(57)【要約】【課題】狭トラックピッチの光ディスクに対しても、通常トラックピッチの光ディスクと同等のオフトラック検出信号の時間幅のばらつきを低減することが可能であり、より精度の高いオフトラック検出を行うオフトラック検出装置を提供する。【解決手段】エンベロープ抽出手段３および増幅率Ｋを有する増幅率可変の差動増幅器５ａを備えるオフトラック検出装置において、受光素子１にてディスクからの反射光を光信号から電気信号へと変換し、全加算器２にて全加算演算を行う。全加算信号より、エンベロープ抽出手段３にてエンベロープ成分を抽出し、増幅率可変の差動増幅器５ａにて、十分に大きな振幅へと増幅させることにより、通常ディスクと狭トラックピッチの光ディスクでの振幅差を低減させ、２値化器７に入力する。２値化器７にてオフトラック検出を行い、ディスクのトラックピッチによらず一定の精度にてオフトラック検出が可能となる。【選択図】図１
2007207293.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ビームが収束照射された光ディスクからの反射ビームを複数に分割された受光領域で受光して複数の電気信号に変換して出力する受光素子と、
前記受光素子からの複数の前記電気信号を全加算して全加算信号を生成出力する全加算器と、
前記全加算器による前記全加算信号のエンベロープ成分を抽出してエンベロープ成分信号を生成出力するエンベロープ抽出手段と、
前記エンベロープ抽出手段による前記エンベロープ成分信号の電圧と基準電圧との差分に対して十分に大きい増幅率にて振幅増幅を行い増幅エンベロープ成分信号を生成出力する差動増幅器と、
前記差動増幅器による前記増幅エンベロープ成分信号をスライスレベル基準で２値化してオフトラック検出信号を生成出力する２値化器とを備えたオフトラック検出装置。
【請求項２】
前記２値化器における前記スライスレベルを任意に調整可能なスライスレベル調整器を備えている請求項１に記載のオフトラック検出装置。
【請求項３】
前記２値化器における前記スライスレベルとして前記差動増幅器から出力される前記増幅エンベロープ成分信号の直流成分を抽出する直流成分抽出手段を備えている請求項１に記載のオフトラック検出装置。
【請求項４】
前記差動増幅器における前記基準電圧として前記エンベロープ抽出手段から出力される前記エンベロープ成分信号の直流成分を抽出するための直流成分抽出手段を備えている請求項１に記載のオフトラック検出装置。
【請求項５】
前記エンベロープ抽出手段と前記差動増幅器との間に、前記エンベロープ抽出手段による前記エンベロープ成分信号の直流成分を除去するための高域通過フィルタを備えている請求項１に記載のオフトラック検出装置。
【請求項６】
前記差動増幅器は増幅率可変に構成されており、
さらに、前記差動増幅器による前記増幅エンベロープ成分信号の振幅を検出する振幅検出器と、
前記振幅検出回路による振幅情報を基に前記増幅エンベロープ成分信号の振幅が一定となるように前記差動増幅器の増幅率を調整するゲイン調整手段とを備えている請求項１に記載のオフトラック検出装置。
【請求項７】
前記差動増幅器は増幅率可変に構成されており、
さらに、前記差動増幅器による前記増幅エンベロープ成分信号の振幅を検出する振幅検出器と、
前記振幅検出回路による振幅情報を基に前記増幅エンベロープ成分信号の振幅が一定となるように前記差動増幅器の増幅率を調整するゲイン調整手段とを備えている請求項２に記載のオフトラック検出装置。
【請求項８】
前記差動増幅器は増幅率可変に構成されており、
さらに、前記差動増幅器による前記増幅エンベロープ成分信号の振幅を検出する振幅検出器と、
前記振幅検出回路による振幅情報を基に前記増幅エンベロープ成分信号の振幅が一定となるように前記差動増幅器の増幅率を調整するゲイン調整手段とを備えている請求項３に記載のオフトラック検出装置。
【請求項９】
前記差動増幅器は増幅率可変に構成されており、
さらに、前記差動増幅器による前記増幅エンベロープ成分信号の振幅を検出する振幅検出器と、
前記振幅検出回路による振幅情報を基に前記増幅エンベロープ成分信号の振幅が一定となるように前記差動増幅器の増幅率を調整するゲイン調整手段とを備えている請求項４に記載のオフトラック検出装置。
【請求項１０】
前記差動増幅器は増幅率可変に構成されており、
さらに、前記差動増幅器による前記増幅エンベロープ成分信号の振幅を検出する振幅検出器と、
前記振幅検出回路による振幅情報を基に前記増幅エンベロープ成分信号の振幅が一定となるように前記差動増幅器の増幅率を調整するゲイン調整手段とを備えている請求項５に記載のオフトラック検出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、情報として円盤上に同心円状またはスパイラル状にピットが配置される光ディスク再生装置、光ディスク記録再生装置等において用いられるオフトラック検出装置にかかわり、特にはトラックピッチが狭くて隣接トラックからの信号の漏れ込みがある場合でも精度良くオフトラックを検出する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年のコンピュータシステムにおいては、情報量の大幅な増加に伴い、情報データの記録再生装置として、大容量で高速かつランダムアクセスが可能な光ディスク装置が広く使用されるようになっており、記録媒体としては、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等の光ディスクが用いられている。
【０００３】
このような光ディスク装置においては、光ビームスポットがデータトラック上に存在しているかの判断や、データアクセス時に光ビームスポットを現在の位置より他のトラックへ移動する場合に、トラックを跨いだかを判別する等のためにオフトラック検出が必要となる。
【０００４】
図２３（ａ）は、従来の技術におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図である。図２３（ａ）において、１は、光ビームが収束照射された光ディスクからの反射ビームを複数に分割された受光領域で受光して複数の電気信号に変換して出力する受光素子であり、光信号を電圧または電流の電気信号として伝達する。２は、受光素子１からの複数の電気信号を全加算して全加算信号Ａを生成出力する全加算器である。６ｘは可変のスライスレベル信号Ｆ0 ′を発生させるスライスレベル調整器、７は、全加算信号Ａをスライスレベル信号Ｆ0 ′の電圧レベル基準で２値化してＨｉｇｈ電圧またはＬｏｗ電圧を出力する２値化器である。
【０００５】
このオフトラック検出装置の動作について図２３（ｂ）を用いて説明する。
【０００６】
まず、光ビームスポットがデータトラックに対して半径方向に移動したとすると、オントラック→オフトラック→オントラック…と状態が変化する。このとき、ピット上に光ビームスポットが存在したときの反射光が“暗”であり、ピットの存在しない部位での反射光が“明”である。オントラック時においては、光ディスクの回転によりピットが通過するため、明暗繰り返しの信号パターンが得られる。これに対して、オフトラック時においてはピットからの反射が存在しないため、理想的には明側へ信号が貼り付く。しかし、実際にはトラックピッチが光ビームスポット幅より狭いため、隣接するトラックからの信号の漏れ込みが発生し、完全に明側へ貼り付かない。このとき、全加算信号Ａはオフトラック時に明側へ信号が減衰するように見える。
【０００７】
次に、２値化器７は、全加算信号Ａとスライスレベル信号Ｆ0 ′を比較し、Ａ＞Ｆ0 ′となった場合は、その期間のみオフトラック検出信号ＳOTとしてＨｉｇｈ電圧を出力し、その他の期間はＬｏｗ電圧を出力する。これにより、オフトラック時にはＨｉｇｈ電圧が出力され、オントラック時にはＬｏｗ電圧が出力され、光ビームスポットの状態を判別することが可能となる。
【０００８】
トラックピッチが光ビームスポットに対して狭い場合、隣接するトラックからの信号の漏れ込み量が増加する。このため、オフトラック時であっても隣接トラックからの漏れ込み信号により、全加算信号Ａの減衰量が少なくなる。そこで、スライスレベル調整器６ｘによってスライスレベル信号Ｆ0 ′を変動させることにより、トラックピッチが狭い場合においても、オフトラック検出信号を検出できるようにしている。
【特許文献１】特開平７−２９６３９４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、光ビームスポットの半径方向への移動速度は、一般にトラックピッチとは無関係であって、ほぼ一定である。オントラック→オフトラック→オントラック…と状態が変化する周期は一定であるが、図２４に示すように、トラックピッチにより全加算信号Ａの減衰量が異なるため、減衰する単位時間当たりの傾きが異なってくる。
【００１０】
オフトラック検出信号ＳOTのデューティが例えば５０％となるように、スライスレベル調整器６ｘを用いてスライスレベル信号Ｆ0 ′を調整したとする。スライスレベル信号Ｆ0 ′は各種ばらつき要因を有しており、その幅を±ΔＦ0 とすると、オフトラック検出信号ＳOTの時間幅にばらつきを発生する。通常トラックピッチの光ディスクと比較して、狭トラックピッチの光ディスクでは、全加算信号Ａの減衰する傾きが緩やかである。同じスライスレベル信号Ｆ0 ′のばらつき±ΔＦ0 に対して、通常トラックピッチの光ディスクのばらつき±Δｔ１に対して、狭トラックピッチの光ディスクのばらつき±Δｔ２は大きなものとなってしまう。このため、通常トラックピッチの光ディスクと狭トラックピッチの光ディスクとの両方において、精度良くオフトラック検出信号ＳOTを得ることが困難である。
【００１１】
本発明は、このような事情に鑑みて創作したものであり、狭トラックピッチの光ディスクであっても、通常トラックピッチの光ディスクと変わらない精度にて、オフトラック検出信号を得ることができるようにすることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明によるオフトラック検出装置は、
光ビームが収束照射された光ディスクからの反射ビームを複数に分割された受光領域で受光して複数の電気信号に変換して出力する受光素子と、
前記受光素子からの複数の前記電気信号を全加算して全加算信号を生成出力する全加算器と、
前記全加算器による前記全加算信号のエンベロープ成分を抽出してエンベロープ成分信号を生成出力するエンベロープ抽出手段と、
前記エンベロープ抽出手段による前記エンベロープ成分信号の電圧と基準電圧との差分に対して十分に大きい増幅率にて振幅増幅を行い増幅エンベロープ成分信号を生成出力する差動増幅器と、
前記差動増幅器による前記増幅エンベロープ成分信号をスライスレベル基準で２値化してオフトラック検出信号を生成出力する２値化器とを備えたものである。
【００１３】
この構成において、エンベロープ抽出手段は、全加算信号においてオフトラックを表すものとしてのエンベロープ成分信号を生成出力する。このエンベロープ成分信号の振幅変化率は、通常トラックピッチの光ディスクと狭トラックピッチの光ディスクとで異なる。狭トラックピッチの光ディスクではエンベロープ成分信号の振幅変化率は小さなものとなる。差動増幅器は、この差異を緩和する。そのために、差動増幅器の増幅率は十分に大きく設定されている。差動増幅器による増幅エンベロープ成分信号の振幅変化率は大きくなる。その結果として、２値化器においてスライスレベル信号を基準にして増幅エンベロープ成分信号を２値化したときの、２値化によって得られるオフトラック検出信号の立ち上がり・立ち下がりのタイミングを、ひいてはオフトラック検出信号の時間幅を、通常トラックピッチの光ディスクと狭トラックピッチの光ディスクとで差の少ない状態に修正することができる。
【００１４】
以上のように本発明によれば、エンベロープ成分信号を十分に大きな増幅率で増幅して増幅エンベロープ成分信号を生成することにより、通常トラックピッチの光ディスクと狭トラックピッチの光ディスクとの間に見られるエンベロープ成分信号の振幅変化率の差異を緩和し、その振幅変化率の差異が緩和された増幅エンベロープ成分信号において２値化を行うため、光ディスクのトラックピッチの大小変化にかかわらず、オフトラック検出信号の時間幅のばらつきが緩和され、安定した検出が可能となる。
【００１５】
上記構成において、前記２値化器における前記スライスレベルを任意に調整可能なスライスレベル調整器を備えているという態様がある。このように構成すれば、２値化器におけるスライスレベルとして可変のスライスレベルを用いることにより、増幅エンベロープ成分信号を任意のスライスレベルで２値化することが可能となる。その結果として、通常トラックピッチの光ディスクであるか狭トラックピッチの光ディスクであるかに応じて、あるいはトラックピッチの大小変化に応じてスライスレベルを調整することにより、オフトラック検出信号の精度が向上される。
【００１６】
また、上記の構成において、前記２値化器における前記スライスレベルとして前記差動増幅器から出力される前記増幅エンベロープ成分信号の直流成分を抽出する直流成分抽出手段を備えているという態様がある。これによれば、装置のオフセットによらずに安定したオフトラック検出を行うことが可能となる。
【００１７】
また、上記の構成において、前記差動増幅器における前記基準電圧として前記エンベロープ抽出手段から出力される前記エンベロープ成分信号の直流成分を抽出するための直流成分抽出手段を備えているという態様がある。差動増幅器の前段にある受光素子、全加算器、エンベロープ抽出手段に生じるオフセットが大きい増幅率をもつ差動増幅器で増幅されると、差動増幅器の出力である増幅エンベロープ成分信号がダイナミックレンジをはみ出してしまうおそれがある。そこで、エンベロープ抽出手段の出力であるエンベロープ成分信号の直流成分を抽出し、この直流成分を差動増幅器の基準電圧とする。これにより、オフセットの影響を緩和し、オフトラック検出を高精度に行うことができる。
【００１８】
また、上記の構成において、前記エンベロープ抽出手段と前記差動増幅器との間に、前記エンベロープ抽出手段による前記エンベロープ成分信号の直流成分を除去するための高域通過フィルタを備えているという態様がある。差動増幅器の前段にある受光素子、全加算器、エンベロープ抽出手段に生じるオフセットが大きい増幅率をもつ差動増幅器で増幅されると、差動増幅器の出力である増幅エンベロープ成分信号がダイナミックレンジをはみ出してしまうおそれがある。そこで、エンベロープ抽出手段の出力であるエンベロープ成分信号から直流成分を除去してオフセットの影響を緩和し、この直流成分を除去したエンベロープ成分信号を差動増幅器に入力することにより、オフトラック検出を高精度に行うことができる。
【００１９】
また、上記のいずれかの構成のオフトラック検出装置において、前記差動増幅器は増幅率可変に構成されており、さらに、前記差動増幅器による前記増幅エンベロープ成分信号の振幅を検出する振幅検出器と、前記振幅検出回路による振幅情報を基に前記増幅エンベロープ成分信号の振幅が一定となるように前記差動増幅器の増幅率を調整するゲイン調整手段とを備えているという態様がある。これは、差動増幅器として、増幅率可変タイプの差動増幅器を用いるものである。増幅エンベロープ成分信号の振幅が、光ディスクのトラックピッチの変化にかかわらず一定となるように、振幅検出器とゲイン調整手段とを設けている。この構成によれば、一定振幅の増幅エンベロープ成分信号に対して２値化を行うため、オフトラック検出信号の時間幅のばらつきが緩和され、安定したオフトラック検出が可能となる。
【発明の効果】
【００２０】
本発明におけるオフトラック検出装置によれば、狭トラックピッチの光ディスクに対しても、オフトラック検出信号の時間幅のばらつきを低減して、通常トラックピッチの光ディスクと同等のものにすることが可能であり、より精度の高いオフトラック検出を行うことが可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、本発明にかかわるオフトラック検出装置の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
【００２２】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図である。図１において、１は、光ビームが収束照射された光ディスクからの反射ビームを複数に分割された受光領域で受光して複数の電圧または電流の電気信号に変換して出力する受光素子であり、２は、受光素子１からの複数の電気信号を全加算して全加算信号Ａを生成出力する全加算器である。３は、全加算器２による全加算信号Ａを入力し、全加算信号Ａのエンベロープ成分信号Ｅを抽出するエンベロープ抽出手段、４は基準電圧Ｅ0 を発生させる基準電源、５はエンベロープ抽出手段３によるエンベロープ成分信号Ｅと基準電圧Ｅ0 との差分（Ｅ−Ｅ0 ）を増幅させる十分大きい増幅率Ｋを持った差動増幅器である。６はスライスレベル信号Ｆ0 を発生させるスライスレベル供給源、７は、差動増幅器５による増幅エンベロープ成分信号Ｆをスライスレベル信号Ｆ0 基準で２値化し、オフトラック検出信号ＳOTを生成出力する２値化器である。
【００２３】
次に、上記のように構成された本実施の形態のオフトラック検出装置の動作を図２に示す波形図を用いて説明する。なお、以下の説明は、全加算信号Ａの極性について反射光の光量が増大した場合（明側）に上側となり、反射光の光量が減少した場合（暗側）に下側となる場合について説明しているが、この極性が反転した場合においても同様である。これは、以下のすべての実施の形態でも同様である。
【００２４】
光ディスクの再生のために光ディスクに収束照射された光ビームは、光ディスクによって反射される。光ディスク上の記録のためのピットについては信号レベルが暗側へ変化し、ピットが存在しない場合には明側へと変化する。反射光を受光した受光素子１は反射光を複数に分割し、その強さに応じた電気信号に変換して出力する。これら複数の電気信号は全加算器２に入力される。この全加算器２は、電気信号を全加算し、全加算信号Ａを出力する。この全加算信号Ａとしては、光ビームがトラック上に存在するオントラック状態では、光ディスクの回転により光ビームスポット内をピットが通過するため、明暗に変化する信号が得られる。これに対して、トラック間などピットの存在しないオフトラック状態においては、理想的には明側へと信号レベルが貼り付く。このため、光ビームが半径方向へ移動した場合、全加算信号Ａはオフトラック時に明側へ信号振幅が減衰する。実際には、隣接するトラックより信号の漏れ込みが発生し、完全に全加算信号Ａが消失せず振幅の減衰として現れる。
【００２５】
この全加算信号Ａをエンベロープ抽出手段３に入力し、オフトラック時の振幅減衰を表すエンベロープ成分信号Ｅの抽出を行う。このエンベロープ成分信号Ｅは、十分に大きい増幅率Ｋを持った差動増幅器５に入力される。差動増幅器５においては、エンベロープ成分信号Ｅと基準電源４による基準電圧Ｅ0 との差分（Ｅ−Ｅ0 ）をＫ倍し、増幅エンベロープ成分信号Ｆを生成して次段へ出力する。
【００２６】
図２に示すように、狭トラックピッチの光ディスクでのエンベロープ成分信号Ｅ2の振幅は、通常のトラックピッチの光ディスクでのエンベロープ成分信号Ｅ1 の振幅に対して小さい。そこで、増幅率Ｋを十分に大きな値とし、エンベロープ成分信号Ｅを差動増幅器５のダイナミックレンジＶＤに十分当たる程度まで増幅して増幅エンベロープ成分信号Ｆとすることにより、トラックピッチの違いによる増幅エンベロープ成分信号Ｆの差異を低減している。
【００２７】
このように加工された増幅エンベロープ成分信号Ｆは、２値化器７に入力される。２値化器７は、スライスレベル供給源６によるスライスレベル信号Ｆ0 を基準として増幅エンベロープ成分信号Ｆを２値化し、オフトラック検出信号ＳOTとして出力する。
【００２８】
なお、スライスレベル信号Ｆ0 はグランドレベル基準となっているが、電源レベル等、他の基準電位を基準として決定してもよい。
【００２９】
以上のように本実施の形態によれば、エンベロープ成分信号Ｅを基準電圧Ｅ0 との差分（Ｅ−Ｅ0 ）のもとで十分に大きな増幅率Ｋで増幅して増幅エンベロープ成分信号Ｆを生成することにより、通常トラックピッチの光ディスクと狭トラックピッチの光ディスクとの間に見られるエンベロープ成分信号Ｅの振幅変化率の差異を緩和し、その振幅変化率の差異が緩和された増幅エンベロープ成分信号Ｆにおいて２値化を行うため、光ディスクのトラックピッチの大小変化にかかわらず、オフトラック検出信号ＳOTの時間幅のばらつきが緩和され、安定した検出が可能となる。
【００３０】
（実施の形態２）
図３は、本発明の実施の形態２におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図である。図３において、実施の形態１の図１におけるのと同じ符号は同一構成要素を指している。本実施の形態に特有の構成要素として、６ａは、２値化器７におけるスライスレベル信号Ｆ0 ′を生成する手段としての、可変のスライスレベル信号Ｆ0 ′を生成出力するスライスレベル調整器である。可変のスライスレベル信号Ｆ0 ′は、外部より調整が可能である。その他の構成については、実施の形態１と同様であるので説明を省略する。
【００３１】
以上のように構成された本実施の形態のオフトラック検出装置の動作を図４に示す波形図を用いて説明する。
【００３２】
実施の形態１の場合と同様にして、通常トラックピッチまたは狭トラックピッチの各光ディスクにおけるエンベロープ成分信号Ｅ1 ，Ｅ2 が十分大きな増幅率Ｋを有する差動増幅器５で処理され、その結果、振幅変化率の差異が軽減された増幅エンベロープ成分信号Ｆが２値化器７へ入力される。そして、２値化器７においては、スライスレベル調整器６ａによる可変のスライスレベル信号Ｆ0 ′を基準として増幅エンベロープ成分信号Ｆを２値化し、オフトラック検出信号ＳOTとして出力する。可変のスライスレベル信号Ｆ0 ′の電圧レベルを上げると、オフトラック検出信号ＳOTの時間幅は小さくなり、逆に、可変のスライスレベル信号Ｆ0 ′の電圧レベルを下げると、オフトラック検出信号ＳOTの時間幅は大きくなる。その他の動作については、実施の形態１と同様であるので説明を省略する。
【００３３】
本実施の形態によれば、２値化器７におけるスライスレベルとして可変のスライスレベル信号Ｆ0 ′を用いることにより、増幅エンベロープ成分信号Ｆを任意のレベル基準で２値化することが可能となる。その結果として、通常トラックピッチの光ディスクであるか狭トラックピッチの光ディスクであるかに応じて、あるいはトラックピッチの大小変化に応じて、スライスレベル信号Ｆ0 ′を調整することにより、オフトラック検出信号ＳOTの精度をさらに向上させることができる。
【００３４】
なお、図３においては、可変のスライスレベル信号Ｆ0 ′をグランドレベルより決定しているが、当然ながら電源レベル等、他の基準電位より決定してもよい。
【００３５】
（実施の形態３）
図５は、本発明の実施の形態３におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図である。図５において、実施の形態１の図１におけるのと同じ符号は同一構成要素を指している。本実施の形態に特有の構成要素として、６ｂは、差動増幅器５から出力される増幅エンベロープ成分信号Ｆの直流成分を抽出するための直流成分抽出手段である。２値化器７におけるスライスレベル信号Ｆ0 ″は、直流成分抽出手段６ｂにより抽出される増幅エンベロープ成分信号Ｆの直流成分ＦDCで与えられる。その他の構成については、実施の形態１と同様であるので説明を省略する。
【００３６】
以上のように構成された本実施の形態のオフトラック検出装置の動作を図６および図７に示す波形図を用いて説明する。
【００３７】
まず、図６を用いて、オフセットが発生したときの不具合を伴う動作を説明する。オフセットは、受光素子１、全加算器２、エンベロープ抽出手段３、差動増幅器５のいずれにも生じる可能性がある。増幅エンベロープ成分信号Ｆについて、その直流成分をＦDCとし、通常トラックピッチまたは狭トラックピッチの各光ディスクのエンベロープ成分信号Ｅ1 ，Ｅ2 の交流成分をＥAC1 ，ＥAC2 、オフセット量をＥOSとすると、増幅エンベロープ成分信号Ｆは、
通常トラックピッチの光ディスクの場合：Ｆ＝Ｋ×（ＥAC1 ＋ＥOS）＋ＦDC
狭トラックピッチの光ディスクの場合  ：Ｆ＝Ｋ×（ＥAC2 ＋ＥOS）＋ＦDC
となる。そのため、２値化器７におけるスライスレベル信号Ｆ0 の電圧レベルをグランド等の一定レベルより決定した場合、スライスレベル信号Ｆ0 の電位は一定である。これに対して、増幅エンベロープ成分信号Ｆは、各部位により発生するオフセット成分をＥOSとして、Ｋ×ＥOSだけ直流成分が変動する。よって、オフセットの方向やオフセットの量によって増幅エンベロープ成分信号Ｆとスライスレベル信号Ｆ0 との相対的位置が変わるため、結果として検出レベルのばらつきとして現れる。
【００３８】
図６の２つの増幅エンベロープ成分信号Ｆについて説明する。右側の増幅エンベロープ成分信号Ｆは、オフセットが発生していない場合のものであり、左側の増幅エンベロープ成分信号Ｆは、オフセットが発生した場合のものである。右側の場合、オフセットがないのでダイナミックレンジＶＤからのはみ出しは小さい。左側の場合、オフセットがあるのではみ出しは大きい。そして、もし、スライスレベル信号Ｆ0 の電位を一定であるとすると、結果として、オフトラック検出信号ＳOTの時間幅は、
ｔａ＞ｔｂ
のばらつきを見せている。
【００３９】
その対策として、図７に示されるように、スライスレベル信号Ｆ0 ″の基準レベルとして、差動増幅器５から出力される増幅エンベロープ成分信号Ｆの直流成分ＦDCを用いることにより、２値化器７におけるスライスレベルはＦDCと表されるから、
通常トラックピッチの光ディスクの場合
増幅エンベロープ成分信号Ｆ＝Ｋ×（ＥAC1 ＋ＥOS）＋ＦDC
狭トラックピッチの光ディスクの場合
増幅エンベロープ成分信号Ｆ＝Ｋ×（ＥAC2 ＋ＥOS）＋ＦDC
スライスレベル信号Ｆ0 ″の電圧レベル  ………ＦDC＋Ｋ×ＥOS
となる。
【００４０】
オフトラック検出信号ＳOT（＝Ｆ−Ｆ0 ″）については、
通常トラックピッチの光ディスクの場合：  ＳOT＝Ｋ×ＥAC1 
狭トラックピッチの光ディスクの場合  ：  ＳOT＝Ｋ×ＥAC2 
となり、オフセットによる変動量は相殺されている。
【００４１】
スライスレベル信号Ｆ0 ″を適応的に調整するので、オフトラック検出信号ＳOTの時間幅は、
ｔａ＝ｔｂ
となる。その他の動作については、実施の形態１と同様であるので説明を省略する。
【００４２】
本実施の形態によれば、２値化器７におけるスライスレベルとして、差動増幅器５から出力される増幅エンベロープ成分信号Ｆの直流成分ＦDCを抽出し、それをスライスレベル（Ｆ0 ″）とすることによって、装置のオフセットによらずに安定したオフトラック検出を行うことが可能となる。
【００４３】
（実施の形態４）
図８は、本発明の実施の形態４におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図である。図８において、実施の形態１の図１におけるのと同じ符号は同一構成要素を指している。本実施の形態に特有の構成要素として、４ａは、エンベロープ抽出手段３から出力されるエンベロープ成分信号Ｅの直流成分ＥDCを抽出するための直流成分抽出手段である。直流成分抽出手段４ａからの直流成分ＥDCは基準電圧Ｅ0 ′として差動増幅器５の反転入力端子（−）に与えられる。その他の構成については、実施の形態１と同様であるので説明を省略する。
【００４４】
以上のように構成された本実施の形態のオフトラック検出装置の動作を図９に示す波形図を用いて説明する。
【００４５】
受光素子１、全加算器２、エンベロープ抽出手段３、差動増幅器５のいずれにもオフセットが生じる可能性がある。今、エンベロープ成分信号Ｅについて、オフセットの無い理想状態の直流成分をＥDCとし、オフセット電圧の総和をＥOSとすると、オフセットが存在する状態でのエンベロープ成分信号Ｅの直流成分は、（ＥDC＋ＥOS）と表される。このとき、差動増幅器５の基準電圧Ｅ0 ′をエンベロープ成分信号Ｅの中心レベルであるＥDCと設定すると、差動増幅器５の出力では、Ｋ×ＥOSというオフセット電圧が発生することになる。そのため、オフセット成分ＥOSが大きい場合、差動増幅器５の出力である増幅エンベロープ成分信号ＦがダイナミックレンジＶＤをはみ出してしまい、出力されない可能性がある。
【００４６】
通常トラックピッチと狭トラックピッチの各光ディスクについて各エンベロープ成分信号Ｅ1 ，Ｅ2 の交流成分をそれぞれＥAC1 ，ＥAC2 とすると、以下の式が与えられる。
【００４７】
Ｅ1 ＝ＥAC1 ＋ＥDC＋ＥOS
Ｅ2 ＝ＥAC2 ＋ＥDC＋ＥOS
今、差動増幅器５の基準電圧Ｅ0 ′として、直流成分抽出手段４ａにて抽出されたエンベロープ成分信号Ｅの直流成分（ＥDC＋ＥOS）を設定する。差動増幅器５は、エンベロープ成分信号Ｅと基準電圧Ｅ0 （＝ＥDC＋ＥOS）との差分をＫ倍する機能を有している。増幅エンベロープ成分信号Ｆは、
Ｆ＝Ｋ×（Ｅ−Ｅ0 ′）＝Ｋ×｛Ｅ−（ＥDC＋ＥOS）｝＝Ｋ×ＥAC
である。これは、オフセット成分ＥOSを含んでいない。
【００４８】
通常トラックピッチの光ディスクの場合：  Ｆ＝Ｋ×ＥAC1 
狭トラックピッチの光ディスクの場合  ：  Ｆ＝Ｋ×ＥAC2 
である。
【００４９】
オフトラック検出信号ＳOTは、スライスレベル信号Ｆ0 を基準として増幅エンベロープ成分信号Ｆを２値化したものであるので、
ＳOT＝Ｆ−Ｆ0
である。したがって、
通常トラックピッチの光ディスクの場合：  ＳOT＝Ｋ×ＥAC1 −Ｆ0
狭トラックピッチの光ディスクの場合  ：  ＳOT＝Ｋ×ＥAC2 −Ｆ0
となる。ここでは、オフセット成分ＥOSの影響は消失している。そして、増幅率Ｋが十分に大きく、差動増幅器５のダイナミックレンジＶＤに当たる程度であるならば、（Ｋ×ＥAC1 ）と（Ｋ×ＥAC2 ）と振幅変化率の差異はほとんどなくなり、オフトラック検出信号ＳOT＝Ｆ−Ｆ0 は、通常トラックピッチの光ディスクの場合と狭トラックピッチの光ディスクの場合とで実質的に等しいものとなる。その他の動作については、実施の形態１と同様であるので説明を省略する。
【００５０】
本実施の形態によれば、差動増幅器５の基準電圧Ｅ0 ′として、エンベロープ抽出手段３の出力信号の直流成分を抽出し、それを基準レベルとすることによって、装置のオフセットによらずに安定したオフトラック検出を行うことが可能である。
【００５１】
（実施の形態５）
図１０は、本発明の実施の形態５におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図である。図１０において、実施の形態１の図１におけるのと同じ符号は同一構成要素を指している。本実施の形態に特有の構成要素として、８は、エンベロープ抽出手段３から出力されるエンベロープ成分信号Ｅの直流成分を除去し、直流成分がカットされたエンベロープ成分信号Ｅf を差動増幅器５に出力する高域通過フィルタである。その他の構成については、実施の形態１と同様であるので説明を省略する。
【００５２】
以上のように構成された本実施の形態のオフトラック検出装置の動作を図１１に示す波形図を用いて説明する。
【００５３】
実施の形態４で説明したのと同様の理由により、オフセット成分ＥOSに起因して増幅エンベロープ成分信号Ｆがダイナミックレンジをはみ出してしまうことに対する対策として、本実施の形態では、エンベロープ成分信号Ｅを、その交流成分の周波数に対して十分に低い遮断周波数を有する高域通過フィルタ８に入力する。その結果、エンベロープ成分信号Ｅにおける直流成分（ＦDC＋ＥOS）が除去される。このとき、直流成分がカットされたエンベロープ成分信号Ｅf に対して新たな直流成分を付与することが可能である。この新たな直流成分を差動増幅器５の基準電圧Ｅ0 と同一にしている。これにより、通常トラックピッチと狭トラックピッチの各光ディスクについて各エンベロープ成分信号Ｅ1 ，Ｅ2 の交流成分をそれぞれＥAC1 ，ＥAC2 とすると、以下の式が与えられる。
【００５４】
Ｅf1＝ＥAC1 ＋Ｅ0 
Ｅf2＝ＥAC2 ＋Ｅ0 
差動増幅器５において、直流成分がカットされたエンベロープ成分信号Ｅf と基準電圧Ｅ0 との差分（Ｅf −Ｅ0 ）のＫ倍である増幅エンベロープ成分信号Ｆは、
通常トラックピッチの光ディスクの場合：  Ｆ＝Ｋ×ＥAC1 
狭トラックピッチの光ディスクの場合  ：  Ｆ＝Ｋ×ＥAC2 
である。これは、オフセット成分ＥOSを含んでいない。
【００５５】
オフトラック検出信号ＳOTについては、
通常トラックピッチの光ディスクの場合：  ＳOT＝Ｋ×ＥAC1 −Ｆ0
狭トラックピッチの光ディスクの場合  ：  ＳOT＝Ｋ×ＥAC2 −Ｆ0
となり、オフセット成分ＥOSの影響は消失している。そして、増幅率Ｋが十分に大きく、差動増幅器５のダイナミックレンジＶＤに当たる程度であるならば、（Ｋ×ＥAC1 ）と（Ｋ×ＥAC2 ）と振幅変化率の差異はほとんどなくなり、オフトラック検出信号ＳOT＝Ｆ−Ｆ0 は、通常トラックピッチの光ディスクの場合と狭トラックピッチの光ディスクの場合とで実質的に等しいものとなる。その他の動作については、実施の形態１と同様であるので説明を省略する。
【００５６】
本実施の形態によれば、エンベロープ抽出手段３の出力であるエンベロープ成分信号Ｅを高域通過フィルタ８へ通すことにより、オフセット電圧ＥOSをカットし、新たな直流成分を差動増幅器５の基準電圧Ｅ0 と同レベルとすることによって、装置のオフセットによらずに安定したオフトラック検出を行うことが可能である。
【００５７】
（実施の形態６）
図１２は、本発明の実施の形態６におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図である。本発明の実施の形態６は、上記の図１に示した実施の形態１におけるオフトラック検出装置に対して、差動増幅器５に代えて増幅率可変の差動増幅器５ａを用いるとともに、差動増幅器５ａによる増幅エンベロープ成分信号Ｆの振幅を検出する振幅検出器９と、振幅検出回路９による振幅情報を基に増幅エンベロープ成分信号Ｆの振幅が一定となるように差動増幅器５ａの増幅率Ｋを調整するゲイン調整手段１０とを備えた構成となっている。その他の構成については実施の形態１の場合の図１と同様であるので、同一部分に同一符号を付すにとどめ、説明を省略する。
【００５８】
以上のように構成された本実施の形態のオフトラック検出装置の動作を図１３に示す波形図を用いて説明する。
【００５９】
通常トラックピッチの光ディスクの場合のエンベロープ成分信号Ｅ1 の交流成分ＥAC1 と、狭トラックピッチの光ディスクの場合のエンベロープ成分信号Ｅ2 の交流成分ＥAC2 とは互いに相違し、一般にＥAC1 ＞ＥAC2 である。増幅率可変の差動増幅器５ａの出力である増幅エンベロープ成分信号Ｆについては、
通常トラックピッチの光ディスク：Ｆ１＝Ｋ×ＥAC1 
狭トラックピッチの光ディスク  ：Ｆ２＝Ｋ×ＥAC2 
となり、Ｆ１＞Ｆ２である。ここで、振幅検出器９は、増幅エンベロープ成分信号Ｆの振幅を検出し、その振幅情報信号をゲイン調整手段１０へと伝達する。ゲイン調整手段１０は、受け取った振幅情報信号と目標とする振幅レベルを比較し、一致するように増幅率可変の差動増幅器５ａの増幅率Ｋを調整する。通常トラックピッチの光ディスクの場合の増幅率をＫ１、狭トラックピッチの光ディスクの場合の増幅率をＫ２とすると、
Ｋ１×ＥAC1 ＝Ｋ２×ＥAC2 
となるようにゲイン調整を行う（Ｋ１＜Ｋ２）。このように振幅が一定化された増幅エンベロープ成分信号Ｆは、２値化器７に入力される。振幅一定の増幅エンベロープ成分信号Ｆは、その波形の全体が２値化器７のダイナミックレンジＶＤに収まる。２値化器７は、スライスレベル信号Ｆ0 を基準とし、振幅一定の増幅エンベロープ成分信号Ｆを２値化し、オフトラック検出信号ＳOTとして出力する。その他の動作については、実施の形態１と同様であるので説明を省略する。
【００６０】
本実施の形態によれば、光ディスクのトラックピッチの大小変化にかかわらず、一定振幅の増幅エンベロープ成分信号Ｆに対して２値化を行うため、オフトラック検出信号ＳOTの時間幅のばらつきが緩和され、安定したオフトラック検出が可能となる。
【００６１】
（実施の形態７）
図１４は、本発明の実施の形態７におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図である。本発明の実施の形態７は、上記の２値化器７におけるスライスレベル信号を生成する手段として可変のスライスレベル信号Ｆ0 ′を生成出力するスライスレベル調整器６ａを備えた図３に示す実施の形態２におけるオフトラック検出装置に対して、実施の形態６の場合と同様の構成の調整を行ったものである。すなわち、差動増幅器５に代えて増幅率可変の差動増幅器５ａを用いるとともに、差動増幅器５ａによる増幅エンベロープ成分信号Ｆの振幅を検出する振幅検出器９と、振幅検出回路９による振幅情報を基に増幅エンベロープ成分信号Ｆの振幅が一定となるように差動増幅器５ａの増幅率Ｋを調整するゲイン調整手段１０とを備えた構成となっている。その他の構成については実施の形態２の場合の図３と同様であるので、同一部分に同一符号を付すにとどめ、説明を省略する。
【００６２】
以上のように構成された本実施の形態のオフトラック検出装置の動作を図１５に示す波形図を用いて説明する。
【００６３】
上記の実施の形態６の場合と同様に、増幅率可変の差動増幅器５ａと振幅検出器９とゲイン調整手段１０の働きにより、光ディスクのトラックピッチによらずに振幅が一定化された増幅エンベロープ成分信号Ｆを生成し、その振幅一定の増幅エンベロープ成分信号Ｆを２値化器７に供給する。２値化器７においては、スライスレベル調整器６ａによる可変のスライスレベル信号Ｆ0 ′を基準として振幅一定の増幅エンベロープ成分信号Ｆを２値化することにより、トラックピッチの大小変化に応じたよりきめの細かいオフトラック検出を行うことができる。その他の動作については、実施の形態２，６と同様であるので説明を省略する。
【００６４】
本実施の形態によれば、トラックピッチによらずに増幅エンベロープ成分信号Ｆの振幅を自動的に一定化し、２値化器７におけるスライスレベルを任意に設定することとの相乗効果により、オフトラックの検出精度をさらに向上させることができる。
【００６５】
（実施の形態８）
図１６は、本発明の実施の形態８におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図である。本発明の実施の形態８は、上記の２値化器７におけるスライスレベル信号Ｆ0 ″を生成する手段として増幅エンベロープ成分信号Ｆに対する直流成分抽出手段６ｂを備えた図５に示す実施の形態３におけるオフトラック検出装置に対して、実施の形態６の場合と同様の構成の調整を行ったものである。すなわち、差動増幅器５に代えて増幅率可変の差動増幅器５ａを用いるとともに、差動増幅器５ａによる増幅エンベロープ成分信号Ｆの振幅を検出する振幅検出器９と、振幅検出回路９による振幅情報を基に増幅エンベロープ成分信号Ｆの振幅が一定となるように差動増幅器５ａの増幅率Ｋを調整するゲイン調整手段１０とを備えた構成となっている。その他の構成については実施の形態３の場合の図５と同様であるので、同一部分に同一符号を付すにとどめ、説明を省略する。
【００６６】
以上のように構成された本実施の形態のオフトラック検出装置の動作を図１７、図１８に示す波形図を用いて説明する。
【００６７】
まず、図１７を用いて、オフセットが発生したときの不具合を伴う動作を説明する。オフセットは、受光素子１、全加算器２、エンベロープ抽出手段３、増幅率可変の差動増幅器５ａのいずれにも生じる可能性がある。増幅エンベロープ成分信号Ｆについて、その直流成分をＦDCとし、通常トラックピッチまたは狭トラックピッチの各光ディスクのエンベロープ成分信号Ｅ1 ，Ｅ2 の交流成分をＥAC1 ，ＥAC2 、オフセット量をＥOSとすると、増幅エンベロープ成分信号Ｆは、
通常トラックピッチの光ディスクの場合：Ｆ＝Ｋ１×（ＥAC1 ＋ＥOS）＋ＦDC
狭トラックピッチの光ディスクの場合  ：Ｆ＝Ｋ２×（ＥAC2 ＋ＥOS）＋ＦDC
となる。そのため、２値化器７におけるスライスレベル信号Ｆ0 の電圧レベルをグランド等の一定レベルより決定した場合、スライスレベル信号Ｆ0 の電位は一定である。これに対して、増幅エンベロープ成分信号Ｆは、Ｋ１×ＥOSまたはＫ２×ＥOS分だけ直流成分が変動する。よって、オフセットの方向やオフセットの量によって増幅エンベロープ成分信号Ｆとスライスレベル信号Ｆ0 との相対的位置が変わるため、結果として検出レベルのばらつきとして現れる。
【００６８】
図１７の３つの増幅エンベロープ成分信号Ｆについて説明する。右端の増幅エンベロープ成分信号Ｆは、オフセットが発生していない場合のもので、２値化器７のダイナミックレンジＶＤに収まっている。左端と中央の増幅エンベロープ成分信号Ｆは、オフセットが発生した場合のもので、ダイナミックレンジＶＤからはみ出している。左端の場合、増幅率Ｋ１が相対的に小さく、はみ出しも小さい。中央の場合、増幅率Ｋ２が相対的に大きく、はみ出しも大きい。そして、もし、スライスレベル信号Ｆ0 の電位を一定であるとすると、結果として、オフトラック検出信号ＳOTの時間幅は、
ｔｂ＞ｔａ＞ｔｃ
のばらつきを見せている。
【００６９】
その対策として、図１８に示されるように、増幅率可変の差動増幅器５ａより出力される増幅エンベロープ成分信号Ｆの直流成分ＦDCをスライスレベル信号Ｆ0 ″の基準レベルとすることにより、２値化器７におけるスライスレベルは、（ＦDC＋Ｋ１×ＥOS）または（ＦDC＋Ｋ２×ＥOS）と表されるから、
通常トラックピッチの光ディスクの場合
増幅エンベロープ成分信号Ｆ＝Ｋ１×（ＥAC1 ＋ＥOS）＋ＦDC
スライスレベル信号Ｆ0 ″の電圧レベル  ………ＦDC＋Ｋ１×ＥOS
狭トラックピッチの光ディスクの場合
増幅エンベロープ成分信号Ｆ＝Ｋ２×（ＥAC2 ＋ＥOS）＋ＦDC
スライスレベル信号Ｆ0 ″の電圧レベル  ………ＦDC＋Ｋ２×ＥOS
となる。
【００７０】
オフトラック検出信号ＳOT（＝Ｆ−Ｆ0）については、
通常トラックピッチの光ディスクの場合：  ＳOT＝Ｋ×ＥAC1 
狭トラックピッチの光ディスクの場合  ：  ＳOT＝Ｋ×ＥAC2 
となり、オフセットによる変動量は相殺されている。
【００７１】
スライスレベル信号Ｆ0 ″を適応的に調整するので、オフトラック検出信号ＳOTの時間幅は、
ｔｂ＝ｔａ＝ｔｃ
となる。その他の動作については、実施の形態３，７と同様であるので説明を省略する。
【００７２】
本実施の形態によれば、２値化器７におけるスライスレベルとして、増幅率可変の差動増幅器５ａの直流成分を抽出し、それを基準レベルとすることによって、装置のオフセットによらずに安定したオフトラック検出を行うことが可能である。
【００７３】
（実施の形態９）
図１９は、本発明の実施の形態９におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図である。本発明の実施の形態９は、上記の基準電圧Ｅ0 を生成する手段としてエンベロープ抽出手段３から出力されるエンベロープ成分信号Ｅの直流成分ＥDCを抽出するための直流成分抽出手段４ａを備えた図８に示す実施の形態４におけるオフトラック検出装置に対して、実施の形態６の場合と同様の構成の調整を行ったものである。すなわち、差動増幅器５に代えて増幅率可変の差動増幅器５ａを用いるとともに、差動増幅器５ａによる増幅エンベロープ成分信号Ｆの振幅を検出する振幅検出器９と、振幅検出回路９による振幅情報を基に増幅エンベロープ成分信号Ｆの振幅が一定となるように差動増幅器５ａの増幅率Ｋを調整するゲイン調整手段１０とを備えた構成となっている。その他の構成については実施の形態４の場合の図８と同様であるので、同一部分に同一符号を付すにとどめ、説明を省略する。
【００７４】
以上のように構成された本実施の形態のオフトラック検出装置の動作を図２０に示す波形図を用いて説明する。
【００７５】
図８に示す実施の形態４の場合と同様に、直流成分抽出手段４ａの働きにより、
Ｅ1 ＝ＥAC1 ＋ＥDC＋ＥOS
Ｅ2 ＝ＥAC2 ＋ＥDC＋ＥOS
が成立する。
【００７６】
また、図１２に示す実施の形態６の場合と同様に、増幅率可変の差動増幅器５ａ、振幅検出器９およびゲイン調整手段１０の働きにより、
通常トラックピッチの光ディスクの場合：  Ｆ＝Ｋ１×ＥAC1 
狭トラックピッチの光ディスクの場合  ：  Ｆ＝Ｋ２×ＥAC2 
となる。
【００７７】
オフトラック検出信号ＳOT（＝Ｆ−Ｆ0）については、
通常トラックピッチの光ディスクの場合：  ＳOT＝Ｋ×ＥAC1 −Ｆ0
狭トラックピッチの光ディスクの場合  ：  ＳOT＝Ｋ×ＥAC2 −Ｆ0
となり、オフセットによる変動量は相殺されている。その他の動作については、実施の形態４，６と同様であるので説明を省略する。
【００７８】
本実施の形態によれば、差動増幅器５の基準電圧Ｅ0 として、エンベロープ抽出手段３の出力信号の直流成分を抽出し、それを基準レベルとすることと、光ディスクのトラックピッチの大小変化にかかわらず、一定振幅の増幅エンベロープ成分信号Ｆに対して２値化を行うとととの相乗効果により、オフトラックの検出精度をさらに向上させることができる。
【００７９】
（実施の形態１０）
図２１は、本発明の実施の形態１０におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図である。本発明の実施の形態１０は、上記の基準電圧Ｅ0 を生成する手段としてエンベロープ抽出手段３から出力されるエンベロープ成分信号Ｅの直流成分ＥDCを抽出するための高域通過フィルタ８を備えた図１０に示す実施の形態５におけるオフトラック検出装置に対して、実施の形態６の場合と同様の構成の調整を行ったものである。すなわち、差動増幅器５に代えて増幅率可変の差動増幅器５ａを用いるとともに、差動増幅器５ａによる増幅エンベロープ成分信号Ｆの振幅を検出する振幅検出器９と、振幅検出回路９による振幅情報を基に増幅エンベロープ成分信号Ｆの振幅が一定となるように差動増幅器５ａの増幅率Ｋを調整するゲイン調整手段１０とを備えた構成となっている。その他の構成については実施の形態５の場合の図１０と同様であるので、同一部分に同一符号を付すにとどめ、説明を省略する。
【００８０】
以上のように構成された本実施の形態のオフトラック検出装置の動作を図２２に示す波形図を用いて説明する。
【００８１】
高域通過フィルタ８の働きにより、
Ｅf1＝ＥAC1 ＋Ｅ0 
Ｅf2＝ＥAC2 ＋Ｅ0 
となる。
【００８２】
また、図１２に示す実施の形態６の場合と同様に、増幅率可変の差動増幅器５ａ、振幅検出器９およびゲイン調整手段１０の働きにより、
通常トラックピッチの光ディスクの場合：  Ｆ＝Ｋ１×ＥAC1 
狭トラックピッチの光ディスクの場合  ：  Ｆ＝Ｋ２×ＥAC2 
となり、増幅エンベロープ成分信号Ｆの振幅は一定化される。その他の動作については、実施の形態５，６と同様であるので説明を省略する。
【００８３】
本実施の形態によれば、エンベロープ抽出手段３の出力であるエンベロープ成分信号Ｅを高域通過フィルタ８へ通すことにより、オフセット電圧ＥOSをカットし、新たな直流成分として差動増幅器５の基準電圧Ｅ0 と同レベルとすること、光ディスクのトラックピッチの大小変化にかかわらず、一定振幅の増幅エンベロープ成分信号Ｆに対して２値化を行うとととの相乗効果により、オフトラックの検出精度をさらに向上させることができる。
【００８４】
以上に述べた、複数の実施の形態について、その任意の組み合わせを用いて使用することが可能である。
【産業上の利用可能性】
【００８５】
本発明のオフトラック検出装置は、これを光ディスク装置に用いることにより、安定した記録または再生を行う上で有用である。
【図面の簡単な説明】
【００８６】
【図１】本発明の実施の形態１におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図
【図２】本発明の実施の形態１におけるオフトラック検出装置の動作を示す波形図
【図３】本発明の実施の形態２におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図
【図４】本発明の実施の形態２におけるオフトラック検出装置の動作を示す波形図
【図５】本発明の実施の形態３におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図
【図６】本発明の実施の形態１におけるオフトラック検出装置でオフセットが発生したときの動作を示す波形図
【図７】本発明の実施の形態３におけるオフトラック検出装置の動作を示す波形図
【図８】本発明の実施の形態４におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図
【図９】本発明の実施の形態４におけるオフトラック検出装置の動作を示す波形図
【図１０】本発明の実施の形態５におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図
【図１１】本発明の実施の形態５におけるオフトラック検出装置の動作を示す波形図
【図１２】本発明の実施の形態６におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図
【図１３】本発明の実施の形態６におけるオフトラック検出装置の動作を示す波形図
【図１４】本発明の実施の形態７におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図
【図１５】本発明の実施の形態７におけるオフトラック検出装置の動作を示す波形図
【図１６】本発明の実施の形態８におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図
【図１７】本発明の実施の形態６におけるオフトラック検出装置でオフセットが発生したときの動作を示す波形図
【図１８】本発明の実施の形態８におけるオフトラック検出装置の動作を示す波形図
【図１９】本発明の実施の形態９におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図
【図２０】本発明の実施の形態９におけるオフトラック検出装置の動作を示す波形図
【図２１】本発明の実施の形態１０におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図
【図２２】本発明の実施の形態１０におけるオフトラック検出装置の動作を示す波形図
【図２３】従来の技術におけるオフトラック検出装置の構成を示すブロック図
【図２４】従来の技術におけるオフトラック検出装置の動作を示す波形図
【符号の説明】
【００８７】
１  受光素子
２  全加算器
３  エンベロープ抽出手段
４  基準電源
４ａ  直流成分抽出手段
５  差動増幅器
５ａ  増幅率可変の差動増幅器
６  スライスレベル信号源
６ａ  スライスレベル調整手段
６ｂ  直流成分抽出手段
７  ２値化器
８  高域通過フィルタ
９  振幅検出器
１０  ゲイン調整手段
Ａ  全加算信号
Ｅ  エンベロープ成分信号
Ｅ0   基準電圧
Ｆ  増幅エンベロープ成分信号
Ｆ0 ，Ｆ0 ′，Ｆ0 ″  スライスレベル信号
ＳOT  オフトラック検出信号
【図１】
2007207293.tif 000003
【図２】
2007207293.tif 000004
【図３】
2007207293.tif 000005
【図４】
2007207293.tif 000006
【図５】
2007207293.tif 000007
【図６】
2007207293.tif 000008
【図７】
2007207293.tif 000009
【図８】
2007207293.tif 000010
【図９】
2007207293.tif 000011
【図１０】
2007207293.tif 000012
【図１１】
2007207293.tif 000013
【図１２】
2007207293.tif 000014
【図１３】
2007207293.tif 000015
【図１４】
2007207293.tif 000016
【図１５】
2007207293.tif 000017
【図１６】
2007207293.tif 000018
【図１７】
2007207293.tif 000019
【図１８】
2007207293.tif 000020
【図１９】
2007207293.tif 000021
【図２０】
2007207293.tif 000022
【図２１】
2007207293.tif 000023
【図２２】
2007207293.tif 000024
【図２３】
2007207293.tif 000025
【図２４】
2007207293.tif 000026