(57)【要約】【課題】撮影画面内の密な合焦位置に対応する画素配置を可能とし、かつ、多点合焦検出方式においても焦点検出処理のモニタ範囲を柔軟に選択できる焦点検出装置を実現すること。【解決手段】本発明におけるカメラシステムは、エリアセンサ部２７の複数の画素列のそれぞれに画素出力の検出範囲を設定して、最大値検出回路Ｃ１〜Ｃ１４にエリアセンサ部２７の画素列の画素出力のうち設定した検出範囲に対応する画素の出力を有効信号として選択させ、最大値検出回路Ｃ１〜Ｃ１４が有効信号として選択した画素の出力を検出して各画素列の画素の蓄積を制御する焦点検出機構を有する。【選択図】図５
2012027367.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数画素から構成される画素列を複数有するエリアセンサを有し、前記画素列ごとに画素の出力を検出して前記画素列に含まれる画素の蓄積制御を行い、検出した前記画素の出力に基づいて焦点検出を行う焦点検出装置において、
前記エリアセンサの複数の画素列のそれぞれに画素出力の検出範囲を設定する検出範囲設定手段と、
前記検出範囲設定手段が設定した検出範囲に対応する画素の出力を有効信号として選択する検出範囲制御手段と、
前記検出範囲制御手段が有効信号として選択した画素の出力を検出して前記画素列の画素の蓄積を制御する蓄積制御手段と、
を備えたことを特徴とする焦点検出装置。
【請求項２】
前記画素ごとに、前記検出範囲制御手段の制御のもとで前記画素と前記蓄積制御手段とを電気的に接続あるいは切断するスイッチを備えることを特徴とする請求項１に記載の焦点検出装置。
【請求項３】
当該焦点検出装置は、合焦目標位置の手動選択あるいは自動選択を設定でき、
前記検出範囲設定手段は、前記手動選択が設定されたときには直近の焦点検出で検出された前回デフォーカス量に応じて検出範囲を設定することを特徴とする請求項１または２に記載の焦点検出装置。
【請求項４】
前記検出範囲設定手段は、前記前回デフォーカス量の絶対値が所定値より小さい場合、前記画素列中の合焦目標位置を含む一部領域である所定の標準検出領域を前記検出範囲として設定し、前記前回デフォーカス量の絶対値が所定値より大きい場合、前記標準検出領域よりも広い範囲を前記検出範囲として設定することを特徴とする請求項３に記載の焦点検出装置。
【請求項５】
前記検出範囲設定手段は、前記前回デフォーカス量の絶対値が所定値より大きい場合、前記標準検出領域に前記前回デフォーカス量に相当する画素領域を加えた領域を前記検出範囲として設定することを特徴とする請求項４に記載の焦点検出装置。
【請求項６】
当該焦点検出装置は、合焦目標位置の手動選択あるいは自動選択を設定でき、
前記検出範囲設定手段は、前記自動選択が設定されたとき、前記エリアセンサの全画素の出力結果をもとに合焦対象である主要被写体が占める範囲を検出し、検出した主要被写体が占める範囲を前記検出範囲として設定することを特徴とする請求項１または２に記載の焦点検出装置。
【請求項７】
前記蓄積制御手段は、前記検出範囲制御手段が選択した画素の蓄積中の出力のうち最大値が所定値を超えた場合に前記画素列の画素の蓄積を終了させることを特徴とする請求項１〜６のいずれか一つに記載の焦点検出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば撮像装置に設けられる焦点検出装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
カメラの焦点検出方式に関して、撮影レンズを通過した光束を一対の光電変換素子上に導き、その出力に対して積分制御を含む焦点検出演算を行うことで撮影レンズのデフォーカス量を検出するＴＴＬ位相差自動焦点検出（ＡＦ）方式は、一般に、一眼レフレックスカメラにおいて多く採用されている。また、最近の一眼レフレックスカメラは、撮影領域内の複数の焦点検出領域で焦点検出或いは測距を行うことも一般的となっている。
【０００３】
このような複数の測距点を実現するために、複数の画素からなる光電変換素子列を密に配置する。そして、これらの複数の光電変換素子列をそれぞれ測距に最適な蓄積時間で制御するために、蓄積制御は、ラインごと（光電変換素子列毎）に行う必要がある。
【０００４】
ここで、効率的かつ正確に積分制御を行うために、モニタ用の画素として、１ライン全てに対応する画素とは別に、１ラインの一部に対応する複数の画素を配置し、いずれかを選択して蓄積制御を行う焦点検出装置が提案されている（たとえば、特許文献１参照）。
【０００５】
また、一眼レフレックスカメラに搭載される場合には１ライン全ての画素を用い、レンズシャッタカメラに搭載される場合には１ラインの一部の画素のみを用いて蓄積制御を行う焦点検出装置が提案されている（たとえば、特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平９−１２１３１１号公報
【特許文献２】特開平１０−３９２０３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１記載のものは、１ライン分の画素以外にも１ラインの一部に対応する複数の画素も配置するために、１ライン以上の幅が必要となり、画素配置が効率的ではない。また、特許文献２記載のものは、レジスタを用いて、搭載されるカメラのＡＦ方式に合わせてモニタ画素を替えるものであり、多点のＡＦセンサにそのまま適用することができない。
【０００８】
そして、特許文献１，２のいずれに記載されたものにおいても、撮影画面内に密に配置される合焦位置に対応させた画素配置を実現することができない。また、蓄積制御のためのモニタ画素として、１ライン全ての画素、あるいは、予め決められた一部の画素のみのいずれかを設定できるにすぎない。
【０００９】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、撮影画面内の密な合焦位置に対応する画素配置を可能とし、かつ、多点合焦検出方式においても焦点検出処理のモニタ範囲を柔軟に選択できる焦点検出装置を実現することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかる焦点検出装置は、複数画素から構成される画素列を複数有するエリアセンサを有し、前記画素列ごとに画素の出力を検出して前記画素列に含まれる画素の蓄積制御を行い、検出した前記画素の出力に基づいて焦点検出を行う焦点検出装置において、前記エリアセンサの複数の画素列のそれぞれに画素出力の検出範囲を設定する検出範囲設定手段と、前記検出範囲設定手段が設定した検出範囲に対応する画素の出力を有効信号として選択する検出範囲制御手段と、前記検出範囲制御手段が有効信号として選択した画素の出力を検出して前記画素列の画素の蓄積を制御する蓄積制御手段と、を有することを特徴とする。
【００１１】
また、この発明にかかる焦点検出装置は、前記画素ごとに、前記検出範囲制御手段の制御のもとで前記画素と前記蓄積制御手段とを電気的に接続あるいは切断するスイッチを備えることを特徴とする。
【００１２】
また、この発明にかかる焦点検出装置は、合焦目標位置の手動選択あるいは自動選択を設定でき、前記検出範囲設定手段は、前記手動選択が設定されたときには直近の焦点検出で検出された前回デフォーカス量に応じて検出範囲を設定することを特徴とする。
【００１３】
また、この発明にかかる焦点検出装置は、前記検出範囲設定手段は、前記前回デフォーカス量の絶対値が所定値より小さい場合、前記画素列中の合焦目標位置を含む一部領域である所定の標準検出領域を前記検出範囲として設定し、前記前回デフォーカス量の絶対値が所定値より大きい場合、前記標準検出領域よりも広い範囲を前記検出範囲として設定することを特徴とする。
【００１４】
また、この発明にかかる焦点検出装置は、前記検出範囲設定手段は、前記前回デフォーカス量の絶対値が所定値より大きい場合、前記標準検出領域に前記前回デフォーカス量に相当する画素領域を加えた領域を前記検出範囲として設定することを特徴とする。
【００１５】
また、この発明にかかる焦点検出装置は、合焦目標位置の手動選択あるいは自動選択を設定でき、前記検出範囲設定手段は、前記自動選択が設定されたとき、前記エリアセンサの全画素の出力結果をもとに合焦対象である主要被写体が占める範囲を検出し、検出した主要被写体が占める範囲を前記検出範囲として設定することを特徴とする。
【００１６】
また、この発明にかかる焦点検出装置は、前記蓄積制御手段は、前記検出範囲制御手段が選択した画素の蓄積中の出力のうち最大値が所定値を超えた場合に前記画素列の画素の蓄積を終了させることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、エリアセンサの複数の画素列のそれぞれに画素出力の検出範囲を設定する検出範囲設定手段と、画素列の画素出力のうち検出範囲設定手段が設定した検出範囲に対応する画素の出力を有効信号として選択する検出範囲制御手段と、モニタ範囲制御手段が有効信号として選択した画素の出力を検出して画素列の画素の蓄積を制御する蓄積制御手段とを備えることによって、撮影画面内の密な合焦位置に対応する画素配置を可能とし、かつ、多点合焦検出方式においても焦点検出処理のモニタ範囲を柔軟に選択できる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】図１は、本発明の実施の形態のマルチＡＦ方式の焦点検出装置が適用されるカメラシステムのＡＦ周りの構成例を示す概略機構を含むブロック図である。
【図２】図２は、ＡＦセンサを含めてＡＦ光学系の原理的な構成例を示す概略構成図である。
【図３】図３は、ＡＦコントローラの構成例を示すブロック図である。
【図４】図４は、マルチ構成のＡＦセンサの配置例として、撮影画面上の測距点配置を示す概略正面図である。
【図５】図５は、測距点の配置に対応するＡＦセンサのセンサチップ上での配置例を示す概略正面図である。
【図６】図６は、最大値検出回路の構成例を示す回路図である。
【図７】図７は、実施の形態において設定される蓄積制御用のモニタ範囲を説明する図である。
【図８】図８は、制御部の制御により実行される焦点検出・焦点補正動作例を示すフローチャートである。
【図９】図９は、制御部の制御により実行される焦点検出・焦点補正動作例を示す概略フローチャートである。
【図１０】図１０は、図９に示す第１の焦点検出処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１１】図１１は、図９に示す第２の焦点検出処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１２】図１２は、図１１に示す主要被写体認識処理において得られるデフォーカス分布情報の一例を示す図である。
【図１３】図１３は、図９に示す第３の焦点検出処理の処理手順を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下に添付図面を参照して、本発明にかかる焦点検出装置の好適な実施の形態について説明する。本発明は、本実施の形態に限らず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲であれば、種々の変形が可能である。
【００２０】
（実施の形態）
図１は、本実施の形態のマルチＡＦ方式の焦点検出装置が適用されるカメラシステムの焦点検出（ＡＦ）機構周りの構成例を示す概略機構を含むブロック図である。ここでは、ＴＴＬ位相差ＡＦ方式を一眼レフレックスカメラに適用した場合の例を示している。
【００２１】
まず、カメラ本体（図示せず）に着脱交換自在にマウントされる交換レンズ１０は、撮影レンズ１１を内蔵している。この撮影レンズ１１をモータドライバ１２により光軸方向に駆動することにより合焦状態が得られる。また、交換レンズ１０は、レンズ制御部１３を備える。このレンズ制御部１３は、カメラ本体側からデフォーカス量を受信して撮影レンズ１１の駆動量を演算し、その駆動量だけモータドライバ１２を介して撮影レンズ１１を駆動制御する。
【００２２】
一方、カメラ本体内においては、撮影レンズ１１の光軸上に位置させてメインミラー１４が設けられている。このメインミラー１４は、可動ミラー構成とされており、ＡＦ時は図示のようにダウンした位置に位置しており、撮影レンズ１１を透過した光束をファインダ光学系１６とＡＦ光学系１９とに分割する。メインミラー１４が、被写体の撮影時には上方へアップ退避することにより、撮影レンズ１１を透過した全光束が撮像素子２４へ導かれる。
【００２３】
ここで、ファインダ光学系１６は、周知のように、ペンタプリズム等の光学素子からなる。ファインダ光学系１６の前段には、ファインダ用スクリーン１５が配置される一方、ファインダ光学系１６の後段には撮影者が覗くファインダ接眼レンズ１７が配置されている。
【００２４】
また、撮影レンズ１１の光軸方向に沿ってメインミラー１４の後段側には、このメインミラー１４がダウン位置に位置しているときにメインミラー１４を透過した光束をＡＦ光学系１９側に全反射するサブミラー１８が設けられている。このサブミラー１８は、メインミラー１４がアップ退避しているときには、撮像素子２４への光束を遮らない位置にメインミラー１４と一緒にアップ退避する。
【００２５】
また、カメラ本体には、メインミラー１４により分割され、ＡＦ光学系１９を経た光束を、内部の一対の光電変換素子列に入射して焦点検出のための信号を発生する光電変換素子であるＡＦセンサ２０が設けられている。このＡＦセンサ２０として、一対の光電変換素子列を複数の焦点検出領域ごとに持つマルチＡＦセンサが用いられている。
【００２６】
さらに、カメラ本体内には、ＡＦ関係の制御を含む各部の制御処理や画像処理を司るシステムコントローラとして機能するマイクロコンピュータである制御部２１が設けられている。この制御部２１には、レンズ制御部１３からは演算に必要なレンズデータが演算に先立って送信されている。また、制御部２１は、レンズ制御部１３に対してはＡＦ演算結果であるデフォーカス量を送信する。
【００２７】
また、ＡＦセンサ２０と制御部２１との間には、この制御部２１により制御され、所定の指示情報をＡＦセンサ２０に出力することによってＡＦセンサ２０の制御を司るＡＳＩＣ構成を有するＡＦコントローラ２２が設けられている。
【００２８】
なお、図１において、撮像素子２４としては２次元ＣＣＤが用いられているが、銀塩カメラの場合であればフィルムが相当する。この撮像素子２４の前面にはフォーカルプレーンシャッタ２３が設けられている。
【００２９】
次に、ＡＦ光学系１９とＡＦセンサ２０の構成例について説明する。図２は、ＡＦセンサ２０を含めてＡＦ光学系１９の原理的な構成例を示す概略構成図である。ＡＦ光学系１９は、公知のＴＴＬ位相差ＡＦ光学系の構成であるので、簡単に説明する。撮影レンズ１１が合焦状態にあるときには、撮影レンズ１１を透過した光束は、ＡＦ光学系１９前面の仮想面である撮像等価面３１で合焦し、コンデンサレンズ３２で集光・分割されて一対のセパレータ絞り３３で光束が絞られ、一対のセパレータレンズ３４でＡＦセンサ２０内の一対の光電変換素子列であるセンサアレイ３５Ａ，３５Ｂ上に結像される。ここで、一対のセンサアレイ３５Ａ，３５Ｂの結像間隔を測定することによって撮影レンズ１１のデフォーカス量を測定する公知のＴＴＬ位相差ＡＦ方式が構築される。
【００３０】
図３は、ＡＦコントローラ２２の構成例を示すブロック図である。ＡＦコントローラ２２は、制御部２１による制御のもとでＡＦセンサ２０の動作制御を行うシーケンサ５１を備える他、Ａ／Ｄ変換器５２、デジタル値保持用のメモリ５３、ＡＦ演算部５４、タイマ５５、蓄積終了時間を保持するレジスタ５６、およびフラッシュＲＯＭ５７等を備える。Ａ／Ｄ変換器５２は、ＡＦセンサ２０側から出力されるアナログ画素出力をデジタルデータに変換するためのものである。メモリ５３は、Ａ／Ｄ変換器５２によりＡ／Ｄ変換されたデータを記憶し、焦点情報の演算等に供する。ＡＦ演算部５４は、Ａ／Ｄ変換器５２によって変換されたＡＦセンサ２０からの信号、レジスタ５６に保持された蓄積終了時間等をもとにデフォーカス量を演算する。
【００３１】
図４は、マルチ構成のＡＦセンサ２０の配置例として、撮影画面２５上の測距点配置を示す概略正面図である。本実施の形態のＡＦセンサ２０は、例えば７×５＝３５点の多数の測距点（焦点検出領域）Ｐを持つマルチＡＦセンサへの適用例を示す。これらの測距点Ｐは、それぞれ水平画素列と垂直画素列との組合せとして設定されている。図４では図面を見やすくするために、１４ライン分の水平画素列を撮影画面２５上に逆投影して重ねて表示している。実際は、１０ライン分の垂直画素列も水平画素列と同様に、図４には図示していないものの、撮影画面２５上に逆投影して重ねて示すことが可能である。
【００３２】
図５は、図３に示す一つの測距点Ｐの配置に対応するＡＦセンサ２０のセンサチップ２６上での配置例を示す概略正面図である。センサチップ２６は、複数画素から構成される画素列を複数有し焦点検出光束を受光するエリアセンサ部２７を有する。エリアセンサ部２７は、複数の画素列を密に配列させることにより構成されている。
【００３３】
具体的には、水平画素列は１４ライン、垂直画素列は１０ラインで構成されている。そして、１４ライン分の水平画素列は、左右に位置する水平画素列群２８ａ，２８ｂ（Ｆ値５．６に対応）あるいは水平画素列群１２８ａ，１２８ｂ（Ｆ値２．８に対応）からなり、１０ライン分の垂直画素列は、上下に位置する垂直画素列群２９ａ，２９ｂとからなる。すなわち、エリアセンサ部２７は、一方向に分割した焦点検出光束に対応する複数の垂直画素列群２９ａ，２９ｂと、一方向と垂直な方向に分割した焦点検出光束に対応する複数の水平画素列群２８ａ，２８ｂとから構成されている。
【００３４】
本実施の形態では、画素出力の最大値を検出する最大値検出回路Ｃ１〜Ｃ１４を設けている。この最大値検出回路Ｃ１〜Ｃ１４は、各ライン（画素列）にそれぞれ対応して設けられており、１ラインごとに蓄積制御を行う。そして、蓄積制御処理として、１ライン内の画素出力の最大値が一定値Ｖｔｈ以上になったら、蓄積を終了し、蓄積終了信号ＴＧを出力する。
【００３５】
まず、図６を参照して、最大値検出回路の構成および動作について説明する。図６は、最大値検出回路の構成例を示す回路図である。１ライン当りの画素数をＮとし、１ライン中の各画素ｎの出力をＶｎとする。ここで、１≦ｎ≦Ｎである。また、ライン数をＬとし、どのラインかを示すシンボルをｍとする。ここで、１≦ｍ≦Ｌである。なお、図６においては、ライン１の画素列およびラインＬの画素列を、Ｐ１、ＰＬとして示す。
【００３６】
図６において、ライン１〜Ｌにそれぞれ設けられる最大値検出回路Ｃ１〜ＣＬは、各画素ｎの出力が入力される差動アンプ６１−ｎと、差動アンプ６１−ｎの出力によりオン・オフ制御されるＭＯＳスイッチ６２−ｎと、ＭＯＳスイッチ６２−ｎのオン時に、対応する画素ｎの出力を出力させる電圧ホロワ６３−ｎとの組を画素毎に有し、ＯＲ接続された共通な出力ラインに差動アンプ６４を有する。
【００３７】
さらに、本実施の形態では、図６に示すように、各最大値検出回路Ｃ１〜ＣＬ内に、モニタ対象となる画素を選択する制御部（ライン１モニタ範囲制御部６５−１〜ラインＬモニタ範囲制御部６５−Ｌ）と、ＭＯＳスイッチ６２−ｎと差動アンプ６４との間に画素ごとに選択スイッチ６６−ｎとが設けられる。このスイッチ６６−ｎは、ライン１モニタ範囲制御部６５−１〜ラインＬモニタ範囲制御部６５−Ｌの制御のもとで各画素と蓄積制御部４０とを電気的に接続あるいは切断する機能を有する。
【００３８】
ライン１モニタ範囲制御部６５−１〜ラインＬモニタ範囲制御部６５−Ｌは、蓄積制御用のモニタ範囲として指示された範囲に対応する画素の選択スイッチ６６−ｎをオンとして、制御部２１が設定した検出範囲に対応した画素と、蓄積制御部４０との間を電気的に接続させる。そして、ライン１モニタ範囲制御部６５−１〜ラインＬモニタ範囲制御部６５−Ｌは、それ以外の選択スイッチ６６−ｎをオフとする。この結果、制御部２１から指示されたモニタ範囲に含まれる画素のみがＶｎ（ｍ）を出力する。ライン１モニタ範囲制御部６５−１〜ラインＬモニタ範囲制御部６５−Ｌは、ラインの画素出力のうち制御部２１が設定した検出範囲に対応する画素の出力を有効信号として選択する機能を有する。したがって、ライン１モニタ範囲制御部６５−１〜ラインＬモニタ範囲制御部６５−Ｌは、選択スイッチ６６−ｎのオン・オフ制御を行うことによって、各ライン内での蓄積制御用のモニタ範囲をラインごとに柔軟に切り替えている。
【００３９】
これによって、本実施の形態では、制御部２１は、エリアセンサの複数のラインのそれぞれに画素出力のモニタ範囲を設定することができ、１ライン内で自由に画素を抽出して測距演算が可能になる。すなわち、本実施の形態によれば、焦点検出処理時に蓄積制御用のモニタ範囲を自由に設定できる。
【００４０】
ライン１を例にした場合、このような構成において、スイッチ６６−ｎがオンとされた画素ｎから最大値検出回路Ｃ１に入力されるＶｎ（１）が差動アンプ６１−ｎにおいて現時点の最大値Ｖｐ（１）と比較され、Ｖｎ（１）が最大値Ｖｐ（１）を超えたならば、差動アンプ６１−ｎの出力が反転し、ＭＯＳスイッチ６２−ｎがオンとなる。そして、対応する画素出力Ｖｎ（１）が電圧ホロワ６３−ｎを介して差動アンプ６４に対して出力され、画素出力Ｖｎ（１）が新たな最大値Ｖp（１）となる。新たな最大値Ｖｐ（１）は、ダーク画素出力Ｖｄと差動アンプ６４で差動増幅され、該ライン１の最大値ＶＰ（１）が得られる。
【００４１】
制御回路４１から出力されるφＳ（１）信号が入力されるタイミングで、ＳＷ（１）がオンする。すると、コンパレータ４２に、この最大値検出回路Ｃｌの最大値ＶＰ（１）が入力され、コンパレータ４２にて、最大値ＶＰ（１）と蓄積制御レベルＶｔｈとが比較される。そして、制御回路４１は、コンパレータ４２において差動出力が設定レベルＶｔｈを超えたら蓄積終了と判断し、該当ライン１に対して蓄積終了信号ＴＧ（１）を出力する。この蓄積終了信号ＴＧ（１）は、蓄積終了した該当ライン１中の全画素に対して出力されるものである。制御回路４１とコンパレータ４２とは、φＳ（２）~φＳ（Ｌ）を各タイミング、たとえば時分割で出力することによって、最大値検出回路Ｃ２〜Ｃ４においても同様の処理を行う。制御回路４１とコンパレータ４２とによって、各ラインの画素の出力を検出して、ラインの画素の蓄積を制御する蓄積制御部４０が構成される。
【００４２】
この方式によれば、１ライン中の最大値ＶＰ（ｍ）によって蓄積制御する方式の中では、回路構成が比較的簡易でありながら、モニタ対象の画素出力そのものによって蓄積終了を判断できるので、精度よく蓄積制御が行える。
【００４３】
本実施の形態では、たとえば、図５に示すように、１４ラインからなる水平画素列を上下方向に２分割し、上側半分の７ライン（１〜７）に対しては水平画素列群２８ａ，１２８ａに対応するＨＩ最大値検出回路Ｃ１〜Ｃ７、ＨＯ最大値検出回路Ｃ１〜Ｃ７の出力に基づいて蓄積制御を行い、下側半分の７ライン（８〜１４）に対しては水平画素列群２８ｂ，１２８ｂに対応するＨＩ最大値検出回路Ｃ８〜Ｃ１４、ＨＯ最大値検出回路Ｃ８〜Ｃ１４の出力にて蓄積制御を行う。ＨＩ最大値検出回路Ｃ１〜Ｃ７、ＨＯ最大値検出回路Ｃ１〜Ｃ７、ＨＩ最大値検出回路Ｃ８〜Ｃ１４、ＨＯ最大値検出回路Ｃ８〜Ｃ１４は、それぞれモニタ部３０ａ，３０ｂ，１３０ａ，１３０ｂを構成し、モニタ部３０ａ，３０ｂ，１３０ａ，１３０ｂごとに蓄積制御部４０のような蓄積制御部が設けられる。
【００４４】
垂直画素列１０ラインについても同様に、１０ラインを左右方向に２分割し、右側半分の５ライン（６〜１０）に対しては垂直画素列群２９ａ中の対応するＶ最大値検出回路Ｃ６〜Ｃ１０の出力に基づいて蓄積制御を行い、左側半分の５ライン（１〜５）に対しては垂直画素列群２９ｂ中の対応するＶ最大値検出回路Ｃ１〜Ｃ５の出力にて蓄積制御を行う。Ｖ最大値検出回路Ｃ６〜Ｃ１０、Ｖ最大値検出回路Ｃ１〜Ｃ５は、それぞれモニタ部３０ｃ，３０ｄを構成し、モニタ部３０ｃ，３０ｄごとに蓄積制御部４０のような蓄積制御部が設けられる。
【００４５】
ノイズの影響を受けにくくするためにモニタ部３０ａ〜３０ｄ，１３０ａ，１３０ｂに対応する各画素列とは近ければ近いほどよい。また、エリアセンサ部２７に関して、水平画素列と垂直画素列が左右上下に十字状に広がっているため、センサチップ２６の中心に対して四隅方向には画素列が存在しない。そこで、本実施の形態では、図５に示したように、各モニタ部３０ａ〜３０ｄを、垂直画素列と水平画素列との両方に隣接する四隅領域に１つずつ配置させている。このような配置により、センサチップ２６上でのモニタ部３０ａ〜３０ｄの配置を容易に効率のよいものとすることができる上に、ノイズ性能の向上も可能となる。なお、モニタ部１３０ａ，１３０ｂは、水平画素列群１２８ａ，１２８ｂに隣接して配置される。
【００４６】
次に、図７を参照して、ライン１モニタ範囲制御部６５−１〜ラインＬモニタ範囲制御部６５−Ｌによって切り替えられる蓄積制御用のモニタ範囲についてライン１画素列Ｐ１を例にして説明する。
【００４７】
図７（ａ）に示すように、ＡＦターゲット位置（合焦目標位置）Ｔ１を含む一部領域である所定の範囲が、標準のＡＦターゲットエリアＴＡ１として予め設定されている。図７（ａ）に示すように、焦点がＡＦターゲット位置Ｔ１付近である場合には、ライン１モニタ範囲制御部６５−１は、ＡＦターゲットエリアＴＡ１内に対してのみ蓄積制御を行えば十分である。このため、このような場合には、制御部２１によってＡＦターゲットエリアＴＡ１と同範囲が蓄積制御用モニタ画素範囲Ｓａに設定され、ライン１モニタ範囲制御部６５−１は、この蓄積制御用モニタ画素範囲Ｓａに含まれる画素の選択スイッチ６６−ｎをオンする。これによって、蓄積制御用モニタ画素範囲Ｓａ、すなわちＡＦターゲットエリアＴＡ１のみをモニタ範囲として、蓄積制御を行うことができる。
【００４８】
一方、図７（ｂ）に示すように、焦点がＡＦターゲット位置Ｔ１から大きくずれた状態では、焦点検出のための演算範囲を広くする必要があるため、蓄積制御用のモニタ範囲を広く設定する必要がある。このため、制御部２１は、ＡＦターゲットエリアＴＡ１に所定のデフォーカス量分を加算した範囲を、蓄積制御用モニタ画素範囲Ｓｂと設定し、ライン１モニタ範囲制御部６５−１は、この蓄積制御用モニタ画素範囲Ｓｂに対応する画素の選択スイッチ６６−ｎをオンする。これによって、ＡＦターゲットエリアＴＡ１よりも広いモニタ範囲が設定され、焦点がＡＦターゲット位置Ｔ１からずれた場合であっても、適切に蓄積制御できるようにしている。所定のデフォーカス量は、直近の焦点検出で検出された前回のデフォーカス量の絶対値に基づいて決める。また、たとえば、デフォーカス量の絶対値が、ＡＦターゲットエリアの２分の１の幅の画素領域に対応する値を超える場合には、ＡＦターゲットエリアＴＡ１に所定のデフォーカス量に相当する画素領域を加えた領域を蓄積制御用モニタ画素範囲Ｓｂとして設定する。
【００４９】
このように、本実施の形態では、ライン１モニタ範囲制御部６５−１〜ラインＬモニタ範囲制御部６５−Ｌによるスイッチ６６−ｎのオン・オフ制御を行うことによって、合焦状態に応じた蓄積制御用のモニタ範囲を選択して、合焦状態等に応じた最適な蓄積制御を行うことが可能となる。
【００５０】
また、本実施の形態では、全画素列中の最大値を示す画素出力に基づいて蓄積終了を行うために外部に制御回路４１を設けることで、どれかのラインにて蓄積終了を検出したら、全てのラインに対して蓄積終了信号（ＴＧ（１）〜ＴＧ（Ｌ））を出力する機能を制御回路４１に持たせることができる。これによって、顔検出時等で主要被写体を選択するときは、全画素の蓄積終了タイミングを同一とすることで、ＡＦセンサ２０の検出結果をもとに主要被写体選択を行うための顔認識情報などを取得することを可能にする。
【００５１】
本実施の形態におけるカメラシステムは、最初のレリーズ（半押し操作）、すなわち１ｓｔレリーズがあった後に、焦点検出処理が行われ、その後、次の押し操作、すなわち２ｎｄレリーズがあってから撮像処理が行われる。本実施の形態におけるカメラシステムは、この各処理を繰り返し行うことで複数の画像を順次撮像する。まず、焦点検出機構の焦点検出、焦点補正動作について説明する。図８は、制御部２１の制御により実行される焦点検出・焦点補正動作例を示すフローチャートである。
【００５２】
制御部２１は、１ｓｔレリーズがあるか否かを判断する（ステップＳ２０１）。制御部２１は、１ｓｔレリーズがあると判断するまでステップＳ２０１の判断処理を繰り返し、１ｓｔレリーズがあると判断した場合には（ステップＳ２０１；Ｙｅｓ）、ＡＦコントローラ２２を介して、ＡＦセンサ２０に各ラインに対する蓄積動作を開始させる（ステップＳ２０２）。そして、制御部２１は、蓄積終了アイランドが発生したら、対象となる該アイランドの光電変換素子列の蓄積時間（今回）をタイマ５５により検出する（ステップＳ２０３）。ここで、アイランドとは、図４に示した測距点Ｐの組を有する複数のラインである。制御部２１は、この処理を全てのアイランドについて蓄積終了となるまで繰返す（ステップＳ２０４）。
【００５３】
次いで、制御部２１の制御のもと、ＡＦコントローラ２２は、画素出力の転送（ＣＣＤ転送）を開始し（ステップＳ２０５）、所定の照度補正を行った後（ステップＳ２０６）、ＴＴＬ位相差方式に従い相関演算を行い（ステップＳ２０７）、焦点情報としてデフォーカス量を算出する（ステップＳ２０８）。ＡＦコントローラ２２は、算出されたデフォーカス量に応じて採用する測距点Ｐを選択する。（ステップＳ２０９）、その後、制御部２１が、その測距点Ｐのデフォーカス量をレンズ制御部１３に対して出力し、レンズ制御部１３がモータドライバ１２を制御して撮影レンズ１１を合焦状態にレンズ駆動する（ステップＳ２１０）。これにより、一眼レフレックスカメラでは撮像可能となり、撮像動作へ移行する。
【００５４】
さらに、本実施の形態では、蓄積制御用のモニタ範囲を自由に設定できるため、以下のように、手動でＡＦターゲット位置を選択するときと、自動でＡＦターゲット位置を選んだときとで、それぞれ最適なモニタ範囲を設定してセンサ制御を行うことも可能である。
【００５５】
このような場合には、図９のフローチャートに示すように、制御部２１は、ＡＦターゲット位置の選択内容を判断する（ステップＳ１０００）。制御部２１は、ＡＦターゲット位置を手動選択すると判断した場合には（ステップＳ１０００：手動選択）、第１の焦点検出処理を行う（ステップＳ１００１）。また、制御部２１は、ＡＦターゲット位置を顔検出なしで自動選択すると判断した場合には（ステップＳ１０００：顔検出なし自動選択）、第２の焦点検出処理を行う（ステップＳ１００２）。また、制御部２１は、ＡＦターゲット位置を顔検出つきで自動選択すると判断した場合には（ステップＳ１０００：顔検出つき自動選択）、第３の焦点検出処理を行う（ステップＳ１００３）。その後、制御部２１は、撮像動作に移行し、各構成部材を制御して撮像処理を行う（ステップＳ１００４）。
【００５６】
次に、図１０のフローチャートを参照して、ＡＦターゲット位置を手動選択するときの第１の焦点検出処理について説明する。図１０は、図９に示す第１の焦点検出処理の処理手順を示すフローチャートである。まず、カメラシステムの使用者の操作によって、ＡＦターゲットエリアが設定される（ステップＳ１１００）。ＡＦターゲット位置を手動選択するときには、焦点が大きくずれた状態では、焦点検出のための演算に使用する画素範囲が広いので蓄積制御用のモニタ範囲を広くとっておく必要がある。一方、ほぼ合焦している状態では、ＡＦターゲット位置付近のみの画素で蓄積制御を行っても適切に処理を行える。
【００５７】
このため、制御部２１は、直近の焦点検出の測距結果を取得し、この直近の焦点検出で検出された前回のデフォーカス量が所定値よりも小さいか否かを判断する（ステップＳ１１０１）。たとえば、制御部２１は、デフォーカス量の絶対値が、ＡＦターゲットエリアの２分の１の幅の画素領域に対応する値よりも小さいか否かを判断する。
【００５８】
制御部２１が前回のデフォーカス量が所定値よりも小さいと判断した場合には（ステップＳ１１０１：Ｙｅｓ）、ＡＦターゲット位置付近のみの画素で蓄積制御を行っても適切に処理を行えるため、ＡＦターゲットエリアを蓄積制御用のモニタ範囲に設定する（ステップＳ１１０２）。このとき、ライン１モニタ範囲制御部６５−１〜ラインＬモニタ範囲制御部６５−Ｌは、ＡＦターゲットエリアに対応する画素の選択スイッチ６６−ｎをオンする。これによって、ＡＦコントローラ２２は、合焦検出のための演算処理において、ＡＦターゲットエリアにおける画素出力を得ることができる。そして、ＡＦセンサ２０およびＡＦコントローラ２２は、モニタ範囲として設定されたＡＦターゲットエリアにて蓄積制御処理を行い（ステップＳ１１０３）、デフォーカス量を演算する。この蓄積制御処理として、図８のステップＳ２０２〜２０９に示す処理動作を行う。
【００５９】
これに対し、制御部２１は、前回のデフォーカス量がＡＦターゲットエリアを外れてしまうほど大きいと判断した場合には（ステップＳ１１０１：Ｎｏ）、ＡＦターゲットエリアよりも広い領域をモニタ範囲として設定する（ステップＳ１１０４）。このとき、制御部２１は、ＡＦターゲットエリアに前回のデフォーカス量分に想到する画素領域を加えた領域をモニタ範囲に設定する。そして、ライン１モニタ範囲制御部６５−１〜ラインＬモニタ範囲制御部６５−Ｌは、この蓄積制御用モニタ画素範囲Ｓｂに対応する画素の選択スイッチ６６−ｎをオンする。そして、ＡＦセンサ２０およびＡＦコントローラ２２は、モニタ範囲として設定されたＡＦターゲットエリアよりも広い領域にて蓄積制御処理を行い（ステップＳ１１０５）、デフォーカス量を演算する。この蓄積制御処理として、図８のステップＳ２０２〜２０９に示す処理動作を行う。これによって、ＡＦコントローラ２２は、合焦検出のための演算処理において、ＡＦターゲットエリアよりも広い範囲で画素出力を得ることができる。
【００６０】
そして、制御部２１は、１ｓｔレリーズがあるか否かを判断する（ステップＳ１１０６）。制御部２１は、１ｓｔレリーズがないと判断した場合には（ステップＳ１１０６：Ｎｏ）、ステップＳ１１００に戻る。一方、制御部２１は、１ｓｔレリーズがあると判断した場合には（ステップＳ１１０６：Ｙｅｓ）、１ｓｔレリーズが押される直前のデフォーカス量演出結果からレンズ駆動量を算出して、撮影レンズ１１を駆動させるレンズ駆動を行う（ステップＳ１１０７）。これによって、ほぼ合焦に近い位置にレンズが駆動するため、ＡＦターゲット位置付近のみの画素で蓄積制御を行っても適切に処理を行えることから、制御部２１は、ＡＦターゲットエリアを蓄積制御用のモニタ範囲に設定する（ステップＳ１１０８）。
【００６１】
レンズ駆動処理後、ＡＦセンサ２０およびＡＦコントローラ２２は、モニタ範囲として設定されたＡＦターゲットエリアにて蓄積制御処理を行い（ステップＳ１００９）、デフォーカス量を演算する。この蓄積制御処理として、図８のステップＳ２０２〜２０９に示す処理動作を行う。この結果をもとに、制御部２１は、合焦範囲内であるか否かを判断する（ステップＳ１１１０）。
【００６２】
制御部２１が合焦範囲内でないと判断した場合には（ステップＳ１１１０：Ｎｏ）、ステップＳ１１０６に戻る。また、制御部２１が合焦範囲内であると判断した場合には（ステップＳ１１１０：Ｙｅｓ）、２ｎｄレリーズがあるまで、２ｎｄレリーズの有無を判断する（ステップＳ１１１１）。制御部２１が２ｎｄレリーズはあったと判断した場合には（ステップＳ１１１１：Ｙｅｓ）、第１の焦点検出処理を終了する。
【００６３】
このように、制御部２１は、焦点検出の手動選択が設定されたときには、前回のデフォーカス量に応じて蓄積制御用モニタ画素範囲を設定して、適切かつ正確に焦点検出処理が行えるようにしている。
【００６４】
次に、図１１のフローチャートを参照して、顔検出なしでＡＦターゲットの自動選択を行うときの第２の焦点検出処理について説明する。図１１は、図９に示す第２の焦点検出処理の処理手順を示すフローチャートである。ＡＦターゲット位置を顔検出なしで自動選択するときは、焦点検出可能な範囲内にてデフォーカス分布情報を取得する必要がある。
【００６５】
このため、図１１に示すように、制御部２１は、ＡＦセンサ２０の全画素、すなわち全エリアを蓄積制御用のモニタ範囲として設定する（ステップＳ１２００）。このとき、ライン１モニタ範囲制御部６５−１〜ラインＬモニタ範囲制御部６５−Ｌは、各最大値検出回路Ｃ１〜Ｃ１４のスイッチ６６−１〜６６−Ｎを全てオンする。ＡＦセンサ２０およびＡＦコントローラ２２は、主要被写体認識ために全エリアにての蓄積制御処理を行い（ステップＳ１２０１）、デフォーカス量を演算する。この蓄積制御処理として、図８のステップＳ２０２〜２０９に示す処理動作を行う。この蓄積制御処理においては、ラインごとに蓄積制御を行う。このとき、制御回路４１は、１ラインの有効画素の出力のうちの最大値が所定値であるＶｔｈ以上になった場合には、１ライン内の全有効画素の蓄積を終了させる。そして、ＡＦコントローラ２２は、各ラインを複数エリアに分割して、デフォーカス量を複数エリアごとに算出する。このように算出することで、１ライン内でのセンサ情報が途切れることなく得られるため、１ライン内の複数領域でデフォーカス量を算出でき、たとえば図１２に示すような、撮影画面内でのデフォーカス量分布を求めることができる。なお、ＸＹ面は、メモリセンサの２次元配置面に対応する。
【００６６】
次いで、制御部２１は、図１２に例示するような撮影画面内でのデフォーカス量分布情報をもとに、中央領域重点、かつ、最至近のデフォーカス分布を示すエリアを合焦対象である主要被写体が占める範囲であると判断し、自動選択エリアとして検出する（ステップＳ１２０２）。たとえば、図１２に示す場合には、後ピン方向に最もデフォーカス量が大きい、即ち最も距離が近い中央の領域Ａ１を主要被写体に対応する自動選択エリアとして検出する。
【００６７】
この自動選択エリアが確定した状態で、制御部２１は、１ｓｔレリーズがあるか否かを判断する（ステップＳ１２０３）。制御部２１は、１ｓｔレリーズがないと判断した場合には（ステップＳ１２０３：Ｎｏ）、ステップＳ１２００に戻り、主要被写体を認識する処理を行う。
【００６８】
また、制御部２１は、１ｓｔレリーズがあると判断した場合には（ステップＳ１２０３：Ｙｅｓ）、レンズ駆動（ステップＳ１２０４）後に、この確定した自動選択エリアをモニタ範囲として設定する（ステップＳ１２０５）。このとき、ライン１モニタ範囲制御部６５−１〜ラインＬモニタ範囲制御部６５−Ｌは、制御部２１の制御のもと、検出された自動選択エリアに対応する画素の選択スイッチ６６−ｎをオンする。ＡＦセンサ２０およびＡＦコントローラ２２は、この自動選択エリアにて蓄積制御処理を行い（ステップＳ１２０６）、デフォーカス量を演算する。この蓄積制御処理として、図８のステップＳ２０２〜２０９に示す処理動作を行う。この結果をもとに、制御部２１は、合焦範囲内であるか否かを判断する（ステップＳ１２０７）。
【００６９】
制御部２１が合焦範囲内でないと判断した場合には（ステップＳ１２０７：Ｎｏ）、ステップＳ１２０３に戻る。また、制御部２１が合焦範囲内であると判断した場合には（ステップＳ１２０７：Ｙｅｓ）、２ｎｄレリーズがあるまで、２ｎｄレリーズの有無を判断する（ステップＳ１２０８）。制御部２１が２ｎｄレリーズがあったと判断した場合には（ステップＳ１２０８：Ｙｅｓ）、第２の焦点検出処理を終了する。
【００７０】
このように、制御部２１は、焦点検出の顔検出なしの自動選択が設定されたときは、ＡＦセンサ２０の全ラインの全画素の出力結果をもとに撮影画面内でのデフォーカス量分布を求め、これを用いて主要被写体が占める範囲を検出し、検出した主要被写体が占める範囲を蓄積制御用のモニタ画素範囲として設定する。
【００７１】
次に、図１３のフローチャートを参照して、顔検出つきでＡＦターゲットの自動選択を行うときの第３の焦点検出処理について説明する。図１３は、図９に示す第３の焦点検出処理の処理手順を示すフローチャートである。図１３では、顔検出をＡＦセンサ２０によるセンサ情報をもとに行うことを前提としており、ＡＦセンサ２０がモニタ可能な範囲内で被写体距離分布情報を取得する。
【００７２】
このため、図１３に示すように、制御部２１は、ＡＦセンサ２０の全画素、すなわち全エリアを蓄積制御用のモニタ範囲として設定する（ステップＳ１３００）。このとき、ライン１モニタ範囲制御部６５−１〜ラインＬモニタ範囲制御部６５−Ｌは、各最大値検出回路Ｃ１〜Ｃ１４のスイッチ６６−１〜６６−Ｎを全てオンする。ＡＦセンサ２０およびＡＦコントローラ２２は、顔検出のための全エリアにての蓄積制御処理を行い（ステップＳ１３０１）、デフォーカス量を演算する。この蓄積制御処理として、図８のステップＳ２０２〜２０５に示す処理動作を行う。ＡＦセンサ２０は、ＡＦセンサ２０の全ラインで全ライン共通の蓄積処理を行い、制御回路４１は、いずれかのラインにて蓄積終了を検出したら、全てのライン１〜Ｌに対して蓄積終了信号（ＴＧ（１）〜ＴＧ（Ｌ））を出力して全画素の蓄積を同時に終了させる。このように、全画素の蓄積終了タイミングを同一とすることによって、ＡＦセンサ２０をエリアセンサとして用いることができる。
【００７３】
そして、制御部２１は、ＡＦセンサ２０の全ラインの画素出力データをもとに、顔エリアの検出を行う（ステップＳ１３０２）。たとえば、制御部２１は、ＡＦセンサ２０の全ラインの画素出力データをもとに、画素出力レベル分布を求め、このうち同程度のレベルが位置する領域、すなわち、同一被写体と判定される領域を抽出する。そして、制御部２１は、抽出した領域の形状がほぼ円形である場合には、この領域が被写体の顔に対応すると判断し、この領域を顔エリアとして検出する。
【００７４】
次に、制御部２１は、検出した顔エリアを蓄積制御用のモニタ範囲として設定する（ステップＳ１３０３）。ＡＦセンサ２０およびＡＦコントローラ２２は、モニタ範囲として設定された顔エリアにて蓄積制御処理を行い（ステップＳ１３０４）、デフォーカス量を演算する。この蓄積制御処理として、図８のステップＳ２０２〜２０９に示す処理動作を行う。
【００７５】
続いて、制御部２１が、１ｓｔレリーズがあるか否かを判断する（ステップＳ１３０５）。制御部２１が１ｓｔレリーズがないと判断した場合には（ステップＳ１３０５：Ｎｏ）、ステップＳ１３００に戻り、ＡＦセンサ２０およびＡＦコントローラ２２は、全ラインで蓄積処理を行う。
【００７６】
また、制御部２１が１ｓｔレリーズがあると判断した場合には（ステップＳ１３０５：Ｙｅｓ）、レンズ駆動（ステップＳ１３０６）後、ＡＦターゲットエリアをモニタ範囲に設定する（ステップＳ１３０７）。なお、ＡＦターゲット位置を含む一部領域である所定の範囲が、標準のＡＦターゲットエリアとして予め設定されている。ＡＦセンサ２０およびＡＦコントローラ２２は、モニタ範囲として設定されたＡＦターゲットエリアにて蓄積制御を行い（ステップＳ１３０８）、デフォーカス量を演算する。この蓄積制御処理として、図８のステップＳ２０２〜２０９に示す処理動作を行う。この結果をもとに、制御部２１は、合焦範囲内であるか否かを判断する（ステップＳ１３０９）。
【００７７】
制御部２１が合焦範囲内でないと判断した場合には（ステップＳ１３０９：Ｎｏ）、ステップＳ１３０５に戻る。また、制御部２１が、合焦範囲内であると判断した場合には（ステップＳ１３０９：Ｙｅｓ）、２ｎｄレリーズがあるまで、２ｎｄレリーズの有無を判断する（ステップＳ１３１０）。制御部２１が２ｎｄレリーズはあったと判断した場合には（ステップＳ１３１０：Ｙｅｓ）、第３の焦点検出処理を終了する。
【００７８】
このように、制御部２１は、焦点検出の顔検出つきの自動選択が設定されたときは、ＡＦセンサ２０の全ラインの全画素の出力分布を求め、これをもとに主要被写体が占める範囲を検出し、検出した主要被写体が占める範囲を蓄積制御用のモニタ画素範囲として設定する。
【００７９】
なお、ＡＦセンサ２０ではなく、撮影用の撮像素子等の他のセンサにて顔検出を行う場合は、この顔検出結果に対応させて蓄積制御用のモニタ範囲を設定すればよく、設定したモニタ範囲にてＡＦセンサ２０およびＡＦコントローラ２２による蓄積制御を行えばよい。つまり、この場合には、第３の焦点検出処理として、他のセンサによって検出された顔エリアをモニタ範囲として設定し、この範囲において蓄積処理を行った後に、ステップＳ１３０５〜ステップＳ１３１０の処理を行う。
【００８０】
このように、本実施の形態では、ＡＦターゲット位置の選択条件に応じて最適なモニタ範囲を設定して焦点検出処理を行っているため、効率的かつ正確に焦点検出処理を行うことができる。
【符号の説明】
【００８１】
１０  交換レンズ
１１  撮影レンズ
１２  モータドライバ
１３  レンズ制御部
１４  メインミラー
１５  ファインダ用スクリーン
１６  ファインダ光学系
１７  ファインダ接眼レンズ
１８  サブミラー
１９  ＡＦ光学系
２０  ＡＦセンサ
２１  制御部
２２  ＡＦコントローラ
２３  フォーカルプレーンシャッタ
２４  撮像素子
２６  センサチップ
２７  エリアセンサ部
２８ａ，２８ｂ，１２８ａ，１２８ｂ  水平画素列群
２９ａ，２９ｂ  垂直画素列群
３０ａ〜３０ｄ  モニタ部
３２  コンデンサレンズ
３４  セパレータレンズ
３５Ａ，３５Ｂ  センサアレイ
４０  蓄積制御部
４１  制御回路
４２  コンパレータ
５１  シーケンサ
５２  Ａ／Ｄ変換器
５３  メモリ
５４  ＡＦ演算部
５５  タイマ
５６  レジスタ
５７  フラッシュＲＯＭ
６１−１〜６１−ｎ  差動アンプ
６２−１〜６２−ｎ  ＭＯＳスイッチ
６３−１〜６３−ｎ  電圧ホロワ
６４  差動アンプ
６５−１〜６５−Ｌ  モニタ範囲制御部
６６−１〜６６−ｎ  選択スイッチ
Ｃ１〜Ｃ１４  最大値検出回路
【図１】
2012027367.tif 000003
【図２】
2012027367.tif 000004
【図３】
2012027367.tif 000005
【図４】
2012027367.tif 000006
【図５】
2012027367.tif 000007
【図６】
2012027367.tif 000008
【図７】
2012027367.tif 000009
【図８】
2012027367.tif 000010
【図９】
2012027367.tif 000011
【図１０】
2012027367.tif 000012
【図１１】
2012027367.tif 000013
【図１２】
2012027367.tif 000014
【図１３】
2012027367.tif 000015