(57)【要約】      （修正有）【課題】論理回路内部のスキャン・チェイン上の単一固定故障に対して、スキャン・チェインに特化した故障辞書を用いて、テスト結果と照合することで、処理時間を短縮して推定する。【解決手段】論理回路の構成情報と、スキャン・テストパタンと、故障スキャン・チェイン特定手段２２と、スキャン・チェイン故障辞書を作成しスキャン・チェイン故障辞書記憶部３４に記憶するスキャン・チェイン故障辞書作成手段２５と、故障スキャンＦＦ絞り込み手段２３と、フェイル出力情報を階層毎に比較照合して一致する故障候補箇所のパスビットも含めた一致率を算出し、スキャン・チェイン名（番号）とスキャンＦＦ名とスキャン・ビット番号と信号線と信号線分岐と故障種別と一致率とレイアウト情報と近接信号線情報を、故障推定結果として出力するスキャン・チェイン故障辞書照合手段２６を備える。【選択図】図１
2012018111.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
スキャン設計された論理回路のテスト結果に基づき、前記論理回路のスキャン・チェイン上の故障を絞り込む、論理回路の故障箇所推定システムであって、
論理回路の構成情報と、スキャン・テストパタンと、前記スキャン・チェインの動作判定のテスト結果に基づき、故障スキャン・チェインと故障の種別とを導出し、故障スキャン・チェイン情報として故障スキャン・チェイン記憶部に記憶する故障スキャン・チェイン特定手段と、
前記論理回路の構成情報と、前記スキャン・テストパタンと、前記論理回路のレイアウト情報に基づき、前記スキャン・チェイン上の信号線の分岐毎に故障シミュレーションした結果を用いて、前記スキャン・チェイン、前記スキャン・チェイン上のスキャン・フリップフロップ、前記信号線、前記信号線の分岐の階層別に、フェイル出力情報を分類し、
前記信号線の分岐毎に、レイアウト情報と近接信号線情報を付加したスキャン・チェイン故障辞書を作成しスキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶するスキャン・チェイン故障辞書作成手段と、
前記論理回路の構成情報と、前記信号線の期待値と、前記スキャン・チェインの動作判定のテスト結果と、前記故障スキャン・チェイン情報に基づき、前記スキャン・チェイン上の故障スキャン・フリップフロップの範囲を導出し、故障スキャン・フリップフロップ候補範囲として、故障スキャン・フリップフロップ記憶部に記憶する故障スキャン・フリップフロップ絞り込み手段と、
前記テスト結果と、前記故障スキャン・フリップフロップ候補の範囲情報と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部とを参照して、故障スキャン・フリップフロップの候補の範囲内に対して、前記テスト結果と、前記スキャン・チェイン故障辞書のフェイル出力情報を、階層毎に比較照合し、
スキャン・チェイン識別情報と、スキャン・フリップフロップ識別情報と、信号線情報と、信号線分岐情報と、故障種別と、テスト結果との一致率と、信号線分岐毎のレイアウト情報及び近接信号線情報の少なくとも一つを含む故障推定結果を出力するスキャン・チェイン故障辞書照合手段と、
を備えた故障箇所推定システム。
【請求項２】
論理回路テスト結果情報記憶部と、前記故障スキャン・チェイン記憶部と、前記故障スキャン・フリップフロップ記憶部と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部と、を備えた記憶装置を備え、
前記故障スキャン・チェイン特定手段は、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された論理回路の構成情報と、信号線の期待値と、スキャン・チェイン動作検証テストのテスト結果と、を参照して、
故障スキャン・チェイン、及び、前記故障スキャン・チェインの故障種別と、
を特定し、
前記故障スキャン・チェインと、前記故障種別とを、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶し、
前記スキャン・チェイン故障辞書作成手段は、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された前記論理回路の構成情報と、スキャン・テストパタンと、レイアウト情報と、を参照して、前記スキャン・チェイン上の各信号線分岐に故障を仮定して、故障シミュレーションを行い、前記信号線分岐のフェイル出力情報を求め、
スキャン・チェイン、スキャン・フリップフロップ、信号線、信号線分岐の各階層別に、前記フェイル出力情報を分類し、
前記各信号線分岐に、レイアウト情報及び近接信号線情報を付加したスキャン・チェイン故障辞書を作成し、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶し、
前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部は、前記スキャン・チェイン故障辞書作成手段によって作成された階層構造を持つフェイル出力情報を記録し、
前記故障スキャン・フリップフロップ絞り込み手段は、
前記論理回路の構成情報、前記信号線の期待値、前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶されたテスト結果と、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶された故障スキャン・チェイン、故障種別を参照し、故障しているスキャン・フリップフロップの範囲を絞り込み、故障スキャン・フリップフロップ候補として前記故障スキャン・フリップフロップ記憶部に記憶し、
前記スキャン・チェイン故障辞書照合手段は、
前記テスト結果と、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶された故障スキャン・チェイン及び故障種別と、前記故障スキャン・フリップフロップ候補と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部とを参照して、前記故障スキャン・フリップフロップ候補から、照合対象とされるスキャン・フリップフロップを選択し、
選択した前記照合対象のスキャン・フリップフロップに対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップの階層の共通フェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
次に前記照合対象のスキャン・フリップフロップに対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する信号線を選択し、
選択した前記信号線に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書の信号線階層の共通フェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
次に、前記信号線に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書の信号線階層に属する信号線分岐を選択し、
選択した前記信号線分岐のフェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
前記信号線分岐のフェイル出力情報と、前記テスト結果との一致率を導出する、
ことを繰り返し、
前記故障スキャン・フリップフロップ候補に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する各信号線分岐階層のフェイル出力情報を、前記テスト結果と照合し、
前記故障スキャン・チェイン候補と、前記故障スキャン・チェイン候補に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する信号線分岐の照合結果情報を出力する、ことを特徴とする、請求項１記載の故障箇所推定システム。
【請求項３】
スキャン設計された論理回路のテスト結果に基づき、前記論理回路のスキャン・チェイン上の故障を絞り込む、論理回路の故障箇所推定システムであって、
論理回路テスト結果情報記憶部と、
故障スキャン・チェイン記憶部と、
故障スキャン・フリップフロップ記憶部と、
スキャン・チェイン故障辞書記憶部と、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された論理回路の構成情報と、信号線の期待値と、スキャン・チェイン動作検証テストのテスト結果と、を参照して、
故障スキャン・チェイン、及び、前記故障スキャン・チェインの故障種別と、
を特定し、
前記故障スキャン・チェインと、前記故障種別とを、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶する故障スキャン・チェイン特定手段と、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された前記論理回路の構成情報と、スキャン・テストパタンと、レイアウト情報と、を参照して、前記スキャン・チェイン上の各信号線分岐に故障を仮定して、故障シミュレーションを行い、前記信号線分岐のフェイル出力情報を求め、
スキャン・チェイン、スキャン・フリップフロップ、信号線、信号線分岐の各階層別に、前記フェイル出力情報を分類し、
前記各信号線分岐に、レイアウト情報及び近接信号線情報を付加したスキャン・チェイン故障辞書を作成し、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶するスキャン・チェイン故障辞書作成手段と、
を備え、
前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部は、前記スキャン・チェイン故障辞書作成手段によって作成された階層構造を持つフェイル出力情報を記録し、
前記論理回路の構成情報、前記信号線の期待値、前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶されたテスト結果と、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶された故障スキャン・チェイン、故障種別を参照し、故障しているスキャン・フリップフロップの範囲を絞り込み、故障スキャン・フリップフロップ候補として前記故障スキャン・フリップフロップ記憶部に記憶する故障スキャン・フリップフロップ絞り込み手段と、
前記テスト結果と、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶された故障スキャン・チェイン及び故障種別と、前記故障スキャン・フリップフロップ候補と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部とを参照して、前記故障スキャン・フリップフロップ候補から、照合対象とされるスキャン・フリップフロップを選択し、
選択した前記照合対象のスキャン・フリップフロップに対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップの階層の共通フェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
次に前記照合対象のスキャン・フリップフロップに対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する信号線を選択し、
選択した前記信号線に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書の信号線階層の共通フェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
次に、前記信号線に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書の信号線階層に属する信号線分岐を選択し、
選択した前記信号線分岐のフェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
前記信号線分岐のフェイル出力情報と、前記テスト結果との一致率を導出する、
ことを繰り返し、
前記故障スキャン・フリップフロップ候補に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する各信号線分岐階層のフェイル出力情報を、前記テスト結果と照合するスキャン・チェイン故障辞書照合手段と、
前記故障スキャン・チェイン候補と、前記故障スキャン・チェイン候補に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する信号線分岐の照合結果情報を出力する出力手段と、
を備えた、ことを特徴とする故障箇所推定システム。
【請求項４】
前記スキャン・チェイン故障辞書が、
前記論理回路内のスキャン・チェインの構造に対応したスキャン・チェイン、スキャン・フリップフロップ、信号線、信号線分岐の４つの階層を持ち、
前記信号線分岐に対して行った故障シミュレーションのフェイル出力情報において、
前記信号線分岐が属するチェイン階層の各信号線分岐に共通するフェイル出力情報を前記チェイン階層の共通フェイル出力情報として保持し、
前記信号線分岐が属するスキャン・フリップフロップ階層の各信号線分岐に共通するフェイル出力情報を前記スキャン・フリップフロップ階層の共通フェイル出力情報として保持し、
前記信号線分岐が属する信号線階層の各信号線分岐に共通するフェイル出力情報を前記信号線階層の共通フェイル出力情報として保持し、
前記各信号線分岐に対応するレイアウト情報を保持する、ことを特徴とする請求項２又は３に記載の故障箇所推定システム。
【請求項５】
前記スキャン・チェイン故障辞書作成手段が、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された論理回路の構成情報を参照して、
前記スキャン・チェイン上のスキャン・フリップフロップを抽出し、
抽出したスキャン・フリップフロップ間をつなぐ信号線を抽出し、
抽出した各信号線の分岐構造を解析して信号線の分岐情報を抽出するスキャン・チェイン上信号線分岐抽出手段と
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された論理回路の構成情報と、スキャン・テストパタンと、前記スキャン・チェイン上信号線分岐抽出手段から受け渡された信号線の分岐情報と、を用いて、各信号線分岐に対して所定の故障モデルを仮定して、故障シミュレーションを実行し、各信号線分岐に対する故障シミュレーション結果を導出する故障シミュレーション手段と
前記故障シミュレーション手段から受け渡されたスキャン・チェイン、スキャン・フリップフロップ、信号線、信号線分岐の接続情報と、各信号線分岐に対する故障シミュレーション結果において、各スキャン・チェイン階層に属する信号線分岐に共通するフェイル出力を抽出し、前記スキャン・チェイン階層の共通フェイル出力情報として、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記録し、
各スキャン・フリップフロップ階層に属する信号線分岐に共通するフェイル出力を抽出し、
前記スキャン・フリップフロップ階層の共通フェイル出力情報として、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記録し、
各信号線階層に属する信号線分岐に共通するフェイル出力を抽出し、
前記信号線階層の共通フェイル出力情報として、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記録し、
各信号線分岐のフェイル出力を、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記録する階層別フェイル出力分類手段と、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶されたレイアウト情報を参照して、前記階層別フェイル出力分類手段から受け渡されたスキャン・チェイン故障辞書の信号線分岐情報に、前記信号線分岐のレイアウト情報と、前記信号線分岐の近接信号線情報を付加し、スキャン・チェイン故障辞書として、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶する分岐毎レイアウト情報付加手段と、
を備えた、ことを特徴とする請求項２乃至４のいずれか１項に記載の故障箇所推定システム。
【請求項６】
前記スキャン・チェイン故障辞書照合手段が、
前記故障スキャン・フリップフロップ記憶部に記憶された故障スキャン・フリップフロップ候補情報を用いて、
故障推定対象のスキャン・フリップフロップを１つずつ選択し、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶されたスキャン・テスト結果と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶されたスキャン・フリップフロップの共通フェイル出力情報を照合し、フェイル出力の一致率を導出するスキャン・フリップフロップ共通フェイル照合手段と、
故障推定対象の信号線を選択し、
前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶された被対象信号線の共通フェイル出力情報と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶されたスキャン・テスト結果と、を照合し、フェイル出力の一致率を導出する信号線共通フェイル照合手段と、
故障推定対象の信号線分岐を選択し、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶された故障推定対象の信号線分岐の共通フェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
故障推定対象の信号線分岐の共通フェイル出力情報が一致した場合、
前記信号線分岐に関係する各階層のフェイル出力情報と、前記テスト結果を参照して、一致率を導出し、
スキャン・チェイン識別情報と、スキャン・フリップフロップ識別情報と、スキャン・ビット番号と、信号線と、信号線分岐と、故障種別と、テスト結果との一致率と、レイアウト情報と、近接信号線情報を出力する分岐共通フェイル照合手段と、
を備えた、ことを特徴とする請求項２の故障箇所推定システム。
【請求項７】
データ処理システムを用いて、スキャン設計された論理回路のテスト結果に基づき、前記論理回路のスキャン・チェイン上の故障を絞り込む、論理回路の故障箇所推定方法であって、
論理回路の構成情報と、スキャン・テストパタンと、前記スキャン・チェインの動作判定のテスト結果に基づき、故障スキャン・チェインと故障の種別とを導出し、故障スキャン・チェイン情報として故障スキャン・チェイン記憶部に記憶する故障スキャン・チェイン特定工程と、
前記論理回路の構成情報と、前記スキャン・テストパタンと、前記論理回路のレイアウト情報に基づき、前記スキャン・チェイン上の信号線の分岐毎に故障シミュレーションした結果を用いて、前記スキャン・チェイン、前記スキャン・チェイン上のスキャン・フリップフロップ、前記信号線、前記信号線の分岐の階層別に、フェイル出力情報を分類し、前記信号線の分岐毎に、レイアウト情報と近接信号線情報を付加したスキャン・チェイン故障辞書を作成し、スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶するスキャン・チェイン故障辞書作成工程と、
前記論理回路の構成情報と、前記信号線の期待値と、前記スキャン・チェインの動作判定のテスト結果と、前記故障スキャン・チェイン情報に基づき、故障スキャン・フリップフロップの範囲を導出し、故障スキャン・フリップフロップ候補範囲として、故障スキャン・フリップフロップ記憶部に記憶する故障スキャン・フリップフロップ絞り込み工程と、
前記テスト結果と、前記故障スキャン・フリップフロップ候補の範囲情報と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部とを参照して、故障スキャン・フリップフロップの候補の範囲内に対して、前記テスト結果と、前記スキャン・チェイン故障辞書のフェイル出力情報を、階層毎に比較照合し、
スキャン・チェイン識別情報と、スキャン・フリップフロップ識別情報と、信号線情報と、信号線分岐情報と、故障種別と、テスト結果との一致率と、信号分岐毎のレイアウト情報及び近接信号線情報の少なくとも一つを含む故障推定結果を出力するスキャン・チェイン故障辞書照合工程と、
を含む、故障箇所推定方法。
【請求項８】
前記データ処理システムが、論理回路テスト結果情報記憶部と、前記故障スキャン・チェイン記憶部と、前記故障スキャン・フリップフロップ記憶部と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部と、を備えた記憶装置を備え、
前記故障スキャン・チェイン特定工程は、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された論理回路の構成情報と、信号線の期待値と、スキャン・チェイン動作検証テストのテスト結果と、を参照して、
故障スキャン・チェイン、及び、前記故障スキャン・チェインの故障種別と、
を特定し、
前記故障スキャン・チェインと、前記故障種別とを、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶し、
前記スキャン・チェイン故障辞書作成工程は、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された前記論理回路の構成情報と、スキャン・テストパタンと、レイアウト情報と、を参照して、前記スキャン・チェイン上の各信号線分岐に故障を仮定して、故障シミュレーションを行い、前記信号線分岐のフェイル出力情報を求め、
スキャン・チェイン、スキャン・フリップフロップ、信号線、信号線分岐の各階層別に、前記フェイル出力情報を分類し、
前記各信号線分岐に、レイアウト情報及び近接信号線情報を付加したスキャン・チェイン故障辞書を作成し、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶し、
前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部は、前記スキャン・チェイン故障辞書作成工程によって作成された階層構造を持つフェイル出力情報を記録し、
前記故障スキャン・フリップフロップ絞り込み工程は、
前記論理回路の構成情報、前記信号線の期待値、前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶されたテスト結果と、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶された故障スキャン・チェイン、故障種別を参照し、故障しているスキャン・フリップフロップの範囲を絞り込み、故障スキャン・フリップフロップ候補として前記故障スキャン・フリップフロップ記憶部に記憶し、
前記スキャン・チェイン故障辞書照合工程は、
前記テスト結果と、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶された故障スキャン・チェイン及び故障種別と、前記故障スキャン・フリップフロップ候補と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部とを参照して、前記故障スキャン・フリップフロップ候補から、照合対象とされるスキャン・フリップフロップを選択し、
選択した前記照合対象のスキャン・フリップフロップに対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップの階層の共通フェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
次に前記照合対象のスキャン・フリップフロップに対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する信号線を選択し、
選択した前記信号線に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書の信号線階層の共通フェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
次に、前記信号線に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書の信号線階層に属する信号線分岐を選択し、
選択した前記信号線分岐のフェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
前記信号線分岐のフェイル出力情報と、前記テスト結果との一致率を導出する、
ことを繰り返し、
前記故障スキャン・フリップフロップ候補に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する各信号線分岐階層のフェイル出力情報を、前記テスト結果と照合し、
前記故障スキャン・チェイン候補と、前記故障スキャン・チェイン候補に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する信号線分岐の照合結果情報を出力する、ことを特徴とする、請求項７記載の故障箇所推定方法。
【請求項９】
論理回路テスト結果情報記憶部、故障スキャン・チェイン記憶部、故障スキャン・フリップフロップ記憶部、スキャン・チェイン故障辞書記憶部とを備えたデータ処理システムが、スキャン設計された論理回路のテスト結果に基づき、前記論理回路のスキャン・チェイン上の故障を絞り込む故障箇所推定方法であって、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された論理回路の構成情報と、信号線の期待値と、スキャン・チェイン動作検証テストのテスト結果と、を参照して、
故障スキャン・チェイン、及び、前記故障スキャン・チェインの故障種別と、
を特定し、
前記故障スキャン・チェインと、前記故障種別とを、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶する故障スキャン・チェイン特定工程と、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された前記論理回路の構成情報と、スキャン・テストパタンと、レイアウト情報と、を参照して、
前記スキャン・チェイン上の各信号線分岐に故障を仮定して、故障シミュレーションを行い、前記信号線分岐のフェイル出力情報を求め、
スキャン・チェイン、スキャン・フリップフロップ、信号線、信号線分岐の各階層に、前記フェイル出力情報を分類し、
前記各信号線分岐に、レイアウト情報及び近接信号線情報を付加したスキャン・チェイン故障辞書を作成し、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶するスキャン・チェイン故障辞書作成工程と、
を有し、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部は、前記スキャン・チェイン故障辞書作成工程によって作成された階層構造を持つフェイル出力情報を記録し、
さらに、
前記論理回路の構成情報、前記信号線の期待値、前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶されたテスト結果と、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶された故障スキャン・チェイン、故障種別を参照し、故障しているスキャン・フリップフロップの範囲を絞り込み、故障スキャン・フリップフロップ候補として前記故障スキャン・フリップフロップ記憶部に記憶する故障スキャン・フリップフロップ絞り込み工程と、
前記テスト結果と、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶された故障スキャン・チェイン及び故障種別と、前記故障スキャン・フリップフロップ候補と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部とを参照して、前記故障スキャン・フリップフロップ候補から、照合対象とされるスキャン・フリップフロップを選択し、
選択した前記照合対象のスキャン・フリップフロップに対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップの階層の共通フェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
次に前記照合対象のスキャン・フリップフロップに対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する信号線を選択し、
選択した前記信号線に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書の信号線階層の共通フェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
次に、前記信号線に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書の信号線階層に属する信号線分岐を選択し、
選択した前記信号線分岐のフェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
前記信号線分岐のフェイル出力情報と、前記テスト結果との一致率を導出する、
ことを繰り返し、
前記故障スキャン・フリップフロップ候補に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する各信号線分岐階層のフェイル出力情報を、前記テスト結果と照合するスキャン・チェイン故障辞書照合工程と、
前記故障スキャン・チェイン候補と、前記故障スキャン・チェイン候補に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する信号線分岐の照合結果情報を出力する工程と、
を含む、ことを特徴とする、故障箇所推定方法。
【請求項１０】
前記スキャン・チェイン故障辞書が、
前記論理回路内のスキャン・チェインの構造に対応したスキャン・チェイン、スキャン・フリップフロップ、信号線、信号線分岐の４つの階層を持ち、
前記信号線分岐に対して行った故障シミュレーションのフェイル出力情報において、
前記信号線分岐が属するチェイン階層の各信号線分岐に共通するフェイル出力情報を前記チェイン階層の共通フェイル出力情報として保持し、
前記信号線分岐が属するスキャン・フリップフロップ階層の各信号線分岐に共通するフェイル出力情報を前記スキャン・フリップフロップ階層の共通フェイル出力情報として保持し、
前記信号線分岐が属する信号線階層の各信号線分岐に共通するフェイル出力情報を前記信号線階層の共通フェイル出力情報として保持し、
前記各信号線分岐に対応するレイアウト情報を保持する、ことを特徴とする請求項８又は９記載の故障箇所推定方法。
【請求項１１】
前記スキャン・チェイン故障辞書作成工程が、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された論理回路の構成情報を参照して、
前記スキャン・チェイン上のスキャン・フリップフロップを抽出し、
抽出したスキャン・フリップフロップ間をつなぐ信号線を抽出し、
抽出した各信号線の分岐構造を解析して信号線の分岐情報を抽出するスキャン・チェイン上信号線分岐抽出工程と
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された論理回路の構成情報と、スキャン・テストパタンと、前記スキャン・チェイン上信号線分岐抽出工程から受け渡された信号線の分岐情報と、を用いて、各信号線分岐に対して所定の故障モデルを仮定して、故障シミュレーションを実行し、各信号線分岐に対する故障シミュレーション結果を導出する故障シミュレーション工程と
前記故障シミュレーション工程から受け渡されたスキャン・チェイン、スキャン・フリップフロップ、信号線、信号線分岐の接続情報と、各信号線分岐に対する故障シミュレーション結果において、各スキャン・チェイン階層に属する信号線分岐に共通するフェイル出力を抽出し、前記スキャン・チェイン階層の共通フェイル出力情報として、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記録し、
各スキャン・フリップフロップ階層に属する信号線分岐に共通するフェイル出力を抽出し、
前記スキャン・フリップフロップ階層の共通フェイル出力情報として、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記録し、
各信号線階層に属する信号線分岐に共通するフェイル出力を抽出し、
前記信号線階層の共通フェイル出力情報として、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記録し、
各信号線分岐のフェイル出力を、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記録する階層別フェイル出力分類工程と、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶されたレイアウト情報を参照して、前記階層別フェイル出力分類工程から受け渡されたスキャン・チェイン故障辞書の信号線分岐情報に、前記信号線分岐のレイアウト情報と、前記信号線分岐の近接信号線情報を付加し、スキャン・チェイン故障辞書として、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶する分岐毎レイアウト情報付加工程と、
を備えた、ことを特徴とする請求項８乃至１０のいずれか１項に記載の故障箇所推定方法。
【請求項１２】
前記スキャン・チェイン故障辞書照合工程が、
前記故障スキャン・フリップフロップ記憶部に記憶された故障スキャン・フリップフロップ候補情報を用いて、
故障推定対象のスキャン・フリップフロップを１つずつ選択し、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶されたスキャン・テスト結果と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶されたスキャン・フリップフロップの共通フェイル出力情報を照合し、フェイル出力の一致率を導出するスキャン・フリップフロップ共通フェイル照合工程と、
故障推定対象の信号線を選択し、
前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶された被対象信号線の共通フェイル出力情報と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶されたスキャン・テスト結果と、を照合し、フェイル出力の一致率を導出する信号線共通フェイル照合工程と、
故障推定対象の信号線分岐を選択し、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶された故障推定対象の信号線分岐の共通フェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
故障推定対象の信号線分岐の共通フェイル出力情報が一致した場合、
前記信号線分岐に関係する各階層のフェイル出力情報と、前記テスト結果を参照して、一致率を導出し、
スキャン・チェイン識別情報と、スキャン・フリップフロップ識別情報と、スキャン・ビット番号と、信号線と、信号線分岐と、故障種別と、テスト結果との一致率と、レイアウト情報と、近接信号線情報を出力する分岐共通フェイル照合工程と、
を備えた、ことを特徴とする請求項８乃至１１のいずれか１項記載の故障箇所推定方法。
【請求項１３】
データ処理システムのデータ処理装置に、スキャン設計された論理回路のテスト結果に基づき、前記論理回路のスキャン・チェイン上の故障を絞り込む、論理回路の故障箇所推定処理を実行させるプログラムであって、
論理回路の構成情報と、スキャン・テストパタンと、前記スキャン・チェインの動作判定のテスト結果に基づき、故障スキャン・チェインと故障の種別とを導出し、故障スキャン・チェイン情報として故障スキャン・チェイン記憶部に記憶する故障スキャン・チェイン特定処理と、
前記論理回路の構成情報と、前記スキャン・テストパタンと、前記論理回路のレイアウト情報に基づき、前記スキャン・チェイン上の信号線の分岐毎に故障シミュレーションした結果を用いて、前記スキャン・チェイン、前記スキャン・チェイン上のスキャン・フリップフロップ、前記信号線、前記信号線の分岐の階層別に、フェイル出力情報を分類し、前記信号線の分岐毎に、レイアウト情報と近接信号線情報を付加したスキャン・チェイン故障辞書を作成し、スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶するスキャン・チェイン故障辞書作成処理と、
前記論理回路の構成情報と、前記信号線の期待値と、前記スキャン・チェインの動作判定のテスト結果と、前記故障スキャン・チェイン情報に基づき、故障スキャン・フリップフロップの範囲を導出し、故障スキャン・フリップフロップ候補範囲として、故障スキャン・フリップフロップ記憶部に記憶する故障スキャン・フリップフロップ絞り込み処理と、
前記テスト結果と、前記故障スキャン・フリップフロップ候補の範囲情報と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部とを参照して、故障スキャン・フリップフロップの候補の範囲内に対して、前記テスト結果と、前記スキャン・チェイン故障辞書のフェイル出力情報を、階層毎に比較照合し、スキャン・チェイン識別情報と、スキャン・フリップフロップ識別情報と、信号線情報と、信号線分岐情報と、故障種別と、テスト結果との一致率と、信号分岐毎のレイアウト情報及び近接信号線情報の少なくとも一つを含む故障推定結果を出力するスキャン・チェイン故障辞書照合処理と、
を含む故障箇所推定プログラム。
【請求項１４】
前記データ処理システムが、論理回路テスト結果情報記憶部と、前記故障スキャン・チェイン記憶部と、前記故障スキャン・フリップフロップ記憶部と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部と、を備えた記憶装置を備え、
前記故障スキャン・チェイン特定処理は、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された論理回路の構成情報と、信号線の期待値と、スキャン・チェイン動作検証テストのテスト結果と、を参照して、
故障スキャン・チェイン、及び、前記故障スキャン・チェインの故障種別と、
を特定し、
前記故障スキャン・チェインと、前記故障種別とを、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶し、
前記スキャン・チェイン故障辞書作成処理は、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された前記論理回路の構成情報と、スキャン・テストパタンと、レイアウト情報と、を参照して、前記スキャン・チェイン上の各信号線分岐に故障を仮定して、故障シミュレーションを行い、前記信号線分岐のフェイル出力情報を求め、
スキャン・チェイン、スキャン・フリップフロップ、信号線、信号線分岐の各階層別に、前記フェイル出力情報を分類し、
前記各信号線分岐に、レイアウト情報及び近接信号線情報を付加したスキャン・チェイン故障辞書を作成し、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶し、
前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部は、前記スキャン・チェイン故障辞書作成処理によって作成された階層構造を持つフェイル出力情報を記録し、
前記故障スキャン・フリップフロップ絞り込み処理は、
前記論理回路の構成情報、前記信号線の期待値、前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶されたテスト結果と、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶された故障スキャン・チェイン、故障種別を参照し、故障しているスキャン・フリップフロップの範囲を絞り込み、故障スキャン・フリップフロップ候補として前記故障スキャン・フリップフロップ記憶部に記憶し、
前記スキャン・チェイン故障辞書照合処理は、
前記テスト結果と、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶された故障スキャン・チェイン及び故障種別と、前記故障スキャン・フリップフロップ候補と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部とを参照して、前記故障スキャン・フリップフロップ候補から、照合対象とされるスキャン・フリップフロップを選択し、
選択した前記照合対象のスキャン・フリップフロップに対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップの階層の共通フェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
次に前記照合対象のスキャン・フリップフロップに対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する信号線を選択し、
選択した前記信号線に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書の信号線階層の共通フェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
次に、前記信号線に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書の信号線階層に属する信号線分岐を選択し、
選択した前記信号線分岐のフェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
前記信号線分岐のフェイル出力情報と、前記テスト結果との一致率を導出する、
ことを繰り返し、
前記故障スキャン・フリップフロップ候補に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する各信号線分岐階層のフェイル出力情報を、前記テスト結果と照合し、
前記故障スキャン・チェイン候補と、前記故障スキャン・チェイン候補に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する信号線分岐の照合結果情報を出力する、ことを特徴とする、請求項１３記載の故障箇所推定プログラム。
【請求項１５】
論理回路テスト結果情報記憶部、故障スキャン・チェイン記憶部、故障スキャン・フリップフロップ記憶部、スキャン・チェイン故障辞書記憶部と、を備えたデータ処理システムのデータ処理装置に、スキャン設計された論理回路のテスト結果に基づき、前記論理回路のスキャン・チェイン上の故障を絞り込む処理を実行させる論理回路の故障箇所推プログラムであって、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された論理回路の構成情報と、信号線の期待値と、スキャン・チェイン動作検証テストのテスト結果と、を参照して、
故障スキャン・チェイン、及び、前記故障スキャン・チェインの故障種別と、
を特定し、
前記故障スキャン・チェインと、前記故障種別とを、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶する故障スキャン・チェイン特定処理と、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された前記論理回路の構成情報と、スキャン・テストパタンと、レイアウト情報と、を参照して、
前記スキャン・チェイン上の各信号線分岐に故障を仮定して、故障シミュレーションを行い、前記信号線分岐のフェイル出力情報を求め、
スキャン・チェイン、スキャン・フリップフロップ、信号線、信号線分岐の各階層に、前記フェイル出力情報を分類し、
前記各信号線分岐に、レイアウト情報及び近接信号線情報を付加したスキャン・チェイン故障辞書を作成し、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶するスキャン・チェイン故障辞書作成処理と、
を有し、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部は、前記スキャン・チェイン故障辞書作成工程によって作成された階層構造を持つフェイル出力情報を記録し、
前記論理回路の構成情報、前記信号線の期待値、前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶されたテスト結果と、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶された故障スキャン・チェイン、故障種別を参照し、故障しているスキャン・フリップフロップの範囲を絞り込み、故障スキャン・フリップフロップ候補として前記故障スキャン・フリップフロップ記憶部に記憶する故障スキャン・フリップフロップ絞り込み処理と、
前記テスト結果と、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶された故障スキャン・チェイン及び故障種別と、前記故障スキャン・フリップフロップ候補と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部とを参照して、前記故障スキャン・フリップフロップ候補から、照合対象とされるスキャン・フリップフロップを選択し、
選択した前記照合対象のスキャン・フリップフロップに対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップの階層の共通フェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
次に前記照合対象のスキャン・フリップフロップに対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する信号線を選択し、
選択した前記信号線に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書の信号線階層の共通フェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
次に、前記信号線に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書の信号線階層に属する信号線分岐を選択し、
選択した前記信号線分岐のフェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
前記信号線分岐のフェイル出力情報と、前記テスト結果との一致率を導出する、
ことを繰り返し、
前記故障スキャン・フリップフロップ候補に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する各信号線分岐階層のフェイル出力情報を、前記テスト結果と照合するスキャン・チェイン故障辞書照合処理と、
前記故障スキャン・チェイン候補と、前記故障スキャン・チェイン候補に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する信号線分岐の照合結果情報を出力する処理と、
を含む、ことを特徴とする故障箇所推定プログラム。
【請求項１６】
前記スキャン・チェイン故障辞書が、
前記論理回路内のスキャン・チェインの構造に対応したスキャン・チェイン、スキャン・フリップフロップ、信号線、信号線分岐の４つの階層を持ち、
前記信号線分岐に対して行った故障シミュレーションのフェイル出力情報において、
前記信号線分岐が属するチェイン階層の各信号線分岐に共通するフェイル出力情報を前記チェイン階層の共通フェイル出力情報として保持し、
前記信号線分岐が属するスキャン・フリップフロップ階層の各信号線分岐に共通するフェイル出力情報を前記スキャン・フリップフロップ階層の共通フェイル出力情報として保持し、
前記信号線分岐が属する信号線階層の各信号線分岐に共通するフェイル出力情報を前記信号線階層の共通フェイル出力情報として保持し、
前記各信号線分岐に対応するレイアウト情報を保持する、ことを特徴とする請求項１４又は１５記載の故障箇所推定プログラム。
【請求項１７】
前記スキャン・チェイン故障辞書作成処理が、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された論理回路の構成情報を参照して、
前記スキャン・チェイン上のスキャン・フリップフロップを抽出し、
抽出したスキャン・フリップフロップ間をつなぐ信号線を抽出し、
抽出した各信号線の分岐構造を解析して信号線の分岐情報を抽出するスキャン・チェイン上信号線分岐抽出処理と
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された論理回路の構成情報と、スキャン・テストパタンと、前記スキャン・チェイン上信号線分岐抽出処理から受け渡された信号線の分岐情報と、を用いて、各信号線分岐に対して所定の故障モデルを仮定して、故障シミュレーションを実行し、各信号線分岐に対する故障シミュレーション結果を導出する故障シミュレーション処理と
前記故障シミュレーション処理から受け渡されたスキャン・チェイン、スキャン・フリップフロップ、信号線、信号線分岐の接続情報と、各信号線分岐に対する故障シミュレーション結果において、各スキャン・チェイン階層に属する信号線分岐に共通するフェイル出力を抽出し、前記スキャン・チェイン階層の共通フェイル出力情報として、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記録し、
各スキャン・フリップフロップ階層に属する信号線分岐に共通するフェイル出力を抽出し、
前記スキャン・フリップフロップ階層の共通フェイル出力情報として、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記録し、
各信号線階層に属する信号線分岐に共通するフェイル出力を抽出し、
前記信号線階層の共通フェイル出力情報として、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記録し、
各信号線分岐のフェイル出力を、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記録する階層別フェイル出力分類処理と、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶されたレイアウト情報を参照して、前記階層別フェイル出力分類処理から受け渡されたスキャン・チェイン故障辞書の信号線分岐情報に、前記信号線分岐のレイアウト情報と、前記信号線分岐の近接信号線情報を付加し、スキャン・チェイン故障辞書として、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶する分岐毎レイアウト情報付加処理と、
を備えた、ことを特徴とする請求項１４乃至１６のいずれか１項に記載の故障箇所推定プログラム。
【請求項１８】
前記スキャン・チェイン故障辞書照合処理が、
前記故障スキャン・フリップフロップ記憶部に記憶された故障スキャン・フリップフロップ候補情報を用いて、
故障推定対象のスキャン・フリップフロップを１つずつ選択し、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶されたスキャン・テスト結果と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶されたスキャン・フリップフロップの共通フェイル出力情報を照合し、フェイル出力の一致率を導出するスキャン・フリップフロップ共通フェイル照合処理と、
故障推定対象の信号線を選択し、
前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶された被対象信号線の共通フェイル出力情報と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶されたスキャン・テスト結果と、を照合し、フェイル出力の一致率を導出する信号線共通フェイル照合処理と、
故障推定対象の信号線分岐を選択し、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶された故障推定対象の信号線分岐の共通フェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
故障推定対象の信号線分岐の共通フェイル出力情報が一致した場合、
前記信号線分岐に関係する各階層のフェイル出力情報と、前記テスト結果を参照して、一致率を導出し、
スキャン・チェイン識別情報と、スキャン・フリップフロップ識別情報と、スキャン・ビット番号と、信号線と、信号線分岐と、故障種別と、テスト結果との一致率と、レイアウト情報と、近接信号線情報を出力する分岐共通フェイル照合処理と、
を備えた、ことを特徴とする請求項１４乃至１７のいずれか１項に記載の故障箇所推定プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、論理回路における故障箇所推定システム、方法、プログラムに関し、特に、スキャン設計された論理回路においてスキャン・チェイン上に存在する故障箇所を推定する故障箇所推定システムと方法、プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
スキャン（ｓｃａｎ）設計回路におけるスキャン・チェイン（ｓｃａｎ  ｃｈａｉｎ）上の故障を推定する故障箇所推定システムとしては、非特許文献１、２等が参照される。
【０００３】
非特許文献１の記載のシステムは、スキャン・チェイン動作検証テストにおいて、フェイル（ｆａｉｌ）した論理回路の内、単一スキャン・チェイン故障と確認されたものを対象として、特定のテストパタンで不良品をテストし、得られたテスト結果から、故障スキャン・フリップフロップ（ｓｃａｎ  Ｆｌｉｐ−Ｆｌｏｐ）（「スキャンＦＦ」（ｓｃａｎ  ＦＦ）と略記される）の故障範囲を絞り込み、その後、故障シミュレーションにより、詳細に故障箇所を特定する故障箇所推定システムである。
【０００４】
以下、最初の絞り込みで求めた候補を「１次候補」と呼び、最終的に故障シミュレーションで求めた候補を「２次候補」と呼ぶ。
【０００５】
まず、スキャン設計回路に関する用語、及びスキャン・テスト方法、スキャン・テスト動作について、図１０を用いて説明する。
【０００６】
図１０は、１本のスキャン・チェインが存在するスキャン設計回路を表している。外側の実線は回路全体を表し、回路内の点線がスキャン・チェインを表す。
【０００７】
スキャン・チェインは、スキャンＦＦ、及び、信号線、セルからなる。
【０００８】
図１０の点線上の小さい四角（■）がスキャンＦＦを表し、点線で囲まれた矩形部分（ｕｓｅｒ回路）は、スキャン・チェインで区切られた組み合わせ回路（テスト対象回路）となる。
【０００９】
通常のスキャン・テスト動作は、スキャン入力（Ｓｃａｎ  ｉｎ：Ｓｉｎ）側のスキャンＦＦ端子から、ＬＳＩテスタの出力（Ｔｅｓｔｅｒ  ｏｕｔ）から設定値（データ）が印加（ｓｈｉｆｔ  ｉｎ）され、各スキャンＦＦに値が設定される（ロード（ｌｏａｄ）動作）。
【００１０】
その後、システム・クロック（キャプチャ・クロック）を印加して組み合わせ回路（Ｕｓｅｒ回路）の出力データをスキャンＦＦに取り込む（キャプチャ動作）。
【００１１】
最後にスキャン出力（Ｓｃａｎ  ｏｕｔ：Ｓｏｕｔ）側のスキャンＦＦからスキャンＦＦ内に取り込まれた状態値を出力（ｓｈｉｆｔ  ｏｕｔ）し（アンロード動作）、ＬＳＩテスタに入力することで（Ｔｅｓｔｅｒ  ｉｎ）、組み合わせ回路（Ｕｓｅｒ回路）内の内部情報を得ることができる。この一連のスキャン・テスト動作を「スキャン・テスト」と呼ぶ。
【００１２】
スキャン・チェインが正常であり、テスト対象の組み合わせ回路（Ｕｓｅｒ回路）内に故障が存在する場合、ロード（ｌｏａｄ）動作によってスキャン・チェインに正しい状態値を設定し、キャプチャ（ｃａｐｔｕｒｅ）動作によって、テスト対象の組み合わせ回路（Ｕｓｅｒ回路）内の故障から生じた誤り状態を伝搬させて、スキャンＦＦ（図１０ではＦ１、Ｆ２、Ｆ３、Ｆ４）に取り込み、アンロード（ｕｎｌｏａｄ）動作によって、ＳｏｕｔからＬＳＩテスタに取り込むことによって、故障によって生じた誤りの振る舞いをスキャン・テスト結果として、得ることができる。
【００１３】
スキャン設計回路に対する通常の故障診断（ロジック故障診断）では、
上記のスキャン・テスト結果と、
スキャン設計回路の構成情報や、
信号線の期待値
等を利用して、故障シミュレーション手法や故障の伝搬経路を遡る手法によって、故障箇所を推定する。
【００１４】
つまり、ロジック故障診断を行うためには、ロード動作時にスキャンＦＦに正しく状態値を設定し、アンロード動作時には、スキャンＦＦに取り込まれた状態値が故障の影響を受けることなく出力される必要がある。
【００１５】
スキャン・チェイン上に故障が存在すると、スキャン・シフト中に故障箇所を通過した論理値は、その故障の影響を受ける。
【００１６】
（A）ロード動作時には、故障箇所の下流側に位置するスキャンＦＦに対してＳｉｎから値を設定するためには、当該故障箇所を通過する必要があることから、正しい値を設定することはできない。
【００１７】
（B）また、アンロード時には、故障箇所の上流側に位置するスキャンＦＦの論理値は、故障箇所を通過してスキャン・アウトされるため、故障箇所の上流側に位置するスキャンＦＦの保持していた論理値はそのまま出力されることはない。
【００１８】
上記（A）、（B）の場合、スキャン・チェインが正常動作をすることを前提としているロジック故障診断は適用できない。
【００１９】
しかしながら、実際の故障では、スキャン・チェインに故障が存在することもある。そのような場合には、後述される本発明のようなスキャン・チェイン上の故障箇所の絞り込み手法が必要となる。
【００２０】
スキャン・チェイン上に故障が生じたときの現象と用語の定義について、図１１を用いて説明する。図１１に示す例は、１０個のスキャンＦＦからなるスキャン・チェイン（ｓｃａｎ  ｃｈａｉｎ）を表している。スキャンＦＦは、スキャン・アウト（Ｓｏｕｔ）端子側から順番にインデックス（Ｉｎｄｅｘ）番号が付けられる。図１１の例では、Ｓｏｕｔから順にインデックス番号０、１、・・・、９が付けられている。あるスキャンＦＦに注目すると、そのスキャンＦＦに対してスキャン・イン（Ｓｉｎ）側を上流（ｕｐｓｔｒｅａｍ）、スキャン・アウト（Ｓｏｕｔ）側を下流（ｄｏｗｎｓｔｒｅａｍ）と呼ぶ。
【００２１】
例えば図１１のスキャンＦＦ５の上流には、スキャンＦＦ６、７、８、９が存在し、下流には、スキャンＦＦ４、３、２、１、０が存在する。注目しているスキャンＦＦ自身を下流に含めることもある。
【００２２】
ロード動作では、前述のように、Ｓｉｎ端子から各スキャンＦＦにシフトしながら値を入力する（状態値を印加する）。アンロード動作では、スキャンＦＦの値をＳｏｕｔ端子から出力する。なお、ロードのことを「Ｓｃａｎ−ｉｎ」、「Ｓｈｉｆｔ−ｉｎ」、アンロードのことを「Ｓｃａｎ−ｏｕｔ」、「Ｓｈｉｆｔ−ｏｕｔ」ということもある。
【００２３】
ロード／アンロード動作時には、スキャン・チェイン上の状態値は、スキャン入力（Ｓｉｎ）端子からスキャン出力（Ｓｏｕｔ）端子に向かってスキャン・シフトする。
【００２４】
ロード動作、アンロード動作のデータ（設定値）の表記方法としては、Ｓｉｎ端子に近いスキャンＦＦから論理値が列挙される。例えば、｛００１１００１１｝という表記があった場合、左端の０がＳｉｎ端子側のスキャンＦＦ９のデータ、右端の１がＳｏｕｔ端子側のスキャンＦＦ０のデータを表している。
【００２５】
スキャン・チェインが正常動作していることを確認する方法は、スキャン・チェイン動作検証テスト（フラッシュ・テスト（Ｆｌｕｓｈ  ｔｅｓｔ）、あるいはスキャン・チェック（Ｓｃａｎ  Ｃｈｅｃｋ）ともいう）を利用する。スキャン・チェイン動作検証テストは、ロード動作時に、｛００００００｝（ａｌｌ−０）、｛１１１１１１｝（ａｌｌ−１）、｛００１１００１１｝等の特別なテストベクタを印加し、キャプチャ動作は行わず、そのままアンロード動作で状態値を出力する。
【００２６】
スキャン・チェイン動作検証テストにおいて、スキャン・チェインが正常動作している場合は、キャプチャ動作を行わないため、Ｓｉｎ端子へのスキャン・インデータがそのまま、Ｓｏｕｔ端子からスキャン・アウトされる。
【００２７】
一方、スキャン・チェイン上に故障がある場合には、Ｓｉｎ端子からの入力データパターンとＳｏｕｔ端子からの出力データパターンの値が異なるため、故障スキャン・チェインを特定できる。
【００２８】
ここで、スキャン・チェインの不良動作を、固定故障と不定故障の２つに分けて考える。
【００２９】
スキャン・チェインの固定故障は、スキャン・チェイン動作検証テストでどんなテストベクタを印加しても得られるテスト結果の出力値がすべて‘０’または‘１’で固定されている状態である。
【００３０】
出力値が‘０’固定されている場合、故障種別を、スキャン・チェイン上の「ｓｔｕｃｋ−ａｔ  ０故障」と呼ぶ。
【００３１】
出力値が‘１’固定されている場合は、故障種別をスキャン・チェイン上の「ｓｔｕｃｋ−ａｔ  １故障」と呼ぶ。
【００３２】
スキャン・チェインの不定故障は、スキャン・チェイン動作検証テストでテスト結果の出力値が‘０’でも‘１’でもフェイル信号を検出する状態とする。
【００３３】
以上を踏まえて、関連技術の構成について図１２、図１３、図１４、図１５、図１６、図１７を参照して詳細に説明する。
【００３４】
図１２は、故障箇所推定システムの典型的な構成の一例を示す図である（本願発明者が作成）。図１２を参照すると、この関連技術のシステムは、キーボード、または外部とのインターフェース部がある入力装置１と、プログラム制御により動作するデータ処理装置２と、ハードディスクやメモリ等の情報を記憶する記憶装置３と、外部とのインターフェース部であるディスプレイ装置や印刷装置等の出力装置４とから構成されている。
【００３５】
記憶装置３は、論理回路テスト結果情報記憶部３１と、故障スキャン・チェイン記憶部３２と、故障スキャンＦＦ記憶部３３とを備えている。
【００３６】
論理回路テスト結果情報記憶部３１は、
スキャン・テスト時の入出力信号であるスキャン・テストパタン、
回路が正常動作しているときの各信号線の論理状態（期待値）、
テストでフェイル検出したスキャンＦＦとその論理状態、すなわち、フェイル（ｆａｉｌ）観測スキャンＦＦ情報等
を記憶している。また、論理回路テスト結果情報記憶部３１は、
論理回路の構成、すなわち、
ゲートの種類、
ゲート同士の接続関係、
ゲートと信号線の接続関係、
信号線同士の接続関係、
レイアウト情報
等を記憶している。
【００３７】
故障スキャン・チェイン記憶部３２は、故障スキャン・チェイン特定手段２２の結果である、
故障スキャン・チェイン、及び、
故障スキャン・チェインの故障種別
を記憶している。
【００３８】
故障スキャンＦＦ記憶部３３は、故障スキャンＦＦ絞り込み手段２３の結果である故障スキャンＦＦ候補の範囲を記憶している。
【００３９】
データ処理装置２は、初期設定手段２１と、故障スキャン・チェイン特定手段２２と、故障スキャンＦＦ絞り込み手段２３と、故障シミュレーション比較手段２４と、を備えている。
【００４０】
初期設定手段２１は、論理回路テスト結果情報記憶部３１を参照して、論理回路の種類、入出力端子の論理状態を設定し、信号線の論理状態を初期化する。
【００４１】
故障スキャン・チェイン特定手段２２は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記録された、
論理回路の構成情報と、
テストパタンと、
スキャン・チェイン動作検証テスト結果と、
を参照して、
故障スキャン・チェインと、
その故障種別
を求め、故障スキャン・チェイン情報として、故障スキャン・チェイン記憶部３２に記憶する。
【００４２】
故障スキャンＦＦ絞り込み手段２３は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された、
論理回路の構成情報、
各信号線の期待値、
テスト結果、及び、
故障スキャン・チェイン記憶部３２に記憶された
故障スキャン・チェインと、
故障種別と
を参照し、
「スキャン・チェイン上の固定故障が存在するときに、スキャン・アウトした出力が故障の影響を受けて故障値が連続する」ことを利用して、故障の可能性の高いスキャンＦＦの範囲を絞り込み、故障スキャンＦＦ候補として、故障スキャンＦＦ記憶部３３に記憶する。
【００４３】
故障シミュレーション比較手段２４は、論理回路テスト結果情報記憶部３１と、故障スキャン・チェイン記憶部３２と、故障スキャンＦＦ記憶部３３を参照して、各故障スキャンＦＦ候補に故障種別を設定して故障シミュレーションを行い、
故障シミュレーション結果とスキャン・テスト結果の一致率が最も高いスキャンＦＦと、
故障種別と、
を出力装置４に出力する。
【００４４】
図１３は、図１２の関連技術のスキャン・チェイン故障の故障箇所推定システムの動作例を説明する流れ図である。図１２及び図１３を参照して、関連技術の動作について詳細に説明する。
【００４５】
まず、初期設定手段２１において、論理回路テスト結果情報記憶部３１を参照して、論理回路の種類、入出力端子の論理状態を設定し、信号線の論理状態を初期化する（図１３のステップＡ１）。
【００４６】
次に、故障スキャン・チェイン特定手段２２において、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された
信号線の期待値と、
スキャン・チェイン動作検証テスト結果と、
を参照して、スキャン・チェインの動作判定を行い、
フェイル観測スキャンＦＦが存在するスキャン・チェインを特定し、
各スキャン・チェインのフェイル観測スキャンＦＦの状態値を集計して故障スキャン・チェインの故障種別を、固定故障と不定故障のいずれであるか判別し、故障スキャン・チェイン記憶部３２に記憶する。
【００４７】
故障スキャン・チェインの数が２本以上である場合（１本であるかの判定におけるＮｏ分岐）や、
故障スキャン・チェインの故障種別が不定の場合（固定故障であるかの判定におけるＮｏ分岐）、診断処理を終了する（図１３のステップＡ２）。
【００４８】
故障スキャンＦＦ絞り込み手段２３において、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された
スキャン設計回路の構成、
信号線の期待値、
スキャン・テスト結果、及び、
故障スキャン・チェイン記憶部３２に記憶された
故障スキャン・チェイン情報と、
故障種別情報と
を参照して、スキャン・アウトされた出力データにおいて、故障スキャン・チェインの最も上流（Ｓｉｎ側）のスキャンＦＦから連続して故障値となっている出力値をカウントし、故障の影響を受けたと推定されるデータに対応するスキャンＦＦの範囲を、故障スキャンＦＦ候補の範囲（１次候補）として、故障スキャンＦＦ記憶部３３に記憶する（図１３のステップＡ３）。
【００４９】
ここで、図１４を用いて、故障スキャンＦＦ絞り込み手段２３の故障スキャンＦＦの絞り込みについて、固定故障（ｓｔｕｃｋ−ａｔ  １故障）を例として説明する（本願発明者により作成）。
【００５０】
ｓｔｕｃｋ−ａｔ  １故障は、アンロード動作時に、故障スキャンＦＦを通過した値が‘１’に固定される故障であるため、出力期待値が‘０’の時に、出力値が‘１’となる。図１４の例では、スキャンＦＦ５、６、７、９の出力期待値が‘０’、出力値が‘１’であることから、ｓｔｕｃｋ−ａｔ  １故障の影響を受けている可能性がある。その中で、最もＳｏｕｔ側のスキャンＦＦ５に故障があると、アンロード動作時に、スキャンＦＦ５、６、７、９のすべてに影響があるため、最も有力な故障候補となる。
【００５１】
しかし、実際には、ロード動作時にも、故障の影響を受け、キャプチャ動作によってスキャン・チェインの故障状態が拡散するので、スキャンＦＦ５からスキャンＦＦ９までは、すべて故障スキャンＦＦ候補となる。
【００５２】
さらに、スキャンＦＦ２、ＦＦ３、ＦＦ４は出力期待値が‘１’であり、出力値が‘１’であることから、故障の影響の有無を判別できない。このため、故障スキャンＦＦ候補となる。つまり、スキャンＦＦ２からスキャンＦＦ９までが故障スキャンＦＦ候補の範囲となる。
【００５３】
最後に、故障シミュレーション比較手段２４において、論理回路テスト結果情報記憶部３１を参照して、信号線の論理値等を設定し、故障スキャン・チェイン記憶部３２と、故障スキャンＦＦ記憶部３３を参照して、故障スキャンＦＦ候補の範囲に在る各スキャンＦＦに対して故障を設定し、故障シミュレーションを行う。
【００５４】
故障シミュレーション比較手段２４は、故障シミュレーション結果と、スキャンＦＦのテスト結果との一致率が最も高い（ｓｃｏｒｅが高い）スキャンＦＦを、故障候補（２次候補）として、出力装置４に出力する（図１３のステップＡ４）。
【００５５】
故障シミュレーション結果とスキャン・チェインの動作判定テスト結果の一致率（ｓｃｏｒｅ）の導出手法の一例について、図１５を用いて説明する。
【００５６】
故障シミュレーション結果とテスト結果（スキャン・チェインの動作判定テスト結果）の一致率の導出は、図１５に示すように、
ＴＦＳＦ：スキャン・チェインの動作判定テストを行うテスタ（ｔｅｓｔｅｒ）でフェイル、故障シミュレーション（ｓｉｍ）でフェイルするスキャンＦＦの数；
ＴＦＳＰ：テスタでフェイル、故障シミュレーションでパスするスキャンＦＦの数；
ＴＰＳＦ：テスタでパス、故障シミュレーションでフェイルするスキャンＦＦの数；
ＴＰＳＰ：テスタでパス、故障シミュレーションでフェイルするスキャンＦＦの数；
という４つの要素を用いて、次式で求められる。
【００５７】
2012018111.tif 000003
・・・（１）
【００５８】
この計算式は、最も一般的な計算式である。故障シミュレーションの結果と、テスタでの観測値が完全に一致した場合には、ＴＦＳＰ＝ＴＰＳＦ＝０となり、計算式（１）のｓｃｏｒｅは１００となる。
【００５９】
＜関連技術の課題の分析＞
以下に、関連技術の課題の分析を与える（以下は本願発明者による分析結果である）。
【００６０】
関連技術では、故障スキャンＦＦを中心に下流側へ故障値と同じ論理が連続して観測された場合、絞り込み範囲が広くなる傾向にあり、絞り込み範囲の故障スキャンＦＦ候補に対して、故障シミュレーションの回数が多くなり、実用的な時間では、故障診断が終了しない。
【００６１】
また、スキャン・チェイン上の各スキャンＦＦの故障シミュレーション結果とスキャン・テスト結果との一致率（ｓｃｏｒｅ）は、必ずしも、実際の故障に近いほど高いとは限らない。図１６は、スキャンＦＦ単位の故障シミュレーション結果とスキャン・テスト結果の一致率に一定の傾向がないことを示す図である（本願発明者により作成）。スキャンＦＦ３の一致率は１００％であり、スキャンＦＦ３の下流側で隣接するスキャンＦＦ４の一致率は９７％、スキャンＦＦ３に上流側で隣接するスキャンＦＦ２（一致率＝９８％）の上流に配置されるスキャンＦＦ１の一致率は９９％である。
【００６２】
このため、関連技術では、実際の故障を見つけるためには、全ての故障スキャンＦＦ候補に対して、故障シミュレーションを行い、最も一致度が高いスキャンＦＦを候補とする必要がある。
【００６３】
また、関連技術では、スキャンＦＦ毎に故障（故障モデル）を仮定して、故障スキャンＦＦ候補を求めている。しかしながら、関連技術では、スキャンＦＦ間の信号線の分岐を考慮していないため、信号線の分岐に、実際の故障がある場合には、対応できない。
【００６４】
図１７は、関連技術で得られるスキャン・チェイン故障診断結果の具体的な一例を説明する図である（本願発明者により作成）。関連技術では、スキャンＦＦに故障を仮定して、故障シミュレーションを行うため、出力内容は、図１７（ａ）に示したように、
スキャン・チェイン名、
スキャンＦＦ番号、
故障種別、
一致率（ｓｃｏｒｅ：上式（１）で求める）
が得られる。
【００６５】
しかし、この出力結果の各故障候補は、図１７（ｂ）の点線部分で示されるように、故障候補スキャンＦＦを間に挟む２つの信号線に跨っており（例えばＮｏ１が示す範囲は、ＦＦ１０の入力側と出力側の信号線に及ぶ）、さらに、同一信号線においても、分岐によるフェイルの伝播経路の変化を考慮していない。このため、関連技術では、人手によって、故障箇所の可能性が高い箇所を検証する作業が必要になり、さらに時間が掛かる。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【００６６】
【非特許文献１】“A Technique for Fault Diagnosis of Defects in Scan Chains”, R. Guo et al., ITC 2001, pp268-277
【非特許文献２】“High-Accuracy Flush-and-Scan Software Diagnostic”, Kevin Stanley, IEEE Design & Test of Computers, Vol.18, No.6, pp1176-1179, 2001
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００６７】
上記した分析による関連技術の問題点をまとめると以下の通りである。
【００６８】
第１の問題点は、関連技術では、故障の絞り込みが効果的に行えず、１次候補数が数多くなる場合がある。そのような場合には、２次候補を求めるための故障シミュレーションの処理時間が増大する。
【００６９】
その理由は、関連技術では、全体の処理時間が故障シミュレーションの処理速度に依存しており、１次候補数が増大すると、故障シミュレーションの処理時間も比例して増大するためである。例えば、５Ｍｅｇａ−ｇａｔｅ（約５百万ゲート）、スキャン・チェイン数が３２本、チェイン長（スキャン・チェイン上のスキャンＦＦの個数に対応）が４０００ビットの回路の場合、故障の１次候補が１０００ビット程度あると、コンピュータの性能等にもよるが、診断時間は例えば８時間以上必要となる。
【００７０】
第２の問題点は、関連技術では、故障診断の精度をさらに向上させることが難しい、ということである。
【００７１】
その理由は、新しい故障モデルを使用して、故障診断の精度を向上する場合、ｓｔｕｃｋ−ａｔ故障のような単純な１次候補の絞り込みが難しくなるため、スキャン・チェイン上の全信号線が１次候補となり、故障シミュレーションの回数及び処理時間が増大する。
【００７２】
第３の問題点は、関連技術では、１つの故障候補が指し示す故障範囲の中に、複数の信号線が含まれ、実解析するためには、人手による故障箇所のさらなる絞り込みを要する、ということである。
【００７３】
その理由は、関連技術において、スキャン・チェインの故障診断を行う場合、２次候補を求める故障シミュレーションでは、スキャンＦＦ毎に故障を仮定する。つまり、スキャンＦＦ間に複数の信号線が存在し、信号線に分岐があっても、それらの信号線及び分岐は単一の故障候補として扱われ、故障シミュレーションが適用されるからである。
【００７４】
したがって、本発明の目的は、スキャン・チェイン上の故障箇所を高速に絞り込むスキャン・チェイン故障箇所推定システム、方法、プログラムを提供することにある。
【００７５】
本発明の他の目的は、上記目的を達成し、スキャン・チェイン上の故障箇所を精度良く絞り込むスキャン・チェイン故障箇所推定システム、方法、プログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００７６】
本発明は、上記課題の少なくとも１つを解決するため、特にこれらに制限されるものでないことは勿論であるが、概略以下のようなものとされる。
【００７７】
本発明によれば、スキャン設計された論理回路のテスト結果に基づき、前記論理回路のスキャン・チェイン上の故障を絞り込む、論理回路の故障箇所推定システムであって、
論理回路の構成情報と、スキャン・テストパタンと、前記スキャン・チェインの動作判定のテスト結果に基づき、故障スキャン・チェインと故障の種別とを導出し、故障スキャン・チェイン情報として故障スキャン・チェイン記憶部に記憶する故障スキャン・チェイン特定手段と、
前記論理回路の構成情報と、前記スキャン・テストパタン、前記論理回路のレイアウト情報に基づき、前記スキャン・チェイン上の信号線の分岐毎に故障シミュレーションした結果を用いて、前記スキャン・チェイン、前記スキャン・チェイン上のスキャン・フリップフロップ、前記信号線、前記信号線の分岐の階層別に、フェイル出力情報を分類し、
前記信号線の分岐毎に、レイアウト情報と近接信号線情報を付加したスキャン・チェイン故障辞書を作成しスキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶するスキャン・チェイン故障辞書作成手段と、
前記論理回路の構成情報と、前記信号線の期待値と、前記スキャン・チェインの動作判定のテスト結果と、前記故障スキャン・チェイン情報に基づき、故障スキャン・フリップフロップの範囲を導出し、故障スキャン・フリップフロップ候補範囲として、故障スキャン・フリップフロップ記憶部に記憶する故障スキャン・フリップフロップ絞り込み手段と、
前記テスト結果と、故障スキャン・フリップフロップ候補の範囲情報と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部とを参照して、故障スキャン・フリップフロップの候補の範囲内に対して、前記テスト結果と、前記スキャン・チェイン故障辞書のフェイル出力情報を、階層毎に比較照合し、スキャン・チェイン識別情報と、スキャン・フリップフロップ識別情報と、信号線情報と、信号線分岐情報と、故障種別と、テスト結果との一致率と、信号分岐毎のレイアウト情報及び近接信号線情報の少なくとも一つを含む故障推定結果を出力するスキャン・チェイン故障辞書照合手段と、を備えた故障箇所推定システムが提供される。
【００７８】
本発明の別の側面によれば、スキャン設計された論理回路のテスト結果に基づき、前記論理回路のスキャン・チェイン上の故障を絞り込む、論理回路の故障箇所推定システムであって、
論理回路テスト結果情報記憶部、故障スキャン・チェイン記憶部、故障スキャン・フリップフロップ記憶部、スキャン・チェイン故障辞書記憶部と、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された論理回路の構成情報と、信号線の期待値と、スキャン・チェイン動作検証テストのテスト結果と、を参照して、
故障スキャン・チェイン、及び、前記故障スキャン・チェインの故障種別と、
を特定し、
前記故障スキャン・チェインと、前記故障種別とを、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶する故障スキャン・チェイン特定手段と、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された前記論理回路の構成情報と、スキャン・テストパタンと、レイアウト情報と、を参照して、
前記スキャン・チェイン上の各信号線分岐に故障を仮定して、故障シミュレーションを行い、前記信号線分岐のフェイル出力情報を求め、
スキャン・チェイン、スキャン・フリップフロップ、信号線、信号線分岐の各階層に、前記フェイル出力情報を分類し、
前記各信号線分岐に、レイアウト情報及び近接信号線情報を付加したスキャン・チェイン故障辞書を作成し、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶するスキャン・チェイン故障辞書作成手段と、
前記スキャン・チェイン故障辞書作成手段によって作成された階層構造を持つフェイル出力情報を記録した前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部と、
前記論理回路の構成情報、前記信号線の期待値、前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶されたテスト結果と、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶された故障スキャン・チェイン、故障種別を参照し、故障しているスキャン・フリップフロップの範囲を絞り込み、故障スキャン・フリップフロップ候補として前記故障スキャン・フリップフロップ記憶部に記憶する故障スキャン・フリップフロップ絞り込み手段と、
前記テスト結果と、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶された故障スキャン・チェイン及び故障種別と、前記故障スキャン・フリップフロップ候補と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部とを参照して、前記故障スキャン・フリップフロップ候補から、照合対象とされるスキャン・フリップフロップを選択し、
選択した前記照合対象のスキャン・フリップフロップに対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップの階層の共通フェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
次に前記照合対象のスキャン・フリップフロップに対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する信号線を選択し、
選択した前記信号線に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書の信号線階層の共通フェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
次に、前記信号線に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書の信号線階層に属する信号線分岐を選択し、
選択した前記信号線分岐のフェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
前記信号線分岐のフェイル出力情報と、前記テスト結果との一致率を導出する、
ことを繰り返し、
前記故障スキャン・フリップフロップ候補に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する各信号線分岐階層のフェイル出力情報を、前記テスト結果と照合するスキャン・チェイン故障辞書照合手段と、
前記故障スキャン・チェイン候補と、前記故障スキャン・チェイン候補に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する信号線分岐の照合結果情報を出力する手段と、
を備えた故障箇所推定システムが提供される。
【００７９】
本発明においては、前記スキャン・チェイン故障辞書が、前記論理回路内のスキャン・チェインの構造に対応したスキャン・チェイン、スキャン・フリップフロップ、信号線、信号線分岐の４つの階層を持ち、前記信号線分岐に対して行った故障シミュレーションのフェイル出力情報において、
前記信号線分岐が属するチェイン階層の全信号線分岐に共通するフェイル出力情報を前記チェイン階層の共通フェイル出力情報として保持し、
前記信号線分岐が属するスキャン・フリップフロップ階層の各信号線分岐に共通するフェイル出力情報を前記スキャン・フリップフロップ階層の共通フェイル出力情報として保持し、
前記信号線分岐が属する信号線階層の各信号線分岐に共通するフェイル出力情報を前記信号線階層の共通フェイル出力情報として保持し、
前記各信号線分岐に対応するレイアウト情報を保持する。
【００８０】
本発明においては、前記スキャン・チェイン故障辞書作成手段が、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された論理回路の構成情報を参照して、
前記スキャン・チェイン上のスキャン・フリップフロップを抽出し、
抽出したスキャン・フリップフロップ間をつなぐ信号線を抽出し、
抽出した各信号線の分岐構造を解析して信号線の分岐情報を抽出するスキャン・チェイン上信号線分岐抽出手段と
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された論理回路の構成情報と、スキャン・テストパタンと、前記スキャン・チェイン上信号線分岐抽出手段から受け渡された信号線の分岐情報と、を用いて、各信号線分岐に対して所定の故障モデルを仮定して、故障シミュレーションを実行し、各信号線分岐に対する故障シミュレーション結果を導出する故障シミュレーション手段と
前記故障シミュレーション手段から受け渡されたスキャン・チェイン、スキャン・フリップフロップ、信号線、信号線分岐の接続情報と、各信号線分岐に対する故障シミュレーション結果において、各スキャン・チェイン階層に属する信号線分岐に共通するフェイル出力を抽出し、前記スキャン・チェイン階層の共通フェイル出力情報として、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記録し、
各スキャン・フリップフロップ階層に属する信号線分岐に共通するフェイル出力を抽出し、
前記スキャン・フリップフロップ階層の共通フェイル出力情報として、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記録し、
各信号線階層に属する信号線分岐に共通するフェイル出力を抽出し、
前記信号線階層の共通フェイル出力情報として、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記録し、
各信号線分岐のフェイル出力を、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記録する階層別フェイル出力分類手段と、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶されたレイアウト情報を参照して、前記階層別フェイル出力分類手段から受け渡されたスキャン・チェイン故障辞書の信号線分岐情報に、前記信号線分岐のレイアウト情報と、前記信号線分岐の近接信号線情報を付加し、スキャン・チェイン故障辞書として、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶する分岐毎レイアウト情報付加手段と、を備えている。
【００８１】
本発明においては、前記スキャン・チェイン故障辞書照合手段が、
前記故障スキャン・フリップフロップ記憶部に記憶された故障スキャン・フリップフロップ候補情報を用いて、
故障推定対象のスキャン・フリップフロップを１つずつ選択し、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶されたスキャン・テスト結果と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶されたスキャン・フリップフロップの共通フェイル出力情報を照合し、フェイル出力の一致率を導出するスキャン・フリップフロップ共通フェイル照合手段と、
故障推定対象の信号線を選択し、
前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶された被対象信号線の共通フェイル出力情報と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶されたスキャン・テスト結果と、を照合し、フェイル出力の一致率を導出する信号線共通フェイル照合手段と、
故障推定対象の信号線分岐を選択し、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶された故障推定対象の信号線分岐の共通フェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
故障推定対象の信号線分岐の共通フェイル出力情報が一致した場合、
前記信号線分岐に関係する各階層のフェイル出力情報と、前記テスト結果を参照して、一致率を導出し、
スキャン・チェイン識別情報と、スキャン・フリップフロップ識別情報と、スキャン・ビット番号と、信号線と、信号線分岐と、故障種別と、テスト結果との一致率と、レイアウト情報と、近接信号線情報を出力する分岐共通フェイル照合手段と、を備えている。
【００８２】
本発明によれば、論理回路テスト結果情報記憶部、故障スキャン・チェイン記憶部、故障スキャン・フリップフロップ記憶部、スキャン・チェイン故障辞書記憶部とを備えたデータ処理システムが、スキャン設計された論理回路のテスト結果に基づき、前記論理回路のスキャン・チェイン上の故障を絞り込む故障箇所推定方法であって、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された論理回路の構成情報と、信号線の期待値と、スキャン・チェイン動作検証テストのテスト結果と、を参照して、
故障スキャン・チェイン、及び、前記故障スキャン・チェインの故障種別と、
を特定し、
前記故障スキャン・チェインと、前記故障種別とを、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶する故障スキャン・チェイン特定工程と、
前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶された前記論理回路の構成情報と、スキャン・テストパタンと、レイアウト情報と、を参照して、
前記スキャン・チェイン上の各信号線分岐に故障を仮定して、故障シミュレーションを行い、前記信号線分岐のフェイル出力情報を求め、
スキャン・チェイン、スキャン・フリップフロップ、信号線、信号線分岐の各階層に、前記フェイル出力情報を分類し、
前記各信号線分岐に、レイアウト情報及び近接信号線情報を付加したスキャン・チェイン故障辞書を作成し、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部に記憶するスキャン・チェイン故障辞書作成工程と、
を有し、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部は、前記スキャン・チェイン故障辞書作成工程によって作成された階層構造を持つフェイル出力情報を記録し、
さらに、
前記論理回路の構成情報、前記信号線の期待値、前記論理回路テスト結果情報記憶部に記憶されたテスト結果と、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶された故障スキャン・チェイン、故障種別を参照し、故障しているスキャン・フリップフロップの範囲を絞り込み、故障スキャン・フリップフロップ候補として前記故障スキャン・フリップフロップ記憶部に記憶する故障スキャン・フリップフロップ絞り込み工程と、
前記テスト結果と、前記故障スキャン・チェイン記憶部に記憶された故障スキャン・チェイン及び故障種別と、前記故障スキャン・フリップフロップ候補と、前記スキャン・チェイン故障辞書記憶部とを参照して、前記故障スキャン・フリップフロップ候補から、照合対象とされるスキャン・フリップフロップを選択し、
選択した前記照合対象のスキャン・フリップフロップに対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップの階層の共通フェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
次に前記照合対象のスキャン・フリップフロップに対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する信号線を選択し、
選択した前記信号線に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書の信号線階層の共通フェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
次に、前記信号線に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書の信号線階層に属する信号線分岐を選択し、
選択した前記信号線分岐のフェイル出力情報と、前記テスト結果とを照合し、
前記信号線分岐のフェイル出力情報と、前記テスト結果との一致率を導出する、
ことを繰り返し、
前記故障スキャン・フリップフロップ候補に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する各信号線分岐階層のフェイル出力情報を、前記テスト結果と照合するスキャン・チェイン故障辞書照合工程と、
前記故障スキャン・チェイン候補と、前記故障スキャン・チェイン候補に対応する前記スキャン・チェイン故障辞書のスキャン・フリップフロップ階層に属する信号線分岐の照合結果情報を出力する工程と、
を含む故障箇所推定方法が提供される。本発明によれば、上記データ処理装置で故障箇所推定方法を実行するための故障箇所推定プログラムが提供される。また、本発明によれば、故障箇所推定プログラムを記録したコンピュータで読み出し可能な記録媒体が提供される。
【発明の効果】
【００８３】
本発明によれば、スキャン・チェイン上の故障箇所を高速に絞り込むことができる。また本発明によれば、スキャン・チェイン上の故障箇所を精度良く絞り込むことができる。
【図面の簡単な説明】
【００８４】
【図１】本発明の一実施形態の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態の動作を示す流れ図である。
【図３】本発明の一実施形態におけるスキャン・チェイン故障辞書作成手段の構成を示す図である。
【図４】本発明の一実施形態におけるスキャン・チェイン故障辞書作成手段の動作を示す流れ図である。
【図５】本発明の一実施形態におけるスキャン・チェイン故障辞書照合手段の構成を示す図である。
【図６】本発明の一実施形態におけるスキャン・チェイン故障辞書照合手段の動作を示す流れ図である。
【図７】本発明の一実施形態において、階層毎に共通したフェイル出力情報を保持したスキャン・チェイン故障辞書を模式的に示す図である。
【図８】本発明の一実施形態において、スキャン・チェイン故障診断結果の出力例を示す図である。
【図９】本発明の一実施形態において、レイアウト情報を追加した診断結果例と故障範囲を模式的に示す図である。
【図１０】スキャン・チェインを説明するための図である。
【図１１】スキャン設計回路を模式的に示す図である。
【図１２】故障推定システムの典型的な構成の一例（関連技術）を示す図である。
【図１３】関連技術の動作を示す流れ図である。
【図１４】関連技術の故障スキャンＦＦ絞り込み手法を説明する図である。
【図１５】関連技術においてスコアを導出するための計算式を示す図である。
【図１６】スキャンＦＦ単位の故障シミュレーション結果とスキャン・テスト結果の一致率に一定の傾向がないことを示す図である。
【図１７】関連技術を実施して得られるスキャン・チェイン故障診断結果の出力例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００８５】
本発明の態様の一つによれば、故障箇所推定システムは、スキャン・チェイン動作検証テストの結果を用いて故障スキャン・チェインと故障種別を特定し、故障スキャンＦＦ候補の絞り込むものであり、故障スキャンＦＦ候補の範囲を限定し、予め作成しておいた階層別のスキャン・チェイン故障辞書を用いて、故障スキャンＦＦ範囲内に対してテスト結果と比較照合し、照合結果を出力する。
【００８６】
より具体的には、故障推定システムは、故障スキャン・チェイン特定手段（図１の２２）と、スキャン・チェイン故障辞書作成手段（図１の２５）と、故障スキャンＦＦ絞り込み手段（図１の２３）と、スキャン・チェイン故障辞書照合手段（図１の２６）を備えている。これらの手段（ユニット、セクション）は、概略以下のような機能、動作を行う。
【００８７】
故障スキャン・チェイン特定手段（図１の２２）は、論理回路内に１つのスキャン・チェイン上に単一故障が存在する場合に、
論理回路の構成情報と、
テストパタンと、
テスト結果（スキャン・チェインの動作判定テスト結果）
を参照して、
故障スキャン・チェインと、
その故障種別と、
を導出し、これらを、故障スキャン・チェイン情報として、故障スキャン・チェイン記憶部（図１の３２）に記憶する。
【００８８】
故障スキャンＦＦ絞り込み手段（図１の２３）は、
論理回路の構成情報と、
スキャンＦＦと信号線の期待値と、
テスト結果（スキャン・チェインの動作判定テスト結果）と、
故障スキャン・チェイン情報と
を参照して、故障スキャンＦＦの範囲を導出し、故障スキャンＦＦ候補範囲として、故障スキャンＦＦ記憶部（図１の３３）に記憶する。
【００８９】
スキャン・チェイン故障辞書作成手段（図１の２５）は、
論理回路の構成情報と、
スキャン・テストパタン（スキャン・チェインの動作判定テスト用のテストパタン）と、
レイアウト情報と、
を参照して、
スキャン・チェイン上の信号線分岐毎に故障シミュレーションした結果を用いて、スキャン・チェインの階層別にフェイル出力情報を分類し、
信号線分岐毎に、レイアウト情報と近接信号線情報を付加したスキャン・チェイン故障辞書を作成し、スキャン・チェイン故障辞書記憶部（図１の３４）に記憶する。
【００９０】
スキャン・チェイン故障辞書記憶部（図１の３４）は、
スキャン・チェイン、
スキャンＦＦ、
信号線、
信号線分岐
の階層別のスキャン・チェイン故障辞書を記憶し、信号線分岐では、レイアウト情報と近接信号線情報を付加したスキャン・チェイン故障辞書を記録する。
【００９１】
スキャン・チェイン故障辞書照合手段（図１の２６）は、
論理回路テスト結果情報記憶部（図１の３１）に記憶されるテスト結果と、
故障スキャンＦＦ記憶部（図１の３３）に記憶される故障スキャンＦＦ範囲情報と、
スキャン・チェイン故障辞書記憶部（図１の３４）に記憶される階層別スキャン・チェイン故障辞書と、
を参照して、前記故障スキャンＦＦ範囲内に対して、
テスト結果と、
階層別スキャン・チェイン故障辞書のフェイル出力情報（シミュレーション結果）と、
を階層毎に比較照合して、一致率を導出し、
スキャン・チェイン名（番号）と、
スキャンＦＦ名と、
スキャン・ビット番号と、
信号線と、
信号線分岐と、
故障種別と、
テスト結果との一致率（ｓｃｏｒｅ）と、
レイアウト情報と、
近接信号線情報と、
を故障診断結果（故障推定結果）として出力する。
【００９２】
スキャン・チェイン故障辞書照合手段（図１の２６）は、故障スキャン・チェイン上の故障の可能性が高い範囲に対して、
テスト結果と、
階層別スキャン・チェイン故障辞書と、
を照合し、照合結果を出力するよう動作する。
【００９３】
このような構成を採用し、論理回路内のスキャン・チェイン上の単一固定故障を、信号線の分岐単位で推定することにより、上記課題を解決することができる。さらに以下のような作用効果を奏する。
【００９４】
（I）本発明によれば、スキャン・チェイン上の故障箇所を推定する処理において、高速な処理を実現可能としている。
【００９５】
その理由は、本発明によれば、スキャン・チェイン上の故障の推定処理において、スキャン・チェイン、スキャンＦＦ、信号線、信号線分岐の階層構造をもち、各階層で共通フェイル情報を有する故障辞書を作成することにより、故障シミュレーションによる辞書作成回数を、最初の１回に抑えるとともに、２次候補を求める際の照合処理において、階層的な照合を行うためである。
【００９６】
例えば、関連技術では、例えば８時間を越える処理時間を必要とする故障箇所診断処理であった場合、本発明を適用することにより、関連技術で、最も時間を要していた故障シミュレーション処理の代わりに、辞書の照合処理によって故障箇所を推定できるため、５倍以上の高速化が可能となる。
【００９７】
（II）本発明によれば、故障辞書サイズを、通常の故障辞書よりも小さくすることができる点である。
【００９８】
その理由は、スキャン・チェイン上の故障診断に特化した辞書を作成することにより、回路全体の故障辞書に比べて、辞書サイズを小さくすることができるためである。
【００９９】
例えば、５Ｍゲート規模、スキャン・チェイン数が３２本、スキャン・チェイン長が４０００ビットの回路の場合、回路全体であれば、５００万ゲートであるが、スキャン・チェイン上のスキャンＦＦ数は１２万個であり、４０分の１程度である。
【０１００】
故障辞書には、信号線やゲートの端子等もノードとして含まれるが、スキャン・チェイン上に限定することで、辞書サイズを大きく抑えられる。
【０１０１】
（III）本発明によれば、スキャン・チェイン上の故障箇所を推定する処理において、故障モデルの拡張を行うことにより、故障箇所の推定精度を向上させることができる。
【０１０２】
その理由は、スキャン・チェイン上の故障に対する新しい故障モデルを作成することにより、故障辞書を拡張することが容易であり、様々な故障に対応することができるためである。
【０１０３】
関連技術でも、故障モデルを用いて、故障シミュレーションすることは可能ではあるが、１次候補の絞り込みは固定故障のみに対応するため、固定故障以外の故障モデルでは、故障チェインに含まれる全スキャンＦＦに対して、故障シミュレーションを行う必要があった。
【０１０４】
本発明においては、階層的な故障辞書を利用して、故障チェインの全スキャンＦＦに対する辞書を作成することにより、固定故障以外の故障モデルに対しても実用的な時間で診断が可能となる。
【０１０５】
（IV）本発明によれば、故障候補を信号線分岐単位で絞り込むことが可能となり、故障箇所の推定精度を向上させることができる。
【０１０６】
その理由は、本発明によれば、信号線分岐単位の故障辞書を保持することにより、信号線分岐単位の故障箇所推定が可能となるためである。
【０１０７】
（V）本発明によれば、診断結果が示す故障の範囲が、関連技術等よりも明確に範囲を特定できるため、実解析を効率的に行うことができる。
【０１０８】
その理由は、スキャンＦＦ間の各信号線分岐レベルで故障箇所を特定することができ、さらに、そのレイアウト情報を参照することにより、ＬＳＩの故障箇所の情報を故障解析技術者に提供することが可能であるためである。以下、本発明の実施の形態について説明する。
【０１０９】
＜実施形態１＞
図１は、本発明の第一の実施の形態の構成を示す図である。図１を参照すると、本発明の第一の実施の形態に係る論理回路の故障推定システムは、
キーボードまたは外部とのインターフェース部がある入力装置１と、
プログラム制御により動作するデータ処理装置２と、
ハードディスクやメモリ等の情報を記憶する記憶装置３と、
外部とのインターフェース部であるディスプレイ装置や印刷装置等の出力装置４と、
を備えている。
【０１１０】
記憶装置３は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１と、
故障スキャン・チェイン（ｓｃａｎ  ｃｈａｉｎ）記憶部３２と、
故障スキャンＦＦ（ｓｃａｎ  ＦＦ）記憶部３３と、
スキャン・チェイン（ｓｃａｎ  ｃｈａｉｎ）故障辞書記憶部３４と、
を備えている。
【０１１１】
論理回路テスト結果情報記憶部３１は、
スキャン・テスト時の入出力信号であるスキャン・テストパタン、
回路が正常動作しているときの各信号線の論理状態（期待値）、
テストでフェイルが検出されたスキャンＦＦとその論理状態、すなわち、フェイルが観測されたスキャンＦＦの情報
を記憶している。さらに、論理回路テスト結果情報記憶部３１は、
論理回路の構成、すなわち、
ゲートの種類、
ゲート同士の接続関係、
ゲートと信号線の接続関係、
信号線同士の接続関係、
レイアウト情報
等を記憶している。
【０１１２】
故障スキャン・チェイン記憶部３２は、
故障スキャン・チェイン特定手段２２の結果である故障スキャン・チェインと、
該故障スキャン・チェインの故障種別と、
を記憶している。
【０１１３】
故障スキャンＦＦ記憶部３３は、
故障スキャンＦＦ絞り込み手段２３の結果である故障スキャンＦＦ候補の範囲
を記憶している。
【０１１４】
スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４は、各信号線分岐に故障を仮定して実行した故障シミュレーションのスキャンＦＦ、あるいは、出力端子における論理値情報、すなわち、フェイル出力情報が、スキャン・チェインの構造に応じて、
スキャン・チェイン毎、
スキャンＦＦ毎、
信号線毎、
信号線分岐毎、
に階層化され、各階層の構成要素の故障種別毎に共通のフェイル出力情報を記憶し、
信号線分岐毎に、
レイアウト情報と、
近接信号線情報
を記憶している。
【０１１５】
データ処理装置２は、
初期設定手段２１と、
故障スキャン・チェイン特定手段２２と、
故障スキャンＦＦ絞り込み手段２３、
スキャン・チェイン故障辞書作成手段２５と、
スキャン・チェイン故障辞書照合手段２６と、
を備えている。
【０１１６】
初期設定手段２１は、論理回路テスト結果情報記憶部３１を参照して、
論理回路の種類、
入出力端子の論理状態
を設定し、信号線の論理状態を初期化する。
【０１１７】
スキャン・チェイン故障辞書作成手段２５は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された
論理回路の構成情報と、
スキャン・テストパタン、
レイアウト情報
を参照して、スキャン・チェイン上の信号線の分岐毎に、故障を仮定して、故障シミュレーションを行い、各信号線分岐のフェイル出力情報を求め、
スキャン・チェイン、
スキャンＦＦ、
信号線、
信号線分岐
等のスキャン・チェインの構造に基づく複数の階層にフェイル出力情報を分類し、
信号線分岐毎に、
そのレイアウト情報と、
近接信号線情報
を付加したスキャン・チェイン故障辞書を作成し、スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４に記憶する。
【０１１８】
図３は、図１におけるスキャン・チェイン故障辞書作成手段２５の詳細な構成を示す図である。図３を用いてスキャン・チェイン故障辞書照合手段２５の構成を詳細に説明する。
【０１１９】
図３を参照すると、スキャン・チェイン故障辞書作成手段２５は、
スキャン・チェイン上信号線分岐抽出手段２５１と、
故障シミュレーション手段２５２と、
階層別フェイル出力分類手段２５３と、
分岐レイアウト情報付加手段２５４と、
を備えている。
【０１２０】
スキャン・チェイン上信号線分岐抽出手段２５１は、論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された論理回路の構成情報を参照して、
各スキャン・チェインと、
スキャンＦＦと、
信号線と、
信号線分岐と
の接続情報を、故障シミュレーション手段２５２に渡す。
【０１２１】
故障シミュレーション手段２５２は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された
論理回路の構成情報と、
スキャン・テストパタンと、
スキャン・チェイン上信号線分岐抽出手段２５１から引き継いだ
信号線の分岐情報
を用いて、故障シミュレーションを実行し、
スキャン・チェイン、スキャンＦＦ、信号線、信号線分岐の接続情報と、
各信号線分岐に対する故障シミュレーション結果と、
を階層別フェイル出力分類手段２５３に渡す。
【０１２２】
階層別フェイル出力分類手段２５３は、故障シミュレーション手段２５２から引き継いだ
スキャン・チェイン、スキャンＦＦ、信号線、信号線分岐の接続情報と、
各信号線分岐に対する故障シミュレーション結果
を用いて、
１）スキャン・チェインと、
２）スキャンＦＦと、
３）信号線と、
４）信号線分岐
を各階層の要素とし、各階層に属する複数の各要素に共通するフェイル出力情報を分類したスキャン・チェイン故障辞書を作成し、分岐毎レイアウト情報付加手段２５４に渡す。
【０１２３】
分岐毎レイアウト情報付加手段２５４は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶されたレイアウト情報と、
階層別フェイル出力分類手段２５３から引き継いだスキャン・チェイン故障辞書の信号線分岐情報と、
を参照して、レイアウト情報を追加したスキャン・チェイン故障辞書を、スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４に記憶する。
【０１２４】
再び図１に戻り、故障スキャン・チェイン特定手段２２は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記録された
論理回路の構成情報と、
テストパタンと、
スキャン・チェイン動作検証テスト結果
を参照して、
故障スキャン・チェインと、
その故障種別と、
を求め、故障スキャン・チェイン情報として故障スキャン・チェイン記憶部３２に記憶する。
【０１２５】
故障スキャンＦＦ絞り込み手段２３は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された、
論理回路の構成情報、
各信号線の期待値、
テスト結果、及び、
故障スキャン・チェイン記憶部３２に記憶された、
故障スキャン・チェインと、
故障種別と
を参照し、
スキャン・チェイン上の固定故障が存在するときに、スキャン・アウトした出力が故障の影響を受けて故障値が連続することを利用して、故障可能性の高いスキャンＦＦの範囲を絞り込み、故障スキャンＦＦ候補として、故障スキャンＦＦ記憶部３３に記憶する。
【０１２６】
スキャン・チェイン故障辞書照合手段２６は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された
テスト結果と、
故障スキャン・チェイン記憶部３２に記憶された
故障スキャン・チェイン、及び
故障種別と、
故障スキャンＦＦ記憶部３３に記憶された
故障スキャンＦＦ候補と、
スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４に記憶された
階層別の共通フェイル出力情報と、
を参照して、
各故障スキャンＦＦ候補に対応するスキャン・チェイン故障辞書のスキャンＦＦ階層に属する全信号線分岐のフェイル出力情報と、
テスト結果と、
を照合して、
照合結果、及び
故障候補関連情報を、
照合結果情報として、出力装置４に出力する。
【０１２７】
図５は、図１におけるスキャン・チェイン故障辞書照合手段２６の詳細な構成を示す図である。図５を用いてスキャン・チェイン故障辞書照合手段２６を詳細に説明する。図５を参照すると、スキャン・チェイン故障辞書照合手段２６は、
スキャンＦＦ共通フェイル照合手段２６１と、
信号線共通フェイル照合手段２６２と、
分岐共通フェイル照合手段２６３と、
を備えている。
【０１２８】
スキャンＦＦ共通フェイル照合手段２６１は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１と、
故障スキャンＦＦ記憶部３３と、
スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４と
を参照し、故障推定対象スキャンＦＦを選択する。
【０１２９】
そして、スキャンＦＦ共通フェイル照合手段２６１は、選択した故障推定対象スキャンＦＦに関して、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された
テスト結果(スキャン・チェイン動作判定テスト結果)と、
スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４に記憶された
故障推定対象スキャンＦＦの共通フェイル出力情報と
を照合し、
一致した場合は、信号線共通フェイル照合手段２６２に照合結果を渡し、
不一致の場合は、次の故障推定対象スキャンＦＦを選択する。
【０１３０】
このとき、全ての故障推定対象スキャンＦＦの共通フェイル出力情報が不一致であっても、照合結果を信号線共通フェイル照合手段２６２に渡し、分岐共通フェイル照合手段２６３の出力時で全照合対象の一致率を導出してもよい。
【０１３１】
信号線共通フェイル照合手段２６２は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１と、
スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４と
を参照し、スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４に記憶された故障推定対象信号線を選択して、
故障推定対象信号線の共通フェイル出力情報と、
テスト結果と
を照合し、
一致した場合は、分岐共通フェイル照合手段２６３に照合結果を渡し、
不一致の場合は、次の故障推定対象信号線を選択する。
【０１３２】
全ての故障推定対象信号線が不一致の場合、スキャンＦＦ共通フェイル照合手段２６１に返る。
【０１３３】
このとき、すべて故障推定対象信号線の共通フェイル出力情報が不一致であっても、照合結果を分岐共通フェイル照合手段２６３に渡し、分岐共通フェイル照合手段２６３の出力時に全階層の一致率を導出してもよい。
【０１３４】
分岐共通フェイル照合手段２６３は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１と、
スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４と、
を参照して、故障推定対象信号線分岐を選択して、
故障推定対象信号線分岐の共通フェイル出力情報と、
テスト結果と
を照合し、
テスト結果と全階層のフェイル出力の一致率をパスビット（ｐａｓｓ  ｂｉｔ）も含めて導出し、
スキャン・チェイン名（番号）と、
スキャンＦＦ名と、
スキャン・ビット番号と、
信号線と、
信号線分岐と、
故障種別と、
テスト結果との一致率と、
レイアウト情報と、
近接信号線情報と、
を、照合結果情報として、出力する。
【０１３５】
このとき、両者が最も一致している割合が高い信号線分岐の示す箇所が故障候補と判定される。
【０１３６】
また、ある閾値を設け、一致／不一致の判定結果を出力することも可能であるし、一致する割合を故障可能性の度合いとして出力することも可能である。このとき、
診断結果と、
論理回路の設計情報と、
スキャン・チェイン故障辞書の診断結果に対応するレイアウト情報と、
近接信号線情報と
を照合して、
故障箇所のレイアウト、
故障箇所の座標情報、
故障の可能性が高いレイアウト階層名、
短絡（ｓｈｏｒｔ）相手候補信号線名、
を出力してもよい。
【０１３７】
次に、故障スキャンＦＦ記憶部３３を参照して、選択されていない故障スキャンＦＦ候補があれば、スキャンＦＦ共通フェイル照合手段２６１の処理に戻る。
【０１３８】
図２、図４、図６は、本発明の第一の形態を実施するための動作を示す流れ図である。図１、図３、図５を参照して、本発明における第一の実施の形態の動作について詳細に説明する。まず、図２の各ステップの動作を詳細に説明する。
【０１３９】
初期設定手段２１において、論理回路テスト結果情報記憶部３１を参照して、
論理回路の種類、
入出力端子の論理状態
を設定し、信号線の論理状態を初期化する（図２のステップＡ１）。
【０１４０】
故障スキャン・チェイン特定手段２２は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記録された、
論理回路の構成情報と、
テストパタンと、
スキャン・チェイン動作検証テスト結果
を参照して、
故障スキャン・チェインと、
その故障種別と、
を求め、故障スキャン・チェイン情報として、故障スキャン・チェイン記憶部３２に記憶する。（図２のステップＡ２）。
【０１４１】
ここで、スキャン・チェイン故障辞書作成手段２５は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された、
論理回路の構成情報と、
スキャン・テストパタン、
レイアウト情報
を参照して、スキャン・チェイン上の信号線分岐毎に故障を仮定して、故障シミュレーションを行い、各信号線分岐のフェイル出力情報を求め、
１）スキャン・チェイン、
２）スキャンＦＦ、
３）信号線、
４）信号線分岐
等のスキャン・チェインの構造に基づく４つの階層にフェイル出力情報を分類し、
信号線分岐毎に、
そのレイアウト情報と、
近接信号線情報
を付加したスキャン・チェイン故障辞書を作成し、スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４に記憶する（図２のステップＡ５）。
【０１４２】
図４は、図２におけるスキャン・チェイン故障辞書作成手段２５（図２のステップＡ５）の詳細な流れ図である。図３（スキャン・チェイン故障辞書作成手段２５の構成図）と、図４の流れ図とを用いて、スキャン・チェイン故障辞書作成手段２５の動作について詳細に説明する。
【０１４３】
図４のＢ１において、スキャン・チェイン上信号線分岐抽出手段２５１は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された
論理回路の構成情報
を参照して、
各スキャン・チェインと、スキャンＦＦと、信号線と、信号線分岐の接続情報を故障シミュレーション手段２５２に渡す。
【０１４４】
次に、図４のＢ２において、故障シミュレーション手段２５２は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された、
論理回路の構成情報と、
スキャン・テストパタンと、
スキャン・チェイン上信号線分岐抽出手段２５１から引き継いだ
信号線の分岐情報と、
を用いて、各信号線の分岐に対して、故障シミュレーションを実行し、
スキャン・チェイン、スキャンＦＦ、信号線、信号線分岐の接続情報と、
各信号線分岐に対する故障シミュレーション結果と、
を階層別フェイル出力分類手段２５３に渡す。
【０１４５】
次に、図４のＢ３において、階層別フェイル出力分類手段２５３は、故障シミュレーション手段２５２から引き継いだ、
スキャン・チェイン、スキャンＦＦ、信号線、信号線分岐の接続情報と、
各信号線分岐に対する故障シミュレーション結果と、
を用いて、
１）スキャン・チェインと、
２）スキャンＦＦと、
３）信号線と、
４）信号線分岐と
を各階層の要素とし、各階層に属する複数の各要素に共通するフェイル出力情報を分類したスキャン・チェイン故障辞書を作成し、分岐毎レイアウト情報付加手段２５４に渡す。
【０１４６】
図４のＢ４において、分岐毎レイアウト情報付加手段２５４は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された
レイアウト情報と、
階層別フェイル出力分類手段２５３から引き継いだ
スキャン・チェイン故障辞書の信号線分岐情報と、
を参照して、レイアウト情報を追加したスキャン・チェイン故障辞書を、スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４に記憶する。
【０１４７】
図２に戻り、故障スキャンＦＦ絞り込み手段２３は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された、
論理回路の構成情報、
各信号線の期待値、
テスト結果であるフェイル観測スキャンＦＦ情報、及び、
故障スキャン・チェイン記憶部３２に記憶された
故障スキャン・チェインと、
故障種別と
を参照し、スキャン・チェイン上の固定故障が存在するときに、スキャン・アウトした出力が故障の影響を受けて、故障値が連続することを利用して、故障の可能性の高いスキャンＦＦの範囲を絞り込み、故障スキャンＦＦ記憶部３３に記憶する（図２のステップＡ３）。
【０１４８】
次に、スキャン・チェイン故障辞書照合手段２６は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された
テスト結果と、
故障スキャン・チェイン記憶部３２に記憶された
故障スキャン・チェイン、及び
故障種別と、
故障スキャンＦＦ記憶部３３に記憶された
故障スキャンＦＦ候補と、
スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４に記憶された
階層別の共通フェイル出力情報と、
を参照して、
各故障スキャンＦＦ候補に対応するスキャン・チェイン故障辞書のスキャンＦＦ階層に属する全信号線分岐の
フェイル出力情報と、
テスト結果と、
を照合し、
照合結果、及び
故障候補関連情報
を、照合結果情報として、出力装置４に出力する（図２のステップＡ６）。
【０１４９】
図６は、図２の流れ図のスキャン・チェイン故障辞書照合動作（図２のステップＡ６）の詳細な流れ図である。図５のスキャン・チェイン故障辞書照合手段２６の構成と、図６の流れ図とを用いて、スキャン・チェイン故障辞書照合動作について詳細に説明する。
【０１５０】
図６のステップＣ１において、スキャンＦＦ共通フェイル照合手段２６１は、故障スキャンＦＦ記憶部３３に記憶された故障スキャンＦＦ候補情報を用いて、故障推定対象スキャンＦＦを選択して、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された
テスト結果と、
スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４に記憶された
故障推定対象スキャンＦＦの共通フェイル出力情報と、
を照合し、
一致した場合、図６のステップＢ２に照合結果を渡し、
不一致の場合、次の故障推定対象スキャンＦＦを選択する。
【０１５１】
このとき、全ての故障推定対象スキャンＦＦの共通フェイル出力情報が不一致であっても、照合結果を次ステップ（図６ステップＣ２）に渡し、最終ステップ（図６ステップＣ３）の出力時に全照合対象の一致率を導出してもよい。
【０１５２】
次に、図６のステップＣ２において、信号線共通フェイル照合手段２６２は、論理回路テスト結果情報記憶部３１と、スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４とを参照し、故障推定対象信号線を選択し、
スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４に記憶された
故障推定対象信号線の共通フェイル出力情報と、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された
テスト結果と
を照合し、
一致した場合、図６のステップＣ３に照合結果を渡し、
不一致の場合、次の故障推定対象信号線を選択する。
【０１５３】
全ての故障推定対象信号線が不一致の場合は、図６のステップＣ１に返る。このとき、すべて故障推定対象信号線の共通フェイル出力情報が不一致であっても、照合結果を次ステップ（図６ステップＣ２）に渡し、最終ステップ（図６ステップＣ３）の出力時に全照合対象の一致率を導出してもよい。
【０１５４】
図６のステップＣ３において、分岐共通フェイル照合手段２６３は、論理回路テスト結果情報記憶部３１と、スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４を参照して、故障推定対象信号線分岐を選択し、
スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４に記憶された
故障推定対象信号線分岐の共通フェイル出力情報と、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された
テスト結果と
を照合し、テスト結果と全階層のフェイル出力の一致率をパスビット（ｐａｓｓ  ｂｉｔ）も含めて導出し、
スキャン・チェイン名（番号）と、
スキャンＦＦ名と、
スキャン・ビット番号と、
信号線と、
信号線分岐と、
故障種別と、
テスト結果との一致率（上式（１））と、
レイアウト情報と、
近接信号線情報と、
を照合結果情報として、出力する。このとき、両者が最も一致している割合が高い信号線分岐の示す箇所が故障候補と判定される。
【０１５５】
また、ある閾値を設けて、一致／不一致の判定結果を出力することも可能であるし、一致する割合を故障可能性の度合いとして出力することも可能である。このとき、
診断結果と、
論理回路の設計情報と、
スキャン・チェイン故障辞書の診断結果に対応する
レイアウト情報と
近接信号線情報と、
を照合して、
故障箇所のレイアウト、
故障箇所の座標情報、
故障の可能性が高いレイアウト階層名、
短絡（ｓｈｏｒｔ）相手候補信号線名
を出力してもよい。
【０１５６】
次に、故障スキャンＦＦ記憶部３３の故障スキャンＦＦ候補を参照して、選択されていない故障スキャンＦＦ候補があれば、図６のステップＣ１の処理に戻る。
【実施例】
【０１５７】
次に、前記第一の実施の形態について、図１乃至図９を参照して詳細に具体的な実施例を説明する。
【０１５８】
図１の初期設定手段２１により、入力装置１と論理回路テスト結果情報記憶部３１とから、与えられた論理回路の種類、入出力端子の論理状態とを設定し、信号線の論理状態を初期化する（図２のステップＡ１）。
【０１５９】
このとき、図１のスキャン・チェイン故障辞書作成手段２５は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された
論理回路の構成情報と、
スキャン・テストパタンと、
レイアウト情報と
を参照して、
スキャン・チェイン上の信号線を抽出し、信号線の分岐構造を解析して、チェイン上の信号線分岐毎に分類し、各分岐にｓｔｕｃｋ−ａｔ  ０故障、及び、ｓｔｕｃｋ−ａｔ  １故障を仮定シミュレーションを行い、その結果を用いて、
スキャン・チェイン別、
スキャンＦＦ別、
信号線別、
信号線分岐別
に、階層的に共通のフェイル出力情報を分類し、
信号線の分岐毎に、
レイアウト情報と
近接信号線情報
を付加したスキャン・チェイン故障辞書を作成しスキャン・チェイン故障辞書記憶部３４に記憶する。（図２のステップＡ５）。
【０１６０】
図１のスキャン・チェイン故障辞書作成手段２５は、図２のステップＡ５を実行する。図３は、スキャン・チェイン故障辞書作成手段２５の詳細な構成図であり、その詳細な動作が、図４の流れ図となる。図３を参照すると、スキャン・チェイン上信号線分岐抽出手段２５１は、図４のＢ１において、論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された論理回路の構成情報を参照して、各スキャン・チェイン上のスキャンＦＦを抽出し、抽出したスキャンＦＦ間をつなぐ信号線を抽出し、抽出した各信号線の分岐構造を解析して信号線の分岐情報を抽出して、スキャン・チェイン、スキャンＦＦ、信号線、信号線分岐の接続情報を故障シミュレーション手段２５２に渡す。
【０１６１】
次に、故障シミュレーション手段２５２は、図４のＢ２において、論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された
論理回路の構成情報と、
スキャン・テストパタンと、
スキャン・チェイン上信号線分岐抽出手段２５１から引き継いだ
信号線の分岐情報
を用いて、各分岐において、ｓｔｕｃｋ−ａｔ  ０故障とｓｔｕｃｋ−ａｔ  １故障の両方の故障モードそれぞれに対して、故障シミュレーションを実行し、
スキャン・チェイン、
スキャンＦＦ、
信号線、
信号線分岐
の接続情報と、
各信号線分岐に対する故障シミュレーション結果と、
を階層別フェイル出力分類手段２５３に渡す。
【０１６２】
次に、階層別フェイル出力分類手段２５３は、図４のＢ３において、
故障シミュレーション手段２５２から引き継いだスキャン・チェイン、スキャンＦＦ、信号線、信号線分岐の接続情報と、
各信号線分岐に対する故障シミュレーション結果と、
を用いて、スキャン・チェイン毎に故障シミュレーション結果をグループ化し、
各スキャン・チェインの全故障シミュレーション結果の中で共通なフェイル出力情報を抽出し、
スキャン・チェイン階層の共通フェイル出力としてスキャン・チェイン故障辞書に記録する。
【０１６３】
次に、階層別フェイル出力分類手段２５３は、各スキャン・チェインにおいて、残ったフェイル出力情報から全スキャンＦＦに共通するフェイル出力情報を抽出し、
スキャンＦＦ階層の共通フェイル出力情報としてスキャン・チェイン故障辞書に記録し、
次に、各スキャンＦＦにおいて、残ったフェイル出力情報から全信号線に共通するフェイル出力情報を抽出し信号線階層の共通フェイル出力情報としてスキャン・チェイン故障辞書に記録し、
最後に、残った信号線分岐に固有なフェイル出力情報を信号線分岐階層のフェイル出力情報として記録したスキャン・チェイン故障辞書を、分岐レイアウト付加手段２５４に渡す。
【０１６４】
図４のＢ４において、分岐毎レイアウト情報付加手段２５４は、論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶されたレイアウト情報を参照して、
階層別フェイル出力分類手段２５３から引き継いだスキャン・チェイン故障辞書の信号線分岐情報に、
分岐のレイアウト情報と、
分岐の近接信号線情報
を付加し、スキャン・チェイン故障辞書として、スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４に記憶する。
【０１６５】
スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４に記憶された前記スキャン・チェイン故障辞書について詳細を説明する。
【０１６６】
図７は、階層毎に共通したフェイル出力情報を保持したスキャン・チェイン故障辞書の一例を示す図である。
【０１６７】
図７（ａ）は、スキャン・チェイン上のスキャンＦＦ間の信号線や分岐の配線図の一例を示している。図７に示す例では、スキャン・チェイン名：ｎｏ１は、スキャンＦＦ１とスキャンＦＦ２とスキャンＦＦ３を持つ。スキャンＦＦ１とスキャンＦＦ２との間にはバッファが配設されている。
【０１６８】
スキャンＦＦ１とバッファとの間を信号線１、
バッファとスキャンＦＦ２との間の信号線２、
スキャンＦＦ２とスキャンＦＦ３との間の信号線３
とする。
【０１６９】
信号線１には分岐が存在し、スキャンＦＦ１側から順に、
信号線１分岐１、
信号線１分岐２
とする。
【０１７０】
信号線２は分岐が無いため信号線２分岐１とする。
【０１７１】
信号線３は２つの分岐点が存在し、スキャンＦＦ２側から順に、
信号線３分岐１、
信号線３分岐２、
信号線３分岐３
とする。
【０１７２】
図７（ｂ）は、図７（ａ）の各信号線分岐に対する故障シミュレーションの結果をスキャン・チェイン故障辞書化したときのデータ構造の一例を表している。図７（ｂ）によると、スキャン・チェイン故障辞書は、
論理回路内のスキャン・チェイン情報を、
１）チェイン（スキャン・チェイン）、
２）スキャンＦＦ、
３）信号線、
４）信号線分岐
の４つの階層に分類し、各階層の構成要素毎に共通のフェイル出力情報を保持している。以下に各階層について詳細を説明する。
【０１７３】
スキャン・チェイン故障辞書のチェイン階層は、スキャン・チェインを構成要素として分類した階層であり、各スキャン・チェインの辞書データ内には、そのスキャン・チェイン上であれば、どこに故障が存在しても共通して出力されるフェイル出力情報を、例えば、ｓｔｕｃｋ−ａｔ  ０（ｓｔ０）故障、及びｓｔｕｃｋ−ａｔ  １  （ｓｔ１）故障、それぞれに対する共通フェイル情報を、そのチェイン階層の共通フェイル情報として保持する。
【０１７４】
スキャン・チェイン故障辞書のスキャンＦＦ階層は、各スキャン・チェイン辞書データ内において、スキャンＦＦを構成要素として分類した階層であり、各スキャンＦＦの辞書データ内には、各スキャンＦＦのスキャン出力（ＳＯＴ）端子から次段のスキャンＦＦのスキャン入力（ＳＩＮ）端子に至る信号線、例えば、図７（ａ）のスキャンＦＦ１であれば、ＦＦ１のＳＩＴからスキャンＦＦ２のＳＩＮに至る信号線１と、信号線２に相当し、スキャンＦＦ２であればＦＦ２のＳＯＴからスキャンＦＦ３のＳＩＮに至る信号線３に相当するが、各スキャンＦＦに対応する信号線上のどこに故障が存在しても共通して出力されるフェイル出力情報を、例えば、ｓｔｕｃｋ−ａｔ  ０故障、及びｓｔｕｃｋ−ａｔ  １故障、それぞれに対する共通フェイル情報を、そのスキャンＦＦ階層の共通フェイル情報として保持する。
【０１７５】
スキャン・チェイン故障辞書の信号線階層は、各スキャンＦＦ辞書データ内において、信号線を構成要素として分類した階層であり、各信号線の辞書データ内には、各信号線に対応する信号線分岐、例えば、図７（ａ）の
信号線１であれば、信号線１分岐１と信号線１分岐２に相当し、
信号線２であれば、信号線２分岐１に相当し、
信号線３ならば、信号線３分岐１、信号線３分岐２、信号線３分岐３
に相当するが、
各信号線に対応する信号線分岐のどこに、故障が存在しても、共通して出力されるフェイル出力情報、例えば、ｓｔｕｃｋ−ａｔ  ０故障、及びｓｔｕｃｋ−ａｔ  １故障、それぞれに対する共通フェイル情報を、その信号線分岐階層の共通フェイル情報として、保持する。
【０１７６】
スキャン・チェイン故障辞書の信号線分岐階層は、各信号線辞書データ内において、信号線の分岐で区切られた範囲、すなわち、信号線分岐を構成要素として分類した階層であり、各信号線分岐の辞書データ内には、その信号線分岐に、故障が存在した場合に出力されるフェイル出力情報を、例えば、ｓｔｕｃｋ−ａｔ  ０故障、及びｓｔｕｃｋ−ａｔ  １故障に対して、それぞれ保持し、さらに、各信号線分岐に対するレイアウト情報及び近接信号線情報も合わせて保持する。
【０１７７】
スキャン・チェインは、距離的に近いスキャンＦＦを接続することで、効率的な配線が行われることが一般的である。同一チェイン上の信号線の故障は、共通フェイルを持つ傾向が大きい。
【０１７８】
そこで、本実施例では、この特性を利用して、
同一スキャンＦＦ、
同一信号線、
同一信号線分岐
で階層化することにより、共通フェイルをキーにした効率的な検索が可能となる。
【０１７９】
このスキャン・チェイン故障辞書は、
スキャン・チェイン毎、
スキャンＦＦ毎、
信号線毎、
信号線分岐毎
に階層化され、各階層の構成要素毎に関係したフェイル出力情報を保持することにより、
辞書とテスト結果とのフェイル出力の一致判定を処理するとき、上位階層のみでも一致／不一致を判定することができる。この結果、判定処理回数を少なくすることができる。
【０１８０】
また、本実施例によれば、このスキャン・チェイン故障辞書は、信号線の分岐毎まで細分化したスキャン・チェイン故障辞書で実行することで、信号線分岐の違いによる故障状態の差異を、フェイル出力情報として保持できる。この結果、関連技術等よりも、精度よく、故障箇所を限定することができる。
【０１８１】
単純にフェイル情報をテーブル化した場合、信号線分岐まで考慮すると、辞書サイズが巨大化し、実用的な性能を出すことは困難であるが、本実施例では、スキャン・チェインのフェイル出力の特性を利用して、辞書サイズを抑え、かつ、検索の効率化を図っている。
【０１８２】
以上、スキャン・チェイン故障辞書の説明を踏まえて、具体的な実施例の説明に戻る。
【０１８３】
図１の故障スキャン・チェイン特定手段２２は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記録された
論理回路の構成情報と、
テストパタンと、
スキャン・チェイン動作検証テスト結果を参照して、
故障スキャン・チェインと、
その故障種別と、
を求め、故障スキャン・チェイン情報として故障スキャン・チェイン記憶部３２に記憶する。（図２のステップＡ２）。
【０１８４】
次に、図１の故障スキャンＦＦ絞り込み手段２３は、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された
スキャン設計回路の構成、
信号線の期待値、
スキャン・テスト結果
を参照し、
故障スキャン・チェイン記憶部３２に記憶された
故障スキャン・チェイン名と
を参照し、
故障スキャン・チェイン記憶部３２に記憶された
故障スキャン・チェイン情報と、
故障種別情報
を参照して、故障スキャン・チェインの最も上流（Ｓｉｎ側）のスキャンＦＦから下流（Ｓｏｕｔ側）へ故障種別と同値の出力値が連続するスキャンＦＦをカウントし、
故障種別と同値の出力値が連続したスキャンＦＦの範囲を、故障スキャンＦＦ候補の範囲として、故障スキャンＦＦ記憶部３３に記憶する（図２のステップＡ３）。
【０１８５】
このとき、既知のスキャンＦＦ単位で絞り込みを行う故障スキャンＦＦ絞り込み機能を利用して、故障スキャンＦＦ候補の範囲として導出してもよい。また、このとき、故障スキャンＦＦ候補の範囲が絞り込めず、故障スキャン・チェインの全スキャンＦＦが候補範囲となってもよいし、故障スキャンＦＦ候補の範囲が絞り込まず、故障スキャン・チェインの全スキャンＦＦが候補範囲となってもよい。
【０１８６】
図１のスキャン・チェイン故障辞書照合手段２５は、故障スキャンＦＦ記憶部３３に記憶された故障スキャンＦＦ候補から故障推定対象スキャンＦＦを選択して故障推定対象スキャンＦＦの共通フェイル出力情報と前記テスト結果とを照合する。
【０１８７】
照合の結果、一致していれば、スキャン・チェイン故障辞書照合手段２５は、
次に、故障推定対象スキャンＦＦに関係する故障推定対象の信号線を１つ選択して、該故障推定対象の信号線の共通フェイル出力情報と前記テスト結果とを照合する。
【０１８８】
照合の結果、一致していれば、スキャン・チェイン故障辞書照合手段２５は、次に、故障推定対象信号線に関係する故障推定対象の信号線分岐を選択し、
故障推定対象の信号線分岐の共通フェイル出力情報と、
前記テスト結果と
を照合する。
【０１８９】
照合の結果、一致していれば、スキャン・チェイン故障辞書照合手段２５は、パスビット（ｐａｓｓ  ｂｉｔ）も含めて、故障推定対象の信号線分岐に関係する全階層の共通フェイル出力情報と前記テスト結果との一致率を導出し、
スキャン・チェイン名（番号）と、
スキャンＦＦ名と、
スキャン・ビット番号と、
信号線と、
信号線分岐と、
故障種別と、
テスト結果との一致率と、
レイアウト情報と、
近接信号線情報
を出力装置４に出力する（図２のステップＡ５）。
【０１９０】
ここで、図１のスキャン・チェイン故障辞書照合手段２６は、図２のステップＡ６を実行する。
【０１９１】
スキャン・チェイン故障辞書照合手段２６において、図６を参照すると、先ず、スキャンＦＦ共通フェイル照合手段２６１は、図６のステップＣ１において、故障スキャンＦＦ記憶部３３に記憶された故障スキャンＦＦ候補情報を用いて、故障推定対象スキャンＦＦを１つずつ選択して、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された
テスト結果と、
スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４に記憶された
故障推定対象スキャンＦＦの共通フェイル出力情報と、
を照合し、
故障推定対象スキャンＦＦの共通フェイル出力情報が一致した場合には、図６のステップＣ２において、故障推定対象スキャンＦＦ情報と、その照合結果を信号線共通フェイル照合手段２６２に渡し、
不一致の場合は、次の故障推定対象スキャンＦＦを選択する。このとき、ある閾値を設けて、閾値よりも一致数が多い場合、または、閾値よりも一致率が高い場合に、故障推定対象スキャンＦＦ情報と、その照合結果を、次ステップに渡してもよい。また、このとき、全ての故障推定対象スキャンＦＦの共通フェイル出力情報が不一致であっても、照合結果を、次ステップに渡し、最終ステップの出力時に全照合対象の一致率を導出してもよい。
【０１９２】
信号線共通フェイル照合手段２６２は、図６のステップＣ２において、故障推定対象信号線を選択し、
スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４に記憶された
故障推定対象信号線の共通フェイル出力情報と、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された
前記テスト結果と、
を照合し、
故障推定対象信号線の共通フェイル出力情報が一致した場合には、図６のステップＣ３の分岐共通フェイル照合手段２６３に照合結果を渡し、
不一致の場合には、次の故障推定対象信号線を選択する。全ての故障推定対象信号線が不一致の場合、図４のステップＢ１に返る。
【０１９３】
このとき、ある閾値を設けて、閾値よりも一致数が多い場合、または、閾値よりも一致率が高い場合に、故障推定対象信号線情報と、その照合結果を次ステップに渡してもよい。このとき、すべて故障推定対象信号線の共通フェイル出力情報が不一致であっても、照合結果を次ステップに渡し、最終ステップの出力時に全照合対象の一致率を導出してもよい。
【０１９４】
次に、分岐共通フェイル照合手段２６３は、図６のステップＣ３において、故障推定対象信号線分岐を選択し、
スキャン・チェイン故障辞書記憶部３４に記憶された
故障推定対象信号線分岐の共通フェイル出力情報と、
論理回路テスト結果情報記憶部３１に記憶された
前記テスト結果と、
を照合し、
故障推定対象信号線分岐の共通フェイル出力情報が一致した場合には、
故障推定対象信号線分岐に関係する全階層の全フェイル出力情報と前記テスト結果をパスビット（ｐａｓｓ  ｂｉｔ）も含めて一致率を導出し、
スキャン・チェイン名（番号）と、
スキャンＦＦ名と、
スキャン・ビット番号と、
信号線と、
信号線分岐と、
故障種別と、
テスト結果との一致率と、
レイアウト情報と、
近接信号線情報と、
を出力する。
【０１９５】
故障推定対象信号線分岐の共通フェイル出力情報が不一致した場合には、次の故障推定対象信号線分岐を選択する。全ての故障推定対象信号線分岐が不一致の場合には、図６のステップＣ１に戻る。このとき、ある閾値を設けて、閾値よりも一致数が多い場合、または、閾値よりも一致率が高い場合に、テスト結果と故障推定対象信号線分岐に関係する全階層のフェイル出力の一致率をパスビット（ｐａｓｓ  ｂｉｔ）も含めて導出してもよい。このとき、すべて故障推定対象信号線の共通フェイル出力情報が不一致であっても、テスト結果と故障推定対象信号線分岐に関係する全階層のフェイル出力の一致率を、パスビットも含めて導出してもよい。このとき、全階層において、パスビット（ｐａｓｓ  ｂｉｔ）も含めて、両者が最も一致している割合が高い信号線分岐の示す箇所が故障候補と判定される。
【０１９６】
また、ある閾値を設けて、一致／不一致の判定結果を出力することも可能であるし、一致する割合を故障可能性の度合いとして出力することも可能である。
【０１９７】
図６のステップＣ３において、選択されていない故障スキャンＦＦ候補がある場合、図６のステップＣ１に戻り、全ての故障スキャンＦＦの候補が処理されるまで、ステップＣ１からステップＣ３を繰り返す。
【０１９８】
例えば、図７（ａ）において、故障スキャンＦＦ候補スキャンＦＦ１に繋がる信号線以外にも、故障スキャンＦＦ候補スキャンＦＦ２が存在するので、再選択して、上述の処理を繰り返す。
【０１９９】
以上のように、本実施形態によれば、
信号線の分岐まで細分化して階層化し、
各階層の構成要素毎に、共通のフェイル出力情報を保持したスキャン・チェイン故障辞書を利用して、
故障候補箇所のフェイル出力結果と、
テスト結果と
を照合することで、関連技術において逐次に故障シミュレーションを実行するより場合よりも、診断時間を短縮させ、かつ、関連技術のスキャンＦＦ単位で診断結果よりも限定した範囲に故障候補を絞り込めるスキャン・チェイン故障診断が可能となる。
【０２００】
さらに、階層別のスキャン・チェイン故障辞書は、信号線の分岐毎に、レイアウト情報と近接信号線情報を保持しているので、あいまいであった故障候補が示す故障箇所の区間を正確に指摘することが可能となり、関連技術よりもさらに精度の高いスキャン・チェイン故障診断が可能となる。
【０２０１】
関連技術は、故障スキャンＦＦ自体に故障が仮定されるため、故障候補が指摘する信号線を含めた故障箇所の範囲があいまいなまま、故障スキャン・チェイン名と故障スキャンＦＦ番号とが出力されるだけである。例えば、図１７（ｂ）を参照すると、矢印が示す実際の故障箇所は、スキャン・チェイン名：Ｎ１０、スキャンＦＦ名：ＦＦ１１と、スキャン・チェイン名：Ｎ１０、スキャンＦＦ名：ＦＦ１２との両方で指摘されているため、実解析で故障箇所を判断するには、熟練した経験が必要である。
【０２０２】
図８において、本発明に係るスキャン・チェイン故障箇所推定システムで診断した結果の実施例を示す。図８の（ａ）は、本発明に係るスキャン・チェイン故障箇所推定システムを用いて診断した結果の具体的な一例である。図８の（ｂ）は、図８の（ａ）の診断結果が示す故障箇所の範囲を示している。故障候補Ｎｏ．１が示す範囲は、ＦＦ番号１０（ＦＦ１０）であり、故障種別はｓｔｕｃｋ−ａｔ  １、信号線（分岐位置）は、分岐前、分岐後でｎｅｔ１、ｎｅｔ２、レート＝１００／１００、故障候補Ｎｏ．２が示す範囲は、ＦＦ番号１１（ＦＦ１０）であり、故障種別はｓｔｕｃｋ−ａｔ  １、信号線（分岐位置）は、分岐前、分岐後でｎｅｔ２、ｎｅｔ３、レート＝９９／１００である。
【０２０３】
本発明によるスキャン・チェイン故障箇所推定システムの診断結果は、図８の（ａ）に示したように、スキャン・チェイン名、スキャンＦＦ番号、故障種別、信号線名、信号線の分岐情報、一致率（レート）を出力する。診断結果は、信号線の分岐を考慮した故障位置に対して一致率による重み付けを行い、重みの高い故障箇所から順に出力されるため、実際の故障の範囲を限定し易く、実解析において解析箇所の選択を容易にする。
【０２０４】
また、このとき、本発明によるスキャン・チェイン故障辞書は、レイアウト情報と近接信号線情報を保持しているため、診断結果で得られた故障箇所から辞書情報を呼び出し、論理回路の設計情報を照合することで、図９（ａ）の出力例のように、故障箇所のレイアウト、故障箇所の座標情報、故障の可能性が高いレイアウト階層名、論理的にも物理的にもブリッジ（ｂｒｉｄｇｅ）故障が生じている可能性が高い短絡（ｓｈｏｒｔ）相手候補信号線名を、容易に導出することができ、診断精度の向上と解析の容易性がさらに高まる。
【０２０５】
図９（ａ）は、番号（Ｎｏ）、チェイン名、ビット番号、故障種別、信号線（分岐位置）、レート、座標、階層名、ｓｈｏｒｔ相手候補信号線、座標、階層名が出力される。
番号１は、チェイン名＝Ｎ１、ビット番号＝１０、故障種別＝ｓｔｕｃｋ  ａｔ  １、信号線（分岐位置）＝ｎｅｔ１（Ｂ２）、レート＝１００／１００、座標＝（Ｘ１、Ｙ１）、（Ｘ２、Ｙ２）、（Ｘ３、Ｙ３）、階層名＝Ｍ２  Ｍ３  Ｍ４、ｓｈｏｒｔ相手候補信号線＝ｎｅｔ２、座標＝（Ｘ５、Ｙ５）、（Ｘ６、Ｙ６）  階層名＝Ｍ３と信号線のレイアウトが出力される。図９（ｂ）は、図９（ａ）の出力例が示し故障箇所の範囲を説明する図である。ＳＩＮ側の故障候補ＦＦ２とＳＯＵＴ側のＦＦ１の間の経路ｎｅｔ１が故障候補信号線の範囲、分岐を考慮した範囲はＢ１、Ｂ２、Ｂ３となり、故障候補Ｎｏ．１が示す範囲はＢ２とされ、ｓｈｏｒｔ相手候補信号線ｎｅｔ２１とされる。
【産業上の利用可能性】
【０２０６】
本発明によれば、論理回路情報とテスト結果から、スキャン・チェイン故障箇所を推定する故障推定装置や、故障推定装置をコンピュータに実現するためのプログラムといった用途に適用できる。
【０２０７】
なお、上記の特許文献、非特許文献の各開示を、本書に引用をもって繰り込むものとする。本発明の全開示（請求の範囲を含む）の枠内において、さらにその基本的技術思想に基づいて、実施形態ないし実施例の変更・調整が可能である。また、本発明の請求の範囲の枠内において種々の開示要素の多様な組み合わせないし選択が可能である。すなわち、本発明は、請求の範囲を含む全開示、技術的思想にしたがって当業者であればなし得るであろう各種変形、修正を含むことは勿論である。
【符号の説明】
【０２０８】
１    キーボード等の入力装置
２    データ処理装置
３    情報を記憶する記憶装置
４    出力装置    
２１  初期設定手段
２２  故障スキャン・チェイン特定手段
２３  故障スキャンＦＦ絞り込み手段
２４  故障シミュレーション比較手段
２５  スキャン・チェイン故障辞書作成手段
２６  スキャン・チェイン故障辞書照合手段
３１  論理回路テスト結果情報記憶部
３２  故障スキャン・チェイン記憶部
３３  故障スキャンＦＦ記憶部
３４  スキャン・チェイン故障辞書記憶部
２５１  スキャン・チェイン上信号線分岐抽出手段
２５２  故障シミュレーション手段
２５３  階層別フェイル出力分類手段
２５４  分岐毎レイアウト情報付加手段
２６１  スキャンＦＦ共通フェイル照合手段
２６２  信号線共通フェイル照合手段
２６３  分岐共通フェイル照合手段
【図１】
2012018111.tif 000004
【図２】
2012018111.tif 000005
【図３】
2012018111.tif 000006
【図４】
2012018111.tif 000007
【図５】
2012018111.tif 000008
【図６】
2012018111.tif 000009
【図７】
2012018111.tif 000010
【図８】
2012018111.tif 000011
【図９】
2012018111.tif 000012
【図１０】
2012018111.tif 000013
【図１１】
2012018111.tif 000014
【図１２】
2012018111.tif 000015
【図１３】
2012018111.tif 000016
【図１４】
2012018111.tif 000017
【図１５】
2012018111.tif 000018
【図１６】
2012018111.tif 000019
【図１７】
2012018111.tif 000020