【事件の表示】
　特願２０１０−　７６３７９「走査型プローブ顕微鏡及びその走査方法」拒絶査定不服審判事件〔平成２３年１０月２０日出願公開、特開２０１１−２０９０７６〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は、平成２２年３月２９日に出願した特願２０１０−７６３７９号であって、平成２５年１２月２日付けで拒絶理由が通知され、これに対して平成２６年２月６日に意見書が提出されるとともに同日付けで手続補正がなされたが、同年４月２２日付けで拒絶査定がされ、これに対し、同年８月６日に拒絶査定不服審判が請求され、同時に手続補正がなされたものである。
第２　平成２６年８月６日付けの手続補正についての補正却下の決定
［補正却下の決定の結論］
　平成２６年８月６日付けの手続補正（以下「本件補正」という。）を却下する。
［理由］
１　本件補正について
（１）　本件補正は、補正前の特許請求の範囲、すなわち平成２６年２月６日付けの手続補正により補正された特許請求の範囲、の記載を、以下のとおり、補正後の特許請求の範囲のものに補正する事項を含むものである（下線は補正箇所を示す）。
（補正前）
「【請求項１】
　先端に探針を有するカンチレバーと、
　前記カンチレバーを固定するためのカンチレバーホルダと、
　サンプルを固定するためのサンプルホルダと、
　前記サンプル表面の任意の２次元面内で前記探針を相対的に移動させる水平方向微動機構と、
　前記２次元面に垂直な方向に前記探針と前記サンプルを相対的に移動させる垂直方向微動機構と、
　前記カンチレバーの撓み量を検出するための変位検出機構を有する走査型プローブ顕微鏡において、
　前記カンチレバーが前記変位検出機構として自己変位検出型の機構を備え、前記カンチレバーの長軸に直交し探針先端を通る軸が、前記２次元平面に直交する任意の平面内となるように前記カンチレバーを配置し、
　前記サンプルホルダ上に載置される任意形状のサンプル表面の被測定面が、前記水平方向微動機構の移動面と略平行になるように前記サンプルと前記カンチレバーの相対位置を規定する任意の軸まわりの角度調整機構を含む位置決め機構を設けたことを特徴とする走査型プローブ顕微鏡。
　　【請求項２】
　前記角度調整機構のうちの少なくとも１つが、前記カンチレバーの長軸に直交し前記水平方向微動機構の移動面に平行な軸まわりに前記カンチレバーの取り付け角度を調整可能にしたカンチレバー取付角度調整機構であることを特徴とする請求項１に記載の走査型プローブ顕微鏡。
　　【請求項３】
　前記角度調整機構が、前記水平方向微動機構の移動面上に前記サンプルの任意の方向の回転または傾斜を調整可能なサンプル角度調整機構を設け、該サンプル角度調整機構上に前記サンプルホルダを設けた請求項１又は２に記載の走査型プローブ顕微鏡。
　　【請求項４】
　前記角度調整機構が、前記カンチレバーの任意の方向の回転または傾斜を調整可能なカンチレバー角度調整機構を設け、該カンチレバー角度調整機構に前記水平方向微動機構を取り付け、前記水平方向微動機構に前記カンチレバーホルダを取り付けたことを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の走査型プローブ顕微鏡。
　　【請求項５】
　前記水平方向微動機構の最大移動量よりも大きな移動量を有して任意の２次元平面内で移動する水平方向粗動機構と、
　前記垂直方向微動機構の最大移動量よりも大きな移動量を有して水平方向粗動機構の移動面に直交する方向に移動する垂直方向粗動機構と、を備え、前記カンチレバーと前記サンプルを相対的に移動可能にした請求項１乃至４のいずれかに記載の走査型プローブ顕微鏡。
　　【請求項６】
　前記角度調整機構または前記水平方向粗動機構または前記垂直方向粗動機構に位置検出機構を設け、前記角度調整機構または前記水平方向粗動機構または前記垂直方向粗動機構のうち１つ以上の機構を移動させて、前記水平方向微動機構と前記垂直方向微動機構を動作させて複数個所の表面形状データまたは表面物性データを取得し、前記位置検出機構の情報から、前記表面形状測定データまたは表面物性データを合成して、前記水平方向微動機構または垂直方向微動機構の移動範囲よりも広範囲の前記サンプルの３次元形状データを取得する請求項１乃至５のいずれかに記載の走査型プローブ顕微鏡。
　　【請求項７】
　自己変位検出機構が備わるカンチレバーの先端に有した探針を、該探針の先端に対向配置したサンプルの任意の２次元面内を水平微動機構により及び該２次元面に直行する面内を垂直微動機構によって前記探針と前記サンプルとを相対的に移動させることで前記試料の表面を前記探針で走査する走査型プローブ顕微鏡の走査方法において、
　前記カンチレバーの長軸に直交し前記探針先端を通る軸が、前記２次元平面に直交する任意の平面内となるように前記カンチレバーを配置し、
　前記サンプルの任意の形状表面の被測定面が、前記水平方向微動機構の移動面と略平行になるように前記サンプルと前記カンチレバーの相対位置を角度調整することを特徴とする走査型プローブ顕微鏡の走査方法。」
（補正後）
「【請求項１】
　先端に探針を有するカンチレバーと、
　前記カンチレバーを固定するためのカンチレバーホルダと、
　サンプルを固定するためのサンプルホルダと、
　前記サンプル表面の任意の２次元面内で前記探針を相対的に移動させる水平方向微動機構と、
　前記２次元面に垂直な方向に前記探針と前記サンプルを相対的に移動させる垂直方向微動機構と、
　前記カンチレバーの撓み量を検出するための変位検出機構を有する走査型プローブ顕微鏡において、
　前記カンチレバーが前記変位検出機構として自己変位検出型の機構を備え、前記カンチレバーの長軸に直交し探針先端を通る軸が、前記２次元平面に直交する任意の平面内となるように前記カンチレバーを配置し、
　前記サンプルホルダ上に載置される任意形状のサンプル表面の被測定面が、前記水平方向微動機構の移動面と略平行になるように前記サンプルと前記カンチレバーの相対位置を規定する任意の軸まわりの角度調整機構を含む位置決め機構を設け、
　
前記角度調整機構のうちの少なくとも１つが、前記カンチレバーホルダに設けられた前記カンチレバーの長軸に直交し前記水平方向微動機構の移動面に平行な軸まわりに前記カンチレバーの取り付け角度を調整可能にしたカンチレバー取付角度調整機構である
　　【請求項２】
　前記角度調整機構が、前記水平方向微動機構の移動面上に前記サンプルの任意の方向の回転または傾斜を調整可能なサンプル角度調整機構を設け、該サンプル角度調整機構上に前記サンプルホルダを設けた請求項
１
　　【請求項３】
　前記角度調整機構が、前記カンチレバーの任意の方向の回転または傾斜を調整可能なカンチレバー角度調整機構を設け、該カンチレバー角度調整機構に前記水平方向微動機構を取り付け、前記水平方向微動機構に前記カンチレバーホルダを取り付けたことを特徴とする請求項１
又は２
　　【請求項４】
　前記水平方向微動機構の最大移動量よりも大きな移動量を有して任意の２次元平面内で移動する水平方向粗動機構と、
　前記垂直方向微動機構の最大移動量よりも大きな移動量を有して水平方向粗動機構の移動面に直交する方向に移動する垂直方向粗動機構と、を備え、前記カンチレバーと前記サンプルを相対的に移動可能にした請求項１乃至
３
　　【請求項５】
　前記角度調整機構または前記水平方向粗動機構または前記垂直方向粗動機構に位置検出機構を設け、前記角度調整機構または前記水平方向粗動機構または前記垂直方向粗動機構のうち１つ以上の機構を移動させて、前記水平方向微動機構と前記垂直方向微動機構を動作させて複数個所の表面形状データまたは表面物性データを取得し、前記位置検出機構の情報から、前記表面形状測定データまたは表面物性データを合成して、前記水平方向微動機構または垂直方向微動機構の移動範囲よりも広範囲の前記サンプルの３次元形状データを取得する請求項１乃至
４
　　【請求項６】
　
位置
　前記カンチレバーの長軸に直交し前記探針先端を通る軸が、前記２次元平面に直交する任意の平面内となるように前記カンチレバーを配置し、
　前記サンプルの任意の形状表面の被測定面が、前記水平方向微動機構の移動面と略平行になるように前記サンプルと前記カンチレバーの相対位置を角度調整する
場合において、少なくとも当該カンチレバーを固定するためのカンチレバーホルダに設けられた前記カンチレバーの長軸に直交し前記水平方向微動機構の移動面に平行な軸まわりに前記カンチレバーの取り付け角度を調整する
（２）　具体的には、本件補正は、補正前の特許請求の範囲を以下のアないしエのとおり補正して、補正後の特許請求の範囲とするものを含む。
ア　補正前の特許請求の範囲の請求項２に係る発明の「前記カンチレバー」を「前記カンチレバーホルダに設けられた前記カンチレバー」とする補正（以下「補正事項１」という）。
イ　補正前の特許請求の範囲の請求項７に係る発明の「自己変位検出機構」を「位置検出機構」とする補正（以下「補正事項２」という）。
ウ　補正前の特許請求の範囲の請求項７に係る発明の「角度調整すること」を、「角度調整する場合において、少なくとも当該カンチレバーを固定するためのカンチレバーホルダに設けられた前記カンチレバーの長軸に直交し前記水平方向微動機構の移動面に平行な軸まわりに前記カンチレバーの取り付け角度を調整すること」とする補正（以下「補正事項３」という）。
エ　補正前の特許請求の範囲における、請求項１、及び請求項３ないし６のうち当該請求項１を直接引用するもの、を削除して、削除後の請求項２ないし７に係る発明を、補正後の特許請求の範囲の請求項１ないし６に繰り上げる補正（以下「補正事項４」という。）
（３）　上記補正事項２について検討する。
　「自己変位」とは自己の「位置」の変化を示す用語であるから、「位置検出機構」とは、その下位概念にあると言える「自己変位検出機構」を限定したものでなく、当該補正事項２は発明の限定的減縮を目的としていない。また、誤記の訂正、不明瞭な記載の釈明、及び請求項の削除を目的としないことが明らかである。
　そこで当該補正事項１の目的について検討するに、本願の審判請求書では、本件補正の内容について以下のとおり説明されている。
「今般の請求項１に対する補正は、補正前の請求項１の内容に補正前の請求項２の内容を追加するとともに、「前記カンチレバーホルダに設けられた前記カンチレバー」と、カンチレバーホルダとカンチレバーとの関係をより明確化したものです。請求項６も補正前の請求項７に請求項１と同様な補正を追加したものです。請求項２〜５は補正前の請求項３〜６に対応します。」（「３」の（２）の第１段落）
　この説明のうち第１文は補正事項１及び４に対応し、第２文は補正事項３及び４に対応する。したがって、当該説明によると、補正後の特許請求の範囲の請求項６に係る発明（以下「本願補正発明」という。）に関する上記補正事項２は審判請求人の意図するところでない。
　よって、補正事項２は、審判請求人の意図に反しており、行われるはずのなかったものであるから、本願補正発明における「位置検出機構」は、補正前の特許請求の範囲の請求項７に記載されていた「自己変位検出機構」の誤記である。
　したがって、以下では、本願補正発明における「位置検出機構」を「自己変位検出機構」と読み替える。
（４）　上記補正事項３について検討する。
　当該補正事項３は、補正前の特許請求の範囲の請求項７に係る発明の発明特定事項である「角度調整すること」を、「角度調整する場合」に変更するため、外形的には、本願補正発明の「走査型プローブ顕微鏡の走査方法」が、「角度調整」しない「場合」も含みうる記載となっている（例えば、「自己変位検出機構が備わるカンチレバーの先端に有した探針を、該探針の先端に対向配置したサンプルの任意の２次元面内を水平微動機構により及び該２次元面に直行する面内を垂直微動機構によって前記探針と前記サンプルとを相対的に移動させることで前記試料の表面を前記探針で走査する走査型プローブ顕微鏡の走査方法において、
　前記カンチレバーの長軸に直交し前記探針先端を通る軸が、前記２次元平面に直交する任意の平面内となるように前記カンチレバーを配置し、
　前記サンプルの任意の形状表面の被測定面が、前記水平方向微動機構の移動面と略平行になるように前記サンプルと前記カンチレバーの相対位置を角度調整する場合において、
少なくとも当該カンチレバーを固定するためのカンチレバーホルダに設けられた前記カンチレバーの長軸に直交し前記水平方向微動機構の移動面に平行な軸まわりに前記カンチレバーの取り付け角度を調整し、
　前記サンプルの任意の形状表面の被測定面が、前記水平方向微動機構の移動面と略平行になるように前記サンプルと前記カンチレバーの相対位置を角度調整しない場合においても、前記カンチレバーの取り付け角度を調整する、走査型プローブ顕微鏡の走査方法。」は、文言上、本願補正発明を限定したものであるから、本願補正発明の範囲に含まれる）。
　しかしながら、上記（３）における、本件補正の内容に関する上記説明を踏まえれば、当該補正事項３によって、「角度調整」しない「場合」にまで、本願補正発明の範囲が拡張されることを、審判請求人が意図していたとは言えない。
　よって、補正事項３は、外形的には審判請求人の意図に反するものであるから、本願補正発明における「角度調整する場合において」について、以下では便宜上、「角度調整するように」の意味であると認める。
　すると、当該補正事項３は、補正前の特許請求の範囲の請求項７に係る発明の発明特定事項である「角度調整すること」について、「少なくとも当該カンチレバーを固定するためのカンチレバーホルダに設けられた前記カンチレバーの長軸に直交し前記水平方向微動機構の移動面に平行な軸まわりに前記カンチレバーの取り付け角度を調整すること」によって限定したものであるから、発明の限定的減縮を目的としている。
（５）　本件補正についてのまとめ
　よって、本件補正による特許請求の範囲の補正は、補正事項３によって、少なくとも補正前の特許請求の範囲の請求項７に係る発明を限定的に減縮することを目的としているから、特許法第１７条の２第５項第２号に掲げる事項を目的とするものであるといえる。
　そこで、次に、本願補正発明が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか（特許法第１７条の２第６項において準用する特許法第１２６条第７項の規定に違反しないか）について検討する。
２　本願補正発明
　本願補正発明は、平成２６年８月６日付け手続補正により補正された特許請求の範囲の請求項６に記載されたとおりのもの（上記「１」の（１）の（補正後）の記載を参照。）である。
３　引用例
（１）　原査定の拒絶の理由に引用され、本願の出願前に頒布された特開２００６−２２０５９７号公報（以下、「引用例１」という。）には、次の事項が記載されている（下線は、当審において付加したものである）。
ア　「【０００１】
　本発明は、試料表面の表面粗さや段差などの形状情報や、誘電率や粘弾性などの物理情報を計測する表面情報計測装置に関するものである。具体的な表面情報計測装置としては、
走査型プローブ顕微鏡
【
背景技術
【０００２】
　近年、半導体においてより微細化がすすみ、微細形状の評価としての形状測定として、原子分解能を有する、プローブ顕微鏡の一種である原子間力顕微鏡が期待されている。プロ−ブ顕微鏡の一種である原子間力顕微鏡（Atomic Force Microscope：AFM）は走査トンネル顕微鏡（Scanning Tunneling Microscope：STM）の発明者であるG.Binnigらによって
考案されて以来、新規な絶縁性物質の表面形状観察手段として期待され、研究が進められている。（例えば、非特許文献１を参照）
　プローブ顕微鏡の原理は、先端を充分に鋭くした検出チップと試料間に働く物理力を、前記検出チップが取り付けられているばね要素の変位として測定し、前記ばね要素の変位量を一定に保ちながら前記試料表面を走査し、前記ばね要素の変位量を一定に保つための制御信号を形状情報として、前記試料表面の形状を測定するものである。
【０００３】
　
ばね要素の変位検出手段としては光学的方式及び、バネ要素の変形ひずみを電気信号として検出する自己検出方式がある
【０００４】
　
光学的方式には
光てこ方式
【０００５】
　また、
自己検出方式としては、先端に探針を設けたレバー部とそのレバー部を支持する支持部とが２つの屈曲部によって連結されて構成されるカンチレバーにおいて、その屈曲部上にピエゾ抵抗体を前記レバー部から前記支持部に向かう方向に直線状に設けること
　また、プロ−ブ顕微鏡は、試料に対向する位置に配置された探針（プロ−ブ）が試料から原子間力を受けるものならば原子間力顕微鏡と称され、磁気力ならば磁気力顕微鏡と称される様に試料から生じる様々な力を検出して試料の状態を観察できるものである。」
イ　「【００１１】
　ユニット部１は、除振台２上に弾性材３を介してベース４上に備えられている。
ベース４上には、粗い試料移動ステージ６とアーム１０が備えられ
粗い試料移動ステージ６は、試料５を面内方向に位置合わせするＸＹステージであり、試料台９を介して試料５が固定される。また、アーム１０にはベース４平面に対して鉛直方向の微小位置決め機構である粗動機構１１であるＺ軸ステージと、粗動機構１１を介して、
微動機構１２が備えられ
微動機構１２の先端に固定されたカンチレバー１３を３次元的に移動する
ウ　「【００１３】
　
粗動機構１１によりカンチレバー１３の先端の探針を試料５の表面に粗く接近させ、微動機構１２でさらに試料５に接近させて、試料と探針間に働く物理力により、カンチレバー１３のたわみ変形が一定になるように微動機構１２を調整することにより試料５の表面形状や物性特性を計測
たわみ変形は、
検出する光てこ検出
方式が使用され
微動機構１２を試料面内に対して走査しながら計測する
【００１４】
　プローブ顕微鏡に用いられるカンチレバーの構成を図１２に示す。
【００１５】
　
片持ち梁状のカンチレバー１３の先端に
探針
１４が形成されており
エ　「【００１８】
　このような凸面や凹面の形状の試料に場合における、
試料表面に対する探針
の接触状態
を示す図１４
試料面内の測定位置によってカンチレバーベース部１５
オ　「【００２６】
　ユニット部１は除振台２上に弾性材３を介してベース４上に構成されている。除振台としてはパッシブ型やアクティブ型があるが、低周波に振動成分が存在する場合はアクティブ型が望ましい。また、ベース４上には、粗い試料移動ステージ６とアーム１０が備えられている。
粗い試料移動ステージ６
上には
ＸＹ軸の２方向に傾斜が可能な試料傾斜ステージ７
カ　「【００３３】
　なお、第二実施形態において、第一実施形態と同一の構成については同一の符号を付しその説明を省略する。
本発明の第二実施形態の構成を、図３から図６を用いて説明する。
【００３４】
　第一実施形態と異なる点は、
カンチレバー１３を走査する微動機構１２側に相対的に試料表面と探針のなす角度の調整を行なう角度調整機構として微動機構回転ステージ１８を設け
キ　「【００３７】
　試料移動ステージ６を用いて、試料を測定する所定の位置に移動させ、
微動機構回転ステージ１８により微動機構１２を試料表面に対して傾けることで
凸面および凹面形状の試料表面の面内位置に関わらず
探針が受ける原子間力の方向が変わらないように調整
【００３８】
　例えば、曲面形状での干渉状態の概要を示す図３のように、微動機構１２の先端に構成された、
カンチレバー１３を保持するカンチレバーベース部１５やカンチレバー１３など試料５表面に接触して干渉（Ｂ−Ｂの断面矢視）しないように
試料５を
傾斜中心に移動（図３Ａ−Ａ）させ、傾斜ステージ７で試料を傾け、または微動機構回転ステージ１８で微動機構１２を傾けることにより試料全面において測定したい試料位置で測定が可能となる
ク　「【図３】
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
コ　「【図１２】
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
サ　「【図１４】
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
（２）　引用例１に記載された発明の認定
ア　上記（１）の摘記事項キの「カンチレバー１３を保持するカンチレバーベース部１５やカンチレバー１３などが試料５表面に接触して干渉（Ｂ−Ｂの断面矢視）しないように、」「試料５を」「傾斜中心に移動（図３Ａ−Ａ）させ」なる記載、及び上記（１）の摘記事項クの図３を踏まえると、上記図３の「Ｂ−Ｂ断面矢視」で拡大された側の「カンチレバー１３」は、（「試料５」（「５ｂ」）を「傾斜中心に移動（図３Ａ−Ａ）させ」たときのものではなく、）上記「試料５表面に接触して干渉」したときのものである。
　また、上記図３の平面図で「Ａ−Ａ断面」を示す一点鎖線と「Ｂ−Ｂ断面」を示す一点鎖線とが、中央付近で直交していることから、「Ａ−Ａ断面矢視」で拡大して示された、「傾斜中心」にある「カンチレバーベース部１５」は、「Ｂ−Ｂ断面矢視」において拡大されていない側の（すなわち「傾斜中心」側の）ものとして示されている。
　すると、上記図３の「Ｂ−Ｂ断面矢視」では、「試料５を」「傾斜中心に移動」させる前後での「カンチレバーベース部１５」が、略同一の（「Ａ−Ａ断面矢視」での形状とは明らかに異なる）形状として示されていることになり、「傾斜中心」にある「カンチレバーベース部１５」において、「カンチレバー１３」は、拡大された側の「カンチレバーベース部１５」に「保持」されている「カンチレバー１３」と同じ向きを向いていると言える。
　そして、上記（１）の摘記事項ウの「片持ち梁状のカンチレバー１３」（段落【００１５】）なる記載、並びに上記図３における、「傾斜中心」での「試料５表面」の向き、「カンチレバー１３」の向き、及び平面図と「Ａ−Ａ断面」との関係を踏まえると、
「試料５を」「傾斜中心に移動」させたとき
「傾斜中心」での「試料５表面」に直交し、「カンチレバー１３」の「片持ち梁」の軸方向を含む「試料５」の「断面」
イ　上記ア、上記（１）の摘記事項ウの「片持ち梁状のカンチレバー１３の先端に」「探針」「１４が形成されており」（段落【００１５】）なる記載、上記（１）の摘記事項エの「試料表面に対する探針」「の接触状態」「を示す図１４」なる記載、及び上記（１）の摘記事項サの図１４での「５」、「１３」、「１４」及び「１５」の各符号の位置関係を踏まえると、上記
「カンチレバー１３」の「片持ち梁」の軸方向を含む「試料５」の「断面」において、「探針１４」の先端が「試料表面に対する」「接触状態」にある
ウ　上記ア及びイを踏まえ、上記（１）の摘記事項アないしサを含む引用例１全体の記載を総合すると、引用例１には、
「ベース４上に、試料５を面内方向に位置合わせするＸＹステージである粗い試料移動ステージ６とアーム１０が備えられ、
　粗い試料移動ステージ６には、試料台９を介して試料５が固定され、
　アーム１０にはベース４平面に対して鉛直方向の微小位置決め機構である粗動機構１１であるＺ軸ステージと、粗動機構１１を介して、先端に固定されたカンチレバー１３を３次元的に移動する微動機構１２が備えられ、
　片持ち梁状のカンチレバー１３の先端に探針１４が形成されており、
　粗動機構１１によりカンチレバー１３の先端の探針１４を試料５表面に粗く接近させ、微動機構１２でさらに試料５に接近させて、試料５と探針１４間に働く物理力により、カンチレバー１３のたわみ変形が一定になるように、微動機構１２を試料５面内に対して走査しながら微動機構１２を調整することにより、試料５表面の形状や物性特性を計測し、
　たわみ変形を検出するために光てこ検出方式が使用される、
　走査型プローブ顕微鏡において、
　粗い試料移動ステージ６上にＸＹ軸の２方向に傾斜が可能な試料傾斜ステージ７と、カンチレバー１３を走査する微動機構１２側に相対的に試料５表面と探針１４のなす角度の調整を行なう角度調整機構として微動機構回転ステージ１８とを設け、
　カンチレバー１３を保持するカンチレバーベース部１５やカンチレバー１３が試料５表面に接触して干渉しないように、試料５を傾斜中心に移動させ、傾斜ステージ７で試料を傾け、または微動機構回転ステージ１８で微動機構１２を傾けることにより試料全面において測定したい試料位置で測定が可能となり、
　試料５を傾斜中心に移動させたとき、傾斜中心での試料５表面に直交し、カンチレバー１３の片持ち梁の軸方向を含む試料５の断面において、探針１４の先端が試料５表面に対する接触状態にある、
　走査型プローブ顕微鏡。」
の発明（以下「引用発明１」という。）が記載されている。
（３）　本願の出願前に頒布された特開平８−２２６９２６号公報（以下、「引用例２」という。）には、次の事項が記載されている（下線は、当審において付加したものである）。
ア　「【０００３】図５に走査型プローブ顕微鏡の１つであるＡＦＭの構成例を示す。このＡＦＭは光学顕微鏡と複合化されたＡＦＭである。基台１１の上にＸＹステージ１２が配置され、ＸＹステージ１２上の試料テーブル１３の上に測定対象である試料１４が載置される。ＸＹステージ１２は、直交するＸ軸方向およびＹ軸方向で定義されるＸＹ平面内で試料テーブル１３を任意に移動させる機能を有する。
ＸＹ平面は、
水平
ｘｙｚスキャナ２０は、カンチレバー２１をＸ，Ｙ，Ｚの各軸方向に微動させる機能を有する
イ　「【０００８】図６に市販されるカンチレバー２１と探針２２の形状を示す。カンチレバー２１の基端は保持部３２に固定され、先端には探針２２が固定される。探針２２は長形の円錐形状を有し、その長さａが１０μｍ、コーン角ｂが１０度である。また探針２２の先端から１μｍ程度の距離ｃの位置での直径ｄは０．１８μｍである。なお
カンチレバー２１の長さｆ
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】上記の寸法形状を有するカンチレバー２１と探針２２を備えた図５に示す光学顕微鏡付きＡＦＭは、次のような問題がある。いま、上記ＡＦＭを用いて図７に示す形状を測定しようとする。図７に示された形状は、ピッチｇが０．５μｍ、高さｈが１μｍのレジスタパターン３３であり、このレジストパターンは１６ＭＤＲＡＭの電極製作時のものである。このような形状を有するレジストパターン３３は、現在のところ、測長ＳＥＭ（走査電子顕微鏡）で測定を行っているが、底面部３３ａの寸法を必要としてこれを測定する場合には平面形状しか測定できず、従って高さｈを測定することができないという問題を有する。そこで、上記ＡＦＭを用いてレジストパターン３３の高さｈを測定することになるわけであるが、上記寸法の
探針２２を使用してレジストパターン３３の底面部３３ａを測定しようとすると、図７に示すような測定状態が生じる。その結果、図８に示すように、レジストパターン３３の底面部３３ａは、左右の縁とも
誤差ｉを含んだ状態で測定される
３次元形状を正確に測定できないという問題が生じる
ウ　「【００１４】
【作用】本発明では、ＡＦＭ等の
走査型プローブ顕微鏡のカンチレバーの探針で試料表面の微細な凹凸形状を測定する場合に、取付け角設定器でカンチレバーを傾斜させて探針を所望の角度だけ傾斜させる
ことにより、試料表面の凸部
または凹部
の左側縁部と右側縁部を正確に測定することを可能にし、試料表面の３次元形状を正確に測定できる
エ　「【００１７】上記の装置構成において、次のような新しい構成が付加される。前記ｘｙｚスキャナ２０と変位検出器２３は、Ｚ粗動ステージ１７に取り付けられたＺ軸回り回転ステージ４１に固定され、さらに
カンチレバー２１は取付け角設定部４２を介してｘｙｚスキャナ２０に固定され
カンチレバー２１は、取付け角設定部４２によって水平方向に対して角度θの傾斜姿勢で配置され、この角度θは取付け角
設定部４２によって任意の角度に自由に設定することができる。
オ　「【図２】
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
カ　「【図６】
【図７】
【図８】
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　」
キ　上記摘記事項イの段落【０００８】における「カンチレバー２１の長さｆ」なる記載と、上記摘記事項カの図６における「ｆ」と符号「２１」との関係とを踏まえると、上記摘記事項エで「カンチレバー２１は」「水平方向に対して角度θの傾斜姿勢」と記載された、上記摘記事項オの図２の
「θ」は、「水平方向に対」する「カンチレバー２１の長さ」方向の「角度」
（４）　引用例２に記載された発明の認定
　上記（３）のアないしキを含む引用例２全体の記載を総合すると、引用例２には、
「走査型プローブ顕微鏡のカンチレバー２１の探針で試料表面の微細な凹凸形状を測定する場合に、取付け角設定部４２でカンチレバー２１を傾斜させて探針を所望の角度だけ傾斜させることにより、試料表面の凸部または凹部の左側縁部と右側縁部を正確に測定することを可能にし、試料表面の３次元形状を正確に測定するために、
　カンチレバー２１は取付け角設定部４２を介して、カンチレバー２１をＸ，Ｙ，Ｚの各軸方向に微動させる機能を有するｘｙｚスキャナ２０に固定され、
　カンチレバー２１は、取付け角設定部４２によって、ＸＹ平面の水平方向に対して角度θの傾斜姿勢で配置され、この水平方向に対するカンチレバー２１の長さ方向の角度θは、取付け角設定部４２によって任意の角度に自由に設定することができる、
　走査型プローブ顕微鏡。」
の発明（以下「引用発明２」という。）が記載されている。
４　本願補正発明と引用発明１との対比
（１）　対比
ア　引用発明１の「カンチレバー１３」、「探針１４」、「試料５」、「試料５面内」、「面内方向」、「鉛直方向」、「片持ち梁の軸」、「試料５の断面」、及び「走査型プローブ顕微鏡」は、それぞれ本願補正発明の「カンチレバー」、「探針」、「サンプル」、「サンプルの任意の２次元面内」、「水平」、「垂直」、「長軸」、「任意の平面」、及び「走査型プローブ顕微鏡」に相当する。
イ
（ア）　引用発明１の「光てこ検出方式」と、本願補正発明の「自己変位検出機構」とは、「カンチレバー」の「たわみ変形」を検出する機構である点で共通する。
（イ）　本願補正発明では、「カンチレバーの先端に有した探針を」の箇所を受ける動詞が存在しないため、当該箇所は「カンチレバーの先端に有した探針を」用いることの意味であると解釈される。してみると、引用発明１において「カンチレバー１３の先端に」「形成され」る「探針１４」を用いることは、本願補正発明において「カンチレバーの先端に有した探針を」用いることに相当する。
（ウ）　引用発明１の「カンチレバー１３」では、「試料５表面」に「対し探針１４の先端が接触状態にあ」ることから、「探針１４の先端」が「試料５」に対向して配置される。
　よって、上記アを踏まえると、引用発明１の「カンチレバー１３」の「探針１４の先端が接触状態にあ」る「試料５」は、本願補正発明の「該探針の先端に対向配置したサンプル」に相当する。
（エ）　引用発明１の「カンチレバー１３を３次元的に移動する微動機構１２」における「３次元的に移動」は、「微動機構１２を試料５面内に対して走査」する移動と、「探針１４」を「微動機構１２でさらに試料５に接近させ」る移動とを示している。
　一方、「微動機構１２」の「微動」に対する「粗動」は、「面内方向に位置合わせするＸＹステージである粗い試料移動ステージ６」及び「ベース４平面に対して鉛直方向の微小位置決め機構である粗動機構１１であるＺ軸ステージ」で実現されている。
　「Ｚ軸」が「ＸＹ軸の２方向」に直交することからすれば、上記「微動機構１２を試料５面内に対して走査」することによる「探針１４」の移動方向である「試料５面内」とは、「Ｚ軸」方向が「鉛直方向」となる「ベース４平面」に平行な、「ＸＹステージ」の「ＸＹ軸の２方向」に沿った「面内方向」となっている。
　また、「探針１４」を「微動機構１２でさらに試料５に接近させ」る移動の方向は、「Ｚ軸ステージ」である「粗動機構１１によりカンチレバー１３の先端の探針１４を試料５の表面に粗く接近させ」る移動を踏まえたものであるから、「Ｚ軸」方向である。そして、当該「Ｚ軸」方向は、「ＸＹステージ」の「ＸＹ軸の２方向」に直交する方向であるから、「ＸＹ軸の２方向」に沿った「面内方向」となっている「試料５面内」を定める「試料５表面」にも直交する「鉛直方向」である。
　してみれば、引用発明１の「カンチレバー１３を３次元的に移動する微動機構１２」は、「試料５面内に対して走査」するために、「試料５面内」の「面内方向」で「探針１４」を「微動」する部分と、当該「試料５面内」を定める「試料５表面」に直交する「鉛直方向」を含む面内において「探針１４」を「微動」する部分とを有している。
　よって、上記アを踏まえると、引用発明１の「微動機構１２」は、本願補正発明の「水平微動機構」及び「垂直微動機構」に相当する。
（オ）　引用発明１における、「微動機構１２を試料５面内に対して走査」することによって「探針１４」を「微動」させること、及び「探針１４」を「微動機構１２でさらに試料５に接近させ」ることは、いずれも「探針１４」を「試料５」に対して移動させることである。
　また、本願補正発明では、「任意の２次元面内を」、及び「該２次元面に直行する面内を」の各箇所を受ける動詞が存在しない。また、「直行」が「直交」の誤記であることは自明であるから、これらの箇所は、それぞれ「任意の２次元面内について」、及び「該２次元面に直交する面内について」の意味であると解釈される。
　したがって、上記ア及び上記（エ）を踏まえると、引用発明１における、「微動機構１２を試料５面内に対して走査」することによって「探針１４」を「微動」させること、及び「探針１４」を「微動機構１２でさらに試料５に接近させ」ることは、本願補正発明の「サンプルの任意の２次元面内を水平微動機構により及び該２次元面に直行する面内を垂直微動機構によって前記探針と前記サンプルとを相対的に移動させること」に相当する。
（カ）　引用発明１における、「微動機構１２を試料５面内に対して走査」とは、「試料５表面」「と探針１４間に働く物理力により、カンチレバー１３のたわみ変形が一定になるように」行われるものであるから、「試料５表面」を「探針１４」で「走査」するものとなっている。
　また、本願補正発明では、「前記試料」の「前記」で参照されるはずの「試料」が記載されていない一方、「サンプル」との記載があるから、「前記試料」とは「前記サンプル」の意味であると解釈される。
　よって、上記アを踏まえると、引用発明１の「試料５表面」を「探針１４」で「走査」する「走査型プローブ顕微鏡」の「走査」方法は、本願補正発明の「前記試料の表面を前記探針で走査する走査型プローブ顕微鏡の走査方法」に相当する。
ウ
（ア）　本願補正発明では、「前記２次元平面」の「前記」で参照されるはずの「２次元平面」が記載されていない一方、「２次元面」との記載があるから、「前記２次元平面」とは「前記２次元面」の意味であると解釈される。
　よって、上記イ（オ）を踏まえると、引用発明１の「試料５表面に直交」する「試料５の断面」は、本願補正発明の「前記２次元平面に直交する任意の平面」に相当する。
（イ）　引用発明１では、「試料５表面に直交し、カンチレバー１３の片持ち梁の軸方向を含む試料５の断面において、探針１４の先端が試料５表面に対する接触状態にある」ことにより、「カンチレバー１３」の「片持ち梁の軸」及び「探針１４の先端」が「試料５の断面」内にある。
　したがって、「カンチレバー１３」の「片持ち梁の軸」に直交し「探針１４の先端」を通る軸も、当該「試料５の断面」内にある。
　よって、上記ア及び上記（ア）を踏まえると、引用発明１において「試料５表面に直交し、カンチレバー１３の片持ち梁の軸方向を含む試料５の断面において、探針１４の先端が試料５表面に対する接触状態にある」ように、「カンチレバー１３」を配置することは、本願補正発明の「前記カンチレバーの長軸に直交し前記探針先端を通る軸が、前記２次元平面に直交する任意の平面内となるように前記カンチレバーを配置」することに相当する。
エ
（ア）　引用発明１は「微動機構１２を試料５面内に対して走査」することで「試料５表面の形状や物性特性を計測」しているから、引用発明１の「形状や物性特性」が「計測」される「試料５表面」は、本願補正発明の「サンプルの」「表面の被測定面」に相当する。
（イ）　上記イ（エ）を踏まえると、引用発明１の「カンチレバー１３を３次元的に移動する微動機構１２」が、「ＸＹ軸の２方向」に沿った「試料５面内」である「面内方向」に「探針１４」を「微動」する部分を有する。
　よって、上記（ア）を踏まえると、引用発明１において、「試料５面内」が、「面内方向」に「探針１４」を「微動」する部分の「ＸＹ軸の２方向」に沿っていることは、本願補正発明の「被測定面が、前記水平方向微動機構の移動面と略平行になる」ことに相当する。
（ウ）　引用発明１では、「カンチレバー１３の先端に探針１４が形成されて」いることから、「相対的に試料５表面と探針１４のなす角度の調整を行なう」と、「相対的に試料５表面と」「カンチレバー１３」「のなす角度の調整」も「行な」われることになる。
　よって、引用発明１の「相対的に試料５表面と探針１４のなす角度の調整を行なう」ことは、本願補正発明の「前記サンプルと前記カンチレバーの相対位置を角度調整する」に相当する。
（２）　本願補正発明と引用発明１との一致点
　よって、本願補正発明と引用発明１とは、
「カンチレバーのたわみ変形を検出する機構及びカンチレバーの先端に有した探針を、該探針の先端に対向配置したサンプルの任意の２次元面内を水平微動機構により及び該２次元面に直行する面内を垂直微動機構によって前記探針と前記サンプルとを相対的に移動させることで前記試料の表面を前記探針で走査する走査型プローブ顕微鏡の走査方法において、
　前記カンチレバーの長軸に直交し前記探針先端を通る軸が、前記２次元平面に直交する任意の平面内となるように前記カンチレバーを配置し、
　前記サンプルの表面の被測定面が、前記水平方向微動機構の移動面と略平行になるように前記サンプルと前記カンチレバーの相対位置を角度調整する、
　走査型プローブ顕微鏡の走査方法。」
の発明である点で一致し、次の点で相違する。
（３）　本願補正発明と引用発明１との相違点
　（相違点１）
　カンチレバーのたわみ変形を検出する機構が、本願補正発明では、「カンチレバー」に「備わる」「自己検出機構」であるのに対し、引用発明１では、その点が記載されていない点。
　（相違点２）
　「被測定面」となる「表面」が、本願補正発明では、「任意の形状」であるのに対し、引用発明１では、その点が明記されていない点。
　（相違点３）
　本願補正発明では、「少なくとも当該カンチレバーを固定するためのカンチレバーホルダに設けられた前記カンチレバーの長軸に直交し前記水平方向微動機構の移動面に平行な軸まわりに前記カンチレバーの取り付け角度を調整する」のに対し、引用発明１では、その点が記載されていない点。
５　当審の判断
（１）　相違点１の検討
　上記相違点１について検討する。
　引用例１では、上記摘記事項アによって、「走査型プローブ顕微鏡」の「背景技術」として「カンチレバー」である「ばね要素」の「変位検出手段として」、「光てこ方式」の「光学的方式」だけでなく、「先端に探針を設けたレバー部とそのレバー部を支持する支持部とが２つの屈曲部によって連結されて構成されるカンチレバーにおいて、その屈曲部上にピエゾ抵抗体を前記レバー部から前記支持部に向かう方向に直線状に設ける」「自己検出方式がある」ことが示されている一方、上記「光てこ方式」の「光学的方式」に対する「自己検出方式」の短所、及び「自己検出方式」に対する「光学的方式」の長所は何ら示されていない。
　してみれば、引用発明１において「たわみ変形を検出するために光てこ検出方式が使用され」ている理由は、「光てこ方式」または「自己検出方式」なる「背景技術」の選択肢のうち一方を適宜選択した結果に過ぎない。
　よって、引用発明１において、「光てこ検出方式」に代えて、当該選択肢の他方、すなわち「カンチレバーに」「設ける」「自己検出方式」を選択することによって、上記相違点１に係る本願補正発明の発明特定事項のように構成することは、当業者が容易に想到しうるものである。
（２）　相違点２の検討
　引用発明１において、「カンチレバー１３を保持するカンチレバーベース部１５やカンチレバー１３が試料５表面に接触して干渉しないように、試料５を傾斜中心に移動させ、傾斜ステージ７で試料を傾け、または微動機構回転ステージ１８で微動機構１２を傾けることにより試料全面において測定したい試料位置で測定が可能」であることは、「測定したい試料位置」に対応する「傾斜中心」があれば足り、「試料５」の全体形状に依存しないから、上記「試料５表面」は「任意の形状」の表面であるものを含む。
　よって、上記相違点２の本願補正発明に係る構成は、引用発明１に含まれうる構成であるから、上記相違点２は、実質的な相違点ではない。
（３）　相違点３の検討
ア　本願補正発明では、「カンチレバーの取り付け角度」の基準が、「カンチレバーホルダ」には限られていないから、本願補正発明は、文言上、「カンチレバーの取り付け角度」が任意の部材に対するものであるものを含む。
　ところが、本願の審判請求書には、
「すなわち、上記構成においては、下図［図１］に示す本願図３の様に、カンチレバー１１をその支持部分であるカンチレバーホルダ１４に対し、第四の角度調整機構（カンチレバー取付角度調整機構）１２で取付角度を調整するものです。」（「３」の（３）の（３−４）の第６段落）
と、「カンチレバーの取り付け角度」が「カンチレバーホルダ」に対するものに限る旨が主張されている。
　この点を踏まえて、まず、「カンチレバーの取り付け角度」が（審判請求書のとおり）「カンチレバーホルダ」に対するものに限られる意味で本願補正発明を解釈して、相違点３について検討する。
イ　引用発明２と本願補正発明とを対比する。
（ア）　引用発明２の「カンチレバー２１」、「長さ方向」、「自由に設定」、及び「走査型プローブ顕微鏡」は、それぞれ本願補正発明１の「カンチレバー」、「長軸」、「調整」、及び「走査型プローブ顕微鏡」に相当する。
（イ）　引用発明２の「カンチレバー２１」は、「取付け角設定部４２を介してｘｙｚスキャナ２０に固定され」ることから、上記（ア）を踏まえると、引用発明２の「カンチレバー２１」を「固定」するための「ｘｙｚスキャナ２０」は、本願補正発明１の「カンチレバーを固定するためのカンチレバーホルダ」に相当する。
（ウ）　引用発明２の「ｘｙｚスキャナ２０」のうち、「カンチレバー２１をＸ，Ｙ」「の各軸方向に微動させる機能を有する」部分は、「カンチレバー２１」を「ＸＹ平面」内で微動させるものであるから、引用発明２の「ｘｙｚスキャナ２０」の「カンチレバー２１をＸ，Ｙ」「の各軸方向に微動させる機能を有する」部分の「ＸＹ平面」は、本願補正発明１の「水平方向微動機構の移動面」に相当する。
（エ）　引用発明２の「取付け角設定部４２」は、「ＸＹ平面の」「水平方向に対するカンチレバー２１の長さ方向の角度θ」を「任意の角度に自由に設定する」ものである。
　よって、上記（ア）及び（ウ）を踏まえると、「カンチレバー２１の長さ方向」に直交する、「ＸＹ平面」に平行な軸のまわりに「カンチレバー２１」の「ｘｙｚスキャナ２０」に対する「取付け角」の「角度θ」を「自由に設定する」ことは、本願補正発明１の「カンチレバーの長軸に直交し前記水平方向微動機構の移動面に平行な軸まわりに前記カンチレバーの」（カンチレバーホルダに対する）「取り付け角度を調整すること」に相当する。
（オ）　上記（イ）及び（エ）を踏まえると、引用発明２には、上記相違点３に係る本願補正発明１の発明特定事項の構成が特定されている。
ウ　引用例２（上記「３」の（３）を参照。）における、摘記事項イの「探針２２を使用してレジストパターン３３の底面部３３ａを測定しようとすると、図７に示すような測定状態が生じる。その結果、図８に示すように、レジストパターン３３の底面部３３ａは、左右の縁とも」「誤差ｉを含んだ状態で測定される」なる「３次元形状を正確に測定できないという問題が生じる」なる記載と、摘記事項カの図７及び図８とを踏まえると、引用発明２において「カンチレバーの探針」によって「左側縁部と右側縁部を正確に測定することを可能にし、試料表面の３次元形状を正確に測定できる」ことの根拠は、「カンチレバーの探針」の先端を必ず「試料表面」に接触させることであると言える。
　よって、引用発明２において上記イ（オ）のとおり特定されている構成は、「カンチレバー２１の探針」の先端を必ず「試料表面」に接触させるという技術課題を解決するものである。
　一方、引用発明１は「カンチレバー１３を保持するカンチレバーベース部１５やカンチレバー１３が試料５表面に接触して干渉しないように」した結果、「探針１４の先端が試料５表面に対する接触状態にある」こととなっているから、引用発明２の上記技術課題と同様の技術課題を解決することを目的としている。
　してみれば、引用発明１において、必ず「探針１４の先端が試料５表面に対する接触状態にある」ようにするために、引用発明２で特定されている上記構成を採用して、「カンチレバー１３を保持するカンチレバーベース部１５」に設けられた「カンチレバー１３」の長軸に直交し「面内方向」に平行な軸まわりに、「カンチレバー１３」の「カンチレバーベース部１５」に対する取り付け角度を調整することにより、上記相違点３に係る本願補正発明の発明特定事項のように構成することは、当業者が容易に想到しうるものである。
エ　ところで、上記アに示したとおり、本願補正発明は、文言上、「カンチレバーの取り付け角度」が任意の部材に対するものであるものを含むから、本願補正発明をそのように解釈した場合についても、あわせて検討する。
　引用発明１の「微動機構回転ステージ１８」は「試料５表面と探針１４のなす角度の調整を行なう角度調整機構」として、引用例１の摘記事項キ（上記「３」の（１）を参照。）のとおり「微動機構回転ステージ１８により微動機構１２を試料表面に対して傾けることで」「凸面および凹面形状の試料表面の面内位置に関わらず」「探針が受ける原子間力の方向が変わらないように調整」することを可能にするものである。
　そして、「カンチレバー１３の片持ち梁の軸方向を含む試料５の断面」内での「走査」に対しては、このような「調整」は、「カンチレバー１３の片持ち梁の軸方向」に直交し、「面内方向」に平行な軸まわりに、「カンチレバー１３」の「アーム１０」に対する取り付け角度を調整することを意味している。
　引用発明１において、「微動機構１２を試料５面内に対して走査」するにあたり、「面内」のいずれの方向の「走査」を含ませるかは、当業者が必要に応じて適宜選択するものであるから、当該方向は「カンチレバー１３の片持ち梁の軸方向を含む試料５の断面」内にあるものを明らかに含む。
　よって、本願補正発明において、「カンチレバーの取り付け角度」が任意の部材に対するものを含むと解釈した場合、上記相違点３は、実質的な相違点ではない。
（４）　本願補正発明の奏する作用効果
　
　また、本願補正発明の作用効果は、引用発明１及び引用発明２から、当業者が予測できる範囲のものである（なお、上記（３）のエの意味での本願補正発明の作用効果は、引用発明１から、当業者が予測できる範囲のものである）。
（５）　まとめ
　したがって、本願補正発明は、引用発明１及び引用発明２に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである（なお、上記（３）のエの意味での本願補正発明は、引用発明１に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである）から、本願補正発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
６　むすび
　したがって、本件補正後の請求項６に係る発明は、その特許出願の際独立して特許を受けることができないから、本件補正は、特許法第１７条の２第６項において準用する同法第１２６条第７項の規定に違反するものである。よって、特許法第１５９条第１項で読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下されるべきものである。
第３　本願発明について
１　本願発明
　平成２６年８月６日付けの手続補正は上記のとおり却下されたので、本願の請求項７に係る発明（以下「本願発明」という）は、平成２６年２月６日付けの手続補正により補正された特許請求の範囲の請求項７に記載されたとおりのもの（上記「第２」の「１」の（１）の（補正前）の記載を参照。）である。
２　引用例
　原査定の拒絶の理由に引用された引用例、及びその記載事項は上記「第２」の「３」の（１）及び（２）に記載したとおりである。
３　当審の判断
　本願発明は、上記「第２」で検討した本願補正発明において、「少なくとも当該カンチレバーを固定するためのカンチレバーホルダに設けられた前記カンチレバーの長軸に直交し前記水平方向微動機構の移動面に平行な軸まわりに前記カンチレバーの取り付け角度を調整すること」の事項を削除したものである。
　そうすると、本願発明と引用発明１とは、上記「第２」の「４」の（２）に示した本願補正発明と引用発明１との一致点と同一の点で一致し、同「４」の（３）に示した相違点１及び相違点２と同一の点で相違する。
　よって、上記「第２」の「５」の（１）及び（２）と同様の理由により、引用発明１において、上記相違点１に係る本願発明の発明特定事項のように構成することは、当業者が容易に想到しうるものであり、また、上記相違点２は実質的な相違点ではない。
　そして、本願発明の作用効果は、引用発明１から、当業者が予測できる範囲のものである。
　したがって、本願発明は、引用発明１に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
４　むすび
　以上のとおりであるから、本願発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、その余の請求項に係る発明について論及するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。