(57)【要約】【課題】ディスク・ドライブ装置において、アクチュエータの異常動作を防止する。【解決手段】本発明の一実施形態において、ＨＤＤ１は、起動時処理（ＰＯＲ：パワー・オン・リセット）において、磁気ディスク１１の回転を開始してアクチュエータ１６をユーザ・データ領域上に移動する前に、ＥＥＰＲＯＭ２５に格納されたＡＥポート・テーブルと実際に各ヘッド素子部１２が接続されたＡＥ１３のポートとの整合性のチェックを行う。これによって、ＨＤＤ１の製造においてＨＤＡと再利用した回路基板とが一致しない場合でも、アクチュエータ１６の異常動作を防止することができる。【選択図】図２
2007317291.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
データを記憶する１もしくは複数のディスクと、
前記１もしくは複数のディスクのデータを読み出す、１もしくは複数のヘッドと、
前記１もしくは複数のヘッドを支持及び移動する、ヘッド移動機構と
前記１もしくは複数のヘッドのそれぞれに接続されている、１もしくは複数の接続部と、
１もしくは複数のヘッドのそれぞれに接続部を対応づけているテーブルを参照し、前記ヘッド移動機構によるヘッド移動の前に、前記テーブルに登録されている少なくとも一つのヘッドの状態を判定するコントローラと、
を備えるディスク・ドライブ装置。
【請求項２】
前記コントローラは、前記判定を行なったヘッドの状態がエラーである場合、前記移動機構によるヘッド移動前に外部装置との通信可能な状態となる、
請求項１に記載のディスク・ドライブ装置。
【請求項３】
前記コントローラは、前記ディスク・ドライブ装置の製造工程において、前記判定を実行する、
請求項１に記載のディスク・ドライブ装置。
【請求項４】
前記コントローラは、前記判定を行なったヘッドの状態がエラーである場合、前記移動機構によるヘッド移動前に外部装置との通信を開始し、その外部装置からの指示に従って前記テーブルを書き換える、
請求項３に記載のディスク・ドライブ装置。
【請求項５】
前記コントローラは、前記判定として、前記テーブルに登録されているヘッドのヘッド接続部への接続の有無を判定する、
請求項１に記載のディスク・ドライブ装置。
【請求項６】
前記コントローラは、前記ディスクの回転前に前記判定を実行する、
請求項１に記載のディスク・ドライブ装置。
【請求項７】
１もしくは複数のディスクからデータを読み出す１もしくは複数のヘッドと、前記１もしくは複数のヘッドを支持及び移動するヘッド移動機構と、を有するディスク・ドライブ装置において、
１もしくは複数のヘッドのそれぞれに接続部を対応づけているテーブルを参照し、
前記ヘッド移動機構によるヘッド移動の前に、前記テーブルに登録されている少なくとも一つのヘッドの状態を判定し、
前記判定がエラーを示す場合に、前記ヘッド移動機構によるヘッド移動の前に、外部装置との間における通信を開始する、
ディスク・ドライブ装置の制御方法。
【請求項８】
前記ヘッドの素子のオープン・チェックを行い、その結果に基づき前記判定を行う、
請求項７に記載のディスク・ドライブ装置の制御方法。
【請求項９】
１もしくは複数のディスクと、前記１もしくは複数のディスクのデータを読み出す１もしくは複数のヘッドと、前記１もしくは複数のヘッドを支持及び移動するヘッド移動機構と、前記１もしくは複数のヘッドが接続されるプリアンプＩＣと、を筐体内に実装してヘッド・ディスク・アセンブリを製造し、
前記ヘッド・ディスク・アセンブリに、１もしくは複数のヘッドのそれぞれに接続部を対応づけているテーブルを格納するメモリと、コントローラとが実装された回路基板を接続し、
前記ヘッド移動機構によるヘッド移動の前に、前記コントローラによって、前記テーブルに登録されている少なくとも一つのヘッドの状態を判定する、
ディスク・ドライブ装置の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はディスク・ドライブ装置、その制御方法及びその製造方法に関し、特に、ディスク・ドライブ装置におけるヘッドの状態判定にする。
【背景技術】
【０００２】
ディスク・ドライブ装置として、光ディスク、光磁気ディスクあるいはフレキシブル磁気ディスクなどの様々な態様のメディアを使用する装置が知られている。その中で、ハードディスク・ドライブ（ＨＤＤ）は、コンピュータの記憶装置として広く普及し、現在のコンピュータ・システムにおいて欠かすことができない記憶装置の一つとなっている。さらに、コンピュータ・システムにとどまらず、動画像記録再生装置、カーナビゲーション・システム、携帯電話、あるいはデジタル・カメラなどで使用されるリムーバブルメモリなど、ＨＤＤの用途はその優れた特性により益々拡大している。
【０００３】
ＨＤＤは、データを記憶する磁気ディスクと、磁気ディスクへアクセスするヘッド・スライダとを備えている。ヘッド・スライダは、磁気ディスクとの間のデータ読み出し及び／もしくは書き込みを行うヘッド素子部と、ヘッド素子部がその上に形成されたスライダとを有している。ＨＤＤは、さらに、ヘッド・スライダを磁気ディスク上の所望の位置に移動するアクチュエータを備えている。アクチュエータはボイス・コイル・モータ（ＶＣＭ）によって駆動され、回動軸を中心として回動することによって、回転する磁気ディスク上でヘッド・スライダを半径方向に移動する。これによって、ヘッド素子部が磁気ディスクに形成された所望のトラックにアクセスし、データの読み出し／書き込み処理を行うことができる。
【０００４】
ＨＤＤの製造においては、部品を組み立てた後、ＨＤＤを外部の試験装置に接続して各種パラメータの設定、調整および動作試験等を行う。通常、ＨＤＤは、外部から電源が供給されて起動すると、ＥＥＰＲＯＭに格納されたパラメータを読み出し、読み出されたパラメータに基づいてヘッドが磁気ディスクにアクセスして待機状態（I/F Ready）（外部との通常データ通信を行うことができる状態）になる。
【０００５】
ＨＤＤを組み立てた後に上記の試験やパラメータの設定を行う際、ＥＥＰＲＯＭは初期化された状態であるため、ＨＤＤをテスタに接続して起動すると必ずＥＥＰＲＯＭエラーとなり、ＨＤＤは磁気ディスクを回転することなく待機状態となる。テスタは、待機状態のＨＤＤにコマンド及びデータを送信し、ＨＤＤはそれに従ってＥＥＰＲＯＭのデータを書き換える。
【０００６】
尚、特許文献１には、本件とはその性質を異にするものであるが、ＨＤＤの出荷後におけるヘッドの状態の良否を、ヘッドからの読み出し信号に基づいて判定する技術が開示されている。
【特許文献１】特開平１０−２４１１２８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ＥＥＰＲＯＭにパラメータが格納された後、試験が行われる。この試験において、ＨＤＡ（ヘッド・ディスク・アッセンブリ）にのみ欠陥が見つかり、ＨＤＡに組み合わせられた回路基板が正常である場合、その回路基板は再利用されることとなる。この再利用に係る回路基板のＥＥＰＲＯＭには、すでに各パラメータが格納されている。ＥＥＰＲＯＭに設定されたパラメータは整合性をチェックする性質のものではないので、再利用された回路基板が組み付けられたＨＤＤは、起動するとＥＥＰＲＯＭエラーとならずに、ＥＥＰＲＯＭに格納されたパラメータを正当なものであるとして磁気ディスクの回転を開始し、アクチュエータを駆動して、ヘッド・スライダをユーザ・データが記録されている領域に移動する。
【０００８】
この場合において、ＥＥＰＲＯＭに格納されたパラメータと、ＨＤＡの構成とが不整合である場合、ＨＤＤ内のアクチュエータが予期しない動作をする可能性がある。具体的に、ＨＤＡのヘッド数とＥＥＰＲＯＭに格納されたパラメータが示すヘッド数が異なる場合、ファームウェアが実際に存在しないヘッド素子部によって磁気ディスク上のサーボ・データを読み出してサーボ制御を行おうとして、アクチュエータが予期しない動作をする可能性がある。例えば、アクチュエータがクラッシュ・ストップに衝突して、その際の衝撃でヘッド・スライダが破損することや、磁気ディスクが破損することが考えられる。
【０００９】
従って、回路基板を再利用する場合、アクチュエータの予期しない動作を防止するため、再利用に係る回路基板をＨＤＡに組み付ける前にＥＥＰＲＯＭを初期化する等して、ＥＥＰＲＯＭに格納されたパラメータを消去する工程が必要であり、この工程が生産性の悪化を招いている。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の一態様に係るディスク・ドライブ装置は、データを記憶する１もしくは複数のディスクと、前記１もしくは複数のディスクのデータを読み出す１もしくは複数のヘッドと、前記１もしくは複数のヘッドを支持及び移動するヘッド移動機構と、前記１もしくは複数のヘッドのそれぞれに接続されている１もしくは複数の接続部と、さらに、１もしくは複数のヘッドのそれぞれに接続部を対応づけているテーブルを参照し、前記ヘッド移動機構によるヘッド移動の前に、前記テーブルに登録されている少なくとも一つのヘッドの状態を判定するコントローラを備える。ヘッド移動機構によるヘッド移動の前に、テーブルに登録されている少なくとも一つのヘッドの状態を判定することで、ヘッド移動機構の異常動作を防止することができる。
【００１１】
前記コントローラは、前記判定を行なったヘッドの状態がエラーである場合、前記移動機構によるヘッド移動前に外部装置との通信可能な状態となることが好ましい。これによって、ヘッド・エラーに対応した処理を外部装置から指示することができる。
【００１２】
好ましくは、前記コントローラは、前記ディスク・ドライブ装置の製造工程において、前記判定を実行する。これによって、テーブルと実際のヘッド及び接続部との間の不一致を判定することができる。さらに、前記コントローラは、前記判定を行なったヘッドの状態がエラーである場合、前記移動機構によるヘッド移動前に外部装置との通信を開始し、その外部装置からの指示に従って前記テーブルを書き換えることが好ましい。これによって、テーブルと実際のヘッド及び接続部との間の不一致を解消することができる。
【００１３】
好ましくは、前記コントローラは、前記判定として、前記テーブルに登録されているヘッドのヘッド接続部への接続の有無を判定する。これによって、テーブルと実際のヘッド及び接続部との間の不一致を判定することができる。また、好ましくは、前記コントローラは、前記ディスクの回転前に前記判定を実行して、不要な動作を省略する。
【００１４】
本発明の他の態様は、１もしくは複数のディスクからデータを読み出す１もしくは複数のヘッドと、前記１もしくは複数のヘッドを支持及び移動するヘッド移動機構を有するディスク・ドライブ装置の制御方法である。この制御方法は、１もしくは複数のヘッドのそれぞれに接続部を対応づけているテーブルを参照し、前記ヘッド移動機構によるヘッド移動の前に、前記テーブルに登録されている少なくとも一つのヘッドの状態を判定し、前記判定がエラーを示す場合に、前記ヘッド移動機構によるヘッド移動の前に、外部装置との間における通信を開始する。好ましい例において、前記ヘッドの素子のオープン・チェックを行い、その結果に基づき前記判定を行う。
【００１５】
本発明の他の態様に係るディスク・ドライブ装置の製造方法は、１もしくは複数のディスクと、前記１もしくは複数のディスクのデータを読み出す１もしくは複数のヘッドと、前記１もしくは複数のヘッドを支持及び移動するヘッド移動機構と、前記１もしくは複数のヘッドが接続されるプリアンプＩＣと、を筐体内に実装してヘッド・ディスク・アセンブリを製造する。さらに、前記ヘッド・ディスク・アセンブリに、１もしくは複数のヘッドのそれぞれに接続部を対応づけているテーブルを格納するメモリと、コントローラとが実装された回路基板を接続する。そして、前記ヘッド移動機構によるヘッド移動の前に、前記コントローラによって、前記テーブルに登録されている少なくとも一つのヘッドの状態を判定する。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、ヘッド移動機構の異常動作を防止することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下に、本発明を適用可能な実施の形態が説明される。説明の明確化のため、以下の記載及び図面は、適宜、省略及び簡略化がなされている。又、各図面において、同一要素には同一の符号が付されており、説明の明確化のため、必要に応じて重複説明は省略されている。以下においては、ディスク・ドライブ装置の一例であるハードディスク・ドライブ（ＨＤＤ）を例として、本発明の実施形態を説明する。本形態のＨＤＤは、退避位置からヘッド素子部を移動する前に、ヘッド素子部の状態を確認する。特に、予め登録されているヘッド素子部が、実際に対応する接続部に接続されているかを確認する。これによって、アクチュエータの異常動作によるヘッド素子部及び磁気ディスクの損傷を防止する。
【００１８】
本実施形態の特徴点の理解を容易とするため、最初に、ＨＤＤの全体構成を説明する。図１は、本実施の形態に係るＨＤＤ１の全体構成を模式的に示すブロック図である。図１に示すように、ＨＤＤ１は、エンクロージャ１０内に、データを記憶するディスクの一例である磁気ディスク１１、ヘッド素子部１２、アーム電子回路（アームエレクトロニクス：ＡＥ）１３、スピンドル・モータ（ＳＰＭ）１４、ボイス・コイル・モータ（ＶＣＭ）１５、そしてアクチュエータ１６を備えている。これらを、ヘッド・ディスク・アセンブリ（ＨＤＡ）と呼ぶ。
【００１９】
ＨＤＤ１は、エンクロージャ１０の外側に固定された回路基板２０を備えている。回路基板２０上には、リード・ライト・チャネル（ＲＷチャネル）２１、モータ・ドライバ・ユニット２２、ハードディスク・コントローラ（ＨＤＣ）とＭＰＵの集積回路（以下、ＨＤＣ／ＭＰＵ）２３、ＲＡＭ２４及びＥＥＰＲＯＭ２５などの各ＩＣを備えている。尚、各回路構成は一つのＩＣに集積すること、あるいは、複数のＩＣに分けて実装することができる。
【００２０】
ＳＰＭ１４は、そこに固定されている磁気ディスク１１を、所定の角速度で回転する。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３からの制御データに従って、モータ・ドライバ・ユニット２２がＳＰＭ１４を駆動する。本例の磁気ディスク１１は、データを記録する記録面を両面に備え、各記録面に対応するヘッド素子部１２が設けられている。
【００２１】
ヘッドの一例である各ヘッド素子部１２はスライダ（不図示）に固定されている。また、スライダは、ヘッド移動機構の一例であるアクチュエータ１６に固定されている。データのリード及びライト時において、スライダは回転する磁気ディスク１１上を浮上する。アクチュエータ１６はＶＣＭ１５に連結され、回動軸を中心に回動することによって、ヘッド素子部１２（及びスライダ）を磁気ディスク１１上において半径方向に移動する。
【００２２】
モータ・ドライバ・ユニット２２は、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３からの制御データに従ってＶＣＭ１５を駆動する。ヘッド素子部１２には、典型的には、ライト・データに応じて電気信号を磁界に変換するライト素子及び磁気ディスク１１からの磁界を電気信号に変換するリード素子を備えている。なお、磁気ディスク１１は、１枚以上あればよく、記録面は磁気ディスク１１の片面あるいは両面に形成することができる。また、本発明をリード素子のみを備えるデータ記憶装置に適用することができる。
【００２３】
ＡＥ１３は、複数のヘッド素子部１２の中からデータ・アクセスが行われる１つのヘッド素子部１２を選択し、選択されたヘッド素子部１２により再生される再生信号を一定のゲインで増幅（プリアンプ）し、ＲＷチャネル２１に送る。また、ＲＷチャネル２１からの記録信号を選択されたヘッド素子部１２に送る。本形態のＡＥ１３は、リード素子及びライト素子のオープン／ショートや、リード素子及びライト素子の抵抗値などの測定を行う機能を有し、これらの機能を使用して、ヘッド素子部１２の接続状態を検出することができる。この点については、後に説明する。
【００２４】
ＲＷチャネル２１は、ライト処理において、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３から供給されたライト・データをコード変調し、更にコード変調されたライト・データをライト信号に変換してＡＥ１３に供給する。リード処理において、ＲＷチャネル２１はＡＥ１３から供給されたリード信号を一定の振幅となるように増幅し、取得したリード信号からデータを抽出し、デコード処理を行う。読み出されるデータは、ユーザ・データとサーボ・データを含む。デコード処理されたリード・データは、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３に供給される。
【００２５】
ＨＤＣ／ＭＰＵ２３において、ＭＰＵはＲＡＭ２４にロードされたマイクロ・コードに従って動作する。ＨＤＤ１の起動に伴い、ＲＡＭ２４には、ＭＰＵ上で動作するマイクロ・コードの他、制御及びデータ処理に必要とされるデータが磁気ディスク１１あるいはＲＯＭ（不図示）からロードされる。また、必要な各パラメータが、ＥＥＰＲＯＭ２５からＲＡＭ２４にロードされる。ＨＤＣはロジック回路として構成され、ＭＰＵと一体的に様々な処理を実行する。例えば、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、コマンド実行順序の管理、ヘッド素子部１２のポジショニング制御、インターフェース制御、ディフェクト管理などのデータ処理に関する必要な処理の他、ＨＤＤ１の全体制御を実行する。本形態のＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、特に、ヘッド素子部の接続状態を確認する処理を実行する。この点については、この点については、後に説明する。
【００２６】
ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ＲＷチャネル２１から取得した磁気ディスク１１からのリード・データを、ホスト５１に転送する。磁気ディスク１１からのリード・データは、ＲＡＭ２４内のリード・バッファに一旦格納された後、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３を介してホスト５１に転送される。また、ホスト５１からのライト・データは、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３を介して、ＲＡＭ２４内のライト・バッファに一旦格納され、その後、所定のタイミングでＨＤＣ／ＭＰＵ２３を介して磁気ディスク１１に転送される。
【００２７】
ＨＤＤ１の製造工程は、エンクロージャ１０内に各構成部品を実装して、ＨＤＡを製造する。具体的には、ヘッド・スライダとアクチュエータ１６のアセンブリであるヘッド・スタック・アセンブリ（ＨＳＡ）、ＳＰＭ１４、ＶＣＭ１５を構成する磁石、そして磁気ディスク１１などを実装する。ＡＥ１３は、ＨＳＡの製造工程において、アクチュエータ１６に固定される。その後、ＨＤＡのエンクロージャ１０背面に回路基板２０を実装して、ＨＤＤ１を製造する。ＨＤＡ内部の構成要素と回路基板２０とは、エンクロージャ１０内から出ているフレキシブル・ケーブルによって接続される。
【００２８】
組み立てられたＨＤＤ１は専用のテスタ（テスト・コンピュータ）に接続され、各種パラメータの設定、調整等がされた後、出荷前の動作試験が行われる。ＨＤＤ１には、各種パラメータの設定、調整において、ヘッド素子部１２の論理番号（論理ヘッド番号）とＡＥ１３のポート番号との関連付けを示すテーブル（以下、ＡＥポート・テーブル）や、ＲＷチャネル２１のチャネル・パラメータ、ヘッド素子部１２が磁気ディスク１１にデータを書き込む際のライト電流値を決定するパラメータ等が格納される。動作試験を通過したＨＤＤ１は製品として出荷される。
【００２９】
ＨＤＤ１の組み立て後、出荷前の動作試験において、ＨＤＡにのみ欠陥が見つかり、ＨＤＡに組み合わせられた回路基板２０が正常である場合、その回路基板２０は再利用される。この再利用に係る回路基板２０は、すでにＥＥＰＲＯＭ２５にパラメータが格納されている。従って、ＥＥＰＲＯＭ２５に格納されたＡＥポート・テーブルと実際のＡＥポートに接続されたヘッド素子部１２との整合性をチェックしない場合、ヘッド素子部１２の接続されていないＡＥポートが選択された状態でアクチュエータ１６が駆動される。その結果、サーボ・データを読み出すことができず、アクチュエータ１６が予期しない動作を行うことによってヘッド素子部１２や、磁気ディスク１１が損傷してしまう可能性がある。
【００３０】
そこで、本形態のＨＤＤ１は、起動時処理（ＰＯＲ：パワー・オン・リセット）において、磁気ディスク１１の回転を開始してアクチュエータ１６（ヘッド素子部１２）をユーザ・データ領域上に移動する前に、ＥＥＰＲＯＭ２５に格納されたＡＥポート・テーブルと実際に各ヘッド素子部１２が接続されたＡＥ１３のポートとの整合性のチェック（以下、ＡＥポート・チェック）を行う。
【００３１】
ＨＤＤ１は、自身に実装された機能として、このチェックを実施する。具体的には、図２のブロック図に示すように、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３内のＭＰＵがインストールされているプログラムに従って処理を行うことで、ＡＥポート・チェック制御部２３１として機能する。図２は、ＡＥ１３に４つのヘッド素子部１２＿０−１２＿３が、ヘッドの接続部である各ポート１３２＿０−１３２＿３に接続されている例を示している。
【００３２】
なお、本形態のＡＥポート・チェックは、ロード・アンロード方式のＨＤＤ及びＣＳＳ（Contact Start Stop）のＨＤＤの双方に適用することができる。ロード・アンロード方式において、ヘッド・スライダ（アクチュエータ１６）は、非動作時に、ランプの停止位置（退避位置）にある。また、ＣＳＳ方式において、ヘッド・スライダは磁気ディスク１１の最内周側領域の停止位置（退避位置）にある。
【００３３】
図２に示すように、ＡＥポート・チェック制御部２３１は、ＡＥ１３に実装されている機能（ＡＥ制御部１３１の機能）を利用して、ＡＥポート・チェックを実行する。ＡＥ制御部１３１は、各ヘッド素子部１２＿０−ヘッド素子部１２＿３の特性チェックを行うことができる。具体的には、ＡＥ制御部１３１は、リード素子及びライト素子のオープン／ショートや、リード素子及びライト素子の抵抗値などの測定を行うことができる。これらの機能によって、各ヘッド素子部１２＿０−ヘッド素子部１２＿３の接続状態を特定することができる。ヘッド素子部の接続の有無を特定するのに好適な機能は、リード素子のオープン検出機能である。以下においては、この機能を使用する例を説明する。
【００３４】
ＡＥポート・チェック制御部２３１は、ＥＥＰＲＯＭ２５からＲＡＭ２４にロードされているＡＥポート・テーブル２５１を参照する。図３は、ＡＥポート・テーブル２５１の一例を示している。この例は、ＡＥポート番号０−３のそれぞれに、論理ヘッド番号０−３の各ヘッド素子部が接続されていることを示している。
【００３５】
ＡＥポート・チェック制御部２３１は、ＡＥポート・テーブル２５１からＡＥポート番号を取得し、その番号を指定したリード素子のオープン・チェックをＡＥ制御部１３１に指示する。具体的には、ＡＥポート・チェック制御部２３１は、ＡＥポート番号とリード素子のオープン・チェックの指示とを、ＡＥ１３のＡＥコントロール・レジスタ１３４に格納する。
【００３６】
ＡＥ制御部１３１は、ＡＥコントロール・レジスタ１３４を参照して、ＡＥポート１３２＿０−１３２＿３の中から指定された番号のＡＥポートを選択し、そのポートに接続されているリード素子のオープン・チェックを実行する。ＡＥ制御部１３１は、さらに、そのチェック結果をＡＥステータス・レジスタ１３３に格納する。ＡＥポート・チェック制御部２３１は、ＡＥステータス・レジスタ１３３を参照することで、チェック結果を取得することができる。ＡＥポート・チェック制御部２３１は、ＡＥポート・テーブル２５１から順番に各ＡＥポート番号を取得して、上述のリード素子のオープン・チェック処理を繰り返す。これによって、ＡＥポート・チェック制御部２３１は、ＡＥポート・テーブル２５１の情報が正しいか否かを判断する。
【００３７】
図４は本形態に係るＨＤＤ１のＰＯＲ処理を示すフローチャートである。電源が投入され、ＨＤＤ１が起動されると（Ｓ４０１）、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ＥＥＰＲＯＭ２５にパラメータが設定されているか否かを判断する（Ｓ４０２）。この時、ＡＥポート・テーブル２５１が格納されているか否かのみを判断しても良い。
【００３８】
ＨＤＤ１の組み立て後、まだパラメータの設定や動作試験等が行われていない場合、ＥＥＰＲＯＭ２５にはパラメータが設定されておらず（Ｓ４０２におけるＮＯ）、ＥＥＰＲＯＭエラーとなる（Ｓ４０３）。この場合は、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３はインターフェース・レジスタ（不図示）内にそのエラーを登録すると共に、磁気ディスク１１のスピン・アップおよびアクチュエータ１６によるヘッド移動を行うことなく、インターフェース待機状態（I/F Ready）へ移行する（Ｓ４１４）。これにより、ＰＯＲ処理が終了する。インターフェース待機状態となると、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３とテスタとは、データの通信を行うことができる。テスタは、待機状態のＨＤＣ／ＭＰＵ２３にコマンド及びデータを送信し、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３はそれに従って、ＥＥＰＲＯＭ２５に所定のデータを書き込む。
【００３９】
ＥＥＰＲＯＭ２５にパラメータが設定されており、ＡＥポート・テーブル２５１が格納されている場合（Ｓ４０２におけるＹＥＳ）、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ＡＥポート・テーブル２５１をＲＡＭ２４にロードする（Ｓ４０４）。ＡＥポート・チェック制御部２３１は、ＡＥポート・テーブル２５１からＡＥポート番号を読み出す（Ｓ４０５）。そして、ＡＥポート・チェック制御部２３１は、ＡＥステータス・レジスタ１３３をクリアし（Ｓ４０６）、読み出したＡＥポート番号とリード素子オープン・チェックの指示をＡＥコントロール・レジスタ１３４にセットする（Ｓ４０７）。
【００４０】
ＡＥポート・チェック制御部２３１は、ＡＥポート番号及び指示をセットした後、判定時間だけ待つ（Ｓ４０８）。ＡＥポート・チェック制御部２３１が待っている間に、ＡＥ１３内では、上述のようにＡＥ制御部１３１が選択されたＡＥポート１３２におけるリード素子オープン・チェックを行い、その結果をＡＥステータス・レジスタ１３３に格納する。
【００４１】
ＡＥポート・チェック制御部２３１は、判定時間が経過すると（Ｓ４０８）、ＡＥステータス・レジスタ１３３を参照し、格納されている検出結果を取得する（Ｓ４０９）。ＡＥポート・チェック制御部２３１は、その結果によって、セットしたＡＥポート番号にヘッド素子部１２がいるか否かを判定する（Ｓ４１０）。オープン・エラーである場合、ＡＥポート・チェック制御部２３１は、ヘッド素子部が接続されていないと判定する（Ｓ４１０におけるＮＯ）。
【００４２】
ＥＥＰＲＯＭ２５に格納されているＡＥポート・テーブル２５１の情報が間違っているため、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、ＳＰＭ１４のスピン・アップ及びアクチュエータ１６の駆動をすることなくインターフェース待機状態へ移行し（Ｓ４１４）、ＰＯＲ処理が終了する。その後、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、テスタからの指示に従って、ＥＥＰＲＯＭ２５に所定のデータを書き込む。
【００４３】
ＡＥステータス・レジスタ１３３から取得した結果が、リード素子が正常であることを示している場合、ＡＥポート・チェック制御部２３１は、当該ＡＥポート番号にヘッド素子部が接続されており、問題がないと判断する（Ｓ４１０におけるＹＥＳ）。そして、ＡＥポート・チェック制御部２３１は、ＡＥポート・テーブル２５１に設定されている全てのＡＥポートについてチェックを行った否かを判断する（Ｓ４１１）。すべてのＡＥポートについてチェックが終了していなければ（Ｓ４１１におけるＮＯ）、次のＡＥポート番号をＡＥポート・テーブル２５１から読み出し（Ｓ４０５）、再度チェックを行う（Ｓ４０５〜Ｓ４１０）。
【００４４】
ＡＥポート・テーブル２５１に設定されている全てのＡＥポートについてチェックが終了していれば（Ｓ４１１におけるＹＥＳ）、ＡＥポート・チェック制御部２３１は、ＡＥポート・テーブル２５１に設定された情報が、当該回路基板２０が取り付けられたＨＤＡに対応した正しい上方であると判断する。ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、リード・オペレーション及びライト・オペレーションを含む所定の動作テストを行い（Ｓ４１３）、インターフェース待機状態へ移行する（Ｓ４１４）。その後、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、テスタからの指示に従って、ＥＥＰＲＯＭ２５に所定のデータを書き込む。
【００４５】
次に、図５（ａ）〜（ｄ）を用いて、ＡＥポート・テーブル２５１と、実際のＡＥポートの整合性のチェックについて更に詳細に説明する。図５（ａ）は、ＡＥポート・テーブル２５１の一例を示している。この例は、ＡＥポート番号０から３までが使用されていることを示している。具体的には、ＡＥポート番号０から３のそれぞれに、論理ヘッド番号０から３が対応している。また、右側の実際のＡＥポートを示す表は、図２に示すように、ＡＥポート１３２＿０から１３２＿３にヘッド素子部１２＿０から１２＿３が接続されていることを示している。
【００４６】
図５（ａ）に示すＡＥポート０から３は、図２に示すＡＥポート１３２＿０から１３２＿３に夫々対応しており、ヘッド素子部１２＿０から１２＿３は、図２に示すヘッド素子部１２＿０から１２＿３に夫々対応している。従って、図５（ａ）に示すＡＥポート・テーブル２５１と実際のヘッド接続状態とが一致している。
【００４７】
図５（ａ）の例においては、ＡＥポート・テーブル２５１の設定と、実際のＡＥポート１３２とヘッド素子部１２との接続が一致しているので、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、図４を参照して説明したように、ＡＥポート・エラーを起こすことなく、所定の動作テストを行い（Ｓ４１３）、インターフェース待機状態へ移行する（Ｓ４１４）。
【００４８】
次に図５（ｂ）の場合について説明する。図５（ｂ）のＡＥポート・テーブルは、図５（ａ）のＡＥポート・テーブルと同一である。一方、実際にＡＥ１３に接続されているヘッド素子部は２つである。具体的には、図２の例において、ＡＥポート１３２＿０にヘッド素子部１２＿０が接続され、ＡＥポート１３２＿１にヘッド素子部１２＿１が夫々接続されている例に相当する。他のＡＥポート１３２＿２、１３２＿３にはヘッド素子部が接続されていない。
【００４９】
この場合、ＡＥ制御部１３１がＡＥポート番号０、１に対応するＡＥポート１３２＿０、１３２＿１をチェックすると、ヘッド素子部１２＿０、１２＿１が接続されているためエラーにならない。しかしながら、ＡＥポート・チェック制御部２３１からの指示に従って、ＡＥ制御部１３１が、ＡＥポート番号２に対応するＡＥポート１３２＿２のチェックをすると、そこにはヘッド素子部１２が接続されていないので、ＡＥポート・エラーとなる。ＡＥ制御部１３１は、エラー結果をＡＥステータス・レジスタ１３３に格納する。この結果、ＨＤＤ１はスピン・アップおよびヘッド移動を伴う所定の動作テストを行わずに、インターフェース待機状態へ移行して（Ｓ４１４）、ＰＯＲ処理を終了する。
【００５０】
次に、図５（ｃ）の場合について説明する。図５（ｃ）において、図５（ｂ）と同様に、実際にＡＥポート１３２＿０にヘッド素子部１２＿０が接続され、ＡＥポート１３２＿１にヘッド素子部１２＿１が夫々接続されている。一方、ＡＥポート・テーブル２５１において、２つのヘッド素子部を有するものとして、論理ヘッド番号０、１にＡＥポート番号０、１が夫々対応付けられている。
【００５１】
この場合、ＡＥポート番号０、１に対応するＡＥポートのチェックが実行されると、ＡＥポート１３２＿０、１３２＿１にはヘッド素子部１２＿０、１２＿１が接続されているためエラーにならない。従って、ＡＥポート・エラーが起きることなく、ＨＤＣ／ＭＰＵ２３は、所定の動作テスト（Ｓ４１３）を行った後、I/F Readyとなる。
【００５２】
次に、図５（ｄ）の場合について説明する。図５（ｄ）は、図５（ｂ）、（ｃ）と同様に、実際にＡＥポート１３２＿０にヘッド素子部１２＿０が接続され、ＡＥポート１３２＿１にヘッド素子部１２＿１が夫々接続されている場合を示している。ＡＥポート・テーブル２５１において、２つのヘッド素子部を有するものとして、論理ヘッド番号０、１にＡＥポート番号１、２が夫々対応付けられている。従って、図５（ｄ）に示すＡＥポート・テーブル２５１においては、図２に示したＡＥポート１３２＿１、１３２＿２が使用され、他のポートは使用されていない旨の情報が示されている。
【００５３】
この場合、ＡＥポート番号１が読み出されてＡＥポート・チェックが実行されると、対応するＡＥポート１３２＿１にはヘッド素子部１２＿１が接続されているためエラーにならない。しかしながら、次に、ＡＥポート番号２が読み出されてチェックが実行されると、対応するＡＥポート１３２＿２にはヘッド素子部１２が接続されていない。従って、ＡＥポート・エラーとなり、その旨がＡＥステータス・レジスタ１３３に格納される。この結果、ＨＤＤ１はスピン・アップおよびヘッド移動を伴う所定の動作テストを行わずに、インターフェース待機状態へ移行して（Ｓ４１４）、ＰＯＲ処理を終了する。
【００５４】
上述のように、本形態のＡＥポート・チェック機能は、出荷前の動作試験において再利用される回路基板２０に限らず、実際に使用された回路基板２０であって、ＨＤＡのみが故障し回路基板２０には問題が無く、回路基板２０のみ再利用する場合にも、同様の効果を得ることができる。
【００５５】
本形態に係るＨＤＤ１のＰＯＲ処理に係るＡＥポート・チェックは、ホスト装置やテスタ等、外部の命令によることなく実行可能であるため、ＨＤＤ１のみで処理を完結させることができる。
【００５６】
本形態のＡＥポート・チェック機能は、ＨＤＤ１の製造工程において回路基板２０を再利用する場合に特に有効であるが、出荷後における通常動作のＰＯＲにおいて、ＨＤＤ１は、このＡＥポート・チェックを行ってもよい。ＨＤＤ１が起動していない状態においてヘッド素子部１２が破損した場合等に、アクチュエータ１６の予期しない動作によるヘッド素子部１２や、磁気ディスク１１の損傷を防ぐことができる。なお、磁気ディスク１１が損傷しなければ、ＨＤＤ１から磁気ディスク１１を取り出すことによって、そこに記録されているデータを回復することができる。
【００５７】
以上、実施形態を例として本発明を説明したが、本発明が上記の実施形態に限定されるものではない。例えば、各処理と論理構成との関係は上記例に限定されるものではない。設計者は、効率的な機能及び回路構成によって、データ記憶装置を設計することができる。上記のＡＥポート・チェックは、ＡＥ１３以外の回路に実装された同様の機能を使用してもよい。また、ヘッド状態を判定するために、リード素子のオープン・チェックの他、ライト素子のオープン・チェック、あるいは、リード素子の抵抗値測定などの機能を利用してもよい。例えば、リード素子の抵抗値測定において、抵抗値が基準値未満の場合に、ＡＥポート・チェック制御部２３１は、リード素子が正常に読み出しを行うことができないとして、エラー判定を行う。
【００５８】
上記説明においては、ＡＥポート・テーブル２５１に設定されたＡＥポート番号の全てについて、ヘッド素子部１２の接続状態のチェックを行ったが、インターフェース待機状態になる前の処理（動作テスト）によっては、その一部のみをチェックしてもよい。例えば、ＰＯＲ処理において、ＨＤＤ１がアクチュエータ１６を退避位置から記録面上に移動する際にサーボ・データを読み出す１つのヘッド素子部１２についてのみチェックを行う。また、本形態のＡＥポート・チェックは、ＨＤＤ１に実装されているヘッド素子部の数によらず使用することができる。
【００５９】
上述のように、不要な処理を省略するため、磁気ディスク１１がスピン・アップする前にＡＥポート・チェックを行うことが好ましい。しかしながら、磁気ディスク１１がスピン・アップしても、アクチュエータ１６が駆動されなければ、ＡＥポート・エラーによる不具合を避けることができる。上記の実施形態において、ヘッド素子部１２は、書き込み及び読み出し処理を行うことができる記録再生ヘッドであるが、例えば、再生のみを行う再生専用装置に本発明を適用することも可能である。また、本発明はＨＤＤに特に有用であるが、光ディスクなどの他のディスクを使用する装置に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】本発明の実施形態に係るＨＤＤの全体構成を模式的に示すブロック図である。
【図２】本発明の実施形態において、ＡＥポート・チェックを実行する各論理構成要素を模式的に示すブロック図である。
【図３】本発明の実施形態において、ＡＥポート・テーブルの一例を示す図である。
【図４】本発明の実施形態に係るＡＥポート・チェックのシーケンスを示すフローチャートである。
【図５】本発明の実施形態に係るＡＥポート・テーブルおよび実際のＡＥポートとヘッドとの接続の例を示す図である。
【符号の説明】
【００６１】
１  ハードディスク・ドライブ、１０  エンクロージャ、１１  磁気ディスク
１２  ヘッド素子部、１３  アーム・エレクトロニクス、１４  スピンドル・モータ
１５  ボイス・コイル・モータ、１６  アクチュエータ、２０  回路基板
２１  リード・ライト・チャネル、２２  モータ・ドライバ・ユニット
２３  ハードディスク・コントローラ／ＭＰＵ、２４  ＲＡＭ、２５  ＥＥＰＲＯＭ
５１  外部ホスト、１３１  ＡＥ制御部、１３２  ＡＥポート
１３３  ステータス・レジスタ、１３４  コントロール・レジスタ
２３１  ポート・チェック制御部
２５１  ＡＥポート・テーブル
【図１】
2007317291.tif 000003
【図２】
2007317291.tif 000004
【図３】
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【図４】
2007317291.tif 000006
【図５】
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