(57)【要約】【課題】設計情報、近傍電磁界分布情報からノイズ源を推定する際に、近傍電磁界分布情報においてその絶対値が小さいノイズ源の検出漏れが発生するという課題を解決することを目的とする。【解決手段】設計情報入力部１０２と推定部１５６との間に設計情報に基づいて電子機器の電磁波解析を行う解析部１５１を設け、この解析部１５１で解析した結果と電磁波情報入力部１０３からの電磁波情報を電流算出部１５２においてそれぞれの電流分布を算出し、電流差分算出部１５３において両者の差を算出し、推定部１５６においてその差分の大きい部分もノイズ源として推定するように構成したノイズ源推定装置を用いる。【選択図】図１
2012220425.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも回路基板を内蔵した電子機器の設計情報を入力する設計情報入力部と、前記電子機器から放射または伝導される電磁波の測定情報を入力する電磁波情報入力部と、前記設計情報と電磁波情報とに基づいて前記電子機器のどの部分がノイズ源であるかを推定する推定部とを備えたノイズ源推定装置において、前記設計情報入力部と推定部との間に設計情報に基づいて電子機器の電磁波解析を行う解析部を設け、この解析部で解析した結果と電磁波情報入力部からの電磁波情報を電流算出部においてそれぞれの電流分布を算出し、この電流算出部で算出したそれぞれの電流の差分を電流差分算出部において算出し、推定部においてその差分の大きい部分もノイズ源として推定するように構成したことを特徴とするノイズ源推定装置。
【請求項２】
少なくとも回路基板を内蔵した電子機器の設計情報を入力する設計情報入力処理と、前記電子機器からの放射または伝導される電磁波の測定情報を入力する電磁波情報入力処理と、前記設計情報と電磁波情報とに基づいて前記電子機器のどの部分がノイズ源であるかを推定する推定処理とを行うノイズ源推定方法において、前記設計情報に基づいて電磁波解析を行う電磁波解析処理を行い、この電磁波解析処理により得た値と電磁波情報入力処理から入力される電磁波情報を用いてそれぞれの電流分布を算出し、その両者の差分を算出し、その差分の大きい部分もノイズ源として推定することを特徴とするノイズ源推定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回路基板を内蔵した電子機器のノイズ源を推定するノイズ源推定装置およびノイズ源推定方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、回路基板のノイズ源を推定するノイズ源推定装置には、設計情報入力部と電磁波情報入力部と推定部とを備えたことを特徴とする構成のものがあった。
【０００３】
ここで、設計情報入力部に回路基板の設計情報を入力する。また、電磁波情報入力部に回路基板の測定情報として電磁波情報を入力する。さらに、推定部は前記設計情報と前記電磁波情報とに基づいて、前記回路基板のどの部分がノイズ源であるかを推定するものである（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−３０２４３３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、従来のノイズ源推定装置およびノイズ源推定方法においては、設計情報、近傍電磁界分布情報からノイズ源を推定する際に、近傍電磁界分布情報においてその絶対値が小さいノイズ源の検出漏れが発生するという課題を有していた。
【０００６】
ここで、絶対値が小さいノイズには、電磁妨害（ＥＭＩ：Ｅｌｅｃｔｒｏ  Ｍａｇｎｅｔｉｃ  Ｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ）に大きな影響を及ぼすものもある。また、この電磁妨害は他の機器に影響を与えるため、各国で規制されており、この規制を満たさない製品は出荷することができない。例えば、日本においてはＶＣＣＩ（Ｖｏｌｕｎｔａｒｙ  Ｃｏｎｔｒｏｌ  Ｃｏｕｎｃｉｌ  ｆｏｒ  Ｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ  ｂｙ  Ｄａｔａ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｅｑｕｉｐｍｅｎｔ  ａｎｄ  Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ  Ｏｆｆｉｃｅ  Ｍａｃｈｉｎｅｓ）によって規制されている。したがって、絶対値が小さいノイズ源の検出漏れにより、ＥＭＩ対策およびノイズ対策の工数が増大し、商品出荷遅れなどの企業活動にとって致命的な問題につながる場合もある。
【０００７】
本発明は、上記従来の課題を解決するものであり、前記ノイズ源の検出漏れがないノイズ源推定装置およびノイズ源推定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために本発明に関するノイズ源推定装置は、少なくとも回路基板を内蔵した電子機器の設計情報を入力する設計情報入力部と、電子機器から放射または伝導される電磁波の測定情報を入力する電磁波情報入力部と、設計情報と測定情報とに基づいて電子機器のどの部分がノイズ源であるかを推定する推定部とを備えたノイズ源推定装置において、設計情報入力部と推定部との間に設計情報に基づいて電子機器の電磁波解析を行う解析部を設け、この解析部で解析した結果と電磁波情報入力部からの電磁波情報を電流算出部においてそれぞれの電流分布を算出し、この電流算出部で算出したそれぞれの電流の差分を電流差分算出部において算出し、推定部においてその差分の大きい部分もノイズ源として推定するように構成している。
【発明の効果】
【０００９】
本発明のノイズ源推定装置によれば、設計情報と実測情報からそれぞれの電流分布を計算し、その差分が大きい部分もノイズ源として推定するという構成にしたことにより、絶対値が小さいために実測情報だけでは抽出できなかったノイズ源を抽出し、検出漏れを削減するという効果を得ることができる。ここで、絶対値が小さいノイズには、電磁妨害に大きな影響を及ぼすものもある。この電磁妨害は他の機器に影響を与えるため、各国で規制されており、この規制を満たさない製品は出荷することができない。したがって、前記ノイズ源を検出することはＥＭＩ対策を実施すべき箇所の検出漏れを削減することになる。すなわち、電子機器のＥＭＩ対策およびノイズ対策を効率的に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明を適用したノイズ源推定装置の概略ブロック図
【図２】本発明の実施の形態におけるノイズ源推定装置を含む系の全体の構成図
【図３】本発明の実施の形態におけるノイズ源推定装置のフローチャート
【図４】本発明の実施の形態における近傍電磁界テーブルの内部構成例の説明図
【図５】本発明の実施の形態におけるノイズ源推定装置を用いて実測した近傍電磁界分布の強度を示す説明図
【図６】本発明の実施の形態におけるノイズ源をＺ軸方向から見た説明図
【図７】本発明の実施の形態における設計情報から解析した近傍電磁界分布の強度を示す説明図
【図８】本発明の実施の形態における簡易試験用基板の概要図
【図９】本発明の実施の形態における簡易試験用基板の実測による近傍磁界分布の強度を示す説明図
【図１０】本発明の実施の形態における簡易試験用基板の設計情報の解析による近傍磁界分布の強度を示す説明図
【図１１】本発明の実施の形態における実測による近傍電磁界分布の強度と設計情報の解析による近傍電磁界分布の強度から被測定物１上のそれぞれの電流を算出し、その差分を示す説明図
【図１２】本発明の実施の形態における基板構成テーブルの内部構成例の説明図
【図１３】本発明の実施の形態における層間テーブルの内部構成例の説明図
【図１４】本発明の実施の形態における部品テーブルの内部構成例の説明図
【図１５】本発明の実施の形態における端子テーブルの内部構成例の説明図
【図１６】本発明の実施の形態における配置テーブルの内部構成例の説明図
【図１７】本発明の実施の形態におけるネットテーブルの内部構成例の説明図
【図１８】本発明の実施の形態における配線テーブルの内部構成例の説明図
【発明を実施するための形態】
【００１１】
（実施の形態）
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
【００１２】
図１は本発明を適用したノイズ源推定装置のブロック図である。この構成としては、設計情報入力部１０２、電磁波情報入力部１０３に入力される情報がそれぞれ記憶部１９０に入力される。コマンド入力部１０１に入力される情報はコマンド解析部１０４を介して分離部１０５に出力され、分離部１０５、取得部１０６、解析部１５１、電流算出部１５２、電流差分算出部１５３、周波数誤差算出部１５４、検索部１５５はそれぞれ順に直列に情報を出力、入力し、これらは記憶部１９０ともそれぞれ情報を入出力する。取得部１０６、解析部１５１、電流差分算出部１５３、検索部１５５から出力される情報は推定部１５６にそれぞれ入力され、推定部１５６から出力される情報は出力部１９１に入力される。記憶部１９０から出力される情報は出力部１９１にも入力される。
【００１３】
また、図２はノイズ源推定装置４を含む系の全体を示している。この構成としては、被測定物１の近傍電磁界を近傍電磁界測定装置２およびノイズ測定装置３を用いて測定し、ノイズ測定装置３はノイズ源推定装置４に接続される。ここで、被測定物１は少なくとも回路基板を内蔵した電子機器、近傍電磁界測定装置２は被測定物１の近傍電磁界を電気信号として変換する装置、ノイズ測定装置３は前記電気信号の周波数特性を表示する装置とする。例えばノイズ測定装置３の一つとして、スペクトラム・アナライザがある。
【００１４】
以下、本発明の実施の形態であるノイズ源推定装置の動作を示す図３を中心として、ノイズ源推定装置４の構成を動作とともに図３から図１８までを用いて説明する。
【００１５】
まず、図３のステップＳ１１に示すように、被測定物１の設計情報を設計情報入力部１０２から入力して記憶部１９０に記憶する。この設計情報は、例えばＣＡＤ（Ｃｏｍｐｕｔｅｒ  Ａｉｄｅｄ  Ｄｅｓｉｇｎ）装置によって作成された情報であり、図１２に示す基板構成テーブル１０、図１３に示す層間テーブル１１、図１４に示す部品テーブル１２、図１５に示す端子テーブル１３、図１６に示す配置テーブル１４、図１７に示すネットテーブル１５、図１８に示す配線テーブル１６に書き込まれる。これらのテーブルの詳細な内容については、本実施の形態の最終項で詳しく説明する。
【００１６】
さて、このように被測定物１の設計情報が記憶部１９０に記憶されると、図３のステップＳ１２に示すように、ノイズ測定装置３によって測定された被測定物１の近傍電磁界の電磁波情報を電磁波情報入力部１０３から入力して記憶部１９０に記憶する。この電磁波情報は、図４に示す近傍電磁界テーブル１７に書き込まれる。
【００１７】
上記近傍電磁界テーブル１７は、図４に示すように、「周波数」、「Ｘ座標」、「Ｙ座標」、「Ｚ座標」ごとに、被測定物１が動作しない状態で測定したときの電界強度（あるいは磁界強度）を示す「ノイズフロア」フィールドと、被測定物１を動作させたときの電界強度（あるいは磁界強度）を示す「ノイズ量」フィールドとを備えている。「電流値（解析）」、「電流値(実測)」、「電磁界ノイズ判定」、「電流差分判定」フィールドに関しては後の動作に関するフィールドとなるため後述する。ここで、例えば図４の２行目に関して左の列から順に説明すると、磁界強度に関して周波数が３０［ＭＨｚ］、被測定物１のノイズ量およびノイズフロアを測定および解析する際の近傍電磁界測定装置２におけるＸ、Ｙ、Ｚ座標がそれぞれ、０．０［ｍｍ］、０．０［ｍｍ］、５．０［ｍｍ］、前記座標におけるノイズフロアが１０．０［ｄＢｕＶ］、ノイズ量が１０．０［ｄＢｕＶ］となる。
【００１８】
図４の近傍電磁界テーブル１７におけるノイズ量の分布を図５に示す。図５において、横方向、縦方向はそれぞれＸ軸、Ｙ軸を表しており、この時のＺ座標は任意の値で一定とする。各セグメント５のパターンの密度は、その領域で測定されたノイズ量あるいはノイズフロアの高低を表しており、パターンの密度が高いすなわち色が濃いほどノイズ量あるいはノイズフロアの値が高い。ここではセグメント５３が最もノイズ量が多く、セグメント５２、セグメント５１、セグメント５の順にノイズ量が少なくなる。図５において、上側が濃いため値が高くなっている。図５に示される内容は、必要に応じてディスプレイ等の出力部１９１に出力することができる。
【００１９】
さて、このようにノイズ測定装置３によって測定された電磁波情報が記憶部１９０に記憶されると、ユーザは、キーボードやマウスなどのコマンド入力部１０１を用いてコマンドを入力する。コマンドには、設計情報読み取りコマンド、電磁波情報読み取りコマンド、ノイズ解析コマンド、電磁界解析コマンド、電流算出コマンド、差分算出コマンド、ノイズ源推定コマンドなどの種別があるが、ここではノイズ源推定コマンドが入力されたものと仮定する。このようにコマンドが入力されると、コマンド解析部１０４は、そのコマンドの種別を解析し、ノイズ源推定コマンドが入力されたことを認識すると分離部１０５を呼び出す。
【００２０】
これによって、図３のステップＳ１３において、分離部１０５は、記憶部１９０に記憶されている近傍電磁界テーブル１７を参照し、ノイズ量からノイズフロアを差し引いた値が例えば３ｄＢ以上など所定値以上を示したときの周波数を特定し、その近傍電磁界テーブル１７の判定欄にフラグを立ててノイズを分離する。なお、図４の「電磁界ノイズ判定」欄に示す「○」印はフラグが立っていることを表し、一方「×」印はフラグが立っていないことを表している。
【００２１】
次に、図３のステップＳ１４において、取得部１０６は、記憶部１９０に記憶されているネットテーブル１５から被測定物１内で使用されている周波数情報を取得する。また、図３のステップＳ１５において、記憶部１９０に記憶されている基板構成テーブル１０、層間テーブル１１、部品テーブル１２、端子テーブル１３、配置テーブル１４、配線テーブル１６から、被測定物１の部材情報を取得する。さらに、図３のステップＳ１６において、記憶部１９０に記憶されている近傍電磁界テーブル１７から、被測定物１の電磁波情報を取得する。
【００２２】
これによって、図３のステップＳ１７において、解析部１５１は、上記取得部１０６が取得した部材情報などに基づいて、被測定物１の部材ごとにその近傍電磁界を解析する。この近傍電磁界の解析方法には、簡易な解析方法を用いてもよいし、モーメント法やＦＤＴＤ（Ｆｉｎｉｔｅ  Ｄｉｆｆｅｒｅｎｃｅ  Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ）法など詳細な解析方法を用いてもよい。これら解析技術は公知の技術であるため、ここでは詳しい説明は省略する。
【００２３】
ここで、図３のステップＳ１８において、電流算出部１５２は、上記解析部１５１によって解析された被測定物１の近傍電磁界情報および記憶部１９０に記憶されている近傍電磁界テーブル１７の被測定物１の近傍電磁界情報のノイズ量からノイズフロアを差し引いたものに対して、被測定物１上におけるそれぞれの電流を算出する。この算出には解析部１５１と同様の解析技術を用いる。
【００２４】
これによって、図３のステップＳ１９において、電流差分算出部１５３は、上記電流算出部１５２によって算出された被測定物１の部材情報から算出された電流分布およびノイズ測定装置によって測定された被測定物１の結果から算出された電流分布の差分を算出する。このとき、部材情報、測定情報からそれぞれ算出された電流分布において、「Ｘ座標」、「Ｙ座標」、「Ｚ座標」、「周波数」が両者の同一の座標における電流値の差分を各々算出し、全ての箇所についてこの差分算出を実施する。そして、ある座標において（例えば、Ｘ座標＝Ｘ１、Ｙ座標＝Ｙ１、Ｚ座標＝Ｚ１、周波数＝ｆ１）、その差分値が例えば３ｄＢ以上など所定値以上を示したときに周波数を特定し、その近傍電磁界テーブル１７の判定欄にフラグを立てる（図４の「電流差分判定」欄に示す「○」印はフラグが立っていることを表し、一方「×」印はフラグが立っていないことを表している）。
【００２５】
次に、図３のステップＳ２０において、周波数誤差算出部１５４は、近傍電磁界テーブル１７の判定欄にフラグが立てられたレコードを特定し、そのレコードの「周波数」フィールドに書き込まれている周波数ごとに後述する周波数誤差を算出する。このように周波数誤差算出部１５４が周波数誤差を直接入力するのではなく、ユーザが周波数誤差を直接入力するようにしてもよいし、あるいは、あらかじめ設定された定数を周波数誤差として用いるようにしてもよい。
【００２６】
次に、図３のステップＳ２１において、検索部１５５は、近傍電磁界テーブル１７を参照し、判定欄にフラグが立っているレコードの「周波数」フィールドに書き込まれている各周波数について、その高調波成分にノイズ成分が存在するかどうか、つまり、その高調波にあたる周波数の判定欄にフラグが立っているかどうかを調べる。
【００２７】
例えば、周波数フィールドに３０ＭＨｚを意味する情報が書き込まれているレコード（以下、単に“周波数「３０ＭＨｚ」”という）の判定欄にフラグが立っている場合、この３０ＭＨｚの高調波にあたる周波数は６０ＭＨｚ、９０ＭＨｚ、１２０ＭＨｚ・・・である。そこで１ＧＨｚなど所定周波数になるまで高調波成分を検索し、これら高調波にあたる周波数「６０ＭＨｚ」「９０ＭＨｚ」「１２０ＭＨｚ」・・・「９９０ＭＨｚ」の判定欄にフラグが立っているかどうかを調べる。
【００２８】
このように高調波成分を検索する際、所定幅の周波数誤差を考慮するのが好ましい。例えば、高調波にあたる周波数が６０ＭＨｚである場合は、６０ＭＨｚ×０．０１を演算することによって０．６ＭＨｚを周波数誤差とする。そして、この０．６ＭＨｚの周波数誤差を考慮して、周波数「５９．４ＭＨｚ」〜「６０．６ＭＨｚ」の判定欄にフラグが立っているかどうかを調べる。
【００２９】
このように周波数誤差を算出する際に用いる係数は０．０１に限定されるものではない。すなわち、高調波にあたる周波数（６０ＭＨｚ、９０ＭＨｚ、１２０ＭＨｚ、・・・）ごとに上記係数を変更するようにしてもよい。
【００３０】
これによって、図３のステップＳ２２において、推定部１５６は、上記検索部１５５によって検索されたノイズ成分、上記取得部１０６によって取得された周波数情報、部材情報、電磁波情報、上記解析部１５１によって解析された結果、上記電流差分算出部１５３にて算出された結果などに基づいて、被測定物１のどの部分がノイズ源であるかを推定する。
【００３１】
すなわち、図３のステップＳ２１でノイズ成分が存在することが判明した場合は、このノイズ成分の周波数をノイズ源の周波数であると推定することができる。例えば、図６に示すように、ノイズ源が配置された電子機器の近傍電磁界を測定したところ、周波数が３０ＭＨｚにおける電磁界分布の強度が図５であったものと仮定する。ここで、図６において、ノイズ源には該当するセグメント５４に「×」印を付している。また、この電子機器の設計情報から近傍電磁界を解析した電磁界分布の強度が図７であったものと仮定する。この場合、従来の手法においては図５の上側のみノイズ源として抽出され、絶対値が小さい下側中央部分はノイズ源として抽出されない。しかし、本手法を用いると、被測定物１を測定したものと、被測定物１の設計情報から解析したものとを比較、すなわち図５と図７の差分が生じている下側中央部分（セグメント５２）を抽出することが可能である。
【００３２】
ここで、上記絶対値が小さいノイズ源について一例を示す。被測定物１として図８のような簡易試験用の基板を用いる。この基板は第１層に信号線６を１本配置し、第２層にグランドプレーン７を配置し、第１層と第２層の間には絶縁層が挟まれている。ただし、グランドプレーン７は基板中央部８にて左右２つに分割されているものとする。すなわち、基板中央部８にて第１層の信号線６の直下にはグランドプレーン７が存在しない。この基板の信号線に電流を流した際の近傍磁界測定結果を図９に示す。図９において、ここでは各単位の詳細は記載しないが、縦方向はノイズ量を表しており、上に行くほど値が高くなるものとする。したがって、基板中央部８に該当する部分においてノイズ量が相対的に大きくなっている。この場合、基板中央部８に該当する部分のノイズ量の絶対値が小さいと、従来の手法においてはこの部分はノイズ源として抽出されない。また、この基板の設計情報から近傍磁界を解析した磁界分布の強度を図１０に示す。図１０において、基板中央部８に該当する部分は、それ以外の部分すなわち信号線６の直下にグランドプレーン７がある部分と同等のノイズ量を示している。ここで、本手法を用いることにより、図９と図１０の差分が生じている基板中央部８に該当する部分を抽出することが可能となる。
【００３３】
ノイズ源が推定できたら、その推定結果はディスプレイなどの出力部１９１へ出力される。この出力形態は、ユーザが視覚的に被測定物１のどの部分がノイズ源であるかを即座に判断できる形態としておく。例えば、図６に示すように、推定したノイズ源そのものを出力する。この場合、ユーザが表示切り替えコマンドを入力することにより、測定した電磁界分布の強度を示す図５や、あるいは設計情報から解析した電磁界分布の強度を示す図７や、両者の結果から被測定物１上の電流をそれぞれ算出し、その差分を示す図１１などの出力も可能である。ここではある周波数（例えば、３０ＭＨｚ）について説明したが、ユーザが表示する周波数の範囲を自由に設定し、任意の電磁界分布を表示できる。
【００３４】
複数のノイズ源が見つかった場合は、その全てをノイズ源の候補として出力してよい。あるいは、部材に流れる信号の電源電圧の高い順にソートし、その上位のみをノイズ源の候補として出力してもよい。さらには、上記電流算出部１５２にて算出された電流値の差分が大きい順にソートし、その上位のみをノイズ源の候補として出力してもよい。
【００３５】
以上のように、本発明によれば、被測定物１の設計情報に基づいて、被測定物１のどの部分がノイズ源であるかを推定することができるので、迅速にＥＭＩ対策を施すことができる。
【００３６】
なお、上記の説明では、６０ＭＨｚ、９０ＭＨｚ、１２０ＭＨｚ、・・・、９９０ＭＨｚというように、所定周波数になるまで高調波成分を検索することとしているが、本発明はこれに限定されるものではない。
【００３７】
また、ノイズの放射量は、上記基本周波数の他、その部材に流れる信号の立ち上り時間、あるいは立ち下り時間にも依存する。すなわち、基本周波数の低い信号でもその立ち上り時間あるいは立ち下り時間が短いと、高い周波数まで強い電磁波が放射されることになる。そこで、上記立ち上り時間が所定値（例えば５ｎｓ）以下の部材や、上記立ち下り時間が所定値（例えば５ｎｓ）以下の部材のみをノイズ源の候補とするようにしてもよい。すなわち、推定部１５６において、特定の部材（例えば、上記立ち上り時間が５ｎｓ以下の部材）のみ選択することでこの部材のみをノイズ源の候補とする。
【００３８】
さらに、複数のノイズ成分がノイズ源の候補として挙がった場合（例えば、１０ＭＨｚ、１５ＭＨｚ、２０ＭＨｚ、３０ＭＨｚ、４０ＭＨｚ、４５ＭＨｚのノイズ成分が測定された場合）、これらノイズ成分の周波数が、上記ネットテーブル１５の「周波数」フィールドに書き込まれていないときがある。このときは、低い周波数の高調波にあたる周波数（例えば、１０ＭＨｚの高調波にあたる周波数２０ＭＨｚ、３０ＭＨｚ、４０ＭＨｚ）はノイズ源の候補から除外してもよい。あるいは、ノイズ源の候補としての優先順位を下げるようにしてもよい。また、ノイズ源の候補が複数ある場合は、周波数が高いノイズ源の候補の優先順位を上げるようにしてもよい。
【００３９】
ここで、１０から１６までの各テーブルについての中身を詳しく説明する。これらのテーブルは回路基板に関連したものであるが、回路基板を内蔵した電子機器の場合においても、これらのテーブルを電子機器全体に関する情報へ拡張することで、本発明の適用が可能である。
【００４０】
基板構成テーブル１０は、図１２に示すように回路基板を構成する各「層名」フィールドと、これら各層に流れる「信号種類」フィールドとを備えている。また、上記層間テーブル１１は、図１３に示すように回路基板における「層間の厚さ」フィールドを備えている。これらテーブル１０、１１に書き込まれる情報は、基板外形の情報とともに当該ノイズ源推定装置４へ入力される。ここでは、４層のプリント配線板を設計対象とした場合を想定し、また、第１層と第４層とが信号線用、第２層が０Ｖのグランド用、第３層が５Ｖの電源用である場合を例示している。
【００４１】
上記部品テーブル１２は、図１４に示すように回路基板に含まれる部品ごとに、その「部品番号」、「部品名」、「端子数」、「形状」、「長さ」、「幅」の各フィールドを備えている。この「形状」フィールドに例示した「ＳＯＰ」はＳｍａｌｌ  Ｏｕｔｌｉｎｅ  Ｐａｃｋａｇｅの略語である。
【００４２】
上記端子テーブル１３は、図１５に示すように回路基板に含まれる部品ごとに、その「端子番号」、「属性」、「立ち上がり時間」、「立ち下り時間」の各フィールドを備えている。この「属性」フィールドに例示した「ＩＮ」は、当該端子が入力端子であることを示し、一方「ＯＵＴ」は、当該端子が出力端子であることを示している。
【００４３】
上記配置テーブル１４は、図１６に示すように回路基板に配置された部品ごとに、その配置位置を示す「座標」フィールド、「配置角度」フィールド、および「配置面」フィールドを備えている。設計段階において回路基板に部品を配置する手法は、例えば手動配置など一般的な手法でよい。
【００４４】
上記ネットテーブル１５は、図１７に示すように回路基板に含まれる一連の信号線（以下「ネット」という）ごとに、その名称を示す「ネット名」フィールド、当該ネットに接続される端子の名称を示す「接続端子名」フィールド、当該ネットを流れる信号の「周波数」フィールド、および「電位」フィールドを備えている。ここでは、「ｎｅｔ２」という名称のネットは３３ＭＨｚの信号線であり、「ｎｅｔ１００」という名称のネットは０Ｖのグランドであり、「ｎｅｔ２００」という名称のネットは５Ｖの電源である場合を例示している。
【００４５】
上記配線テーブル１６は、図１８に示すように上記ネットごとに、その「種類」フィールドと、当該ネットの箔やプレーンの構成座標を示す「構成座標」フィールドとを備えている。ここでいうプレーンとは、グランドプレーンや電源プレーンなどのことである。また、ネットの箔やプレーンの構成座標とは、ネットの箔やプレーンを構成する点（例えば、ネットの箔を線分で表すことができる場合は当該線分の両端点）の座標のことである。
【産業上の利用可能性】
【００４６】
本発明のノイズ源推定装置およびノイズ源推定方法は、少なくとも回路基板を内蔵した電子機器のＥＭＩ対策およびノイズ対策に有効に用いることができる。
【符号の説明】
【００４７】
１    被測定物
２    近傍電磁界測定装置
３    ノイズ測定装置
４    ノイズ源推定装置
５    セグメント
６    信号線
７    グランドプレーン
８    基板中央部
５１    セグメント
５２    セグメント
５３    セグメント
５４    セグメント
１０１    コマンド入力部
１０２    設計情報入力部
１０３    電磁波情報入力部
１０４    コマンド解析部
１０５    分離部
１０６    取得部
１５１    解析部
１５２    電流算出部
１５３    電流差分算出部
１５４    周波数誤差算出部
１５５    検索部
１５６    推定部
１９０    記憶部
１９１    出力部
【図１】
2012220425.tif 000003
【図２】
2012220425.tif 000004
【図３】
2012220425.tif 000005
【図４】
2012220425.tif 000006
【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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