(57)【要約】【課題】調整に必要な記録量を抑制しながら、光記録媒体の外周部分の記録再生のための調整を精度良く実現することが可能な記録再生装置、記録再生方法及びプログラムを提供する。【解決手段】ＲＦ信号を再生できるデータを光記録媒体の外周領域に記録する第一の記録部と、記録したデータが外周領域に記録されていることを示す外周情報を光記録媒体の内周領域に記録する第二の記録部と、外周情報を内周領域から探索する探索部と、探索された外周情報に基づいて、外周領域に記録されたデータを再生し、再生されたデータに基づいて光記録媒体の記録又は再生のための調整を行う調整部とを備える。【選択図】図２
2012014775.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＲＦ信号を再生できるデータを光記録媒体の外周領域に記録する第一の記録部と、
記録した前記データが前記外周領域に記録されていることを示す外周情報を前記光記録媒体の内周領域に記録する第二の記録部と、
前記外周情報を前記内周領域から探索する探索部と、
探索された前記外周情報に基づいて、前記外周領域に記録された前記データを再生し、再生された前記データに基づいて前記光記録媒体の記録又は再生のための調整を行う調整部と、
を備える、記録再生装置。
【請求項２】
前記第一の記録部は、前記外周情報が前記内周領域に記録されていないとき、ＲＦ信号を再生できるデータを前記外周領域に新たに記録し、
前記第二の記録部は、新たに記録した前記データが前記外周領域に記録されていることを示す外周情報を前記内周領域に新たに記録する、請求項１に記載の記録再生装置。
【請求項３】
ＲＦ信号を再生できるデータを光記録媒体の外周領域に記録する第一の記録部と、
前記外周領域に記録された前記データを再生し、再生された前記データに基づいて前記光記録媒体の表面状態を推測する推測部と、
記録した前記データが前記外周領域に記録されていること、及び前記第一の記録部が前記外周領域に前記データを記録して前記推測部が前記光記録媒体の表面状態を推測した時のＲＦ信号品質を含む外周情報を前記光記録媒体の内周領域に記録する第二の記録部と、
前記外周情報を前記内周領域から探索する探索部と、
を備え、
前記推測部は、探索された前記外周情報に基づいて、前記外周領域に記録された前記データを再生し、再生された前記データと、前記外周情報の前記ＲＦ信号品質に基づいて前記光記録媒体の表面状態を推測する、記録再生装置。
【請求項４】
前記第一の記録部は、前記外周情報が前記内周領域に記録されていないとき、ＲＦ信号を再生できるデータを前記外周領域に新たに記録し、
前記推測部は、新たに記録した前記データを再生し、再生された前記データに基づいて前記光記録媒体の表面状態を推測する、請求項３に記載の記録再生装置。
【請求項５】
前記第二の記録部は、新たに記録した前記データが前記外周領域に記録されていること、及び前記第一の記録部が前記外周領域に前記データを新たに記録して前記推測部が前記光記録媒体の表面状態を推測した時のＲＦ信号品質を含む外周情報を前記内周領域に新たに記録する、請求項４に記載の記録再生装置。
【請求項６】
ＲＦ信号を再生できるデータを光記録媒体の外周領域に記録するステップと、
記録した前記データが前記外周領域に記録されていることを示す外周情報を前記光記録媒体の内周領域に記録するステップと、
前記外周情報を前記内周領域から探索するステップと、
探索された前記外周情報に基づいて、前記外周領域に記録された前記データを再生し、再生された前記データに基づいて前記光記録媒体の記録又は再生のための調整を行うステップと、
を備える、記録再生方法。
【請求項７】
ＲＦ信号を再生できるデータを光記録媒体の外周領域に記録するステップと、
前記外周領域に記録された前記データを再生し、再生された前記データに基づいて前記光記録媒体の表面状態を推測するステップと、
記録した前記データが前記外周領域に記録されていること、及び前記第一の記録部が前記外周領域に前記データを記録して前記推測部が前記光記録媒体の表面状態を推測した時のＲＦ信号品質を含む外周情報を前記光記録媒体の内周領域に記録するステップと、
前記外周情報を前記内周領域から探索するステップと、
探索された前記外周情報に基づいて、前記外周領域に記録された前記データを再生し、再生された前記データと、前記外周情報の前記ＲＦ信号品質に基づいて前記光記録媒体の表面状態を推測するステップと、
を備える、記録再生方法。
【請求項８】
ＲＦ信号を再生できるデータを光記録媒体の外周領域に記録する手段、
記録した前記データが前記外周領域に記録されていることを示す外周情報を前記光記録媒体の内周領域に記録する手段、
前記外周情報を前記内周領域から探索する手段、
探索された前記外周情報に基づいて、前記外周領域に記録された前記データを再生し、再生された前記データに基づいて前記光記録媒体の記録又は再生のための調整を行う手段、
としてコンピュータを機能させるためのプログラム。
【請求項９】
ＲＦ信号を再生できるデータを光記録媒体の外周領域に記録する手段、
前記外周領域に記録された前記データを再生し、再生された前記データに基づいて前記光記録媒体の表面状態を推測する手段、
記録した前記データが前記外周領域に記録されていること、及び前記第一の記録部が前記外周領域に前記データを記録して前記推測部が前記光記録媒体の表面状態を推測した時のＲＦ信号品質を含む外周情報を前記光記録媒体の内周領域に記録する手段、
前記外周情報を前記内周領域から探索する手段、
探索された前記外周情報に基づいて、前記外周領域に記録された前記データを再生し、再生された前記データと、前記外周情報の前記ＲＦ信号品質に基づいて前記光記録媒体の表面状態を推測する手段、
としてコンピュータを機能させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録再生装置、記録再生方法及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
光記録媒体（光ディスク）は、同じ速さで回転している場合、外周に行くほど線速度が速くなる。したがって、同じ線速度を維持するためには、外周のほうが内周に比べて低速の回転でよい。よって、外周では内周に比べて、より高速な記録又は再生が可能となる。そのため、光ディスクドライブ装置において、光ディスクにデータを記録したり、光ディスク上のデータを再生する際、外周と内周では異なる調整（例えば、チルト調整、球面収差調整、フォーカスバイアス調整など）がなされることが望ましい。
【０００３】
特許文献１には、内周調整位置と外周調整位置それぞれで最適となるチルト角を取得して、チルト調整を行う技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−９５１２６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、光ディスクの外周に対して、チルト調整、球面収差（ＳＡ）調整、フォーカスバイアス（ＦＢ）調整など各種調整をする際、外周領域にはＲＦ信号を再生できるデータがないため、ＲＦ信号を用いないで調整しなければならない。そのため、トラッキングエラー（ＴＥ）信号やウォブル信号を使用して、外周の各種調整をすることになり、外周の調整はＲＦ信号を用いた調整に比べて精度が確保できないという問題がある。
【０００６】
また、高次の収差がある場合、収差がない場合に比べて、ＴＥ信号の振幅が最大となる傾き（チルト）角度と、ＲＦ信号の品質が良くなる傾き（チルト）角度のギャップが大きくなる。そのため、ＴＥ信号を使用した各種調整は、高次の収差がある場合、精度が低くなるという問題がある。
【０００７】
そこで、本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、本発明の目的とするところは、調整に必要な記録量を抑制しながら、光記録媒体の外周部分の記録再生のための調整を精度良く実現することが可能な、新規かつ改良された記録再生装置、記録再生方法及びプログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明のある観点によれば、ＲＦ信号を再生できるデータを光記録媒体の外周領域に記録する第一の記録部と、記録したデータが外周領域に記録されていることを示す外周情報を光記録媒体の内周領域に記録する第二の記録部と、外周情報を内周領域から探索する探索部と、探索された外周情報に基づいて、外周領域に記録されたデータを再生し、再生されたデータに基づいて光記録媒体の記録又は再生のための調整を行う調整部とを備える記録再生装置が提供される。
【０００９】
上記第一の記録部は、外周情報が内周領域に記録されていないとき、ＲＦ信号を再生できるデータを外周領域に新たに記録し、第二の記録部は、新たに記録したデータが外周領域に記録されていることを示す外周情報を内周領域に新たに記録してもよい。
【００１０】
また、上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、ＲＦ信号を再生できるデータを光記録媒体の外周領域に記録する第一の記録部と、外周領域に記録されたデータを再生し、再生されたデータに基づいて光記録媒体の表面状態を推測する推測部と、記録したデータが外周領域に記録されていること、及び第一の記録部が外周領域にデータを記録して推測部が光記録媒体の表面状態を推測した時のＲＦ信号品質を含む外周情報を光記録媒体の内周領域に記録する第二の記録部と、外周情報を内周領域から探索する探索部とを備え、推測部は、探索された外周情報に基づいて、外周領域に記録されたデータを再生し、再生されたデータと、外周情報のＲＦ信号品質に基づいて光記録媒体の表面状態を推測する記録再生装置が提供される。
【００１１】
上記第一の記録部は、外周情報が内周領域に記録されていないとき、ＲＦ信号を再生できるデータを外周領域に新たに記録し、推測部は、新たに記録したデータを再生し、再生されたデータに基づいて光記録媒体の表面状態を推測してもよい。
【００１２】
上記第二の記録部は、新たに記録したデータが外周領域に記録されていること、及び第一の記録部が外周領域にデータを新たに記録して推測部が光記録媒体の表面状態を推測した時のＲＦ信号品質を含む外周情報を内周領域に新たに記録してもよい。
【００１３】
また、上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、ＲＦ信号を再生できるデータを光記録媒体の外周領域に記録するステップと、記録したデータが外周領域に記録されていることを示す外周情報を光記録媒体の内周領域に記録するステップと、外周情報を内周領域から探索するステップと、探索された外周情報に基づいて、外周領域に記録されたデータを再生し、再生されたデータに基づいて光記録媒体の記録又は再生のための調整を行うステップとを備える記録再生方法が提供される。
【００１４】
また、上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、ＲＦ信号を再生できるデータを光記録媒体の外周領域に記録するステップと、外周領域に記録されたデータを再生し、再生されたデータに基づいて光記録媒体の表面状態を推測するステップと、記録したデータが外周領域に記録されていること、及び第一の記録部が外周領域にデータを記録して推測部が光記録媒体の表面状態を推測した時のＲＦ信号品質を含む外周情報を光記録媒体の内周領域に記録するステップと、外周情報を内周領域から探索するステップと、探索された外周情報に基づいて、外周領域に記録されたデータを再生し、再生されたデータと、外周情報のＲＦ信号品質に基づいて光記録媒体の表面状態を推測するステップとを備える記録再生方法が提供される。
【００１５】
また、上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、ＲＦ信号を再生できるデータを光記録媒体の外周領域に記録する手段、記録したデータが外周領域に記録されていることを示す外周情報を光記録媒体の内周領域に記録する手段、外周情報を内周領域から探索する手段、探索された外周情報に基づいて、外周領域に記録されたデータを再生し、再生されたデータに基づいて光記録媒体の記録又は再生のための調整を行う手段としてコンピュータを機能させるためのプログラムが提供される。
【００１６】
また、上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、ＲＦ信号を再生できるデータを光記録媒体の外周領域に記録する手段、外周領域に記録されたデータを再生し、再生されたデータに基づいて光記録媒体の表面状態を推測する手段、記録したデータが外周領域に記録されていること、及び第一の記録部が外周領域にデータを記録して推測部が光記録媒体の表面状態を推測した時のＲＦ信号品質を含む外周情報を光記録媒体の内周領域に記録する手段、外周情報を内周領域から探索する手段、探索された外周情報に基づいて、外周領域に記録されたデータを再生し、再生されたデータと、外周情報のＲＦ信号品質に基づいて光記録媒体の表面状態を推測する手段、としてコンピュータを機能させるためのプログラムが提供される。
【発明の効果】
【００１７】
以上説明したように本発明によれば、調整に必要な記録量を抑制しながら、光記録媒体の外周部分の記録再生のための調整を精度良く実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る光ディスクドライブ装置のハードウェア回路ブロックによるハードウェア回路構成を示すブロック図である。
【図２】同実施形態に係るシステムコントローラを示すブロック図である。
【図３】ＢＤ−Ｒの記録領域を説明する説明図である。
【図４】本発明の第１の実施形態に係る光ディスク記録又は再生時の各種調整方法を示すフローチャートである。
【図５】本発明の第２の実施形態に係る記録又は再生時の光ディスクの表面状態の評価方法を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
【００２０】
なお、説明は以下の順序で行うものとする。
１．第１の実施形態
２．第２の実施形態
【００２１】
＜１．第１の実施形態＞
図１は、本発明の第１の実施形態に係る光ディスクドライブ装置１のハードウェア回路ブロックによるハードウェア回路構成を示す。光ディスクドライブ装置１は、内部に光ディスク２を装填できる。そして光ディスクドライブ装置１には、内部に装填された光ディスク２のデータ記録面と対向するように光ピックアップ３が設けられている。また光ピックアップ３は、スレッド機構部４により光ディスク２の半径方向（以下、これをディスク半径方向と呼ぶ）へ移動可能に保持されている。
【００２２】
ここで光ディスクドライブ装置１においてデータの再生に用いられる光ディスク２は、データ記録面に例えば予め一定の線速度で一定の周波数となるようにウォブリング（すなわち、蛇行）されたグルーブ（すなわち、案内溝）が形成され、そのグルーブ（及びグルーブ間のランド）がデータの記録されたトラックになる。また光ディスク２は、グルーブのウォブリングに対しＡＤＩＰ（Address  In  Pre  Groove）と呼ばれるデータ記録面内のアドレス情報（以下、これをディスクアドレス情報と呼ぶ）が埋め込まれている。
【００２３】
かかる光ディスクドライブ装置１において例えばマイクロコンピュータでなるシステムコントローラ５は、外部のＡＶ（Audio  Visual）システムＡＶＳ１から与えられる読出命令（すなわち、リードコマンド）等の各種命令に応じて装置全体を統括制御すると共に、各種処理を実行する。これによりシステムコントローラ５は、光ディスクドライブ装置１に光ディスク２が装填された状態で電源オン命令が入力され起動したときや、起動完了後の動作可能な状態（すなわち、電源オン状態）で光ディスクドライブ装置１に対し光ディスク２が装填（又は、交換）されると、立上モードとなる。
【００２４】
この際、サーボ回路６は、システムコントローラ５の制御のもと、スレッド機構部４を駆動して光ピックアップ３を光ディスク２の例えば最内周と対向する位置まで移動させる。またスピンドル駆動回路７は、システムコントローラ５の制御のもと、スピンドルモータ８を駆動することにより光ディスク２を一定速度で回転させる。さらにレーザドライバ９は、光ディスク２が回転すると、システムコントローラ５の制御のもと、レーザ光を連続的に発射させるためのレーザ制御信号を生成し、これを光ピックアップ３に送出する。
【００２５】
光ピックアップ３は、レーザドライバ９からレーザ制御信号が与えられると、そのレーザ制御信号に基づきレーザダイオードからレーザ光を連続的に発射させ、当該発射させたレーザ光を対物レンズで集光させて光ディスク２のデータ記録面に照射する。また光ピックアップ３は、光ディスク２のデータ記録面でレーザ光が反射して得られる反射光を例えば複数の受光素子によって受光して光電変換する。これにより光ピックアップ３は、これら複数の受光素子によりそれぞれ受光した反射光の光量に応じた電流値の信号（以下、これを光電信号と呼ぶ）を生成してマトリクス回路１０に送出する。
【００２６】
マトリクス回路１０は、光ピックアップ３から複数の受光素子によって生成された光電信号が与えられると、これら光電信号をそれぞれ電圧値に変換した後、選択的に用いてマトリクス演算処理や増幅処理等を実行する。これによりマトリクス回路１０は、これら光電信号に基づき、光ディスク２のデータ記録面に対しレーザ光の焦点がどの程度合っているかを示すフォーカスエラー信号を生成する。
【００２７】
またマトリクス回路１０は、これら光電信号に基づき、光ディスク２のデータ記録面のトラックに対しレーザ光の照射位置がどの程度合っているかを示すトラッキングエラー信号を生成する。そしてマトリクス回路１０は、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号をサーボ回路６に送出する。
【００２８】
ところでサーボ回路６は、このときシステムコントローラ５の制御のもと、光ディスク２のデータ記録面にレーザ光の焦点を合せるような対物レンズの所望位置を探索するためのフォーカス探索信号を生成して、これを光ピックアップ３に送出する。これによりサーボ回路６は、光ピックアップ３においてフォーカス探索信号により対物レンズを光軸に沿って、例えば光ディスク２のデータ記録面に徐々に近づけるように移動させながら、その際にマトリクス回路１０から与えられるフォーカスエラー信号に基づき、当該データ記録面にレーザ光の焦点を合せるようにフォーカス引込動作を行う。
【００２９】
そしてサーボ回路６は、このようなフォーカス引込動作が完了すると、引き続きマトリクス回路１０から与えられるフォーカスエラー信号に基づきフォーカス制御信号を生成し、これを光ピックアップ３に送出する。これによりサーボ回路６は、フォーカス制御信号により光ピックアップ３において対物レンズを光軸に沿って光ディスク２のデータ記録面に接近させる（すなわち、近づける）方向（以下、これを接近方向と呼ぶ）及びこれとは逆のデータ記録面から離間させる（すなわち、引き離す）方向（以下、これを離間方向と呼ぶ）へ適宜移動させて光ディスク２のデータ記録面にレーザ光の焦点を合せるようにする。このようにしてサーボ回路６は、光ピックアップ３及びマトリクス回路１０と共にフォーカスサーボループを形成し、かくして光ディスク２のデータ記録面に対しレーザ光の焦点を追従させる。
【００３０】
またサーボ回路６は、システムコントローラ５の制御のもと、光ディスク２のデータ記録面においてトラックにレーザ光の照射位置を合せるためのトラック探索信号を生成して、これを光ピックアップ３に送出する。これによりサーボ回路６は、光ピックアップ３においてトラック探索信号により例えば対物レンズをディスク半径方向へ徐々に移動させながら、その際にマトリクス回路１０から与えられるトラッキングエラー信号に基づき、当該データ記録面のトラックにレーザ光の照射位置を合せるようにレーザ光のトラック引込動作を行う。
【００３１】
そしてサーボ回路６は、このようなレーザ光のトラック引込動作が完了すると、引き続きマトリクス回路１０から与えられるトラッキングエラー信号に基づきトラッキング制御信号を生成し、これを光ピックアップ３に送出する。これによりサーボ回路６は、トラッキング制御信号により光ピックアップ３において対物レンズをディスク半径方向に適宜移動させて光ディスク２のトラックにレーザ光を照射させる。このようにしてサーボ回路６は、光ピックアップ３及びマトリクス回路１０と共にトラッキングサーボループも形成し、かくして光ディスク２のトラックに対しレーザ光の照射位置を追従させる。
【００３２】
さらにマトリクス回路１０は、フォーカス引込動作及びトラック引込動作が完了すると、光ピックアップ３から与えられる複数の光電信号をそれぞれ電圧値に変換した後、選択的に用いてマトリクス演算処理や増幅処理等を実行する。これによりマトリクス回路１０は、これら光電信号に基づきフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号と共に、光ディスク２に形成されたグルーブのウォブリングの振幅（以下、これをウォブル振幅と呼ぶ）を示すウォブル信号も生成する。そしてマトリクス回路１０は、そのウォブル信号をウォブル回路１１に送出する。
【００３３】
ウォブル回路１１は、マトリクス回路１０から与えられたウォブル信号を復調して、ディスクアドレス情報を検出するためのストリームデータを生成し、これをアドレス生成回路１２に送出する。そしてアドレス生成回路１２は、ウォブル回路１１から与えられたストリームデータをデコード処理し、その結果得られたディスクアドレス情報をシステムコントローラ５に送出する。
【００３４】
これによりシステムコントローラ５は、アドレス生成回路１２から与えられるディスクアドレス情報に従い、光ディスク２のデータ記録面においてレーザ光の照射位置を検出することができる。ところでシステムコントローラ５は、例えば、光ディスク２のデータ記録面におけるレーザ光の照射位置をディスクアドレス情報として検出し得る状態となり、引き続きＡＶシステムＡＶＳ１から読出命令が与えられると、立上モードから再生モードへ移行する。
【００３５】
この際、システムコントローラ５は、ＡＶシステムＡＶＳ１によりデータの読出開始位置を示すアドレス情報が指定されると、このときアドレス生成回路１２から与えられたディスクアドレス情報（すなわち、その時点における光ディスク２のデータ記録面へのレーザ光の照射位置）を当該読出開始位置を示すアドレス情報と比較するようにして、適宜シーク指示信号を生成する。そしてシステムコントローラ５は、かかるシーク指示信号をサーボ回路６に送出する。
【００３６】
サーボ回路６は、システムコントローラ５からシーク指示信号が与えられると、トラッキングサーボループを一時的に解除する。そしてサーボ回路６は、シーク指示信号に基づきシーク制御信号を生成し、これをスレッド機構部４に送出する。これによりサーボ回路６は、シーク制御信号によりスレッド機構部４を駆動して光ピックアップ３をディスク半径方向へ複数のトラックを飛び越すようにシークさせる。
【００３７】
因みにシステムコントローラ５は、光ピックアップ３をディスク半径方向へシークさせると、トラックジャンプ指示信号を生成し、これをサーボ回路６に送出する。そしてサーボ回路６は、システムコントローラ５からトラックジャンプ指示信号が与えられると、トラッキングサーボループを解除したまま、そのトラックジャンプ指示信号に基づきジャンプ制御信号を生成し、これをスレッド機構部４に送出する。
【００３８】
これによりサーボ回路６は、ジャンプ制御信号によりスレッド機構部４を駆動して光ピックアップ３をディスク半径方向へ僅かに移動させ、かくして光ディスク２において再生対象のデータの読出開始位置を含むトラックにレーザ光の照射位置を引き込むようにする。なおサーボ回路６は、トラックに対するレーザ光の照射位置の引き込みが完了すると、再びトラッキングサーボループを形成する。
【００３９】
またシステムコントローラ５は、このときレーザドライバ９に対し、レーザ光に対する読出用出力の値を指示する。よってレーザドライバ９は、システムコントローラ５の指示に応じて、レーザ光を読出用出力で連続的に発射させるためのレーザ制御信号を生成し、これを光ピックアップ３に送出する。
【００４０】
これにより光ピックアップ３は、レーザドライバ９から与えられたレーザ制御信号に基づきレーザダイオードからレーザ光を読出用出力で連続的に発射させ、当該発射させたレーザ光を対物レンズで集光させて光ディスク２のデータ記録面に照射する。また光ピックアップ３は、光ディスク２のデータ記録面でレーザ光が反射して得られる反射光を複数の受光素子によって受光して光電変換し、これにより光電信号を生成してマトリクス回路１０に送出する。
【００４１】
マトリクス回路１０は、光ピックアップ３から複数の光電信号が与えられると、これら光電信号をそれぞれ電圧値に変換した後、選択的に用いてマトリクス演算処理や増幅処理等を実行する。これによりマトリクス回路１０は、これら光電信号に基づきフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号及びウォブル信号と共に、再生対象のデータに相当する高周波信号（以下、これをＲＦ信号と呼ぶ）も生成する。そしてマトリクス回路１０は、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号をサーボ回路６に送出し、かつウォブル信号をウォブル回路１１に送出すると共に、ＲＦ信号をリーダ回路１３に送出する。
【００４２】
リーダ回路１３は、マトリクス回路１０から与えられたＲＦ信号に対し２値化処理を施し、その結果得られた変調データを復調回路１４に送出する。またリーダ回路１３は、このときＲＦ信号を用いたＰＬＬ（Phased  Lock  Loop）処理を実行することにより、再生処理用の動作クロック（以下、これを再生処理用動作クロックと呼ぶ）を生成する。そしてリーダ回路１３は、かかる再生処理用動作クロックを各部に供給する。
【００４３】
復調回路１４は、このときリーダ回路１３から与えられている再生処理用動作クロックに同期して動作する。そして復調回路１４は、リーダ回路１３から与えられた変調データに対し、ランレングスリミテッド復号処理のような復調処理を施し、その結果得られたエンコードデータをデコーダ１５に送出する。
【００４４】
デコーダ１５も、このときリーダ回路１３から与えられている再生処理用動作クロックに同期して動作する。そしてデコーダ１５は、復調回路１４から与えられたエンコードデータについて例えば、誤り訂正符号（Error  Correcting  Code）が付加されている単位ブロック毎に、誤り検出訂正処理やデインタリーブ等のデコード処理を施して再生対象のデータを生成し、当該生成したデータを内部のバッファに格納する。
【００４５】
またデコーダ１５は、ＡＶシステムＡＶＳ１の指示に応じて、バッファに対し例えば４つの単位ブロック分のような所定単位ブロック分のデータを格納する毎に、当該バッファから所定単位ブロック分のデータを読み出してＡＶシステムＡＶＳ１に転送する。このようにしてシステムコントローラ５は、光ディスク２のデータ記録面に記録されていたデータを再生してＡＶシステムＡＶＳ１に転送することができる。
【００４６】
因みにスピンドル駆動回路７は、この際、例えばリーダ回路１３から与えられる再生処理用動作クロックをもとに、現在のスピンドルモータ８の回転速度を検出する。またスピンドル駆動回路７は、その回転速度を、予め設定された例えば、光ディスク２を線速度一定（Constant  Linear  Velocity）で回転させるための規準速度と比較するようにして、スピンドルモータ８の回転速度が基準速度にどの程度合っているかを示すスピンドルエラー信号を生成する。
【００４７】
そしてスピンドル駆動回路７は、かかるスピンドルエラー信号に基づきスピンドル制御信号を生成し、これをスピンドルモータ８に送出する。これによりスピンドル駆動回路７は、スピンドル制御信号によりスピンドルモータ８を回転駆動させ、かくして光ディスク２を線速度一定で回転させる。
【００４８】
また光ピックアップ３は、レーザ光の出力監視用の受光素子（以下、これを特に監視用受光素子と呼ぶ）を有している。このため光ピックアップ３は、光ディスク２のデータ記録面でレーザ光が反射して得られる反射光の一部を監視用受光素子によって受光して光電変換する。これにより光ピックアップ３は、レーザ光の出力監視用の信号（以下、これを出力監視用信号と呼ぶ）を生成してレーザドライバ９に送出する。
【００４９】
そしてレーザドライバ９は、ＡＰＣ（Auto  Power  Control）回路を有している。このためレーザドライバ９は、光ピックアップ３のレーザダイオードを制御しながら、その光ピックアップ３から与えられた出力監視用信号をＡＰＣ回路に取り込む。これによりレーザドライバ９は、ＡＰＣ回路により出力監視用信号に基づきレーザ光の出力を監視するようにしてレーザ制御信号の値を適宜調整し、かくしてレーザ光の出力を周囲の温度の変化等によらずに一定の読出用出力となるように制御する。
【００５０】
さらにサーボ回路６は、光ディスク２のデータ記録面にレーザ光が照射されている間、例えばトラッキングエラー信号の低域成分として得られるスレッドエラー信号に基づきスレッド制御信号を生成し、これをスレッド機構部４に送出する。これによりサーボ回路６は、スレッド制御信号によりスレッド機構部４を駆動して光ピックアップ３をディスク半径方向へ徐々に移動させる。このようにしてサーボ回路６は、光ディスク２のデータ記録面からトラックに沿って再生対象のデータを読み出させることができるようになされている。
【００５１】
次に、図２を参照して、本実施形態に係る光ディスクドライブ装置１のシステムコントローラ５について説明する。図２は、本実施形態に係るシステムコントローラを示すブロック図である。
【００５２】
システムコントローラ５は、図２に示すように、テストゾーン記録部１０２と、結果記録部１０４と、結果探索部１０６と、調整部１０８と、ＳＥＲ測定部１１２を含む。なお、ＳＥＲ測定部１１２は第２の実施形態で使用され、第１の実施形態でシステムコントローラ５に含まれなくてもよい。光ディスクドライブ装置１は、後述する第２の実施形態と第１の実施形態を組み合わせてもよく、この場合、図２に示すようにシステムコントローラ５にＳＥＲ測定部１１２が含まれる。
【００５３】
テストゾーン記録部１０２は、第一の記録部の一例であり、光ディスク２の外周のTest  Zoneに調整用データを記録する。調整用データは、光ディスクドライブ装置１によって読み取られることによって、各種調整のために使用されるＲＦ信号を再生できるデータである。
【００５４】
結果記録部１０４は、第二の記録部の一例であり、調整用データがTest  Zoneに記録されていることを示す外周情報を、光ディスク２の内周のDrive  Areaに記録する。外周情報は、例えば、調整用データが記録されている位置を示すアドレス情報（外周記録アドレス）、調整用データが記録されている事実を示すフラグ情報等である。
【００５５】
結果探索部１０６は、探索部の一例であり、光ディスク２の内周のDrive  Areaから、結果記録部１０４によって記録された外周情報を探索する。
【００５６】
調整部１０８は、結果探索部１０６によって探索され読み出された外周情報に基づいて、Test  Zoneに記録された調整用データを再生し、再生された調整用データに基づいて光ディスク２の記録又は再生のための各種調整を行う。各種調整とは、光ディスク２に対してデータを記録したり、光ディスク２上のデータ再生する際に行われる調整であり、例えばチルト調整、球面収差調整、フォーカスバイアス調整などである。なお、チルト調整、球面収差調整、フォーカスバイアス調整など各種調整の方法は、一般的な技術を使用することができ、本明細書では詳細な説明は省略する。また、各種調整は、光ディスク２に対してデータを記録したり、光ディスク２上のデータ再生する際に必要な調整全般を指しており、ここで例示した調整方法に限定されない。
【００５７】
次に、図３を参照して、光ディスク２、例えばＢＤ−Ｒの記録領域について説明する。図３は、ＢＤ−Ｒの記録領域を説明する説明図である。
【００５８】
光記録媒体のＢＤ−Ｒでは、図３に示すように、内周側から外周にかけて、OPC  Area、Drive  Area、User  Area、Test  Zoneが配置される。
【００５９】
OPC  Areaは、光ディスク２の内周領域にあり、ＯＰＣのためのデータが書き込まれる領域である。ＯＰＣ（Optimum  Power  Control）は、光ディスク２にデータを書き込む際のレーザ記録パワーを決定する処理である。ＯＰＣは、OPC  Areaにパワーを段階的に変化させながらデータを記録し、この記録データに基づいて、記録に最適なパワーを決定する。OPC  Areaには、光ディスク２のUser  Areaにデータを記録する前に、記録のたびにＯＰＣのためのデータが記録される。
【００６０】
Drive  Areaは、光ディスク２の内周領域にあり、例えばその光ディスク２に関するメタデータが書き込まれる領域である。本実施形態では、外周に記録した調整用データのアドレス、調整用データを記録した光ディスクドライブ装置１の機種名（又は機種ＩＤなど）等が記録される。
【００６１】
User  Areaは、光ディスク２のうちユーザが自由に使用できる領域であり、ユーザによって画像データ、音声データ等の各種データが記録される。
【００６２】
Test  Zoneは、光ディスク２の外周領域にあり、各種調整のための調整用データが書き込まれる領域である。
【００６３】
調整用データは、１枚の光ディスク２に対して１回のみ記録される。又は調整用データは、光ディスクドライブ装置１が変わる毎に記録されてもよいが、１機種の光ディスクドライブ装置１に対して１回のみ記録される。外周のTest  Zoneは、内周のDrive  Area等に比べて領域が狭い。そのため、本実施形態では、調整用データをTest  Zoneに１回のみ記録することとし、Drive  Areaに、調整用データのアドレス、光ディスクドライブ装置１の機種名（又は機種ＩＤなど）等を記録することとした。
【００６４】
次に、図４を参照して、本実施形態に係る光ディスク記録又は再生時の各種調整方法について説明する。本実施形態は、特に外周における調整に関する方法である。
【００６５】
まず、光ディスクドライブ装置１に光ディスク２が挿入される（ステップＳ１０１）。そして、光ディスク２が挿入されたとき、内周領域のDrive  Areaを検索する。このとき、Drive  Areaから光ディスクドライブ装置１と同じ機種の最新情報があるか否かが検索される（ステップＳ１０２）。次に、Drive  Areaに外周情報（例えば外周記録アドレス）があるか否かが判断される（ステップＳ１０３）。外周記録アドレスとは、外周領域のTest  Zoneに記録された調整用データの位置を示す情報である。
【００６６】
Drive  Areaに外周記録アドレスがある場合は、光ディスク２が今回挿入される以前に、Test  Zoneに調整用データが記録されていることを示す。外周記録アドレスがある場合は、外周記録アドレスに基づいて、外周のTest  Zoneに記録された調整用データを再生する。そして、再生された調整用データを使用して、光ディスク２の記録又は再生のための各種調整が行われる（ステップＳ１０６）。これにより、光ディスク２の外周のチルト調整、球面収差調整、フォーカスバイアス調整などができる。
【００６７】
一方、Drive  Areaに外周記録アドレスがない場合は、光ディスク２が今回挿入される以前に、Test  Zoneに調整用データが記録されていないことを示す。そこで、外周のTest  Zoneに調整用データを記録する（ステップＳ１０４）。そして、内周のDrive  Areaに光ディスクドライブ装置１自身の機種名（又は機種ＩＤなど）と、ステップＳ１０４で記録した調整用データの外周記録アドレスを記録する（ステップＳ１０５）。
【００６８】
次に、外周のTest  Zoneに新たに記録された調整用データを再生する。そして、再生された調整用データを使用して、光ディスク２の記録又は再生のための各種調整が行われる（ステップＳ１０６）。これにより、新たに調整用データを記録した場合でも、光ディスク２の外周のチルト調整、球面収差調整、フォーカスバイアス調整などができる。なお、ステップＳ１０５で、機種名と調整用データの外周記録アドレスを記録しておくことで、次に光ディスク２を挿入した時に外周記録アドレスを参照して、各種調整を実行できる。
【００６９】
従来、光ディスク２の外周に対して各種調整をする際、外周領域にはＲＦ信号を再生できるデータがなかったため、ＲＦ信号を用いないで、例えば、トラッキングエラー（ＴＥ）信号やウォブル信号を使用して調整していた。一方、本実施形態によれば、外周に記録されたＲＦ信号を再生できるデータ（調整用データ）を使用して各種調整ができるため、光ディスク２の外周における調整精度を向上させることができる。
【００７０】
また、本実施形態では、外周のTest  Zoneには、１回のみ調整用データを記録し、その調整用データを参照する外周記録アドレスを内周のDrive  Areaに記録する。そして、光ディスク２の挿入時に外周記録アドレスを参照して調整用データを再生し、各種調整をする。これにより、毎回調整用データを書き込むことがないため、光ディスク２のTest  Zoneを枯渇させることがない。
【００７１】
＜２．第２の実施形態＞
外周領域にＲＦ信号を再生できるデータが書き込まれている場合、そのデータを読み出してＲＦ信号を再生することで、ＲＦ信号の品質を評価できる。例えば、ＲＦ信号の品質が、以前との比較で低くなっていると評価したときは、光ディスク２の表面がユーザの指紋等で汚れたと判断できる。また、ＲＦ信号の品質が相対的にではなく絶対的に低い場合も、ディスクの表面が指紋跡等で汚れていると判断できる。
【００７２】
従来、光ディスク２の外周には、ＲＦ信号を再生できるデータが常に書き込まれている領域がなかった。そのため、光ディスクドライブ装置１に光ディスク２を挿入して記録又は再生する際、以前光ディスク２が挿入された時との比較で、外周でＲＦ信号の品質が評価されることはなかった。また、ＲＦ信号の品質がそもそも絶対的に低いかどうかが評価されることもなった。
【００７３】
一方、本実施形態によれば、ＲＦ信号を再生できるデータが外周に必ず書き込まれているため、最初に外周のＲＦ信号を再生した時の品質を記録しておけば、新たに光ディスク２を挿入した時のＲＦ信号の品質と比較することができ、光ディスク２表面の汚れを検出できる。特に光ディスク２の外周の表面はユーザの指紋によって汚れる可能性が高く、光ディスク２表面の指紋跡等の汚れを確実に検出できる。
【００７４】
本発明の第２の実施形態に係る光ディスクドライブ装置１のハードウェア回路ブロックによるハードウェア回路構成は、図１で示した第１の実施形態と同様であるため、説明は省略する。
【００７５】
次に、図２を参照して、本実施形態に係る光ディスクドライブ装置１のシステムコントローラ５について説明する。図２は、本発明の第１の実施形態に係るシステムコントローラを示すブロック図である。
【００７６】
第２の実施形態では、第１の実施形態と異なり、システムコントローラ５は、テストゾーン記録部１０２と、結果記録部１０４と、結果探索部１０６と、ＳＥＲ測定部１１２が使用される。なお、第１の実施形態で使用した調整部１０８は第２の実施形態でシステムコントローラ５に含まれなくてもよい。光ディスクドライブ装置１は、第２の実施形態と、前述した第１の実施形態を組み合わせてもよく、この場合、図２に示すようにシステムコントローラ５の調整部１０８が使用される。
【００７７】
テストゾーン記録部１０２は、第一の記録部の一例であり、光ディスク２の外周のTest  Zoneに評価用データを記録する。評価用データは、光ディスクドライブ装置１によって読み取られることによって、評価のために使用されるＲＦ信号を再生できるデータである。
【００７８】
結果記録部１０４は、第二の記録部の一例であり、外周情報を、光ディスク２の内周のDrive  Areaに記録する。外周情報は、評価用データがTest  Zoneに記録されていることと、評価用データを記録してＳＥＲ測定部１１２が光ディスク２の表面状態を推測した時のＲＦ信号品質を含む。評価用データがTest  Zoneに記録されていることは、例えば、評価用データが記録されている位置を示すアドレス情報（外周記録アドレス）又は評価用データが記録されている事実を示すフラグ情報等で表される。また、ＲＦ信号品質は、例えば評価用データを実際に再生した時に測定されるＳＥＲである。ＳＥＲは、以前の値と今回の値を比較して品質が良いほうを判断するのに向いている。
【００７９】
結果探索部１０６は、探索部の一例であり、光ディスク２の内周のDrive  Areaから、結果記録部１０４によって記録された外周情報を探索する。
【００８０】
ＳＥＲ測定部１１２は、Test  Zoneに記録された評価用データを再生し、ＳＥＲを測定する。なお、ＳＥＲの測定方法は、一般的な技術を使用することができ、本明細書では詳細な説明は省略する。また、ＲＦ信号品質は、光ディスクの表面状態を推測する指標であり、ＳＥＲ以外でもよい。また、ＳＥＲ測定部１１２は、推測部の一例であり、測定されたＳＥＲに基づいて、光ディスク２の表面状態を推測する。ＳＥＲ測定部１１２が光ディスク２の表面状態を推測する際、Drive  ZoneにＳＥＲが記録されていれば、ＳＥＲ測定部１１２は、Drive  Zoneに記録されたＳＥＲを参照する。
【００８１】
次に、図３を参照して、光ディスク２、例えばＢＤ−Ｒの記録領域について説明する。図３は、ＢＤ−Ｒの記録領域を説明する説明図である。
【００８２】
光記録媒体のＢＤ−Ｒでは、図３に示すように、内周側から外周にかけて、OPC  Area、Drive  Area、User  Area、Test  Zoneが配置される。OPC  AreaとUser  Areaについては、第１の実施形態で説明した内容と同じであるため、説明は省略する。
【００８３】
Drive  Areaは、光ディスク２の内周領域にあり、例えばその光ディスク２に関するメタデータが書き込まれる領域である。本実施形態では、外周に記録した評価用データのアドレス、評価用データを記録した光ディスクドライブ装置１の機種名（又は機種ＩＤなど）、最初に評価した時のＳＥＲ（Symbol  Error  Rate）等が記録される。
【００８４】
Test  Zoneは、光ディスク２の外周領域にあり、評価用データが書き込まれる領域である。ここで、評価とは、光ディスク２の表面状態を推測し、評価することである。例えば、光ディスク２の表面がユーザの指紋によって汚れているかどうかを評価する。
【００８５】
評価用データは、１枚の光ディスク２に対して１回のみ記録される。又は評価用データは、光ディスクドライブ装置１が変わる毎に記録されてもよいが、１機種の光ディスクドライブ装置１に対して１回のみ記録される。外周のTest  Zoneは、内周のDrive  Area等に比べて領域が狭い。そのため、本実施形態では、評価用データをTest  Zoneに１回のみ記録することとし、Drive  Areaに、評価用データのアドレス、光ディスクドライブ装置１の機種名（又は機種ＩＤなど）等を記録することとした。
【００８６】
次に、図５を参照して、本実施形態に係る記録又は再生時の光ディスク２の表面状態の評価方法について説明する。本実施形態は、特に外周における評価に関する方法である。
【００８７】
まず、光ディスクドライブ装置１に光ディスク２が挿入される（ステップＳ２０１）。そして、光ディスク２が挿入されたとき、内周領域のDrive  Areaを検索する。このとき、Drive  Areaから光ディスクドライブ装置１と同じ機種の最新情報があるか否かが検索される（ステップＳ２０２）。次に、Drive  Areaに外周情報（例えば外周記録アドレスと、最初にデータを記録して光ディスク２を評価した時のＳＥＲ）があるか否かが判断される（ステップＳ２０３）。外周記録アドレスとは、外周領域のTest  Zoneに記録された評価用データの位置を示す情報である。
【００８８】
Drive  Areaに外周記録アドレスがある場合は、光ディスク２が今回挿入される以前に、Test  Zoneに評価用データが記録されていることを示す。外周記録アドレスがある場合は、外周記録アドレスに基づいて、外周のTest  Zoneに記録された評価用データを再生する。そして、再生された評価用データを使用してＳＥＲを測定する（ステップ２０４）。
【００８９】
そして、今回測定して得られたＳＥＲが、最初にデータを記録して光ディスク２を評価した時のＳＥＲと比較して、大きく悪化したかどうかを判断する（ステップＳ２０５）。ＳＥＲが大きく悪化している場合は、内周のDrive  Areaに、今回使用した光ディスクドライブ装置１自身の機種名（又は機種ＩＤなど）と外周記録アドレスが「無効」であるとして記録する（ステップＳ２０６）。そして、光ディスク２の表面には指紋などの汚れがあると推測し、例えば「指紋あり」と判定する（ステップＳ２０７）。
【００９０】
その後、光ディスク２は、光ディスクドライブ装置１から排出される。これにより、ユーザは光ディスク２の表面状態を確認でき、必要に応じて表面を清掃できる。なお、ステップＳ２０６で、機種名と外周記録アドレスが無効であるとして記録しておくことで、次回ディスク挿入時つまりディスク清掃後において、外周の記録から始めることができる。例えば、表面に傷が付いている場合などの汚れを拭いても取れない場合には何度清掃をしても指紋ありと判定されて、２度と使えないディスクとなってしまうが、ステップＳ２０６によってディスクへの記録ができなくなる処理を避けることができる。
【００９１】
一方、ステップＳ２０５でＳＥＲが大きく悪化していないと判断された場合は、光ディスク２の表面には指紋などの汚れがないと推測し、例えば「指紋なし」と判定する（ステップＳ２０８）。
【００９２】
また、ステップＳ２０３において、Drive  Areaに外周記録アドレスがないと判断された場合は、光ディスク２が今回挿入される以前に、Test  Zoneに評価用データが記録されていないことを示す。そこで、外周のTest  Zoneに評価用データを記録する（ステップＳ２１１）。
【００９３】
そして、記録した評価用データを再生して、光ディスク２の外周のＳＥＲを測定する（ステップＳ２１２）。次に、測定されたＳＥＲが予め設定した閾値以下か否かが判断される（ステップＳ２１３）。予め設定した閾値は、光ディスク２の表面が汚れている場合に測定されるようなＳＥＲの値である。
【００９４】
測定されたＳＥＲが予め設定した閾値以下になるような場合は、内周のDrive  Areaに、今回使用した光ディスクドライブ装置１自身の機種名（又は機種ＩＤなど）と外周記録アドレスが「無効」であるとして記録する（ステップＳ２１６）。そして、測定されたＳＥＲが予め設定した閾値以下になるような場合は、光ディスク２の表面には指紋などの汚れがあると推測し、例えば「指紋あり」と判定する（ステップＳ２１７）。ステップＳ２１６で、機種名と外周記録アドレスが無効であるとして記録しておくことで、次に、光ディスク２を挿入した際、無効の外周記録アドレスを参照することなく、新たに評価用データを記録する処理に移行することができる。なお、ステップＳ２１６はなくてもよい。Drive  Areaに記録しなければ、次回挿入時に有効な外周記録アドレスやＳＥＲや同機種ＩＤがないと判断するため、上述したステップＳ２０３からステップＳ２１１へ移行する処理と同じように、新たに評価用データを記録する処理に移行することができる。また、Drive  Areaの書き込み可能な領域は有限であるため、Drive  Areaを使用する領域を減らすことができるというメリットもある。
【００９５】
一方、測定されたＳＥＲが予め設定した閾値を超えている場合は、内周のDrive  Areaに光ディスクドライブ装置１自身の機種名（又は機種ＩＤなど）と、ステップＳ２１１で記録した評価用データの外周記録アドレスと、ステップＳ２１１で光ディスク２を評価した時のＳＥＲを記録する（ステップＳ２１４）。
【００９６】
そして、光ディスク２の表面には指紋などの汚れがないと推測し、例えば「指紋なし」と判定する（ステップＳ２０８）。
【００９７】
なお、ステップＳ２１４で、機種名と調整用データの外周記録アドレスを記録しておくことで、次に光ディスク２を挿入した時に外周記録アドレスとＳＥＲを参照して、各種調整を実行できる。これにより、新たに評価用データを記録した場合でも、ＳＥＲを測定でき、ＳＥＲの絶対的な値によって光ディスク２の表面状態を推測できる。
【００９８】
以上、本実施形態によれば、ＲＦ信号を再生できるデータが外周に必ず書き込まれているため、最初に外周のＲＦ信号を再生した時の品質を記録しておけば、新たに光ディスク２を挿入した時のＲＦ信号の品質と比較することができ、光ディスク２表面の汚れを検出できる。また、また、ＲＦ信号の品質が相対的にではなく絶対的に低い場合も、ディスクの表面が指紋跡等で汚れていると判断できる。
【００９９】
更に、本実施形態では、外周のTest  Zoneには、１回のみ評価用データを記録し、その評価用データを参照する外周記録アドレスを内周のDrive  Areaに記録する。そして、光ディスク２の挿入時に外周記録アドレスを参照して評価用データを再生し、各種調整をする。これにより、毎回調整用データを書き込むことがないため、光ディスク２のTest  Zoneを枯渇させることがない。
【０１００】
以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明はかかる例に限定されない。本発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【０１０１】
例えば、上述した第１及び第２の実施形態においては、本発明に係る記録再生装置を、光ディスクドライブ装置１に適用するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、光ディスクに対しデータを記録し、又はデータを再生可能なパーソナルコンピュータやゲーム機器、カーナビゲーション装置、テレビジョン受像機等の情報処理装置のように、この他種々の構成の記録再生装置に広く適用することができる。
【０１０２】
また上述した第１及び第２の実施形態においては、システムコントローラ５が各種プログラムに従って各種処理を実行する。光ディスクドライブ装置１においては、ＲＯＭに予めプログラムを記憶していてもよいし、プログラム格納媒体によってプログラムがインストールされるようにしてもよい。そして、プログラム格納媒体は、プログラムを光ディスクドライブ装置１にインストールして実行可能な状態にする。プログラム格納媒体は、例えばフレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ等のパッケージメディアのみならず、各種プログラムが一時的もしくは永続的に格納される半導体メモリや磁気ディスク等で実現してもよい。また、これらプログラム格納媒体にプログラムを格納する手段としては、ローカルエリアネットワークやインターネット、デジタル衛星放送等の有線及び無線通信媒体を利用してもよく、ルータやモデム等の各種通信インタフェースを介して格納するようにしてもよい。
【符号の説明】
【０１０３】
１    光ディスクドライブ装置
２    光ディスク
３    光ピックアップ
４    スレッド機構部
５    システムコントローラ
６    サーボ回路
７    スピンドル駆動回路
８    スピンドルモータ
９    レーザドライバ
１０    マトリクス回路
１１    ウォブル回路
１２    アドレス生成回路
１３    リーダ回路
１４    復調回路
１５    デコーダ
１０２    テストゾーン記録部
１０４    結果記録部
１０６    結果探索部
１０８    調整部
１１２    ＳＥＲ測定部
ＡＶＳ１    ＡＶシステム
【図１】
2012014775.tif 000003
【図２】
2012014775.tif 000004
【図３】
2012014775.tif 000005
【図４】
2012014775.tif 000006
【図５】
2012014775.tif 000007