(57)【要約】【課題】被測定光ファイバで発生する位相雑音を低減させるＯＴＤＲ用光源を実現することにある。【解決手段】被測定光ファイバの測定を行なうＯＴＤＲに用いられ、被測定光ファイバに光パルスを出力するＯＴＤＲ用光源に改良を加えたものである。本光源は、レーザダイオードと、このレーザダイオードからの光のうち特定の波長の光を反射し、第一の外部共振器を形成する第一の反射部と、この第一の反射部と同一経路上に設けられ、レーザダイオードからの光を反射し、第二の外部共振器を形成する第二の反射部とを有し、第一の反射部の反射率は、第二の反射部の反射率よりも大きいことを特徴とするものである。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定光ファイバの測定を行なうＯＴＤＲに用いられ、前記被測定光ファイバに光パルスを出力するＯＴＤＲ用光源において、
レーザダイオードと、
このレーザダイオードからの光のうち特定の波長の光を反射し、第一の外部共振器を形成する第一の反射部と、
この第一の反射部と同一経路上に設けられ、前記レーザダイオードからの光を反射し、第二の外部共振器を形成する第二の反射部と
を有し、前記第一の反射部の反射率は、前記第二の反射部の反射率よりも大きいことを特徴とするＯＴＤＲ用光源。
【請求項２】
第二の反射部は、反射する波長範囲が、第一の反射部よりも広いことを特徴とする請求項１記載のＯＴＤＲ用光源。
【請求項３】
第一の反射部は、前記レーザダイオードからの光を被測定光ファイバに伝送する光ファイバに設けられるファイバーグレーティングであることを特徴とする請求項１または２記載のＯＴＤＲ用光源。
【請求項４】
第二の反射部は、前記レーザダイオードからの光が前記光ファイバに入射する端面であることを特徴とする請求項３記載のＯＴＤＲ用光源。
【請求項５】
第二の反射部は、前記光ファイバに設けられるコネクタ部であることを特徴とする請求項３記載のＯＴＤＲ用光源。
【請求項６】
第二の反射部は、前記レーザダイオードと前記レーザダイオードからの光が前記光ファイバに入射する端面との間に設けらる反射板であることを特徴とする請求項３記載のＯＴＤＲ用光源。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被測定光ファイバの測定を行なうＯＴＤＲに用いられるＯＴＤＲ用光源に関し、詳しくは、被測定光ファイバで発生する位相雑音を低減させるＯＴＤＲ用光源に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ＯＴＤＲ（Optical Time-Domain Reflectometer）は、光通信等に用いられる長距離光ファイバ（測定対象の光ファイバ）の測定を行なうものである。このＯＴＤＲは、被測定光ファイバの一端に高出力の光パルスを入射し、この一端から出射される後方散乱光（光ファイバの散乱点で後方散乱された光、例えば、レイリー散乱光）の波高値（光パワー）、光パルスが戻ってくる時間等から被測定光ファイバ内に存在する破断点・障害点の位置、接続点における相対レベル、損失分布測定等に用いられる（例えば、特許文献１、２参照）。
【０００３】
そして、ＯＴＤＲ用光源とは、上記ＯＴＤＲの光源として用いられ、被測定光ファイバに光パルスを出射するための光源である。
【０００４】
図６は、従来のＯＴＤＲの構成を示した図である。
図６において、ＯＴＤＲ用光源１は、光パルスを出射する。光カプラ２は、光源１からの光パルスが入射される。コネクタ３は、光カプラ２と被測定光ファイバ４とを接続させて光を伝送する。アバランシェフォトダイオード（以下、ＡＰＤと略す）モジュール５は、被測定光ファイバ４からの後方散乱光が、コネクタ３、光カプラ２を介して入射される。信号処理部６は、ＡＰＤモジュール５の出力から被測定光ファイバ４の測定を行なう。
【０００５】
このような装置の動作を説明する。
光源１が、タイミング制御部（図示せず）からの制御信号に基づいて、所定のタイミングで光パルスを出射する。そして、光パルスが、光カプラ２、コネクタ３を介して被測定光ファイバ４に入射される。さらに、被測定光ファイバ４内で発生した後方散乱光が、コネクタ３、光カプラ２を介してＡＰＤモジュール５に入射される。
【０００６】
そして、ＡＰＤモジュール５が、入射した光の強さに比例した光電流を信号処理部６に出力する。さらに、信号処理部６が、光電流を電圧に変換し、タイミング制御部の制御信号のタイミング、後方散乱光をＡＰＤモジュール５が受光した時間、電圧値などから、被測定光ファイバ４の測定を行なう。
【０００７】
図７は、図６に示す装置に用いられる光源１の構成を示した図である。ここで、図６と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。
図７において、ＬＤモジュール１１は、レーザダイオード（以下、ＬＤと略す）１２を備える。ＬＤ１２は、一端にＨＲコート、他端にＡＲコートされる。なお、ＬＤ１２は、単体でレーザ発振しないように、ＡＲコートの反射率を非常に小さく（例えば、０．１％以下）している。
【０００８】
光ファイバ１３は、経路（すなわち、光が伝播する光路）上にファイバーグレーティング１４、光アイソレータ１５が設けられ、斜め研磨された一端１３ａからＬＤ１２の光が入射され、レーザ光を光カプラ２０に伝送する。なお、斜め研磨端面１３ａは、端面の反射光をＬＤ１２に戻さないためである。
【０００９】
ファイバーグレーティング１４は、光ファイバのコアの長手方向に周囲的な屈折率変化を与えたものであり、所定の波長の光を反射する。レンズ１６は、ＬＤ１２と光ファイバ１３の間に設けられ、ＬＤ１２のＡＲコート端側からの空間光を集光してファイバ１３に入射させると共に、ファイバ１３からの空間光を集光してＬＤ１２のＡＲコート端側に入射する。なお、ファイバーグレーティング１４とＬＤの一端（ＨＲコート側）で、外部共振器を形成する。
【００１０】
このような光源の動作を説明する。
タイミング制御部（図示せず）からの制御信号に基づいて、ＬＤモジュール１１がＬＤ１２にキャリア注入し、ＬＤ１２とファイバグレーティング１４間の共振器長およびファイバーグレーティングの反射波長に従って、所定の波長でレーザ発振する。そして、レーザ光が、光アイソレータ１５を通って、光カプラ２０に出力される。
【００１１】
【特許文献１】特開平９−１５０９０号公報
【特許文献２】特開平５−２３１９２３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
ＯＴＤＲ用光源１には、用途に応じた波長、光出力が求められるが、用途によっては発光波長範囲のスペックに厳しい制限が設けられる。例えば、国内の現用回線は、１３１０［ｎｍ］、１５５０［ｎｍ］の波長の光が用いられるので、ＯＴＤＲの監視波長としては、１６５０［ｎｍ］帯域を用いている。そして、ＯＴＤＲからの光パルスが、現用回線の１３１０［ｎｍ］、１５５０［ｎｍ］の光に対して影響を与えないように、ＯＴＤＲ用光源１には発光波長範囲１６５０［ｎｍ］±５［ｎｍ］という厳しい波長スペックが存在する。
【００１３】
従って、ＬＤ１２には、ＬＤ１２単体でレーザ発振する安価なファブリペローレーザを使用できず、反射率を０．１％以下に抑えた非常に高価なＡＲコートをＬＤ１２の前端面に施している。そして、ＬＤ１２とファイバーグレーティング１４とで外部共振器を形成してレーザ発振させることにより、厳しいスペックに対応したＯＴＤＲ用光源１としている。すなわち、ファイバーグレーティング１４の反射波長によりＬＤ１２の発振波長がほぼ決まるので、波長精度の高い光源を実現している。
【００１４】
しかしながら、ファイバーグレーティング１４の高い波長選択性によってレーザ光のスペクトル幅が非常に狭くなり、フェージングノイズ（位相雑音）と呼ばれる被測定光ファイバ４内での干渉により、ＡＰＤモジュール５で受光する後方散乱光の光強度に揺らぎが発生し、測定精度が著しく低下してしまう。
【００１５】
そのため、現状、ファイバーグレーティング１４にチャープグレーティング（回折格子の格子周期を一定とせず、位置の関数として徐々に変化させたもの）を用いて、波長選択性を弱めて複数の線スペクトルとしている。ここで、図８は、ファイバーグレーティング１４にチャープグレーティングを用いた場合の光源１が出力するパルス光のスペクトル形状（横軸は波長で、縦軸は強度）を模式的に示した図である。そして、図９は、被測定光ファイバ４の測定結果（縦軸は距離、縦軸は相対レベル）を模式的に示した図である。図９において、破線は、フェージングノイズが存在しない場合の理想的な結果であり、実線は、フェージングノイズの影響を受けた場合の結果である。
【００１６】
図８に示すように、ファイバーグレーティング１４にチャープグレーティングを用いることにより、単一のスペクトルでなく複数のスペクトルが生じる。しかしながら、チャープグレーティングであっても、高い波長選択性を有するので、所定の縦モードでのみレーザ発振し、図９に示すようにフェージングノイズが発生する。
【００１７】
そこで本発明の目的は、被測定光ファイバで発生する位相雑音を低減させるＯＴＤＲ用光源を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
請求項１記載の発明は、
被測定光ファイバの測定を行なうＯＴＤＲに用いられ、前記被測定光ファイバに光パルスを出力するＯＴＤＲ用光源において、
レーザダイオードと、
このレーザダイオードからの光のうち特定の波長の光を反射し、第一の外部共振器を形成する第一の反射部と、
この第一の反射部と同一経路上に設けられ、前記レーザダイオードからの光を反射し、第二の外部共振器を形成する第二の反射部と
を有し、前記第一の反射部の反射率は、前記第二の反射部の反射率よりも大きいことを特徴とするものである。
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明において、
第二の反射部は、反射する波長範囲が、第一の反射部よりも広ことを特徴とするものである。
請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の発明において、
第一の反射部は、前記レーザダイオードからの光を被測定光ファイバに伝送する光ファイバに設けられるファイバーグレーティングであることを特徴とするものである。
請求項４記載の発明は、請求項３記載の発明において、
第二の反射部は、前記レーザダイオードからの光が前記光ファイバに入射する端面であることを特徴とするものである。
請求項５記載の発明は、請求項３記載の発明において、
第二の反射部は、前記光ファイバに設けられるコネクタ部であることを特徴とするものである。
請求項６記載の発明は、請求項３記載の発明において、
第二の反射部は、前記レーザダイオードと前記レーザダイオードからの光が前記光ファイバに入射する端面との間に設けらる反射板であることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、特定の波長の光を反射する第一の反射部でレーザダイオードとの第一の外部共振器を形成し、波長選択性が小さく、第一の反射部に比較して反射率も低い第二の反射部でレーザダイオードとの第二の外部共振器を形成するので、第一の外部共振器で主発振するレーザ光とは別に、光出力の小さい縦モードが増加すると共にスペクトル幅も広がる。また、第一の外部共振器で主発振するので、この主発振する縦モード近傍でのみ第二の外部共振器によるレーザ発振が生じ、波長範囲が著しく広がることもない。これにより、光パルスの波長精度の高さを維持しつつ、ファイバ内の干渉が抑えられて被測定光ファイバで発生するフェージングノイズを低減させることができる。従って、後方散乱光の波形ゆらぎを低減でき、被測定光ファイバの特性、例えば、距離に対する損失分布等を正確に測定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
［第１の実施例］
図１は、本発明の第１の実施例を示した構成図である。ここで、図７と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図１に示す光源は、例えば、図６に示したＯＴＤＲのＯＴＤＲ用光源として用いられる。
【００２１】
図１において、光ファイバ１３の代わりに光ファイバ１７が設けられる。この光ファイバ１７は、経路（すなわち、光が伝播する光路）上に、図７と同様なファイバーグレーティング１４及び光アイソレータ１５が設けられ、ＬＤ１２からの光を光カプラ２０を介して被測定光ファイバ４０に伝送する。また、光ファイバ１７のフラット研磨端面１７ａは、ＬＤ１２からの光が入射される端面であり、ファイバグレーティング１４での反射光がＬＤ１２に出射される端面である。
【００２２】
なお、光ファイバ１７の屈折率（コア、クラッド）と空気の屈折率とが異なるので、フラット研磨された端面１７ａにてＬＤ１２からの光を反射するが、この端面１７ａでの反射光がＬＤ１２に戻るように、端面１７ａが設置される。すなわち、ＬＤ１２からレンズ１６を介して光ファイバ１７ａに入射する光路と同一の光路を経て、端面１７ａの反射光がＬＤ１２に戻る。
【００２３】
従って、ファイバーグレーティング１４とＬＤ１２の一端（ＨＲコート側）で第一の外部共振器を形成し、端面１７ａとＬＤ１２の一端（ＨＲコート側）で第二の外部共振器を形成し、図１に示す光源は複合共振器になる。また、反射率は、端面１７ａよりもファイバーグレーティング１４の方が大きい（例えば、数倍〜数十倍）。また、端面１７ａは、波長選択性がほとんどない。例えば、１６５０［ｎｍ］帯でみると、波長選択性はゼロとみなせる。
【００２４】
ここで、ファイバーグレーティング１４は、第一の反射部であり、光ファイバ１７の端面１７ａは、第二の反射部である。
【００２５】
このような光源の動作を説明する。具体例として、１６５０［ｎｍ］帯のＯＴＤＲ用光源として説明する。例えば、ファイバーグレーティング１４は、１６５０［ｎｍ］において反射率が２０％程度のチャープグレーティングであり、端面１７ａの反射率は４％程度である。また、光アイソレータ１５は、１６５０［ｎｍ］帯光アイソレータとする。
【００２６】
タイミング制御部（図示せず）からの制御信号に基づいて、ＬＤモジュール１１がＬＤ１２にキャリア注入し、ＡＲコート付きＬＤ１２が、１６５０［ｎｍ］帯にゲインを有する誘導放出光を前方向側の端面（ＡＲコートされた端面）から空間に出力する。ここで、ＬＤ１２は、反射率０．１％以下のＡＲコートが施されているので、ＬＤ１２単体ではレーザ発振しない。
【００２７】
そして、レンズ１６が、ＬＤ１２からの光を集光して端面１７ａから光ファイバ１７に入射させる。そして、光ファイバ１７にＬＤ１２からの光が入射されると同時に、端面１７ａで約４％の光が反射される。
【００２８】
さらに、端面１７ａでの反射光がレンズ１６を介してＬＤ１２に戻り、第二の共振器を形成し、レーザ発振する。また、光ファイバ１７に入射した光は、ファイバグレーティング１４で所定の波長の光のみが反射されて、端面１７ａ、レンズ１６を介してＬＤ１２に戻り、第一の共振器を形成し、レーザ発振する。そして、第一、第二の共振器でレーザ発振した光パルスが、光アイソレータ１５を経て、光カプラ２０に出力される。
【００２９】
ここで、ファイバーグレーティング１４の反射率の方が、フラット研磨端面１７ａの反射率よりも十分に大きいので、ファイバーグレーティング１４の反射波長を主発振モードとしてレーザ発振する。そのため、端面１７ａで形成される第二の共振器でレーザ発振する縦モードの強度は、主発振モードに比べて非常に弱い。
【００３０】
さらに、端面１７ａでの波長選択性が低いので、発振可能な波長範囲内にて、第二の共振器の共振器長で定まる縦モードが複数生じる。
【００３１】
ここで、図２は、図１に示す光源が出力するパルス光のスペクトル形状（横軸は波長で、縦軸は強度）を模式的に示した図である。なお、ファイバーグレーティング１４にチャープグレーティングを用いている。そして、図３は、被測定光ファイバ４０の実測の測定結果（縦軸は距離、縦軸は相対レベル）を示した図である。図３（ａ）は、図６に示したＯＴＤＲに図７に示す光源を用いた場合の測定結果であり、図３（ｂ）は、図１に示す光源を用いた場合の測定結果である。
【００３２】
図２に示すように、ファイバーグレーティング１４による主発振の縦モードに、主発振の縦モードに比べて強度の弱い縦モードが波長範囲に無数に生じるので、スペクトル幅が広がると共に縦モードが増加している。この結果、図３に示すように、フェージングノイズを抑え、後方散乱光の強度のゆらぎも抑えられている。
【００３３】
このように波長選択性の高いファイバーグレーティング１４で第一の共振器を形成し、波長選択性が無く、ファイバーグレーティング１４に比較して反射率も低い端面１７ａで第二の共振器を形成するので、第一の共振器で主発振するレーザ光とは別に、光出力の小さい縦モードが増加すると共にスペクトル幅も広がる。また、第一の共振器で主発振するので、この主発振する縦モード近傍でのみ第二の共振器によるレーザ発振が生じ、波長範囲が著しく広がることもない。これにより、光パルスの波長精度の高さを維持しつつ、ファイバ内の干渉が抑えられて被測定光ファイバで発生するフェージングノイズを低減させることができる。従って、後方散乱光の波形ゆらぎを低減でき、被測定光ファイバ４の特性、例えば、距離に対する損失分布等を正確に測定することができる。
【００３４】
［第２の実施例］
図４は、本発明の第２の実施例を示した構成図である。ここで、図７と同一のものには同一符号を付し、説明を省略する。光ファイバ１３上にコネクタ部１８が設けられる。コネクタ部１８は、ＦＣ研磨されたコネクタ１８ａ、１８ｂが、アダプタ１８ｃによって保持されている。コネクタ１８ａ、１８ｂの端面は物理的に接触しているが、接触面にて光が反射（例えば、４％程度の反射率）するようにそれぞれの端面が研磨されている。もちろん、反射率を変えたい場合、端面の研磨形状はどのようなものでもよい。
【００３５】
従って、ファイバーグレーティング１４とＬＤ１２の一端（ＨＲコート側）で第一の外部共振器を形成し、コネクタ部１８のコネクタ１８ａ、１８ｂそれぞれが接触する端面とＬＤ１２の一端（ＨＲコート側）で第二の外部共振器を形成し、図４に示す光源は複合共振器になる。また、反射率は、コネクタ部１８よりもファイバーグレーティング１４の方が大きい（例えば、数倍〜数十倍）。また、コネクタ部１８は、波長選択性がほとんどない。例えば、１６５０［ｎｍ］帯でみると、波長選択性はゼロとみなせる。
【００３６】
ここで、ファイバーグレーティング１４は、第一の反射部であり、光ファイバ１３に設けられるコネクタ部１８は、第二の反射部である。
【００３７】
このような光源の動作を説明する。図１と同様に、１６５０［ｎｍ］帯のＯＴＤＲ用光源として説明する。
タイミング制御部（図示せず）からの制御信号に基づいて、ＬＤモジュール１１がＬＤ１２にキャリア注入し、ＡＲコート付きＬＤ１２が、１６５０［ｎｍ］帯にゲインを有する誘導放出光を前方向側の端面（ＡＲコートされた端面）から空間に出力する。そして、レンズ１６がＬＤ１２からの光を集光し、斜め研磨された端面１３ａから光ファイバ１３に約６０％の効率で入射する。
【００３８】
光ファイバ１３に入射した光は、ファイバグレーティング１４で所定の波長の光のみが反射されて、端面１３ａ、レンズ１６を介してＬＤ１２に戻り、第一の共振器を形成し、レーザ発振する。そして、コネクタ部１８で、ファイバーグレーティング１４を透過した光が、約４％の反射率で波長選択性無く反射し、ＬＤ１２に戻り、第二の共振器を形成しレーザ発振する。さらに、第一、第二の共振器でレーザ発振した光パルスが、光アイソレータ１５を経て、光カプラ２０に出力される。
【００３９】
ここで、ファイバーグレーティング１４の反射率の方が、コネクタ部１８のコネクタ１８ａ、１８ｂの接触端面での反射率よりも十分に大きいので、ファイバーグレーティング１４の反射波長を主発振モードとしてレーザ発振する。そのため、コネクタ部１８で形成される第二の共振器でレーザ発振する縦モードの強度は、主発振モードに比べて非常に弱い。
【００４０】
さらに、コネクタ部１８での波長選択性が低いので、発振可能な波長範囲内にて、第二の共振器の共振器長で定まる縦モードが複数生じる。
【００４１】
このように波長選択性の高いファイバーグレーティング１４で第一の共振器を形成し、波長選択性が無く、ファイバーグレーティング１４に比較して反射率も低いコネクタ部１８で第二の共振器を形成するので、第一の共振器で主発振するレーザ光とは別に、光出力の小さい縦モードが増加すると共にスペクトル幅も広がる。また、第一の共振器で主発振するので、この主発振する縦モード近傍でのみ第二の共振器によるレーザ発振が生じ、波長範囲が著しく広がることもない。これにより、光パルスの波長精度の高さを維持しつつ、ファイバ内の干渉が抑えられて被測定光ファイバで発生するフェージングノイズを低減させることができる。従って、後方散乱光の波形ゆらぎを低減でき、被測定光ファイバ４の特性、例えば、距離に対する損失分布等を正確に測定することができる。
【００４２】
［第３の実施例］
図５は、本発明の第３の実施例を示した構成図である。ここで、図４と同一のものには同一符号を付し、説明を省略する。図５において、コネクタ部１８が取り除かれ、レンズ１６の代わりにレンズ１９、２０が設けられ、レンズ１９、２０で共焦点レンズ系を形成する。そして、レンズ１９、２０の間に、所定の反射率を有する反射板２１が設けられる。ここで、反射板２１は、ＬＤ１２の一端（ＨＲコート側）で第二の外部共振器を形成し、図５に示す光源は複合共振器になる。また、反射率は、反射板２１よりもファイバーグレーティング１４の方が大きい（例えば、数倍〜数十倍）。また、反射板２１は、波長選択性がほとんどない。例えば、１６５０［ｎｍ］帯でみると、波長選択性はゼロとみなせる。
【００４３】
ここで、ファイバーグレーティング１４は、第一の反射部であり、ＬＤ１２と光ファイバ端面１３ａとの間に設けられる反射板２１は、第二の反射部である。
【００４４】
このような光源の動作を説明する。図４と異なる部分を主に説明する。
ＡＲコート付きＬＤ１２が、１６５０［ｎｍ］帯にゲインを有する誘導放出光を前方向側の端面（ＡＲコートされた端面）から空間に出力する。そして、レンズ１９が、ＬＤ１２からの光を平行光にする。そして、反射板２１が、ＬＤ１２からの光を約４％の反射率で波長選択性無く反射し、レンズ１９を介してＬＤ１２に戻し、第二の共振器を形成しレーザ発振する。一方、反射板２１を透過した平行光を、レンズ２０が集光して端面１３ａに入射する。そして、ファイバーグレーティング１４からの反射光が、レンズ２０、反射板２１、レンズ１９の順に戻りＬＤ１２に入射する。その他の動作は図４に示す装置と同様なので説明を省略する。
【００４５】
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、以下に示すようなものでもよい。
図１、図４、図５に示す光源において、光アイソレータ１５を設ける構成を示したが、設けなくともよい。
【００４６】
また、ファイバーグレーティング１４は、チャープグレーティング（chirped grating）を用いる構成を示したが、ブラックグレーティング(bragg grating)等でもよい。
【００４７】
また、ＬＤ１２からの光またはＬＤ１２への戻り光を集光するためのレンズ１６、１９、２０を１枚または２枚とする構成を示したが、レンズは何枚でもよく、また、方物面鏡を用いてもよい。さらに、ＬＤモジュール１１と一体化させてもよい。
【００４８】
また、１６５０［ｎｍ］帯にゲインをもつＬＤ１２を一例として示したが、ＬＤ１２が出力する光の波長帯はどこでもよい。例えば、光ファイバのＯＨ基を確認する１３８３［ｎｍ］光源や、ＰＯＮシステムに採用されている１４９０［ｎｍ］光源などでもよく、波長スペックの厳しいＯＴＤＲに本光源を用いるとよい。
【００４９】
また、第一の外部共振器を形成するファイバグレーティング１４の反射率を２０％とし、第二の外部共振器を形成する端面１７ａ、コネクタ部１８、反射板２１の反射率を４％とする構成を示したが、それぞれの反射率はどのようなものでもよい。要は、（第一の外部共振器を構成する反射部の反射率）＞（第二の外部共振器を構成する反射部の反射率）であり、第一の外部共振器でレーザ光が主発振すればよい。
【００５０】
また、第２の反射部（端面１７ａ、コネクタ部１８、反射板２１）に波長選択性を持たせてもよい。例えば、ＬＤ１２のゲインがある波長範囲を反射するようにしてもよい。なお、第２の反射部が反射する波長範囲は、第１の反射部よりもひろくする。
【００５１】
図４に示す光源において、コネクタ部１８をファイバグレーティング１４と光アイソレータ１５の間に設ける構成を示したが、斜め研磨端面１３ａとファイバグレーティング１４の間でもよい。
【００５２】
図１に示す光源の光ファイバ１７上に、図４に示すコネクタ部１８を設け、外部共振器を３個としてもよい。また、図５に示す光源に、斜め研磨端面１３ａの代わりに図１に示すフラット研磨端面１６ａや図４に示すコネクタ部１８を組み合わせてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５３】
【図１】本発明の第１の実施例を示した構成図である。
【図２】図１に示す光源から出力される光パルスのスペクトル形状の一例を示した図である。
【図３】図１に示す光源と従来の光源とを用いた場合の測定結果の比較の図である。
【図４】本発明の第２の実施例を示した構成図である。
【図５】本発明の第３の実施例を示した構成図である。
【図６】ＯＴＤＲの構成を示した図である。
【図７】従来のＯＴＤＲ用光源の構成を示した図である。
【図８】図７に示す光源から出力される光パルスのスペクトル形状の一例を示した図である。
【図９】従来の光源を用いた場合の測定結果の模式図である。
【符号の説明】
【００５４】
１２  ＬＤ
１４  ファイバーグレーティング
１７ａ  フラット研磨端面
１８  コネクタ部
２１  反射板
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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