(57)【要約】      （修正有）【課題】オブジェクト上の点がカメラの視野から隠れている場合でも、この点の座標を取得することができる測定システムを提供する。【解決手段】測定システムは、オブジェクトに対して位置決めされる任意の数のミラーユニットと、オブジェクト及び任意の数のミラーユニットの画像を生成する任意の数のカメラと、画像、オブジェクトに対する任意の数のカメラの複数の位置、画像内の任意の数の基準点、及び任意の数のミラーユニットの任意の数の位置を使用して、複数の点の複数の座標を特定する一の測定モジュールを備える。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
オブジェクトに対して位置決めされる任意の数のミラーユニットと、
オブジェクト上の複数の点をその中に有する、オブジェクト及び任意の数のミラーユニットの画像を生成する任意の数のカメラであって、オブジェクト上の複数の点の第１の部分が画像内においてオブジェクト上に見えており、オブジェクト上の複数の点の第２の部分が画像内において任意の数のミラーユニットの上に見えている任意の数のカメラと、
画像、オブジェクトに対する任意の数のカメラの複数の位置、画像内の任意の数の基準点、及び任意の数のミラーユニットの任意の数の位置を使用して、複数の点の複数の座標を特定する一の測定モジュールであって、オブジェクト上の複数の点の複数の座標が、オブジェクトの空間的に略正確なポイントクラウドを形成するために使用される、一の測定モジュールと
を備えた装置。
【請求項２】
複数の点の上に複数のマーカーを生成するレーザーデバイス
を更に備え、複数の点の上の複数のマーカーが画像内において可視である、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
任意の数のミラーユニットのうちの一のミラーユニットが、
第１の面を有するミラーと、
ミラーを取り囲み、且つ第２の面を有するフレームであって、第１の面が第２の面と略同一の面内に位置するようにミラーを保持し、任意の数の基準点の少なくとも一部が画像内においてフレーム上に位置するフレームと
を含む、請求項１に記載の装置。
【請求項４】
空間的に略正確なポイントクラウドに含まれる点が、オブジェクト上の複数の点のうちの対応する点と整列させると、オブジェクト上の複数の点のうちの対応する点と略同じ位置を有する、請求項１に記載の装置。
【請求項５】
測定モジュールが、空間的に略正確なポイントクラウドを使用してオブジェクトのモデルを生成するように構成されており、且つ
測定モジュールが、オブジェクトのモデルをオブジェクトの別のモデルと比較して、オブジェクトのモデルとオブジェクトの別のモデルとの任意の数の相違点を特定するように構成されている、
請求項４に記載の装置。
【請求項６】
オブジェクトの画像を生成するステップと、
画像内の任意の数の基準点を使用して、画像に基づいてオブジェクト表面上の複数の点の複数の座標を特定するステップであって、オブジェクト上の複数の点の第１の部分が画像内においてオブジェクト上に見えており、オブジェクト上の複数の点の第２の部分が画像内において任意の数のミラーユニット上に見えている、特定するステップと
を含む測定方法。
【請求項７】
レーザーデバイスを使用して、オブジェクト表面上の複数の点の上に複数のマーカーを生成するステップ
を更に含む、請求項６に記載の方法。
【請求項８】
生成するステップが、任意の数のカメラを使用して実行され、且つ
画像に基づいてオブジェクト表面上の複数の点の複数の座標を特定するステップが、
各々が、任意の数のカメラのうちの一のカメラと、任意の数のミラーユニットのうちの一のミラーユニット上の複数の点の第２の部分に含まれる一点の反射との間の見通し線である、任意の数のカメラの見通し線同士の交差点を特定することと、
交差点を、ミラーユニットの平面を基準として約１８０度回転させることにより、新規の点を形成することと、
新規の点の座標を特定することと
を含む、
請求項６に記載の方法。
【請求項９】
複数の点の複数の座標を使用して、オブジェクトの空間的に略正確なポイントクラウドを生成するステップであって、空間的に略正確なポイントクラウド中の点が、オブジェクト上の複数の点のうちの対応する点と整列させると、オブジェクト上の複数の点のうちの対応する点と略同じ位置を有する、生成するステップ
を更に含む、請求項６に記載の方法。
【請求項１０】
空間的に略正確なポイントクラウドを使用してオブジェクトのモデルを生成するステップと、
オブジェクトのモデルをオブジェクトの別のモデルと比較するステップと、
オブジェクトのモデルとオブジェクトの別のモデルとの任意の数の相違点を特定するステップと
を更に含む、請求項９に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【背景技術】
【０００１】
本発明は、概して測定に関し、具体的にはオブジェクトを測定することに関する。更に具体的には、本発明は、画像内のオブジェクトの座標を特定するための方法と装置に関する。
【０００２】
写真測量法は、三次元座標測定技術である。この技術は測定を行う媒体として写真を使用する。写真測量法では、三角測量を使用してオブジェクトの座標を特定する。少なくとも二つの異なる位置からオブジェクト上の点までのオブジェクトの画像が生成される。オブジェクト上の各点はオブジェクト上の一の位置である。これらの位置からオブジェクト上の点までの線は、見通し線又は射線とも呼ばれる。これらの見通し線を数学的に処理することにより、オブジェクト上の点の三次元座標を特定することができる。
【０００３】
写真測量法では、カメラシステムを使用して画像が生成される。典型的には、カメラシステムは、異なる位置に二つ以上のカメラを有している。これらのカメラは、オブジェクト上の点へ見通し線が特定される位置に配置される。カメラによって生成された画像により、三次元情報（例えば、点の三次元の位置）が特定される。
【０００４】
写真測量法における数学的処理には、画像中の点の三次元座標を特定するために三角測量を使用することが伴う。複数のカメラにより、空間内において一点に集まりうる複数の点までの見通し線が得られる。このような点を含むオブジェクトの画像により、各カメラからオブジェクト上の点までの見通し線が特定される。カメラの位置と照準の方向とが既知である場合、見通し線を使用して各点の三次元座標を特定することができる。
【０００５】
オブジェクト上の点の座標を特定するための画像の生成において、カメラシステムは、オブジェクト上の任意の点がオブジェクトの画像の生成時点でカメラシステムの両方のカメラから見えるように配置される。更に、追加の画像を生成して、測定の精度を上げるために使用することができる。
【０００６】
オブジェクト上の点がカメラシステムの視野から隠れているとき、これらの点の測定を行うことはできない。場合によっては、いずれの位置においても、カメラシステムからオブジェクト上の測定対象となるＰＯＩ（ｐｏｉｎｔ  ｏｆ  ｉｎｔｅｒｅｓｔ）の全てを見ることができない。
【０００７】
一の解決法では、カメラシステムを別の位置に移動させて、第１の位置の視野から隠れていた点の画像を生成する位置にカメラを配置する。この種のプロセスにより所望の点の座標を取得することができるが、カメラシステムを一の位置から別の位置に移動させるときに余分な時間と計算を要する。
【０００８】
したがって、上述の問題のうちの少なくとも一つ、並びにその他のありうる問題を解決する方法と装置を有することが有利である。
【発明の概要】
【０００９】
有利な一実施形態では、装置は、任意の数のミラーユニットと、任意の数のカメラと、一の測定モジュールとを備えている。任意の数のミラーユニットは、オブジェクトに対して位置決めされる。任意の数のカメラは、オブジェクトと、任意の数のミラーユニットとの画像であって、オブジェクト上の複数の点をその中に有する画像を生成する。オブジェクト上の複数の点の第１の部分は、画像内においてオブジェクト上に位置している。オブジェクト上の複数の点の第２の部分は、画像内において任意の数のミラーユニット上に見えている。測定モジュールは、画像、オブジェクトに対する任意の数のカメラの複数の位置、画像内の任意の数の基準点、及び任意の数のミラーユニットの任意の数の位置を使用して、複数の点の複数の座標を特定する。オブジェクト上の複数の点の複数の座標を使用して、オブジェクトの空間的にほぼ正確なポイントクラウドが形成される。
【００１０】
別の有利な実施形態では、測定を行うための方法が提供される。オブジェクトの画像が生成される。オブジェクト表面上の複数の点の複数の座標が、画像内の複数の基準点を使用して画像から特定される。オブジェクト上の複数の点の第１の部分は、画像内においてオブジェクト上に見ることができる。オブジェクト上の複数の点の第２の部分は、画像内において任意の数のミラーユニット上に見ることができる。
【００１１】
装置は、任意の数のミラーユニット、任意の数のカメラ、及び一の測定モジュールを備えている。任意の数のミラーユニットはオブジェクトに対して位置決めされる。任意の数のカメラは、オブジェクトと任意の数のミラーユニットとの画像を生成する。オブジェクト上の複数の点が画像内に存在する。測定モジュールは、画像内の任意の数の基準点を使用して複数の点の複数の座標を特定する。オブジェクト上の複数の点の第１の部分は、画像内においてオブジェクト上に見えている。オブジェクト上の複数の点の第２の部分は、画像内において任意の数のミラーユニット上に見えている。
【００１２】
本発明の機構、機能、利点は、種々の有利な実施形態において単独で達成可能であるか、又は他の有利な実施形態において組み合わせることができる。これらの実施形態の更に詳細な説明は、後述の説明と添付図面とに見ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
新規の機構と考えられる有利な実施形態の特徴が特許請求の範囲に規定される。しかしながら、有利な実施形態と、好ましい使用モード、更なる目的、及びその利点は、本発明の有利な実施形態に関する後述の詳細な説明を添付図面と併せて読むことにより最もよく理解されるであろう。
【００１４】
【図１】図１は、有利な一実施形態による航空機の製造及び保守方法を示している。
【図２】図２は、有利な一実施形態を実施可能な航空機を示している。
【図３】図３は、有利な一実施形態による測定環境を示している。
【図４】図４は、有利な一実施形態による測定環境を示している。
【図５】図５は、有利な一実施形態による隠れた点の測定法を示している。
【図６】図６は、有利な一実施形態によるミラーユニットを示している。
【図７】図７は、有利な一実施形態によるミラーユニットの断面図である。
【図８】図８は、有利な一実施形態による測定環境のポイントクラウドを示している。
【図９】図９は、有利な一実施形態によるオブジェクト測定プロセスのフロー図である。
【図１０】図１０は、有利な一実施形態によるオブジェクト上の隠れた点の座標を特定するためのプロセスのフロー図である。
【図１１】図１１は、有利な一実施形態によるデータ処理システムを示している。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
添付図面に更に詳細に示すように、本発明の実施形態は、図１に示される航空機の製造及び保守方法１００、及び図２に示される航空機２００の観点から説明することができる。図１には、有利な一実施形態による航空機の製造及び保守方法が図解されている。製造前の段階では、航空機の製造及び保守方法１００は、図２の航空機２００の仕様及び設計１０２と、材料調達１０４とを含むことができる。
【００１６】
製造段階では、図２の航空機２００のコンポーネント及びサブアセンブリの製造１０６と、システムインテグレーション１０８とが行われる。その後、図２の航空機２００は認可及び納品１１０を経て運航１１２される。顧客により運航１１２される間に、図２の航空機２００は定期的な整備及び保守１１４（改造、再構成、改修、及びその他の整備又は保守も含みうる）を受ける。
【００１７】
航空機の製造及び保守方法１００の各プロセスは、システムインテグレーター、第三者、及び／又はオペレータによって実施又は実行されうる。このような例では、オペレータは顧客である。本明細書の目的のために、システムインテグレーターは、限定しないが、任意の数の航空機製造者、及び主要システムの下請業者を含むことができ、第三者は、限定しないが、任意の数のベンダー、下請業者、及び供給業者を含むことができ、オペレータは、航空会社、リース会社、軍事団体、サービス機関などでありうる。
【００１８】
図２には、有利な実施形態を実施可能な航空機が図解されている。この実施例では、航空機２００は、図１の航空機製造及び保守方法１００によって製造されて、複数のシステム２０４と内装２０６とを有する機体２０２を含むことができる。システム２０４の例には、推進システム２０８、電気システム２１０、油圧システム２１２、及び環境システム２１４のうちの一又は複数が含まれる。任意の数の他のシステムが含まれてもよい。航空宇宙産業の実施例を示したが、種々の有利な実施形態を、自動車産業などの他の産業に適用することができる。
【００１９】
本明細書に具現化される装置及び方法は、図１の航空機の製造及び保守方法１００の少なくとも一つの段階で採用することができる。本明細書において、「少なくとも一つの」という語句がアイテムのリストと共に使用されるとき、列挙されたアイテムの一又は複数の様々な組み合わせが使用可能であり、且つリスト中のいずれかのアイテムが一つだけあればよいことを意味する。例えば、「アイテムＡ、アイテムＢ、及びアイテムＣのうちの少なくとも一つ」には、例えば、限定しないが、「アイテムＡ」、又は「アイテムＡとアイテムＢ」が含まれる。この例には、「アイテムＡとアイテムＢとアイテムＣ」、又は「アイテムＢとアイテムＣ」も含まれる。
【００２０】
一実施例では、図１のコンポーネント及びサブアセンブリの製造１０６において製造されるコンポーネント又はサブアセンブリは、航空機２００が図１の運航１１２段階にある間に製造されるコンポーネント又はサブアセンブリと同様の方法で作製又は製造することができる。これらのコンポーネントは、種々の有利な実施形態のうちの一又は複数を使用して測定することができる。また別の実施例では、任意の数の装置の実施形態、方法の実施形態、又はそれらの組み合わせをが、図１のコンポーネント及びサブアセンブリの製造１０６、及びシステムインテグレーション１０８といった製造段階において利用可能である。
【００２１】
アイテムに言及して「任意の数の」というとき、それは、「一又は複数の」アイテムを意味する。例えば、任意の数の装置の実施形態は、一又は複数の装置の実施形態でありうる。任意の数の装置の実施形態、方法の実施形態、又はそれらの組み合わせは、航空機２００が図１に示す運航１１２の段階、及び／又は整備及び保守１１４段階の間に利用することができる。任意の数の種々の有利な実施形態の使用は、航空機２００の組み付けを実質的に効率化する、及び／又は航空機２００の組み付けコストを削減することができる。
【００２２】
例えば、オブジェクト上の点の測定は、種々の有利な実施形態を使用して、これらの段階のうちの一又は複数の間に行うことができる。オブジェクトは、航空機２００、及び／又は航空機２００の任意のコンポーネントとすることができる。有利な実施形態は、三次元においてオブジェクト上の点の位置を特定するために使用することができる。種々の有利な実施形態を使用してこれらの点を特定することにより、オブジェクト上の点を測定することができる。例えば、一のオブジェクトについてポイントクラウドが生成される。次に、このポイントクラウドを使用して、オブジェクト上の種々の点が、所望の製造及び／又は試験パラメータ、公差、又はその他の所望の値に適合しているどうかが決定される。
【００２３】
種々の有利な実施形態は、一解決法が、部品及び／又はカメラシステムを様々な位置へ移動させることによりオブジェクト上の全ての点の画像を生成することであると認識し、考慮に入れている。しかしながら、この種の手順は、必要以上の時間及び／又は労力を要する。また別の解決法では、任意の数の測定プローブ及び／又はカメラシステムを部品の周囲で移動させることにより、オブジェクト上の点の測定値を生成する。この種の測定システムの使用にも、必要以上の時間、労力、及び演算を要する。
【００２４】
種々の有利な実施形態は、カメラシステムの移動を必要としない一解決法が、オブジェクトの画像を生成するときにミラーを使用することであることを認識し、考慮に入れている。例えば、ミラーは、カメラが視野から隠れた点を含む画像を生成できるような位置に配置することができる。即ち、種々の有利な実施形態は、ミラーによって生成される画像にカメラからの直線の見通し線を有さないオブジェクト上の点が含まれるように、ミラーを位置決めできることを認識し、考慮に入れている。
【００２５】
このように、有利な実施形態により、測定を行うための方法と装置とが提供される。測定を行う場合、オブジェクト上の点の座標が特定される。オブジェクト上のこれらの点の座標を特定することにより、オブジェクトの測定を行うことができる。これらの測定を使用して、オブジェクトが、オブジェクトの指針、或いは何らかの規則又は基準に適合しているかを決定することができる。
【００２６】
有利な一実施形態では、装置は、任意の数のミラーユニットと、任意の数のカメラと、一の測定モジュールとを備えている。任意の数のミラーユニットは、オブジェクトに対して位置決めされる。任意の数のカメラは、オブジェクトと、任意の数のミラーユニットとの画像であって、オブジェクト上の複数の点をその中に有する画像を生成する。複数の点の第１の部分が画像内においてオブジェクト上に見えているのに対し、複数の点の第２の部分は画像内では隠れている。複数の点の第２の部分は、画像内において任意の数のミラーユニット内に見ることができる。測定モジュールは、この画像と、任意の数のカメラの複数の位置と、任意の数のミラーユニットの任意の数の位置とを使用して、複数の点の位置を特定する。
【００２７】
図３は、有利な一実施形態による測定環境を図解している。この実施例では、測定環境３００は測定システム３０２を含んでいる。測定システム３０２は、オブジェクト３０４の測定を行うために使用される。このような実施例では、測定システム３０２は写真測量システム３０６の形態をとっている。
【００２８】
図示のように、写真測量システム３０６は、カメラシステム３０８、スキャナ３１０、及びミラーユニット３１２を備えている。カメラシステム３０８は、第１のカメラ３１４と第２のカメラ３１６とを含む。第１のカメラ３１４、第２のカメラ３１６、及びスキャナ３１０は、フレーム３１８に結合されている。
【００２９】
第１のコンポーネント（例えば第１のカメラ３１４）を、第２のコンポーネント（例えばフレーム３１８）に、固定する、接着する、締め付ける、及び／又は他の何らかの方法で接続することにより、第２のコンポーネントに結合することが考慮可能である。第１のコンポーネントは、任意の数の他のコンポーネントを使用して第２のコンポーネントに接続してもよい。第１のコンポーネントは、第２のコンポーネントの一部及び／又は延長部として形成することにより、第２のコンポーネントに結合してもよい。
【００３０】
このような実施例では、写真測量システム３０６は、オブジェクト３０４上の測定点３２０を測定するために使用される。スキャナ３１０は、測定対象であるオブジェクト３０４上の点３２０の位置にドット３１９を投射することができる。ドット３１９は、スキャナ３１０からのコヒーレント光を使用して形成されたドットである。ドット３１９は、写真測量システム３０６によって生成された画像内において、点３２０の位置を特定するために使用できるマーカーの一実施例にすぎない。
【００３１】
即ち、測定対象であるオブジェクト３０４上の点の各位置にドットが投射される。このようにして、ドット３１９により、オブジェクト３０４上の点３２０がカメラシステム３０８に見えるようになる。
【００３２】
このような実施例では、スキャナ３１０は、オブジェクト３０４上にドット３１９を投射するレーザー走査システムの形態をとることができる。
【００３３】
この実施例では、オブジェクト３０４は、オブジェクト３０４上の点３２０に関して、カメラ３０８の現在の位置３２１から可視である部分３２３と、隠れている部分３２２とを有している。例えば、オブジェクト３０４上の点３２０の可視部分３２３は、カメラシステム３０８が現在の位置３２１にあるときにこのカメラシステム３０８に対して可視である。即ち、カメラシステム３０８は、オブジェクト３０４上の点３２０の可視部分３２３に含まれる各点に対し、直接の見通し線を有している。このようにして、第１のカメラ３１４及び第２のカメラ３１６は共に、オブジェクト３０４上の点３２０の可視部分３２３を含む画像を生成することができる。
【００３４】
更に、オブジェクト３０４上の点３２０の隠れた部分３２２は、カメラシステム３０８が現在の位置３２１にあるときカメラシステム３０８からは隠れている。即ち、カメラシステム３０８は、オブジェクト３０４上の点３２０の隠れた部分３２２に含まれるいずれの点に対しても直接の見通し線を有さない。この実施例では、第１のカメラ３１４及び第２のカメラ３１６は共に、例えばカメラユニット３１２を使用することなく、オブジェクト３０４上の点３２０の隠れた部分３２２にドット３１９を示す画像を生成することはできない。
【００３５】
このような実施例では、ミラーユニット３１２は、画像にミラーユニット３１２が含まれるように位置決めされる。ミラーユニット３１２による画像には、第１のカメラ３１４及び第２のカメラ３１６により生成された画像では隠れているオブジェクト３０４上の点３２０の部分３２２の反射が含まれる。種々の実施例において、ミラーユニット３１２は、反射能を有する任意のオブジェクトとすることができる。即ち、ミラーユニット３１２は、第１のカメラ３１４及び第２のカメラ３１６によって生成された画像に捕獲されうるオブジェクト３０４を反射させることができる任意のオブジェクトとすることができる。
【００３６】
このようにすることで、オブジェクト３０４上の点３２０の隠れた部分３２２の画像を生成するために、カメラシステム３０８とスキャナ３１０とを有するフレーム３１８を移動又は再位置決めする必要がない。
【００３７】
このような実施例では、カメラシステム３０８によって生成された画像はコンピュータ３２４に送られる。次いで、コンピュータ３２４は、画像を解析してオブジェクト３０４上の点３２０の座標を特定することができる。更に、コンピュータ３２４は、オブジェクト３４０上の様々な点の座標を解析することにより、オブジェクト３０４の測定を行うことができる。
【００３８】
図４は、有利な一実施形態による測定環境の図解である。図３の測定環境３００は、図４の測定環境４００の一実装態様の一例である。この実施例では、測定環境４００は測定システム４０２を備えている。測定システム４０２はオブジェクト４０６の測定４０４を行う。具体的には、測定システム４０２は、オブジェクト４０６上の複数の点４０８の測定４０４を行う。
【００３９】
このような実施例では、複数の点４０８は、オブジェクト４０６の一表面４１０上に位置している。即ち、複数の点４０８の各点は、オブジェクト４０６の表面４１０上の特定の位置に位置している。
【００４０】
具体的には、測定システム４０２は写真測量システム４１２の形態をとる。この実施例では、写真測量システム４１２は、カメラシステム４１４と、ミラーシステム４１６と、測定モジュールとを備えている。カメラシステム４１４は任意の数のカメラ４２０から構成される。測定モジュール４１８は、ハードウェア４２４、ソフトウェア４２６、又はこれら二つの組み合わせの形態をとる。ミラーシステム４１６は任意の数のミラーユニット４２２から構成される。
【００４１】
このような実施例では、任意の数のカメラ４２０は、オブジェクト４０６の画像４３０を生成する。画像４３０は測定モジュール４１８に送られる。すると測定モジュール４１８は、オブジェクト４０６の表面４１０上の複数の点４０８の測定４０４値を生成する。
【００４２】
複数の点４０８は、任意の数の様々な方法で特定することができる。例えば、複数の点４０８は、複数のマーカー４３２を使用して特定することができる。複数のマーカー４３２は、複数の点４０８上に配置される可視マーカーである。このようにして、複数のマーカー４３２は、画像４３０内で複数の点４０８を可視化することができる。
【００４３】
このような実施例では、複数のマーカー４３２は、レーザーデバイス４３３を使用して複数の点４０８上に生成される。レーザーデバイス４３３は、レーザー投射システムとも呼ばれる。具体的には、レーザーデバイス４３３は、オブジェクト４０６の表面４１０上の複数の点４０８の上に、複数のマーカー４３２を投射する。例えば、レーザーデバイス４３３を使用して、オブジェクト４０６の表面４１０上の複数の点４０８の上に、ドットの形態の複数のマーカー４３２を投射することができる。
【００４４】
他の実施例では、複数のマーカー４３２は、塗料、ステッカー、オブジェクト、又はオブジェクト４０６の表面４１０上に配置可能な他の適切な種類のアイテムといった物理的マーカーとすることができる。このようにして、オブジェクト４０６の表面４１０上の複数の点４０８は、カメラシステム４１４によって生成される画像４３０内において見ることができる。
【００４５】
一実施例として、複数のマーカー４３２のうちの一のマーカー４３５を、オブジェクト４０６の表面４１０上の複数の点４０８のうちの一点４３４の上に投射することができる。点４３４上のマーカー４３５は、カメラシステム４１４によって生成される画像４３０内に存在する。
【００４６】
このような実施例では、任意の数のカメラ４２０は、オブジェクト４０６に対して複数の位置４４０を有しうる。例えば、任意の数のカメラ４２０が一のカメラであるとき、このカメラを使用して、複数の位置４４０のうちの一の位置からオブジェクト４０６の画像４３０のうちの一つを生成することができる。次いで、複数の位置４４０に含まれるこの位置から、複数の位置４４０のうちの別の位置へとカメラを移動させることにより、オブジェクト４０６の、画像４３０に含まれる別の画像を生成することができる。このようにして、複数の位置４４０に含まれる様々な位置にカメラを移動させることにより、画像４３０を生成することができる。
【００４７】
別の実施例として、カメラを複数の位置４４０のうちの一の位置に保持しながら、様々な位置へとオブジェクト４０６を移動させて画像４３０を生成する。例えば、オブジェクト４０６を、異なる位置へ回転させることができる、及び／又は一の位置から別の位置へ移動させることができる。このようにして、任意の数のカメラ４２０が一のカメラであるとき、カメラ及び／又はオブジェクト４０６を移動させると、このカメラはオブジェクト４０６に対して様々な位置を有する。
【００４８】
加えて、任意の数のカメラ４２０が複数のカメラであるとき、これら複数のカメラを複数の位置４４０に配置して、複数の位置４４０から画像４３０を生成することができる。このようにすることで、複数のカメラ４２０を様々な位置へと移動させることが不要となる。
【００４９】
このような実施例では、任意の数のカメラ４２０は、複数の位置４４０からオブジェクト４０６上の点４３４まで複数の見通し線４３６を有する。即ち、このような実施例では、複数の見通し線４３６の各々は、任意の数のカメラ４２０の複数の位置４４０のうちの一つから点４３４まで延びる直線である。
【００５０】
このような実施例では、オブジェクト４０６上の複数の位置４０８の第１の部分４４２は、画像４３０内においてオブジェクト４０６上に見ることができる。複数の点４０８の第１の部分４４２は、オブジェクト４０６上の任意の数の可視点４４４である。任意の数の可視点４４４には、オブジェクト４０６上の、任意の数のカメラ４２０の直接の視野内に位置する点が含まれる。即ち、任意の数のカメラ４２０の各々は、複数の位置４４０のうちの一つに位置するとき、オブジェクト４０６上の任意の数の可視点４４４までの直接の見通し線を有している。このようにして、任意の数の可視点４４４は、画像４３０内においてオブジェクト４０６上に見ることができる。
【００５１】
オブジェクト４０６上の複数の点４０８の第２の部分４４６は、画像４３０内において任意の数のミラーユニット４２２上に見ることができる。複数の点４０８の第２の部分４４６は、オブジェクト４０６上の任意の数の隠れた点４４８である。オブジェクト４０６上の任意の数の隠れた点４４８には、任意の数のカメラ４２０の直接の視野内に位置しない、オブジェクト４０６上の点が含まれる。即ち、複数の位置４４０のうちの一の位置にある任意の数のカメラ４２０のうちのいずれのカメラからも、任意の数の隠れた点４４８のうちのいずれかの隠れた点までの見通し線は存在しない。
【００５２】
このように、オブジェクト４０６上の任意の数の隠れた点４４８は、画像４３０内においてオブジェクト４０６上に見えない。しかしながら、オブジェクト４０６上の任意の数の隠れた点４４８は、画像４３０内における任意の数のミラーユニット４２２上に見ることができる。具体的には、任意の数の隠れた点４４８の任意の数の反射４５４は、任意の数のミラーユニット４２２上と、画像４３０内とに見ることができる。
【００５３】
即ち、複数の見通し線４３６は、任意の数のカメラ４２０の複数の位置４４０と、任意の数の可視点４４４との間にのみ存在する。複数の見通し線４３６は、存在しないか、又は任意の数のカメラ４２０の複数の位置４４０と任意の数の隠れた点４４８との間には存在しない。
【００５４】
その代わり、任意の数のミラーユニット４２２は、任意の数の隠れた点４４８が画像４３０内において見えるような任意の数の位置４５２を有することができる。例えば、任意の数のカメラ４２０によって生成された画像４３０は、任意の数のミラーユニット４２２を含んでいる。画像４３０内において、任意の数のミラーユニット４２２は任意の数の反射４５４を示す。このような実施例では、任意の数の反射４５４は任意の数の隠れた点４４８を示している。その結果、任意の数の隠れた点４４８は、画像４３０内において直接見ることができる。
【００５５】
このような実施例では、測定モジュール４１８はコンピュータシステム４５６の形態をとりうる。測定モジュール４１８は、オブジェクト４０６上の複数の点４０８の複数の座標４５８を特定する。測定モジュール４１８は、任意の数の可視点４４４に関する第１の数の座標４６０と、任意の数の隠れた点４４８に関する第２の数の座標４６２とを特定する。
【００５６】
実装態様に応じて、複数の座標４５８の特定は、カメラシステム４１４又は写真測量システム４１２内の他の何らかのコンポーネント４１２を移動させる必要なく実行することができる。
【００５７】
しかしながら、場合によっては、複数の点４０８の第３の部分４６３は、画像４３０内においてオブジェクト４０６上にも任意の数のミラーユニット４２２上にも見えない。このような場合に、オブジェクト４０６を移動及び／又は回転させて、オブジェクト４０６に対して任意の数のカメラ４２０の複数の位置４４４を変更することができる。オブジェクト４０６を移動及び／又は回転させることにより、任意の数のカメラ４２０によって生成された画像４３０内において、オブジェクト４０６及び任意の数のミラーユニット４２２の少なくとも一方の上に、複数の点４０８の第３の部分４６３を可視化することができる。
【００５８】
このようにして、オブジェクト４０６上の複数の点４０８の第３の部分４６３の複数の座標４５８に含まれる座標を更に特定することができる。その結果、オブジェクト４０６の表面４１０のほぼ全ての部分に複数の座標４５８が特定される。
【００５９】
このような実施例では、複数の座標４５８の各々は三次元座標である。複数の座標４５８は、デカルト座標系、極座標系、又はその他何らかの三次元座標系に基づいている。このような実施例では、ｘ、ｙ、及びｚの座標軸を有するデカルト座標系が使用される。
【００６０】
複数の座標４５８は、画像４３０内の任意の数の基準点４５５を使用して特定される。任意の数の基準点４５５により、任意の数の隠れた点４４８に関する第２の数の座標４６２を特定することができる。
【００６１】
具体的には、任意の数のミラーユニット４２２のうちの一のミラーユニットに関する任意の数の基準点を使用して、ミラーユニットを通る一平面に関する座標を特定することができる。即ち、任意の数の基準点４５５により、オブジェクト４０６に対する任意の数のミラーユニット４２２の位置を特定することができ、それにより、任意の数のミラーユニット４２２について、任意の数の反射４５４の中に見える任意の数の隠れた点４４８に関する第２の数の座標４６２が特定される。
【００６２】
場合によっては、ミラーユニットに関する任意の数の基準点４５５に含まれる基準点を使用して、ミラーユニットに関する平面を画定することができる。任意の数の基準点４５５には、任意の数のミラーユニット４２２上の点、任意の数のミラーユニット４２２周辺の構造体又はオブジェクト上の点、及び／又はその他適切な点が含まれる。
【００６３】
例えば、このような実施例では、任意の数の基準点４５５は、任意の数のミラーユニット４２２の任意の数のフレーム上に位置している。他の実施例では、任意の数の基準点４５５は、任意の数のミラーユニット４２２周辺の任意の数の構造体上に位置している。一実施例として、任意の数の基準点４５５に含まれる基準点が任意の数のミラーユニット４２２のうちの一のミラーユニット周辺の任意の数の構造体上に位置しているとき、この任意の数の構造体は、このミラーユニットに対する既知の位置を有している。即ち、ミラーユニットを通る平面に対する任意の数の構造体の位置が既知である。
【００６４】
このような実施例では、任意の数の基準点４５５は画像４３０内に見ることができる。例えば、一組のマーカー４６７を任意の数の基準点４５５上に配置することにより、任意の数の基準点４５５を画像４３０内で可視化することができる。
【００６５】
一組のマーカー４６７には、例えば、限定しないが、レーザーデバイス４３３により任意の数の基準点４５５の上に投射されたドット、任意の数のミラーユニットに適用されたテープ片、塗料、ツーリングボール、及び／又は画像４３０内で任意の数の基準点４５５を可視化するために使用できる他の適切な種類のマーカーが含まれる。場合によっては、レーザーデバイス４３３によってドットの形態で投射される複数のマーカー４３２は、一組のマーカー４６７を含む。このように、複数のマーカー４３２は、オブジェクト４０６上のマーカー、及び任意の数のミラーユニット４２２のマーカーを含みうる。
【００６６】
複数の座標４５８により、測定モジュール４１８は追加の測定を行うことができる。例えば、測定モジュール４１８は、複数の座標４５８を指針４６４と比較することができる。指針４６４には任意の数の規則４６６が含まれる。
【００６７】
加えて、指針４６４は、任意の数の規則４６６の適用に使用される任意の数のパラメータ４６８も含みうる。このような実施例では、測定モジュール４１８は、複数の座標４５８に指針４６４を適用する。任意の数の規則４６６は、例えば、限定しないが、複数の点４０８の位置の所望の範囲、複数の点４０８の選択された部分間の距離の所望の範囲、及び／又はその他適切な種類の規則である。
【００６８】
更に、測定モジュール４１８は、複数の点４０８の複数の座標４５８を使用してポイントクラウド４６９を形成することができる。ポイントクラウド４６９は、空間的にほぼ正確なポイントクラウド４６９でありうる。複数の座標４５８は、オブジェクト４０６の表面の座標系に含まれる一組の頂点を形成しうる。
【００６９】
ポイントクラウド４６９が空間的にほぼ正確である場合、ポイントクラウド４６９に含まれる点は、ポイントクラウド４６９に含まれる点をオブジェクト４０６上の複数の点４０８のうちの対応する点と整列させると、オブジェクト４０６上の複数の点４０８のうちの対応する点とほぼ同じ位置を有する。一実施例では、ポイントクラウド４６９に含まれる点は、複数の点４０８と重ね合わせることにより、オブジェクト４０６上の複数の点４０８のうちの対応する点と整列させることができる。
【００７０】
即ち、ポイントクラウド４６９をオブジェクト４０６上の複数の点４０８を覆うように配置するか、又は複数の点４０８の上に被せると、ポイントクラウド４６９に含まれる点は、複数の点４０８に含まれる点とほぼ同じ位置にある。このように、オブジェクト４０６のポイントクラウド４６９内の各点は、空間的にほぼ正確に、オブジェクト４０６上の複数の点４０８のうちの一点に対応する。
【００７１】
ポイントクラウド４６９により、オブジェクト４０６のモデル４７０を形成することができる。モデル４７０は、オブジェクト４０６の測定に使用することができる。例えば、指針４６４をモデル４７０に適用することができる。例えば、任意の数の規則４６６のうちの一の規則により、コンピュータを援用した設計モデル４７２を特定することができる。モデル４７０は、コンピュータを援用した設計モデル４７２と比較される。コンピュータを援用した設計モデル４７２とモデル４７０との相違点を特定して、オブジェクト４０６が指針４６４に適合するかどうかの判定に使用することができる。
【００７２】
図４の測定環境４００の図解は、物理的な限定又はアーキテクチャ的限定を意味するものではなく、種々の有利な実施形態を実施することができる。図示のコンポーネントに加えて、及び／又は図示のコンポーネントの代わりに、他のコンポーネントを使用してもよい。一部のコンポーネントは、幾つかの有利な実施形態では不要である。また、幾つかの機能的なコンポーネントを図示するために、ブロックが提示されている。このようなブロックの一又は複数は、他の有利な実施形態において実施されるとき、異なるブロックに統合及び／又は分割することができる。
【００７３】
例えば、種々の有利な実施形態を、オブジェクトの測定に関して記載したが、他の目的のために異なる有利な実施形態を使用することもできる。例えば、複数の点４０８について測定を行うことによりオブジェクト４０６の表面４１０に関して複数の座標４５８を特定したら、これらの座標を使用して、測定によりオブジェクト４０６が指針４６４に合うかどうかを判定すること以外の、他の目的のためのモデル４７０を作成することができる。
【００７４】
例えば、モデル４７０を使用してオブジェクト４０６から追加オブジェクトを生成することができる。即ち、オブジェクト４０６は、他のオブジェクトを作成するための物理的なモデルを形成することができる。別の実施例として、モデル４７０をアニメーションの作成に使用することができる。
【００７５】
このような実施例では、オブジェクト４０６は様々な形態をとることができる。例えば、限定しないが、オブジェクト４０６は図２の航空機２００、エンジン、翼、車輪、スパー、椅子、ツール、型、人、地面、又は他の何らかの適切な種類のオブジェクト４０６とすることができる。
【００７６】
図５は、有利な一実施形態による隠れた点の測定を図解している。この実施例では、図３の第１のカメラ３１４及び第２のカメラ３１６がオブジェクト３０４に対して位置決めされている。
【００７７】
オブジェクト３０４は表面５００を有している。ミラーユニット３１２は、第１のカメラ３１４及び第２のカメラ３１６から見たとき、オブジェクト３０４の背後に配置されている。この実施例では、第１のカメラ３１４及び第２のカメラ３１６は、第１の点５１０の座標を特定するために第１の点５１０の画像を生成する。
【００７８】
第１のカメラ３１４は、第１の点５１０までの第１の見通し線５１４を有し、第２のカメラ３１６は、第１の点５１０までの第１の見通し線５１６を有している。即ち、第１の点５１０は可視点である。
【００７９】
このような実施例では、第２の点５１８の座標を特定することも求められる。しかしながら、第１のカメラ３１４及び第２のカメラ３１６は、第２の点５１８までの見通し線を有さない。この実施例では、第１のカメラ３１４及び第２のカメラ３１６から第２の点５１８がミラーユニット３１２上の反射の中に見えるように、ミラーユニット３１２が位置決めされる。
【００８０】
この実施例では、第１のカメラ３１４は、第１のカメラ３１４からミラーユニット３１２上の点５２２までの第２の見通し線５２０を有しており、第２の点５１８の反射をミラーユニット３１２上に見ることができる。第２のカメラ３１６は、第２のカメラ３１６からミラーユニット３１２上の点５２５までの第２の見通し線５２４を有しており、第２の点５１８の反射をミラーユニット３１２上に見ることができる。
【００８１】
第１のカメラ３１４の第２の見通し線５２０と第２のカメラ３１６の第２の見通し線５２４との交差点５２３は、点５２６において生じる。この点５２６は、このような実施例においては三次元空間内の点である。このような実施例では、点５２６は、ミラーユニット３１２の平面５３０を基準として１８０度回転させることができる。即ち、点５２６を、ミラーユニット３１２の平面５３０を挟んで反転させることにより、点５２６と新規の点（図示しない）とを通る直線がミラーユニット３１２の平面５３０に対してほぼ垂直となるような新規の点（図示しない）が形成される。
【００８２】
ミラーユニット３１２の平面５３０を基準として１８０度回転させた点５２６の位置は、第２の点５１８の三次元座標とほぼ同じ三次元座標を有する。即ち、点５２６を回転させた後の位置は、第２の点５１８とほぼ同じ位置である。
【００８３】
このように、第１の点５１０及び第２の点５１８は、写真測量システム３０６のいずれのコンポーネントも移動又は再配置する必要なく、カメラシステム３０８によって生成された画像を使用して測定することができる。
【００８４】
図６は、有利な一実施形態によるミラーユニットを図解している。この実施例では、図３のミラーユニット３１２を示している。ミラーユニット３１２はミラー６００とフレーム６０２とを含む。
【００８５】
このような実施例では、ミラー６００は表面６０１を有し、表面６０１は反射面６０３である。具体的には、ミラー６００の反射面６０３は、ミラー６００の最も外側の表面である。即ち、反射面６０３の上又は上方に他の層が存在しない。例えば、ガラス、アクリル、及び／又はその他の材料からなる層が、ミラー６００のこの反射面６０３と環境との間に存在していない。ミラー６００がこの種の構成を有するとき、ミラー６００は表面鏡と呼ばれる。
【００８６】
言うまでもなく、他の実施例では、他の種類のミラー６００を使用することができる。例えば、ミラー６００の表面６０１は反射面でなくともよい。特に、表面６０１はガラス及び／又はコーティング材とすることができる。ミラー６００がこの種の構成を有するとき、ミラー６００は裏面鏡と呼ばれる。ミラー６００がこのような構成を有する場合、ミラー６００の表面６０１からミラー６００の反射材料を有する層までの厚みが特定され、図３のオブジェクト３０４上の点３２０の座標を特定する際に考慮される。
【００８７】
図示のように、フレーム６０２はミラー６００に結合されている。フレーム６０２は、ミラー６００を取り囲んでおり、ミラー６００を保持するように構成されている。この実施例では、フレーム６０２は第１の側６０４と第２の側６０６とを有する。フレーム６０２の第１の側６０４の表面６０８は、ミラー６００とほぼ同一表面内に位置するように構成されている。即ち、ミラー６００の表面６０１とフレーム６０２の第１の側６０４の表面６０８とは、ほぼ同一の平面（例えば、図５の平面５３０）内に位置している。
【００８８】
フレーム６０２を使用して、オブジェクト（例えば、図３及び図５のオブジェクト３０４）に対するミラー６００の位置を特定することができる。例えば、ドット３１９が図３及び図５のオブジェクト３０４上に投射されると同時に、図３のスキャナ３１０はフレーム６０２の表面６０８の上にドット３１９を投射する。このような実施例では、フレーム６０２の表面６０８上のドット３１９を使用して、三次元空間においてフレーム６０２を通る平面の位置を特定する。このように使用されるとき、フレーム６０２の表面６０８上のドット３１９は、生成される画像内においてフレーム６０２の表面６０８上の基準点を可視化する。
【００８９】
フレーム６０２の第１の側６０４の表面６０８とミラー６００の表面６０１とはほぼ同じ平面内に位置しているため、このようにすることでミラー６００の表面６０１の位置も特定される。ミラー６００は光を反射するので、ミラー６００の表面６０１上に投射されたドット３１９は、ミラー６００の位置を特定するために使用することはできない。
【００９０】
言うまでもなく、他の実施例では、他の技術を使用してミラー６００の表面６０１の位置を特定するための基準点を可視化することができる。例えば、フレーム６０２はミラーユニット３１２に含まれなくともよい。その代わり、ミラーユニット３１２は、ミラー６００と、ミラー６００上の任意の数のテープ片とを含むことができる。
【００９１】
テープ片は、ミラー６００上のテープ片の位置において光の反射を防ぐ。このようにして、テープ片の上に投射されたドット３１９は基準点となり、ミラー６００の表面６０１の位置を特定するために使用することができる。幾つかの実施例では、塗料、ラベル、タグ、及び／又はその他適切な種類のマーカーをミラー６００の基準点の上に配置することができる。
【００９２】
また別の実施例では、ツーリングボール上の基準点をミラー６００に使用することができる。ツーリングボール上に投射されたドット３１９は、基準点を可視化することができる。例えば、ミラー６００が位置する基部又は台からツーリングボールの中心までの、ツーリングボールの高さが既知である。具体的には、ツーリングボールの半径に沿ったこのような高さと、ツーリングボール上に投射されたドット３１９とを使用して、ミラーの表面６０１の位置を特定することができる。
【００９３】
このように、ミラー６００に接続又は装着された何らかのアイテムの寸法及び／又は座標が既知であるとき、このようなアイテムを使用して、ミラーの表面６０１の位置を特定するために、ミラー６００上の基準点の上にマーカーを付与することができる。
【００９４】
図７は、有利な一実施形態によるミラーユニット３１２の断面図を示している。この実施例では、ミラーユニット３１２の断面図は図６の線７−７に沿った図である。
【００９５】
図８は、有利な一実施形態による測定環境のポイントクラウドを図解している。この実施例では、ポイントクラウド８００は、図４のポイントクラウド４６９の一実装態様の一例である。ポイントクラウド８００は、測定モジュール（例えば、図３の測定環境にある図４の測定モジュール４１８）によって生成される。
【００９６】
図示されたこの実施例では、ポイントクラウド８００は、三次元座標系において、オブジェクト３０４の表面と、図３の測定環境３００内の他の機構とを表わす一組の頂点である。これらの他の機構には、カメラシステム３０８によって生成される画像内の、図３のオブジェクト３０４以外のあらゆる構造、オブジェクト、及び／又はその他コンポーネントが含まれる。
【００９７】
図示のように、ポイントクラウド８００には、円形の点８０２と矩形の点８０４とが含まれる。この実施例では、円形の点８０２は、図３のオブジェクト３０４上の点３２０の可視部分３２３について生成されている。円形の点８０２は、ポイントクラウド８００の三次元座標系において、図３のオブジェクト３０４上の点３２０の可視部分３２３の位置に対応する位置にある。
【００９８】
更に、矩形の点８０４は、図３のオブジェクト３０４上の点３２０の隠れた部分３２２について生成されている。矩形の点８０４の一部は、ポイントクラウド８００内において第１組の点８０６を形成している。ポイントクラウド８００内の第１組の点８０６は、三次元座標系において、第１のカメラ３１４の第２の見通し線と、第２のカメラ３１６の第２の見通し線との交差点に対応する位置にある。第１のカメラ３１４の第２の見通し線は、第１のカメラ３１４と、オブジェクト３０４上の点３２０の隠れた部分３２２の反射がミラーユニット３１２上に見える点との間の見通し線である。第２のカメラ３１６の第２の見通し線は、第２のカメラ３１６と、オブジェクト３０４上の点３２０の隠れた部分３２２の反射がミラーユニット３１２上に見える点との間の見通し線である。
【００９９】
一実施例として、第１組の点８０６に含まれる矩形の点８１０は、ポイントクラウド８００内において、図５の点５２６の位置に対応する位置にある。即ち、この矩形の点８１０は、図５の第１のカメラ３１４の第２の見通し線５２０と、図５の第２のカメラ３１６の第２の見通し線との交差点に位置している。
【０１００】
この実施例では、ライン８１２によって形成された平面は、図５のミラーユニット３１２の平面５３０を表わしている。ポイントクラウド８００内の第２組の点８１４は、ライン８１２によって形成された平面を基準として第１組の点８０６を約１８０度回転させることにより形成されている。第２組の点８１４は、ポイントクラウド８００の三次元座標系において、図３のオブジェクト３０４上の点３２０の隠れた部分３２２の位置に対応する位置にある。
【０１０１】
このように、図３のオブジェクト３０４上の点３２０の可視部分３２３及び隠れた部分３２２の両方について、三次元座標が生成される。
【０１０２】
図９は、有利な一実施形態によりオブジェクトの測定を行うプロセスのフロー図である。図９に示されるプロセスは、図４の測定システム４０２を使用して実施することができる。
【０１０３】
このプロセスは、カメラシステム４１４の任意の数のカメラ４２０を、オブジェクト４０６に対して複数の位置４４０に配置することにより開始される（工程９００）。カメラシステム４１４は測定システム４０２の一部であり、このような実施例においてこの測定システムは写真測量システム４１２である。この実施例では、任意の数のカメラ４２０は二つのカメラである。しかしながら、他の実施例では、任意の数のカメラ４２０は、一つ、三つ、又はその他何らかの適切な数のカメラとすることができる。
【０１０４】
オブジェクト４０６の表面４１０の複数の点４０８の第１の部分４４２は、カメラシステム４１４から見ることができる。複数の点４０８のうちのこの第１の部分４４２は、任意の数の可視点４４４である。カメラシステム４１４によって生成されたオブジェクト４０６の画像４３０には、任意の数の可視点４４４が含まれている。
【０１０５】
その後、任意の数のミラーユニット４２２を、オブジェクト４０６に対して任意の数の位置４５２に配置する（工程９０２）。この実施例では、オブジェクト４０６に対して一のミラーユニットが配置される。任意の数のミラーユニット４２２の任意の数の位置４５２は、オブジェクト４０６の表面４１０上の複数の点４０８のうちの、カメラシステム４１４からは見えない第２の部分４４６が、任意の数のミラーユニット４２２上に、カメラシステム４１４によって生成された画像４３０内に見える任意の数の反射４５４を有するように、選択される。オブジェクト４０６の表面４１０上の複数の点４０８のうちの、カメラシステム４１４からは見えないこの第２の部分４４６は、任意の数の隠れた点４４８である。
【０１０６】
次に、複数のマーカー４３２を、レーザーデバイス４３３を使用してオブジェクト４０６の表面４１０上の複数の点４０８の上に投射する（工程９０４）。この実施例では、複数のマーカー４３２はドット（例えば、図３のドット３１９）である。次いで、カメラシステム４１４はオブジェクト４０６の画像４３０を生成する（工程９０６）。このような画像４３０は、任意の数の可視点４４４と、任意の数のミラーユニット４２２上の任意の数の隠れた点４４８の任意の数の反射４５４とを含んでいる。
【０１０７】
測定モジュール４１８は、画像４３０に基づいて、オブジェクト４０６の表面４１０上の複数の点４０８の複数の座標４５８を特定する（工程９０８）。オブジェクト４０６の表面４１０上の任意の数の可視点４４４、及びオブジェクト４０６の表面４１０上の任意の数の隠れた点４４８の両方について、複数の座標が特定される。この実施例では、複数の座標はデカルト座標系に基づく三次元座標である。
【０１０８】
工程９０８は、任意の数のミラーユニット４２２の任意の数の基準点４５５を使用して実行される。任意の数の基準点４５５は画像４３０において可視である。
【０１０９】
その後、測定モジュール４１８は、オブジェクト４０６上の複数の点４０８について特定された複数の座標４５８に指針４６４を適用する（工程９１０）。工程９１０では、測定モジュール４１８は、複数の座標４５８を、任意の数の規則４６６、及び／又は指針４６４において指定された判定基準と比較する。
【０１１０】
測定モジュール４１８は、次いで、複数の座標４５８と指針４６４との比較に基づいてオブジェクト４０６の測定４０４を行い（工程９１２）、その後プロセスは終了する。このような測定４０４には、例えば、オブジェクト４０６が公差内で指針４６４に適合しているか否か、オブジェクト４０６上の複数の点４０８の位置はオブジェクト４０６上の複数の点４０８の所望の範囲にどの程度近いか、及び／又はその他適切な種類の測定が含まれる。
【０１１１】
図１０は、有利な一実施形態によりオブジェクト上の隠れた点の座標を特定するプロセスのフロー図である。図１０に示されるプロセスを使用して図９の工程９０８を実施することにより、オブジェクト４０６の表面４１０上の複数の点４０８の座標を特定することができる。更に、このプロセスは、図４の測定モジュール４１８を使用して実施することができる。
【０１１２】
このプロセスは、任意の数のカメラ４２０の各々によって生成された画像４３０中において、任意の数のミラーユニット４２２のうちの一のミラーユニット上の、任意の数の隠れた点４４８のうちの一の隠れた点の、任意の数の反射４５４のうちの一の反射を特定することにより開始される（工程１０００）。
【０１１３】
このプロセスでは、任意の数のカメラ４２０の各々と、ミラーユニット上の隠れた点に対応する反射との間の見通し線を特定する（工程１００２）。一実施例として、工程１００２において特定された見通し線は、例えば、図５におけるカメラ３１４の第２の見通し線５２０と、カメラ３１６の第２の見通し線５２４でありうる。工程１００２は、任意の数のカメラ４２０の複数の位置４４０と、ミラーユニットの任意の数の位置４５２のうちの該当位置との特定に基づいて実行される。
【０１１４】
次に、このプロセスでは、任意の数のカメラ４２０とミラーユニット上の隠れた点に対応する反射との間の見通し線同士の交差点を特定する（工程１００４）。このような交差点は、例えば、図５の交差点５２３である。
【０１１５】
次に、このプロセスでは、ミラーユニットを通る平面を基準として、見通し線が交差する点を約１８０度回転させることにより、新規の点を形成する（工程１００６）。この交差点は、例えば、図５の点５２６である。
【０１１６】
その後、このプロセスでは、新規の点の座標を特定し（工程１００８）、その後プロセスは終了する。新規の点の座標は、オブジェクト４０６上の隠れた点の位置に対応する。即ち、工程１００８では、プロセスは、オブジェクト４０６の表面４１０上の隠れた点の座標を特定する。
【０１１７】
図示された種々の実施形態のフロー図及びブロック図は、種々の有利な実施形態における装置及び方法に可能な幾つかの実装態様のアーキテクチャ、機能性、及び工程を説明している。これに関して、フロー図又はブロック図の各ブロックは、一の工程又はステップの、モジュール、セグメント、機能、及び／又は一部分を表わしている。例えば、ブロックの一又は複数は、ハードウェアにおいてプログラムコードとして実施できるか、又はプログラムコードとハードウェアとの組み合わせとして実施できる。ハードウェアにおいて実施されるとき、ハードウェアは、例えば、フロー図又はブロック図における一又は複数の工程を実行するように製造又は構成された集積回路の形態をとることができる。
【０１１８】
他の幾つかの実装態様では、ブロックに記された一又は複数の機能は、図示の順序で生じなくともよい。例えば、場合によっては、関連する機能性に応じて、連続して示された二つのブロックをほぼ同時に実行してもよく、或いはこれらのブロックを逆の順序で実行してよい場合もある。また、フロー図又はブロック図に示されたブロックに加えて、他のブロックを追加することができる。
【０１１９】
例えば、幾つかの実施例では、図９の工程９００に使用される任意の数のカメラ４２０を一のカメラとすることができる。カメラを一つだけ使用するとき、図９の工程９００は、工程９０４の後で工程９０６と一緒に実行される。例えば、工程９０４の後で、工程９００においてカメラを複数の位置４４０のうちの一の位置に配置し、次いで工程９０６においてオブジェクト４０６の画像４３０のうちの一の画像を生成することができる。その後、複数の位置４４０の別の位置にカメラを移動させて、オブジェクト４０６の別の画像を生成することができる。
【０１２０】
このようにして、図９の工程９００及び９０６において、複数の位置４４０に含まれる様々な位置へカメラを移動させることにより、オブジェクトの画像４３０を生成することができる。
【０１２１】
このように、種々の有利な実施形態により、オブジェクト４０６の測定を行うための方法と装置が提供される。有利な一実施形態では、装置は、任意の数のミラーユニット４２２と、任意の数のカメラ４２０と、一の測定モジュール４１８とを備えている。任意の数のミラーユニット４２２は、オブジェクト４０６に対して位置決めされる。任意の数のカメラ４２０は、オブジェクト４０６と、任意の数のミラーユニット４２２との画像４３０であって、オブジェクト４０６上の複数の点４０８をその中に有する画像４３０を生成する。
【０１２２】
オブジェクト４０６上において、複数の点４０８の第１の部分４４２は、任意の数のカメラ４２０から見ることができる。複数の点４０８の第２の部分４４６は、任意の数のカメラ４２０からは隠れている。複数の点４０８の第２の部分４４６の任意の数の反射４５４は、画像４３０内において任意の数のミラーユニット４２２上に見ることができる。測定モジュール４１８は、画像４３０、オブジェクト４０６に対する任意の数のカメラ４２０の複数の位置４４０、及び任意の数のミラーユニット４２２の任意の数の位置４５２を使用して、複数の点４０８の複数の座標４５８を特定する。
【０１２３】
このようにして、種々の有利な実施形態により、オブジェクト４０６の画像４３０を生成するカメラシステム４１４を移動させる必要なく、又は測定システム４０２のその他いかなるコンポーネントも移動させる必要なく、オブジェクト４０６の表面４１０上の任意の数の可視点４４４及び任意の数の隠れた点４４８の両方の複数の座標４５８特定する測定システム４０２が提供される。この種の測定システム４０２は、オブジェクトの測定に必要な全体の時間と労力とを低減させる。
【０１２４】
図１１は、有利な一実施形態によるデータ処理システムを図解している。この実施例では、データ処理システム１１００は、図４のコンピュータシステム４５６の実装に使用できる。図示のように、データ処理システム１１００は通信ファブリック１１０２を含み、この通信ファブリックは、プロセッサユニット１１０４、メモリ１１０６、固定記憶域１１０８、通信ユニット１１１０、入力／出力（Ｉ／Ｏ）ユニット１１１２、及びディスプレイ１１１４の間の通信を行う。
【０１２５】
プロセッサユニット１１０４は、メモリ１１０６にローディング可能なソフトウェアに関する命令を実行する。このプロセッサユニット１１０４は、特定の実装態様に応じて、任意の数のプロセッサ、マルチプロセッサコア、又は他の何らかの種類のプロセッサとすることができる。あるアイテムに関して本明細書で「任意の数の」という場合、一又は複数のアイテムを意味する。更に、プロセッサユニット１１０４は、単一のチップ上に一次プロセッサと二次プロセッサとが共存する任意の数の異種プロセッサシステムを使用して実装してもよい。
【０１２６】
メモリ１１０６及び固定記憶域１１０８は、記憶装置１１１６の実施例である。記憶装置は、例えば、限定しないが、一時的及び／又は恒久的な性質の、データ、機能的な形態のプログラムコード、及び／又はその他適切な情報といった情報を記憶することができる何らかのハードウェア部分である。このような実施例では、記憶装置１１１６は、コンピュータで読み取り可能な記憶装置と呼ぶこともできる。このような実施例のメモリ１１０６は、例えば、ランダムアクセスメモリか、或いは、揮発性又は不揮発性のその他の適切な記憶装置である。固定記憶域１１０８は、特定の実装態様に応じて種々の形態をとることができる。
【０１２７】
例えば、固定記憶域１１０８は、一又は複数のコンポーネント又はデバイスを含むことができる。例えば、固定記憶域１１０８は、ハードドライブ、フラッシュメモリ、再書き込み可能な光ディスク、再書き込み可能な磁気テープ、又はそれらの何らかの組み合わせである。固定記憶域１１０８によって使用される媒体は取り外し可能なものでもよい。例えば、取り外し可能なハードドライブを固定記憶域１１０８として使用することができる。
【０１２８】
このような実施例では、通信ユニット１１１０は、他のデータ処理システム又はデバイスと通信を行う。このような実施例では、通信ユニット１１１０はネットワークインターフェースカードである。通信ユニット１１１０は、物理的通信リンク及び無線通信リンクの一方又は両方を使用して通信を行なうことができる。
【０１２９】
入力／出力ユニット１１１２は、データ処理システム１１００に接続される他のデバイスとのデータの入出力を可能にする。例えば、入力／出力ユニット１１１２は、キーボード、マウス、及び／又はその他何らかの適切な入力デバイスによるユーザ入力のための接続部となる。ディスプレイ１１１４は、ユーザに対して情報を表示する機構となる。
【０１３０】
オペレーティングシステム、アプリケーション、及び／又はプログラムのための命令は、通信ファブリック１１０２によってプロセッサユニット１１０４と通信する記憶装置１１１６に位置させることができる。このような実施例では、命令は、固定記憶域１１０８において機能的な形態を有している。このような命令はメモリ１１０６にローディングしてプロセッサユニット１１０４により実行することができる。種々の有利な実施形態のプロセッサは、コンピュータで実施される命令を使用してプロセッサ１１０４によって実行される。このような命令はメモリ（例えば、メモリ１１０６）に位置させることができる。
【０１３１】
このような命令は、プログラムコード、コンピュータで使用可能なプログラムコード、又はコンピュータで読み取り可能なプログラムコードと呼ばれ、プロセッサユニット１１０４内のプロセッサによって読み取られて実行される。種々の有利な実施形態のプログラムコードは、メモリ１１０６又は固定記憶域１１０８などの、異なる物理的記憶媒体又はコンピュータで読み取り可能な記憶媒体上において具現化されてもよい。
【０１３２】
プログラムコード１１１８は、選択的に取り外すことが可能なコンピュータで読み取り可能な媒体１１２０上に機能的な形態で位置させ、データ処理システム１１００にローディング又は転送して、プロセッサユニット１１０４によって実行される。このような実施例では、プログラムコード１１１８及びコンピュータで読み取り可能な媒体１１２０は、コンピュータプログラム製品１１２２を形成する。一実施例では、コンピュータで読み取り可能な媒体１１２０は、コンピュータで読み取り可能な媒体１１２４、又はコンピュータで読み取り可能な信号媒体１１２６である。コンピュータで読み取り可能な記憶媒体１１２４には、例えば、ドライブ、又は記憶装置への転送のための固定記憶域１１０８の一部であるその他のデバイス（例えば、固定記憶域１１０８の一部であるハードドライブ）内に挿入、又は配置される光ディスク又は磁気ディスクが含まれる。コンピュータで読み取り可能な記憶媒体１１２４は、データ処理システム１１００に接続されるハードドライブ、サムドライブ、又はフラッシュメモリといった固定記憶域の形態をとることもできる。
【０１３３】
或いは、プログラムコード１１１８は、コンピュータで読み取り可能な信号媒体１１２６を使用して、データ処理システム１１００に転送される。コンピュータで読み取り可能な信号媒体１１２６は、例えば、プログラムコード１１１８を含む伝播データ信号である。例えば、コンピュータで読み取り可能な信号媒体１１２６は、電磁信号、光信号、及び／又はその他何らかの適切な種類の信号である。このような信号は、無線通信リンク、光ファイバケーブル、同軸ケーブル、ワイヤ、及び／又はその他何らかの適切な種類の通信リンクといった通信リンクを介して転送されうる。
【０１３４】
データ処理システム１１００について図示された種々のコンポーネントは、アーキテクチャ的な限定を行うことを意図しておらず、他の有利な実施形態が実施可能である。データ処理システム１１００について図示されたコンポーネント以外のコンポーネント、又はこれらのコンポーネントの代わりとなるコンポーネントを含むデータ処理システムにおいて、他の有利な実施形態を実施することができる。
【０１３５】
図１１に示される他のコンポーネントは、図示の実施例から変更することができる。プログラムコードを実行できる任意のハードウェアデバイス又はシステムを使用して、種々の実施形態を実施することができる。一実施例として、データ処理システムは、無機のコンポーネントと統合させた有機コンポーネントを含むことができる、及び／又は全体を、人を除く有機のコンポーネントから構成することができる。例えば、記憶装置は、有機半導体から構成することができる。
【０１３６】
別の実施例では、プロセッサユニット１１０４は、特定の用途向けに製造又は構成された回路を有するハードウェアユニットの形態をとることができる。この種のハードウェアは、工程を実行するように構成された記憶装置からメモリへとプログラムコードをローディングする必要なく、工程を実行することができる。
【０１３７】
例えば、プロセッサユニット１１０４がハードウェアユニットの形態をとるとき、プロセッサユニット１１０４は、回路システム、特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）、プログラマブルロジックデバイス、或いは任意の数の工程を実行するように構成された他の何らかの種類のハードウェアとすることができる。プログラマブルロジックデバイスの場合、このデバイスは任意の数の工程を実行するように構成される。デバイスは、後で再構成してもよく、又は任意の数の工程を実行するように恒久的に構成してもよい。
【０１３８】
プログラマブルロジックデバイスの実施例には、例えば、プログラマブルロジックアレイ、プログラマブルアレイロジック、フィールドプログラマブルロジックアレイ、フィールドプログラマブルゲートアレイ、及びその他の適切なハードウェアデバイスが含まれる。この種の実施形態では、種々の有利な実施形態のプロセスはハードウェアユニットにおいて実施されるため、プログラムコード１１１８を省略することができる。
【０１３９】
また別の実施例では、プロセッサユニット１１０４は、コンピュータ及びハードウェアユニットに見られるプロセッサの組み合わせを使用して実施することができる。プロセッサユニット１１０４は、プログラムコード１１１８を実行するように構成された任意の数のプロセッサと任意の数のハードウェアユニットとを有することができる。図示されたこの実施例では、プロセッサの一部を任意の数のハードウェアユニットで、他の一部を任意の数のプロセッサで、それぞれ実装することができる。
【０１４０】
別の実施例では、バスシステムは、通信ファブリック１１０２を実装するために使用することができ、システムバス又は入力／出力バスといった一又は複数のバスから構成することができる。言うまでもなく、バスシステムは、このバスシステムに取り付けられた種々のコンポーネント又はデバイス間でデータの伝送を行う任意の適切な種類のアーキテクチャを使用して実装することができる。
【０１４１】
上述の実施形態において記載される装置は、オブジェクトに対して位置決めされる任意の数のミラーユニットと、オブジェクト及び任意の数のミラーユニットの、オブジェクト上の複数の点をその中に有する画像を生成する任意の数のカメラであって、オブジェクト上の複数の点の第１の部分が画像内のオブジェクト上に見えており、オブジェクト上の複数の点の第２の部分が画像内の任意の数のミラーユニット上に見えているカメラと、画像、オブジェクトに対する任意の数のカメラの複数の位置、画像内の任意の数の基準点、及び任意の数のミラーユニットの任意の数の位置を使用して複数の点の複数の座標を特定する一の測定モジュールであって、オブジェクト上の複数の点のこれらの複数の座標を使用して、オブジェクトの空間的にほぼ正確なポイントクラウドが形成される測定モジュールとを含んでいる。
【０１４２】
幾つかの実施形態では、このような装置は、複数の点の上に複数のマーカーを生成するレーザーデバイスを含み、このような複数の点の上の複数のマーカーは画像内で可視である。
【０１４３】
幾つかの実施形態では、任意の数のミラーユニットのうちの一のミラーユニットは、第１の面を有するミラーと、ミラーを取り囲み、且つ第２の面を有するフレームとを含み、このフレームは、第１の面が第２の面とほぼ同一平面内に位置するようにミラーを保持し、また任意の数の基準点の少なくとも一部が画像内でフレーム上に位置する。
【０１４４】
画像を使用した複数の点の複数の座標の特定において、測定モジュールは、各々が、任意の数のカメラのうちの一のカメラと、任意の数のミラーユニットのうちの一のミラーユニット上の複数の点の第２の部分に含まれる一点の反射との間の見通し線である任意の数のカメラの見通し線同士の交差点を特定し、この交差点を、ミラーユニットの平面を基準として約１８０度回転させることにより新規の点を形成し、そしてこの新規の点の座標を特定する。
【０１４５】
上述のように、幾つかの実施形態では、測定モジュールは、複数の点の複数の座標に指針を適用する。特定の実施形態では、空間的にほぼ正確なポイントクラウド中の点は、オブジェクト上の複数の点のうちの対応する点と整列させると、オブジェクト上の複数の点のうちの対応する点とほぼ同じ位置を有する。幾つかの実施形態では、測定モジュールは、空間的にほぼ正確なポイントクラウドを使用してオブジェクトのモデルを生成し、特定の実施形態では、測定モジュールは、オブジェクトのモデルをオブジェクトの別のモデルと比較し、オブジェクトのモデルとオブジェクトの別のモデルとの任意の数の相違点を特定する。
【０１４６】
特定の装置の実施形態では、任意の数のカメラのうちの一のカメラについて、このカメラと、複数の点の第２の部分に含まれる一点との間に見通し線が存在しない。更に、複数の点の第１の部分は任意の数の可視点であり、複数の点の第２の部分は任意の数の隠れた点であって、任意の数の隠れた点は任意の数のカメラの直接の視野からは隠れている。
【０１４７】
上記の記載により、更に測定方法が提供され、この方法は、オブジェクトの画像を生成することと、画像内の任意の数の基準点を使用して、画像に基づいて、オブジェクト表面上の複数の点の複数の座標を特定することとを含み、オブジェクト上の複数の点の第１の部分は、画像内においてオブジェクト上に見ることができ、オブジェクト上の複数の点の第２の部分は、画像内において任意の数のミラーユニット上に見ることができる。
【０１４８】
この方法は、更に、レーザーデバイスを使用して、オブジェクト表面上の複数の点の上に複数のマーカーを生成することを含むことができる。この方法の特定の実施形態では、生成するステップは任意の数のカメラを使用して実行され、画像に基づいてオブジェクト表面上の複数の点の複数の座標を特定するステップは、各々が、任意の数のカメラのうちの一のカメラと、任意の数のミラーユニットのうちの一のミラーユニット上の複数の点の第２の部分に含まれる一点の反射との間の見通し線である任意の数のカメラの見通し線同士の交差点を特定することと、この交差点を、ミラーユニットの平面を基準として約１８０度回転させることにより新規の点を形成することと、この新規の点の座標を特定することとを含む。
【０１４９】
この方法は、更に、複数の点の複数の座標を使用して、空間的にほぼ正確な、オブジェクトのポイントクラウドを生成することを含み、空間的にほぼ正確なオブジェクトのポイントクラウド中の点は、オブジェクト上の複数の点のうちの対応する点と整列させると、オブジェクト上の複数の点のうちの対応する点とほぼ同じ位置を有しうる。加えて、このような一実施形態は、更に、空間的にほぼ正確なポイントクラウドを使用してオブジェクトのモデルを生成することと、このオブジェクトのモデルを、オブジェクトの別のモデルと比較することと、オブジェクトのモデルとオブジェクトの別のモデルとの任意の数の相違点を特定することとを含むことができる。
【０１５０】
特定の一実施形態では、本方法は、複数の点の第２の部分が画像内において任意の数のミラーユニット上に見えるように、任意の数の位置に任意の数のミラーユニットを配置することを含み、任意の数のミラーユニットのうちの一のミラーユニットは、第１の面を有するミラーと、ミラーを取り囲み、且つ第２の面を有するフレームとを含んでおり、このフレームは、第１の面が第２の面とほぼ同じ平面内に位置するようにミラーを保持するように構成されており、且つ任意の数の基準点のうちの少なくとも一部は画像内においてフレーム上に位置している。
【０１５１】
本方法の特定の一実施形態では、生成するステップは任意の数のカメラを使用して実行され、任意の数のカメラのうちの一のカメラについて、このカメラと、複数の点の第２の部分に含まれる一点との間に見通し線が存在しない。
【０１５２】
本方法の一実施形態では、複数の点の第１の部分は任意の数の可視点であり、複数の点の第２の部分は任意の数の隠れた点であり、任意の数の隠れた点は、オブジェクトの画像を生成するように構成された任意の数のカメラの直接の視野から隠れている。
【０１５３】
一実施形態において記載される別の構成の装置は、オブジェクトに対して位置決めされる任意の数のミラーユニットと、オブジェクト及び任意の数のミラーユニットの画像であって、オブジェクト上の複数の点をその中に有する画像を生成する任意の数のカメラと、画像内の任意の数の基準点、画像内においてオブジェクト上に見えるオブジェクト上の複数の点の第１の部分、及び画像内において任意の数のミラーユニット上に見えるオブジェクト上の複数の点の第２の部分を使用して、複数の点の複数の座標を特定する一の測定モジュールとを含んでいる。
【０１５４】
種々の有利な実施形態の記載は、例示及び説明を目的として提示されたのであって、包括的なものであること、又は有利な実施形態を開示された形態に限定することを意図していない。当業者には、多数の修正及び変形例が明らかであろう。更に、種々の有利な実施形態は、他の有利な実施形態とは異なる利点を提供しうる。選択された一又は複数の有利な実施形態は、有利な実施形態と実用的な用途を最もよく説明するために、及び他の当業者が、考慮される特定の用途に適した様々な修正と共に種々の実施形態の開示内容を理解できるように、選ばれて記載されている。
【符号の説明】
【０１５５】
２００    航空機
２０２    機体
２０４    システム
２０６    内装
２０８    推進システム
２１０    電気システム
２１２    油圧システム
２１４    環境システム
３００    測定環境
３０２    測定システム
３０４    オブジェクト
３０６    写真測量システム
３０８    カメラシステム
３１０    スキャナ
３１２    ミラーユニット
３１４    第１のカメラユニット
３１６    第２のカメラユニット
３１８    フレーム
３１９    ドット
３２０    オブジェクト上の点
３２１    カメラシステムの現在の位置
３２２    点の隠れた部分
３２３    点の可視部分
３２４    コンピュータ
４００    測定環境
４０２    測定システム
４０４    測定
４０８    複数の点
４１０    表面
４１２    写真測量システム
４１４    カメラシステム
４１６    ミラーシステム
４１８    測定モジュール
４２０    任意の数のカメラ
４２２    任意の数のミラーユニット
４２４    ハードウェア
４２６    ソフトウェア
４３０    画像
４３２    複数のマーカー
４３３    レーザーデバイス
４３４    点
４３５    マーカー
４３６    複数の見通し線
４４０    複数の位置
４４２    第１の部分
４４４    任意の数の可視点
４４６    第２の部分
４４８    任意の数の隠れた点
４５２    任意の数の位置
４５４    任意の数の反射
４５５    任意の数の基準点
４５６    コンピュータシステム
４５８    複数の座標
４６０    第１の数の座標
４６２    第２の数の座標
４６３    第３の部分
４６４    指針
４６６    任意の数の規則
４６７    一組のマーカー
４６８    任意の数のパラメータ
４６９    ポイントクラウド
４７０    モデル
４７２    コンピュータを援用した設計モジュール
５００    オブジェクト表面
５１０    第１の点
５１４    第１のカメラの第１の見通し線
５１６    第２のカメラの第１の見通し線
５１８    第２の点
５２０    第１のカメラの第２の見通し線
５２２、５２５    ミラーユニット上の点
５２３    第２の見通し線同士の交差点
５２４    第２のカメラの第２の見通し線
５２６    点
５３０    ミラーユニットの平面
６００    ミラー
６０１    ミラー表面
６０２    フレーム
６０３    反射面
６０４    フレームの第１の側
６０６    フレームの第２の側
６０８    フレームの第１の側の表面
８００    ポイントクラウド
８０２    円形の点
８０４    矩形の点
８０６    第１組の点
８１０    第１組の点に含まれる矩形の点
８１２    ライン
８１４    第２組の点
１１００    データ処理システム
１１０２    通信ファブリック
１１０４    プロセッサユニット
１１０６    メモリ
１１０８    固定記憶域
１１１０    通信ユニット
１１１２    入力／出力ユニット
１１１４    ディスプレイ
１１１６    記憶装置
１１１８    プログラムコード
１１２０    コンピュータで読み取り可能な媒体
１１２２    コンピュータプログラム製品
１１２４    コンピュータで読み取り可能な記憶媒体
１１２６    コンピュータで読み取り可能な信号媒体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2012185158.tif 000009
【図８】
2012185158.tif 000010
【図９】
2012185158.tif 000011
【図１０】
2012185158.tif 000012
【図１１】
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【外国語明細書】
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2012185158000002.pdf
2012185158000003.pdf
2012185158000004.pdf