(57)【要約】【課題】検査対象信号処理装置の内部状態をトリガに検査を行なう検査装置において、検査対象信号処理装置から状態信号を引き出すことなく、再現性のある検査を行なうことができるようにする【解決手段】信号処理装置の内部状態をトリガにして信号処理装置の検査を行なう検査を行なう検査装置であって、信号処理装置に検査用データ信号を出力する入力発生部と、信号処理装置から検査用データ信号に応じて出力されたデータ信号を入力して、期待される値となっているか判定する出力判定部と、信号処理装置の内部状態を模擬し、模擬した内部状態があらかじめ設定されたトリガ発生条件に合致する場合にトリガを発生する検査対象動作模擬部と、トリガに基づいて、入力発生部に検査用データ信号を出力させるシーケンス制御部と、信号処理装置と共通のクロックを検査装置内に供給するクロック供給部とを備える。【選択図】図１
2012018561.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
信号処理装置の内部状態をトリガにして前記信号処理装置の検査を行なう検査装置であって、
前記信号処理装置に検査用データ信号を出力する入力発生部と、
前記信号処理装置から前記検査用データ信号に応じて出力されたデータ信号を入力して、期待される値となっているか判定する出力判定部と、
前記信号処理装置の内部状態を模擬し、模擬した内部状態があらかじめ設定されたトリガ発生条件に合致する場合にトリガを発生する検査対象動作模擬部と、
前記トリガに基づいて、前記入力発生部に検査用データ信号を出力させるシーケンス制御部と、
前記信号処理装置と共通のクロックを前記検査装置内に供給するクロック供給部とを備えたことを特徴とする検査装置。
【請求項２】
前記クロック供給部は、前記信号処理装置からクロックを取り込んで、前記検査装置内に供給することを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
【請求項３】
前記クロック供給部は、前記検査装置内にクロックを供給するとともに、前記信号処理装置にクロックを供給することを特徴とする請求項１に記載の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、源振クロックを内蔵した信号処理装置を検査対象とする検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
源振クロックを内蔵する信号処理装置が正常に動作するかどうかを判定するために、信号処理装置の状態をトリガとして検査を行なう検査装置が用いられている。図４は、検査対象の信号処理装置と従来の検査装置の構成例を示すブロック図である。
【０００３】
本図に示すように、検査対象信号処理装置２００は、源振クロックＣＬＫ１を発生する源振クロック発生器２１０と、制御部２２０と、時刻管理部２３０と、入力部２４０と、出力部２５０とを備えている。制御部２２０、時刻管理部２３０、入力部２４０、出力部２５０は、ＣＰＵ、集積回路、マイクロコンピュータ等を用いて構成され、源振クロック発生器２１０が出力する源振クロックＣＬＫ１を基準に動作する。
【０００４】
なお、検査対象信号処理装置２００は、源振クロックＣＬＫ１を基準に動作し、入力信号に対して所定の処理を行なって出力する装置であれば、その構成は本例に限定されない。
【０００５】
検査装置３００は、源振クロックＣＬＫ２を出力する源振クロック発生器３１０、シーケンス制御部３２０、時刻管理部３３０、トリガ生成部３４０、出力判定部３５０、入力発生部３６０を備えている。シーケンス制御部３２０、時刻管理部３３０、トリガ生成部３４０、出力判定部３５０、入力発生部３６０は、源振クロック発生器３１０が出力する源振クロックＣＬＫ２を基準に動作する。
【０００６】
検査対象信号処理装置２００の制御部２２０は、あらかじめ定められたロジックやプログラムにしたがって、時刻管理部２３０、入力部２４０、出力部２５０の状態出力から検査対象信号処理装置２００の振る舞いを決定し、時刻管理部２３０、入力部２４０、出力部２５０に制御信号を出力する。
【０００７】
時刻管理部２３０は、検査対象信号処理装置２００内の時刻を管理し、出力する。入力部２４０は、外部からのデータ信号を入力し、制御部２２０に出力する。検査時においては、検査装置３００の入力発生部３６０からの検査用データ信号を入力する。
【０００８】
出力部２５０は、制御部２２０からの出力指示を受けて、制御部２２０からの指示に対応したデータ信号を外部に出力する。検査時においては、検査装置３００の出力判定部３５０にデータ信号を出力する。
【０００９】
また、検査時において、検査対象信号処理装置２００の内部状態を、検査装置３００がトリガとして使用するために、制御部２２０、時刻管理部２３０、入力部２４０、出力部２５０の状態信号を、それぞれ検査装置３００のトリガ生成部３４０に出力する。これらの状態信号は、検査でどのような状態をトリガとするかによって、必要な信号本数が変化する。
【００１０】
検査装置３００のシーケンス制御部３２０は、あらかじめ定められたロジックやプログラムにしたがって、時刻管理部３３０、出力判定部３５０、入力発生部３６０の出力状態と、トリガ生成部３４０のトリガ出力とから検査装置３００の振る舞いを決定し、時刻管理部３３０、トリガ生成部３４０、出力判定部３５０、入力発生部３６０に制御信号を出力する。
【００１１】
時刻管理部３３０は、検査装置３００内の時間を管理し、出力する。入力発生部３６０は、シーケンス制御部３２０からの入力発生指示を受けて、検査対象信号処理装置２００の入力部２４０に検査用のデータ信号を出力する。出力判定部３５０は、検査対象信号処理装置２００の出力部２５０が出力したデータ信号を入力し、検査用のデータ信号に対応した期待通りの値であるかどうかの判定を行ない、判定結果をシーケンス制御部３２０に出力する。
【００１２】
本構成において、検査装置３００が、検査対象信号処理装置２００の内部状態をトリガとして検査を行なう場合の基本的な動作は以下のようになる。
（１）シーケンス制御部３２０が、トリガ生成部３４０にトリガ発生条件を指定する。ここで、トリガ発生条件は、トリガを発生させる検査対象信号処理装置２００の内部状態である。
（２）トリガ生成部３４０は、検査対象信号処理装置２００の内部状態を示す状態信号をモニタし、内部状態が、シーケンス制御部３２０で指定されたトリガ発生条件に合致すると、トリガを発生し、シーケンス制御部３２０に出力する。
（３）トリガ生成部３４０からのトリガを受けて、シーケンス制御部３２０が、入力発生部３６０に対して、検査対象信号処理装置２００への入力発生指示を行なう。シーケンス制御部３２０は、トリガを受けてから、入力発生指示を出すまでの待ち時間を制御する。
（４）入力発生部３６０から検査対象信号処理装置２００へ検査用データ信号を出力する。
（５）検査対象信号処理装置２００は、入力部２４０で検査用データ信号を受けて、制御部２２０に渡す。
（６）制御部２２０は、渡された検査用データに応じたデータを出力する指示を出力部２５０に送り、出力部２５０が指示されたデータ信号を検査装置３００の出力判定部３５０に出力する。
（７）検査装置３００のシーケンス制御部３２０の指示にしたがって、出力判定部３５０が、検査対象信号処理装置２００の出力したデータ信号が期待通りの値であるかどうかを判定し、判定結果をシーケンス制御部３２０に伝える。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１３】
【特許文献１】特開平５−１０１０１１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
従来の検査装置３００では、検査対象信号処理装置２００の内部状態に基づいたトリガを生成するために、検査対象信号処理装置２００からトリガ生成の条件となる状態信号を引き出さなければならない。このため、検査対象信号処理装置２００に検査用出力端子を設けることによるコストアップが生じたり、検査装置３００と検査対象信号処理装置２００との間の配線数が増加して検査が煩雑となる問題がある。
【００１５】
また、ピン数制約や伝送速度の制約等から、検査対象信号処理装置２００から所望の状態信号を引き出せない場合や、引き出せたとしても時間遅れを持った状態信号になってしまう場合がある。
【００１６】
さらには、検査対象信号処理装置２００と検査装置３００とがそれぞれ自身の源振クロックで動作しているため、検査対象信号処理装置２００の源振クロック単位でのタイミングずれが発生して、再現性のある検査が行なえない場合がある。これに関して、特許文献１には、複数の装置間で同一のシステム時刻情報を入力してトリガとすることが記載されているが、検査対象信号処理装置２００の状態をトリガとすることは考慮されていない。
【００１７】
そこで、本発明は、検査対象信号処理装置の内部状態をトリガに検査を行なう検査装置において、検査対象信号処理装置から状態信号を引き出すことなく、再現性のある検査を行なうことができるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
上記課題を解決するため、本発明の検査装置は、信号処理装置の内部状態をトリガにして前記信号処理装置の検査を行なう検査を行なう検査装置であって、前記信号処理装置に検査用データ信号を出力する入力発生部と、前記信号処理装置から前記検査用データ信号に応じて出力されたデータ信号を入力して、期待される値となっているか判定する出力判定部と、前記信号処理装置の内部状態を模擬し、模擬した内部状態があらかじめ設定されたトリガ発生条件に合致する場合にトリガを発生する検査対象動作模擬部と、前記トリガに基づいて、前記入力発生部に検査用データ信号を出力させるシーケンス制御部と、前記信号処理装置と共通のクロックを前記検査装置内に供給するクロック供給部とを備えたことを特徴とする。
【００１９】
ここで、前記クロック供給部は、前記信号処理装置からクロックを取り込んで、前記検査装置内に供給することで、前記信号処理装置と共通のクロックを供給することができる。
【００２０】
あるいは、前記クロック供給部は、前記検査装置内にクロックを供給するとともに、前記信号処理装置にクロックを供給することで、前記信号処理装置と共通のクロックを供給するようにしてもよい。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、検査対象信号処理装置の内部状態をトリガに検査を行なう検査装置において、検査対象信号処理装置から状態信号を引き出すことなく、再現性のある検査を行なうことができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本実施形態に係る検査対象信号処理装置と検査装置の構成例を示すブロック図である。
【図２】本実施形態の検査装置の処理動作を説明するフローチャートである。
【図３】本実施形態の別構成例を示すブロック図である。
【図４】検査対象の信号処理装置と従来の検査装置の構成例を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図１は、本実施形態に係る検査対象の信号処理装置と検査装置の構成例を示すブロック図である。検査対象信号処理装置２００は、源振クロックを基準に動作し、入力信号に対して所定の処理を行なって出力する装置であれば、その機能、用途、構成等は限定されない。
【００２４】
本実施形態において、検査対象信号処理装置２００は、源振クロック発生器２１０と、制御部２２０と、時刻管理部２３０と、入力部２４０と、出力部２５０とを備えており、それぞれのブロックの動作は、従来と同様であるため、詳細な説明は省略する。
【００２５】
ただし、本実施形態では、検査時においても、検査対象信号処理装置２００の制御部２２０、時刻管理部２３０、入力部２４０、出力部２５０の状態信号は、検査装置１００に引き出す必要はない。このため、検査用の出力端子は不要である。
【００２６】
本図に示すように、検査装置１００は、源振クロックＣＬＫ２を出力する源振クロック発生器１１０、シーケンス制御部１２０、時刻管理部１３０、検査対象動作模擬部１４０、出力判定部１５０、入力発生部１６０、クロック選択部１７０を備えている。
【００２７】
検査装置１００のシーケンス制御部１２０は、あらかじめ定められたロジックやプログラムにしたがって、時刻管理部１３０、出力判定部１５０、入力発生部１６０の出力状態と、検査対象動作模擬部１４０のトリガ出力とから検査装置１００の振る舞いを決定し、時刻管理部１３０、検査対象動作模擬部１４０、出力判定部１５０、入力発生部１６０に制御信号を出力する。
【００２８】
時刻管理部１３０は、検査装置１００内の時間を管理し、出力する。入力発生部１６０は、シーケンス制御部１２０からの入力発生指示を受けて、検査対象信号処理装置２００の入力部２４０に検査用のデータ信号を出力する。出力判定部１５０は、検査対象信号処理装置２００の出力部２５０が出力したデータ信号を入力し、検査用のデータ信号に対応した期待通りの値であるかどうかの判定を行ない、判定結果をシーケンス制御部１２０に出力する。
【００２９】
検査対象動作模擬部１４０は、検査対象信号処理装置２００の内部状態を模擬し、模擬した内部状態が、シーケンス制御部１２０で指定されたトリガ発生条件に合致すると、トリガを発生するブロックである。検査対象動作模擬部１４０は、時刻管理部１３０、シーケンス制御部１２０、入力発生部１６０、出力判定部１５０の状態出力を入力して、検査対象信号処理装置２００の内部状態を模擬する。したがって、検査対象動作模擬部１４０は、検査対象信号処理装置２００の処理動作に対応して構成される。
【００３０】
検査対象動作模擬部１４０は、例えば、検査対象信号処理装置２００の機能に、トリガ生成機能を付加した回路の設計データを、ハードウェアエミュレーション装置にマッピングすることで実現することができる。ただし、本例に限られず、正常動作を行なう検査対象信号処理装置２００をそのまま取り込んでトリガ生成回路を付加したり、ソフトウェアエミュレーション等の他の実現方法であってもよい。
【００３１】
クロック選択部１７０は、検査装置のシーケンス制御部１２０、時刻管理部１３０、検査対象動作模擬部１４０、出力判定部１５０、入力発生部１６０を動作させるクロックを、源振クロック発生器１１０が出力する源振クロックＣＬＫ２と、検査対象信号処理装置２００の源振クロック発生器２１０が出力する源振クロックＣＬＫ１とで切替える。クロック選択部１７０は、検査装置２００と共通のクロックを供給するクロック供給部として機能する。
【００３２】
具体的には、検査対象信号処理装置２００が接続されてない検査前の状態では、源振クロック発生器１１０が出力する源振クロックＣＬＫ２で動作させ、検査実行時には、検査対象信号処理装置２００の源振クロック発生器２１０が出力する源振クロックＣＬＫ１で動作させる。クロック選択部１７０は、例えば、切替スイッチを用いて構成することができる。
【００３３】
これにより、検査実行時には、検査装置１００と、検査対象信号処理装置２００とが同じ源振クロックで動作することになり、クロック単位のズレが発生することなく、再現性のある検査を行なうことができるようになる。
【００３４】
次に、本実施形態における検査装置１００の処理動作について図２のフローチャートを参照して説明する。
【００３５】
まず、シーケンス制御部１２０が、検査対象動作模擬部１４０にトリガ発生条件を指定する（Ｓ１０１）。ここで、トリガ発生条件は、トリガを発生させる検査対象信号処理装置２００の内部状態である。
【００３６】
そして、検査対象信号処理装置２００の入力部２４０と出力部２５０を、それぞれ検査装置１００の入力発生部１６０と出力判定部１５０とに接続するとともに、源振クロックＣＬＫ１をクロック選択部１７０に引き込んだ後、クロック選択部１７０を切替えて、検査装置１００が、検査対象信号処理装置２００の源振クロック発生器２１０が出力する源振クロックＣＬＫ１で動作するようにする（Ｓ１０２）。
【００３７】
このとき、必要に応じて、初期化のためのリセット信号を検査対象動作模擬部１４０に出力する。これにより、検査対象信号処理装置２００と検査対象動作模擬部１４０とを同じ内部状態とすることができる。
【００３８】
そして、検査を開始する（Ｓ１０３）。検査において、検査対象信号処理装置２００の内部状態を変化させるために、シーケンス制御部１２０の指示により、入力発生部１６０からデータ信号を検査対象信号処理装置２００の入力部２４０に出力するようにしてもよい。
【００３９】
この場合、検査対象動作模擬部１４０にも同じデータ信号を入力し、検査対象信号処理装置２００と検査対象動作模擬部１４０とが同じ内部状態に変化するようにする。検査対象信号処理装置２００と検査対象動作模擬部１４０とは、同じ源振クロックで動作するため、内部状態は、ずれることなく同時に変化することになる。
【００４０】
検査対象動作模擬部１４０は、自身の内部状態をモニタし、内部状態が、シーケンス制御部１２０で指定されたトリガ発生条件に合致するかどうかを判断する（Ｓ１０４）。
【００４１】
自身の内部状態が、シーケンス制御部１２０で指定されたトリガ発生条件に合致すると（Ｓ１０４：Ｙｅｓ）、トリガを発生し、シーケンス制御部１２０に出力する（Ｓ１０５）。このとき、検査対象信号処理装置２００の内部状態もトリガ発生条件に合致していることになる。
【００４２】
検査対象動作模擬部１４０からのトリガを受けて、シーケンス制御部１２０が、入力発生部１６０に対して、検査対象信号処理装置２００への入力発生指示を行なう（Ｓ１０６）。シーケンス制御部１２０は、トリガを受けてから、入力発生指示を出すまでの待ち時間を制御する。
【００４３】
シーケンス制御部１２０からの指示を受けて、入力発生部１６０は、検査対象信号処理装置２００へ検査用データ信号を出力する（Ｓ１０７）。
【００４４】
これに対して、検査対象信号処理装置２００は、入力部２４０で検査用データ信号を受けて、制御部２２０に渡す。そして、制御部２２０は、渡された検査用データに応じたデータを出力する指示を出力部２５０に送り、出力部２５０が指示されたデータ信号を検査装置１００の出力判定部１５０に出力する。
【００４５】
検査装置１００の出力判定部１５０は、検査対象信号処理装置２００が出力したデータ信号を受信し（Ｓ１０８）、シーケンス制御部１２０の指示にしたがって、受信したデータ信号が期待通りの値であるかどうかを判定し（Ｓ１０９）、判定結果をシーケンス制御部１２０に通知する（Ｓ１１０）。
【００４６】
以上、説明したように、本実施形態の検査装置１００によれば、検査装置１００側で検査対象信号処理装置２００の内部状態を模擬してトリガを生成するため、検査対象信号処理装置２００から状態信号を引き出すことなく、検査を行なうことができる。
【００４７】
これにより、検査対象信号処理装置２００の設計制約を緩和することができる。また、検査のために検査対象信号処理装置２００の出力端子を増やす必要がなくなる。さらには、状態信号を引き出していないため、条件を変えた自動検査を行ないやすくなる。
【００４８】
また、本実施形態の検査装置１００によれば、検査実行時に検査装置１００を検査対象信号処理装置２００と同じ源振クロックＣＬＫ１で動作するようにしているため、再現性のある検査を行なうことができる。これにより、クロックのズレに起因する検査結果のばらつきを防ぐことができ、同じ検査を何度もやり直す必要がなくなる。さらには、条件を変えた自動検査を行ないやすくなる。
【００４９】
なお、上記の実施形態では、検査装置１００にクロック選択部１７０を設け、検査対象信号処理装置２００が生成する源振クロックＣＬＫ１を、検査装置１００でも用いることにより、検査装置１００を検査対象信号処理装置２００と同じ源振クロックで動作するようにしていた。
【００５０】
これに対し、図３に示すように、検査対象信号処理装置２００ａ側に、クロック選択部２６０を設けることによって、検査実行時に、検査装置１００ａを検査対象信号処理装置２００ａと同じ源振クロックＣＬＫ２で動作させるようにしてもよい。この場合も、上記と同様の効果を得ることができる。この場合、源振クロック発生器１１０が、検査装置２００ａと共通のクロックを供給するクロック供給部として機能する。
【符号の説明】
【００５１】
１００…検査装置、１１０…源振クロック発生器、１２０…シーケンス制御部、１３０…時刻管理部、１４０…検査対象動作模擬部、１５０…出力判定部、１６０…入力発生部、１７０…クロック選択部、２００…検査対象信号処理装置、２１０…源振クロック発生器、２２０…制御部、２３０…時刻管理部、２４０…入力部、２５０…出力部、２６０…クロック選択部、３００…検査装置、３１０…源振クロック発生器、３２０…シーケンス制御部、３３０…時刻管理部、３４０…トリガ生成部、３５０…出力判定部、３６０…入力発生部
【図１】
2012018561.tif 000003
【図２】
2012018561.tif 000004
【図３】
2012018561.tif 000005
【図４】
2012018561.tif 000006