(57)【要約】【課題】光出力制御回路の精度を向上し、さらにフォトダイオードに対する要求スペックを緩和して選定範囲を広げる。【解決手段】レーザーダイオード１０の発光を受光して照度に比例した電流Ｉ１を発生するフォトダイオード２０と、電流Ｉ１の電流値に応じた電圧値である電圧Ｖ１を出力する電流電圧変換部３０と、レーザーダイオード１０の発光を制御する制御部６０と、電圧Ｖ１を補正して補正電圧Ｖ２を出力する補正部５０と、補正電圧Ｖ２を検知する検知部４０と、を備え、補正部５０は、フォトダイオード２０の順方向電圧特性と検知部４０の検知した補正電圧Ｖ２とに基づいてフォトダイオード２０の順方向電圧の変動に起因して電流Ｉ１に発生するオフセットに相当する電圧値を電圧Ｖ１に加算し、制御部６０は、補正電圧Ｖ２が一定になるようにレーザーダイオード１０の発光を制御する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体レーザー素子の発光を受光して照度に比例した逆電流を発生するフォトダイオードと、当該逆電流の電流値に応じた電圧値である第１電圧を出力する電流電圧変換部と、上記半導体レーザー素子の発光を制御する制御部と、を備えたレーザー発光装置において、
上記第１電圧を補正して第２電圧を出力する補正部と、
上記第２電圧を検知する検知部と、
を備え、
上記補正部は、上記フォトダイオードの順方向電圧特性と上記検知部の検知した第２電圧とに基づいて上記フォトダイオードの順方向電圧の変動に起因して上記逆電流に発生するオフセットに相当する第１補正電圧を上記第１電圧に加算して上記第２電圧とし、
上記制御部は、上記第２電圧が一定になるように上記半導体レーザー素子の発光を制御することを特徴とするレーザー発光装置。
【請求項２】
上記補正部は、上記フォトダイオードの順方向電圧特性と上記検知部の検知した第２電圧とに基づいて上記フォトダイオードの順方向電圧の変動に起因して上記逆電流に発生するオフセットに相当する第１補正電圧を加算する補正と、上記フォトダイオードの温度特性と上記検知部の検知した第２電圧とに基いて上記フォトダイオードの温度変動に起因して上記逆電流に発生するオフセットに相当する第２補正電圧を加算する補正と、を上記第１電圧に対して行う請求項１に記載のレーザー発光装置。
【請求項３】
上記補正部は、上記フォトダイオードに発生する順方向電圧が障壁電圧を超えたときにのみ上記第１補正電圧を加算する補正を上記第１電圧に対して行う請求項１または請求項２に記載のレーザー発光装置。
【請求項４】
上記補正部は、
上記フォトダイオードの順方向電圧特性と上記検知部の検知した第２電圧とに基づいて上記フォトダイオードの順方向電圧の変動に起因して上記逆電流に発生するオフセットに相当する上記第１補正電圧を特定するとともに上記第１補正電圧を第１レジスターに設定する第１設定部と、
当該第１レジスターに設定された第１補正電圧を上記第１電圧に加算する第１加算回路と、
を備える請求項１〜請求項３の何れか１項に記載のレーザー発光装置。
【請求項５】
上記補正部は、
上記フォトダイオードの温度特性と上記検知部の検知した第２電圧とに基いて上記フォトダイオードの温度変動に起因して上記逆電流に発生するオフセットに相当する第２補正電圧を特定するとともに当該第２補正電圧を第２レジスターに設定する第２設定部と、
上記第２レジスターに設定された上記第２補正電圧を上記第１電圧に加算する第２加算回路と、
を備える請求項１〜請求項４の何れか１項に記載のレーザー発光装置。
【請求項６】
請求項１〜請求項５の何れか１項に記載のレーザー発光装置を備えた光ディスク装置であって、上記半導体レーザー素子の出力する光をディスク状の記録媒体に照射して記録媒体に対するデータの読み書きを行う光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザー発光装置および光ディスク装置に関し、特に、半導体レーザー素子の発光を受光して照度に比例した逆電流を発生するフォトダイオードと、当該逆電流の電流値に応じた電圧値である第１電圧を出力する電流電圧変換部と、上記第１電圧が一定になるように上記半導体レーザー素子の発光を制御する制御部と、を備えたレーザー発光装置および当該レーザー発光装置を備えた光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
半導体レーザー光源の安定駆動は、光出力制御回路を備える光ディスク装置においては必須課題であり、レーザー光源の周囲温度と光出力に応じたモニター電圧とに基いて、レーザー光源の光出力を調整する技術が知られている（例えば特許文献１，２参照）。また、特許文献３には、レーザー光源の光出力を受光してモニター電流を生成する場合に、フォトダイオードの周囲温度に基いてフォトダイオードで発生する電流量の温度特性を補償する技術が開示されている。また、特許文献４には、フォトダイオードの順方向電圧が所定の基準電圧よりも小さいときにレーザーダイオードへの電流供給を停止することについて開示されている。また、特許文献５には、例えばＣＤ用とＤＶＤ用の２種類のレーザーダイオードを備えている光ディスク記録再生装置において、その一方を温度検出に利用する技術が開示されている。また、特許文献６には、ダイオードが発生する順方向電圧をオフセット電圧とすることが開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００９−１４７０８４号公報
【特許文献２】特開２００８−２７０２８７号公報
【特許文献３】特開２００７−１３４６５３号公報
【特許文献４】特開２００７−４２８３９号公報
【特許文献５】特開２００５−３４６８０７号公報
【特許文献６】特開２００８−３０７８５１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
半導体レーザー光源の光出力を受光してモニター電流を生成するフォトダイオードには順方向電圧特性があり、フォトダイオードの順方向電圧が大きくなるとモニター電流が流れにくくなるという特性がある。そのため、順方向電圧の低いＳ／Ｎが悪い範囲でしか使用できず、光出力制御の精度が低下していた。また、フォトダイオードに要求されるスペックが厳しく、素子の選択肢が少なかった。
【０００５】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたもので、フォトダイオードの順方向電圧特性による半導体レーザー光源の安定駆動に対する影響を軽減することにより光出力制御の精度を向上し、さらにレーザー光源の光出力を受光してモニター電流を生成するフォトダイオードに対する要求スペックを緩和して選定範囲を広げることが可能なレーザー発光装置および光ディスク装置の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明にかかるレーザー発光装置では、半導体レーザー素子の発光を受光して照度に比例した逆電流を発生するフォトダイオードと、当該逆電流の電流値に応じた電圧値である第１電圧を出力する電流電圧変換部と、上記半導体レーザー素子の発光を制御する制御部と、を備えたレーザー発光装置において、上記第１電圧を補正して第２電圧を出力する補正部と、上記第２電圧を検知する検知部と、を備え、上記補正部は、上記フォトダイオードの順方向電圧特性と上記検知部の検知した第２電圧とに基づいて上記フォトダイオードの順方向電圧の変動に起因して上記逆電流に発生するオフセットに相当する第１補正電圧を上記第１電圧に加算して上記第２電圧とし、上記制御部は、上記第２電圧が一定になるように上記半導体レーザー素子の発光を制御する構成としてある。
【０００７】
上記構成において、上記フォトダイオードは半導体レーザー素子の発光を受光して照度に比例した逆電流を発生し、上記電流電圧変換部は当該逆電流の電流値に応じた電圧値である第１電圧を出力する。そして、上記補正部は上記第１電圧を補正した第２電圧を出力し、この第２電圧を上記検知部が検知する。上記補正部は、上記フォトダイオードの順方向電圧特性と上記検知部の検知した上記第２電圧とに基づいて上記フォトダイオードの順方向電圧の変動に起因して上記逆電流に発生するオフセットに相当する第１補正電圧を上記第１電圧に加算して上記第２電圧とする。そして、上記制御部は、上記第２電圧が一定になるように上記半導体レーザー素子の発光を制御する。このように、順方向電圧の変動に起因して上記逆電流に発生するオフセット分を補償した値に基いて上記半導体レーザー素子の発光を制御することにより、上記フォトダイオードの順方向電圧特性の影響を受けずに上記半導体レーザー素子の光出力制御を行うことが可能となる。
【発明の効果】
【０００８】
以上説明したように本発明によれば、光出力制御の精度が向上することが可能なレーザー発光装置を提供することができる。また、順方向電圧特性の影響を受けないためフォトダイオードに対する要求スペックを緩和して選定範囲を広げることが可能となる。
請求項２にかかる発明によれば、さらに光出力制御の精度を向上し、さらにフォトダイオードの選定範囲を広げることが可能となる。
請求項３にかかる発明によれば、順方向電圧特性の補償にかかる補正処理を軽減し、効率的に光出力制御の精度を向上することができる。
請求項４にかかる発明によれば、レジスター設定と加算回路とで順方向電圧特性の補償にかかる補正処理を実現することが出来る。
請求項５にかかる発明によれば、レジスター設定と加算回路とで温度特性の補償にかかる補正処理を実現することが出来る。
請求項６のような、より具体的な構成において、上述した請求項１〜請求項５の各発明と同様の作用を奏することはいうまでもない。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】光ディスク装置の概略構成を機能的に示したブロック図である。
【図２】光ディスク装置の電気的構成の具体例を示す要部回路図である。
【図３】フォトダイオードの順方向電圧特性を説明する図である。
【図４】加算回路の一例を示す要部回路図である。
【図５】フォトダイオードの温度特性を説明する図である。
【図６】加算回路の一例を示す要部回路図である。
【図７】フォトダイオードの順方向電圧特性の補正にかかる説明図である。
【図８】フォトダイオードの温度特性の補正にかかる説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
本発明の選択的な一態様として、上記補正部は、上記フォトダイオードの順方向電圧特性と上記検知部の検知した第２電圧とに基づいて上記フォトダイオードの順方向電圧の変動に起因して上記逆電流に発生するオフセットに相当する第１補正電圧を加算する補正と、上記フォトダイオードの温度特性と上記検知部の検知した第２電圧とに基いて上記フォトダイオードの温度変動に起因して上記逆電流に発生するオフセットに相当する第２補正電圧を加算する補正と、を上記第１電圧に対して行う構成を採用することができる。当該構成によれば、さらに光出力制御の精度を向上し、さらにフォトダイオードの選定範囲を広げることが可能となる。
【００１１】
本発明の選択的な一態様として、上記補正部は、上記フォトダイオードに発生する順方向電圧が障壁電圧を超えたときにのみ上記第１補正電圧を加算する補正を上記第１電圧に対して行う構成を採用することができる。当該構成によれば、順方向電圧特性の補償にかかる補正処理を軽減し、効率的に光出力制御の精度を向上することができる。
【００１２】
本発明の選択的な一態様として、上記補正部は、上記フォトダイオードの順方向電圧特性と上記検知部の検知した第２電圧とに基づいて上記フォトダイオードの順方向電圧の変動に起因して上記逆電流に発生するオフセットに相当する上記第１補正電圧を特定するとともに上記第１補正電圧を第１レジスターに設定する第１設定部と、当該第１レジスターに設定された第１補正電圧を上記第１電圧に加算する第１加算回路と、を備える構成を採用することができる。当該構成によれば、レジスター設定と加算回路とで順方向電圧特性の補償にかかる補正処理を実現することが出来る。
【００１３】
本発明の選択的な一態様として、上記補正部は、上記フォトダイオードの温度特性と上記検知部の検知した第２電圧とに基いて上記フォトダイオードの温度変動に起因して上記逆電流に発生するオフセットに相当する第２補正電圧を特定するとともに当該第２補正電圧を第２レジスターに設定する第２設定部と、上記第２レジスターに設定された上記第２補正電圧を上記第１電圧に加算する第２加算回路と、を備える構成を採用することができる。当該構成によれば、レジスター設定と加算回路とで温度特性の補償にかかる補正処理を実現することが出来る。
【００１４】
本発明の選択的な一態様として、上記レーザー発光装置を備えた光ディスク装置であって、上記レーザーダイオードの出力する光をディスク状の記録媒体に照射して記録媒体に対するデータの読み書きを行う光ディスク装置とすることができる。このように、上述したレーザー発光装置は、他の機器に組み込まれた状態で実施されたり他の方法とともに実施されたりする等の各種の態様を含むものである。
【００１５】
以下、下記の順序に従って本発明の実施形態を説明する。
（１）光ディスク装置の構成：
（２）順方向電圧特性の補正：
（３）温度特性の補正：
（４）まとめ：
【００１６】
（１）光ディスク装置の構成： 
図１は、光ディスク装置の概略構成を機能的に示したブロック図であり、図２は、光ディスク装置の電気的構成の具体例を示す要部回路図である。なお、本実施形態においては、光ディスク装置がレーザー発光装置を構成する。また、光ディスク装置はレーザーダイオードの出力する光をディスク状の記録媒体に照射して記録媒体に対するデータの読み書きを行う。
【００１７】
図１に示すように、光ディスク装置１００は、半導体レーザー素子としてのレーザーダイオード１０と、レーザーダイオード１０の発する光を受光して照度に比例した電流Ｉ１（逆電流）を発生するフォトダイオード２０と、電流Ｉ１に応じた電圧Ｖ１（第１電圧）を発生する電流電圧変換部３０と、電圧Ｖ１を補正した補正電圧Ｖ２（第２電圧）を生成する補正部５０と、補正電圧Ｖ２を検知する検知部４０と、補正電圧Ｖ２が一定になるようにレーザーダイオード１０の発光を制御する制御部６０と、フォトダイオード２０の温度を測定して当該温度に相当する温度データを出力する温度測定部７０と、を備えている。
【００１８】
フォトダイオード２０は、レーザーダイオード１０の近傍に配置されており、レーザーダイオード１０が制御部６０の制御によって発光すると、レーザーダイオード１０の発する光の一部を受光し、受光した光の照度に応じた電流を発生する。すなわち、フォトダイオード２０は、レーザーダイオード１０の発光強度に応じた量の電流を発生する。
温度測定部７０は、例えば、図２に示すようにサーミスタ７１により構成される。
【００１９】
電流電圧変換部３０は、フォトダイオード２０の発生した電流Ｉ１を当該電流Ｉ１に応じた電圧値Ｖ１に変換する。電流電圧変換部３０は、例えば、図２に示すように抵抗３１で構成することができる。抵抗３１は、フォトダイオード２０がレーザーダイオード１０の光を受光すると、図２のＡ点に電流Ｉ１に応じた電圧Ｖ１（第１電圧）を発生する。この電圧Ｖ１は、補正部５０に入力されることになる。
【００２０】
補正部５０は、順方向電圧特性補正部５１と温度特性補正部５２とを備えており、電圧Ｖ１を補正した補正電圧Ｖ２を出力する。なお、補正部５０は、電圧Ｖ１を順方向電圧特性補正部５１と温度特性補正部５２との少なくとも一方を備えていればよく、これらの少なくとも一方が補正した後の電圧値を補正電圧Ｖ２（第２電圧）として出力することになる。
【００２１】
まず、順方向電圧特性補正部５１について説明する。順方向電圧特性補正部５１は、フォトダイオード２０の順方向電圧特性に起因して電流Ｉ１に生じるオフセットを解消する補正を、電圧Ｖ１に対して行う。順方向電圧特性補正部５１は、例えば、図２に示すように、モニター回路５１ａ（第１設定部）と順方向電圧特性補正レジスター５１ｂ（第１レジスター）と加算回路５１ｃ（第１加算回路）とを備える。また、モニター回路５１ａは、フォトダイオード２０の順方向電圧特性を記憶している。モニター回路５１ａは、補正電圧Ｖ２をモニターしており、フォトダイオード２０の順方向電圧特性によって電流Ｉ１に生じるオフセットを解消するために必要な補正量を補正電圧Ｖ２に基いて決定し、決定した補正量を順方向電圧特性補正レジスター５１ｂに設定する。すなわち、補正部５０のモニター回路５１ａは検知部４０としての機能も有している。
【００２２】
図３は、フォトダイオード２０の順方向電圧特性を説明する図である。図３（ａ）に示すフォトダイオード２０の順方向電圧特性は、図３（ｂ）に示す回路により得られる。図３（ｂ）に示す回路では、フォトダイオード２０に照射する光を一定とし、フォトダイオード２０に流れるモニター電流Ｉｐを電流計で測定し、フォトダイオード２０に発生する順方向電圧Ｖｐを電圧計で測定している。図３（ａ）に示すように、モニター電流Ｉｐは、順方向電圧Ｖｐが電位障壁の障壁電圧Ｖｂを超えると、徐々に減少する。この順方向電圧Ｖｐが障壁電圧Ｖｂを超える前のモニター電流Ｉｐ（図１，２の電流Ｉ１に相当する。）を基準電流Ｉｓ１と呼ぶことにする。
【００２３】
モニター回路５１ａは、フォトダイオード２０の順方向電圧特性による電流Ｉ１の変動を補償するために必要なデータを記憶している。本実施形態では、モニター回路５１ａは、順方向電圧Ｖｐと補正割合Ｆ１（図７参照）との対応関係を記憶している。補正割合Ｆ１は、モニター電流Ｉｐに対する減少分を示す割合（（Ｉｓ１−Ｉｐ）／Ｉｐ等）となっている。この補正割合Ｆ１を順方向電圧Ｖｆに乗じると、モニター電流Ｉｐと基準電流Ｉｓ１の差分に対応する電圧値を得ることができる。
【００２４】
モニター回路５１ａは、順方向電圧Ｖｐと補正割合Ｆ１との対応関係を参照して補正電圧Ｖ２に対応する補正割合Ｆ１を決定し、電圧Ｖ１に加算すべき補正量（第１補正電圧）を決定する。そして、決定した補正量を順方向電圧特性補正レジスター５１ｂに設定する。加算回路５１ｃは、このようにして設定された順方向電圧特性補正レジスター５１ｂの値を利用して電圧Ｖ１に加算することにより電圧Ｖ１を補正電圧Ｖ２に補正する。
【００２５】
図４は加算回路の一例を示す要部回路図である。同図において、Ｒｅｇは、順方向電圧特性補正レジスター５１ｂである。加算回路５１ｃは、デジタル値であるレジスター値をアナログ値に変換するＤ／Ａと、＋端子に補正前の電圧（例えば電圧Ｖ１）を入力されるとともに−端子にはレジスター値をＤ／Ａがアナログ変換した値を入力されるオペアンプと、を備える。このように構成された加算回路５１ｃは、補正前の電圧Ｖ１にレジスター値（補正量）を加算して出力する。その結果、補正電圧Ｖ２は、フォトダイオード２０の順方向電圧特性による電流Ｉ１の減少分を補償した値となる。よって、この補正電圧Ｖ２は、フォトダイオード２０における順方向電圧の変動に関わらず、一定光量の入射に対して一定の値を示すようになる。なお、ここではフォトダイオード２０の温度変動については考慮していない。
【００２６】
次に、温度特性補正部５２について説明する。温度特性補正部５２は、フォトダイオード２０の温度特性に起因して電流Ｉ１に生じるオフセットを解消する補正を、電圧Ｖ１に対して行う。温度特性補正部５２は、例えば、図２に示すように、ＣＰＵ５２ａ（第２設定部）と温度特性補正レジスター５２ｂ（第２レジスター）と加算回路５２ｃ（第２加算回路）とを備える。ＣＰＵ５２ａはＡ／Ｄポートとシリアルポートとを備えており、Ａ／Ｄポートには温度測定部７０を構成するサーミスタ７１から温度データが入力され、シリアルポートには温度特性補正レジスター５２ｂが接続されている。ＣＰＵ５２ａは、入力された温度データに基いて、フォトダイオード２０の温度特性によって電圧Ｖ１に生じるオフセットを解消するために必要な補正量をフォトダイオード２０の温度に基いて決定し、決定した補正量を温度特性補正レジスター５２ｂに設定する。
【００２７】
図５は、フォトダイオード２０の温度特性を説明する図である。図５（ａ）に示すフォトダイオード２０の温度特性は、図５（ｂ）に示す回路により得られる。図５（ｂ）に示す回路では、フォトダイオード２０に照射する光を一定とし、フォトダイオード２０に流れるモニター電流Ｉｐを電流計で測定し、フォトダイオード２０に発生する順方向電圧Ｖｐを電圧計で測定している。図５（ａ）に示すように、モニター電流Ｉｐは、フォトダイオード２０の温度上昇に伴って上昇する。
【００２８】
ＣＰＵ５２ａは、フォトダイオード２０の温度特性による電流の変動を補償するために必要なデータを記憶している。本実施形態では、ＣＰＵ５２ａで実行するプログラムには、温度Ｔと補正割合Ｆ２（図８参照）との対応関係が記憶されている。補正割合Ｆ２は、モニター電流に対する減少分を示す割合（（Ｉｓ２−Ｉｐ）／Ｉｐ等）となっている。この補正割合Ｆ２をモニター電流Ｉｐに乗じると、モニター電流Ｉｐと基準温度における基準電流Ｉｓ２との差分を得ることができる。なお本実施形態では、２５℃を基準温度としてある。
【００２９】
ＣＰＵ５２ａは、温度Ｔと補正割合Ｆ２との対応関係を参照してサーミスタ７１の出力する温度データに対応する補正割合を決定し、電圧Ｖ１に加算すべき補正量（第２補正電圧）を決定する。そして、決定した補正量を温度特性補正レジスター５２ｂに設定する。加算回路５２ｃは、このようにして設定された温度特性補正レジスター５２ｂの値を利用して電圧Ｖ１を補正電圧Ｖ２に補正する。
【００３０】
図６は加算回路の一例を示す要部回路図である。同図において、Ｒｅｇは、温度特性補正レジスター５２ｂである。加算回路５２ｃは、デジタル値であるレジスター値をアナログ値に変換するＤ／Ａと、＋端子に補正前の電圧（例えば電圧Ｖ１）を入力されるとともに−端子にはレジスター値をＤ／Ａがアナログ変換した値を入力されるオペアンプと、を備える。このように構成された加算回路５２ｃは、補正前の電圧Ｖ１にレジスター値（補正量）を加算して出力する。その結果、補正電圧Ｖ２は、フォトダイオード２０の温度特性に起因して発生する電流Ｉ１の変動を補償した値となる。よって、この補正電圧Ｖ２は、フォトダイオード２０の温度変動に関わらず、一定光量の入射に対して一定の値を示すようになる。なお、ここではフォトダイオード２０の順方向電圧の変動については考慮していない。
【００３１】
制御部６０は、レーザーダイオード１０の出力を決定する再生パワー設定部６２と、再生パワー設定部６２の決定した出力と実際のレーザーダイオード１０の出力との差分に応じた電圧を出力する差動増幅器６１と、差動増幅器６１の出力に高周波を重畳する高周波モジュール（ＨＦＭ）６４と、差動増幅器６１と高周波モジュール６４の間で高周波モジュール６４の重畳する高周波をカットする帯域コンデンサ６３と、を備えている。差動増幅器６１は、再生パワー設定部６２から入力される電圧と補正電圧Ｖ２との差動増幅を出力する。この差動増幅出力がレーザーダイオード１０のアノード電極に印加されることになる。
【００３２】
以上のように、本実施形態においては、順方向電圧特性補正部５１と温度特性補正部５２の少なくとも一方が電圧Ｖ１を補正し、この補正後の電圧を補正部５０は補正電圧Ｖ２として出力する。制御部６０は、この補正電圧Ｖ２に基いてレーザーダイオード１０の発光を制御する。その結果、順方向電圧の変動と温度変動の少なくとも一方に起因するレーザーダイオード１０の出力変動が抑制される。よって、レーザーダイオード１０の出力制御の精度が向上し、フォトダイオード２０に対する要求スペックが緩和されてフォトダイオード２０の選定範囲が広がる。
【００３３】
なお、図２に示した光ディスク装置１００においては、抵抗３１、モニター回路５１ａ、順方向電圧特性補正レジスター５１ｂ、温度特性補正レジスター５２ｂ、加算回路５１ｃ、５２ｃ、差動増幅器６１、再生パワー設定部６２、ＨＦＭ６４、が光出力の自動出力制御回路（ＡＰＣ回路）を構成し、レーザーダイオード１０、フォトダイオード２０、ＡＰＣ回路、サーミスタ７１が光ピックアップ装置（ＯＰＵ）を構成し、ＣＰＵ５２ａを含むＯＰＵの制御回路がフロントエンド（Ｆ／Ｅ）を構成している。
【００３４】
（２）順方向電圧特性の補正： 
図７はフォトダイオードの順方向電圧特性の補正にかかる説明図である。なお、図７ではフォトダイオード２０における温度変化を考慮していないが、フォトダイオード２０における温度変化の少ない環境であれば、図７のように順方向電圧特性を補正するだけでも制御部６０の行うレーザーダイオード１０の発光の自動出力制御の精度を向上することができる。むろん、後述の温度変化に対する補償を併用すれば、さらに精度向上することは言うまでも無い。
【００３５】
図７（ａ）は、順方向電圧Ｖｆと電流Ｉ１との関係を示し、図７（ｂ）は、順方向電圧Ｖｆと図１，２における電圧Ｖ１との関係を示し、図７（ｃ）は、順方向電圧Ｖｆと図１，２における補正電圧Ｖ２との関係を示している。なお、図７（ａ）〜（ｃ）では、説明の簡略のため、フォトダイオード２０が一定光量を受光している場合を示してある。また、図７（ｄ）は、順方向電圧Ｖｆと補正割合Ｆ１との対応関係を示すテーブルである。補正割合Ｆ１は、順方向電圧特性補正レジスター５１ｂに設定される補正量を電圧Ｖ１に加算したときの電圧Ｖ１の変動割合である。
【００３６】
図７（ａ）に示すように、電流Ｉ１は、順方向電圧Ｖｆが障壁電圧Ｖｂを超えると徐々に減少する。同様に、図７（ｂ）に示すように、電流電圧変換部３０で電流Ｉ１から変換された電圧Ｖ１も、順方向電圧Ｖｆが障壁電圧Ｖｂを超えると徐々に減少する。このように障壁電圧Ｖｂを境として減少する電流Ｉ１を補償するために、図７（ｄ）の補正割合は、障壁電圧Ｖｂ（図では２００ｍＶ）を基準として、順方向電圧Ｖｆが障壁電圧Ｖｂよりも小さいときは補正無し（０％）となっており、順方向電圧Ｖｆが障壁電圧以上になると徐々に補正割合が増加するようになっている（５％，１０％，１５％，２０％・・・）。
【００３７】
このように、順方向電圧に応じた補正を電圧Ｖ１に対して行うことにより、図７（ｃ）に示すように、フォトダイオード２０が一定の温度で一定の光量を受光しているときは、順方向電圧の変動に影響されることなく一定の補正電圧Ｖ２の値が制御部６０に入力されるようになる。従って、レーザーダイオードの発光制御の精度を向上し、フォトダイオード２０の要求スペックを緩和することができる。
【００３８】
また、順方向電圧特性補正部５１は、順方向電圧Ｖｆが障壁電圧Ｖｂを超えるまでは電圧Ｖ１を補正せずにそのまま補正電圧Ｖ２として出力し、順方向電圧Ｖｆが障壁電圧Ｖｂ以上になると電圧Ｖ１を増加する補正を行う。すなわち、順方向電圧Ｖｆが障壁電圧Ｖｂを超えない限り電圧Ｖ１を補正しないため、補正処理を軽減し、効率的に光出力制御の精度を向上することができる。
【００３９】
（３）温度特性の補正： 
図８は、フォトダイオードの温度特性の補正にかかる説明図である。なお、図８ではフォトダイオード２０の順方向電圧特性を考慮していないが、フォトダイオード２０に順方向電圧の小さい範囲で使用すれば、図８のように温度特性を補正するだけでも制御部６０の行うレーザーダイオード１０の発光の自動出力制御の精度を向上することができる。むろん、上述の順方向電圧特性も併用すれば、さらに精度向上することは言うまでも無い。
【００４０】
図８（ａ）は、フォトダイオード２０の温度変化に対して、順方向電圧Ｖｆと電流Ｉ１との関係がどのように変化するかを示し、図８（ｂ）は、フォトダイオード２０の温度変化に対して、順方向電圧Ｖｆと図１，２における電圧Ｖ１との対応がどのように変化するかを示し、図８（ｃ）は、フォトダイオード２０の温度変化に対して、順方向電圧Ｖｆと図１，２における補正電圧Ｖ２との対応関係を示してある。なお、図８（ａ）〜（ｃ）には、フォトダイオード２０が２５℃、５０℃、８０℃の場合を例にとって示してある。また、図８（ｄ）は、フォトダイオード２０の温度Ｔと補正割合Ｆ２との関係を示すテーブルである。補正割合Ｆ２は、温度特性補正レジスター５２ｂに設定される補正量を電圧Ｖ１に加算したときの電圧Ｖ１の変動割合である。
【００４１】
図８（ａ）に示すように、電流Ｉ１は、温度上昇に伴って増加する。同様に、図８（ｂ）に示すように、電流電圧変換部３０で電流Ｉ１から変換された電圧Ｖ１も、温度上昇に伴って増加する。このように温度変化に伴って変化する電流Ｉ１を補償するために、図８（ｄ）の補正割合は、２５℃を基準として、フォトダイオード２０の温度が２５°Ｃのときは補正せず（０％）、フォトダイオード２０の温度が２５°Ｃよりも高くなると補正割合が正方向に徐々に増加され（５％，１０％・・・）、２５°Ｃよりも低くなると補正割合が負方向に徐々に増加されている（−５％，−１０％・・・）。
【００４２】
従って、温度特性補正部５２は、フォトダイオード２０が基準となる２５℃よりも高温になると、電圧Ｖ１が２５℃のときに発生する電圧Ｖ１と等しくなるように増加補正し、基準となる２５℃よりも低温になると、電圧Ｖ１が２５℃のときに発生する電圧Ｖ１と等しくなるように減少補正する。その結果、図８（ｃ）に示すように、フォトダイオード２０が一定の順方向電圧で一定の光量を受光しているときは、温度変動に影響されることなく一定の補正電圧Ｖ２の値が制御部６０に入力されるようになる。従って、レーザーダイオードの発光制御の精度を向上し、フォトダイオード２０の要求スペックを緩和することができる。
【００４３】
（４）まとめ： 
以上説明したように、光ディスク装置１００は、レーザーダイオード１０の発光を受光して照度に比例した電流Ｉ１を発生するフォトダイオード２０と、電流Ｉ１の電流値に応じた電圧値である電圧Ｖ１を出力する電流電圧変換部３０と、レーザーダイオード１０の発光を制御する制御部６０と、電圧Ｖ１を補正して補正電圧Ｖ２を出力する補正部５０と、補正電圧Ｖ２を検知する検知部４０と、を備え、補正部５０は、フォトダイオード２０の順方向電圧特性と検知部４０の検知した補正電圧Ｖ２とに基づいてフォトダイオード２０の順方向電圧の変動に起因して電流Ｉ１に発生するオフセットに相当する電圧値を電圧Ｖ１に加算し、制御部６０は、補正電圧Ｖ２が一定になるようにレーザーダイオード１０の発光を制御するようになっている。よって光出力制御回路の精度が向上し、さらにフォトダイオードに対する要求スペックを緩和して選定範囲が広がる。
【００４４】
なお、本発明は上記実施例に限られるものでないことは言うまでもない。当業者であれば言うまでもないことであるが、
・上記実施例の中で開示した相互に置換可能な部材および構成等を適宜その組み合わせを変更して適用すること
・上記実施例の中で開示されていないが、公知技術であって上記実施例の中で開示した部材および構成等と相互に置換可能な部材および構成等を適宜置換し、またその組み合わせを変更して適用すること
・上記実施例の中で開示されていないが、公知技術等に基づいて当業者が上記実施例の中で開示した部材および構成等の代用として想定し得る部材および構成等と適宜置換し、またその組み合わせを変更して適用すること
は本発明の一実施例として開示されるものである。
【符号の説明】
【００４５】
１０…レーザーダイオード、２０…フォトダイオード、３０…電流電圧変換部、３１…抵抗、４０…検知部、５０…補正部、５１…順方向電圧特性補正部、５１ａ…モニター回路、５１ｂ…順方向電圧特性補正レジスター、５１ｃ…加算回路、５２…温度特性補正部、５２ａ…ＣＰＵ、５２ｂ…温度特性補正レジスター、５２ｃ…加算回路、６０…制御部、６１…差動増幅器、６２…再生パワー設定部、６３…帯域コンデンサ、６４…高周波モジュール（ＨＦＭ）、６４…高周波モジュール、７０…温度測定部、７１…サーミスタ、１００…光ディスク装置、Ｆ１…補正割合、Ｆ２…補正割合、Ｉ１…電流、Ｉｐ…モニター電流、Ｉｓ１…基準電流、Ｉｓ２…基準電流、Ｔ…温度、Ｖ１…電圧、Ｖ２…補正電圧、Ｖｂ…障壁電圧、Ｖｆ…順方向電圧、Ｖｐ…順方向電圧。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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