(57)【要約】【課題】静的補正用の欠陥画素アドレスメモリを増大させることなく、かつ、欠陥画素の補正漏れや欠陥画素補正に起因する解像度低下を生じることのない画像処理方法を得る。【解決手段】欠陥画素検出対象画素を含む所定サイズのブロックの平均信号値と、欠陥画素検出対象画素の信号値との差分絶対値に対して、第一のしきい値と第一のしきい値より大きい第二のしきい値とによって欠陥画素検出対象画素が欠陥画素であるか否かを判定する（ステップＳＴ１〜ＳＴ６）。次に、差分絶対値が、第一のしきい値より大きく第二のしきい値より小さい場合は静的補正の対象として欠陥画素アドレスメモリに欠陥画素アドレスを登録し、差分絶対値が第二のしきい値より大きい場合は動的補正を行う画素として判定する（ステップＳＴ８〜ＳＴ１２）。【選択図】図２
2012070319.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
欠陥画素検出対象画素を含む所定サイズのブロックの平均信号値と、前記欠陥画素検出対象画素の信号値との差分絶対値に対して、第一のしきい値と当該第一のしきい値より大きい第二のしきい値とによって前記欠陥画素検出対象画素が欠陥画素であるか否かを判定する欠陥画素判定ステップと、
前記差分絶対値が、前記第一のしきい値より大きく前記第二のしきい値より小さい場合は静的補正の対象として欠陥画素アドレスメモリに欠陥画素アドレスを登録し、前記差分絶対値が前記第二のしきい値より大きい場合は動的補正を行う画素として判定する登録画素判定ステップとを備えた画像処理方法。
【請求項２】
欠陥画素検出対象画素を含む所定サイズのブロックの平均信号値と、前記欠陥画素検出対象画素の信号値との差分絶対値が、所定のしきい値を超える場合は、前記欠陥画素検出対象画素が欠陥画素であると判定する欠陥画素判定ステップと、
前記欠陥画素が、独立した画素として存在する単キズであるか、連続した画素として存在する連キズであるかを判定する連キズ判定ステップと、
前記連キズ判定ステップでの判定結果が連キズであった場合は、静的補正の対象として欠陥画素アドレスメモリに登録を行う登録画素判定ステップとを備えた画像処理方法。
【請求項３】
欠陥画素判定ステップでは、第一のしきい値と、当該第一のしきい値より大きい第二のしきい値とを設け、これら第一及び第二のしきい値との比較により判定を行い、
登録画素判定ステップでは、単キズの差分絶対値が前記第一のしきい値より大きく前記第二のしきい値より小さい場合は静的補正の対象として欠陥画素アドレスメモリへの登録を行うことを特徴とする請求項２記載の画像処理方法。
【請求項４】
欠陥画素検出対象画素を含む所定サイズのブロックの平均信号値と、前記欠陥画素検出対象画素の信号値との差分絶対値に対して、第一のしきい値と当該第一のしきい値より大きい第二のしきい値とによって前記欠陥画素検出対象画素が欠陥画素であるか否かを判定する欠陥画素検出部と、
前記差分絶対値が、前記第一のしきい値より大きく前記第二のしきい値より小さい場合は静的補正の対象として欠陥画素アドレスメモリに欠陥画素アドレスを登録し、前記差分絶対値が前記第二のしきい値より大きい場合は動的補正を行う画素として判定する登録画素判定部とを備えた画像処理装置。
【請求項５】
欠陥画素検出対象画素を含む所定サイズのブロックの平均信号値と、前記欠陥画素検出対象画素の信号値との差分絶対値が、所定のしきい値を超える場合は、前記欠陥画素検出対象画素が欠陥画素であると判定する欠陥画素検出部と、
前記欠陥画素が、独立した画素として存在する単キズであるか、連続した画素として存在する連キズであるかを判定し、当該判定結果が連キズであった場合は、静的補正の対象として欠陥画素アドレスメモリに登録を行う登録画素判定部とを備えた画像処理装置。
【請求項６】
欠陥画素検出部では、第一のしきい値と、当該第一のしきい値より大きい第二のしきい値とを設け、これら第一及び第二のしきい値との比較により判定を行い、
登録画素判定部では、単キズの差分絶対値が前記第一のしきい値より大きく前記第二のしきい値より小さい場合は静的補正の対象として欠陥画素アドレスメモリへの登録を行うことを特徴とする請求項５記載の画像処理装置。
【請求項７】
請求項１から請求項３のうちのいずれか１項記載の画像処理方法をコンピュータに実行させるための画像処理プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）やＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）等のイメージセンサにおける欠陥画素の補正を行うための画像処理方法、画像処理装置及び画像処理プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
ビデオカメラやデジタルスチルカメラ等の撮影機器では、ＣＣＤやＣＭＯＳ等のイメージセンサが一般的に使用されている。イメージセンサでは、光電変換を行う数百万から数千万個の受光素子が２次元的に配置されており、製造工程に起因して入射光を正しく光電変換できない受光素子が少なからず含まれている。これらを欠陥画素と呼び、大別して受光素子に塵などが付着して入射光が遮られる「黒キズ」と、受光素子上に形成されるカラーマイクロフィルムやマイクロレンズの欠損に起因して常時点灯状態となる「白キズ」に分類される。
【０００３】
欠陥画素を撮影機器内で補正する方法として、工場出荷時に予め欠陥画素の位置（アドレス）をメモリしておき撮影時に欠陥画素を近傍画素値で置き換える静的補正方法と、撮影時に画像処理で画像データから欠陥画素を検出し補正する動的補正方法に分類される。静的補正では撮影した絵柄に依存せず常時安定した欠陥画素補正が可能である反面、イメージセンサの高画素化に伴い増加する欠陥画素アドレスを保持しておくメモリ量が増大するため、撮影機器のコストが上昇する課題がある。また、動的補正では、撮影した画像毎に欠陥画素を検出し補正するため、静的補正に比べて省メモリに構成できる一方で、周辺画素の特徴と比較して異なる明るさを持つ画素が欠陥画素であるか被写体として映っている点であるかは厳密には区別できないため、動的補正の結果、一部の欠陥画素が被写体であると判定されて消え残ったり、被写体の一部が欠陥画素と判定されて誤って補正され消失することで画像の解像度が低下するなどの課題がある。
【０００４】
そこで、これらの課題に対処するため、工場出荷時にイメージセンサをテストし、欠陥画素であるか否かを検出し、欠陥画素の分布形状から静的補正で補正可能なパターンであれば欠陥画素アドレスメモリに欠陥画素として登録し撮影時に静的補正を実施し、それ以外の欠陥画素は動的補正を行うように構成し、補正可能な欠陥画素の総数を極力減らさずに省メモリ化を図るようにしたものがあった（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００９−１３０５５３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上記従来の画像処理方法では、動的補正のデメリットである欠陥画素の補正漏れや被写体の解像度低下といった問題が解消されないという課題があった。
【０００７】
この発明は上記のような課題を解決するためになされたもので、静的補正用の欠陥画素アドレスメモリを増大させることなく、かつ、欠陥画素の補正漏れや欠陥画素補正に起因する解像度低下を生じることのない画像処理方法、画像処理装置及び画像処理プログラムを得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
この発明に係る画像処理方法は、欠陥画素検出対象画素を含む所定サイズのブロックの平均信号値と、欠陥画素検出対象画素の信号値との差分絶対値に対して、第一のしきい値と第一のしきい値より大きい第二のしきい値とによって欠陥画素検出対象画素が欠陥画素であるか否かを判定する欠陥画素判定ステップと、差分絶対値が、第一のしきい値より大きく第二のしきい値より小さい場合は静的補正の対象として欠陥画素アドレスメモリに欠陥画素アドレスを登録し、差分絶対値が第二のしきい値より大きい場合は動的補正を行う画素として判定する登録画素判定ステップとを備えたものである。
【発明の効果】
【０００９】
この発明の画像処理方法は、不明瞭な欠陥画素を静的補正の対象として欠陥画素アドレスメモリに登録し、明瞭な欠陥画素を動的補正の対象と判定するようにしたので、静的補正用の欠陥画素アドレスメモリを省メモリ化でき、かつ、動的補正における欠陥画素の補正漏れや欠陥画素補正に起因する解像度低下を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】この発明の実施の形態１による画像処理装置を示す構成図である。
【図２】この発明の実施の形態１による画像処理方法を示すフローチャートである。
【図３】この発明の実施の形態１による画像処理方法における二つのしきい値と欠陥画素レベルの判定内容を示す説明図である。
【図４】この発明の実施の形態１による画像処理方法におけるＮ枚目の欠陥画素アドレスメモリの内容を示す説明図である。
【図５】この発明の実施の形態１による画像処理方法における連キズ検出の概念を示す説明図である。
【図６】この発明の実施の形態１による画像処理方法における二つの画像の欠陥画素アドレスの合成と登録の有無を示す説明図である。
【図７】この発明の実施の形態１による画像処理方法の他の例を示すフローチャートである。
【図８】この発明の実施の形態１による画像処理方法の他の例における二つの画像の欠陥画素アドレスの合成と登録の有無を示す説明図である。
【図９】この発明の実施の形態１による画像処理方法のさらに他の例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
実施の形態１．
図１は、この発明の実施の形態１による画像処理方法を実施するための画像処理装置を示す構成図である。
図１に示す画像処理装置は、欠陥画素検出部１、しきい値記憶部２、欠陥画素アドレスメモリ３、合成部４、登録画素判定部５を備えている。
欠陥画素検出部１は、入力される欠陥画素検出対象画素を含む所定サイズのブロックの平均信号値と、欠陥画素検出対象画素の信号値との差分絶対値に対して、しきい値記憶部２に記憶されている第一のしきい値（しきい値１）と、第一のしきい値より大きい第二のしきい値（しきい値２）とによって欠陥画素検出対象画素が欠陥画素であるか否かを判定するものである。しきい値記憶部２は、第一のしきい値と第二のしきい値とを記憶する記憶部である。欠陥画素アドレスメモリ３は、欠陥画素のアドレスを記憶するための記憶部であり、Ｎ枚分の欠陥画素のアドレスや合成された欠陥画素アドレス、さらに静的補正に用いるための最終的な欠陥画素のアドレスが記憶されるようになっている。合成部４は、欠陥画素アドレスメモリ３に記憶されているＮ枚の欠陥画素のアドレスの合成を行う処理部である。登録画素判定部５は、合成された欠陥画素のアドレスとしきい値との比較結果に基づいて、静的補正の対象として欠陥画素アドレスメモリ３に登録するか否かを決定する判定部である。
【００１２】
尚、図１に示した画像処理装置はコンピュータを用いて実現され、欠陥画素検出部１、合成部４および登録画素判定部５は、それぞれの機能に対応したソフトウェアと、これらのソフトウェアを実行するためのＣＰＵやメモリといったハードウェアとから構成されている。あるいは、これらの機能部の一部または全てを専用のハードウェアで構成してもよい。
【００１３】
次に、このような画像処理装置を用いた画像処理方法について説明する。
図２は、実施の形態１の画像処理方法を示すフローチャートである。
欠陥画素の検出にあたっては、従来技術と同様に「白キズ」検出用に遮光して撮影した黒画像と、「黒キズ」検出用に一定照度の光をあてた均一面を撮影した白画像の２枚の画像を用いる例について説明する。また、欠陥画素検出処理をプログラムで実現した場合について説明する。さらに、欠陥画素検出対象となる画像は一般的に撮影機器に使用されるベイヤー配列のイメージセンサで撮影した画像の場合について説明する。
【００１４】
先ず、「白キズ」を検出するために遮光して撮影した１枚目の画像を画像処理装置に読み込む（ステップＳＴ１）。読み込んだ画像から、欠陥画素検出部１は欠陥画素検出を行い（ステップＳＴ２）、欠陥画素として検出された画素について１枚目の欠陥画素アドレスメモリ３に、画素アドレスを登録する（ステップＳＴ３）。次に、「黒キズ」を検出するために一定照度の光をあてた均一面を撮影した２枚目の画像を画像処理装置に読み込む（ステップＳＴ４）。読み込んだ画像から、欠陥画素検出部１は欠陥画素検出を行い（ステップＳＴ５）、欠陥画素として検出された画素について２枚目の欠陥画素アドレスメモリ３に画素アドレスを登録する（ステップＳＴ６）。以上のように検出された１枚目の欠陥画素アドレスメモリ３の内容と２枚目の欠陥画素アドレスメモリ３の内容を、合成部４がアドレス順にマージ（合成）する（ステップＳＴ７）ことで、イメージセンサの欠陥画素アドレス情報を生成する。
【００１５】
次に、本発明の特徴の一つであるステップＳＴ２〜ＳＴ３及びステップＳＴ５〜ＳＴ６の欠陥画素検出・登録処理について説明する。
本発明では、欠陥画素として判定するために予め与えられる二つのしきい値を用いる。
図３は二つのしきい値と欠陥画素レベルの判定内容を示した図である。図において、ブロック平均値は欠陥画素検出を行おうとする画素を含む所定の領域に含まれる同色の画素平均値を示している。欠陥画素検出対象の画素の信号レベルとブロック平均値の差分絶対値がしきい値２を超える値である場合（即ち検出対象画素の信号レベルが周辺画素の信号レベルから著しく乖離している場合）、欠陥画素検出部１は、これをレベル１の欠陥画素としてＮ（Ｎは１または２）枚目の欠陥画素アドレスメモリ３に登録する。また、欠陥画素検出対象の画素の信号レベルとブロック平均値の差分絶対値がしきい値１を超えてしきい値２以下である場合（即ち検出対象画素の信号レベルが周辺画素の信号レベルとそれほど乖離していない場合）、欠陥画素検出部１は、これをレベル０の欠陥画素としてＮ枚目の欠陥画素アドレスメモリ３に登録する。
【００１６】
図４は、Ｎ枚目の欠陥画素アドレスメモリ３の内容を示している。図において、欠陥画素と検出された画素の水平アドレス及び垂直アドレス、さらに欠陥画素レベルを登録するＦフラグ（Ｆ：０または１）を１セットの情報として登録する。
【００１７】
また、静的補正及び動的補正方法として、二つの同色欠陥画素が連続する２連キズまで補正できる方法を用いることを想定した場合、欠陥画素検出時に前述のしきい値で検出した欠陥画素同士が同色で連続しているか否かの判定を登録画素判定部５で行う。連キズ検出の概念を図５に示す。図５（ａ）では、ベイヤー配列の画像においてＧ２で示すＧ色信号が欠陥画素として検出されている（○印で示す）が、その左右の同色（即ちＧ色信号）であるＧ１とＧ３については欠陥画素ではないと判定されている（×印で示す）。この場合はＧ２を１画素だけ単独で存在する単キズとしてＮ枚目の欠陥画素アドレスメモリ３に登録を行う（↑印で示す）。また、図５（ｂ）に示す画像では同色で隣接するＧ２とＧ３が欠陥画素として検出されている一方でＧ１とＧ４は欠陥画素ではないと判定されており、静的補正が２連キズまで補正可能の前提でＧ２及びＧ３をＮ枚目の欠陥画素アドレスメモリ３に登録する。また、図５（ｃ）ではＧ２及びＧ３及びＧ４が欠陥画素であると判定されており、同色３連キズであり補正できないためＮ枚目の欠陥画素アドレスメモリ３への登録は行わない。
【００１８】
以上のように欠陥画素検出を行うことで、１枚目画像及び２枚目画像の欠陥画素アドレスメモリ３への欠陥画素の登録が完了する。以上のステップＳＴ１〜ステップＳＴ６が、欠陥画素判定ステップである。
【００１９】
次に、本発明の特徴の一つである二つの画像の欠陥画素アドレスメモリの合成（ステップＳＴ７）について説明する。本実施の形態では、明瞭な欠陥画素を動的補正で補正し、不明瞭な欠陥画素を静的補正で補正する場合について説明する。合成部４では、１枚目の欠陥画素アドレスメモリ３の内容と２枚目の欠陥画素アドレスメモリ３の内容をそれぞれアドレスが昇順となるように合成する。尚、アドレスを昇順に並べるとは、画像の以下の順番に並べることである。
１ライン目水平アドレス昇順
２ライン目水平アドレス昇順
：          ：
Ｍライン目水平アドレス昇順
また、明瞭な欠陥画素とは図３でしきい値２を超える（図４でＦ＝１として登録された）欠陥画素であり、不明瞭な欠陥画素とは図３でしきい値１を超えかつしきい値２以下の（図４でＦ＝０として登録された）欠陥画素である。
【００２０】
次に、二つの画像の欠陥画素アドレスメモリの具体的な合成方法について説明する。この際、双方の欠陥画素アドレスがマージされることで、白キズと黒キズにより新たに連キズが発生する場合がある。同色欠陥画素の連続画素数が新たに３連キズ以上になる場合、登録画素判定部５は、３連キズ以上をなす全ての欠陥画素アドレスを破棄する。
【００２１】
二つの画像の欠陥画素アドレスを合成し、登録の有無を判定する例を図６に示す。図６は説明しやすさの都合上、画像全体の座標空間で特定の色信号（例えばＧ信号）のみを抜き出して欠陥画素アドレスを合成する様子を示している。図６では、不明瞭な２連キズまでの欠陥画素を静的補正で補正することを前提に、合成の際に新たに３連キズやＮ枚目の欠陥画素アドレスメモリ３のＦフラグ＝１（明瞭な欠陥画素：動的補正で補正する）を除外する様子を示している。
【００２２】
例えば、図６における画素(1)は白画素の不明瞭な単キズであり、静的補正での補正対象のため、登録画素判定部５は欠陥画素アドレスメモリ３に登録を行う（ステップＳＴ８→ステップＳＴ９→ステップＳＴ１０）。画素(2)と(3)は各検出画像ではそれぞれ単キズとして検出されているが、合成部４による合成によって新たに２連キズになる。ここでは不明瞭な欠陥画素である(3)のみを静的補正で補正した場合に画素(3)の周辺画素を用いて補正するため、補正値が明瞭な黒キズ(2)を用いて算出され画素(3)の欠陥画素が正しく補正されないため、２連キズの少なくとも一方が不明瞭な欠陥画素だった場合は、明瞭な欠陥画素(2)及び不明瞭な欠陥画素(3)の双方を２連キズとして欠陥画素アドレスメモリ３に保存する（ステップＳＴ１１→ステップＳＴ９→ステップＳＴ１０）。また、画素(4)は黒キズとして検出された単キズであり、画素(5)及び画素(6)は白キズとして検出された２連キズであるが、マージによって３連キズになるため補正対象から除外する。このような処理により、登録画素判定部５は明瞭な単キズのみを動的補正と判断する（ステップＳＴ８→ステップＳＴ１１→ステップＳＴ１２）。以上のステップＳＴ８〜ステップＳＴ１２の処理が登録画素判定ステップである。
【００２３】
以上のように、二つの画像の欠陥画素アドレスメモリ３のアドレスを合成することにより、明瞭な欠陥画素が動的補正対象として残り、動的補正時に被写体と欠陥画素の区別がつきにくい不明瞭な欠陥画素が静的補正対象として欠陥画素アドレスメモリ３にアドレス登録される。これによって、動的補正では明らかな欠陥画素として補正可能な画素のみ補正すればよいため、被写体の一部を誤って補正することで画像の解像度低下を引き起こすことがなくなる。また、不明瞭な欠陥画素のみを静的補正で補正すればよいため、静的補正のために使用する欠陥画素アドレスメモリ３を省メモリ化することが可能になる。
【００２４】
本実施の形態では、白キズ検出用及び黒キズ検出用の２枚の画像を用いる方法について記載したが、この限りでなく、中間的な明るさで撮影した白キズ及び黒キズ検出兼用の１枚の画像、または、補正対象となる他の特性を持つ欠陥画素検出用を含めて３枚以上の画像を用いるように構成してもよい。
【００２５】
また、上記例では、静的補正で補正する対象の欠陥画素を不明瞭な欠陥画素とし、動的補正で補正する対象の欠陥画素を明瞭な欠陥画素として説明したが、この限りでなく、例えば静的補正で連キズを補正し、動的補正で単キズを補正するようにしてもよい。即ち、登録画素判定部５は、欠陥画素が単キズであるか連キズであるかを判定し、連キズであった場合は静的補正の対象として欠陥画素アドレスメモリ３に登録するようにしてもよい。以下、この場合の画像処理方法を図７のフローチャートを用いて説明する。
【００２６】
動的補正では、周辺画素と明るさが異なる画素が１画素である単キズよりも同様の明るさを持つ画素が隣接している連キズの方がより被写体として存在しうるパターンに近いため、連キズを自動検出する精度は単キズ検出時より精度が劣るのが一般的である。従って、連キズは予め静的補正しておき、検出精度が比較的高い単キズを動的補正の対象とすることで、静的補正の課題である省メモリと動的補正の課題である解像度低下を同時に抑えることが可能である。この場合のＮ枚目の欠陥画素アドレスメモリ３への登録ルールは図５と同じである。即ち、Ｎ枚目画像で単キズと検出された場合も、欠陥画素アドレスメモリ３への登録時に新たな連キズになる可能性があるため、画像毎の検出および合成は上述したステップＳＴ１〜ステップＳＴ７と同様の方法で行う。一方、この場合、ステップＳＴ７以降の欠陥画素アドレスメモリ３への登録ルールが異なっている。つまり、図８に示すように、合成時に単キズとして判定される画素(1)は動的補正対象であるため、欠陥画素アドレスメモリ３には登録しない（ステップＳＴ１３→ステップＳＴ１４）。また、各画像で単キズと検出された画素(2)と画素(3)は合成によって２連キズになるため、無条件に登録を行う（ステップＳＴ１３→ステップＳＴ１５→ステップＳＴ１６）。画素(4)(5)(6)については３連キズになるため、図２で示した上記例と同様に欠陥画素アドレスメモリ３には登録しない。
【００２７】
また、欠陥画素の明瞭度フラグＦの内容と単キズまたは連キズの判定結果を用いて、動的補正対象を明瞭な単キズのみとし、不明瞭な単キズと連キズを静的補正してもよい。この場合の画像処理方法を図９に示す。即ち、登録画素判定部５は、単キズの差分絶対値がしきい値２以下の場合は欠陥画素アドレスメモリ３への登録を行う（ステップＳＴ１３→ステップＳＴ１７→ステップＳＴ１５→ステップＳＴ１６）。尚、図９におけるこれ以外のステップは図７と同様である。
【００２８】
さらに、以上説明した動的補正対象と静的補正対象の判定方法以外にも、イメージセンサのサイズや歩留まり（欠陥画素含有比率）に応じて、欠陥画素アドレスメモリ容量と補正後の画質のバランスを考慮して動的補正対象と静的補正対象の定義を組合わせてもよい。
【００２９】
また、本実施の形態では、欠陥画素として判定するしきい値の対象として欠陥画素検出対象画素の信号値とブロック平均値の差分絶対値を用いる例を示したが、この限りでなく、欠陥画素検出対象信号値との比較はブロック内の中央値（メディアン値）やヒストグラムの最頻値としてもよい。
【００３０】
また、本実施の形態では、静的補正で補正可能な連キズを２連キズまでとする例を示したが、この限りでなく、静的補正方法で補正可能な数以下の連キズを欠陥画素アドレスメモリ３の登録対象としてもよい。
【００３１】
このように、本発明は、その発明の範囲内において、実施の形態を適宜、変形、省略することが可能である。
【００３２】
また、本実施の形態では、欠陥画素検出及び２画像の欠陥画素アドレスの合成について説明の平易さのために水平方向の一次元での説明を行ったが、この限りでなく、連キズ判定を平面的に行うなど、静的補正方法の機能に応じて変更してもよい。
【００３３】
以上説明したように、実施の形態１の画像処理方法によれば、欠陥画素検出対象画素を含む所定サイズのブロックの平均信号値と、欠陥画素検出対象画素の信号値との差分絶対値に対して、第一のしきい値と第一のしきい値より大きい第二のしきい値とによって欠陥画素検出対象画素が欠陥画素であるか否かを判定する欠陥画素判定ステップと、差分絶対値が、第一のしきい値より大きく第二のしきい値より小さい場合は静的補正の対象として欠陥画素アドレスメモリに欠陥画素アドレスを登録し、差分絶対値が第二のしきい値より大きい場合は動的補正を行う画素として判定する登録画素判定ステップとを備えたので、静的補正用の欠陥画素アドレスメモリを省メモリ化でき、かつ、動的補正における欠陥画素の補正漏れや欠陥画素補正に起因する解像度低下を防止することができる。
【００３４】
また、実施の形態１の画像処理装置によれば、欠陥画素検出対象画素を含む所定サイズのブロックの平均信号値と、欠陥画素検出対象画素の信号値との差分絶対値に対して、第一のしきい値と第一のしきい値より大きい第二のしきい値とによって欠陥画素検出対象画素が欠陥画素であるか否かを判定する欠陥画素検出部と、差分絶対値が、第一のしきい値より大きく第二のしきい値より小さい場合は静的補正の対象として欠陥画素アドレスメモリに欠陥画素アドレスを登録し、差分絶対値が第二のしきい値より大きい場合は動的補正を行う画素として判定する登録画素判定部とを備えたので、静的補正用の欠陥画素アドレスメモリを省メモリ化でき、かつ、動的補正における欠陥画素の補正漏れや欠陥画素補正に起因する解像度低下を防止することができる。
【００３５】
また、実施の形態１の画像処理方法によれば、欠陥画素検出対象画素を含む所定サイズのブロックの平均信号値と、欠陥画素検出対象画素の信号値との差分絶対値が、所定のしきい値を超える場合は、欠陥画素検出対象画素が欠陥画素であると判定する欠陥画素判定ステップと、欠陥画素が、独立した画素として存在する単キズであるか、連続した画素として存在する連キズであるかを判定する連キズ判定ステップと、連キズ判定ステップでの判定結果が連キズであった場合は、静的補正の対象として欠陥画素アドレスメモリに登録を行う登録画素判定ステップとを備えたので、静的補正用の欠陥画素アドレスメモリを省メモリ化でき、かつ、動的補正における欠陥画素の補正漏れや欠陥画素補正に起因する解像度低下を防止することができる。
【００３６】
また、実施の形態１の画像処理装置によれば、欠陥画素検出対象画素を含む所定サイズのブロックの平均信号値と、欠陥画素検出対象画素の信号値との差分絶対値が、所定のしきい値を超える場合は、欠陥画素検出対象画素が欠陥画素であると判定する欠陥画素検出部と、欠陥画素が、独立した画素として存在する単キズであるか、連続した画素として存在する連キズであるかを判定し、判定結果が連キズであった場合は、静的補正の対象として欠陥画素アドレスメモリに登録を行う登録画素判定部とを備えたので、静的補正用の欠陥画素アドレスメモリを省メモリ化でき、かつ、動的補正における欠陥画素の補正漏れや欠陥画素補正に起因する解像度低下を防止することができる。
【００３７】
また、実施の形態１の画像処理方法によれば、欠陥画素判定ステップでは、第一のしきい値と、第一のしきい値より大きい第二のしきい値とを設け、これら第一及び第二のしきい値との比較により判定を行い、登録画素判定ステップでは、単キズの差分絶対値が第一のしきい値より大きく第二のしきい値より小さい場合は静的補正の対象として欠陥画素アドレスメモリへの登録を行うようにしたので、より効果的に、動的補正における欠陥画素の補正漏れや欠陥画素補正に起因する解像度低下を防止することができる。
【００３８】
また、実施の形態１の画像処理装置によれば、欠陥画素検出部では、第一のしきい値と、第一のしきい値より大きい第二のしきい値とを設け、これら第一及び第二のしきい値との比較により判定を行い、登録画素判定部では、単キズの差分絶対値が第一のしきい値より大きく第二のしきい値より小さい場合は静的補正の対象として欠陥画素アドレスメモリへの登録を行うようにしたので、より効果的に、動的補正における欠陥画素の補正漏れや欠陥画素補正に起因する解像度低下を防止することができる。
【００３９】
また、実施の形態１の画像処理プログラムによれば、実施の形態１の画像処理方法をコンピュータに実行させるためのプログラムとしたので、コンピュータを用いて、静的補正用の欠陥画素アドレスメモリを省メモリ化でき、かつ、動的補正における欠陥画素の補正漏れや欠陥画素補正に起因する解像度低下を防止することができる画像処理方法を実現することができる。
なお、本願発明の範囲内において、実施の形態を適宜、変更、省略等することが可能である。
【符号の説明】
【００４０】
１  欠陥画素検出部、２  しきい値記憶部、３  欠陥画素アドレスメモリ、４  合成部、５  登録画素判定部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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