(57)【要約】【課題】  従来のレーザー制御方法を用いた光ディスク装置では、レーザーの出力が目標とする値になるまでに時間を要し、これを待つ間は記録動作または再生動作に移行できないがために光ディスク装置の応答性が低下するという問題があった。この問題を解消することが本発明の課題である。【解決手段】  レーザーの出力を短時間のうちに目標とする値に収束させるレーザー制御方法を提供し、光ディスク装置の応答性を向上させる。また、レーザーの出力が目標値に収束すまでの待ち時間そのものの発生を減らし、光ディスク装置の応答性を向上させる。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザーの光線出力手段と減衰器を有し、減衰器を通してレーザー光線をディスクに照射し、且つ減衰器を通過したレーザー光線の強度が目標とする強度となるようレーザー供給電流を制御するＡＰＣ手段を有する光ディスク装置であって、減衰器の減衰率を切り替える処理に連動して、ＡＰＣ手段の応答速度を一時的に高めることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
レーザーの光線出力手段と減衰器を有し、減衰器を通してレーザー光線をディスクに照射する光ディスク装置であって、再生動作において再生エラーが発生し場合に減衰器によりレーザー光線を減衰することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項２に記載の光ディスク装置であって、再生動作において訂正不能のエラーが発生した場合に減衰器によってレーザー光線を減衰し、その後、記録動作を実行する場合に減衰器によるレーザー光線の減衰をとりやめることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
レーザーの光線出力手段と減衰器を有し、減衰器を通してレーザー光線をディスクに照射し、且つ減衰器を通過したレーザー光線の強度が目標とする強度となるようレーザー供給電流を制御するＡＰＣ手段を有する光ディスク装置におけるレーザー制御方法であって、減衰器の減衰率を切り替えることに連動して、ＡＰＣ手段の応答速度を一時的に高めることを特徴とするレーザー制御方法。
【請求項５】
レーザーの光線出力手段と減衰器を有し、減衰器を通してレーザー光線をディスクに照射する光ディスク装置におけるレーザー制御方法であって、再生動作、記録動作にかかわらず通常は減衰器によってレーザー光線を減衰させないことが基本設定であることを特徴とするレーザー制御方法。
【請求項６】
請求項５に記載のレーザー制御方法であって、再生動作において訂正不能のエラーが発生した場合に減衰器によってレーザー光線を減衰し、その後、記録動作を実行する場合に減衰器によるレーザー光線の減衰をとりやめることを特徴とするレーザー制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置に関する技術である。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置では、レーザー出力が目標とする値となるようレーザーの制御が行われる。その一例として下記特許文献が挙げられる。
【０００３】
【特許文献１】特開平９−２４３９４９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来のレーザー制御方法を用いた光ディスク装置では、レーザーの出力が目標とする値になるまでに時間を要し、これを待つ間は記録動作または再生動作に移行できないがために光ディスク装置の応答性が低下するという問題があった。この問題を解消することが本発明の課題である。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
レーザーの出力を短時間のうちに目標とする値に収束させるレーザー制御方法を提供し、光ディスク装置の応答性を向上させる。また、レーザーの出力が目標値に収束すまでの待ち時間そのものの発生を減らし、光ディスク装置の応答性を向上させる。
【発明の効果】
【０００６】
レーザーの出力が目標とする値になるまでに時間が短縮され、光ディスク装置の応答性が向上する。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
以下に本発明の実施例を説明する。
【０００８】
まず、図１及び図２を用いて本発明が対象とする光ディスク装置におけるレーザー制御回路、その構成及びその動作を説明し、その後、さらに図３を用いて、従来の光ディスク装置における問題点が、本発明によって解消されることを示す。
【０００９】
図１は、光ディスク装置におけるレーザー制御回路である。この回路は、レーザーが発する光線の強度を監視し、その強度が目標とする値になるようレーザーへの供給電流を制御するものである。
【００１０】
図１において１０１は、レーザー光線を発するレーザーである。同図１０２は、レーザー１０１に電流を供給し駆動するレーザードライバである。同図１０３は、レーザーが発する光線を減衰させる減衰器である。同図１０４は、減衰器１０３を透過してきたディスクに照射すべき光線の強度を監視するために、光線の一部を分離する光分離器である。同図１０５は、光分離器１０４からの光線の強度に応じた電圧を発生するフロントモニタである。同図１０６は、レーザー制御回路の制御目標値を格納するレジスタである。同図１０７は、レジスタ１０６から与えられる制御目標値と、フロントモニタが発するレーザーの出力に対応した電圧とを比較し、その差がなくなるようレーザードライバ１０２を介してレーザーへの供給電流を制御するＡＰＣ手段である。同図１０８は、レーザードライバ１０２及びＡＰＣ手段１０７が所定の動作をする為の各種設定や、レジスタ１０６にＡＰＣ手段１０７の制御目標値を与え、レーザー制御回路全体を制御するコントローラである。  
次に図２を用いて、レーザー制御回路における減衰器の切り替え処理について説明する。図２はレーザーへの供給電流を横軸、減衰器を通過した後のディスク膜面のレーザー光線強度を縦軸としたグラフである。同グラフには減衰器の減衰率が異なる２０１および２０２の特性曲線を示してある。２０１はレーザーから出力された光線が減衰器において減衰されることなく全て通過する場合、即ち減衰率０％の場合の特性であり、２０２はレーザーから出力された光線が減衰器において半分の強度に減衰される場合、即ち減衰率５０％の場合の特性である。同グラフの２０３は再生動作時にディスクに照射すべき光線の強度であり、同グラフの２０４は記録動作時にディスクに照射すべき光線の強度である。同グラフ２０５は、特性曲線２０１において強度２０３のレーザー光線を得るためのレーザー供給電流であり、同グラフ２０６は、特性曲線２０２において強度２０３のレーザー光線を得るためのレーザー供給電流である。同グラフ２０７は、特性曲線２０１において強度２０４のレーザー光線を得るためのレーザー供給電流である。
【００１１】
通常、レーザー制御回路では、レーザー供給電流とディスクに照射されるレーザー光線強度との関係が、記録動作を行う場合は特性曲線２０１となるよう、再生動作を行う場合は特性曲線２０２となるよう、減衰器の減衰率を切り替えることが行われる。
【００１２】
再生動作時に、意図的にレーザー光線を減衰させた特性曲線２０２を用いる理由は、レーザー自体が発生するレーザーノイズの影響を小さくし、ディスクに記録されたデータを安定に読みたいがために用いられる。再生動作におけるディスク膜面のレーザー光線の強度は微弱である。例えば、Ｂｌｕ−ｒａｙの書き換えが可能一層ディスクＢＤ−ＲＥでは、約０．３ｍＷである。図２に示す強度２０３のレーザー光線をディスクに照射するようとすると、減衰器の減衰率が０％である特性曲線２０１では、電流２０５を供給すればよい。
【００１３】
しかしながら、レーザー光線の強度が低い場合には、レーザー光線レベルに対するレーザーノイズレベルの比率が高く、ディスクに記録された情報を読み取る際にエラーを引き起こす確率が高くなるという問題がある。そこで、減衰器の減衰率を５０％（図２に示す特性曲線２０２）とし、減衰器の減衰率が０％の場合より大きな電流、２０６をレーザーに供給する。これによってレーザーから発せられる光線のレベルは、レーザーノイズのレベルに対して十分に大きくなりレーザーノイズの影響を受けにくくなる。同時に減衰器によってディスクに照射されるレーザー光線は目標とする強度２０３までに減衰されるため、レーザーノイズの影響を回避した上で、適正な強度のレーザー光線にてディスクに記録されたデータを読み取ることができるようになる。
【００１４】
一方、記録を行う場合は、レーザー光線の強度を図２に示す強度２０４とする必要がある。この時、減衰器の減衰率を５０％としたのでは、非常に大きな電流をレーザーに供給しなければ目標とする光線強度を得られない。そこで、減衰器の減衰率を０％とし、図２に示す電流２０７をレーザーに供給することで目標とするレーザー光線強度２０４を得る。
【００１５】
以上説明したように、レーザー制御回路では、記録動作と再生動作とでは、減衰器の減衰率を切り替えるという操作が行われる。それ故に発生する問題を図３に示し、本発明によってその問題が解消されることを以下説明する。
【００１６】
図３において３０１は、レーザー制御回路おける減衰器の減衰率切り替え信号であり、図１に示したレーザー制御回路においては、コントローラ１０８が減衰器１０３に対して送る信号である。同図３０２は、減衰率切り替え信号３０１によってディスクの照射されるレーザー光線の強度が如何に変化するかを表したものである。同図３０３は、減衰器の減衰率が０％から５０％になったことを表しており、同図３０４は、減衰率が高くなったことによって一時的にディスクに照射される光線の強度が下がって目標とする強度とずれが生じるが、その後、レーザー制御回路によって目標とする光線強度に回復されることを表している。
【００１７】
同図３０５は、減衰器の減衰率が５０％から０％になったことを表しており、同図３０６は、減衰率が低くなったことによって一時的にディスクに照射される光線の強度が上がって目標とする強度とずれが生じるが、その後、レーザー制御回路によって目標とする光線強度に回復されることを表している。このような一連の処理は、図１に示したレーザー制御回路におけるフロントモニタ１０５にてディスクに照射されるレーザー光線の強度変化が検出され、ＡＰＣ手段１０７によってフロントモニタ１０５とレジスタ１０６に格納される制御目標値との差がなくなるようレーザードライバ１０２を介してレーザー１０１への供給電流を制御することで達成される。減衰器の減衰率を切り替えた後、目標とする光線強度に安定するのに時間を要するのはＡＰＣの応答速度によるものであるが、光線強度が回復するまでの間は再生動作および記録動作が正常に行われることが期待できないため、光線強度の安定を待って、再生動作または記録動作を行う必要がある。
【００１８】
そのため、特に再生動作と記録動作を交互に行う動作、例えば、データを記録した後に、記録したデータを読み出し、正常に確認されていることを確認しつつ記録処理を進める  Ｒｅａｄ  ａｆｔｅｒ  ｗｒｉｔｅ  などでは、減衰器の減衰率の切り替えを頻繁に行うこととなるため、それによって生じるレーザー光線の強度が安定するまでの待ち時間が発生し、処理速度が低下する。その結果として光ディスク装置の応答性を下げることとなる。光ディスク装置の応答性を上げるためには、ＡＰＣ手段の応答性を改善する必要がある。具体的には、ＡＰＣ手段のゲインを高めることであるが、常時、ゲインを高めておくと、ノイズなどによる微小な光線強度の変化に対しても追従してしまい、かえって不安定になってしまう。そのため、従来の光ディスク装置では、ＡＰＣ手段のゲインは適度に抑えられた値となっており、減衰器の減衰率を切り替えた際は、レーザー光線の強度が安定するまで待つほかなかった。
【００１９】
このような問題を解消するために、本発明は図３に示すＡＰＣ手段のゲイン切り替え信号３０７を提供する。この信号は、図１に示したレーザー制御回路では、コントローラ１０８からＡＰＣ手段１０７に送られる信号である。信号３０７は、図３に示した減衰器の減衰率切り替え信号３０１に連動し、信号３０１が変化した付近で一時的にレベルが変化し、これに従いＡＰＣ手段ではゲインが高められる。このように、減衰器の減衰率の切り替えに連動してＡＰＣのゲインを高めた場合のディスク膜面におけるレーザー光線の強度変化を図３の３１０に示す。本発明の効果により図３の３１１および３１２のごとく従来に比較して短時間のうちにレーザー光線の強度を安定にすることができる。その結果、従来よりレーザー光線の強度が安定になるまでの待ち時間を短縮でき、光ディスク装置の応答性を高めることができる。
【００２０】
なお、上記説明で用いた減衰器の減衰率は、あくまでも一例であって、これに限定するものではない。本発明が提供する図３に示したＡＰＣ手段のゲイン切り替え信号３０７については、減衰器の減衰率切り替え信号に連動してレベルを一時的に変えるとしたが、レベルを変化させるタイミングや、レベルを変化される期間は、現物にて調整し、適切なものを選択すればよい。減衰器の減衰率切り替えに先んじてＡＰＣ手段のゲインが切り替わるよう、減衰器の減衰率切り替え信号とＡＰＣ手段のゲイン切り替え信号とを連動させてもよい。
【００２１】
また、本発明は、光ディスク装置における減衰器の切り替えによって発生するレーザー光線の強度が安定になるのを待つがために発生する問題を解消するための別の方法を以下提案する。
【００２２】
その方法とは、従来は、記録動作と再生動作とで切り替えていた減衰器の減衰率を、基本的に切り替えることをせず、通常はレーザー光線を減衰せずにおくというものである。これによって、減衰器の減衰率を切り替えることがなくなり、記録動作と再生動作とを交互に行うような処理において、レーザー光線の強度が安定になるまで待たねばならないがために、次の動作に移行できないという問題は基本的に起こらず、この問題によって光ディスク装置の応答性を損なうという問題はなくなる。
【００２３】
ただ、一方、再生動作において、レーザー光線が減衰器において減衰されないことから、レーザーノイズの影響によってディスクに記録されたデータを読み取る際のエラー率が高くなることが予想される。が、ディスクに記録されるデータにはエラー訂正符号が付加されており、データを読み取る際にエラーが発生した場合であってもエラー訂正が可能な程度であれば、データを正常に読み取ることができる。もし、訂正不能なエラーが発生した場合は、減衰器の減衰率を高め、レーザーノイズの影響を低減した上で、再度、再生動作を行えばよい。この様な事態が発生した後、再生動作が続くのであれば、減衰器の減衰率を高めに維持しておき、記録動作を行う時になって初めて減衰器においてレーザー光線が減衰されないようにすればよい。以後も同様に、再生動作において訂正不能なエラーが発生しない限り、記録動作、再生動作にかかわらず減衰器においてレーザー光線が減衰されないようにしておけば、光ディスク装置の応答性が損なわれることはない。
【００２４】
なお、データを記録した直後に、記録したデータを再生し、記録品質を見極める、所謂Ｒｅａｄ  Ａｆｔｅｒ  Ｗｒｉｔｅ処理（以下、略してＲＡＷ処理と呼ぶ）では、レーザー光線が減衰器において減衰されないことに起因してデータの再生エラー率が高くなると、発生したエラーを訂正できても、そのエラー率が所定のレベルに達しないことから記録エラーとなる頻度が高くなる可能性がある。ＲＡＷ処理では、記録処理と再生処理を繰り返すため、再生処理でエラーが発生したからといって、レーザー光線を減衰していたのでは、レーザーの出力が安定するまでの時間待ちが頻繁に発生することとなるため、処理速度が低下してしまう。
【００２５】
このような事態を回避するために、ＲＡＷ処理における再生動作においては、レーザー光線を減衰しない状態で、かつ、再生用レーザー光線の出力を通常の再生時より高める、例えば二倍にして再生を行なうとよい。これによって、レーザーノイズの影響を低減することができ、再生エラー率を低減することができる。再生時のレーザー光線の出力が通常の二倍としたまま、長時間に亘って再生を行なうと、記録されたデータが破壊されることが懸念されるが、ＲＡＷ処理では記録済みのデータを極めて短い時間で再生するため、再生期間に照射される再生用レーザー光線の出力が通常再生時より高くても記録済みのデータが破壊される心配はない。また、ＲＡＷ処理が終了した後は、レーザーを通常の再生用出力に戻す必要があるが、この時、減衰器の減衰率を特に変更する必要はない。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】本発明が対象とする光ディスク装置におけるレーザー制御回路。
【図２】レーザー供給電流とディスクに照射されるレーザー光線強度との関係
【図３】レーザー制御回路における問題点と、本発明の内容と効果
【符号の説明】
【００２７】
１０１…レーザー、  １０２…レーザードライバ、  １０３…減衰器、
１０４…光分離器、  １０５…フロントモニタ、  １０６…レジスタ、
１０７…ＡＰＣ手段、  １０８…コントローラ、  ２０１，２０２…特性曲線、
２０３，２０４…光線の強度、  ２０５，２０６，２０７…レーザー供給電流。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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