(57)【要約】【課題】投入試験と遮断試験に分けることなく、一連の動作責務による開閉試験を実施することにより、試験回数を半減させると共に、投入回数に応じた接点の損耗状態で遮断試験を行うことができる開閉装置の試験装置及びその試験方法を提供する。【解決手段】コンデンサ２を電源とし、このコンデンサ２とは別のコンデンサ４を充電する。開路状態の供試開閉装置１の電極の片側に供試開閉装置定格電圧波高値相当の直流電圧を印加する。供試開閉装置１を投入することで、コンデンサ２とリアクトル３及び抵抗６からなる振動回路と接続し、高周波突入電流を供試開閉装置１に供給する回路を突入電流供給用電源回路と、発電機１２より負荷を通して交流電流を供給する回路を交流電流供給用電源回路と、前記発電機の電圧を変圧器にて昇圧し抵抗、及びコンデンサを通して供試開閉装置の電極片側に印加することで交流電流遮断後の回復電圧供給用電源回路と、を備える。【選択図】図１
2012194076.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
供試開閉装置に対して、電源用コンデンサとギャップとリアクトルとを直列に接続し、
前記電源用コンデンサと前記電源用コンデンサにより充電されるコンデンサとにより、供試開閉装置の電極に供試開閉装置の定格電圧波高値に相当する電流を印加する突入電流供給用電源回路と、
発電機よりリアクトル負荷またはコンデンサ負荷を通して交流電流を供給する交流電流供給用電源回路と、
前記発電機の電圧を変圧器にて昇圧し、抵抗及びコンデンサを通して供試開閉装置の電極に印加する回復電圧供給用電源回路と、を備え、
前記３つの回路をそれぞれ補助開閉装置を介して供試開閉装置と接続することを特徴とする開閉装置の試験装置。
【請求項２】
前記充電したコンデンサは直流電圧を発生させるものであり、
開路状態の供試開閉装置の電極に供試開閉装置の定格電圧相当の直流電流を印加するものであることを特徴とする請求項１に記載の開閉装置の試験装置。
【請求項３】
前記突入電流供給用電源回路は、前記予め充電したコンデンサと並列にリアクトルを備え、
前記充電したコンデンサは、前記リアクトルを通して放電することで、コンデンサとリアクトルによって決まる周波数の交流電圧を発生させるものであり、
開路状態の供試開閉装置の電極に供試開閉装置の定格電圧相当の交流電流を印加するものであることを特徴とする請求項１に記載の開閉装置の試験装置。
【請求項４】
前記回復電圧供給用電源回路において、
前記変圧器の２次側両端にそれぞれ抵抗及びコンデンサを直列に接続し、
供試開閉装置が交流遮断後、供試開閉装置の電極両側に回復電圧を提供するものであることを特徴とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の開閉装置の試験装置。
【請求項５】
あらかじめ充電したコンデンサを電源とし、このコンデンサとは別のコンデンサを充電した突入電流供給用電源回路から、開路状態の供試開閉装置の電極に供試開閉装置の定格電圧波高値相当する電圧を印加し、
この状態で供試開閉装置を投入することで、前記あらかじめ充電していたコンデンサとリアクトル及び抵抗からなる振動回路と接続し、高周波突入電流を供試開閉装置に供給し、
次に、発電機よりリアクトル負荷またはコンデンサ負荷を通して交流電流供給用電源回路から交流電流を供給し、
その後、所定のタイミングで供試開閉装置を開路し、回復電圧供給用電源回路から、前記発電機の電圧を変圧器にて昇圧し抵抗、及びコンデンサを通して供試開閉装置の電極に印加することを特徴とする開閉装置の試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、電力系統の調相設備に用いられる開閉装置の試験装置及びその試験方法に関する。
【０００２】
電力系統の調相設備に用いられる力率改善用コンデンサバンク回路またはフィルタ回路には、開閉装置が設けられている。この開閉装置は、充電電流遮断後の開閉装置の電極間にかかる電圧に対して再点弧の発生を防止する性能が求められる。その理由は、充電電流遮断後に電極間に再点弧が発生するとそれに伴うサージ電圧の影響で地絡事故が発生し、相間短絡事故に至る危険性があるからである。従って、このような回路に用いられる開閉装置は開閉性能を十分に検証しておく必要がある。
【０００３】
この開閉装置において、コンデンサバンクの進み小電流を開閉する際には、有負荷投入責務が必要である。そのため、開閉装置を検証するための試験には、規定の突入電流の波高値及び周波数として高い値が要求される（例えば、非特許文献１参照）。コンデンサバンクに対して連続的に試験をする場合には、電流開閉責務としてこのような試験条件が要求される。
【０００４】
ところが、コンデンサバンクが近接して並列接続される回路を開閉する場合の試験責務において、既存の設備の都合により試験条件を満足することが出来ない場合がある。特に、コンデンサバンクに対して連続的に試験をする場合の電流開閉装置では、投入時の突入電流を供給する回路は、この回路に含まれる浮遊インピーダンスが突入電流のパラメータに大きく影響を与えることも予想される。従って、試験条件を満足させるための各種パラメータの調整は難しい。これらの理由から、閉路時の有負荷投入動作に引き続いて開路時の遮断動作を行う試験が困難な場合は、一連の動作責務を投入試験と遮断試験に分けて行ってもよいことになっている。
【０００５】
投入試験と遮断試験に分けて試験を行う場合の投入試験の例として、図２５で示す回路図による投入試験方法を説明する。図２５において、１は供試開閉装置、２は電源用コンデンサ、３は突入用リアクトルである。この電源用コンデンサ２と突入電流用リアクトル３の間にギャップ７が設けられている。それらと並列にコンデンサ４と抵抗８とが直列に接続されている。さらに、突入電流用リアクトル３から供試開閉装置１には減衰抵抗６を経て接続されている。このリアクトル５は、図２５の回路における配線分インピーダンスを表している。また、ギャップ７は、シーケンス装置により所定のタイミングでトリガさせる。
【０００６】
このような構成の試験回路において、供試開閉装置１を開極状態とし、あらかじめ電源用コンデンサ２を開閉装置適用系統電圧の波高値を満足するように充電しておく。次に、指令回路より出されるトリガ指令によってギャップ７をトリガする。ギャップ７がトリガされると、電源用コンデンサ２に蓄えられた電荷は突入電流用リアクトル３を経て放電され、コンデンサ４を充電する。この場合、供試開閉装置１は開極状態なので、供試開閉装置１の電極間に図２６（Ｂ）に示すような直流電圧１０が印加される。
【０００７】
次に、供試開閉装置１を投入すると、電源用コンデンサ２、突入電流用リアクトル３、減衰抵抗６、リアクトル５及び供試開閉装置１の直列接続のＲＬＣ回路が形成される。この場合供試開閉装置１の電極間に、図２６（Ａ）に示すような高周波突入電流１１が供試開閉装置１に注入される。
【０００８】
以上のように、供試開閉装置１を開極状態で電源用コンデンサ２を充電し、突入電流用リアクトル３を経て放電し、コンデンサ４を充電する。これにより、供試開閉装置１の電極間に系統適用電圧の波高値相当の直流電圧１０を発生させる。その後、供試開閉装置１を投入し、電源用コンデンサ２、突入電流用リアクトル３、リアクトル５、減衰抵抗６及び供試開閉装置１からなる直列接続のＲＬＣ回路に、高周波突入電流１１を供試開閉装置１に注入する。これにより、開閉装置のコンデンサバンク開閉性能試験を投入試験と遮断試験に分けて行う場合における投入試験を行うことが出来る。
【０００９】
次に、投入試験と遮断試験に分けて試験を行う場合の遮断試験の方法の一例を、図２７に示す。また、図２７に示す試験装置にて遮断試験を行った際の電流波形及び電圧波形を図２８に示す。この方法は、図２８に示すように、交流電流１９が遮断された後に回復電圧２０を印加する試験方法であって通常知られたものである（例えば、特許文献１，２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開平３−２４９５８０公報
【特許文献２】特開平３−２９６６７７公報
【非特許文献】
【００１１】
【非特許文献１】IEC62271-100 High-voltage switchgear and controlgearPart 100:Alternating-current circuit-breakers
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
前述したように、開閉装置の試験において、開閉装置に投入される突入電流は、高周波且つ波高値が大きい。さらに、遮断責務における定常時通電電流と同じ電源回路を用いることができない場合は、投入試験と遮断試験を分けて行っていた。つまり、単相試験時のコンデンサバンク開閉試験は、試験回数が１２０回必要である。投入試験と遮断試験に分けて行う場合には、それぞれの試験を１２０回ずつ行わなければならないので、試験時間が長くなり、試験費用が高くなるという問題がある。
【００１３】
また、投入試験と遮断試験とを分けて試験を行う場合、単独の投入試験を１回行い、次に、配線を切替えて単独の遮断試験を１回行う。その後、再び投入試験用に配線を切替えるが、配線を切替えることが困難な場合も生じる。その場合、やむを得ず、投入試験を１２０回連続で行い、その後遮断試験を１２０回連続で行うことになる。ここで問題視されることは、遮断試験時には、供試開閉装置の接点はすでに投入試験を１２０回行った後の接点損耗状態となっていることである。つまり、遮断試験では、供試開閉装置は既に接点損耗状態での厳しい条件で、遮断試験を１２０回課せられることである。このことは、遮断試験と投入試験を交互に１２０回行った場合とは、異なる試験結果を生じることになる。
【００１４】
本発明の実施形態は、上記のような従来技術の問題点を解決するために提案されたものであり、その目的は、開閉装置の試験において、投入試験と遮断試験に分けることなく、一連の動作責務による開閉性能検証試験を実施することにより、試験回数を半減させると共に、投入回数に応じた接点の損耗状態で遮断試験を行うことができる開閉装置の試験装置及びその試験方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上記の目的を達成するため本発明の実施形態は、次の構成を有する。
（１）供試開閉装置に対して、電源用コンデンサとギャップとリアクトルとを直列に接続し、前記電源用コンデンサと前記電源用コンデンサにより充電されるコンデンサとにより、供試開閉装置の電極に供試開閉装置の定格電圧波高値に相当する電流を印加する突入電流供給用電源回路と、
（２）発電機よりリアクトル負荷またはコンデンサ負荷を通して交流電流を供給する交流電流供給用電源回路と、
（３）前記発電機の電圧を変圧器にて昇圧し、抵抗及びコンデンサを通して供試開閉装置の電極に印加する回復電圧供給用電源回路と、
を備え、これら（１）〜（３）の回路をそれぞれ補助開閉装置を介して供試開閉装置と接続することを特徴とする。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】第１の実施形態において、投入試験の各開閉装置の開閉状態を示す回路図。
【図２】第１の実施形態において、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図。
【図３】第１の実施形態において、遮断試験における回復電圧印加時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図。
【図４】第１の実施形態における開閉装置のオシログラムの一例を示すグラフ。
【図５】第２の実施形態において、投入試験の各開閉装置の開閉状態を示す回路図。
【図６】第２の実施形態において、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図。
【図７】第２の実施形態において、遮断試験における回復電圧印加時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図。
【図８】第２の実施形態における開閉装置のオシログラムの一例を示すグラフ。
【図９】第３の実施形態において、投入試験の各開閉装置の開閉状態を示す回路図。
【図１０】第３の実施形態において、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図。
【図１１】第３の実施形態において、遮断試験における回復電圧印加時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図。
【図１２】第３の実施形態における開閉装置のオシログラムの一例を示すグラフ。
【図１３】第４の実施形態において、投入試験の各開閉装置の開閉状態を示す回路図。
【図１４】第４の実施形態において、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図。
【図１５】第４の実施形態において、遮断試験における回復電圧印加時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図。
【図１６】第４の実施形態における開閉装置のオシログラムの一例を示すグラフ。
【図１７】第５の実施形態において、投入試験の各開閉装置の開閉状態を示す回路図。
【図１８】第５の実施形態において、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図。
【図１９】第５の実施形態において、遮断試験における回復電圧印加時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図。
【図２０】第５の実施形態における開閉装置のオシログラムの一例を示すグラフ。
【図２１】第６の実施形態において、投入試験の各開閉装置の開閉状態を示す回路図。
【図２２】第６の実施形態において、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図。
【図２３】第６の実施形態において、遮断試験における回復電圧印加時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図。
【図２４】第６の実施形態における開閉装置のオシログラムの一例を示すグラフ。
【図２５】従来の投入試験を行う試験装置の回路図。
【図２６】従来の投入試験のオシログラムの一例を示すグラフ。
【図２７】従来の遮断試験を行う試験装置の回路図。
【図２８】従来の遮断試験のオシログラムの一例を示すグラフ。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施形態における開閉装置の試験装置について、図１〜図２４を参照にして具体的に説明する。なお、下記の実施形態において、図２５〜２８で説明した開閉装置の試験装置と同一の構成に関しては、同一の符号を付して詳細な説明は省略する。
【００１８】
１．第１の実施形態
（１）構成
以下、第１の実施形態について、図１〜図４を参照して説明する。図１は、投入試験の際の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図２は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図３は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図である。図４は、本実施形態における開閉装置のオシログラムの一例を示すグラフである。
【００１９】
本実施形態における試験装置は突入電流供給用電源回路ａ１、交流電流供給用電源回路ｂ１、回復電圧供給用電源回路ｃ１の3つの回路より構成される。
【００２０】
［突入電流供給用電源回路ａ１］
この突入電流供給用電源回路ａ１は、基本的には前記図２５の回路と同じ構成を有するものである。すなわち、図１に示すように、電源用コンデンサ２と突入電流用リアクトル３の間にギャップ７が設けられている。それらと並列にコンデンサ４と抵抗８の直列接続が接続されている。突入電流リアクトル３からは減衰抵抗６を通り、補助開閉装置２１を介して供試開閉装置１に接続されている。また、リアクトル５は試験配線に含まれるインピーダンスのインダクタンス分を考慮したものである。ギャップ７はシーケンス装置で所定のタイミングでトリガさせる。
【００２１】
［交流電流供給用電源回路ｂ１］
前記、供試開閉装置１には、前記突入電流供給用電源回路ａ１と並列に交流電流供給用電源回路ｂ１が接続されている。この交流電流供給用電源回路ｂ１は、発電機１２からリアクトル１３を通り、変圧器１４、補助開閉装置１５を介して供試開閉装置１に接続された一連の機器より構成されている。
【００２２】
［回復電圧供給用電源回路ｃ１］
さらに、前記供試開閉装置１には、発電機１２から図中不号Ｂ−Ｂ、Ｃ−Ｃを通り変圧器１６に接続され２次側片端子より抵抗１７、コンデンサ１８と接続し補助開閉装置２２を介して供試開閉装置１に接続する回復電圧供給用電源回路ｃ１が接続されている。
【００２３】
（２）作用
［投入試験］
このような構成の試験回路において、投入試験の際は、図１に示すように、供試開閉装置１、補助開閉装置１５、補助開閉装置２２を開路状態、補助開閉装置２１を閉路状態にしておき、あらかじめ電源用コンデンサ２を開閉装置の定格電圧の波高値相当を満足するように充電し、さらに発電機１２を所定の回復電圧を供給出来る様に励磁しておく。
【００２４】
次に、指令回路より出されるトリガ指令によってギャップ７をトリガする。ギャップ７がトリガされると、電源用コンデンサ２に蓄えられた電荷は突入電流用リアクトル３を経て放電されコンデンサ４を充電する。このとき、供試開閉装置１は開路状態なので、供試開閉装置１の電極間に図４に示すような直流電圧２３が印加される。
【００２５】
次に、図１において供試開閉装置１を投入する（図１の矢印Ａ）と、電源用コンデンサ２、突入電流用リアクトル３、減衰抵抗６、リアクトル５、供試開閉装置１の直列接続のＲＬＣ回路が形成され、図４に示すような高周波突入電流２４が供試開閉装置１に供給される。
【００２６】
［遮断試験］
その後、図２に示すように、所定のタイミングで補助開閉装置２１を遮断し、補助開閉装置１５及び補助開閉装置２２を投入し、発電機１２から供試開閉装置１に所定の電流を供給する。すると、図４に示すように交流電流２５が供試開閉装置１に供給される。
【００２７】
所定の時間、交流電流２５を供試開閉装置１に供給した後、図３に示すように、供試開閉装置１と補助開閉装１５とを開路させて、交流電流２５を遮断する。すると、コンデンサ１８には直流電圧が残り、さらに発電機１２から変圧器１６を介して交流電圧が印加され、その合成電圧が図４に示すような回復電圧２６として供試開閉装置１に印加される。
【００２８】
（３）効果
以上のように、本実施形態では、供試開閉装置１に対する開閉性能試験において、投入試験と遮断試験とを一連の動作責務で性能検証することが出来る。これにより、試験回数を半減、試験回路の変更作業も必要ないことから試験全体にかかる時間及び費用を大幅に削減することが出来る。
【００２９】
また、投入試験と遮断試験を分けて行う方法で、投入試験を規定回数終了後に遮断試験を行う場合は、開閉装置の接点は規定回数投入を行った損耗状態となっており、遮断試験を過酷な条件で行わなければならない。本発明によれば投入回数に応じた接点の損耗状態で遮断試験を行うことができるので、等価性のある性能検証が出来る。
【００３０】
２．第２の実施形態
（１）構成
以下、第２の実施形態について、図５〜図８を参照して説明する。図５は、投入試験の際の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図６は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図７は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図である。図８は、本実施形態における開閉装置のオシログラムの一例を示すグラフである。
【００３１】
本実施形態における試験装置は突入電流供給用電源回路ａ２、交流電流供給用電源回路ｂ１、回復電圧供給用電源回路ｃ１の３つの回路より構成される。すなわち、本実施形態は、第１の実施形態の突入電流供給用電源回路ａ１の構成を変更したものである。以下、前記実施形態で説明した同一の構成に関しては、同一の符号を付して詳細な説明は省略する。
【００３２】
［突入電流供給用電源回路ａ２］
本実施形態の突入電流供給用電源回路ａ２は、図５に示すように、電源用コンデンサ２と突入電流用リアクトル３の間にギャップ７が設けられている。それらと並列にコンデンサ４と抵抗８の直列接続及び交流発生用リアクトル９が接続されている。突入電流リアクトル３からは減衰抵抗６を通り、補助開閉装置２１を介して供試開閉装置１に接続されている。
【００３３】
（２）作用
［投入試験］
このような構成の試験回路において、投入試験の際は、図５に示すように、供試開閉装置１、補助開閉装置１５、補助開閉装置２２を開路状態、補助開閉装置２１を閉路状態にしておき、あらかじめ電源用コンデンサ２を開閉装置適用系統電圧の波高値を満足するように充電する。さらに発電機１２を所定の回復電圧を供給出来る様に励磁しておく。
【００３４】
次に指令回路より出されるトリガ指令によってギャップ７をトリガする。ギャップ７がトリガされると電源用コンデンサ２に蓄えられた電荷はリアクトル３を経て放電されコンデンサ４を充電し、同時に電源用コンデンサ２と交流発生用リアクトル９で振動回路が形成され、供試開閉装置１は開路状態なので供試開閉装置１の電極間に図８に示すような交流電圧２７が印加される。
【００３５】
次に、図５において供試開閉装置１を投入する（図５の矢印Ａ）と、電源用コンデンサ２、突入電流用リアクトル３、減衰抵抗６、リアクトル５、供試開閉装置１の直列接続のＲＬＣ回路が形成される。これにより、高周波突入電流２８が供試開閉装置１に供給される。
【００３６】
［遮断試験］
その後、図６に示すように、所定のタイミングで補助開閉装置２１を遮断し補助開閉装置１５及び補助開閉装置２２を投入し発電機１２から供試開閉装置１に所定の電流を供給する。すると、供試開閉装置１には図８に示すような交流電流２９が流れる。
【００３７】
所定の時間、交流電流２９を供試開閉装置１に供給した後、図７に示すように、供試開閉装置１と補助開閉装置１５を開路させ、交流電流２９を遮断する。するとコンデンサ１８には直流電圧が残り、さらに発電機１２から変圧器１６を介して交流電圧が印加されその合成電圧が図８に示すような回復電圧３０として供試開閉装置１に印加される。
【００３８】
（３）効果
以上のように、本実施形態では、前記実施形態と同様の効果を奏することができる。すなわち、供試開閉装置１に対する開閉性能試験において、投入試験と遮断試験とを一連の動作責務で性能検証することが出来る。
【００３９】
３．第３の実施形態
（１）構成
以下、第３の実施形態について、図９〜図１２を参照して説明する。図９は、投入試験の際の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図１０は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図１１は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図である。図１２は、本実施形態における開閉装置のオシログラムの一例を示すグラフである。
【００４０】
本実施形態における試験装置は突入電流供給用電源回路ａ２、交流電流供給用電源回路ｂ２、回復電圧供給用電源回路ｃ２の３つの回路より構成される。すなわち、本実施形態は、第２の実施形態の交流電流供給用電源回路ｂ１及び回復電圧供給用電源回路ｃ１の構成を変更したものである。以下、前記実施形態で説明した同一の構成に関しては、同一の符号を付して詳細な説明は省略する。
【００４１】
［交流電流供給用電源回路ｂ２］
本実施形態の交流電流供給用電源回路ｂ２は、発電機１２からリアクトル１３を通り、変圧器１４、補助開閉装置１５を介して供試開閉装置１に接続する。また、変圧器１４のもう一方の端子より補助開閉装置３４を介して供試開閉装置に接続する回路である。
【００４２】
［回復電圧供給用電源回路ｃ２］
一方、回復電圧供給用電源回路ｃ２は、発電機１２から図中不号Ｂ−Ｂ、Ｃ−Ｃを通り変圧器１６に接続され２次側片端子より抵抗１７、コンデンサ１８と接続し補助開閉装置２２を介して供試開閉装置１に接続する。また、変圧器１６のもう一つの端子から、抵抗３２、コンデンサ３１を通り補助開閉装置３３を介して供試開閉装置１へ接続される回路である。
【００４３】
（２）作用
［投入試験］
このような構成の試験回路において、投入試験の際は、図９に示すように、供試開閉装置１、補助開閉装置１５、補助開閉装置２２、補助開閉装置３３、補助開閉装置３４を開路状態、補助開閉装置２１及び補助開閉装置３５を閉路状態にしておく。そして、あらかじめ電源用コンデンサ２を開閉装置適用系統電圧の波高値を満足するように充電する。さらに発電機１２を所定の回復電圧を供給出来る様に励磁しておく。
【００４４】
次に、指令回路より出されるトリガ指令によってギャップ７をトリガする。ギャップ７がトリガされると、電源用コンデンサ２に蓄えられた電荷はリアクトル３を経て放電されコンデンサ４を充電し、同時に電源用コンデンサ２と交流発生用リアクトル９で振動回路が形成される。この場合、供試開閉装置１は開路状態なので、供試開閉装置１の電極間に図１２に示すような交流電圧３６が印加される。
【００４５】
次に、図９において供試開閉装置１を投入する（図９の矢印Ａ）と、電源用コンデンサ２、突入電流用リアクトル３、減衰抵抗６、リアクトル５、供試開閉装置１の直列接続のＲＬＣ回路が形成される。その結果、図１２に示すような高周波突入電流３７が、供試開閉装置１に供給される。
【００４６】
［遮断試験］
その後、図１０に示すように、所定のタイミングで補助開閉装置２１及び補助開閉装置３５を遮断し、補助開閉装置１５、補助開閉装置３４、補助開閉装置２２及び補助開閉装置３３を投入し発電機１２から所定の電流を供給する。すると、供試開閉装置１には図１２に示すような交流電流３８が流れる。
【００４７】
所定の時間、交流電流３８を供試開閉装置１に流した後、図１１に示すように、供試開閉装置１と補助開閉装１５及び補助開閉装置３４を開路し、交流電流３８を遮断する。すると、コンデンサ１８、コンデンサ３１には直流電圧が残り、さらに発電機１２から変圧器１６を介して交流電圧が印加される。その結果両者の合成電圧が図１２に示すような回復電圧３９として、供試開閉装置１の電極両側に印加される。
【００４８】
（３）効果
以上のように、本実施形態では、前記実施形態と同様の効果を奏することができる。すなわち、供試開閉装置１に対する開閉性能試験において、投入試験と遮断試験とを一連の動作責務で性能検証することが出来る。
【００４９】
４．第４の実施形態
（１）構成
以下、第４の実施形態について、図１３〜図１６を参照して説明する。図１３は、投入試験の際の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図１４は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図１５は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図である。図１６は、本実施形態における開閉装置のオシログラムの一例を示すグラフである。
【００５０】
本実施形態における試験装置は突入電流供給用電源回路ａ１、交流電流供給用電源回路ｂ３、回復電圧供給用電源回路ｃ１の３つの回路より構成される。すなわち、本実施形態は、第１の実施形態の交流電流供給用電源回路ｂ１の構成を変更したものである。以下、前記実施形態で説明した同一の構成に関しては、同一の符号を付して詳細な説明は省略する。
【００５１】
［交流電流供給用電源回路ｂ３］
本実施形態における交流電流供給用電源回路ｂ３は、発電機１２から変圧器１４を介して、抵抗４１、コンデンサ４０を通り、補助開閉装置１５を介して供試開閉装置１に接続する。
【００５２】
（２）作用
［投入試験］
このような構成の試験回路において、投入試験の際は、図１３に示すように、供試開閉装置１、補助開閉装置１５及び補助開閉装置２２を開路状態、補助開閉装置２１を閉路状態にしておく。また、あらかじめ電源用コンデンサ２を開閉装置適用系統電圧の波高値を満足するように充電する。さらに発電機１２を所定の回復電圧を供給出来る様に励磁しておく。
【００５３】
次に、指令回路より出されるトリガ指令によってギャップ７をトリガする。ギャップ７がトリガされると、電源用コンデンサ２に蓄えられた電荷はリアクトル３を経て放電されコンデンサ４を充電する。供試開閉装置１は開路状態なので供試開閉装置１の電極間に図１６に示すような直流電圧４２が印加される。
【００５４】
次に、図１３において供試開閉装置１を投入する（図１３の矢印Ａ）と、電源用コンデンサ２、突入電流用リアクトル３、減衰抵抗６、リアクトル５、供試開閉装置１の直列接続のＲＬＣ回路が形成され、図１６に示すような高周波突入電流４３が供試開閉装置１に供給される。
【００５５】
［遮断試験］
その後、図１４に示すように、所定のタイミングで補助開閉装置２１を遮断し、補助開閉装置１５及び補助開閉装置２２を投入し、発電機１２から所定の電流を供給する。すると、供試開閉装置１には図１６に示すような交流電流４４が流れる。
【００５６】
所定の時間、交流電流４４を供試開閉装置１に流した後、図１５に示すように、供試開閉装置１と補助開閉装１５を開路し、交流電流４４を遮断する。するとコンデンサ１８には直流電圧が残り、さらに発電機１２から変圧器１６を介して交流電圧が印加される。その結果両者の合成電圧が図１６に示すように回復電圧４５として供試開閉装置１に印加される。
【００５７】
（３）効果
以上のように、本実施形態では、前記実施形態と同様の効果を奏することができる。すなわち、供試開閉装置１に対する開閉性能試験において、投入試験と遮断試験とを一連の動作責務で性能検証することが出来る。
【００５８】
５．第５の実施形態
（１）構成
以下、第５の実施形態について図１７〜図２０を参照して説明する。図１７は、投入試験の際の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図１８は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図１９は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図である。図２０は、本実施形態における開閉装置のオシログラムの一例を示すグラフである。
【００５９】
本実施形態における試験装置は突入電流供給用電源回路ａ２、交流電流供給用電源回路ｂ３、回復電圧供給用電源回路ｃ１の３つの回路より構成される。すなわち、本実施形態は、第４の実施形態の交流電流供給用電源回路ａ１の構成を変更したものである。突入電流供給用電源回路ａ２、交流電流供給用電源回路ｂ３、回復電圧供給用電源回路ｃ１については、すでに詳細な説明を行っているので、構成についての説明は省略する。
【００６０】
（２）作用
［投入試験］
このような構成の試験回路において、投入試験の際は、図１７に示すように、供試開閉装置１、補助開閉装置１５及び補助開閉装置２２を開路状態、補助開閉装置２１を閉路状態にしておく、そして、あらかじめ電源用コンデンサ２を開閉装置適用系統電圧の波高値を満足するように充電し、さらに発電機１２を所定の回復電圧が供給出来る様に励磁しておく。
【００６１】
次に、指令回路より出されるトリガ指令によってギャップ７をトリガする。ギャップ７がトリガされると、電源用コンデンサ２に蓄えられた電荷はリアクトル３を経て放電されコンデンサ４を充電する。同時に、電源用コンデンサ２と交流発生用リアクトル９で振動回路が形成され、供試開閉装置１は開路状態なので、供試開閉装置１の電極間に図２０に示すような交流電圧４６が印加される。
【００６２】
次に、図１７において供試開閉装置１を投入する（図１７の矢印Ａ）と、電源用コンデンサ２、突入電流用リアクトル３、減衰抵抗６、リアクトル５及び供試開閉装置１による直列接続のＲＬＣ回路が形成され、高周波突入電流４７が供試開閉装置１に供給される。
【００６３】
［遮断試験］
その後、図１８に示すように、所定のタイミングで補助開閉装置２１を遮断し、補助開閉装置１５及び補助開閉装置２２を投入し。発電機１２から所定の電流を供給する。すると、供試開閉装置１には図８に示すような交流電流４８が流れる。
【００６４】
所定の時間、交流電流４８を供試開閉装置１に供給した後、図１９に示すように、供試開閉装置１と補助開閉装置１５を開路し、交流電流４８を遮断する。すると、コンデンサ１８には直流電圧が残り、さらに発電機１２から変圧器１６を介して交流電圧が印加される。このとき、その合成電圧が図２０に示すような回復電圧４９として供試開閉装置１に印加される。
【００６５】
（３）効果
以上のように、本実施形態では、前記実施形態と同様の効果を奏することができる。すなわち、供試開閉装置１に対する開閉性能試験において、投入試験と遮断試験とを一連の動作責務で性能検証することが出来る。
【００６６】
６．第６の実施形態
（１）構成
以下、第６の実施形態について図２１〜図２４を参照して説明する。図２１は、投入試験の際の各開閉装置の開閉を示す回路図、図２２は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図、図２３は、遮断試験における交流電流供給時の各開閉装置の開閉状態を示す回路図である。図２４は、本実施形態における開閉装置のオシログラムの一例を示すグラフである。
【００６７】
本実施形態における試験装置は突入電流供給用電源回路ａ２、交流電流供給用電源回路ｂ４、回復電圧供給用電源回路ｃ２の３つの回路より構成される。すなわち、本実施形態は、第３の実施形態の交流電流供給用電源回路ｂ２の構成を変更したものである。以下、前記実施形態で説明した同一の構成に関しては、同一の符号を付して詳細な説明は省略する。
【００６８】
［交流電流供給用電源回路ｂ４］
本実施形態の回路を交流電流供給用電源回路ｂ４は、発電機１２から変圧器１４を介して、抵抗４１、コンデンサ４０を通り補助開閉装置１５を介して供試開閉装置１に接続する。また、変圧器１４のもう一方の端子より補助開閉装置３４を通り供試開閉装置１に接続する。
【００６９】
（２）作用
［投入試験］
このような構成の試験回路において、投入試験の際は、図２１に示すように、供試開閉装置１、補助開閉装置１５、補助開閉装置３４、補助開閉装置２２及び補助開閉装置３３を開路状態、補助開閉装置２１、補助開閉装置３５を閉路状態にしておく。そして、あらかじめ電源用コンデンサ２を開閉装置適用系統電圧の波高値を満足するように充電し、さらに発電機１２を所定の回復電圧を供給出来る様に励磁しておく。次に指令回路より出されるトリガ指令によってギャップ７をトリガする。ギャップ７がトリガされると、電源用コンデンサ２に蓄えられた電荷はリアクトル３を経て放電されコンデンサ４を充電し、同時に電源用コンデンサ２と交流発生用リアクトル９で振動回路が形成される。供試開閉装置１は開路状態なので供試開閉装置１の電極間に図２４に示すような交流電圧５０が印加される。
【００７０】
次に、図２１において供試開閉装置１を投入する（図２１の矢印Ａ）と、電源用コンデンサ２、突入電流用リアクトル３、減衰抵抗６、リアクトル５及び供試開閉装置１の直列接続のＲＬＣ回路が形成され、図２４に示すような高周波突入電流５１が供試開閉装置１に供給される。
【００７１】
［遮断試験］
その後、図２２に示すように、所定のタイミングで補助開閉装置２１、補助開閉装置３５を遮断し、補助開閉装置１６、補助開閉装置２２、補助開閉装置３３及び補助開閉装置３４を投入し発電機１２から所定の電流を供給する。その結果、供試開閉装置１には図２４に示すような交流電流５２が流れる。所定の時間、交流電流５２を供試開閉装置１に供給した後、供試開閉装置１、補助開閉装置１６及び補助開閉装置３４を開路し、交流電流５２遮断する。すると、コンデンサ１８、コンデンサ３１には直流電圧が残り、さらに発電機１２から変圧器１６を介して交流電圧が印加される。その両者の合成電圧が図２４に示すような回復電圧５２として供試開閉装置１の電極両側に印加される。
【００７２】
（３）効果
以上のように、本実施形態では、前記実施形態と同様の効果を奏することができる。すなわち、供試開閉装置１に対する開閉試験において、投入試験と遮断試験とを一連の動作責務で性能検証することが出来る。
【００７３】
（他の実施形態）
なお、本明細書においては、本発明に係る複数の実施形態を説明したが、これらの実施形態は例として提示したものであって、発明の範囲を限定することを意図していない。また、本実施形態は、様々な形態で実施されることが可能であり、発明の範囲を逸脱しない範囲で、種々の省略や置き換え、変更を行うことができる。これらの実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
【符号の説明】
【００７４】
１…供試開閉装置
２…電源用コンデンサ
３…突入電流用リアクトル
４，１８，３１，４０…コンデンサ
５…リアクトル(配線分インピーダンス考慮)
６…減衰抵抗
７…ギャップ、
８，１７，３２，４１…抵抗
９…交流電圧発生用リアクトル
１０，２３，４２…直流電圧(試験電圧)
１１，２４，２８，３７，４３，４７，５１…高周波突入電流
１２…発電機
１３…リアクトル
１４，１６…変圧器
１５，２１，２２，３３，３４，３５…補助開閉装置
１７，３２…抵抗
１９，２５，２９，３８，４４，４８，５２…交流電流
２０，２６，３０，３９，４５，４９，５３…回復電圧
２７，３６，４６，５０…交流電圧(試験電圧)
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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