【事件の表示】
　平成４年特許願第２６９６９１号「赤外顕微測定装置」において、平成１３年１２月７日付けでした手続補正に対してされた補正の却下の決定に対する審判事件について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願は、平成４年９月１１日の出願であって、平成１３年１２月７日付けで手続補正がなされたところ、この手続補正は、原審において平成１４年６月２８日付けで決定（以下、「原決定」という。）をもって却下された。
　
２．補正の内容
　前記手続補正は、特許請求の範囲の記載
「【請求項１】赤外域の光源から射出された赤外光を集光光学系により一点に集光して試料に照射し、この照射赤外光と前記試料との相互作用を経た光を顕微対物光学系により結像してこの結像光を光電検出することにより前記試料の局所的なスペクトルを測定する赤外顕微測定装置において、赤外域において透明かつ高屈折率で、下側に前記試料の一面と密接可能な平面を有する半球形状のプリズムを備えると共に、前記集光光学系の集光点に集光される光束には少なくとも前記半球形状プリズムの屈折率と前記試料の屈折率とで決まる全反射の臨界角以上の入射角をもって入射される光を含むことを特徴とする赤外顕微測定装置。
　【請求項２】前記半球形状のプリズムは、材質がゲルマニウムでなる請求項１記載の赤外顕微測定装置。
　【請求項３】前記集光光学系と前記顕微対物光学系とは、共焦点光学系を形成する請求項１または２記載の赤外顕微測定装置。
　【請求項４】前記試料のみをＸＹの２次元に微小距離移動可能な走査ステージをさらに備えた請求項１ないし３のいずれかに記載の赤外顕微測定装置。
　【請求項５】下面に前記試料を密着させた前記半球形状プリズムをＸＹの２次元に微小距離移動可能な走査ステージをさらに備えた請求項１ないし３のいずれかに記載の赤外顕微測定装置。
　【請求項６】前記集光光学系は、前記光源からの光を反射する半透鏡を備えて、この反射光を前記顕微対物光学系を通して前記試料に照射する光学系である請求項１ないし５のいずれかに記載の反射型の赤外顕微測定装置。」を
「【請求項１】赤外域の光源から射出された赤外光を集光光学系により一点に集光して試料に照射し、この照射赤外光と前記試料との相互作用を経た光を顕微対物光学系により結像してこの結像光を光電検出することにより前記試料の局所的なスペクトルを測定する赤外顕微測定装置において、赤外域において透明かつ２.２以上の高屈折率で、下側に前記試料の一面と密接可能な平面を有する半球形状のプリズムを備えて前記集光光学系による集光点を小径化すると共に、この小径化された集光点に集光される光束には少なくとも前記半球形状プリズムの屈折率と前記試料の屈折率とで決まる全反射の臨界角以上の入射角をもって入射される光を含むことを特徴とする赤外顕微測定装置。」と補正するものである。
　
３．原決定の理由
　原決定の却下の理由は、次のとおりのものである。
「　平成１３年１２月７日付け手続補正書でした明細書又は図面についての補正は、次の理由によって却下する。
　　　　　　　　　　　　　　　　理　由
  補正後の特許請求の範囲には、プリズムの屈折率を２．２以上とすることが記載されているが、これは願書に最初に添付した明細書及び図面の何れにも記載されておらず、かつ、同明細書又は図面の記載からみて自明のこととも認められない。
　したがって、この補正は、明細書の要旨を変更するものと認められ、特許法第５３条第１項の規定により上記結論の通り決定する。」
　
４．当審の判断
　請求人は請求の理由において、屈折率の２．２という数値について、
『２．２以上の』とする補正は、単に『高屈折率』とするときの不明瞭性を解消するべく、ＡＴＲ吸収が実現される要件である試料の屈折率を勘案して、『２．２』という具体的な数値で規定したものである（全反射が生じるためには、プリズムの屈折率は試料の屈折率より大きくなくてはならない。）と、述べるとともに、本願明細書には、目に映ずる形での『２．２』なる文言の記載はないが、本願明細書及び図面の記載からすれば、この『２．２』なる数値は記載されているに等しいと考えるのが妥当である、旨主張している。
　さらに、(1）段落【００１２】には「試料(1）は通常、その屈折率ｎｘが１．２〜２．０程度である」と記載してあり、当業者の技術常識によれば、プリズムと試料の界面において全反射を生じさせるには、プリズムの屈折率は、試料の屈折率が未知のため、試料の屈折率ｎｘ（１．２〜２．０）の上限値より大でなければならない。(2）段落【００２２】には、「上記半球形状プリズムは、・・・屈折率は高ければ高いほど好ましいことは言うまでもない。・・・ＣｄＴｅ（屈折率：２．７）・・・でもよい。」と記載してあるし、段落【０００６】では、「半球形状プリズムは、高い屈折率（ｎｈ）をもつものであるので、集光スポットの径は、理論上、このプリズムを用いない場合の径に比べて１／ｎｈとなる。」と記載してあって、高い屈折率として記載したｎｈは任意に選択可能な変数として記載してある。(3）従って、上記(1）の要件より、当業者の技術常識によれば、ｎｈ≧２．２とすることに何らの矛盾も生じない、旨主張している。
　
　そこで、特許請求の範囲に記載された半球形状プリズムの屈折率が「２．２以上の高屈折率」であるとする技術的事項が願書に最初に添付した明細書及び図面（以下、「当初明細書等」という。）に開示されているか否かについて検討する。
　
　特許請求の範囲に記載された半球形状プリズムの屈折率を「２．２以上の高屈折率」とすることに関連する技術的事項として、当初明細書等には以下のとおり記載されている。
(ア）「赤外域において透明かつ高屈折率で、下側に前記試料の一面と密接可能な平面を有する半球形状のプリズムを備えると共に、前記集光光学系の集光点に集光される光束には少なくとも前記半球形状プリズムの屈折率と前記試料の屈折率とで決まる全反射の臨界角以上の入射角をもって入射される光を含むこと」（段落【０００５】）、
(イ）「半球形状プリズムは、高い屈折率(ｎｈ)をもつものであるので、集光スポットの径は、理論上、このプリズムを用いない場合の径に比べて１／ｎｈとなる。…（中略）…。入射赤外光には、このプリズムと試料の界面において全反射するものが含まれる。半球形状プリズムは、試料の屈折率(ｎｘ)より高い屈折率(ｎｈ)をもつため、両屈折率によって決められる臨界角θc以上の入射角をもつ入射光が存在すると、この入射光に対しては、その集光スポットにおいて、試料側に屈折して進行することはなく、プリズム下面においてこれら入射光を全反射させる。」（段落【０００６】）、
(ウ）「半球プリズム(３)は、材質がゲルマニウムからなるので、赤外域の波長λ＝２〜１４μmにおいて屈折率が４.０の高い値をもつ。…（中略）…。半球プリズム(３)は高い屈折率(ｎｈ＝４.０)をもち、試料(１)は通常、その屈折率ｎｘ が１.２〜２.０程度であるので、これら２つの屈折率で決まる全反射の臨界角θc( sinθc＝ｎｘ／ｎｈ)以上の入射角θをもつ入射光は、半球プリズム(３)と試料(１)との界面ですべて全反射し、等しい反射角をもってこの半球プリズム(３)を透過してゆく。」（段落【００１２】）、
(エ）「凹面反射鏡(13)により点Ｃに集光された集光スポットの径は、高屈折率の半球プリズム(３)により小径化された集光スポット」（段落【００１６】）、
(オ）「上記の各実施例においては、高屈折率のプリズムとして形状が半球のものを用いた例を示したが、図５に回転対称断面で示すように、光の入射側に球面部(31)を有し、試料と密接する(ないし密着する)側には部分的に平面部(32)を有する図示の如きプリズムを用いてもよい。」（段落【００２１】）、
(カ）「上記半球形状プリズムは、赤外域で透明であることは勿論であるが、屈折率は高ければ高いほど好ましいことは言うまでもない。材質としては、Ｇｅすなわちゲルマニウムとするのが最良であるが、ＣｄＴｅ（屈折率：２．７）、ＩｎＰ（屈折率：３．０）、ＧａＡｓ（屈折率：３．３）、ＰｂＳ（屈折率：４．０）、ＰｂＴｅ（屈折率：５．０）、ＰｂＳｅ（屈折率：４．５）などを用いたものでもよい。なお、赤外域(１〜１０μm)のある領域で若干の吸収を呈する物質でもその利用を妨げるものではない。」（段落【００２２】）、
(キ）「試料に密接させる高屈折率の半球形状プリズムにより集光スポット径を少なくとも波長より小さくでき、空間分解能を著しく向上できるとともに、検出されるべき出力光には上記プリズムの高屈折率性に基づいて全反射によるエバネッセント場を経た反射光が多く含まれることとなるので、」（段落【００３１】）
が記載されている。
　
　前記摘記事項からは、半球形状プリズムの屈折率を試料の屈折率（１．２〜２．０程度）よりも高くすること、半球形状プリズムの屈折率は高ければ高いほど好ましいこと、及び半球形状プリズムに用いられる材質の実施例から屈折率が２．７〜５．０であることが把握されるが、前記摘記事項及びその他の発明の詳細な説明の記載を参酌しても半球形状プリズムの屈折率を「２．２以上」とすることは明示的には記載されていない。
　これとは別に、摘記事項(ア）及び(イ）からは、半球形状プリズムの屈折率（ｎｈ）は、試料の屈折率(ｎx)より高いばあいに、両屈折率によって決められる臨界角θc以上の入射角をもつ入射光が存在すると、この入射光に対しては、プリズム下面においてこれら入射光を全反射させ、そのとき、全反射される入射光の臨界角θｃは両屈折率の関係によって決められるものであることが把握される。
　このことから、理論的には半球形状プリズムの屈折率が試料の屈折率よりも僅かでも高い場合に前記プリズム下面において入射光の全反射が起こることが可能となるが、その場合には臨界角以上の入射角を有する入射光がなければならない。そして、入射光の入射角の範囲はカセグレン光学系によって制限されるものと理解されるから、カセグレン光学系によって決定される入射角の範囲で全反射を起こさせるためには、半球形状プリズムの屈折率と試料の屈折率との関係に制限が設けられることとなる。
　以上のとおり、半球形状プリズムの下面で全反射を起こさせるためには、半球形状プリズムの屈折率と試料の屈折率との関係、及び半球形状プリズムとカセグレン光学系との相対位置関係を適切に設定することが必要とされるものと理解される。
　よって、半球形状プリズムの屈折率は単に試料の屈折率との関係においてのみ決められるものではないから、半球形状プリズムの屈折率は、任意に選択可能な変数として把握できるものとは認められず、カセグレン光学系及びその他の構成要素との関係を考慮して決められるものとして把握される。
　それゆえ、半球形状プリズムの屈折率が２．２≦屈折率＜２．７の場合に明細書記載の本願発明の効果を奏するか否かは不明であり、本願発明として成立する根拠も示されていない。
　したがって、特許請求の範囲に記載された半球形状プリズムの屈折率を「２．２以上の高屈折率」とする技術的事項は、当初明細書等に記載されていたものと認めることはできず、また、当初明細書等の記載から自明のものとも認められない。
　
５．むすび
　以上のとおりであるから、前記手続補正を特許法５３条第１項の規定によって却下すべきものとした原審における決定は妥当なものである。
　よって、結論のとおり審決する。