(57)【要約】【課題】光ディスクライブラリ装置において、光ディスク及び光ドライブの劣化の状態を各々評価可能とすること。【解決手段】第１の光ディスクと第１の光ドライブの組合せにおいて光ディスクの特定の領域を再生して第１の再生エラーレートを測定し、所定の閾値以上であったら、第２の光ディスクと第１の光ドライブの組合せで第２の再生エラーレートを測定し、第１の光ディスクと第２の光ドライブの組合せで第３の再生エラーレートを測定し、第２および第３の再生エラーレートに基づいて第１の光ディスクと第１の光ドライブの劣化状態を評価する。【選択図】  図１
2012208981.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに記録再生が可能な複数の光ドライブと、前記複数の光ドライブを制御する制御部と、前記複数の光ドライブの劣化状態を監視する監視部と、を備え、
前記制御部は、
第１の光ドライブが第１の光ディスクの所定の領域のデータを再生して第１の再生評価指標を測定し、前記監視部が所定の閾値と比較し、
前記第１の再生評価指標が前記閾値に対して悪い場合に、
前記第１の光ドライブが所定の再生品質が確認されている第２の光ディスクの前記所定の領域のデータを再生して第２の再生評価指標を測定し、前記監視部が前記閾値と比較し、前記第２の再生評価指標が前記閾値に対して悪いと前記第１の光ドライブが劣化状態であると判定し、
所定の再生性能が確認されている第２の光ドライブが前記第１の光ディスクの前記所定の領域のデータを再生して第３の再生評価指標を測定し、前記監視部が所定の閾値と比較し、前記第３の再生評価指標が前記閾値に対して悪いと前記第１の光ディスクが劣化状態であると判定するように制御することを特徴とする光ディスクライブラリ装置。
【請求項２】
第１の光ドライブで第１の光ディスクの所定の領域のデータを再生して第１の再生評価指標を測定し、所定の閾値と比較し、
前記第１の再生評価指標が前記閾値に対して悪い場合に、
前記第１の光ドライブで所定の再生品質が確認されている第２の光ディスクの所定の領域のデータを再生し第２の再生評価指標を測定して前記閾値と比較した結果に基づき、前記第２の再生評価指標が前記閾値に対して悪いと前記第１の光ドライブが劣化状態であると判定し、
所定の再生性能が確認されている第２の光ドライブで前記第１の光ディスクの所定の領域のデータを再生し第３の再生評価指標を測定して所定の閾値と比較した結果に基づき、前記第３の再生評価指標が前記閾値に対して悪いと前記第１の光ディスクが劣化状態であると判定することにより光ドライブの劣化を評価する処理を含むこと、を特徴とする光ディスク再生方法。
【請求項３】
光ディスクに記録再生が可能な複数の光ドライブと、前記複数の光ドライブを制御する制御部と、前記複数の光ドライブの劣化状態を監視する監視部と、を備え、
前記複数の光ドライブは、
前記光ディスクの所定の領域のデータを再生して再生評価指標を測定可能な自己監視情報記録部を備え、
前記制御部は、
所定の光ドライブが所定の再生品質が確認されている所定の光ディスクの前記再生評価指標を測定し、前記監視部が所定の閾値と比較して前記再生評価指標が前記閾値に対して悪いと前記光ドライブが劣化状態であると判定するように制御することを特徴とする光ディスクライブラリ装置。
【請求項４】
前記再生品質が確認されている所定の光ディスクは、再生専用光ディスクであることを特徴とする請求項３に記載の光ディスクライブラリ装置。
【請求項５】
所定の光ドライブで所定の再生品質が確認されている所定の光ディスクの再生評価指標を測定し、前記監視部が所定の閾値と比較して前記再生評価指標が前記閾値に対して悪いと前記光ドライブが劣化状態であると判定することにより光ドライブの劣化を評価する処理を含むこと、を特徴とする光ディスク再生方法。
【請求項６】
前記再生品質が確認されている所定の光ディスクは、再生専用光ディスクであることを特徴とする請求項５に記載の光ディスク再生方法。
【請求項７】
光ディスクに記録再生を行う記録再生部と、該記録再生部を制御する制御部と、自己監視情報を記録する自己監視情報記録部と、メモリと、上位装置との情報の送受信を行うインタフェースと、を備え、
前記制御部は、
前記光ディスクが装着されると前記記録再生部により前記光ディスクの所定の領域のデータを再生し、
再生評価指標を測定し、
該再生評価指標を前記自己監視情報記録部により前記メモリに記録し、上位からの命令に応じて前記再生評価指標を出力するように制御することを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置に係り、特に複数の光ディスク装置を具備した光ディスクライブラリ装置において各光ディスク装置の劣化の状態を評価する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
背景技術としては、例えば特許文献１に記載の技術がある。特許文献１には「ディスク再生装置は、エラーレートに基づいてメディアの劣化を判定する。すなわち、エラーレートが単位時間当たり所定の閾値以上の値となったときに、バックアップを指示する信号を発生する。」と記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００６−１６３４３３２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ハードディスク装置には装置の劣化を評価するための自己監視機能（Ｓｅｌｆ−Ｍｏｎｉｔｏｒｉｎｇ，Ａｎａｌｙｓｉｓ  ａｎｄ  Ｒｅｐｏｒｔｉｎｇ  Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ、ＳＭＡＲＴと通称される）がＡＴＡ３以降の規格でサポートされているが、ハードディスク装置においてはメディア部とドライブ部が不可分であるため、劣化を評価する際にメディア部とドライブ部の切り分けは不要である。
【０００５】
ところが、光ディスク装置においてはメディアである光ディスクが光ディスク装置（光ディスクと光ディスク装置との表記上の区別を明確にするため、以降は光ディスク装置を光ドライブと記載する）から分離可能であって、光ディスクの劣化と光ドライブの劣化とを個別に評価する必要がある。
【０００６】
特に、複数の光ディスクを保持するラックと、複数の光ドライブと、前記ラックから所定の光ディスクを所定の光ドライブに搬送するチェンジャー機構とを備えた大容量の情報ストレージ装置である光ディスクライブラリ装置においては、信頼性を確保維持するために各光ディスク及び各光ドライブの劣化の状態を各々評価して管理することが重要である。
【０００７】
光ディスクの劣化の状態を光ドライブで評価する技術としては、上述の特許文献１があるが、光ドライブが劣化することは考慮されておらず、また前述の光ディスクライブラリ装置のように複数の光ドライブと複数の光ディスクの任意の組合せで記録再生することも考慮されていなかった。
【０００８】
本発明の目的は、光ディスクライブラリ装置において光ドライブの劣化の状態を評価可能とすることである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上述の目的を解決するため、本発明では一例として特許請求の範囲記載の構成を用いる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明の目的によれば、光ディスクライブラリ装置において光ドライブの劣化の状態を評価可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】第１実施例における光ディスク及び光ドライブの劣化評価処理のフローチャート
【図２】第１実施例における光ディスクライブラリ装置のブロック図
【図３】第１実施例における光ドライブのブロック図
【図４】第１実施例における光ディスクの構成図
【図５】第１実施例における光ドライブ監視データベースのレコードフォーマット
【図６】第１実施例における光ディスク監視データベースのレコードフォーマット
【図７】第２実施例における光ディスク及び光ドライブの劣化評価処理のフローチャート
【図８】第３実施例における光ドライブの劣化評価処理のフローチャート
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明に従う光ディスクライブラリ装置の実施例を、図面を用いて説明する。
【実施例１】
【００１３】
本発明の第１の実施例としての光ディスクライブラリ装置の構成ならびに動作を、図面を参照しながら詳述する。
【００１４】
図２は第１実施例における光ディスクライブラリ装置のブロック図である。本実施例の光ディスクライブラリ装置１０は、ライブラリ制御部１１と、チェンジャー機構１２と、光ディスク４０を複数収納するラック１３と、ホストインタフェース１４と、ドライブインタフェース１５と、光ドライブ監視部１６と、光ディスク監視データベース１７と、光ドライブ監視データベース１８と、複数の光ドライブ３０とで構成される。
【００１５】
光ディスクライブラリ装置１０は、ホストインタフェース１４を介してホストコンピュータ２０と接続され、記録や再生といった各種のコマンドと記録するデータを受信し、コマンドの実行結果と再生したデータを送信する。
【００１６】
ラック１３は複数のスロットを備えており、各スロットには1枚ずつ光ディスク４０を収納することができる。
【００１７】
ライブラリ制御部１１は光ディスクライブラリ装置１０の動作全般を制御する機能を備えており、チェンジャー機構１２を動作させて、ラック１３から所定の光ディスク４０を取り出し、所定の光ドライブ３０まで搬送してロードする。あるいは逆に、所定の光ドライブ３０からイジェクトされた光ディスク４０を、ラック１３の所定のスロットに搬送して収納する。また、ドライブインタフェース１５を介して各光ドライブ３０と接続されており、所定の光ドライブ３０に対して記録や再生といった各種のコマンドと記録するデータを送信し、コマンドの実行結果と再生したデータおよび後述の自己監視情報を受信する。また、光ドライブ監視部を介して各光ドライブ３０と各光ディスク４０の劣化状態を監視し、劣化状態に応じた処理を行う。
【００１８】
光ドライブ監視部１６は、ライブラリ制御部１１から受け取った自己監視情報に基づいて、ラック１３に収納されている全ての光ディスク４０の劣化状態と、全ての光ドライブ３０の劣化状態を評価し、管理する機能を備えている。また、評価結果をライブラリ制御部１１に渡す。
【００１９】
光ディスク監視データベース１７は光ドライブ監視部１６が各々の光ディスク４０の状態を管理するためのデータベースであり、同様に、光ドライブ監視データベース１８は光ドライブ監視部１６が各々の光ドライブ３０の状態を管理するためのデータベースである。いずれのデータベースも光ドライブ監視部１６によってレコードの更新と読み出しが行われる。
【００２０】
図３は第１実施例における光ドライブ３０のブロック図である。本実施例の光ドライブ３０は、ドライブ制御部３１と、光ピックアップ３２と、ドライブメモリ３３と、コントローラインタフェース３４と、自己監視情報記録部３５と、ディスク回転機構５０と、スライダ機構５１と、サーボ制御部５２と、サーボ信号生成部５３と、再生信号生成部５４と、再生信号２値化部５５と、エンコード部５６と、デコード部５７とで構成される。
【００２１】
ドライブ制御部３１は、光ドライブ３０の動作全般を制御する。即ち、サーボ制御部５２を介して、ディスク回転機構５０に装着された光ディスク４０の回転制御を行い、スライダ機構５１を駆動して光ピックアップ３２を光ディスク４０の半径方向に変位させるシーク制御及び送り制御を行い、光ピックアップ３２の対物レンズを駆動してフォーカス制御およびトラッキング制御を行う。
【００２２】
また、ドライブ制御部３１は、光ピックアップ３２のレーザ発光を制御する。記録時には、コントローラインタフェース３４を介してライブラリ制御部１１から送られてきた記録データ信号を、エンコード部５６で所定の変調規則によるＮＲＺＩ信号に変換してドライブ制御部３１に供給し、ドライブ制御部３１はこのＮＲＺＩ信号に対応した記録ストラテジ（発光パルス列）に変換し、所定の光強度およびパルス列でレーザを発光させる。
【００２３】
光ディスク４０からの反射光量は光ピックアップ３２の光検出器で受光されて電気信号に変換され、サーボ信号生成部５３と再生信号生成部５４に送られる。サーボ信号生成部５３は、装着された光ディスク４０に好適な検出方法で各種のサーボ信号を選択して生成し、ドライブ制御部３１に供給する。サーボ信号には少なくともフォーカス誤差信号とトラッキング誤差信号とが含まれる。ドライブ制御部３１は、これらサーボ信号に基づき、前述したようにサーボ制御部５２を介して対物レンズを駆動し、フォーカスサーボおよびトラッキングサーボを動作させる。
【００２４】
再生信号生成部５４は、波形等化回路とＡ／Ｄコンバータとを備えており、光ピックアップ３２から供給されたアナログの再生信号に対して、所定の波形等化の後、標本化および量子化を行ってデジタル信号に変換し、再生信号２値化部５５に供給する。
【００２５】
再生信号２値化部５５は、トランスバーサルフィルタと、ビタビ復号回路を備える。再生信号生成部５４から供給されたデジタル信号はトランスバーサルフィルタで所定のＰＲクラスに等化され、ビタビ復号回路で最尤復号を行って、この等化波形を所定の変調規則に基づくＮＲＺＩ信号に変換する。再生信号２値化手段５５で生成されたＮＲＺＩ信号は、デコード部５７によってデータの訂正処理などを行って再生データ信号に変換され、コントローラインタフェース３４を介してライブラリ制御部１１に送られる。また、デコード部５７は訂正処理時に訂正を行った回数を通知する機能を備えており、再生エラーレートを測定することができる。
【００２６】
また、ドライブ制御部３１は、自己監視情報記録部３５が、光ドライブ３０の自己監視情報を収集し、各自己監視情報に関するイベントが発生する毎にドライブメモリ３３に記録するように制御する。自己監視情報は、光ドライブ３０のパワーオン時間、レーザ発光時間、レーザ発光微分効率（Ｉ−Ｌ特性の傾き）、再生ブロック数、記録ブロック数、光ピックアップ３２のシーク距離など、光ドライブの使用履歴や状態及び性能に関する各種データであり、特に本実施例においては、後述のディスク監視エリア４６の再生エラーレートを含む。詳細な説明は省略するが、自己監視情報としては光ドライブ３０の動作中に随時取得するものと、上位からのテスト実行コマンドに応じて所定のテストを実行することにより取得するものとがある。
【００２７】
図４は第１実施例における光ディスク４０の構成図である。説明を簡略にするため、ＳＬ（Ｓｉｎｇｌｅ Ｌａｙｅｒ）のＢＤ−Ｒを一例として示している。
光ディスク４０は、大きく分けて、ディスク情報などの各種情報が記録されているリードインエリア４１、データゾーンエリア、リードアウトエリア４４の３つの領域で構成されており、更にデータゾーンエリアは、内周側のスペアエリア４２とユーザデータを記録するユーザデータエリア４３と外周側のスペアエリア４２で構成される。
【００２８】
リードインエリア４１には1回の記録更新ごとに記録状態の管理情報を更新して記録するディスク管理エリア４５を備える。また内周側のスペアエリア４２にディスク監視エリア４６を備える。ディスク監視エリア４６には、光ディスク４０が初めていずれかの光ドライブ３０にロードされる際に、初期化処理の一部として所定のデータを記録しておく。なお、本実施例においては、スペアエリア４２に配置される交替エリアを分断しないように、ディスク監視エリア４６をユーザデータエリア４３に近い側に配置する。
【００２９】
第１実施例の光ディスクライブラリ装置が光ディスクと光ドライブの劣化状態を評価する処理動作について説明する。図１は第１実施例における光ディスク及び光ドライブの劣化評価処理のフローチャートである。
【００３０】
ライブラリ制御部１１はホストコンピュータ２０から再生命令を受け取ると、再生処理の実行に併せて劣化評価処理を実施する。ここでは光ディスク４０のうち、ディスクＩＤがＭの光ディスクＭに記録されているデータを再生する命令を受け取ったものとする。
【００３１】
ライブラリ制御部１１は光ディスクＭを再生する光ドライブ３０としてドライブＩＤがＮの光ドライブＮを選択し、Ｓ１０において、チェンジャー機構１２を駆動して光ディスクＭを光ドライブＮにロードする。Ｓ１０１において一連の再生処理を実施し、光ディスクＭのユーザデータエリア４３からユーザデータを再生する。
【００３２】
Ｓ１１において、光ドライブＮは光ディスクＭのディスク監視エリア４６を再生し、再生エラーレートを測定する。測定するデータを固定することにより、データの記録品質のばらつきによる再生エラーレートのばらつきを排除することができる。ところで、記録型の光ディスクにおいては再生回数に応じて記録データの劣化が進行するが、ディスク監視エリア４６を毎回再生することでユーザデータよりも常に再生回数が多いと考えられる。即ち、ディスク上のデータのうち最も劣化が早く、また、劣化が見られてもユーザデータ等はまだ十分な再生品質で再生可能であることが期待できるので、ディスクの劣化状態を評価するのに適している。なお、再生エラーレートの測定はＳ１０１の一連の再生処理の後に実施すると、読み出し開始時間の増加を抑制することができる。
【００３３】
Ｓ１２において、ライブラリ制御部１１は光ドライブＮから光ディスクＭをイジェクトさせる。イジェクトされた光ディスクＭはチェンジャー機構１２によりラック１３に搬送される。
【００３４】
Ｓ１３において、光ドライブＮは自己監視情報を更新してライブラリ制御部１１に送信し、ライブラリ制御部１１は受け取った自己監視情報を光ドライブ監視部１６に渡す。なお、自己監視情報は光ドライブＮが動作している間に情報の種類に応じたイベントが発生する毎に、ドライブメモリに記録して更新するものである。
【００３５】
Ｓ１４において、光ドライブ監視部１６は自己監視情報のうちディスク監視エリア４６の再生エラーレートを所定の閾値と比較する。
【００３６】
再生エラーレートのほうが小さい場合には、光ドライブ監視部１６はＳ１５において劣化警告フラグをオフに設定し、Ｓ２３において光ディスク監視データベース１７と光ドライブ監視データベース１８にそれぞれ劣化警告フラグを含む以下に説明するレコードを追加する。ただし、劣化警告フラグは光ドライブＭと光ディスクＮとの組合せにおいてＳ１１にて測定した再生エラーレートに対応するものであり、光ディスク監視データベース１７に記録されるレコードの劣化警告フラグと、光ドライブ監視データベース１８に記録されるレコードの劣化警告フラグとは同一の内容である。
【００３７】
図５は第１実施例における光ドライブ監視データベースのレコードフォーマットであり、ドライブＩＤと、ディスク監視エリア４６の再生エラーレートを含む種々の自己監視情報と、劣化警告フラグで構成されている。自己監視情報としては、パワーオン時間など、ドライブの状態と関連のある項目である。また、自己監視情報取得時のディスクＩＤもレコードに含む。
【００３８】
一方、図６は第１実施例における光ディスク監視データベースのレコードフォーマットであり、ディスクＩＤと、ディスク監視エリア４６の再生エラーレートを含む種々の自己監視情報と、劣化警告フラグで構成されている。自己監視情報としては、再生時間など、ディスクの状態と関連のある項目である。また、自己監視情報取得時のドライブＩＤもレコードに含む。
【００３９】
なお、レコードとして、累計時間やローディング回数などの累積データを記録することが可能ある。その場合には、光ドライブ監視部１６はレコードを記録するに先立って、光ディスク監視データベース１７から光ディスクＭに関する前回のレコードを取得し、今回受け取った自己監視情報に所定の演算を実施する。同様に、光ドライブ監視データベース１８から光ドライブＮに関する前回のレコードを取得し、今回受け取った自己監視情報に所定の演算を実施する。
【００４０】
次いで、Ｓ２４において、光ディスク監視部１６は光ディスクＭと光ドライブＮの各々の劣化状態の評価結果をライブラリ制御部１１に渡して劣化状態評価処理を終了する。
【００４１】
前述のＳ１４において、ディスク監視エリア４６の再生エラーレートが所定の閾値より大きい場合には、光ディスク監視部１６はＳ１６において劣化警告フラグをオンに設定する。
【００４２】
次に、光ディスク監視部１６は、Ｓ１７において光ディスク監視データベース１７から光ディスクＭに関する前回のレコードを読み出し、Ｓ１８において光ドライブ監視データベース１８から光ドライブＮに関する前回のレコードを読み出す。ただし、光ディスクＭに関する前回のレコードが光ドライブＮに対するレコードの場合には、光ドライブＮ以外に対するレコードに遡って読み出し、また、光ドライブＮに関する前回のレコードが光ディスクＭに対するレコードの場合には、光ディスクＭ以外に対するレコードに遡って読み出す。
【００４３】
光ディスク監視部１６はＳ１７とＳ１８において読み出した光ディスクＭに関する過去のレコードと光ドライブＮに関する過去のレコードの劣化警告フラグを確認し、Ｓ１９において光ディスクＭに関する前回のレコードのみ劣化警告フラグがオンである場合には、Ｓ２０において光ディスクＭが劣化状態であると判定する。
【００４４】
またＳ２１において光ドライブＮに関する前回のレコードのみ劣化警告フラグがオンである場合には、Ｓ２２において光ドライブＮが劣化状態であると判定する。
【００４５】
即ち、光ディスクＭと光ドライブＮの組合せにおいてディスク監視エリアの再生エラーレートが閾値を超える場合に、光ディスクＭが光ドライブＮを除くいずれかの光ドライブ３０で良好に再生されるのであれば光ドライブＮが劣化状態であると判定し、逆に光ドライブＮが光ディスクＭを除くいずれかの光ディスク４０を良好に再生できるのであれば光ディスクＭが劣化状態であると判定する。
【００４６】
光ディスクＭに関する前回のレコードと光ドライブＮに関する前回のレコードの劣化警告フラグが共にオンである場合については、劣化状態と判定された光ディスク４０及び光ドライブ３０を使用しないことにより、概ね排除することができる。万一、共にオンであった場合にも、詳細な説明は省略するが、後述の第２実施例に準じて過去に劣化状態と判定されていない光ディスク４０と光ドライブ３０を使用することで、いずれの劣化かを判定することが可能である。
【００４７】
以下、前述のとおり、Ｓ２３において光ディスク監視データベース１７と光ドライブ監視データベース１８にそれぞれレコードを追加し、Ｓ２４において光ディスクＭと光ドライブＮの各々の劣化状態の評価結果をライブラリ制御部１１に渡して劣化状態評価処理を終了する。
【００４８】
なお、本実施例においては特別に設けたディスク監視エリア４６の再生エラーレートに基づいて劣化状態を判定する例を示したが、これに限らず、ディスクの再生のたびに同じエリアを再生すれば、同様に、記録品質のばらつきによる再生エラーレートのばらつきを排除する効果が得られる。例えば、ディスク管理エリア４５の再生エラーレートに基づいてもよく、その場合、ディスク監視エリア４６を交替領域あるいはユーザデータ領域に割りあてて各領域を拡大することができる。
【００４９】
また、光ディスク及び光ドライブの劣化状態を判定するにあたっては、再生エラーレートのみに基づくのではなく、他の自己監視情報を利用し、例えばパワーオン時間からパワーオン累計時間を計算して所定の時間を越えたら劣化と判断する処理等と組み合わることが可能である。
【００５０】
また、本実施例においては再生エラーレートに基づいて劣化状態を判定する例を示したが、これに限らず、再生信号の評価指標として一般的なジッタやＳＡＭ（Ｓｅｑｕｅｎｃｅｄ Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ Ｍａｒｇｉｎ）、ＭＬＳＥ（Ｍａｘｉｍｕｍ Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ  Ｓｅｑｕｅｎｃｅ  Ｅｒｒｏｒ）等で代替が可能である。
【００５１】
また、光ドライブ監視データベース１７のレコードフォーマットにドライブの劣化状態を示すドライブ劣化フラグを追加し、光ドライブ３０を劣化状態と判定するとドライブ劣化フラグをオンとしてレコードを記録するように構成することで、最新のレコードを参照することで即座に当該の光ドライブが劣化状態か否かの確認が可能となる。同様に、光ディスク監視データベース１８のレコードフォーマットにディスクの劣化状態を示すディスク劣化フラグを追加し、光ディスク４０を劣化状態と判定するとディスク劣化フラグをオンとしてレコードを記録するように構成することで、最新のレコードを参照することで即座に当該の光ドライブが劣化状態か否かの確認が可能となる。
【００５２】
以上に述べたように、本発明の第1実施例によれば、光ディスクライブラリ装置において、光ディスク及び光ドライブの劣化の状態を各々評価することが可能である。
【実施例２】
【００５３】
図７は本発明の第２の実施例における光ディスク及び光ドライブの劣化評価処理のフローチャートである。なお、光ディスクライブラリ装置と光ドライブ及び光ディスクの構成は第１実施例と同様であり、説明を省略する。本実施例においては、劣化警告フラグを持たずに構成する点が第１実施例と異なる。
【００５４】
ライブラリ制御部１１はホストコンピュータ２０から再生命令を受け取ると、再生処理の実行に併せて劣化評価処理を実施する。ここでは光ディスク４０のうち、ディスクＩＤがＭの光ディスクＭに記録されているデータを再生する命令を受け取ったものとする。
【００５５】
ライブラリ制御部１１は光ディスクＭを再生する光ドライブ３０としてドライブＩＤがＮの光ドライブＮを選択し、Ｓ１０において、チェンジャー機構１２を駆動して光ディスクＭを光ドライブＮにロードする。Ｓ１０１において一連の再生処理を行い、光ディスクＭのユーザデータエリア４３から所定のユーザデータを再生する。
【００５６】
Ｓ１１において、光ドライブＮは光ディスクＭのディスク監視エリア４６を再生し、再生エラーレートを測定する。
【００５７】
光ドライブＮが一連の再生処理を実施した後、Ｓ１２において、ライブラリ制御部１１は光ドライブＮから光ディスクＭをイジェクトさせる。イジェクトされた光ディスクＭはチェンジャー機構１２によりラック１３に搬送される。
【００５８】
Ｓ１３において、光ドライブＮは自己監視情報を更新してライブラリ制御部１１に送信し、ライブラリ制御部１１は受け取った自己監視情報を光ドライブ監視部１６に渡す。ここまでは第１実施例と同様である。
【００５９】
次に、Ｓ２３において、光ドライブ監視部１６は光ディスク監視データベース１７と光ドライブ監視データベース１８にそれぞれレコードを追加する。なお、光ディスク監視データベース１７のレコードフォーマットは、劣化警告フラグを除いて、図６に示した第１実施例におけるフォーマットに準じる。また、光ドライブ監視データベース１８のレコードフォーマットは、劣化警告フラグを除いて、図５に示した第１実施例におけるフォーマットに準じる。
【００６０】
Ｓ１４において、光ドライブ監視部１６は自己監視情報のうちディスク監視エリア４６の再生エラーレートを所定の閾値と比較する。
【００６１】
再生エラーレートのほうが小さい場合には、Ｓ２４において、光ディスク監視部１６は光ディスクＭと光ドライブＮの各々の劣化状態の評価結果をライブラリ制御部１１に渡して劣化状態評価処理を終了する。
【００６２】
Ｓ１４における比較の結果、再生エラーレートのほうが大きい場合には、光ディスク監視部１６はライブラリ制御部１１に通知する。Ｓ２５において、ライブラリ制御部１１は、光ドライブ監視部１６を介して光ディスク監視データベース１７を参照し、光ディスクＭ以外の複数の光ディスク４０のうち、ディスク監視エリアにデータが記録されており、且つ、過去に劣化状態と判定されていない所定の光ディスクであるディスクＩＤがＰの光ディスクＰを選択し、チェンジャー機構１２を駆動して光ドライブＮにロードする。
【００６３】
Ｓ２６において、光ドライブＮは光ディスクＰのディスク監視エリア４６を再生し、再生エラーレートを測定し、Ｓ２７において、ライブラリ制御部１１は光ドライブＮから光ディスクＰをイジェクトさせる。イジェクトされた光ディスクＰはチェンジャー機構１２によりラック１３に搬送される。
【００６４】
Ｓ１３において、光ドライブＮは自己監視情報を更新してライブラリ制御部１１に送信し、ライブラリ制御部１１は受け取った自己監視情報を光ドライブ監視部１６に渡す。
【００６５】
Ｓ２３において、光ドライブ監視部１６は光ディスク監視データベース１７と光ドライブ監視データベース１８にそれぞれのレコードを追加する。
【００６６】
再び、Ｓ１４において、光ドライブ監視部１６は自己監視情報のうちディスク監視エリア４６の再生エラーレートを所定の閾値と比較する。ここで、再生エレーレートのほうが大きい場合は、Ｓ２２において光ドライブＮが劣化状態であると判定する。
【００６７】
次に、Ｓ２８において、ライブラリ制御部１１は、光ドライブ監視部１６を介して光ドライブ監視データベース１８を参照し、光ドライブＮ以外の複数の光ドライブ３０のうち、過去に劣化状態と判定されていない所定の光ドライブであるドライブＩＤがＱの光ドライブＱを選択し、チェンジャー機構１２を駆動して光ディスクＭを光ドライブＱにロードする。
【００６８】
Ｓ２９において、光ドライブＱは光ディスクＭのディスク監視エリア４６を再生し、再生エラーレートを測定し、Ｓ３０において、ライブラリ制御部１１は光ドライブＱから光ディスクＭをイジェクトさせる。イジェクトされた光ディスクＭはチェンジャー機構１２によりラック１３に搬送される。
【００６９】
Ｓ１３において、光ドライブＱは自己監視情報を更新してライブラリ制御部１１に送信し、ライブラリ制御部１１は受け取った自己監視情報を光ドライブ監視部１６に渡す。
【００７０】
Ｓ２３において、光ドライブ監視部１６は光ディスク監視データベース１７と光ドライブ監視データベース１８にそれぞれのレコードを追加する。
【００７１】
再び、Ｓ１４において、光ドライブ監視部１６は自己監視情報のうちディスク監視エリア４６の再生エラーレートを所定の閾値と比較する。ここで、再生エレーレートのほうが大きい場合は、Ｓ２０において光ディスクＭが劣化状態であると判定する。
【００７２】
Ｓ２４において、光ディスク監視部１６は光ディスクＭと光ドライブＮの各々の劣化状態の評価結果をライブラリ制御部１１に渡して劣化状態評価処理を終了する。
【００７３】
なお、光ディスクＰを選択するにあたり、劣化状態でないと判断された時点から現在までの期間は短いほど望ましい。同様に、光ドライブＱを選択するにあたり、劣化状態でないと判断された時点から現在までの期間は短いほど望ましい。該当する光ディスクＰあるいは光ドライブＱがない場合には、別途、劣化状態でない光ディスク４０と光ドライブ３０を探す処理が必要になる。詳細は省略するが、一例として、任意の光ディスクＰと光ドライブＱで、ディスク監視エリアの再生エラーレートを測定し、閾値以下であることが確認できれば使用する。確認できなければ組合せを変更して繰り返す。
【００７４】
以上に述べたように、本発明の第２実施例によれば、光ディスクライブラリ装置において、光ディスク及び光ドライブの劣化の状態を各々評価することが可能である。特に劣化状態を検出した直後に、光ディスクと光ドライブのいずれの劣化かを切り分けることが可能であり、前回測定時からの経年劣化の影響を排除することができる。
【実施例３】
【００７５】
図８は本発明の第３の実施例における光ドライブの劣化評価処理のフローチャートである。なお、光ディスクライブラリ装置と光ドライブの構成は第１実施例と同様であり、説明を省略する。本実施例においては、ホストコンピュータ２０が光ディスクライブラリ装置に所定の光ドライブ３０の劣化状態を評価する命令を発行する点、光ディスク４０のうち所定の１枚が光ドライブの劣化状態評価用のテストディスクである点が、第１実施例および第２実施例と異なる。
【００７６】
ライブラリ制御部１１はホストコンピュータ２０から劣化評価命令を受け取ると、劣化評価処理を実施する。ここでは光ドライブＮを評価する命令を受け取ったものとする。
【００７７】
ライブラリ制御部１１は、Ｓ３１において、チェンジャー機構１２を駆動してテストディスクを光ドライブＮにロードする。テストディスクは所定のディスク監視領域４６を備えた再生専用ディスクであり、ディスク監視領域４６には正常な光ドライブ３０で再生すると再生エラーレートが劣化状態を判定する所定の閾値よりも小さくなる評価用のデータが記録されている。
【００７８】
Ｓ３２において、光ドライブＮはテストディスクのディスク監視エリア４６を再生し、再生エラーレートを測定する。再生専用の光ディスクを用いることにより、前述の再生回数に応じた記録データの劣化を考慮することなく測定が可能である。
【００７９】
Ｓ３３において、ライブラリ制御部１１は光ドライブＮからテストディスクをイジェクトさせる。イジェクトされたテストディスクはチェンジャー機構１２によりラック１３に搬送される。
【００８０】
Ｓ１３において、光ドライブＮは自己監視情報を更新してライブラリ制御部１１に送信し、ライブラリ制御部１１は受け取った自己監視情報を光ドライブ監視部１６に渡す。
【００８１】
Ｓ３４において、光ドライブ監視部１６は光ドライブ監視データベース１８にレコードを追加する。光ドライブ監視データベース１８のレコードフォーマットは、第２実施例と同様、劣化警告フラグを除いて、図５に示した第１実施例におけるフォーマットに準じる。
【００８２】
次いで、Ｓ１４において、光ドライブ監視部１６は自己監視情報のうちディスク監視エリア４６の再生エラーレートを所定の閾値と比較する。ここで、再生エレーレートのほうが大きい場合は、Ｓ２２において光ドライブＮが劣化状態であると判定する。特定のテストディスクで評価するため、光ディスクと光ドライブのいずれの劣化かを切り分ける必要なく、光ドライブの劣化を判定することができる。
【００８３】
Ｓ２４において、光ディスク監視部１６は光ドライブＮの劣化状態の評価結果をライブラリ制御部１１に渡して劣化状態評価処理を終了する。
【００８４】
詳細な説明は省略するが、光ディスク４０の劣化状態評価については、劣化状態ではないことが既知の光ドライブ３０でディスク監視エリア４６を再生し、測定した再生エラーレートに基づいて判定することが可能である。
【００８５】
以上に述べたように、本発明の第３実施例によれば、光ディスクライブラリ装置において、特に、再生専用のテストディスクを用いることで光ディスクと光ドライブのいずれの劣化かを切り分け処理を簡略化し、簡便に光ディスク及び光ドライブの劣化の状態を各々評価することが可能である。
【００８６】
なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであって、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
【００８７】
また、上記の各構成は、それらの一部又は全部が、ハードウェアで構成されても、プロセッサでプログラムが実行されることにより実現されるように構成されてもよい。また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてよい。
【００８８】
なお、本発明は例えば以下に説明する実施例も採用できる。
【００８９】
光ディスクライブラリ装置１０において、ユーザ等が光ディスク４０を追加・変更したり、光ドライブ３０を追加・変更した場合には、上述した光ディスクや光ドライブの評価閾値および/または評価指標を、光ディスクや光ドライブに応じて異ならせることができる。この光ディスクや光ドライブに応じた評価閾値および/または評価指標については、予め光ディスクライブラリのファームウェアに登録しておくことで品質評価が効率的にできる。
【符号の説明】
【００９０】
１０・・・光ディスクライブラリ装置、１１・・・ライブラリ制御部、１４・・・ホストインタフェース、１５・・・ドライブインタフェース、１７・・・光ディスク監視データベース、１８・・・光ドライブ監視データベース、３２・・・光ピックアップ、３３・・・ドライブメモリ、３４・・・コントローラインタフェース、４０・・・光ディスク、５０・・・ディスク回転機構、５１・・・スライダ機構
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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