(57)【要約】【課題】電気的な計測装置を用いることなく、安全かつ簡便に、応力頻度を計数することができる応力頻度の計測方法を提供する。【解決手段】感度が相違する犠牲試験片Ｂ、Ｃ、Ｄを貼付し（Ｓ１）、所定時間が経過した後、それぞれのき裂進展量Δｂ、Δｃ、Δｄを計測する（Ｓ２）。犠牲試験片Ｃについて応力４０ＭＰａが作用したときのき裂進展量と繰返し数との関係である「き裂進展曲線Ｃ４０」から、き裂進展量Δｃに対応した応力４０ＭＰａにおける繰返し数Ｎ４０を求める（Ｓ４）。犠牲試験片Ｄにおけるき裂進展量Δｄは、「き裂進展曲線Ｄ４０」から繰返し数Ｎ４０回に対応したき裂進展量Δｄ４０を求め、応力２０ＭＰａの「き裂進展曲線Ｄ２０」において、計測値Δｄからき裂進展量Δｄ４０を引いたき裂進展量Δｄ２０に対応した繰返し数Ｎ２０が求められる（Ｓ５）。【選択図】図１
2012002622.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
き裂の進展開始最低応力値が相違する複数の犠牲試験片について、所定の応力レベルの応力の繰返し数とき裂進展量との関係を示すき裂進展曲線を求める工程と、
き裂の進展開始最低応力値が相違する複数の犠牲試験片を、計測位置に貼付する工程と、
所定時間の経過後に、前記複数の犠牲試験片におけるき裂進展量を計測する工程と、
前記複数の犠牲試験片のうち所定進展開始最低応力値である犠牲試験片において計測されたき裂進展量が、当該犠牲試験片の代表応力レベルにおけるき裂進展量と、当該進展開始最低応力値より大きな進展開始最低応力値である犠牲試験片の代表応力レベルにおける当該犠牲試験片のき裂進展量との和とし、
当該犠牲試験片の代表応力レベルにおけるき裂進展量を、当該犠牲試験片において計測されたき裂進展量から、当該進展開始最低応力値より大きな進展開始最低応力値である犠牲試験片の代表応力レベルにおける当該犠牲試験片のき裂進展量から差し引いて求める工程と、
当該犠牲試験片の代表応力レベルにおけるき裂進展量から、前記き裂進展曲線に基づいて、当該犠牲試験片の代表応力レベルについての繰返し数を求める工程と、
を有することを特徴とする応力頻度の計測方法。
【請求項２】
前記複数の犠牲試験片に替えて、き裂の進展開始最低応力値が相違する複数の予き裂が設けられた１枚の犠牲試験片を用いることを特徴とする請求項１記載の応力頻度の計測方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は応力頻度の計測方法、特に、船舶等の大型構造物の特定部位に繰り返し作用する応力の頻度を計測する応力頻度の計測方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、船舶のような大型鋼構造物では、疲労損傷への対応として、実際の疲労被害の程度を求めるために「実働応力計測」がしばしば実施される。
実働応力計測は、応力を計測したい箇所にひずみゲージを貼付し、ヒストグラムレコーダを接続して応力（ひずみ）を計測することが一般的である。ヒストグラムレコーダでは、あらかじめ用意された頻度解析プログラム（例えばレインフロー法等）によって計測したデータがデジタル処理され、頻度数として記録されていく。すなわち、波形データそのものは記録されないものの、設定されたスライスレベルによりレベル毎の回数（頻度）としてカウントされ、長期にわたって連続的に応力（ひずみ）の発生頻度を記録できるようになっている。よって、ヒストグラムレコーダの場合、応力（ひずみ）レベル毎の発生頻度を直接計測できる利点がある。
【０００３】
しかしながら、ヒストグラムレコーダを使用する場合、長期にわたり電源を確保しておく必要があり、例えば大型船舶の船底のような電源の確保が困難な箇所には、適用が困難である。また、タンカーのように防爆対策が必要な場合には、設置そのものが困難である。さらに、ひずみゲージに加え、配線、データロガーの固定、結露対策などが必要であり、実施には多くの対策を伴う。
このため、ひずみゲージを用いないで、犠牲試験片あるいは疲労センサ等と称されるセンサーを用いて、長期に渡る疲労損傷度の計測方法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００２−１２２５２６号公報（第３−４頁、図１）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献１に開示された発明は、応力を計測したい構造部位に、予き裂を入れた犠牲試験片（一般には金属の小片）を取付け、繰返し応力により犠牲試験片に生じたき裂の伸び量（以下、「き裂進展量」と称す）から、当該箇所の疲労損傷度を推定するというものである。
この計測方法は前述のひずみゲージを貼付する計測方法と異なり、犠性試験片を貼り付けてしまえば電源は不要であり、定期的にき裂の伸びを計測するだけでよい。したがって、電源の設置が困難な部位や防爆対策が必要な部位にも取付け易く、付属物がなく、配線は不要なため、取扱いが非常に簡便な利点がある。
【０００６】
しかしながら、犠牲試験片を用いた計測方法では、き裂進展量から求めた疲労被害度（疲労損傷度に同じ）から等価応力は求めることができるものの、どのようなレベルの応力がどの程度の繰返し数で作用したかを求めることはできないという問題があった。
【０００７】
本発明は、前記問題を解決するものであって、電気的な計測装置を用いることなく安全かつ簡便に、計測したい構造部位（あるいは共通する応力が作用する複数の構造部位）における応力の頻度を計数する、応力頻度の計測方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
（１）本発明に係る応力頻度の計測方法は、き裂の進展開始最低応力値が相違する複数の犠牲試験片について、所定の応力レベルの応力の繰返し数とき裂進展量との関係を示すき裂進展曲線を求める工程と、
き裂の進展開始最低応力値が相違する複数の犠牲試験片を、計測位置に貼付する工程と、
所定時間の経過後に、前記複数の犠牲試験片におけるき裂進展量を計測する工程と、
前記複数の犠牲試験片のうち所定進展開始最低応力値である犠牲試験片において計測されたき裂進展量が、当該犠牲試験片の代表応力レベルにおけるき裂進展量と、当該進展開始最低応力値より大きな進展開始最低応力値である犠牲試験片の代表応力レベルにおける当該犠牲試験片のき裂進展量との和とし、
当該犠牲試験片の代表応力レベルにおけるき裂進展量を、当該犠牲試験片において計測されたき裂進展量から、当該進展開始最低応力値より大きな進展開始最低応力値である犠牲試験片の代表応力レベルにおける当該犠牲試験片のき裂進展量から差し引いて求める工程と、
当該犠牲試験片の代表応力レベルにおけるき裂進展量から、前記き裂進展曲線に基づいて、当該犠牲試験片の代表応力レベルについての繰返し数を求める工程と、
を有することを特徴とする。
（２）また、前記複数の犠牲試験片に替えて、き裂の進展開始最低応力値が相違する複数の予き裂が設けられた１枚の犠牲試験片を用いることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明の応力頻度の計測方法によれば、電気的な計測装置を用いることなく、安全かつ簡便に、応力を計測したい構造部位（あるいは共通する応力が作用する複数の構造部位）に、感度（き裂の進展開始最低応力値に同じ）の異なる複数枚の犠牲試験片を貼付して、ある期間毎にそれぞれのき裂進展量を計測することにより、当該構造部位における応力の頻度を計数することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の実施の形態に係る応力頻度の計測方法に用いる犠牲試験片を模式的に示す平面図。
【図２】本発明の実施の形態に係る応力頻度の計測方法を説明するフローチャート。
【図３】本発明の実施の形態に係る応力頻度の計測方法におけるき裂進展曲線。
【図４】本発明の実施の形態に係る応力頻度の計測方法におけるき裂進展曲線。
【図５】本発明の実施の形態に係る応力頻度の計測方法における応力頻度分布図。
【図６】本発明の実施の形態に係る応力頻度の計測方法を説明するフローチャート。
【図７】本発明の実施の形態に係る応力頻度の計測方法におけるき裂進展曲線。
【図８】本発明の実施の形態に係る応力頻度の計測方法におけるき裂進展曲線。
【図９】本発明の実施の形態に係る応力頻度の計測方法におけるき裂進展曲線。
【図１０】本発明の実施の形態に係る応力頻度の計測方法における応力頻度分布図。
【図１１】本発明の実施の形態に係る応力頻度の計測方法に用いる犠牲試験片を模式的に示す平面図。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
図１〜図１１は本発明の実施の形態に係る応力頻度の計測方法を模式的に説明するものであって、図１は犠牲試験片を模式的に示す平面図、図２は３ゲージ式のフローチャート、図３および図４はき裂進展曲線、図５は応力頻度分布図、図６は４ゲージ式のフローチャート、図７〜図９はき裂進展曲線、図１０は応力頻度分布図、図１１は犠牲試験片を模式的に示す平面図である。
犠牲試験片１は、矩形状の板片２であって、板片２の中央に切欠部３が設けられ、切欠部３の両端に予き裂（初期き裂）４が形成されている。このとき、一対の予き裂４の先端間距離をｗ０とする（図１の（ａ）参照）。
図１の（ｂ）において、犠牲試験片１に図中左右方向に所定の引張応力σが繰返し作用したとき、予き裂４が進展し（伸び）、一対の予き裂４の先端間距離がｗ１に増大したとき、き裂進展量Δｗは進展後の先端間距離ｗ１と当初の先端間距離ｗ１との差の半分とする（それぞれの予き裂４のき裂進展量の平均に同じ、図１の（ｂ）参照）。
【００１２】
また、犠牲試験片１に図中左右方向に所定の引張応力σが繰返し作用しても、予き裂４が進展しない場合、予き裂４が進展しない最大応力を「感度（き裂の進展開始最低応力値に同じ）」と称す。感度は、犠牲試験片１の寸法や剛性、切欠部３や予き裂４周辺の剛性や応力集中等を変えることによって、その値を変更することができるものである。なお、切欠部３の形状や予き裂の形成方法を限定するものではない。また、板片２の形状は矩形状に限定するものではなく、中央部の幅を端部の幅よりも狭くした所謂「試験片形状」にしたり、端部近くに犠牲試験片１を被計測部位に設置するための貫通穴（ボルト穴）等を形成したりしてもよい。
【００１３】
（実施例１：３ゲージ式）
犠牲試験片Ｂ、Ｃ、Ｄを用いた応力頻度の計測方法（以下、単に「計測方法」と称す場合がある）について説明する。
犠牲試験片Ｂ、Ｃ、Ｄはそれぞれ、感度がσBＭＰａ、σCＭＰａ、σDＭＰａである。そして、犠牲試験片Ｂ、Ｃ、Ｄそれぞれについて、作用する応力レベルに対応した、繰り返し数とき裂進展量との関係が予め計測され、該関係を示す「き裂進展曲線」が得られている。
以下、理解を容易にするために便宜上、感度σBＭＰａ、σCＭＰａ、σDＭＰａの値が、それぞれ５０ＭＰａ、３０ＭＰａ、１０ＭＰａとした場合について説明するが、本発明はこれに限定するものではなく、感度σBＭＰａ、σCＭＰａ、σDＭＰそれぞれの値は、「σB＞σC＞σD」である限り、何れであってもよい。
【００１４】
図２において、まず、船舶等の大型構造物の応力頻度を計測したい箇所に、犠牲試験片Ｂ、Ｃ、Ｄを貼り付ける（Ｓ１）。
そして、所定時間が経過した後、犠牲試験片Ｂ、Ｃ、Ｄそれぞれにおける、き裂の進展状況を計測する。例えば、計測時に、犠牲試験片Ｂ、Ｃ、Ｄのそれぞれのき裂進展量が、Δｂ（＝０ｍｍ）、Δｃ（＞０ｍｍ）、Δｄ（＞０ｍｍ）であったとする（Ｓ２）。
【００１５】
そして、以下の要領で応力頻度を計算する。
まず、犠牲試験片Ｂについて計測されたき裂進展量Δｂ（＝０ｍｍ）から、犠牲試験片Ｂに作用した応力と繰返し数を計算する（Ｓ３）。
このとき、犠牲試験片Ｂでは、き裂が進展していないから、当該計測部位に５０ＭＰａ以上の応力が作用していなかったことが分かる。よって、５０ＭＰａ以上の繰返し数（応力頻度、Ｎ５０）は０回（Ｎ５０＝０）となる。
【００１６】
次に、犠牲試験片Ｃについて計測されたき裂進展量Δｃから、犠牲試験片Ｃに作用した応力と繰返し数を計算する（Ｓ４）。
犠牲試験片Ｃでは、き裂がΔｃだけ進展しているから、３０ＭＰａ以上の応力が作用したことが分かる。そして、犠牲試験片Ｂの計測結果から５０ＭＰａ以上の応力が作用していないことが分かっているから、犠牲試験片Ｃにおけるき裂は、３０ＭＰａ〜５０ＭＰａの間の応力によって進展したことが分かる。
そこで、犠牲試験片Ｃには３０ＭＰａと５０ＭＰａとの中央値である４０ＭＰａ（代表応力レベル）が作用したとして、犠牲試験片Ｃにおける４０ＭＰａの繰り返し応力についての「き裂進展曲線Ｃ４０（図３参照）」から、き裂進展量Δｃに対応した繰返し数Ｎ４０が求められる。
【００１７】
さらに、犠牲試験片Ｄについて計測されたき裂進展量Δｄから、犠牲試験片Ｄに作用した応力と繰返し数を計算する（Ｓ５）。
犠牲試験片Ｄでは、き裂がΔｄだけ進展しているから、１０ＭＰａ以上の応力が作用したことが分かる。そして、犠牲試験片Ｂ、Ｃの計測結果から、当該計測部位には、５０ＭＰａ以上の応力は作用しないで、代表応力レベル４０ＭＰａの応力がＮ４０回繰り返されたことが分かっている。
このとき、犠牲試験片Ｄにおけるき裂進展量Δｄは、代表応力レベル４０ＭＰａの応力がＮ４０回作用したことによるき裂進展量Δｄ４０と、１０ＭＰａと３０ＭＰａとの中央値である２０ＭＰａ（代表応力レベル）の応力がＮ２０回作用したことによるき裂進展量Δｄ２０との和とする（Δｄ＝Δｄ４０＋Δｄ２０）。
【００１８】
そうすると、犠牲試験片Ｄにおける４０ＭＰａの繰り返し応力についての「き裂進展曲線Ｄ４０（図４の（ａ）参照）」から繰返し数Ｎ４０回に対応したき裂進展量Δｄ４０が求められるから、代表応力レベル２０ＭＰａの応力によるき裂進展量Δｄ２０は計測値Δｄから繰返し数Ｎ４０回に対応したき裂進展量Δｄ４０を引いた値となる（Δｄ２０＝Δｄ−Δｄ４０）。
そこで、犠牲試験片Ｄにおける２０ＭＰａの繰り返し応力についての「き裂進展曲線Ｄ２０（図４の（ｂ）参照）」において、き裂進展量Δｄ２０に対応した繰返し数Ｎ２０が求められる。
【００１９】
さらに、総繰返し数Ｎから、犠牲試験片Ｄの感度以下の応力（＜１０ＭＰａ）の繰返し数を推定する（Ｓ６）。
例えば計測期間中の総繰返し数Ｎが分かっている場合で、総繰返し数Ｎが繰返し数Ｎ４０と繰返し数Ｎ２０との合計よりも大きい場合、その差である繰返し数Ｎ１０（＝Ｎ−（Ｎ４０＋Ｎ２０））回だけ、１０ＭＰａ以下の応力が作用したと推定することができる（１０ＭＰａ以下の応力の繰り返しによって犠牲試験片Ｄではき裂は進展しない）。
以上より、この計測方法により、ひずみゲージを用いた頻度計よりも格段に安全かつ簡便に、単独の犠牲試験片では求められなかった応力の頻度分布（離散化した各応力レベルの繰返し数に同じ、図５参照）を求めることが可能となる。
【００２０】
（実施例２：４ゲージ式）
次に、犠牲試験片を４枚使用する実施例２について説明する。
犠牲試験片Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄはそれぞれ、感度がσAＭＰａ、σBＭＰａ、σCＭＰａ、σDＭＰａである。そして、犠牲試験片Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄそれぞれについて、作用する応力レベルに対応した、繰り返し数とき裂進展量との関係が予め計測され、該関係を示す「き裂進展曲線」が得られている。
以下、理解を容易にするため便宜上、感度σAＭＰａ、σBＭＰａ、σCＭＰａ、σDＭＰａの値が、それぞれ７０ＭＰａ、５０ＭＰａ、３０ＭＰａ、１０ＭＰａとした場合について説明するが、本発明はこれに限定するものではなく、感度σAＭＰａ、σBＭＰａ、σCＭＰａ、σDＭＰそれぞれの値は、「σA＞σB＞σC＞σD」である限り、何れであってもよい。
図６において、まず、船舶等の大型構造物の応力頻度を計測したい箇所に、犠牲試験片Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄを貼り付ける（Ｓ１１）。
そして、所定時間が経過した後、犠牲試験片Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄそれぞれにおける、き裂の進展状況を計測する（Ｓ１２）。例えば、計測時に、犠牲試験片Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄのそれぞれのき裂進展量が、Δａ（＝０ｍｍ）、Δｂ（＞０ｍｍ）、Δｃ（＞０ｍｍ）、Δｄ（＞０ｍｍ）であったとする。
【００２１】
まず、犠牲試験片Ａについて計測されたき裂進展量Δａ（＝０ｍｍ）から、犠牲試験片Ａに作用した応力と繰返し数を計算する（Ｓ１３）。
このとき、犠牲試験片Ａでは、き裂が進展していないから、当該計測部位に７０ＭＰａ以上の応力が作用していなかったことが分かる。よって、７０ＭＰａ以上の繰返し数Ｎ７０は０回（Ｎ７０＝０）となる。
【００２２】
そして、犠牲試験片Ｂについて計測されたき裂進展量Δｂ（＞０ｍｍ）から、犠牲試験片Ｂに作用した応力と繰返し数を計算する（Ｓ１４）。
犠牲試験片Ｂでは、き裂がΔｂだけ進展しているから、実施例１における犠牲試験片Ｃに準じて、犠牲試験片Ｂには５０ＭＰａと７０ＭＰａとの中央値である６０ＭＰａ（代表応力レベル）が作用したとして、犠牲試験片Ｂにおける６０ＭＰａの繰り返し応力についての「き裂進展曲線Ｂ６０（図７参照）」から、き裂進展量Δｂに対応した繰返し数Ｎ６０が求められる。
【００２３】
次に、犠牲試験片Ｃについて計測されたき裂進展量Δｃ（＞０ｍｍ）から、犠牲試験片Ｃに作用した応力と繰返し数を計算する（Ｓ１５）。
犠牲試験片Ｃでは、き裂がΔｃだけ進展しているから、実施例１における犠牲試験片Ｄに準じて、犠牲試験片Ｃにおけるき裂進展量Δｃは、代表応力レベル６０ＭＰａの応力がＮ６０回作用したことによるき裂進展量Δｃ６０と、３０ＭＰａと５０ＭＰａとの中央値である４０ＭＰａ（代表応力レベル）の応力がＮ４０回作用したことによるき裂進展量Δｃ４０との和とする（Δｃ＝Δｃ６０＋Δｃ４０）。
【００２４】
そうすると、犠牲試験片Ｃにおける６０ＭＰａの繰り返し応力についての「き裂進展曲線Ｃ６０（図８の（ａ）参照）」から繰返し数Ｎ６０回に対応したき裂進展量Δｃ６０が求められるから、代表応力レベル４０ＭＰａの応力によるき裂進展量Δｃ４０は計測値Δｃから繰返し数Ｎ６０回に対応したき裂進展量Δｃ６０を引いた値となる（Δｃ４０＝Δｃ−Δｃ６０）。そこで、犠牲試験片Ｃにおける４０ＭＰａの繰り返し応力についての「き裂進展曲線Ｃ４０（図８の（ｂ）参照）」において、き裂進展量Δｃ４０に対応した繰返し数Ｎ４０が求められる。
【００２５】
さらに、犠牲試験片Ｄについて計測されたき裂進展量Δｄ（＞０ｍｍ）から、犠牲試験片Ｄに作用した応力と繰返し数を計算する（Ｓ１６）。
犠牲試験片Ｄでは、き裂がΔｄだけ進展しているから、１０ＭＰａ以上の応力が作用したことが分かる。このとき、犠牲試験片Ｄにおけるき裂進展量Δｄは、代表応力レベル６０ＭＰａの応力がＮ６０回作用したことによるき裂進展量Δｄ６０と、代表応力レベル４０ＭＰａの応力がＮ４０回作用したことによるき裂進展量Δｄ４０と、１０ＭＰａと３０ＭＰａとの中央値である２０ＭＰａ（代表応力レベル）の応力がＮ２０回作用したことによるき裂進展量Δｄ２０との和とする（Δｄ＝Δｄ６０＋Δｄ４０＋Δｄ２０）。
【００２６】
そうすると、犠牲試験片Ｄにおける６０ＭＰａの繰り返し応力についての「き裂進展曲線Ｄ６０（図９の（ａ）参照）」から繰返し数Ｎ６０回に対応したき裂進展量Δｄ６０が求められ、犠牲試験片Ｄにおける４０ＭＰａの繰り返し応力についての「き裂進展曲線Ｄ４０（図９の（ｂ）参照）」から繰返し数Ｎ４０回に対応したき裂進展量Δｄ４０が求められるから、代表応力レベル２０ＭＰａの応力によるき裂進展量Δｄ２０は計測値Δｄから、き裂進展量Δｄ６０およびき裂進展量Δｄ４０を引いた値となる（Δｄ２０＝Δｄ−Δｄ６０−Δｄ４０）。
そこで、犠牲試験片Ｄにおける２０ＭＰａの繰り返し応力についての「き裂進展曲線Ｄ２０（図９の（ｃ）参照）」において、き裂進展量Δｄ２０に対応した繰返し数Ｎ２０が求められる。
【００２７】
さらに、総繰返し数Ｎから、犠牲試験片Ｄの感度以下の応力（＜１０ＭＰａ）の繰返し数を推定する（Ｓ１７）。
例えば計測期間中の総繰返し数Ｎが分かっている場合で、総繰返し数Ｎが繰返し数Ｎ６０と繰返し数Ｎ４０と繰返し数Ｎ２０の合計よりも大きい場合、その差である繰返し数Ｎ１０（＝Ｎ−（Ｎ６０＋Ｎ４０＋Ｎ２０））回だけ、１０ＭＰａ以下の応力が作用したと推定することができる（１０ＭＰａ以下の応力の繰り返しによって犠牲試験片Ｄではき裂は進展しない）。  
【００２８】
以上より、この計測方法により、ひずみゲージを用いた頻度計よりも格段に安全かつ簡便に、単独の犠牲試験片では求められなかった応力の頻度分布（離散化した各応力レベルの繰返し数に同じ、図１０参照）を求めることが可能となる。
なお、複数の犠牲試験片Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄに替えて、板辺６に、感度７０ＭＰａの予き裂４ａ、感度５０ＭＰａの予き裂４ｂ、感度３０ＭＰａの予き裂４ｃ、感度１０ＭＰａの予き裂４ｄ、が設けられた犠牲試験片５（図１１参照）を用いてもよい。
【００２９】
以上、犠牲試験片を３枚使用する実施例１と、４枚使用する実施例２についての計測方法を説明したが、本願発明は犠牲試験片の数量を限定するものではなく、５枚以上であってもよい。そして、犠牲試験片それぞれの感度は限定されるものではなく、応力頻度を計測したい箇所の状況や計測精度等に応じて、適宜選定することができる。
また、１枚の板片に複数の予き裂を設ける場合、予き裂の数量は限定させるものではない（図１１参照）。
【産業上の利用可能性】
【００３０】
本発明によれば、電気的な計測装置を用いることなく、安全かつ簡便に計測したい構造部位の応力頻度を計測することができるから、船舶や建築土木等の大型構造物に限定することなく、各種構造物における応力頻度の計測方法として広く利用することができる。
【符号の説明】
【００３１】
１ 犠牲試験片
２ 板片
３ 切欠部
４ 予き裂
４ａ 予き裂
４ｂ 予き裂
４ｃ 予き裂
４ｄ 予き裂
５ 犠牲試験片
６ 板辺
Δａ き裂進展量（犠牲試験片Ａ）
Δｂ き裂進展量（犠牲試験片Ｂ）
Δｃ き裂進展量（犠牲試験片Ｃ）
Δｃ４０ き裂進展量（犠牲試験片Ｃ、４０ＭＰａ）
Δｃ６０ き裂進展量（犠牲試験片Ｃ、６０ＭＰａ）
Δｄ     き裂進展量（犠牲試験片Ｄ）
Δｄ２０ き裂進展量（犠牲試験片Ｄ、２０ＭＰａ）
Δｄ４０ き裂進展量（犠牲試験片Ｄ、４０ＭＰａ）
Δｄ６０ き裂進展量（犠牲試験片Ｄ、６０ＭＰａ）
Ａ 犠牲試験片
Ｂ 犠牲試験片
Ｃ 犠牲試験片
Ｄ 犠牲試験片
Ｂ６０ き裂進展曲線（犠牲試験片Ｂ、６０ＭＰａ）
Ｃ４０ き裂進展曲線（犠牲試験片Ｃ、４０ＭＰａ）
Ｃ６０ き裂進展曲線（犠牲試験片Ｃ、６０ＭＰａ）
Ｄ２０ き裂進展曲線（犠牲試験片Ｄ、２０ＭＰａ）
Ｄ４０ き裂進展曲線（犠牲試験片Ｄ、４０ＭＰａ）
Ｄ６０ き裂進展曲線（犠牲試験片Ｄ、６０ＭＰａ）
Ｎ１０ 繰返し数（１０ＭＰａ）
Ｎ２０ 繰返し数（２０ＭＰａ）
Ｎ４０ 繰返し数（４０ＭＰａ）
Ｎ５０ 繰返し数（５０ＭＰａ）
Ｎ６０ 繰返し数（６０ＭＰａ）
Ｎ７０ 繰返し数（７０ＭＰａ）
ｗ０ 先端間距離
ｗ１ 先端間距離
Δｗ き裂進展量
σ 引張応力
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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