(57)【要約】【課題】  ドライブ装置とディスク表面の温度差が大きく、ディスク表面の温度が逐次変化する過渡状態において、ディスク表面の温度に応じたストラテジの適切化と、レーザ光の照射角度の適切化と、記録パワーの適切化を課題とする。【解決手段】  ドライブ装置とディスク表面の温度をそれぞれ検出し、その温度差に基づき適切なストラテジを決定すること、さらには、ディスクの傾きに適切な角度でレーザ光を照射するように調整してレーザ光をディスクに照射すること、ディスク表面の温度に応じて適切なパワーを決定することにより上記の課題を解決する。【選択図】  図１
2007305234.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにレーザ光を照射することで情報の記録を行う光ディスク記録装置において、
光ディスク表面の温度を検出する第１の温度検出手段と、
光ディスクにレーザ光を照射し記録する記録手段の温度を検出する第２の温度検出手段と、
前記第１と第２の温度検出手段からの光ディスク表面の温度と記録手段の温度との温度差を算出する温度差算出手段と、
前記温度差算出手段で得られた温度差に応じて記録波形を決定する記録波形決定手段とを有し、
前記記録手段は、前記記録波形決定手段で決定した記録波形を用いて前記光ディスクに記録することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項２】
請求項１記載の光ディスク記録装置であって、
前記記録波形はマルチパルスであり、
前記記録波形決定手段は、前記温度差により前記マルチパルスの先頭パルスまたは最終パルスのパルス幅を変更することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項３】
請求項２記載の光ディスク記録装置であって、
前記パルス幅の変更は、前記温度差によりパルス幅を増減する値を示した予め設けられたテーブルを用いて行うことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項４】
請求項１記載の光ディスク記録装置であって、
前記温度差算出手段で得られた温度差に応じたレーザ照射パワーを決定するレーザパワー決定手段を有し、レーザ光の照射パワーを変化させ、光ディスク面にレーザ光を照射することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項５】
請求項４記載の光ディスク記録装置であって、
前記レーザパワー決定手段は、前記温度差によりパワーを増減する係数を示した予め設けられたテーブルを用いて行うことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項６】
請求項４記載の光ディスク記録装置であって、
前記レーザパワー決定手段は、ディスク表面温度が定常状態になったときの温度と過渡状態のときの温度との比を用いて行うことを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項７】
請求項１記載の光ディスク記録装置であって、
光ディスクの傾きを測定するディスク傾き測定手段と、
レーザ光の照射角度を制御するレーザ傾き制御手段とを設け、
レーザ光の照射角度を変更して光ディスクに照射することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項８】
請求項１記載の光ディスク記録装置であって、
前記温度差が所定の値より大きいときに、前記記録波形決定手段は温度差算出手段で得られた温度差に応じて記録波形を決定することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項９】
請求項１記載の光ディスク記録装置であって、
前記光ディスク表面の温度を検出する第１の温度検出手段と光ディスクにレーザ光を照射し記録する記録手段の温度を検出する第２の温度検出手段の温度を検出する位置が光ディスクの半径方向に移動しても向かい合った位置で温度検出することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１０】
請求項１記載の光ディスク記録装置であって、
前記光ディスクにレーザ光を照射し記録する記録手段はピックアップであり、ピックアップの光ディスク面側に前記第２の温度検出手段を有することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項１１】
光ディスクにレーザ光を照射することで情報の記録を行う記録方法において、
光ディスク表面の温度を検出し、
光ディスクにレーザ光を照射し記録する記録手段の温度を検出し、
前記検出した光ディスク表面の温度と記録手段の温度との温度差を算出し、
前記温度差に応じて記録波形を決定し、
前記決定した記録波形を用いて前記光ディスクに記録する
ことを特徴とする光ディスクの記録方法。
【請求項１２】
請求項１１記載の光ディスクの記録方法であって、
前記温度差が所定の値より大きいときに、
前記温度差に応じて記録波形を決定し、
前記決定した記録波形を用いて前記光ディスクに記録する
ことを特徴とする光ディスクの記録方法。
【請求項１３】
請求項１１記載の光ディスクの記録方法であって、
前記温度差が所定の値より大きいときは、
光ディスクの傾きを測定し、光ディスクの傾きに対してレーザ光の照射角度を変更して照射することを特徴とする光ディスクの記録方法。
【請求項１４】
請求項１１記載の光ディスクの記録方法であって、
前記温度差が所定の値より大きいときは、
レーザ光の照射パワーを変化させ、光ディスク面にレーザ光を照射することを特徴とする光ディスクの記録方法。
【請求項１５】
光ディスクにレーザ光を照射することで情報の記録を行う記録方法において、
光ディスク表面の温度を検出し、
光ディスクにレーザ光を照射し記録する記録手段の温度を検出し、
前記検出した光ディスク表面の温度と記録手段の温度との温度差を算出し、
ディスク温度が高くドライブ装置温度が低い場合は、記録波形の発光タイミングや消光タイミングの位置を数ステップ短くし、
ディスク温度が低くドライブ装置温度が高い場合は、記録波形の発光タイミングや消光タイミングの位置を数ステップ長くし、前記光ディスクに記録することを特徴とする光ディスクの記録方法。
【請求項１６】
光ディスクにレーザ光を照射することで情報の記録を行う記録方法において、
光ディスク表面の温度を検出し、
光ディスクにレーザ光を照射し記録する記録手段の温度を検出し、
前記検出した光ディスク表面の温度と記録手段の温度との温度差を算出し、
ディスク温度が高くドライブ装置温度が低い場合は、記録波形のパワーに数パーセント小さい係数を掛け、ディスク温度が低くドライブ装置温度が高い場合は、記録波形のパワーに数パーセント大きい係数を掛け、記録波形のパワーを求めて、前記光ディスクに記録することを特徴とする光ディスクの記録方法。
【請求項１７】
光ディスクにレーザ光を照射することで情報の記録を行う記録方法において、
光ディスク表面の温度を検出し、
光ディスクにレーザ光を照射し記録する記録手段の温度を検出し、
前記検出した光ディスク表面の温度と記録手段の温度との温度差を算出し、
ディスク温度が高くドライブ装置温度が低い場合は、
記録波形の最終パルス後にある冷却期間を数ステップ変化させて冷却期間を長くした記録波形で、
ディスク温度が低くドライブ装置温度が高い場合は、
記録波形の最終パルス後にある冷却期間を数ステップ変化させて冷却期間を短くした記録波形で、
前記光ディスクに記録することを特徴とする光ディスクの記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は半導体レーザを用いてディスクに情報を記録する光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置の熱対策として、記録波形（以下ストラテジ）を制御する方法がある。その制御方法には、パルス信号波形を時間軸方向に制御する方法（特許文献１）、短パルスのパルス振幅（パワー）を制御する方法（特許文献２、特許文献４）がある。
また、記録位置近傍の温度をチェックし、パワーキャリブレーションを行う方法（特許文献３）がある。
【０００３】
【特許文献１】特開２００１−２９７４３７号公報
【特許文献２】特開２００５−１８２８４７号公報
【特許文献３】特開２００１−３４９４７号公報
【特許文献４】特開２００１−１４３３７２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
近年、光ディスクを用いた情報記録装置（以下、光ディスク記録装置をドライブ装置と呼ぶ）の発展が著しい。大容量化、高速化、小型化が進んでいるが、その一方でドライブ装置の発熱や周囲温度からの熱が記録品質に悪い影響を及ぼしている。
熱が記録に悪影響を及ぼす原因として、レーザ波長が温度によって変化すること、ディスクの信号記録層の感度が温度によって変化すること、マーク・スペース部が熱蓄積と熱干渉により歪んでしまうこと等が挙げられる。
【０００５】
温度が高いドライブ装置に温度が低いディスクを装着すると、時間とともにディスク表面の温度は上昇していき、最終的にはドライブ装置内の温度とほぼ同じになる。このディスク表面の温度が変化する過渡状態においては、適切な記録条件はディスク表面温度に応じて逐次変化する。
【０００６】
しかしながら、従来の方法では温度を検出する箇所がディスク周辺部の１箇所だけであり、ディスク表面温度の過渡状態に応じた適切なストラテジで記録することができないという問題があった。
【０００７】
また、過渡状態初期においてはドライブ装置とディスク表面の温度差によりディスクが一時的に反ってしまい、過渡状態初期に合わせてチルト調整をすると、過渡状態終了時ではディスクの傾きが戻り、ディスクに照射するレーザ光の角度が不適切になるという問題があった。
【０００８】
また、過渡状態初期と過渡状態終了時とではディスク表面温度が異なるため、過渡状態初期に合わせてパワー調整を行うと、過渡状態終了時では過渡状態初期のレーザ光のパワー熱量とディスク表面に蓄積された熱量が加算されることにより、記録パワーが不適切になるという問題があった。
【０００９】
したがって本発明では、ドライブ装置とディスク表面の温度差が大きく、ディスク表面の温度が逐次変化する過渡状態においても、適切な記録条件で記録することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
ドライブ装置とディスク表面の温度をそれぞれ検出し、ディスク装置とディスク表面の温度に応じて適切なストラテジを決定すること、より具体的にはその温度差の値により決定すること、また、ディスクの傾きに適切な角度でレーザ光を照射するように調整してレーザ光をディスクに照射すること、また、ディスク表面の温度に応じて適切なパワーを決定すること、により上記の課題を解決する。
【発明の効果】
【００１１】
適切な記録条件で記録でき、ユーザにとって信頼性が向上した光ディスクの記録装置が提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、本発明にかかるドライブ装置について、書き換え型のＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）を例にして、図面を用い説明する。
【実施例１】
【００１３】
図１に本発明の第１の実施例におけるドライブ装置１０１の全体構成を示す。
ドライブ装置１０１は、光ディスク１１１と、レーザ光１１２を照射する半導体レーザ１１３と、ディスク表面の温度を検出するディスク温度検出手段１２１と、ドライブ装置の温度を検出するドライブ温度検出手段１２２と、ディスクとドライブ装置の温度差を算出する温度差算出手段１２３と、ディスクとドライブ装置の温度に応じたストラテジを決定するストラテジ決定手段１２４と、決定したストラテジを設定するレーザドライバ１２５と、光ディスク１１１に記録する信号を処理する信号処理部１３１を備えている。１４１は記録情報を管理するホストである。
【００１４】
１５１は光ディスクに記録する記録手段の実施例であるピックアップである。ドライブ温度検出手段１２２は、半導体レーザ１１３とレーザドライバ１２５を有するピックアップ１５１内に取り付けられている。このドライブ温度検出手段１２２は、光ディスク１１１に面したピックアップ１５１内に設けられるとさらに良い。
【００１５】
ディスク温度検出手段１２１は、光ディスク１１１をドライブ装置１０１に装着したとき、光ディスク１１１のピックアップ１５１側の面の温度を検出する。
【００１６】
一例として、ディスク温度検出手段１２１にサーモパイルを用い、ドライブ温度検出手段１２２の温度センサにはサーミスタを用いる。
【００１７】
サーミスタは温度によって抵抗値が変化するが、サーミスタにかかる電圧値と電流値から換算して温度を求める。
【００１８】
またサーモパイルは、赤外線の持つ熱効果によってセンサが暖められ、素子温度の上昇によって生ずる素子の電気的性質の変化を検知するものである。このサーモパイルの性質を利用して光ディスク表面に赤外線を照射して反射した赤外線をもとに光ディスク表面の温度を検出する。
【００１９】
ここで、半導体レーザ１１３とより近い位置のディスク表面との温度差を測定する方がより温度差による記録波形等の調整に有効であるので、半導体レーザ１１３とディスク温度検出手段１２１とドライブ温度検出手段１２２はそれぞれより近い位置に配置され、さらに、ディスク温度検出手段１２１とドライブ温度検出手段１２２は向かい合った位置での温度検出であると良い。それゆえディスク温度検出手段１２１とドライブ温度検出手段１２２を一体化して光ディスクの半径方向の記録位置に合わせて移動させる構成でも良い。
【００２０】
なお、温度センサは、その他の接触式、非接触式を問わず温度を検出する装置であればよい。
【００２１】
次に図１、２、４、５を用いて、記録の動作を説明する。
ホスト１４１から記録する情報が信号処理部１３１に与えられると、信号処理部１３１ではスクランブル、符号付加、変調を行ってエンコードを行う。スクランブルはデータのランダム化を行い、固定パターンの連続を防ぐ。符号付加は、通信路の雑音や誤動作による誤りの検出および訂正を行うために誤り訂正符号を付加する。変調は２進数情報の１や０の連続を防ぎ、変調則によりコード変換する。
【００２２】
エンコードされた信号は、記録動作クロックを１Ｔと表現すると３Ｔ〜１４Ｔの範囲でマーク部、スペース部をディスクに記録する。記録を行うために、マーク長に対応したストラテジと、ディスク記録膜に適したパワーを設定する。
【００２３】
図４はストラテジ４０１と光ディスク上に照射されてできるマーク・スペース部４０２と再生信号を二値化して得た再生二値化レベル４０３を示している。
【００２４】
ストラテジ４０１にある最初の発光パルスを先頭パルス４１１と呼び、その後に続くパルス群をマルチパルス４１２と呼ぶ。また最後の発光パルスを最終パルス４１３と呼び、最終パルス４１３後のパワーの低いパルスを最終クーリングパルス４１４と呼ぶ。マルチパルス４１２は１Ｔの周期で発光し、記録マーク長により発光パルス数は異なる。記録マーク長をｎＴ（ｎは自然数、３〜１１、１４）とすると、マルチパルス数は（ｎ−３）となる。したがって、先頭パルス４１１と最終パルス４１３を加えると、マーク長ｎＴのストラテジ発光パルス数は（ｎ−１）となる。なお、パルスの発光本数は一例であり、そのほかの本数でもよい。
【００２５】
また、ストラテジ４０１にある最大パワーをライトパワー４１５と呼び、中間にあるパワーをイレーズパワー４１６と呼び、最小パワーをクーリングパワー４１７と呼び、発光していないレベルを消光レベル４１８と呼ぶ。
【００２６】
ライトパワー４１５が光ディスクに照射されると、記録膜の温度が融点以上に上昇して原子配列が無秩序な状態になる。その後クーリングパワー４１７が照射されると急激に冷却されることによって原子配列が無秩序のままアモルファス状態になる。このアモルファス状態は光の反射率が他と比べて低くなるためマーク４２１が形成される。
【００２７】
一方イレーズパワー４１６を光ディスクに照射すると、結晶化温度以上にある時間保たれるので、マーク４２１部分のアモルファス状態が再び結晶状態になりマーク４２１部を消去することができ、結晶化状態で反射率が高いスペース４２２が形成される。なお、スペース４２２にイレーズパワー４１６を照射しても再度スペース４２２が形成される。なお、図４ではイレーズパワー４１６がクーリングパワー４１７より大きい図を示しているが、イレーズパワー４１６がクーリングパワー４１７と同じでもよい。
【００２８】
マーク４２１とスペース４２２が形成されたディスクに、イレーズパワー４１６より小さいリードパワーを照射すると反射光量の高いレベルと低いレベルが得られる。これを二値化することにより、再生二値化ローレベル４３１とハイレベル４３２が得られる。これを二進数の０と１に対応付けることによって再生情報が得られる。
【００２９】
この二値化を行う際に、マーク４２１の端である前エッジ４２３と後エッジ４２４の位置によって、ローレベル４３１期間とハイレベル４３２期間が変化する。適切な記録品質を得るには、この前エッジ４２３と後エッジ４２４の位置が適切な位置にあるのが望ましい。
【００３０】
図１のストラテジ決定手段１２４は、ディスクにある識別符号Ｍ―ＩＤ（Ｍａｎｕｆａｃｔｕｒｅ  ＩＤ）と記録ディスクの回転速度をもとに、ディスク温度とドライブ装置温度に応じてストラテジを決定する。そのストラテジはディスク温度とドライブ装置温度に合わせて決められており、あらかじめテーブルに保持されている。
【００３１】
図２に一例として、ディスク温度とドライブ装置温度に応じてストラテジを決めるためのストラテジパルスタイミングテーブル２０１を示す。このテーブルは先頭パルス、マルチパルス、最終パルスごとに用意されている。ここでは温度を１０度刻みにそれぞれ分けて、ストラテジの発光タイミングや消光タイミングの位置を通常の予め決められた値より−３〜＋３ステップの範囲で変化させている。ここで１ステップとは１Ｔを１／ｍ（ｍは自然数）に分けた値であり、レーザドライバ１２５の特性によって分解能ｍは異なる。なお、上記は一例であり、温度刻みは１０度単位でなくてもよい。また、タイミングステップは−３〜＋３でなくてもよい。つまり、図２の例においては、ディスク温度が高くドライブ装置温度が低い場合は、ストラテジの発光タイミングや消光タイミングの位置を数ステップ短くし、ディスク温度が低くドライブ装置温度が高い場合は、ストラテジの発光タイミングや消光タイミングの位置を数ステップ長くする。
【００３２】
図１において、ディスク温度検出手段１２１とドライブ温度検出手段１２２によって得られた温度の温度差を温度差算出手段１２３が算出し、温度差に基づきストラテジを変更し、適切な決定をストラテジ決定手段１２４で行う。また、温度差は０であってもよいがある程度の温度差の閾値を定め、温度差がある所定の値より大きいときに適切なストラテジの決定を行ってもよい。
【００３３】
図５ではストラテジ決定手段１２４の方法例であり、ストラテジパルスタイミングテーブル２０１をもとに、発光パルスタイミングの変化を示している。
低温度用ストラテジ５０１で記録を行うと低温時は適切であるが、ディスクの温度が高くなると熱蓄積の影響により第一の前エッジ５３１と第一の後エッジ５３２の位置が不適切になる。そこで十分な冷却を確保するために、図４におけるクーリングパワー４１７を照射する時間を長くする。
【００３４】
熱蓄積の影響の一例として挙げられるのは、熱量が通常より多く加えられることにより記録したマークが縮んでしまう現象がある。それは記録膜が融点に達した後ゆっくり冷却されるために起こる現象である。
【００３５】
これを解決するために、図４における先頭パルス４１１における発光立ち下がりの第一の位置５１２を１ステップ早くし、発光立ち下がりの第二の位置５１１に変更する。また、最終クーリングパルス４１４の第一のクーリングパルス終了位置５１３を１ステップ遅くし、第二のクーリングパルス終了位置５１４に変更する。このように変更された高温度用ストラテジ５０２によって第二のマーク５２２は記録される。この第二の前エッジ５３３と第二の後エッジ５３４の位置は、適切なエッジ位置である前エッジ適切位置５２３と後エッジ適切位置５２４となり、適切な位置にマークが形成される。
【００３６】
なお、ここでは先頭パルス４１１の立ち下がり位置と最終クーリングパルス４１４の終了位置について例示したが、それ以外のパルスの立ち上がり位置、立ち下がり位置でもよく、変更するステップ数は１ステップ以外でもよい。また第一のマーク５２１は第二のマーク５２２より小さいが、大きくてもよい。記録品質の向上に効果があるのは、中間のパルス幅を変化させるより、特に先頭パルス幅と最終パルス後のクーリング幅を変化させることである。
【００３７】
このようにして決定されたストラテジはレーザドライバＬＤＤ（Ｌａｓｅｒ  Ｄｉｏｄｅ  Ｄｒｉｖｅｒ）１２５に設定される。そしてＬＤＤの設定に応じて半導体レーザ１１３でレーザ１１２が照射される。
以上のように実施することによって、ディスクの温度にあったストラテジを決定することができ、適切な記録ができる。
【実施例２】
【００３８】
図７に本発明の第２の実施例におけるドライブ装置７０１の全体構成を示す。
基本構成は図１の第１の実施例と同様であるが、それに加えてレーザ光１１２の照射角度を変化できる３次元ピックアップ７１１と、レーザ光の照射角度を制御するレーザ傾き制御手段７１２と、ディスクの傾きを測定するディスク傾き測定手段７１３を備えている。
基本動作は図１の第１の実施例と同様である。ディスク温度検出手段１２１とドライブ温度検出手段１２２によって得られた温度の温度差を温度差算出手段１２３が算出する。また、レーザ傾き制御手段７１２によって、レーザ光１１２が光ディスク１１１に適切な角度で照射できるように調整する。ディスクの表面温度とドライブ装置の温度を観測しながら温度差を求め適切に記録する条件を求め、さらにディスクの傾きを測定し、より適切な角度で照射できるように調整する。また、温度差の閾値を定め、温度差がある所定の値より大きいときに適切なストラテジの決定を行い、ディスクの傾きに基づき適切な角度で照射できるように調整してもよい。
【００３９】
その調整方法は、３次元ピックアップ７１１の角度を変化させながらレーザ光１１２を光ディスク１１１の表面に照射し、ディスク傾き測定手段７１２で光ディスク１１１の傾きを測定しながら、レーザの戻り光が一番大きい照射角度のところを適切照射角度とする。調整を光ディスク１１１の内周から外周にわたって２箇所以上の点において実施する。
【００４０】
以上のように実施することによって、ディスクとドライブ装置の温度差によるディスクの傾きが一時的に発生しても、適切な角度でレーザ光をディスクに照射することができ、適切に記録することができる。
【実施例３】
【００４１】
図８に本発明の第３の実施例におけるドライブ装置８０１の全体構成を示す。
基本構成は図１の第１の実施例と同様であるが、それに加えて記録するパワーを決定するパワー決定手段８１１を備えている。
基本動作は図１の第１の実施例と同様である。ディスク温度検出手段１２１とドライブ温度検出手段１２２によって得られた温度の温度差を温度差算出手段１２３が算出する。また、温度差により適切なパワーになるようにパワーを決定するが、温度差の閾値を定め、温度差がある所定の値より大きいときに適切なパワーになるようにパワーを決定してもよい。
【００４２】
パワーを決定する第一の例として、ＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）が挙げられる。これはディスクのＯＰＣ領域で１セクタごとにパワーを少しずつ変化させながら記録を行い、記録した部分を読み取る。読み取った信号から得られる変調度やアシンメトリ、ジッタなどの記録性能の指標値から、良好に記録されたセクタのパワーを選ぶのである。パワーは２次曲線以上で近似して、そこから求めた値を適切パワーとしてもよい。また記録性能の指標値は客観的に性能を評価できるものであれば何でもよい。
【００４３】
またパワーを決定する第二の例として図３にあるように、既に求められ決められている既求パワーに対してのパワー係数テーブル３０１を用意しておき、その既求パワーにパワー係数を乗じることによって適切パワーを求める方法が挙げられる。この係数は、ディスク温度とドライブ装置温度に応じて適切となる係数である。つまり、図３の例においては、ディスク温度が高くドライブ装置温度が低い場合は、既に求めて決められている既求パワーに数パーセント小さい係数を掛け、ディスク温度が低くドライブ装置温度が高い場合は、既求パワーに数パーセント大きい係数を掛け記録パワーをえる。
【００４４】
またはこの係数は図９のパワー係数決定手法９０１に示すように、ディスク表面温度Tと融点Tmから求めてもよい。ディスク表面の温度が上がって安定した状態であるドライブ装置温度とディスク表面温度が定常状態になったときを基準として、その時のディスク表面温度Ｔｘと融点Ｔｍの差Ｄｘ
Ｄｘ＝Ｔｍ−Ｔｘ
と、温度の過渡状態時におけるディスク表面温度Ｔｙと融点Tmの差Ｄｙ
Ｄｙ＝Ｔｍ−Ｔｙ
の比Ａｘｙは
Ａｘｙ＝Ｄｙ／Ｄｘ
であり、ある係数αをＡｘｙに乗じたものをパワー係数テーブル３０１に設定してもよい。
【００４５】
なおパワー係数テーブル３０１でのディスク温度やドライブ装置温度の区切り、上限下限、係数はこの値以外でもよい。
【００４６】
図６に、既求パワーにパワー係数を乗じた図を示す。第一のストラテジ６０１は第一のライトパワー６１２と第一のイレーズパワー６１４によって発光する。消光パワー６１５を基準とするパワー係数の１０２％が、既求パワーに乗じられることにより、第一のライトパワー６１２が第二のライトパワー６１１に、第一のイレーズパワー６１４が第二のイレーズパワー６１３にパワーアップし第二のストラテジ６０２が形成される。なお、例では１０２％であるが、それ以外の値でもよい。
そして適切パワーが決定したらレーザドライバ１２５に値を設定し、その設定値にしたがって半導体レーザ１１３がレーザ光１１２を光ディスク１１１に照射して記録する。
以上のように実施することによって、ディスクの温度に適したパワーで適切に記録することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】第１の実施例の全体構成を示す図。
【図２】第１の実施例の温度情報とストラテジタイミングパルスの関係を示すテーブル。
【図３】第３の実施例の温度情報とパワー係数の関係を示すテーブル。
【図４】第１の実施例のストラテジと記録マークと再生二値化レベルを示す図。
【図５】第１の実施例のストラテジのパルスタイミングの変化を示す図。
【図６】第３の実施例のストラテジのパワーの変化を示す図。
【図７】第２の実施例の全体構成を示す図。
【図８】第３の実施例の全体構成を示す図。
【図９】第３の実施例の温度情報の関係を示すテーブル
【符号の説明】
【００４８】
１０１…ドライブ装置、  １１１…光ディスク、  １１２…レーザ光、
１１３…半導体レーザ、  １２１…ディスク温度検出手段、
１２２…ドライブ温度検出手段、  １２３…温度差算出手段、
１２４…ストラテジ決定手段、  １２５…レーザドライバ、  １３１…信号処理部、
１４１…ホスト、  １５１…ピックアップ、
２０１…ストラテジパルスタイミングテーブル、  ３０１…パワー係数テーブル、
４０１…ストラテジ、  ４０２…マーク・スペース部、  ４０３…再生二値化レベル、
４１１…先頭パルス、  ４１２…マルチパルス、  ４１３…最終パルス、
４１４…最終クーリングパルス、  ４１５…ライトパワー、  ４１６…イレーズパワー、
４１７…クーリングパワー、  ４１８…消光レベル、  ４２１…マーク、  ４２２…スペース、
４２３…前エッジ、  ４２４…後エッジ、  ４３１…ローレベル、  ４３２…ハイレベル、
５０１…低温度用ストラテジ、  ５０２…高温度用ストラテジ、
５１１…発光立ち下がりの第二の位置、  ５１２…発光立ち下がりの第一の位置、
５１３…第一のクーリングパルス終了位置、
５１４…第二のクーリングパルス終了位置、
５２１…第一のマーク、  ５２２…第二のマーク、  ５２３…前エッジ適切位置、
５２４…後エッジ適切位置、  ５３１…第一の前エッジ、  ５３２…第一の後エッジ、
５３３…第二の前エッジ、  ５３４…第二の後エッジ、  ６０１…第一のストラテジ、
６０２…第二のストラテジ、  ６１１…第二のライトパワー、
６１２…第一のライトパワー、  ６１３…第二のイレーズパワー６１３、
６１４…第一のイレーズパワー、  ６１５…消光パワー、
７０１…第２の実施例におけるドライブ装置、
７１１…３次元ピックアップ、  ７１２…レーザ傾き制御手段
７１３…ディスク傾き測定手段、  ８０１…第３の実施例におけるドライブ装置、
８１１…パワー決定手段、  ９０１…パワー係数決定手法。
【図１】
2007305234.tif 000003
【図２】
2007305234.tif 000004
【図３】
2007305234.tif 000005
【図４】
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【図５】
2007305234.tif 000007
【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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