【事件の表示】
　特願２００８−５４６８１４「相対移動測定装置及び方法」拒絶査定不服審判事件〔平成１９年６月２８日国際公開，ＷＯ２００７／０７２４４６，平成２１年５月２１日国内公表，特表２００９−５２０２０３〕について，次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は，成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
平成１８年１２月２０日：国際特許出願
（優先権　平成１７年１２月２０日　欧州特許庁）
平成２４年　１月３１日：拒絶理由通知（同年２月１４日発送）
平成２４年　８月　９日：意見書
平成２５年　８月　２日：拒絶査定（同年同月６日送達）
平成２５年１１月１８日：手続補正書（以下「本件補正」という。）
平成２５年１１月１８日：審判請求
平成２５年１２月１８日：前置報告
　
第２　原査定の拒絶の理由
　原査定の拒絶の理由は，概略，本件出願は，発明の詳細な説明の記載が，請求項１ないし１３に係る発明を当業者が実施することができる程度に明確かつ十分に記載したものでないから，特許法３６条４項１号に規定する要件を満たしていないというものである。
　
第３　本願発明
　１　本件補正について
　本件補正は，明瞭でない記載の釈明を目的としたものである。
　
　２　本願発明について
　本件出願の特許請求の範囲の請求項１ないし１３に係る発明は，明細書，特許請求の範囲及び図面の記載からみて，本件補正により補正された特許請求の範囲の請求項１ないし１３に記載されたとおりの，以下のものである（以下「本願発明１」ないし「本願発明１３」，総称して「本願発明」という。）。
「　　【請求項１】
　自身と対象との間の相対移動を測定する装置であって，
　測定ビームを生成するレーザーキャビティを有する少なくとも１つのレーザーと，
　作動面内で測定ビームを集束すると共に，前記レーザーにおける自己混合効果を生むために前記レーザーキャビティ内に前記対象により反射された測定ビーム放射を集束する集束手段と，前記相対移動により定まる前記自己混合効果の結果を測定する測定手段とを含み，
　前記集束手段は，前記測定ビームの放射のコヒーレンス長を超えて延在する距離範囲に亘って前記測定ビームを合焦するよう構成され，
　前記測定手段は，前記レーザーキャビティ内の前記対象により反射された測定ビーム放射と前記測定ビームの間の周波数差に基づいて，前記対象の動きを算出するように構成され，前記周波数差に基づいて算出することは，前記反射された測定ビーム放射により生成される雑音スペクトルの周波数シフトに基づいて算出することを含む，装置。
　　【請求項２】
　前記測定手段は，前記反射された測定ビーム放射により生成される雑音スペクトルの平均周波数シフトを算出するように構成される，請求項１に記載の装置。
　　【請求項３】
　前記測定手段は，前記反射された測定ビーム放射により生成される雑音スペクトルの瞬間周波数シフトを算出するように構成される，請求項１に記載の装置。
　　【請求項４】
　前記測定手段は，周波数シフトする反射された測定ビーム放射及び周波数シフトしない反射された測定ビーム放射の時系列検出を実行するように構成される，請求項１に記載の装置。
　　【請求項５】
　前記測定手段は，当該装置と前記対象との間の距離を測定する，請求項１に記載の装置。
　　【請求項６】
　前記少なくとも１つのレーザーを制御する制御手段を更に含む，請求項１に記載の装置。
　　【請求項７】
　前記制御手段は，前記少なくとも１つのレーザーに周期的に変化する電流であって，前記反射された測定ビーム放射のスペクトルが前記少なくとも１つのレーザーにより生成される前記測定ビーム放射と実質的に重なるように，前記測定ビームの波長の周期的な変動を引き起こす電流を，供給するように構成される，請求項６に記載の装置。
　　【請求項８】
　前記制御手段は，前記少なくとも１つのレーザーに周期的に変化する電流であって，前記反射された測定ビーム放射のスペクトルが前記少なくとも１つのレーザーにより生成される前記測定ビーム放射とせいぜい部分的に重なる程度に，前記測定ビームの波長の周期的な変動を引き起こす電流を，供給するように構成される，請求項６に記載の装置。
　　【請求項９】
　前記制御手段は，前記少なくとも１つのレーザーにパルス電流を供給するように構成される，請求項６に記載の装置。
　　【請求項１０】
　第１及び第２の検出モードの一方で選択的に動作するように構成された請求項１に記載の装置であって，
　前記第１の検出モードは，干渉性検出モードであり，前記第２の検出モードは，不可干渉性検出モードである，装置。
　　【請求項１１】
　前記集束手段は，固定された焦点を有する，請求項１に記載の装置。
　　【請求項１２】
　前記集束手段は，前記測定ビーム放射のコヒーレンス長にて若しくはそれを超えて前記測定ビーム放射を選択的に合焦するように，選択的に可変の焦点を有する，請求項１に記載の装置。
　　【請求項１３】
　自身と対象との間の相対移動を測定する方法であって，
　レーザーキャビティを有する少なくとも１つのレーザーを用いて測定ビームを生成するステップと，
　前記測定ビームの放射のコヒーレンス長を超えて延在する距離に亘って作動面内で前記測定ビームを集束するステップと，
　前記レーザーにおける自己混合効果を生むために前記レーザーキャビティ内に前記対象により反射された測定ビーム放射を集束するステップと，
　前記レーザーキャビティ内の前記対象により反射された測定ビーム放射と前記測定ビームの間の周波数差を算出するステップとを含み，前記相対移動は，前記周波数差に基づいて算出され，前記周波数差に基づいて算出されることは，前記反射された測定ビーム放射により生成される雑音スペクトルの周波数シフトに基づいて算出されることを含む，方法。」
　
第４　判断
　１　段落【０００１】及び【０００５】
　本件出願の発明の詳細な説明の段落【０００１】には，「本発明は，自身と対象との間の相対移動を測定する装置であって，測定ビームを生成するレーザーキャビティを有する少なくとも１つのレーザーと，作動面内で測定ビームを集束すると共に，前記レーザーにおける自己混合効果を生むために前記レーザーキャビティ内に前記対象により反射された測定ビーム放射を集束する集束手段と，前記相対移動により定まる前記自己混合効果の結果を測定する測定手段とを含む装置に関する。」と記載されているところ，段落【０００２】において，「作動面」及び「自己混合効果」の用語が定義されている。
　すなわち，「作動面」に関して，段落【０００２】には，「作動面とは，測定ビーム放射が対象と出会い対象と装置の相対移動により影響を受けるところの面を意味すると理解されるべきである。」と記載されている。
　また，「自己混合効果」に関して，段落【０００２】には，「レーザーの自己混合効果とは，ダイオードレーザーにより放出された放射とレーザーキャビティに反射して戻る放射がレーザーキャビティの動作の変化であって，レーザーキャビティで生成された光波とキャビティに再度入る反射した放射との干渉に起因した変化を，引き起こす現象を意味すると理解されるべきである。」と記載され，さらに，「装置は，ドップラ効果との組み合わせで自己混合効果を用いる。後者の効果は，対象がビームの伝播方向に移動している場合に対象により反射された放射のビームがドップラシフトと称される周波数シフトを受ける現象である。反射したビームが，ビームを放出するレーザーキャビティに再度入る場合，レーザーキャビティの動作の変化が生じ，この変化は，対象の移動により定まる。これらの変化（うねり）は，レーザー放射の波長の半分に等しい距離に亘り対象（若しくは外部の反射体）の関数として反復性を有する。これは，レーザー周期が対象の速度と比例することを意味する。」と記載されている。
　
　ところで，本願発明の「自身と対象との間の相対移動を測定する装置」は，「作動面内で測定ビームを集束する」集束手段を具備するところ，「前記集束手段は，前記測定ビームの放射のコヒーレンス長を超えて延在する距離範囲に亘って前記測定ビームを合焦するよう構成され」ている。
　また，本願発明の集束手段は，「前記レーザーにおける自己混合効果を生むために前記レーザーキャビティ内に前記対象により反射された測定ビーム放射を集束する」ものであり，そして，本願発明の「測定手段」は，「前記相対移動により定まる前記自己混合効果の結果を測定する」ものであり，具体的には，「前記レーザーキャビティ内の前記対象により反射された測定ビーム放射と前記測定ビームの間の周波数差に基づいて，前記対象の動きを算出するように構成され」，「前記周波数差に基づいて算出することは，前記反射された測定ビーム放射により生成される雑音スペクトルの周波数シフトに基づいて算出すること」を含む。
　
　そうしてみると，本願発明は，(A) コヒーレンス長を超えた位置に存在する対象に放射し，反射され，レーザーキャビティ内に再度入った測定ビームが，レーザーキャビティで生成された光波との間で干渉し，レーザーキャビティの動作に，対象の速度と比例する周期のうねりが生じること（自己混合効果）を前提として，(B) 測定手段が，自己混合効果の結果を測定することができ，具体的には，「前記反射された測定ビーム放射により生成される雑音スペクトルの周波数シフト」を算出することができること，を測定原理とすることが理解できる。
　しかしながら，当業者ならば，(A') コヒーレンス長の範囲内で，対象に放射し，反射され，レーザーキャビティ内に再度入った測定ビームに限り，レーザーキャビティで生成された光波との間で干渉し，レーザーキャビティの動作に，対象の速度と比例する周期のうねりが生じること（自己混合効果），すなわち，対象の速度と比例する周波数シフトは，コヒーレンス長を超えない距離範囲（自己混合効果が生じるとき）に観測されるものであって，本願発明のように，対象がコヒーレンス長を超えて延在する距離範囲にある場合には自己混合効果が生じず，周波数シフトが観測されないことを心得ている。したがって，当業者は，周波数シフトが観測されるはずのない本願発明の構成において，なぜ周波数シフトを算出できるのか，理解できない。
　このことは，本件出願の段落【０００３】ないし【０００５】の記載からも明らかである。すなわち，段落【０００３】及び【０００４】には，先行技術文献ともに背景技術が開示されているが，背景技術は，(A') コヒーレンス長の範囲内で，対象に放射し，反射され，レーザーキャビティ内に再度入った測定ビームに限り，レーザーキャビティで生成された光波との間で干渉し，レーザーキャビティの動作に，対象の速度と比例する周期のうねりが生じること（自己混合効果）を前提として，(B') 測定手段は，コヒーレンス長の範囲内で，自己混合効果の結果を測定することが説明されている。また，段落【０００５】には，干渉計システムにおいて，「移動する対象による引き起こされるドップラシフトが，検出器の出力信号のうねりを生む」こと，及び，「対象までの距離がレーザー放射のコヒーレンス長を超える場合，検出器信号は，レーザー源のライン幅の約２倍のあるハンド幅を有する実質的に雑音になる」ことが開示されているが，「速度測定の精度は，ライン幅，測定時間，信号レベル等のようなパラメータに依存し，対象の正確な位置を算出することは可能でない」とされている。そもそも，干渉計システムは，単に混合した光を検出器に導くものであり，光をレーザーキャビティ内に戻して自己混合効果を生むものではない。
　
　以上のとおりであるから，なぜ，(B) 測定手段が，自己混合効果の結果を測定することができ，具体的には，「前記反射された測定ビーム放射により生成される雑音スペクトルの周波数シフト」を算出することができるのかについて，明確かつ十分な記載があるとはいえない。また，なぜ，(C) 測定手段が「前記反射された測定ビーム放射により生成される雑音スペクトルの平均周波数シフトを算出する」（本願発明２）ことができ，また，(D) 「前記反射された測定ビーム放射により生成される雑音スペクトルの瞬間周波数シフトを算出する」（本願発明３）ことができるのかについても，明確かつ十分な記載があるとはいえない。
　
　２　段落【０００６】ないし【００１６】
　段落【０００６】には，「本発明の目的は，冒頭の段落で記載するような種類のレーザー自己混合装置を提供し，これにより，測定範囲を，従来技術の単純な構成に比べて拡大しつつ，装置の小さいサイズを保持することである。」と記載され，さらに，段落【０００７】ないし【００１６】には，前記本発明の目的を達成するための本発明の構成が記載されている。
　しかしながら，前記「１」に記載したとおりであるから，当業者が発明を実施することができる程度に明確かつ十分な記載があるとはいえない。
　
　なお，請求人が審判請求書等において指摘する段落【０００９】の記載によると，請求人は，「測定ビームの放射のコヒーレンス長よりも長い距離からのレーザーキャビティ内の反射した放射は，また，レーザーキャビティ内で十分な自己混合を引き起こし，従って，相対信号を決定するための有用な信号を得ることができ」ること，及び，「インコヒーレントな検出方法を用いることによって，即ち，測定ビームと反射した測定ビーム放射との間の周波数差を求めることによって，装置から比較的長い距離に位置する対象に関して，比較的精度の高い動き測定を得ることができる」を知見したようである。
　しかしながら，前記「１」に記載したとおり，当業者ならば，(A') コヒーレンス長の範囲内で，対象に放射し，反射され，レーザーキャビティ内に再度入った測定ビームに限り，レーザーキャビティで生成された光波との間で干渉し，レーザーキャビティの動作に，対象の速度と比例する周期のうねりが生じること（自己混合効果）を心得ている。すなわち，コヒーレンス長を超えた位置に存在する対象に放射し，反射され，レーザーキャビティ内に再度入った測定ビームは，コヒーレンス性（可干渉性）が失われており，もはや光の位相が揃っていないから，レーザーキャビティの動作に擾乱をもたらすことはあるとしても，うなり（ドップラシフトに対応する周期的な変動）が観測されることはないと考える。例えば，拒絶理由通知で審査官が示した「小竹佑治，外２名，“正弦波変調自己混合半導体レーザによる距離計測”，電子情報通信学会技術研究報告，平成9年2月13日，Vol.96，No.516，p.1-6」（以下「先行技術」という。）を参照すると，図５（ａ）では距離Ｌ＝１００ｃｍのＦＦＴの波形で大きなビート信号が観測されているが，図５（ｂ）では距離Ｌ＝２０５ｃｍ（コヒーレンス長の約１／２）でかろうじて（図５（ａ）の場合のビート信号位置からはシフトした）ビート信号が測定できる状態となり，そして，図５（ｃ）では距離Ｌ＝２１０ｃｍでもはやビート信号を測定できておらず，また，干渉計システム（段落【０００５】）においては観測される検出器の出力信号のうねりも，測定できていない。
　本願発明は，対象との距離について，コヒーレンス長を下限とする発明であるから，先行技術と同様に，周波数スペクトルからは周波数シフトが測定困難であると考えられる。したがって，段落【０００９】の記載を考慮しても，依然として(B) 測定手段が，自己混合効果の結果を測定することができ，具体的には，「前記反射された測定ビーム放射により生成される雑音スペクトルの周波数シフト」を算出することについて，当業者が発明を実施することができる程度に明確かつ十分な記載があるとはいえない。
　
　請求人は，また，段落【００１０】の「前記測定手段は，前記反射された測定ビーム放射により生成される雑音スペクトルの平均周波数シフトを算出するように構成される」の記載に関連して，審判請求書において「“平均”は，複数の周波数シフトの測定値の平均を取ることである」と主張している。しかしながら，ＦＦＴ波形にビート信号が観測されないからには，当業者は，(C) 測定手段が「前記反射された測定ビーム放射により生成される雑音スペクトルの平均周波数シフトを算出する」（本願発明２）ことの手がかりすら得られず，その具体的な構成を明確かつ十分には把握できない。同様に，当業者は，(D) 「前記反射された測定ビーム放射により生成される雑音スペクトルの瞬間周波数シフトを算出する」（本願発明３）ことの具体的な構成を明確かつ十分には把握できない。
　したがって，段落【００１０】の記載を考慮しても，依然として，当業者が発明を実施することができる程度に明確かつ十分な記載があるとはいえない。
　
　３　段落【００１８】ないし【００２８】
　段落【００１８】ないし【００２８】には，「先行技術による自己混合レーザー装置の一般的な構造及び動作の原理」（段落【００１８】）が記載されており，ここで開示された装置は，「依然として上述のコヒーレントな検出方法を用いるので，測定範囲は依然として幾分制限されている」（段落【００２８】）。
　すなわち，この記載を考慮しても，当業者は，コヒーレンス長を超えた位置に存在する対象に放射し，反射され，レーザーキャビティ内に再度入った測定ビームの場合において，「(B) 測定手段が，自己混合効果の結果を測定することができ，具体的には，「前記反射された測定ビーム放射により生成される雑音スペクトルの周波数シフト」を算出すること」，「(C) 測定手段が「前記反射された測定ビーム放射により生成される雑音スペクトルの平均周波数シフトを算出する」（本願発明２）こと」及び「(D) 「前記反射された測定ビーム放射により生成される雑音スペクトルの瞬間周波数シフトを算出する」（本願発明３）こと」の具体的な構成を明確かつ十分には把握できない。
　したがって，段落【００１８】ないし【００２８】の記載を考慮しても，依然として，当業者が発明を実施することができる程度に明確かつ十分な記載があるとはいえない。
　
　４　段落【００２９】ないし【００４０】
　段落【００２９】には「レーザー放射のコヒーレンス長を超えた距離で測定ビームを合焦するように機能する集束手段を提供し，放射のコヒーレンス長よりも大きい装置からの距離で対象によりレーザーキャビティ内に反射される放射により生成される雑音スペクトルの平均周波数シフトを求めるためにインコヒーレントな検出モード（先行技術の装置で用いられるコヒーレントな検出モードではなく）で動作するように装置を構成することを提案する。」と記載されている。
　しかしながら，この記載内容からは，本願発明の測定手段に求められる性能しか把握できない。すなわち，前記「１」及び「３」で述べたとおりであるから，単に「インコヒーレントな検出モードで動作する」というだけでは，当業者が発明を実施することができる程度に明確かつ十分な記載があるとはいえない。
　
　段落【００３１】には，「対象により反射された放射がレーザーで生成された放射と位相の関係を有しない実施例では，放射感応検出器（フォットダイオード）は，レーザーにより生成された放射と対象により反射されたレーザー放射とからなる混合放射を判断するために用いられる」と記載されている。
　ここで，フォトダイオードは光強度の瞬時値を測定信号として出力可能であるから，フォトダイオードによって，「対象により反射された放射」及び「レーザーキャビティで生成された光波」の混合光を測定することができ，また，そのスペクトルも得ることはできる。しかしながら，先行技術によると，そのスペクトルは，図５（ｃ）のように，特段のピークが観測されないものにすぎないから，当業者は，このような測定スペクトルから，なぜ「(B) 測定手段が，自己混合効果の結果を測定することができ，具体的には，「前記反射された測定ビーム放射により生成される雑音スペクトルの周波数シフト」を算出すること」，「(C) 測定手段が「前記反射された測定ビーム放射により生成される雑音スペクトルの平均周波数シフトを算出する」（本願発明２）こと」及び「(D) 「前記反射された測定ビーム放射により生成される雑音スペクトルの瞬間周波数シフトを算出する」（本願発明３）こと」ができるのか理解できない。
　したがって，段落【００３１】の記載を考慮しても，依然として，当業者が発明を実施することができる程度に明確かつ十分な記載があるとはいえない。
　
　
　同様に，段落【００３２】以降の記載を参酌しても，当業者は本願発明の測定手段の具体的な構成を明確かつ十分には把握できないから，当業者が発明を実施することができる程度に明確かつ十分な記載があるとはいえない。
　
　５　図１ないし６
　発明の詳細な説明の記載とともに，各図を参照しても，同様である。すなわち，図１ないし５は，「先行技術による自己混合レーザー装置の一般的な構造及び動作の原理」（段落【００１８】）に関するものであるから，当業者は，測定手段の具体的な構成を明確かつ十分には把握できず，また，図６を参照しても，測定手段に関しては，図１と変わるところが見受けられず，結局，当業者は，測定手段の具体的な構成を明確かつ十分には把握できないから，各図を考慮しても，依然として，当業者が発明を実施することができる程度に明確かつ十分な記載があるとはいえない。
　なお，各図を参照しても，本願発明の測定手段による測定結果を示す図は見当たらず，すなわち，「前記反射された測定ビーム放射により生成される雑音スペクトルの周波数シフト」がどのような周波数シフトとして観測されるのかも判らないから，観測結果から測定手段の構成を類推することもできない。
　
　６　請求項４ないし１３について
　以上，本願発明１ないし３に関して，本件出願の発明の詳細な説明の記載が当業者が発明を実施することができる程度に明確かつ十分に記載したものであるとはいえないことを述べたが，請求項１を直接又は間接的に引用して記載された請求項４ないし１２に係る発明（本願発明４ないし１２）についても，上記「１」ないし「５」に記載したとおりであるから，本件出願の発明の詳細な説明の記載は，当業者が発明を実施することができる程度に明確かつ十分に記載したものであるとはいえない。さらに，請求項４ないし１２に記載された事項についても，当業者が発明を実施することができる程度に明確かつ十分な記載があるとはいえないから，同様である。
　また，本願発明１３は，本願発明１の装置に対応する方法の発明であるから，本願発明１と同様の理由により，本件出願の発明の詳細な説明の記載は，当業者が発明を実施することができる程度に明確かつ十分に記載したものであるとはいえない。
　
第５　まとめ
　以上のとおり，本件出願は，発明の詳細な説明の記載が，請求項１ないし１３に係る発明を当業者が実施することができる程度に明確かつ十分に記載したものでないから特許法３６条４項１号に規定する要件を満たしておらず，本件出願は拒絶すべきものである。
　よって，結論のとおり審決する。