(57)【要約】【課題】負荷電圧および負荷電流を直接検出せずに、負荷電流の変動に高速に追従する電力供給装置を提供する。【解決手段】負荷に電力を供給する電力供給装置であって、負荷に対して電力を出力する電力出力部と、電力出力部から負荷に印加される負荷電圧および負荷電流を検出せずに、負荷の動作状態を検出する状態検出部と、状態検出部が検出した動作状態に基づいて、電力出力部が出力する出力電流を制御する出力制御部とを備える電力供給装置を提供する。【選択図】図２
2012208093.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
負荷に電力を供給する電力供給装置であって、
前記負荷に対して電力を出力する電力出力部と、
前記電力出力部から前記負荷に印加される負荷電圧および負荷電流を検出せずに、前記負荷の動作状態を検出する状態検出部と、
前記状態検出部が検出した前記動作状態に基づいて、前記電力出力部が出力する出力電流を制御する出力制御部と
を備える電力供給装置。
【請求項２】
前記状態検出部は、前記負荷に入力されるパターン信号の論理値に基づいて、前記動作状態を検出する
請求項１に記載の電力供給装置。
【請求項３】
前記状態検出部は、前記負荷が出力するパターン信号の論理値に基づいて、前記動作状態を検出する請求項１に記載の電力供給装置。
【請求項４】
前記状態検出部は、前記パターン信号の論理値が遷移したか否かと、前記パターン信号の論理値とに基づいて、前記動作状態を検出する
請求項２または３に記載の電力供給装置。
【請求項５】
前記状態検出部は、
前記パターン信号の論理値の遷移を検出した場合に予め定められたレベルの遷移信号を出力する遷移信号出力部と、
前記パターン信号の論理値に応じたレベルの論理値信号を出力する論理値信号出力部と、
前記遷移信号および前記論理値信号の信号レベルを加算するレベル加算部と
を有する請求項４に記載の電力供給装置。
【請求項６】
前記電力出力部は、複数の負荷に電力を出力し、
前記遷移信号出力部、前記論理値信号出力部および前記レベル加算部は、前記負荷毎に設けられ、
前記状態検出部は、それぞれの前記レベル加算部が出力する信号レベルを加算する統合加算部を更に有する
請求項５に記載の電力供給装置。
【請求項７】
前記複数の負荷に対して予め定められたダミーパターンを入力したときに、それぞれの前記遷移信号出力部および前記論理値信号出力部が出力する信号レベルに基づいて、それぞれの前記遷移信号出力部および前記論理値信号出力部におけるゲインを調整するゲイン調整部を更に備える
請求項６に記載の電力供給装置。
【請求項８】
前記状態検出部は、前記負荷の論理回路にクロックを供給するか否かを制御するクロックゲート信号の論理値に基づいて、前記動作状態を検出する
請求項１に記載の電力供給装置。
【請求項９】
前記状態検出部は、前記負荷が出力する信号に基づいて、前記動作状態を検出する
請求項１に記載の電力供給装置。
【請求項１０】
前記電力出力部は、
直流電源と、
前記直流電源および前記負荷の間に設けられたコイルと、
前記直流電源および前記コイルを電気的に接続するか否かを、前記出力制御部からの信号に応じて切り替えるスイッチング素子と
を有する
請求項１から９のいずれか一項に記載の電力供給装置。
【請求項１１】
被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記被試験デバイスに電力を供給する請求項１から１０のいずれか一項に記載の電力供給装置と、
前記被試験デバイスに試験信号を入力し、前記試験信号に応答して前記被試験デバイスが出力する応答信号に基づいて前記被試験デバイスの良否を判定する試験部と
を備える試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電力供給装置および試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＤＣ−ＤＣコンバータ等を用いた電源装置が知られている。当該電源装置においては、負荷に印加される電圧または電流と、所定の基準値との誤差に基づいて、負荷に対して出力する電流を制御する（例えば、特許文献１および２参照）。これにより、負荷電流が変動した場合の過渡的な電圧変動を低減する。
特許文献１  特開２００２−２８１７４２号公報
特許文献２  米国特許第５４７９０９０号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかし、負荷電圧または負荷電流を観測してフィードバック制御を行っても、急峻な変動に追従することが困難であった。例えば従来のＤＣ−ＤＣコンバータは、電源および負荷の間に設けられたコイルと、電源およびコイルを接続する線路と接地電位との間に設けられたダイオードと、負荷およびコイルを接続する線路と接地電位との間に設けられたコンデンサとを有する。コイルに電源を接続する期間と、コイルに電源を接続しない期間との比を、負荷電圧等と基準値との誤差に応じて制御することで、負荷電流の変動を補償する。
【０００４】
しかし、負荷電圧に応じてフィードバック制御を行う電圧モード制御においては、フィードバック系がコイルとコンデンサの２次遅れ系となるので、フィードバック系の位相回転が大きくなる。このため、高周波の帯域においてフィードバック系のゲインを大きくすると、動作の不安定化、セトリングタイムの悪化、意図しないリンギングがおきてしまう。従って、高周波でのゲインを大きくすることができず、負荷電流の急峻な変化に応じた電圧変動に追従することができない。
【０００５】
また、負荷電流の変動を直接観測してフィードバック制御することも考えられる。しかし、負荷電流の変動を直接観測することは困難である。例えば、低抵抗または電流トランスを、コイルと負荷の間の線路に設ける方法もあるが、当該抵抗または電流トランスの特性により、電流変動に対する応答特性が悪化してしまう。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の第１の態様においては、負荷に電力を供給する電力供給装置であって、負荷に対して電力を出力する電力出力部と、電力出力部から負荷に印加される負荷電圧および負荷電流を検出せずに、負荷の動作状態を検出する状態検出部と、状態検出部が検出した動作状態に基づいて、電力出力部が出力する出力電流を制御する出力制御部とを備える電力供給装置を提供する。
【０００７】
本発明の第２の態様においては、被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスに電力を供給する第１の態様の電力供給装置と、被試験デバイスに試験信号を入力し、試験信号に応答して被試験デバイスが出力する応答信号に基づいて被試験デバイスの良否を判定する試験部とを備える試験装置を提供する。
【０００８】
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】被試験デバイス２００を試験する試験装置１００の構成例を示す。
【図２】電力供給装置１０の構成例を示す。
【図３】電力出力部２０および出力制御部６０の詳細な構成例を示す。
【図４】状態検出部４０の構成例を示す。
【図５】電力供給装置１０の他の構成例を説明する図である。
【図６】状態検出部４０の他の構成例を示す。
【図７】状態検出部４０の他の構成例を示す。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【００１１】
図１は、被試験デバイス２００を試験する試験装置１００の構成例を示す。被試験デバイス２００は、メモリ、デジタル回路およびアナログ回路の少なくともいずれかを含むデバイスであってよい。被試験デバイス２００は、半導体集積回路であってよい。
【００１２】
試験装置１００は、試験部１１０および電力供給装置１０を備える。電力供給装置１０は、電源電力を被試験デバイス２００に供給する。試験部１１０は、被試験デバイス２００を動作させる試験信号を、被試験デバイス２００に入力する。また、試験部１１０は、試験信号に応答して被試験デバイス２００が出力する応答信号に基づいて、被試験デバイス２００の良否を判定する。
【００１３】
例えば試験部１１０は、所定の論理値パターンを有する試験信号を、被試験デバイス２００のデジタル回路に入力する。試験部１１０は、予め定められたアルゴリズムまたはシーケンスに応じて論理値パターンを順次生成する。試験信号は、予め定められた周期の試験レートに同期して、被試験デバイス２００に印加される。試験部１１０は、当該デジタル回路が試験信号に応答して出力する応答信号の論理値パターンと、予め定められた期待値パターンとを比較して、被試験デバイス２００の良否を判定する。
【００１４】
図２は、電力供給装置１０の構成例を示す。電力供給装置１０は、電力出力部２０、状態検出部４０および出力制御部６０を備える。電力出力部２０は、被試験デバイス２００に対して電力を出力する。電力出力部２０は、ＤＣ−ＤＣコンバータを有してよい。
【００１５】
状態検出部４０は、被試験デバイス２００の動作状態を検出する。ここで動作状態とは、被試験デバイス２００に印加される負荷電圧または負荷電流を変動させる要因となる被試験デバイス２００の内部回路の状態を示す情報を指す。内部回路の状態とは、例えば内部回路の各素子の論理状態および入出力レベル、ならびに、各ノードの論理状態または電圧レベル等を指す。
【００１６】
ただし状態検出部４０は、電力出力部２０から被試験デバイス２００に印加される負荷電圧および負荷電流を直接は検出しない。状態検出部４０は、電力出力部２０以外から被試験デバイス２００に入力される信号の論理値、電圧値、電流値等に基づいて、被試験デバイス２００の動作状態を検出してよい。
【００１７】
例えば状態検出部４０は、試験部１１０から被試験デバイス２００に入力される試験パターンに基づいて、被試験デバイス２００の動作状態を検出する。試験パターンに応じて被試験デバイス２００のデジタル回路が動作するので、試験パターンから被試験デバイス２００の負荷電流の変動を推定することができる。
【００１８】
また、状態検出部４０は、負荷（本例では被試験デバイス２００）に対して将来入力されるパターンを予め受け取って、当該パターンに基づいて将来の動作状態の変化を予め検出してもよい。本例の状態検出部４０は、現在の試験レートのサイクルよりも後のサイクルにおいて被試験デバイス２００に印加される試験パターンに基づいて、被試験デバイス２００の動作状態の変動を推定してもよい。
【００１９】
上述したように、試験部１１０は、予め定められたシーケンス等に応じて試験パターンを生成するので、状態検出部４０は、後のサイクルにおける試験パターンを先読みすることができる。これにより、状態検出部４０における応答速度を向上させることができる。また、状態検出部４０は、試験パターンに代えて期待値パターンを用いてもよい。
【００２０】
出力制御部６０は、状態検出部４０が検出した被試験デバイス２００の動作状態に基づいて、電力出力部２０が出力する出力電流を制御する。出力制御部６０は、被試験デバイス２００の動作状態が、負荷電流が増大する状態の場合には出力電流を増大させ、負荷電流が減少する状態の場合には、出力電流を減少させる。
【００２１】
本例における電力供給装置１０によれば、状態検出部４０が負荷電圧および負荷電流を直接検出せずに、被試験デバイス２００の動作状態を検出するので、動作状態の変動に応じて高速に出力電流を変動させることができる。なお、電力供給装置１０は、状態検出部４０を、負荷電圧または負荷電流を直接検出して出力電流を制御するフィードバック系とあわせて備えてもよい。
【００２２】
図３は、電力出力部２０および出力制御部６０の詳細な構成例を示す。本例の電力出力部２０は、直流電源２２、第１スイッチング素子２４、第２スイッチング素子２６、コイル２８およびコンデンサ３０を有する。
【００２３】
直流電源２２は、直流電力を生成する。コイル２８は、直流電源２２と被試験デバイス２００との間に設けられる。つまりコイル２８は、直流電源２２および被試験デバイス２００を接続する線路に設けられる。コンデンサ３０は、コイル２８および被試験デバイス２００を接続する線路と、接地電位との間に設けられる。
【００２４】
第１スイッチング素子２４は、直流電源２２およびコイル２８の間に設けられ、直流電源２２およびコイル２８を電気的に接続するか否かを、出力制御部６０からの信号に応じて切り替える。第２スイッチング素子２６は、第１スイッチング素子２４およびコイル２８を接続する線路を接地電位に接続するか否かを、出力制御部６０からの信号に応じて切り替える。
【００２５】
第２スイッチング素子２６は、第１スイッチング素子２４がオン状態の場合にオフ状態となり、第１スイッチング素子２４がオフ状態の場合にオン状態となる。このような構成により、電力出力部２０は、出力制御部６０からの信号に応じた出力電圧および出力電流を、被試験デバイス２００に対して出力する。
【００２６】
本例の出力制御部６０は、基準電源７４、エラーアンプ７２、補償器７０、コンパレータ６８、スイッチ制御部６６、ドライバ６４およびドライバ６２を有する。エラーアンプ７２は、電力出力部２０から被試験デバイス２００に印加される負荷電圧と、予め定められた基準電圧との誤差に応じた電圧を出力する。基準電源７４は、エラーアンプ７２に入力する基準電圧を生成する。補償器７０は、エラーアンプ７２が出力する電圧の高周波成分を除去する。補償器７０はローパスフィルタ、または、ローパスフィルタおよびハイパスフィルタを並列に組み合わせたものであってよい。
【００２７】
コンパレータ６８は、補償器７０が通過させた電圧Ｖ１と、コイル２８に流れる電流に応じた電圧Ｖ２と、状態検出部４０が出力する電圧Ｖ３とに応じた論理値の制御信号を出力する。コイル２８に流れる電流は、コイル２８から、第１スイッチング素子２４および第２スイッチング素子２６の接続点までの線路において検出される。
【００２８】
コイル２８よりも直流電源２２側の線路において電流を検出するので、検出素子によって応答特性が劣化することを防ぐことができる。電力供給装置１０は、コイル２８から被試験デバイス２００までの線路において、電流を検出する素子を有さないことが好ましい。
【００２９】
本例のコンパレータ６８は、電圧Ｖ１および電圧Ｖ３の和と、電圧Ｖ２および比較信号の電圧Ｖ４の和との比較結果に応じた論理値を出力する。コンパレータ６８は、Ｖ２＋Ｖ４が、Ｖ１＋Ｖ３よりも大きくなった場合、第１スイッチング素子２４をオフ状態にする制御信号（論理値Ｈ）を出力してよい。また、Ｖ２＋Ｖ４が、Ｖ１＋Ｖ３よりも小さくなった場合、コンパレータ６８は、論理値Ｌの制御信号を出力してよい。
【００３０】
比較信号は、所定の周期を有する鋸波であってよい。これにより、コンパレータ６８に入力される電圧Ｖ１、Ｖ２、Ｖ３のレベルに応じて、コンパレータ６８が出力する制御信号のデューティー比が変化する。
【００３１】
コンパレータ６８が出力する制御信号は、スイッチ制御部６６に入力される。スイッチ制御部６６は、制御信号に基づいて第１スイッチング素子２４および第２スイッチング素子２６を制御することで、コイル２８に流れる電流を制御する。スイッチ制御部６６は、直流電源２２からコイル２８に流れる電流を増大させたい場合に第１スイッチング素子２４がオン状態となる期間を増大させ、直流電源２２からコイル２８に流れる電流を減少させたい場合に第２スイッチング素子２６がオン状態となる期間を増大させる。
【００３２】
スイッチ制御部６６は、制御信号をリセット端子に受け取り、クロック信号をセット端子に受け取るリセットセットフリップフロップ（ＲＳ−ＦＦ）であってよい。スイッチ制御部６６のＱ端子は、ドライバ６２を介して第１スイッチング素子２４のゲートに接続され、／Ｑ端子は、ドライバ６４を介して第２スイッチング素子２６のゲートに接続される。
【００３３】
スイッチ制御部６６が出力する信号は、セット端子に入力されるクロックに応じてＨ論理となり、リセット端子にＨ論理が入力された場合にＬ論理となる。このため、コンパレータ６８からの制御信号により、スイッチ制御部６６が出力するパルスのデューティー比が制御され、出力電流が制御される。なお、スイッチ制御部６６のセット端子およびリセット端子に入力する制御信号の論理値を遷移させる場合において、セット端子およびリセット端子に同時に論理値Ｌが入力される期間が存在するように、スイッチ制御部６６の各端子に制御信号を入力してよい。これにより、第１スイッチング素子２４および第２スイッチング素子２６が同時にオン状態となることを防ぐことができる。
【００３４】
本例の電力供給装置１０によれば、状態検出部４０を設けることで、負荷電圧および負荷電流を直接検出しないフィードバック経路で出力電流を制御できる。このため、負荷電流の変動に高速に追従することができる。これにより電力供給装置１０は、負荷電流の変動に追従して、電源電圧を略一定に保つことができる。また、電力供給装置１０は、追従能力の範囲内において、所望の応答特性で負荷電流の変動に追従してもよい。これにより、例えば被試験デバイス２００の実動作時に想定される電源を電力供給装置１０で模擬して、被試験デバイス２００を試験できる。
【００３５】
また、電力供給装置１０は、負荷電圧に応じて出力電流を制御する電圧モード制御のフィードバック経路と、コイル２８に流れる電流に応じて出力電流を制御するフィードバック経路とを有する。コイル２８に流れる電流に応じて出力電流を制御するので、電圧モード制御においてコイル２８により生じるポールをキャンセルして、フィードバックを１次遅れ系にすることができる。このため、補償器７０のカットオフ周波数を、比較的に高周波数に設定することができ、電圧モード制御におけるフィードバックの追従性を向上させることができる。また、電力供給装置１０は、コイル２８に流れる電流を検出することに変えて、第１スイッチング素子２４または第２スイッチング素子２６に流れる電流を検出してよい。また、電力供給装置１０は、各スイッチング素子に流れる電流を検出する代わりに、各スイッチング素子の端子間電圧を検出してもよい。この場合、第１スイッチング素子２４または第２スイッチング素子２６のオン抵抗は既知とする。
【００３６】
なお、状態検出部４０は、補償器７０を介さずに、被試験デバイス２００の動作状態に応じた電圧を、コンパレータ６８に入力する。このため、状態検出部４０は、補償器７０の帯域によらず、出力電流を制御することができる。
【００３７】
また、電力出力部２０および出力制御部６０の構成は、図３に示した構成に限定されない。例えば、電力出力部２０における第２スイッチング素子２６に代えて、ダイオードを用いることができる。この場合、出力制御部６０は、ドライバ６４を有さない。また、図３においては、電力出力部２０として降圧型のＤＣ−ＤＣコンバータを示したが、昇圧型のＤＣ−ＤＣコンバータであってよく、昇降圧型のＤＣ−ＤＣコンバータであってもよい。また、電力出力部２０は、ＡＣ−ＤＣコンバータ、インバータ等であってもよい。
【００３８】
図４は、状態検出部４０の構成例を示す。本例の状態検出部４０は、被試験デバイス２００に入力されるパターン信号または被試験デバイス２００の内部で生成されるパターン信号の論理値に基づいて、被試験デバイス２００の動作状態を検出する。本例の被試験デバイス２００は、パターン信号が入力されるラインドライバ２０２を有する。一般にラインドライバ２０２は、出力パターンの論理値が遷移した瞬間に大電流が流れる場合がある。また、ラインドライバ２０２は、終端抵抗に流れる電流が、出力パターンの論理値がＨまたはＬの場合で異なる場合がある。
【００３９】
本例の状態検出部４０は、パターン信号の論理値が遷移したか否かと、パターン信号の論理値とに基づいて、ラインドライバ２０２の動作状態を検出する。なお、本例において電力出力部２０は、複数の負荷（本例ではラインドライバ２０２）に電力を出力する。各負荷は、同一の被試験デバイス２００に設けられてよく、異なる被試験デバイス２００に設けられてもよい。
【００４０】
状態検出部４０は、遷移信号出力部４１、論理値信号出力部４６、レベル加算部４９および統合加算部５０を有する。なお、遷移信号出力部４１、論理値信号出力部４６およびレベル加算部４９は、負荷毎に設けられる。
【００４１】
遷移信号出力部４１は、パターン信号の論理値の遷移を検出した場合に、予め定められたレベルの遷移信号を出力する。遷移信号出力部４１は、遅延部４２、排他的論理和回路４３、補償器４４および増幅器４５を有する。
【００４２】
遅延部４２は、被試験デバイス２００に入力されるパターン信号を受け取り、当該パターン信号を１周期遅延させて出力する。遅延部４２は、フリップフロップ（Ｄ−ＦＦ）であってよい。排他的論理和回路４３は、被試験デバイス２００に入力されるパターン信号と、遅延部４２が出力する信号との排他的論理和を出力する。つまり、排他的論理和回路４３は、パターン信号の論理値が遷移したサイクルではＨ論理を出力し、パターン信号の論理値が遷移しないサイクルではＬ論理を出力する。
【００４３】
補償器４４は、排他的論理和回路４３が出力する信号から、所定の高周波成分を除去する。当該高周波成分は、パターン信号の周波数よりも高い帯域の成分である。補償器４４はローパスフィルタであってよい。増幅器４５は、補償器４４が通過させた信号のレベルを、設定される増幅率で増幅した遷移信号を出力する。
【００４４】
論理値信号出力部４６は、被試験デバイス２００に入力されるパターン信号の論理値に応じたレベルの論理値信号を出力する。論理値信号出力部４６は、補償器４７および増幅器４８を有する。
【００４５】
補償器４７は、被試験デバイス２００に入力されるパターン信号から、所定の高周波成分を除去する。当該高周波成分は、パターン信号の周波数よりも高い帯域の成分である。補償器４７はローパスフィルタであってよい。増幅器４８は、補償器４７が通過させた信号のレベルを、設定される増幅率で増幅した論理値信号を出力する。
【００４６】
レベル加算部４９は、遷移信号出力部４１が出力する遷移信号および論理値信号出力部４６が出力する論理値信号の信号レベルを加算する。統合加算部５０は、負荷毎に設けられたレベル加算部４９が出力する信号レベルを加算した信号を、出力制御部６０のコンパレータ６８に出力する。このような構成により、被試験デバイス２００に入力されるパターン信号の論理値に基づいて、被試験デバイス２００の動作状態を検出し、電力出力部２０が被試験デバイス２００に出力する出力電流を制御することができる。
【００４７】
上述した例において状態検出部４０は、ラインドライバ２０２に入力されるパターン信号の論理値に基づいて、ラインドライバ２０２の動作状態を検出したが、状態検出部４０は、ラインドライバ２０２が出力するパターン信号の論理値に基づいて、ラインドライバ２０２の動作状態を検出してもよい。この場合の状態検出部４０の構成および動作は、入力パターン信号に基づいて動作状態を検出する例と同様である。
【００４８】
図５は、電力供給装置１０の他の構成例を説明する図である。本例の電力供給装置１０は、図１から図４に関連して説明した電力供給装置１０の構成に加え、ゲイン調整部９０を更に備える。
【００４９】
ゲイン調整部９０は、それぞれの負荷（例えばラインドライバ２０２）に対して予め定められたダミーパターンを入力したときに、それぞれの遷移信号出力部４１および論理値信号出力部４６が出力する信号レベルに基づいて、増幅器４５および増幅器４８の増幅率を調整する。
【００５０】
入力されるパターン信号の論理値が遷移した場合の、被試験デバイス２００の負荷電流の変動量は、予め測定または算出することができる。ゲイン調整部９０は、論理値が遷移するダミーパターンをそれぞれの負荷に入力したときに、状態検出部４０からコンパレータ６８に入力される電圧Ｖ３が、当該負荷電流の変動を補償する量だけ変動するように、それぞれの増幅器４５の増幅率を調整する。
【００５１】
また、入力されるパターン信号の論理値ごとの、負荷に流れる終端電流の値についても、予め測定または算出することができる。ゲイン調整部９０は、所定の論理値のダミーパターンをそれぞれの負荷に入力したときに、状態検出部４０からコンパレータ６８に入力される電圧Ｖ３が、当該終端電流を補償するレベルとなるように、それぞれの増幅器４８の増幅率を調整する。
【００５２】
図６は、状態検出部４０の他の構成例を示す。本例の状態検出部４０は、被試験デバイス２００の論理回路にクロックを供給するか否かを制御するクロックゲート信号の論理値に基づいて、動作状態を検出する。本例の被試験デバイス２００は、内部の論理回路にクロックを供給するか否かを制御するゲート回路２０４を有する。ゲート回路２０４は、入力されるクロックゲート信号と、クロックとの論理積を出力する。なお、本例において電力出力部２０は、複数の被試験デバイス２００に電力を出力する。
【００５３】
状態検出部４０は、複数の増幅器５１および統合加算部５２を有する。複数の増幅器５１は、複数の被試験デバイス２００に対応して設けられる。それぞれの増幅器５１は、対応する被試験デバイス２００のクロックゲート信号を受け取り、設定される増幅率で増幅して出力する。
【００５４】
統合加算部５２は、それぞれの増幅器５１が出力する信号を加算して、出力制御部６０のコンパレータ６８に出力する。このような構成により、被試験デバイス２００のクロックゲート信号に基づいて、被試験デバイス２００の動作状態を検出し、出力電流を制御することができる。
【００５５】
本例においても、電力供給装置１０はゲイン調整部９０を備えてよい。ゲイン調整部９０は、それぞれの被試験デバイス２００に対して所定の論理値のクロックゲート信号を入力したときに、それぞれの増幅器５１が所定のレベルの信号を出力するように、それぞれの増幅器５１の増幅率を調整する。
【００５６】
クロックゲート信号の論理値ごとに、被試験デバイス２００の負荷電流の平均値は測定または算出することができる。ゲイン調整部９０は、それぞれの増幅器５１の出力レベルが、クロックゲート信号の論理値ごとに定まる負荷電流を補償するレベルとなるように、増幅率を調整する。
【００５７】
なお、状態検出部４０は、クロックゲート信号以外にも、被試験デバイス２００の動作を制御する多様なゲート信号に基づいて、被試験デバイス２００の動作状態を検出することができる。例えば状態検出部４０は、被試験デバイス２００に電源電力を供給するか否かを制御するパワーゲート信号に基づいて、被試験デバイス２００の動作状態を検出することができる。
【００５８】
図７は、状態検出部４０の他の構成例を示す。本例の状態検出部４０は、被試験デバイス２００の内部に設けられたパワーアンプ２０６が出力する信号に基づいて、被試験デバイス２００の動作状態を検出する。パワーアンプ２０６は、入力されるＲＦ信号を増幅して出力する。パワーアンプ２０６は、ＡＢ級またはＣ級のアンプであってよい。
【００５９】
状態検出部４０は、検波器５３および増幅器５４を有する。検波器５３は、パワーアンプ２０６が出力する信号を検波する。検波器５３は、パワーアンプ２０６が出力する信号を整流するダイオードを有してよい。増幅器５４は、検波器５３が検波した信号を、設定される増幅率で増幅し、出力制御部６０のコンパレータ６８に出力する。
【００６０】
なお、検波器５３は、パワーアンプ２０６に入力されるＲＦ信号を検波してもよい。また、被試験デバイス２００において、ＲＦ信号を中間周波数またはベースバンド周波数に変換する場合、検波器５３は、中間周波数またはベースバンド周波数に変換された信号を検波してもよい。
【００６１】
本例においても、電力供給装置１０はゲイン調整部９０を備えてよい。ゲイン調整部９０は、被試験デバイス２００に対して所定の信号を入力したときに、増幅器５４が所定のレベルの信号を出力するように、増幅器５４の増幅率を調整する。
【００６２】
なお、被試験デバイス２００の内部に増幅器が設けられ、状態検出部４０が当該増幅器を介して信号を受け取る場合、ゲイン調整部９０は、被試験デバイス２００の増幅器における増幅率に応じて、増幅器５４の増幅率を設定する。また、被試験デバイス２００の増幅器における増幅率が変更されたことに応じて、ゲイン調整部９０は増幅器５４の増幅率を再設定してよい。
【００６３】
なお、図１から図７に関連して説明した電力供給装置１０は、試験装置１００に用いるものに限定されない。つまり、電力供給装置１０により電力が供給される負荷は、被試験デバイス２００に限定されない。電力供給装置１０は、半導体装置、通信機器等の負荷に電力を供給してよい。また、電力供給装置１０は、半導体装置、通信機器等のデバイスに実装され、デバイス内の負荷に電力を供給してもよい。
【００６４】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【００６５】
特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を後の処理で用いるのでない限り、任意の順序で実現しうることに留意すべきである。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。
【符号の説明】
【００６６】
１０・・・電力供給装置、２０・・・電力出力部、２２・・・直流電源、２４・・・第１スイッチング素子、２６・・・第２スイッチング素子、２８・・・コイル、３０・・・コンデンサ、４０・・・状態検出部、４１・・・遷移信号出力部、４２・・・遅延部、４３・・・排他的論理和回路、４４、４７、７０・・・補償器、４５、４８、５１、５４・・・増幅器、４６・・・論理値信号出力部、４９・・・レベル加算部、５０・・・統合加算部、５２・・・統合加算部、５３・・・検波器、６０・・・出力制御部、６２、６４・・・ドライバ、６６・・・スイッチ制御部、６８・・・コンパレータ、７２・・・エラーアンプ、７４・・・基準電源、９０・・・ゲイン調整部、１００・・・試験装置、１１０・・・試験部、２００・・・被試験デバイス、２０２・・・ラインドライバ、２０４・・・ゲート回路、２０６・・・パワーアンプ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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