(57)【要約】【課題】従来の誤差信号のオフセット調整は、誤差信号の振幅中心を計測する必要があるため、記録再生動作中にオフセット調整の必要が発生した場合、一旦動作を中断する必要があった。【解決手段】装置の状態が遷移する際の切り替え信号付近の誤差信号の変化を計測することによって、装置のサーボ制御を中断せずに誤差信号のオフセット調整を行う。【選択図】図１
2012064267.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに対してデータを再生する光ディスク装置であって、
光ディスクに対しレーザー光を発光する発光部と、
前記レーザー光を光ディスク上に集光して焦点を生じさせるための対物レンズと、
前記対物レンズを含む可動部と、
前記可動部を駆動して前記対物レンズを焦点方向又は光ディスクのトラックを横断する方向へ駆動するためのサーボ駆動信号を生成するサーボ駆動信号生成部と、
前記光ディスクから反射されたレーザー光を受光する受光部と、
前記受光部により受光したレーザー光から前記焦点のずれ量を示すサーボ誤差信号を生成するサーボ誤差信号生成部と、
前記発光部から発光されるレーザー光の発光強度を制御する発光強度制御部と、
前記サーボ誤差信号のオフセット成分を計測するオフセット計測部とを有し、
前記発光強度制御部は、前記光ディスクを再生する際に前記発光部から発光されるレーザー光の発光強度として、少なくとも第１の再生パワーと、前記第１の再生パワーとは異なる第２の再生パワーとを制御し、
前記オフセット計測部は、前記光ディスクを再生する際に、前記発光強度制御部が前記発光部から発光されるレーザー光の発光強度を第１の再生パワーから第２の再生パワーに状態変化させる前後の前記サーボ誤差信号を検知することで、当該状態変化後における前記サーボ誤差信号のオフセット成分を計測することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
当該光ディスク装置は、少なくとも第１の層と前記第１の層とは異なる第２の層を含む複数層を備えた光ディスクに対し、各層の記録データを再生可能であり、
前記第１の再生パワーから前記第２の再生パワーに状態変化する際の、前記第１の再生パワーは前記第１の層の再生に適した発光強度であり、前記第２の再生パワーは前記第２の層の再生に適した発光強度であることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
当該光ディスク装置は、少なくとも第１の倍速と、前記第１の倍速とは異なる第２の倍速で光ディスクの記録データを再生可能であり、
前記第１の再生パワーから前記第２の再生パワーに状態変化する際の、前記第１の再生パワーは前記第１の倍速での再生に適した発光強度であり、前記第２の再生パワーは前記第２の倍速での再生に適した発光強度であることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記トラッキング駆動信号生成部は、第１の再生パワーから第２の再生パワーに状態変化した後前記オフセット計測部が前記サーボ誤差信号のオフセット成分を計測している間、前記駆動信号の値を固定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記受光部によって受光されたレーザー光から光ディスク上の欠陥または汚れを検出する欠陥検出部を有し、
前記オフセット計測部が前記サーボ誤差信号のオフセット成分を計測している間に、前記欠陥検出部により欠陥検出されなかった場合、に前記オフセット計測部により計測された当該状態変化後における前記サーボ誤差信号のオフセット成分に関連した補正量を前記サーボ誤差信号または前記サーボ駆動信号に対して印加することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
請求項５に記載の光ディスク装置であって、
前記欠陥検出部により光ディスク上の欠陥が検出された場合、装置の状態を当該状態変化前の状態に戻し、再度当該状態変化をさせ、前記オフセット計測部により前記サーボ誤差信号のオフセット成分を計測することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記オフセット計測部の計測結果を記憶する記憶手段を有し、
前記記憶手段に記憶された複数の計測結果に基づいて、当該状態変化後における前記サーボ誤差信号のオフセット成分に関連した補正量を設定し、前記サーボ誤差信号または前記サーボ駆動信号に対して当該補正量を加算または減算することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
光ディスクに対してデータを記録または再生する光ディスク装置であって、
光ディスクに対しレーザー光を発光する発光部と、
前記レーザー光を光ディスク上に集光して焦点を生じさせるための対物レンズと、
前記対物レンズを含む可動部と、
前記可動部を駆動して対物レンズを焦点方向又は光ディスクのトラックを横断する方向へ駆動するためのサーボ駆動信号を生成するサーボ駆動信号生成部と、
前記光ディスクから反射されたレーザー光を受光する受光部と、
前記受光部により受光したレーザー光から前記焦点の位置ずれ量を示すサーボ誤差信号を生成するサーボ誤差信号生成部と、
前記受光部によって受光されたレーザー光から光ディスク上の欠陥または汚れを検出する欠陥検出部と、
当該光ディスク装置の状態が遷移したことを示すモード切替信号を生成する切替信号生成部と、
前記サーボ誤差信号のオフセット成分を計測するオフセット計測部とを有し、
前記オフセット計測部は、前記切替信号生成部によって装置の状態が遷移する前後の前記サーボ誤差信号を観測することでオフセットを計測し、
前記オフセット計測部が前記サーボ誤差信号のオフセット成分を計測している間に、前記欠陥検出部により欠陥検出されなかった場合、に前記オフセット計測部により計測された当該状態変化後における前記サーボ誤差信号のオフセット成分に関連した補正量を前記サーボ誤差信号または前記サーボ駆動信号に対して印加することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項９】
請求項８に記載の光ディスク装置であって、
前記欠陥検出部により光ディスク上の欠陥が検出された場合、装置の状態を当該状態変化前の状態に戻し、再度当該状態変化をさせ、前記オフセット計測部により前記サーボ誤差信号のオフセット成分を計測することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１０】
請求項８に記載の光ディスク装置であって、
前記切替信号生成部が生成する前記モード切替信号は、増幅回路の増幅倍率変更、任意信号加算回路の加算値変更、レーザー光の強度変更、レーザー光の高周波重畳における高周波周波数又はレーザー光の高周波重畳における高周波成分の振幅、のうちいずれかの変更タイミングと同期する信号であることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１１】
請求項９に記載の光ディスク装置であって
光ディスクの回転する周期を示す回転信号を生成する回転信号生成部を有し、
一度目のオフセット計測時に前記欠陥検出部により欠陥が検出され、次のオフセット計測を実施する際に、前記回転信号によって欠陥が検出された回転角を避けたディスク角において、オフセット計測を行うことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１２】
請求項８に記載の光ディスク装置であって、
前記オフセット計測部の計測結果を記憶する記憶手段を有し、
前記記憶手段に記憶された複数の計測結果に基づいて、当該状態変化後における前記サーボ誤差信号のオフセット成分に関連した補正量を設定し、前記サーボ誤差信号または前記サーボ駆動信号に対して当該補正量を加算または減算することを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスクに対してデータの記録または再生を行う光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
DVD(Digital Versatile Disc)やBD(Blu-ray Disc)などの光ディスクでは、ディスク上のトラックと呼ばれるごく微小な溝構造に対し、レーザースポットの位置を位置づけるために、反射光からトラック誤差信号を生成し、これによって位置づけを行っている。
【０００３】
BDはDVDと比較すると、トラックが小さくなっており、より高い位置づけ精度が求められる。回路の電気的な影響や、光ヘッドの光学的要因により、該トラック誤差信号にオフセット成分が生じる場合があり、これによって正しく位置制御できない場合がある。
【０００４】
たとえば、特許文献１には光ディスク装置の動作中にオフセット調整の必要がある場合に、記録または再生状態でない待機状態中に調整を行う内容の記載がある。また、特許文献２にはレーザーの発光強度が変化した際に、オフセット調整を再実施する内容の記載がある。
【０００５】
特許文献３には、「再生状態から記録状態への遷移に伴ってトラッキングサーボを一時的にオフ状態に設定し、遷移により生じるサーボエラー信号ＴＥの残留偏差を測定し、サーボエラー信号ＴＥに対してこの残留偏差に対応するオフセット補正を行い、このオフセット補正後にトラッキングサーボをオン状態に戻す」との記載がある（要約参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平１１−９６５６７号公報
【特許文献２】特開２００８−３０５４６１号公報
【特許文献３】特開２００９−２０５７２７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
前述の特許文献１及び２では、記録または再生の動作を一旦停止して調整を実施する必要がある。例えばトラッキング誤差信号のオフセットは図２に示す回路で計測できる。
【０００８】
図２(a)において、２０１はトラッキング誤差信号の最大値を計測する回路、２０２はトラッキング誤差信号の最小値を計測する回路、２０３は２０１で計測した最大値と２０２で計測した最小値を加算する加算回路、２０４は２０３の演算結果を１／２倍する利得回路であり、２０３の加算回路と２０４の利得回路によって中央値を演算する中央値演算回路を構成する。
【０００９】
光ディスク装置において、装置のフォーカスサーボ制御を有効にし、レーザースポットが光ディスクの記録面上のトラックの上を横切るようにすることで、図２(b)に示すようなトラッキング誤差信号が得られる。これを図２(a)の回路に入力することでトラッキング誤差信号のオフセット成分を計測することができる。
【００１０】
ここで計測されたオフセット成分を打ち消すような電圧をトラッキング誤差信号に加算することで、トラッキング誤差信号のオフセットを除去できる。
【００１１】
図２に示す方法では、光スポットを光ディスクのトラックを横断させて、トラッキング誤差信号の振幅の最大値と最小値を発生させることで、信号の中央値を計測してオフセットを計測している。この方法では記録または再生中などトラッキングサーボ制御によって光スポット位置が制御されている場合には実施できず、一旦トラッキングサーボ制御を停止する必要がある。
記録再生動作中にオフセット調整の必要がある場合、サーボ制御を一旦停止して、誤差信号の全振幅が計測できる状態にする必要があるため、その分動作速度は遅延する。
【００１２】
また、特許文献３では、再生状態から記録状態へ状態を変化する際の、レーザパワー変化に際してサーボエラー信号ＴＥのオフセット成分を考慮した技術を開示している。しかしながら、他の要因によりサーボ信号にオフセットが生じる場合や、ディスク上の欠陥または汚れ等によりオフセット量が生じた場合の判別等は考慮されておらず、適切なオフセット補正をできないおそれが残る。特に、再生状態の中で、レーザーパワーが変化する場合（例えば、多層ディスクにおいて各層ごとに適切な再生パワーが異なる場合や、光ディスクの倍速変化に応じて再生パワーが変化する場合等）に、オフセット補正が必要となる点について一切考慮されていない。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記課題は、一例として特許請求の範囲に記載の構成により改善できる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明により、サーボ制御を中断することなく誤差信号のオフセットを適切に調整でき、再生動作等を中断する必要がなくなるため、装置の処理速度と安定性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】実施例１における光ディスク装置の構成例を示す図
【図２（ａ）】従来のオフセット計測回路の構成例を示す図
【図２（ｂ）】従来のオフセット計測回路の動作例を示す図
【図３（ａ）】実施例１におけるオフセット計測回路の構成例を示す図
【図３（ｂ）】実施例１におけるオフセット計測回路の動作例を示す図
【図４】実施例２における光ディスク装置の構成例を示す図
【図５】実施例２における光ディスク装置の動作例を示す図
【図６】実施例１における光ディスク装置の変形例を示す図
【図７】実施例２における光ディスク装置の変形例を示す図
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明の実施例を図面を用いて説明する。
【実施例１】
【００１７】
図１において、１０１は片面からアクセス可能な記録層を有する光ディスク、１０２はレーザー光をディスクの記録層に集光するための対物レンズ、１０３は対物レンズ１０２を駆動するための駆動手段、１０４は光ディスクに対しレーザー光を発光する発光部、１０５は光ディスクから反射されるレーザー光を受光する受光器、１０６は受光器１０５により受光されたレーザー光からディスク上のトラックと光スポットのずれを示すトラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差信号生成手段、１０７は駆動手段１０３を駆動するための駆動信号を生成するトラッキング駆動信号生成手段、１０８は駆動信号に応じて駆動手段１０３に駆動電圧を供給する駆動電圧供給手段、１０９はレーザー１０４の発光強度を制御する発光強度制御手段、１１０は該トラッキング誤差信号のオフセットを計測するオフセット計測手段、１１１は制御手段、１１２は受光器１０５により受光されたレーザー光からディスク上の記録面に対するレーザースポットの焦点ずれを示すフォーカス誤差信号を生成するフォーカス誤差信号生成手段、１１３は駆動手段１０３を焦点方向に駆動するための駆動信号を生成するフォーカス駆動信号生成手段である。
【００１８】
図１において１０２から１０５を含んで光ピックアップ１１４を構成する。受光器１０５は内部に利得を変更可能な増幅回路を含んでいてもよい。図１の装置は、対物レンズ１０２がレーザー１０４から出射されるレーザー光を光ディスク１０１上に集光し、光スポットを生じる。レーザー１０４が発光する光強度は発行強度制御手段１０９によって制御されており、任意の強度で発光することができる。発行強度制御手段は、受光器１０５または図示しない別の受光器によって、レーザー１０４から実際に発光された光強度を計測し、レーザー１０４に供給する駆動電圧または駆動電流に、計測された光強度をフィードバックすることで、レーザー１０４の光強度を一定に保つ制御を行ってもよい。
【００１９】
図１の装置は、光ディスク１０１が有する記録層に対し、前記光スポットが記録層上で合焦するように対物レンズを記録層に対して略垂直方向に駆動する。記録層上に光スポットを生じ、該記録層からの反射光を受光器１０５で受光する。受光器１０５で受光されたレーザー光より、該記録面上に形成されたトラック溝と光スポットとのディスクの半径方向の位置ずれ、トラッキング誤差信号（トラッキングエラー信号）をトラッキング誤差信号生成手段１０６によって生成する。
【００２０】
トラッキング誤差信号生成手段１０６またはフォーカス誤差信号生成手段１１２は内部に信号の振幅を任意の増幅率で増幅する増幅回路や、任意の電圧値をトラッキング誤差信号に加算する加算回路、任意に設定を変更可能なフィルタのいずれかを含んでいてもよい。
【００２１】
トラッキング駆動信号生成手段１０７またはフォーカス駆動信号生成手段１１３は内部に信号の振幅を任意の増幅率で増幅する増幅回路や、任意の電圧値をトラッキング駆動信号に加算する加算回路、任意に設定を変更可能なフィルタのいずれかを含んでいてもよい。
【００２２】
フォーカス駆動信号生成手段１１３は前記フォーカス誤差信号により、該記録面に対する光スポットの焦点ずれを減少するように、対物レンズ１０２をディスクの焦点方向に駆動するためのフォーカス駆動信号を生成する。
【００２３】
トラッキング駆動信号生成手段１０７は前記トラッキング誤差信号により、該記録面上のトラック溝と光スポットとの位置ずれを減少するように、対物レンズ１０２をディスクの略半径方向に駆動するためのトラッキング駆動信号を生成する。
【００２４】
駆動電圧供給手段１０８は前記トラッキング駆動信号またはフォーカス駆動信号に応じ、駆動手段１０３に駆動電圧を印加し、対物レンズ１０２を所望の方向に駆動する。
【００２５】
このようにして、所望のトラック溝に対して光スポットを位置づけする。
【００２６】
トラッキング誤差信号はたとえば特許文献２にあるように、複数に分割した受光面を有する受光器によって、反射された光スポットを領域ごと分割して受光し、後段の演算回路によって生成される。このときの各受光面における受光感度のばらつき、光スポットと受光面の位置ずれ、光スポット内の強度分布のずれや不要な反射光が特定の受光面に入射することなどによって誤差信号にオフセット成分が発生する。
【００２７】
本実施のオフセット計測手段は図３のような構成を有し、トラッキングサーボ制御を実施しながら、装置の状態の変化時にオフセットを除去する機能を有する。
【００２８】
装置の状態の変化とは、例えばレーザー１０４の発光強度あるいは高周波重畳の周波数あるいは高周波重畳の振幅の変更、受光器１０５に内蔵された増幅回路の増幅率の変更、トラッキング誤差信号生成手段１０６に内臓された増幅回路の増幅率または加算回路の加算値またはフィルタ設定の変更、トラッキング駆動信号生成手段１０７に内蔵された増幅回路の増幅率または加算回路の加算値またはフィルタ設定の変更などである。
【００２９】
特許文献３では、再生状態から記録状態へ状態を変化する際の、レーザパワー変化に際してサーボエラー信号ＴＥのオフセット成分を考慮しているが、上記のような要因による装置の状態変化に伴うオフセット成分の発生は考慮されておらず、装置の安定性の面で課題がある。
【００３０】
オフセットを考慮する必要が生じる装置の状態変化は、上記のように様々な要因があるが、本実施例では、以下、少なくとも第１の層と前記第１の層とは異なる第２の層を含む複数層を備えた光ディスクに対し、各層の記録データを再生可能な光ディスク装置の場合を例に説明をする。
【００３１】
従来、複数層を備える光ディスクの再生パワーは各層で一定のパワーが用いられてきた。これは再生パワーが記録パワーに比べて小さく、他の層の記録状態に及ぼす影響が少なかったためである。しかし、光ディスクの多層化が進み、層数が増加した場合、例えば光ディスクのカバー層を基準として一番奥側にある層を再生する場合には、レーザー光が各層を通過する際の反射率の影響などから、ある程度大きな再生パワーを設定する必要がある。このように、多層光ディスクにおいては、最適な再生パワーが各層ごとに異なるため、他の層を再生する場合に再生パワーを変化させるという場合が生じ得る。そこで、本実施例では、このように、複数層を備えた光ディスクに対し再生を行う際に再生パワーを変化させるため、発光部１０４の発光強度を変更する場合について、以下説明する。
【００３２】
図３(a)の回路において、３０１はトラッキング誤差信号の信号レベルを計測する計測回路、３０２は計測回路３０１によって計測された信号レベルを記憶する記憶領域を選択するスイッチ、３０３は第一の記憶領域、３０４は第二の記憶領域、３０５は第一の記憶領域３０３に記憶された信号レベルと第二の記憶領域３０４に記憶された信号レベルの差分を計算する差分回路である。
【００３３】
図３(b)に、トラッキングサーボ制御の動作中に発光強度が変化する場合について説明する。図３(b)中に示す切り替えタイミングより以前を状態１、以降を状態２とする。状態１にあるとき、スイッチ３０２は計測回路３０１からの情報を第一の記憶領域３０３に記憶する。
【００３４】
このとき、第一の記憶領域３０３はリングバッファのような構成になっていてもよい。すなわち、第一の記憶領域３０３は図に示す期間１の分の情報を記憶可能であり、スイッチ３０２によって第一の記憶領域３０３に信号が入力される間は値を更新し続け、スイッチ３０２によって計測回路３０１からの入力が第二の記憶領域３０４に入力される場合には、第一の記憶領域３０３は値を保持する。
【００３５】
レーザーの発光強度の変化に略同期したモード切替信号によってスイッチ３０２は計測回路３０１からの入力を第二の記憶領域３０４に切り替える。第二の記憶領域３０４は図に示す任意の期間２の分だけ計測回路３０１からの入力を記憶する。
【００３６】
期間２の間、光スポットがトラック横断方向に変位しないように、トラッキング駆動信号は一定のレベルにホールドされてもよい。第一の記憶領域３０３に記憶された状態１の情報と、第二の記憶領域３０４に記憶された状態２の情報の差分を、差分回路３０５により計算し、これをオフセットとする。
【００３７】
第二の記憶回路３０４に値が入力される時間（図３(b)の期間２の時間）Ｔ1と、レーザーの発光強度切り替えなどモード切り替えにかかる時間Ｔ２、トラッキング制御の応答時間Ｔ３が、Ｔ３＞Ｔ１＞Ｔ２の関係であるとき、図３(a)のオフセット計測手段によって計測される計測結果は、トラッキング方向のレンズ変位によらず、モード切り替えによって起こったオフセット成分であるといえる。
【００３８】
トラッキング誤差信号生成手段１０６またはトラッキング駆動信号生成手段１０７に内蔵の加算回路によって、計測されたオフセットを打ち消すような信号を加算することでオフセットの影響を低減する。
【００３９】
計測回路３０１はトラッキング誤差信号を任意のタイミングで一回以上サンプリングする構成で実現でき、第一の記憶回路３０３または第二の記憶回路３０４は、それぞれ期間１または期間２に計測された計測回路３０１の複数の計測結果から、平均値を計算する機能を有していてもよい。
【００４０】
また、本実施の変形例として、図６に示すように、オフセット計測手段１１０の計測結果を記憶するための記憶手段６１６と、記憶手段６１６に記憶された計測結果を元に算出を行う算出手段６１７を有していてもよい。
【００４１】
記憶手段６１６はオフセット計測手段１１０が計測した結果を複数回分記憶することができる。
【００４２】
算出手段６１７は記憶手段６１６に記憶された複数回分の計測結果から、例えば平均値を計算する。
【００４３】
また、本実施のオフセット計測回路の機能は、図示しないＡＤ変換回路によってデジタル化されたトラッキング誤差信号を用いて、デジタル信号処理として実装されてもよい。計測回路３０１、スイッチ３０２は、電子的な処理として実施されるプログラミングとして実装されてもよい。
【００４４】
また、第一の記憶領域３０３と第二の記憶領域３０４は同一の記憶装置内の異なる領域として実装されてもよい。
【００４５】
差分回路３０５の入力を、装置の基準電位と第二の記憶領域３０４からの信号としてもよい。
【００４６】
計測回路３０１に入力されるトラッキング誤差信号は、ディスクからの反射量を示す総光量信号に略反比例する増幅率を持つ増幅回路によって振幅を規格化された信号であっても良い。このような信号を用いることで、レーザーの発光強度が変化してもトラッキング誤差信号の振幅を略一定に保つことができる。
【００４７】
また、本実施例では、異なる層を再生する場合には再生パワーを変化する例を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、上述のように様々な要因で装置の状態が変化する場合が含まれる。
【００４８】
さらに、再生パワーが変化する場合についても、少なくとも第１の倍速と、前記第１の倍速とは異なる第２の倍速で光ディスクの記録データを再生可能な光ディスク装置において、倍速が変化することにより適切な再生パワーが異なる場合であってもよい。これは、倍速変化により光ディスクの回転速度が変わるために、光ディスク上の同一層内の領域であっても、倍速変化等に応じて、再生パワーを変化させる必要が生じるためである。すなわち、例えば第１の再生パワーから前記第２の再生パワーに状態変化する際の、前記第１の再生パワーは前記第１の倍速での再生に適した発光強度であり、前記第２の再生パワーは前記第２の倍速での再生に適した発光強度である場合において、当該状態変化後における前記サーボ誤差信号のオフセット成分を計測することにより、安定した再生動作を行う。
【００４９】
また、本実施はトラッキング誤差信号をオフセット計測手段１１０に入力する場合について述べたが、トラッキング誤差信号をフォーカス誤差信号に置き換えてもよい。この場合、同様にトラッキング駆動信号をフォーカス誤差信号に置き換える。
【実施例２】
【００５０】
本発明の別の一実施の形態を、図４と図５を用いて説明する。図４において、１０１から１１４については、実施例１と同様の構成であり、説明を割愛する。４１５は受光器１０５によって受光された反射光より、ディスク上の欠陥または汚れを検出する欠陥検出手段である。
【００５１】
本実施におけるオフセット計測手段１１０の動作も実施例１と同様であり、図３(a)のような構成で実現できる。本実施の光ディスク装置は図５のように動作する。オフセット計測手段１１０の動作中、制御手段１１１は欠陥検出手段４１３による欠陥検出信号を観測する。図５における状態１の間、スイッチ３０２によって計測回路３０１からの信号は第一の記憶領域３０３に入力される。タイミングＴａで装置の状態が切り替わって状態２となると、スイッチ３０２はオフセット計測回路３０１からの信号を第二の記憶領域３０４に入力する。第二の記憶領域３０４にオフセット計測回路３０１からの信号が記憶される期間２の間に、ディスク上の欠陥が検出され、欠陥検出信号がＨｉとなった場合、タイミングＴａ付近の期間１および期間２の間に計測されたオフセット量は、欠陥による信号欠損の可能性がある。期間１および期間２の間に欠陥が検出された場合には、このとき計測されたオフセット量によっては、トラッキング誤差信号またはトラッキング駆動信号に信号加算を行わない。
【００５２】
Ｔａのタイミングのあと、再度オフセット計測を実施するため、タイミングＴｂで一旦元の状態１に戻し、再度タイミングＴｃで状態２に遷移させ、タイミングＴｃのまわりの期間３および期間４によって再度オフセット計測を行う。
【００５３】
欠陥がディスク１０１上のトラック構造よりも十分に大きい場合、ディスクの１回転ごとに繰り返し観測される懸念がある。ディスク１回転の回転周期Ｔｒとレーザースポットが欠陥を通過するのに要する時間Ｔｄに対して、下式を満たさない範囲でＴｃを選択することで、欠陥を避けることができる。
（Ｔｒ＋Ｔｄ／２）＞（Ｔｃ−Ｔａ）＞（Ｔｒ−Ｔｄ／２）
ディスクモータの回転信号を参照して、欠陥が検出された回転角から所定の確度範囲外で切り替え信号が発生するように制御しても良い。
【００５４】
計測回路３０１はトラッキング誤差信号を任意のタイミングで一回以上サンプリングする構成で実現でき、第一の記憶回路３０３または第二の記憶回路３０４は、それぞれ期間１または期間２に計測された計測回路３０１の複数の計測結果から、平均値を計算する機能を有していてもよい。
【００５５】
また、本実施の変形例として、図７に示すように、オフセット計測手段１１０の計測結果を記憶するための記憶手段６１６と、記憶手段６１６に記憶された計測結果を元に算出を行う算出手段６１７を有していてもよい。
【００５６】
記憶手段６１６はオフセット計測手段１１０が計測した結果を複数回分記憶することができる。
【００５７】
算出手段６１７は記憶手段６１６に記憶された複数回分の計測結果から、例えば平均値を計算する。
【００５８】
また、本実施のオフセット計測回路の機能は、図示しないＡＤ変換回路によってデジタル化されたトラッキング誤差信号を用いて、デジタル信号処理として実装されてもよい。計測回路３０１、スイッチ３０２は、電子的な処理として実施されるプログラミングとして実装されてもよい。
【００５９】
また、第一の記憶領域３０３と第二の記憶領域３０４は同一の記憶装置内の異なる領域として実装されてもよい。
【００６０】
差分回路３０５の入力を、装置の基準電位と第二の記憶領域３０４からの信号としてもよい。
【００６１】
計測回路３０１に入力されるトラッキング誤差信号は、ディスクからの反射量を示す総光量信号に略反比例する増幅率を持つ増幅回路によって振幅を規格化された信号であっても良い。このような信号を用いることで、レーザーの発光強度が変化してもトラッキング誤差信号の振幅を略一定に保つことができる。
【００６２】
また、本実施はトラッキング誤差信号をオフセット計測手段１１０に入力する場合について述べたが、トラッキング誤差信号をフォーカス誤差信号に置き換えてもよい。この場合、同様にトラッキング駆動信号をフォーカス誤差信号に置き換える。
【００６３】
さらに、本発明においては、記録再生動作中に回路切り替えまたはレーザー発光強度の切り替え等が発生する場合、その過渡状態の誤差信号の変化をサーボ制御の応答速度よりも十分に速い時間帯で計測することで、サーボ制御を動作させたままオフセット調整を実施することも考慮している。
【００６４】
なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。
【符号の説明】
【００６５】
１０１ 光ディスク
１０２ 対物レンズ
１０３ 駆動手段
１０４ 発光部
１０５ 受光器
１０６ トラッキング誤差信号生成手段
１０７ トラッキング駆動信号生成手段
１０８ 駆動電圧供給手段
１０９ 発光強度制御手段
１１０ オフセット計測手段
１１１ 制御手段
１１２ フォーカス誤差信号生成手段
１１３ フォーカス駆動信号生成手段
１１４ 光ピックアップ
２０１ 最大値サンプルホールド回路
２０２ 最小値サンプルホールド回路
２０３ 加算回路
２０４ 増幅回路
２０５ 中央値演算回路
３０１ 計測回路
３０２ 切り替えスイッチ
３０３ 第一の記憶領域
３０４ 第二の記憶領域
３０５ 差分回路
４１５ 欠陥検出手段
６１６ 記憶手段
６１７ 算出手段
【図１】
2012064267.tif 000003
【図２（ａ）】
2012064267.tif 000004
【図２（ｂ）】
2012064267.tif 000005
【図３（ａ）】
2012064267.tif 000006
【図３（ｂ）】
2012064267.tif 000007
【図４】
2012064267.tif 000008
【図５】
2012064267.tif 000009
【図６】
2012064267.tif 000010
【図７】
2012064267.tif 000011