(57)【要約】【課題】試験テンプレート内に規定されているハードウェアリソースの構成を提供するより優れた方法及び装置を提供することを目的とする。【解決手段】１実施例において、命令の実行が機械に、１）ＡＴＥ（自動試験装置）試験テンプレート選択ツール（３１２）を表示させ（１０２）、２）前記ＡＴＥ試験テンプレート選択ツール（３１２）から試験テンプレート（３１４）をユーザーが選択した際に、前記選択された試験テンプレート（３１４）のデフォルトパラメータを表示させ（１０４）、３）ユーザーが、前記試験テンプレート（３１４）によって規定されている少なくとも１つのハードウェアリソースを構成できるようにするツール（４０２）に対するアクセスをユーザーに対して提供させる（１０６）。【選択図】図１
2007010663.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
機械によって実行された際に、
ＡＴＥ（自動試験装置）試験テンプレート選択ツールを表示する段階と、
前記ＡＴＥ試験テンプレート選択ツールから試験テンプレートをユーザーが選択した際に、前記選択された試験テンプレートのデフォルトパラメータを表示する段階と、
ユーザーが、前記試験テンプレートによって規定されている少なくとも１つのハードウェアリソースを構成できるようにする試験テンプレート構成ツールに対するアクセスをユーザーに対して提供する段階と、
を有するアクションを前記機械に実行させる一連の命令を保存しているいくつかの機械可読媒体。
【請求項２】
前記試験テンプレートと関連する前記デフォルトパラメータ及び規定されている１つ又は複数のハードウェアリソースは、実行可能な試験を定義するのに十分である請求項１記載の媒体。
【請求項３】
前記一連の命令は、前記表示されているデフォルトパラメータの中の少なくとも１つのユーザーによる選択及び構成を前記機械に更に可能にさせる請求項１記載の媒体。
【請求項４】
前記試験テンプレート構成ツールは、規定されているハードウェアリソースとそれらの接続の図を提供する請求項１記載の媒体。
【請求項５】
前記図は、ＳＶＧ画像を有する請求項４記載の媒体。
【請求項６】
前記選択された試験テンプレートによって定義されている試験の段階的な実行の際に、前記一連の命令は、少なくとも１つのハードウェアリソースの設定を前記機械に表示させる請求項１記載の媒体。
【請求項７】
前記一連の命令は、設定が表示される前記ハードウェアリソースのユーザーによる構成を前記機械に可能にさせる請求項６記載の媒体。
【請求項８】
前記一連の命令は、設定が表示される前記ハードウェアリソースのユーザーによる選択を前記機械に更に可能にさせる請求項６記載の媒体。
【請求項９】
前記試験テンプレート構成ツール内からハードウェアリソースをユーザーが選択した際に、前記ツール内は、交換用のハードウェアリソースを選択可能な少なくとも１つの代替ハードウェアリソースを表示する請求項１記載の媒体。
【請求項１０】
前記試験テンプレート構成ツールからハードウェアリソースをユーザーが選択した際に、前記ツールは、前記ハードウェアリソースの構成可能な設定に対するアクセスを提供する請求項１記載の媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験テンプレート内に規定されているハードウェアリソースの構成を提供する方法及び装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
回路基板、集積回路、又はＳＯＣ（Ｓｙｓｔｅｍ−Ｏｎ−ａ−Ｃｈｉｐ）などのシステム又はコンポーネントを含む電気装置の製造及び／又は出荷の前には、設計どおりに構築されているかどうか又は機能するかどうかを判定するべく、通常、装置を試験する。しばしば、この試験は、ＡＴＥ（Ａｕｔｏｍａｔｅｄ  Ｔｅｓｔ  Ｅｑｕｉｐｍｅｎｔ）（これは、「テスタ」とも呼ばれる）によって行われる。
【０００３】
ＡＴＥを使用して装置を試験する前に、試験開発者は、装置を試験する際にＡＴＥが実行する一連の試験を開発しなければならない。従来、これは、ＡＴＥの試験対象であるそれぞれの装置ごとに別個に行われてきた。個別の試験を開発する場合には、試験開発者は、大きな自由度を有しているが、これは、装置の「Ｔｉｍｅ  Ｔｏ  Ｍａｒｋｅｔ（製品の市場投入までに要する期間）」サイクルに大きな遅延を引き起こし得る高価で時間集約的なプロセスである。
【０００４】
いくつかのケースにおいては、試験を実施するためのデフォルトパラメータ及びハードウェアリソースを規定する試験テンプレートによって試験開発を支援可能である。これには、Ａｇｉｌｅｎｔ  ９３０００  ＳＯＣ  Ｓｅｒｉｅｓテスタ用の試験開発機能を提供するＳｍａｒｔＴｅｓｔ  Ｐｒｏｇｒａｍ  Ｇｅｎｅｒａｔｏｒソフトウェアが該当する（これらは、いずれも、米国カリフォルニア州パロアルトに所在するＡｇｉｌｅｎｔ  Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ，  Ｉｎｃ．社によって流通されている）。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、試験テンプレート内に規定されているハードウェアリソースの構成を提供するより優れた方法及び装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
一実施例においては、いくつかの機械可読媒体は、機械によって実行された際に、（１）ＡＴＥ試験テンプレート選択ツールを表示する段階と、（２）ユーザーがＡＴＥ試験テンプレート選択ツールから試験テンプレートを選択した際に、選択された試験テンプレートのデフォルトパラメータを表示する段階と、（３）試験テンプレートによって規定されている少なくとも１つのハードウェアリソースをユーザーが構成できるようにする試験テンプレート構成ツールに対するアクセスをユーザーに対して提供する段階と、を有するアクションを機械に実行させる一連の命令を保存している。
【０００７】
別の実施例においては、いくつかの機械可読媒体は、機械によって実行された際に、（１）ＡＴＥ用の試験テンプレートによって規定されている少なくとも１つのハードウェアリソースをユーザーが構成できるようにする試験テンプレート構成ツールを表示する段階と、（２）ハードウェアリソースの中の１つを選択するためのツールをユーザーが使用した際に、選択されたハードウェアリソースをユーザーが構成できるようにする段階と、を有するアクションを機械に実行させる一連の命令を保存している。
【０００８】
その他の実施例も開示されている。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
添付の図面には、本発明の例示用の実施例が示されている。
【００１０】
図１及び図２は、試験テンプレート内に規定されているハードウェアリソースの構成を提供するコンピュータによって実施される方法１００、２００を示している。方法１００によれば、ＡＴＥ（Ａｕｔｏｍａｔｅｄ  Ｔｅｓｔ  Ｅｑｕｉｐｍｅｎｔ）試験テンプレート選択ツールが表示される１０２。次いで、ユーザーがＡＴＥ試験テンプレート選択ツールから試験テンプレートを選択した際に、選択された試験テンプレートのデフォルトパラメータが表示される１０４。次いで、試験テンプレートによって規定されている１つ又は複数のハードウェアリソースをユーザーが構成できるようにする試験テンプレート構成ツールに対するアクセスがユーザーに対して提供される１０６。
【００１１】
方法２００は、試験テンプレートを既に選択済みであるものと仮定している。この結果、方法２００は、試験テンプレートによって規定されている１つ又は複数のハードウェアリソースをユーザーが構成できるようにする試験テンプレート構成ツールの表示段階２０２から始まっている。次いで、ハードウェアリソースの中の１つを選択するためのツールをユーザーが使用した際に、選択されたハードウェアリソースのユーザーによる構成が可能となる２０４。
【００１２】
方法１００及び２００は、いくつかの機械可読媒体（例えば、１つ又は複数の固定又は着脱可能なメモリ又はディスク）上に保存された一連の命令として実施可能である。機械（例えば、コンピュータ又はコンピュータネットワーク）によって実行された際に、一連の命令は、方法１００又は２００のアクションを機械に実行させる。
【００１３】
一例として、図３〜図１４は、方法１００又は２００（並びに、これらに対する様々な変更）を実装した一連の命令の実行の結果として表示可能な模範的なグラフィカルユーザーインターフェイス（Ｇｒａｐｈｉｃａｌ  Ｕｓｅｒ  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ：ＧＵＩ３００）の様々な状態を示している。
【００１４】
図３に示されているように、ＧＵＩ３００は、試験セットアップツリービュー３０２と試験テンプレート選択ツール３１２に対するアクセスを提供している。一例として、ツリービュー３０２は、例えば、ＲＦ  ＆  Ａｎａｌｏｇ試験セットアップ３０４及びＤｉｇｉｔａｌ試験セットアップ３０６を含む利用可能な試験セットアップのビューを提供可能である。ツリービューは、試験セットアップのそれぞれのグループ３０４、３０６内において、刺激(Stimulus)３０８又は計測(Measurement) ３１０試験セットアップの更なる選択を提供可能である。そして、クリックによって起動するツール３１２（例えば、ポップアップメニュー）から、利用可能な試験テンプレートをユーザーに表示可能である。図３に示されているＧＵＩビューにおいては、「Ｓ−Ｐａｒａｍｅｔｅｒ」というラベルが付加された試験テンプレート３１４が、選択されたものとして強調表示されている。
【００１５】
好ましくは、試験テンプレートは、実行可能な試験を定義するのに十分なデフォルトパラメータ及びハードウェアリソースを規定している。即ち、刺激試験の実行により、少なくとも１つのＡＴＥピンに刺激信号がもたらされ、計測試験の実行により、少なくとも１つのＡＴＥピンの計測値が記録される必要がある。この結果、ユーザーは、試験テンプレートを選択して装置試験を構成する以外に、なにも行う必要はない。
【００１６】
試験テンプレートによって規定されているパラメータ及びハードウェアリソースは、例えば、試験の際に使用するＡＴＥ試験経路及びハードウェアリソースとそれらの構成の標識（例えば、刺激及び／又は計測経路の標識と、どのＡＴＥピンを装置のどのピンに結合するのかに関する標識を含む）；試験周波数の標識（例えば、試験周波数レンジを含む）；変調フォーマットの標識；計測帯域幅の標識；又は、電力又は電圧レベルの標識を含む試験を実行する際の物理的及び電気的パラメータを規定可能である。
【００１７】
図４は、ユーザーが、模範的な「Ｓ−Ｐａｒａｍｅｔｅｒ」試験テンプレート３１４を選択した後のＧＵＩ３００を示している。図示のように、ＧＵＩ３００の右手のウィンドウ（又は、試験テンプレート構成ツール４０２）内に、試験テンプレート３１４のデフォルトパラメータ４００を表示可能である。好ましくは、デフォルトパラメータ４００は、ユーザーによって選択及び構成可能である。一実施例においては、ユーザーによるパラメータの選択により、ユーザーは、例えば、オプション５０８のポップアップ、プルダウン、又はスクロールメニューなどから新しいパラメータを選択可能である。図５を参照されたい。或いは、この代わりに（又は、これに加えて）、ユーザーは、所望の選択肢を入力（例えば、キー入力）することも可能であろう。別の実施例においては、ユーザーによるパラメータの選択により、或いは、パラメータの選択の後に選択可能となるメニューオプションのユーザーによる選択により、周波数リストエディタなどのパラメータリストエディタ５００に対するアクセスをユーザーに対して提供することも可能である。ユーザーは、パラメータリストエディタ５００内から、任意選択により、且つ、様々に、（１）リスト生成機能５０２を規定してパラメータリストの定義を支援したり、（２）事前に定義されているパラメータリスト５０４から選択すると共に／又は、（３）例えば、エディタ５００によって提供されるパラメータ入力テーブル５０６を使用してリストのパラメータを手動で提供可能である。
【００１８】
右手のウィンドウ４０２を中ほどまで下がったところに、ツール選択メカニズム４０４が提供されている。メカニズム４０４は、模範的なものに過ぎず、様々なツールに対するアクセスを提供可能である。図６は、試験テンプレート３１４による試験の実行に関連した結果を表示するための選択メカニズム４０４の使用法を示している。試験の実行は、「Ｅｘｅｃｕｔｅ」ボタン４０６を押下することによってトリガ可能である。任意選択により、最初に、実行モードセレクタ４０８から実行モードを選択することも可能である。試験を実行した際に、表（例えば、表６００）及び図の形態を含む様々な事前構成又はプログラムされた形態で試験の結果を表示可能である。
【００１９】
図７は、試験テンプレートによって規定されているハードウェアリソースをユーザーが構成できるようにする模範的なハードウェア及び図構成ツール７００を示している。いくつかのケースにおいては、ツール７００は、試験テンプレート（例えば、試験テンプレート３１４）をユーザーが選択した際に自動的に起動可能である。その他のケースにおいては、ユーザーは、例えば、ツール選択メカニズム４０４を介して選択することにより、ツール７００を起動することを要するであろう。
【００２０】
図７に示されているように、ツール７００には、ツール７００によって表示されているデフォルトハードウェアに対する偶発的な変更を防止する手段（例えば、「Ａｌｗａｙｓ  Ｕｓｅ  Ｄｅｆａｕｌｔ  ＨＷ」というテキストの隣のチェックボックス７０２）を提供可能である。又、ツール７００には、試験テンプレートのデフォルトハードウェアセットアップを回復する手段（例えば、ボタン７０４）を提供することも可能である。
【００２１】
ツール７００が表示できるのは、ハードウェアリストのみであるが、これは、好ましくは、図７０６を表示する。図７０６は、試験テンプレートによって規定されているハードウェアリソースと、それらの接続を示すことができる。一実施例においては、図７０６は、ＳＶＧ（Ｓｃａｌａｂｌｅ  Ｖｅｃｔｏｒ  Ｇｒａｐｈｉｃ）画像を有している。
【００２２】
ツール７００内からハードウェアリソース（例えば、ＲＦソース８００、図８）をユーザーが選択すると、ツール７００は、交換用のハードウェアリソース８０２を選択可能な１つ又は複数の利用可能な代替ハードウェアリソースを表示する。一例として、１つ又は複数の代替ハードウェアリソースは、永久的な又はポップアップメニューを介して表示可能である。いくつかのケースにおいては、ツール７００は、デフォルトリソースを多数のリソースによって置換する手段又はツール７００が認知していないリソースを規定する手段を提供可能である。
【００２３】
ツール７００は、選択されたハードウェアリソース９００の構成可能な設定９０２に対するアクセスを提供することも可能である。図９を参照されたい。一実施例においては、リソース９００をユーザーが選択した際に、ツール７００は、（１）代替ハードウェアリソースに対するマウスのシングルクリックによるアクセス（例えば、マウスの右ボタンのクリック）と、（２）ハードウェアリソース９００の構成可能な設定９０２に対するマウスのダブルクリックによるアクセスを提供する。図９に示されているように、構成可能な設定９０２は、選択されたハードウェアリソース９００のコンポーネントの図９０４と共に、表の形態で表示可能である。
【００２４】
図示されてはいないが、リソースの構成可能な設定にユーザーがアクセスした際に、選択されたハードウェアリソースを操作するプログラムコードのユーザーによる選択をツール７００に提供させることができる。例えば、ユーザーが、デジタイザカードを選択した場合には、カードが利用するＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）アルゴリズムを変更する手段又は所望のＤＳＰアルゴリズムをダウンロード／アップロードする手段をユーザーに提供可能である。
【００２５】
前述のように、ＧＵＩ３００は、実行モードセレクタ４０８を有することができる。図１０は、実行モードセレクタ４０８をユーザーがトリガした際に表示可能な模範的なポップアップメニュー１０００を示している。利用可能なモードの１つは、プロッティングモードであってよく、この場合には、第２階層のポップアップメニュー１００２により、選択可能なプロットのタイプを表示可能である。例えば、「Ｓ−Ｐａｒａｍｅｔｅｒ」試験テンプレート３１４の場合には、プロットの選択肢は、「Ｓｍｉｔｈ  Ｃｈａｒｔ」であってよい。電力計測テンプレートの場合には、プロットの選択肢は、「Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ」又は「Ｓｐｅｃｔｒｕｍ」プロットであってよい。周波数リストを利用する計測テンプレートの場合には、プロットの選択肢は、「Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ  ｖｓ．  Ｒｅｓｕｌｔｓ」であってよい。
【００２６】
プロットタイプのいくつかを選択することにより、プロット構成ツール１１００の表示をトリガ可能である。図１１を参照されたい。プロットの構成を（例えば、「ＯＫ」ボタン１１０２を押下することによって）ユーザーが確認した際、或いは、構成が不要な場合には、プロッティングモードをユーザーが選択した際に、ＧＵＩ３００は、プロットエリア１２００を表示可能である。図１２を参照されたい。但し、プロットエリア内にプロットを描画するための実行結果を得るには、表示されている試験パラメータ４００に対応した試験を実行する必要があることに留意されたい。一実施例においては、ＧＵＩ３００は、表示されたプロット１２００のデータを別のプロセス又はアプリケーションにエクスポートするためのプロットダウンロード機能１２０２に対するアクセスをも提供している。
【００２７】
図１３は、実行モードセレクタ４０８を使用して選択可能な段階的な実行モード用の構成ツール１３００を示している。一例として、ツール１３００は、試験を実行する周波数レンジを選択する手段１３０２と、設定を試験実行段階の終了時点において表示するハードウェアリソース８００を選択する手段１３０４を提供している。図１４は、段階的な実行におけるリソースの設定の表示１４００を示している。図示のように、表示１４００により、ユーザーは、選択されたハードウェアリソース８００を構成可能である。ウィンドウ７００（図示されている）の内部又は「Ｅｘｅｃｕｔｅ」ボタン４０６の近傍のウィンドウ１４００内に、段階的な実行を継続するための手段（例えば、「ＣＯＮＴＩＮＵＥ」ボタン１４０２）を提供可能である。
【００２８】
本明細書に開示されている方法１００、２００、及び装置３００は、ＡＴＥ試験セットアップにおいてハイレベルな制御（例えば、ツリービュー３０２、試験テンプレート選択制御３１２、及び試験テンプレート構成ツール４０２を介したもの）とローレベルな制御（例えば、試験テンプレートハードウェア及び図構成ツール７００を介したもの）の両方を提供しているという点が有用である。又、ハイレベル及びローレベルの制御３０２、４０２、７００に対するアクセスを単一のＧＵＩ３００を通じて提供可能である。
【００２９】
また、以下に本発明の各実施態様の例を示す。
【００３０】
［実施態様１］
機械によって実行された際に、ＡＴＥ（自動試験装置）試験テンプレート選択ツール（３１２）を表示する段階（１０２）と、前記ＡＴＥ試験テンプレート選択ツール（３１２）から試験テンプレート（３１４）をユーザーが選択した際に、前記選択された試験テンプレート（３１４）のデフォルトパラメータを表示する段階（１０４）と、ユーザーが、前記試験テンプレート（３１４）によって規定されている少なくとも１つのハードウェアリソースを構成できるようにする試験テンプレート構成ツール（４０２）に対するアクセスをユーザーに対して提供する段階（１０６）と、を有するアクションを前記機械に実行させる一連の命令を保存しているいくつかの機械可読媒体。
【００３１】
［実施態様２］
前記試験テンプレート（３１４）と関連する前記デフォルトパラメータ及び規定されている１つ又は複数のハードウェアリソースは、実行可能な試験を定義するのに十分である実施態様１記載の媒体。
【００３２】
［実施態様３］
前記一連の命令は、前記表示されているデフォルトパラメータの中の少なくとも１つのユーザーによる選択及び構成を前記機械に更に可能にさせる実施態様１記載の媒体。
【００３３】
［実施態様４］
前記試験テンプレート構成ツール（４０２）は、規定されているハードウェアリソースとそれらの接続の図（７０６）を提供する実施態様１記載の媒体。
【００３４】
［実施態様５］
前記図（７０６）は、ＳＶＧ画像を有する実施態様４記載の媒体。
【００３５】
［実施態様６］
前記選択された試験テンプレート（３１４）によって定義されている試験の段階的な実行の際に、前記一連の命令は、少なくとも１つのハードウェアリソース（９００）の設定（９０２）を前記機械に表示させる実施態様１記載の媒体。
【００３６】
［実施態様７］
前記一連の命令は、設定（９０２）が表示される前記ハードウェアリソース（９００）のユーザーによる構成を前記機械に可能にさせる実施態様６記載の媒体。
【００３７】
［実施態様８］
前記一連の命令は、設定（９０２）が表示される前記ハードウェアリソース（９００）のユーザーによる選択を前記機械に更に可能にさせる実施態様６記載の媒体。
【００３８】
［実施態様９］
前記試験テンプレート構成ツール（４０２）内からハードウェアリソース（９００）をユーザーが選択した際に、前記ツール（４０２）内は、交換用のハードウェアリソースを選択可能な少なくとも１つの代替ハードウェアリソースを表示する実施態様１記載の媒体。
【００３９】
［実施態様１０］
前記試験テンプレート構成ツール（４０２）からハードウェアリソース（９００）をユーザーが選択した際に、前記ツール（４０２）は、前記ハードウェアリソース（９００）の構成可能な設定（９０２）に対するアクセスを提供する実施態様１記載の媒体。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】試験テンプレートに規定されているハードウェアリソースの構成を提供するコンピュータによって実行される方法を示している。
【図２】試験テンプレートに規定されているハードウェアリソースの構成を提供するコンピュータによって実行される方法を示している。
【図３】図１及び図２に示されている方法を実施するグラフィカルユーザーインターフェイスの様々な状態を示している。
【図４】図１及び図２に示されている方法を実施するグラフィカルユーザーインターフェイスの様々な状態を示している。
【図５】図１及び図２に示されている方法を実施するグラフィカルユーザーインターフェイスの様々な状態を示している。
【図６】図１及び図２に示されている方法を実施するグラフィカルユーザーインターフェイスの様々な状態を示している。
【図７】図１及び図２に示されている方法を実施するグラフィカルユーザーインターフェイスの様々な状態を示している。
【図８】図１及び図２に示されている方法を実施するグラフィカルユーザーインターフェイスの様々な状態を示している。
【図９】図１及び図２に示されている方法を実施するグラフィカルユーザーインターフェイスの様々な状態を示している。
【図１０】図１及び図２に示されている方法を実施するグラフィカルユーザーインターフェイスの様々な状態を示している。
【図１１】図１及び図２に示されている方法を実施するグラフィカルユーザーインターフェイスの様々な状態を示している。
【図１２】図１及び図２に示されている方法を実施するグラフィカルユーザーインターフェイスの様々な状態を示している。
【図１３】図１及び図２に示されている方法を実施するグラフィカルユーザーインターフェイスの様々な状態を示している。
【図１４】図１及び図２に示されている方法を実施するグラフィカルユーザーインターフェイスの様々な状態を示している。
【符号の説明】
【００４１】
３１２  ＡＴＥ試験テンプレート選択ツール
３１４  試験テンプレート
４０２  試験テンプレート構成ツール
７０６  図
９００  ハードウェアリソース
９０２  設定
【図１】
2007010663.tif 000003
【図２】
2007010663.tif 000004
【図３】
2007010663.tif 000005
【図４】
2007010663.tif 000006
【図５】
2007010663.tif 000007
【図６】
2007010663.tif 000008
【図７】
2007010663.tif 000009
【図８】
2007010663.tif 000010
【図９】
2007010663.tif 000011
【図１０】
2007010663.tif 000012
【図１１】
2007010663.tif 000013
【図１２】
2007010663.tif 000014
【図１３】
2007010663.tif 000015
【図１４】
2007010663.tif 000016