(57)【要約】【課題】光ディスク上でデビエーションの存在する領域を回避して試し書きを実行し、導出される最適記録条件の精度と信頼性を向上させること。【解決手段】デビエーション検出部１０は、フォーカスエラー信号（ＦＥ）またはトラッキングエラー信号（ＴＥ）の振られ量から光ディスク１の案内溝のデビエーション２３，２４を検出し、検出したデビエーションの情報をメモリ１１に登録する。試し書き処理部８は、メモリ１１を参照して、デビエーションを検出した領域を回避してテスト信号を記録及び再生する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにレーザ光を照射してデータを記録する際に、試し書きにより記録条件を調整する光ディスク装置であって、
上記光ディスクを回転させるスピンドルモータと、
レーザ光を上記光ディスクの試し書き領域に照射してテスト信号の記録及び再生を行うピックアップと、
該ピックアップの検出信号からテスト信号の再生信号と、フォーカスエラー信号またはトラッキングエラー信号を取得する信号処理部と、
該取得したフォーカスエラー信号またはトラッキングエラー信号の振られ量から上記光ディスクの案内溝のデビエーションを検出するデビエーション検出部と、
上記ピックアップにテスト信号を供給し、また上記信号処理部にて取得した該テスト信号の再生信号の品質を評価して記録条件を調整する試し書き処理部とを備え、
該試し書き処理部は、上記デビエーション検出部にてデビエーションを検出した領域を回避してテスト信号を記録し、また該領域を回避して該テスト信号を再生することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１記載の光ディスク装置であって、
前記デビエーション検出部にて検出したデビエーションの情報を登録するメモリを備え、
前記試し書き処理部は、該メモリに登録したデビエーションの情報を参照して、前記デビエーションを検出した領域において前記テスト信号の記録及び再生を中断することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１記載の光ディスク装置であって、
前記デビエーション検出部にて検出したデビエーションの情報を前記光ディスクの所定領域に登録し、
前記試し書き処理部は、該光ディスクに登録されているデビエーションの情報を参照して、前記デビエーションを検出した領域において前記テスト信号の記録及び再生を中断することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１ないし３のいずれかに記載の光ディスク装置であって、
前記デビエーション検出部は、前記フォーカスエラー信号またはトラッキングエラー信号を所定間隔でサンプリングし、隣接するサンプリング値の差分値からデビエーションを検出することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
光ディスクにレーザ光を照射してデータを記録する際の記録条件を調整するための試し書き方法であって、
上記光ディスク上の試し書きを行う領域からフォーカスエラー信号またはトラッキングエラー信号を取得し、
該取得したフォーカスエラー信号またはトラッキングエラー信号の振られ量から上記光ディスクの案内溝のデビエーションを検出し、
該デビエーションを検出した領域を回避してテスト信号を記録し、また該領域を回避して該テスト信号を再生し、
該再生したテスト信号の品質を評価して記録条件を調整することを特徴とする試し書き方法。
【請求項６】
請求項５記載の試し書き方法であって、
前記検出したデビエーションの情報をメモリに登録し、
該メモリに登録したデビエーションの情報を参照して、前記デビエーションを検出した領域において前記テスト信号の記録及び再生を中断することを特徴とする試し書き方法。
【請求項７】
請求項５記載の試し書き方法であって、
前記検出したデビエーションの情報を前記光ディスクの所定領域に登録し、
該光ディスクに登録されているデビエーションの情報を参照して、前記デビエーションを検出した領域において前記テスト信号の記録及び再生を中断することを特徴とする試し書き方法。
【請求項８】
請求項６記載の試し書き方法であって、
前記デビエーションの検出と前記テスト信号の記録とを並行して行い、
該デビエーションを検出した場合、その領域では該テスト信号の記録を中断させ、該検出したデビエーションの情報を前記メモリに登録し、
該メモリを参照して、該デビエーションを検出した領域では該テスト信号の再生を中断することを特徴とする試し書き方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクにデータを記録する光ディスク装置及び試し書き方法に係り、特に試し書きを高精度に行うための技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置では、光ディスクにレーザ光を照射してデータを記録する際、光ディスクの特性や使用環境に適したパワーで記録するように、レーザパワーの調整を行う。このレーザパワーの調整をＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）と呼ぶ。ＯＰＣでは、ディスク上の試し書き領域において、レーザパワーを段階的に変化させたテスト信号で試し書きを行い、それを再生して再生信号の品質、たとえばβ（アシンメトリ）等を評価して、目標のβが得られるレーザパワーを最適記録パワーとして設定する。このように、データを記録する際の記録条件の最適化処理を、以下、記録条件学習とも言う。なお、記録条件学習ではレーザパワーだけでなく、レーザパワー変化のタイミングの調整も含めて行う場合もあり、前述のＯＰＣも含めて以降この記録条件学習を試し書きとも呼ぶ。
【０００３】
しかしながら、光ディスク上の試し書き領域において何らかの欠陥等が存在すると、記録条件学習が正常に行われない。その結果、最適記録条件が得られなかったり、仮に得られたとしても正しい条件からずれたものとなり、その後のデータ記録の支障となる。このようなディスク上の欠陥を回避して試し書きを実行するために、次のような技術が提案されている。
【０００４】
特許文献１では、光ディスク内に試し書き管理領域を設け、そこに試し書き領域に関する情報（膜面の劣化・欠陥がある場所の位置情報と膜面の状態の情報など）を記録し、その情報に基づき劣化・欠陥がある領域を回避して試し書きを実行する技術が開示される。
【０００５】
特許文献２では、未記録状態の光ディスクを予め再生し、得られた信号からデータを記録する領域の物理的状態（光ディスクの記録面の傷、指紋等）を検出し、傷、指紋等の検出された位置を評価の対象から除外することで、光ディスクの傷、指紋等の物理状態にかかわらず、常に最適な条件で記録を行う技術が開示される。
【０００６】
【特許文献１】特開２００５−１８２８８６号公報
【特許文献２】特開２００２−３１９１３５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
高速記録に対応するために近年ＣＡＶ方式による記録が採用されているが、ＣＡＶ方式の場合、外周側ほど記録・再生線速度が増加する。そのため例えばＤＶＤ−ＲＡＭでは、ディスク最外周に記録条件学習のための試し書き領域が設けられ、外周領域を用いてディスクの最高倍速に合わせた最適記録条件の導出を行っている。
【０００８】
光ディスクを高速で走行させて試し書きを行う場合、ディスクの持つデビエーションが原因となり記録条件学習が正しく行えず、最適記録条件を誤って導出する恐れがある。本発明ではこのデビエーションの影響を問題とする。
【０００９】
ここでデビエーションとは、ディスク基板に予め形成されている案内溝および基板表面の部分的な形状不良（凹凸、うねりなど）で、ディスク基板製造時のスタンパ工程等で発生する。基板上に形成される記録膜に欠陥がなければ、試し書き自身は通常通り行われる。しかし、案内溝にデビエーションが存在すると、外周領域における高速走行時のフォーカスやトラッキングのサーボ制御が追従できず、その結果得られる再生信号は不安定となり導出される最適記録条件は精度が悪く信頼性が乏しいものになる。
【００１０】
上記特許文献１及び特許文献２で問題としているディスクの欠陥とは、記録膜（または膜表面）の不良であって、本発明で問題とする案内溝のデビエーションとは別の要因である。また記録膜の欠陥は再生信号の欠落やレベル異常から検知できるが、デビエーションは再生信号レベルだけでは検知できず、新たな対策を必要とする。
【００１１】
本発明の目的は、光ディスク上でデビエーションの存在する領域を回避して試し書き（記録条件学習）を実行し、導出される最適記録条件の精度と信頼性を向上させることにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明は、光ディスクにレーザ光を照射してデータを記録する際に、試し書きにより記録条件を調整する光ディスク装置であって、光ディスクを回転させるスピンドルモータと、レーザ光を上記光ディスクの試し書き領域に照射してテスト信号の記録及び再生を行うピックアップと、ピックアップの検出信号からテスト信号の再生信号とフォーカスエラー信号またはトラッキングエラー信号を取得する信号処理部と、取得したフォーカスエラー信号またはトラッキングエラー信号の振られ量から光ディスクの案内溝のデビエーションを検出するデビエーション検出部と、ピックアップにテスト信号を供給し、また信号処理部にて取得したテスト信号の再生信号の品質を評価して記録条件を調整する試し書き処理部とを備える。試し書き処理部は、デビエーション検出部にてデビエーションを検出した領域を回避してテスト信号を記録し、また該領域を回避して記録したテスト信号を再生する。
【００１３】
さらにデビエーション検出部にて検出したデビエーションの情報を登録するメモリを備え、試し書き処理部は、メモリに登録したデビエーションの情報を参照して、デビエーションを検出した領域においてテスト信号の記録及び再生を中断する。
【００１４】
また本発明は、光ディスクにレーザ光を照射してデータを記録する際の記録条件を調整するための試し書き方法であって、光ディスク上の試し書きを行う領域からフォーカスエラー信号またはトラッキングエラー信号を取得し、取得したフォーカスエラー信号またはトラッキングエラー信号の振られ量から光ディスクの案内溝のデビエーションを検出し、デビエーションを検出した領域を回避してテスト信号を記録し、また該領域を回避してテスト信号を再生し、再生した信号の品質を評価して記録条件を調整する。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、試し書きにおいて光ディスクのデビエーションの影響を受けず、導出される最適記録条件の精度と信頼性を向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
図１は、本発明による光ディスク装置の一実施例を示すブロック図である。本実施例の装置は、装着した光ディスク１をスピンドルモータ２にて回転する。ピックアップ３は、半導体レーザで発生したレーザ光を光ディスク１の記録面に照射し、データや試し書き用のテスト信号を記録または再生するとともに、光検出器にて光ディスク１からの反射光を検出する。ピックアップ３内には、対物レンズとその位置を調整するアクチュエータを内蔵し、フォーカスとトラッキングの調整を行う。スレッドモータ４は、ピックアップ３を光ディスク上の半径方向に移動させる。モータドライバ５は、スピンドルモータ２やスレッドモータ４及びアクチュエータに対し、これらを駆動するための駆動信号を供給する。
【００１７】
信号処理部６は、光ディスク１に記録する記録信号を生成して、レーザドライバ７に供給する。また試し書き処理部８は、記録条件（レーザパワーなど）を段階的に変化させたテスト信号を生成する。一方信号処理部６は、ピックアップ３からの検出信号を処理して、ＲＦ信号、フォーカスエラー信号（ＦＥ）、トラッキングエラー信号（ＴＥ）などを生成する。ＲＦ信号は復調部９で復調されて再生データとなる。また再生されたテスト信号は、試し書き処理部８にて品質を評価し、最適記録条件を導出する。
【００１８】
さらに本装置では、デビエーション検出部１０は、ＦＥ信号やＴＥ信号の「振られ量」からディスク上のデビエーションを検出し、検出したデビエーション情報を、デビエーションエリア登録メモリ１１に登録する。試し書き処理部８はテスト信号の記録及び再生の際、デビエーションエリア登録メモリ１１に登録されているデビエーション情報を参照し、デビエーションの存在する領域を回避して記録再生を行う。マイコン１２は、装置全体の制御を行うと共に、試し書き実行時のデビエーションの検出と登録、そしてこれを回避する処理に関する一連の動作を制御する。
【００１９】
図２は、デビエーションの発生と検出を説明する図である。ここでは、ＤＶＤ−ＲＡＭ外周領域において高倍速（８倍速）走行時に、未記録状態のディスク反射光から生成したフォーカスエラー信号（ＦＥ）２１とトラッキングエラー信号（ＴＥ）２２の各波形を示す。案内溝を有する光ディスクでは、ディスクスタンパの劣化やディスク形成不良などにより溝形状の不良部分（デビエーション）を有する場合がある。このようなディスクを高倍速で走行した場合、特に外周部において、溝反射信号に広帯域の特有のノイズ成分が混入する。図２において、ＦＥ信号２１の符号２３で示す部分や、ＴＥ信号２２の符号２４で示す部分は、デビエーションにより発生した信号の「振られ」（以下、デビエーション信号と呼ぶ）である。この例では、ＦＥ信号に混入したデビエーション信号は、約１ＭＨｚの帯域を有している。なお、ＴＥ信号２２に含まれる符号２５で示すパルス信号は、ＤＶＤ−ＲＡＭの案内溝に予め形成されているアドレス信号によるもので、デビエーションとは関係ない。
【００２０】
デビエーション信号はサーボ制御を悪化させる要因となるが、ディスクの回転周期などに同期したサーボ帯域の残留誤差よりは周波数が大きいため、ディスクのサーボループによる帯域で抑圧することは困難である。そのため、デビエーションの発生する領域では記録再生動作が不安定となり、その結果、記録条件学習時の記録再生品質の評価を困難とさせる。
【００２１】
デビエーション検出部１０は、ＦＥ信号やＴＥ信号からデビエーション信号の検出を行う。ＦＥ信号やＴＥ信号には、ディスクの偏心あるいは面振れによる緩やかな変動成分と、ディスク上の特定位置で発生する瞬時変動成分とが含まれる。デビエーションは光ディスクの特定の場所で発生し、一回転ごとに特有の瞬時変動を生じさせる。よってデビエーションの検出には、この瞬時変動成分を分離抽出する。例えば、ＦＥ信号やＴＥ信号を所定間隔でサンプリングし、隣接するサンプリング値の差分値をデビエーション信号とする。そして、抽出したデビエーション信号の振幅が装置のサーボ追従性から決まる許容値を超えた場合、問題ありと判定する。
【００２２】
図３は、デビエーションを回避して試し書きを行う方法を説明する図である。デビエーション検出部１０は、フォーカスエラー信号（ＦＥ）２１からフォーカスデビエーション信号２３を、またトラッキングエラー信号２２からトラッキングデビエーション信号２４を検出したとする。デビエーション信号２３，２４が検出された場合、その領域にデビエーションが存在することを示すデビエーション情報を、デビエーションエリア登録メモリ１１に登録する。試し書き領域は例えばセクタ単位で区分して、セクタ単位でデビエーション情報を管理するが、領域区分は、ブロックあるいはクラスタ単位としても良い。試し書き処理部８は、デビエーションエリア登録メモリ１１に登録されているデビエーション情報を参照し、デビエーションフラグ信号３１を生成する（Ｈｉｇｈはデビエーション有り、Ｌｏｗはデビエーションなしを示す）。さらフラグ信号３１に従い、試し書き時の記録・再生制御信号３２を生成する。記録・再生制御信号３２は、フラグ信号３１がＨｉｇｈのときは記録を中止し、Ｌｏｗのときは記録を実行させるようにする。レーザドライバ７は記録制御信号３２を受け、レーザ発光のＯＮ／ＯＦＦを制御する。その結果、ピックアップ３からは光ディスク１に対して、発光波形３３で示すレーザ光を照射する。発光波形３３は、デビエーション信号２３，２４が検出された領域でのレーザ発光を中断させる。なお、符号３４はテスト信号のパワーレベルの変化を示すが、レーザ発光が中断しても、中断区間の前後においてパワーレベルが連続するように変化させる。また、記録後にテスト信号を再生する場合も、フラグ信号３１により再生動作を中断させるように制御を行う。これより、デビエーションの検出された領域を避けて、試し書きを行うことができる。
【００２３】
図４は、本実施例における試し書き（記録条件学習）処理の一例を示すフローチャートである。
【００２４】
マイコン１２から記録条件学習の開始の指示を受けると（Ｓ４０１）、試し書きを実行するディスク上のトラック（ここではトラックＡとする）を決定し（Ｓ４０２）、まず、トラックＡの領域のデビエーションの有無をチェックする。トラックＡを再生して反射光からフォーカスエラー信号（ＦＥ）とトラッキングエラー信号（ＴＥ）を生成する。そして、デビエーション検出部１０により、ＦＥ信号とＴＥ信号の「振られ量」からデビエーション信号を検出する（Ｓ４０３）。そして、検出したデビエーションに関する情報をデビエーションエリア登録メモリ１１に登録する（Ｓ４０４）。
【００２５】
次に、取得したデビエーション情報に基づいて、記録条件を変化させたテスト信号の試し書きを実行する。デビエーションエリア登録メモリ１１からデビエーション情報を読み出し、デビエーションが存在する領域を回避して試し書きを行う（Ｓ４０５）。具体的には、図３に示したように、デビエーションの有無に関する情報を参照しデビエーションフラグ信号３１を生成し、該フラグ信号３１により記録制御信号３２を制御しながら、デビエーションエリアをマスクした発光波形３３にてテスト信号を記録する。
【００２６】
記録したテスト信号を再生する際も、同様に、デビエーションエリア登録メモリ１１からデビエーション情報を読み出し、デビエーションエリアをマスクしてテスト信号を再生する（Ｓ４０６）。再生信号の品質を評価し、目標の品質の得られる条件から最適記録条件を導出する（Ｓ４０７）。記録条件の学習を終了し（Ｓ４０８）、導出した最適記録条件にてこれに続くデータの記録動作に移行する。
【００２７】
上記した記録条件学習の処理により、特にディスク外周領域を利用する高速走行条件時の記録条件導出において、デビエーションの存在により誤った最適記録条件を導出することを防ぎ、記録条件学習の精度を向上させることができる。
【００２８】
図５は、本実施例における試し書き（記録条件学習）処理の他の例を示すフローチャートである。この例では、デビエーションのチェックと試し書き処理とを並行して行う。
【００２９】
マイコン１２から記録条件学習の開始の指示を受けると（Ｓ５０１）、試し書きを実行するディスク上のトラック（トラックＡとする）を決定し（Ｓ５０２）、トラックＡにテスト信号の試し書き記録を開始する（Ｓ５０３）。その時並行して、取得したＦＥ信号とＴＥ信号の「振られ量」から、テスト信号を記録した領域のデビエーション信号を検出する（Ｓ５０４）。もしデビエーションが検出されると、そのエリアをスキップする（例えばセクタ単位で検出し、そのセクタをスキップする）。検出したデビエーションに関する情報を、デビエーションエリア登録メモリ１１に登録する（Ｓ５０５）。所定のテスト信号の試し書きを終了すると、テスト信号は、デビエーションエリアを避けて記録されたことになる（Ｓ５０６）。
【００３０】
記録したテスト信号を再生する際は、デビエーションエリア登録メモリ１１からデビエーション情報を読み出し、デビエーションエリアをマスクして信号を再生する（Ｓ５０７）。再生信号の品質を評価し、目標の品質の得られる条件から最適記録条件を導出する（Ｓ５０８）。記録条件の学習を終了し（Ｓ５０９）、導出した最適記録条件にてこれに続くデータの記録動作に移行する。
【００３１】
この方法によれば、デビエーションのチェックと試し書き処理とを並行して行うことができるので、記録条件学習の精度を向上させるだけでなく、記録条件学習に要する時間を短縮することができる
なお、上記実施例では光ディスクとしてＤＶＤ−ＲＡＭを用いたが、対象とする光ディスクはこれに限らないことは言うまでもない。また、本実施例は、試し書き領域として外周領域を使用する場合に効果が顕著であるが、内周領域や中間領域を使用する場合にも同様に適用でき、有効である。
【００３２】
また、上記実施例では、試し書き領域で検出されたデビエーション情報を光ディスク装置のデビエーションエリア登録メモリに登録しているが、当該ディスク自身に登録することも可能である。デビエーションの発生位置はディスク固有であり、ディスクの所定位置、例えばＤＶＤ−ＲＡＭでは光ディスク装置固有の情報が記録可能なＤＩＺ（Ｄｉｓｃ  Ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ  Ｚｏｎｅ）領域に、検出したデビエーション情報（デビエーション検出アドレス）を登録する。そして、次回以降の試し書き時は、デビエーション情報を当該ディスクから読み出して、デビエーション領域をマスクして試し書きを行う。これにより、試し書き実行前のデビエーション検出および試し書き中のデビエーション検出の工程を省略することができ、処理の軽減と試し書き実行時間の高速化を図ることができる。さらには、ディスク出荷時に行うフォーマットの工程（プリ記録による不良領域の検出とディスクへの登録）の中で、試し書き領域についてのデビエーション情報を当該ディスクへ登録することも可能である。この情報を参照することにより、光ディスク装置の行うデビエーション検出工程をさらに削減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】本発明による光ディスク装置の一実施例を示すブロック図。
【図２】デビエーションの発生と検出を説明する図。
【図３】デビエーションを回避して試し書きを行う方法を説明する図。
【図４】試し書き処理の一例を示すフローチャート。
【図５】試し書き処理の他の例を示すフローチャート。
【符号の説明】
【００３４】
１…光ディスク、２…スピンドルモータ、３…ピックアップ、４…スレッドモータ、６…信号処理部、７…レーザドライバ、８…試し書き処理部、１０…デビエーション検出部、１１…デビエーションエリア登録メモリ、１２…マイコン、２１…フォーカスエラー信号（ＦＥ）、２２…トラッキングエラー信号（ＴＥ）、２３，２４…デビエーション、３１…デビエーションフラグ信号、３２…記録・再生制御信号、３３…発光波形。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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