(57)【要約】【課題】スイッチングダイオード、ツェナーダイオード、定電流ダイオードの極性判定をテスタを共用して行う。【解決手段】選別機テスタから、テストを行うダイオードの品種コードを設定すると、それに対応するセレクトビットコードがレジスタ５，６に格納されてスイッチＳＷ１〜ＳＷ６，ＳＷ８〜ＳＷ１３が切り替えられ、各品種に応じた電流増幅率が設定される。定電流ダイオードが第１電流方向に対して逆方向に接続されている場合、定電流回路２から第１電流方向にバイアス電流が印加されても比較器ＣＯＭ１〜ＣＯＭ４からＨｉ信号出力されない。定電流ダイオードが第１電流方向に対して順方向に接続されている場合には、検出電圧が、Ｈｉ側基準電圧ＶＲＥＦ１よりも高くなり、比較器ＣＯＭ１，ＣＯＭ３からＨｉ信号が出力される。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
極性判定されるダイオードに応じて検出電圧を設定する工程と、
前記ダイオードを準備する工程と、
前記ダイオードに第１電流方向、および前記第１の方向とは逆方向の第２電流方向のバイアス電流をそれぞれ印加する工程と、
前記ダイオードに流れる電流を検出電圧に変換し、その検出電圧が比較用電圧よりも高いか否かを比較することにより前記ダイオードの極性判定を行う工程とを有し、
前記ダイオードが定電流ダイオードの場合には、
第１電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧を、第１比較用電圧、および前記第１比較用電圧よりも低い電圧レベルの第２比較用電圧とそれぞれ比較し、
第２電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧を、第３比較用電圧、および前記第３比較用電圧よりも低い電圧レベルので第４比較用電圧とそれぞれ比較し、
第１電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧の電圧レベルが、第１比較用電圧よりも低く、前記第２比較用電圧よりも高い場合には、第１電流方向が順方向をし、第２電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧の電圧レベルが、第３比較用電圧よりも低く、前記第４比較用電圧よりも高い場合には、第２電流方向が順方向と極性判定することを特徴とする電子部品の製造方法。
【請求項２】
請求項１記載の電子部品の製造方法において、
前記ダイオードに応じた検出電圧の設定は、
前記ダイオードに流れる電流を検出する電流検出抵抗を任意に切り替えることにより設定し、定電流特性の異なる２以上の品種の定電流ダイオードの極性判定に対応することを特徴とする電子部品の製造法。
【請求項３】
請求項１または２記載の電子部品の製造方法において、
第１電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧が、第１比較用電圧よりも高く、かつ第２電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧が、第３比較用電圧よりも高い場合には、前記ダイオードがショート状態であると判定し、
第１電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧が、第２比較用電圧よりも低く、かつ第２電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧が、第４比較用電圧よりも低い場合には、前記ダイオードがオープン状態であると判定することを特徴とする電子部品の製造方法。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか１項に記載の電子部品の製造法において、
前記ダイオードがスイッチングダイオード、またはツェナーダイオードの場合には、
第１電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧を、第１比較用電圧と比較し、
第２電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧を、第３比較用電圧と比較し、
第１電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧の電圧レベルが、第１比較用電圧よりも高い場合には、第１電流方向を順方向とし、第２電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧の電圧レベルが、第３比較用電圧よりも高い場合には、第２電流方向が順方向と極性判定することを特徴とする電子部品の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品の製造技術に関し、特に、ダイオードにおける極性判定、およびショート／オープン判定に有効な技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、スイッチングダイオードやツェナーダイオードなどのダイオードの極性は、順方向に電流が流れ、逆方向に電流が流れない特性を利用して、選別機テスタにおいて、該ダイオードに対して任意のバイアス電流を双方向に切り替えて印加し、その際に検出される電圧を予め設定されたしきい値と比較することによって判定している。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところが、上記のようなダイオードにおける極性判定技術では、次のような問題点があることが本発明者により見い出された。
【０００４】
定電流ダイオード（ＣＲＤ：Ｃｕｒｒｅｎｔ  Ｒｅｇｕｌａｔｉｖｅ  Ｄｉｏｄｅ）については、前述したダイオード（スイッチングダイオードやツェナーダイオード）と電気的特性が異なり、順方向、および逆方向の両方向に電流が流れてしまう。
【０００５】
よって、上述した極性判定技術により定電流ダイオードの極性判定を行った場合、選別機テスタがショート（短絡）の判定をしてしまうことになる。そのため、選別機テスタをスイッチングダイオードやツェナーダイオードなどの品種との共有化することができず、テストコストが上昇してしまうという問題がある。
【０００６】
本発明の目的は、スイッチングダイオード、およびツェナーダイオードの極性判定を行う選別機テスタを共用して定電流ダイオードの極性判定を行うことのできる技術を提供することにある。
【０００７】
本発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴については、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次のとおりである。
【０００９】
本発明による電子部品の製造方法は、極性判定されるダイオードに応じて検出電圧を設定する工程と、該ダイオードを準備する工程と、該ダイオードに第１電流方向、および第１の方向とは逆方向の第２電流方向のバイアス電流をそれぞれ印加する工程と、ダイオードに流れる電流を検出電圧に変換し、その検出電圧が比較用電圧よりも高いか否かを比較することによりダイオードの極性判定を行う工程とを有し、ダイオードが定電流ダイオードの場合には、第１電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧を、第１比較用電圧、および第１比較用電圧よりも低い電圧レベルの第２比較用電圧とそれぞれ比較し、第２電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧を、第３比較用電圧、および第３比較用電圧よりも低い電圧レベルので第４比較用電圧とそれぞれ比較し、第１電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧の電圧レベルが、第１比較用電圧よりも低く、第２比較用電圧よりも高い場合には、第１電流方向が順方向をし、第２電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧の電圧レベルが、第３比較用電圧よりも低く、第４比較用電圧よりも高い場合には、第２電流方向が順方向と極性判定することを特徴とする電子部品の製造方法。
【００１０】
また、本願のその他の発明の概要を簡単に示す。
【００１１】
本発明による電子部品の製造方法は、前記ダイオードに応じた検出電圧の設定が、ダイオードに流れる電流を検出する電流検出抵抗を任意に切り替えることにより設定し、定電流特性の異なる２以上の品種の定電流ダイオードにおける極性判定に対応するものである。
【００１２】
また、本発明による電子部品の製造方法は、第１電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧が、第１比較用電圧よりも高く、かつ第２電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧が、第３比較用電圧よりも高い場合には、ダイオードがショート状態であると判定し、第１電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧が、第２比較用電圧よりも低く、かつ第２電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧が、第４比較用電圧よりも低い場合には、ダイオードがオープン状態であると判定するものである。
【００１３】
さらに、本発明による電子部品の製造方法は、前記ダイオードがスイッチングダイオード、またはツェナーダイオードの場合に、第１電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧を、第１比較用電圧と比較し、第２電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧を、第３比較用電圧と比較し、第１電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧の電圧レベルが、第１比較用電圧よりも高い場合には、第１電流方向を順方向とし、第２電流方向にバイアス電流を印加した際に発生した検出電圧の電圧レベルが、第３比較用電圧よりも高い場合には、第２電流方向が順方向と極性判定を行うものである。
【発明の効果】
【００１４】
本願において開示される発明のうち、代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば以下のとおりである。
【００１５】
（１）スイッチングダイオード、ツェナーダイオード、および定電流ダイオードの極性判定、およびショート／オープン判定を１台のテスタにより共用してテストすることができるので、テストコストを低減させることができる。
【００１６】
（２）また、ダイオードの製造効率を向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明するための全図において、同一の部材には原則として同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。
【００１８】
図１は、本発明の一実施の形態選別機テスタに設けられたダイオード極性判定回路の一例を示す回路図、図２は、図１のダイオード極性判定回路を用いてダイオードをテストする際に選別機テスタから設定する品種コードの一例を示す説明図、図３は、図２の各品種コードに対応するセレクトビットコードの説明図、図４は、図１のダイオード極性判定回路による第１電流方向のバイアス電流を印加した際の定電流ダイオードの極性、およびショート／オープンの判定条件を示す説明図、図５は、図１のダイオード極性判定回路による第２電流方向のバイアス電流を印加した際の定電流ダイオードの極性、およびショート／オープンの判定条件を示す説明図である。
【００１９】
本実施の形態において、ダイオード極性判定回路１は、ダイオードの電気的特性測定を行う選別機テスタに設けられている。ダイオード極性判定回路１は、図１に示すように、定電流回路２、電流検出回路３、比較回路４、およびレジスタ５，６から構成されている。
【００２０】
定電流回路２は、被測定デバイスＤＵＴとして接続されたダイオードに対して、第１電流方向（プラス方向）、および第１電流方向とは逆の方向である第２電流方向（マイナス方向）にそれぞれ切り替えて任意のバイアス電流を電流印加する。
【００２１】
電流検出回路３は、定電流回路２により印加されたバイス電流によって発生した電流を検出し、その検出した電流をダイオードの品種に応じた電流値に増幅する。比較回路４は、電流検出回路３が検出した電流値を電圧に変換し、しきい値電圧と比較し、その判定結果を出力する。
【００２２】
電流検出回路３は、抵抗Ｒ１〜Ｒ９，Ｒ１０〜Ｒ１８，Ｒ１９〜Ｒ２２、スイッチＳＷ１〜ＳＷ７，ＳＷ８〜ＳＷ１４、ならびに増幅器ＡＰ１，ＡＰ２から構成されている。比較回路４は、比較器ＣＯＭ１〜ＣＯＭ４，ＣＯＭ５〜ＣＯＭ８から構成されている。
【００２３】
定電流回路２は、ダイオード搭載部の一方の接続部に接続されており、該ダイオード搭載部の他方の接続部には、抵抗Ｒ８，Ｒ９，Ｒ１７，Ｒ１８の一方の接続部がそれぞれ接続されている。
【００２４】
抵抗Ｒ８，Ｒ１７の他方の接続部には、スイッチＳＷ７，ＳＷ１４の一方の接続部がそれぞれ接続されている。スイッチＳＷ７の他方の接続部には、抵抗Ｒ１〜Ｒ７の一方の接続部、抵抗Ｒ９の他方の接続部、および増幅器ＡＰ１の負（−）側入力部がそれぞれ接続されている。
【００２５】
スイッチＳＷ１４の他方の接続部には、抵抗Ｒ１０〜Ｒ１６の一方の接続部、抵抗Ｒ１８の他方の接続部、および増幅器ＡＰ２の負（−）側入力部がそれぞれ接続されている。また、増幅器ＡＰ１，ＡＰ２の正（＋）側入力部には、基準電位ＶＳＳがそれぞれ接続されている。
【００２６】
抵抗Ｒ２〜Ｒ７の他方の接続部には、スイッチＳＷ２〜ＳＷ６の一方の接続部がそれぞれ接続されており、抵抗Ｒ１１〜Ｒ１６の他方の接続部には、スイッチＳＷ８〜ＳＷ１３の一方の接続部がそれぞれ接続されている。これら抵抗Ｒ１〜Ｒ１８は、電流検出用抵抗として用いられる。
【００２７】
増幅器ＡＰ１の出力部には、抵抗Ｒ１の他方の接続部、スイッチＳＷ１〜ＳＷ６の他方の接続部、および抵抗Ｒ１９，Ｒ２０の一方の接続部がそれぞれ接続されている。また、増幅器ＡＰ２の出力部には、抵抗Ｒ１０他方の接続部、スイッチＳＷ８〜ＳＷ１３の他方の接続部、および抵抗Ｒ２１，Ｒ２２の一方の接続部がそれぞれ接続されている。
【００２８】
抵抗Ｒ１９の他方の接続部には、比較器ＣＯＭ１の正（＋）側入力部、比較器ＣＯＭ２の負（−）側入力部がそれぞれ接続されている。抵抗Ｒ２１の他方の接続部には、比較器ＣＯＭ３の正（＋）側入力部、比較器ＣＯＭ４の負（−）側入力部がそれぞれ接続されている。
【００２９】
抵抗Ｒ２０の他方の接続部には、比較器ＣＯＭ５、および比較器ＣＯＭ６の正（＋）側入力部がそれぞれ接続されており、抵抗Ｒ２２の他方の接続部には、比較器ＣＯＭ７，ＣＯＭ８の正（＋）側入力部がそれぞれ接続されている。
【００３０】
これら抵抗Ｒ１９〜Ｒ２２は、増幅器ＡＰ１，ＡＰ２が増幅した電流を電圧に変換する電圧変換用抵抗である。
【００３１】
また、比較器ＣＯＭ１，ＣＯＭ３の負（−）側入力部には、Ｈｉ側基準電圧（第１比較電圧）ＶＲＥＦ１が入力されるようにそれぞれ接続されており、比較器ＣＯＭ２，ＣＯＭ４の正（＋）側入力部には、Ｌｏ側基準電圧（第２比較電圧）ＶＲＥＦ２が入力されるようにそれぞれ接続されている。
【００３２】
比較器ＣＯＭ５，ＣＯＭ７の負（−）側入力部には、Ｈｉ側基準電圧（第３比較電圧）ＶＲＥＦ３が入力されるようにそれぞれ接続されており、比較器ＣＯＭ６，ＣＯＭ８の負（−）側入力部には、Ｌｏ側基準電圧（第４比較電圧）ＶＲＥＦ４が入力されるようにそれぞれ接続されている。
【００３３】
スイッチＳＷ１〜ＳＷ６には、レジスタ５が接続されており、スイッチＳＷ８〜ＳＷ１３には、レジスタ６が接続されている。スイッチＳＷ１〜ＳＷ６は、レジスタ５に格納されたビットに応じて切り替え（導通／非導通）がそれぞれ制御され、スイッチＳＷ８〜ＳＷ１３は、レジスタ６に格納されたビットに応じて切り替え（導通／非導通）がそれぞれ制御される。
【００３４】
次に、本実施の形態におけるダイオード極性判定回路１の作用について説明する。
【００３５】
まず、テストを行う前に、選別機テスタから、テストを行う品種コードを選択して入力する。図２は、品種コードの一例を示す説明図である。テストされるダイオードは、図示するように、たとえば、Ｎｏ．１〜Ｎｏ．１９までの１９品種であり、そのうち、Ｎｏ．１〜Ｎｏ．１７までが異なる品名の定電流ダイオードであり、Ｎｏ．１８がスイッチングダイオード、Ｎｏ．１９がツェナーダイオードである。
【００３６】
これらＮｏ．１〜Ｎｏ．１９までの各品種には、図３に示すようなセレクトビットコードがそれぞれ対応するように付与されている。たとえば、Ｎｏ．１の品種には、’１’が付与されており、Ｎｏ．２，Ｎｏ．３の品種には、’２’が付与されている。
【００３７】
これらセレクトビットコードは、２進数に変換されて、レジスタ５，６にそれぞれ格納される。たとえば、Ｎｏ．１０を選択した場合には、セレクトビットコード’５’が付与されているので、レジスタ５，６には、’０１０１’が格納される。
【００３８】
スイッチＳＷ１〜ＳＷ６，ＳＷ８〜ＳＷ１３は、レジスタ５，６に格納されたデータに基づいて切り換えが行われ、これにより、Ｎｏ．１０の品種に応じた電流となるように増幅率が設定される。
【００３９】
なお、この場合には、被測定デバイスＤＵＴとしてスイッチングダイオードが選択され、セレクトビットコード’７’（スイッチングダイオード）が設定されているものとする。これにより、スイッチＳＷ７，ＳＷ１４がそれぞれ非導通状態に設定される。
【００４０】
続いて、ダイオード搭載部に被測定デバイスＤＵＴのダイオードが接続されると、定電流回路２から第１電流方向（プラス方向）に定電流が被測定デバイスＤＵＴに印加される。
【００４１】
被測定デバイスＤＵＴが順方向に接続されている際には、第１電流方向の電流が流れることになるので、その電流は、抵抗Ｒ９，Ｒ１８を介して増幅器ＡＰ１，ＡＰ２にそれぞれ入力される。
【００４２】
増幅器ＡＰ１，ＡＰ２に増幅された電流は、抵抗Ｒ１９，Ｒ２１により電圧に変換されて検出電圧として比較器ＣＯＭ１〜ＣＯＭ４にそれぞれ入力される。比較器ＣＯＭ１〜ＣＯＭ４は、検出電圧とＨｉ側基準電圧ＶＲＥＦ１、およびＬｏ側基準電圧ＶＲＥＦ２との比較を行う。
【００４３】
第１電流方向の電流が流れた際には、検出電圧がＨｉ側基準電圧ＶＲＥＦ１よりも高くなるので、第１電流方向の電流が流れたことを示すＨｉ信号が比較器ＣＯＭ１，ＣＯＭ３から出力される。
【００４４】
続いて、定電流回路２は、第２電流方向（マイナス方向）に定電流を被測定デバイスＤＵＴに印加する。この場合、逆方向となるので電流は流れず、比較器ＣＯＭ６，ＣＯＭ８に入力される検出電圧は、Ｌｏ側基準電圧ＶＲＥＦ４よりも低くなり、第２電流方向の電流が流れないことを示すＨｉ信号が比較器ＣＯＭ６，ＣＯＭ８から出力される。
【００４５】
また、被測定デバイスＤＵＴがショートしている場合には、第１の電流方向、および第２電流方向のバイアス電流も流れることになるので、第１電流方向の電流が流れたことを示す比較器ＣＯＭ１、および第２電流方向の電流が流れたことを示す比較器ＣＯＭ５の出力がいずれもＨｉ信号となる。
【００４６】
被測定デバイスＤＵＴがオープンの場合には、第１の電流方向、および第２電流方向のバイアス電流も流れないので、第１電流方向の電流が流れないことを示す比較器ＣＯＭ２、および第２電流方向の電流が流れないことを示す比較器ＣＯＭ６の出力がいずれもＨｉ信号となる。
【００４７】
これにより、スイッチングダイオード（およびツェナーダイオード）の極性判定、ならびにショート／オープン判定を行うことができる。
【００４８】
次に、定電流ダイオードにおける極性判定、ならびにショート／オープン判定について説明する。
【００４９】
まず、テストを行う前に、選別機テスタから、テストを行う品種コードを選択して入力し、それに応じたセレクトビットコードがレジスタ５，６に格納される。これにより、スイッチＳＷ７，ＳＷ１４がそれぞれ導通状態となる。
【００５０】
また、任意のスイッチＳＷ１〜ＳＷ６，ＳＷ８〜ＳＷ１３がそれぞれ導通状態に設定され、被測定デバイスＤＵＴの品種に応じた電流検出抵抗（電流増幅率）となるように設定される。
【００５１】
そして、ダイオード搭載部に被測定デバイスＤＵＴのダイオードが接続されると、スイッチングダイオードと同様に、定電流回路２から第１電流方向、および第２電流方向に定電流が順次印加される。
【００５２】
ここで、定電流ダイオードは、順方向、および逆方向の双方向に電流が流れてしまうことになるが、逆方向の場合には、品種に定格に見合った任意の電流が流れ、順方向では、印加されたバイアス電流がそのまま流れることになる。よって、定電流ダイオードの極性判定、およびショート／オープン判定は、図４、および図５に示すようになる。
【００５３】
図４は、接続されたダイオードに対して第１電流方向にバイアス電流が印加される場合を示しており、図５は、接続されたダイオードに対して第２電流方向にバイアス電流が印加される場合を示している。
【００５４】
ここで、第１電流方向にバイアス電流が印加される場合について、図４を用いて説明する。
【００５５】
定電流ダイオードが第１電流方向に対して逆方向に接続されている場合は、スイッチＳＷ１〜ＳＷ６，ＳＷ８〜ＳＷ１３によって被測定デバイスＤＵＴの品種に応じた電流検出抵抗に設定されているので、比較器ＣＯＭ１〜ＣＯＭ４に入力される検出電圧が、Ｈｉ側基準電圧ＶＲＥＦ１よりも低く、Ｌｏ側基準電圧ＶＲＥＦ２よりも高くなる。よって、比較器ＣＯＭ１〜ＣＯＭ４からはＨｉ信号が出力されないことになる。
【００５６】
定電流ダイオードが第１電流方向に対して順方向に接続されている場合には、比較器ＣＯＭ１〜ＣＯＭ４に入力される検出電圧が、Ｈｉ側基準電圧ＶＲＥＦ１よりも高くなり、比較器ＣＯＭ１，ＣＯＭ３からＨｉ信号が出力される。
【００５７】
また、ショートの場合には、定電流ダイオードの順／逆いずれの方向にかかわらず、検出電圧がＨｉ側基準電圧ＶＲＥＦ１よりも高くなり、比較器ＣＯＭ１，ＣＯＭ３からＨｉ信号が出力される。
【００５８】
オープンの場合も同様に、定電流ダイオードの順／逆いずれの方向にかかわらず、検出電圧がＬｏ側基準電圧ＶＲＥＦ２よりも低くなり、比較器ＣＯＭ２，ＣＯＭ４からＨｉ信号が出力される。
【００５９】
次に、第２電流方向にバイアス電流が印加される場合について、図５を用いて説明する。
【００６０】
定電流ダイオードが第２電流方向に対して逆方向に接続されている場合には、比較器ＣＯＭ５〜ＣＯＭ８に入力される検出電圧が、Ｈｉ側基準電圧ＶＲＥＦ３よりも低く、Ｌｏ側基準電圧ＶＲＥＦ４よりも高くなるようにスイッチＳＷ１〜ＳＷ６，ＳＷ８〜ＳＷ１３により電流検出抵抗が設定されているので、比較器ＣＯＭ５〜ＣＯＭ８からは、Ｈｉ信号出力されないことになる。
【００６１】
定電流ダイオードが第２電流方向に対して順方向に接続されている場合には、比較器ＣＯＭ５〜ＣＯＭ８に入力される検出電圧が、Ｈｉ側基準電圧ＶＲＥＦ３よりも高くなるので、比較器ＣＯＭ５，ＣＯＭ７からＨｉ信号が出力される。
【００６２】
また、定電流ダイオードがショートの場合には、定電流ダイオードの順／逆いずれの方向にかかわらず、検出電圧がＨｉ側基準電圧ＶＲＥＦ３よりも高くなり、比較器ＣＯＭ５，ＣＯＭ７からＨｉ信号が出力される。
【００６３】
オープンの場合も同様に、定電流ダイオードの順／逆いずれの方向にかかわらず、検出電圧がＬｏ側基準電圧ＶＲＥＦ４よりも低くなり、比較器ＣＯＭ６，ＣＯＭ７からＨｉ信号が出力される。
【００６４】
以上により、第１電流方向のバイアス電流による検出結果と第２電流方向のバイアス電流による検出結果とを組み合わせることにより、定電流ダイオードの極性判定、ならびにショート／オープン判定を行うことができる。
【００６５】
それにより、本実施の形態によれば、スイッチングダイオード、ツェナーダイオード、および定電流ダイオードの極性判定、ならびにショート／オープン判定を同じ選別機テスタにより行うことができるので、テスト効率を向上させることができ、コストを低減させることが可能となる。
【００６６】
以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
【産業上の利用可能性】
【００６７】
本発明は、スイッチングダイオード、ツェナーダイオード、およびスイッチングダイオードにおける極性判定の共用化技術に適している。
【図面の簡単な説明】
【００６８】
【図１】本発明の一実施の形態選別機テスタに設けられたダイオード極性判定回路の一例を示す回路図である。
【図２】図１のダイオード極性判定回路を用いてダイオードをテストする際に選別機テスタから設定する品種コードの一例を示す説明図である。
【図３】図２の各品種コードに対応するセレクトビットコードの説明図である。
【図４】図１のダイオード極性判定回路による第１電流方向のバイアス電流を印加した際の定電流ダイオードの極性、およびショート／オープンの判定条件を示す説明図である。
【図５】図１のダイオード極性判定回路による第２電流方向のバイアス電流を印加した際の定電流ダイオードの極性、およびショート／オープンの判定条件を示す説明図である。
【符号の説明】
【００６９】
１  ダイオード極性判定回路
２  定電流回路
３  電流検出回路
４  比較回路
５，６  レジスタ
Ｒ１〜Ｒ９  抵抗
Ｒ１０〜Ｒ１８  抵抗
Ｒ１９〜Ｒ２２  抵抗
ＳＷ１〜ＳＷ１４  スイッチ
ＡＰ１，ＡＰ２  増幅器
ＣＯＭ１〜ＣＯＭ４  比較器
ＣＯＭ５〜ＣＯＭ８  比較器
ＶＲＥＦ１  Ｈｉ側基準電圧（第１比較電圧）
ＶＲＥＦ２  Ｌｏ側基準電圧（第２比較電圧）
ＶＲＥＦ３  Ｈｉ側基準電圧（第３比較電圧）
ＶＲＥＦ４  Ｌｏ側基準電圧（第４比較電圧）
【図１】
2007285837.tif 000003
【図２】
2007285837.tif 000004
【図３】
2007285837.tif 000005
【図４】
2007285837.tif 000006
【図５】
2007285837.tif 000007