【事件の表示】
　平成１０年特許願第２６９７４９号「光ディスクの品質をテストする方法および機器」拒絶査定に対する審判事件［平成１１年　６月　８日出願公開、特開平１１−１５４３３９］について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯・本願発明
　本願は、平成１０年９月２４日（優先権主張１９９７年９月２４日韓国）の出願であって、その請求項１ないし１２に係る発明は、平成１３年６月６日付手続補正書により補正された特許請求の範囲の請求項１〜１２に記載された事項により特定されるとおりのものと認められるところ、その請求項１の記載は次のとおりである。（以下「本願発明」という。なお、平成１３年１２月５日付の手続補正は平成１４年９月１８日付の補正の却下の決定（平成１４年１０月１日発送）により却下された。）
「光ディスクから補助信号を再生するステップであって、前記補助信号は前記光ディスクのプリフォーマット構造に対応するようなステップと、
　前記補助信号に基づいて前記光ディスクの品質を判定するステップであって、
　前記光ディスクに対応する所定の許容範囲を記憶し、
　前記補助信号を前記所定の許容範囲と比較し、
　前記比較に基づいて前記光ディスクの前記ディスク品質を判断するステップと、
を備えることを特徴とする光ディスクの品質をテストする方法。」
　
２．引用刊行物
　これに対して、原査定の拒絶の理由に引用された特開平８−７７７２４号公報（以下「引用刊行物１」という。）には、次の事項からなる発明が記載されている。
（１−１）「【０００５】　本発明は、上記問題点を改善し、ＲＯＭデータ領域の欠陥検査を行うことができて光磁気ディスクタイプの光ディスクの欠陥検査だけでなくＣＤ−Ｒタイプの光ディスクの欠陥検査も行うことができるパーシャルＲＯＭ型光ディスク検査装置を提供することを目的とする。」
（１−２）「【０００６】　　【課題を解決するための手段】　上記目的を達成するため、請求項１記載の発明は、予め所定領域のセクタに任意のＲＯＭデータがピット記録されており、かつ、それ以外の領域が記録可能なセクタから構成され、さらに、各セクタにアドレス番号が記録されたパーシャルＲＯＭ型光ディスクを検査対象とし、該光ディスクに光ヘッドより照射したレーザ光スポットをトラッキングさせると共に反射光量に応じた再生信号を得るための再生手段を有するパーシャルＲＯＭ型光ディスク検査装置において、前記再生信号から前記光ディスクのアドレス番地を読み出すための読み出し手段と、前記光ディスクのＲＯＭデータ領域のアドレス番地を記憶するためのアドレス記憶手段と、該アドレス記憶手段に記憶された前記光ディスクのＲＯＭデータ領域のアドレス番地と，前記読み出し手段により読み出された前記光ディスクのアドレス番地を比較するための比較手段と、前記光ディスクの記録可能な領域のセクタの欠陥検査を行うための第１の欠陥検査手段と、前記光ディスクのＲＯＭデータ領域のセクタの欠陥検査を行うための第２の欠陥検査手段と、前記比較手段の比較結果により前記第１の欠陥検査手段と前記第２の欠陥検査手段とを切り換えて動作させる切り換え手段とを備えたものである。」
（１−３）「【０００８】　請求項３記載の発明は、特定のセクタに設けられた制御領域にＲＯＭデータ領域のアドレス番号がウォブル記録されたパーシャルＲＯＭ型光ディスクを検査対象とし、前記制御領域に予めウォブル記録された情報から前記ＲＯＭデータ領域のアドレス番号を読み出し或いは計算する手段を備え、この手段により得た前記ＲＯＭデータ領域のアドレス番号を前記アドレス記憶手段に記憶するものである。」
（１−４）「【００１０】　請求項５記載の発明は、請求項４記載のパーシャルＲＯＭ型光ディスク検査装置において、前記第２の欠陥検査手段は、前記再生信号の上側のエンベロープ信号と前記再生信号の下側のエンベロープ信号とを選択的または同時に得る手段を有し、前記再生信号の上側のエンベロープ信号と前記再生信号の下側のエンベロープ信号とを選択的または同時に使用して前記光ディスクのＲＯＭデータ領域のセクタの欠陥検査を行うものである。」
（１−５）「【００３５】　欠陥検査手段２１では、コンパレータ４１が図１１（ａ）に示すように切り換え手段１９からの再生信号を固定の基準レベルＶＴ1と比較し、再生信号の基準レベルＶＴ1以下の部分を欠陥とみなして検出することにより光ディスク１０上の記録可能な領域１２，３２の欠陥を検査する。欠陥信号処理部４２はコンパレータ４１からの欠陥信号を処理する。
　　　【００３６】　また、欠陥検査手段２２では、エンベロープ生成回路４３が切り換え手段１９からの再生信号のエンベロープを検出してエンベロープ信号を生成する。コンパレータ４４は図１１（ｂ）に示すようにエンベロープ生成回路４３からのエンベロープ信号を固定の基準レベルＶＴ2と比較し、エンベロープ信号の基準レベルＶＴ2以下の部分を欠陥とみなして検出することにより光ディスク１０上のＲＯＭデータ領域１１，３１の欠陥を検査する。欠陥信号処理部４５はコンパレータ４４からの欠陥信号を処理する。　なお、再生信号を固定レベルと比較する欠陥検出法自体は公知の技術であり、微分波形を用いる欠陥検出法などを欠陥検査手段２１，２２で用いることもできる。
　　　【００３７】　この第４実施例では、上記各実施例において、欠陥検査手段２１が光ヘッド１５からの再生信号を用いて光ディスクの記録可能な領域のセクタの欠陥検査を行い、欠陥検査手段２２が光ヘッド１５からの再生信号のエンベロープ信号を用いて光ディスクのＲＯＭデータ領域のセクタの欠陥検査を行うので、光ディスク上のＲＯＭデータ領域のキズ，ピット潰れなどの欠陥を検査することができる。さらに、アドレス記憶手段１６の内容により、全面が記録可能領域となっている光ディスク及び全面がＲＯＭデータ領域となっている光ディスクに対しても使用することができる。」
　
３．対比
　本願発明と引用刊行物１に記載された発明とを比較すると、引用刊行物１に記載された「ウォブル記録された情報」を再生した信号は、本願発明の「補助信号」に相当し、引用刊行物１には、光ディスク検査装置の説明として、検査方法が補助信号の再生と許容範囲との比較の順に行うことが記載されていると認められるので、両者は、
［一致点］
「光ディスクから補助信号を再生するステップであって、前記補助信号は前記光ディスクのプリフォーマット構造に対応するようなステップと、　前記補助信号に基づいて前記光ディスクの品質を判定するステップであって、　前記光ディスクに対応する所定の許容範囲を記憶し、　再生信号を前記所定の許容範囲と比較し、　前記比較に基づいて前記光ディスクの前記ディスク品質を判断するステップと、を備えることを特徴とする光ディスクの品質をテストする方法。」である点で一致し、
［相違点］
　本願発明では、前記補助信号を前記所定の許容範囲と比較しているのに対し、引用刊行物１に記載された発明では、再生信号を固定レベルと比較している点で相違している。
　
４．相違点に対する判断
　本願発明の「補助信号を前記所定の許容範囲と比較」するという構成は、補助信号の何を比較の対象としているのか必ずしも明りょうではないが、本願明細書の記載によれば、実施例では、図１８およびその説明の項に記載されるように、反射ビームの強度を所定の許容範囲の値と比較しているものと認められる。
　そこで検討すると、引用刊行物１に記載された、ＣＤ−Ｒタイプの光ディスクにおける記録可能領域の反射光量に応じた再生信号は、ウォブリングされたアドレスデータを含む再生信号であることは明らかであるから、これを固定の基準レベルと比較して範囲内にあるか否かを判断することと、本願発明の「補助信号を前記所定の許容範囲と比較」することとは、実質的な相違を認めることができない。すなわち、比較する物理量が特定されず、所定の許容範囲が特定されない本願発明の構成は、引用刊行物１に記載された構成を含むものである。
　したがって、ディスク品質を判断する手段として、単に「再生信号を固定レベルと比較」するものに代えて、「補助信号を前記所定の許容範囲と比較」する構成とすることで本願発明の構成とすることは当業者が容易になし得たことと認められる。
　
５．むすび
　以上のとおりであるから、本願請求項１に係る発明は、引用刊行物１に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものと認められるので、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　よって、結論のとおり審決する。