(57)【要約】【課題】光ディスク装置及びその光出力学習方法において、高温においてレーザー出力装置のＬＤ出力の飽和によって生じうるpower study結果における不正確性を防止し、かつ、低い出力でもpower study結果を正確に得る。【解決手段】光出力制御信号に応じてレーザーを出射するレーザー出力装置と、前記出射されたレーザーの一部を検出し、出射されたレーザーに対応する信号を出力するセンサーと、前記レーザー出力装置に一定の範囲の前記光出力制御信号を印加し、該制御信号に対応する前記センサーの出力信号を用いて、前記制御信号に対応して出射される前記レーザー出力の特性を、前記レーザー出力装置の飽和したか否かを考慮して算出する制御部と、を備える構成とする。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光出力制御信号に応じてレーザーを出射するレーザー出力装置と、
前記出射されたレーザーの一部を検出し、出射されたレーザーに対応する信号を出力するセンサーと、
前記レーザー出力装置に一定の範囲の前記光出力制御信号を印加し、該制御信号に対応する前記センサーの出力信号を用いて、前記制御信号に対応して出射される前記レーザー出力の特性を、前記レーザー出力装置の飽和したか否かを考慮して算出する制御部とを備える光ディスク装置。
【請求項２】
前記センサーの出力信号を、あらかじめ設定された分解能に対応するデジタル信号に変換する第１変換部をさらに備え、前記制御部は、前記レーザー出力装置の出力が飽和されたか否かを前記デジタル信号とあらかじめ設定された基準値とを比較して判断し、前記出力が飽和されたことを表す制御信号に対応するデジタル信号は、前記レーザー出力の特性算出において排除することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記制御部は、前記デジタル信号が前記基準値以上である場合、前記レーザー出力装置が飽和されたと判断し、前記レーザー出力装置が飽和された場合、前記基準値に対応する制御信号を前記一定の範囲の最低制御信号として再び前記レーザー出力装置に印加し、前記デジタル信号を用いて前記レーザー出力の特性を算出することを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記レーザー出力の特性算出は、前記デジタル信号が、前記レーザー出力装置が飽和状態でないことを表す場合に行われることを特徴とする請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記一定の範囲の光出力制御信号は、前記光ディスクの消去パワーレベルに該当する前記レーザー出力の制御信号であることを特徴とする、請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記制御部は、前記一定の範囲の光出力制御信号を前記レーザー出力が順次に増加するように前記レーザー出力装置に印加することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
光ディスク装置に備えられたレーザー出力装置の出力特性を算出するための光出力学習方法において、
一定の範囲の制御信号を前記レーザー出力装置に印加し、前記制御信号に対応するレーザーを出射させる段階と、
前記出射されたレーザーの出力を検出し、前記検出されたレーザー出力を一定の分解能のデジタル信号に変換する段階と、
前記変換されたデジタル信号を用いて、前記レーザーダイオードが飽和されたか否かを判断する段階と、
前記レーザーダイオードが飽和されたか否かに対する判断に基づいて、前記出射された前記レーザー出力の特性を算出する段階とを備える光ディスク装置の光出力学習方法。
【請求項８】
前記一定の範囲の制御信号を前記レーザーの出力が順次に増加するように前記レーザー出力装置に印加する段階をさらに備えることを特徴とする請求項７に記載の光ディスク装置の光出力学習方法。
【請求項９】
前記一定の範囲の制御信号は、光ディスクの消去パワーレベルに該当する前記レーザー出力の制御信号であることを特徴とする請求項７に記載の光ディスク装置の光出力学習方法。
【請求項１０】
前記レーザー出力の特性を算出する段階は、前記デジタル信号とあらかじめ設定された基準値と比較して、前記レーザー出力装置が飽和されたか否かを判断する段階をさらに備え、前記デジタル信号が前記基準値以上である場合、前記レーザー出力装置が飽和されたと判断することを特徴とする請求項７に記載の光ディスク装置の光出力学習方法。
【請求項１１】
前記レーザー出力の特性を算出する段階は、前記デジタル信号が、前記レーザー出力装置が飽和されたことを表す制御信号に該当するとき、該デジタル信号を排除する段階をさらに備えることを特徴とする請求項１０に記載の光ディスク装置の光出力学習方法。
【請求項１２】
前記レーザー出力の特性を算出する段階は、
前記レーザー出力装置が飽和された場合、前記基準値に対応する制御信号を前記一定の範囲の最低制御信号として再び前記レーザー出力装置に印加する段階と、
前記レーザー出力に対応する前記デジタル信号を用いて前記レーザー出力の特性を算出する段階と、
をさらに備えることを特徴とする請求項１１に記載の光ディスク装置の光出力学習方法。
【請求項１３】
前記レーザー出力の特性を算出する段階は、前記デジタル信号が、前記レーザー出力装置が飽和されていないことを表す場合で、前記制御信号に対応するデジタル信号のデータが充分でない時に行われることを特徴とする請求項１２に記載の光ディスク装置の光出力学習方法。
【請求項１４】
光出力制御信号に応じてレーザーを出射するレーザー出力装置と、
前記出射されたレーザーの一部を検出し、出射されたレーザーに対応する信号を出力するセンサーと、
前記出射されたレーザーのレーザー出力が変わらない区間に該当するデータを排除して、前記レーザー出力装置の出力特性を算出する制御部とを備える光ディスク装置。
【請求項１５】
前記センサーの出力信号を、あらかじめ設定された分解能に対応するデジタル信号に変換する第１変換部をさらに備え、前記制御部は、前記レーザー出力装置の出力が飽和されたか否かを、前記デジタル信号とあらかじめ設定された基準値とを比較して判断し、前記出力が飽和されたことを表す制御信号に対応するデジタル信号は、前記レーザー出力の特性算出において排除することを特徴とする、請求項１４に記載の光ディスク装置。
【請求項１６】
前記制御部は、前記デジタル信号が前記基準値以上である場合、前記レーザー出力装置が飽和されたと判断し、前記レーザー出力装置が飽和された場合、前記制御部は、前記制御信号を一定の範囲の最低制御信号として再び前記レーザー出力装置に印加し、前記レーザー出力装置の特性を算出することを特徴とする請求項１５に記載の光ディスク装置。
【請求項１７】
前記レーザー出力の特性算出は、前記デジタル信号が、前記レーザー出力装置が飽和状態でないことを表す場合に行われることを特徴とする請求項１６に記載の光ディスク装置。
【請求項１８】
前記一定の範囲の制御信号は、前記光ディスクの消去パワーレベルに該当する制御信号であることを特徴とする請求項１６に記載の光ディスク装置
【請求項１９】
前記制御部は、前記一定の範囲の制御信号を前記レーザー出力が順次に増加するように前記レーザー出力装置に印加することを特徴とする請求項１６に記載の光ディスク装置。
【請求項２０】
前記データの排除によって正確な出力特性の算出のための残りのデータが不充分になる場合、あらかじめ設定された基準値に該当する制御信号を一定の範囲の最低制御信号として前記光出力制御信号を順次に可変させ、前記出力特性を再び算出して充分なデータを得ることを特徴とする請求項１４に記載の光ディスク装置。
【請求項２１】
光ディスク装置に備えられたレーザー出力装置の出力特性を算出する方法において、
光出力制御信号に応じてレーザーを出射する段階と、
前記出射されたレーザーの一部を検出し、出射されたレーザーに対応する信号を出力する段階と、
前記出射されたレーザーのレーザー出力が変わらない区間に該当するデータを排除して、前記レーザー出力装置の出力特性を算出する段階とを備える方法。
【請求項２２】
前記レーザー出力は、飽和状態において変わらないことを特徴とする請求項２１に記載の方法。
【請求項２３】
前記出射されたレーザーに該当する出力信号をあらかじめ設定された分解能に対応するデジタル信号に変換する段階と、
前記デジタル信号とあらかじめ設定された基準値とを比較して、前記レーザー出力装置の出力が飽和されたか否かを判断する段階と、
前記レーザー出力装置の出力が飽和されたと判断されると、前記レーザー出力の特性算出において前記デジタル信号を排除する段階とをさらに備えることを特徴とする、請求項２２に記載の方法。
【請求項２４】
前記デジタル信号が前記基準値以上である場合、前記レーザー出力装置が飽和されたと判断する段階と、
前記制御部で前記レーザー出力装置が飽和されたと判断する場合、前記あらかじめ設定された基準値に該当する制御信号を、一定の範囲の最低制御信号として用いる段階と、
前記最低制御信号を用いて、前記レーザー出力装置の特性算出を繰返す段階と、
をさらに備えることを特徴とする請求項２３に記載の方法。
【請求項２５】
前記デジタル信号が、前記レーザー出力装置が飽和状態でないことを表す場合に、前記レーザー出力の特性を算出する段階をさらに備えることを特徴とする請求項２４に記載の方法。
【請求項２６】
前記一定の範囲の制御信号は、前記光ディスクの消去パワーレベルに該当する制御信号であることを特徴とする請求項２５に記載の方法。
【請求項２７】
前記一定の範囲の制御信号を前記レーザー出力装置に印加することによって、前記レーザー出力を順次に増加させる段階をさらに備えることを特徴とする請求項２５に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置の出力制御方法に係り、より詳細には、ＬＤ（Laser Diode）の出力特性を把握するpower studyにおいて、高温におけるＬＤ出力の飽和(saturation)によって生じうる、power study結果における誤りを防止できる光ディスク装置及びその光出力学習方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、光ディスク装置とは、挿入された光ディスクにレーザーを照射してデータを記録したり、反射される光量の差を用いて光ディスクに記録されたデータを再生する装置のことをいう。このような光ディスク装置には、光ディスクにレーザーを照射するために、光出力制御信号に対応する出力のレーザーを出射するＬＤ（Laser Diode）が設けられている。
【０００３】
光ディスクに情報を記録するには、光ディスクの記録層に塗布された相変化物質の相変化のために光ディスクの記録層を一定温度以上に加熱しなければならなく、正確な記録のためには、その温度に該当するレーザー出力を一定に維持する必要がある。このようなレーザー出力は、光ディスクの種類及び記録当時の周辺環境によって様々に変わるので、光ディスクの記録時ごとに最適の記録パワーを探す作業が行われる。
【０００４】
最適の記録パワーを探すためには、レーザー出力の調節が必要となり、レーザーの出力を調節するためには、ＬＤに伝達される光出力制御信号と出射されるレーザーの出力との関係、すなわち、ＬＤの出力特性を把握しなければならない。したがって、最適の光出力を探すための作業に先立ってＬＤの出力特性を算出する作業を行わねばならない。このような作業を通常、‘power study’という。
【０００５】
ＬＤは、温度が高まるほど光出力が小さくなり、温度が低いほど光出力が大きくなる特性がある。power studyでは、一定の範囲の制御信号をＬＤに印加し、出射されるレーザーの出力を検出することによってＬＤの特性を把握する。ところで、高温でＬＤの出力が低下すると、ＬＤに印加される制御信号に対応して出射されるレーザーの出力に変化がない部分、すなわち、出力の飽和（saturation）が発生し、power study結果が不正確になるという問題点がある。
【０００６】
また、このような不正確さは、低い出力の制御信号でpower studyが行われる場合に一層大きくなるという問題点があった。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は上記の問題点を解決するためのもので、その目的は、高温におけるＬＤ出力の飽和によって生じうる、power study結果における不正確性を防止し、かつ、低い出力においても正確なpower studyができる光ディスク装置及びその光出力学習方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するための本発明に係る光ディスク装置は、光出力制御信号に応じてレーザーを出射するレーザー出力装置と、前記出射されたレーザーの一部を検出し、出射されたレーザーに対応する信号を出力するセンサーと、前記レーザー出力装置に一定の範囲の前記光出力制御信号を印加し、該制御信号に対応する前記センサーの出力信号を用いて、前記制御信号に対応して出射される前記レーザー出力の特性を、前記レーザー出力装置の飽和したか否かを考慮して算出する制御部と、を備える構成とする。
【０００９】
前記センサーの出力信号を、あらかじめ設定された分解能に対応するデジタル信号に変換する第１変換部をさらに備え、前記制御部は、前記レーザー出力装置の出力が飽和されたか否かを、前記デジタル信号とあらかじめ設定された基準値とを比較して判断し、前記出力が飽和されたことを表す制御信号に対応するデジタル信号は、前記レーザー出力の特性算出において排除することを特徴とする。
【００１０】
また、前記制御部は、前記デジタル信号が前記基準値以上である場合、前記レーザー出力装置が飽和されたと判断し、前記レーザー出力装置が飽和された場合、前記基準値に対応する制御信号を前記一定の範囲の最低制御信号として再び前記レーザー出力装置に印加し、前記デジタル信号を用いて前記レーザー出力の特性を算出することを特徴とする。
【００１１】
前記レーザー出力の特性算出は、前記デジタル信号のデータが充分でない場合、すなわち、前記デジタル信号が、前記レーザー出力装置が飽和状態でないことを表す場合に行われることを特徴とする。
【００１２】
前記一定の範囲の光出力制御信号は、前記光ディスクの消去パワーレベルに該当する前記レーザー出力の制御信号であることを特徴とする。
【００１３】
前記制御部は、前記一定の範囲の光出力制御信号を、前記レーザー出力が順次に増加するように前記レーザー出力装置に印加することを特徴とする。
【００１４】
上記目的を達成するための本発明に係る光ディスク装置の光出力学習方法は、光ディスク装置に備えられたレーザー出力装置の出力特性を算出するための光出力学習方法において、一定の範囲の制御信号を前記レーザー出力装置に印加し、前記制御信号に対応するレーザーを出射させる段階と、前記出射されたレーザーの出力を検出し、前記検出されたレーザー出力を一定の分解能のデジタル信号に変換する段階と、前記変換されたデジタル信号を用いて、前記レーザーダイオードが飽和されたか否かを判断する段階と、
前記レーザーダイオードが飽和されたか否かに対する判断に基づいて、前記出射された前記レーザー出力の特性を算出する段階とを備える構成とした。
【００１５】
前記一定の範囲の制御信号を、前記レーザーの出力が順次に増加するように前記レーザー出力装置に印加する段階をさらに備えることを特徴とする。
【００１６】
前記一定の範囲の制御信号は、光ディスクの消去パワーレベルに該当する前記レーザー出力の制御信号であることを特徴とする。
【００１７】
前記レーザー出力の特性を算出する段階は、前記デジタル信号とあらかじめ設定された基準値と比較して、前記レーザー出力装置が飽和されたか否かを判断する段階をさらに備え、前記デジタル信号が前記基準値以上である場合、前記レーザー出力装置が飽和されたと判断することを特徴とする。
【００１８】
前記レーザー出力の特性を算出する段階は、前記デジタル信号が、前記レーザー出力装置が飽和されたことを表す制御信号に該当するとき、該デジタル信号を排除する段階をさらに備えることを特徴とする。
【００１９】
前記レーザー出力の特性を算出する段階は、前記レーザー出力装置が飽和された場合、前記基準値に対応する制御信号を前記一定の範囲の最低制御信号として再び前記レーザー出力装置に印加する段階と、前記レーザー出力に対応する前記デジタル信号を用いて前記レーザー出力の特性を算出する段階とをさらに備える。
【００２０】
前記レーザー出力の特性を算出する段階は、前記デジタル信号が、前記レーザー出力装置が飽和されていないことを表す場合で、前記制御信号に対応するデジタル信号のデータが充分でない時に行われることを特徴とする。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、高温におけるレーザー出力の飽和によってpower studyに誤りが生じるのを防止することが可能になる。
【００２２】
また、本発明の光ディスク装置は、温度の変化によらず、power study結果を正確に得ることができる。
【００２３】
また、本発明の光ディスク装置は、低い出力でも正確なpower studyを行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
以下、本発明の好適な実施形態について、添付の図面を参照しつつ詳細に説明する。
図１は、本発明の一実施形態による光ディスク装置を示す概略ブロック図である。本発明の一実施形態による光ディスク装置は、対物レンズ２８、ビームスプリッタ２６、ＬＤ（Laser Diode）２４、ＦＰＤ（Front Photo Diode）２２が備えられた光ピックアップ部２０と、サンプル＆ホールド部３０と、ＡＤＣ（Analog/Digital Converter）３２と、ＤＡＣ（Digital/Analog Converter）３６と、制御部３４と、格納部３５とを備えて構成される。
【００２５】
光ピックアップ部２０は、光ディスク１０にレーザーを照射してデータを再生／記録する。このために、光ピックアップ部２０は、光出力制御信号に対応するレーザーを出射する本発明のレーザー出力装置の一例であるＬＤ２４と、ＬＤ２４から出射されるレーザーを、光ディスク１０の表面にフォーカシングする対物レンズ２８と、ＬＤ２４からのレーザーの一部を分離するビームスプリッタ２６と、ビームスプリッタ２６から分離されるレーザーの一部を検出して、レーザーの出力に対応する信号を出力する本発明のセンサーの一例であるＦＰＤ２２とを備える。
【００２６】
ビームスプリッタ２６は、ＬＤ２４から出射されるレーザーを、光ディスク１０に照射される１方向と、レーザーの出力を検出するためにＦＰＤに入射する２方向とに分離する。
【００２７】
光ピックアップ部２０のＦＰＤ２２から出力される電流信号は、電圧信号に変換されてサンプル＆ホールド部３０に伝達され、サンプル＆ホールド部３０は、ＦＰＤ２２の出力信号をサンプリング（sampling）及びホールディング（holding）して、記録パワーレベル、消去パワーレベル、バイアスパワーレベルに分離して抽出する。
【００２８】
ＡＤＣ（第１変換部）３２は、サンプル＆ホールド部３０から出力される各パワーレベルのうち、消去パワーレベルをデジタル信号に変換する。例えば、一定の電圧範囲を所定の分解能によって複数のデジタルステップに分解し、該電圧範囲における電圧をそれぞれ、それに該当するデジタルステップに変換する。例えば、０〜３．３Ｖを１０ｂｉｔの分解能で分解する場合、２．５Ｖは、７７５のデジタルステップに変換される。このように変換されたＡＤＣ３２のデジタルステップ（ＡＤＣデジタルステップともいう。）は制御部３４に伝達され、これに基づいて制御部３４は、ＬＤ２４から出射されるレーザーの出力が判断できる。ＡＤＣデジタルステップは様々な方法で表現されて、ＬＤ２４の出力を把握できるようにするが、なかでもＥＬＶＬは、基準電圧のＡＤＣデジタルステップと現在出力のＡＤＣデジタルステップとの差を表す。例えば、基準電圧を２．５Ｖとし、現在出力が０Ｖであれば、ＥＬＶＬは７７５デジタルステップとなる。
【００２９】
格納部３５は、光ディスク装置の動作を制御する制御プログラムがあらかじめ格納されるＲＯＭ（Read Only Memory）と、光ディスク装置の動作中に発生する様々なデータを格納するＲＡＭ（Random Access Memory）とを含む。
【００３０】
ＤＡＣ３６は、制御部３４から出力される光出力制御信号をアナログ信号に変換してＬＤ２４に出力する。ＬＤ２４から出射されるレーザーの出力が、温度によって変わることは前述した通りであり、制御部３４から出力される光出力制御信号によってＤＡＣ３６で変換されるアナログ信号とそれに応じてＬＤ２４から出射されるレーザーの出力は、各光ディスク装置ごとに少しずつ異なってくる。したがって、光ディスク装置の個別的な特性と温度によって変わるＬＤ２４の特性上、制御部３４の光出力制御信号に対応するレーザーの出力特性を探すためのpower study作業が必要となるわけである。レーザーダイオードの出力特性は、レーザーダイオードへの制御信号とそれに該当するレーザー出力間の関係式で表現するが、このような関係式は、制御信号とそれに対応して出射されるレーザー出力の変換されたデジタル信号であるＡＤＣデジタルステップを用いて算出できる。
【００３１】
制御部３４は、格納部３５に格納された制御プログラムによって光ディスク装置の全般的な動作を制御する。例えば、光ディスク装置に記録可能光ディスクが挿入され、記録命令が入力されると、ＬＤ２４の出力特性を把握するためのpower studyを行い、また、最適の記録パワーを検出するためのＯＰＣ（Optimum Power Calibration）を行うように光ディスク装置を制御する。
【００３２】
図２Ａは、図１のＬＤから出力されるレーザーの出力に対するＡＤＣレベルを示すグラフで、具体的には、ＬＤ２４から出射されるレーザーの出力に対応するＥＬＶＬ値を示している。図２Ｂは、ＤＡＣ値に対する図１のレーザーの出力を示すグラフで、具体的には、制御部３４の光出力制御信号によってＤＡＣ３６からＬＤ２４に出力される信号に対応して、ＬＤ２４から出射されるレーザー出力の関係を示している。図３は、温度によって変わるＤＡＣ値に対するＡＤＣレベルを示すグラフである。
【００３３】
power studyの動作について説明すると次のようである。一般に、メーカーは、あらかじめ設定された、ＡＤＣレベル（ＥＬＶＬ）とレーザー出力間の固定された関係式によって光ディスク装置を製造する。この場合、ＡＤＣレベル（ＥＬＶＬ）とＬＤ２４のレーザー出力間の関係式は、格納部３５に格納される。図２Ａに示すように、レーザー出力のＡＤＣデジタルステップが増加するにつれて、レーザー出力と基準電圧のＡＤＣレベル間の違い（ＥＬＶＬ）が減少する。したがって、ＡＤＣレベル（ＥＬＶＬ）は、レーザーの出力に反比例する直線となる。一方、power studyに対する関係式は、図２Ｂのグラフとなる。
【００３４】
従って、power studyでは、一定の範囲の光出力制御信号として検出される図３のＥＬＶＬ値がＬＤ２４に印加される。すなわち、図２Ｂに示すpower studyの結果は、図３のグラフから得られるデータを図２Ａの関係式に代入することで導き出される。また、正確な光出力制御信号とレーザー出力間の関係式を導き出すためには一定量以上のデータが要求される。
【００３５】
ここで、一定の範囲の光出力制御信号は、消去パワーレベルのレーザー出力に対応する制御信号が適当である。これは、power studyはＬＤ２４の出力特性を把握するためのものであって、光ディスクに影響を与えてはいけず、小さすぎるパワーレベルを用いるとＬＤ２４の出力特性を正確に把握し難いためである。また、power studyは、光ピックアップ部２０を光ディスク１０からできるだけ遠く隔てて行うことが好ましい。
【００３６】
図３を参照すると、ＬＤ２４の出力は、温度が増加するほど小さくなるので、光出力制御信号が増加するにもかかわらずに、出射されるレーザーの出力に変化がほとんどない区間が発生する。すなわち、レーザーダイオードが劣化することからレーザー出力が飽和（saturation）される。したがって、ＥＬＶＬが一定の光出力制御信号の範囲でほとんど変化しない区間が発生する。このような場合のデータを用いて光出力制御信号とレーザー出力間の関係式を算出するとその結果に誤りが生じ、以降のＯＰＣなどの動作を適切に行うことができない。したがって、このように飽和された区間の光出力制御信号によるＥＬＶＬのデータを排除して関係式を算出することが、正確な結果算出のために好ましい。
【００３７】
ただし、power studyの結果である関係式を算出するには一定量以上のデータが要求されるので、飽和された部分のデータを排除した残りのデータだけでは関係式を算出できない場合には、基準値に対応する光出力制御信号を最低点として充分のデータが得られるようなレベルの範囲まで再び順次に制御信号を可変しながらＥＬＶＬを測定する。こうして得られたデータは、飽和された部分を除外した領域で行われたデータであるので、算出された関係式は、現在レーザーダイオードの出力特性を正確に反映する。
【００３８】
図４Ａには、常温でpower studyが行われる際に出力される出力波形図を示し、より具体的には、正常のpower studyにおける制御信号の可変によるＦＰＤの出力波形を示している。常温の他に、レーザーダイオードの劣化による出力の飽和がない場合にはいずれも図４Ａのようにpower studyが行われる。図４Ｂは、高温でpower studyが行われる際に出力される出力波形図である。図４Ｂを参照すると、点線で表される基準値（Max ADC level）上に、ＦＰＤ出力信号の部分によって現れる飽和部分が存在する。この場合、飽和部分のデータを排除したデータだけで関係式を算出するには不充分であるため、基準値（Mac ADC level）に該当する光出力制御信号を最低点として再び制御信号を可変しながらＦＰＤの出力を検出するようになる。
【００３９】
図５は、本発明の一実施形態による光ディスク装置の光出力学習方法を説明するフローチャートである。記録可能光ディスクが挿入され、記録命令が入力されると、ＬＤ２４の出力特性、すなわち、光出力制御信号とレーザー出力との関係式を算出するためのpower studyをＯＰＣ（optimum power calibration）に先立って行う（ステップＳ５１０）。
【００４０】
制御部３４は、基準範囲で光出力制御信号をＤＡＣ３６に出力し、それに該当するＡＤＣレベルを測定して格納部３５に格納する。ＤＡＣ値は、ＤＡＣ３６から出力される光出力制御信号を数値化した値で、通常、１６進数で表現される（ステップＳ５２０）。
【００４１】
レーザー出力が飽和された部分におけるデータを排除するために、ＡＤＣデジタルステップが基準値（例えば、基準電圧が２．５Ｖであれば、ＡＤＣデジタルステップは７７５である。）以上になるＡＤＣレベルが、該ＡＤＣレベルに該当するデータとともに格納部３５から削除する（ステップＳ５３０）。
【００４２】
その後、残っているデータだけで、ＤＡＣ値（光出力制御信号）とＬＤの出力（レーザー出力）間の関係式を充分に導き出せるか否かを判断する（ステップＳ５４０）。これは、上記ステップＳ５１０において光出力制御信号とレーザー出力間の関係式を算出する際に、一定量以上のデータが要求されるためである。
【００４３】
ステップＳ５４０において残っているデータだけで充分に関係式の算出かできると判断されると、格納されたデータを用いて関係式を算出する（ステップＳ５６０）。
【００４４】
一方、ステップＳ５４０において残っているデータだけでは充分に関係式の算出ができないと判断されると、基準値に対応するＤＡＣ値を最低値とし、一定の基準範囲でＤＡＣ値を可変しながら再びＡＤＣレベルを測定して格納部３５に格納し（ステップＳ５５０）、格納されたデータを用いて関係式を算出する（ステップＳ５６０）。
【００４５】
最後に、算出された関係式に基づいてＯＰＣを行う（ステップＳ５７０）。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】本発明の一実施形態による光ディスク装置を示す概略ブロック図である。
【図２Ａ】図１のＬＤから出力されるレーザ出力に対するＡＤＣレベルを示すグラフである。
【図２Ｂ】ＤＡＣ値に対するレーザーの出力を示すグラフである。
【図３】温度によって変わるＤＡＣ値に対するＡＤＣレベルを示すグラフである。
【図４Ａ】常温におけるpower studyにおいて現れる出力波形を示す図である。
【図４Ｂ】高温におけるpower studyにおいて現れる出力波形を示す図である。
【図５】本発明の一実施形態による光ディスク装置の光出力学習方法を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
【００４７】
２０    光ピックアップ部
２４    ＬＤ（Laser Diode）
２２    ＦＰＤ（Front Photo Diode）
３２    ＡＤＣ（Analog/Digital Converter）
３４    制御部
３５    格納部
３６    ＤＡＣ（Digital/Analog Converter）
【図１】
2007226947.tif 000003
【図２Ａ】
2007226947.tif 000004
【図２Ｂ】
2007226947.tif 000005
【図３】
2007226947.tif 000006
【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
2007226947.tif 000008
【図５】
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