(57)【要約】【課題】従来よりも温度特性に優れた光ピックアップ装置を提供する。【解決手段】光ピックアップ装置１は、レーザ光Ｌａを出射する光源２と、レーザ光Ｌａを集光して光ディスクＤの情報記録面に合焦させる対物レンズ４と、光源２から出射されたレーザ光Ｌａをそれぞれ透過し情報記録面で反射した戻り光Ｌｂをそれぞれ回折して、非点収差が付与された回折光Ｌｃを出射するホログラム領域１１及び非点収差が付与されていない回折光Ｌｅを出射するホログラム領域１２を有するホログラム素子３と、回折光Ｌｃを受光する受光部２０及び回折光Ｌｅを受光する受光部３０を有する受光素子５とを備える。回折光Ｌｃはホログラム素子３と受光素子５との間に焦線Ｌ１が位置し、かつホログラム素子３に対して受光素子５よりも離れた位置に焦線Ｌ２が位置する。回折光Ｌｅはホログラム素子３と受光素子５との間に両方の焦線Ｌ３，Ｌ４が互いに接近して位置する。【選択図】図２
2012185876.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を出射するレーザ光源と、
前記レーザ光を集光して光ディスクの所定の情報記録面に合焦させる対物レンズと、
前記レーザ光源から出射されたレーザ光をそれぞれ透過し、前記所定の情報記録面で反射したレーザ光である戻り光をそれぞれ回折して、非点収差が付与された第１の回折光を出射する第１のホログラム領域及び非点収差が付与されていない第２の回折光を出射する第２のホログラム領域を含むホログラム部を有するホログラム素子と、
前記第１の回折光を受光する第１の受光部、及び前記第２の回折光を受光する第２の受光部を有する受光素子と、
を備え、
前記第１の回折光は、前記ホログラム素子と前記受光素子との間に一方の焦線が位置し、かつ前記ホログラム素子に対して前記受光素子よりも離れた位置に他方の焦線が位置し、
前記第２の回折光は、前記ホログラム素子と前記受光素子との間に一方の焦線及び他方の焦線が互いに接近して位置することを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項２】
前記ホログラム部は、光ディスクの径方向に平行な第１の分割線と光ディスクの接線方向に平行な第２の分割線とによって４分割された第１〜第４の分割領域を備え、
前記第１の分割領域及び前記第３の分割領域は互いに対角の位置関係にあり、かつ前記第１のホログラム領域であり、
前記第２の分割領域及び前記第４の分割領域は互いに対角の位置関係にあり、かつ前記第２のホログラム領域であることを特徴とする請求項１記載の光ピックアップ装置。
【請求項３】
前記第１のホログラム領域及び前記第２のホログラム領域は、それぞれ短冊形状を有すると共に光ディスクの接線方向に交互に複数配置されていることを特徴とする請求項１記載の光ピックアップ装置。
【請求項４】
前記ホログラム部は、光ディスクの径方向に平行な第３の分割線によって２分割された第５の分割領域及び第６の分割領域を備え、
前記第５の分割領域及び前記第６の分割領域には、それぞれ短冊形状を有する前記第１のホログラム領域及び前記第２のホログラム領域が光ディスクの接線方向に交互に複数配置されており、かつ前記第５の分割領域と前記第６の分割領域とでさらに互い違いに配置されていることを特徴とする請求項１記載の光ピックアップ装置。
【請求項５】
前記ホログラム部は、光ディスクの接線方向に平行な第４の分割線によって２分割された第７の分割領域及び第８の分割領域と、前記第７の分割領域内に配置されて前記第４の分割線に接しない第９の分割領域と、前記第８の分割領域内に配置されて前記第４の分割線に接しない第１０の分割領域と、を備え、
前記第７の分割領域及び前記第１０の分割領域は前記第１のホログラム領域であり、
前記第８の分割領域及び前記第９の分割領域は前記第２のホログラム領域であり、
前記第９の分割領域と前記第１０の分割領域とは、前記第４の分割線に対して線対称に配置されている、又は前記ホログラム部の中心位置に対して点対称に配置されていることを特徴とする請求項１記載の光ピックアップ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＤやＤＶＤ等の光ディスクに情報を記録したり光ディスクに記録されている情報を再生するための光ピックアップ装置に係り、特にホログラム素子を備えた光ピックアップ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ピックアップ装置は、ＣＤやＤＶＤ等の光ディスクに情報を記録したり光ディスクに記録されている情報を再生するためのものである。
また、光ピックアップ装置は、標準的なフォーカス誤差検出法である非点収差法と小型化及び高信頼性とを両立するための手段として、ホログラム素子を用いたものが採用されている。
【０００３】
ホログラム素子を用いた光ピックアップ装置は、一般的に、レーザ光を光ディスクに向けて出射するレーザ光源と、レーザ光源から出射されたレーザ光を集光して光ディスクの所定の情報記録面に合焦させる対物レンズと、光ディスクで反射したレーザ光（戻り光）を後述する受光部に向けて回折するホログラム部を有するホログラム素子と、ホログラム部で回折された戻り光を受光する受光部を有する受光素子と、を備えている。
【０００４】
ホログラム素子には、１種類のホログラム係数を有し、光ディスクからの戻り光を回折して生成される“＋１次回折光”と“−１次回折光”とを使用するタイプ（以下、両側取りタイプと称す）と、２種類のホログラム係数を有し、光ディスクからの戻り光を回折して“＋１次回折光”及び“−１次回折光”のうちの一方の回折光のみを使用するタイプ（以下、片側取りタイプと称す）とがある。
【０００５】
両側取りタイプは“＋１次回折光”を受光する受光部と、“−１次回折光”を受光する受光部とがレーザ光源を介して対向配置されている。そのため、両側取りタイプは受光部同士がレーザ光源を介して離間して配置されるため、受光素子の小型化が難しく、材料コストが高くなってしまうという問題を有している。
【０００６】
一方、片側取りタイプは２種類のホログラム係数に応じて互いに異なる方向に回折された“＋１次回折光”（または“−１次回折光”）をそれぞれ受光する受光部を、レーザ光源の一側に配置することができるので、両側取りタイプに比べて受光素子の小型化が容易であり、材料コストを両側取りタイプよりも低減することが可能になるというメリットを有している。
片側取りタイプは各回折光にそれぞれ非点収差を付与するようにホログラム係数がそれぞれ設定されている。
【０００７】
片側取りタイプの光ピックアップ装置の一例が例えば特許文献１に開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００２−２１６３６８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
一般的に、光ピックアップ装置は環境温度の影響を受ける。詳しくは、光ピックアップ装置におけるレーザ光源が環境温度の影響を受けやすいためであり、レーザ光源自体の温度上昇の度合いに応じて光ピックアップ装置から出射されるレーザ光の中心波長が長波長側にシフトする。
【００１０】
しかしながら、特許文献１に開示されているような従来の片側取りタイプの光ピックアップ装置、即ち、２種類のホログラム係数を有するホログラム領域を備え、かつ各ホログラム領域で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与する光ピックアップ装置では、回折光の回折角がレーザ光の中心波長のシフト量に応じて変化する。
これにより、回折光の回折角の変化によって受光素子の受光部に照射される回折光の照射位置が変化するため、回折光の光束が受光部の所定の位置からずれたり、受光部から外れたりする。回折光の光束の位置ずれは、例えばＦＥＳ（フォーカスエラー信号）のＳ字波形レベルの低下や、Ｓ字波形バランスのずれを生じる原因となる。Ｓ字波形レベルの低下は、Ｓ字波形レベルの大きさにより光ディスクの種類を判別する際に誤判別する場合があり、Ｓ字波形バランスのずれは、後述するスクラッチが形成したディスクを再生する際に、フォーカスサーボが外れ易くなる場合があり、その改善が望まれている。
【００１１】
また、ユーザーが光ディスクを繰り返し使用していると、ハンドリングミス等によって光ディスクの表面にスクラッチが形成されてしまう場合がある。スクラッチはＦＥＳレベルにずれを生じる原因となり、光ディスクを再生する際に、このスクラッチによって音飛びや再生停止等の不具合が生じる場合があり、その改善が望まれている。
【００１２】
そこで、本発明は、上記課題を鑑みてなされたものであり、従来よりも温度特性に優れた光ピックアップ装置を提供することを目的とする。
また、本発明は、従来よりも光ディスクのスクラッチの影響を受けにくい光ピックアップ装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記の課題を解決するために、本発明は次の光ピックアップ装置を提供する。
１）レーザ光（Ｌａ）を出射するレーザ光源（２）と、前記レーザ光（Ｌａ）を集光して光ディスク（Ｄ）の所定の情報記録面に合焦させる対物レンズ（４）と、前記レーザ光源（２）から出射されたレーザ光（Ｌａ）をそれぞれ透過し、前記所定の情報記録面で反射したレーザ光である戻り光（Ｌｂ）をそれぞれ回折して、非点収差が付与された第１の回折光（Ｌｃ，Ｌｄ）を出射する第１のホログラム領域（１１，１３）及び非点収差が付与されていない第２の回折光（Ｌｅ，Ｌｆ）を出射する第２のホログラム領域（１２，１４）を有するホログラム素子（３）と、前記第１の回折光（Ｌｃ，Ｌｄ）を受光する第１の受光部（２０）、及び前記第２の回折光（Ｌｅ，Ｌｆ）を受光する第２の受光部（３０）を有する受光素子（５）と、を備え、前記第１の回折光（Ｌｃ，Ｌｄ）は、前記ホログラム素子（３）と前記受光素子（５）との間に一方の焦線（Ｌ１）が位置し、かつ前記ホログラム素子（３）に対して前記受光素子（５）よりも離れた位置に他方の焦線（Ｌ２）が位置し、前記第２の回折光（Ｌｅ，Ｌｆ）は、前記ホログラム素子（３）と前記受光素子（５）との間に一方の焦線（Ｌ３）及び他方の焦線（Ｌ４）が互いに接近して位置することを特徴とする光ピックアップ装置（１）。
２）前記ホログラム部（１０）は、光ディスク（Ｄ）の径方向に平行な第１の分割線（Ａ１０）と光ディスク（Ｄ）の接線方向に平行な第２の分割線（Ｂ１０）とによって４分割された第１〜第４の分割領域（１１〜１４）を備え、前記第１の分割領域（１１）及び前記第３の分割領域（１３）は互いに対角の位置関係にあり、かつ前記第１のホログラム領域であり、前記第２の分割領域（１２）及び前記第４の分割領域（１４）は互いに対角の位置関係にあり、かつ前記第２のホログラム領域であることを特徴とする１）記載の光ピックアップ装置（１）。
３）前記第１のホログラム領域（４２）及び前記第２のホログラム領域（４２）は、それぞれ短冊形状を有すると共に光ディスク（Ｄ）の接線方向に交互に複数配置されていることを特徴とする１）記載の光ピックアップ装置（４０）。
４）前記ホログラム部（５１）は、光ディスクの径方向に平行な第３の分割線（Ａ５１）によって２分割された第５の分割領域及び第６の分割領域を備え、前記第５の分割領域及び前記第６の分割領域には、それぞれ短冊形状を有する前記第１のホログラム領域（５２，５４）及び前記第２のホログラム領域（５３，５５）が光ディスク（Ｄ）の接線方向に交互に複数配置されており、かつ前記第５の分割領域と前記第６の分割領域とでさらに互い違いに配置されていることを特徴とする１）記載の光ピックアップ装置（５０）。
５）  前記ホログラム部（６１，７１）は、光ディスク（Ｄ）の接線方向に平行な第４の分割線（Ｂ６１，Ｂ７１）によって２分割された第７の分割領域及び第８の分割領域と、前記第７の分割領域内に配置されて前記第４の分割線に接しない第９の分割領域と、前記第８の分割領域内に配置されて前記第４の分割線に接しない第１０の分割領域と、を備え、前記第７の分割領域及び前記第１０の分割領域は前記第１のホログラム領域であり、前記第８の分割領域及び前記第９の分割領域は前記第２のホログラム領域であり、前記第９の分割領域と前記第１０の分割領域とは、前記第４の分割線に対して線対称に配置されている、又は前記ホログラム部の中心位置に対して点対称に配置されていることを特徴とする１）記載の光ピックアップ装置（６０，７０）。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、従来よりも温度特性に優れるという効果を奏する。
また、本発明によれば、従来よりも光ディスクのスクラッチの影響を受けにくいという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明の光ピックアップ装置の実施例１〜５を説明するための模式的断面図である。
【図２】実施例１の光ピックアップ装置を説明するための模式的斜視図である。
【図３】実施例１のホログラム部で回折された回折光が受光部に照射されたときの光束を示す模式的平面図である。
【図４】比較例の光ピックアップ装置を説明するための模式的斜視図である。
【図５】比較例のホログラム部で回折された回折光が受光部に照射されたときの光束を示す模式的平面図である。
【図６】実施例１の光ピックアップ装置（レーザ光源）の温度が上昇した状態において、ホログラム部で回折された回折光が受光部に照射されたときのdefocus値ごとの光束をそれぞれ示す模式的平面図である。
【図７】比較例の光ピックアップ装置（レーザ光源）の温度が上昇した状態において、ホログラム部で回折された回折光が受光部に照射されたときのdefocus値ごとの光束をそれぞれ示す模式的平面図である。
【図８】実施例１及び比較例の光ピックアップ装置の温度特性（レーザ光の中心波長：７９０ｎｍ）を示す図である。
【図９】実施例１及び比較例の光ピックアップ装置の温度特性（レーザ光の中心波長：８１０ｎｍ）を示す図である。
【図１０】実施例１及び比較例の光ピックアップ装置の温度特性（レーザ光の中心波長：８２０ｎｍ）を示す図である。
【図１１】実施例１及び比較例の光ピックアップ装置の温度特性（レーザ光の中心波長：８３０ｎｍ）を示す図である。
【図１２】実施例１及び比較例の光ピックアップ装置の温度特性（レーザ光の中心波長：８４０ｎｍ）を示す図である。
【図１３】実施例２の光ピックアップ装置のホログラム部を説明するための模式的平面図である。
【図１４】実施例１のホログラム部で回折された回折光が受光部に照射されたときの光束を示す模式的平面図である。
【図１５】実施例２のホログラム部で回折された回折光が受光部に照射されたときの光束を示す模式的平面図である。
【図１６】実施例２の光ピックアップ装置（レーザ光源）の温度が上昇した状態において、ホログラム部で回折された回折光が受光部に照射されたときのdefocus値ごとの光束をそれぞれ示す模式的平面図である。
【図１７】比較例の光ピックアップ装置（レーザ光源）の温度が上昇した状態において、ホログラム部で回折された回折光が受光部に照射されたときのdefocus値ごとの光束をそれぞれ示す模式的平面図である。
【図１８】実施例３の光ピックアップ装置のホログラム部を説明するための模式的平面図、及び実施例３のホログラム部で回折された回折光が受光部に照射されたときの光束を示す模式的平面図である。
【図１９】実施例４の光ピックアップ装置のホログラム部を説明するための模式的平面図、及び実施例４のホログラム部で回折された回折光が受光部に照射されたときの光束を示す模式的平面図である。
【図２０】実施例５の光ピックアップ装置のホログラム部を説明するための模式的平面図、及び実施例５のホログラム部で回折された回折光が受光部に照射されたときの光束を示す模式的平面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
本発明の実施の形態を、好ましい実施例１〜実施例５により図１〜図２０を用いて説明する。
【００１７】
＜実施例１＞［図１〜図１２参照］
図１に示すように、光ピックアップ装置１は、主として、レーザ光Ｌａを光ディスクＤに向けて出射するレーザ光源２と、レーザ光源２から出射されたレーザ光Ｌａを透過し、光ディスクＤで反射したレーザ光（以下、戻り光と称す）Ｌｂを回折するホログラム部１０を有するホログラム素子３と、ホログラム素子３を透過したレーザ光Ｌａを集光して光ディスクＤの所定の情報記録面に合焦させる対物レンズ４と、ホログラム部１０で戻り光Ｌｂが第１のホログラム係数に応じて回折された回折光Ｌｃ，Ｌｄを受光する受光部２０及びホログラム部１０で戻り光Ｌｂが第１のホログラム係数とは異なる第２のホログラム係数に応じて回折された回折光Ｌｅ，Ｌｆを受光する受光部３０を有する受光素子５と、を備えている。
【００１８】
ここで、実施例１の光ピックアップ装置１における、ホログラム部１０と受光部２０，３０との関係について図２を用いて説明する。
【００１９】
図２に示すように、ホログラム部１０は略矩形形状を有し、光ディスクＤ（図１参照）のラジアル方向（径方向）に延在する中心線Ａ１０と光ディスクＤのタンジェンシャル方向（接線方向）に延在する中心線Ｂ１０とによって４分割されたホログラム領域１１〜１４を備えている。なお、ホログラム部１０の形状は略矩形形状に限定されるものではない。
【００２０】
互いに対角の位置関係にあるホログラム領域１１及びホログラム領域１３は、第１のホログラム係数を有し、ホログラム領域１１，１３で回折された回折光Ｌｃ，Ｌｄにそれぞれ非点収差を付与するホログラム領域である。
それに対し、互いに対角の位置関係にあるホログラム領域１２及びホログラム領域１４は、第１のホログラム係数とは異なる第２のホログラム係数を有し、ホログラム領域１２，１４で回折された回折光Ｌｅ，Ｌｆにそれぞれ非点収差を付与しないホログラム領域である。
【００２１】
同じく図２に示すように、受光部２０及び受光部３０は受光素子５（図１参照）における同一平面状に形成されている。
受光部２０は、ホログラム領域１１，１３で回折された回折光Ｌｃ，Ｌｄを受光するように配置されており、光ディスクＤのラジアル方向（径方向）に延在する２本の平行分割線Ａ２０，Ｂ２０によって３分割された受光領域２１〜２３を備えている。
受光部３０は、ホログラム領域１２，１４で回折された回折光Ｌｅ，Ｌｆを受光するように配置されており、光ディスクＤのラジアル方向（径方向）に延在する２本の平行分割線Ａ３０，Ｂ３０によって３分割された受光領域３１〜３３を備えている。
【００２２】
そして、ホログラム領域１１で回折された回折光Ｌｃの光束Ｌｃｃは受光部２０の受光領域２１及び受光領域２２に亘って照射される。
また、ホログラム領域１３で回折された回折光Ｌｄの光束Ｌｄｄは受光部２０の受光領域２２及び受光領域２３に亘って照射される。
【００２３】
また、第１のホログラム係数を有するホログラム領域１１，１３によって形成される一方の焦線Ｌ１は、ホログラム領域１１，１３（ホログラム素子３）と受光部２０（受光素子５）との間に位置し、他方の焦線Ｌ２は、ホログラム領域１１，１３（ホログラム素子３）に対して受光部２０（受光素子５）よりも遠い位置に位置する。
ここでは、上記の関係を有するものを“非点収差が付与された”と定義する。
また、受光部２０と一方の焦線Ｌ１との距離をＨ１とし、受光部２０と他方の焦線Ｌ２との距離をＨ２とし、一方の焦線Ｌ１と他方の焦線Ｌ２との距離をＨ１２とすると、Ｈ１２＝Ｈ１＋Ｈ２  と表すことができる。
【００２４】
それに対して、ホログラム領域１２で回折された回折光Ｌｅの光束Ｌｅｅは受光部３０の受光領域３１及び受光領域３２に亘って照射される。
また、ホログラム領域１４で回折された回折光Ｌｆの光束Ｌｆｆは受光部３０の受光領域３２及び受光領域３３に亘って照射される。
【００２５】
また、第２のホログラム係数を有するホログラム領域１２，１４によって形成される一方の焦線Ｌ３及び他方の焦線Ｌ４は、ホログラム領域１２，１４（ホログラム素子３）と受光部３０（受光素子５）との間に互いに接近して位置する。
ここでは、上記の関係を有するものを“非点収差が付与されていない”と定義する。
また、受光部３０と一方の焦線Ｌ３との距離をＨ３とし、受光部３０と他方の焦線Ｌ４との距離をＨ４とし、一方の焦線Ｌ３と他方の焦線Ｌ４との距離をＨ３４とすると、Ｈ３４＝｜Ｈ３−Ｈ４｜  と表すことができる。また、Ｈ１２とＨ３４とは、Ｈ１２＞Ｈ３４  の関係を有する。
【００２６】
なお、一般的に“非点収差が付与されていない”状態とはＨ３４＝０、即ち一方の焦線Ｌ３と他方の焦線Ｌ４との位置が一致した状態をいう。
本発明においても、Ｈ３４＝０が最も望ましいが、製造過程のばらつき等によってＨ３４≠０となった場合においても、一方の焦線Ｌ３と他方の焦線Ｌ４とが互いに接近した状態であれば、本発明の効果を奏する。
そこで、ここでは一方の焦線Ｌ３と他方の焦線Ｌ４とが互いに接近した状態を、広義的に“非点収差が付与されていない”状態と定義する。
また、後述する実施例２〜実施例５においても、“非点収差が付与されていない”状態を実施例１と同様に広義的に定義する。
【００２７】
受光領域２１〜２３，３１〜３３に回折光Ｌｃ〜Ｌｆ（光束Ｌｃｃ〜Ｌｆｆ）が照射されたときの各受光量をそれぞれＡ１〜Ａ３，Ｂ１〜Ｂ３とすると、フォーカスエラー信号ＦＥＳは、（１）式で表される。
ＦＥＳ＝｜（Ｂ１＋Ａ２＋Ｂ３）−（Ａ１＋Ｂ２＋Ａ３）｜  ．．．（１）式
【００２８】
ここで、光ディスクＤ（以下、図１及び図２参照）と対物レンズ４との相対距離と、受光部２０，３０に照射された回折光Ｌｃ〜Ｌｆの光束Ｌｃｃ〜Ｌｆｆの形状と、の関係を図３に示す。
図３（ｂ）は、光ディスクＤと対物レンズ４との相対距離が、ホログラム素子３を透過したレーザ光Ｌａが対物レンズ４によって集光し、光ディスクＤの所定の情報記録面に合焦しているときの、受光部２０，３０に照射された回折光Ｌｃ〜Ｌｆの光束Ｌｃｃ〜Ｌｆｆを示す。
図３（ａ）は、光ディスクＤと対物レンズ４の相対距離が、光ディスクＤの所定の情報記録面に合焦しているときの距離よりも短いときの状態、即ち対物レンズ４が合焦位置よりも光ディスクＤに接近した状態のときの、受光部２０，３０に照射された回折光Ｌｃ〜Ｌｆの光束Ｌｃｃ〜Ｌｆｆを示す。
図３（ｃ）は、光ディスクＤと対物レンズ４の相対距離が、光ディスクＤの所定の情報記録面に合焦しているときの距離よりも長い状態、即ち対物レンズ４が合焦位置よりも光ディスクＤから離間した状態のときの、受光部２０，３０に照射された回折光Ｌｃ〜Ｌｆの光束Ｌｃｃ〜Ｌｆｆを示す。
【００２９】
従って、ホログラム部１０で回折された回折光Ｌｃ〜Ｌｆが受光部２０，３０に照射されたときの光束Ｌｃｃ〜Ｌｆｆは、光ディスクDと対物レンズ４との相対距離に応じて、図３（ａ），（ｂ），（ｃ）のように変化するので、各受光領域２１〜２３，３１〜３３の受光量Ａ１〜Ａ３，Ｂ１〜Ｂ３も上記の相対距離に応じてそれぞれ変化する。
【００３０】
次に、上述した実施例１の光ピックアップ装置１の特徴をよりわかりやすくするための比較例として、図４及び図５を用いて従来の光ピックアップ装置１００について説明する。
図４及び図５は前述の図２及び図３にそれぞれ対応するものである。
【００３１】
図４に示すように、比較例の光ピックアップ装置１００におけるホログラム部１１０は略矩形形状を有し、光ディスクＤ（図１参照）のラジアル方向（径方向）に延在する中心線Ａ１１０と光ディスクＤのタンジェンシャル方向（接線方向）に延在する中心線Ｂ１１０によって４分割されたホログラム領域１１１〜１１４を備えている。
【００３２】
互いに対角の位置関係にあるホログラム領域１１１及びホログラム領域１１３は第３のホログラム係数を有し、ホログラム領域１１１，１１３で回折された回折光Ｌｇ，Ｌｈにそれぞれ非点収差を付与するホログラム領域である。
また、互いに対角の位置関係にあるホログラム領域１１２及びホログラム領域１１４は第３のホログラム係数とは異なる第４のホログラム係数を有し、ホログラム領域１１２，１１４で回折された回折光Ｌｉ，Ｌｊにそれぞれ非点収差を付与するホログラム領域である。
【００３３】
従来の光ピックアップ装置１００の受光部２０，３０は実施例１の光ピックアップ装置１の受光部２０，３０と同じ構成であるため、詳細な説明については省略する。
【００３４】
そして、ホログラム領域１１１で回折された回折光Ｌｇの光束Ｌｇｇは受光部２０の受光領域２１及び受光領域２２に亘って照射される。
ホログラム領域１１３で回折された回折光Ｌｈの光束Ｌｈｈは受光部２０の受光領域２２及び受光領域２３に亘って照射される。
また、第３のホログラム係数を有するホログラム領域１１１，１１３によって形成される一方の焦線Ｌ１１は、ホログラム領域１１１，１１３と受光部２０との間に位置し、他方の焦線Ｌ１２は、ホログラム領域１１１，１１３に対して受光部２０（受光素子５）よりも遠い位置に位置する。
【００３５】
一方、ホログラム領域１１２で回折された回折光Ｌｉの光束Ｌｉｉは受光部３０の受光領域３１及び受光領域３２に亘って照射される。
ホログラム領域１１４で回折された回折光Ｌｊの光束Ｌｊｊは受光部３０の受光領域３２及び受光領域３３に亘って照射される。
また、第４のホログラム係数を有するホログラム領域１１２，１１４によって形成される一方の焦線Ｌ１３は、ホログラム領域１１２，１１４と受光部３０との間に位置し、他方の焦線Ｌ１４は、ホログラム領域１１２，１１４に対して受光部３０（受光素子５）よりも遠い位置に位置する。
【００３６】
受光部２０と一方の焦線Ｌ１１との距離をＨ１１とし、受光部２０と他方の焦線Ｌ１２との距離をＨ２２とし、一方の焦線Ｌ１１と他方の焦線Ｌ１２との距離をＨ１１２とすると、Ｈ１１２＝Ｈ１１＋Ｈ１２  と表すことができる。
また、受光部３０と一方の焦線Ｌ１３との距離をＨ１３とし、受光部３０と他方の焦線Ｌ１４との距離をＨ１４とし、一方の焦線Ｌ１３と他方の焦線Ｌ１４との距離をＨ１３４とすると、Ｈ１２３＝Ｈ１３＋Ｈ１４  と表すことができる。
【００３７】
受光領域２１〜２３，３１〜３３に回折光Ｌｇ〜Ｌｊ（光束Ｌｇｇ〜Ｌｊｊ）が照射されたときの各受光量をそれぞれＡ１〜Ａ３，Ｂ１〜Ｂ３とすると、フォーカスエラー信号ＦＥＳは、上述の（１）式で表される。
【００３８】
ここで、光ディスクＤ（以下、図１及び図４参照）と対物レンズ４との相対距離と、受光部２０，３０に照射された回折光Ｌｇ〜Ｌｊの光束Ｌｇｇ〜Ｌｊｊの形状と、の関係を図５に示す。
図５（ｂ）は、光ディスクＤと対物レンズ４との相対距離が、ホログラム素子３を透過したレーザ光Ｌａが対物レンズ４によって集光し、光ディスクＤの所定の情報記録面に合焦しているときの、受光部２０，３０に照射された回折光Ｌｇ〜Ｌｊの光束Ｌｇｇ〜Ｌｊｊを示す。
図５（ａ）は、光ディスクＤと対物レンズ４の相対距離が、光ディスクＤの所定の情報記録面に合焦しているときの距離よりも短いときの状態、即ち対物レンズ４が合焦位置よりも光ディスクＤに接近した状態のときの、受光部２０，３０に照射された回折光Ｌｇ〜Ｌｊの光束Ｌｇｇ〜Ｌｊｊを示す。
図５（ｃ）は、光ディスクＤと対物レンズ４の相対距離が、光ディスクＤの所定の情報記録面に合焦しているときの距離よりも長い状態、即ち対物レンズ４が合焦位置よりも光ディスクＤから離間した状態のときの、受光部２０，３０に照射された回折光Ｌｇ〜Ｌｊの光束Ｌｇｇ〜Ｌｊｊを示す。
【００３９】
従って、ホログラム部１１０で回折された回折光Ｌｇ〜Ｌｊが受光部２０，３０に照射されたときの光束Ｌｇｇ〜Ｌｊｊは、光ディスクDと対物レンズ４との相対距離に応じて、図５（ａ），（ｂ），（ｃ）のように変化するので、各受光領域２１〜２３，３１〜３３の受光量Ａ１〜Ａ３，Ｂ１〜Ｂ３も上記の相対距離に応じてそれぞれ変化する。
【００４０】
即ち、比較例の光ピックアップ装置１００では一方の回折光Ｌｇ，Ｌｈ及び他方の回折光Ｌｉ，Ｌｊの両方に非点収差を付与するのに対し、実施例１の光ピックアップ装置１では一方の回折光Ｌａ，ｌｂに非点収差を付与し、他方の回折光Ｌｃ，ｌｄに非点収差を付与しない点で相違する。
【００４１】
次に、上述した実施例１の光ピックアップ装置１及び比較例の光ピックアップ装置１００の温度特性について、図６〜図１２を用いて説明する。
【００４２】
図６は図２に示す実施例１の光ピックアップ装置１において、ホログラム部１０によって回折された回折光（Ｌｃ〜Ｌｆ）が受光部２０，３０に照射された光束（Ｌｃｃ〜Ｌｆｆ）の形状を示すものである。
図７は図４に示す比較例の光ピックアップ装置１００において、ホログラム部１１０によって回折された回折光（Ｌｇ〜Ｌｊ）が受光部２０，３０に照射された光束（Ｌｇｇ〜Ｌｊｊ）を示す。
図６及び図７において、（ａ），（ｂ），（ｃ），（ｄ），（ｅ），（ｆ），（ｇ），（ｈ），（ｉ），（ｊ），（ｋ），（ｌ），（ｍ），（ｎ），（ｏ），（ｐ），（ｑ），（ｒ），（ｓ），（ｔ）及び（ｕ）はdefocus値がそれぞれ、「−２０μｍ」，「−１８μｍ」，「−１６μｍ」，「−１４μｍ」，「−１２μｍ」，「−１０μｍ」，「−８μｍ」，「−６μｍ」，「−４μｍ」，「−２μｍ」，「０μｍ」，「＋２μｍ」，「＋４μｍ」，「＋６μｍ」，「＋８μｍ」，「＋１０μｍ」，「＋１２μｍ」，「＋１４μｍ」，「＋１６μｍ」，「＋１８μｍ」及び「＋２０μｍ」のときを示す。
また、図６及び図７は、特に各（ｋ）｛defocus＝０μｍ｝に示すように回折光（Ｌｃ〜Ｌｆ）及び（Ｌｇ〜Ｌｊ）の光束（Ｌｃｃ〜Ｌｆｆ）及び（Ｌｇｇ〜Ｌｊｊ）が受光部２０，３０に対して紙面右側にずれており｛（ａ）〜（ｊ）及び（ｌ）〜（ｕ）も同様｝、これは実施例１及び比較例の光ピックアップ装置（レーザ光源）１，１００の温度がそれぞれ上昇した状態を示すものである。
【００４３】
図６と図７とを比較すると、特に各（ｆ）｛defocus＝−１０μｍ｝〜（ｈ）｛defocus＝−６μｍ｝同士で比較すると、図６（実施例１）では光束が受光部３０の内部に位置しているのに対し、図７（比較例）では光束の一部が受光部３０から外れた位置に位置している。
そのため、比較例では受光部３０の受光量が減少し、フォーカスエラー信号の強度が低下する。
【００４４】
図８〜図１２は、実施例１及び比較例の光ピックアップ装置１，１００から出射されるレーザ光の中心波長が環境温度の影響によってシフトしたときの、defocus値とフォーカスエラー信号（ＦＥＳ）の相対的な信号強度との関係を示すものである。
図８〜図１２において、横軸はそれぞれdefocus値（単位：μｍ）を示し、縦軸はそれぞれフォーカスエラー信号（ＦＥＳ）の相対的な信号強度を示す。
【００４５】
前述したように、光ピックアップ装置及びそのレーザ光源は、環境温度の影響を受けるため、レーザ光源自体の温度上昇の度合いに応じて光ピックアップ装置から出射されるレーザ光の中心波長が長波長側にシフトする。
図８は光ピックアップ装置（１，１００）のレーザ光源から出射されたレーザ光の波長が７９０ｎｍのときの特性を示す。図９は光ピックアップ装置（レーザ光源）１及び１００の温度上昇に応じて出射されるレーザ光の中心波長が８１０ｎｍにシフトしたときの特性を示す。図１０は光ピックアップ装置（レーザ光源）１及び１００の温度上昇に応じて出射されるレーザ光の中心波長が８２０ｎｍにシフトしたときの特性を示す。図１１は光ピックアップ装置（レーザ光源）１及び１００の温度上昇に応じて出射されるレーザ光の中心波長が８３０ｎｍにシフトしたときの特性を示す。図１２は光ピックアップ装置（レーザ光源）１及び１００の温度上昇に応じて出射されるレーザ光の中心波長が８４０ｎｍにシフトしたときの特性を示す。
即ち、図８→図９→図１０→図１１→図１２の順に実施例１及び比較例の光ピックアップ装置（レーザ光源）１及び１００の温度がそれぞれ上昇していく状態を示すものである。
【００４６】
実施例１の光ピックアップ装置１の特性と比較例の光ピックアップ装置１００の特性とを図８〜図１２で比較すると、特に図１０〜図１２における、defocus値がマイナス側（−５μｍ〜−１０μｍ）のＦＥＳのピークに違いが見られる。
【００４７】
比較例の光ピックアップ装置１００では、defocus値がマイナス側のＦＥＳのピークは図８と図９とではほとんど変化していないが、図１０→図１１→図１２の順にピークの高さが徐々に低くなっている。これはＦＥＳのS字波形バランスのずれが大きくなっていることを示している。
それに対して、実施例１の光ピックアップ装置１では、defocus値がマイナス側のＦＥＳのピークは図８〜図１２のいずれもほとんど変化していない。
図８〜図１２における実施例１の光ピックアップ装置１と比較例の光ピックアップ装置１００との比較結果は、前述した図６（実施例１）と図７（比較例）との比較結果に沿うものである。
以上の結果から、実施例１の光ピックアップ装置１は比較例の光ピックアップ装置１００よりも良好な温度特性が得られることがわかる。
【００４８】
＜実施例２＞［図１及び図１３〜図１７参照］
実施例２の光ピックアップ装置４０（図１参照）は、実施例１の光ピックアップ装置１に対してホログラム素子３のホログラム部４１の構成が相違し、それ以外の構成については実施例１の光ピックアップ装置１と同じである。
【００４９】
そこで、以下に実施例２の光ピックアップ装置４０におけるホログラム素子３のホログラム部４１について図１３を用いて詳細に説明する。
図１３（ａ）に前述の実施例１の光ピックアップ装置１のホログラム部１０を示し、図１３（ｂ）に実施例２の光ピックアップ装置４０のホログラム部４１を示す。
【００５０】
図１３（ａ）に示すように、前述の実施例１の光ピックアップ装置１のホログラム部１０は、光ディスクＤ（図１参照）のラジアル方向（径方向）に延在する中心線Ａ１０と光ディスクＤのタンジェンシャル方向（接線方向）に延在する中心線Ｂ１０とによって４分割されたホログラム領域１１〜１４を備えている。また、互いに対角の位置関係にあるホログラム領域１１及びホログラム領域１３は第１のホログラム係数を有し、ホログラム領域１１，１３で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与するホログラム領域である。それに対して、互いに対角の位置関係にあるホログラム領域１２及びホログラム領域１４は第１のホログラム係数とは異なる第２のホログラム係数を有し、ホログラム領域１２，１４で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与しないホログラム領域である。
【００５１】
一方、図１３（ｂ）に示すように、実施例２の光ピックアップ装置４０のホログラム部４１は、それぞれ短冊形状を有するホログラム領域４２とホログラム領域４３とが光ディスクＤのラジアル方向（径方向）に交互に配置された構成を有している。
【００５２】
各ホログラム領域４２は上記の第１のホログラム係数をそれぞれ有し、各ホログラム領域４２で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与する。
それに対して、各ホログラム領域４３は上記の第２のホログラム係数をそれぞれ有し、各ホログラム領域４３で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与しないホログラム領域である。
即ち、実施例２のホログラム領域４２は実施例１のホログラム領域１１，１３に対応し、実施例２のホログラム領域４３は実施例１のホログラム領域１２，１４に対応する。
【００５３】
ここで、光ディスクＤにスクラッチが形成されてしまった場合について図１４及び図１５を用いて説明する。
【００５４】
まず、実施例１の光ピックアップ装置１に対し、光ディスクＤ（図１参照）にスクラッチが形成されてしまった場合について図１４を用いて説明する。
図１４は実施例１のホログラム部１０で回折された回折光が受光部２０，３０に照射されたときの各光束を示すものである。また、図１４（ａ）は光ディスクにスクラッチが生じていない場合を示し、図１４（ｂ）は光ディスクにスクラッチが形成されてしまった場合を示している。なお、図１４（ａ）及び（ｂ）において、黒色で示す領域が回折光が照射されている領域である。
【００５５】
光ディスクＤにそのタンジェンシャル方向に対して約４５°の角度をなして延在するスクラッチが形成されてしまった場合、受光部２０，３０に照射される光束にはスクラッチによる遮光領域｛図１４（ｂ）に斜めに白色で示す領域｝が生じる。
【００５６】
受光領域２１，２２，２３，３１，３２及び３３に光束が照射されたときの各受光領域における受光量Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３は前述の（１）式で表される。
【００５７】
受光領域２１はスクラッチの影響を受けていない。
受光領域２２はスクラッチの影響を受けて２箇所の遮光領域が生じている。
受光領域２３はスクラッチの影響を受けていない。
受光領域３１はスクラッチの影響を受けて１箇所の遮光領域が生じている。
受光領域３２はスクラッチの影響を受けて２箇所の遮光領域が生じている。
受光領域３３はスクラッチの影響を受けて１箇所の遮光領域が生じている。
ここで、１箇所あたりの遮光領域による減光量をＣとして（１）式に当てはめると、光ディスクにスクラッチが形成されたときのフォーカスエラー信号ＦＥＳａは（２）式で表される。
ＦＥＳａ＝｜｛(Ｂ１−Ｃ)＋(Ａ２−２Ｃ)＋(Ｂ３−Ｃ)｝−｛Ａ１＋(Ｂ２−２Ｃ)＋Ａ３｝｜＝｜（Ｂ１＋Ａ２＋Ｂ３）−（Ａ１＋Ｂ２＋Ａ３−２Ｃ）｜      ．．．（２）式
従って、実施例１の光ピックアップ装置１ではフォーカスエラー信号に２箇所の遮光領域による減光量２Ｃ分の誤差を生じるため、レーザ光が光ディスクに合焦してもdefocus状態として認識されてしまい、その結果、制御信号にノイズとして現れ、光ディスクの再生時に音飛びや再生停止等の不具合を生じさせる要因となる。
【００５８】
次に、実施例２の光ピックアップ装置４０に対し、光ディスクＤ（図１参照）にスクラッチが形成されてしまった場合について図１５を用いて説明する。
図１５は実施例２のホログラム部４１で回折された回折光が受光部２０，３０に照射されたときの各光束を示す模式的平面図である。また、図１５（ａ）は光ディスクにスクラッチが生じていない場合を示し、図１５（ｂ）は光ディスクにスクラッチが形成されてしまった場合を示している。なお、図１５（ａ）及び（ｂ）において、黒色で示す領域が回折光が照射されている領域（光束）である。
【００５９】
光ディスクＤにそのタンジェンシャル方向に対して約４５°の角度をなして延在するスクラッチが形成されてしまった場合、受光部２０，３０に照射される光束にはスクラッチによる遮光領域｛図１５（ｂ）に斜めに白色で示す領域｝が生じる。
【００６０】
いずれの受光領域２１〜２３及び３１〜３３もスクラッチの影響を受けている。
ここで、受光領域２１，２３，３１及び３３の遮光領域による減光量をＤとすると、受光領域２２及び３２の遮光領域による減光量は、遮光領域が２箇所で、且つそれぞれの長さが受光領域２１，２３，３１及び３３の遮光領域の３倍であることから６Ｄとなる。
そこで、各受光領域２１〜２３及び３１〜３３の減光量を（１）式に当てはめると、光ディスクにスクラッチが形成されたときのフォーカスエラー信号ＦＥＳｂは（３）式で表される。
ＦＥＳｂ＝｜｛(Ｂ１−Ｄ)＋(Ａ２−６Ｄ)＋(Ｂ３−Ｄ)｝−｛(Ａ１−Ｄ)＋(Ｂ２−６Ｄ)＋(Ａ３−Ｄ)｝｜＝｜（Ｂ１＋Ａ２＋Ｂ３）−（Ａ１＋Ｂ２＋Ａ３）｜      ．．．（３）式
従って、実施例２の光ピックアップ装置４０では  ＦＥＳｂ＝ＦＥＳ  となり、スクラッチの影響を相殺することができる。
【００６１】
上述したように、実施例２の光ピックアップ装置４０では、第１のホログラム係数を有し、回折光に非点収差を付与するホログラム領域４２と、第２のホログラム係数を有し、回折光に非点収差を付与しないホログラム領域４３とが、交互に配置された構成を有している。
【００６２】
そこで、実施例２の光ピックアップ装置４０、及び、比較例として各ホログラム領域４２，４３が回折光にそれぞれ非点収差を付与する構成の光ピックアップ装置の温度特性について図１６及び図１７を用いて説明する。
図１６は図１３（ｂ）に示すホログラム部４１によって回折された回折光が受光部２０，３０に照射された光束を示す。図１７は上述したその比較例である。
図１６及び図１７において、（ａ），（ｂ），（ｃ），（ｄ），（ｅ），（ｆ），（ｇ），（ｈ），（ｉ），（ｊ），（ｋ），（ｌ），（ｍ），（ｎ），（ｏ），（ｐ），（ｑ），（ｒ），（ｓ），（ｔ）及び（ｕ）はdefocus値がそれぞれ、「−２０μｍ」，「−１８μｍ」，「−１６μｍ」，「−１４μｍ」，「−１２μｍ」，「−１０μｍ」，「−８μｍ」，「−６μｍ」，「−４μｍ」，「−２μｍ」，「０μｍ」，「＋２μｍ」，「＋４μｍ」，「＋６μｍ」，「＋８μｍ」，「＋１０μｍ」，「＋１２μｍ」，「＋１４μｍ」，「＋１６μｍ」，「＋１８μｍ」及び「＋２０μｍ」のときを示す。
また、図１６及び図１７は、特に各（ｋ）｛defocus＝０μｍ｝に示すように回折光の光束が受光部２０，３０に対して紙面右側にずれており｛（ａ）〜（ｊ）及び（ｌ）〜（ｕ）も同様｝、これは実施例２及び比較例の光ピックアップ装置（レーザ光源）の温度がそれぞれ上昇した状態を示すものである。
【００６３】
図１６と図１７とを比較すると、特に各（ｆ）｛defocus＝−１０μｍ｝〜（ｈ）｛defocus＝−６μｍ｝同士で比較すると、図１６（実施例２）では光束が受光部３０の内部に位置しているのに対し、図１７（比較例）では光束の一部が受光部３０から外れた位置に位置している。
そのため、比較例では受光部３０の受光量が減少し、フォーカスエラー信号のＳ字波形レベルの低下やＳ字波形バランスのズレが生じる。この結果は、実施例１で図８〜図１２を用いて説明した前述の結果に沿うものである。
【００６４】
従って、実施例２の光ピックアップ装置４０によれば、実施例１の光ピックアップ装置１と同様に従来の光ピックアップ装置よりも温度特性が向上し、さらに実施例１の光ピックアップ装置１よりも光ディスクのスクラッチの影響を受けにくくなるという効果を奏する。
【００６５】
＜実施例３＞［図１及び図１８参照］
実施例３の光ピックアップ装置５０（図１参照）は、実施例１の光ピックアップ装置１及び実施例２の光ピックアップ装置４０と比較してホログラム素子３のホログラム部５１の構成が相違し、それ以外の構成については実施例１の光ピックアップ装置１及び実施例２の光ピックアップ装置４０と同じである。
【００６６】
そこで、以下に実施例３の光ピックアップ装置５０におけるホログラム素子３のホログラム部５１について図１８を用いて詳細に説明する。
図１８（ａ）は実施例３の光ピックアップ装置５０のホログラム部５１を説明するための模式的平面図である。図１８（ｂ）及び（ｃ）はホログラム部５１で回折された回折光が受光部２０，３０に照射されたときの各光束をそれぞれ示す模式的平面図である。また、図１８（ｂ）は光ディスクにスクラッチが生じていない場合を示し、図１８（ｃ）は光ディスクにスクラッチが形成されてしまった場合を示している。なお、図１８（ｂ），（ｃ）において、黒色で示す領域が回折光が照射されている領域（光束）である。
【００６７】
図１８（ａ）に示すように、実施例３の光ピックアップ装置５０のホログラム部５１は、光ディスクＤ（図１参照）のラジアル方向（径方向）に延在する中心線Ａ５１によって紙面上下方向｛光ディスクＤのタンジェンシャル方向（接線方向）｝に２分割されている。
一方の分割領域は、それぞれ短冊形状を有するホログラム領域５２とホログラム領域５３とが光ディスクＤのラジアル方向に交互に配置された構成を有している。
他方の分割領域も同様に、それぞれ短冊形状を有するホログラム領域５４とホログラム領域５５とが光ディスクＤのラジアル方向に交互に配置された構成を有している。
【００６８】
ホログラム領域５２，５４は上記の第１のホログラム係数をそれぞれ有し、ホログラム領域５２，５４で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与する。
それに対して、ホログラム領域５３，５５は上記の第２のホログラム係数をそれぞれ有し、ホログラム領域５３，５５で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与しないホログラム領域である。
また、ホログラム領域５２とホログラム領域５４とは互い違いに配置されており、ホログラム領域５３とホログラム領域５５とは互い違いに配置されている。
即ち、実施例３のホログラム領域５２，５４は実施例１のホログラム領域１１，１３及び実施例２のホログラム領域４２にそれぞれ対応し、実施例３のホログラム領域５３，５５は実施例１のホログラム領域１２，１４及び実施例２のホログラム領域４３にそれぞれ対応する。
【００６９】
光ディスクＤ（図１参照）にそのタンジェンシャル方向に対して約４５°の角度をなして延在するスクラッチが形成されてしまった場合、受光部２０，３０に照射される光束にはスクラッチによる遮光領域｛図１８（ｃ）に斜めに白色で示す領域｝が生じる。
【００７０】
いずれの受光領域２１〜２３及び３１〜３３もスクラッチの影響を受けている。
ここで、受光領域２１，２３，３１及び３３の遮光領域による減光量をＥとすると、受光領域２２及び３２の遮光領域による減光量は、遮光領域が２箇所で、且つそれぞれの長さが受光領域２１，２３，３１及び３３の遮光領域の３倍であることから６Ｅとなる。
そこで、各受光領域２１〜２３及び３１〜３３の減光量を前述の（１）式に当てはめると、光ディスクにスクラッチが形成されたときのフォーカスエラー信号ＦＥＳｃは（４）式で表される。
ＦＥＳｃ＝｜｛(Ｂ１−Ｅ)＋(Ａ２−６Ｅ)＋(Ｂ３−Ｅ)｝−｛(Ａ１−Ｅ)＋(Ｂ２−６Ｅ)＋(Ａ３−Ｅ)｝｜＝｜（Ｂ１＋Ａ２＋Ｂ３）−（Ａ１＋Ｂ２＋Ａ３）｜      ．．．（４）式
従って、実施例３の光ピックアップ装置５０も実施例２の光ピックアップ装置４０と同様に  ＦＥＳｃ＝ＦＥＳ  となり、スクラッチの影響を相殺することができる。
【００７１】
また、実施例３の光ピックアップ装置５０によれば、第１のホログラム係数を有し、回折光に非点収差を付与するホログラム領域５２，５４と、第２のホログラム係数を有し、回折光に非点収差を付与しないホログラム領域５３，５５とを備えているので、実施例１の光ピックアップ装置１及び実施例２の光ピックアップ装置４０と同様に従来の光ピックアップ装置よりも温度特性を向上させることができる。
【００７２】
＜実施例４＞［図１及び図１９参照］
実施例４の光ピックアップ装置６０（図１参照）は、実施例１〜実施例３の光ピックアップ装置１，４０，５０と比較してホログラム素子３のホログラム部６１の構成が相違し、それ以外の構成については実施例１〜実施例３の光ピックアップ装置１，４０，５０と同じである。
【００７３】
そこで、以下に実施例４の光ピックアップ装置６０におけるホログラム素子３のホログラム部６１について図１９を用いて詳細に説明する。
図１９（ａ）は実施例４の光ピックアップ装置６０のホログラム部６１を説明するための模式的平面図である。図１９（ｂ）及び（ｃ）はホログラム部６１で回折された回折光が受光部２０，３０に照射されたときの各光束を示す模式的平面図である。また、図１９（ｂ）は光ディスクにスクラッチが生じていない場合を示し、図１９（ｃ）は光ディスクにスクラッチが形成されてしまった場合を示している。なお、図１９（ｂ），（ｃ）において、黒色で示す領域が回折光が照射されている領域（光束）である。
【００７４】
図１９（ａ）に示すように、実施例４の光ピックアップ装置６０のホログラム部６１は、光ディスクＤ（図１参照）のタンジェンシャル方向（接線方向）に延在する中心線Ｂ６１によって紙面左右方向｛光ディスクＤのラジアル方向（径方向）｝に２分割されている。
一方の分割領域にはホログラム領域６２と、中心線Ｂ６１に接しないホログラム領域６３と、が配置されており、他方の分割領域にはホログラム領域６５と、中心線Ｂ６１に接しないホログラム領域６４が配置されている。
ホログラム領域６３とホログラム領域６４とはホログラム部６１の中心Ｏ６１に対して点対称に配置されている。
ホログラム領域６２，６３，６４，６５の面積をそれぞれＳ６２，Ｓ６３，Ｓ６４，Ｓ６５とすると、Ｓ６２＋Ｓ６４＝Ｓ６３＋Ｓ６５の関係を満たす。
【００７５】
また、図１９（ａ）に示すように、光ディスクＤ（図１参照）の再生時において、対物レンズ４のレンズ中心がホログラム部６１の中心位置にあるときの、光ディスクＤの所定の情報記録面で反射したレーザ光である戻り光Ｌｂがホログラム部６１に入射する光束を円Ａ６６で表し、対物レンズ４がラジアル方向（径方向）の一方の方向に最大距離、移動したときの、ホログラム部６１に入射する光束を円Ｂ６６で表し、対物レンズ４がラジアル方向（径方向）のもう一方の方向に最大距離、移動したときの、ホログラム部６１に入射する光束を円Ｃ６６で表すと、ホログラム領域６３及びホログラム領域６４は、少なくともその一部分が３つの円Ａ６６、Ｂ６６、Ｃ６６の内側の領域にそれぞれ含まれるように設計されている。
【００７６】
ホログラム領域６２，６４は上記の第１のホログラム係数をそれぞれ有し、ホログラム領域６２，６４で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与する。
それに対して、ホログラム領域６３，６５は上記の第２のホログラム係数をそれぞれ有し、ホログラム領域６３，６５で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与しないホログラム領域である。
即ち、実施例４のホログラム領域６２，６４は実施例１のホログラム領域１１，１３、実施例２のホログラム領域４２、及び実施例３のホログラム領域５２，５４にそれぞれ対応し、実施例４のホログラム領域６３，６５は実施例１のホログラム領域１２，１４、実施例２のホログラム領域４３、及び実施例３のホログラム領域５３，５５にそれぞれ対応する。
【００７７】
光ディスクＤ（図１参照）にそのタンジェンシャル方向に対して約４５°の角度をなして延在するスクラッチが形成されてしまった場合、受光部２０，３０に照射される光束にはスクラッチによる遮光領域｛図１９（ｃ）に斜めに白色で示す領域｝が生じる。
【００７８】
受光領域２１及び３１はスクラッチの影響を受けていない。
他の受光領域２２，２３，３２，３３はスクラッチの影響を受けている。
ここで、受光領域２３及び３３の遮光領域による減光量をＦとすると、受光領域２２及び３２の遮光領域による減光量は、遮光領域の長さ（面積）が受光領域２３及び３３の遮光領域の１．５倍であることから１．５Ｆとなる。
そこで、各受光領域２１〜２３及び３１〜３３の減光量を前述の（１）式に当てはめると、光ディスクにスクラッチが形成されたときのフォーカスエラー信号ＦＥＳｄは（５）式で表される。
ＦＥＳｄ＝｜｛Ｂ１＋(Ａ２−１．５Ｆ)＋(Ｂ３−Ｆ)｝−｛Ａ１＋(Ｂ２−１．５Ｆ)＋(Ａ３−Ｆ)｝｜＝｜（Ｂ１＋Ａ２＋Ｂ３）−（Ａ１＋Ｂ２＋Ａ３）｜      ．．．（５）式
従って、実施例４の光ピックアップ装置６０も実施例２の光ピックアップ装置４０及び実施例３の光ピックアップ装置５０と同様に  ＦＥＳｄ＝ＦＥＳ  となり、スクラッチの影響を相殺することができる。
【００７９】
また、実施例４の光ピックアップ装置６０によれば、第１のホログラム係数を有し、回折光に非点収差を付与するホログラム領域６２，６４と、第２のホログラム係数を有し、回折光に非点収差を付与しないホログラム領域６３，６５とを備えているので、実施例１〜３の光ピックアップ装置１，４０，５０と同様に従来の光ピックアップ装置よりも温度特性を向上させることができる。
【００８０】
＜実施例５＞［図１及び図２０参照］
実施例５の光ピックアップ装置７０（図１参照）は、実施例１〜実施例４の光ピックアップ装置１，４０，５０，６０と比較してホログラム素子３のホログラム部７１の構成が相違し、それ以外の構成については実施例１〜実施例４の光ピックアップ装置１，４０，５０，６０と同じである。
【００８１】
そこで、以下に実施例５の光ピックアップ装置７０におけるホログラム素子３のホログラム部７１について図２０を用いて詳細に説明する。
図２０（ａ）は実施例５の光ピックアップ装置７０のホログラム部７１を説明するための模式的平面図である。図２０（ｂ）及び（ｃ）はホログラム部７１で回折された回折光が受光部２０，３０に照射されたときの各光束を示す模式的平面図である。また、図２０（ｂ）は光ディスクにスクラッチが生じていない場合を示し、図２０（ｃ）は光ディスクにスクラッチが形成されてしまった場合を示している。なお、図２０（ｂ），（ｃ）において、黒色で示す領域が回折光が照射されている領域（光束）である。
【００８２】
図２０（ａ）に示すように、実施例５の光ピックアップ装置７０のホログラム部７１は、光ディスクＤ（図１参照）のタンジェンシャル方向（接線方向）に延在する中心線Ｂ７１によって紙面左右方向｛光ディスクＤのラジアル方向（径方向）｝に２分割されている。
一方の分割領域にはホログラム領域７３と、中心線Ｂ７１に接しないホログラム領域７２とが配置されており、他方の分割領域にはホログラム領域７４と、中心線Ｂ７１に接しないホログラム領域７５とが配置されている。
ホログラム領域７２とホログラム領域７５とはホログラム部７１の中心線Ｂ７１に対して線対称に配置されている。
ホログラム領域７２，７３，７４，７５の面積をそれぞれＳ７２，Ｓ７３，Ｓ７４，Ｓ７５とすると、Ｓ７２＋Ｓ７４＝Ｓ７３＋Ｓ７５の関係を満たす。
【００８３】
また、図２０（ａ）に示すように、光ディスクＤ（図１参照）の再生時において、対物レンズ４のレンズ中心がホログラム部７１の中心位置にあるときの、光ディスクＤの所定の情報記録面で反射したレーザ光である戻り光Ｌｂがホログラム部７１に入射する光束を円Ａ７６で表し、対物レンズ４がラジアル方向（径方向）の一方の方向に最大距離、移動したときの、ホログラム部６１に入射する光束を円Ｂ７６で表し、対物レンズ４がラジアル方向（径方向）のもう一方の方向に最大距離、移動したときの、ホログラム部６１に入射する光束を円Ｃ７６で表すと、ホログラム領域７２及びホログラム領域７５は、少なくともその一部分が３つの円Ａ７６、Ｂ７６、Ｃ７６の内側の領域にそれぞれ含まれるように設計されている。
【００８４】
ホログラム領域７２，７４は上記の第１のホログラム係数をそれぞれ有し、ホログラム領域７２，７４で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与する。
それに対して、ホログラム領域７３，７５は上記の第２のホログラム係数をそれぞれ有し、ホログラム領域７３，７５で回折された回折光にそれぞれ非点収差を付与しないホログラム領域である。
即ち、実施例５のホログラム領域７２，７４は実施例１のホログラム領域１１，１３、実施例２のホログラム領域４２、実施例３のホログラム領域５２，５４、及び実施例４のホログラム領域６２，６４にそれぞれ対応し、実施例５のホログラム領域７３，７５は実施例１のホログラム領域１２，１４、実施例２のホログラム領域４３、実施例３のホログラム領域５３，５５、及び実施例４のホログラム領域６３，６５にそれぞれ対応する。
【００８５】
光ディスクＤ（図１参照）にそのタンジェンシャル方向に対して約４５°の角度をなして延在するスクラッチが形成された場合、受光部２０，３０に照射される光束にはスクラッチによる遮光領域｛図２０（ｃ）に斜めに白色で示す領域｝が生じる。
【００８６】
受光領域２３はスクラッチの影響を受けていない。
他の受光領域２２，２３，３１，３２，３３はスクラッチの影響を受けている。
ここで、受光領域２１の遮光領域による減光量をＧとすると、受光領域２１の遮光領域に対する各受光領域における遮光領域の面積（長さ）の比率から、受光領域２２の遮光領域による減光量は２Ｇとなり、受光領域３１の遮光領域による減光量はＧとなり、受光領域３２の遮光領域による減光量は３Ｇとなり、受光領域３３の遮光領域による減光量はＧとなる。
そこで、各受光領域２１〜２３及び３１〜３３の減光量を前述の（１）式に当てはめると、光ディスクにスクラッチが形成されたときのフォーカスエラー信号ＦＥＳｅは（６）式で表される。
ＦＥＳｅ＝｜｛(Ｂ１−Ｇ)＋(Ａ２−２Ｇ)＋(Ｂ３−Ｇ)｝−｛(Ａ１−Ｇ)＋(Ｂ２−３Ｇ)＋Ａ３｝｜＝｜（Ｂ１＋Ａ２＋Ｂ３）−（Ａ１＋Ｂ２＋Ａ３）｜      ．．．（６）式
従って、実施例５の光ピックアップ装置７０も実施例２〜実施例４の光ピックアップ装置４０，５０，６０と同様に  ＦＥＳｅ＝ＦＥＳ  となり、スクラッチの影響を相殺することができる。
【００８７】
また、実施例５の光ピックアップ装置７０によれば、第１のホログラム係数を有し、回折光に非点収差を付与するホログラム領域７２，７４と、第２のホログラム係数を有し、回折光に非点収差を付与しないホログラム領域７３，７５とを備えているので、実施例１〜４の光ピックアップ装置１，４０，５０，６０と同様に従来の光ピックアップ装置よりも温度特性を向上させることができる。
【００８８】
本発明の実施例は、上述した構成及び手順に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において変形例としてもよいのは言うまでもない。
【符号の説明】
【００８９】
１，４０，５０，６０，７０＿光ピックアップ装置、  ２＿レーザ光源、  ３＿ホログラム素子、  ４＿対物レンズ、  ５＿受光素子、  １０，４１，５１，６１，７１＿ホログラム部、  １１〜１４，４２，４３，５２〜５５，６２〜６５，７２〜７５＿ホログラム領域、  ２０，３０＿受光部、  ２１〜２３，３１〜３３＿受光領域、  Ｌａ＿レーザ光、  Ｄ＿光ディスク、  Ｌｂ＿戻り光（レーザ光）、  Ｌｃ〜Ｌｆ    ＿回折光、  Ａ１０，Ｂ１０，Ａ５１，Ｂ６１＿中心線、  Ａ２０，Ｂ２０，Ａ３０，Ｂ３０＿分割線、  Ｌｃｃ〜Ｌｆｆ＿光束、  Ｌ１〜Ｌ４＿焦線、  Ｈ１〜Ｈ４，Ｈ１２，Ｈ３４＿距離、  Ｏ６１＿中心
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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