(57)【要約】【課題】  テストプラグの絶縁試験を容易且つ迅速に実施することができるテストプラグの性能判定器を提供する。【解決手段】  テストプラグを挿入するプラグ挿入口８１を有するとともに、前記テストターミナルと同様の電源側導体１１１Ｒ，１１１Ｗ，１１１Ｂ，１１１Ｎと負荷側導体１２１Ｒ，１２１Ｗ，１２１Ｂ，１２１Ｎとを有する挿入部Ａと、隣接する異なる相間における前記電源側導体同士と前記負荷側導体同士とがそれぞれ異なる極になると同時に、同一相で相対向している前記電源側導体と前記負荷側導体とがそれぞれ異なる極となるように前記電源側導体及び前記負荷側導体にそれぞれ接続されている一対の測定端子９１，９２とを有する。【選択図】  図２
2007285937.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電源側の各相に接続されたテストターミナルの複数の電源側導体にそれぞれ接触する活線側導体と、各相の負荷側に接続された前記テストターミナルの同数の負荷側導体にそれぞれ接触する非活線側導体とが複数の各相毎に絶縁板の相対向する面にそれぞれ配設されているテストプラグの性能判定器であって、
前記テストプラグを挿入するプラグ挿入口を有するとともに、前記テストターミナルと同様の前記電源側導体と前記負荷側導体とを有する挿入部と、
隣接する異なる相間における前記電源側導体同士と前記負荷側導体同士とがそれぞれ異なる極になると同時に、同一相で相対向している前記電源側導体と前記負荷側導体とがそれぞれ異なる極となるように前記電源側導体及び負荷側導体にそれぞれ接続されている一対の測定端子とを有することを特徴とするテストプラグの性能判定器。
【請求項２】
請求項１に記載するテストプラグの性能判定器において、
前記測定端子を介して前記各電源側導体及び各負荷側導体に測定電圧を印加するとともに、前記各電源側導体の相互間及び前記各負荷側導体の相互間並びに前記各電源側導体と前記各負荷側導体との相互間における絶縁抵抗を測定する測定手段をさらに有することを特徴とするテストプラグの性能判定器。
【請求項３】
請求項１又は請求項２に記載するテストプラグの性能判定器において、
前記電源側導体と負荷側導体との対の数である極数を切換えるためのスイッチ手段を、隣接する異なる相間における電源側導体と負荷側導体との間に設けたことを特徴とするテストプラグの性能判定器。
【請求項４】
請求項１乃至請求項３の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定器において、
前記挿入部は、ＰＴテストターミナル用のテストプラグの構造に特化したＰＴ用挿入部と、ＣＴテストターミナル用のテストプラグの構造に特化したＣＴ用挿入部とを有することを特徴とするテストプラグの性能判定器。
【請求項５】
請求項１乃至請求項３の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定器において、
前記挿入部は、ＰＴテストターミナル用のテストプラグと、ＣＴテストターミナル用のテストプラグとで共用し得るように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はテストプラグの性能判定器に関し、特にテストターミナルに挿入して電力系統の保護機器である継電器の動作確認等を行うテストプラグの性能判定、すなわちこのテストプラグの絶縁性能検査を行う場合に適用して有用なものである。
【背景技術】
【０００２】
電力系統の保護システムとして、例えば、図６に示すようなものがある。この保護システムでは、線路５０Ｒ，５０Ｗ，５０Ｂの各相に変流器（ＣＴ）５１Ｒ，５１Ｗ，５１Ｂが設けられ、その一端側が中性点Ｎ（以下、変流器５１Ｒ，５１Ｗ，５１Ｂのそれぞれの相をＲ，Ｗ，Ｂ相、中性点Ｎに接続される相をＮ相と称す。）に接続されるとともに、他端側がそれぞれ過電流継電器５３Ｒ，５３Ｗ，５３Ｂに接続されている。ここで、各過電流継電器５３Ｒ，５３Ｗ，５３Ｂと中性点Ｎとの間には地絡過電流継電器５５が設けられ、事故時の異常電流に基づき、例えば地絡過電流継電器５５が動作することで送出される信号に基づいて、線路５０Ｒ，５０Ｗ，５０Ｂと変圧器５７との間に設けられた遮断器５９を遮断制御するようになっている。
【０００３】
かかる保護システムでは、過電流継電器５３Ｒ，５３Ｗ，５３Ｂ、地絡過電流継電器５５と各変流器５１Ｒ，５１Ｗ，５１Ｂの間で配電盤にテストターミナル５を配設し、テストプラグ３０に計器、電流発生器等を備えた試験装置６０を接続した後、これをテストターミナル５に挿入して、線路５０Ｒ，５０Ｗ，５０Ｂを活線状態のまま、各過電流継電器５３Ｒ，５３Ｗ，５３Ｂと地絡過電流継電器５５の試験を行っている。
【０００４】
ここでテストターミナル５の概要を図７に基づいて説明する。同図はテストターミナル５の縦断面図を示し、配電盤（図示せず。）に固定されてプラグ挿入口７を有する箱体６内には、４個の接点装置１０が上記Ｒ，Ｗ，Ｂ相およびＮ相の各相に対応して並設されている。すなわち、テストターミナル５は最も汎用されている４極のテストターミナルである。
【０００５】
各接点装置１０は、副接触部１２，２２、主接触部１３，２３、接点１４，２４をそれぞれ有する上下１対の可動接触板である電源側導体１１及び負荷側導体２１、及び支持導体１５，２５を主体とし、それぞれ端子１７，２７に接続して構成されている。
【０００６】
一方、試験時においてテストターミナル５に挿入されるテストプラグ３０は、図８に示すように、絶縁支持体３１から突出した絶縁板３２に、各相に対応するとともに、上下に相互に絶縁された各一対の活線側導体３５Ｒ，３５Ｗ，３５Ｂ，３５Ｎ及び非活線側導体４５Ｒ，４５Ｗ，４５Ｂ，４５Ｎが並設されており、それらの基端部は、同軸状に配設された４組の端子３７，４７にそれぞれ接続されている。
【０００７】
このテストプラグ３０は、変流器５１Ｒ，５１Ｗ，５１Ｂの２次側が開放されるのを避けるため、例えば複数の短絡片３８により４個の端子３７間を連結接続して活線側導体３５Ｒ，３５Ｗ，３５Ｂ，３５Ｎ間を短絡するとともに、他の端子４７に試験装置６０を接続して所定の試験に供している。
【０００８】
テストターミナル５にテストプラグ３０が挿入されていない状態において、端子１７と端子２７間は、支持導体１５、中継接点１６、接点２４、負荷側導体２１、支持導体２６支持導体２５及び支持導体１５、電源側導体１１、接点１４、支持導体２６、支持導体２５を介して閉路状態にあり、例えば、図６に示す変流器５１Ｒは、過電流継電器５３Ｒ及び地絡過電流継電器５５と閉回路を形成している。
【０００９】
一方、過電流継電器５３Ｒ，５３Ｗ，５３Ｂ、地絡過電流継電器５５の試験に際して、テストターミナル５にテストプラグ３０が挿入されると、各接点装置１０の接点１４，２４と中継接点２６，１６との間が開離される。そして、例えば、変流器５１Ｒ、過電流継電器５３Ｒ間の接続が遮断されるとともに、短絡片３８により変流器５１Ｒ，５１Ｗ，５１Ｂの両端が短絡され、過電流継電器５３Ｒ，５３Ｗ，５３Ｂおよび地絡過電流継電器５５が試験装置６０に接続される。
【００１０】
かかる保護システムには、図示はしないが、事故時における線路５０Ｒ，５０Ｗ，５０Ｂの異常な電圧降下を検出するための計器用変圧器（ＰＴ）も通常設けてあり、かかる計器用変圧器も、変流器５１Ｒ，５１Ｗ，５１Ｂの場合と同様に、配電盤に配設したテストターミナルを介して所定の継電器等に接続してある。かくして、線路５０Ｒ，５０Ｗ，５０Ｂの異常電圧降下が検出された場合に、遮断器５９を遮断制御する。
【００１１】
そこで、前記計器用変圧器のテストターミナルに挿入して前記継電器の動作試験等を行うためのテストプラグも存在する。図９に示すように、このテストプラグ４０は、図８に示すテストプラグ３０とほぼ同様の構成であるが、間違ってＣＴ用のテストターミナル５に挿入しないような工夫を施してある。例えば、ＣＴ用のテストプラグ３０は各相間に介在させた３個の絶縁部材３３のうち中央のものを他よりも短く形成し、この形状のテストプラグ３０の挿入を許容するようテストプラグ３０の構造に合わせてＣＴ用のテストターミナル５を形成しているのに対し、ＰＴ用のテストプラグ４０は各相間に介在させた３個の絶縁部材４３のうち中央以外の両端のものを中央のものよりも短く形成し、この形状のテストプラグ４０の挿入を許容するようこの構造に合わせてＰＴ用のテストターミナルを形成している。なお、絶縁部材４３の部分を除く他の構成はテストプラグ３０と全く同一である。そこで、同一部分には同一番号を付し、重複する説明は省略する。
【００１２】
なお、上述の如きテストプラグ３０，４０及びテストターミナル５を有する保護システムに関する公知文献としては次のものが存在する。
【００１３】
【特許文献１】特開平０８−００５６５９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
上述の如きテストプラグ３０，４０は、テストターミナル５等に挿入する前提としてその健全性が保証されていなければならない。相間絶縁（隣接する異なる相の活線側導体及び非活線側導体の間の絶縁部材３３による絶縁；以下同じ。）乃至極間絶縁（同一の相における活線側導体と非活線側導体との間の絶縁部材３３による絶縁）の絶縁抵抗が十分でないテストプラグ３０，４０を挿入した場合には短絡事故を生起する等の不都合を招来するからである。
【００１５】
かかる不都合を未然に回避するためには、テストプラグ３０，４０に関して所定の絶縁測定を行う必要がある。
【００１６】
従来技術において、かかる絶縁試験は、作業者がテスタ乃至メガーを用いて手作業で行っていた。すなわち、テスタ乃至メガーのプローブを順次選択する２つの活線側導体３５Ｒ，３５Ｗ，３５Ｂ，３５Ｎ乃至非活線側導体４５Ｒ，４５Ｗ，４５Ｂ，４５Ｎに順次接触させて行っていた。具体的には次の通りである。
【００１７】
図１０は従来技術における４極のテストプラグ３０，４０の相間絶縁の試験時の態様を示す説明図である。同図（ａ）はＲ相の非活線側導体４５ＲとＷ相の非活線側導体４５Ｗとの間の絶縁抵抗を測定する場合である。この場合、図中に矢印で示すメガーのプローブ７１，７２を非活線側導体４５ＲとＷ相の非活線側導体４５Ｗとにそれぞれ接触させている。同様に、同図（ｂ）はＲ相の非活線側導体４５ＲとＢ相の非活線側導体４５Ｂとの間の絶縁抵抗を測定する場合、同図（ｃ）はＲ相の非活線側導体４５ＲとＮ相の非活線側導体４５Ｎとの間の絶縁抵抗を測定する場合、同図（ｄ）はＷ相の非活線側導体４５ＷとＢ相の非活線側導体４５Ｂとの間の絶縁抵抗を測定する場合、同図（ｅ）はＷ相の非活線側導体４５ＷとＮ相の非活線側導体４５Ｎとの間の絶縁抵抗を測定する場合、同図（ｆ）はＢ相の非活線側導体４５ＢとＮ相の非活線側導体４５Ｎとの間の絶縁抵抗を測定する場合をそれぞれ示している。
【００１８】
このようにテストプラグ３０，４０の非活線側導体４５Ｒ，４５Ｗ，４５Ｂ，４５Ｎの相間絶縁の試験時だけで、メガーを用いた同様の絶縁試験を６回行う必要がある。同様の相間絶縁試験は活線側導体３５Ｒ，３５Ｗ，３５Ｂ，３５Ｎに関しても６回行う必要がある。すなわち、相間絶縁試験に関しての試験回数の合計は１２回である。
【００１９】
さらに、各相毎に非活線側導体４５Ｒ，４５Ｗ，４５Ｂ，４５Ｎと活線側導体３５Ｒ，３５Ｗ，３５Ｂ，３５Ｎとの間の極間絶縁の試験も行う必要がある。
【００２０】
図１１は従来技術における４極のテストプラグ３０，４０の極間絶縁の試験時の態様を示す説明図である。同図（ａ）はＲ相の非活線側導体４５Ｒと活線側導体３５Ｒとの間の絶縁抵抗を測定する場合である。この場合、図中に矢印で示すメガーのプローブ７１，７２を非活線側導体４５Ｒと活線側導体３５Ｒとにそれぞれ接触させている。同様に、同図（ｂ）はＷ相の非活線側導体４５Ｗと活線側導体３５Ｗとの間の絶縁抵抗を測定する場合、同図（ｃ）はＢ相の非活線側導体４５Ｂと活線側導体３５Ｂとの間の絶縁抵抗を測定する場合、同図（ｄ）はＮ相の非活線側導体４５Ｎと活線側導体３５Ｎとの間の絶縁抵抗を測定する場合をそれぞれ示している。
【００２１】
このようにテストプラグ３０，４０の非活線側導体４５Ｒ，４５Ｗ，４５Ｂ，４５Ｎの極間絶縁の試験時でも、メガーを用いた同様の絶縁試験を４回行う必要がある。
【００２２】
したがって、相間絶縁試験の回数と合わせれば１６回である。しかも、図１０に一点鎖線で接続した相間の絶縁試験は重複して行っている。
【００２３】
図１２は従来技術における２極のテストプラグの所定の絶縁試験の態様を示す説明図である。同図（ａ）はＲ相の非活線側導体４５ＲとＷ相の非活線側導体４５Ｗとの間の相間絶縁抵抗を測定する場合である。同様の相間絶縁試験は活線側導体３５Ｒ，３５Ｗに関しても行う必要がある。
【００２４】
さらに、図１２（ｂ）、図１２（ｃ）に示すようにＲ相の非活線側導体４５Ｒと活線側導体３５Ｒとの間の極間絶縁抵抗及びＷ相の非活線側導体４５Ｗと活線側導体３５Ｗとの間の極間絶縁抵抗も測定する必要がある。
【００２５】
このように２極のテストプラグの所定の絶縁試験においても、メガーを用いた同様の絶縁試験を４回行う必要がある。
【００２６】
このため、従来技術においては、上述の絶縁試験に多大な時間を要していた。また、測定乃至試験の回数が多いこととも相俟って錯誤により測定乃至試験を行わなかったり、重複して行ったりという人間系の間違いも生じ易いという問題があった。
【００２７】
本発明は、上記従来技術に鑑み、上述の如きテストプラグの絶縁試験を容易且つ迅速に実施することができるテストプラグの性能判定器を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２８】
上記目的を達成する本発明の第１の態様は、
電源側の各相に接続されたテストターミナルの複数の電源側導体にそれぞれ接触する活線側導体と、各相の負荷側に接続された前記テストターミナルの同数の負荷側導体にそれぞれ接触する非活線側導体とが複数の各相毎に絶縁板の相対向する面にそれぞれ配設されているテストプラグの性能判定器であって、
前記テストプラグを挿入するプラグ挿入口を有するとともに、前記テストターミナルと同様の前記電源側導体と前記負荷側導体とを有する挿入部と、
隣接する異なる相間における前記電源側導体同士と前記負荷側導体同士とがそれぞれ異なる極になると同時に、同一相で相対向している前記電源側導体と前記負荷側導体とがそれぞれ異なる極となるように前記電源側導体及び負荷側導体にそれぞれ接続されている一対の測定端子とを有することを特徴とするテストプラグの性能判定器である。
【００２９】
本態様によれば、前記測定端子の一方の極に接続された電源側導体及び負荷側導体と、前記測定端子の他方の極に接続された電源側導体及び負荷側導体とは千鳥状に配設されているので、異なる相間であれ、同一相間であれ、挿入部に挿入したテストプラグの活線側導体間及び非活線側導体間並びに相対向する活線側導体と非活線側導体との間には、所定の高電圧を印加することができる。この結果、前記テストプラグの活線側導体の相互間、非活線側導体の相互間及び活線側導体と非活線側導体との間の絶縁抵抗を一度に測定することができる。
【００３０】
本発明の第２の態様は、
上記第１の態様に記載するテストプラグの性能判定器において、
前記測定端子を介して前記各電源側導体及び各負荷側導体に測定電圧を印加するとともに、前記各電源側導体の相互間及び前記各負荷側導体の相互間並びに前記各電源側導体と前記各負荷側導体との相互間における絶縁抵抗を測定する測定手段をさらに有することを特徴とするテストプラグの性能判定器である。
【００３１】
本態様によれば、測定手段（例えばメガー）も一体的に備える性能判定器として携帯にも便利なものとなり、良好な使い勝手を得ることができるものとなる。
【００３２】
本発明の第３の態様は、
上記第１又は第２の態様に記載するテストプラグの性能判定器において、
前記電源側導体と負荷側導体との対の数である極数を切換えるためのスイッチ手段を、隣接する異なる相間における電源側導体と負荷側導体との間に設けたことを特徴とするテストプラグの性能判定器である。
【００３３】
本態様によれば、挿入部の構造を最大極数のテストプラグに合わせて形成しておけば、極数が異なる複数種類のテストプラグに共通に使用することができる。
【００３４】
本発明の第４の態様は、
上記第１乃至第３の態様の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定器において、
前記挿入部は、ＰＴテストターミナル用のテストプラグの構造に特化したＰＴ用挿入部と、ＣＴテストターミナル用のテストプラグの構造に特化したＣＴ用挿入部とを有することを特徴とするテストプラグの性能判定器である。
【００３５】
本態様においては、挿入部をＰＴ用とＣＴ用とで専用化することができる。
【００３６】
本発明の第５の態様は、
上記第１乃至第３の態様の何れか一つに記載するテストプラグの性能判定器において、
前記挿入部は、ＰＴテストターミナル用のテストプラグと、ＣＴテストターミナル用のテストプラグとで共用し得るように構成したことを特徴とするテストプラグの性能判定器である。
【００３７】
本態様においては、挿入部をＰＴ用とＣＴ用とで共用することができ、その分構造が簡単になる。
【発明の効果】
【００３８】
上述の如き本発明によれば、異なる相間であれ、同一相間であれ、挿入部に挿入したテストプラグの活線側導体間及び非活線側導体間並びに相対向する活線側導体と非活線側導体との間には、所定の高電圧を印加することができる結果、テストプラグの活線側導体の相互間、非活線側導体の相互間及び活線側導体と非活線側導体との間の絶縁抵抗を一度に測定することができる。すなわち、従来はテストプラグの各活線側導体乃至非活線側導体の２個づつを適宜選択して計１６回、メガーを当てることで検出していた所定の絶縁抵抗の測定を一回の測定で行うことができる。
【００３９】
この結果、絶縁抵抗の測定に要する時間を飛躍的に短縮することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４０】
以下本発明の実施の形態を図面に基づき詳細に説明する。なお、テストプラグ自体は図８乃至図９等に示すものと何ら変わるところはない。そこで、本発明の実施の形態を説明するに当たり、図６乃至図１２と同一部分には同一番号を付し、重複する説明は省略する。また、図１乃至図５における同一部分にも同一番号を付して重複する説明を省略する。
【００４１】
図１は本発明の実施の形態に係るテストプラグの性能判定器の外観を示す斜視図である。同図に示すように、本形態に係る性能判定器は、所定の絶縁抵抗試験を行うための測定手段であるメガーとともに各種の機器、部品等を収納している筐体８０を有している。この筐体８０にはテストプラグ３０，４０を挿入し得る開口部であるプラグ挿入口８１が形成してある。ここで、テストプラグ３０，４０は、従来と同様に、テストターミナル５（図７参照）等に挿入して継電器の動作確認試験等を行う。したがって、プラグ挿入口８１は、テストターミナル５と同様の構造を有するものであり、本形態においてはＣＴ用のテストプラグ３０と、ＰＴ用のテストプラグ４０とで共用し得るように構成してある。
【００４２】
挿入部Ａは、テストプラグ３０，４０を挿入するプラグ挿入口８１を有するとともに、テストターミナル５と同様の電源側導体１１（図７参照）及び負荷側導体２１（図７参照）を有する。すなわちテストターミナル５とほぼ同様の構造を有するものである。
【００４３】
筐体８０の表面には、試験結果である絶縁抵抗値を表示する表示パネル８２、所定の測定を開始する際に操作する測定開始釦８３、テストプラグの極数（本例では２極、４極、８極の３種類）に応じた種類を選択するための選択スイッチ８４、メガー用の放電用アース端子８５が配設してある。
【００４４】
かかる性能判定器を用いてテストプラグ３０，４０の所定の絶縁試験を行う際には、まず放電用アース端子８５を接地して試験対象となるテストプラグ３０乃至テストプラグ４０をプラグ挿入口８１に挿入するとともに、選択スイッチ８４を操作して極数（この場合は４極）を設定する。その後、測定開始釦８３を操作することにより挿入部Ａの各電源側導体及び各負荷側導体を介してテストプラグ３０,４０の活線側導体３５Ｒ，３５Ｗ，３５Ｂ，３５Ｎと非活線側導体４５Ｒ，４５Ｗ，４５Ｂ，４５Ｎとに同時にメガーからの所定の試験電圧を印加する。
【００４５】
このとき、一度の試験で一つのテストプラグ３０，４０の全ての相間乃至極間の絶縁性能の試験を行うことができるようになっている。すなわち、本発明では、挿入部Ａにおける各電源側導体と各負荷側導体との接続構造を工夫することにより、一度の試験で全ての相間乃至極間の絶縁性能の試験を行うことができるように構成している。
【００４６】
次に、かかる絶縁性能試験を実現する挿入部Ａの具体的な構成例を説明する。
【００４７】
図２は本発明の第１の実施の形態に係る４極のテストプラグ３０，４０の性能判定器を示すブロック線図である。同図に示すように、＋極となる測定端子９１には、電源側導体１１１Ｗ，１１１Ｎと負荷側導体１２１Ｒ，１２１Ｂとがそれぞれ接続してあり、−極となる測定端子９２には電源側導体１１１Ｒ，１１１Ｂと負荷側導体１２１Ｗ，１２１Ｎとがそれぞれ接続してある。この結果、隣接する異なる相間における電源側導体１１１Ｒ，１１１Ｗ，１１１Ｂ，１１１Ｎ同士と負荷側導体１２１Ｒ，１２１Ｗ，１２１Ｂ，１２１Ｎ同士とがそれぞれ異なる極になると同時に、同一相で相対向している電源側導体１１１Ｒと負荷側導体１２１Ｒ、電源側導体１１１Ｗと負荷側導体１２１Ｗ、電源側導体１１１Ｂと負荷側導体１２１Ｂ、電源側導体１１１Ｎと負荷側導体１２１Ｎとがそれぞれ異なる極となる。すなわち、＋極となる電源側導体１１１Ｗ，１１１Ｎ及び負荷側導体１２１Ｒ，１２１Ｂと、−極となる電源側導体１１１Ｒ，１１１Ｂ及び負荷側導体１２１Ｗ，１２１Ｎとは電源側と負荷側とで千鳥状になるように配設してある。
【００４８】
メガーＢは所定の直流高電圧を発生する電源１０１と試験対象の絶縁抵抗の値を計測する計測部１０２とを有しており、その出力端子が測定端子９１,９２に接続してある。
【００４９】
図３は、上記実施の形態に係る４極のテストプラグの性能判定器における各電源側導体及び各負荷側導体の結線状態を示す結線図である。同図を参照すれば明かであるが、＋極となる電源側導体１１１Ｗ，１１１Ｎ及び負荷側導体１２１Ｒ，１２１Ｂと、−極となる電源側導体１１１Ｒ，１１１Ｂ及び負荷側導体１２１Ｗ，１２１Ｎとが電源側と負荷側とで千鳥状になるように配設してある。
【００５０】
したがって、本形態によれば、測定端子９１,９２に所定の高電圧を印加することにより、図中に点線で接続したように、異なる相間であれ、同一相間であれ、挿入部に挿入したテストプラグ３０，４０の活線側導体３５Ｒ，３５Ｗ，３５Ｂ，３５Ｎ間及び非活線側導体４５Ｒ，４５Ｗ，４５Ｂ，４５Ｎ間並びに相対向する活線側導体３５Ｒ，３５Ｗ，３５Ｂ，３５Ｎと非活線側導体４５Ｒ，４５Ｗ，４５Ｂ，４５Ｎ間との間には、所定の高電圧を印加することができる。この結果、所定の絶縁抵抗を一度に測定することができる。
【００５１】
図４は本発明の第２の実施の形態に係る２極−４極切換機能付きテストプラグの性能判定器における各電源側導体及び各負荷側導体の結線状態を示す結線図である。同図に示すように、直列に接続した電源側導体１１１Ｗと負荷側導体１２１Ｂとの間にはスイッチ１３１が設けてあり、これを開放することでＲ相及びＮ相に対する電圧の印加を遮断するようになっている。すなわち、２極のテストプラグの性能判定器となる。ここで、図中の太い点線が２極の場合、細い点線が４極の場合に対応している。
【００５２】
なお、２極のテストプラグの性能判定器とする場合にはＢ相及びＮ相にはテストプラグの活線側導体３５Ｂ，３５Ｎ及び非活線側導体４５Ｂ，４５Ｎが挿入されないので、スイッチ１３１で測定端子９１乃至９２の間を開放しなければ電源側導体１１１Ｂと負荷側導体１２１Ｂとの間及び電源側導体１１１Ｂと負荷側導体１２１Ｂとの間が短絡されてしまう。かかる短絡状態を回避するために前記スイッチ１３１が必要になる。
【００５３】
かかる本形態によれば、２極及び４極の２種類のテストプラグに共通に使用でき、いずれも一度の測定で所望の絶縁抵抗の測定を行い得る。
【００５４】
図５は本発明の第３の実施の形態に係る２極−４極−８極切換機能付きテストプラグの性能判定器における各電源側導体及び各負荷側導体の結線状態を示す結線図である。同図に示すように、本形態は４極のテストプラグ３０,４０の２個を合体させて８極としたものである。したがって、２つの組Ｃ，Ｄの電源側導体１１１Ｒ，１１１Ｗ，１１１Ｂ，１１１Ｎ及び負荷側導体１２１Ｒ，１２１Ｗ，１２１Ｂ，１２１Ｎを有する。一方の組Ｃは図４に示す第２の実施の形態と同様であるが、本形態においては一方の組Ｃの電源側導体１１１Ｎと他の組Ｄの負荷側導体１２１Ｒとの間にスイッチ１３２が設けてあり、これを開放することで組Ｄの電源側導体１１１Ｒ，１１１Ｗ，１１１Ｂ，１１１Ｎ及び負荷側導体１２１Ｒ，１２１Ｗ，１２１Ｂ，１２１Ｎに対する電圧の印加を遮断するようになっている。すなわち、４極乃至２極のテストプラグの性能判定器となる。ここで、図中の太い点線が２極の場合、細い点線が４極の場合、さらに細い点線が８極の場合にそれぞれ対応している。また、スイッチ１３２の機能はスイッチ１３１と全く同様、すなわち短絡防止のためのものである。
【００５５】
かかる本形態によれば、２極、４極及び８極という３種類のテストプラグに共通に使用でき、いずれも一度の測定で所望の絶縁抵抗の測定を行い得る。
【００５６】
なお、図１に示す実施の形態は挿入部ＡをＣＴ用とＰＴ用で兼用する場合であるが、これに限るものではない。ＣＴ用とＰＴ用とで別々の２個の挿入部Ａを形成してももちろんかまわない。この場合にはＣＴ用のテストプラグ３０の構造及びＰＴ用のテストプラグ４０の構造にそれぞれ特化した２種類の挿入部Ａを設けることにより、専用の挿入部Ａを利用してＰＴ用，ＣＴ用を取り違えることなく、所定のテストプラグ３０，４０を挿入部Ａに挿入して所定の絶縁試験を行うことができる。
【産業上の利用可能性】
【００５７】
本発明は電力機器を製造・販売する産業分野や、電力設備を保守・点検する産業分野で利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本発明の実施の形態に係るテストプラグの性能判定器の外観を示す斜視図である。
【図２】本発明の第１の実施の形態に係る４極のテストプラグの性能判定器を示すブロック線図である。
【図３】本発明の第１の実施の形態に係る４極のテストプラグの性能判定器における各電源側導体及び各負荷側導体の結線状態を示す結線図である。
【図４】本発明の第２の実施の形態に係る２極−４極切換機能付きテストプラグの性能判定器における各電源側導体及び各負荷側導体の結線状態を示す結線図である。
【図５】本発明の第３の実施の形態に係る２極−４極−８極切換機能付きテストプラグの性能判定器における各電源側導体及び各負荷側導体の結線状態を示す結線図である。
【図６】挿入式のテストプラグ及びテストターミナルを有する電力系統の保護システムを示す回路図である。
【図７】テストターミナルをその一部を切欠いて示す縦側面図である。
【図８】ＣＴ用のテストプラグを示す斜視図である。
【図９】ＰＴ用のテストプラグを示す斜視図である。
【図１０】従来技術における４極のテストプラグの相間絶縁の試験時の態様を示す説明図である。
【図１１】従来技術における４極のテストプラグの極間絶縁の試験時の態様を示す説明図である。
【図１２】従来技術における２極のテストプラグの絶縁試験時の態様を示す説明図である。
【符号の説明】
【００５９】
Ａ            挿入部
Ｂ            メガー
５            テストターミナル
３０，４０      テストプラグ
８１            プラグ挿入口
９１，９２      測定端子
１１１Ｒ，１１１Ｗ，１１１Ｂ，１１１Ｎ      電源側導体
１２１Ｒ，１２１Ｗ，１２１Ｂ，１２１Ｎ      負荷側導体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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