(57)【要約】【課題】信号解析結果と信号実測結果の誤差を抑制すること。【解決手段】信号測定結果と信号解析結果の差分を計算する信号差分算出部１０４と、所望の解析点の解析結果に前記信号差分を加えて補正する信号解析結果補正部１０５と、解析モデル抽出部１０６と、回路解析部１０７とを備え、解析結果と測定結果の差分を、所望の解析点の解析結果に加えて信号を補正することにより、前記解析結果の精度が実製品上に発生している信号波形に近づくため、製品の開発段階における信号モニタを精度よく行うことができ、製品開発効率が高まる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも回路基板上における任意の測定点の信号測定結果と、前記測定点の信号解析結果とを記憶する解析情報記憶手段と、前記測定点の前記測定結果と前記解析結果の差分を算出する信号差分算出手段と、所望の解析点の信号解析結果に対し前記信号差分により補正を行う信号解析結果補正手段とを備えた信号解析装置。
【請求項２】
前記信号差分算出手段は、前記信号測定結果および前記解析結果の周波数成分の差分を算出し、前記信号解析結果補正手段は、前記解析点の信号を周波数成分に変換し、前記解析点信号の周波数成分に前記周波数成分の差分を加え、時間波形に戻すことで補正を行う請求項１に記載の信号解析装置。
【請求項３】
少なくとも回路基板上における任意の測定点の信号測定結果と、前記測定点の信号解析結果とを記憶する解析情報記憶ステップと、前記測定点の前記測定結果と前記解析結果の差分を算出する信号差分算出ステップと、前記差分を所望の解析点の信号解析結果に加える信号解析結果補正ステップとを備えた信号解析方法。
【請求項４】
前記信号差分算出を、前記信号測定結果および前記解析結果の周波数成分の差分を算出することにより行い、前記信号解析結果補正ステップは、前記解析点の信号を周波数成分に変換し、前記解析点信号の周波数成分に前記周波数成分の差分を加え、時間波形に戻すことで補正を行う請求項３に記載の信号解析方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プリント基板および半導体を含む回路基板の信号を解析する信号解析装置、または、信号解析方法に関し、特に回路シミュレータおよびオシロスコープ等の電気信号を扱う信号解析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の信号解析装置としては、プローブの電気特性を含んだ状態でのシミュレーションを行い、回路基板の測定波形と解析波形の差分を抑制しているものがあった（例えば、特許文献１参照）。図５は、特許文献１に記載された従来の信号解析装置を示すものである。
【０００３】
図５において、Ｃ１は従来の伝送線路解析モデルを表現しており、３１はドライバ回路、３５はレシーバ回路、３２、３４は伝送線路、３３は抵抗素子、４１は測定ポイントを表していた。この回路では、プローブを理想的に表現しているため、４１の測定結果がプローブの影響を加味できない欠点があった。これに対し、Ｃ２は４２にプローブの等価回路４２を追加し、Ｃ２は測定ポイント４１に関し、プローブを考慮した解析を実現していた。
【特許文献１】特許第３０８２７３７号公報（第５頁、図４）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、前記従来の構成では、実デバイスと解析モデルの差異には言及していないため、実測波形とシミュレーション波形には誤差が生じるという課題を有していた。
【０００５】
本発明は、前記従来の課題を解決するもので、基板の測定信号のより正確なシミュレーション結果を得ることを可能とした信号解析装置および信号解析装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
前記従来の課題を解決するために、本発明の信号解析装置および信号解析方法は、回路基板上における任意の測定点の信号測定結果と、前記測定点の信号解析結果とを記憶する解析情報記憶ステップと、前記測定点の前記信号測定結果と前記信号解析結果の差分を算出する信号差分算出ステップと、前記差分を所望の解析点の信号解析結果に加える信号解析結果補正ステップとを有し、信号解析を行う。
【０００７】
本構成によって、信号測定結果を用いて実測と解析の誤差を補正することができる。
【発明の効果】
【０００８】
本発明の信号解析装置または信号解析方法によれば、信号解析結果と実測の誤差を最小限に抑制し、精度の高い解析結果を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
【００１０】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１における信号解析装置の構成を説明する図である。図１において、コマンド入力部１０１はユーザからのコマンド入力を受け付け、データ入力部１０２は、測定点信号測定結果や解析情報の入力を受け付け解析情報記憶部１０８に記憶させ、コマンド入力解析部１０３は、ユーザからのコマンド入力を解析しコマンドを実行に移す。解析情報記憶部１０８は、回路解析に必要な解析モデル、測定点信号測定結果、測定点信号解析結果、測定点プローブ付信号解析結果、所定信号解析結果とを記憶し、信号差分算出部１０４は、前記記憶された測定点信号測定結果と測定点信号解析結果を参照し、それぞれ信号波形の周波数成分を算出し、その差分である測定点信号測定解析差分を抽出し、信号解析結果補正部１０５は、前記測定点信号測定解析差分と前記測定点プローブ信号差分と前記所定信号解析結果を参照し、前記所定信号解析結果の周波数成分に前記測定点信号測定解析差分を加え時間信号に戻すことで、所定信号解析結果の補正を行い、解析モデル抽出部１０６は解析情報記憶部１０８より所望の回路解析に必要な解析モデルを抽出し、回路解析部１０７は、前記解析モデルの回路解析を行い、測定点信号の解析結果および所定信号の解析結果を解析情報記憶部１０８に記憶させ、前記回路解析結果および所定信号解析結果の補正結果を表示する表示部１０９と有機的に関連して、信号解析装置を構成している（実施の形態１の構成）。
【００１１】
次に信号解析装置の処理の流れを図２に示すフローチャートおよび図３に示す概念図にて説明する。ここで図３（ａ）は対象となる解析モデル、図３（ｂ）は、当該、実基板を示す。図３（ｂ）において、図３（ａ）と同じ構成要素については同じ符号を用い、説明を省略する。図３（ａ）において、３０１はドライバ回路、３０２はレシーバ回路、３０３、３０４は伝送線路、３０５は測定点、３０６は解析対象となる所定点、３０７、３０８は、それぞれ３０５、３０６の解析結果を示し、図３（ｂ）において、３１９はドライバ回路３０１を含む部品、３２０はレシーバ回路３０２を含む部品、３２１、３２２は端子、３１７は測定点３０５における測定結果、３１８は信号解析結果３０７、３０８および信号測定結果３１７を用いて算出した信号波形を示す。
【００１２】
初めにユーザが解析モデル図３（ａ）を入力し、実測を行う測定点３０５および解析対象となる所定点３０６を指定する（Ｓ１００１）。次に回路解析部１０７は、前記解析モデルの回路解析を行い（Ｓ１００２）、前記測定点の解析結果３０７および所定点の解析結果３０８を解析情報記憶部１０８に記憶する（Ｓ１００３）。次に前記解析モデルに該当し、図３（ｂ）に示す実基板における、前記測定点の信号測定結果３１７を解析情報記憶部１０８に記憶する（Ｓ１００４）。次に、測定点における信号解析結果３０７と信号測定結果３１７を周波数成分に変換し、その差分を算出する（Ｓ１００５）。次に所定点の信号解析結果３０８に前記測定点における信号解析結果と信号測定結果の周波数成分の差分を加えることで、前記所定点の信号解析結果の補正を行う（Ｓ１００６）。ここで、時間信号の周波数成分を算出するには、信号の位相成分の情報も考慮するため、測定波形と解析波形の測定時間を揃え、かつ、信号の立ち上がり時間などで、解析信号と測定信号の位相をそろえて周波数成分を算出する方が望ましい。最後に前記補正後の所定点の信号解析結果３１８を表示する（Ｓ１００７）。図４に信号補正結果の例を示す。ここで４００は所定点において実際に発生している信号波形、３０８は前記補正前の信号解析結果、３１８は前記補正後の信号解析結果を示す。また、Ｓ１００７にて補正に用いた式を以下に示す。
【００１３】
【数１】
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【００１４】
かかる構成によれば、測定点の解析結果と測定結果の差分を所定点の解析結果に加えて補正することにより、信号解析波形３０８と実際の波形４００の誤差を抑制でき、所定点の信号解析を精度よく行うことができる。
【００１５】
なお、本実施の形態において、回路解析（Ｓ１００２）の後で測定点の信号測定結果の記憶（Ｓ１００４）を行ったが、測定点の信号測定結果の記憶を回路解析の前に行っても良い。
【００１６】
なお、本実施の形態において、図３（ａ）に示す解析モデルでは測定用プローブを考慮していないが、測定用のプローブを考慮して解析モデルを構築し、解析を行ってもよい。
【産業上の利用可能性】
【００１７】
本発明にかかる信号解析装置は、信号補正手段を有し、信号解析等として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明の実施の形態１における信号解析装置の構成図
【図２】本発明の実施の形態１における信号解析装置のフローチャート
【図３】本発明の実施の形態１における信号解析装置の概念図
【図４】本発明の実施の形態１における信号解析装置の補正結果を示す図
【図５】従来の信号解析装置の概念図
【符号の説明】
【００１９】
３０１    実施の形態１における解析モデルのドライバ
３０２    実施の形態１における解析モデルのレシーバ
３０３    実施の形態１における解析モデルの伝送線路
３０４    実施の形態１における解析モデルの伝送線路
３０５    実施の形態１における解析モデルの測定点
３０６    実施の形態１における解析モデルの所定点
３０７    実施の形態１における解析モデルの測定点の信号解析結果
３０８    実施の形態１における解析モデルの解析点の信号解析結果
３１７    実施の形態１における実機の測定点の信号測定結果
３１８    実施の形態１における実機の解析点の信号補正結果
３１９    実施の形態１における実機のドライバ部品
３２０    実施の形態１における実機のレシーバ部品
３２１    実施の形態１における実機のドライバ端子
３２２    実施の形態１における実機のレシーバ端子
４００    実施の形態１における実機のレシーバが受信する波形
３１    特許文献１における解析モデルのドライバ
３２    特許文献１における解析モデルの伝送線路
３３    特許文献１における解析モデルの抵抗素子
３４    特許文献１における解析モデルの伝送線路
３５    特許文献１における解析モデルのレシーバ
４１    特許文献１における解析モデルの測定ポイント
４２    特許文献１における解析モデルのプローブモデル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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