(57)【要約】【課題】映像のゲインを調整して光学部材の温度上昇を抑制した投射型表示装置を提供する。【解決手段】投射型表示装置１００は、映像を生成する映像生成部１１及び映像が入射される偏光板１２を含む光学系１０と、温度を検知する温度検知部２と、映像生成部１１で生成される映像のゲインを調整するゲイン調整部３と、ゲイン調整部３を制御する制御部４と、光学系１０、ゲイン調整部３、及び、制御部４を収納する筐体１とを有し、制御部４は、温度検知部２により検知された温度が所定の閾値以上の場合、映像のゲインを低下させるようにゲイン調整部３を制御する。【選択図】図1
2012150300.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
映像を生成する映像生成部及び該映像が入射される光学部材を含む光学系と、
温度を検知する温度検知部と、
前記映像生成部で生成される前記映像のゲインを調整するゲイン調整部と、
前記ゲイン調整部を制御する制御部と、
前記光学系、前記ゲイン調整部、及び、前記制御部を収納する筐体と、を有し、
前記制御部は、前記温度検知部により検知された前記温度が所定の閾値以上の場合、前記映像の前記ゲインを低下させるように前記ゲイン調整部を制御することを特徴とする投射型表示装置。
【請求項２】
前記映像生成部は、Ｒ、Ｇ、Ｂの液晶パネルであり、
前記制御部は、前記Ｒ、Ｇ、Ｂの液晶パネルのそれぞれで生成される前記映像の前記ゲインを調整するように前記ゲイン調整部を制御することを特徴とする請求項１に記載の投射型表示装置。
【請求項３】
前記温度検知部は、前記筐体に収納され、前記光学部材の温度を検知することを特徴とする請求項１又は２に記載の投射型表示装置。
【請求項４】
前記温度検知部は、前記筐体の外側に設けられ、前記筐体の外部における外気温度を検知し、
前記制御部は、前記外気温度から前記光学部材の温度を算出することを特徴とする請求項１又は２に記載の投射型表示装置。
【請求項５】
光源の劣化状態を判定する光源劣化判定部を更に有し、
前記制御部は、前記外気温度と前記光源劣化判定部の判定結果に基づいて、前記光学部材の温度を算出することを特徴とする請求項４に記載の投射型表示装置。
【請求項６】
前記制御部は、前記温度検知部により検知された前記温度が所定の閾値以上の場合、前記映像の前記ゲインを時間の経過とともに段階的に低下させるように前記ゲイン調整部を制御することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の投射型表示装置。
【請求項７】
前記光学部材は偏光板であることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の投射型表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、投射型表示装置に係り、特に光学部材の温度上昇を抑制した投射型表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、色分離光学系における液晶パネルの光射出側に設けられた偏光板等の光学部材は、入射光によって温度が上昇して高温状態での使用を継続することにより劣化し、投射映像にムラができる等、高画質化の弊害となっていた。例えば特許文献１には、冷却ファンの回転を制御し、偏光板を含む光学部材を冷却する冷却方法が開示されている。また特許文献２には、冷却ファンの回転制御に加えて、光源からの光量を制御する制御方法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００３−５１４６号公報
【特許文献２】特開２０１０−９１８８２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１では、装置の内部に光学部材を冷却する機構を設ける必要があるため、装置の内部構造が複雑になる。また、液晶パネルは高画質な映像を表示するために一定の温度を保つ必要があり、ファンの回転を増減して光学部材の温度上昇を抑制する場合、液晶パネルの温度変化を考慮した複雑な制御が要求される。
【０００５】
また特許文献２では、ファンの回転制御のみならず光学部材に入射する光源からの光量を調整して光学部材の温度上昇を制御する。しかし、冷却ファンの回転数の増減や光源の光量により影響を受ける液晶パネルの温度を、高画質な映像を表示するために一定に保つように制御するには、複雑なアルゴリズムが必要となる。
【０００６】
そこで本発明は、映像のゲインを調整して光学部材の温度上昇を抑制した投射型表示装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一側面としての投射型表示装置は、映像を生成する映像生成部及び該映像が入射される光学部材を含む光学系と、温度を検知する温度検知部と、前記映像生成部で生成される前記映像のゲインを調整するゲイン調整部と、前記ゲイン調整部を制御する制御部と、前記光学系、前記ゲイン調整部、及び、前記制御部を収納する筐体とを有し、前記制御部は、前記温度検知部により検知された前記温度が所定の閾値以上の場合、前記映像の前記ゲインを低下させるように前記ゲイン調整部を制御する。
【０００８】
本発明の他の目的及び特徴は、以下の実施例において説明される。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、映像のゲインを調整して光学部材の温度上昇を抑制した投射型表示装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】実施例１における投射型表示装置のブロック図である。
【図２】実施例１における投射型表示装置によるゲイン補正のフローチャートである。
【図３（ａ）】実施例２における投射型表示装置のブロック図である。
【図３（ｂ）】実施例２における投射型表示装置の構成図である。
【図４】実施例２における投射型表示装置によるゲイン補正のフローチャートである。
【図５】実施例２における偏光板の温度差とゲイン補正係数の関係図である。
【図６】実施例２におけるゲイン補正係数と偏光板に入射する光量の関係図である。
【図７】実施例３における投射型表示装置によるゲイン補正のフローチャートである。
【図８】実施例３における現在温度とゲイン補正係数の関係図である。
【図９】実施例３におけるゲイン補正係数と入射光量の関係図である。
【図１０】実施例４における投射型表示装置のブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明の実施例について、図面を参照しながら詳細に説明する。各図において、同一の部材については同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。
【実施例１】
【００１２】
まず、図１を参照して、本発明の実施例１における投射型表示装置について説明する。図１は、本実施例における投射型表示装置１００のブロック図である。１は投射型表示装置の筐体であり、後述の光学系１０、ゲイン調整部３、及び、制御部４を収納する。２は、筐体１の内部の所定の部材（光学部材）の温度を検知する温度検知部である。本実施例において、温度検知部２は、後述の映像生成部１１の光射出側に設けられた偏光板の温度を検知する。ただし、本実施例はこれに限定されるものではなく、ＮＤフィルタ等の他の光学部材の温度を検知するようにしてもよい。
【００１３】
３は、後述の映像生成部１１により生成される（各色の）映像のゲインを調整するゲイン調整部である。４は、温度検知部２から温度情報、すなわち温度検知部２により検知された温度を取得し、取得した温度に応じて映像のゲインを調整するように、ゲイン調整部３に対してゲイン調整情報を送信する制御部である。後述のように、制御部４は、温度検知部２により検知された温度が所定の閾値以上の場合、映像のゲインを低下させるようにゲイン調整部３を制御する。このように制御部４がゲイン調整部３を制御することにより、映像生成部１１の光射出側に設けられた光学部材の劣化を抑制することができる。
【００１４】
１１は、映像を生成するパネル等の表示部（不図示）を備えた映像生成部である。１２は、映像生成部１１の光射出側に設けられ、映像生成部１１で生成された映像が入射される偏光板（光学部材）である。また、映像生成部１１の光射出側には、偏光板１２以外にもＮＤフィルタ等の光学部材が設けられていてもよい。１０は光学系であり、光学系１０は、映像生成部１１、及び、映像生成部１１の光射出側に設けられた偏光板１２やＮＤフィルタ等の光学部材を含んで構成される。
【００１５】
続いて、図２を参照して、投射型表示装置１００による各色のゲイン補正について説明する。図２は、投射型表示装置１００の内部における所定の部材（光学部材）の温度を検出し、各色のゲイン値を制御するゲイン制御方法（ゲイン補正方法）のフローチャートである。
【００１６】
まずステップＳ００１において、温度検知部２は液晶パネル（映像生成部１１）の光射出側に設けられた偏光板１２の現在の実温度（現在温度ｔ）を検知し、制御部４は検知された現在の温度情報を取得する。尚、実温度とは、温度検知部２によって検知された温度である。続いてステップＳ００２において、制御部４は、ステップＳ００１で取得した現在温度ｔとゲイン補正制御の開始及び停止を判定するための閾値温度ｔａとを比較する。ステップＳ００２において現在温度ｔが閾値温度ｔａ以上であると判定された場合にはステップＳ００３に進む。一方、現在温度ｔが閾値温度ｔａよりも小さいと判定された場合にはステップＳ００１に戻る。本実施例において、温度閾値ｔａは、温度と偏光板１２の劣化の関係を考慮して、任意の値が予め定められている。
【００１７】
ステップＳ００３において、制御部４は、最小ゲイン補正係数ａ１（温度単位あたりの補正係数）、及び、現在温度ｔと閾値温度ｔａとの温度差ｄ（ｄ＝ｔ−ｔａ）に基づいて、以下の式（１）で表されるようにゲイン補正係数ａを求める。
【００１８】
ａ＝１−（ｄ×ａ１）  …  （１）
最小ゲイン補正係数ａ１は、例えば０．１℃単位の補正係数であるが、これに限定されるものではない。ゲイン補正係数ａは、ステップＳ００２（及び、その他のステップ）において適宜算出することができるが、偏光板１２の温度毎に固定値を記憶部に予め記憶しておいてもよい。続いてステップＳ００４において、制御部４は、各色のゲイン補正が行われていない場合（ゲイン補正前）のゲイン値ｇ（無補正ゲイン値）に対し、ステップＳ００３において算出されたゲイン補正係数ａを用いて、式（２）のように補正ゲイン値ｇｍを算出する。
【００１９】
ｇｍ＝ｇ×ａ  …  （２）
そしてステップＳ００５において、制御部４は、映像生成部１１で生成される映像の各色のゲイン値を、ステップＳ００４で算出した各色の補正ゲイン値ｇｍに更新する。これにより、偏光板１２へ入射する光量を抑制し、偏光板１２の温度上昇を妨げることができる。
【００２０】
本実施例は、映像生成部１１の光射出側に設けられた偏光板１２を温度上昇の抑制対象としているが、これに限定されるものではない。映像生成部１１の光射出側に設けられたＮＤフィルタやその他の光学部材を温度上昇の抑制対象（劣化防止の対象）とし、これらの光学部材の温度に応じてゲイン補正を行っても良い。映像生成部１１は、Ｒ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の３枚の液晶パネルで構成することができるが、これに限定されるものでは無い。この映像生成部としては、ＲＧＢ３色の映像を時分割で生成する１枚の液晶パネル（単板構成）でも良いし、１〜３枚のＤＬＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｌｉｇｈｔ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ）でも良い。
【００２１】
以上のとおり、本実施例の投射型表示装置によれば、偏光板の温度に基づいて偏光板に入射する光量を調整できる。このため、偏光板の温度に応じて各色のゲイン値を調整することで偏光板に入射する光量を低下させ、偏光板の劣化を抑制することができる。
【００２２】
尚、実施例１では偏光板の温度に応じてゲイン値を調整する例について説明したが、偏光板に限られず、その他の温度上昇により劣化しやすい光学部材（例えばＮＤフィルタ等）の温度に応じてゲイン値を調整してもよい。
【実施例２】
【００２３】
次に、図３（ａ）、（ｂ）を参照して、本発明の実施例２における投射型表示装置について説明する。
【００２４】
図３（ａ）は、本実施例における投射型表示装置２００のブロック図である。１は投射型表示装置２００の筐体であり、２は筐体１の内部の所定の部材（光学部材）の温度を検知する温度検知部である。本実施例において、温度検知部２は、後述の液晶パネル１１０の光射出側に設けられた偏光板１２（光学部材）の温度を検知する。３は、Ｒ、Ｇ、Ｂのそれぞれの液晶パネル１１０のゲインを調整するゲイン調整部である。４は制御部であり、制御部４は、温度検知部２から温度情報を取得し、取得した温度に応じて、後述のＲ、Ｇ、Ｂの液晶パネル１１０のそれぞれで生成される映像のゲインを調整するようにゲイン調整部３を制御する（ゲイン調整部３にゲイン調整情報を送信する）。このような制御部４の動作により、液晶パネル１１０の光射出側に設けられた偏光板１２の劣化を抑制することができる。１１０は、Ｒ、Ｇ、Ｂのそれぞれの色に対して設けられた液晶パネルである。１２は、Ｒ、Ｇ、Ｂの液晶パネル１１０の光射出側に設けられた偏光板である。１０１は色分離光学系であり、Ｒ、Ｇ、Ｂの液晶パネル１１０、及び、液晶パネル１１０の光射出側に設けられた偏光板１２を含んで構成される。
【００２５】
図３（ｂ）に、実施例２における投射型表示装置の構成図を示す。光源（ランプの発光部）１００１から全方向に射出した光束は放物面リフレクタ１００２によって略平行光となって射出される。この平行光束は、ＵＶをカットするＩＲカットフィルタ１００３に入射し、第１のレンズアレイ１００４によって複数の部分光束に分割され、その各々の部分光束が集光される。各々の分割光束は第２のレンズアレイ１００５近傍に集光され、各々の部分光束が各々光源像（２次光源像）を形成する。第２のレンズアレイ１００５を射出した分割光束は、コンデンサーレンズ１００６によって集光され、映像生部である反射型の液晶パネル１１０を重畳的に照明する。以上のＩＲカットフィルタ１００３からコンデンサーレンズ１００６により、照明光学系が構成される。
【００２６】
図１中のダイクロイックミラー１００７はＢとＲの色光を反射し、Ｇの色光を透過するダイクロイックミラーであり、１００８は透明基板に偏光素子を貼着したＧ用の入射側偏光板Ｇであり、Ｓ偏光光のみを透過する。１００９はＰ偏光光を透過し、Ｓ偏光光を反射する第１の偏光ビームスプリッターであり、偏光分離面を有する。
【００２７】
１１０Ｒ，１１０Ｇ，１１０Ｂはそれぞれ入射した光を反射するとともに画像変調する赤用の反射型の液晶パネル（映像生成部）、緑用の反射型液晶パネル、青用の反射型液晶パネルである。１１０Ｒ，１１０Ｇ，１１０Ｂはそれぞれ、赤用の１／４波長板、緑用の１／４波長板、青用の１／４波長板である。１０１１は透明基板にＳ偏光光を透過する偏光素子を貼着し入射側偏光板、１０１２はＢの色光の偏光方向を９０度変換し、Ｒの色光の偏光方向は変換しない第１の色選択性位相差板である。１０１３はＰ偏光を透過し、Ｓ偏光を反射する第２の偏光ビームスプリッターであり、偏光分離面を有する。１０１４はＲの色光の偏光方向を９０度変換し、Ｂの色光の偏光方向は変換しない第２の色選択性位相差板である。
【００２８】
１２は出射側偏光板（偏光素子）であり、Ｓ偏光のみを透過する。１０１５はＰ偏光を透過し、Ｓ偏光を反射する第３の偏光ビームスプリッター（色合成手段）であり、偏光分離面を有する。
【００２９】
以上のダイクロイックミラー１００７から第３の偏光ビームスプリッター１０１５までの光学部材により、色分離合成光学系１０１が構成される。
【００３０】
１０１６は投射レンズ光学系であり、上記照明光学系，色分離合成光学系および投射レンズ光学系により画像表示光学系が構成される。
【００３１】
２は温度検知部であり、偏光板１２の温度を検出する。３はゲイン調整部であり、４の制御部が温度検知部２から取得した温度によって、ゲイン調整部３経由で液晶パネル１１０のゲインを制御することによって、光射出側に設けられた偏光板１２の劣化を防止する。  続いて、図４を参照して、投射型表示装置２００によるＲ、Ｇ、Ｂの液晶パネル１１０に対するゲイン補正について説明する。図４は、投射型表示装置２００の内部における所定の部材（光学部材）の温度を検出し、Ｒ、Ｇ、Ｂのゲイン値を制御するゲイン制御方法（ゲイン補正方法）のフローチャートである。
【００３２】
まずステップＳ１０１において、制御部４は、液晶パネル１１０の光射出側に設けられた偏光板１２の現在温度（実温度）を取得する。続いてステップＳ１０２において、制御部４はステップＳ１０１で取得した現在温度ｔと閾値温度ｔａとを比較し、現在温度ｔが閾値温度ｔａ以上であると判定した場合にはステップＳ１０３へ進む。一方、制御部４は、現在温度ｔが閾値温度ｔａよりも小さいと判定した場合、ステップＳ１０１に戻る。実施例１と同様に、閾値温度ｔａは温度と偏光板１２の劣化との関係を考慮して適宜決定される。
【００３３】
ステップＳ１０３において、制御部４は、最小ゲイン補正係数ａ１、及び、現在温度ｔと閾値温度ｔａとの温度差ｄに基づいて、上記の式（１）のようにゲイン補正係数ａを算出する。続いてステップＳ１０４において、制御部４は、ゲイン補正前のＲ、Ｇ、Ｂの液晶パネル１１０のそれぞれのゲイン値（無補正ゲイン値ｇ）に対し、ステップＳ１０３にて算出されたゲイン補正係数ａを用いて、上記の式（２）のように補正ゲイン値ｇｍを算出する。そして制御部４は、ステップＳ１０５において、Ｒ、Ｇ、Ｂの液晶パネル１１０それぞれの現在のゲイン値を、ステップＳ１０４で算出した補正ゲイン値ｇｍに更新する。このように、偏光板１２へ入射する光量を低下させて偏光板１２の温度上昇を妨げることができる。
【００３４】
図５は、偏光板１２の温度差ｄ（現在温度ｔと閾値温度ｔａとの差）とゲイン補正係数ａとの関係を示すグラフである。偏光板１２の温度差ｄが大きくなるに従い、ゲイン補正係数ａの値は小さくなるように変化する。また図６は、ゲイン補正係数ａと偏光板１２へ入射する光量との関係を示すグラフである。図６に示されるように、ゲイン補正前のＲ、Ｇ、Ｂそれぞれのゲイン補正係数ａを１、光量の値を１００％とする。このとき、ゲイン補正係数ａを用いてＲ、Ｇ、Ｂそれぞれのゲイン値を補正することにより（ゲイン補正係数に応じて）、偏光板１２に入射する光量は図６のように変化する。
【００３５】
以上のとおり、本実施例の投射型表示装置によれば、偏光板の温度を検出して偏光板に入射する光量を調整できる。このため、偏光板の温度に応じてＲ、Ｇ、Ｂそれぞれのゲイン値を調整し、偏光板へ入射する光量を低下させて偏光板の劣化を抑制することが可能である。また、本実施例の投射型表示装置は、偏光板を冷却するための特別な機構を必要とせず、簡便な制御によって偏光板の温度上昇を抑制することができる。
【００３６】
尚、実施例２では、偏光板の温度に応じてゲイン値を調整する例について説明したが、例えば偏光板１２の他に、不図示の投射レンズ光学系１０１６に使用しているプラスチックレンズの温度に応じてゲイン値を調整してもよい。あるいは、３Ｄ映像表示用に投射レンズとスクリーンとの間に配置した偏光板の温度に応じてゲイン値を調整してもよい。つまり、劣化を防止したい光学部材の温度に応じてゲイン値を調整してもよい。
【００３７】
尚、温度検知部２の場所は、図３（ｂ）に示した場所に限られず温度上昇を抑えたい対象の光学部材の温度が検知可能な位置であればよい。また、実施例２のように光学部材（偏光板）の周辺の温度を検知してもよいし、光学部材の温度を直接検知しても良い。
【実施例３】
【００３８】
次に、図７を参照して、本発明の実施例３におけるゲイン補正について説明する。図７は、本実施例の投射型表示装置によるＲＧＢのゲイン値を制御するゲイン制御方法（ゲイン補正方法）のフローチャートである。本実施例において、制御部４は、温度検知部２により検知された温度が所定の閾値以上の場合、映像のゲインを時間の経過とともに段階的に低下させるようにゲイン調整部３を制御する。
【００３９】
まずステップＳ２０１において、制御部４は、液晶パネル１１０の光射出側に設けられた偏光板１２の現在温度ｔを温度検知部２から取得する。続いてステップＳ２０２において、制御部４は、ステップＳ２０１で取得した現在温度ｔが追従補正温度ｔｍより最大補正温度幅ｔｗ以上高いか、すなわち現在温度ｔと追従補正温度ｔｍとの差ｔ−ｔｍが最大補正温度幅ｔｗ以上であるかを判定する。この判定は、温度差ｄに基づいて行われる。その判定の結果、現在温度ｔが追従補正温度ｔｍより最大補正温度幅ｔｗ以上高い場合にはステップＳ２０３へ進む。一方、現在温度ｔが追従補正温度ｔｍより最大補正温度幅ｔｗよりも低い場合にはステップＳ２０４へ進む。
【００４０】
ステップＳ２０４において、制御部４は、ステップＳ２０１で取得した現在温度ｔが追従補正温度ｔｍより最大補正温度幅ｔｗ以上低いか、すなわち追従補正温度ｔｍと現在温度ｔとの差ｔｍ−ｔが最大補正温度幅ｔｗ以上であるかを判定する。この判定は、温度差ｄに基づいて行われる。その判定の結果、現在温度ｔが追従補正温度ｔｍより最大補正温度幅ｔｗ以上低い場合には、ステップＳ２０５へ進む。一方、現在温度ｔが追従補正温度ｔｍより最大補正温度幅ｔｗよりも高い場合には、Ｓ２０１へ戻る。ここで、最大補正温度幅ｔｗとは、現在温度ｔが閾値温度ｔａ以上である場合に、現在温度ｔと追従補正温度ｔｍとの温度差分のゲイン補正を数回に分けて段階的に行う際に、１回あたりに補正可能な最大の温度幅である。また追従補正温度ｔｍは、現在温度ｔに対する温度差を追従しながら最大補正温度幅ｔｗ単位で段階的にゲイン補正を行うにあたって、現在追従補正をしている温度値である。
【００４１】
ステップＳ２０２にて現在温度ｔが追従補正温度ｔｍよりも最大補正温度幅ｔｗ以上高い場合には、ステップＳ２０３において制御部４は追従補正温度ｔｍに最大補正温度幅ｔｗを加算する（追従補正温度を更新する）。また、現在温度ｔが温度閾値ｔａ以上であるが、ステップＳ２０４にて追従補正温度ｔｍよりも最大補正温度幅ｔｗ以上低い場合には、ステップＳ２０５において制御部４は追従補正温度ｔｍから最大補正温度幅ｔｗを減算する（追従補正温度を更新する）。そしてステップＳ２０６において、制御部４は追従補正温度ｔｍと閾値温度ｔａとを比較する。追従補正温度ｔｍが閾値温度ｔａ以上である場合にはステップＳ２０７へ進む。一方、追従補正温度ｔｍが温度閾値ｔａよりも低い場合にはステップＳ２０８へ進む。
【００４２】
ステップＳ２０７において、制御部４は、最小ゲイン補正係数ａ１（温度単位あたりの補正係数）、及び、追従補正温度ｔｍと閾値温度ｔａとの温度差ｄ（ｄ＝ｔｍ−ｔａ）に基づいて、上記の式（１）で表されるようにゲイン補正係数ａを求める。またステップＳ２０８において、制御部４は、ステップＳ２０３又はステップＳ２０５において更新された追従補正温度ｔｍの値を更新前の状態に戻す。この処理終了後は、ステップＳ２０１へ戻り、補正処理を再開する。
【００４３】
ステップＳ２０９において、制御部４は、各色のゲイン補正が行われていない場合（ゲイン補正前）のゲイン値ｇ（無補正ゲイン値）に対し、ステップＳ２０７において算出されたゲイン補正係数ａを用いて補正ゲイン値ｇｍを算出する。Ｒ、Ｇ、Ｂそれぞれの補正ゲイン値ｇｍは、上記の式（２）で表されるように算出される。そしてステップＳ２１０において、制御部４は、映像生成部１１で生成される映像のＲ、Ｇ、Ｂそれぞれのゲイン値を、ステップＳ２０９で算出したＲ、Ｇ、Ｂの補正ゲイン値ｇｍに更新する。制御部４は、ゲイン調整後、ステップＳ２０１へ戻り、上記フローを繰り返す。
【００４４】
図８は、本実施例における偏光板の現在温度（温度差ｄ）とゲイン補正係数ａとの関係を示すグラフである。図８において、偏光板の現在温度ｔと追従補正温度ｔｍとの温度差ｄがｄ３である場合、温度差ｄ３の時に対応するゲイン補正係数ａ３を用いてゲイン補正を行うものとする。このとき、制御部４は、現在温度ｔと追従補正温度ｔｍとの温度差ｄをｄ１、ｄ２、ｄ３のように段階的に更新し、ゲイン補正係数ａもａ１、ａ２、ａ３のように段階的にＲ、Ｇ、Ｂそれぞれのゲイン値を補正する。図９は、このときのゲイン補正係数ａと偏光板へ入射する光量との関係を示すグラフである。図９に示されるように、Ｒ、Ｇ、Ｂのゲイン補正係数ａを段階的に変更することで、偏光板へ入射する光量も段階的に変化することが分かる。
【００４５】
本実施例における投射型表示装置によれば、偏光板の温度を検出して偏光板に入射する光量を調整する際に、偏光板の温度変化を追従して段階的にゲインの補正を行うことができる。このため、投射映像の輝度の変化によるユーザーに与える不快感を抑制することが可能である。なお本実施例は、偏光板だけでなくＮＤフィルタ等の他の光学部材にも適用可能である。
【実施例４】
【００４６】
次に、図１０を参照して、本発明の実施例４における投射型表示装置について説明する。図１０は、本実施例における投射型表示装置３００のブロック図である。
【００４７】
本実施例における投射型表示装置３００は、実施例２（図３）の投射型表示装置２００の各構成に加えて、光源（不図示）の劣化状態を判定する光源劣化判定部５を備えている。また、投射型表示装置３００の温度検知部２は、投射型表示装置３００の筐体１の外側に設けられ、筐体１の外部における温度（外気温度）を検知する。制御部４は、温度検知部２から取得した外気温度と偏光板１２の温度との相関、及び、光源劣化判定部５から取得した光源の劣化情報に基づいて、光源の劣化による偏光板１２への入射光の変化量を考慮した偏光板１２の現在温度ｔを算出する。このように制御部４は、外気温度から偏光板１２等の光学部材の温度を算出し、制御部４は好ましくは、外気温度と光源劣化判定部５の判定結果に基づいて光学部材の温度を算出する。
【００４８】
そして制御部４は、算出された現在温度ｔに基づいてゲイン値を補正する。なお、偏光板１２の現在温度ｔを算出するにあたり、外気温度と偏光板温度の相関や光源の光量劣化による偏光板１２の温度への影響は、事前に調査して偏光板１２の現在温度ｔを算出するためのパラメータとして記憶部（不図示）に保持されている。なお、光源劣化判定部５は、光源の光量を検出する光センサや、光源の使用時間をカウントするカウンタシステムでもよい。
【００４９】
本実施例の投射型表示装置によれば、偏光板の温度を検出して偏光板に入射する光量を調整する際に、偏光板の温度を検出するセンサを設けない構成であっても、偏光板の温度を算出してゲイン補正を行うことが可能である。なお本実施例は、偏光板だけでなくＮＤフィルタ等の他の光学部材についても適用可能である。
【００５０】
上記各実施例は、透過型の液晶パネルを用いた形態にも適用することができる。温度検知部２が、光学部材の温度あるいはその周辺温度を検知し、その温度に応じて制御部４が透過型の液晶パネルのゲイン値を補正する。これにより、光学部材に対する入射光量が下がるので劣化を抑えることが可能となる。
【００５１】
また、画像光と不要光の射出方向を異ならせることが可能なパネル（映像生成部）を用いた投射型画像表示装置に対して適用することで、本願発明の効果を得ることができる。
【００５２】
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
【符号の説明】
【００５３】
１  筐体
２  温度検知部
３  ゲイン調整部
４  制御部
１０  光学系
１１  映像生成部
１２  偏光板
１００  投射型表示装置
【図３（ｂ）】
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【図７】
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【図１】
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【図２】
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【図３（ａ）】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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