【事件の表示】
　特願２００８−２０９４８９「透過光検出装置、透過光検出方法、透過光検出プログラム及びシート材の製造方法」拒絶査定不服審判事件〔平成２２年　２月２５日出願公開、特開２０１０−　４４００４〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　
　本願は、平成２０年８月１８日の出願であって、平成２４年８月２２日付けで拒絶理由が通知され、同年１０月２５日付けで意見書が提出され、平成２５年４月２６日付けで拒絶理由が通知され、同年７月８日付けで意見書が提出されたが、平成２６年１月３０日付けで拒絶査定がなされ、これに対して、同年５月７日に拒絶査定不服審判の請求がなされたものである。
　
　
第２　本願発明
　本願の請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は、願書に最初に添付した特許請求の範囲の請求項１に記載された事項により特定される次のとおりのものと認める。　
「　シート状の測定対象の幅方向に沿って、少なくとも前記測定対象の一方の端縁から他方の端縁に至るまでの範囲に光を照射する面光源部と、
　前記測定対象を介して前記面光源部からの出射光を受光できる位置に設置されて、前記測定対象を透過する光を検出する検出用撮像部と、
　前記測定対象を介さずに前記面光源部からの出射光を受光できる位置に設置され、前記面光源部の出射面の光量を測定する補正用撮像部とを備えることを特徴とする透過光検出装置。」
第３　引用例
　
１　原査定の拒絶の理由に引用され、本願の出願前に頒布された刊行物である特開平１０−２６００２７号公報（以下「引用例１」という。）には、次の事項が記載されている（下線は当審において付加したものである。また、表記上の制約があるため、丸囲み付きの数字は、数字の前に「○」を付し、「○１」のように表記した。）。
　
（１）「【００２０】
【発明の実施の形態】図１は本発明の
絶縁テープの異物検出除去装置
ＸＹテーブル１はその面に平行な二方向に移動自在なテーブルである。
ＸＹテーブル１には３つの主な部材が取り付けられる。線状の光を発生する光源２と、これに対向して設置され線状光源２からの透過光強度を検出するカメラ３と、これらの装置と一定の距離にあるパンチ４
【００２１】
光源２・カメラ３の間、パンチ４の上下の腕の間に絶縁テープ５が張られている。
【００２２】
線状光源２はスリットから光を上方に出すようになっている。線状の光が絶縁テープを透過する。線状の光がカメラ３にはいる。
（２）「【００２６】カメラ中心Ｄは（ｘ，ｙ）にあるとしているから、刃体の中心Ｃは（ｘ−ｄ，ｙ−ｂ）と表す事ができる。
カメラに入る光のＸ方向の長さを２ｑとする。
光線の最大広がり２ｑはテープの幅Ｗよりも大きい
（３）「【００３３】
【実施例】図２は本発明の絶縁テープ異物検出除去装置の概略の正面図である。絶縁テープ５は初めサプライ１０に巻き付けられている。サプライ１０から繰り出されたテープはローラ１１、ダンサー１２、ローラ１３を経て検出除去部にはいる。その部分を通過してテープは巻き取りローラ１４に巻き取られる。前述の異物検出除去部は、線状の光を発する光源２、そのテープ透過光を検出するラインセンサ１６、ラインセンサと一定位置関係にあるパンチ４と、これらの部材を担ってｘｙ方向に自在に動き得るＸＹテーブルとよりなる。簡単のため、図２にはＸＹテーブルを表していないが、ＸＹテーブル１はパンチ４、光源２、ラインセンサ１６を一体としてｘｙ平面上で変位させるものである。」
（４）「【００３６】図３は検査部の概略を示す。線状光源２を直接テープの直下におく空間的な余裕がない場合は別異の箇所に光源装置２１を設けライトガイド２７によって投光装置２８へ光を導くようにする。投光装置２８の直上にラインセンサ１６があり線状光源のテープ透過光がラインセンサ１６に入る。光強度が電気信号に変換される。ラインセンサであるから一次元の光強度分布を求めることができる。Ｘ方向にならぶＭ個のＣＣＤセルあるいはＭ個のフォトダイオードアレーなどによって検出部が構成される。
【００３７】その
信号はシェーディング補正ユニット２２を通して光源の照明むらやセンサの感度むらが補正される。
（５）「【００３８】図４によって検査ロジックを説明する。光源からの線状の光（Ｘ方向に伸びる）が絶縁テープを通ってラインセンサに入る。ラインセンサは一次元センサでありＸ方向の光強度分布波形を与える。一次元ＣＣＤセンサが適する。しかし光強度を電気信号に変換できればそれでよいので、フォトダイオードのアレーでもよい。さらに二次元センサであるＴＶカメラを用いてＸ方向に並ぶ画素の諧調を利用してもよい。カメラはかさばるが後で述べるような異物の寸法を計測する場合は一次元センサよりも便利である。
【００３９】ＳＴＡＲＴからロジックが開始する。基準波形記憶というのは
テープのない状態でラインセンサの出力波形（基準波形○１）をメモリに取り込む
【００４０】次にあるｙの値にＸＹテーブルを固定し
テープを通した透過光をラインセンサ（カメラ）に入れ
その出力波形○２は透過光のＸ方向の光強度分布である。
【００４１】次に
テープ波形○２から基準波形○１を差し引く。
照度むらの部分が差し引かれてなくなってしまう。
（６）【図１】
「
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
２　引用例１に記載された発明の認定
　上記１（１）ないし（６）を含む引用例１全体の記載を総合すると、引用例１には、
「　その面に平行な二方向に移動自在なテーブルであるＸＹテーブル１と、
　ＸＹテーブル１に取り付けられる３つの主な部材である、線状光源２、これに対向して設置され線状光源２からの透過光強度を検出するカメラ３、及び、これらの装置と一定の距離にあるパンチ４とを有し、
　線状光源２とカメラ３の間、パンチ４の上下の腕の間に絶縁テープ５が張られ、
　線状光源２はスリットから光を上方に出すようになっており、線状の光が絶縁テープ５を透過し、線状の光がカメラ３にはいり、
　カメラ３に入る光のＸ方向の長さを２ｑとすると、光線の最大広がり２ｑは絶縁テープ５の幅Ｗよりも大きく、
　絶縁テープ５のない状態でカメラ３の出力波形である基準波形○１をメモリに取り込み、絶縁テープ５を通した透過光をカメラ３に入れた出力波形であって、透過光のＸ方向の光強度分布であるテープ波形○２から基準波形○１を差し引き、照度むらの部分が差し引かれてなくなってしまうようにしたシェーディング補正ユニット２２を備えた、絶縁テープの異物検出除去装置。」
の発明（以下「引用発明」という。）が記載されている。
３　原査定の拒絶の理由に引用され、本願の出願前に頒布された刊行物である特開昭６１−１７９６６４号公報（以下「引用例２」という。）には、次の事項が記載されている（下線は当審において付加したものである。）。
　
（１）第１頁下段右欄６〜９行
「　　この発明は光学的読取装置の発光素子アレイ、特にその各発光素子の発光量のバラツキを少なくするようにした発光素子アレイの発光量制御方法に関する。」
（２）第２頁上段左欄１〜９行
「　しかしながら、各発光素子（ドットと称する）からの光の発光量にバラツキがあると、各ドット間に輝度差が生じてしまうので、例えば、ファクシミリ装置においてプリントアウトすると再生情報に濃度むらが生じてしまう。
　そこで従来は、レーザトリミング装置を用いて各発光素子の抵抗をトリミングして発光素子に供給する電流量を個別に調整して各素子の発光量を揃える方法が取られている。」
（３）第２頁上段左欄１６〜１８行
「　さらに、このトリミング方法では、発光量の再設定を行えず、従って発光量の変化に対処出来ないという欠点もあった。」
（４）第２頁上段右欄６〜１５行
「　
光学読取装置において発光素子アレイからの光を利用して原稿情報を読取用受光素子で読取る際の、当該発光素子アレイの発光量を制御するに当り、
　
発光素子からの光をその発光素子に対応して設けた補助受光素子で受光し、その補助受光素子から受光量に応じて得られる出力をその発光素子にフィードバックさせ、このフィードバック量に応じてその発光素子の発光量を制御する
（５）第２頁下段右欄１１〜１６行
「　このようにすれば、発光素子１０の発光量に応じた補助受光素子からの出力を常にファイードバック（当審注：「ファイードバック」は「フィードバック」の誤記と認める。）させながら発光量の制御を行っているので、発光素子やその他の回路素子の経年変化或いは温度等による一時的な変化にも影響されずに、発光素子アレイの発光量の制御を行うことが出来る。」
（６）第３頁下段右欄１２行〜第４頁上段左欄２行
「　第５図はこの発明を関係する各構成成分の配置関係を概略的に示す線図である。
発光素子アレイ１０の各ドットからの発光の一部はこれを受光するよに
配置した長尺状のホトダイオード等の受光素子アレイ２０で検出され
（７）第５図
「
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
（８）上記摘記事項（７）の第５図には、発光素子アレイ１０からの発光を原稿を介さずに直接受光できる位置に補助受光素子２０を設置することが示されている。
４　引用例２に記載された技術の認定
　
　上記３（１）ないし（８）を含む引用例２全体の記載を総合すると、引用例２には、
「　光学読取装置において発光素子アレイからの光を利用して原稿情報を読取用受光素子で読取る際の、当該発光素子アレイの発光量を制御するに当り、
　発光素子アレイの各ドットからの発光の一部を原稿を介さずに直接受光できる位置に設置した長尺状のホトダイオードの受光素子アレイである補助受光素子で検出し、その補助受光素子から受光量に応じて得られる出力をその発光素子にフィードバックさせ、このフィードバック量に応じてその発光素子の発光量を制御する技術。」（以下「引用発明２」という。）
の発明（以下「引用発明２」という。）が記載されている。
第４　本願発明と引用発明との対比
　
１　対比
　
　本願発明と引用発明とを対比する。
　
（１）
ア　引用発明の「絶縁テープ５」がシート状であることは、明らかである。
イ　引用発明において、「絶縁テープ５」は異物検出除去の対象であり、異物検出の過程でカメラ３により透過光のＸ方向の光強度分布が検出されるものであるから、引用発明の「絶縁テープ５」は、透過光のＸ方向の光強度分布の測定対象にほかならない。
ウ　上記ア及びイから、引用発明の「絶縁テープ５」は、本願発明の「シート状の測定対象」に相当する。
エ　引用発明は、「線状光源２」の「スリット」から出た「線状の光が絶縁テープ５を透過し、線状の光がカメラ３にはいり、カメラ３に入る光のＸ方向の長さを２ｑとすると、光線の最大広がり２ｑは絶縁テープ５の幅Ｗよりも大きく」なっているものであることから、引用発明の「線状光源２」の「スリット」から出た「線状の光」は、「絶縁テープ５」の幅方向の一方の端部から他方の端部に至るまでの範囲に照射されるものといえる。
オ　引用発明の「線状光源２」と本願発明の「面光源部」とは、「光源部」である点において共通する。
カ　以上のことから、引用発明の「スリット」から出た「線状の光が絶縁テープ５を透過し、線状の光がカメラ３にはいり、カメラ３に入る光のＸ方向の長さを２ｑとすると、光線の最大広がり２ｑは絶縁テープ５の幅Ｗよりも大きく」なっている「線状光源２」と、本願発明の「シート状の測定対象の幅方向に沿って、少なくとも前記測定対象の一方の端縁から他方の端縁に至るまでの範囲に光を照射する面光源部」とは、「シート状の測定対象の幅方向に沿って、少なくとも前記測定対象の一方の端縁から他方の端縁に至るまでの範囲に光を照射する光源部」である点において共通する。
（２）
ア　引用発明の「カメラ３」は、「線状光源２」に「対向して設置され」、「線状光源２」の「スリット」から出た「線状の光が絶縁テープ５を透過し、線状の光」がはいるものであることから、「絶縁テープ５」を介して「線状光源２」からの「線状の光」を受光できる位置に設置されていることは明らかである。
イ　引用発明の「カメラ３」は「線状光源２からの透過光強度を検出する」ものであるところ、「絶縁テープ５を透過し」た「線状の光がカメラ３にはい」ることから、引用発明の「カメラ３」が、「絶縁テープ５を透過し」た「線状の光」の「透過光強度を検出する」ものであることは明らかである。
ウ　引用発明の「カメラ３」は、その機能において、本願発明の「検出用撮像部」に相当する。
エ　以上のことから、引用発明の「線状光源２」に「対向して設置され」、「線状光源２」の「スリット」から出た「線状の光が絶縁テープ５を透過し、線状の光」がはいり、「線状光源２からの透過光強度を検出するカメラ３」と、本願発明の「前記測定対象を介して前記面光源部からの出射光を受光できる位置に設置されて、前記測定対象を透過する光を検出する検出用撮像部」とは、「前記測定対象を介して前記光源部からの出射光を受光できる位置に設置されて、前記測定対象を透過する光を検出する検出用撮像部」である点において共通する。
（３）
ア　引用発明は、「テープ波形○２から基準波形○１を差し引き、照度むらの部分が差し引かれてなくなってしまうように」するものであるから、「絶縁テープ５のない状態でカメラ３の出力波形である基準波形○１をメモリに取り込」む際に、カメラ３が線状光源２の光を受光し、線状光源２の出射面の光量を測定していることは明らかである。
イ　引用発明の「カメラ３」は、シェーディング補正を行うために「絶縁テープ５のない状態で」「出力波形である基準波形○１を」出力することから、補正用のカメラであるといえ、本願発明の「補正用撮像部」に相当する。
ウ　以上のことから、引用発明の「絶縁テープ５のない状態で」「出力波形である基準波形○１を」出力する「カメラ３」と、本願発明の「前記測定対象を介さずに前記面光源部からの出射光を受光できる位置に設置され、前記面光源部の出射面の光量を測定する補正用撮像部」とは、「前記測定対象を介さずに前記光源部からの出射光を受光する、前記面光源部の出射面の光量を測定する補正用撮像部」である点において共通する。
（４）
ア　引用発明の「絶縁テープの異物検出除去装置」は、「線状光源２からの透過光強度を検出するカメラ３」を有していることから、透過光を検出する装置であることは明らかである。
イ　よって、引用発明の「絶縁テープの異物検出除去装置」は、本願発明の「透過光検出装置」に相当する。
２　一致点
　
　してみると、本願発明と引用発明とは、
　
「　シート状の測定対象の幅方向に沿って、少なくとも前記測定対象の一方の端縁から他方の端縁に至るまでの範囲に光を照射する光源部と、
　前記測定対象を介して前記光源部からの出射光を受光できる位置に設置されて、前記測定対象を透過する光を検出する検出用撮像部と、
　前記測定対象を介さずに前記光源部からの出射光を受光する、前記面光源部の出射面の光量を測定する補正用撮像部とを備える透過光検出装置。」
　
の発明である点で一致し、次の２点で相違する。
　
３　相違点
　
（相違点１）
　光源部が、本願発明は、「面光源部」であるのに対し、引用発明は、「線状光源２」である点。
（相違点２）
　測定対象を介さずに前記面光源部からの出射光を受光する補正用撮像部が、本願発明においては、「出射光を受光できる位置に設置され」るのに対し、引用発明においては、そのような特定はない点。
第５　当審の判断
　
１　上記各相違点について検討する。
（１）相違点１について
　引用発明の「線状光源２」は、「スリットから光を上方に出すようになって」いるところ、「スリット」が「有限の幅」を有するものであることは技術常識であるから、引用発明の「線状の光」は現実には長い面状の光であり、引用発明の「線状光源２」は、面光源部であるといえる。
　よって、相違点１は、実質的な相違点ではない。
　加えて、引用発明の「線状光源２」が面光源部であるといえないとしても、透過光検出において面光源部を用いることは、本願出願前において周知であり（例えば、特開平９−３００５９６号公報の段落【００１４】等参照。）、引用発明において線状光源２に代えて面光源部を用いることに、何ら困難性はない。
（２）相違点２について
ア　相違点２は、本願発明は「補正用撮像部」を「検出用撮像部」とは別体の撮像部で構成し、面光源部からの出射光を直接受光できる位置に「補正用撮像部」を設置しているのに対し、引用発明はそのような特定をしていない（補正用の出力波形の取得と透過光強度の検出とを単独の「カメラ３」で行っている）ことを意味するものである。
イ　引用例２には、上記第３の４のとおり、
「　光学読取装置において発光素子アレイからの光を利用して原稿情報を読取用受光素子で読取る際の、当該発光素子アレイの発光量を制御するに当り、
　発光素子アレイの各ドットからの発光の一部を原稿を介さずに直接受光できる位置に設置した長尺状のホトダイオードの受光素子アレイである補助受光素子で検出し、その補助受光素子から受光量に応じて得られる出力をその発光素子にフィードバックさせ、このフィードバック量に応じてその発光素子の発光量を制御する技術。」
である引用発明２が記載されている。
　そして、上記第３の３（５）に摘記したように、引用例２には、「このようにすれば、発光素子１０の発光量に応じた補助受光素子からの出力を常にファイードバック（当審注：「ファイードバック」は「フィードバック」の誤記と認める。）させながら発光量の制御を行っているので、発光素子やその他の回路素子の経年変化或いは温度等による一時的な変化にも影響されずに、発光素子アレイの発光量の制御を行うことが出来る。」との記載がある。当該記載を含む引用例２に接した当業者であれば、補助受光素子を配置して発光素子アレイの発光を検出することにより、発光素子アレイ本来の用途に影響を与えずに、発光素子アレイの使用状況下においても、その発光量分布を検知することが可能になるものと理解するのが自然である。
　よって、引用発明２は、「読取用受光素子」とは別体の「受光素子アレイ」を「発光素子アレイ」からの「発光の一部を」「直接受光できる位置に設置」することにより、「発光素子アレイ」の発光量を常時検出して補正に利用しようとするものであるといえる。
ウ　ここで、本願発明と引用発明２とを対比する。
（ア）引用発明２の「読取用受光素子」は、「原稿情報」を「読み取る」ものであるから、本願発明の「検出用撮像部」に相当する。
（イ）引用発明２の「受光素子アレイ」は、一次元の光量分布、すなわち一次元の像を検出することができるものであるから、撮像部であるといえる。また、その出力が発光素子の発光量を制御するために使用されるものであるから、補正用の受光素子アレイであるといえる。よって、引用発明２の「受光素子アレイ」は、本願発明の「補正用撮像部」に相当する。
（ウ）引用発明２の「発光素子アレイの各ドットからの発光」は、有限の大きさを有する光であって、「発光素子アレイ」全体からの発光も現実には有限の長さと幅を有する面状の光であることは技術常識であり、引用発明２の「発光素子アレイ」は面光源であるといえるから、引用発明２の「発光素子アレイ」は、本願発明の「面光源部」に相当する。
（エ）してみると、引用発明２は、「検出用撮像部」とは別体の「補正用撮像部」を「面光源部」からの「発光の一部を」「直接受光できる位置に設置」することにより、「面光源部」の発光量を常時検出して補正に利用しようとするものであると言い換えることができ、引用発明２は、相違点２の要因となる本願発明の構成である「補正用撮像部」を「検出用撮像部」とは別体の撮像部で構成し、面光源部からの出射光を直接受光できる位置に「補正用撮像部」を設置する構成を備えたものにほかならない。
エ　引用発明と引用発明２との組合せについて
（ア）その１
　線状光源２を使用する絶縁テープの異物検出除去装置である引用発明において、絶縁テープの異物検出除去装置の使用中における線状光源２の照明むらの変動が異物検出の判定結果に影響を及ぼし得ることは明らかであり、使用中における線状光源２の照明むらの変動に対処することは、引用発明に内在する課題であるといえる。
　引用発明と引用発明２とは、光源からの線状の光を対象物に照射し、対象物を介した光を受光部で検出する点において共通する技術に関するものであり、照明むらが検出結果に与える影響を補正するという共通の課題を有するものである。
　してみると、引用例１及び２に接した当業者であれば、引用発明において、使用中における線状光源２の照明むらの変動に対処すべく、シェーディング補正ユニット２２が使用中における線状光源２の照明むらの変動による影響をも相殺できるようにするために、引用発明２の「読取用受光素子」とは別体の「受光素子アレイ」を「発光素子アレイ」からの「発光の一部を」「直接受光できる位置に設置」する構成を採用し、カメラ３とは別体の受光素子アレイを線状光源２からの光を直接受光できる位置に設置することは、容易に想到し得ることである。
　そして、引用発明において、「カメラ３」とは別体の受光素子アレイを「線状光源２」からの「光」を直接受光できる位置に設置した結果、受光素子アレイ（補正用撮像部）の設置位置が、絶縁テープ５（測定対象）を介さずに線状光源２（面光源部）からの光（出射光）を受光できる位置となることは明らかである。
　よって、相違点２に係る本願発明の発明特定事項は、引用発明及び引用発明２から、当業者が容易に想到し得ることである。
（イ）その２
　また、上記したように、引用発明と引用発明２とは、光源からの線状の光を対象物に照射し、対象物を介した光を受光部で検出する点において共通する技術に関するものであり、照明むらが検出結果に与える影響を補正するという共通の課題を有するものであるから、引用例１及び２に接した当業者であれば、引用発明において、引用発明２の「受光素子アレイである」「補助受光素子から受光量に応じて得られる出力をその発光素子にフィードバックさせ、このフィードバック量に応じてその発光素子の発光量を制御する技術」を採用すべく、線状光源２を発光素子アレイで構成するとともに、発光素子アレイからの発光の一部を直接受光できる位置に受光素子アレイを設置することも、容易に想到し得ることである。
２　本願発明の奏する作用効果
　本願発明によってもたらされる効果は、引用発明及び引用発明２から当業者が予測し得る程度のものである。
３　まとめ
　以上のとおりであり、本願発明は、引用発明及び引用発明２に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　なお、請求人は、審判請求書の「（ｃ）本願発明と引用発明との対比」において、「（２）しかしながら、本願発明では、シート状の測定対象の全幅に光を照射する一つの面光源部に対して、二つの撮像部（検出用撮像部及び補正用撮像部）を設けておき、一方の撮像部（検出用撮像部）で測定対象を透過する透過光量を測定するとともに、他方の撮像部（補正用撮像部）で面光源部の光量を測定するようにしています。これは、測定対象物を透過する前の光の状態を知るために面光源部の出射面の光量を同時に測定し、かかる光量に基づいて、実際に測定対象を透過してきた光の透過量を補正するためであり、本願発明にあっては、測定対象を透過する透過光量の測定値と、これと同時に測定された面光源部の光量の測定値とを比較することによって、測定対象を透過する光の透過率を高精度に測定できるようにしていますが、このような本願特有の技術的特長を教示するような記載は、引用文献１，２のいずれにもなく、引用文献１，２は、本願明細書[０００４]，［００１７］段落等に記載した本願発明に特有の課題を教示するものでもありません。」、「（４）・・・（中略）・・・また、引用文献２に記載された発明は、光学読取装置の発光素子アレイの発光量のバラツキが少なくなるように、発光素子アレイの発光量を制御することを課題とするものですので、原査定に示された論理づけでは、光源の強度分布のばらつきを補正する構成が導かれるに過ぎません。そこから更に、面光源部の光量変動や輝度ムラがあることを前提として、測定対象を透過する光を検出するとともに、これと同時に測定対象を介さずに面光源部の出射面の光量を測定して、測定対象を透過する光の透過率を高精度に測定できるようにした本願発明に想到する動機づけになり得るものは、引用文献２には何も示されていません。」と主張しているが、本願発明である本願の請求項１に係る発明では、補正用撮像部での測定結果をどのように使用するかについては特定されておらず、補正用撮像部を透過率を測定するために使用するもののみならず、光源の強度分布のばらつきを補正するために使用するものをも包含するものであるから、本願の特許請求の範囲の請求項１の記載に基づいた主張であるとは認められず、採用することができない。
第６　むすび
　以上のとおりであるから、本願発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、その余の請求項に係る発明について論及するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。