(57)【要約】【課題】接続されている個々の部品のバラツキ（初期値、温度変動等）に影響することなく、抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる抵抗値自動測定回路、これを搭載した記録媒体処理装置及びこれを用いた抵抗値自動測定方法を提供する。【解決手段】抵抗値自動測定回路は、記録媒体に対して異なる電流値で印字・消去・記録・再生等を行う抵抗体Ｒ２と、抵抗体Ｒ２の比較基準となる基準抵抗Ｒ３と、がスイッチング手段２に対して並列に接続され、制御手段３は、抵抗体Ｒ２を通電状態にし基準抵抗Ｒ３を不通電状態にしたときに抵抗体Ｒ２に印加される第１電位Ｖａと、抵抗体Ｒ２を不通電状態にし基準抵抗Ｒ３を通電状態にしたときに基準抵抗Ｒ３に印加される第２電位Ｖｂと、を計測し、第１電位Ｖａと第２電位Ｖｂとの電位差を基に抵抗Ｒ２の抵抗値を測定する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体に対して異なる電流値で印字・消去・記録・再生等を行う抵抗体と、前記抵抗体の比較基準となる基準抵抗と、が並列に接続され、
前記抵抗体を通電状態にし前記基準抵抗を不通電状態にする又は前記抵抗体を不通電状態にし前記基準抵抗を通電状態にするためのスイッチング手段と、
前記スイッチング手段を制御して前記抵抗体に印加される第１電位と前記基準抵抗に印加される第２電位とを計測し、前記第１電位と前記第２電位との電位差を基に前記抵抗体の抵抗値を測定する制御手段と、
を少なくとも備えることを特徴とする抵抗値自動測定回路。
【請求項２】
前記制御手段は、前記電位差と前記抵抗体の抵抗値との関係を示すデータテーブルを有することを特徴とする請求項１記載の抵抗値自動測定回路。
【請求項３】
前記第１電位又は前記第２電位の計測分解能を向上する増幅回路及び／又は差分回路を備えることを特徴とする請求項１又は２記載の抵抗値自動測定回路。
【請求項４】
前記スイッチング手段は、前記抵抗体を通電／不通電状態にする第１スイッチ部と、前記基準抵抗を通電／不通電状態にする第２スイッチ部と、で構成され、
互いに並列関係にある前記第１スイッチ部を含む第１回路と前記第２スイッチ部を含む第２回路には、特性の近似する部品がそれぞれ接続されていることを特徴とする請求項１から３のいずれか記載の抵抗値自動測定回路。
【請求項５】
請求項１から４のいずれか記載の抵抗値自動測定回路を搭載した記録媒体処理装置。
【請求項６】
少なくとも、記録媒体に対して異なる電流値で印字・消去・記録・再生等を行う抵抗体と、前記抵抗体の比較基準となる基準抵抗と、がスイッチング手段に対して並列に接続された抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法であって、
前記スイッチング手段により前記抵抗体を通電状態にし前記基準抵抗を不通電状態にして、前記抵抗体に印加される第１電位を計測する第１計測ステップと、
前記スイッチング手段により前記抵抗体を不通電状態にし前記基準抵抗を通電状態にして、前記基準抵抗に印加される第２電位を計測する第２計測ステップと、
前記第１計測ステップで計測された前記第１電位と前記第２計測ステップで計測された前記第２電位との差分から、前記抵抗体の抵抗値を測定する第３ステップと、
を有することを特徴とする抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法。
【請求項７】
前記基準抵抗として、所定の抵抗公差を有する金属皮膜抵抗を使用することを特徴とする請求項６記載の抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法。
【請求項８】
前記抵抗体の交換時や、前記抵抗値自動測定回路を搭載した記録媒体処理装置の初期立ち上げ時又は起動時に、抵抗体の抵抗値を測定することを特徴とする請求項６又は７記載の抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録媒体に対して異なる電流値で印字・消去・記録・再生等を行う抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる抵抗値自動測定回路、これを搭載した記録媒体処理装置及びこれを用いた抵抗値自動測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
カード等の記録媒体に印字を行う印字ヘッド、印字内容を消去する消去ヘッド、磁気情報を書き込む記録ヘッド等の抵抗体は、その抵抗体に流す電流によって印字濃度や消去濃度及び記録電流等が変化することから、印字濃度や消去濃度及び記録電流等の特性を均一にして一定の品質を保つためには、その抵抗体に流れる電流値を個々に微調整する必要がある。
【０００３】
そのため、抵抗体の抵抗値を測定することは極めて重要であって、特に印字ヘッドでは、印字ヘッドに流す電流による印字濃度への影響が顕著にでるため、被抵抗値測定体側の抵抗値出力機能を利用して抵抗値を検出したり、予め表示されている抵抗値を目視で読み取ることで、抵抗値を知り得ていた。
【０００４】
一方で、抵抗体の抵抗値は温度特性等によって変化することから、抵抗値を測定可能な抵抗検出回路を印字装置に実装して、抵抗値を測定する技術が知られている（例えば、特許文献１参照）。すなわち、抵抗体であるヘッドの抵抗値を印字装置に組込んだ状態で測定可能な回路を設け、印字動作に至らない微小電流をヘッドに通電し、ヘッド抵抗による電圧降下分を読み取ることで、ヘッドの抵抗値を測定している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開平２−２１５５５１号公報（第２頁左上欄）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、被抵抗値測定体側に抵抗値出力機能がない場合は、抵抗値を検出することができない。一般的に、印字ヘッドには抵抗値出力機能が備わっていることが多いが、消去ヘッドや記録ヘッド等の他の部品では抵抗値出力機能が備わっていないことが殆どである。
【０００７】
また、予め表示されている抵抗値を目視で読み取ることは、自動測定ができず、温度特性等のバラツキを考慮することができないばかりか、読み取った抵抗値を不揮発性メモリに記憶させたり、ディップスイッチやロータリスイッチの切替えなどを行ったりする必要があるため、組立性が悪く組立コストの増加になる。
【０００８】
さらに、特許文献１の技術では、単純にヘッド抵抗による電圧降下分だけを読み取ってヘッドの抵抗値を測定していることから、電源電圧、固定抵抗、スイッチングトランジスタの抵抗等といった部品の個々のバラツキ（初期値、温度変動等）の影響を大きく受けることになり、正確な抵抗値の測定ができない。すなわち、測定精度を上げるためには、全ての部品の精度をアップする必要があるが、個々の部品が高価となりコストの増加になる。
【０００９】
本発明は、このような点に鑑みてなされたものであり、その目的は、接続されている個々の部品のバラツキ（初期値、温度変動等）に影響することなく、抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる抵抗値自動測定回路、これを搭載した記録媒体処理装置及びこれを用いた抵抗値自動測定方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
以上のような課題を解決するために、本発明は、以下のものを提供する。
【００１１】
（１）  記録媒体に対して異なる電流値で印字・消去・記録・再生等を行う抵抗体と、前記抵抗体の比較基準となる基準抵抗と、が並列に接続され、前記抵抗体を通電状態にし前記基準抵抗を不通電状態にする又は前記抵抗体を不通電状態にし前記基準抵抗を通電状態にするためのスイッチング手段と、前記スイッチング手段を制御して前記抵抗体に印加される第１電位と前記基準抵抗に印加される第２電位とを計測し、前記第１電位と前記第２電位との電位差を基に前記抵抗体の抵抗値を測定する制御手段と、を少なくとも備えることを特徴とする抵抗値自動測定回路。
【００１２】
本発明によれば、抵抗体と基準抵抗とがスイッチング手段に対して並列に接続された抵抗値自動測定回路において、スイッチング手段を制御して計測される第１電位及び第２電位と基準抵抗の抵抗値とが分かれば、第１電位と第２電位の差分及び基準抵抗の抵抗値を基に抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる。
【００１３】
すなわち、抵抗体を含む回路と基準抵抗を含む回路とが並列に構成されており、このような簡易な回路構成によって抵抗体や基準抵抗以外の部品による影響を抑制することが可能となり、抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる。
【００１４】
（２）  前記制御手段は、前記電位差と前記抵抗体の抵抗値との関係を示すデータテーブルを有することを特徴とする抵抗値自動測定回路。
【００１５】
本発明によれば、制御手段は、第１電位と第２電位との電位差と抵抗体の抵抗値との関係を示すデータテーブルを予め有していることから、第１電位と第２電位との電位差を算出するという簡易な計算のみを制御手段が行い、抵抗値の測定はデータテーブルを参照することで、計算式に基づいて抵抗値を算出する方法に比べて、制御手段の負荷を少なくしてより高速に抵抗値を測定することができる。
【００１６】
（３）  前記第１電位又は前記第２電位の計測分解能を向上する増幅回路及び／又は差分回路を備えることを特徴とする抵抗値自動測定回路。
【００１７】
本発明によれば、第１電位及び第２電位を計測する制御手段の前に増幅回路及び／又は差分回路を備えることにより、制御手段の性能限界の影響を受けることなく、第１電位及び第２電位を精度よく計測することができる。
【００１８】
すなわち、第１電位及び第２電位を制御手段のアナログ入力ポートに入力してデジタル計測する場合、制御手段のＡ／Ｄ変換の分解性能によっては、第１電位及び第２電位を計測する時点で非常に大きな誤差を生じかねないが、増幅回路と差分回路によって制御手段のＡ／Ｄ変換の分解性能を相対的に上げることで、第１電位及び第２電位を精度よく計測することができる。
【００１９】
（４）  前記スイッチング手段は、前記抵抗体を通電／不通電状態にする第１スイッチ部と、前記基準抵抗を通電／不通電状態にする第２スイッチ部と、で構成され、互いに並列関係にある前記第１スイッチ部を含む第１回路と前記第２スイッチ部を含む第２回路には、特性の近似する部品がそれぞれ接続されていることを特徴とする抵抗値自動測定回路。
【００２０】
本発明によれば、互いに並列関係にある第１回路と第２回路には、温度特性など特性の近似する部品がそれぞれ接続されていることから、基準抵抗と比較して抵抗体の抵抗値を求める際には、第１回路と第２回路を構成する各部品の個体差による影響を大きく受けることがないので、抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる。
【００２１】
（５）  上記（１）から（４）の抵抗値自動測定回路を搭載した記録媒体処理装置。
【００２２】
本発明によれば、記録媒体処理装置は、抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる抵抗値自動測定回路を搭載していることから、記録媒体に対して印字・消去・記録・再生等を行う抵抗体に最適な電流を流すことができる。
【００２３】
（６）  少なくとも、記録媒体に対して異なる電流値で印字・消去・記録・再生等を行う抵抗体と、前記抵抗体の比較基準となる基準抵抗と、がスイッチング手段に対して並列に接続された抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法であって、前記スイッチング手段により前記抵抗体を通電状態にし前記基準抵抗を不通電状態にして、前記抵抗体に印加される第１電位を計測する第１計測ステップと、前記スイッチング手段により前記抵抗体を不通電状態にし前記基準抵抗を通電状態にして、前記基準抵抗に印加される第２電位を計測する第２計測ステップと、前記第１計測ステップで計測された前記第１電位と前記第２計測ステップで計測された前記第２電位との差分から、前記抵抗体の抵抗値を測定する第３ステップと、を有することを特徴とする抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法。
【００２４】
本発明によれば、抵抗体と基準抵抗とがスイッチング手段に対して並列に接続された抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法において、スイッチング手段を制御して計測される第１電位及び第２電位と基準抵抗の抵抗値とが分かれば、第１電位と第２電位の差分及び基準抵抗の抵抗値を基に抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる。
【００２５】
（７）  前記基準抵抗として、所定の抵抗公差を有する金属皮膜抵抗を使用することを特徴とする抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法。
【００２６】
本発明によれば、第１電位及び第２電位と基準抵抗の抵抗値とから抵抗体の抵抗値を測定するにあたって、抵抗交差が低く温度特性の良い金属皮膜抵抗を基準抵抗として使用することから、抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができる。
【００２７】
また、抵抗体の抵抗値の測定精度に大きな影響を及ぼす基準抵抗に金属皮膜抵抗を使用し、基準抵抗以外は一般的な特性の部品を使用することによって、全体的な部品コストを抑えた上で、高精度の抵抗値測定をすることができる。
【００２８】
（８）  前記抵抗体の交換時や、前記抵抗値自動測定回路を搭載した記録媒体処理装置の初期立ち上げ時又は起動時に、抵抗体の抵抗値を測定することを特徴とする抵抗値自動測定回路を用いた抵抗値自動測定方法。
【００２９】
本発明によれば、修理や性能改善等の目的で抵抗体を交換したときや、経時・経年、使用頻度・使用条件等での抵抗値変化を監視する目的で抵抗値自動測定回路を搭載した記録媒体処理装置を立ち上げるとき又は起動したときに、抵抗体の抵抗値を測定することから、記録媒体に対して印字・消去・記録・再生等を行う抵抗体に常に最適な電流を流すことができる。
【発明の効果】
【００３０】
本発明に係る抵抗値自動測定回路、これを搭載した記録媒体処理装置及びこれを用いた抵抗値自動測定方法は、簡易な回路構成によって抵抗体の抵抗値を精度よく測定することができ、記録媒体に対して印字・消去・記録・再生等を行う抵抗体に常に最適な電流を流すことができる。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本発明の実施の形態に係る記録媒体処理装置の回路ブロック図である。
【図２】第１電位と第２電位との電位差を基に抵抗体の抵抗値を測定するためのデータテーブルの一例である。
【図３】本発明の実施の形態に係る抵抗値自動測定方法を説明するためのフロー図である。
【発明を実施するための形態】
【００３２】
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら説明する。
【００３３】
図１は、本発明の実施の形態に係る記録媒体処理装置１の回路ブロック図である。
【００３４】
図１において、記録媒体処理装置１は、ヘッドの抵抗体Ｒ２と、ヘッドの抵抗体Ｒ２の抵抗値を測定するための比較基準となる基準抵抗Ｒ３と、がスイッチング手段２を介して並列に接続されている。スイッチング手段２のスイッチング制御はＣＰＵ等の制御手段３によって行われ、また、制御手段３に入力される電位の計測分解能を向上するための回路４がスイッチング手段２と制御手段３との間に直列に接続されている。
【００３５】
なお、ヘッドの抵抗体Ｒ２の本来の機能（印字・消去・記録・再生等）を実行するには、制御手段３からのＰＷＭ制御によって駆動回路５を駆動して、抵抗体Ｒ２に所定の電流を流す。また、制御手段３が駆動回路５を駆動させる手段は、電圧制御や電流制御であってもよい。
【００３６】
このように、本発明の実施の形態に係る記録媒体処理装置１においては、制御手段３によって制御されるスイッチング手段２を介して並列に接続された抵抗体Ｒ２を含む第１回路と基準抵抗Ｒ３を含む第２回路とで抵抗体Ｒ２の抵抗値を測定する抵抗値自動測定回路が主として構成され、抵抗体Ｒ２の抵抗値を測定するための直流定電圧源Ｖｃ、固定抵抗Ｒ１、抵抗体Ｒ２からの逆流を防止するダイオードＤ１Ｒ、基準抵抗Ｒ３からの逆流を防止するダイオードＤ１Ｌ等の諸部品を抵抗値自動測定回路は有しており、直流定電圧源Ｖｃの電圧から固定抵抗Ｒ１の電圧降下分を引いた第１スイッチＱ１の前段の電位Ｖａと、直流定電圧源Ｖｃの電圧から固定抵抗Ｒ１の電圧降下分を引いた第２スイッチＱ２の前段の電位Ｖｂと、を回路４を介して制御手段３に入力して計測し、第１電位Ｖａと第２電位Ｖｂとの電位差と基準抵抗の抵抗値を基に抵抗体の抵抗値Ｒ２を測定する。
【００３７】
ここで、スイッチング手段２は、抵抗体Ｒ２を通電／不通電状態にする第１スイッチ部Ｑ１と、基準抵抗Ｒ３を通電／不通電状態にする第２スイッチ部Ｑ２と、で構成されており、制御手段３からのＯＮ信号の入力によって第１スイッチ部Ｑ１又は第２スイッチ部Ｑ２が駆動する。第１スイッチ部Ｑ１と第２スイッチ部Ｑ２の態様は、トランジスタやリレー等が挙げられる。
【００３８】
また、第１スイッチ部Ｑ１を介して接続されているダイオードＤ１Ｒ、抵抗体Ｒ２を含む第１回路と、第２スイッチ部Ｑ２を介して接続されているダイオードＤ１Ｌ、基準抵抗Ｒ３を含む第２回路とは、Ｑ１≒Ｑ２（Ｑ１とＱ２のＯＮ抵抗の近似）、Ｄ１Ｒ≒Ｄ１Ｌ（Ｄ１ＲとＤ１Ｌの順方向電圧の近似）、Ｒ２≒Ｒ３（Ｒ２とＲ３の抵抗値の近似）というように、互いに特性の近似する部品を使用することが好ましい。なお、Ｑ１とＱ２のセット部品、Ｄ１ＲとＤ１Ｌのセット部品というように、特性の近似する複数個のトランジスタやダイオードが入ったユニットを使用することも可能である。
【００３９】
また、直流定電圧源Ｖｃ、固定抵抗Ｒ１、スイッチ部Ｑ１，Ｑ２、ダイオードＤ１Ｒ，Ｄ１Ｌは、一般的な公差性能の部品でよく、基準抵抗Ｒ３のみは、抵抗公差が低く温度特性の良い金属皮膜抵抗を使用する。
【００４０】
また、回路４は、電位の測定分解能を上げるために非反転アンプを用いたり、測定分解能を非反転アンプよりも更に上げるために前列に差分器を後列に非反転アンプを接続して、差分器で電位Ｖａ及びＶｂを一律に下げてから非反転アンプで増幅することができるものである。これは、第１電位Ｖａと第２電位Ｖｂの変化量を大きくして測定分解能を上げるためのものであり、デジタル制御している制御手段３の性能に応じて簡易的に適宜組み込むことができる。例えば、制御手段３としてのＣＰＵの電源（デジタル、アナログ用電源共）が３．３Ｖ、ＣＰＵのＡ／Ｄ変換が１０２４段階（＝２１０）の場合は、３．３／１０２４＝０．００３２Ｖ単位での電圧測定しかできないことから、回路４を組み込むことによって、より細かい単位での電圧測定が可能となる。
【００４１】
なお、回路４とは別に、直流定電圧源Ｖｃの電圧を上げることで、第１電位Ｖａと第２電位Ｖｂを上げることも可能である。この場合は、回路上の部品に印加される電圧や電流が増加することから、使用部品の耐定格値が高いものを使用することが必要となり、部品の実装面積やパターン幅、部品コストが増加することもある。従って、一般的には、直流定電圧源Ｖｃの電圧を上げることよりも、回路４を設けて測定の分解能を上げる方が好ましい。
【００４２】
図２は、第１電位Ｖａと第２電位Ｖｂとの電位差を基に抵抗体Ｒ２の抵抗値を測定するためのデータテーブルの一例である。
【００４３】
本発明の実施の形態に係る記録媒体処理装置１においては、制御手段３のメモリ部に図２に示すようなデータテーブルが記憶されており、制御手段３に入力される第１電位Ｖａと第２電位Ｖｂ（実際には、Ｖａ及びＶｂは回路４で増幅される）との差分を算出してデータテーブルと比較することにより、抵抗体Ｒ２の抵抗値を測定することができる。
【００４４】
図３は、本発明の実施の形態に係る抵抗値自動測定方法を説明するためのフロー図である。
【００４５】
本発明の実施の形態に係る抵抗値自動測定方法は、抵抗体Ｒ２の交換時や、記録媒体処理装置の初期立ち上げ時又は起動時に、制御手段３の自動認識又はオペレータによる操作を契機として実行される。
【００４６】
直流定電圧源ＶｃがＯＮ状態にあるときに、まず、制御手段３は、第１スイッチ部Ｑ１をＨ（Ｈｉｇｈ）、第２スイッチ部Ｑ２をＬ（Ｌｏｗ）にセットすることで、第１スイッチ部Ｑ１をＯＮ、第２スイッチ部Ｑ２をＯＦＦにして、抵抗体Ｒ２を通電状態にする（ステップＳ１）。この状態で、制御手段３に第１電位Ｖａ（回路４で増幅された第１電位）が入力されて、第１電位Ｖａを計測する（ステップＳ２）。
【００４７】
次いで、制御手段３は、第１スイッチ部Ｑ１をＬ（Ｌｏｗ）、第２スイッチ部Ｑ２をＨ（Ｈｉｇｈ）にセットすることで、第１スイッチ部Ｑ１をＯＦＦ、第２スイッチ部Ｑ２をＯＮにして、基準抵抗Ｒ３を通電状態にする（ステップＳ３）。この状態で、制御手段３に第２電位Ｖｂ（回路４で増幅された第２電位）が入力されて、第２電位Ｖｂを計測する（ステップＳ４）。
【００４８】
次いで、制御手段３は、計測した第１電位Ｖａと第２電位Ｖｂとの差分を算出した後（ステップＳ５）、データテーブルを参照して（ステップＳ６）、抵抗体Ｒ２の抵抗値を決定し（ステップＳ７）、本サブルーチンを終了する。
【比較例】
【００４９】
図１に示す回路ブロック図において、第１電位Ｖａのみから抵抗体Ｒ２の抵抗値を求めると、次式に示す関係式となる。
【００５０】
【数１】
2012210737.tif 000003
【００５１】
また、図１に示す回路ブロック図において、第１電位Ｖａ及び第２電位Ｖｂから抵抗体Ｒ２の抵抗値を求めると、次式に示す関係式となる。
【００５２】
【数２】
2012210737.tif 000004
【００５３】
両式を比較すると、第１電位Ｖａのみから抵抗体Ｒ２の抵抗値を求める方式（例えば、前述した特許文献１の記載）では、Ｒ２は、Ｒ１、Ｒｏｎ、Ｖｃ、Ｖｆに影響することから、ＶａのみからＲ２を算出すると誤差が大きくなる。一方で、第１電位Ｖａ及び第２電位Ｖｂから抵抗体Ｒ２の抵抗値を求める方式（本願発明）では、Ｖｆに影響せず、Ｖａ−Ｖｂは非常に小さくＶｃ−Ｖａは大きいため、（Ｖａ−Ｖｂ）／（Ｖｃ−Ｖａ）≒０と近似でき、Ｒ１とＲｏｎにも影響しないことから、結果的に、Ｒ２は、Ｒ３、Ｖａ、Ｖｂ、Ｖｃに影響することとなる。さらに、Ｖｃに比べてＶａとＶｂは小さいことから、（Ｖｃ−Ｖｂ）／（Ｖｃ−Ｖａ）≒１と近似でき、結果的に、Ｒ２は、Ｒ３、Ｖａ、Ｖｂ、に影響することとなる。
【００５４】
従って、Ｒ３として、抵抗公差が低く温度特性の良い金属皮膜抵抗を使用し、Ｖａ及びＶｂを精度よく測定することで、従来よりも高精度でＲ２を算出することができる。例えば、Ｒ３の抵抗公差の仕様としては、±１％、±０．５％等が好適である。
【００５５】
［本実施の形態の主な効果］
本発明は、抵抗体Ｒ２の抵抗値は、比較抵抗Ｒ３、第１電位Ｖａ、第２電位Ｖｂに大きく影響し、他の部品の影響は少ないことから、比較抵抗Ｒ３を高性能の部品として、Ｖａ及びＶｂを精度よく測定することで、高精度で抵抗体Ｒ２の抵抗値を算出することができる。従って、抵抗体Ｒ２の抵抗値を手動で測定して記録媒体処理装置に手動で設定する等の必要がなく、組立性が良く組立費用の削減となる。
【００５６】
また、比較抵抗Ｒ３として、±１％程度の抵抗公差の金属皮膜抵抗を使用したり、増幅回路や増幅回路及び差分回路を用いることで、比較抵抗Ｒ３、第１電位Ｖａ、第２電位Ｖｂの計測精度を高めることで、高精度で抵抗体Ｒ２の抵抗値を算出することができる。
【符号の説明】
【００５７】
１    記録媒体処理装置
２    スイッチング手段
３    制御手段
４    回路（非反転アンプ、差分器）
５    駆動回路
Ｒ２  抵抗体
Ｒ３  基準抵抗
【図１】
2012210737.tif 000005
【図２】
2012210737.tif 000006
【図３】
2012210737.tif 000007