(57)【要約】【課題】アドレス管理用領域を確保しなくても、不揮発性メモリの書き換え回数を均一化して利用効率を高めることができる計測装置を提供することを目的とする。【解決手段】単調増加または単調減少するカウンタデータを、上位桁データと中位桁データと下位桁データとに分割するデータ分割部１２１と、分割された中位桁データを、不揮発性メモリ１０３の第１の記憶領域に書き込むための第１アドレスを算出し、中位桁データと第２の記憶領域の数である配置数との剰余計算を行うことにより上位桁データ及び下位桁データを、不揮発性メモリ１０３の複数の第２の記憶領域のいずれかに書き込むための第２アドレスを算出するアドレス算出部１２２と、算出された第１アドレスに対応する第１の記憶領域に中位桁データを書き込み、算出された第２アドレスに対応する第２の記憶領域に、上位桁データ及び下位桁データを書き込むデータ書き込み部１２３とを備える。【選択図】図１
2012226621.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
単調増加または単調減少にカウントしたカウンタデータを、不揮発性メモリに書き込むための計測装置であって、
前記不揮発性メモリは、前記カウンタデータを構成する上位桁データと中位桁データと下位桁データとのうち、前記カウンタデータの中位桁データを記憶するための少なくとも１つの第１の記憶領域と、前記カウンタデータの上位桁データ及び下位桁データを記憶するための少なくとも２以上の第２の記憶領域とを有し、
前記計測装置は、
前記カウンタデータを、前記上位桁データと前記中位桁データと前記下位桁データとに分割する分割部と、
前記分割部により分割された前記中位桁データを前記第１の記憶領域に書き込むための第１アドレスを算出し、前記中位桁データと前記第２の記憶領域の数である配置数との剰余計算を行うことにより上位桁データ及び下位桁データを前記少なくとも２以上の第２の記憶領域のいずれかに書き込むための第２アドレスを算出する算出部と、
前記算出部により算出された前記第１アドレスに対応する前記第１の記憶領域に前記中位桁データを書き込み、前記算出部により算出された前記第２アドレスに対応する前記第２の記憶領域に、前記上位桁データ及び前記下位桁データを書き込む書き込み部と、を備える
計測装置。
【請求項２】
前記計測装置は、さらに、外部接続された機器から入力される入力データの入力回数を前記カウンタデータとしてカウントするカウンタ部を備え、
前記カウンタデータは、単調増加または単調減少されてカウントされる
請求項１に記載の計測装置。
【請求項３】
前記不揮発性メモリは、さらに、前記機器から入力される入力データを記憶するための第３の記憶領域を有しており、
前記書き込み部は、前記算出された第２アドレスに対応する前記第２の記憶領域に前記上位桁データ及び前記下位桁データを書き込むとともに、前記入力データを、前記算出された第２アドレスに連動するアドレスに対応する前記第３の記憶領域に書き込む
請求項１または２に記載の計測装置。
【請求項４】
前記第１の記憶領域と前記第２の記憶領域はそれぞれ、１バイトの記憶領域であり、
前記不揮発性メモリは、１バイト単位でアクセス可能であり、
前記カウンタデータは、３バイト以上のデータであり、
前記下位桁データは、前記カウンタデータのうち、最下位１バイトのデータであり、
前記中位桁データは、前記カウンタデータのうち、下位桁データの上位１バイトのデータであり、
前記上位桁データは、前記カウンタデータのうち、下位桁データ及び中位桁データ以外の少なくとも１バイトのデータである
請求項１〜３のいずれか１項に記載の計測装置。
【請求項５】
前記入力データは、１バイト以上のデータである
請求項２〜４のいずれか１項に記載の計測装置。
【請求項６】
前記不揮発性メモリでは、
前記配置数は、２の乗数倍で構成されている
請求項１〜５のいずれか１項に記載の計測装置。
【請求項７】
単調増加または単調減少にカウンタされたカウンタデータを、前記カウンタデータを構成する上位桁データと中位桁データと下位桁データとのうち、前記カウンタデータの中位桁データを記憶するための少なくとも１つの第１の記憶領域と、前記カウンタデータの上位桁データ及び下位桁データを記憶するための少なくとも２以上の第２の記憶領域とを有する不揮発性メモリに書き込むための書き込み方法であって、
前記カウンタデータを、前記上位桁データと前記中位桁データと前記下位桁データとに分割する分割ステップと、
前記分割ステップにおいて分割された前記中位桁データを前記第１の記憶領域に書き込むための第１アドレスを算出し、前記中位桁データと前記第２の記憶領域の数である配置数との剰余計算を行うことにより上位桁データ及び下位桁データを前記少なくとも２以上の第２の記憶領域のいずれかに書き込むための第２アドレスを算出する算出ステップと、
前記算出ステップにおいて算出された前記第１アドレスに対応する前記第１の記憶領域に前記中位桁データを書き込み、前記算出部により算出された前記第２アドレスに対応する前記第２の記憶領域に、前記上位桁データ及び前記下位桁データを書き込む書き込みステップとを含む
書き込み方法。
【請求項８】
電流計測用の電流センサと、
電圧測定用の電圧センサと、
前記電流センサと前記電圧センサとから入力されたデータを量子化するＡＤ変換器と、
前記ＡＤ変換器から入力されたデータより電力量を算出する電力演算部と、
時間経過を少なくとも３バイト以上のカウンタデータとしてカウントするカウンタと、
前記カウンタデータを構成する上位桁データと中位桁データと下位桁データとのうち、前記カウンタデータの中位桁データを記憶するための１バイトの第１の記憶領域と、前記カウンタデータの上位桁データ及び下位桁データを記憶するための少なくとも２つの１バイトの第２の記憶領域と、前記電力量を記憶するための１バイト以上の第３の記憶領域とを有し、１バイト単位でアクセス可能な不揮発性メモリと、
前記カウンタデータを、前記上位桁データと前記中位桁データと前記下位桁データとに分割する分割部と、
前記分割部により分割された前記中位桁データを前記第１の記憶領域に書き込むための第１アドレスを算出し、前記中位桁データと前記第２の記憶領域の数である配置数との剰余計算を行うことにより上位桁データ及び下位桁データを前記少なくとも２以上の第２の記憶領域のいずれかに書き込むための第２アドレスを算出する算出部と、
前記算出部により算出された前記第１アドレスに対応する前記第１の記憶領域に前記中位桁データを書き込み、前記算出部により算出された前記第２アドレスに対応する前記第２の記憶領域に、前記上位桁データ及び前記下位桁データを書き込む書き込み部と、を備え、
前記書き込み部は、前記算出された第２アドレスに対応する前記第２の記憶領域に前記上位桁データ及び前記下位桁データを書き込むとともに、前記電力量を、前記算出された第２アドレスに連動するアドレスに対応する前記第３の記憶領域に書き込む
電力量メータ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、計測装置、電力量メータ及び書き込み方法に関し、特に、不揮発性メモリに書き込むための計測装置、電力量メータ及び書き込み方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、電力計の電力量など、測定対象機器のデータを測定する計測装置がある。近年、メンテナンス時の情報取得または測定対象機器のデータに対する使用時間または使用回数等の情報のバックアップを目的として不揮発性メモリを搭載する計測装置が増加している。
【０００３】
このような目的で不揮発性メモリを搭載する計測装置では、定期的に情報取得処理またはバックアップ処理が起動するため、不揮発性メモリにおける一部の書き込み先アドレスへのアクセスが集中し書き込み回数が数十万回に及ぶ場合がある。
【０００４】
不揮発性メモリには、書き込み回数に制限が存在するため、上記の計測装置が不揮発性メモリの書き込み回数の制限を越えて書き込みを行った場合、不揮発性メモリを破壊してしまう。そして、このような状況が発生すると、不揮発性メモリに書き込んだデータ等の情報が正しく読み出せなくなるので、計測装置が正常に動作できなくなる恐れがある。
【０００５】
この問題を解決するため、不揮発性メモリへの書き込み回数をカウントすることで書き込み回数を管理して、書き込みアドレスをローテーションさせる方法がある（例えば、特許文献１）。
【０００６】
特許文献１では、書き込みアドレスをローテーションさせる時に発生する上位桁と下位桁とで書き込み回数の差分を無くす方法が開示されている。すなわち、特許文献１では、順次加算または減算される入力データを構成する２個のワード（上位桁ワード及び下位桁ワードのペア）のうち下位に位置付けされた下位桁ワードを記憶するアドレスが所定回数書き換えられたことを条件に、その入力データのアドレスを１ワード単位でローテーションさせ、すべての領域に書き込まれるまで繰り返し実行することで書き込み回数の均一化を図る方法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００５−１３５２９２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、上記特許文献１の構成では、書き込みアドレスを管理するためのアドレス管理用データ領域の確保が別途必要となるが、確保したアドレス管理用データ領域そのものに対する使用頻度が他のアドレス（上位桁ワード及び下位桁ワードを記憶するアドレス）に対して少ないため、利用効率が悪いという問題点がある。
【０００９】
また、アドレスのローテーション間隔を長く設定すればするほど書き込み回数は増えることになるため、アドレスのローテーション間隔を不揮発性メモリの書き換え限界回数に設定すると、使用効率は最大となる。しかし、実際には不揮発性メモリの書き換え限界回数にはバラツキが存在するため、アドレスのローテーション間隔は、書き換え限界回数より少ない、メーカーが保障する保証回数に規定される。そのため、不揮発性メモリを書き換え限界回数まで使用することができない。
【００１０】
本発明は、上述の事情を鑑みてなされたもので、アドレス管理用領域の確保が不要であり、不揮発性メモリの書き換え回数を均一化して利用効率を高めることができる計測装置、電力量メータ及び書き込み方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するために、本発明に係る計測装置の一態様は、単調増加または単調減少にカウントしたカウンタデータを、不揮発性メモリに書き込むための計測装置であって、前記不揮発性メモリは、前記カウンタデータを構成する上位桁データと中位桁データと下位桁データとのうち、前記カウンタデータの中位桁データを記憶するための少なくとも１つの第１の記憶領域と、前記カウンタデータの上位桁データ及び下位桁データを記憶するための少なくとも２以上の第２の記憶領域とを有し、前記計測装置は、前記カウンタデータを、前記上位桁データと前記中位桁データと前記下位桁データとに分割する分割部と、前記分割部により分割された前記中位桁データを前記第１の記憶領域に書き込むための第１アドレスを算出し、前記中位桁データと前記第２の記憶領域の数である配置数との剰余計算を行うことにより上位桁データ及び下位桁データを前記少なくとも２以上の第２の記憶領域のいずれかに書き込むための第２アドレスを算出する算出部と、前記算出部により算出された前記第１アドレスに対応する前記第１の記憶領域に前記中位桁データを書き込み、前記算出部により算出された前記第２アドレスに対応する前記第２の記憶領域に、前記上位桁データ及び前記下位桁データを書き込む書き込み部と、を備える。
【００１２】
この構成により、下位桁データを保持する第２の記憶領域を複数確保し、下位桁データのみアドレスをローテーションさせることでアクセス集中を防止することができる。すなわち、アドレス管理用領域を確保しなくても、アドレスローテーションを行うことができるので不揮発性メモリへのアクセスを均一化することができる。それにより、アドレス管理用領域を確保しなくても、不揮発性メモリの書き換え回数を均一化して利用効率を高めることができる計測装置を実現できる。
【００１３】
また、前記計測装置は、さらに、外部接続された機器から入力される入力データの入力回数を前記カウンタデータとしてカウントするカウンタ部を備え、前記カウンタデータは、単調増加または単調減少されてカウントされるとしてもよい。
【００１４】
この構成により、順次加算または減算加算されたカウントデータを用いることができるので、入力データに関して例えば使用時間や使用回数などを不揮発性メモリに記憶させることができる。
【００１５】
また、前記不揮発性メモリは、さらに、前記機器から入力される入力データを記憶するための第３の記憶領域を有しており、前記書き込み部は、前記算出された第２アドレスに対応する前記第２の記憶領域に前記上位桁データ及び前記下位桁データを書き込むとともに、前記入力データを、前記算出された第２アドレスに連動するアドレスに対応する前記第３の記憶領域に書き込むとしてもよい。
【００１６】
この構成により、入力データを記憶するための第３の記憶領域を第２の記憶領域に連動して複数確保し、入力データのアドレスを、カウントデータに同期させてローテーションを行うことができる。それにより、特定の第３の記憶領域へのアクセス集中を防止することができる。
【００１７】
ここで、好ましくは、前記第１の記憶領域と前記第２の記憶領域はそれぞれ、１バイトの記憶領域であり、前記不揮発性メモリは、１バイト単位でアクセス可能であり、前記カウンタデータは、３バイト以上のデータであり、前記下位桁データは、前記カウンタデータのうち、最下位１バイトのデータであり、前記中位桁データは、前記カウンタデータのうち、下位桁データの上位１バイトのデータであり、前記上位桁データは、前記カウンタデータのうち、下位桁データ及び中位桁データ以外の少なくとも１バイトのデータである。
【００１８】
この構成により、１バイト以下すなわち２５６以下の規定回数のアクセス発生時に中位桁データを変化させることができるため、アドレスローテーションの間隔も規定回数毎の一定となりアクセスを均一化することができる。
【００１９】
また、前記入力データは、１バイト以上のデータであるとしてもよい。
【００２０】
この構成により、拡張データに関してもアドレスローテーションを実施することによるアクセスの均一化と、ローテーション前のデータ領域が中位桁変化の１周期前のデータ、２周期前のデータといったバックアップデータとしても使用することができる。
【００２１】
また、前記不揮発性メモリでは、前記配置数は、２の乗数倍で構成されているとしてもよい。
【００２２】
この構成により、アドレス計算をビット単位の論理積によって算出することができるので、アドレス計算の高速を図ることができる。
【００２３】
また、上記目的を達成するために、本発明に係る計測装置の書き込み方法の一態様は、単調増加または単調減少にカウンタされたカウンタデータを、前記カウンタデータを構成する上位桁データと中位桁データと下位桁データとのうち、前記カウンタデータの中位桁データを記憶するための少なくとも１つの第１の記憶領域と、前記カウンタデータの上位桁データ及び下位桁データを記憶するための少なくとも２以上の第２の記憶領域とを有する不揮発性メモリに書き込むための書き込み方法であって、前記カウンタデータを、前記上位桁データと前記中位桁データと前記下位桁データとに分割する分割ステップと、前記分割ステップにおいて分割された前記中位桁データを前記第１の記憶領域に書き込むための第１アドレスを算出し、前記中位桁データと前記第２の記憶領域の数である配置数との剰余計算を行うことにより上位桁データ及び下位桁データを前記少なくとも２以上の第２の記憶領域のいずれかに書き込むための第２アドレスを算出する算出ステップと、前記算出ステップにおいて算出された前記第１アドレスに対応する前記第１の記憶領域に前記中位桁データを書き込み、前記算出部により算出された前記第２アドレスに対応する前記第２の記憶領域に、前記上位桁データ及び前記下位桁データを書き込む書き込みステップとを含む。
【００２４】
この方法により、アドレス管理用領域を確保しなくても、不揮発性メモリへの書き込みは変化したデータのみに限定されるので、不揮発性メモリの書き換え回数を均一化して利用効率を高めることができる書き込み方法を実現できる。
【００２５】
また、上記目的を達成するために、本発明に係る電力量メータの一態様は、電流計測用の電流センサと、電圧測定用の電圧センサと、前記電流センサと前記電圧センサとから入力されたデータを量子化するＡＤ変換器と、前記ＡＤ変換器から入力されたデータより電力量を算出する電力演算部と、時間経過を少なくとも３バイト以上のカウンタデータとしてカウントするカウンタと、前記カウンタデータを構成する上位桁データと中位桁データと下位桁データとのうち、前記カウンタデータの中位桁データを記憶するための１バイトの第１の記憶領域と、前記カウンタデータの上位桁データ及び下位桁データを記憶するための少なくとも２つの１バイトの第２の記憶領域と、前記電力量を記憶するための１バイト以上の第３の記憶領域とを有し、１バイト単位でアクセス可能な不揮発性メモリと、前記カウンタデータを、前記上位桁データと前記中位桁データと前記下位桁データとに分割する分割部と、前記分割部により分割された前記中位桁データを前記第１の記憶領域に書き込むための第１アドレスを算出し、前記中位桁データと前記第２の記憶領域の数である配置数との剰余計算を行うことにより上位桁データ及び下位桁データを前記少なくとも２以上の第２の記憶領域のいずれかに書き込むための第２アドレスを算出する算出部と、前記算出部により算出された前記第１アドレスに対応する前記第１の記憶領域に前記中位桁データを書き込み、前記算出部により算出された前記第２アドレスに対応する前記第２の記憶領域に、前記上位桁データ及び前記下位桁データを書き込む書き込み部と、を備え、前記書き込み部は、前記算出された第２アドレスに対応する前記第２の記憶領域に前記上位桁データ及び前記下位桁データを書き込むとともに、前記電力量を、前記算出された第２アドレスに連動するアドレスに対応する前記第３の記憶領域に書き込む。
【００２６】
この構成により、電力量メータに使用する不揮発性メモリの信頼性を高く維持できるため、電力量メータの信頼性をあげることができるという効果を奏する。
【発明の効果】
【００２７】
本発明によれば、レス管理用領域を確保しなくても、不揮発性メモリの書き換え回数を均一化して利用効率を高めることができる計測装置、電力量メータ及び書き込み方法を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本発明の実施の形態１における計測システムの構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施の形態１における不揮発性メモリのデータ記憶領域の配置図を概念的に示す図である。
【図３】本発明の実施の形態１における不揮発性メモリのデータ記憶領域の配置例を示す図である。
【図４】本発明の実施の形態１における演算処理部の動作を説明するためのフローチャートである。
【図５】本発明の実施の形態１における上位桁データ及び下位桁データの記憶領域先アドレス算出処理をより詳細に説明するためのフローチャート図である。
【図６】本発明の実施の形態１の変形例における演算処理部の動作を説明するためのフローチャートである。
【図７】本発明の実施の形態１の変形例における不揮発性メモリへのデータ書き込み処理の概略を説明するための図である。
【図８】本発明の実施の形態１の変形例における読み出し処理を説明するためのフローチャートである。
【図９】本発明の実施の形態１の変形例における不揮発性メモリからのデータ読出し処理の概略を説明するための図である。
【図１０】本発明の実施の形態２における計測システムの構成を示すブロック図である。
【図１１】本発明の実施の形態２における不揮発性メモリのデータ記憶領域の配置図を概念的に示す図である。
【図１２】本発明の実施の形態２における不揮発性メモリのデータ記憶領域の配置例を示す図である。
【図１３】本発明の実施の形態２における演算処理部の動作を説明するためのフローチャートである。
【図１４】本発明の実施の形態２における不揮発性メモリへのデータ書き込み処理の概略を説明するための図である。
【図１５Ａ】本発明の実施の形態２の変形例における不揮発性メモリのデータ配置例を示す図である。
【図１５Ｂ】本発明の実施の形態２の変形例における不揮発性メモリのデータ配置例を示す図である。
【図１５Ｃ】本発明の実施の形態２の変形例における不揮発性メモリのデータ配置例を示す図である。
【図１６】本発明の実施の形態３における電力量メータの構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００２９】
以下、本発明を実施の形態について、図面を参照しながら説明する。なお、実施の形態において同じ符号を付した構成要素は同様の動作を行うので、再度の説明は省略する場合がある。
【００３０】
（実施の形態１）
実施の形態１では、パルス信号により入力された回数をカウントし、その情報（入力回数）を不揮発性メモリに書込む計測装置を例に挙げて説明する。
【００３１】
図１は、本発明の実施の形態１における計測システム１００の構成を示すブロック図である。
【００３２】
図１に示す計測システム１００は、測定対象機器１０１と、計測装置１０２と、不揮発性メモリ１０３とで構成されている。
【００３３】
測定対象機器１０１は、計測装置１０２の外部に設けられ、計測装置１０２の測定対象であるデータを測定し、パルス信号に含めて計測装置１０２に出力する。
【００３４】
不揮発性メモリ１０３は、例えば、フラッシュメモリやＥＥＰＲＯＭ等であり、計測装置１０２によりカウントされた入力回数（カウントデータ）が、そのデータ記憶領域に書き込まれる。具体的には、不揮発性メモリ１０３は、本発明の不揮発性メモリに相当し、計測装置１０２がカウントするカウンタデータを構成する上位桁データと中位桁データと下位桁データとのうち、カウンタデータの中位桁データを記憶するための少なくとも１つの第１の記憶領域と、カウンタデータの上位桁データ及び下位桁データを記憶するための少なくとも２以上の第２の記憶領域とを有している。ここで、例えば、第１の記憶領域と第２の記憶領域はそれぞれ、１バイトの記憶領域であり、不揮発性メモリ１０３は、１バイト単位でアクセス可能なメモリである。また、例えば、下位桁データは、カウンタデータのうち、最下位１バイトのデータであり、中位桁データは、カウンタデータのうち、下位桁データの上位１バイトのデータであり、上位桁データは、前記カウンタデータのうち、下位桁データ及び中位桁データ以外の少なくとも１バイトのデータである。
【００３５】
計測装置１０２は、カウンタ部１１と、演算処理部１２とを備え、単調増加または単調減少にカウントしたカウンタデータを、不揮発性メモリ１０３に書き込むためのものである。ここで、カウンタデータは、３バイト以上のデータである。計測装置１０２は、測定対象機器１０１から順次加算された測定対象データをパルス信号で入力され、その入力された回数（入力回数）をカウントして不揮発性メモリ１０３に書込む。
【００３６】
カウンタ部１１は、本発明のカウンタ部に相当し、外部接続された測定対象機器１０１から入力される入力データの入力回数をカウンタデータとしてカウントする。カウンタ部１１は、カウンタデータを、単調増加または単調減少した値ですなわち順次加算または順次減算される値でカウントする。具体的には、カウンタ部１１は、パルス信号の入力回数をカウントする。より具体的には、カウンタ部１１は、パルス信号の入力回数を０から順次加算したカウンタデータを生成し、生成したカウントデータを演算処理部１２に受け渡す。
【００３７】
演算処理部１２は、データ分割部１２１と、アドレス算出部１２２と、データ書き込み部１２３とを有し、カウンタ部１１がカウントした入力回数（カウンタデータ）の書き込み処理を行う。演算処理部１２では、受け取ったカウンタデータの書き込み処理として、データ分割部１２１でデータ分割処理を行い、アドレス算出部１２２でアドレス算出処理を行い、データ書き込み部１２３で、データ書き込み処理を行う。
【００３８】
データ分割部１２１は、本発明の分割部に相当し、カウンタデータを、上位桁データと中位桁データと下位桁データとに分割する。アドレス算出部１２２は、本発明の算出部に相当し、データ分割部１２１により分割された中位桁データを第１の記憶領域に書き込むための第１アドレスを算出し、中位桁データと第２の記憶領域の数である配置数との剰余計算を行うことにより上位桁データ及び下位桁データを前記少なくとも２以上の第２の記憶領域のいずれかに書き込むための第２アドレスを算出する。データ書き込み部１２３は、本発明の書き込み部に相当し、アドレス算出部１２２により算出された第１アドレスに対応する第１の記憶領域に前記中位桁データを書き込み、アドレス算出部１２２により算出された第２アドレスに対応する第２の記憶領域に、上位桁データ及び下位桁データを書き込む。なお、データ分割部１２１と、アドレス算出部１２２と、データ書き込み部１２３との詳細な動作等については後述するため、ここでの説明は省略する。
【００３９】
ここで、不揮発性メモリ１０３のデータ記憶領域について、説明する。
【００４０】
図２は、本発明の実施の形態１における不揮発性メモリ１０３のデータ記憶領域の配置図を概念的に示す図である。図３は、本発明の実施の形態１における不揮発性メモリ１０３のデータ記憶領域の配置例を示す図である。
【００４１】
不揮発性メモリ１０３は、複数のデータ記憶領域を有する。不揮発性メモリ１０３は、例えば、図２に示すように、中位桁データなど特定のデータを記憶する記憶領域Ａと、それ以外の上位／下位桁データなどのデータを記憶する記憶領域Ｂ０、記憶領域Ｂ１…、とで構成されるデータ記憶領域１０３ａを有している。なお、記憶領域Ａは、本発明の第１の記憶領域に相当し、記憶領域Ｂは、本発明の第２の記憶領域に相当する。
【００４２】
さらに具体的には、図３に示すように、不揮発性メモリ１０３のデータ記憶領域１０３ａは、カウントデータの中位桁データを書込む記憶領域Ａである１つの記憶領域２０１と、上位／下位桁データを書込む記憶領域Ｂ０、Ｂ１・・・である複数の記憶領域（記憶領域２０２、記憶領域２０３、・・・）とで構成される。
【００４３】
以上のように計測システム１００は構成される。
【００４４】
次に、上記のように構成された計測装置１０２についての動作を説明する。
【００４５】
カウンタ部１１は、パルス信号の入力回数を０から順次加算したカウンタデータ（例えば、入力回数「０ｘＡ９１１５０」）を演算処理部１２に受け渡す。そして、演算処理部１２では、受け取ったカウンタデータの書き込み処理として、データ分割部１２１でデータ分割処理を行い、アドレス算出部１２２でアドレス算出処理を行い、データ書き込み部１２３で、データ書き込み処理を行う。
【００４６】
図４は、本発明の実施の形態１における演算処理部１２の動作を説明するためのフローチャートである。
【００４７】
まず、演算処理部１２では、カウンタ部１１から入力されたカウンタデータが、前回の値から更新されているかを確認する（Ｓ１０１）。ここでは、カウンタデータとして、例えば、入力回数「０ｘＡ９１１５０」が入力されたとする。また、前回の値は、アドレス算出部１２２により特定されたデータ記憶領域に記憶される値により確認できる。
【００４８】
更新がある場合（Ｓ１０１でＹｅｓ）、データ分割部１２１は、カウンタ部１１より入力されたカウンタデータを最下位１バイトの下位桁データ「０ｘ５０」とその上位１バイトの中位桁データ「０ｘ１１」とそれ以外の上位バイトの上位桁データ「０ｘＡ９」とに分割する（Ｓ１０２）。
【００４９】
次に、演算処理部１２では、中位桁データの余剰書き込み防止処理を行う（Ｓ１１１）。具体的には、演算処理部１２は、データ分割部１２１により分割された中位桁データが前回の値から更新されているかを確認する（Ｓ１０３）。更新がある場合（Ｓ１０３でＹｅｓ）、データ書き込み部１２３は、アドレス算出部１２２により算出されたアドレスに対応する不揮発性メモリ１０３の記憶領域（例えば、図４の記憶領域２０１）に、中位桁データ「０ｘ１１」を書込む（Ｓ１０４）。
【００５０】
次に、アドレス算出部１２２は、データ分割部１２１により分割された上位桁データ及び下位桁データの書き込み先アドレスを算出する（Ｓ１０５）。
【００５１】
ここで、図５を用いて、上位桁データ及び下位桁データの書き込み先アドレスの算出処理についてより詳細に説明する。
【００５２】
図５は、本発明の実施の形態１における上位桁データ及び下位桁データの記憶領域先アドレス算出処理をより詳細に説明するためのフローチャート図である。
【００５３】
まず、アドレス算出部１２２は、上位桁データ及び下位桁データの書き込み先アドレスを、中位桁データの値と配置数との余剰計算を用いて算出する。具体的には、アドレス算出部１２２は、中位桁データの値と、上位／下位桁を記憶するための記憶領域数（記憶領域２０２、記憶領域２０３・・・）である配置数との余剰値をオフセット値として計算する（Ｓ１０５１）。
【００５４】
次いで、アドレス算出部１２２は、オフセット値を確認し（Ｓ１０５２）、オフセット値に応じて、上位桁データ及び下位桁データの書き込み先アドレスを選択する（Ｓ１０５３）。
【００５５】
このオフセット値とそれに対応する上位桁データ及び下位桁データの書き込み先アドレスは、次のように求められる。例えば、下位桁を記憶するための記憶領域の数（配置数）が１６（０ｘ１０）個の場合、余剰計算の結果は、「０ｘ１１％０ｘ１０＝０ｘ０１」となる。つまり、上位桁データの書き込み先アドレスは、「前回、上位桁／下位桁データを記憶した記憶領域の先頭アドレス＋０ｘ０１」のアドレスと選択され、選択されたアドレスの次のアドレスが下位桁データの書き込み先アドレスと選択される。
【００５６】
このようにして、上位桁データ及び下位桁データの書き込み先アドレスは、アドレス算出部１２２により算出される。
【００５７】
以下、図４のフローチャートに戻って説明する。
【００５８】
次に、演算処理部１２では、上位桁データの余剰書き込み防止処理を行う（Ｓ１１２）。具体的には、演算処理部１２は、データ分割部１２１により分割された上位桁データが前回の値から更新されているかを確認する（Ｓ１０６）。更新がある場合（Ｓ１０６でＹｅｓ）、データ書き込み部１２３は、アドレス算出部１２２により算出されたアドレスに対応する不揮発性メモリ１０３の記憶領域（例えば、図４で上位／下位桁１と示される記憶領域２０３）に上位桁データ「０ｘＡ９」を書き込む（Ｓ１０７）。
【００５９】
次に、データ書き込み部１２３は、アドレス算出部１２２により算出されたアドレスの次のアドレスに配置される不揮発性メモリ１０３の記憶領域（例えば、図４で上位／下位桁２と示される記憶領域２０４）に、下位桁データ「０ｘ５０」を書込む（Ｓ１０８）。
【００６０】
なお、Ｓ１０６において更新がない場合（Ｓ１０６でＮｏ）、アドレス算出部１２２により算出されたアドレスの次のアドレスに配置される不揮発性メモリ１０３の記憶領域（例えば、図４で上位／下位桁２と示される記憶領域２０４）に、下位桁データ「０ｘ５０」のみ書込む（Ｓ１０８）。
【００６１】
なお、上位桁データの書き込み先アドレスが上位桁／下位桁データを記憶するための記憶領域の最終アドレスの場合（例えば図４で上位／下位桁Ｆと示される記憶領域）、下位桁の書き込み先アドレスは上位桁／下位桁データを記憶するための記憶領域の開始アドレス（例えば図４で上位／下位桁０と示される記憶領域２０２）となる。
【００６２】
以上のように、演算処理部１２は動作する。
【００６３】
つまり、演算処理部１２は、不揮発性メモリ１０３を使用して、例えば順次加算または順次減算される２バイト以上のデータを書き込む。不揮発性メモリ１０３では、下位桁データを保持するための１バイトの記憶領域が複数確保されており（記憶領域Ｂ０・・・）、演算処理部１２が下位桁データのアドレスのみをローテーションさせることで不揮発性メモリ１０３の特定の記憶領域にアクセスが集中するのを防止することができる。また演算処理部１２は、桁上がり（例えば２５６回カウント）する毎に、下位桁データのアドレスをローテーションさせるので、アドレスローテーションの間隔も短くできアクセスを均一化することができる。
【００６４】
以上のように、本実施の形態によれば、下位桁データを保持する第２の記憶領域を複数確保し、下位桁データのみアドレスをローテーションさせることでアクセス集中を防止することができる。すなわち、アドレス管理用領域を確保しなくても、アドレスローテーションを行うことができるので不揮発性メモリへのアクセスを均一化することができる。
【００６５】
それにより、アドレス管理用領域を確保しなくても、不揮発性メモリの書き換え回数を均一化して利用効率を高めることができる計測装置及びその書き込み方法を実現することができる。
【００６６】
また、本実施の形態によれば、入力データを上位桁、中位桁、下位桁に分割し、上位桁、中位桁データの書き込み前に前回値から更新されているかを確認することにより、不揮発性メモリ１０３への冗長な書き込みを削減することができる。
【００６７】
また、上位／下位桁データの書き込み先アドレスの算出を順次加算または減算するデータに依存させることにより、不揮発性メモリ１０３の上位／下位桁データを記憶する１箇所の記憶領域（例えば記憶領域２０２）へのアクセス集中をさせず、上位／下位桁データを記憶する記憶領域を分散させることができる。また、順次加算または減算加算されたカウントデータを用いることで、入力データに関して例えば使用時間や使用回数などを不揮発性メモリに記憶させることができる。
【００６８】
また、本実施の形態によれば、規定回数のアクセス発生時に中位桁データを変化させることができるため、アドレスローテーションの間隔も規定回数毎の一定となりアクセスを均一化することができる。
【００６９】
なお、不揮発性メモリ１０３に配置される上位／下位桁データを記憶するための記憶領域の数を２の乗数倍単位（例えば、２の３乗＝８個）とした場合、上位データ及び下位桁データの書き込み先アドレス算出処理（Ｓ１０５）を簡略化（高速化）することができる。以下、これを変形例として説明する。
【００７０】
（変形例）
本変形例において、不揮発性メモリ１０３の下位桁データを記憶するための記憶領域の配置数を、２の乗数倍単位（例えば、２の３乗＝８個）として説明する。
【００７１】
図６は、本発明の実施の形態１の変形例における演算処理部１２の動作を説明するためのフローチャートである。図７は、本発明の実施の形態１の変形例における不揮発性メモリ１０３へのデータ書き込み処理の概略を説明するための図である。なお、図１及び図４と同様の要素には同一の符号を付しており、詳細な説明は省略する。
【００７２】
図６に示すフローチャートは、図４に示すフローチャートと比較して、Ｓ１０５の処理が、Ｓ２０５に示す処理となっている点で異なる。
【００７３】
具体的には、実施の形態１では、Ｓ１０５において、アドレス算出部１２２は、データ分割部１２１により分割された上位桁データ及び下位桁データの書き込み先アドレスを算出していたのに対して、本変形例では、Ｓ２０５において、中位桁データをマスク演算することで、下位桁データの書き込み先アドレスを算出する。
【００７４】
これを、図７を用いて説明する。
【００７５】
図７において、不揮発性メモリ１０３の下位桁データを記憶するための記憶領域５０６の配置数が、２の乗数倍単位（例えば、２の３乗＝８個）になるように構成されている。
【００７６】
まず、カウンタ部１１から演算処理部１２に、「０ｘＡ９１１５０」を示す時計カウンタがカウンタデータとして入力されるとする。
【００７７】
すると、演算処理部１２は、Ｓ１０２において、データ分割部１２１は、カウンタ部１１より入力されたカウンタデータを最下位１バイトの下位桁データ「０ｘ５０」とその上位１バイトの中位桁データ「０ｘ１１」とそれ以外の上位バイトの上位桁データ「０ｘＡ９」とに分割する。
【００７８】
次に、演算処理部１２では、中位桁データの余剰書き込み防止処理を行う（Ｓ１１１）。
【００７９】
次に、アドレス算出部１２２は、データ分割部１２１により、上位桁データ「０ｘＡ９」と下位桁データ「０ｘ５０」とを書き込み先アドレスを算出する。具体的には、アドレス算出部１２２は、下位桁データを記憶するための記憶領域を、中位桁データ「０ｘ１１」の下位数ビットを参照することで算出する。より詳細には、中位桁データをマスク演算することで、下位桁データの書き込み先アドレスを算出する。
【００８０】
例えば、図７に示すように、上位／下位桁データを記憶するための記憶領域５０６が８（＝２の３乗）個であれば、中位桁データ「０ｘ１１」の下位３ビットのみを参照することで、上述した余剰計算（Ｓ４０１）と同等の結果を算出できる。
【００８１】
本変例では、４ビット中、下位３ビットの値をそのままとするマスク値「０ｂ０１１１」と中位桁データ「０ｘ１１」とをビット単位で論理積演算を行う。図７において、マスク演算の結果は、「０ｘ１１＆０ｘ０７＝０ｘ０１」となる。つまり、下位桁データの書き込み先アドレスは、「前回、下位桁データを記憶した記憶領域の先頭アドレス＋０ｘ０１」のアドレスと選択され、選択されたアドレスの前のアドレスが上位桁データの書き込み先アドレスと選択される。それにより、データ書き込み部１２３は、上位桁／下位桁データ１と示される記憶領域５０７に上位桁データ「０ｘＡ９」を書き込み、「前回、下位桁データの書き込み先アドレス＋０ｘ０１」のアドレスに対応する上位桁／下位桁データ２と示される記憶領域５０８に下位桁データ「０ｘ５０」を書込む。
【００８２】
このように、不揮発性メモリ１０３に配置される上位／下位桁データを記憶するための記憶領域の数を２の乗数倍単位とした場合、上位データ及び下位桁データの書き込み先アドレス算出処理アドレス計算をビット単位の論理積によって算出することができるので、アドレス計算の簡略化（高速化）を図ることができる。
【００８３】
なお、不揮発性メモリ１０３に配置される上位／下位桁データを記憶するための記憶領域の数を２の乗数倍単位とした場合、同様にデータ読出し処理も簡略化（高速化）することができる。以下、これについて説明する。
【００８４】
図８は、本発明の実施の形態１の変形例における読み出し処理を説明するためのフローチャートである。図９は、本発明の実施の形態１の変形例における不揮発性メモリ１０３からのデータ読出し処理の概略を説明するための図である。なお、図１、図４、図６及び図７と同様の要素には同一の符号を付しており、詳細な説明は省略する。
【００８５】
図８及び図９において、不揮発性メモリ１０３の下位桁データを記憶するための記憶領域の配置数を２の乗数倍単位（例えば、２の３乗＝８個）として説明する。
【００８６】
まず、演算処理部１２は、不揮発性メモリ１０３に書き込まれたデータを参照する場合、中位桁データを記憶するための記憶領域を参照し、中位桁データを読み出す（Ｓ３０１）。具体的には、図９に示すように、演算処理部１２は、不揮発性メモリ１０３が有するデータ記憶領域１０３ｂの中位桁データを記憶するための記憶領域を参照し、書込まれた中位桁データ「０ｘ１１」を読み出す。
【００８７】
次に、演算処理部１２は、読み出した中位桁データをマスク演算する（Ｓ３０２）。具体的には、演算処理部１２は、中位桁データ「０ｘ１１」とマスク値「０ｂ０１１１」とをビット単位で論理積演算を行う。ここで、演算処理部１２は、上述したのと同様に、マスク演算の結果として、「０ｘ１１＆０ｘ０７＝０ｘ０１」を得る。
【００８８】
次に、演算処理部１２は、マスク演算の結果から、上位桁データと下位桁データとが書き込まれた書き込み先アドレス（記憶領域）を特定する（Ｓ３０３）。ここで、演算処理部１２は、上述したのと同様に、マスク演算の結果から、下位桁データの書き込み先アドレスは、「前回、下位桁データを記憶した記憶領域の先頭アドレス＋０ｘ０１」のアドレスと特定され、選択されたアドレスの前のアドレスが上位桁データの書き込み先アドレスと特定される。
【００８９】
次に、演算処理部１２は、特定された書き込み先アドレス（記憶領域）から、上位桁データ及び下位桁データを読み出す（Ｓ３０４）。ここでは、演算処理部１２は、上位桁／下位桁データ１に対応する記憶領域から上位桁データ「０ｘＡ９」を読み出し、上位桁／下位桁データ２に対応する記憶領域から下位桁データ「０ｘ５０」を読み出す。
【００９０】
最後に、演算処理部１２は、読み出した上位桁データ「０ｘＡ９」と中位桁データ「０ｘ１１」と下位桁データ「０ｘ５０」とを結合することで、所望のデータ「０ｘＡ９１１５０」を読み出す。
【００９１】
以上のように、本変形例によれば、上位桁データ及び下位桁データを記憶するための記憶領域を２の乗数倍個になるように不揮発性メモリ１０３内に配置することにより、余剰計算の代わりに中位桁データの下位数ビット参照のみで上位桁データ及び下位桁データの書き込み先アドレスを選択または特定することができる。すなわち、データ書き込み処理及びデータ読出し処理を簡略化することができるという効果を奏する。
【００９２】
（実施の形態２）
実施の形態１では、測定対象機器より入力されるデータ（入力データ）が例えば時計カウンタのように順次加算された入力データである場合の例を説明したが、それに限らない。本実施の形態では、測定対象機器より入力される入力データが順次加算されない場合、その入力データを計測装置が順次加算されるカウントデータに関連付けた上で、不揮発性メモリに書込む場合について説明する。
【００９３】
図１０は、本発明の実施の形態２における計測システム７００の構成を示すブロック図である。図１０に示す計測システム７００は、測定対象機器７０１と、計測装置７０２と、不揮発性メモリ７０３とで構成されている。
【００９４】
測定対象機器７０１は、計測装置７０２の外部に設けられ、計測装置１０２の測定対象であるデータを順次加算されない形式で測定し、入力データとして、計測装置７０２に出力する。
【００９５】
計測装置７０２は、入力部７１０と、データ解析部７１３と、カウンタ部７１１と、データ解析部７１３の情報を不揮発性メモリ７０３に書き込む演算処理部７１２とを備える。
【００９６】
以上のように構成された計測装置７０２について、以下その動作を説明する。
【００９７】
入力部７１０は、測定対象機器７０１からの入力データを処理する。具体的には、入力部７１０は、測定対象機器７０１から入力されるアナログ信号を量子化してデジタル信号に変換する。入力部７１０は、デジタル信号に変換した情報を、データ解析部７１３に出力する。
【００９８】
カウンタ部７１１は、本発明のカウンタ部に相当し、時間をカウントする。具体的には、カウンタ部７１１は、タイマにて一定間隔で加算されるデータ（カウントデータ）を保持している。
【００９９】
データ解析部７１３は、入力部７１０により入力された入力データを積和する。具体的には、データ解析部７１３は、入力データとして入力されたデジタル信号に変換した情報を演算して蓄積する。
【０１００】
演算処理部７１２は、実施の形態１における演算処理部１２の機能をすべて有する。つまり、演算処理部７１２は、図示しない、データ分割部１２１と、アドレス算出部１２２と、データ書き込み部１２３とを有する。演算処理部７１２は、さらに、カウンタ部７１１が保持しているデータが一定の値に達したとき、データ解析部７１３から現在（現時点で）蓄積している情報を取得し、実施の形態１で説明したアドレス計算を行った後、不揮発性メモリ７０３への書き込みを行う。換言すると、演算処理部７１２は、算出された書き込み先アドレスに対応する不揮発性メモリ７０３の第２の記憶領域に上位桁データ及び前記下位桁データを書き込むとともに、前記入力データを、算出された書き込み先アドレスに連動するアドレスに対応する不揮発性メモリ７０３の第３の記憶領域に書き込む。
【０１０１】
不揮発性メモリ７０３は、フラッシュメモリやＥＥＰＲＯＭ等であり、計測装置７０２によりカウントされた入力回数（カウントデータ）が、そのデータ記憶領域に書き込まれる。具体的には、不揮発性メモリ７０３は、本発明の不揮発性メモリに相当し、計測装置７０２がカウントするカウンタデータを構成する上位桁データと中位桁データと下位桁データとのうち、カウンタデータの中位桁データを記憶するための少なくとも１つの第１の記憶領域と、カウンタデータの上位桁データ及び下位桁データを記憶するための少なくとも２以上の第２の記憶領域とを有している。また、不揮発性メモリ７０３は、さらに、測定対象機器７０１から入力される入力データを記憶するための第３の記憶領域を有している。例えば、入力データは、１バイト以上のデータである。
【０１０２】
ここで、不揮発性メモリ７０３のデータ記憶領域について、説明する。
【０１０３】
図１１は、本発明の実施の形態２における不揮発性メモリ７０３のデータ記憶領域の配置図を概念的に示す図である。図１２は、本発明の実施の形態２における不揮発性メモリ７０３のデータ記憶領域の配置例を示す図である。
【０１０４】
不揮発性メモリ７０３は、複数のデータ記憶領域を有する。不揮発性メモリ１０３は、例えば、図１１に示すように、中位桁データなど特定のデータを記憶する記憶領域Ａと、それ以外の上位／下位桁データなどのデータを記憶する記憶領域Ｂ０、記憶領域Ｂ１…、と、測定対象機器７０１からの入力データなどの拡張データを記憶するデータ記憶領域Ｃ０、記憶領域Ｃ１…、とで構成されるデータ記憶領域７０３ａを有している。
【０１０５】
さらに具体的には、図１２に示すように、不揮発性メモリ７０３のデータ記憶領域７０３ａは、１つの中位桁データを書込む記憶領域Ａである１つの記憶領域８０１と、上位桁／下位桁データを書込む記憶領域Ｂ０、Ｂ１・・・である複数の記憶領域（１６個の記憶領域８０２、・・・）と、上位桁／下位桁データを書込む記憶領域と同じ数のデータ領域（１６個の記憶領域８０３・・・）とから構成される。
【０１０６】
ここで、記憶領域８０３には、上位桁データと下位桁データとの記憶領域８０２に書き込むタイミングに同期してデータが書き込まれるものする。
【０１０７】
以上のように計測システム７００は構成される。
【０１０８】
次に、上記のように構成された計測装置７０２についての動作を説明する。
【０１０９】
図１３は、本発明の実施の形態２における演算処理部７１２の動作を説明するためのフローチャートである。図１４は、本発明の実施の形態２における不揮発性メモリ７０３へのデータ書き込み処理の概略を説明するための図である。
【０１１０】
図１３に示すフローチャートは、図４に示すフローチャートとは、Ｓ１０８の処理後に、さらに、Ｓ４０５に示す処理が追加されている点で異なっている。
【０１１１】
以下、図１３及び図１４を用いて、演算処理部７１２の動作について説明する。
【０１１２】
まず、演算処理部７１２は、カウンタ部１１が保持するカウンタデータが、前回の値から更新されているかを確認する（Ｓ１０１）。ここで、図１４に示すように、データ解析部７１３が蓄積する入力データに含まれる拡張データの値が「０ｘＳ３０」、「０ｘ１５」「０ｘ３３」、「０ｘ５５」の状態で、カウンタ部１１が示す時計カウンタ（カウンタデータ）の値が「０ｘＡ９１１５０」に更新されるとする。
【０１１３】
次に、演算処理部７１２は、時計カウンタの値「０ｘＡ９１１５０」を中位桁データ「０ｘ１１」と上位桁データ「０ｘＡ９」と「下位桁データ０ｘ５０」に分割する（Ｓ１０２）。
【０１１４】
次に、演算処理部７１２は、分割された中位桁データが前回の値から更新されているかを確認する（Ｓ１０３）。更新がある場合（Ｓ１０３でＹｅｓ）、演算処理部７１２は、中位桁データを記憶領域（例えば、図１４の中位桁データ領域で示される記憶領域９０６）に書き込む。
【０１１５】
次に、演算処理部７１２は、上位桁データ及び下位桁データの書き込み先アドレスを算出する（Ｓ１０５）。上位桁データが前回の値から更新されている場合（Ｓ１０６でＹｅｓ）、演算処理部７１２は、不揮発性メモリ７０３の記憶領域（例えば、図１４の上位桁／下位桁データ領域１記憶領域９０７）に、上位桁データ「０ｘＡ９」を書き込む（Ｓ１０７）。
【０１１６】
次に、演算処理部７１２は、不揮発性メモリ７０３の記憶領域（例えば、図１４で上位桁／下位桁データ領域２で示される記憶領域９０８）に、下位桁データ「０ｘ５０」を書込む（Ｓ１０８）。
【０１１７】
ここで、上位桁データと下位桁データは実施の形態１で説明したアドレス計算方法を行って上位桁データ及び下位桁データを記憶する記憶領域を決定する。
【０１１８】
次に、演算処理部７１２は、中位桁データの書き込みアドレスと連動するデータ記憶領域に、拡張データを書き込む（Ｓ４０７）。具体的には、演算処理部７１２は、図１４に示す拡張データの値「０ｘＳ３０」、「０ｘ１５」「０ｘ３３」、「０ｘ５５」を中位桁データの位置と連動するデータ記憶領域（例えば、図１４のデータ領域２で示される記憶領域９１１）に格納する。
【０１１９】
以上のように、演算処理部７１２は動作する。
【０１２０】
なお、時計カウンタの値が「０ｘＡ９１２００」になったとき、演算処理部７１２は、上位桁データの書き込み位置を上位桁／下位桁データ領域１で示される記憶領域９０７から上位桁／下位桁データ領域２で示される記憶領域９０８に更新すると共に、拡張データの書き込み位置を拡張データ領域２で示される記憶領域９１１から拡張データ領域３（不図示）で示される記憶領域９１２に更新する。
【０１２１】
以上のように、本実施の形態によれば、下位桁データを保持する第２の記憶領域を複数確保し、下位桁データのみアドレスをローテーションさせることでアクセス集中を防止することができる。すなわち、アドレス管理用領域を確保しなくても、アドレスローテーションを行うことができるので不揮発性メモリへのアクセスを均一化することができる。それにより、アドレス管理用領域の確保が不要であり、不揮発性メモリの書き換え回数を均一化して利用効率を高めることができる計測装置及び書き込み方法を実現することができる。
【０１２２】
また、本実施の形態によれば、入力データを記憶するための第３の記憶領域を第２の記憶領域に連動して複数確保し、入力データのアドレスを、カウントデータに同期させてローテーションを行うことができる。それにより、特定の第３の記憶領域へのアクセス集中を防止することができる。
【０１２３】
また、本実施の形態によれば、入力データの値及び更新タイミングに関わらず一定間隔で不揮発性メモリに書き込みを行うことができ、不揮発性メモリの寿命を一定にすることができる。
【０１２４】
なお、本実施の形態では、カウンタデータの値が順次加算されるデータとしたが、週、日、時間などに分けて桁上がりするデータ（単調増加または単調減少するデータ）であるとしてもよい。桁上げタイミングを変更しても、日時情報の更新タイミングと上位／下位桁データ領域の更新タイミングとが連動するため、前回格納した拡張データ領域の値と、今回入力している拡張データ領域の値とから差分情報を算出することで、過去の入力データ情報のログを参照することができるからである。以下、その例を変形例として説明する。
【０１２５】
（変形例）
図１５Ａ〜図１５Ｃは、本発明の実施の形態２の変形例における不揮発性メモリのデータ配置例を示す図である。具体的には、図１５Ａ〜図１５Ｃは、上位桁／下位桁データ領域を８個とし、中位桁データが１週間ごとに更新されるとした場合に、拡張データを不揮発性メモリ７０３のデータ配置例を示している。
【０１２６】
図１５Ａに示すように、中位桁データが０の場合、上位桁／下位桁データ０に連動する拡張データ領域０で示される記憶領域１００１に計測中データを記憶し、拡張データ領域１〜７で示される記憶領域１００２をバックアップデータとする。ここで、例示している計測中のデータとは、電力使用量、電流、電圧、力率、磁気情報、温度、エラー情報である。
【０１２７】
次に、図１５Ｂに示すように、中位桁データが１に変化すると、拡張データ領域０で示される記憶領域１０１１に記憶された拡張データは、１週間前の計測中データがバックアップされたバックアップデータとなる。上位桁／下位桁データ１に連動する拡張データ領域１で示される記憶領域１０１２に計測中データが記憶される。なお、拡張データ領域２〜７で示される記憶領域１０１３は、上述したようにバックアップデータである。
【０１２８】
同様にして計測データを格納していき、例えば、図１５Ｃに示すように、中位桁データが７から８に変化すると、拡張データ領域７で示される記憶領域１０２８に記憶された拡張データは、１週間前の計測中データがバックアップされたバックアップデータとなる。拡張データ領域６で示される記憶領域１０２７に記憶された拡張データは、２週間前の計測中データがバックアップされたバックアップデータとなる。そして、拡張データ領域０は、７週間前の計測中データがバックアップされたバックアップデータとなっている。
【０１２９】
以上、本変形例のようなデータ配置を不揮発性メモリ７０３に行うことにより、７週間前までの拡張データを参照することができるという効果を奏する。
【０１３０】
（実施の形態３）
実施の形態３では、本発明の効果を発揮する機器の例を説明する。すなわち、本実施の形態では、実施の形態１及び実施の形態２で説明した構成を用いた応用例について説明する。本実施の形態では、応用例として、不揮発性メモリの信頼性が上がることにより、製品の信頼性が向上することができる電力量メータについて説明する。
【０１３１】
図１６は、本発明の実施の形態３における電力量メータ１１００の構成図である。なお、図１及び図１０と同様の要素には同一の符号を付しており、詳細な説明は省略する。
【０１３２】
図１６に示す電力量メータ１１００は、電流計測用の電流センサ１１０１と、電圧測定用の電圧センサ１１０２と、ＡＤ変換器１１０３と、電力演算部１１０４と、カウンタ１１０５と、不揮発性メモリ７０３と、演算処理部１２とを備える。
【０１３３】
ＡＤ変換器１１０３は、電流センサ１１０１と電圧センサ１１０２とからの出力を量子化する。
【０１３４】
電力演算部１１０４は、ＡＤ変換器１１０３からの電流値及び電圧値より電力量を算出する。
【０１３５】
カウンタ１１０５は、時間経過をカウントする。
【０１３６】
不揮発性メモリ７０３は、図１１で説明したように、記憶領域Ａと記憶領域Ｂと記憶領域Ｃとを有する。
【０１３７】
演算処理部１２は、データ分割部１２１とアドレス算出部１２２とデータ書き込み部１２３とを有する。
【０１３８】
以上のように電力量メータ１１００は構成される。
【０１３９】
具体的には、本実施の形態における電力量メータ１１００は、電流計測用の電流センサ１１０１と、電圧測定用の電圧センサ１１０２と、電流センサ１１０１と電圧センサ１１０２とから入力されたデータを量子化するＡＤ変換器１１０３と、ＡＤ変換器１１０３から入力されたデータより電力量を算出する電力演算部１１０４と、時間経過を少なくとも３バイト以上のカウンタデータとしてカウントするカウンタ１１０５とを備える。
【０１４０】
また、電力量メータ１１００は、カウンタデータを構成する上位桁データと中位桁データと下位桁データとのうち、カウンタデータの中位桁データを記憶するための１バイトの第１の記憶領域と、カウンタデータの上位桁データ及び下位桁データを記憶するための少なくとも２つの１バイトの第２の記憶領域と、電力量を記憶するための１バイト以上の第３の記憶領域とを有し、１バイト単位でアクセス可能な不揮発性メモリ７０３を備える。
【０１４１】
また、電力量メータ１１００は、カウンタデータを、上位桁データと中位桁データと下位桁データとに分割するデータ分割部１２１と、データ分割部１２１により分割された中位桁データを第１の記憶領域に書き込むための第１アドレスを算出し、中位桁データと第２の記憶領域の数である配置数との剰余計算を行うことにより上位桁データ及び下位桁データを少なくとも２以上の第２の記憶領域のいずれかに書き込むための第２アドレスを算出するアドレス算出部１２２と、アドレス算出部１２２により算出された第１アドレスに対応する第１の記憶領域に中位桁データを書き込み、アドレス算出部１２２により算出された第２アドレスに対応する第２の記憶領域に、上位桁データ及び下位桁データを書き込むデータ書き込み部１２３とを備える。データ書き込み部１２３は、算出された第２アドレスに対応する第２の記憶領域に上位桁データ及び下位桁データを書き込むとともに、電力量を、算出された第２アドレスに連動するアドレスに対応する第３の記憶領域に書き込む。
【０１４２】
次に、以上のように構成された電力量メータ１１００についての動作を説明する。
【０１４３】
ＡＤ変換器１１０３は、電流センサ１１０１と電圧センサ１１０２とからの入力を量子化し、量子化した電圧値と電流値とを電力演算部１１０４に出力する。電力演算部１１０４は、ＡＤ変換器１１０３により入力された電圧値と電流値とから電力量を算出し、算出した電力量を演算処理部１２に出力する。
【０１４４】
演算処理部１２は、電力演算部１１０４より入力された電力量を不揮発性メモリ７０３が有する記憶領域Ｃに書き込む。また、演算処理部１２は、カウンタ１１０５からは得た時間情報を定期的に記憶領域Ｂに書き込む。
【０１４５】
なお、演算処理部１２は、時間情報を記憶領域Ｂに書き込むタイミングにあわせて、記憶領域Ｃに電力使用量を書き込む。
【０１４６】
以上、本実施の形態における電力量メータ１１００は、実施の形態２で説明したのと同様に、記憶領域Ｂ及び記憶領域Ｃの不揮発性メモリ７０３に平均して書き込むことができる。それにより、不揮発性メモリ７０３を信頼性高く使用することができるという効果を奏する。また、本実施の形態では、時間情報とともに電力量を使用した使用量のデータの履歴も残すことができるので、時間情報とともに、使用量の履歴も入手できるという効果を有する。
【０１４７】
なお、本実施の形態では、本発明の効果を発揮する機器として、電力量メータ１１００について説明したが、それに限らない。例えば、ガス量メータや水道メータでもよい。つまり、不揮発性メモリに対する書き込み及び読み出しが多い機器であるならば、同様の効果を得ることができる。
【０１４８】
以上、本発明によれば、アドレス管理用領域の確保が不要であり、不揮発性メモリの書き換え回数を均一化して利用効率を高めることができる計測装置、電力量メータ及び書き込み方法を実現することができる。
【０１４９】
例えば、本発明における計測装置、電力量メータ及び書き込み方法は、対象アドレスに対してローテーション時のアドレス情報を管理データと連動させることでアドレス管理用データの確保領域を不要とし、ローテーション間隔を短くし、繰り返し利用できるような形態にすることにより不揮発性メモリを書き換え限界回数まで使用することができる。
【０１５０】
また、例えば、本発明における計測装置、電力量メータ及び書き込み方法は、１バイト単位でアクセス可能な不揮発性メモリと、２バイト以上の順次加算または減算される入力データを制御する演算処理装置にて中位桁データと上位桁、下位桁の記憶領域の配置数からアドレス管理データを算出することでアドレス管理用データの確保領域を不要とし、中位桁データの保存領域として使用する。これにより、不揮発性メモリの領域を順次満遍なく書き換えることになり、不揮発性メモリの書き換え限度まで信頼性高く書き換えることができるという効果を奏する。
【０１５１】
また、例えば、本発明における計測装置、電力量メータ及び書き込み方法は、不揮発性メモリを使用したバックアップシステムを構成することができ、アドレス管理用のＲＡＭを追加することなく、アドレスローテーションにより、書き込み回数の均一化という効果を得ることができる。
【０１５２】
また、本発明における計測装置、電力量メータ及び書き込み方法では、一定期間毎に情報を保持するが、順次加算または減算されるデータで構成される情報を中位桁保存用領域と複数の上位／下位桁保存用領域により保存する手段を有し、中位桁の値により上位／下位桁の実使用領域を選択することでアクセスの均一化を実現する。
【０１５３】
さらに、本発明における計測装置、電力量メータ及び書き込み方法では、カウントデータに関連する拡張データの書き込みを上記アドレスローテーションに同期させることで拡張データのアクセスの均一化を図ることができるとともに、アドレスローテーションタイミング毎のバックアップデータの蓄積ができるという効果を得ることができる。
【０１５４】
以上、本発明の計測装置について、実施の形態に基づいて説明したが、本発明は、この実施の形態に限定されるものではない。本発明の趣旨を逸脱しない限り、当業者が思いつく各種変形を本実施の形態に施したものや、異なる実施の形態における構成要素を組み合わせて構築される形態も、本発明の範囲内に含まれる。
【産業上の利用可能性】
【０１５５】
本発明は、計測装置に利用でき、特に、電力量メータ、ガス量メータまたは水道メータなど、不揮発性メモリを順次満遍なく書き換えていく必要があり、不揮発性メモリの信頼性が必要な計測装置に利用できる。
【符号の説明】
【０１５６】
１００、７００    計測システム
１０１、７０１    測定対象機器
１０２、７０２    計測装置
１０３、７０３    不揮発性メモリ
１１、７１１    カウンタ部
１２、７１２    演算処理部
１２１  データ分割部
１２２  アドレス算出部
１２３  データ書き込み部
２０１、２０２、２０３、２０４、５０６、５０７、５０８、８０１、８０２、８０３、９０６、９０７、９０８、９１１、９１２、１００１、１００２、１０１１、１０１２、１０１３、１０２７、１０２８    記憶領域
７１０    入力部
７１３    データ解析部
１１００  電力量メータ
１１０１  電流センサ
１１０２  電圧センサ
１１０３  ＡＤ変換器
１１０４  電力演算部
１１０５  カウンタ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５Ａ】
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【図１５Ｂ】
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【図１５Ｃ】
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【図１６】
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