(57)【要約】【課題】ＳＴＩＬで記述された電子回路素子用試験プログラムから所望の試験情報を取得し、その取得した情報をユーザが見やすい形式で表示する装置を提供する。【解決手段】ＳＴＩＬで記述された電子回路素子用試験プログラムから所定の試験情報を取得し、その取得した情報を表示する試験情報表示装置（１０００）は、前記試験プログラムを参照するプログラム参照手段（１０）と、前記所定の試験情報に関連したコマンドを基に、前記参照した試験プログラムから該試験情報を含むデータブロックを取得するデータブロック取得手段（２０）と、前記取得したデータブロックから前記所定の試験情報を取得する試験情報取得手段（２０）と、前記取得した試験情報を配列する試験情報配列手段（４０）と、前記配列された試験情報を表示する試験情報表示手段（５０）と、を備える。【選択図】図１
2012167958.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＳＴＩＬで記述された電子回路素子用試験プログラムから所定の試験情報を取得し、その取得した情報を表示する試験情報表示装置であって、
前記試験プログラムを参照するプログラム参照手段と、
前記所定の試験情報に関連したコマンドを基に、前記参照した試験プログラムから該試験情報を含むデータブロックを取得するデータブロック取得手段と、
前記取得したデータブロックから前記所定の試験情報を取得する試験情報取得手段と、
前記取得した試験情報を配列する試験情報配列手段と、
前記配列された試験情報を表示する試験情報表示手段と、
を備えることを特徴とする試験情報表示装置。
【請求項２】
データブロック取得手段は、コマンドSignalsを基に、前記所定の試験情報として端子情報を含むデータブロックを取得し、
前記試験情報取得手段は、前記端子情報を含むデータブロックから端子名、端子グループ名、端子番号、端子属性のうちの少なくとも１つを取得することを特徴とする請求項１に記載の試験情報表示装置。
【請求項３】
データブロック取得手段は、コマンドScanStructuresを基に、前記所定の試験情報としてスキャン端子情報を含むデータブロックを取得し、
前記試験情報取得手段は、前記スキャン端子情報を含むデータブロックからスキャンチェイン名と、それに対応するスキャン端子名、スキャンクロックのうちの少なくとも１つを取得することを特徴とする請求項１に記載の試験情報表示装置。
【請求項４】
データブロック取得手段は、コマンドTimingを基に、前記所定の試験情報としてパルスタイミング情報を含むデータブロックを取得し、
前記試験情報取得手段は、前記パルスタイミング情報を含むデータブロックから端子名と、それに対応するパルス信号の変化時刻、イベント情報のうちの少なくとも１つを取得することを特徴とする請求項１に記載の試験情報表示装置。
【請求項５】
データブロック取得手段は、コマンドPatternを基に、前記所定の試験情報としてパルスパターン情報を含むデータブロックを取得し、
前記試験情報取得手段は、前記パルスパターン情報を含むデータブロックから端子名と、それに対応するパルスパターン、パターンアドレスのうちの少なくとも１つを取得することを特徴とする請求項１に記載の試験情報表示装置。
【請求項６】
前記試験情報取得手段が取得した試験情報をテキスト、ＣＳＶを含む所定の形式のデータとして出力する試験情報出力手段をさらに備えることを特徴とする請求項１ないし５の何れか一項に記載の試験情報表示装置。
【請求項７】
前記プログラム参照手段が参照した試験プログラムからコメント文を削除するプログラム編集手段をさらに備えることを特徴とする請求項１ないし６の何れか一項に記載の試験情報表示装置。
【請求項８】
前記試験情報表示手段は、ユーザの選択した項目に関する情報を前記取得した試験情報の中から検索する検索手段を有し、
さらに、前記試験情報表示手段は、前記検索手段が検索した項目に関する情報のみを表示することを特徴とする請求項１ないし７の何れか一項に記載の試験情報表示装置。
【請求項９】
ＳＴＩＬで記述された電子回路素子用試験プログラムから所定の試験情報を取得し、その取得した情報を表示する試験情報表示方法であって、
前記試験プログラムを参照するプログラム参照段階と、
前記所定の試験情報に関連したコマンドを基に、前記参照した試験プログラムから該試験情報を含むデータブロックを取得するデータブロック取得段階と、
前記取得したデータブロックから前記所定の試験情報を取得する試験情報取得段階と、
前記取得した試験情報を配列する試験情報配列段階と、
前記配列された試験情報を表示する試験情報表示段階と、
を含むことを特徴とする試験情報表示方法。
【請求項１０】
前記データブロック取得段階では、コマンドSignalsを基に、前記所定の試験情報として端子情報を含むデータブロックを取得し、
前記試験情報取得段階では、前記端子情報を含むデータブロックから端子名、端子グループ名、端子番号、端子属性のうちの少なくとも１つを取得することを特徴とする請求項９に記載の試験情報表示方法。
【請求項１１】
前記データブロック取得段階では、コマンドScanStructuresを基に、前記所定の試験情報としてスキャン端子情報を含むデータブロックを取得し、
前記試験情報取得段階では、前記スキャン端子情報を含むデータブロックからスキャンチェイン名と、それに対応するスキャン端子名、スキャンクロックのうちの少なくとも１つを取得することを特徴とする請求項９に記載の試験情報表示方法。
【請求項１２】
データブロック取得段階では、コマンドTimingを基に、前記所定の試験情報としてパルスタイミング情報を含むデータブロックを取得し、
前記試験情報取得段階では、前記パルスタイミング情報を含むデータブロックから端子名と、それに対応するパルス信号の変化時刻、イベント情報のうちの少なくとも１つを取得することを特徴とする請求項９に記載の試験情報表示方法。
【請求項１３】
データブロック取得段階では、コマンドPatternを基に、前記所定の試験情報としてパルスパターン情報を含むデータブロックを取得し、
前記試験情報取得段階では、前記パルスパターン情報を含むデータブロックから端子名と、それに対応するパルスパターン、パターンアドレスのうちの少なくとも１つを取得することを特徴とする請求項９に記載の試験情報表示装置。
【請求項１４】
前記試験情報取得段階で取得した試験情報をテキスト、ＣＳＶを含む所定の形式のデータとして出力する試験情報出力段階をさらに含むことを特徴とする請求項９ないし１３の何れか一項に記載の試験情報表示方法。
【請求項１５】
前記試験プログラムからコメント文を削除するプログラム編集段階をさらに含み、該プログラム編集段階は、前記プログラム参照段階と前記データブロック取得段階との間で行われることを特徴とする請求項９ないし１４の何れか一項に記載の試験情報表示方法。
【請求項１６】
前記試験情報表示段階は、ユーザの選択した項目に関する情報を前記取得した試験情報の中から検索する検索段階を含み、該検索段階で検索した項目に関する情報のみを表示することを特徴とする請求項９ないし１５の何れか一項に記載の試験情報表示方法。
【請求項１７】
請求項９ないし１６の何れか一項に記載の試験情報表示方法を実行する電子回路。
【請求項１８】
請求項９ないし１６の何れか一項に記載の試験情報表示方法を処理装置に実行させるプログラム。
【請求項１９】
請求項１８に記載のプログラムを格納したコンピュータ可読媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＳＴＩＬで記述された電子回路素子用試験プログラムから所定の試験情報を取得し、その情報を表示する試験情報表示装置、方法、プログラム、および該ソフトウェアを格納したコンピュータ可読媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、半導体集積回路などの電子回路素子の多ピン化や機能の複雑化が進み、それに伴って電子回路素子の試験の内容も複雑化し、使用するテストパターンの種類やデータ量も増大している。
【０００３】
通常、電子回路素子を試験する場合にはテスタと呼ばれる装置を用いる。テスタは、被測定物である電子回路素子の入力端子に所定のパターンの信号を入力し、出力端子から出力される信号をチェックする機能を有する（例えば、特許文献１を参照）。また、テスタは通常、プログラムで制御され、試験は自動的に行われる。
【０００４】
テスタを制御するプログラムの記述言語は、従来、テスタの製造会社ごとに独自に採用されていた。従って、異なる製造会社のテスタに搭載されたプログラムを編集する場合には、ユーザがそれぞれの記述言語を理解する必要があり、それが負担となっていた。
【０００５】
そのような負担を低減するために、電子回路素子を試験するために用いるプログラムの記述言語を共通化する試みがなされ、ＳＴＩＬ（Standard Test Interface Language）が国際標準（ＩＥＥＥ  Std 1450.0-1999）として採用された（例えば、非特許文献１を参照）。この共通記述言語により、異なるテスタ間でも容易に共通の試験環境を利用できるようになった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】再表９９／０４０４５０号
【非特許文献】
【０００７】
【非特許文献１】http://www.starc.jp/stil/top-j.html（２０１１年１月７日閲覧）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかし、ＳＴＩＬを使用しても依然として以下のような問題が存在する。
主に論理ＬＳＩを試験するためのテスタには、テストパターンを自動生成するＡＴＰＧ（Automatic Test Pattern Generator）が搭載されているが、このＡＴＰＧが生成するテストパターンは、テスタの機種によって異なる。そのため、ユーザがテストパターンの内容を確認するためには、テキストビューア等のソフトウェアで試験プログラムを参照し、このプログラムのテストパターン生成部分の記述から把握しなくてはならない。
【０００９】
このテストパターンの確認は骨の折れる作業であり、プログラムに関する専門的知識も必要となる。従って、すべてのユーザが容易にできる作業ではない。特に、端子に入力するパルスのパターンを把握することは非常に困難である。
【００１０】
本発明は上記の事情に鑑みて創案されたものであり、本発明の目的は、ＳＴＩＬで記述された電子回路素子用試験プログラムから所望の試験情報を取得し、その情報を表示させる装置、方法、プログラム、および該ソフトウェアを格納したコンピュータ可読媒体を提供することである。
【００１１】
本発明の別の目的は、ＳＴＩＬで記述された電子回路素子用試験プログラムにおける試験情報をユーザに見やすい形式で表示する装置、方法、プログラム、および該ソフトウェアを格納したコンピュータ可読媒体を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
前記課題を解決するために創案された請求項１の発明は、ＳＴＩＬで記述された電子回路素子用試験プログラムから所定の試験情報を取得し、その取得した情報を表示する試験情報表示装置であって、前記試験プログラムを参照するプログラム参照手段と、前記所定の試験情報に関連したコマンドを基に、前記参照した試験プログラムから該試験情報を含むデータブロックを取得するデータブロック取得手段と、前記取得したデータブロックから前記所定の試験情報を取得する試験情報取得手段と、前記取得した試験情報を配列する試験情報配列手段と、前記配列された試験情報を表示する試験情報表示手段と、を備えることを特徴とする。
【００１３】
前記課題を解決するために創案された請求項２の発明は、請求項１に記載の試験情報表示装置において、データブロック取得手段が、コマンドSignalsを基に、前記所定の試験情報として端子情報を含むデータブロックを取得し、前記試験情報取得手段は、前記端子情報を含むデータブロックから端子名、端子グループ名、端子番号、端子属性のうちの少なくとも１つを取得することを特徴とする。
【００１４】
前記課題を解決するために創案された請求項３の発明は、請求項１に記載の試験情報表示装置において、データブロック取得手段が、コマンドScanStructuresを基に、前記所定の試験情報としてスキャン端子情報を含むデータブロックを取得し、前記試験情報取得手段は、前記スキャン端子情報を含むデータブロックからスキャンチェイン名と、それに対応するスキャン端子名、スキャンクロックのうちの少なくとも１つを取得することを特徴とする。
【００１５】
前記課題を解決するために創案された請求項４の発明は、請求項１に記載の試験情報表示装置において、データブロック取得手段が、コマンドTimingを基に、前記所定の試験情報としてパルスタイミング情報を含むデータブロックを取得し、前記試験情報取得手段は、前記パルスタイミング情報を含むデータブロックから端子名と、それに対応するパルス信号の変化時刻、イベント情報のうちの少なくとも１つを取得することを特徴とする。
【００１６】
前記課題を解決するために創案された請求項５の発明は、請求項１に記載の試験情報表示装置において、データブロック取得手段が、コマンドPatternを基に、前記所定の試験情報としてパルスパターン情報を含むデータブロックを取得し、前記試験情報取得手段は、前記パルスパターン情報を含むデータブロックから端子名と、それに対応するパルスパターン、パターンアドレスのうちの少なくとも１つを取得することを特徴とする。
【００１７】
前記課題を解決するために創案された請求項６の発明は、請求項１ないし５の何れか一項に記載の試験情報表示装置が、前記試験情報取得手段が取得した試験情報をテキスト、ＣＳＶを含む所定の形式のデータとして出力する試験情報出力手段をさらに備えることを特徴とする。
【００１８】
前記課題を解決するために創案された請求項７の発明は、請求項１ないし６の何れか一項に記載の試験情報表示装置が、前記プログラム参照手段が参照した試験プログラムからコメント文を削除するプログラム編集手段をさらに備えることを特徴とする。
【００１９】
前記課題を解決するために創案された請求項８の発明は、請求項１ないし７の何れか一項に記載の試験情報表示装置において、前記試験情報表示手段はユーザの選択した項目に関する情報を前記取得した試験情報の中から検索する検索手段を有し、さらに、該試験情報表示手段は、前記検索手段が検索した項目に関する情報のみを表示することを特徴とする。
【００２０】
前記課題を解決するために創案された請求項９の発明は、ＳＴＩＬで記述された電子回路素子用試験プログラムから所定の試験情報を取得し、その取得した情報を表示する試験情報表示方法であって、前記試験プログラムを参照するプログラム参照段階と、前記所定の試験情報に関連したコマンドを基に、前記参照した試験プログラムから該試験情報を含むデータブロックを取得するデータブロック取得段階と、前記取得したデータブロックから前記所定の試験情報を取得する試験情報取得段階と、前記取得した試験情報を配列する試験情報配列段階と、前記配列された試験情報を表示する試験情報表示段階と、を含むことを特徴とする。
【００２１】
前記課題を解決するために創案された請求項１０の発明は、請求項９に記載の試験情報表示方法において、前記データブロック取得段階では、コマンドSignalsを基に、前記所定の試験情報として端子情報を含むデータブロックを取得し、前記試験情報取得段階では、前記端子情報を含むデータブロックから端子名、端子グループ名、端子番号、端子属性のうちの少なくとも１つを取得することを特徴とする。
【００２２】
前記課題を解決するために創案された請求項１１の発明は、請求項９に記載の試験情報表示方法において、前記データブロック取得段階では、コマンドScanStructuresを基に、前記所定の試験情報としてスキャン端子情報を含むデータブロックを取得し、前記試験情報取得段階では、前記スキャン端子情報を含むデータブロックからスキャンチェイン名と、それに対応するスキャン端子名、スキャンクロックのうちの少なくとも１つを取得することを特徴とする。
【００２３】
前記課題を解決するために創案された請求項１２の発明は、請求項９に記載の試験情報表示方法において、データブロック取得段階では、コマンドTimingを基に、前記所定の試験情報としてパルスタイミング情報を含むデータブロックを取得し、前記試験情報取得段階では、前記パルスタイミング情報を含むデータブロックから端子名と、それに対応するパルス信号の変化時刻、イベント情報のうちの少なくとも１つを取得することを特徴とする。
【００２４】
前記課題を解決するために創案された請求項１３の発明は、請求項９に記載の試験情報表示方法において、データブロック取得段階では、コマンドPatternを基に、前記所定の試験情報としてパルスパターン情報を含むデータブロックを取得し、前記試験情報取得段階では、前記パルスパターン情報を含むデータブロックから端子名と、それに対応するパルスパターン、パターンアドレスのうちの少なくとも１つを取得することを特徴とする。
【００２５】
前記課題を解決するために創案された請求項１４の発明は、請求項９ないし１３の何れか一項に記載の試験情報表示方法が、前記試験情報取得段階で取得した試験情報をテキスト、ＣＳＶを含む所定の形式のデータとして出力する試験情報出力段階をさらに含むことを特徴とする。
【００２６】
前記課題を解決するために創案された請求項１５の発明は、請求項９ないし１４の何れか一項に記載の試験情報表示方法が、前記試験プログラムからコメント文を削除するプログラム編集段階をさらに含み、該プログラム編集段階は、前記プログラム参照段階と前記データブロック取得段階との間で行われることを特徴とする。
【００２７】
前記課題を解決するために創案された請求項１６の発明は、請求項９ないし１５の何れか一項に記載の試験情報表示方法において、前記試験情報表示段階が、ユーザの選択した項目に関する情報を前記取得した試験情報の中から検索する検索段階を含み、該検索段階で検索した項目に関する情報のみを表示することを特徴とする。
【００２８】
前記課題を解決するために創案された請求項１７の発明は、請求項９ないし１６の何れか一項に記載の試験情報表示方法を実行する電子回路である。
【００２９】
前記課題を解決するために創案された請求項１８の発明は、請求項９ないし１６の何れか一項に記載の試験情報表示方法を処理装置に実行させるプログラムである。
【００３０】
前記課題を解決するために創案された請求項１９の発明は、請求項１８に記載のプログラムを格納したコンピュータ可読媒体である。
【００３１】
請求項１および９の発明によって、電子回路素子を試験するプログラムから所定の情報を取得して、その情報をユーザに見やすい形式に配列して表示することが可能となる。従って、ソフトウェアの専門知識が無くても、ユーザは容易に試験に係る情報を参照することができる。
【００３２】
請求項２および１０の発明によって、ユーザは電子回路素子の端子に関する情報を容易に把握することができる。
【００３３】
請求項３および１１の発明によって、ユーザは電子回路素子のスキャン端子に関する情報を容易に把握することができる。
【００３４】
請求項４および１２の発明によって、ユーザは電子回路素子の端子に入力するパルスのタイミングに関する情報を容易に把握することができる。
【００３５】
請求項５および１３の発明によって、ユーザは電子回路素子の端子に入力するパルスのパターンに関する情報を容易に把握することができる。
【００３６】
請求項６および１４の発明によって、試験情報表示装置を外部機器である処理装置等に接続して、電子回路素子の試験に関する情報の印刷処理、各種メディアへの格納処理、表計算ソフト等のアプリケーションによる分析処理などを行うことが可能となる。
【００３７】
請求項７および１５の発明によって、試験情報を表示する処理をより高速に行うことが可能となる。
【００３８】
請求項８および１６の発明によって、ユーザが閲覧を望む項目に関する情報のみを選択的に表示することができる。これにより、よりユーザに見やすい形式に試験情報を表示することが可能となる。
【００３９】
請求項１７により、本発明を電子回路の形態で提供することが可能となる。
【００４０】
請求項１８により、本発明をプログラムの形態で提供することが可能となる。
【００４１】
請求項１９により、本発明をコンピュータ可読媒体の形態で提供することが可能となる。
【発明の効果】
【００４２】
本発明によって、ユーザはＳＴＩＬで記述された電子回路素子用試験プログラムにおける所望の試験情報を容易に参照することができる。さらに、この試験情報に対して様々な処理を行うことが可能となる。その結果、電子回路素子の開発から試験まで一連の作業を効率良く行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】本発明の一実施形態に係る試験情報表示装置の機能ブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態に係る試験情報表示装置の機能を説明するための図であり、（ａ）はプログラムから取得したデータブロック図の一部であり、（ｂ）は（ａ）のデータブロックを分析することで取得した端子情報の表示例である。
【図３】本発明の一実施形態に係る試験情報表示装置の機能を説明するための図であり、（ａ）はプログラムから取得したデータブロック図の一部であり、（ｂ）は（ａ）のデータブロックを分析することで取得したスキャン端子情報の表示例である。
【図４】本発明の一実施形態に係る試験情報表示装置の機能を説明するための図であり、（ａ）はプログラムから取得したデータブロック図の一部であり、（ｂ）は（ａ）のデータブロックを分析することで取得したパルスタイミング情報の表示例である。
【図５】本発明の一実施形態に係る試験情報表示装置の機能を説明するための図であり、（ａ）はプログラムから取得したデータブロック図の一部であり、（ｂ）は（ａ）のデータブロックを分析することで取得したパルスパターン情報の表示例である。
【図６】本発明の一実施形態に係る試験情報表示方法のメインフロー図である。
【図７】図６のフロー図に示したステップＳ２０の処理の詳細フロー図である。
【図８】図６のフロー図に示したステップＳ３０の処理の詳細フロー図である。
【図９】図６のフロー図に示したステップＳ４０の処理の詳細フロー図である。
【図１０】図６のフロー図に示したステップＳ５０の処理の詳細フロー図の前半部分である。
【図１１】図６のフロー図に示したステップＳ５０の処理の詳細フロー図の後半部分である。
【図１２】図１０のフロー図の処理内容を詳細に説明するための図であり、（ａ）（ｂ）（ｃ）はステップＳ５０６ないしＳ５０８の処理の一例を示す図である。
【図１３】図１０のフロー図の処理内容を詳細に説明するための図であり、（ａ）および（ｂ）はステップＳ５０９の処理の一例を示す図であり、（ｃ）および（ｄ）はステップＳ５１０およびＳ５１１の処理の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００４４】
本発明の一実施形態に係る試験情報表示装置の構成や機能について添付図面の図１ないし図１３を参照して以下に詳細に説明する。この試験情報表示装置は、試験装置が被試験物に行う、または行った試験の条件等に関する所定の情報を表示する機能を提供する。
【００４５】
最初に、図１を参照して本発明の一実施形態に係る試験情報表示装置１０００が用いられる環境について説明する。
試験情報表示装置１０００は、電子回路素子２０００および試験装置３０００と共に使用される。
【００４６】
電子回路素子２０００は被試験物であり、例えば、半導体集積回路のように複数の入力端子および出力端子を備えている。試験装置３０００は通常「テスタ」と呼ばれ、電子回路素子２０００を試験するために用いられる。電子回路素子２０００は通常、電子回路盤に実装され、この電子回路盤は試験装置３０００に電気的に接続される。試験装置３０００は電子回路盤を介して電子回路素子２０００の入力端子に所定の条件のパルス信号を入力し、そのときの出力端子から出力される信号をモニタする。また、試験装置３０００の動作はすべてプログラムによって制御される。
【００４７】
次に、試験情報表示装置１０００の機能について説明する。試験情報表示装置１０００はパーソナルコンピュータなどの処理装置によって実装され、図示のように試験情報参照部１０と、試験情報取得／解析部２０と、試験情報記憶部３０と、試験情報作成部４０と、試験情報表示部５０と、を機能要素として備える。以下に、それぞれの機能要素について説明する。
【００４８】
［試験情報参照部］
試験情報参照部１０は試験装置３０００とインターフェース可能に接続され、この試験装置を制御しているプログラムデータを参照する機能を有する。また、単に参照するだけではなく、後段の機能要素が行う処理を容易にするために、参照したプログラムデータの全体または一部を試験情報表示装置１０００のバッファにコピーしてもよい。
【００４９】
［試験情報取得／解析部］
試験情報取得／解析部２０は、試験情報参照部１０が参照したプログラムデータから所定の情報に関連するデータブロックを取得し、さらに、その取得したデータブロックを解析して当該所定の情報の内容を抽出する機能を有する。なお、本実施形態において「所定の情報」は、電子回路素子２０００の端子およびスキャン端子の情報、並びに電子回路素子２０００に入力するパルスのタイミングおよびパターンに関する情報である。試験情報取得／解析部２０の機能は、これらの取得する情報の種類に従って、端子情報取得／解析部２１０と、スキャン端子情報取得／解析部２２０と、パルスタイミング情報取得／解析部２３０と、パルスパターン情報取得／解析部２４０と、から構成される。それぞれの取得／解析部が行う処理について以下に詳細に説明する。
【００５０】
［端子情報取得／解析部］
端子情報取得／解析部２１０は、電子回路素子２０００の端子に関する情報を取得する機能を有する。
図２（ａ）は、試験装置３０００を制御するプログラムにおける、電子回路素子２０００の端子の情報に係るデータブロックの一部を示している。端子情報取得／解析部２１０は、コマンド「Signals」を基にプログラムから図２（ａ）が示す端子に係るデータブロックを取得する。次いで、このデータブロックから端子に係る情報（端子名、属性、端子グループ等）を解析する。そして、解析した情報を後述する試験情報記憶部３０に格納する。
【００５１】
［スキャン端子情報取得／解析部］
スキャン端子情報取得／解析部２２０は、電子回路素子２０００のスキャン端子に関する情報を取得する機能を有する。
図３（ａ）は、試験装置３０００を制御するプログラムにおける、電子回路素子２０００のスキャン端子の情報に係るデータブロックの一部を示している。スキャン端子情報取得／解析部２２０は、コマンド「ScanStructures」を基にプログラムから図３（ａ）が示すスキャン端子に係るデータブロックを取得する。次いで、このデータブロックからスキャン端子に係る情報（スキャン端子名、スキャンチェイン名、スキャンクロック等）を解析する。そして、解析した情報を後述する試験情報記憶部３０に格納する。
【００５２】
［パルスタイミング情報取得／解析部］
パルスタイミング情報取得／解析部２３０は、電子回路素子２０００に入力するパルスのタイミングに関する情報を取得する機能を有する。
図４（ａ）は、試験装置３０００を制御するプログラムデータにおける、電子回路素子２０００のパルスタイミングに係るデータブロックの一部を示している。パルスタイミング情報取得／解析部２３０は、コマンド「Timing」を基にプログラムデータから図４（ａ）が示すパルスタイミングに係るデータブロックを取得する。取得後、このデータブロックからパルスタイミングに係る情報（それぞれ端子に入力するパルスのエッジ毎の変化時刻、イベント情報等）を解析する。そして、解析した情報を後述する試験情報記憶部３０に格納する。
【００５３】
［パルスパターン情報取得／解析部］
パルスパターン情報取得／解析部２４０は、電子回路素子２０００に入力するパルスのパターンに関する情報を取得する機能を有する。
図５（ａ）は、試験装置３０００を制御するプログラムデータにおける、電子回路素子２０００のパルスタイミングに係るデータブロックの一部を示している。パルスパターン情報取得／解析部２４０は、コマンド「Pattern」を基にプログラムデータから図５（ａ）が示すパルスパターンに係るデータブロックを取得する。取得後、そのデータブロックからパルスパターンに係る情報（それぞれ端子に入力するパルスのパターン等）を解析する。図５（ａ）中の「PINGROUP1」は、「Ｂ０１、Ｂ０２、Ｂ０３、Ｃ０１、Ｃ０２、Ａ０１、Ａ０２、Ｃ０３」の端子をグループ化したものであり、端子ごとにその端子に入力するパルスパターンを解析する。また、パターンアドレスを計算する。さらに、サブルーチン内のパルスパターン情報も解析する。各種サブルーチン（MacroDefs、Procedures等）からパルスパターンを解析すると共に、各種ステートメント（Vector、Loop、Condition等）からパルスパターンを解析する。パターンに変化がない場合の省略記述を解析する。
そして、解析した情報を後述する試験情報記憶部３０に格納する。
【００５４】
［試験情報記憶部］
試験情報記憶部３０は、試験情報取得／解析部２０が取り扱うデータを記録するバッファ機能を有する。アクセス性等を考慮して、この記憶部はＲＡＭやＲＯＭなどの半導体記憶装置（メモリ）で実装されることが好ましいが、他にハードディスク、ＣＤドライブ、ＤＶＤドライブなどで実装されてもよい。
【００５５】
［試験情報作成部］
試験情報作成部４０は、試験情報記憶部３０から試験情報取得／解析部２０が分析した所定の情報を読み出し、読み出した情報からユーザが選択した項目に関する情報を検索し、その検索した情報を配列することで表示用のデータ、または外部出力用のデータを作成する。表示用のデータは、ユーザが見やすい形式で配列して表示されるように構成されており、外部出力用のデータは、既存の形式（テキスト、ＣＳＶ等）で構成されている。なお、出力先は後述する試験情報表示部５０、あるいは試験情報表示装置１０００の外部端子となる。この試験情報表示装置１０００の外部端子には、プリンタ装置、パーソナルコンピュータなどの処理装置、あるいはハードディスク、ＣＤドライブなどの格納装置が接続され得る。なお、試験情報作成部４０の機能は、取り扱う情報の種類に従って、端子情報作成部４１０と、スキャン端子情報作成部４２０と、パルスタイミング情報作成部４３０と、パルスパターン情報作成部４４０と、から構成される。それぞれの作成部が行う処理について以下に詳細に説明する。
【００５６】
［端子情報作成部］
端子情報作成部４１０は、電子回路素子２０００の端子に関する情報を取り扱う。
図２（ｂ）は、端子情報を配列した例である。具体的には、端子ごとに情報を分類し、セパレータで区切る。そして、それぞれの端子に番号を付与する。さらに、それぞれの端子に対応する端子番号、端子名、属性、端子グループ名を並べる。
【００５７】
［スキャン端子情報作成部］
スキャン端子情報作成部４２０は、電子回路素子２０００のスキャン端子に関する情報を取り扱う。
図３（ｂ）は、スキャン端子情報を配列した例である。具体的には、スキャンチェインごとにスキャン情報を整頓し、セパレータで区切る。さらに、それぞれのスキャンチェインにおけるスキャンチェイン名、スキャンチェイン長、スキャン端子名、スキャンクロックを並べる。
【００５８】
［パルスタイミング情報作成部］
パルスタイミング情報作成部４３０は、電子回路素子２０００の端子に入力するパルスのタイミングに関する情報を取り扱う。
図４（ｂ）は、パルスタイミング情報を配列した例である。具体的には、パルスタイミングごとに情報に分類し、セパレータで区切る。そして、それぞれのパルスタイミングに番号を付与する。最後に、端子ごとにその端子に入力するパルスのエッジの変化時刻とイベント情報とを並べる。
【００５９】
［パルスパターン情報作成部］
パルスパターン情報作成部４４０は、電子回路素子２０００の端子に入力するパルスのパターンに関する情報を取り扱う。
図５（ｂ）は、パルスパターン情報を配列した例である。具体的には、パルスパターン単位に情報を分類し、セパレータで区切る。次いで、パルスパターンアドレスを解析して、パルスパターンにアドレス番号を付与する。さらに、各種サブルーチン（MacroDefs、Procedures等）から解析したパルスパターンと、各種ステートメント（Vector、Loop、Condition等）から解析したパルスパターンとを表示する。また、データに変化がないパターンの省略記述を省略しないで表示する。
【００６０】
［試験情報表示部］
試験情報表示部５０は、試験情報作成部４０が出力した情報を表示する機能を有し、液晶やＣＲＴなどからなる表示手段を備える。
【００６１】
以上に渡って本発明の一実施形態に係る試験情報表示装置１０００の用途や機能について説明した。次は、この試験情報表示装置１０００が実際に行う試験情報表示方法の手順について説明する。
【００６２】
図６のフロー図を参照して説明すると、最初に、ユーザが試験情報表示装置１０００に表示させる情報を選択する。より詳細には、端子情報の表示、スキャン端子情報の表示、パルスタイミング情報の表示、パルスパターン情報の表示、何も表示しないうちの１つを選択する（ステップＳ１０）。この手順は、ユーザが試験情報表示部５０の表示手段を見ながら対話式に行うことが好ましい。ユーザの選択が終了すると、その選択に従って、端子情報の表示（ステップＳ２０）、スキャン端子情報の表示（ステップＳ３０）、パルスタイミング情報の表示（ステップＳ４０）、パルスパターン情報の表示（ステップＳ５０）、終了の何れかの処理を実行する。
次に、端子情報の表示方法（ステップＳ２０）、スキャン端子情報の表示方法（ステップＳ３０）、パルスタイミング情報の表示方法（ステップＳ４０）、パルスパターン情報の表示方法（ステップＳ５０）のそれぞれの詳細な手順について説明する。
【００６３】
［端子情報表示方法（ステップＳ２０の詳細）］
図７のフロー図を参照して本発明の一実施形態に係る端子情報表示方法について説明する。まず、試験情報表示装置１０００の試験情報参照部１０が試験装置３０００を制御するプログラムデータを参照する（ステップＳ２０１）。次に、処理を高速化するためにこのプログラムデータを編集する（ステップＳ２０２）。具体的には、プログラムデータのコメント文を削除する。以下はこの編集処理の手順の一例である。
（１）プログラムデータに「／／」が含まれるかＩＦ文により比較し、含まれる場合は、「／／」以降から１行の終わり（改行コード）までの文字列を全て削除する。
（２）プログラムデータに「／＊」が含まれるかＩＦ文により比較し、含まれる場合は、「／＊」以降に「＊／」があるかＩＦ文により検索する。１行内に「／＊〜＊／」があると判定した場合には、「／＊〜＊／」内の文字列を削除する。プログラムデータに「／＊」が含まれるかＩＦ文により比較し、含まれる場合は、「／＊」以降に「＊／」があるかＩＦ文により検索する。１行内に「／＊〜＊／」が無いと判定した場合には、次行のデータを取得し、「＊／」が見つかるまでＩＦ文検索を繰返す。「＊／」が見つかった場合は、「／＊」から「＊／」までのデータを削除する。
【００６４】
編集処理が終了すると、試験情報取得／解析部２０の端子情報取得／解析部２１０が、編集したプログラムデータからコマンド「Signals」を基に、電子回路素子２０００の端子に係るデータブロックを取得し（ステップＳ２０３）、その取得したデータブロックを解析して、端子に係る情報を取得する（ステップＳ２０４）。そして、取得した端子情報を試験情報記憶部３０に格納する（ステップＳ２０５）。
【００６５】
端子情報の格納が完了すると、次は、その端子情報を試験情報表示部５０に表示させるか、あるいは、試験情報表示装置１０００の外部にデータとして出力するかどうかを選択する（ステップＳ２０６）。この選択はユーザによって試験情報表示部５０およびキーボードまたはマウス等を用いて行われる。また、データ出力を選択する場合は、そのデータの形式（例えば、ファイル出力、テキストデータ出力、ＣＳＶデータ出力）を更に選択する。
次いで、ステップＳ２０６の処理と同様にして、ユーザが表示または出力する項目を端子情報から選択する（ステップＳ２０７）。なお、選択する項目の例としては、端子名、端子番号、端子属性、端子グループ名などが挙げられる。代替的に、項目を選択せずにすべての端子に対する情報を選択してもよい。
【００６６】
試験情報作成部４０の端子情報作成部４１０がステップＳ２０７で選択した項目を解析し、選択した項目内容が正しいかどうかを判断する（ステップＳ２０８）。内容が正しくないと判断した場合は、ステップＳ２０７の処理に戻る。解析する内容は、例えば、指定された端子番号が整数であるか、格納されたデータ内に選択された項目の情報が存在するか、等である。
解析が終わると、端子情報作成部４１０がステップＳ２０７で選択された項目に該当する端子の情報を試験情報記憶部３０に格納された端子情報から検索する（ステップＳ２０９）。
【００６７】
検索後、その検索した端子情報を配列する（ステップＳ２１０）。具体的には、種々の項目のデータを並び換え、データ名称、コメントなどの付加を行う。
さらに、ステップＳ２０６で「表示」が選択された場合には、配列した端子情報を試験情報表示部５０に送付し、試験情報表示部５０はその受け取った情報を表示する（ステップＳ２１１）。一方、ステップＳ２０６で「出力」が選択された場合には、データ出力形式に合ったセパレータを使用して配列した端子情報を含んだデータを生成し、そのデータを外部に出力する（ステップＳ２１１）。
以上で端子情報表示方法の手順が完了する。
【００６８】
［スキャン端子情報表示方法（ステップＳ３０の詳細）］
図８のフロー図を参照して本発明の一実施形態に係るスキャン端子情報表示方法について説明する。まず、試験情報表示装置１０００の試験情報参照部１０が試験装置３０００を制御するプログラムデータを参照する（ステップＳ３０１）。次に、処理を高速化するためにこのプログラムデータを編集する（ステップＳ３０２）。編集内容は図７のステップＳ２０２と同様であるため、説明は省略する。
【００６９】
編集処理が終了すると、試験情報取得／解析部２０のスキャン端子情報取得／解析部２２０が、編集したプログラムデータからコマンド「ScanStructures」を基に、電子回路素子２０００のスキャン端子に係るデータブロックを取得し（ステップＳ３０３）、その取得したデータブロックを解析して、スキャン端子に係る情報を取得する（ステップＳ３０４）。そして、取得したスキャン端子情報を試験情報記憶部３０に格納する（ステップＳ３０５）。
【００７０】
スキャン端子情報の格納が完了すると、次は、そのスキャン端子情報を試験情報表示部５０に表示させるか、あるいは、試験情報表示装置１０００の外部にデータとして出力するかどうかを選択する（ステップＳ３０６）。この選択はユーザによって試験情報表示部５０およびキーボードまたはマウス等を用いて行われる。また、データ出力を選択する場合は、そのデータの形式（例えば、ファイル出力、テキストデータ出力、ＣＳＶデータ出力）を更に選択する。
次いで、ステップＳ３０６の処理と同様にして、ユーザが表示または出力する項目を端子情報から選択する（ステップＳ３０７）。なお、選択する項目の例としては、スキャン端子名、スキャンチェイン名、スキャンクロックなどが挙げられる。代替的に、項目を選択せずにすべての端子に対する情報を選択してもよい。
【００７１】
試験情報作成部４０のスキャン端子情報作成部４２０がステップＳ３０７で選択した項目を解析し、選択した項目内容が正しいかどうかを判断する（ステップＳ３０８）。内容が正しくないと判断した場合は、ステップＳ３０７の処理に戻る。解析する内容は、例えば、指定されたスキャン端子番号が整数であるか、格納されたデータ内に選択された項目の情報が存在するか、等である。
解析が終わると、スキャン端子情報作成部４２０がステップＳ３０７で選択された項目に該当するスキャン端子の情報を試験情報記憶部３０に格納されたスキャン端子情報から検索する（ステップＳ３０９）。
【００７２】
検索後、その検索したスキャン端子情報を配列する（ステップＳ３１０）。具体的には、種々の項目のデータを並び換え、データ名称、コメントなどの付加を行う。
さらに、ステップＳ３０６で「表示」が選択された場合には、配列したスキャン端子情報を試験情報表示部５０に送付し、試験情報表示部５０はその受け取った情報を表示する（ステップＳ３１１）。一方、ステップＳ３０６で「出力」が選択された場合には、データ出力形式に合ったセパレータを使用して配列したスキャン端子情報を含んだデータを生成し、そのデータを外部に出力する（ステップＳ３１１）。
以上でスキャン端子情報表示方法の手順が完了する。
【００７３】
［パルスタイミング情報表示方法（ステップＳ４０の詳細）］
図９のフロー図を参照して本発明の一実施形態に係るパルスタイミング情報表示方法について説明する。まず、試験情報表示装置１０００の試験情報参照部１０が試験装置３０００を制御するプログラムデータを参照する（ステップＳ４０１）。プログラムを参照すると、以降の処理を高速化するために参照したプログラムデータを編集する（ステップＳ４０２）。編集内容は図７のステップＳ２０２と同様である。次に、試験情報取得／解析部２０のパルスタイミング情報取得／解析部２３０が、編集したブログラムデータからコマンド「Timing」を基に、電子回路素子２０００に入力するパルスタイミングに係るデータブロックを取得し（ステップＳ４０３）、その取得したデータブロックを解析して、パルスタイミングに係る情報を取得する（ステップＳ４０４）。それと同時に、パルスタイミングに係る情報を試験情報記憶部３０に格納する（ステップＳ４０５）。
【００７４】
パルスタイミング情報の格納が完了すると、次は、そのパルスタイミング情報を試験情報表示部５０に表示させるか、あるいは、試験情報表示装置１０００の外部にデータとして出力するかどうかを選択する（ステップＳ４０６）。この選択はユーザによって試験情報表示部５０およびキーボードまたはマウス等を用いて行われる。次いで、ステップＳ４０６の処理と同様にして、ユーザが表示または出力する項目をパルスタイミング情報から選択する（ステップＳ４０７）。なお、選択する項目の例としては、パルス信号、端子名、端子グループ名、タイミング名等が挙げられる。代替的に、すべてのパルスタイミングに対する情報を選択してもよい。
【００７５】
試験情報作成部４０のパルスタイミング情報作成部４３０がステップＳ４０７で選択した項目を解析し、選択した項目内容が正しいかどうかを判断する（ステップＳ４０８）。内容が正しくないと判断した場合は、ステップＳ４０７の処理に戻る。解析する内容は、例えば、指定された端子番号が整数であるか、格納されたデータ内の選択された項目の情報が存在するか、等である。
解析が終わると、パルスタイミング情報作成部４３０がステップＳ４０７で選択された項目に該当するパルスタイミングの情報を試験情報記憶部３０に格納されたパルスタイミング情報から検索する（ステップＳ４０９）。
【００７６】
検索後、その検索したパルスタイミング情報を配列する（ステップＳ４１０）。具体的には、種々の項目のデータを並び換え、データ名称、コメントなどの付加を行う。
さらに、ステップＳ３０６で「表示」が選択された場合には、配列したパルスタイミング情報を試験情報表示部５０に送付し、試験情報表示部５０はその受け取った情報を表示する（ステップＳ４１１）。一方、ステップＳ３０６で「出力」が選択された場合には、データ出力形式に合ったセパレータを使用して配列したパルスタイミング情報を含んだデータを生成し、そのデータを外部に出力する（ステップＳ４１１）。
以上でパルスタイミング情報表示方法の手順が完了する。
【００７７】
［パルスパターン情報表示方法（ステップＳ５０の詳細）］
図１０のフロー図を参照して本発明の一実施形態に係るパルスパターン情報表示方法について説明する。なお、この表示方法における手順は、上述の他の３つの表示方法における手順とは異なり、サブルーチンの解析、省略されたパルスパターンの解析等の複雑な処理を行っている。
【００７８】
まず、試験情報表示装置１０００の試験情報参照部１０が試験装置３０００を制御するプログラムデータを参照する（ステップＳ５０１）。プログラムを参照すると、以降の処理を高速化するために参照したプログラムデータを編集する（ステップＳ５０２）。編集内容は図７のステップＳ２０２と同様である。次に、編集したプログラムデータから電子回路素子２０００の端子情報およびスキャン端子情報を取得する（ステップＳ５０３）。図５（ａ）の「PINGROUP1」のように、パルスパターンに係る記述部分では端子がグループ化されている。そのため、端子ごとにパルスパターンを表示させるためには、予め端子およびスキャン端子と端子グループとの関係を把握するために、端子情報およびスキャン端子情報を取得しておく必要がある。なお、ステップＳ５０３の処理において、端子情報を取得することは図７のステップＳ２０３〜Ｓ２０５の処理手順と同様で、さらに、スキャン端子の情報を取得することは図８のステップＳ３０３〜Ｓ３０５の処理手順と同様である。そのため、詳細な説明は省略する。
【００７９】
次に、試験情報取得／解析部２０のパルスパターン情報取得／解析部２４０が、コマンド「Pattern」を基に、試験情報参照部１０が参照したプログラムデータからパルスタイミングに係るデータブロックと、そのデータブロックで呼ばれるサブルーチンのデータを取得する（ステップＳ５０４）。次いで、その取得したサブルーチンデータの構成を解析する（ステップＳ５０５）。この処理の一例を以下に示す。なお、解析した結果は試験情報記憶部３０に格納する。
【００８０】
［ステップＳ５０５の処理の一例］
（１）サブルーチンデータを取得する。
サブルーチン内のデータを１行ずつ取得し、次のブロックが現れるまでデータ取得を繰返す。データ取得の開始時にはフラグをＯＮし、次のブロックが現れたらＯＦＦとすることで複数行に渡るデータの開始と終了を判断する。
（２）ドメインデータを取得する。
サブルーチン内のデータをドメイン毎のデータに分割する。データ範囲を検索するために、データ管理用のカウント処理を実施する。取得した行データを１文字ずつに分けて検索していき、「｛」の場合にはカウントを１プラスし「｝」の場合には１マイナスすることで、「｛  ｝」が入れ子になっていても対応した「｛  ｝」を判断可能としている。カウントが１の場合はデータ開始地点と判断し、「"」から「"」をドメイン名として取得する。カウントが２以上の場合、ドメインのデータとして１行に連結していき、ドメイン毎にハッシュ管理を行う（各ドメインをそれぞれ１行にまとめてハッシュ変数で管理する）。
（３）ドメインデータ内のステートメント情報を取得する。
ハッシュ内に保管したデータにステートメントが含まれる場合、「｛」「｝」「；」毎に分割し、キーワード文字列を付加する、この時ステートメント名は削除する。
【００８１】
ステップＳ５０５の処理が終了すると、次はステップＳ５０４で取得したデータブロック内でサブルーチンを呼び出すステートメント部分を解析する（ステップＳ５０６）。また、解析したサブルーチンがループステートメントで繰り返して呼び出されている場合には、そのループ回数を求める。次は、解析したステートメントのデータ部分を対応するサブルーチンのデータに置き換える（ステップＳ５０７）。これにより、データブロックと、そのブロックに呼ばれるサブルーチン部分とを単一のデータとして取り扱えるため、以降の処理が簡単になる。そして、このデータを試験情報記憶部３０に格納する（ステップＳ５０８）。これらの一連の処理の一例を以下に示す。なお、解析した結果は試験情報記憶部３０に格納する。
【００８２】
［ステップＳ５０６ないしＳ５０８の処理の一例］
（１）データブロック内のデータを１行ずつ取得してサブルーチンステートメントを検索し、Callの場合はステートメント格納配列に「Call」、Macroの場合は「Macro」を格納する。取得した行に「：」がある場合には「：」以前の文字列がLabelと判断して取得し、「"」から「"」までのドメイン名を取得する（注１）。取得した行に「｛」がある場合は、サブルーチンに受け渡すパターンデータが定義されていると判断する。「｛」でフラグＯＮ、「｝」でフラグＯＦＦすることで、複数行のパターンデータ範囲を判断し取得する（注２）。
（２）サブルーチンにパターンデータが定義されていない場合には、サブルーチンの処理でハッシュ変数に取得したドメイン名と（注１）で取得したドメイン名が一致した場合に、サブルーチン内のデータをパターンブロック内のサブルーチン呼び出し箇所に埋め込む（呼び出し文と差し替える）。
（３）一方、サブルーチンの呼び出し時にパターンデータが定義されている場合には、サブルーチン内の処理としては、サブルーチンの処理でハッシュ変数に取得したドメイン名と「（注１）」で取得したドメイン名が一致した場合に、サブルーチンの処理でハッシュ変数に取得したデータを解析する。ドメイン名が一致したパターンデータをステートメント毎に分けるため「｝」を検索し分割する。ステートメント毎に分けたパターンデータを端子や端子グループ毎に分けるため「；」を検索し分割する。端子もしくは端子グループ毎に分けたパターンデータを、端子名／端子グループ名とパターンデータに分けるために、「"」から「"」の文字列を端子名や端子グループ名と判断し、「＝」から「；」をパターンデータと判断し取得する（注３）。パターンデータの処理（サブルーチン呼び出し側）としては、（注２）のパターンデータを端子もしくは端子グループ毎に分けるため「；」を検索し分割し、次に、端子名／端子グループ名とパターンデータに分けるために「"」から「"」の文字列を端子名や端子グループ名と判断し、「＝」から「；」をパターンデータと判断し取得する（注４）。
（４）サブルーチン内パターンデータ（注３）にデータ呼び出し記号の「＃」や「％」が付いているパターンデータに対し、サブルーチン呼び出し側パターンデータ（注４）の端子名もしくは端子グループ名が一致したパターンデータ（注４）を、サブルーチン内のパターンデータとして差し替える。
（５）ループステートメントの処理としては、パターンブロックを１行ずつ取得し、「Loop ［ループ回数］  ｛」がある場合はループ処理フラグをＯＮにし、［ループ回数］を変数へ格納する。ループ処理フラグがＯＮの場合、「｛」又はWaveformTableがあれば｛｝状態フラグをＯＮにし、「｝」又はWaveformTableがあれば｛｝状態フラグをＯＦＦにする。｛｝状態フラグがＯＮの場合、WaveformTableの「；」、Labelの「：」、１行で書かれたVector、Condition間の「｝」の後ろに「＄」を追加し、「＄」により分割してループパターンとして配列へ格納する。「＄」の例を図１２（ａ）に示す。｛｝状態フラグがＯＮの場合、「｝」又はWaveformTableがあれば｛｝状態フラグをＯＦＦにする。｛｝状態フラグがＯＦＦの場合、「｝」又はWaveformTableがあれば分割したループパターンを順次検索し、「｛」がある場合はパターンカウントをプラスしていき、パターンカウントが「０」の場合には状態保持配列に「LOOP_ST」の文字列を格納し、ループ回数配列にループ回数を格納する。パターンカウントが「０」でない場合、状態保持配列、ループ回数配列には空白を格納し、ループパターンを分割格納用の配列へ格納する。全ループパターン検索の完了後、パターンカウントが１以下の場合、状態保持配列に「LOOP_ST_EN」を格納し、ループ回数配列にループ回数を格納してループ処理フラグをＯＦＦにする。パターンカウントが２以上の場合、状態保持配列に「LOOP_EN」を格納し、ループ回数として空白を格納し、ループ処理フラグをＯＦＦにする。ループ処理フラグがＯＦＦの場合、状態保持配列、ループ回数配列は空白を追加する。
（６）１行に書かれた複数パターンを分割する。
パターンブロックを１行ずつ取得し「Loop」がない場合、WaveformTableの「；」、Labelの「：」、1行で書かれたVector、Condition間の「｝」の後ろに「＄」を追加し、「＄」により分割して分割パターン配列へ格納する（図１２（ｂ）参照）。
（７）１行１ステートメントのデータを格納する。
分割パターン配列からデータを順次取得し、ConditionステートメントがあればコンディションフラグをＯＮにし、コンディションカウントをプラスする。Vectorステートメントの場合はコンディションフラグをＯＦＦにする。取得した分割パターン配列のデータに下記のステートメントがある場合、パターンフラグをＯＮにして、取得データを配列へ格納する。「Macro"」「Call"」「Vector{」「V{」「Condition{」「C{」「WaveformTable"」「W"」「Shift{」「Loop」
パターンフラグがＯＮで「｝」が含まれる場合、パターンフラグをＯＦＦにし、パターンカウントをプラスする。その際、「｛」が含まれない場合、取得データを配列に格納する。また、「｛」「｝」を含まない場合も取得データを配列に格納する。図１２（ｃ）に示すように、配列に格納したデータを連結する事で、１ステートメント（「［ステートメント］｛」から「｝」）を１行として変数に格納する。１行ずつ格納した変数内のデータを「｛」で分割する事でステートメントとパターンに分け、それぞれパターンカウント毎にステートメント（注７）とパターン（注５）を別の配列へ格納する。ステートメントに「：」が含まれる場合、Labelとして変数へ格納する。
【００８３】
ステップＳ５０８の処理が終了すると、格納したデータにおける省略された部分および端子を解析して、解析した省略部分を補足する（書き足す）修正を行う（ステップＳ５０９）。詳細にはどのように処理しているかを説明するために、この処理の一例を以下に示す。なお、修正した結果は試験情報記憶部３０に格納する。
【００８４】
［ステップＳ５０９の処理の一例］
繰り返し記述の展開
ＳＴＩＬファイルはパターン値として図１３（ａ）に示す例のように、繰り返し記述「￥ｒ」を使用する事で省略する事が出来るため、この記述を展開する。１ステートメントずつ格納したパターン配列（注５）を順次取得し、「￥ｒ」がある場合「￥」の前にスペースをつけ、端子や端子グループ毎に分けるため「；」を検索し分割する。分割したものに「＝」が含まれる場合、端子名／端子グループ名とパターンデータに分けるため「＝」で分割する。図１３（ｂ）で示すように「＝」で分割した端子名／端子グループ名を変数へ格納し、パターンデータを更にスペースで分割する。スペースで分割したパターンデータを順次参照していき、「￥ｒ」を含む場合は信号数を取得し省略パターン値を信号の数だけ配列に格納する。「￥ｒ」を含まないパターンデータはそのまま配列へ格納する。端子名／端子グループ名と「＝」を先頭に連結し、省略パターン値を展開した配列をパターン格納配列（注６）へ格納する。
【００８５】
ステップＳ５０９の処理が終了すると、データブロックを解析して、各端子における入力パルスのパターンを求める（ステップＳ５１０）。詳細にはどのように処理しているかを説明するために、この処理の一例を以下に示す。なお、修正した結果は試験情報記憶部３０に格納する（ステップＳ５１１）。
【００８６】
［ステップＳ５１０およびＳ５１１の処理の一例］
（１）１アドレス目パターンを格納する。
図１３（ｃ）に示すように、パターン格納配列（注６）に格納したパターンを順次取得し、空白で分割する事で端子・端子グループ別にデータを配列に格納する。分割したものを更に「＝」で分割し、端子名／端子グループ名（注８）とパターン（注９）に分ける。
対応するステートメント格納配列（注７）がCallの場合には、全端子分ループし、Procedures用パターン配列にパターン値が含まれない端子は、初期値として「ｘ」をProcedures用パターン配列に格納する。「＝」で分割した端子名／端子グループ名がSignalGroupsに含まれる場合、そのSignalGroupsを「＋」で分割しパターンを1文字ずつ分割して、それぞれ配列に格納する（図１３（ｄ）を参照）。端子名／端子グループ名（注８）がSignalGroupsに含まれる場合、対応するパターン（注９）がある端子はProcedures用パターン配列に格納する。パターン（注９）が無い端子は「ｘ」を格納する。
端子名／端子グループ名（注８）がSignalsに含まれる場合、パターン（注９）をProcedures用パターン配列に格納する。 
一方、対応するステートメント格納配列（注７）がCall以外の場合には、全端子分ループし、通常パターン配列にパターン値が含まれない端子は、初期値として「ｘ」を通常パターン配列に格納する。端子名／端子グループ名（注８）がSignalGroupsに含まれる場合、対応するパターン（注９）がある端子は通常パターン配列に格納する。パターン（注９）が無い場合は「ｘ」を格納する。端子名／端子グループ名（注８）がSignalsに含まれる場合、パターンを通常パターン配列に格納する。
Callの場合はProcedures用配列、それ以外は通常パターン配列から、総合パターン配列と前アドレスパターン配列（注１０）に格納する。
（２）２アドレス目以降パターンを格納する。
パターン格納配列（注６）に格納したパターンを順次取得し、空白で分割する事で端子・端子グループ別にデータを配列に格納する。
分割したものを更に「=」で分割し、端子名／端子グループ名（注８）とパターン（注９）に分ける。
対応するステートメント格納配列（注７）がCallの場合には、全端子分ループし、Procedures用パターン配列にパターン値が含まれない端子は、「x」をProcedures用パターン配列に格納する。「＝」で分割した端子名／端子グループ名がSignalGroupsに含まれる場合、そのSignalGroupsを「+」で分割しパターンを1文字ずつ分割して、それぞれ配列に格納する。SignalGroupsの端子数ループし、Signalsに一致する端子名がある場合に下記の「条件」のものは、前アドレスのパターンを格納している配列（注１０）からProcedures用配列に格納する。「＝」で分割したパターン（注８）に値が含まれる端子は、そのままProcedures用配列に格納し、含まれない端子は「x」を格納する。
一方、対応するステートメント格納配列（注７）がCall以外の場合には、SignalGroupsの端子数だけループさせ、Signalsに一致する端子名がある場合に下記の「条件」のものは、前アドレスのパターンを格納している配列（注１０）から通常パターン配列に格納する。「＝」で分割したパターン（注８）に値が含まれる端子は、そのまま通常パターン配列に格納し、含まれない端子は「x」を格納する。
「条件」とは、Condition・双方向端子、パターン値が「Ｘ」または「Ｚ」、前アドレスのパターンが「０」または「１」の場合である。
Callの場合はProcedures用配列、それ以外は通常パターン配列から、総合パターン配列と前アドレスパターン配列（注１０）に格納する。
【００８７】
ステップＳ５１１の処理以降は、図１１のフロー図を参照して説明する。
パルスパターンに関する情報の格納が完了すると、次は、そのパルスパターン情報を試験情報表示部５０に表示させるか、あるいは、試験情報表示装置１０００の外部にデータとして出力するかどうかを選択する（ステップＳ５１２）。この選択はユーザによって試験情報表示部５０およびキーボードまたはマウス等を用いて行われる。
次いで、ステップＳ５１２の処理と同様にして、ユーザが表示または出力する項目をパルスパターン情報から選択する（ステップＳ５１３）。なお、選択する項目の例としては、端子名、端子範囲、パターンアドレス、パターンアドレス範囲、等が挙げられる。
【００８８】
試験情報作成部４０のパルスパターン情報作成部４４０がステップＳ５１２で選択した項目を解析し、選択した項目内容が正しいかどうかを判断する（ステップＳ５１４）。内容が正しくないと判断した場合は、ステップＳ５１２の処理に戻る。解析する内容は、例えば、指定されたパルス信号の番号が整数であるか、格納されたデータ内に選択された項目の情報が存在するか、等である。
解析が終わると、パルスパターン情報作成部４４０がステップＳ５１２で選択された項目に該当するパルスパターンの情報を試験情報記憶部３０に格納されたパルスパターン情報から検索する（ステップＳ５１５）。
【００８９】
検索後、その検索したパルスパターン情報を配列する（ステップＳ５１６）。具体的には、種々の項目のデータを並び換え、データ名称、コメントなどの付加を行う。
さらに、ステップＳ５１３で「表示」が選択された場合には、配列したパルスパターン情報を試験情報表示部５０に送付し、試験情報表示部５０はその受け取った情報を表示する（ステップＳ５１７）。一方、ステップＳ３０６で「出力」が選択された場合には、データ出力形式に合ったセパレータを使用して配列したパルスタイミング情報を含んだデータを生成し、そのデータを外部に出力する（ステップＳ５１７）。
【００９０】
以上に渡り、本発明の一実施形態に係る試験情報表示装置１０００および試験情報表示方法について説明したが、本発明の内容はこの実施形態に限定されるものではないことに留意されたい。例えば、図１に示す試験情報表示部５０は必ずしも試験情報表示装置１０００の構成要素である必要はない。代替的に、市販の表示装置を試験情報表示装置１０００に接続して用いてもよい。
【００９１】
本発明の一実施形態に係る試験情報表示装置１０００が提供する機能は、特定のハードウェア資源またはソフトウェア処理に限定されないことに留意されたい。すなわち、この機能を実現できる限り、如何なるハードウェア（電子回路等）、ソフトウェア（プログラム）、あるいはそれらの組み合わせ等を用いてよい。
【００９２】
上述した本発明の一実施形態に係る試験情報表示方法を、プログラムとして実装する場合には、このプログラムを外部のサーバ等から該方法を実行する情報処理装置にダウンロードするか、あるいはコンピュータ可読媒体の形態で分配されることが好ましい。コンピュータ可読媒体の例としては、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ、磁気テープ、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ハードディスク、メモリ媒体などが挙げられる。
【００９３】
以上、本発明を図面に示した実施形態を用いて説明したが、これらは例示的なものに過ぎず、本技術分野の当業者ならば、本発明の範囲および趣旨から逸脱しない範囲で多様な変更および変形が可能なことは理解できるであろう。したがって、本発明の範囲は、説明された実施形態によって定められず、特許請求の範囲に記載された技術的趣旨により定められねばならない。
【符号の説明】
【００９４】
１０    試験情報参照部
２０    試験情報取得／解析部
３０    試験情報記憶部
４０    試験情報作成部
５０    試験情報表示部
２１０  端子情報取得／解析部
２２０  スキャン端子情報取得／解析部
２３０  パルスタイミング情報取得／解析部
２４０  パルスパターン情報取得／解析部
４１０  端子情報作成部
４２０  スキャン端子情報作成部
４３０  パルスタイミング情報作成部
４４０  パルスパターン情報作成部
１０００  試験情報表示装置
２０００  電子回路素子
３０００  試験装置
【図１】
2012167958.tif 000003
【図２】
2012167958.tif 000004
【図３】
2012167958.tif 000005
【図４】
2012167958.tif 000006
【図５】
2012167958.tif 000007
【図６】
2012167958.tif 000008
【図７】
2012167958.tif 000009
【図８】
2012167958.tif 000010
【図９】
2012167958.tif 000011
【図１０】
2012167958.tif 000012
【図１１】
2012167958.tif 000013
【図１２】
2012167958.tif 000014
【図１３】
2012167958.tif 000015