(57)【要約】【課題】より品質の高い記録が可能な記録ストラテジーを効率よく生成する。【解決手段】光ディスク装置（１００）に搭載され、光ディスク（１）に対するデータの書き込みと読み出しを制御するための半導体装置（４）は、光ディスクから読み出された再生信号（Ｓ０４）に基づいて生成された、データ再生のためのチャネルクロック信号（３０１）に対する前記再生信号の位相のずれに応じたエラー情報に基づいて、評価対象とされる複数の記録マークに係る前記エラー情報の値が全体として最小となるように記録ストラテジーを調整する第１処理（Ｆ０１、Ｆ０３）と、所望の記録マークに係る前記エラー情報の値が小さくなるように記録ストラテジーを調整する第２処理（Ｆ０４）を行う。【選択図】図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク装置に搭載され、光ディスクに対するデータの書き込み及び読み出しに係る制御を行う半導体装置であって、
前記制御のためのデータ処理を実行するデータ処理制御部と、
前記光ディスクから読み出された再生信号に基づいて、当該光ディスクへの書き込みに係る記録品質を評価するための評価情報を生成する測定部と
を有し、
前記評価情報は、データ再生のためのチャネルクロック信号に対する前記再生信号の位相のずれに応じたエラー情報を含み、
前記データ処理制御部は、評価対象とされる複数の記録マークに係る前記エラー情報の値が全体として最小となるように記録ストラテジーを調整する第１処理と、所望の記録マークに係る前記エラー情報の値が小さくなるように記録ストラテジーを調整する第２処理とを行う
半導体装置。
【請求項２】
請求項１において、
前記所望の記録マークは、前記第１処理によって調整された記録ストラテジーによって記録された記録マークのうち、前記エラー情報の値が所定の閾値以上である記録マークである
半導体装置。
【請求項３】
請求項２において、
前記第２処理による記録ストラテジーの調整は、前記第１処理によって調整された記録ストラテジーにおける前記所望の記録マークのエッジをシフトさせるためのパラメータの調整である
半導体装置。
【請求項４】
請求項３において、
前記エラー情報は、再生信号のエッジのずれ量とずれ方向を示す位相シフト値を含み、
前記第２処理は、前記所望の記録マークのエッジを、当該エッジの前記すれ量に応じて当該エッジの前記ずれ方向と反対方向にシフトさせるように前記パラメータを変更して前記位相シフト値を小さくする処理である
半導体装置。
【請求項５】
請求項３において、
前記データ処理制御部は、更に、レーザパルス波形の終端に位置するラストパルスを含むレーザパルスによって形成される記録マークに係る前記エラー情報の値が小さくなるように、前記第２処理により調整された記録ストラテジーにおける未調整のラストパルスのパルス幅を定めるパラメータを調整する第３処理を行う
半導体装置。
【請求項６】
請求項５において、
前記データ処理制御部は、前記第３処理によって調整された記録ストラテジーに対して再度前記第２処理を行う
半導体装置。
【請求項７】
請求項３において、
前記エラー情報は、再生信号のジッタを含み、
前記第１処理は、初期記録ストラテジーに基づいてレーザパワーを定めるパラメータを変更した複数の記録ストラテジーを生成し、生成した記録ストラテジーによる記録マークのうち評価対象とされる複数の記録マークに係るジッタが全体として最小となる記録ストラテジーを選択する第４処理を含む
半導体装置。
【請求項８】
請求項７において、
前記第１処理は、前記第４処理によって選択された記録ストラテジーに基づいて、記録マークのエッジをシフトさせるためのパラメータを変更した記録ストラテジーを複数生成し、生成した記録ストラテジーによる記録マークのうち評価対象とされる複数の記録マークに係るジッタが全体として最小となる記録ストラテジーを選択する第５処理を含む
半導体装置。
【請求項９】
請求項３において、
前記評価情報は、前記再生信号のベータ値を含み、
前記データ処理制御部は、更に、前記エッジをシフトさせるためのパラメータが調整され、レーザパワーを定めるパラメータが変更された記録ストラテジーによって記録したデータの再生信号に基づいて、記録品質の目標とされるジッタ以下となるジッタを取り得るベータ値の範囲を表わす余裕度を算出し、前記余裕度に応じてレーザパワーを定めるパラメータを決定する第６処理を行う
半導体装置。
【請求項１０】
請求項９において、
前記評価情報は、前記再生信号のＰＩエラーを含み、
前記データ処理制御部は、更に、前記エッジをシフトさせるためのパラメータが調整され、レーザパワーを定めるパラメータが変更された記録ストラテジーによって記録したデータの再生信号に基づいて、記録品質の目標とされるＰＩエラー以下となるＰＩエラーを取り得るベータ値の範囲を表わす余裕度を算出し、前記余裕度に応じてレーザパワーを定めるパラメータを決定する第７処理を行う
半導体装置。
【請求項１１】
光ディスクへの書き込みに係る記録品質を評価するための評価情報を入力して記録ストラテジーを生成する記録ストラテジー生成方法であって、
前記評価情報は、前記光ディスクから読み出された再生信号に応じて生成され、かつ、データ再生のためのチャネルクロック信号に対する前記再生信号の位相のずれに応じたエラー情報を含み、
入力された、複数の記録ストラテジーに従って記録された記録マークに係る前記エラー情報のうち、評価対象とされる複数の記録マークに係る前記エラー情報の値が全体として最小となる記録ストラテジーを、前記複数の記録ストラテジーの中から選択する第１処理と、
入力された前記エラー情報のうち、所望の記録マークに係る前記エラー情報の値が小さくなるように、前記第１処理によって選択された記録ストラテジーの前記パラメータを調整した記録ストラテジーを生成する第２処理と
を含む記録ストラテジー生成方法。
【請求項１２】
請求項１１において、
前記所望の記録マークは、前記第１処理によって選択された記録ストラテジーに従って記録された記録マークのうち、前記エラー情報の値が所定の閾値以上である記録マークである
記録ストラテジー生成方法。
【請求項１３】
請求項１２において、
前記第２処理による前記パラメータの調整は、前記所望の記録マークのエッジをシフトさせるためのパラメータの調整である
記録ストラテジー生成方法。
【請求項１４】
請求項１３において、
前記エラー情報は、再生信号のエッジのずれ量とずれ方向を示す位相シフト値を含み、
前記第２処理は、前記所望の記録マークのエッジを、当該エッジの前記ずれ量に応じて当該エッジの前記ずれ方向と反対方向にシフトさせるように、前記所望の記録マークのエッジをシフトさせて前記位相シフト値を小さくするためのパラメータを変更する処理である
記録ストラテジー生成方法。
【請求項１５】
請求項１３において、
レーザパルス波形の終端に位置するラストパルスを含むレーザパルスによって形成される記録マークに係る前記エラー情報の値が小さくなるように、前記第２処理により調整された記録ストラテジーにおける未調整のラストパルスのパルス幅を定めるパラメータを調整する第３処理を更に含む
記録ストラテジー生成方法。
【請求項１６】
請求項１５において、
前記第３処理によって調整された記録ストラテジーによって記録された記録マークのうち、前記エラー情報の値が所定の閾値以上である記録マークに係るエラー情報の値が小さくなるように、前記パラメータを調整する第４処理を更に含む
記録ストラテジー生成方法。
【請求項１７】
請求項１３において、
前記エラー情報は、再生信号のジッタを含み、
前記第１処理は、
初期記録ストラテジーにおけるレーザパワーを定めるパラメータが変更されて生成された複数の記録ストラテジーに従って記録された記録マークのうち、評価対象とされる複数の記録マークのエッジに係るジッタが全体として最小となる記録ストラテジーを、前記複数の記録ストラテジーの中から選択する第５処理と、
前記第５処理によって選択された記録ストラテジーにおける前記記録マークのエッジをシフトさせるためのパラメータが変更されて生成された複数の記録ストラテジーに従って記録された記録マークのうち、評価対象とされる複数の記録マークに係るジッタが全体として最小となる記録ストラテジーを、複数の記録ストラテジーの中から選択する第６処理と
を含む
記録ストラテジー生成方法。
【請求項１８】
請求項１３において、
前記評価情報は、前記再生信号のベータ値を含み、
前記エッジをシフトさせるためのパラメータが調整され、レーザパワーを定めるパラメータが変更された記録ストラテジーによって記録したデータの前記再生信号に基づいて、記録品質の目標とされるジッタ以下となるジッタを取り得るベータ値の範囲を表わす余裕度を算出し、前記余裕度に応じてレーザパワーを定めるパラメータを決定する第７処理を更に含む
記録ストラテジー生成方法。
【請求項１９】
コンピュータ装置により実行され、光ディスクから読み出された再生信号に応じて生成された記録品質を評価するための評価情報に基づいて新たな記録ストラテジーを生成するための記録ストラテジー生成用プログラムであって、
前記評価情報は、データ再生のためのチャネルクロック信号に対する前記再生信号の位相のずれに応じたエラー情報を含み、
評価対象とされる複数の記録マークに係る前記エラー情報の値が全体として最小となるように、記録ストラテジーにおける書き込みのためのレーザパルス波形を定めるパラメータを調整する第１処理と、
所望の記録マークに係る前記エラー情報の値が小さくなるように、前記パラメータを調整する第２処理と、
を制御するための制御データを含む
記録ストラテジー生成用プログラム。
【請求項２０】
請求項１９において、
前記第２処理による記録ストラテジーの調整は、前記第１処理によって調整された記録ストラテジーによって記録された記録マークのうち、前記エラー情報の値が所定の閾値以上である記録マークのエッジをシフトさせるためのパラメータの調整である
記録ストラテジー生成用プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体装置、記録ストラテジー生成方法、及び記録ストラテジー生成用プログラムに関し、特に光ディスク装置に搭載され、光ディスクに対するデータの書き込みを制御するための半導体装置に適用して有効な技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在市販されているＤＶＤ−Ｒ（ＤＶＤ−Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）、ＤＶＤ−ＲＷ（ＤＶＤ−Ｒｅ−Ｗｒｉｔａｂｌｅ）等の書き込みまたは書き換え可能な光ディスクでは、ディスクの記録面の上にレーザ光が照射されることによって光記憶媒体に熱変化が発生して情報が記録される。光ディスクに対して情報を記録するためのレーザ光の制御方法として、例えば、記録すべき情報に応じた時間幅を有する記録パルスによってレーザ光を変調することにより、記録すべき情報に応じた長さの記録マークを光ディスク上に形成する方法がある。一方、上記方法のように光ディスクに対して情報を記録するための１つの記録マークを１つのレーザパルスで形成するのではなく、複数の短いパルス（マルチパルス）を含むパルス列によって記録マークを形成するレーザパワーの制御する方法もある。この方法は、ライトストラテジー（以下、「記録ストラテジー」とも称する。）と呼ばれる。この方法によれば、単一の記録パルスを照射する方法と比較して光ディスクの記録面上の熱蓄積が減少するので、記録マークが形成される記録面上の温度分布を均一化することが可能となり、記録マークが涙液形状となることが防止され、好ましい形状の記録マークを形成することが可能となる。しかし、マルチパルスによる記録ストラテジーでは、通常速度での記録時は問題ないが、高速記録時ではオーバーシュート及びアンダーシュートによってパルスの振幅が変化してしまい、光ディスクの熱量が正確に制御できずに適切な形状の記録マークを形成することができない虞がある。この問題を解決する方法として、光ディスクの記録面を予熱するトップパルスと、記録すべきマークの長さに応じて時間幅が変化する中間バイアス部と、記録マークの後端部の形状を調整するラストパルスと、を含む記録パルスを使用する方式の記録ストラテジーがある（例えば、特許文献１）。また、別の方式の記録ストラテジーとして、記録マークの前後のスペース長の変化による記録時の熱的干渉と再生時の光学的干渉とを考慮して、トップパルスおよびラストパルスの位置及びパルス幅が記録すべきマークの直前及び直後のスペース長に応じて変化される記録ストラテジーもある。その他、トップパルスと中間バイアス部とラストパルスとを含む独特の形状とされる記録パルスを使用するキャッスル型の記録ストラテジーもある。
【０００３】
以上のように光ディスク装置は、少なくとも１つの所定の記録ストラテジーでの最適な記録パワーの記録パルスを生成し、その記録パルスによりレーザ光を制御することで光ディスクに情報を記録するが、光ディスク装置自体の性能上のばらつきや光ディスクのばらつき等によって、記録パルスの最適な記録パルスタイミング位置等にばらつきが生じる。装着された光ディスクに対する記録ストラテジーの記録パルスタイミング位置等が適切でない場合には、光ディスクに記録される記録マークのマーク長やエッジ位置が適正でなくなり、ジッタ特性やエラーレート等の再生品質が悪化する。このような問題を解決するための記録ストラテジーの最適化の従来技術として、例えば、特許文献２、特許文献３、特許文献４、及び特許文献５に開示がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−８５７５３号公報
【特許文献２】特開２００５−２２８４１８号公報
【特許文献３】特開２００７−２８７２２９号公報
【特許文献４】特開２０００−３０２５４号公報
【特許文献５】特開２０１０−２８２６９５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明者は本発明に先立って、ＣＤ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ）、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）、ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ（登録商標、以下同じ））等の複数の規格の光ディスクの記録を可能とするマルチドライブ型光ディスク装置に搭載される信号処理用の大規模半導体集積回路（ＬＳＩ：Ｌａｒｇｅ  Ｓｃａｌｅ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  ｃｉｒｃｕｉｔｓ）の研究・開発に従事した。この研究・開発の当初において、本発明者は特許文献２乃至５に記載の技術について検討を行った。
【０００６】
特許文献２に記載の技術では、予め１つのディスク製造業者ＩＤ当り複数の異なる記録ストラテジーを記憶手段に記憶しておき、装着された光ディスクのディスク製造業者ＩＤに対応した記録ストラテジーのうちの１つを前記記憶手段から読み出して、読み出した記録ストラテジーによる記録テストを行う。そして、前記記録テストの結果から記録パワーの適否を判別し、その判別結果に基づいて記録ストラテジーを設定する。このとき、記録パワーが適切である場合には当該記録ストラテジーを記録用として設定する。一方、記録パワーが適切でない場合には、再度、記憶手段から別の記録ストラテジーを読み出して記録テストを行い、記録パワーの適否を判別して適切な記録パワーが得られる記録ストラテジーを探索する。すなわち、特許文献２に記載の方法では、１つのディスク製造業者ＩＤ当り複数の異なる記録ストラテジーを記憶手段に記憶する必要があり、ディスクの製造業者が増加すると記憶手段の使用記憶部分が増大するので、光ディスク装置に搭載される不揮発性メモリのメモリ容量が不足する可能性が有る。
【０００７】
特許文献３に記載の技術では、システムコントローラが光ディスクのテストエリアを使用して種々の記録ストラテジーに従ってテストデータの試し書きを実行し、当該テストデータの再生信号品質を評価することで最適な記録ストラテジーを選択する。システムコントローラは、Ｈｓｔ＝Ａ・Ｅｂ２＋Ｂ・Ｗｅ２＋Ｃ・（Ｐｅｂ−Ｐｍｂ）２の関係式によって評価値Ｈｓｔを算出し、最小のＨｓｔが得られる記録ストラテジーを最適記録ストラテジーとする。ここで、Ｅｂは記録ストラテジー毎のエラーレート最小値とされ、Ｗｅはしきいエラーレートが得られる記録パワー範囲とされ、Ｐｍｂは目標ベータ（β）値が得られる記録パワーとされ、Ｐｅｂは最小エラーレートが得られる記録パワーとされる。すなわち、特許文献３に記載の方法では、種々の記録ストラテジーで試し書きした後、各記録ストラテジーでの再生信号品質評価および記録パワー範囲の大きさを算出する必要がある。従って、最適な記録ストラテジーを調整するには、できるだけ多くの記録ストラテジーを用意して、かつ再生信号品質評価およびパワー範囲の算出を全ての記録ストラテジーで実行する必要が有るので、調整時間が長期化する可能性が高い。
【０００８】
特許文献４に記載の技術では、記録頻度の高い最短記録マークのジッタが最小となる記録パワーと、涙目型記録マーク化（非対称化）が最も顕著になる最長記録マークの理論値からのずれが最小となる記録パワーとが略等しくなるように記録ストラテジーを選択する。すなわち、特許文献４に記載の方法では、最短記録マークと最長記録マークに着目して記録ストラテジーを調整することで全体としてのジッタが低くなるように調整するが、最短と最長との間に存在するその他の長さの記録マークについては特に考慮されておらず、最短と最長以外の記録マークではジッタが大きくなる虞がある。
【０００９】
特許文献５に記載の技術では、評価対象とされる複数の記録マーク全体の平均ジッタが最小となるように記録ストラテジーを調整する。すなわち、特許文献５に記載の方法では記録マーク全体の平均ジッタは小さくなるが、夫々の記録マークについて個別にジッタの判断を行わないので、ジッタが大きい記録マークが調整されずに残る虞がある。
【００１０】
また、その他の懸念事項として多層光ディスクへの対応が挙げられる。近年、光ディスク大容量化のため、例えば２層ＤＶＤのように、光ディスク１枚あたりの記録層をさらに増やす多層光ディスクの研究が盛んに行われている。多層光ディスクでは手前層を通して奥層の信号を再生する構造のため、記録層を１層しか保有しない光ディスクと比較して、各記録層での反射率は低下する。また各記録層の厚さを均一にすることが困難であることから、記録層が増えるほど再生品質の劣化が懸念される。こうした記録層の増加による再生品質の劣化を防ぐためには、１層の光ディスクより品質の良い記録マークが各記録層に形成される必要がある。そのためには、より品質の高い記録が可能な記録ストラテジーが必要とされる。このように、記録層を複数持つ多層光ディスクに対して十分な記録品質を得るための記録ストラテジーを調整するには、従来技術に代わる新たな技術が期待される。
【００１１】
本発明の目的は、より品質の高い記録が可能な記録ストラテジーを効率よく生成することにある。
【００１２】
本発明の前記並びにその他の目的と新規な特徴は本明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろう。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記の通りである。
【００１４】
すなわち、光ディスク装置に搭載され、光ディスクに対するデータの書き込みと読み出しを制御するための半導体装置は、光ディスクから読み出された再生信号に基づいて生成された、データ再生のためのチャネルクロック信号に対する前記再生信号の位相のずれに応じたエラー情報に基づいて、評価対象とされる複数の記録マークに係る前記エラー情報の値が全体として最小となるように記録ストラテジーを調整する第１処理と、所望の記録マークに係る前記エラー情報の値が小さくなるように記録ストラテジーを調整する第２処理とを行う。
【発明の効果】
【００１５】
本願において開示される発明のうち代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりである。
【００１６】
すなわち、本半導体装置によれば、より品質の高い記録が可能な記録ストラテジーを効率よく生成することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】図１は、実施の形態１に係る光ディスク装置の構成の一例を示すブロック図である。
【図２】図２は、信号品質測定回路４２の動作の一例を示すタイミングチャートである。
【図３】図３は、シフト値とジッタの一例を示す説明図である。
【図４】図４は、情報が記録された光ディスクにおける各記録マークの出現率の一例を示す説明図である。
【図５】図５は、光ディスク装置の記録ストラテジーに係るレーザパルス波形の一例を示す説明図である。
【図６】図６は、光ディスク装置１００の記録ストラテジー調整の処理の流れの一例を示すフロー図である。
【図７】図７は、微調整Ｉに係る処理の前後の記録品質の評価結果の一例を示す説明図である。
【図８】図８は、粗調整の流れの一例を示すフロー図である。
【図９】図９は、ステップＦ０１０２の調整開始ストラテジーの選択に係る処理の流れの一例を示すフロー図である。
【図１０】図１０は、微調整Ｉの流れの一例を示すフロー図である。
【図１１】図１１は、微調整ＩＩの流れの一例を示すフロー図である。
【図１２】図１２は、ラストパルス幅Ｌｔの調整（Ｌｔ調整）の流れの一例を示すフロー図である。
【図１３】図１３は、ラストパルス幅Ｌｔの決定方法の概念を示す説明図である。
【図１４】図１４は、ターゲットベータ調整の流れの一例を示すフロー図である。
【図１５】図１５は、ステップＦ０８１１におけるターゲットベータ決定処理の流れの一例を示すフロー図である。
【図１６】図１６は、ジッタ指標のベータマージンの概念を示す説明図である。
【図１７】図１７は、ＰＩエラー指標のベータマージンの概念を示す説明図である。
【図１８】図１８は、実施の形態２に係る記録ストラテジー調整の処理の流れの別の一例を示すフロー図である。
【図１９】図１９は、実施の形態３に係る記録ストラテジー調整の処理の流れの別の一例を示すフロー図である。
【図２０】図２０は、実施の形態４に係る記録ストラテジー調整の処理の流れの別の一例を示すフロー図である。
【図２１】図２１は、実施の形態５に係る光ディスク装置２００の構成の一例を示すブロック図である。
【図２２】図２２は、実施の形態５の粗調整における調整開始ストラテジーの選択処理の流れの一例を示すフロー図である。
【図２３】図２３は、実施の形態５に係る微調整Ｉの流れの一例を示すフロー図である。
【図２４】図２４は、実施の形態５に係る微調整ＩＩの流れの一例を示すフロー図である。
【図２５】図２５は、実施の形態５に係るＬｔ調整の流れの一例を示すフロー図である。
【図２６】図２６は、実施の形態５に係るターゲットベータ調整の流れの一例を示すフロー図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
１．実施の形態の概要
先ず、本願において開示される発明の代表的な実施の形態について概要を説明する。代表的な実施の形態についての概要説明で括弧を付して参照する図面中の参照符号はそれが付された構成要素の概念に含まれるものを例示するに過ぎない。
【００１９】
〔１〕（全体調整＋個別調整）
本発明の代表的な実施の形態に係る半導体装置は、光ディスク装置（１００）に搭載され、光ディスク（１）に対するデータの書き込み及び読み出しに係る制御を行う半導体装置（４）であって、前記制御のためのデータ処理を実行するデータ処理制御部（４３）と、前記光ディスクから読み出された再生信号（Ｓ０４）に基づいて、当該光ディスクへの書き込みに係る記録品質を評価するための評価情報（Ｓ０６）を生成する測定部（４２）と、を有する。前記評価情報は、データ再生のためのチャネルクロック信号（３０１）に対する前記再生信号の位相のずれに応じたエラー情報を含み、前記データ処理制御部は、評価対象とされる複数の記録マークに係る前記エラー情報の値が全体として最小となるように記録ストラテジーを調整する第１処理（Ｆ０１、Ｆ０３）と、所望の記録マークに係る前記エラー情報の値が小さくなるように記録ストラテジーを調整する第２処理（Ｆ０４）とを行う。
【００２０】
これによれば、記録マーク全体に係る前記エラー情報の値を小さくし、且つ個別の記録マークに係る前記エラー情報の値を小さくするように記録ストラテジーを調整するから、より品質の高い記録が可能な記録ストラテジーを生成することが可能となる。例えば、光ディスクの記録における記録マークの出現率の低い長マークは全体の記録品質に与える影響が小さいため、記録マーク全体の前記エラー情報の値が小さくなるように調整する前記第１処理だけでは長マークの前記エラー情報の値が最小になるとは限らない。そこで、前記第１処理に加え前記第２処理を行うことによって、例えば長マークに係る前記エラー情報の値を小さくするように記録ストラテジーを調整すれば、記録マーク全体として前記エラー情報の値が小さく、且つ個別の記録マークについても前記エラー情報の値が小さい記録ストラテジーの生成が可能となる。
【００２１】
〔２〕（微調整ＩＩ・・・所定の閾値以上のシフト値をもつ記録マーク）
項１の半導体装置において、前記所望の記録マークは、前記第１処理によって調整された記録ストラテジーによって記録された記録マーク（Ｍ０５１１、Ｍ０５１２）のうち、前記エラー情報の値が所定の閾値以上である記録マーク（Ｊ０５１１、Ｊ０５１２）である。
【００２２】
前記第２処理では、全ての記録マークではなく、前記第１処理によって調整された記録ストラテジーで記録された記録マークのうち記録品質の低い記録マークに着目して調整を行うから、品質の高い記録が可能な記録ストラテジーをより効率良く生成することができる。
【００２３】
〔３〕（微調整ＩＩ・・・前端エッジシフト量又は後端エッジシフト量の調整）
項１又は２の半導体装置において、前記第２処理による記録ストラテジーの調整は、前記第１処理によって調整された記録ストラテジーにおける前記所望の記録マークのエッジをシフトさせるためのパラメータ（Ｔｌｄ、Ｔｔｒ２）の調整である。
【００２４】
これによれば、記録ストラテジーにおけるレーザパルス波形を定める複数のパラメータのうち、記録マークのエッジをシフトさせるためのパラメータを調整するから、前記所望の記録マークに係る再生信号の位相のずれを効率よく調整することが可能となる。
【００２５】
〔４〕（微調整ＩＩ・・・具体的調整方法）
項３の半導体装置において、前記エラー情報は、再生信号のエッジのずれ量とずれ方向を示す位相シフト値（Ｍ０１０１、Ｍ０２０１、Ｍ０５０１、Ｍ０５１１）を含み、前記第２処理は、前記所望の記録マークのエッジを、当該エッジの前記すれ量に応じて当該エッジの前記ずれ方向と反対方向にシフトさせるように前記パラメータを変更して前記位相シフト値を小さくする処理である。
【００２６】
これによれば、容易に、前記所望の記録マークに係る再生信号の位相のずれを小さくすることができる。
【００２７】
〔５〕（Ｌｔ調整・・・ラストパルスの幅の調整）
項１乃至４のいずれかの半導体装置において、前記データ処理制御部は、更に、レーザパルス波形（３０３、３０４）の終端に位置するラストパルスを含むレーザパルスによって形成される記録マーク（３０２）に係る前記エラー情報の値が小さくなるように、前記第２処理により調整された記録ストラテジーにおける未調整のラストパルスのパルス幅を定めるパラメータ（Ｌｔ）を調整する第３処理（Ｆ０６）を行う。
【００２８】
これによれば、前記第２処理によって前記所望の記録マークに係るエッジのシフト量を調整した上で更に、ラストパルスを含むレーザパルス波形によって形成される特定の記録マークのラストパルス幅を調整するから、より品質の高い記録が可能な記録ストラテジーを生成することができる。
【００２９】
〔６〕（Ｌｔ調整後に再度微調整ＩＩ）
項５の半導体装置において、前記データ処理制御部は、前記第３処理によって調整された記録ストラテジーに対して再度前記第２処理（Ｆ０７）を行う。
【００３０】
例えば、前記第２処理において記録マークの前端エッジをシフトさせるためのパラメータのみならず、後端エッジをシフトさせるためのパラメータを調整している場合には、前記第３処理におけるラストパルスのパルス幅を定めるパラメータの調整によって、記録マークの後端エッジが最適値からずれる場合がある。そこで、前記第３処理の後に再度前記第２処理を行うことで、より品質の高い記録が可能な記録ストラテジーを生成することが可能となる。
【００３１】
〔７〕（粗調整）
項１乃至６のいずれかの半導体装置において、前記エラー情報は再生信号のジッタ（Ｍ０１０２、Ｍ０２０２、Ｍ０５０２、Ｍ０５１２）を含み、前記第１処理は、初期記録ストラテジーに基づいてレーザパワーを定めるパラメータ（Ｐｗ）を変更した複数の記録ストラテジーを生成し、生成した記録ストラテジーによる記録マークのうち評価対象とされる複数の記録マークに係るジッタが全体として最小となる記録ストラテジーを選択する第４処理（Ｆ０１）を含む。
【００３２】
これによれば、記録マーク全体として最適なレーザパワーを効率よく見つけ出すことができる。
【００３３】
〔８〕（微調整Ｉ）
項７の半導体装置において、前記第１処理は、前記第４処理によって選択された記録ストラテジーに基づいて、記録マークのエッジをシフトさせるためのパラメータを変更した記録ストラテジーを複数生成し、生成した記録ストラテジーによる記録マークのうち評価対象とされる複数の記録マークに係るジッタが全体として最小となる記録ストラテジーを選択する第５処理（Ｆ０３）を含む。
【００３４】
これによれば、記録マーク全体として最適なエッジのシフト量を効率よく見つけ出すことができる。
【００３５】
〔９〕（ジッタ指標のターゲットβ調整）
項３乃至８のいずれかの半導体装置において、前記評価情報は前記再生信号のベータ値を含む。また前記データ処理制御部は、更に、前記エッジをシフトさせるためのパラメータが調整され、レーザパワーを定めるパラメータが変更された記録ストラテジーによって記録したデータの再生信号に基づいて、記録品質の目標とされるジッタ以下となるジッタを取り得るベータ値の範囲を表わす余裕度（ＢＪ０２）を算出し、前記余裕度に応じてレーザパワーを定めるパラメータ（ターゲットベータ）を決定する第６処理（Ｆ０８、Ｆ０８１１０１、Ｆ０８１１０２）を行う。
【００３６】
例えば、前記第１処理においてレーザパワーが設定された後に、前記第２処理や前記第３処理によってレーザパルス波形のパルス幅が調整されることで、レーザパワーが最適値からずれる場合がある。そこで、前記第２処理又は前記第３処理の後に、ジッタ指標のベータの余裕度に応じてレーザパワーを決定することで、より品質の高い記録が可能な記録ストラテジーを生成することが可能となる。
【００３７】
〔１０〕（ＰＩエラー指標のターゲットβ調整）
項９の半導体装置において、前記評価情報は、前記再生信号のＰＩエラーを含む。また前記データ処理制御部は、更に、前記エッジをシフトさせるためのパラメータが調整され、レーザパワーを定めるパラメータが変更された記録ストラテジーによって記録したデータの再生信号に基づいて、記録品質の目標とされるＰＩエラー以下となるＰＩエラーを取り得るベータ値の範囲を表わす余裕度（ＢＰ０２）を算出し、前記余裕度に応じてレーザパワーを定めるパラメータ（ターゲットベータ）を決定する第７処理（Ｆ０８、Ｆ０８１１０３〜Ｆ０８１１０７）を行う。
【００３８】
これによれば、ジッタ指標のベータの余裕度に加え、ＰＩエラー指標のベータの余裕度に応じてレーザパワー決定するから、ＰＩエラーを考慮した、より品質の高い記録が可能な記録ストラテジーを生成することが可能となる。
【００３９】
〔１１〕（記録ストラテジー生成方法・・・全体調整＋個別調整）
本発明の代表的な実施の形態に係る記録ストラテジー生成方法は、光ディスクへの書き込みに係る記録品質を評価するための評価情報（Ｓ０６）を入力して記録ストラテジーを生成する記録ストラテジー生成方法である。前記評価情報は、前記光ディスクから読み出された再生信号に応じて生成され、且つ、データ再生のためのチャネルクロック信号に対する前記再生信号の位相のずれに応じたエラー情報を含む。前記記録ストラテジー生成方法は、入力された、複数の記録ストラテジーに従って記録された記録マークに係る前記エラー情報のうち、評価対象とされる複数の記録マークに係る前記エラー情報の値が全体として最小となる記録ストラテジーを前記複数の記録ストラテジーの中から選択する第１処理（Ｆ０１、Ｆ０３、図２２、図２３）と、入力された前記エラー情報のうち、所望の記録マークに係る前記エラー情報の値が小さくなるように前記第１処理によって選択された記録ストラテジーの前記パラメータを調整した記録ストラテジーを生成する第２処理（Ｆ０３、図２４）と、を含む。
【００４０】
これによれば、項１と同様に、記録マーク全体に係る前記エラー情報の値を小さく、且つ個別の記録マークに係る前記エラー情報の値を小さくするように記録ストラテジーを調整するから、より品質の高い記録が可能な記録ストラテジーを生成することが可能となる。また、前記第２処理では、前記第１処理で選択された記録ストラテジーに基づいて記録ストラテジーを生成するから、より効率良く記録ストラテジーを生成することができる。
【００４１】
〔１２〕（微調整ＩＩ・・・所定の閾値以上のシフト値をもつ記録マーク）
項１１の記録ストラテジー生成方法において、前記所望の記録マークは、前記第１処理によって選択された記録ストラテジーに従って記録された記録マーク（Ｍ０５１１、Ｍ０５１２）のうち、前記エラー情報の値が所定の閾値以上である記録マーク（Ｊ０５１１、Ｊ０５１２）である。
【００４２】
前記第２処理では、全ての記録マークではなく、前記第１処理によって調整された記録ストラテジーで記録された記録マークのうち記録品質の低い記録マークに着目して調整を行うから、品質の高い記録が可能な記録ストラテジーをより効率良く生成することができる。
【００４３】
〔１３〕（微調整ＩＩ・・・前端エッジシフト量又は後端エッジシフト量の調整）
項１１又は１２の記録ストラテジー生成方法において、前記第２処理による前記パラメータの調整は、前記所望の記録マークのエッジをシフトさせるためのパラメータ（Ｔｌｄ、Ｔｒ２）の調整である。
【００４４】
これによれば、前記所望の記録マークに係る再生信号の位相のずれを効率よく調整することが可能となる。
【００４５】
〔１４〕（微調整ＩＩ・・・具体的調整方法）
項１３の半導体装置において、前記エラー情報は、再生信号のエッジのずれ量とずれ方向を示す位相シフト値（Ｍ０１０１、Ｍ０２０１、Ｍ０５０１、Ｍ０５１１）を含み、前記第２処理は、前記所望の記録マークのエッジを、当該エッジの前記ずれ量に応じて当該エッジの前記ずれ方向と反対方向にシフトさせるように、前記所望の記録マークのエッジをシフトさせて前記位相シフト値を小さくするためのパラメータを変更する処理である。
【００４６】
これによれば、容易に、前記所望の記録マークに係る再生信号の位相のずれを小さくすることができる。
【００４７】
〔１５〕（Ｌｔ調整・・・ラストパルスの幅の調整）
項１１乃至１４のいずれかの記録ストラテジー生成方法において、レーザパルス波形（３０３、３０４）の終端に位置するラストパルスを含むレーザパルスによって形成される記録マークに係る前記エラー情報の値が小さくなるように、前記第２処理により調整された記録ストラテジーにおける未調整のラストパルスのパルス幅を定めるパラメータ（Ｌｔ）を調整する第３処理（Ｆ０６、図２５）を更に含む。
【００４８】
これによれば、項５と同様に、より品質の高い記録が可能な記録ストラテジーを生成することができる。
【００４９】
〔１６〕（ＬＴ調整後に再度微調整ＩＩ）
項１５の記録ストラテジー生成方法において、前記第３処理によって調整された記録ストラテジーによって記録された記録マークのうち、前記エラー情報の値が所定の閾値以上である記録マークに係るエラー情報の値が小さくなるように前記パラメータを調整する第４処理（Ｆ０７）を含む。
【００５０】
これによれば、項６と同様に前記第３処理の後に再度前記第２処理を行うことで、より品質の高い記録が可能な記録ストラテジーを生成することが可能となる。
【００５１】
〔１７〕（粗調整＋微調整Ｉ）
項１１乃至１６のいずれかの記録ストラテジー生成方法において、前記エラー情報は、再生信号のジッタを含む。前記第１処理は、初期記録ストラテジーにおけるレーザパワーを定めるパラメータが変更されて生成された複数の記録ストラテジーに従って記録された記録マークのうち、評価対象とされる複数の記録マークのエッジに係るジッタが全体として最小となる記録ストラテジーを、前記複数の記録ストラテジーの中から選択する第５処理（Ｆ０１、図２２）を含む。また、前記第１処理は、前記第５処理によって選択された記録ストラテジーにおける前記記録マークのエッジをシフトさせるためのパラメータが変更されて生成された複数の記録ストラテジーに従って記録された記録マークのうち、評価対象とされる複数の記録マークに係るジッタが全体として最小となる記録ストラテジーを複数の記録ストラテジーの中から選択する第６処理（Ｆ０３、図２３）を含む。
【００５２】
これによれば、記録マーク全体として最適なレーザパワーと最適なエッジのシフト量を効率よく見つけ出すことができる。
【００５３】
〔１８〕（ジッタ指標のターゲットβ調整）
項１３乃至１７のいずれかの記録ストラテジー生成方法において、前記評価情報は、前記再生信号のベータ値を含み、前記エッジをシフトさせるためのパラメータが調整され、レーザパワーを定めるパラメータが変更された記録ストラテジーによって記録したデータの前記再生信号に基づいて、記録品質の目標とされるジッタ以下となるジッタを取り得るベータ値の範囲を表わす余裕度を算出し、前記余裕度に応じてレーザパワーを定めるパラメータ（ターゲットベータ）を決定する第７処理（Ｆ０８、図２５）更に含む。
【００５４】
これによれば、項９と同様に、前記第２処理又は前記第３処理の後にジッタ指標のベータの余裕度に応じてレーザパワーの調整を行うことで、より品質の高い記録が可能な記録ストラテジーを生成することが可能となる。
【００５５】
〔１９〕（記録ストラテジー生成用プログラム・・・全体調整＋個別調整）
本発明の代表的な実施の形態に係る記録ストラテジー生成用プログラムは、コンピュータ装置（６、４３）により実行され、光ディスク（１）から読み出された再生信号（Ｓ０４）に応じて生成された記録品質を評価するための評価情報（Ｓ０６）に基づいて新たな記録ストラテジーを生成するための記録ストラテジー生成用プログラムである。前記評価情報は、データ再生のためのチャネルクロック信号（３０１）に対する前記再生信号の位相のずれに応じたエラー情報を含む。前記記録ストラテジー生成用プログラムは、評価対象とされる複数の記録マークに係る前記エラー情報の値が全体として最小となるように、記録ストラテジーにおける書き込みのためのレーザパルス波形を定めるパラメータを調整する第１処理（Ｆ０１、Ｆ０３）と、所望の記録マークに係る前記エラー情報の値が小さくなるように、前記パラメータを調整する第２処理（Ｆ０４）とを制御するための制御データを含む。
【００５６】
これによれば、項１と同様に、記録マーク全体に係る前記エラー情報の値を小さくし、且つ個別の記録マークに係る前記エラー情報の値を小さくするように記録ストラテジーの調整を行うから、より品質の高い記録が可能な記録ストラテジーを生成することが可能となる。
【００５７】
〔２０〕（微調整ＩＩ・・・所定の閾値以上のシフト値をもつ記録マークのエッジシフト量の調整）
項１９の記録ストラテジー生成用プログラムにおいて、前記第２処理による記録ストラテジーの調整は、前記第１処理によって調整された記録ストラテジーによって記録された記録マーク（Ｍ０５１１、Ｍ０５１２）のうち、前記エラー情報の値が所定の閾値以上である記録マークのエッジ（Ｊ０５１１、Ｊ０５１２）をシフトさせるためのパラメータの調整である。
【００５８】
これによれば、項２と同様に、品質の高い記録が可能な記録ストラテジーをより効率良く生成することができる。
【００５９】
２．実施の形態の詳細
実施の形態について更に詳述する。
【００６０】
≪実施の形態１≫
（１）光ディスク装置の構成
図１は、実施の形態１に係る光ディスク装置の構成の一例を示すブロック図である。
【００６１】
同図に示される光ディスク装置１００は、光ディスク１に対するデータの書き込みと読み出しを行う。光ディスク装置１００によって記録・再生が可能な光ディスク１は、特に制限されないが、例えば、ＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤ等の光ディスクである。光ディスク１に対するデータの書き込みは、記録ストラテジーに応じたレーザパルスの制御により行われる。光ディスク装置１００は、光ディスク１の記録品質を高めるため、例えばデータの書き込みを行う前に、光ディスク装置１００に予め格納された標準初期ストラテジーを調整して、書き込み対象とされる光ディスク１に適した記録ストラテジーを生成する。記録ストラテジーの調整方法については後で詳述する。
【００６２】
図１に示される光ディスク装置１００は、着脱が可能な光ディスク１を回転駆動するスピンドルモータ２と、光ピックアップ３と、信号処理を実行する信号処理用の大規模半導体集積回路（以下、「信号処理ＬＳＩ（Ｌａｒｇｅ  Ｓｃａｌｅ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ）」と称する。）４を備える。
【００６３】
スピンドルモータ２は、信号処理ＬＳＩ４からのモータ制御信号Ｓ０１によりモータ回転制御されることによって、所定の回転数で光ディスク１を回転させる。
【００６４】
光ピックアップ３は、信号処理ＬＳＩ４からの位置制御信号Ｓ０２により位置制御されることによって、光ディスク１の径方向に移動して所定の記録再生位置に移動する。また光ピックアップ３の半導体レーザは、信号処理ＬＳＩ４からのレーザパルス制御信号Ｓ０３により制御され、記録または再生のためにレーザパルスを光ディスク１の表面に照射する。光ディスク１の再生時には、光ピックアップ３の半導体レーザから照射されたレーザパルスは光ディスク１の表面で反射され、光ピックアップ３の受光部が反射光を受光する。受光部は反射光を電気信号Ｓ０４に変換して信号処理ＬＳＩ４に出力する。
【００６５】
信号処理ＬＳＩ４は、アナログフロントエンド（ＡＦＥ：Ａｎａｌｏｇ  Ｆｒｏｎｔ  Ｅｎｄ）４１、信号品質測定回路（ＭＱＳ）４２、マイクロコントローラ（ＭＣＵ）４３、メモリ部（ＭＲＹ）４４、位置制御回路（Ｐ＿ＣＮＴ）４５、レーザパルス制御回路（Ｌ＿ＣＮＴ）４６、モータ制御回路（Ｍ＿ＣＮＴ）４７を備える。信号処理ＬＳＩ４は、特に制限されないが、上記機能部４１〜４７が夫々構成された複数の半導体チップをパッケージ内部に備えたＳＩＰ（Ｓｙｓｔｅｍ  ｉｎ  Ｐａｃｋａｇｅ）もしくはＭＣＭ（Ｍｕｌｔｉ−ｃｈｉｐ  Ｍｏｄｕｌｅ）の形態で構成される。
【００６６】
ＡＦＥ４１は光ピックアップ３が出力した電気信号Ｓ０４の増幅等のアナログ信号処理を実行することによってアナログ信号Ｓ０５を生成して、信号品質測定回路４２に出力する。
【００６７】
信号品質測定回路４２は、アナログ信号Ｓ０５に基づいて、光ディスクの記録品質を評価するための評価情報を測定結果情報Ｓ０６としてマイコン４３に出力する。前記測定結果情報Ｓ０６は、例えば、ベータ値、シフト値、ジッタ、ＰＩ（Ｐａｒｉｔｙ  Ｉｎｎｅｒ）エラー等である。ベータ値は、光ディスク１の再生アナログ信号Ｓ０５の波形の最大振幅値と最小振幅値との比に基づく値であり、例えば記録パワーを定める際に用いる指標とされる。ＰＩエラーとは、例えば、１ＥＣＣブロック当たりの内部コードパリティのエラーの数である。
【００６８】
ここで、シフト値及びジッタについて、信号品質測定回路４２の動作と共に説明する。
【００６９】
図２は、信号品質測定回路４２の動作の一例を示すタイミングチャートである。
【００７０】
図２において、参照符号３０１で示される信号はチャネルクロック信号であり、参照符号Ｓ１１で示される信号は信号品質測定の開始を指示する測定開始信号であり、参照符号Ｓ０５で示される信号はＡＦＥ４１から出力されるアナログ信号であり、参照符号Ｓ０５Ｄで示される信号は前記アナログ信号Ｓ０５をディジタルに変換した信号である。また、参照符号２５０１乃至２５０３で示される範囲は位相エラーであり、参照符号２５０５乃至２５０７で示される点はアナログ信号Ｓ０５のゼロクロス点である。
【００７１】
信号品質測定回路４２はマイコン４３から測定開始信号Ｓ１１を受信すると信号品質測定を開始し、予め定めた数だけゼロクロス点を検出すると測定を終了する。信号品質は、チャネルクロック信号３０１に対するゼロクロス点２５０５乃至２５０７の時間軸方向のずれを表す位相エラー２５０１乃至２５０３に基づいて算出される。位相エラー２５０１乃至２５０３は、例えば、チャネルクロック信号３０１に対して、時間軸方向のずれを正の位相エラーとし、時間軸とは逆方向の位相エラーを負の位相エラーとして表される。また、位相エラー２５０１乃至２５０３は、例えば信号品質測定回路４２が、チャネルクロック信号３０１よりも周期の短いクロックでアナログ信号Ｓ０５のサンプリングを行い、参照符号２５０５乃至２５０７のゼロクロス点とチャネルクロック信号の時間のずれを位相エラーとして計測する方法で測定される。その他の計測方法として、例えば信号品質測定回路４２がチャネルクロック信号３０１によりアナログ信号Ｓ０５のサンプリングを行い、サンプリングした結果からゼロクロスする時間を計算で求め、その計算結果から各ゼロクロス点とチャネルクロックの時間ずれを求める方法でもよい。位相エラーの測定方法は特に上記の方法に限定されない。
【００７２】
信号品質測定回路４２は、測定した位相エラーに基づいてシフト値及びジッタを生成する。前記シフト値は、例えば記録マークの前端エッジもしくは後端エッジの位相エラーの積分であり、前記ジッタは、例えば記録マークの前端エッジもしくは後端エッジの位相エラーの絶対値の積分である。
【００７３】
図３にシフト値とジッタの一例を示す。同図に示されるように、ゼロクロス点は、例えば光ディスクの記録面における記録マークとスペースとの切り替わり点Ｍ０１、Ｍ０２に対応され、前記サンプリングされたゼロクロス点の間隔に基づいて、記録マークのマーク長が判別され、また、その記録マークの前方及び後方のスペース長を判別することができる。したがって、参照符号Ｍ０１０１、Ｍ０１０２、Ｍ０２０１、及びＭ０２０２に示されるように、マーク長とスペース長の組み合わせ毎にシフト値とジッタ値を測定することが可能である。信号品質測定回路４２は、これら測定したシフト値とジッタ値を含んだ測定結果情報Ｓ０６をマイコン４３に出力する。なお、図３では、一例として３Ｔ乃至６Ｔのマーク長及びスペース長の組み合わせ毎にシフト値とジッタの数値例を示しているが、マーク長とスペース長の値と夫々の組み合わせは、上記に限定されない。
【００７４】
信号品質は、例えば、信号品質の評価の対象とされる記録マークのシフト値（又はジッタ）と記録マークの出現率に基づいて算出した全体シフト値（又は全体ジッタ）により評価される。信号品質の評価の対象とされる記録マークは、例えば、マーク長と前方スペース長及び後方スペース長の組み合わせによって特定される。すなわち、記録マークのエッジが信号品質の評価対象とされる。信号品質の評価対象とされる記録マークのエッジ（以下、「対象エッジ」とも称する。）は、図３に示されるように３Ｔ〜６Ｔのマーク長と３Ｔ〜６Ｔの前後のスペース長から特定される３２通りのエッジであってもよいし、３Ｔから１４Ｔの全てのマーク長と全てのスペース長から特定されるエッジでもよい。
【００７５】
全体シフト値は、例えば図３の参照符号Ｍ０３に示されるように、前方スペース・後方マーク（Ｍ０１）と前方マーク・後方スペース（Ｍ０２）の２つの場合に分けて算出され、その値は、例えばマーク長とスペース長の全ての組み合わせに応じたシフト値の平均値である。したがって、出現率の高いマーク長のシフト値ほど全体シフト値に与える影響は大きく、出現率の低いマーク長のシフト値ほど全体シフト値に与える影響は小さい。全体ジッタとジッタについても同様である。
【００７６】
図４は、情報が記録された光ディスクにおける各記録マークの出現率の一例を示す説明図である。
【００７７】
同図には、光ディスクがＤＶＤの場合の出現率が示される。同図に示されるように、光ディスクに記録される記録マークの出現率はマーク長が短いほど高くなる傾向がある。したがって、マーク長の短い記録マークのシフト値ほど全体シフト値に与える影響は大きくなり、マーク長の長い記録マークのシフト値ほど全体シフト値に与える影響は小さくなる。全体シフト値とシフト値についても同様である。
【００７８】
マイコン４３は、メモリ部４４に格納されたプログラムを実行することにより、光ディスクに対するデータの書き込みと読み出しのための制御を行う。例えば、マイコン４３は、光ディスク１にデータを書き込む際に、メモリ部４４に格納されたプログラムに従って、信号品質測定回路４２からの測定結果情報Ｓ０６に基づいてデータ処理を実行し、マウントされた光ディスク１に応じた記録ストラテジーの調整を行う。このとき、マイコン４３は、位置制御回路４５、レーザパルス制御回路４６、モータ制御回路４７に対して、位置制御信号Ｓ０７、レーザパルス制御信号Ｓ０８、モータ制御信号Ｓ０９を夫々出力することにより光ディスクに対するデータの書き込みと読み出しのためのハードウェア制御を行う。
【００７９】
また、マイコン４３は、適宜メモリ部４４とデータの読み出しと書き込みとを実行する。メモリ部４４は、例えば同期型ダイナミックメモリ（ＳＤＲＡＭ：Ｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ  Ｄｙｎａｍｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）等の揮発性メモリやフラッシュメモリ等の不揮発性メモリを備え、例えば標準初期ストラテジー、マイコン４３によるデータ処理結果等のデータ、及びソフトウェアプログラム等を格納する。
【００８０】
位置制御回路４５は、マイコン４３からの位置制御信号Ｓ０７に応答することによって、光ピックアップ３を記録位置または再生位置に移動させるように位置制御信号Ｓ０２を出力する。
【００８１】
レーザパルス制御回路４６は、マイコン４３からのレーザパルス制御信号Ｓ０８に応答することによって、マイコン４３が指定した記録ストラテジーで記録するよう光ピックアップ３にレーザパルス制御信号Ｓ０３を出力する。
【００８２】
モータ制御回路４７は、マイコン４３からのモータ制御信号Ｓ０９に応答することによって、マイコン４３が指定した速度で光ディスク１を回転させるようにスピンドルモータ２に対しモータ制御信号Ｓ０１を出力する。
【００８３】
（２）光ディスク装置１００による記録ストラテジー調整方法の概要
前述したように、光ディスク装置１００は、光ディスク１にデータを書き込む前に、標準初期ストラテジーを調整してマウントされた光ディスク１に適した記録ストラテジーを生成する。記録ストラテジーの調整では、例えば記録ストラテジーにおけるレーザパルス波形を規定するパラメータの調整が行われる。
【００８４】
ここで記録ストラテジーにおけるレーザパルス波形を規定するパラメータについて説明する。
【００８５】
図５は、光ディスク装置１００における記録ストラテジーに係るレーザパルス波形の一例を示す説明図である。なお、同図に示されるレーザパルス波形の形状は一例であり、この形状に限定されるものではない。
【００８６】
同図では、周期１Ｔを持ったチャネルクロック信号の波形３０１と、光ディスク１に記録されるべき記録マークの形状３０２と、マルチパルス型の記録ストラテジーに係るレーザパルス波形３０３と、キャッスル型の記録ストラテジーに係るレーザパルス波形３０４とが示されている。
【００８７】
光ディスク装置１００における記録ストラテジー調整において調整されるパラメータは、例えば、前端エッジシフト量Ｔｌｄ、後端エッジシフト量Ｔｔｒ２、記録パワー（ライトパワー）Ｐｗ、及びラストパルスＬｔである。なお、調整するパラメータは上記に限定されず、例えば、キャッスル型の記録ストラテジーの場合には、ミドルパワーＰｍを更に調整してもよい。また、記録のためのレーザパルス波形としてマルチパルス型とキャッスル型のいずれの記録ストラテジーを使用するかは、光ディスク１の種類に応じて決めてもよいし、高速記録時の倍速速度に応じて決めてもよい。
【００８８】
図５に示されるように、マルチパルス型の記録ストラテジーの前端エッジパルスのエッジシフト量Ｔｌｄは、チャネルクロック信号３０１の立ち上がりからマルチパルス型のレーザパルス波形３０３の最初の立ち上がりエッジまでの時間であり、マルチパルス型の記録ストラテジーの後端エッジパルスのエッジシフトＴｔｒ２は記録マーク３０２の後のチャネルクロック３０１の立ち上がりからマルチパルス型のレーザパルス波形３０３の最後の立ち下がりエッジまでの時間である。また、マルチパルス型のライトパワーＰｗはレーザパルス波形の最大値であり、マルチパルス型のラストパルス幅Ｌｔは、レーザパルス波形の終端に位置するラストパルスの幅である。
【００８９】
また同図に示されるように、キャッスル型の記録ストラテジーの前端エッジパルスのエッジシフト量Ｔｌｄは、チャネルクロック３０１の立ち上がりからキャッスル型記録レーザパルス波形３０４の最初の立ち上がりエッジまでの時間であり、キャッスル型の記録ストラテジーの後端エッジパルスのエッジシフト量Ｔｔｒ２は記録マーク３０２の後のチャネルクロック３０１の立ち上がりからキャッスル型記録レーザパルス波形３０４の最後の立ち下がりエッジまでの時間である。また、キャッスル型のライトパワーＰｗはレーザパルス波形の最大値であり、キャッスル型のラストパルス幅Ｌｔは、レーザパルス波形の終端に位置するライトパワーＰｗを持続する時間である。
【００９０】
光ディスク装置１００は、所定の処理手順で上記パラメータを調整することにより記録ストラテジーの調整を行う。以下、光ディスク装置１００による記録ストラテジー調整の処理フローの概要について説明する。
【００９１】
図６は、光ディスク装置１００における記録ストラテジー調整の処理の流れの一例を示すフロー図である。
【００９２】
同図に示される処理フローは、マイコン４３のソフトウェア処理による処理フローとして例示しているが、処理の一部または全てを専用ハードウェアで実現することも可能である。
【００９３】
同図に示される記録ストラテジーの調整処理では、先ず粗調整が実行され、調整開始ストラテジーの選択が行われる（Ｆ０１）。前記粗調整では先ず、１つの標準初期ストラテジーに基づき複数の初期ストラテジーが生成され、複数の初期ストラテジーを用いて記録レーザパワー（ライトパワーＰｗ）が変化されて、評価データとしてのランダムデータが光ディスク１の表面に記録される。その後、記録されたデータが再生されて信号品質の測定が行われる。そして、その測定結果に基づき評価関数演算が実行される。演算結果が正常であれば、前記複数の初期ストラテジーの中から最適とされるライトパワーＰｗの記録ストラテジーが調整開始ストラテジーとして１種類選択され、粗調整の処理は正常終了する。演算結果が異常であれば粗調整は調整不可とされ処理が異常終了する。粗調整の詳細な内容については後述する。
【００９４】
ステップＦ０１の粗調整が終了したら、前記粗調整が正常終了したか否かが判断される（Ｆ０２）。ステップＦ０２において粗調整が正常終了したと判断された場合には、続いて微調整Ｉが実行される（Ｆ０３）。一方ステップＦ０２において粗調整が異常終了したと判断された場合には記録ストラテジー調整は異常終了する。ステップＦ０２において粗調整が異常終了したと判断された場合に記録ストラテジー調整を異常終了することで、早期の段階で記録ストラテジーの調整が不可能な光ディスクを判別することが可能となり、マイコン４３における処理負荷を低減することができる。  
【００９５】
ステップＦ０３の微調整Ｉでは、ステップＦ０１の粗調整で選択された調整開始ストラテジーにおける各記録マークのエッジをシフトさせるためのパラメータ（前端エッジシフト量Ｔｌｄ、後端エッジシフト量Ｔｔｒ２）が調整された第１の調整記録ストラテジーが生成される。具体的には、粗調整で選択された調整開始ストラテジーの各記録マークの前端エッジシフト量Ｔｌｄもしくは後端エッジシフト量Ｔｔｒ２を変化させた複数の記録ストラテジーが生成され、それらの記録ストラテジーにしたがって、評価データとしてのランダムデータが光ディスクに記録される。そして、記録されたデータが再生されて信号品質の測定が行われ、その測定結果に含まれる全体ジッタ（Ｊａｄｊ）の値が最小となる記録ストラテジーが前記複数の記録ストラテジーから選択され、第１の調整記録ストラテジーとされる。なお、評価結果における全体ジッタ（Ｊａｄｊ）は値が小さいほど、信号品質が良いものとされる。微調整Ｉの詳細な処理手順については後述する。
【００９６】
ステップＦ０３の微調整が終了すると、微調整ＩＩが実行される（Ｆ０４）。ステップＦ０４の微調整ＩＩでは、ステップＦ０３の微調整Ｉにて選択された第１の調整開始ストラテジーにおける所望の記録マークのエッジをシフトさせるためのパラメータ（前端エッジシフト量Ｔｌｄもしくは後端エッジシフト量Ｔｔｒ２）が調整された第２の調整記録ストラテジーが生成される。具体的な方法は以下である。
【００９７】
前述の微調整Ｉでは、各記録マークのエッジシフト量を全体ジッタに基づいて調整するため、出現率の低い長マークに係るジッタの低減が不十分な場合がある。例えば、微調整Ｉを行う前後の記録品質の評価結果の一例を図７に示す。
【００９８】
図７において、参照符号Ｍ０５０１は、微調整Ｉを行う前の前方スペース・後方マークの各組み合わせのシフト値を表し、参照符号Ｍ０５０２は、微調整Ｉを行う前の前方スペース・後方マークの各組み合わせのジッタを表し、参照符号Ｍ０５０３は、微調整Ｉを行う前の前方スペース・後方マークの各組み合わせの全体シフト値及び全体ジッタを表す。また、参照符号Ｍ０５１１は、微調整Ｉを行った後の前方スペース・後方マークの各組み合わせのシフト値を表し、参照符号Ｍ０５１２は、微調整Ｉを行った後の前方スペース・後方マークの各組み合わせのジッタを表し、参照符号Ｍ０５１３は、微調整Ｉを行った後の前方スペース・後方マークの各組み合わせの全体シフト値及び全体ジッタを表す。
【００９９】
参照符号Ｍ０５０３と参照符号Ｍ０５１３に示されるように、微調整Ｉの前後で全体ジッタは小さくなるが、例えば参照符号Ｊ０５０１、Ｊ０５０２、Ｊ０５１１、及びＪ０５１２に示されるように、前方スペース長６Ｔのマーク長５Ｔは出現率の低い長マークであるため全体ジッタへの影響度が低く、ジッタがあまり小さくならない場合がある。そこで、ステップＦ０４の微調整ＩＩでは、例えば、ステップＦ０３の微調整Ｉで調整を行った記録ストラテジーの評価結果における各記録マークのエッジのうち、シフト値の絶対値が所定の閾値を上回る全ての記録マークのエッジに対して、そのシフト値の絶対値が小さくなるように、エッジシフト量（前端エッジシフト量Ｔｌｄ、後端エッジシフト量Ｔｔｒ２）の調整を行った記録ストラテジー（第２の調整記録ストラテジー）を生成する。なお、微調整ＩＩの詳細な処理手順については後述するが、微調整ＩＩも正常終了する場合と異常終了する場合がある。
【０１００】
ステップＦ０４の微調整ＩＩが終了すると、微調整ＩＩが正常終了したか否かが判断される（Ｆ０５）。微調整ＩＩが正常終了したと判断された場合には、Ｌｔ調整が実行される（Ｆ０６）。微調整ＩＩが異常終了したと判断された場合には記録ストラテジー調整は異常終了する。ステップＦ０５で微調整ＩＩが異常終了したと判断された場合に記録ストラテジー調整を異常終了することで、ステップＦ０２と同様に、マイコン４３における処理負荷を低減することができる。
【０１０１】
ステップＦ０６のＬｔ調整では、ステップＦ０４の微調整ＩＩで調整された第２の調整記録ストラテジーにおけるラストパルス幅Ｌｔのパラメータが最適化された第３の調整記録ストラテジーが生成される。Ｌｔ調整の詳細な処理内容については後述する。
【０１０２】
ステップＦ０６のＬｔ調整が終了すると、再度、微調整ＩＩが実行される（Ｆ０７）。ステップＦ０７の微調整ＩＩでは、ステップＦ０４の微調整ＩＩと同様に、ステップＦ０６でラストパルス幅Ｌｔが最適化された記録ストラテジーの評価結果における各マーク長のうち、シフト値の絶対値が所定の閾値を上回る全ての記録マークのエッジに対して、そのシフト値の絶対値が小さくなるようにエッジシフト量の再調整が行われる。これにより、第４の調整記録ストラテジーが決定される。
【０１０３】
ステップＦ０７が終了すると、ターゲットベータ調整が実行され、ステップＦ０７の微調整ＩＩで調整された第４の調整記録ストラテジーの記録レーザパワーの最適化とターゲットベータ値の決定が行われる（Ｆ０８）。ここで、ターゲットベータとはベータ値の目標値であり、その値はメモリ部４４に格納される。したがって、最適電力校正（ＯＰＣ：Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ）の動作で記録レーザパワーを調整する際には、メモリ部４４に格納されたベータ値をターゲットベータとして調整を実行することで、最適な記録レーザパワーが決定される。すなわち、ターゲットベータを決定することで最適な記録レーザパワー（ライトパワー）Ｐｗを決定することができる。またターゲットベータ決定において、ジッタ量対記録レーザパワーの特性を取得した際に、パワーマージンの中心となるパワーを記録レーザパワーに設定して、この記録レーザパワーでのベータ値をターゲットベータとすることもできる。ステップＦ０８でのターゲットベータ調整の詳細な処理内容については後述する。
【０１０４】
ステップＦ０８が終了すると、記録ストラテジーの調整の処理が正常終了する。正常終了後、光ディスク装置１００は、図示されない外部のホストＰＣ（パーソナルコンピュータ）等からの実記録コマンドに応答して、上記の方法で最適化された記録ストラテジーに従って光ディスク１の記録面に所定の記録を実行する。
【０１０５】
以下、図６の各処理内容について詳細に説明する。
【０１０６】
（３）粗調整（調整開始ストラテジーの選択）
図８は、粗調整の流れの一例を示すフロー図である。
【０１０７】
先ず、標準初期ストラテジーの読み出しが実行される（Ｆ０１０１）。標準初期ストラテジーの読み出しは、予めメモリ部４４に保持された標準初期ストラテジーをマイコン４３が読み出すものである。この標準初期ストラテジーは、例えば、種々の光ディスクのディスク管理情報に記録された推奨ストラテジーの統計平均値が設定された記録ストラテジーでもよいし、種々の光ディスクの推奨記録ストラテジーの中で最も頻度が高い記録ストラテジーでもよい。標準初期ストラテジーはこれらに限定されるものではない。
【０１０８】
ステップＦ０１０１が終了すると、調整開始ストラテジーの選択が実行される（Ｆ０１０２）。ステップＦ０１０２の処理について図９を用いて詳細に説明する。
【０１０９】
図９は、ステップＦ０１０２の調整開始ストラテジーの選択に係る処理の流れの一例を示すフロー図である。
【０１１０】
同図に示されるように、先ず、マイコン４３は、調整開始ストラテジー選択カウンタＮｅｖａｌの値を“１”にリセットし、調整開始ストラテジー選択回数の最大値Ｎｅｖａｌｍａｘと目標ジッタ値Ｊｔａｒｇｅｔを定義する（Ｆ０１０２０１）。調整開始ストラテジー選択回数の最大値Ｎｅｖａｌｍａｘと目標ジッタ値Ｊｔａｒｇｅｔの値は、例えば、レジスタ等に設定される。調整開始ストラテジー選択回数の最大値Ｎｅｖａｌｍａｘは、例えば初期ストラテジーの個数と一致した値が設定され、初期ストラテジーの算出方法によって数値は変わる。また、調整開始ストラテジー選択カウンタＮｅｖａｌは、例えば１つの初期ストラテジーの調整処理が終わるとカウントアップされるカウンタである。
【０１１１】
ステップＦ０１０２０１が終了すると、マイコン４３は初期ストラテジーの選択を実行する（Ｆ０１０２０２）。具体的には、マイコン４３は、調整開始ストラテジー選択回数の最大値Ｎｅｖａｌｍａｘに応じた数の初期ストラテジーを算出して、算出された初期ストラテジーのうち、どの初期ストラテジーで信号品質評価を行うかを選択する。この選択は、その時点での調整開始ストラテジー選択カウンタＮｅｖａｌの値によって決定される。
【０１１２】
算出される初期ストラテジーは、例えばステップＦ０１０１で読み出した標準初期ストラテジーにおける各記録マークの前端エッジシフト量Ｔｌｄを一律に一定量（負数の場合も含む）加算した記録ストラテジーでもよいし、各記録マークの後端エッジシフト量Ｔｔｒ２を一律に一定量（負数の場合も含む）加算した記録ストラテジーでもよい。また、選択対象の複数の初期ストラテジーには、標準初期ストラテジーそのものを含んでもよい。なお、初期ストラテジーは、各マークの前端エッジシフト量Ｔｌｄ、後端エッジシフト量Ｔｔｒ２、及び参照ライトパワー以外のパラメータについても変更してもよいし、固定値としてもよい。
【０１１３】
ステップＦ０１０２０２の初期ストラテジーの選択が終了すると、マイコン４３は、記録回数カウンタＮｒｅｃと再生回数カウンタＮｐｌａｙとをそれぞれ“１”にリセットして、最大記録再生数Ｎｒｐｍａｘを定義する（Ｆ０１０２０３）。最大記録再生数Ｎｒｐｍａｘの値は、例えばレジスタ等に設定され、記録レーザパワー範囲とレーザパワー間隔に基づいて決定される。例えば、標準初期ストラテジーの参照ライトパワーＰｗを１００％、記録レーザパワーの可変範囲を４０％〜１５０％、記録レーザパワー間隔を１０％とすると、記録レーザパワーの設定値は、４０％、５０％、６０％、７０％、８０％、９０％、１００％、１１０％、１２０％、１３０％、１４０％、及び１５０％の１２通りとなるので、最大記録再生数Ｎｒｐｍａｘは“１２”と定義される。なお、記録レーザパワー範囲およびレーザパワー間隔は光ディスク１の種類に関わらず固定値としてもよいし、光ディスク１の種類等に応じて適宜異なる値としてもよい。
【０１１４】
次に、マイコン４３は記録レーザパワーを決定する（Ｆ０１０２０４）。この記録レーザパワー決定では、例えば、上述した記録レーザパワー範囲４０％、５０％、６０％、７０％、８０％、９０％、１００％、１１０％、１２０％、１３０％、１４０％、及び１５０％のいずれかの値に記録レーザパワー（ライトパワーＰｗ）が決定される。
【０１１５】
ステップＦ０１０２０４にてライトパワーＰｗが決定されると、マイコン４３は、記録時モータ回転数の制御を実行する（Ｆ０１０２０５）。この記録時モータ回転数制御では、所定の記録速度となるようにマイコン４３がモータ制御回路４７にモータ制御信号Ｓ０９を出力する。モータ制御回路４７はモータ制御信号Ｓ０９に応答して、所定の記録速度となるようにスピンドルモータの回転数を制御するためモータ制御信号Ｓ０１をスピンドルモータ２に出力する。
【０１１６】
ステップＦ０１０２０５でスピンドルモータ２の回転数の所望の回転数への制御が完了すると、マイコン４３は、記録時光ピックアップ位置の制御を実行する（ステップＦ０１０２０６）。この記録時の光ピックアップ位置制御では、信号品質評価を行うための記録を行う光ディスク１の記録領域に光ピックアップ３を移動するように、マイコン４３が位置制御回路４５に位置制御信号Ｓ０７を出力する。位置制御回路４５は位置制御信号Ｓ０７に応答して、当該記録領域に光ピックアップ３を移動するように位置制御信号Ｓ０２を光ピックアップ３に出力する。
【０１１７】
ステップＦ０１０２０６で所望の位置への光ピックアップ３の移動が完了すると、マイコン４３は、ステップＦ０１０２０２で選択した初期ストラテジーに従って、光ディスク１に対し評価データとしてのランダムデータの記録を開始する（Ｆ０１０２０７）。ステップＦ１０２０７では、マイコン４３は、ステップＦ０１０２０２で選択した初期ストラテジーに応じたレーザパルス制御信号Ｓ０８をレーザパルス制御回路４６に出力する。レーザパルス制御回路４６はレーザパルス制御信号Ｓ０８に応答して、光ディスク１上の所定のアドレス位置においてレーザパルス制御信号Ｓ０３を光ピックアップ３に出力し、所定のサイズの評価データの記録が実行される。
【０１１８】
ステップＦ０１０２０７で所定のサイズの記録が完了すると、マイコン４３は、記録回数カウンタＮｒｅｃと最大記録再生数Ｎｒｐｍａｘの比較を実行する（Ｆ０１０２０８）。ステップＦ０１０２０８において、記録回数カウンタＮｒｅｃの値が最大記録再生数Ｎｒｐｍａｘよりも大きい場合には、マイコン４３は、所定のレーザパワー範囲による記録が終了したと判断し、記録した評価データの再生を開始する（Ｆ０１０２０９）。記録回数カウンタＮｒｅｃの値が最大記録再生数Ｎｒｐｍａｘよりも小さい場合には、記録回数カウンタＮｒｅｃを“１”インクリメントし（Ｆ０１０２１７）、ステップＦ０１０２０４に戻ってライトパワーＰｗを変更して、再度所定のサイズの評価データの記録を行う（Ｆ０１０２０４〜Ｆ０１０２０７）。このとき、データが記録される光ディスク上の記録領域は、最初ライトパワーＰｗで記録した記録領域とは異なる領域である。
【０１１９】
ステップＦ０１０２０９では、評価データの再生のため、再生時モータ回転数の制御が実行される。再生時モータ回転数制御では、所定の再生速度となるようマイコン４３がモータ制御回路４７にモータ制御信号Ｓ０９を出力する。モータ制御回路４７はモータ制御信号Ｓ０９に応答して、所定の再生速度となるようスピンドルモータ２の回転数を制御するためモータ制御信号Ｓ０１をスピンドルモータ２に出力する。
【０１２０】
ステップＦ０１０２０９でスピンドルモータ２の回転数の所望の回転数への制御が完了すると、マイコン４３は、再生時光ピックアップ位置の制御を実行する（Ｆ０１０２１０）。ステップＦ０１０２１０では、信号品質評価を行うための記録を行った光ディスク１の領域に光ピックアップ３を移動するようにマイコン４３が位置制御回路４５に位置制御信号Ｓ０７を出力する。位置制御回路４５は位置制御信号Ｓ０７に応答して、この領域に光ピックアップ３が移動するように位置制御信号Ｓ０２を光ピックアップ３に出力する。
【０１２１】
ステップＦ０１０２１０の再生時光ピックアップ位置制御の処理が終了すると、マイコン４３は、光ディスク１を再生することによって信号品質測定を実行する（Ｆ０１０２１１）。ステップＦ０１０２１１では、マイコン４３は信号品質評価を行うための再生を実行するようにレーザパルス制御回路４６にレーザパルス制御信号Ｓ０８を出力する。レーザパルス制御回路４６はレーザパルス制御信号Ｓ０８に応答して、光ディスク１上の所定のアドレス位置にてレーザパルス制御信号Ｓ０３を光ピックアップ３に出力することによって再生を実行する。光ピックアップ３はレーザを光ディスク１に照射して、光ディスク１からの反射光を受光して、この反射光を電気信号Ｓ０４に変換して、信号処理ＬＳＩ４のＡＦＥ４１に出力する。ＡＦＥ４１は電気信号Ｓ０４の増幅等のアナログ信号処理を実行することによってアナログ信号Ｓ０５を生成して、信号品質測定回路４２に出力する。信号品質測定回路４２は、前述した方法により、アナログ信号Ｓ０５のジッタを測定して測定結果を算出して測定結果情報Ｓ０６をマイコン４３に出力する。マイコン４３は、測定結果情報Ｓ０６をメモリ部４４に格納する。
【０１２２】
ステップＦ０１０２１１の信号品質測定が終了すると、マイコン４３は、再生回数カウンタＮｐｌａｙと最大記録再生数Ｎｒｐｍａｘを比較する（Ｆ０１０２１２）。ステップＦ０１０２１２において、再生回数カウンタＮｐｌａｙの値が最大記録再生数Ｎｒｐｍａｘよりも小さい場合には、マイコン４３は、再生回数カウンタＮｐｌａｙを“１”インクリメントし（Ｆ０１０２１６）、ステップＦ０１０２０９に戻って、別のライトパワーＰｗで記録された評価データの再生を実行する（Ｆ０１０２０９〜Ｆ０１０２１１）。
【０１２３】
一方、ステップＦ０１０２１２において、再生回数カウンタＮｐｌａｙの値が最大記録再生数Ｎｒｐｍａｘよりも大きい場合には、マイコン４３はカウンタＮｅｖａｌと調整開始ストラテジー選択回数最大値Ｎｅｖａｌｍａｘを比較する（Ｆ０１０２１３）。ステップＦ０１０２１３において、調整開始ストラテジー選択カウンタＮｅｖａｌが調整開始ストラテジー選択回数最大値Ｎｅｖａｌｍａｘよりも小さい場合には、マイコン４３は、調整開始ストラテジー選択カウンタＮｅｖａｌを“１”カウントアップし（Ｆ０１０２１８）、ステップＦ０１０２０２の初期ストラテジー選択に戻る。
【０１２４】
一方、ステップＦ０１０２１３において、調整開始ストラテジー選択カウンタＮｅｖａｌが調整開始ストラテジー選択回数最大値Ｎｅｖａｌｍａｘよりも大きい場合には、マイコン４３は評価関数演算を実行し、演算結果をメモリ部４４に格納する（Ｆ０１０２１４）。
【０１２５】
ステップＦ０１０２１４の評価関数演算では、例えば、評価関数Ｆｅｖａｌ＝ＳＵＭ（Ｊｔａｒｇｅｔ−Ｊ（ｋ））を用いて演算を行う。ここで、ｋは、ジッタに関連してＪ（ｋ）≦Ｊｔａｒｇｅｔの関係を満足する信号品質測定結果におけるサンプル点であり、Ｊｔａｒｇｅｔは目標ジッタ値であり、Ｊ（ｋ）はサンプル点ｋにおけるジッタ値である。例えば、記録品質の評価対象とする複数の記録マークを図３のようにマーク長３Ｔ〜６Ｔとしたとき、サンプル点ｋは記録マークの前方スペース長３Ｔ〜６Ｔと後方スペース長３Ｔ〜６Ｔの組み合わせ（１６ｘ２＝３２通り）で特定される３２通りのエッジであり、Ｊ（ｋ）は３２通りの対象エッジのうち、ジッタが目標ジッタＪｔａｒｇｅｔ以下となるジッタの値である。なお、目標ジッタ値Ｊｔａｒｇｅｔは予めメモリ部４４の所定の記憶領域に格納され、マイコン４３がメモリ部４４の当該領域を読み出すことによって、目標ジッタ値Ｊｔａｒｇｅｔが決定される。評価関数Ｆｅｖａｌによる演算結果は、ライトパワーＰｗのパワーマージンに正比例し、ジッタに反比例する値とされる。したがって、演算結果の値が大きいほど信号品質が向上するものとされる。
【０１２６】
ステップＦ０１０２１４の評価関数演算が終了すると、マイコン４３は、評価関数演算の演算結果が正常であるか否かを判断する（Ｆ０１０２１５）。ステップＦ０１０２１５において、全ての初期ストラテジーにおいて評価関数Ｆｅｖａｌが０であれば、マイコン４３は、評価関数の演算結果を異常と判断し、調整開始ストラテジー選択処理（Ｆ０１０２）を異常終了させる。一方、ステップＦ０１０２１５において、評価関数Ｆｅｖａｌが０でない初期ストラテジーが一つでもあれば、ステップＦ０１０２１４の評価関数の演算結果を正常と判断し、最大の評価関数Ｆｅｖａｌである記録ストラテジーを調整開始ストラテジーとして選択し、調整開始ストラテジーの選択処理（Ｆ０１０２）を正常終了させる。
【０１２７】
調整開始ストラテジーの選択処理（Ｆ０１０２）が終了すると、次にマイコン４３は、調整開始ストラテジーが正常に終了したか否かを判断する（Ｆ０１０３）。ステップＦ０１０３において、調整開始ストラテジー選択が正常終了されたと判断された場合には、マイコン４３は、粗調整の処理を正常終了する。一方、調整開始ストラテジー選択が異常終了されたと判断された場合には、マイコン４３は、粗調整の処理を異常終了する。粗調整の処理が異常終了した場合には、前述の図６に示すようにステップＦ０２において粗調整異常終了と判断され、記録ストラテジー調整は異常終了する。
【０１２８】
以上、ステップＦ０１の粗調整によれば、対象エッジの全体ジッタが最小となるようにライトパワーＰｗを調整した記録ストラテジーを生成することができる。
【０１２９】
（４）微調整Ｉ（第１の調整記録ストラテジーの選択）
図１０は、微調整Ｉの流れの一例を示すフロー図である。
【０１３０】
先ず、マイコン４３は光ディスク１に記録される記録マークのマーク長と前方スペース長及び後方スペース長の組み合わせで特定される複数のエッジの中から所定の対象エッジを選択する（Ｆ０３０１）。ここで選択される対象エッジは１つのエッジでもよいし、複数のエッジでもよい。例えば、図３のようにマーク長３Ｔ〜６Ｔとしたときの前方スペース長３Ｔ〜６Ｔと後方スペース長３Ｔ〜６Ｔの組み合わせで特定される３２通りのエッジを対象エッジとして選択することも可能である。このように複数のエッジを対象エッジとして選択すれば以下のような利点がある。例えば、後述するステップＦ０３１３では全ての対象エッジに対して記録を行うまでステップＦ０３０１〜Ｆ０３１２の処理を繰り返し実行させるため、初めのステップＦ０３０１で多くの対象エッジの数を選択しておけばステップＦ０３０１〜Ｆ０３１２の処理を繰り返す回数を減らすことができ、マイコン４３における微調整Ｉの処理負荷を軽減することができる。
【０１３１】
次にマイコン４３は、ステップＦ０３０１で選択された対象エッジに係るエッジシフト量（前端エッジシフト量Ｔｌｄ、後端エッジシフト量Ｔｔｒ２）の調整幅を決定する（Ｆ０３０２）。前記調整幅は、例えば、ステップＦ０１の粗調整において選択された調整開始ストラテジーにおける対象エッジに係るエッジシフト量（前端エッジシフト量Ｔｌｄ、後端エッジシフト量Ｔｔｒ２）を変化させる範囲である。エッジシフト量の調整幅の単位を１ステップとし、例えば１ステップ＝１／１６Ｔ（Ｔはチャネルクロック周期）とする。前記調整幅は、例えば、調整開始ストラテジーのエッジシフト量を基準とした前後５ステップ等である。
【０１３２】
ステップＦ０３０２でエッジシフト量の調整幅を決定した後、マイコン４３は選択した対象エッジに係るエッジシフト量（前端エッジシフト量Ｔｌｄ、又は後端エッジシフト量Ｔｔｒ２）を前記調整幅の範囲内で決定し、記録ストラテジーを決定する（Ｆ０３０３）。例えば、前記調整幅を５ステップとした場合には、前記調整開始ストラテジーの対象エッジに係るエッジシフト量を１〜５ステップの間のいずれかのステップだけ変更したエッジシフト量とされる記録ストラテジーが生成される。なお、ステップＦ０３０３の処理が初めて実行される場合には、他の記録マークに係るエッジシフト量等のパラメータは、ステップＦ０１の粗調整によって選択された調整開始ストラテジーと同じ値とされる。その他の場合については、ステップＦ０３１３で後述する。
【０１３３】
ステップＦ０３０３で記録ストラテジーが決定されると、マイコン４３は、記録時モータ回転数の制御を実行する（Ｆ０３０４）。ステップＦ０３０４では、所定の記録速度となるようにマイコン４３がモータ制御回路４７にモータ制御信号Ｓ０９を出力する。モータ制御回路４７はモータ制御信号Ｓ０９に応答して、所定の記録速度となるようにスピンドルモータ２の回転数を制御するためのモータ制御信号Ｓ０１をスピンドルモータ２に出力する。
【０１３４】
ステップＦ０３０４でスピンドルモータ２の回転数の所望の回転数への制御が完了すると、マイコン４３は、記録時の光ピックアップ位置の制御を実行する（Ｆ０３０５）。ステップＦ０３０５では、微調整Ｉのための記録が実行される光ディスク１の領域に光ピックアップ３を移動するようにマイコン４３が位置制御回路４５に位置制御信号Ｓ０７を出力する。位置制御回路４５はこの領域に光ピックアップ３が移動するように、位置制御信号Ｓ０２を光ピックアップ３に出力する。
【０１３５】
ステップＦ０３０５で所望の位置への光ピックアップ３の移動が完了すると、マイコン４３は、ステップＦ０３０３にて決定した記録ストラテジーに従って光ディスク１に評価データとしてのランダムデータの記録を実行する（Ｆ０３０６）。ステップＦ０３０６において、マイコン４３はステップＦ０３０３で決定した記録ストラテジーで記録するように、レーザパルス制御回路４６にレーザパルス制御信号Ｓ０８を出力する。レーザパルス制御回路４６はレーザパルス制御信号Ｓ０８に応答して、光ディスク１上の所定のアドレス位置にてレーザパルス制御信号Ｓ０３を光ピックアップ３に出力することにより、所定のサイズの記録が実行される。
【０１３６】
ステップＦ０３０６で所定のサイズの記録の実行が完了すると、マイコン４３は、ステップＦ０３０２で決定した全ての調整幅について記録が完了したか否かを判定する（Ｆ０３０７）。ステップＦ０３０７において、全ての調整幅について記録が完了していないと判断されると、ステップＦ０３０３に戻り、記録が完了していない調整幅に対応した記録ストラテジーが生成され、再度所定のサイズの評価データの記録を行う（Ｆ０３０４〜Ｆ０３０６）。このとき、データが記録される光ディスク上の記録領域は、最初調整幅で記録した記録領域とは異なる領域である。
【０１３７】
一方、ステップＦ０３０７において、全ての調整幅について記録が完了していると判断されると、ステップＦ０３０８以降の処理によって評価データの再生が行われる。先ずマイコン４３は、再生時モータ回転数の制御を実行する（Ｆ０３０８）。ステップＦ０３０８では、マイコン４３が所定の再生速度となるようにモータ制御回路４７にモータ制御信号Ｓ０９を出力する。モータ制御回路４７はモータ制御信号Ｓ０９に応答して、所定の再生速度となるようにスピンドルモータ２の回転数を制御するためのモータ制御信号Ｓ０１をスピンドルモータ２に出力する。
【０１３８】
ステップＦ０３０８でスピンドルモータ２の回転数の所望の回転数への制御が完了すると、マイコン４３は、再生時光ピックアップ位置制御を実行する（Ｆ０３０９）。ステップＦ０３０９では、記録が完了した光ディスク１の領域に光ピックアップ３を移動するようにマイコン４３が位置制御回路４５に位置制御信号Ｓ０７を出力する。位置制御回路４５は位置制御信号Ｓ０７に応答して、光ピックアップ３がこの領域に移動するよう位置制御信号Ｓ０２を光ピックアップ３に出力する。
【０１３９】
ステップＦ０３０９の位置制御の処理が終了すると、マイコン４３は、光ディスク１を再生して、信号品質測定を実行する（Ｆ０３１０）。ステップＦ０３１０では、マイコン４３は信号品質評価を行うための再生を実行するようにレーザパルス制御回路４６にレーザパルス制御信号Ｓ０８を出力する。レーザパルス制御回路４６はレーザパルス制御信号Ｓ０８に応答し、光ディスク１上の所定のアドレス位置にてレーザパルス制御信号Ｓ０３を光ピックアップ３に出力して、再生が実行される。すなわち、光ピックアップ３はレーザを光ディスク１に照射して、光ディスク１からの反射光を受光して、反射光を電気信号Ｓ０４に変換して、信号処理ＬＳＩ４のＡＦＥ４１に出力する。ＡＦＥ４１は電気信号Ｓ０４の増幅等のアナログ信号処理の実行によりアナログ信号Ｓ０５を生成して、信号品質測定回路４２に出力する。信号品質測定回路４２はアナログ信号Ｓ０５の全体ジッタを測定して測定結果を算出して、測定結果情報Ｓ０６をマイコン４３に出力する。マイコン４３は、測定結果情報Ｓ０６をメモリ部４４に格納する。
【０１４０】
ステップＦ０３１０の信号品質測定の処理が終了すると、マイコン４３は、ステップＦ０３０２で決定した全ての調整幅に対応する評価データの信号品質測定が完了しているか否かを判定する（Ｆ０３１１）。ステップＦ０３１１で全ての調整幅に対応する評価データの信号品質測定が完了していないと判定された場合には、ステップＦ０３０８に戻り、完了していない調整幅に対応する評価データの信号品質測定が実行される。
【０１４１】
一方、全ての調整幅に対応する評価データの信号品質測定が完了していると判定された場合には、マイコン４３は、最適なエッジシフト量となる記録ストラテジーを決定する（Ｆ０３１２）。ステップＦ０３１２では、マイコン４３はメモリ部４４に格納された測定結果情報を読み出し、最も全体ジッタが小さくなるエッジシフト量（前端エッジシフト量Ｔｌｄ、後端エッジシフト量Ｔｔｒ２）の調整幅の記録ストラテジーを決定する。例えば、ステップＦ０３０１において１つの対象エッジを選択している場合には、その対象エッジ（マーク長と前方スペース長及び後方スペース長により定まる１つの記録マーク）のエッジシフト量を変更したときに、全体ジッタが最小となるエッジシフト量の記録ストラテジーが決定される。また、ステップＦ０３０１において複数の対象エッジ（例えば、前述の３２通りの対象エッジ）を選択している場合には、それらの対象エッジのエッジシフト量を変更したときに、全体ジッタが最小となるエッジシフト量の記録ストラテジーが決定される。なお、ステップＦ０３１２における記録ストラテジーの決定では、マイコン４３が、ジッタ対エッジシフト量の特性を取得し、その特性を近似した近似曲線からジッタが最小値となるエッジシフト量を算出し、算出したエッジシフト量となる記録ストラテジーを最適な記録ストラテジーとして決定することも可能である。
【０１４２】
ステップＦ０３１２のエッジシフト量決定の処理が終了すると、マイコン４３は、全ての対象エッジについてエッジシフト量の調整が完了したか否かを判定する（Ｆ０３１３）。ステップＦ０３１３において、全ての対象エッジについてエッジシフト量の調整が完了していないと判定された場合には、調整していないマーク長およびエッジについて調整を行うためにステップＦ０３０１以降の処理に戻り、同様の処理を実行する（Ｆ０３０１〜Ｆ０３１２）。一方、ステップＦ０３１３にて、全ての対象エッジについてエッジシフト量の調整が完了したと判定された場合には、微調整Ｉの処理を終了する。
【０１４３】
以上の微調整Ｉによれば、対象エッジの全体ジッタが最小となるようにエッジシフト量を調整した記録ストラテジーを生成することができる。
【０１４４】
（５）微調整ＩＩ（第２の調整記録ストラテジーの選択）
図１１は、微調整ＩＩの流れの一例を示すフロー図である。
【０１４５】
先ず、マイコン４３は、微調整ＩＩを実行する対象エッジを決定する（Ｆ０４０１）。対象エッジは、例えば、微調整Ｉで選択した複数の対象エッジ（例えば図３の３２通りのエッジ）でもよいし、全マーク長と全スペース長の組み合わせで特定される全てのエッジでもよい。ここでは、一例として、全マーク長と全スペース長の組み合わせで特定される全てのエッジを対象エッジとする。
【０１４６】
次に、マイコン４３は、前記微調整Ｉにおいて選択された第１の調整記録ストラテジーの信号品質測定結果のうち、対象エッジに設定した各エッジにおいてシフト値の絶対値が所定の閾値を超えるエッジがあるか否かを判別する（Ｆ０４０２）。前記所定の閾値は、例えば１ステップ（ｓｔｅｐ）＝１／１６Ｔ（Ｔはチャネルクロック周期）等とした場合に、エッジシフト量の調整幅を１ステップ変動させたときに変化するシフト値の最大の変化量から算出される値である。例えば、いずれかの記録マークのエッジを１ステップ変動させたときのシフト値の最大の変化量が１２％である場合、シフト値の絶対値が６％未満の記録マークのエッジに対してエッジシフト量の調整を行うと、シフト値が悪化する可能性がある。したがって、ステップＦ０４０２の処理の目的は、以降の処理によってシフト値の絶対値が悪化することを防ぐことであるから、前記所定の閾値の値は、前記目的が達成される値であれば良い。ここでは、前記所定の閾値を、例えば６％とする。
【０１４７】
なお、ステップＦ０４０２で判別対象とされる信号品質測定結果は、ステップＦ０４０２の処理が初めて実行される場合には、前記微調整Ｉにおいて選択された第１の調整記録ストラテジーの信号品質測定結果であり、ステップＦ０４０２の処理が２回以上実施されている場合には、後述するステップＦ０４１０の信号品質測定で取得した信号品質測定結果である。
【０１４８】
ステップＦ０４０２において、対象エッジのシフト値の絶対値が６％以内であれば、マイコン４３は第１の調整記録ストラテジーを最適ストラテジーと判断し、第２の調整記録ストラテジーとして決定する（Ｆ０４１１）。
【０１４９】
一方、シフト値の絶対値が６％を超える対象エッジが存在する場合には、マイコン４３は、ステップＦ０４０３以降で当該エッジに係るエッジシフト量を調整する処理を実行する。先ず、マイコン４３は、シフト値の絶対値が６％を超える対象エッジの中から、所望の対象エッジを選択する（Ｆ０４０３）。ここで、マイコン４３は、例えばシフト値の絶対値が６％を超える対象エッジのうち、１つのエッジを選択してもよいし、複数のエッジを選択してもよい。
【０１５０】
ステップＦ０４０３が終了したら、次にマイコン４３は、前記第１の調整記録ストラテジーのエッジシフト量を調整した記録ストラテジーを生成する（Ｆ０４０４）。具体的には、マイコン４３は、ステップＦ０４０３で決定した記録マークのエッジについては、現状のシフト値と、エッジシフト量を１ステップの変動させたときのシフト値の最大の変化量に基づいて、シフト値の絶対値が最小になるようにエッジシフト量を調整する。前述したように、前記シフト値は記録マークの前端エッジもしくは後端エッジの位相エラーの積分であり、チャネルクロック信号の周期Ｔを基準として算出したものである。一方、エッジシフト量の調整幅（１ステップ）もチャネルクロック信号の周期Ｔを基準としたものである。したがって、エッジシフト量を１ステップの変動させたときのシフト値の最大の変化量がわかれば、現状のエッジシフト量を何ステップずらせばシフト値が最小になるかを求めることができる。例えば、所定の記録マークのエッジの現状のシフト値が１８［％］であり、エッジシフト量を１ステップの変動させたときのシフト値の最大の変化量が１２［％］である場合、シフト値の小さくなる方向にエッジシフト量を２ステップ変化させる。これにより、シフト値は最大で−２４％変化するが、シフト値が−２４％変化した場合でもエッジシフト量の変更後のシフト値は−６％となり、エッジシフト量の変更前の８％に比べてシフト値の絶対値が悪化することはない。
【０１５１】
なお、ステップＦ０４０４のエッジシフト量の調整において、ステップＦ０４０３で決定した記録マークのエッジ以外のエッジについては、前記第１の調整記録ストラテジーのエッジシフト量を継承し、変更しない。
【０１５２】
ステップＦ０４０４で記録ストラテジーを決定した後、マイコン４３は、記録時モータ回転数の制御を実行する（Ｆ０４０５）。ステップＦ０４０５では、所定の記録速度となるようにマイコン４３がモータ制御回路４７にモータ制御信号Ｓ０９を出力する。モータ制御回路４７はモータ制御信号Ｓ０９に応答して、所定の記録速度となるようにスピンドルモータ２の回転数を制御するためのモータ制御信号Ｓ０１をスピンドルモータ２に出力する。
【０１５３】
ステップＦ０４０５でスピンドルモータ２の回転数の所望の回転数への制御が完了すると、マイコン４３は、記録時光ピックアップ位置制御を実行する（Ｆ０４０６）。ステップＦ０４０６では、微調整ＩＩのための記録が実行される光ディスク１の領域に光ピックアップ３を移動するようにマイコン４３が位置制御回路４５に位置制御信号Ｓ０７を出力する。位置制御回路４５はこの領域に光ピックアップ３が移動するように、位置制御信号Ｓ０２を光ピックアップ３に出力する。
【０１５４】
ステップＦ０４０６で所望の位置への光ピックアップ３の移動が完了すると、マイコン４３は、ステップＦ０４０４で調整した記録ストラテジーに従って光ディスク１に評価データとしてのランダムデータの記録を実行する（Ｆ０４０７）。ステップＦ０４０７では、マイコン４３はステップＦ０４０４で決定した記録ストラテジーで記録するように、レーザパルス制御回路４６にレーザパルス制御信号Ｓ０８を出力する。レーザパルス制御回路４６はレーザパルス制御信号Ｓ０８に応答して、光ディスク１上の所定のアドレス位置にてレーザパルス制御信号Ｓ０３を光ピックアップ３に出力することによって所定のサイズの記録が実行される。
【０１５５】
ステップＦ０４０７で所定のサイズの記録の実行が完了すると、マイコン４３は、再生時モータ回転数の制御を実行する（Ｆ０４０８）。ステップＦ０４０８では、マイコン４３が所定の再生速度となるようにモータ制御回路４７にモータ制御信号Ｓ０９を出力する。モータ制御回路４７はモータ制御信号Ｓ０９に応答して、所定の再生速度となるようにスピンドルモータ２の回転数を制御するためのモータ制御信号Ｓ０１をスピンドルモータ２に出力する。
【０１５６】
ステップＦ０４０８でスピンドルモータ２の回転数の所望の回転数への制御が完了すると、マイコン４３は、再生時光ピックアップ位置の制御を実行する（Ｆ０４０９）。ステップＦ０４０９では、記録が完了した光ディスク１の領域に光ピックアップ３を移動するようにマイコン４３が位置制御回路４５に位置制御信号Ｓ０７を出力する。位置制御回路４５は位置制御信号Ｓ０７に応答して、光ピックアップ３がこの領域に移動するよう位置制御信号Ｓ０２を光ピックアップ３に出力する。
【０１５７】
ステップＦ０４０９の位置制御の処理が終了すると、マイコン３２は、光ディスク１を再生して、信号品質測定を実行する（Ｆ０４１０）。ステップＦ０４１０では、マイコン４３は信号品質評価を行うための再生を実行するようにレーザパルス制御回路４６にレーザパルス制御信号Ｓ０８を出力する。レーザパルス制御回路４６はレーザパルス制御信号Ｓ０８に応答して、光ディスク１上の所定のアドレス位置にてレーザパルス制御信号Ｓ０３を光ピックアップ３に出力して、再生が実行される。すなわち、光ピックアップ３はレーザを光ディスク１に照射して、光ディスク１からの反射光を受光して、反射光を電気信号Ｓ０４に変換して、信号処理ＬＳＩ４のＡＦＥ４１に出力する。ＡＦＥ４１は電気信号Ｓ０４の増幅等のアナログ信号処理の実行によりアナログ信号Ｓ０５を生成して、信号品質測定回路４２に出力する。信号品質測定回路４２はアナログ信号Ｓ０５のジッタＪａｄｊとシフト値を測定して測定結果を算出して、測定結果情報Ｓ０６をマイコン４３に出力する。マイコン４３は、測定結果情報Ｓ０６をメモリ部４４に格納する。
【０１５８】
ステップＦ０４１０の信号品質測定の処理が終了すると、次に、マイコン４３は対象エッジの除外を実行する（Ｆ０４１３）。具体的には、マイコン４３は、予め記録マークのエッジ毎に微調整ＩＩによるエッジシフト量の調整を行う回数を規定しておく。そして、ステップＦ０４０３でエッジシフト量の調整対象とした記録マークのエッジの調整を行ったら、その記録マークのエッジの調整回数をカウントアップし、その調整回数が規定した回数となったら、ステップＦ０４０２の判別対象の対象エッジから除外し、除外したエッジについてはエッジシフト量の調整を再度行わないようにする。例えば、所定の記録マークのエッジの調整回数を１回と規定した場合、その記録マークのエッジについて１回エッジシフト量を調整したら、その記録マークについては、ステップＦ０４０２の対象エッジから除外され、再度のエッジシフト量の調整は行われない。ステップＦ０４１３の対象エッジの除外が終了すると、再度ステップＦ０４０２に戻り、上記と同様の処理が実行される（Ｆ０４０２〜Ｆ０４１０）。なお、２回目以降のステップ０４０４では、前回のステップ０４０４で調整された記録ストラテジーを基準としてエッジシフト量の調整が行われる。
【０１５９】
ステップＦ０４０２〜Ｆ０４１３の処理が複数回実行され、ステップＦ０４０２において、対象エッジのシフト値の絶対値が全て６％以内と判断された場合には、ステップＦ０４１１に移行し、ステップＦ０４０２〜Ｆ０４１３の処理で最終的に調整された記録ストラテジーを第２の記録ストラテジーとして決定する。
【０１６０】
ステップＦ０４１１で記録ストラテジーの決定が終了すると、マイコン４３は、評価対象とされる全記録マークのエッジの全体ジッタの値Ｊａｄｊと目標ジッタ値Ｊｔａｒｇｅｔとを比較する（Ｆ０４１２）。ステップＦ０４１２において、全体ジッタＪａｄｊが目標ジッタ値Ｊｔａｒｇｅｔよりも小さい場合には、微調整ＩＩは正常終了する。一方、全体ジッタの値Ｊａｄｊが目標ジッタ値Ｊｔａｒｇｅｔよりも大きい場合には微調整ＩＩは異常終了し、前述の図６のフローに示す通り、ステップＦ０５において微調整ＩＩ異常終了と判断され、記録ストラテジー調整は異常終了する。
【０１６１】
以上の微調整ＩＩによれば、微調整Ｉでは調整され難い長マーク等の位相ずれを低減させた記録ストラテジーを、効率よく生成することができる。
【０１６２】
（６）Ｌｔ調整（第３の調整記録ストラテジーの選択）
図１２は、ラストパルス幅Ｌｔの調整（Ｌｔ調整）の流れの一例を示すフロー図である。
【０１６３】
先ず、マイコン４３は、レーザパルス波形の終端に位置するラストパルスを含むレーザパルスの記録ストラテジーによって形成される記録マークのうち、Ｌｔ調整を実行する記録マークを選択する（Ｆ０６０１）。一般に、ラストパルスを含むレーザパルスによって形成される記録マークは比較的マーク長の長い記録マークであり、例えば５Ｔ、６Ｔ等のマーク長を持つ記録マークである。
【０１６４】
次にマイコン４３は、ステップＦ０６０１で選択された対象記録マークについてのラストパルス幅Ｌｔの調整幅を決定する（Ｆ０６０２）。前記調整幅は、例えば、ステップＦ０３の微調整ＩＩにおいて選択された第２の調整開始ストラテジーにおけるに対象記録マークのラストパルス幅Ｌｔを変化させる範囲である。例えば、前記調整幅は、前記第２の調整開始ストラテジーのラストパルス幅を基準とした前後１６ステップ等である。ここで、１ステップは１／１６Ｔ（Ｔはチャネルクロック周期）等とする。
【０１６５】
ステップＦ０６０２でラストパルスＬｔの調整幅を決定した後、マイコン４３は、前記調整幅の範囲内でラストパルスＬｔの調整した記録ストラテジーを生成する（Ｆ０６０３）。例えば、前記調整幅を１６ステップに設定した場合には、対象記録マークのラストパルス幅Ｌｔを１ステップずらした記録ストラテジーを生成してもよいし、例えば４ステップずらした記録ストラテジーを生成してもよい。これによれば、以降の処理でＬｔ調整を行う際に、例えば４ステップ毎にＬｔ調整を行った記録ストラテジー（前後４ステップ毎で８通り）について評価データの記録を行うから、１ステップ毎にＬｔ調整を行って評価データを記録する場合に比べて記録するデータ量を減らすことができる。したがって前記調整幅は、Ｌｔの調整幅と記録品質の関係を特徴付ける調整幅であれば、途中の記録を省略することも可能である。なお、対象記録マーク以外の記録マークのラストパルス幅Ｌｔやその他のパラメータは、ステップＦ０６０３の処理が初めて実行される場合には、微調整ＩＩで調整された前記第２の調整開始ストラテジーと同じとされる。２回目以降の処理の場合には、後述するステップＦ０６１３で説明する。また、ステップＦ０６０３でラストパルス幅Ｌｔが調整される記録マークは１種類でも良いし、複数の種類でもよい。
【０１６６】
ステップＦ０６０３で記録ストラテジーを決定した後に、マイコン４３は、記録時モータ回転数の制御を実行する（Ｆ０６０４）。ステップＦ０６０４では、所定の記録速度となるようにマイコン４３がモータ制御回路４７にモータ制御信号Ｓ０９を出力する。モータ制御回路４７はモータ制御信号Ｓ０９に応答して、所定の記録速度となるようにスピンドルモータ２の回転数を制御するためのモータ制御信号Ｓ０１をスピンドルモータ２に出力する。
【０１６７】
ステップＦ０６０４でスピンドルモータ２の回転数の所望の回転数への制御が完了すると、マイコン４３は、記録時の光ピックアップ位置の制御を実行する（Ｆ０６０５）。ステップＦ０６０５では、Ｌｔ調整のための記録が実行される光ディスク１の領域に光ピックアップ３を移動するようにマイコン４３が位置制御回路４５に位置制御信号Ｓ０７を出力する。位置制御回路４５はこの領域に光ピックアップ３が移動するように、位置制御信号Ｓ０２を光ピックアップ３に出力する。
【０１６８】
ステップＦ０６０５で所望の位置への光ピックアップ３の移動が完了すると、マイコン１８は、ステップＦ０６０３にて決定した記録ストラテジーに従って光ディスク１に評価データとしてのランダムデータの記録を実行する（Ｆ０６０６）。ステップＦ０６０６では、マイコン４３はステップＦ０６０３で決定した記録ストラテジーで記録するように、レーザパルス制御回路４６にレーザパルス制御信号Ｓ０８を出力する。レーザパルス制御回路４６はレーザパルス制御信号Ｓ０８に応答して、光ディスク１上の所定のアドレス位置にてレーザパルス制御信号Ｓ０３を光ピックアップ３に出力することによって所定のサイズの記録が実行される。
【０１６９】
ステップＦ０６０６で所定のサイズの記録の実行が完了すると、マイコン４３は、ステップＦ０６０２で決定した全ての調整幅についての評価データの記録が完了しているか否かを判定する（Ｆ０６０７）。ステップＦ０６０７において、全ての調整幅についての評価データの記録が完了していないと判定されると、マイコン４３は、ステップＦ０６０３に戻り、記録が完了していないラストパルス幅Ｌｔに対応した記録ストラテジーが生成され、再度所定のサイズの評価データの記録を行う（Ｆ０６０３〜Ｆ０６０６）。このとき、データが記録される光ディスク上の記録領域は、最初の調整幅で記録した記録領域とは異なる領域である。
【０１７０】
ステップＦ０６０７において、全ての調整幅について評価データの記録が完了していると判定されると、マイコン４３は、ステップＦ０６０８以降の処理によって評価データの再生を実行する。先ず、マイコン４３は、再生時のモータ回転数の制御を実行する（Ｆ０６０８）。ステップＦ０６０８ででは、マイコン４３が所定の再生速度となるようにモータ制御回路４７にモータ制御信号Ｓ０９を出力する。するとモータ制御回路４７はモータ制御信号Ｓ０９に応答して、所定の再生速度となるようにスピンドルモータ２の回転数を制御するためのモータ制御信号Ｓ０１をスピンドルモータ２に出力する。
【０１７１】
ステップＦ０６０８でスピンドルモータ２の回転数の所望の回転数への制御が完了すると、マイコン４３は、再生時の光ピックアップ位置の制御を実行する（Ｆ０６０９）。ステップＦ０６０９では、記録が完了した光ディスク１の領域に光ピックアップ３を移動するようにマイコン４３が位置制御回路４５に位置制御信号Ｓ０７を出力する。位置制御回路４５は位置制御信号Ｓ０７に応答して、光ピックアップ３がこの領域に移動するよう位置制御信号Ｓ０２を光ピックアップ３に出力する。
【０１７２】
ステップＦ０６０９の位置制御の処理が終了すると、マイコン４３は、光ディスク１を再生して、信号品質測定を実行する（Ｆ０６１０）。ステップＦ０６１０において、マイコン４３は信号品質評価を行うための再生を実行するようにレーザパルス制御回路４６にレーザパルス制御信号Ｓ０８を出力する。レーザパルス制御回路４６はレーザパルス制御信号Ｓ０８に応答して、光ディスク１上の所定のアドレス位置にてレーザパルス制御信号Ｓ０３を光ピックアップ３に出力して、再生が実行される。すなわち、光ピックアップ３はレーザを光ディスク１に照射して、光ディスク１からの反射光を受光して、反射光を電気信号Ｓ０４に変換して、信号処理ＬＳＩ４のＡＦＥ４１に出力する。ＡＦＥ４１は電気信号Ｓ０４の増幅等のアナログ信号処理の実行によりアナログ信号Ｓ０５を生成して、信号品質測定回路４２に出力する。信号品質測定回路４２はアナログ信号Ｓ０５のジッタを測定して測定結果を算出して、測定結果情報Ｓ０６をマイコン４３に出力する。するとマイコン４３は、測定結果情報Ｓ０６をメモリ４４に格納するものである。
【０１７３】
ステップＦ０６１０の信号品質測定の処理が終了すると、マイコン４３は、ステップＦ０６０２で決定した調整幅の範囲での全ての信号品質測定が完了しているか否かを判定する（Ｆ０６１１）。ステップＦ０６１１において、調整幅の範囲の全ての信号品質測定が完了していないと判定された場合には、ステップＦ０６０８に戻り、完了していない評価データの信号品質測定が実行される。
【０１７４】
一方、ステップＦ０６１１において、調整幅の範囲での全ての信号品質測定が完了していると判定された場合には、ラストパルス幅Ｌｔを決定する（Ｆ０６１２）。具体的には、マイコン４３は、メモリ部４４に格納された測定結果情報を読み出し、読み出した測定結果情報に基づいてラストパルス幅Ｌｔを決定する。ラストパルス幅Ｌｔの決定方法について図９を用いて詳細に説明する。
【０１７５】
図１３は、ラストパルス幅Ｌｔの決定方法の概念を示す説明図である。同図において、横軸はラストパルス幅Ｌｔを、縦軸はジッタを表している。Ｊｔａｒｇｅｔは、前述のように目標ジッタ値である。
【０１７６】
ラストパルス幅Ｌｔを変化させて記録を行うと、同図に示されるようなジッタ対ラストパルス幅Ｌｔ特性が得られる。ステップ０６１２では、例えば、Ｊｔａｒｇｅｔ以下のジッタ値を取り得るラストパルス幅Ｌｔの範囲における中央値を所望のラストパルス幅Ｌｔとして決定する。これにより、対象記録マークにとって最適なラストパルス幅Ｌｔとなる記録ストラテジーが第３の調整記録ストラテジーとして決定される。なお、ステップＦ０６１２では、ジッタ対ストパルス幅Ｌｔの特性を取得し、その特性を近似した近似曲線からジッタが最小値となるストパルス幅Ｌｔを算出し、算出したストパルス幅Ｌｔとなる記録ストラテジーを最適な記録ストラテジーとして決定することも可能である。
【０１７７】
ステップＦ０６１２のＬｔ決定の処理が終了すると、マイコン４３は、レーザパルス波形の終端に位置するラストパルスを含むレーザパルスの記録ストラテジーによって形成される記録マークの全てについて、Ｌｔ調整が完了したか否かを判定する（Ｆ０６１３）。ステップＦ０６１３において、Ｌｔ調整が完了していないと判定された場合には、マイコン４３は調整していない記録マークについてのラストパルス幅Ｌｔの調整を行うために、ステップＦ０６０１に以降し、上記と同様の処理を実行する。一方、ステップＦ０６１３においてＬｔ調整が完了したと判定された場合には、Ｌｔ調整の処理を終了する。
【０１７８】
以上のＬｔ調整によれば、微調整Ｉ及び微調整ＩＩによってエッジシフト量を調整した上で更に、ラストパルスを含むレーザパルス波形によって形成される特定の対象エッジのジッタが小さくなるようにラストパルス幅Ｌｔを調整するから、より品質の高い記録が可能な記録ストラテジーを生成することができる。
【０１７９】
（７）微調整ＩＩ（Ｌｔ調整後）
マイコン４３は、ステップＦ０６のＬｔ調整によってラストパルス幅Ｌｔが最適化された第３の調整記録ストラテジーについて前記微調整ＩＩを再度実行する。具体的な処理の方法は、前述の（５）微調整ＩＩと同様である。
【０１８０】
初めの微調整ＩＩによって記録マークの前端エッジのエッジシフト量のみならず、後端エッジのエッジシフト量を調整している場合、Ｌｔ調整によるラストパルスのパルス幅Ｌｔの調整によって、記録マークの後端エッジが最適値から多少ずれる可能性がある。そこで、Ｌｔ調整後の記録ストラテジーに基づいて微調整ＩＩを行うことで、より品質の高い記録が可能な記録ストラテジーを生成することが可能となる。
【０１８１】
当該処理によって調整された記録ストラテジーは、第４の調整記録ストラテジーとして決定される。
【０１８２】
（８）ターゲットベータ調整
図１４は、ターゲットベータ調整の流れの一例を示すフロー図である。
【０１８３】
先ず、マイコン４３は、記録回数カウンタＮｂｅｔａｒｅｃの値と再生回数カウンタＮｂｅｔａｐｌａｙの値を夫々“１”にリセットし、記録と再生を行う回数を規定する最大記録再生数Ｎｂｅｔａｒｐｍａｘを定義する（Ｆ０８０１）。最大記録再生数Ｎｂｅｔａｒｐｍａｘの値は、例えば、レジスタ等に設定される。
【０１８４】
次にマイコン４３は、記録レーザパワー（ライトパワーＰｗ）を決定する（Ｆ０８０２）。具体的には、マイコン４３は、例えば前述した粗調整のステップＦ０１０２０４で決定した記録レーザパワーの範囲内のいずれかの記録レーザパワーを選択する。そして、マイコン４３は、ステップＦ０７で調整された第４の調整記録ストラテジーにおけるライトパワーＰｗのパラメータ値を前記選択した記録レーザパワーに応じた値に変更した記録ストラテジーを生成する。
【０１８５】
次に、マイコン４３は、記録時のモータ回転数の制御を実行する（Ｆ０８０３）。ステップＦ０８０３では、所定の記録速度となるようにマイコン４３が、モータ制御回路４７にモータ制御信号Ｓ０９を出力する。モータ制御回路４７はモータ制御信号Ｓ０９に応答して、所定の記録速度となるようにスピンドルモータ２の回転数を制御するためのモータ制御信号Ｓ０１をスピンドルモータ２に出力する。
【０１８６】
ステップＦ０８０３でスピンドルモータ２の回転数の所望の回転数への制御が完了すると、マイコン４３は、記録時の光ピックアップ位置の制御を実行する（Ｆ０８０４）。ステップＦ０８０４では、マイコン４３が位置制御回路４５にターゲットベータ調整を実行するための記録を行う光ディスク１の領域に光ピックアップ３が移動するよう位置制御信号Ｓ０７を出力する。位置制御回路４５は位置制御信号Ｓ０７に応答して、この領域に光ピックアップ３が移動するように位置制御信号Ｓ０２を光ピックアップ３に出力する。
【０１８７】
ステップＦ０８０４での所望の位置への光ピックアップ３の移動が完了すると、マイコン４３は、ステップＦ０８０２で記録レーザパワーが調整された記録ストラテジーに従って、光ディスク１に評価データとしてのランダムデータの記録を実行する（Ｆ０８０５）。ステップＦ０８０５では、ターゲットベータ調整の実行のためにステップＦ０８０２で記録レーザパワーが調整された記録ストラテジーに従って記録するようにマイコン４３はレーザパルス制御回路４６にレーザパルス制御信号Ｓ０８を出力する。レーザパルス制御回路４６はレーザパルス制御信号Ｓ０８に応答して、光ディスク１上の所定のアドレス位置にてレーザパルス制御信号Ｓ０３を光ピックアップ３に出力し、所定のサイズの記録が実行される。
【０１８８】
ステップＦ０８０５で所定のサイズの記録が完了すると、マイコン４３は、記録回数カウンタＮｂｅｔａｒｅｃと最大記録再生数Ｎｂｅｔａｒｐｍａｘの比較を実行する（Ｆ０８０６）。ステップＦ０８０６において、記録回数カウンタＮｂｅｔａｒｅｃが最大記録再生数Ｎｂｅｔａｒｐｍａｘよりも小さい場合には、記録回数カウンタＮｂｅｔａｒｅｃを“１”インクリメントし（Ｆ０８１２）、ステップＦ０８０２に戻ってライトパワーＰｗを変更して、再度所定のサイズの評価データの記録を行う（Ｆ０８０２〜Ｆ０８０５）。このとき、データが記録される光ディスク上の記録領域は、最初のライトパワーＰｗで記録した記録領域とは異なる領域である。
【０１８９】
一方、ステップＦ０８０６において、記録回数カウンタＮｂｅｔａｒｅｃの値が最大記録再生数Ｎｂｅｔａｒｐｍａｘよりも大きい場合には、マイコン４３は、所定のレーザパワー範囲による記録が終了したと判断し、ステップ０８０７以降で記録した評価データの再生を行う。
【０１９０】
評価データの再生では、マイコン４３は、再生時のモータ回転数の制御を実行する（Ｆ０８０７）。ステップＦ０８０７では、所定の再生速度となるようにマイコン４３がモータ制御回路４７にモータ制御信号Ｓ０９を出力する。モータ制御回路４７はモータ制御信号Ｓ０９に応答して、所定の再生速度となるようにスピンドルモータ２の回転数を制御するためのモータ制御信号Ｓ０１をスピンドルモータ２に出力する。
【０１９１】
ステップＦ０８０７でスピンドルモータ２の回転数の所望の回転数への制御が完了すると、マイコン４３は、再生時の光ピックアップ位置の制御が実行する（Ｆ０８０８）。ステップＦ０８０８では、マイコン４３が位置制御回路４５にターゲットベータ調整のための記録を行った光ディスク１の領域に光ピックアップ３を移動するように位置制御信号Ｓ０７を出力する。位置制御回路４５は位置制御信号Ｓ０７に応答して、光ピックアップ３がこの領域に移動するように位置制御信号Ｓ０２を光ピックアップ３に出力する。
【０１９２】
ステップＦ０８０８のピックアップ位置制御の処理が終了すると、マイコン４３は、光ディスク１を再生して、信号品質測定を実行する（Ｆ０８０９）。具体的には、マイコン４３は信号品質評価を行うための再生を実行するようにレーザパルス制御回路４６にレーザパルス制御信号Ｓ０８を出力する。レーザパルス制御回路４６はレーザパルス制御信号Ｓ０８に応答して、光ディスク１上の所定のアドレス位置でレーザパルス制御信号Ｓ０３を光ピックアップ３に出力して、再生が実行される。光ピックアップ３はレーザを光ディスク１に照射して、光ディスク１からの反射光を受光して、反射光を電気信号Ｓ０４に変換して、信号処理ＬＳＩ４のＡＦＥ４１に出力する。ＡＦＥ４１は電気信号Ｓ０４の増幅等のアナログ信号処理を実行してアナログ信号Ｓ０５を生成して、信号品質測定回路４２に出力する。この信号品質測定回路４２はアナログ信号Ｓ０５のジッタとベータおよびＰＩエラーを測定して測定結果を算出して、測定結果情報Ｓ０６をマイコン４３に出力する。マイコン４３は、測定結果情報Ｓ０６をメモリ部４４に格納する。
【０１９３】
ステップＦ０８０９の信号品質測定が終了すると、マイコン４３は、再生回数カウンタＮｂｅｔａｐｌａｙと最大記録再生数Ｎｂｅｔａｒｐｍａｘの比較を行う（Ｆ０８１０）。ステップＦ０８０９において、再生回数カウンタＮｂｅｔａｐｌａｙが最大記録再生数Ｎｂｅｔａｒｐｍａｘよりも小さいと判定された場合には、マイコン４３は、再生回数カウンタＮｂｅｔａｐｌａｙを“１”インクリメントし（Ｆ０８１３）、ステップＦ０８０７に戻って別のライトパワーＰｗの記録ストラテジーで記録された評価データの信号品質測定を実行する（Ｆ０８０７〜Ｆ０８０９）。
【０１９４】
一方、ステップＦ０８１０において、再生回数カウンタＮｂｅｔａｐｌａｙが最大記録再生数Ｎｂｅｔａｒｐｍａｘよりも大きいと判定された場合には、ステップＦ０８０２で決定した全ての記録レーザパワー（ライトパワーＰｗ）での信号品質測定結果が取得されたことになるので、マイコン４３は次に、ターゲットベータを決定する処理を開始する（Ｆ０８１１）。ステップＦ０８１１におけるターゲットベータの決定方法について、図１５を用いて詳細に説明する。
【０１９５】
図１５は、ステップＦ０８１１におけるターゲットベータ決定処理の流れの一例を示すフロー図である。
【０１９６】
先ず、マイコン４３は、図１４のステップＦ０８０９で測定した測定結果情報Ｓ０６をメモリ部４４から読み出し、ジッタ指標のベータマージンＢＪ０２を算出して、ベータマージンが１０％以上あるか否かを判断する（Ｆ０８１１０１）。
【０１９７】
図１６に、ジッタ指標のベータマージンの概念図を示す。同図において、横軸はベータ、縦軸はジッタを表す。参照符号ＢＪ０１は、ステップＦ８０１１までに取得された測定結果情報のうち評価対象とされる対象エッジの全体ジッタに基づく全体ジッタ対ベータ特性を近似した近似曲線である。また参照符号ＢＪ０２は、目標ジッタＪｔａｒｇｅｔ以下のベータの範囲を表すベータマージンであり、参照符号ＢＪ０３はベータマージンＢＪ０２の中央値を表すセンタベータである。また、参照符号ＢＪ０４とＢＪ０５は近似曲線ＢＪ０１とＪｔａｒｇｅｔとの交点であり、参照符号ＢＪ０４はより大きなベータ値を持つ点を示し、参照符号ＢＪ０５はより小さなベータ値を持つ点を示す。
【０１９８】
ステップＦ０８１１０１において、ベータマージンＢＪ０２が１０％以上あると判断されれば、ステップＦ０８１１０２においてターゲットベータを前記センタベータＢＪ０３と決定して、ターゲットベータの決定処理は終了する。一方、ベータマージンＢＪ０２が１０［％］未満であると判断された場合には、マイコン４３は、図１４のステップＦ０８０９で測定した測定結果情報Ｓ０６をメモリ部４４から読み出し、ＰＩエラー指標のベータマージンＢＪ０３を算出して、ベータマージンが０％以上あるか否かを判断する（Ｆ０８１１０３）。
【０１９９】
図１７に、ＰＩエラー指標のベータマージンの概念図を示す。同図において、横軸はベータ、縦軸はＰＩエラーを表す。参照符号ＢＰ０１は、ステップＦ８０１１までに取得された測定結果情報のうち評価対象とされる対象エッジのＰＩエラーに基づくＰＩエラー対ベータ特性を近似した近似曲線である。また参照符号ＢＰ０２は、目標ジッタＪｔａｒｇｅｔ以下のベータの範囲を表すベータマージンであり、参照符号ＢＰ０３はベータマージンＢＰ０２の中央値を表すセンタベータである。また、参照符号ＢＰ０４とＢＰ０５は近似曲線ＢＰ０１とＪｔａｒｇｅｔとの交点であり、参照符号ＢＰ０４はより大きなベータ値を持つ点を示し、参照符号ＢＰ０５はより小さなベータ値を持つ点を示す。
【０２００】
ステップＦ０８１１０３において、センタベータＢＰ０３が０％以上あると判断されれば、ステップＦ０８１１０４において、マイコン４３はターゲットベータを前記センタベータＢＰ０３と決定して、ターゲットベータ決定の処理を終了する。
【０２０１】
一方、ベータマージンＢＰ０２が０［％］未満であると判断された場合には、マイコン４３は、図１７に示すＰＩ対ベータの特性において近似曲線ＢＰ０１とＪｔａｒｇｅｔの交点ＢＰ０４の値が５％以上であるか否かを判断する（Ｆ０８１１０５）。ステップＦ０８１１０５において、ＢＰ０４が５［％］以上あると判断されれば、ステップＦ０８１１０６において、マイコン４３は、ターゲットベータをＢＰ０４から５％引いた値と決定して、ターゲットベータ決定の処理を終了する。
【０２０２】
ステップＦ０８１１０５において前記ＢＰ０４の値が５［％］未満であると判断された場合には、ステップＦ０８１１０７において、マイコン４３はターゲットベータを０％と決定して、ターゲットベータ決定の処理を終了する。
【０２０３】
以上ターゲットベータ決定処理によれば、微調整Ｉや微調整ＩＩによってエッジシフト量が調整されることで、粗調整において設定した記録レーザパワーが最適値から多少ずれた場合であっても、微調整Ｉや微調整ＩＩの後にターゲットベータを決定することで、最適な記録レーザパワーとなる記録ストラテジーを生成することが可能となる。なお、上記の説明では、データの記録中のＯＰＣ誤差によって引き起こされる記録品質の悪化に対処するため、ベータマージンＢｊ０２が１０％以上確保されるようにすること、ターゲットベータのＢＪ０３下限値が０％とすること、且つ正側のベータマージンを５％以上確保することを考慮し、ステップＦ０８１１０２、Ｆ０８１１０４、およびＦ０８１１０６において判断基準に用いる閾値を上記のように定めたが、これに限られない。
【０２０４】
以上、実施の形態１に係る光ディスク装置１００によれば、粗調整及び微調整Ｉによって記録マーク全体の記録品質を考慮して記録ストラテジーを調整し、且つ、微調整ＩＩによって出現率の低い長マークのような個別の記録マークのエッジシフト量を選択的に調整することで、記録マーク全体として記録品質を高くするこができ、且つ個別の記録マークの記録品質も高くすることができる記録ストラテジーを効率よく生成することが可能となる。更に、Ｌｔ調整、ターゲットベータ調整、及び再度の微調整ＩＩを実行することで、より記録品質の高い記録ストラテジーの生成が可能となる。
【０２０５】
また、ステップＦ０８で最適な記録ストラテジーを生成された後に、当該記録ストラテジーをメモリ部４４に保持することも可能である。これによれば、次回以降の光ディスク装置１００の電源投入等によるシステム起動時に図６の記録ストラテジー調整処理を省略することができ、且つメモリ部４４に格納された最適記録ストラテジーを使用して記録を行うことができる。更に、最適記録ストラテジー自体をメモリ部４４に格納するのではなく、初期ストラテジーと最適記録ストラテジーとの差分の情報（例えば、各マーク長とスペース長の組み合わせに係るエッジシフト量の差分情報）をメモリ部４４に格納してもよい。
【０２０６】
≪実施の形態２≫
図１８は、光ディスク装置１００における記録ストラテジー調整の処理の流れの別の一例を示すフロー図である。同図に示される処理フローは、マイコン４３のソフトウェア処理による処理フローとして例示しているが、処理の一部または全てを専用ハードウェアで実現することも可能である。
【０２０７】
実施の形態２に係る記録ストラテジー調整は、再度の微調整ＩＩ（Ｆ０７）の処理が無い点で、前述の図６に示した実施の形態１に係る記録ストラテジー調整とは異なる。すなわち、実施の形態２に係る記録ストラテジーの調整では、ステップＦ０６のＬｔ調整後に微調整ＩＩを行わず、ターゲットベータ調整が実行される。その他の処理は、実施の形態１に係る記録ストラテジーの調整の処理と同様である。
【０２０８】
実施の形態２に係る記録ストラテジーの調整方法は、品質に差のある多数の光ディスクの中でも、品質の良い光ディスクに応じた記録ストラテジーの調整を実行する場合に特に有効である。すなわち、品質の良い光ディスクについては再度の微調整ＩＩを省略し、記録ストラテジー調整時の処理負荷を軽減することで、効率良く記録品質の良い記録ストラテジーを生成することが可能となる。
【０２０９】
≪実施の形態３≫
図１９は、光ディスク装置１００における記録ストラテジー調整の処理の流れの別の一例を示すフロー図である。同図に示される処理フローは、マイコン４３のソフトウェア処理による処理フローとして例示しているが、処理の一部または全てを専用ハードウェアで実現することも可能である。
【０２１０】
実施の形態３に係る記録ストラテジー調整は、Ｌｔ調整（Ｆ０６）と再度の微調整ＩＩ（Ｆ０７）の処理が無い点で、前述の図６に示した実施の形態１に係る記録ストラテジー調整とは異なる。すなわち、実施の形態３に係る記録ストラテジーの調整では、微調整ＩＩ後にＬｔ調整が行われず、ターゲットベータ調整が実行される。その他の処理は、実施の形態１に係る記録ストラテジーの調整の処理と同様である。
【０２１１】
実施の形態３に係る記録ストラテジーの調整方法は、記録においてラストパルスを含まない記録ストラテジーの調整を行う場合に特に有効であり、記録ストラテジー調整時の処理負荷を軽減した上で、効率良く記録品質の良い記録ストラテジーを調整することが可能となる。
【０２１２】
≪実施の形態４≫
図２０は、光ディスク装置１００における記録ストラテジー調整の処理の流れの別の一例を示すフロー図である。同図に示される処理フローは、マイコン４３のソフトウェア処理による処理フローとして例示しているが、処理の一部または全てを専用ハードウェアで実現することも可能である。
【０２１３】
実施の形態４に係る記録ストラテジー調整は、Ｌｔ調整（Ｆ０６）、再度の微調整ＩＩ（Ｆ０７）、及びターゲットベータ調整（Ｆ０８）の処理が無い点で、前述の図６に示した実施の形態１に係る記録ストラテジー調整とは異なる。すなわち、実施の形態４に係る記録ストラテジーの調整では、微調整ＩＩ後に微調整ＩＩが正常終了していると判断されれば、記録ストラテジー調整の処理が正常終了される。その他の処理は、実施の形態１に係る記録ストラテジーの調整の処理と同様である。
【０２１４】
実施の形態４に係る記録ストラテジーの調整方法によれば、より記録ストラテジー調整時の処理負荷を軽減し、より短時間で記録ストラテジーを調整することが可能となる。
【０２１５】
≪実施の形態５≫
（１）光ディスク装置の構成
図２１は、実施の形態５に係る光ディスク装置の構成の一例を示すブロック図である。図１の実施の形態１に係る光ディスク装置１００と同様の構成要素には同一の符号を付して、その詳細な説明を省略する。
【０２１６】
同図に示される光ディスク装置２００は、実施の形態１に係る光ディスク装置１００と同様に光ディスク１に対するデータの書き込みと読み出しを行うが、内部に備えるインターフェース回路（Ｉ／Ｆ）４８を介して、外部のホストＰＣ５と標準通信方式の通信路Ｓ１０を利用した通信が可能とされる。前記標準通信方式の通信路Ｓ１０は、例えばＳＡＴＡ（Ｓｅｒｉａｌ  ＡＴＡ）やＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ  Ｓｅｒｉａｌ  Ｂｕｓ）やＩＥＥＥ１３９４等である。メモリ部６は、例えば同期型ダイナミックメモリ（ＳＤＲＡＭ：Ｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ  Ｄｙｎａｍｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）等の揮発性メモリやフラッシュメモリ等の不揮発性メモリを備え、例えば標準初期ストラテジー、ホストＰＣ５によるデータ処理結果等のデータ、及びソフトウェアプログラム等を格納する。
【０２１７】
実施の形態１乃至４では光ディスク装置１００のマイコン４３が主体となって記録ストラテジーの調整処理を実現したが、実施の形態５では、ホストＰＣ５と光ディスク装置２００による協働した処理によって記録ストラテジーの調整処理が実現される。
【０２１８】
実施の形態５に係る記録ストラテジーの調整処理は、例えば、光ディスク装置２００の出荷時の製品評価段階等において実行される。ホストＰＣ５が前記メモリ部６に格納された記録ストラテジー調整用のプログラムに従って処理を実行し、光ディスク装置２００を制御することで記録ストラテジーの調整が実現される。当該処理によって生成された光ディスクの種類毎の最適記録ストラテジーは、マイコン４３内部に設けられたＲＯＭ４３１に格納される。出荷後、実際にユーザが光ディスク装置２００により光ディスクに対するデータの書き込みを行う場合には、光ディスク装置２００のマイコン４３がＰＣ等からのデータの書き込み命令等に応答して、マウントされた光ディスクの種類に応じた記録ストラテジーを前記ＲＯＭ４３１から読み出し、読み出した記録ストラテジーに従って、マウントされた光ディスクに対するデータの書き込みを実行する。
【０２１９】
以下、実施の形態５に係る記録ストラテジーの調整方法について、前述の図６に示される記録ストラテジーの調整処理を行う場合を一例として詳細に説明する。
【０２２０】
（２）光ディスク装置２００とホストＰＣ５による記録ストラテジー調整方法の概要
光ディスク装置２００とホストＰＣ５による記録ストラテジー調整方法の概要は、前述した図６と同様である。
【０２２１】
（３）粗調整
光ディスク装置２００とホストＰＣ５による粗調整の大まかな処理フローは、実施の形態１に係る図８の処理フローと同様であるが、ステップＦ０１０２の調整開始ストラテジー選択の処理は実施の形態１に係る図９の処理と異なる。そこで、実施の形態１と共通の処理についての詳細な説明は省略し、異なる処理について説明する。
【０２２２】
図２２は、実施の形態５の粗調整における調整開始ストラテジーの選択処理の流れの一例を示すフロー図である。
【０２２３】
先ず、ホストＰＣ５が、粗調整カウンタＮｅｖａｌを“１”にリセットして、粗調整回数最大値Ｎｅｖａｌｍａｘを定義する（Ｆ０１０２３１）。次にホストＰＣ５は複数の初期ストラテジーを算出して、前記複数の初期ストラテジーのうち、いずれの初期ストラテジーで信号品質評価を行うかを選択する（Ｆ０１０２３２）。ステップＦ０１０２３２が終了すると、ホストＰＣ５は記録回数カウンタＮｒｅｃと再生回数カウンタＮｐｌａｙとをそれぞれ“１”にリセットして、最大記録再生数Ｎｒｐｍａｘを定義する（Ｆ０１０２３３）。ステップＦ０１０２３３が終了すると、ホストＰＣ５は記録レーザパワーを決定する（Ｆ０１０２３４）。その後、ホストＰＣ５は光ディスク装置２００に記録コマンドデータの転送を実行する（Ｆ０１０２３５）。ステップＦ０１０２３５では、記録レーザパワー、記録データ、記録速度、記録位置、記録サイズ及び記録ストラテジーを指定して、一定線速度（ＣＬＶ：Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ｌｉｎｅａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）モードで記録するように、ホストＰＣ５はコマンドデータを光ディスク装置２００へ送信する。尚、記録データの指定は、評価データとしてのランダムデータを生成して指定することができる。それ以外に、光ディスク装置２００が評価データとしてのランダムデータを記録するモードを装備している場合には、ホストＰＣ５がこのモードを指定することでデータの記録を実行させることができる。また、記録位置および記録サイズの指定は、記録開始アドレスと記録終了アドレスとの指定によって実行することができる。
【０２２４】
その後、光ディスク装置２００のマイコン４３は、通信路Ｓ１０およびインターフェース回路４８を介してステップＦ０１０２３５で送信された記録コマンドデータを受信する（Ｆ０１０２３６）。ステップＦ０１０２３６が完了すると、マイコン４３は、図９のステップＦ０１０２０５〜Ｆ０１０２０７と同様に、記録時のモータ回転数の制御及び光ピックアップ位置の制御を行い、記録データの記録を実行する（Ｆ０１０２３７〜Ｆ０１０２３９）。この記録では、ステップＦ１０２０２においてホストＰＣ５により指定された初期ストラテジーに従ってマイコン４３は光ディスク１に評価データとしてのランダムデータの記録を実行する。ステップＦ０１０２３９で記録が完了すると、マイコン４３は記録が成功したか否かを示す情報を含む返信データをホストＰＣ５に送信する（Ｆ０１０２４０）。そして、ホストＰＣ５は返信データを受信する（Ｆ０１０２４１）。
【０２２５】
ホストＰＣ５による返信データの受信が完了すると、ホストＰＣ５は記録回数カウンタＮｒｅｃと最大記録再生数Ｎｒｐｍａｘとの比較を実行する（Ｆ０１０２４２）。この比較は、図９のステップＦ０１０４０８と同様である。ステップＦ０１０２４２において、記録回数カウンタＮｒｅｃの値が最大記録再生数Ｎｒｐｍａｘよりも小さいと判定された場合には、ステップＦ０１０２５５にてホストＰＣ５は記録回数カウンタＮｒｅｃを“１”インクリメントした後、ステップＦ０１０２３４に戻って異なる記録レーザパワーを決定して、さらにステップＦ０１０２３４〜Ｆ０１０２３９で以前に記録した領域とは異なる領域に所定のサイズの記録を行う。
【０２２６】
ステップＦ０１０２４２において、記録回数カウンタＮｒｅｃの値が最大記録再生数Ｎｒｐｍａｘよりも大きいと判定された場合には、所定のレーザパワー範囲による記録が終了したと判断され、ホストＰＣ５は以降のステップで再生処理を実行する。先ずホストＰＣ５は、光ディスク装置２００へ信号品質測定のコマンドデータの送信を実行する（Ｆ０１０２４３）。この信号品質測定コマンドデータの送信では、測定速度および測定位置を指定したコマンドデータが光ディスク装置へ送信される。そして、光ディスク装置２００は前記信号品質測定のコマンドデータを受信する（Ｆ０１０２４４）。
【０２２７】
光ディスク装置２００による信号品質測定コマンドデータの受信が完了すると、マイコン４３は、図９のステップＦ０１０２０９〜Ｆ０１０２１１と同様に、再生時のモータ回転数の制御及び光ピックアップ位置の制御を行い、信号品質測定を実行する（Ｆ０１０２４５〜Ｆ０１０２４７）。この信号品質測定では、実施の形態１の図９のステップＦ０１０２１１と同様にマイコン４３は測定結果情報をメモリ部４４に格納する。測定結果情報のメモリ部４４への格納が完了すると、マイコン４３はメモリ部４４に格納された測定結果情報を読み出して信号品質データを生成し、インターフェース回路４８および通信路Ｓ１０を介してホストＰＣ５に送信する（Ｆ０１０２４８）。そして、ホストＰＣ５は信号品質データを受信する（Ｆ０１０２４９）。
【０２２８】
ステップＦ０１０２４９が終了すると、ホストＰＣ５は、再生回数カウンタＮｐｌａｙと最大記録再生数Ｎｒｐｍａｘとの比較を実行する（Ｆ０１０２５０）。この比較は、図９のステップＦ０１０２１２と同様である。再生回数カウンタＮｐｌａｙの値が最大記録再生数Ｎｒｐｍａｘよりも小さい場合には、ホストＰＣ５は、再生回数カウンタＮｐｌａｙを“１”インクリメントした後、別の記録データの信号品質測定の指示を実行する（Ｆ０１０２５４）。
【０２２９】
一方、ステップＦ０１０２５０において、再生回数カウンタＮｐｌａｙの値が最大記録再生数Ｎｒｐｍａｘよりも大きい場合には、ホストＰＣ５はカウンタＮｅｖａｌと調整開始ストラテジー選択回数最大値Ｎｅｖａｌｍａｘを比較する（Ｆ０１０２５１）。ステップＦ０１０２５１において、調整開始ストラテジー選択カウンタＮｅｖａｌが調整開始ストラテジー選択回数最大値Ｎｅｖａｌｍａｘよりも小さい場合には、ホストＰＣ５は、調整開始ストラテジー選択カウンタＮｅｖａｌを“１”カウントアップし（Ｆ０１０２５６）、ステップＦ０１０２３２の初期ストラテジー選択に戻る。
【０２３０】
一方、ステップＦ０１０２５１において、調整開始ストラテジー選択カウンタＮｅｖａｌが調整開始ストラテジー選択回数最大値Ｎｅｖａｌｍａｘよりも大きい場合には、ホストＰＣ５は評価関数演算を実行し、演算結果をメモリ部６に格納する（Ｆ０１０２５２）。演算方法は、図９のステップＦ０１０２１４と同様である。
【０２３１】
ステップＦ０１０２５２の評価関数演算が終了すると、ホストＰＣ５は、評価関数演算の演算結果が正常であるか否かを判断する（Ｆ０１０２５３）。ステップＦ０１０２５３において、全ての初期ストラテジーにおいて評価関数Ｆｅｖａｌが０であれば、ホストＰＣ５は、評価関数の演算結果を異常と判断し、調整開始ストラテジー選択処理（Ｆ０１０２）を異常終了させる。一方、ステップＦ０１０２５３において、評価関数Ｆｅｖａｌが０でない初期ストラテジーが一つでもあれば、ステップＦ０１０２５２の評価関数の演算結果を正常と判断し、最大の評価関数Ｆｅｖａｌである記録ストラテジーを調整開始ストラテジーとして選択し、調整開始ストラテジーの選択処理（Ｆ０１０２）を正常終了させる。
【０２３２】
以上手順で調整開始ストラテジーの選択処理（Ｆ０１０２）が完了すると、ホストＰＣ５は、図８に示されるように、調整開始ストラテジーが正常に終了したか否かを判断する（Ｆ０１０３）。ステップＦ０１０３において、調整開始ストラテジー選択が正常終了されたと判断された場合には、ホストＰＣ５は、粗調整の処理を正常終了する。一方、調整開始ストラテジー選択が異常終了されたと判断された場合には、ホストＰＣ５は、粗調整の処理を異常終了する。粗調整の処理が異常終了した場合には、前述の図６に示すようにステップＦ０２において粗調整異常終了と判断され、記録ストラテジー調整は異常終了する。
【０２３３】
以上の粗調整によれば、実施の形態１と同様に、対象エッジの全体ジッタが最小となるようにライトパワーＰｗを調整した記録ストラテジーを生成することができる。
【０２３４】
（４）微調整Ｉ
図２３は、実施の形態５に係る微調整Ｉの流れの一例を示すフロー図である。同図に示される微調整Ｉは、実施の形態１の図１０に示される微調整Ｉに対応される。
【０２３５】
先ず、ホストＰＣ５は、光ディスク１に記録される記録マークのマーク長と前方スペース長及び後方スペース長の組み合わせで特定される複数のエッジの中から所定の対象エッジを選択する（Ｆ０３２１）。ステップＦ０３２１の処理内容は、図１０のステップＦ０１０１と同様である。
【０２３６】
次にホストＰＣ５は、ステップＦ０３２１で選択された対象エッジに係るエッジシフト量（前端エッジシフト量Ｔｌｄ、後端エッジシフト量Ｔｔｒ２）の調整幅を決定する（Ｆ０３２２）。ステップＦ０３２２の処理内容は、図１０のステップＦ０１０２と同様である。
【０２３７】
ステップＦ０３２２でエッジシフト量の調整幅を決定した後、ホストＰＣ５は選択した対象エッジに係るエッジシフト量（前端エッジシフト量Ｔｌｄ、又は後端エッジシフト量Ｔｔｒ２）を前記調整幅の範囲内で決定し、記録ストラテジーを決定する（Ｆ０３２３）。ステップＦ０３２３の処理内容は、図１０のステップＦ０１０３と同様である。
【０２３８】
ステップＦ０３２３で記録ストラテジーの決定を完了したら、ホストＰＣ５は光ディスク装置２００へ記録コマンドデータの送信を実行する（Ｆ０３２４）。このときの記録ストラテジーは、ステップＦ０３２３でホストＰＣ５が決定した記録ストラテジーによって指定されたものである。そして、光ディスク装置２００は通信路Ｓ１０を介して記録コマンドデータを受信する（Ｆ０３２５）。
【０２３９】
ステップＦ０３２５で記録コマンドデータを受信すると、光ディスク装置２００は、図１０のステップＦ０３０４からＦ０３０６と同様に、記録時のモータ回転数の制御及び光ピックアップ位置の制御を行い、ステップＦ０３３３にて決定された記録ストラテジーに従って光ディスク１に評価データとしてのランダムデータの記録を実行する（Ｆ０３２６〜Ｆ０３２８）。ステップＦ０１０３２８で記録が完了すると、マイコン４３は記録が成功したか否かを示す情報を含む返信データをホストＰＣ５に送信する（Ｆ０３２９）。そして、ホストＰＣ５は返信データを受信する（Ｆ０３３０）。
【０２４０】
その後ホストＰＣ５は、ステップＦ０３２２で決定した全ての調整幅について記録が完了したか否かを判定する（Ｆ０３３１）。ステップＦ０３３１において、全ての調整幅について記録が完了していないと判断されると、ステップＦ０３２３に戻り、ホストＰＣ５は、記録が完了していない調整幅に対応した記録ストラテジーを生成し、再度所定のサイズの評価データの記録を行う。このとき、データが記録される光ディスク上の記録領域は、最初調整幅で記録した記録領域とは異なる領域である。
【０２４１】
一方、ステップＦ０３３１において、全ての調整幅について記録が完了していると判断されると、ホストＰＣ５は、光ディスク装置２００へ信号品質測定のコマンドデータの送信を実行する（Ｆ０３３２）。この信号品質測定コマンドデータの送信では、測定速度および測定位置を指定したコマンドデータが光ディスク装置へ送信される。そして、光ディスク装置２００は前記信号品質測定のコマンドデータを受信する（Ｆ０３３３）。
【０２４２】
光ディスク装置２００による信号品質測定コマンドデータの受信が完了すると、マイコン４３は、図１０のステップＦ０３０８〜Ｆ０３１０と同様に、再生時のモータ回転数の制御及び光ピックアップ位置の制御を行い、信号品質測定を実行する（Ｆ０３３４〜Ｆ０３３６）。この信号品質測定では、マイコン４３は測定結果情報をメモリ部４４に格納する。測定結果情報のメモリ部４４への格納が完了すると、マイコン４３はメモリ部４４に格納された測定結果情報を読み出して信号品質データを生成し、インターフェース回路４８および通信路Ｓ１０を介してホストＰＣ５に送信する（Ｆ０３３７）。そして、ホストＰＣ５は信号品質データを受信する（Ｆ０３３８）。
【０２４３】
信号品質データを受信したホストＰＣ５は、ステップＦ０３２２で決定した全ての調整幅に対応する評価データの信号品質測定が完了しているか否かを判定する（Ｆ０３３９）。ステップＦ０３３９で全ての調整幅に対応する評価データの信号品質測定が完了していないと判定された場合には、ステップＦ０３３２に戻り、別の記録ストラテジーによる評価データの再生を実行するようにホストＰＣ５は信号品質測定コマンドデータを光ディスク装置に送信する。
【０２４４】
一方、全ての調整幅に対応する評価データの信号品質測定が完了していると判定された場合には、ホストＰＣ５は、最適なエッジシフト量となる記録ストラテジーを決定する（Ｆ０３４０）。ステップＦ０３４０では、ホストＰＣ５はメモリ部６に格納された測定結果情報を読み出し、最も全体ジッタが小さくなるエッジシフト量（前端エッジシフト量Ｔｌｄ、後端エッジシフト量Ｔｔｒ２）の調整幅の記録ストラテジーを決定する。
【０２４５】
ステップＦ０３４０のエッジシフト量決定の処理が終了すると、ホストＰＣ５は、全ての対象エッジについてエッジシフト量の調整が完了したか否かを判定する（Ｆ０３４１）。ステップＦ０３４１において、全ての対象エッジについてエッジシフト量の調整が完了していないと判定された場合には、調整していないマーク長およびエッジについて調整を行うためにステップＦ０３２１以降の処理に戻り、同様の処理を実行する（Ｆ０３２１〜Ｆ０３２４）。一方、ステップＦ０３４１にて、全ての対象エッジについてエッジシフト量の調整が完了したと判定された場合には、微調整Ｉの処理を終了する。
【０２４６】
以上の微調整Ｉによれば、実施の形態１と同様に、対象エッジの全体ジッタが最小となるようにエッジシフト量を調整した記録ストラテジーを生成することができる。
【０２４７】
（５）微調整ＩＩ
図２４は、実施の形態５に係る微調整ＩＩの流れの一例を示すフロー図である。同図に示される微調整ＩＩは、実施の形態１の図１１に示される微調整ＩＩに対応される。
【０２４８】
先ず、ホストＰＣ５は、実施の形態１の図１１のステップＦ０４０１〜Ｆ０４０２と同様に、微調整ＩＩを実行する対象エッジを決定し、前記微調整Ｉにおいて選択された第１の調整記録ストラテジーの信号品質測定結果のうち、前記対象エッジに設定した各エッジにおいてシフト値の絶対値が所定の閾値を超えるエッジがあるか否かを判別する（Ｆ０４２１〜Ｆ０４２２）。前記所定の閾値は、実施の形態１と同様に、例えば６％とする。
【０２４９】
ステップＦ０４２２において、対象エッジのシフト値の絶対値が６％以内であれば、ホストＰＣ５は第１の調整記録ストラテジーを最適ストラテジーと判断し、第２の調整記録ストラテジーとして決定する（Ｆ０４３９）。
【０２５０】
一方、シフト値の絶対値が６％を超える対象エッジが存在する場合には、ホストＰＣ５は、ステップＦ０４２３以降で当該エッジに係るエッジシフト量を調整する処理を実行する。先ず、ホストＰＣ５は、シフト値の絶対値が６％を超える対象エッジの中から、所望の対象エッジを選択する（Ｆ０４２３）。ここで、マイコン４３は、例えばシフト値の絶対値が６％を超える対象エッジのうち、１つのエッジを選択してもよいし、複数のエッジを選択してもよい。
【０２５１】
ステップＦ０４２３が終了したら、次にホストＰＣ５は、前記第１の調整記録ストラテジーのエッジシフト量を調整した記録ストラテジーを生成する（Ｆ０４２４）。具体的には、マイコン４３は、ステップＦ０４０３で決定した記録マークのエッジについては、現状のシフト値と、エッジシフト量を１ステップの変動させたときのシフト値の最大の変化量に基づいて、シフト値の絶対値が最小になるようにエッジシフト量を調整する。なお、ステップＦ０４２４のエッジシフト量の調整において、ステップＦ０４２３で決定した記録マークのエッジ以外のエッジについては、前記第１の調整記録ストラテジーのエッジシフト量を継承し、変更しない。ステップＦ０４２４で記録ストラテジーの決定を完了したら、ホストＰＣ５は光ディスク装置２００へ記録コマンドデータの送信を実行する（Ｆ０４２５）。そして、光ディスク装置２００は通信路Ｓ１０を介して記録コマンドデータを受信する（Ｆ０４２６）。
【０２５２】
ステップＦ０４２６で記録コマンドデータを受信すると、光ディスク装置２００は、図１１のステップＦ０４０５からＦ０４０７と同様に、記録時のモータ回転数の制御及び光ピックアップ位置の制御を行い、ステップＦ０４０４にて決定された記録ストラテジーに従って光ディスク１に評価データとしてのランダムデータの記録を実行する（Ｆ０４２７〜Ｆ０４２９）。ステップＦ０４２９で記録が完了すると、マイコン４３は記録が成功したか否かを示す情報を含む返信データをホストＰＣ５に送信する（Ｆ０４３０）。そして、ホストＰＣ５は返信データを受信する（Ｆ０４３１）。
【０２５３】
ステップＦ０４３１において、返信データを受信したホストＰＣ５は、光ディスク装置２００へ信号品質測定のコマンドデータの送信を実行する（Ｆ０４３２）。この信号品質測定コマンドデータの送信では、測定速度および測定位置を指定したコマンドデータが光ディスク装置へ送信される。そして、光ディスク装置２００は前記信号品質測定のコマンドデータを受信する（Ｆ０４３３）。
【０２５４】
光ディスク装置２００による信号品質測定コマンドデータの受信が完了すると、マイコン４３は、図１１のステップＦ０４０８〜Ｆ０４１０と同様に、再生時のモータ回転数の制御及び光ピックアップ位置の制御を行い、信号品質測定を実行する（Ｆ０４３４〜Ｆ０４３６）。この信号品質測定では、マイコン４３は測定結果情報をメモリ部４４に格納する。測定結果情報のメモリ部４４への格納が完了すると、マイコン４３はメモリ部４４に格納された測定結果情報を読み出して信号品質データを生成し、インターフェース回路４８および通信路Ｓ１０を介してホストＰＣ５に送信する（Ｆ０４３７）。そして、ホストＰＣ５は信号品質データを受信する（Ｆ０４３８）。
【０２５５】
ステップＦ０４３８において信号品質データを受信したホストＰＣ５は、対象エッジの除外を実行する（Ｆ０４３８）。具体的な方法は、実施の形態１の図１１におけるステップＦ４１３と同様である。ステップＦ０４３８の対象エッジの除外が終了すると、再度ステップＦ０４２２に戻り、上記と同様の処理が実行される。なお、２回目以降のステップ０４２４では、前回のステップ０４２４で調整された記録ストラテジーを基準としてエッジシフト量の調整が行われる。
【０２５６】
ステップＦ０４２２〜Ｆ０４４１の処理が複数回実行され、ステップＦ０４２２において、対象エッジのシフト値の絶対値が全て６％以内と判断された場合には、ステップＦ０４３９に移行し、ステップＦ０４０２〜Ｆ０４４１の処理で最終的に調整された記録ストラテジーを第２の記録ストラテジーとして決定する。
【０２５７】
ステップＦ０４３９で記録ストラテジーの決定が終了すると、ホストＰＣ５は、評価対象とされる全記録マークのエッジの全体ジッタの値Ｊａｄｊと目標ジッタ値Ｊｔａｒｇｅｔとを比較する（Ｆ０４４０）。ステップＦ０４４０において、全体ジッタＪａｄｊが目標ジッタ値Ｊｔａｒｇｅｔよりも小さい場合には、微調整ＩＩは正常終了する。一方、全体ジッタの値Ｊａｄｊが目標ジッタ値Ｊｔａｒｇｅｔよりも大きい場合には微調整ＩＩは異常終了し、前述の図６のフローに示す通り、ステップＦ０５において微調整ＩＩ異常終了と判断され、記録ストラテジー調整は異常終了する。
【０２５８】
以上の微調整ＩＩによれば、実施の形態１と同様に、微調整Ｉでは調整され難い長マーク等の位相ずれを低減させた記録ストラテジーを、効率よく生成することができる。
【０２５９】
（６）Ｌｔ調整
図２５は、実施の形態５に係るＬｔ調整の流れの一例を示すフロー図である。同図に示されるＬｔ調整は、実施の形態１の図１２に示されるＬｔ調整に対応される。
【０２６０】
先ず、ホストＰＣ５は、実施の形態１の図１２のステップＦ０６０１からＦ０６０２と同様に、レーザパルス波形の終端に位置するラストパルスを含むレーザパルスの記録ストラテジーによって形成される記録マークのうち、Ｌｔ調整を実行する記録マークを選択し、選択した対象記録マークについてのラストパルス幅Ｌｔの調整幅を決定する（Ｆ０６２１〜Ｆ０６２２）。前記調整幅は、実施の形態１と同様である。
【０２６１】
ステップＦ０６２２でラストパルスＬｔの調整幅を決定した後、ホストＰＣ５は、実施の形態１の図１２のＦ０６０３と同様に、前記調整幅の範囲内でラストパルスＬｔの調整した記録ストラテジーを生成する（Ｆ０６２３）。
【０２６２】
ステップＦ０６２３で記録ストラテジーを決定した後、ホストＰＣ５は光ディスク装置２００へ記録コマンドデータの送信を実行する（Ｆ０６２４）。そして、光ディスク装置２００は通信路Ｓ１０を介して記録コマンドデータを受信する（Ｆ０６２５）。
【０２６３】
記録コマンドデータを受信した光ディスク装置２００は、図１２のステップＦ０６０４からＦ０６０６と同様に、記録時のモータ回転数の制御及び光ピックアップ位置の制御を行い、ステップＦ０６０４にて決定された記録ストラテジーに従って光ディスク１に評価データとしてのランダムデータの記録を実行する（Ｆ０６２６〜Ｆ０６２８）。ステップＦ０６２８で記録が完了すると、マイコン４３は記録が成功したか否かを示す情報を含む返信データをホストＰＣ５に送信する（Ｆ０６２９）。そして、ホストＰＣ５は返信データを受信する（Ｆ０６３０）。
【０２６４】
ステップＦ０６３０において、返信データを受信したホストＰＣ５は、ステップＦ０６２２で決定した全ての調整幅についての評価データの記録が完了しているか否かを判定する（Ｆ０６３１）。ステップＦ０６３１において、全ての調整幅についての評価データの記録が完了していないと判定されると、ホストＰＣ５、ステップＦ０６２３に戻り、記録が完了していないラストパルス幅Ｌｔに対応した記録ストラテジーが生成され、再度所定のサイズの評価データの記録を行うように記録コマンドデータを光ディスク装置２００に送信する。このとき、データが記録される光ディスク上の記録領域は、最初調整幅で記録した記録領域とは異なる領域である。
【０２６５】
ステップＦ０６３１において、全ての調整幅について評価データの記録が完了していると判定されると、光ディスク装置２００へ信号品質測定のコマンドデータの送信を実行する（Ｆ０６３２）。この信号品質測定コマンドデータの送信では、測定速度および測定位置を指定したコマンドデータが光ディスク装置へ送信される。そして、光ディスク装置２００は前記信号品質測定のコマンドデータを受信する（Ｆ０６３３）。
【０２６６】
光ディスク装置２００による信号品質測定コマンドデータの受信が完了すると、マイコン４３は、図１２のステップＦ０６０８〜Ｆ０６１０と同様に、再生時のモータ回転数の制御及び光ピックアップ位置の制御を行い、信号品質測定を実行する（Ｆ０６３４〜Ｆ０６３６）。この信号品質測定では、マイコン４３は測定結果情報をメモリ部４４に格納する。測定結果情報のメモリ部４４への格納が完了すると、マイコン４３はメモリ部４４に格納された測定結果情報を読み出して信号品質データを生成し、インターフェース回路４８および通信路Ｓ１０を介してホストＰＣ５に送信する（Ｆ０６３７）。そして、ホストＰＣ５は信号品質データを受信する（Ｆ０６３８）。
【０２６７】
信号品質データを受信したホストＰＣ５は、ステップＦ０６２２で決定した調整幅の範囲での全ての信号品質測定が完了しているか否かを判定する（Ｆ０６３９）。ステップＦ０６３９において、調整幅の範囲の全ての信号品質測定が完了していないと判定された場合には、ステップＦ０６３２に戻り、ホストＰＣ５は、完了していない評価データの信号品質測定コマンドデータを送信する。
【０２６８】
一方、ステップＦ０６３９において、調整幅の範囲での全ての信号品質測定が完了していると判定された場合には、ホストＰＣ５はラストパルス幅Ｌｔを決定する（Ｆ０６４０）。具体的な方法は、実施の形態１に係る図１２のステップＦ０６１２と同様である。
【０２６９】
ステップＦ０６４０のＬｔ決定の処理が終了すると、ホストＰＣ５は、レーザパルス波形の終端に位置するラストパルスを含むレーザパルスの記録ストラテジーによって形成される記録マークの全てについて、Ｌｔ調整が完了したか否かを判定する（Ｆ０６４１）。ステップＦ０６４１において、Ｌｔ調整が完了していないと判定された場合には、ホストＰＣ５は調整していない記録マークについてのラストパルス幅Ｌｔの調整を行うために、ステップＦ０６２１に以降し、上記と同様の処理を実行する。一方、ステップＦ０６４１においてＬｔ調整が完了したと判定された場合には、Ｌｔ調整の処理を終了する。
【０２７０】
以上のＬｔ調整によれば、実施の形態１と同様に、微調整Ｉ及び微調整ＩＩによってエッジシフト量を調整した上で更にラストパルスを含むレーザパルス波形によって形成される特定の対象エッジのジッタが小さくなるようにラストパルス幅Ｌｔを調整するから、より品質の高い記録が可能な記録ストラテジーを生成することができる。
【０２７１】
（７）微調整ＩＩ（Ｌｔ調整後）
ホストＰＣ５は、ステップＦ０６のＬｔ調整によってラストパルス幅Ｌｔが最適化された第３の調整記録ストラテジーについて、前述の微調整ＩＩを再度実行し、第４の調整記録ストラテジーを決定する。具体的な処理の方法は、図２４と同様である。
【０２７２】
（８）ターゲットベータ調整
図２６は、実施の形態５に係るターゲットベータ調整の流れの一例を示すフロー図である。同図に示されるターゲットベータ調整は、実施の形態１の図１４に示されるターゲットベータ調整に対応される。
【０２７３】
先ず、ホストＰＣ５は、記録回数カウンタＮｂｅｔａｒｅｃの値と再生回数カウンタＮｂｅｔａｐｌａｙの値を夫々“１”にリセットし、記録と再生を行う回数を規定する最大記録再生数Ｎｂｅｔａｒｐｍａｘを定義する（Ｆ０８２１）。次にホストＰＣ５は、実施の形態１の図１４のＦ０８０２と同様に、ステップＦ０７で調整された第４の調整記録ストラテジーにおけるライトパワーＰｗのパラメータ値を前記選択した記録レーザパワーに応じた値に変更した記録ストラテジーを生成する（Ｆ０８２２）。
【０２７４】
ステップＦ０８０２で記録ストラテジーを決定した後、ホストＰＣ５は光ディスク装置２００へ記録コマンドデータの送信を実行する（Ｆ０８２３）。そして、光ディスク装置２００は通信路Ｓ１０を介して記録コマンドデータを受信する（Ｆ０８２４）。
【０２７５】
記録コマンドデータを受信した光ディスク装置２００は、図１４のステップＦ０８０３からＦ０８０５と同様に、記録時のモータ回転数の制御及び光ピックアップ位置の制御を行い、ステップＦ０８２２にて決定された記録ストラテジーに従って光ディスク１に評価データとしてのランダムデータの記録を実行する（Ｆ０８２５〜Ｆ０８２７）。ステップＦ０８２７で記録が完了すると、マイコン４３は記録が成功したか否かを示す情報を含む返信データをホストＰＣ５に送信する（Ｆ０８２８）。そして、ホストＰＣ５は返信データを受信する（Ｆ０８２９）。
【０２７６】
ステップＦ０８２９において、返信データを受信したホストＰＣ５は、記録回数カウンタＮｂｅｔａｒｅｃと最大記録再生数Ｎｂｅｔａｒｐｍａｘの比較を実行する（Ｆ０８３０）。ステップＦ０８３０において、記録回数カウンタＮｂｅｔａｒｅｃが最大記録再生数Ｎｂｅｔａｒｐｍａｘよりも小さい場合には、記録回数カウンタＮｂｅｔａｒｅｃを“１”インクリメントし（Ｆ０８３１）、ステップＦ０８２２に戻ってライトパワーＰｗを変更して、再度所定のサイズの評価データの記録を行うように記録コマンドデータを送信する（Ｆ０８２２〜Ｆ０８２３）。このとき、データが記録される光ディスク上の記録領域は、最初のライトパワーＰｗで記録した記録領域とは異なる領域である。
【０２７７】
一方、ステップＦ０８３０において、記録回数カウンタＮｂｅｔａｒｅｃの値が最大記録再生数Ｎｂｅｔａｒｐｍａｘよりも大きい場合には、ホストＰＣ５は、所定のレーザパワー範囲による記録が終了したと判断し、光ディスク装置２００へ信号品質測定のコマンドデータの送信を実行する（Ｆ０８３２）。この信号品質測定コマンドデータの送信では、測定速度および測定位置を指定したコマンドデータが光ディスク装置へ送信される。そして、光ディスク装置２００は前記信号品質測定のコマンドデータを受信する（Ｆ０８３３）。
【０２７８】
光ディスク装置２００による信号品質測定コマンドデータの受信が完了すると、マイコン４３は、図１４のステップＦ０８０７〜Ｆ０８０９と同様に、再生時のモータ回転数の制御及び光ピックアップ位置の制御を行い、信号品質測定を実行する（Ｆ０８３４〜Ｆ０８３６）。この信号品質測定では、マイコン４３は測定結果情報をメモリ部４４に格納する。測定結果情報のメモリ部４４への格納が完了すると、マイコン４３はメモリ部４４に格納された測定結果情報を読み出して信号品質データを生成し、インターフェース回路４８および通信路Ｓ１０を介してホストＰＣ５に送信する（Ｆ０８３７）。そして、ホストＰＣ５は信号品質データを受信する（Ｆ０８３８）。
【０２７９】
信号品質データを受信したホストＰＣ５は、再生回数カウンタＮｂｅｔａｐｌａｙと最大記録再生数Ｎｂｅｔａｒｐｍａｘの比較を行う（Ｆ０８３９）。ステップＦ０８３８において、再生回数カウンタＮｂｅｔａｐｌａｙが最大記録再生数Ｎｂｅｔａｒｐｍａｘよりも小さいと判定された場合には、ホストＰＣ５は、再生回数カウンタＮｂｅｔａｐｌａｙを“１”インクリメントし（Ｆ０８４０）、別のライトパワーＰｗの記録ストラテジーで記録された評価データの信号品質測定を実行させるように信号品質測定コマンドデータを送信する（Ｆ０８３２）。
【０２８０】
一方、ステップＦ０８３９において、再生回数カウンタＮｂｅｔａｐｌａｙが最大記録再生数Ｎｂｅｔａｒｐｍａｘよりも大きいと判定された場合には、ステップＦ０８２２で決定した全ての記録レーザパワー（ライトパワーＰｗ）での信号品質測定結果が取得されたことになるので、マイコン４３は次に、ターゲットベータを決定する処理を開始する（Ｆ０８４１）。ステップＦ０８４１におけるターゲットベータの決定に係る処理内容は、処理の主体がホストＰＣ５に代わる点を除いて実施の形態１に係る図１５、図１６、及び図１７と同様であるため、その詳細な説明は省略する。ステップＦ８４１にてターゲットベータが決定されると、ターゲットベータ決定処理は終了となる。
【０２８１】
以上ターゲットベータ決定処理によれば、実施の形態１と同様に、前記微調整Ｉや微調整ＩＩによって、前記粗調整で設定した記録レーザパワーが最適値からずれたとしても、前記微調整Ｉや微調整ＩＩの後にターゲットベータを決定することで、最適な記録レーザパワーとなる記録ストラテジーを生成することが可能となる。
【０２８２】
以上実施の形態５によれば、実施の形態１でマイコン４３が実行していた処理の一部をホストＰＣ５が実行することで、マイコン４３の処理の負荷を軽減することができ、信号処理ＬＳＩ４の回路面積の削減を図ることができる。また、上記の記録ストラテジーの調整処理を製品出荷前に行い、調整された記録ストラテジーを光ディスク装置２００内のＲＯＭ等の記憶領域に格納しておくことで、実際に光ディスク装置２００によってマウントされた光ディスクへデータの書き込みを行う段階で記録ストラテジーの調整処理を行う必要がないので、ユーザにとってより使い勝手のよい光ディスク装置を提供することができる。
【０２８３】
以上本発明者によってなされた発明を実施形態に基づいて具体的に説明したが、本発明はそれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。
【０２８４】
例えば、実施の形態１乃至５において、ＡＦＥ４１、信号品質測定回路４２、マイコン４３、メモリ４４、位置制御回路４５、レーザパルス制御回路４６、及びモータ制御回路４７の全てが信号処理ＬＳＩ４内に構成される場合を一例として示したが、これに限られず、これらの一部又は全部を専用ハードウェアとして構成してもよい。また、マイコン４３による処理の一部又は全部を専用ハードウェアによって実現してもよい。
【０２８５】
実施の形態１乃至５において、標準初期ストラテジーが予めメモリ部４４に格納される場合を一例として示したが、これに限られず、光ディスク装置１００及び２００が、マウントされた光ディスク１のディスク管理情報に記録された推奨ストラテジーを読み出し、それを標準初期ストラテジーとして調整を行うことも可能である。
【０２８６】
実施の形態１乃至５において、粗調整、微調整Ｉ、微調整ＩＩ、及びターゲットベータ調整での信号品質の指標としてジッタやシフト値を用いたが、これに限られず、信号品質指標としてエラーレートを用いることも可能である。
【０２８７】
実施の形態１乃至５において、信号品質を測定するための評価データとして光ディスク１にランダムデータを書き込む場合を一例として示したが、これに限られず、マーク長とスペース長の全ての組み合わせが記録可能なデータパターンを評価データとして利用することも可能である。
【０２８８】
実施の形態５において、ホストＰＣ５と光ディスク装置２００による記録ストラテジーの調整方法として図６の処理を行う場合を一例として示したが、これに限られず、例えば実施の形態２乃至４で示した図１８、図１９、図２０等の処理を行うことも可能である。
【符号の説明】
【０２８９】
１００、２００  光ディスク装置
１  光ディスク
２  スピンドルモータ
３  光ピックアップ
４、１４  信号処理ＬＳＩ
４１  ＡＦＥ
４２  信号品質測定回路
４３  マイコン
４３１  ＲＯＭ
４４  メモリ部
４５  位置制御回路
４６  レーザパルス制御回路
４７  モータ制御回路
４８  インターフェース回路
５  ホストＰＣ
６  ホストＰＣ用メモリ
Ｓ０１  モータ制御信号
Ｓ０２  位置制御信号
Ｓ０３  レーサパルス制御信号
Ｓ０４  電気信号
Ｓ０５  アナログ信号
Ｓ０６  測定結果情報
Ｓ０７  位置制御信号
Ｓ０８  レーザパルス制御信号
Ｓ０９  モータ制御信号
Ｓ１０  通信路
Ｓ１１  測定開始信号
２５０１〜２５０３  位相エラー
２５０５〜２５０７  ゼロクロス点
Ｍ０１  マークの前端エッジ
Ｍ０２  マークの後端エッジ
Ｍ０３  全体シフト値及び全体ジッタ
Ｍ０１０１  前方スペース・後方マークのシフト値
Ｍ０１０２  前方スペース・後方マークのジッタ
Ｍ０２０１  前方マーク・後方スペースのシフト値
Ｍ０２０２  前方マーク・後方スペースのジッタ
３０１  チャネルクロック信号
３０２  記録マーク
３０３  マルチパルス型の記録レーザパルス波形
３０４  キャッスル型の記録レーザパルス波形
Ｐｗ  ライトパワー
Ｐｍ  ミドルパワー
Ｔｌｄ  前端エッジシフト量
Ｔｔｒ２  後端エッジシフト量
Ｌｔ  ラストパルス幅
Ｍ０５０１  微調整Ｉ前の前方スペース・後方マークのシフト値
Ｍ０５０２  微調整Ｉ前の前方スペース・後方マークのジッタ
Ｊ０５０１  微調整Ｉ前の前方スペース６Ｔ・後方マーク５Ｔのシフト値
Ｊ０５０２  微調整Ｉ前の前方スペース６Ｔ・後方マーク５Ｔのジッタ
Ｍ０５１１  微調整Ｉ後の前方マーク・後方スペースのシフト値
Ｍ０５１２  微調整Ｉ後の前方マーク・後方スペースのジッタ
Ｊ０５１１  微調整Ｉ後の前方スペース６Ｔ・後方マーク５Ｔのシフト値
Ｊ０５１２  微調整Ｉ後の前方スペース６Ｔ・後方マーク５Ｔのジッタ
Ｍ０５０３  微調整Ｉ前の全体シフト値及び全体ジッタ
Ｍ０５１３  微調整Ｉ後の全体シフト値及び全体ジッタ
Ｍ０１０１  前方スペース・後方マークのシフト値
ＢＪ０１  全体ジッタ対ベータ特性の近似曲線
ＢＪ０２  ジッタ指標のベータマージン
ＢＪ０３  センタベータ
ＢＪ０４、ＢＪ０５  近似曲線ＢＪ０１とＪｔａｒｇｅｔとの交点
ＢＰ０１  ＰＩエラー対ベータ特性の近似曲線
ＢＰ０２  ＰＩ指標のベータマージン
ＢＰ０３  センタベータ
ＢＰ０４、ＢＰ０５  近似曲線ＢＰ０１とＪｔａｒｇｅｔとの交点
【図１】
2012185875.tif 000003
【図２】
2012185875.tif 000004
【図３】
2012185875.tif 000005
【図４】
2012185875.tif 000006
【図５】
2012185875.tif 000007
【図６】
2012185875.tif 000008
【図７】
2012185875.tif 000009
【図８】
2012185875.tif 000010
【図９】
2012185875.tif 000011
【図１０】
2012185875.tif 000012
【図１１】
2012185875.tif 000013
【図１２】
2012185875.tif 000014
【図１３】
2012185875.tif 000015
【図１４】
2012185875.tif 000016
【図１５】
2012185875.tif 000017
【図１６】
2012185875.tif 000018
【図１７】
2012185875.tif 000019
【図１８】
2012185875.tif 000020
【図１９】
2012185875.tif 000021
【図２０】
2012185875.tif 000022
【図２１】
2012185875.tif 000023
【図２２】
2012185875.tif 000024
【図２３】
2012185875.tif 000025
【図２４】
2012185875.tif 000026
【図２５】
2012185875.tif 000027
【図２６】
2012185875.tif 000028