(57)【要約】【課題】多層光記録媒体において迅速にチルトを調整しコマ収差を低減することが可能な記録再生装置、記録再生方法及びプログラムを提供する。【解決手段】光記録媒体が有する複数のデータ記録面のうち一つの第一のデータ記録面に基づいて、第一のデータ記録面におけるチルトを調整する調整部と、チルトを調整した結果から、第一のチルト調整量を測定する調整量測定部と、装置自身が有するコマ収差を取得する取得部と、第一のチルト調整量とコマ収差に基づいて、第一のデータ記録面と異なる第二のデータ記録面におけるチルトを調整するための第二のチルト調整量を算出する算出部とを備える。【選択図】図７
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光記録媒体が有する複数のデータ記録面のうち一つの第一のデータ記録面に基づいて、第一のデータ記録面におけるチルトを調整する調整部と、
チルトを調整した結果から、第一のチルト調整量を測定する調整量測定部と、
装置自身が有するコマ収差を取得する取得部と、
前記第一のチルト調整量と前記コマ収差に基づいて、前記第一のデータ記録面と異なる第二のデータ記録面におけるチルトを調整するための第二のチルト調整量を算出する算出部と、
を備える、記録再生装置。
【請求項２】
前記算出部は、前記第一のチルト調整量と前記第二のチルト調整量と前記コマ収差に基づいて、前記第一及び前記第二のデータ記録面と異なる第三のデータ記録面におけるチルトを調整するための第三のチルト調整量を算出する、請求項１に記載の記録再生装置。
【請求項３】
前記算出部は、前記第二のチルト調整量と前記コマ収差に基づいて、前記第一及び前記第二のデータ記録面と異なる第三のデータ記録面におけるチルトを調整するための第三のチルト調整量を算出する、請求項１に記載の記録再生装置。
【請求項４】
前記取得部は、前記コマ収差を装置自身が有する対物レンズのコマ収差を直接測定して取得する、請求項１〜３のいずれか１項に記載の記録再生装置。
【請求項５】
前記取得部は、装置自身の製造時に対物レンズが傾けて固定されたとき、残りのコマ収差をレンズチルトとして測定して、前記コマ収差を取得する、請求項１〜３のいずれか１項に記載の記録再生装置。
【請求項６】
光記録媒体が有する複数のデータ記録面のうち一つの第一のデータ記録面に基づいて、第一のデータ記録面におけるチルトを調整するステップと、
チルトを調整した結果から、第一のチルト調整量を測定するステップと、
装置自身が有するコマ収差を取得するステップと、
前記第一のチルト調整量と前記コマ収差に基づいて、前記第一のデータ記録面と異なる第二のデータ記録面におけるチルトを調整するための第二のチルト調整量を算出するステップと、
を備える、記録再生方法。
【請求項７】
光記録媒体が有する複数のデータ記録面のうち一つの第一のデータ記録面に基づいて、第一のデータ記録面におけるチルトを調整する手段、
チルトを調整した結果から、第一のチルト調整量を測定する手段、
装置自身が有するコマ収差を取得する手段、
前記第一のチルト調整量と前記コマ収差に基づいて、前記第一のデータ記録面と異なる第二のデータ記録面におけるチルトを調整するための第二のチルト調整量を算出する手段、
としてコンピュータを機能させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録再生装置、記録再生方法及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
光記録媒体（光ディスク）の記録及び再生に使用される光ピックアップの対物レンズの傾きや光ディスクの傾きによって、コマ収差が発生する。そこで、コマ収差を低減するため、対物レンズの傾き（チルト）や光ディスクの傾き（チルト）等が調整される。
【０００３】
特許文献１では多層光記録媒体の何れの情報記録面においても良好なスポット特性を得るため、球面収差とコマ収差を補正する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００５−２０９２８３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、複数の情報記録面を有する多層光記録媒体において、コマ収差を補正しようとする場合、１層ずつ補正すると調整時間が増大するという問題がある。例えば、光ディスクが４層の情報記録面を有する場合、４回の調整が必要となり、１層や２層の光ディスクに比べて調整時間が増加することになる。
【０００６】
また、特許文献１では、初期のコマ収差が考慮されていない。ここで、初期のコマ収差とは、光ピックアップの製造によって生ずる対物レンズなどを原因とするコマ収差である。したがって、特許文献１の技術では、実用的に精度が足りないという問題がある。
【０００７】
そこで、本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、本発明の目的とするところは、多層光記録媒体において迅速にチルトを調整しコマ収差を低減することが可能な、新規かつ改良された記録再生装置、記録再生方法及びプログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明のある観点によれば、光記録媒体が有する複数のデータ記録面のうち一つの第一のデータ記録面に基づいて、第一のデータ記録面におけるチルトを調整する調整部と、チルトを調整した結果から、第一のチルト調整量を測定する調整量測定部と、装置自身が有するコマ収差を取得する取得部と、第一のチルト調整量とコマ収差に基づいて、第一のデータ記録面と異なる第二のデータ記録面におけるチルトを調整するための第二のチルト調整量を算出する算出部とを備える記録再生装置が提供される。
【０００９】
上記算出部は、第一のチルト調整量と第二のチルト調整量とコマ収差に基づいて、第一及び第二のデータ記録面と異なる第三のデータ記録面におけるチルトを調整するための第三のチルト調整量を算出してもよい。
【００１０】
上記算出部は、第二のチルト調整量とコマ収差に基づいて、第一及び第二のデータ記録面と異なる第三のデータ記録面におけるチルトを調整するための第三のチルト調整量を算出してもよい。
【００１１】
上記取得部は、コマ収差を装置自身が有する対物レンズのコマ収差を直接測定して取得してもよい。
【００１２】
上記取得部は、装置自身の製造時に対物レンズが傾けて固定されたとき、残りのコマ収差をレンズチルトとして測定して、コマ収差を取得してもよい。
【００１３】
また、上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、光記録媒体が有する複数のデータ記録面のうち一つの第一のデータ記録面に基づいて、第一のデータ記録面におけるチルトを調整するステップと、チルトを調整した結果から、第一のチルト調整量を測定するステップと、装置自身が有するコマ収差を取得するステップと、第一のチルト調整量とコマ収差に基づいて、第一のデータ記録面と異なる第二のデータ記録面におけるチルトを調整するための第二のチルト調整量を算出するステップとを備える記録再生方法が提供される。
【００１４】
また、上記課題を解決するために、本発明の別の観点によれば、光記録媒体が有する複数のデータ記録面のうち一つの第一のデータ記録面に基づいて、第一のデータ記録面におけるチルトを調整する手段、チルトを調整した結果から、第一のチルト調整量を測定する手段、装置自身が有するコマ収差を取得する手段、第一のチルト調整量とコマ収差に基づいて、第一のデータ記録面と異なる第二のデータ記録面におけるチルトを調整するための第二のチルト調整量を算出する手段としてコンピュータを機能させるためのプログラムが提供される。
【発明の効果】
【００１５】
以上説明したように本発明によれば、多層光記録媒体において迅速にチルトを調整しコマ収差を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る光ディスクドライブ装置のハードウェア回路ブロックによるハードウェア回路構成を示すブロック図である。
【図２】同実施形態に係るシステムコントローラを示すブロック図である。
【図３】多層光ディスクの一例を示す部分断面図である。
【図４】光ディスク、光ディスクを支持回転するスピンドルモータ、光ピックアップのベースユニットを示す部分側面図である。
【図５】直接測定できる場合のチルト調整量を算出する算出式を導く方法を示すフローチャートである。
【図６】製造時に対物レンズを傾けて接着した場合のチルト調整量を算出する算出式を導く方法を示すフローチャートである。
【図７】多層光ディスク２が有する複数のデータ記録面におけるチルト補正量の推定方法を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
【００１８】
なお、説明は以下の順序で行うものとする。
１．第１の実施形態
２．第２の実施形態
３．Ｌ０層でチルト調整をした方が良い理由
【００１９】
＜１．第１の実施形態＞
［第一の実施形態の構成］
図１は、本発明の第１の実施形態に係る光ディスクドライブ装置１のハードウェア回路ブロックによるハードウェア回路構成を示す。光ディスクドライブ装置１は、内部に光ディスク２を装填できる。そして光ディスクドライブ装置１には、内部に装填された光ディスク２のデータ記録面と対向するように光ピックアップ３が設けられている。また光ピックアップ３は、スレッド機構部４により光ディスク２の半径方向（以下、これをディスク半径方向と呼ぶ）へ移動可能に保持されている。
【００２０】
ここで光ディスクドライブ装置１においてデータの再生に用いられる光ディスク２は、データ記録面に例えば予め一定の線速度で一定の周波数となるようにウォブリング（すなわち、蛇行）されたグルーブ（すなわち、案内溝）が形成され、そのグルーブ（及びグルーブ間のランド）がデータの記録されたトラックになる。また光ディスク２は、グルーブのウォブリングに対しＡＤＩＰ（Ａｄｄｒｅｓｓ  Ｉｎ  Ｐｒｅ  Ｇｒｏｏｖｅ）と呼ばれるデータ記録面内のアドレス情報（以下、これをディスクアドレス情報と呼ぶ）が埋め込まれている。
【００２１】
かかる光ディスクドライブ装置１において例えばマイクロコンピュータでなるシステムコントローラ５は、外部のＡＶ（Ａｕｄｉｏ  Ｖｉｓｕａｌ）システムＡＶＳ１から与えられる読出命令（すなわち、リードコマンド）等の各種命令に応じて装置全体を統括制御すると共に、各種処理を実行する。これによりシステムコントローラ５は、光ディスクドライブ装置１に光ディスク２が装填された状態で電源オン命令が入力され起動したときや、起動完了後の動作可能な状態（すなわち、電源オン状態）で光ディスクドライブ装置１に対し光ディスク２が装填（又は、交換）されると、立上モードとなる。
【００２２】
この際、サーボ回路６は、システムコントローラ５の制御のもと、スレッド機構部４を駆動して光ピックアップ３を光ディスク２の例えば最内周と対向する位置まで移動させる。またスピンドル駆動回路７は、システムコントローラ５の制御のもと、スピンドルモータ８を駆動することにより光ディスク２を一定速度で回転させる。さらにレーザドライバ９は、光ディスク２が回転すると、システムコントローラ５の制御のもと、レーザ光を連続的に発射させるためのレーザ制御信号を生成し、これを光ピックアップ３に送出する。
【００２３】
光ピックアップ３は、レーザドライバ９からレーザ制御信号が与えられると、そのレーザ制御信号に基づきレーザダイオードからレーザ光を連続的に発射させ、当該発射させたレーザ光を対物レンズで集光させて光ディスク２のデータ記録面に照射する。また光ピックアップ３は、光ディスク２のデータ記録面でレーザ光が反射して得られる反射光を例えば複数の受光素子によって受光して光電変換する。これにより光ピックアップ３は、これら複数の受光素子によりそれぞれ受光した反射光の光量に応じた電流値の信号（以下、これを光電信号と呼ぶ）を生成してマトリクス回路１０に送出する。
【００２４】
マトリクス回路１０は、光ピックアップ３から複数の受光素子によって生成された光電信号が与えられると、これら光電信号をそれぞれ電圧値に変換した後、選択的に用いてマトリクス演算処理や増幅処理等を実行する。これによりマトリクス回路１０は、これら光電信号に基づき、光ディスク２のデータ記録面に対しレーザ光の焦点がどの程度合っているかを示すフォーカスエラー信号を生成する。
【００２５】
またマトリクス回路１０は、これら光電信号に基づき、光ディスク２のデータ記録面のトラックに対しレーザ光の照射位置がどの程度合っているかを示すトラッキングエラー信号を生成する。そしてマトリクス回路１０は、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号をサーボ回路６に送出する。
【００２６】
ところでサーボ回路６は、このときシステムコントローラ５の制御のもと、光ディスク２のデータ記録面にレーザ光の焦点を合せるような対物レンズの所望位置を探索するためのフォーカス探索信号を生成して、これを光ピックアップ３に送出する。これによりサーボ回路６は、光ピックアップ３においてフォーカス探索信号により対物レンズを光軸に沿って、例えば光ディスク２のデータ記録面に徐々に近づけるように移動させながら、その際にマトリクス回路１０から与えられるフォーカスエラー信号に基づき、当該データ記録面にレーザ光の焦点を合せるようにフォーカス引込動作を行う。
【００２７】
そしてサーボ回路６は、このようなフォーカス引込動作が完了すると、引き続きマトリクス回路１０から与えられるフォーカスエラー信号に基づきフォーカス制御信号を生成し、これを光ピックアップ３に送出する。これによりサーボ回路６は、フォーカス制御信号により光ピックアップ３において対物レンズを光軸に沿って光ディスク２のデータ記録面に接近させる（すなわち、近づける）方向（以下、これを接近方向と呼ぶ）及びこれとは逆のデータ記録面から離間させる（すなわち、引き離す）方向（以下、これを離間方向と呼ぶ）へ適宜移動させて光ディスク２のデータ記録面にレーザ光の焦点を合せるようにする。このようにしてサーボ回路６は、光ピックアップ３及びマトリクス回路１０と共にフォーカスサーボループを形成し、かくして光ディスク２のデータ記録面に対しレーザ光の焦点を追従させる。
【００２８】
またサーボ回路６は、システムコントローラ５の制御のもと、光ディスク２のデータ記録面においてトラックにレーザ光の照射位置を合せるためのトラック探索信号を生成して、これを光ピックアップ３に送出する。これによりサーボ回路６は、光ピックアップ３においてトラック探索信号により例えば対物レンズをディスク半径方向へ徐々に移動させながら、その際にマトリクス回路１０から与えられるトラッキングエラー信号に基づき、当該データ記録面のトラックにレーザ光の照射位置を合せるようにレーザ光のトラック引込動作を行う。
【００２９】
そしてサーボ回路６は、このようなレーザ光のトラック引込動作が完了すると、引き続きマトリクス回路１０から与えられるトラッキングエラー信号に基づきトラッキング制御信号を生成し、これを光ピックアップ３に送出する。これによりサーボ回路６は、トラッキング制御信号により光ピックアップ３において対物レンズをディスク半径方向に適宜移動させて光ディスク２のトラックにレーザ光を照射させる。このようにしてサーボ回路６は、光ピックアップ３及びマトリクス回路１０と共にトラッキングサーボループも形成し、かくして光ディスク２のトラックに対しレーザ光の照射位置を追従させる。
【００３０】
さらにマトリクス回路１０は、フォーカス引込動作及びトラック引込動作が完了すると、光ピックアップ３から与えられる複数の光電信号をそれぞれ電圧値に変換した後、選択的に用いてマトリクス演算処理や増幅処理等を実行する。これによりマトリクス回路１０は、これら光電信号に基づきフォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号と共に、光ディスク２に形成されたグルーブのウォブリングの振幅（以下、これをウォブル振幅と呼ぶ）を示すウォブル信号も生成する。そしてマトリクス回路１０は、そのウォブル信号をウォブル回路１１に送出する。
【００３１】
ウォブル回路１１は、マトリクス回路１０から与えられたウォブル信号を復調して、ディスクアドレス情報を検出するためのストリームデータを生成し、これをアドレス生成回路１２に送出する。そしてアドレス生成回路１２は、ウォブル回路１１から与えられたストリームデータをデコード処理し、その結果得られたディスクアドレス情報をシステムコントローラ５に送出する。
【００３２】
これによりシステムコントローラ５は、アドレス生成回路１２から与えられるディスクアドレス情報に従い、光ディスク２のデータ記録面においてレーザ光の照射位置を検出することができる。ところでシステムコントローラ５は、例えば、光ディスク２のデータ記録面におけるレーザ光の照射位置をディスクアドレス情報として検出し得る状態となり、引き続きＡＶシステムＡＶＳ１から読出命令が与えられると、立上モードから再生モードへ移行する。
【００３３】
この際、システムコントローラ５は、ＡＶシステムＡＶＳ１によりデータの読出開始位置を示すアドレス情報が指定されると、このときアドレス生成回路１２から与えられたディスクアドレス情報（すなわち、その時点における光ディスク２のデータ記録面へのレーザ光の照射位置）を当該読出開始位置を示すアドレス情報と比較するようにして、適宜シーク指示信号を生成する。そしてシステムコントローラ５は、かかるシーク指示信号をサーボ回路６に送出する。
【００３４】
サーボ回路６は、システムコントローラ５からシーク指示信号が与えられると、トラッキングサーボループを一時的に解除する。そしてサーボ回路６は、シーク指示信号に基づきシーク制御信号を生成し、これをスレッド機構部４に送出する。これによりサーボ回路６は、シーク制御信号によりスレッド機構部４を駆動して光ピックアップ３をディスク半径方向へ複数のトラックを飛び越すようにシークさせる。
【００３５】
因みにシステムコントローラ５は、光ピックアップ３をディスク半径方向へシークさせると、トラックジャンプ指示信号を生成し、これをサーボ回路６に送出する。そしてサーボ回路６は、システムコントローラ５からトラックジャンプ指示信号が与えられると、トラッキングサーボループを解除したまま、そのトラックジャンプ指示信号に基づきジャンプ制御信号を生成し、これをスレッド機構部４に送出する。
【００３６】
これによりサーボ回路６は、ジャンプ制御信号によりスレッド機構部４を駆動して光ピックアップ３をディスク半径方向へ僅かに移動させ、かくして光ディスク２において再生対象のデータの読出開始位置を含むトラックにレーザ光の照射位置を引き込むようにする。なおサーボ回路６は、トラックに対するレーザ光の照射位置の引き込みが完了すると、再びトラッキングサーボループを形成する。
【００３７】
またシステムコントローラ５は、このときレーザドライバ９に対し、レーザ光に対する読出用出力の値を指示する。よってレーザドライバ９は、システムコントローラ５の指示に応じて、レーザ光を読出用出力で連続的に発射させるためのレーザ制御信号を生成し、これを光ピックアップ３に送出する。
【００３８】
これにより光ピックアップ３は、レーザドライバ９から与えられたレーザ制御信号に基づきレーザダイオードからレーザ光を読出用出力で連続的に発射させ、当該発射させたレーザ光を対物レンズで集光させて光ディスク２のデータ記録面に照射する。また光ピックアップ３は、光ディスク２のデータ記録面でレーザ光が反射して得られる反射光を複数の受光素子によって受光して光電変換し、これにより光電信号を生成してマトリクス回路１０に送出する。
【００３９】
マトリクス回路１０は、光ピックアップ３から複数の光電信号が与えられると、これら光電信号をそれぞれ電圧値に変換した後、選択的に用いてマトリクス演算処理や増幅処理等を実行する。これによりマトリクス回路１０は、これら光電信号に基づきフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号及びウォブル信号と共に、再生対象のデータに相当する高周波信号（以下、これをＲＦ信号と呼ぶ）も生成する。そしてマトリクス回路１０は、フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号をサーボ回路６に送出し、かつウォブル信号をウォブル回路１１に送出すると共に、ＲＦ信号をリーダ回路１３に送出する。
【００４０】
リーダ回路１３は、マトリクス回路１０から与えられたＲＦ信号に対し２値化処理を施し、その結果得られた変調データを復調回路１４に送出する。またリーダ回路１３は、このときＲＦ信号を用いたＰＬＬ（Ｐｈａｓｅｄ  Ｌｏｃｋ  Ｌｏｏｐ）処理を実行することにより、再生処理用の動作クロック（以下、これを再生処理用動作クロックと呼ぶ）を生成する。そしてリーダ回路１３は、かかる再生処理用動作クロックを各部に供給する。
【００４１】
復調回路１４は、このときリーダ回路１３から与えられている再生処理用動作クロックに同期して動作する。そして復調回路１４は、リーダ回路１３から与えられた変調データに対し、ランレングスリミテッド復号処理のような復調処理を施し、その結果得られたエンコードデータをデコーダ１５に送出する。
【００４２】
デコーダ１５も、このときリーダ回路１３から与えられている再生処理用動作クロックに同期して動作する。そしてデコーダ１５は、復調回路１４から与えられたエンコードデータについて例えば、誤り訂正符号（Ｅｒｒｏｒ  Ｃｏｒｒｅｃｔｉｎｇ  Ｃｏｄｅ）が付加されている単位ブロック毎に、誤り検出訂正処理やデインタリーブ等のデコード処理を施して再生対象のデータを生成し、当該生成したデータを内部のバッファに格納する。
【００４３】
またデコーダ１５は、ＡＶシステムＡＶＳ１の指示に応じて、バッファに対し例えば４つの単位ブロック分のような所定単位ブロック分のデータを格納する毎に、当該バッファから所定単位ブロック分のデータを読み出してＡＶシステムＡＶＳ１に転送する。このようにしてシステムコントローラ５は、光ディスク２のデータ記録面に記録されていたデータを再生してＡＶシステムＡＶＳ１に転送することができる。
【００４４】
因みにスピンドル駆動回路７は、この際、例えばリーダ回路１３から与えられる再生処理用動作クロックをもとに、現在のスピンドルモータ８の回転速度を検出する。またスピンドル駆動回路７は、その回転速度を、予め設定された例えば、光ディスク２を線速度一定（Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ｌｉｎｅａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）で回転させるための規準速度と比較するようにして、スピンドルモータ８の回転速度が基準速度にどの程度合っているかを示すスピンドルエラー信号を生成する。
【００４５】
そしてスピンドル駆動回路７は、かかるスピンドルエラー信号に基づきスピンドル制御信号を生成し、これをスピンドルモータ８に送出する。これによりスピンドル駆動回路７は、スピンドル制御信号によりスピンドルモータ８を回転駆動させ、かくして光ディスク２を線速度一定で回転させる。
【００４６】
また光ピックアップ３は、レーザ光の出力監視用の受光素子（以下、これを特に監視用受光素子と呼ぶ）を有している。このため光ピックアップ３は、光ディスク２のデータ記録面でレーザ光が反射して得られる反射光の一部を監視用受光素子によって受光して光電変換する。これにより光ピックアップ３は、レーザ光の出力監視用の信号（以下、これを出力監視用信号と呼ぶ）を生成してレーザドライバ９に送出する。
【００４７】
そしてレーザドライバ９は、ＡＰＣ（Ａｕｔｏ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）回路を有している。このためレーザドライバ９は、光ピックアップ３のレーザダイオードを制御しながら、その光ピックアップ３から与えられた出力監視用信号をＡＰＣ回路に取り込む。これによりレーザドライバ９は、ＡＰＣ回路により出力監視用信号に基づきレーザ光の出力を監視するようにしてレーザ制御信号の値を適宜調整し、かくしてレーザ光の出力を周囲の温度の変化等によらずに一定の読出用出力となるように制御する。
【００４８】
さらにサーボ回路６は、光ディスク２のデータ記録面にレーザ光が照射されている間、例えばトラッキングエラー信号の低域成分として得られるスレッドエラー信号に基づきスレッド制御信号を生成し、これをスレッド機構部４に送出する。これによりサーボ回路６は、スレッド制御信号によりスレッド機構部４を駆動して光ピックアップ３をディスク半径方向へ徐々に移動させる。このようにしてサーボ回路６は、光ディスク２のデータ記録面からトラックに沿って再生対象のデータを読み出させることができるようになされている。
【００４９】
次に、図２を参照して、本実施形態に係る光ディスクドライブ装置１のシステムコントローラ５について説明する。図２は、本実施形態に係るシステムコントローラを示すブロック図である。
【００５０】
システムコントローラ５は、図２に示すように、測定部１０２と、推定部１０４を含む。
【００５１】
測定部１０２は、調整部の一例であり、光ディスクが有する複数のデータ記録面のうち一つのデータ記録面におけるチルトを調整する。そして、測定部１０２は、調整量測定部の一例であり、チルトを調整した結果から、一つのデータ記録面におけるチルト調整量を算出する。なお、チルト調整は、レーザ光の光軸方向を検出するなどして、コマ収差が低減するように、光ピックアップ３の対物レンズを傾けて調整する。チルト調整は、通常の技術を使用することができ、本明細書では詳細な説明は省略する。
【００５２】
推定部１０４は、取得部の一例であり、光ディスクドライブ装置１や光ピックアップ３自身が有するコマ収差を取得する。取得部１０４は、対物レンズのコマ収差を測定してコマ収差を取得してもよいし、光ピックアップ３の製造時に対物レンズが傾けて固定されたとき、残りのコマ収差をレンズチルトとして測定して、コマ収差を取得してもよい。
【００５３】
推定部１０４は、算出部の一例であり、測定されたチルト調整結果量、及び／又は推定された他の層のチルト調整量と、コマ収差に基づいて、その他の層のチルト調整量を算出する。
【００５４】
［第一の実施形態の動作］
次に、本実施形態に係る多層光ディスク２が有する複数のデータ記録面におけるチルト補正量の推定方法について説明する。図７は、多層光ディスク２が有する複数のデータ記録面におけるチルト補正量の推定方法を示すフローチャートである。本実施形態では、対物レンズを傾けてチルト調整する方法について示す。なお、対物レンズ以外の部材である液晶素子などで、チルト調整する場合も、同様に実施することができる。
【００５５】
まず、多層光ディスク２が光ディスクドライブ装置１に挿入される（ステップＳ３１）。これによって、多層光ディスク２へのデータの記録、又は多層光ディスク２上のデータの再生の準備が開始される。以下では、記録又は再生の準備として、チルト調整についてのみ説明する。
【００５６】
具体的には、多層光ディスク２が有する複数のデータ記録面のうち、ある１層（例えばＬ０層）でチルト調整する（ステップＳ３２）。コマ収差は、光ピックアップ３の対物レンズの傾きや光ディスク２の傾きによって発生することから、対物レンズを傾けることで低減できる。
【００５７】
そして、調整が完了した時、ある１層のチルト調整のため対物レンズを傾けた角度［ｄｅｇ］をチルト調整結果量として取得する。
【００５８】
次に、予め測定又は算出しておいた初期のコマ収差Ｉｃをメモリ１６から読み出す。そして、取得したチルト調整結果量と、初期のコマ収差Ｉｃに基づいて、他の層（例えばＬ１層、Ｌ２層、Ｌ３層）におけるチルト調整量を各層ごとに推定する（ステップＳ３３）。チルト調整量は、他の層のチルト調整のため対物レンズを傾ける角度［ｄｅｇ］である。後述するように、ある１層のチルト調整結果量が得られれば、他の１層のチルト調整量を推定でき、他の１層のチルト調整量が推定できれば、更に他の１層のチルト調整量を推定できる。
【００５９】
そして、実際にデータ記録面に対してデータを書き込んだり読み込む際、推定した各層のチルト調整量に基づいて、対物レンズを傾けて多層光ディスク２へのデータの記録、又は多層光ディスク２上のデータの再生を行う。
【００６０】
次に、初期のコマ収差Ｉｃを測定又は算出する方法と、チルト調整量を算出する算出式について説明する。初期のコマ収差Ｉｃとは、光ピックアップ３の製造によって生ずる対物レンズ等を原因とするコマ収差である。図５は、直接測定できる場合のチルト調整量を算出する算出式を導く方法を示すフローチャートである。図６は、製造時に対物レンズを傾けて接着した場合のチルト調整量を算出する算出式を導く方法を示すフローチャートである。
【００６１】
初期のコマ収差Ｉｃは、直接測定できる場合（第一の実施例）と、製造時に対物レンズを傾けて接着し、残りのコマ収差をレンズチルトとして測定して、初期のコマ収差Ｉｃを算出する場合（第二の実施例）の二つのパターンがある。
【００６２】
そして、第一の実施例では、初期のコマ収差Ｉｃが得られたら、初期のコマ収差Ｉｃをメモリ１６に記録しておく。第二の実施例では、初期のコマ収差Ｉｃではなく、初期のコマ収差Ｉｃを算出するために必要なパラメータをメモリ１６に記録しておき、パラメータを読み出して初期のコマ収差Ｉｃを算出する。
【００６３】
対物レンズを傾けて調整した後の誤差［λｒｍｓ］は、
【数１】
2012014776.tif 000003
となる。
ここで、
Ｄｔはロード（Ｌｏａｄ）する多層光ディスク２の持っているスキュー量［ｄｅｇ］である。
Ｉｃは光ピックアップ２が固有に持っているコマ収差［λｒｍｓ］である。Ｉｃは、図４に示すようにＤｔを傾けた時に発生する収差と同じ方向をプラスと定義する。
ＴＬｉａｄｊは、Ｌｉ層において対物レンズを傾けて調整した角度［ｄｅｇ］
ＬＴｓＬｉは、レンズチルト［ｄｅｇ］からコマ収差［λｒｍｓ］へ換算するための換算係数である。上記、換算係数ＬＴｓＬｉは対物レンズ設計時のシミュレーションや、対物レンズの実測によって求められる。
ＤｔｓＬｉは、ディスクチルト［ｄｅｇ］からコマ収差［λｒｍｓ］へ換算するための換算係数であり、式２で表される。
【数２】
2012014776.tif 000004
ここで、ディスクの厚み：ｔ、屈折率：Ｎ、開口数：ＮＡとする。
【００６４】
［第一の実施例：初期のコマ収差を直接測定できる場合］
光ピックアップ２の製造時などで、光ピックアップ２固有の対物レンズなどを原因とするコマ収差を測定できる場合、つまり、初期のコマ収差Ｉｃを直接得られる場合について説明する。
【００６５】
まず、初期のコマ収差Ｉｃを測定する（ステップＳ１１）。初期のコマ収差Ｉｃを直接測定する方法としては、例えばマッハツェンダー干渉計などの干渉計を使用する方法、シャック・ハルトマン型の波面センサを使用する方法などがある。
【００６６】
チルト調整結果量又はチルト調整量が得られた層のことをＢａｓｅ層（Ｌｂ）とし、チルト調整量を推定する層のことをＴａｒｇｅｔ層（Ｌｔ）とする。
【００６７】
ここで、対物レンズを傾けることで完全にチルト調整できる場合、式１の両辺が０となる。つまり、下記の式３が成り立つ。
【数３】
2012014776.tif 000005
上記の式３からＤｔを消すと、下記の式４となる。
【数４】
2012014776.tif 000006
ここで、Ａ、Ｂの係数は、下記の式５で表される
【数５】
2012014776.tif 000007
したがって、式４からＴａｒｇｅｔ層のチルト調整量、すなわちＴａｒｇｅｔ層で対物レンズを傾けて調整する角度を算出できる。チルト調整量は、Ｂａｓｅ層のチルト調整結果量又はチルト調整量と、初期のコマ収差Ｉｃから算出できる。
【００６８】
［第２の実施例：チルト補正量の幅を広げるために、製造時に対物レンズを傾けて接着し、残りのコマ収差をレンズチルトとして測定できる場合］
【００６９】
第２の実施例は、測定される対物レンズなどの初期のコマ収差Ｉｃが大きい場合に適用される。初期のコマ収差Ｉｃが小さければ、ディスクスキュー＝０［ｄｅｇ］のディスクが挿入されたとき、対物レンズを傾けなくてもよい。一方、初期のコマ収差Ｉｃが大きいと、ディスクスキュー＝０［ｄｅｇ］のディスクが挿入された場合においても、電圧を印加して対物レンズを傾けなければならない。例えば、初期のコマ収差Ｉｃを打ち消すために印加する電圧が１００［ｍＶ］であり、印加可能電圧が±２００［ｍＶ］のような場合、プラス側はあと１００［ｍＶ］しか印加できなくなり、大きなスキューを持ったディスクに対してチルト調整できない可能性が出てくる。
【００７０】
上記を解決するために、初期のコマ収差Ｉｃを打ち消すように、光ピックアップ３の製造時において対物レンズを傾けて接着する（ステップＳ２１）。その傾き角度をθｒａｄ［ｄｅｇ］とする。また、ディスクチルト＝０のディスクに対して、接着後の残留ディスクチルト量Ｒｓ（残留しているスキューＲｓ）を測定する（ステップＳ２２）。その場合、光ピックアップ３の製造時などで、光ピックアップ３固有の対物レンズなどの初期のコマ収差Ｉｃは、下の式となる。
【数６】
2012014776.tif 000008
となる。
【００７１】
ここで、完全に対物レンズを傾けることで調整する場合、上記の式１の両辺が０となることをさす。つまり、下記の式７が成り立つ。
【数７】
2012014776.tif 000009
【００７２】
Ｉｃ、Ｄｔを消すと、下記の式８になる。
【数８】
2012014776.tif 000010
【００７３】
ここで、Ａ、Ｂ、Ｃの係数は下記の式９で表される。
【数９】
2012014776.tif 000011
【００７４】
式９からＴａｒｇｅｔ層のチルト調整量、すなわちＴａｒｇｅｔ層で対物レンズを傾けて調整する角度を算出できる。チルト調整量は、Ｂａｓｅ層のチルト調整結果量又はチルト調整量と、傾けて対物レンズを接着したときのθｒａｄ［ｄｅｇ］と、接着後の残留ディスクチルト量Ｒｓから算出できる。
【００７５】
製造時に、第１の実施例または第２の実施例の方法でそれぞれの値をメモリに保存する（ステップＳ１２又はステップＳ２３）。
【００７６】
その後、ディスク挿入時に（ステップＳ３１）、例えばＬ０のチルト調整を実行し（ステップＳ３２）、他のＬ１、Ｌ２、Ｌ３層の対物レンズのチルト調整値を順次推定できる（ステップＳ３３）。すなわち、式４や式８によってある層について算出されたＴＬｔａｄｊを次の層のＴＬｔａｄｊを算出する場合、式４や式８のＴＬｂａｄｊに代入する。これを繰り返していくことで、複数の層のチルト調整値を順次算出できる。
【００７７】
以上より、本実施形態によれば、一層でチルト調整した後は、残りの層のチルト調整量は推測できるため、チルト調整時間を短縮できる。また、初期のコマ収差を考慮するため、チルト調整の性能を向上させることができる。
【００７８】
＜２．第２の実施形態＞
第１の実施形態よりもチルト調整でさらに精度が必要な場合について説明する。即ち、第２の実施形態では、二つの層から他の一つの層のチルト調整量を推定する。
【００７９】
例えば、Ｌ０、Ｌ１層の二つの層のチルト調整を実行した場合、Ｌ０層のチルト調整量は、（１）Ｌ０層でチルト調整した結果として得られるＬ０層のチルト調整結果量と、（２）第１の実施形態で説明した方法で、Ｌ１層のチルト調整量から推定されるＬ０層のチルト調整量の二つの要素から計算できる。
【００８０】
この場合、Ｌ０層そのものの調整誤差とＬ１層から推定されるＬ０層のチルト調整量は、Ｌ１層の調整ばらつき、初期コマ収差測定誤差の各係数を乗算した誤差の見積もりに基づいて、どの割合で平均化するのが、最も誤差が少ないか計算できる。そして、算出されたその割合でＬ０層のチルト調整量を計算することで、調整精度は向上する。
【００８１】
またＬ２層は、Ｌ０層から推定して得ることもできるし、Ｌ１層から推定して得ることもできる。
【００８２】
＜３．Ｌ０層でチルト調整をした方が良い理由＞
次に、他の層ではなく、Ｌ０層でチルト調整をした方が良い理由について説明する。Ｌ０層は、図３に示すように光ピックアップ３側の表面、即ちレーザの入射側の表面から見て、光ディスク２の深い位置、即ち厚みをもった位置に位置する。そして、Ｌ１、Ｌ２、Ｌ３の順で、光ピックアップ３側の表面に近くなる。Ｌ０層は光ディスク２の表面から、例えば１００μｍに位置し、１０数μｍの間隔を空けて、他の層が互いに隣接しながら配置される。
ＬＴｓＬｉは、ディスクの厚みに対して反比例する値に近いまた、ＤＴｓＬｉはディスクの厚みに比例する値に近い。
【００８３】
例えば、Ｌ０層とＬ１層の例を考え、次の三つの仮定をおく。
・Ｌ０層のチルト調整誤差と、Ｌ１層のチルト調整誤差は同じコマ収差分とする。
・Ｉｃの測定精度が良く、測定誤差は０とする。（もちろん固体差毎にＩｃの値は異なる）
【数１０】
2012014776.tif 000012
と仮定する。
【００８４】
Ｌ０の調整精度をＬ０のディスクチルト換算で０．１度と仮定すると、Ｌ０の対物レンズ換算精度は、
【数１１】
2012014776.tif 000013
となり、Ｌ１の対物レンズ換算の精度は、
【数１２】
2012014776.tif 000014
となる。ここで、Ｌ０からＬ２の推定誤差は、
【数１３】
2012014776.tif 000015
となる。ここで、ｅＴＬ０ａｄｊは調整誤差、ｅＩｃはＩｃの測定誤差である。さらに今、ｅＩｃ＝０と仮定すると、
【数１４】
2012014776.tif 000016
となる。同様にＬ１からＬ２の推定誤差は、
【数１５】
2012014776.tif 000017
となる。よって、Ｌ０層はＬ１層より厚みが大きいので調整誤差は小さくなる。
その差は下記となる。
【数１６】
2012014776.tif 000018
つまり、厚みの大きい層から推定したほうが、調整誤差が小さくなる。
【００８５】
以上、添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について詳細に説明したが、本発明はかかる例に限定されない。本発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者であれば、特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【００８６】
例えば、上述した第１及び第２の実施形態においては、本発明に係る記録再生装置を、光ディスクドライブ装置１に適用するようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、光ディスクに対しデータを記録し、又はデータを再生可能なパーソナルコンピュータやゲーム機器、カーナビゲーション装置、テレビジョン受像機等の情報処理装置のように、この他種々の構成の記録再生装置に広く適用することができる。
【００８７】
また上述した第１及び第２の実施形態においては、システムコントローラ５が各種プログラムに従って各種処理を実行する。光ディスクドライブ装置１においては、ＲＯＭに予めプログラムを記憶していてもよいし、プログラム格納媒体によってプログラムがインストールされるようにしてもよい。そして、プログラム格納媒体は、プログラムを光ディスクドライブ装置１にインストールして実行可能な状態にする。プログラム格納媒体は、例えばフレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ等のパッケージメディアのみならず、各種プログラムが一時的もしくは永続的に格納される半導体メモリや磁気ディスク等で実現してもよい。また、これらプログラム格納媒体にプログラムを格納する手段としては、ローカルエリアネットワークやインターネット、デジタル衛星放送等の有線及び無線通信媒体を利用してもよく、ルータやモデム等の各種通信インタフェースを介して格納するようにしてもよい。
【符号の説明】
【００８８】
１    光ディスクドライブ装置
２    光ディスク
３    光ピックアップ
４    スレッド機構部
５    システムコントローラ
６    サーボ回路
７    スピンドル駆動回路
８    スピンドルモータ
９    レーザドライバ
１０    マトリクス回路
１１    ウォブル回路
１２    アドレス生成回路
１３    リーダ回路
１４    復調回路
１５    デコーダ
１６    メモリ
１０２    テストゾーン記録部
１０４    結果記録部
１０６    結果探索部
１０８    調整部
１１２    ＳＥＲ測定部
ＡＶＳ１    ＡＶシステム
【図１】
2012014776.tif 000019
【図２】
2012014776.tif 000020
【図３】
2012014776.tif 000021
【図４】
2012014776.tif 000022
【図５】
2012014776.tif 000023
【図６】
2012014776.tif 000024
【図７】
2012014776.tif 000025