(57)【要約】  【課題】  被検査体中の金属の有無を従来より適切な感度で信頼性高く検出することができる金属検出機を提供する。  【解決手段】  金属検出機１０は、正常であることが確かである基準テストピースの通過によって生じる磁界の変化に応じて生成されるべき信号の基準レベルを予め記憶する記憶装置３７と、通常の運転モードとは異なるテストピース確認モードを有し、正常であるか否かの判定の対象であるテストピースに対してテストピース確認モードにおいて判定を行うコンピュータ３６と、コンピュータ３６による判定の結果を出力する表示部１５とを備え、コンピュータ３６は、テストピースの実際の通過によって生じる磁界の変化に応じて生成される信号の測定レベルが記憶装置３７によって記憶された基準レベルに対して所定の範囲内であるときにテストピースが正常であるとテストピース確認モードにおいて判定する。【選択図】  図２
2007010349.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査体（８０）の通過によって生じる磁界の変化に基づいて前記被検査体中の金属の有無の検出を行う金属検出手段（３６）と、正常であることが確かである基準テストピースの通過によって生じる磁界の変化に応じて生成されるべき信号の基準レベルを予め記憶するレベル記憶手段（３７）と、通常の運転モードとは異なるテストピース確認モードを有し、正常であるか否かの判定の対象であるテストピース（２９０）に対して前記テストピース確認モードにおいて前記判定を行うテストピース判定手段（３６）と、前記判定の結果を出力する判定結果出力手段（１５）とを備え、
前記テストピース判定手段は、前記テストピースの実際の通過によって生じる磁界の変化に応じて生成される信号の測定レベルが前記レベル記憶手段によって記憶された前記基準レベルに対して所定の範囲内であるときに前記テストピースが正常であると前記テストピース確認モードにおいて判定することを特徴とする金属検出機（１０、１１０、２１０）。
【請求項２】
大きさ、材質及び形状の少なくとも１つが異なる複数種類の前記基準テストピースから少なくとも１種類の基準テストピースを選択する基準テストピース選択手段（３６）を備え、
前記レベル記憶手段（３７）は、前記複数種類の基準テストピース毎に前記基準レベルを予め記憶し、
前記テストピース判定手段（３６）は、前記レベル記憶手段によって記憶された前記基準レベルのうち前記基準テストピース選択手段によって選択された前記基準テストピースに対応する基準レベルに基づいて前記テストピース（２９０）が正常であるか否かの判定を前記テストピース確認モードにおいて行うことを特徴とする請求項１に記載の金属検出機（１０、１１０、２１０）。
【請求項３】
前記レベル記憶手段（３７）は、前記基準テストピースの実際の通過によって生じる磁界の変化に応じて生成される信号の測定レベルを前記基準レベルとして記憶することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の金属検出機。
【請求項４】
通過物（８０、２９０）の進路を変更する選別機（２８０）を制御する選別機制御手段（３６）を備え、
前記選別機制御手段は、前記通常の運転モードと前記テストピース確認モードとで前記選別機に前記進路を切り替えさせることによって、前記テストピース判定手段（３６）による判定が終了した前記通過物である前記テストピース（２９０）の前記進路を前記テストピース確認モード用の進路（２８０ｂ）にすることを特徴とする請求項１から請求項３までの何れかに記載の金属検出機（２１０）。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検査体の通過によって生じる磁界の変化に基づいて被検査体中の金属の有無を検出する金属検出機に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、被検査体の通過によって生じる磁界の変化に基づいて被検査体中の金属の有無を検出する金属検出機として、金属のサンプルであるテストピースを利用して検出の感度の情報を出力したり、テストピースを利用して検出の感度を設定するものが知られている（例えば特許文献１参照。）。
【０００３】
【特許文献１】国際公開第２００４／０８６０９５号パンフレット（第１８頁、第１０図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、従来の金属検出機においては、テストピース自体が保存状況や使用環境によって磁化等の劣化を起こしている場合や、利用者の間違い等によって不適切なテストピースが利用された場合に、検出の感度の情報の出力や検出の感度の設定が適切に行われないので、不適切な感度（例えば、金属が混入していなくても金属が有ると判断してしまったり検出目的ではない金属を検出してしまったりして被検査体の歩留まりが悪化するような必要以上に高い感度や、検出すべき金属が混入していても金属が無いと判断してしまうような必要以上に低い感度）で被検査体中の金属の有無を検出する可能性があるという問題がある。
【０００５】
本発明は、従来の問題を解決するためになされたもので、被検査体中の金属の有無を従来より適切な感度で信頼性高く検出することができる金属検出機を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の金属検出機は、被検査体の通過によって生じる磁界の変化に基づいて前記被検査体中の金属の有無の検出を行う金属検出手段と、正常であることが確かである基準テストピースの通過によって生じる磁界の変化に応じて生成されるべき信号の基準レベルを予め記憶するレベル記憶手段と、通常の運転モードとは異なるテストピース確認モードを有し、正常であるか否かの判定の対象であるテストピースに対して前記テストピース確認モードにおいて前記判定を行うテストピース判定手段と、前記判定の結果を出力する判定結果出力手段とを備え、前記テストピース判定手段は、前記テストピースの実際の通過によって生じる磁界の変化に応じて生成される信号の測定レベルが前記レベル記憶手段によって記憶された前記基準レベルに対して所定の範囲内であるときに前記テストピースが正常であると前記テストピース確認モードにおいて判定する構成を有している。
【０００７】
この構成により、本発明の金属検出機は、テストピースが正常であるか否かの判定を行うことができるので、検出の感度の情報の出力及び前記感度の設定の少なくとも一方を正常なテストピースに基づいて行うことができる。したがって、本発明の金属検出機は、被検査体中の金属の有無を従来より適切な感度で信頼性高く検出することができる。
【０００８】
また、本発明の金属検出機は、大きさ、材質及び形状の少なくとも１つが異なる複数種類の前記基準テストピースから少なくとも１種類の基準テストピースを選択する基準テストピース選択手段を備え、前記レベル記憶手段は、前記複数種類の基準テストピース毎に前記基準レベルを予め記憶し、前記テストピース判定手段は、前記レベル記憶手段によって記憶された前記基準レベルのうち前記基準テストピース選択手段によって選択された前記基準テストピースに対応する基準レベルに基づいて前記テストピースが正常であるか否かの判定を前記テストピース確認モードにおいて行う構成を有している。
【０００９】
この構成により、本発明の金属検出機は、テストピースが正常であるか否かの判定を複数種類のテストピースに対して行うことができる。
【００１０】
また、本発明の金属検出機の前記レベル記憶手段は、前記基準テストピースの実際の通過によって生じる磁界の変化に応じて生成される信号の測定レベルを前記基準レベルとして記憶する構成を有している。
【００１１】
この構成により、本発明の金属検出機は、利用者がテストピースとしての使用を希望する異物サンプルを基準テストピースとして基準レベルを予め生成し記憶するので、以後、テストピースとして使用される異物サンプルが正常であるか否かの判定を行うことができる。
【００１２】
また、本発明の金属検出機は、通過物の進路を変更する選別機を制御する選別機制御手段を備え、前記選別機制御手段は、前記通常の運転モードと前記テストピース確認モードとで前記選別機に前記進路を切り替えさせることによって、前記テストピース判定手段による判定が終了した前記通過物である前記テストピースの前記進路を前記テストピース確認モード用の進路にする構成を有している。
【００１３】
この構成により、本発明の金属検出機は、正常であるか否かの判定に使用されたテストピースを容易に回収することができる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明は、テストピースが正常であるか否かの判定を行うことができるので、被検査体中の金属の有無を従来より適切な感度（例えば、検出すべき金属が混入しているときには金属が有ると判断し、検出目的ではない金属を検出せず、金属が混入していないときには金属が無いと判断する感度）で信頼性高く検出することができる金属検出機を提供することができるものである。
【００１５】
更に、本発明の金属検出機は、複数種類の基準テストピースから少なくとも１種類の基準テストピースを選択する基準テストピース選択手段を備え、基準テストピース選択手段によって選択された基準テストピースに対応する基準レベルに基づいてテストピースが正常であるか否かの判定を行う構成を有しているため、テストピースが正常であるか否かの判定を複数種類のテストピースに対して行うことができる。
【００１６】
更に、本発明の金属検出機は、利用者がテストピースとしての使用を希望する異物サンプルを基準テストピースとして基準レベルを記憶するので、以後、テストピースとして使用される異物サンプルが正常であるか否かの判定を行うことができる。
【００１７】
更に、本発明の金属検出機は、正常であるか否かの判定が終了したテストピースの進路をテストピース確認モード用の進路にするので、正常であるか否かの判定に使用されたテストピースを容易に回収することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。
【００１９】
（第１の実施の形態）
まず、本発明の第１の実施の形態に係る金属検出機の構成について説明する。
【００２０】
図１に示すように、本実施の形態に係る金属検出機１０は、穴１１ａが形成された筐体１１と、筐体１１の穴１１ａ内に挿通されて被検査体８０を矢印１２ａで示す方向に搬送するコンベア１２と、被検査体８０が筐体１１の穴１１ａ内に進入したことを検知する光学式等の進入センサ１３と、筐体１１の外部に設けられ利用者によって操作される操作部１４と、筐体１１の外部に設けられ各種情報を表示する表示部１５とを備えている。
【００２１】
また、金属検出機１０は、図２に示すように、所定周波数の送信信号を発生させる交流発生器２１と、交流発生器２１によって発生させられた送信信号を増幅する増幅器２２と、増幅器２２によって増幅された送信信号の周波数に対応する交番磁界を発生させる送信コイル２３と、送信コイル２３と対向して配置され互いに逆相に結合された一対の受信コイル２４ａ、２４ｂと、送信コイル２３によって発生させられた交番磁界による受信コイル２４ａの誘起電圧及び受信コイル２４ｂの誘起電圧の差である受信信号を出力する同調回路２５と、同調回路２５によって出力された受信信号を増幅する増幅器２６と、交流発生器２１によって発生させられた送信信号を同期検波のために位相調整した交流信号を生成する位相制御部２７と、位相制御部２７によって生成された交流信号を更に９０°移相する移相器２８と、位相制御部２７によって位相調整された交流信号に基づいて増幅器２６によって増幅された受信信号から同期検波によって送信信号に相当する高周波成分を取り除く同期検波器２９と、移相器２８によって移相された交流信号に基づいて増幅器２６によって増幅された受信信号から同期検波によって送信信号に相当する高周波成分を取り除く同期検波器３０と、同期検波器２９によって検波された信号から不要な周波数成分を除去するバンドパスフィルタ（以下「ＢＰＦ」という。）３１と、同期検波器３０によって検波された信号から不要な周波数成分を除去するＢＰＦ３２と、ＢＰＦ３１によって出力される信号を増幅する増幅器３３と、ＢＰＦ３２によって出力される信号を増幅する増幅器３４と、増幅器３３によって増幅された信号及び増幅器３４によって増幅された信号をそれぞれアナログ信号からデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器３５と、Ａ／Ｄ変換器３５によってデジタル信号に変換された信号に基づいて被検査体８０中の金属の有無を検出する金属検出手段としてのコンピュータ３６と、コンピュータ３６によって使用される各種情報を記憶した記憶装置３７とを筐体１１の内部に備えている。
【００２２】
コンピュータ３６は、プログラムが記録された図示していないＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＯＭに記録されたプログラムに基づいて動作する図示していないＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）、ＣＰＵの作業領域である図示していないＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）等を含んで構成されている。
【００２３】
ここで、磁性金属は、磁束密度の大きさに比例して多くの磁束を引き寄せるので、交番磁界中では、磁界の振幅（磁束密度）が最大のときに大きな外部磁界変化を引き起こす。また、非磁性金属は、磁束密度の変化量の大きさに比例してその変化を打ち消す方向の渦電流が多く流れ磁束をジュール熱として消費するので、交番磁界中では、磁束密度の変化量が最大のときに大きな外部磁界変化を引き起こす。したがって、コンピュータ３６は、Ａ／Ｄ変換器３５によってデジタル信号に変換された信号に基づいて、金属の大きさだけでなく、金属の材質（Ｆｅ、ＳＵＳ等）をも検出することができる。
【００２４】
また、記憶装置３７によって記憶される情報には、金属のサンプルとしてのテストピースであって正常であることが確かである基準テストピースが送信コイル２３と受信コイル２４ａ、２４ｂとの間を通過することによって生じる送信コイル２３と受信コイル２４ａ、２４ｂとの間の磁界の変化に応じてコンピュータ３６によって生成されるべき信号のレベル（以下「基準レベル」という。）が含まれている。即ち、記憶装置３７は、レベル記憶手段を構成している。ここで、記憶装置３７は、材質と、大きさと、形状（球状や棒状等）との少なくとも１つが異なる複数種類の基準テストピース毎に基準レベルを記憶している。
【００２５】
次に、金属検出機１０の動作について説明する。
【００２６】
まず、通常の運転モードの動作のうち被検査体８０中の金属の有無を検出する動作について説明する。
【００２７】
コンピュータ３６は、コンベア１２によって搬送された被検査体８０が進入センサ１３によって検出されたことを検知すると、Ａ／Ｄ変換器３５から入力される信号に基づいて生成した信号の測定レベルと、記憶装置３７に記憶された検出用の閾値とに基づいて被検査体８０中の金属の有無、材質及び大きさを検出する。
【００２８】
そして、コンピュータ３６は、検出結果を表示部１５に表示する。
【００２９】
次に、通常の運転モードの動作のうち被検査体８０中の金属の有無の検出の感度の情報の出力をテストピースに基づいて行う動作について説明する。
【００３０】
コンピュータ３６は、コンベア１２によって搬送されたテストピースが進入センサ１３によって検出されたことを検知すると、Ａ／Ｄ変換器３５から入力される信号に基づいて生成した信号の測定レベルと、記憶装置３７に記憶された検出用の閾値とに基づいてテストピースの材質及び大きさを検出する。
【００３１】
そして、コンピュータ３６は、検出結果を表示部１５に表示する。
【００３２】
したがって、利用者は、金属検出機１０に検出させたテストピースの実際の材質及び大きさと、表示部１５に表示された材質及び大きさとを比較することによって、金属検出機１０による被検査体８０中の金属の有無の検出の感度を確認することができる。
【００３３】
次に、通常の運転モードの動作のうち被検査体８０中の金属の有無の検出の感度の設定をテストピースに基づいて行う動作について説明する。
【００３４】
コンピュータ３６は、コンベア１２によって搬送されたテストピースが進入センサ１３によって検出されたことを検知すると、Ａ／Ｄ変換器３５から入力される信号に基づいて検出用の閾値を生成し、生成した検出用の閾値を記憶装置３７に記憶する。
【００３５】
以上のように、コンピュータ３６は、被検査体８０中の金属の有無の検出の感度の情報の出力と、被検査体８０中の金属の有無の検出の感度の設定とをテストピースに基づいて行うようになっている。
【００３６】
次に、通常の運転モードとは異なるテストピース確認モードの動作、即ち、テストピースが正常であるか否かの判定を行う動作について説明する。
【００３７】
図３に示すように、コンピュータ３６は、記憶装置３７に基準レベルが記憶されている基準テストピースの種類を表示部１５を介して表示する（Ｓ９１）。
【００３８】
表示部１５に表示された複数種類の基準テストピースからコンベア１２によって搬送させるテストピースと同じ種類の基準テストピースを操作部１４を介して利用者が選択すると、コンピュータ３６は、利用者が何れの基準テストピースを選択したかを記憶する（Ｓ９２）。
【００３９】
次いで、コンピュータ３６は、利用者が選択した基準テストピースと同じ種類のテストピースを流すように促す旨のメッセージと、利用者が選択した基準テストピースの材質及び大きさと、実際に検出したテストピースの大きさとを、図４（ａ）に示すように表示部１５に表示する（Ｓ９３）。
【００４０】
そして、コンピュータ３６は、コンベア１２によって搬送されたテストピースが進入センサ１３によって検出されたことを検知すると（Ｓ９４）、Ａ／Ｄ変換器３５から入力される信号に基づいて実際に生成した信号の測定レベルが、記憶装置３７によって記憶された基準レベルのうち利用者によって選択された基準テストピースに対応する基準レベルに対して、所定の範囲内であるか否かを判断する（Ｓ９５）。
【００４１】
コンピュータ３６は、実際に生成した信号の測定レベルが基準レベルに対して所定の範囲内ではないとＳ９５において判断すると、テストピースが正常ではないと判定し（Ｓ９６）、図４（ｂ）に示すように判定結果を表示部１５に表示する（Ｓ９７）。
【００４２】
一方、コンピュータ３６は、実際に生成した信号の測定レベルが基準レベルに対して所定の範囲内であるとＳ９５において判断すると、Ｓ９５の判断を所定回数（例えば３回）行ったか否かを判断する（Ｓ９８）。
【００４３】
コンピュータ３６は、Ｓ９５の判断を所定回数行っていないとＳ９８において判断すると、Ｓ９３の処理を再度実行する。
【００４４】
一方、コンピュータ３６は、Ｓ９５の判断を所定回数行ったとＳ９８において判断すると、テストピースが正常であると判定し（Ｓ９９）、図４（ｃ）に示すように判定結果を表示部１５に表示する（Ｓ９７）。
【００４５】
以上のように、コンピュータ３６は、テストピースが正常であるか否かの判定を行うようになっており、テストピース判定手段を構成している。また、表示部１５は、コンピュータ３６によるテストピースが正常であるか否かの判定の結果を出力するようになっており、判定結果出力手段を構成している。また、コンピュータ３６は、複数種類の基準テストピースから少なくとも１種類の基準テストピースを選択するようになっており、基準テストピース選択手段を構成している。
【００４６】
以上に説明したように、金属検出機１０は、テストピースが正常であるか否かの判定を行うことができるので、例えば、磁性金属のテストピースが磁化されている等、テストピース自体が保存状況や使用環境によって劣化を起こしている場合や、検出しようとしている被検査体８０とは異なる品種用のテストピースや金属検出機１０以外の金属検出機用のテストピース等の不適切なテストピースが利用者の間違い等によって利用されている場合等に、テストピースが正常でないということを利用者に知らせることができる。したがって、金属検出機１０は、被検査体８０中の金属の有無の検出の感度の情報の出力と、被検査体８０中の金属の有無の検出の感度の設定とを正常なテストピースに基づいて行うことができ、被検査体８０中の金属の有無を従来より適切な感度で信頼性高く検出することができる。
【００４７】
また、金属検出機１０は、記憶装置３７が複数種類の基準テストピース毎に基準レベルを記憶し、コンピュータ３６が複数種類の基準テストピースから少なくとも１種類の基準テストピースを選択するので、テストピースが正常であるか否かの判定を複数種類のテストピースに対して行うことができる。もちろん、金属検出機１０は、テストピースが正常であるか否かの判定を１種類のテストピースに対してのみ行えるようになっていても良い。
【００４８】
なお、金属検出機１０は、判定結果を表示する表示部１５を判定結果出力手段として備えているが、表示以外の方法によって判定結果を出力するようになっていても良い。例えば、金属検出機１０は、音声によって利用者に判定結果を出力しても良いし、電気信号によって他の機器に判定結果を出力しても良い。
【００４９】
（第２の実施の形態）
本発明の第２の実施の形態に係る金属検出機の構成について説明する。
【００５０】
なお、本実施の形態に係る金属検出機の構成のうち第１の実施の形態に係る金属検出機１０（図１参照。）の構成と同様な構成については、金属検出機１０の構成と同一の符号を付して詳細な説明を省略する。
【００５１】
図５に示すように、本実施の形態に係る金属検出機１１０の構成は、被検査体８０中の磁性金属を磁化する永久磁石又は電磁石等の磁石１２１と、コイル１２２ａ、１２２ｂからなる磁気センサ１２２と、コイル１２３ａ、１２３ｂからなり磁気センサ１２２とともにコンベア１２を挟む位置に配置された磁気センサ１２３と、コイル１２２ａに生じる起電力及びコイル１２２ｂに生じる起電力の差動成分を検出する差分検出部１２４と、コイル１２３ａに生じる起電力及びコイル１２３ｂに生じる起電力の差動成分を検出する差分検出部１２５と、差分検出部１２４によって検出された差動成分を一方の極性に整流する整流部１２６と、差分検出部１２５によって検出された差動成分を一方の極性に整流する整流部１２７と、進入センサ１３によって被検査体８０が検知されてからその被検査体８０が磁気センサ１２２、１２３の間を通過するのに必要な所定時間が経過するまでの間に整流部１２６によって整流された差動成分を積分する積分部１２８と、進入センサ１３によって被検査体８０が検知されてからその被検査体８０が磁気センサ１２２、１２３の間を通過するのに必要な所定時間が経過するまでの間に整流部１２７によって整流された差動成分を積分する積分部１２９と、積分部１２８による積分結果及び積分部１２９による積分結果を加算する加算部１３０とを、交流発生器２１、増幅器２２、送信コイル２３、受信コイル２４ａ、２４ｂ、同調回路２５、増幅器２６、位相制御部２７、移相器２８、同期検波器２９、３０、ＢＰＦ３１、３２、増幅器３３、３４及びＡ／Ｄ変換器３５に代えて金属検出機１０が備えた構成と同様である。
【００５２】
なお、金属検出機１１０のコンピュータ３６と、金属検出機１０のコンピュータ３６との相違点は、記録しているプログラムが異なる点である。
【００５３】
ここで、非磁性金属は、磁化されない。したがって、金属検出機１１０のコンピュータ３６は、磁性金属の大きさだけを検出することができる。
【００５４】
また、記憶装置３７によって記憶される情報には、磁性金属のサンプルとしてのテストピースであって正常であることが確かである基準テストピースが磁石１２１によって磁化された状態で磁気センサ１２２と磁気センサ１２３との間を通過することによって生じる磁気センサ１２２と磁気センサ１２３との間の磁界の変化に応じてコンピュータ３６によって生成されるべき信号のレベル（以下「基準レベル」という。）が含まれている。即ち、記憶装置３７は、レベル記憶手段を構成している。ここで、記憶装置３７は、大きさ及び形状の少なくとも１つが異なる複数種類の基準テストピース毎に基準レベルを記憶している。
【００５５】
金属検出機１１０のコンピュータ３６の動作については、磁性金属の大きさだけを検出することができることを除いて第１の実施の形態とほぼ同様であるので、説明を省略する。
【００５６】
（第３の実施の形態）
第３の実施の形態に係る金属検出機の構成は、コンピュータ３６に記録されたプログラムが異なることを除いて、第１の実施の形態に係る金属検出機１０（図２参照。）の構成とほぼ同様であるので、金属検出機１０の構成と同一の符号を付して説明する。
【００５７】
本実施の形態に係る金属検出機の動作について説明する。
【００５８】
なお、本実施の形態に係る金属検出機の動作のうち、利用者がテストピースとしての使用を希望する異物サンプルを基準テストピースとして基準レベルを記憶装置３７に記憶させる動作以外の動作は、第１の実施の形態に係る金属検出機１０の動作とほぼ同様であるので、詳細な説明を省略する。
【００５９】
図６に示すように、コンピュータ３６は、コンベア１２によって搬送させる異物サンプルの材質、大きさ及び向き等の情報を操作部１４を介して利用者が入力すると、利用者によって入力された情報を記憶する（Ｓ１９１）。
【００６０】
次いで、コンピュータ３６は、コンベア１２によって搬送された異物サンプルが進入センサ１３によって検出されたことを検知すると（Ｓ１９２）、Ａ／Ｄ変換器３５から入力される信号に基づいて生成した信号の測定レベルを、今回の異物サンプルの基準レベルとして、Ｓ１９１において記憶した情報とともに記憶装置３７に記憶させる（Ｓ１９３）。
【００６１】
以上のように、コンピュータ３６は、利用者からの指示に基づいて基準レベルを記憶装置３７に記憶するように指示するようになっている。
【００６２】
以上に説明したように、本実施の形態に係る金属検出機は、利用者がテストピースとしての使用を希望する異物サンプルを基準テストピースとして基準レベルを記憶装置３７に記憶させるので、以後、テストピースとして使用される異物サンプルが正常であるか否かの判定を行うことができる。
【００６３】
（第４の実施の形態）
まず、本発明の第４の実施の形態に係る金属検出機の構成について説明する。
【００６４】
図７に示す第４の実施の形態に係る金属検出機２１０の構成は、コンピュータ３６（図２参照。図７には図示せず。）に記録されたプログラムが異なることを除いて、第１の実施の形態に係る金属検出機１０（図２参照。）の構成とほぼ同様であるので、金属検出機１０の構成と同一の符号を付して説明する。
【００６５】
金属検出機２１０のコンピュータ３６は、コンベア１２によって搬送されて筐体１１の穴１１ａを通過した通過物の進路を、図７（ａ）に示す通常の運転モード用の進路２８０ａと、図７（ｂ）に示すテストピース確認モード用の進路２８０ｂとの何れかに変更する選別機２８０を制御するようになっており、選別機制御手段を構成している。
【００６６】
次に、金属検出機２１０の動作について説明する。
【００６７】
コンピュータ３６は、通常の運転モードにおいて、図７（ａ）に示すように、筐体１１の穴１１ａを通過した通過物の進路を選別機２８０に進路２８０ａにさせる。また、コンピュータ３６は、テストピース確認モードにおいて、図７（ｂ）に示すように、筐体１１の穴１１ａを通過した通過物の進路を選別機２８０に進路２８０ｂにさせる。
【００６８】
したがって、通常の運転モードにおいては、図７（ａ）に示すように、金属の混入の有無の検出等が行われた通過物である被検査体８０等がコンベア１２によって進路２８０ａに搬送され、テストピース確認モードにおいては、図７（ｂ）に示すように、正常であるか否かの判定に使用された通過物であるテストピース２９０等がコンベア１２によって進路２８０ｂに搬送される。
【００６９】
以上に説明したように、金属検出機２８０は、正常であるか否かの判定が終了したテストピース２９０の進路をテストピース確認モード用の進路２８０ｂにするので、正常であるか否かの判定に使用されたテストピース２９０を容易に回収することができる。
【産業上の利用可能性】
【００７０】
以上のように、本発明に係る金属検出機は、被検査体中の金属の有無を従来より適切な感度（例えば、検出すべき金属が混入しているときには金属が有ると判断し、検出目的ではない金属を検出せず、金属が混入していないときには金属が無いと判断する感度）で信頼性高く検出することができるという効果を有し、食品等の生産ライン上に設置される金属検出機等として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００７１】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係る金属検出機の正面図
【図２】図１に示す金属検出機のブロック図
【図３】テストピースが正常であるか否かの判定を図１に示す金属検出機が行う動作のフローチャート
【図４】（ａ）テストピースが正常であるか否かの判定の動作中に図１に示す金属検出機の表示部に表示される画像を示す図  （ｂ）テストピースが正常ではないと図１に示す金属検出機が判定した場合に表示部に表示される画像を示す図  （ｃ）テストピースが正常であると図１に示す金属検出機が判定した場合に表示部に表示される画像を示す図
【図５】本発明の第２の実施の形態に係る金属検出機のブロック図
【図６】利用者がテストピースとしての使用を希望する異物サンプルの基準レベルを本発明の第３の実施の形態に係る金属検出機が記憶装置に記憶させる動作のフローチャート
【図７】（ａ）通過物の進路が選別機によって通常の運転モード用の進路にされている状態での本発明の第４の実施の形態に係る金属検出機の上面図  （ｂ）通過物の進路が選別機によってテストピース確認モード用の進路にされている状態での図７（ａ）に示す金属検出機の上面図
【符号の説明】
【００７２】
１０  金属検出機
１５  表示部（判定結果出力手段）
３６  コンピュータ（金属検出手段、テストピース判定手段、基準テストピース選択手段、選別機制御手段）
３７  記憶装置（レベル記憶手段）
８０  被検査体（通過物）
１１０  金属検出機
２１０  金属検出機
２８０  選別機
２８０ａ  進路（通常の運転モード用の進路）
２８０ｂ  進路（テストピース確認モード用の進路）
２９０  テストピース（通過物）
【図１】
2007010349.tif 000003
【図２】
2007010349.tif 000004
【図３】
2007010349.tif 000005
【図４】
2007010349.tif 000006
【図５】
2007010349.tif 000007
【図６】
2007010349.tif 000008
【図７】
2007010349.tif 000009