(57)【要約】【課題】外的・内的環境変動要因（媒体特性、電圧変動、媒体劣化等）が生じた場合、再生信号が変動する。【解決手段】エネルギー照射により、記録または再生を行う電圧層選択式多層光ディスクの再生学習方式において、所定の位置における再生信号に応じて、印加電圧レベル及び/またはパターンを調整する。【効果】電圧層選択式媒体が、外的・内的環境変動要因（媒体特性、電圧変動、媒体劣化等）により反射率をはじめとする再生信号が変動しても高い品質の再生信号を得ることが出来る。【選択図】図１
2007109345.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報記録層と、前記情報記録層に電圧を印加する電極層とを有するセットが、複数セット設けられた記録媒体に対し、前記複数セットのうちの何れかのセットの前記電極層に電圧を印加する工程と、
エネルギービームを照射して、前記何れかのセットの前記情報記録層の再生信号を得る工程と、
前記再生信号に基づいて、前記電極層に印加する電圧を調整する工程と、
前記調整した後に、前記何れかのセットの前記情報記録層に情報記録または再生を行うことをを特徴とする情報記録または再生方法。
【請求項２】
前記調整する電圧は、レベル、パターンの少なくともいずれかであることを特徴とする請求項１記載の情報記録または再生方法。
【請求項３】
前記調整する電圧は、多数回電圧を印加しても信号振幅が劣化しない電圧レベル以下であることを特徴とする請求項１記載の情報記録または再生方法。
【請求項４】
前記再生信号は、信号振幅であることを特徴とする請求項１記載の情報記録または再生方法。
【請求項５】
前記再生信号は、反射率レベルであることを特徴とする請求項１記載の情報記録または再生方法。
【請求項６】
前記再生信号のジッタに基づいて、前記電圧を調整することを特徴とする請求項１記載の情報記録または再生方法。
【請求項７】
前記再生信号のエラーレートに基づいて、前記電圧を調整することを特徴とする請求項１記載の情報記録または再生方法。
【請求項８】
前記調整するパラメータは、電圧レベル、電圧パターンのいずれかと記録波形、記録パワーのいずれかの組合せであることを特徴とする請求項１記載の情報記録または再生方法。
【請求項９】
情報記録層と、前記情報記録層に電圧を印加する電極層とを有するセットが、複数セット設けられた記録媒体に対し、前記複数セットのうちの何れかのセットの前記電極層に電圧を印加する電源と、
前記電圧を変化させる電圧制御器と、
前記複数セットのうちの何れかのセットの前記情報記録層に、光を照射するための光源と、
前記電圧制御手段で変化させた各印加電圧における再生信号を取得する検出器と、
前記各印加電圧と再生信号の関係を解析する回路と、
前記解析した結果から、印加すべき電圧を演算し、前記印加電圧を調整させる回路とを有することを特徴とする情報記録又は再生装置。
【請求項１０】
情報記録層と、前記情報記録層に電圧を印加する電極層とを有するセットが、複数セット設けられた記録媒体に対し、前記複数セットのうちの何れかのセットの前記電極層に電圧を印加する電源と、
前記複数セットのうちの何れかのセットの前記情報記録層に、光を照射するための光源と、
前記複数セットのうちの何れかのセットの電極対間の抵抗を測定する手段と、
前記測定した抵抗値から媒体が正常であるかどうかを判断する手段とを有することを特徴とする情報記録又は再生装置。
【請求項１１】
情報記録層と、前記情報記録層に電圧を印加する電極層とを有するセットが、複数セット設けられた記録媒体に対し、前記複数セットのうちの何れかのセットの前記電極層に電圧を印加する電源と、
前記複数セットのうちの何れかのセットの前記情報記録層に、光を照射するための光源と、
前記複数セットのうちの何れかのセットの電極対間の抵抗を測定する手段と、
前記測定した抵抗値から前記何れかのセットの前記情報記録層が正常であるかどうかを判断する手段と、
前記正常であると判断された前記セットに電圧を印加し、異常であると判断された前記セットには電圧を印加しないように制御する制御手段をを有することを特徴とする情報記録又は再生装置。
【請求項１２】
情報記録層と、前記情報記録層に電圧を印加する電極層とを有するセットが、複数セット設けられた記録媒体に対し、前記複数セットのうちの何れかのセットの前記電極層に電圧を印加する電源と、
前記前記複数セットのうちの何れかのセットの前記情報記録層に、光を照射するための光源と、
前記複数セットのうちの何れかのセットの電極対間の抵抗を測定する手段と、
前記測定した抵抗値から前記何れかのセットの劣化の程度を判断する手段と、
前記判断する手段に基づき、劣化していないセットに、電圧を印加するように制御する制御手段を有する、情報記録又は再生装置。
【請求項１３】
情報記録層と、前記情報記録層に電圧を印加する電極層とを有するセットが、複数セット設けられた記録媒体に対し、前記複数セットのうちの何れかのセットの前記電極層に電圧を印加する電源と、
前記前記複数セットのうちの何れかのセットの前記情報記録層に、光を照射するための光源と、
前記何れかのセットの前記情報記録層の再生信号を得る工程と、
前記測定した再生信号から前記何れかのセットの劣化の程度を判断する手段と、
前記判断する手段に基づき、劣化していないセットに、電圧を印加するように制御する制御手段を有する、情報記録又は再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光を用いて情報を再生する情報再生方法及び情報再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクでは、記録媒体（ディスク）を記録再生装置から外せることと、記録媒体が安価であることが大きな特長になっている。従って光ディスク装置では、この特徴を失わずに高速・高密度化するのが望ましい。
【０００３】
光ディスクの実効的記録密度（実効的面密度）を高めるには、光の遠達性、透過性という特長を生かした多層化が望ましい。しかし、３層以上では各層の透過率と記録感度とがトレードオフの関係にあり、再生信号品質か記録感度か、どちらかが犠牲にならざるを得なかった。
【０００４】
そこで、このトレードオフを解消する技術が開発されてきており、例えば、特開２００３−３４６３７８号（対応US2003/0218941）には、エレクトロクロミック材料を用いた記録層を多層にし、記録層を一対の電極で挟んで電圧を印加し、記録層自身を電圧印加によって吸収スペクトルを変化させ、光吸収するようにして、選択的に記録層を着色させ、情報を記録させることが記載されている。このような、電圧を印加して層の特性を変化させて層を選択する方式の多層光ディスクを層選択式多層光ディスクと呼ぶ。上記公知例は、層選択式多層光ディスクの一例である。
【０００５】
なお、特開２００２−８２３６０号には、エレクトロクロミック層の両側を導電層で挟んだ光書き込み型記録材料について記載されている。但し、多層に関するものではなく、材料に関する文献である。
【０００６】
【特許文献１】特開２００３−３４６３７８号
【０００７】
【特許文献２】特開２００２−８２３６０号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、本発明者らの検討の結果、従来電圧層選択式媒体（超多層媒体）は、外的・内的環境変動要因（媒体特性、電圧変動、媒体劣化等）により、反射率をはじめとする再生信号が変動したり、また、適正な印加電圧をかけないと、劣化が生じやすくなるという課題が見出された。さらに、電極が剥出しになる構成では、電極が傷つきやすく、傷ついた状態で電圧をかけると媒体を破壊する可能性がある。
【０００９】
本発明の目的は、これらの問題点を解決し、再生時及び/または記録時に高い品質の再生信号を得ること、媒体破壊を起こさない再生方法及び再生装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
以下、具体的に、本発明の構成を説明する。
（１）上記の電圧層選択式多層光ディスクのユーザデータの再生前に、再生学習を行い、所定の位置における再生信号に応じて、印加電圧レベル及び/またはパターンを調整する。これにより、良好な再生信号を得ることが出来る。詳細は、実施例１〜４で詳述する。
（２）上記の電圧層選択式多層光ディスクのユーザデータの記録前に、記録学習を行い、所定の位置に記録した信号の再生結果に応じて、印加電圧レベル及び/またはパターンを調整する。これにより、良好な信号を記録出来る。詳細は、実施例５で詳述する。
（３）上記の電圧層選択式多層光ディスクのユーザデータの再生前に、記録学習を行い、所定の位置に記録した信号の再生結果に応じて、印加電圧レベル及び/またはパターン、及び記録波形及び/または記録パワーを調整する。これにより、更に良好な信号を記録出来る。詳細は、実施例５で詳述する。
（４）上記の電圧層選択式多層光ディスクのユーザデータの再生前に、再生学習を行う装置において、基準パターンに従い電圧を印加する手段、各印加電圧における再生信号を入手する手段、印加電圧と再生信号の関係を解析し、評価値を抽出する手段、抽出された評価値から、最適印加電圧レベル及びパターン演算する手段、演算結果に応じて、印加電圧レベル及び/またはパターンを調整する手段を有する。これにより、良好な再生信号を得ることが出来る。詳細は、実施例１〜４で詳述する。
【００１１】
さらに、基準パターンは、複数の電圧レベルとすると良い。これにより、再生学習の精度が向上出来る。
【００１２】
また、この基準パターンの電圧は、多数回電圧を印加しても信号振幅が劣化しない電圧レベル以下とすると良い。これにより、再生学習によって媒体が劣化するのを防止できる。
（５）上記（１）から（３）の上記再生信号は、信号振幅、反射率、ジッタ、エラーレートの何れかとすると良い。信号振幅の場合には、電圧印加回数によらず再生学習を行い、適正な印加電圧を選択することが出来る。また、反射率の場合には、再生学習が早く出来る。また、ジッタの場合には、再生学習と記録学習を組み合わせて、記録準備のための時間を短縮することが出来ると同時に記録型の媒体において、学習精度が上がるため、再生可能回数が向上できる。さらに、ジッタは、再生状態が非常に良い場合からほんの僅かだけ状態が変った場合にも、レベルの変化がわかるため、劣化し始めなどの兆候をつかむことが可能である。また、エラーレートの場合には、再生学習と記録学習を組み合わせて、記録準備のための時間を短縮することが出来ると同時に記録型の媒体において、学習精度が上がるため、再生可能回数が向上できる。さらに、エラーレートは、エラー数をカウントするため、ある程度劣化した場合などでも正しく劣化の状況をつかむことが可能である。
（６）上記の電圧層選択式多層光ディスクのユーザデータの記録又は再生の前に、各電極対間の抵抗を測定する手段、抵抗値から媒体が正常であることか判断する手段を有する。これにより、良好な信号を記録出来る、または良好な再生信号を得ることが出来る。劣化状況とジッタの関係は、予め装置内に記録されたメモリまたは媒体に記録された情報に基づいて判断されることが好ましい。詳細は、実施例６で詳述する。
（７）上記の電圧層選択式多層光ディスクの再生の際に、各電極対間の抵抗と劣化状況の関係を測定し、媒体が正常であると判断した層に電圧を印加する。劣化状況と電極間の抵抗値の関係は、予め装置内に記録されたメモリに基づいて判断される。これにより、各電極対間の抵抗値を測定し、媒体が正常であると判断した層のみに電圧を印加することにより、劣化しかけている媒体に不要な電圧をかけて、劣化を加速させてしまうというエラーを防止出来る。詳細は、実施例６で詳述する。
（８）上記の電圧層選択式多層光ディスクのユーザデータの記録又は再生の前に、各電極対間の抵抗または電圧印加時の再生信号と劣化状況の関係を測定し、媒体が正常であることを判断した後に記録または再生を行う。劣化状況とジッタの関係は、予め装置内に記録されたメモリまたは媒体に記録された情報に基づいて判断される。これにより、劣化直前と判断することにより、完全に劣化するまえに劣化状況を表示する、劣化する前に情報を他の場所に移動させるなどの手段を講じることが可能となり、判定がＹｅｓの場合は、媒体は正常な状態であり、安心して記録再生を行うことが出来る。詳細は、実施例７で詳述する。
【発明の効果】
【００１３】
上記構成により、外的・内的環境変動要因（媒体特性、電圧変動、媒体劣化等）により再生信号が変動した場合でも、高品質の再生信号を得ることが出来る。また、電極が傷つた場合においても完全に媒体を破壊するのを防ぐことが出来る。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
【実施例１】
【００１５】
（再生学習方式）
図１に再生方式の概略を示す。本再生方式を用いて情報を再生するには、まず、再生を行う層間に電圧印加手段15を介して電圧Aを印加し、エレクトロクロミック材料を着色状態にして反射率を高くし、再生光を媒体１４の再生面にフォーカスする。その後、データを再生するまでに、リードインなど特定の領域において、印加電圧Aと検出手段１１を用い、再生信号Aを調べる。続いて、電圧Bの場合の再生信号B、電圧Cの場合の信号Cを調べる。これらのデータから、学習回路１２において、印加電圧と再生信号の関係を調べ、この関係より再生時の印加電圧を決定し、適正印加電圧値を電圧制御手段１３に送り、印加電圧を調整する。この図では印加電圧と再生信号の振幅の関係を調べ、印加電圧を適正な範囲に制御した例である。
【００１６】
学習回路１２の詳細は、図４に示される。印加電圧検出手段４７から入手した印加電圧パターンは、印加電圧判定回路４２において、印加電圧値を判断し、その値を評価値抽出回路４３へおくる。一方、各印加電圧パターンの再生信号は、再生信号検出手段４８において検出され、再生信号判定回路４４にて、その振幅値を判断、評価値抽出回路４３へ送られる。評価値抽出回路４３では、これらのデータを元に、評価値、を抽出し、演算回路４５にて印加電圧Eを求め、その値を電圧印加手段４９に伝える。ここで評価値とは、下記に求められるE1などのように、再生信号と電圧の関係から求められる、基準となる値をいう。
【００１７】
評価値抽出回路４３と演算回路４５では、次のようにして印加電圧Eを求める。印加電圧と信号振幅の関係は、図３に示したように、適当な電圧値で信号振幅が飽和し、それ以上の電圧値では、信号振幅が低下する。電圧印加回数が少ない場合（例えば１回）から電圧印加回数が多い場合（例えば１万回）では、信号振幅の良好な範囲は異なるが、電圧の低い領域での挙動は同じである。そこで、電圧印加回数によらず大きな信号振幅が得られる適正な電圧値の範囲は、Ep以上Es以下であり、これは信号振幅の飽和値Mmaxの半分Mmax/２を示す電圧をE1としたとき、その関数で示される。つまり、式（１）、（２）、（３）の範囲になるように印加電圧Eを求め、印加することにより、大きな信号振幅が得られる。
Ep ≦  E  ≦  Es              （１）
Ep ＝  E1  × １．１         （２）
Eｓ＝  E1  × ２．２         （３）
このように、演算回路４５にて、演算式に従い演算した電圧値を電圧印加手段４９にて印加したところ、初回電圧印加時及び多数回電圧印加時において、再生信号が０．９と良好であった。このように、再生学習により適正な電圧値を印加することにより、良好な再生信号が得られると共に、多数回電圧印加時の再生信号劣化を防止出来た。
【００１８】
上記のように、印加電圧に適正値があるのは、次の理由による。適正値より低い場合には、信号振幅は、振幅が良好な範囲である０．８より低く、適性値より高い場合には、電圧印加回数が少ない場合には、信号振幅が良好な範囲に入っているが、さらに印加回数が増大すると、信号振幅が良好な範囲より小さくなってしまうためである。適正値高い印加電圧をかけると、消色時に反射率が下がらないという問題が生じるため、信号振幅は小さくなる。適正範囲内にある場合には、１万回電圧印加を行っても、信号振幅は高いまま良好である。
【００１９】
以上より、再生信号と印加電圧の関係から、適正印加電圧が得られること、この適正印加電圧を印加すれば良好な再生信号が得られること、再生信号の信号振幅を用いて学習する場合、信号振幅の飽和値Mmaxの半分Mmax/２を示す電圧をE1としたとき、適正印加電圧はE１の関数で表されることがわかった。
【００２０】
このような印加電圧と再生信号の関係を得るための、印加電圧の基準パターンA〜C、またはパターンを得るためのテーブル等は、ディスクに記録されていてもよいし、再生装置に記録されていても良い。この説明では、わかりやすくするためパターンを３種類としたが、実際は５種類以上の点で細かく調べる方が好ましい。印加電圧の範囲は図３に示されるように、あらかじめ信号振幅が０．８を保つ電圧ＥｐからEｓまでの領域を調べておき、この範囲に設定することが好ましい。これより、印加電圧が高すぎると消色時に反射率が変化しなくなってしまうためである。
【００２１】
また、本実施例では、電圧パターンを一定レベルの電圧値の例で記載したが、パルス状の電圧印加を行っても良い。電圧印加の方向がそろっている場合、パルス状電圧の平均電圧値でも同様の効果が見られた。印加する電流量で制御することも可能だが、電圧制御のほうが、精度が高かった。
【００２２】
Ep、EsとE1との関係は、本実施例の場合は、式（２）、（３）で示したとおりだが、関係式の係数は媒体ごとに多少のばらつきを持つ。従って、これらの値は各媒体に記載された値がある場合は、補正して用いることが好ましい。媒体に記載されていない場合は、再生装置に記載されている一般的な値を用いる。
【００２３】
また、こうして求めた適正電圧値を、再生装置やディスクに記録しておくと、次回学習時に時間を短縮できる。ディスクに記録しておく場合は、他の再生装置にて再生した場合にも、学習時間を短縮できる。さらに、２回目以降の再生の場合、再生までの時間を短縮させるために、前回学習した値を用いて印加電圧を決定してもよい。しかし、定期的に学習を行うと、調整のための時間が余分にかかるが、環境変動などに強くなる。
【００２４】
また、信号振幅の変わりに、信号レベルの平均値を検出しても同様な学習を行うことが可能である。信号振幅の大きい基準信号などを持ちいれば、より精度が高くなるが、基準信号ではなく、ランダム信号を用いてもよい。
【００２５】
（比較例１）
次に、本発明の再生学習の効果を確認するため、環境変動の大きい例として、高湿度下に保存された情報記録媒体の再生特性を調べた。学習をした場合と、しない場合（比較例）での再生信号の比較を行ったところ、表１に示す結果が得られた。
【００２６】
【表１】
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【００２７】
本発明の再生信号１は、再生学習により適正な印加電圧を演算し補正したため、良好な再生信号が得られている。ところが、比較例では、再生装置に記録されている印加電圧値をそのまま使用したところ、上記情報記録媒体では、電極表面が汚れて抵抗が高くなっていたため、あらかじめ用意されていた印加電圧をかけても、記録膜には適正な電圧がかからず、反射率の変化が小さかったものを考えられる。このため、再生信号２は、振幅、反射率、ジッタ、エラーレートが良好でなかった。
【００２８】
このように、本発明の再生学習を適用すれば、このような外的・内的環境変動要因（光学特性変化、電気特性変動、媒体劣化、再生装置劣化等）に対しても適正な電圧を印加し、良好な再生信号を得ることが出来る。
【００２９】
（比較例２）
さらに、本発明の再生学習の効果を確認するため、印加電圧が高すぎた場合（Eｓ＜E）、低すぎた場合（E＜Ep）の例を調べ、図２にその結果を示した。
【００３０】
本発明の再生信号（Ep≦E≦Esの場合）は、再生学習により適正な印加電圧を演算し補正し用いたため、多数回電圧印加後も、良好な再生信号が得られている。ところが、比較例の再生信号（E＜Ep）のように、再生学習をせず低い印加電圧値を使用した場合、信号振幅が低く、良好でなかった。比較例の再生信号（Eｓ＜E）のように、再生学習をせず高い印加電圧値を使用した場合、初期の信号振幅は高かったが、電圧印加回数が増えるにつれ、信号振幅が低くなり、良好でなかった。
【００３１】
このように、本発明の再生学習を適用すれば、このような外的・内的環境変動要因（光学特性変化、電気特性変動、媒体劣化、再生装置劣化等）に対しても適正な電圧を印加し、良好な再生信号を得ることが出来る。
（装置の構成）
図１６は情報再生装置のブロック図を示したものである。
【００３２】
上位装置１６２０からの情報記録再生装置へ“再生“の指示が出た場合には、マイクロプロセッサ１６２４は上位装置１６２０より受け取った再生学習用の印加電圧の基本パターンを、メモリ１６２２へ格納する。モータ１６１７を回転させた後、メモリに格納されたパターンに従って電圧制御手段１６１９は、電極１６１６を介して、媒体１６１５に電圧印加する。同時に、レーザドライバ１６２３に再生動作の指示を送る。ヘッド１６０２の一部であるレーザ光源１６０３（ここでは波長約６６０ｎｍで行った）から出射された光はコリメートレンズ１６０４を通してほぼ平行な光ビーム１６０５へとコリメートされる。光ビーム１６０５は光情報記録媒体１６１５上に、対物レンズ１６０６を通して照射され、情報記録媒体１６１５上に、スポット１６０１を形成する、その後、ビームスプリッタ１６０７やホログラム素子１６０８などを通してサーボ用検出器１６０９へ、レンズ１６１４を通して信号検出器１６１０へと導かれる。各検出器からの信号は演算処理手段１６１３にて加算・減算など演算処理されトラッキング誤差信号やフォーカス誤差信号などのサーボ信号となりサーボ回路１６２１に入力される。サーボ回路は得られたトラッキング誤差信号やフォーカス誤差信号を元に、対物レンズ１６０６の駆動手段１６１１や光ヘッド１６０２全体の位置を制御し、光スポット１６０１の位置を目的の記録・再生領域に位置づける。検出器１６１０の加算信号は信号再生ブロック１６１２へ入力される。入力信号は信号処理回路１６２５によってフィルタ処理、周波数等化処理後、デジタル化処理される。デジタル化処理されたデジタル信号はアドレス検出回路１６２７および復調回路１６２６によって処理される。アドレス検出回路によって検出されたアドレス信号を元にマイクロプロセッサ１６２４は光スポット１６０１の情報記録媒体上での位置を算出し、自動位置制御手段１６１８を制御することによって光ヘッド１６０２及び光スポット１６０１を目的の記録単位領域（セクタ）へと位置づける。こうして各印加電圧パターンにおける再生信号を読み取り、マイクロプロセッサ１６２４にて学習処理を行う。
【００３３】
上位装置１６２０からの情報記録再生装置への指示が記録の場合には、マイクロプロセッサは上位装置から記録データを受け取りメモリへ格納するとともに、自動位置制御手段を制御して、光スポット１６０１を目的の記録領域の位置へ位置付ける。マイクロプロセッサは信号再生ブロック１６０２からのアドレス信号によって、光スポット１６０１が正常に記録領域に位置付けられたことを確認した後、レーザドライバ等を制御して目的の記録領域にメモリ内のデータを記録する。
【００３４】
上記情報記録媒体に対して情報再生装置により、情報の記録及び再生を行った。以下に本情報再生装置の動作を説明する。なお、記録再生を行う際のモータ制御方法としては、記録再生を行うゾーン毎にディスクの回転数を変化させるＺＣＡＶ（Ｚｏｎｅｄ  Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ｌｉｎｅａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）方式を採用している。ディスク線速度は約５ｍ／ｓである。
【００３５】
ディスクに情報を記録する際には、８−１６変調方式を用い記録が行われた。記録装置外部からの情報は８ビットを１単位として、変調器に伝送される。この変調方式では媒体上に、８ビットの情報に対応させた３Ｔ〜１１Ｔの記録マーク長での情報の記録を行っている。なお、ここでＴとは情報記録時のクロックの周期を表しており、ここでは１７．１ｎｓとした。
変調器により変換された３Ｔ〜１１Ｔのデジタル信号は記録波形発生回路に転送される。上記記録波形発生回路内において、３Ｔ〜１１Ｔの信号を時系列的に交互に「０」と「１」に対応させ、「０」の場合にはボトムパワーレベルのレーザパワーを照射し、「１」の場合には高パワーパルス、またはパルス列を照射するようにしている。
【００３６】
また、上記記録波形発生回路内は、マーク部を形成するための一連の高パワーパルス列を形成する際に、マーク部の前後のスペース部の長さに応じてマルチパルス波形の先頭パルス幅と最後尾のパルス幅を変化する方式（適応型記録波形制御）に対応したマルチパルス波形テーブルを有しており、これによりマーク間に発生するマーク間熱干渉の影響を極力排除できるマルチパルス記録波形を発生している。
【００３７】
本実施例では、ＺＣＡＶ方式を用いたが、他の回転制御方式でもよい。また、レーザ波長、線速度、変調方式、記録パワー、記録波形なども、ここに記載した以外の方式を用いてもよい。
【００３８】
（媒体の構成）
本発明の情報記録媒体の構成は、具体的には以下のとおりである。図５に示したように、情報記録媒体５９は、何層もの層から形成されている。トラッキング用の溝またはパターンを有する基板５１上に、まず透明電極層５４、エレクトロクロミック材料層５２、電解質材料層５３、透明電極層４の順で繰返し２組以上積層する。ここでは、説明を簡単にするために、３組製膜した例をしめした。エレクトロクロミック材料層５２と電解質材料層５３の積層は、この順序の方が駆動電圧が低くなったが、逆順でもよい。透明電極層を共通で使わずに、ダミー層を介して各エレクトロクロミック材料層と電解質材料層に１組の透明電極層を設けてもよい。各層の透明電極層５４は、媒体の中央部にある引出し電極５８にそれぞれ、接しており、引出し電極を介して層間に電圧を印加する。
【００３９】
図からわかるように１つ下の層の上部透明電極は１つ上の層の下部透明電極を兼ねている。記録層を挟む電極間に電圧を印加すると記録用あるいは読み出し用レーザ光の吸収率及びまたは反射率が増大するようにするのが好ましい。これにより任意の層だけ光吸収し、他の層はほとんど光吸収が無いようにできる。通常の媒体では複数の記録層があると、光入射側の層の吸収により、奥側の層の信号が減衰して劣化するため、容量を大きくするために多数層設けることが困難である。さらに、奥側の層への記録に高い記録パワーが必要となったり、他の層からの信号漏れ込みを防ぐため層の間隔が広く、光学系に大規模のフォーカス調整機構が必要となったり、装置構成が複雑である。本発明の情報記録媒体では、こういった、他の層の影響がないため、多数層を設けることができ大容量が可能となること、装置構成が簡単であるというメリットがある。
【００４０】
上記のような記録層を複数有する記録媒体を用い、多くの電極対間に電圧を印加するが、記録又は消去、又は読出し時に、それらを行う層の両側の電極間だけに他の電極間とは異なった電圧を印加するようにする。異なった電圧とは、極性が逆の電圧の場合も含む。着色方向の電圧と消色方向の電圧の符号が逆で電圧値が異なっていても良い。このようにすることで、所定の記録層に選択的に着色され、着色された層に光照射して情報の記録または再生を行うことができる。
【００４１】
また、本発明においてエレクトロクロミック材料層とは、電圧印加（電流が流れる）によって直接発色する（吸収又は反射スペクトルが変化する）材料の層という定義である。現在エレクトロクロミック材料と呼ばれていないものでも良い。エレクトロクロミック材料としては、ごく一例として、酸化タングステンや酸化モリブデンが挙げられる。
【００４２】
（材料と製膜法、記録）
エレクトロクロミック材料層は上下の電極間に電圧をかけることによって発色する。ここでは、光源に波長６６０ｎｍのレーザ、または波長４０５ｎｍ付近の青色レーザを用いた場合に適した酸化タングステンと酸化モリブデンの混合物を用いた。電解質材料には、酸化タンタルを用いた。いずれも膜厚の均一性を重視するため、スパッタリングで膜を形成したが、イオンプレーティング、蒸着などの方法で製膜してもよい。
【００４３】
透明電極層としては、ITO膜を用いたが、透明電極の材料としては、（Ｉｎ２Ｏ３）ｘ（ＳｎＯ２）１−ｘの組成で、ｘが５％から９９％の範囲の材料、抵抗値の面でより好ましくは、ｘが９０％から９８％の範囲の材料、これにモル％で５０％以下のＳｉＯ２を添加したもの、ＳｎＯ２にモル％で２から５％のＳｂ２Ｏ３などの他の酸化物を添加したもの、などの既知の透明電極材料が使用可能である。ZnO膜など、この他の透明な導電膜を用いても良い。
【００４４】
エレクトロクロミック層又は固体電解質層が結晶−非晶質間、あるいは結晶−結晶間で相変化するようにして記録すると、書き換え可能性が期待できる。相によって着色又は消色速度が１桁以上違うようにできれば、電圧印加後どちらかの相にある領域だけ着色した状態で読み出すようにすれば、読み出し可能である。ＷＯ３などの無機材料の場合、非晶質状態の方がプラスイオンが動きやすく、速度が速い。
【００４５】
別の方法として、熱又は電流による物理的変化（相変化など）、又は化学変化（例えばＬｉイオンとの反応）によって屈折率、消衰係数のうちの少なくとも一方が変化する有機、あるいは無機材料の層を別の層として積層し、この層の変化によって記録を行ってもよい。例えば、電流や予熱レ−ザービームによる昇温で吸収端が変化する導電性材料層を用いる。
【００４６】
また、さらに別の方法として、熱又は電流と磁場によって磁化の方向が変化する磁性材料をエレクトロクロミック材料又は固体電解質材料に隣接して記録層として形成してもよい。例えば、ガーネット等の透明光磁気材料が考えられ、温度が上がると磁化が反転する設計をする。
【００４７】
透明電極から透明電極までの光学的膜厚が読み出し光の波長に対してほぼ１波長又はその整数倍分になるようにすると、どの記録層も光学的に等価となるので好ましい。
【００４８】
（基板の他の例）
本実施例では、表面に直接、トラッキング用の溝を有するポリカーボネート基板を用いているが、トラッキング用の溝を有する基板とは、基板表面全面又は一部に、記録・再生波長をλとしたとき、λ／１５ｎ（ｎは基板材料の屈折率）以上の深さの溝を持つ基板である。溝は一周で連続的に形成されていても、途中分割されていてもよい。溝深さが約λ／１２ｎの時、トラッキングとノイズのバランスの面で好ましいことがわかった。また、その溝幅は場所により異なっていてもよい。溝部とランド部の両方に記録・再生が行えるフォーマットを有する基板でも、どちらか一方に記録を行うフォーマットの基板でも、間歇的にトラッキング用サーボマークを設けたサンプルサーボフォーマットの基板でもよい。グルーブのみに記録するタイプでは、トラックピッチが波長／絞込みレンズのＮＡの０.７倍付近、グルーブ幅がその１／２付近のものが好ましい。アドレスはグルーブのウォブリングで表現されていても、グルーブ部またはランド部のピット列で表現されていてもよいが、ウォブリングで表現されているのが、積層による変形の影響を受けにくく、好ましい。
【００４９】
厚さ２０〜４０μｍのスペーサー層を多層記録層の数層毎（例えば１０層おき）に挟んでもよい。スペーサー層にはニッケルスタンパーからトラッキング用のグルーブ、ピットのうちの少なくとも一方を含む凹凸パターンを転写してトラッキング信号やアドレス、クロック、同期信号などの検出に用いるのが良い。この場合、スペーサー層を２層以上用いる場合は、光学系に球面収差を補償する素子を設けた方が良い。
【００５０】
記録・再生光を張り合わせ基板側から入射させる場合、張り合わせ基板を０．１ｍｍ程度に薄くして、絞込みレンズのＮＡを０．８５と大きくしても良い。そうすればトラックピッチは約３／４程度にできる。
【００５１】
同心円形の場合、各透明電極は基板から遠いほど少しずつ内径が大きくなっていて、例えば一番基板に近い透明電極は一番内側にリング状に露出しており、この部分から電圧を印加できるようになっている。その上の透明電極は、それより少し大きい直径でリング状に露出している。各層の透明電極は、形成時に内周マスクを少しずつ大きくして行って、各電極が同心円状に内周部に露出するようにした。この露出部分にはその半径方向の幅より少し狭い幅（例えば９０％）でリング状の金属部分を設けて導電率や機械的強度を増強すれば、製造コストはやや上昇するが、性能面で特に好ましい。
【００５２】
記録媒体部分の要点をまとめると、記録媒体は、光照射によって情報を記録する情報の記録媒体であって、基板上に、少なくとも電圧印加によって光吸収又は反射スペクトルが変化する材料の層（単一又は複数の層）を透明又は半透明電極で挟んだ単位構造を２層以上積層し、ディスク内周部にこれら透明電極、あるいは透明電極から延長した電極の端部が同心円状又は放射状に露出するように形成されており、さらにその上に別の基板が貼られていることが特徴である。少なくとも一方の上記基板の一部に、基板を貫通又は基板の中心穴付近を迂回して反対側の表面に達する複数の金属ピンを設け、当該基板の表面側に同心円状の電極を設けるのが良い。上記同心円状の電極のそれぞれが連続ではなく、複数の電極がそれぞれの円の上に配列されたものとしても良い。これら複数の電極を同電位とせず、それぞれ記録領域の別の透明電極に対応させてもよい。上記電極が張り合わせる相手側基板の電極やドライブ装置側の電極と接触する部分には金属又は炭素の微粒子を含む材料を塗布又は貼り付けて補強するのがさらに良い。
【実施例２】
【００５３】
実施例２では、本発明の別の例として、再生信号の反射率から印加電圧の調整を行う、再生学習の例を示した。
【００５４】
（再生学習方式）
再生信号の反射率から最適印加電圧を求めるには、図６に示されるような関係を用いる。印加電圧と反射率の関係は、図６に示したように、適当な電圧値で反射率が飽和し、それ以上の電圧値では、反射率が低下する。電圧印加回数が少ない場合（例えば１回）から電圧印加回数が多い場合（例えば１万回）では、信号振幅の良好な範囲は異なるが、電圧の低い領域での挙動は同じである。そこで、電圧印加回数によらず大きな反射率が得られる適正な電圧値の範囲は、Ep以上Es以下であり、これは飽和値Rmaxの半分Rmax/２を示す電圧をE２としたとき、その関数で示される。つまり、式（１）、（４）、（５）の範囲になるように印加電圧Eを求め、印加することにより、大きな反射率が得られる。
Ep  ＝  E２  × １．１         （４）
Eｓ ＝  E２  × ２．２         （５）
以上より、演算回路４５にて、演算式に従い演算した電圧値を電圧印加手段４９にて印加したところ、初回電圧印加時及び多数回電圧印加時において、反射率が１０％と良好であった。なお、ここで、反射率１０％以上としたのは、再生信号をマージンを有し、安定して再生出来る反射率が１０％以上であるからである。
【００５５】
このように、再生学習により適正な電圧値を印加することにより、良好な再生信号が得られると共に、多数回電圧印加時の再生信号劣化を防止出来た。
【００５６】
このように、印加電圧に適正値があるのは次の理由による。適正値より低い場合には、反射率は、反射率が良好な範囲である１０％より低く、適性値より高い場合には、電圧印加回数が少ない場合には、反射率が良好な範囲に入っているが、さらに印加回数が増大すると、反射率が良好な範囲より小さくなってしまうことためである。適正値高い印加電圧をかけると、消色時に反射率が変化しないという問題が生じるため、反射率は小さくなる。適正範囲内にある場合には、１万回電圧印加を行っても、反射率は高いまま良好である。
【００５７】
以上より、再生信号と印加電圧の関係から、適正印加電圧が得られること、この適正印加電圧を印加すれば良好な再生信号が得られること、再生信号の反射率を用いて学習する場合、反射率の飽和値Rmaxの半分Rmax/２を示す電圧をE２としたとき、適正印加電圧はE２の関数で表されることがわかった。
【００５８】
このように、再生信号の反射率から、適正な印加電圧を学習することが出来る。反射率の検出は、ディスクが回転し始めの状態でも可能であり、信号のように同期をとる必要がないため、ディスクをセットしてから、再生するまでの時間、例えば回転数が一定になる前などに再生学習を始めることができ、短時間に再生学習を行うことが出来るというメリットがある。
【００５９】
本実施例に記載していない、学習方式、媒体構成、材料、情報記録方法及び情報再生方法、装置、等については、実施例１と同様である。
【実施例３】
【００６０】
実施例３では、本発明の別の例として、再生信号のジッタから印加電圧の調整を行う、再生学習の例を示した。
【００６１】
（再生学習方式）
再生信号のジッタから最適印加電圧を求めるには、図７に示されるような関係を用いる。３Tから１１Tまでのランダムな信号パターンを再生し、ジッタすなわち信号のゆらぎと印加電圧の関係は、図７に示したように、適当な電圧値でジッタが低下し、それ以上の電圧値では、ジッタが増加する。電圧印加回数が少ない場合（例えば１回）から電圧印加回数が多い場合（例えば１万回）では、ジッタの良好な範囲は異なるが、電圧の低い領域での挙動は同じである。そこで、電圧印加回数によらず低いジッタ値が得られる適正な電圧値の範囲は、Ep以上Es以下であり、これは基準ジッタ値Jｓを示す電圧をE３としたとき、その関数で示される。つまり、式（１）、（６）、（７）の範囲になるように印加電圧Eを求め、印加することにより、小さなジッタが得られる。ここでは、基準ジッタ値Jsは、信号再生が正しく行える最大値である１３％とした。
Ep  ＝  E３  × １．１         （６）
Eｓ ＝  E３  × ２．１         （７）
以上より、演算回路４５にて、演算式に従い演算した電圧値を電圧印加手段４９にて印加したところ、初回電圧印加時及び多数回電圧印加時において、ジッタが１３％以下と良好であった。
【００６２】
このように、再生学習により適正な電圧値を印加することにより、良好な再生信号が得られると共に、多数回電圧印加時の再生信号劣化を防止出来た。
【００６３】
上記のように、印加電圧に適正値があるのは、実施例１と同様な理由である。
【００６４】
以上より、再生信号と印加電圧の関係から、適正印加電圧が得られること、この適正印加電圧を印加すれば良好な再生信号が得られること、再生信号のジッタを用いて学習する場合、ジッタの基準値Ｊｓを示す電圧をE３としたとき、適正印加電圧はE３の関数で表されることがわかった。
【００６５】
このように、再生信号のジッタから、適正な印加電圧を学習することが出来る。ジッタの検出は、記録学習にも用いることが出来るため、再生学習と記録学習を組み合わせて、記録準備のための時間を短縮することが出来ると同時に記録型の媒体において、学習精度が上がるため、再生可能回数が向上できる。さらに、ジッタは、再生状態が非常に良い場合からほんの僅かだけ状態が変った場合にも、レベルの変化がわかるため、劣化し始めなどの兆候をつかむことが可能である。これにより、劣化し始めの兆候を判断し、完全に劣化する前に情報を別の場所に退避させることが可能となる。本実施例に記載していない、学習方式、媒体構成、材料、情報記録方法及び情報再生方法、装置、等については、実施例１〜２と同様である。
【実施例４】
【００６６】
実施例４では、本発明の別の例として、再生信号のエラーレートから印加電圧の調整を行う、再生学習の例を示した。
【００６７】
（再生学習方式）
再生信号のエラーレートから最適印加電圧を求めるには、図８に示されるような関係を用いる。１０5個以上のエッジを持つ予めパターンの判明している基準となる再生信号を再生したとき、エラーレートと、印加電圧の関係は、図８に示したように、適当な電圧値でエラーレートが低下し、それ以上の電圧値では、エラーレートが増加する。電圧印加回数が少ない場合（例えば１回）から電圧印加回数が多い場合（例えば１万回）では、エラーレートの良好な範囲は異なるが、電圧の低い領域での挙動は同じである。そこで、電圧印加回数によらず低いジッタ値が得られる適正な電圧値の範囲は、Ep以上Es以下であり、これは基準エラーレートＥＲｓを示す電圧をE４としたとき、その関数で示される。つまり、（１）、（８）、（９）の範囲になるように印加電圧Eを求め、印加することにより小さなエラーレートが得られる。ここでは、基準エラーレート値ＥＲsは、再生信号がエラーした場合に訂正可能な最大値である10E-4とした。
Ep  ＝  E３  × １．１         （８）
Eｓ ＝  E３  × ２．１         （９）
このように、再生信号のエラーレートから、適正な印加電圧を学習することが出来る。エラーレートの検出は、記録学習にも用いることが出来るため、再生学習と記録学習を組み合わせて、記録準備のための時間を短縮することが出来ると同時に記録型の媒体において、学習精度が上がるため、再生可能回数が向上できる。さらに、エラーレートは、エラー数をカウントするため、ある程度劣化した場合などでも正しく劣化の状況をつかむことが可能である。これにより、劣化直前の状況を判断し、完全に劣化する前に情報を別の場所に退避させることが可能となる。
【００６８】
本実施例に記載していない、学習方式、媒体構成、材料、情報記録方法及び情報再生方法、装置、等については、実施例１〜４と同様である。
【実施例５】
【００６９】
実施例５では、本発明の記録学習の例を示した。
【００７０】
（記録学習方式）
まず、追記型記録媒体を用いて、記録学習方式を説明する。本記録方式を用いて情報を記録するには、まず、記録再生を行う層間に電圧手段１５（図１）を介して電圧Aを印加し、エレクトロクロミック材料を着色状態にして反射率を高くし、再生光を媒体１４の再生面にフォーカスする。その後、試しがき領域など特定の領域において、印加電圧Aの状態で記録パターンDを記録し、検出手段１１を用い、再生信号ADを調べる。続いて、記録パターンE、記録パターンFをそれぞれ記録し、再生信号AE、AFを調べる。この後、続いて電圧Bの場合の再生信号BD、BE、BF、電圧Cの場合の再生信号CA、CE、CFを調べる。これらのデータから、学習回路１２において、印加電圧と記録パターンと再生信号の関係を調べ、この関係より記録時の印加電圧及び記録パターンを決定し、適正印加電圧値を電圧制御手段１３に送り、印加電圧を調整、適性記録パターンを記録パターン制御手段に送り、記録パターンを調整する。
【００７１】
記録学習回路１３１の詳細は、図１３に示される。印加電圧検出手段４７から入手した印加電圧パターンは、印加電圧判定回路４２において、印加電圧値を判断し、その値を評価値抽出回路４３へおくる。記録パターン検出手段１３３から入手した記録パターンは、記録パターン判定回路１３２において、記録パターン例えば、記録パワーを判断し、その値を評価値抽出回路４３へおくる。記録パターンには、記録パワー、記録パルスデューティ、アシストパワー、先頭パルス幅、後方パルス幅、などが当てはまる。ここでは、記録パワーの例を示す。
【００７２】
一方、各印加電圧パターンと記録パターンのマトリックスにより得られるの再生信号は、再生信号検出手段４８において検出され、再生信号判定回路４４にて、その振幅値を判断、評価値抽出回路４３へ送られる。評価値抽出回路４３では、これらのデータを元に、評価値を抽出する。印加電圧と記録パワーとジッタの場合は、図１１にみられるように、電圧値が適正な場合（Ｅｐ≦Ｅ≦Ｅｓ）の場合は、広い記録パワーマージンがあるが、電圧値が低すぎる場合（Ｅ＜Ｅｐ）は、記録パワーマージンが狭く、かつジッタの低い記録パワーが高くなる。電圧値が高すぎる場合（Ｅｓ＜Ｅ）は、ジッタが高いままである。このように、基準ジッタ値Ｊｓ以下となる記録パワーマージンが大きくなる用に電圧値を選ぶ。さらに、基準ジッタ値ＪｓとなるパワーをＰ１とすると、式（１０）、（１１）、（１２）に示される演算式より、記録パワーが求まる。
Ｐp  ≦  Ｐ  ≦  Ｐs          （１０）
Ｐp  ＝  Ｐ1                    （１１）
Ｐｓ ＝  Ｐ1  × ２．７          （１２）
演算回路４５にて、演算式に従い演算した記録パワーにて記録したところ、ジッタが６％と良好であった。パワーが低すぎた場合、ジッタは１４％と悪かった。パワーが高すぎた場合、単独トラックではジッタが８％であったが、両隣にも記録を行うと１５％までジッタが悪化した。これは、隣接トラックからのクロストークによる。このように、記録学習により適正な電圧値及び記録パワーを印加することにより、隣接トラックからのクロストークを防止出来るため、良好な再生信号が得られると共に、多数回電圧印加時の再生信号劣化を防止出来た。
【００７３】
このような印加電圧と記録パワーと再生信号の関係を得るための、印加電圧パターンA〜C、記録パターンE〜F、またはパターンを得るためのテーブル等は、ディスクに記録されていてもよいし、再生装置に記録されていても良い。この他、ジッタ以外に反射率、信号振幅、エラーレートを再生信号の指標にしても同様に記録学習が行えた。
【００７４】
また、記録学習を簡略化して行うことも出来る。その場合には、まず実施例１〜４に示す方法で再生学習を行い、適正な印加電圧を決定する。その後、記録パターンと再生信号の関係を調べ、適正な記録パターンを決定する方法が好ましい。記録パターンを決定した後、再生学習により印加電圧を決定する順番で行うと、必ずしも適正な範囲が得られない場合があった。以上のような簡略化した記録学習では、前記記録学習により得られる良好な信号の範囲より適正な印加電圧範囲または適正な記録パワーの範囲、すなわちマージンが約５％低下したが、学習時間は短縮出来た。
【００７５】
この他、本記録再生方式は、追記型のみならず、書換え型にも適用できる。図１２に書換え型媒体に記録学習を行った場合と行わなかった場合の、多数回書換え時の記録膜の劣化状況を示した。記録学習を行わず、記録パワーが低すぎた場合（Ｐ＜Ｐｐ）では、書換え回数に従い徐々にジッタが悪化していく。記録学習を行わず、記録パワーが高すぎた場合（Ｐｓ＜Ｐ）では、ある程度の書換え回数までは良好なジッタ値だが、ある書換え回数を超えると（例えば１０００回）、急激にジッタが悪化し、信号が正しく再生できるジッタ値を超えてしまう。記録学習を行い、記録パターが適正な場合（Ｐp ≦  Ｐ  ≦  Ｐs  ）については、多数回オーバーライト後もジッタ値は良好なままである。このように、記録学習によって、多数回オーバーライト時にも記録信号劣化を防止出来ることがわかる。
【００７６】
本実施例に記載していない、学習方式、媒体構成、材料、情報記録方法及び情報再生方法、装置、等については、実施例１〜４と同様である。
【実施例６】
【００７７】
実施例６では、本発明の再生を行う際に、情報記録媒体の劣化状況をモニタ出来る例を示した。
【００７８】
（媒体状況判定方式）
図１４に、電極間抵抗値の劣化からディスクの状態を検出する場合のフローを示した。本方式を用いて、情報記録媒体の劣化状況を調べるには、ディスクを装置に挿入および/または電源投入１４１の後、まず媒体判別処理１４２にて、媒体判別を行い、電圧層選択式かどうかを判定する。Noの場合、１４３にて電圧を印加しないディスクとして扱う。Yesの場合、１４４にて各電極間の抵抗を測定する。次に、劣化状況判別処理１４５にて、１４４で測定した抵抗値から、抵抗値と劣化状況の関係に照らし合わせ、劣化状況を判定する。判定結果に応じ、Noの場合には劣化状況を表示する、劣化する前に情報を他の場所に移動させる、などのNG処理１４６を講じる。判定結果がYesの場合、１４７にて電圧印加して再生を行う。ここで、電極間とは、エレクトロクロミック層を挟む一組の電極を意味する。
【００７９】
図１６に示した情報再生装置のブロック図で上記動作を説明すると、電極１６１６を介して
媒体状態判定回路１６２８にて抵抗値測定、劣化状況判別処理等を行う。この回路の詳細は、図１７に示される。媒体状態判定回路１６２８では、抵抗値検出手段１７１から入手した抵抗値を、抵抗値判定回路１７２において、基準値に基づき劣化状況を判定し、その判定結果を電圧制御手段１６１９に伝える。  図１０に複数の媒体における、劣化状況と電極間の抵抗値の関係を示した。ここでは、劣化の一例として高めの印加電圧をかけることにより、媒体を劣化させた。これによると、劣化が生じる電圧印加回数は媒体により異なるが、抵抗値と劣化状況は相関があり、抵抗が基準値ＲＥ（例えば１００Ω）より小さくなった後、劣化が急速に進む傾向が見られた。そのため、基準値より小さくなった時点で、劣化直前と判断することにより、上位装置１６２０へ劣化状況を伝え、完全に劣化するまえに劣化状況を表示する、劣化する前に情報を他の場所に移動させるなどの手段を講じることが可能となる。また、劣化しかけている層、または媒体に記録を行い、貴重なデータを駄目にしてしまうことを防止出来る。このような判定を行うための抵抗の基準値ＲＥは、媒体ごとにばらつきがあるが、判定のための基準値は再生装置に記録されていることが好ましい。これにより、電圧印加前に抵抗測定することができ、媒体に記録されている情報を読取る前の段階で判断が可能となる。
【００８０】
このように、エネルギー照射により、記録または再生を行う電圧層選択式多層光ディスクにおいて、各電極対間の抵抗値を測定し、媒体が正常であると判断した層のみに電圧を印加することにより、劣化しかけている媒体に不要な電圧をかけて、劣化を加速させてしまうというエラーを防止出来るというメリットを持つ。さらに、本判定方法は、電圧印加前に媒体の劣化状況がわかるため、判定が短時間で行えるというメリットもある。
【００８１】
本実施例に記載していない、学習方式、媒体構成、材料、情報記録方法及び情報再生方法、装置、等については、実施例１〜５と同様である。
【実施例７】
【００８２】
実施例７では、本発明の再生学習により、情報記録媒体の劣化状況をモニタ出来る例を示した。
【００８３】
（媒体状況判定方式）
図１５に、電極間抵抗によるディスク判定がＯＫになった後、さらにディスクの状態を詳細に検出する場合のフローを示した。途中までは図１４と同様である。劣化状況判別処理１４５がＯＫになった後、電圧印加・再生処理１４７を行い、再生信号を測定（１５１）、その結果により劣化状況を判別する。（１５２）。判定がＮｏの場合、ＮＧ処理を行う。この段階におけるＮＧ処理（１５３）は、データを再生することは可能なため、劣化直前と判断することにより、完全に劣化するまえに劣化状況を表示する、劣化する前に情報を他の場所に移動させるなどの手段を講じることが可能となる。判定がＹｅｓの場合は、媒体は正常な状態であり、安心して記録再生を行うことが出来る。
【００８４】
図９に複数の媒体における、劣化状況とジッタの関係を示した。ここでは、劣化の一例として高めの印加電圧をかけることにより、媒体を劣化させた。これによると、劣化が生じる電圧印加回数は媒体により異なるが、ジッタと劣化状況は相関があり、ジッタが基準値Ｊｔ（例えば１０％）より小さくなった後、劣化が急速に進む傾向が見られた。そのため、基準値Ｊｔより小さくなった時点で、劣化直前と判断することにより、完全に劣化するまえに劣化状況を表示する、劣化する前に情報を他の場所に移動させるなどの手段を講じることが可能となる。また、劣化しかけている層、または媒体に記録を行い、貴重なデータを駄目にしてしまうことを防止出来る。このような判定を行うためのジッタの基準値Ｊｔは、媒体ごとにあまりばらつきかないため、判定のための基準値は再生装置に記録されていても、媒体に記録されていても良い。
【００８５】
本実施例に記載していない、学習方式、媒体構成、材料、情報記録方法及び情報再生方法、装置、等については、実施例１〜７と同様である。
【図面の簡単な説明】
【００８６】
【図１】本発明の１実施例の概念図。
【図２】本発明の１実施例の効果を示す図。
【図３】本発明の１実施例における学習方式の説明図。
【図４】本発明の１実施例における再生学習方式の回路構成。
【図５】本発明の１実施例の媒体構成。
【図６】本発明の１実施例における印加電圧と再生信号の関係。
【図７】本発明の３実施例における学習方式の説明図。
【図８】本発明の４実施例における学習方式の説明図。
【図９】本発明の７実施例における媒体劣化時のジッタ変化。
【図１０】本発明の６実施例における媒体劣化時のジッタ変化。
【図１１】本発明の５実施例における学習方式の説明図。
【図１２】本発明の５実施例の効果を示す図。
【図１３】本発明の５実施例における記録学習方式の回路構成。
【図１４】本発明の６実施例における学習方式のフロー。
【図１５】本発明の７実施例における学習方式のフロー。
【図１６】本発明の装置構成図。
【図１７】本発明の７実施例における媒体状況判定方式の回路構成。
【符号の説明】
【００８７】
11：検出手段、12：学習回路、13：電圧制御手段。
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１】
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【図５】
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