(57)【要約】【課題】記録パワーでのサーボ信号の調整を精度高く、互換性を保ったまま行なう。【解決手段】光ディスク装置１において、ＤＳＰ３により、光ディスク１００の反射光に基づいてトラッキングエラー信号を生成し、光ディスク１００に対するトラッキングサーボをオフした状態で光ディスクに対し前記光ピックアップ２により記録パワーのレーザ光を出射している際に、トラッキングエラー信号を用いた調整処理を行ない、且つ、当該調整処理を行なう際に記録パワーのレーザ光で当該レーザ光を照射された光ディスク１００上の破壊領域の位置情報を、光ディスク１００に記録するよう制御する。【選択図】図８
2012174295.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクを回転させてレーザ光を照射し、データの記録及び再生を行なう光ディスク装置であって、
光ディスクに対してレーザ光を出射するレーザ光源と、前記光ディスクに照射されたレーザ光の反射光を受光して電気信号に変換する光検出器とを備える光ピックアップと、
前記光検出器により受光した前記光ディスクの反射光に基づいてトラッキングエラー信号を生成し、前記光ディスクに対するトラッキングサーボをオフした状態で前記光ディスクに対し前記光ピックアップにより記録パワーのレーザ光を出射している際に、前記トラッキングエラー信号を用いた調整処理を行ない、且つ、前記調整処理を行なう際に前記記録パワーのレーザ光で当該レーザ光を照射された光ディスク上の破壊領域の位置情報を、前記光ディスクに記録するよう制御する制御手段とを備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記制御手段は、光ディスク回転時の偏芯量に基づいて、前記調整処理により破壊された前記光ディスクの前記破壊領域を算出し、前記算出された前記破壊領域の位置情報を前記光ディスクに記録するよう制御することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記光ディスクに対するトラッキングサーボをオフした状態で前記光ディスクに対し前記光ピックアップにより記録パワーのレーザ光を出射している際に行なわれる前記調整処理は、前記光ディスク上のユーザデータ記録領域に前記記録パワーで当該レーザ光を照射して行なわれることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記制御手段は、前記破壊領域の位置情報を、前記光ディスク上の欠陥管理領域（ＤＭＡ）に、欠陥ブロックとして記録するよう制御することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記制御手段は、前記レーザ光源から出射されるレーザ光における、記録パワー調整処理（ＯＰＣ）の前に、記録パワーでの前記調整処理を行ない、且つ、前記記録パワー調整処理（ＯＰＣ）による調整後の記録パワーで、再度前記調整処理を行なうよう制御することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記光ディスクに対するトラッキングサーボをオフした状態で前記光ディスクに対し前記光ピックアップにより記録パワーのレーザ光を出射している際に行なわれる前記調整処理は、前記トラッキングエラー信号のオフセット調整処理であることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記光ディスクに対するトラッキングサーボをオフした状態で前記光ディスクに対し前記光ピックアップにより記録パワーのレーザ光を出射している際に行なわれる前記調整処理は、ＤＰＰ方式の前記トラッキングエラー信号のｋ値調整処理であることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記光ディスクに対するトラッキングサーボをオフした状態で前記光ディスクに対し前記光ピックアップにより記録パワーのレーザ光を出射している際に行なわれる前記調整処理は、前記トラッキングエラー信号の振幅値が最大となるように光ディスクのチルト調整を行なうチルト調整処理であることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項９】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記制御手段は、前記光ディスク装置が記録指示を受信した際に、前記調整処理を行なうよう制御することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１０】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記制御手段は、前記記録パワーのレーザ光で前記光ディスクの前記破壊領域にユーザデータを記録する場合には、ベリファイ記録を行ない、記録再生不可と判断した記録再生不可領域を欠陥ブロックとして光ディスクに記録するよう制御することを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクにレーザ光を照射してデータの記録再生を行なう光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置に関する文献として、特許文献１が公開されている。特許文献１には、例えばその要約に、「パワーキャリブレ領域である記録パワー測定領域（ＰＣＡ）にキャリブレーション用信号を記録する動作に併せトラックジャンプしてＴＥ量を得、再生時にはそのＴＥ量と同一レベルとなるようにＴＥゲイン量を調整するようにした。」と記載されている。
【０００３】
また、特許文献２には、例えばその要約に、「記録レーザーパワーを用いた時にＦＥサーボ系又はＴＥサーボ系を調整する。」ことを課題として、「記録可能な光ディスク１のテスト領域上に記録時のレーザー光と再生時のレーザー光とを選択的に照射し、且つ、フォーカスエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥの少なくとも一方に一定周波数の外乱ｄを印加してフォーカスサーボ及びトラッキングサーボの少なくとも一方のループゲインを測定する時に、再生レーザーパワーを用いた時のループゲインに対する記録レーザーパワーを用いた時のループゲインの比を演算する記録ループゲイン／再生ループゲイン比演算手段６４と、記録ループゲイン／再生ループゲイン比演算手段６４の演算結果に基づいて、記録レーザーパワーを用いた時のフォーカスエラー信号の振幅及びトラッキングエラー信号の振幅の少なくとも一方を再生時と略同じ状態に設定するように制御するサーボ制御手段４６とを備えた。」と記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平６−５２５６４号公報
【特許文献２】特開２００７−１１５３６０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
光ディスク装置では、光ピックアップから光ディスクに向けてレーザ光を照射し、光ディスクからの反射光を光ピックアップ内の光検出器で受光してデータ記録再生及びレーザ光を光ディスク上の所望の位置に集光させるサーボ制御を行なっている。このとき、データ記録時はデータ再生時に対し、数倍のレーザパワーでレーザ光を発光している。そのため、データ記録時のフォーカスやトラッキングのサーボ制御信号は、再生時の信号振幅と同一とするためにレーザ光の発光パワー比分をゲイン調整している。再生時と記録時ではレーザ発光パワー比以外の要因によって、サーボ信号の変動が発生する場合がある。そこで、従来技術では上記特許文献１及び２の様にパワーキャリブレーションエリア（ＯＰＣ領域）で記録時のサーボ信号振幅ゲインを調整するという技術がある。
【０００６】
しかし、従来技術では学習した領域のディスク破壊を引き起こし他ドライブとの互換性を損なう可能性がある。すなわち、トラッキングエラー信号のオフセットの調整時には、トラッキングサーボをオフした状態でレーザ光を光ディスク上に照射するため、光ディスクの偏芯等によりレーザスポットのトラックよぎりが発生し、これにより当該照射領域でディスク破壊が引き起こされるおそれがある。例えば、このような破壊領域を有する光ディスクでは、他の装置で記録再生を行なう際、記録再生の信頼性が確保できないという問題がある。このようなことから、従来の光ディスク装置では、記録パワーにおけるオフセット調整は行なわず、上述のように、再生パワーでのオフセット調整結果からゲイン調整を行なって、記録パワーにおけるオフセット調整値を予測してサーボ制御を行なっていたため、例えばレーザパワーに対しオフセット調整値が非線形な相関をする光ディスク装置等の場合には、記録パワーにおける適切なオフセット調整が困難であった。
【０００７】
そこで、本発明は、記録時のサーボ制御信号の学習を、他の装置との互換性を保持しながら精度高く行なうことが可能な光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の目的は、例えば、一例として特許請求の範囲に記載の構成により達成される。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、精度の高い記録発光時のサーボ信号学習を他の装置との互換性を保ったまま実現可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本実施例における光ディスク装置の構成を示すブロック図。
【図２】本実施例における光ピックアップ動作の詳細を示す図。
【図３】本実施例における光ピックアップ内部詳細図を示すブロック図。
【図４】本実施例におけるサーボ信号レベルの概念図を示す図。
【図５】本実施例におけるオフセット発生の概念図を示す。
【図６】サーボ制御基準信号に対するオフセット発生時の概念図。
【図７】記録パワーでのトラックよぎり動作の概念図。
【図８】本実施例におけるオフセット調整の手順を示す図。
【図９】本実施例におけるディスク認識フローの手順を示す図。
【図１０】本実施例におけるオフセット調整の手順を示す図。
【図１１】本実施例におけるオフセット調整の手順を示す図。
【図１２】本実施例におけるオフセット調整の手順を示す図。
【図１３】本実施例におけるｋ値調整の手順を示す図。
【図１４】本実施例におけるチルト調整の手順を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、実施例について図を用いて説明する。図１は光ディスク装置の構成を示すブロック図である。光ディスク装置１内には光ピックアップ２を備える。光ピックアップ２はレーザ光を光ディスク１００に照射し、かつ光ディスク１００からの反射光を光ピックアップ２自身が受光する。
【００１２】
ここで、本実施例において光ディスク１００は、例えばＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ）や、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）として説明するが、レーザ光を照射してデータの記録が行なわれるその他の記録媒体であってもよい。
【００１３】
光ディスク１００はスピンドルモータ４にチャッキングされており、ドライバ５、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）３により制御されている。光ピックアップ２はスピンドルモータ４と同様にドライバ５、ＤＳＰ３により制御されている。ＤＳＰ３のサーボ制御機能は主に光ピックアップ２からの信号演算、増幅回路、フィルター回路を持つフロントエンド１１０と、フロントエンド１１０から得た信号からサーボ制御信号を生成するサーボ補償器１１１から成り立つ。また、ＤＳＰ３は図示しないＣＰＵを内蔵し、バス６を介してＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）７およびフラッシュメモリ８と接続されている。また、ＤＳＰ３が、光ピックアップ２からの信号を取得する取得部として機能する。また、フラッシュメモリ８内には光ディスク装置１の制御用プログラムが記録されている。光ディスク装置１は外部インターフェイス９を介しパソコンなどのホスト１０に接続される。
【００１４】
図１では一例としてＤＳＰ３、ドライバ５、ＲＡＭ７およびフラッシュメモリ８は個別デバイスとして説明したが、これらのうち、任意の組み合わせが統合された１つのデバイスであっても良い。また、フロントエンド１１０、サーボ補償器１１１、図示しないＣＰＵはＤＳＰ３の内部機能として説明したが、これらの機能が個別デバイス提供されても良い。
【００１５】
図２は、光ピックアップ２の動作詳細を示す図である。光ピックアップ２には対物レンズ１１を搭載している。対物レンズ１１に対してはディスク面方向のフォーカス制御、ディスク上に刻まれたトラックに追従するためのトラッキング制御およびディスク半径方向に対物レンズ１１を傾けるチルト制御が行なわれている。また、光ピックアップ２は対物レンズ１１と共にスレッドモータ１５により光ディスク１００の半径方向にスレッド制御される。
【００１６】
図３は光ピックアップ２の内部の詳細図である。レーザ光源１７からレーザ光が出射され、スプリッタ１８を介し対物レンズ１１を通過して光ディスク１００に照射される。照射されたレーザ光は光ディスク１００で反射され、同じく対物レンズ１１を通過し、スプリッタ１８を介し、集光レンズ２０で収束され、光検出器１９で受光される。光検出器１９で受光した光は電気信号に変換され、変換された電気信号をもとに図示しないＤＳＰ３は同じく図示しないドライバ５を介して光ピックアップ２の対物レンズ１１を駆動するアクチュエータ２１を制御する。光検出器１９の出力に基づいて前述したＤＳＰ３に内蔵されるフロントエンド１１０で先に示したフォーカス制御/トラッキング制御を行なうために必要なフォーカスエラー信号(ＦＥ信号)、トラッキングエラー信号(ＴＥ信号)が生成される。
【００１７】
図４は光ディスク装置の再生時、記録時のサーボ信号レベルを説明する概念図である。破線は再生時を示し、実線は記録時を示す。再生時のレーザ発光パワー１６０に対し記録時のレーザ発光パワー１６１は数倍となる。光検出器１９のゲインはレーザ発光パワーに応じて再生時１６２に対し記録時１６３は数分の１のゲインとする。光検出器１９から出力される信号はフロントエンド１１０で調整される。フロントエンド１１０では光ディスクの反射率や温度による違いも吸収され、再生時１６４、記録時１６５と独立して設定される。このようにして記録時と再生時のサーボ補償器への信号入力レベルＤ１、Ｄ２は同一となるように設定される。これらは設計時に固定としても良いし、ディスクロード時に一部もしくは全箇所調整されても良い。
【００１８】
図５はオフセット発生の概念図である。例えば、フォーカス制御のみを動作させ、トラッキング制御はオフの状態では光ディスク１００の偏芯１０１によってトラック１０２を光スポット１０３がよぎり、トラッキングエラー信号１０４が発生する。これはトラック１０２の間隔がμmオーダに対し、偏芯は図示しないスピンドルモータ固有の偏芯と光ディスク１００自身の偏芯が数１０μmオーダあることから発生する。トラッキングエラー信号中心１０５は光学的、電気的オフセットによりサーボ制御基準１５２とは一致せず、オフセットＥが発生する。このオフセットＥによりサーボ制御ダイナミックレンジＦに対し、余裕度がなくなりサーボ制御の不安定さを引き起こす。
【００１９】
図６はサーボ制御基準信号に対するオフセット発生時の概念図である。再生時のトラッキングエラー信号のオフセットは、光検出器１７０、フロントエンド１７２、サーボ補償器で１７４のレベルにそれぞれ調整される。これらの調整は例えば、ディスクロード時にレーザ発光パワーを再生状態とし、それぞれを調整しても良いし、光ディスク装置製造時にあらかじめ調整しておいても良い。ここでレーザ発光パワーを記録状態とした場合、再生時と記録時のオフセット量が理想的な系では同一のオフセットとなる。しかし実際には光検出器では光学的なオフセットがレーザ発光パワーに応じて発生し、記録時のオフセット１７１となる。また、フロントエンド、サーボ補償器では電気的なオフセットがレーザ発光パワーに応じて発生し記録時のオフセット１７３、１７５となる。このように再生時と記録時と異なったオフセットが記録時のサーボ制御不安定さを招く。
【００２０】
図７はレーザ発光パワーが記録状態でのトラッキングエラー信号発生時の概念図を示す。記録時にのみ発生するオフセットを再生時と同様にトラッキングエラー信号から調整すると、図７に示す様に偏芯により光スポット１０３がよぎる範囲領域１０７でディスク破壊が発生する。
【００２１】
図８は本実施例の記録時オフセット調整フローを示す。なお、以下の調整処理は、一例としてＤＳＰ３の制御に基づき行なわれるものとして説明するが、制御主体は本実施例の構成に限定されるものではない。以下、その他のフローチャートで説明する制御処理の主体についても同様である。まず光ディスク１００を回転させ（ｓ５０）、再生時レーザ発光状態（ｓ５１）でフォーカスサーボオン（ｓ５２）を行なう。先に述べたように、光ディスク１００に対するトラッキングサーボをオフした状態でトラッキングエラー信号が得られる。ここで、光ディスク回転、レーザ発光は互いに独立した動作であり、フォーカスサーボオンまでに実行されていれば良いため、光ディスク回転、レーザ発光の順番は問わない。続いて記録時のレーザ発光パワーに切り替え（ｓ５３）、オフセット値の取得（ｓ５４）を例えばＤＳＰ３で行ない、記録時は得られたオフセット値からオフセットを打ち消すため、例えばオフセット除去等のオフセット調整処理をＤＳＰ３等で行なう。ここで、先に述べたように光ディスク１００に対するトラッキングサーボをオフした状態で記録時レーザ発光状態ではトラッキングエラー信号を取得するためディスク破壊を起こしている。そのためディスク破壊領域の位置情報をディスク上の欠陥ブロックとして例えばＤＭＡ（Ｄｅｆｅｃｔ  Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ  Ａｒｅａ）に記録して登録することで、この領域は規格準拠ドライブ、ディスク同士で使用不可領域として取り扱われることとなるため互換性が保たれる。ＤＭＡに登録を行なうために、まず再生時レーザ発光状態としてからトラックサーボオンを行ない（ｓ５１、ｓ５５）、光ディスク上のＤＭＡに登録を行なう（ｓ５６）。すなわち、上記の制御では、ＤＳＰ３により光ディスク１００に対するトラッキングサーボをオフした状態で、光ディスク１００に対し光ピックアップ２により記録パワーのレーザ光を出射している際に、トラッキングエラー信号を用いた調整処理を行ない、且つ、当該調整処理を行なう際に記録パワーのレーザ光で当該レーザ光を照射された光ディスク１００上の破壊領域の位置情報を、光ディスク１００に記録するよう制御する。ここで、図８の例では、トラッキングエラー信号のオフセット調整を例に説明をしたが、トラッキングエラー信号を用いたその他の調整処理にも適用可能である。その他の調整処理への適用例については、後述する。なお、交替処理は例えばブルーレイディスクに対する記録処理等で用いられ、ディスク上に付着した指紋、ディスク製造過程で発生する欠陥などにより記録再生できなくなった特定の領域をＤＭＡに登録する処理である。
【００２２】
図９は交替登録された光ディスク１００のディスク認識フローを示す。まず光ディスク１００を回転させ（ｓ５０）、再生時レーザ発光状態（ｓ５１）でフォーカスサーボオン（ｓ５２）を行なう。引き続きトラックサーボオンを行なう（ｓ５５）。この状態でＤＭＡの読み込みが可能となり、読み込みを行なう（ｓ５７）。ＤＭＡから交替が登録されているか確認を行ない（ｓ５８）、交替登録されている場合は交替先アドレス情報を読み込む（ｓ５９）。ここでＤＭＡに登録された領域は指紋、欠陥によるものか、記録時発光パワーで破壊された領域であるかは無関係のため破壊された領域が光ディスク上に存在しても互換性の問題が発生しない。
【００２３】
図１０は記録時オフセット取得におけるディスク破壊領域を管理する処理フローである。光ディスク１００を回転させ（ｓ５０）、再生時レーザ発光状態（ｓ５１）でフォーカスサーボオン（s５２）を行ない、この状態で偏芯量の取得(ｓ６０)を行なう。ここで、偏芯量はたとえば光ディスクの規格から決まるトラックの間隔と光ディスク回転時にトラッキングサーボをオフした状態で光スポットがトラックをよぎる数から取得することができる。そこで、トラッキングサーボをオフした状態のトラッキングエラー信号からトラックよぎり数をＤＳＰ３で取得し、トラックよぎり数に光ディスクの規格から決まるトラックの間隔を乗算することで偏芯量を計算できる。偏芯量を把握した状態で、記録時のレーザ発光パワーに切り替え（ｓ５３）、オフセットの除去（ｓ５４）を行なう。ここで、あらかじめ求めた偏芯量から、実際には光ディスク回転時の偏芯にはばらつきが存在するためそのばらつき分の余裕度を加算することでディスク破壊領域を計算できる（ｓ６１）。このようにすることで、調整時のユーザデータ記録領域におけるディスク破壊領域を厳密に管理でき、その領域を低減可能となり、１枚のディスクにおけるＤＭＡに登録する領域を低減でき、よりユーザデータ記録領域を広く確保できる。
【００２４】
記録発光でのオフセット調整は以下のような契機でおこなうことで効率的な調整が行なえる。以下、光ディスク１００を光ディスク装置１に装着して、装置がディスクの認識が完了した状態をレディ状態と定義し、説明する。図１１に記録開始契機での記録発光でのオフセット調整での調整シーケンスを示す。レディ状態（ｓ７０）において光ディスク装置はユーザもしくはホストからの再生、記録の指示を待っている状態である。ここで、ユーザもしくはホストから記録の指示（ｓ７１）を受けると記録パワーによるオフセット調整（ｓ７２）を行なう。ここで記録パワーによるオフセット調整とは図８で説明した本実施例の調整である。次に記録パワーそのものの最適化学習（ＯＰＣ）を行なう（ｓ７３）。このようにすることで、再生時には記録パワーによるオフセット調整は行なわず、調整時間が短縮され効率が良い。また、再生のみの場合は学習によるディスク破壊によるＤＭＡへの登録が不要のため時間短縮となり効率が良い。
【００２５】
図１２に、より精度の高い記録発光によるオフセット調整シーケンスを示す。レディ状態（ｓ７０）を確認し、記録指示受信を受信し（ｓ７１）、記録パワーによるオフセット調整を行なう（ｓ７２）。そして、記録パワーそのものの最適化学習（ＯＰＣ）を行なう（ｓ７３）。ここでは記録パワーが最適値へと変化している。そこで、再度記録パワーによるオフセット調整を行なう（ｓ７４）。こうすることで、記録パワーの最適化学習（ＯＰＣ）でのサーボ制御も安定し、記録パワーが最適値へと変化した後もサーボ制御も安定し、データの記録が可能となる。なお、ここではデータ記録前の記録パワーの最適化学習（ＯＰＣ）について説明してきたが、例えばデータ記録中の状態変化(周囲温度、ディスク半径記録位置など)を契機とする記録パワーの最適化学習（ＯＰＣ）後も再度記録パワーによるオフセット調整を行なうことで、記録時のサーボ安定性が保たれる。
【００２６】
これまでは、記録パワーによって発生するオフセットを調整する調整処理の例を説明したが、上述した様にトラッキングエラー信号を用いたその他の調整処理にも適用可能である。
【００２７】
図１３にトラッキングエラー信号の生成にＤＰＰ方式を用いる場合のｋ値調整について示す。ＤＰＰ方式ではディスク半径方向の対物レンズシフトによるトラッキングエラー信号のオフセットを打ち消すため（数１）に示すようにメインプッシュプル信号（ＭＰＰ）に対しサブプッシュプル信号（ＳＰＰ）に係数ｋを乗じた信号を減算してトラッキングエラー信号を生成する。
（数１）
トラッキングエラー信号＝  ＭＰＰ  ―  ｋ  ×  ＳＰＰ
この係数ｋも再生パワーでの最適値と記録パワーでの最適値が異なる。ここで、係数ｋが最適値よりも大きい状態（１８１）もしくは係数ｋが最適値よりも小さい状態（１８５）であると、レンズシフト０、レンズシフト+、レンズシフト-のうち、レンズシフト0の状態を除き、オフセットＥが発生する。係数ｋが最適値の場合（１８６）においては、レンズシフト時もオフセットが発生しない。この係数ｋの最適値学習をこれまで示してきた記録パワー状態で調整することで、レンズシフト発生時にもオフセットが発生せず、安定なサーボ制御が可能となる。この係数ｋの調整もこここまで説明してきたオフセット調整と同様にトラックよぎり状態で調整可能である。
【００２８】
図１４にチルト調整について示す。図２に示すように光ピックアップには光ディスク１００の傾き及びピックアップ自身の取り付け傾きを補正するためのチルト制御が可能となっている。このチルト制御の最適値も再生パワーでの最適値と記録パワーでの最適値が異なる。トラックよぎり状態でのトラッキングエラー信号振幅Ｇはチルト設定値に従って図１４に示すように変化し、最適設定値において最大となる。そこで、チルト調整では設定値をＪ（１９４）からＭ（１９７）まで変化させ、各設定値でのトラッキングエラー信号振幅Ｇを測定し、トラッキングエラー信号振幅が最大となる点を最適チルト設定値として調整する。このチルトの最適値学習をこれまで示してきた記録パワー状態で調整することで、安定なサーボ制御が可能となる。チルトの調整もこここまで説明してきたオフセット調整と同様にトラックよぎり状態で調整可能である。
【００２９】
これまでは記録パワー状態で調整を行なった領域は欠陥ブロックとしてＤＭＡに登録することで互換性を保ってきた。ここで、記録パワー状態で調整を行なった領域は、記録パワーの状態(高パワー/低パワー)によっては実際には記録再生が可能な場合もある。そこで、記録パワー状態で調整を行なった領域にユーザデータの記録を行なう場合には、必ずベリファイ記録とすることによって、記録可能であった場合にのみ通常のデータ領域として利用することで、ディスク上のユーザ記録領域が増え利便性が高まる。
【００３０】
なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。
【００３１】
例えば、本実施例では、光ディスクの記録容量を効率的に使用できることから、一例として記録パワー時のオフセット調整等を光ディスク上のユーザデータ領域で行なう例を開示したが、例えばＯＰＣ領域でオフセット調整を行なっても、あるいはオフセット調整用の特定領域を光ディスク上に設けて調整を行なっても、上述のように破壊領域を管理をすることにより記録再生の信頼性を確保できる。
【符号の説明】
【００３２】
１‥ディスク装置、  ２‥光ピックアップ、  ３‥ＤＳＰ、  ４‥スピンドルモータ、
５‥ドライバ、  ６‥バス、  ７‥ＲＡＭ、  ８‥フラッシュメモリ、
９‥外部インターフェイス、  １０‥ホスト、  １１‥対物レンズ、  １５‥スレッドモータ、
１７‥レーザ光源、  １８‥スプリッタ、  １９‥光検出器、  ２０‥集光レンズ、
２１‥アクチュエータ、  ２２‥レンズシフト、
１００‥光ディスク、  １０１‥偏芯、  １０２‥トラック、  １０３‥光スポット、
１０４‥トラッキングエラー信号、  １０５‥トラッキングエラー信号中心、
１０７‥光ディスク破壊領域、  １１０‥フロントエンド、  １１１‥補償器、
１５０‥再生時、  １５１‥記録時、  １５２‥サーボ制御基準、
１６０‥再生時レーザ発光パワー、  １６１‥記録時レーザ発光パワー、
１６２‥‥再生時光検出器ゲイン、  １６３‥記録時光検出器ゲイン、
１６４‥再生時フロントエンドゲイン、  １６５‥記録時フロントエンドゲイン、
１７０‥再生時光検出器オフセット、  １７１‥記録時光検出器オフセット、
１７２‥再生時フロントエンドオフセット、  １７３‥記録時フロントエンドオフセット、
１７４‥再生時サーボ補償器入力オフセット、  １７５‥記録時サーボ補償器入力オフセット、
１８１‥ｋ大状態、  １８２‥レンズシフト0、  １８３‥レンズシフト＋、
１８４‥レンズシフト−、  １８５‥ｋ小状態、  １８６‥ｋ最適状態、  １９１‥チルト0、
１９２‥チルト＋、  １９３‥チルト−、  １９４‥測定点Ｊ、  １９５‥測定点Ｋ、
１９６‥測定点Ｌ、  １９７‥測定点Ｍ、  １９８‥最適チルト設定値、
Ｄ１‥再生時サーボ補償器入力レベル、  Ｄ２‥記録時サーボ補償器入力レベル、
Ｅ‥オフセット、  Ｆ‥サーボ制御ダイナミックレンジ、  Ｇ‥トラッキングエラー信号振幅
【図１】
2012174295.tif 000003
【図２】
2012174295.tif 000004
【図３】
2012174295.tif 000005
【図４】
2012174295.tif 000006
【図５】
2012174295.tif 000007
【図６】
2012174295.tif 000008
【図７】
2012174295.tif 000009
【図８】
2012174295.tif 000010
【図９】
2012174295.tif 000011
【図１０】
2012174295.tif 000012
【図１１】
2012174295.tif 000013
【図１２】
2012174295.tif 000014
【図１３】
2012174295.tif 000015
【図１４】
2012174295.tif 000016