(57)【要約】【課題】ジッタの誤差を低減することができる光ディスク装置を提供する。【解決手段】本発明の光ディスク装置２００は、光ディスク１に記録パルス光を照射してマークおよびスペースを形成することにより情報を記録する光ディスク装置であって、再生手段３０，４０、分類手段８０、測定手段９０、および記録パルス調整手段１１０，１２０，１４０を有する。再生手段は、光ディスクに記録された情報を再生して再生パルス信号を生成する。分類手段は、前記再生パルス信号に含まれる複数のマークまたはスペースを、クロック周期を基準単位として分類する。ジッタ測定手段は、分類された各々のマークまたはスペースに関する存在分布のジッタまたはデビエーションを測定する。記録パルス調整手段は、第１の分類の存在分布と第２の分類の存在分布との重なりを増大させる一方で、前記第１および第２の分類の存在分布と第３の分類の存在分布との重なりを減少させるように、前記第１の分類についての記録パルスを調整する。【選択図】図１
2012053967.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに記録パルス光を照射してマークおよびスペースを形成することにより情報を記録する光ディスク装置であって、
前記光ディスクに記録された情報を再生して再生パルス信号を生成する再生手段と、
前記再生パルス信号に含まれる複数のマークまたはスペースを、クロック周期を基準単位として分類する分類手段と、
分類された各々のマークまたはスペースに関する存在分布のジッタまたはデビエーションを測定するジッタ測定手段と、
第１の分類の存在分布と第２の分類の存在分布との重なりを増大させる一方で、前記第１および第２の分類の存在分布と第３の分類の存在分布との重なりを減少させるように、前記第１の分類についての記録パルスを調整する記録パルス調整手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記分類手段は、マーク長で分類し、
前記パルス調整手段は、マーク長を調整することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記分類手段は、スペース長で分類し、
前記パルス調整手段は、スペース長を調整することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記分類手段は、マークエッジに関する存在分布をマーク長とスペース長とで分類し、
前記パルス調整手段は、マークエッジ位置を調整することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記複数のマークまたはスペースの前記分類をクロック周期長について昇順に並べたとき、ｎを自然数として、ｎ＋１番目およびｎ＋２番目の分類の存在分布の重なりを増大させる一方で、ｎ番目およびｎ＋３番目の分類の存在分布と他の分類の存在分布との重なりを減少させるように、前記ｎ＋１番目およびｎ＋２番目の分類についての記録パルスを調整することを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記記録パルスは、前記クロック周期をＴとして、元の記録パルスに対して±（０．１Ｔ〜０．４Ｔ）の範囲で調整されることを特徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記第１の分類の存在分布を前記第２の分類の存在分布に重ねる一方で、前記第１および第２の分類の存在分布と第３の分類の存在分布とが重ならないように、前記第１の分類についての記録パルスを調整することを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記複数のマークまたはスペースの前記分類をクロック周期長について昇順に並べたとき、偶数番目の分類の存在分布を奇数番目の分類の存在分布に重ねること、または奇数番目の分類の存在分布を偶数番目の分類の存在分布に重ねることを特徴とする請求項７に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
前記光ディスクのフォーマットとして存在しない前記第２の分類の存在分布に前記第１の分類の存在分布を重ねる一方で、前記第１の分類の存在分布および前記第２の分類の存在分布と第３の分類の存在分布とが重ならないように、前記第１の分類についての記録パルスを調整することを特徴とする請求項１〜４のいずれか１項に記載の光ディスク装置。
【請求項１０】
クロック周期をＴとして、前記第１の分類の存在分布を１Ｔ以下の分類の存在分布に重ねることを特徴とする請求項９に記載の光ディスク装置。
【請求項１１】
前記複数のマークまたはスペースの前記分類をクロック周期長について昇順に並べたとき、偶数番目の分類の存在分布を１Ｔ以下の分類の存在分布に重ねること、または１を除く奇数番目の分類の存在分布を１Ｔ以下の分類の存在分布に重ねることを特徴とする請求項１０に記載の光ディスク装置。
【請求項１２】
光ディスクに記録パルス光を照射してマークおよびスペースを形成することにより情報を記録する光ディスク装置用のジッタ測定方法であって、
前記光ディスクに記録された情報を再生して再生パルス信号を生成する段階と、
前記再生パルス信号に含まれる複数のマークまたはスペースを、クロック周期を基準単位として分類する段階と、
分類された各々のマークまたはスペースに関する存在分布のジッタまたはデビエーションを測定する段階と、
第１の分類の存在分布と第２の分類の存在分布との重なりを増大させる一方で、前記第１および第２の分類の存在分布と第３の分類の存在分布との重なりを減少させるように、前記第１の分類についての記録パルスを調整する段階と、
を有することを特徴とする光ディスク装置用のジッタ測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置および光ディスク装置用のジッタ測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、光ディスクの記録密度が飛躍的に高まるにつれ、より高精度に光ディスクに情報を記録することが望まれている。その一方で、光ディスクメーカからは、多種多様な光ディスクが供給されており、各々の光ディスクに対して精度良く情報を記録するには、記録パルス光を照射するレーザの駆動電流の変調波形を光ディスクの種類に応じて操作する必要がある。この操作は、ふつうライトストラテジと呼ばれており、種々の記録制御パラメータを光ディスクの種類に応じて調整することにより実行される。また、光ディスクにレーザを照射してマークまたはスペースを形成する際に生じる熱干渉など、記録時における光ディスクの特性変化に応じてライトストラテジを自動的に変更する技術の開発も進んでいる。ライトストラテジを自動的に変更する技術では、再生されたパルスの時間的な揺らぎを統計的に処理して測定されるジッタおよびデビエーションに基づいて記録制御パラメータが調整される。たとえば下記の特許文献１およびに特許文献２には、測定されたジッタに基づいて記録制御パラメータを調整する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００５−１５８１５９号公報
【特許文献２】特開２００９−８７４８４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
通常、光ディスクへ情報を記録する際は、規定長のマークおよびスペースが記録されるようにライトストラテジが調整される。しかしながら、レーザ照射によって光ディスク表面に実際に記録されるマークの長さ（マーク長）またはスペースの長さ（スペース長）は、光ディスクの特性変化の影響により規定長に対してずれが生じる可能性がある。とくに、規定長に対するずれが大きい場合、再生されたパルス同士が互いに干渉してしまい、ジッタおよびデビエーションの誤差が大きくなるという問題がある。その結果、ジッタおよびデビエーションに基づいて調整されるライトストラテジの精度は向上しない。
【０００５】
本発明は、上述した問題を解決するためになされたものである。したがって、本発明の目的は、ジッタおよびデビエーションの誤差を低減することができる光ディスク装置を提供することである。
【０００６】
また、本発明の他の目的は、ジッタおよびデビエーションの誤差を低減することができる光ディスク装置用のジッタ測定方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の上記目的は、下記の手段によって達成される。
【０００８】
本発明の光ディスク装置は、光ディスクに記録パルス光を照射してマークおよびスペースを形成することにより情報を記録する光ディスク装置であって、再生手段、分類手段、測定手段、および記録パルス調整手段を有する。再生手段は、光ディスクに記録された情報を再生して再生パルス信号を生成する。分類手段は、前記再生パルス信号に含まれる複数のマークまたはスペースを、クロック周期を基準単位として分類する。ジッタ測定手段は、分類された各々のマークまたはスペースに関する存在分布のジッタまたはデビエーションを測定する。記録パルス調整手段は、第１の分類の存在分布と第２の分類の存在分布との重なりを増大させる一方で、前記第１および第２の分類の存在分布と第３の分類の存在分布との重なりを減少させるように、前記第１の分類についての記録パルスを調整する。
【０００９】
本発明の光ディスク装置用のジッタ測定方法は、光ディスクに記録パルス光を照射してマークおよびスペースを形成することにより情報を記録する光ディスク装置用のジッタ測定方法であって、前記光ディスクに記録された情報を再生して再生パルス信号を生成し、前記再生パルス信号に含まれる複数のマークまたはスペースを、クロック周期を基準単位として分類し、分類された各々のマークまたはスペースに関する存在分布のジッタまたはデビエーションを測定し、第１の分類の存在分布と第２の分類の存在分布との重なりを増大させる一方で、前記第１および第２の分類の存在分布と第３の分類の存在分布との重なりを減少させるように、前記第１の分類についての記録パルスを調整する。
【発明の効果】
【００１０】
本発明の光ディスク装置および光ディスク装置用のジッタ測定方法によれば、異なる長さのパルス同士が互いに干渉することが防止されるので、ジッタおよびデビエーションの誤差が低減する。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の第１の実施の形態における光ディスク装置のブロック図である。
【図２】本発明の第１の実施の形態におけるライトストラテジ準備処理のフローチャートである。
【図３】ジッタについて説明するための図である。
【図４】図２に示す分類別ジッタ測定処理のフローチャートである。
【図５】図４に示す分類別ジッタ測定処理でパルス長を調整した後の存在分布を示す図である。
【図６】図４に示す分類別ジッタ測定処理におけるパルス長の調整を説明するための図である。
【図７】本発明の第２の実施の形態における分類別ジッタ測定処理のフローチャートである。
【図８】図８（Ａ）は図７に示す分類別ジッタ測定処理において偶数番目のパルス長を調整した後の存在分布を説明するための図であり、図８（Ｂ）は奇数番目のパルス長を調整した後の存在分布を説明するための図である。
【図９】本発明の第３の実施の形態における分類別ジッタ測定処理のフローチャートである。
【図１０】図１０（Ａ）は図９に示す分類別ジッタ測定処理で偶数番目のパルス長を調整した後の存在分布を説明するための図であり、図１０（Ｂ）は奇数番目のパルス長を調整した後の存在分布を説明するための図である。
【図１１】図１１（Ａ）は測定対象パルスを示す図であり、図１１（Ｂ）〜図１１（Ｅ）は他のパルスのマーク長またはスペース長が変化して測定対象パルスと干渉が生じることを説明するための図である。
【図１２】本発明の第４の実施の形態における分類別ジッタ測定処理を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、添付した図面を参照して本発明の光ディスク装置および光ディスク装置用のジッタ測定方法の実施の形態を説明する。なお、以下の各実施の形態では、光ディスクとしてＤＶＤ＋Ｒを例示して説明する。
【００１３】
（第１の実施の形態）
図１は、本発明の第１の実施の形態における光ディスク装置のブロック図である。本実施の形態の光ディスク装置は、光ディスク面を実際のデータ記録時の熱的な分布特性に近い状態に維持しつつ、パルス同士の干渉によるジッタおよびデビエーションの誤差を低減するものである。図１に示すとおり、本実施の形態の光ディスク装置２００は、光ピックアップ１０、スピンドルモータ２０、ヘッドアンプ３０、二値化回路４０、デコーダ５０、マークエッジ検出部６０、ＲＡＭ７０、データ分類弁別部（分類手段）８０、ジッタ測定部（ジッタ測定手段）９０、エンコーダ１００、ライトストラテジ演算部１１０、記録パルス調整部１２０、レーザ駆動部１３０、および制御部１４０を有する。ヘッドアンプ３０および二値化回路４０は再生手段として機能し、ライトストラテジ演算部１１０、記録パルス調整部１２０、および制御部１４０は記録パルス調整手段として機能する。
【００１４】
制御部１４０は、光ディスク装置２００の記録動作および再生動作を制御する。具体的には、制御部１４０は、光ピックアップ１０、スピンドルモータ２０、ヘッドアンプ３０、二値化回路４０、およびデコーダ５０を制御して光ディスクから読み出された情報から再生信号を生成する。また、制御部１４０は、エンコーダ１００、ライトストラテジ演算部１１０、記録パルス調整部１２０、およびレーザ駆動部１３０を制御して記録信号を光ディスクに記録する。
【００１５】
さらに、制御部１４０は、マークエッジ検出部６０、ＲＡＭ７０、データ分類弁別部８０、ジッタ測定部９０、およびライトストラテジ演算部１１０を制御して、ライトストラテジ準備処理を実行する。ライトストラテジ準備処理は、デフォルトのライトストラテジで記録および再生したのち、必要に応じて分類別ジッタ測定処理を実行する。ライトストラテジ準備処理および分類別ジッタ測定処理については後述する。
【００１６】
以下、光ディスク装置２００の再生信号処理系および記録信号処理系の主な構成を順に説明する。なお、本実施の形態の光ディスク装置の他の構成要素については、従来の光ディスク装置と同様であるので説明を省略する。
【００１７】
光ピックアップ１０は、光ディスク１にパルス光を照射するとともに、光ディスク１からの反射光を受光するためのものである。より具体的には、光ピックアップ１０は、レーザ光源および受光部を有し、スピンドルモータ２０により回転された光ディスク１にレーザパルス光を照射するとともに、光ディスク１の記録面で反射された反射光を受光する。レーザ光源としては、レーザダイオードなどの発光素子が用いられる。受光部は、光ディスク１の記録面で反射されたレーザ光を受光して電気信号に変換する複数の受光素子を有する。
【００１８】
光ディスク１は、記録情報を書き込むための記録領域と、内周に沿って配置された内側テスト領域と、外周に沿って配置された外側テスト領域とを有する。また、光ディスク１には、光ディスクの製造メーカ、型番などの固有情報が予め記録されている。
【００１９】
光ディスクの種類としては、たとえば、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ±Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ブルーレイなどが挙げられる。本実施の形態では、光ディスクとしてＤＶＤ＋Ｒディスクの場合を例示して説明する。また、光ディスク１の記録材料としては、ＤＶＤ＋Ｒの場合、たとえばシアニン系、アゾ系などの有機色素材料が使用される。
【００２０】
ヘッドアンプ３０は、光ピックアップ１０により読み込まれた光ディスク１の記録情報からＲＦ信号を生成するものである。より具体的には、ヘッドアンプ３０は、光ピックアップ１０の受光部からの信号を演算および増幅して、読み込まれた光ディスク１の記録情報からＲＦ信号を生成する。
【００２１】
二値化回路４０は、ヘッドアンプ３０により生成されたＲＦ信号をハイまたはローの二値の再生パルス信号に変換する。
【００２２】
デコーダ５０は、二値化回路４０により生成された再生パルス信号を復号し、再生信号として出力する。また、デコーダ５０は、再生信号からクロック信号を抽出する。
【００２３】
以上のとおり、光ディスク装置２００の再生信号処理系では、光ピックアップ１０から照射されたレーザ光が光ディスク１の記録面で反射され、反射光は光ピックアップ１０に内蔵された受光部によって取り込まれたのち電気信号に変換される。受光部から出力された電気信号は、ヘッドアンプ３０により演算および増幅されたのち二値化回路に伝達され、デコーダ５０を介して再生信号として出力される。
【００２４】
マークエッジ検出部６０は、再生パルス信号のマークエッジを検出する。より具体的には、マークエッジ検出部６０は、二値化回路４０により生成された再生パルス信号のマークエッジ（マークからスペースに変化するエッジ、またはスペースからマークに変化するエッジ）を検出し、マークおよびスペースを再生する。再生されたマークおよびスペースのデータはＲＡＭ７０に伝達される。また、マークエッジ検出部６０は、再生パルス信号とデコーダ５０で抽出されたクロックとに基づいて、マークエッジのクロックからのずれであるマークエッジずれを算出する。マークエッジずれのデータもＲＡＭ７０に伝達される。なお、以降本明細書では、再生されたマークまたはスペースを単にパルスと称し、マーク長またはスペース長をパルス長と称する。
【００２５】
ＲＡＭ７０は、再生パルスデータを格納する。より具体的には、ＲＡＭ７０は、マークエッジ検出部６０で再生されたマークおよびスペースのデータと、マークエッジずれのデータとを格納する。
【００２６】
データ分類弁別部８０は、再生パルスデータを分類または弁別する。より具体的には、データ分類弁別部８０は、ＲＡＭ７０に格納されたマークまたはスペースを、クロック周期を基準単位として特定の項目に関して分類して存在分布を生成する。たとえば、データ分類弁別部８０は、ＲＡＭ７０に格納された複数のマークを、クロック周期を基準単位としてマーク長で分類してマークの存在分布を生成する。また、データ分類弁別部８０は、ＲＡＭ７０に格納された複数のスペースを、クロック周期を基準単位としてスペース長で分類してスペースの存在分布を生成する。
【００２７】
また、データ分類弁別部８０は、ＲＡＭ７０に格納された再生パルスデータを必要に応じてライトストラテジ演算部１１０に伝達する。たとえば、データ分類弁別部８０は、ＲＡＭ７０に格納されたマークエッジずれのデータをライトストラテジ演算部１１０に伝達する。
【００２８】
ジッタ測定部９０は、データ分類弁別部８０で生成された存在分布のジッタまたはデビエーションを測定する。より具体的には、データ分類弁別部８０で分類された各々のマークまたはスペースに関する存在分布のジッタまたはデビエーションを測定する。本実施の形態では、ジッタ測定部９０は、マークまたはスペースの存在分布の標準偏差に基づいてジッタ値を測定する。また、デビエーションは存在分布の平均値に相当するものである。
【００２９】
エンコーダ１００は、入力された記録信号を符号化された所定の信号に変換する。より具体的には、エンコーダ１００は、たとえば、記録信号を８／１６変調で符号化する。
【００３０】
ライトストラテジ演算部１１０は、ライトストラテジを演算する。より具体的には、ライトストラテジ演算部１１０は、ジッタ測定部９０で測定されたジッタまたはデビエーション、データ分類弁別部８０で弁別されたマークエッジずれのデータなどに基づいてライトストラテジを演算する。ライトストラテジ演算部１１０は、光ディスクの特定の記録条件下における記録パルス波形の立ち上がりおよび立ち下がりのタイミングと、記録パルスのレーザ照射パワーとを最適化する。
【００３１】
また、ライトストラテジ演算部１１０は、記録パルスの立ち上がりおよび立ち下がりのタイミングを、たとえば３Ｔ〜１４Ｔ（Ｔはクロックの周期）の範囲において、所定の分解能で自由に設定する機能も有する。したがって、光ディスクフォーマットの特定のパルス長について、記録パルスを自由に調整することができる。
【００３２】
さらに、ライトストラテジ演算部１１０は、デフォルトのライトストラテジを格納するためのＲＯＭと、演算により求められたライトストラテジを一時的に記憶するためのＲＡＭとを有する。ＲＯＭには、光ディスク１の種類に応じたデフォルトのライトストラテジが格納されている。たとえば、ＣＡＶ記録方式の光ディスクに情報を記録する場合、記録速度が光ディスクの内側と外側とで異なる。ライトストラテジ演算部１１０は、記録速度に応じてライトストラテジをどのように変化させるかを規定する情報をＲＯＭに保持しており、記録速度に応じてライトストラテジを適宜変更する。ＲＡＭには、演算により得られた記録パルス波形の立ち上がりおよび立ち下がりのタイミングなどに関する記録制御パラメータが格納される。
【００３３】
記録パルス調整部１２０は、記録パルスを生成するものである。より具体的には、記録パルス調整部１２０は、エンコーダ１１０で符号化された信号とライトストラテジ演算部１１０で規定されたライトストラテジとに基づいて記録パルスを生成する。
【００３４】
レーザ駆動部１３０は、光ピックアップ１０のレーザを駆動するものである。より具体的には、レーザ駆動部１３０は、記録パルス調整部１２０で生成された記録パルスを光ピックアップ１０のレーザダイオードに供給することによりレーザダイオードを駆動する。
【００３５】
以上のとおり、光ディスク装置２００の記録信号処理系では、エンコーダ１１０に入力された記録信号は、符号化されたのち記録パルス調整部１２０に入力される。記録パルス調整部１２０では、ライトストラテジ演算部１１０で規定されたライトストラテジに基づいて記録パルスが生成される。生成された記録パルスは、レーザ駆動部１３０に供給され、照射された記録パルス光により光ディスク１の記録面に情報が記録される。
【００３６】
次に、本実施の形態の光ディスク装置用のジッタ測定方法について説明する。図２は、本実施の形態のライトストラテジ準備処理のフローチャートである。ライトストラテジ準備処理は、一般的なライトストラテジ調整処理の前段階における予備的な処理であり、ライトストラテジ準備処理を実行したのちに一般的なライトストラテジ調整処理が実行される。本実施の形態では、一般的なライトストラテジ調整処理についての説明は省略する。以下で説明するように、ライトストラテジ準備処理では、デフォルトのライトストラテジで記録および再生したのちジッタまたはデビエーションを測定し、必要に応じて分類別ジッタ測定処理を実行する。
【００３７】
図２に示すとおり、まず、ライトストラテジをデフォルトに設定する（ステップＳ１０１）。より具体的には、ライトストラテジ演算部１１０が、ＲＯＭに格納されたデフォルトの記録制御パラメータを光ディスク１の種類に応じて設定する。
【００３８】
次に、光ディスク１にテストデータを記録する（ステップＳ１０２）。より具体的には、ステップＳ１０１で設定された記録制御パラメータを用いたライトストラテジで光ディスク１にテストデータを記録する。
【００３９】
次に、光ディスク１を再生する（ステップＳ１０３）。より具体的には、テストデータが記録された光ディスク１を再生して再生パルス信号を生成する。そして、マークエッジ検出部６０で再生パルス信号に含まれるマークエッジを検出し、マークおよびスペースを再生し、再生パルスデータとしてＲＡＭ７０に格納する。
【００４０】
次に、パルスを分類する（ステップＳ１０４）。より具体的には、たとえばＲＡＭ７０に格納されたマークを、クロック周期を基準単位としてマーク長に関して分類してマークの存在分布を生成する。
【００４１】
次に、ジッタを測定する（ステップＳ１０５）。より具体的には、ステップＳ１０４で生成された存在分布のジッタ値を算出する。以下、図３を参照して、ジッタについてより詳細に説明する。
【００４２】
図３は、ジッタについて説明するための図である。図３において、横軸は再生されたマークのマーク長であり、縦軸はマーク長が出現する頻度である。そして、実線は測定によって得られる存在分布を示す曲線であり、破線は各々のマーク長による存在分布への寄与を示す仮想的な曲線である。
【００４３】
上述したとおり、本実施の形態では、ジッタはマークまたはスペースの存在分布の標準偏差に基づいて得られる。図３に示すとおり、測定によって得られるジッタは、全体として実線で示される波状の曲線となる。一方、破線で示される各々のマークの存在分布は、たとえば３Ｔおよび４Ｔパルスのように、隣接するマークが相互干渉を受けて互いに重なる部分を有しており、この部分に含まれるマークは、記録時にどちらのマークとして記録されたものかを区別することができない。したがって、マーク間で相互干渉が生じている図３のようなジッタは、誤差を含んでいる。以下、図２を再び参照してライトストラテジ準備処理を説明する。
【００４４】
次に、ジッタと所定値との大小関係が判断される（ステップＳ１０６）。ジッタが所定値より小さい場合（ステップＳ１０６：ＹＥＳ）、処理を終了する。
【００４５】
一方、ジッタが所定値以上の場合（ステップＳ１０６：ＮＯ）、分類別ジッタ測定処理（ステップＳ１０７）を実行したのち、処理を終了する。分類別ジッタ測定処理については、以下で説明する。
【００４６】
図４は、本実施の形態の分類別ジッタ測定処理のフローチャートであり、図５はパルス長を調整した後の存在分布を示す図であり、図６はパルス長の調整を説明するための図である。本実施の形態の分類別ジッタ測定処理では、３Ｔ〜８Ｔのパルスを３つのグループに分け、グループごとにジッタまたはデビエーションを測定する。なお、以下では、便宜上３Ｔ〜８Ｔのパルスについてのみ説明するが、９Ｔ以降のパルスについても同様に処理することができる。
【００４７】
図４に示すとおり、まず、３Ｔおよび６Ｔパルスについてジッタまたはデビエーションを測定する（ステップＳ２０１）。隣接するパルス同士の存在分布が干渉しないようにするためには、たとえば、図５に示すように４Ｔ、５Ｔ、７Ｔ、および８Ｔパルスを移動させればよい。すなわち、４Ｔパルス（第１の分類）の存在分布と５Ｔパルス（第２の分類）の存在分布との重なりを増大させる一方で、４Ｔパルス（第１の分類）および５Ｔパルス（第２の分類）の存在分布と３Ｔパルス（第３の分類）の存在分布との重なりを減少させるように記録パルスのパルス長を調整する。
【００４８】
より具体的には、図６に示すとおり、４Ｔパルスを拡張して（４＋２ΔＴ４）Ｔに設定し、５Ｔを縮小して（５−２ΔＴ５）Ｔに設定する。また、７Ｔパルスを拡張して（７＋２ΔＴ７）Ｔに設定し、８Ｔパルスを縮小して（８−２ΔＴ８）Ｔに設定する。ここで、ΔＴ４〜ΔＴ８は、たとえば０．０５〜０．２の範囲に設定されうる。なお、図６ではマークを拡大または縮小する例を示したが、スペースについても同様に拡張または縮小することができる。
【００４９】
このように設定することにより、図５に示すとおり、４Ｔパルスの存在分布と５Ｔパルスの存在分布との重なりが増大する一方で、３Ｔパルスおよび６Ｔパルスの存在分布と他のパルス長の存在分布との重なりが減少する。以上のとおり各パルス長を設定し、３Ｔパルスおよび６Ｔパルスについてジッタまたはデビエーションを測定することにより、異なる長さのパルス同士が互いに干渉することが防止されるので、ジッタおよびデビエーションの誤差が低減する。また、４Ｔパルスおよび５Ｔパルスの存在分布は、依然として３Ｔパルスと６Ｔパルスとの間に存在するので、光ディスク面の熱的な分布特性が移動前と大幅に変化してしまうことが防止される。
【００５０】
次に、４Ｔおよび７Ｔパルスについてジッタまたはデビエーションを測定する（ステップＳ２０２）。３Ｔパルスを縮小して（３−２ΔＴ３）Ｔに設定し、５Ｔパルスを拡張して（５＋２ΔＴ５）Ｔに設定する。また、６Ｔパルスを縮小して（６−２ΔＴ６）Ｔに設定し、８Ｔパルスを拡張して（８＋２ΔＴ８）Ｔに設定する。ここで、ΔＴ３〜ΔＴ８は、たとえば０．０５〜０．２の範囲に設定されうる。このように設定することにより、５Ｔパルスの存在分布と６Ｔパルスの存在分布との重なりが増大する一方で、４Ｔパルスおよび７Ｔパルスの存在分布と他のパルスの存在分布との重なりが減少する。以上のとおり各パルス長を設定し、４Ｔパルスおよび７Ｔパルスについてジッタまたはデビエーションを測定することにより、異なる長さのパルス同士が互いに干渉することが防止されるので、ジッタおよびデビエーションの誤差が低減する。また、５Ｔパルスおよび６Ｔパルスの存在分布は、依然として４Ｔパルスと７Ｔパルスとの間に存在するので、光ディスク面の熱的な分布特性が移動前と大幅に変化してしまうことが防止される。
【００５１】
次に、５Ｔおよび８Ｔパルス長についてジッタまたはデビエーションを測定する（ステップＳ２０３）。４Ｔパルスを縮小して（４−２ΔＴ４）Ｔに設定し、６Ｔパルスを拡張して（６＋２ΔＴ６）Ｔに設定し、７Ｔパルスを縮小して（７−２ΔＴ７）Ｔに設定する。ここで、ΔＴ４〜ΔＴ７は、たとえば０．０５〜０．２の範囲に設定されうる。このように設定することにより、３Ｔパルスの存在分布と４Ｔパルスの存在分布との重なりが増大する一方で、５Ｔパルスおよび８Ｔパルスの存在分布と他のパルス長の分布との重なりが減少する。以上のとおり各マーク長を設定し、５Ｔパルスおよび８Ｔパルスについてジッタまたはデビエーションを測定することにより、異なる長さのパルス同士が互いに干渉することが防止されるので、ジッタおよびデビエーションの誤差が低減する。また、６Ｔパルスおよび７Ｔパルスの存在分布は、依然として５Ｔパルスおよび８Ｔパルスとの間に存在するので、光ディスク面の熱的な分布特性が移動前と大幅に変化してしまうことが防止される。
【００５２】
以上のとおり、本実施の形態では、複数のパルス（マークまたはスペース）のパルス長（分類）をクロック周期長について昇順に並べたとき、ｎを自然数として、ｎ＋１番目およびｎ＋２番目のパルス長（分類）の存在分布の重なりを増大させる一方で、ｎ番目およびｎ＋３番目のパルス長（分類）の存在分布と他のパルス長（分類）の存在分布との重なりを減少させるように、ｎ＋１番目およびｎ＋２番目のパルス長（分類）についての記録パルスを調整する。
【００５３】
なお、以上ではパルスの立ち上がりエッジおよび立ち下がりエッジが同じ調整量（ΔＴ３〜ΔＴ８）だけ拡張または縮小する例を示した。しかしながら、調整量は立ち上がりエッジと立ち下がりとで異なっていてもよい。
【００５４】
以上のとおり、説明した本実施の形態は、以下の効果を奏する。
【００５５】
（ａ）本実施の形態の光ディスク装置および光ディスク装置用のジッタ測定方法によれば、異なる長さのパルス同士が互いに干渉することが防止されるので、干渉によるジッタおよびデビエーションの誤差を低減することができる。
【００５６】
（ｂ）本実施の形態の光ディスク装置および光ディスク装置用のジッタ測定方法によれば、光ディスク面を実際のデータ記録時の熱的な分布特性に近い状態に維持しつつ、干渉によるジッタおよびデビエーションの誤差を低減することができる。
【００５７】
（第２の実施の形態）
第１の実施の形態では、３Ｔ〜８Ｔパルスを３つのグループに分け、グループごとにジッタまたはデビエーションを測定した。本実施の形態では、３Ｔ〜８Ｔパルスを奇数番目および偶数番目のパルス長に分けてジッタまたはデビエーションを測定する。本実施の形態は、パルス長を奇数番目および偶数番目に分けてジッタまたはデビエーションを測定することを除いては第１の実施の形態と同様であるので、他の構成についての説明を省略する。
【００５８】
図７は、本実施の形態の分類別ジッタ測定処理のフローチャートであり、図８（Ａ）は偶数番目のパルス長を調整した後の存在分布を説明するための図であり、図８（Ｂ）は奇数番目パルス長を調整した後の存在分布を説明するための図である。
【００５９】
図７に示すとおり、まず、偶数番目のパルス長の存在分布を奇数番目のパルス長の存在分布に重ねてジッタまたはデビエーションを測定する（ステップＳ３０１）。より具体的には、図８（Ａ）に示すとおり、偶数番目のパルス長をそれぞれ１Ｔ分縮小して奇数番目のパルス長と等しくなるように記録パルスを調整することにより、偶数番目のパルス長（分類）の存在分布を奇数番目のパルス長（分類）の存在分布に重ねる。以上のとおり各パルス長を設定し、奇数番目のパルスの存在分布についてジッタまたはデビエーションを測定することにより、異なる長さのパルス同士が互いに干渉することが防止されるので、ジッタおよびデビエーションの誤差が低減する。
【００６０】
次に、奇数番目のパルス長の存在分布を偶数番目のパルス長の存在分布に重ねてジッタまたはデビエーションを測定する（ステップＳ３０２）。より具体的には、図８（Ｂ）に示すとおり、奇数番目のパルス長をそれぞれ１Ｔ分拡大して偶数番目のパルス長と等しくなるように記録パルスを調整することにより、奇数番目のパルス長（分類）の存在分布を偶数番目のパルス長（分類）の存在分布に重ねる。以上のとおり各パルス長を設定し、偶数番目のパルス長の存在分布についてジッタまたはデビエーションを測定することにより、異なる長さのパルス同士が互いに干渉することが防止されるので、ジッタおよびデビエーションの誤差が低減する。
【００６１】
以上のとおり、説明した本実施の形態は、第１の実施の形態における効果に加えて、以下の効果を奏する。
【００６２】
（ｃ）本実施の形態の光ディスク装置および光ディスク装置用のジッタ測定方法によれば、奇数番目および偶数番目のパルス長に分けてジッタまたはデビエーションを測定するので、ジッタ測定処理にかかる時間を短縮することができる。
【００６３】
（第３の実施の形態）
第２の実施の形態では、奇数番目および偶数番目のパルス長に分けてジッタまたはデビエーションを測定した。本実施の形態では、奇数番目および偶数番目のパルス長のいずれか一方を、光ディスクのフォーマットとして存在しない１Ｔパルスに重ねてジッタまたはデビエーションを測定する。本実施の形態は、奇数番目および偶数番目のパルス長のいずれか一方を、１Ｔパルスに重ねてジッタまたはデビエーションを測定することを除いては第２の実施の形態と同様であるので、他の構成についての説明を省略する。
【００６４】
図９は、本実施の形態の分類別ジッタ測定処理のフローチャートであり、図１０（Ａ）は偶数番目のパルス長を調整した後の存在分布を説明するための図であり、図１０（Ｂ）は奇数番目のパルス長を調整した後の存在分布を説明するための図である。
【００６５】
図９に示すとおり、まず、偶数番目のパルス長の存在分布を１Ｔパルスの存在分布に重ねて奇数番目のパルス長の存在分布のジッタまたはデビエーションを測定する（ステップＳ４０１）。より具体的には、図１０（Ａ）に示すとおり、偶数番目のパルス長をそれぞれ縮小して１Ｔパルスと等しくなるように記録パルスを調整することによって、偶数番目のパルス長（分類）の存在分布を１Ｔパルスの存在分布に重ねる。以上のとおり各マーク長を設定し、奇数番目のパルス長についてジッタまたはデビエーションを測定することにより、異なる長さのパルス同士が互いに干渉することが防止されるので、ジッタおよびデビエーションの誤差が低減する。
【００６６】
次に、奇数番目のパルス長の存在分布を１Ｔパルスの存在分布に重ねて偶数番目のパルス長の存在分布のジッタまたはデビエーションを測定する（ステップＳ４０２）。より具体的には、図１０（Ｂ）に示すとおり、奇数番目のパルス長をそれぞれ縮小して１Ｔパルスと等しくなるように記録パルスを調整することによって、奇数番目のパルス長（分類）の存在分布を１Ｔパルスの存在分布に重ねる。以上のとおり各マーク長を設定し、偶数番目のパルス長についてジッタまたはデビエーションを測定することにより、異なる長さのパルス同士が互いに干渉することが防止されるので、ジッタおよびデビエーションの誤差が低減する。
【００６７】
なお、本実施の形態では、光ディスクのフォーマットの存在しないパルス長として１Ｔを例示したが、１Ｔより小さいパルス長であってもよい。
【００６８】
以上のとおり、説明した本実施の形態は、第１および第２の実施の形態における効果に加えて、以下の効果を奏する。
【００６９】
（ｄ）本実施の形態の光ディスク装置および光ディスク装置用のジッタ測定方法によれば、奇数番目および偶数番目のパルス長のいずれか一方を、光ディスクのフォーマットとして存在しない１Ｔパルスに重ねるので、異なる長さのパルス同士の干渉を確実に防止することができる。
【００７０】
（第４の実施の形態）
第１〜第３の実施の形態では、パルスに関する存在分布をパルス長で分類してパルス長を調整した。パルス長は、マークエッジ間の長さであるので、パルス長を調整することはマークエッジ位置を調整することに置き換えられる。本実施の形態では、マークエッジ位置に関する存在分布をマーク長とスペース長とで分類し、マークエッジ位置を調整してジッタまたはデビエーションを測定する。本実施の形態は、上記の構成上の違いを除いては第１〜第３の実施の形態と同様であるので、他の構成についての説明を省略する。
【００７１】
図１１は、マークエッジ位置の変化によるパルス同士の干渉を説明するための図である。図１１（Ａ）は、測定対象パルスを示す図であり、図１１（Ａ）〜図１１（Ｅ）は他のパルスのマーク長またはスペース長が変化して測定対象パルスと干渉が生じることを説明するための図である。
【００７２】
図１１（Ａ）おいて、マークエッジのうちの対象となるトレーリングエッジ（立ち下がりエッジ）の前後のマーク長およびスペースの長さは、それぞれｍＴおよびｎＴであり、図１１（Ｂ）において、他のパルスのマーク長およびスペースの長さは、それぞれ（ｍ＋１）ＴおよびｎＴである。ここで、破線で示すように何らかの理由でトレーリングエッジのマーク長が短くなり、マーク長がｍＴに近づく場合、図１１（Ｂ）に示すパルス波形は、図１１（Ａ）に示すパルス波形に近づくことになるのでパルス同士の干渉が生じる。
【００７３】
また、図１１（Ｃ）において、他のパルスのマーク長およびスペースの長さは、それぞれ（ｍ−１）ＴおよびｎＴである。ここで、破線で示すように何らかの理由でトレーリングエッジのマーク長が長くなりマーク長がｍＴに近づく場合、図１１（Ｃ）に示すパルス波形は、図１１（Ａ）に示すパルス波形に近づくことになるのでパルス同士の干渉が生じる。
【００７４】
また、図１１（Ｄ）において、他のパルスのマーク長およびスペースの長さは、それぞれｍＴおよび（ｎ＋１）Ｔである。ここで、破線で示すように何らかの理由でトレーリングエッジのスペース長が短くなりスペース長がｎＴに近づく場合、図１１（Ｄ）に示すパルス波形は、図１１（Ａ）のパルス波形に近づくことになるのでパルス同士の干渉が生じる。
【００７５】
さらに、図１１（Ｅ）において、他のパルスのマーク長およびスペースの長さは、それぞれｍＴおよび（ｎ−１）Ｔである。ここで、破線で示すように何らかの理由でトレーリングエッジのスペース長が長くなりスペース長がｎＴに近づく場合、図１１（Ｅ）に示すパルス波形は、図１１（Ａ）のパルス波形に近づくことになるのでパルス同士の干渉が生じる。
【００７６】
したがって、他のパルスが図１１（Ａ）に示すパルスと干渉を起こさないようにするためには、他のパルスのマーク長またはスペース長が変化しても、少なくとも図１１（Ｂ）〜図１１（Ｅ）の実線のパルス波形を維持する必要がある。
【００７７】
そこで、マーク長またはスペース長が最大で１Ｔ変化すると仮定すると、測定対象パルスと干渉する変化方向に対し、他のパルスのマークエッジ位置を反対方向に少なくとも１Ｔだけ予め調整しておくことにより、パルス同士の干渉を防止することができる。
【００７８】
すなわち、図１１（Ｂ）に示すパルスの場合、リーディングエッジ（立ち上がりエッジ）を早くしてマーク長を（ｍ＋２）Ｔ以上とすれば、図１１（Ａ）に示すパルスとの干渉を防止することができる。また、図１１（Ｃ）に示すパルスの場合、リーディングエッジを遅くしてマーク長を（ｍ−２）Ｔ以下とすれば、図１１（Ａ）に示すパルスとの干渉を防止することができる。同様に、図１１（Ｄ）に示すパルスの場合、後続のパルスのリーディングエッジを遅くしてスペース長を（ｎ＋２）Ｔ以上とすれば、図１１（Ａ）に示すパルスとの干渉を防止することができる。さらに、図１１（Ｅ）に示すパルスの場合、次のパルスのリーディングエッジを早くしてスペース長を（ｎ−２）Ｔ以下とすれば、図１１（Ａ）に示すパルスとの干渉を防止することができる。
【００７９】
図１２は、本実施の形態における分類別ジッタ測定処理を説明するための図である。図１２に示すとおり、マトリクスの各列にはパルスのマーク長がとられており、各行にはスペース長がとられている。また、特定のマーク長の列と特定のスペース長の行とが交わるマス目には、このマーク長およびスペース長の組み合わせでのリーディングエッジの移動方向が「＋」または「−」で示されている。「＋」は、リーディングエッジを右方向（時間的に遅い方向）に移動させることを示し、「−」はリーディングエッジを左方向（時間的に早い方向）に移動させることを示す。たとえば、マーク長が（ｍ＋１）Ｔでスペース長が（ｎ−１）Ｔの場合、後続のパルスのリーディングエッジを左方向（時間的に早める方向）に移動させる。なお、移動方向が空欄のマーク長とスペース長との組み合わせは、リーディングエッジを移動する必要がないことを示す。
【００８０】
以上のとおり、本実施の形態では、測定対象パルスと干渉する虞があるパルスのマークエッジ位置（第１の分類）の存在分布と、測定対象外パルスのマークエッジ位置（第２の分類）の存在分布との重なりを増大させる。その一方で、上記第１および第２の分類の存在分布と測定対象パルスのマークエッジ位置（第３の分類）の存在分布との重なりを減少させるように、上記第１の分類についてのマークエッジ位置を調整する。具体的には、マークエッジ位置に関する存在分布をマーク長とスペース長とで分類して、測定対象パルスと干渉する変化方向に対して反対方向にマークエッジ位置を調整する。
【００８１】
以上、説明した本実施の形態は、第１〜第３の実施の形態における効果に加えて、以下の効果を奏する。
【００８２】
（ｅ）本実施の形態の光ディスク装置および光ディスク装置用のジッタ測定方法によれば、マークエッジ位置を調整することにより、測定対象パルスと他のパルスとが干渉することが防止されるので、干渉によるジッタおよびデビエーションの誤差を低減することができる。
【００８３】
以上のとおり、第１〜第４の実施の形態において、本発明の光ディスク装置および光ディスク装置用のジッタ測定方法を説明した。しかしながら、本発明は、その技術思想の範囲内において当業者が適宜に追加、変形、および省略することができることはいうまでもない。
【００８４】
たとえば、第１〜第３の実施の形態では、３Ｔ〜８Ｔパルスを２つまたは３つのグループに分けて、グループごとにジッタまたはデビエーションを測定した。しかしながら、グループ数およびグループの分け方は上述の場合に限定されない。
【００８５】
また、第１〜第３の実施の形態では、２つまたは３つのグループすべてについて順にジッタまたはデビエーションを測定した。しかしながら、必ずしもすべてのグループについて測定する必要はなく、いずれかのグループの測定を省略することも可能である。また、各グループについて測定する順番は上述の場合に限定されない。
【符号の説明】
【００８６】
１  光ディスク、
１０  光ピックアップ、
２０  スピンドルモータ、
３０  ヘッドアンプ、
４０  二値化回路、
５０  デコーダ、
６０  マークエッジ検出部、
７０  ＲＡＭ、
８０  データ分類弁別部、
９０  ジッタ測定部、
１００  エンコーダ、
１１０  ライトストラテジ演算部、
１２０  記録パルス調整部、
１３０  レーザ駆動部、
１４０  制御部、
２００  光ディスク装置。
【図１】
2012053967.tif 000003
【図２】
2012053967.tif 000004
【図３】
2012053967.tif 000005
【図４】
2012053967.tif 000006
【図５】
2012053967.tif 000007
【図６】
2012053967.tif 000008
【図７】
2012053967.tif 000009
【図８】
2012053967.tif 000010
【図９】
2012053967.tif 000011
【図１０】
2012053967.tif 000012
【図１１】
2012053967.tif 000013
【図１２】
2012053967.tif 000014