(57)【要約】【課題】穿孔圧延の不良の検知の精度が高い不良検知方法を提供することを課題とする。【解決手段】穿孔圧延機１０は、ピアサロール１ａ，１ｂとピアサプラグ３と圧延荷重センサ４とスラスト荷重センサ５と制御部６とを備えている。制御部６は、ピアサロール１ａ，１ｂの圧延荷重に対応する圧延荷重パラメータと、ピアサプラグ３のスラスト荷重に対応するスラスト荷重パラメータとを測定し、圧延荷重パラメータとスラスト荷重パラメータとに基づいて穿孔圧延の不良を検知する。【選択図】図３
2012096265.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ピアサロール及びピアサプラグを用いてビレットを穿孔圧延する際の穿孔圧延の不良を検知する方法であって、
前記ピアサロールの圧延荷重に対応する圧延荷重パラメータと、前記ピアサプラグのスラスト荷重に対応するスラスト荷重パラメータとを測定し、
前記圧延荷重パラメータと、前記スラスト荷重パラメータとに基づいて、穿孔圧延の不良を検知することを特徴とする穿孔圧延の不良検知方法。
【請求項２】
前記ビレットが前記ピアサロールに噛み込まれた後に、前記圧延荷重パラメータの値が予め定められた圧延第１しきい値を初めて越えてから予め定められた第１所定時間を経過するまでの間に、前記スラスト荷重パラメータが予め定められたスラスト第１しきい値を越えない場合は穿孔圧延の不良が発生したと判断することを特徴とする請求項１に記載の穿孔圧延の不良検知方法。
【請求項３】
前記ビレットが前記ピアサロールに噛み込まれた後に、前記スラスト荷重パラメータが予め定められたスラスト第２しきい値を初めて越えてから予め定められた第２所定時間を経過するまでの間に、前記圧延荷重パラメータの値が予め定められた圧延第２しきい値を越えない場合は穿孔圧延の不良が発生したと判断することを特徴とする請求項１に記載の穿孔圧延の不良検知方法。
【請求項４】
請求項１乃至請求項３のいずれか一項に記載の穿孔圧延の不良検知方法により不良を検知するステップと、
前記不良を検知したときに、該不良を改善するステップとを含むことを特徴とする継目無管の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ピアサロールでビレットを穿孔圧延する際の穿孔圧延の不良検知方法、及び継目無管の製造方法に関する。特に、穿孔圧延の不良を容易に検知することができる穿孔圧延の不良検知方法、及びその不良検知方法により不良を検知するステップを含んだ継目無管の製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
マンネスマン−マンドレルミル方式による継目無管の製造においては、まず素材のビレットを加熱炉で１２００〜１２６０℃に加熱した後、穿孔圧延工程においてピアサプラグと穿孔圧延機のピアサロールとを用いて穿孔圧延してホローシェルを製造する。次に、前記ホローシェルの内面にマンドレルバーを串状に挿入し、通常５〜８スタンドからなるマンドレルミルで外面を孔型圧延ロールで拘束して延伸圧延することにより、所定の肉厚まで減肉する。その後、マンドレルバーを抜き取り、前記減肉された素管を定径圧延機で所定外径に定径圧延して製品を得る。
【０００３】
図１は、穿孔圧延機の例の概略構成を示す図であり、図１（ａ）は側面図を、図１（ｂ）は平面図を示す。図２は、ピアサロールとピアサプラグとビレットの概略構成を示す図である。なお、図１（ｂ）ではピアサプラグの図示を省略しており、図２では、簡略化のために一対のピアサロールの傾きを無しにしている。図１に示すように、穿孔圧延機１０は、互いに傾斜した一対のピアサロール１ａ，１ｂと、マンドレル２に後端が支持された砲弾状のピアサプラグ３とを備えている。一対のピアサロール１ａ，１ｂは、それらの軸方向が側面視で互いに平行或いは所定の交叉角で交叉するように設定される一方、平面視で互いに逆方向に傾斜角θだけ傾けて配設されており、互いに同方向に回転するように構成されている。ピアサプラグ３は、一対のピアサロール１ａ，１ｂ間に配設されている。
【０００４】
斯かる構成を有する穿孔圧延機１０を用いて中実のビレットＢを穿孔圧延するために、先ず、ビレットＢを一対のピアサロール１ａ，１ｂ間に送給する。ビレットＢが一対のピアサロール１ａ，１ｂに噛み込んだ後は、ピアサロール１ａ，１ｂの摩擦力によってビレットＢには回転させられる力と軸方向に前進させられる力が同時に作用する。そして、ピアサプラグ３の先端に到達するまでに、ビレットＢの中心部には、ピアサロール１ａ，１ｂによって圧縮応力と引張り応力とが交互に連続して作用（回転鍛造効果）し、孔が開きやすい状態となる。ビレットＢがピアサプラグ３に当接すると、ビレットＢの中心部に孔が開けられ、以降、ピアサロール１ａ，１ｂとピアサプラグ３との間で肉厚加工を受け、ホローシェルＳが得られる。
【０００５】
このような穿孔圧延においては、ビレットＢがピアサロール１ａ，１ｂに噛み込まれて圧延が開始される圧延開始時と、圧延が終了して圧延されたホローシェルＳが穿孔圧延機１０から抜き出るときに不良が多く発生する。圧延開始時の穿孔圧延の不良としては、主に次の２つの不良がある。
一つは、送給されたビレットＢがピアサロール１ａ，１ｂには接触するが、ピアサロール１ａ，１ｂに噛み込まれずにピアサプラグ３に当接しない不良である。以下、この不良を空転不良という。
他の不良は、ビレットＢが、ピアサロール１ａ，１ｂに噛み込まれピアサプラグ３には当接するが、ビレットＢのピアサロール１ａ，１ｂへの噛み込みの速度が遅い又は噛み込みが停止する不良であり、ビレットＢがピアサプラグ３に当接してからピアサロール１ａ，１ｂの圧延荷重がなだらかにしか上昇しない。以下、この不良を頭詰まり不良という。
【０００６】
このような穿孔圧延開始時の不良を発生させない製造条件として、ピアサロール１ａ，１ｂによる噛み込みの程度を表すドラフト率を大きくすることが挙げられるが、ドラフト率を大きくしすぎるとシェル内面疵（ホローシェルの内面に生じる疵）が発生してしまう虞がある
ドラフト率は次のように定義される（図２参照）。
ドラフト率＝（ｄ−ｒ）／ｄ×１００
ここでｄはビレットの外径、ｒはビレットの先端がピアサプラグ３に当接したところでの、ピアサロール１ａとピアサロール１ｂの間隔である。
【０００７】
穿孔圧延開始時の不良を発生させない製造条件として、ピアサロール１ａ，１ｂの表面に増摩剤を塗布し、ビレットＢとの摩擦係数を高めることが挙げられる。しかしながら、増摩剤を塗布し続けるとロール表面の荒れによりシェル外面疵（ホローシェルの外面に生じる疵）が発生したり、ピアサロール１ａ，１ｂを回転させる駆動部（図示せず）が有するベアリングへの増摩剤の侵入等により操業トラブルが発生する虞がある。
【０００８】
また、空転不良が発生したときの対策としては、ピアサロール１ａ，１ｂの開度を大きくすることが望ましく、頭詰まり不良が発生したときの対策としては、ビレットＢが普通鋼の場合にはピアサロール１ａ，１ｂの開度を小さくし、ビレットＢが高合金鋼の場合には、増摩剤をピアサロール１ａ，１ｂに塗布することが望ましい。
しかしながら、ビレットＢが、Ｃｒを２mass％以上含むような高合金鋼からなる場合には、ドラフト率の適正範囲が非常に狭いので、穿孔圧延の不良を無くすのは困難である。また、ビレットＢが、炭素鋼からなる場合にも、ロール表面の荒れの状態等により圧延状況が変化するので、穿孔圧延の不良を無くすのは困難である。
【０００９】
このような穿孔圧延の不良が発生すると、最悪の場合には穿孔圧延を停止し、加熱炉から穿孔圧延機１０までにある全てのビレットＢを取り出さなければならず、多大な損害となる。そのために、穿孔圧延の不良が発生しても、不良の発生を直ぐに検知して対策を行うことが望ましい。
しかしながら、これらの穿孔圧延の不良の検知は熟練した作業者の目視によって行われ、作業者の技能の影響を受けるので、検知の精度が低いという問題がある。
【００１０】
また、穿孔圧延中にピアサロールを駆動させているモータの電流値が所定のしきい値より低下すると、ピアサロールとビレットとの間にスリップが発生していると判断し、不良を検知する穿孔圧延機が知られている（例えば、特許文献１参照）。
しかしながら、この検知方法では、上述したような穿孔圧延開始時の不良を検知することができない。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特開平１０−１８０３１１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
本発明は、斯かる従来技術の問題を解決するためになされたものであり、穿孔圧延の不良の検知の精度が高い不良検知方法を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
前記課題を解決するため、本発明者は、穿孔圧延によって得られる種々のパラメータを用いて穿孔圧延の不良を高い精度で検知する方法を検討した。その結果、圧延荷重に対応する圧延荷重パラメータと、スラスト荷重に対応するスラスト荷重パラメータの両方を用いることにより、穿孔圧延の不良の検知を高い精度で行うことができるという知見を得た。
尚、圧延荷重に対応する圧延荷重パラメータとは、圧延荷重と相関を有するパラメータであり、例えば、ピアサロールを駆動させているモータの電流値や圧延荷重自体である。また、スラスト荷重に対応するスラスト荷重パラメータとは、スラスト荷重と相関を有するパラメータであり、例えば、スラスト荷重自体である。
【００１４】
本発明は、上記の本発明者の知見に基づき完成されたものである。すなわち、前記課題を解決するため、本発明は、ピアサロールでビレットを穿孔圧延する際の穿孔圧延の不良を検知する方法であって、圧延荷重に対応する圧延荷重パラメータと、スラスト荷重に対応するスラスト荷重パラメータとを測定し、前記圧延荷重パラメータと、前記スラスト荷重パラメータとに基づいて、穿孔圧延の不良を検知することを特徴とする穿孔圧延の不良検知方法を提供する。
【００１５】
本発明によれば、圧延荷重パラメータとスラスト荷重パラメータとを測定し、測定した圧延荷重パラメータとスラスト荷重パラメータとの両方のパラメータに基づいて穿孔圧延の不良を検知するので、穿孔圧延の不良の検知の精度が高い。
【００１６】
好ましくは、前記ビレットが前記ピアサロールに噛み込まれた後に、前記圧延荷重パラメータの値が予め定められた圧延第１しきい値を初めて越えてから予め定められた第１所定時間を経過するまでの間に、前記スラスト荷重パラメータが予め定められたスラスト第１しきい値を越えない場合は穿孔圧延の不良が発生したと判断する。
ここでいう圧延第１しきい値とは、圧延荷重に関する一つ目のしきい値であり、ビレットがピアサロールに接触したか否かを判断するためのしきい値である。
また、スラスト第１しきい値とは、スラスト荷重に関する一つ目のしきい値であり、ビレットの先端がピアサプラグに当接したか否かを判断するためのしきい値である。
【００１７】
斯かる好ましい方法によれば、圧延荷重パラメータの値が予め定められた圧延第１しきい値を初めて越えたときにビレットがピアサロールに接触したと判断し、スラスト荷重パラメータが予め定められたスラスト第１しきい値を越えたときに、ビレットがピアサプラグに当接したと判断する。
従って、圧延荷重パラメータの値が予め定められた圧延第１しきい値を初めて越えてから予め定められた第１所定時間を経過するまでの間に、スラスト荷重パラメータが予め定められたスラスト第１しきい値を越えない場合は、空転不良が発生したと高い精度で判断することができる。
【００１８】
好ましくは、前記ビレットが前記ピアサロールに噛み込まれた後に、前記スラスト荷重パラメータが予め定められたスラスト第２しきい値を初めて越えてから予め定められた第２所定時間を経過するまでの間に、前記圧延荷重パラメータの値が予め定められた圧延第２しきい値を越えない場合は穿孔圧延の不良が発生したと判断する。
ここでいうスラスト第２しきい値とは、スラスト荷重に関する二つ目のしきい値であり、ビレットの先端がピアサプラグに当接したか否かをスラスト第１しきい値と同様に判断するためのしきい値であり、スラスト第１しきい値と同じ値であっても良い。
また、圧延第２しきい値とは、圧延荷重に関する二つ目のしきい値であり、ビレットの先端がピアサプラグに当接してから、ビレットがピアサロールとピアサプラグとに正常に噛み込まれているか否かを判断するためのしきい値である。
【００１９】
斯かる好ましい方法によれば、スラスト荷重パラメータが予め定められたスラスト第２しきい値を初めて越えたときに、ビレットがピアサプラグに当接したと判断し、圧延荷重パラメータの値が予め定められた圧延第２しきい値を越えたときに、ビレットがピアサロールとピアサプラグとに正常に噛み込まれていると判断する。
従って、スラスト荷重パラメータが予め定められたスラスト第２しきい値を初めて越えてから予め定められた第２所定時間を経過するまでの間に、圧延荷重パラメータの値が予め定められた圧延第２しきい値を越えない場合は、頭詰まり不良が発生したと高い精度で判断することができる。
【００２０】
また、上述したいずれかの穿孔圧延の不良検知方法により不良を検知するステップと、前記不良を検知したときに、該不良を改善するステップとを含むことを特徴とする継目無管の製造方法を提供する。
【００２１】
本発明によれば、穿孔圧延の不良を検知したときに、該不良を改善するので、穿孔圧延の不良の無い継目無管を製造することができる。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、圧延荷重パラメータとスラスト荷重パラメータとを測定し、測定した圧延荷重パラメータとスラスト荷重パラメータとの両方のパラメータに基づいて穿孔圧延の不良を検知するので、穿孔圧延の不良の検知の精度が高い。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】図１は、従来の穿孔圧延機の概略構成を示す図であり、図１（ａ）は側面図を、図１（ｂ）は平面図を示す。
【図２】図２は、ピアサロールとピアサプラグとビレットの概略構成を示す図である。
【図３】図３は、本実施形態に係る穿孔圧延の不良検知方法を用いる穿孔圧延機の構成図である。
【図４】図４は、穿孔圧延開始時の圧延荷重とスラスト荷重の推移を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
本発明の実施形態に係る穿孔圧延の不良検知方法について、添付図面を適宜参照しつつ説明する。図３は、本実施形態に係る穿孔圧延の不良検知方法を用いる穿孔圧延機１０の構成図である。
穿孔圧延機１０は、図１に記載された構成に加えて、圧延荷重センサ４とスラスト荷重センサ５と制御部６と報知部７とを備えている。圧延荷重センサ４は、例えばロードセルであり、ピアサロール１ａ，１ｂの圧延荷重を測定し、圧延荷重に相当する電気信号を制御部６に送信する。スラスト荷重センサ５は、例えばロードセルであり、ピアサプラグ３のスラスト荷重を測定し、スラスト荷重に相当する電気信号を制御部６に送信する。制御部６は、圧延荷重センサ４及びスラスト荷重センサ５からの電気信号に基づいて穿孔圧延の不良を検知する。報知部７は、制御部６からの信号により穿孔圧延の不良の発生を報知する。報知部７は、例えば、液晶等の表示画面や鳴動するブザーである。
【００２５】
次に、穿孔圧延の不良の内で、空転不良の検知方法について説明する。
図４は、穿孔圧延開始時の圧延荷重とスラスト荷重の推移を示す。
穿孔圧延が正常に行われている場合には、ビレットＢが一対のピアサロール１ａ，１ｂ間に送給され、ピアサロール１ａ，１ｂに噛み込まれてから、所定時間内にビレットＢはピアサプラグ３に当接する。そこで、ピアサロール１ａ，１ｂに噛み込まれてから所定時間内にビレットＢがピアサプラグ３に当接しないときに、空転不良が発生したと判断する。具体的には、次の例のように行う。
ビレットＢが、搬送機（図示せず）によって一対のピアサロール１ａ，１ｂ間に送給され、ピアサロール１ａ，１ｂに噛み込まれるとピアサロール１ａ，１ｂの圧延荷重が大きくなる。圧延荷重センサ４は、ピアサロール１ａ，１ｂの圧延荷重を測定しており、圧延荷重に相当する電気信号を制御部６に送信する。制御部６には、圧延第１しきい値が予め定められており、制御部６は、圧延荷重が圧延第１しきい値を初めて超えた（圧延荷重＞圧延第１しきい値）ときに、ビレットＢがピアサロール１ａ，１ｂに噛み込まれたと判断する。圧延第１しきい値は、ビレットＢがピアサロール１ａ，１ｂに噛み込まれたか否かを判断するためのしきい値であり、ビレットＢがピアサロール１ａ，１ｂに噛み込まれていないのに噛み込まれたと、制御部６がノイズによって誤判定しないように事前の調査によって定められる。
制御部６は、ビレットＢがピアサロール１ａ，１ｂに噛み込まれたと判断すると、第１所定時間のカウントを開始する。
【００２６】
そして、第１所定時間が経過するまでの間に、スラスト荷重センサ５から送信されたスラスト荷重がスラスト第１しきい値を超えた（スラスト荷重＞スラスト第１しきい値）場合には、正常に穿孔圧延が開始されたと判断し、スラスト荷重がスラスト第１しきい値を超えない場合には、空転不良が発生したと判断する。
スラスト第１しきい値は、ビレットＢがピアサプラグ３に当接したか否かを判断するためのしきい値であり、ビレットＢがピアサプラグ３に当接していないのに当接したと、制御部６がノイズによって誤判定しないように事前の調査によって定められる。
第１所定時間は、空転不良が発生したか否かを判断するために定められ、空転不良が発生しなかった場合にビレットＢがピアサロール１ａ，１ｂに噛み込まれてからビレットＢの先端がピアサプラグ３に当接するまでにかかる時間から定められる。
第１所定時間は、例えば、ビレットＢがピアサロール１ａ，１ｂに噛み込まれてからビレットＢが３回転するまでにピアサプラグ３に当接しない場合に空転不良になり易いという事前調査による知見から次のように定める。
ｔ１＝（ｄ×π×３）／（Ｄ×π×Ｎ）
ここで、
ｔ１：第１所定時間（秒）、
ｄ：ビレットＢの外径（ｍｍ）、
Ｄ：ビレットＢを噛み込んだ位置でのピアサロール１ａ，１ｂの外径（ｍｍ）、
Ｎ：ピアサロール１ａ，１ｂの１秒当たりの回転数、
である（図２参照）。
【００２７】
制御部６は、空転不良が発生したと判断すると、報知部７によって、空転不良の発生を報知する。
【００２８】
このようにして、圧延荷重パラメータとスラスト荷重パラメータとを測定し、測定した圧延荷重パラメータとスラスト荷重パラメータとの両方のパラメータに基づいて穿孔圧延の不良を検知するので、穿孔圧延の不良の検知の精度が高い。
また、空転不良の発生を高い精度で検知することができる。
【００２９】
次に、頭詰まり不良の検知方法について説明する。
穿孔圧延が正常に行われている場合には、ビレットＢの先端がピアサプラグ３に当接してから、ビレットＢがピアサロール１ａ，１ｂとピアサプラグ３とに噛み込まれていくので、ピアサロール１ａ，１ｂの圧延荷重が上昇し、圧延荷重はホローシェルＳの先端がピアサプラグ３の後端の位置に到達したときに最大となり、その後その圧延荷重近傍に保持される。
そこで、ビレットＢがピアサプラグ３に当接してから所定時間内に圧延荷重が所定の値を超えないときには、頭詰まり不良が発生したと判断する。具体的には、次のように行う。
【００３０】
ビレットＢが、ピアサロール１ａ，１ｂに噛み込まれた後に、ビレットＢの先端がピアサプラグ３に当接すると、ピアサプラグ３のスラスト荷重が大きくなる。スラスト荷重センサ５は、ピアサプラグ３のスラスト荷重を測定しており、スラスト荷重に相当する電気信号を制御部６に送信する。制御部６には、スラスト第２しきい値が設定されており、制御部６は、スラスト荷重がスラスト第２しきい値を初めて超えた（スラスト荷重＞スラスト第２しきい値）ときに、ビレットＢの先端がピアサプラグ３に当接したと判断する。
スラスト第２しきい値は、ビレットＢの先端がピアサプラグ３に当接したか否かを判断するためのしきい値であり、ビレットＢがピアサプラグ３に当接していないのに当接したと、制御部６がノイズによって誤判定しないように事前の調査によって定められる。尚、スラスト第２しきい値は、スラスト第１しきい値と同様にビレットＢがピアサプラグ３に当接したか否かを判断するためのしきい値であり、スラスト第１しきい値と同じ値でもよいし、異なる値でもよい。
第２所定時間は、圧延荷重が正常に上昇しているかを判断するための時間であり、ビレットＢの先端がピアサプラグ３に当接してから、ホローシェルＳの先端がピアサプラグ３の後端の位置に到達するのに必要な時間と同じ、又はそれより短く定められる。
制御部６は、ビレットＢがピアサプラグ３に当接したと判断すると、第２所定時間のカウントを開始する。
【００３１】
そして、第２所定時間が経過するまでの間に、圧延荷重センサ４から送信された圧延荷重が圧延第２しきい値を超えた（圧延荷重＞圧延第２しきい値）場合には、ビレットＢがピアサロール１ａ，１ｂとピアサプラグ３とに正常に噛み込まれていっていると判断し、圧延荷重が圧延第２しきい値を超えない場合には、頭詰まり不良が発生したと判断する。
【００３２】
第２所定時間と圧延第２しきい値は、例えば、次のように定める。
第２所定時間は、正常な穿孔圧延が行われている状態において、ビレットＢの先端がピアサプラグ３に当接してからホローシェルＳの先端がピアサプラグ３の後端の位置に達するまでの時間とする。圧延第２しきい値は、ビレットＢの先端がピアサプラグ３に当接してから、ピアサロール１ａ，１ｂとピアサプラグ３とに正常に噛み込まれているか否かを判断するためのしきい値である。圧延第２しきい値は、正常な穿孔圧延が行われている状態において、ホローシェルＳの先端がピアサプラグ３の後端の位置に達したときの圧延荷重の９０％とし、事前の調査から定める。したがって、通常の場合、圧延第２しきい値は、圧延第１しきい値よりも大きな値となる。
第２所定時間の具体的な例は次のようになる。
ｔ２＝Ｌ／Ｖ
ここで、
ｔ２: 第２所定時間(秒)、
Ｌ：ピアサプラグ３の長さ、
Ｖ：ホローシェルＳの先端における圧延速度、
である（図１、２参照）。
ここで、Ｖは、
Ｖ＝Ｄｒ×π×Ｎ×sinθ×０．５、
Ｄｒ：ピアサロール１ａ，１ｂの最大径（ｍｍ）、
Ｎ：ピアサロール１ａ．１ｂの秒当たりの回転数、
である（図１（ｂ）参照）。
Ｖは、ピアサロール１ａ，１ｂにおいて外径が最大の箇所での周速を計算し、その周速を構成するホローシェル軸方向の成分の５０％としている。尚、この式での、ピアサロール１ａ，１ｂの周速のホローシェル軸方向の成分に対するＶの割合は、圧延条件に応じて変えればよい。
【００３３】
制御部６は、頭詰まり不良が発生したと判断すると、報知部７によって、頭詰まり不良の発生を報知する。
【００３４】
このようにして、頭詰まり不良の発生を高い精度で検知することができる。
【００３５】
次に、上述した穿孔圧延の不良の検知方法を用いた継目無管の製造方法について説明する。この継目無管の製造方法は、穿孔圧延の不良を検知するステップと、穿孔圧延の不良を検知したときに、該不良を改善するステップとを含む。
穿孔圧延の不良を検知するステップは、空転不良の検知方法と、頭詰まり不良の検知方法の内のいずれかの一つ以上の検知方法を行う。
そして、穿孔圧延の不良を改善するステップは、以下のように行う。
空転不良が発生したときには、穿孔圧延中のビレットＢに対してピアサロール１ａ，１ｂの開度を大きくし、次に穿孔圧延を行うビレットＢからに対してもピアサロール１ａ，１ｂの開度を大きくする。
頭詰まり不良が発生したときには、穿孔圧延中のビレットＢに対して、ビレットＢが普通鋼の場合にはピアサロール１ａ，１ｂの開度を小さくし、ビレットＢが高合金鋼の場合には、増摩剤をピアサロール１ａ，１ｂに塗布する。そして、次に穿孔圧延を行うビレットＢからに対しても同様のことを行う。
また、空転不良、又は頭詰まり不良が発生すると、次に穿孔圧延を行うビレットＢから、ドラフト率を修正してもよい。
上述したように、穿孔圧延の不良を検知したときに、該不良を改善するので、穿孔圧延の不良の無い継目無管を製造することができる。
【００３６】
尚、上述した空転不良の検知方法と、頭詰まり不良の検知方法は、それぞれ一方の検知方法だけを行ってもよいし、両方の検知方法を行ってもよい。空転不良を検知したときにピアサロール１ａ，１ｂの開度を大きくし過ぎると、頭詰まり不良が発生する虞があり、頭詰まり不良を検知したときにピアサロール１ａ，１ｂの開度を小さくし過ぎると、空転不良が発生する虞がある。従って、空転不良と頭詰まり不良との両方の検知方法を行ない、空転不良と頭詰まり不良の両方の不良が出ないようにピアサロール１ａ，１ｂ間の開度を調整すれば、適正な開度に容易に調整することができる。
【００３７】
なお、本発明は、上記実施形態の構成に限られず、発明の趣旨を変更しない範囲で種々の変形が可能である。例えば、圧延第２しきい値を、正常な穿孔圧延が行われている状態においてホローシェルＳの先端がピアサプラグ３の後端の位置に達したときの圧延荷重の９０％としたが、圧延第２しきい値の前記圧延荷重に対する割合は、頭詰まり不良を検知できるように、任意に定めればよい。
【符号の説明】
【００３８】
１ａ，１ｂ・・・ピアサロール
３・・・ピアサプラグ
Ｂ・・・ビレット
【図１】
2012096265.tif 000003
【図２】
2012096265.tif 000004
【図３】
2012096265.tif 000005
【図４】
2012096265.tif 000006
【手続補正書】
【提出日】平成24年1月18日(2012.1.18)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ピアサロール及びピアサプラグを用いてビレットを穿孔圧延する際の穿孔圧延の不良を検知する方法であって、
前記ピアサロールの圧延荷重に対応する圧延荷重パラメータと、前記ピアサプラグのスラスト荷重に対応するスラスト荷重パラメータとを測定し、
前記ビレットが前記ピアサロールに噛み込まれた後に、前記圧延荷重パラメータの値が予め定められた圧延第１しきい値を初めて越えてから予め定められた第１所定時間を経過するまでの間に、前記スラスト荷重パラメータが予め定められたスラスト第１しきい値を越えない場合は空転不良が発生したと判断し、
前記ビレットが前記ピアサロールに噛み込まれた後に、前記スラスト荷重パラメータが予め定められたスラスト第２しきい値を初めて越えてから予め定められた第２所定時間を経過するまでの間に、前記圧延荷重パラメータの値が予め定められた圧延第２しきい値を越えない場合は頭詰まり不良が発生したと判断することを特徴とする穿孔圧延の不良検知方法。
【請求項２】
請求項１に記載の穿孔圧延の不良検知方法により不良を検知するステップと、
前記不良を検知したときに、該不良を改善するステップとを含むことを特徴とする継目無管の製造方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
本発明は、上記の本発明者の知見に基づき完成されたものである。すなわち、前記課題を解決するため、本発明は、ピアサロールでビレットを穿孔圧延する際の穿孔圧延の不良を検知する方法であって、圧延荷重に対応する圧延荷重パラメータと、スラスト荷重に対応するスラスト荷重パラメータとを測定し、前記ビレットが前記ピアサロールに噛み込まれた後に、前記圧延荷重パラメータの値が予め定められた圧延第１しきい値を初めて越えてから予め定められた第１所定時間を経過するまでの間に、前記スラスト荷重パラメータが予め定められたスラスト第１しきい値を越えない場合は空転不良が発生したと判断し、前記ビレットが前記ピアサロールに噛み込まれた後に、前記スラスト荷重パラメータが予め定められたスラスト第２しきい値を初めて越えてから予め定められた第２所定時間を経過するまでの間に、前記圧延荷重パラメータの値が予め定められた圧延第２しきい値を越えない場合は頭詰まり不良が発生したと判断することを特徴とする穿孔圧延の不良検知方法を提供する。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１５】
ここでいう圧延第１しきい値とは、圧延荷重に関する一つ目のしきい値であり、ビレットがピアサロールに接触したか否かを判断するためのしきい値である。
また、スラスト第１しきい値とは、スラスト荷重に関する一つ目のしきい値であり、ビレットの先端がピアサプラグに当接したか否かを判断するためのしきい値である。
また、スラスト第２しきい値とは、スラスト荷重に関する二つ目のしきい値であり、ビレットの先端がピアサプラグに当接したか否かをスラスト第１しきい値と同様に判断するためのしきい値であり、スラスト第１しきい値と同じ値であっても良い。
また、圧延第２しきい値とは、圧延荷重に関する二つ目のしきい値であり、ビレットの先端がピアサプラグに当接してから、ビレットがピアサロールとピアサプラグとに正常に噛み込まれているか否かを判断するためのしきい値である。
本発明によれば、圧延荷重パラメータとスラスト荷重パラメータとを測定し、測定した圧延荷重パラメータとスラスト荷重パラメータとの両方のパラメータに基づいて穿孔圧延の不良を検知するので、穿孔圧延の不良の検知の精度が高い。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１６
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１７】
具体的には、本発明によれば、圧延荷重パラメータの値が予め定められた圧延第１しきい値を初めて越えたときにビレットがピアサロールに接触したと判断し、スラスト荷重パラメータが予め定められたスラスト第１しきい値を越えたときに、ビレットがピアサプラグに当接したと判断する。
従って、圧延荷重パラメータの値が予め定められた圧延第１しきい値を初めて越えてから予め定められた第１所定時間を経過するまでの間に、スラスト荷重パラメータが予め定められたスラスト第１しきい値を越えない場合は、空転不良が発生したと高い精度で判断することができる。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１８
【補正方法】削除
【補正の内容】
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１９】
また、本発明によればスラスト荷重パラメータが予め定められたスラスト第２しきい値を初めて越えたときに、ビレットがピアサプラグに当接したと判断し、圧延荷重パラメータの値が予め定められた圧延第２しきい値を越えたときに、ビレットがピアサロールとピアサプラグとに正常に噛み込まれていると判断する。
従って、スラスト荷重パラメータが予め定められたスラスト第２しきい値を初めて越えてから予め定められた第２所定時間を経過するまでの間に、圧延荷重パラメータの値が予め定められた圧延第２しきい値を越えない場合は、頭詰まり不良が発生したと高い精度で判断することができる。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２０】
また、本発明は、上述した穿孔圧延の不良検知方法により不良を検知するステップと、前記不良を検知したときに、該不良を改善するステップとを含むことを特徴とする継目無管の製造方法としても提供される。