(57)【要約】【課題】有機発光表示装置自体に検査用画素を別途に備えた有機発光表示装置を提供する。【解決手段】Ｍ個の第１電極ラインとＮ個の第２電極ラインとが交差する領域に形成されたＭ×Ｎ個の発光される有機発光層を含む有機発光表示装置において、前記第２電極ラインの外側に形成される検査用ダミー線と、前記検査用ダミー線が形成された方向に延長する第１電極ラインと、前記検査用ダミー線と前記第１電極ラインとが交差する領域に形成される検査用有機発光層を含んで構成される検査用画素とを備える。【選択図】図３
2007173205.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｍ個の第１電極ラインとＮ個の第２電極ラインとが交差する領域に形成されたＭ×Ｎ個の発光される有機発光層を含む有機発光表示装置において、
前記第２電極ラインの外側に形成される検査用ダミー線と、
前記検査用ダミー線が形成された方向に延長する第１電極ラインと、
前記検査用ダミー線と前記第１電極ラインとが交差する領域に形成される検査用有機発光層を含んで構成される検査用画素と
を備えることを特徴とする有機発光表示装置。
【請求項２】
前記第１電極ラインはデータ線と接続され、第２電極ラインは走査線と接続されることを特徴とする請求項１に記載の有機発光表示装置。
【請求項３】
前記ダミー線と前記最外側の第２電極ラインとの間隔は、前記第２電極ライン間の間隔よりも狭いことを特徴とする請求項２に記載の有機発光表示装置。
【請求項４】
前記検査用有機発光層の面積は、他の有機発光層の面積よりも小さいことを特徴とする請求項２に記載の有機発光表示装置。
【請求項５】
前記検査用ダミー線は、前記第２電極ラインと平行であることを特徴とする請求項１に記載の有機発光表示装置。
【請求項６】
Ｍ個の第１電極ラインとＮ個の第２電極ラインとが交差する領域に形成されたＮ×Ｍ個の有機発光層を含み、前記第２電極ラインの外側に前記第２電極ラインと平行な基板検査用ダミー線が備えられ、前記各第１電極ラインは前記ダミー線が形成された方向に延長され、前記ダミー線と前記第１電極ラインとが交差する領域に形成される検査用有機発光層を備えることを特徴とする有機発光表示装置において、
前記基板検査用ダミー線を接地させる第１段階と、
第２電極ラインのうち、ｑライン（１≦ｑ≦Ｎ）に直流（ＤＣ）電圧を、有機発光表示装置を駆動するための電流の印加方向と反対方向に印加する第２段階と、
前記ｐ（１≦ｐ≦Ｍ）番目の検査用画素の発光を識別することで、ｐ×ｑ番目の画素が短絡されていることを見つける第３段階と
を含むことを特徴とする有機発光表示装置の検査方法。
【請求項７】
前記第２段階において、第２電極は、１ラインからｑラインまで順次電流を印加することを特徴とする請求項６に記載の有機発光表示装置の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、有機発光表示装置及びその欠陥検査方法に関し、より詳細には、検査用画素が備えられた有機発光表示装置及びその検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
通常、有機電界発光素子は、互いに対向する電極の間に有機発光層を位置させ、両電極の間に電圧を印加すれば、一方の電極から注入された電子と、他方の電極から注入された正孔とが有機発光層で結合し、このときの結合により発光層の発光分子がいったん励起された後、基底状態に戻りながら放出されるエネルギーを光に発光させる有機発光素子を用いた平板表示装置の一種である。
【０００３】
このような発光原理を有する有機発光表示装置は、視認性が優れ、軽量化、薄膜化を図れるほか、低電圧で駆動できることから、次世代のディスプレイとして注目されている。
【０００４】
まず、図１は、従来技術に係る有機発光表示装置の平面図である。これによれば、有機発光表示装置のパネルに形成される画素を有機発光セルは、基板上に形成されるアノード電極２０、有機発光層４０、及びカソード電極５０を含んで形成される。
【０００５】
アノード電極２０は、基板１０上に所定の間隔で垂直に複数配列されており、データ線を介して駆動集積回路と電気的に接続される。このとき、アノード電極は、酸化インジュウムスズ（ＩＴＯ）、酸化インジウム亜鉛（ＩＺＯ）、酸化スズ（ＳｎＯ２）、酸化亜鉛（ＺｎＯ）が材料として用いられることができる。
【０００６】
有機発光層４０は、アノード電極２０上に形成されるが、本実施例における有機発光層は、アノード電極２０とカソード電極５０との間に介在される各種の有機薄膜を含む。すなわち、発光層をはじめ、電子注入層、電子輸送層、正孔注入層、正孔輸送層などを含む。
【０００７】
カソード電極５０は、通常、前記アノード電極２０と垂直方向に形成される。これにより、有機発光層４０は前記アノード電極２０と前記カソード電極５０とが交差する地点に位置することになる。カソード電極５０は、走査線に接続されて駆動集積回路に接続される。カソード電極５０としては、リチウム、マグネシウム、アルミニウム、アルミニウム-リチウム、カルシウム、マグネシウム-インジウム、マグネシウム-銀などが用いられることができる。
【０００８】
一方、画素の形成方法によって、カソード電極を形成するための隔壁３０を備えられることができるが、隔壁３０はアノード電極２０と垂直に形成されて、カソード電極５０がその間に位置し得るように所定間隔だけ離隔されて複数設置される。
【０００９】
このとき、通常、アノード電極２０は最外側隔壁３０の外側に所定長さに突出する区間を含むが、この区間は発光実現に関わらないため、結果的に画素領域のデッドスペースとなる。
【００１０】
このような有機発光表示装置の欠陥を評価する方法としては、従来、駆動回路を付着して、実際の製品の状態と同一に製作した後、これを駆動してライン欠陥やドット欠陥に対してそれぞれ個別の検出作業を行う方法、または有機発光素子パネルのアノード電極とカソード電極にＤＣ逆電圧を加えて、パネル内の漏れ電流を測定し、逆電流値を基準としてパネルに欠陥があるか否かを判断する方法などが用いられている。
【００１１】
図２を参照して、後者の検査方法についてより詳細に説明すれば、Ｍ個のデータ線とＮ個の走査線とが交差する領域にＭ×Ｎ個の有機発光層が形成された有機発光表示装置において、ｐ×ｑ(１≦ｐ≦Ｍ、１≦ｑ≦Ｎ)画素の不良を検査するためには、ｐ番目のデータを接地し、ｑ番目の走査線Ｓｑに（＋）電流を印加して、ｐ×ｑ画素に漏れ電流が発生するか否かを検査する方法である。
【００１２】
しかし、前記方法による検査方法は、短所が露呈されているが、前者の場合にパネル内の欠陥の有無とは関係なく駆動回路を備えてから検査するため、検査時間が増え、さらに欠陥が見つかった場合には駆動回路とともにパネルが破棄され、コスト増になるという問題点がある。
【００１３】
後者の場合、パネル内の数多くのピクセルのうち、一部セルの欠陥による漏れ電流を前記方法により測定する場合、実際に測定誤差や測定端子の抵抗などの上昇による誤差が生じ、検出精度が低下するという問題点がある。
【特許文献１】大韓民国特許公開第１０−２００５−００８１３１８号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
本発明は、上記した従来技術の問題点に鑑みてなされたものであって、その目的とするところは、有機発光表示装置自体に検査用画素を別途に備えた有機発光表示装置を提供することにある。
【００１５】
また、本発明のさらに他の目的は、検査用画素を備えた有機発光表示装置を用いる検査方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
上記目的を達成するための本発明に一側面によれば、Ｍ個の第１電極ラインとＮ個の第２電極ラインとが交差する領域に形成されたＭ×Ｎ個の発光される有機発光層を含む有機発光表示装置において、前記第２電極ラインの外側に形成される検査用ダミー線と、前記検査用ダミー線が形成された方向に延長する第１電極ラインと、前記検査用ダミー線と前記第１電極ラインとが交差する領域に形成される検査用有機発光層を含んで構成される検査用画素とを備えることを特徴とする。
【００１７】
また、本発明の他の側面によれば、Ｍ個の第１電極ラインとＮ個の第２電極ラインとが交差する領域に形成されたＮ×Ｍ個の有機発光層を含み、前記第２電極ラインの外側に前記第２電極ラインと平行な基板検査用ダミー線が備えられ、前記各第１電極ラインは前記ダミー線が形成された方向に延長され、前記ダミー線と前記第１電極ラインとが交差する領域に形成される検査用有機発光層を備えることを特徴とする有機発光表示装置において、前記基板検査用ダミー線を接地させる第１段階と、第２電極ラインのうち、ｑライン（１≦ｑ≦Ｎ）に直流（ＤＣ）電圧を、有機発光表示装置を駆動するための電流の印加方向と反対方向に印加する第２段階と、前記ｐ（１≦ｐ≦Ｍ）番目の検査用画素の発光を識別することで、ｐ×ｑ番目の画素が短絡されていることを見つける第３段階とを含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１８】
本発明に係る有機発光表示装置及びその欠陥検査方法によれば、有機発光表示装置自体に検査用画素を備えることで、別途の欠陥測定装置を備えなくても、肉眼で容易に欠陥を検出できるという長所がある。
【００１９】
また、ライン単位で欠陥の検査を行うことで、検査にかかる時間とコストを節約できるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、添付図面を参照して本発明の好適な一実施形態について詳細に説明する。
【００２１】
まず、図３は、本発明に係る有機発光表示装置の平面図である。これによれば、有機発光表示装置のパネルに形成される画素は、一般画素と検査用画素とを含んで構成される。以下の説明において、一般画素とは、駆動集積回路の電気信号による通常のディスプレイを実現する画素をいい、検査用画素とは、一般画素の欠陥を検出するための検査を行う画素をいう。
【００２２】
一般画素１４０を構成する有機発光セルは、基板上に形成されるアノード電極１２０、有機発光層１４０、及びカソード電極１５０を含んで形成される。
【００２３】
アノード電極１２０は、基板１１０上に所定の間隔で垂直に複数配列されており、データ線を介して駆動集積回路と電気的に接続される。このとき、アノード電極１２０は、酸化インジュウムスズ（ＩＴＯ）、酸化インジウム亜鉛（ＩＺＯ）、酸化スズ（ＳｎＯ２）、酸化亜鉛（ＺｎＯ）が材料として用いられることができる。
【００２４】
有機発光層１４０は、アノード電極１２０上に形成されるが、本実施形態において有機発光層１４０はアノード電極１２０とカソード電極１５０との間に介在される各種の有機薄膜を含む。すなわち、発光層をはじめ、電子注入層、電子輸送層、正孔注入層、正孔輸送層などを含む。
【００２５】
カソード電極１５０は、通常、アノード電極１２０の垂直方向に形成される。これにより、有機発光層１４０はアノード電極１２０とカソード電極１５０とが交差する地点に位置することになる。カソード電極１５０は、走査線に接続されて駆動集積回路に接続される。カソード電極１５０は、リチウム、マグネシウム、アルミニウム、アルミニウム-リチウム、カルシウム、マグネシウム-インジウム、マグネシウム-銀などが用いられることができる。
【００２６】
一方、駆動集積回路は、データ信号、スキャン信号の信号をアノード電極１２０及びカソード電極１５０に伝達するが、駆動トランジスタが備えられる能動駆動型有機発光素子が基板上に形成される場合に、駆動トランジスタのソース／ドレインまたはゲート電極と電気的に接続されて、アノード電極１２０及びカソード電極１５０に信号を伝達する。
【００２７】
一方、画素の形成方法によって、カソード電極を形成するための隔壁１３０を備えられるが、隔壁１３０はアノード電極１２０と垂直に形成され、カソード電極１５０がその間に位置し得るように所定間隔だけ離隔されて複数設置される。
【００２８】
検査用画素は、一般画素のアノードライン１２０を延長し、検査用ダミー線１６０と、検査用有機発光層１４５とを含んで構成される。
【００２９】
検査用ダミー線１６０は、カソード電極１５０の外側に所定間隔だけ離隔されるカソード電極１５０と平行に形成される電極線であるが、カソード電極１５０とは異なり、走査線に接続されて駆動集積回路から信号を受けない。
【００３０】
検査用有機発光層は、アノード電極１２０とカソード電極１５０とが交差する有機発光層と同様に、検査用ダミー線１６０の方向に延長するアノード電極１２０と検査用ダミー線１６０とが交差する領域に形成される発光層である。
【００３１】
検査用画素の場合も、画素形成方法によって、隔壁が形成され得るが、検査用ダミー線を形成するための隔壁１２５は、最外側のカソードを形成するための隔壁１３０の外側に形成される。
【００３２】
検査用画素は、占める面積を最小化するために、一般画素に比べて更に小さく形成されることが好ましいが、通常、有機発光表示装置の構造において最外郭隔壁の外郭に所定の空間が残り、この空間にアノード電極が所定長さに突出しているので、これを用いる場合は重大なレイアウトの変更なしに検査用画素を形成できる。
【００３３】
一方、このような検査用ダミー線１６０、検査用有機発光層１４５、ダミー線を形成するための隔壁１２５は、一般画素の形成のためのカソード電極１５０、有機発光層１４０、カソード電極を形成するための隔壁１３０などと区別して説明したが、その製造方法においては、検査用ダミー線が走査線と接続されない点を除いては、一般画素と同一に形成されることができることを当業者は認識できるだろう。
【００３４】
以下、図４を参照して、前記検査用画素を備えた有機発光表示装置の欠陥検査方法について説明する。図４によれば、有機発光表示装置は、Ｍ個の第１電極ラインとＮ個の第２電極ラインとを備え、これらが交差する領域に有機発光層を形成して、Ｍ×Ｎ個の一般画素を備える。
【００３５】
また、前記第２電極ラインの外側に、前記第２電極ラインと平行な基板検査用ダミー線と、第１電極ラインは前記ダミー線が形成された方向に延長され、前記ダミー線と前記第１電極ラインとが交差する領域に形成される検査用有機発光層を備え、Ｍ×１個の検査用画素を備える。
【００３６】
このとき、有機発光表示装置内の画素不良を検索するために、まず、基板検査用ダミー線を接地させる。そして、第２電極ラインのうち、ｑライン(１≦ｑ≦Ｎ)に直流（ＤＣ）電圧を逆に印加する。
【００３７】
直流電圧を逆に印加した状態で、前記ｐ（１≦p≦Ｍ）番目の検査用画素が発光される場合、ｐ×ｑ番目の画素が短絡されたことを肉眼で確認できる。
【００３８】
すなわち、第２電極ラインのうち、ｑラインに電流を印加する場合、第２電極ラインに沿って流れる電流はｑラインに位置する画素に短絡がない場合には検査用画素に電流が伝達されないので、検査用画素が発光しない。
【００３９】
しかし、第２電極ラインのうち、ｑラインに電流を印加する場合、ｐ番目の検査用画素が発光すれば、ｐ×ｑ番目の画素が短絡されたことになるが、これはｐ×ｑ番目の画素が短絡された場合に、電流が逆に流れて、ｐ番目の検査用画素に到達し、ｐ番目の検査用画素に順方向に電流が流れるようになり、ｐ番目の検査用画素が発光する。
【００４０】
以上、本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。例えば、画素を第２電極ライン毎に順次行う方法の特定、検査用画素の製造方法などの変更などは、当業者が容易に行えるだろう。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】従来技術に係る有機発光表示装置の平面図である。
【図２】従来技術によって有機発光表明装置を検査する方法について説明する構成図である。
【図３】本発明の一実施例による有機発光表示装置の平面図である。
【図４】本発明の一実施例によって有機発光表明装置を検査する方法について説明する構成図である。
【符号の説明】
【００４２】
１１０    基板、
１２０    アノード電極、
１３０    隔壁、
１４０    有機発光層、
１４５    検査用有機発光層、
１５０    カソード電極、
１６０    検査用ダミー線。
【図１】
2007173205.tif 000003
【図２】
2007173205.tif 000004
【図３】
2007173205.tif 000005
【図４】
2007173205.tif 000006