(57)【要約】【課題】転動部材４の転動面４Ａを触針３にて直接測定しても、高周波帯域のウェービネス等の測定を容易にし、転動部材４の転動面４Ａと接触する触針３の先端３Ａの摩耗を抑制し、転動部材４の転動面４Ａと接触する触針３の先端３Ａに硬い粒子等が刺さり難い転動部材の周面測定装置１を提供する。【解決手段】本発明に係る転動部材の周面測定装置１は、周面測定時に転動部材４の転動面４Ａに直接接触する触針の先端が、ダイヤモンドからなることを特徴とする。触針３の先端３Ａの接触面３Ａ１は、転動部材の転動面と１箇所で接触する為には、平面または凸形状になっていることが好ましい。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
転動部材の周面測定装置において、周面測定時に転動部材の転動面に直接接触する触針の先端が、ダイヤモンドからなることを特徴とする転動部材の周面測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、転がり軸受用部品の軌道輪や転動体等の転動部材を、円周方向に測定する為の装置に関し、転動部材の転動面を直接測定するのに好適であり、特にウェービネスや真円度を測定するのに好適である。
【背景技術】
【０００２】
従来より、転動部材は、転動装置の回転時の振動抑制や回転精度等を確保するために、周面の径寸法や真円度やウェービネス等を精度よく検査して管理する必要がある。転動部材のウェービネスを測定する方法としては、転動部材を転動装置に組み込んで転動装置を回転させ、転動装置の振動を測定することにより間接的にウェービネス等を測定する方法がある。しかし、この方法では、転動部材を転動装置に組み込んだ後に測定するため、転動部材単品の品質保証には使い難い場合がある。それに対して、転動部材の転動面のウェービネス等を直接測定する場合には、転動面に傷が付き易いとの問題があった。それに対する従来技術としては図１と図４の様に、転動部材４の転動面に直接触れる触針３の先端５２の素材をプラスチックにして、転動面の傷を防止することが提案されている（例えば、特許文献１参照。）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特公平２−４４００５公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、触針３の素材の転動面に触れる部分をプラスチックにした場合、高周波帯域のウェービネス等の検出が難しい場合があったり、プラスチックの摩耗が早かったり、プラスチックに硬い粒子等が刺さって測定時に転動面を傷つけ易い可能性があった。
【０００５】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであって、その目的は、転動部材の転動面を触針にて直接測定しても、高周波帯域のウェービネス等の測定を容易にし、転動部材の転動面と接触する触針の先端の摩耗を抑制し、転動部材の転動面と接触する触針の先端に硬い粒子等が刺さり難い転動部材の周面測定装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
前記課題を解決するため、本発明に係る転動部材の周面測定装置は、周面測定時に触針の先端の、転動部材の転動面に直接接触する部分が、ダイヤモンドからなることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、転動部材の転動面を触針にて直接測定しても、高周波帯域のウェービネス等の測定を容易にし、触針の転動面と接触する部分の摩耗を抑制し、触針の転動面と接触する部分に硬い粒子等が刺さり難い転動部材の周面測定装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明の第1実施形態に係る転動部材の周面測定装置の触針の使用状況を示す斜視図
【図２】本発明の第1実施形態に係る転動部材の周面測定装置の触針の先端の断面図
【図３】本発明の第２実施形態に係る転動部材の周面測定装置の触針の先端の断面図
【図４】従来の転動部材の周面測定装置の触針の断面図
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明に係る転動部材の周面測定装置の各実施形態について図面を参照して説明する。
＜第１実施形態＞
図１は、本発明の第1実施形態に係る転動部材の周面測定装置１の触針の使用状況を示す斜視図であり、図２は、本発明の第1実施形態に係る転動部材の周面測定装置の触針の先端の断面図である。図１において、転動部材４は転がり軸受の玉軸受の軌道輪である内輪であり軌道面４Ａを有し、転動部材は０ｚを軸として、矢印の方向に一定の速度で回転している。転動部材の周面測定装置１において、０ｙ方向に上下する変位量を電気量に変換する図示しない発電手段を構成するカンチレバー２に取り付けられた触針３を有する。図２の触針３の先端３Ａにはダイヤモンドが取り付けられており、接触面３Ａ１は図１の転動面４Ａに直接接触して、回転する転動部材の転動面４Ａのうねりによる変位量を図１のカンチレバー２に伝え、ウェービネス等を正確に測定できる。本発明では、触針３の先端３Ａの接触面３Ａ１にダイヤモンドを使用しているので、高周波帯域のウェービネス等の測定を容易にし、転動部材の転動面と接触する触針の先端の摩耗を抑制し、転動部材の転動面と接触する触針３の先端３Ａに硬い粒子等が刺さり難い。
【００１０】
また、触針３の先端３Ａの接触面３Ａ１は、転動部材の転動面と１箇所で接触する為には、平面または凸形状になっていることが好ましい。ただし、図１の転動面４Ａのように凹曲面の場合に、触針３の先端３Ａの接触面３Ａ１は、凹曲面の曲率より小さい曲率の凸面を有することが好ましく、各種の転動部材に対応する為には、接触面３Ａ１の凸面の曲率半径が１ｍｍ以下であることがより好ましい。また、転動面４Ａに傷を付け難くする為には、接触面３Ａ１の凸面の曲率半径が０．１ｍｍ以上であることが好ましく、接触面３Ａ１の凸面の表面粗さは１μｍ以下であることが好ましく、測定時に転動部材の転動面に潤滑剤として潤滑油やグリースを塗布することが好ましい。また、転動面４Ａに傷を付け難くする為には、転動面４Ａに接触面３Ａ１を接触させる時の押し付け力は１Ｎ以下であることが好ましく、０．２Ｎ以下であることがより好ましい。また、測定を安定的に行う為に、転動面４Ａに接触面３Ａ１を接触させる時の押し付け力は０．０２Ｎ以上であることが好ましい。
【００１１】
＜第２実施形態＞
図３の第２実施形態では、触針１３の先端１３Ａの接触面１３Ａ１は、平面になっており、転がり軸受の転動体であるころのように、転動部材の転動面が凸面になっている場合、好適に使用できる。その他の部分については、第１実施形態と同様である。
【００１２】
上述の実施形態は本発明の一例を示したものであって、本発明はこれらの実施形態に限定されるものではない。本発明の主旨を外れない限り、他の実施形態にも適用出来る。
【符号の説明】
【００１３】
１                            転動部材の周面測定装置
２                            カンチレバー
３、１３、２３                触針
３Ａ、１３Ａ                  先端
３Ａ１、１３Ａ１、２３Ａ１    接触面
４                            転動部材
４Ａ                          転動面
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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