【事件の表示】
　特願２０１１−２７３９８５「三次元計測装置」拒絶査定不服審判事件〔平成２５年　６月２４日出願公開，特開２０１３−１２４９３８〕について，次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は，成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本件出願は，平成２３年１２月１５日の特許出願であって，その手続の経緯は，概略，以下のとおりである。
平成２５年１１月１２日：拒絶理由通知（同年同月１９日発送）
平成２６年　１月　７日：意見書
平成２６年　１月　７日：手続補正書
平成２６年　３月　５日：拒絶査定（同年同月１１日送達）
平成２６年　５月１５日：手続補正書（以下「本件補正」という。）
平成２６年　５月１５日：審判請求
平成２６年　６月　６日：前置報告
平成２６年　７月１７日：（前置報告に対して）上申書
　
第２　補正却下の決定
［結論］
　本件補正を却下する。
　
［理由］
　１　補正の内容
　(1) 本件補正前の特許請求の範囲の請求項１の記載は，以下のとおりである。
「　所定の光を発する第１光源，及び，当該第１光源からの光を縞状の光強度分布を有する第１光パターンに変換する第１格子を有し，当該第１光パターンを第１位置から被計測物に対し照射可能な第１照射手段と，
　前記第１格子の移送又は切替を制御し，前記第１照射手段から照射する前記第１光パターンの位相を複数通りに変化させる第１格子制御手段と，
　所定の光を発する第２光源，及び，当該第２光源からの光を縞状の光強度分布を有する第２光パターンに変換する第２格子を有し，当該第２光パターンを前記第１位置とは異なる第２位置から被計測物に対し照射可能な第２照射手段と，
　前記第２格子の移送又は切替を制御し，前記第２照射手段から照射する前記第２光パターンの位相を複数通りに変化させる第２格子制御手段と，
　前記第１光パターン又は第２光パターンの照射された前記被計測物からの反射光を撮像可能な撮像手段と，
　複数通りに位相変化させた前記第１光パターン又は第２光パターンの照射に基づき取得した複数通りの画像データを基に位相シフト法により三次元計測を行う画像処理手段とを備え，
　前記位相の異なる複数通りの第１光パターンを照射して行われる複数回の撮像処理のうちの１回分である第１撮像処理，又は，前記位相の異なる複数通りの第２光パターンを照射して行われる複数回の撮像処理のうちの１回分である第２撮像処理のうちの一方の撮像処理を実行し，
　前記一方の撮像処理の終了と同時に，当該一方の撮像処理に係る前記第１格子又は前記第２格子の移送又は切替処理を開始し，
　当該一方の撮像処理に係る前記第１格子又は前記第２格子の移送又は切替処理の完了を待つことなく，前記両撮像処理のうちの他方の撮像処理を実行し，
　当該他方の撮像処理の終了と同時に，前記一方の撮像処理に係る前記第１格子又は前記第２格子の移送又は切替処理の完了を待つことなく，前記他方の撮像処理に係る前記第１格子又は前記第２格子の移送又は切替処理を開始可能とし，
　前記第１撮像処理又は前記第２撮像処理に要する時間よりも，前記第１格子又は前記第２格子の移送又は切替処理に要する時間の方が長いことを特徴とする三次元計測装置。」
　
　(2) 本件補正後の特許請求の範囲の請求項１の記載は，以下のとおりである。なお，下線は，当審判体が付したものである（以下同様）。
「　所定の光を発する第１光源，及び，当該第１光源からの光を縞状の光強度分布を有する第１光パターンに変換する第１格子を有し，当該第１光パターンを第１位置から被計測物に対し照射可能な第１照射手段と，
　前記第１格子の移送又は切替を制御し，前記第１照射手段から照射する前記第１光パターンの位相を複数通りに変化させる第１格子制御手段と，
　所定の光を発する第２光源，及び，当該第２光源からの光を縞状の光強度分布を有する第２光パターンに変換する第２格子を有し，当該第２光パターンを前記第１位置とは異なる第２位置から被計測物に対し照射可能な第２照射手段と，
　前記第２格子の移送又は切替を制御し，前記第２照射手段から照射する前記第２光パターンの位相を複数通りに変化させる第２格子制御手段と，
　前記第１光パターン又は第２光パターンの照射された前記被計測物からの反射光を撮像可能な撮像手段と，
　複数通りに位相変化させた前記第１光パターン又は第２光パターンの照射に基づき取得した複数通りの画像データを基に位相シフト法により三次元計測を行う画像処理手段とを備え，
　前記位相の異なる複数通りの第１光パターンを照射して行われる複数回の撮像処理のうちの１回分である第１撮像処理，又は，前記位相の異なる複数通りの第２光パターンを照射して行われる複数回の撮像処理のうちの１回分である第２撮像処理のうちの一方の撮像処理を実行可能であり，
　前記第１撮像処理の終了と同時に，当該第１撮像処理に係る前記第１格子の移送又は切替処理を開始し，
　当該第１撮像処理に係る前記第１格子の移送又は切替処理の完了を待つことなく，前記第２撮像処理を実行し，
　当該第２撮像処理の終了と同時に，前記第１撮像処理に係る前記第１格子の移送又は切替処理の完了を待つことなく，前記第２撮像処理に係る前記第２格子の移送又は切替処理を開始し，
　
前記第１撮像処理に係る前記第１格子の移送又は切替処理の完了と同時に次回の第１撮像処理を実行可能とし，
　前記第１撮像処理又は前記第２撮像処理に要する時間よりも，前記第１格子又は前記第２格子の移送又は切替処理に要する時間の方が長いことを特徴とする三次元計測装置。」
　
　２　補正の目的
　本件補正は，本件補正前の特許請求の範囲の請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）の第１撮像処理の実行に関して，「前記第１撮像処理に係る前記第１格子の移送又は切替処理の完了と同時に次回の第１撮像処理を実行可能とし」という記載を加えて，（次回の）第１撮像処理が実行可能となるタイミングを限定したものと解することができるから，本件補正は，特許法１７条の２第５項２号に掲げる特許請求の範囲の減縮を目的とする補正を含むものである。
　そこで，本件補正後の特許請求の範囲の請求項１に係る発明（以下「本件補正後発明」という。）が，特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて，以下，検討する。
　
　３　独立特許要件違反
　(1) 引用例１に記載の事項
　本件出願の出願前に頒布された刊行物である特開２０１０−２７６６０７号公報（公開日：平成２２年１２月９日，出願番号：特願２０１０−１２０６６３号，出願日：平成２２年５月２６日，発明の名称：「３次元形状測定装置および測定方法」，出願人：「コー・ヤング・テクノロジー・インコーポレーテッド」，以下「引用例１」という。）には，図面とともに，以下の事項が記載されている。
　
　ア　「【技術分野】
【０００１】
本発明は，３次元形状測定装置および測定方法に関し，より詳細には，測定時間を短縮させることのできる３次元形状測定装置および測定方法に関する。」
　
　イ　「【背景技術】
【０００２】
一般的に，３次元形状測定装置は，撮影された画像を用いて測定対象物の３次元形状を測定する装置を示す。このような３次元形状測定装置は，前記測定対象物に向かって光を照射する投影部，前記測定対象物で反射された光を通じて前記画像を撮影するカメラ部，および前記投影部と前記カメラ部とを制御して前記画像を演算処理して前記３次元形状を測定する制御部を含んでもよい。
【０００３】
このような３次元形状測定装置は，測定対象物の撮影された画像を演算処理して３次元形状を測定するため，測定対象物の３次元形状に対する測定時間の短縮により作業の迅速性および効率性を向上させ，これによる測定費用を節減しうる重要な要素となる。
【０００４】
従来の３次元形状測定装置において，以下のような例は前述した測定時間を増加させる要因になり得る。
【０００５】
第１に，撮影および格子移送方式によって測定時間が増加する。
【０００６】
図１は，従来の３次元形状測定装置を用いた３次元形状測定方法を示した図である。
【図１】
【０００７】
図１を参照すると，投影部を２個使う場合，従来は第１投影部を通じて格子を移送しながら複数の画像を撮影した後，第２投影部を通じて格子を移送しながら複数の画像を撮影する方式で測定を行った。
【０００８】
しかし，カメラ撮像後，格子移送が行われる構造によって撮像時間と格子移送時間とが別に必要であるため，全体の測定時間が増加し，投影部の個数が増加するほど測定時間がさらに増加するという問題が発生する。」
　
　ウ　「【００１２】
第３に，測定時間の短縮のためにカメラの撮像時間および格子素子の移送時間を減少させることには限界がある。
【００１３】
速い速度で基板を検査するためには，カメラの撮像時間または，格子素子の移送時間を減少させなければならないが，カメラの撮像時間を減少させると，十分な反射格子画像が受信できなくなり正確な検査をすることが難しくなる。また，格子素子の移送時間を減少させることも非常に制限的なものであるため，実質的に検査時間を短縮しにくいという問題がある。」
　
　エ　「【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
そこで，本発明は，前記問題に鑑みてなされたものであり，本発明の目的とするところは，
３次元形状の測定時間を短縮させることが可能な３次元形状測定装置
　
　オ　「【課題を解決するための手段】
【００２１】
本発明の一実施形態に係る３次元形状測定装置は，光源および格子素子を含み，前記格子素子をｎ回移送させながら移送ごとに測定対象物に格子パターン照明を投影するｍ個の投影部と，前記測定対象物で反射される格子パターン画像を撮影する結像部と，前記ｍ個の投影部のうち，いずれか一つの投影部を用いて前記格子パターン画像を撮影する間に，少なくとも一つの他の投影部の格子素子が移送されるように制御する制御部と，を含む(ここで，ｎおよびｍは２以上の自然数である。)。
【００２２】
前記ｍが２である場合，前記制御部は，一番目の投影部を用いて前記格子パターン画像を１回撮影する間に２番目の投影部の前記格子素子を２π／ｎだけ移送させ，続いて前記２番目の投影部を用いて前記格子パターン画像を１回撮影する間に前記一番目の投影部の前記格子素子を２π／ｎだけ移送させてもよい。
【００２３】
前記ｍが３以上である場合，前記制御部は，一番目の投影部からｍ番目の投影部までをそれぞれ一回ずつ用いて前記格子パターン画像をｍ回撮影すると同時に，前記ｍ回の撮影期間中，撮影に用いられていない投影部の前記格子素子を非撮影期間に２π／ｎだけ移送させてもよい。前記制御部は，前記投影部のそれぞれが前記格子パターン照明を投影する前の少なくとも２回の撮影期間の前に，前記格子素子を移送させるように制御してもよい。
【００２４】
前記制御部は，前記ｍ個の投影部のうち，いずれか一つの投影部を用いて前記格子パターン画像を撮影した後，直ぐに続いて行われる他の投影部を用いた撮影期間に，前記いずれか一つの投影部の格子素子を移送させるように制御してもよい。」
　
　カ　「【００５３】
図２は，本発明の一実施形態に係る３次元形状測定装置を概略的に示した図面である。
【図２】
【００５４】
図２を参照すると，本発明の一実施形態に係る
３次元形状測定装置１００は，ｍ個の投影部１１０，結像部１２０，および制御部１３０を含む。
【００５５】
ｍ個の投影部１１０は，それぞれワークステージ１４０に固定された測定対象物１５０に格子パターン照明を投影させる。複数の投影部１１０は，測定対象物１５０の法線に対して一定の角度に傾いた格子パターン照明を照射するように配置してもよい。例えば，３次元形状測定装置１００は，２個，３個，４個または，６個の投影部１１０を含んでもよく，
複数の投影部１１０は，測定対象物１５０の法線に対して対称的に配置されてもよい。
【００５６】
それぞれの投影部１１０は，光源１１１および格子素子１１２を含む。
光源１１１は，測定対象物１５０に向かって光を照射する。格子素子１１２は，光源１１１で照射された光を格子パターンによる格子パターン照明に変換させる。格子素子１１２は，位相遷移された格子パターン照明を発生させるためにアクチュエータなどの格子移送器具(図示せず)を用いて２π／ｎだけｎ回移送される。
【００５７】
結像部１２０は，測定対象物１５０に投影された格子パターン照明によって測定対象物１５０で反射される格子パターン画像を撮影する。
【００５８】
制御部１３０は，３次元形状測定装置１００に含まれる構成要素の動作を全体的に制御する。
制御部１３０は，格子素子１１２をｎ回移送させて移送ごとに測定対象物１５０に格子パターン照明を投影するように投影部１１０を制御する。また，制御部１３０は，測定対象物１５０で反射される格子パターン画像を撮影するように結像部１２０を制御する。
【００５９】
特に，３次元形状測定装置１００の全体的な測定時間を減少させるために，制御部１３０は，ｍ個の投影部１１０のうち，いずれか一つの投影部１１０を用いて格子パターン画像を撮影する間に，少なくとも一つの他の投影部１１０の格子素子１１２が移送されるように制御する。
　
　キ　「【００６０】
図３は，２個の投影部を含む３次元形状測定装置の駆動方法を示した図である。
【図３】
【００６１】
図２および図３を参照すると，本発明の一実施形態に係る３次元形状測定装置１００は，２個の投影部１１０，すなわち，第１投影部１１０ａおよび第２投影部１１０ｂを含む。
【００６２】
制御部１３０は，一番目の投影部すなわち，第１投影部１１０ａを用いて格子パターン画像１を１回撮影する期間に，２番目の投影部すなわち，第２投影部１１０ｂの格子素子１１２を２π／ｎの位相に対応する距離だけに移送させる。その後，制御部１３０は，第２投影部１１０ｂを用いて格子パターン画像２を１回撮影する期間に，第１投影部１１０ａの格子素子１１２を２π／ｎの位相に対応する距離だけ移送させる。
続いて，制御部１３０は，第１投影部１１０ａおよび第２投影部１１０ｂを通じて前記のような過程を数回繰り返し，格子パターン画像３から格子パターン画像８までの撮影を実行するように制御する。
【００６３】
以後，
制御部１３０は，第１投影部１１０ａを用いて撮影された格子パターン画像１，３，５，および７を合成して第１位相情報を獲得し，第２投影部１１０ｂを用いて撮影された格子パターン画像２，４，６，および８を合成して第２位相情報を獲得した後，前記第１位相情報および第２位相情報を用いて測定対象物１５０の３次元形状を測定する。
　
　ク　「【００６７】
図４は，本発明の他の実施形態に係る３次元形状測定装置の駆動方法を示した図である。
【図４】
【００６８】
図４を参照すると，３次元形状測定装置は，３個の投影部すなわち，第１投影部，第２投影部，および第３投影部を含んでもよい。例えば，測定対象物を中心にして１２０度ずつ離されて配置されてもよい。
【００６９】
３個の投影部のうち，一番目の投影部すなわち，第１投影部を用いて格子パターン画像１を撮影する期間に，残りの投影部のいずれか一つ，例えば，第３投影部の格子素子を２π／ｎの位相に対応する距離だけ移送させる。その後，２番目の投影部すなわち，第２投影部を用いて格子パターン画像２を撮影する期間に，残りの投影部のいずれか一つ，例えば，第１投影部の格子素子を２π／ｎの位相に対応する距離だけ移送させる。その後，第３投影部を用いて格子パターン画像３を撮影する期間に，残りの投影部のいずれか一つ，例えば，第２投影部の格子素子を２π／ｎの位相に対応する距離だけ移送させる。その後，第１投影部，第２投影部，および第３投影部を用いて前記のような過程を数度繰り返して，格子パターン画像４から格子パターン画像１２までの撮影を実行する。
【００７０】
一方，画像撮影時間の短縮によって格子素子の移送時間が相対的に長くなることがある。例えば，画像撮像時間が約５ｍsであり，格子素子の移送時間が約７ｍsである場合，格子素子の移送時間が画像撮像時間に比べて約２ｍs程度長くなる。このような場合，格子素子の移送が１回の画像撮影期間内に行われることが不可能であるため，格子素子の移送は２回の画像撮影期間に行われるようになる。よって，それぞれの投影部は，格子パターン照明を投影する前の少なくとも２回の画像撮像期間の前に，格子素子を移送させることが望ましい。例えば，第１投影部は，格子パターン画像４を撮影する前の格子パターン画像２と格子パターン画像３とを撮影する２回の画像撮影期間に格子素子を移送することが望ましい。従って，それぞれの投影部は，格子パターン画像を撮影した後，直ぐに格子素子を移送することが望ましい。
【００７１】
格子パターン画像１から格子パターン画像１２までの撮影が完了した後，第１投影部を用いて撮影された格子パターン画像１，４，７，１０を合成して第１位相情報を獲得し，第２投影部を用いて撮影した格子パターン画像２，５，８，１１を合成して第２位相情報を獲得し，第３投影部を用いて撮影された格子パターン画像３，６，９，１２を合成して第３位相情報を獲得した後，前記第１位相情報，第２位相情報，および第３位相情報を用いて測定対象物の３次元形状を測定する。
【００７２】
図４では，各投影部を通じて４度の撮影を実行する４−バケット方式を例にあげて説明したが，この他にも３−バケットなどの多様なバケット方式についても前述した駆動方式を適用してもよい。また，図４に示された駆動方式は，４個以上の投影部を含む３次元形状測定装置にも適用してもよい。」
　
　(2) 引用発明
　これら記載内容からみて，引用例１には，図２及び図３に対応する発明として，以下の発明が記載されている（以下「引用発明」という。また，引用発明の認定に際して参考にした引用例１の記載箇所を，段落番号で付記する。）。
　
「　【００５４】３次元形状測定装置１００は，ｍ個の投影部１１０，結像部１２０，および制御部１３０を含み，
　【００５５】複数の投影部１１０は，測定対象物１５０の法線に対して対称的に配置され，【００５６】それぞれの投影部１１０は，光源１１１および格子素子１１２を含み，光源１１１は，測定対象物１５０に向かって光を照射し，格子素子１１２は，光源１１１で照射された光を格子パターンによる格子パターン照明に変換させ，
　【００５６】格子素子１１２は，位相遷移された格子パターン照明を発生させるためにアクチュエータなどの格子移送器具を用いて２π／ｎだけｎ回移送され，
　【００５７】結像部１２０は，測定対象物１５０に投影された格子パターン照明によって測定対象物１５０で反射される格子パターン画像を撮影し，
　【００５８】制御部１３０は，格子素子１１２をｎ回移送させて移送ごとに測定対象物１５０に格子パターン照明を投影するように投影部１１０を制御し，制御部１３０は，測定対象物１５０で反射される格子パターン画像を撮影するように結像部１２０を制御し，【００５９】制御部１３０は，３次元形状測定装置１００の全体的な測定時間を減少させるために，ｍ個の投影部１１０のうち，いずれか一つの投影部１１０を用いて格子パターン画像を撮影する間に，少なくとも一つの他の投影部１１０の格子素子１１２が移送されるように制御し，
　ここで，ｍ＝２，ｎ＝４であり，
【００６２】制御部１３０は，一番目の投影部すなわち，第１投影部１１０ａを用いて格子パターン画像１を１回撮影する期間に，２番目の投影部すなわち，第２投影部１１０ｂの格子素子１１２を２π／４の位相に対応する距離だけ移送させ，その後，制御部１３０は，第２投影部１１０ｂを用いて格子パターン画像２を１回撮影する期間に，第１投影部１１０ａの格子素子１１２を２π／４の位相に対応する距離だけ移送させ，続いて，制御部１３０は，第１投影部１１０ａおよび第２投影部１１０ｂを通じて前記のような過程を数回繰り返し，格子パターン画像３から格子パターン画像８までの撮影を実行するように制御し，
【００６３】制御部１３０は，第１投影部１１０ａを用いて撮影された格子パターン画像１，３，５，および７を合成して第１位相情報を獲得し，第２投影部１１０ｂを用いて撮影された格子パターン画像２，４，６，および８を合成して第２位相情報を獲得した後，前記第１位相情報および第２位相情報を用いて測定対象物１５０の３次元形状を測定する，
　【００１７】３次元形状の測定時間を短縮させることが可能な，
３次元形状測定装置。」
　
　(3) 対比
　本件補正後発明と引用発明を対比すると，以下のとおりである。
　ア　第１照射手段
　引用発明の「それぞれの投影部１１０は，光源１１１および格子素子１１２を含み，光源１１１は，測定対象物１５０に向かって光を照射し，格子素子１１２は，光源１１１で照射された光を格子パターンによる格子パターン照明に変換させ」る。ここで，ｍ＝２である。
　そうしてみると，引用発明の一番目の投影部，すなわち，第１投影部１１０ａの「光源１１１」は，本件補正後発明の「所定の光を発する第１光源」に相当する。また，引用発明の第１投影部１１０ａの「格子素子１１２」と本件補正後発明の「第１格子」は，「当該第１光源からの光を」「第１光パターンに変換する第１格子」の点で一致する。
　さらにまた，引用発明の「複数の投影部１１０は，測定対象物１５０の法線に対して対称的に配置され」るから，引用発明の第１投影部１１０ａの位置は，「第１位置」である。
　したがって，引用発明の「第１投影部１１０ａ」と本件補正後発明の「第１照射手段」は，「所定の光を発する第１光源，及び，当該第１光源からの光を」「第１光パターンに変換する第１格子を有し，当該第１光パターンを第１位置から被計測物に対し照射可能な第１照射手段」の点で一致する。
　
　イ　第１格子制御手段
　引用発明の「制御部１３０は，格子素子１１２をｎ回移送させて移送ごとに測定対象物１５０に格子パターン照明を投影するように投影部１１０を制御し」，投影部１１０の「格子素子１１２は，位相遷移された格子パターン照明を発生させるためにアクチュエータなどの格子移送器具を用いて２π／ｎだけｎ回移送され」る。ここで，ｎ＝４であり，「ｍ」及び「第１投影部１１０ａ」は，前記アで述べたとおりである。
　したがって，引用発明の，制御部１３０によって制御される第１投影部１１０ａの「格子移送器具」は，本件補正後発明の「前記第１格子の移送又は切替を制御し，前記第１照射手段から照射する前記第１光パターンの位相を複数通りに変化させる第１格子制御手段」に相当する。
　
　ウ　第２照射手段
　前記アと同様に対比すると，引用発明の「第２投影部１１０ｂ」と本件補正後発明の「第２照射手段」は，「所定の光を発する第２光源，及び，当該第２光源からの光を」「第２光パターンに変換する第２格子を有し，当該第２光パターンを前記第１位置とは異なる第２位置から被計測物に対し照射可能な第２照射手段」の点で一致する。
　
　エ　第２格子制御手段
　前記イと同様に対比すると，引用発明の制御部１３０によって制御される第２投影部１１０ｂの「格子移送器具」は，本件補正後発明の「前記第２格子の移送又は切替を制御し，前記第２照射手段から照射する前記第２光パターンの位相を複数通りに変化させる第２格子制御手段」に相当する。
　
　オ　撮像手段
　引用発明の「結像部１２０は，測定対象物１５０に投影された格子パターン照明によって測定対象物１５０で反射される格子パターン画像を撮影し」ている。
　したがって，引用発明の「結像部１２０」は，本件補正後発明の「前記第１光パターン又は第２光パターンの照射された前記被計測物からの反射光を撮像可能な撮像手段」に相当する。
　
　カ　画像処理手段
　引用発明の「制御部１３０は，第１投影部１１０ａを用いて撮影された格子パターン画像１，３，５，および７を合成して第１位相情報を獲得し，第２投影部１１０ｂを用いて撮影された格子パターン画像２，４，６，および８を合成して第２位相情報を獲得した後，前記第１位相情報および第２位相情報を用いて測定対象物１５０の３次元形状を測定する」。
　したがって，引用発明の「制御部１３０」と本件補正後発明の「画像処理手段」は，「複数通りに位相変化させた前記第１光パターン又は第２光パターンの照射に基づき取得した複数通りの画像データを基に」「三次元計測を行う画像処理手段」の点で一致する。
　
　キ　三次元計測装置
　以上の対比結果を踏まえると，引用発明の「３次元形状測定装置」は本件補正後発明の「三次元計測装置」に相当する。
　また，引用発明の「制御部１３０は，格子素子１１２をｎ回移送させて移送ごとに測定対象物１５０に格子パターン照明を投影するように投影部１１０を制御し，制御部１３０は，測定対象物１５０で反射される格子パターン画像を撮影するように結像部１２０を制御し」ている。
　したがって，引用発明の「３次元形状測定装置」は，本件補正後発明の「前記位相の異なる複数通りの第１光パターンを照射して行われる複数回の撮像処理のうちの１回分である第１撮像処理，又は，前記位相の異なる複数通りの第２光パターンを照射して行われる複数回の撮像処理のうちの１回分である第２撮像処理のうちの一方の撮像処理を実行可能であり」の要件を満たす。
　
　(4) 一致点及び相違点
　ア　一致点
　本件補正後発明と引用発明は，以下の点で一致する。
「　所定の光を発する第１光源，及び，当該第１光源からの光を第１光パターンに変換する第１格子を有し，当該第１光パターンを第１位置から被計測物に対し照射可能な第１照射手段と，
　前記第１格子の移送又は切替を制御し，前記第１照射手段から照射する前記第１光パターンの位相を複数通りに変化させる第１格子制御手段と，
　所定の光を発する第２光源，及び，当該第２光源からの光を第２光パターンに変換する第２格子を有し，当該第２光パターンを前記第１位置とは異なる第２位置から被計測物に対し照射可能な第２照射手段と，
　前記第２格子の移送又は切替を制御し，前記第２照射手段から照射する前記第２光パターンの位相を複数通りに変化させる第２格子制御手段と，
　前記第１光パターン又は第２光パターンの照射された前記被計測物からの反射光を撮像可能な撮像手段と，
　複数通りに位相変化させた前記第１光パターン又は第２光パターンの照射に基づき取得した複数通りの画像データを基に三次元計測を行う画像処理手段とを備え，
　前記位相の異なる複数通りの第１光パターンを照射して行われる複数回の撮像処理のうちの１回分である第１撮像処理，又は，前記位相の異なる複数通りの第２光パターンを照射して行われる複数回の撮像処理のうちの１回分である第２撮像処理のうちの一方の撮像処理を実行可能である，
三次元計測装置。」
　
　イ　相違点
　本件補正後発明と引用発明は，以下の点で相違する。
（相違点１）
　本件補正後発明の第１格子は，第１光源からの光を「縞状の光強度分布を有する」第１光パターンに変換する第１格子であるのに対し，引用発明の第１投影部１１ａの格子素子１１２は，一応，これが明らかでない点。
　
（相違点２）
　第２格子について，相違点１と同様の点。
　
（相違点３）
　本件補正後発明の画像処理手段は，複数通りに位相変化させた前記第１光パターン又は第２光パターンの照射に基づき取得した複数通りの画像データを基に「位相シフト法により」三次元計測を行う画像処理手段であるのに対し，引用発明の制御部１３０は，一応，これが明らかではない点。
　
（相違点４）
　本件補正後発明の三次元計測装置は，「前記第１撮像処理の終了と同時に，当該第１撮像処理に係る前記第１格子の移送又は切替処理を開始し，当該第１撮像処理に係る前記第１格子の移送又は切替処理の完了を待つことなく，前記第２撮像処理を実行し，当該第２撮像処理の終了と同時に，前記第１撮像処理に係る前記第１格子の移送又は切替処理の完了を待つことなく，前記第２撮像処理に係る前記第２格子の移送又は切替処理を開始し，前記第１撮像処理に係る前記第１格子の移送又は切替処理の完了と同時に次回の第１撮像処理を実行可能とし，前記第１撮像処理又は前記第２撮像処理に要する時間よりも，前記第１格子又は前記第２格子の移送又は切替処理に要する時間の方が長い」という構成を具備するのに対して，引用発明の３次元形状測定装置は，これと異なる構成を具備する点。
　
　(5) 判断
　相違点についての判断は以下のとおりである。
　ア　相違点１〜３について
　引用発明の「制御部１３０は，第１投影部１１０ａを用いて撮影された格子パターン画像１，３，５，および７を合成して第１位相情報を獲得し，第２投影部１１０ｂを用いて撮影された格子パターン画像２，４，６，および８を合成して第２位相情報を獲得した後，前記第１位相情報および第２位相情報を用いて測定対象物１５０の３次元形状を測定する」。このような構成に接した当業者ならば，引用発明の測定原理は位相シフト法によるものであり，また，引用発明の格子パターンは縞状の光強度分布を有するものと理解する。
　相違点１〜３は，引用例１に明示されていないだけであり，事実上の相違点ではない。少なくとも，相違点１〜３は，引用発明に接した当業者が技術常識に従って採用する構成にすぎない。
　
　イ　相違点４について
　引用例１の記載内容，特に，図３からみて，引用発明において，画像撮影時間は，格子移送時間と等しい（あるいは，格子移送時間より短くない）と考えられる。しかしながら，引用例１の段落【００７０】には，ｍ＝３，ｎ＝４の場合において，「一方，画像撮影時間の短縮によって格子素子の移送時間が相対的に長くなることがある。例えば，画像撮像時間が約５ｍsであり，格子素子の移送時間が約７ｍsである場合，格子素子の移送時間が画像撮像時間に比べて約２ｍs程度長くなる。」と記載されているので，この場合について検討すると，以下のとおりである。
　すなわち，ｍ＝３，ｎ＝４である図４の場合において，例えば，画像撮像時間及び移送時間がともに７ｍｓならば，画像１の撮像開始時点を基準にして８４ｍｓ経過時点で画像１２の撮影が終了する。また，図４の場合において，単に画像撮影時間を５ｍｓに短縮しただけならば，画像１２の撮影終了が２ｍｓ早まる（時間が約２％短縮する）だけであるが，段落【００７０】には，「このような場合，格子素子の移送が１回の画像撮影期間内に行われることが不可能であるため，格子素子の移送は２回の画像撮影期間に行われるようになる。よって，それぞれの投影部は，格子パターン照明を投影する前の少なくとも２回の画像撮像期間の前に，格子素子を移送させることが望ましい。例えば，第１投影部は，格子パターン画像４を撮影する前の格子パターン画像２と格子パターン画像３とを撮影する２回の画像撮影期間に格子素子を移送することが望ましい。従って，それぞれの投影部は，格子パターン画像を撮影した後，直ぐに格子素子を移送することが望ましい。」という知見も記載されている。
　したがって，引用例１の段落【００７０】の記載に接した当業者ならば，画像撮像時間を５ｍｓに短縮すると，画像１の撮像開始時点を基準にして，(A)５ｍｓ経過時点で画像１の撮影が終了するので第１投影部の格子移送及び画像２の撮影を開始でき，(B)１０ｍｓ経過時点で画像２の撮影が終了するので第２投影部の格子移送及び画像３の撮影を開始でき，(C)１５ｍｓ経過時点で画像３の撮影が終了するので第３投影部の格子移送を開始でき，また，第１投影部の格子移送は１２ｍｓ経過時点で終了しているので，画像４の撮影も開始でき，以下同様に，(D)６０ｍｓ経過時点で画像１２の撮影が終了することとなり，約３割の時間短縮が達成されることが理解できる。
　ここで，カメラの撮像時間を短縮させるか否かは，速い検査と正確な検査の兼ね合いの問題であり，ｍ＝３の場合においてのみ採用される事項ではない（引用例１の段落【００１３】から理解できる事項である。）。
　そうしてみると，段落【００７０】の記載に接した当業者ならば，ｍ＝３の場合のみならずｍ＝２の場合（引用発明）においても，画像撮像時間を５ｍｓに短縮すると，(a)５ｍｓ経過時点で画像１の撮影が終了するので第１投影部の格子移送及び画像２の撮影を開始でき，(b)１０ｍｓ経過時点で画像２の撮影が終了するので第２投影部の格子移送を開始でき，また，１２ｍｓ経過時点で第１投影部の格子移送が終了するので画像３の撮影を開始でき，(c)１７ｍｓ経過時点で画像３の撮影が終了するので第１投影部の格子移送を開始でき，また，ちょうど第２投影部の格子移送も終了するので画像４の撮影を開始でき，以下同様に，(d)４６ｍｓ経過時点で画像８の撮影が終了することとなり，例えば，画像撮像時間が７ｍｓの場合（５６ｍｓ）に比して，約２割の時間短縮が達成されることが理解できる。
　
　以上のとおりであるから，引用発明の「制御部１３０は，一番目の投影部すなわち，第１投影部１１０ａを用いて格子パターン画像１を１回撮影する期間に，２番目の投影部すなわち，第２投影部１１０ｂの格子素子１１２を２π／４の位相に対応する距離だけ移送させ，その後，制御部１３０は，第２投影部１１０ｂを用いて格子パターン画像２を１回撮影する期間に，第１投影部１１０ａの格子素子１１２を２π／４の位相に対応する距離だけ移送させ，続いて，制御部１３０は，第１投影部１１０ａおよび第２投影部１１０ｂを通じて前記のような過程を数回繰り返し，格子パターン画像３から格子パターン画像８までの撮影を実行するように制御し」の構成に替えて，上記(a)〜(d)のような時間短縮により画像８の撮影終了までの時間を短くし，一層「３次元形状の測定時間を短縮させることが可能な３次元形状測定装置」とすること（すなわち，引用発明において相違点４に係る構成を採用すること）は，引用例１の記載自体が示唆する事項であり，また，速い検査を望む当業者が採用する構成である。
　
　また，本件補正後発明が奏する効果は，引用発明及び引用例１の記載から予測できる範囲内のものであり，顕著なものであるとはいえない。
　
　(6) 請求人の主張について
　ア　請求人は，「引用文献１の［００７０］段落の実施例は，３つの投影部を具備することを大前提としており，「２つの照射手段」を有することを必須要件としている本願発明１とは全く異なるものである」と主張する。
　しかしながら，引用例１には，図２とともに，「ｍ個の投影部」及び「ｎ回の移送」をする発明が開示され，図３においてｍ＝２，ｎ＝４の具体例が開示され，図４及び段落【００７０】においてｍ＝３，ｎ＝４の具体例が開示されているのであるから，引用例１の記載に接した当業者ならば，投影部（照射手段）の数の違いをもって「全く異なるもの」と解することはなく，むしろ，引用例１の記載に接した当業者ならば，単なる投影部の数の違いと認識する。
　
　イ　請求人は，「本願発明１の「前記第１格子又は前記第２格子の移送又は切替処理に要する時間」に相当するのは，引用文献１の［００７０］段落の記載では，「第１投影部」の格子素子の移送時間である「７ｍｓ」であり，本願発明１の「前記第１撮像処理又は前記第２撮像処理に要する時間」，つまり，他方の撮像処理に要する時間に相当するのは，引用文献１の［００７０］段落の記載では，「画像２撮影の画像撮像時間（＝５ｍｓ）」＋「画像３撮影の画像撮像時間（＝５ｍｓ）」であるところの「１０ｍｓ」である筈です。「前記第１撮像処理又は前記第２撮像処理に要する時間」，つまり，他方の撮像処理に要する時間に相当する時間というのは，「第１投影部」の格子素子の移送時間である「７ｍｓ」よりも十分に長いと捉えるのがむしろ自然であります。」と主張する。
　しかしながら，請求人の主張は，引用例１の段落【００７０】に記載された態様と本件補正後発明の相違を主張するものであり，引用発明において前記(5)のとおり容易推考してなる発明には当てはまらない。
　
　ウ　請求人は，「たとえ１つの文献内であっても，そもそもの前提条件が全くもって異なる以上，強引に組み合わせを試みたところで，本願発明１とは異なる構成となり，得られる結果も異なったものとなることは明らかであります。すなわち，前提条件が異なること自体が阻害要因となる筈であり，上記のような強引な組み合わせは，いわゆる後知恵であると思料します。」と主張する。
　確かに，引用例１の図３の態様について「画像撮影時間の短縮」に言及する記載はないから，引用発明は，正確な検査のために，カメラの撮像時間を必要なだけ，例えば，５ｍｓから７ｍｓに増加させたものと解される。また，引用例１の段落【００７０】の記載のうち，「このような場合，格子素子の移送が１回の画像撮影期間内に行われることが不可能であるため，格子素子の移送は２回の画像撮影期間に行われるようになる。よって，それぞれの投影部は，格子パターン照明を投影する前の少なくとも２回の画像撮像期間の前に，格子素子を移送させることが望ましい。例えば，第１投影部は，格子パターン画像４を撮影する前の格子パターン画像２と格子パターン画像３とを撮影する２回の画像撮影期間に格子素子を移送することが望ましい。」との構成は，ｍ＝２の場合には成立しない構成である。
　しかしながら，引用例１には，「速い速度で基板を検査するためには，カメラの撮像時間または，格子素子の移送時間を減少させなければならないが，カメラの撮像時間を減少させると，十分な反射格子画像が受信できなくなり正確な検査をすることが難しくなる。」（段落【００１３】），「画像撮影時間の短縮によって格子素子の移送時間が相対的に長くなることがある。例えば，画像撮像時間が約５ｍsであり，格子素子の移送時間が約７ｍsである場合，格子素子の移送時間が画像撮像時間に比べて約２ｍs程度長くなる。」（段落【００７０】），「それぞれの投影部は，格子パターン画像を撮影した後，直ぐに格子素子を移送することが望ましい。」（段落【００７０】）という事項も開示されている。これら引用例１の記載に接した当業者ならば，画像撮像時間を５ｍｓ，格子素子の移送時間を７ｍｓとした態様も成立しうる（正確な検査という観点では劣るとしても，許容範囲内である）と理解する。速い検査を優先させるか，正確な検査を優先させるかは，単なる当業者のニーズの差にすぎないから，請求人が主張する事項は，阻害要因ではない。また，引用例１において，ｍ＝２の場合の態様において画像撮影時間の短縮に関する言及が存在しないのは，ｍ＝２の場合には画像撮影時間の短縮が不可能であるからではなく，ｍ＝３の場合に比して望ましさの程度が少なかったからにすぎない。
　
　エ　請求人は，「本願発明１によれば，引用文献１との対比において，格別の作用効果が奏されるものであります。すなわち，引用文献１では，「第１照射手段の格子の移送等と，第２照射手段の格子の移送等とを交互に行う構成の下，例えば所定の計測対象範囲につき，２つの光パターンの下で撮像する回数を合計８回（各光パターンにつき４回ずつ），１回の撮像にかかる時間をそれぞれ［２ｍｓｅｃ］，１回の格子の移送にかかる時間をそれぞれ［２０ｍｓｅｃ］と仮定した場合には，本願の［図５］に示すように，所定の計測対象範囲に係る全ての処理が終了するまでに，〔第１格子の移送時間［２０ｍｓ］＋第２格子の移送時間［２０ｍｓ］〕×４回＝合計［１６０ｍｓｅｃ］といった比較的長い計測時間を要することとなる」（本願［００１４］段落）のに対し，本願発明１によれば，同条件の下，「所定の計測対象範囲に係る全ての処理を終了するまでに必要な時間は，第１光パターン照射時の撮像時間［２ｍｓ］＋〔第２光パターン照射時の撮像時間［２ｍｓ］＋第２格子の移送時間［２０ｍｓ］〕×４回＝合計［９０ｍｓｅｃ］となります。つまり，第１格子及び第２格子の移送等を交互に行う上記引用文献１の構成に比べて，［７０ｍｓｅｃ（約４４％）］の短縮が可能となる。」（本願［００２６］段落）といった具合に，遙かに顕著に時間短縮ができるのであります。」と主張する。
　しかしながら，請求人の主張は，引用発明と本件補正後発明との効果の差を主張するものであり，引用発明において前記(5)のとおり容易推考してなる発明には当てはまらない。
　
　(7) 小括
　本件補正後発明は，引用例１に記載された発明に基づいて，その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法２９条２項の規定により，特許出願の際に独立して特許を受けることができないものである。
　
　４　補正却下の決定についてのまとめ
　本件補正は，特許法１７条の２第６項において準用する同法１２６条７項の規定に違反するので，同法１５９条１項の規定において読み替えて準用する同法５３条１項の規定により却下すべきものである。
　
第３　本願発明について
　１　本願発明
　本件補正は上記のとおり却下されたので，本件出願の特許請求の範囲の請求項１に係る発明（本願発明）は，前記「第２」１(1)に記載のとおりのものである。
　
　２　原査定の拒絶の理由
　原査定の拒絶の理由は，概略，この出願の請求項１に係る発明は，その出願前に日本国内又は外国において，頒布された引用例１に記載された発明又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった発明に基いて，その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない，というものである。
　
　３　引用例１に記載の事項及び引用発明
　引用例１に記載の事項及び引用発明は，前記「第２」３(1)及び(2)に記載したとおりである。
　
　４　対比及び判断
　本願発明は，本件補正後発明において，「前記第１撮像処理に係る前記第１格子の移送又は切替処理の完了と同時に次回の第１撮像処理を実行可能とし」との要件を除くとともに，撮像処理等について，「第１」及び「第２」とあるのを「一方」及び「他方」として一般化したものである。
　そうすると，本願発明の構成を全て含み，さらに他の限定を付したものに相当する本件補正後発明が，前記「第２」３(3)ないし(7)で述べたとおり，引用例１に記載された発明に基づいて容易に発明できたものであることを考慮すると，本願発明も，同様に，引用例１に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明できたものである。
　また，本願発明が奏する効果は，引用発明及び引用例１の記載から予測できる範囲内のものであり，顕著なものであるとはいえない。
　
第４　まとめ
　以上のとおり，本願発明は，引用例１に記載された発明に基づいて，その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法２９条２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって，他の請求項に係る発明について審理するまでもなく，本願は拒絶すべきものである。
　よって，結論のとおり審決する。