(57)【要約】【課題】光ディスク装置において経年劣化やレンズに付着した埃によりアクチュエータコイルに流れる電流が増加する課題がある。さらに最悪の場合にはアクチュエータコイルに電流が定格を超えることで最悪アクチュエータが損傷、焼損に至ることがある。【解決手段】情報面が積層された光ディスクの各層への焦点ずれを示すフォーカスエラー信号の振幅に応じて光検出器の電圧増幅率を調整する。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
２以上の複数の情報面を有する光ディスクに対して情報の記録および／または再生を行うディスク装置であって、
前記光ディスクに対してレーザを照射する照射部と、
前記照射部から照射されたレーザ光を情報の記録または再生を行う層に集光する対物レンズ部と、
前記レーザ光の集光点を前記光ディスクのフォーカス方向に移動させる移動部と、
前記光ディスクからの戻り光を検出し電気信号に変換する光検出部と、
前記光検出部より得られる電気信号を増幅する増幅部と、
前記増幅部より得られる戻り光の反射強度に相当する総和信号を生成するプルインエラー信号生成部と、を備え、
前記プルインエラー信号の振幅により前記増幅部を制御するディスク装置。
【請求項２】
２以上の複数の情報面を有する光ディスクに対して情報の記録および／または再生を行うディスク装置であって、
前記光ディスクに対してレーザを照射する照射部と、
前記照射部から照射されたレーザ光を情報の記録または再生を行う層に集光する対物レンズ部と、
前記レーザ光の集光点を前記光ディスクのフォーカス方向に移動させる移動部と、
前記光ディスクからの戻り光を検出し電気信号に変換する光検出部と、
前記光検出部より得られる電気信号を増幅する増幅部と、
前記増幅部より得られる戻り光より情報の記録および／または再生層との焦点ずれ量に相当するフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成部と、を備え、
前記フォーカスエラー信号の振幅により前記増幅部を制御するディスク装置。
【請求項３】
２以上の複数の情報面を有する光ディスクに対して情報の記録および／または再生を行うディスク装置であって、
前記光ディスクに対してレーザを照射する照射部と、
前記照射部から照射されたレーザ光を情報の記録または再生を行う層に集光する対物レンズ部と、
前記レーザ光の集光点を前記光ディスクのフォーカス方向に移動させる移動部と、
前記光ディスクからの戻り光を検出し電気信号に変換する光検出部と、
前記光検出部より得られる電気信号を増幅する増幅部と、
前記増幅部より得られる戻り光の反射強度に相当する総和信号を生成するプルインエラー信号生成部と、
前記増幅部より得られる戻り光より情報の記録および／または再生層との焦点ずれ量に相当するフォーカスエラー信号を生成するフォーカスエラー信号生成部と、を備え、
前記プルインエラー信号の振幅および前記フォーカスエラー信号の振幅により前記増幅部を制御するディスク装置。
【請求項４】
請求項２に記載のディスク装置であって、
前記光ディスクを回転させるディスクモータ部と、
前記フォーカスエラー信号の単位時間当たりの絶対値を求め、計測した単位時間で割ることで平均値を演算する絶対平均値処理部と、を設け、
前記絶対値平均値処理部の平均値に応じて前記増幅部を制御するディスク装置。
【請求項５】
請求項２に記載のディスク装置であって、
前記光ディスクを回転させるディスクモータ部と、
前記移動部を制御する制御部と、
単位時間当たりの前記制御部から前記移動部への制御信号の絶対値を求め単位時間当たりの平均値を演算する絶対平均値処理部と、を設け、
前記絶対値平均値処理部の平均値に応じて前記増幅部を制御するディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は情報面が積層された光ディスクに情報を記録または／あるいは記録された情報を再生するための記録再生装置の技術分野に属し、情報面が積層された光ディスクの各層への焦点ずれを示すフォーカスエラー信号の振幅に応じて光検出器の電圧増幅率を調整する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置において経年劣化やレンズに付着した埃によりアクチュエータコイルに流れる電流が増加する課題がある。さらに最悪の場合にはアクチュエータコイルに電流が定格を超えると最悪アクチュエータが焼損に至る。この対策として例えば特許文献１のように光ディスク装置に内蔵されるアクチュエータ類を過電流から保護する為の方法が提案されている。
【０００３】
特許文献２には、「レーザにより多層記録膜の記録媒体に対して信号を記録すると共に前記記録媒体に記録された信号を再生するヘッドと、前記記録媒体の面ブレに追従し記録膜上に集束したレーザスポットを形成するための前記ヘッドに搭載された対物レンズと対物レンズ駆動手段と焦点誤差検出手段と、前記ヘッドのレーザパワーを制御するレーザ制御回路と、前記焦点誤差検出手段の出力をパルス化しカウントする計数手段を有し前記記録媒体とヘッドの相対速度を記録再生が可能な状態まで駆動した後、前記レーザ制御回路によりレーザを発光し、前記対物レンズ駆動手段により対物レンズを記録媒体に向かって上下に駆動し前記対物レンズ駆動時の前記計数手段の出力によって前記多層記録膜の記録面数を検出する」との記載がある（請求項１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平５−１６８１４０号公報
【特許文献２】特開平４−３６４２２９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献１では過電流を検出すると電源電圧からの電力供給を遮断する方法である。この方法では記録中においては不適切な記録状態になり、再生時にはディスクに光ピックアップが衝突して傷がつくことも考えられる。
【０００６】
そこで、例えばレンズに付着した埃等により生じる光ピックアップからの出力信号の信号と雑音の比であるSingle to Noise(以下ＳＮ)のＳが低下することで過電流になるのであれば本発明のような方法で過電流を保護することが可能となる。
【０００７】
光ピックアップからの出力信号のSの低下分は制御部で増幅されると、Ｓと共にＮも増幅される。このように光ピックアップからのSNが低下した場合に制御部で増幅すると、制御部のNoise、光ピックアップに含まれるNoiseの2つを一緒に増幅することになる。これを防ぐために、光ピックアップの出力信号の増幅率を変えることで、制御部でのNoiseにより生じる不要な電流分を低減することが可能となる。このような方法で光ディスク装置の過電流保護機能を提供することが可能となる。
【０００８】
また、特許文献２では、各層ごとにゲインを動的に変えてはおらず、全層で一律に同じゲインを静的に用いている。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記の課題は、例えば特許請求の範囲に記載の発明によって解決される。
【発明の効果】
【００１０】
本発明により、光ピックアップのアクチュエータを焼損から保護して安定して制御を行うことができる光ディスク装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】実施例１の光ディスク装置のブロック図
【図２】実施例１のフローチャート
【図３】実施例１の動作の説明図
【図４】実施例２の光ディスク装置のブロック図
【図５】実施例２のフローチャート
【図６】実施例２の動作の説明図
【図７】実施例３の光ディスク装置のブロック図
【図８】実施例３のフローチャート
【図９】実施例３の動作の説明図
【図１０】実施例４の光ディスク装置のブロック図
【図１１】実施例４のフローチャート
【図１２】実施例４の動作の説明図
【図１３】実施例５の光ディスク装置のブロック図
【図１４】実施例５のフローチャート
【図１５】実施例５の動作の説明図
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下は本発明を実施するための形態として、光ディスク装置の例を示す。また、ここで説明する構成は実施形態の一例を示すものであり、この実施形態に限定されるものではない。
【実施例１】
【００１３】
実施例１の光ディスク装置１４０のブロック図を図１に示す。
【００１４】
図１の光ディスク１は複数の再生および／あるいは記録層を持つ光ディスクである。ここでは各層を図1のようにＬ０,Ｌ１,・・・Ｌｎとする。
【００１５】
光ピックアップ２は、光ディスク１に対応する光ピックアップであり、対物レンズ３、光検出器４、フォーカスアクチュエータ５、レーザ光源６、レーザ発光制御回路７、偏光ビームスプリッタ１６、球面収差素子１７、λ／４板１８、コリメートレンズ１９を備える。ここでレーザ発光制御回路７は、レーザ光源６の発光及び消光の制御を行う。レーザ光源６から照射されたレーザ光は発散光束であり、この発散光束はコリメートレンズ１９により平行光束となり、この平行光束は偏光ビームスプリッタ１６を透過し、球面収差素子１７で所定の球面収差量を付加し、λ／４板１８により偏光状態が直線偏光から円偏光に変化した後に対物レンズ３により光ディスク１上の所望の再生および／あるいは記録層に集光する。
【００１６】
集光した再生および／あるいは記録層から反射した光はλ／４板１８により偏光状態が円偏光から直線偏光に変わり偏光ビームスプリッタ機構１６により光検出器４へ向かい光検出器４で光電変換され電気信号になり、この電気信号は増幅回路８で増幅される。
【００１７】
プルインエラー信号演算回路９は、光検出器４で得られた電気信号から反射光の強度に相当するプルインエラー信号（以下、プルインエラー信号をＰＥ信号と略す）を生成する回路である。
【００１８】
フォーカス制御回路１２は、光ディスク１の再生および／あるいは記録層面に対して垂直方向（以下、フォーカス方向と称する）にフォーカスアクチュエータドライバ１３を介してフォーカスアクチュエータ５の移動制御を行うフォーカス制御信号を生成する制御回路である。
【００１９】
マイクロコンピュータ１４（以下、マイコン１４と略す）は、光ディスク装置１４０全体の制御を行う。
【００２０】
本光ディスク装置１４０に係る各再生および／あるいは記録層から得られるＰＥ信号の振幅に応じて増幅回路8の増幅率を変えることで光ピックアップ２の出力信号の品質を確保する。このためのフローチャートを図２に示す。これにより例えばレンズに付着した埃や光ディスク装置１４０の経年劣化による信号の低下分を増幅回路8の増幅率により吸収することができる。ここでは複数の再生／記録層をもつ光ディスク１を４層として説明する。
【００２１】
特許文献２では、各層ごとにゲインを動的に変えてはおらず、全層で一律に同じゲインを静的に用いる点で本実施例と異なる。
【００２２】
本発明は光ディスク装置１４０を使う使用者が光ディスク１の記録あるいは再生が実行できるまで（以下セットアップ時と称する）に実施される。
【００２３】
まず、ステップＶ０１で球面収差素子１７の補正量をＬ０に初期位置づけする。本発明の実施例においては球面収差素子１７をＬ０に初期位置づけしたが、初期位置づけ位置はこれに限定されるものではない。次にステップＶ０２で、光ピックアップ２をフォーカス方向に駆動を開始すると図３(a)に示すように対物レンズ３が光ディスク１に近づく。ここで、図３では近づく方向で説明しているが遠ざかる場合でも良い。このときに図３（ｂ）に示すようなＰＥ信号演算回路９により生成されるＰＥ信号波形が得られる。
【００２４】
次にステップＶ０３でＰＥ信号振幅の計測を開始し、光ピックアップ２が光ディスク１に近づくときに得られるＰＥ信号の振幅をステップＶ０４で保持する。ここで、計測のサンプリング周波数はＰＥ信号演算回路９の動作周波数でサンプリングしても良いし、ＰＥ信号演算回路９の動作周波数を分周した信号でも良い。このステップＶ０４で保持するのはＰＥ信号の最大値である。この最大値は光ピックアップ２がステップＶ０２でフォーカス方向へ移動を開始してからステップＶ０５で終了するまでの全て値をマイコン１４のメモリに保持した後にステップＶ０６で最大値を求めても良いし、ステップＶ０４で保持されている最大値より大きい値が測定されたら最大値を逐次更新してステップＶ０５でフォーカス方向への駆動が終了した後にステップＶ０６で最後に保持された最大値を最終的な最大値として求めても良いし、ステップＶ０４で最大値を例えば３点保持しその平均値をステップＶ０５でフォーカス方向への駆動が終了した後にステップＶ０６で求めても良い。
【００２５】
ステップＶ０６でＰＥ信号の最大値が確定した後、ステップＶ０７で例えばＰＥ信号の最大振幅値を５００ｍＶとして設計した場合には５００ｍＶを所望の振幅値とすると、この所望の振幅値と比較して光検出器の出力電圧が小さい場合には所望の振幅値に対してステップＶ０６で確定した最大値が例えば６ｄＢ低ければ光検出器４の出力信号を増幅回路8の増幅率を６ｄＢに最も近い増幅率になるようにマイコン１４からの指令で増幅回路8の増幅率を変更する。また、逆に６ｄＢ高ければ光検出器４の出力電圧利得を下げる。このステップＶ０７で光検出器４の出力電圧利得を変更した場合には、ＰＥ信号が所望の振幅になったことを確認するためにＶ０２から繰り返す。
【００２６】
本装置は、ＢＤ、ＤＶＤ、ＣＤなどの各種の光ディスク１が装着可能である。
本発明では光ピックアップ２の構成は一例として挙げているが、これに限定されるものでは無い。また、増幅回路8の増幅率は連続的に変えられる構成でも良いし、離散的に変える構成でも良い。更に、本発明ではＰＥ信号演算回路９、マイコン１４、フォーカス制御回路１２を別々の回路としたが専用集積回路で実現することも可能である。
【００２７】
本実施例では増幅回路８を一個として示しているが複数あっても良い。
【実施例２】
【００２８】
実施例２の光ディスク装置１４１のブロック図を図４に示す。実施例１との違いは反射光の強度光検出器４の増幅率を制御する点である。本発明はセットアップ時に実施される。
【００２９】
図４において、図１の実施例と同じ機能を有する部分には同一の番号を付し、説明を省略する。本光ディスク装置１４１に係る各再生および／あるいは記録層から得られるフォーカスエラー信号演算回路１０は、レーザ光源６から照射された光が光ディスク１上の所望の再生および／あるいは記録層に集光した光の焦点ずれに相当する信号であるフォーカスエラー信号（以下、フォーカスエラー信号をＦＥ信号と略す）を生成する回路である。このＦＥ信号の振幅に応じて増幅回路8の増幅率を切替えることで光ピックアップ２の出力信号の埃などによる低下分を補うためのフローチャートを図５に示す。ここでは複数の再生／記録層をもつ光ディスク１を４層として説明する。
【００３０】
まず、ステップＷ０１で球面収差素子１７の補正量をＬ０に初期位置づけする。本発明の実施例においては球面収差素子１７をＬ０に初期位置づけしたが、初期位置づけ位置はこれに限定されるものではない。次にステップＷ０２で、光ピックアップ２をフォーカス方向に駆動を開始すると図６(a)に示すように対物レンズ３が光ディスク１に近づく。ここで、図６では近づく方向で説明しているが遠ざかる場合でも良い。このときに図６（ｂ）に示すようなＦＥ信号演算回路１０により生成されるＦＥ信号波形が得られる。
【００３１】
次にステップＷ０３でＦＥ信号振幅の計測を開始し、光ピックアップ２が光ディスク１に近づくときに得られるＦＥ信号の振幅をステップＷ０４で保持する。ここで、計測のサンプリング周波数はＦＥ信号演算回路１０の動作周波数でサンプリングしても良いし、ＦＥ信号演算回路１０の動作周波数を分周した信号でも良い。このステップＷ０４で保持するのはＦＥ信号の最大値である。この最大値は光ピックアップ２がステップＷ０２でフォーカス方向へ移動を開始してからステップＷ０５で終了するまでの全て値をマイコン１４のメモリに保持した後にステップＷ０６で最大値を求めても良いし、ステップＷ０４で保持されている最大値より大きい値が測定されたら最大値を逐次更新してステップＷ０５でフォーカス方向への駆動が終了した後にステップＷ０６で最後に保持された最大値を最終的な最大値として求めても良いし、ステップＷ０４で最大値を例えば３点保持しその平均値をステップＷ０５でフォーカス方向への駆動が終了した後にステップＷ０６で求めても良い。
【００３２】
ステップＷ０６で最大値が確定した後、ステップＷ０７で例えばＦＥ信号の最大振幅値を５００ｍＶとして設計した場合には５００ｍＶを所望の振幅値とすると、この所望の振幅値と比較して光検出器４の出力電圧が小さい場合には所望の振幅値に対してステップＷ０６で確定した最大値が例えば６ｄＢ低ければマイコン１４からの指令で増幅回路8の増幅率を６ｄＢに最も近い増幅率になるように変更する。また、逆に６ｄＢ高ければ光検出器４の出力電圧利得を下げる。
【００３３】
本装置は、ＢＤ、ＤＶＤ、ＣＤなどの各種の光ディスク１が装着可能である。
本発明では光ピックアップ２の構成は一例として挙げているが、これに限定されるものでは無い。また、光検出器４の出力電圧利得の利得値は連続的に変えられる構成でも良いし、離散的に変える構成でも良い。更に、本発明ではマイコン１４で演算することを挙げているが専用集積回路で実現することも可能である。
【実施例３】
【００３４】
実施例３の光ディスク装置１４２のブロック図を図７に示す。本実施例は実施例１、２を組み合わせた場合になる。
【００３５】
本発明はセットアップ時に実施される。図７において、図１および図４の実施例と同じ機能を有する部分には同一の番号を付し、説明を省略する。
【００３６】
ＰＥ信号とＦＥ信号の振幅に応じて増幅回路8の増幅率を制御することで光ピックアップ２の出力信号の低下分を補償するためのフローチャートを図8に示す。ここでは複数の再生／記録層をもつ光ディスク１を３層として説明する。
【００３７】
まず、ステップＸ０１で球面収差素子１７の補正量をＬ０に初期位置づけする。本発明の実施例においては球面収差素子１７をＬ０に初期位置づけしたが、初期位置づけ位置はこれに限定されるものではない。次にステップＸ０２で、光ピックアップ２をフォーカス方向に駆動を開始すると図９(a)に示すように対物レンズ３が光ディスク１に近づく。ここで、図９では近づく方向で説明しているが遠ざかる場合でも良い。このときに図９（ｂ）および（c）に示すようなＰＥ信号演算回路９およびＦＥ信号演算回路１０により生成されるＰＥ信号とＦＥ信号が得られる。
【００３８】
次にステップＸ０３でＰＥおよびＦＥ信号振幅の計測を開始し、光ピックアップ２が光ディスク１に近づくときに得られるＰＥ信号およびＦＥ信号の振幅をステップＸ０４で保持する。ここで、計測のサンプリング周波数はＰＥ信号演算回路９、ＦＥ信号演算回路１０の動作周波数でサンプリングしても良いし、ＰＥ信号演算回路９、ＦＥ信号演算回路１０の動作周波数を分周した信号でも良い。このステップＸ０４で保持するのはＰＥ信号およびＦＥ信号の最大値である。この最大値は光ピックアップ２がステップＸ０２でフォーカス方向へ移動を開始してからステップＸ０５で終了するまでの全て値をマイコン１４に保持した後にステップＸ０６で最大値を求めても良いし、ステップＸ０４で保持されている最大値より大きい値が測定されたら最大値を逐次更新してステップＸ０５でフォーカス方向への駆動が終了した後にステップＸ０６で求めて最後に保持された最大値を最終的な最大値として求めても良いし、ステップＸ０４で最大値を例えば３点保持しその平均値をステップＷ０５でフォーカス方向への駆動が終了した後にステップＸ０６で求めても良い。
【００３９】
ステップＸ０６で最大値が確定した後、ステップＸ０７で例えばＰＥ信号とＦＥ信号の最大振幅値を５００ｍＶとして設計した場合には５００ｍＶを所望の振幅値とすると、この所望の振幅値と比較して、両方あるいは何れか一方でも光検出器の出力電圧が小さい場合には所望の振幅値に対してステップＸ０６で確定した最大値が例えば６ｄＢ低ければ増幅回路8の増幅率をマイコン１４からの指令で６ｄＢに最も近い増幅率になるように変更する。また、逆に６ｄＢ高ければ増幅回路8の増幅率を下げる。
【００４０】
本装置は、ＢＤ、ＤＶＤ、ＣＤなどの各種の光ディスク１が装着可能である。
本発明では光ピックアップ２の構成は一例として挙げているが、これに限定されるものでは無い。また、光検出器４の出力電圧利得の利得値は連続的に変えられる構成でも良いし、離散的に変える構成でも良い。更に、本発明ではマイコン１４で演算することを挙げているが専用集積回路で実現することも可能である。
【実施例４】
【００４１】
実施例４の光ディスク装置１４３のブロック図は図１０である。本実施例は、実施例１、２、３とは異なり、光ディスク1の複数の再生および／あるいは記録層の何れかの層にレーザ光が収束し、このレーザ光が層に追従している制御状態である。
【００４２】
本発明はセットアップ時に実施され、図１０において図４の実施例と同じ機能を有する部分には同一の番号を付し、説明を省略する。
【００４３】
本光ディスク装置１４３に係るＦＥ信号演算回路１０の出力であるＦＥ信号の絶対値を演算し平均化する絶対値演算回路１１である。この絶対値演算回路は図１１に示すように例えば光ディスク１が一回転分のＦＥ信号(図１１のＦＥ（ｔ）)の絶対値を演算し、一回転の時間で割ることで一回転の間の平均電圧を知ることが出来る。ここで、計測のサンプリング周波数は絶対平均演算回路１１の動作周波数でサンプリングしても良いし、絶対平均演算回路１１の動作周波数を分周した信号でも良い。ここではΔｔはサンプリング時間である。この平均電圧と光ピックアップ１の抵抗で決まる電力が規定されている定格電力の例えば５割で設計しているが７割を超えている場合には増幅回路8の増幅率を３ｄＢ上げる。このＦＥ信号の絶対平均値に応じて増幅回路8の増幅率を切替えるフローチャートを図１２に示す。ここでは複数の再生／記録層をもつ光ディスク１を３層として説明する
まず、ステップＹ０１でＦＥ信号の計測を開始し、ステップＹ０２でディスク１回転分のＦＥ信号のデータが蓄積する。その後、ステップＹ０３で得られたデータの絶対を取り、一回転分の総和を計算し、一回転時間で平均化することで絶対平均値を算出する。この絶対平均値Ｖと光ピックアップ２で決まるフォーカスアクチュエータ５の抵抗値ＲからＶ２  /Ｒで平均電力をステップＹ０４で求める。このステップＹ０４で求まった平均電力が光ピックアップ２で規定されている定格電力に対して例えば設計が５割に対して測定された平均電力が７割であればステップＹ０５で増幅回路8の増幅率を例えば初期値に対して＋３ｄＢし、セットアップを最初からやり直す。
【００４４】
本装置は、ＢＤ、ＤＶＤ、ＣＤなどの各種の光ディスク１が装着可能である。
本発明では光ピックアップ２の構成は一例として挙げているが、これに限定されるものでは無い。また、増幅回路8の増幅率は連続的に変えられる構成でも良いし、離散的に変える構成でも良い。更に、本発明ではマイコン１４で演算することを挙げているが専用集積回路で実現することも可能である。
【実施例５】
【００４５】
実施例５の光ディスク装置１４４のブロック図は図１３である。本実施例は、ＦＥ信号演算回路１０をフォーカス制御回路１２に変更した点が異なる。
【００４６】
本発明はセットアップ時に実施され、図１３において図４の実施例と同じ機能を有する部分には同一の番号を付し、説明を省略する。
【００４７】
本光ディスク装置１４４に係るフォーカス制御回路１２の出力信号をフォーカス駆動（以下ＦＯＤと呼ぶ）信号とする。このＦＯＤの絶対値を演算し平均化する絶対値演算回路１１である。この絶対値演算回路は図１４に示すように例えば光ディスク１が一回転分のＦＯＤ信号(図１１のＦＯＤ（ｔ）)の絶対値を演算し、一回転の時間で割ることで一回転の間の平均電圧を知ることが出来る。ここで、計測のサンプリング周波数は絶対平均演算回路１１の動作周波数でサンプリングしても良いし、絶対平均演算回路１１の動作周波数を分周した信号でも良い。この平均電圧と光ピックアップ１の抵抗で決まる電力が規定されている定格電力の例えば５割で設計しているが７割を超えている場合には光検出器４の出力電圧利得を３ｄＢ上げる。このＦＥ信号の絶対平均値に応じて光検出器４の出力電圧の利得を切替えることで光ピックアップ２の出力信号の品質を確保するためのフローチャートを図１５に示す。ここでは複数の再生／記録層をもつ光ディスク１を３層として説明する
まず、ステップＺ０１でＦＯＤ信号の計測を開始し、ステップＺ０２でディスク１回転分のＦＯＤ信号のデータが蓄積する。ここで、計測のサンプリング周波数は絶対平均演算回路１１の動作周波数でサンプリングしても良いし、絶対平均演算回路１１の動作周波数を分周した信号でも良い。その後、ステップＺ０３で得られたデータの絶対を取り、一回転分の総和を計算し、一回転時間で平均化することで絶対平均値を算出する。この絶対平均値Ｖと光ピックアップ２で決まるフォーカスアクチュエータ５の抵抗値ＲからＶ２  /Ｒで平均電力をステップＺ０４で求める。このステップＺ０４で求まった平均電力が光ピックアップ２で規定されている定格電力に対して例えば設計が５割に対して測定された平均電力が７割であればステップＺ０５で増幅回路8の増幅率を例えば初期値に対して＋３ｄＢし、セットアップを最初からやり直す。
【００４８】
本装置は、ＢＤ、ＤＶＤ、ＣＤなどの各種の光ディスク１が装着可能である。
本発明では光ピックアップ２の構成は一例として挙げているが、これに限定されるものでは無い。また、増幅回路8の増幅率は連続的に変えられる構成でも良いし、離散的に変える構成でも良い。更に、本発明ではマイコン１４で演算することを挙げているが専用集積回路で実現することも可能である。
【符号の説明】
【００４９】
１・・・(多層の)光ディスク、２・・・光ピックアップ、３・・・対物レンズ、４・・・光検出器、５・・・フォーカスアクチュエータ、６・・・レーザ光源、７・・・レーザ発光制御回路、８・・・増幅回路、９・・・ＰＥ信号演算回路、１０・・・ＦＥ信号演算回路、１１・・・絶対平均演算回路、１２・・・フォーカ制御回路、１３・・・フォーカスアクチュエータドライバ、１４・・・マイコン、１６・・・偏光ビームスプリッタ、１７・・・球面収差補正素子、１８・・・λ／４板、１９・・・コリメートレンズ、１４０、１４１、１４２、１４３、１４４・・・光ディスク装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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