(57)【要約】      （修正有）【課題】後段補正部で夫々適宜に補正が可能な様な情報形態に変換がされる様な画像処理装置を提供する。【解決手段】特定部位の画素の補正を指示する情報・手段を有する画像処理装置で、画素の補正を指示する情報（不良画素情報）は、撮影画像情報として処理をするときに何らかの補正処理を必要とする画素（不良画素）の、当該撮影画像中の位置に係る情報（位置情報）と、補正の種類に係る情報（属性情報）と、夫々を有し、不良画素情報を格納しておく不揮発性記憶手段と、それを一時記憶させる一時記憶手段と、一時記憶手段の制御部と、一時記憶手段からの不良画素情報を受信し、情報の内容を解析するデコード部を有し、デコード部のデコード結果を属性情報毎のステータスとして処理対象である画像情報に重畳する手段を具備する構成による。及び／又は、デコード結果を｛０，１｝情報等、属性情報毎の情報として夫々一時記憶手段に格納する構成による。【選択図】図１
2012124795.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像情報を処理する画像処理装置内に在り、
前記画像情報中の任意の画素に対する補正要求情報（以下、不良画素情報）を受信し、該情報を解析する不良画素情報解析手段であり、
前記不良画素情報には、補正対象の画素（以下、不良画素）を特定する位置情報と、不良の原因又は（及び）補正の種類に係る属性情報と、を含み、
前記位置情報と前記属性情報より、各属性毎に正常画素であるか不良画素であるかを示すステータスを生成し、
前記画像情報に対して、夫々のステータスをまとめて付加することを特徴とした、不良画素情報解析手段。
【請求項２】
任意の属性に係る、前記正常画素であるか不良画素であるかを示すステータスは、０値，１値を夫々をどちらかに割り当てた１ｂｉｔで示されることを特徴とした、請求項１に記載の不良画素情報解析手段。
【請求項３】
前記夫々のステータスの、前記画像情報への付加は、当該画像情報の最下位ｂｉｔ又は、最上位ｂｉｔに対して拡張する様に付加することを特徴とした、請求項１又は請求項２に記載の不良画素情報解析手段。
【請求項４】
請求項１乃至請求項３の何れか１項に記載の不良画素情報解析手段にて解析される前記不良画素情報であり、
該不良画素情報への対象となる前記不良画素とは、前記画像情報中に存在する画像形成とは別途の用途に用いられる画素（焦点検出用センサー画素）の情報をも含むことを特徴とした、不良画素情報。
【請求項５】
撮像手段を有し、該撮像手段中の任意の画素の補正を指示する情報（以下、不良画素情報）と、当該不良画素情報解析手段と、を、有する画像処理装置であり、
前記不良画素情報には、補正対象の画素（以下、不良画素）を特定する位置情報と、不良の原因又は（及び）補正の種類に係る属性情報と、を含み、
前記不良画素情報を格納しておく不揮発性記憶手段と、
それを一時記憶させる一時記憶手段と、
該一時記憶手段の制御部と、
前記一時記憶手段からの前記不良画素情報を受信し、該情報の内容を解析するデコード部と、を有し、
前記デコード部は、不良画素情報抽出手段と、画素を計数するカウンタと、を、夫々具備し、
前記デコード部は、前記不良画素情報と、前記撮像手段より得た画像情報と、夫々を受信し、
前記不良画素情報抽出手段は、前記位置情報と、前記属性情報と、夫々を抽出する手段であり、
前記カウンタは、有効である前記画像情報を受信する毎に、計数・更新していくカウンタであり、
前記位置情報を鑑みた前記カウンタ値の計数・更新結果から、注目画素が不良であるかどうかを判断し、当該注目画素の不良有無を示す不良ステータスを生成し、
前記デコード部は、受信した前記画像情報の出力時に、生成した前記現在の不良ステータスを、前記属性情報に基き一つ以上のステータス情報として前記画像情報に重畳（マージ）して送出することを特徴とした、画像処理装置。
【請求項６】
前記不良ステータス情報を重畳（マージ）した画像情報を受け取り、当該画像情報を処理すべく画像情報処理手段を有し、
該画像情報処理手段は、画像情報処理時には、重畳（マージ）した前記不良ステータスを保持する手段（レジスタ）を、具備したことを特徴とする、請求項５に記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記不良ステータス情報を重畳（マージ）した画像情報を受け取り、当該画像情報を処理すべく画像情報処理手段を有し、
該画像情報処理手段は、画像情報処理時には、重畳（マージ）した前記不良ステータスを分離する処理構成であること特徴とする、請求項５に記載の画像処理装置。
【請求項８】
前記不良ステータス情報を重畳（マージ）した画像情報を受け取り、当該画像情報を処理すべく画像情報処理手段を有し、
該画像情報処理手段の画像情報処理結果に基き、前記重畳（マージ）された不良ステータス情報の状態の更新を実施する処理構成を具備することを特徴とする、請求項５に記載の画像処理装置。
【請求項９】
前記画像情報処理手段は、前記不良ステータス情報に基く任意の画素に対する不良画素補正処理を行う処理を含み、
前記不良ステータス情報の更新は、上述の不良画素補正処理によって対象画素が補正された際に、前記不良ステータスを不良状態から通常画素扱いの状態へと変更することを示す、請求項８に記載の画像情報処理装置。
【請求項１０】
請求項５乃至請求項９の何れか１項に記載の画像情報処理装置にて解析される前記不良画素情報であり、
該不良画素情報への対象となる前記不良画素とは、前記画像情報中に存在する画像形成とは別途の用途に用いられる画素（焦点検出用センサー画素）の情報をも含むことを特徴とした、不良画素情報。
【請求項１１】
画像情報を処理する画像処理装置内に在り、
前記画像情報中の任意の画素に対する補正要求情報（以下、不良画素情報）を受信し、該情報を解析する不良画素情報解析手段であり、
前記不良画素情報には、補正対象の画素（以下、不良画素）を特定する位置情報と、不良の原因又は（及び）補正の種類に係る属性情報と、を含み、
前記不良画素情報解析手段は、前記位置情報から前記不良画素位置を抽出する手段と、前記属性情報から前記不良の原因又は（及び）補正の種類を抽出する手段と、を具備し、
抽出した前記不良の原因又は（及び）補正の種類によって、
抽出した前記不良画素位置の情報を任意のフォーマットに変換する制御と、
抽出した前記不良画素位置とそれ以外の位置とで異なるステータスに切り替えて記憶する制御と、を、選択的に実行可能であることを特徴とした、前記不良画素情報解析手段。
【請求項１２】
前記不良画素情報中の位置情報は、注目不良画素に対する直前の不良画素までの距離を示す相対位置情報を含み、
前記不良画素位置の情報を変換する任意のフォーマットとは、フレーム中の座標を示す絶対位置情報を含むことを特徴とした、請求項１１に記載の不良画素情報解析手段。
【請求項１３】
前記不良画素位置とそれ以外の位置とで異なるステータスは、
正常画素であるか、不良画素であるか、を０値，１値を夫々をどちらかに割り当てた１ｂｉｔで示されることを特徴とした、請求項１１に記載の不良画素情報解析手段。
【請求項１４】
請求項１１乃至請求項１３の何れか１項に記載の不良画素情報解析手段にて解析される前記不良画素情報であり、
該不良画素情報への対象となる前記不良画素とは、前記画像情報中に存在する画像形成とは別途の用途に用いられる画素（焦点検出用センサー画素）の情報をも含むことを特徴とした、不良画素情報。
【請求項１５】
請求項１１に記載の不良画素情報解析手段と、記憶手段と、を含む画像処理装置であり、
前記任意のフォーマットに変換した不良画素位置の情報を、前記記憶手段に格納するためのインターフェースを前記不良画素情報解析手段に具備したことを特徴とする、画像処理装置。
【請求項１６】
請求項１１に記載の不良画素情報解析手段と、記憶手段と、を含む画像処理装置であり、
生成した前記不良画素位置とそれ以外の位置とで異なるステータスの情報を、前記記憶手段に格納するためのインターフェースを前記不良画素情報解析手段に具備したことを特徴とする、画像処理装置。
【請求項１７】
撮像手段を有し、該撮像手段中の任意の画素の補正を指示する情報（以下、不良画素情報）と、当該不良画素情報解析手段と、を、有する画像処理装置であり、
前記不良画素情報には、補正対象の画素（以下、不良画素）を特定する位置情報と、不良の原因又は（及び）補正の種類に係る属性情報と、を含み、
前記不良画素情報を格納しておく不揮発性記憶手段と、
それを一時記憶させる一時記憶手段と、
該一時記憶手段の制御部と、
前記一時記憶手段からの前記不良画素情報を受信し、該情報の内容を解析する不良情報解析手段と、
前記不良情報解析手段の出力情報を受信し、該情報の内容を変換する不良情報変換手段と、を有し、
前記不良情報解析手段は、前記不良画素情報から前記位置情報を抽出する位置情報抽出手段と、該位置情報分の値を計数・更新する不良位置用カウンタと、前記不良画素情報から前記属性情報を抽出する不良属性解析手段と、を、具備し、
前記不良情報変換手段は、連続した位置関係にある画素に対する不良補正の有無を示すステータス信号の状態を保持する一時バッファと、該一時バッファの初期化手段と、前記不良情報解析手段の不良属性解析手段の出力を鑑みた情報で制御される前記一時バッファのライトコントローラと、前記一時バッファのリードコントローラと、配列調整手段と、を具備し、
前記一時バッファに一時記憶される前記ステータス信号の状態は、｛０，  １｝信号であり、該信号は、前記配列調整手段を介して、前記一時記憶手段の格納に適した単位でのデータ扱いに変換されると共に、該一時記憶手段に記憶されることを特徴とした、画像処理装置。
【請求項１８】
前記不良情報変換手段中の一時バッファは、当該処理画像の水平方向１ライン分の前記ステータス信号の状態を記憶するのに十分な容量を持つラインバッファとして搭載されることを特徴とした、請求項１７に記載の画像処理装置。
【請求項１９】
前記一時バッファのライトコントローラは、１ｂｉｔ情報として表現できる前記ステータス信号の状態｛０，  １｝を複数ｂｉｔまとめて１ワード単位とし、
前記一時バッファは、そのデータ格納／読み出し単位を前記ワード単位とするＳＲＡＭのメモリ構成であることを特徴とした、請求項１７又は請求項１８に記載の画像処理装置。
【請求項２０】
前記一時バッファのリードコントローラは、前記一時バッファの読み出しワード単位の読み出しを行うタイミングを発行すると共に、
前記配列調整手段は、前記リードコントローラの読み出しタイミングによって、前記一時バッファのデータを前記ワード単位で一旦受信することを特徴とした、請求項１７乃至請求項１９の何れか１項に記載の画像処理装置。
【請求項２１】
前記配列調整手段は、前記リードコントローラの読み出しタイミングによって一旦受信した前記一時バッファからのワード単位のデータを１つ以上受信し、前記一時記憶手段の取扱データ配列に調整した後に該一時記憶手段に対して出力することを特徴とした、請求項１７乃至請求項２０の何れか１項に記載の画像処理装置。
【請求項２２】
前記一時記憶手段は、複数回リード／ライト可能な揮発性メモリ（ＤＲＡＭ）又は、不揮発性メモリ（ＦｌａｓｈＲＯＭ）であることを特徴とした、請求項１７乃至請求項２１の何れか１項に記載の画像処理装置。
【請求項２３】
請求項１７乃至請求項２２の何れか１項に記載の画像情報処理装置にて解析される前記不良画素情報であり、
該不良画素情報への対象となる前記不良画素とは、前記画像情報中に存在する画像形成とは別途の用途に用いられる画素（焦点検出用センサー画素）の情報をも含むことを特徴とした、不良画素情報。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像手段により撮影画像・映像を入力し、それを処理する画像処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、画像処理装置の具体的な例示としてはデジタルカメラ等の撮像装置が挙がる。該デジタルカメラ等撮像装置では、所定の撮像手段を備え、そこで光電変換された電気信号をデジタル化して画像処理を施して記憶するものである。
【０００３】
デジタルカメラでは、ＣＣＤ，ＣＭＯＳセンサー等、光電変換部を高密度にマトリクス状に配置して画素配列を形成し、被写体を撮像している。これらの画素には、ある確率で正常に動作しない画素（以下、不良画素）が存在し、それが点状のノイズとなって画像の品質劣化を招く。
【０００４】
不良画素には、センサーをデジタルカメラ等撮像装置に組み込む時点で既にその存在が判明しており、常時、不良画素の補正処理を必要とするもの（以下、工程傷）や、センサーの感度不良（感度異常）に起因し、ある閾値と比較してそれ以下（またはそれ以上）であれば傷とせず、入力値を画像情報に用いるもの（感度傷）等が存在する。ある入力レンジにおいては、オフセット値の加減算処理をすれば、画像情報として用いられるものもある。（工程傷は、感度傷の程度の低い（常態で傷）ものともいえる）。
【０００５】
近年、撮像センサーの画素配列中に測距用のセンサーを設け、焦点検出処理を行う手段も提案されている。この焦点検出用のセンサー画素は、例えば、図７中Ｓ１，Ｓ２の様に、通常画素とは異なる開口部形状により所望の瞳の特性を実現し、位相差検出による焦点検出の実現を目論んでいる。
【０００６】
特許文献１は、固体撮像装置及びその制御方法及び撮像装置及び光電変換セルの基本配列及び記憶媒体について記載している。図８は、該文献１に於ける光電変換セルの配列である。光学系により結像された光学象を電気信号に変換する光電変換セルが二次元的に配列された固体撮像装置に於いて、光電変換セル群のうち少なくとも一部Ｓ１，Ｓ２が、画像信号を形成するため以外の信号を出力する様に構成される。
【０００７】
これらの測距用センサーの画素データは、そのまま通常画素と同様に画像処理を施したのでは、結果画像に対して品質の劣化を起こす。この様な、被写体の撮影情報に寄与しない画素データに対しても、画像処理時には、前記不良画素と同等の補正処理を施す必要がある。
【０００８】
前記工程傷、感度傷等不良画素の補正処理を要する画素、前記焦点検出等に用いるための画素で不良画素同等の補正処理を要する画素、等、前記センサーの画素配列中の要補正処理の画素の数は多く、そのまま絶対位置情報として装置に格納していたのでは、記憶手段の容量を多く必要としてしまう。
【０００９】
そのため、これら要補正画素の位置を特定する方法としては、前回の補正位置と次回の補正位置との差分で持つ相対位置情報として記憶手段に格納する方法が提案されている。
例えば、特許文献２では、不良画素情報として、前記相対位置情報と補正の要否を示す情報とを関連付けて記憶部に記憶させる提案をしている。
【００１０】
従来、前記不良画素補正の補正位置の検出は、前述の如く記憶部に記憶した不良画素情報中の位置情報と、前記撮像手段より入力される撮像データの位置カウント値と、夫々を参照しつつ行っている。特許文献３では、不良画素情報の格納部と、不良画素補に用いるための一時バッファとの制御方法について提案をしている。これは、傷補正対象となる前記撮像データに対して消費する前記不良画素情報を、スループットを下げない様、供給するための手段である。
【００１１】
図４は、前記不良画素に用いるための一時バッファを用いた、不良画素補正の要部ブロック図の一例であり、ＤＲＡＭ等揮発性記憶手段４０１から不良画素情報４０２を読み出して、一時バッファ４０４に格納し、前記不良画素情報４０２中の位置情報と補正有無を判定する夫々距離カウンタ４０８及び、グレード判定手段４０７を持つ、傷補正回路要部ブロック図示である。
【００１２】
前述の如く、不良画素の位置情報を前不良との相対距離情報で持つ場合には、前記距離カウンタ４０８中で次期傷迄の距離を有効画像データを受信毎にデクリメントしながら計数していく。該デクリメント値が０値になったときの受信データが不良補正対象である。該距離カウンタ４０８は、該デクリメント値が０になった時点で同図４中４０５の（前記バッファ４０４の）リード／ライトコントローラに対して、出力バッファの指示更新を行い、前記不良情報解析手段に対して新しいデータを送出させる。
【００１３】
また、該コントローラ４０５は、揮発性記憶手段制御部４０３に対して、前記不良画素情報４０２中の新規データ送出の要求をする。前記距離カウンタ４０８は、処理対象である画像データが不良であるというステータス（図では１値で不良）を、論理積４１１に対して送出する。前記不良情報解析手段４０６は、前記不良画素情報４０２の画素毎の情報中から前記位置情報（距離情報）と不良のグレード情報、及び付帯情報があればそれも抽出する。
【００１４】
図４中４０７は、前記グレード情報を解析するグレード判定手段である。不良画素夫々は、異なる不良状態を持つ。前記工程傷は、常時補正対象ではあるが、その不良状態によっては、ＩＳＯ感度、秒時設定、温度状態等々の撮影条件によっては傷とはせずに、通常画素として用いることが出来るレベルのものも存在する。その様な不良画素に対しては、幾つかのグレードを設けて情報としておき、回路側の補正条件としてグレード判定手段内で本処理時のグレードを設定して、傷とするかしないかを選択設定していくものである。
【００１５】
該グレード判定手段の判定結果、該処理画素を不良とする場合には、該グレード判定手段は１値を出力する。また、前記不良情報解析手段４０６は、不良画素に対する付帯情報も抽出する。例えば、前記図４では、前記付帯情報として不良画素の閾値情報を持つ画素情報が存在するものとする。その場合、前記不良画素解析手段４０６が該閾値情報を抽出した場合には、図４中４０９の比較手段に対して該閾値を出力する。図４中比較器４０９では、該値と現在の画像データとの大小比較（又は／及び一致比較）をし、結果、条件が合う様であれば、その画素を不良画素として論理和４１０に対して１値を出力する。
【００１６】
前記論理和４１０の出力が１値である場合、不良画素を検出したことになる。該値は、そのまま前記論理積４１１に出力され、該論理積４１１では、画像データ有効ステータス、距離カウンタ４０８結果及び、論理和４１０結果の値が全て１値だった場合に、傷補正処理の実行を求めるステータスとして１値を出力する。その結果、セレクタ４１２によって、不良画素補正値として、直前の画像データ値が選択される。
【００１７】
図４中４１３は、前記画像データ有効ステータスの状態を保持するレジスタである。本図では、画像データ及び前記画像データ有効ステータスは同一のクロックに同期して転送されるものとする。該レジスタ４１３は、同様のクロックの立ち上がりエッジ（又は、立下りエッジ）によって動作保持を行うフリップフロップ回路によって実現される。同期転送用のクロック信号及び、レジスタのリセット信号については、図が煩雑になるので不図示とする。
【００１８】
図４中４１４は、画像データを一時保持するレジスタであり、上記レジスタ４１３同様フリップフロップ回路構成で実現される。該レジスタ４１４には、セレクタ４１２出力結果が保持される。前記セレクタ４１２は、前記論理積４１１結果が１値であり、現在注目画素が不良画素だった場合に、直前の画像データ値を出力し、そうでない場合には注目画素値をそのまま出力する。本図４では、不良画素一般として、不良画素を直前の画素値で置き換える前置補間を図示している。
【００１９】
また、該前置補間回路部の後段の回路より、画像データ送出の停止要求が来た場合には、前記レジスタ４１３，４１４の状態を一時保持し、さらに前段の回路に対して画像データ送出停止要求のステータスを即時出力する回路を設けている。
【００２０】
特許文献４では、不良画素補正処理の有無を事前にデコードしてステータスを生成し、補正処理部への撮像データ入力に同期して、該ステータスを送出する手段を提供している。これにより、少回路構成での高レート化を実現している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００２１】
【特許文献１】特開２０００−１５６８２３号公報
【特許文献２】特開２００８−１８７４０２号公報
【特許文献３】特開２０００−０２３０５１号公報
【特許文献４】特開２００３−２５９２２０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００２２】
前記不良画素補正対象とする画素数が少なくないことから、前記不良画素情報としては前記相対位置情報として保持しておきたい。また、工程傷、感度傷、焦点検出用センサー夫々の情報も、一にして保持した方が相対位置の表現としては、効率が良い。
【００２３】
しかしながら、前述の如く、前記不良画素情報としては前記相対位置情報として、また、工程傷、感度傷、焦点検出用センサー夫々の情報も、一にして保持する場合において、各処理部夫々に個々に前記不良画素情報のデコード部を保持することは、装置簡素化を阻害する。
【００２４】
前記工程傷は、常時補正対象であり、その位置情報さえ分かれば良い。なので、前もって撮影画像データのライン単位毎や、フレーム単位で傷処理のイメージを展開してしまえる。例えば、｛  ０：  正常処理、１：  傷補正処理｝の様な０／１の１ｂｉｔデータに展開出来る。この様に処理できれば、撮像手段からの入力データの高レート化には有利である。
【００２５】
しかしながら、前記感度傷においては、撮像手段からの入力データに対して傷かどうかの判断をすることが必要であり、前記工程傷の様な事前処理は出来ない。また、補正対象としての焦点検出用センサー画素などは、前記工程傷同様、通常画素においては常時補正対象であるが、合焦動作制御時にはその画素データを別途抽出して、合焦処理の演算手段に送出する必要がある。この様に、同一装置内の傷補正対象の画素といっても、その処理時期がことなる場合が生じている。
【００２６】
位相差方式のための焦点検出用のセンサー画素は、不良画素では無い。しかし、左右の瞳をつくるために、開口形状や、マイクロレンズ位置等に工夫があったり、光を得るために色フィルターが通常画素とは異なる場合があるので、通常の画像処理としてみれば、不良画素同様の補正処理を施す必要がある場合も想定出来る。本提案書では、該焦点検出用のセンサー画素の情報も含めて、不良画素情報と呼んでいる。
【００２７】
前述の様な不良画素情報の保持条件で、一箇所の不良画素情報のデコーダにより、異なる処理時期に対応することが課題である。
【課題を解決するための手段】
【００２８】
本発明は、撮像データに対して、不良補正の要否を示すステータスを付加する手段と、それ以降の各画像処理部において、必要に応じて前記ステータスに反応し、適宜補正処理を実施する手段を具備することで、前記撮像データ毎に、前述の様な情報を一とする不良画像情報をデコードした結果の補正要否ステータス付加及び、各回路での夫々独立した補正処理の実行を実現する。
【００２９】
また、本発明は、前記情報を一とする不良画素情報をデコードする過程で、常時補正の不良画素位置情報と、入力データ状態を鑑みて補正を実施する不良画素位置情報と、夫々に分離して、後段の各画像処理部に適宜送出可能とする装置構成を提供する。
【発明の効果】
【００３０】
本発明によれば、多様化した補正対象毎に、前記情報を一とする相対位置情報を持つ不良画素情報を用いても、画像処理夫々に対して独立した前記不良画素位置を指示することによって、一度の不良画素位置検出（デコード）処理で済ませられることから、回路の簡素化が可能となる。
【００３１】
また、該不良画素位置検出（デコード）と補正処理との時期の分離が可能となるので、前記が祖不良位置情報の呼び出しに係る入力画像処理のスループットの低下を抑えることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】本発明、要部ブロック図
【図２】本発明実施例１、要部ブロック図
【図３】本発明実施例２、要部ブロック図
【図４】従来装置構成、不良画素情報処理部要部図示
【図５】従来装置構成、要部ブロック図
【図６】本発明実施例１、不良画素情報処理部要部図示
【図７】焦点検出用センサー画素  開口状態図示
【図８】焦点検出用センサー画素（光電変換セル）配列図示
【発明を実施するための形態】
【００３３】
［実施例１］
本発明実施例では、前記撮像データ夫々に対して、不良画素補正の要否ステータスを付加する例を提示する。本発明の効果を例示する前に、本発明を実施しない場合の状況について、図５を用いて例示する。
【００３４】
図５は、本発明実施例が適用されない従来構成としての例示である。図５中５００は、前記不良画素情報であり、ここでは、処理１・処理２・処理３夫々を要する夫々の属性と、不良画素位置情報を保持するものとする。また、前述の如く、位置情報は注目する不良画素とその前の不良画素との距離情報としての相対位置情報を保持するものである。距離の定義としては、前記センサーの走査順（撮像データの配列順）に画素を計数したものでよい。
【００３５】
図５中前記不良画素情報５００は、装置中の不揮発性記憶手段（不図示）に格納しているものであるが、使用時にはアクセスの高速性からＤＲＡＭ等の不揮発性記憶手段（図５中５０１）に一時格納して用いる。該不揮発性記憶手段５０１は、図５中５０２のコントローラーによって制御される。
【００３６】
被写体を撮影時、図５中５０３の撮像手段は光電変換により光学情報を電気情報に換えて出力する。図５中５０４のＣＤＳ（相関二重サンプリング）／ＡＧＣ（Ａｕｔｏ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）は、アナログの電気信号のＳ／Ｎを改善するための処理部である。図５中５０５のＡ／Ｄ変換手段によって、撮像電気信号は、デジタルの撮像データに変換される。図５中５０６のＦＩＦＯは、後段のデータ処理のタイミング遅延緩衝用のバッファである。
【００３７】
図５中５０７，５０８，５０９は、前記処理１・処理２・処理３夫々を示すモジュールのブロック図示であるが、夫々センサーの補償演算や、同時化・ノイズ抑圧等の画像処理や、前記合焦検出用の演算処理等、デジタルカメラのデータ処理に係るものであり、夫々モジュールや、内部サブモジュール間に、夫々相互に接続するセレクタを介すれば、その処理順位はその選択範囲において任意とすることが出来る。図示は、あくまでもその一例である。
【００３８】
例えば、モジュール５０７はセンサ補償処理に係り、ここで前記工程傷のみを対象に処理する。図５中５０７１は、前記不良画素位置抽出用のデコード部であり、図５中バッファ５０７１１に蓄積された不良情報から前記工程傷の位置情報を抽出し、該位置の撮像データ受信時にはそれを不良情報として前データと置き換える前置補間を行っても良い。
【００３９】
図５中モジュール５０７中には、幾つかのサブモジュールが存在する。例えば、図５中５０７２はオフセット減算処理をする部位であり、５０７３はシェーディング補正をする部位であり、５０７４はデジタルゲイン演算部等々である。
【００４０】
例えば、図５中モジュール５０８は、焦点検出用のセンサー画素を処理するものとする。その場合、合焦に必要なデータを抽出すると共に、それ以外の画素は画像用の通常画素として手を加えずに後段の処理にまわす必要がある。図５中５０８１は、前記焦点検出用センサーの位置を抽出するデコード部であり、バッファ５０８１１には、前記バッファ５０７１１と同様の不良画素情報が格納される。
【００４１】
例えば、合焦処理においては、その特殊なセンサー画素の補償演算部５０８２や、像高による情報劣化の影響を補償し瞳を再現するための演算部５０８３や、画素値を像として写像し位相差を求めるための相関演算部５０８４等々が存在する。その他にも、確度を上げるためのフィルタ処理等々あるが、ここでは説明を省略する。
【００４２】
合焦処理としては、前記モジュール５０８結果を前記揮発性記憶手段５０１に戻すことで、ＣＰＵ（不図示）が後の処理（レンズ駆動等々）を施すことが出来る。また、画像処理（現像処理）を実行する場合には、前記モジュール５０８は、前記焦点検出用のセンサー位置のデータを画像処理用に補正した結果を、図５中モジュール５０９へと送出する。
【００４３】
例えば、前記図５中モジュール５０９は、画像処理部として存在し、５０９２でホワイトバランスをとり、５０９３で同時化処理を施して、５０９４で偽色抑圧の処理を施しても良い。センサーの補償は、画素夫々に単独の要素として捕らえられるが、画像処理では水平・垂直（あるいは、時間軸方向にフレーム毎に等）隣接した参照画素を要するものであり、前記工程傷だけでなく、全ての不良画素の補正を最初に行っておく必要がある。
【００４４】
前記図５中モジュール５０９には、工程傷の補正・焦点検出用センサーの画素補正が済んだ状態の撮像データとして受信しているので、図５中５０９１のデコード部では感度傷の位置情報を抽出して、同じく得られる閾値情報と、受信した撮像データ値とを比較して、傷と判断される様であれば、補正処理を施す。画処理部の参照画素用のラインバッファ等も活用出来る様であれば、水平・垂直の画素データから、補間画素データを生成しても良い。
【００４５】
図５中５１０は、前記揮発性記憶手段５０１と、各処理モジュール５０７，５０８，５０９，…，とのデータ授受に係るデータ管理部である。ここでは、接続先を前記処理モジュール５０７，５０８，５０９を対象とした構成として説明する。
【００４６】
前記データ管理部５１０中５１０１は、前記揮発性記憶手段５０１から読み出したデータを前記バッファ５０７１１へと送出するためのバッファであり、ＦＩＦＯ構成としている。前記デコード部５０７１はバッファ５０７１１へのデータ充填を、前記データ管理部５１０中のステータスコントローラ５１０２に要求指示を出すと、該ステータスコントローラ５１０２は、図５中のアービター５１００に前記揮発性記憶手段５０１からのデータ要求を出す。
【００４７】
前記アービター５１００は、他のステータスコントローラからの要求が無い様であれば、前記揮発性記憶手段のコントローラ５０２にデータ要求を出す。要求を受けた該コントローラ５０２は、前記揮発性記憶手段５０１から前記不良画素情報５００の前記デコード部５０７１に対する次期データの読み出し指示を送出する。そして、読み出されたデータは、データ管理部５１０中５１０１のＦＩＦＯに格納される。前記揮発性記憶手段５０１からのリードと、処理結果の前記揮発性記憶手段５０１へのライトとの方向の違いはあるが、前記データ管理部５１０中の他のＦＩＦＯ，  ステータスコントローラについても、同様の処理を実施する。
【００４８】
図２は、本発明の第一の実施例の要部ブロック図示である。図２中２００は、相対位置での不良画素位置を含む不良画素情報であり、前述の如く揮発性記憶手段２０１に展開しておく。図２中２０２は、該揮発性記憶手段のコントローラである。図２中２０３〜２０６の所作は、図５中の５０３〜５０６の所作と等しいので、説明を省略する。
【００４９】
ここで、図２中のモジュール２０７，２０８，２０９を、図５中のモジュール５０７，５０８，５０９と同様に定義する。図２中２０７１のデコード部は、前記不良画素情報２００の内容を全てデコードする。本実施例における不良画素情報は、前記工程傷・前記焦点検出用センサー・前記感度傷の夫々の不良画素情報を含むものとする。勿論、本発明の実際の適用時には、これ以外の種類の例外的な画素情報が重畳されていても構わない。
【００５０】
図２中デコード部２０７１の出力信号は、（ｍ＋ｎ）ｂｉｔとしている。前記モジュール２０７への撮像データ入力をｍ  ｂｉｔとすると、ｎ  ｂｉｔ分がマージされている。例えば、今、撮像データの入力を１２ｂｉｔデータとし、マージ分を３ｂｉｔとすると、前記デコード部２０７１の出力データは１５ｂｉｔである。
【００５１】
マージ分の３ｂｉｔは、夫々工程傷・感度傷・焦点検出用のセンサー位置を割り当てている。例えば、この記載順に下位ｂｉｔから割り当てても構わない。また、その３ｂｉｔを、１５ｂｉｔ中の最下位ｂｉｔ側としても構わないし、最上位ｂｉｔ側でも良い。本発明の実行において、その添付位置を、限定はしない。
【００５２】
該３ｂｉｔは、夫々、不良画素位置を示すステータス信号としての役割を担う。例えば、最下位ｂｉｔにおいて、０値時には正常画素状態を示し、１値時には工程傷状態を示す、とすれば良い。例えば、前記モジュール２０７中のサブモジュール（２０７２，２０７３，２０７４）は、全て、最下位ｂｉｔの工程傷にのみ反応する。例えば、積分処理中に最下位ｂｉｔが１になっていたら、前置補間をする、等々である。
【００５３】
例えば、図２中２０８を焦点検出用センサーの処理部とすると、該モジュールでは、最下位から見て２ｂｉｔ目の状態を参照する。該ｂｉｔが１のときが、焦点検出用のセンサーの位置である。
【００５４】
例えば、図２中２０９は画像処理部である。前述の如く、ここでは全ての不良画素補正の実施が必要である。画像処理にはデジタルフィルタ処理があるので、不良画素補正は画像処理前に行う必要がある。例えば、図２中２０９２の位置で実行しても良い。その場合、該サブモジュールでは、前記ステータスの３ｂｉｔ全てにおいて１値状態を確認して、夫々について適宜不良画素補正を施す。前記工程傷や焦点検出用センサ画素については、全て適宜補正を行い、前記感度傷については入力データの値を鑑みて傷と判断した場合に補正処理を行う。
【００５５】
このように、前記不良補正位置を示すステータス信号を前記撮像データに対して付加する様に前記デコード部２０７１を構成することで、前記処理部２０８，２０９中のデコード部（図５中５０８１，５０９１に相当）を不要とすることが出来る。また、図２中２１０に位置する前記揮発性記憶手段２０１と各画像処理部２０７，２０８，２０９との間のデータ管理部中のＦＩＦＯ，ステータスコントローラ等々も、構成を削減出来る。
【００５６】
図６は、先程提示した画像処理部２０７の内部における不良画素情報処理部要部図示である。説明の簡素化・明示化のため、図２中と等価の要素についての符号添付は、図２中と番号を共通にしている。図２中画像処理部２０７において、前記不良画素情報をデコードするデコード部２０７１の機能は以下の様である。
【００５７】
図６中デコード部２０７１は、不良画素情報を格納するバッファ２０７１１が格納可能状態であれば、２０７１２のバッファのリード／ライトコントローラを介して、前記データ管理部２１０にデータ転送要求を送出する。該データ管理部２１０中ステータスコントローラ２１０２は、該転送要求を受けて、前記揮発性記憶手段２０１のコントローラ２０２に対して前記不良画素情報２００データの転送要求を出す。図６中２１００は、（図６中不図示の）前記ステータスコントローラ２１０２の他のコントローラからのデータ送受信要求を調停するためのアービターである。
【００５８】
上記要求に従い、前記不良画素情報２００が前記データ管理部２１０中２１０１のＦＩＦＯを介して前記バッファ２０７１１に格納されると、前記デコード部２０１７は図６中２０７１３の不良画素情報抽出部において次期不良画素の位置情報を抽出し、図６中２０７１４のカウンタに送出する。該カウンタ２０７１４は、例えば、入力画像データ（実際には、画像データ有効ステータスの状態）を計数するカウンタの初期値としてロードされ、該カウンタ２０７１７は前記入力画素データ計数毎に１値デクリメントしていくダウンカウンタ構成とすることが出来る。そして、該カウンタ２０７１４値が０値（相対距離がゼロ）となったときに、その入力データを不良画素として扱う様ステータスを出力する。
【００５９】
該不良画素ステータスは、図６中２０７１５１，２０７１５２，２０７１５３夫々のＡＮＤ処理部に入力すると共に、同図６中２０７１２のリード／ライトコントローラにも入力する。該リード／ライトコントローラ２０７１２は、１画素分の不良処理完了を認識して、前記バッファ２０７１１の読出し先を次データに切り替えると共に、格納データ中の未処理データ数を減じて、もし、格納領域に余裕がある様ならば、前記データ管理部２１０のステータスコントローラ２１０２に対して、次期データの要求を出す。
【００６０】
また、該次期データ転送要求にも関わらず前記不良画素情報が前記バッファ２０７１１に到達しない場合で、該バッファ２０７１１内に未処理データが無くなったならば、前記リード／ライトコントローラ２０７１２は画像データ送出部（この場合、図２中２０６のＦＩＦＯ）に対して画像データ送出停止要求のステータスを発行する。前記ＦＩＦＯ２０６は、撮像データ入力に対して、該停止要求を吸収するだけの容量を要する。
【００６１】
本発明実施例における前記不良画素情報２００には、位置情報の他に、不良の属性情報及び、該画像処理パスにおいて不良補正処理をする／しないを指定せしめる情報等が付帯する。本実施例においては、位置情報は（不良の属性を問わず）前不良との距離情報（相対位置）として、不良の属性としては前記工程傷、前記感度傷及び、前記焦点検出用センサーを、有する様設定している。
【００６２】
また、本発明実施例における前記不良画素情報２００には、不良の状態を示すグレード情報をも付帯している。これは、不良の程度によっては、ある撮影条件下では不良とは見做さずに通常画素として処理せしめるための情報である。例えば前記工程傷は、ある条件下では常時補正とするものの定義であるが、そのある条件（ＩＳＯ感度や、撮影秒時、温度等々）によっては、補正を必要としない程度のものも存在する。そこで、工程傷の属性には、その程度のグレードを添付することで、傷とする・しないの判断を回路に設定したグレードの閾値に照らして実行することが出来る。前記グレード情報とは、その情報を指す。
【００６３】
図６中２０７１５，２０７１６，２０７１７は、グレード判定手段であり、前記不良画素情報２００中に位置情報と共に存在する前記グレード情報の値と、該判定手段に設定された（設定部不図示）値とを比較して、注目情報のグレードがグレード設定値よりも大きければ（小さければ、でも良いし、等しければでも良い）当該不良情報を有効に扱う様ステータスを発行する。
【００６４】
本発明実施例では、前記焦点検出用センサー画素位置も不良情報中に含めているが、これらは通常センサーであるか、特殊センサーであるかのみの選択である。もし、グレードという概念の無い不良属性情報を扱う場合には、それに対応した前記グレード判定手段を省略しても良いし、スルーさせても良い。図６中では、装置仕様として全ての不良属性に対して該手段を具備しており、これら２０７１５〜２０７１７のどのパスに対しても、例えば前記工程傷のステータスを割り当てられる、といった実施形態が可能であるし、ハードウェア構成を鑑みた場合に、後から装置に追加・削除するといったことは容易ではないので、一律に設けて説明をする方が、実際に即しているので記載している。
【００６５】
前記不良画素情報抽出手段２０７１３は、前記バッファ２０７１１からの当該処理対象の不良画素情報より前記不良属性の情報及び、前記グレード情報を抽出し、前記グレード判定手段２０７１５〜２０７１７夫々に適宜送出する。本発明実施例では、例えば、前記グレード判定手段２０７１５を前記工程傷のステータスのパスに、同２０７１６を前記焦点検出用センサー画素のステータスのパスに、同２０７１７を前記感度傷のステータスのパスに、夫々割付ける。
【００６６】
前記グレード判定手段２０７１５では、前述の傷グレードの判断をする。判断の基準は別途レジスタ（不図示）に設定された参照グレードと照合することで可能である。工程傷として適用される様であれば、１値を出力する。また、例えば、同図６中グレード判定手段２０７１６，２０７１７側ではグレード判断が不要であれば、前記不良画素情報抽出手段の属性結果のみを参照して、適用される様であれば、１値を出力する。
【００６７】
前記図６中２０７１５１の論理積は、前記グレード判定手段２０７１５出力と前記カウンタ２０７１４出力及び、画像データ有効ステータス（１値で有効）との論理積を取る。現在の注目画像データが前記工程傷であると判断されると、前記論理積２０７１５１は１値を出力する。同図６中２０７１６１，２０７１７１の論理積についても、同様である。
【００６８】
該論理積２０７１５１，２０７１６１，２０７１７１の出力結果は、画像データにマージして、レジスタ２０７１９に保持される。本発明実施例はデジタル回路構成としての実現を提示しており、前記画像処理部２０７内は同一のクロックに同期して動作する。前記レジスタ２０７１９は、フリップフロップ回路であり、該クロックに同期してデータ転送を行うが、図の簡素化のためにクロック線は不図示としている。同図６中２０７１８，  ２０７２１，  ２０７２２，  ２０７２３のレジスタについても同様である。リセット条件につても、同様に不図示としている。
【００６９】
本発明実施例では、前記画像データを１２ｂｉｔとし、不良補正ステータスとして前記論理積２０７１５１，２０７１６１，２０７１７１出力をマージしたので、前記レジスタ２０７１９の出力は１５ｂｉｔである。前記画像データと、前記不良補正ステータスとのｂｉｔ配列関係は限定するものではないが、図６中では、上位１２ｂｉｔを画像データとして、下位３ｂｉｔを前記ステータスとしている。また、前記ステータスのｂｉｔ配置は、下位ｂｉｔより、前記工程傷、前記焦点検出用センサー画素、前記感度傷夫々の補正ステータスである。
【００７０】
図６中２０７１と２０７２との接続は、６０１，６０２のセレクタを介して行われる。前記セレクタ６０１（データ有効ステータス側），６０２（画像データ側）は、前記サブモジュール２０７２の入力側接続先を選択するものであるが、ここでは前記デコード部２０７１との接続を図示する。該セレクタ設定は、接続レジスタ（不図示）の設定により可能である。
【００７１】
前記サブモジュール２０７２は、前記図２中の各サブモジュール（例えば、２０７１，２０７３，２０７４等々）と接続可能であり、その関係は他のサブモジュール間でも同様である。それは、本実施例図６で提示している（画像）データ、（画像）データ有効ステータス、（画像）データ送出停止要求ステータスを有するインターフェースにより可能としている。前記データ有効ステータスは、１値時に画像データが有効であることを示し、前記停止要求ステータスは、１値時に前段の前記画像データ及び有効ステータスが即時停止することを要求するものである。また、本発明実施例では、これら信号が前述のクロックの立ち上がりエッジに同期した同相転送を保証する。
【００７２】
前記図６中６０３の論理和は、前記デコード部２０７１の後段となるサブモジュールから来る前記停止要求ステータスを重畳する為のものである。実際のロジックとしては、前記セレクタ６０１，６０２に設定される接続レジスタ（不図示）の値によって、後段各サブモジュールからの前記停止要求ステータスとの論理積（不図示）を取る必要がある。即ち、接続関係に無いサブモジュールからの前記停止要求を、前記論理和６０３に入れないためである。
【００７３】
前記図６中２０７２は、簡単な前置補間の機能を提供する。前置補間の採択は、説明を簡易にするためであり、本発明に係る装置において他の不良補正の採択を制限するものではない。本発明実施例では、前置補間部２０７２の不良時の処置として直前の画像データでの置換を提示している。これも、説明の簡素化のためである。
【００７４】
前記図６中２０７２１は、後段へ転送する画像データを一時保持するレジスタである。同様に、図６中２０７２２は前記画像データ有効ステータスの状態を一時保持するレジスタである。同図６中２０７２３は、前記不良補正ステータス部の状態を一時保持するレジスタである。本発明実施例においてこれらは、前述の如くフリップフロップ回路構成であり、また同期クロック入力（不図示）を持つ。
【００７５】
該レジスタ２０７２１〜２０７２３は、前記同期クロックの立ち上がり時において後段からの前記停止要求ステータスが１値の場合に、現在の値を保持するものである。本発明実施例において、前述の如く上位１２ｂｉｔが画像信号であり、下位３ｂｉｔが各不良属性毎の不良補正ステータスである。
【００７６】
図６中２０７２５の積和論理部は、属性選択の値（レジスタ部不図示。本実施例では、図６中属性１選択が前記工程傷選択、属性２選択が前記焦点検出用センサー画素選択、属性３選択が感度傷選択にあたる）によって、一致した不良補正ステータスとの論理積結果を同図６中２０７２４のセレクタの選択条件とする。該条件が１値であれば、そのときの前記画像データを不良画素として、前記レジスタ２０７２１の値（直前の画像データ）で置き換える。
【００７７】
前記属性選択の設定値は、前記工程傷、前記感度傷、前記焦点検出用センサー画素夫々独立にｅｎａｂｌｅ／ｄｉｓａｂｌｅ設定可能である。もし、前置補間部２０７２中で、前記感度傷に対しても前置補間を施したい場合には、工程傷同様に、前記属性３選択をｅｎａｂｌｅにすればよい。
【００７８】
図６中２０７２６の積和論理は、前記不良補正ステータスを解除するためのものである。例えば、該前置補間部２０７２中で不良補正した画素についての補正ステータスを解除したい場合には、該積和論理部２０７２６出力側値を、同図６中２０７２７のセレクタで選択する様、選択解除のレジスタ値を設定すれば良い（該レジスタ部は不図示）。
【００７９】
この様な、補正ステータスの更新は有効であり、例えば、感度傷については検出手段と補正手段とに分け（例えば図２中２０９２で検出を、同図２中２０９３で補正を行う）、存在の確定した（前記デコード部２０７１で属性検出された）補正ステータスに対して、上記検出手段で検出した結果を該補正ステータスに重畳することも、容易に実現出来る。
【００８０】
例えば前記図２中２０８を前記焦点検出用センサー値の処理モジュールとしたときに、同図２中２０８２のサブモジュール中で該焦点検出用センサー画素位置のみを抽出することも可能である。例えば、前記図２中２０９が画像の現像処理部であり、同図２中２０９２が不良画素補正処理部であれば、それ以降のサブモジュールでは前記不良補正ステータスは不要となる。その様な場合には、前記補正処理部２０９２出力は、画像データ１２ｂｉｔ分のみを出力すれば良い。
【００８１】
［実施例２］
本実施例は、前記工程傷やその他複数の解釈の異なる不良画素補正を要する画素の属性や位置情報を含む、前記不良画素情報から夫々属性に対して傷位置情報を独立に抽出する手段について、提示する。
【００８２】
上記方法を具体化した前記不良画素情報のデコード部を構築し、そのデコード結果である不良処理対象画素位置情報を夫々の画像処理部で適宜参照することによっても、前記実施例１同様に、前記不良画素情報の読み込みを一としつつ、その補正については夫々独立に実施することが可能となる。
【００８３】
図１は、本実施例における要部ブロック図であり、補正対象の異なる複数の属性を含んだ前記不良画素情報を読み込み、各対象毎に前記不良処理対象画素位置情報を抽出するデコード手段を示したものである。
【００８４】
図１中１０１は不良情報解析手段であり、前記不良画素情報から不良の属性（工程傷、感度傷、種類を指す）やその画素位置を解釈するものである。図１中１０２は常時補正対象となる不良画素の位置情報をライン単位やフレーム単位での｛０，  １｝情報に変換する不良情報変換手段である。図１中１０３は揮発性記憶手段であり、装置中に格納された前記不良画素情報を、一時展開・格納する一時記憶手段である。
【００８５】
図１中１０３１は前記不良画素情報であり、本実施例では前記工程傷と前記感度傷についての夫々の属性を画素位置情報と共に有し、前述の如く、位置情報としては相対位置情報で保持しているものとする。該不良画素情報１０３１は、前記揮発性記憶手段１０３中に展開されており、前記不良情報解析手段１０１に読み込まれる（本図１では、前記揮発性記憶手段１０３のデータ送受信に係る制御部は、図が煩雑になるので不図示としている。）。
【００８６】
前記不良情報解析手段１０１に読み込まれた前記不良画素情報１０３１は、同図１中の位置情報抽出手段１０１１によって不良位置に係るデータのみを抽出し、同図１中の不良位置用カウンタ１０１２へと送出する。該不良位置用カウンタ１０１２は、相対位置として届く距離データを積算していく。該積算結果は、同図１中絶対位置変換手段１０１６によって、二次元の座標情報へと変換される。前記積算結果の上位をライン数、下位をライン中の画素位置に割り当てることで、容易に二次元の座標情報に変換出来る。
【００８７】
前述の如く、複数の属性を一の不良画素情報としてマージしているので、相対位置の解釈はその属性に因らず連続した作業としなければならない。よって、この前記絶対位置変換手段迄の過程は、全入力データに対して実施される。
【００８８】
図１中１０１７の絶対位置調整手段は、実際に補正を実行する画像フレーム情報に対して抽出した補正位置の調整をするための手段である。例えば、前記不良画素情報１０３１として撮像センサーの全画面を対象とした情報を持たせた場合に、実際に撮影したフレーム情報がセンサーの一部の情報であったり、ある間隔毎の画素情報だったりした場合に、画素位置の整合がとれず補正を誤るので、その整合をとる手段が必要なためである。また、特に調整が要らない場合には、該絶対位置調整手段１０１７は何もしないで、入力絶対位置情報をそのまま出力する。
【００８９】
また、本実施例では対象外としているが、画素加算といって、撮像センサーの画素情報を幾つか加算した結果を撮影データとして用いる場合がある。その様な場合にも不良画素を含む画素の位置情報として、整合をとることが必要である（例えば、加算画素中に不良画素を含む位置のものは、不良対象画素とする）。
【００９０】
図１中１０１３は、不良属性解析手段である。ここでは、前記工程傷・感度傷の属性を抽出する。もし、ここで感度傷の情報を認識したならば、該不良属性解析手段１０１３は、同図１中の抽出バッファ１０１８に対して、現在の絶対座標情報の保持を命令する。抽出バッファ１０１８は、蓄積データを前記揮発性記憶手段１０３へと送出する（揮発性記憶手段１０３のデータ送受信の制御部は、不図示）。図１中１０３３は、前記揮発性記憶手段１０３に格納された感度傷位置情報である。もし、前記感度傷に係る傷判定の閾値を画像フレーム内で一とするならば、該感度傷位置情報は、正に位置情報のみをその内容とすれば良い。
【００９１】
図１中１０１４は、傷データ実行解析手段である。前記工程傷は、ある条件下では常時補正とするものの定義であるが、そのある条件（ＩＳＯ感度や、撮影秒時、温度）によっては、補正を必要としない程度のものも存在する。そこで、工程傷の属性には、その程度のグレードを添付することで、傷とする・しないの判断を回路に設定したグレードの閾値に照らして実行することが出来る。その実行をする部位が、該傷データ実行解析手段１０１４である。
【００９２】
前記傷データ実行解析手段１０１４の工程傷補正要求の結果を受けて、前記図１中の実行バッファ１０１５には、前記絶対位置変換手段結果１０１６のＨ位置情報が格納される。
【００９３】
前記図１中不良情報変換手段１０２は、前記工程傷の補正実施要否を｛０，１｝イメージに変換する部位である。図１中１０２１のラインバッファは、処理対象画像フレームの１Ｈ分の格納容量を持つ。該ラインバッファ１０２１は、前記絶対位置変換手段１０１６の結果座標が１Ｈ進む毎に同図１中１０２２の初期化手段によって、全データを０値に初期化される。該初期化手段１０２２は、不良画素情報の位置指定が撮影画像データの１Ｈを跨いだ時点で、リセットパルスを生成する。
【００９４】
図１中１０２３は、前記ラインバッファ１０２１の格納範囲内の書き換え位置を指示するライトコントローラである。前記実行バッファ１０１５のＨ位置情報の更新毎に、前記ラインバッファ１０２１に対して、該Ｈ位置を書き込みアドレスとして送出し、１値書き込みを命令する。前記要補正情報は、１画素に対して１ｂｉｔである。前記ラインバッファ１０２１が、例えば３２ｂｉｔのＳＲＡＭで構成されるのならば、例えば３２画素毎に書き込み指示をする。その場合、１値書き込みのｂｉｔ位置の調整も、前記ライトコントローラ１０２３中で行う。
【００９５】
図１中１０２４は、前記ラインバッファ１０２１中のデータを前記揮発性記憶手段１０３へと送出する指示を行うリードコントローラである。前述の様、例えば前記不良画素情報１０３１は撮像センサーの全画素分の情報を格納していても、実際に不良補正を適用するのはその一部という場合が存在するので、その有効領域の判定は、同図１中１０２５の有効領域判定手段で行う。
【００９６】
前記有効領域判定手段１０２５は、例えば、実際に現像する撮影画像データが、センサー画素よりも小さいのであれば、不要部分は読み出さない様に前記リードコントローラ１０２４に対して命令する。
【００９７】
前記リードコントローラ１０２４の指示を受けて、前記ラインバッファ１０２１は同図１中１０２６の配列調整手段にデータを送出する。該配列調整手段１０２６はバッファを具備し、前記揮発性記憶手段１０３の受け入れデータ幅にデータ配列を調整して、同手段１０３に対してデータを送出する（前記揮発性記憶手段１０３へのデータ送受信の制御部は、不図示）。
【００９８】
例えば、撮像センサーの２画素毎に有効データを持つ様な撮影画像に対しては、前記ラインバッファ１０２１中の２ｂｉｔ毎のデータを詰め込み直す作業も、該配列調整手段１０２６で行う。図１中１０３２は、この様に前記揮発性記憶手段１０３上に展開された、工程傷補正要否の｛０，１｝ステータス情報である。
【００９９】
図３は、前記不良画素情報中に前記工程傷、前記感度傷及び、前記焦点検出用センサー画素夫々の情報を含んだものに対する処理構成図示である。構成要素は、前記図１中の各モジュールと等しいので、ここではその差異だけを説明する。前記傷データ実行解析手段１０１４に相当する手段が、前記工程傷用の３０１３と、前記焦点検出用センサー画素用の３０１５と、２基搭載している。
【０１００】
前記焦点検出用センサー画素に対する傷データ実行解析手段３０１５は、その構造によっては画像処理時に常時補正対象なので不要である。例えば、任意の領域の前記焦点検出用センサー画素のみを（焦点検出用として）用いる場合に、その弁別が必要となるのでここでは手段３０１５を設けている。もし、上記領域外の前記焦点検出用センサー画素を画像処理する場合には、それを補正する様ステータスを送出する必要があるので、ブロック３０１５出力は、図１中３０１４の実行バッファ１の入力にも接続されている。
【０１０１】
前記図１中１０２１に相当するラインバッファも工程傷ステータス用３０２０、焦点検出画素ステータス用３０２１と２基搭載している。また夫々に対応するライトコントローラも３０２３，３０２４と２基搭載している。不良位置用カウンタ３０１１による進捗管理は一であるので、夫々ラインバッファの初期化手段３０２２及び、実際に有効データとして読み出すための有効領域判定手段３０２６は、夫々１基の搭載である。
【０１０２】
前記配列調整手段１０２６相当は、夫々工程傷ステータス用３０２７、焦点検出センサー画素ステータス用３０２８と、夫々独立に２基搭載する。結果として、処理対象である不良画素情報３０３１の不良情報を、工程傷補正ステータス３０３２、焦点検出センサー位置ステータス３０３３及び、感度傷補正位置情報３０３４に夫々分離・抽出することが出来る。
【０１０３】
｛０，１｝情報化された前記工程傷補正ステータスや前記焦点検出用センサー画素補正ステータスに対する補正の実施は、その０値、１値が画素毎の不良有無と一対一になっているので、例えば図４中４１１の出力と等価な扱いをすることで補正可能である。また、感度傷補正位置情報。本実施例では、前記不良画素自体の補正方法詳細については、発明の特徴に含まれないのでここでは言及しない。
【符号の説明】
【０１０４】
４０６  不良情報解析手段
１０２  不良情報変換手段
２０７，２０８，２０９  画像処理手段
２１０１，２１０３，２１０５  ＦＩＦＯ
２１０２，２１０４，２１０６  ステータスコントローラ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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