(57)【要約】【課題】導通の検出対象となる被計測用配線経路において、流れる電流の電流値が小さくても、電流を精度良く検出することができると共に、小型化ができる電流検出機能付き基板を提供する。また、小型化された電気配線基板において、導通の検出対象となる被計測用配線経路に対し、流れる電流の電流値が小さくても、電流を精度良く検出することができる導通検出方法を提供する。【解決手段】導通検出機能付き基板１は、被計測用配線経路３１が渦巻き状で、被計測用スルーホール３Ａを介して、Ｘ方向に対し一方側から他方側に延びて形成されていること、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含み、Ｘ方向に対し一方側から他方側に被計測用配線経路１１と非接触で延び、被計測用配線経路１１と並列配置に配線された計測用配線経路３１を有し、計測用配線経路３１が、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０による誘導電流Ｉ１を検出可能に形成されている。【選択図】 図１
2012195494.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の基板を積層してなるプリント配線基板を有し、該プリント配線基板に配線された電気回路のうち、入力側と出力側との間で電流が流れる配線経路を渦巻き状に形成した被計測用配線経路に対し、電気的に導通しているかを検出できる機能を具備した導通検出機能付き基板において、
前記プリント配線基板の平面に沿う方向を、互いに直交するＸ方向及びＹ方向とし、前記複数の基板の積層方向を、前記Ｘ方向及び前記Ｙ方向とそれぞれ直交するＺ方向としたとき、
前記被計測用配線経路は、前記Ｙ方向の成分と前記Ｚ方向の成分とを含む渦巻き状で、前記複数の基板にそれぞれ形成された被計測用スルーホールを介して、前記Ｘ方向に対し一方側から他方側に延びて形成されていること、
前記Ｙ方向の成分と前記Ｚ方向の成分とを含み、前記Ｘ方向に対し前記一方側から前記他方側に前記被計測用配線経路と非接触で延び、少なくとも一部で前記被計測用配線経路と並列配置に配線された計測用配線経路を有し、
前記計測用配線経路が、前記被計測用配線経路に流れる電流による誘導電流を検出可能に形成されていることを特徴とする導通検出機能付き基板。
【請求項２】
請求項１に記載する導通検出機能付き基板において、
前記計測用配線経路は、前記Ｙ方向の成分と前記Ｚ方向の成分とを含む渦巻き状で、前記複数の基板にそれぞれ形成された計測用スルーホールを介して、前記Ｘ方向に対し前記一方側から前記他方側に延び、前記被計測用配線経路と並列に沿って形成されていることを特徴とする導通検出機能付き基板。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載する導通検出機能付き基板において、
前記電気回路の前記入力側と前記出力側との間で、複数の前記被計測用配線経路が電気的に並列接続されていると共に、複数の前記計測用配線経路が、前記複数の被計測用配線経路に対し、それぞれ１対１の配置関係で配線されていることを特徴とする導通検出機能付き基板。
【請求項４】
複数の基板を積層してなるプリント配線基板を有し、該プリント配線基板に配線された電気回路のうち、入力側と出力側との間で電流が流れる配線経路を渦巻き状に形成した被計測用配線経路に対し、電気的に導通しているかを検出する導通検出方法において、
前記プリント配線基板の平面に沿う方向を、互いに直交するＸ方向及びＹ方向とし、前記複数の基板の積層方向を、前記Ｘ方向及び前記Ｙ方向とそれぞれ直交するＺ方向としたとき、
前記被計測用配線経路は、前記Ｙ方向の成分と前記Ｚ方向の成分とを含む渦巻き状で、前記複数の基板にそれぞれ形成された被計測用スルーホールを介して、前記Ｘ方向に対しその一方側から他方側に延びて形成されていること、
前記Ｙ方向の成分と前記Ｚ方向の成分とを含み、前記Ｘ方向に対し前記一方側から前記他方側に前記被計測用配線経路と非接触で延び、少なくとも一部で前記被計測用配線経路と並列配置に配線された計測用配線経路を有し、
前記被計測用配線経路に流れる電流による誘導電流を、前記計測用配線経路で検出することにより、前記被計測用配線経路の導通を検出することを特徴とする導通検出方法。
【請求項５】
請求項４に記載する導通検出方法において、
前記計測用配線経路は、前記Ｙ方向の成分と前記Ｚ方向の成分とを含む渦巻き状で、前記複数の基板にそれぞれ形成された計測用スルーホールを介して、前記Ｘ方向に対し前記一方側から前記他方側に延び、前記被計測用配線経路と並列に沿って形成されていることを特徴とする導通検出方法。
【請求項６】
請求項４または請求項５に記載する導通検出方法において、
前記電気回路の前記入力側と前記出力側との間で、複数の前記被計測用配線経路が電気的に並列接続されていると共に、複数の前記計測用配線経路が、前記複数の被計測用配線経路に対し、それぞれ１対１の配置関係で配線されていることを特徴とする導通検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、例えば、プリント配線基板等の電気配線基板上おいて、その入力側と出力側との間にある電気回路に対し、導通しているかを検出する導通検出機能を電気配線基板に備えた導通検出機能付き基板、及びそのような電気回路に対し、導通しているかを検出する導通検出方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
例えば、自動車に搭載されているＥＣＵ（Electronic Control Unit）、各種電装品のほか、家電製品に内蔵された電装機器等には、種々のプリント配線基板が実装されており、工場出荷時や修理時に、このようなプリント配線基板上の電気回路に対し、断線していないかを検査することがある。
プリント配線基板は、配線を高密度に集積化した電気回路であり、このような導通検査を行うときに、例えば、特許文献１に開示されたような電流センサが用いられる。
【０００３】
図１２に、特許文献１の電流センサを示す平面図である。図１３は、図１２に示す電流センサに構成された一次導体を示し、図１４は、図１２中、Ｆ−Ｆ矢視断面図である。
特許文献１は、図１２乃至図１４に示すように、内層１１１ａ，１１１ｂ，１１１ｃが積層された基板１１１と、内層１１１ｂ，１１１ｃの各Ｘ−Ｙ平面方向に形成された第１，第２の一次導体１０３ａ，１０３ｂをＺ方向で繋いだ一次導体１０３と、磁気抵抗素子及びブリッジ回路を、図１４中、中心線１０９に対し、左右対称にそれぞれ備えた電流検知デバイス部１０４と（計測デバイス）からなる電流センサ１０１である。
特許文献１では、一次導体１０３に被測定電流を流して磁界を発生させると、内層１１１ａの上面に配置された電流検知デバイス部１０４が、この被測定電流による磁界とは逆向きに生じる磁界の大きさに応じて、一次導体１０３に流れる被測定電流を検出するようになっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１０−６０５４６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１のような従来技術には、以下のような問題があった。
特許文献１は、電流検知デバイス部１０４により被測定電流を検出する一次導体１０３（被計測用配線経路）を、多層のプリント配線基板１１１（プリント配線基板）の平面に沿う方向に、複数層（内層１１１ｂ，１１１ｃ）にかけて渦巻き状に延伸させて形成されている。
検出対象となる電流の電流値が小さい場合、被計測用配線経路における配線の渦巻き数がより多く、配線長をより長くすると、計測デバイスが、被計測用配線経路より発生した磁界を通じて被計測用配線経路に生じる誘導電流を検出し易くなる。このことから、被計測用配線経路の配線長をより長く確保するには、特許文献１のような被計測用配線経路の場合、プリント配線基板の面積をより大きくすることの他、基板の層数をより多くする必要がある。
【０００６】
基板の層数を増やすことは、プリント配線基板の厚みの増加に繋がりコスト高になる上、計測デバイスをプリント配線基板上面に接触させても、計測デバイスによる被計測用配線経路側の磁界の検出に限界があり、積層させる基板の層数をむやみに増やすことはできない。
また、プリント配線基板の面積を大きくすることは、近年、製品の小型化のニーズが一般的に高まっている傾向にあり、特に、自動車のＥＣＵ等では、構成する各部品の配置スペースが非常に限られていることから、プリント配線基板を搭載する製品にとっても問題となる。
特に、特許文献１のような被計測用配線経路では、プリント配線基板に被計測用配線経路が配置されている位置に、計測デバイスを接触させて電流の検出を行うため、プリント配線基板上において、計測デバイスを接触させるスペースを確保する必要があり、プリント配線基板全体の面積が必然的に大きくなり、問題であった。
【０００７】
本発明は、上記問題点を解決するためになされたものであり、導通の検出対象となる被計測用配線経路において、流れる電流の電流値が小さくても、電流を精度良く検出することができると共に、小型化ができる電流検出機能付き基板を提供することを目的とする。また、小型化された電気配線基板において、導通の検出対象となる被計測用配線経路に対し、流れる電流の電流値が小さくても、電流を精度良く検出することができる導通検出方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記の問題点を解決するために、本発明の導通検出機能付き基板、及び導通検出方法は、次の構成を有している。
（１）複数の基板を積層してなるプリント配線基板を有し、該プリント配線基板に配線された電気回路のうち、入力側と出力側との間で電流が流れる配線経路を渦巻き状に形成した被計測用配線経路に対し、電気的に導通しているかを検出できる機能を具備した導通検出機能付き基板において、プリント配線基板の平面に沿う方向を、互いに直交するＸ方向及びＹ方向とし、複数の基板の積層方向を、Ｘ方向及びＹ方向とそれぞれ直交するＺ方向としたとき、被計測用配線経路は、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含む渦巻き状で、複数の基板にそれぞれ形成された被計測用スルーホールを介して、Ｘ方向に対し一方側から他方側に延びて形成されていること、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含み、Ｘ方向に対し一方側から他方側に被計測用配線経路と非接触で延び、少なくとも一部で被計測用配線経路と並列配置に配線された計測用配線経路を有し、計測用配線経路が、被計測用配線経路に流れる電流による誘導電流を検出可能に形成されていることを特徴とする。
（２）（１）に記載する導通検出機能付き基板において、計測用配線経路は、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含む渦巻き状で、複数の基板にそれぞれ形成された計測用スルーホールを介して、Ｘ方向に対し一方側から他方側に延び、被計測用配線経路と並列に沿って形成されていることを特徴とする。
（３）（１）または（２）に記載する導通検出機能付き基板において、電気回路の入力側と出力側との間で、複数の被計測用配線経路が電気的に並列接続されていると共に、複数の計測用配線経路が、複数の被計測用配線経路に対し、それぞれ１対１の配置関係で配線されていることを特徴とする。
（４）複数の基板を積層してなるプリント配線基板を有し、該プリント配線基板に配線された電気回路のうち、入力側と出力側との間で電流が流れる配線経路を渦巻き状に形成した被計測用配線経路に対し、電気的に導通しているかを検出する導通検出方法において、プリント配線基板の平面に沿う方向を、互いに直交するＸ方向及びＹ方向とし、複数の基板の積層方向を、Ｘ方向及びＹ方向とそれぞれ直交するＺ方向としたとき、被計測用配線経路は、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含む渦巻き状で、複数の基板にそれぞれ形成された被計測用スルーホールを介して、Ｘ方向に対しその一方側から他方側に延びて形成されていること、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含み、Ｘ方向に対し一方側から他方側に被計測用配線経路と非接触で延び、少なくとも一部で被計測用配線経路と並列配置に配線された計測用配線経路を有し、被計測用配線経路に流れる電流による誘導電流を、計測用配線経路で検出することにより、被計測用配線経路の導通を検出することを特徴とする。
（５）（４）に記載する導通検出方法において、計測用配線経路は、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含む渦巻き状で、複数の基板にそれぞれ形成された計測用スルーホールを介して、Ｘ方向に対し一方側から他方側に延び、被計測用配線経路と並列に沿って形成されていることを特徴とする。
（６）（４）または（５）に記載する導通検出方法において、電気回路の入力側と出力側との間で、複数の被計測用配線経路が電気的に並列接続されていると共に、複数の計測用配線経路が、複数の被計測用配線経路に対し、それぞれ１対１の配置関係で配線されていることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
上記構成を有する本発明の導通検出機能付き基板、及び導通検出方法の作用・効果について説明する。
本発明の導通検出機能付き基板では、
（１）複数の基板を積層してなるプリント配線基板を有し、該プリント配線基板に配線された電気回路のうち、入力側と出力側との間で電流が流れる配線経路を渦巻き状に形成した被計測用配線経路に対し、電気的に導通しているかを検出できる機能を具備した導通検出機能付き基板において、プリント配線基板の平面に沿う方向を、互いに直交するＸ方向及びＹ方向とし、複数の基板の積層方向を、Ｘ方向及びＹ方向とそれぞれ直交するＺ方向としたとき、被計測用配線経路は、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含む渦巻き状で、複数の基板にそれぞれ形成された被計測用スルーホールを介して、Ｘ方向に対し一方側から他方側に延びて形成されていること、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含み、Ｘ方向に対し一方側から他方側に被計測用配線経路と非接触で延び、少なくとも一部で被計測用配線経路と並列配置に配線された計測用配線経路を有し、計測用配線経路が、被計測用配線経路に流れる電流による誘導電流を検出可能に形成されているので、積層させる基板の層数を必要以上に増やさず、かつプリント配線基板の面積を小さくして、被計測用配線経路の配線長をより長く確保することができている。
そのため、本発明の導通検出機能付き基板は、プリント配線基板として小型化できており、ひいては本発明の導通検出機能付き基板を実装する製品を省スペース化することができる。
【００１０】
また、本発明の導通検出機能付き基板では、被計測用配線経路の配線長をより長く確保できるため、被計測用配線経路に流れる電流の電流値が小さくても、被計測用配線経路に流れる電流を検出するにあたり、被計測用配線経路により安定した磁界を発生させることができ、誘導電流が計測用配線経路で検出可能となる。
特に、例えば、自動車に搭載されるＥＣＵや各種電装品のほか、家電製品に内蔵された電装機器等の製品では、上記製品の工場出荷時や修理時において、被計測用配線経路の導通検査を行う場合がある。このような場合、被計測用配線経路に流れる電流の電流値がたとえ小さくても、被計測用配線経路で発生する安定した磁界により、被計測用配線経路で断線していないかの確認に足りる大きさの誘導電流が計測用配線経路で検出できる。
そのため、本発明の導通検出機能付き基板では、プリント配線基板上の電気回路に対し、被計測用配線経路の導通検査が、当該導通検出機能付き基板で可能となり、被計測用配線経路に流れる電流の電流値がたとえ小さくても、この導通検査をより確実にかつ簡単に精度良く行うことができる。
【００１１】
従って、プリント配線基板を小型化できると共に、被計測用配線経路に流れる電流の電流値が小さくても、計測用配線経路で検出される誘導電流を安定した状態で得られるため、被計測用配線経路の導通を精度良く検出することができる、という優れた効果を奏する。
【００１２】
（２）計測用配線経路は、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含む渦巻き状で、複数の基板にそれぞれ形成された計測用スルーホールを介して、Ｘ方向に対し一方側から他方側に延び、被計測用配線経路と並列に沿って形成されているので、プリント配線基板上に計測デバイスを接触させて、プリント配線基板内の被計測用配線経路に流れる電流を検出する特許文献１のような従来の電気配線基板と異なり、被計測用配線経路の導通を検出するのに、プリント配線基板に計測デバイスを接触させる必要がない。これにより、計測デバイスの接触スペースが必要ない分、プリント配線基板をより小型化することができる。
【００１３】
また、計測用配線経路が、複数の基板においてそれぞれ計測用スルーホールを介して、被計測用配線経路と並列に沿って形成されていることから、Ｘ方向に沿う計測用配線経路の配線長が短くても、誘導電流が計測用配線経路で検出され易く、被計測用配線経路に流れる電流を、確実に検出することができる。
また、被計測用配線経路に流れる電流の電流値が小さい場合でも、計測用配線経路により確実に検出でき、被計測用配線経路に異常がある場合でも、作業者は、この異常な被計測用配線経路を簡単に特定することができる。
【００１４】
（３）電気回路の入力側と出力側との間で、複数の被計測用配線経路が電気的に並列接続されていると共に、複数の計測用配線経路が、複数の被計測用配線経路に対し、それぞれ１対１の配置関係で配線されているので、例えば、自動車に搭載されるＥＣＵ、ハイブリット車のモータ制御装置等において、複数の被計測用配線経路のそれぞれに対し、例えば、被計測用配線経路に流れる電流の通電をオン／オフするスイッチ等の電気部品が、被計測用配線経路と電気的に直列接続される電気回路では、万が一、複数の上記電気部品のうち、一部の電気部品で導通不良を引き起こす故障があったときにも、計測用配線経路を用いれば、作業者は、計測用配線経路のそれぞれで誘導電流を個々に検出することができ、故障している電気部品を簡単に特定することができる。
また、作業者は、並列接続された複数の被被計測用配線経路のうち、どの被被計測用配線経路で断線しているかについても、簡単に特定することができる。
【００１５】
また、本発明の導通検出方法では、
（４）複数の基板を積層してなるプリント配線基板を有し、該プリント配線基板に配線された電気回路のうち、入力側と出力側との間で電流が流れる配線経路を渦巻き状に形成した被計測用配線経路に対し、電気的に導通しているかを検出する導通検出方法において、プリント配線基板の平面に沿う方向を、互いに直交するＸ方向及びＹ方向とし、複数の基板の積層方向を、Ｘ方向及びＹ方向とそれぞれ直交するＺ方向としたとき、被計測用配線経路は、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含む渦巻き状で、複数の基板にそれぞれ形成された被計測用スルーホールを介して、Ｘ方向に対しその一方側から他方側に延びて形成されていること、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含み、Ｘ方向に対し一方側から他方側に被計測用配線経路と非接触で延び、少なくとも一部で被計測用配線経路と並列配置に配線された計測用配線経路を有し、被計測用配線経路に流れる電流による誘導電流を、計測用配線経路で検出することにより、被計測用配線経路の導通を検出するので、積層させる基板の層数を必要以上に増やさず、かつプリント配線基板の面積を小さくして、被計測用配線経路の配線長をより長く確保することができるようになり、プリント配線基板を小型化することができ、ひいてはこのプリント配線基板を実装する製品を省スペース化することができる。
【００１６】
また、基板の層数を必要以上に増やさず、かつプリント配線基板の面積を小さくして、被計測用配線経路の配線長をより長く確保することができるため、被計測用配線経路に流れる電流の電流値が小さくても、被計測用配線経路に流れる電流を検出するにあたり、被計測用配線経路により安定した磁界を発生させることができ、誘導電流が計測用配線経路で検出できるようになる。
特に、例えば、自動車に搭載されるＥＣＵや各種電装品のほか、家電製品に内蔵された電装機器等の製品では、上記製品の工場出荷時や修理時において、被計測用配線経路の導通検査を行う場合がある。このような場合、被計測用配線経路に流れる電流の電流値がたとえ小さくても、被計測用配線経路で発生する安定した磁界により、被計測用配線経路で断線していないかの確認に足りる大きさの誘導電流が計測用配線経路で検出できる。
そのため、被計測用配線経路に流れる電流の電流値がたとえ小さくても、プリント配線基板上の電気回路に対し、被計測用配線経路の導通検査を、より確実にかつ簡単に精度良く行うことができる。
【００１７】
従って、プリント配線基板を小型化できると共に、被計測用配線経路に流れる電流の電流値が小さくても、計測用配線経路で検出される誘導電流を安定した状態で得られるため、被計測用配線経路の導通を精度良く検出することができる、という優れた効果を奏する。
【００１８】
（５）計測用配線経路は、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含む渦巻き状で、複数の基板にそれぞれ形成された計測用スルーホールを介して、Ｘ方向に対し一方側から他方側に延び、被計測用配線経路と並列に沿って形成されているので、プリント配線基板上に計測デバイスを接触させて、プリント配線基板内の被計測用配線経路に流れる電流を検出する特許文献１のような従来の電流検出方法と異なり、被計測用配線経路の導通を検出するのに、プリント配線基板に計測デバイスを接触させる必要がなく、計測デバイスの接触スペースが必要ない分、プリント配線基板をより小型化することができる。
また、計測用配線経路が、複数の基板においてそれぞれ計測用スルーホールを介して、被計測用配線経路と並列に沿って形成されていることから、Ｘ方向に沿う計測用配線経路の配線長が短くても、誘導電流が計測用配線経路で検出され易く、被計測用配線経路に流れる電流を、確実に検出することができる。
【００１９】
（６）電気回路の入力側と出力側との間で、複数の被計測用配線経路が電気的に並列接続されていると共に、複数の計測用配線経路が、複数の被計測用配線経路に対し、それぞれ１対１の配置関係で配線されているので、複数の被計測用配線経路のそれぞれに対し、例えば、被計測用配線経路に流れる電流の通電をオン／オフするスイッチ等の電気部品が、被計測用配線経路と電気的に直列接続されている電気回路では、万が一、複数の上記電気部品のうち、一部の電気部品で導通不良を引き起こす故障があった場合に、計測用配線経路のそれぞれで誘導電流を個々に検出することにより、作業者は、故障している電気部品を簡単に特定することができる。
また、作業者は、並列接続された複数の被計測用配線経路のうち、どの被計測用配線経路で断線しているかについても、簡単に特定することができる。
【００２０】
すなわち、複数の計測用配線経路のそれぞれに対し、上記電気部品が被計測用配線経路と電気的に接続されている電気回路において、複数の被計測用配線経路が入力側と出力側とでそれぞれ電気的に並列に分岐する分岐点では、複数の被計測用配線経路に向けて流れる電流は、入力側分岐点と出力側分岐点で、同じ電流値となる。
換言すれば、入力側から流れる電流は、導通不良で故障している異常な電気部品と接続している被計測用配線経路を通じて出力側に流れないが、導通不良でない正常な電気部品と接続している他の被計測用配線経路を通じて出力側に流れる。
【００２１】
その結果、電流値は、入力側分岐点と出力側分岐点で同じとなり、作業者は、並列接続された複数の被計測用配線経路のうち、どの被計測用配線経路の電気部品で導通不良であるか、入力側分岐点と出力側分岐点で電流値を計測しただけでは判断できない。勿論、作業者は、どの被計測用配線経路で断線しているかについても、入力側分岐点と出力側分岐点で電流値を計測しただけでは判断できない。
【００２２】
本発明の導通検出方法では、電気回路の入力側と出力側との間で、複数の被計測用配線経路が電気的に並列接続されていると共に、複数の計測用配線経路が、複数の被計測用配線経路に対し、それぞれ１対１の配置関係で配線されている。
そのため、入力側から出力側に電流を流すと、異常な電気部品と接続している被計測用配線経路には、電流が全く流れないため、この被計測用配線経路と対となる計測用配線経路で誘導電流が検出されず、作業者は、この計測用配線経路に繋がる電気部品を、異常な電気部品として特定することができる。
勿論、電気部品が正常であっても、この電気部品と接続する被計測用配線経路が断線している場合には、入力側から出力側に電流を流すだけで、作業者は、断線した被計測用配線経路を簡単に特定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】実施形態のうち実施例１に係る導通検出機能付き基板を示す模式図である。
【図２】図１に示す導通検出機能付き基板の平面図である。
【図３】図２中、Ａ−Ａ矢視断面図である。
【図４】図２中、Ｂ−Ｂ矢視断面図である。
【図５】図２中、Ｃ−Ｃ矢視断面図である。
【図６】図２中、Ｄ−Ｄ矢視断面図である。
【図７】図２中、Ｅ−Ｅ矢視断面図である。
【図８】実施例１に係る導通検出機能付き基板において、被計測用配線経路に対する導通検査方法の説明図である。
【図９】実施例２に係る導通検出機能付き基板を模式的に示す斜視図であり、被計測用配線経路の導通検査を行っている様子を示す説明図である。
【図１０】実施例３に係る導通検出機能付き基板を模式的に示す平面図であり、被計測用配線経路の導通検査を行っている様子を示す説明図である。
【図１１】実施形態に係る導通検出方法による導通検査について説明する模式図である。
【図１２】従来技術に係る電流センサを示す平面図である。
【図１３】図１２に示す電流センサに構成された一次導体を示す図である。
【図１４】図１２中、Ｆ−Ｆ矢視断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２４】
以下、本発明に係る導通検出機能付き基板、及び導通検出方法について、実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。
本実施形態に係る導通検出機能付き基板は、例えば、自動車に搭載されるＥＣＵ（Electronic Control Unit）等において実装される種々の電気配線基板のうち、所定の制御、駆動、または作動を行うのに必要な電気回路が配線されたプリント配線基板である。
【００２５】
（実施例１）
図１は、実施例１に係る導通検出機能付き基板を模式的に示す斜視図である。図２は、図１に示す導通検出機能付き基板の平面図である。図２中、Ａ−Ａ矢視断面図を図３に、Ｂ−Ｂ矢視断面図を図４に、Ｃ−Ｃ矢視断面図を図５に、Ｄ−Ｄ矢視断面図を図６に、Ｅ−Ｅ矢視断面図を図７に、それぞれ示す。
なお、図１において、左右方向をＸ方向とし、左下‐右上方向をＹ方向とし、プリント配線基板１の平面Ｓに沿う方向を、互いに直交するＸ方向及びＹ方向とし、上下方向を、Ｘ方向及びＹ方向とそれぞれ直交するＺ方向とする。図２以降の図面の各方向についても、図１に準ずる。また、図１ほか各図は、図を見易くするため、電気回路１０において要部以外の図示を省略している。
【００２６】
導通検出機能付き基板１は、本実施例では、図１に示すように、第１基板２Ａ、第２基板２Ｂ、第３基板２Ｃ、第４基板２Ｄ、第５基板２Ｅ、及び第６基板２Ｆの６層を積層してなるプリント配線基板である。第１基板２Ａ乃至第６基板２Ｆは、何れもガラス・エポキシ製である。
導通検出機能付き基板１には、所定の制御、駆動、または作動を行うのに必要な電気回路１０が配線されており、この電気回路１０のうち、入力側１５と出力側１６との間で電流が流れる配線経路として、被計測用配線経路１１が配線されている。
【００２７】
被計測用配線経路１１は、図１及び図２等に示すように、Ｙ方向に沿う成分とＺ方向に沿う成分とを含む渦巻き状で、第１基板２Ａ乃至第５基板２Ｅにそれぞれ形成された被計測用スルーホール３Ａを介して、Ｘ方向に対し、一方側（図１左方）の入力側１５から他方側（図１右方）の出力側１６に延びて形成されている。
具体的には、被計測用配線経路１１のうち、Ｘ方向及びＹ方向に沿う配線経路は、図５及び図６に示すように、第１基板２Ａと第６基板２Ｆとに形成されている。Ｚ方向に沿う配線経路は、図３及び図６に示すように、各被計測用スルーホール３Ａの内周に形成したはんだ付け部１８により、第１基板２Ａの配線経路と第６基板２Ｆの配線経路との間を電気的に接続して形成されている。
これにより、被計測用配線経路１１は、図１及び図２に示すように、入力側１５と出力側１６との間を一続きの配線経路で形成でき、電気的に導通するようになっている。
【００２８】
また、電気回路１０には、計測用配線経路３１が、図１及び図２等に示すように、Ｙ方向に沿う成分とＺ方向に沿う成分とを含み、Ｘ方向に対し一方側から他方側に被計測用配線経路１１と非接触で延び、少なくとも一部で被計測用配線経路１１と並列配置に配線されている。
具体的には、計測用配線経路３１のうち、Ｘ方向及びＹ方向に沿う配線経路は、図５及び図７に示すように、第１基板２Ａと第６基板２Ｆとに形成されている。Ｚ方向に沿う配線経路は、図４及び図７に示すように、各計測用スルーホール３Ｂの内周に形成したはんだ付け部３８により、第１基板２Ａの配線経路と第６基板２Ｆの配線経路との間を電気的に接続して形成されている。
これにより、計測用配線経路３１は、図１及び図２に示すように、第１端子３５と第２端子３６との間を一続きの配線経路で形成でき、電気的に導通するようになっている。
この計測用配線経路３１は、被計測用配線経路１１に流れる電流による誘導電流を検出可能に形成されている。
【００２９】
ここで、電流Ｉ０が被計測用配線経路１１に流れると、計測用配線経路３１で誘導電流Ｉ１が検出できることについて、図１１を用いて説明する。図１１は、計測用配線経路３１で誘導電流Ｉ１が発生する様子を説明する模式図である。
電流Ｉ０がコイル状の被計測用配線経路１１を入力側から出力側（図１１中、左側から右側）（図１では、入力側１５から出力側１６に相当）に向けて流れると、右ねじの法則により、磁力線が被計測用配線経路１１の径内を貫通することで、図１１に示すように、磁界Ｍがコイル状の計測用配線経路３１に向けて発生する。被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０の大きさが変化すると、磁界Ｍは、この電流Ｉ０の大きさに比例して変化する。
【００３０】
一方、計測用配線経路３１において、磁界Ｍの大きさが変化すると、ファラデーの電磁誘導の法則により、計測用配線経路３１に生じる誘導起電力が、磁界Ｍの変化の割合に比例して変化する。この関係を式で示すと、
Ｖ＝−Ｎ・（ΔΦ／Δｔ）
Ｖ：計測用配線経路３１の起電力、Ｎ：計測用配線経路３１の巻き数、ΔΦ：磁界Ｍの変化の割合、Δｔ：磁界Ｍが変化した時間
となる。なお、計測用配線経路３１で生じる誘導起電力は、レンツの法則により、磁界Ｍの変化を打ち消す方向に発生するため、符号は「−」となっている。
【００３１】
よって、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０の大きさが変化すると、計測用配線経路３１に誘導起電力Ｖが発生するため、この計測用配線経路３１と抵抗等の負荷とを並列接続（図８参照）すると、計測用配線経路３１の誘導電流Ｉ１が、オームの法則により、誘導起電力Ｖ／抵抗値Ｒに基づいて検出できる。
【００３２】
次に、誘導電流検出ユニット５０について、図８を用いて説明する。図８は、本実施例に係る導通検出機能付き基板において、被計測用配線経路の導通検査を行っている様子を示す説明図である。
誘導電流検出ユニット５０は、導通検出機能付き基板１の被計測用配線経路１１に対し、電気的に導通しているかを検査するときに用いる導通検査ユニットである。
誘導電流検出ユニット５０は、図８に示すように、第１分岐点５５からＸ方向の一方側に延びる配線５３の端部に第１接続部材５１を、第２分岐点５６からＸ方向の他方側に延びる配線５３の端部に第２接続部材５２をそれぞれ接続すると共に、第１分岐点５５と第２分岐点５６との間で所定抵抗値Ｒの抵抗５７と電圧計５８とを並列接続して構成されている。
第１接続部材５１は、計測用配線経路３１の第１端子３５と、接続及びその解除を自在にできるようになっており、第２接続部材５２も、計測用配線経路３１の第２端子３６と、接続及びその解除を自在にできるようになっている。
【００３３】
次に、実施形態のうち、実施例１に係る導通検出方法について、図８を用いて説明する。
実施例１に係る導通検出方法は、導通検出機能付き基板１の被計測用配線経路１１に対し、電気的に導通しているかを検出する導通検出方法であり、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０による誘導電流Ｉ１を、計測用配線経路３１で検出することにより、被計測用配線経路１１の導通を検出し確認する。
具体的に説明する。まず、被計測用配線経路１１の導通検査を行うときには、誘導電流検出ユニット５０の第１接続部材５１を計測用配線経路３１の第１端子３５に、第２接続部材５２を計測用配線経路３１の第２端子３６に、それぞれ電気的に接続させる。
次に、図示しない電源より、導通検出機能付き基板１の被計測用配線経路１１に電流Ｉ０を流す操作を行う。このとき、所定の時間内において、流す電流を、例えば、徐々に大きくする等、大きさを変化させて、被計測用配線経路１１への通電操作を行う。
【００３４】
被計測用配線経路１１が断線しておらず、電気的に導通していれば、電流Ｉ０が被計測用配線経路１１に流れることで、計測用配線経路３１において第１端子３５と第２端子３６との間、すなわち誘導電流検出ユニット５０において第１接続部材５１と第２接続部材５２との間に誘導起電力Ｖが生じる。
誘導電流検出ユニット５０では、抵抗５７と電圧計５８とが、第１分岐点５５と第２分岐点５６との間で並列接続されているため、抵抗５７にかかる電圧が、第１分岐点５５と第２分岐点５６との電位差である誘導起電力Ｖとなる。
よって、この抵抗５７を流れる電流、すなわち誘導電流Ｉ１は、誘導起電力Ｖ／所定抵抗値Ｒによって得られ、この誘導電流Ｉ１が、誘導電流検出ユニット５０と電気的に接続する計測用配線経路３１に検出されれば、被計測用配線経路１１は断線しておらず、電気的に導通した状態であると判断することができる。
【００３５】
一方、被計測用配線経路１１が、断線、接触不良等により電気的に導通していないと、電流Ｉ０を被計測用配線経路１１に流す操作を行っても、計測用配線経路３１において第１端子３５と第２端子３６との間、すなわち誘導電流検出ユニット５０において第１接続部材５１と第２接続部材５２との間に誘導起電力Ｖが生じない。
よって、誘導起電力Ｖが計測用配線経路３１に生じず、誘導電流Ｉ１が、誘導電流検出ユニット５０と電気的に接続する計測用配線経路３１に検出できなければ、被計測用配線経路１１が、断線や接触不良等に起因して電気的に導通していないと判断することができる。
【００３６】
（実施例２）
次に、実施例２に係る導通検出機能付き基板について、図９を用いて説明する。図９は、実施例２に係る導通検出機能付き基板を模式的に示す斜視図であり、被計測用配線経路の導通検査を行っている様子を示す説明図である。
本実施例に係る導通検出機能付き基板１Ａは、実施例１に係る導通検出機能付き基板１と、計測用配線経路３１の配置位置が異なるが、それ以外の部分は、実施例１と同じである。
従って、計測用配線経路３１については、実施例１と同じ符号を用い、実施例１とは異なる部分を中心に説明し、その他について説明を簡略または省略する。
【００３７】
導通検出機能付き基板１Ａでは、計測用配線経路３１は、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含む渦巻き状で、第１基板２Ａ乃至第５基板２Ｅにそれぞれ形成された計測用スルーホール３Ｂを介して、Ｘ方向に対し一方側の第１端子３５から他方側の第２端子３６に延び、被計測用配線経路１１と並列に沿って形成されている。
具体的には、計測用配線経路３１は、Ｙ方向に対し、被計測用配線経路１１と重なっておらず、被計測用配線経路３１のうち、Ｘ方向及びＹ方向に沿う配線経路は、参照する図５及び図７に示すように、第１基板２Ａと第６基板２Ｆとに形成されている。Ｚ方向に沿う配線経路は、参照する図４及び図７に示すように、各計測用スルーホール３Ｂの内周に形成したはんだ付け部３８により、第１基板２Ａの配線経路と第６基板２Ｆの配線経路との間を電気的に接続して形成されている。
【００３８】
次に、実施例２に係る導通検出方法については、実施例１に係る導通検出方法と実質的に同じである。
すなわち、実施例２に係る導通検出方法は、導通検出機能付き基板１Ａの被計測用配線経路１１に対し、電気的に導通しているかを検出する導通検出方法であり、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０による誘導電流Ｉ１を、計測用配線経路３１で検出することにより、被計測用配線経路１１の導通を検出し確認する。
【００３９】
本実施例に係る導通検出方法では、誘導起電力Ｖが計測用配線経路３１に生じて、誘導電流Ｉ１が、誘導電流検出ユニット５０と電気的に接続する計測用配線経路３１に検出されれば、被計測用配線経路１１は断線しておらず、電気的に導通した状態であると判断することができる。
一方、誘導起電力Ｖが計測用配線経路３１に生じず、誘導電流Ｉ１が、誘導電流検出ユニット５０と電気的に接続する計測用配線経路３１に検出できなければ、被計測用配線経路１１が、断線や接触不良等に起因して電気的に導通していないと判断することができる。
【００４０】
（実施例３）
次に、実施例３に係る導通検出機能付き基板について、図１０を用いて説明する。図１０は、実施例３に係る導通検出機能付き基板を模式的に示す平面図であり、被計測用配線経路の導通検査を行っている様子を示す説明図である。
本実施例に係る導通検出機能付き基板１Ｂは、電気回路１０の入力側１５と出力側１６との間で、２つの第１被計測用配線経路１１Ａ、第２被計測用配線経路１１Ｂが電気的に並列接続されていると共に、２つの第１計測用配線経路３１Ａ、第２計測用配線経路３１Ｂが、この第１，第２被計測用配線経路１１Ａ，１１Ｂに対し、それぞれ１対１の配置関係で配線されている。
【００４１】
具体的には、導通検出機能付き基板１Ｂは、実施例１に係る導通検出機能付き基板１と同様、６層の第１基板２Ａ乃至第６基板２Ｆを積層してなるプリント配線基板である。
被計測用配線経路１１は、図１０に示すように、電気回路１０の入力側１５と出力側１６との間に配線され、入力側分岐点１５Ｐと出力側分岐点１６Ｐとの間で、２つに並列分岐した配線経路となっている。なお、図１０には図示されていないが、被計測用配線経路１１のうち、第１，第２被計測用配線経路１１Ａ，１１Ｂを除いた部分は、参照する図１の第１基板２Ａに相当する基板に配線されている。
【００４２】
第１，第２被計測用配線経路１１Ａ，１１Ｂは、参照する図１等に示す被計測用配線経路１１と実質的に同じ構造である。すなわち、第１，第２被計測用配線経路１１Ａ，１１Ｂのうち、Ｘ方向及びＹ方向に沿う配線経路は、参照する図５及び図６に示すように、第１基板２Ａと第６基板２Ｆとに形成されている。また、Ｚ方向に沿う配線経路は、参照する図３及び図６に示すように、各被計測用スルーホール３Ａの内周に形成したはんだ付け部１８により、第１基板２Ａの配線経路と第６基板２Ｆの配線経路との間を電気的に接続して形成されている。
【００４３】
入力側分岐点１５Ｐと出力側分岐点１６Ｐとの間では、第１スイッチ２０Ａと第１被計測用配線経路１１Ａとが直列接続されていると共に、第２スイッチ２０Ｂと第２被計測用配線経路１１Ａとが直列接続されている。
本実施例では、第１スイッチ２０Ａ、第２スイッチ２０Ｂは、何れもＭＯＳ（Metal Oxide Semiconductor）で形成されたスイッチである。
【００４４】
第１，第２計測用配線経路３１Ａ，３１Ｂは、参照する図１等に示す計測用配線経路３１と実質的に同じ構造であり、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含む渦巻き状で、Ｘ方向に対し一方側の第１端子３５から他方側の第２端子３６向けて延びている。第１計測用配線経路３１Ａは、第１被計測用配線経路１１Ａと並列に沿って配置され、第２計測用配線経路３１Ｂは、第２被計測用配線経路１１Ｂと並列に沿って配置されている。
第１，第２計測用配線経路３１Ａ，３１Ｂのうち、Ｘ方向及びＹ方向に沿う配線経路は、参照する図５及び図７に示すように、第１基板２Ａと第６基板２Ｆとに形成されている。Ｚ方向に沿う配線経路は、参照する図４及び図７に示すように、各計測用スルーホール３Ｂの内周に形成したはんだ付け部３８により、第１基板２Ａの配線経路と第６基板２Ｆの配線経路との間を電気的に接続して形成されている。
【００４５】
ところで、本実施例に係る導通検出機能付き基板１Ｂでは、図１０に示すように、電気回路１０において、入力側分岐点１５Ｐと出力側分岐点１６Ｐとの間で、第１スイッチ２０Ａと第１被計測用配線経路１１Ａとが直列接続されていると共に、第２スイッチ２０Ｂと第２被計測用配線経路１１Ｂとが直列接続されている。
本実施例のように、プリント配線基板である導通検出機能付き基板１Ｂにおいて、入力側分岐点１５Ｐと出力側分岐点１６Ｐとの間に設けるスイッチが、ＭＯＳのスイッチである場合、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０が大きいと、スイッチが１つでは、スイッチの耐久性に問題が生じることがある。
【００４６】
本実施例では、入力側分岐点１５Ｐと出力側分岐点１６Ｐとの間を２系統の並列回路で構成することで、電流Ｉ０が被計測用配線経路１１に流れても、第１スイッチ２０Ａと第２スイッチ２０Ｂには、それぞれ電流Ｉ０／２に分けて流れるようになり、スイッチの耐久性に問題を回避することができている。
勿論、被計測用配線経路１１において、電流Ｉ０の通電をオン／オフする操作は、第１スイッチ２０Ａ、第２スイッチ２０Ｂとも同時に行う必要がある。
【００４７】
ところが、第１スイッチ２０Ａ及び第２スイッチ２０Ｂのうち、いずれか片方のスイッチに、損傷、断線、接触不良等の導通不良が生じていることに起因して、スイッチをオン状態にしても、このスイッチと接続する被計測用配線経路に電流Ｉ０／２が流れない場合が考えられる。
例えば、第１スイッチ２０Ａに導通不良が生じていると、電流Ｉ０／２は第１被計測用配線経路１１Ａに流れず、被計測用配線経路１１の入力側１５から流れる電流Ｉ０は、入力側分岐点１５Ｐ、第２スイッチ２０Ｂ、第２被計測用配線経路１１Ｂ、及び出力側分岐点１６Ｐを介して、出力側１６に流れることになる。
工場出荷時や修理時に、このような導通検出機能付き基板１Ｂ上の電気回路１０に対し、断線していないかを検査するときに、入力側分岐点１５Ｐと出力側分岐点１６Ｐと間の電圧値や電流値を計測しても、第１スイッチ２０Ａに導通不良の有無に拘わらず、電圧値や電流値は、所定値のままである。
よって、作業者は、第１スイッチ２０Ａの導通不良を検出できない。
【００４８】
次に、実施例３に係る導通検出方法は、実施例１，２に係る導通検出方法と基本的に同じである。
しかしながら、本実施例に係る導通検出方法は、２つの誘導電流検出ユニット５０（第１誘導電流検出ユニット５０Ａ、第２誘導電流検出ユニット５０Ｂ）を、第１，第２計測用配線経路３１Ａ，３１Ｂのそれぞれに接続させる点で、実施例１，２に係る導通検出方法と異なる。
なお、１つの誘導電流検出ユニット５０で導通検査を行う場合には、第１，第２被計測用配線経路１１Ａ，１１Ｂに対し、片方ずつ誘導電流検出ユニット５０を接続するようにしても良い。
【００４９】
本実施例に係る導通検出方法では、導通検出機能付き基板１Ｂにおいて、第１被計測用配線経路１１Ａの導通確認は、第１誘導電流検出ユニット５０Ａと電気的に接続された第１計測用配線経路３１Ａにより検出する。すなわち、第１被計測用配線経路１１Ａに流れる電流Ｉ０による誘導電流Ｉ１を、第１計測用配線経路３１Ａで検出することにより、第１被計測用配線経路１１Ａの導通を検出し確認する。
【００５０】
誘導起電力Ｖが第１計測用配線経路３１Ａに生じて、誘導電流Ｉ１が、第１誘導電流検出ユニット５０Ａと電気的に接続する第１計測用配線経路３１Ａに検出されれば、第１被計測用配線経路１１Ａや第１スイッチ２０Ａは、電気的に導通した状態であると判断することができる。
一方、誘導起電力Ｖが第１計測用配線経路３１Ａに生じず、誘導電流Ｉ１が、第１誘導電流検出ユニット５０Ａと電気的に接続する第１計測用配線経路３１Ａに検出できなければ、第１被計測用配線経路１１Ａや第１スイッチ２０Ａが、断線や接触不良等に起因して電気的に導通していないと判断することができる。さらに、第１被計測用配線経路１１Ａに断線がなければ、第１スイッチ２０Ａが正常に機能できない状態にあると、特定することができる。
【００５１】
また、第２被計測用配線経路１１Ｂの導通確認は、第２誘導電流検出ユニット５０Ｂと電気的に接続された第２計測用配線経路３１Ｂにより検出する。すなわち、第２被計測用配線経路１１Ａに流れる電流Ｉ０による誘導電流Ｉ１を、第２計測用配線経路３１Ｂで検出することにより、第２被計測用配線経路１１Ｂの導通を検出し確認する。
【００５２】
誘導起電力Ｖが第２計測用配線経路３１Ｂに生じて、誘導電流Ｉ１が、第２誘導電流検出ユニット５０Ｂと電気的に接続する第２計測用配線経路３１Ｂに検出されれば、第２被計測用配線経路１１Ｂや第２スイッチ２０Ｂは、電気的に導通した状態であると判断することができる。
一方、誘導起電力Ｖが第２計測用配線経路３１Ｂに生じず、誘導電流Ｉ１が、第２誘導電流検出ユニット５０Ｂと電気的に接続する第２計測用配線経路３１Ｂに検出できなければ、第２被計測用配線経路１１Ｂや第２スイッチ２０Ｂが、断線や接触不良等に起因して電気的に導通していないと判断することができる。さらに、第２被計測用配線経路１１Ｂに断線がなければ、第２スイッチ２０Ｂが正常に機能できない状態にあると、特定することができる。
【００５３】
前述した構成を有する本実施形態に係る導通検出機能付き基板、導通検出方法の作用・効果について説明する。
本実施形態に係る導通検出機能付き基板１，１Ａ，１Ｂでは、６層の第１基板２Ａ乃至第６基板２Ｆを積層してなるプリント配線基板１，１Ａ，１Ｂを有し、該プリント配線基板１，１Ａ，１Ｂに配線された電気回路１０のうち、入力側１５と出力側１６との間で電流Ｉ０が流れる配線経路を渦巻き状に形成した被計測用配線経路１１に対し、電気的に導通しているかを検出できる機能を具備した導通検出機能付き基板１，１Ａ，１Ｂにおいて、第１基板２Ａの平面Ｓに沿う方向を、互いに直交するＸ方向及びＹ方向とし、６層の第１基板２Ａ乃至第６基板２Ｆの積層方向を、Ｘ方向及びＹ方向とそれぞれ直交するＺ方向としたとき、被計測用配線経路１１は、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含む渦巻き状で、第１基板２Ａ乃至第５基板２Ｅにそれぞれ形成された被計測用スルーホール３Ａを介して、Ｘ方向に対し一方側から他方側に延びて形成されていること、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含み、Ｘ方向に対し一方側から他方側に被計測用配線経路１１と非接触で延び、少なくとも一部で被計測用配線経路１１と並列配置に配線された計測用配線経路３１を有し、計測用配線経路３１が、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０による誘導電流Ｉ１を検出可能に形成されているので、積層させる第１基板２Ａ等の基板の層数を必要以上に増やさず、かつプリント配線基板１，１Ａ，１Ｂの面積を小さくして、被計測用配線経路１１の配線長をより長く確保することができている。
そのため、本実施形態の導通検出機能付き基板１，１Ａ，１Ｂは、プリント配線基板として小型化できており、ひいては本実施形態の導通検出機能付き基板１，１Ａ，１Ｂを実装する製品を省スペース化することができる。
【００５４】
また、本実施形態の導通検出機能付き基板１，１Ａ，１Ｂでは、被計測用配線経路１１の配線長をより長く確保できるため、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０の電流値が小さくても、被計測用配線経路３１に流れる電流Ｉ１を検出するにあたり、被計測用配線経路１１により安定した磁界を発生させることができ、誘導電流Ｉ１が計測用配線経路３１で検出可能となる。
特に、例えば、自動車に搭載されるＥＣＵや各種電装品のほか、家電製品に内蔵された電装機器等の製品では、上記製品の工場出荷時や修理時において、被計測用配線経路１１の導通検査を行う場合がある。このような場合、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０の電流値がたとえ小さくても、被計測用配線経路１１で発生する安定した磁界Ｍにより、被計測用配線経路３１で断線していないかの確認に足りる大きさの誘導電流Ｉ１が計測用配線経路３１で検出できる。
そのため、本実施形態の導通検出機能付き基板１，１Ａ，１Ｂでは、プリント配線基板上の電気回路１０に対し、被計測用配線経路１１の導通検査が、当該導通検出機能付き基板１，１Ａ，１Ｂで可能となり、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０の電流値がたとえ小さくても、この導通検査をより確実にかつ簡単に精度良く行うことができる。
【００５５】
従って、プリント配線基板（導通検出機能付き基板１，１Ａ，１Ｂ）を小型化できると共に、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０の電流値が小さくても、計測用配線経路３１で検出される誘導電流Ｉ１を安定した状態で得られるため、被計測用配線経路１１の導通を精度良く検出することができる、という優れた効果を奏する。
【００５６】
また、本実施形態に係る導通検出機能付き基板１，１Ａ，１Ｂでは、計測用配線経路３１（第１計測用配線経路３１Ａ、第２計測用配線経路３１Ｂ）は、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含む渦巻き状で、第１基板２Ａ乃至第５基板２Ｅにそれぞれ形成された計測用スルーホール３Ｂを介して、Ｘ方向に対し一方側から他方側に延び、被計測用配線経路１１（第１被計測用配線経路１１Ａ、第２被計測用配線経路１１Ｂ）と並列に沿って形成されているので、プリント配線基板上に計測デバイスを接触させて、プリント配線基板内の被計測用配線経路に流れる電流を検出する特許文献１のような従来の電気配線基板と異なり、被計測用配線経路１１等の導通を検出するのに、プリント配線基板に計測デバイスを接触させる必要がない。これにより、計測デバイスの接触スペースが必要ない分、プリント配線基板（導通検出機能付き基板１，１Ａ，１Ｂ）をより小型化することができる。
【００５７】
また、計測用配線経路３１が、６層の第１基板２Ａ乃至第６基板２Ｆにおいてそれぞれ計測用スルーホール３Ｂを介して、被計測用配線経路３１と並列に沿って形成されていることから、Ｘ方向に沿う計測用配線経路３１の配線長が短くても、誘導電流Ｉ１が計測用配線経路３１で検出され易く、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０を、確実に検出することができる。
また、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０の電流値が小さい場合でも、計測用配線経路３１により確実に検出でき、被計測用配線経路１１に異常がある場合でも、作業者は、この異常な被計測用配線経路１１を簡単に特定することができる。
【００５８】
また、本実施形態に係る導通検出機能付き基板１Ｂでは、電気回路１０の入力側１５と出力側１６との間で、２つの第１被計測用配線経路１１Ａ、第２被計測用配線経路１１Ｂが電気的に並列接続されていると共に、２つの第１計測用配線経路３１Ａ、第２計測用配線経路３１Ｂが、第１，第２被計測用配線経路１１Ａ，１１Ｂに対し、それぞれ１対１の配置関係で配線されているので、例えば、自動車に搭載されるＥＣＵ、ハイブリット車のモータ制御装置等において、第１，第２被計測用配線経路１１Ａ，１１Ｂのそれぞれに対し、例えば、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０の通電をオン／オフする第１スイッチ２０Ａ、第２スイッチ２０Ｂ等の電気部品が、それぞれ第１，第２被計測用配線経路１１Ａ，１１Ｂと電気的に直列接続される電気回路では、万が一、第１，第２スイッチ２０Ａ，２０Ｂ等の電気部品のうち、片方の電気部品で導通不良を引き起こす故障があったときにも、第１，第２計測用配線経路３１Ａ，３１Ｂを用いれば、作業者は、第１，第２計測用配線経路３１Ａ，３１Ｂのそれぞれで誘導電流Ｉ１を個々に検出することができ、故障している電気部品を簡単に特定することができる。
また、作業者は、並列接続された２つの第１被計測用配線経路１１Ａ、第２被計測用配線経路１１Ｂのうち、どの被計測用配線経路で断線しているかについても、簡単に特定することができる。
【００５９】
また、本実施形態に係る導通検出方法では、６層の第１基板２Ａ乃至第６基板２Ｆを積層してなるプリント配線基板１，１Ａ，１Ｂを有し、該プリント配線基板１，１Ａ，１Ｂに配線された電気回路１０のうち、入力側１５と出力側１６との間で電流Ｉ０が流れる配線経路を渦巻き状に形成した被計測用配線経路１１に対し、電気的に導通しているかを検出する導通検出方法において、第１基板２Ａの平面Ｓに沿う方向を、互いに直交するＸ方向及びＹ方向とし、６層の第１基板２Ａ乃至第６基板２Ｆの積層方向を、Ｘ方向及びＹ方向とそれぞれ直交するＺ方向としたとき、被計測用配線経路１１は、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含む渦巻き状で、第１基板２Ａ乃至第５基板２Ｅにそれぞれ形成された被計測用スルーホール３Ａを介して、Ｘ方向に対しその一方側から他方側に延びて形成されていること、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含み、Ｘ方向に対し一方側から他方側に被計測用配線経路１１と非接触で延び、少なくとも一部で被計測用配線経路１１と並列配置に配線された計測用配線経路３１を有し、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０による誘導電流Ｉ１を、計測用配線経路３１で検出することにより、被計測用配線経路１１の導通を検出するので、積層させる第１基板２Ａ等の層数を必要以上に増やさず、かつプリント配線基板１，１Ａ，１Ｂの面積を小さくして、被計測用配線経路１１の配線長をより長く確保することができるようになり、プリント配線基板１，１Ａ，１Ｂを小型化することができ、ひいてはこのプリント配線基板１，１Ａ，１Ｂを実装する製品を省スペース化することができる。
【００６０】
また、第１基板２Ａ等の層数を必要以上に増やさず、かつプリント配線基板１，１Ａ，１Ｂの面積を小さくして、被計測用配線経路１１の配線長をより長く確保することができるため、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０の電流値が小さくても、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０を検出するにあたり、被計測用配線経路１１により安定した磁界Ｍを発生させることができ、誘導電流Ｉ１が計測用配線経路３１で検出可能となる。
特に、例えば、自動車に搭載されるＥＣＵや各種電装品のほか、家電製品に内蔵された電装機器等の製品では、上記製品の工場出荷時や修理時において、被計測用配線経路１１の導通検査を行う場合がある。このような場合、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０の電流値がたとえ小さくても、被計測用配線経路１１で発生する安定した磁界Ｍにより、被計測用配線経路１１で断線していないかの確認に足りる大きさの誘導電流Ｉ１が計測用配線経路３１で検出できる。
そのため、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０の電流値がたとえ小さくても、プリント配線基板１，１Ａ，１Ｂ上の電気回路１０に対し、被計測用配線経路１１の導通検査を、より確実にかつ簡単に精度良く行うことができる。
【００６１】
従って、プリント配線基板１，１Ａ，１Ｂを小型化できると共に、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０の電流値が小さくても、計測用配線経路３１で検出される誘導電流Ｉ１を安定した状態で得られるため、被計測用配線経路１１の導通を精度良く検出することができる、という優れた効果を奏する。
【００６２】
また、本実施形態に係る導通検出方法では、計測用配線経路３１は、Ｙ方向の成分とＺ方向の成分とを含む渦巻き状で、第１基板２Ａ乃至第５基板２Ｅにそれぞれ形成された計測用スルーホール３Ｂを介して、Ｘ方向に対し一方側から他方側に延び、被計測用配線経路１１と並列に沿って形成されているので、プリント配線基板上に計測デバイスを接触させて、プリント配線基板内の被計測用配線経路に流れる電流を検出する特許文献１のような従来の電流検出方法と異なり、被計測用配線経路１１の導通を検出するのに、プリント配線基板１，１Ａ，１Ｂに計測デバイスを接触させる必要がなく、計測デバイスの接触スペースが必要ない分、プリント配線基板１，１Ａ，１Ｂをより小型化することができる。
また、計測用配線経路３１が、第１基板２Ａ乃至第６基板２Ｆにおいてそれぞれ計測用スルーホール３Ｂを介して、被計測用配線経路１１と並列に沿って形成されていることから、Ｘ方向に沿う計測用配線経路３１の配線長が短くても、誘導電流Ｉ１が計測用配線経路３１で検出され易く、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０を、確実に検出することができる。
【００６３】
また、本実施形態に係る導通検出方法では、電気回路１０の入力側１５と出力側１６との間で、２つの第１被計測用配線経路１１Ａ、第２被計測用配線経路１１Ｂが電気的に並列接続されていると共に、２つの第１計測用配線経路３１Ａ、第２計測用配線経路３１Ｂが、第１，第２被計測用配線経路１１Ａ，１１Ｂに対し、それぞれ１対１の配置関係で配線されているので、第１，第２被計測用配線経路１１Ａ，１１Ｂのそれぞれに対し、例えば、被計測用配線経路１１に流れる電流Ｉ０の通電をオン／オフする第１スイッチ２０Ａ、第２スイッチ２０Ｂ等の電気部品が、第１，第２被計測用配線経路１１Ａ，１１Ｂと電気的に直列接続されている電気回路では、万が一、第１，第２スイッチ２０Ａ，２０Ｂ等の電気部品のうち、片方の電気部品で導通不良を引き起こす故障があった場合に、第１，第２計測用配線経路３１Ａ，３１Ｂのそれぞれで誘導電流Ｉ１を個々に検出することにより、作業者は、故障している電気部品を簡単に特定することができる。
また、作業者は、並列接続された２つの第１被計測用配線経路１１Ａ、第２被計測用配線経路１１Ｂのうち、どの被計測用配線経路で断線しているかについても、簡単に特定することができる。
【００６４】
すなわち、第１スイッチ２０Ａ、第２スイッチ２０Ｂが、第１，第２被計測用配線経路１１Ａ，１１Ｂに対し、それぞれ電気的に接続されている電気回路において、２つの第１，第２被計測用配線経路１１Ａ，１１Ｂが入力側１５と出力側１６とでそれぞれ電気的に並列に分岐する第１分岐点５５、第２分岐点５６では、電流Ｉ０の電流値は、第１分岐点５５と第２分岐点５６とも同じなる。
換言すれば、入力側１５から流れる電流Ｉ０は、導通不良で故障している異常な電気部品（例えば、第１スイッチ２０Ａ）と接続している被計測用配線経路（例えば、第１被計測用配線経路１１Ａ）を通じて出力側１６に流れないが、導通不良でない正常な電気部品（例えば、第２スイッチ２０Ｂ）と接続している他の被計測用配線経路（例えば、第２被計測用配線経路１１Ｂ）を通じて出力側１６に流れる。
【００６５】
その結果、電流値は、第１分岐点５５と第２分岐点５６で同じとなり、作業者は、並列接続された２つの第１，第２被計測用配線経路１１Ａ，１１Ｂのうち、どの被計測用配線経路の電気部品で導通不良であるか、第１分岐点５５と第２分岐点５６で電流値を計測しただけでは判断できない。勿論、作業者は、どの被計測用配線経路で断線しているかについても、第１分岐点５５と第２分岐点５６で電流値を計測しただけでは判断できない。
【００６６】
本実施形態に係る導通検出方法では、電気回路１０の入力側１５と出力側１６との間で、２つの第１，第２被計測用配線経路１１Ａ，１１Ｂが電気的に並列接続されていると共に、２つの第１，第２計測用配線経路３１Ａ，３１Ｂが、第１，第２被計測用配線経路１１Ａ，１１Ｂに対し、それぞれ１対１の配置関係で配線されている。
そのため、入力側１５から出力側１６に電流Ｉ０を流すと、異常な電気部品と接続している被計測用配線経路には、電流が全く流れないため、この被計測用配線経路と対となる計測用配線経路で誘導電流が検出されず、作業者は、この計測用配線経路に繋がる電気部品を、異常な電気部品として特定することができる。
勿論、電気部品が正常であっても、この電気部品と接続する被計測用配線経路が断線している場合には、入力側１５から出力側１６に電流を流すだけで、作業者は、断線した被計測用配線経路を簡単に特定することができる。
【００６７】
以上において、本発明を実施形態に即して説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で、適宜変更して適用できる。
（１）例えば、実施形態では、被計測用配線経路に流れる電流Ｉ０について、直流、交流について触れていないが、被計測用配線経路に流れる電流は、直流、交流どちらでも良い。
（２）また、実施形態では、導通検出機能付き基板１，１Ａ，１Ｂは、自動車に搭載されるＥＣＵに実装されるプリント配線基板としたが、導通検出機能付き基板は、実施形態に限定せず、例えば、家電製品に内蔵された電装機器等に実装されるプリント配線基板等でも適宜適用可能である。
【符号の説明】
【００６８】
１，１Ａ，１Ｂ  導通検出機能付き基板
２Ａ  第１基板
２Ｂ  第２基板
２Ｃ  第３基板
２Ｄ  第４基板
２Ｅ  第５基板
２Ｆ  第６基板
３Ａ  被計測用スルーホール
３Ｂ  計測用スルーホール
１０  電気回路
１１  被計測用配線経路
１１Ａ  第１被計測用配線経路（被計測用配線経路）
１１Ｂ  第２被計測用配線経路（被計測用配線経路）
１５  入力側
１６  出力側
３１  計測用配線経路
３１Ａ  第１計測用配線経路（計測用配線経路）
３１Ｂ  第２計測用配線経路（計測用配線経路）
Ｓ  平面
Ｉ０  被計測用配線経路に流れる電流
Ｉ１  誘導電流
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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