【事件の表示】
　平成　１年特許願第３２６９７７号「拡大視認装置」拒絶査定に対する審判事件［平成　３年　８月１４日出願公開、特開平　３−１８６７３７］について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯、本願発明
　本願は、平成元年１２月１５日の出願であって、その請求項１−４に係る発明は、補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１−４に記載されたとおりのものであって、そのうち請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、次のとおりのものである。
　「精細検査対象となるプリント基板の基板番号、該プリント基板上の部品搭載状態を目視により精細検査する箇所の位置情報を保持する制御手段と、
　該プリント基板上の精細検査箇所を拡大表示する拡大表示手段と、
　該制御手段に保持される該精細検査対象となるプリント基板の基板番号に対応した該基板番号の該位置情報に基づいて該プリント基板と該拡大表示手段の相対的な位置を変化させて、該精細検査箇所を該拡大表示手段の視野の中央付近に移動させる移動手段と
　を有することを特徴とする拡大視認装置。」
２．引用刊行物
　当審において平成１４年３月１５日付けで通知した拒絶の理由（以下、「当審拒絶理由」という。）に引用した特開昭６２−１７３７３１号公報（以下、「引用例」という。）には、被検査物の表面検査装置について記載されており、特に、以下のような記載がある。
　記載１
　「〔発明の技術分野〕
　本発明はたとえばパターニングされた半導体ウエファの表面状態を検査するのに適した被検査物の表面検査装置に関する。」
（第２頁、左上欄５−８行）
　記載２
　「〔発明の実施例〕
　以下、本発明を第１図および第２図に示す一実施例にもとづいて説明する。第１図は上半分がウエファの表面全体を検査するためのマクロ検査部（Ａ）と、下半分が顕微鏡によりウエファ表面の特定点を詳細に検査するためのミクロ検査部（Ｂ）とに大別される自動表面検査装置を示したものである。上記マクロ検査部（Ａ）において、検査の対象であるウエファ（１）は支持台（２）上に載置されており、光源（３）により照明光が上記ウエファ（１）をほぼ水平方向に照射している。そして、ウエファ（１）面側には工業用テレビカメラ（４）（以下、ＩＴＶカメラという）が設置されていて、ウエファ（１）面からの反射光によりウエファ（１）面を撮像し、その画像が画像処理部（５）に送られる。画像処理部（５）ではあらかじめ設定された手法によりＩＴＶカメラ（４）から入力した画像の処理、解析を行ない、不良の有無および不良箇所が制御部（６）へ送られるようになっている。ここで、不良箇所の指定は第２図に示すようにウエファ（１）の表面をメッシュ状に分割し、どの分割座標に不良があるか、または疑わしい問題があるかを制御部（６）へ伝達する。
　一方、ミクロ検査部（Ｂ）を説明すると、上記マクロ検査部（Ａ）において全面検査を終了したウエファ（１）は図示しない搬送手段によりミクロ検査部（Ｂ）に設けられている支持台（７）上に搬送して載置される。上記支持台（７）には移動手段（８）が結合されており、互いに直交するＸ−Ｙ方向へ移動し得るように構成されている。すなわち、（９）は上記支持台（７）の移動手段（８）を制御するコントローラで、このコントローラ（９）は上記制御部（６）にあらかじめ記憶されている座標値を読み出し、その特定点に上記ウエファ（１）が位置決めされるよう移動手段（８）を駆動することにより、上記支持台（７）の移動が制御されるようになっている。特定点に位置決めされたウエファ（１）の上方には図示しない光源を備えた顕微鏡（１０）およびこの顕微鏡（１０）の上部に取付けられて撮像するＩＴＶカメラ（１１）が設けられていて、上記ＩＴＶカメラ（１１）は顕微鏡（１０）を介してウエファ（１）上の特定点におけるミクロ画像を撮像し、その画像が画像処理部（１２）に送られる。画像処理部（１２）ではあらかじめ設定された手法によりＩＴＶカメラ（１１）から入力した画像の処理、解析を行なった後、不良の有無が制御部（６）へ送られるようになっている。」
（第２頁、左下欄７行−第３頁、左上欄１１行）
３．比較判断
　引用例には、ミクロ検査部での検査の対象となるウエファの不良箇所又は疑わしい箇所（以下、単に「不良箇所」という。）の位置情報を記憶する制御部と、顕微鏡と、該制御部に記憶される不良箇所の位置情報に基づいてウエファと顕微鏡の相対的な位置を変化させる移動手段とを有する被検査物の表面検査装置に関する発明（以下、「引用発明」という。）が記載されている。
　本願発明と引用発明とを比較すると、引用発明のミクロ検査部での検査、顕微鏡、制御部は、それぞれ、本願発明の精細検査、拡大表示手段、制御手段に相当するから、両者は、
　精細検査対象となる被検査物の情報を保持する制御手段と、該被検査物上の精細検査箇所を拡大表示する拡大表示手段と、該制御手段に保持される被検査物の情報に基づいて該被検査物と該拡大表示手段の相対的な位置を変化させて被検査物を所定の位置に移動させる移動手段とを有することを特徴とする検査装置、である点で一致し、次の４点で相違する。
相違点
　１．制御手段の保持する被検査物の情報が、本願発明は、精細検査対象となるプリント基板の基板番号、該プリント基板上の部品搭載状態を目視により精細検査する箇所の位置情報、であるのに対し、引用発明は、ウエファの不良箇所の位置情報、である点。
　２．拡大表示手段で拡大表示する被検査物上の精細検査箇所が、本願発明は、プリント基板上の精細検査箇所であるのに対し、引用発明は、ウエファの不良箇所である点。
　３．移動手段が、本願発明は、制御手段に保持される精細検査対象となるプリント基板の基板番号に対応した基板番号の位置情報に基づいてプリント基板と拡大表示手段の相対的な位置を変化させて、精細検査箇所を拡大表示手段の視野の中央付近に移動させる、ものである、のに対し、引用発明は、制御部に記憶される不良箇所の位置情報に基づいてウエファと顕微鏡の相対的な位置を変化させるものである点。
　４．検査装置が、本願発明は、拡大視認装置であるのに対し、引用発明は、拡大するものではあるが、自動検査装置であって視認装置ではない点。
　相違点について検討する。
　相違点１について、引用発明の被検査物は、ウエファであるが、上記記載１からも明らかなように、これに限定されるものでなくウエファ以外の被検査物にも適用しうることは当業者が直ちに理解できることである。本願発明は、被検査物をプリント基板とするものであるが、引用発明の構成をプリント基板の検査に適用することが困難である、とする特段の事情も見いだせないし、被検査物の相違により作用効果において格別の相違があるともいえない。しかも、プリント基板上の部品搭載状態を検査装置を用いて検査することは周知であり（当審拒絶理由に引用した特開６３−４７００号公報、特開平１−２３６３８０号公報参照）、さらに、半導体ウエファの検査に使用される装置がプリント基板の検査装置とはしばしば共通の構成を有することも周知である（当審拒絶理由に引用した特開昭６２−２４５４８４号公報、特開昭６１−２４５００７号公報（第４頁、右上欄１３−１８行）参照）。また、引用発明は被検査物の画像を処理、解析し自動的に判定することを基本とするものであるが、検査が自動的になされるものか目視によるものかの相違は、本質的なものではなく、しかも、目視によるものも周知であり（当審拒絶理由に引用した特開昭５９−１０２３１号公報参照）、引用例にも他の実施例として、表示装置（１３）に表示させ検査員の目視による検査もできることが記載されている（第３頁、左下欄末行−右下欄１０行参照）。
　したがって、引用発明において、被検査物をプリント基板とし該基板上の部品搭載状態を目視により検査するようにすることが当業者にとって格別困難なこととはいえない。そして、検査をそのようなものとする場合、制御手段の保持する被検査物の情報を、精細検査対象となるプリント基板上の部品搭載状態を目視により精細検査する箇所の位置情報、とすることは当然なされる設計変更である。また、検査一般において、多数の被検査物を識別するため被検査物に付与された番号を利用することは周知慣用技術であり、さらに、精細検査のため被検査物の位置情報と被検査物の番号とを記憶するものも知られており（当審拒絶理由に引用した特開昭６２−１１１４０号公報（第７頁、左上欄１０行−右上欄８行）参照）、制御手段の保持する被検査物の情報としてプリント基板の基板番号を含ませることは、必要に応じてなされる設計上の配慮である。したがって、引用発明において、上記周知技術を考慮して相違点１に係る構成とすることは当業者が格別の困難なくなしうることである。
　相違点２について、相違点１についての検討で述べたように、引用発明において、被検査物をプリント基板とすることは当業者にとって格別困難なこととはいえず、その場合、拡大表示手段で拡大表示する被検査物上の精細検査箇所を、プリント基板上の精細検査箇所とすることは、当然考えられる設計上の変更である。
　相違点３について、相違点１についての検討で述べたように、引用発明において、被検査物をプリント基板とすることは当業者にとって格別困難なこととはいえず、また、制御手段の保持する被検査物の情報としてプリント基板の基板番号を含ませることは必要に応じてなされる設計上の配慮であり、引用発明において、そのような構成を採用した場合、移動手段を、制御手段に保持される精細検査対象となるプリント基板の基板番号に対応した基板番号の位置情報に基づいてプリント基板と拡大表示手段の相対的な位置を変化させて、精細検査箇所を拡大表示手段の視野の中央付近に移動させる、ものとすることは、当然考えられる設計上の変更である。
　相違点４について、相違点１についての検討で述べたように、引用発明において、被検査物をプリント基板とし該基板上の部品搭載状態を目視により検査するようにすることは当業者にとって格別困難なこととはいえず、その場合、検査装置が拡大視認装置となることは当然のことである。
４．結び
　以上のとおりであるから、本願の請求項１に係る発明は、引用例に記載された発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものである。したがって、請求項２−４に係る発明について判断を示すまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。