のときは、該タイマが作動中であることをサブ統合制御装置５３が判断するための値である。
【００８８】
Ｓ２００が肯定判定なら（２００:ｙｅｓ）、（左）入球コマンドを受信したか否か、即ち主制御装置５０において左１入球フラグが設定されたか否か判定する（Ｓ２０５）。肯定判定なら（Ｓ２０５:ｙｅｓ）、タイマフラグに１をセットし（Ｓ２１０）、タイマ設定処理によってカウンタの初期値をセットし定時割込処理毎にデクリメントを行うように作動させ（Ｓ２１５）、（左）入球コマンドの受信回数に応じたカウンタに＋１するインクリメント処理を行って（Ｓ２２０）リターンする。Ｓ２０５が否定判定なら（Ｓ２０５：ｎｏ）、左２入球フラグが０か否か判定する（Ｓ２２５）。
【００８９】
Ｓ２２５が肯定判定なら（Ｓ２２５:ｙｅｓ）、正常な状態としてリターンするが、否定判定なら（Ｓ２２５：ｎｏ）、即ち上流に配置された左１スイッチ３５ｂへの入球判定示す（左）入球コマンドを受信していないにも拘らず、下流に配置された左２スイッチ３５ｃへの入球判定示す左２入球フラグが設定された状況は、遊技球の入球時に両方の検出スイッチに電波が照射され、入球判定条件が甘い（入球判定を行う検出状態維持回数が少ない）左２スイッチ３５ｃのみが入球判定を実施した状況であると判断できるため、電波ゴトを報知するエラー１報知を実施する（Ｓ２３０）。尚、電波ゴトの実施状況については図１０のタイミングチャートを用いて後述する。
【００９０】
エラー１報知が実施されると、演出図柄表示装置５４ｂにエラー１を報知する態様を表示すると共に、各種ランプ・ＬＥＤでエラー１態様の点滅を繰り返し、スピーカからはエラー１を示す効果音を出力する。エラー１報知状態は、ホールスタッフが遊技機裏面に配置されたエラー解除スイッチ７６を操作することで終了する。エラー１が解除されると、入球判定に係る各計数値、各タイマ、各カウントがクリアされた状態（初期状態）となる。なお、エラー１状態は報知の開始から所定時間（例えば３０秒）経過した時点で終了する構成としてもよい。
【００９１】
Ｓ２００が否定判定なら、即ち（左）入球コマンドの受信に応じてタイマが作動中であれば（Ｓ２００：ｎｏ）、定時割込処理ごとにカウントするタイマから−１するデクリメント処理を行い（Ｓ２３５）、更に（左）入球コマンドを受信したか否か判定する（Ｓ２４０）。肯定判定なら（Ｓ２４０:ｙｅｓ）、（左）入球コマンドの受信数に応じたカウンタに＋１するインクリメント処理を行って（Ｓ２４５）、カウンタの値が所定値（本実施例では３）よりも大きいか否か判定し（Ｓ２５０）、否定判定なら（Ｓ２５０:ｎｏ）、Ｓ２６０に進む。肯定判定なら、即ち左１スイッチ３５ｂと左２スイッチ３５ｃとの二つの検出スイッチ間に、物理的に存在が不可能な数の遊技球が存在する状況であれば（Ｓ２５０:ｙｅｓ）、二つの検出スイッチ間で玉詰まりが発生し、上流側の左１スイッチ３５ｂにおいてチャタリングが起きている可能性が高いため、エラー２報知を実施する（Ｓ２５５）。
【００９２】
エラー２報知が実施されると、エラー１報知時と同様に、演出図柄表示装置５４ｂにエラー２を報知する態様を表示すると共に、各種ランプ・ＬＥＤでエラー２態様の点滅を繰り返し、スピーカからはエラー２を示す効果音を出力する。エラー２報知状態は、ホールスタッフが玉詰まりを解除した状態で遊技機裏面に配置されたエラー解除スイッチ７６を操作することで終了する。エラー２が解除されると、入球判定に係る各計数値、各タイマ、各カウントがクリアされた状態（初期状態）となる。なお、エラー２状態は報知の開始から所定時間（例えば３０秒）経過した時点で終了する構成としてもよい。
【００９３】
Ｓ２４０又はＳ２５０が否定判定なら（Ｓ２４０:ｎｏ、Ｓ２５０:ｎｏ）、左２入球フラグが１か否か判定する（Ｓ２６０）。肯定判定なら（Ｓ２６０:ｙｅｓ）、カウンタから−１するデクリメント処理を行い（Ｓ２６５）、カウンタが０か否か、即ち上流側の左１スイッチ３５ｂで検出された遊技球が下流側の左２スイッチ３５ｃで全て検出されたか否か判定する（Ｓ２７０）。肯定判定なら（Ｓ２７０:ｙｅｓ）、左１スイッチ３５ｂで検出された全ての遊技球が左２スイッチ３５ｃで正常に検出された状態であるためタイマをクリアし（Ｓ２７５）、タイマフラグに０を設定して（Ｓ２８０）、リターンする。
【００９４】
Ｓ２６０が否定判定、又はＳ２７０が否定判定なら（Ｓ２６０：ｎｏ、Ｓ２７０:ｎｏ）、タイマのカウンタ値が０か否か判定する（Ｓ２８５）。否定判定なら（Ｓ２８５:ｎｏ）リターンし、肯定判定なら、即ち（左）入球コマンドを受信してから所定時間（本実施例では１００ｍｓ）を経過しても左２入球フラグが設定されない状態であれば（Ｓ２８５ｙｅｓ）、左１スイッチ３５ｂと左２スイッチ３５ｃ間で球詰まりは発生している可能性が高いと判断できるため、エラー２報知を実施する（Ｓ２９０）。
【００９５】
次に、左１スイッチ３５ｂと左２スイッチ３５ｃに電波が照射された場合の各入球フラグの設定タイミングと電波ゴトの判定タイミングの具体例について、図１０、１１を用いて説明する。図１０は、左一般入賞口３５ａへの遊技球入球時に、左１スイッチ３５ｂと左２スイッチ３５ｃに４ｍｓ周期の電波が照射された場合のタイミングチャートとなる。
【００９６】
左１スイッチ３５ｂと左２スイッチ３５ｃで使用するＮＣタイプの近接スイッチでは、遊技球の検出状態Ｌｏｗ（０）の期間のみ、照射された電波の影響を受けＳＷ信号が変化する。具体的には、本来ならば１２ｍｓの遊技球検出期間はＬｏｗ（０）状態を維持し、主制御装置５０が実行する定時割込処理ではスイッチ信号として反転した信号「１」を６回連続して検知するが、この期間において図に示すように４ｍｓ毎にＬｏｗとＨｉを繰り返す電波が照射されると、電波の周期に合わせ４ｍｓ毎にＬｏｗ状態の信号が持ち上げられてしまい、信号が持ち上げられた期間の定時割込処理では、ＳＷ信号として「１」を読込んでしまう。
【００９７】
本実施例の構成では、上流側に配置された左１スイッチ３５ｂと下流側に配置された左２スイッチ３５ｃとが上流から順に遊技球を検出する際（左１スイッチ３５ｂが遊技球の検出を開始してから１８ｍｓ後に左２スイッチ３５ｃが同一遊技球を検出開始）に、４ｍｓ周期の電波を照射された場合、主制御装置５０が定時割込処理によって検知する偽左１スイッチ３５ｂ信号は、実際の遊技球の入球に応じて遊技球の非検出状態「０」から検出状態「１」に変化するが、４ｍｓの電波周期にあわせて次回の定時割込処理時まで検出状態「１」を維持し、次の定時割込処理時に非検出状態「０」に変化する。そして非検出状態「０」を１回維持した後検出状態「１」に変化し、検出状態「１」を１回維持した後非検出状態に変化して左１スイッチ３５ｂの遊技球検出期間が終了する。
【００９８】
左１スイッチ３５ｂからのＳＷ信号を基に主制御装置５０が入球判定（左１入球フラグの設定）を実施するのは、図５を用いて説明したようにスイッチデータバッファにおいて「０１１１１」のスイッチデータパターンを検知した場合に限る。従って、４ｍｓ周期の電波を照射された場合では、検出状態「１」を４回連続して検出させることが不可能（最低でも８ｍは検出状態を維持しなければならない）であるとともに、左１スイッチ３５ｂが実際に遊技球を検出した状態であっても、入球判定は実施せず、左１入球フラグが設定されないため、サブ統合制御装置５３に（左）入球コマンドの送信は行われない。また、入賞確認処理も行われないため賞球の払出も行われない。
【００９９】
これは、実際に遊技球が入球した場合でも、該入球に合わせて電波（入球判定に必要な時間に満たない電波周期の電波）が照射されると、該入球に応じた入球判定（入球フラグの設定）が実施されない構成であり、電波ゴトを実行することによって不利益を被る構成とも言える。
【０１００】
続いて、左２スイッチ３５ｃでは、左１スイッチ３５ｂの検出状態終了から６ｍｓ後（３回の定時割込処理終了後）に同一遊技球の検出を開始する。この場合は、スイッチ信号が検出状態「１」（検出状態時Ｌｏｗ（０））となる１２ｍｓの期間に継続して照射される４ｍｓ周期の電波の影響で、図７で説明したサブ統合制御装置５３が入球判定（左２入球フラグの設定）を実施するスイッチデータパターン「０１１」を、少なくとも１回（２回の場合も有る）は検知することによって、左２入球フラグが設定される。
【０１０１】
上述した内容により、実際の遊技球検出時に４ｍｓ周期の電波を照射された場合、主制御装置５０は左１スイッチ３５ｂからの偽ＳＷ信号に基づいて左１入球フラグを設定することはないが、サブ統合制御装置５３は、左２スイッチ３５ｃからの偽ＳＷ信号に基づいて左２入球フラグを最低１回は設定する。従って、上流側に配置した左１スイッチ３５ｂへの入球を示す入球コマンドが受信されていない状況で、下流側に配置した左２スイッチ３５ｃへの入球を示す左２入球フラグが設定されることにより、電波ゴトが実行された可能性が高いと判断し、左２入球フラグが設定された時点時（Ａ）でエラー1報知が実行される。このエラー１報知の実行は、図９の入球判定処理１においてＳ２２５の否定判定から実行されるＳ２３０に該当する。
【０１０２】
次に、８ｍｓ周期の電波を照射した場合を図８のタイミングチャートを用いて説明する。なお、左１スイッチ３５ｂと左２スイッチ３５ｃが遊技球を検出するタイミングは、図１０の場合と同一となっている。
【０１０３】
左１スイッチ３５ｂと左２スイッチ３５ｃの遊技球検出時に図のようなタイミングで電波が照射されると、８ｍｓ周期の電波のＬｏｗ（０）状態が実際の遊技球の検出状態「１」の期間と重なった場合、左１スイッチ３５ｂの入球判定では「０１１１１」のスイッチデータパターンが１回検知され、左２スイッチ３５ｃの入球判定でも「０１１」のスイッチデータパターンが１回検知される。従って、左１入球フラグと左２入球フラグとが１回ずつ設定され、正常に１個の遊技球が入球した場合と何ら変わりのない状況となり、結果的に電波ゴトの影響は受けない構成となる。
【０１０４】
以上が実施例１の説明となる。実施例１では、監視対象となる二つの検出スイッチ（左１スイッチ３５ｂ、左２スイッチ３５ｃ）が、どちらもノーマルクローズタイプの近接スイッチとしたため、電波ゴトの影響を受けるタイミングは遊技球検出時に限られ、電波の影響を受けにくい構成となっているが、その場合においても、上流側に配置された検出スイッチの入球判定条件（左１入球フラグ設定条件）と下流側に配置された検出スイッチの入球判定条件（左２入球フラグ設定条件）とを異なる内容にすることで、電波ゴトの実行を適切に判断することが可能となっている。
【０１０５】
また、本実施例では、上流側に配置し主制御装置５０に接続した左１スイッチ３５ｂの入球判定用のスイッチデータパターンを、下流側に配置した左２スイッチ３５ｃのスイッチデータパターンよりも長いｂｉｔ数としたが、逆の構成も考えられる。例えば、左１スイッチ３５ｂの入球判定用のスイッチデータパターンを「０１１」とした場合、遊技球の入球時に電波が照射されると左１入球フラグが設定されるため、少なくとも遊技球の入球に応じた賞球の払出は実施される。また、この場合、左２スイッチ３５ｃのスイッチデータパターンが「０１１１１」に設定されるため、遊技球が入球しても左２入球フラグが設定されない。これにより、下流側の左２スイッチ３５ｃの入球判定条件を厳しくした場合、図９で説明した入球判定処理１は、Ｓ２８５が肯定判定の時にエラー１報知を実施する構成となる。
【実施例２】
【０１０６】
次に実施例２について説明する。本実施例に於いて電気的接続は実施例１と共通であり、遊技機を構成する部品は、サブ統合制御装置５３に接続された左２スイッチ３５ｃ（右２スイッチ３５ｅ）の近接スイッチがノーマルオープン（ＮＯ）タイプに変更となる意外は実施例１と共通である。従って、重複する部分は実施例１を援用して説明を進める。
【０１０７】
実施例１は、監視対象となる左１スイッチ３５ｂと左２スイッチ３５ｃをどちらもノーマルクローズ（ＮＣ）タイプとしたが、本実施例は、下流側に配置する左２スイッチ３５ｃをノーマルオープン（ＮＯ）タイプとした構成となっている。
【０１０８】
実施例１で説明した図１、２、３、４、５、６、８、９は共通内容であるため説明は援用とし、監視対象の入球検出スイッチとしてサブ統合制御装置５３に接続され下流側に配置された左２スイッチ３５ｃの入球判定タイミング（左２入球フラグ設定タイミング）から説明する。
【０１０９】
図１２は、本実施例において、下流側に配置されサブ統合制御装置５３に接続された左２スイッチ３５ｃ（ＮＯ）が遊技球を検出した場合に、入球判定の結果として左２入球フラグ（本発明の第２入球フラグに該当）を設定するタイミングを示したタイミングチャートである。上記したように本実施例では左２スイッチ３５ｃはＮＯタイプであるため、遊技球の非検出時に検出状態がＬｏｗ（０）、検出時に検出状態がＨｉ（１）となり、ＳＷ信号も同一内容が出力される。このことから、ＮＯタイプは、遊技球の非検出状態Ｌｏｗ（０）において電波の周波数に合わせてＳＷ信号が検出状態Ｈｉ（１）に持ち上げられてしまう構成となる。
【０１１０】
下流側に配置されたＮＯタイプの左２スイッチ３５ｃが、遊技球の非検出状態Ｌｏｗ（０）で遊技球を検出し、ＳＷ信号が検出状態Ｈｉ（１）に変化すると、サブ統合制御装置５３の定時割込処理の間隔が２ｍｓであるため、ＳＷ信号の変化から２ｍｓ以内に検出状態への変化を検知する。サブ統合制御装置５３が実行する左２スイッチ３５ｃの入球判定では、定時割込処理でスイッチ信号が非検出状態Ｌｏｗ（０）から検出状態Ｈｉ（１）に変化したことを検知し、更に次の定時割込処理においてＳＷ信号が検出状態Ｈｉ（１）を維持したことを検知した時点で、遊技球が入球したと判断し左２入球フラグを設定する。従って、ＳＷ信号が変化してから（立ち上ってから）入球フラグが設定されるまでの条件は、実施例１で下流側に配置された左２スイッチ３５ｃと同一内容となる。
【０１１１】
従って、左１スイッチ３５ｂと左２スイッチ３５ｃとの遊技球の入球判定を比べた場合、左１スイッチ３５ｂの方がＳＷ信号の変化を検知してから入球判定を実施するまでに多くの定時割込処理の実行が必要となり、これは、左２スイッチ３５ｃよりも長時間検出状態を確認して入球判定を実施する構成を示している。
【０１１２】
なお、本実施例でも、上流側に配置されたＮＣタイプの左１スイッチ３５ｂの左１入球フラグ設定時（入球判定時）に入賞確認処理（Ｓ５５）が実施される。これにより、賞球等の遊技進行に係る処理は、電波ゴトに対してより安全性の高いＮＣタイプのスイッチからのＳＷ信号を基にして実行され、尚且つ該ＳＷ信号による入球判定を、より厳しい条件に設定した構成となっている。また、本実施例においても、各スイッチが出力するＳＷ信号の検出に応じて、第１入球フラグと第２入球フラグが同一数成立すれば正常な遊技球の正常な入球と判定する。
【０１１３】
実施例２においてサブ統合制御装置５３が実行する左２スイッチ入球判定処理２と、入球判定処理２は、実施例１と共通内容であるため援用とし、次に、図１３、図１４のタイミングチャートを用いて、左１スイッチ３５ｂと左２スイッチ３５ｃに電波が照射された場合の各入球フラグの設定タイミングと電波ゴトの判定タイミングについて説明する。図１３は、左一般入賞口３５ａへの遊技球入球時に左１スイッチ３５ｂと左２スイッチ３５ｃに４ｍｓ周期の電波が照射された場合のタイミングチャートとなる。
【０１１４】
本実施例の構成でも、上流側に配置された左１スイッチ３５ｂ（ＮＣ）と下流側に配置された左２スイッチ３５ｃ（ＮＯ）が、上流側から順に遊技球を検出する際に、４ｍｓ周期の電波を照射された場合（左１スイッチ３５ｂが遊技球の検出を開始してから１８ｍｓ後に左２スイッチ３５ｃが同一遊技球を検出）、主制御装置５０が定時割込処理によって検知する偽左１スイッチ３５ｂの出力信号は、実際の遊技球の入球に応じて遊技球の非検出状態「０」から検出状態「１」に変化するが、実際に検出状態となる１２ｍｓの期間では、照射された電波の影響で４ｍｓ毎に変化してしまう。但し、４ｍｓの電波では入球判定を行う「０１１１１」のデータパターンを維持するまでには至らないため、左１入球フラグは設定されない（実施例１と同様の構成）。
【０１１５】
下流側に配置された左２スイッチ３５ｃでは、実際に遊技球を検出する以前から、電波の照射によってＬｏｗ（０）状態のＳＷ信号が４ｍｓ周期で変化し、サブ統合制御装置５３が定時割込処理によって「０１１」のデータパターンを検知する。
【０１１６】
従って、本実施例の構成の場合、上流側に配置した左１ＳＷ３５ｂへの入球を示す左１入球フラグが設定されていないにもかかわらず、下流側に配置した左２ＳＷ３５ｃへの入球を示す左２入球フラグが設定された時点（Ｂ）で、電波ゴトが実行された可能性が高いと判断しエラー1報知が実行される。このエラー１報知の実行も、図９の入球判定処理１においてＳ２２５の否定判定から実行されるＳ２３０に該当する。
【０１１７】
次に、８ｍｓ周期の電波を照射した場合を図１４のタイミングチャートを用いて説明する。なお、左１スイッチ３５ｂと左２スイッチ３５ｃが遊技球を検出するタイミングは、図１３の場合と同一となっている。
【０１１８】
左１スイッチ３５ｂと左２スイッチ３５ｃの遊技球検出時に図のようなタイミングで電波が照射されると、上流側の左１スイッチ３５ｂの入球判定では「０１１１１」のスイッチデータパターンが検知され、左１入球フラグが設定されることによって（左）入球コマンドがサブ統合制御装置５３に送信される。下流側の左２スイッチ３５ｃの入球判定では、実際の遊技球の検出以前に、「０１１」のスイッチデータパターンが検知されるとともに、実際の遊技球の検出時にも「０１１」のスイッチデータパターンが検知される。
【０１１９】
従って、上流側に配置した左１スイッチ３５ｂへの入球を示す左１入球フラグの設定回数（（左）入球コマンドの受信回数）よりも、下流側に配置した左２スイッチ３５ｃへの入球を示す左２入球フラグの設定回数の方が多くなるため、余分に左２入球フラグが設定された時点（Ｃ）でエラー1報知を実行する。但しこのエラー１報知の判断も、図１３のエラー１報知と同様に、上流側に配置した左１ＳＷ３５ｂへの入球を示す（左）入球コマンドを受信していないにもかかわらず、下流側に配置した左２ＳＷ３５ｃへの入球を示す左２入球フラグが設定された時点（Ｃ）でのエラー1報知となり、図９の入球判定処理１においてＳ２２５の否定判定から実行されるＳ２３０に該当する。
【０１２０】
以上が実施例２の説明となる。本実施例では、上流側に配置した左１スイッチ３５ｂをノーマルクローズタイプとし、下流側に配置した左２スイッチ３５ｃをノーマルオープンタイプとし、尚且つ各スイッチの入球判定条件（入球フラグ設定条件）を異なるものとしている。これにより、遊技球の検出時のみ電波ゴトが有効となる検出スイッチと、遊技球の非検出時に電波ゴトが有効になる検出スイッチを混在させることにより、不正行為の難易度を更に高くすることを可能としたうえで、安全性の高い検出スイッチで入賞確認処理を行うことが可能な構成となっている。
【実施例３】
【０１２１】
次に実施例３について説明する。本実施例は、電気的接続は実施例１、２と共通とし、遊技機を構成する部品は実施例２と共通としながら、主制御装置５０に接続された左１スイッチ３５ｂ（本発明の第１球検出スイッチ）を球経路の下流側に配置し、サブ統合制御装置５３に接続された左２スイッチ３５ｃを上流側に配置した構成となる。この場合でも、主制御装置５０に接続された左１スイッチ３５ｂはノーマルクローズタイプとし、サブ統合制御装置５３に接続された左２スイッチ３５はノーマルオープンタイプとしている。
【０１２２】
実施例１で説明した図１、２、３は、本実施例と共通内容であるため説明は援用とし、図１５を用いて左１スイッチ３５ｂ（ＮＣ）と左２スイッチ３５ｃの配置から説明する。
【０１２３】
図１５に示す実施例３の左一般入賞口３５ａの断面図では、上流側にサブ統合制御装置５３に接続されたノーマルオープンタイプの左２スイッチ３５ｃ（本発明の第２球検出スイッチに該当）が配置され、下流側に主制御装置５０に接続されたノーマルクローズタイプの左１スイッチ３５ｂが配置されている。従って、本実施例では、遊技球が左一般入賞口３５ａに入球した場合、サブ統合制御装置５３に接続された左２スイッチ３５ｃが先に遊技球を検出する構成となっている。なお、左２スイッチ３５ｃと左１スイッチ３５ｂとの配置間隔は実施例１、２と同一であり、限られたスペースを有効に使用することができる。
【０１２４】
上流側に配置されサブ統合制御装置５３に接続された左２スイッチ３５ｃによる入球判定タイミング（左２入球フラグ設定タイミング）と、サブ統合制御装置５３が記憶する入球判定を行うスイッチデータパターンは、実施例２で図１２を用いて説明した内容と同一であるため援用とする。また、本実施例でサブ統合制御装置５３が実行する左２スイッチ入球判定処理３は、実施例１で図８を用いて説明した左２スイッチ入球判定処理１と共通内容であるため援用する。
【０１２５】
下流側に配置され主制御装置５０に接続された左１スイッチ３５ｂによる入球判定タイミング（左１入球フラグ設定タイミング）と、主制御装置５０が記憶する入球判定を行うスイッチデータパターンは、実施例１で図５を用いて説明した内容と同一であるため援用とする。また、本実施例で主制御装置５０が実行する左１スイッチ入球判定処理３は、実施例１で図６を用いて説明した左１スイッチ入球判定処理１と共通内容であるため援用する。
【０１２６】
次に、本実施例においてサブ統合制御装置５３が実行する、左２入球フラグの設定と（左）入球コマンドの受信を基に遊技球の入球状況を監視する入球判定処理３を、図１６のフローチャートを用いて説明する。この入球判定処理３も、本発明の異常入球判定手段に該当する処理となる。
【０１２７】
入球判定処理３の処理構成は、２箇所を除いて入球判定処理１と共通の処理構成となり、エラー１報知の判定箇所が異なっている。異なる処理構成は、入球判定処理１のＳ２４０に該当するＳ４３５の肯定判定後の処理と否定判定後の処理となり、具体的には、Ｓ４３５が否定判定の場合に（Ｓ４３５：ｎｏ）、入球判定処理１のＳ２３５で実施したタイマデクリメント処理を行い、Ｓ４３５が肯定判定なら（Ｓ４３５:ｙｅｓ）、タイマ再設定処理を行う（Ｓ４４０）。タイマ再設定処理は、前回の左１入球フラグの設定に基づいてカウントを開始したタイマ（Ｓ４１５又はＳ４４０で設定）のカウントを終了し、カウンタ値をクリアしてからＳ４１５と同様にカウンタを初期値から再作動させる処理となる。
【０１２８】
また、本実施例で電波ゴトを報知するエラー１報知は、Ｓ４５０が肯定判定の場合と、Ｓ４９０が肯定判定の場合に実行される。Ｓ４５０の具体意的な判定内容は、正常な入球判定であれば、左２入球フラグの設定数（Ｓ４２０とＳ４４５でインクリメントするカウンタ値）と、（左）入球コマンドの受信数（Ｓ４７０のデクリメント回数）とで、整合性をとる処理が行われるが、電波によって左２入球フラグのみ設定される状況（図１７参照）が発生した場合に、この判定によってエラー１報知を実施する。
【０１２９】
Ｓ４９０の判定は、電波によって（左）入球コマンドを１回は受信（左１入球フラグが１回は設定）するが、左２入球フラグが先にそれ以上の数設定された場合は、２回目の左２入球フラグの設定時から所定時間（本実施例では１００ｍｓ）経過した時点で電波ゴトの可能性が高いと判断できるためエラー１報知を実施する。
【０１３０】
次に、図１７、図１８のタイミングチャートを用いて、左１スイッチ３５ｂと左２スイッチ３５ｃに電波が照射された場合の各入球フラグの設定タイミングと電波ゴトの判定タイミングについて説明する。図１７は、左一般入賞口３５ａへの遊技球入球時に左２スイッチ３５ｃ（ＮＯ）と左１スイッチ３５ｂ（ＮＣ）に４ｍｓ周期の電波が照射された場合のタイミングチャートとなる。
【０１３１】
本実施例の構成でも、上流側に配置された左２スイッチ３５ｃ（ＮＯ）と下流側に配置された左１スイッチ３５ｂ（ＮＣ）が、上流から順に遊技球を検出する際に、４ｍｓ周期の電波を照射された場合（左２スイッチ３５ｃが遊技球の検出を開始してから１８ｍｓ後に左１スイッチ３５ｂが同一遊技球を検出）、サブ統合制御装置５３が定時割込処理によって検知する偽左１スイッチ３５ｂの出力信号は、実際の遊技球の入球に応じて遊技球の非検出状態「０」から検出状態「１」に変化するが、ＮＯタイプの検出スイッチにおいて遊技球検出によってＳＷ信号が検出状態「１」に変化した場合は、電波の影響を受けないため、遊技球の検出期間中は検出状態「１」を継続して検知し、実際の遊技球の検出期間が終了し非検出状態Ｌｏｗ「０」となる時点から電波の影響を受けＳＷ信号が変化する。
【０１３２】
従って、実際の遊技球の検出に応じて「０１１」のデータパターンを検知して左２入球フラグを１回設定し、遊技球の検出期間が終了した後に、継続して照射された電波によって「０１１」のデータパターンを更に検知して２回目の左２入球フラグが設定され、電波が継続して照射されれば左２入球フラグの設定も継続して繰り返される。
【０１３３】
続いて、主制御装置５０に接続された左１スイッチ３５ｂ（ＮＣ）が、実際に検出状態となる１２ｍｓの期間では、照射された４ｍｓ周期の電波の影響で４ｍｓ毎にＳＷ信号が変化するが、４ｍｓ周期の電波では左１スイッチ３５ｂ（ＮＣ）の入球判定を行う「０１１１１」のデータパターンを維持するまでには至らないため、左１入球フラグは設定されず、サブ統合制御装置５３に（左）入球コマンドを送信することはない。これは、実際に遊技球が入球した場合でも、該入球に合わせて電波が照射されると、該入球に応じた入球判定（入球フラグの設定）が実施されない構成といえる。また、本実施例では左１スイッチ３５ｂの入球判定に応じて入賞確認処理（Ｓ５５）が実施されるため、遊技球入球に基づく賞球の払出しも実施されない。これは、主制御装置５０を上流側に配置した場合と同一の構成となる。
【０１３４】
従って、上流側の左２スイッチ３５ｃ（ＮＯ）への入球を示す左２入球フラグは、電波の照射によって複数回設定されるが、下流側の左１スイッチ３５ｂへの入球を示す（左）入球コマンドは受信しない。これにより本実施例の構成で４ｍｓ周期の電波を照射された場合は、最後に左１入球フラグが設定された時点（Ｅ）から所定時間（本実施例では１００ｍｓ）経過しても（左）入球コマンドを受信しない（Ｓ４５０の肯定判定）、若しくは、電波の照射が継続された場合に左２入球フラグの設定数が所定数（３）を上回る（Ｓ４９０の肯定判定）ため、電波ゴトが実施された確率が高いと判断しエラー１報知を実行する。
【０１３５】
次に、８ｍｓ周期の電波を照射した場合を図１８のタイミングチャートを用いて説明する。なお、左２スイッチ３５ｃと左１スイッチ３５ｂが遊技球を検出するタイミングは、図１７の場合と同一となっている。
【０１３６】
左２スイッチ３５ｃと左１スイッチ３５ｂの遊技球検出時に図のようなタイミングで８ｍｓ周期の電波が照射されると、上流側の左２スイッチ３５ｃの入球判定では、実際の遊技球の入球に応じて遊技球の非検出状態「０」から検出状態「１」に変化するが、ＮＯタイプの検出スイッチにおいて遊技球検出によってＳＷ信号が検出状態「１」に変化した場合は、電波の影響を受けないため、遊技球の検出期間中は検出状態「１」を継続して検知し、実際の遊技球の検出期間が終了し非検出状態Ｌｏｗ「０」となる時点から電波の影響を受けＳＷ信号が変化する。
【０１３７】
従って、８ｍｓ周期の電波を照射された場合でも、実際の遊技球の検出に応じて「０１１」のデータパターンが検知され左２入球フラグを１回設定し、遊技球の検出期間が終了した後に継続して照射された電波によって「０１１」のデータパターンが更に検知されこの時点（Ｆ）で、２回目の左２入球フラグが設定される。続いて、左１スイッチ３５ｂ（ＮＣ）が遊技球を検出する１２ｍｓの期間に８ｍｓ周期の電波を照射されると、「０１１１１」のデータパターンが１回検知される。
【０１３８】
従って、上流側の左２スイッチ３５ｃへの入球を示す左２入球フラグは、電波の照射によって複数回設定されるが、下流側の左１スイッチ３５ｂへの入球を示す左１入球フラグの設定回数は１回となる。これにより８ｍｓ周期の電波を照射された場合は、（左）入球コマンドを１回受信するため、２回目に左２入球フラグが設定された時点（Ｆ）から所定時間（本実施例では１００ｍｓ）経過しても、（左）入球コマンドが受信されないため、電波ゴトが実施された確率が高いと判断しエラー１報知を実行する。
【０１３９】
以上が実施例３の説明となる。本実施例では、上流側に配置した左２スイッチ３５ｃをノーマルオープンタイプとし、下流側に配置した左１スイッチ３５ｂをノーマルクローズタイプとし、尚且つ二つのスイッチの入球判定条件（入球フラグ設定条件）を異なるものとしている。これにより、実施例２の構成と同様に、遊技球の検出時のみ電波ゴトが有効となる検出スイッチと、遊技球の非検出時に電波ゴトが有効になる検出スイッチを混在させることにより、不正行為の難易度を更に高くすることを可能としたうえで、安全性の高い検出スイッチで入賞確認処理を行うことが可能な構成となっている。
【０１４０】
以上が実施例の説明となる。全ての実施例では、監視対象となる検出スイッチの内、少なくとも１個はノーマルクローズタイプの検出スイッチを用いているため、電波ゴトが有効となる遊技球入球時を具体例として説明したが、遊技球入球時以外に電波を照射した場合、実施例１の場合は、二つの検出スイッチがともにノーマルクローズタイプであるため、電波によってＳＷ信号が変化せず、影響を受けることはない。
【０１４１】
実施例２の場合は、下流側に配置されたノーマルオープンの左２スイッチ３５ｃが影響を受けるが、上流側に配置した左１スイッチ３５ｂへの入球を示す（左）入球コマンドを受信していないにもかかわらず左２入球フラグが設定されることにより、図９のＳ２２５の否定判定によりエラー１報知が実行される。
【０１４２】
実施例３の場合は、上流側に配置されサブ統合制御装置５３に接続されたノーマルオープンの左２スイッチ３５ｃが影響を受け、左２入球フラグのみが設定されるため、左２入球フラグの設定数が所定数を超えた場合は、図１６のＳ４５０の肯定判定によりエラー１報知が実施され、左２入球フラグの設定数が所定数を超えない場合でも、Ｓ４９０の肯定判定によりエラー１報知が実施される。
【０１４３】
従って、左１スイッチ３５ｂと左２スイッチ３５ｃの異なる入球条件により左１入球フラグと左２入球フラグとがそれぞれ設定され、所定時間内に１対１の設定により整合性が取れた場合のみ正常な入球と判定されるため、どちらか一方の検出スイッチに対して局所的に電波が照射された場合は、一方の入球フラグしか設定されないことから必ず電波ゴトを報知するエラー１報知を実行する。
【０１４４】
また、どの実施例においても、賞球払出しの判定（入賞確認処理）に用いる検出スイッチは、電波ゴトに対して安全性が高いノーマルクローズタイプを用いており、尚且つ入球判定を行うスイッチデータパターンを、他方の検出スイッチに比べ厳しい条件に設定している。これにより、電波ゴトによる不正行為をより厳しい条件で排除しながら遊技を進行することが可能となる。尚、スイッチのタイプ（ノーマルオープン、ノーマルクローズ）に関わらず、上流側に配置された検出スイッチを主制御装置５０に、下流側を配置された検出スイッチをサブ統合制御装置５３に、それぞれ接続してもよい。これにより、賞球払出しの判定（入賞確認処理）に用いる検出スイッチを上流側としたことで、入賞口への入球と賞球の払い出しとの時間差の発生を抑え、違和感のない遊技を行うことができる。
また、スイッチのタイプ（ノーマルオープン、ノーマルクローズ）に関わらず、上流側に配置された検出スイッチをサブ統合制御装置５３に、下流側を配置された検出スイッチを主制御装置５０に、それぞれ接続してもよい。これにより、賞球払出しの判定（入賞確認処理）に用いる検出スイッチを下流側としたことで、正常な入賞にのみ賞球を払い出す構成を強化することができる。
【０１４５】
更に、図９、図１６で説明したような監視を行うためには、十分なプログラム容量が必要であると共に、処理に要する時間も必要となるため、規則上の性能制限がなされている主制御装置５０や払出制御装置５１では荷が重すぎる。その点、規則上の性能制限のないサブ統合制御装置５３では、十分に処理を実行することができる。それにより、主制御装置５０の制御負担を軽減させるだけでなく、不正対策として必要となるプログラム容量を遊技の興趣を高める方向で利用することができると共に、主制御装置５０での不正監視よりも優れた監視を可能とすることができる。
【産業上の利用可能性】
【０１４６】
以上のように、本発明の弾球遊技機によれば、サブ統合制御装置５３による二つの検出スイッチ（ダブルセンサ）を用いた入球口の監視処理によって電波ゴトの不正行為を適切に検出することが可能となりながら、主制御装置の容量を不正監視処理によって圧迫することが無く遊技性を低下させる虞がない。従って、サブ制御装置を備える弾球遊技機に適用することができる。
【符号の説明】
【０１４７】
８      遊技盤
３１    第１始動口
３１ａ  第１始動口スイッチ
３２    第２始動口
３２ａ  第２始動口スイッチ
３３ａ  大入賞口
３３ｂ  カウントスイッチ
３５ａ  左右一般入賞口
３５ｂ  左１一般入賞口スイッチ
３５ｃ  左２一般入賞口スイッチ
３５ｄ  右１一般入賞口スイッチ
３５ｅ  右２一般入賞口スイッチ
４０    普通電動役物
４２    普通図柄作動ゲート
５０    主制御装置
５３    サブ統合制御装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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