【事件の表示】
　特願２０００−３０５９１１「拡大視認装置」拒絶査定に対する審判事件［平成１３年　６月２２日出願公開、特開２００１−１６５８６０］について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯、本願発明
　本願は、平成元年１２月１５日に出願した特願平１−３２６９７７号の一部を平成１２年１０月５日に新たな特許出願としたものであって、その請求項１〜３に係る発明は、補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１〜３に記載されたとおりのものと認められ、そのうち請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という。）は次のとおりである。
　【請求項１】
　外観検査装置により、不良と判定されたプリント基板上の部品搭載状態を目視により診断する拡大視認装置であって、
　不良と判定されたプリント基板の基板番号を入力することにより、前記外観検査装置からの検査結果情報より得られる前記基板番号に対応する不良箇所の位置座標情報に基づいて、不良と判定された箇所の位置の算出を行う制御手段と、
　前記不良と判定された箇所を拡大表示する拡大表示手段と、
　前記プリント基板を搭載し、前記制御手段の出力により、不良と判定された箇所を前記拡大表示手段の視野の中央にくるように駆動する移動手段とを備えたことを特徴とする拡大視認装置。
２．引用刊行物
　原査定の拒絶の理由に引用された特開昭６２−１７３７３１号公報（以下、「引用例」という。）には、被検査物の表面検査装置について記載されており、特に、以下のような記載がある。
　記載１
　「〔発明の技術分野〕
　本発明はたとえばパターニングされた半導体ウエファの表面状態を検査するのに適した被検査物の表面検査装置に関する。」
（第２頁、左上欄５−８行）
　記載２
　「〔発明の実施例〕
　以下、本発明を第１図および第２図に示す一実施例にもとづいて説明する。第１図は上半分がウエファの表面全体を検査するためのマクロ検査部（Ａ）と、下半分が顕微鏡によりウエファ表面の特定点を詳細に検査するためのミクロ検査部（Ｂ）とに大別される自動表面検査装置を示したものである。上記マクロ検査部（Ａ）において、検査の対象であるウエファ（１）は支持台（２）上に載置されており、光源（３）により照明光が上記ウエファ（１）をほぼ水平方向に照射している。そして、ウエファ（１）面側には工業用テレビカメラ（４）（以下、ＩＴＶカメラという）が設置されていて、ウエファ（１）面からの反射光によりウエファ（１）面を撮像し、その画像が画像処理部（５）に送られる。画像処理部（５）ではあらかじめ設定された手法によりＩＴＶカメラ（４）から入力した画像の処理、解析を行ない、不良の有無および不良箇所が制御部（６）へ送られるようになっている。ここで、不良箇所の指定は第２図に示すようにウエファ（１）の表面をメッシュ状に分割し、どの分割座標に不良があるか、または疑わしい問題があるかを制御部（６）へ伝達する。
　一方、ミクロ検査部（Ｂ）を説明すると、上記マクロ検査部（Ａ）において全面検査を終了したウエファ（１）は図示しない搬送手段によりミクロ検査部（Ｂ）に設けられている支持台（７）上に搬送して載置される。上記支持台（７）には移動手段（８）が結合されており、互いに直交するＸ−Ｙ方向へ移動し得るように構成されている。すなわち、（９）は上記支持台（７）の移動手段（８）を制御するコントローラで、このコントローラ（９）は上記制御部（６）にあらかじめ記憶されている座標値を読み出し、その特定点に上記ウエファ（１）が位置決めされるよう移動手段（８）を駆動することにより、上記支持台（７）の移動が制御されるようになっている。特定点に位置決めされたウエファ（１）の上方には図示しない光源を備えた顕微鏡（１０）およびこの顕微鏡（１０）の上部に取付けられて撮像するＩＴＶカメラ（１１）が設けられていて、上記ＩＴＶカメラ（１１）は顕微鏡（１０）を介してウエファ（１）上の特定点におけるミクロ画像を撮像し、その画像が画像処理部（１２）に送られる。画像処理部（１２）ではあらかじめ設定された手法によりＩＴＶカメラ（１１）から入力した画像の処理、解析を行なった後、不良の有無が制御部（６）へ送られるようになっている。」
（第２頁、左下欄７行−第３頁、左上欄１１行）
３．比較判断
　引用例には、マクロ検査部により、不良と判定されたウエファの表面状態を自動検査する表面検査装置であって、マクロ検査部からの検査結果情報より得られる不良箇所の位置座標情報に基づいて、不良と判定された箇所の位置の算出を行う制御部と、前記不良と判定された箇所を拡大表示する顕微鏡と、前記ウエファを搭載し、前記制御部の出力により、不良と判定された箇所を前記顕微鏡の視野の中央にくるように駆動する移動手段とを備えた被検査物の表面検査装置に関する発明（以下、「引用発明」という。）が記載されている。
　本願発明と引用発明とを比較すると、引用例のマクロ検査部は、本願明細書の外観検査装置に相当し、引用発明の顕微鏡、制御部は、それぞれ、本願発明の拡大表示手段、制御手段に相当するから、両者は、
　外観検査装置により、不良と判定された被検査物の状態を検査する検査装置であって、
　前記外観検査装置からの検査結果情報より得られる不良箇所の位置座標情報に基づいて、不良と判定された箇所の位置の算出を行う制御手段と、
　前記不良と判定された箇所を拡大表示する拡大表示手段と、
　前記被検査物を搭載し、前記制御手段の出力により、不良と判定された箇所を前記拡大表示手段の視野の中央にくるように駆動する移動手段とを備えたことを特徴とする検査装置、である点で一致し、次の点で相違する。
　相違点１．
　検査装置が、本願発明は、外観検査装置により、不良と判定されたプリント基板上の部品搭載状態を目視により診断する拡大視認装置、であるのに対し、引用発明は、そのようなものではない点
　相違点２．
　制御手段が、本願発明は、不良と判定されたプリント基板の基板番号を入力することにより、前記外観検査装置からの検査結果情報より得られる前記基板番号に対応する不良箇所の位置座標情報に基づいて、不良と判定された箇所の位置の算出を行う、ものであるのに対し、引用発明は、そのようなものではない点
　相違点３．
　拡大表示手段が、本願発明は、前記不良と判定された箇所、すなわち、プリント基板上の不良箇所、を拡大表示するものであるのに対し、引用発明は、ウエファの不良箇所を拡大表示するものである点、
　相違点４．
　移動手段が、前記プリント基板を搭載し、前記制御手段の出力により、不良と判定された箇所を前記拡大表示手段の視野の中央にくるように駆動する、ものであるのに対し、引用発明は、そのようなものではない点
　相違点について検討する。
　相違点１．について、
　引用発明の被検査物は、ウエファであるが、上記記載１からも明らかなように、これに限定されるものでなく、ウエファ以外の被検査物にも適用しうることは当業者が直ちに理解できることである。本願発明は、被検査物をプリント基板とするものであるが、引用発明の構成をプリント基板の検査に適用することが困難である、とする特段の事情も見いだせないし、被検査物の相違により作用効果において格別の相違があるともいえない。しかも、プリント基板上の部品搭載状態を検査装置を用いて検査することは周知であり（原査定の拒絶の理由に引用された特開６３−４７００号公報、特開平１−２３６３８０号公報参照）、さらに、ウエファの検査装置とプリント基板の検査装置とは、しばしば共通の構成を有することも周知である（原査定の備考で引用された特開昭６２−２４５４８４号公報、特開昭６１−２４５００７号公報（第４頁、右上欄１３−１８行）参照）。したがって、引用発明をプリント基板上の部品搭載状態を検査するために用いることは当業者にとって何ら困難なことではない。
　また、引用発明は被検査物であるウエファの画像を処理、解析し自動的に判定することを基本とするものであるが、検査が自動的になされるものか目視によるものかの相違は、本質的なものではなく、しかも、被検査物をウエファとする検査装置において、目視によるものも周知であり（原査定の拒絶の理由に引用された特開昭５９−１０２３１号公報参照）、引用例にも他の実施例として、表示装置（１３）に表示させ検査員の目視による検査もできることが記載されている（第３頁、左下欄末行−右下欄１０行参照）。さらに、プリント基板上の部品搭載状態を検査する装置においても、自動検査によるもの、目視検査によるもの、いずれも周知であり、（原査定の拒絶の理由に引用された特開平１−２３６３８０号公報（自動検査）、特開昭６３−４７００号公報（目視検査）参照）、その選択は当業者が適宜なしうることである。
　したがって、引用発明において、相違点１に係る構成のようにすることが当業者にとって格別困難なこととはいえない。
　相違点２．について、
　引用発明の制御手段は、外観検査装置からの検査結果情報より得られる被検査物の不良箇所の位置座標情報に基づいて、不良と判定された箇所の位置の算出を行う、ものであるが、被検査物は、ウエファであって、プリント基板ではなく、また、不良と判定されたプリント基板の基板番号を入力することにより、不良と判定された箇所の位置の算出を行うものではない。
　しかしながら、検査一般において、多数の被検査物を識別するため被検査物に付与された番号を利用することは周知慣用技術であり、引用発明においても、必要があればそのような周知慣用技術を採用することは当業者が適宜なしうることである。また、相違点１．について、検討したように、引用発明をプリント基板上の部品搭載状態を検査するために用いることは当業者にとって何ら困難なことではない。したがって、引用発明において、相違点２．に係る構成のようにすることは、当業者にとって格別困難なこととはいえない。
　相違点３．について、
　相違点１．について、検討したように、引用発明をプリント基板上の部品搭載状態を検査するために用いることは当業者にとって何ら困難なことではなく、その場合、相違点３．に係る構成のようにすることは当然なされる設計上の変更である。
　相違点４．について、
　相違点１．について、検討したように、引用発明をプリント基板上の部品搭載状態を検査するために用いることは当業者にとって何ら困難なことではなく、また、相違点２．について、検討したように、引用発明に前記検査一般における周知慣用技術を採用することは、当業者が適宜なしうることであって、その場合、相違点４．に係る構成のようにすることは当然なされる設計上の変更である。
４．結び
　以上のとおりであるから、本願の請求項１に係る発明は、引用例に記載された発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないものである。
　したがって、請求項２、３に係る発明について判断を示すまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。