(57)【要約】      （修正有）【課題】液滴が正常に吐出されたと誤判定することを防止する。【解決手段】ノズルから液滴を吐出させる吐出期間とノズルから液滴を吐出させない非吐出期間とを含む吐出検査周期が繰り返されるようにノズルから液滴を吐出させ、吐出期間においてノズルから吐出された液滴に応答して変化する検出信号の信号強度を所定の信号閾値により２値化した検出パルス信号を取得し、吐出検査周期における所定時刻よりも前の期間である第１判定期間において、所定の第１正常形状の検出パルス信号が取得されたか否かを判定するとともに、吐出検査周期における所定時刻以後の期間である第２判定期間において、所定の第２正常形状の検出パルス信号が取得されたか否かを判定し、第１判定期間において第１正常形状の検出パルス信号が取得され、かつ、第２判定期間において第２正常形状の検出パルス信号が取得された場合に、ノズルから正常に液滴が吐出されたと判定する。【選択図】図１
2012196775.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ノズルから液滴を吐出させる吐出期間と前記ノズルから液滴を吐出させない非吐出期間とを含む吐出検査周期が繰り返されるように前記ノズルから液滴を吐出させる吐出制御手段と、
前記吐出期間において前記ノズルから吐出された液滴に応答して変化する検出信号の信号強度を所定の信号閾値により２値化した検出パルス信号を取得する検出パルス信号取得手段と、
前記吐出検査周期における所定時刻よりも前の期間である第１判定期間において、所定の第１正常形状の前記検出パルス信号が取得されたか否かを判定するとともに、
前記吐出検査周期における前記所定時刻以後の期間である第２判定期間において、所定の第２正常形状の前記検出パルス信号が取得されたか否かを判定する信号判定手段と、
前記第１判定期間において前記第１正常形状の前記検出パルス信号が取得され、かつ、前記第２判定期間において前記第２正常形状の前記検出パルス信号が取得された場合に、前記ノズルから正常に液滴が吐出されたと判定する判定手段と、
を備える吐出検査装置。
【請求項２】
前記所定時刻は、前記吐出期間にて前記ノズルから吐出された液滴に応答して変化する検出信号の信号強度が極値となる時刻である、
請求項１に記載の吐出検査装置。
【請求項３】
前記検出パルス信号からグリッチを除去して前記判定手段に出力するグリッチ除去手段をさらに備える、
請求項１または請求項２のいずれかに記載の吐出検査装置。
【請求項４】
前記検出パルス信号における２値信号強度の遷移回数であるエッジ数をカウントするエッジ数計数手段と、
前記エッジ数が所定のノイズ閾値以上である場合に、前記検出パルス信号がノイズ重畳状態であると判定するノイズ判定手段と、をさらに備え、
前記判定手段は、前記第１判定期間において前記第１正常形状の前記検出パルス信号が取得され、前記第２判定期間において前記第２正常形状の前記検出パルス信号が取得され、かつ、前記検出パルス信号が前記ノイズ重畳状態でない場合には、前記ノズルから正常に液滴が吐出されたと判定する、
請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の吐出検査装置。
【請求項５】
前記エッジ数計数手段は、前記グリッチ除去手段により前記グリッチが除去されていない前記検出パルス信号における前記エッジ数をカウントする、
請求項４に記載の吐出検査装置。
【請求項６】
前記吐出検査周期に含まれる拘束期間において前記ノズルから吐出された前記液滴に応答して変化する検出信号の信号強度を所定強度に拘束する拘束手段を、
さらに備える請求項１から請求項５のいずれか一項に記載の吐出検査装置。
【請求項７】
前記信号判定手段は、前記吐出期間において前記ノズルから吐出された液滴に応答して変化する検出信号の信号強度が極値となるピーク期間と、当該液滴に応答して変化した信号強度が収束する収束期間とを前記第１判定期間と前記第２判定期間とから除く、
請求項１から請求項６のいずれか一項に記載の吐出検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液滴が正常に吐出されたか否かを判定する吐出検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ノズルからインク滴を導体の付近に吐出させ、当該導体に流れる誘導電流によりノズルから正常にインク滴が吐出されたか否かを判定する技術が提案されている（特許文献１、参照）。この技術においては、帯電したインク滴が導体に接近することにより流れる誘導電流に対応する電圧を生成し、当該電圧のピーク値と閾値とを比較することにより、インク滴が吐出されたか否かを判定する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００６−１３０８６９号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、誘導電流に対応する電圧のピーク値はノイズの影響を受けやすいという問題があった。すなわち、正常にインク滴が吐出されていないにも拘わらず、誘導電流に対応する電圧のピーク値がノイズにより正常な値となり、正常にインク滴が吐出されたと誤判定されるという問題があった。
本発明は、前記課題にかんがみてなされたもので、液滴が正常に吐出されたと誤判定することを防止する吐出検査装置の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
前記目的を達成するため、本発明の吐出検査装置において、吐出制御手段は、ノズルから液滴を吐出させる吐出期間とノズルから液滴を吐出させない非吐出期間とを含む吐出検査周期が繰り返されるようにノズルから液滴を吐出させる。検出パルス信号取得手段は、吐出期間においてノズルから吐出された液滴に応答して変化する検出信号の信号強度を所定の信号閾値により２値化した検出パルス信号を取得する。信号判定手段は、吐出検査周期における所定時刻よりも前の期間である第１判定期間において、所定の第１正常形状の検出パルス信号が取得されたか否かを判定する。さらに、信号判定手段は、吐出検査周期における所定時刻以後の期間である第２判定期間において、所定の第２正常形状の検出パルス信号が取得されたか否かを判定する。そして、判定手段は、第１判定期間において第１正常形状の検出パルス信号が取得され、かつ、第２判定期間において第２正常形状の検出パルス信号が取得された場合に、ノズルから正常に液滴が吐出されたと判定する。
【０００６】
前記の構成において、第１判定期間において形状が正常な検出パルス信号が取得され、かつ、第２判定期間においても形状が正常な検出パルス信号が取得され場合に、ノズルから正常に液滴が吐出されたと判定される。このようにすることにより、第１判定期間と第２判定期間とのいずれか一方に取得された検出パルス信号がノイズの影響により正常な形状となったとしても、当該一方における検出パルス信号の形状が正常であることをもって、ノズルから正常に液滴が吐出されたと誤判定することが防止できる。また、ピーク値のようなある瞬間における検出信号の信号強度を閾値判定する場合よりも、ノイズによる信号強度の変化に強く、判定の信頼性を向上させることができる。
【０００７】
また、所定時刻は検出信号の信号強度が極値となる時刻とするのが好ましい。これにより、検出信号の信号強度が極値に到達するまでの期間を第１判定期間とし、液滴に応答して変化する検出信号の信号強度が収束に向かう期間を第２判定期間とすることができる。すなわち、信号強度が極値に向かって正常に増加または減少し、かつ、信号強度が極値から正常に減少または増加した場合に、液滴が正常に吐出されたと判定できる。従って、吐出検査周期において単調的に増加または減少する低周波のノイズが検出信号に重畳される場合でも、第１判定期間または第２判定期間のいずれかにおいて検出パルス信号が正常でないと判定することができる。
【０００８】
また、検出パルス信号からグリッチを除去して判定手段に出力するグリッチ除去手段を備えさせてもよい。これにより、グリッチを正常な形状の検出パルス信号として誤検出することが防止できる。
【０００９】
さらに、検出パルス信号における２値信号強度の遷移回数であるエッジ数をカウントするエッジ数計数手段と、エッジ数が所定のノイズ閾値以上である場合に、検出パルス信号がノイズ重畳状態であると判定するノイズ判定手段とを備えてもよい。検出パルス信号がノイズ重畳状態であれば、ノズルから正常に液滴が吐出されたとの判定結果の信頼度が低いと考えることができる。従って、判定手段は、第１判定期間において第１正常形状の検出パルス信号が取得され、かつ、第２判定期間において第２正常形状の検出パルス信号が取得された場合であっても、検出パルス信号がノイズ重畳状態である場合には、ノズルから正常に液滴が吐出されなかったと判定するのが好ましい。すなわち、検出パルス信号がノイズ重畳状態である場合には、液滴が正常に吐出されたとする判定結果を信頼しないようにしてもよい。これにより、誤判定を確実に防止できる。
【００１０】
また、エッジ数計数手段は、グリッチが除去された検出パルス信号ではなく、グリッチが除去されていない検出パルス信号におけるエッジ数をカウントすることが好ましい。これにより、液滴に応答して変化する検出信号の信号強度に対するノイズ重畳状態を正確に判定できる。
【００１１】
さらに、液滴に応答して変化する検出信号の信号強度からノイズを除去する手段を備えさせることにより、判定の信頼性を向上させてもよい。具体的に、吐出検査周期に含まれる拘束期間においてノズルから吐出された液滴に応答して変化する検出信号の信号強度を所定強度に拘束する拘束手段を備えさせてもよい。すなわち、拘束手段が信号強度を吐出検査周期に含まれる拘束期間ごとに拘束することにより、信号強度におけるノイズが複数の吐出検査周期にまたがって蓄積されることが防止できる。従って、信号強度に対する低周波のノイズの影響を抑制できる。また、拘束を行うことにより、ハイパスフィルターを用いて低周波のノイズを除去する場合よりも検出信号の遅れを抑制できるため、第１判定期間と第２判定期間とを設けても吐出検査の所要期間が長期化することが防止できる。
【００１２】
また、信号判定手段は、吐出期間においてノズルから吐出された液滴に応答して変化する検出信号の信号強度が極値となるピーク期間と、当該液滴に応答して変化した信号強度が収束する収束期間とを第１判定期間と第２判定期間とから除いてもよい。ピーク期間と収束期間とにおいては、信号強度の傾きが小さく、信号強度が２値化のための閾値をまたぐ可能性は低い。すなわち、ピーク期間と収束期間とにおいて正常な形状の検出パルス信号が取得されたとしても、当該正常な形状の検出パルス信号はノイズの影響により表れた可能性が高い。従って、ピーク期間と収束期間とを第１判定期間と第２判定期間とから除くことにより、ノズルから正常に液滴が吐出されたと誤判定することが確実に防止できる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】実施形態の概念を示す模式図である。
【図２】吐出検査装置のブロック図である。
【図３】信号生成基板の回路図である。
【図４】吐出検査制御部のブロック図である。
【図５】パルス形状を示す表である。
【図６】吐出検査のタイミングチャートである。
【図７】（７Ａ）〜（７Ｄ）は検出電圧を示すグラフ、（７Ｅ）は検出電圧の振幅を示すグラフである。
【図８】（８Ａ），（８Ｂ）は検出電圧を示すグラフ、（８Ｃ）はノイズ抑圧特性を示すグラフである。
【図９】制御部の処理を示す表である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明の実施形態を添付図面を参照しながら以下の順に説明する。
（１）実施形態の概要：
（２）第１実施形態：
（２−１）吐出検査装置の構成：
（２−２）吐出検査装置の動作：
（３）他の実施形態：
【００１５】
（１）実施形態の概要：
図１は、実施形態の概要を説明する模式図である。本実施形態の吐出検査装置は、静電容量が寄生するコンデンサの一電極を構成する検出電極３１を備え、当該検出電極３１に液滴としてのインク滴を着弾させることにより、検出電極３１に電荷変化量ΔＱを生じさせる。信号生成回路Ｇ１，Ｇ２は電荷変化量ΔＱに応答した応答波を含む検出電圧Ｖ2を信号生成する。この検出電圧Ｖ2の応答波は、検出電極３１にインク滴を吐出させる吐出期間ｐaにおいて極大値に向けて徐々に増加し、インク滴を吐出させない非吐出期間ｐaにおいて収束に向けて徐々に減少する。すなわち、検出電圧Ｖ2の応答波は、吐出期間ｐaから非吐出期間ｐrへと移行するタイミングにて極大値となる。信号生成回路Ｇ１，Ｇ２は、検出電圧Ｖ2の応答波を所定の信号閾値電圧Ｖ2t（＜極大値）により２値化することにより検出パルス信号Ｓpを生成し、当該検出パルス信号Ｓpを吐出検査制御部１３へ出力する。ここで、吐出期間ｐaから非吐出期間ｐrへと移行するタイミングよりも前の第１判定期間ｐ d1において検出パルス信号Ｓpの２値信号レベルが１から０へと立ち下がり、吐出期間ｐaから非吐出期間ｐrへと移行するタイミングよりも後の第２判定期間ｐ d2において検出パルス信号Ｓpの２値信号レベルが０から１へと立ち上がる。
【００１６】
吐出検査制御部１３は、検出パルス信号Ｓpからグリッチを除去する。吐出検査制御部１３は、第１判定期間ｐ d1におけるグリッチ除去後の検出パルス信号Ｓpから１から０へと立ち下がる形状の有効パルスが検出され、かつ、第２判定期間ｐ d2におけるグリッチ除去後の検出パルス信号Ｓpから０から１へと立ち上がる形状の有効パルスが検出された場合に、原則として、正常にインク滴が吐出されたと判定する。ただし、検出パルス信号Ｓpが重篤なノイズ重畳状態である場合には、判定の信頼度が低いとして、正常にインク滴が吐出されたと判定しない。吐出検査制御部１３は、グリッチを除去していない状態の検出パルス信号Ｓpの２値信号レベルが０から１および１から０へと遷移する回数が所定の重篤ノイズ閾値以上である場合には、検出パルス信号Ｓpが重篤なノイズ重畳状態であると判定する。以上説明したように、第１判定期間ｐ d1での検出パルス信号Ｓpが正常であり、第１判定期間ｐ d1での検出パルス信号Ｓpが正常であり、かつ、重篤なノイズ重畳状態でない場合に正常にインク滴が吐出されたと判定するため、信頼度の高い判定結果を得ることができる。
【００１７】
（２）第１実施形態：
（２−１）吐出検査装置の構成：
図２は、第１実施形態にかかる吐出検査装置を含む印刷装置１のブロック図である。印刷装置１は、メイン基板１０と印刷ヘッド２０とノズルキャップ３０とシールド構造４０と信号生成基板５０とを含む。印刷装置１は、インクジェットプリンターである。メイン基板１０は、メイン制御部１１と吐出制御部１２と吐出検査制御部１３とを含む。メイン制御部１１は、ＣＰＵやＲＡＭやＲＯＭやＡＳＩＣ等で構成され、図示しないインターフェース部を介して取得した画像データに基づいて印刷制御データを生成し、当該印刷制御データを吐出制御部１２に出力する処理を実行する。また、メイン制御部１１は、後述する吐出検査処理の結果を図示しないユーザーインターフェース部を介して通知させる処理を実行する。吐出制御手段としての吐出制御部１２は、ＣＰＵやＲＡＭやＲＯＭやＡＳＩＣ等で構成され、印刷制御データに基づいて印刷ヘッド２０に出力する駆動データを生成する処理を実行する。なお、吐出制御部１２は、所定のラッチ周期（約８７μ秒）単位で印刷ヘッド２０の駆動制御を行う。ラッチ周期はラッチ信号Ｓlによって特定され、ラッチ信号Ｓlは、メイン制御部１１によって生成される。なお、ラッチ信号Ｓlは信号レベルが０または１の２値信号であり、ラッチ周期が開始するタイミングごとに信号レベルが１となる。吐出検査制御部１３の詳細については後述する。
【００１８】
印刷ヘッド２０は、ピエゾ素子２１とノズルプレート２２とノズル２３とを備える。印刷ヘッド２０は、図示しないインクタンクからインクの供給を受けており、当該インクのインク滴（液滴）をノズル２３から吐出させる。印刷ヘッド２０は、多数のノズル２３を備え、ノズル２３は図示しない記録媒体に対して平行に対向する平面状のノズルプレート２２において配列される。多数のノズル２３のそれぞれと図示しないインク室が連通しており、当該インク室にインクタンクからインクが供給される。インク室ごとに備えられたピエゾ素子２１には、吐出制御部１２が生成した駆動データに基づく駆動パルスが印加される。ピエゾ素子２１は、駆動パルスによって機械的に変形することにより、インク室内のインクを加減圧する。これにより、インク滴をノズル２３から吐出させる。本実施形態のノズルプレート２２は、ステンレスで形成されており、基準電位（０Ｖ）に接地されている。
【００１９】
ノズルキャップ３０は検出電極３１を備える。検出電極３１は、例えばノズルプレート２２に対して平行に対向する平面状の電極である。検出電極３１とノズルプレート２２とが密着するようにノズルキャップ３０を動作させることにより、ノズル２３におけるインクの乾燥や固化を防止する。検出電極３１は着弾したインク滴が浸透可能なメッシュ電極であってもよく、検出電極３１の裏側（ノズルプレート２２の反対側）に備えられたスポンジ等によってインクを吸収したり、さらに廃液チューブ等によってインクを廃液してもよい。また、吐出検査時においては、ノズルキャップ３０は印刷ヘッド２０から離間し、ノズルプレート２２と検出電極３１とが所定距離を隔てて平行に対向する。
【００２０】
シールド構造４０は、検出電極３１と、検出電極３１と信号生成基板５０とを接続するケーブルを外部の電磁的外乱要因から保護するための保護部を含む。なお、シールド構造４０は、検出電極３１と信号生成基板５０とを一体化させつつ保護するモジュール構造であってもよい。また、シールド構造４０は、ノズルキャップ３０に備えられた廃液チューブ等も被覆し、廃液チューブ等を電磁的外乱要因から保護してもよい。
【００２１】
信号生成基板５０は、高電圧モジュール５１と高電圧遮断コンデンサ５２とローパスフィルター回路５３と第１増幅回路５４とクランプ回路５５と第２増幅回路５６と２値化回路５７と高電圧診断回路５８とを含む。
【００２２】
図３は、検出パルス信号取得手段としての信号生成基板５０の回路図である。信号生成基板５０には２組の信号生成回路Ｇ１，Ｇ２が形成され、信号生成回路Ｇ１，Ｇ２はそれぞれ高電圧遮断コンデンサ５２とローパスフィルター回路５３と第１増幅回路５４とクランプ回路５５と第２増幅回路５６と２値化回路５７とを含む。高電圧モジュール５１は、検出電極３１に接続され、吐出検査制御部１３の制御により吐出検査時において高電圧（例えば１００〜５００Ｖ）を負荷抵抗経由で出力する。従って、吐出検査時において、検出電極３１と基準電位のノズルプレート２２との間に寄生する静電容量ＣにＱ＝ＣＶ（Ｖは前記高電圧）の電荷量Ｑの電荷が蓄積される。吐出検査時において、吐出制御部１２はノズル２３からインク滴を吐出させる。ノズル２３から吐出されたインク滴は検出電極３１に着弾し、ノズルプレート２２から検出電極３１へとインク滴が運んだ電荷により、検出電極３１の電荷量Ｑに微少な電荷変化量ΔＱが生じる。このとき、電荷変化量ΔＱに対応した微少電流が負荷抵抗を経由して検出電極３１に流れる。
【００２３】
吐出検査において、ノズルプレート２２と検出電極３１との距離は理想的に一定の距離に保たれるが、ノズルプレート２２におけるインク滴の吐出に起因してノズルプレート２２が振動する場合や、その他の要因に起因してノズルプレート２２と検出電極３１との少なくとも一方が振動する場合には、ノズルプレート２２と検出電極３１との間の距離が変化する。これにより、ノズルプレート２２と検出電極３１との間の静電容量が変化し、検出電極３１に微少な電荷変化量ΔＱが生じ得る。すなわち、検出電極３１に流れる微少電流には、インク滴の着弾に起因する電荷変化量ΔＱだけでなく、それ以外のノイズ要因に起因した電荷変化量ΔＱに応じた電流も重畳されることとなる。
【００２４】
信号生成回路Ｇ１，Ｇ２にはそれぞれ独立した検出電極３１が接続されており、検出電極３１が互いにノズルプレート２２の異なる位置に対向する。すなわち、検出電極３１にインク滴を着弾させるノズル２３が異なっている。なお、それぞれの検出電極３１に対して共通する高電圧モジュール５１により高電圧を印加することにより、コスト低減を図っている。また、検出電極３１は、シールド構造４０によって、例えば商用電源や印刷装置１が備える他の回路から発せられる電磁的外乱要因から保護される。信号生成回路Ｇ１，Ｇ２は、検出電極３１の位置を除き互いに同様の構成であるため、ここでは一方についてのみ説明する。高電圧遮断コンデンサ５２の一方の電極は、シールド構造４０によって保護されたケーブルを介して検出電極３１と接続される。このようにシールド構造４０を設けた場合であっても、信号生成回路Ｇ１，Ｇ２の信号生成過程において電磁的外乱要因によって信号にノイズが重畳されることとなる。
【００２５】
高電圧遮断コンデンサ５２の他方の電極は、ローパスフィルター回路５３と接続される。この高電圧遮断コンデンサ５２により、高電圧を遮断してローパスフィルター回路５３等を保護するとともに、検出電極３１における微少な電荷変化量ΔＱに応じた微少電流をローパスフィルター回路５３に流すことができる。ローパスフィルター回路５３は、微少電流から所定周波数（２ｋＨｚ）よりも高周波成分を除去するための回路である。これにより、微少電流から高周波のノイズが除去できる。本実施形態においてローパスフィルター回路５３は、入力抵抗と接地したコンデンサと出力抵抗とをＴ型に結線したＴ型ローパスフィルター回路である。
【００２６】
第１増幅回路５４は、ローパスフィルター回路５３によって高周波成分が除去された微少電流を入力し、微少電流を電圧に変換しつつ増幅する。第１増幅回路５４は、オペアンプＡ１と正相入力回路５４ａと帰還抵抗回路５４ｂとを含む。第１増幅回路５４の入力インピーダンスは実質的に０であり、オペアンプＡ１は反転入力端子（−）にてローパスフィルター回路５３から微少電流を吸入する。正相入力回路５４ａは、所定電源電圧（３．３Ｖ）を抵抗値が互いに等しい２個の分圧抵抗により分圧して得られた１．６５Ｖの電圧をオペアンプＡ１の非反転入力端子（＋）に入力する。帰還抵抗回路５４ｂは、帰還抵抗Ｒ１〜Ｒ３とコンデンサＣ１，Ｃ２とを含み、オペアンプＡ１の出力端子（Ｖout）と反転入力端子（−）との間に介在する。また、帰還抵抗回路５４ｂの帰還分圧抵抗Ｒ３（５１０Ω）に１０μＦのコンデンサＣ２を接続することにより、非反転入力端子（＋）と同じ１．６５Ｖの自己バイアス電圧をオペアンプＡ１に入力する。ここで、第１増幅回路５４の増幅係数Ｘ1は、帰還抵抗回路５４ｂの各帰還抵抗Ｒ１〜Ｒ３の抵抗値（Ｒ１：１ＭΩ,Ｒ２：５．１ｋΩ, Ｒ３：５１０Ω）により、Ｘ1＝１ＭΩ×（５．１ｋΩ＋５１０Ω）／５１０Ω＝１１ＭΩで与えられる。従って、オペアンプＡ１の出力端子（Ｖout）の出力電圧としての中間電圧Ｖ1（第１増幅信号）はＶ1＝−Ｘ1×Ｉ（Ｉは反転入力端子（−）にて吸入される微少電流の電流値）で与えられる。なお、増幅係数Ｘ1を決定づける各帰還抵抗Ｒ１〜Ｒ３の抵抗値のばらつきは所定の基準（例えば最大誤差が１％以内）で管理されることが望ましい。
【００２７】
帰還抵抗回路５４ｂには、位相補償用コンデンサＣ１が備えられる。位相補償用コンデンサＣ１の静電容量を１０〜１５ｐＦ程度に調整することにより、中間電圧Ｖ1の高周波帯域におけるゲインが最適化される。なお、ローパスフィルター回路５３をＴ型ローパスフィルター回路とすることにより、ローパスフィルター回路５３の接地したコンデンサと、第１増幅回路５４の帰還抵抗回路５４ｂとの間にローパスフィルター回路５３の出力抵抗を介在させることができる。これにより、第１増幅回路５４を安定させることができ、第１増幅回路５４が発振状態に陥ることが防止できる。
【００２８】
拘束手段としてのクランプ回路５５は、結合コンデンサＣ３と電源回路５５ａとアナログスイッチＹとを含む。結合コンデンサＣ３の一方の電極に第１増幅回路５４から中間電圧Ｖ1が入力され、結合コンデンサＣ３の他方の電極に第２増幅回路５６が接続される。第２増幅回路５６は、オペアンプＡ２と帰還抵抗Ｒ４,Ｒ５とを含み、オペアンプＡ２の非反転入力端子（＋）に第１増幅回路５４の中間電圧Ｖ1が入力される。第２増幅回路５６は非反転増幅回路であり、第１増幅回路５４の中間電圧Ｖ1を増幅し、出力端子（Ｖout）から検出電圧Ｖ2（第２増幅信号）を出力する。ここで、第２増幅回路５６の増幅率Ｘ2は、帰還抵抗Ｒ４,Ｒ５の抵抗値（Ｒ４：５１ｋΩ,Ｒ５：５１０Ω）により、Ｘ2＝（５１ｋΩ＋５１０Ω）／５１０Ω＝１０１倍で与えられる。従って、オペアンプＡ２の出力端子（Ｖout）における検出電圧Ｖ2はＶ2＝Ｘ2×Ｖ１で与えられる。ここでも、増幅率Ｘ2を決定づける各帰還抵抗Ｒ４,Ｒ５の抵抗値のばらつきは所定の基準（例えば最大誤差が１％以内）で管理されることが望ましい。
【００２９】
以上のように、第１増幅回路５４と第２増幅回路５６とが順列に接続されるが、これらの間のクランプ点ＣＰにおいてクランプ回路５５のアナログスイッチＹの一端子Ｔ1が接続する。アナログスイッチＹの他方の端子Ｔ2には電源回路５５ａが接続される。電源回路５５ａは、所定電源電圧（３．３Ｖ）を抵抗と順方向のダイオード（順方向降下電圧）とによって分圧することにより、一定の所定電位Ｖ1c（０．６Ｖ）を生成する。この所定電位Ｖ1cは、アナログスイッチＹの端子Ｔ2に入力される。アナログスイッチＹは制御端子Ｔ3を有し、制御端子Ｔ3には吐出検査制御部１３からクランプ信号Ｓcが入力される。クランプ信号Ｓcは、信号レベルが０または１の２値信号であり、拘束期間としてのクランプ期間に限り１となる。アナログスイッチＹは、例えばＣＭＯＳスイッチであり、クランプ信号Ｓcが１となる期間に限り端子Ｔ1，Ｔ2間を導通させる。これにより、クランプ期間において所定電位Ｖ1cの電源により結合コンデンサＣ３に充電された電気量が所定電位Ｖ1cに対応した電気量に拘束され、クランプ期間以外においては電荷変化量ΔＱに応じて結合コンデンサＣ３の充放電が行われる。すなわち、クランプ期間に限り、クランプ点ＣＰにおける中間電圧Ｖ1が所定電位Ｖ1cに拘束される。なお、アナログスイッチＹを導通させて中間電圧Ｖ1を所定電位Ｖ1cへと拘束することを、本明細書においてクランプすると表記する場合もある。なお、中間電圧Ｖ1を所定電位Ｖ1cへとクランプすることにより、第２増幅回路５６から出力される検出電圧Ｖ2も所定電位Ｖ2c＝Ｘ2×Ｖ1cへと拘束されることとなる。
【００３０】
また、第２増幅回路５６は、アナログスイッチＹの端子Ｔ2の電位をグランドに引き込むためのスイッチＷを有し、スイッチＷが導通することにより、電源回路５５ａの所定電位Ｖ1cを０．６Ｖから０Ｖへと切り替えることができる。また、結合コンデンサＣ３は、第１増幅回路５４と第２増幅回路５６とを交流結合するが、時定数がクランプ開放期間（クランプしない期間）よりも十分に長くなるように、結合コンデンサＣ３の電気容量と第２増幅回路５６の入力インピーダンスとが設定されている。
【００３１】
２値化回路５７は、検出電圧Ｖ2を２値化するための回路であり、検出電圧Ｖ2が信号閾値電圧Ｖ2t以上である場合に２値信号レベルが０となり、検出電圧Ｖ2が信号閾値電圧Ｖ2tよりも小さい場合に２値信号レベルが１となる検出パルス信号Ｓpを生成する。２値化回路５７は、検出パルス信号Ｓpを吐出検査制御部１３に出力する。２値化回路５７は、吐出検査制御部１３からＰＷＭ信号である信号閾値設定信号Ｓtのデューティー比に応じた信号閾値電圧Ｖ2tを生成する積分回路を含む。本実施形態では、オペアンプＡ３を用いた積分器により信号閾値設定信号Ｓtを積分して直流電圧Ｖ3をオペアンプＡ３の出力点から出力する。コンパレーターＣＯは、非反転入力端子（＋）が抵抗Ｒ７を介してオペアンプＡ３の出力点と接続され、反転入力端子（−）にて検出電圧Ｖ2を入力する。また、コンパレーターＣＯの出力（検出パルス信号Ｓp）を帰還抵抗Ｒ６を介して非反転入力端子（＋）に正帰還させることにより、コンパレーターＣＯはヒステリシス特性を有することとなる。具体的に２値化回路５７は、検出電圧Ｖ2が信号閾値電圧Ｖ2tよりも大きくなっていく場合の信号閾値電圧Ｖ2t1の方が、検出電圧Ｖ2が信号閾値電圧Ｖ2tよりも小さくなっていく場合の信号閾値電圧Ｖ2t2よりも大きくなるヒステリシス特性を有する。ここで、検出電圧Ｖ2が信号閾値電圧Ｖ2tよりも大きくなっていく場合の信号閾値電圧Ｖ2t1はコンパレーターＣＯの帰還抵抗Ｒ６，Ｒ７の抵抗値（Ｒ６，Ｒ７と表記）を用いてＶ2t1＝（Ｒ６×Ｖ3＋Ｒ７×Ｖhi)／（Ｒ６＋Ｒ７）で与えられ、検出電圧Ｖ2が信号閾値電圧Ｖ2tよりも小さくなっていく場合の信号閾値電圧Ｖ2t2の信号閾値電圧Ｖ2t2はＶ2t2＝（Ｒ６×Ｖ3＋Ｒ７×Ｖlo)／（Ｒ６＋Ｒ７）で与えられる。なお、Ｖhiは検出パルス信号Ｓpの２値信号レベルの１に対応するコンパレーターＣＯの出力電圧（本実施形態では３．３Ｖ）を意味し、Ｖloは検出パルス信号Ｓpの２値信号レベルの０に対応するコンパレーターＣＯの出力電圧（本実施形態では０Ｖ）を意味する。以上説明したコンパレーターＣＯのヒステリシス特性により、検出電圧Ｖ2の信号閾値電圧Ｖ2t付近でのゆらぎに起因する検出パルス信号Ｓpのノイズを低減できる。
高電圧診断回路５８は、高電圧モジュール５１が生成した高電圧を複数の抵抗によって分圧することにより、高電圧診断信号Ｓhを生成する。次に、吐出検査制御部１３について説明する。
【００３２】
図４は、吐出検査制御部１３を示すブロック図である。本実施形態の吐出検査制御部１３は、いわゆるＳｏｃ（System on a chip）で構成される。吐出検査制御部１３は、タイミング信号生成部１３ａとパルスマスク部１３ｂとグリッチ除去部１３ｃと信号判定部１３ｄとエッジ数計数部１３ｅとノイズ判定部１３ｆと高電圧診断部１３ｇと信号閾値設定部１３ｈと高電圧制御部１３ｉとレジスタ１３ｊとを備える。レジスタ１３ｊは、メイン制御部１１と吐出検査制御部１３とがデータを読み書き可能な記憶領域である。メイン制御部１１は、レジスタ１３ｊにデータを記録させることにより、吐出検査制御部１３の動作設定を行う。また、メイン制御部１１は、レジスタ１３ｊに記録されたデータを読み出すことにより、吐出検査制御部１３による吐出検査の結果を取得する。なお、吐出検査制御部１３の各部１３ａ〜１３ｉとレジスタ１３ｊとの間のデータ流れを破線で示す。
【００３３】
タイミング信号生成部１３ａは、メイン制御部１１から入力されたラッチ信号Ｓlに基づいて各回路に出力する各種のタイミング信号（クランプ信号Ｓc等）を生成する回路である。タイミング信号の流れは、一点鎖線で示される。メイン制御部１１はレジスタ１３ｊに各種タイミングを規定するタイミング設定データを記録し、タイミング信号生成部１３ａは当該タイミング設定データに基づいてタイミング信号を生成する。
【００３４】
パルスマスク部１３ｂは、信号生成基板５０が出力する検出パルス信号Ｓp（太線で示す）を期間に応じてマスク（無効化）し、後段のグリッチ除去部１３ｃとエッジ数計数部１３ｅとに出力する回路である。パルスマスク部１３ｂは、クランプ期間ｐcにおいて検出パルス信号Ｓpをマスクする。なお、パルスマスク部１３ｂは、タイミング信号生成部１３ａからクランプ信号Ｓcを取得し、当該クランプ信号Ｓcに基づいてクランプ期間ｐcを特定する。メイン制御部１１はレジスタ１３ｊに極性設定データ（１ｂｉｔ）を記録し、パルスマスク部１３ｂは当該極性設定データに基づく極性に応じて検出パルス信号Ｓpをマスクする２値信号レベルを切り替える。すなわち、検出パルス信号Ｓpが凸極性であれば、クランプ期間ｐcにおける検出パルス信号Ｓpの２値信号レベルを０とすることにより、検出パルス信号Ｓpをマスクする。一方、検出パルス信号Ｓpが凹極性であれば、クランプ期間ｐcにおける検出パルス信号Ｓpの２値信号レベルを１とすることにより、検出パルス信号Ｓpをマスクする。なお、検査周期におけるインク滴起因の電荷変化量ΔＱに対して検出パルス信号Ｓpが上側に凸状（０→１→０）に応答する場合には極性として凸極性が設定され、当該電荷変化量ΔＱに対して検出パルス信号Ｓpが凹状（１→０→１）に応答する場合には極性として凹極性が設定される。なお、信号生成回路Ｇ１，Ｇ２の回路構成によっては検出パルス信号Ｓpの極性が反転し得るため、信号生成回路Ｇ１，Ｇ２の回路構成に応じて極性が設定される。本実施形態では、検出パルス信号Ｓpが凹極性となる。
【００３５】
グリッチ除去部１３ｃは、パルスマスク部１３ｂが出力した検出パルス信号Ｓpからグリッチを除去する回路である。グリッチ除去部１３ｃは、ラッチ周期よりも十分に短いクロック周期（約１〜２ＭＨｚ）で動作する直列３段のシフトレジスタと、各シフトレジスタに保持された２値信号の組み合わせに基づいてグリッチ除去後の検出パルス信号Ｓpを出力する論理出力部とを含む。この論理出力部は、シフトレジスタが保持する２値データの組み合わせがすべて１である場合にはグリッチ除去後の検出パルス信号Ｓpの２値信号レベルを１とし、それ以外の組み合わせの場合にはグリッチ除去後の検出パルス信号Ｓpの２値信号レベルを０とする。これにより、クロック周期の３倍よりもパルス幅が短いグリッチを除去した検出パルス信号Ｓpが生成できる。なお、論理出力部は、シフトレジスタが保持する２値データの組み合わせがすべて０である場合にはグリッチ除去後の検出パルス信号Ｓpの２値信号レベルを０とし、それ以外の組み合わせの場合にはグリッチ除去後の検出パルス信号Ｓpの２値信号レベルを１としてもよい。また、グリッチ除去部１３ｃは、レジスタ１３ｊに記録された極性設定データに基づいて、シフトレジスタが保持する２値データをクランプ期間ｐcにおいて初期化する。具体的には、グリッチ除去部１３ｃは、凸極性である場合にはシフトレジスタの２値データをすべて０に初期化し、凹極性である場合には２値データをすべて１に初期化する。なお、グリッチ除去部１３ｃはタイミング信号生成部１３ａからクランプ信号Ｓcを取得し、当該クランプ信号Ｓcに基づいて初期化を行うクランプ期間ｐcを特定する。
【００３６】
信号判定部１３ｄは、グリッチ除去後の検出パルス信号Ｓpに所定の正常パルス形状に形状が一致する正常パルスが含まれるか否かを判定する。信号判定部１３ｄは、タイミング信号生成部１３ａからタイミング信号を入力し、当該タイミング信号に基づいて第１判定期間ｐ d1と第２判定期間ｐ d2とを特定する。なお、タイミング信号生成部１３ａは、電荷変化量ΔＱに応答して検出電圧Ｖ2が極値（本実施形態では極大値）となる所定時刻よりも前の期間を第１判定期間ｐ d1とし、前記所定時刻よりも後の期間を第２判定期間ｐ d2とする。また、検出電圧Ｖ2が極値となる所定時刻とは、吐出期間ｐaが終了する時刻である。吐出期間ｐa後は、インク滴によって電荷が運搬されなくなり、電荷変化量ΔＱが収束へと転じるからである。信号判定部１３ｄは、第１判定期間ｐ d1と第２判定期間ｐ d2とのそれぞれにおいて、グリッチ除去部１３ｃから入力されたグリッチ除去後の検出パルス信号Ｓpに所定の正常パルス形状に一致する正常パルスが含まれるか否かを判定する。
【００３７】
図５は、パルス形状を示す表である。図５の右欄には、複数のパルス形状が区分１〜３に区分して示されている。なお、図５の右欄において横軸は時刻（左ほど過去）を示し、縦軸はグリッチ除去後の検出パルス信号Ｓpの２値信号レベルを示す。区分１はパルス先頭からパルス末尾にかけて２値信号レベルが０から１と遷移するパルス形状（立ち上がり形状）の区分である。区分２はパルス先頭とパルス末尾の２値信号レベルが同一となるパルス形状（維持形状）の区分である。区分３はパルス先頭からパルス末尾にかけて２値信号レベルが１から０へと遷移するパルス形状（立ち下がり形状）の区分である。
【００３８】
ここで、図５の左欄に示すように信号判定部１３ｄは、レジスタ１３ｊに記録された極性設定データが凸極性を示す場合、第１判定期間ｐ d1において立ち上がり形状を示す区分１のパルス形状を正常パルス形状とし、第２判定期間ｐ d2において立ち下がり形状を示す区分３のパルス形状を正常パルス形状とする。凸極性の場合、検出電圧Ｖ2が極値となる所定時刻において検出パルス信号Ｓpが１となり、所定時刻よりも前の第１判定期間ｐ d1において検出パルス信号Ｓpが０から１へと遷移し、所定時刻よりも後の第２判定期間ｐ d2において検出パルス信号Ｓpが１から０へと遷移すべきであるからである。
【００３９】
反対に、信号判定部１３ｄは、極性設定データが凹極性を示す場合、第１判定期間ｐ d1において立ち下がり形状を示す区分３のパルス形状を正常パルス形状とし、第２判定期間ｐ d2において立ち上がり形状を示す区分１のパルス形状を正常パルス形状とする。凹極性の場合、検出電圧Ｖ2が極値となる所定時刻において検出パルス信号Ｓpが０となり、所定時刻よりも前の第１判定期間ｐ d1において検出パルス信号Ｓpが１から０へと遷移し、所定時刻よりも後の第２判定期間ｐ d2において検出パルス信号Ｓpが０から１へと遷移すべきであるからである。なお、維持形状を示す区分２のパルス形状は、極性設定データおよび期間（第１判定期間ｐ d1，第２判定期間ｐ d2）に拘わらず正常パルス形状とされない。なお、区分１，３のパルス形状によれば、グリッチ除去後の検出パルス信号Ｓpの２値信号レベルがパルス先頭とパルス末尾との間で細かく遷移することを許容でき、検出電圧Ｖ2の信号閾値電圧Ｖ2t付近におけるゆらぎの影響を抑制できる。
【００４０】
信号判定部１３ｄは、第１判定期間ｐ d1におけるグリッチ除去後の検出パルス信号Ｓpに、正常パルス形状の正常パルスが含まれる場合には第１判定期間ｐ d1おける検出電圧Ｖ2が正常であったとして第１信号判定データ（１ｂｉｔ）を１とし、正常パルスが含まれなかった場合には第１判定期間ｐ d1おける検出電圧Ｖ2が正常でなかったとして第１信号判定データを０とする。同様に、第２判定期間ｐ d2におけるグリッチ除去後の検出パルス信号Ｓpに、正常パルス形状の正常パルスが含まれる場合には第２判定期間ｐ d2おける検出電圧Ｖ2が正常であったとして第２信号判定データ（１ｂｉｔ）を１とし、正常パルスが含まれなかった場合には第２判定期間ｐ d2おける検出電圧Ｖ2が異常であったとして第２信号判定データを０とする。信号判定部１３ｄは、吐出検査周期ｐごとに第１信号判定データと第２信号判定データとを生成し、これらをレジスタ１３ｊに更新記録する。なお、グリッチ除去部１３ｃにおいてはシフトレジスタが検出パルス信号Ｓpを保持するため信号遅延が生じる。従って、信号判定部１３ｄは、当該信号遅延を考慮した期間にてパルス形状の比較を行ってもよい。
【００４１】
エッジ数計数部１３ｅは、パルスマスク部１３ｂから入力した検出パルス信号Ｓpから２値信号レベルが０から１へと遷移する回数と、１から０へと遷移する回数との合計であるエッジ数をカウントする回路である。エッジ数計数部１３ｅは、タイミング信号生成部１３ａからクランプ信号Ｓcを取得し、当該クランプ期間ｐcを除く期間においてエッジ数をカウントする。エッジ数計数部１３ｅは、クランプ期間ｐcが到来すると、それまでにカウントしたエッジ数を示すデータを後段のノイズ判定部１３ｆへと出力するとともに、エッジ数を０にリセットする。そして、クランプ信号Ｓcが終了すると、エッジ数のカウントを再開する。
【００４２】
ノイズ判定部１３ｆは、エッジ数計数部１３ｅが出力したエッジ数と、所定の軽微ノイズ閾値と重篤ノイズ閾値とを比較する。軽微ノイズ閾値は２より大きく、本実施形態では３とされる。重篤ノイズ閾値は、軽微ノイズ閾値より大きく本実施形態では１０とされる。軽微ノイズ閾値と重篤ノイズ閾値とを示すノイズ閾値データ（各８ｂｉｔ）は、レジスタ１３ｊに記録されている。ノイズ判定部１３ｆは、エッジ数が軽微ノイズ閾値以上である場合には第１ノイズ判定データ（１ｂｉｔ）を１とし、エッジ数が軽微ノイズ閾値よりも小さい場合には第１ノイズ判定データを０とする。ノイズ判定部１３ｆは、エッジ数が重篤ノイズ閾値以上である場合には第２ノイズ判定データ（１ｂｉｔ）を１とし、エッジ数が重篤ノイズ閾値よりも小さい場合には第２ノイズ判定データを０とする。信号判定部１３ｄは、吐出検査周期ｐごとに第１ノイズ判定データと第２ノイズ判定データとを生成し、これらをレジスタ１３ｊに更新記録する。第１ノイズ判定データが０であれば、検出パルス信号Ｓpが軽微なノイズ重畳状態でないと判定できる。第１ノイズ判定データが１かつ第２ノイズ判定データが０であれば、検出パルス信号Ｓpが軽微なノイズ重畳状態である判定できる。第２ノイズ判定データが１であれば、検出パルス信号Ｓpが重篤なノイズ重畳状態である判定できる。
【００４３】
高電圧診断部１３ｇはＡ／Ｄコンバーターを含み、所定の時間周期ごとに高電圧診断回路５８が生成した高電圧診断信号Ｓhの電圧値を示す高圧診断データ（８ｂｉｔ）を生成し、レジスタ１３ｊに記録する。
信号閾値設定部１３ｈは、メイン制御部１１によってレジスタ１３ｊに記録された信号閾値設定データ（８ｂｉｔ）に応じたデューティー比のＰＷＭ信号である信号閾値設定信号Ｓtを生成し、２値化回路５７に出力する。
高電圧制御部１３ｉは、メイン制御部１１によってレジスタ１３ｊに記録された高電圧制御データ（１ｂｉｔ）に基づいて、高電圧モジュール５１に高電圧を生成させるための高圧制御信号Ｓkを出力する。高圧制御信号Ｓkは、信号レベルが１または０の２値信号であり、高圧制御信号Ｓkの信号レベルが１となる期間に限り高電圧モジュール５１が高電圧を生成する。
【００４４】
以上の構成により、吐出検査周期ｐごと、すなわちノズル２３ごとに第１信号判定データと第２信号判定データと第１ノイズ判定データと第２ノイズ判定データとをレジスタ１３ｊにて更新記録していくことができる。従って、メイン制御部１１は、ノズル２３ごとの第１信号判定データと第２信号判定データと第１ノイズ判定データと第２ノイズ判定データとを取得できる。これにより、メイン制御部１１は、第１判定期間ｐ d1と第２判定期間ｐ d2のそれぞれにおいて検出電圧Ｖ2が正常に変化したか否かが判定できる。また、メイン制御部１１は、検出電圧Ｖ2が軽微なノイズ重畳状態であるか否か、および、検出電圧Ｖ2が重篤なノイズ重畳状態であるか否かが判定できる。さらに、メイン制御部１１は、高圧診断データに基づいて高電圧モジュール５１を診断できる。
【００４５】
（２−２）吐出検査装置の動作：
図６は、吐出検査装置が実行する吐出検査処理のタイミングチャートである。図６のａ欄においては、高圧制御信号Ｓkを示す。高圧制御信号Ｓkの信号レベルが１となる全検査期間Ｐ２において高電圧モジュール５１が高電圧を出力する。全検査期間Ｐ２は、時刻の早い順に前置期間ｐfと実検査期間Ｐ１と後置期間ｐbとを含む。なお、前置期間ｐfにおいて高電圧モジュール５１に高電圧を出力させておくことにより、実検査期間Ｐ１よりも前に高電圧遮断コンデンサ５２を十分に充電しておく。
図６のｂ欄においては、ラッチ周期を示すラッチ信号Ｓlの波形を示す。なお、ラッチ周期の長さをＬと表記する。
【００４６】
図６のｃ欄においては、各ノズル２３の吐出状態を示す。本実施形態において、印刷ヘッド２０は、２つの検出電極３１に対してインク滴を着弾させるノズル２３をそれぞれＮ個ずつ有し、インク滴を着弾させる検出電極３１ごとにノズル番号（ｎ＝１，２，３・・・Ｎ）が付されている。そして、ノズル番号の昇順に各ノズル２３の吐出検査が行われる。各ノズル２３を吐出検査するために要する期間（吐出検査周期ｐ）は一定であり、吐出検査周期ｐの長さにノズル数を乗じた期間が全ノズルの吐出検査に要する実検査期間Ｐ１となる。本実施形態では、印刷ヘッド２０は５７６０個のノズル２３を備え、一方の検出電極３１にインク滴を着弾させるノズル２３の個数（Ｎ）は２８８０個となる。吐出検査周期ｐの長さはラッチ周期の長さＬの倍数とされ、本実施形態では、吐出検査周期ｐの長さは１ラッチ周期（Ｌ）の１２倍とされる。また、吐出検査周期ｐの開始から６ラッチ周期（６Ｌ）経過するまでが吐出期間ｐaとされる。この吐出期間ｐaにおいてメイン基板１０の吐出制御部１２は、吐出検査対象のノズル２３からインク滴を２４回吐出させる。すなわち、吐出期間ｐaに含まれる各ラッチ周期において、吐出制御部１２は、吐出検査対象のノズル２３からインク滴を４回ずつ吐出させる。吐出期間ｐaの終了から吐出検査周期ｐの終了するまでの期間が非吐出期間ｐrとされる。この非吐出期間ｐrにおいて吐出制御部１２は、吐出検査対象のノズル２３からインク滴を吐出させない。また、吐出制御部１２は、吐出検査対象以外のノズル２３からは吐出期間ｐaであるか非吐出期間ｐrであるかに拘わらずインク滴を吐出させない。ただし、吐出制御部１２は、吐出検査対象以外のノズル２３におけるインク液面をインク滴が吐出されない程度に微振動させる。なお、吐出制御部１２は、吐出検査制御部１３のタイミング信号生成部１３ａが生成したタイミング信号を入力しており、当該タイミング信号に基づいて吐出検査周期ｐや吐出期間ｐaや非吐出期間ｐrを特定する。ここで、吐出検査周期ｐや吐出期間ｐaや非吐出期間ｐrの長さの根拠について説明する。
【００４７】
図７Ａ〜７Ｄは、１ラッチ周期（Ｌ）あたりにノズル２３からインク滴を４回ずつ吐出するテスト吐出期間ｐatを２ラッチ周期（２Ｌ），４ラッチ周期（４Ｌ），６ラッチ周期（６Ｌ），８ラッチ周期（８Ｌ）にわたって継続した場合に、第２増幅回路５６から出力された検出電圧Ｖ2を示すグラフである。図７Ａ〜７Ｄの縦軸は検出電圧Ｖ2を示し、横軸は時刻を示す。なお、テスト吐出期間ｐatが開始するまでは、クランプ回路５５のアナログスイッチＹを導通させることにより、第２増幅回路５６の入力電圧（中間電圧Ｖ1）を所定電位Ｖ1cにクランプしておくこととする。また、各種のノイズの影響はないものとする。
【００４８】
図７Ａ〜７Ｄに示すように、各テスト吐出期間ｐatにおいてノズル２３からインク滴を吐出すると上側に凸状の応答波が検出電圧Ｖ2に１つ表れる。この応答波は、テスト吐出期間ｐatにおいて検出電極３１に着弾した各インク滴が運んだ電荷の総和に対応する電荷変化量ΔＱを反映させたものである。この応答波は、テスト吐出期間ｐatの開始における検出電圧Ｖ2（クランプにより所定電位Ｖ2c）から徐々に増加して極大となり、再び、所定電位Ｖ2cへと収束する形状を示す。なお、ノズルプレート２２におけるインク滴の着弾位置がノズル２３ごとに異なり、吐出されるインク滴のインク量がノズル２３ごとにばらつくため、同一のテスト吐出期間ｐatとした場合であってもノズル２３ごとに検出電圧Ｖ2の応答波の振幅（極大の検出電圧Ｖ2と所定電位Ｖ2cとの差）が異なる。図７Ａ〜７Ｄでは、振幅が最大となるノズル２３についての応答波を実線で示し、振幅が最小となるノズル２３についての応答波を破線で示す。ここで、テスト吐出期間ｐatが長いほどインク滴が着弾する期間が長く、電荷変化量ΔＱを反映させた応答波が時刻軸方向に長くなる。なお、電荷変化量ΔＱに対応した検出電圧Ｖ2の応答波は上述した信号生成回路Ｇ１，Ｇ２の応答特性上、テスト吐出期間ｐatの終了と同時に所定電位Ｖ2cに収束せず、テスト吐出期間ｐatの終了後しばらくしてから所定電位Ｖ2cに収束する。テスト吐出期間ｐatの終了時刻において応答波がほぼ極大となる。テスト吐出期間ｐat後は、インク滴によって電荷が運搬されなくなり、電荷変化量ΔＱが収束へと転じるからである。また、テスト吐出期間ｐatが長いほどインク滴が運ぶ電荷の総和が大きくなるため、応答波の振幅が大きくなる。しかし、図７Ａ〜７Ｄに示すようテスト吐出期間ｐatがある程度長くなると、テスト吐出期間ｐatが長くなっても応答波の振幅は増加しなくなる。
【００４９】
図７Ｅは、テスト吐出期間ｐatと応答波の振幅（検出電圧Ｖ2の極大値）との関係を示すグラフである。同図に示すように、振幅が最大となるノズル２３についての応答波（実線）と、振幅が最小となるノズル２３についての応答波（破線）とのいずれについても、テスト吐出期間ｐatが５〜６ラッチ周期（５Ｌ〜６Ｌ）まではテスト吐出期間ｐatが長くなるほど応答波の振幅が増加するが、テスト吐出期間ｐatが５〜６ラッチ周期（５Ｌ〜６Ｌ）以上となるとテスト吐出期間ｐatが長くなるのに伴う応答波の振幅の増加が鈍くなる。従って、吐出検査制御部１３に設定する吐出期間ｐaを６ラッチ周期（６Ｌ）とすることにより、最大限、応答波の振幅を確保するとともに、吐出期間ｐaが長くなり吐出検査に要する期間が長くなることが防止できる。また、図７Ｃに示すように、６ラッチ周期（６Ｌ）のテスト吐出期間ｐatの終了後さらに６ラッチ周期（６Ｌ）が経過するタイミングで応答波が所定電位Ｖ2cへと収束している。異なるノズル２３間で応答波が重畳されないように、本実施形態では吐出期間ｐaの後の６ラッチ周期（６Ｌ）を非吐出期間ｐrとする。吐出検査に要する期間を短縮するために、応答波が収束する範囲において非吐出期間ｐrもできるだけ短く設定するのが望ましい。本実施形態では、吐出期間ｐaと吐出期間ｐaとをそれぞれ６ラッチ周期（６Ｌ）として１ノズルあたりの吐出検査周期ｐを１２ラッチ周期（１２Ｌ≒１２×８７μ秒≒１ｍ秒）とすることにより、２８８０個のノズル２３を順次検査した場合の実検査期間Ｐ１を２．８８秒程度に抑制している。図６の説明に戻る。
【００５０】
図６のｄ欄においては、吐出検査制御部１３のタイミング信号生成部１３ａが生成する各タイミング信号によって特定される各期間ｐc，ｐ d1，ｐp，ｐ d2，ｐeを示す。本実施形態では、吐出検査周期ｐにおける非吐出期間ｐrの最後のラッチ周期がクランプ期間ｐcとされる。すなわち、非吐出期間ｐrから吐出期間ｐaへと移行するタイミングから１ラッチ周期（Ｌ）以内の期間がクランプ期間ｐcとされる。なお、クランプ期間ｐcが開始する周期は吐出検査周期ｐと同一となる。クランプ期間ｐcにおいては検出電圧Ｖ2が所定電位Ｖ2cに保持され、クランプ期間ｐc以外の期間においては検出電極３１における電荷変化量ΔＱに応じて検出電圧Ｖ2が変化する。なお、クランプ期間ｐcは、上述の前置期間ｐfにも設定される。これにより吐出検査の前に検出電圧Ｖ2を所定電位Ｖ2cに拘束しておくことができる。
【００５１】
図８Ａ，８Ｂは、吐出検査周期ｐよりも低周波のノイズが含まれ、かつ、クランプ期間ｐcにて中間電圧Ｖ1をクランプしない場合とする場合のそれぞれにおける検出電圧Ｖ2を示す。ここでは低周波のノイズの電圧波形がサイン波であると仮定する。図８Ａに示すように、検出電圧Ｖ2には吐出検査周期ｐごとに検出電極３１における電荷変化量ΔＱに対応する応答波が表れるが、この応答波に破線で示すように低周波のノイズ（検出電極３１の振動起因の電荷変化量ΔＱや他の電磁的外乱要因に起因）が重畳されることとなる。これに対して、図８Ｂのように各吐出検査周期ｐの直前（終了前１ラッチ周期（Ｌ））のクランプ期間ｐcにて中間電圧Ｖ1を所定電位Ｖ1cにクランプすることにより、複数の吐出検査周期ｐ間で低周波のノイズを蓄積することが防止できる。すなわち、低周波のノイズが複数の吐出検査周期ｐにまたがって蓄積されることが防止でき、電荷変化量ΔＱの応答波の信号強度に対する低周波のノイズ強度の比を抑制した検出電圧Ｖ2を得ることができる。また、中間電圧Ｖ1を所定電位Ｖ1c付近に拘束できるため、中間電圧Ｖ1がオペアンプＡ１の出力可能電圧範囲外となることが防止でき、クリップによる波形歪みが防止できる。
【００５２】
図８Ｃは、検出電圧Ｖ2のノイズ抑圧特性を示すグラフである。図８Ｃの横軸はノイズ周波数（対数）を示し、縦軸は信号抑圧比（入力電力／通過電力）（対数）を示す。第１増幅回路５４の入力点に各周波数のテストノイズを意図的に注入し、検出電圧Ｖ2が示すテストノイズの通過電力を調査する。図８Ｃに示すように、吐出検査周期ｐと同等の周期に対応する周波数帯域（２００〜２０００Ｈｚ）のテストノイズは、第２増幅回路５６の出力点までほぼ減衰することなく通過し、電荷変化量ΔＱの応答波は通過できることが分かる。クランプ期間ｐcの周期が吐出検査周期ｐと同一であり、吐出検査周期ｐよりも短い周期に対応する高周波帯域のテストノイズの波形はクランプの影響を受けないからである。なお、２０００Ｈｚよりも高周波帯域のノイズは、ローパスフィルター回路５３により抑圧できる。一方、吐出検査周期ｐよりも長い周期に対応する低周波帯域（〜２００Ｈｚ）においては、テストノイズの周波数が小さくなるほど抑圧される。具体的に、周波数の１ｄｅｃａｄｅごと（周波数が１０倍となるごと）に、テストノイズの通過電力が−２０ｄＢ減衰する。なお、低周波帯域（〜５Ｈｚ）においては信号抑圧比の傾きが緩和される。これは第１増幅回路５４の増幅係数Ｘ1を小さくしたにも拘わらず、低周波帯域（〜５Ｈｚ）では、より大きなノイズ成分が抑圧可能なために、ついに第１増幅回路５４を構成するオペアンプＡ１の出力端子（Ｖout）における中間電圧Ｖ1がオペアンプＡ１の出力可能電圧範囲内にクリップされたことによる波形歪みに起因する。
【００５３】
本実施形態において、第１増幅回路５４を構成するオペアンプＡ１の出力可能電圧範囲は約３．３Ｖであり、クランプ点ＣＰにおける中間電圧Ｖ1の応答波の振幅が出力可能電圧範囲の１／１００〜１／１０（０．０３３〜０．３３Ｖｐｐ）となるように第１増幅回路５４の増幅係数Ｘ1が設定されている。これにより、クランプ点ＣＰにおけるノイズの電圧が−０．６〜２．７Ｖ程度で変動する場合でも、中間電圧Ｖ1がオペアンプＡ１の出力可能電圧範囲を超え、当該中間電圧Ｖ1がクリップされることが防止できる。すなわち、検出電極３１における電荷変化量ΔＱの応答波形が中間電圧Ｖ1のクリップにより歪むことが防止でき、インク滴が吐出されたか否かを精度よく判定できる。なお、第１増幅回路５４の増幅係数Ｘ1が小さくても、クランプされた中間電圧Ｖ1をさらに増幅する第２増幅回路５６が備えられるため、インク滴が吐出されたか否かを判定するのに好適な検出電圧Ｖ2を得ることができる。なお、クランプ点ＣＰにおけるノイズ成分の電圧が０〜３．０Ｖ程度で変動する場合には、スイッチＷを導通させてクランプする所定電位Ｖ1cを０．６Ｖから０Ｖへと切り替えることにより、応答波のクリップを防止するのが望ましい。
【００５４】
なお、クランプ期間ｐcは、検出電圧Ｖ2が既知の所定電位Ｖ2cに保持され、電荷変化量ΔＱの応答波も表れない期間である。そのため、クランプ期間ｐcは、パルスマスク部１３ｂが検出パルス信号Ｓpをマスクする期間とされる。また、クランプ期間ｐcは、グリッチ除去部１３ｃがシフトレジスタの２値データを初期化する期間とされる。さらに、クランプ期間ｐcは、エッジ数計数部１３ｅがエッジ数を計数しない期間とされる。図６の説明に戻る。
【００５５】
図６のｄ欄に示すように、吐出検査周期ｐは、時刻の早い順に第１判定期間ｐ d1（５Ｌ）とピーク期間ｐp（Ｌ）と第２判定期間ｐ d2（４Ｌ）と収束期間ｐe（Ｌ）とクランプ期間ｐc（Ｌ）とを含む。第１判定期間ｐ d1は、吐出検査周期ｐの開始とともに開始し、吐出期間ｐaの終了前に終了する。ピーク期間ｐpは、第１判定期間ｐ d1の終了と同時に開始し、吐出期間ｐaとともに終了する。すなわち、吐出期間ｐaは、第１判定期間ｐ d1とピーク期間ｐpとを含む。第２判定期間ｐ d2は、非吐出期間ｐrの開始とともに開始し、非吐出期間ｐrの終了前に終了する。収束期間ｐeは、第２判定期間ｐ d2の終了と同時に開始し、クランプ期間ｐcの開始とともに終了する。クランプ期間ｐcは非吐出期間ｐrとともに終了する。すなわち、非吐出期間ｐrは、第２判定期間ｐ d2と収束期間ｐeとクランプ期間ｐcとを含む。なお、本実施形態において、第１判定期間ｐ d1とピーク期間ｐpと第２判定期間ｐ d2と収束期間ｐeとクランプ期間ｐcの長さはラッチ周期の倍数とされるが、必ずしもラッチ周期の倍数でなくてもよい。
【００５６】
図６のｅ欄は、検出電圧Ｖ2における電荷変化量ΔＱの応答波（低周波のノイズは無視）を示す。なお、図６のｅ欄の破線は、検出電圧Ｖ2に重畳されたスパイクノイズを示す。図６のｅ欄に示すように、検出電圧Ｖ2は吐出期間ｐaにおいて立ち上がり、吐出期間ｐaの終了時刻ｔ1にて極大となる。従って、正常にインク滴が吐出された場合、吐出期間ｐaの終了よりも前に終了する第１判定期間ｐ d1においては、検出電圧Ｖ2が立ち上がる（単調増加となる）はずである。反対に、検出電圧Ｖ2は非吐出期間ｐrにおいて極大の状態から立ち下がって収束する。従って、正常にインク滴が吐出された場合、第２判定期間ｐ d2においては、検出電圧Ｖ2が立ち下がる（単調減少となる）はずである。図６のｅ欄において、信号閾値電圧Ｖ2t（Ｖ2t1，Ｖ2t2）を一点鎖線で示す。なお、２値化回路５７は、ヒステリシス特性を有するため、検出電圧Ｖ2が信号閾値電圧Ｖ2tよりも大きくなっていく場合の信号閾値電圧Ｖ2t1の方が、検出電圧Ｖ2が信号閾値電圧Ｖ2tよりも小さくなっていく場合の信号閾値電圧Ｖ2t2よりも大きい。なお、信号閾値電圧Ｖ2tはレジスタ１３ｊに記録された信号閾値設定データ（デューティー値）によって設定される。また、信号閾値電圧Ｖ2tは、例えば図７Ｃにて破線で示す応答波の最小振幅に所定電位Ｖ2cを加えた電圧とされる。また、検出電圧Ｖ2に重畳されると想定されるノイズに対応したマージンを信号閾値電圧Ｖ2tに加味してもよい。
【００５７】
図６のｆ欄は、図６のｅ欄の検出電圧Ｖ2にスパイクノイズがないとした場合の検出パルス信号Ｓpを示す。なお、本実施形態の検出パルス信号Ｓpは検出電圧Ｖ2と極性が反転し、凹極性となる。すなわち、インク滴が正常に吐出された場合、吐出期間ｐaの開始とともに増加を開始した検出電圧Ｖ2が信号閾値電圧Ｖ2t1以上となるまでは２値信号レベルが１となり、吐出期間ｐaの終了とともに減少に転じた検出電圧Ｖ2が信号閾値電圧Ｖ2t2よりも小さくなるまでは２値信号レベルが０となり、その後は２値信号レベルが再び１となる。なお、凹極性の場合、クランプ期間ｐcにてグリッチ除去部１３ｃはシフトレジスタが保持する２値データを１に初期化する。これにより、シフトレジスタが保持する２値データを１としたまま吐出期間ｐaへと移行することができ、グリッチ除去部１３ｃにおいてクランプ期間ｐcの直後に偽のパルスのエッジが表れることが防止できる。
【００５８】
また、凹極性の場合、図４に示すように第１判定期間ｐ d1における正常パルス形状が立ち下がり形状とされる。すなわち、信号判定部１３ｄは第１判定期間ｐ d1において、グリッチ除去後の検出パルス信号Ｓpの２値信号レベルが１から０へと遷移する区分３のパルス形状を正常パルス形状とする。図６のｆ欄において、第１判定期間ｐ d1に２値信号レベルが１から０へと遷移するパルス形状が１つ表れるため、信号判定部１３ｄは正常である旨を示す第１信号判定データ（１）をレジスタ１３ｊに記録する。一方、信号判定部１３ｄは、第２判定期間ｐ d2において、グリッチ除去後の検出パルス信号Ｓpの２値信号レベルが０から１へと遷移する区分１のパルス形状を正常パルス形状とする。図６のｆ欄においては、第２判定期間ｐ d2に２値信号レベルが０から１へと遷移するパルス形状が１つ表れるため、信号判定部１３ｄは正常である旨を示す第２信号判定データ（１）をレジスタ１３ｊに記録する。
【００５９】
なお、ピーク期間ｐpと収束期間ｐeとを第１判定期間ｐ d1と第２判定期間ｐ d2とから除外することにより、ピーク期間ｐpと収束期間ｐeとにおけるノイズの影響を軽減できる。ピーク期間ｐpと収束期間ｐeとにおいては検出電圧Ｖ2が大きく変動しないはずであり、ピーク期間ｐpと収束期間ｐeとにおいて正常パルスが検出されても、当該正常パルスはノイズに起因する可能性が高いからである。なお、電荷変化量ΔＱの応答波における傾きの絶対値が所定閾値よりも小さくなる期間を、ピーク期間ｐpと収束期間ｐeと設定してもよい。
【００６０】
図６のｆ欄の場合、エッジ数計数部１３ｅがカウントするエッジ数は２となり、ノイズ判定部１３ｆは検出パルス信号Ｓpが軽微なノイズ重畳状態でも重篤なノイズ重畳状態でもない旨を示す第１ノイズ判定データ（０）と第２ノイズ判定データ（０）をレジスタ１３ｊに記録する。なお、検出パルス信号Ｓpに重畳されたノイズのパルス幅がグリッチ除去部１３ｃのクロック周期の３倍よりも短い場合、当該ノイズに対応するパルスはグリッチとして除去されることとなる。しかし、エッジ数計数部１３ｅにはグリッチ除去部１３ｃにてグリッチが除去されていない検出パルス信号Ｓpが入力されるため、エッジ数計数部１３ｅではパルス幅に拘わらずエッジ数をカウントできる。すなわち、エッジ数計数部１３ｅに対してグリッチ除去することなく検出パルス信号Ｓpを入力することにより、ノイズに敏感なエッジ数を得ることができる。
【００６１】
図６のｇ欄は、図６のｆ欄の検出電圧Ｖ2にスパイクノイズがあるとした場合の検出パルス信号Ｓpを示す。図６のｇ欄においては、スパイクノイズに応じた偽のパルスが表れる。しかし、図６のｇ欄の場合、第１判定期間ｐ d1に２値信号レベルが１から０へと遷移するパルス形状が２つ表れるため、信号判定部１３ｄは正常である旨を示す第１信号判定データ（１）をレジスタ１３ｊに記録する。一方、第２判定期間ｐ d2にも２値信号レベルが０から１へと遷移するパルス形状が２つ表れるため、信号判定部１３ｄは正常である旨を示す第２信号判定データ（１）をレジスタ１３ｊに記録する。また、図６のｇ欄の場合、エッジ数計数部１３ｅがカウントするエッジ数は６となり、ノイズ判定部１３ｆは検出パルス信号Ｓpが軽微なノイズ重畳状態であるが重篤なノイズ重畳状態ではない旨を示す第１ノイズ判定データ（１）と第２ノイズ判定データ（０）をレジスタ１３ｊに記録する。
【００６２】
メイン制御部１１は、吐出検査周期ｐごと、すなわちノズル２３ごとに更新記録される第１信号判定データと第２信号判定データと第１ノイズ判定データと第２ノイズ判定データとをレジスタ１３ｊから読み出し、これらに基づく処理を実行する。なお、メイン制御部１１は、吐出検査周期ｐが経過するごとにノズル番号を示すデータをインクリメントすることにより、吐出検査対象のノズル２３のノズル番号を特定する。
【００６３】
図９は、判定手段としてのメイン制御部１１がレジスタ１３ｊから読み出した各判定データの組み合わせと、メイン制御部１１が実行する処理との対応関係を示す表である。この対応関係を示すデータは、メイン制御部１１が読み出し可能なＲＯＭ等の記録媒体に記録される。図９に示すように、第２ノイズ判定データが、検出パルス信号Ｓpが重篤なノイズ重畳状態である旨を示す場合には、メイン制御部１１は、第１信号判定データと第２信号判定データに拘わらず重篤なノイズが重畳された旨を吐出検査対象のノズル２３のノズル番号に対応付けて示すログを記録するとともに、当該ノズル２３についての吐出検査を再度実行させる。第１ノイズ判定データと第２ノイズ判定データとが、検出パルス信号Ｓpが軽微なノイズ重畳状態であるが重篤なノイズ重畳状態でなかった旨を示す場合には、メイン制御部１１は、軽微なノイズ重畳状態である旨をノズル番号に対応付けて示すログを記録するとともに、第１信号判定データと第２信号判定データとに基づく判定結果を信頼することとする。第１ノイズ判定データと第２ノイズ判定データとが検出パルス信号Ｓpが軽微なノイズ重畳状態でも重篤なノイズ重畳状態でもなかった旨を示す場合には、メイン制御部１１は、ノイズに関するログを記録することなく、第１信号判定データと第２信号判定データとに基づく判定結果を信頼することとする。
【００６４】
第１信号判定データと第２信号判定データとに基づく判定結果を信頼する場合、すなわち検出パルス信号Ｓpが重篤なノイズ重畳状態でなかった場合、メイン制御部１１は、第１信号判定データと第２信号判定データとの一致性を判定する。そして、第１信号判定データと第２信号判定データとの一方のみが正常である旨を示す（一致しない）場合、メイン制御部１１は、吐出検査対象のノズル２３についての吐出検査を再度実行させる。一方、第１信号判定データと第２信号判定データがともに正常である旨を示す場合、吐出検査対象のノズル２３から正常にインク滴が吐出されたと判定し、正常にインク滴が吐出された旨を当該ノズルのノズル番号に対応付けて示すログを記録する。反対に、第１信号判定データと第２信号判定データがともに正常でない旨を示す場合、吐出検査対象のノズル２３から正常にインク滴が吐出されなかったと判定（異常判定）し、正常にインク滴が吐出されなかった旨を当該ノズルのノズル番号に対応付けて示すログを記録する。
【００６５】
以上説明したように、メイン制御部１１は、エッジ数が所定の基準よりも小さい場合に限り、第１信号判定データと第２信号判定データとに基づく判定結果を信頼するため、ノイズの影響を受けにくくすることができる。すなわち、ローパスフィルター回路５３やクランプ回路５５では除去されにくい周波数帯域のノイズが重畳される場合でも、信頼性の高い吐出異常判定が実現できる。さらに、エッジ数が所定の基準よりも小さい場合であっても、第１信号判定データと第２信号判定データとが一致しない場合には、吐出検査対象のノズル２３についての吐出検査を再度実行させるため、誤判定を防止できる。ここで、低周波のノイズが単調増加傾向にある場合、第１判定期間ｐ d1における検出電圧Ｖ2の電圧値に基づく判定結果は正常となりやすく、第２判定期間ｐ d2における検出電圧Ｖ2の電圧値に基づく判定結果は正常となりにくくなる。反対に、低周波のノイズが単調減少傾向にある場合、第１判定期間ｐ d1における検出電圧Ｖ2の電圧値に基づく判定結果は正常となりにくく、第２判定期間ｐ d2における検出電圧Ｖ2の電圧値に基づく判定結果は正常となりやすくなる。従って、検出電圧Ｖ2に低周波のノイズが重畳される場合には、第１信号判定データと第２信号判定データとが不一致となりやすくなり、低周波のノイズに起因してインク滴が正常に吐出されたと誤判定されることが防止できる。
【００６６】
以上説明したように、本実施形態においては、クランプ回路５５が吐出検査周期ｐに同期して中間電圧Ｖ1を所定電位Ｖ1cにクランプすることにより、検出電圧Ｖ2から低周波のノイズを除去でき、ノイズに対する耐性の高い吐出異常判定を実現できる。また、クランプによって低周波のノイズを除去するため、バンドパス（ハイパス）フィルターを使用して低周波のノイズを除去する場合よりも、検出電極３１における電荷変化量ΔＱの応答波形の歪みや遅れが抑制できる。また、第１信号判定データと第２信号判定データと第１ノイズ判定データと第２ノイズ判定データとは合計で４ｂｉｔであるため、メイン制御部１１は高速に図９の処理を実行できる。従って、第１判定期間ｐ d1と第２判定期間ｐ d2とを設けても各ノズル２３の吐出検査に要する期間を短縮でき、多数のノズル２３の吐出検査を短期間に完了させることができる。
【００６７】
（３）他の実施形態：
図９に示したメイン制御部１１の処理は一例であり、第１信号判定データと第２信号判定データと第１ノイズ判定データと第２ノイズ判定データとの組み合わせに応じて図９と異なる処理を実行してもよい。例えば、第１ノイズ判定データと第２ノイズ判定データとが軽微なノイズ重畳状態である旨を示す場合にも、第１信号判定データと第２信号判定データとを信頼しないようにしてもよい。第１ノイズ判定データと第２ノイズ判定データとが軽微または重篤なノイズ重畳状態である旨を示す場合に、警告を発したり、吐出検査処理を中断したりしてもよい。さらに、メイン制御部１１は、異常と判定されたノズル２３の個数等に応じて、フラッシングや吸引等の回復動作を実行してもよい。
【００６８】
また、第１信号判定データと第２信号判定データと第１ノイズ判定データと第２ノイズ判定データとは合計で４ｂｉｔと少ないため、吐出検査制御部１３においてすべてのノズル２３についての各判定データをキャッシュする記憶領域を設けておくことができる。この場合、すべてのノズル２３についての吐出検査処理が完了した段階で、メイン制御部１１がすべてのノズル２３についての各判定データを一括して読み出せばよい。むろん、すべてのノズル２３についての判定データではなく、ノズル２３を所定個数（例えば８ノズル）ごとに区分したブロックやラインごとに各判定データをキャッシュしてもよい。また、メイン制御部１１と吐出検査制御部１３とを接続するバスのメモリ幅に応じて各判定データをキャッシュするノズル数を設定してもよい。
【００６９】
また、軽微ノイズ閾値と重篤ノイズ閾値との少なくとも一方を変化させながら同一のノズル２３について複数回吐出検査を行うことにより、ノイズ量を示すエッジ数を詳細に特定してもよい。例えば、軽微ノイズ閾値を徐々に増加させていき、第１ノイズ判定データが１から０に転じた際の軽微ノイズ閾値をノイズ量として特定してもよい。むろん、軽微ノイズ閾値と重篤ノイズ閾値の一方のみについて閾値判定を行ってもよい。第１判定期間ｐ d1と第２判定期間ｐ d2とを変化させながら複数回吐出検査を行うことにより、インク滴が正常に吐出された場合に、正常パルスが確実に表れる第１判定期間ｐ d1と第２判定期間ｐ d2との長さの下限値を特定してもよい。これにより、第１判定期間ｐ d1と第２判定期間ｐ d2とをできるだけ短くして、吐出検査処理を短期化することができる。
【００７０】
さらに、正常にインク滴が吐出された場合に、第１判定期間ｐ d1の途中から第２判定期間ｐ d2の途中まで検出電圧Ｖ2が飽和するように、第２増幅回路５６の増幅率Ｘ2を高めに設定してもよい。この場合、検出電圧Ｖ2が飽和したか否かによって検出電圧Ｖ2を２値化でき、２値化回路５７が省略できる。この場合、第２増幅回路５６による２値化のノイズに対するマージンを確保するために、中間電圧Ｖ1をクランプする所定電位Ｖ1cを０．６Ｖから０Ｖへと切り替えてもよい。
また、必ずしも第１判定期間ｐ d1と第２判定期間ｐ d2とからピーク期間ｐpと収束期間ｐeとを除外しなくてもよい。
なお、前記実施形態では凹極性の検出パルス信号Ｓpを示したが、検出パルス信号Ｓpは凸極性であってもよい。検出パルス信号Ｓpが凸極性である場合、レジスタ１３ｊにおいて凸極性を示す極性設定データを記録しておけばよい。むろん、検出電圧Ｖ2と検出パルス信号Ｓpとの極性が一致してもよい。
【００７１】
なお、前記実施形態において検出電極３１はノズルキャップ３０に備えられたが、検出電極３１は独立して備えられてもよい。また、検出電極３１とノズルプレート２２との間に静電容量を寄生させればよく、検出電極３１を接地し、ノズルプレート２２側に高電圧を出力してもよい。さらに、検出電極３１はインク滴が着弾するように構成されなくてもよく、例えば互いに平行に対面する検出電極３１と対向電極との間において、検出電極３１と対向電極とに対して平行にインク滴を吐出させてもよい。また、検出電極３１はコンデンサを構成しなくてもよく、帯電したインク滴の接近により誘導電流が流れるように構成されてもよい。さらに、インク滴の吐出に起因した物理量変化の応答波を得るように構成されていればよく、例えば吐出されたインク滴により強度や周波数が干渉される可視光等の電磁波の受信強度を検出信号として検出してもよい。これらのいずれの方式により検出信号を検出した場合であっても、第１判定期間ｐ d1と第２判定期間ｐ d2のそれぞれにおいて検出電圧Ｖ2が正常に変化したか否かを判定するため、信頼度の高い判定結果を得ることができる。むろん、ノズル２３はインク滴を吐出するように構成されていればよく、サーマルジェット方式によってインク滴が吐出されてもよい。むろん、色の再現を主目的としたインク滴に限らず、吐出されることにより何らかの物理量が変化する液滴であれば本発明の吐出検査手法が適用できる。
【符号の説明】
【００７２】
１…印刷装置、１０…メイン基板、１１…メイン制御部、１２…吐出制御部、１３…吐出検査制御部、１３ａ…タイミング信号生成部、１３ｂ…パルスマスク部、１３ｃ…グリッチ除去部、１３ｄ…信号判定部、１３ｅ…エッジ数計数部、１３ｆ…ノイズ判定部、１３ｇ…高電圧診断部、１３ｈ…信号閾値設定部、１３ｉ…高電圧制御部、１３ｊ…レジスタ、２０…印刷ヘッド、２１…ピエゾ素子、２２…ノズルプレート、２３…ノズル、３０…ノズルキャップ、３１…検出電極、４０…シールド構造、５０…信号生成基板、５１…高電圧モジュール、５２…高電圧遮断コンデンサ、５３…ローパスフィルター回路、５４…増幅回路、５４ａ…正相入力回路、５４ｂ…帰還抵抗回路、５５…クランプ回路、５５ａ…電源回路、５６…増幅回路、５７…２値化回路、５８…高電圧診断回路。
【図１】
2012196775.tif 000003
【図２】
2012196775.tif 000004
【図３】
2012196775.tif 000005
【図４】
2012196775.tif 000006
【図５】
2012196775.tif 000007
【図６】
2012196775.tif 000008
【図７】
2012196775.tif 000009
【図８】
2012196775.tif 000010
【図９】
2012196775.tif 000011