(57)【要約】【課題】ピアサプラグの寿命を長く保たせると共に、穿孔圧延時のスリップまたはミスロールの発生を防止することが可能なピアサプラグ及び穿孔圧延方法を提供する【解決手段】本発明に係るピアサプラグ３は、下記の式（１）で定義される鈍頭係数が２８以上３５以下に設定されていることを特徴とする。  鈍頭係数＝（ＲＳＰ／Ｂ'ｔ）／（ＲＬＰ／Ｌ１）×１０００  ・・・（１）  ここで、上記式（１）において、ＲＳＰはピアサプラグの先端部の曲率半径を、Ｂ'ｔはピアサプラグを用いて穿孔圧延する丸ビレットの外径を、ＲＬＰはピアサプラグの圧延部の曲率半径を、Ｌ１はピアサプラグの圧延部の長さを意味し、式（１）に入力されるＲＳＰ、Ｂ'ｔ、ＲＬＰ及びＬ１の数値は全て同じ単位である。【選択図】 図３
2007260685.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
下記の式（１）で定義される鈍頭係数が２８以上３５以下に設定されていることを特徴とするピアサプラグ。
鈍頭係数＝（ＲＳＰ／Ｂ'ｔ）／（ＲＬＰ／Ｌ１）×１０００  ・・・（１）
ここで、上記式（１）において、ＲＳＰはピアサプラグの先端部の曲率半径を、Ｂ'ｔはピアサプラグを用いて穿孔圧延する丸ビレットの外径を、ＲＬＰはピアサプラグの圧延部の曲率半径を、Ｌ１はピアサプラグの圧延部の長さを意味し、式（１）に入力されるＲＳＰ、Ｂ'ｔ、ＲＬＰ及びＬ１の数値は全て同じ単位である。
【請求項２】
表面に厚みが２００μｍ以上１０００μｍ以下の酸化スケール層を有することを特徴とする請求項１に記載のピアサプラグ。
【請求項３】
穿孔圧延機を構成する互いに傾斜した一対の圧延ロール間に請求項１又は２に係るピアサプラグを配設し、前記圧延ロール間に丸ビレットを送給して該丸ビレットを穿孔圧延することを特徴とする穿孔圧延方法。
【請求項４】
前記ピアサプラグのリーリング部のテーパ角と、前記圧延ロールの出口面角との差を０°以上１．５°以下に設定することを特徴とする請求項３に記載の穿孔圧延方法。
【請求項５】
前記丸ビレットは、５重量％以上のＣｒを含有する高合金鋼からなることを特徴とする請求項３又は４に記載の穿孔圧延方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、継目無管の製管設備である穿孔圧延機に用いられるピアサプラグ及びこのピアサプラグを用いた穿孔圧延方法に関し、特に、５重量％以上のＣｒを含有する高合金鋼からなる丸ビレットを高傾斜角・高ロール回転数で穿孔圧延して長尺なシェルを得る場合であっても、ピアサプラグの寿命を長く保たせると共に、そのピアサプラグを用いて穿孔圧延する場合にスリップまたは圧延失敗（以後、ミスロールという）を引き起こさないピアサプラグ及び穿孔圧延方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
マンネスマン−マンドレルミル方式による継目無管の製造においては、まず素材の丸ビレットを回転炉床式加熱炉で１２００〜１２６０℃に加熱した後、穿孔圧延工程においてピアサプラグと穿孔圧延機の圧延ロールとを用いて穿孔圧延してホローシェルを製造する。次に、前記ホローシェルの内面にマンドレルバーを串状に挿入し、通常５〜８スタンドからなるマンドレルミルで外面を孔型圧延ロールで拘束して延伸圧延することにより、所定の肉厚まで減肉する。その後、マンドレルバーを抜き取り、前記減肉された素管を定径圧延機で所定外径に定径圧延して製品を得る。
【０００３】
図１は、穿孔圧延機の概略構成を示す図であり、図１（ａ）は側面図を、図１（ｂ）は平面図を示す。なお、図１（ｂ）ではピアサプラグの図示を省略している。図１に示すように、穿孔圧延機１０は、互いに傾斜した一対の圧延ロール１ａ，１ｂと、マンドレル２に後端が支持された砲弾状のピアサプラグ３’とを備えている。一対の圧延ロール１ａ，１ｂは、それらの軸方向が側面視で互いに平行或いは所定の交叉角で交叉するように設定される一方、平面視で互いに逆方向に傾斜角ＦＡだけ傾けて配設されており、互いに同方向に回転するように構成されている。ピアサプラグ３’は、一対の圧延ロール１ａ，１ｂ間に配設されている。
【０００４】
斯かる構成を有する穿孔圧延機１０を用いて中実の丸ビレットＢを穿孔圧延するために、先ず、丸ビレットＢを一対の圧延ロール１ａ，１ｂ間に送給する。丸ビレットＢが一対の圧延ロール１ａ，１ｂに噛み込んだ後は、圧延ロール１ａ，１ｂの摩擦力によって丸ビレットＢには回転させられる力と軸方向に前進させられる力が同時に作用する。そして、ピアサプラグ３’の先端に到達するまでに、丸ビレットＢの中心部には、圧延ロール１ａ，１ｂによって圧縮応力と引張り応力とが交互に連続して作用（回転鍛造効果）し、孔が開きやすい状態となる。丸ビレットＢがピアサプラグ３’に衝突すると、ビレットＢの中心部に孔が開けられ、以降、圧延ロール１ａ，１ｂとピアサプラグ３’との間で半回転毎に肉厚加工を受け、ホローシェルＳが得られる。
【０００５】
ここで、継目無管の製管効率を高めると共に歩留まりを改善するべく、上記のようにして得られるホローシェルＳを長尺（例えば、長さ９ｍ〜１２ｍ程度）とし、該ホローシェルＳから２本分の製品を得る所謂２本取り製管方法を実施する場合がある。しかしながら、２本取り製管方法を実施すると、ホローシェルＳが長尺であるため、必然的に穿孔圧延時間（丸ビレットＢの先端が圧延ロール１ａ，１ｂに噛み込んでから、シェルＳの後端が圧延ロール１ａ，１ｂから抜け出るまでの時間）は長くなり、ピアサプラグ３’に対する負荷（熱負荷）が増大して、ピアサプラグ３’の寿命が低下する。特に、５重量％以上のＣｒを含有する高合金鋼からなる丸ビレットＢを用いて２本取り製管方法を実施すると、ピアサプラグ３’の寿命は著しく短くなり、わずか１パス（１回の穿孔圧延）でピアサプラグ３’が溶損して、その寿命が尽きてしまう場合がある。斯かるピアサプラグ３’の寿命低下は、ピアサプラグ３’の原単位を増加させ、結果的に製管コストの増加を招く。したがい、実操業において、ピアサプラグ３’の寿命を長く保つことは必要不可欠である。
【０００６】
そこで、本発明の発明者らは、ピアサプラグ３’にかかる負荷（熱負荷）を低減させ、ピアサプラグ３’の寿命を向上させるために試行錯誤を重ねた。たとえば、圧延ロール１ａ，１ｂの傾斜角ＦＡを大きくする（高傾斜角）と共に、回転数を大きくして（高ロール回転数）、穿孔圧延時間を短縮させる方法を試みた。しかしながら、特にビレットを高傾斜角・高ロール回転数で穿孔圧延する場合には、圧延ロール１ａ，１ｂとホローシェルＳとの間に過度のスリップが発生し、穿孔圧延を失敗する場合のあることが分かった。
【０００７】
なお、従来より、ピアサプラグ３’の寿命向上を目的として、ピアサプラグ３’の形状や材質を特化する種々の提案がなされている（例えば、特許文献１参照）。しかしながら、従来提案されているピアサプラグは、専らその寿命向上を図ることにのみ着目したものであって、スリップ発生によるミスロールを起こさない、特に上記のような高傾斜角・高ロール回転数の条件下でのミスロールを起こさないという観点については何ら考慮されていない。
【特許文献１】特公平７−８７９３０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明は、斯かる従来技術の問題点を解決するべくなされたものであり、５重量％以上のＣｒを含有する高合金鋼からなる丸ビレットを高傾斜角・高ロール回転数で穿孔圧延して長尺なホローシェルを得る場合であっても、ピアサプラグの寿命を長く保たせると共に、そのピアサプラグを用いて穿孔圧延する場合にスリップまたはミスロール起こさないピアサプラグ及び穿孔圧延方法を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
前記課題を解決するべく、本発明の発明者らは、ピアサプラグの形状について鋭意検討し、以下の（Ａ）〜（Ｃ）に示す知見を得た。なお、以下の説明で参照する図２は、従来形状のピアサプラグ（従来プラグ）及び形状を変更したピアサプラグ（改善プラグ）のそれぞれを用いた場合における、ホローシェルの肉厚圧下率（ホローシェルの半回転毎の肉厚圧下率）を数値シミュレーションした結果の一例を示す。
【００１０】
（Ａ）穿孔圧延する丸ビレットの外径に対して、ピアサプラグの先端部の曲率半径が大き過ぎると、該先端部が丸ビレットへ適切に噛み込まず、該先端部への熱負荷が過大となるため、溶損が生じ易くなる。一方、ピアサプラグの先端部の曲率半径が小さ過ぎても、該先端部の熱容量が過小となるため、溶損が生じ易くなる。従って、穿孔圧延する丸ビレットの外径に対して、溶損の発生防止の観点から適切なピアサプラグ先端部の曲率半径を決定することを着想した。
【００１１】
（Ｂ）ピアサプラグの圧延部の長さに対して、該圧延部の曲率半径が小さ過ぎると（図２に示す従来プラグがこれに相当）、該圧延部の後端部からリーリング部の前端部にかけてのホローシェルの肉厚圧下率が過小となり、圧延ロールによるホローシェルのグリップ力が低下する結果、圧延ロールの過度のスリップが生じ易くなる。一方、ピアサプラグの圧延部の曲率半径の上限値は、ホローシェルの目標肉厚に応じて決定されることになる。従って、ピアサプラグの圧延部の長さに対して、スリップの発生防止の観点から適切なピアサプラグ圧延部の曲率半径を決定することを着想した。換言すれば、図２に示す改善プラグのように、圧延部の後端部からリーリング部の前端部にかけてのホローシェルの肉厚圧下率が適度に上昇し得るように、ピアサプラグ圧延部の長さに対するピアサプラグ圧延部の曲率半径を設定すれば、スリップの発生を防止できると考えた。
【００１２】
（Ｃ）この結果、鈍頭係数と呼ばれる指標、つまりピアサプラグの圧延部の長さに対する該圧延部の曲率半径の比（＝ピアサプラグの圧延部の曲率半径／ピアサプラグの圧延部の長さ）に比例し、丸ビレットの外径に対するピアサプラグの先端部の曲率半径の比（＝ピアサプラグの先端部の曲率半径／丸ビレットの外径）に反比例する、ピアサプラグの尖頭の程度を表す指標を着想し、この鈍頭係数を所定の範囲に設定すれば、ピアサプラグの寿命を長く保つ（つまり溶損の発生を抑止する）と共に、穿孔圧延時のスリップまたはミスロールの発生も防止できると思い至った。
【００１３】
本発明の発明者らは、上記の新しい知見に基づき、種々の異なる鈍頭係数を有するピアサプラグを用いて穿孔圧延試験を繰り返した結果、ピアサプラグの寿命を長く保つと共に、穿孔圧延時のスリップまたはミスロールの発生も防止できるような鈍頭係数の範囲を見出し、本発明を完成させた。
【００１４】
すなわち、本発明は、下記の式（１）で定義される鈍頭係数が２８以上３５以下に設定されていることを特徴とするピアサプラグを提供するものである。
鈍頭係数＝（ＲＳＰ／Ｂ'ｔ）／（ＲＬＰ／Ｌ１）×１０００  ・・・（１）
ここで、上記式（１）において、ＲＳＰはピアサプラグの先端部の曲率半径を、Ｂ'ｔはピアサプラグを用いて穿孔圧延する丸ビレットの外径を、ＲＬＰはピアサプラグの圧延部の曲率半径を、Ｌ１はピアサプラグの圧延部の長さを意味し、式（１）に入力されるＲＳＰ、Ｂ'ｔ、ＲＬＰ及びＬ１の数値は全て同じ単位である。
【００１５】
斯かる発明によれば、５重量％以上のＣｒを含有する高合金鋼からなる丸ビレットを高傾斜角・高ロール回転数で穿孔圧延して長尺なホローシェルを得る場合であっても、ピアサプラグの寿命を長く保つことが可能であると共に、穿孔圧延時のスリップまたはミスロールの発生を防止することが可能である。なお、本発明における「ピアサプラグの先端部の曲率半径」とは、ピアサプラグの軸心を通る縦断面において、円弧状の先端部の曲率半径を意味する。また、「ピアサプラグの圧延部」とは、前記先端部を含みリーリング部に至るまでの部位であって、穿孔圧延機の圧延ロールによって回転及び軸方向に前進させられる丸ビレット又はホローシェルの中心部に押し当てられて、これを穿孔圧延する部位である。なお、上記リーリング部とは、ピアサプラグの軸心を通る縦断面において、所定角度を有するテーパ状に形成され、前記圧延部によって穿孔圧延されたホローシェルの内面（肉厚）を平滑化するための部位である。また、「ピアサプラグの圧延部の長さ」とは、前記圧延部の軸方向長さを意味する。さらに、「ピアサプラグの圧延部の曲率半径」とは、ピアサプラグの軸心を通る縦断面において、前記先端部に後続し前記リーリング部に至るまでの曲面状部位の曲率半径を意味する。
【００１６】
ここで、ピアサプラグの表面には、断熱効果や耐摩耗性を得るために、酸化スケール層が形成されるのが一般的である。しかしながら、表面に酸化スケール層を形成したとしても、その厚みが２００μｍよりも小さければ、断熱効果が十分に得られないため、ピアサプラグに溶損が生じ易くなる。一方、酸化スケール層の厚みが１０００μｍよりも大きければ、酸化スケールが剥離し易いため、ピアサプラグの表面が荒れて、穿孔圧延されたホローシェル内面に疵が生じてしまう虞がある。
【００１７】
従って、前記ピアサプラグは、表面に厚みが２００μｍ以上１０００μｍ以下の酸化スケール層を有することが好ましい。
【００１８】
なお、前記課題を解決するべく、本発明は、穿孔圧延機を構成する互いに傾斜した一対の圧延ロール間に前記ピアサプラグを配設し、前記圧延ロール間に丸ビレットを送給して該丸ビレットを穿孔圧延することを特徴とする穿孔圧延方法としても提供される。
【００１９】
ここで、上記穿孔圧延方法において、ピアサプラグのリーリング部のテーパ角と圧延ロールの出口面角との差を０°より小さくする（すなわち、ピアサプラグのリーリング部のテーパ角を圧延ロールの出口面角よりも小さくする）と、ホローシェルをその軸方向に前進させる推進力が得られないため、ホローシェルの後端部が圧延ロール間から離脱せずに残存する現象（いわゆる尻詰まり現象）が生じてしまう。一方、ピアサプラグのリーリング部のテーパ角と圧延ロールの出口面角との差を１．５°より大きくする（すなわち、ピアサプラグのリーリング部のテーパ角を圧延ロールの出口面角よりも大きくし、その差を１．５°を超える値にする）と、ホローシェルの後端部がフレア状に拡がる現象（いわゆるボトムフレア現象）が顕著に発生し、これにより尻詰まり現象が生じてしまう。
【００２０】
従って、上記穿孔圧延方法において、ピアサプラグのリーリング部のテーパ角と、圧延ロールの出口面角との差を０°以上１．５°以下に設定することが好ましい。なお、「ピアサプラグのリーリング部のテーパ角」とは、図３に示すように、ピアサプラグ３の軸心を通る縦断面において、リーリング部３２がピアサプラグ３の軸心Ｃ（穿孔圧延機に設置した状態ではパスラインＰＬに相当）方向と成す角度θＰを意味する。また、「圧延ロールの出口面角」とは、図４に示すように、圧延ロール１ａ、１ｂ（図４では圧延ロール１ａのみ図示）の傾斜角ＦＡ（図１（ｂ）参照）が０の状態下での圧延ロール１ａ、１ｂの軸心を通る縦断面において、圧延ロール１ａ、１ｂの出口面１１がパスラインＰＬ方向と成す角度θＲを意味する。
【００２１】
上記穿孔圧延方法は、特に、５重量％以上のＣｒを含有する高合金鋼からなる丸ビレットを穿孔圧延する際に好適に用いることができる。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、ピアサプラグの寿命を長く保つと共に、穿孔圧延時のスリップまたはミスロールの発生を防止することが可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、添付図面を適宜参照しつつ、本発明に係るピアサプラグ及びこれを用いた穿孔圧延方法の一実施形態について説明する。
【００２４】
図３は、本実施形態に係るピアサプラグの軸心を通る縦断面図である。図に示すように、本実施形態に係るピアサプラグ３は、軸心を通る縦断面において、曲率半径ＲＳＰを有する円弧状の先端部及び曲率半径ＲＬＰを有する曲面状部位を具備し、軸方向の長さＬ１を有する圧延部３１を備えている。また、ピアサプラグ３は、前記曲面状部位に後続し、所定角度を有するテーパ状に形成され、軸方向の長さＬ２を有するリーリング部３２を備えている。そして、ピアサプラグ３の最大径（リーリング部３２の後端におけるピアサプラグ３の外径）がＤとされている。圧延部３１は、丸ビレット又はホローシェルの中心部に押し当てられて、これを穿孔圧延する部位である。また、リーリング部３２は、圧延部３１によって穿孔圧延されたホローシェルの内面を平滑化するための部位である。従って、穿孔圧延とホローシェル内面の平滑化に寄与するピアサプラグ３の有効長をＬＬとすると、ＬＬ＝Ｌ１＋Ｌ２となる。
【００２５】
本実施形態に係るピアサプラグ３は、下記の式（１）で定義される鈍頭係数が２８以上３５以下に設定されていることを特徴としている。
鈍頭係数＝（ＲＳＰ／Ｂ'ｔ）／（ＲＬＰ／Ｌ１）×１０００  ・・・（１）
ここで、上記式（１）におけるＲＳＰ、ＲＬＰ及びＬ１の意味は、図３を参照して前述した通りであり、Ｂ'ｔはピアサプラグ３を用いて穿孔圧延する丸ビレットの外径を意味する。そして、式（１）に入力されるＲＳＰ、Ｂ'ｔ、ＲＬＰ及びＬ１の数値は全て同じ単位（例えば、ｍｍ）である。
【００２６】
以下、本実施形態に係るピアサプラグ３及び従来のピアサプラグを用いた穿孔圧延の試験の結果を説明することにより、本発明の特徴とするところをより一層明らかにする。
【００２７】
図１に示す構成と同様の穿孔圧延機において、下記表１に示す緒言の各ピアサプラグを用い、１３重量％のＣｒを含有する高合金鋼からなる丸ビレット（外径Ｂ'ｔ＝３１０ｍｍ）を穿孔圧延して、外径２４４．４８ｍｍ、肉厚１３．８４ｍｍ、長さ１００００ｍｍの２本取り製管方法に用いるホローシェルを得るための穿孔圧延の試験を行った。この際、穿孔圧延機を構成する圧延ロール（出口面角θＲ＝４．０°）は、各ピアサプラグについて同一の高傾斜角で傾斜させると共に、同一の高ロール回転数で回転させ、各ピアサプラグを用いた場合の穿孔圧延時間をそれぞれ測定することにより、後述する穿孔効率を算出した。なお、表１に示すＤ、ＬＬ、Ｌ１、Ｌ２、θＰ、θＲ、ＲＳＰ及びＲＬＰの意味は、図３及び図４を参照して前述した通りである。また、表１に示す数値の単位は、θＰ及び（θＰ−θＲ）が「°」、鈍頭係数が無次元量で、残りの全てが「ｍｍ」である。さらに、本実施形態に係るピアサプラグ３の表面には厚み約６００μｍの酸化スケール層が形成されている。
【表１】
2007260685.tif 000003
【００２８】
上記の穿孔圧延の試験の結果を表２及び図５に示す。なお、表２に示す「プラグ溶損」は、２パス目の穿孔圧延においてピアサプラグに溶損が生じたか否かを示すものである。また、図５は、上記の穿孔圧延の試験に用いた各ピアサプラグの鈍頭係数と穿孔効率との関係を示すグラフである。なお、図５の縦軸に示す穿孔効率は、下記の式（２）で定義される値である。
穿孔効率（％）＝実績穿孔速度／理論穿孔速度×１００  ・・・（２）
ここで、上記式（２）において、実績穿孔速度＝ホローシェルの長さ／穿孔時間であり、理論穿孔速度＝圧延ロールの周速／ｓｉｎＦＡ（ＦＡ：圧延ロールの傾斜角、図１参照）である。
【表２】
2007260685.tif 000004
【００２９】
表２又は図５に示すように、鈍頭係数が３５を超える（比較例１、２）、或いは２８未満（比較例３）である場合には、２パス目でピアサプラグに溶損が生じた。これに対し、鈍頭係数が２８以上３５以下である場合（本発明１、２、３）には、２パス目でピアサプラグに溶損が生じることはなく、さらに２パスの穿孔圧延に適用できた。
【００３０】
また、図５に示すように、鈍頭係数が３５を超える（比較例１、２）場合には、穿孔効率が過度に低下（穿孔時間が増加）した。前述のように全てのピアサプラグについて、同一の傾斜角・ロール回転数の圧延ロールで穿孔圧延しているにも関わらず、穿孔時間が長くなる（穿孔効率が低下する）ということは、圧延ロールとホローシェルとの間にスリップが生じていることを意味する。このように、鈍頭係数が３５を超える（比較例１、２）場合には、穿孔効率が過度に低下してミスロールが生じた。これに対し、表２又は図５に示すように、鈍頭係数が２８以上３５以下である場合（本発明１、２、３）には、穿孔効率が過度に低下することはなかった。
【００３１】
以上に説明したように、本実施形態に係るピアサプラグ３は、鈍頭係数が２８以上３５以下に設定されていることにより、５重量％以上のＣｒを含有する高合金鋼からなる丸ビレットを高傾斜角・高ロール回転数で穿孔圧延して長尺なシェルを得る場合であっても、ピアサプラグ３の寿命を長く保つと共に、穿孔圧延時のスリップ発生を防止することが可能である。
【００３２】
なお、本実施形態に係るピアサプラグ３は、前述のように厚み約６００μｍの酸化スケール層を有するが、本発明に係るピアサプラグは何らこれに限るものではない。表３は、式（１）を満足するピアサプラグ３表面の酸化スケール層の厚みを種々の値に変更し、前述したのと同条件の丸ビレットを穿孔圧延して、２本取り製管方法に用いるホローシェルを得るための穿孔圧延の試験を行った結果を示す。
【表３】
2007260685.tif 000005
【００３３】
表３に示すように、酸化スケール層の厚みが２００μｍよりも小さければ、断熱効果が十分に得られず、１パス目からピアサプラグ３に溶損が生じた。一方、酸化スケール層の厚みが１０００μｍよりも大きければ、酸化スケールが剥離し易いため、ピアサプラグ３の表面が荒れて、穿孔圧延されたホローシェルに内面疵が生じた。従って、ピアサプラグ３表面に形成する酸化スケール層の厚みは、２００μｍ以上１０００μｍ以下とすることが好ましい。
【００３４】
また、本実施形態では、表１に示すように、ピアサプラグ３のリーリング部３２のテーパ角θＰと圧延ロールの出口面角θＲとの差（θＰ−θＲ）を、０．５５°（本発明１、２）又は０．６５°（本発明３）に設定したが、本発明は何らこれに限るものではない。表４は、圧延ロールの出口面角θＲを４．０°で固定する一方、式（１）を満足するピアサプラグ３のリーリング部３２のテーパ角θＰを種々の値に変更し、前述したのと同条件の丸ビレットを穿孔圧延して、２本取り製管方法に用いるホローシェルを得るための穿孔圧延の試験を行った結果を示す。
【表４】
2007260685.tif 000006
【００３５】
表４に示すように、ピアサプラグ３のリーリング部３２のテーパ角θＰと圧延ロールの出口面角θＲとの差（θＰ−θＲ）を０°より小さくすると、ホローシェルをその軸方向に前進させる推進力が得られないため、ホローシェルの後端部が圧延ロール間から離脱せずに残存する尻詰まり現象（表４ではミスロール有りと表記）が生じた。一方、（θＰ−θＲ）を１．５°より大きくすると、シェルの後端部がフレア状に拡がるボトムフレア現象が顕著に発生し、これにより尻詰まり現象が生じた。従って、ピアサプラグ３のリーリング部３２のテーパ角θＰと圧延ロールの出口面角θＲとの差（θＰ−θＲ）は、０°以上１．５°以下に設定することが好ましい。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】図１は、穿孔圧延機の概略構成を示す図であり、図１（ａ）は側面図を、図１（ｂ）は平面図を示す。
【図２】図２は、本発明に係るピアサプラグ及び従来のピアサプラグのそれぞれを用いた場合における、ホローシェルの肉厚圧下率を数値シミュレーションした結果の一例を示す。
【図３】図３は、本発明に係るピアサプラグの軸心を通る縦断面図である。
【図４】図４は、圧延ロールの出口面角を説明するための縦断面図である。
【図５】図５は、本発明に係るピアサプラグを用いた穿孔圧延方法の試験結果の一例を示すグラフである。
【符号の説明】
【００３７】
１ａ、１ｂ・・・圧延ロール
２・・・マンドレル
３、３’・・・プラグ
３１・・・圧延部
３２・・・リーリング部
１０・・・穿孔圧延機
Ｂ・・・丸ビレット
Ｓ・・・ホローシェル
θＰ・・・テーパ角
θＲ・・・出口面角
【図１】
2007260685.tif 000007
【図２】
2007260685.tif 000008
【図３】
2007260685.tif 000009
【図４】
2007260685.tif 000010
【図５】
2007260685.tif 000011