(57)【要約】【課題】適切なキズ補正により高品質な画像を得ることを可能とする画像処理装置を提供すること。【解決手段】実施形態によれば、画素抽出部２１は、複数の同色周辺画素の信号値と、複数の異色周辺画素の信号値と、をそれぞれ抽出する。キズ判定部２２は、対象画素の信号値と、複数の同色周辺画素のうちのいずれかの信号値との比較により、対象画素がキズであるか否かのキズ判定を実施する。キズ補正解除判定部である白キズ補正解除判定部２３及び黒キズ補正解除判定部２４は、キズ判定部２２でキズと判定された対象画素に対して、キズ補正を解除するか否かのキズ補正解除判定を実施する。キズ補正解除判定部は、第１異色周辺画素の信号値と、第２異色周辺画素の信号値と、の比較結果に応じて、キズ補正解除判定を実施する。第１異色周辺画素は、対象画素を中心とする第１の範囲に位置する。第２異色周辺画素は、第１の範囲の外側の第２の範囲に位置する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
対象画素についてキズ補正を実施するキズ補正部を有し、
前記キズ補正部は、
前記対象画素が検出する色光と同じ色光を検出するための画素であって前記対象画素の周辺に位置する複数の同色周辺画素の信号値と、前記対象画素とは異なる色光を検出するための画素であって前記対象画素の周辺に位置する複数の異色周辺画素の信号値と、をそれぞれ抽出する画素抽出部と、
前記対象画素の信号値と前記複数の同色周辺画素の信号値との比較により、前記対象画素がキズであるか否かのキズ判定を実施するキズ判定部と、
前記キズ判定部でキズと判定された前記対象画素に対する前記キズ補正を解除するか否かのキズ補正解除判定を実施するキズ補正解除判定部と、を有し、
前記キズ補正解除判定部は、前記複数の異色周辺画素のうち、前記対象画素を中心とする第１の範囲に位置する第１異色周辺画素の信号値と、前記第１の範囲の外側の第２の範囲に位置する第２異色周辺画素の信号値と、の比較結果に応じて、前記キズ補正解除判定を実施することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記キズ補正解除判定部は、前記第１異色周辺画素の信号値と前記第２異色周辺画素の信号値との差分が、前記キズ補正解除判定の基準とするキズ補正解除判定レベルより大きい場合に、前記キズ補正を解除する旨の判定をなすことを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記キズ補正解除判定部は、被写体像の撮像におけるアナログゲイン、前記被写体像を撮像するイメージセンサの温度、及び前記イメージセンサにおける光量の蓄積時間の少なくともいずれかに応じた前記キズ補正解除判定レベルを算出することを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記対象画素と、前記複数の同色周辺画素と、前記複数の異色周辺画素とは、第１の方向と、前記第１の方向に垂直な第２の方向とに配列され、
前記キズ補正解除判定部は、前記第１の方向及び前記第２の方向に対し斜め方向について、前記第１異色周辺画素の信号値と前記第２異色周辺画素の信号値とを比較することを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記キズ補正解除判定部は、第１の斜め方向について前記第１異色周辺画素の信号値と前記第２異色周辺画素の信号値とを比較した比較結果と、前記第１の斜め方向とは異なる第２の斜め方向について前記第１異色周辺画素の信号値と前記第２異色周辺画素の信号値とを比較した比較結果と、に応じて、前記キズ補正解除判定を実施することを特徴とする請求項４に記載の画像処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、画像処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、固体撮像装置は、高画素化による画素の微細化が進行している。このような状況下において、固体撮像装置は、正常に機能していない画素によるデジタル画像信号の欠損部分（以下、適宜「キズ」と称する）の発生が問題視されるようになっている。固体撮像装置の製造時の欠陥検査において規定より多くの画素欠陥が認められた場合は不良品として扱われることになるが、規定が厳格であるほど、固体撮像装置の歩留まりを低下させ製造コストを増加させることとなる。そこで、従来、固体撮像装置は、キズ補正回路における信号処理によってキズを目立たなくする手法が積極的に採用されている。
【０００３】
キズ補正回路は、キズ補正の対象とする対象画素と、対象画素の周辺に位置する周辺画素とで信号レベルを比較することで、対象画素がキズであるか否かを判別する。従来、対象画素及び複数の周辺画素のうち、対象画素がキズである場合のみならず、対象画素と周辺画素の一つとがキズである、いわゆる二画素キズの場合にも対処可能とするキズ補正回路も知られている。キズ補正の効果を高めるためにキズ判定レベルを厳格にすることは、多くの画素に対するキズ補正が可能となる一方、誤補正による解像度低下を生じさせ易くすることになる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−１３４９４１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明の一つの実施形態は、適切なキズ補正により高品質な画像を得ることを可能とする画像処理装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一つの実施形態によれば、画像処理装置は、キズ補正部を有する。キズ補正部は、対象画素についてキズ補正を実施する。キズ補正部は、画素抽出部、キズ判定部及びキズ補正解除判定部を有する。画素抽出部は、複数の同色周辺画素の信号値と、複数の異色周辺画素の信号値と、をそれぞれ抽出する。同色周辺画素は、対象画素が検出する色光と同じ色光を検出するための画素である。同色周辺画素は、対象画素の周辺に位置する。異色周辺画素は、対象画素とは異なる色光を検出するための画素である。異色周辺画素は、対象画素の周辺に位置する。キズ判定部は、対象画素の信号値と複数の同色周辺画素の信号値との比較により、対象画素がキズであるか否かのキズ判定を実施する。キズ補正解除判定部は、キズ判定部でキズと判定された対象画素に対するキズ補正を解除するか否かのキズ補正解除判定を実施する。キズ補正解除判定部は、第１異色周辺画素の信号値と、第２異色周辺画素の信号値と、の比較結果に応じて、キズ補正解除判定を実施する。第１異色周辺画素は、対象画素を中心とする第１の範囲に位置する。第２異色周辺画素は、第１の範囲の外側の第２の範囲に位置する。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】実施形態の画像処理装置を適用したデジタルカメラの構成を示すブロック図。
【図２】キズ補正回路の構成を示すブロック図。
【図３】対象画素、同色周辺画素及び異色周辺画素を説明する図。
【図４】白キズ補正解除判定部におけるキズ補正解除判定のための信号処理の手順を説明する図。
【図５】キズ補正解除判定において参照する異色周辺画素の組み合わせについて説明する図。
【図６】キズ補正解除判定において参照する異色周辺画素の組み合わせについて説明する図。
【図７】黒キズ補正解除判定部におけるキズ補正解除判定のための信号処理の手順を説明する図。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下に添付図面を参照して、実施形態にかかる画像処理装置を詳細に説明する。なお、この実施形態により本発明が限定されるものではない。
【０００９】
（実施形態）
図１は、実施形態の画像処理装置を適用したデジタルカメラの構成を示すブロック図である。デジタルカメラ１は、固体撮像装置２、記憶部３及び表示部４を有する。固体撮像装置２は、被写体像を撮像する。記憶部３は、固体撮像装置２により撮影された画像を格納する。表示部４は、固体撮像装置２により撮影された画像を表示する。表示部４は、例えば、液晶ディスプレイである。
【００１０】
固体撮像装置２は、被写体像の撮像により、記憶部３及び表示部４へ画像信号を出力する。記憶部３は、ユーザの操作等に応じて、表示部４へ画像信号を出力する。表示部４は、固体撮像装置２あるいは記憶部３から入力される画像信号に応じて、画像を表示する。
【００１１】
固体撮像装置２は、レンズユニット５、ＣＭＯＳ（complementary  metal  oxide  semiconductor）センサ６及びデジタルシグナルプロセッサ（digital  signal  processor；ＤＳＰ）７を有する。
【００１２】
レンズユニット５は、被写体からの光を取り込み、ＣＭＯＳセンサ６にて被写体像を結像させる。ＣＭＯＳセンサ６は、レンズユニット５により取り込まれた光を信号電荷に変換し、被写体像を撮像する。ＣＭＯＳセンサ６は、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の信号値をベイヤー配列に対応する順序で取り込むことにより、画像信号を生成する。
【００１３】
画像処理装置であるＤＳＰ７は、ＣＭＯＳセンサ６からの画像信号に対して、種々の画像処理を施す。ＤＳＰ７は、後述するキズ補正回路の他、例えば、画像信号のホワイトバランスを調整するためのホワイトバランス調整回路等を備える。
【００１４】
図２は、キズ補正回路の構成を示すブロック図である。ラインメモリ１０及びキズ補正回路１１は、ＤＳＰ７（図１参照）に設けられている。ラインメモリ１０は、４ラインの画像信号を保持する。ラインメモリ１０は、保持している４ラインと本線の１ラインとの、合計５ライン（０Ｈ〜４Ｈ）の画像信号を出力する。キズ補正回路（キズ補正部）１１は、対象画素についてキズ補正を実施する。
【００１５】
図３は、対象画素、同色周辺画素及び異色周辺画素を説明する図である。ベイヤー配列は、Ｇｒ、Ｒ、Ｇｂ、Ｂの４画素を単位として構成されている。Ｒ画素は、Ｒ光を検出するための画素である。Ｂ画素は、Ｂ光を検出するための画素である。Ｇｒ画素及びＧｂ画素は、Ｇ光を検出するための画素である。Ｇｒ画素は、ラインにてＲ画素と並列している。Ｇｂ画素は、ラインにてＢ画素と並列している。画像信号は、ラインごと（Ｇｒ／Ｒライン、Ｇｂ／Ｂライン）の信号としてキズ補正回路１１へ入力される。
【００１６】
キズ補正回路１１は、垂直方向に５ライン（０Ｈ〜４Ｈ）、水平方向に５画素のマトリクスをなす２５画素のうち中心の画素を、対象画素と設定する。同色周辺画素は、マトリクスのうち、対象画素が検出する色光と同じ色光を検出するための画素である。異色周辺画素は、マトリクスのうち、対象画素が検出する色光とは異なる所定の色光を検出するための画素である。同色周辺画素及び異色周辺画素は、対象画素の周辺に位置する。
【００１７】
図示する例では、Ｒ画素Ｒ２２が対象画素であって、８個のＲ画素Ｒ００、Ｒ０２、Ｒ０４、Ｒ２０、Ｒ２４、Ｒ４０、Ｒ４２、Ｒ４４が同色周辺画素である。また、１２個のＧ画素Ｇｒ０１、Ｇｒ０３、Ｇｂ１０、Ｇｂ１２、Ｇｂ１４、Ｇｒ２１、Ｇｒ２３、Ｇｂ３０、Ｇｂ３２、Ｇｂ３４、Ｇｒ４１、Ｇｒ４３が異色周辺画素である。マトリクスには、１個の対象画素、８個の同色周辺画素及び１２個の異色周辺画素が含まれる。
【００１８】
キズ補正回路１１は、画素抽出部２１、キズ判定部２２、白キズ補正解除判定部２３、黒キズ補正解除判定部２４、白キズ補正解除部２５、黒キズ補正解除部２６及び出力画素選択部２７を有する。
【００１９】
画素抽出部２１は、５ライン（０Ｈ〜４Ｈ）の画像信号から、マトリクスをなす２５画素の信号値を同時化させる。画素抽出部２１は、２５画素の信号値から、対象画素及び８個の同色周辺画素の信号値３１を抽出し、キズ判定部２２へ出力する。画素抽出部２１は、２５画素の信号値から、１２個の異色周辺画素の信号値３２を抽出し、白キズ補正解除判定部２３及び黒キズ補正解除判定部２４へ出力する。
【００２０】
キズ判定部２２は、対象画素の信号値と、８個の同色周辺画素の信号値との比較により、対象画素が白キズであるか否かの白キズ判定と、対象画素が黒キズであるか否かの黒キズ判定とを実施する。白キズは、画素が正常に機能する場合に比べて高い輝度が検出されるようなキズとする。黒キズは、画素が正常に機能する場合に比べて低い輝度が検出されるようなキズとする。キズ判定部２２は、対象画素が白キズである旨の白キズ判定をした場合の白キズフラグ３３と、対象画素が黒キズである旨の黒キズ判定をした場合の黒キズフラグ３４とを出力する。
【００２１】
キズ判定部２２は、例えば、対象画素の信号値が８個の同色周辺画素の信号値の最大値より大きい場合に、対象画素が白キズであると判定する。キズ判定部２２は、例えば、対象画素の信号値が８個の同色周辺画素の信号値の最小値より小さい場合に、対象画素が黒キズであると判定する。キズ判定部２２は、いずれの手法により白キズ判定及び黒キズ判定を実施するものであっても良いものとする。
【００２２】
キズ判定部２２は、白キズ置き換え信号値３５と黒キズ置き換え信号値３６とを、８個の同色周辺画素の信号値の中から選択し、出力する。白キズ置き換え信号値３５は、対象画素が白キズであるとキズ判定部２２が判定した場合に、対象画素の信号値との置き換えに使用される信号値とする。黒キズ置き換え信号値３６は、対象画素が黒キズであるとキズ判定部２２が判定した場合に、対象画素の信号値との置き換えに使用される信号値とする。
【００２３】
白キズ置き換え信号値３５は、例えば、８個の同色周辺画素の信号値の最大値とする。黒キズ置き換え信号値３６は、例えば、８個の同色周辺画素の信号値の最小値とする。白キズ置き換え信号値３５及び黒キズ置き換え信号値３６は、８個の同色周辺画素の信号値のいずれであっても良く、また８個の同色周辺画素の信号値のうち少なくともいずれかを使用して算出されたものであっても良いものとする。
【００２４】
白キズ補正解除判定部２３は、キズ判定部２２で白キズと判定された対象画素に対するキズ補正を解除するか否かのキズ補正解除判定を実施する。白キズ補正解除判定部２３は、対象画素が、被写体像のうちの高輝度部分、例えば、白い線の一部や白い点に含まれているか否かを、異色周辺画素の信号値の比較により判別する。白キズ補正解除判定部２３は、被写体像のうちの高輝度部分に対象画素が含まれていると判別した場合に、キズ補正を解除する旨の判定をする。白キズ補正解除判定部２３は、キズ補正を解除する旨の判定により、白キズ補正解除フラグ３７を出力する。
【００２５】
黒キズ補正解除判定部２４は、キズ判定部２２で黒キズと判定された対象画素に対するキズ補正を解除するか否かのキズ補正解除判定を実施する。黒キズ補正解除判定部２４は、対象画素が、被写体像のうちの低輝度部分、例えば、黒い線の一部や黒い点に含まれているか否かを、異色周辺画素の信号値の比較により判別する。黒キズ補正解除判定部２４は、被写体像のうちの低輝度部分に対象画素が含まれていると判別した場合に、キズ補正を解除する旨の判定をする。黒キズ補正解除判定部２４は、キズ補正を解除する旨の判定により、黒キズ補正解除フラグ３８を出力する。
【００２６】
白キズ補正解除部２５は、キズ判定部２２からの白キズフラグ３３と、白キズ補正解除判定部２３からの白キズ補正解除フラグ３７とが入力された場合であって、キズ補正解除コマンド４４におけるキズ補正解除が有効である場合、白キズフラグ３３のマスクにより白キズ補正を解除する。白キズ補正解除部２５は、キズ判定部２２からの白キズフラグ３３の入力があり、かつ白キズ補正解除判定部２３からの白キズ補正解除フラグ３７の入力がなかった場合、白キズフラグ３３をそのまま出力する。白キズ補正解除部２５は、キズ補正解除コマンド４４におけるキズ補正解除が無効である場合も、白キズフラグ３３をそのまま出力する。
【００２７】
黒キズ補正解除部２６は、キズ判定部２２からの黒キズフラグ３４と、黒キズ補正解除判定部２４からの黒キズ補正解除フラグ３８とが入力された場合であって、キズ補正解除コマンド４４におけるキズ補正解除が有効である場合、黒キズフラグ３４のマスクにより黒キズ補正を解除する。黒キズ補正解除部２６は、キズ判定部２２からの黒キズフラグ３４の入力があり、かつ黒キズ補正解除判定部２４からの黒キズ補正解除フラグ３８の入力がなかった場合、黒キズフラグ３４をそのまま出力する。黒キズ補正解除部２６は、キズ補正解除コマンド４４におけるキズ補正解除が無効である場合も、黒キズフラグ３４をそのまま出力する。
【００２８】
出力画素選択部２７は、対象画素に適用する信号値を、ラインメモリ１０から読み出した信号値４０、白キズ置き換え信号値３５及び黒キズ置き換え信号値３６の中から選択する。信号値４０は、キズ補正前の対象画素の信号値とする。出力画素選択部２７は、白キズ補正解除部２５からの白キズフラグ３３の入力があった場合、白キズ置き換え信号値３５を選択する。
【００２９】
出力画素選択部２７は、黒キズ補正解除部２６からの黒キズフラグ３４の入力があった場合、黒キズ置き換え信号値３６を選択する。出力画素選択部２７は、白キズフラグ３３及び黒キズフラグ３４のいずれも入力されなかった場合、信号値４０を選択する。キズ補正回路１１は、出力画素選択部２７で選択された信号値を出力信号３９とする。
【００３０】
ここで、白キズ補正解除判定部２３によるキズ補正解除判定について説明する。図４は、白キズ補正解除判定部におけるキズ補正解除判定のための信号処理の手順を説明する図である。図５及び図６は、キズ補正解除判定において参照する異色周辺画素の組み合わせについて説明する図である。
【００３１】
白キズ補正解除判定部２３は、第１の方向である水平方向と、第１の方向に垂直な第２の方向である垂直方向とに並列している画素のうち、所定の第１異色周辺画素の信号値と第２異色周辺画素の信号値とを使用する演算を行う。
【００３２】
第１異色周辺画素は、１２個の異色周辺画素のうち、対象画素に近い第１の範囲に位置する画素とする。第２異色周辺画素は、１２個の異色周辺画素のうち、対象画素から離れた第２の範囲に位置する画素とする。第１の範囲は、対象画素を中心とする３×３画素に含まれる範囲とする。第２の範囲は、対象画素を中心とする５×５画素のうち、第１の範囲の外側の範囲とする。第１異色周辺画素は、対象画素に近接している。第２異色周辺画素は、５×５画素の範囲のうち、対象画素から離れた位置にある。
【００３３】
白キズ補正解除判定部２３は、図５において右下がりの斜め方向（以下、第１の斜め方向と称する）について、第１異色周辺画素の信号値と、第２異色周辺画素の信号値とを比較する。白キズ補正解除判定部２３は、図５にて破線で囲んで示すように、右上がりの斜め方向（以下、第２の斜め方向と称する）において互いに隣接する第１異色周辺画素同士（Ｇｒ２１及びＧｂ１２、Ｇｂ３２及びＧｒ２３）について、それぞれ信号値の和を求める。また、白キズ補正解除判定部２３は、図５にて破線で囲んで示すように、第２の斜め方向において互いに隣接する第２異色周辺画素同士（Ｇｂ１０及びＧｒ０１、Ｇｒ４３及びＧｂ３４）について、それぞれ信号値の和を求める。
【００３４】
白キズ補正解除判定部２３は、第１の斜め方向について、第１異色周辺画素Ｇｒ２１及びＧｂ１２の信号値と、第２異色周辺画素Ｇｂ１０及びＧｒ０１の信号値とを比較する。ここでは、白キズ補正解除判定部２３は、第１異色周辺画素Ｇｒ２１及びＧｂ１２の信号値の和（Ｇｒ２１＋Ｇｂ１２）と、第２異色周辺画素Ｇｂ１０及びＧｒ０１の信号値の和（Ｇｂ１０＋Ｇｒ０１）とについて、以下の式（１）を満たすか否かを判断する。
（Ｇｒ２１＋Ｇｂ１２）＞（Ｇｂ１０＋Ｇｒ０１）＋ＷＣＬ    （１）
【００３５】
また、白キズ補正解除判定部２３は、第１の斜め方向について、第１異色周辺画素Ｇｂ３２及びＧｒ２３の信号値と、第２異色周辺画素Ｇｒ４３及びＧｂ３４の信号値とを比較する。ここでは、白キズ補正解除判定部２３は、第１異色周辺画素Ｇｂ３２及びＧｒ２３の信号値の和（Ｇｂ３２＋Ｇｒ２３）と、第２異色周辺画素Ｇｒ４３及びＧｂ３４の信号値の和（Ｇｒ４３＋Ｇｂ３４）とについて、以下の式（２）を満たすか否かを判断する。
（Ｇｂ３２＋Ｇｒ２３）＞（Ｇｒ４３＋Ｇｂ３４）＋ＷＣＬ    （２）
【００３６】
ＷＣＬは、キズ補正解除判定の基準とする白キズ補正解除判定レベルであるものとする。式（１）及び（２）が共に成立するとき、すなわち、第１異色周辺画素の信号値と第２異色周辺画素の信号値との差分がＷＣＬより大きい場合、白キズ補正解除判定部２３は、対象画素が、被写体像のうちの高輝度部分に含まれているものと判別する。
【００３７】
白キズ補正解除判定部２３は、白キズ補正解除判定コマンド４１において予め設定された固定値にＭＰを乗算することにより、ＭＰに応じたＷＣＬを算出する。白キズ補正解除判定部２３は、ＷＣＬを大きい値とするほど、式（１）及び（２）が成立するケースを少なくさせ、白キズ補正解除の頻度を低下させる。キズ補正回路１１は、ＷＣＬを大きい値とするほど、キズ補正解除の判定を少なくさせ、積極的な白キズ補正が可能となる。
【００３８】
ＭＰは、例えば、被写体像の撮像におけるアナログゲイン４３に連動する係数とする。撮影環境が低照度である場合、熱雑音等によるキズは生じ易くなることから、キズの誤補正の影響よりもキズ補正の積極性を重視するほうが効果的である場合が多くなる。キズ補正回路１１は、アナログゲイン４３が大きいほどＭＰを小さい値とすることで、より厳格な白キズ補正解除判定の実施により、キズ補正の効果を強めることが可能となる。
【００３９】
ＭＰは、アナログゲイン４３に連動する係数である場合に限られず、例えば、ＣＭＯＳセンサ６の温度、ＣＭＯＳセンサ６における光量の蓄積時間等に連動するものとしても良い。ＣＭＯＳセンサ６の温度が高いほど、ＭＰは小さい値とする。また、ＣＭＯＳセンサ６における光量の蓄積時間が長いほど、ＭＰは小さい値とする。この場合も、キズ補正回路１１は、熱雑音等によるキズは生じ易い状況下では、より厳格なキズ補正解除判定を実施可能とし、キズ補正の効果を強めることが可能となる。
【００４０】
白キズ補正解除判定部２３は、第２の斜め方向について、第１異色周辺画素の信号値と、第２異色周辺画素の信号値とを比較する。白キズ補正解除判定部２３は、図６にて破線で囲んで示すように、第１の斜め方向において互いに隣接する第１異色周辺画素同士（Ｇｒ２３及びＧｂ１２、Ｇｂ３２及びＧｒ２１）について、それぞれ信号値の和を求める。また、白キズ補正解除判定部２３は、図６にて破線で囲んで示すように、第１の斜め方向において互いに隣接する第２異色周辺画素同士（Ｇｂ１４及びＧｒ０３、Ｇｒ４１及びＧｂ３０）について、それぞれ信号値の和を求める。
【００４１】
白キズ補正解除判定部２３は、第２の斜め方向について、第１異色周辺画素Ｇｒ２３及びＧｂ１２の信号値と、第２異色周辺画素Ｇｂ１４及びＧｒ０３の信号値とを比較する。ここでは、白キズ補正解除判定部２３は、第１異色周辺画素Ｇｒ２３及びＧｂ１２の信号値の和（Ｇｒ２３＋Ｇｂ１２）と、第２異色周辺画素Ｇｂ１４及びＧｒ０３の信号値の和（Ｇｂ１４＋Ｇｒ０３）とについて、以下の式（３）を満たすか否かを判断する。
（Ｇｒ２３＋Ｇｂ１２）＞（Ｇｂ１４＋Ｇｒ０３）＋ＷＣＬ    （３）
【００４２】
また、白キズ補正解除判定部２３は、第２の斜め方向について、第１異色周辺画素Ｇｂ３２及びＧｒ２１の信号値と、第２異色周辺画素Ｇｒ４１及びＧｂ３０の信号値とを比較する。ここでは、白キズ補正解除判定部２３は、第１異色周辺画素Ｇｂ３２及びＧｒ２１の信号値の和（Ｇｂ３２＋Ｇｒ２１）と、第２異色周辺画素Ｇｒ４１及びＧｂ３０の信号値の和（Ｇｒ４１＋Ｇｂ３０）とについて、以下の式（４）を満たすか否かを判断する。
（Ｇｂ３２＋Ｇｒ２１）＞（Ｇｒ４１＋Ｇｂ３０）＋ＷＣＬ    （４）
【００４３】
ＷＣＬは、式（１）及び（２）の場合と同様、ＭＰの乗算を経た白キズ補正解除判定レベルとする。式（３）及び（４）が共に成立するとき、すなわち、第１異色周辺画素の信号値と第２異色周辺画素の信号値との差分がＷＣＬより大きい場合、白キズ補正解除判定部２３は、対象画素が、被写体像のうちの高輝度部分に含まれているものと判別する。
【００４４】
白キズ補正解除判定部２３は、第１の斜め方向について第１異色周辺画素の信号値と第２異色周辺画素の信号値とを比較した比較結果（式（１）及び（２））と、第２の斜め方向について第１異色周辺画素と第２異色周辺画素の信号値とを比較した比較結果（式（３）及び（４））と、に応じて、キズ補正解除判定を実施する。
【００４５】
ここで、式（１）及び（２）が共に成立する場合を条件（５）、式（３）及び（４）が共に成立する場合を条件（６）とする。白キズ補正解除判定部２３は、条件（５）及び条件（６）の双方が成立する場合と、条件（５）及び条件（６）の一方が成立する場合とにおいて、白キズ補正解除選択コマンド４５に従い、白キズ補正解除フラグ３７を選択し、出力する。
【００４６】
条件（５）及び条件（６）が成立する場合とは、対象画素が例えば点状の高輝度部分に含まれる場合である。条件（５）又は条件（６）が成立する場合とは、対象画素が例えば線状の高輝度部分に含まれる場合である。例えば、高輝度部分が、対象画素を含めて第２の斜め方向、あるいは第２の斜め方向に近い方向へ延伸している場合、条件（５）を満たし得る。また、高輝度部分が、対象画素を含めて第１の斜め方向、あるいは第１の斜め方向に近い方向へ延伸している場合、条件（６）を満たし得る。
【００４７】
キズ補正回路１１は、白キズ補正解除判定部２３によるキズ補正解除判定の実施により、被写体像の高輝度部分に対象画素が含まれている場合における誤補正を抑制させることが可能となる。
【００４８】
次に、黒キズ補正解除判定部２４によるキズ補正解除判定について説明する。図７は、黒キズ補正解除判定部におけるキズ補正解除判定のための信号処理の手順を説明する図である。黒キズ補正解除判定部２４は、白キズ補正解除判定部２３と同様、第１異色周辺画素同士の信号値の和と、第２異色周辺画素の信号値の和とを求める。
【００４９】
黒キズ補正解除判定部２４は、第１の斜め方向について、第１異色周辺画素Ｇｒ２１及びＧｂ１２の信号値と、第２異色周辺画素Ｇｂ１０及びＧｒ０１の信号値とを比較する。ここでは、黒キズ補正解除判定部２４は、第１異色周辺画素Ｇｒ２１及びＧｂ１２の信号値の和（Ｇｒ２１＋Ｇｂ１２）と、第２異色周辺画素Ｇｂ１０及びＧｒ０１の信号値の和（Ｇｂ１０＋Ｇｒ０１）とについて、以下の式（７）を満たすか否かを判断する。
（Ｇｒ２１＋Ｇｂ１２）＜（Ｇｂ１０＋Ｇｒ０１）―ＢＣＬ    （７）
【００５０】
また、黒キズ補正解除判定部２４は、第１の斜め方向について、第１異色周辺画素Ｇｂ３２及びＧｒ２３の信号値と、第２異色周辺画素Ｇｒ４３及びＧｂ３４の信号値とを比較する。ここでは、黒キズ補正解除判定部２４は、第１異色周辺画素Ｇｂ３２及びＧｒ２３の信号値の和（Ｇｂ３２＋Ｇｒ２３）と、第２異色周辺画素Ｇｒ４３及びＧｂ３４の信号値の和（Ｇｒ４３＋Ｇｂ３４）とについて、以下の式（８）を満たすか否かを判断する。
（Ｇｂ３２＋Ｇｒ２３）＜（Ｇｒ４３＋Ｇｂ３４）―ＢＣＬ    （８）
【００５１】
ＢＣＬは、キズ補正解除判定の基準とする黒キズ補正解除判定レベルであるものとする。式（７）及び（８）が共に成立するとき、すなわち、第１異色周辺画素の信号値と第２異色周辺画素の信号値との差分がＢＣＬより大きい場合、黒キズ補正解除判定部２４は、対象画素が、被写体像のうちの低輝度部分に含まれているものと判別する。
【００５２】
黒キズ補正解除判定部２４は、黒キズ補正解除判定コマンド４２において予め設定された固定値にＭＰを乗算することにより、ＢＣＬを算出する。黒キズ補正解除判定部２４は、ＢＣＬを大きい値とするほど、式（７）及び（８）が成立するケースを少なくさせ、黒キズ補正解除の頻度を低下させる。キズ補正回路１１は、ＢＣＬを大きい値とするほど、キズ補正解除の判定を少なくさせ、積極的な黒キズ補正が可能となる。ＭＰは、白キズ補正の場合と同様、アナログゲイン４３、ＣＭＯＳセンサ６の温度、ＣＭＯＳセンサ６における光量の蓄積時間等に連動する係数とする。
【００５３】
黒キズ補正解除判定部２４は、第２の斜め方向について、第１異色周辺画素Ｇｒ２３及びＧｂ１２の信号値と、第２異色周辺画素Ｇｂ１４及びＧｒ０３の信号値とを比較する。ここでは、黒キズ補正解除判定部２４は、第１異色周辺画素Ｇｒ２３及びＧｂ１２の信号値の和（Ｇｒ２３＋Ｇｂ１２）と、第２異色周辺画素Ｇｂ１４及びＧｒ０３の信号値の和（Ｇｂ１４＋Ｇｒ０３）とについて、以下の式（９）を満たすか否かを判断する。
（Ｇｒ２３＋Ｇｂ１２）＜（Ｇｂ１４＋Ｇｒ０３）―ＢＣＬ    （９）
【００５４】
また、黒キズ補正解除判定部２４は、第２の斜め方向について、第１異色周辺画素Ｇｂ３２及びＧｒ２１の信号値と、第２異色周辺画素Ｇｒ４１及びＧｂ３０の信号値とを比較する。ここでは、黒キズ補正解除判定部２４は、第１異色周辺画素Ｇｂ３２及びＧｒ２１の信号値の和（Ｇｂ３２＋Ｇｒ２１）と、第２異色周辺画素Ｇｒ４１及びＧｂ３０の信号値の和（Ｇｒ４１＋Ｇｂ３０）とについて、以下の式（１０）を満たすか否かを判断する。
（Ｇｂ３２＋Ｇｒ２１）＜（Ｇｒ４１＋Ｇｂ３０）―ＢＣＬ    （１０）
【００５５】
ＢＣＬは、式（７）及び（８）の場合と同様、ＭＰの乗算を経た黒キズ補正解除判定レベルとする。式（９）及び（１０）が共に成立するとき、すなわち、第１異色周辺画素の信号値と第２異色周辺画素の信号値との差分がＢＣＬより大きい場合、黒キズ補正解除判定部２４は、対象画素が、被写体像のうちの低輝度部分に含まれているものと判別する。
【００５６】
黒キズ補正解除判定部２４は、第１の斜め方向について第１異色周辺画素の信号値と第２異色周辺画素の信号値とを比較した比較結果（式（７）及び（８））と、第２の斜め方向について第１異色周辺画素と第２異色周辺画素の信号値とを比較した比較結果（式（９）及び（１０））と、に応じて、キズ補正解除判定を実施する。
【００５７】
ここで、式（７）及び（８）が共に成立する場合を条件（１１）、式（９）及び（１０）が共に成立する場合を条件（１２）とする。黒キズ補正解除判定部２４は、条件（１１）及び条件（１２）の双方が成立する場合と、条件（１１）及び条件（１２）の一方が成立する場合とにおいて、黒キズ補正解除選択コマンド４６に従い、黒キズ補正解除フラグ３８を選択し、出力する。
【００５８】
条件（１１）及び条件（１２）が成立する場合とは、対象画素が例えば点状の低輝度部分に含まれる場合である。条件（１１）又は条件（１２）が成立する場合とは、対象画素が例えば線状の低輝度部分に含まれる場合である。例えば、低輝度部分が、対象画素を含めて第２の斜め方向、あるいは第２の斜め方向に近い方向へ延伸している場合、条件（１１）を満たし得る。また、低輝度部分が、対象画素を含めて第１の斜め方向、あるいは第１の斜め方向に近い方向へ延伸している場合、条件（１２）を満たし得る。
【００５９】
キズ補正回路１１は、黒キズ補正解除判定部２４によるキズ補正解除判定の実施により、被写体像の低輝度部分に対象画素が含まれている場合における誤補正を抑制させることが可能となる。ＤＳＰ７は、キズ補正回路１１においてキズの誤補正を抑制させ、適切なキズ補正を可能とすることで、高品質な画像を得ることが可能となる。
【００６０】
キズ補正回路１１は、対象画素がＢ画素である場合、対象画素がＲ画素である場合と同様に、Ｇｒ画素及びＧｂ画素を異色周辺画素として、キズ補正解除判定を実施する。また、キズ補正回路１１は、対象画素がＧｒ画素及びＧｂ画素のいずれかである場合、Ｒ画素及びＢ画素を異色周辺画素として、キズ補正解除判定を実施する。これにより、キズ補正回路１１は、ベイヤー配列においていずれの色光用の画素が対象画素である場合も、同じ位置の画素を異色周辺画素として、演算処理を行うことができる。
【００６１】
キズ補正回路１１は、白キズ及び黒キズの双方について、キズ補正解除判定を実施する場合に限られず、白キズ及び黒キズのうちの少なくとも一方についてキズ補正解除判定を実施するものであれば良いものとする。実施形態にかかる画像処理装置は、デジタルカメラ以外の電子機器、例えばカメラ付き携帯電話等に適用しても良い。
【００６２】
本発明の実施形態を説明したが、この実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。この新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。この実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【００６３】
１１  キズ補正回路、２１  画素抽出部、２２  キズ判定部、２３  白キズ補正解除判定部、２４  黒キズ補正解除判定部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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