(57)【要約】【課題】２層の記録層をもった書き換え型の光ディスクについて、単層の光ディスクと同様な最適記録条件を取得する場合、特に一層目記録層において繰り返し記録の回数により、検出した結果にバラツキがあるために最適な記録品質の確保が難しい。【解決手段】本発明では、消去パワーのパワー設定の誤差がジッタの悪化に影響し易く、また、２層の光ディスク１の一層目記録層に対する再生ジッタの許容範囲の余裕度が極めて狭いことに鑑み、光ディスク１のＤＣ消去パワーを可変しながら一層目記録層に記録を行った、ＤＣ消去パワーが互いに異なる複数の領域から記録状態検出手段４がそれぞれ検出した値の中で、検出値がＤＣ消去パワー用の所定の検出値もしくは検出条件と一致することを判定手段１３が判定し、演算手段１２によりその判定した検出値の領域に対して記録したＤＣ消去パワー値に、所定の係数を乗算して最適な消去パワーのレベルを求める。【選択図】図１
2007213802.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報が記録又は再生される記録層が、記録又は再生用のレーザ光の光軸方向に複数積層された多層構造の書き換え可能な光ディスクであって、
前記複数の記録層の内の少なくとも１つの記録層は、前記レーザ光の最適な消去パワーを求めるためのテスト記録信号が記録され再生される第１の領域と、記録管理情報が記録される第２の領域と、ユーザデータが記録され再生される第３の領域とを有し、
前記第１の領域は、所定の記録条件で、前記記録層を結晶状態からアモルファス状態に変化させる記録パワーと、前記記録層をアモルファス状態から結晶状態に変化させる消去パワーと、前記記録層への記録時の熱拡散を防止するためのバイアスパワーとが設定され、設定された前記記録パワー、消去パワー及びバイアスパワーの各値を用いて前記レーザ光により、前記テスト記録信号が記録される領域であり、
前記第１の領域に記録され再生された前記テスト記録信号から得られる値に乗算して最適な消去パワーを求めるための、当該光ディスクに対応して予め定められた係数の値が、前記第１乃至第３の領域の内の少なくとも１つの領域内のプリピットエリア又はトラック溝に消去されない形態で製造段階において記録されていることを特徴とする光ディスク。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスクに係り、特に複数の記録層を持つ書き換え可能型の円盤状光記録媒体（光ディスク）にレーザ光で記録をする際に、テスト記録信号を記録再生して最適記録パワー条件を検出してから、ユーザデータを最適記録パワー条件で記録し再生することを可能とする光ディスクに関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク記録再生装置では、ＤＶＤ−Ｒディスク又はＤＶＤ−ＲＷディスク等の光デ
ィスクのデータ領域に対する実際の記録（実記録）の開始より前に、対象となる光ディス
クに対して記録条件を変えながら所定のテスト記録信号を試し書きし、試し書きした領域
を再生することにより、取得される再生テスト記録信号の特性に基づいて最適記録条件を
取得し、この最適記録条件によって実記録を行うようにしている。これにより、良好な記
録品質を得ることができる。試し書きした領域からの再生テスト記録信号に基づいて最適
記録条件を取得することを、最適記録パワー制御（ＯＰＣ：Optimum Power Control）と
呼ぶ。
【０００３】
ところで、近年、記録容量の増加要求から２層の記録層を持つＤＶＤ−Ｒディスク、Ｄ
ＶＤ−ＲＷディスクの開発が進められている。図１５はこの２層ＤＶＤ−Ｒディスク、２
層ＤＶＤ−ＲＷディスクの一例の概略構造断面図を示す。同図に示すように、片面２層の
ＤＶＤ−Ｒディスク又はＤＶＤ−ＲＷディスクは、一層目記録層３０１と二層目記録層３
０２とが、記録再生時の光ビーム４０２の光軸方向に積層されており、光ビーム４０２は
光ピックアップ内の対物レンズ４０１により一層目記録層３０１に集光されるか、又は一
層目記録層３０１を透過して二層目記録層３０２に集光される。
【０００４】
光ピックアップに近い方の上記の一層目記録層３０１の記録領域は、内周から外周へ向
かって、ＰＣＡ領域（Power Calibration Area）３１１、ＲＭＡ領域（Recording Manage
ment Area）３１２、リードイン領域（Lead-In）３１３、データ領域（Data Area）３１
４及び中間領域（Middle Area）３１５に分割されている。
また、上記の二層目記録層３０２の記録領域は、内周から外周へ向かって、ＰＣＡ領域３
２１、ＲＭＡ領域３２２、リードアウト領域（Lead-Out）３２３、データ領域（Data Are
a）３２４及び中間領域（Middle Area）３２５に分割されている。
【０００５】
最適記録条件を取得するＯＰＣ処理は、上記ＰＣＡ領域３１１及びＰＣＡ領域３２１を
用いて行われる。また、ＲＭＡ領域３１２及びＲＭＡ領域３２２は記録管理領域であり、
前記したリードイン領域３１３とデータ領域３１４、３２４とリードアウト領域３２３の
記録状態の変遷やＯＰＣ情報を管理するための情報が記録される。リードイン領域３１３
の一部は、コントロールデータゾーンと呼ばれる領域を持ち、そこにはディスクの大きさ
等のディスク全体の情報及び記録パワーや記録波形パターン、消去パワーの比率等の記録
する際の参考条件が、ディスク製造時にプリピットデータ情報として予め記録されている
。
【０００６】
また、ＤＶＤ−ＲディスクやＤＶＤ−ＲＷディスクなどの光ディスクのトラック溝には
、ディスク製造時のプリフォーマットの段階でディスク上のアドレス情報等がトラック溝
情報（ランドプリピット：ＬＰＰ）として記録されている（例えば、特許文献１参照）。
ＤＶＤ−ＲディスクやＤＶＤ−ＲＷディスクへの記録は、このＬＰＰのアドレス情報を基
にして行われる。ＬＰＰには、アドレス情報の他に、記録パワーや記録波形パターン等の
記録する際の参考条件が格納されている。
【０００７】
一層目記録層３０１のデータ領域に実記録する前には、一層目記録層３０１のＰＣＡ領
域３１１でＯＰＣを行い、二層目記録層３０２のデータ領域に実記録する前には、二層目
記録層３０２のＰＣＡ領域３２１でＯＰＣを行う。最適記録パワーは一層目記録層３０１
と二層目記録層３０２の厚みが異なると共に、同じ光ディスクでも書込み時のパルススト
ラテジの違いやレーザ波形の違いなどにより最適パワーが異なる場合があり、ＯＰＣによ
って最適記録パワーを取得することが必要となる。
【０００８】
ＤＶＤ−ＲＷディスクは、複数回の書き換えが可能な光ディスクであり、その記録層に
は相変化型の材料が用いられている。ＤＶＤ−ＲＷディスクの一層目記録層への記録には
、記録パワーが例えば図１６（Ａ）に示すように３値Ｐｗ，Ｐｅ，Ｐｂに変化するレーザ
光が使用される。Ｐｗは書込パワー（以下、記録パワーともいう）で、このパワーＰｗの
レーザ光によって光ディスクの記録層の状態が結晶状態からアモルファス状態に変化して
ピットが形成される。Ｐｅは消去パワーで、このパワーＰｅのレーザ光によって、記録層
がアモルファス状態にあるときは結晶状態に戻って古いピットが消去（オーバライト）さ
れる。Ｐｂはバイアスパワーで、いわゆるパルス分割記録による分割パルスの底部のパワ
ーに相当し、このパワーＰｂのレーザ光により記録時にレーザ光照射による熱が拡散する
のを防ぐ働きをする。図１６（Ａ）のように、レーザ光に対するパワーが所定の順序で変
化することによって、光ディスク上には同図（Ｂ）に示すようなピットが形成される。
【０００９】
相変化型の光ディスクのＯＰＣを行う際の記録状態の良否を判定する特性パラメータと
して、例えば、アシンメトリ値（高周波数信号の非対称性を表すパラメータ）あるいは変
調度から得られる値γが用いられる（例えば、特許文献２参照）。特許文献２では、まず
消去パワー、バイアスパワーを固定して、書込パワー（記録パワー）を変化させてテスト
用記録信号を記録し、テスト用信号記録部分を再生して記録状態の良否を判定する特性パ
ラメータを測定することで、最適な書込パワーを求める。
【００１０】
次に、その書込パワーを用い、バイアスパワーを固定して、消去パワーを変化させてテ
スト用記録信号を記録し、そのテスト用記録信号記録部分を再生して記録状態の良否を判
定する特性パラメータを測定することで、最適な消去パワーを求める。最後に、それらの
書込パワー、消去パワーを用い、バイアスパワーを変化させてテスト用記録信号を書込み
、そのテスト用記録信号記録部分を再生して記録状態の良否を判定する特性パラメータを
測定することで、最適なバイアスパワーを求める。
【００１１】
以上のようにして求めた書込パワー、消去パワー、バイアスパワーに基づいて、データ
領域に実際のユーザデータの記録（実記録）を行う方法が特許文献２に記載されている。
また、特許文献２には記録状態の良否を判定する特性パラメータとして、アシンメトリ値
βあるいはγ値、あるいはエラーレートを用いることが述べられている。
【特許文献１】特開平１０−２９３９２６号公報
【特許文献２】特許第３２５９６４２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかしながら、２層の記録層をもった書き換え型の光ディスクについて、例えば特許文
献２記載の従来の単層のＤＶＤ−ＲＷの光ディスクと同様な最適記録条件を取得する手法
を試みたところ、特に２層の記録層のうち光ピックアップに近い方の一層目記録層におい
て繰り返し記録の回数によりＲＦ信号の再生特性が記録回数１回目と２回目と３回目で異
なる傾向を示し、このままの方法では検出した結果にバラツキがあるために最適な記録品
質の確保が難しいという問題が生じた。記録回数４〜５回目以降は安定したＲＦ信号の再
生特性が得られている。
【００１３】
図１７は同一の記録条件を用いて記録を行った場合の記録回数と再生ジッタの測定結果
を示す。同図から分かるように、特に２回目の記録時の再生ジッタが比較的悪く、１０回
目以降１０００回以上にわたって比較的良好な再生ジッタとなっている。ここで、「再生
ジッタ」とは、一般には再生信号から位相同期ループ（ＰＬＬ）回路で生成したクロック
と、再生信号を２値化した信号の、クロックに対する立ち上がりと立下りの両エッジの差
の時間を積分し平均化した値を、クロック周期で除算した値に１００を乗じた値（単位％
）であり、再生ジッタの値が小さいほど良好な再生状態であるといえる。
【００１４】
また、図１８（Ａ）、（Ｂ）に、記録パワーＰｗと再生ジッタとの測定結果、及び消去
パワーＰeと再生ジッタとの測定結果を示す。図１８（Ａ）、（Ｂ）から分かるように、
記録パワーＰｗ又は消去パワーＰｅの変化によって、再生ジッタが大きく変化することが
分かる。また、図１８（Ｂ）に示す消去パワーと再生ジッタの特性では、１回目の記録時
（イニシャル時）の再生ジッタが最小となる最適な消去パワーＰｅと、書換え回数（オー
バーライト回数）１回目（ＤＯＷ１）及び１０回目（ＤＯＷ１０）の記録時の再生ジッタ
が最小となる最適な消去パワーＰｅには差があることが分かる。
【００１５】
小なる値の再生ジッタが得られる記録パワーの許容範囲、すなわち、再生ジッタに対す
る記録パワーの余裕度は、図１８（Ａ）から比較的広いことが分かる。これに対して消去
パワーの余裕度は図１８（Ｂ）から書き換え回数により最適消去パワーが変化すると共に
、最適消去パワーの許容範囲が狭いことが分かる。例えば図１８（Ａ）及び（Ｂ）より書
き換え回数１０回目（ＤＯＷ１０）の場合、ジッタ９％以内で許容される記録パワーと消
去パワーの設定誤差の範囲を見ると、記録パワーが約±２.２ｍＷ、消去パワーは約±０.
４ｍＷであり、特に消去パワーのパワー設定の誤差がジッタの悪化に影響し易いことが分
かる。
【００１６】
また、図１９は、記録パワーに対する消去パワーの比率（以下、これをεという）と再
生ジッタとの関係を、単層ＤＶＤ−ＲＷと、Ａ社とＢ社とＣ社の各２層のＤＶＤ−ＲＷの
一層目記録層のそれぞれについて示した特性図である。図１９から分かるように、εは単
層ＤＶＤ−ＲＷの再生ジッタに比べて、２層のＤＶＤ−ＲＷの一層目記録層に対する再生
ジッタの許容範囲の余裕度が極めて狭く、また、２層のＤＶＤ−ＲＷ同士でもメーカー（
Ａ社、Ｂ社、Ｃ社）によって上記の余裕度が若干異なる。
【００１７】
本発明は以上の点に鑑みなされたもので、多層光ディスクの光ピックアップに最も近い
一層目記録層に着目して、特に消去パワーの設定誤差を少なくして、記録後の再生ジッタ
が最良状態となる最適な記録条件を検出可能とする光ディスクを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
そこで、上記課題を解決するために本発明は、下記の光ディスクを提供する。
情報が記録又は再生される記録層が、記録又は再生用のレーザ光の光軸方向に複数積層された多層構造の書き換え可能な光ディスクであって、
前記複数の記録層の内の少なくとも１つの記録層は、前記レーザ光の最適な消去パワーを求めるためのテスト記録信号が記録され再生される第１の領域と、記録管理情報が記録される第２の領域と、ユーザデータが記録され再生される第３の領域とを有し、
前記第１の領域は、所定の記録条件で、前記記録層を結晶状態からアモルファス状態に変化させる記録パワーと、前記記録層をアモルファス状態から結晶状態に変化させる消去パワーと、前記記録層への記録時の熱拡散を防止するためのバイアスパワーとが設定され、設定された前記記録パワー、消去パワー及びバイアスパワーの各値を用いて前記レーザ光により、前記テスト記録信号が記録される領域であり、
前記第１の領域に記録され再生された前記テスト記録信号から得られる値に乗算して最適な消去パワーを求めるための、当該光ディスクに対応して予め定められた係数の値が、前記第１乃至第３の領域の内の少なくとも１つの領域内のプリピットエリア又はトラック溝に消去されない形態で製造段階において記録されていることを特徴とする光ディスク。
【発明の効果】
【００１９】
複数の記録層を持つ書き換え可能型の光ディスクとして本発明の光ディスクを用いることにより、その光ディスクに対して、レーザ光のＤＣ消去パワーを可変しながら記録を行った、ＤＣ消去パワーが互いに異なる複数の領域から記録状態検出手段がそれぞれ検出した値の中で、検出値がＤＣ消去パワー用の所定の検出値もしくは検出条件と一致した領域に対して記録したＤＣ消去パワー値に、所定の係数を乗算して最適な消去パワーのレベルを求めることにより、光ディスク記録時の最適な消去パワーの値を導き出すようにしたため、特に多層光ディスクの光ピックアップに最も近い一層目記録層の消去パワーのマージンが少なく最適な記録を行うためには精度の良い消去パワーの検出技術が必要であるという要求を満たすことができ、これによりジッタの良い記録ができる。
【００２０】
また、本発明の光ディスクを用いることにより、テスト記録領域をＤＣ消去パワーで段階的に可変しながら記録マークを消去した後、その領域を再生して、その再生信号の変調度、変調度の正規化された傾き特性を示すパラメータであるγ値、及び再生信号の非対称性を表すパラメータ（β値又はアシンメトリ値）のうちの少なくとも１つを検出し、その検出特性が急峻に変化し消去が急激に行われるポイントが繰り返し記録特性に殆ど影響がなく検出できることを利用し、このポイントの消去パワーを基準にして所定の係数を乗算することにより、高精度な消去パワーを導き出すことができる（この精度は高く最適な消去パワーに対して誤差が２％以内という実験結果が得られている）。
【００２１】
また、本発明の光ディスクを用いることにより、導き出した消去パワーから、光ディスク情報もしくは装置メモリから記録パワーに対する消去パワーの比率εを用いて記録パワーを計算するようにしたため、最適な記録パワーのＯＰＣ処理が省略でき、ＯＰＣ処理の回数を減らせると共にドライブ装置の起動時間を短くできる。
【００２２】
更に、本発明の光ディスクによれば、最適な書き込みパワーを求めるために、判定手段で一致したところのＤＣ消去パワーを基準値として、その基準値と乗算することで消去パワーを求めるための所定の係数を、光ディスクのプリピットエリアもしくはトラック溝に、製造段階で予め記録させる構成をとるようにしているため、新しく参入した光ディスクメーカーの光ディスクや装置メモリにデータがない光ディスクのＯＰＣ処理をするような場合でも、光ディスク内の情報を用いて最適な消去パワーを求めることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
次に、本発明の各実施の形態について図面と共に説明する。
（第１の実施の形態）
図１は本発明になる光ディスクを用いる光ディスク記録再生装置の一実施の形態のブロック図を示す。同図に示す本実施の形態の書き換え可能型光ディスク記録再生装置１５は、この発明に係る部分の制御ブロック構成を主に示したものである。光ディスク記録再生装置１５は、複数の記録層が記録再生用レーザ光の光軸方向に積層された書き換え可能型光ディスク１に対して、光ピックアップ（ＰＵ）２を用いてＲＦ信号の再生及び記録マークの書き込みを行う。ここでは、一例として光ディスク１は、図１５に示した断面構造の片面２層光ディスクであるものとして説明する。光ピックアップ２により光ディスク１から再生されたＲＦ信号は信号処理回路３に入力され、データ復調（図示せず）されて外部インターフェースを介してコンピュータ又はＤＶＤレコーダなどのシステム制御装置（図示せず）へ出力される。
【００２４】
信号処理回路３は、記録状態検出手段４、ＤＣ消去手段５及び記録手段６などを有して
おり、光ピックアップ２により光ディスク１から再生されたＲＦ信号から内部の復調手段
（図示せず）で復調して光ディスク１の情報（ディスク構造、推奨記録パワー、記録スト
ラテジ、記録パワーと消去パワーの比率εなど）を得て、内部バス１０及び制御回路１１
を介して装置メモリ１４に保存する。データを光ディスク１に記録する際は、制御回路１
１より記録手段６に書き込みアドレスと書き込みパワー（記録パワー、消去パワー、バイ
アスパワー）及び記録ストラテジの設定情報が信号処理回路３内の内部バス１０を介して
記録手段６へ伝送される。記録手段６はこれらの設定情報を基に、光ピックアップ２によ
り光ディスク１の所定のアドレスに書込みを行う。
【００２５】
この第１の実施の形態においては、テスト記録信号として記録波形パターンの記録マー
クの短いマーク（例えば、８／１６変調信号の場合には３Ｔ（Ｔはチャネルクロックの周
期：以下同じ）から７Ｔの任意のマーク信号）と長いマーク（例えば、８／１６変調信号
の場合には８Ｔから１４Ｔの任意のマーク信号）とが混在したテスト記録信号、又は記録
波形パターンのランダムパターン信号を用いて光ディスク１にテスト記録を行う。
【００２６】
相変化型の光ディスク１に対するレーザーパワーの波形は図１６に示すような書き込み
波形（記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅ、バイアスパワーＰｂ及び記録ストラテジ）を用
いて行い、記録マークを形成していく。光ピックアップ２から出射されるレーザ光のパワ
ーは記録手段６の内部のＡＬＰＣ（Automatic Laser Power Control）手段（図示せず）
によって設定された書き込みパワー値に高精度に制御される。通常のＯＰＣ処理は、光デ
ィスク１のＯＰＣ領域の所定ブロックのアドレスに書き込みパワーを段階的に変化させて
記録するが、この動作を記録手段６で行うことができる。また実際の記録（実記録）を行
う場合は、記録手段６に最適な書き込みパワーの設定をすることにより連続したデータの
記録が行える。
【００２７】
本実施の形態の最適消去パワーの検出には、この記録手段６は始めに記録条件を一定に
した書き込みパワーと記録ストラテジでＯＰＣ領域をテスト記録する。記録条件を一定に
した書き込みパワーは記録手段６で設定され、例えば光ディスク１又は装置メモリ１４か
ら読み出した推奨記録パワーの値（以下、Ｐｉｎｄという）を記録パワーの固定値として
設定し、同じく光ディスク１又は装置メモリ１４から読み出した記録パワーと消去パワー
の比率εの値と前記推奨記録パワーの値（Ｐｉｎｄ）から演算により求めた消去パワーの
値（＝ε・Ｐｉｎｄ）を消去パワーの固定値として設定し、装置メモリ１４から読み出し
た推奨バイアスパワーの値をバイアスパワーの固定値として設定して、レーザ光によりテ
スト記録信号を記録する（テスト記録を行う）。装置メモリ１４から読み出した推奨バイ
アスパワーの値は、例えば０.７ｍＷ以下の固定値であるものとする。
【００２８】
本実施の形態の特有の構成としてのＤＣ消去手段５は、記録手段６で一定の記録条件で
テスト記録を行った所定のＯＰＣアドレス領域に対し、同じ領域にレーザ光の消去パワー
のみを図２に示すように段階的にパワーレベルを可変しながら記録する。この場合、ＤＣ
消去手段５は、前記推奨記録パワーの値（Ｐｉｎｄ）と、前記記録パワーと消去パワーの
比率εの値と、同じく光ディスク１又は装置メモリ１４から読み出した最適な消去パワー
算出のために乗算する所定の係数（以下、係数Ｓという）の値とから、演算により基準に
近いＤＣ消去パワーの値（＝ε・Ｐｉｎｄ／Ｓ）を求め、該基準の値の周辺においてＤＣ
消去パワー値を可変する。尚、装置メモリ１４から読み出した記録パワーと消去パワーの
比率εの値、推奨記録パワーの値（Ｐｉｎｄ）、最適な消去パワー算出のために乗算する
所定の係数Ｓは、光ディスクの種類に合わせてこの光ディスク記録再生装置に対応して設
定された値である。光ディスク記録再生装置は学習機能や制御プログラムのアップデート
により、より信頼性の高い値が装置メモリ１４に格納されている場合には、装置メモリ１
４に格納されている値の方を優先して選択するようにしてもよい。
【００２９】
そして、同じＯＰＣアドレスの領域を再生してＤＣ消去手段６で図２に示すように段階
的に消去パワーを可変して記録した領域毎に、記録状態の変化を、記録状態検出手段４に
よって光ディスク１からの再生ＲＦ信号の変調度又は変調度の特性を微分したパラメータ
（以下γ値という）又はＲＦ信号の非対称性を表すパラメータのアシンメトリ値又はβ値
（以下、アシンメトリ用β値ともいう）の測定を行うことで検出する。
【００３０】
ＲＦ信号の変調度又はγ値又はアシンメトリ用β値の測定は、図３に示すブロック図の
構成で行う（このブロック図の構成及び動作については後ほど詳細に説明する）。記録状
態検出手段４によって検出された記録状態の測定結果は、図１の信号処理回路３内の内部
バス１０を介して制御回路１１に転送される。制御回路１１は、装置メモリ１４に格納さ
れた制御プログラムで予め定めた所定の値（変調度、γ値の条件、アシンメトリ用β値）
と、信号処理回路３から入力された検出された記録状態の測定結果とを判定手段１３で比
較し、一致若しくは一番近い値を示した光ディスク１のＤＣ消去領域を確定すると共に、
そのＤＣ消去領域で行った消去パワーの値を求める。
【００３１】
この消去パワーの値は基準値として用い、制御回路１１内の演算手段１２により、装置
メモリ１４に予め保存してあるこの種の光ディスク１に最適な所定の係数Ｓを用いて乗算
処理を行い、最適消去パワーの値を求める。以上のようにして、この光ディスク１に最適
な消去パワーをＯＰＣ処理により求めることができる。
【００３２】
次に、本発明に適用される記録状態検出手段４及び制御回路１１のブロック構成と動作を図３乃至図６と共に説明する。図３は記録状態検出手段４及び制御回路１１の一部の一実施の形態のブロック図を示す。この記録状態検出手段４等により、再生ＲＦ信号の変調度又はγ値又はアシンメトリ用β値を検出・測定することができる。図３において、図１の光ピックアップ２により光ディスク１のＤＣ消去パワーを段階的に可変して記録した複数のＤＣ消去領域からの再生ＲＦ信号は、高域フィルタ（ＨＰＦ）１００によりＡＣカップルした状態で０Ｖを基準に正側（上側）の振幅レベルをピークレベル検出回路１０１で検出され、次段の低域フィルタ（ＬＰＦ）１０４でピークレベル検出回路１０１のドループ特性による信号の変動が平均化されて信号Ａ１として出力される。
【００３３】
一方、ＨＰＦ１００によりＡＣカップルされた再生ＲＦ信号は、０Ｖを基準に負側（下
側）の振幅レベルをボトムレベル検出回路１０２で検出され、次段のＬＰＦ１０５でボト
ムレベル検出回路１０２のドループ特性による信号の変動を平均化されて信号Ａ２として
出力される。ＲＦ信号の非対称性を表すパラメータのアシンメトリ用β値は、上記信号Ａ
１と信号Ａ２から下記のような式で算出される。この演算は演算手段１０７で行われる。
【００３４】
β値＝（Ａ１＋Ａ２）/（Ａ１−Ａ２）    （１）
演算手段１０７で算出されたアシンメトリ用β値は、比較判定回路１１０で所定のアシン
メトリ用β値と比較される。比較判定回路１１０は判定手段１３の処理内容を示している
。
【００３５】
実際のＲＦ信号を図４（Ａ）に示し、信号Ａ１と信号Ａ２のレベルを図中に示す。また
、図４（Ｂ）乃至図４（Ｄ）はＤＶＤ−ＲＷの２層光ディスクの特性を測定したものであ
る。図４（Ｂ）は記録パワーを可変してアシンメトリ用β値をグラフ化したもので、特性
としては一層目記録層へのテスト記録信号の記録を１回（イニシャル）、２回（ＤＯＷ１
）、１１回（ＤＯＷ１０）と繰り返し行った場合、繰り返し記録の回数の違いによる特性
差はあるものの、ピークの位置が同じ付近にある。このことからアシンメトリ用β値検出
でも使用できる可能性があることが分かる。すなわち、図４（Ｂ）の各カーブの振幅最大
点を記録後の再生ジッタの最良点として、この位置を最適な記録パワーの位置とほぼ見做
すようにすることにより、繰り返し記録の回数の違いの影響がない最適な記録パワーとし
て算出に使用できる。
【００３６】
また、図４（Ｃ）は記録パワーを一定にし、かつ、消去パワーを可変してアシンメトリ
用β値をグラフ化したものを示す。すなわち、図１６（Ａ）のパルスのうち、書込パワー
（記録パワー）Ｐｗと、バイアスパワーＰｂとをそれぞれ一定値で固定し、消去パワーＰ
ｅのみを可変して記録した場合の消去パワーとアシンメトリ用β値との特性図を示す。こ
の特性は上記繰り返し記録回数による記録特性の差が大きく出ており、グラフの位置にバ
ラツキが多い。例えば、β＝０の点の消去パワーＰｅを求めた場合、約０.８ｍＷの誤差
を持つ。図１８（Ｂ）の消去パワー対ジッタのグラフからわかるように消去パワーのマー
ジンは非常に少なく、±０.４ｍＷ以内の高い精度で設定することが必要であり、検出バ
ラツキを考慮すると、このアシンメトリ用β値の検出では実用に難点がある。
【００３７】
図４（Ｄ）は本発明に適用されるＯＰＣ技術を用いてＤＣ消去β特性の測定を行ったＤＣ消去パワー対β値特性図を示す。この特性図は２層光ディスクの１層目記録層のＯＰＣ領域内の１回記録（イニシャル）、２回の繰り返し記録（ＤＯＷ１）、１１回の繰り返し記録（ＤＯＷ１０）の各記録領域を、図２に示すようにレベルが可変される消去パワーのみで記録した（ＤＣ消去した）後、その領域を再生して得た再生ＲＦ信号からアシンメトリ用β値を検出したものであるが、繰り返し記録回数による記録特性の差が殆どなく、それぞれの特性がほぼ一致していることが分かる。
【００３８】
この特性を利用して図３の比較判定回路１１０（図１では判定手段１３の一部に相当）
にて演算手段１０７からのβ値と比較する所定のβ値として、図４（Ｄ）の例えば「−４
０」という値を使用することにより、誤差の少ない消去パワーの基準値の値が検出できる
。そして、この基準の消去パワーに最適消去パワーを求める係数Ｓを係数Ｓｂとして乗算
することにより、最適な消去パワーを求めることができる。実験によれば最適な消去パワ
ーとの誤差は４％以内であった。
【００３９】
次に、変調度（ｍ）の検出について説明する。図３において、再生ＲＦ信号は２分岐さ
れて、一方はＨＰＦ１００に入力され、他方はピークレベル検出回路１０３に入力される
。ピークレベル検出回路１０３は、再生ＲＦ信号の振幅電圧をＤＣレベルの基準電圧から
測定し、その検出電圧を次段のＬＰＦ１０６に供給してピークレベル検出回路１０３のド
ループ特性による信号の変動を平均化して、信号Ａ３を出力させる。
【００４０】
変調度ｍの値は、ＬＰＦ１０４、１０５から出力される信号Ａ１と信号Ａ２と、上記の
信号Ａ３とから演算手段１０８により次式で算出される。
変調度  ｍ＝Ｉ１４/Ｉ１４Ｈ
＝（Ａ１−Ａ２）/Ａ３    （２）
上式中、Ｉ１４はＲＦ信号（具体的には８／１６変調方式の１４Ｔ信号）の振幅値であり
、Ｉ１４ＨはＤＣレベルの基準値から上記ＲＦ信号の上側包絡線までの振幅値を意味して
いる。
【００４１】
演算手段１０８で算出された変調度ｍは、比較判定回路１１１に供給されて所定の変調
度の値と比較判定される。なお、図３中の比較判定回路１１１は図１の判定手段１３の処
理内容を示している。
【００４２】
実際のＲＦ信号を図５（Ａ）に示し、上記のＲＦ信号の振幅値Ｉ１４と、ＤＣレベルの
基準値からＲＦ信号の上側の包絡線までの振幅値Ｉ１４Ｈの各レベルを同図中に示す。図
５（Ｂ）は記録パワーを可変して変調度ｍをグラフ化した記録パワー対変調度特性を示す
。図５（Ｂ）に示すように、テスト記録信号の一層目記録層への記録を１回（イニシャル
）、２回（ＤＯＷ１）、１１回（ＤＯＷ１０）と繰り返し行った場合、ＤＶＤ−ＲＷの２
層光ディスクの問題点として挙げた繰り返し記録の回数により記録パワー対変調度特性に
、差が若干ある（０.２ｍＷ程度の差）ものの、最適な消去パワーが仮に±０.４ｍＷ程度
は問題ない範囲とすると、十分使えるレベルであることが分かる。
【００４３】
図５（Ｃ）は記録パワーを一定にし、かつ、消去パワーを可変して変調度をグラフ化し
た消去パワー対変調度特性を示す。すなわち、図１６（Ａ）のパルスのうち、書込パワー
（記録パワー）Ｐｗと、バイアスパワーＰｂとをそれぞれ一定値で固定し、消去パワーＰ
ｅのみを可変して記録した場合の消去パワーと変調度の特性を示す。図５（Ｃ）に示すよ
うに、記録を１回目（イニシャル）、２回目（ＤＯＷ１）、１１回目（ＤＯＷ１０）と繰
り返し行った場合、消去パワーを可変しても変調度がほぼ一定であるため、この方法は最
適な消去パワーの検出には使えないことが分かる。
【００４４】
図５（Ｄ）は本発明に適用されるＯＰＣ技術を用いて行った、ＤＣ消去パワー対変調度特性を示す。すなわち、図５（Ｄ）に示す特性は、記録を１回目（イニシャル）、２回目（ＤＯＷ１）、１１回目（ＤＯＷ１０）と繰り返し行ったそれぞれの領域を、消去パワーのみで、かつ、そのレベルを可変して記録した（ＤＣ消去した）場合、繰り返し記録回数による記録特性の差は多少はあるが、それぞれの特性がほぼ一致していることが分かる。
【００４５】
この特性を利用して図３の比較判定回路１１１にて比較する所定の変調度の値（ｍ値）
として、図５（Ｄ）の例えば「０.３」という値を使用することにより、比較的誤差の少
ない消去パワーの基準値の値が検出できる。そして、この基準の消去パワーに最適消去パ
ワーを求める係数Ｓを係数Ｓmodとして乗算することにより最適な消去パワーを求めるこ
とができる。実験によれば、最適な消去パワーとの誤差は５％以内であった。
【００４６】
なお、ＲＦ信号の非対称性を表すパラメータのアシンメトリ値については、上記β値の
説明をもって省略するが、同様な検出と効果が期待できる。このアシンメトリ値を検出す
る構成は、上記β値の検出構成と変調度の検出構成を用いることができる。つまり、アシ
ンメトリ値は上記信号Ａ１と信号Ａ２と信号Ａ３を用いて次式で算出される。この演算は
演算手段１２で行われる（図３には図示せず）。
【００４７】
アシンメトリ＝［（Ｉ１４Ｈ＋Ｉ１４Ｌ）―（Ｉ３Ｈ＋Ｉ３Ｌ）］/
２［（Ｉ１４Ｈ−Ｉ１４Ｌ）］                  （３）
上式中、Ｉ１４Ｈ、Ｉ１４Ｌ、Ｉ３Ｈ、Ｉ３Ｌは、図５（Ａ）に示したＲＦ信号の波形中
に示してあり、これらは前記信号Ａ１、Ａ２、Ａ３を用いて下記の式で表される。
【００４８】
Ｉ１４Ｈ＝Ａ３                    （４）
Ｉ１４Ｌ＝Ａ３−（Ａ１−Ａ２）    （５）
Ｉ３Ｈ＝Ａ３                      （６）
Ｉ３Ｌ＝Ａ３−（Ａ１−Ａ２）      （７）
この検出をする場合、テスト記録信号の記録波形パターンを例えば８／１６変調とした
とき、３Ｔ及び１４Ｔの単一パターンを一組として交互に出力しながら記録をＰＣＡ領域
（図１５のＰＣＡ領域３１１に相当）内の所定のアドレスからの領域に行う。そして、上
記同じアドレスからの領域にＤＣ消去パワーを行うとき上記一組毎に段階的にパワーを変
えながら記録を行う。なお、上記の記録は２層光ディスクに対しては、１層目記録層に対
する記録である。
【００４９】
次に、上記同じアドレスからの領域を再生して記録状態を検出するときには、３Ｔ及び
１４Ｔの書き込み領域に対応したタイミングでそれぞれのＲＦ信号のレベルを再生して信
号Ａ１、信号Ａ２及び信号Ａ３を検出することにより、上記の計算を実現することができ
る。なお、判定手段１３で一致を検出したときのＤＣ消去パワーと演算する係数Ｓは係数
Ｓａとする。
【００５０】
次に、パラメータγの検出について説明する。予めテスト記録したＰＣＡ領域を、図２
に示すようなＤＣ消去パワーを段階的に１ステップずつ可変しながら記録し、同じ領域を
再生して記録状態検出手段４より得られる変調度ｍの検出信号を、各ステップ毎にＤＣ消
去パワーに対応した変調度ｍを図１の装置メモリ１４に記憶していく。そして、図３に示
すように、装置メモリ１４よりのデータを基に“変調度ｍの１ステップ先との変化量（ｄ
ｍ）”１１３と、“消去パワーの１ステップ先との変化量（ｄＰe）”１１４と、“現在
のステップでの変調度ｍの値（ｍ）”１１５と、“現在のステップでのＤＣ消去パワーの
値（Ｐｅ）”１１６とを得る。
【００５１】
なお、上記１ステップ毎のメモリの参照内容１１３を“変調度ｍの１ステップ先と１ス
テップ後の変化量（ｄｍ）”と、参照内容１１４を“消去パワーの１ステップ先と１ステ
ップ後の変化量（ｄＰe）”としてもよい。
【００５２】
これらの値から消去パワーのパラメータγ（Ｐｅ）は、図３に示す演算手段１０９によ
り次式で算出される。
γ（Ｐe）＝（ｄｍ／ｄＰｅ）／（ｍ／Ｐe）    （８）
演算手段１０９により算出された消去パワーのパラメータγは、判定回路１１２に供給さ
れてγ値の最小ピーク点が判定される。
【００５３】
なお、記録パワーのパラメータγ（Ｐｗ）は図３には図示していないが、上記値１１３
〜１１６を下記のように読み替えることで同様に計算される。
１１３：“変調度ｍの１ステップ先と１ステップ後の変化量（ｄｍ）”
１１４：“記録パワーの１ステップ先と１ステップ後の変化量（ｄＰｗ）”
１１５：“現在のステップでの変調度ｍの値（ｍ）”
１１６：“現在のステップでの記録パワーの値（Ｐｗ）”
これらの値から記録パワーのパラメータγ（Ｐｗ）が次式で算出される。
【００５４】
γ（Ｐｗ）＝（ｄｍ／ｄＰｗ）／（ｍ／Ｐｗ）    （９）
記録パワー（書込パワー）Ｐｗに対する変調度と、上記のパラメータγ（Ｐｗ）との一
般的な特性図を図６（Ａ）に示す。最適な記録パワーＰｏを求めるためには、図６（Ａ）
中のγターゲット（γtarget）を定め、検出したγ特性がこのγターゲットと一致したと
ころの記録パワー（Ｐtarget）を求め、この値を基準値として係数ρを乗算して計算で求
める。なお、係数ρは、前記図１７の特性図に鑑み、ＤＯＷ１のジッタが最小となる記録
パワーと消去パワーに合わせる。記録再生装置の設計では一番不利となる記録条件（ＤＯ
Ｗ１）で最良の記録（再生ジッタ最小）ができるようにするためである。
【００５５】
この手法を用いて、記録パワーと消去パワーの比率εの値を一定としてＤＶＤ−ＲＷの
２層光ディスクの記録パワーとパラメータγ（Ｐｗ）とを測定した結果を図６（Ｂ）に示
す。特性としては２層光ディスクの１層目記録層への記録を１回目（イニシャル）、２回
目（ＤＯＷ１）、１１回目（ＤＯＷ１０）と繰り返し行っても、ＤＶＤ−ＲＷの２層光デ
ィスクの問題点として挙げた繰り返し記録回数による記録特性の変化については、比較的
少なく、図６（Ａ）と共に説明した方法（γ法）で十分検出できることが分かる。
【００５６】
図６（Ｃ）は図１６（Ａ）のパルスのうち消去パワーＰｅだけを可変して記録した領域
を再生してパラメータγ（Ｐｅ）を測定した特性図を示す。この特性は、図６（Ｃ）に示
すように、記録を１回目（イニシャル）、２回目（ＤＯＷ１）、１１回目（ＤＯＷ１０）
と繰り返し行っても、消去パワーによりγ（Ｐｅ）があまり変化せず、最適な消去パワー
の検出には使えないことが分かる。
【００５７】
図６（Ｄ）は本発明に適用されるＯＰＣ技術を用いてテスト記録信号の記録回数１回目（イニシャル）、２回目（ＤＯＷ１）、１１回目（ＤＯＷ１０）でそれぞれ記録した領域から測定したＤＣ消去パワーとパラメータγ（Ｐｅ）との測定結果を示す。この特性は変調度の特性を微分したグラフ（変調度の正規化された傾き特性）である。図６（Ｄ）から特に急激にＤＣ消去されて変調度が減衰したところが大きくピーク（ディップ）を持っていることが分かる。このピークの頂点部分の位置は繰り返し記録回数による記録状態の変化に影響なくほぼ同じポイントで生じていることが分かる。本発明に適用されるＯＰＣはＤＣ消去したテスト記録信号の残留振幅が完全に消えてしまわない領域の特性で検出を行っている。
【００５８】
このような特性からこのピークの頂点に対応するＤＣ消去パワーを基準値として用い、
予め定めた最適な消去パワーを求めるための係数Ｓｇで乗算することにより、最適な消去
パワーを求めることができる。実験によれば最適な消去パワーとの誤差は３％以内であっ
た。
【００５９】
本実施の形態で用いた係数Ｓｂ、係数Ｓｍｏｄ、係数Ｓｇ、係数Ｓａはそれぞれ書き換
え回数の２回目のジッタが最良になる消去パワーを求める値に予め決めている。これは、
図１７に示したように、２回目の記録時の再生ジッタが比較的悪いことに鑑みて決められ
たものであり、これにより短時間で最適な消去パワーを設定することができる。なお、上
記の各係数の値は光ディスクの記録層の特性により変わる値である。
【００６０】
図２０に係数Ｓｇのバラツキの測定結果を示す。係数Ｓｇの設定値の範囲を１.０以上
１.６付近までにすること（より余裕を見る場合は１.７付近までにすること）で最適な消
去パワーが得られることが分かった。測定は３種類のサンプルディスクをＲＷ２層Ａ、Ｒ
Ｗ２層Ｂ、ＲＷ２層Ｃとして、それぞれの光ディスクを４台の異なる記録装置（装置Ａ、
装置Ｂ、装置Ｃ、装置Ｄ）でテスト記録をし、１１回繰り返してテスト記録した後ＤＣ消
去を行い（ＤＯＷ１０）、記録信号の残留振幅よりγ値を求め、ピーク点からＤＣ消去パ
ワーの基準値を求めている。そして、このＤＣ消去パワーの基準値と実際に最適な記録が
行える条件での消去パワー値とから下記のような計算式で係数Ｓｇを求めている。
【００６１】
Ｓｇ＝（最適な記録状態での消去パワー値）／（ＤＣ消去パワーの基準値）
係数Ｓｇの実測値は図２０のグラフより、最小１.０〜最大１.２２であった。ＲＷ２層
の各ディスクの係数Ｓｇのバラツキは±１０％以内に入っている。ディスクの製造バラツ
キや将来発売されるＲＷ２層のディスク特性を考慮して係数Ｓｇの最大１.２２に対して
２０％〜３０％のマージンを見込むと、係数Ｓｇは１.５〜１.６付近まであれば足りるこ
とが分かる。更に余裕を見て４０％までマージンを見込むと、係数Ｓｇは１.７付近まで
あれば足りることが分かる。また、係数Ｓｇの最小値については、検出したＤＣ消去パワ
ーより実際の最適な記録条件での消去パワーが低いと消去残りが発生するなどの問題が生
じることから１.０より小さい値は現実的ではない。そこで、係数Ｓｇの設定範囲の最小
値は１.０とした。
【００６２】
次に、本実施の形態による、最適な書き込みパワーの実際の設定例を図７のフローチャ
ートを参照して説明する。ＯＰＣ処理のテスト記録モードが指示されると、図１の制御回
路１１は最適な記録パワーを求めるためのテスト記録の処理に入るが、その前にＰＣＡ領
域を初期化する処理（サブルーチンＡ）を実行してもよい。その後、光ディスク１から又
は装置メモリ１４から推奨の記録パワー値を読み出し固定値とし、消去パワーは同じく光
ディスク１から又は装置メモリ１４から読み出したε（記録パワーに対する消去パワーの
比率）の値を基に、記録パワーと乗算して求め、バイアスパワーは装置メモリ１４から読
み出した値を固定値として、図１の記録手段６に設定する（ステップ２０１）。
【００６３】
続いて、記録するテスト記録信号を記録波形パターンのランダムパターン信号（ＥＦＭ
信号）に設定し、記録ストラテジ及び書き込みパワー（記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅ
、バイアスパワーＰｂ）を一定条件にして、２層光ディスク１の１層目記録層のＯＰＣ領
域（図１５の３１１に相当）にテスト記録する（ステップ２０２）。続いて、テスト記録
したＯＰＣ領域と同じ領域をＤＣ消去パワーで段階的（例えば１０ステップ）に可変しな
がら記録する（ＤＣ消去する）。このときのＤＣ消去パワーの値は、装置メモリ１４に各
ステップ毎に記録する（ステップ２０３）。
【００６４】
そして、ＤＣ消去による記録の状態変化を検出するために、ＤＣ消去したＯＰＣ領域を
再生する（ステップ２０４）。再生して得られたＲＦ信号のうち、ＯＰＣ領域をＤＣ消去
パワーのステップ毎にレベルを変えて記録したエリア毎のＲＦ信号から、変調度ｍを算出
し、さらにγ値を算出する。またはアシンメトリ用β値を算出する。求めた値は装置メモ
リ１４に格納する（ステップ２０５）。
【００６５】
続いて、図３の比較判定回路１１０、１１１、１１２の出力から、算出したアシンメト
リ用β値、変調度ｍ、γ値が所定の値と一致したかを判定する（ステップ２０６）。判定
の結果、一致したステップでのＤＣ消去パワー値を求め、このＤＣ消去パワー値を基準値
として、係数Ｓｂまたは係数Ｓｍｏｄ又は係数Ｓｇを掛けて最適な消去パワーを算出する
（ステップ２０７）。
【００６６】
続いて、算出した消去パワーを固定値として設定し、記録パワーを光ディスク１もしく
は装置メモリ１４から読み出したεの値によって算出して固定値とし、バイアスパワーは
装置メモリ１４から読み出した値を固定値として記録手段６に設定する（ステップ２０８
）。最後に、最適な書き込みパワー（記録パワーＰｗ、消去パワーＰｅ、バイアスパワー
Ｐｂ）のすべてが決まりＯＰＣ動作を終了する（ステップ２０９）。
【００６７】
このように、本実施の形態によれば、記録パワーの設定許容度が図１８（Ａ）から比較
的広いことと、２層光ディスクの１層目記録層の消去パワーの設定許容度が図１８（Ｂ）
および図１９から極めて狭いことから、まず最適な消去パワーの検出を精密に行い、求め
られた消去パワーからεを用いて記録パワーを求めるようにしたため、光ディスクにＯＰ
Ｃ処理のためにテスト記録する回数を減らし、実質的にはドライブ装置の起動時間の短縮
を行うことができる特徴がある。
【００６８】
（第２の実施の形態）
上記の第１の実施の形態においては、テスト記録信号として、記録波形パターンの記録
マークの短いマークと長いマークが混在したテスト記録信号又は記録波形パターンのラン
ダムパターン信号を用いて光ディスクにテスト記録を行ったが、そのテスト記録領域をＤ
Ｃ消去パワーを段階的に上げて消去すると、短いマークから最初に消去され、ＲＦ信号の
振幅が減衰していくことから、消え残りの度合いは長いマークの方が高いことが分かる。
このことはピークレベル検出とボトムレベル検出で検出している記録マークの振幅は長い
マークの消え残り度合いを主に検出しているのではないかと思われる。
【００６９】
そこで、この第２の実施の形態では検出精度を高めるために、テスト記録信号として最
長の長いマークのみ（８／１６変調信号の場合には１４Ｔ信号）を用いてテスト記録を行
うものである。なお、光ディスク記録再生装置の基本的な構成、及びその記録処理の手順
は、図１〜図３、図７に示した構成と同じであるので省略し、第２の実施の形態特有の構
成について説明する。
【００７０】
図８は、テスト記録信号として１４Ｔ信号を用いてテスト記録を行い、その記録領域を
ＤＣ消去パワーを段階的に可変して記録（消去）した後、そのＤＣ消去個所を再生して得
られた消去パワーのパラメータγ（Ｐｅ）値との関係を示す本実施の形態の特性図である
。図８では、１４Ｔ信号を１回記録した個所をＤＣ消去パワーで段階的に可変しながらＤ
Ｃ消去した場合（イニシャル）、１４Ｔ信号を計２回繰り返して記録した個所をＤＣ消去
パワーで段階的に可変しながらＤＣ消去した場合（ＤＯＷ１）、１４Ｔ信号を計１１回繰
り返して記録した個所をＤＣ消去パワーで段階的に可変しながらＤＣ消去した場合（ＤＯ
Ｗ１０）のそれぞれについて、パラメータγ（Ｐｅ）と変調度の正規化された傾き特性を
示すパラメータであるγ値とを測定した実験結果を示す。
【００７１】
図８から分かるように、完全に消去される少し手前でこの検出特性が急峻に変化し消去
が急激に行われるポイントがある。本実施の形態はこのポイントが繰り返し記録特性に殆
ど影響がなく検出できることを利用し、このポイントの消去パワーを基準にして所定の係
数を乗算することにより最適な消去パワーを導き出している。この場合の最適な消去パワ
ーとの誤差は２％以内であった。
【００７２】
このことからテスト記録信号は、記録波形パターンの記録マークの最長マーク信号又は
最長マーク信号を含む長いマーク（例えば、８／１６変調信号の場合には８Ｔから１４Ｔ
の任意のマーク信号）又は単一の長いマーク（例えば、８／１６変調信号の場合には８Ｔ
から１４Ｔの任意のマーク信号）を用いて光ディスクにテスト記録を行うと良好な結果が
得られることが分かる。
【００７３】
（第３の実施の形態）
上記の第１の実施の形態及び第２の実施の形態においては、最適な書き込みパワーを求
めるために判定手段１３で所定値と一致したところのＤＣ消去パワーを基準値として、装
置メモリ１４内の所定の係数Ｓｂ又は係数Ｓｍｏｄ又は係数Ｓｇと乗算して最適な消去パ
ワーを求めるように構成している。しかし、この場合、新しく参入した光ディスクメーカ
ーの光ディスクや装置メモリ１４にデータが無い光ディスクのＯＰＣ処理をする必要が生
じた場合に、ＯＰＣ処理ができないという不具合が生じてしまう。
【００７４】
そこで、この第３の実施の形態ではこの不具合を解消するため、上記所定の係数Ｓｂ及
び係数Ｓｍｏｄ及び係数Ｓｇの値を光ディスク内のプリピットエリアもしくはトラック溝
情報に予め記録させておくようにしたもので、光ディスクの構成に特徴がある。この場合
、記録状態検出手段４で用いた変調度法またはアシンメトリ用β法またはγ法の検出手段
の種類に対応させるための区別もできる管理が必要となり、光ディスク情報の参照時に予
め定義しておく必要がある。
【００７５】
具体的には、上記の各係数の値はコード化してディスク製造時にＬＰＰやコントロール
データゾーンの所定のアドレスに予め消去されない形態で記録される。ＬＰＰとしての記
録位置はＰＣＡ領域やＲＭＡ領域が考えられるが、これに限らず光ディスク上のどこでも
差し支えない。このコードは図９（Ｂ）のＤＣ消去パワー係数表に示すように、ＤＣ消去
パワー係数コードによってＤＣ消去パワー係数Ｓ（係数Ｓｂおよび係数Ｓｍｏｄおよび係
数ＳｇおよびＳａに相当する値）が定められる。ＤＣ消去パワー係数表は装置メモリ１４
にプログラムとして格納される。
【００７６】
また、図９（Ａ）のアドレス表はＬＰＰやコントロールデータゾーン上のアドレスに対
応しており、ＤＣ消去パワー係数が格納されているアドレス部分を示す。アドレスのバイ
ト位置はＮ〜Ｎ＋３で表され、アドレスＮの内容は変調度法用の係数Ｓｍｏｄのコード、
アドレスＮ＋１の内容はβ法用の係数Ｓｂのコード、アドレスＮ＋２はγ法用の係数Ｓｇ
のコード、アドレスＮ＋３はアシンメトリ法の係数Ｓａのコードを意味している。例えば
、バイト位置Ｎに０６ｈが格納されているが、これは変調度法用の係数Ｓｍｏｄで、その
値が図９（Ｂ）から「１.３０」であることを示す。
【００７７】
また、他の例として、前記図９（Ｂ）のＤＣ消去パワー係数表を用いず、以下に示すよ
うな演算式を予め定めておき、前記係数のアドレス内のコードをその演算式に代入して係
数Ｓｇを算出してもよい。
【００７８】
Ｓｇ＝０.９９＋（係数Ｓｇのコード×０.０１）
（ただし、係数Ｓｇのコードは１６進数で０１ｈから３Ｆｈまでとする。）
具体的には、係数Ｓｇのコードの設定範囲を上記演算式に代入すると、係数Ｓｇは１.
０〜１.６２の値として求めることができる。
【００７９】
このＤＣ消去パワー係数を予め光ディスク１に持たせる構造とすることにより、本発明
に適用されるＯＰＣ処理を光ディスクからの情報で実行できるようになり、未知の光ディスクなどに対しても最適な書き込みパワーの設定が行えるようになる。なお、本実施の形態も光ディスク記録再生装置の基本的な構成、及びその記録処理の手順は、図１〜図３、図７に示した第１の実施の形態の構成と同じである。
【００８０】
（第４の実施の形態）
本実施の形態は、最適な消去パワーを検出するためにより精度の高い検出を行うための
手段を備えた例である。この手段はＰＣＡ領域を予めＤＣ消去パワーで初期化させてから
最適な消去パワーを検出する処理を行うものである。既にγ値に基づいて最適な記録がで
きることを上記の実施の形態で説明したが、特にその他の変調度やβ値のパラメータで検
出性能を向上することができる。なお、光ディスク記録再生装置の基本的な構成、及びそ
の記録処理の手順は、図１〜図３、図７に示した構成と同じであるので省略し、第４の実
施の形態特有の構成について説明する。
【００８１】
図１０はアシンメトリ用β値と初期化パワーとの一例の特性図を示す。図１０はテスト
記録する１層目記録層のＰＣＡ領域を予めＤＣ消去パワーのパワーを可変して初期化処理
した後に、アシンメトリ用β値の繰返し記録特性を測定した場合を示す。図１０において
、初期化処理するときのＤＣ消去パワー（初期化パワー）が０ｍＷ時は初期化を行わずに
アシンメトリ用β値を測定した場合に相当する。このような場合、繰り返し記録の特性（
初回記録、繰返し記録１回目、繰返し記録１０回目）は一致せず大きくずれていることが
わかる。このように繰り返し記録で変化が大きいとこのままではアシンメトリ用β値を指
標に最適な記録パワーを検出することは難しくなる。
【００８２】
図１０に示すように、初期化パワーが８ｍＷを越えると、繰返し記録特性が徐々に一致
してくることが分かる。よって、この光ディスクの場合、最適な消去パワー（Ｐｅ）が５
.８５ｍＷであったことから、初期化処理のＤＣ消去パワーとしては、最適な消去パワー
（Ｐｅ）よりもやや高い９ｍＷから１４.５ｍＷ程度（図１０のＷ）あれば、繰返し記録
の依存性の少ない状態を得られることが分かる。目安として最適な消去パワーの１.５倍
から２．５倍のパワーがあればよい（以下この処理を高パワー初期化処理という）。そし
て、ＯＰＣを行う１層目記録層のＰＣＡ領域を最適な消去パワーの約２倍の１３ｍＷで１
回だけ高パワー初期化処理した後に、変調度、γ値、アシンメトリ用β値について特性の
確認を行った結果を示す。
【００８３】
図１１（Ａ）と図１１（Ｂ）はＤＣ消去パワーとβ値の特性図を示し、図１１（Ａ）は
初期化なしで図１１（Ｂ）は初期化ありの特性を示している。図１２（Ａ）と図１２（Ｂ
）はＤＣ消去パワーと変調度の特性図を示し、図１２（Ａ）は初期化なしで図１２（Ｂ）
は初期化ありの特性を示している。図１３（Ａ）と図１３（Ｂ）はＤＣ消去パワーとγ値
の特性図を示し、図１３（Ａ）は初期化なしで図１３（Ｂ）は初期化ありの特性をそれぞ
れ示している。
【００８４】
図１１〜図１３では、それぞれ１層目記録層のＰＣＡ領域内の領域において、１回テス
ト記録信号を記録した個所をＤＣ消去パワーを可変してＤＣ消去した場合（イニシャル）
、テスト記録信号を計２回繰り返して記録した個所をＤＣ消去パワーを可変してＤＣ消去
した場合（ＤＯＷ１）、テスト記録信号を計１１回繰り返して記録した個所をＤＣ消去パ
ワーを可変してＤＣ消去した場合（ＤＯＷ１０）のそれぞれについて、β値又は変調度又
はγ値を測定した実験結果を示している。
【００８５】
初期化した方の図１１（Ｂ）と図１２（Ｂ）に示す特性は、基準値周辺で繰返し記録に
よるバラツキが少なくなり、初期化しない場合に比べて検出性能が向上していることが分
かる。また、初期化した方の図１３（Ｂ）は検出性能が良好でバラツキが元々少ないので
、大きな性能向上は見られないが、ピークの振幅が一致していることから安定した検出特
性になっているものと思われる。このように、高パワー初期化処理をＯＰＣの前に１回行
っておけば、光ディスクの記録層の特性が均一化される。なお、図１１（Ｂ）、図１２（
Ｂ）、図１３（Ｂ）の特性は、２層のＤＶＤ−ＲＷディスクを用い、２倍速のディスク回
転速度で高パワー初期化処理した場合を示す。
【００８６】
図１４は本発明に適用される光ディスク記録再生方法の第４の実施の形態のフローチャートを示す。図１４は、必要な場合には図７のステップ２０１の直前に適宜追加処理することができるサブルーチンに相当し、上記の高パワー初期化処理を行うかどうかを、記録管理エリアの判別用フラグで管理するようにした動作例を示したものである。
【００８７】
図１４において、ステップ５００でサブルーチンＡの処理が開始されると、まず、光デ
ィスクの記録管理エリア（例えば、図１５のＲＭＡ領域３１２に相当）から読み出したフ
ラグ情報から光ディスクのＰＣＡ領域（図１５のＰＣＡ領域３１１に相当）に高パワー初
期化処理がされているかを確認する（ステップ５０１）。ＰＣＡ領域の高パワー初期化処
理がされている場合（Ｙ）は、ＰＣＡ領域を使い果たしたかどうかが判断され（ステップ
５０６）、ＰＣＡ領域を使い果たしている場合（Ｙ）は、ＰＣＡ領域すべてを推奨の消去
パワーの値（＝ε・Ｐｉｎｄ）または最適な消去パワー（Ｐｅ）のＤＣ消去パワーで初期
化を行い（ステップ５０７）、サブルーチンＡを終了する（ステップ５０８）。
【００８８】
一方、ＰＣＡ領域の高パワー初期化処理がされていない場合（ステップ５０１のＮ）、
ＰＣＡ領域が最初から使用される状態であるか、又はＰＣＡ領域が使い果たしかどうかを
判別し（ステップ５０２）、ＰＣＡ領域が最初から使用される状態であるならば（Ｙ）、
算出した推奨の消去パワーの値（＝ε・Ｐｉｎｄ）または最適な消去パワー（Ｐｅ）の約
２倍のＤＣ消去パワーでＰＣＡ領域の初期化を行う（ステップ５０３）。そして、高パワ
ー初期化処理済みとして記録管理エリア（ＲＭＡ領域）にフラグを記録し（ステップ５０
５）、サブルーチンＡを終了する（ステップ５０８）。この場合、ＰＣＡ領域すべてが高
パワー初期化処理される。
【００８９】
一方、ステップ５０２でＰＣＡ領域を最初から使用する状態でなく、ＰＣＡ領域が使い
果たされていないと判定された場合（Ｎ）、つまり、ＰＣＡ領域を高パワー初期化処理せ
ずに使用されている場合、使用するＯＰＣ領域のみを推奨の消去パワーの値（＝ε・Ｐｉ
ｎｄ）又は最適な消去パワー（Ｐｅ）の約２倍のＤＣ消去パワーでＰＣＡ領域の高パワー
初期化処理を行い（ステップ５０４）、サブルーチンＡを終了する（ステップ５０８）。
この場合も、すべてＰＣＡ領域が使い果たされたときに、ステップ５０２を経由してステ
ップ５０３でＰＣＡ領域全体を高パワー初期化処理とすることができる。
【００９０】
なお、本発明は以上の実施の形態に限定されるものではなく、例えば、光ディスク１は
図１５に示した断面構造のような片面２層光ディスクに限定されるものではなく、３層以
上、レーザービームの光軸方向に積層された多層光ディスクの１層目記録層の記録再生に
適用することができる。また、図１の構成、図７のフローチャート、あるいは図１４のフローチャートをコンピュータプログラムによりコンピュータに実現させることも可能である。この場合、コンピュータプログラムは、記録されている記録媒体からコンピュータに取り込まれてもよいし、ネットワークを介して配信されてコンピュータに取り込まれてもよい。更に、装置内にファームウェアとして元々組み込まれていてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００９１】
【図１】本発明の光ディスクを用いる光ディスク記録再生装置の一実施の形態のブロック図である。
【図２】相変化型光ディスクのＤＣ消去用レーザ光パワーの段階的なパワー変化を示す波形図である。
【図３】図１中の記録状態検出手段及び制御回路の一部の一実施の形態のブロック図である。
【図４】図１中の記録状態検出手段のアシンメトリ用β値を検出する説明図、記録パワー対β値特性、消去パワー対β値特性及びＤＣ消去パワー対β値特性を示す図である。
【図５】図１中の記録状態検出手段の変調度ｍを検出する説明図、記録パワー対変調度特性、消去パワー対変調度特性及びＤＣ消去パワー対変調度特性を示す図である。
【図６】図１中の記録状態検出手段のγ値を検出する説明図、記録パワー対γ値特性、消去パワー対γ値特性及びＤＣ消去パワー対γ値特性を示す図である。
【図７】本発明の光ディスクに対するテスト記録モード時の制御動作説明用フローチャートである。
【図８】テスト記録信号に最長マークを用いた場合のＤＣ消去パワーとγ値の特性を示す特性図である。
【図９】本発明の光ディスクに格納されるＤＣ消去パワーの各種係数情報のアドレス表とＤＣ消去パワー係数表の一例を示す図である。
【図１０】アシンメトリ用β値と初期化パワーとの一例の特性図である。
【図１１】初期化なしのＤＣ消去パワー対β値特性図と初期化ありのＤＣ消去パワー対β値特性図である。
【図１２】初期化なしのＤＣ消去パワー対変調度特性図と初期化ありのＤＣ消去パワー対変調度特性図である。
【図１３】初期化なしのＤＣ消去パワー対γ値特性図と初期化ありのＤＣ消去パワー対γ値特性図である。
【図１４】本発明の光ディスクに適用される光ディスク記録再生方法の第４の実施の形態のフローチャートである。
【図１５】２層ＤＶＤ−Ｒディスク、２層ＤＶＤ−ＲＷディスクの一例の概略構造断面を示す図である。
【図１６】相変化型光ディスクの記録用レーザ光パワーの変化を示す波形図および形成されるピットを示す図である。
【図１７】繰り返し記録回数に対する再生ジッタの変化を示す図である。
【図１８】記録パワー及び消去パワーと再生ジッタの特性を示す図である。
【図１９】記録パワーを一定にしたときの記録パワーに対する消去パワーの比率εとジッタとの特性を示す図である。
【図２０】係数Ｓｇのバラツキの測定結果を示す図である。
【符号の説明】
【００９２】
１  複数の記録層を持つ書き換え可能型光ディスク
２  光ピックアップ
３  信号処理回路
４  記録状態検出手段
５  ＤＣ消去手段
６  記録手段
１０  内部バス
１１  制御回路
１２  演算手段
１３  判定手段
１４  装置メモリ
１００  高域フィルタ（ＨＰＦ）
１０１、１０３  ピークレベル検出回路
１０２  ボトムレベル検出回路
１０４、１０５、１０６  低域フィルタ（ＬＰＦ）
１０７、１０８、１０９  演算手段
１１０、１１１  比較判定回路
１１２  γ値の最小ピーク点判定回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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