【事件の表示】
　特願２００９−　１１４８０「分光放射計」拒絶査定不服審判事件〔平成２２年　８月　５日出願公開、特開２０１０−１６９４９３〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成２１年１月２２日を出願日とする特願２００９−１１４８０号の出願であって、平成２４年１２月１１日付けで拒絶理由が通知され、平成２５年２月５日に意見書及び手続補正書が提出され、同年６月１１日付けで拒絶理由（最後）が通知され、同年８月７日に意見書及び手続補正書が提出され、同年１２月１７日付けで拒絶理由が通知され、平成２６年３月７日に意見書及び手続補正書が提出されたが、平成２５年１２月１７日付け拒絶理由通知書に記載した理由によって、平成２６年５月２１日付けで拒絶査定がなされ、これに対して同年８月２８日に拒絶査定不服審判の請求がなされたものである。
　
第２　本願発明について
　本願の請求項１に係る発明は、平成２６年３月７日付けの手続補正により補正された特許請求の範囲の請求項１に記載された事項により特定されるものであるところ、その請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、以下のとおりのものと認める。
　「被測定光が入射される入射スリットと、該入射スリットを通過した被測定光を平行光にする第１の凹面反射ミラーと、前記入射スリットと前記第１の凹面反射ミラーとの間の光学系中に配置された第１のダイクロイックフィルタと、
　該第１のダイクロイックフィルタを透過し前記第１の凹面反射ミラーで平行光化された被測定光を分光する第１の分光素子と、該第１の分光素子によって分光された分光光を検知する第１及び第２の光検知手段と、前記第１の分光素子と前記第１及び第２の光検知手段との間の光学系中に配置された第２のダイクロイックフィルタと、
　前記第１のダイクロイックフィルタで反射され被測定光を平行光にする第２の凹面反射ミラーと、該第２の凹面反射ミラーで平行光化された被測定光を分光する第２の分光素子と、該第２の分光素子によって分光された分光光を検知する第３及び第４の光検知手段と、前記第２の分光素子と前記第３及び第４の光検知手段との間の光学系中に配置された第３のダイクロイックフィルタと、を備え、
　前記第１の光検知手段は、前記第２のダイクロイックフィルタを透過した第１の波長帯域の分光光を検知し、前記第２の光検知手段は、前記第２のダイクロイックフィルタによって反射された前記第１の波長帯域とは異なる第２の波長帯域の分光光を検知し、前記第３の光検知手段は、前記第３のダイクロイックフィルタを透過した第１及び第２の波長帯域とは異なる第３の波長帯域の分光光を検知し、前記第４の光検知手段は、前記第３のダイクロイックフィルタによって反射された前記第１ないし第３の波長帯域とは異なる第４の波長帯域の分光光を検知することを特徴とする分光放射計。」
　
第３　引用例の記載事項及び引用例に記載された発明
１　引用例に記載の事項
（１）原査定の拒絶の理由に引用され、本願の出願前に頒布された刊行物である特表平８−５０１８７６号公報（以下、「引用例１」という。）には、次の事項が記載されている。（下線は当審において付加したものである。）
（摘記事項１）
「（54）【発明の名称】　
航空機搭載用マルチバンド・イメージング分光計
（摘記事項２）
　「次に、図９には、本発明による分光計における光学系のもう一つの実施例の概略図が示されている。走査光学系については、前に図２及び８により説明した通りである。本願において「光線」及び「光」または「放射」という用語は、説明の便宜上、紫外線から可視光そして熱赤外線に至るまでの電磁スペクトル中の全ての放射エネルギーまたは反射エネルギの総称であると定義する。
　
スリット・アパーチャを出た光線は、第１のレンズ３１２によって平行光線にされ、ビームスプリッタ３１４に入射する
平行光線ビーム３１３は、ビームスプリッタによって０．４〜１．０μｍの範囲の光を含む第１の光ビーム３１５と、１〜２．５μｍの範囲の光を含む第２の光ビーム３１７に分離される
　
第１のビーム３１５はダイクロイックミラー３１４によって第１の回折格子３１６へ反射され、そこで分散され、第２のレンズ３１８
によって第１の検出器アレイ３２０へ集束される
　検出器アレイ３２０へ入射されるビーム３１９、３２１の光路中には一次分離フィルタ３２２が配置されていて、０．４〜１．０μｍの検出器アレイに入射する０．３〜０．５μｍの範囲の放射によって誘導される全ての二次放射を除去する。
　
ダイクロイックミラー３１４は、１〜２．５μｍの範囲の放射３１７の第２のビームを透過させる
ビーム３１７は、
第２のダイクロイックミラー３２３よって反射される
反射されたビーム３２４は、第２の回折格子３２５に入射され、第３のレンズ３２６によって第２の検出器アレイ３２８上に集束される
　レンズ３２６と検出器アレイ３２８の間には、０．９μｍ以下の二次放射を減衰させるための二次分離フィルタ３３０が挿入されている。
　走査システムの光学系及び分光計は、ミラーがもちろん全方向に回転可能であり、クロストラック方向に回転軸を置いて配向されるという点を除けば、図７及び９と同様に構成されている。スリットは、長手方向がイントラック方向に配向されている。本願で説明するステアリング方式では、２５６×１ピクセルの取り込み幅と、横視野７．３°×縦視野０．０３°が得られる一方、走査方式では、１０２４×２５６ピクセルのカバレジと２９．３°×７．４°の視野が得られる。」（第２３ページ第１８行目〜第２５ページ第３行目）
（摘記事項３）　図９
（２）原査定の拒絶の理由に引用され、本願の出願前に頒布された刊行物である特表平９−５００９７０号公報（以下、「引用例２」という。）には、次の事項が記載されている。（下線は当審において付加したものである。）
（摘記事項４）
「（54）【発明の名称】　
分光装置
（摘記事項５）
　「図２および図３は、本発明の第一実施例を例示しており、このシステムの解析器および検出器の部分のみ示している。試料を照明すると共に散乱光を集光する光学部品は、図１に示すようにできるし、あるいは他の一般的な配置にすることができる。図２および図３のシステムは、検出器としての
ＣＣＤ２４と、
回折格子４４とを使用している
　
エッジフィルタ３８Ａ，３８Ｂおよび反射鏡４６は、回折格子４４と
レンズ２２との間のこのスペクトルの光路に配置される
第一のフィルタ３８Ａは、中位の波数および低波数のスペクトルを通すが、散乱ビーム４８Ａの如きより高波数のスペクトルを反射する
この高波数のスペクトルは、ＣＣＤ２４に５０Ａとしてスペクトルをもたらすように、レンズ２２によって焦点が合わせられる
　エッジフィルタ３８Ｂの遮断部、すなわち端部は、フィルタ３８Ａの端部よりも低い波数となるように配置され、それで
このフィルタ３８Ａを通る中位の波数の光は、ビーム４８Ｂの如くフィルタ３８Ｂで反射される
レンズ２２は、この中位の波数のビームをスペクトル５０ＢとしてＣＣＤに焦点合わせする
最終的に、フィルタ３８Ａおよびフィルタ３８Ｂを共に通過する低波数の光は、ビーム４８Ｃとして反射鏡４６によって反射され、レンズ２２によりＣＣＤ２４にスペクトル５０Ｃとして焦点が合わせられる
　フィルタ３８Ａ，３８Ｂおよび反射鏡４６は、スペクトル５０Ａ，５０Ｂ，５０ＣがＣＣＤ２４の同じ水平位置に反射されるように、すべて異なる水平角に傾けられる（すなわち、それらの垂直な軸線回りに傾けられる）。しかしながら、フィルタ３８Ａ，３８Ｂおよび反射鏡４６は、図３で最も良く見られるように、スペクトル５０Ａ，５０Ｂ，５０ＣがＣＣＤ２４の垂直方向に相互に分けられるように、垂直方向（すなわち、それらの水平軸線回り）に僅かに異なる傾きがそれぞれ与えられる。この方法において、対象となるスペクトルのすべては、分析の損失なく、ＣＣＤ２４上の三つの異なる部分に同時に焦点が合わせられる。実際問題として、スペクトルの三つの部分のデータは、ソフトウェアがスペクトルの三つの部分のデータを相互に接続するコンピュータ２５（図１参照）によって、スペクトル全体を表示あるいはプリントアウトするように、ＣＣＤから得られる。スペクトル情報の一部は、この接続で失われるかも知れないが、この損失は、フィルタの遮断端部を鋭くすることによって最小となる。個々のスペクトル５０Ａ，５０Ｂの間およびスペクトル５０Ｂ，５０Ｃの間を接続するため、理想的には、各エッジフィルタの鋭い遮断端部を重ね合わせることが可能であるが、より段階的な遮断端部のエッジフィルタを適用させることもできる。このソフトウェアは、周知のスペクトルを回折格子４４で分散することにより器具を予め測定して得たルックアップテーブルから、結果として得られたデータを修正することができる。
　図２および図３の構造は、スペクトルの異なる部分をＣＣＤを横切って分散させるため、回折格子４４を間欠的に回転する従来のシステムと比べると、種々の利点を有する。まず第一に、全スペクトルに対するデータを得るのに必要な時間が少なくなる。調整位置に慎重に割り出すために必要な前述の如き精密回転台に回折格子４４を取り付ける必要もない。使用中に移動する部品を持たないこの構造は、重要な利点である。他の利点は、すべての異なるスペクトル部５０Ａ〜５０Ｃが同じ状態の下で同時に得られることであり、これによって、この利点は、複数の異なるスペクトル部を測定する間に背景光の如き状態が変化したか否か、先の方法で経験した問題を不要にする。」（第６ページ第２０行目〜第８ページ第１０行目）
（摘記事項６）
　「簡単な変更として、記述した
本発明の実施例のどれでも、フィルタ３８Ａ，３８Ｂ，３８Ｃの場所にビームスプリッタを使用することができる
　
図２〜図７の実施例において、各スペクトル部５０Ａ〜５０Ｃに対するＣＣＤ２４を、三つの直線光検出器アレイで置き換えることも可能である
　入射レーザビーム１０がフィルタ１２またはフィルタ６４によって光路１３または光路６６に導入される図１および図６に示した構造は必須ではない。希望するのであれば、完全に分割した光路を介して試料を照明することが可能である。例えば、本発明はレーザ光が第一の光ファイバを介してプローブヘッドに伝え、そしてラマン散乱光が別な光ファイバにより光路６６に沿って戻される遠隔の手持ち形(hand-held)プローブヘッドを有する分光装置と共に使用することができる。
　
すべての前記実施例は、ラマン分光装置を記述しているが、本発明は、蛍光や、赤外や、細密線(narrow line)光ルミネセンスや、陰極線ルミネセンスなどを含む他の形式の分光装置に使用することがもちろん可能である
（摘記事項７）　図３
２　引用例に記載された発明
（１）引用例１に記載された発明
ア　摘記事項２には、同一の光学要素について「ビームスプリッタ３１４」と「ダイクロイックミラー３１４」の記載があり、「ビームスプリッタ３１４」は、「ダイクロイックミラー３１４」であるといえる。
イ　以上のことから、上記摘記事項１ないし３を総合すると、引用例１には、つぎの発明が記載されていると認められる。
　「分光計であって、
　スリット・アパーチャを出た光線は、第１のレンズ３１２によって平行光線にされ、ダイクロイックミラー３１４に入射し、
　平行光線ビーム３１３は、ダイクロイックミラー３１４によって０．４〜１．０μｍの範囲の光を含む第１の光ビーム３１５と、１〜２．５μｍの範囲の光を含む第２の光ビーム３１７に分離され、
　第１のビーム３１５はダイクロイックミラー３１４によって第１の回折格子３１６へ反射され、そこで分散され、第２のレンズ３１８によって第１の検出器アレイ３２０へ集束され、
　ダイクロイックミラー３１４は、１〜２．５μｍの範囲の放射３１７の第２のビームを透過させ、ビーム３１７は、第２のダイクロイックミラー３２３よって反射され、反射されたビーム３２４は、第２の回折格子３２５に入射され、第３のレンズ３２６によって第２の検出器アレイ３２８上に集束される、航空機搭載用マルチバンド・イメージング分光計。」（以下、「引用発明１」という。）
（２）引用例２に記載された発明
ア　上記摘記事項４の発明の名称、及び上記摘記事項６の「すべての前記実施例は、ラマン分光装置を記述しているが、本発明は、蛍光や、赤外や、細密線(narrow line)光ルミネセンスや、陰極線ルミネセンスなどを含む他の形式の分光装置に使用することがもちろん可能である」という記載を踏まえると、引用例２には、種々の形式に使用する
分光装置
イ　上記摘記事項６の「本発明の実施例のどれでも、フィルタ３８Ａ，３８Ｂ，３８Ｃの場所にビームスプリッタを使用することができる。」という記載、及びエッジフィルタが、ダイクロイックビームスプリッタとして機能することは、例えば、国際公開第２００８／０４５４９７号（第１ページ第１５〜１７行目）などに記載されているように本願出願時の技術常識であることを踏まえると、引用例２には、エッジフィルタ３８Ａ，３８Ｂに替えて、
ダイクロイックビームスプリッタ３８Ａ，３８Ｂ
ウ　上記摘記事項６の「各スペクトル部５０Ａ〜５０Ｃに対するＣＣＤ２４を、三つの直線光検出器アレイで置き換えることも可能である。」という記載を踏まえると、引用例２ＣＣＤ２４に替えて、
スペクトル部５０Ａに対する直線光検出器アレイ２４Ａ、スペクトル部５０Ｂに対する直線光検出器アレイ２４Ｂ、スペクトル部５０Ｃに対する直線光検出器アレイ２４Ｃ
エ　以上のことから、上記摘記事項４ないし７を総合すると、引用例２には、つぎの発明が記載されていると認められる。
「分光装置であって、
　直線光検出器アレイ２４Ａ〜Ｃと、回折格子４４とを使用し、
　ダイクロイックビームスプリッタ３８Ａ，３８Ｂおよび反射鏡４６は、回折格子４４とレンズ２２との間のこのスペクトルの光路に配置され、
　ダイクロイックビームスプリッタ３８Ａは、中位の波数および低波数のスペクトルを通すが、散乱ビーム４８Ａの如きより高波数のスペクトルを反射し、この高波数のスペクトルは、直線光検出器アレイ２４Ａに５０Ａとしてスペクトルをもたらすように、レンズ２２によって焦点が合わせられ、
　このダイクロイックビームスプリッタ３８Ａを通る中位の波数の光は、ビーム４８Ｂの如くダイクロイックビームスプリッタ３８Ｂで反射され、レンズ２２は、この中位の波数のビームをスペクトル５０Ｂとして直線光検出器アレイ２４Ｂに焦点合わせし、最終的に、ダイクロイックビームスプリッタ３８Ａおよびダイクロイックビームスプリッタ３８Ｂを共に通過する低波数の光は、ビーム４８Ｃとして反射鏡４６によって反射され、レンズ２２により直線光検出器アレイ２４Ｃにスペクトル５０Ｃとして焦点が合わせられる、分光装置。」（以下、「引用発明２」という。）
第４　本願発明と引用発明１との対比
１　引用発明１の「スリット・アパーチャを出た光線」は、「スリット・アパーチャ」に入射された「光線」であるから、本願発明の「被測定光が入射される入射スリット」に相当する。
２　引用発明１の「第１のレンズ３１２」は、本願発明の「第１の凹面反射ミラー」に対応するところ、引用発明１の「スリット・アパーチャを出た光線は、第１のレンズ３１２によって平行光線にされ」と、本願発明の「該入射スリットを通過した被測定光を平行光にする第１の凹面反射ミラー」とは、「該入射スリットを通過した被測定光を平行光にする第１の光学素子」という点で共通する。
３　引用発明１の「ダイクロイックミラー３１４」は、「第２のビームを透過させ」るフィルタ機能を有していることから、ダイクロイックフィルタともいえるので、本願発明の「第１のダイクロイックフィルタ」に対応するところ、引用発明１の「スリット・アパーチャを出た光線は、第１のレンズ３１２によって平行光線にされ、ダイクロイックミラー３１４に入射し」と、本願発明の「前記入射スリットと前記第１の凹面反射ミラーとの間の光学系中に配置された第１のダイクロイックフィルタ」とは、「前記入射スリットの後段の光学系中に配置された第１のダイクロイックフィルタ」という点で共通する。
４　上記２及び３を踏まえると、引用発明１の「第２の回折格子３２５」は、そこでビームを分散していることから、本願発明の「第１の分光素子」に対応するところ、引用発明１の「ダイクロイックミラー３１４は、１〜２．５μｍの範囲の放射３１７の第２のビームを透過させ、ビーム３１７は、第２のダイクロイックミラー３２３よって反射され、反射されたビーム３２４は、第２の回折格子３２５に入射され」と、本願発明の「該第１のダイクロイックフィルタを透過し前記第１の凹面反射ミラーで平行光化された被測定光を分光する第１の分光素子」とは、「該第１のダイクロイックフィルタを透過し前記第１の光学素子で平行光化された被測定光を分光する第１の分光素子」という点で共通する。
５　上記４を踏まえると、引用発明１の「第２の検出器アレイ３２８」は、本願発明の「第１及び第２の光検知手段」に対応するところ、引用発明１の「反射されたビーム３２４は、」「第２の検出器アレイ３２８上に集束される」とは、「反射されたビーム３２４」を「第２の検出器アレイ３２８」で検出していることに他ならないので、引用発明の「反射されたビーム３２４は、第２の回折格子３２５に入射され、第３のレンズ３２６によって第２の検出器アレイ３２８上に集束される」と、本願発明の「該第１の分光素子によって分光された分光光を検知する第１及び第２の光検知手段」とは、「該第１の分光素子によって分光された分光光を検知する光検知手段（以下、「透過光検知手段」という。）」という点で共通する。
６　上記３を踏まえると、引用発明１の「第１のビーム３１５はダイクロイックミラー３１４によって第１の回折格子３１６へ反射され」と、本願発明の「前記第１のダイクロイックフィルタで反射され被測定光を平行光にする第２の凹面反射ミラー」とは、「前記第１のダイクロイックフィルタで反射され」という点で共通する。
７　上記２及び６を踏まえると、引用発明１の「第１の回折格子３１６」は、本願発明の「第２の分光素子」に対応するところ、引用発明１の「第１のビーム３１５はダイクロイックミラー３１４によって第１の回折格子３１６へ反射され、そこで分散され」と、本願発明の「該第２の凹面反射ミラーで平行光化された被測定光を分光する第２の分光素子」とは、「平行光化された被測定光を分光する第２の分光素子」という点で共通する。
８　上記５及び７を踏まえると、引用発明１の「第１の検出器アレイ３２０」は、本願発明の「第３及び第４の光検知手段」に対応するところ、引用発明１の「第１のビーム３１５はダイクロイックミラー３１４によって第１の回折格子３１６へ反射され、そこで分散され、第２のレンズ３１８によって第１の検出器アレイ３２０へ集束され」と、本願発明の「該第２の分光素子によって分光された分光光を検知する第３及び第４の光検知手段」とは、「該第２の分光素子によって分光された分光光を検知する光検知手段（以下、「反射光検知手段」という。）」という点で共通する。
９　上記５及び８を踏まえると、引用発明１の「ダイクロイックミラー３１４は、１〜２．５μｍの範囲の放射３１７の第２のビームを透過させ、ビーム３１７は、第２のダイクロイックミラー３２３よって反射され、反射されたビーム３２４は、第２の回折格子３２５に入射され、第３のレンズ３２６によって第２の検出器アレイ３２８上に集束され」、「０．４〜１．０μｍの範囲の光を含む」「第１のビーム３１５はダイクロイックミラー３１４によって第１の回折格子３１６へ反射され、そこで分散され、第２のレンズ３１８によって第１の検出器アレイ３２０へ集束され」ることと、
　本願発明の「前記第１の光検知手段は、前記第２のダイクロイックフィルタを透過した第１の波長帯域の分光光を検知し、前記第２の光検知手段は、前記第２のダイクロイックフィルタによって反射された前記第１の波長帯域とは異なる第２の波長帯域の分光光を検知し、前記第３の光検知手段は、前記第３のダイクロイックフィルタを透過した第１及び第２の波長帯域とは異なる第３の波長帯域の分光光を検知し、前記第４の光検知手段は、前記第３のダイクロイックフィルタによって反射された前記第１ないし第３の波長帯域とは異なる第４の波長帯域の分光光を検知する」こととは、
　「前記透過光検知手段は、所定の波長帯域の分光光を検知し、前記反射光検知手段は、前記所定の波長帯域とは異なる波長帯域の分光光を検知する」という点で共通する。
１０　引用発明１の「航空機搭載用マルチバンド・イメージング分光計」は、本願出願時の技術常識（例えば、特開２００２−９０２２５号公報の段落【０００１】を参照。）を踏まえると、分光放射計の一種であるといえ、本願発明の「分光放射計」に相当するといえる。
第５　本願発明と引用発明１の一致点
　してみると、本願発明と引用発明１は、つぎの点で一致する。
（一致点）
　「被測定光が入射される入射スリットと、該入射スリットを通過した被測定光を平行光にする第１の光学素子と、前記入射スリットの後段の光学系中に配置された第１のダイクロイックフィルタと、
　該第１のダイクロイックフィルタを透過し前記第１の光学素子で平行光化された被測定光を分光する第１の分光素子と、該第１の分光素子によって分光された分光光を検知する透過光検知手段と、
　前記第１のダイクロイックフィルタで反射され、平行光化された被測定光を分光する第２の分光素子と、該第２の分光素子によって分光された分光光を検知する反射光検知手段と、を備え、
　前記透過光検知手段は、所定の波長帯域の分光光を検知し、前記反射光検知手段は、前記所定の波長帯域とは異なる波長帯域の分光光を検知する、分光放射計。」
　
第６　本願発明と引用発明１の相違点
　また、本願発明と引用発明１は、つぎの点で相違する。
（相違点１）
　本願発明は、「該入射スリットを通過した被測定光を平行光にする第１の凹面反射ミラーと、前記入射スリットと前記第１の凹面反射ミラーとの間の光学系中に配置された第１のダイクロイックフィルタ」と、
　「前記第１のダイクロイックフィルタで反射され被測定光を平行光にする第２の凹面反射ミラー」と、を備えているのに対し、
　引用発明１は、「スリット・アパーチャを出た光線は、第１のレンズ３１２によって平行光線にされ、ダイクロイックミラー３１４に入射し」ている点。
（相違点２）
　本願発明は、「該第１の分光素子によって分光された分光光を検知する第１及び第２の光検知手段と、前記第１の分光素子と前記第１及び第２の光検知手段との間の光学系中に配置された第２のダイクロイックフィルタ」と、
　「該第２の分光素子によって分光された分光光を検知する第３及び第４の光検知手段と、前記第２の分光素子と前記第３及び第４の光検知手段との間の光学系中に配置された第３のダイクロイックフィルタ」と、を備え、
　「前記第１の光検知手段は、前記第２のダイクロイックフィルタを透過した第１の波長帯域の分光光を検知し、前記第２の光検知手段は、前記第２のダイクロイックフィルタによって反射された前記第１の波長帯域とは異なる第２の波長帯域の分光光を検知し、前記第３の光検知手段は、前記第３のダイクロイックフィルタを透過した第１及び第２の波長帯域とは異なる第３の波長帯域の分光光を検知し、前記第４の光検知手段は、前記第３のダイクロイックフィルタによって反射された前記第１ないし第３の波長帯域とは異なる第４の波長帯域の分光光を検知する」のに対し、
　引用発明１は、「ダイクロイックミラー３１４は、１〜２．５μｍの範囲の放射３１７の第２のビームを透過させ、ビーム３１７は、第２のダイクロイックミラー３２３よって反射され、反射されたビーム３２４は、第２の回折格子３２５に入射され、第３のレンズ３２６によって第２の検出器アレイ３２８上に集束され」、「０．４〜１．０μｍの範囲の光を含む」「第１のビーム３１５はダイクロイックミラー３１４によって第１の回折格子３１６へ反射され、そこで分散され、第２のレンズ３１８によって第１の検出器アレイ３２０へ集束され」る点。
第７　当審の判断
　上記相違点について検討する。
１　相違点１について
　分光放射計において、入射スリットを通過した被測定光を平行光にする第１の凹面反射ミラーと、前記入射スリットと前記第１の凹面反射ミラーとの間の光学系中に配置された第１のダイクロイックフィルタと、前記第１のダイクロイックフィルタで反射され被測定光を平行光にする第２の凹面反射ミラーとを備え、前記第１の凹面反射ミラーで平行光化された被測定光を第１の分光素子に入射させ、前記第２の凹面反射ミラーで平行光化された被測定光を第２の分光素子に入射させることは、例えば、特表平８−５０３３００号公報（特に、第７ページ第４行目〜第７行目、第８ページ下から第２行目〜第１０ページ第６行目、図１を参照。）などに記載されているように周知技術であり、引用発明１において、波長帯域毎に分離され、平行光化された「第２の光ビーム」及び「第１の光ビーム」を、それぞれ「第２の回折格子３２５」及び「第１の回折格子３１６」に入射させるために、上記周知技術を用い、上記相違点１に係る本願発明の発明特定事項のように構成とすることは、当業者が容易に想到し得ることである。
２　相違点２について
　引用発明２と本願発明とを対比すると、引用発明２の「回折格子４４」、「直線光検出器アレイ２４Ｃ」、「直線光検出器アレイ２４Ａ（又は２４Ｂ）」、及び「第２のダイクロイックフィルタ」は、それぞれ本願発明の「第１（又は第２）の分光素子」、「第１（又は第３）の光検知手段」、及び「第２（又は第４）の光検知手段」、「ダイクロイックビームスプリッタ３８Ａ（又は３８Ｂ）」に相当している。
　そして、引用発明１において、「スリット・アパーチャを出た光線」を所定の波長帯域毎に分離する「光ビーム」の数は、当業者が必要に応じて適宜決定すべき事項であり、引用発明２の「分光装置」は、種々の形式に使用するものであるから、引用発明１の「航空機搭載用マルチバンド・イメージング分光計」において、「第２の光ビーム」及び「第１の光ビーム」をさらに所定の波長帯域毎に分離するために、「第２の光ビーム」及び「第１の光ビーム」が入射する「第２の回折格子３２５」及び「第１の回折格子３１６」の後段のそれぞれに、上記引用発明２の「分光装置」を適用し、上記相違点２に係る本願発明の発明特定事項のように構成とすることは、当業者が容易に想到し得ることである。
３　本願発明の奏する作用効果
　そして、本願発明によってもたらされる作用効果は、引用例１、引用例２に記載された事項及び上記周知技術から当業者が予測し得る程度のものである。
４　まとめ
　してみると、本願発明は、引用発明１、引用発明２及び上記周知技術に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　
第８　むすび
　以上のとおり、本願発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、本願は、拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。