(57)【要約】【課題】測光装置において蓄積型の受光素子の蓄積時間を短縮すること。【解決手段】測光装置は、蓄積型の受光素子１３に第１蓄積時間の蓄積をさせた場合に受光素子から得られた第１出力値に基づいて、次回蓄積時における受光素子１３からの第２出力値を第１目標値に近づけるように次回用に第２蓄積時間を演算する第１演算部５３２と、第１出力値に基づいて、次回蓄積時における第２出力値を第１目標値より小さい第２目標値に近づけるように次回用に第３蓄積時間を演算する第２演算部５３２と、第２蓄積時間が第１所定値より大か否かを判定する第１判定部５３と、第１判定部５３が否定判定した場合は第２蓄積時間を次回蓄積時間とし、第１判定部５３が肯定判定した場合は第３蓄積時間を次回蓄積時間とする蓄積時間決定部５３と、を備える。【選択図】図２
2012234096.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
蓄積型の受光素子に第１蓄積時間の蓄積をさせた場合に前記受光素子から得られた第１出力値に基づいて、次回蓄積時における前記受光素子からの第２出力値を第１目標値に近づけるように次回用に第２蓄積時間を演算する第１演算部と、
前記第１出力値に基づいて、次回蓄積時における前記第２出力値を前記第１目標値より小さい第２目標値に近づけるように次回用に第３蓄積時間を演算する第２演算部と、
前記第２蓄積時間が第１所定値より大か否かを判定する第１判定部と、
前記第１判定部が否定判定した場合は前記第２蓄積時間を次回蓄積時間とし、前記第１判定部が肯定判定した場合は前記第３蓄積時間を次回蓄積時間とする蓄積時間決定部と、
を備えることを特徴とする測光装置。
【請求項２】
請求項１に記載の測光装置において、
前記第２演算部は、前記第１蓄積時間と前記第２蓄積時間との比に基づいて前記第２目標値を定めることを特徴とする測光装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載の測光装置において、
前記第２演算部は、前記第３蓄積時間が第２所定値を超える場合に前記次回蓄積時間を該第２所定値に制限することを特徴とする測光装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか一項に記載の測光装置において、
前記第１出力値が第３所定値より大か否かに基づいて有効か否かを判定する第２判定部と、
前記第２判定部が否定判定した場合に前記第１出力値に基づく測光演算することなく前記受光素子に前記次回蓄積時間の蓄積をさせる蓄積制御部と、をさらに備えることを特徴とする測光装置。
【請求項５】
請求項４に記載の測光装置において、
前記第２判定部は、前記第１判定部が肯定判定した場合の前記第３所定値を前記第１判定部が否定判定した場合の値より小さくすることを特徴とする測光装置。
【請求項６】
請求項４または５に記載の測光装置において、
前記蓄積制御部は、前記受光素子の蓄積中であって前記次回蓄積時間に達する前に行われた撮影指示に応じて前記蓄積を途中終了させ、
前記第２判定部は、前記途中終了後の出力値が前記第３所定値より大か否かに基づいて有効か否かを判定することを特徴とする測光装置。
【請求項７】
請求項１〜６のいずれか一項に記載の測光装置を備えることを特徴とするカメラ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測光装置およびカメラに関する。
【背景技術】
【０００２】
蓄積型の受光素子を用いる測光装置が知られている（特許文献１参照）。受光素子を所定時間蓄積させた場合の該受光素子からの出力信号値に基づいて、次の蓄積用の蓄積時間が決定される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平９−１６００８８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来技術では、低輝度時において蓄積時間が長くなってしまい、蓄積時間を短縮し得ないという問題があった。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明による測光装置は、蓄積型の受光素子に第１蓄積時間の蓄積をさせた場合に受光素子から得られた第１出力値に基づいて、次回蓄積時における受光素子からの第２出力値を第１目標値に近づけるように次回用に第２蓄積時間を演算する第１演算部と、第１出力値に基づいて、次回蓄積時における第２出力値を第１目標値より小さい第２目標値に近づけるように次回用に第３蓄積時間を演算する第２演算部と、第２蓄積時間が第１所定値より大か否かを判定する第１判定部と、第１判定部が否定判定した場合は第２蓄積時間を次回蓄積時間とし、第１判定部が肯定判定した場合は第３蓄積時間を次回蓄積時間とする蓄積時間決定部と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００６】
本発明による測光装置では、蓄積型の受光素子の蓄積時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】本発明の一実施の形態による測光装置を搭載した一眼レフ電子カメラの要部構成を説明する図である。
【図２】電子カメラの測光部を説明するブロック図である。
【図３】撮影処理の流れを説明するフローチャートである。
【図４】マイクロコンピュータが行う測光処理の流れを説明するフローチャートである。
【図５】蓄積中断処理の流れを説明するフローチャートである。
【図６】算出処理の流れを説明するフローチャートである。
【図７】有効性判定処理の流れを説明するフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下、図面を参照して本発明を実施するための形態について説明する。図１は、本発明の一実施の形態による測光装置を搭載した一眼レフ電子カメラの要部構成を説明する図である。図１において、カメラ本体４に対して着脱可能な撮影レンズ１を構成する鏡筒が装着されている。
【０００９】
被写体からの光は、撮影光学系２および絞り３を介してカメラ本体４へ入射される。カメラ本体４に入射した被写体光は、レリーズ前は図１に例示したミラーダウン状態にある半透過のクイックリターンミラー（以下メインミラーと呼ぶ）５で上方のファインダー部へ向けて折り曲げられ、スクリーン６へ向けて進行する。また、メインミラー５を透過した被写体光は、サブミラー１４によって下方へ折り曲げられ、焦点検出センサー１５へ導かれる。
【００１０】
スクリーン６へ入射された被写体光束は、撮影光学系２によって拡散面６ａに結像する。スクリーン６を透過した光束はさらに、ファインダー光学系の光軸２２に沿ってペンタプリズム８へ入射される。ペンタプリズム８は、入射された被写体光をファインダーレンズ９へ導く。撮影者は、接眼部１０からファインダーレンズ９を通してファインダーによる被写体像を観察する。
【００１１】
また、スクリーン６を通過した光束の一部は、ファインダー光学系の光軸２２から傾いた測光光学系光軸２３の方向へ進み、三角プリズム１１の反射面１１ａで上方へ折り曲げられる。この光束は不図示の測光絞りおよび測光レンズ１２を介して測光センサー１３の受光面に再結像する。
【００１２】
レリーズ後は、メインミラー５が上方へ回動し、全ての被写体光は開駆動されたメカニカルシャッター１６を介して撮像素子１７へ導かれ、その撮像面上に被写体像を結像する。撮像素子１７は、撮像面上に結像されている被写体像を撮像し、被写体像の明るさに応じた光電変換信号を出力する。撮像が終了するとメカニカルシャッター１６が閉駆動され、メインミラー５がダウン位置へ戻る。
【００１３】
上述した電子カメラにおいて、測光センサー１３は、画素に対応する複数の光電変換素子を備えたＣＭＯＳイメージセンサーなどによって構成される。光電変換素子は、光の強さに応じた信号電荷を蓄積する。測光センサー１３による蓄積信号は、測光演算の他にもＴＴＬ(through the lens)調光演算の他に、顔検出処理やシーン認識処理などにも用いられる。このため、測光センサー１３による蓄積信号に基づいて得られる画像から色情報が得られるように、測光センサー１３の受光面には画素位置に対応させてベイヤー配列されたカラーフィルタ１３ａが設けられている。
【００１４】
＜測光部の構成＞  
本実施形態は上記電子カメラの測光部に特徴を有するので、以下の説明は測光部を中心に行う。図２は、電子カメラの測光部を説明するブロック図である。測光部は、測光光学系１１，１２と、測光センサー１３と、Ａ／Ｄ変換部５１と、信号処理部５２と、マイクロコンピュータ５３とを有する。マイクロコンピュータ５３には、レリーズ釦５４が押下操作されたことを示すレリーズ操作信号と、測光モード設定部５５から測光モードを示す信号とが入力される。
【００１５】
測光モードには、たとえば、「分割測光モード」、「中央重点測光モード」、「スポット測光モード」がある。「分割測光モード」は、撮影画面を複数に分割して複数の輝度値を算出し、これら複数の輝度値に基づいて露出演算を行うモードである。「中央重点測光モード」は、撮影画面の中央部に重点をおいた輝度値に基づいて露出演算を行うモードである。「スポット測光モード」は、撮影画面のうち所定の狭い範囲の輝度値に基づいて露出演算を行うモードである。
【００１６】
マイクロコンピュータ５３は、測光に関する演算と測光センサー１３に対する蓄積動作の制御とを行う。蓄積動作の制御は、蓄積時間および増幅ゲインの少なくとも一方を変化させる。増幅ゲインは、測光センサー１３に設けられている不図示の増幅アンプのゲインのことをいう。
【００１７】
測光光学系１１および１２を通過した測光用光束は、測光センサー１３上に被写体像を結像する。測光センサー１３は、カラーフィルタ１３ａ（図１）を通して受光した光電変換信号を出力する。カラーフィルタ１３ａは、たとえば、測光センサー１３の画素位置に配設されたＲ，Ｇ，Ｂ色のフィルタによって構成される。Ｒ色のフィルタを通して受光した画素からはＲ色成分の光に対応する光電変換信号が出力され、Ｇ色のフィルタを通して受光した画素からはＧ色成分の光に対応する光電変換信号が出力され、Ｂ色のフィルタを通して受光した画素からはＢ色成分の光に対応する光電変換信号が出力される。本実施形態では、測光センサー１３の受光面上で近接してＲ，Ｇ，Ｂ色に対応する信号を出力する１組の画素群を「１画素」として扱う。測光センサー１３は、たとえば、１４画素で構成される水平ラインを１０本有し、計１４０画素で構成される。
【００１８】
測光センサー１３には、マイクロコンピュータ５３に含まれる測光センサー制御部５３１から駆動用クロック信号、蓄積時間を制御する信号、および増幅ゲインを制御するゲイン制御信号がそれぞれ入力される。測光センサー１３は、蓄積した電荷信号をＡ／Ｄ変換部５１へ出力する。Ａ／Ｄ変換部５１は、入力された信号をＡ／Ｄ変換（アナログ信号→ディジタル信号へ変換）することにより、画素ごとに測光デジタル信号を得る。信号処理部５２は、測光デジタル信号に対してクランプ処理などを行う。クランプ処理は、測光センサー１３にあらかじめ設けられている遮光画素（オプティカルブラックと呼ばれる）からの出力データがいわゆる黒レベル（測光出力データの基準）となるようにクランプすることをいう。
【００１９】
蓄積時間、ゲイン算出部５３２は、信号処理部５２から出力された測光出力データに基づいて、測光センサー１３の次回の蓄積のための蓄積時間および増幅ゲインをそれぞれ算出する。有効性判定部５３３は、信号処理部５２から出力された測光出力データの有効性を判定する。目標レベル、有効性判定レベル算出部５３４は、信号処理部５２から出力された測光出力データに基づいて、次回の蓄積によって得ようとする測光出力データの目標レベル、および次回の蓄積後の測光出力データの有効性判定に用いる判定レベルをそれぞれ算出する。測光センサー制御部５３１は、蓄積時間、ゲイン算出部５３２による算出結果、有効性判定部５３３による判定結果、および目標レベル、有効性判定レベル算出部５３４による算出結果に基づいて、上述した制御信号（駆動用クロック信号、蓄積時間制御信号、およびゲイン制御信号）を測光センサー１３へ送出する。
【００２０】
上記構成により、測光センサー制御部５３１は、次回の電荷蓄積後の測光出力データの最大値を目標値Vagc（たとえば、センサ最大出力レベルより低い所定レベル）に近づけるように、測光センサー１３の蓄積時間および増幅ゲインを決定し、決定した蓄積時間および増幅ゲインで次回蓄積を行うように測光センサー１３をフィードバック制御する。
【００２１】
上述した蓄積制御によって得られた測光出力データは測光演算のために使用される。Ｂｖ値算出、露出演算部５３５は、有効性判定部５３３によって有効と判定された測光出力データに基づいてＢｖ値を算出し、このＢｖ値に応じて所定の露出演算を行う。測光中断処理部５３６は、蓄積制御中に上記レリーズ操作信号が入力された場合に、測光演算部の各部へ蓄積停止信号を出して蓄積制御を途中で止めさせる。蓄積停止信号を出力した測光中断処理部５３６は、レリーズ操作信号に応じて撮影処理が行われ、メインミラー５がダウン位置へ戻るまで蓄積停止信号の出力を継続する。
【００２２】
測光領域設定部５３７は、測光モード設定部５５からの測光モードを示す信号に応じて、測光演算に用いる領域を設定する。この測光領域は、上記Ｂｖ値算出、露出演算部５３５が撮影画面の中で輝度値を算出する範囲に相当する。つまり、Ｂｖ値算出、露出演算部５３５は、測光領域設定部５３７で設定された領域に対応する画素からの測光出力データを用いて上記演算を行う。
【００２３】
絞り制御部５６１およびシャッター制御部５６２は露出制御部５６を構成する。絞り制御部５６１は、Ｂｖ値算出、露出演算部５３５による露出演算結果に基づいて撮影時に絞り３を制御する。シャッター制御部５６２は、Ｂｖ値算出、露出演算部５３５による露出演算結果に基づいて撮影時にメカニカルシャッター１６を制御する。
【００２４】
＜撮影処理＞
図３は、電子カメラの撮影制御回路（不図示）が行う撮影処理の流れを説明するフローチャートである。上記測光部は、撮影処理の中で測光処理（Ｓ１２）を行う。図３のステップＳ１１において、撮影制御回路は、レリーズ釦５４が半押し操作されたか否かを判定する。撮影制御回路は、半押し操作された場合にはステップＳ１１を肯定判定してステップＳ１２へ進み、半押し操作されない場合にはステップＳ１１を否定判定してステップＳ２１へ進む。
【００２５】
ステップＳ１２において、撮影制御回路はマイクロコンピュータ５３へ指示を送り、測光処理を行わせてステップＳ１３へ進む。測光処理の詳細については後述する。ステップＳ１３において、撮影制御回路は、焦点検出センサー１５による検出信号を用いて公知のＡＦ処理を行い、ステップＳ１４へ進む。ステップＳ１４において、撮影制御回路は、レリーズ釦５４が全押し操作されたか否かを判定する。撮影制御回路は、全押し操作された場合にはステップＳ１４を肯定判定してステップＳ１５へ進み、全押し操作されない場合にはステップＳ１４を否定判定してステップＳ１１へ戻る。
【００２６】
ステップＳ１５において、撮影制御回路は不図示のシーケンス制御装置へ指示を送り、メインミラー５のアップ駆動を開始させてステップＳ１６へ進む。ステップＳ１６において、撮影制御回路は、撮像素子１７の初期化を行ってステップＳ１７へ進む。ステップＳ１７において、撮影制御回路は撮像素子１７に撮影用の電荷蓄積を所定時間行わせる。なお、測光処理結果を用いた露出演算で算出された制御露出とするように、絞り３の駆動およびメカニカルシャッター１６の駆動がシーケンス制御装置（不図示）を構成する露出制御部５６によって行われる。撮影制御回路は、撮像素子１７から蓄積信号の読出しを指示してステップＳ１８へ進む。
【００２７】
ステップＳ１８において、撮影制御回路はシーケンス制御装置（不図示）へ指示を送り、メインミラー５のダウン駆動を開始させてステップＳ１９へ進む。ステップＳ１９において、撮影制御回路は、画像を構成する光電変換信号に対する所定の画像処理を行ってステップＳ２０へ進む。ステップＳ２０において、撮影制御回路は、画像処理後のデータを記録媒体（不図示）に記録して図３による撮影処理を終了する。
【００２８】
ステップＳ１１を否定判定して進むステップＳ２１において、撮影制御回路はタイマー切れか否かを判定する。撮影制御回路は、無操作状態で所定時間が経過するとステップＳ２１を肯定判定し、図３による処理を終了する。一方、撮影制御回路は、所定時間が経過していない場合にはステップＳ２１を否定判定し、ステップＳ１１へ戻る。
【００２９】
＜測光処理＞
図４は、マイクロコンピュータ５３が行う測光処理の流れを説明するフローチャートである。図４による測光処理は、図３のステップＳ１２に対応する。図４のステップＳ１０１において、マイクロコンピュータ５３は、測光センサー１３に蓄積動作をさせてステップＳ１０２へ進む。通常、蓄積条件は前回の蓄積条件およびその測光出力データに基づいて決定するが、初回の蓄積の場合は、たとえば、蓄積時間int＝４００msec、増幅ゲイン＝４倍で行うものとする。なお、本実施形態の測光装置は、ＥＶ０において蓄積時間int＝１００msec、増幅ゲイン＝４倍で蓄積した場合に、測光出力データが２５LSB（ただし、LSBは最下位ビット）となるように構成されているものとする。本実施形態では、測光出力データを１０ビットＡ／Ｄ変換している。
【００３０】
ステップＳ１０２において、マイクロコンピュータ５３は、蓄積動作を中断するか否かを判定する。マイクロコンピュータ５３は、蓄積制御中に上記レリーズ操作信号が入力された場合にステップＳ１０２を肯定判定してステップＳ１１１へ進む。マイクロコンピュータ５３は、蓄積制御中に上記レリーズ操作信号が入力されない場合にはステップＳ１０２を否定判定し、ステップＳ１０３へ進む。
【００３１】
ステップＳ１１１において、マイクロコンピュータ５３の測光中断処理部５３６は、蓄積中断処理を行ってステップＳ１０３へ進む。蓄積中断処理の詳細については後述する。
【００３２】
ステップＳ１０３において、マイクロコンピュータ５３は、測光センサー１３から読出した測光出力データを信号処理部５２を介して入力してステップＳ１０４へ進む。ステップＳ１０４において、マイクロコンピュータ５３は、次回蓄積時間int'と、次回増幅ゲインとを算出してステップＳ１０５へ進む。次回の蓄積時間int'は、蓄積時間、ゲイン算出部５３２が次式（１）によって算出する。なお、次回増幅ゲインは、最初の蓄積時と同じ４倍とする。
int'＝int×Vagc／Vomax                          （１）
ただし、Vagcは、次回の電荷蓄積後の測光出力データの最大値の目標値である。本例では測光モードによって異なる目標値を定める。たとえば、「分割測光モード」の場合のVagcを７２０LSBとし、「中央重点測光モード」の場合のVagcを６４０LSBとし、「スポット測光モード」の場合のVagcを＝８００LSBとする。Vomaxは、ステップＳ１０１の蓄積によって得た測光出力データの最大値である。たとえば、「分割測光モード」の場合であって、測光出力データの最大値Vomaxが１００LSBであった場合を例にすると、int'＝４００×７２０／１００＝２８８０msecである。
【００３３】
ステップＳ１０５において、マイクロコンピュータ５３は、次回蓄積時間int'が所定時間（たとえば、１００msec）以上か否かを判定する。マイクロコンピュータ５３は、int'≧１００msecが成立する場合にステップＳ１０５を肯定判定してステップＳ１１２へ進む。マイクロコンピュータ５３は、int'≧１００msecが成立しない場合にはステップＳ１０５を否定判定し、ステップＳ１０６へ進む。
【００３４】
ステップＳ１０６へ進む場合は、次回蓄積時間int'が上記所定時間に収まる程度に撮影環境が明るい場合である。この場合のマイクロコンピュータ５３の有効性判定部５３３は、ステップＳ１０６において、ステップＳ１０１の蓄積で得られた測光出力データの有効性判定処理を行ってステップＳ１０７へ進む。有効性判定処理の詳細については後述する。
【００３５】
ステップＳ１０７において、マイクロコンピュータ５３は測光出力データが有効か否かを判定する。マイクロコンピュータ５３は、ステップＳ１０６において有効と判断している場合にステップＳ１０７を肯定判定してステップＳ１０９へ進む。マイクロコンピュータ５３は、ステップＳ１０６において有効と判断しなかった場合には、ステップＳ１０７を否定判定してステップＳ１０１へ戻る。ステップＳ１０１へ戻る場合は、ステップＳ１０１の蓄積で得られた測光出力データをＢｖ値算出（Ｓ１０９）に用いることなしに蓄積動作をやり直す。
【００３６】
ステップＳ１０９において、マイクロコンピュータ５３のＢｖ値算出、露出演算部５３５は、上記有効と判断した測光出力データに基づいてＢｖ値を算出し、ステップＳ１１０へ進む。ステップＳ１１０において、マイクロコンピュータ５３のＢｖ値算出、露出演算部５３５は、上記Ｂｖ値に応じて所定の露出演算を行って図４による処理を終了する。
【００３７】
上述したステップＳ１０５を肯定判定する場合は、次回蓄積時間int'が所定時間に収まらない程に撮影環境が暗い場合である。この場合のマイクロコンピュータ５３は、ステップＳ１１２において、「分割測光モード」または「中央重点測光モード」であるか否かを判定する。マイクロコンピュータ５３は、測光モード設定部５５から入力した測光モードを示す信号が、「分割測光モード」または「中央重点測光モード」を示す場合にステップＳ１１２を肯定判定してステップＳ１１３へ進む。マイクロコンピュータ５３は、測光モード設定部５５から入力した測光モードを示す信号が、「分割測光モード」でも「中央重点測光モード」でもないことを示す場合（たとえば、「スポット測光モード」である場合）にステップＳ１１２を否定判定してステップＳ１０６へ進む。
【００３８】
ステップＳ１１３において、マイクロコンピュータ５３の目標レベル、有効性判定レベル算出部５３４は、次回の電荷蓄積後の測光出力データの最大値の目標値VagcNを算出し直す。マイクロコンピュータ５３の目標レベル、有効性判定レベル算出部５３４はさらに、有効性判定レベルVokNを算出し直す。また、マイクロコンピュータ５３の蓄積時間、ゲイン算出部５３２は、次回蓄積時間int'Nを算出し直して、ステップＳ１１４へ進む。これら目標レベルVagcN、有効性判定レベルVokN、および次回蓄積時間int'Nの算出処理の詳細については後述する。
【００３９】
ステップＳ１１４において、マイクロコンピュータ５３の有効性判定部５３３は、ステップＳ１０１の蓄積で得られた測光出力データの有効性判定処理を行ってステップＳ１１５へ進む。有効性判定処理の詳細については後述する。
【００４０】
ステップＳ１１５において、マイクロコンピュータ５３は測光出力データが有効か否かを判定する。マイクロコンピュータ５３は、ステップＳ１１４において有効と判断している場合にステップＳ１１５を肯定判定してステップＳ１０９へ進む。マイクロコンピュータ５３は、ステップＳ１１４において有効と判断しなかった場合には、ステップＳ１１５を否定判定してステップＳ１０１へ戻る。ステップＳ１０１へ戻る場合は、ステップＳ１０１の蓄積で得られた測光出力データをＢｖ値算出に用いることなしに蓄積処理をやり直す。
【００４１】
＜蓄積中断処理＞
図５は、マイクロコンピュータ５３の測光中断処理部５３６が行う蓄積中断処理の流れを説明するフローチャートである。ステップＳ１１１１において、測光中断処理部５３６は、蓄積中か否かを判定する。測光中断処理部５３６は、測光センサー制御部５３１が測光センサー１３を蓄積制御中の場合にステップＳ１１１１を肯定判定してステップＳ１１１２へ進む。測光中断処理部５３６は、測光センサー制御部５３１が測光センサー１３を蓄積制御中でない場合には、ステップＳ１１１１を否定判定して図５による処理を終了する。
【００４２】
ステップＳ１１１２において、測光中断処理部５３６は、測光演算部の各部へ蓄積停止信号を出力することによって蓄積処理を途中で強制終了させて図５による処理を終了する。具体的には、蓄積処理を開始後の蓄積時間が上記蓄積時間int'または蓄積時間int'Nに達しなくても蓄積処理を止める。この場合の蓄積信号は、ステップＳ１０６またはＳ１１４において有効性判定の対象に用いられる。
【００４３】
＜算出処理＞
図６は、マイクロコンピュータ５３が行う各算出処理の流れを説明するフローチャートである。ステップＳ１１３１において、目標レベル、有効性判定レベル算出部５３４は、上記目標値VagcNを次式（２）により算出し直す。
VagcN＝Vagc×(int/int')／ｋ＋agc_offset         （２）
ただし、ｋは所定の定数であり、本例ではｋ＝４とする。agc_offsetも所定の定数であり、本例ではagc_offset＝５０とする。
【００４４】
上述した「分割測光モード」の場合であって、ステップＳ１０１の蓄積によって測光出力データの最大値Vomaxが１００LSBであった場合を例にすると、上述したようにint'＝２８８０msecであるので、VagcN＝７２０×(４００/２８８０)／４＋５０＝７５LSBである。
【００４５】
ステップＳ１１３２において、目標レベル、有効性判定レベル算出部５３４は、上記有効性判定レベルVokNを次式（３）により算出し直す。
VokN＝VagcN／Vagc×Vok                          （３）
ただし、Vokは、ステップＳ１０６において行う有効性判定に用いる判定閾値であり、本例では「分割測光モード」の場合のVokを２４０LSBとし、「中央重点測光モード」の場合のVokを１６０LSBとし、「スポット測光モード」の場合のVokを＝５０LSBとする。上述した「分割測光モード」の場合であって、ステップＳ１０１の蓄積によって測光出力データの最大値Vomaxが１００LSBであった場合を例にすると、VokN＝７５／７２０×２４０＝２５LSBである。
【００４６】
ステップＳ１１３３において、蓄積時間、ゲイン算出部５３２は、上記次回蓄積時間int'Nを次式（４）により算出し直す。
int'N＝int×(VagcN/Vomax)                       （４）
上述した「分割測光モード」の場合であって、ステップＳ１０１の蓄積によって測光出力データの最大値Vomaxが１００LSBであった場合を例にすると、int'N＝４００×７５／１００＝３００ｍsecである。
【００４７】
ステップＳ１１３３において、蓄積時間、ゲイン算出部５３２は、ステップＳ１１３３で算出した次回蓄積時間int'Nが所定の制限値int_max（本例では、たとえば４００msecとする）より大か否かを判定する。蓄積時間、ゲイン算出部５３２は、int'N≧int_maxが成立する場合にステップＳ１１３４を肯定判定してステップＳ１１３５へ進む。蓄積時間、ゲイン算出部５３２は、int'N≧int_maxが成立しない場合にはステップＳ１１３４を否定判定し、図６による処理を終了する。
【００４８】
ステップＳ１１３５において、蓄積時間、ゲイン算出部５３２は、次回蓄積時間int'Nにint_maxを代入して図６による処理を終了する。これにより、本例の場合の次回蓄積時間int'Nは、最長で４００msecに制限される。
【００４９】
＜有効性判定処理＞
図７は、マイクロコンピュータ５３の有効性判定部５３３が行う有効性判定処理の流れを説明するフローチャートである。図４におけるステップＳ１０６として有効性判定処理を行う有効性判定部５３３は、ステップＳ１１４１において、ステップＳ１０１の蓄積で得た測光出力データの最大値Vomaxおよび最小値Vominをそれぞれ算出してステップＳ１１４２へ進む。なお、最大値Vomaxは、上記ステップＳ１０４において使用した値と同じである。
【００５０】
ステップＳ１１４２において、有効性判定部５３３は、最大値Vomaxが有効性判定レベルVovより小か否かを判定する。有効性判定部５３３は、Vomax＜Vovが成立する場合にステップＳ１１４２を肯定判定してステップＳ１１４３へ進む。ステップＳ１１４３へ進む場合は、測光センサー１３の出力データがオーバーフローしていない場合である。有効性判定部５３３は、Vomax＜Vovが成立しない場合には、ステップＳ１１４２を否定判定して図７による処理を終了する。
【００５１】
ステップＳ１１４３において、有効性判定部５３３は、最小値Vominが有効性判定レベルVunより小か否かを判定する。有効性判定部５３３は、Vomin＜Vunが成立する場合にステップＳ１１４３を肯定判定してステップＳ１１４５へ進む。有効性判定部５３３は、Vomin＜Vunが成立しない場合には、ステップＳ１１４３を否定判定してステップＳ１１４４へ進む。ステップＳ１１４３を否定判定する場合は、測光センサー１３の出力データがアンダーフローしていない場合である。
【００５２】
ステップＳ１１４５において、有効性判定部５３３は、最大値Vomaxが有効性判定閾値Vokより大か否かを判定する。Vokの値は、上述した通り「分割測光モード」、「中央重点測光モード」、「スポット測光モード」の場合に分けてそれぞれ値が定められている。有効性判定部５３３は、Vomax＞Vokが成立する場合にステップＳ１１４５を肯定判定してステップＳ１１４４へ進む。ステップＳ１１４５を肯定判定する場合は、測光センサー１３の出力データにアンダーフローデータが含まれるものの、有効性判定閾値Vokより大のデータが存在する場合である。有効性判定部５３３は、Vomax＞Vokが成立しない場合には、ステップＳ１１４５を否定判定して図７による処理を終了する。
【００５３】
なお、図４におけるステップＳ１１４として有効性判定処理を行う有効性判定部５３３は、ステップＳ１１４５において、最大値Vomaxが有効性判定レベルVokNより大か否かを判定する。有効性判定レベルVokNの値は、上式（３）によって算出された有効性判定閾値Vokより小さな値である。有効性判定部５３３は、Vomax＞VokNが成立する場合にステップＳ１１４５を肯定判定してステップＳ１１４４へ進む。ステップＳ１１４５を肯定判定する場合は、測光センサー１３の出力データにアンダーフローデータが含まれるものの、有効性判定レベルVokNより大のデータが存在する場合である。有効性判定部５３３は、Vomax＞VokNが成立しない場合には、ステップＳ１１４５を否定判定して図７による処理を終了する。
【００５４】
以上説明した実施形態によれば、次の作用効果が得られる。
（１）電子カメラの測光装置は、蓄積型の測光センサー１３に時間intの蓄積(Ｓ１０１)をさせた場合に測光センサー１３から得た測光出力データの最大値Vomaxに基づいて、次回蓄積時における測光センサー１３からの測光出力データをVagcに近づけるように次回用に次回蓄積時間int'を演算する蓄積時間、ゲイン算出部５３２と、最大値Vomaxに基づいて、次回蓄積時における測光センサー１３からの測光出力データをVagcより小さいVagcNに近づけるように次回用に次回蓄積時間int'Nを演算する蓄積時間、ゲイン算出部５３２と、次回蓄積時間int'が所定時間(100msec)より大か否かを判定するマイクロコンピュータ５３と、マイクロコンピュータ５３が否定判定した場合は次回蓄積時間int'を次回の蓄積時間とし、マイクロコンピュータ５３が肯定判定した場合は次回蓄積時間int'Nを次回の蓄積時間とするマイクロコンピュータ５３とを備えるようにした。これにより、蓄積型の受光素子である測光センサー１３の蓄積時間を短縮することができる。
【００５５】
とくに、暗い撮影環境で輝度が低い場合には、蓄積時間の短縮化が見込める。一般に、測光センサー１３の蓄積時間が長いと測光処理時間が長くなる。測光処理時間が長くなると、レリーズ釦５４が押下操作された場合にレリーズシーケンス処理を起動させるまでのタイムラグが長くなりやすい。蓄積時間を短縮することで、このようなタイムラグを抑えられる。すなわち、演算を含む測光自体の時間が短くなり、レリーズタイムラグが大きくなることが避けられる。また、測光サイクル全体も早くなり、連写の応答性能（AE）も向上する。（各モードにおいて、各目標レベルVagcに測光センサーの出力値をAGC方式で近づけるが、低輝度時は蓄積時間が延ばされることによって、蓄積時間が制限値までいってしまう場合がある。測光センサーの出力が線形性を保っているレベルであれば、無駄に蓄積時間を延ばす必要はない（低輝度はもともとDレンジが小さい為））。また、中断が入った場合、蓄積を途中で打ち切り有効性判定を行うが、適正範囲に収まっているデータにもかかわらず、有効性を判定することなくデータを捨ててしまうケースがある。改めて蓄積をやり直すとその分時間の無駄であり、これも、レリーズタイムラグが大きくなる要因となる。
【００５６】
（２）上記（１）の測光装置において、蓄積時間、ゲイン算出部５３２は、時間intと次回蓄積時間int'との比に基づいてVagcNを定めるようにしたので、Vagcより小さい目標値であるVagcNを適切に定めることができる。
【００５７】
（３）上記（１）または（２）の測光装置において、蓄積時間、ゲイン算出部５３２は、次回蓄積時間int'Nが所定の制限値int_maxを超える場合に次回蓄積時間int'Nをint_maxに制限するようにしたので、暗い撮影環境で輝度が低い場合において、次回蓄積時間int'Nに制限を加えない場合に比べて蓄積時間を短縮化できる。
【００５８】
（４）上記（１）〜（３）のいずれかの測光装置において、時間intの蓄積(Ｓ１０１)をさせた場合に測光センサー１３から得た測光出力データの最大値Vomaxが有効性判定閾値Vok（または有効性判定レベルVokN）より大か否かに基づいて有効か否かを判定する有効性判定部５３３と、有効性判定部５３３が否定判定した場合に蓄積(Ｓ１０１)をさせた場合に測光センサー１３から得た測光出力データに基づく測光演算することなく測光センサー１３に次回蓄積時間int'（または次回蓄積時間int'N）の蓄積をさせるマイクロコンピュータ５３（測光センサー制御部５３１）と、をさらに備えるようにしたので、適切な測光データを得られる可能性が高めることができる。
【００５９】
（５）上記（４）の測光装置において、有効性判定部５３３は、マイクロコンピュータ５３が肯定判定した場合の有効性判定レベルVokNをマイクロコンピュータ５３が否定判定した場合の有効性判定閾値Vokより小さくするようにしたので、蓄積時間を短くした場合の低レベルの測光出力データを無駄にするおそれを低減できるから、適切な測光データを得られる可能性が高まる。
【００６０】
（６）上記（４）または（５）の測光装置において、マイクロコンピュータ５３（測光中断処理部５３６）は、測光センサー１３の蓄積中であって次回蓄積時間int'（または次回蓄積時間int'N）に達する前に行われたレリーズ釦５４の全押し操作に応じて蓄積を途中終了させ、有効性判定部５３３は、途中終了後の測光出力データの最大値Vomaxが有効性判定閾値Vok（または有効性判定レベルVokN）より大か否かに基づいて有効か否かを判定するようにした。これにより、途中終了によって蓄積時間が短くなってしまった場合の低レベルの測光出力データを無駄にするおそれを低減できるから、適切な測光データを得られる可能性が高まる。
【００６１】
以上の説明はあくまで一例であり、たとえば、上述した測光装置を備えるカメラであれば電子カメラでもフィルムカメラでもよく、一眼レフタイプと異なるカメラに適用しても構わない。
【００６２】
以上の説明はあくまで一例であり、上記の実施形態の構成に何ら限定されるものではない。
【符号の説明】
【００６３】
２…撮影光学系
４…カメラ本体
５…メインミラー
８…ペンタプリズム
１１，１２…測光光学系
１３…測光センサー
５１…Ａ／Ｄ変換部
５２…信号処理部
５３…マイクロコンピュータ
５４…レリーズ釦
５５…測光モード設定部
５３１…測光センサー制御部
５３２…蓄積時間、ゲイン算出部
５３３…有効性判定部
５３４…目標レベル、有効性判定レベル算出部
５３５…Ｂｖ値算出、露出演算部
５３６…測光中断処理部
５３７…測光領域設定部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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