(57)【要約】【課題】光ポートの通信状態の測定を容易に行う。【解決手段】光通信装置は、第１、第２の通信ユニットを備える。第１の通信ユニットは、光源、光分岐部、遅延設定部および第１の光コネクタを含む。第２の通信ユニットは、光合波部、受光素子、測定部および第２の光コネクタを含む。光源は、基準光パルスを発出する。光分岐部は、基準光パルスを分岐して複数の光パルスを生成する。遅延設定部は、分岐後の複数の光パルスに異なる遅延時間を設定する。光合波部は、光コネクタの各光ポートを通じて伝送された光パルスを合波して光パルス列を生成する。受光素子は、光パルス列を電気パルス列に変換する。測定部は、電気パルス列内のそれぞれの電気パルスのレベルにもとづいて、光ポートの通信状態を判定する。【選択図】図１
2012257002.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基準光パルスを発出する光源と、前記基準光パルスを分岐して複数の光パルスを生成する光分岐部と、前記光パルスに異なる遅延時間を設定する遅延設定部と、第１の光コネクタと、を備える第１の通信ユニットと、
前記第１の光コネクタと接続する第２の光コネクタと、前記第１、第２の光コネクタの各光ポートを通じて伝送された前記光パルスを合波して光パルス列を生成する光合波部と、前記光パルス列を電気パルス列に変換する受光素子と、前記電気パルス列内のそれぞれの電気パルスのレベルにもとづいて、前記光ポートの通信状態を判定する測定部とを備える第２の通信ユニットと、
を有することを特徴とする光通信装置。
【請求項２】
前記測定部は、
前記基準光パルスの発出時から前記電気パルス列を受信するまでの到達時間を算出し、
前記到達時間で受信した前記電気パルスを、前記電気パルス列の先頭パルスと認識し、
前記先頭パルスと前記遅延時間とにもとづいて、前記電気パルス列内の前記電気パルスが、どの前記光ポートを流れてきた前記光パルスに対応するかを識別することを特徴とする請求項１記載の光通信装置。
【請求項３】
前記遅延設定部は、前記光パルスに所定関数で求められる前記遅延時間を設定し、
前記測定部は、前記遅延時間にもとづき、前記電気パルス列内の前記電気パルスの互いのパルス間隔を認識することで、前記電気パルス列内の前記電気パルスが、どの前記光ポートを流れてきた前記光パルスに対応するかを識別することを特徴とする請求項１記載の光通信装置。
【請求項４】
基準光パルスを発出する光源と、前記基準光パルスを分岐して複数の光パルスを生成する光分岐部と、前記光パルスに異なる遅延時間を設定する遅延設定部と、光合波部と、受光素子と、測定部と、第１の光コネクタと、を備える第１の通信ユニットと、
前記第１の光コネクタと接続する第２の光コネクタと、前記第１、第２の光コネクタの各光ポートを通じて伝送された前記光パルスを反射する反射器と、を備える第２の通信ユニットと、
を有し、
前記光合波部は、前記第１、第２の光コネクタの各光ポートを通じて伝送された反射光パルスを合波して光パルス列を生成し、
前記受光素子は、前記光パルス列を電気パルス列に変換し、
前記測定部は、前記電気パルス列内のそれぞれの電気パルスのレベルにもとづいて、前記光ポートの通信状態を判定する、
ことを特徴とする光通信装置。
【請求項５】
前記測定部は、
前記基準光パルスの発出時から前記電気パルス列を受信するまでの到達時間を算出し、
前記到達時間で受信した前記電気パルスを、前記電気パルス列の先頭パルスと認識し、
前記先頭パルスと、反射による折り返し時間を含む前記遅延時間とにもとづいて、前記電気パルス列内の前記電気パルスが、どの前記光ポートを流れてきた前記光パルスに対応するかを識別することを特徴とする請求項４記載の光通信装置。
【請求項６】
前記遅延設定部は、前記光パルスに所定関数で求められる前記遅延時間を設定し、
前記測定部は、反射による折り返し時間を含む前記遅延時間にもとづき、前記電気パルス列内の前記電気パルスの互いのパルス間隔を認識することで、前記電気パルス列内の前記電気パルスが、どの前記光ポートを流れてきた前記光パルスに対応するかを識別することを特徴とする請求項４記載の光通信装置。
【請求項７】
異なる波長の光を発出する波長可変光源と、波長単位に前記光を分波する波長分波部と、第１の光コネクタと、を備える第１の通信ユニットと、
前記第１の光コネクタと接続する第２の光コネクタと、前記第１、第２の光コネクタの各光ポートを通じて伝送された、互いに異なる複数波長の前記光を電気信号に変換する受光素子と、前記電気信号のレベルにもとづいて、前記光ポートの通信状態を判定する測定部とを備える第２の通信ユニットと、
を有することを特徴とする光通信装置。
【請求項８】
異なる波長の光を発出する波長可変光源と、波長単位に前記光を分波する波長分波部と、受光素子と、測定部と、第１の光コネクタと、を備える第１の通信ユニットと、
前記第１の光コネクタと接続する第２の光コネクタと、前記第１、第２の光コネクタの各光ポートを通じて伝送された前記光を反射する反射器と、を備える第２の通信ユニットと、
前記受光素子は、前記第１、第２の光コネクタの各光ポートを通じて伝送された反射光を電気信号に変換し、
前記測定部は、前記電気信号のレベルにもとづいて、前記光ポートの通信状態を判定する、
ことを特徴とする光通信装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光通信を行う光通信装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、波長多重伝送（ＷＤＭ：Wavelength Division Multiplexing）を行う光ネットワークが実用化され、インターネット・トラフィック等の増大により、光ネットワークの大容量化が進んでいる。このような光通信装置の容量の増大に伴い、１つの装置が持つ光ポート数も増大している。
【０００３】
光通信装置は、入力信号をＷＤＭ可能な信号光に変換するトランスポンダなどのラインカード、波長合分波部、光スイッチおよび光アンプ等を有している。また、Ａｄｄ／Ｄｒｏｐ（挿入／分岐）が行われる部分などには、例えば、ＭＰＯ（Multi−fiber Push On）コネクタのようなマルチポートのコネクタが使用される。
【０００４】
ＭＰＯコネクタは、架間・装置間の接続用にプッシュプル操作で容易に着脱できる多心一括コネクタであり、多心ケーブルを接続するマルチポートコネクタとして広く使用されている。
【０００５】
従来技術として、光パワーメータを使用しない光線路試験を行う技術が提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平１０−１７０３９３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
光通信装置では、波長合分波部や光スイッチが収納可能な波長数をすべて埋めるだけの波長を、初回インストール時に導入することはまれであり、通常は一部の波長のみが導入されることの方が多い。
【０００８】
そのため、ＭＰＯコネクタに対して、波長が導入されない一部の光ポートに対しては、初回インストール時に別の光源を用意して、該当光ポートが正常に主信号光を通すか否かの通信状態（疎通状態）を判別するための測定を行っている。
【０００９】
従来では、インストール時に、連続光を発する試験用の光源を複数個用意して測定することで、光ポートの通信状態を判別していた。しかし、各光ポートの数に応じた、測定用の光源や受信機等の機器をそれぞれ複数個設置することになるため、測定システムのサイズやコストが大きくなり、建設時の手間を増大させてしまうといった問題があった。このような状況において、増え続ける光ポートの通信状態を容易に測定することが可能な技術の要望が高まっている。
【００１０】
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、光ポートの通信状態の測定を容易に行って測定効率の向上を図った光通信装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記課題を解決するために、光通信装置が提供される。光通信装置は、基準光パルスを発出する光源と、前記基準光パルスを分岐して複数の光パルスを生成する光分岐部と、前記光パルスに異なる遅延時間を設定する遅延設定部と、第１の光コネクタと、を備える第１の通信ユニットと、前記第１の光コネクタと接続する第２の光コネクタと、前記第１、第２の光コネクタの各光ポートを通じて伝送された前記光パルスを合波して光パルス列を生成する光合波部と、前記光パルス列を電気パルス列に変換する受光素子と、前記電気パルス列内のそれぞれの電気パルスのレベルにもとづいて、前記光ポートの通信状態を判定する測定部とを備える第２の通信ユニットとを有する。
【発明の効果】
【００１２】
光ポートの通信状態の測定を容易に行うことが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】光通信装置の構成例を示す図である。
【図２】光通信装置の構成例を示す図である。
【図３】光パルス伝送の動作を示すフローチャートである。
【図４】光コネクタ間の光ポートの接続状態を示す図である。
【図５】光パルスの波形を示す図である。
【図６】光パルス列と基準光パルスを示す図である。
【図７】電気パルス列を示す図である。
【図８】光ポートの通信状態の測定動作を説明するための図である。
【図９】パルス間隔をテーブル化した図である。
【図１０】パルス間隔を示す図である。
【図１１】光通信装置の構成例を示す図である。
【図１２】電気パルス列を示す図である。
【図１３】光通信装置の構成例を示す図である。
【図１４】光通信装置の構成例を示す図である。
【図１５】光通信装置の構成例を示す図である。
【図１６】光通信装置の構成例を示す図である。
【図１７】光通信装置の構成例を示す図である。
【図１８】光通信装置の構成例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。図１は光通信装置の構成例を示す図である。光通信装置１は、通信ユニット１ａ（第１の通信ユニット）および通信ユニット１ｂ（第２の通信ユニット）を備える。通信ユニット１ａは、光源１ａ−１、光分岐部１ａ−２、遅延設定部１ａ−３および光コネクタｃ１（第１の光コネクタ）を含む。
【００１５】
通信ユニット１ｂは、光合波部１ｂ−１、受光素子１ｂ−２、測定部１ｂ−３および光コネクタｃ２（第２の光コネクタ）を含む。なお、光コネクタｃ１、ｃ２は例えば、ＭＰＯコネクタであり、光コネクタｃ１、ｃ２は、コネクタケーブルｃａで互いに接続される。
【００１６】
光源１ａ−１は、基準光パルスを発出する。光分岐部１ａ−２は、基準光パルスを分岐して複数の光パルスを生成する。遅延設定部１ａ−３は、分岐後の複数の光パルスに異なる遅延時間を設定する。
【００１７】
光合波部１ｂ−１は、光コネクタｃ１、ｃ２の各光ポートを通じて伝送された光パルスを合波して光パルス列を生成する。受光素子１ｂ−２は、光パルス列を電気パルス列に変換する。測定部１ｂ−３は、電気パルス列内のそれぞれの電気パルスのレベルにもとづいて、光ポートの通信状態を判定する。
【００１８】
このように、光通信装置１では、単一の光源から発出された基準光パルスを複数の光パルスに分岐し、分岐した光パルスに異なる遅延時間を設定し、光コネクタ間の各光ポートを通じて伝送された光パルスを合波、受光して、電気パルスのレベル測定を行う構成とした。これにより、光ポートの通信状態の測定を容易に行うことができ、測定効率の向上を図ることが可能になる。
【００１９】
また、従来では、光ポート数に応じて測定用の光源や受信機などの機器をそれぞれ複数個設置して、光ポートの通信状態を測定していたが、光通信装置１では、光ポート数によらず、上記の少ない構成要素で測定できるので、測定システムのサイズやコストを縮小化することが可能になる。
【００２０】
次に光通信装置１の具体的な構成について説明する。図２は光通信装置の構成例を示す図である。光通信装置１０は、光挿入制御部１１、光合波制御部１２、光アンプ１３−１、１３−２および光スイッチ１４を備える。
【００２１】
光挿入制御部１１は、光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−ｎ、光カプラ１１ｂ、光源３ａおよび光コネクタｃ１を含む。光合波制御部１２は、光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−ｎ、光合波部１２ｂ、光カプラ１２ｃ、ＰＤ（Photo Diode）３ｂ、測定処理部３ｃおよび光コネクタｃ２を含む。また、光挿入制御部１１の光コネクタｃ１と、光合波制御部１２の光コネクタｃ２とは、コネクタケーブル（多心一括ケーブル）ｃａを介して接続する。
【００２２】
光送信機２０−１〜２０−ｎは、光挿入制御部１１内の光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−ｎとそれぞれ接続し、個々に異なる波長の主信号光を出力する。光源３ａは、測定処理部３ｃから送信されたタイミング指示にもとづき、基準光パルス（主信号光とは異なる波長を持つ）を発出する。光カプラ１１ｂは、基準光パルスを分岐して光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−ｎへ出力する。
【００２３】
光カプラ１１ｂと、光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−ｎとはそれぞれ、互いに異なる遅延時間が設定された光ファイバｆ１〜ｆｎと接続しており、光ファイバｆ１〜ｆｎに設定された遅延時間後に、光カプラ１１ｂで分岐した複数の光パルスは、光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−ｎに到達する。
【００２４】
光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−ｎは、光送信機２０−１〜２０−ｎから送信された主信号光と、光パルスとを合波して合波光を生成する。該合波光は、光コネクタｃ１を介して出力される。
【００２５】
光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−ｎは、光コネクタｃ２を介して受信した合波光を、主信号光と光パルスとに分波し、主信号光を光合波部１２ｂへ送信し、光パルスを光カプラ１２ｃへ送信する。
【００２６】
光合波部１２ｂでは、互いに異なる波長の主信号光を合波して、光スイッチ１４へ送信する。光アンプ１３−１は、入力主信号光を光増幅する。光スイッチ１４は、光増幅後の入力主信号光と、光合波部１２ｂから出力された合波光との光スイッチング処理を行い、選択された波長の光多重が施されたＷＤＭ主信号光を出力する。光アンプ１３−２は、光スイッチ１４からの出力光を光増幅して次段ノードへ送信する。例えば、光合波部１２ｂは光合波器(マルチプレクサ)で構成され、この点は以降に示す実施例においても同様である。
【００２７】
一方、光カプラ１２ｃでは、複数の光パルスを合波して光パルス列を生成して出力する。ＰＤ３ｂは、光カプラ１２ｃから出力された光パルス列を電気パルス列に変換する。測定処理部３ｃは、電気パルス列を受信して、電気パルス列内のそれぞれの電気パルスのレベルを測定して、光ポートの通信状態の判別処理を行う。例えば、測定処理部３ｃは、回路、ＦＰＧＡ（Field-Programmable Gate Array）、プロセッサの少なくともいずれかを用いて構成され、この点は以降に示す実施例においても同様である。
【００２８】
なお、図示していないが、測定処理部３ｃには、保守端末が接続される。測定処理部３ｃは、保守端末から測定処理に要する設定を受け、また、保守端末に対して測定結果の表示制御なども行う。
【００２９】
次に光ポート通信状態の測定処理について以降詳しく説明する。図３は光パルス伝送の動作を示すフローチャートである。測定対象光である光パルスが発出されて、Ｏ／Ｅ変換後に測定処理部３ｃに到達するまでの動作の流れを示している。なお、光コネクタｃ１、ｃ２のそれぞれ４つの光ポートに対して光パルスを流すものとする。
【００３０】
〔Ｓ１〕測定処理部３ｃは、基準光パルスの送出タイミング指示を出力する。
〔Ｓ２〕光源３ａは、送出タイミング指示にもとづき、基準光パルスを発出する。
〔Ｓ３〕光カプラ１１ｂは、基準光パルスを４つに分岐して、４つの光パルス（光パルスｐ１〜ｐ４とする）を出力する。
【００３１】
〔Ｓ４〕光パルスｐ１〜ｐ４は、光ファイバｆ１〜ｆ４によって互いに異なる遅延時間が与えられて流れ、光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４へ到達する。その後、光パルスｐ１〜ｐ４は、光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４、光コネクタｃ１、ｃ２および光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−４を介して流れて、光カプラ１２ｃへ到達する。
【００３２】
〔Ｓ５〕光カプラ１２ｃは、光パルスｐ１〜ｐ４を合波して、光パルス列を生成する。そして、ＰＤ３ｂは、光パルス列を電気パルス列に変換する。
〔Ｓ６〕測定処理部３ｃは、電気パルス列を受信して、光コネクタｃ１、ｃ２の４つの光ポートの各通信状態を測定する。
【００３３】
図４は光コネクタ間の光ポートの接続状態を示す図である。光コネクタｃ１の測定対象の４つの光ポートをそれぞれ光ポート＃１〜＃４とし、光コネクタｃ２の測定対象の４つの光ポートをそれぞれ光ポート＃１１〜＃１４とする。
【００３４】
光ポート＃１と光ポート＃１１がポートラインＬ１を通じて接続し、光ポート＃２と光ポート＃１２がポートラインＬ２を通じて接続する。また、光ポート＃３と光ポート＃１３がポートラインＬ３を通じて接続し、光ポート＃４と光ポート＃１４がポートラインＬ４を通じて接続する。なお、ポートラインＬ１〜Ｌ４は、多心一括ケーブルｃａ内の個々のポート間接続ラインである。
【００３５】
また、光パルスｐ１は、光ポート＃１と光ポート＃１１間のポートラインＬ１を伝送し、光パルスｐ２は、光ポート＃２と光ポート＃１２間のポートラインＬ２を伝送する。さらに、光パルスｐ３は、光ポート＃３と光ポート＃１３間のポートラインＬ３を伝送し、光パルスｐ４は、光ポート＃４と光ポート＃１４間のポートラインＬ４を伝送する。
【００３６】
図５は光パルスの波形を示す図である。光ファイバｆ２〜ｆ４によって所定の遅延量が与えられて、光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４に到達したときの光パルスｐ１〜ｐ４の波形を示している。
【００３７】
光パルスｐ１と光パルスｐ２との遅延量は時間Ｔ１であり、光パルスｐ１と光パルスｐ３との遅延量は時間Ｔ２であり、光パルスｐ１と光パルスｐ４との遅延量は時間Ｔ３である。
【００３８】
図６は光パルス列と基準光パルスを示す図である。光パルス列５は、図５に示す光パルスｐ１〜ｐ４を列状に示した波形である。周期ｄは、光源３ａからの基準光パルスｒ１の発出周期である。また、基準光パルスｒ１の立ち上がりと、光パルス列５の先頭（光パルスｐ１の立ち上がり）との遅延量をＴＤとする。
【００３９】
図７は電気パルス列を示す図である。測定対象の電気パルス列６は、ＰＤ３ｂの出力である。光パルスｐ１のＯ／Ｅ変換後のパルスがパルスｐ１−１であり、光パルスｐ２のＯ／Ｅ変換後のパルスがパルスｐ２−１である。また、光パルスｐ３のＯ／Ｅ変換後のパルスがパルスｐ３−１であり、光パルスｐ４のＯ／Ｅ変換後のパルスがパルスｐ４−１である。
【００４０】
ここで、測定処理部３ｃでは、基準光パルスｒ１と電気パルス列６の先頭との時間差の期待値（予測値）Ｅを以下の式（１）で算出する。
Ｅ＝ＴＤ＋Ｌ／（ｃ／ｎ）・・・（１）
ただし、Ｌはコネクタケーブルｃａの長さ、ｃは光速、ｎはコネクタケーブルｃａの屈折率である。
【００４１】
上記のような計算によって、測定処理部３ｃは、基準光パルスｒ１の立ち上がりから期待値Ｅの時間後に、電気パルス列６の先頭を受信することを予測できる。このため、測定処理部３ｃでは、基準光パルスｒ１の立ち上がりから期待値Ｅの時間後に受信したパルスは、電気パルス列６の先頭パルスであると識別する。
【００４２】
また、測定処理部３ｃは、電気パルス列６内の先頭から各パルスの順番およびパルス間隔（Ｔ１〜Ｔ３）をあらかじめ認識している。このため、電気パルス列６内のパルスが、どの電気パルスｐ１−１〜ｐ１−４であるか、すなわち、光コネクタｃ１、ｃ２間のどの光ポートを流れてきた光パルスに対応するかを識別できる。
【００４３】
図８は光ポートの通信状態の測定動作を説明するための図である。パルスｐ１−１、ｐ２−１、ｐ４−１が正常レベルであり、パルスｐ３−１が障害レベルであるとする。
測定処理部３ｃは、算出した期待値Ｅの時間でパルス信号を受信すると、該パルス信号を電気パルス列６の先頭パルスｐ１−１であることを識別する。測定処理部３ｃは、電気パルスｐ１−１のレベルを測定し、正常レベルか否かを測定する。あらかじめ設定したレベル値を超える場合は、正常レベルと判別する。この例では、先頭パルスｐ１−１は正常レベルと認識する。
【００４４】
測定処理部３ｃは、電気パルスｐ１−１から時間Ｔ１後に受信したパルスを、電気パルスｐ２−１と識別してレベル測定を行う。パルスｐ２−１は、正常レベルと認識する。
測定処理部３ｃは、電気パルスｐ１−１から時間Ｔ２後に受信したパルスを電気パルスｐ３−１と識別してレベル測定を行う。電気パルスｐ３−１は、あらかじめ設定したレベル値を超えないとして、電気パルスｐ３−１は障害レベルと認識する。
【００４５】
測定処理部３ｃは、電気パルスｐ１−１から時間Ｔ３後に受信したパルスを、電気パルスｐ４−１と識別してレベル測定を行う。電気パルスｐ４−１は、正常レベルと認識する。
【００４６】
したがって、電気パルスｐ３−１が障害レベルであると判別されたので、光パルスｐ３が流れる経路に障害があることがわかる。例えば、光パルスｐ３が流れる光コネクタｃ１の光ポート＃３、または光コネクタｃ２の光ポート＃１３に不良（汚れの付着など）があると判断できる。または、光パルスｐ３が流れる装置内の経路に何らかの障害があると判断できる。
【００４７】
次にパルス識別の変形例について説明する。変形例では、パルス間の遅延量を所定の関数で設定して、パルス識別を行うものである。例えば、関数ｆ（ｘ）＝ｘ2とする。また、ポートラインＬｎ〜ポートラインＬｍ間のパルス時間間隔をｔｎ−ｔｍと表す。
【００４８】
この場合、ポートラインＬ１〜Ｌ２のパルス時間間隔は、ｔ１−ｔ２＝ｆ（１）＝１、ｔ２−ｔ３＝ｆ（２）＝４、ｔ３−ｔ４＝ｆ（３）＝９、ｔ４−ｔ５＝ｆ（４）＝１６となる。
【００４９】
図９はパルス間隔をテーブル化した図であり、図１０はパルス間隔を示す図である。図９、図１０に示すようなパルス間隔となるように、光ファイバｆ１〜ｆ４の遅延量を設定しておく。そして、測定処理部３ｃは、１周期内の電気パルス列６に対して、このようなパルス間の時間間隔をあらかじめ認識しておく。
【００５０】
上記の数値の単位を（ｎｓ）とすると、例えば、１周期の先頭パルスの受信から、次に受信した電気パルスが１４ｎｓ後であったとする。この場合、先頭パルスから１ｎｓ後に受信すべき電気パルスｐ２−１が損失しており、かつ先頭パルスから５ｎｓ後に受信すべき電気パルスｐ３−１が損失していることになる。
【００５１】
したがって、光パルスｐ２、ｐ３が流れる経路に障害があることがわかる。例えば、光パルスｐ２が流れる光コネクタｃ１の光ポート＃２、または光コネクタｃ２の光ポート＃１２に不良があると判断できる。さらに、光パルスｐ３が流れる光コネクタｃ１の光ポート＃３、または光コネクタｃ２の光ポート＃１３に不良があると判断できる。
【００５２】
次に光通信装置の変形例について説明する。なお、以降では、測定対象の光パルスが流れる箇所を中心に構成を図示して説明する。
図１１は光通信装置の構成例を示す図である。光通信装置１０−１は、光挿入制御部１１−１および光合波制御部１２−１を備える。光挿入制御部１１−１は、光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４、光カプラ３ｅ、光源３ａ、ＰＤ３ｂ、測定処理部３ｃおよび光コネクタｃ１を含む。光合波制御部１２−１は、光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−４、光合波部１２ｂ、反射器３ｄおよび光コネクタｃ２を備える。例えば、反射器３はミラーやループミラーの少なくともいずれかを用いて構成され、この点は以降に示す実施例においても同様である。
【００５３】
光源３ａは、測定処理部３ｃから送信されたタイミング指示にもとづき、基準光パルス（主信号光とは異なる波長を持つ）を発出する。光カプラ３ｅは、基準光パルスを分岐して光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４へ出力する。
【００５４】
光カプラ３ｅと光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４とはそれぞれ、互いに異なる遅延量が設定された光ファイバｆ１〜ｆ４と接続しており、光ファイバｆ１〜ｆ４に設定された遅延時間後に、分岐後の複数の光パルスは、光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４に到達する。
【００５５】
光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４は、光送信機２０−１〜２０−４から送信された主信号光と、光パルスとをそれぞれ合波して合波光を生成する。該合波光は、光コネクタｃ１を介して出力される。
【００５６】
光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−４は、光コネクタｃ２を介して受信した合波光を、主信号光と光パルスとに分波し、主信号光を光合波部１２ｂへ送信し、光パルスを反射器３ｄへ送信する。
【００５７】
光合波部１２ｂでは、互いに異なる波長の主信号光を合波して後段処理部へ送信する。反射器３ｄは、光カプラ１２ａ−１からの出力光を反射して、光カプラ１２ａ−１へ折り返し、光カプラ１２ａ−２からの出力光を反射して、光カプラ１２ａ−２へ折り返す。同様に、光カプラ１２ａ−３からの出力光を反射して、光カプラ１２ａ−３へ折り返し、光カプラ１２ａ−４からの出力光を反射して、光カプラ１２ａ−４へ折り返す。
【００５８】
光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−４は、反射器３ｄで折り返された光パルス（反射光パルス）を光コネクタｃ２へ向けて出力する。光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４は、光コネクタｃ１を介して受信した反射光パルスを受信すると、光カプラ３ｅへ反射光パルスを送信する。
【００５９】
光カプラ３ｅは、４つの反射光パルスを合波して光パルス列を生成し、ＰＤ３ｂへ出力する。ＰＤ３ｂは、光カプラ３ｅから出力された光パルス列を電気パルス列に変換する。測定処理部３ｃは、電気パルス列を受信してレベル測定により、光ポートの通信状態の判別処理を行う。
【００６０】
図１２は電気パルス列を示す図である。光パルス列５ａは、光パルスｐ１〜ｐ４を含むが、反射器３ｄで反射して折り返されているため、パルス間隔は図７の場合と比べて２倍になっている。電気パルス列６ａは、ＰＤ３ｂの出力であり、同様にパルス間隔は２倍となる。なお、期待値Ｅも２倍となる。光通信装置１０−１では、パルス間隔が２倍となることを考慮して、図７〜図１０で上述したようなパルス識別を行って、光ポートの通信状態を測定する。
【００６１】
このように、光通信装置１０−１では、単一の光源から発出された基準光パルスを複数の光パルスに分岐し、分岐した光パルスに異なる遅延時間を設定し、光コネクタ間の各光ポートを通じて伝送して、測定先のユニット側の反射器で反射させる。そして、反射された光パルスを合波、受光して、電気パルスのレベル測定を行う構成とした。
【００６２】
これにより、光ポートの通信状態の測定を容易に行うことができ、測定効率の向上を図ることが可能になる。また、光源、ＰＤおよび測定処理部といった測定に関する構成要素を、分散させずに１ユニット内に配置することができるので、測定システムのサイズをより縮小化することが可能になる。
【００６３】
次に第２の変形例について説明する。図１３は光通信装置の構成例を示す図である。光通信装置１０−２は、光挿入制御部１１−２および光合波制御部１２−２を備える。光挿入制御部１１−２は、光源３１ａ、波長分波部３ｆ、光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４および光コネクタｃ１を含む。光合波制御部１２−２は、光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−４、光合波部１２ｂ、波長合波部３ｈ、ＰＤ３ｂ、測定処理部３ｃおよび光コネクタｃ２を備える。
【００６４】
光源３１ａは、波長チューナブル光源であり、任意の波長の光を発出する。波長分波部３ｆは、波長毎に光を分波する機能を有し、波長毎に異なる出力ポートから該当波長の光を出力する。例えば、波長分波部３ｆはデマルチプレクサであり、この点は以降に示す実施例でも同様である。
【００６５】
例えば、光源３１ａから波長λ１〜λ４の互いに異なる波長を持つ光が出力されたとする。この場合、波長分波部３ｆは、波長λ１の光を光カプラ１１ａ−１へ出力し、波長λ２の光を光カプラ１１ａ−２へ出力する。また、波長λ３の光を光カプラ１１ａ−３へ出力し、波長λ４の光を光カプラ１１ａ−４へ出力する。
【００６６】
波長合波部３ｈは、光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４、光コネクタｃ１、ｃ２および光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−４を介して流れてきた異なる波長の光を合波する。ＰＤ３ｂは、合波光を電気信号に変換する。測定処理部３ｃは、各波長に対応する電気信号毎にレベルを測定し通信状態の判別処理を行う。
【００６７】
このように、光通信装置１０−２では、波長可変光源から異なる波長の光を発出して、波長単位に光を分波し、光コネクタ間の各光ポートを通じて伝送された光を受光してレベル測定を行う構成とした。これにより、光ポートの通信状態の測定を容易に行うことができ、測定効率の向上を図ることが可能になる。
【００６８】
次に第３の変形例について説明する。図１４は光通信装置の構成例を示す図である。光通信装置１０−３は、光挿入制御部１１−３および光合波制御部１２−３を備える。光挿入制御部１１−３は、光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４、波長合分波部３ｇ、光源３１ａ、ＰＤ３ｂ、測定処理部３ｃおよび光コネクタｃ１を含む。光合波制御部１２−３は、光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−４、光合波部１２ｂ、反射器３ｄおよび光コネクタｃ２を備える。
【００６９】
光源３１ａは、任意の波長の光を発出する。波長合分波部３ｇは、波長毎に異なる出力ポートから該当波長の光を出力する。例えば、光源３１ａから波長λ１〜λ４の互いに異なる波長を持つ光が出力されたとする。この場合、波長合分波部３ｇは、波長λ１の光を光カプラ１１ａ−１へ出力し、波長λ２の光を光カプラ１１ａ−２へ出力する。また、波長λ３の光を光カプラ１１ａ−３へ出力し、波長λ４の光を光カプラ１１ａ−４へ出力する。
【００７０】
反射器３ｄは、光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４、光コネクタｃ１、ｃ２および光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−４を介して流れてきた光を反射する。すなわち、光カプラ１２ａ−１からの出力光を反射して、光カプラ１２ａ−１へ折り返し、光カプラ１２ａ−２からの出力光を反射して、光カプラ１２ａ−２へ折り返す。
【００７１】
同様に、光カプラ１２ａ−３からの出力光を反射して、光カプラ１２ａ−３へ折り返し、光カプラ１２ａ−４からの出力光を反射して、光カプラ１２ａ−４へ折り返す。
光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−４は、反射器３ｄで折り返された反射光を光コネクタｃ２へ向けて出力する。光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４は、光コネクタｃ１を介して受信した反射光を受信すると、波長合分波部３ｇへ反射光を送信する。
【００７２】
波長合分波部３ｇは、各波長の反射光を合波して合波光を生成してＰＤ３ｂへ出力する。ＰＤ３ｂでは、合波光を受信して電気信号に変換する。測定処理部３ｃは、各波長に対応する電気信号毎にレベルを測定し通信状態の判別処理を行う。
【００７３】
このように、光通信装置１０−３では、波長可変光源から異なる波長の光を発出して、波長単位に光を分波し、光コネクタ間の各光ポートを通じて伝送して、測定先のユニット側の反射器で反射させる。そして、反射光を合波、受光してレベル測定を行う構成とした。これにより、光ポートの通信状態の測定を容易に行うことができ、測定効率の向上を図ることが可能になる。
【００７４】
また、光源、ＰＤおよび測定処理部といった測定に関する構成要素を、分散させずに１ユニット内に配置することができるので、測定システムのサイズをより縮小化することが可能になる。
【００７５】
次に第４の変形例について説明する。図１５は光通信装置の構成例を示す図である。光通信装置１０−４は、図２で示した光通信装置１０の光源３ａおよび光ファイバｆ１〜ｆｎを光合波制御部側に設置し、ＰＤ３ｂおよび測定処理部３ｃを光挿入制御部側へ配置した構成である。
【００７６】
光通信装置１０−４は、光挿入制御部１１−４および光合波制御部１２−４を備える。光挿入制御部１１−４は、光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−ｎ、光カプラ１１ｂ、ＰＤ３ｂ、測定処理部３ｃおよび光コネクタｃ１を含む。光合波制御部１２−４は、光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−ｎ、光カプラ１２ｃ、光合波部１２ｂ、光源３ａおよび光コネクタｃ２を含む。
【００７７】
光通信装置１０−４では、主信号光の流れとは逆方向に光パルスを流す構成であり、このような構成にすることにより、主信号光と光パルスの波長を同一にすることができる。
光源３ａは、測定処理部３ｃから送信されたタイミング指示にもとづき、基準光パルスを発出する。光カプラ１２ｃは、光パルスを分岐して光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−ｎへ出力する。
【００７８】
光カプラ１２ｃと、光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−ｎとはそれぞれ、互いに異なる遅延量が設定された光ファイバｆ１〜ｆｎと接続しており、光ファイバｆ１〜ｆｎに設定された遅延時間後に、光カプラ１２ｃで分岐した複数の光パルスは、光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−ｎに到達する。
【００７９】
光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−ｎは、光パルスを光コネクタｃ２へ送信する。光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−ｎは、光コネクタｃ１を介して受信した光パルスを光カプラ１１ｂへ送信する。光カプラ１１ｂは、光パルスを合波して光パルス列を生成してＰＤ３ｂへ送信する。
【００８０】
ＰＤ３ｂは、光カプラ１１ｂから出力された光パルス列を電気パルス列に変換する。測定処理部３ｃは、電気パルス列を受信してレベル測定により、光ポートの通信状態の判別処理を行う。測定処理の内容は、図７〜図１０で上述した内容と同じなので説明は省略する。
【００８１】
次に第５の変形例について説明する。図１６は光通信装置の構成例を示す図である。光通信装置１０−５は、図１１で示した光通信装置１０−１の光源３ａ、ＰＤ３ｂ、測定処理部３ｃ、光カプラ３ｅおよび光ファイバｆ１〜ｆ４を光合波制御部側に設置し、反射器３ｄを光挿入制御部側へ配置した構成である。
【００８２】
光通信装置１０−５は、光挿入制御部１１−５および光合波制御部１２−５を備える。光挿入制御部１１−５は、光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４、反射器３ｄおよび光コネクタｃ１を含む。光合波制御部１２−５は、光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−４、光合波部１２ｂ、光カプラ３ｅ、光源３ａ、ＰＤ３ｂ、測定処理部３ｃおよび光コネクタｃ２を含む。
【００８３】
光源３ａは、測定処理部３ｃから送信されたタイミング指示にもとづき、基準光パルスを発出する。光カプラ３ｅは、光パルスを分岐して、光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−ｎへ出力する。
【００８４】
光カプラ３ｅと光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−４とはそれぞれ、互いに異なる遅延量が設定された光ファイバｆ１〜ｆ４と接続しており、光ファイバｆ１〜ｆ４に設定された遅延時間後に、分岐後の複数の光パルスは、光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−４に到達する。
【００８５】
光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−ｎは、光パルスを光コネクタｃ２へ送信する。光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−ｎは、光コネクタｃ１を介して受信した光パルスを反射器３ｄへ送信する。反射器３ｄは、光カプラ１１ａ−１からの出力光を反射して、光カプラ１１ａ−１へ折り返し、光カプラ１１ａ−２からの出力光を反射して、光カプラ１１ａ−２へ折り返す。同様に、光カプラ１１ａ−３からの出力光を反射して、光カプラ１１ａ−３へ折り返し、光カプラ１１ａ−４からの出力光を反射して、光カプラ１１ａ−４へ折り返す。
【００８６】
光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４は、反射器３ｄで折り返された反射光パルスを光コネクタｃ１へ向けて出力する。光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−４は、光コネクタｃ２を介して受信した反射光パルスを受信すると、光カプラ３ｅへ反射光パルスを送信する。
【００８７】
光カプラ３ｅは、４つの反射光パルスを合波して光パルス列を生成してＰＤ３ｂへ出力する。ＰＤ３ｂは、光カプラ３ｅから出力された光パルス列を電気パルス列に変換する。測定処理部３ｃは、電気パルス列を受信してレベル測定により、光ポートの通信状態の判別処理を行う。
【００８８】
次に第６の変形例について説明する。図１７は光通信装置の構成例を示す図である。光通信装置１０−６は、図１３で示した光通信装置１０−２の光源３１ａおよび波長分波部３ｆを光合波制御部側に設置し、波長合波部３ｈ、ＰＤ３ｂおよび測定処理部３ｃを光挿入制御部側へ配置した構成である。
【００８９】
光通信装置１０−６は、光挿入制御部１１−６および光合波制御部１２−６を備える。光挿入制御部１１−６は、光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４、波長合波部３ｈ、ＰＤ３ｂ、測定処理部３ｃおよび光コネクタｃ１を含む。光合波制御部１２−６は、光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−４、光合波部１２ｂ、波長分波部３ｆ、光源３１ａおよび光コネクタｃ２を備える。
【００９０】
光源３１ａは、波長チューナブル光源であり、任意の波長の光を発出する。波長分波部３ｆは、波長毎に光を分波する機能を有し、波長毎に異なる出力ポートから該当波長の光を出力する。
【００９１】
例えば、光源３１ａから波長λ１〜λ４の互いに異なる波長を持つ光が出力されたとする。この場合、波長分波部３ｆは、波長λ１の光を光カプラ１２ａ−１へ出力し、波長λ２の光を光カプラ１２ａ−２へ出力する。また、波長λ３の光を光カプラ１２ａ−３へ出力し、波長λ４の光を光カプラ１２ａ−４へ出力する。
【００９２】
波長合波部３ｈでは、光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−４、光コネクタｃ１、ｃ２および光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４を介して流れてきた異なる波長の光を合波する。ＰＤ３ｂは、合波光を電気信号に変換する。測定処理部３ｃは、各波長に対応する電気信号毎にレベルを測定し、光ポートの通信状態の判別処理を行う。
【００９３】
次に第７の変形例について説明する。図１８は光通信装置の構成例を示す図である。光通信装置１０−７は、図１４で示した光通信装置１０−３の波長合分波部３ｇ、光源３１ａ、ＰＤ３ｂおよび測定処理部３ｃを光合波制御部側に設置し、反射器３ｄを光挿入制御部側へ配置した構成である。
【００９４】
光通信装置１０−７は、光挿入制御部１１−７および光合波制御部１２−７を備える。光挿入制御部１１−７は、光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４、反射器３ｄおよび光コネクタｃ１を含む。光合波制御部１２−７は、光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−４、光合波部１２ｂ、波長合分波部３ｇ、光源３１ａ、ＰＤ３ｂ、測定処理部３ｃおよび光コネクタｃ２を備える。
【００９５】
光源３１ａは、任意の波長の光を発出する。波長合分波部３ｇは、波長毎に異なる出力ポートから該当波長の光を出力する。例えば、光源３１ａから波長λ１〜λ４の互いに異なる波長を持つ光が出力されたとする。この場合、波長合分波部３ｇは、波長λ１の光を光カプラ１２ａ−１へ出力し、波長λ２の光を光カプラ１２ａ−２へ出力する。また、波長λ３の光を光カプラ１２ａ−３へ出力し、波長λ４の光を光カプラ１２ａ−４へ出力する。
【００９６】
反射器３ｄは、光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−４、光コネクタｃ１、ｃ２および光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４を介して流れてきた光を反射する。すなわち、光カプラ１１ａ−１からの出力光を反射して、光カプラ１１ａ−１へ折り返し、光カプラ１１ａ−２からの出力光を反射して、光カプラ１１ａ−２へ折り返す。
【００９７】
同様に、光カプラ１１ａ−３からの出力光を反射して、光カプラ１１ａ−３へ折り返し、光カプラ１１ａ−４からの出力光を反射して、光カプラ１１ａ−４へ折り返す。
光カプラ１１ａ−１〜１１ａ−４は、反射器３ｄで折り返された反射光を光コネクタｃ１へ向けて出力する。光カプラ１２ａ−１〜１２ａ−４は、光コネクタｃ２を介して受信した反射光を受信すると、波長合分波部３ｇへ反射光を送信する。
【００９８】
波長合分波部３ｇは、各波長の反射光を合波して合波光をＰＤ３ｂへ出力する。ＰＤ３ｂでは、合波光を受信して電気信号に変換する。測定処理部３ｃは、各波長に対応する電気信号毎にレベルを測定し、光ポートの通信状態の判別処理を行う。
【００９９】
以上、実施の形態を例示したが、実施の形態で示した各部の構成は同様の機能を有する他のものに置換することができる。また、他の任意の構成物や工程が付加されてもよい。
【符号の説明】
【０１００】
１  光通信装置
１ａ、１ｂ  通信ユニット
１ａ−１  光源
１ａ−２  光分岐部
１ａ−３  遅延設定部
１ｂ−１  光合波部
１ｂ−２  受光素子
１ｂ−３  測定部
ｃ１、ｃ２  光コネクタ
ｃａ  コネクタケーブル
【図１】
2012257002.tif 000003
【図２】
2012257002.tif 000004
【図３】
2012257002.tif 000005
【図４】
2012257002.tif 000006
【図５】
2012257002.tif 000007
【図６】
2012257002.tif 000008
【図７】
2012257002.tif 000009
【図８】
2012257002.tif 000010
【図９】
2012257002.tif 000011
【図１０】
2012257002.tif 000012
【図１１】
2012257002.tif 000013
【図１２】
2012257002.tif 000014
【図１３】
2012257002.tif 000015
【図１４】
2012257002.tif 000016
【図１５】
2012257002.tif 000017
【図１６】
2012257002.tif 000018
【図１７】
2012257002.tif 000019
【図１８】
2012257002.tif 000020