(57)【要約】【課題】消費電力を低減できるＳＥＵ対策指令装置及び電気装置を得る。【解決手段】図３（ａ）において、ＳＥＵ対策指令装置は、中性子センサ１００から通知される中性子レベルを予め設定されたレベル閾値Ｄ１と比較し、レベル閾値Ｄ１を越えている場合（ステップＳ１０３）、中性子レベルフラグを１に設定し、ＳＥＵ対策対象装置に中性子レベルフラグ１を通知する（ステップＳ１０４，１０６）。ステップＳ１０３において、中性子レベルがレベル閾値Ｄ１以下の場合、中性子レベルフラグを０に設定し、当該フラグをＳＥＵ対策対象装置に通知する（ステップＳ１０５，１０６）。一方、ＳＥＵ対策対象装置は、ステップＳ２０３において通知された中性子レベルフラグが１ならばＳＥＵ対策実施状態を入にし（ステップＳ２０４）、中性子レベルフラグが０ならばＳＥＵ対策実施状態を切にする（ステップＳ２０５）。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
中性子センサにて測定された中性子レベルが第１の所定値を越えたとき電気装置本体にＳＥＵ（シングル・イベント・アップセット）対策実施状態にて動作するように開始指令を発するＳＥＵ対策指令装置。
【請求項２】
上記中性子レベルが上記第１の所定値よりも小さい第２の所定値以下になったとき上記電気装置本体にＳＥＵ対策実施状態にて動作するのを停止するように停止指令を発するものである請求項１に記載のＳＥＵ対策指令装置。
【請求項３】
上記電気装置本体においてＳＥＵが予め決められた時間の間発生しなかったとき、上記第１の所定値を大きくするものである請求項１または請求項２に記載のＳＥＵ対策指令装置。
【請求項４】
上記電気装置本体がＳＥＵ対策実施状態にて動作していないときであってかつ上記電気装置本体において原因不明のエラーが発生したとき上記第１の所定値を小さくするものである請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載のＳＥＵ対策指令装置。
【請求項５】
請求項１ないし請求項４のいずれか１項に記載された中性子センサとＳＥＵ対策指令装置と電気装置本体との３者を備えた電気装置。
【請求項６】
上記中性子センサは、上記電気装置本体と対向するようにして配置され、上記電気装置本体に入射する中性子レベルを検出するものである請求項５に記載の電気装置。
【請求項７】
請求項６に記載の電気装置の上記中性子センサに照射する中性子レベルを変化させ上記照射する中性子レベルと上記電気装置本体におけるＳＥＵ発生件数との相関関係に基づいて上記第１の所定値を決定する電気装置の動作レベル設定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、シングル・イベント・アップセット（ｓｉｎｇｌｅ  ｅｖｅｎｔ  ｕｐｓｅｔ、以降、ＳＥＵと称す）対策状態にて動作するように指令を発するＳＥＵ対策指令装置及び電気装置並びに電気装置の動作レベル設定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＳＥＵ対策には、様々な方法が講じられてきた。例えば、定期的にＣＲＣチェックを実施してＳＥＵ発生を検出する方式や、メモリにパリティビットやＥＣＣを付加してデータ化けを検出する方式や、回路自体を３重化してデータ化けを多数決により検出する多数決回路方式などである。これらの方式の実施には、ハードウェアの消費電力を増加させてしまうという欠点があった。
【０００３】
この欠点を解消すべくいくつかの方式が従来提案されてきている。例えば、ＳＥＵエラー発生頻度を放射線強度の変化として捕え、ＳＥＵエラーパトロールの周期を変化させる方式である（例えば、特許文献１参照）。また例えば、環境観測つまり中性子レベルの結果によりパリティの付加状態やＥＣＣの付加状態を変化させる方式である（例えば、特許文献２参照）。また例えば、ＳＥＵが発生しにくいハードウェアを使用して、装置内にＳＥＵが発生した場合にリセットを行うものである（例えば、特許文献３参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００１−３２５１５５号公報
【特許文献２】特開平５−２８２１６８号公報
【特許文献３】特開平２−７１３０３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来の電気装置は以上のように構成され、ＳＥＵエラー発生頻度を放射線強度の変化として捕える方式では、実際の放射線強度は不明であり確実性に欠ける問題点があった。また、環境観測の結果によりパリティの付加状態やＥＣＣの付加状態を変化させる方式では、より信頼度の高い多数決回路方式に対して考慮がされていないという問題点があったり、装置によってＳＥＵ耐性が異なることに対する考慮がされていないという問題点があったりした。また、ＳＥＵが発生しにくいハードウェアを利用して、装置内にＳＥＵが発生した場合にリセットを行う方式では、ＳＥＵ発生後の事後対策となっており根本的な解決とはなっていない。従って、消費電力が増加するものの、上記のような定期的にＣＲＣチェックを実施してＳＥＵ発生を検出する方式や、メモリにパリティビットやＥＣＣを付加してデータ化けを検出する方式や、回路自体を３重化してデータ化けを多数決により検出する多数決回路方式などをとらざるを得なかった。
【０００６】
この発明は上記のような問題点を解決するためになされたものであり、消費電力を低減できるＳＥＵ対策指令装置及び電気装置を得ることを目的とする。また、個々のＳＥＵ対策対象装置に対応して適切にＳＥＵ対策を行うことができる電気装置の動作レベル設定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
この発明に係るＳＥＵ対策指令装置においては、中性子センサにて測定された中性子レベルが第１の所定値を越えたとき電気装置本体にＳＥＵ（シングル・イベント・アップセット）対策実施状態にて動作するように開始指令を発するものである。
【０００８】
また、この発明に係る電気装置においては、中性子センサとＳＥＵ対策指令装置と電気装置本体との３者を備えたものである。
【０００９】
さらに、この発明に係る電気装置の動作レベル設定方法は、電気装置の中性子センサに照射する中性子レベルを変化させ照射する中性子レベルと電気装置本体におけるＳＥＵ発生件数との相関関係に基づいて第１の所定値を決定するものである。
【発明の効果】
【００１０】
この発明に係るＳＥＵ対策指令装置は、中性子センサにて測定された中性子レベルが第１の所定値を越えたとき電気装置本体にＳＥＵ（シングル・イベント・アップセット）対策実施状態にて動作するように開始指令を発するものであるので、電気装置の消費電力の低減を図ることができる。
【００１１】
また、この発明に係る電気装置は、中性子センサとＳＥＵ対策指令装置と電気装置本体との３者を備えたものであるので、消費電力を低減できる。
【００１２】
さらに、この発明に係る電気装置の動作レベル設定方法は、電気装置の中性子センサに照射する中性子レベルを変化させ照射する中性子レベルと電気装置本体におけるＳＥＵ発生件数との相関関係に基づいて第１の所定値を決定するものであるので、個々のＳＥＵ対策対象装置に対応して適切にＳＥＵ対策を行うことができる電気装置の動作レベル設定方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】この発明の実施の形態１である電気装置の構成を示す構成図である。
【図２】図１の電気装置の動作を説明するための動作特性図である。
【図３】図１の電気装置の動作を説明するためのフローチャートである。
【図４】実施の形態２である電気装置の構成を示す構成図である。
【図５】図４の電気装置の動作を説明するための説明図である。
【図６】図４の電気装置の動作を説明するための説明図である。
【図７】図４の電気装置の動作を説明するためのフローチャートである。
【図８】実施の形態３である電気装置の構成を示す構成図である。
【図９】図８のＳＥＵ対策対象装置の動作を説明するためのフローチャートである。
【図１０】図８のＳＥＵ対策指令装置の動作を説明するためのフローチャートである。
【図１１】実施の形態４である電気装置の動作設定方法を説明するための説明図である。
【図１２】レベル閾値を決めるための説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
実施の形態１．
図１〜図３は、この発明を実施するための実施の形態１を示すものであり、図１は電気装置の構成を示す構成図、図２は動作を説明するための動作特性図、図３は動作を説明するためのフローチャートである。図１において、中性子センサ１００の下方右側にＳＥＵ対策指令装置１０１が、左方に電気装置本体としてのＳＥＵ対策対象装置１０２が配置されている。なお、これらを接続し、信号の送受信を行うケーブルは、図示を省略している。このような配置において、中性子センサ１００は、ＳＥＵ対策対象装置１０２に対して中性子照射のおそれがある面、この実施の形態においてはＳＥＵ対策対象装置１０２及びＳＥＵ対策指令装置１０１の上方に設置されている。
【００１５】
ＳＥＵ対策を要する例えばコンピュータなどのＳＥＵ対策対象装置１０２は、中性子が照射される環境に置かれた場合、中性子レベルＣ１が図２に示すように変化した場合、第１の所定値としての所定のＳＥＵ発生危険中性子レベル閾値（以下、レベル閾値と称す）Ｄ１を越える時間ｔ１からｔ２の間の期間Ｔ１いわゆるＳＥＵ発生危険期間Ｔ１において、ＳＥＵ発生の危険性が高くなる。本実施の形態においては、中性子レベルＣ１がレベル閾値Ｄ１を越えた場合、ＳＥＵ対策対象装置１０２をＳＥＵ対策実施状態が入にて動作するように設定することによりＳＥＵによる誤動作や損傷などの影響を極力軽減できるようにするものである。
【００１６】
ここで、ＳＥＵ対策対象装置１０２は、この実施の形態においてはコンピュータであり、例えば特開平５−２８２１６８号公報に記載されたものと同様のいずれも図示しないがコンピュータ内の記憶回路または演算回路の誤りを検出するための符号を生成し誤りの発生を検査する符号生成検査手段と、該検出回路の使用の有無を切り替える切り替え手段と、平常時はコンピュータ内の記憶回路または演算回路を上記符号なしで動作させ、環境条件検知手段の検知出力すなわち中性子レベルに応じてコンピュータ内の記憶回路または演算回路を上記符号付で動作させるよう切り替え手段を制御する制御手段とを備えている。
【００１７】
次に、ＳＥＵ対策指令装置１０１の動作について図３（ａ）のフローチャートにより説明する。図３において、ＳＥＵ対策指令装置１０１は、電源入にするなどにより動作を開始するが、ステップＳ１０１において初期状態として、中性子レベルフラグの初期値を１に設定する。次に、ステップＳ１０２において、中性子センサ１００から通知される中性子レベルを受信し、ステップＳ１０３において受信した中性子レベルとＳＥＵ対策指令装置１０１内に設定されているレベル閾値Ｄ１とを比較する。ステップＳ１０３において、中性子レベルがレベル閾値Ｄ１を越えている場合、ステップＳ１０４において中性子レベルフラグを１に設定し、ステップＳ１０６においてＳＥＵ対策対象装置１０２に開始指令としての中性子レベルフラグ１を通知（送信）する。ステップＳ１０３において、中性子レベルがレベル閾値Ｄ１以下の場合、ステップＳ１０５において中性子レベルフラグを０に設定し、ステップＳ１０６においてＳＥＵ対策対象装置１０２に停止指令としての中性子レベルフラグ０を通知する。その後、ステップＳ１０２に戻り、上記フローを繰り返す。
【００１８】
一方、ＳＥＵ対策対象装置１０２は図３（ｂ）のフローチャートのように動作する。ＳＥＵ対策対象装置１０２の電源を入にするなどによる動作開始に当たり、まずステップＳ２０１において、ＳＥＵ対策対象装置１０２のＳＥＵ対策実施状態を入すなわち動作状態に設定する。これは、起動直後の中性子レベルが不明であるため安全側に設定しておく必要があるからである。次に、ステップＳ２０２にてＳＥＵ対策指令装置１０１から通知される中性子レベルフラグ通知を受信し、ステップＳ２０３において通知されてきた中性子レベルフラグが１ならば、ステップＳ２０４に進み、ＳＥＵ対策対象装置１０２のＳＥＵ対策実施状態を入にする。ステップＳ２０３において、中性子レベルフラグが０ならば、ステップＳ２０５においてＳＥＵ対策対象装置１０２のＳＥＵ対策実施状態を切にする。その後、ステップＳ２０２へ戻り、同様の処理を繰り返す。ここで、ステップＳ２０４において、ＳＥＵ対策対象装置１０２のＳＥＵ対策実施状態を入にすると、ＳＥＵ対策対象装置１０２（コンピュータ）内の記憶回路または演算回路が誤りを検出するための符号付で動作する。また、ステップＳ２０５においてＳＥＵ対策対象装置１０２のＳＥＵ対策実施状態を切にすると、ＳＥＵ対策対象装置１０２内の記憶回路または演算回路を上記符号なしで動作させる。
【００１９】
なお、この実施の形態においては、中性子センサ１００とＳＥＵ対策指令装置１０１とＳＥＵ対策対象装置１０２とを個別に分離して設けるものを示したが、中性子センサ１００とＳＥＵ対策指令装置１０１とＳＥＵ対策対象装置１０２とを一体化したり、あるいは一つの筐体に収容したり、またＳＥＵ対策指令装置１０１とＳＥＵ対策対象装置１０２とを一体化するなど、適宜組み合わせることができる。
【００２０】
以上のように、中性子レベルＣ１が所定のレベル閾値Ｄ１を越える場合これを検出してＳＥＵ対策対象装置１０２のＳＥＵ対策実施状態を入にして動作させることにより、すなわち中性子レベルＣ１が高くＳＥＵ対策が必要なときにのみＳＥＵ対策対象装置１０２をＳＥＵ対策実施状態にて動作させることによりＳＥＵ対策が必要でないときの消費電力を削減して全体としての消費電力を低減できるとともに誤動作や誤動作による損傷などを防止し信頼性を向上させることができる。
【００２１】
実施の形態２．
図４〜図７は、実施の形態２を示すものであり、図４は電気装置の構成を示す構成図、図５、図６は動作を説明するための説明図、図７は動作を説明するためのフローチャートである。例えば中性子センサ１００の測定した中性子レベルＣ２が図５に示すように変化した場合、期間Ｔ３，Ｔ４，Ｔ５においてレベル閾値Ｄ１を越え、ＳＥＵ発生危険期間が細切れになり、ＳＥＵ対策対象装置１０２においてＳＥＵ対策実施状態の入／切を頻繁に切り替える状況が発生してしまう。このような頻繁な切り替えの状態になることにより、ＳＥＵ対策対象装置１０２の消費電力や負荷変動が激しくなり、ＳＥＵ対策対象装置１０２自体に悪影響を与えるおそれがある。この実施の形態においては、このような時間ｔ３からｔ４までの間に、中性子レベルＣ２がレベル閾値Ｄ１を越える期間Ｔ３，Ｔ４，Ｔ５が小刻みに発生する場合の上記のような悪影響を防止できるものである。
【００２２】
この実施の形態においては、中性子センサ１００とＳＥＵ対策対象装置１０２は、実施の形態１に示したものと同様のものであるが、ＳＥＵ対策指令装置２０１の動作が異なる。以下、ＳＥＵ対策指令装置２０１の動作を図７のフローチャートについて説明する。第１の所定値としての所定のＳＥＵ発生危険中性子レベル上限閾値（以下、レベル上限閾値と称する）ＤＵと、第２の所定値としての所定のＳＥＵ発生危険中性子レベル下限閾値（以下、レベル下限閾値と称する）ＤＬとの２つの閾値をあらかじめ設定しておく。ここで、この実施の形態においては、ＳＥＵ発生危険期間ではない時に、中性子センサ１００から通知された中性子レベルＣ２が、レベル上限閾値ＤＵを越えた時にＳＥＵ発生危険期間が始まったとみなす。
【００２３】
また、ＳＥＵ発生危険期間ではない時に、中性子センサ１００から通知された中性子レベルＣ２が、レベル下限閾値ＤＬを越えても、ＳＥＵ発生危険期間が開始したとはみなさない。ＳＥＵ発生危険期間中は、中性子センサ１００から通知された中性子レベルＣ２がレベル下限閾値ＤＬ以下の時、ＳＥＵ発生危険期間が終了したとみなす。さらに、ＳＥＵ発生危険期間中に中性子センサ１００から通知された中性子レベルＣ２がレベル上限閾値ＤＵを下回ってもＳＥＵ発生危険期間が終了したとはみなさない。これにより、図６に示すように時間ｔ３からｔ４までの期間Ｔ６が実質的にＳＥＵ発生危険期間として扱われることになり、ＳＥＵ対策対象装置１０２のＳＥＵ対策実施状態の入／切を頻繁に繰り返すことを防止できる。
【００２４】
上記動作を図７のフローチャートについて詳細に説明する。まず、図７（ａ）により、ＳＥＵ対策指令装置２０１の動作を説明する。ＳＥＵ対策指令装置２０１は電源入にするなどにより、動作を開始する。ステップＳ４０１では、ＳＥＵ対策対象装置１０２に通知する中性子レベルフラグの初期値を１に設定する。ステップＳ４０２において、ＳＥＵ対策指令装置２０１は中性子センサ１００から中性子レベルＣ２の通知を受ける。ステップＳ４０３において、ＳＥＵ対策指令装置２０１は、中性子センサ１００から通知される中性子レベルＣ２と、ＳＥＵ対策指令装置２０１内に設定されているレベル下限閾値ＤＬとを比較する。ステップＳ４０３において、中性子レベルＣ２がレベル下限閾値ＤＬ以下の場合、ステップＳ４０４に進み、中性子レベルフラグを０に設定し、ステップＳ４０５において中性子レベルフラグ０をＳＥＵ対策対象装置１０２に通知し、ステップＳ４０２へ戻り、ステップＳ４０２以下の動作を繰り返す。
【００２５】
ステップＳ４０３において、中性子レベルＣ２がレベル下限閾値ＤＬを越える場合は、ステップＳ４０６へ行き、中性子レベルＣ２とレベル上限閾値ＤＵとを比較する。中性子レベルがレベル上限閾値ＤＵを越えている場合、ステップＳ４０７に進み、中性子レベルフラグを１に設定し、ステップＳ４０８においてステップＳ４０７で変化させた中性子レベルフラグ１を、ＳＥＵ対策対象装置１０２に通知（送信）する。その後、ステップＳ４０２へ戻り、ステップＳ４０２以下の動作を繰り返す。中性子レベルがレベル上限閾値ＤＵ以下の場合は、何もしないでステップＳ４０２へ戻る。
なお、ＳＥＵ対策対象装置１０２の動作は、図７（ｂ）のフローチャートに示すように実施の形態１と同じである。
【００２６】
以上のように、この実施の形態によれば、ＳＥＵ対策対象装置１０２のＳＥＵ対策実施状態の入／切動作にヒステリシス特性を持たせることにより入／切動作を頻繁に繰り返すことを防止して、ＳＥＵ対策対象装置１０２の消費電力が増大したり負荷変動が激しくなったりしないようにしＳＥＵ対策対象装置１０２自体に悪影響を与えないようにできる。
【００２７】
実施の形態３．
図８〜図１０は実施の形態３を示すものであり、図８は電気装置の構成を示す構成図、図９はＳＥＵ対策対象装置の動作を示すフローチャート、図１０はＳＥＵ対策指令装置の動作を示すフローチャートである。図８において、ＳＥＵ対策指令装置３０１及びＳＥＵ対策対象装置３０２が、実施の形態１に示したＳＥＵ対策指令装置１０１及びＳＥＵ対策対象装置１０２とは異なる。この実施の形態では、実運用上でレベル閾値Ｄ１を変化させる。
【００２８】
まず、ＳＥＵ対策対象装置３０２の動作を図９のフローチャートについて説明する。図９において、ＳＥＵ対策対象装置３０２の電源を入にするなどの起動により、ＳＥＵ対策対象装置３０２は動作を開始する。ステップＳ６０１にて初期値のＳＥＵ対策実施状態を入すなわち動作状態に設定する。これは、起動直後の中性子レベルがわからないため安全側に設定しておく必要があるからである。次にステップＳ６０２にて、ＳＥＵ対策指令装置３０１から通知されてくる中性子レベルフラグを受信する。ステップＳ６０３にて、通知されてきた中性子レベルフラグの内容を判定し、通知されてきた中性子レベルフラグが１ならば、ステップＳ６０４へ進み、ＳＥＵ対策実施状態を入にする。ステップＳ６０３において、中性子レベルフラグが０ならば、ステップＳ６０５へ進み、ＳＥＵ対策実施状態を切にする。
【００２９】
ステップＳ６０６では、ＳＥＵ対策実施状態が入であってＳＥＵ発生件数が零である時間をカウントしておき、充分に長い所定の時間以上ＳＥＵ発生件数が零であったか否かを判定する。そして、所定の時間以上ＳＥＵ発生件数が零であった場合はレベル閾値Ｄ１を引き上げてもよいとしてＳ６０７へ進み、ＳＥＵ対策指令装置３０１におけるレベル閾値Ｄ１の引き上げ指令をＳＥＵ対策指令装置３０１に発信する。ステップＳ６０７まで進んだ後は、ステップＳ６０２に戻る。これにより、ＳＥＵ対策対象装置３０２がＳＥＵ対策実施状態入の状態で動作する頻度が減少し、ひいては動作する時間が短くなるので、一層ＳＥＵ対策対象装置３０２の消費電力を低減することができる。ステップＳ６０６において、所定の期間の間にＳＥＵが１件でも発生した場合はレベル閾値Ｄ１を変更することなく、ステップＳ６０２に戻る。なお、上記ステップＳ６０６において、ＳＥＵ対策実施状態が入であってＳＥＵ発生件数が零である期間をカウントするとしたが、この実施の形態においては、ＳＥＵ対策実施状態が入でないとＳＥＵ発生件数を計数できないためである。しかし、ＳＥＵ対策実施状態が入でなくともＳＥＵ発生件数を計数できる場合は、この条件は不要である。
【００３０】
一方、ステップＳ６０８ではＳＥＵ対策実施状態が切であって、かつＳＥＵ対策対象装置３０２において原因不明のエラー（ＳＥＵが原因である可能性が高いと推定される）が発生したか否かを判定し、原因不明のエラーが発生しているならば、ステップＳ６０９に進み、レベル閾値Ｄ１の引き下げ指令をＳＥＵ対策指令装置３０１に出す。ステップＳ６０９まで進んだ後はステップＳ６０２に戻り、ステップＳ６０２以下のフローを繰り返す。これにより、より低い中性子レベルに対してＳＥＵ対策対象装置３０２がＳＥＵ対策実施状態入の状態で動作することになり、ＳＥＵによるエラー発生を防止できる。ステップＳ６０８において、原因不明のエラーが発生していないならば、レベル閾値Ｄ１を変更する必要はないとして、ステップＳ６０２に戻る。
【００３１】
次に、ＳＥＵ対策指令装置３０１の動作を図１０のフローチャートについて説明する。図１０において、ＳＥＵ対策指令装置３０１を電源入にするなどの起動により動作を開始する。まず、ステップＳ７０１において、ＳＥＵ対策対象装置３０２に通知する中性子レベルフラグの初期値を１に設定する。次に、ステップＳ７０２では、ＳＥＵ対策対象装置３０２からレベル閾値Ｄ１の引き上げ指令または引き下げ指令があれば、その指令に応じてレベル閾値Ｄ１を所定幅ΔＤ１分増減させる。次にステップＳ７０３では、中性子センサ１００から中性子レベルＣ１通知を受信し、ステップＳ７０４において中性子レベルＣ１とＳＥＵ対策指令装置３０１内に設定されているレベル閾値Ｄ１とを比較する。
【００３２】
ステップＳ７０４において、中性子レベルＣ１がレベル閾値Ｄ１を越えている場合、ステップＳ７０５に進み、中性子レベルフラグを１に設定し、ステップＳ７０７へ進む。ステップＳ７０４において、中性子レベルＣ１がレベル閾値Ｄ１を越えていない場合、ステップＳ７０６に進み、中性子レベルフラグを０に設定し、ステップＳ７０７へ進む。ステップＳ７０７では、ステップＳ７０５またはステップＳ７０６で設定した中性子レベルフラグを、ＳＥＵ対策対象装置３０２に通知（送信）する。その後、ステップＳ７０２に戻り、ステップＳ７０２以下の動作を繰り返す。
【００３３】
以上のように、この実施の形態によれば、例えば実際のフィールドにおける中性子レベルとＳＥＵ対策対象装置３０２におけるＳＥＵ発生状況との実績データを反映し、的確にＳＥＵを防止できるとともにＳＥＵ対策対象装置３０２の消費電力を低減することができる。
【００３４】
実施の形態４．
図１１、図１２は、実施の形態４を示すものであり、図１１は電気装置の動作設定方法を説明するための説明図、図１２はレベル閾値を決めるための説明図である。この実施の形態においては、実施の形態１あるいは実施の形態２における電気装置において、電気装置を工場から出荷する前に工場にてレベル閾値Ｄ１、あるいはレベル上限閾値ＤＵを決定（設定）するものである。これにより、個々のＳＥＵ対策対象装置によってＳＥＵ耐性にばらつきを有することに対する柔軟なレベル閾値を決定できる。
【００３５】
図１１において、実施の形態１に示した中性子センサ１００とＳＥＵ対策指令装置１０１とＳＥＵ対策対象装置１０２、あるいは実施の形態２に示した中性子センサ１００とＳＥＵ対策指令装置１０１とＳＥＵ対策対象装置１０２と、中性子照射装置１０３を用意しておく。
【００３６】
まず、図１１におけるＳＥＵ対策対象装置１０２のＳＥＵ対策実施状態を入の状態にし、ＳＥＵが発生したことを検出できるようにしておく。次に、中性子照射装置１０３の照射中性子レベルを変化させ、ＳＥＵ対策対象装置１０２でのＳＥＵ発生件数をカウントする。この時、照射中性子レベルとＳＥＵ発生件数の相関関係から、レベル閾値Ｄ１あるいはレベル上限閾値ＤＵを決定する。すなわち、レベル閾値Ｄ１あるいはレベル上限閾値ＤＵは、図１２におけるＳＥＵ発生件数が１件以上の照射中性子レベルよりは低い値に決定する。また、レベル下限閾値ＤＬは、レベル上限閾値ＤＵよりも、一定の値だけ小さい値に決定する。
【００３７】
このように、実際に中性子を照射して動作すべきレベル閾値Ｄ１あるいはレベル上限閾値ＤＵを決定することにより、個々のＳＥＵ対策対象装置１０２に対応して適切にＳＥＵ対策を行うことができる。
【００３８】
なお、上記実施の形態では、ＳＥＵ対策対象装置１０２，３０２はコンピュータである例を示したが、これに限定されるものではなく、半導体装置、マイクロプロセッサ、オンボードコンピュータその他の電気装置であっても同様の効果を奏する。
【符号の説明】
【００３９】
１００  中性子センサ、１０１，２０１，３０１  ＳＥＵ対策指令装置、
１０２，３０２  ＳＥＵ対策対象装置、１０３  中性子照射装置。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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