【事件の表示】
　平成１０年特許願第５０９０５４号「ロードされた基板のドロップピン装置」拒絶査定に対する審判事件［平成１０年　２月　５日国際公開、ＷＯ９８／０４９２７、平成１０年１２月　２日国内公表、特表平１０−５１２６８２］について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯・本願発明
　本願は、１９９７年７月２９日（パリ条約による優先権主張外国庁受理１９９６年７月２９日、米国）を国際出願日とする出願であって、その請求項１乃至１１に係る発明は、平成１２年１月５日付の手続補正書によって補正された明細書の特許請求の範囲に記載されたとおりのものと認められるところ、その請求項１には、次のとおりに記載されている（以下、「本願発明」という）。
　
　「実装されたプリント回路基板上に細かい間隔で配置された複数のテストポイントを試験するための実装された基板の試験装置(loaded board test fixture）であって、
　ハウジングと、
　ハウジングの基部内に配設されたプローブプレートと、
　プローブプレートを通って延伸し、外部の試験解析機と電気接続するようにされている、比較的広い間隔で配置された高いスプリング力のテストプローブの列と、
　ハウジングの空間内においてプローブプレートの上方に、基板上に細かい間隔で配置された複数のテストポイントに隣接して配設された、移動配置可能な中継装置（translator fixture）であって、回路基板構成部材を受容するためのえぐられた部分を有する頂部プレートを有し、頂部プレートの上面が実装されたプリント回路基板上のテストポイントに隣接している中継装置と、
　中継装置の一方の端部でテストプローブと位置を合わせ、中継装置の反対側の端部で細かい間隔で配置されたテストポイントと位置を合わせるために中継装置内に支持され、テストプローブにより与えられたテスト力を基板上のテストポイントに効果的に中継するのに充分な軸方向の剛性を有するソリッドピンから成る複数の中継ピンを具備していて、
　プリント回路基板上に細かい間隔で配置されたテストポイントと外部の電子試験解析機への接続の間の、テスト力と電気信号の中継のためにテストプローブが複数の中継ピンと強く接触(compliant contact)をしている、
　ことを特徴とする実装された基板の試験装置。」
　
２．引用刊行物記載の発明
　これに対して、原査定の拒絶の理由に引用された、本願の優先権主張の日前である平成４年２月７日に頒布された特開平４−３８４８０号公報（以下「引用刊行物」という。）には、特に第１図乃至４図とともに次の事項が記載されている。
　
（ア）「検査器のフィクスチャに格子状に植え込まれているコンタクトプローブの配設位置に対応させて穿設した貫通孔を有するベースと、
　該ベースと平行に配置され、かつ該ベース上に立設した支柱を介してこのベースに固定されているボードメンバと、
　前記ベースとボードメンバ間に挿通され、先端部が被検査プリント配線板の検査ポイントと接触し、基端部が検査機のコンタクトプローブに接触するアダプタピンと、
　前記ベースとボードメンバとの間に配設した、前記アダプタピンのたわみを矯正するピンサポートボードを備えた第１のオフグリッドアダプタと第２のオフグリッドアダプタとより構成され、・・・（中略）・・・プリント配線板検査機用アダプタ上下タイプ。」（請求項１（第１頁左下欄第５行から同頁右下欄第１５行））
　
（イ）「この検査器では、格子外に検査ポイントがあるプリント配線板をも検査するために、オフグリッドアダプタを用いて実現している」（第２頁右上欄第２行から第５行）
　
（ウ）「その目的とするところは、高密度化、微細化された両面実装用の基板の検査に対応できると共に、検査を容易かつ的確に行うことが出きる基板検査機用アダプタ上下タイプを提供することにある。」（第２頁左下欄第１９行（下から２行目）から同頁右下欄第４行）
　
（エ）「又上下のオフグリッドアダプタは、押圧時に全体が上下動するように構成されている。従って、コンタクトプローブ、アダプタピンの接触がオフグリッドアダプタに使用される各ボードや基板の板厚公差に影響されず、基板の検査ポイントに最適荷重で接触するように構成され、安定した検査が可能である。
　さて、前記第１のオフグリッドアダプタＡは、検査機のフィクスチャ１に2.54mm等格子状に植え込まれているスプリングコンタクトプローブ２０の配設位置に対応させて穿設した貫通孔３ｃを有するベース３と、このベース３と平行に配置され、かつベース３上に立設した支柱２１でベース３に固定されているボードメンバ５と、前記ベース３とボードメンバ５の間に挿通され、先端部が被検査基板３０の検査ポイントと接触し、基端部が検査機のコンタクトプローブ２０に接触するアダプタピン１０と、前記ベース３とボードメンバ５との間に配設され、前記アダプタピン１０のたわみを矯正するピンサポートボード４とを具備している。
　前記フィクスチャ１には、既述のようにコンタクトプローブ２０が格子状に植え込まれており、この各コンタクトプローブ２０はスイッチング回路と一対一で接続されている。
　前記第１のオフグリッドアダプタＡは、プローブガードプレート２にセットされる。今プローブガードプレート２は、絶縁板により形成され、前記フィクスチャ１上に取り付けられてスプリング３２（第３図参照）により上下動する。」（第３頁左下欄第１７行から第４頁左上欄第７行）
　
（オ）「前記ボードメンバ５は、専用ボード６と、微調ボード７とピンガイドボード８とより構成されている。このうち、専用ボード６には、被検査基板３０の検査ポイントと同じ位置に貫通孔６ａが穿設されており（第４図参照）、アクリル材等の透明なボードにより形成される。」（第４頁左下欄第１３行から第１８行）」
　
（カ）「前記微調ボード７は、被検査基板の表面パターンと前記アダプタピン１０との位置関係を微調整するためのものであり、後述の微調手段１３を操作することにより可動する。」（第４頁右下欄第４行から第７行）
　
（キ）「更に、前記ピンガイドボード８には、前記専用ボード６と同様に被検査基板の検査ポイントと同位置に貫通孔８ａが穿設されている。」（第４頁右下欄第１１行から第１３行）
　
（ク）「前記アダプタピン１０は、被検査基板３０の検査ポイントと前記フィクスチャ１に使用されるコンタクトプローブ２０とを電気的に接続するためのリジッドなピンとして形成されており」（第５頁左上欄第１０行から第１３行）
　
（ケ）「被検査基板３０をコンタクトプローブの最適なストロークで加圧するために、被検査基板３０の板厚によって加圧ストロークを自動的に調整する機構が内蔵されている。」（第５頁右上欄第１５行から第１９行）
　
　ここで、基板の検査装置において、ハウジング内にプローブを収納することは普通に採用されている構成である（例えば、原査定の拒絶の理由に引用された特開昭６２−２２３６７９号公報参照）。
　また、「アダプタピン１０が、リジッドなピンとして形成されており」（上記（ク））、かつ、「アダプタピン１０」は「基板の検査ポイントに最適荷重で接触するように構成」（上記（エ））される点から見て、引用刊行物のアダプタピン１０は、ソリッドピンであって、コンタクトプローブ２０により与えられたテスト力をプリント配線板３０条の検査ポイントに効果的に中継するのに充分な軸方向の剛性を有するとともに、コンタクトプローブ２０より、充分強いテスト力を与えられているものと認められる。
　以上の点を勘案すると引用刊行物には次の発明（以下「引用刊行物記載の発明」という。）が記載されていると認められる。
　
　「被検査用プリント配線板３０上の複数の検査ポイントを検査するためのプリント配線板検査装置であって、
ハウジングと、
ハウジング内に配設されたフィクスチァ１と、
　フィクスチャ１上に植え込まれており、外部の電気回路と電気接続するようにされている、所定（2.54mm）の間隔で配置されたコンタクトプローブ２０の列と、
ハウジングの空間内においてフィクスチャ１の上部に、プリント配線板３０上に配置された複数の検査ポイントに隣接して配置された、上下動するオフグリッドアダプタであって、プリント配線板３０を載置するボードメンバ５を有し、ボードメンバ５の上面がプリント配線板３０上の検査ポイントに隣接しているオフグリッドアダプタと、
オフグリッドアダプタの一方の端部で、コンタクトプローブ２０と位置を合わせ、オフグリッドアダプタの反対側の端部で検査ポイントに位置を合わせるためにオフグリッドアダプタ内に支持され、コンタクトプローブ２０により与えられたテスト力をプリント配線板３０上の検査ポイントに効果的に中継するのに充分な軸方向の剛性を有するソリッドピンからなる複数のアダプタピン１０を具備しており、
　プリント配線板３０上に配置された検査ポイントと外部の電子回路への接続の間の、テスト力と電気信号の中継のためにコンタクトプローブ２０が複数のアダプタピン１０と強く接触している
プリント配線板検査装置」
　
　また、実願昭６２−５９７３０号（実開昭６３−１６７２７３号）のマイクロフィルム（以下「周知例１」という）には、次の事項が記載されている。
（コ）「テスタに接続する多数の固定ピンをマトリックス状に配列して支持するユニバーサルピンボード部と、このユニバーサルピンボード部と被検査回路基板との間に介設されて被検査回路基板の各検査点をプローブを介して上記所定の固定ピンに接続するオフグリッド治具とを備える回路検査用ユニバーサルテスタ治具において、上記固定ピンはプローブに弾接する伸縮構造とすると共に、・・・（中略）・・・回路検査用ユニバーサルテスタ治具」（実用新案登録請求の範囲（第１頁５行目から第２頁３行目））
　
（サ）「近年、プリント回路基板やＩＣ部品等の検査を迅速に行うために、多数の検査点にプローブを同時に当接させ、これらのプローブを介して得られる電気信号をテスタに入力して電気的特定を検査する回路検査用ユニバーサルテスタが普及しつつある。」（第２頁第１１行目から第１６行目）
　
（シ）「ユニバーサルピンボード部１２は、絶縁材からなるユニバーサルピンボード１５に多数の固定ピン１６が例えば２．５４ｍｍピッチのマトリックス状に植設されたもので、各固定ピン１６の下端部はユニバーサルピンボード１５を貫通し、そこに図示省略した回路検査用ユニバーサルテスタに接続するリード線１７がハンダ付等により接続固定されている。
　上記固定ピン１６は、内蔵するスプリングに抗して収縮できる従来公知の伸縮ピンであり、ユニバーサルピンボード１５上に突出して伸縮できる部分が後述のワイヤプローブに対する接触子１６ａをなし、その上端面には逆円錐状の凹部が形成されている。」（第７頁１７行目から第８頁９行目）
　
（ス）「ここで第２図に示すように入力側ブロック２５、２６には、被検査回路基板上のＩＣ部品の入出力ピンに対応した入力側貫通孔３１が、その周辺に沿って例えば１．２７ｍｍピッチで２列に穿孔されている。」（第１０頁５行目から８行目）
　
（セ）「このような構成では、図示省略した被検査回路基板を適宜の手段でオフグリッド治具１３側に押圧することで、ワイヤプローブ２４，３５の各接触頭部２４ａ、３５ａが被検査回路基板の各検査点に均一に弾接する。この弾接力は固定ピン１６の伸縮習性により得られるので、ワイヤプローブ２４、３５は硬い材質を用いて座屈を生じないようにすることができ、こうすることで各ワイヤプローブ２４、３５は密接して配列することが可能となる。」（第１１頁９行目から１７行目）
　
　上記記載事項（コ）乃至（セ）から周知例１には、次の事項が記載されていると認められる。
　
「プリント回路基板やＩＣ部品等の電気的特性の検査を行う回路検査用ユニバーサルテスタ治具であって、ユニバーサルピンボード１５を貫通してユニバーサルテスタに電気接続するリード線が接続され、２．５４ｍｍピッチで配置された伸縮プローブ１６と、硬い材料を用いて座屈を生じないようにし、一方が２．５４ｍｍピッチの前記伸縮プローブ１６に連接し、他方が１．２７ｍｍのピッチに穿孔された貫通孔３１を有する入力側ブロック２５に挿通されているワイヤプローブ２４とを有するオフグリッド治具１３とを有し、固定ピン１６の伸縮習性により回路基板への弾接力を得るようになした、ユニバーサルテスタ治具」
　
　さらに、特開昭６３−３０２３７７号公報（以下「周知例２」という。）には、次の事項が記載されている。
　
（ソ）「ピン保持板に配列された測定ピンと被試験基板との電気的接続を行う回路基板検査装置において、前記ピン保持板と前記被試験基板との間に前記被試験基板と相接する板部材を介装し且つ該板部材は前記測定ピンが前期被試験基板に圧接する時に生ずる変形を防止するためのガイド孔を有すると共に前期被試験基板に相接する面に前記被試験基板上に実装された電子部品に対応する凹部を有して前期比試験基板が前記測定ピンにより圧接された場合に変形するのを防止することを特徴とする回路基板検査装置」（特許請求の範囲（第１頁左下欄第５行目から第１５行目）
　
（タ）「また、各板部材１８は被試験基板２０に装着された電子部品２１に対応して凹部１８ａを有している。第２図では・・・（中略）・・・凹部１８ａの深さは電子部品２１の厚みに対応しており例えば電子部品２１が４、５ｍｍであるならば４〜５ｍｍか、それより多少大きく、部品の破壊がなく挿入可能な大きさにし、板部材１８の厚さによっては貫通孔をなしても良い。」（第２頁右下欄第１０行から第３頁左上欄第１行目）
　
　上記記載事項（ソ）、（タ）から周知例２には、次の事項が記載されていると認められる。
　
「測定ピンのガイド孔と、実装された電子部品に対応して部品の破壊がなく挿入可能な凹部２１とを有し、被試験基板２０に相接する板部材１８を有する、実装基板の回路検査装置」
　
３．対比
　本願発明と引用刊行物記載の発明とを比較する。
　引用刊行物記載の発明において「被検査用プリント配線板３０」、「検査ポイント」、「プリント配線板検査装置」、「所定（２．５４ｍｍ）の間隔」、「コンタクトプローブ２０」、「ボードメンバ５」、「上下動するオフグリッドアダプタ」、および「アダプタピン１０」がそれぞれ本願発明の「プリント回路基板」、「テストポイント」、「基板の試験装置」、「比較的広い間隔」、「テストプローブ」、「頂部プレート」、「移動可能な中継装置」、および「中継ピン」に相当することは、明らかである。また、引用刊行物に記載の「フィクスチャ１」は、コンタクトプローブを配設するものであるから、本願発明の「ハウジングの基部内に配設されたプローブプレート」に相当するし、「フィクスチャ１上に植え込まれており」は本願発明の「プローブプレートを通って延伸し」に相当する。
　してみると、本願発明と引用刊行物記載の発明とは、
　
　「プリント基板上に配置された複数のテストポイントを試験するための基板の試験装置であって、
ハウジングと、　
ハウジングの基部内に配設されたプローブプレートと、
プローブプレートを通って延伸し、外部の電子回路と電気接続するようにされている、比較的広い間隔で配置されたテストプローブの列と、
　ハウジングの空間内においてプローブプレートの上方に、基板上に配置された複数のテストポイントに隣接して配設された、移動可能な中継装置であって、頂部プレートを有し、頂部プレートの上面がプリント回路基板上のテストポイントに隣接している中継装置と、
　中継装置の一方の端部でテストプローブと位置を合わせ、中継装置の反対側の端部でテストポイントと位置を合わせるために中継装置内に支持され、テストプローブにより与えられたテスト力を基板上のテストポイントに効果的に中継するのに十分な軸方向の合成を有するソリッドピンからなる複数の中継ピンを具備していて、
　プリント回路基板上に配置されたテストポイントと外部の電子回路への接続の間の、テスト力と電気信号の中継のためにテストプローブが複数の中継ピンと強く接触をしている
ことを特徴とする基板の試験装置。」
　
である点で一致し、次の点で相違する。
　
（相違点１）
　本願発明は、試験対象であるプリント回路基板が実装された基板である点が明記されているのに対し、引用刊行物記載の発明は、実装された基板を試験することが明記されていない点。
　
（相違点２）
　本願発明におけるテストプローブは高いスプリング力を有するものであるのに対し、引用刊行物記載の発明では、スプリング力について特に記載されていない点。　
　
（相違点３）
　本願発明において、基板上のテストポイントは、（テストプローブの間隔に比べて）細かい間隔で配置されており、中継ピンの一方の端部を該間隔で配置されたテストポイントと位置を合わせているのに対し、引用刊行物記載の発明では、基板上のテストポイントは、テストプローブの間隔に比べて細かい間隔で配置されているかどうか明記されていない点。
　
（相違点４）
　本願発明では、テストポイントに隣接した頂部プレートは、実装されたプリント回路基板上の被検査回路基板構成部材を受容するためのえぐられた部分を有するのに対し、引用刊行物記載の発明にはその構成が記載されていない点。
　
（相違点５）
　本願発明において、テストプローブは外部の電子試験解析機と接続されているのに対し、引用刊行物記載の発明では、テストプローブは、電子回路（スイッチング回路）と接続されていることは記載されているものの、外部の電子試験解析機と接続されているかどうか明記されていない点。
　
４．当審の判断
　上記相違点について検討する。
　
４-１相違点１に関して
　基板上のテストポイントに電気的な接触を形成するために、引用刊行物記載の発明のオフグリッドアダプタに相当するオフグリッド治具を用いて、実装された基板のテストを行うことが、周知例１に記載されている。このように、基板上のテストポイントに電気的な接触を形成する構成を、実装基板の試験に利用可能であることは明らかであるから、引用刊行物記載の発明において、試験対象を実装されたプリント回路基板とすることは、当業者が容易に想到しうることと認められる。
　
４-２相違点２について
　テストプローブのスプリング力は、中継ピンがテストポイントに効果的な接触を得るに充分なテスト力を与えるスプリング力が必要であることから、「高いスプリング力」を有するようになすことは、当業者が必要に応じてなしうる単なる設計事項に過ぎない。
　
４-３相違点３について
　引用刊行物記載の発明のオフグリッドアダプタに相当するオフグリッド治具において、中継ピンを、一方の端部で２．５４ｍｍピッチのテストプローブと位置合わせし、他方の端部で、テストプローブよりも細かい間隔である１．２７ｍｍピッチのテストポイントと位置合わせするようになすことは、例えば周知例１に記載されているように、高密度化、微細化された基板の検査において、適宜行われていることである。したがって、高密度化、微細化された基板の検査を行う、引用刊行物記載の発明において、中継ピンの一方の端部を、基板上の細かい間隔のテストポイントに対応するようになすことは、当業者が必要に応じて適宜なしうる単なる設計事項に過ぎない。
　
４-４相違点４について
　基板の試験装置の測定ピンと被検査基板との接触部に相接して設けられる測定ピンのガイド孔が設けられた板部材に、実装された電子部品に対応する凹部を設けることは、周知例２に記載されているように適宜行われていることであり、この板部材は、引用刊行物記載の発明のボードメンバ、すなわち本願発明の頂部プレートに相当するから、引用刊行物記載の発明を実装された基板に用いる際に、頂部プレートに、実装された電子部品に対応する凹部、すなわち、えぐられた部分を設けることは、当業者が容易に想到しうることと認められる。
　
４-５相違点５について
　周知例１において、テストプローブが「図示省略した回路検査用ユニバーサルテスタに接続」（上記（シ）参照）されることが記載されているように、一般的にプローブは、試験解析を行うための電気的接続を確保するものであり、試験解析を行う機能が備わっていないと検査は行えないことから、引用刊行物記載の発明において、コンタクトプローブには、図示されていない試験解析を行う機能が接続され得ることは明らかである。したがって、引用刊行物記載の発明のテストプローブを、外部の電子試験解析機に接続するようになすことは、当業者が適宜なし得る程度のことに過ぎない。
　
５．むすび
　したがって、本願発明は、引用刊行物に記載された発明および周知事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるので、特許法第２９条２項の規定により特許を受けることができない。前記のとおり、本願請求項１に係る発明が特許を受けることができないものであるから、本願の請求項２乃至１１に係る発明について審究するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。