(57)【要約】【課題】超音波システムをテストするための方法及び装置を提供する。【解決手段】バウンダリスキャン・テストベクトル（３２０）を用いてテストを受けるように構成された複数の回路ボード（３１２、３１４、３１６）を含む医用イメージング・システム（３００）を提供する。本医用イメージング・システムのコントローラ（３１０）は複数の回路ボードをテストするように構成されている。このコントローラはさらに、テストプロフィール（３２２）にアクセスし該テストプロフィールに基づいて複数の回路ボードに対するバウンダリスキャン・テストを実行するように構成されている。【選択図】図１
2007010650.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
バウンダリスキャン・テストベクトル（３２０）を用いてテストを受けるように構成された複数の回路ボード（３１２、３１４、３１６）と、
前記複数の回路ボードをテストするように構成されたコントローラ（３０２）であって、さらにテストプロフィール（３２２）にアクセスし該テストプロフィールに基づいて前記複数の回路ボードに対するバウンダリスキャン・テストを実行するように構成されているコントローラ（３０２）と、
を備える医用イメージング・システム（３００）。
【請求項２】
前記コントローラ（３０２）はさらに、テストプロフィール（３２２）に自動的にアクセスしバウンダリスキャン・テストを実行するように構成されている、請求項１に記載の医用イメージング・システム（３００）。
【請求項３】
前記コントローラ（３０２）はバウンダリスキャン・テストベクトル（３２０）を前記複数の回路ボード（３１２、３１４、３１６）のそれぞれにダウンロードするように構成されている、請求項１に記載の医用イメージング・システム（３００）。
【請求項４】
前記コントローラ（３０２）は前記複数の回路ボード（３１２、３１４、３１６）に関するバウンダリスキャン・テストの結果（３２３）を受け取るように構成されていると共に、受け取った結果を表示する（４２０）ためのディスプレイをさらに備える請求項１に記載の医用イメージング・システム（３００）。
【請求項５】
ＵＳＢコネクタ（３０４）及びＵＳＢ対バウンダリスキャン変換器（３０６）をさらに備えており、該ＵＳＢコネクタは前記コントローラ（３０２）を該ＵＳＢ対バウンダリスキャン変換器に接続しており、該ＵＳＢ対バウンダリスキャン変換器は前記複数の回路ボードのＪＴＡＧ  ＩＥＥＥ  １１４９．１インタフェース（３０８）に対するインターフェース接続によって該複数の回路ボード（３１２、３１４、３１６）に繋がっている、請求項１に記載の医用イメージング・システム（３００）。
【請求項６】
超音波システム（１０）、ＭＲＩシステム、ＣＴシステム及びＰＥＴシステムのうちの１つを含む請求項１に記載の医用イメージング・システム（３００）。
【請求項７】
前記テストプロフィール（３２２）が前記コントローラ（３０２）の内部に保存されている、請求項１に記載の医用イメージング・システム（３００）。
【請求項８】
前記バウンダリスキャン・テストベクトル（３２０）は前記複数の回路ボード（３１２、３１４、３１６）の製造者によって構成されている、請求項１に記載の医用イメージング・システム（３００）。
【請求項９】
前記複数の回路ボード（３１２、３１４、３１６）はデイジーチェーン式配列とポイントツーポイント配列のうちの一方で構成されている、請求項１に記載の医用イメージング・システム（３００）。
【請求項１０】
バウンダリスキャン・テストベクトル（３２０）を用いてテストを受けるように構成された複数の相互接続構成要素と、
テストモード中に前記複数の相互接続構成要素にアクセスするように構成された単一のテストアクセス点と、
前記単一のテストアクセス点を介して前記複数の相互接続構成要素と通信し、テストモード中に少なくとも１つのバウンダリスキャン・テストベクトルを使用して該複数の相互接続構成要素に関するバウンダリスキャン・テストを制御するように構成されたコントローラ（３０２）と、
を備える医用イメージング・システム（３００）。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、全般的には回路ボードのテストに関し、さらに詳細には、回路ボードに対するテストシステムに関する。
【背景技術】
【０００２】
回路チップや回路ボードに対するテストはさらに標準化が進みつつある。例えば、ＪＴＡＧ（Ｊｏｉｎｔ  Ｔｅｓｔ  Ａｃｔｉｏｎ  Ｇｒｏｕｐ）のメンバーにより、１９９０年にＩＥＥＥ標準１１４９．１（Ｔｅｓｔ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｐｏｒｔ  ａｎｄ  Ｂｏｕｎｄａｒｙ−Ｓｃａｎ  Ａｒｃｈｉｔｅｃｔｕｒｅ）が導入された。このＪＴＡＧ標準によって、回路チップ及びボードの機能をテストするようなテスト装備（例えば、ｂｅｄ−ｏｆ−ｎａｉｌｓテスター）を設計する必要性が低減される。
【０００３】
こうしたテスト装備手法には、テストしようとする回路ボードに接続するためのハードウェアが含まれる。典型的には、ｂｅｄ−ｏｆ−ｎａｉｌｓテスト装備は回路ボードの下側に取り付けられており、この回路ボード内部で回路ボードチップに対するテストを含むテスト点へのアクセスを可能にさせる接点を備えている。このテスト装備を介して、回路ボードの機能をテストするように開放及び短絡を形成することができる。しかし、回路ボードや回路チップにアクセスしテストするために個別にテスト装備ハードウェアを設計し構築すると、非常に高価（例えば、テスト装備１つあたり＄１００，０００）となることがある。さらにこうしたテスト装備は通常、テストしようとする具体的な回路ボードやチップに合わせてカスタマイズされており、これによりテスト装備のテスト機能が制限される。さらに、回路ボード及び／またはチップに対する変更がなされると、すでにあるテスト装備に対する変更、再設計、またある種のケースでは新たなテスト装備の構築が必要となることがある。
【０００４】
回路ボードのテストに対するｂｅｄ−ｏｆ−ｎａｉｌｓ手法にはさらに欠点がある。回路チップが小さくなるに連れて、チップや回路ボードの内部にアクセスする困難さが増大している。さらに、構成要素が小さくなると非常に複雑なチップの製作につながり、ｂｅｄ−ｏｆ−ｎａｉｌｓ手法を用いたテストの困難さが増大する。
【０００５】
ＪＴＡＧ  ＩＥＥＥ  １１４９．１標準（本明細書では、ＪＴＡＧと呼ぶ）の開発によって、新たな手法が出現した。ＪＴＡＧはテストに対してバウンダリスキャン手法を導入する。バウンダリスキャンは、例えば回路ボードまたは回路ボード上のあるチップ組によって画定されるバウンダリを決定すると共に、観測／制御セルなどの制御子を提供しており、これによりバウンダリ内部で境界内回路ネットが得られる。観測／制御セルは、応答出力を観測するために境界内回路に入力を提供する。バウンダリ内部の回路（例えば、ディジタル論理）のネットの制御及び観測（例えば、スキャン）を規定するために、バウンダリスキャン（ＢＳｃａｎ）処理過程が使用される。ＢＳｃａｎを使用すると、ｂｅｄ−ｏｆ−ｎａｉｌｓが仮想的ネイルまたはバウンダリスキャン・セルに置き換えられる。さらに、ボード／チップ製造者はテスト点（例えば、ＢＳｃａｎセル）をシリコンチップや回路ボード内に構築している。標準的なテストアクセス点（ＴＡＰ）を供給するように回路ボード上でＪＴＡＧ  ４／５ワイヤ・インタフェースがサポートを受けることが多い。本質的には、ｂｅｄ−ｏｆ−ｎａｉｌｓテストのハードウェア設備がソフトウェアに置き換えられる。さらに、テストアクセスはそのボードのメインのＩ／Ｏポートに限定されるものではなく、ＪＴＡＧ  ４／５ワイヤ・インタフェース及びＢＳｃａｎセルを介してチップＩ／Ｏ（ピン）レベルに至るまでのテストアクセスが提供される。
【０００６】
したがって、チップの複雑度は問題にならない。バウンダリスキャンは本質的には、ディジタル論理を区分けし、テストチップやボードの機能に関する制御及び観測を容易にしている。例えば、ＢＳｃａｎ処理過程は、ボードレベル・ノードに対する制御及び観測のためにチップＩ／Ｏの位置でボードを区分けしている。さらにテスト生成は、従来のテスト方法と比較して必要とする手操作がより少なくて済む。ＢＳｃａｎ処理過程は、ネット構造に対するソーステスト刺激を随意に生成して、テスト結果を観測するためのテスト方法を提供する。ネット構造（例えば、回路ボードまたは回路ボードの下位論理）に対するＢＳｃａｎテストは、個々のチップ集積複雑度と無関係である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ＪＴＡＧバウンダリスキャン・テストによりチップ及びボードのテストが改良されたが、ＪＴＡＧテストの大部分は製造者により実施されると共に、こうした特定の製造者に特異的なチップやボードレベルで実施されている。さらに、ＪＴＡＧテストは典型的には、ボードの組及び／または相互接続されたボードからなる系の接続性のテスト（例えば、システムレベルでのテスト）を行うように実施されていない。
【０００８】
したがって、ＪＴＡＧテストは、ある系やボードの内部にある指定された構成要素のテストに限定されている。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
例示的な一実施形態では、バウンダリスキャン・テストベクトルを用いてテストを受けるように構成された複数の回路ボードを含む医用イメージング・システムを提供する。本医用イメージング・システムのコントローラは、複数の回路ボードをテストするように構成されている。このコントローラはさらに、テストプロフィールにアクセスし該テストプロフィールに基づいて複数の回路ボードに対するバウンダリスキャン・テストを実行するように構成されている。
【００１０】
別の例示的な実施形態では、バウンダリスキャン・テストベクトルを用いてテストを受けるように構成された複数の相互接続された構成要素を含む医用イメージング・システムを提供する。テストモード中に複数の相互接続された構成要素にアクセスするように単一のテストアクセス点を構成させている。コントローラが、単一のテストアクセス点を介してこの複数の相互接続された構成要素と連絡すると共に、テストモード中に少なくとも１つのバウンダリスキャン・テストベクトルを用いて複数の相互接続された構成要素に対するバウンダリスキャン・テストを制御するように構成されている。
【００１１】
さらに別の例示的な実施形態では、医用イメージング・システムをテストするための方法を提供する。本方法は、医用イメージング・システムの内部にある複数の相互接続された構成要素と単一のテストアクセス点を介して連絡することを含む。本方法はさらに、少なくとも１つのバウンダリスキャン・テストの実施に使用される少なくとも１つのテストプロフィールを使用し、複数の相互接続された構成要素を単一のテストアクセス点を介してテストすることを含む。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
図１は、例示的な超音波システム１０のブロック図である。超音波システム１０は、トランスジューサ素子１２を有するトランスジューサ・アレイ１４と、トランスジューサ・インタフェースボード２０と、前置増幅器ボード３０と、受信ボード群４０と、を含む。受信ボードのそれぞれは、受信ボード４２、受信ボード４４、受信ボード４６及び受信ボード４８であると特定される。超音波システム１０はさらに、送信ボード群１００、インタフェースボード１１０及びバックエンド制御プロセッサ／コントローラ（ＢＥＰ）１９０を含む。ＢＳｃａｎコントローラ用のプロセッサは、ＢＥＰ１９０によって提供されることや、本明細書でより詳細に説明するようにあるいは別法として、例えばバックプレーンまたはＧＦＩボード１１０上で提供される埋込式プロセッサとすることがあることに留意すべきである。
【００１３】
受信ボード群４０、送信ボード群１００及びインタフェースボード１１０によって超音波システム１０のビーム形成器（ＢＦ）部分が形成される。図１において受信ボード４２、４４、４６及び４８で示した受信ボード群４０内の受信ボードのそれぞれは、同じアーキテクチャを有する。したがって、受信ボードのそれぞれに存在する対応する構造に関しては１つの受信ボード４８についてのみ詳細に説明することにする。受信ボード４８は、複数の特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）構成要素群（例えば、ＡＳＩＣ群５０、ＡＳＩＣ群５１、ＡＳＩＣ群５２及びＡＳＩＣ群５３）を含む。ＡＳＩＣ構成要素群５０〜５３のそれぞれは同じアーキテクチャを有しているため、ＡＳＩＣの１つのみについて詳細に説明しており、他のＡＳＩＣのそれぞれにも対応する構造が存在している。ＡＳＩＣ群５０はＡ／Ｄ変換器群５４及びＡＳＩＣ６１を含んでおり、Ａ／Ｄ変換器群５４はＡＳＩＣ６１に対する入力６４を提供している。
【００１４】
ここで、超音波システム１０内部の情報及び処理の流れについて説明することにする。インタフェースボード１１０は、関心領域内に放出される超音波パルスの形成を制御するためのコマンドをＲＦＩ−ＢＥＰバス１９２を介してＢＥＰ１９０から受け取る。インタフェースボード１１０は受け取ったコマンドから送信パラメータを発生させており、この送信パラメータは、トランスジューサ・アレイ１４の表面にある特定の点（複数のこともある）からのある特定の形状及びサイズをもつ送信ビームを規定している。送信パラメータは、接続１６０（例えば、シリアルリンク）を介してインタフェースボード１１０から送信ボード群１００に伝達される。送信ボード群１００は、受け取った送信パラメータから送信信号を作成する。この送信信号は、あるレベルで提供されると共に、１つまたは複数の送信パルスまたは発射になるように送信ビームがステアリングされ集束されるように互いに対して位相調整される。
【００１５】
送信ボード群１００は、トランスジューサ・インタフェースボード２０を通過する接続１８０を介して送信信号を伝達し、周知のようにトランスジューサ・アレイ１４の内部にある複数のトランスジューサ素子１２を駆動させる。接続１８０は、一実施形態では、トランスジューサ素子１２の数に対応して複数の個別のチャンネル（すなわち、通信線）を含む。送信信号はトランスジューサ素子１２を励起して超音波パルスを発生させる。超音波パルスは、所望の走査線に沿った集束ビームが形成されるように位相調整されることがある。走査された構造内の組織や血液試料から後方散乱された超音波である超音波エコーは、トランスジューサ素子１２の位置において、信号が後方散乱されて来る組織までの距離、並びに信号がトランスジューサ・アレイ１４の表面に接する角度に応じて異なる時点で受け取られる。トランスジューサ・アレイ１４は双方向性のトランスジューサであり、後方散乱されたエネルギー波（超音波エコー）を受信信号に変換する。
【００１６】
受信信号は個別のチャンネルでトランスジューサ・アレイ１４から接続１６（例えば、通信リンク）を介してトランスジューサ・インタフェースボード２０に伝達され、このインタフェースボード２０は受信信号を接続１３０を介して前置増幅器ボード３０に伝達する。前置増幅器ボード３０は、例えば掃引利得などの時間利得補償（ＴＧＣ）を実施し、身体のより深部から受け取った信号の振幅を大きくし深部エコーに関する累進的減衰を補償する。前置増幅器ボード３０からの増幅させた受信信号は、接続１４０（例えば、通信リンク）を介して受信ボード群４０に伝達される。図示した例では、接続１６、１３０及び１４０はそれぞれ、２５６本のチャンネルを含むと共に、接続１４０内のチャンネルは６４本のチャンネルからなる４つの群に区分されている。受信ボード群４０内の受信ボードのそれぞれ（例えば、受信ボード４８）は、６４本のチャンネルからなる１つの群を前置増幅器ボード３０から受け取る。
【００１７】
図１は、ビームデータが受信ボード間を直列に（例えば、受信ボード４２から受信ボード４４へ、受信ボード４６へ、受信ボード４８へと）流れるように相互接続された４つの受信ボード、４２、４４、４６及び４８を表している。受信ボード４８は、直列に接続されたＡＳＩＣ６１、６３、６５、６７を含んでおり、これらは縦列配列で設けられることがある。ＡＳＩＣ６１、６３、６５及び６７のそれぞれは、例えば４つのカッド（Ｑｕａｄ）チャンネルＡ／Ｄ変換器（例えば、Ａ／Ｄ変換器群５４）から入力６４などの１６個のディジタル化受信信号入力を受け取っている。ＡＳＩＣ６１の位置で受け取った信号は処理され合算されると共に、さらに直前の受信ボード４６からバス６６上で受け取ったビームデータと合算されることがある。得られたビームデータはバス６８に提供される。バス６８はこのビームデータ（本明細書では、データとも呼ぶ）をＡＳＩＣ６３に伝達する。バス６８を介して伝達されＡＳＩＣ６３が受け取るビームデータは、ビームデータの発生源によっては追加の処理を受けずにバス７０に伝達されることがある。ＡＳＩＣ６１、６３、６５及び６７のそれぞれは、バス６６、６８、７０及び７２のバス入力のそれぞれから到来するビームデータ（例えば、ビームＡ、Ｂ、Ｃ及びＤに対するビームデータ）を識別する。識別したビームデータに応じて、バス６８上でＡＳＩＣ６３が受け取ったビームデータは、Ａ／Ｄ変換器群５５からＡＳＩＣ６３に直接提供された受信信号と組み合わせてＡＳＩＣ６３によってさらに処理を受ける。次いでＡＳＩＣ６３は、得られたデータをバス７０を介して伝達しており、このバス７０は続いてＡＳＩＣ６５に連絡している。ＡＳＩＣ６５は、到来するデータを追加の処理を行わずにバス７０を介して直接バス７２に伝達するか、到来するデータをＡ／Ｄ変換器群５６によってＡＳＩＣ６５に直接提供された受信信号と組み合わせて処理するかのいずれかを行う。ＡＳＩＣ６７は、到来するデータを追加の処理を行わずにバス７２を介して直接バス７４に伝達するか、到来するデータをＡ／Ｄ変換器群５７によってＡＳＩＣ６７に直接提供された受信信号と組み合わせて処理するかのいずれかを行う。次いで、バス７４を介して伝達されたビームデータは、受信ボード群４０の次の受信ボードか、データバス１５０のいずれかに伝達される。
【００１８】
処理済みのビームデータは、受信ボード４２から受信ボード４４に、次いで受信ボード４４から受信ボード４６に、また最終的には受信ボード４６から受信ボード４８に伝達される。受信ボード４８は、１つまたは複数の完全製作したビームに関して得られた完全形成させたビームデータ組をインタフェースボード１１０に伝達する。
【００１９】
データバス１５０を介して受け取ったビームデータ組は、インタフェースボード１１０において復調され、周知のような復調データ値からなるＩ／Ｑ対が生成される。この復調データはさらに、インタフェースボード１１０によって処理され、例えばエコーエンベロープ・データ（Ｂモード）、カラードプラ、スペクトルドプラ及びＢフローを含む画像走査線データが提供される。次いで、画像走査線データは走査変換を受け、このデータが走査シーケンス形式から同じく周知のような表示形式に変換される。この走査変換済みの画素データは次いで、表示構成要素アーキテクチャ（図１には図示せず）に提供され、例えばモニタ上への表示のためにディジタル画素データがアナログ・データに変換される。
【００２０】
図２は、本発明の一実施形態による例示的なテストバス構成を有する図１の超音波システム１０のブロック図である。ＢＥＰ１９０はＵＳＢリンク１９４を介してＵＳＢ対ＢＳｃａｎ変換器１９３に接続されている。変換器１９３は、ＵＳＢ信号法からＪＴＡＧ／ＢＳｃａｎ信号法（ＩＥＥＥ標準１１４９．１）への変換、並びにＪＴＡＧ／ＢＳｃａｎ信号法からＵＳＢ信号法への変換を行う。例えばＰＣＩからＢＳｃａｎに、あるいはファイヤワイヤからＢＳｃａｎへの変換のために別の変換または変換器が使用されることがあることに留意すべきである。ＪＴＡＧ／ＢＳｃａｎ信号は、ＪＴＡＧインタフェースバス１９５を介して、例えば超音波ボード及び／またはバックプレーンなどのＢＳｃａｎテスト可能な超音波構成要素上に設けることがあるＪＴＡＧインタフェース・コントローラ・チップ１９６に伝達されている。図２のＢＥＰ１９０は、ＢＳｃａｎテストベクトル１９７、テストプロフィール１９８及びテスト結果１９９を保存するためのメモリ記憶（図示せず）を含む。テストプロフィール１９８は一般に、超音波システム１０の相互接続された構成要素に関する様々な導通及びシステムレベル・テストを実施するためにＢＥＰ１９０上で実行させ得る手順を含むと共にこの手順を規定している。テストプロフィール１９８のうちの１つの実行中に、テストしようとする構成要素への入力のためのテスト信号設定を決定するためにＢＳｃａｎテストベクトル１９７のうちの１つまたは複数のベクトルを超音波システム１０構成要素内にダウンロードすることがある。構成要素テストの観測可能な出力は、テスト結果１９９の場合と同様に収集されて保存される。異なるデータを保存するために異なるメモリ部分を設ける（例えば、テストベクトル、テストプロフィール及びテスト結果が別々に保存される）ことがあることに留意すべきである。
【００２１】
図３は、本発明の一実施形態による例示的なＢＳｃａｎテスト可能な医用イメージング・システム３００のブロック図である。複数の送信ボード３１２、受信ボード３１４及び周波数インタフェースボード３１６は、例えば図１の超音波システム１０などの超音波システムのフロントエンド部分またはビーム形成器部分を提供することがある。送信ボード３１２は相互に接続されると共に、上述のような超音波パルスを発生するトランスジューサ・アレイ１４に信号を提供する。受信ボード３１４は相互に接続されると共に、トランスジューサ・アレイ１４の位置で超音波エコーから発生させた受信信号からビーム情報を取り出すための処理を提供する。例えば送信ボード３１２、受信ボード３１４及び周波数インタフェースボード３１６などの個々のボードは、本明細書に記載したようなＢＳｃａｎ方法を使用して例えば製造施設で個々にテストされることがある。ボードの正常な機能は製造施設において検証することもあるが、例えば複数の受信ボード３１４などのボードを相互接続した組及び／または相互接続したイメージング・システム３００の正常な機能は、製造施設ではテストされないかテストできないのが典型的である。図３に示すように医用イメージング・システム内に組み込んだテスト装置では、相互接続した医用イメージング・システム３００に対するＢＳｃａｎテストをシステムが配備された後で（例えば、顧客先において）実施することがある。顧客先におけるシステム３００のテストはシステム３００及び該システム３００のサブシステムの動作性能を検証し、その機能を修正するために周期的に実施されることがある。
【００２２】
さらに詳細には、医用イメージング・システム３００は、相互接続された回路ボード、サブシステムをテストするように一体化されかつ構成されたテスト装置及びインタフェース、並びに一体化され／相互接続された医用イメージング・システム３００全体を含む。例えば、例示的な一実施形態では、複数の送信ボード３１２、受信ボード３１４、及び周波数インタフェースボード３１６のそれぞれは、ＪＴＡＧ  ４／５ワイヤ・インタフェース（ＩＥＥＥ  １１４９．１）バス３０８を受け容れるためのＪＴＡＧテストアクセスポート（ＴＡＰ）（図３には図示せず）を有するように構成されている。このＴＡＰは、ＴＡＰがその内部に構成された回路ボードと接続した４／５ピンＪＴＡＧインタフェース（ＩＥＥＥ  １１４９．１）を提供する。ＴＡＰは、例えばボード３１４及び／またはボード構成要素／チップの部分組などの回路ボードに対するＢＳｃａｎテストを実施するためにアクセスを受けることがある。ＪＴＡＧ  ＴＡＰはボードの一部分として（例えば、ボードが製造される時点で）設けられる。ＢＳｃａｎテストで使用する各ボードのＪＴＡＧ  ＴＡＰは、ＪＴＡＧインタフェース・バス３０８に接続される。ＪＴＡＧインタフェース・バス３０８は、ＪＴＡＧ  ＢＳｃａｎインタフェース・コントローラ３１０を介してＵＳＢ対ＢＳｃａｎ変換器３０６に接続させることがある。ＢＳｃａｎインタフェース・コントローラ３１０は、複数のローカル・スキャン・ポート（ＬＳＰ）３１１の動作に関する制御を提供する。複数のＬＳＰ３１１のそれぞれは、対応するＪＴＡＧ  ＴＡＰ（例えば、受信ボード３１４のＪＴＡＧ  ＴＡＰ）をアドレス指定することがある。
【００２３】
変換器３０６は、イメージング・システム３００のバックエンド・プロセッサ／コントローラ（ＢＥＰ）３０２により使用される信号インタフェース（例えば、ユニバーサルシリアルバス（ＵＳＢ）インタフェース）と、ＪＴＡＧインタフェース・バス３０８の４／５ワイヤＪＴＡＧ（ＩＥＥＥ  １１４９．１）インタフェースと、の間で変換を行う。ＵＳＢバス３０４はＢＥＰ３０２を変換器３０６に接続している。ＢＥＰ３０２は、イメージング・システム３００による画像情報の作成及び表示のために画像走査情報に対するバックエンド処理を提供する。さらにＢＥＰ３０２は、イメージング・システム３００の相互接続された構成要素にアクセスしかつテストするための単一のテスト・アクセス点を提供するように構成させることがある。ＢＥＰ３０２は、本明細書に記載したテストプロフィール３２２に基づいて実施されるＢＳｃａｎテストを用いてＢＳｃａｎテストプロフィール３２２にアクセスしかつ処理するように構成されることがある。ＢＳｃａｎテストプロフィール３２２は、システム３００の構成要素及び相互接続した構成要素に対してＢＳｃａｎテスト命令及びデータ（例えば、テストベクトル３２０）をダウンロードするための手順またはコマンドを含むことがある。情報がダウンロードされた後、テストプロフィール３２２は、本明細書に記載したように相互接続された構成要素内部のダウンロードされたテスト命令の処理を制御することによってＢＳｃａｎテストを制御する。ＢＳｃａｎテストからの結果はテストプロフィール３２２によって収集されると共に、テスト結果３２３として保存される。テスト結果３２３はディスプレイ（例えば、ＢＥＰ３０２の表示デバイス）においてユーザに対して表示されることがある。ＢＳｃａｎテストプロフィール３２２、テストベクトル３２０及びテスト結果３２３は、ＢＥＰ３０２の内部に保存されることや、外部データベース３１８内に保存されることがある。代替的な一実施形態では、ＢＳｃａｎテストプロフィール３２２、テストベクトル３２０及びテスト結果３２３は、ＢＥＰ３０２に取り付けられることがある可搬式サービスユニット３２４（例えば、ラップトップ・コンピュータ）内に保存される。
【００２４】
さらに別の代替的な実施形態では、ＢＥＰ３０２はリモート・コンピュータ３２８からアクセスを受けることがある。例えば、リモート・コンピュータはモデム３２０を介してＢＥＰ３０２へのアクセスを得ることがある。リモート箇所から、イメージング・システム３００がリモート・コンピュータ３２８を介してアクセスを受け、またサービスを受けることがある。例えば、メンテナンス・スタッフはＢＳｃａｎテスト（例えば、ＢＳｃａｎテストプロフィール３２２）をリモート・コンピュータ３２８から周期的に実行することがある。ＢＳｃａｎテストを実施するためにリモート・コンピュータ３２８を中央側に配置させ、そこから複数のイメージング・システム３００がアクセスを受けることがある。さらに、画像システム３００の構成要素を初期化／再初期化したときにＢＥＰ３０２によって自動式ＢＳｃａｎテストをスケジュール調整及び／または開始する（例えば、診断を実施する）ことがある。ＢＳｃａｎテストは、チップの位置における異常またはエラー及び／またはチップのピンレベルを決定するために使用されることがある。したがってＢＥＰ３０２は、イメージング・システム３００の相互接続された構成要素に対する自動式テストのための単一のテストアクセス点を提供することがある。
【００２５】
テストベクトル３２０は、周知のように、イメージング・システム３００の構成要素の製造者及び／またはサード・パーティー（例えば、システム３００の増強を実施するエンジニア）によって供給されることがある。例えば製造者は、回路ボード及び回路ボード構成要素／チップに対する品質テストを実施する際に使用するタイミング情報及びテスト情報を提供することがある。したがって、イメージング・システム３００の構成要素の製造者が、所望によりまたは必要に応じて修正できるテストベクトル３２０を提供することがある。製造者は、製品のテストのために１組のテストベクトル３２０を作成して使用するのが典型的であり、イメージング・システム３００用に回路ボード及び構成要素と組み合わせたテストベクトル３２０を提供することがある。
【００２６】
図４は、本発明の一実施形態による医用イメージング・システム（例えば、医用イメージング・システム３００）に対するＢＳｃａｎテストを実施するための例示的な処理過程４００の流れ図である。システムのユーザは、工程４０２において医用イメージング・システム３００に対してＢＳｃａｎテストモードを選択する。医用イメージング・システム３００は通常では、走査データを取得しかつこの走査データから医用画像を作成する際に使用される走査モードにある。システム３００の相互接続された１つまたは複数の構成要素に対してＢＳｃａｎテストを実施するために、ユーザはＢＥＰ３０２を使用して工程４０２においてＢＳｃａｎテストモードを選択し、動作モードを走査モードからＢＳｃａｎテストモードに切り換えることがある。工程４０４では、ＢＳｃａｎテストを実施すべきか否かに関する判定が実施される。実施すべきＢＳｃａｎテストが残っていなければ、工程４０６においてユーザは、例えば走査モードの選択肢を選択することによってシステム３００を通常使用するための走査モードに移すことができる。実施すべきＢＳｃａｎテストが残っている場合は、工程４０８においてテストプロフィール３２２のうちの１つが選択される。工程４１０では、選択したＢＳｃａｎテストによって追加的な構成要素／ボードをテストすべきか否かに関する判定が実施される。選択したＢＳｃａｎテストによってテストすべき構成要素がそれ以上存在しない場合は、処理は工程４０４に戻り、さらにＢＳｃａｎテストを実施すべきかに関してテストがなされる。
【００２７】
工程４１０において選択したＢＳｃａｎテストによりさらに構成要素をテストすべきであるとされた場合、工程４１２において、テストしようとするＢＳｃａｎ構成要素（例えば、相互接続された１組の構成要素の受信ボード３１４）に関して、選択したＢＳｃａｎテストに基づいた決定が実施される。工程４１４では、ＢＥＰ３０２はテストを開始させるようにＪＴＡＧインタフェース・バス３０８を介してＢＳｃａｎ構成要素と通信している。ＢＥＰ３０２はテストプロフィール３２２に基づいてテスト命令及びデータ（例えば、ＢＳｃａｎテストベクトル３２０）を、テストしようとする構成要素にダウンロードすることがある。相互接続された構成要素群（例えば、図３に示した受信ボード３１４の群）をテストするために、テストプロフィール３２２はテスト済みの構成要素からのテスト出力をテスト結果３２３として保存すると共に、テストしようとする相互接続された次の構成要素にこのテスト結果３２３を入力として提供することがある。代替的な一実施形態では、テスト済みの構成要素からのこのテスト出力は、相互接続された構成要素のうちのテストしようとする次の構成要素に対する入力として直接に伝達されることがある。
【００２８】
工程４１６では、工程４１２において特定したＢＳｃａｎ構成要素（例えば、受信ボード３１４）がテストされる。工程４１８では、決定された構成要素のテストから得られた出力がテスト結果３２３として保存される。バウンダリスキャン・レジスタ（ＢＳＲ）（例えば、１組のバウンダリスキャン・セル（ＢＳＣ））は、テストベクトル３２０に対する入力を提供すると共に、ボードのノード／チップ（例えば、テスト中の構成要素ボードのＡＳＩＣ）に対するテストからの出力を受け取ることがある。工程４２０において、ＢＳｃａｎテスト結果３２３及び／またはテストに関する合否ステータスをユーザに対して表示させることがある。相互接続された構成要素の別のＢＳｃａｎ構成要素をテストすべきか否かを判定するために、処理は工程４１０に戻る。
【００２９】
ＢＳｃａｎテストは周知の任意の方式で実施し、超音波システムの１つまたは複数のプロセッサによって実行できることに留意すべきである。
【００３０】
図５は、構成要素／ボード５０２、５０４及び５０６（例えば、相互接続すると共に本明細書に記載したＢＳｃａｎテストを可能とするように構成された回路ボード）からなる相互接続された群５００を表したブロック図である。例えば、この相互接続された群５００は、図３の受信ボード３１４からなる群や送信ボード３１２からなる群を含むことがある。ＢＳｃａｎインタフェース・コントローラ３１０は、ＢＥＰ３０２による制御により、テストする具体的な構成要素５０２を群５００からアドレス指定する／選択するために使用されることがある。テストクロック（ＴＣＫ）５３４が選択された構成要素５０２にクロック信号を供給すると共に、テストモード選択（ＴＭＳ）５３２がモードを選択するための信号を提供する。ＴＭＳ５３２がデータモードを信号伝達した場合、構成要素５０２にはＢＥＰ３０２からテストデータ（例えば、テストベクトル３２０）がダウンロードされることがある。テストデータ入力（ＴＤＩ）５０８はデータ及び命令を構成要素５０２にダウンロードするために使用するチャンネルを提供する。構成要素５０２に対するテスト４１６から得られた出力は、テストデータ出力（ＴＤＯ）５１０を介して取得され／受け取られることがある。構成要素５０２からのＴＤＯ５１０は相互接続された後続のボード５０４をテストするための入力ＴＤＩ５１２を供給することがある。ＴＣＫ５３４、ＴＭＳ５３２、ＴＤＩ５０８及びＴＤＯ５１０はＪＴＡＧインタフェース・バス３０８を成している。構成要素５０２、５０４及び５０６のそれぞれに関するテスト装置及びインタフェースは実質的に同じとすることができ、したがって、構成要素５０４及び５０６に対する内部テスト詳細は構成要素５０２に対する詳細と同じである。
【００３１】
構成要素５０２は、その各々が対応するＴＡＰ５４６、５４８及び５５０を備えた複数のノード／チップ５４０、５４２及び５４４を含む。ＴＡＰ５４６は、接続５２０を介してＴＡＰ５４８に対して直列に接続されており、またＴＡＰ５４８は接続５２２を介してＴＡＰ５５０に対して直列に接続されている。この方式により、ＴＡＰ５４６、５４８及び５５０は、一体となってノード５４０からノード５４２にノード５４４にとＴＤＩタイプのチャンネルを提供するようにデイジーチェーン状とさせる（または、ポイントツーポイント配列で設けられる）ことがある。ＴＤＩ５０８並びに接続５２０及び５２２を介して、ＴＭＳ５３２がデータモードを信号伝達したときにテストデータ（例えば、テストベクトル３２０）がＢＥＰ３０２からＴＡＰ５４６、５４８にダウンロードされることがある。ＴＡＰ５４６、５４８及び５５０のそれぞれは、ＢＥＰ３０２から受け取った入力データを対応するバウンダリスキャン・セル（ＢＳＣ）５５２、５５４及び５５６に提供する。ＴＤＩ５０８並びに接続５２０及び５２２を介して、ＴＭＳ５３２が命令モードを信号伝達したときに、テスト命令またはコメントがＢＥＰ３０２からＴＡＰ５４６、５４８及び５５０にダウンロードされることがある。次いで、構成要素５０２に対するＢＳｃａｎテストを実施（４１６）するための命令がＴＡＰ５４６、５４８及び５５０内で（例えば、内部プロセッサを使用して）実行される。
【００３２】
構成要素５０２のテストに関するテスト結果は、ＴＤＯ５１０上に出力されると共に、構成要素５０４に直列に接続されることがある。次いで、この出力は構成要素５０４へのＴＤＩ５１２入力となる。構成要素５０２について記載したのと同じ方式によって、構成要素５０４のテストデータ及び命令やコマンドがＢＥＰ３０２から伝達される。構成要素５０４に関するテストデータ及び／または命令やコマンドのダウンロードが完了した後、構成要素５０４に対するＢＳｃａｎテストを実施するために構成要素５０４のＴＡＰ５５８、５６０及び５６２内部の命令が実行されることがある。同様に同じ方式によって、構成要素５０４のテストからのテスト結果がＴＤＯ５１４上に出力されると共に、これが直列に接続された構成要素５０６に対するＴＤＩ５１６入力になる。構成要素５０２に関して記載したのと同じ方式によって、テストデータ及び命令やコマンドがＢＥＰ３０２から構成要素５０６に伝達される。構成要素５０６に関するテストデータ及び／または命令やコマンドのダウンロードが完了した後、構成要素５０６に対するＢＳｃａｎテストを実施するために構成要素５０６のＴＡＰ５６４、５６６及び５６８内部の命令が実行されることがある。相互接続された構成要素５０２、５０４及び５０６のテスト４１６から出力された最終のテスト結果はＴＤＯ５１８のチャンネルを介してＢＥＰ３０２に提供され、相互接続された構成要素５０２、５０４及び５０６のＢＳｃａｎテストに関するテスト結果３２３として保存されることがある。したがって例えば、構成要素／ボード５０２、５０４及び５０６のバックプレーンとの相互接続性及び適正な接続（例えば、配座（ｓｅａｔｉｎｇ））が検証されることがある。同様に、構成要素／ボードのサブシステム、並びに医用イメージング・システム３００全体について、構成要素／ボードの適正な相互接続性及び接続が検証されることがある。例えば、あるテストプロフィール３２２を用いた単一のテスト中に、送信ボード群３１２及び受信ボード群３１４と相互接続された周波数インタフェースボード３１６をテストするために系全域テストが実施されることがある。系全域テストはまた、イメージング・システム３００全体の接続性及び動作性能を検証することがある。
【００３３】
図６は、本発明の一実施形態による構成要素群６０２の相互接続６００を表したブロック図である。群６０２は、回路ボード６０４、６０６及び６０８と、回路ボード６０４〜６０８をその内部で接続させているバックプレーン６１０と、を含む。バックプレーン６１０は、ボード６０４〜６０８同士の間の相互接続を提供していると共に、ＪＴＡＧインタフェース・バス６２０を介してＢＥＰ３０２（図３参照）と連絡している。回路ボード６０８上にはＢＳｃａｎインタフェース・コントローラ６１２も設けられている。コントローラ６１２は、個々のスキャンチェーン（例えば、チェーン１、チェーン２及びチェーン３）を制御する。各スキャンチェーン（例えば、チェーン１）は、ＢＳｃａｎテストによるテストを受け得るボードノード（例えば、図５のノード５４０、５４２及び５４４）からなる相互接続された組を規定している。コントローラ６１２は、その各々が１つのスキャンチェーン（例えば、スキャンチェーン１）に対応しかつこれをアドレス指定している、例えば図３に示したＬＳＰ３１１などの複数のローカル・スキャン・ポート（ＬＳＰ）を含むことがある。コントローラ６１２はボード６０８のスキャンチェーン１、２及び３を制御しており、また相互接続されたボード（例えば、ボード６０４及び６０６）に対するスキャンチェーンを制御することがある。
【００３４】
代替的な一実施形態では、ボード６０４〜６０８のそれぞれに対して１つのコントローラ６１２を設けることがある。さらに別の代替的な実施形態では、コントローラ６１２をバックプレーン６１０上に設けることがある。また別の代替的な実施形態では、コントローラ６１２を、周波数インタフェースボード３１６上、あるいはキャリアカード上に設けることがある。コントローラ６１２及び３１０は所望によりまたは必要に応じてシステム３００の多数の構成要素上に設けられることがある。
【００３５】
したがって、医用イメージング・システムの構成要素、相互接続された構成要素、及びサブシステムに対するＢＳｃａｎテストの方法が、医用イメージング・システム３００の単一のアクセス点（例えば、ＢＥＰ３０２）を用いて提供されており、ＢＳｃａｎテストプロフィールはローカルでもリモート箇所からでも実行できるようにスケジュール設定し処理することができる。例えばＢＥＰ３０２上にあるシステム３００のＢＳｃａｎソフトウェアはテストプロフィール３２２のスケジュール調整及び処理を調和させることができる。ＢＳｃａｎテストは、医用イメージング・システムに関する相互接続性及び適正な動作並びに動作性能を検証するために使用することができる。
【００３６】
様々な具体的な実施形態に関して本発明を記載してきたが、特許請求の範囲の精神及び趣旨の域内にある修正を伴って本発明を実施できることは当業者であれば理解されよう。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】例示的な超音波システムのブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態による例示的なテストバス構成を有する図１の超音波システムのブロック図である。
【図３】本発明の一実施形態に従って形成した例示的な医用イメージング・システムのブロック図である。
【図４】本発明の一実施形態による医用イメージング・システムのＢＳｃａｎテストを実施するための例示的な処理過程の流れ図である。
【図５】本発明の一実施形態による相互接続された構成要素群／ボード群を表したブロック図である。
【図６】本発明の一実施形態による構成要素群の相互接続を表したブロック図である。
【符号の説明】
【００３８】
１０  超音波システム
１２  トランスジューサ素子
１４  トランスジューサ・アレイ
１６  接続
２０  トランスジューサ・インタフェースボード
３０  前置増幅器ボード
４０  受信ボード群
４２  受信ボード
４４  受信ボード
４６  受信ボード
４８  受信ボード
５０  ＡＳＩＣ群
５１  ＡＳＩＣ群
５２  ＡＳＩＣ群
５３  ＡＳＩＣ群
５４  Ａ／Ｄ変換器群
５５  Ａ／Ｄ変換器群
５６  Ａ／Ｄ変換器群
５７  Ａ／Ｄ変換器群
６１  ＡＳＩＣ
６３  ＡＳＩＣ
６４  入力
６５  ＡＳＩＣ
６６  バス
６７  ＡＳＩＣ
６８  バス
７０  バス
７２  バス
７４  バス
１００  送信ボード群
１１０  ＲＦＩボード
１３０  接続
１４０  接続
１５０  データバス
１６０  接続
１８０  接続
１９０  バックエンド制御プロセッサ（ＢＥＰ）
１９２  ＲＦＩ−ＢＥＰバス
１９３  ＵＳＢ対ＢＳｃａｎ変換器
１９４  ＵＳＢリンク
１９５  ＪＴＡＧインタフェース／バス
１９６  ＪＴＡＧインタフェース・コントローラ・チップ
１９７  バウンダリスキャン（ＢＳｃａｎ）テストベクトル
１９８  テストプロフィール
１９９  テスト結果
３００  医用イメージング・システム
３０２  バックエンド・プロセッサ／コントローラ
３０４  ＵＳＢバス
３０６  ＵＳＢ対ＢＳｃａｎ変換器
３０８  ＪＴＡＧインタフェース・バス
３１０  ＪＴＡＧ  ＢＳｃａｎインタフェース・コントローラ
３１２  送信ボード
３１４  受信ボード
３１６  周波数Ｉ／Ｆボード
３１８  データベース
３２０  ＢＳｃａｎテストベクトル
３２２  テストプロフィール
３２３  テスト結果
３２４  可搬式サービスユニット
３２６  モデム
３２８  リモート・コンピュータ
４００  流れ図
４０２  選択
４０４  判断／判定
４０６  走査モードの選択
４０８  テストプロフィールの選択
４１０  判断（テストするボードがさらに存在するか）
４１２  テストすべき構成要素に関する決定／アドレス指定／選択
４１４  連絡
４１６  ＢＳｃａｎテストの実施／テスト
４１８  受け取り／保存
４２０  表示
５００  相互接続群
５０２  構成要素／ボード
５０４  構成要素／ボード
５０６  構成要素／ボード
５０８  ＴＤＩ
５１０  ＴＤＯ
５１２  ＴＤＩ
５１４  ＴＤＯ
５１６  ＴＤＩ
５１８  ＴＤＯ
５２０  接続
５２２  接続
５３２  ＴＭＳ
５３４  ＴＣＫ
５４０  ノード／チップ
５４２  ノード／チップ
５４４  ノード／チップ
５４６  ＴＡＰ
５４８  ＴＡＰ
５５０  ＴＡＰ
５５２  ＢＳＣ
５５４  ＢＳＣ
５５６  ＢＳＣ
５５８  ＴＡＰ
５６０  ＴＡＰ
５６２  ＴＡＰ
５６４  ＴＡＰ
５６６  ＴＡＰ
５６８  ＴＡＰ
６００  相互接続
６０２  群
６０４  回路ボード
６０６  回路ボード
６０８  回路ボード
６１０  バックプレーン
６１２  ＢＳｃａｎインタフェース・コントローラ
６１４  スキャンチェーン１
６１６  スキャンチェーン２
６１８  スキャンチェーン３
６２０  ＪＴＡＧインタフェース・バス
【図１】
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【図２】
2007010650.tif 000004
【図３】
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【図４】
2007010650.tif 000006
【図５】
2007010650.tif 000007
【図６】
2007010650.tif 000008
【外国語明細書】
2007010650000001.pdf