(57)【要約】【課題】ユーザ領域の書き込み／読み出し周波数に依存するヘッドや回路の不具合を検出する自己診断テストを行うことを課題とする。【解決手段】自己診断用シーク制御フラグがセットされている場合には、シーク制御部５は、ディスク９のシステムエリア上に備えられた診断用シリンダにヘッドを位置づけるように、自己診断テスト用シリンダ値およびシーク命令をサーボ制御ファーム６にセットする。また、フォーマッタ制御部４は、ユーザエリアの所定のセクタのシリンダ値を指定した書き込み命令をライト／リード起動部３から受け付けているため、ユーザエリアの書き込み周波数でディスク９に書き込みを実行するようにＨＤＣ８を起動する。これにより、ディスク９のシステムエリア上に備えられた診断用シリンダに、ユーザエリアの書き込み周波数による書き込みが実行される。【選択図】        図１
2007317282.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ユーザデータが書き込まれるユーザ領域およびシステムデータが書き込まれるシステム領域からなる記録媒体を備え、所定のエラー検出に係る自己診断試験を実施する記憶装置であって、
前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として前記ユーザ領域の書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行する書き込み／読み出し実行手段と、
前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための前記記録媒体内の領域として前記システム領域を指定する領域指定手段と、
を備えたことを特徴とする記憶装置。
【請求項２】
前記ユーザ領域は、書き込み／読み出し周波数がそれぞれ異なる複数の領域を備えるものであって、
前記書き込み／読み出し実行手段は、前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として、前記複数の領域ごとにそれぞれ異なる書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行することを特徴とする請求項１に記載の記憶装置。
【請求項３】
前記書き込み／読み出し実行手段は、前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として、前記複数の領域ごとにそれぞれ異なる書き込み／読み出し周波数の中から最も高い書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行することを特徴とする請求項２に記載の記憶装置。
【請求項４】
ユーザデータが書き込まれるユーザ領域およびシステムデータが書き込まれるシステム領域からなる記録媒体を備え、所定のエラー検出に係る自己診断試験を実施する記憶装置に適用される自己診断制御装置であって、
前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として前記ユーザ領域の書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行する書き込み／読み出し実行手段と、
前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための前記記録媒体内の領域として前記システム領域を指定する領域指定手段と、
を備えたことを特徴とする自己診断制御装置。
【請求項５】
ユーザデータが書き込まれるユーザ領域およびシステムデータが書き込まれるシステム領域からなる記録媒体を備え、所定のエラー検出に係る自己診断試験を実施する自己診断方法であって、
前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として前記ユーザ領域の書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行する書き込み／読み出し実行工程と、
前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための前記記録媒体内の領域として前記システム領域を指定する領域指定工程と、
を含んだことを特徴とする自己診断方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、ユーザデータが書き込まれるユーザ領域およびシステムデータが書き込まれるシステム領域からなる記録媒体を備え、所定のエラー検出に係る自己診断試験を実施する記憶装置、自己診断制御装置および自己診断方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、磁気ディスク装置において、例えば、定期的に記録装置内のヘッドや回路の不具合を検出する自己診断テストが行われている。この自己診断テストは、記録装置に備えられた記録媒体にライトした後にリードする自己診断テストを行うことによって、ヘッドや回路の不具合を検出するものであるが、記録媒体内のユーザ領域で自己診断テストを行ったのでは、ユーザデータを壊す恐れがあるため、記録媒体内のシステム領域で自己診断テストを行うのが一般的である（特許文献１参照）。
【０００３】
【特許文献１】特開平６−３１４４７２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記した従来の技術は、ユーザ領域の書き込み／読み出し周波数に依存する記録装置内のヘッドや回路の不具合を検出することができないという問題点があった。すなわち、記録媒体内のユーザ領域およびシステム領域では、それぞれ書き込み／読み出し周波数が異なるため、システム領域の書き込み／読み出し周波数で自己診断テストを行う従来の技術では、ユーザ領域の書き込み／読み出し周波数に依存するヘッドや回路の不具合を検出する自己診断テストを行うことができないという問題点があった。
【０００５】
そこで、この発明は、上述した従来技術の課題を解決するためになされたものであり、ユーザ領域の書き込み／読み出し周波数に依存するヘッドや回路の不具合を検出する自己診断テストを行うことが可能な記憶装置、自己診断制御装置および自己診断方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上述した課題を解決し、目的を達成するため、請求項１に係る発明は、ユーザデータが書き込まれるユーザ領域およびシステムデータが書き込まれるシステム領域からなる記録媒体を備え、所定のエラー検出に係る自己診断試験を実施する記憶装置であって、前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として前記ユーザ領域の書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行する書き込み／読み出し実行手段と、前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための前記記録媒体内の領域として前記システム領域を指定する領域指定手段と、を備えたことを特徴とする。
【０００７】
また、請求項２に係る発明は、上記の発明において、前記ユーザ領域は、書き込み／読み出し周波数がそれぞれ異なる複数の領域を備えるものであって、前記書き込み／読み出し実行手段は、前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として、前記複数の領域ごとにそれぞれ異なる書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行することを特徴とする。
【０００８】
また、請求項３に係る発明は、上記の発明において、前記書き込み／読み出し実行手段は、前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として、前記複数の領域ごとにそれぞれ異なる書き込み／読み出し周波数の中から最も高い書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行することを特徴とする。
【０００９】
また、請求項４に係る発明は、ユーザデータが書き込まれるユーザ領域およびシステムデータが書き込まれるシステム領域からなる記録媒体を備え、所定のエラー検出に係る自己診断試験を実施する磁気ディスク装置に適用される自己診断制御装置であって、前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として前記ユーザ領域の書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行する書き込み／読み出し実行手段と、前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための前記記録媒体内の領域として前記システム領域を指定する領域指定手段と、を備えたことを特徴とする。
【００１０】
また、請求項５に係る発明は、ユーザデータが書き込まれるユーザ領域およびシステムデータが書き込まれるシステム領域からなる記録媒体を備え、所定のエラー検出に係る自己診断試験を実施する自己診断方法であって、前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として前記ユーザ領域の書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行する書き込み／読み出し実行工程と、前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための前記記録媒体内の領域として前記システム領域を指定する領域指定工程と、を含んだことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
請求項１、４または５の発明によれば、自己診断試験を実行する場合（例えば、上位装置から自己診断の実行を要求するコマンドを受け付けた場合や定期的に装置内で自己診断を実行する場合など）に、自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数としてユーザ領域の書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行し、自己診断試験を実行するための記録媒体内の領域としてシステム領域を指定するので、ユーザデータを壊す恐れのない記録媒体（例えば、磁気ディスクなど）のシステムエリアで、ユーザ領域の書き込み／読み出し周波数に依存するヘッドや回路の不具合を検出する自己診断試験を行うことが可能である。
【００１２】
また、請求項２の発明によれば、例えば、磁気ディスク内のユーザ領域は、書き込み／読み出し周波数がそれぞれ異なる複数の領域を備えるものであって、自己診断試験を実行する場合に、自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として、複数の領域ごとにそれぞれ異なる書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行するので、ユーザ領域内の複数の領域ごとにそれぞれ異なる書き込み／読み出し周波数にそれぞれ依存したヘッドや回路の不具合を検出することができ、自己診断試験を詳細に行うことが可能である。
【００１３】
また、請求項３の発明によれば、自己診断試験を実行する場合に、自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として、複数の領域ごとにそれぞれ異なる書き込み／読み出し周波数の中から最も高い書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行するので、最も厳しい条件の周波数で自己診断試験を実行することで、ユーザ領域内の複数の領域ごとにそれぞれ異なる書き込み／読み出し周波数の全てについて自己診断試験を行うことなく、ユーザ領域の周波数に依存するヘッドや回路の不具合を検出しつつ試験に要する時間を短縮することができ、自己診断試験を効率的に行うことが可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下に添付図面を参照して、本発明に係る記憶装置、自己診断制御装置および自己診断方法の実施例を詳細に説明する。なお、以下では、本発明に係る記憶装置について磁気ディスク装置を例に挙げて、実施例１として説明した後に、本発明に含まれる他の実施例を説明する。
【実施例１】
【００１５】
以下の実施例１では、実施例１に係る磁気ディスク装置の概要および特徴、磁気ディスク装置の処理を順に説明し、最後に実施例１による効果を説明する。
【００１６】
［磁気ディスク装置の概要および特徴（実施例１）］
まず最初に、図１を用いて、実施例１に係る磁気ディスク装置の概要および特徴を説明する。図１は、実施例１に係る磁気ディスク装置の概要を説明するための図である。同図に示すように、実施例１に係る磁気ディスク装置は、ユーザデータが書き込まれるユーザ領域およびシステムデータが書き込まれるシステム領域からなる記録媒体を備え、所定のエラー（例えば、ヘッドや回路の不具合等）検出に係る自己診断試験を実施することを概要とするが、ユーザ領域の書き込み／読み出し周波数に依存するヘッドや回路の不具合を検出する自己診断テストを行う点に主たる特徴がある。
【００１７】
この主たる特徴について具体的に説明すると、図１に示すように、この磁気ディスク装置１０は、インターフェース制御部１と、コマンド制御部２と、ライト／リード起動部３と、フォーマッタ制御部４と、シーク制御部５と、サーボ制御ファーム６と、ＤＳＰ（デジタルシグナルプロセッサ）７と、ＨＤＣ（ハードディスクコントローラ）８と、ディスク９とから構成される。
【００１８】
このうち、インターフェース制御部１は、上位装置であるホスト２０との間でやり取りする各種情報に関する通信を制御する制御手段である。コマンド制御部２は、磁気ディスク装置１０の主制御を行う処理部であり、例えば、上位装置であるホスト２０から受け付けたコマンドに基づいて磁気ディスク装置１０の各種処理を制御する。ライト／リード起動部３は、コマンド制御部２から受け付けたコマンドに基づいてフォーマッタ制御部４を制御する処理部である。
【００１９】
フォーマッタ制御部４は、ＨＤＣ８を起動してディスク９への書き込みおよび読み出しを制御するとともに、シーク制御部５を起動制御する処理部であり、例えば、シーク制御を起動する際に、ディスク９内のシステムエリアをヘッドにシークさせるための自己診断用シーク制御フラグをセットする。シーク制御部５は、サーボ制御ファーム６にシーク命令をセットするとともに、ＤＳＰ７を起動してヘッドのシークを制御する処理部であり、例えば、フォーマッタ制御部４により自己診断用シーク制御フラグがセットされている場合には、ディスク９内のシステムエリア上の自己診断テスト用シリンダ値およびシーク命令をサーボ制御ファーム６にセットする。
【００２０】
サーボ制御ファーム６は、フォーマッタ制御部４からシーク制御フラグおよびシーク命令のセットを受け付けて、ヘッド位置を制御するファームである。ＤＳＰ７は、ヘッドのシークを実行する処理部である。ＨＤＣ８は、ディスク９への書き込みおよび読み出しを実行する処理部である。ディスク９は、ユーザデータやシステムデータが書き込まれる記録媒体であり、図２に例示するように、ユーザエリアおよび診断用シリンダを備えるシステムエリアから構成される。
【００２１】
そして、例えば、インターフェース制御部１を介して、ホスト２０（所定のコマンドを発行して磁気ディスク装置を制御するサーバ装置など）から発行されたコマンドを受け付けて、磁気ディスク装置１０のコマンド制御部２は、そのコマンドの内容を確認する。確認の結果、ホスト２０から受け付けたコマンドの内容が自己診断テストの実行要求に係るものである場合には、コマンド制御部２は、自己診断テストの実行命令をライト／リード起動部３に発行する。
【００２２】
自己診断テストの実行命令を受け付けたライト／リード起動部３は、あたかもディスク９のユーザエリアに書き込みを実行した後、読み出しを実行するかのようにフォーマッタ制御部４に命令を発行する（ユーザエリアの所定のセクタに対応するフォーマット設定を指定した命令を発行する）。ライト／リード起動部３から命令を受け付けたフォーマッタ制御部４は、自己診断であることを示す自己診断用シーク制御フラグを立ててシーク制御部５にセットする。続いて、フォーマッタ制御部４はシーク制御部５を起動する。
【００２３】
フォーマッタ制御部４により起動されたシーク制御部５は、自己診断用シーク制御フラグがセットされているか否か確認する。そして、確認の結果、自己診断用シーク制御フラグがセットされている場合には、シーク制御部５は、フォーマッタ制御部４がライト／リード起動部３から受け付けた命令において指定されていたシリンダ値を無視して、ディスク９のシステムエリア上に備えられた診断用シリンダにヘッドを位置づけるように、自己診断テスト用シリンダ値およびシーク命令をサーボ制御ファーム６にセットする。続いて、シーク制御部５はＤＳＰ７を起動する。シーク制御部５により起動されたＤＳＰ７は、サーボ制御ファーム６によりヘッド位置の制御を受けつつ、ディスク９のシステムエリアに備えられた診断用シリンダ上でヘッドのシークを実行する。そして、ＤＳＰ７によるヘッドのシークが正常に終了した場合には、ヘッドがディスク９の診断用シリンダ上に位置づけられる。なお、シーク制御部５は、シーク終了時に自己診断用シーク制御フラグをリセットする。
【００２４】
ＤＳＰ７によりヘッドのシーク処理が正常に終了すると、フォーマッタ制御部４は、ＨＤＣ８を起動してディスク９への書き込みを実行する。ここで、フォーマッタ制御部４は、ユーザエリアの所定のセクタのシリンダ値を指定した書き込み命令をライト／リード起動部３から受け付けているため、ユーザエリアの書き込み周波数でディスク９に書き込みを実行するようにＨＤＣ８を起動する。
【００２５】
これにより、ディスク９のシステムエリア上に備えられた診断用シリンダに、ユーザエリアの書き込み周波数による書き込みが実行される。そして、ディスク９の診断用シリンダへの書き込みを実行した後、上述してきた同様の処理による読み出しを実行して、磁気ディスク装置１０は、自己診断テストにおけるライト／リード処理を終了する。なお、ライト／リード処理が正常に実行できた場合には、さらに、書き込んだデータと読み出したデータとを比較して、データ化け等があるか否かを確認することにより、ヘッドや回路の不具合を検出するための自己診断テストを終了する。
【００２６】
このようなことから、実施例１に係る磁気ディスク装置１０は、上述した主たる特徴の如く、ユーザ領域の書き込み／読み出し周波数に依存するヘッドや回路の不具合を検出する自己診断テストを行うことが可能である。
【００２７】
［磁気ディスク装置のメイン処理（実施例１）］
次に、図３を用いて、実施例１に係る磁気ディスク装置１０のメイン処理を説明する。図３は、実施例１に係る磁気ディスク装置の処理の流れを示すフローチャートである。同図に示すように、ホスト２０からコマンドを受信すると（ステップＳ３０１肯定）、磁気ディスク装置１０のコマンド制御部２は、そのコマンドの内容を確認する（ステップＳ３０２）。
【００２８】
確認の結果、ホスト２０から受け付けたコマンドの内容が自己診断テストの実行要求に係るものである場合には（ステップＳ３０２肯定）、コマンド制御部２は、自己診断テストの実行命令をライト／リード起動部３に発行し、自己診断テストの実行命令を受け付けたライト／リード起動部３は、あたかもディスク９のユーザエリアにライトおよびリード（書き込みを実行した後、読み出し）を実行するかのようにフォーマッタ制御部４に命令（ユーザエリアの所定のセクタを書き込み／読み出し対象セクタとする命令）を発行する（ステップＳ３０３）。
【００２９】
これとは反対に、ホスト２０から受け付けたコマンドの内容が自己診断テストの実行要求に係るものでない場合には（ステップＳ３０２否定）、コマンド制御部２は、そのコマンドに応じた命令（例えば、通常の書き込み命令や読み出し命令など）をライト／リード起動部３に発行して、他の処理へ移る（ステップＳ３０４）。
【００３０】
ライト／リード起動部３から命令を受け付けたフォーマッタ制御部４は、自己診断であることを示す自己診断用シーク制御フラグを立ててシーク制御部５にセットする（ステップＳ３０５）。続いて、フォーマッタ制御部４はシーク制御部５を起動する（ステップＳ３０６）。
【００３１】
そして、ヘッドのシークが正常に終了した場合には（ステップＳ３０７肯定）、フォーマッタ制御部４はＨＤＣ８を起動する（ステップＳ３０８）。これとは反対に、ヘッドのシークが正常に終了しなかった場合には（ステップＳ３０７否定）、エラー処理（例えば、エラーステータスのセットなど）を行う（ステップＳ３０９）。
【００３２】
フォーマッタ制御部４により起動されたＨＤＣ８はディスク９へのライトおよびリードを実行する（ステップＳ３１０）。そして、ＨＤＣ８によるライトおよびリードが正常に終了した場合には（ステップＳ３１１肯定）、磁気ディスク装置１０は、自己診断テストにおけるライト／リード処理を終了して、次処理（書き込んだデータと読み出したデータとを比較して、データ化け等があるか否かを確認する処理など）へ移行する（ステップＳ３１２）。これとは反対に、ＨＤＣ８によるライトおよびリードが正常に終了しなかった場合には（ステップＳ３１１否定）、磁気ディスク装置１０は、エラー処理（例えば、ＨＤＣ８によるライトおよびリード処理のリトライなど）へ移行する（ステップＳ３１３）。
【００３３】
［磁気ディスク装置のシーク制御処理（実施例１）］
次に、図４を用いて、実施例１に係る磁気ディスク装置のシーク制御処理を説明する。図４は、実施例１に係る磁気ディスク装置の処理の流れを示すフローチャートである。同図に示すように、フォーマッタ制御部４により起動されたシーク制御部５は、自己診断用シーク制御フラグがセットされているか否か確認する（ステップＳ４０１）。そして、確認の結果、自己診断用シーク制御フラグがセットされている場合には（ステップＳ４０１肯定）、シーク制御部５は、フォーマッタ制御部４がライト／リード起動部３から受け付けた命令において指定されたシリンダ値を無視して、ディスク９のシステムエリア上に備えられた診断用シリンダにヘッドを位置づけるように、自己診断テスト用シリンダ値をサーボ制御ファーム６にセットするとともに（ステップＳ４０２）、シーク命令をサーボ制御ファーム６にセットする（ステップＳ４０４）。
【００３４】
これとは反対に、自己診断用シーク制御フラグがセットされていない場合（すなわち、自己診断テスト以外の通常のシーク起動を行う場合）には（ステップＳ４０１否定）、シーク制御部５は、ライト／リード起動部３から指定されたシリンダ値をサーボ制御ファーム６にセットするとともに（ステップＳ４０３）、シーク命令をサーボ制御ファーム６にセットする（ステップＳ４０４）。
【００３５】
続いて、シーク制御部５はＤＳＰ７を起動する。シーク制御部５により起動されたＤＳＰ７は、サーボ制御ファーム６によりヘッド位置の制御を受けつつ、例えば、ステップＳ４０１で説明したように、自己診断テストに係る自己診断用シーク制御フラグがセットされている場合には、ディスク９のシステムエリアに備えられた診断用シリンダ上でヘッドのシーク処理を実行する（ステップＳ４０５）。
【００３６】
そして、ＤＳＰ７によるヘッドのシークが正常に終了した場合には（ステップＳ４０６肯定）、シーク制御部５は正常ステータスをセットする（ステップＳ４０７）。これとは反対に、ＤＳＰ７によるヘッドのシークが正常に終了しなかった場合には（ステップＳ４０６否定）、シーク制御部５は、シークのリトライ回数が所定の回数内であるか否かを確認する（ステップＳ４０８）。その結果、シークのリトライ回数が所定の回数内である場合には（ステップＳ４０８肯定）、シーク制御部５はシークのリトライを実行する。一方、シークのリトライ回数が所定の回数内である場合には（ステップＳ４０８肯定）、シーク制御部５はエラーステータスをセットする（ステップＳ４０９）。
【００３７】
［実施例１による効果］
上述してきたように、実施例１によれば、磁気ディスク装置１０において自己診断テストを実行する場合に、自己診断テストを実行するための書き込み／読み出し周波数としてユーザエリアの書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行し、自己診断試験を実行するためのディスク内の領域としてシステムエリアを指定するので、ユーザデータを壊す恐れのないディスクのシステムエリアで、ユーザエリアの書き込み／読み出し周波数に依存するヘッドや回路の不具合を検出する自己診断テストを行うことが可能である。
【００３８】
また、上記の実施例１では、ホスト２０からのコマンドを受け付けて、磁気ディスク装置１０が自己診断テストを実行する場合を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、ホスト２０からのコマンドを受け付けなくとも、磁気ディスク装置１０が定期的に自動で自己診断テストを実行するようにしてもよい。
【実施例２】
【００３９】
さて、これまで本発明の実施例１について説明したが、本発明は上述した実施例以外にも、種々の異なる形態にて実施されてよいものである。そこで、以下では、本発明に含まれる他の実施例を説明する。
【００４０】
（１）ユーザエリアが書き込み／読み出し周波数の異なる複数の領域からなる場合
例えば、上記の実施例１において、ディスクのユーザエリアが書き込み／読み出し周波数がそれぞれ異なる複数の領域を備える場合には、自己診断テストを実行する場合に、自己診断テストを実行するための書き込み／読み出し周波数として、複数の領域ごとにそれぞれ異なる書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行するようにしてもよい。
【００４１】
これにより、ユーザエリア内の複数の領域ごとにそれぞれ異なる書き込み／読み出し周波数にそれぞれ依存したヘッドや回路の不具合を検出することができ、自己診断テストを詳細に行うことが可能である。
【００４２】
（２）ユーザエリアの最も高い書き込み／読み出し周波数で自己診断テスト
また、上記の実施例１において、自己診断テストを実行するための書き込み／読み出し周波数として、ユーザエリア内に備えられた複数の領域ごとにそれぞれ異なる書き込み／読み出し周波数の中から、最も高い書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行するようにしてもよい。
【００４３】
これにより、最も厳しい条件の周波数で自己診断テストを実行することで、ユーザエリア内の複数の領域ごとにそれぞれ異なる書き込み／読み出し周波数の全てについて自己診断試験を行うことなくユーザエリアの周波数に依存するヘッドや回路の不具合を検出するとともに、自己診断テストテストに要する時間を短縮することができ、自己診断テストを効率的に行うことが可能である。
【００４４】
（３）装置構成等
また、図１に示した磁気ディスク装置１０の各構成要素は機能概念的なものであり、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、磁気ディスク装置１０の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、例えば、ライト／リード起動部３とフォーマッタ制御部４とを統合するなど、その全部または一部を、各種の負荷や使用状況などに応じて、任意の単位で機能的または物理的に分散・統合して構成することができる。そして、磁気ディスク装置１０にて行なわれる各処理機能を備えた装置を、磁気ディスク装置１０の一部として適用することにより、上記の実施例１において説明した各種処理（図３および図４参照）を実現するようにしてもよい。さらに、磁気ディスク装置１０にて行なわれる各処理機能は、その全部または任意の一部が、ＣＰＵおよび当該ＣＰＵにて解析実行されるプログラムにて実現され、あるいは、ワイヤードロジックによるハードウェアとして実現され得る。本発明は磁気ディスク装置に限らず、ＤＶＤやＭＯ等の光ディスク装置などにも応用可能である。
【００４５】
また、上記文書中や図面中で示した処理手順、制御手順、具体的名称等については、特記する場合を除いて任意に変更することができる。
【００４６】
（付記１）ユーザデータが書き込まれるユーザ領域およびシステムデータが書き込まれるシステム領域からなる記録媒体を備え、所定のエラー検出に係る自己診断試験を実施する記憶装置であって、
前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として前記ユーザ領域の書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行する書き込み／読み出し実行手段と、
前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための前記記録媒体内の領域として前記システム領域を指定する領域指定手段と、
を備えたことを特徴とする記憶装置。
【００４７】
（付記２）前記ユーザ領域は、書き込み／読み出し周波数がそれぞれ異なる複数の領域を備えるものであって、
前記書き込み／読み出し実行手段は、前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として、前記複数の領域ごとにそれぞれ異なる書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行することを特徴とする付記１に記載の記憶装置。
【００４８】
（付記３）前記書き込み／読み出し実行手段は、前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として、前記複数の領域ごとにそれぞれ異なる書き込み／読み出し周波数の中から最も高い書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行することを特徴とする付記２に記載の記憶装置。
【００４９】
（付記４）ユーザデータが書き込まれるユーザ領域およびシステムデータが書き込まれるシステム領域からなる記録媒体を備え、所定のエラー検出に係る自己診断試験を実施する磁気ディスク装置に適用される自己診断制御装置であって、
前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として前記ユーザ領域の書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行する書き込み／読み出し実行手段と、
前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための前記記録媒体内の領域として前記システム領域を指定する領域指定手段と、
を備えたことを特徴とする自己診断制御装置。
【００５０】
（付記５）前記ユーザ領域は、書き込み／読み出し周波数がそれぞれ異なる複数の領域を備えるものであって、
前記書き込み／読み出し実行手段は、前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として、前記複数の領域ごとにそれぞれ異なる書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行することを特徴とする付記４に記載の自己診断制御装置。
【００５１】
（付記６）前記書き込み／読み出し実行手段は、前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として、前記複数の領域ごとにそれぞれ異なる書き込み／読み出し周波数の中から最も高い書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行することを特徴とする付記５に記載の自己診断制御装置。
【００５２】
（付記７）ユーザデータが書き込まれるユーザ領域およびシステムデータが書き込まれるシステム領域からなる記録媒体を備え、所定のエラー検出に係る自己診断試験を実施する自己診断方法であって、
前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として前記ユーザ領域の書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行する書き込み／読み出し実行工程と、
前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための前記記録媒体内の領域として前記システム領域を指定する領域指定工程と、
を含んだことを特徴とする自己診断方法。
【００５３】
（付記８）前記ユーザ領域は、書き込み／読み出し周波数がそれぞれ異なる複数の領域を備えるものであって、
前記書き込み／読み出し実行工程は、前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として、前記複数の領域ごとにそれぞれ異なる書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行することを特徴とする付記７に記載の自己診断方法。
【００５４】
（付記９）前記書き込み／読み出し実行工程は、前記自己診断試験を実行する場合に、当該自己診断試験を実行するための書き込み／読み出し周波数として、前記複数の領域ごとにそれぞれ異なる書き込み／読み出し周波数の中から最も高い書き込み／読み出し周波数を用いて書き込み／読み出しを実行することを特徴とする付記８に記載の自己診断方法。
【産業上の利用可能性】
【００５５】
以上のように、本発明に係る記憶装置、自己診断制御装置および自己診断方法は、所定のエラー検出に係る自己診断試験を実施する場合に有用であり、特に、ユーザ領域の書き込み／読み出し周波数に依存するヘッドや回路の不具合を検出する自己診断テストを行うことに適する。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】実施例１に係る磁気ディスク装置の概要を説明するための図である。
【図２】実施例１に係るディスクの構成例を示す図である。
【図３】実施例１に係る磁気ディスク装置の処理の流れを示すフローチャートである。
【図４】実施例１に係る磁気ディスク装置の処理の流れを示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００５７】
１  インターフェース制御部
２  コマンド制御部
３  ライト／リード起動部
４  フォーマッタ制御部
５  シーク制御部
６  サーボ制御ファーム
７  ＤＳＰ（デジタルシグナルプロセッサ）
８  ＨＤＣ（ハードディスクコントローラ）
９  ディスク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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