(57)【要約】【課題】本発明は、フラットパネルディスプレイなど、多数の工程を経て形成される製品について、量産設備の中で製品試作も行う状況において、生産計画を高精度に立案する課題に関する。【解決手段】製品試作を、量産と同じ工程順序で試作を行う場合、量産と異なる工程順序でなおかつ量産の単位時間当たりの生産数量に影響がある工程を含んで試作を行う場合、それ以外の状況で試作を行う場合、に分類し、生産計画時に量産計画だけでなく、前記１番目と前記２番目の場合の試作計画も登録することで、生産計画を立案する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
量産製造ラインでの試作が必要な製品開発の試作の製造日程を計画するシステムにおいて、
試作情報と、ライン情報と、製造仕様情報と、ボトルネック装置情報と、を入力するデータ入力処理と、
該試作情報に含まれる試作が、該品目の完成に必要となるライン内での製造プロセスを全て経るかを判定するライン単位試作判定処理と、
該ライン単位試作判定処理で、該品目の完成に必要となるライン内での製造プロセスの一部のみを経ると判定された試作が該ライン内のボトルネック装置を通過するかを判定するボトルネック装置通過判定処理と、
該ライン単位試作判定処理で品目の完成に必要となるライン内での製造プロセスを全て経ると判定された試作と該ボトルネック装置通過判定処理でボトルネック装置を通過すると判定された試作のライン単位の製造能力を算出するライン単位製造能力計算処理と、
該ボトルネック装置通過判定処理でボトルネック装置を通過しないと判定された試作のライン単位の製造能力を算出するボトルネック装置非通過時製造能力計算処理と、
を有することを特徴とする
ライン単位での製造能力算出システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体製品など量産製造ラインでの試作が必要な製品の、試作日程計画立案における製造能力を算出するシステムに関する。
【背景技術】
【０００２】
半導体製品などの製品の開発では、設計作業に加えて、量産製造ラインで試作を行い、量産製造ラインで製造した場合の製品の特性を確認することや製造プロセスの条件を決定することなどが必要となっている。これらの試作には、ライン単位で行うものや装置単位で行うものなど様々な種類の試作がある。
【０００３】
このような製品の開発の遅れを防止するには、試作の遅れを防止することが重要である。そのため、量産製造ラインにおける高精度な試作日程計画立案が重要である。試作日程計画立案で考慮しなければいけないものは、設計作業の日程、試作用部材の日程、量産製造ラインの製造能力である。ここで、製造能力とは単位時間あたりで工程から産出される製品の個数を指す。計画対象期間は、調達に数ヶ月かかる長納期部材に対応するために、数ヶ月から一年程度必要である。量産の計画数量と試作の計画数量の和が、製造ラインの製造能力以下になるように計画するために、量産と試作で計画の粒度を等しくする必要がある。そして、数ヶ月先までの量産製造日程計画はライン単位で立案されているので、試作日程計画においても、工程の単位はラインである。
【０００４】
高精度な試作日程が重要であるが、実際の産出量と製造能力が乖離する問題が生じている。
【０００５】
製造能力を考慮する技術として、例えば、半導体製造において、装置単位で製造能力を算出する特開２０００−２４６５９９号がある。
【０００６】
【特許文献１】特開２０００−２４６５９９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
高精度な試作日程が重要であるが、実際の産出量と製造能力が乖離する問題は、装置単位の試作が使用する装置により、製造ラインの製造能力が変化することが原因である。
【０００８】
しかし、従来のライン単位での製造日程計画システムにおいては、装置単位の試作を計画するとき、使用する装置の違いを考慮していなかった。
【０００９】
そこで、上記問題を解決するため、本発明は、数ヶ月から一年程度の計画対象期間であるライン単位の試作日程計画立案において、装置単位の試作が使用する装置の違いを考慮することで、製造能力をライン単位で高精度に算出することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するために、本発明は、
量産製造ラインでの試作が必要な製品開発の試作製造日程を計画するシステムにおいて、
試作情報と、ライン情報と、製造仕様情報と、ボトルネック装置情報と、を入力するデータ入力処理と、
該試作情報に含まれる試作が、該品目の完成に必要となるライン内での製造プロセスを全て経るかを判定するライン単位試作判定処理と、
該ライン単位試作判定処理で、該品目の完成に必要となるライン内での製造プロセスの一部のみを経ると判定された試作が該ライン内のボトルネック装置を通過するかを判定するボトルネック装置通過判定処理と、
該ライン単位試作判定処理で品目の完成に必要となるライン内での製造プロセスを全て経ると判定された試作と該ボトルネック装置通過判定処理でボトルネック装置を通過すると判定された試作のライン単位の製造能力を算出するライン単位製造能力計算処理と、
該ボトルネック装置通過判定処理でボトルネック装置を通過しないと判定された試作のライン単位の製造能力を算出するボトルネック装置非通過時製造能力計算処理と、
を有し、
試作を、製造プロセスを全て経る試作と、製造プロセスの一部のみ経てボトルネック装置を使う試作と、製造プロセスの一部のみ経てボトルネック装置を使わない試作とに自動的に分類し、試作内容に応じた製造能力をライン単位で算出するシステムを提供する。
【発明の効果】
【００１１】
本発明の製造能力算出システムは、量産製造ラインでの試作が必要な製品開発において、製造プロセスを全て経る試作と、製造プロセスの一部のみ経てボトルネック装置を使う試作と、製造プロセスの一部のみ経てボトルネック装置を使わない試作と、に自動的に分類し、試作内容に応じたライン単位の製造能力計算を行い、試作のライン単位の製造能力を高精度に算出できる。これにより、試作日程計画を高精度に立案でき、開発遅延の防止に寄与する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下に、本発明の実施形態の一例を、図を用いて説明する。
【００１３】
図２は、本発明の実施形態に関わる製造ラインの例である。本発明で対象となる製造ラインは、例えば、同一加工が可能な装置Ａ２２０〜２２２と、同一加工が可能な装置Ｂ２３０〜２３１と、同一加工が可能な装置Ｃ２３０〜２３２と、の装置群からなるライン２１０のようなジョブショップ型ラインである。そして、各装置を使用する順序や回数は品目により異なる。例えば、初めに装置Ａで加工を行い、装置Ｃ、装置Ｂ、装置Ａという順番で加工を行い、ライン１での加工を終了する品目もあれば、初めに装置Ｂで加工を行い、装置Ａ、装置Ｂ、装置Ｃ、装置Ａという順番で加工を行い、ライン１での加工を終了する品目もある。
【００１４】
図１に本発明のライン単位での製造能力算出システムのフローチャートを示す。
【００１５】
まず、データ入力処理１１１において、試作情報１２１と、ライン情報１２２と、製造仕様情報１２３と、ボトルネック装置情報１２４と、を入力する。
【００１６】
ライン単位試作判定処理１１２においては、該試作情報１２１に含まれる試作が、該品目の完成に必要となるライン内での製造プロセスを全て経るライン単位試作か、該品目の完成に必要となるライン内での製造プロセスの一部のみ行う装置単位試作か、を判定する。
【００１７】
該ライン単位試作判定処理１１２で装置単位試作と判定された試作は、ボトルネック装置通過判定処理１１３において、ボトルネック装置を通過するか判定する。
【００１８】
ライン単位試作と、該ボトルネック装置通過判定処理１１３でボトルネック装置を通過すると判定された装置単位試作と、はライン単位製造能力計算処理１１４でライン単位の製造能力を算出する。
【００１９】
該ボトルネック装置通過判定処理１１３でボトルネック装置を通過しないと判定された装置単位試作は、ボトルネック装置非通過時製造能力計算処理１１５でライン単位の製造能力を算出する。
【００２０】
以下、入力する情報と処理の詳細について述べる。
【００２１】
図３は、製造仕様情報１２３の一例である。製造仕様情報は、品目名称３２と、該品目が構成する製品名称３１と、該品目を製造するライン３３や、該品目を製造するのに必要な加工の名称を示すプロセス３４とその順序や、該プロセスで使用する装置３５、該装置における作業時間３６などの情報を持つ。
【００２２】
図４は、試作情報１２１の一例である。試作情報は、試作を識別する番号４０と、開発案件ごとに付与される識別番号である開発番号４１と、該試作の着工日４２と、該試作する品目名称４４と、該試作の数量４３と、該試作が図３の製造仕様情報に登録されたプロセスの一部のみ行う試作であることを示す部分試作チェックフラグ４５と、該試作がプロセスの一部のみ行う試作である場合、該試作が行うプロセス４６と、を持つ。
【００２３】
図５は、ライン情報１２２の一例である。ライン情報は、ライン名５１と、該ラインに設置されている装置名５２と、該装置の稼働可能時間５３と、該装置の想定稼働率５４と、を持つ。
【００２４】
想定稼働率は、量産品とライン単位試作を製造する際、該装置が要すると想定される稼働時間を該装置の稼働可能時間で割ったものである。該想定稼働率には、過去の一定期間における、量産品を製造するのに要した時間の平均に、ライン単位の試作を製造するための稼働時間を考慮するための係数をかけたものを該装置の稼働可能時間で割ったものを自動で設定してもよいし、過去の一定期間における、量産品を製造するのに要した時間のうち長いもの上位１０％の値にライン単位の試作を製造するための稼働時間を考慮するための係数をかけたものを該装置の稼働可能時間で割ったものを自動で設定してもよい。
【００２５】
図６は、ボトルネック装置情報１２４の一例である。ボトルネック装置情報は、ライン６１と、該ラインに設置されている装置６２がボトルネックとなり得る装置であることを示すボトルネック装置フラグ６３を持つ。ボトルネックとなり得る装置とは、該ラインの量産のスループットに影響を与え得る装置のことである。過去の一定期間における稼働率の平均が一定値以上となる装置に対して、自動で該ボトルネック装置フラグを付けてもよいし、過去の一定期間における加工待ち時間の平均が一定値以上となる装置に対して、自動で該ボトルネック装置フラグを付けてもよい。
【００２６】
図８は、ライン単位試作判定処理１１２の一例である。部分試作チェックフラグ取得処理において、試作情報から部分試作チェックフラグを取得する。部分試作チェックフラグ判定８２において、該部分試作チェックフラグを確認し、フラグがあれば、ライン単位試作と判定し、なければ、装置単位試作と判定する。
【００２７】
図９は、ボトルネック装置通過判定処理１１３の一例である。試作プロセス取得処理９１において、試作情報から試作プロセスを取得する。使用装置取得処理９２において、製造仕様情報から該試作プロセスが使用する装置を取得する。ボトルネック装置チェックフラグ取得処理９３において、ライン情報から該装置のボトルネック装置チェックフラグを取得する。ボトルネック装置チェックフラグ判定９４において、該ボトルネック装置チェックフラグを確認し、フラグがあれば、ボトルネック装置を通過すると判定し、フラグがなければ、ボトルネック装置を通過しないと判定する。
【００２８】
ライン単位製造能力計算処理１１４においては、製造能力をそのままとする。
【００２９】
図１０は、ボトルネック装置非通過時製造能力計算処理１１５の一例である。占有時間算出処理１００１において、試作の数量と作業時間から、試作が使用する装置の占有時間を算出する。占有割合算出処理１００２において、該占有時間を該使用装置の稼働可能時間で割ることで占有割合を算出する。そして、日付毎の「該占有割合の総和」と「想定稼働率」の和がしきい値を超えないならばライン単位の製造能力を数量分増やす。超えた場合は、超えない分に関しては、ライン単位の製造能力を数量分増やし、しきい値を超えた分の試作に関しては、前記ライン単位製造能力計算処理と同様に試作数量をライン単位の製造能力として算出する。
【００３０】
本発明は、例えば図７に示すような、CPU７０とメモリ７１とハードディスク装置等の外部記憶装置７２と、CD−ROMやDVD−ROM等の可搬性を有する記憶媒体７７からデータを読み取る装置７６とキーボードやマウス等の入力装置７４と、CRTやLCD等の出力装置７５とインターネット等のネットワークを介して通信を行う通信装置７３と、これらの各装置を接続するバス等を備えた、一般的な構成を有するコンピュータシステム、あるいは、このコンピュータシステムを複数備えたネットワークシステム上で実現できる。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本発明の一実現形態であるフローチャートを示す図である。
【図２】本対象となる製造ラインの装置の一例である。
【図３】本発明の製造仕様情報の一例である。
【図４】本発明の試作情報の一例である。
【図５】本発明のライン情報の一例である。
【図６】本発明のボトルネック装置情報の一例である。
【図７】本発明のハードウェア構成の一例である。
【図８】本発明のライン単位試作判定処理の一例である。
【図９】本発明のボトルネック装置通過判定処理の一例である。
【図１０】本発明のボトルネック装置非通過時製造能力計算処理の一例である。
【符号の説明】
【００３２】
１１１…データ入力処理、１１２…ライン単位試作判定処理、１１３…ボトルネック装置通過判定処理、１１４…ライン単位製造能力計算処理、１１５…ボトルネック装置非通過時製造能力計算処理、１２１…試作情報、１２２…ライン情報、１２３…製造仕様情報、１２４…ボトルネック装置情報、２１０…製造ライン１、２２０〜２２２…製造装置Ａ、２３０〜２３１…製造装置Ｂ、２４０〜２４１…製造装置Ｃ、３１…製品名称、３２…品目名称、３３…ライン、３４…プロセス、３５…装置、３６…作業時間、４０…試作識別番号、４１…開発Ｎｏ、４２…着工日、４３…試作数量、４４…試作品目名称、４５…部分試作チェックフラグ、４６…試作プロセス、５１…ライン、５２…装置、５３…稼働時間、５４…想定稼働率、６１…ライン、６２…装置、６３…ボトルネック装置フラグ、７０…ＣＰＵ、７１…メモリ、７２…外部記憶装置、７３…通信装置、７４…入力装置、７５…出力装置、７６…読取装置、７７…記憶媒体、８１…部分試作チェックフラグ取得処理、８２…部分試作チェックフラグ判定、９１…試作プロセス取得処理、９２…使用装置取得処理、９３…ボトルネック装置チェックフラグ取得処理、９４…ボトルネック装置チェックフラグ判定。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2007213458.tif 000009
【図８】
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【図９】
2007213458.tif 000011
【図１０】
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