(57)【要約】【課題】装置の複雑化を防止しつつ、検出光学系の焦点位置と試験片の位置とを精度良く合わせる。【解決手段】試験片９上における分析対象物の状態を検知するクロマトグラフィー分析装置１は、光源２と、光源２から出射された光を試験片９に導き、当該試験片９に対する照射光Ｓを出射する照射光学系３と、光電変換を行う受光センサ４と、照射光Ｓに起因して試験片９で生じる検出対象光Ｔを受光センサ４に導く検出光学系５と、試験片９を駆動対象物として試験片９の厚み方向Ａに移動させる駆動装置８と、駆動装置８により駆動対象物を駆動させつつ光源２から光を出射させて受光センサ４での受光量の変化を検出することにより、検出光学系５の焦点位置と、試験片９の位置とを一致させるとともに、この状態で光源２から光を出射させて受光センサ４からの出力信号に基づいて分析対象物の状態を特定する制御部７とを備える。【選択図】図３
2012137355.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
クロマトグラフィー試験片上における分析対象物の状態を検知するクロマトグラフィー分析装置において、
光源と、
前記光源から出射された光を前記クロマトグラフィー試験片に導き、当該クロマトグラフィー試験片に対する照射光を出射する照射光学系と、
光電変換を行う受光センサと、
前記照射光に起因して前記クロマトグラフィー試験片で生じる検出対象光を前記受光センサに導く検出光学系と、
前記照射光学系と前記検出光学系との光学系全体、または前記クロマトグラフィー試験片を駆動対象物として前記クロマトグラフィー試験片の厚み方向に移動させる駆動手段と、
前記駆動手段により前記駆動対象物を駆動させつつ前記光源から光を出射させて前記受光センサでの受光量の変化を検出することにより、前記検出光学系の焦点位置と、前記クロマトグラフィー試験片の位置とを一致させる位置合わせ制御手段と、
前記位置合わせ制御手段によって前記検出光学系の焦点位置と、前記クロマトグラフィー試験片の位置とが一致した状態で、前記光源から光を出射させて前記受光センサからの出力信号に基づいて分析対象物の状態を特定する演算処理部と、
を備えることを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【請求項２】
請求項１記載のクロマトグラフィー分析装置において、
前記受光センサは、
前記走査方向に交差する所定の長手方向に延在して配設されたラインセンサであり、
前記照射光は、
前記クロマトグラフィー試験片に対して斜めに入射するとともに、所定の方向に短尺な照射スポットを当該クロマトグラフィー試験片に形成し、
当該照射光の中心軸を前記クロマトグラフィー試験片に投影した直線と、前記所定の方向とは平行であり、前記長手方向と交差することを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【請求項３】
請求項１または２記載のクロマトグラフィー分析装置において、
前記クロマトグラフィー試験片の面内を前記照射光による照射スポットが走査するよう、前記照射光学系と前記検出光学系との全体光学系、または前記クロマトグラフィー試験片を走査対象物として走査方向に走査させる走査手段を備え、
前記受光センサは、
前記走査方向に交差する所定の長手方向に延在して配設されたラインセンサであり、
前記位置合わせ制御手段は、
前記ラインセンサにおける各画素のうち、前記検出光学系を介して前記検出対象光を受光した領域内の画素による出力の和を、前記受光量とすることを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【請求項４】
請求項１〜３の何れか一項に記載のクロマトグラフィー分析装置において、
前記位置合わせ制御手段は、
前記受光量がピークとなるときの前記駆動対象物の駆動位置を検出することにより、前記検出光学系の焦点位置と、前記クロマトグラフィー試験片の位置とが一致するような前記駆動対象物の駆動位置を特定することを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【請求項５】
請求項１〜４の何れか一項に記載のクロマトグラフィー分析装置において、
前記検出光学系の光軸は、
前記クロマトグラフィー試験片の照射スポットの中心を通過することを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【請求項６】
請求項１〜５の何れか一項に記載のクロマトグラフィー分析装置において、
前記位置合わせ制御手段は、
前記駆動手段を間欠駆動させつつ前記受光センサでの受光量の変化を検出することを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【請求項７】
請求項６記載のクロマトグラフィー分析装置において、
前記位置合わせ制御手段は、
前記受光量と、前記駆動対象物の駆動位置との相関データをカーブフィッティングすることにより、前記受光量がピークとなるときの前記駆動対象物の駆動位置を検出して、前記検出光学系の焦点位置と、前記クロマトグラフィー試験片の位置とが一致するような前記駆動対象物の駆動位置を特定することを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【請求項８】
請求項１〜７の何れか一項に記載のクロマトグラフィー分析装置において、
前記クロマトグラフィー試験片の面内を前記照射光による照射スポットが走査するよう、前記照射光学系と前記検出光学系との全体光学系、または前記クロマトグラフィー試験片を走査対象物として走査方向に走査させる走査手段を備え、
前記クロマトグラフィー試験片は、
分析対象物の状態を検知するための帯状の検知対象領域を、所定の検知ライン方向に延在した状態で少なくとも１つ有しており、
前記位置合わせ制御手段は、
前記走査手段に前記走査対象物を走査させることで、前記クロマトグラフィー試験片の照射スポットを、当該クロマトグラフィー試験片の面内のうち、前記検知対象領域とは異なる部分に位置させた状態で、前記駆動手段に前記駆動対象物を駆動させつつ前記光源から光を出射させて前記受光センサでの受光量の変化を検出し、
前記位置合わせ制御手段及び前記演算処理部は、
前記照射光に起因して前記クロマトグラフィー試験片で生じる蛍光を前記検出対象光として用いることを特徴とすることを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【請求項９】
請求項１〜８の何れか一項に記載のクロマトグラフィー分析装置において、
前記クロマトグラフィー試験片の面内を前記照射光による照射スポットが走査するよう、前記照射光学系と前記検出光学系との全体光学系、または前記クロマトグラフィー試験片を走査対象物として走査方向に走査させる走査手段を備え、
前記受光センサは、
前記走査方向に交差する所定の長手方向に延在して配設されたラインセンサであり、
前記クロマトグラフィー試験片は、
分析対象物の状態を検知するための帯状の検知対象領域を、所定の検知ライン方向に延在した状態で少なくとも１つ有しており、
前記照射スポットは、
前記検知ライン方向に長尺であることを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【請求項１０】
請求項１〜９の何れか一項に記載のクロマトグラフィー分析装置において、
前記クロマトグラフィー試験片の面内を前記照射光による照射スポットが走査するよう、前記照射光学系と前記検出光学系との全体光学系、または前記クロマトグラフィー試験片を走査対象物として走査方向に走査させる走査手段を備え、
前記位置合わせ制御手段は、
前記走査手段に前記走査対象物を走査させて、前記クロマトグラフィー試験片の照射スポットを、前記面内の前記走査方向での複数の所定箇所に位置させた状態で、前記駆動手段を駆動させつつ前記受光センサでの受光量の変化をそれぞれ検出することにより、前記クロマトグラフィー試験片の照射スポットの位置と前記検出光学系の焦点位置とが一致するような前記駆動対象物の駆動位置と、前記走査対象物の走査位置との位置関係を算出し、
前記演算処理部は、
前記位置合わせ制御手段による算出結果に基づいて、前記走査手段による走査によって前記面内の前記走査方向での各箇所に照射スポットが位置するときに、当該箇所の位置と、前記検出光学系の焦点位置とを一致させることを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【請求項１１】
請求項１０記載のクロマトグラフィー分析装置において、
前記クロマトグラフィー試験片は、
分析対象物の状態を検知するための帯状の検知対象領域を、所定の検知ライン方向に延在した状態で少なくとも１つ有しており、
前記複数の所定箇所は、前記クロマトグラフィー試験片の面内で、前記検知対象領域を挟んで位置することを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【請求項１２】
請求項１〜１１の何れか一項に記載のクロマトグラフィー分析装置において、
前記位置合わせ制御手段は、
前記駆動手段に粗動駆動を行わせた後に微動駆動を行わせることにより、前記検出光学系の焦点位置と、前記クロマトグラフィー試験片の位置とが一致するような前記駆動対象物の駆動位置を特定することを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【請求項１３】
請求項１〜１２の何れか一項に記載のクロマトグラフィー分析装置において、
前記位置合わせ制御手段は、
前記受光センサでの受光量が大きくなるよう前記駆動手段を駆動させることにより、前記検出光学系の焦点位置と、前記クロマトグラフィー試験片の位置とが一致するような前記駆動対象物の駆動位置を特定することを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【請求項１４】
請求項１〜１３の何れか一項に記載のクロマトグラフィー分析装置において、
前記照射光学系は、
コリメートレンズとシリンドリカルレンズを有し、
前記光源から出射された光を前記コリメートレンズで平行光にし、当該シリンドリカルレンズで一方向に集光させ、前記クロマトグラフィー試験片に照射することを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【請求項１５】
請求項１４記載のクロマトグラフィー分析装置において、
前記検出光学系の焦点位置と、前記クロマトグラフィー試験片の位置とが一致した状態では、前記シリンドリカルレンズの焦点位置と、前記クロマトグラフィー試験片の位置とは、当該シリンドリカルレンズの光軸方向にずれていることを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【請求項１６】
請求項１５記載のクロマトグラフィー分析装置において、
前記シリンドリカルレンズの前記一方向を含む断面での開口数をNAｃｙｌ、
前記シリンドリカルレンズの光軸方向における前記クロマトグラフィー試験片の位置と、前記シリンドリカルレンズの焦点位置との距離をΔZｆｓ[mm]とした場合に、
０．００５＜|NAｃｙｌ／ΔZfs|＜０．０５０  [/mm]を満たすことを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【請求項１７】
請求項１〜１３の何れか一項に記載のクロマトグラフィー分析装置において、
前記照射光学系は、
コリメートレンズと、矩形スリットとを有し、
前記光源から出射された光を前記コリメートレンズで平行光にし、前記矩形スリットに通過させた後、前記クロマトグラフィー試験片に照射することを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【請求項１８】
請求項１４〜１７記載のクロマトグラフィー分析装置において、
前記コリメートレンズの焦点距離ｆcol[mm]は、
5＜ｆcol＜30 [mm]を満たすことを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【請求項１９】
請求項１〜１８の何れか一項に記載のクロマトグラフィー分析装置において、
前記照射光は、
前記クロマトグラフィー試験片に対して斜めに入射するとともに、所定の方向に短尺な照射スポットを当該クロマトグラフィー試験片に形成し、
当該照射光の中心軸を前記クロマトグラフィー試験片に投影した直線と、前記所定の方向とは平行であり、
前記照射スポットの短尺方向でのスポット長をdl、前記検出光学系の横倍率をmとした場合に、
0.5mm＜dl・|m|＜3mmを満たすことを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【請求項２０】
請求項１〜１９の何れか一項に記載のクロマトグラフィー分析装置において、
前記受光センサは、
所定の長手方向に延在して配設されたラインセンサであり、
前記光源は、発散光束を出射するレーザ光源であり、
前記照射光は、
前記クロマトグラフィー試験片に対して斜めに入射するとともに、所定の方向に短尺な照射スポットを当該クロマトグラフィー試験片に形成し、
当該照射光の中心軸を前記クロマトグラフィー試験片に投影した直線と、前記所定の方向とは平行であり、
前記発散光束の光軸に垂直な方向のうち最も光線の広がり角が大きい方向と、前記照射スポットの長尺方向と、前記長手方向とは平行であることを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【請求項２１】
請求項１〜２０の何れか一項に記載のクロマトグラフィー分析装置において、
前記照射光の中心軸と、前記検出対象光の中心軸とのなす角度θは、
30°＜θ＜70°であることを特徴とするクロマトグラフィー分析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、クロマトグラフィー分析装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、抗原抗体反応の特異性を利用して抗原を定性的あるいは定量的に検出する技術分野において、板状のクロマトグラフィー試験片が用いられている。このクロマトグラフィー試験片には、検体中の抗原（分析対象物）と色素標識抗体との免疫複合体を特異的に捕捉する抗原特異的抗体が固定化されたテストライン(検出ゾーン）と、色素標識抗体を特異的に捕捉する標識抗体特異的抗体が固定化されたコントロールライン（参照ゾーン）とが間隔をおいて短冊状に設けられている。
【０００３】
このようなクロマトグラフィー試験片においては、一端に液状の検体が滴下されると、色素標識抗体と抗原との結合が促された後、毛細管現象により免疫複合体と色素標識抗体がクロマトグラフィー試験片上を他端に向かって移動する結果、テストライン及びコントロールラインでそれぞれの抗体が捕捉されるので、両ラインの色素標識抗体を励起して蛍光を生じさせることによって、分析対象物が定性的あるいは定量的に検出される。
【０００４】
ところで、上記のクロマトグラフィー試験片によって分析を行う分析装置においては、クロマトグラフィー試験片と、蛍光の受光センサとの間には、試験片からの蛍光を集光しつつ受光センサに導くための検出光学系が配設されている。
【０００５】
そのため、試験片での蛍光を精度良く検出するためには、受光センサ上で像がぼけるのを防止すべく、検出光学系の焦点位置と、試験片の位置とを合わせる必要がある。
この点、近年では、励起光とは別の光を試験片に斜めに入射させ、その反射光を検出することにより、試験片の位置調整を行う技術が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００１−１０８６８４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上記特許文献１の技術では、分析用と位置合わせ用とで光源が複数必要になる他、各光路上に光学素子が配置されるため、装置が複雑化してしまう。
【０００８】
そこで、本発明は以上のような事情に鑑みてなされたものであり、装置の複雑化を防止しつつ、検出光学系の焦点位置と試験片の位置とを精度良く合わせることのできるクロマトグラフィー分析装置を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するため、本発明によれば、
クロマトグラフィー試験片上における分析対象物の状態を検知するクロマトグラフィー分析装置において、
光源と、
前記光源から出射された光を前記クロマトグラフィー試験片に導き、当該クロマトグラフィー試験片に対する照射光を出射する照射光学系と、
光電変換を行う受光センサと、
前記照射光に起因して前記クロマトグラフィー試験片で生じる検出対象光を前記受光センサに導く検出光学系と、
前記照射光学系と前記検出光学系との光学系全体、または前記クロマトグラフィー試験片を駆動対象物として前記クロマトグラフィー試験片の厚み方向に移動させる駆動手段と、
前記駆動手段により前記駆動対象物を駆動させつつ前記光源から光を出射させて前記受光センサでの受光量の変化を検出することにより、前記検出光学系の焦点位置と、前記クロマトグラフィー試験片の位置とを一致させる位置合わせ制御手段と、
前記位置合わせ制御手段によって前記検出光学系の焦点位置と、前記クロマトグラフィー試験片の位置とが一致した状態で、前記光源から光を出射させて前記受光センサからの出力信号に基づいて分析対象物の状態を特定する演算処理部と、
を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、駆動手段は照射光学系と検出光学系との光学系全体、またはクロマトグラフィー試験片を駆動対象物としてクロマトグラフィー試験片の厚み方向に移動させ、位置合わせ制御手段は駆動手段により駆動対象物を駆動させつつ光源から光を出射させて受光センサでの受光量の変化を検出することにより、検出光学系の焦点位置と、クロマトグラフィー試験片の位置とを一致させ、位置合わせ制御手段によって検出光学系の焦点位置と、クロマトグラフィー試験片の位置とが一致した状態で、演算処理部は光源から光を出射させて受光センサからの出力信号に基づいて分析対象物の状態を特定するので、クロマトグラフィー試験片での分析用の光源を用いて検出光学系の焦点位置と、クロマトグラフィー試験片の位置とを一致させることができる。従って、複数の光源を必要とする従来の場合と異なり、装置の複雑化・大型化を防止しつつ、検出光学系の焦点位置と試験片の位置とを精度良く合わせることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】クロマトグラフィー試験片を示す図である。
【図２】クロマトグラフィー分析装置の外観構成を示す図である。
【図３】クロマトグラフィー分析装置の内部構成を示す図である。
【図４】分析処理を示すフローチャートである。
【図５】予備走査処理を示すフローチャートである。
【図６】本走査処理を示すフローチャートである。
【図７】照射光の中心軸を試験片に投影した直線と、受光センサの長手方向とが平行な場合を説明するための図である。
【図８】試験片での照射強度と照射スポットにおける中心からの位置との関係を示す図である。
【図９】照射光学系の変形例を示す図である。
【図１０】受光センサでの受光量と試験片の駆動位置との相関データをカーブフィッティングした状態を示す図である。
【図１１】試験片が走査方向に傾いた状態を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明を図示の実施の形態に基づいて説明するが、本発明は該実施の形態に限られない。なお、図中、同一あるいは同等の部分には同一の番号を付与し、重複する説明は省略する。
【００１３】
（１．クロマトグラフィー試験片）
始めに、本実施の形態におけるクロマトグラフィー試験片について、図１を用いて説明する。
【００１４】
ここで、図１（ａ）はクロマトグラフィー試験片９（以下、試験片とする）の外観構成の一例を示す斜視図であり、図１（ｂ）、（ｃ）は側面図である。
【００１５】
試験片９は、図１（ａ）に示すように、矩形板状に形成されており、後述の走査方向Ｘに長尺となっている。
この試験片９は、図１（ｂ），（ｃ）に示すように、上面における一端部にサンプルパッド９０が設けられ、他端部に吸収パッド９１が設けられている。
このうち、サンプルパッド９０は、液状の検体が滴下される部分である。また、吸収パッド９１は、サンプルパッド９０に滴下された検体を吸収することにより、当該検体を毛細管現象によって検体移動方向Ｋに流させる部分である。なお、本実施の形態においては、検体移動方向Ｋと走査方向Ｘとは平行となっている。
【００１６】
サンプルパッド９０に対して検体移動方向Ｋの下流側には、コンジュゲートパッド９２が配設されている。このコンジュゲートパッド９２は、検体中に含まれる分析対象物としての抗原と結合する色素標識抗体を含んでおり、サンプルパッド９０から供給される検体を検体移動方向Ｋの下流側に移動させつつ、検体内の抗原を色素標識抗体と結合させるようになっている。
【００１７】
コンジュゲートパッド９２と吸収パッド９１との間には、分析対象物の状態を検知するための帯状の検知対象領域９３として、テストライン９３ａとコントロールライン９３ｂとが設けられている。これらテストライン９３ａ及びコントロールライン９３ｂは、検体移動方向Ｋの直交方向、つまり試験片９の幅方向（以下、検知ライン方向Ｚとする）にそれぞれ延在した状態で、所定の間隔を空けて、それぞれ所定の幅で配設されている。なお、本実施の形態においては、検体移動方向Ｋにおける検知対象領域９３の長さ（幅）は１ｍｍ〜３ｍｍ程度となっている。
【００１８】
このうち、テストライン９３ａは、検出ゾーンとも称される領域であり、検体中の抗原（分析対象物）と色素標識抗体との複合体を結合させるようになっている。具体的には、テストライン９３ａには、抗原（分析対象物）と色素標識抗体との免疫複合体を特異的に捕捉する抗原特異的抗体が固定化されている。
【００１９】
また、コントロールライン９３ｂは、参照ゾーンとも称される領域であり、色素標識抗体を結合させるようになっている。具体的には、コントロールライン９３ｂには、色素標識抗体を特異的に捕捉する標識抗体特異的抗体が固定化されている。
【００２０】
なお、以上のような試験片９としては、従来より公知のクロマトグラフィー試験片を用いることができる。
【００２１】
（２．クロマトグラフィー分析装置）
（２−１．外観構成）
続いて、本発明に係るクロマトグラフィー分析装置の外観構成について、図２を用いて説明する。
ここで、図２はクロマトグラフィー分析装置１の外観構成の一例を示す斜視図である。
【００２２】
この図に示すように、クロマトグラフィー分析装置１は、試験片９上における分析対象物の状態を検知するものであり、挿入口１０と、スイッチ群１１と、ディスプレイ１２と、プリンタ部１３とを備えている。
【００２３】
このうち、挿入口１０は、クロマトグラフィー分析装置１に対して試験片９を挿入したり、クロマトグラフィー分析装置１内の試験片９を排出したりするための開口部である。
【００２４】
スイッチ群１１は、クロマトグラフィー分析装置１に対して各種の指示を行うための複数のスイッチを有している。具体的には、本実施の形態におけるスイッチ群１１は、起動状態への移行を指示するためのパワースイッチ１１ａと、測定の開始指示を行うための測定開始スイッチ１１ｂと、測定結果のプリントを指示するためのプリントスイッチ１１ｃと、クロマトグラフィー分析装置１内の試験片９の排出を指示するための排出スイッチ１１ｄ等とを有している。
【００２５】
ディスプレイ１２は、試験片９の分析結果など、各種の情報を表示するものであり、本実施の形態においてはＬＣＤ（Liquid Crystal Display）となっている。
【００２６】
プリンタ部１３は、試験片９の分析結果など、各種の情報をプリントアウトするものである。
【００２７】
（２−２．内部構成）
続いて、クロマトグラフィー分析装置１の内部構成について、図３（ａ）を用いて説明する。
ここで、図３（ａ）はクロマトグラフィー分析装置１の内部構成の一例を示す模式図である。
【００２８】
この図に示すように、クロマトグラフィー分析装置１は、光源２と、照射光学系３と、受光センサ４と、検出光学系５と、走査装置６と、駆動装置８と、制御部７とを備えている。
【００２９】
光源２は、光を出射するものであり、本実施の形態においては、レーザ光源となっている。このレーザ光源は、発散光束を出射するようになっており、当該光束の波長は６６０ｎｍ程度となっている。この発散光束は所定の方向（以下、発散方向Ｈとする）に最も大きく発散するようになっており、換言すれば、発散方向Ｈは、光源２から出射される発散光束の光軸に垂直な方向のうち、最も光線の広がり角が大きい方向となっている。
【００３０】
照射光学系３は、光源２から出射された光を試験片９に導いて、当該試験片９に対する照射光Ｓを出射する光学系であり、本実施の形態においては、レンズ３０，３２と、バンドパスフィルター３１とを有している。なお、本実施の形態において照射光Ｓとは、光源２から試験片９に向かって照射された光のうち、照射光学系３を通過した後、試験片９に当たるまでの部分をいう。
【００３１】
レンズ３０は、光源２から出射された光を平行光に変換してバンドパスフィルター３１に入射させるようになっている。
【００３２】
バンドパスフィルター３１は、光源２から出射された光の各周波数成分のうち、試験片９の色素標識抗体を励起して蛍光を生じさせる周波数成分を選択的に通過させ、後述するバンドパスフィルタ５１の通過周波数成分を遮光するようになっている。
【００３３】
レンズ３２は、バンドパスフィルター３１を通過した光を試験片９上に集光するようになっている。このレンズ３２は、本実施の形態においてはシリンドリカルレンズとなっており、検知ライン方向Ｚの直交方向に光を集光するようになっている。ここで、検出光学系５の焦点位置と試験片９の位置とが一致した状態では、このレンズ３２の焦点位置と試験片９の位置とは当該レンズ３２（シリンドリカルレンズ）の光軸方向にずれており、具体的には、シリンドリカルレンズの集光方向を含む断面での開口数をNAｃｙｌ、シリンドリカルレンズの光軸方向における試験片９の位置とシリンドリカルレンズの焦点位置との距離をΔZｆｓ[mm]とした場合に、０．００５＜|NAｃｙｌ／ΔZfs|＜０．０５０  [/mm]を満たすようになっている。
【００３４】
以上の照射光学系３によって試験片９に照射される照射光Ｓは、試験片９に対して斜めに入射するとともに、検知ライン方向Ｚ（試験片９における検知対象領域９３の延在方向）に長尺、走査方向Ｘに短尺な照射スポットを試験片９に形成するようになっている。
また、照射光Ｓの中心軸Ｊｓを試験片９に投影した直線と、走査方向Ｘとは平行となっており、光源２からの出射光（発散光束）の発散方向Ｈと、照射スポットの長尺方向（検知ライン方向Ｚ）とは平行となっている。ここで、中心軸Ｊｓとは、照射光学系３から出射される光線のうち照射スポットの強度中心に入射する光線の軸である。
また、照射スポットの短尺方向（走査方向Ｘ）でのスポット長をdl(mm)、検出光学系５の横倍率をmとした場合に、dl・|m|の値は0.5mm＜dl・|m|＜3mmを満たすようになっている。
【００３５】
受光センサ４は、光電変換を行うセンサである。この受光センサ４は、本実施の形態においてはライン状に配列された複数の画素によって光電変換を行うラインセンサとなっており、所定の長手方向Ｙに延在して配設されている。このようなラインセンサとしては、ラインＣＣＤやラインＣＭＯＳ、１次元に配列されたフォトダイオードなど、従来より公知のものを用いることができる。
【００３６】
ここで、受光センサ４の長手方向Ｙは検出対象光Ｔの中心軸Ｊｔの軸方向と、検知ライン方向Ｚ（試験片９における検知対象領域９３の延在方向）とを含む平面に対して略平行となっており、好ましくは検知ライン方向Ｚに対して略平行となっている。
【００３７】
検出光学系５は、照射光Ｓに起因して試験片９で生じる検出対象光Ｔを受光センサ４に導く光学系であり、本実施の形態においては、レンズ５０，５２と、バンドパスフィルター５１とを有している。なお、本実施の形態において検出対象光Ｔとは、光源２からの出射光に起因して試験片９で発生する光のうち、検出光学系５に入射するまでの部分をいい、励起された色素標識抗体で生じる蛍光や、試験片９での反射光、散乱光を含んでいる。
【００３８】
レンズ５０は、試験片９で生じる検出対象光Ｔを平行光に変換してバンドパスフィルター５１に入射させるようになっている。
【００３９】
バンドパスフィルター５１は、検出対象光Ｔの各周波数成分うち、分析対象物の状態を観測できる周波数成分を選択的に通過させ、バンドパスフィルタ３１を通過した光源２からの光束を遮光するようになっている。ここでは、色素標識抗体で生じた蛍光の周波数成分を選択的に通過させるようになっている。なお、本実施の形態においては、波長６６０ｎｍの光によって色素標識抗体から生じる蛍光の波長は７００ｎｍ付近となっている。
【００４０】
レンズ５２は、バンドパスフィルター５１を通過した光を受光センサ４上に集光するようになっている。
【００４１】
なお、以上の照射光学系３の光軸は、試験片９の照射スポットの中心を通過するようになっている。また、照射光Ｓの中心軸Ｊｓと、検出対象光Ｔの中心軸Ｊｔとのなす角度θは、30°＜θ＜70°となっている。
【００４２】
走査装置６は、照射光学系３と検出光学系５との光学系全体、または試験片９を走査対象物として走査方向Ｘに走査させることで試験片９の面内で照射スポットを走査させるものであり、本実施の形態においては、試験片９を下方から支持する板状の支持台６０と、当該支持台６０を走査方向Ｘに往復運動させる走査用モータ６１とを有し、試験片９を走査対象物として支持台６０ごと走査方向Ｘに走査させるようになっている。より詳細には、この走査装置６は、１回の走査を複数回のステップに分けて行うようになっており、換言すれば、試験片９を走査方向Ｘに複数回移動させることによって、当該試験片９を１回走査させるようになっている。
【００４３】
ここで、走査用モータ６１としてはステッピングモータやボイスコイルモータ、ＤＣモータなど、従来より公知のモータを用いることができる。また、本実施の形態においては、走査方向Ｘは受光センサ４の長手方向Ｙと交差しており、好ましくは直交している。
【００４４】
駆動装置８は、照射光学系３と検出光学系５との光学系全体、或いは試験片９を駆動対象物として試験片９の厚み方向Ａに移動させるものであり、本実施の形態においては上述の支持台６０と、当該支持台６０を厚み方向Ａに往復運動させる駆動用モータ８１とを有し、試験片９を駆動対象物として支持台６０ごと厚み方向Ａに駆動させるようになっている。ここで、駆動用モータ８１としてはステッピングモータやボイスコイルモータ、ＤＣモータなど、従来より公知のモータを用いることができる。
【００４５】
制御部７は、スイッチ群１１から入力される指示に応じて所定の処理を実行し、各機能部への指示やデータの転送等を行い、クロマトグラフィー分析装置１を統括的に制御するとともに、種々の演算を行うものである。例えば、この制御部７は、検出光学系５の焦点位置と試験片９の位置とを一致させた状態で、受光センサ４からの出力信号に基づいて分析対象物の状態を特定するようになっている。なお、本実施の形態においては、制御部７は、検体中での分析対象物の濃度を算出して、分析対象物の状態として特定するようになっている。但し、制御部７は分析対象物の有無を検知することとしても良いし、他の状態を検知することとしても良い。また、図３では制御部７が光源２や受光センサ４、走査用モータ６１、駆動用モータ８１などに接続された状態を図示しているが、制御部７の接続対象はこれらに限定されるものではない。
【００４６】
続いて、クロマトグラフィー分析装置１による分析処理について、図４〜図６を参照しながら説明する。
【００４７】
まず、図４に示すように、クロマトグラフィー分析装置１に電源が接続されると（ステップＳ１）、制御部７はクロマトグラフィー分析装置１の初期設定を行った後（ステップＳ２）、パワースイッチ１１ａのＯＮ・ＯＦＦを判定する（ステップＳ３）。
【００４８】
このステップＳ３においてパワースイッチ１１ａがＯＦＦになっていると判定した場合（ステップＳ３；ＯＦＦ）には、制御部７は、スリープモードに入って操作の待機状態に入った後（ステップＳ４）、ステップＳ３に移行する。
【００４９】
また、ステップＳ３においてパワースイッチ１１ａがＯＮになっていると判定した場合（ステップＳ３；ＯＮ）には、制御部７は、通常モードに入って各種の設定値を読み出すとともに（ステップＳ５）、走査用モータ６１，駆動用モータ８１などの各駆動部を初期位置に移動させる（ステップＳ６）。
【００５０】
次に、制御部７は、測定開始スイッチ１１ｂがＯＮにされるか否かを判定し（ステップＳ７）、ＯＮにされないと判定した場合（ステップＳ７；ＯＦＦ）には、後述のステップＳ２０に移行する。
【００５１】
また、測定開始スイッチ１１ｂがＯＮにされたと判定した場合（ステップＳ７；ＯＮ）には、制御部７は、走査用モータ６１，駆動用モータ８１が初期位置にあるか否かを判定し（ステップＳ１１）、初期位置に無いと判定した場合（ステップＳ１１；ＮＧ）には、ディスプレイ１２にエラーメッセージを表示させた後（ステップＳ１９）、後述のステップＳ２０に移行する。
【００５２】
また、ステップＳ１１において走査用モータ６１，駆動用モータ８１が初期位置にあると判定した場合（ステップＳ１１；ＯＫ）には、制御部７は、試験片９が挿入口１０から挿入されてセットされているか否かを判定し（ステップＳ１２）、セットされていないと判定した場合（ステップＳ１２；無）には、上述のステップＳ１９に移行する。
【００５３】
また、ステップＳ１２において試験片９が挿入口１０から挿入されてセットされていると判定した場合（ステップＳ１２；有）には、制御部７は、検出光学系５の焦点位置と試験片９の位置との位置合わせをおこなう（ステップＳ１２０）。
【００５４】
具体的には、このステップＳ１２０においてまず制御部７は、光源２から光を出射させて試験片９に照射スポットを形成した状態で、駆動装置８により試験片９を厚み方向Ａに駆動させつつ、受光センサ４での蛍光の受光量変化を検出することにより、検出光学系５の焦点位置と、試験片９の位置とが一致するような試験片９の駆動位置を特定する。
【００５５】
このとき、制御部７は、受光センサ４での受光量が大きくなるよう駆動装置８を間欠駆動させ、受光量がピークとなるときの試験片９の駆動位置を検出することにより、検出光学系５の焦点位置と、試験片９の位置とが一致するような駆動対象物の駆動位置を特定するようになっている。
【００５６】
また、このとき制御部７は、駆動装置８に粗動駆動を行わせた後に微動駆動を行わせることにより、検出光学系５の焦点位置と、試験片９の位置とが一致するような試験片９の駆動位置を特定するようになっている。ここで、本実施の形態において微動駆動とは数μｍ〜数十μｍ程度の移動量の駆動であり、粗動駆動とは、微動駆動の１０倍以上の移動量の駆動である。
【００５７】
また、このとき制御部７は、受光センサ４（ラインセンサ）における各画素のうち、検出光学系５を介して検出対象光Ｔを受光した領域内の画素による出力の和を受光センサ４での受光量として用いるようになっている。但し、受光領域内の画素のうち、所定の閾値以上の光量で受光した画素による出力の和を受光センサ４での受光量としても良い。
【００５８】
そして、制御部７は、検出光学系５の焦点位置と試験片９の位置とが一致する駆動位置として特定された位置に試験片９を駆動させることにより、検出光学系５の焦点位置と、試験片９の位置とを一致させる。
【００５９】
以上の動作によって検出光学系５の焦点位置と試験片９の位置との位置合わせが終了したら、次に制御部７は、検出光学系５の焦点位置と試験片９の位置とが一致した状態で、予備走査を行うための予備走査処理を行う（ステップＳ１３）。ここで、予備走査とは、走査装置６によって複数回行われる走査のうち初回に行われる走査であり、試験片９上でのコントロールライン９３ｂの位置や幅、コントロールライン９３ｂに対して受光センサ４で受光される光量などを検出するための走査である。
【００６０】
具体的には、図５に示すように、この予備走査処理においてまず制御部７は、走査用モータ６１を駆動して試験片９を１ステップ分だけ走査方向Ｘに移動させる（ステップＴ１）。ここで、１ステップ分の移動量としては、走査方向Ｘにおけるコントロールライン９３ｂの幅より小さい所定の移動量が予め設定されている。
【００６１】
次に、制御部７は、光源２を点灯させて光を出射させた後（ステップＴ２）、受光センサ４（ラインセンサ）から各画素での蛍光の受光信号のデータを取得して（ステップＴ３）、光源２を消灯させる（ステップＴ４）。
【００６２】
そして、制御部７は、走査方向Ｘにおいてコントロールライン９３ｂの全域が検出されたか否かを判定し（ステップＴ５）、検出されていないと判定した場合（ステップＴ５；ＮＧ）には上述のステップＴ１に移行する一方、検出されたと判定した場合（ステップＴ５；ＯＫ）には、予備走査処理を終了する。なお、このステップＴ５において制御部７は、所定の閾値以上に明るい領域が検知された場合には、その位置がコントロールライン９３ｂであると判断し、一旦、閾値以上に明るい領域が検知された後、暗い領域が検知された場合には、その位置がコントロールライン９３ｂの境界部分であると判断する。
【００６３】
以上の予備走査処理が終了したら、図４に示すように、次に制御部７は、予備走査処理で検知されたコントロールライン９３ｂの位置に基づいて、テストライン９３ａの位置を特定するとともに、コントロールライン９３ｂでの光量に基づいて、光源２のパワーを変更し、テストライン９３ａの検知に用いる閾値を変更した後（ステップＳ１４）、検出光学系５の焦点位置と試験片９の位置とが一致した状態で、本走査を行うための本走査処理を行う（ステップＳ１５）。ここで、本走査とは、走査装置６によって複数回行われる走査のうち２回目以降に行われる走査であり、テストライン９３ａにおける分析対象物の状態（本実施の形態においては分析対象物の濃度）を検知するための走査である。
【００６４】
具体的には、図６に示すように、この本走査処理においてまず制御部７は、特定されたテストライン９３ａの位置に基づいて、走査方向Ｘにおいて当該位置の直前に走査用モータ６１を移動させた後（ステップＵ１）、１回の走査において行うべきステップ数を決定する（ステップＵ２）。具体的には、このステップＵ２において制御部７は、走査方向Ｘにおけるテストライン９３ａの幅を１ステップ当たりの移動量で割ることにより、ステップ数を算出する。ここで、１ステップ分の移動量としては、走査方向Ｘにおけるテストライン９３ａの幅より小さい所定の移動量が予め設定されている。
【００６５】
次に、制御部７は、１ステップ分だけ走査用モータ６１を駆動させる（ステップＵ３）。
次に、制御部７は、光源２を点灯させて光を出射させた後（ステップＵ４）、受光センサ４（ラインセンサ）から各画素での蛍光の受光信号のデータを取得して（ステップＵ５）、光源２を消灯させる（ステップＵ６）。これにより、走査装置６が本走査を行っている場合には、照射光Ｓによる試験片９の照射スポットがテストライン９３ａと、当該テストライン９３ａの近傍とに位置するタイミングのみで光源２から光が出射される。
【００６６】
そして、制御部７は、ステップＵ２で決定したステップ数だけ走査用モータ６１の駆動を行ったか否かを判定し（ステップＵ７）、行っていないと判定した場合（ステップＵ７；未満）には上述のステップＵ３に移行する一方、行ったと判定した場合（ステップＵ７；終了）には本走査処理を終了する。
【００６７】
以上の本走査処理が終了したら、図４に示すように、次に制御部７は、走査装置６による各回の走査時に受光センサ４から得られる出力信号に基づいて、分析対象物の濃度を算出する演算を行った後（ステップＳ１６）、その結果をディスプレイ１２に表示させる（ステップＳ１７）。
【００６８】
より詳細には、このステップＳ１６において制御部７は、受光センサ４（ラインセンサ）における各画素のうち、検出光学系５を介して検出対象光Ｔを受光した領域内の画素による出力の和に基づいて、分析対象物の濃度を算出する。なお、検出対象光Ｔを受光した領域内の画素としては、例えば所定の閾値を越える出力信号を出力する画素を用いることができる。
【００６９】
また、このステップＳ１６において制御部７は、検出光学系５における周辺光量の低下分を補正して分析対象物の濃度を算出する。例えば、検出光学系５がコサイン４乗則に準ずる光量低下を示す場合には、各画素での検出光量を（cosθ）4で除算して濃度計算を行う。ここで、θは検出光学系５における主光線が受光センサ４に入射する角度である。
【００７０】
次に、制御部７は、排出スイッチ１１ｄがＯＮに操作されるか否かを判定し（ステップＳ２０）、ＯＮに操作されないと判定した場合（ステップＳ２０；ＯＦＦ）には、後述のステップＳ２２に移行する。
【００７１】
また、ステップＳ２０において排出スイッチ１１ｄがＯＮに操作されたと判定した場合（ステップＳ２０；ＯＮ）には、制御部７は、挿入口１０から試験片９を排出させた後（ステップＳ２１）、プリントスイッチ１１ｃがＯＮに操作されるか否かを判定する（ステップＳ２２）。
【００７２】
このステップＳ２２においてプリントスイッチ１１ｃがＯＮに操作されないと判定した場合（ステップＳ２２；ＯＦＦ）には、制御部７は、パワースイッチ１１ａがＯＮになっているか否かを判定し（ステップＳ２６）、なっていないと判定した場合（ステップＳ２６；ＯＦＦ）には、上述のステップＳ４に移行する一方、ＯＮになっていると判定した場合（ステップＳ２６；ＯＮ）には上述のステップＳ６に移行する。
【００７３】
また、上述のステップＳ２２においてプリントスイッチ１１ｃがＯＮに操作されたと判定した場合（ステップＳ２２；ＯＮ）には、制御部７は、試験片９について測定（分析）を行っているか否かを判定し（ステップＳ２３）、行っていると判定した場合（ステップＳ２３；Ｙｅｓ）には測定結果をプリンタ部１３にプリントさせた後（ステップＳ２４）、上述のステップＳ２６に移行する。
【００７４】
また、ステップＳ２３において測定を行っていないと判定した場合（ステップＳ２３；Ｎｏ）にはディスプレイ１２にエラーメッセージを表示させた後（ステップＳ２５）、上述のステップＳ２６に移行する。
【００７５】
以上のように、本実施形態によれば、駆動装置８は試験片９を駆動対象物として厚み方向Ａに移動させ、制御部７は駆動装置８により試験片９を駆動させつつ光源２から光を出射させて受光センサ４での受光量の変化を検出することにより、検出光学系５の焦点位置と、試験片９の位置とを一致させ、この状態で光源２から光を出射させて受光センサ４からの出力信号に基づいて分析対象物の状態を特定するので、試験片９での分析用の光源２を用いて検出光学系５の焦点位置と、試験片９の位置とを一致させることができる。従って、複数の光源を必要とする従来の場合と異なり、装置の複雑化・大型化を防止しつつ、検出光学系５の焦点位置と試験片９の位置とを精度良く合わせることができる。
【００７６】
また、受光センサ４は長手方向Ｙに延在して配設されたラインセンサであり、照射光Ｓは試験片９に対して斜めに入射するとともに、走査方向Ｘに短尺な照射スポットを試験片９に形成し、当該照射光Ｓの中心軸Ｊｓを試験片９に投影した直線と、走査方向Ｘとは平行で、長手方向Ｙと直交するので、図３（ｂ）に示すように、検出光学系５による検出対象光Ｔの結像位置が試験片９の駆動によって受光センサ４の短手方向に移動して、受光センサ４を横切る。従って、図３（ｄ）に示すように、試験片９の駆動位置の変化による受光量の変化を大きくすることができるため、検出光学系５の焦点位置と試験片９の位置とを、より精度良く合わせることができる。ここで、図７（ａ），（ｂ）に示すように、照射光Ｓの中心軸Ｊｓを試験片９に投影した直線と、受光センサ４の長手方向Ｙとが平行である場合には、検出光学系５による検出対象光Ｔの結像位置が試験片９の駆動によって受光センサ４の長手方向に移動するため、図７（ｃ）に示すように、試験片９の駆動位置が変化しても受光センサ４の受光量の和もしくは、受光センサ４の特定画素の受光量の和がほぼ一定となってしまう結果、検出光学系５の焦点位置と試験片９の位置とを、精度良く合わせることができない。なお、これらの図において、検出対象光Ｔの検出光学系５による結像スポットの光強度は、図３（ｃ）に示すような分布を有している。照射スポットの長尺方向の光強度がおよそ均一なため、結像スポットの長尺方向の光強度もおよそ均一となっている。
【００７７】
また、照射光学系３はレンズ３２としてシリンドリカルレンズを有し、当該シリンドリカルレンズで検知ライン方向Ｚの直交方向に集光した光を試験片９に照射するので、走査方向Ｘに沿って照射スポットに光量分布が生じる。そのため、駆動装置８によって試験片９を駆動させた場合に、受光センサ４での受光量は走査方向Ｘに変化するため、受光センサ４において受光量のピークを示すときの試験片９の駆動位置を容易かつ精度良く検出することができる。また、照射光学系３が集光を行わずに試験片９に照射光を当てる場合と比較して、余分な照射によって試験片９が褪色などの悪影響を受けてしまうのを防止することができる。
【００７８】
また、光源２からの出射光の発散方向Ｈと照射スポットの長尺方向（検知ライン方向Ｚ）と受光センサ４（ラインセンサ）の長手方向Ｙとが平行であるので、受光センサ４（ラインセンサ）の各画素で均一強度の検出対象光Ｔを受光することができる。従って、分析対象物の状態を精度良く検知することができる。また、光源２からの出射光の発散方向Ｈと照射スポットの長尺方向（検知ライン方向Ｚ）とが平行であるので、照射スポットの短尺方向（走査方向Ｘ）に沿って照射スポットに光量分布が生じる。そのため、駆動装置８によって試験片９を駆動させた場合に、受光センサ４での受光量は当該短尺方向に変化するため、受光センサ４において受光量のピークを示すときの試験片９の駆動位置を容易かつ精度良く検出することができる。
【００７９】
また、検出光学系５の光軸は試験片９の照射スポットの中心を通過するので、光軸が照射スポットの周辺部を通過する場合と比較して、受光センサ４での受光量を大きくした状態で、駆動装置８による各駆動位置での受光量を検出することができる。従って、検出光学系５の焦点位置と試験片９の位置とを、より精度良く合わせることができる。
【００８０】
また、分析対象物の状態検知において、検知対象領域９３で生じる蛍光を検出対象光Ｔとして用いる場合には、当該蛍光を試験片９での反射光や散乱光と分離するために光路上にバンドパスフィルター５１を配設する必要が生じるところ、検出光学系５と試験片９との位置合わせにおいても、当該蛍光を検出対象光Ｔとして用いるので、分析対象物の状態検知のための蛍光と同様にバンドパスフィルター５１で反射光や散乱光から分離して、確実に受光センサ４に受光させることができる。
【００８１】
また、受光センサ４はラインセンサであり、制御部７は受光センサ４（ラインセンサ）における各画素のうち、検出光学系５を介して検出対象光Ｔを受光した領域内の画素による出力の和を受光センサ４での受光量とするので、ラインセンサの画素ごとに異なる量で発生するノイズの影響を低減し、駆動装置８による各駆動位置での受光量を正確に検出することができる。
【００８２】
また、受光センサ４はラインセンサであるので、エリアセンサである場合と比較して装置を簡略化することができる。また、受光センサ４がエリアセンサである場合と比較して試験片９を広い領域で照射する必要がないため、余分な照射によって試験片９が褪色などの悪影響を受けてしまうのを防止することができる。
【００８３】
また、駆動装置８に粗動駆動を行わせた後に微動駆動を行わせることにより、検出光学系５の焦点位置と、試験片９の位置とが一致するような試験片９の駆動位置を特定するので、粗動駆動によって大まかに理想の駆動位置を特定した後、微動駆動によって正確に当該駆動位置を特定することができる。従って、微動駆動のみによって検出する場合と比較して、理想の駆動位置の検出速度を向上させることができる。
【００８４】
また、検出光学系５の焦点位置と、試験片９の位置とが一致した状態では、レンズ３２（シリンドリカルレンズ）の焦点位置と、試験片９の位置とが当該レンズ３２（シリンドリカルレンズ）の光軸方向にずれているので、レンズ３２（シリンドリカルレンズ）の焦点位置と試験片９の位置とが一致する場合と比較して、照射スポットを大きくし、試験片９の厚み方向Ａへの移動による照射スポットのサイズ変化を低減することができる。従って、検出光学系５と試験片９との位置合わせにおいては、照射スポットを大きいサイズに維持しつつ位置合わせを行うことができるため、検出光学系５の焦点位置と試験片９の位置とを、より精度良く合わせることができる。また、分析対象物の状態検知においては、試験片９が厚み方向に変位した場合であっても照射スポットを大きいサイズに維持しつつ分析を行うことができるため、分析対象物の状態を確実に検知することができる。
【００８５】
また、レンズ３２（シリンドリカルレンズ）の集光方向を含む断面での開口数をNAｃｙｌ、試験片９の位置と、レンズ３２（シリンドリカルレンズ）の焦点位置との差をΔZｆｓ[mm]とした場合に、０．００５＜|NAｃｙｌ／ΔZfs|＜０．０５０  [/mm]を満たすので、|NAｃｙｌ／ΔZfs|≧０．０５０の場合と異なり、装置の組立を容易化することができる。具体的には、|NAｃｙｌ／ΔZfs|≧０．０５０の場合には、検出光学系５と照射光学系３とで光軸にずれが生じた場合に、図８（ａ）に示すように、試験片９での照射強度の分布が大きく変化して照射スポットのサイズが大きく変化してしまうため、光軸を精度良く合わせて装置を組み立てる必要が生じる結果、手間が掛かる。なお、この図８では、シリンドリカルレンズとして、焦点距離ｆ＝２０ｍｍ、開口数NAｃｙｌ＝０．０４のものを用いた場合で、照明スポットの短尺方向の強度分布を図示している。
また、０．００５＜|NAｃｙｌ／ΔZfs|＜０．０５０  [/mm]を満たすので、|NAｃｙｌ／ΔZfs|≦０．００５の場合と比較して、駆動装置８により試験片９が駆動されたときの受光センサ４での受光量変化が小さくなってしまうのを防止することができる。従って、検出光学系５の焦点位置と試験片９の位置とを、より精度良く合わせることができる。また、|NAｃｙｌ／ΔZfs|≦０．００５の場合と比較して、照射スポットが大きくなり過ぎるのを防止することができるため、余分な照射によって試験片９が褪色などの悪影響を受けてしまうのを防止することができる。具体的には、|NAｃｙｌ／ΔZfs|＝０．０１１の場合には、図８（ｂ）に示すように、スポット径はおよそ０．７ｍｍとなるのに対し、|NAｃｙｌ／ΔZfs|＝０．００２の場合には、スポット径はおよそ３．６ｍｍとなってしまう。
【００８６】
また、照射光の中心軸Ｊｓと、検出対象光Ｔの中心軸Ｊｔとのなす角度θは30°＜θであるので、受光センサ４で検出対象光Ｔを確実に受光するとともに、受光量の変化を確実に検出することができる。ここで、角度θ≦３０°であると、検出光学系５のレンズの開口数を大きくすることができないため、微小な光を受光センサ４で検出することが困難になる。また、試験片９を駆動したときの受光量の変化が少なくなってしまう。
また、角度θはθ＜70°であるので、角度θ≧70°の場合と比較して、照射スポットが大きくなり過ぎるのを防止し、余分な照射によって試験片９が褪色などの悪影響を受けてしまうのを防止することができる。
【００８７】
なお、本発明を適用可能な実施形態は、上述した実施形態に限定されることなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。
【００８８】
例えば、照射光学系３はレンズ３０，３２を有することとして説明したが、図９に示すように、光を平行化するコリメートレンズ３２Ａと、検知ライン方向Ｚに延在して配設され平行光を通過させる矩形スリット３２Ｂとを、これらレンズ３０，３２の代わりに有することとしても良い。この場合には、駆動装置８により試験片９を移動させたときにも、照射スポットのサイズを一定に維持することができる。従って、検出光学系５の焦点位置と試験片９の位置とを、より精度良く合わせることができる。また、コリメートレンズ３２Ａで平行化した光を矩形スリット３２Ｂに通して照射光を当てるので、余分な照射によって試験片９が褪色などの悪影響を受けてしまうのを防止することができる。但し、図９では、バンドパスフィルター３１の図示を省略している。
【００８９】
また、照射光学系３がコリメートレンズ３２Ａと矩形スリット３２Ｂとを有する場合には、コリメートレンズ３２Ａの焦点距離ｆcol[mm]は5＜ｆcol＜30 [mm]を満たすことが好ましい。この場合には、コリメートレンズ３２Ａの焦点距離ｆcol[mm]が5＜ｆcolを満たすので、試験片９に均一な強度の照射光を照射することができる。従って、分析対象物の状態を精度良く検知することができる。具体的には、例えば、光源２がＬＤ光源であり、その垂直方向の発散角が水平方向における発散角よりも広く、24deg（1/e2強度の半角）であるとすると、焦点距離ｆcol ＝6mmの場合には、コリメートビームの光束のうち光軸から発散方向Ｈに１．５mm離れた位置での強度はピーク強度のおよそ50％となる。ここで、照射スポットの強度を均一にするために、発散方向Ｈが検出対象領域９３の延在方向に一致している。このコリメート光束が試験片９に照射されるので、照射スポットの光軸から発散方向Ｈつまり検出対象領域９３の延在方向に１．５ｍｍ離れた位置での照射強度がピーク照射強度の50％に確保される。また、焦点距離ｆcolがｆcol＜30 [mm]を満たすので、ｆcol≧30の場合と比較して、矩形スリットで遮られる光量を低減し、十分な光量の照射光を試験片９に照射することができる。従って、検出光学系５の焦点位置と試験片９の位置とを確実に合わせ、分析対象物の状態を確実に検知することができる。具体的には、例えば、焦点距離ｆcol ＝25ｍｍの場合には、コリメートビームの光束のうち光軸から発散方向Ｈに１．５mm離れた位置の強度はピーク強度の90％を越え、スリットを透過する光量が少なくなってしまうが、分析対象物の状態検知や、検出光学系５の焦点と試験片９との位置合わせに十分な光量を照射することができる。なお、ここでの照射光学系の光軸は照射光Ｓの中心軸Jsに一致している。
【００９０】
また、制御部７は受光センサ４での受光量が大きくなるよう駆動装置８を駆動させることで、検出光学系５の焦点位置と、試験片９の位置とが一致するような駆動対象物の駆動位置を特定することとして説明したが、図１０に示すように、受光センサ４での受光量と、試験片９の駆動位置との相関データをカーブフィッティングすることにより、受光量がピークとなるときの試験片９の駆動位置を検出して、検出光学系５の焦点位置と、試験片９の位置とが一致するような試験片９の駆動位置を特定することとしてもよい。
【００９１】
また、制御部７は試験片９に照射スポットを形成した状態で、駆動装置８により試験片９を厚み方向Ａに駆動させつつ、受光センサ４での受光量の変化を検出することとして説明したが、走査装置６に試験片９を走査させて、試験片９の照射スポットを検知対象領域９３以外の箇所に位置させた状態で、駆動装置８を駆動させつつ受光センサ４での受光量の変化を検出することが好ましい。この場合には、光学系と試験片９との位置合わせのための照射によって検知対象領域９３が褪色などの悪影響を受けてしまうのを防止することができる。検知対象領域９３以外の箇所に照射スポットを位置させたときに受光センサ４で受光される光束は、試験片９自体の蛍光や、照射スポットの反射や散乱光であればよい。更に好ましくは、制御部７は、走査装置６に試験片を走査させて、試験片９の照射スポットを走査方向Ｘにおいて検知対象領域９３を挟んだ２箇所に位置させた状態で、駆動装置８を駆動させつつ受光センサ４での受光量の変化をそれぞれ検出することにより、試験片９の照射スポットの位置と検出光学系５の焦点位置とが一致するような試験片９の駆動位置と走査位置との位置関係を算出する。そして、この場合に制御部７は、分析対象物の状態検知を行う際に、当該算出結果に基づいて、走査装置６による走査により面内の各箇所に照射スポットが位置するときに、当該箇所の位置と、検出光学系５の焦点位置とを一致させる。これにより、図１１に示すように、試験片９が走査方向Ｘに傾いている場合であっても、各走査位置で試験片９の照射スポット位置と検出光学系５の焦点位置とを一致させて分析を行うことができる。
【００９２】
また、バンドパスフィルター３１をレンズ３０，３２の間、バンドパスフィルター５１をレンズ５０，５２の間に配設されることとして説明したが、バンドパスフィルター３１，５１に対しておよそ垂直（例えば８０度〜１００度）に光が入射する限りにおいて、他の位置に配設されることとしても良い。
【００９３】
また、検出光学系５はレンズ５０，５２とバンドパスフィルター５１とを有することとして説明したが、レンズ５０とバンドパスフィルター５１との間にミラーやダイクロイックミラー、ダイクロイックプリズムなどの光学素子を配置し、この光学素子で検出対象光Ｔを屈曲させることで、受光センサ４の長手方向Ｙと、検知対象領域９３の検知ライン方向Ｚとを非平行としても良い。更に、ダイクロイックミラーやダイクロイックプリズムを配置する場合には、この光学素子によってバンドパスフィルター５１の機能を兼ねることができるため、バンドパスフィルター５１を省略しても良い。
【００９４】
また、照射光学系３はレンズ３０，３２とバンドパスフィルター３１とを有することとして説明したが、更にアパーチャを有することとしても良い。この場合には、照射光Ｓの周辺部分を遮ることにより、試験片９に不要な光が当たるのを防止することができる。
【００９５】
また、本発明における受光センサをラインセンサとして説明したが、フォトダイオードとしても良いし、エリアセンサとしてもよい。
【符号の説明】
【００９６】
１        クロマトグラフィー分析装置
２        光源
３        照射光学系
４        受光センサ
５        検出光学系
６        走査装置
８        駆動装置
７        制御部（演算処理部、位置合わせ制御手段）
９        クロマトグラフィー試験片
９３      検知対象領域
Ａ        試験片の厚み方向
Ｓ        照射光
Ｔ        検出対象光
Ｘ        走査方向
Ｙ        ラインセンサの長手方向
Ｚ        検知ライン方向
【図２】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図８】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１】
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【図３】
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【図７】
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【図９】
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