(57)【要約】【課題】積層コンデンサの検査における絶縁抵抗の測定の時間の短縮のために、充電時間を短縮する必要が生じた。【解決手段】多段にて電圧を印加するために測定時の設定電圧より高い電圧を一定時間に加えることを特徴とする積層コンデンサの絶縁抵抗の測定の為の急速充電方法及びその方法及びその測定器。また、充電において一定時間印加する高い電圧は、コンデンサに掛かる実効電圧を超えないことを特徴としている。多段にて電圧を印加するために測定時の設定電圧より高い電圧を一定時間に加えた後に、設定電圧にて測定及び検査を行なうことも特徴としている。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
多段にて電圧を印加するために測定時の設定電圧より高い電圧を一定時間に加えた後に、設定電圧にて測定を行なうことを特徴とするコンデンサの絶縁抵抗の測定の為の急速充電方法。
【請求項２】
コンデンサが積層コンデンサであることを特徴とする請求項１記載の急速充電方法。
【請求項３】
一定時間加える高い電圧は、コンデンサに掛かる実効電圧を超えないことを特徴とする請求項１、請求項２記載のコンデンサの絶縁抵抗の測定の為の急速充電方法。
【請求項４】
請求項１、請求項２、請求項３記載の方法を用いたコンデンサの絶縁抵抗測定器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はＩＲテスタに代表されるコンデンサの絶縁抵抗の測定方法及び測定器に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、電子機器の普及に伴い、コンデンサの需要が増え、製造メーカでは、検査工程における絶縁抵抗の検査において、その時間の短縮化が急務となった。
電気特性検査における絶縁抵抗検査では、短時間で検査を行なうために被検査製品に定格電圧を越える初期不良を発見するための測定電圧を初めにコンデンサに印加して行なっていた。印加された電圧は工程内において放電が行なわれ、０Ｖに至る。
なお、コンデンサの検査方法を開示するものとして、下記特許文献１があるが、上記、充電時間の短縮する問題を解決するものではない。
【特許文献１】特開２００４−２８１７０９
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
絶縁抵抗検査工程において、被検査物であるコンデンサに充電を行なう。
この検査工程の終了までの時間の短縮化の為に、充電時間を早める必要があった。
高電圧を加えて充電するのは、通常の発想であるが、コンデンサの劣化を招く恐れがあった。この劣化を発生させないと言う条件を加味する必要がある。
また絶縁抵抗ともれ電流を安定した状態にて測定する必要がある。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
コンデンサの絶縁抵抗の測定の為の急速充電方法として、図３に示す様に、コンデンサに充電する電圧E1の選定設定は、コンデンサに掛かる実効電圧を超えない様、多段で印加することで、充電を完了させ、規定の絶縁抵抗値に短時間で到達させて、その後に規定の電圧E2にて測定を行なう。
【発明の効果】
【０００５】
積層コンデンサの絶縁抵抗の測定検査において、充電時間を短縮することができたため、漏れ電流測定までに掛かる時間を短時間で終わらせることができる。
従来の方法によれば、積層コンデンサ１に充電を開始して、積層コンデンサ１個当り１８秒の充電時間が必要であった。
よって１時間当り６０×６０／１８＝２００個／１プローブの処理能力しかなかった。
本発明の図３の方法によれば、充電時間を７秒と短縮することができた。よって１時間当り６０×６０／７＝５１４個／１プローブの積層コンデンサの充電の処理を行ない、絶縁抵抗の測定が可能となった。
この様に積層コンデンサの検査の絶縁抵抗の測定の時、積層コンデンサへの充電時間を短縮することができる。よって短時間で大量のコンデンサの検査を行なうことができる。
【０００６】
E1の電圧選定設定は、積層コンデンサ１に掛かる実効電圧を越えない様に、多段で印加することで、積層コンデンサにダメージを与えず、劣化を防ぐ事ができ、短時間で充電を完了させることができた。
【０００７】
また、規定の絶縁抵抗値に短時間で到達させて、その後に規定の一定の安定した電圧E２にて漏れ電流測定を短時間で終了させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
コンデンサの絶縁抵抗の測定の為の急速充電方法として、コンデンサに充電する電圧E1の選定設定は、コンデンサに掛かる実効電圧を超えない様、多段で印加することで、充電を完了させ、規定の絶縁抵抗値に短時間で到達させて、その後に規定の電圧E2にて測定を行なう。
以下、本発明に係わるコンデンサの検査の絶縁抵抗の測定時、コンデンサへの充電を短縮する方法を示す。また、コンデンサは積層コンデンサを用いたものを実施例として示す。
【実施例１】
【０００９】
図１に示す様に被検査物であるコンデンサとして、積層コンデンサ１に充電を行なう。
そのために電圧電源４により電流は可変抵抗器２を通り、スイッチ手段５により積層コンデンサ１に充電を行なう。
電圧計３は可変抵抗２により調整される電圧電源４により流れる電流により発生する電圧を表す。
【００１０】
図２は積層コンデンサ１に充電を行なうための一定の電圧Eを加えた、従来の充電方
法による印加電圧の波形である。
【００１１】
図３は本発明を表す波形である。測定時の設定電圧E2より高い電圧E1を一定時間T
１を加えた後に設定電圧E2にてT2の時間内にて測定を行なうことを特徴としている。この様にすると、積層コンデンサ1に急速に充電される。
この様に行なうと図３における設定電圧E2の時間Ｔ１＋Ｔ２は短縮される。
【００１２】
図４は従来の図２に示す電圧の印加方法で行なった積層コンデンサ１の両端電圧E0である。
【００１３】
図５は本発明の図３に示す電圧の印加方法で行なった時の積層コンデンサの両端電圧である。この様に積層コンデンサ１の両端の電圧E0に至るまでの時間T0は、図５に示す本発明の方法にて電圧を印加した方が、積層コンデンサ１の充電は短時間に行なうことができた。
【００１４】
以下、本発明の実施について詳細に述べる。
積層コンデンサのチップサイズは、例えば「１６０８から３２２５」と多種多様ある。
本実験に用いた積層コンデンサは「２１２５」で、その容量は１０μFである。
積層コンデンサの両端に加えられた電位E2は６ボルトとする。
従来の方法によれば、積層コンデンサ１個当りに１８秒の充電時間が必要であった。
本発明の図３の方法によれば、充電時間を７秒と短縮することができた。
その測定電圧はコンデンサに耐圧に合わせて、６ボルト、１２ボルト等を設定できるが、時間短縮のために、設定電圧E２より高い電圧E１は５〜２００ボルトのリニアの任意の電圧を掛ける。E1の電圧選定は、積層コンデンサ１に掛かる実効電圧がEを越えない様に、多段で印加することで、積層コンデンサにダメージを与えずに短時間で充電を完了させ、規定の絶縁抵抗値に短時間で到達させて、漏れ電流測定を短時間で終了させる様にしたものである。この様に充電を行なうのは、予備充電でなく電圧を連続的に加える事により、急速充電を達成できる。
規定の漏れ電流値は０．５μA以下（１００MΩ時）である事に良否の判定のための測定を行なった。その測定回数は１回に限らず、設定電圧E2にて数回行なう場合もある。
設定電圧E２における、絶縁抵抗の測定完了後、放電工程に入る。
【実施例２】
【００１５】
実施例２として、図３の様に印加電圧Ｅ１は、±０〜２００V、１V単位の設定で、以下はその時の充電時間を示す。
コンデンサへの充電完了後の印加電圧にて測定し、前記電圧印加終了の１９msec前、１０msec前、終了直前前の３回の判定を行ない、その後放電させる。
+２００Vにて８．０秒、
+１００Vにて５．０秒、
+  ５０Vにて３．０秒、
−１９９Vにて７．９秒、
−  ９９Vにて４．９秒、
−  ４９Vにて２．９秒、
参考としてその時のコンデンサの良品判定は以下の様にした。
コンデンサの電圧印加終了１９msec前、１０msec前、終了直前前の３回の判定を行なう様にした。
１９msec前      ２０≦測定値≦２００μAであれば良品
１０msec前      １０≦測定値≦１００μAであれば良品
０msec前        ４≦測定値≦  ５０μAであれば良品
なお印加電圧は、＋の場合と−の場合がある。
【００１６】
充電のためのE1の電圧選定は、積層コンデンサ１に掛かる実効電圧Eを越えない様に、多段で印加することで、積層コンデンサにダメージを与えずに短時間で充電を完了させ、規定の絶縁抵抗値を測定、良否を判断させると共に放電させる。
【実施例３】
【００１７】
実施例３として、図６、図７、図８は図３の応用例の波形でコンデンサに電圧を印加している。
図６は高電圧E1を加える前に、段階的に電圧E3を時間T3で加えた場合である。
図７は高電圧E1を加えた後に、段階的に減少した電圧E4を時間T4で加えた場合である。
図８は高電圧E1を加える前後に、段階的に電圧E3と、段階的に減少した電圧E4を加えた場合である。
実際において、段階的に加えられた電圧E３、E4は７ボルトであった。
この様な波形の電圧をコンデンサに印加した場合にも、同様に充電時間を短縮できる。
波形については本例としては方形波を示した。その波形はいかような波形でもよく、また段階の数はいとわない。また図３、図６、図７、図８は説明上、直線にて示したが、実際においては、なだらかな曲線となるのは言うまでもない
【００１８】
本発明は、通常セラミック積層コンデンサの充電にも用いるがアルミコンデンサの充電に用いることが可能である。
【産業上の利用可能性】
【００１９】
コンデンサの絶縁抵抗の測定の充電に利用ができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】コンデンサの充電回路図
【図２】従来の方法の充電波形
【図３】本発明の方法の充電波形
【図４】積層コンデンサの従来の方法の両端電圧
【図５】積層コンデンサの本発明の方法の両端電圧
【図６】本発明の方法の充電波形の応用例
【図７】本発明の方法の充電波形の応用例
【図８】本発明の方法の充電波形の応用例
【符号の説明】
【００２１】
１  積層コンデンサ
２．可変抵抗器
３  電圧計
４．電圧電源
５．スイッチ手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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