(57)【要約】【課題】  テストディスクを作成した後に、作成したテストディスクを評価することができるテストディスク作成システムを提供する。【解決手段】  光ディスク３２にテストデータを書き込んでテストディスクを作成するテストディスク作成システム３０において、テストディスクへ書き込むテストデータを記憶するテストデータ記憶手段５５と、テストディスクへデータを書き込む際の書き込み条件であって、テストディスクへ書き込んだテストデータの書き込み品位が所定の品位となるように予め設定された、複数のパラメータから成るテスト用パラメータセットを記憶するテスト用パラメータセット記憶手段６４と、テスト用パラメータセットを用いてテストデータを書き込んで作成されたテストディスクから書き込んだテストデータを読み出し、読み出したテストデータの書き込み品位を測定する書き込み品位測定手段４６とを具備する。【選択図】        図１
2007207336.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにテストデータを書き込んでテストディスクを作成するテストディスク作成システムにおいて、
テストディスクへ書き込むテストデータを記憶するテストデータ記憶手段と、
テストディスクへデータを書き込む際の書き込み条件であって、テストディスクへ書き込んだテストデータの書き込み品位が所定の品位となるように予め設定された、複数のパラメータから成るテスト用パラメータセットを記憶するテスト用パラメータセット記憶手段と、
前記テスト用パラメータセットを用いて前記テストデータを書き込んで作成されたテストディスクから書き込んだテストデータを読み出し、書き込んだテストデータの書き込み品位を測定する書き込み品位測定手段とを具備することを特徴とするテストディスク作成システム。
【請求項２】
光ディスクへレーザ光を照射するとともに光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップと、光ディスクを回転駆動するスピンドルモータと、光ピックアップで受光した反射光を信号処理する読み出し用信号処理回路と、光ピックアップから書き込むべきデータを信号処理する書き込み用信号処理回路と、光ピックアップおよびスピンドルモータの動作制御を実行するドライバ回路と、前記各構成を制御する制御手段とが設けられた光ディスク装置と、
該光ディスク装置の動作指示を行うコマンドを光ディスク装置へ出力するホストコンピュータとから構成され、
前記光ディスク装置には、前記テスト用パラメータセット記憶手段と、前記書き込み品位測定手段とが設けられ、
前記ホストコンピュータには、前記テストデータ記憶手段が設けられていることを特徴とする請求項１記載のテストディスク作成システム。
【請求項３】
前記光ディスク装置内の前記テスト用パラメータセット記憶手段には、テストディスクとする光ディスクの種類ごとに書き込み条件を変えた複数のテスト用パラメータセットが記憶されており、
前記ホストコンピュータは、
前記光ディスク装置内の前記テスト用パラメータセット記憶手段から複数のテスト用パラメータセットを読み出し、作業者に複数のテスト用パラメータセットのうちからいずれのテスト用パラメータセットを使用するかを選択させ、作業者によって選択されたテスト用パラメータセットを用いてテストディスクを作成するように光ディスク装置を制御するコマンドを出力することを特徴とする請求項２記載のテストディスク作成システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置の製造時や開発時に用いられるテストディスクを作成するシステムに関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＤやＤＶＤ等の光ディスクからデータを読み出したり、データを書き込んだりする光ディスク装置は、通常は複数のメーカから販売されているさまざまな種類の光ディスクに対応可能となっている。
例えば、メーカごとに記録層の材料が異なっていたり、また同じメーカ内でも低速書き込み専用のものや、高速書き込みに対応するものなど、同じ形式の光ディスクでもその種類は多岐にわたっている。
【０００３】
このように、複数種類の光ディスクに対して全て対応できるよう、光ディスク装置の開発時には、複数種類の光ディスクに対してのデータの読み書きを試験する必要がある。
試験には、各光ディスクを製造するメーカから提供されるテストディスクを用いることが一般的である。このテストディスクは、予め傷をつけたり（例えば、特許文献1参照）、所定の書き込み品位となるように複数の検査項目を設けたりしておき（例えば特許文献２参照）、光ディスク装置が所望の書き込み品位を得られるか否かを検査するために用いられている。
【０００４】
ただし、テストディスクは非常に高価であり、また高価であるために多数を購入することもできず、検査時には少数のテストディスクを使いまわしたりするため、テストディスクの磨耗、劣化等が進みやすい。
このため、テストディスクを容易に作成できるテストディスク作成装置（例えば、特許文献３参照）や、テストディスクが劣化してきたかどうかの性能を評価するテストディスク評価装置（例えば、特許文献４参照）等が開発されている。
【０００５】
【特許文献１】特開２００４−１３９５２号公報
【特許文献２】特開２０００−３０６２４４号公報
【特許文献３】特開２００３−１９６８３５号公報
【特許文献４】特開２００５−３５３１８２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
テストディスクを容易に得るために特許文献３のような装置が開示されているが、このような装置によって容易に得られたテストディスクが所望の書き込み品位を有しているかどうかの判断ができないという課題があった。
なお、特許文献４ではテストディスクの磨耗等の劣化状態を評価する装置が開示されてはいるが、作成したテストディスクを使用前に評価するものではなく、作成したテストディスクをすぐに評価したいという要望があった。
【０００７】
そこで、本発明の目的は、上記課題を解決すべくなされ、その目的とするところは、テストディスクを作成した後に、作成したテストディスクを評価することができるテストディスク作成システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は上記目的を達成すべく、以下の構成を備える。
すなわち、本発明にかかるテストディスク作成システムによれば、光ディスクにテストデータを書き込んでテストディスクを作成するテストディスク作成システムにおいて、テストディスクへ書き込むテストデータを記憶するテストデータ記憶手段と、テストディスクへデータを書き込む際の書き込み条件であって、テストディスクへ書き込んだテストデータの書き込み品位が所定の品位となるように予め設定された、複数のパラメータから成るテスト用パラメータセットを記憶するテスト用パラメータセット記憶手段と、前記テスト用パラメータセットを用いて前記テストデータを書き込んで作成されたテストディスクから書き込んだテストデータを読み出し、書き込んだテストデータの書き込み品位を測定する書き込み品位測定手段とを具備することを特徴としている。
【０００９】
この構成を採用することによって、作成したテストディスクをそのまま評価することができるのでテストディスク作成が容易であり、光ディスク装置の開発時のコストを下げることができる。
なお、書き込み品位とは、エラーレート、ジッターまたは信号振幅等を指す。エラーレートについて説明すると、光ディスクではデータに誤り訂正符号を付加することによって、誤って読み出されたデータに訂正を加えることができるように設けられており、誤り訂正符号としては、ＣＩＲＣ（Cross Interleaved Reed-Solomon Code）と呼ばれる符号が採用されている。このＣＩＲＣは、２段のＲｅｅｄ−Ｓｏｌｏｍｏｎ符号をインターリーブ結合させたものである。２段のＲｅｅｄ−Ｓｏｌｏｍｏｎ符号はそれぞれＣ１符号およびＣ２符号と称されており、主としてＣ１符号はランダムエラーの訂正をし、Ｃ２符号はバーストエラーの訂正をするように設けられている。エラーレートは、Ｃ１符号の１秒間当たりの訂正回数をいう。この回数が大きいほど、書き込み品位が悪いという判断ができる。
ジッターとは、再生信号の時間的な揺らぎをいい、揺らぎの幅であるジッター値が大きくなると書き込み品位が悪いと言う判断ができる。
なお、パラメータとはストラテジ、デビエーション等を指す。
【００１０】
また、光ディスクへレーザ光を照射するとともに光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップと、光ディスクを回転駆動するスピンドルモータと、光ピックアップで受光した反射光を信号処理する読み出し用信号処理回路と、光ピックアップから書き込むべきデータを信号処理する書き込み用信号処理回路と、光ピックアップおよびスピンドルモータの動作制御を実行するドライバ回路と、前記各構成を制御する制御手段とが設けられた光ディスク装置と、該光ディスク装置の動作指示を行うコマンドを光ディスク装置へ出力するホストコンピュータとから構成され、前記光ディスク装置には、前記テスト用パラメータセット記憶手段と、前記書き込み品位測定手段とが設けられ、前記ホストコンピュータには、前記テストデータ記憶手段が設けられていることを特徴としている。
この構成によれば、通常のデータ書き込み可能な光ディスク装置内にテスト用パラメータセットと、書き込み品位測定手段とを搭載しておけば、通常のデータ書き込み可能な光ディスク装置をテストディスク作成に用いることができ、コストを上げずにテストディスク作成に資することができる。
【００１１】
さらに、前記光ディスク装置内の前記テスト用パラメータセット記憶手段には、テストディスクとする光ディスクの種類ごとに書き込み条件を変えた複数のテスト用パラメータセットが記憶されており、前記ホストコンピュータは、前記光ディスク装置内の前記テスト用パラメータセット記憶手段から複数のテスト用パラメータセットを読み出し、作業者に複数のテスト用パラメータセットのうちからいずれのテスト用パラメータセットを使用するかを選択させ、作業者によって選択されたテスト用パラメータセットを用いてテストディスクを作成するように光ディスク装置を制御するコマンドを出力することを特徴としてもよい。
この構成によれば、さまざまな種類の光ディスクに対応するテストディスクを容易に作成することができる。
【発明の効果】
【００１２】
本発明にかかるテストディスク作成システムによれば、作成したテストディスクをそのまま評価することができるのでテストディスク作成が容易となり、テストディスクの購入費用やテストディスクの評価等の手間を省き、光ディスク装置の開発時のコストを下げることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明の好適な実施の形態を添付図面に基づいて詳細に説明する。
（第１の実施形態）
まず、図１に基づいて、テストディスク作成システムの第１の実施形態における全体構成の概略を説明する。
テストディスク作成システム３０は、光ディスクにテストデータを所定の書き込み品位となるようにテスト用パラメータセットを用いてテストデータを書き込んでテストディスクを作成し、作成されたテストディスクが所定の書き込み品位となっているかどうかを検証するためにテストディスクの書き込み品位を測定する機能を有するものである。
【００１４】
なお、テストディスクに用いる光ディスクとしては、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等を用いることができる。本システム３０では、いずれの種類の光ディスクであっても対応可能となるように各構成が互換性があるように設けている。
【００１５】
テストディスク作成システム３０は、光ディスク３２を回転駆動するスピンドルモータ３４と、光ディスク３２へレーザ光を照射するレーザダイオード（図示せず）と光ディスク３２からの反射光を受光するフォトダイオード（図示せず）とを有する光ピックアップ３６とを具備している。フォトダイオードで受光した光強度信号は読み出し用の信号処理回路４４のＲＦアンプ３８に入力され、２値化されたＲＦ信号を得ることができる。
【００１６】
ＲＦアンプ３８によって得られたＲＦ信号は、信号処理回路４４内でデコードや復調がなされる。光ディスク３２がＣＤの場合には、デコード回路４０およびＥＦＭ復調回路４２に入力され、ＣＩＲＣ等の誤り訂正およびＥＦＭ復調がされ、再生信号が得られる。
ここでは、ＲＦアンプ３８、デコード回路４０およびＥＦＭ復調回路４２を含めて読み出し用の信号処理回路４４を構成しているものとする。
【００１７】
信号処理回路４４によって得られた再生信号は、書き込み品位測定機能４６を有するＣＰＵ４８に入力される。ＣＰＵ４８は、他の構成要素を制御して、テストディスク作成システムの動作を統括制御する。
また、ＣＰＵ４８の書き込み品位測定機能４６は、入力されてきた再生信号の品位を測定するようにＣＰＵ４８が動作するものであり、ＣＰＵ４８が予めメモリ５０内に記憶されている書き込み品位測定プログラムを読み出して実行することによって実現される。
【００１８】
書き込み品位とは、再生信号の時間的な揺らぎであるジッター、１秒間に行われたエラー訂正の回数をいうエラーレート、または再生信号の振幅値に基づいて得られる、書き込み精度の指標となるものである。
本実施形態では、書き込み品位としてエラーレートのみを参考にしており、エラーの検出はデコード回路４０によって行われ、これをカウントするのはＣＰＵ４８によって行われる。
すなわち、デコード回路４０にＲＦアンプ３８からのＲＦ信号が入力されると、デコード回路４０はＣＩＲＣにおけるＣ１符号の訂正をし、ＣＰＵ４８がデコード回路４０におけるＣ１符合の１秒間当たりの訂正回数をカウントし、エラーレートを算出する。
【００１９】
なお、光ピックアップ３６内のフォトダイオードは、その受光面が複数面に分割されており、各受光面で受光した光強度の和や差をとることによってＲＦアンプ３８において、トラッキングエラー信号や、フォーカスエラー信号が生成される。
トラッキングエラー信号およびフォーカスエラー信号は、サーボプロセッサ５２に入力される。サーボプロセッサ５２は、光ピックアップ３６の対物レンズのフォーカスサーボおよびトラッキングサーボ、並びに光ピックアップ３６の送りモータ（図示せず）の送りサーボを制御する各制御信号を生成する。
【００２０】
サーボプロセッサ５２で生成された各制御信号は、ドライバ回路５４に入力される。ドライバ回路５４では、各制御信号に基づいて光ピックアップ３６の送りモータ（図示せず）、トラッキングコイル（図示せず）、フォーカスコイル（図示せず）それぞれを動作させる。
【００２１】
なお、テストディスクを作成する際に光ディスク３２へ書き込むデータは、テストデータとして、ＲＯＭなどから構成されるテストデータ記憶装置５５に記憶されている。テストデータとしては、任意の音楽や、任意の周波数の正弦波等を用いることが多いが、特にどのようなものであってもよい。
【００２２】
テストデータ記憶装置５５から読み出したテストデータは、データ書き込み時の信号処理回路５６に入力される。信号処理回路５６は、光ディスク３２に書き込むデータをエンコード、変調する回路である。光ディスク３２がＣＤの場合には、テストデータをＥＦＭ変調するＥＦＭ変調回路６０や、ＥＦＭ変調されたデータをエンコードするエンコード回路５８が設けられている。
【００２３】
信号処理回路５６で処理されたデータは、レーザドライバ６２に入力される。レーザドライバ６２は、光ピックアップ３６内のレーザダイオードのレーザ光強度をレーザダイオードに流す電流量の調整で制御することができる。
【００２４】
また、レーザドライバ６２には、データを書き込む際の書き込み条件であって、光ディスク３２へ書き込んだテストデータの書き込み品位が所定の品位となるように予め設定された、複数のパラメータから成るテスト用パラメータセットが記憶されている、パラメータセット記憶装置６４が接続されている。
【００２５】
ここで、パラメータとはデータを書き込む際の書き込み条件であって、ストラテジ、デビエーション等のことをいう。これらのパラメータが複数で１セットとなっており１回のデータ書き込みに用いる場合には１つのパラメータセットが用いられる。
【００２６】
通常の光ディスク装置では、パラメータセットとして書き込み品位が最良となるようなパラメータセットが光ディスクの種類ごとにそれぞれ予め記憶されている。
しかし、テストディスクは書き込み品位が最良ではなく、ある程度書き込み品位が悪いものであって、どの程度まで書き込み品位が悪くてもデータ読み出し可能かどうかを開発時に検証するために用いられることが多いため、テスト用パラメータセットは、書き込み品位があまり良くないものとなるような値に設定されている。ただし、まったくデータ読み出しができないほどの書き込み品位が悪いものであれば検証もできないので、予め実験を行って所定の書き込み品位となるようなパラメータセットを光ディスクの種類ごとに求めておき、パラメータセット記憶装置６４に記憶させておく。
【００２７】
ここでパラメータセット記憶装置６４内に記憶されているパラメータセットを図２に基づいて説明する。
例えば、Ａ社およびＢ社の光ディスクの書き込み速度が異なる各光ディスクに対し、それぞれに最良のエラーレートとなるパラメータセットのほかに、エラーレートａ、エラーレートｂ、エラーレートｃの３つの異なる書き込み品位となるパラメータセットが記憶されている。最良のパラメータセットが実際のデータを光ディスク３２に書き込む際に用いるものであり、最良のパラメータセット以外のエラーレートａ、エラーレートｂ、エラーレートｃがテストディスクを作成する際のテスト用パラメータセットとなる。
このように、書き込み品位の異なるパラメータセットを予め記憶させておくことにより、どの程度の書き込み品位のテストディスクとするか選択ができる。
【００２８】
レーザドライバ６２は、信号処理回路５６によって処理されたテストデータを、パラメータセット記憶装置６４に記憶されているテスト用パラメータセットに基づいて光ディスク３２に書き込むように動作する。
なお、装着されている光ディスク３２の種類に適応したテスト用パラメータセットを用いる必要があるので、ＣＰＵ４８はパラメータセット記憶装置６４に記憶されている複数のテスト用パラメータセットから、装着されている光ディスク３２の種類に対応したテスト用パラメータセットを選択し、この選択したテスト用パラメータセットに基づいてテストデータを書き込むようにレーザドライバ６２を制御する。
【００２９】
なお、書き込み品位測定手段４６が測定した結果は、液晶画面その他の表示装置（図示せず）を設け、表示させるようにするとよい。
表示装置には、エラーレートの値等の書き込み品位を直接表示してテストディスクが所定の書き込み品位で作成できたか否かをユーザに判断させるようにしても良いし、書き込み品位測定機能が測定した書き込み品位とパラメータセット記憶装置６４に記憶されている対応する書き込み品位とを比較してテストディスクの作成が成功したか否かを表示装置に表示させてもよい。
【００３０】
（第２の実施形態）
テストディスク作成システムとしては、図３に示す通常の光ディスク装置７０と、図４に示すように光ディスク装置７０に接続されるホストコンピュータ８０とによって構成することができる。なお、特に上述したテストディスク作成システム３０内の構成と光ディスク装置７０内の構成とで同一の構成について同一の符号を付す場合もある。
【００３１】
光ディスク装置７０は、光ディスク３２を回転駆動するスピンドルモータ３４と、光ディスク３２へレーザ光を照射するレーザダイオード（図示せず）と光ディスク３２からの反射光を受光するフォトダイオード（図示せず）とを有する光ピックアップ３６とを具備している。フォトダイオードで受光した光強度信号は読み出し用の信号処理回路４４のＲＦアンプ３８に入力され、２値化されたＲＦ信号を得ることができる。
【００３２】
ＲＦアンプ３８によって得られたＲＦ信号は、信号処理回路４４内でデコードや復調がなされる。光ディスク３２がＣＤの場合には、デコード回路４０およびＥＦＭ復調回路４２に入力され、ＣＩＲＣ等の誤り訂正およびＥＦＭ復調がされ、再生信号が得られる。
ここでは、ＲＦアンプ３８、デコード回路４０およびＥＦＭ復調回路４２を含めて読み出し用の信号処理回路４４を構成しているものとする。
【００３３】
光ディスク装置７０の動作を制御する制御部としてＣＰＵ７４が設けられている。
ＣＰＵ７４は、ホストコンピュータから送信されてきたコマンドを、通信部７２から得ることによってコマンドを解析し、コマンドに記述された内容を実行するように各構成部材を制御する。
ＣＰＵ７４は、ＲＯＭやＲＡＭ等からなるメモリ７６内に予め記憶されている制御プログラムを読み込むことにより、この制御プログラムにしたがって動作する。
【００３４】
また、信号処理回路４４によって得られた再生信号は、書き込み品位測定機能４６を有するＣＰＵ７４に入力される。ＣＰＵ７４は、他の構成要素を制御して、光ディスク装置７０の動作を統括制御する。
また、ＣＰＵ７４の書き込み品位測定機能４６は、入力されてきた再生信号の品位を測定するようにＣＰＵ７４が動作するものであり、ＣＰＵ７４が予めメモリ７６内に記憶されている書き込み品位測定プログラムを読み出して実行することによって実現される。
【００３５】
書き込み品位とは、再生信号の時間的なばらつきをいうジッター、１秒間に行われたエラー訂正の回数をいうエラーレート、または再生信号の振幅値に基づいて得られる、書き込み精度の指標となるものである。
本実施形態では、書き込み品位としてエラーレートのみを参考にしており、エラーの検出はデコード回路４０によって行われ、これをカウントするのはＣＰＵ７４によって行われる。
すなわち、デコード回路４０にＲＦアンプ３８からのＲＦ信号が入力されると、デコード回路４０はＣＩＲＣにおけるＣ１符号の訂正をし、ＣＰＵ７４がデコード回路４０におけるＣ１符合の１秒間当たりの訂正回数をカウントし、エラーレートを算出する。
【００３６】
光ピックアップ３６内のフォトダイオードは、その受光面が複数面に分割されており、各受光面で受光した光強度の和や差をとることによってＲＦアンプ３８において、トラッキングエラー信号や、フォーカスエラー信号が生成される。
トラッキングエラー信号およびフォーカスエラー信号は、サーボプロセッサ５２に入力される。サーボプロセッサ５２は、光ピックアップ３６の対物レンズのフォーカスサーボおよびトラッキングサーボ、並びに光ピックアップ３６の送りモータ（図示せず）の送りサーボを制御する各制御信号を生成する。
【００３７】
サーボプロセッサ５２で生成された各制御信号は、ドライバ回路５４に入力される。ドライバ回路５４では、各制御信号に基づいて光ピックアップ３６の送りモータ、トラッキングコイル、フォーカスコイルを動作させる。
【００３８】
光ディスク装置７０は、ホストコンピュータと接続されて通信可能な通信部７２が設けられており、所定の規格によってホストコンピュータとデータの授受を実行する。
信号処理回路４４で得られた再生データは、通信部７２を介してホストコンピュータに送信される。
【００３９】
なお、光ディスク３２に書き込むべきデータは、通信部７２を介してホストコンピュータから光ディスク装置７０に入力される。通信部７２から送られてきたデータは、データ書き込み時の信号処理回路５６に入力される。信号処理回路５６は、データをＥＦＭ変調するＥＦＭ変調回路６０や、ＥＦＭ変調されたデータをエンコードするエンコード回路５８が設けられている。
【００４０】
信号処理回路５６で処理されたデータは、レーザドライバ６２に入力される。レーザドライバ６２は、光ピックアップ３６内のレーザダイオードのレーザ光強度をレーザダイオードに流す電流量の調整で制御することができる。
【００４１】
レーザドライバ６２には、データを書き込む際の書き込み条件であって、光ディスク３２へ書き込んだテストデータの書き込み品位が所定の品位となるように予め設定された、複数のパラメータから成るテスト用パラメータセットが記憶されている、パラメータセット記憶装置６４が接続されている。
【００４２】
ここで、パラメータとはデータを書き込む際の書き込み条件であって、ストラテジ、エラーレート等のことをいい、上述した実施形態と同一の内容である。
【００４３】
通常の光ディスク装置では、パラメータセットとして書き込み品位が最良となるようなパラメータセットが光ディスクの種類ごとにそれぞれ予め記憶されている。
しかし、本実施形態における光ディスク装置７０では、通常のデータを書き込み可能に設けているだけでなく、テストデータを所定の書き込み品位となるように書き込んだテストディスクを作成可能なものであるので、テスト用パラメータセットが記憶されている。
【００４４】
テストディスクは書き込み品位が最良ではなく、ある程度書き込み品位が悪いものであって、どの程度まで書き込み品位が悪くてもデータ読み出し可能かどうかを開発時に検証するために用いられることが多いため、テスト用パラメータセットは、書き込み品位があまり良くないものとなるような値に設定されている。ただし、まったくデータ読み出しができないほどの書き込み品位が悪いものであれば検証もできないので、予め実験を行って所定の書き込み品位となるようなパラメータセットを光ディスクの種類ごとに求めておき、パラメータセット記憶装置６４に記憶させておく。
パラメータセット記憶装置６４内に記憶されている具体的なパラメータセットについては図２に示したものと同様であり、ここでは説明を省略する。
【００４５】
本実施形態では、テストディスクを作成する際に光ディスク３２に書き込むデータであるテストデータはホストコンピュータ側で保持しており、ホストコンピュータから通信部７２へ転送されてくる。
通信部７２で受信したテストデータは、書き込み用の信号処理回路５６に入力される。信号処理回路５６では、テストデータを光ディスク３２に書き込み可能なようにデータ処理する。
【００４６】
レーザドライバ６２は、信号処理回路５６によって処理されたテストデータを、パラメータセット記憶装置６４に記憶されているテスト用パラメータセットに基づいて光ディスク３２に書き込むように動作する。
なお、装着されている光ディスク３２の種類に適応したテスト用パラメータセットを用いる必要があるので、ＣＰＵ４８はパラメータセット記憶装置６４に記憶されている複数のテスト用パラメータセットから、装着されている光ディスク３２の種類に対応したテスト用パラメータセットを選択し、この選択したテスト用パラメータセットに基づいてテストデータを書き込むようにレーザドライバ６２を制御する。
【００４７】
次にホストコンピュータについて説明する。
ホストコンピュータ８０は、ＨＤＤから構成される記憶装置８５、ＣＰＵ８２、ＲＯＭやＲＡＭ等の半導体メモリ装置８４、モニタ８６、マウスやキーボードからなる入力装置８８を具備している。また、ホストコンピュータ８０には、光ディスク装置７０と通信可能に接続するための通信部９０が設けられている。
光ディスク装置７０は、ホストコンピュータ８０に内蔵されてもよいし、ホストコンピュータ８０に対して外付けされていてもよい。
【００４８】
記憶装置８５には、ＣＰＵ８２に読み込まれてＣＰＵ８２にホストコンピュータ８０の動作全体を実行させるＯＳや、その他ユーザが実行するアプリケーションソフトが記憶されている。
【００４９】
さらに、記憶装置８５には、アプリケーションソフトとして、テストディスクを作成する際に実行するテストディスク作成ソフト９２が記憶されている。テストディスク作成ソフト９２は、ユーザの操作によって、ユーザにテスト用パラメータセットを複数のテスト用パラメータセットから選択させる機能と、選択させたテスト用パラメータに基づいて所定の書き込み品位となるようにテストデータを光ディスク３２に書き込ませるように光ディスク装置７０を制御する機能と、光ディスク装置７０で測定されたテストディスクの書き込み品位を表示させる機能とを有している。
【００５０】
記憶装置８５には、テストディスクを作成させる際に光ディスク３２へ書き込むデータであるテストデータ９５が記憶されている。テストデータ９５としては、任意の音楽や、任意の周波数の正弦波等を用いることが多いが、特にどのようなものであってもよい。
【００５１】
テストディスク作成ソフト９２の動作に基づく、テストディスクの作成工程について図５に基づいて説明する。
テストディスク作成ソフト９２は、記憶装置８５からＣＰＵ８２に読み出されて実行されると、光ディスク装置７０へテスト用パラメータセットを読み出して送信するように指示するコマンドを出力する（ステップＳ１００）。
このコマンドを受信した光ディスク装置７０のＣＰＵ７４は、パラメータセット記憶装置６４から複数のテスト用パラメータセットを読み出してホストコンピュータ８０へ送信する（ステップＳ２００）。
【００５２】
光ディスク装置７０からテスト用パラメータセットを受信したホストコンピュータのＣＰＵ８２は、モニタ８６に複数のテスト用パラメータセットを表示させる（ステップＳ１０２）。
モニタ８６に表示された複数のテスト用パラメータセットを見て、ユーザはいずれのテスト用パラメータセットを用いるかを選択する。選択は、ユーザが入力装置８８を操作することにより、選択したテスト用パラメータセットをＣＰＵ８２に認識させる。
【００５３】
ユーザによってテスト用パラメータセットが選択されると、ＣＰＵ８２は、テストデータを記憶装置８５から読み出し、光ディスク装置７０へ送信するとともに、ユーザが選択したテスト用パラメータセットで光ディスク３２へテストデータを書き込むように指示するコマンドを送信する（ステップＳ１０４）。
【００５４】
光ディスク装置７０では、ホストコンピュータ８０から受信したコマンドに基づいてＣＰＵ７４がテストディスクの作成を開始する（ステップＳ２０２）。
テストディスクの作成は、通信部７２が受信したテストデータを信号処理回路５６がエンコードや変調等のデータ処理し、レーザドライバ６２が、ユーザが選択したテスト用パラメータセットを用いてデータ処理されたテストデータを書き込むように光ピックアップ３６内のレーザダイオードを制御することにより行う。
【００５５】
テストデータの書き込みが終了すると、光ディスク装置７０からホストコンピュータ８０へ書き込み終了コマンドが送信される（ステップＳ２０４）。
書き込み終了コマンドを受けたホストコンピュータ８０のＣＰＵ８２は、光ディスク装置７０へ、書き込み品位測定機能に基づいて、作成したテストディスクからテストデータを読み出し、テストデータの書き込み品位を測定するように指示するコマンドを出力する（ステップＳ１０８）。
【００５６】
光ディスク装置７０では、書き込み品位を測定するように指示されたコマンドを受信すると、ＣＰＵ７４が、書き込み品位測定プログラムを起動してこのプログラムに基づいて、作成されたテストディスクから書き込んだデータを読み出し、エラーレートを測定する（ステップＳ２０６）。
書き込み品位の測定が終了すると、光ディスク装置７０のＣＰＵ７４は測定結果をホストコンピュータ８０へ送信する（ステップＳ２０８）。
【００５７】
測定結果を受信したホストコンピュータ８０のＣＰＵ８２は、光ディスク装置７０から受信した書き込み品位の結果をモニタ８６に表示させる（ステップＳ１０８）。
表示の例としては、エラーレートの値等の書き込み品位を直接表示してテストディスクが所定の書き込み品位で作成できたか否かをユーザに判断させるようにしても良いし、書き込み品位測定機能が測定した書き込み品位とパラメータセット記憶装置６４に記憶されている対応する書き込み品位とを比較してテストディスクの作成が成功したか否かのみをモニタ８６に表示させてもよい。
【００５８】
モニタ８６を見たユーザは、書き込み品位の結果が最初に想定していた品位であるか、またはテストディスクの作成が成功している旨の表示がされている場合には、テストディスク作成ソフトを終了し、テストディスクの作成を終了させる。
なお、書き込み品位の結果が最初に想定していた品位でない場合、またはテストディスクの作成が不成功である旨が表示されている場合には、ユーザは再度別のテスト用パラメータセットを用いてテストディスクを作成するように試みるとよい。
【００５９】
なお、上述した実施形態では、書き込み品位測定機能は光ディスク装置７０に設けられていたが、ホストコンピュータ８０に設けるようにしてもよい。
【００６０】
以上本発明につき好適な実施例を挙げて種々説明したが、本発明はこの実施例に限定されるものではなく、発明の精神を逸脱しない範囲内で多くの改変を施し得るのはもちろんである。
【図面の簡単な説明】
【００６１】
【図１】本発明のテストディスク作成システムの内部構成を説明するためのブロック図である。
【図２】パラメータセット記憶装置内のデータデーブルを示す説明図である。
【図３】本発明のテストディスク作成システムを構成する光ディスク装置の内部構成を説明するためのブロック図である。
【図４】図３の光ディスク装置に接続されて光ディスク装置とともにテストディスク作成システムを構成するホストコンピュータの内部構成を示すブロック図である。
【図５】ホストコンピュータ内のテストディスク作成ソフトの動作を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
【００６２】
３０  テストディスク作成システム
３２  光ディスク
３４  スピンドルモータ
３６  光ピックアップ
３８  ＲＦアンプ
４０  デコード回路
４２  復調回路
４４  信号処理回路
４６  書き込み品位測定機能
５０  メモリ
５２  サーボプロセッサ
５４  ドライバ回路
５５  テストデータ記憶装置
５６  信号処理回路
５８  エンコード回路
６０  変調回路
６２  レーザドライバ
６４  パラメータセット記憶装置
７０  光ディスク装置
７２  通信部
７６  メモリ
８０  ホストコンピュータ
８４  半導体メモリ装置
８５  記憶装置
８６  モニタ
８８  入力装置
９０  通信部
９２  テストディスク作成ソフト
９５  テストデータ
【図１】
2007207336.tif 000003
【図２】
2007207336.tif 000004
【図３】
2007207336.tif 000005
【図４】
2007207336.tif 000006
【図５】
2007207336.tif 000007