(57)【要約】【課題】冷却対象物の氷結晶の状態に基づき、対象物を適切に保冷する。【解決手段】吸収スペクトルのデータに基づき上記の氷結晶の状態を分析するための計算モデルが予め格納されるモデル記憶部と、対象物に光を照射することによって、当該対象物から受光する反射光または透過光に基づく吸収スペクトルのデータを取得するための測定デバイス部２０と、測定デバイス部２０によって取得された吸収スペクトルのデータと、モデル記憶部の計算モデルとに基づいて、氷結晶の状態を分析するための演算を行う演算部と、演算結果から得られた氷結晶の状態に基づいて、氷結晶の状態が所定の基準を満たすように冷却運転の動作を変更するかを判定するための判定部３３と、冷却部７の冷却運転を制御するための冷却運転制御部とを、備える。【選択図】図１
2012122680.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
冷却器により冷却される対象物の氷結晶の状態を管理するための冷却管理装置であって、
前記対象物に光を照射することによって、当該対象物から受光する反射光または透過光に基づく吸収スペクトルのデータを取得するための測定デバイスと、
前記吸収スペクトルのデータから前記氷結晶の状態を分析するために用いる計算モデルを予め格納するためのモデル記憶部と、
前記測定デバイスによって取得された前記吸収スペクトルのデータと、前記モデル記憶部の前記計算モデルとに基づいて、前記氷結晶の状態を分析するための演算を行う演算部と、
前記演算部の演算結果から得られた前記氷結晶の状態に基づいて、氷結晶の状態が所定の基準を満たすように冷却運転の動作を変更するかを判定するための判定部と、
前記判定部の判定に従って、氷結晶の状態が所定の基準を維持するように、前記冷却器の冷却運転を制御するための冷却運転制御部とを、備える、冷却管理装置。
【請求項２】
前記対象物の１種類以上の環境条件を検出するための検出部を、さらに備え、
前記モデル記憶部には、前記１種類以上の環境条件の組のそれぞれに対応付けられて前記計算モデルが格納され、
前記演算部は、前記測定デバイスによって取得された前記吸収スペクトルのデータと、前記検出部により検出された前記１種類以上の環境条件の組に対応付けられた前記計算モデルとに基づいて、前記氷結晶の状態を分析するための演算を行う、請求項１に記載の冷却管理装置。
【請求項３】
前記環境条件は、温度を含む、請求項２に記載の冷却管理装置。
【請求項４】
前記環境条件は、湿度を含む、請求項２または３に記載の冷却管理装置。
【請求項５】
前記検出部は、前記対象物が格納される収容部における前記対象物が載置される面において、当該対象物と接する位置に設けられる、請求項２から４のいずれかに記載の冷却管理装置。
【請求項６】
前記対象物の種類を含む情報の入力操作を受付ける入力部を、さらに備え、
前記モデル記憶部には、複数種類の対象物のそれぞれに対応付けて前記計算モデルが格納され、
前記演算部は、前記測定デバイスによって取得された前記吸収スペクトルのデータと、前記入力部が受付けた入力操作に基づく前記対象物の種類に対応付けられた前記モデル記憶部の前記計算モデルとに基づいて、前記氷結晶の状態を算出する、請求項１から５のいずれかに記載の冷却管理装置。
【請求項７】
情報を表示するための表示部を、さらに備え、
前記表示部には、前記対象物の種類を含む情報の入力操作を支援するための情報が表示される、請求項６に記載の冷却管理装置。
【請求項８】
前記測定デバイスは、
前記対象物に光を照射するための光源と、
前記対象物に照射された光の反射光または透過光を受光する受光部と、を含み、
前記光源の光の出射口および、前記受光部の光の入射口の少なくとも１つは、気密性および水密性の少なくとも１つの特性を有する部材に格納され、前記部材は前記吸収スペクトルを得るために用いられる波長に対して光透過性の特性を有する光透過性材料を含んでいる、請求項１から７のいずれかに記載の冷却管理装置。
【請求項９】
前記部材には、集光のためのレンズが設けられる、請求項８に記載の冷却管理装置。
【請求項１０】
前記光源は近赤外の波長を含む光を照射する、請求項８または９に記載の冷却管理装置。
【請求項１１】
前記光源と前記受光部とは、前記対象物が格納される収容部の同一面に設けられ、前記光源の光の出射口および、前記受光部の光の入射口は同一の前記部材に格納され、前記部材は前記対象物と接して設けられる、請求項８から１０のいずれかに記載の冷却管理装置。
【請求項１２】
前記光源と前記受光部とは、前記光源からの照射光が前記受光部に直接に入射しない位置に配置される、請求項８から１０のいずれかに記載の冷却管理装置。
【請求項１３】
前記光源と前記受光部とは、前記光源からの照射光が前記受光部に直接に入射するのを防止するための障害物によって隔てられて配置される、請求項８から１０のいずれかに記載の冷却管理装置。
【請求項１４】
前記吸収スペクトルのデータと、当該吸収スペクトルのデータに基づき算出された前記氷結晶の状態とを関連づけて記憶するための記憶部をさらに、備える、請求項１から１３のいずれかに記載の冷却管理装置。
【請求項１５】
日付および時刻の少なくともいずれかを取得するための時計機能をさらに備える、請求項１４に記載の冷却管理装置。
【請求項１６】
冷却器により冷却される対象物の氷結晶の状態を管理するための冷却管理方法であって、
前記対象物に光を照射することによって、当該対象物から受光した反射光または透過光に基づく吸収スペクトルのデータを取得するステップと、
前記吸収スペクトルのデータから前記氷結晶の状態を分析するために用いる計算モデルが予め格納されるモデル記憶部から、前記計算モデルを読出すステップと、
前記対象物について取得された前記吸収スペクトルのデータと、前記読出すステップにより読出された前記計算モデルとに基づいて、当該対象物の氷結晶の状態を分析するための演算を行うステップと、
前記演算を行うステップによる演算結果から得られた前記氷結晶の状態に基づいて、氷結晶の状態が所定の基準を満たすように冷却運転の動作を変更するかを判定するステップと、
前記判定するステップの判定結果に従って、氷結晶の状態が所定の基準を維持するように、前記冷却器による冷却の運転を制御するステップとを、備える、冷却管理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、冷却管理装置および方法に関し、特に、被冷却物の保冷状態をより正確に管理するための冷却管理装置および方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
食品などの水分を含む有機物を冷却して冷凍保存する場合、一般に冷却の対象物（以下、被冷却物という）中の氷の結晶（以下、氷結晶という）が大きいと被冷却物の細胞膜が破壊されてしまうために、解凍すると水分や栄養分が食品から抜け、食感を損なう空洞が多数でき、被冷却物の品質を大きく下げる原因となる。よって、被冷却物の品質を保つため、氷結晶の状態を制御して適正な冷凍状態を保つ方法が提案されていた。
【０００３】
たとえば特許文献１によれば、温度センサを用いて食品の温度を計測し、氷結晶ができる温度である時間をなるべく短くする過冷却冷凍法により氷結晶を小さくする方法が提案される。
【０００４】
また、特許文献２によれば、ミリ波を照射して被冷却物の水分の相状態を観察することにより、氷結晶の状態を監視する方法が提案される。
【０００５】
また、特許文献３によれば、近赤外の反射スペクトルを測定してピークの大きさの単純比較で水分の相状態を観察する方法が提案される。
【０００６】
特許文献４および特許文献５によれば、近赤外領域の反射スペクトルを用いた演算によって、被冷却物の鮮度を測る方法が提案される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００９−４４９８１号公報
【特許文献２】特開２００６−１７４１８号公報
【特許文献３】特開平６−１２９９８２号公報
【特許文献４】特開平１１−２６４６４２号公報
【特許文献５】特開平９−３０３９３９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
特許文献１の方法によれば、過冷却冷凍法により氷結晶が小さいままで冷凍し、冷凍した後は従来どおり温度による制御のみが行なわれる。一般には冷凍したあとで氷結晶が大きくなっていくことが知られている。したがって、保冷中に氷結晶が大きくなって被冷却物の品質が損なわれる。
【０００９】
また、赤外線センサの反射光を用いて温度を監視する方法では、温度を測定できるのは被冷却物の表面のみで、内部の温度までは測定できないので、表面と内部の温度差が高い場合などは内部の氷結晶の状態まではわからない。
【００１０】
特許文献２および３は氷結晶の状態を直接観測しているわけではなく、水分の相状態の変化から間接的に推定しているので、氷結晶の状態を精密に管理することは難しい。また、特許文献３のミリ波の照射装置と制御装置は広く普及しているものではなく高価であり、コストがかさむ。
【００１１】
特許文献４では、最初に一度だけ被冷却物の鮮度を分析し、その後は測定せずに経過時間から品質の劣化を推定するにすぎないから、被冷却物の品質を精密に管理することはできない。
【００１２】
また、特許文献５では、被冷却物の成分の変化から鮮度を推定しているため、氷結晶による品質の劣化は分析することができない。
【００１３】
それゆえに本発明の目的は、冷却対象物の氷結晶の状態に基づき、対象物を適切に保冷することができる冷却管理装置および方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
この発明のある局面に従う、冷却器により冷却される対象物の氷結晶の状態を管理するための冷却管理装置は、対象物に光を照射することによって、当該対象物から受光する反射光または透過光に基づく吸収スペクトルのデータを取得するための測定デバイスと、吸収スペクトルのデータから氷結晶の状態を分析するために用いる計算モデルを予め格納するためのモデル記憶部と、測定デバイスによって取得された吸収スペクトルのデータと、モデル記憶部の計算モデルとに基づいて、氷結晶の状態を分析するための演算を行う演算部と、演算部の演算結果から得られた氷結晶の状態に基づいて、氷結晶の状態が所定の基準を満たすように冷却運転の動作を変更するかを判定するための判定部と、判定部の判定に従って、氷結晶の状態が所定の基準を維持するように、冷却器の冷却運転を制御するための冷却運転制御部とを、備える。
【００１５】
好ましくは、対象物の１種類以上の環境条件を検出するための検出部を、さらに備え、モデル記憶部には、１種類以上の環境条件の組のそれぞれに対応付けられて計算モデルが格納され、演算部は、測定デバイスによって取得された吸収スペクトルのデータと、検出部により検出された１種類以上の環境条件の組に対応付けられた計算モデルとに基づいて、氷結晶の状態を分析するための演算を行う。
【００１６】
好ましくは、環境条件は、温度を含む。
好ましくは、環境条件は、湿度を含む。
【００１７】
好ましくは、検出部は、対象物が格納される収容部における対象物が載置される面において、当該対象物と接する位置に設けられる。
【００１８】
好ましくは、対象物の種類を含む情報の入力操作を受付ける入力部を、さらに備え、モデル記憶部には、複数種類の対象物のそれぞれに対応付けて計算モデルが格納され、演算部は、測定デバイスによって取得された吸収スペクトルのデータと、入力部が受付けた入力操作に基づく対象物の種類に対応付けられたモデル記憶部の計算モデルとに基づいて、氷結晶の状態を算出する。
【００１９】
好ましくは、情報を表示するための表示部を、さらに備え、表示部には、対象物の種類を含む情報の入力操作を支援するための情報が表示される。
【００２０】
好ましくは、測定デバイスは、対象物に光を照射するための光源と、対象物に照射された光の反射光または透過光を受光する受光部と、を含み、光源の光の出射口および、受光部の光の入射口の少なくとも１つは、気密性および水密性の少なくとも１つの特性を有する部材に格納され、部材は吸収スペクトルを得るために用いられる波長に対して光透過性の特性を有する光透過性材料を含んでいる。
【００２１】
好ましくは、部材には、集光のためのレンズが設けられる。
好ましくは、光源は近赤外の波長を含む光を照射する。
【００２２】
好ましくは、光源と受光部とは、対象物が格納される収容部の同一面に設けられ、光源の光の出射口および、受光部の光の入射口は同一の部材に格納され、部材は対象物と接して設けられる。
【００２３】
好ましくは、光源と受光部とは、光源からの照射光が受光部に直接に入射しない位置に配置される。
【００２４】
好ましくは、光源と受光部とは、光源からの照射光が受光部に直接に入射するのを防止するための障害物によって隔てられて配置される。
【００２５】
好ましくは、吸収スペクトルのデータと、当該吸収スペクトルのデータに基づき算出された氷結晶の状態とを関連づけて記憶するための記憶部をさらに、備える。
【００２６】
好ましくは、日付および時刻の少なくともいずれかを取得するための時計機能をさらに備える。
【００２７】
この発明の他の局面に従うと、冷却器により冷却される対象物の氷結晶の状態を管理するための冷却管理方法は、対象物に光を照射することによって、当該対象物から受光した反射光または透過光に基づく吸収スペクトルのデータを取得するステップと、吸収スペクトルのデータから氷結晶の状態を分析するために用いる計算モデルが予め格納されるモデル記憶部から、計算モデルを読出すステップと、対象物について取得された吸収スペクトルのデータと、読出すステップにより読出された計算モデルとに基づいて、当該対象物の氷結晶の状態を分析するための演算を行うステップと、演算を行うステップによる演算結果から得られた氷結晶の状態に基づいて、氷結晶の状態が所定の基準を満たすように冷却運転の動作を変更するかを判定するステップと、判定するステップの判定結果に従って、氷結晶の状態が所定の基準を維持するように、冷却器による冷却の運転を制御するステップとを、備える。
【発明の効果】
【００２８】
本発明によれば、冷却対象物の氷結晶の状態に基づき、対象物を適切に冷却し保冷することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】本実施の形態に係る冷却管理装置の機能構成を周辺部とともに説明する図である。
【図２】本実施の形態に係る冷却管理装置の光源と受光部の関係を説明する図である。
【図３】本実施の形態に係る冷却管理装置が搭載された冷蔵庫の概観を示す図である。
【図４】本実施の形態に係る分析用データベースの内容の一例を示す図である。
【図５】本実施の形態に係る処理フローチャートである。
【図６】本実施の形態に係る光源と受光部の取付け態様の一例を説明する図である。
【図７】本実施の形態に係る光源と受光部の取付け態様の他の例を説明する図である。
【図８】本実施の形態に係る光源と受光部の取付け態様のさらなる他の例を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００３０】
本発明の各実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰返さない。
【００３１】
本実施の形態では、“被冷却物の冷凍状態”とは、被冷却物の氷結晶状態および氷結晶以外の冷凍物の内部状態などを含む。たとえば大きい氷結晶が多かったりした場合、被冷却物内部の細胞がより破壊されていたり、栄養成分が損なわれていたり、内部に空隙ができていることがあり、そういった冷凍物の内部状態も含む。
【００３２】
本実施の形態では、“氷結晶状態”とは、氷結晶の粒度や大きさ、充填密度や粒度分布といった氷結晶の状態を指す。ここでは、氷結晶の大きさとは、一個の氷結晶の「粒径」を指す。また、粒度とは、各種粒径の結晶がどのような割合で混じり合っているかを指す。
【００３３】
本実施の形態に係る冷却管理装置は、冷凍庫、冷蔵庫などの被冷却物の冷凍機能を持つ装置全般に適用することができる。本実施の形態では、冷却管理装置は冷凍庫を備える冷蔵庫に搭載されると想定するが、これに限定されるものではない。
【００３４】
［実施の形態１］
本発明の実施の形態１について説明する。
【００３５】
＜冷却管理装置の構成＞
本実施の形態に係る冷却管理装置１は、食品などの被冷却物に光を照射することによって反射光あるいは透過光のスペクトルを取得する。冷却管理装置１は、成分分析に必要な計算モデルを予め記憶し、計算モデルと取得されたスペクトルのデータとに基づいて被冷却物に含まれる氷結晶の状態を演算により分析し、結果を出力する。
【００３６】
図１を参照して、本実施の形態に係る冷却管理装置１の機能構成を周辺部とともに説明する。冷却管理装置１は、測定デバイス部２０と、管理部３０と、分析部４０と、管理情報データベース５と、センサ部としての環境検知部８と、入力部９と、表示部１０とを備える。冷却管理装置１には、冷却部７の駆動を制御する冷却制御部６が接続される。
【００３７】
冷却制御部６は管理部３０からの命令に従って、冷却部７の駆動を制御して、被冷却物を冷却する。
【００３８】
制御管理部３０は、被冷却物の冷却状態の分析結果に対応して、冷却部７の各部の駆動を制御するための命令を冷却制御部６に出力する。命令は、管理部３０が、予め記憶部３２に格納されている冷却制御プログラムを、分析結果のデータに基づき実行することにより導出される。
【００３９】
測定デバイス部２０は、被冷却物に光を照射する光源２１と、光源２１による照射光の被冷却物における透過光または反射光を受光する受光部２２と、受光部２２で検知された光スペクトル（受光された光の強度の波長依存性）の信号を吸収スペクトル（吸光度の波長依存性、つまり特定の波長に対する物質の光吸収強度の波長依存性を示したものであり、物質の内部の状態を反映している）に変換し、必要に応じて増幅するなどして、電気信号に変換する信号処理部２３を含む。
【００４０】
光源２１は、ここでは照明用光源とは別の光源（ランプ、ＬＥＤ（Light  Emitting  Diode）およびＬＤ（Laser  Diode）など）として設けているが、たとえば冷蔵庫や冷凍庫などの照明用の光源を利用してもよい。
【００４１】
受光部２２としては、光をレンズや光ファイバケーブル（以下、ファイバ）などで集光して、フォトダイオードやフォトトランジスタなどの受光素子で検知したり、分光器で検知するなどの形態が使用される。本実施形態では、受光部２２は少なくともファイバと受光素子から構成され、ファイバの一端に被冷却物からの反射光または透過光を入射させて、ファイバを通過した光がファイバの他方端に接続された受光素子に検知される。
【００４２】
入力部９は、ユーザが各種の命令・情報を入力するために操作されるボタン、スイッチや、タブレット、ハンドル、表示部１０と一体的に構成されるタッチパネルなどからなる。入力部９は、ユーザの入力操作を受付けて、受付けた操作に基づく命令・情報を管理部３０に出力する。管理部３０は、入力部９から入力した情報を管理情報データベース５に格納する。入力部９を介して入力される情報としては、たとえば、被冷却物の種類や分量や保冷をはじめる日時などの情報であり、命令としては冷却機能に関する命令である。
【００４３】
表示部１０は、管理部３０の制御の下で、ユーザが入力部９を操作する場合に、ユーザの入力操作を支援するための必要な画像またはテキストなどの情報を提示する。たとえば、被冷却物の種類および分量に関する情報を表示する。また、被冷却物の情報や冷却管理装置１が搭載される冷蔵庫の各種機能の制御に関する選択肢を表示する。また、表示部１０は管理部３０からの信号に応じて、収納されている被冷却物の管理情報や冷蔵庫に搭載された機能に関するお知らせも表示する。
【００４４】
管理部３０は、冷却管理装置１の各部を制御して、各種の処理を実行する。管理部３０は、制御部３１と、各種プログラムおよびデータを格納する記憶部３２と、判定部３３と、時間を計時する時計部３４を含む。管理部３０は記憶部３２に記憶されているプログラムに従って分析部４０に被冷却物の氷結晶状態の分析を行わせる。なお、制御部３１は、記憶部３２に記憶されているプログラムを実行することによって実現されるモジュールであっても良いし、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）を含むマイクロコンピュータ、マイクロコントローラまたはハードウェア回路であってもよい。なお、判定部３３は、制御部３１に組込まれるモジュールとして実現してもよく、または記憶部３２にあらかじめ格納されるプログラムとして実現されてもよく、またはハードウェア回路により実現されてもよい。
【００４５】
制御部３１は、記憶部３２に記憶されているプログラムを実行することによって、各種の演算を行なう。このプログラムは、氷結晶状態の分析を行なうためのプログラム、各部の制御プログラム、サブルーチン、計算モデルの精度管理プログラム（分析結果の精度があらかじめ設定された基準を満足しているか判断するためのプログラム、それらの判断基準の設定など）を含む。
【００４６】
記憶部３２は、分析に用いるプログラムをロードする領域やプログラムが処理を行なう際に使用する作業領域などを備えている。
【００４７】
記憶部３２は、最適な計算モデルが検索されて所望の分析結果が得られるまでの、その時点での候補である計算モデルや演算や分析結果を、ユーザの入力内容と共に一時的に記憶しておく領域を備えている。
【００４８】
記憶部３２は、たとえば、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）、ＳＲＡＭ（Ｓｔａｔｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）、ＤＲＡＭ（Ｄｙｎａｍｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）、ＳＤＲＡＭ（Ｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ  ＤＲＡＭ）、ＤＤＲ−ＳＤＲＡＭ（Ｄｏｕｂｌｅ  Ｄａｔａ  Ｒａｔｅ  ＳＤＲＡＭ）、ＲＤＲＡＭ（Ｒａｍｂｕｓ  Ｄｙｎａｍｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ（登録商標））、Ｄｉｒｅｃｔ−ＲＤＲＡＭ（Ｄｉｒｅｃｔ  Ｒａｍｂｕｓ  Ｄｙｎａｍｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ（登録商標））、フラッシュメモリ、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、マスクＲＯＭやＰＲＯＭ（Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、ＥＰＲＯＭ（Ｅｒａｓａｂｌｅ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  ＲＯＭ）、ＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ  Ｅｒａｓａｂｌｅ  ＰＲＯＭ）、ＦｅＲＡＭ（Ｆｅｒｒｏｅｌｅｃｔｒｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）などによって実現される。
【００４９】
分析部４０は、分析演算部４１と分析用データベース４２とを含む。分析用データベース４２には、氷結晶状態の定量分析や定性分析に使用する計算モデルが格納される。計算モデルとしては、たとえば多変量解析であれば検量線またはキャリブレーションモデル、回帰分析であれば回帰式、定性分析であれば分類基準、パターン認識であればパターンモデルなどを適用することができる。
【００５０】
また、分析用データベース４２には、計算モデルに付随する測定条件の情報など、分析演算部４１が必要に応じて分析のために参照するデータも予め格納される。
【００５１】
分析演算部４１は、分析用データベース４２を検索し、分析に適した計算モデルを抽出する。具体的には、分析演算部４１は、入力部９を介してユーザが入力した被冷却物の種類や分量などの情報に基づき分析用データベース４２を検索して計算モデルを読出す。これにより、分析したい対象（被冷却物）に最も適した計算モデルが抽出される。説明のため、計算モデルとして、ここでは検量線が抽出されるものとする。分析演算部４１は、抽出された検量線と、測定デバイス部２０で得られた吸収スペクトルのデータとを用いて演算することで、被冷却物に含まれる氷結晶状態の定性分析や定量分析を行ない、分析結果を出力する。
【００５２】
図２を参照して、光源２１と受光部２２の関係を説明する。被冷却物が収容される空間を形成するユニット（以下、収容ユニットという）は、冷凍室、あるいは冷凍室の中に設けられた専用の部屋や容器に相当する。ここでは、説明を簡単にするために収容ユニットは中空の略直方体であると想定するが、形はこれに限るものではない。収容ユニット内の被冷却物が載置される面を、底面と称する。
【００５３】
図２を参照して、収容ユニットに関連して設けられた光源２１の光の出射口の部分と、受光部２２の光の入射口の部分とは、気密性および水密性を保つユニット（以下、気密ユニットという）に格納されている。気密ユニットのうち被冷却物に接する部分は、光源２１が照射する光や受光部２２に受光される光の波長を吸収しにくいように、たとえばガラスのような光透過性材料からなる光透過性の部分である。さらに、光透過性の部分と光源２１との距離および、光透過性の部分と受光部２２との距離は、それぞれ１ｃｍ以内に収められている。光透過性の部分は、光源２１に対しては光源２１の熱が収容ユニット内に伝わりにくくするとともに、光源２１および受光部２２を収容ユニット内の水分や冷気から保護する。これにより、ノイズが少なく正確な光スペクトルが得られるので測定を安定して行えると共に、冷却管理装置１の故障も減らすことができる。
【００５４】
光源２１は、たとえば近赤外光を照射することができる１または複数のＬＥＤを含む。ＬＥＤ部分は出射口として気密ユニット内に格納され、ＬＥＤ駆動用の図示しないドライバ部分は収容ユニット外に設けられている。受光部２２は、たとえば複数のファイバの先端が光源２１を取り囲むように設けられて、これらの先端部分が入射口として気密ユニットに格納されており、ファイバの他方端に接続された受光素子で光を検知する。近赤外の波長を持つ光は、被冷却物の中に侵入しやすいため、受光部２２により被冷却物内部の状態を反映した光スペクトルを得ることができる。したがって、当該スペクトルを用いることによって被冷却物内部の氷結晶を直接的に観測することが可能となる。
【００５５】
図２においては光源２１の出射口と受光部２２の入射口は同一の気密ユニット（図中、破線塗りつぶし部分）内に近接して格納されて収容ユニット内の底面に設けられている。且つ被冷却物は気密ユニットに接するように置かれる。気密ユニット内の光源２１からの光は被冷却物に照射され、被冷却物内部で拡散反射し、図示しているファイバによって導光されて、ファイバに接続された図示しない受光素子により検知される。光源２１の出射口と受光部２２の入射口は同じ気密ユニット内に近接して格納されているので被冷却物の形に関わらず効率よく受光することができ、且つ気密ユニットは被冷却物に接しているので光源２１の光が受光部２２に直接入射して生じる迷光を低減できる。受光部２２は光電変換により受光信号に応じた電気信号を信号処理部２３に出力する。
【００５６】
収容ユニット内には環境検知部８が設けられる。環境検知部８は、収容ユニット内の環境条件、より特定的には被冷却物の温度や湿度などの環境条件を検知する１または複数種類のセンサ、たとえば温度センサや湿度センサなどを含む。一般に、近赤外域の波長の光に対する吸収スペクトルの形状には、水分が光を吸収することで生じる吸収ピークが影響する。さらに、水分の吸収ピークは温度や湿度の影響を受ける。よって、被冷却物の吸収スペクトルは被冷却物内外の温度と湿度に影響される。したがって、本実施の形態では、環境検知部８により温度と湿度を含む環境条件を検知して、水分による光スペクトルへの寄与を考慮することで、より精度のよい分析を可能としている。なお、ここでは、精度を高めるために温度と湿度の両方を測定するが、いずれか一方を測定するとしてもよい。
【００５７】
図３には、冷却管理装置１が搭載された冷蔵庫の概観例が示される。図３を参照して、入力部９と表示部１０は、冷蔵庫の扉前面に取付けられており、被冷却物の収容ユニットは冷蔵庫下部の冷凍庫内に設けられる。
【００５８】
また、冷却管理装置１が搭載される冷蔵庫では、一般的に用いられる簡便な構成で冷却機能を実現できる。例えば、冷凍室に設置した蒸発器（冷却器）により冷却された空気を庫内各室に循環させて、冷凍室および冷蔵室を冷却する。冷蔵庫の温度・湿度制御は、ここでは冷媒の送出をする圧縮機の運転制御および蒸発器に流入する冷媒量を制御する電磁弁の開閉制御により行なわれると想定する。冷媒を用いた冷却動作において、圧縮機から吐出された高温高圧ガス冷媒は、凝縮液化されて、減圧され電磁弁を介して蒸発器側に送出される。蒸発器は冷媒を気化させることにより、その気化熱で周囲空気を冷却する。冷却空気が循環することで冷蔵庫内は冷却される。蒸発器から出力される冷媒は、圧縮機に戻される。このような冷媒の循環サイクルにより冷蔵庫内は冷却される。
【００５９】
この場合、本実施の形態では、冷却部７は圧縮機のモータおよび電磁弁のモータを含む。なお、冷却部７を構成する部材はこれに限定されるものではない。
【００６０】
〈分析の概要〉
分析部４０による分析について説明する。動作において、光源２１から投射された光は被冷却物内に侵入し、内部で散乱あるいは透過して、受光部２２により受光される。
【００６１】
発明者の実験によれば、被冷却物に含まれる氷結晶状態によって、光の散乱特性や、拡散反射の特性や、透過の仕方が変わるために、信号処理部２３が検出する吸収スペクトルが変化するという知見を得た。
【００６２】
具体的には、氷結晶状態によってスペクトル全体が上下したり、ピーク波長やピーク値の大小が変化する。こうした氷結晶状態の変化とスペクトルの変化との相関は、例えば検量線のような数式や分布からなる計算モデルとして表すことができるので、計算モデルをあらかじめデータベースに登録しておけば、未知の状態の被冷却物の光スペクトルと計算モデルとから演算して、氷結晶の状態や細胞壁の破壊の度合いなどを知ることができる。
【００６３】
さらに発明者の実験によれば、吸収スペクトルの強度や変化は、被冷却物の種類や分量、環境（温度や湿度など）などといった条件に影響されるという知見を得た。
【００６４】
そこで、本実施の形態では、被冷却物の氷結晶状態の分析ができるように、予め実験により様々な氷結晶の状態の被冷却物を対象にして、かつ様々な環境条件のもとで吸収スペクトルのデータを収集し、それらの実験データから多変量解析を用いて作成した複数の検量線を分析用データベース４２に格納している。
【００６５】
よって、冷蔵庫の運転中に、この分析を適宜行うことで、被冷却物の冷却状態を監視し、様々な種類の被冷却物に応じた最適な冷却機器の制御を行なうことができる。
【００６６】
図４には、分析用データベース４２の内容の一例が示される。分析用データベース４２には、被冷却物の種類および分量、ならびに被冷却物についての温度と湿度からなる各組に対応付けて、適用するべき検線量（ｉ）（ただし、ｉ＝１，２，３・・・）が格納されている。なお、図４に一例として挙げた分析用データベース４２は、属性として、被冷却物の種類／分量、温度／湿度および検線量（ｉ）を有し、これらが関係付けされているリレーショナルデータベースの構成を採用するが、データベースの構成はこれに限定されるものではなく、また、検量線に関係付けされる属性の種類、および属性値も図４に示すものに限定されるものではない。
【００６７】
＜全体処理＞
次に図５のフローチャートを参照して、本実施の形態に係る冷却管理装置１による処理手順について説明する。図５のフローチャートに従う処理は予めプログラムとして記憶部３２に格納されている、制御部３１が当該プログラムを記憶部３２から読出し、プログラムを実行することにより、処理が実現される。なお、この処理は、冷蔵庫の運転中（電源ＯＮ中）は、予め記憶部３２に設定されたタイミングで定期的あるいは非定期的に繰返し実行されるものとする。このタイミングの設定は予め冷却管理装置１のメーカーが出荷前に行っておくこともできるし、冷却管理装置１のユーザーが入力部９を用いてユーザーの任意に設定してもよい。
【００６８】
また、ここでは、収容ユニット内の被冷却物の種類や分量などの情報は、ユーザが入力部９を操作して予め入力しており、入力された情報は、管理情報データベース５に格納されると想定する。
【００６９】
まず、制御部３１は、光源２１を駆動する。これにより、光源２１から被冷却物に対して光が照射される（ステップＳ１０２）。受光部２２は被冷却物からの透過光および反射光を受光し、受光信号を光電変換し電気信号を信号処理部２３に出力する（ステップＳ１０４）。
【００７０】
制御部３１は、環境検知部８から出力される温度および湿度のデータを取得する（ステップＳ１０６）。
【００７１】
信号処理部２３は、受光部２２からの入力信号を処理し、被冷却物の反射光あるいは透過光の波長毎の光の吸収を示す吸収スペクトルのデータを取得する。すなわち、受光部２２では、検出した光のスペクトルは、必要に応じて増幅などの処理が加えられて電気信号に変換され、光電変換により取得された電気信号は波長毎の光の吸収を示す吸収スペクトルに変換される（ステップＳ１０８）。
【００７２】
制御部３１は、ステップＳ１０８で取得した吸収スペクトルのデータを分析演算部４１に出力する（ステップＳ１１０）。
【００７３】
制御部３１は、管理情報データベース５から、被冷却物の種類や分量などの情報を読出し、読出した情報とステップＳ１０６で取得した収容ユニット内の温度・湿度の情報とに基づいて分析用データベース４２を検索して、関連付けされた検量線を抽出し、抽出した検量線を分析処理部４０へ出力する（ステップＳ１１２）。
【００７４】
制御部３１は、抽出した検量線とＳ１０８で取得した吸収スペクトルのデータを関連付けて記憶部３２に一時保存する（ステップＳ１１４）。
【００７５】
分析演算部４１は、ステップＳ１１０で得たデータにステップＳ１１２で得た検量線を適用して演算し、被冷却物の氷結晶の状態を分析する（ステップＳ１１６）。本実施形態では、この演算は多変量解析において一般的に用いられるＰＬＳ（Partial Least Squares）回帰分析によって実行される。ＰＬＳ回帰分析の手法は、測定対象の吸収スペクトルのデータにＰＬＳ回帰分析を施して導出した検量線を作っておき、その検量線を用いて、測定対象の吸収スペクトルをＰＬＳ回帰分析すれば、測定対象の知りたい特定成分の成分量や含有量を算出することができるものである。発明者は、被冷却物の氷結晶状態を示す検量線を予め実験によって独自に作成することで、被冷却物の氷結晶の状態の分析を可能にしている。
【００７６】
続いて、制御部３１は、ステップ１１６で取得した演算結果を分析結果として判定部３３に出力する（ステップＳ１１８）。
【００７７】
判定部３３は、入力された分析結果と、予め設定された記憶部３２に格納されている管理基準３２１とに基づいて、分析結果が示す被冷却物の現在の氷結晶状態に対して、冷却部７の運転の動作を変更する必要があるか否かを判定する（ステップＳ１２０）。
【００７８】
管理基準３２１は、被冷却物の種類・分量のそれぞれ毎に、当該種類・分量に対応付けて当該被冷却物が一定の品質を維持するための氷結晶状態を指す指標（粒度、粒径、充填密度、分布状態など）に関する様々な基準からなる。その基準の内容は、たとえば定量分析を行うのであれば粒度などの閾値や許容範囲を値で設定したものであっても良いし、たとえば定性分析や判別分析などを行うのであれば氷結晶状態の分類や種別や分布位置などのように値以外のもので設定することもできる。その設定は被冷却物の種類や実行する分析の種類などに応じて、メーカーあるいはユーザーが好適に決めておくことができる。
【００７９】
判定部３３は、被冷却物の種類・分量に基づき管理基準３２１を検索して、対応する基準を読出し、読出した所定の基準の内容と分析結果とを比較照合して、氷結晶の状態がその基準を維持するために、現在の冷却運転を続けるか、それとも冷却部７の運転の動作を変更する必要があるかを判定する。
【００８０】
分析結果に基づき、現在の氷結晶の状態が所定の基準を満たしていない場合には、氷結晶の状態が所定の基準を満たして維持できるように運転動作を変更する必要があると判定する。また、現在の氷結晶の状態が所定の基準を満たしていても、現在の運転動作のままでは所定の基準を達しなくなる分析結果であった場合は、氷結晶の状態が所定の基準を維持できるように運転動作を変更する必要があると判定する。現在の運転動作のままで所定の基準を維持できる場合は、現在の運転を変更しないと判定する。
【００８１】
なお、管理基準３２１および判定方法はこれに限定されない。被冷却物の種類および量によって管理基準３２１および判定方法を変更してもよい。
【００８２】
判定部３３が冷却部７の運転動作はそのままでよいと判定した場合は（ステップＳ１２０でＮＯ）、制御部３１は処理をステップＳ１２４へ進める。
【００８３】
判定部３３が冷却部７の運転動作を変更する必要があると判定した場合は（ステップＳ１２０でＹＥＳ）、制御部３１から、冷却制御部６に運転動作を変更するよう指示する命令が出力される。具体的には、たとえば記憶手段３２に予め判定結果に応じた温度や湿度などの環境条件や、冷却速度や冷却強度などの運転条件や、所定の演算式をテーブルとして格納しておき、制御部３０が判定手段３３の判定結果に基づいてテーブルを検索して読み出し、冷却制御部６に読み出した内容を命令する。
【００８４】
冷却制御部６は制御部３１からの命令の内容（環境条件や運転条件や所定の演算式など）に基づいて駆動信号を生成して冷却部７に出力する。こうして冷却制御部６が冷却部７を制御することで、冷却動作の調整が行われる。
【００８５】
駆動信号は、たとえば電磁弁モータに印加するパルス電圧信号、または圧縮機のモータに印加する電圧信号である。
【００８６】
冷却部７は、冷却制御部６から与えられる駆動信号、具体的にはパルス電圧信号のパルス幅、または圧縮機モータに印加する電圧信号の周波数などの指示内容に従って運転動作を変更する（ステップＳ１２２）。そして、処理をステップＳ１０２に戻す。
【００８７】
ステップＳ１２４では、制御部３１は、環境検知部８が検出した環境条件と、抽出した検量線と、ステップＳ１０８で取得した吸収スペクトルのデータと、今回得られた分析結果と、時計部３４によって得た日時の情報とを関連付けて、管理情報データベース５に記憶する。
【００８８】
以上で処理は終了する。このように、冷却管理装置１は、被冷却物に光を照射して得られる光のスペクトルを随時検知して、予め得た計算モデルを光のスペクトルに適用して演算を行うことで被冷却物内部の氷結晶の状態を分析しており、その分析結果を冷却部７の運転動作に反映させて、被冷却物の氷結晶の状態を適正に保つように管理することができる。
【００８９】
また、光源２１や受光部２２としてはＬＥＤやフォトダイオードなどの安価な素子を使用することができるから、装置の価格を低減することもできる。
【００９０】
（変形例）
氷結晶状態を指すものは、氷結晶の大きさや量、粒度に限定されず、被冷却物に含まれる氷結晶の品質や成分に関わる特性であればよい。
【００９１】
また、本実施の形態に係る分析手法は、本実施の形態で用いたＰＬＳ回帰分析以外にも、たとえば、重回帰分析、主成分分析、主成分回帰分析(Principal Component Regression)、パターン認識や、階層的クラスタ分析（Hierarchical Cluster Analysis）、などを用いて、定量分析や定性分析を適用できる。
【００９２】
ステップ１１６では、使用できる検量線の候補が複数あった場合は、それぞれ試行を行って、最も良い精度が得られる最適な検量線を採用してもよい。例えば、被冷却物が農作物であれば、栽培条件が冷夏であったか猛暑であったかなどによって同じ種類でも複数の候補がある場合がある。絞込みには、制御部３１のプログラムに従って、分析結果が物理的あるいは化学的に誤った数値であるかを判定してもよいし、管理情報データベース５に格納されている過去のデータを参照して、過去の分析データに基づき試行と検量線の特定を行ってもよい。
【００９３】
また、分析処理を円滑に行うため、管理部３０は必要に応じて、分析部４０が分析処理を実行して得られた分析経過を一時的に記憶部３２に記憶して分析処理に利用してもよい。たとえば、上記のように検量線の候補が複数あった場合、採用する検量線を決めるまでの試行の経過や演算結果を、分析が終わるまで記憶部３２に一時的に記憶する場合に利用できる。つまり、各検量線によって得られた分析結果（氷結晶の粒径など）を一時的に記憶部３２に記憶しておき、相互に比較することで最適な検量線を特定することができる。
【００９４】
また、ステップ１１６では、必要であれば管理情報データベース５に格納されている過去の分析データを参照して分析結果の検証を行ってもよい。過去のデータを参照することにより、たとえば吸収スペクトルの形状があまりにも過去の傾向と異なる場合、何かしら測定に悪条件が作用していて分析精度を下げている恐れがあり、そういった異常が生じているかどうかをチェックすることができる。
【００９５】
また、本実施の形態では、時計部３４によって得られる日時の情報を用いて、季節による被冷却物の状態の変化や、時間帯による温度や湿度などの測定条件の変化も、分析に反映させてもよい。たとえば、食品のように季節によって品質が異なる場合や、水分を多く含んでいて温度や湿度によって状態が大きく変わる被冷却物の場合は、日時に依存して最適な検量線が変わることがある。よって、あらかじめ季節や時間帯ごとに実験を行って作成した検量線を、季節や時間帯に対応付けて分析用データベース４２に格納しておけば、最適な検量線を用いてより精度のよい分析を行うことができる。この場合、検量線を検索するための図４の属性に時間（または季節）に関する属性を追加して時間（季節）に対応する検量線を抽出することができる。
【００９６】
また、本実施の形態では、時計部３４によって得られる日時の情報を用いて、日時情報に関連づけて分析結果などの情報をユーザーの使用履歴として記憶装置に記憶でき、過去のデータを分析に利用する際に同じ季節のデータを参照するなどして利用できるため、有益である。
【００９７】
なお、本実施の形態では分析過程を記憶部３２に一時保存して最終的な結果を管理情報データベース５に記憶するなどして各種情報を適宜記憶しているが、分析のための演算を精度よく行なえるのであれば必ずしもそれぞれの情報を記憶装置に記憶せずとも良い。しかし、分析中に最適な検量線を抽出するための試行を繰り返す際には、経過を一時保存しておけばより正確に処理を行なうことができ、またユーザの使用形態とその分析において得られた結果を蓄積しておけば、分析やメンテナンスに利用することができ、望ましい。
【００９８】
また、本実施の形態では、ユーザが被冷却物の種類や分量などの情報を入力しているが、被冷却物の中の氷結晶の状態を分析するための演算を精度よく行なえるのであれば、必ずしも入力せずとも良い。しかし、被冷却物の種類や分量などの情報と合わせて検量線を選択したほうが、より分析を正確にできるため、望ましい。
【００９９】
また、本実施の形態では気密ユニットが被冷却物に密接しているが、被冷却物の中の氷結晶の状態を分析するための演算を精度よく行なえるのであれば、必ずしも密接せずとも良い。しかし、気密ユニットを被冷却物に密着させたほうが、より多くの光が被冷却物の中を通って検知され、また光源２１の光が直接受光部２２に入りにくくなるために迷光の影響も低減できるため、望ましい。
【０１００】
また、本実施の形態では光源２１の出射口と受光部２２の入射口を格納する気密ユニットは同一であるが、異なる気密ユニットに格納しても、気密ユニット同士をそれぞれ収容ユニット内の同一面に設けて近接させることで、被冷却物から拡散反射された光を被冷却物の形に関わらず効率よく受光できるという効果が得られる。しかし、同一の気密ユニットに格納したほうが効率よく受光でき、また構成をコンパクトにできるため、望ましい。たとえば光源にハロゲンランプを採用してハロゲンランプの開口部に接続されたファイバの他方端を光の出射口として被冷却物に照射する構成にした場合、この照射用のファイバの先端と受光部に接続されたファイバの他方端（拡散反射された光の入射口）とを束ねてバンドルファイバとして同一の気密ユニットに格納すれば、構成をコンパクトにできるという利点が得られるため、望ましい。
【０１０１】
また、本実施の形態では光透過性の部分と光源２１の出射口との距離および光透過性の部分と受光部２２の入射口との距離はそれぞれ１ｃｍ以内に収められているが、吸収スペクトルを得られれば、必ずしも１ｃｍ以内でなくともよい。しかし、１ｃｍ以内にしたほうが、光の減衰を低減でき、ノイズが少なくより正確な吸収スペクトルを得ることができる。
【０１０２】
また、本実施の形態では受光部２２の入射口で被冷却物からの拡散反射光を受光しているが、気密ユニット中に集光のためのレンズを格納し、このレンズを受光部２２の入射口として光路や光量を調整して集光を効率よく行ってもよい。この場合、レンズを設けるために気密ユニット内の構成が複雑になり製造工程が増えることになるが、ノイズが少なく正確な光スペクトルが得られる。
【０１０３】
なお、本実施の形態では、図１に示すように、管理部３０が複数の機能ブロックを実現する構成としているが、このような構成に限るものではなく、分析のための演算を精度よく行なえるのであれば、複数の機能ブロックが１つの機能ブロックにまとめられてもよいし、１つの機能ブロックが複数の機能ブロックに分割されてもよい。
【０１０４】
本実施の形態では、光源２１にＬＥＤを用いたが、このような構成に限るものではなく、分析のための演算を精度よく行なえるのであれば、ハロゲンランプなどの光源にファイバを接続してその先端を気密ユニットに格納しても良い。
【０１０５】
本実施の形態では、光源２１、受光部２２のファイバ、および環境検知部８が収容ユニットの側面または底面から突出するように設けられているが、このような取付け態様に限るものではなく、分析のための演算を精度よく行なえるのであれば、埋め込んで設けても良い。
【０１０６】
また、本実施の形態においては、管理情報データベース５および計算モデルを記憶した分析用データベース４２を冷却管理装置１内に格納しているが、格納する場所はここに限定されない。たとえば、冷却管理装置１に外部データベース装置または外部の管理サーバに管理情報データベース５および分析用データベース４２を格納しておき、冷却管理装置１はデータベース装置または管理サーバと通信することにより、これら情報をやりとりしても良い。この場合、冷却管理装置１は、通信のためのネットワークに接続するための要素が必要とはなるが、冷却管理装置１が管理サーバに格納されている最新の情報を利用でき、また管理サーバがネットワークを介して冷却管理装置１をメンテナンスすることによって冷却管理装置１の分析精度を維持することができる。
【０１０７】
［実施の形態２］
次に、本発明の実施の形態２について説明する。
【０１０８】
以下では、実施の形態１に係る冷却管理装置１と同様の構成については、説明を繰り返さない。
【０１０９】
図６は、光源２１と受光部２２のファイバの先端がそれぞれ格納された気密ユニットを、収納ユニットに取付けた状態を指す略断面図である。
【０１１０】
図６では、光源２１を格納した気密ユニットは、収納ユニット内側面（底面に垂直な面）に設けられて、被冷却物に対して光を照射する。被冷却物への照射光は被冷却物内部で拡散反射し、収納ユニット内の上面（底面と相対する面（平行な面））に設けられた気密ユニットに納められている、受光部２２に入射して検出される。環境検知部８のうち温度を検知するセンサ部は収容ユニット内底面に設けられて被冷却物に接しており、それ以外の湿度などの環境条件を検知するセンサ部は収容ユニット内の別の箇所に設けられている。
【０１１１】
本実施の形態では、温度を検知する部が被冷却物に接しているために、より正確に被冷却物の温度を検知することができ、精密に氷結晶状態を管理することができる。
【０１１２】
また、光源部２１からの光が、受光部２２に直接入ってこないようにできるため、迷光によって被冷却物からの反射光が影響されにくくなる。
【０１１３】
なお、迷光の影響を軽減できるのであれば、光源２１を上面に、受光部２２を側面に設けても構わない。
【０１１４】
［実施の形態３］
次に、本発明の実施の形態３について説明する。
【０１１５】
以下では、実施の形態１に係る冷却管理装置１と同様の構成については、説明を繰り返さない。
【０１１６】
図７は、収容ユニットに光源２１の出射口と受光部２２の入射口がそれぞれ格納された気密ユニットを取付けた状態を指す略断面図である。
【０１１７】
光源２１の出射口を格納したユニットは、図７においては収容ユニット上面に設けられて、被冷却物に光を照射する。光は被冷却物に照射されて内部で拡散反射し、収容ユニット上面に設けられた気密ユニットに納められている受光部２２の入射口に入射して検出される。このとき、受光部２２と光源２１の気密ユニット同士は接しないように設けられる。
【０１１８】
環境検知部８のうち温度を検知するセンサ部は収容ユニット底面に設けられて被冷却物に接しており、それ以外の湿度などの環境条件を検知するセンサ部は収容ユニット内の別の箇所に設けられている。
【０１１９】
本実施の形態では、光源２１の出射口および受光部２２の入射口を格納している気密ユニットを収容ユニット上面に取付けているので、電気系統を収容ユニット内の同一面に集めることができ、冷蔵庫内部の構成を容易にできる。さらに、光源２１の出射口を格納している気密ユニットと、受光部２２の入射口を格納している気密ユニットとを接しないように設けているので、光源２１の光が、受光部２２に直接入ってこないようにできるため、迷光によって被冷却物からの反射光が影響されにくくなる。
【０１２０】
また、温度を検知するセンサ部が被冷却物に接しているために、より正確に被冷却物の温度を検知することができ、精密に氷結晶状態を管理できる。
【０１２１】
なお、本実施の形態では光源２１の出射口を格納した気密ユニットと受光部２２の入射口を格納した気密ユニットとの間に光を遮るための機構を設けていないが、このような構成に限るものではなく、光を遮るための障害物によって光源２１の出射口と受光部２２の入射口とが隔てられていても良い。この場合、構成が複雑となって製造工程が増えるが、光源２１の光が受光部２２に直接入ってこないようにできるため、迷光によって被冷却物からの反射光が影響されにくくなる。
【０１２２】
［実施の形態４］
次に、本発明の実施の形態４について説明する。
【０１２３】
以下では、実施の形態１に係る冷却管理装置１と同様の構成については、説明を繰り返さない。
【０１２４】
図８は、収容ユニットに光源２１の出射口を格納した気密ユニットと受光部２２の入射口を格納した気密ユニットを取付けた状態の略断面図である。
【０１２５】
に光源２１の出射口を格納した気密ユニットは、図８においては収容ユニット内上面に設けられて、被冷却物に光を照射する。光は被冷却物に照射されて内部で透過し、底面に設けられた気密ユニットに納められている受光部２２の入射口に入射して検出される。
【０１２６】
本実施の形態では、光源２１および受光部２２を対面に取り付けているので、被冷却物を透過した光を検知することができるため、より精密に内部の氷結晶の状態を検知することができる。
【０１２７】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した説明ではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【符号の説明】
【０１２８】
１  冷却管理装置、２  測定デバイス部、２１  光源、２２  受光部、２３  信号処理部、３０  管理部、３１  制御部、３２  記憶部、３３  判定部、４０  分析部、４１  分析演算部、４２  分析用データベース、５  管理情報データベース、６  冷却制御部、７  冷却部、８  環境検知部、９  入力部、１０  表示部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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