【事件の表示】
　特願２０１１−　７６２４６「電子線分析装置」拒絶査定不服審判事件〔平成２４年１１月　１日出願公開、特開２０１２−２１１７７１〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　この審判事件に関する出願（以下，「本願」という。）は，平成２３年３月３０日を出願日とする特許出願であって，その手続の経緯の概略は，以下のとおりである。
平成２６年１月２１日：拒絶理由通知（同年同月２８日発送）
平成２６年３月２５日：手続補正書（以下，「補正１」という。），意見書
平成２６年７月１日：拒絶理由通知（同年同月８日発送）
平成２６年８月２７日：手続補正書（以下，「補正２」という。），意見書
平成２６年１１月２５日：補正２についての補正却下の決定
平成２６年１１月２５日：拒絶査定（同年１２月２日送達）
平成２７年２月２７日：手続補正書（以下，「本件補正」という。）
平成２７年２月２７日：審判請求
　
第２　補正却下の決定
［結論］
　本件補正を却下する。
［理由］
１　補正の内容
　本件補正は，本件補正前，すなわち補正１の特許請求の範囲の請求項１を次のように補正することを含む。なお，下線は補正箇所を示す。
（本件補正前）
「【請求項１】
試料表面上の分析位置に電子線を照射する電子線源と，
前記試料表面上の分析位置を含む領域に可視光を照射する落射光用光源部と，
前記試料の分析位置を含む領域に偏光光を照射する透過光用光源部と，
検光子を有し，前記試料表面上の分析位置を含む領域で反射した可視光，又は，前記試料の分析位置を含む領域を透過した偏光光が検出面に入射して，前記試料表面上の分析位置を含む領域の光学像又は偏光像を取得する画像取得部と，
前記落射光用光源部からの可視光を所定方向に反射するとともに，前記所定方向と逆方向からの光を透過して前記画像取得部の検出面に導くことが可能なハーフミラーとを備える電子線分析装置であって，
前記ハーフミラーは，前記落射光用光源部から可視光が出射された際には，前記落射光用光源部からの可視光を前記所定方向に反射するとともに，前記所定方向と逆方向からの可視光を透過して前記画像取得部の検出面に導く第一位置に配置されるとともに，前記検光子は，所定方向と逆方向から画像取得部の検出面に向かう光が通過しない位置に退避され，
一方，前記透過光用光源部から偏光光が出射された際には，前記ハーフミラーは，前記所定方向と逆方向からの偏光光が通過しない第二位置に配置されるとともに，前記検光子は，所定方向と逆方向から画像取得部の検出面に向かう光が通過する光路上に導入されるように移動可能となっていることを特徴とする電子線分析装置。」
　
（本件補正後）
「【請求項１】
　試料表面上の分析位置に電子線を照射する電子線源と，
　前記試料表面上の分析位置を含む領域に可視光を照射する落射光用光源部と，
　前記試料の分析位置を含む領域に偏光光を照射する透過光用光源部と，
　検光子を有し，前記試料表面上の分析位置を含む領域で反射した可視光，又は，前記試料の分析位置を含む領域を透過した偏光光が検出面に入射して，前記試料表面上の分析位置を含む領域の光学像又は偏光像を取得する画像取得部と，
　前記落射光用光源部からの可視光を所定方向に反射するとともに，前記所定方向と逆方向からの光を透過して前記画像取得部の検出面に導くことが可能なハーフミラーとを備える電子線分析装置であって，
　前記ハーフミラーは，前記落射光用光源部から可視光が出射された際には，前記落射光用光源部からの可視光を前記所定方向に反射するとともに，前記所定方向と逆方向からの可視光を透過して前記画像取得部の検出面に導く第一位置に
自動的に
　一方，前記透過光用光源部から偏光光が出射された際には，前記ハーフミラーは，前記所定方向と逆方向からの偏光光が通過しない第二位置に
自動的に
　
２　補正の適否（補正の目的要件）について
　本件補正は，本件補正前の請求項１で特定されていた「第一位置に配置」「第二位置に配置」について，それぞれ「第一位置に
自動的に
自動的に
　よって，請求項１についての本件補正は，特許法第１７条の２第５項第２号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当し，請求項３についての本件補正は，特許法第１７条の２第５項第１号の請求項の削除を目的とするものに該当する。
３　補正の適否（独立特許要件）について
　そこで，補正後の請求項１に記載された発明（以下，「本件補正発明」という。）が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか否か（特許法第１７条の２第６項において準用する同法第１２６条第７項の規定に適合するか否か）について以下に検討する。
（１）本件補正発明
　本件補正発明は，上記１（本件補正後）に記載したとおりのものである。
（２）引用例の記載事項，引用発明，周知技術
　ア　引用例１
（ア）引用例１の記載事項
　原査定の拒絶の理由に引用され，本願の出願前に頒布された刊行物である，特公平１−２９０２０号公報（発明の名称：電子プローブ微量分析器，出願人：コムパニ・ダプリカシオン・メカニク・アレレクトロニク・オ・シネマ・エタ・ラトミステイク（セ−・ア−・エム・ウ−・セ−・ア−），公告日：平成１年６月７日，以下，「引用例１」という。）には，次の事項（ａ）ないし（ｅ）が図面とともに記載されている。なお，下線は，当審が付与した。
（ａ）
「【発明の詳細な説明】
  本発明は，
電子プローブ微量分析器
  Ｘ線分析による試料分析においては，
電子線励起によつて分析される試料区域の正確な位置決めのため
光学顕微鏡が
組合わされている
（ｂ）
「観察系は，微量分析器本体内に，引込み可能な半透明プレート１３を具え，該プレート１３は軸線１２に対して45゜の角度で配置されている。
半透明プレート１３が，照明用光線の通路にあると，該プレート１３から反射された光線は，
反射鏡１５で反射され
  前記反射光線は，
反射型対物鏡６によつて試料２に集束され
（ｃ）
「照明系は第２図ならびに第３図にしめされ，これらは，高倍率で行なわれる観察時，および低倍率で行なわれる観察時の
光学的観察
の照明系は
  第２図において，照明系は集光レンズ２１と組合わされた
光源２０を具え
  こうして
照明される試料２の区域は，双眼拡大鏡５０によつて，またはテレビカメラ４０によつて観察される。この目的のために，照明される区域の像は，半透明プレート１３を経て伝達される戻り光線が入射する向き調節可能の反射鏡１８の位置によつて，２つの観察面の何れか（双眼拡大鏡５０またはテレビカメラ４０の観察面）に形成され
　　　　　　　　
（ｄ）
「試料２の
他の照明系
透過によつて偏光された光の観察ができ
光源３０を含み
偏光子３３ならびに検光子２８は，試料２を透過して観察装置であるテレビカメラ４０または双眼拡大鏡５０に伝達される光線の光路に置かれる
（ｅ）
「観察の各モードのために特別に設計されたすべての光学素子を同時に操作する（図示しない）機械的な制御装置のみを用意する必要があるだけである。高倍率で観察する場合，前記機械的な制御装置は，レンズ２４を引込め，他方，低倍率で観察する場合には，該制御装置が，レンズ２４を光路に配置すると共に，半透明プレート１３を引込める。」（第９欄第３行〜第１０行）
　上記記載（ａ）より，
　「電子線励起によつて分析される試料区域の正確な位置決めのため」「光学顕微鏡が」「組合わされている」「電子プローブ微量分析器」の技術事項が読み取れる。
　上記記載（ｂ），（ｃ）より，
「光学的観察」「の照明系」は，「光源２０を具え，」（記載（ｃ）より）
「半透明プレート１３が，照明用光線の通路にあると，該プレート１３から反射された光線は，」「反射鏡１５で反射され，」「反射型対物鏡６によつて試料２に集束され，」（記載（ｂ）より）
「照明される試料２の区域は，双眼拡大鏡５０によつて，またはテレビカメラ４０によつて観察され，この目的のために，照明される区域の像は，半透明プレート１３を経て伝達される戻り光線が入射する向き調節可能の反射鏡１８の位置によつて，２つの観察面の何れか（双眼拡大鏡５０またはテレビカメラ４０の観察面）に形成され」（記載（ｃ）より）
るとの技術事項が読み取れる。
　上記記載（ｄ）より，
　「他の照明系」は，「透過によつて偏光された光の観察ができ」，「光源３０を含み，」「偏光子３３ならびに検光子２８は，試料２を透過して観察装置であるテレビカメラ４０または双眼拡大鏡５０に伝達される光線の光路に置かれる」との技術事項が読み取れる。
（イ）引用発明
　上記（ア）（ａ）〜（ｄ）の記載内容からみて，引用例１には次の発明が記載されているものと認められる。
　「電子線励起によつて分析される試料区域の正確な位置決めのため光学顕微鏡が組合わされている電子プローブ微量分析器であって，
　光学的観察の照明系は，光源２０を具え，
半透明プレート１３が，照明用光線の通路にあると，該プレート１３から反射された光線は，反射鏡１５で反射され，反射型対物鏡６によつて試料２に集束され，
　照明される試料２の区域は，双眼拡大鏡５０によつて，またはテレビカメラ４０によつて観察され，この目的のために，照明される区域の像は，半透明プレート１３を経て伝達される戻り光線が入射する向き調節可能の反射鏡１８の位置によつて，２つの観察面の何れか（双眼拡大鏡５０またはテレビカメラ４０の観察面）に形成され，
　他の照明系は，透過によつて偏光された光の観察ができ，光源３０を含み，偏光子３３ならびに検光子２８は，試料２を透過して観察装置であるテレビカメラ４０または双眼拡大鏡５０に伝達される光線の光路に置かれる
　電子プローブ微量分析器。」（以下，「引用発明」という。）
（ウ）引用例１に記載された技術的事項
　上記（ア）（ｅ）の記載から，「観察の各モードのために特別に設計されたすべての光学素子を光路に配置したり引込めたり機械的な制御装置により行うこと」が記載されているということができる。
　イ　引用例２
（ア）引用例２の記載事項
　原査定の拒絶の理由に引用され，本願の出願前に頒布された刊行物である，特開平５−２０３８８０号公報（発明の名称：顕微鏡照明装置，出願人：オリンパス光学工業株式会社，公開日：平成５年８月１３日，以下，「引用例２」という。）には，次の事項（ａ）が記載されている。なお，下線は，当審が付与した。
（ａ）
「【００３１】以上のように構成された本実施例では，
落射明視野照明を行う場合には
ハーフミラーユニット２１を観察光路に挿入する
【００３２】この結果，ランプＡからの照明光が，光ファイバー３１を介して顕微鏡本体へ導かれ，さらに落射用投光管および観察光路上に配置されたハーフミラーユニット２１に入射して落射明視野照明される。
【００３３】また，切換スイッチ３４でランプＢが選択されると，ランプＡを消灯させると共にランプＢを点灯し，上記電動機構を制御して
ハーフミラーユニット２１を観察光路から外す
これにより，透過照明に係る光学系の配置が完了する。
この透過照明による観察光は，対物レンズに入射してハーフミラーユニット２１位置を通過するが，このときハーフミラーユニット２１は光路上にないので光量損失を生じることが無い
　ウ　引用例３
（ア）引用例３の記載事項
　原査定の拒絶の理由に引用され，本願の出願前に頒布された刊行物である，特開平１１−２６４９３５号公報（発明の名称：顕微赤外装置，出願人：日本電子株式会社，公開日：平成１１年９月２８日，以下，「引用例３」という。）には，次の事項（ａ）ないし（ｂ）が記載されている。なお，下線は，当審が付与した。
（ａ）
「【００４３】（１）透過照明観察モード
図３に示すように，この
透過照明観察モードでは，
照明用ハーフミラー２１
対応する光路
,Ｈ
から退避される。
（ｂ）
「【００４５】（２）落射照明観察モード
図４に示すように，この
落射照明観察モードでは，照明用ハーフミラー２１
対応する光路Ｈに挿入される
　エ　引用例２，３に記載された技術的事項
　引用例２，３の記載から、「落射照明観察モードでは，照明用ハーフミラーを対応する光路に挿入し，透過照明観察モードでは，照明用ハーフミラーを対応する光路から退避させる。」ことが記載されているということができる。
　オ　引用例４
（ア）引用例４の記載事項
　原査定の拒絶の理由に引用され，本願の出願前に頒布された刊行物である，特開２００１−１５４１１０号公報（発明の名称：偏光ユニットおよびこれが取り付けられる顕微鏡，出願人：株式会社ミツトヨ，公開日：平成１３年６月８日，以下，「引用例４」という。）には，次の事項（ａ）ないし（ｂ）が記載されている。なお，下線は，当審が付与した。
（ａ）
「【００２６】一方，
偏光を使用しない測定をする場合
偏光子５１および検光子５２は光軸上から退避され
【００２７】上述のような本実施形態によれば，次のような効果がある。すなわち，本実施形態では，偏光を使用する観察と偏光を使用しない観察との切り換えは，偏光子５１および検光子５２が設けられたスライダ４０を，ガイド機構３０を介して取付板２０に対してスライドさせることで行われる。
偏光を使用する観察を行う際には，
偏光子５１および検光子５２を本体１内の光軸上に挿入する。
（ｂ）
「【００３５】前記実施形態では，偏光ユニット７の１つのスライダ４０に偏光子５１および検光子５２を取り付けたが，たとえば，取付板に対してスライド可能なスライダを２つ設け，
これらスライダに偏光子および検光子をそれぞれ取り付けてもよい
それぞれを光路に挿脱することができ
（イ）引用例４に記載された技術的事項
　引用例４の記載から，「偏光を使用する観察を行う際には，偏光子や検光子を光軸上に挿入し，偏光を使用しない測定をする場合は，光軸上から退避させる。」ことが記載されているということができる。
（３）対比
ア
　本件補正発明と引用発明とを，主たる構成要件毎に順次対比する。
（ａ）
　引用発明の「電子線励起によつて分析される試料区域」，「電子プローブ微量分析器」は，それぞれ，本件補正発明の「試料表面上の分析位置」，「電子線分析装置」に相当する。
　この相当関係を踏まえると，引用発明は，本件補正発明の「試料表面上の分析位置に電子線を照射する電子線源」を備えることは明らかである。
（ｂ）
　引用発明において，光学的観察は，双眼拡大鏡５０等が用いられていることから，光源２０の照明は，人が観察し得る光，つまり可視光であるといえる。
（ｃ）
　引用発明の「光学的観察の照明系は，光源２０を具え，半透明プレート１３が，照明用光線の通路にあると，該プレート１３から反射された光線は，反射鏡１５で反射され，反射型対物鏡６によつて試料２に集束され」，「照明される区域の像は，半透明プレート１３を経て伝達される戻り光線が入射する向き調節可能の反射鏡１８の位置によつて，２つの観察面の何れか（双眼拡大鏡５０またはテレビカメラ４０の観察面）に形成され」ることは，照明される試料から戻る光を像として観察しているから，引用発明の照明のための光源２０は，本件補正発明の「前記試料表面上の分析位置を含む領域に可視光を照射する落射光用光源部」に相当する。
（ｄ）
　引用発明において，「照明用光線」は，「試料２に集束され」，「照明される区域の像は」，「双眼拡大鏡５０またはテレビカメラ４０の観察面に形成され」ることは，本件補正発明の「前記試料表面上の分析位置を含む領域で反射した可視光」「が検出面に入射して，」「前記試料表面上の分析位置を含む領域の光学像」「を取得する画像取得部」を備えていることに相当する。
（ｅ）
　引用発明において，照明用光線は，「半透明プレート１３」に反射され試料２に導かれ，また，試料２からの戻り光線は，「半透明プレート１３」を経て伝達される，つまり半透明プレート１３を透過して双眼拡大鏡５０またはテレビカメラ４０の観察面に導かれているから，引用発明の「半透明プレート１３」は，本件補正発明の「前記落射光用光源部からの可視光を所定方向に反射するとともに，前記所定方向と逆方向からの光を透過して前記画像取得部の検出面に導くことが可能なハーフミラー」に相当する。
（ｆ）
　そして，引用発明は，「半透明プレート１３」が自動的に配置されること及び，検光子との関連について特定されていないものの，本件補正発明の「前記ハーフミラーは，前記落射光用光源部から可視光が出射された際には，前記落射光用光源部からの可視光を前記所定方向に反射するとともに，前記所定方向と逆方向からの可視光を透過して前記画像取得部の検出面に導く第一位置に自動的に配置されるとともに，前記検光子は，所定方向と逆方向から画像取得部の検出面に向かう光が通過しない位置に退避され」ることとは，「前記ハーフミラーは，前記落射光用光源部から可視光が出射された際には，前記落射光用光源部からの可視光を前記所定方向に反射するとともに，前記所定方向と逆方向からの可視光を透過して前記画像取得部の検出面に導く第一位置に配置される」点で共通する。
（ｇ）
　引用発明の「他の照明系は，透過によつて偏光された光の観察ができ，光源３０を含み，偏光子３３ならびに検光子２８は，試料２を透過して観察装置であるテレビカメラ４０または双眼拡大鏡５０に伝達される光線の光路に置かれる」ことにおいて，引用発明の「透過によつて偏光された光の観察ができ」る「光源３０」は，本件補正発明の「前記試料の分析位置を含む領域に偏光光を照射する透過光用光源部」に相当し，引用発明の「偏光子３３ならびに検光子２８は，試料２を透過して観察装置であるテレビカメラ４０または双眼拡大鏡５０に伝達される光線の光路に置かれる」配置関係にある「テレビカメラ４０または双眼拡大鏡５０」は，本件補正発明の「検光子を有し，」「前記試料の分析位置を含む領域を透過した偏光光が検出面に入射して，」「偏光像を取得する画像取得部」に相当する。
（ｈ）
　そして，引用発明の「他の照明系は、透過によつて偏光された光の観察ができ、光源３０を含み、偏光子３３ならびに検光子２８は、試料２を透過して観察装置であるテレビカメラ４０または双眼拡大鏡５０に伝達される光線の光路に置かれる」ことは，光源３０からの光が，偏光子３３によって偏光され，試料２を透過し，検光子２８を介して観察装置に伝達することで偏光された光の観察をすることであって、半透明プレート１３から試料２に向かう方向とは反対の方向の光路上を通過するものであるから，本件補正発明の「前記透過光用光源部から偏光光が出射された際には，前記ハーフミラーは，前記所定方向と逆方向からの偏光光が通過しない第二位置に自動的に配置されるとともに，前記検光子は，所定方向と逆方向から画像取得部の検出面に向かう光が通過する光路上に導入されるように移動可能となっていること」とは，「前記透過光用光源部から偏光光が出射された際には，」「前記検光子は，所定方向と逆方向から画像取得部の検出面に向かう光が通過する光路上に」ある点で共通する。
イ
　以上のことから，本件補正発明と引用発明との一致点及び相違点は，次のとおりである。
（一致点）
「試料表面上の分析位置に電子線を照射する電子線源と，
　前記試料表面上の分析位置を含む領域に可視光を照射する落射光用光源部と，
　前記試料の分析位置を含む領域に偏光光を照射する透過光用光源部と，
　検光子を有し，前記試料表面上の分析位置を含む領域で反射した可視光，又は，前記試料の分析位置を含む領域を透過した偏光光が検出面に入射して，前記試料表面上の分析位置を含む領域の光学像又は偏光像を取得する画像取得部と，
　前記落射光用光源部からの可視光を所定方向に反射するとともに，前記所定方向と逆方向からの光を透過して前記画像取得部の検出面に導くことが可能なハーフミラーとを備える電子線分析装置であって，
　前記ハーフミラーは，前記落射光用光源部から可視光が出射された際には，前記落射光用光源部からの可視光を前記所定方向に反射するとともに，前記所定方向と逆方向からの可視光を透過して前記画像取得部の検出面に導く第一位置に配置され，
　一方，前記透過光用光源部から偏光光が出射された際には，前記検光子は，所定方向と逆方向から画像取得部の検出面に向かう光が通過する光路上にある
　電子線分析装置。」
（相違点）
　本件補正発明は，落射光用光源部から可視光が出射された際には，ハーフミラーは，第一位置に「自動的に」配置される「とともに，前記検光子は，所定方向と逆方向から画像取得部の検出面に向かう光が通過しない位置に退避され」，透過光用光源部から偏光光が出射された際には，「前記ハーフミラーは，前記所定方向と逆方向からの偏光光が通過しない第二位置に自動的に配置されるとともに，」前記検光子は，光路上に「導入されるように移動可能となっている」のに対し，引用発明は，「光源２０」による照明の際（落射光用光源部から可視光が出射された際）と，「光源３０」による照明の際（透過光用光源部から偏光光が出射された際）に，「半透明プレート１３」（ハーフミラー）及び「検光子２８」（検光子）が自動的に退避されたり導入されたりするか不明な点。
（４）判断
　以下，相違点について検討する。
　引用発明は，「光学的観察の照明系は，光源２０を具え，
半透明プレート１３が，照明用光線の通路にあると，該プレート１３から反射された光線は，反射鏡１５で反射され，反射型対物鏡６によつて試料２に集束され，
照明される試料２の区域は，双眼拡大鏡５０によつて，またはテレビカメラ４０によつて観察され，この目的のために，照明される区域の像は，半透明プレート１３を経て伝達される戻り光線が入射する向き調節可能の反射鏡１８の位置によつて，２つの観察面の何れか（双眼拡大鏡５０またはテレビカメラ４０の観察面）に形成され」るとの観察の態様を有している。
　これは，落射光用光源である「光源２０」を用い偏光を用いない照明系による観察（以下，「落射照明観察」という。）である。
　また，引用発明は，「他の照明系は，透過によつて偏光された光の観察ができ，光源３０を含み，偏光子３３ならびに検光子２８は，試料２を透過して観察装置であるテレビカメラ４０または双眼拡大鏡５０に伝達される光線の光路に置かれる」との観察の態様を有している。
　これは，透過光用光源である「光源３０」を用い偏光を用いた他の照明系による観察（以下，「透過照明偏光観察」という。）である。
　「落射照明観察」と「透過照明偏光観察」とでは，観察装置であるテレビカメラ４０または双眼拡大鏡５０が共通に用いられている。これは，落射照明観察と，透過照明偏光観察は，同時に行うものではなく，それぞれの観察において照明系を切り替えることを意味している。
　ところで，引用例１に，「観察の各モードのために特別に設計されたすべての光学素子を同時に操作する（図示しない）機械的な制御装置のみを用意する必要があるだけである。高倍率で観察する場合，前記機械的な制御装置は，レンズ２４を引込め，他方，低倍率で観察する場合には，該制御装置が，レンズ２４を光路に配置すると共に，半透明プレート１３を引込める。」（上記（２）ア（ア）（ｅ））と記載されているように，観察の各モードのために特別に設計されたすべての光学素子を光路に配置したり引込めたり機械的な制御装置により行うこと（上記（２）ア（ウ））は，当該技術分野において周知技術である。
　してみると，落射照明観察と，透過照明偏光観察の際にも，当該技術分野において周知技術である観察の各モードのために特別に設計されたすべての光学素子を光路に配置したり引込めたり機械的な制御装置により行うこと，つまり自動的に行うことは，引用例１に示唆されているといえる。
　また，「落射照明観察モードでは，照明用ハーフミラーを対応する光路に挿入し，透過照明観察モードでは，照明用ハーフミラーを対応する光路から退避させる」こと（上記（２）エ，以下「落射照明透過照明に関する周知技術」という。），及び「偏光を使用する観察を行う際には，偏光子や検光子を光軸上に挿入し，偏光を使用しない測定をする場合は，光軸上から退避させる」こと（上記（２）オ（イ），以下「偏光観察に関する周知技術」という。）は，本願出願前の周知技術である。
　そして，引用例２段落００３３に「この透過照明による観察光は，対物レンズに入射してハーフミラーユニット２１位置を通過するが，このときハーフミラーユニット２１は光路上にないので光量損失を生じることが無い。」（上記（２）イ（ア））との記載があるように，透過照明の際にハーフミラーユニットは光量損失を生じさせるという課題が，本願出願前に当該技術分野において知られており，引用例１Ｆｉｇ２（上記（２）ア（ア））に図示されているように，透過照明偏光観察の際にその観察光路上に落射照明観察で用いる「半透明プレート１３」を有する引用発明においても，光量損失が生じてしまうという同様の課題を有しているから，上記課題を知る当業者は，光量損失という課題から，引用発明において，透過照明偏光観察の際にその観察光路上にある落射照明観察で用いる「半透明プレート１３」を光路上から退避させようとする動機を有しているといえる。
　したがって，引用発明に落射照明透過照明に関する周知技術を適用することは当業者が容易に想到し得ることである。
　また，引用発明は、偏光子や検光子を用いた偏光観察をする場合としない場合のある発明であるから、偏光観察に関する周知技術を適用することは当業者が容易に想到し得ることである。
　してみると，引用発明における，落射照明観察と透過照明偏光観察とを切り替える際に，光路に配置したり引込めたりされる光学素子を，「半透明プレート１３」（ハーフミラー）及び「検光子２８」（検光子）として，本件補正発明のように，「落射光用光源部から可視光が出射された際には」，「ハーフミラーは」，「第一位置に自動的に配置されるとともに，前記検光子は，所定方向と逆方向から画像取得部の検出面に向かう光が通過しない位置に退避され」，「透過光用光源部から偏光光が出射された際には，前記ハーフミラーは，前記所定方向と逆方向からの偏光光が通過しない第二位置に自動的に配置されるとともに，前記検光子は」，「光路上に導入されるように移動可能となっている」ようにすることは，当業者が容易に想到し得ることである。
　そして，相違点を総合的に勘案しても，本件補正発明の奏する作用効果は，引用発明及び周知技術の奏する作用効果から予測される範囲内のものにすぎず，格別顕著なものということはできない。
　よって，本件補正発明は，引用発明及び周知技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができない。
　
４　補正の適否についてのまとめ
　上記「３」のとおり，本件補正発明は，特許出願の際独立して特許を受けることができず，本件補正は，特許法第１７条の２第６項において準用する同法第１２６条第７項の規定に違反するものであるから，同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下されるべきものである。
　
第３　本願発明について
　
１　本願発明
　本件補正は上記のとおり却下されたので，本願の請求項１ないし３に係る発明は，補正１の特許請求の範囲の請求項１ないし３に記載された事項により特定されるとおりのものであり，その請求項１に係る発明（以下，「本願発明」という。）は，上記「第２　１（本件補正前）」に記載したとおりのものである。
２　引用例記載の事項，引用発明，周知技術
　原査定の拒絶の理由に引用された引用例に記載の事項，引用発明及び周知技術は，上記「第２　３（２）アないしオ」に記載したとおりである。
３　対比，判断
　本願発明は，本件補正発明の，「第一位置に自動的に配置」及び「第二位置に自動的に配置」について，「自動的に」との限定を削除したものである。
　そうすると，本願発明の発明特定事項を全て含み，さらに他の事項を付加したものに相当する本件補正発明が，上記「第２　３　（３），（４）」に記載したとおり，引用発明及び周知技術に基づいて，当業者が容易に発明をすることができたものであるから，本願発明も，同様の理由により，引用発明及び周知技術に基づいて，当業者が容易に発明することができたものである。
４　むすび
　以上のとおり，本願発明は，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものである。
　したがって，他の請求項に係る発明について審理するまでもなく，本願は拒絶すべきものである。
　よって，結論のとおり審決する。