(57)【要約】【課題】反射率の異なる光学的情報記録媒体の再生時に、レーザノイズを低減するとともに、情報層に記録されているデータの消去を防止し、また光学的情報記録媒体の劣化を防ぐ。【解決手段】  光学的情報記録媒体の反射率に応じて、半導体レーザの高周波重畳の振幅、もしくは半導体レーザの平均パワーと前記半導体レーザに重畳される高周波電流の振幅の比を、所定の値に切り替える。【選択図】  図３
2012053965.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体レーザと、前記半導体レーザから出射した光束を光学的情報記録媒体の情報記録面に集光する対物レンズと、前記光学的情報記録媒体の情報記録面を反射した前記光束を受光する光検出器と、を備えた光ピックアップ装置と、
前記半導体レーザを点灯するためのレーザ点灯回路と、
前記半導体レーザに高周波電流を重畳する高周波重畳回路と、
前記光ピックアップ装置の光検出器で得られた検出信号を用いてサーボ信号を生成するためのサーボ信号生成回路と、
光学的情報記録媒体に記録された情報信号を再生するための情報信号再生回路と、
前記レーザ点灯回路、前記高周波重畳回路、前記サーボ信号生成回路および前記情報信号再生回路を制御するコントロール回路と、
を備えた光学的情報再生装置であって、
前記コントロール回路は、前記光学的情報記録媒体の反射率に応じて、前記半導体レーザに重畳される高周波電流の振幅を所定の値に切り替える機能を備えた
ことを特徴とする光学的情報再生装置。
【請求項２】
半導体レーザと、前記半導体レーザから出射した光束を光学的情報記録媒体の情報記録面に集光する対物レンズと、前記光学的情報記録媒体の情報記録面を反射した前記光束を受光する光検出器と、を備えた光ピックアップ装置と、
前記半導体レーザを点灯するためのレーザ点灯回路と、
前記半導体レーザに高周波電流を重畳する高周波重畳回路と、
前記光ピックアップ装置の光検出器で得られた検出信号を用いてサーボ信号を生成するためのサーボ信号生成回路と、
光学的情報記録媒体に記録された情報信号を再生するための情報信号再生回路と、
前記レーザ点灯回路、前記高周波重畳回路、前記サーボ信号生成回路および前記情報信号再生回路を制御するコントロール回路と、
を備えた光学的情報再生装置であって、
前記コントロール回路は、前記光学的情報記録媒体の反射率に応じて、前記半導体レーザの平均パワーと前記半導体レーザに重畳される高周波電流の振幅の比を所定の値に切り替える機能を備えた
ことを特徴とする光学的情報再生装置。
【請求項３】
請求項１又は請求項２に記載の光学的情報再生装置であって、
前記コントロール回路は、
前記光学的情報記録媒体の反射率に少なくとも１つ以上の閾値を設け、
該閾値より高い反射率の前記光学的情報記録媒体を再生する場合は、第１の高周波重畳電流の振幅、もしくは第１の平均パワーと高周波重畳電流の振幅の比を設定し、
該閾値より低い反射率の前記光学的情報記録媒体を再生する場合は、第２の高周波重畳電流の振幅、もしくは第２の平均パワーと高周波重畳電流の振幅の比を設定する機能を備えた
ことを特徴とする光学的情報再生装置。
【請求項４】
請求項３に記載の光学的情報再生装置であって、
前記コントロール回路は、
前記閾値より高い反射率の前記光学的情報記録媒体を再生する場合の、前記第１の高周波重畳電流の振幅、もしくは前記第１の平均パワーと高周波重畳電流の振幅の比を、
前記閾値より低い反射率の前記光学的情報記録媒体を再生する場合の前記第２の高周波重畳電流の振幅、もしくは前記第２の平均パワーと高周波重畳電流の振幅の比よりも大きく設定する機能を備えた
ことを特徴とする光学的情報再生装置。
【請求項５】
請求項１から請求項４のいずれかに記載の光学的情報再生装置であって、
前記コントロール回路は、
前記光学的情報記録媒体の反射率と、信号性能が最良となる前記半導体レーザに重畳される高周波電流の振幅、もしくは前記半導体レーザの平均パワーと前記半導体レーザに重畳される高周波電流の振幅の比の条件を学習し、
該学習結果に基づき、反射率に応じて前記半導体レーザに重畳される高周波電流の振幅、もしくは前記半導体レーザの平均パワーと前記半導体レーザに重畳される高周波電流の振幅の比を再設定する機能を備えた
ことを特徴とする光学的情報再生装置。
【請求項６】
請求項１から請求項５のいずれかに記載の光学的情報再生装置であって、
前記コントロール回路は、
少なくとも２層以上で構成される前記光学的情報記録媒体を再生する場合、
再生する情報層によって、前記半導体レーザに重畳される高周波電流の振幅、もしくは前記半導体レーザの平均パワーと前記半導体レーザに重畳される高周波電流の振幅の比を所定の値に切り替える機能を備えた
ことを特徴とする光学的情報再生装置。
【請求項７】
請求項６に記載の光学的情報再生装置であって、
前記コントロール回路は、
反射率の高い情報層の前記光学的情報記録媒体を再生する場合の、前記第１の高周波重畳電流の振幅、もしくは前記第１の平均パワーと高周波重畳電流の振幅の比を、
反射率の低い情報層の前記光学的情報記録媒体を再生する場合の前記第２の高周波重畳電流の振幅、もしくは前記第２の平均パワーと高周波重畳電流の振幅の比よりも大きく設定する機能を備えた
ことを特徴とする光学的情報再生装置。
【請求項８】
光学的情報記録媒体の再生方法であって、
半導体レーザを点灯するためのレーザ点灯ステップと、
前記半導体レーザに高周波電流を重畳する高周波重畳ステップと、
光ピックアップ装置の光検出器で得られた検出信号を用いてサーボ信号を生成するためのサーボ信号生成ステップと、
光学的情報記録媒体に記録された情報信号を再生するための情報信号再生ステップと、
前記光学的情報記録媒体の反射率に応じて、前記半導体レーザに重畳される高周波電流の振幅を所定の値に切り替えるステップと、を有する
ことを特徴とする光学的情報記録媒体再生方法。
【請求項９】
光学的情報記録媒体の再生方法であって、
半導体レーザを点灯するためのレーザ点灯ステップと、
前記半導体レーザに高周波電流を重畳する高周波重畳ステップと、
光ピックアップ装置の光検出器で得られた検出信号を用いてサーボ信号を生成するためのサーボ信号生成ステップと、
光学的情報記録媒体に記録された情報信号を再生するための情報信号再生ステップと、
前記光学的情報記録媒体の反射率に応じて、前記半導体レーザの平均パワーと前記半導体レーザに重畳される高周波電流の振幅の比を所定の値に切り替えるステップと、を有する
ことを特徴とする光学的情報記録媒体再生方法。
【請求項１０】
請求項８又は請求項９に記載の光学的情報記録媒体再生方法であって、
前記光学的情報記録媒体の反射率に閾値を設け、
該閾値より高い反射率の前記光学的情報記録媒体を再生する場合は、第１の高周波重畳電流の振幅、もしくは第１の平均パワーと高周波重畳電流の振幅の比を設定し、
該閾値より低い反射率の前記光学的情報記録媒体を再生する場合は、第２の高周波重畳電流の振幅、もしくは第２の平均パワーと高周波重畳電流の振幅の比を設定するステップを有する
ことを特徴とする光学的情報記録媒体再生方法。
【請求項１１】
請求項１０に記載の光学的情報記録媒体再生方法であって、
前記閾値より高い反射率の前記光学的情報記録媒体を再生する場合の、前記第１の高周波重畳電流の振幅、もしくは前記第１の平均パワーと高周波重畳電流の振幅の比を、
前記閾値より低い反射率の前記光学的情報記録媒体を再生する場合の前記第２の高周波重畳電流の振幅、もしくは前記第２の平均パワーと高周波重畳電流の振幅の比よりも大きく設定するステップを有する
ことを特徴とする光学的情報記録媒体再生方法。
【請求項１２】
請求項８から請求項１１のいずれかに記載の光学的情報再生装置であって、
前記光学的情報記録媒体の反射率と、信号性能が最良となる前記半導体レーザに重畳される高周波電流の振幅、もしくは前記半導体レーザの平均パワーと前記半導体レーザに重畳される高周波電流の振幅の比の条件を学習し、
該学習結果に基づき、反射率に応じて前記半導体レーザに重畳される高周波電流の振幅、もしくは前記半導体レーザの平均パワーと前記半導体レーザに重畳される高周波電流の振幅の比を再設定するステップを有する
ことを特徴とする光学的情報記録媒体再生方法。
【請求項１３】
請求項８から請求項１２のいずれかに記載の光学的情報記録媒体再生方法であって、
少なくとも２層以上で構成される前記光学的情報記録媒体を再生する場合、
再生する情報層によって、前記半導体レーザに重畳される高周波電流の振幅、もしくは前記半導体レーザの平均パワーと前記半導体レーザに重畳される高周波電流の振幅の比を所定の値に切り替えるステップを有する
ことを特徴とする光学的情報記録媒体再生方法。
【請求項１４】
請求項１３に記載の光学的情報再生方法であって、
反射率の高い情報層の前記光学的情報記録媒体を再生する場合の、前記第１の高周波重畳電流の振幅、もしくは前記第１の平均パワーと高周波重畳電流の振幅の比を、
反射率の低い情報層の前記光学的情報記録媒体を再生する場合の前記第２の高周波重畳電流の振幅、もしくは前記第２の平均パワーと高周波重畳電流の振幅の比よりも大きく設定するステップを有する
ことを特徴とする光学的情報記録媒体再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光学的情報再生装置および光学的情報記録媒体再生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
背景技術として、例えば、特開２００８−７７７９６号公報（特許文献１）、特開２０００−１４９０３２号公報（特許文献２）がある。
【０００３】
特許文献１には、「レーザ出力を精度よく制御する。」とあり、解決手段として「レーザ３から出射され、光ディスク１に照射されるレーザ光のパワーを、アッテネータ４により減衰させる。」、または「レーザ出力が基準範囲に収まるように、レーザ光の強度をアッテネータ４により減衰させる場合におけるレーザ出力を制御する。」と記載されている。
【０００４】
また特許文献２には、「光ディスク装置の各動作モードにおけるレーザパワー出力の最適化を図ることができる半導体レーザ駆動装置、光学ヘッド、光ディスク装置、および記録再生方法を提案する。」とあり、解決手段として「本発明の半導体レーザ駆動装置は、レーザダイオードに高周波電流を重畳する高周波重畳回路と、光ディスク装置における動作モードに応じて高周波電流の重畳周波数および振幅を可変にする重畳周波数可変回路とを備え、光ディスク装置における動作モードに応じて、半導体レーザの少なくとも第１の出力パワーから第２の出力パワーにおけるそれぞれの重畳周波数および振幅を変えるようにした。」と記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００８−７７７９６号公報
【特許文献２】特開２０００−１４９０３２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
光ピックアップ装置のレーザ光源に半導体レーザを用いるとき、光学的情報記録媒体（以下、説明の簡略化のため、光ディスクと記す）の情報層で反射した反射光が半導体レーザに戻ると、半導体レーザの光出力が変動してレーザノイズが発生する。
【０００７】
一般に、レーザノイズは相対強度雑音ＲＩＮ（Ｒｅｌａｔｉｖｅ  Ｉｎｔｅｎｓｉｔｙ  Ｎｏｉｓｅ）で表すことができる。半導体レーザの平均パワーをＰｏ、発光パワーの揺らぎをδＰ、測定帯域幅をΔｆとすると、ＲＩＮは次式で定義される。
【０００８】
ＲＩＮ＝（δＰ／Ｐｏ）２／Δｆ          （数１）
（数１）より、半導体レーザの平均パワーＰｏが低出力であるほどＲＩＮは大きくなる、つまりレーザノイズが劣化する。
光ディスクの再生時は、情報層に記録されているデータの消去を防止するため、また光ディスクの劣化を防ぐために、低出力のパワーであることが望ましい。しかし、（数１）からわかるように、低出力のパワーのときはレーザノイズが大きくなり、良質な再生を行うことが困難である。
【０００９】
レーザノイズを軽減するための手法として、１つには光減衰器（アッテネータと呼ばれる）の使用がある。
【００１０】
特許文献１は、光減衰器を用いてレーザの強度を減衰させる場合のレーザ出力と、光減衰器を用いずにレーザの強度を減衰させない場合のレーザ出力とを、切り替えるように制御する制御手段を設けている。
【００１１】
しかし、特許文献１のように光ピックアップ装置に光減衰器を加える構成は、光減衰素子自体を機械的もしくは電気的に制御する手段が必要となるために、光ピックアップ装置の部品点数増加、サイズ大型化などの問題が生じる。
【００１２】
固定の光減衰手段を設けた場合でも、半導体レーザの定格光量を大きくすることが必須になるため、半導体レーザのコスト増加が懸念される。
【００１３】
レーザノイズを軽減するための別の手法として、高周波重畳と呼ばれる手法がある。
高周波重畳とは、一般的に数百ＭＨｚで高周波変調した駆動電流をレーザのＤＣ出力に重畳し、レーザをマルチ縦モード発振させる方式のことである。
高周波重畳を行うことで、レーザの発振スペクトルはマルチモードスペクトルになり、レーザノイズは反射戻り光に対して安定になる。
【００１４】
特許文献２は、情報の記録および再生の動作モードに応じて高周波重畳の条件を最適に制御することで、レーザノイズを低減することが開示されている。
しかし、特許文献２は、再生時と記録時で高周波重畳を最適に制御しているが、反射率の異なる光ディスク再生時に、高周波重畳を最適制御する方法については特に開示されていない。
同じ規格の光ディスクにおいても、個々の光ディスクごとに反射率は異なってくる。光ディスクの反射率が異なると、レーザへの戻り光量が変化し、レーザノイズも変化する。
【００１５】
本発明は、高周波重畳を用いて、反射率の異なる光ディスクの再生時に、レーザノイズを低減するとともに、情報層に記録されているデータの消去を防止し、また光ディスクの劣化を防ぐことが可能な光学的情報再生装置または記録装置（以下、説明の簡略化のため、これらの光学的情報再生装置または記録装置を、光ディスク装置と記す）および光ディスク再生方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
上記目的は、その一例として特許請求の範囲に記載する構成により達成できる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、反射率の異なる光ディスクの再生時に、レーザノイズを低減するとともに、情報層に記録されているデータの消去を防止し、また光ディスクの劣化を防ぐことが可能な光ディスク装置および光ディスク再生方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】光ディスク装置および光ピックアップ装置を示した図である。
【図２】一般的な半導体レーザの発光特性と、高周波重畳した駆動電流波形および発光波形の関係を示した図である。
【図３】実施例１における、光ディスク再生処理のフローチャートを示した図である。
【図４】実施例１における、光ディスク再生処理のフローチャートを示した図である。
【図５】一般的な半導体レーザの発光特性と、高周波重畳した駆動電流波形および発光波形の関係を示した図である。
【図６】実施例２における、光ディスク再生処理のフローチャートを示した図である。
【図７】実施例２における、光ディスク再生処理のフローチャートを示した図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
本発明を適用した光ディスク装置および光ピックアップ装置について、以下の実施例で説明する。実施例では例としてＢＤについて記すが、ＤＶＤや他の記録方式であってもなんら構わない。
【実施例１】
【００２０】
図１は、光ディスク装置および光ディスク装置に搭載された光ピックアップ装置の概略構成を示す。
【００２１】
まず、光ピックアップ装置１００について説明する。
【００２２】
半導体レーザ１１から光束が発散光として出射される。半導体レーザは直線偏光の光束を出射するのが一般的であり、半導体レーザ１１からも直線偏光の光束を出射することを想定する。なお、半導体レーザ１１から出射された光束の中心光路（以下、光軸と略す。）を鎖線で、出射された光束の最外周光路を点線で、それぞれ図示する。
【００２３】
半導体レーザ１１から出射された光束は、偏光ビームスプリッタ（以下、ＰＢＳと略す。）１２を透過する。
【００２４】
ただし、一部の光束はＰＢＳ１２を反射し、フロントモニタ１３に入射する。一般的に光ディスクの記録再生動作の精度を良くするためには、光ディスクに照射される光束の光量を所望の値に制御することが必須となる。フロントモニタ１３はレーザ光源からの光量変化を制御回路にフィードバックすることにより、光束の光量を制御することを可能とする。
【００２５】
ＰＢＳ１２を透過した光束は、コリメートレンズ１４によって略平行な光束に変換される。コリメートレンズ１４を透過した光束は、１／４波長板（図示せず）を透過し、立ち上げミラー１５を反射後、アクチュエータ１６に搭載された対物レンズ１７を透過して、光ディスク１０１の情報層上（図示せず）に集光される。
【００２６】
光ディスクの記録層上より反射した光束は、対物レンズ１７、立ち上げミラー１５、１／４波長板（図示せず）、コリメータレンズ１４を透過して、ＰＢＳ１２を反射する。これは、光束が１／４波長板を往復路で２回透過することによって、直線偏光方向が９０度ずれたためである。
ＰＢＳ１２を反射した光束は、光検出器１８上に集光する。光検出器１８上は、複数の受光面で構成されており、受光面に照射された光量に従って再生信号であるＲＦ信号やフォーカス誤差信号やトラッキング誤差信号などが生成される。
【００２７】
なお、１／４波長板は、コリメータレンズ１４と立ち上げミラー１５の間には限定されず、ＰＢＳ１２と対物レンズ１７の間に配置すればなんら影響はない。
【００２８】
続いて、上述の光ピックアップ装置１００を搭載する光ディスク装置について説明する。
【００２９】
光ピックアップ装置１００内の光検出器１８で検出された信号は、サーボ信号生成回路１０２および情報信号再生回路１０３に送られる。
【００３０】
サーボ信号生成回路１０２では、光ピックアップ装置１００より検出された信号に基づいて光ディスク１０１に適したフォーカス誤差信号、トラッキング誤差信号、チルト制御信号等が生成され、これらの信号を基にアクチュエータ駆動回路１０４を経て光ピックアップ装置１００内の対物レンズアクチュエータ１６を駆動して、対物レンズ１７の位置制御が行われる。
【００３１】
情報信号再生回路１０３では、光ピックアップ装置１００より検出された信号から光ディスク１０１に記録された情報信号が再生される。
【００３２】
また、サーボ信号生成回路１０２および情報信号再生回路１０３にて得られた信号の一部は、コントロール回路１０５に送られる。コントロール回路１０５からはレーザ駆動用信号が送られ、レーザ点灯回路１０６を駆動させて光ピックアップ装置１００内の半導体レーザ１１にレーザ駆動電流を供給する。また、光ピックアップ装置１００内のフロントモニタ１３を用いて半導体レーザ１１からのレーザの出射光量を制御できる。
【００３３】
また、高周波重畳回路１０７を用いて半導体レーザのＤＣ出力に所定の周波数および振幅で高周波変調した駆動電流を重畳させる。
【００３４】
なお、レーザ点灯回路１０６および高周波重畳回路１０７は、図１において光ピックアップ装置１００の外に搭載しているが、光ピックアップ装置１００の内に組み込むことも可能である。
【００３５】
コントロール回路１０５には、サーボ信号制御回路１０２、レーザ点灯回路１０６、高周波重畳回路１０７の他にスピンドルモータ駆動回路１０８、アクセス制御回路１０９等が接続されており、それぞれ光ディスク１０１を回転させるスピンドルモータ１１０の回転制御、光ピックアップ装置１００のアクセス方向位置制御が行われる。
【００３６】
なお、記録時はコントロール回路１０５とレーザ点灯回路１０６の間に情報信号記録回路を設けて、情報信号記録回路からの記録制御信号に基づいて、レーザ点灯回路１０６を駆動させる記録型の光ディスク装置としてもなんら構わない。
【００３７】
図２は、半導体レーザへの駆動電流と半導体レーザから出射されるレーザパワー、および駆動電流を高周波重畳したときの駆動電流波形と、それによるレーザ発光波形の関係を示す。
レーザ点灯回路１０６のみを用いて直流電流Ｉｄｃのみで半導体レーザをＤＣ出力したときは、図２の発光特性２１のように発振を開始する閾値電流Ｉｔｈまでは発光は起こらず、Ｉｔｈ以上の直流電流になると線形にレーザパワーが大きくなる。しかし発光パワーがＤＣ出力のみでは、反射戻り光の影響でレーザノイズが大きくなってしまう。
【００３８】
そこで、高周波重畳回路１０７を用いて直流電流Ｉｄｃに振幅Ｉｐｐの高周波電流を重畳すると、駆動電流波形２２は時間によって変化する。このため発光波形２３も時間によって変化する。高周波電流振幅Ｉｐｐを十分大きくすると、閾値電流Ｉｔｈを下回る時間が発生するため、発光波形２３は図のようにオンとオフを繰り返したパルス列となる。このとき、レーザはマルチ縦モードで発振するため、レーザノイズを反射戻り光に対して安定にすることができる。
ここで、発光波形２３の発光平均パワーをＰｏ、発光波形２３のパワー振幅をＰａｍｐとしたとき、高周波重畳の条件を決定する指標をＰａｍｐ／Ｐｏと定義する。なお、Ｐａｍｐを高周波重畳振幅、Ｐａｍｐ／Ｐｏの指標値を高周波重畳比と、それぞれ呼ぶ。
一般的に、光ディスクの再生時は平均パワーＰｏが低出力であるためにＲＩＮの影響が大きくなるため、上記で説明した高周波重畳を行っている。
【００３９】
さて、レーザノイズは（数１）のように平均パワーＰｏが小さいほど大きくなるが、同じ平均パワーのときは発光パワーの揺らぎδＰに依存する。δＰは光ディスクの戻り光量に依存するため、同じ光ディスク装置で比較した場合は、光ディスクの反射率に依存することになる。
現在、例えばＢＤにおいて、光ディスクは再生専用のＢＤ−ＲＯＭ、ライトワンス追記型のＢＤ−Ｒ、記録書換可能型のＢＤ−ＲＥなどいくつかの種類があり、さらに情報層が１層の単層ディスクや、情報層が２層の２層ディスクがあるため、光ディスクの種類によって反射率が異なる。光ディスクを製造するメーカやロットよっても、当然反射率のばらつきは生じる。
反射率のばらつきが発生すると、δＰが変化する、すなわち光ディスクによってＲＩＮが変化する。
【００４０】
そこで、光ディスクの反射率によって高周波重畳の条件を最適にすることが望ましい。
高周波重畳を行ったときのレーザノイズの大小は、例えば、高周波重畳比Ｐａｍｐ／Ｐｏで決定する。
そして、光ディスクの反射率によって、平均パワーと高周波重畳振幅を調整し、高周波重畳比を制御する。
また、光ディスクの再生パワーが一定である場合は、光ディスクの反射率によって高周波重畳振幅を制御する。
【００４１】
以上で述べた光ディスクの反射率によって高周波重畳比もしくは高周波重畳振幅を制御する光ディスク再生処理について、図３のフローチャートを用いて説明する。
【００４２】
光ディクス装着（ステップ３０１）後、ステップ３０２で適切な波長のレーザをＯＮにし、平均パワーをＰｏ１に、高周波重畳振幅をＰａｍｐ１に、それぞれ設定する。
ステップ３０３で所定の位置へ光ピックアップ装置を移動し、ステップ３０４で光ディスクの反射率の測定を開始する。
このとき、装着した光ディスクの反射率から、その媒体に適した平均パワーと高周波重畳振幅を設定することで、高周波重畳比を所定の値に切り替える。（ステップ３０５）。
反射率によって最適となる平均パワーおよび高周波重畳振幅は、予め設定しておく。
設定後、ステップ３０６で再生処理を開始する。
以上のように、光ディスク装着時に光ディスクの反射率測定を行って最適な平均パワーおよび高周波重畳振幅にすることによって、レーザノイズを低減することが可能である。
【００４３】
図３は、反射率ごとに高周波重畳比を切り替える制御を行っているが、もっと大まかに高周波重畳比もしくは高周波重畳振幅を制御する光ディスクの再生処理について、図４のフローチャートを用いて説明する。
【００４４】
光ディクス装着（ステップ４０１）後、ステップ４０２で適切な波長のレーザをＯＮにし、平均パワーをＰｏ１に、高周波重畳振幅をＰａｍｐ１に、それぞれ設定する。
ステップ４０３で所定の位置へ光ピックアップ装置を移動し、ステップ４０４で光ディスクの反射率の判別を開始する。
【００４５】
予め光ディスクの反射率の閾値Ｒｘを設けておき、ステップ４０５で装着した光ディスクの光ディスクがＲｘ以上であるか判別する。
このときＲｘよりも反射率が大きい光ディスクが装着されたときには、ステップ４０６で平均パワーをＰｏ１、高周波重畳振幅をＰａｍｐ１の設定のままにする。なお、Ｐｏ１およびＰａｍｐ１は、Ｒｘよりも大きい反射率の光ディスク再生時に適した値であるとする。
一方、Ｒｘよりも反射率が小さい光ディスクが装着されたときには、ステップ４０７で平均パワーをＰｏ２に、高周波重畳振幅をＰａｍｐ２に変更する。なお、Ｐｏ２およびＰａｍｐ２は、Ｒｘよりも小さい反射率の光ディスク再生時に適した値であるとする。
平均パワーおよび高周波重畳振幅を設定した後に、ステップ４０８で再生処理を開始する。
【００４６】
このように、全ての反射率によって高周波重畳比を設定しなくても、ＲＩＮの影響が無視できない反射率を閾値として予め設定しておいて、閾値前後で高周波重畳比を切り替えることによっても、ＲＩＮ低減効果を得ることが可能である。
なお、反射率が大きい方がＲＩＮの影響が大きいため、反射率の大きい光ディスク再生時は高周波重畳振幅も大きくした方がＲＩＮを低減できる。従って、図４においてＰａｍｐ１はＰａｍｐ２よりも大きい方が望ましい。
また、平均パワーが光ディスクの規格で一定に決まっている場合は、Ｐｏ１とＰｏ２の値が同じであっても何ら構わない。
また、光ディスクの反射率の閾値は図４のように１つに限定されるものではなく、２つ以上の閾値を設定しても問題ない。
【００４７】
以上のように、光ディスクの反射率に応じて高周波重畳比を設定する、もしくは反射率の閾値前後で高周波重畳比を切り替える設定を予め設けておき、光ディスク装着時に光ディスクの反射率を測定し、最適な高周波重畳比にすることによって、レーザノイズを低減することが可能である。
なお、光ディスク装置およびそれに搭載された光ピックアップ装置の構成は、図１に限定されるものではないことは言うまでもない。
また、図２のように駆動電流の直流電流Ｉｄｃは、発光特性２１の閾値電流Ｉｔｈ以上である必要はなく、例えば図５のように直流電流Ｉｄｃが閾値電流Ｉｔｈ以下のような条件であっても何ら構わない。
また、反射率に対して最適となる高周波重畳比の条件を光ディスク装置において学習するという処理を加えても何ら構わない。例えば光ディスクが経時変化し、光ディスクの反射率に対する高周波重畳比が最適ではなくなり再生時の信号性能が劣化する場合、光ディスク装置にて再生性能に係る信号が最良となる学習を行ってもよい。学習することで、予め設定された反射率と高周波重畳比の関係が最適化される。よって、レーザノイズ低減効果を大きくすることが可能である。
また、高周波重畳周波数Ｐｆｒｅｑを最適に変更しても何ら構わない。
【実施例２】
【００４８】
本実施例では少なくとも２層以上の情報数を有した光ディスクにおいて、再生する情報層に応じて、高周波重畳比もしくは高周波重畳振幅を制御する。
【００４９】
ＢＤの規格書によると、ＢＤ−ＲＯＭの２層ディスクの反射率は１０％から２８％と規定されている。反射率の定義される範囲が広いため、光ディスクごとに反射率ばらつきが生じるのはもちろんのこと、各情報層でも反射率に差異が生じることが予想される。
また、３層以上の多層光ディスクが規格化された場合、光ディスクの製造難易度が上がるために各情報層の反射率のばらつきは顕著になると予想される。
このため、複数の情報層を有した光ディスクでも、情報層ごとでＲＩＮの影響が異なるので、高周波重畳の条件も変更することが望ましい。
【００５０】
以上より、複数の情報層を有した光ディスクの情報層数ごとの高周波重畳比もしくは高周波重畳振幅を制御する光ディスク再生処理について、図６および７のフローチャートを用いて説明する。
なお、本実施例における光ディスク装置および光ディスク装置に搭載された光ピックアップ装置の概略構成は、例えば図１と同様であると仮定する。
【００５１】
図６は複数の情報層を有した光ディスクまで想定した場合の、光ディスク再生処理のフローチャートである。
【００５２】
光ディクス装着（ステップ６０１）後、ステップ６０２で適切な波長のレーザをＯＮにし、平均パワーをＰｏ１に、高周波重畳振幅をＰａｍｐ１に、それぞれ設定する。
ステップ６０３で所定の位置へ光ピックアップ装置を移動し、ステップ６０４で光ディスクの情報層数判別を開始する。
判別時、装着した光ディスクの情報層数が１層であるか２層以上であるかを確認する（ステップ６０５）。
このとき、光ディスクの情報層数が１層の場合は、ステップ６０６で情報層の反射率の測定し、その反射率から適切な平均パワーと高周波重畳振幅を設定することで、高周波重畳比を所定の値に切り替える。（ステップ６０７）。
反射率によって最適となる平均パワーおよび高周波重畳振幅は、予め設定しておく。
設定後、ステップ６１１で再生処理を開始する。
【００５３】
一方、光ディスクの情報層数が１層ではない場合は、ステップ６０８で複数ある情報層全ての反射率の測定し、各情報層の反射率に適した平均パワーと高周波重畳振幅の値を格納する（ステップ６０９）。格納した値は、情報層数を変更するときに呼び出すことができる状態にしておく。
反射率によって最適となる平均パワーおよび高周波重畳振幅は、予め設定しておく。
その後、ステップ６１０で再生する情報層の平均パワーと高周波重畳振幅を設定することで、高周波重畳比を所定の値に切り替え、設定後、ステップ６１１で再生処理を開始する。
【００５４】
図７は複数の情報層を有した光ディスク再生中に、再生する情報層を変更するとき光ディスク再生処理のフローチャートである。
【００５５】
複数の情報層を有した光ディスクにおいて、ある情報層を再生中に（ステップ７０１）、再生する情報層を変更するかを確認する（ステップ７０２）。
このとき、変更する場合は、ステップ７０３でフォーカスジャンプ処理を行い、変更する情報層へとディスク上の光スポットを切り替える。
フォーカスジャンプ後、ステップ７０４で変更する情報層の反射率に適した平均パワーと高周波重畳振幅を設定することで、高周波重畳比を所定の値に切り替える。
変更値は、図６において予め各情報層の最適値を格納しているため、即座に呼び出すことが可能である。
変更後、ステップ７０５で再生処理を再開する。
なお、ステップ７０２において情報層の変更を行わないと判別した場合は、そのまま再生処理を行う。
【００５６】
以上のように、複数の情報層を有した光ディスクの情報層数ごとで、各情報層の反射率に応じて最適な平均パワーおよび高周波重畳振幅にすることによって、レーザノイズを低減することが可能である。
【００５７】
なお、光ディスク装置およびそれに搭載された光ピックアップ装置の構成は、図１に限定されるものではないことは言うまでもない。
【００５８】
また、図６および図７では、情報層ごとに高周波重畳比を制御しているが、同じ情報層でも位置によって反射率の違いが生じるため、再生する情報層の位置に応じて反射率を測定して、最適な高周波重畳比に切り替えても何ら構わない。例えば、情報層の内周、中周、外周で予め反射率を測定しておき、再生時に情報層がどこに当てはまるかを確認して、その位置での最適な平均パワーおよび高周波重畳振幅にすることで、レーザノイズ低減が可能である。
【００５９】
また、反射率に対して最適となる高周波重畳比の条件を光ディスク装置において学習するという処理を加えても何ら構わない。例えば光ディスクが経時変化し、光ディスクの反射率に対する高周波重畳比が最適ではなくなり再生時の信号性能が劣化する場合、光ディスク装置にて再生性能に係る信号が最良となる学習を行ってもよい。学習することで、予め設定された反射率と高周波重畳比の関係が最適化される。よって、レーザノイズ低減効果を大きくすることが可能である。
【００６０】
なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
【００６１】
また、上記実施例において、光ディスク装置には、再生機能のみを有する再生専用の光ディスク装置のみならず、記録と再生が可能な光ディスク装置も含まれる。
【符号の説明】
【００６２】
１１…半導体レーザ、
１２…偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）、
１３…フロントモニタ、
１４…コリメートレンズ、
１５…立ち上げミラー、
１６…アクチュエータ、
１７…対物レンズ、
１８…光検出器、
１００…光ピックアップ装置、
１０１…光ディスク
１０２…サーボ信号生成回路、
１０３…情報信号再生回路、
１０４…アクチュエータ駆動回路
１０５…コントロール回路、
１０６…レーザ点灯回路、
１０７…高周波重畳回路
１０８…スピンドルモータ駆動回路
１０９…アクセス制御回路
１１０…スピンドルモータ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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