(57)【要約】【課題】帯状物の巻き姿を、実際にリールに巻装された状態でより正確に評価することが可能な巻き姿評価装置を提供する。【解決手段】  巻き姿評価装置２０Ａは、リール２に巻装された磁気テープＭＴの巻き姿を評価する装置であって、磁気テープＭＴの外周面の径方向高さを検出するレーザ式変位センサ２２Ａと、検出された径方向高さに基づいて、巻き姿を評価する巻き姿評価部２３ｂと、を備える。【選択図】図３
2007238214.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
リールに巻装された帯状物の巻き姿を評価する巻き姿評価方法であって、
前記帯状物の外周面の径方向高さを検出する検出ステップと、
検出された径方向高さに基づいて、巻き姿を評価する評価ステップと、
を含むことを特徴とする巻き姿評価方法。
【請求項２】
前記検出ステップにおいて、前記リールを回転させつつ前記帯状物の外周面の径方向高さを検出することを特徴とする請求項１に記載の巻き姿評価方法。
【請求項３】
前記帯状物は、磁気テープであることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の巻き姿評価方法。
【請求項４】
リールに巻装された帯状物の巻き姿を評価する巻き姿評価装置であって、
前記帯状物の外周面の径方向高さを検出する径方向高さ検出部と、
検出された径方向高さに基づいて、巻き姿を評価する巻き姿評価部と、
を備えることを特徴とする巻き姿評価装置。
【請求項５】
前記リールを回転させる回転駆動部をさらに備えることを特徴とする請求項４に記載の巻き姿評価装置。
【請求項６】
前記径方向高さ検出部は、接触式変位センサであることを特徴とする請求項４または請求項５に記載の巻き姿評価装置。
【請求項７】
前記径方向高さ検出部は、非接触式変位センサであることを特徴とする請求項４または請求項５に記載の巻き姿評価装置。
【請求項８】
前記非接触式変位センサは、レーザ光を前記帯状物の外周面に投光する投光部と、反射した前記レーザ光を受光する受光部と、を備えたレーザ式変位センサであることを特徴とする請求項７に記載の巻き姿評価装置。
【請求項９】
前記レーザ光の投光位置が前記帯状物の幅全体にわたり移動するように前記レーザ式変位センサを駆動する変位センサ駆動部をさらに備えることを特徴とする請求項８に記載の巻き姿評価装置。
【請求項１０】
前記投光部は、前記帯状物の外周面の幅方向両端にそれぞれ前記レーザ光を投光することを特徴とする請求項８に記載の巻き姿評価装置。
【請求項１１】
前記帯状物は、磁気テープであることを特徴とする請求項４から請求項１０のいずれか一項に記載の巻き姿評価装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、巻き軸に巻装されるテープ、ウエブなどの帯状物の巻き姿を評価する帯状物の巻き姿評価方法および巻き姿評価装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、紙、プラスチックフィルムまたは金属箔などの帯状物であるテープは、リール（巻き軸）に巻き取られた状態で出荷される。このように、リールに巻き取られたテープは、その巻き姿が良好でないと見栄えが悪くなるだけでなく、落とした時に巻き面から突出したテープの端縁が損傷する場合もあるため、この巻き姿についての評価が従来より行われている。特に、磁気テープが巻かれたリールがカートリッジケース内に収容される磁気テープカートリッジにおいては、製品が完成した後に、磁気テープの巻き姿の評価が行われている。
【０００３】
磁気テープは、近年進行した薄手化によって強度が低下しており、磁気テープをリールに巻き取る工程で幅方向端部（テープエッジ）にダメージを受けやすくなっている。かかるダメージを受けた磁気テープは、巻き取られた際に巻き不良を発生させてしまう。
また、薄手化した磁気テープは、磁気テープをリールに貼る工程で折れ、しわを生じることがある。かかる折れ、しわを生じた磁気テープも、巻き取られた際に巻き不良を発生させてしまう。
また、磁気テープを巻き取る際にゴミが付着することにより、巻き不良が発生することもある。
かかる巻き不良は、データの記録再生エラーの原因となる。
【０００４】
磁気テープカートリッジにおける磁気テープの巻き姿の評価は、磁気テープカートリッジの種類によって、以下のような異なる方法で行われている。磁気テープカートリッジのカートリッジケースおよびリールが透明である場合は、カートリッジケースの外から人が磁気テープの巻き面を目視することにより巻き姿を評価している。また、磁気テープカートリッジのカートリッジケースが不透明であり、リールが透明である場合は、カートリッジケースを分解してリールの外から人が磁気テープの巻き面を目視することにより巻き姿を評価している。さらに、磁気テープカートリッジのカートリッジケースおよびリールが不透明である場合は、カートリッジケースを分解した後、リールを割ってその巻き姿を人が磁気テープの巻き面を目視することにより評価している。
ここで、巻き面とは、リールに巻装された磁気テープの幅方向の端で形成される面をいう。
【０００５】
しかしながら、従来のような評価方法では人が磁気テープの巻き面を目視することにより磁気テープの巻き姿を判断するため、計測する人によって評価が異なるだけでなく、磁気テープが巻き面のどちら側にどれだけ巻き崩れているのか、また、その巻き崩れが半径方向のどの位置にあるのかを正確に把握することが困難であった。また、カートリッジケースが不透明な場合においては、カートリッジケースを分解して磁気テープの巻き姿を評価した後、再度カートリッジケースを組み立てなおしたときに元と同じ状態に戻すことが困難であった。さらに、カートリッジケースおよびリールが不透明な場合では、リールを割るといった破壊検査をしなければならず、そのリールを再利用することができないだけでなく、リールを割ったときに磁気テープを傷つける可能性があった。
【０００６】
そこで、本願出願人は、リールから磁気テープを繰り出しつつ磁気テープの幅方向の位置変動を長さ方向の全域にわたって光センサにより検出し、その検出信号に基づいてリールに巻装された磁気テープの巻き面からの巻き崩れの位置および量を算出する技術を既に提案している（特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００３−１６８２８０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１に開示された技術では、リールから磁気テープを繰り出しつつその位置変動を検出しており、実際にリールに巻装された状態での磁気テープの巻き姿を評価するものではない。そのため、位置変動を検出した後に巻き不良の原因が発生した場合には、巻き不良を正当に評価することができないおそれがある。
【０００８】
本発明は、このような背景に鑑みて創案されたものであり、帯状物の巻き姿を、実際にリールに巻装された状態でより正確に評価することが可能な巻き姿評価方法および巻き姿評価装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本願発明者は、帯状物のエッジダメージ、折れ、しわ、帯状物へのゴミの付着がリールに巻装された帯状物の外周面の形状に影響を与えることを見出した。本発明は、かかる知見に基づいて創案されたものである。
【００１０】
前記課題を解決するための手段として、本発明は、リールに巻装された帯状物の巻き姿を評価する巻き姿評価方法であって、前記帯状物の外周面の径方向高さを検出する検出ステップと、検出された径方向高さに基づいて、巻き姿を評価する評価ステップと、を含むことを特徴とする。
【００１１】
帯状物のエッジダメージ、折れ、しわ、帯状物へのゴミの付着により巻き不良が発生しているときには、かかる巻き不良の発生部位の厚みが増大する。すなわち、リールに巻装された帯状物の外周面が盛り上がり、帯状物の外周面の径方向高さが大きくなる。
かかる構成によると、帯状物の巻き姿を、実際にリールに巻装された状態で、外周面の径方向高さ（巻き径）に基づいて評価するので、より正確に評価することができる。
【００１２】
前記検出ステップにおいて、前記リールを回転させつつ前記帯状物の外周面の径方向高さを検出することが望ましい。
【００１３】
かかる構成によると、帯状物を回転させつつスキャンするので、より短時間で評価することができる。
【００１４】
また、前記帯状物は、磁気テープであってもよい。
【００１５】
かかる構成によると、磁気テープにおいてデータの記録再生エラーのおそれがあるか否かを確実に評価することができる。
【００１６】
また、前記課題を解決するための手段として、本発明は、リールに巻装された帯状物の巻き姿を評価する巻き姿評価装置であって、前記帯状物の外周面の径方向高さを検出する径方向高さ検出部と、検出された径方向高さに基づいて、巻き姿を評価する巻き姿評価部と、を備えることを特徴とする。
【００１７】
かかる構成によると、帯状物の巻き姿を、実際にリールに巻装された状態で、外周面の径方向高さに基づいて評価するので、より正確に評価することができる。
【００１８】
巻き姿評価装置は、前記リールを回転させる回転駆動部をさらに備えることが望ましい。
【００１９】
かかる構成によると、帯状物を回転させつつスキャンし、より短時間で評価することができる。
【００２０】
前記径方向高さ検出部は、接触式変位センサであってもよい。
【００２１】
前記径方向高さ検出部は、非接触式変位センサであってもよい。
【００２２】
前記非接触式変位センサは、レーザ光を前記帯状物の外周面に投光する投光部と、反射した前記レーザ光を受光する受光部と、を備えた変位センサであってもよい。
【００２３】
また、巻き姿評価装置は、前記レーザ光の投光位置が前記帯状物の幅全体にわたり移動するように前記レーザ式変位センサを駆動する変位センサ駆動部をさらに備えていてもよい。
【００２４】
かかる構成によると、帯状物の外周面を幅全体にわたり評価することができる。
【００２５】
前記投光部は、前記帯状物の外周面の幅方向両端にそれぞれ前記レーザ光を投光する構成であってもよい。
【００２６】
巻き不良による外周面の盛り上がりは、主に帯状物の幅方向両端に出現する。
かかる構成によると、検出領域を抑制しつつ巻き姿を好適に評価することができる。
【００２７】
また、前記帯状物は、磁気テープであってもよい。
【００２８】
かかる構成によると、磁気テープにおいてデータの記録再生エラーのおそれがあるか否かを確実に評価することができる。
【発明の効果】
【００２９】
本発明によれば、帯状物の巻き姿を、実際にリールに巻装された状態でより正確に評価することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
本発明を実施するための最良の形態について、帯状物としての磁気テープの巻き姿を評価する場合を例にとり、図面を参照して詳細に説明する。以下の説明において、同一の構成には同一符号を付し、重複説明を省略する。参照する図面において、図１は、本発明の実施形態に係る磁気テープの構成部品を示す分解斜視図である。図２は、図１の磁気テープカートリッジのカートリッジケースを構成する下ハーフの要部拡大斜視図である。
【００３１】
＜磁気テープカートリッジ＞
図１に示すように、磁気テープカートリッジ（帯状物収容体）ＭＣは、ＬＴＯ（Linear Tape-Open）規格に準拠したものであって、上ハーフ１Ｂと下ハーフ１Ａとに分割して構成されたカートリッジケース（ケース）１の内部に、磁気テープＭＴが巻装された単一のリール２、リール２の回転をロックするためのリールロック３および圧縮コイルばね４、カートリッジケース１の下ハーフ１Ａと上ハーフ１Ｂとに跨って形成された磁気テープ引き出し口（開口部）１Ｃを開閉するスライドドア（蓋部）６、スライドドア６を磁気テープ引き出し口１Ｃの閉位置に付勢するねじりコイルばね７、磁気テープＭＴの先端に取り付けられたリーダピン１３を係止するためのリーダピンばね１０、誤消去防止爪８、ＩＣチップ９等が組み付けられて構成されている。すなわち、磁気テープカートリッジ（帯状物収容体）ＭＣは、リール２に巻装された磁気テープ（帯状物）ＭＴと、リール２および磁気テープＭＴを収容し、巻装された磁気テープＭＴの外周面と対向する側面に磁気テープ引き出し口（開口部）１Ｃを有するカートリッジケース（ケース）１と、を備えている。また、リール２は、磁気テープＭＴが巻装されるハブ２ａと、ハブ２ａの両端に設けられ、磁気テープＭＴの上下の巻き面を覆う下フランジ２ｂおよび上フランジ２ｃと、を備えている。また、下ハーフ１Ａおよび上ハーフ１Ｂには、リーダピン保持部１Ｅがそれぞれ形成されている。このリーダピン保持部１Ｅは、磁気テープ引き出し口１Ｃの近傍で、下ハーフ１Ａと上ハーフ１Ｂの相互に向き合う内面にそれぞれ形成されている。リーダピン保持部１Ｅは、図２を併せて参照すると明らかなように、リーダピン１３の上端および下端を受け入れる窪みＰで構成されており、カートリッジケース１内に入ったリーダピン１３の上端および下端のそれぞれが嵌入するようになっている。
【００３２】
リーダピン１３は、棒状部材であり、磁気テープＭＴの先端にクリップ１４でクランプされることによって取り付けられている。このリーダピン１３の上端および下端のそれぞれは、前記リーダピン保持部１Ｅで保持された際に、後記するリーダピンばね１０によって係止されるようになっている。このリーダピン１３は、図示しない記録再生装置のテープローディング機構が磁気テープ引き出し口１Ｃから磁気テープＭＴを引き出すために係合する部分となる。
【００３３】
リーダピンばね１０は、図１および図２に示すように、リーダピン保持部１Ｅの近傍でカートリッジケース１の側壁に取り付けられており、リーダピン１３をリーダピン保持部１Ｅの位置で係止するものである。このリーダピンばね１０は、図２に示すように、略矩形の板材で構成される本体部１０ａと、この本体部１０ａに接続された１対の板ばね部１０ｂとで構成されている。板ばね部１０ｂのそれぞれは、カートリッジケース１の側壁に取り付けられた本体部１０ａの上端および下端のそれぞれからリーダピン保持部１Ｅに向かって延びるように形成されている。そして、このリーダピンばね１０は、板ばね部１０ｂのそれぞれが、リーダピン保持部１Ｅに保持されたリーダピン１３の上端および下端のそれぞれを窪みＰの内側面ＩＦに押圧することによって、リーダピン１３を係止するようになっている。また、このリーダピンばね１０では、本体部１０ａから延びる板ばね部１０ｂの先端が、リーダピン保持部１Ｅにおけるリーダピン１３の嵌脱が円滑に行われるように、鉤状に屈曲している。
【００３４】
なお、磁気テープＭＴの巻き姿の評価は、例えば、リーダピン１３およびクリップ１４を磁気テープＭＴに取り付ける前に、磁気テープＭＴの全長がリール２に巻装された状態で行われる。
【００３５】
＜第一の実施形態＞
続いて、本発明の第一の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ａについて説明する。参照する図面において、図３は、本発明の第一の実施形態に係る巻き姿評価装置を示す模式図である。図４は、レーザ式変位センサによる検出を説明するための模式図である。図５は、磁気テープの外周面の盛り上がりの一例を示す図であり、（ａ）は磁気テープの斜視図、（ｂ）は（ａ）のＸ１−Ｘ１断面図である。図６は、磁気テープの外周面の盛り上がりの一例を示す図であり、（ａ）は磁気テープの斜視図、（ｂ）は（ａ）のＸ２−Ｘ２断面図、（ｃ）は（ａ）のＸ３−Ｘ３断面図である。
図３に示すように、第一の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ａは、回転駆動部２１と、レーザ式変位センサ２２Ａと、制御部２３Ａと、評価通知部２４と、変位センサ駆動部２５と、を備えている。
【００３６】
回転駆動部２１は、例えばステッピングモータから構成されており、磁気テープカートリッジＭＣのリール２に装着され、リール２を回転させる。
【００３７】
レーザ式変位センサ２２Ａは、リール２に巻装された磁気テープＭＴの外周面の径方向高さ（変位）を検出する。このレーザ式変位センサ２２が、特許請求の範囲における「径方向高さ検出部」、「非接触式変位センサ」の一例である。
検出された径方向高さは、制御部２３に出力される。
【００３８】
制御部２３Ａは、例えば、ＣＰＵ、ＲＡＭ、ＲＯＭおよび入出力回路を備えており、変位センサ２２Ａからの入力信号と、ＲＯＭに記憶されたプログラムやデータとに基づいて演算処理を行うことによって、磁気テープＭＴの巻き姿を評価する。
制御部２３Ａは、回転制御部２３ａと、巻き姿評価部２３ｂと、変位センサ駆動部制御部２３ｃと、を備えている。
回転制御部２３ａは、回転駆動部２１を駆動制御することにより、リール２を回転させる。
巻き姿評価部２３ｂは、レーザ式変位センサ２２Ａにより検出された磁気テープＭＴの外周面の径方向高さに基づいて、巻き姿が良好であるか不良であるかを評価する。
評価結果は、評価通知部２４に出力される。
変位センサ駆動部制御部２３ｃは、後記する変位センサ駆動部２５を駆動制御する。
【００３９】
評価通知部２４は、評価結果をユーザに通知するものであり、通知の態様としては、ディスプレイへの表示、プリンタによる印刷、スピーカによる音声出力などが挙げられる。
【００４０】
変位センサ駆動部２５は、レーザ式変位センサ２２Ａを能動的に駆動する。かかる駆動の態様については後記する。
【００４１】
＜レーザ式変位センサ＞
ここで、レーザ式変位センサ２２Ａによる検出について、より詳細に説明する。
図４に示すように、レーザ式変位センサ２２Ａは、スポット光Ｌ１によりスキャンを行う非接触式変位センサであり、スポット光（レーザ）Ｌ１を投光する投光部２２ａと、反射したスポット光Ｌ１を受光する二次元ＣＣＤである受光部２２ｂと、を備えている。スポット光Ｌ１は、カートリッジケース１の側面に形成された開口部である磁気テープ引き出し口１Ｃを介して磁気テープＭＴの外周面に投光される。レーザ式変位センサ２２Ａは、反射したスポット光Ｌ１の受光部２２ｂにおける受光位置に基づいて、反射位置までの距離（磁気テープＭＴの外周面の径方向高さに相関）を検出する。
そして、変位センサ駆動部２５が、変位センサ駆動部制御部２３ｃの制御により、スポット光Ｌ１の投光位置が磁気テープＭＴの幅全体にわたり往復移動するようにレーザ式変位センサ２２Ａを駆動するので、磁気テープＭＴの外周面の径方向高さを、幅方向全体にわたってスキャンすることができる。
【００４２】
本実施形態では、回転制御部２３ａがリール２を一回転させる周期と、変位センサ駆動部制御部２５がレーザ式変位センサ２２Ａを一往復させる周期と、を適宜ずらした設定にした上で、リール２を回転させつつ（例えば、数百回転）磁気テープＭＴの外周面をスキャンすることにより、外周面の検出漏れ部位を少なくすることができる。
【００４３】
＜評価方法＞
ここで、巻き姿評価部２３ｂによる評価について、より詳細に説明する。
巻き姿評価部２３ｂは、磁気テープＭＴの外周面における平坦部を基準として、径方向高さが平坦部よりも基準値以上となっている部位（盛り上がり部位）がある場合に、巻き姿が不良であると評価し、盛り上がり部位がない場合に、巻き姿が良好であると評価する。
例えば、図５に示すように、磁気テープＭＴの幅方向端部が盛り上がっている場合には、磁気テープＭＴの中央部の平坦部位を基準として盛り上がり部位の高さΔｈを評価することができる。
また、図６に示すように、磁気テープＭＴの一部が幅方向全体にわたり盛り上がっている場合には、磁気テープＭＴの非盛り上がり部位を基準として盛り上がり部位の高さを評価することができる。
【００４４】
巻き姿を評価するための基準値は、磁気テープＭＴの厚み、巻装状態における巻き数などに基づいて適宜設定することができる。
【００４５】
第一の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ａによると、以下の効果が得られる。
（１）カートリッジケース１を分解して磁気テープＭＴを取り出したり、カートリッジケース１の巻き面と対向する面（上下面のいずれか）およびリール２の巻き面と対向する面（下フランジ２ｂおよび上フランジ２ｃのいずれか）を透明にすることなく巻き姿を評価することができる。
（２）磁気テープＭＴの巻き姿を実際にリール２に巻装された状態で評価することができる。
（３）磁気テープＭＴの外周面の径方向高さに基づいて巻き姿を評価するので、より正確に評価することができる。
（４）磁気テープＭＴを回転させつつスキャンするので、より短時間で評価することができる。
（５）レーザ式変位センサ２２Ａを駆動することにより、磁気テープＭＴの外周面を幅全体にわたり評価することができる。
【００４６】
＜第二の実施形態＞
続いて、本発明の第二の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ｂについて、第一の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ａとの相違点を中心に説明する。参照する図面において、図７は、本発明の第二の実施形態に係る巻き姿評価装置を示す模式図である。図８は、レーザ式変位センサによる検出を説明するための模式図である。
図７に示すように、第二の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ｂは、レーザ式変位センサ２２Ａおよび制御部２３Ｂに代えて、レーザ式変位センサ２２Ｂおよび制御部２３Ｂを備えている。また、巻き姿評価装置２０Ｂは、変位センサ駆動部２５を備えておらず、制御部２３Ｂは、変位センサ駆動部制御部２３ｃを備えていない。
【００４７】
＜レーザ式変位センサ＞
ここで、レーザ式変位センサ２２Ｂによる検出について、より詳細に説明する。
図８に示すように、レーザ式変位センサ２２Ｂは、二つのスポット光Ｌ１，Ｌ１によりスキャンを行う非接触式変位センサであり、スポット光（レーザ）Ｌ１を投光する投光部２２ａと、反射したスポット光Ｌ１を受光する二次元ＣＣＤである受光部２２ｂと、を二組備えている。スポット光Ｌ１，Ｌ１は、カートリッジケース１の側面に形成された開口部である磁気テープ引き出し口１Ｃを介して磁気テープＭＴの外周面に投光される。そして、投光部２２ａ，２２ａは、磁気テープＭＴの幅方向端部の一端および他端にそれぞれスポット光Ｌ１，Ｌ１を投光可能に配置されている。
【００４８】
第二の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ｂによると、前記（１）〜（４）に加えて、以下の効果が得られる。
（６）巻き不良による外周面の盛り上がりは、主に磁気テープＭＴの幅方向両端に出現するので、検出領域を抑制しつつ巻き姿を好適に評価することができる。
【００４９】
＜第三の実施形態＞
続いて、本発明の第三の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ｃについて、第二の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ｂとの相違点を中心に説明する。参照する図面において、図９は、本発明の第三の実施形態に係る巻き姿評価装置を示す模式図である。図１０は、レーザ式変位センサによる検出を説明するための模式図である。
図９に示すように、第三の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ｃは、レーザ式変位センサ２２Ｂに代えて、レーザ式変位センサ２２Ｃを備えている。
【００５０】
＜レーザ式変位センサ＞
ここで、レーザ式変位センサ２２Ｃによる検出について、より詳細に説明する。
図１０に示すように、レーザ式変位センサ２２Ｃは、線状光Ｌ２によりスキャンを行う非接触式変位センサであり、線状光（レーザ）Ｌ２を投光する投光部２２ｃと、反射した線状光Ｌ２を受光する二次元ＣＣＤである受光部２２ｄと、を備えている。線状光Ｌ２は、カートリッジケース１の側面に形成された開口部である磁気テープ引き出し口１Ｃを介して磁気テープＭＴの外周面に投光される。
かかるレーザ式変位センサ２２Ｃは、線状光Ｌ２を磁気テープＭＴの幅全体にわたり投光するので、磁気テープＭＴの外周面の径方向高さを、幅方向全体について一度にスキャンすることができる。
【００５１】
第三の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ｃによると、前記（１）〜（４）に加えて、以下の効果が得られる。
（７）線状光Ｌ２を用いて磁気テープＭＴの幅全体にわたり一度にスキャンするので、短時間で評価することができる。
【００５２】
＜第四の実施形態＞
続いて、本発明の第四の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ｄについて、第一の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ａとの相違点を中心に説明する。図１１は、本発明の第四の実施形態に係る巻き姿評価装置を示す模式図である。
図１１に示すように、第四の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ｄは、レーザ式変位センサ２２Ａに代えて、接触式変位センサ２２Ｄを備えている。
【００５３】
接触式変位センサ２２Ｄは、接触子２２ｅを備えている。接触式変位センサ２２Ｄは、接触子２２ｅを開口部１Ｃを介して磁気テープＭＴの外周面に接触させることにより、磁気テープＭＴの外周面の径方向高さの変位を検出するものであり、歪ゲージ、ピエゾ素子などを利用したものが好適に使用される。
そして、変位センサ駆動部２５が、変位センサ駆動部制御部２３ｃの制御により、接触子２２ｅの接触位置が磁気テープＭＴの幅全体にわたり往復移動するように接触式変位センサ２２Ｄを駆動するので、磁気テープＭＴの外周面の径方向高さを、幅方向全体にわたってスキャンすることができる。
【００５４】
第四の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ｄによると、第一の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ａと同等の効果が得られる。
【００５５】
なお、変位センサ駆動部制御部２３ｃおよび変位センサ駆動部２５を省略し、磁気テープＭＴの幅方向端部の一端および他端の径方向高さを検出することができるように、二つの接触子２２ｅ，２２ｅを備えていてもよい。かかる構成によると、第二の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ｂと同等の効果が得られる。また、磁気テープＭＴの径方向高さを幅方向の所定間隔で検出することができるように、磁気テープの幅方向の一端から他端まで所定間隔で配置された複数の接触子２２ｅ，２２ｅ，…を備えていてもよい。かかる構成によると、第三の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ｃとほぼ同等の効果が得られる。
【００５６】
＜磁気テープカートリッジの変形例＞
続いて、本発明の変形例に係る磁気テープカートリッジＭＣ’について、前記した磁気テープＭＣとの相違点を中心に説明する。図１２は、本発明の変形例に係る磁気テープカートリッジの構成部品を示す分解斜視図である。
図１２に示すように、本発明の変形例に係る磁気テープカートリッジＭＣ’は、下ハーフ１Ａおよび上ハーフ１Ｂを備えたカートリッジケース１に代えて、下ハーフ１Ａ’および上ハーフ１Ｂ’を備えたカートリッジケース１’を備えている。このカートリッジケース１’は、磁気テープＭＴと対向する側面に透明部１Ｆを備えている。本変形例では、カートリッジケース１’の上ハーフ１Ａ’および下ハーフ１Ｂ’の側面に、透明部１Ｆ，１Ｆがそれぞれ形成されている。透明部１Ｆ，１Ｆは、前記したレーザ式変位センサ２２Ａ，２２Ｂ，２２Ｃによる磁気テープＭＴの外周面の径方向高さが検出可能な程度に透明であればよい。
【００５７】
第一ないし第三の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ａ〜２０Ｃは、透明部１Ｆを介して磁気テープＭＴの外周面の径方向高さを検出することができる。
【００５８】
変形例に係る磁気テープカートリッジＭＣ’によると、カートリッジケース１’の巻き面と対向する面（上下面のいずれか）およびリール２の巻き面と対向する面（下フランジ２ｂおよび上フランジ２ｃのいずれか）を透明にすることなく、カートリッジケース１’の磁気テープＭＴの外周面と対抗する側面に透明部１Ｆを設けるだけで、巻き姿を評価することができる。
【００５９】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は前記実施形態に限定されず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で適宜設計変更可能である。
例えば、帯状物は、磁気テープＭＴに限定されない。
また、リーダピン１３およびクリップ１４を磁気テープＭＴに取り付けた状態で評価してもよく、例えば、磁気テープＭＴを一巻き分だけ引き出しながら、外周面をスキャンしてもよい。
また、第一の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ａにおいて、変位センサ駆動部２０Ａは、直動モータ、ピエゾ素子、カム機構、エアシリンダ、形状記憶合金などを用いて能動的にレーザ式変位センサ２２Ａを移動させるものに限定されず、板バネ、コイルバネ、エアバネ、錘などを用いて受動的にレーザ式変位センサ２２Ａを移動させるものであってもよい。このことは、第四の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ｄについても同様である。
また、巻き姿評価部が、回転制御部によるリールの回転速度（または回転位置）と、レーザ式変位センサの検出結果と、に基づいて（第一の実施形態の場合は、さらに変位センサ駆動部制御部による変位センサ駆動部の駆動速度（または駆動位置）に基づいて）、磁気テープの盛り上がり部位（巻き不良部位）の位置、大きさ、高さなどを算出し、評価通知部に出力する構成であってもよい。
また、磁気テープカートリッジＭＣのスライドドア（蓋部）６を透明にし、第一ないし第三の実施形態に係る巻き姿評価装置２０Ａ〜２０Ｃが、開口部１Ｃをスライドドア６で閉じた状態で、透明なスライドドア６を介して磁気テープＭＴの外周面の径方向高さを検出してもよい。ここで、スライドドア６は、前記したレーザ式変位センサ２２Ａ，２２Ｂ，２２Ｃによる磁気テープＭＴの外周面の径方向高さが検出可能な程度に透明であればよい。
このようにすることで、スライドドア６を閉じた状態で評価するので、評価実施時に開口部１Ｃから粉塵がカートリッジケース１内に侵入することを防ぐことができる。
また、本発明は、リールに巻装された帯状物であって、ケースに収容されていないものの巻き姿を評価する場合にも適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】本発明の実施形態に係る磁気テープの構成部品を示す分解斜視図である。
【図２】図１の磁気テープカートリッジのカートリッジケースを構成する下ハーフの要部拡大斜視図である。
【図３】本発明の第一の実施形態に係る巻き姿評価装置を示す模式図である。
【図４】レーザ式変位センサによる検出を説明するための模式図である。
【図５】磁気テープの外周面の盛り上がりの一例を示す図であり、（ａ）は磁気テープの斜視図、（ｂ）は（ａ）のＸ１−Ｘ１断面図である。
【図６】磁気テープの外周面の盛り上がりの一例を示す図であり、（ａ）は磁気テープの斜視図、（ｂ）は（ａ）のＸ２−Ｘ２断面図、（ｃ）は（ａ）のＸ３−Ｘ３断面図である。
【図７】本発明の第二の実施形態に係る巻き姿評価装置を示す模式図である。
【図８】レーザ式変位センサによる検出を説明するための模式図である。
【図９】本発明の第三の実施形態に係る巻き姿評価装置を示す模式図である。
【図１０】レーザ式変位センサによる検出を説明するための模式図である。
【図１１】本発明の第四の実施形態に係る巻き姿評価装置を示す模式図である。
【図１２】本発明の変形例に係る磁気テープカートリッジの構成部品を示す分解斜視図である。
【符号の説明】
【００６１】
２      リール
２０Ａ，２０Ｂ，２０Ｃ    巻き姿評価装置
２１    回転駆動部
２２Ａ，２２Ｂ，２２Ｃ    レーザ式変位センサ（径方向高さ検出部、非接触式変位センサ）
２２Ｄ  接触式変位センサ（径方向高さ検出部）
２２ａ，２２ｃ  投光部
２２ｂ，２２ｄ  受光部
２３    巻き姿評価部
Ｌ１    スポット光
Ｌ２    線状光
ＭＴ    磁気テープ（帯状物）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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