【事件の表示】
　特願２０１０−５０３１６２「光検出装置および光検出方法、並びに、顕微鏡および内視鏡」拒絶査定不服審判事件〔平成２２年　９月１０日国際公開、ＷＯ２０１０／１００７４５〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
　
第１　手続の経緯
　本願は、平成２１年３月５日を国際出願日として出願された日本語特許出願であって、平成２５年２月２８日付けで拒絶の理由が通知され、これに対して、同年５月７日に意見書及び手続補正書が提出されたが、同年１２月１８日付けで拒絶査定がなされ、同拒絶査定の謄本は同月２４日に請求人に送達された。 
　これに対して、平成２６年３月２４日に拒絶査定不服審判の請求がなされるとともに、請求と同時に手続補正がなされたものである。
第２　本願発明について
　本願請求項１ないし１３に係る発明は、平成２６年３月２４日付け手続補正により適正に補正された特許請求の範囲の請求項１ないし１３に記載された事項により特定されるものであり、その請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は、以下の事項により特定される、以下のとおりのものである。 
 　「【請求項１】 
　一定時間内に被検出光の光周波数帯域内に複数の光周波数成分を有する局発光を発生する局発光発生手段と、
　前記局発光発生手段から発生される前記局発光と前記被検出光とを合波する光合波手段と、
　前記光合波手段から出力される光を光電変換して前記局発光と前記被検出光とのビート信号を生成する光電変換手段とを有し、
　前記局発光発生手段は、光パルス列を発生する光パルス発生手段からなり、
　前記被検出光は、時間的に低コヒーレンスな光であり、
　前記光電変換手段の出力に基づいて前記被検出光をヘテロダイン検出することを特徴とする光検出装置。」
第３　引用刊行物
１　引用刊行物に記載された事項
　原審の拒絶の理由に引用され、本願出願前の平成１５年３月２８日に頒布された刊行物である特開２００３−９０７９２号公報（以下、「引用刊行物」という。）には、以下の事項が図面と共に記載されている。
　（下線は当審により引用発明の認定に直接用いた記載に付加した。） 
（１）「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、低コヒーレンス光である信号光を被測定部に照射して被測定部の断層画像を取得する光断層画像化装置に関し、特に被測定部の表面および深部の微細構造情報を信号光の反射光に基づいて、画像化する光断層画像化装置に関する。」
（２）「【００２６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の具体的な第１の実施形態である光断層画像化装置について図１を参照して説明する。図１は本発明による光断層画像化装置の概略構成図である。
【００２７】
この光断層画像化装置は、パルス幅が約１０ｆｓ、中心波長１．５６μｍでスペクトル幅が約８００ｎｍの低コヒーレンス光Ｌ１を出射する光源部１０と、この光源部１０から出射された低コヒーレンス光Ｌ１の参照光Ｌ２および信号光Ｌ３への分割および合波を行うファイバ結合光学系２０と、参照光Ｌ２の光路上に配され、参照光Ｌ２の光路長を変化させる光路遅延部３０と、信号光Ｌ３で生体組織の被測定部１を走査する光走査部４０と、被測定部１の所定の深度で反射された反射光Ｌ４と参照光Ｌ２との干渉光Ｌ５の強度を検出するバランス差分検出部５０と、バランス差分検出部５０で検出された干渉光Ｌ５の光強度から被測定部１の所定の深度で反射された反射光Ｌ４の強度を求めるヘテロダイン検出を行い、
信号処理部６０と、
（３）「【００３１】
ファイバ結合光学系２０は、光源部１０から出射された低コヒーレンス光Ｌ１を信号光Ｌ３と参照光Ｌ２とに分割し、また、信号光Ｌ３の被測定部１の所定の深部からの反射である反射光Ｌ４と参照光Ｌ２を合波し、干渉光Ｌ５を得るファイバカプラ２０１と、
参照光Ｌ２に僅かな周波数シフトを生じさせるピエゾ素子２０３と、
（４）「【００３４】
バランス差分検出部５０は、干渉光Ｌ５の光強度を測定する光検出器５０１および５０２と、光検出器５０１の検出値と光検出器５０２の検出値の入力バランスを調整し、ノイズ成分やドリフト成分を相殺した上で、差分を増幅する差動増幅器５０３とを備えている。
（５）「【００３８】参照光Ｌ２は光路上に設けられたピエゾ素子２０３により変調され、参照光Ｌ２と信号光Ｌ３には、僅かな周波数差△ｆが生じる。」
（６）「【００４１】ファイバカプラ２０１で合波された反射光Ｌ４および参照光Ｌ２は、再び同軸上に重なることになり所定の条件の時に反射光Ｌ４と参照光Ｌ２が干渉し、干渉光Ｌ５となり、ビート信号を発生する。
【００４２】
参照光Ｌ２および反射光Ｌ４は、
両光が干渉し、この干渉する両光の周波数差（△ｆ）で強弱を繰り返すビート信号が発生する。
【００４３】干渉光Ｌ５は、ファイバカプラ２０１で分割され、一方は、ファイバ２０５を透過してバランス差分検出部５０の光検出器５０１に入力され、他方はファイバ２０６を透過して光検出器５０２に入力される。
【００４４】光検出器５０１および５０２では、干渉光Ｌ５から上記ビート信号の光強度を検出し、差動増幅器５０３で、光検出器５０１の検出値と光検出器５０２の検出値の差分を求め、信号処理部６０へ出力する。なお、差動増幅器５０３は、その入力値の直流成分のバランスを調整する機能を備えているため、たとえ光源部１０から出射された低コヒーレンス光Ｌ１にドリフトが生じている場合でも、直流成分のバランスを調整した上で差分を増幅することにより、ドリフト成分は相殺され、
ビート信号成分のみが検出される。
（７）「【００４５】なお、このときに、プリズム３０２をその光軸方向（図中水平方向）に移動すると、参照光Ｌ２がファイバカプラ２０１に到達するまでの光路長が変化する。このため参照光Ｌ２と干渉する信号光Ｌ３（反射光Ｌ４）の光路長も変化するため、断層情報を取得する被測定部１の深度も変化する。
【００４６】上記の動作により、被測定部１の所定点における表面から所望の深度までの断層情報を取得したのち、光走査部４０のレンズ４０１およびレンズ４０２ により、信号光Ｌ３の入射点を図１の垂直方向に僅かに移動させ、同様に所定の深度までの断層情報を取得する。このような動作を繰り返すことにより、被測定部１の断層画像を得ることができる。」
（８）「【００４７】
信号処理部６０では、バランス差分検出部５０で検出された干渉光Ｌ５の光強度から被測定部１の所定の深度で反射された反射光Ｌ４の強度を求めるヘテロダイン検出を行い、
（９）「【図１】
」
２　引用刊行物に記載された発明について
　上記摘記事項１（１）ないし（８）により、引用刊行物には、
　「パルス幅が約１０ｆｓ、中心波長１．５６μｍでスペクトル幅が約８００ｎｍの低コヒーレンス光Ｌ１を出射する光源部１０と、この光源部１０から出射された低コヒーレンス光Ｌ１の参照光Ｌ２および信号光Ｌ３への分割および合波を行うファイバ結合光学系２０と、参照光Ｌ２の光路上に配され、参照光Ｌ２の光路長を変化させる光路遅延部３０と、信号光Ｌ３で生体組織の被測定部１を走査する光走査部４０と、生体組織の被測定部１の所定の深度で反射された反射光Ｌ４と参照光Ｌ２との干渉光Ｌ５の強度を検出するバランス差分検出部５０と、バランス差分検出部５０で検出された干渉光Ｌ５の光強度から被測定部１の所定の深度で反射された反射光Ｌ４の強度を求めるヘテロダイン検出を行う信号処理部６０とを備える光断層画像化装置であって、
　ファイバ結合光学系２０は、光源部１０から出射された低コヒーレンス光Ｌ１を信号光Ｌ３と参照光Ｌ２とに分割し、また、信号光Ｌ３の被測定部１の所定の深部からの反射である反射光Ｌ４と参照光Ｌ２を合波し、干渉光Ｌ５を得るファイバカプラ２０１と、参照光Ｌ２に僅かな周波数シフトを生じさせるピエゾ素子２０３とを有し、
　バランス差分検出部５０は、干渉光Ｌ５の光強度を測定する光検出器５０１および５０２と、光検出器５０１の検出値と光検出器５０２の検出値の入力バランスを調整し、ノイズ成分やドリフト成分を相殺した上で、差分を増幅する差動増幅器５０３とを有し、参照光Ｌ２と反射光Ｌ４の周波数差（△ｆ）で強弱を繰り返すビート信号成分のみを検出する、
光断層画像化装置。」の発明（以下、「引用発明」という。）が記載されているものと認められる。
第４　本願発明と引用発明との対比  
（１）引用発明において、「光源部１０」が「出射する」「低コヒーレンス光Ｌ１」は「パルス幅が約１０ｆｓ」、「スペクトル幅が約８００ｎｍ」であり、時間的に低コヒーレンスな光であるといえる。
　さらに、こうした時間的コヒーレンスが低く、スペクトル幅に拡がりをもつ光が、スペクトル帯域に多数の光周波数成分が存在することは技術常識である。
（２）引用発明の「参照光Ｌ２」は、「光源部１０から出射された低コヒーレンス光Ｌ１」を「参照光Ｌ２」および「信号光Ｌ３」に分割して発生させたものであり、「僅かな周波数シフト」が生じているものの、「信号光Ｌ３」が「生体組織の被測定部１の所定の深度で反射された反射光Ｌ４」と合波されることにより、「干渉光Ｌ５」が生じていることから、「反射光Ｌ４」の光周波数帯域内に光周波数成分を有していることは明らかである。
（３）上記（１）及び（２）を踏まえ、引用発明の「低コヒーレンス光Ｌ１」が「分割」され、「僅かな周波数シフト」が「生じ」ている「参照光Ｌ２」は、本願発明の「被検出光の光周波数帯域内に複数の光周波数成分を有する局発光」に相当する。
（４）引用発明の「パルス幅が約１０ｆｓ、中心波長１．５６μｍでスペクトル幅が約８００ｎｍの低コヒーレンス光Ｌ１を出射する光源部１０」と、本願発明の「光パルス列を発生する光パルス発生手段」とは、「光パルス発生手段」という点で共通する。
（５）上記（３）に照らして、引用発明の「パルス幅が約１０ｆｓ、中心波長１．５６μｍでスペクトル幅が約８００ｎｍの低コヒーレンス光Ｌ１を出射する光源部１０」、「光源部１０から出射された低コヒーレンス光Ｌ１」から「参照光Ｌ２」を「分割」する「ファイバカプラ２０１」、「参照光Ｌ２に僅かな周波数シフトを生じさせるピエゾ素子２０３」及び「参照光Ｌ２の光路長を変化させる光路遅延部３０」は、「一定時間内に被検出光の光周波数帯域内に複数の光周波数成分を有する局発光を発生する」ものであるといえる。
　すると、上記（４）も踏まえ、引用発明が「光源部１０」、「光源部１０から出射された低コヒーレンス光Ｌ１」から「参照光Ｌ２」を「分割」する「ファイバカプラ２０１」、「参照光Ｌ２に僅かな周波数シフトを生じさせるピエゾ素子２０３」及び「参照光Ｌ２の光路長を変化させる光路遅延部３０」を有し、「光源部１０」が「パルス幅が約１０ｆｓ、中心波長１．５６μｍでスペクトル幅が約８００ｎｍの低コヒーレンス光Ｌ１を出射する」ことと、本願発明が「一定時間内に被検出光の光周波数帯域内に複数の光周波数成分を有する局発光を発生する局発光発生手段」を有し、「前記局発光発生手段」が「光パルス列を発生する光パルス発生手段からな」ることとは、「一定時間内に被検出光の光周波数帯域内に複数の光周波数成分を有する局発光を発生する局発光発生手段」を有し、「前記局発光発生手段」が「光パルス発生手段からな」るという点で共通している。
（６）上記（５）を踏まえ、引用発明の「光源部１０」から出射された「低コヒーレンス光Ｌ１」が分割され、僅かな周波数シフトが生じ、光路長が変化させられた「参照光Ｌ２」と「反射光Ｌ４」とを合波し、「干渉光Ｌ５」を得る「ファイバカプラ２０１」は、本願発明の「前記局発光発生手段から発生される前記局発光と前記被検出光とを合波する光合波手段」に相当する。
（７）引用発明の「ファイバカプラ２０１」により得られた「干渉光Ｌ５の光強度を測定する光検出器５０１および５０２と、光検出器５０１の検出値と光検出器５０２の検出値の入力バランスを調整し、ノイズ成分やドリフト成分を相殺した上で、差分を増幅する差動増幅器５０３とを有し、参照光Ｌ２と反射光Ｌ４の周波数差（△ｆ）で強弱を繰り返すビート信号成分のみを検出する」「バランス差分検出部５０」は、本願発明の「前記光合波手段から出力される光を光電変換して前記局発光と前記被検出光とのビート信号を生成する光電変換手段」に相当する。
（８）上記（１）に照らして、引用発明の「パルス幅が約１０ｆｓ」の「低コヒーレンス光Ｌ１」が「分割」された「信号光Ｌ３」が「生体組織の被測定部１の所定の深度で反射された反射光Ｌ４」は、時間的に低コヒーレンスな光であるといえる。
　したがって、引用発明の「信号光Ｌ３」が「生体組織の被測定部１の所定の深度で反射された反射光Ｌ４」は、「パルス幅が約１０ｆｓ」の「低コヒーレンス光Ｌ１」であることは、本願発明の「被検出光」は、「時間的に低コヒーレンスな光であ」ることに相当する。
（９）上記（７）を踏まえ、引用発明の「信号処理部６０」が「バランス差分検出部５０で検出された干渉光Ｌ５の光強度から被測定部１の所定の深度で反射された反射光Ｌ４の強度を求めるヘテロダイン検出を行う」ことは、本願発明の「前記光電変換手段の出力に基づいて前記被検出光をヘテロダイン検出すること」に相当する。
（１０）引用発明の「光断層画像化装置」は、「信号光Ｌ３」が「生体組織の被測定部１の所定の深度で反射された反射光Ｌ４」の強度を求めるヘテロダイン検出を行うものである。
　したがって、引用発明の「光断層画像化装置」は、本願発明の「光検出装置」に相当する。
　してみると、本願発明と引用発明とは、次の一致点で一致し、相違点で相違している。
《一致点》
　「一定時間内に被検出光の光周波数帯域内に複数の光周波数成分を有する局発光を発生する局発光発生手段と、
　前記局発光発生手段から発生される前記局発光と前記被検出光とを合波する光合波手段と、
　前記光合波手段から出力される光を光電変換して前記局発光と前記被検出光とのビート信号を生成する光電変換手段とを有し、
　前記局発光発生手段は、光パルス発生手段からなり、
　前記被検出光は、時間的に低コヒーレンスな光であり、
　前記光電変換手段の出力に基づいて前記被検出光をヘテロダイン検出する光検出装置。」である点。
《相違点》
　本願発明においては、「光パルス発生手段」が「光パルス列を発生する」のに対して、引用発明において、「光源部１０」がパルス列を発生しているのか明記されていない点。
第５　当審の判断
１　相違点についての検討
　上記摘記事項１（７）に記載されているとおり、引用刊行物には、「参照光Ｌ２」の光路長を変化させることにより、「断層情報を取得する被測定部１の深度」を変化させ、「被測定部１の所定点における表面から所望の深度までの断層情報を取得」する動作と「信号光Ｌ３の入射点を僅かに移動」させ、「同様に所定の深度までの断層情報を取得する」動作を繰り返すことにより、「被測定部１の断層画像を得ること」が記載されており、各所定点の各深度ごとに反射光Ｌ４の強度を求めるヘテロダイン検出を行うことが記載されているといえる。
　してみると、引用発明においては、少なくとも各所定点の各深度についてのヘテロダイン検出ごとに「光源部１０」から「パルス幅が約１０ｆｓ」の「低コヒーレンス光Ｌ１」を出射されることになるから、上記相違点は、実質的な相違点ではない。
　また、仮に、各所定点の各深度についてのヘテロダイン検出ごとに「光源部１０」から出射される一連の「パルス幅が約１０ｆｓ」の「低コヒーレンス光Ｌ１」が光パルス列に相当しないとしても、本願出願前に「光断層画像化装置」の技術分野において、モード同期レーザ光源から非線形光学媒質に繰り返し光パルス列を入射させ、繰り返し周波数と等しい周波数間隔を有する縦モードを非線形光学効果により広帯域化させる、いわゆる「スーパーコンティニュウム光源」を低コヒーレンス光源として使用することは、例えば、本願出願前の平成１９年３月１５日に頒布された刊行物である特開２００７−６４９１２号公報（特に、公報【００７３】段〜【００７４】段及び【図１９】参照。）や本願出願前の平成２０年８月２１日に頒布された刊行物である特開２００８−１９１３７０号公報（特に、公報【００２６】段〜【００２７】段及び【図４】参照。）にそれぞれ開示されているように周知である。
　してみれば、引用発明において、「低コヒーレンス光Ｌ１」を出射する「光源部１０」として、「光断層画像化装置」の技術分野における周知の低コヒーレンス光源であるスーパーコンティニュウム光源を使用し、上記相違点に係る本願発明の発明特定事項のように構成することは、当業者が適宜なし得ることであるというべきである。
２　本願発明の奏する作用・効果に関する検討  
　本願発明によってもたらされる作用・効果は、引用刊行物の記載事項及び上記周知技術から当業者が予測し得る程度のものであって、格別なものではない。 
第６　むすび 
　以上のとおり、本願発明は、本願出願前に頒布された引用刊行物及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。 
　したがって、本願は、他の請求項に係る発明について検討するまでもなく拒絶すべきものである。 
　よって、結論のとおり審決する。