(57)【要約】【課題】  テストディスクの作成を、ユーザの手間をかけずに実行可能なテストディスク作成装置を提供する。【解決手段】  テストデータ記憶手段４０と、最良パラメータセットを記憶する最良パラメータセット記憶手段４４と、最良パラメータセットのパラメータの値を変更し、変更したパラメータの値に基づいて光ディスクへ試し書きを行う試し書き手段３６と、データの書き込み品位を測定する書き込み品位測定手段３４と、目標書き込み品位記憶手段４６と、試し書き手段３６によって試し書きされたデータを読み出して測定された書き込み品位と目標書き込み品位とを比較し、目標書き込み品位に一致するまで試し書き手段３６に試し書きを繰り返し行わせ、目標書き込み品位に一致したときの試し書きのパラメータの値をテスト用パラメータとして設定するテスト用パラメータ設定手段３５とを具備する。【選択図】        図１
2007213728.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにテストデータを書き込んでテストディスクを作成するテストディスク作成システムにおいて、
光ディスクに書き込むテストデータが記憶されているテストデータ記憶手段と、
光ディスクへデータを書き込む際の書き込み条件であって、光ディスクへ書き込んだデータの書き込み品位が最良となるように予め設定された、複数のパラメータから成る最良パラメータセットを記憶する最良パラメータセット記憶手段と、
最良パラメータセットのパラメータの値を変更し、変更したパラメータの値に基づいて光ディスクへ試し書きを行う試し書き手段と、
データを読み出して書き込み品位を測定する書き込み品位測定手段と、
ユーザが所望する目標書き込み品位が予め記憶されている目標書き込み品位記憶手段と、
試し書き手段によって試し書きされたデータを読み出して測定された書き込み品位と目標書き込み品位とを比較し、目標書き込み品位に一致するまで試し書き手段に試し書きを繰り返し行わせ、目標書き込み品位に一致したときの試し書きのパラメータの値をテスト用パラメータとして設定するテスト用パラメータ設定手段と、
テスト用パラメータ設定手段によって設定された、各テスト用パラメータの値を組み合わせてテスト用パラメータセットとして設定するテスト用パラメータセット設定手段と、
設定されたテスト用パラメータセットを記憶するテスト用パラメータセット記憶手段と、
テスト用パラメータセット記憶手段に記憶されているテスト用パラメータセットを用いてテストデータを光ディスクに書き込んでテストディスクを作成するテストディスク作成制御手段とを具備することを特徴とするテストディスク作成システム。
【請求項２】
光ディスクにテストデータを書き込んでテストディスクを作成するテストディスク作成システムにおいて、
光ディスクに書き込むテストデータが記憶されているテストデータ記憶手段と、
光ディスクへデータを書き込む際の書き込み条件であって、光ディスクへ書き込んだデータの書き込み品位が最良となるように予め設定された、複数のパラメータから成る最良パラメータセットを記憶する最良パラメータセット記憶手段と、
予め設定されたパラメータの値の変更範囲内で最良パラメータセットのパラメータの値を複数回変更し、変更したパラメータの値に基づいてそれぞれ光ディスクへ試し書きを行う試し書き手段と、
データを読み出して書き込み品位を測定する書き込み品位測定手段と、
ユーザが所望する目標書き込み品位が予め記憶されている目標書き込み品位記憶手段と、
試し書き手段によって１つのパラメータについて書き込まれた複数のデータについて、それぞれ書き込み品位を測定して目標書き込み品位と比較し、測定された各書き込み品位のうち目標書き込み品位と一致するパラメータの値が１つ存在した場合には、テスト用パラメータ設定手段は、この一致したパラメータの値をテスト用パラメータとして設定し、測定された各書き込み品位のうち目標書き込み品位と一致するパラメータの値が２つ以上存在する場合には、目標書き込み品位と一致するパラメータの値のうち最良パラメータの値にもっとも近い値をテスト用パラメータとして設定するテスト用パラメータ設定手段と、
テスト用パラメータ設定手段によって設定された、各テスト用パラメータの値を組み合わせてテスト用パラメータセットとして設定するテスト用パラメータセット設定手段と、
設定されたテスト用パラメータセットを記憶するテスト用パラメータセット記憶手段と、
テスト用パラメータセット記憶手段に記憶されているテスト用パラメータセットを用いてテストデータを光ディスクに書き込んでテストディスクを作成するテストディスク作成制御手段とを具備することを特徴とするテストディスク作成システム。
【請求項３】
前記目標書き込み品位記憶手段には、目標書き込み品位として所定の範囲が設定されており、
前記テスト用パラメータ設定手段は、試し書きしたデータの書き込み品位が、目標書き込み品位の所定範囲に入るか否かを判断することを特徴とする請求項１または請求項２記載のテストディスク作成システム。
【請求項４】
最良パラメータセットを構成する各パラメータに、書き込み品位に与える影響が大きい順番に予め優先順位を設けておき、
前記試し書き手段は、設定された優先順位の高いパラメータから順番に、その値を最良パラメータの値から変更して試し書きを行うことを特徴とする請求項１〜請求項３のうちのいずれか1項記載のテストディスク作成システム。
【請求項５】
試し書き手段によって試し書きされた複数のデータの各書き込み品位に目標書き込み品位と一致するものが存在しないと判断した場合には、テスト用パラメータ設定手段は、エラーと判断してテスト用パラメータの設定を中止することを特徴とする請求項１〜請求項４のうちのいずれか１項記載のテストディスク作成システム。
【請求項６】
前記光ピックアップと、前記レーザドライバと、前記最良パラメータセット記憶手段とを具備し、最良パラメータセット記憶手段に記憶されている最良パラメータセットを用いて通常のデータを光ディスクへ書き込む光ディスク装置と、
該光ディスク装置の動作指示を行うコマンドを光ディスク装置へ出力するホストコンピュータとから構成され、
前記光ディスク装置には、前記試し書き手段と、前記書き込み品位測定手段と、前記目標書き込み品位記憶手段と、前記テスト用パラメータ設定手段と、前記テスト用パラメータセット設定手段と、前記テスト用パラメータセット記憶手段と、前記テストディスク作成制御手段とが設けられ、
前記ホストコンピュータには、前記テストデータ記憶手段が設けられていることを特徴とする請求項１〜請求項４のうちのいずれか１項記載のテストディスク作成システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置の製造時や開発時に用いられるテストディスクを作成するシステムに関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＤやＤＶＤ等の光ディスクからデータを読み出したり、データを書き込んだりする光ディスク装置は、通常は複数のメーカから販売されているさまざまな種類の光ディスクに対応可能となっている。
例えば、メーカごとに記録層の材料が異なっていたり、また同じメーカ内でも低速書き込み専用のものや、高速書き込みに対応するものなど、同じ形式の光ディスクでもその種類は多岐にわたっている。
【０００３】
このように、複数種類の光ディスクに対して全て対応できるよう、光ディスク装置の開発時には、複数種類の光ディスクに対してのデータの読み書きを試験する必要がある。
試験には、各光ディスクを製造するメーカから提供されるテストディスクを用いることが一般的である。このテストディスクは、予め傷をつけたり（例えば、特許文献1参照）、所定の書き込み品位となるように複数の検査項目を設けたりしておき（例えば特許文献２参照）、光ディスク装置が所望の書き込み品位を得られるか否かを検査するために用いられている。
【０００４】
ただし、テストディスクは非常に高価であり、また高価であるために多数を購入することもできず、検査時には少数のテストディスクを使いまわしたりするため、テストディスクの磨耗、劣化等が進みやすい。
このため、テストディスクを容易に作成できるテストディスク作成装置（例えば、特許文献３参照）が開発されている。
【０００５】
【特許文献１】特開２００４−１３５５２号公報
【特許文献２】特開２０００−３０６２４４号公報
【特許文献３】特開２００３−１９６８３５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
テストディスクを容易に得るために特許文献３のような装置が開示されているが、このような作成装置では、記録条件（本明細書中では書き込み条件と称している）をユーザからの操作入力に応じて設定されるか、予め定められた複数の記録条件をユーザが選択して設定するようにしている（特許文献３の段落００１９参照）。
しかし、このような装置ではユーザが書き込み条件を考えて設定せざるをえず、テストディスク作成に手間がかかるという課題があった。
【０００７】
そこで、本発明の目的は、上記課題を解決すべくなされ、その目的とするところは、テストディスクの作成を、ユーザの手間をかけずに実行可能なテストディスク作成装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は上記目的を達成すべく、以下の構成を備える。
すなわち、本発明にかかるテストディスク作成システムによれば、光ディスクにテストデータを書き込んでテストディスクを作成するテストディスク作成システムにおいて、光ディスクに書き込むテストデータが記憶されているテストデータ記憶手段と、光ディスクへデータを書き込む際の書き込み条件であって、光ディスクへ書き込んだデータの書き込み品位が最良となるように予め設定された、複数のパラメータから成る最良パラメータセットを記憶する最良パラメータセット記憶手段と、最良パラメータセットのパラメータの値を変更し、変更したパラメータの値に基づいて光ディスクへ試し書きを行う試し書き手段と、データを読み出して書き込み品位を測定する書き込み品位測定手段と、ユーザが所望する目標書き込み品位が予め記憶されている目標書き込み品位記憶手段と、試し書き手段によって試し書きされたデータを読み出して測定された書き込み品位と目標書き込み品位とを比較し、目標書き込み品位に一致するまで試し書き手段に試し書きを繰り返し行わせ、目標書き込み品位に一致したときの試し書きのパラメータの値をテスト用パラメータとして設定するテスト用パラメータ設定手段と、テスト用パラメータ設定手段によって設定された、各テスト用パラメータの値を組み合わせてテスト用パラメータセットとして設定するテスト用パラメータセット設定手段と、設定されたテスト用パラメータセットを記憶するテスト用パラメータセット記憶手段と、テスト用パラメータセット記憶手段に記憶されているテスト用パラメータセットを用いてテストデータを光ディスクに書き込んでテストディスクを作成するテストディスク作成制御手段とを具備することを特徴としている。
【０００９】
この構成を採用することによって、予め目標とするテストディスクの書き込み品位を設定しておけば、書き込み条件であるテスト用パラメータの設定は、最良パラメータに基づいてテスト用パラメータ設定手段が自動的に実行するので、テストディスク作成時のユーザの手間が省ける。この構成では、テスト用パラメータの設定は、試し書きしたデータの書き込み品位が目標書き込み品位に達するまで、試し書きを繰り返し行うことによって実行している。
なお、書き込み品位とは、エラーレート、ジッターまたは信号振幅等を指す。エラーレートについて説明すると、光ディスクではデータに誤り訂正符号を付加することによって、誤って読み出されたデータに訂正を加えることができるように設けられており、誤り訂正符号としては、ＣＩＲＣ（Cross Interleaved Reed-Solomon Code）と呼ばれる符号が採用されている。このＣＩＲＣは、２段のＲｅｅｄ−Ｓｏｌｏｍｏｎ符号をインターリーブ結合させたものである。２段のＲｅｅｄ−Ｓｏｌｏｍｏｎ符号はそれぞれＣ１符号およびＣ２符号と称されており、主としてＣ１符号はランダムエラーの訂正をし、Ｃ２符号はバーストエラーの訂正をするように設けられている。エラーレートは、Ｃ１符号の１秒間当たりの訂正回数をいう。この回数が大きいほど、書き込み品位が悪いという判断ができる。
ジッターとは、再生信号の時間的な揺らぎをいい、揺らぎの幅であるジッター値が大きくなると書き込み品位が悪いと言う判断ができる。
なお、パラメータとはストラテジ、目標β値等を指す。
【００１０】
本発明にかかるテストディスク作成システムによれば、光ディスクにテストデータを書き込んでテストディスクを作成するテストディスク作成システムにおいて、光ディスクに書き込むテストデータが記憶されているテストデータ記憶手段と、光ディスクへデータを書き込む際の書き込み条件であって、光ディスクへ書き込んだデータの書き込み品位が最良となるように予め設定された、複数のパラメータから成る最良パラメータセットを記憶する最良パラメータセット記憶手段と、予め設定されたパラメータの値の変更範囲内で最良パラメータセットのパラメータの値を複数回変更し、変更したパラメータの値に基づいてそれぞれ光ディスクへ試し書きを行う試し書き手段と、データを読み出して書き込み品位を測定する書き込み品位測定手段と、ユーザが所望する目標書き込み品位が予め記憶されている目標書き込み品位記憶手段と、試し書き手段によって１つのパラメータについて書き込まれた複数のデータについて、それぞれ書き込み品位を測定して目標書き込み品位と比較し、測定された各書き込み品位のうち目標書き込み品位と一致するパラメータの値が１つ存在した場合には、テスト用パラメータ設定手段は、この一致したパラメータの値をテスト用パラメータとして設定し、測定された各書き込み品位のうち目標書き込み品位と一致するパラメータの値が２つ以上存在する場合には、目標書き込み品位と一致するパラメータの値のうち最良パラメータの値にもっとも近い値をテスト用パラメータとして設定するテスト用パラメータ設定手段と、テスト用パラメータ設定手段によって設定された、各テスト用パラメータの値を組み合わせてテスト用パラメータセットとして設定するテスト用パラメータセット設定手段と、設定されたテスト用パラメータセットを記憶するテスト用パラメータセット記憶手段と、テスト用パラメータセット記憶手段に記憶されているテスト用パラメータセットを用いてテストデータを光ディスクに書き込んでテストディスクを作成するテストディスク作成制御手段とを具備することを特徴としている。
【００１１】
この構成によれば、予め目標とするテストディスクの書き込み品位を設定しておけば、書き込み条件であるテスト用パラメータの設定は、最良パラメータに基づいてテスト用パラメータ設定手段が自動的に実行するので、テストディスク作成時のユーザの手間が省ける。この構成では、テスト用パラメータの設定は、予め設定した所定の範囲内（パラメータの値の範囲内）で複数回試し書きして、試し書きした各データの書き込み品位と目標書き込み品位とを比較して、テスト用パラメータとして最も適したパラメータの値をテスト用パラメータとして設定することによって実行している。すなわち、異なるパラメータの値に対して同じ書き込み品位の値が生じる場合もあるが、かかる場合であってもより好適なテスト用パラメータを設定することができる。
【００１２】
また、前記目標書き込み品位記憶手段には、目標書き込み品位として所定の範囲が設定されており、前記テスト用パラメータ設定手段は、試し書きしたデータの書き込み品位が、目標書き込み品位の所定範囲に入るか否かを判断することを特徴としてもよい。
この構成は、目標書き込み品位としてある程度の幅を持たせておき、試し書きしたデータの書き込み品位がこの範囲内に入れば、この試し書きしたデータのパラメータをテスト用パラメータとして設定できるので、テスト用パラメータの設定までの処理時間を長時間とならないようにすることができる。
【００１３】
さらに、最良パラメータセットを構成する各パラメータに、書き込み品位に与える影響が大きい順番に予め優先順位を設けておき、前記試し書き手段は、設定された優先順位の高いパラメータから順番に、その値を最良パラメータの値から変更して試し書きを行うことを特徴としてもよい。
この構成によれば、テスト用パラメータセットの設定の際、まず広い範囲で書き込み品位が目標値に達するように設定をし、徐々に細かい値で目標値に近づくようにパラメータの設定をすることとなるので、目標とする書き込み品位にきわめて近い値となるようにテスト用パラメータセットの設定ができる。
【００１４】
なお、試し書き手段によって試し書きされた複数のデータの各書き込み品位に目標書き込み品位と一致するものが存在しないと判断した場合には、テスト用パラメータ設定手段は、エラーと判断してテスト用パラメータの設定を中止することを特徴としてもよい。
【００１５】
なお、前記光ピックアップと、前記レーザドライバと、前記最良パラメータセット記憶手段とを具備し、最良パラメータセット記憶手段に記憶されている最良パラメータセットを用いて通常のデータを光ディスクへ書き込む光ディスク装置と、該光ディスク装置の動作指示を行うコマンドを光ディスク装置へ出力するホストコンピュータとから構成され、前記光ディスク装置には、前記試し書き手段と、前記書き込み品位測定手段と、前記目標書き込み品位記憶手段と、前記テスト用パラメータ設定手段と、前記テスト用パラメータセット設定手段と、前記テスト用パラメータセット記憶手段と、前記テストディスク作成制御手段とが設けられ、前記ホストコンピュータには、前記テストデータ記憶手段が設けられていることを特徴としてもよい。
この構成によれば、通常のデータ書き込み可能な光ディスク装置に、試し書き手段と、前記書き込み品位測定手段と、前記目標書き込み品位記憶手段と、前記テスト用パラメータ設定手段と、前記テスト用パラメータセット設定手段と、前記テスト用パラメータセット記憶手段と、前記テストディスク作成制御手段とを搭載することで、光ディスク装置をテストディスク作成に用いることができ、コストを上げずにテストディスク作成に資することができる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明にかかるテストディスク作成システムによれば、作成時に書き込み条件を自動的に設定できるので、ユーザの手間を省き、容易にテストディスクを作成することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明の好適な実施の形態を添付図面に基づいて詳細に説明する。
（第１の実施形態）
まず、図１〜図３に基づいて、テストディスク作成システムの第１の実施形態における全体構成の概略および動作について説明する。
第１の実施形態は、試し書きの書き込み品位が目標書き込み品位となるまで、試し書きを繰り返し行う動作を実行するものである。
【００１８】
テストディスクに用いる光ディスクとしては、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等を用いることができる。本システム３０では、いずれの種類の光ディスクであっても対応可能となるように各構成が互換性があるように設けている。
【００１９】
テストディスク作成システム３０は、光ディスクにテストデータを所定の書き込み品位となるようにテスト用パラメータセットを用いてテストデータを書き込んでテストディスクを作成するシステムであって、テストディスクを作成する際の書き込み条件の設定をユーザが操作しなくとも自動的に設定できるものである。
【００２０】
通常の光ディスク装置では、パラメータセットとして書き込み品位が最良となるような最良パラメータセットが光ディスクの種類ごとにそれぞれ予め最良パラメータセット記憶装置４４に記憶されている。
しかし、テストディスクは書き込み品位が最良ではなく、ある程度書き込み品位が悪いものであって、どの程度まで書き込み品位が悪くてもデータ読み出し可能かどうかを開発時に検証するために用いられることが多いため、テスト用パラメータセットは、書き込み品位があまり良くないものとなるような値に設定される。
【００２１】
本発明では、試し書き手段３６が、最良パラメータセットから書き込み品位が悪くなるようにパラメータの値を変更して光ディスク３１に試し書きをする（ステップＳ１００）。試し書きしたデータは、書き込み品位測定手段３４によって読み出されて書き込み品位が測定される（ステップＳ１０２）。
【００２２】
試し書きしたデータの書き込み品位は、テスト用パラメータ設定手段３５によって目標書き込み品位記憶装置４６に記憶されている目標書き込み品位と比較される（ステップＳ１０４，Ｓ１０５）。ここで、目標書き込み品位は、ある程度の範囲を有しており、この範囲内に入れば目標書き込み品位に一致したと判断される。
【００２３】
テスト用パラメータ設定手段３５は、比較した結果、試し書きの書き込み品位が目標書き込み品位に一致していないと判断する場合であって、試し書きの回数が所定回数を超えたか、試し書き開始から所定時間を経過したか、または変更したパラメータの値が所定の範囲を超えた場合（ステップＳ１０７）、目標書き込み品位に一致するパラメータの値が無いものとして判断し、エラーとしてテスト用パラメータの設定を中止する（ステップＳ１０９）。
【００２４】
テスト用パラメータ設定手段３５は、比較した結果、試し書きの書き込み品位が目標書き込み品位に一致していないと判断する場合であって、試し書きの回数が所定回数を超えておらずかつ試し書き開始から所定時間を経過しておらずかつ変更したパラメータの値が所定の範囲を超えていない場合、試し書き手段３６に、パラメータの値をさらに変更して光ディスク３１に試し書きさせる（ステップＳ１００）。
パラメータの値がさらに変更されて試し書きされたデータは、書き込み品位測定手段３４によって読み出されて書き込み品位が測定され、さらにテスト用パラメータ設定手段３５によって比較される（ステップＳ１０２，ステップＳ１０４）。
【００２５】
テスト用パラメータ設定手段３５が比較した結果、試し書きの書き込み品位が目標書き込み品位に一致したと判断した場合には、テスト用パラメータ設定手段３５は、このときのパラメータの値をテスト用パラメータとして設定する（ステップＳ１０６）。
テスト用パラメータセット設定手段４７は、このように設定されたテスト用パラメータを複数組み合わせてテスト用パラメータセットとし、テスト用パラメータセット記憶装置４２に記憶させる（ステップＳ１０８）。
【００２６】
テストディスク作成制御手段３７は、テスト用パラメータセット記憶装置４２に記憶されたテスト用パラメータセットを用いて、テストデータ記憶装置４０に記憶されているテストデータを光ディスク３１へ書き込んでテストディスクを作成するように、レーザドライバ３８や光ピックアップ３２を制御する（ステップＳ１１０）。
【００２７】
このように、試し書き手段３６は、最良パラメータセット記憶装置４４に記憶されている最良パラメータセットのパラメータの値を変更して試し書きを実行する。そして、パラメータの値を少しずつ変更してテスト用パラメータ設定手段３５が目標書き込み品位と比較していくので、ユーザの操作無しで、テスト用パラメータが自動的に設定される。
【００２８】
なお、最良パラメータセットのパラメータには、予め書き込み品位に影響を与える可能性が高い順番に優先順位をつけておくとよい。優先順位は、図３のようにして最良パラメータセット記憶装置４４に記憶されている。
試し書き手段３６は、最良パラメータセット記憶装置４４から優先順位の高いパラメータから順番に、パラメータの値を変更して試し書きを行う。このように、書き込み品位に影響を大きく与える順番にパラメータの値を変更してテスト用パラメータを設定するので、テスト用パラメータの設定を目標書き込み品位となるようにきわめて正確に設定することができる。
【００２９】
以下、図４に基づいて、具体的な構成について説明する。
テストディスク作成システム３０は、光ディスク３１を回転駆動するスピンドルモータ４８と、光ディスク３１へレーザ光を照射するレーザダイオード（図示せず）と光ディスク３１からの反射光を受光するフォトダイオード（図示せず）とを有する光ピックアップ３２とを具備している。フォトダイオードで受光した光強度信号は読み出し用の信号処理回路５０のＲＦアンプ５６に入力され、２値化されたＲＦ信号を得ることができる。
【００３０】
ＲＦアンプ５６によって得られたＲＦ信号は、信号処理回路５０内でデコードや復調がなされる。光ディスク３１がＣＤの場合には、デコード回路５８およびＥＦＭ復調回路６０に入力され、ＣＩＲＣ等の誤り訂正およびＥＦＭ復調がされ、再生信号が得られる。
ここでは、ＲＦアンプ５６、デコード回路５８およびＥＦＭ復調回路６０を含めて読み出し用の信号処理回路５０を構成しているものとする。
【００３１】
信号処理回路５０によって得られた再生信号は、書き込み品位測定機能３４を有するＣＰＵ６２に入力される。ＣＰＵ６２は、他の構成要素を制御して、テストディスク作成システムの動作を統括制御する。また、ＣＰＵ６２の書き込み品位測定機能３４は、入力されてきた再生信号の品位を測定するようにＣＰＵ６２が動作するものである。
【００３２】
ＣＰＵ６２は、テストデータ記憶装置４０に記憶されているテストデータを光ディスク３１のＯＰＣエリアに書き込ませるように、信号処理回路６５、レーザドライバ３８、光ピックアップ３２等を制御する試し書き機能３６を有している。ただし、試し書き時に書き込むデータはきわめて短いデータでよいので、テストデータでなくてもよく、試し書き機能３６がランダムに生じさせるデータでもよい。
【００３３】
ＣＰＵ６２は、書き込み品位測定機能３４によって比較された書き込み品位を、目標書き込み品位記憶装置４６に記憶されている目標書き込み品位と比較するテスト用パラメータ設定機能３５を有している。テスト用パラメータ設定機能３５は、試し書きしたデータの書き込み品位が目標書き込み品位に一致したと判断した場合に、この試し書きの際に用いたパラメータをテスト用パラメータとして設定する。なお、テスト用パラメータ設定機能３５は、試し書きが所定回数を超えた場合、試し書き開始から所定時間を経過した場合、または変更したパラメータが所定の値を超えた場合、目標書き込み品位に一致するパラメータの値が無いものとして判断し、エラーとしてテスト用パラメータの設定を中止する機能も有している。
【００３４】
ＣＰＵ６２は、テスト用パラメータ設定機能３５によって設定されたテスト用パラメータを複数組み合わせてテスト用パラメータセットとし、テスト用パラメータセット記憶装置４２に記憶させるテスト用パラメータセット設定機能４７を有している。
【００３５】
ＣＰＵ６２は、テスト用パラメータセット記憶装置４２に記憶されたテスト用パラメータセットを用いて、テストデータ記憶装置４０に記憶されているテストデータを光ディスク３１へ書き込んでテストディスクを作成するように、レーザドライバ３８や光ピックアップ３２を制御するテストディスク作成制御機能３７を有している。
【００３６】
ＣＰＵ６２が実行する各機能は、予めメモリ６３内に記憶されているテストディスク作成プログラムを読み出して実行することによって実現される。
【００３７】
なお、書き込み品位とは、書き込み精度の指標となるものである。例えば、再生信号の時間的な揺らぎであるジッター、１秒間に行われたエラー訂正の回数をいうエラーレートまたは再生信号の振幅値に基づいて得られるβ値等のことを指す。
本実施形態でのエラーの検出はデコード回路５８によって行われ、これをカウントするのはＣＰＵ６２によって行われる。
すなわち、デコード回路５８にＲＦアンプ５６からのＲＦ信号が入力されると、デコード回路５８はＣＩＲＣにおけるＣ１符号の訂正をし、ＣＰＵ６２がデコード回路５８におけるＣ１符合の１秒間当たりの訂正回数をカウントし、エラーレートを算出する。
【００３８】
なお、光ピックアップ３２内のフォトダイオードは、その受光面が複数面に分割されており、各受光面で受光した光強度の和や差をとることによってＲＦアンプ５６において、トラッキングエラー信号や、フォーカスエラー信号が生成される。
トラッキングエラー信号およびフォーカスエラー信号は、サーボプロセッサ５２に入力される。サーボプロセッサ５２は、光ピックアップ３２の対物レンズのフォーカスサーボおよびトラッキングサーボ、並びに光ピックアップ３２の送りモータ（図示せず）の送りサーボを制御する各制御信号を生成する。
【００３９】
サーボプロセッサ５２で生成された各制御信号は、ドライバ回路５４に入力される。ドライバ回路５４では、各制御信号に基づいて光ピックアップ３２の送りモータ（図示せず）、トラッキングコイル（図示せず）、フォーカスコイル（図示せず）それぞれを動作させる。
【００４０】
なお、テストディスクを作成する際に光ディスク３１へ書き込むデータは、テストデータとして、ＲＯＭなどから構成されるテストデータ記憶装置４０に記憶されている。テストデータとしては、任意の音楽や、任意の周波数の正弦波等を用いることが多いが、特にどのようなものであってもよい。
【００４１】
テストデータ記憶装置４０から読み出したテストデータは、データ書き込み時の信号処理回路６５に入力される。信号処理回路６５は、光ディスク３１に書き込むデータをエンコード、変調する回路である。光ディスク３１がＣＤの場合には、テストデータをＥＦＭ変調するＥＦＭ変調回路６６や、ＥＦＭ変調されたデータをエンコードするエンコード回路６８が設けられている。
【００４２】
信号処理回路６５で処理されたデータは、レーザドライバ３８に入力される。レーザドライバ３８は、光ピックアップ３２内のレーザダイオードのレーザ光強度をレーザダイオードに流す電流量の調整で制御することができる。
【００４３】
また、レーザドライバ３８には、データを書き込む際の書き込み条件であって、光ディスク３１へ書き込んだ通常データが最良の書き込み品位となるように予め設定された複数のパラメータから成る最良パラメータセットが記憶されている、最良パラメータセット記憶装置４４と、テスト用パラメータセット設定手段４７によって設定されたテスト用パラメータセットが記憶されるテスト用パラメータセット記憶装置４２が接続されている。
【００４４】
ここで、パラメータとはデータを書き込む際の書き込み条件であって、ストラテジ、目標β値等のことをいう。これらのパラメータが複数で１セットとなっており1回のデータ書き込みに用いる場合には１つのパラメータセットが用いられる。
【００４５】
レーザドライバ６２は、信号処理回路６５によって処理されたテストデータを、テスト用パラメータセット記憶装置４２に記憶されているテスト用パラメータセットに基づいて光ディスク３１に書き込むように動作する。
なお、装着されている光ディスク３１の種類に適応したテスト用パラメータセットを用いる必要があるので、ＣＰＵ４８はテスト用パラメータセット記憶装置４２に記憶されている複数のテスト用パラメータセットから、装着されている光ディスク３１の種類に対応したテスト用パラメータセットを選択し、この選択したテスト用パラメータセットに基づいてテストデータを書き込むようにレーザドライバ６２を制御する。
【００４６】
（第２の実施形態）
以下に説明する第２の実施形態は、第１の実施形態と同様に、試し書きしたテストデータの書き込み品位が目標書き込み品位となるまで、試し書きを繰り返し行う動作を実行するものである。
テストディスク作成システムとしては、図５に示す通常の光ディスク装置７０と、図６に示すように光ディスク装置７０に接続されるホストコンピュータ８０とによって構成することができる。なお、特に上述したテストディスク作成システム３０内の構成と光ディスク装置７０内の構成とで同一の構成について同一の符号を付し、説明を省略する場合もある。
【００４７】
光ディスク装置７０は、動作を制御する制御部としてＣＰＵ７４が設けられている。
ＣＰＵ７４は、ホストコンピュータから送信されてきたコマンドを、通信部７２から得ることによってコマンドを解析し、コマンドに記述された内容を実行するように各構成部材を制御するとともに、ＲＯＭやＲＡＭ等からなるメモリ７６内に予め記憶されている制御プログラムを読み込むことにより、この制御プログラムにしたがって動作する。
【００４８】
ＣＰＵ７４の機能に基づく、テストディスクの作成動作については上述した実施形態と同様であり、メモリ７６内に記憶されているテストディスク作成プログラムを読み込んで実行することで実現される。
【００４９】
すなわち、書き込み品位測定機能３４は、入力されてきた再生信号の品位を測定するようにＣＰＵ６２が動作するものであり、試し書き機能３６は、テストデータまたはその他のデータを光ディスク３１のＯＰＣエリアに書き込ませるように、信号処理回路６５、レーザドライバ３８、光ピックアップ３２等を制御する。
【００５０】
また、テスト用パラメータ設定機能３５は、書き込み品位測定機能３４によって比較された書き込み品位を、目標書き込み品位記憶装置４６に記憶されている目標書き込み品位と比較し、比較の結果、試し書きしたデータの書き込み品位が目標書き込み品位に一致したと判断した場合に、この試し書きの際に用いたパラメータをテスト用パラメータとして設定する。なお、テスト用パラメータ設定機能３５は、試し書きが所定回数を超えた場合、試し書き開始から所定時間を経過した場合、または変更したパラメータが所定の値を超えた場合、目標書き込み品位に一致するパラメータの値が無いものとして判断し、エラーとしてテスト用パラメータの設定を中止する。
【００５１】
また、テスト用パラメータセット設定機能４７は、テスト用パラメータ設定機能３５によって設定されたテスト用パラメータを複数組み合わせてテスト用パラメータセットとし、テスト用パラメータセット記憶装置４２に記憶させる。
テストディスク作成制御機能３７は、テスト用パラメータセット記憶装置４２に記憶されたテスト用パラメータセットを用いて、テストデータ記憶装置４０に記憶されているテストデータを光ディスク３１へ書き込んでテストディスクを作成するように、レーザドライバ３８や光ピックアップ３２を制御する。
【００５２】
次にホストコンピュータについて説明する。
ホストコンピュータ８０は、ＨＤＤから構成される記憶装置８５、ＣＰＵ８２、ＲＯＭやＲＡＭ等の半導体メモリ装置８４、モニタ８６、マウスやキーボードからなる入力装置８８を具備している。また、ホストコンピュータ８０には、光ディスク装置７０と通信可能に接続するための通信部９０が設けられている。
光ディスク装置７０は、ホストコンピュータ８０に内蔵されてもよいし、ホストコンピュータ８０に対して外付けされていてもよい。
【００５３】
記憶装置８５には、ＣＰＵ８２に読み込まれてＣＰＵ８２にホストコンピュータ８０の動作全体を実行させるＯＳや、その他ユーザが実行するアプリケーションソフトが記憶されている。
【００５４】
さらに、記憶装置８５には、アプリケーションソフトとして、テストディスクを作成する際に実行するテストディスク作成ソフト９２が記憶されている。テストディスク作成ソフト９２は、ユーザの操作によって、光ディスク装置７０にテストディスクを作成するように指示コマンドを出力する。
【００５５】
記憶装置８５には、テストディスクを作成させる際に光ディスク３１へ書き込むデータであるテストデータ９５が記憶されている。テストデータ９５としては、任意の音楽や、任意の周波数の正弦波等を用いることが多いが、特にどのようなものであってもよい。
【００５６】
（第３の実施形態）
上述した各実施形態においては、試し書き機能３６が最良パラメータの値を変更して試し書きを実行し、読み出したデータの書き込み品位が目標書き込み品位に到達するように、試し書き機能３６が試し書きを繰り返し実行するものであった。
【００５７】
しかし、パラメータの値を変更していくと、異なるパラメータの値に対して同じ書き込み品位の値が生じる場合もある。すなわち、目標書き込み品位の値に対して２以上のパラメータの値が存在する場合も存在する。このような場合に対処可能とするため、本実施形態では、予め設定した所定の範囲内（パラメータの値の範囲内）で複数回試し書きして、試し書きした各データの書き込み品位と目標書き込み品位とを比較して、テスト用パラメータとして最も適したパラメータの値をテスト用パラメータとして設定する。
【００５８】
本実施形態のシステムの内部構成としては、上述した第１の実施形態、第２の実施形態と同一の構成を採用することができる。本実施形態では、試し書き手段（機能）３６、テスト用パラメータ設定手段（機能）３５の動作が異なるだけであるので、ブロック図は省略し、図７のフローチャートで動作説明をする。
【００５９】
テストディスク作成時には、テスト用パラメータセットの設定を行う。
まず、試し書き手段３６が、最良パラメータセットから書き込み品位が悪くなるようにパラメータの値を変更して光ディスク３１に試し書きをする（ステップＳ２００）。試し書きは、予め設定された所定のパラメータの値の範囲内で、パラメータの値を変更しつつ所定時間内で所定回数繰り返し実行される。
試し書きされた各データは、書き込み品位測定手段３４によって読み出されてそれぞれ書き込み品位が測定される（ステップＳ２０２）。
【００６０】
試し書きされたデータの各書き込み品位は、テスト用パラメータ設定手段３５によって目標書き込み品位記憶装置４６に記憶されている目標書き込み品位とそれぞれ比較される（ステップＳ２０４，Ｓ２０６）。ここで、目標書き込み品位は、ある程度の範囲を有しており、この範囲内に入れば目標書き込み品位に一致したと判断される。
【００６１】
テスト用パラメータ設定手段３５は、比較した結果、試し書きした各書き込み品位が目標書き込み品位に一致したものがあると判断する場合には次のステップＳ２０８へ移行し、目標書き込み品位に一致したものがないと判断する場合にはエラーとしてテスト用パラメータの設定を中止する（ステップＳ２０７）。
【００６２】
テスト用パラメータ設定手段３５が比較した結果、試し書きの書き込み品位が目標書き込み品位に一致しているものがある場合、そのパラメータの値が２以上あるかどうかを判断する（ステップＳ２０８）。
テスト用パラメータ設定手段３５は、試し書きの書き込み品位が目標書き込み品位に一致しているものが１つだけである場合、そのパラメータの値をテスト用パラメータとして設定する（ステップＳ２０９）。
【００６３】
テスト用パラメータ設定手段３５は、試し書きの書き込み品位が目標書き込み品位に一致しているものが２以上ある場合、これらのパラメータの値のうち最良パラメータの値にもっとも近いパラメータの値をテスト用パラメータとして設定する（ステップＳ２１０）。
【００６４】
テスト用パラメータセット設定手段４７は、このように設定されたテスト用パラメータを複数組み合わせてテスト用パラメータセットとし、テスト用パラメータセット記憶装置４２に記憶させる（ステップＳ２１２）。
【００６５】
テストディスク作成制御手段３７は、テスト用パラメータセット記憶装置４２に記憶されたテスト用パラメータセットを用いて、テストデータ記憶装置４０に記憶されているテストデータを光ディスク３１へ書き込んでテストディスクを作成するように、レーザドライバ３８や光ピックアップ３２を制御する（ステップＳ２１４）。
【００６６】
このように、試し書き手段３６は、最良パラメータセット記憶装置４４に記憶されている最良パラメータセットのパラメータの値を、予め決められたパラメータの値の範囲内で、予め決められた回数その都度パラメータの値を変更して試し書きを実行する。そして、テスト用パラメータ設定手段３５が、目標書き込み品位に一致するパラメータの値が２以上存在する場合には、最良パラメータの値に近いものをテスト用パラメータとして設定するので、ユーザの操作無しで、テスト用パラメータが自動的に設定される。
【００６７】
（第４の実施形態）
なお、上述してきた実施形態では、試し書きはＯＰＣエリアで行うようにしてきた。
しかし、試し書きを複数回実行していくと、ＯＰＣエリア内だけでは試し書きが終了しない場合もでてくる。
そこで、試し書き手段３６は、ＯＰＣエリア内での試し書きが完了しなかった場合には、ユーザデータエリアも試し書きに利用することもできる。ユーザデータエリアを試し書きに利用する場合には、ユーザにその旨を表示装置等（例えばホストコンピュータのモニタ８６）で表示させ、ユーザに了承を得てから実行するようにしてもよい。
【００６８】
ユーザデータエリアを利用して試し書きを行う場合、上記表示装置にユーザデータエリアの先頭アドレスから行うか、または任意のアドレスから行うかをユーザに選択させるようにしてもよい。かかる場合、ＣＰＵ６２，７４が表示装置８６に対してユーザの選択を促す表示をさせ、ユーザが指示した内容で試し書きを実行するようにＣＰＵ６２，７４が動作制御する。
【００６９】
（第５の実施形態）
また、光ディスク３１が装着された際、ＣＰＵ６２，７４はイニシャライズを実行するが、このとき装着された光ディスク３１が最良パラメータセット記憶装置４４内に記憶されている光ディスクの種類に対応していないものである場合、ＣＰＵ６２，７４はこの光ディスク３１をイジェクトするように動作制御を実行する。
しかし、予め最良パラメータセット記憶装置４４には、汎用的に用いても問題ないと思われる値に各パラメータを設定した汎用パラメータセットを記憶させておき、装着された光ディスク３１が最良パラメータセット記憶装置４４内に記憶されている光ディスクの種類に対応していないものである場合、ＣＰＵ６２，７４はこの光ディスクをイジェクトせずに、汎用パラメータセットの各パラメータの値を変更して試し書きを実行するようにしてもよい。
【００７０】
なお、上述した各実施形態では、書き込み品位測定機能は光ディスク装置７０に設けられていたが、ホストコンピュータ８０に設けるようにしてもよい。
【００７１】
以上本発明につき好適な実施例を挙げて種々説明したが、本発明はこの実施例に限定されるものではなく、発明の精神を逸脱しない範囲内で多くの改変を施し得るのはもちろんである。
【図面の簡単な説明】
【００７２】
【図１】本発明のテストディスク作成システムの概略の内部構成を説明するためのブロック図である。
【図２】第１の実施形態にかかるテストディスク作成システムの動作を説明をするフローチャートである。
【図３】パラメータに優先順位を設定したデータテーブルを示す説明図である。
【図４】第１の実施形態にかかるテストディスク作成システムの詳細なブロック図    でる。
【図５】第２の実施形態として、本発明のテストディスク作成システムを構成する    光ディスク装置の内部構成を説明するためのブロック図である。
【図６】図５の光ディスク装置に接続されて光ディスク装置とともにテストディスク作成システムを構成するホストコンピュータの内部構成を示すブロック図である。
【図７】第３の実施形態にかかるテストディスク作成システムの動作を説明をするフローチャートである。
【符号の説明】
【００７３】
３０  テストディスク作成システム
３１  光ディスク
３２  光ピックアップ
３４  書き込み品位測定手段（機能）
３５  テスト用パラメータ設定手段（機能）
３６  試し書き手段（機能）
３７  テストディスク作成制御手段（機能）
３８  レーザドライバ
４０  テストデータ記憶装置
４２  テスト用パラメータセット記憶装置
４４  最良パラメータセット記憶装置
４６  書き込み品位記憶装置
４７  テスト用パラメータセット設定手段（機能）
４８  スピンドルモータ
５０  信号処理回路
５２  サーボプロセッサ
５４  ドライバ回路
５６  ＲＦアンプ
５８  デコード回路
６０  復調回路
６２  レーザドライバ
６３  メモリ
６５  信号処理回路
６６  変調回路
６８  エンコード回路
７０  光ディスク装置
７２  通信部
７６  メモリ
８０  ホストコンピュータ
８３  ＣＰＵ
８４  半導体メモリ装置
８５  記憶装置
８６  モニタ
８８  入力装置
９０  通信部
９２  テストディスク作成ソフト
９５  テストデータ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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