【事件の表示】
　特願２０１１−２４６９８３「反射特性を分析するための方法」拒絶査定不服審判事件〔平成２４年　４月　５日出願公開、特開２０１２−　６８２５７〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成１９年４月２４日に出願した特願２００９−５１５７９４号（パリ条約による優先権主張　２００６年　６月２０日　（ＤＥ）ドイツ連邦共和国）の一部を平成２３年１１月１１日に新たな特許出願としたものであって、平成２５年３月１２日付けで拒絶理由が通知され、同年７月８日に意見書及び手続補正書が提出され、同年１０月３１日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、平成２６年３月４日に拒絶査定不服審判の請求がなされ、それと同時に手続補正書が提出されたものである。
第２　本願発明
１　本願発明について
　平成２６年３月４日付け手続補正書による特許請求の範囲の補正は、明りょうでない記載の釈明を目的とする補正といえることから、特許法第１７条の２第５項第４号に掲げる事項を目的とするものに該当する。したがって、本願の請求項１〜６に係る発明は、平成２６年３月４日付け手続補正書の特許請求の範囲の請求項１〜６に記載された事項により特定されるものであるところ、その請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は次のとおりのものである。
「　　【請求項１】
　３次元構造の初期表面、すなわち微小粗さの表面の反射特性を、表面用の加工システム又は試験システムに提供されるデータレコードの形態で分析して記述するための方法において、
ａ）最初に、前記初期表面の形状が、３次元の走査方法によって走査され、こうして生成された、前記初期表面にわたって測定された格子状の各面素に属する高さ値つまり深さ値から主に構成される当該形状データが、第１のデータレコード内に記憶され、このときに、前記初期表面の深さマップが作成されるように、測定される１つの深さ値が、当該各面素に割り当てられ、
ｂ）前記第１のデータレコードが、前記反射特性に対する複数の前記深さ値の影響に関して評価され、
ｃ）当該評価に応じて、１つの反射値が、前記各面素に割り当てられ、第２のデータレコード内に記憶され、
　当該方法によって、前記各面素に割り当てられた前記反射値を有する前記第２のデータレコードが、別の加工システム又は試験システムに提供され、
ｂ）前記深さ値に関する前記データレコードが、エッジ検出と、その後の平均計算とのために使用され、
ｃ）前記平均計算によって得られた、当該エッジ周波数及び／又は高さを表す値が、反射値として前記各面素に割り当てられ、第２のデータレコード内に記憶されるように、前記方法ステップｂ）及びｃ）は構成されていることを特徴とする方法。」
２　発明の詳細な説明の記載について
（１）　発明の詳細な説明の記載事項
ア　「【技術分野】
　　【０００１】
　本発明は、３次元構造の初期表面、すなわち微小粗さの
表面の反射特性を、表面用の加工システム又は試験システムに利用できるデータレコードの形態で分析して記述する
イ　「【背景技術】
　・・・
　　【０００５】
　例えば、自動車の内部クラッドの部分の人造皮革又はプラスチック成形スキン、すなわち、例えば、ドアクラッド又はダッシュボードを製造するとき、人工的な表面構造又は表面被覆の製造に関し、基準面／パターン化面の反射特性が照明の制御下で評価され、またさらなる制御及び作業工程の基礎として使用される方法が知られている。
これらの測定方法の大部分に特有なことは、強く又は弱く反射する基準面の部分領域の間では、経験のある観察者の主観的な評価がこれまでのところもっぱら決定的であったことである。しかし、このような主観的な評価は、画像処理に又は生産工程に影響を及ぼす自動システムに、不十分な精度でのみ転換することができ不利である。
　　【０００６】
　他方、
人間の目による主観的な評価は、それ自体が表面の外観の非常に小さな変化を明らかに記録する構造化表面の極めて精密な種類の評価であり、これまでのところ自動的な方法で交換可能であることは明らかになっていない。
ウ　「【発明が解決しようとする課題】
　　【０００８】
　したがって、本発明の課題は、
表面の反射特性が客観的に測定可能になり、当該反射特性を、後続接続されたシステムで使用され得るパラメータにさらに変換し、当該反射特性の正確な記述を可能にし、
エ　「【００１１】
　以前に知られている方法が、光沢度による表面全体の主観的な評価のみを含むか、あるいはバーチャルな照明源の影響を受けて、一般化された方法で写真又はＣＡＤ（コンピュータ支援設計）シミュレーションを用いて反射と表面とを関連付けているのに対し、本発明の解決方法の場合の
重要なステップは、微小面素の３次元表面に実際に存在する巨視的な深さ構造と、表面の反射特性とを関連付けることにある。このように、本発明による方法は、一般化された方法から逸脱し、深さ構造、すなわち、表面の高解像度の形状マップと局所的な反射挙動との相関関係を生成させる。
オ　「【００１３】
　エッジにおける光の散乱の物理的効果、及びこれによって影響を受けるランダムに配置された数のエッジの反射性から進んで、ここにさらに形成される解決方法は、計算用のデータとして、実際の物理的に存在する深さ情報及び／又は深さの差、すなわち、実際のエッジを最初に提供することによって、エッジ検出の画像処理からそれ自体公知である方法を特定の数学的演算子により、すなわち、例えば、ソーベル又はラプラス演算子により３次元表面の反射分析に有用ならしめることにある。
　　【００１４】
　具体的に、従来の画像処理では、実行されてきたすべてのことは、２次元の観測、輝度差によって形成された画像内の『境界』の検出及び処理である。これらの境界は『エッジ』として、またそれらの検出は『エッジ検出』として示されている。例えば、加工されるべきまたカメラを用いて写真撮影されるか又は撮影される対象物をアセンブリラインで検出又は計数するために、このようなエッジ検出が使用される。このような２次元の観測は、２次元の空間関連付けを検出するために確かに十分であるが、３次元表面の複雑な構造には十分でなく、そこから導かれるべき反射特性のモデル化にも十分でない。
　　【００１５】
　反射値によって説明される反射特性は、その他、絶対値として記憶される必要はなく、相対的な反射値、すなわち、本方法の実施のために、同様にその使用のために、個々の面素の反射値の間の差で十分である。例えば、相対的なエッジ周波数は、反射値を説明するパラメータとして記憶することができる。
　　【００１６】
　一発展形態は、複数の前記面素が、複数のグループにグループ分けされ、これらのグループ内で近接演算によって算出されたエッジ周波数及び／又は高さがそれぞれ、これらのグループに割り当てられ、前記第２のデータレコード内に記憶されるように、当該方法は、前記平均計算を前記エッジ検出後に実行することにある。例えば、このような平均計算は、演算子としてのガウスフィルタによって実行される。このことにより、特徴付け又は一般化が行われ、これによって、適切な場合、大幅に変化する数及び厚さ／高さのエッジが適切に均質化された反射値に帰され、このことは、更なる方法の際に、そして例えば、処理機械を制御するためのデータに使用の際に有利であることができる。
　　【００１７】
　１つのさらなる有利な発展形態は、第１のデータレコードの深さ値の、方向に依存するフィルタリングがエッジ検出の前に実行されることにある。様々な数学演算子を用いて実施することができるこのような方向に依存するフィルタリングによって、異なる照明条件又は観測角度について反射特性を同様に客観的かつ測定可能に表すことができるように、エッジ高さ及びエッジ周波数だけに対する通常のエッジ検出によって表された反射特性に関する記述が、大幅に改善される。
　　【００１８】
　さらに有利な発展形態は、フィルタリングが指向性のガウスフィルタリングによってエッジ検出前に実行されることにある。ここで関係するものは、迅速に働き、かつ容認可能な時間内にそれらの反射特性に関する十分な数の方向表示を可能にする簡単な演算子である。
　　【００１９】
　１つの有利な発展形態は：
ｂ）前記深さ値の前記第１のデータレコードによって特徴づけられた、前記初期表面の輪郭に作用する光放射が、シミュレーションモデルによって記述され、
ｃ）前記光放射の反射が、放射された複数の前記面素の深さの不連続性に応じて計算され、１つの反射値に割り当てられ、１つの第２のデータレコード内に記憶されるように、前記方法ステップｂ）及びｃ）は構成されていることによって実際の３次元構造の反射特性／反射値を測定するために、いわゆるレイトレーシング方法を使用することにある。」
（下線部は当審で付与したものである。）
（２）　本願の発明の詳細な説明の記載において、上記本願発明は、「表面の反射特性を客観的に決定することができ、さらに、下流側システムに利用できるパラメータに反射特性を変換し、また自然に忠実に反射特性の説明を可能にし、かつ特に人工的表面を生成するため」という目的のために発明されたものであり、本願発明は「微小面素の３次元表面に実際に存在する巨視的な深さ構造と、表面の反射特性とを関連付ける」もので、「本発明による方法は、一般化された方法から逸脱し、深さ構造、すなわち、表面の高解像度の形状マップと局所的な反射挙動との相関関係を生成させる」ものであると説明されている。
第３　原査定の理由
　原査定は、特許請求の範囲及び発明の詳細な説明の記載が特許法第３６条第４項第１号及び第６項第２号の規定する要件を満たしていないという理由で本願を拒絶している。
　その理由の概要は次のとおりである。
　「・・・
　（１−４）【００１１】に記載の『異なって小さな面素の３次元表面に実際に存在する巨視的な深さ構造に、表面の反射特性を結合することにある。このように、本発明による方法は、一般化された方法から逸脱し、深さ構造、すなわち、表面の高解像度のトポロジマップと局所的な反射挙動との相関関係を発生する。』について、
　
上記『このように』の前後に記載された『結合すること』と『相関関係を発生する』こととがどのような因果関係にあるのか、すなわち、何故『結合すること』から『相関関係を発生する』ことが生じるのかが全く理解できない。
・・・
　（７）【請求項１】に記載の『ｂ）前記第１のデータレコードについて、エッジ検出を行い、次に、深さ値を参照して平均計算を行って、前記反射特性に対する深さ値の影響に関する深さ値の評価を行い、』について、
　何故『平均計算』を行うと『反射特性に対する深さ値の影響に関する深さ値の評価』が行えるのかが明細書等に十分に記載されておらず、
一般的に考えても『平均計算』『反射特性に対する深さ値の影響に関する深さ値の評価』との間の因果関係が不明である。
　よって、当業者が『平均計算』を行うことによって『反射特性に対する深さ値の影響に関する深さ値の評価』を行うことができない。
　（８）【請求項１】に記載の『ｃ）平均計算で得られた、エッジの周波数及び／又は高さを記述する値を、反射値として各々の面素に割り当てて、第２のデータレコードに記憶し』について、
　何故『平均計算』で『エッジの周波数及び／又は高さを記述する値』が得られるのかが不明である。
　（９）【請求項１】に記載の『ｃ）平均計算で得られた、エッジの周波数及び／又は高さを記述する値を、反射値として各々の面素に割り当てて、第２のデータレコードに記憶し』について、
　
何故『エッジの周波数及び／又は高さを記述する値』が『反射値』として扱うことができるのかが全く理解できない。
　すなわち、
反射値と反射特性や反射挙動との関係
反射値の算出方法
第４　当審の判断
１　反射値と反射特性や反射挙動との関係について
　本願発明は、「３次元構造の初期表面、すなわち微小粗さの表面の反射特性を、表面用の加工システム又は試験システムに提供されるデータレコードの形態で分析して記述するための方法において、・・・１つの反射値が前記各面素に割り当てられ、・・・当該方法によって、前記各面素に割り当てられた前記反射値を有する前記第２のデータレコードが、別の加工システム又は試験システムに提供され」と特定されており、その「反射値」は「前記深さ値に関する前記データレコードが、エッジ検出と、その後の平均計算とのために使用され、
ｃ）前記平均計算によって得られた、当該エッジ周波数及び／又は高さを表す値が、反射値として前記各面素に割り当てられ、・・・」と特定されるものである。
　「反射値」は、別の加工システム又は試験システムに提供されるものが反射値を有する第２のデータレコードであることから、本願発明において、極めて重要なパラメータであり、上記第２の２の（２）で記載されている本願発明の目的を達成すべく、本願発明を実施するためには、その「反射値」について、いかなる計算により求まるものであり、そして、それが反射特性及び反射挙動とどのように関連付けられるのかが、発明の詳細な説明において、当業者が実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されている必要がある。
　一方、発明の詳細な説明からは、本願発明において「深さ値をエッジ検出し、その後平均計算して得られたエッジ周波数及び／又は高さを表す値」と定義される「反射値」に関して、「深さ値」、「エッジ検出」及び「エッジ周波数及び／又は高さを示す値」のいずれも定義が不明で、技術常識からもどのようなものか理解できず、また、「反射値」が反射挙動を客観的に反映することを裏付ける理論や実験データなどが、発明の詳細な説明に一切記載されていない。そのため、上記第２の２（１）の摘記のとおり段落【００１１】に「本発明による方法は、一般化された方法から逸脱し、深さ構造、すなわち、表面の高解像度の形状マップと局所的な反射挙動との相関関係を生成させる。」と記載されているものの、この記載からは、深さ構造を表す深さ値から算出される「反射値」と反射挙動に具体的にどのような相関関係が生成されるのかが不明であり、他に相関関係について具体的に開示する記載は発明の詳細な説明には存在しない。
　よって、発明の詳細な説明は、反射値と反射特性や反射挙動との関係について、当業者が本願発明の実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載したものとはいえない。
２　反射値の算出方法について
　本願発明は、反射値の算出について、「・・・前記初期表面の形状が、３次元の走査方法によって走査され、こうして生成された、前記初期表面にわたって測定された格子状の各面素に属する高さ値つまり深さ値から主に構成される当該形状データが、第１のデータレコード内に記憶され、このときに、前記初期表面の深さマップが作成されるように、測定される１つの深さ値が、当該各面素に割り当てられ、・・・
ｂ）前記深さ値に関する前記データレコードが、エッジ検出と、その後の平均計算とのために使用され、
ｃ）前記平均計算によって得られた、当該エッジ周波数及び／又は高さを表す値が、反射値として前記各面素に割り当てられ」  と特定している。
　そこで、反射値を求める具体的方法の発明の詳細な説明における開示について検討する。
　発明の詳細な説明に反射値の算出に関する記載として、上記第２の２（１）オに摘記した段落【００１３】〜【００１９】の記載がある。しかし、この記載は極めて抽象的なものであり、反射値を具体的に求めた実施例などは発明の詳細な説明に一切開示されていない。
　してみれば、反射値と反射特性や反射挙動との具体的な相関関係が１で検討したように不明であり、さらに、某かの相関関係が存在するとしても、どの程度の間隔で走査し、どの程度の精度で測定した深さ値であれば、実物の反射特性と相関のある反射値を得ることができるのか当業者が発明の詳細な説明から理解することができない。さらに、平均計算についても、一つの面素に対応する高さの値を求めるのにどの程度範囲の面素に対応する深さ値を用いるのかも開示されていない。
　よって、
表面の反射特性を反映した、表面用の加工システム又は試験システムに利用できるような反射値
３　請求人の主張について
　請求人は、審判請求書の請求の理由において、上記第３の原査定の拒絶理由の概要で記載した「（１−４）」及び「（７）」〜「（９）」に対して、
「・理由（７）〜（１０）について 
 　「反射特性」と「表面の特徴」との相関関係が取得される点が明確となるように、請求項１を補正しました。 
 　以上の補正に対応するように、明細書の記載も補正しました。 
 ・理由（１）について 
 　「反射」（つまり、エッジ周波数及び／高さに依存する反射値）と「表面」（つまり、深さ値）との関係から、微小粗さの表面が分析されて記述される点が明瞭となるように、その他の記載（例えば、明細書［０００９］、［００１２］、［００１５］、［００１６］、［００１７］参照）を上記のように補正しました。」
と記載するのみで、これらの記載が上記１及び２で指摘した点を釈明するものでもないため、請求の理由における請求人の主張によって、上記１及び２の当審の判断が覆るものでもない。
　なお、審判請求人は、平成２６年８月１９日付けの上申書において、以下の補正案を提示している。
「［請求項１］
　３次元構造の
オリジナル
ａ）最初に、前記
オリジナル
オリジナル
つまり格子要素
ｂ）前記第１のデータレコードが、前記反射特性に対する複数の前記深さ値の影響に関して評価され、
ｃ）当該評価に応じて、１つの反射値が、前記各面素に割り当てられ、第２のデータレコード内に記憶され、
　
その後に、
ｂ）前記深さ値に関する前記
第１の
され
にガウスフィルタを用いて平均計算
ｃ）前記平均計算によって得られた、当該エッジ周波数及び／又は高さを表す値が、反射値として前記各面素に割り当てられ、第２のデータレコード内に記憶されるように、前記方法ステップｂ）及びｃ）は構成されていることを特徴とする方法。
　　・・・以下略・・・」(下線部は上申書において付されているものである)
　この補正案は、反射値の算出について、ガウスフィルタを用いて平均計算することを限定するものであるが、この限定によって上記１及び２で検討した点が解消しているとはいえないので、補正案についても、発明の詳細な説明が、補正案の請求項１に係る発明を当業者が実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されているとはいえない。
４　まとめ
　したがって、上記第３で記載した拒絶理由の「反射値と反射特性や反射挙動との関係」及び「反射値の算出方法」について、上記１及び２で判断したとおり、発明の詳細な説明が当業者が本願発明を実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されているとはいえないことから、本願発明について、発明の詳細な説明の記載が、特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしているとはいえない。
第５　むすび
　以上のとおり、本願は、発明の詳細な説明の記載が特許法第３６条第４項第１号に規定する要件を満たしていないことから、その余の拒絶理由について言及するまでもなく、本願は拒絶されるべきものである。
  よって、結論のとおり審決する。