(57)【要約】【課題】起動時間を短縮しながら、チェック対象メモリのチェックを効率的に行う画像処理装置を提供する。【解決手段】画像処理装置１０は、メモリのエラーをチェックする制御部８と、制御部８によりエラーがチェックされるチェック対象メモリ７とを備える。制御部８は、起動した後に、予め設定されたタイミングでチェック対象メモリ７のチェックを行い、チェック対象メモリ７の全領域がチェックされた場合は、次回起動時にチェック対象メモリ７のチェックを行わず、チェック対象メモリ７の全領域がチェックされていない場合は、次回起動時にチェック対象メモリ７の未チェックの領域をチェックする。【選択図】図１
2012064143.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
メモリのエラーをチェックするメモリチェック手段と、
前記メモリチェック手段によりエラーがチェックされるチェック対象メモリとを備える画像処理装置であって、
前記メモリチェック手段は、起動した後に、予め設定されたタイミングで前記チェック対象メモリのチェックを行い、前記チェック対象メモリの全領域がチェックされた場合は、次回起動時に前記チェック対象メモリのチェックを行わず、前記チェック対象メモリの全領域がチェックされていない場合は、次回起動時に前記チェック対象メモリの未チェックの領域をチェックすること
を特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
請求項１に記載の画像処理装置であって、
前記予め設定されたタイミングには、電源をオフにする指示が入力されたときと、省エネモードに移行されたときとが含まれていること
を特徴とする画像処理装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の画像処理装置であって、
前記メモリチェック手段による前記チェック対象メモリのチェック状況を管理する管理情報が記憶されるチェック対象外メモリを備えること
を特徴とする画像処理装置。
【請求項４】
請求項１から請求項３までのいずれか一つに記載の画像処理装置であって、
前記チェック対象メモリは、一定容量毎に区分された複数のブロックにより構成されていること
を特徴とする画像処理装置。
【請求項５】
請求項４に記載の画像処理装置であって、
前記メモリチェック手段は、起動した後に、前記予め設定されたタイミングで前記チェック対象メモリのチェックを行い、前記チェック対象メモリの全てのブロックがチェックされていない場合において、前記チェック対象メモリの未チェックのブロック数が予め設定された個数よりも少ない場合は、次回起動時に前記チェック対象メモリの未チェックのブロックの全てをチェックすること
を特徴とする画像処理装置。
【請求項６】
請求項４に記載の画像処理装置であって、
前記メモリチェック手段は、起動した後に、前記予め設定されたタイミングで前記チェック対象メモリのチェックを行い、前記チェック対象メモリの全てのブロックがチェックされていない場合において、前記チェック対象メモリの未チェックのブロック数が予め設定された個数よりも多い場合は、次回起動時に前記チェック対象メモリの未チェックのブロックの一部をチェックすること
を特徴とする画像処理装置。
【請求項７】
請求項１から請求項６までのいずれか一つに記載の画像処理装置と、
前記画像処理装置により処理されたデータに基づいて画像を形成する画像形成部とを備えること
を特徴とする画像形成装置。
【請求項８】
メモリのエラーをチェックするメモリチェック手段と、前記メモリチェック手段によりエラーがチェックされるチェック対象メモリとを備える画像処理装置において実行されるメモリチェック方法であって、
前記画像処理装置が起動した後に、前記メモリチェック手段により、予め設定されたタイミングで前記チェック対象メモリのチェックを行うステップと、
前記画像処理装置の次回起動時に、前記メモリチェック手段により、前記チェック対象メモリの全領域がチェックされていた場合は、前記チェック対象メモリのチェックを行わず、前記チェック対象メモリの全領域がチェックされていなかった場合は、前記チェック対象メモリの未チェックの領域をチェックするステップとを備えること
を特徴とするメモリチェック方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、メモリを備えた画像処理装置、画像処理装置を備えた画像形成装置、およびメモリチェック方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、データを一時的に記憶する揮発性メモリを備えた画像形成装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
特許文献１には、揮発性メモリのエラーチェック機能を備えた画像形成装置が開示されている。この画像形成装置では、揮発性メモリが２つの領域に区分されており、起動時（電源投入時）に、揮発性メモリの半分の領域がチェックされる。これにより、この画像形成装置では、起動時に揮発性メモリの全領域をチェックする場合に比べて、起動時間を短縮することが可能である。
【０００４】
なお、特許文献１の画像形成装置では、揮発性メモリのチェックされる領域が起動毎に切り替えられる。つまり、この画像形成装置では、起動が２回行われることにより、揮発性メモリの全領域がチェックされる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００７−１３６８６３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１に開示された従来の画像形成装置では、たとえば、揮発性メモリのチェック中に主電源が切れることにより、揮発性メモリのチェックが中断された場合には、次回起動時に揮発性メモリの半分の領域が改めてチェックされると考えられる。すなわち、揮発性メモリのチェックが中断された場合には、中断前にチェックされた領域も次回起動時に再びチェックされるという問題点があると考えられる。
【０００７】
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであり、起動時間を短縮しながら、チェック対象メモリのチェックを効率的に行う画像処理装置、画像処理装置を備えた画像形成装置、およびメモリチェック方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明に係る画像処理装置は、メモリのエラーをチェックするメモリチェック手段と、前記メモリチェック手段によりエラーがチェックされるチェック対象メモリとを備える画像処理装置であって、前記メモリチェック手段は、起動した後に、予め設定されたタイミングで前記チェック対象メモリのチェックを行い、前記チェック対象メモリの全領域がチェックされた場合は、次回起動時に前記チェック対象メモリのチェックを行わず、前記チェック対象メモリの全領域がチェックされていない場合は、次回起動時に前記チェック対象メモリの未チェックの領域をチェックすることを特徴とする。
【０００９】
この構成によって、起動した後に、予め設定されたタイミングでチェック対象メモリのチェックを行った際に、チェック対象メモリの全領域がチェックされた場合は、次回起動時にチェック対象メモリのチェックを行わないことにより、起動時にチェック対象メモリをチェックする場合に比べて、画像処理装置の起動時間を短縮することができる。また、起動した後に、予め設定されたタイミングでチェック対象メモリのチェックを行った際に、たとえば、主電源が切れることによりメモリチェックが中断されることによって、チェック対象メモリの全領域がチェックされていない場合は、次回起動時にチェック対象メモリの未チェックの領域をチェックすることにより、起動時にチェック対象メモリの全領域を改めてチェックする場合に比べて、画像処理装置の起動時間を短縮することができる。また、起動後におけるメモリチェックが中断されず、チェック対象メモリの全領域がチェックされた場合は、次回起動時にチェック対象メモリのチェックを行わず、起動後におけるメモリチェックが中断され、チェック対象メモリの全領域がチェックされていない場合は、次回起動時にチェック対象メモリの未チェックの領域をチェックすることにより、起動した後から次回起動時までにおいて、チェック対象メモリに未チェックの領域が発生するのを抑制しながら、中断前にチェックされた領域が重複してチェックされるのを抑制することができるので、チェック対象メモリのチェックを効率的に行うことができる。
【００１０】
本発明に係る画像処理装置では、前記予め設定されたタイミングには、電源をオフにする指示が入力されたときと、省エネモードに移行されたときとが含まれていることを特徴とする。
【００１１】
この構成により、画像処理装置が起動した後において、電源をオフにする指示が入力されたとき、省エネモードに移行されたときに、チェック対象メモリをチェックすることができる。
【００１２】
本発明に係る画像処理装置では、前記メモリチェック手段による前記チェック対象メモリのチェック状況を管理する管理情報が記憶されるチェック対象外メモリを備えることを特徴とする。
【００１３】
この構成により、管理情報に基づいて、チェック対象メモリに未チェックの領域があるか否かを容易に判断することができる。
【００１４】
本発明に係る画像処理装置では、前記チェック対象メモリは、一定容量毎に区分された複数のブロックにより構成されていることを特徴とする。
【００１５】
この構成により、メモリチェック手段がチェック対象メモリのチェックをブロック単位で行うことができる。
【００１６】
本発明に係る画像処理装置では、前記メモリチェック手段は、起動した後に、前記予め設定されたタイミングで前記チェック対象メモリのチェックを行い、前記チェック対象メモリの全てのブロックがチェックされていない場合において、前記チェック対象メモリの未チェックのブロック数が予め設定された個数よりも少ない場合は、次回起動時に前記チェック対象メモリの未チェックのブロックの全てをチェックすることを特徴とする。
【００１７】
この構成により、未チェックのブロック数が少ない場合には、起動した後から次回起動時までにおいて、チェック対象メモリの全てのブロックをチェックすることができる。
【００１８】
本発明に係る画像処理装置では、前記メモリチェック手段は、起動した後に、前記予め設定されたタイミングで前記チェック対象メモリのチェックを行い、前記チェック対象メモリの全てのブロックがチェックされていない場合において、前記チェック対象メモリの未チェックのブロック数が予め設定された個数よりも多い場合は、次回起動時に前記チェック対象メモリの未チェックのブロックの一部をチェックすることを特徴とする。
【００１９】
この構成により、未チェックのブロック数が多い場合には、チェック対象メモリのチェックを効率的に行いながら、起動時間が長くなるのを抑制することができる。
【００２０】
本発明に係る画像形成装置は、上記のいずれか一つに記載の画像処理装置と、前記画像処理装置により処理されたデータに基づいて画像を形成する画像形成部とを備えることを特徴とする。
【００２１】
この構成によって、起動時間を短縮しながら、チェック対象メモリのチェックを効率的に行うことが可能な画像形成装置を得ることができる。
【００２２】
本発明に係るメモリチェック方法は、メモリのエラーをチェックするメモリチェック手段と、前記メモリチェック手段によりエラーがチェックされるチェック対象メモリとを備える画像処理装置において実行されるメモリチェック方法であって、前記画像処理装置が起動した後に、前記メモリチェック手段により、予め設定されたタイミングで前記チェック対象メモリのチェックを行うステップと、前記画像処理装置の次回起動時に、前記メモリチェック手段により、前記チェック対象メモリの全領域がチェックされていた場合は、前記チェック対象メモリのチェックを行わず、前記チェック対象メモリの全領域がチェックされていなかった場合は、前記チェック対象メモリの未チェックの領域をチェックするステップとを備えることを特徴とする。
【００２３】
この構成によって、起動時間を短縮しながら、チェック対象メモリのチェックを効率的に行うことができる。
【発明の効果】
【００２４】
本発明に係る画像処理装置、画像処理装置を備えた画像形成装置、およびメモリチェック方法によれば、起動時間を短縮しながら、チェック対象メモリのチェックを効率的に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】本発明の実施の形態に係る画像形成装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示した画像形成装置のチェック対象メモリを示す概略図である。
【図３】図１に示した画像形成装置のチェック対象外メモリの管理情報を示す概略図である。
【図４】図１に示した画像形成装置の起動後における省エネモードへの移行時、終了処理時のメモリチェック動作を説明するためのフローチャートである。
【図５】図１に示した画像形成装置の起動処理時のメモリチェック動作を説明するためのフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２６】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
【００２７】
図１〜図３を参照して、実施の形態に係る画像形成装置１００の構成について説明する。
【００２８】
画像形成装置１００は、たとえば、スキャナ機能、ファクシミリ機能、およびプリンタ機能を有する複合機である。具体的には、画像形成装置１００は、画像読取部１と、通信部２と、画像形成部３と、操作部４と、表示部５と、チェック対象外メモリ６と、チェック対象メモリ７と、制御部８とを備えており、これらがバス９を介して接続されている。
【００２９】
画像読取部１は、たとえば、スキャナであり、原稿などから画像を読み取る。通信部２は、ファクシミリデータを送受信するために設けられている。画像形成部３は、画像読取部１により読み取られた画像データや、通信部２により受信したファクシミリデータに基づいて、画像を形成する。
【００３０】
操作部４は、利用者が各種の操作指令を入力するために設けられている。操作部４は、主電源のオン／オフ状態を切り替えるための主電源スイッチや、主電源がオン状態のときに、副電源のオン／オフ状態を切り替えるための副電源スイッチなどを含む。なお、副電源がオン状態にされると、画像形成部３のヒータへの通電などを含む画像形成装置１００の起動処理が行われる。表示部５は、たとえば、液晶ディスプレイであり、画像形成装置１００の動作状態などを表示する。
【００３１】
チェック対象外メモリ６は、エラー（メモリセルの物理的な損傷）のチェックの対象とされないメモリであって、たとえば、不揮発性のフラッシュメモリである。チェック対象外メモリ６は、画像形成装置１００を動作させるためのプログラムや、プログラムが実行される際に用いられる設定値などを記憶する。また、チェック対象外メモリ６は、チェック対象メモリ７のチェック状況を管理する管理情報６１を記憶する。なお、管理情報６１が不揮発性のフラッシュメモリであるチェック対象外メモリ６に記憶されることにより、主電源が切れたり、副電源がオフにされた場合にも、チェック対象外メモリ６が次回起動時まで管理情報６１を記憶することができる。
【００３２】
チェック対象メモリ７は、エラー（メモリセルの物理的な損傷）のチェックの対象とされるメモリであって、たとえば、揮発性のＤＲＡＭである。チェック対象メモリ７は、実行されるプログラムや、画像データおよびファクシミリデータなどを一時的に記憶する。チェック対象メモリ７（図２参照）は、一定容量（Ｎバイト）毎に区分された複数（図２では、ブロック１からブロックＺまでのＺ個）のブロック７ａにより構成されている。
【００３３】
制御部８は、ＣＰＵなどを含み、画像形成装置１００の動作を制御する。具体的には、制御部８は、操作部４の副電源スイッチがオンされた場合に、画像形成装置１００の起動処理を開始し、操作部４の副電源スイッチがオフされた場合に、画像形成装置１００の終了処理を開始する。なお、起動処理とは、画像形成装置１００を動作可能な状態にするための一連の処理であり、終了処理とは、画像形成装置１００を動作可能な状態から終了する際の一連の処理である。
【００３４】
また、制御部８は、画像形成装置１００が起動した後、通常モードでジョブが実行されることなく所定の期間が経過した場合に、画像形成装置１００を通常モードから省エネモードに移行させる。なお、省エネモードとは、通常モードでは動作する一部の機能が停止されることにより、通常モードよりも消費電力が低い動作状態のことをいう。そして、制御部８は、省エネモード時に操作部４が利用者により操作された場合に、画像形成装置１００を省エネモードから通常モードに復帰させる。
【００３５】
また、制御部８は、通信部２や操作部４が受け付けた各種のジョブを実行する。なお、ジョブには、画像読取部１により画像を読み取る読取ジョブ、通信部２によりファクシミリデータを送信する送信ジョブ、通信部２によりファクシミリデータを受信する受信ジョブ、および、画像形成部３により画像を形成する印刷ジョブなどが含まれている。
【００３６】
ここで、制御部８は、起動した後に、予め設定されたタイミングでチェック対象メモリ７のエラーをチェックするメモリチェック手段としても機能する。このエラーのチェック（以下、単に「チェック」という）は、ハードエラーのチェックであり、メモリセルが物理的に損傷しているか否かを検査する。具体的には、このエラーのチェックは、メモリセルに所定の値を書き込んだ後、メモリセルに記憶された値を読み出し、書き込まれた値と読み出された値とが一致するか否かを判断することにより行われる。制御部８は、チェック対象メモリ７が複数のブロック７ａにより構成されているので、チェック対象メモリ７のチェックをブロック単位で行うことができる。そして、制御部８は、チェック対象メモリ７のブロック７ａをチェックした場合に管理情報６１を更新する。なお、制御部８は、メモリチェック中に、チェック対象メモリ７のエラーを検出した場合には、利用者にエラーの発生を警告するメッセージを表示部５に表示して、メモリチェックを中断するようにしてもよいし、エラーを検出したメモリセルを利用不可能な状態にして、メモリチェックを継続するようにしてもよい。
【００３７】
なお、管理情報６１（図３参照）は、たとえば、チェック対象メモリ７の各ブロック７ａと対応する複数（Ｚ個）のチェックフラグ６１ａにより構成されている。各チェックフラグ６１ａは、対応するブロック７ａのチェック状況（チェック済み、または、未チェック）を示す。したがって、制御部８は、管理情報６１に基づいて、チェック対象メモリ７に未チェックの領域があるか否かを容易に判断することができる。
【００３８】
制御部８は、画像形成装置１００が起動した後において、予め設定されたタイミングでチェック対象メモリ７のチェックを行った際に、チェック中に中断理由が発生することなく、チェック対象メモリ７の全てのブロック７ａがチェックされた場合には、次回起動時にチェック対象メモリ７のチェックを行わない。なお、予め設定されたタイミングには、副電源（電源）をオフにする指示が入力されたときと、省エネモードに移行されたときとが含まれている。すなわち、本実施の形態では、予め設定されたタイミングとして、副電源をオフにした場合、省エネモードに移行した場合を規定している。したがって、画像形成装置１００では、画像形成装置１００が起動した後において、副電源をオフにする指示が入力されたとき、省エネモードに移行されたときに、チェック対象メモリ７がチェックされる。また、チェック中の中断理由とは、たとえば、画像形成装置１００の主電源が切れる（オフ状態になる）ことである。
【００３９】
なお、次回起動時とは、たとえば、ｍ回目の起動に対するｍ＋１回目の起動時のことである。すなわち、制御部８は、ｍ回目の起動がされた後において、予め設定されたタイミングでメモリチェックを行い、チェック対象メモリ７の全てのブロック７ａがチェックされていた場合には、ｍ＋１回目の起動時に、チェック対象メモリ７のチェックを行わない。そして、制御部８は、ｍ＋１回目の起動がされた後において、予め設定されたタイミングでメモリチェックを行い、チェック対象メモリ７の全てのブロック７ａがチェックされていた場合には、ｍ＋２回目の起動時に、チェック対象メモリ７のチェックを行わない。
【００４０】
また、制御部８は、画像形成装置１００が起動した後において、予め設定されたタイミングでチェック対象メモリ７のチェックを行った際に、チェック中に中断理由が発生することにより、チェック対象メモリ７の全てのブロック７ａがチェックされていない場合には、次回起動時にチェック対象メモリ７の未チェックのブロック７ａをチェックする。
【００４１】
具体的には、制御部８は、起動した後に、予め設定されたタイミングでチェック対象メモリ７のチェックを行い、チェック対象メモリ７の全てのブロック７ａがチェックされていない場合において、チェック対象メモリ７の未チェックのブロック数が予め設定された個数よりも少ない場合は、次回起動時にチェック対象メモリ７の未チェックのブロック７ａの全てをチェックする。これにより、未チェックのブロック数が少ない場合には、起動した後から次回起動時までにおいて、チェック対象メモリ７の全てのブロック７ａをチェックすることができる。
【００４２】
また、制御部８は、起動した後に、予め設定されたタイミングでチェック対象メモリ７のチェックを行い、チェック対象メモリ７の全てのブロック７ａがチェックされていない場合において、チェック対象メモリ７の未チェックのブロック数が予め設定された個数よりも多い場合は、次回起動時にチェック対象メモリ７の未チェックのブロック７ａの一部をチェックする。これにより、未チェックのブロック数が多い場合には、チェック対象メモリ７のチェックを効率的に行いながら、起動時間が長くなるのを抑制することができる。
【００４３】
つまり、画像形成装置１００では、起動した後において、予め設定されたタイミングでチェック対象メモリ７のチェックを行うことにより、原則的には、次回起動時におけるメモリチェックが省略される。そして、起動した後において、予め設定されたタイミングでチェック対象メモリ７のチェックを行った際に、チェック中に中断理由が発生することにより、チェック対象メモリ７の全てのブロック７ａがチェックされていない場合には、例外的に、次回起動時にチェック対象メモリ７の未チェックのブロック７ａをチェックする。
【００４４】
なお、画像処理装置１０は、チェック対象外メモリ６と、チェック対象メモリ７と、制御部８とを含む。画像処理装置１０は、画像読取部１により読み取られた画像データや、通信部２により受信したファクシミリデータに対して、所定の処理を施す。画像形成部３は、画像処理装置１０により所定の処理が施されたデータに基づいて画像を形成する。
【００４５】
次に、図４を参照して、実施の形態に係る画像形成装置１００の起動後における省エネモードへの移行時、終了処理時のメモリチェック動作について説明する。なお、省エネモードへの移行は、通常モードでジョブが実行されることなく所定の期間が経過した場合に開始され、終了処理は、操作部４（図１参照）の副電源スイッチがオフされた場合に開始される。また、このメモリチェック動作が開始される前（たとえば、画像形成装置１００の起動処理後）に、チェック対象外メモリ６（図３参照）に記憶された管理情報６１の全てのチェックフラグ６１ａが未チェックにリセットされる。
【００４６】
ステップＳ１：
制御部８（図１参照）により、チェック対象メモリ７（図２参照）の未チェックのブロック７ａが１個チェックされる。その後、ステップＳ２に移る。なお、後述するステップＳ４から戻ってきた場合には、チェックされる対象のブロック７ａが順に変更される。たとえば、ステップＳ１においてチェック対象メモリ７の「ブロック１」（図２参照）がチェックされた後、ステップＳ４から戻ってきた場合には、ステップＳ１においてチェック対象メモリ７の「ブロック２」がチェックされる。
【００４７】
ステップＳ２：
制御部８により、チェック対象外メモリ６に記憶された管理情報６１が更新される。たとえば、ステップＳ１においてチェック対象メモリ７の「ブロック１」がチェックされた場合には、管理情報６１の対応する「チェックフラグ１」（図３参照）が未チェックからチェック済みに変更される。その後、ステップＳ３に移る。
【００４８】
ステップＳ３：
制御部８により、メモリチェックの中断理由が発生したか否かが判断される。この中断理由とは、たとえば、操作部４の主電源スイッチが利用者により誤ってオフされたり、画像形成装置１００に供給される電力が遮断されることにより、画像形成装置１００の主電源が切れることである。そして、メモリチェックの中断理由が発生したと判断される場合（ステップＳ３：Ｙｅｓ）には、チェック対象メモリ７の全てのブロック７ａがチェックされていない場合（未チェックのブロック７ａが残っている場合）であっても、起動後におけるメモリチェック動作が終了する。その一方、メモリチェックの中断理由が発生していないと判断される場合（ステップＳ３：Ｎｏ）には、ステップＳ４に移る。
【００４９】
ステップＳ４：
制御部８により、チェック対象外メモリ６に記憶される管理情報６１に基づいて、チェック対象メモリ７の全てのブロック７ａがチェックされたか否かが判断される。具体的には、管理情報６１の全てのチェックフラグ６１ａがチェック済みになったか否かが判断される。そして、チェック対象メモリ７の全てのブロック７ａがチェックされたと判断される場合（ステップＳ４：Ｙｅｓ）には、起動後におけるメモリチェック動作が終了する。その一方、チェック対象メモリ７の全てのブロック７ａがチェックされていないと判断される場合（ステップＳ４：Ｎｏ）には、ステップＳ１に戻る。すなわち、メモリチェックの中断理由が発生しない場合には、全てのブロック７ａがチェックされるまで、チェック対象メモリ７の未チェックのブロック７ａが順に１個ずつチェックされる。
【００５０】
上記したように、画像形成装置１００の起動後における省エネモードへの移行時、終了処理時のメモリチェック動作では、メモリチェックの中断理由が発生しない場合には、全てのブロック７ａがチェックされるまで、チェック対象メモリ７の未チェックのブロック７ａが順に１個ずつチェックされ、メモリチェックの中断理由が発生した場合には、未チェックのブロック７ａが残っている場合であってもメモリチェックが中断され、起動後におけるメモリチェック動作が終了する。
【００５１】
次に、図５を参照して、実施の形態に係る画像形成装置１００の起動処理時のメモリチェック動作について説明する。なお、起動処理は、主電源がオン状態のときに、操作部４（図１参照）の副電源スイッチがオンされた場合に開始される。
【００５２】
ステップＳ１１：
制御部８（図１参照）により、チェック対象外メモリ６（図３参照）に記憶された管理情報６１に基づいて、前回の起動後におけるメモリチェックが中断されていたか否かが判断される。具体的には、管理情報６１の全てのチェックフラグ６１ａがチェック済みになっているか否かが判断される。そして、前回の起動後におけるメモリチェックが中断されていたと判断される場合（ステップＳ１１：Ｙｅｓ）には、ステップＳ１２に移る。その一方、前回の起動後におけるメモリチェックが中断されていなかったと判断される場合（ステップＳ１１：Ｎｏ）には、起動時におけるメモリチェック動作が終了する。すなわち、前回の起動後にチェック対象メモリ７（図２参照）の全てのブロック７ａについてチェックが行われていた場合には、起動時におけるメモリチェックが省略される。
【００５３】
ステップＳ１２：
制御部８により、管理情報６１に基づいて、チェック対象メモリ７の未チェックのブロック数が予め設定された個数よりも少ないか否かが判断される。そして、未チェックのブロック数が予め設定された個数よりも少ないと判断される場合（ステップＳ１２：Ｙｅｓ）には、ステップＳ１３に移る。その一方、未チェックのブロック数が予め設定された個数よりも少なくないと判断される場合（ステップＳ１２：Ｎｏ）、すなわち、未チェックのブロック数が予め設定された個数よりも多いと判断される場合には、ステップＳ１４に移る。なお、予め設定された個数は、起動時においてメモリチェックに要する時間として許容される時間内にチェック可能なブロック７ａの個数であり、チェック対象メモリ７や制御部８の性能などに基づいて予め設定されている。
【００５４】
ステップＳ１３：
制御部８により、チェック対象メモリ７の未チェックのブロック７ａが全てチェックされる。たとえば、チェック対象メモリ７の「ブロック１」から「ブロック５０」までがチェック済みであり、「ブロック５０」の次の「ブロック５１」から最後の「ブロックＺ」までが未チェックである場合には、「ブロック５１」から「ブロックＺ」までが順にチェックされる。なお、未チェックのブロック７ａがチェックされると、チェックされたブロック７ａと対応するチェックフラグ６１ａが未チェックからチェック済みに変更される。この場合、前回の起動後におけるメモリチェック動作と、起動時におけるメモリチェック動作とにより、チェック対象メモリ７の全てのブロック７ａがチェックされる。そして、起動時におけるメモリチェック動作が終了する。
【００５５】
ステップＳ１４：
制御部８により、チェック対象メモリ７の未チェックのブロック７ａの一部がチェックされる。たとえば、チェック対象メモリ７の「ブロック１」から「ブロック４」までがチェック済みであり、「ブロック４」の次の「ブロック５」から「ブロックＺ」までが未チェックである場合には、「ブロック５」、「ブロック８」、「ブロック１１」というように、３個のブロック７ａ毎に１個のブロック７ａが順にチェックされる。なお、未チェックのブロック７ａがチェックされると、チェックされたブロック７ａと対応するチェックフラグ６１ａが未チェックからチェック済みに変更される。そして、起動時におけるメモリチェック動作が終了する。
【００５６】
上記したように、画像形成装置１００の起動処理時のメモリチェック動作では、前回の起動後におけるメモリチェックが中断されていなかった場合には、メモリチェックが省略され、前回の起動後におけるメモリチェックが中断されていた場合には、未チェックのブロック７ａがチェックされる。
【００５７】
上記のように、画像処理装置１０（画像形成装置１００）は、メモリのエラーをチェックする制御部（メモリチェック手段）８と、制御部８によりエラーがチェックされるチェック対象メモリ７とを備え、制御部８は、起動した後に、予め設定されたタイミングでチェック対象メモリ７のチェックを行い、チェック対象メモリ７の全領域がチェックされた場合は、次回起動時にチェック対象メモリ７のチェックを行わず、チェック対象メモリ７の全領域がチェックされていない場合は、次回起動時にチェック対象メモリ７の未チェックの領域をチェックする。
【００５８】
このように構成することによって、起動した後に、予め設定されたタイミングでチェック対象メモリ７のチェックを行った際に、チェック対象メモリ７の全領域がチェックされた場合は、次回起動時にチェック対象メモリ７のチェックを行わないことにより、起動時にチェック対象メモリ７をチェックする場合に比べて、画像処理装置１０の起動時間を短縮することができる。また、起動した後に、予め設定されたタイミングでチェック対象メモリ７のチェックを行った際に、たとえば、主電源が切れることによりメモリチェックが中断されることによって、チェック対象メモリ７の全領域がチェックされていない場合は、次回起動時にチェック対象メモリ７の未チェックの領域をチェックすることにより、起動時にチェック対象メモリ７の全領域を改めてチェックする場合に比べて、画像処理装置１０の起動時間を短縮することができる。また、起動後におけるメモリチェックが中断されず、チェック対象メモリ７の全領域がチェックされた場合は、次回起動時にチェック対象メモリ７のチェックを行わず、起動後におけるメモリチェックが中断され、チェック対象メモリ７の全領域がチェックされていない場合は、次回起動時にチェック対象メモリ７の未チェックの領域をチェックすることにより、起動した後から次回起動時までにおいて、チェック対象メモリ７に未チェックの領域が発生するのを抑制しながら、中断前にチェックされた領域が重複してチェックされるのを抑制することができるので、チェック対象メモリ７のチェックを効率的に行うことができる。その結果、起動時間を短縮しながら、チェック対象メモリ７のチェックを効率的に行うことができる。
【００５９】
また、メモリチェック方法は、メモリのエラーをチェックする制御部（メモリチェック手段）８と、制御部８によりエラーがチェックされるチェック対象メモリ７とを備える画像処理装置１０において実行されるメモリチェック方法であって、画像処理装置１０が起動した後に、制御部８により、予め設定されたタイミングでチェック対象メモリ７のチェックを行うステップと、画像処理装置１０の次回起動時に、制御部８により、チェック対象メモリ７の全領域がチェックされていた場合は、チェック対象メモリ７のチェックを行わず、チェック対象メモリ７の全領域がチェックされていなかった場合は、チェック対象メモリ７の未チェックの領域をチェックするステップとを備える。
【００６０】
このように構成することによって、起動時間を短縮しながら、チェック対象メモリ７のチェックを効率的に行うことができる。
【００６１】
本実施の形態において、起動後における省エネモードへの移行時に、チェック対象メモリ７の全てのブロック７ａがチェックされた場合には、その後の省エネモードへの移行時、および終了処理時にメモリチェック動作が行われないようにしてもよい。
【００６２】
また、本実施の形態では、メモリチェック動作の中断理由として、画像形成装置１００の主電源が切れることを示したが、これに限らず、省エネモードへの移行時のメモリチェック動作の中断理由として、たとえば、省エネモードから通常モードへの復帰が含まれていてもよい。この場合には、メモリチェック動作が中断され、通常モードに復帰した後において、省エネモードへの移行時、終了処理時に、再度メモリチェック動作が行われる場合に、前回のメモリチェック動作で中断された位置（ブロック７ａ）からメモリチェック動作を再開するようにしてもよい。
【００６３】
また、省エネモードへの移行時のメモリチェック動作の中断理由として、たとえば、通信部２によりファクシミリデータを受信する受信ジョブが含まれていてもよい。この場合には、メモリチェック動作が中断され、受信ジョブが実行された後、メモリチェック動作を再開するようにしてもよいし、メモリチェック動作を再開することなく、省エネモードで待機するようにしてもよい。
【００６４】
また、本実施の形態では、チェック対象メモリ７の未チェックのブロック数が予め設定された個数よりも少ない場合は、次回起動時にチェック対象メモリ７の未チェックのブロック７ａの全てをチェックし、チェック対象メモリ７の未チェックのブロック数が予め設定された個数よりも多い場合は、次回起動時にチェック対象メモリ７の未チェックのブロック７ａの一部をチェックする例を示したが、これに限らず、未チェックのブロック数にかかわらず、次回起動時にチェック対象メモリ７の未チェックのブロック７ａの全てをチェックするようにしてもよいし、次回起動時にチェック対象メモリ７の未チェックのブロック７ａの一部をチェックするようにしてもよい。
【００６５】
また、本実施の形態では、管理情報６１がチェックフラグ６１ａにより構成される例を示したが、これに限らず、管理情報６１がチェック済みの領域と未チェックの領域との境界部分のブロック７ａの位置（番号）を示す情報であってもよい。
【００６６】
また、本実施の形態では、チェック対象メモリ７の未チェックのブロック７ａの一部がチェックされる際に、３個のブロック７ａ毎に１個のブロック７ａが順にチェックされる例を示したが、これに限らず、チェック対象メモリ７の未チェックのブロック７ａの一部がチェックされる際に、一定の範囲のまとまったブロック７ａがチェックされるようにしてもよい。
【符号の説明】
【００６７】
３      画像形成部
６      チェック対象外メモリ
７      チェック対象メモリ
７ａ    ブロック
８      制御部（メモリチェック手段）
１０    画像処理装置
６１    管理情報
１００  画像形成装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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