(57)【要約】【課題】ＰＤＰの点灯特性の評価において、従来、測定者の判断を必要とし、測定値がばらつくなど、迅速かつ精確な測定を行うことができなかった。本発明は、測定者の判断を必要とせずにＰＤＰの点灯状態を判別する特定の点灯電圧を高精度に検出し、ＰＤＰの特性検査を効率よく行う検査装置および検査方法を提供することを目的とする。【解決手段】可変な点灯電圧を印加して放電を発生させＰＤＰ１を点灯する点灯電圧制御部１３２と、点灯したＰＤＰ１に対し撮像カメラ１１０により複数の表示画像を撮像する撮像制御部１３１と、撮像した複数の表示画像の輝度レベルに係る差異を算出する輝度差算出部１５１と、輝度差算出部１５１における算出結果に基づいてＰＤＰ１に関する特定の点灯電圧を判定する点灯電圧判定部１５３とを備える。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
互いに平行に配置した第１電極および第２電極を備えた第１基板と、前記第１電極および第２電極と交差し放電を行う第３電極を備えた第２基板とを対向配置した一対の基板間に放電セルを形成し、前記放電セルにおいて前記放電を発生させて画像表示を行うプラズマディスプレイパネルの特性検査装置であって、可変な点灯電圧を印加して前記放電を発生させ前記プラズマディスプレイパネルを点灯する手段と、前記点灯したプラズマディスプレイパネルに対し撮像手段により複数の表示画像を撮像する手段と、前記撮像した複数の表示画像の輝度レベルに係る差異を算出する手段と、前記輝度レベルに係る差異の算出結果に基づいて前記プラズマディスプレイパネルに関する特定の点灯電圧を判定する手段とを備えることを特徴とするプラズマディスプレイパネルの特性検査装置。
【請求項２】
前記可変な点灯電圧に対し前記輝度レベルに係る差異の変化量を算出する手段をさらに備え、前記輝度レベルに係る差異の変化量の算出結果に基づいて前記プラズマディスプレイパネルに関する特定の点灯電圧を判定することを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの特性検査装置。
【請求項３】
前記特定の点灯電圧が、前記放電セルの全てにおいて放電が発生する電圧、および全ての放電セルにおいて誤放電が解消される電圧、および前記表示画像の全領域において放電セルの放電が始まる電圧、の少なくともいずれかであることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載のプラズマディスプレイパネルの特性検査装置。
【請求項４】
前記複数の表示画像を撮像する手段は、撮像時の露光時間を前記プラズマディスプレイパネルの点灯周期と同期させることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか１項に記載のプラズマディスプレイパネルの特性検査装置。
【請求項５】
前記露光時間を前記表示画像の１フィールド期間に設定することを特徴とする請求項４に記載のプラズマディスプレイパネルの特性検査装置。
【請求項６】
前記特定の点灯電圧を判定する手段は、閾値を設けて判定を行うことを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか１項に記載のプラズマディスプレイパネルの特性検査装置。
【請求項７】
互いに平行に配置した第１電極および第２電極を備えた第１基板と、前記第１電極および第２電極と交差し放電を行う第３電極を備えた第２基板とを対向配置した一対の基板間に放電セルを形成し、前記放電セルにおいて前記放電を発生させて画像表示を行うプラズマディスプレイパネルの特性検査方法であって、可変な点灯電圧を印加して前記放電を発生させ前記プラズマディスプレイパネルを点灯するステップと、前記点灯したプラズマディスプレイパネルに対し撮像手段により複数の表示画像を撮像するステップと、前記撮像した複数の表示画像の輝度レベルに係る差異を算出するステップと、前記輝度レベルに係る差異の算出結果に基づいて前記プラズマディスプレイパネルに関する特定の点灯電圧を判定するステップとを備えることを特徴とするプラズマディスプレイパネルの特性検査方法。
【請求項８】
前記可変な点灯電圧に対する前記輝度レベルに係る差異の変化量を算出するステップをさらに備え、前記輝度レベルに係る差異の変化量の算出結果に基づいて前記プラズマディスプレイパネルに関する特定の点灯電圧を判定することを特徴とする請求項７に記載のプラズマディスプレイパネルの特性検査方法。
【請求項９】
前記特定の点灯電圧が、前記放電セルの全てにおいて放電が発生する電圧、および全ての放電セルにおいて誤放電が解消される電圧、および前記表示画像の全領域において放電セルの放電が始まる電圧、の少なくともいずれかであることを特徴とする請求項７又は請求項８に記載のプラズマディスプレイパネルの特性検査方法。
【請求項１０】
前記複数の表示画像を撮像するステップは、撮像時の露光時間を前記プラズマディスプレイパネルの点灯周期と同期させるステップを含むことを特徴とする請求項７から請求項９のいずれか１項に記載のプラズマディスプレイパネルの特性検査方法。
【請求項１１】
前記点灯周期が前記表示画像の１フィールド期間であることを特徴とする請求項１０に記載のプラズマディスプレイパネルの特性検査方法。
【請求項１２】
前記特定の点灯電圧を判定するステップは、閾値を使用して判定を行うことを特徴とする請求項７から請求項１１のいずれか１項に記載のプラズマディスプレイパネルの特性検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プラズマディスプレイパネルを点灯して特性の検査を行うプラズマディスプレイパネルの特性検査装置および特性検査方法に関し、特に適正かつ効率的なプラズマディスプレイパネルの点灯を行うための検出技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
プラズマディスプレイパネル（以下、ＰＤＰと略記する）は、ガラス材料を使用した前面基板と背面基板とを、基板間に放電空間が形成されるように対向配置して周辺を封着し、放電空間に希ガスを封入して構成される。また、前面基板上には走査電極と維持電極とからなる表示電極が複数形成され、背面基板上には表示電極と直交する方向にアドレス電極が複数形成されており、表示電極とアドレス電極とが交差する領域には放電セルが形成される。放電セルは画像を表示するときの単位発光領域であり、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の各色に発光する蛍光体層が形成された３つの隣接する放電セルによって１つの画素を形成する。なお、ＰＤＰは、画素が形成され画像表示が行われる表示領域と、その周囲の画像表示が行われない非表示領域とに区分される。
【０００３】
ＰＤＰの画像表示の方法としては、１フィールド期間（１／６０秒）を複数のサブフィールドに分割し、サブフィールドを組み合わせることにより階調表示を行う方法が知られている。各サブイールドでは、走査電極に順次走査パルスを印加することにより表示する放電セルを選択し、選択した放電セルにおいて維持放電を発生させる。これにより、維持放電が発生した放電セルで紫外線が発生し、紫外線により励起された蛍光体層から赤、緑、青の可視光が放出されてカラー画像の表示が行われる。
【０００４】
このようなＰＤＰに駆動回路などを接続してプラズマディスプレイ装置（以下、ＰＤＰ装置と略記する）を製造する際は、ＰＤＰ装置として良好な表示品質を確保することが求められる。したがって、ＰＤＰについて画像表示に関する実用上の特性を評価する必要となる。
【０００５】
これに対して、画像表示に関する特性評価の１つとして、個々のＰＤＰにおいて画像を表示するために印加する駆動電圧（以下、点灯電圧と略記する）とＰＤＰの点灯状態との関係を測定し、ＰＤＰの点灯電圧特性を把握する事例が、従来、開示されている。
【０００６】
開示された事例では、走査電極、維持電極、およびアドレス電極に点灯電圧を印加し、表示領域の全ての放電セルにおいて放電が発生した状態（完全点灯状態）のときの電圧（以下、完全点灯電圧と略記する）を測定する。測定の方法としては、点灯電圧を徐々に上げてＰＤＰを点灯させ、ＰＤＰが完全点灯状態であるか否かの判定を行って、点灯電圧特性を評価する（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００７−１４１５４２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかし、ＰＤＰにおける点灯状態は様々な要因により影響を受けるため、完全点灯状態の判定に困難が伴う。例えば、ＰＤＰに印加する電圧の種類やＰＤＰの構造上のばらつきなどにより放電セルにおける点灯状態の現れ方は様々である。構造欠陥により不灯となる放電セルは測定時に除外して判定する必要がある。したがって、従来の技術では、ＰＤＰの特性評価において完全点灯電圧の測定に測定者の判断を必要とし、測定値がばらつくなど、迅速かつ精確な測定を行うことができない。これにより、測定の効率化および精度の向上が求められていた。
【０００９】
本発明は、このような課題を解決するためになされたものであり、測定者の判断を必要とすることなく完全点灯電圧を効率的かつ高精度に検出することができる検査方法および検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記の課題を解決するために、本発明によるプラズマディスプレイパネルの特性検査装置は、互いに平行に配置した第１電極および第２電極を備えた第１基板と、第１電極および第２電極と交差し放電を行う第３電極を備えた第２基板とを対向配置した一対の基板間に放電セルを形成し、放電セルにおいて放電を発生させて画像表示を行うプラズマディスプレイパネルの特性検査装置であって、可変な点灯電圧を印加して放電を発生させプラズマディスプレイパネルを点灯する手段と、点灯したプラズマディスプレイパネルに対し撮像手段により複数の表示画像を撮像する手段と、撮像した複数の表示画像の輝度レベルに係る差異を算出する手段と、輝度レベルに係る差異の算出結果に基づき、プラズマディスプレイパネルに関する特定の点灯電圧を判定する手段とを備える。
【００１１】
このような構成により、点灯電圧を変えてプラズマディスプレイパネルを点灯し、撮像手段により複数の表示画像を撮像することが可能となる。また、撮像した複数の表示画像の画像情報から輝度レベルに係る差異を算出し、算出結果に基づいてプラズマディスプレイパネルに関する特定の点灯電圧を判定することが可能となる。したがって、撮像画像の輝度レベルに関する画像情報からプラズマディスプレイパネルの放電セルにおける放電に関する特定の状態を判別する点灯電圧を測定することができる。これにより、プラズマディスプレイパネルの特性評価において測定者の判断を必要とすることなく、迅速かつ精確な測定を行うことができる。また、個々のプラズマディスプレイパネルに対して、放電セルにおける放電の特性を把握し、適正な点灯電圧を設定して使用することができる。この結果、プラズマディスプレイパネルの特性評価の効率化および精度の向上を実現し、高品質のプラズマディスプレイ装置を提供することができる。
【００１２】
また、本発明によるプラズマディスプレイパネルの特性検査装置は、可変な点灯電圧に対し輝度レベルに係る差異の変化量を算出する手段をさらに備え、輝度レベルに係る差異の変化量の算出結果に基づいてプラズマディスプレイパネルに関する特定の点灯電圧を判定する。このような構成により、輝度レベルの差異に加えて輝度レベルに係る差異の変化量を算出することができ、二つの算出結果を利用してプラズマディスプレイパネルに関する特定の点灯電圧を判定することが可能となる。したがって、判定の自由度を高めることができ、実用性が高く高品質の特性検査装置を提供することができる。
【００１３】
また、本発明によるプラズマディスプレイパネルの特性検査装置は、特定の点灯電圧が、放電セルの全てにおいて放電が発生する電圧、および全ての放電セルにおいて誤放電が解消される電圧、および表示画像の全領域において放電セルの放電が始まる電圧、の少なくともいずれかである。このような構成により、プラズマディスプレイパネルの放電セルにおける放電に関し、放電セルの全てにおいて放電が発生する状態、および全ての放電セルにおいて誤放電が解消される状態、および表示画像の全領域において放電セルの放電が始まる状態、の少なくともいずれかの状態を判別する点灯電圧を測定することが可能となる。したがって、測定した点灯電圧を使用してプラズマディスプレイパネルを点灯することにより、誤放電や未放電の放電セルのない完全点灯状態の表示画像を実現することができる。この結果、高品質のプラズマディスプレイ装置を提供することができる。
【００１４】
また、本発明によるプラズマディスプレイパネルの特性検査装置は、複数の表示画像を撮像する手段は、撮像時の露光時間をプラズマディスプレイパネルの点灯周期と同期させる。このような構成により、プラズマディスプレイパネルの点灯周期と同期させて複数の表示画像を撮像することが可能となる。したがって、特性検査装置に対して確実に精確な表示画像の画像データを入力することができる。これにより、輝度レベルの差異、および輝度レベルの差異の変化量を精確に算出し、特定の点灯電圧を判定することが可能な高品質の特性検査装置を実現することができる。
【００１５】
また、本発明によるプラズマディスプレイパネルの特性検査装置は、露光時間を表示画像の１フィールド期間に設定する。このような構成により、プラズマディスプレイパネルの表示画像の１フィールド期間に設定して複数の表示画像を撮像することが可能となる。したがって、特性検査装置に対して確実に精確な表示画像の画像データを入力することができる。これにより、輝度レベルの差異、および輝度レベルの差異の変化量を精確に算出し、特定の点灯電圧を判定することが可能な高品質の特性検査装置を実現することができる。
【００１６】
また、本発明によるプラズマディスプレイパネルの特性検査装置は、特定の点灯電圧を判定する手段は閾値を設けて判定を行う。このような構成により、輝度レベルの差異に係る算出結果を閾値と比較することにより特定の点灯電圧の判定を行うことが可能となる。したがって、精確で安定した判定を効率よく実行することができる。これにより、高品質で実用性に優れた特性検査装置を実現することができる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、プラズマディスプレイパネルの完全点灯電圧を高精度に検出することができ、プラズマディスプレイパネルの点灯特性の評価を効率的かつ高品質に行うことができる。また、特性評価に際し評価者の判断を必要としない。したがって、プラズマディスプレイパネルの製造工程を合理化し、高品質のプラズマディスプレイ装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の実施の形態１におけるプラズマディスプレイパネルの概略の構成を示す斜視図
【図２】同プラズマディスプレイパネルの特性検査装置の主要構成を示すブロック図
【図３】同特性検査装置の動作手順を示すフローチャート
【図４】同特性検査装置における点灯電圧の切り替えのタイミング図
【図５】プラズマディスプレイパネルの輝度レベルの差異を測定する方法を示す図
【図６】同特性検査装置における印加電圧と輝度レベルの差異との関係を示す測定例を示す図
【図７】同特性検査装置における別の動作手順を示すフローチャート
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明のプラズマディスプレイパネルの特性検査装置（以下、本装置と略記する）の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。なお、本発明の実施の形態は本発明を説明するための一例であり、これに限定されるものではない。
【００２０】
（実施の形態）
図１は、本装置１００が一例として検査の対象とする交流面放電型のプラズマディスプレイパネル（以下、ＰＤＰと略記する）に関し、要部の概略の構成例を示す断面斜視図である。図１に示すように、ＰＤＰ１は前面板１０と背面板２０とで構成される。
【００２１】
前面板１０の前面基板１１上には、走査電極１２および維持電極１３よりなる一対の電極を帯状に複数備えた表示電極１４が互いに平行になるように配置されている。また、表示電極１４を覆ってコンデンサとしての働きをする誘電体層１５が形成され、さらに、誘電体層１５上にはＭｇＯを主成分とする材料からなる誘電体保護層１６が形成されている。
【００２２】
一方、背面板２０の背面基板２１上には、ストライプ状のアドレス電極２２と、このアドレス電極２２を覆う下地誘電体層２３が形成されている。また、下地誘電体層２３上にはアドレス電極２２と平行な方向に隔壁２４が形成され、各隔壁２４間には赤色、緑色および青色でそれぞれ発光する蛍光体層２５が形成されている。
【００２３】
これらの前面板１０と背面板２０とは、表示電極１４とアドレス電極２２とが直交するように、微小な放電空間２６を挟んで対向配置され、その外周部がガラスフリットなどの封着材（図示せず）によって気密封着されてＰＤＰ１を構成している。また、放電空間２６には、例えばネオン（Ｎｅ）およびキセノン（Ｘｅ）の混合ガスが放電ガスとして５３ｋＰａ〜８０ｋＰａの圧力で封入されている。放電空間２６は、隔壁２４によって複数の区画に仕切られており、各区画には赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）および青色（Ｂ）の各色に発光する蛍光体層２５が順に配置されている。さらに、走査電極１２および維持電極１３とアドレス電極２２とが交差する領域に放電セル２７が形成され、各色に発光する蛍光体層２５が形成された隣接する３つの放電セル２７により１つの画素を構成する。
【００２４】
なお、放電セル２７は画像を表示するときの単位発光領域となり、ＰＤＰ１は、画像表示が行われる表示領域と、表示領域の周辺の画像が表示されない非表示領域とに区分される。
【００２５】
ＰＤＰ１の画像表示に関しては、１フィールド期間（１／６０秒）を複数のサブフィールドに分割し、明るさの異なるサブフィールドを組み合わせることにより階調表現を行う。各サブフィールドでは、走査電極１２に順次走査パルスを印加するとともに画像データに基づいてアドレス電極２２にアドレスパルスを印加することにより表示する放電セルを選択した後、走査電極１２と維持電極１３とに交互に維持パルスを印加することによって、選択した放電セルにおいて維持放電を発生させる。これにより、維持放電が起こった放電セルで紫外線が発生し、紫外線で励起された蛍光体層２５から各色の可視光が放出されて、カラー画像の表示が行われる。
【００２６】
次に、本装置１００の構成および機能について、図２を用いて説明する。
【００２７】
図２は、本装置１００の主要な構成を示すブロック図である。図２に示すように、本装置１００は、撮像カメラ１１０および回路装置１２０を備え、撮像カメラ１１０と回路装置１２０とは信号ケーブル（図示せず）により接続される。なお、撮像カメラ１１０の電源を回路装置１２０から得る場合は、信号ケーブルに加えて撮像カメラ１１０の電源ケーブルを回路装置１２０に接続する。
【００２８】
撮像カメラ１１０は、回路装置１２０から受信した制御情報に基づきレンズ１１１を介してＰＤＰ１に表示された画像を撮像し、レンズ１１１から入力される撮像画像に係る光情報を電気信号に変換して回路装置１２０に送信する機能を備える。撮像時の明るさおよびフォーカスはレンズ１１１により最適な値に設定することができる。
【００２９】
ＰＤＰ１の表示画像の撮像に関しては、保持部材３０にＰＤＰ１および駆動回路４０が一体化されたＰＤＰユニット２００を検査台５０に所定の方法で固定し、固定されたＰＤＰ１の表示画面に対して撮像カメラ１１０を適正な位置に保持する。なお、ＰＤＰユニット２００および撮像カメラ１１０の保持条件などにより相互の位置関係を調整する必要がある場合は、ＰＤＰユニット２００および撮像カメラ１１０の保持に関し少なくともいずれかに位置調整機構を配設する。
【００３０】
回路装置１２０は、撮像部１３０、記憶部１４０、情報処理部１５０、および表示部１６０を備え、撮像部１３０は、撮像制御部１３１、点灯電圧制御部１３２および送信部１３３を備える。また、情報処理部１５０は、輝度差算出部１５１、輝度差変化量算出部１５２、点灯電圧判定部１５３および点灯電圧出力部１５４を備える。
【００３１】
撮像部１３０では、撮像カメラ１１０の撮影に係る制御およびＰＤＰ１の点灯に係る制御を行う。
【００３２】
撮像制御部１３１は、ＰＤＰユニット２００の駆動回路４０から受信した情報に基づき撮像カメラ１１０の露光のタイミングおよび露光時間の制御に係る信号を生成して撮像カメラ１１０に送信する機能を備え、撮像カメラ１１０対して所定の条件で撮像の指示を行う。この機能により、撮像制御部１３１は、適時、撮像の指示を行い、所定の条件で露光時間および露光のタイミングを設定して撮像カメラ１１０を制御することができる。本装置１００では、一例としてＰＤＰ１の点灯周期と同期させて撮像カメラ１１０の露光を行うとともに、露光時間をＰＤＰ１の表示画像の１フィールド期間に設定する。
【００３３】
点灯電圧制御部１３２は、ＰＤＰ１を点灯するために、ＰＤＰ１の駆動回路４０に順次異なる電圧を設定して印加するための信号を生成し、所定のタイミングで送信部１３３を経由してＰＤＰユニット２００の駆動回路４０に送信する機能を備える。なお、本装置１００では送信部１３３から制御信号を送信してＰＤＰユニット２００の点灯電圧の制御を行うが、送信部１３３に代えて撮像部１３０に点灯電圧出力部を配設することにより、ＰＤＰユニット２００の駆動回路４０に点灯電圧を直接入力することもできる。
【００３４】
記憶部１４０は、信号受信回路（図示せず）、並びに半導体メモリ又はＨＤＤ（ハードディスクドライブ）などの情報記憶手段を備え、撮像カメラ１１０からＰＤＰ１の撮像画像に係る情報を受信し、一旦、データベース情報として記録する。また、情報処理部１５０から受信した情報が、ＰＤＰ１に関する検査情報として逐次蓄積される。
【００３５】
また、情報処理部１５０では、撮像カメラ１１０により撮像されたＰＤＰ１の表示画像に係る情報（以下、画像データと略記する）に基づき、ＰＤＰ１の点灯特性を検査するための情報処理を行う。
【００３６】
輝度差算出部１５１は、記憶部１４０に記録された情報を検索し、ＰＤＰ１に印加された同一点灯電圧における複数の画像データから画像データ間の輝度差を算出し、記憶部１４０に記録する。また、算出結果に係る情報を所定のタイミングで輝度差変化量算出部１５２に送信する。
【００３７】
輝度差変化量算出部１５２は、輝度差算出部１５１から受信した情報に基づき、異なる点灯電圧に対する輝度差の変化量を算出し、記憶部１４０に記録する。また、算出結果に係る情報を所定のタイミングで点灯電圧判定部１５３に送信する。
【００３８】
点灯電圧判定部１５３は、輝度差変化量算出部１５２から受信した情報に基づき、異なる点灯電圧間の輝度差の変化量と予め定められた閾値との比較を行い、ＰＤＰ１の特定の点灯状態となる特定の点灯電圧を判定する。ここで、特定の点灯状態とは、例えば、ＰＤＰ１の全ての放電セルが点灯する「完全点灯状態」などを示し、特定の点灯電圧とは、例えば、ＰＤＰ１が完全点灯状態となる「完全点灯電圧」などを示す。判定の結果、点灯電圧が特定の点灯電圧に該当する場合は、判定された特定の点灯電圧を記憶部１４０に記録するとともに、点灯電圧出力部１５４に送信する。なお、点灯電圧判定部１５３は、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）などの半導体記憶素子を備え、閾値および特定の点灯電圧の判定を行うための実行プログラムが予め記憶されている。
【００３９】
点灯電圧出力部１５４は、点灯電圧判定部１５３から特定の点灯電圧に係る情報を受信した場合は、表示部１６０に対して表示を行うための信号を出力するとともに、必要に応じ出力端子（図示せず）を経由するなどにより、ＰＤＰ１の点灯特性の検査結果に係る情報をプリンタなどにより出力することができる。
【００４０】
表示部１６０は、点灯電圧出力部１５４から受信した情報に基づき、ＰＤＰ１の検査結果に関する情報を表示する。
【００４１】
以上に述べた構成により、本装置１００は、可変な点灯電圧を印加して放電を発生させＰＤＰ１を点灯する点灯電圧制御部１３２と、点灯したＰＤＰ１に対して撮像カメラ１１０により複数の表示画像を撮像する撮像制御部１３１と、撮像した複数の表示画像の輝度レベルに係る差異を算出する輝度差算出部１５１と、可変な点灯電圧に対し輝度レベルに係る差異の変化量を算出する輝度差変化量算出部１５２と、ＰＤＰ１に関する特定の点灯電圧を判定する点灯電圧判定部１５３と、判定した電圧値を出力する点灯電圧出力部１５４と、表示部１６０とを備える。
【００４２】
この結果、本装置１００は、点灯電圧制御部１３２によりＰＤＰ１に印加する電圧を切り替えて制御しながら駆動回路４０を介してＰＤＰ１を点灯状態にすることができる。また、点灯したＰＤＰ１の表示画面に表示される画像に対して、撮像カメラ１１０により適時所定の条件で１フィールド期間の画像を撮像することができる。さらに、撮像した画像に係る画像データを記憶部１４０に蓄積するとともに、情報処理部１５０において必要な情報処理を行い、ＰＤＰ１が特定の点灯状態（例えば、完全点灯状態など）となる点灯電圧を判別して判定を行い、表示部１６０に表示し、プリンタなどにも出力することができる。
【００４３】
次に、本装置１００を用いてＰＤＰ１を点灯し、ＰＤＰ１の点灯特性の検査方法および手順について、図２および図３を用いて説明する。図３は、本装置１００の動作手順を示すフローチャートである。
【００４４】
まず、ステップ１（図３ではＳ１と記載する。以下、同様とする）では、点灯電圧の設定およびＰＤＰ１の点灯を行う。検査台５０に設置されたＰＤＰ１に対して、駆動回路４０を介して点灯電圧制御部１３２により、予め定められた検査点としての点灯電圧（以下、評価電圧と略記する）を設定し、印加する。例えば、予め評価電圧を等間隔なステップ状の電圧値Ｖ1〜ＶNとして切り替え可能に設定したうえで、最初に評価電圧Ｖ1を走査電極１２および維持電極１３、並びにアドレス電極２２（図１）に印加し、ＰＤＰ１を点灯させる。このとき、ＰＤＰ１の表示画面は、例えば、全ての放電セルを所定の階調で点灯させる白色表示とする。ＰＤＰ１は、印加される点灯電圧により放電セルの点灯状態が異なり、点灯電圧の条件によっては、点灯する放電セルと点灯しない放電セルとが混在する。図４は、本装置１００の動作時にＰＤＰ１に印加する評価電圧（検査電圧としての点灯電圧）と、点灯電圧の切り替えのタイミングの設定例を示す。図４（ａ）は、評価電圧をＶ1〜Ｖ6とし、評価電圧Ｖ1〜Ｖ6および切り替えのタイミングｔ１〜ｔ７を等間隔に設定した事例を示す。また、図４（ｂ）は、評価電圧Ｖ1〜Ｖ6のうち一部の間隔を小さくすることにより、評価電圧を微調整しながら検査できる設定にした事例を示す。
【００４５】
ステップ２（Ｓ２）では、撮像制御部１３１により、露光時間を１フィールド期間（１／６０ｓ）に設定し、点灯電圧制御部１３２により設定された例えば評価電圧Ｖ1が印加されて点灯したＰＤＰ１の表示画像から複数の画像を撮像カメラ１１０により撮像する。
【００４６】
ステップ３（Ｓ３）では、記憶部１４０において、撮像カメラ１１０から受信した撮像画像に係る画像データを記録した後、記憶部１４０に蓄積された画像データの確認を行う。例えば、予め定められたＮ枚の画像データが既に蓄積されている場合は、ステップ４（Ｓ４）に移行する。一方、画像データの蓄積がＮ枚に達しない場合は、ステップ２（Ｓ２）に戻り、初回の撮像画像から任意のフィールド数を経過した次の１フィールド期間の表示画像の撮像を行い、ステップ３に移行する。この結果、ステップ２およびステップ３をＮ回繰り返すこととなり、記憶部１４０にはＰＤＰ１の評価電圧Ｖ1におけるＰＤＰ１の点灯状態を示すＮ枚の画像データが蓄積される。
【００４７】
ステップ４（Ｓ４）では、輝度差算出部１５１において、記憶部１４０に蓄積されたＮ枚の画像の画像データを読み出して、各画像間の輝度レベルに係る差異を算出する。なお、輝度レベルに係る差異としては、輝度のほか、例えば、ＰＤＰ１の発光強度など撮像カメラ１１０により取得可能な数値を用いてもよい。図５は、ステップ２およびステップ３により、撮像を５回繰り返した場合の撮像カメラ１１０により得られた撮像素子１画素の発光強度を示す。撮像素子１画素の１回目の撮像により得られた画像の発光強度をＮ１とし、２回目以降の発光強度をＮ２、Ｎ３、Ｎ４、Ｎ５とする。輝度差算出部１５１では、評価電圧Ｖ1における５枚の撮像画像の発光強度の差分、｜Ｎ２−Ｎ１｜、｜Ｎ３−Ｎ２｜、｜Ｎ４−Ｎ３｜、｜Ｎ５−Ｎ４｜を算出し、さらに評価電圧Ｖ1における表示画像の輝度レベルに係る差分として、発光強度の差分の最大値ΔＮ＿ＭＡＸを算出する。この計算を撮像カメラ１１０により得られたＰＤＰ１の点灯領域に対応する撮像素子の全画素について行い、発光強度の差分の最大値ΔＮ＿ＭＡＸに関する全ての画素の平均値Ｎ＿ＡＶＥを算出し、ステップ５に移行する。
【００４８】
ステップ５（Ｓ５）では、ステップ４において算出された評価電圧Ｖ1におけるＰＤＰ１の点灯状態を示す数値としてＮ＿ＡＶＥを記憶部１４０に記録した後、記憶部１４０に蓄積された画像データの確認を行う。例えば、予め定められた評価電圧Ｖ1〜ＶNについて既に輝度レベルに係る差異に関する画像データが蓄積されている場合は、ステップ７（Ｓ７）に移行する。一方、画像データの蓄積が不足している場合は、ステップ６（Ｓ６）に移行する。
【００４９】
ステップ６（Ｓ６）では、点灯電圧制御部１３２を動作させて評価電圧をＶ1からＶ2、Ｖ3、・・・に順次切り替えてＰＤＰ１に印加する点灯電圧の変更を行い、予め設定された評価電圧ＶNに到達するまで、ステップ１からステップ５までの動作を繰り返す。なお、評価電圧Ｖ1〜ＶNについては、予備実験におけるＰＤＰ１の検査結果などを検討のうえ、評価電圧の範囲、変更回数、各評価電圧間の電圧の差分、点灯電圧を切り替えて評価電圧の変更を行うタイミングなどを決定する。評価電圧および評価電圧の切り替えのタイミングに関する設定事例については、図４により既に述べた。
【００５０】
ステップ７（Ｓ７）では、ステップ１〜ステップ６により得られた電圧値Ｖ1〜ＶNの各評価電圧におけるＰＤＰ１の放電セルの点灯状態を示す数値Ｎ＿ＡＶＥから、ＰＤＰ１が特定の点灯状態、例えば、完全点灯状態となる特定の点灯電圧（以下、完全点灯電圧と略記する）を判定する。
【００５１】
以下、完全点灯電圧を判定する方法について、図６により説明する。図６は、評価電圧とＰＤＰ１の表示領域における全ての撮像素子の画素平均値（Ｎ＿ＡＶＥ）との関係を示す特性図である。図５に示すように、ＰＤＰ１の発光強度は１フィールド毎に異なる。点灯電圧が不足した状態では、ステップ４で算出される撮像画像の発光強度は、ばらつき（ΔＮ−ＭＡＸ）が大きくなる。したがって、ＰＤＰ１の表示領域における全ての撮像素子の画素平均値Ｎ＿ＡＶＥも大きくなる。一方、点灯電圧を徐々に上昇させて完全点灯電圧に近づくに伴い、ΔＮ−ＭＡＸが小さくなり、完全点灯電圧を超えると、略一定値に収束する。
【００５２】
本装置１００は、この特徴を利用して評価電圧ＶXと次の評価電圧ＶX+1の間でΔＮ−ＭＡＸの変化量が所定値より小さくなる電圧を完全点灯電圧として判定する。なお、完全点灯電圧の判定において、評価電圧ＶXと次の評価電圧ＶX+1との間のΔＮ−ＭＡＸの変化量およびＮ＿ＡＶＥの変化量の絶対値を予め設けた閾値と比較する方法であっても、同様効果を得ることができる。さらに、別の方法として、点灯電圧が完全点灯電圧に到達した後に発生する収束値（図６におけるＮ＿ＡＶＥの略一定値）をＮ＿ＡＶＥ（Ｊ）として予め実験により求める方法を使用することができる。この方法では、Ｎ＿ＡＶＥ（Ｊ）を閾値として使用し、各評価電圧におけるＮ＿ＡＶＥの算出値と比較して、完全点灯電圧を判定する。Ｎ＿ＡＶＥ（Ｊ）の決定は、例えば、点灯電圧に対するＮ＿ＡＶＥの変化量がＮ＿ＡＶＥ（Ｊ）より大きい場合がＹ回以上、Ｎ＿ＡＶＥ（Ｊ）より小さい場合がＺ回以上という条件を付加することなどにより行う。
【００５３】
ステップ８では、ステップ１〜ステップ７で得られた情報を記憶部１４０に記録するとともに、ＰＤＰ１の点灯特性の検査結果に係る必要な情報を表示部１６０に出力し、ＰＤＰ１の点灯特性の検査を終了する。なお、必要に応じ、終了前にプリンタなどに対し出力を行う。
【００５４】
以上の通り、本装置１００におけるＰＤＰ１の点灯に関する特性検査方法は、可変な点灯電圧を印加して放電を発生させＰＤＰ１を点灯するステップと、点灯したＰＤＰ１に対し撮像手段により複数の表示画像を撮像するステップと、撮像した複数の表示画像の輝度レベルに係る差異を算出するステップと、複数の点灯電圧に対する輝度レベルに係る差異の変化量を算出するステップと、ＰＤＰ１に関する特定の点灯電圧を判定するステップとを備える。
【００５５】
このような方法により、本装置１００は、予め定められたＰＤＰ１の点灯電圧（評価電圧）を順次切り替えて設定し、各評価電圧におけるＰＤＰ１の点灯状態を撮像カメラ１１０により複数の表示画像を撮像し、複数の撮像画像に係る画像データを用いてＰＤＰ１の点灯状態の特徴を示す画像データ間の輝度レベルに係る差異を算出することができる。また、評価電圧を切り替えることによりＰＤＰ１の点灯状態を変え、異なる評価電圧間の輝度レベルに係る差異の変化量の推移を算出することができる。さらに、輝度レベルに係る差異の変化量が所定値（例えば、閾値）以下又は０となる点灯電圧を判定することにより、画像欠陥と区別して高精度にＰＤＰ１の特定の点灯状態（例えば、完全点灯状態）となる特定の点灯電圧（例えば、完全点灯電圧）を判定することができる。
【００５６】
なお、本装置１００では、全ての評価電圧における画像間の輝度レベルの差異について測定結果を蓄積した後に、完全点灯電圧を算出しているが、図７に示すように、各評価電圧においてΔＮ−ＭＡＸおよびＮ＿ＡＶＥの変化量を算出し、閾値との比較を繰り返すことにより完全点灯電圧を判定する方法も有効であり、同様の効果を発揮することができる。
【００５７】
また、本装置１００では、評価電圧を上昇させながら、各評価電圧における複数の画像間の輝度差の変化を求めることにより完全点灯電圧を求めているが、評価電圧を下降させながら完全点灯電圧を判定することができる。
【００５８】
また、本装置１００では、ＰＤＰ１における特定の点灯電圧として、ＰＤＰ１の全ての放電セルが点灯する状態となる「完全点灯電圧」を算出しているが、全ての放電セルにおいて誤放電が解消される状態となる「誤放電解消電圧」、およびＰＤＰ１の表示領域において放電セルの放電が始まる状態となる「点灯開始電圧」についても同様の手法で判定することができる。
【００５９】
また、本装置１００では、保持部材３０にＰＤＰ１および駆動回路４０を一体化したＰＤＰユニット２００に対して検査を行っているが、ＰＤＰ１の駆動回路を本装置１００に配設することにより、駆動回路を備えないＰＤＰユニットに対して検査を行うことが可能であることは言うまでもない。
【産業上の利用可能性】
【００６０】
本発明によれば、プラズマディスプレイパネルの点灯特性の検査を効率的かつ高品質に行うことができる。したがって、プラズマディスプレイパネルの点灯特性の検査に適用可能である。
【符号の説明】
【００６１】
１    プラズマディスプレイパネル
１０    前面板
１１    前面基板
１２    走査電極
１３    維持電極
１４    表示電極
１５    誘電体層
１６    保護層
２０    背面板
２１    背面基板
２２    アドレス電極
２３    誘電体層
２４    隔壁
２５    蛍光体層
２６    放電空間
３０    保持部材
４０    駆動回路
５０    検査台
１００    プラズマディスプレイパネル特性検査装置
１１０    撮像カメラ
１１１    レンズ
１２０    回路装置
１３０    撮像部
１３１    撮像制御部
１３２    点灯電圧制御部
１３３    送信部
１４０    記憶部
１５０    情報処理部
１５１    輝度差算出部
１５２    輝度差変化量算出部
１５３    点灯電圧判定部
１５４    点灯電圧出力部
１６０    表示部
２００    プラズマディスプレイパネルユニット
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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