【事件の表示】
　特願２００８−５５０４７５「スマート放射線検出器モジュール」拒絶査定不服審判事件〔平成１９年　７月１９日国際公開、ＷＯ２００７／０８２１２８、平成２１年　６月２５日国内公表、特表２００９−５２３４９８〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯  
　本願は、平成１９年１月４日（優先権主張２００６年１月１６日、米国）を国際出願日とする出願であって、平成２４年７月２４日及び平成２５年３月４日に手続補正がなされたが、同年５月３１日付けで、上記平成２５年３月４日付けの手続補正についての補正の却下の決定がなされ、同日付けで拒絶査定がなされた。
　これに対し、同年１０月４日に拒絶査定に対する審判請求がなされ、同時に手続補正がなされた。
　
第２　平成２５年１０月４日付けの手続補正の補正の却下の決定 
［補正の却下の決定の結論］ 
　　平成２５年１０月４日付けの手続補正を却下する。 
　
［理由］
１．補正後の発明 
　平成２５年１０月４日付けの手続補正（以下「本件補正」という。）により、本願の特許請求の範囲の請求項１は、以下のとおりのものに補正された。
　
　「Ｘ線源と、
　Ｘ線感受性のある複数の検出器モジュールと、
　前記検出器モジュールによって検出されたＸ線放射線を示すボリューム空間データを生成する再構成器と、
を有するコンピュータトモグラフィ装置であって、前記検出器モジュールが、
　検出されたＸ線放射線に応じて電気信号を生成するＸ線感受性のある検出器アレイであって、複数の検出器ピクセルを有する検出器アレイと、
　前記検出器モジュールの第１の測定された性能特性を示す第１のパラメータ、及び前記検出器モジュールの第２の測定された性能特性を示す第２のパラメータ、を含むメモリであって、前記第１のパラメータは、個別の検出器ピクセルごとの測定された性能特性を示し、前記第２のパラメータは、検出器モジュールごとの測定された性能特性を示す、メモリと、
　前記メモリと機能的に通信し、検出器ピクセルレベルで補正された検出器信号を生成するために前記第１のパラメータの関数として前記電気信号を補正する回路と、
　前記メモリと機能的に通信し、前記再構成器に前記第２のパラメータを通信するように適応される通信インタフェースと、
を有し、前記再構成器が、前記検出器モジュールを識別する識別子、前記補正された検出器信号及び前記第２のパラメータを入力し、前記補正された検出器信号を前記第２のパラメータの関数として検出モジュールレベルで更に補正するように構成される、コンピュータトモグラフィ装置。」（以下「補正発明」という。）
　
２．特定事項
　補正発明は、「検出器モジュールが検出器ピクセルレベルで補正された検出器信号を生成するために前記第１のパラメータの関数として前記電気信号を補正する回路を有し、再構成器が検出器モジュールごとの測定された性能特性を示す第２のパラメータの関数として検出モジュールレベルで更に補正するように構成される、コンピュータトモグラフィ装置。」（以下「特定事項１」という。）及び「再構成器が、前記検出器モジュールを識別する識別子、及び前記第２のパラメータを入力し、検出器信号を検出モジュールレベルで補正する」（以下「特定事項２」という。）という事項を含む。
　請求人は、補正発明に係る補正は明細書の段落【００２５】、【００３２】、【００３３】、【００４１】〜【００４４】等の記載に基づくものであって、上記各特定事項は本願明細書に開示されている事項である（審判請求書参照）と主張している。
　
３．本願明細書等の記載
　本願の願書に最初に添付した特許請求の範囲、明細書又は図面（以下「当初明細書等」という。）には、以下の事項が記載されている（当審注：下線は当審で付与）。
　
（１）「【００２５】
　メモリ２０２は、検出器性能パラメータ２０４及び検出器補正アルゴリズム２０６を含む。付加の又は異なる性能特性に関する情報が、記憶されることもできるが、
例示的な検出器性能パラメータ２０４は、検出器アフターグロー、クロストーク、リニアリティ、ピクセルの動作／非動作ステータス、ゲイン、オフセット及びシリコンホールトラッピングデータの１又は複数を含む
特定の検出器の特定の性能特性及び特性に依存して、関連するパラメータが、各々の検出器ピクセルごとに、個別に記憶される
（２）「【００３２】
　検出器性能は、ステップ３０４において特徴付けられる。上述したように、
特徴付けは、さまざまな異なる組み立てレベルで実施されることができる
例えば、構成素子レベルでパラメータの特定のものを特徴付けることが望ましく、モジュールレベルで他のものを特徴付け、検出器２０又はスキャナ１０レベルで更に他のものを特徴付けることが望ましい
　【００３３】
　
１つの例示の特徴付けは、検出器ピクセル間のクロストークのテストであり、かかるテストは、検出器モジュールレベルで一層容易に実施される。別のものは、非動作のピクセルのテストであり、この場合、非動作のピクセルが、識別される
このようなテストは、同様に検出器モジュールレベルで一層容易に実施される
（３）「【００３８】
　上述したように、
補正のいくつか又は全部が、それらが再構成器２６に提示される前にリアルタイムに又はほぼリアルタイムに、検出器信号に対して実施される場合、再構成器２６における要求は、低減されることができる
（４）「【００４１】
　ゲイン補正は、メモリ２０２からのデータを使用して、ステップ４０８において実施される。同様に、
クロストーク補正が、ステップ４１０において実施される。一実現例において、相対的に高いクロストークを有する検出器ピクセル又はモジュールによって生成される信号は、クロストーク効果を低減するために補正される
非動作のピクセル補正は、ステップ４１２において適用される。欠陥ありと識別されたピクセルについては、１又は複数の隣り合う検出器ピクセルからの時間的に対応する信号が、非動作のピクセルの信号を近似する信号を生成するために、リアルタイムに又はほぼリアルタイムに補間される
　【００４２】
　いずれの場合も、補正は、スキャン中リアルタイムに又はほぼリアルタイムに適用され、それにより補正された信号が、再構成器２６に供給される。
　【００４３】
　
更に他の補正が、アップストリームで実施されることができる。例えば、一般にスキャナ空気較正に基づくグローバルな又はシステムのゲイン補正は、ステップ４１４において再構成器２６によって適用される
　【００４４】
　
検出器モジュールレベルにおいて、必要な補正の全てを実施する必要もない
こうして、例えば検出器リニアリティ及びアフターグローに関するパラメータのような検出器性能パラメータ２０２の一部又は全ては、スキャナ較正プロセスの一部として、通信インタフェース２１０を介してスキャナ１０にアップロードされることができ、補正は、再構成器２６又はその他のアップストリームの構成によって実施される
代替例として、モジュール識別子が、アップロードされることができ、対応するパラメータは、データベースから得られる
　
４．判断
（１）当初明細書等の記載事項
　上記各記載を含む当初明細書等の記載を総合的に勘案すれば、当初明細書等には、以下の事項が記載されているものと認められる。
　
（ａ）補正の対象となる性能特性を示す検出器性能パラメータの例としては、検出器アフターグロー、クロストーク、リニアリティ、ピクセルの動作／非動作ステータス、ゲイン、オフセット及びシリコンホールトラッピングデータ等があるが、これらのパラメータは各々の検出器ピクセルごとに個別に記憶される（上記摘記事項（１）参照）から、特定事項１の「第１のパラメータ」に相当する。
（ｂ）パラメータを特定することである検出器性能の特徴付けは、ピクセルごとの素子レベル、モジュールレベル、スキャナレベル等の様々なレベルで行われ、複数のパラメータの特定をそれぞれのレベルに振り分けることが望ましい（同（２）段落【００３２】参照）。
　クロストークに関するパラメータの特定及び非動作のピクセルの識別は検出器モジュールレベルで実施される（同（２）段落【００３３】参照）。したがって、検出器性能パラメータの例であるクロストーク及びピクセルの動作／非動作ステータスは、特定事項１の「第１のパラメータ」であるとともに、「第２のパラメータ」でもある。
（ｃ）補正のいくつか又は全部が、それらが再構成器に提示される前にリアルタイムに又はほぼリアルタイムに、検出器信号に対して実施されうる（同（３）及び（４）参照）。
　したがって、上記（ｂ）に照らせば、「第１のパラメータ」も「第２のパラメータ」も、ともに再構成器より前の段階で補正されうる。
（ｄ）検出器リニアリティ及びアフターグローに関するパラメータはスキャナにアップロードされ、補正は、再構成器又はその他のアップストリームの構成によって実施される（同（４）段落【００４４】参照）。
　すなわち、これらのパラメータに関する補正は、スキャナレベルで行われる。
（ｅ）モジュール識別子をアップロードし、対応するパラメータをデータベースから得ることもできる（同（４）段落【００４４】参照）。
　
（２）特定事項と当初明細書等の記載事項の対応関係
（ａ）特定事項１
　上記特定事項１によれば、補正発明は「多数の検出器性能パラメータを、検出器ピクセルレベルで補正するための第１のパラメータと、検出器モジュールごとに補正するための第２のパラメータに振り別けるとともに、第１のパラメータに関する補正は電気信号を補正する回路で行い、更に、第２のパラメータに関する補正は再構成器が行う」という事項を含むことになる。
　しかしながら、上記（１）（ｂ）〜（ｄ）から明らかなとおり、本願明細書等には、複数のパラメータの特定を様々なレベルに振り分けることは記載されているものの、それらのパラメータを、検出器ピクセルレベルで補正するパラメータと、検出器モジュールごとに補正するパラメータに区別することは記載されていない。上記（１）（ｂ）〜（ｄ）の記載は、むしろ、どのパラメータも様々なレベルで補正可能であることを示唆している。
　また、特定事項１が、本願の優先日時点で当業者にとって自明な事項であるともいえない。
　してみると、特定事項１が当初明細書等に記載されているということはできない。
 
（ｂ）特定事項２
　当初明細書等には、「パラメータの一部又は全ては、通信インタフェースを介してスキャナにアップロードできること」、「補正は、再構成器又はその他のアップストリームの構成によって実施される」こと、「モジュール識別子がアップロードされること」及び「対応するパラメータはデータベースから得られる」ことは記載されている（上記摘記事項（４）段落【００４４】参照）。
　しかしながら、「モジュール識別子がどこにアップロードされるのか」、「再構成器がどのように補正を行うのか」及び「対応するパラメータがどのようなパラメータなのか」についての記載はない。
　また、特定事項２が、本願の優先日時点で当業者にとって自明な事項であるともいえない。
　してみると、特定事項２が当初明細書等に記載されているということはできない。
　
（ｃ）結論
　したがって本件補正は、当初明細書等のすべての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入しないものでない。
 　 
（ｄ）小括
　以上のとおりであるから、本件補正は、特許法第１７条の２第３項の規定に違反するので、同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　よって、上記［補正の却下の決定の結論］のとおり、決定する。
　
第３　本願発明について 
１．本願発明
　平成２５年１０月４日付けの手続補正は上記のとおり却下され、平成２５年３月４日付けの手続補正は、上記のとおり、同年５月３１日付けで補正の却下の決定がなされているので、本願の特許請求の範囲の請求項１に係る発明は、平成２４年７月２４日付けの手続補正で補正された特許請求の範囲の請求項１に記載された事項により特定される、以下のとおりのものである。
「Ｘ線源と、
　Ｘ線感受性のある複数の検出器モジュールと、
　前記検出器モジュールによって検出されたＸ線放射線を示すボリューム空間データを生成する再構成器と、
を有するコンピュータトモグラフィ装置であって、前記検出器モジュールが、
　検出されたＸ線放射線に応じて電気信号を生成するＸ線感受性のある検出器アレイと、
　前記検出器モジュールの第１の測定された性能特性を示す第１のパラメータ、及び前記検出器モジュールの第２の測定された性能特性を示す第２のパラメータ、を含むメモリと、
　前記メモリと機能的に通信し、補正された検出器信号を生成するために前記第１のパラメータの関数として前記電気信号を補正する回路と、
　前記メモリと機能的に通信し、前記検出器モジュールの外部の装置に前記第２のパラメータを通信するように適応される通信インタフェースであって、前記外部の装置は、前記補正された検出器信号を、前記第２のパラメータの関数として補正するように構成される、通信インタフェースと、
を有するコンピュータトモグラフィ装置。」（以下「本願発明」という。）
　
２．引用刊行物及び該刊行物に記載の発明
（１）引用文献１
　原査定の拒絶の理由に引用され、本願の優先日前に頒布された刊行物である、特開２００５−１７２８２３号公報（以下「引用文献１」という。）には、以下の事項が記載されている。 
（ａ）「【技術分野】
　【０００１】
　本発明は、計数式放射線検出器の各検出器要素が作動中に単位時間当たりに入射する放射線量子数に依存した計数率を持つ計数パルスを供給する、改善された線形性を有する計数式放射線検出器、特に計数式Ｘ線検出器の作動方法に関する。更に、本発明は、その方法に基づいて作動可能な計数式放射線検出器並びに計数式放射線検出器を備えたＸ線装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
　このような方法は、とりわけ、例えばＸ線コンピュータ断層撮影（ＣＴ）に今後使用されるような計数式Ｘ線検出器に適している。しかしながら、もちろん単位時間当たりに入射する放射線量子数が高い場合における検出器の不感時間の影響に基づく不十分な線形性の問題が存在する他の計数式放射線検出器にも使用される。」
（ｂ）「【発明が解決しようとする課題】
　【０００９】
　本発明の課題は、改善された線形性でもって計数式放射線検出器、特に計数式Ｘ線検出器の作動を可能にする方法、計数式放射線検出器およびＸ線装置を提供することにある。」
（ｃ）「【００１３】
　本発明による方法では、計数式検出器において不感時間に基づいて生じる非線形性が規定できることが利用されている。測定された計数率と実際の計数率との間の関係は既知であるか、または修正係数を測定により決定してテーブル（表）を作成することができる。検出器から供給された計数率の本発明方法による修正によって、放射線検出器の高められた線形性が達成され、これは特にコンピュータ断層撮影分野における線形性への要求を満たし、従ってこの分野において計数式Ｘ線検出器を使用した場合に画質が改善される。
【００１４】
　計数率修正が比較測定により決定される場合、修正係数により、場合によっては付加的に他の影響係数に起因する線形性のずれも修正される。
【００１５】
　計数率修正は、本発明による方法においては、例えば単位時間当たりに入射するＸ線量子の実際の個数すなわち実際の計数率と、検出器要素から供給された計数率との間の関数関係から計算することができる。この場合に検出器の挙動において２つのケースが区別される。
・・・
【００１８】
　この関係が既知でない場合、修正係数を一度だけ基準検出器による事前測定により求めることができる。この場合に、種々の放射線強度で到来する放射線がその都度、基準検出器と後の測定に使用される計数式放射線検出器とにより測定される。種々の放射線強度は、計数式放射線検出器がまだ線形動作する範囲において少なくとも１つの測定が行なわれ、そして以下においてパイルアップ効果と呼ぶ不感時間に基づく線形性からのずれが生じる強度において多数の他の測定が行なわれるように選ばれると好ましい。基準検出器はもちろんそれぞれの範囲において十分に線形に動作しなければならない。基準検出器および計数式放射線検出器のその都度測定された値の比較から、種々の強度、すなわち計数式放射線検出器の種々の計数率に対する修正値を計算することができる。
【００１９】
　種々の計数率において生じる修正係数はテーブルに記入され、テーブルにおいては、その都度計数式放射線検出器から供給された計数率に修正係数が割り付けられている。本発明による方法を実施する際、現在供給された計数率の値がテーブルにおいて探され、割り付けられている修正係数に掛け算される。初期値として、相応に修正された計数率が継続処理のために用意される。」
（ｄ）「【００２２】
　図１は、（例えばＣＺＴまたはＣｄＺｎＴｅに基づく）計数式Ｘ線検出器と本発明による方法を含む修正ユニット１０とを備えたＸ線ＣＴ装置の一部を示す。この図には回転部分３および静止部分２を有するＣＴ装置１のガントリが示されている。回転部分３の内部にはＸ線管ユニット６およびこれに対向する検出器ユニット４が認められる。Ｘ線管ユニット６は、Ｘ線管、コリメータ、焦点制御装置および陽極回転装置を含む。検出器ユニット４は、個々の検出器モジュール５を備えた計数式Ｘ線検出器を含み、この例ではＦＰＧＡを含む測定および評価ユニット１０に接続されている。更に、ガントリの回転部分３には、場合によっては線量調節も含む回転部分のための主制御装置７と、高周波発生器を有する電源９と、Ｘ線管ユニット６のための電源が配置されている。図１に矢印で示されているように、個々の制御信号および制御データが主制御装置７からそれぞれの部分ユニットに伝送され、あるいは主制御装置７によって受信される。回転部分３における主制御装置７はガントリの静止部分２における主制御装置８に接続されている。両主制御装置間の信号およびデータ伝送は、例えば、ガントリの回転部分３および静止部分２に固定されているスリップリング対を介して行なわれる。静止側の主制御装置８は、更に画像再構成システム１２に接続されている。画像再構成システム１２においてモニタ１３における表示のために画像再構成が行なわれる。
【００２３】
　Ｘ線ＣＴ装置１の作動中、検出器ユニット４が検出器モジュール５の個々の検出器要素１４から絶え間なく計数率を供給される。この計数率は本発明による方法により修正される。修正ユニット１１における修正は多数の検出器要素１４を含む検出器モジュール５のＡＳＩＣにおいて直接かまたは測定および評価ユニット１０において行なわれる。更に、修正されていない計数率をまず画像再構成ユニット１２に伝送し、そこに修正ユニット１１を設けることももちろん可能である。最後に述べた可能性は修正ユニット１１の破線表示にて図示されている。」
（ｅ）「【図１】
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
　
　これらの記載事項を含む引用文献１全体の記載及び当業者の技術常識を総合すれば、引用文献１には、以下の発明が記載されている。
　
　「回転部分（３）の内部にはＸ線管ユニット（６）およびこれに対向する検出器ユニット（４）設けられ、
　検出器ユニットは、個々の検出器モジュール（５）を備えた計数式Ｘ線検出器を含み、
　個々の制御信号および制御データが主制御装置（７）からそれぞれの部分ユニットに伝送され、あるいは主制御装置７によって受信され、
　回転部分における主制御装置はガントリの静止部分（２）における主制御装置（８）に接続されており、
　静止部分における主制御装置は、更に画像再構成システム（１２）に接続されており、画像再構成システムにおいてモニタ（１３）における表示のために画像再構成が行なわれ、
　計数率修正が比較測定により決定され、修正係数はテーブルに記入され、
　装置の作動中、検出器ユニットが検出器モジュールの個々の検出器要素（１４）から絶え間なく計数率を供給され、この計数率は修正ユニット（１１）により修正され、
　修正ユニットにおける修正は多数の検出器要素を含む検出器モジュールのＡＳＩＣにおいて直接行なわれる、
Ｘ線ＣＴ装置（１）。」（以下「引用発明」という。）
　
３．対比
　本願発明と引用発明を対比する。
（１）引用発明の「Ｘ線管ユニット」、「検出器モジュール」及び「Ｘ線ＣＴ装置」は、それぞれ本願発明の「Ｘ線源」、「Ｘ線感受性のある検出器モジュール」及び「コンピュータトモグラフィ装置」に相当する。
　引用発明は「個々の検出器モジュールを備えた計数式Ｘ線検出器を含」むことから、引用発明が複数の検出器モジュールを有することは明らかである。
（２）当業者の技術常識に照らせば、引用発明の「画像再構成システム」は本願発明の「検出器モジュールによって検出されたＸ線放射線を示すボリューム空間データを生成する再構成器」に相当する。
（３）同じく当業者の技術常識に照らせば、引用発明の「検出器要素」と本願発明の「検出器アレイ」は、ともに「検出されたＸ線放射線に応じて電気信号を生成するＸ線感受性のある検出器」である点で共通する。
（４）引用発明の「比較測定により決定され」た修正された「計数率」は、本願発明の「検出器モジュールの第１の測定された性能特性を示す第１のパラメータ」に相当する。
　引用発明の「テーブル」が本願発明の「メモリ」に相当する構成に含まれていることは自明である。
（５）引用発明の「修正ユニット」が本願発明の「電気信号を補正する回路」に相当する構成を有すること、及び該修正ユニットがテーブルに記入された修正係数を用いて補正することは明らかであるから、引用発明は、本願発明の「メモリと機能的に通信し、補正された検出器信号を生成するために第１のパラメータの関数として電気信号を補正する回路」に相当する構成を有する。
　
　以上のことから、両者は、
　「Ｘ線源と、
　Ｘ線感受性のある複数の検出器モジュールと、
　前記検出器モジュールによって検出されたＸ線放射線を示すボリューム空間データを生成する再構成器と、
を有するコンピュータトモグラフィ装置であって、前記検出器モジュールが、
　検出されたＸ線放射線に応じて電気信号を生成するＸ線感受性のある検出器と、
　前記検出器モジュールの第１の測定された性能特性を示す第１のパラメータを含むメモリと、
　前記メモリと機能的に通信し、補正された検出器信号を生成するために前記第１のパラメータの関数として前記電気信号を補正する回路と、
を有するコンピュータトモグラフィ装置。」
の点で一致し、次の各点で相違している。
　
（相違点１）
　Ｘ線感受性のある検出器が、本願発明では「アレイ」状であるのに対して、引用発明では、その構造が不明な点。
（相違点２）
　本願発明が「メモリが検出器モジュールの第２の測定された性能特性を示す第２のパラメータ」を含み「メモリと機能的に通信し、検出器モジュールの外部の装置に第２のパラメータを通信するように適応される通信インタフェースであって、外部の装置は、補正された検出器信号を、第２のパラメータの関数として補正するように構成される、通信インタフェース」を有するのに対して、引用発明はそのような構成を有しない点。
　
４．判断 
　上記各相違点について検討する。
　
（１）相違点１について
　コンピュータトモグラフィ装置において、検出器モジュールの複数の検出器をアレイ状に構成することは、周知技術である。
　そして、引用発明の「多数の検出器要素を含む検出器モジュール」の多数の検出器要素を、当該周知技術を用いてアレイ状に構成することに、格別の技術的困難性も特段の阻害要因もない。
　してみると、引用発明に上記相違点１に係る構成を採用することは、当業者が容易になしうる事項である。
　
（２）相違点２について
　本願発明における「補正された検出器信号を、第２のパラメータの関数として補正する」という事項の指し示す技術的意味は必ずしも明確ではないものの、本願明細書の段落【００３２】〜【００３３】（上記摘記事項（２）参照）等の記載を参酌すれば、上記事項は「第１のパラメータに関して補正された検出器信号を、まだ補正されていない第２のパラメータに関して補正する」という事項を含むものと認められる。
　すなわち、上記相違点２に係る構成は「外部の装置は、インタフェースを介して、検出器信号をまだ補正されていない第２のパラメータに関して補正する」という事項を含む。
　ところで、コンピュータトモグラフィ装置において、ピクセルの動作／非動作ステータス、ゲイン、オフセット等の複数の特性に関して補正することは、周知技術（原査定の拒絶の理由に引用された特開２００３−２４４５４０号公報参照）である。
　そして、そのような補正をモジュール内の補正回路で行うことも、外部の装置で行うことも当業者が任意に選択可能な事項であり（上記摘記事項（ｄ）段落【００２３】）、補正を外部の装置で行う場合、インターフェースを設ける必要があることは自明の事項である（摘記事項（ｅ）【図１】参照）。
　さらに、例えば装置の温度依存性のように装置全体として補正すべき特性と、各検出器のリニアリティのように検出器ごとに補正すべき特性があることは、当業者の技術常識であり、種々の特性をどのレベルで補正するかは、その特性の種類や補正の精度、費用対効果等の種々の要因を総合的に勘案して、当業者が適宜決定しうる事項である。
　してみると、引用発明に上記相違点２に係る構成を採用することは、当業者が容易になしうる事項である。
　
（３）本願発明の効果
　　また、本願発明全体の効果も、引用発明及び周知技術から当業者が予測し得る範囲のものであって格別なものではない。
　
（４）小括
　したがって、本願発明は、引用発明及び周知技術に基いて当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
第４　むすび 
　以上のとおり、本願発明は、引用発明及び周知技術に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないから、他の請求項に係る発明について検討するまでもなく、本願は、拒絶されるべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。