(57)【要約】【課題】  本発明の課題は、波形間の等価性を判定するための波形比較方法及び試験装置を提供することを目的とする。【解決手段】  上記課題は、波形の初期変化点を検出する工程と、前記初期変化点からサンプリングを行う工程と、第一波形と第二波形に対して検出した前記初期変化点からサンプリングしたサンプリング値を比較する工程とを有することを特徴とする波形比較方法により達成される。【選択図】  図２
2012174135.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
波形の初期変化点を検出する工程と、
前記初期変化点からサンプリングを行う工程と、
第一波形と第二波形に対して検出した前記初期変化点からサンプリングしたサンプリング値を比較する工程と
を有することを特徴とする波形比較方法。
【請求項２】
前記初期変化点を検出する工程は、前記波形の初期値からの変化量が一定以上となった前記初期変化点を検出することを特徴とする請求項１記載の波形比較方法。
【請求項３】
前記初期変化点を検出する工程は、初期状態からの立ち上がりで、前記波形の微分係数が一定以上となった前記初期変化点を検出することを特徴とする請求項１記載の波形比較方法。
【請求項４】
前記初期変化点を検出する工程は、アナログ波形とデジタル波形の遷移タイミングから前記初期変化点を検出することを特徴とする請求項１記載の波形比較方法。
【請求項５】
波形の初期変化点を検出する手段と、
前記初期変化点からサンプリングを行う手段と、
第一波形と第二波形に対して検出した前記初期変化点からサンプリングしたサンプリング値を比較する手段と
を有することを特徴とする試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、波形間の等価性を判定するための波形比較方法及び試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
大規模回路においてシミュレーションを行う場合、シミュレーション高速化のために回路をモデル化してシミュレーションを行う方法が有効である。この手法では元の回路と、モデル化された回路モデルが同じ挙動を示すか、即ち等価性の確認が必須である。一般的な等価性の確認では、同一の入力波形を与えてその出力波形が一致するかで判定できる。出力波形の比較は、人手により目視で判定することもできるが、処理する量が膨大になれば工数の増大になり、ミスの可能性も高くなる。
【０００３】
そのため、例えば、期待波形に対して電圧、電流、又は消費電力等を示す値軸方向に一定の誤差範囲を設けて、比較対象波形がその誤差範囲内に入れば等価性有り、入らなければ等価性なしと判定するによって波形を自動で比較すること等が提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平１０−２５４９１６号公報
【特許文献２】特開２００７−２２５５５４号公報
【特許文献３】特開平０４−０４３９７３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
大規模回路をモデル化する際、時定数まで合わせ込むようなモデルを作るのは困難であり、回路とモデルの間には少なからず時間軸方向に誤差が生まれる。そのため、上記従来技術では、機能的な面だけ見れば等価性ありと見なすことができるモデルであっても、等価性なしと判断してしまうと言った問題があった。
【０００６】
時間軸方向に誤差範囲を持たせることが考えられるが、その場合には、波形データを全て残しておく必要があり、大規模回路で長時間のシミュレーションを流した場合、波形データだけで数百ＧＢに達する等の負荷が大きく、この方法は現実的ではない。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
開示の技術は、波形の初期変化点を検出する工程と、前記初期変化点からサンプリングを行う工程と、第一波形と第二波形に対して検出した前記初期変化点からサンプリングしたサンプリング値を比較する工程とを有することを特徴とする波形比較方法のように構成される。
【発明の効果】
【０００８】
開示の技術では、第一波形と第二波形との間に生じる時間軸方向の誤差を考慮した等価性を判定することができる。また、サンプリング値の比較により、波形データを全て記憶する場合に比べて、大幅に記憶領域を削減することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本実施例に係る時間軸方向の誤差を考慮した波形比較方法について説明するための図である。
【図２】試験装置のハードウェア構成例を示す図である。
【図３】波形比較処理を説明するためのフローチャート図である。
【図４】ステップＳ１３及びＳ１６における初期変化点検出処理を説明するためのフローチャート図である。
【図５】試験装置におけるデータの流れを説明するための図である。
【図６】初期変化点検出方法の第１実施例を説明するための図である。
【図７】初期変化点検出方法の第２実施例を説明するための図である。
【図８】初期変化点検出方法の第３実施例を説明するための図である。
【図９】時間誤差を考慮した回路モデルの等価性の判定例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図１は、本実施例に係る時間軸方向の誤差を考慮した波形比較方法について説明するための図である。図１中、縦軸に電圧、電流、又は消費電力等の値を示し、横軸に時間を示す。図１において、回路とモデル化された回路モデルとに同一の入力波形を与えた場合の、回路の出力波形を期待波形Ｗ１で示し、回路モデルからの出力波形を比較対象波形Ｗ２で示している。
【００１１】
本実施例では、期待波形Ｗ１と比較対象波形Ｗ２とにおいて、最初に変化したと見なす初期変化値ｐ１とｐ２とを夫々検出する。初期変化値ｐ１とｐ２とが検出された時刻を初期変化点ｔ１及びｔ２とする。
【００１２】
初期変化値ｐ１及びｐ２の夫々に相当する初期変化点ｔ１及びｔ２からサンプリング周期Ｔでサンプリングした値を比較する。サンプリング周期Ｔは、例えば、回路の動作周波数の４倍程度、或いは、より精度を高く比較したい場合はそれ以上に設定する。
【００１３】
そして、初期変化点ｔ１＋Ｔ＊ｉ（ｉ＝０，…，ｎ）における期待波形Ｗ１の値と、初期変化点ｔ２＋Ｔ＊ｉ（ｉ＝０，…，ｎ）における比較対象波形Ｗ２の値をそれぞれ比較し、不一致と認められる組があれば等価性なしと判定して結果を出力する。もし全ての組が一致すれば、等価性有りと判定して結果を出力する。
【００１４】
上述した波形比較方法によって、回路モデルの動作を確認する試験装置は、例えば、図２に示されるようなハードウェア構成を有する。図２は、試験装置のハードウェア構成例を示す図である。図２において、試験装置１００は、シミュレーション部２と、ＬＰＦ（Low-Pass Filter）３と、初期変化点検出部４と、サンプリング部５と、サンプリング値比較部６と、比較結果出力部７とを有する。
【００１５】
図２では、試験装置１００における各部の接続関係を示し、シミュレーション部２とＬＰＦとが接続され、ＬＰＦと初期変化点検出部４とが接続され、初期変化点検出部４とサンプリング部５とが接続され、サンプリング部５とサンプリング値比較部６とが接続され、サンプリング値比較部６と比較結果出力部７とが接続される。
【００１６】
図２に示される試験装置１００のハードウェア構成は、ユーザとのインターフェースを備えたパーソナルコンピュータ、ワークステーション等のコンピュータ装置の本体に備えられる。ユーザとのインターフェースとして、試験装置１００として機能するコンピュータ装置は、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）等の表示ユニット、プリンタ等の出力ユニット、マウス、キーボード等の入力ユニット、ハードディスク装置など周辺機器を備えている。
【００１７】
シミュレーション部２は、少なくとも、ＣＰＵ（Central Processing Unit）２１と、回路モデル２４の元となった回路２２と、回路モデル２４を記憶したメモリ２３とを有する。
【００１８】
ＣＰＵ２１は、入力波形を回路２２に入力して回路２２を動作させ出力波形を得、また、同一入力波形を回路モデル２４に入力して回路モデル２４を動作させて出力波形を得るためのシミュレーションを行う。このようなシミュレーションを実行するためのプログラムは、メモリ２３に記憶されている。ＣＰＵ２１と回路２２とメモリ２３とは、バスを介して接続されている。
【００１９】
回路２２からの出力波形は図１の期待波形Ｗ１に相当し、回路モデル２４からの出力波形は図１の比較対象波形Ｗ２に相当する。後段の処理において、期待波形Ｗ１と比較対象波形Ｗ２とで処理に差異はないため、単に、出力波形として説明する。
【００２０】
回路モデル２４は、例えば、ハードウェア記述言語により回路２２のモデル化したものであり、メモリ２３に格納され、シミュレーションによって回路２２の動作を擬似的に実行する。
【００２１】
ＬＰＦ３は、高周波ノイズ等による微小変位で初期変化点が誤検出されないように、シミュレーション部２から出力される出力波形の所定の高周波部分を遮断して、初期変化点検出部４へ入力する。
【００２２】
初期変化点検出部４は、ＬＰＦ３を介して入力された波形から図１に示すような初期変化値ｐ１又はｐ２を検出する。初期変化点検出方法は後述される。初期変化点検出部４は、初期変化値ｐ１又はｐ２を検出した時点で、ＬＰＦ３を介して入力された波形をサンプリング部５へと出力を開始する。
【００２３】
サンプリング部５は、初期変化点検出部４から入力される波形をサンプリング周期Ｔでサンプリングし、周期Ｔ毎の波形の値をサンプリング値比較部６へ出力する。
【００２４】
サンプリング値比較部６は、第１サンプリング値領域６１及び第２サンプリング値領域６２を備えたメモリ６０を有し、第１サンプリング値領域６１及び第２サンプリング値領域６２から夫々、初期変化値ｐ１及びｐ２から周期Ｔでサンプリングした値を読み出して、２つの値を比較する。
【００２５】
第１サンプリング値領域６１は、期待波形Ｗ１のサンプリング値を格納する領域であり、第２サンプリング値領域６２は、比較対象波形Ｗ２のサンプリング値を格納する領域である。
【００２６】
周期Ｔ毎の値の比較において不一致となった時点で、回路モデル２４は回路２２と等価ではないと判断し、「等価性無し」を示す値を比較結果出力部７へ出力する。一方、不一致となることなく、全てのサンプル値の比較が終了した場合、回路モデル２４は回路２２と等価であると判断し、「等価性有り」を示す値を比較結果出力部７へ出力する。
【００２７】
比較結果出力部７は、サンプリング値比較部６から入力された比較結果を保持する記憶領域である。比較結果出力部７によって保持された比較結果は、表示ユニットに表示又は出力ユニットに出力されユーザへ通知される。
【００２８】
上述したように、シミュレーション部２から出力される波形を表す波形データそのものを記憶することがないため、記憶領域を削減することができる。また、サンプリングした値同士の比較であるため、処理の仕組みを簡潔な構成で実現することができる。
【００２９】
図２に示されるメモリ２３とメモリ６０とが個別に例示されているが、一つのメモリ内にシミュレーション部２に割り当てられた記憶領域と、サンプリング値比較部６に割り当てられた記憶領域であってもよい。比較結果出力部７についても同様である。
【００３０】
回路モデル２４の動作を確認するための波形比較処理について、図３、図４、及び図５で説明する。図３は、波形比較処理を説明するためのフローチャート図である。図３において、サンプリング周期Ｔを設定する（ステップＳ１１）。サンプリング部５に対してサンプリング周期Ｔが設定される。
【００３１】
次に、シミュレーション部２は、入力波形を回路２２に入力して期待波形Ｗ１を取得するシミュレーションを実行する（ステップＳ１２）。シミュレーション部２は、回路２２から出力される期待波形Ｗ１を、ＬＰＦ３を介して初期変化点検出部４へ入力する。ＬＰＦ３を介してノイズ除去された期待波形Ｗ１が初期変化点検出部４へ入力される。
【００３２】
初期変化点検出部４は、期待波形Ｗ１の入力に応じて、後述される初期変化点検出方法によって初期変化値ｐ１を検出する（ステップＳ１３）。初期変化点検出部４は、初期変化値ｐ１に対応する初期変化点ｔ１から期待波形Ｗ１をサンプリング部５へ入力する。
【００３３】
期待波形Ｗ１の入力に応じて、サンプリング部４は、周期Ｔでサンプリングを実行する（ステップＳ１４）。メモリ６０の第１サンプリング値領域６１には、時系列に、初期変化点ｔ１＋Ｔ＊ｉ（ｉ＝０，…，ｎ）における期待波形Ｗ１の値が格納される。
【００３４】
期待波形Ｗ１の取得が終了すると、シミュレーション部２は、ステップＳ１２にて回路２２に入力したのと同一入力波形を回路モデル２４に入力して比較対象波形Ｗ２を取得するシミュレーションを実行する（ステップＳ１５）。シミュレーション部２は、回路モデル２４から出力される比較対象波形Ｗ２を、ＬＰＦ３を介して初期変化点検出部４へ入力する。ＬＰＦ３を介してノイズ除去された比較対象波形Ｗ２が初期変化点検出部４へ入力される。
【００３５】
初期変化点検出部４は、比較対象波形Ｗ２の入力に応じて、後述される初期変化点検出方法によって初期変化値ｐ２を検出する（ステップＳ１６）。初期変化点検出部４は、初期変化値ｐ２の検出時点から比較対象波形Ｗ２をサンプリング部５へ入力する。
【００３６】
比較対象波形Ｗ２の入力に応じて、サンプリング部４は、ステップＳ１４と同一周期Ｔでサンプリングを実行する（ステップＳ１７）。メモリ６０の第２サンプリング値領域６２には、時系列に、初期変化点ｔ２＋Ｔ＊ｉ（ｉ＝０，…，ｎ）における比較対象波形Ｗ２の値が格納される。
【００３７】
上述した、ステップＳ１２〜Ｓ１４での処理と、ステップＳ１５〜Ｓ１７での処理は、並列に行ってもよい。
【００３８】
サンプリング部５は、期待波形Ｗ１及び比較対象波形Ｗ２のサンプリングの終了後、カウンタｉをゼロに初期化して（ステップＳ１８）、サンプリング部５は、第１サンプリング値領域６１と第２サンプリング値領域６２とから順に値を読み出して比較する（ステップＳ１９）。第１サンプリング値領域６１から順に初期変化点ｔ１＋Ｔ＊ｉ（ｉ＝０，…，ｎ）における期待波形Ｗ１の値が読み出され、また、第２サンプリング値領域６２から順に初期変化点ｔ２＋Ｔ＊ｉ（ｉ＝０，…，ｎ）における比較対象波形Ｗ２の値が読み出され、２つの値が比較される。
【００３９】
そして、サンプリング部５は、期待波形Ｗ１と比較対象波形Ｗ２のサンプリング値が一致するか否かを判断する（ステップＳ２０）。サンプリング値が一致しない場合、サンプリング部５は、比較対象波形Ｗ２は期待波形Ｗ１と等価性がないと判断し、「等価性なし」を示す比較結果を比較結果出力部７に出力する（ステップＳ２４）。そして、波形比較処理が終了する。
【００４０】
ステップＳ２０にて、サンプリング値が一致する場合、サンプリング部５は、全てのサンプリング値を比較したか否かを判断する（ステップＳ２１）。全てのサンプリング値の比較を終了していない場合、サンプリング部５は、カウンタｉを１インクリメントして（ステップＳ２２）、第１サンプリング値領域６１と第２サンプリング値領域６２とから次の値を取得して比較するためにステップＳ１９へと戻り、上述同様の処理を繰り返す。
【００４１】
一方、ステップＳ２１にて、全てのサンプリング値の比較を終了したと判断した場合、サンプリング部５は、比較対象波形Ｗ２は期待波形Ｗ１と等価性があると判断し、「等価性あり」を示す比較結果を比較結果出力部７に出力する（ステップＳ２３）。そして、波形比較処理が終了する。
【００４２】
図３に示すフローチャート図において、ステップＳ１２からＳ１４までの処理と、ステップＳ１５からＳ１７までの処理とを入れ替えることも可能である。
【００４３】
ステップＳ１３及びＳ１６における初期変化点検出部５によって行われる初期変化点検出処理を図４で説明する。図４は、ステップＳ１３及びＳ１６における初期変化点検出処理を説明するためのフローチャート図である。図４において、初期変化点検出部５は、シミュレーション部２によるシミュレーションの実行後、所定の微小時間待機した後（ステップＳ４１）、シミュレーションによる出力波形（期待波形Ｗ１又は比較対象波形Ｗ２）の値を取得する（ステップＳ４２）。
【００４４】
初期変化点検出部５は、出力波形の値が大きな変化を起こしたと見なせるか否かを判断する（ステップＳ４３）。後述する初期変化点検出方法によって、出力波形の値が大きな変化を起こしたか否かが判断される。初期変化点検出部５は、初期変化点ｔ１又はｔ２を検出するための大きな変化がないと判断した場合、ステップＳ４１へ戻り、上述同様の処理を行う。
【００４５】
一方、ステップＳ４３において出力波形の値が大きな変化を起こしたと判断した場合、出力波形の値が初期変化値ｐ１又はｐ２に達したと判断し、その時刻を初期変化点ｔ１又はｔ２として取得して（ステップＳ４４）、初期変化点検出処理を終了する。
【００４６】
図５は、試験装置におけるデータの流れを説明するための図である。図５中に示す矢印はデータの流れを示し、期待波形Ｗ１と比較対象波形Ｗ２によるデータの流れを個別に示しているが、データの流れによって接続関係を限定するものではない。
【００４７】
シミュレーション部２から出力された回路２２から得た期待波形Ｗ１は、ＬＰＦ３を介してノイズ除去された後に初期変化点検出部４に入力される。初期変化点検出部４によって、期待波形Ｗ１の初期変化点ｔ１が取得されると、サンプリング部５は初期変化点検出部４から入力される期待波形Ｗ１の初期変化点ｔ１から周期Ｔでサンプリングして、そのサンプリング値を第１サンプリング値領域６１に出力する。
【００４８】
一方、シミュレーション部２から出力された回路モデル２４から得た比較対象波形Ｗ２は、ＬＰＦ３を介してノイズ除去された後に初期変化点検出部４に入力される。初期変化点検出部４によって、比較対象波形Ｗ２の初期変化点ｔ２が取得されると、サンプリング部５は初期変化点検出部４から入力される比較対象波形Ｗ２の初期変化点ｔ２から周期Ｔでサンプリングして、そのサンプリング値を第２サンプリング値領域６２に出力する。
【００４９】
サンプリング値比較部６は、第１サンプリング値領域６１から初期変化点ｔ１から周期Ｔ毎のサンプリング値を読み出し、同時に、第２サンプリング値領域６２から初期変化点ｔ２から周期Ｔ毎のサンプリング値を読み出して、２つのサンプリング値を比較することにより等価性の判断を行う。
【００５０】
回路モデル２４に等価性があると判断した場合、「等価性あり」を示す比較結果が比較結果出力部７に出力される。回路モデル２４に等価性がないと判断した場合、「等価性なし」を示す比較結果が比較結果出力部７に出力される。
【００５１】
次に、初期変化点検出方法について、図６、図７、及び図８で説明する。図６は、初期変化点検出方法の第１実施例を説明するための図である。図６では、期待波形Ｗ１と比較対象波形Ｗ２の初期値からの変化値ΔＶ１とΔＶ２が、ユーザより指定された値ΔＶｅｘｐを超えた時刻を、初期変化点ｔ１とｔ２として検出する方法を示している。検出された初期変化点ｔ１とｔ２とから夫々サンプリングを開始する。ΔＶｅｘｐは想定されるノイズ量よりも大きく、振幅よりも小さな値を指定する。
【００５２】
図７は、初期変化点検出方法の第２実施例を説明するための図である。図７では、初期状態からの立ち上がりで、期待波形Ｗ１と比較対象波形Ｗ２の微分係数α１とα２とが、ユーザより指定された値αｅｘｐを超えた時刻を、初期変化点ｔ１とｔ２として検出する方法を示している。検出された初期変化点ｔ１とｔ２とから夫々サンプリングを開始する。
【００５３】
αｅｘｐは対象回路のスペック上のスルーレートを指定する。これにより、もし回路モデル２４がスルーレートのスペックを満たしていない場合に等価性なしと判定されるため、より厳しい条件下での等価性が判定できる。
【００５４】
図８は、初期変化点検出方法の第３実施例を説明するための図である。図８では、アナログ波形の期待波形Ｗ１とデジタル波形の比較対象波形Ｗ２の比較を行う場合の初期変化点の検出方法を示している。
【００５５】
デジタル波形の比較対象波形Ｗ２が最初に遷移する初期変化点ｔ２については簡単に取得可能である。アナログ波形の期待波形Ｗ１の遷移タイミングについては、期待波形Ｗ１が最小値Ｖｍｉｎと最大値Ｖｍａｘの中間値Ｖｍｉｄになった時間を遷移タイミング（つまり初期変化点ｔ１）と定め、その初期変化点ｔ１からサンプリングを開始する。
【００５６】
上述した初期変化点検出方法の第１、第２、第３実施例のいずれかを適用することにより、回路２２と回路モデル２４との時間誤差を補正することができる。
【００５７】
試験装置１００による回路モデル２４の等価性の判定例について図９で説明する。図９は、時間誤差を考慮した回路モデルの等価性の判定例を示す図である。図９中、回路２２と回路モデル２４との時間誤差ｔｅにより、初期変化点ｔ１と初期変化点ｔ２とにズレがあることを示している。
【００５８】
図９（Ａ）に示す期待波形Ｗ１と比較対象波形Ｗ２において、時間誤差ｔｅを含むが、その誤差を補正することにより一致するため、回路モデル２４は等価性ありと判定される場合を示している。
【００５９】
図９（Ｂ）に示す期待波形Ｗ１と比較対象波形Ｗ２において、時間誤差ｔｅを含み、その誤差を補正しても一致しないため、回路モデル２４は等価性なしと判定される場合を示している。
【００６０】
上述したように、回路２２と回路モデル２４との間に生じる時間軸方向の誤差を考慮した回路モデル２４の回路２２に対する等価性を判定できるため、従来手法よりも精度の高い等価性検証が可能になる。
【００６１】
また、波形データを全て保持しておく必要がないため、等価性を判定するために必要となる記憶領域を大幅に削減することができる。
【００６２】
本発明は、具体的に開示された実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲から逸脱することなく、種々の変形や変更が可能である。
【００６３】
以上の第１から第３実施例を含む実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
（付記１）
波形の初期変化点を検出する工程と、
前記初期変化点からサンプリングを行う工程と、
第一波形と第二波形に対して検出した前記初期変化点からサンプリングしたサンプリング値を比較する工程と
を有することを特徴とする波形比較方法。
（付記２）
前記初期変化点を検出する工程は、前記波形の初期値からの変化量が一定以上となった前記初期変化点を検出することを特徴とする付記１記載の波形比較方法。
（付記３）
前記初期変化点を検出する工程は、初期状態からの立ち上がりで、前記波形の微分係数が一定以上となった前記初期変化点を検出することを特徴とする付記１記載の波形比較方法。
（付記４）
前記初期変化点を検出する工程は、アナログ波形とデジタル波形の遷移タイミングから前記初期変化点を検出することを特徴とする付記１記載の波形比較方法。
（付記５）
回路に入力波形を入力して動作させるシミュレーションを行う工程と、
前記回路をモデル化した回路モデルに前記入力波形を入力して動作させるシミュレーションを行う工程とを有し、
前記第一波形は前記回路から出力される波形であり、
前記第二波形は前記回路モデルから出力される波形であることを特徴とする付記１乃至４のいずれか一項記載の波形比較方法。
（付記６）
前記初期変化点を検出する工程の前段にノイズを除去する工程を有することを特徴とする付記１乃至５のいずれか一項記載の波形比較方法。
（付記７）
波形の初期変化点を検出する手段と、
前記初期変化点からサンプリングを行う手段と、
第一波形と第二波形に対して検出した前記初期変化点からサンプリングしたサンプリング値を比較する手段と
を有することを特徴とする試験装置。
【符号の説明】
【００６４】
２          シミュレーション部
２１        ＣＰＵ
２２        回路
２３        メモリ
２４        回路モデル
３          ＬＰＦ
４          初期変化点検出部
５          サンプリング部
６          サンプリング値比較部
６０        メモリ
６１        第１サンプリング値領域
６２        第２サンプリング値領域
７          比較結果出力部
Ｗ１        期待波形
Ｗ２        比較対象波形
ｔ１、ｔ２  初期変化点
１００      試験装置
【図１】
2012174135.tif 000003
【図２】
2012174135.tif 000004
【図３】
2012174135.tif 000005
【図４】
2012174135.tif 000006
【図５】
2012174135.tif 000007
【図６】
2012174135.tif 000008
【図７】
2012174135.tif 000009
【図８】
2012174135.tif 000010
【図９】
2012174135.tif 000011