(57)【要約】      （修正有）【課題】Ｘ線遮蔽能力が高く、且つ耐熱性が高い電界放射型装置用ガラス板を提供する。【解決手段】ガラス組成として、質量％で、ＳｉＯ２３０〜５０％、Ａｌ２Ｏ３０〜１０％、Ｂ２Ｏ３０〜２０％、ＭｇＯ＋ＣａＯ＋ＳｒＯ（ＭｇＯ、ＣａＯ、及びＳｒＯの合量）０〜２５％、ＢａＯ１５〜３５％、ＺｒＯ２＋ＴｉＯ２＋Ｌａ２Ｏ３＋Ｎｂ２Ｏ５（ＺｒＯ２、ＴｉＯ２、Ｌａ２Ｏ３、及びＮｂ２Ｏ５の合量）３〜４０％を含有し、歪点が６５０℃以上、１０ｋｅＶにおけるＸ線吸収係数が１５０ｃｍ−１以上であることを特徴とする電界放射型装置用ガラス板。【選択図】なし【特許請求の範囲】
【請求項１】
ガラス組成として、質量％で、ＳｉＯ２  ３０〜５０％、Ａｌ２Ｏ３  ０〜１０％、Ｂ２Ｏ３  ０〜２０％、ＭｇＯ＋ＣａＯ＋ＳｒＯ  ０〜２５％、ＢａＯ  １５〜３５％、ＺｒＯ２＋ＴｉＯ２＋Ｌａ２Ｏ３＋Ｎｂ２Ｏ５  ３〜４０％を含有し、歪点が６５０℃以上、１０ｋｅＶにおけるＸ線吸収係数が１５０ｃｍ−１以上であることを特徴とする電界放射型装置用ガラス板。
【請求項２】
実質的にアルカリ成分を含有しないことを特徴とする請求項１に記載の電界放射型装置用ガラス板。
【請求項３】
３０〜３８０℃における平均熱膨張係数が６０×１０−７／℃〜９０×１０−７／℃であることを特徴とする請求項１又は２に記載の電界放射型装置用ガラス板。
【請求項４】
液相粘度が１０３．５ｄＰａ・ｓ以上であることを特徴とする請求項１〜３の何れかに記載の電界放射型装置用ガラス板。
【請求項５】
照明に用いることを特徴とする請求項１〜４の何れかに記載の電界放射型装置用ガラス板。
【請求項６】
ディスプレイに用いることを特徴とする請求項１〜４の何れかに記載の電界放射型装置用ガラス板。
【請求項７】
ガラス組成として、質量％で、ＳｉＯ２  ３０〜５０％、Ａｌ２Ｏ３  ０〜１０％、Ｂ２Ｏ３  ０〜２０％、ＭｇＯ＋ＣａＯ＋ＳｒＯ  ０〜２５％、ＢａＯ  １５〜３５％、ＺｒＯ２＋ＴｉＯ２＋Ｌａ２Ｏ３＋Ｎｂ２Ｏ５  ３〜４０％を含有し、歪点が６５０℃以上、１０ｋｅＶにおけるＸ線吸収係数が１５０ｃｍ−１以上であることを特徴とするガラス板。
【請求項８】
液相粘度が１０３．５ｄＰａ・ｓ以上であることを特徴とする請求項７に記載のガラス板。
【請求項９】
照明に用いることを特徴とする請求項７又は８に記載のガラス板。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、主に電界放射型装置用ガラス板に関し、特に電界放射型照明用ガラス板に関する。
【背景技術】
【０００２】
電界放射型照明は、薄型軽量、低消費電力、鮮明な表示特性等の利点を有するため、益々普及する傾向にある。
【０００３】
電界放射型照明は、透明電極や蛍光体が形成された前面ガラス基板と、カソード電極、ゲート電極、冷陰極（エミッタ）、絶縁膜等が形成された背面ガラス基板とを対向させた上で、ガラス基板の周囲をフリットシールした後、装置内部を真空にすることにより作製される。
【０００４】
ところで、電界放射型照明は、蛍光体に電子線をあてて映像を映し出す際、装置内部でＸ線が発生する。このＸ線は、ガラス板を着色させて、映像を暗くすることがある。また、Ｘ線が装置外部に漏洩して人体に悪影響を及ぼすおそれもある。このため、電界放射型照明の場合、ガラス板のＸ線遮蔽能力を高める必要がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平１０−１２５２１８号公報
【特許文献２】特開平１１−２２４５９５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
従来、電界放射型装置用ガラス板として、ディスプレイ用ガラス板や窓板ガラス等の他用途のガラス板が用いられていた。しかし、窓板ガラスは、Ｘ線吸収係数が低いため、装置内部で発生するＸ線により着色し易く、またＸ線の漏洩を惹起するおそれがある。液晶ディスプレイ用ガラス板も、Ｘ線吸収係数が低いため、装置内部で発生するＸ線により着色し易く、またＸ線の漏洩を惹起するおそれがある。
【０００７】
また、電界放射型照明の製造工程では、高精度のアライメントが必要になる。しかし、ガラス板の耐熱性が低いと、電界放射型照明の製造工程において、熱処理によりガラス板が収縮し、所望のアライメント精度を確保できない。
【０００８】
そこで、本発明は、Ｘ線遮蔽能力が高く、且つ耐熱性が高いガラス板を創案することにより、電界放射型装置の特性維持に寄与することを技術的課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明者等は、鋭意検討の結果、ガラス板のガラス組成範囲及び特性範囲を厳密に規制することにより、上記技術的課題を解決できることを見出し、本発明として、提案するものである。すなわち、本発明の電界放射型装置用ガラス板は、ガラス組成として、質量％で、ＳｉＯ２  ３０〜５０％、Ａｌ２Ｏ３  ０〜１０％、Ｂ２Ｏ３  ０〜２０％、ＭｇＯ＋ＣａＯ＋ＳｒＯ（ＭｇＯ、ＣａＯ、及びＳｒＯの合量）  ０〜２５％、ＢａＯ  １５〜３５％、ＺｒＯ２＋ＴｉＯ２＋Ｌａ２Ｏ３＋Ｎｂ２Ｏ５（ＺｒＯ２、ＴｉＯ２、Ｌａ２Ｏ３、及びＮｂ２Ｏ５の合量）  ３〜４０％を含有し、歪点が６５０℃以上、１０ｋｅＶにおけるＸ線吸収係数が１５０ｃｍ−１以上であることを特徴とする。ここで、「歪点」とは、ＡＳＴＭ  Ｃ３３６−７１に基づいて測定した値を指す。なお、「１０ｋｅＶにおけるＸ線吸収係数」は、ガラス組成と密度に基づいて、計算で求めることができる。
【００１０】
本発明の電界放射型装置用ガラス板は、上記のようにガラス組成範囲が規制されている。このようにすれば、ガラス板のＸ線遮蔽能力と耐熱性を高めることができる。特に、本発明の電界放射型装置用ガラス板は、ＢａＯを１５〜３５質量％、ＺｒＯ２＋ＴｉＯ２＋Ｌａ２Ｏ３＋Ｎｂ２Ｏ５を３〜４０質量％含有している。このようにすれば、ガラス板のＸ線遮蔽能力を顕著に高めることができる。
【００１１】
本発明の電界放射型装置用ガラス板は、歪点が６５０℃以上である。このようにすれば、電界放射型照明の製造工程において、熱処理によりガラス板が収縮し難くなり、所望のアライメント精度を確保し易くなる。なお、歪点が高い程、ガラス板の耐熱性は高くなる。また、Ｂ２Ｏ３の含有量を減量（特に１０質量％以下）、Ａｌ２Ｏ３の含有量を増量すれば、歪点を高め易くなる。
【００１２】
本発明の電界放射型装置用ガラス板は、１０ｋｅＶにおけるＸ線吸収係数が１５０ｃｍ−１以上である。このようにすれば、装置内部で発生したＸ線を遮蔽し易くなる。
【００１３】
なお、電界放射型装置の場合、ガラス板の表面に、透明電極、絶縁膜等の様々な膜やエミッタ等が成膜されると共に、フォトリソグラフィーエッチング（フォトエッチング）によって種々の回路やパターンが形成される。ガラス板は、これらの工程で種々の薬品処理を受ける。このため、ガラス板には、耐薬品性も要求される。本発明の電界放射型装置用ガラス板は、上記のようにガラス組成範囲を規制されているため、耐薬品性も良好である。
【００１４】
第二に、本発明の電界放射型装置用ガラス板は、実質的にアルカリ成分を含有しないことが好ましい。電界放射型照明は、エミッタから放出される電子線を蛍光体にあてることで発光させて映像を映し出すものであるが、ガラス板中にアルカリ成分が含まれていると、電子を放出するエミッタにアルカリイオンが拡散し、電子源の劣化を招く。このため、電界放射型照明の場合、ガラス板のアルカリ成分の含有量を低減することが要求されている。しかし、従来のプラズマディスプレイ用ガラス板や窓板ガラスは、ガラス組成中にアルカリ成分を多量に含んでいるため、エミッタにアルカリイオンが拡散し、電子源の劣化を招いていた。そこで、上記のように、ガラス組成中からアルカリ成分を除くと、電子源の劣化を防止することができる。ここで、「実質的にアルカリ成分を含有せず」とは、ガラス組成中のアルカリ成分（例えば、アルカリ金属酸化物）の含有量が１０００ｐｐｍ以下の場合を指す。
【００１５】
第三に、本発明の電界放射型装置用ガラス板は、３０〜３８０℃における平均熱膨張係数が６０×１０−７〜９０×１０−７／℃であることが好ましい。ここで、「３０〜３８０℃における平均熱膨張係数」は、ディラトメーター等で測定することができる。
【００１６】
第四に、本発明の電界放射型装置用ガラス板は、液相粘度が１０３．５ｄＰａ・ｓ以上であることが好ましい。「液相粘度」は、液相温度におけるガラスの粘度を白金球引き上げ法により測定した値を指す。「液相温度」は、３００〜５００μｍの大きさに粉砕したガラス試料を白金製ボートに入れた上で、９５０〜１２００℃の温度勾配炉に移して２４時間保持した後、偏光顕微鏡で白金製ボートのガラスの表面を観察することにより、結晶が析出し始めた温度（初相の析出温度）を測定した値を指す。
【００１７】
第五に、本発明の電界放射型装置用ガラス板は、照明に用いることが好ましい。
【００１８】
第六に、本発明の電界放射型装置用ガラス板は、ディスプレイに用いることが好ましい。
【００１９】
第七に、本発明のガラス板は、ガラス組成として、質量％で、ＳｉＯ２  ３０〜５０％、Ａｌ２Ｏ３  ０〜１０％、Ｂ２Ｏ３  ０〜２０％、ＭｇＯ＋ＣａＯ＋ＳｒＯ  ０〜２５％、ＢａＯ  １５〜３５％、ＺｒＯ２＋ＴｉＯ２＋Ｌａ２Ｏ３＋Ｎｂ２Ｏ５  ３〜４０％を含有し、歪点が６５０℃以上、１０ｋｅＶにおけるＸ線吸収係数が１５０ｃｍ−１以上であることを特徴とする。なお、本明細書の記載は、電界放射型装置用途に基づく説明が主であるが、本発明は、有機ＥＬ照明、有機ＥＬディスプレイ等の用途にも適用可能である。
【００２０】
第八に、本発明のガラス板は、液相粘度が１０３．５ｄＰａ・ｓ以上であることが好ましい。
【００２１】
第九に、本発明のガラス板は、照明に用いることが好ましい。
【発明の効果】
【００２２】
本発明の電界放射型装置用ガラス板は、Ｘ線遮蔽能力が高く、しかも耐熱性が高いため、Ｘ線による着色、Ｘ線の外部漏洩、熱処理による熱収縮等の不具合を防止することができる。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
本発明の電界放射型装置用ガラス板は、ガラス組成として、質量％で、ＳｉＯ２  ３０〜５０％、Ａｌ２Ｏ３  ０〜１０％、Ｂ２Ｏ３  ０〜２０％、ＭｇＯ＋ＣａＯ＋ＳｒＯ  ０〜２５％、ＢａＯ  １５〜３５％、ＺｒＯ２＋ＴｉＯ２＋Ｌａ２Ｏ３＋Ｎｂ２Ｏ５  ３〜４０％を含有する。上記のように各成分の含有量を限定した理由を以下に説明する。なお、以下の％表示は、特に断りがある場合を除き、質量％を指す。
【００２４】
ＳｉＯ２は、ガラスのネットワークを形成する成分であり、その含有量は３０〜５０％、３２〜４９％、３５〜４８％、４０〜４７％、特に４３〜４５％が好ましい。ＳｉＯ２の含有量が３０％より少ないと、ガラスの耐熱性、化学的耐久性が低下し易くなる。一方、ＳｉＯ２の含有量が５０％より多いと、ガラスの溶融温度が不当に上昇するおそれがある。
【００２５】
Ａｌ２Ｏ３は、ガラスの歪点を上昇させて、ガラスの耐熱性を高める成分であり、その含有量は０〜１０％、０．５〜８％、１〜７％特に３〜５％が好ましい。Ａｌ２Ｏ３の含有量が１０％より多いと、ガラスの溶融温度が不当に上昇するおそれがあり、またガラスが失透し易くなる。
【００２６】
Ｂ２Ｏ３は、融剤として作用して、ガラスの溶融性を高める成分であり、その含有量は０〜２０％、０〜１８％、０〜１５％、０〜１０％、０〜５％、０〜３％、特に０〜１％が好ましい。Ｂ２Ｏ３の含有量が２０％より多いと、ガラスの歪点が低下して、ガラスの耐熱性が低下し易くなる。
【００２７】
ＭｇＯ＋ＣａＯ＋ＳｒＯは、ガラスの高温粘性を低下させて、ガラスの溶融性を高める成分であり、その含有量は０〜２５％、１〜２４％、５〜２３％、８〜２１％、特に１０〜１５％が好ましい。ＭｇＯ＋ＣａＯ＋ＳｒＯの含有量が２５％より多いと、ガラスが顕著に失透し易くなり、また化学的耐久性が低下し易くなる。
【００２８】
ＭｇＯは、ガラスの高温粘性を低下させて、ガラスの溶融性を高める成分であると共に、ガラスのヤング率を上昇させる成分であり、その含有量は０〜１０％、０〜５％、特に０〜３％が好ましい。ＭｇＯの含有量が１０％より多いと、ガラスが顕著に失透し易くなり、また化学的耐久性が低下し易くなる。
【００２９】
ＣａＯは、ガラスの高温粘性を低下させて、ガラスの溶融性を高める成分であり、その含有量は０〜１０％、０．１〜１０％、１〜９％、３〜８％、特に５〜７％が好ましい。ＣａＯの含有量が１０％より多いと、ガラスが失透し易くなり、また化学的耐久性が低下し易くなる。
【００３０】
ＳｒＯは、ガラスの高温粘性を低下させて、ガラスの溶融性を高める成分であり、その含有量は０〜１０％、０．１〜１０％、１〜８％、２〜７％、特に３〜６％が好ましい。ＳｒＯの含有量が１０％より多いと、ガラスが失透し易くなり、また化学的耐久性が低下し易くなる。
【００３１】
ＢａＯは、ガラスのＸ線吸収係数、化学的耐久性、耐失透性を高める成分であり、その含有量は１５〜３５％、２０〜３２％、特に２４〜３０％が好ましい。ＢａＯの含有量が１５％より少ないと、ガラスのＸ線吸収係数が低下し易くなる。一方、ＢａＯの含有量が３５％より多いと、ガラスの溶融性が低下し易くなる。
【００３２】
ＺｒＯ２＋ＴｉＯ２＋Ｌａ２Ｏ３＋Ｎｂ２Ｏ５は、ガラスのＸ線吸収係数を高める成分であり、その含有量は３〜４０％、８〜３５％、１５〜３２％、特に２０〜３０％が好ましい。ＺｒＯ２＋ＴｉＯ２＋Ｌａ２Ｏ３＋Ｎｂ２Ｏ５の含有量が３％より少ないと、ガラスのＸ線吸収係数が低下し易くなる。一方、ＺｒＯ２＋ＴｉＯ２＋Ｌａ２Ｏ３＋Ｎｂ２Ｏ５の含有量が４０％より多いと、ガラスが失透し易くなる。
【００３３】
ＺｒＯ２は、ガラスのＸ線吸収係数、歪点、化学的耐久性を高める成分であり、その含有量は０〜１０％、０．１〜８％、１〜６％、２〜５％、特に３〜５％が好ましい。ＺｒＯ２の含有量が１０％より多いと、ガラス中にジルコン等のブツが析出し易くなる。
【００３４】
ＴｉＯ２は、ガラスのＸ線吸収係数、歪点、化学的耐久性を高める成分であり、その含有量は０〜１５％、１〜１２％、３〜９．５％、特に４〜８％が好ましい。ＴｉＯ２の含有量が１５％より多いと、ガラスが失透し易くなる。
【００３５】
Ｌａ２Ｏ３は、ガラスのＸ線吸収係数、耐失透性を高める成分であり、その含有量は０〜１５％、１〜１２％、２〜１０％、特に３〜８％が好ましい。Ｌａ２Ｏ３の含有量が１５％より多いと、ガラス組成の成分バランスが損なわれて、ガラスが失透し易くなる。
【００３６】
Ｎｂ２Ｏ５は、ガラスのＸ線吸収係数を高める成分であり、その含有量は０〜１５％、１〜１２％、３〜１２％、特に５〜１０％が好ましい。Ｎｂ２Ｏ５の含有量が１５％より多いと、ガラスが失透し易くなる。
【００３７】
上記成分以外にも、以下の成分を添加することができる。
【００３８】
ＺｎＯは、ガラスの歪点を低下させずに、ガラスの高温粘性を低下させて、ガラスの溶融性を高める成分であり、その含有量は０〜２０％、０〜１０％、０〜８％、特に０〜５％が好ましい。ＺｎＯの含有量が２０％より多いと、ガラスが失透し易くなる。
【００３９】
ＣｅＯ２は、Ｘ線によるガラスの着色を抑制する成分であり、その含有量は０〜５％、特に０〜１％が好ましい。ＣｅＯ２の含有量が５％より多いと、ガラスの透過率が低下し易くなる。
【００４０】
上記の理由により、Ｌｉ２Ｏ、Ｎａ２Ｏ、Ｋ２Ｏ等のアルカリ成分の添加を避けることが好ましい。また、環境的観点から、実質的にＰｂＯを含有しないことが好ましい。「実質的にＰｂＯを含有せず」とは、ガラス組成中のＰｂＯの含有量が１０００ｐｐｍ以下の場合を指す。
【００４１】
上記の成分以外にも、特性を損なわない範囲で他の成分を添加することができる。例えば、清澄剤として、Ａｓ２Ｏ３、Ｓｂ２Ｏ３、ＳｎＯ２、Ｆ２、Ｃｌ２、ＳＯ３等を各々３％まで添加することができる。また、ガラスの化学的耐久性を高めるために、Ｙ２Ｏ３、ＷＯ３を各々５％まで添加することができる。さらに、ガラスの耐失透性を高めるために、Ｐ２Ｏ５を５％まで添加することができる。
【００４２】
本発明の電界放射型装置用ガラス板において、１０ｋｅＶにおけるＸ線吸収係数は１５０ｃｍ−１以上、１８０ｃｍ−１以上、２００ｃｍ−１以上、２５０ｃｍ−１以上、特に３００ｃｍ−１以上が好ましい。１０ｋｅＶにおけるＸ線吸収係数が１５０ｃｍ−１より低いと、Ｘ線が装置外部に漏洩して人体に悪影響を及ぼすおそれがある。なお、ＺｒＯ２＋ＴｉＯ２＋Ｌａ２Ｏ３＋Ｎｂ２Ｏ５の含有量が多くなると、Ｘ線吸収係数は１５０ｃｍ−１以上になり易い。
【００４３】
本発明の電界放射型装置用ガラス板において、歪点は６５０℃以上、６６０℃以上、６７０℃以上、６８０℃以上、特に６９０℃以上が好ましい。歪点が６５０℃より低いと、電界放射型装置の製造工程における熱処理でガラス板が熱収縮し易くなり、所望のアライメント精度を確保し難くなる。なお、Ｂ２Ｏ３の含有量を１０％以下にすれば、歪点が６５０℃以上になり易い。
【００４４】
本発明の電界放射型装置用ガラス板において、３０〜３８０℃における平均熱膨張係数は６０×１０−７〜９０×１０−７／℃、特に７０×１０−７〜８５×１０−７／℃が好ましい。平均熱膨張係数が６０×１０−７／℃より低いと、フリットの熱膨張係数に整合し難くなるため、長期に亘って装置内部の真空状態を維持し難くなり、結果として、電子放出特性が低下し易くなる。一方、平均熱膨張係数が９０×１０−７／℃より高いと、電界放射型装置の製造工程における熱処理でガラス板が破損し易くなる。なお、ＣａＯ＋ＳｒＯ＋ＢａＯ（ＣａＯ、ＳｒＯ、及びＢａＯの合量）の含有量を２０〜４５％に規制すれば、上記範囲内に平均熱膨張係数を規制し易くなる。
【００４５】
本発明の電界放射型装置用ガラス板において、液相粘度は１０３．５ｄＰａ・ｓ以上が好ましい。液相粘度が１０３．５ｄＰａ・ｓより低いと、フロート法、オーバーフローダウンドロー法、ロールアウト法等でガラス板を成形し難くなるため、ガラス板の製造コストが高騰し易くなる。したがって液相粘度は、１０３．５ｄＰａ・ｓ以上、１０４ｄＰａ・ｓ以上、１０４．５ｄＰａ・ｓ以上、１０４．８ｄＰａ・ｓ以上、１０５ｄＰａ・ｓ以上が好ましい。
【００４６】
本発明のガラス板は、ガラス組成として、質量％で、ＳｉＯ２  ３０〜５０％、Ａｌ２Ｏ３  ０〜１０％、Ｂ２Ｏ３  ０〜２０％、ＭｇＯ＋ＣａＯ＋ＳｒＯ  ０〜２５％、ＢａＯ  １５〜３５％、ＺｒＯ２＋ＴｉＯ２＋Ｌａ２Ｏ３＋Ｎｂ２Ｏ５  ３〜４０％を含有し、歪点が６５０℃以上、１０ｋｅＶにおけるＸ線吸収係数が１５０ｃｍ−１以上であることを特徴とする。本発明のガラス板の技術的特徴（好適な組成、特性）は、本発明の電界放射型装置用ガラス板と同様である。ここでは、便宜上、本発明のガラス板に関する説明を省略する。
【実施例】
【００４７】
以下、実施例に基づいて、本発明を説明する。なお、以下の実施例は単なる例示である。本発明は以下の実施例に何ら限定されない。
【００４８】
表１、２は、本発明の実施例（試料Ｎｏ．１〜２０）及び比較例（試料Ｎｏ．２１、２２）を示している。なお、試料Ｎｏ．２２は、従来のソーダガラス板（窓板ガラス）である。
【００４９】
【表１】
2012012291.tif 000002
【００５０】
【表２】
2012012291.tif 000003
【００５１】
次のようにして、表中の各試料を作製した。まず、表中のガラス組成となるようにガラス原料を調合した後、得られたガラスバッチを白金ポットに投入し、１５００℃で４時間溶融した。次に、溶融ガラスをカーボン板の上に流し出して板状に成形した後、徐冷処理を行った。続いて、得られた板状ガラスを板厚２ｍｍになるように両面研磨した後、２００ｍｍ角の寸法に切断加工し、ガラス板を作製した。
【００５２】
得られた各試料について、密度ρ、３０〜３８０℃における平均熱膨張係数α、歪点Ｐｓ、液相温度ＴＬ、液相粘度Ｌｏｇ１０ηＴＬ、１０ｋｅＶにおけるＸ線吸収係数を評価した。その結果を表１に示す。
【００５３】
密度ρは、周知のアルキメデス法により測定した値である。
【００５４】
３０〜３８０℃における平均熱膨張係数αは、ディラトメーターにより測定した値である。
【００５５】
歪点Ｐｓは、ＡＳＴＭ  Ｃ３３６−７１に基づいて測定した値である。
【００５６】
液相温度ＴＬは、３００〜５００μｍの大きさに粉砕した各試料を白金製ボートに入れた上で、９５０〜１２００℃の温度勾配炉に移して２４時間保持した後、偏光顕微鏡で白金製ボートのガラスの表面を観察することにより、結晶が析出し始めた温度（初相の析出温度）を測定した値である。
【００５７】
液相粘度Ｌｏｇ１０ηＴＬは、液相温度におけるガラスの粘度を指し、白金球引き上げ法により測定した値である。なお、液相粘度が大きい程、ガラス板に成形し易くなる。
【００５８】
１０ｋｅＶにおけるＸ線吸収係数は、ガラス組成と密度に基づいて、計算で求めた値である。
【００５９】
表１、２から明らかなように、試料Ｎｏ．１〜２０は、歪点Ｐｓが６２℃以上であるため、耐熱性が良好である。また、試料Ｎｏ．１〜２０は、１０ｋｅＶにおけるＸ線吸収係数が２１８ｃｍ−１以上であるため、装置内部で発生したＸ線を良好に遮蔽することができる。また、試料Ｎｏ．１〜２０は、３０〜３８０℃における平均熱膨張係数αが６７．２×１０−７〜８２．０×１０−７／℃であるため、フリットの熱膨張係数に整合しており、また電界放射型装置の製造工程における熱処理で破損し難いと考えられる。さらに、試料Ｎｏ．１〜２０は、液相粘度が１０３．５ｄＰａ・ｓ以上であるため、フロート法、オーバーフローダウンドロー法、スロットダウンドロー法、ロールアウト法等で平板形状に成形し易いと考えられる。なお、試料Ｎｏ．１〜２０は、ガラス組成中にアルカリ成分を含んでいないため、電子源の劣化を防止することができる。
【００６０】
一方、試料Ｎｏ．２１は、１０ｋｅＶにおけるＸ線吸収係数が１２６ｃｍ−１であるため、装置内部で発生したＸ線を的確に遮蔽できないと考えられる。また、試料Ｎｏ．２２は、ガラス組成中にアルカリ成分を含有しているため、電子源を劣化させるおそれがあると共に、Ｘ線吸収係数が５７ｃｍ−１であるため、装置内部で発生したＸ線を的確に遮蔽できないと考えられる。