(57)【要約】【課題】かごが軸線に直交した方向にずれた寸法を測定するエレベータ寸法測定装置を得る。【解決手段】かご１０の第１の基準点に設けられ昇降路１４の軸線方向にレーザー光４ａを送出し昇降路１４の天面から反射されたレーザー光４ａを受け昇降路１４の軸線上の第１の基準点の位置を測定する軸線方向位置測定部４と、かご１０の第２の基準点に設けられ軸線に対して直交した方向にレーザー光５ａ、６ａを送出し昇降路１４の内壁から反射されたレーザー光５ａ、６ａを受け第２の基準点から内壁までの寸法を測定する奥行方向寸法測定部５および間口方向寸法測定部６と、昇降路１４内に設けられ鉛直方向にレーザー光２ａを送出する鉛直スポットレーザー光装置２と、かご１０に設けられレーザー光２ａを受けた鉛直点の位置を測定する位置検出部７と、鉛直点と第２の基準点との距離を算出するパソコン３とを備えている。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レールに沿って移動するかごの第１の基準点に設けられ、昇降路の軸線方向に第１の電磁波を送出し、前記昇降路の天面または床面から反射された前記第１の電磁波を受けて、前記昇降路の軸線上の前記第１の基準点の位置を測定する軸線方向位置測定手段と、
前記かごの第２の基準点に設けられ、前記軸線に対して直交した方向に前記第１の電磁波を送出し、前記昇降路内の反射体から反射された前記第１の電磁波を受けて、前記第２の基準点から前記反射体までの寸法を測定する直交方向寸法測定手段と、
前記昇降路内に設けられ、鉛直方向に第２の電磁波を送出する鉛直方向電磁波送出手段と、
前記かごに設けられ、前記第２の電磁波を受けた鉛直点と前記第２の基準点との距離を測定するずれ測定手段と、
を備えたことを特徴とするエレベータ寸法測定装置。
【請求項２】
前記直交方向寸法測定手段および前記ずれ測定手段により、前記鉛直点から前記反射体までの寸法を算出する鉛直点反射体寸法測定手段を備えたことを特徴とする請求項１に記載のエレベータ寸法測定装置。
【請求項３】
前記ずれ測定手段は、前記鉛直点と前記第２の基準点との距離を、前記かごを移動させた複数の位置で測定して、前記鉛直線を基準にした前記レールの傾きを算出することを特徴とする請求項１に記載のエレベータ寸法測定装置。
【請求項４】
鉛直点反射体寸法測定手段は、前記鉛直点から前記反射体までの寸法を、前記かごを移動させた複数の位置で算出して、前記鉛直線を基準にした前記反射体の複数箇所の部位までの寸法を算出することを特徴とする請求項２に記載のエレベータ寸法測定装置。
【請求項５】
前記軸線方向位置測定手段および前記直交方向寸法測定手段による前記第１の電磁波と、前記鉛直方向電磁波送出手段による前記第２の電磁波は、それぞれが同時に送出されることを特徴とする請求項１ないし請求項４の何れか１項に記載のエレベータ寸法測定装置。
【請求項６】
前記第１の電磁波と前記第２の電磁波とは、同一種類であることを特徴とする請求項１ないし請求項５の何れか１項に記載のエレベータ寸法測定装置。
【請求項７】
前記第１の電磁波と前記第２の電磁波とは、レーザー光であることを特徴とする請求項６に記載のエレベータ寸法測定装置。
【請求項８】
前記第１の基準点と前記第２の基準点とは、同一点であることを特徴とする請求項１ないし請求項７の何れか１項に記載のエレベータ寸法測定装置。
【請求項９】
前記軸線方向位置測定手段、前記直交方向寸法測定手段およびずれ測定手段は、一体に設けられていることを特徴とする請求項１ないし請求項８の何れか１項に記載のエレベータ寸法測定装置。
【請求項１０】
前記反射体は、前記昇降路の内壁であることを特徴とする請求項１ないし請求項９の何れか１項に記載のエレベータ寸法測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、エレベータの昇降路内の寸法を自動的に測定するエレベータ寸法測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来のエレベータ寸法測定装置として、レールに沿って移動するかごの基準点に設けられ、昇降路の軸線方向に電磁波を前記昇降路の天面に向けて送出し、前記天面から反射された前記電磁波を受けて、前記昇降路の軸線上の基準点の軸線方向の位置を測定する軸線方向位置測定手段と、前記基準点に設けられ、前記軸線に対して直交した方向に電磁波を前記昇降路内の前記反射体に向けて送出し、前記反射体から反射された前記電磁波を受けて、前記基準点から前記反射体までの寸法を測定する直交方向寸法測定手段が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
【特許文献１】特開２００３−６５７２１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、このものの場合、測定装置がかごの上に固定されており、測定の基準点がかごとともに移動するので、かごが軸線に直交した方向にずれた場合、基準点からの反射体までの寸法の測定は、ずれた距離をそのまま誤差として含んでしまうという問題点があった。
【０００５】
この発明は、上述のような問題点を解決することを課題とするものであって、その目的は、基準点から反射体までの寸法を測定する際に、かごが軸線に直交した方向にずれた場合には、そのずれた寸法を測定することができるエレベータ寸法測定装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明に係るエレベータ寸法測定装置は、レールに沿って移動するかごの第１の基準点に設けられ、昇降路の軸線方向に第１の電磁波を送出し、前記昇降路の天面または床面から反射された前記第１の電磁波を受けて、前記昇降路の軸線上の前記第１の基準点の位置を測定する軸線方向位置測定手段と、前記かごの第２の基準点に設けられ、前記軸線に対して直交した方向に前記第１の電磁波を送出し、前記昇降路内の反射体から反射された前記第１の電磁波を受けて、前記第２の基準点から前記反射体までの寸法を測定する直交方向寸法測定手段と、前記昇降路内に設けられ、鉛直方向に第２の電磁波を送出する鉛直方向電磁波送出手段と、前記かごに設けられ、前記第２の電磁波を受けた鉛直点と前記第２の基準点との距離を測定するずれ測定手段とを備えたものである。
【発明の効果】
【０００７】
この発明に係るエレベータ寸法測定装置によれば、第２の基準点から反射体までの寸法を測定する際に、かごが軸線に直交した方向にずれた場合であっても、そのずれた寸法を測定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
実施の形態１．
図１はこの発明の実施の形態１に係るエレベータ寸法測定装置の構成図、図２は図１のＡ−Ａ線に沿って視た矢視断面図、図３は、図１のエレベータ寸法測定装置をエレベータに設置したときの斜視図である。
【０００９】
エレベータは、人が乗り込むかご１０とこのかご１０と重りのバランスをとるカウンタ１１とを有している。
エレベータの昇降路１４の内壁には、かご用レール８が、かご用レールブラケット９を介して軸線方向に固定されている。
かご１０は、かご用レール８により上下方向に移動可能に案内されている。
昇降路１４の内壁には、カウンタ用レール１２が、カウンタ用レールブラケット１３を介して軸線方向に固定されている。
カウンタ１１は、昇降路１４内に設けられたカウンタ用レール１２により上下方向に移動可能に案内されている。
【００１０】
実施の形態１に係るエレベータ寸法測定装置は、かご用レール８に沿って移動するかご１０の第１の基準点に設けられた軸線方向位置測定手段とこの第１の基準点と同一点である第２の基準点に設けられた直交方向寸法測定手段とを有する直方体形状の測定装置１と、昇降路１４の天面に設けられ鉛直線上の下方向に第２の電磁波であるレーザー光２ａを送出する鉛直方向電磁波送出手段である鉛直スポットレーザー光装置２と、測定装置１にケーブルを介して設けられ、測定結果を記憶し、測定結果から昇降路１４の寸法を算出するパソコン３とを備えている。
【００１１】
測定装置１は、直方体のそれぞれの面が昇降路１４の内壁と対向するように配置されている。
測定装置１の上面には、測定装置１から昇降路１４の軸線の上方に向かって第１の電磁波であるレーザー光４ａを送出し、昇降路１４の天面で反射されたレーザー光４ａを受け、経過した時間を測定することで、第１の基準点から昇降路１４の天面までの寸法を測定する軸線方向位置測定手段である軸線方向位置測定部４が設けられている。
【００１２】
測定装置１の側面で、昇降路１４の奥行方向には、測定装置１から軸線に対して直交したレーザー光５ａを送出し、昇降路１４内の反射体である内壁で反射されたレーザー光５ａを受け、経過した時間を測定することで、第２の基準点から昇降路１４の奥行方向の内壁までの寸法を測定する奥行方向寸法測定部５が設けられている。
【００１３】
昇降路１４の側面で、昇降路１４の間口方向には、測定装置１から軸線に対して直交したレーザー光６ａを送出し、昇降路１４の内壁で反射されたレーザー光６ａを受け、経過した時間を測定することで、第２の基準点から昇降路１４の間口方向の内壁までの寸法を測定する間口方向寸法測定部６が設けられている。
直交方向寸法測定手段は、奥行方向寸法測定部５および間口方向寸法測定部６から構成されている。
【００１４】
測定装置１の上面には、昇降路１４天面に設けられた鉛直スポットレーザー光装置２から送出されたレーザー光２ａを受けた鉛直点の位置を検知する位置検出部７が設けられている。
鉛直点と第２の基準点との距離を測定するずれ測定手段は、パソコン３と位置検出部７とから構成されている。
【００１５】
パソコン３は、第１の基準点および第２の基準点の位置、第１の基準点から昇降路１４の天面までの距離、第２の基準点から昇降路１４の奥行方向の内壁までの寸法、第２の基準点から昇降路１４の間口方向の内壁までの寸法、鉛直点の位置を保存し、後述するように昇降路１４内の寸法を算出する。
【００１６】
次に、実施の形態１に係るエレベータ寸法測定装置を用いた昇降路１４内の寸法の測定について説明する。
まず、かご１０を昇降路１４内の最も高い位置に移動させる。
次に、軸線方向位置測定部４は、昇降路１４の軸線上における測定装置１の位置を測定する。
奥行方向寸法測定部５は、測定装置１からの昇降路１４の奥行方向の内壁までの寸法を測定する。
間口方向寸法測定部６は、測定装置１からの昇降路１４の間口方向の内壁までの寸法を測定する。
位置検出部７は、鉛直スポットレーザー光装置２から送出されたレーザー光２ａを受光し、その鉛直点の位置を検出する。
ここで、軸線方向位置測定部４、奥行方向寸法測定部５、間口方向寸法測定部６および鉛直スポットレーザー光装置２は、それぞれが同時にレーザー光２ａ、４ａ、５ａ、６ａを送出する。
また、全ての測定値はパソコン３へ転送され、記憶される。
【００１７】
次に、パソコン３により、第２の基準点と鉛直点との距離を算出する。
また、パソコン３では、第２の基準点から昇降路１４の奥行方向の内壁までの寸法、第２の基準点から昇降路１４の間口方向の内壁までの寸法および鉛直点と第２の基準点との距離の測定値から、鉛直点を基準にした昇降路１４の奥行方向の内壁までの寸法および間口方向の内壁までの寸法を算出する。
【００１８】
また、かご１０とともに、昇降路１４の軸線上における測定装置１の位置を所定の距離だけ下方へ移動させて、再び、軸線方向位置測定部４、奥行方向寸法測定部５、間口方向寸法測定部６および位置検出部７により、各寸法が測定される。
各測定値が転送されたパソコン３では、各鉛直点を基準に奥行歩行の内壁までの寸法および間口方向の内壁までの寸法を算出する。
上述した測定を繰り返し行い、かご１０が昇降路１４内の最も低い位置まで移動すると、測定を終了する。
【００１９】
以上説明したように、この実施の形態１に係るエレベータ寸法測定装置によると、鉛直スポットレーザー光装置２から測定装置１に向かって鉛直方向にレーザー光２ａが送出され、ずれ測定手段が鉛直方向のレーザー光２ａを受けた鉛直点と第２の基準点との距離を測定するので、鉛直点を基準にした軸線に直交した方向へのかご１０のずれの寸法を測定することができる。
【００２０】
また、第２の基準点から昇降路１４の内壁までの寸法と、鉛直点から第２の基準点までの距離とを用いて、鉛直点から昇降路１４の内壁までの寸法が算出されるので、軸線に直交した方向にかご１０にずれや、また、昇降路１４が傾いている場合であっても、かご１０のずれや昇降路１４の傾きを踏まえて、鉛直点を基準にして、昇降路１４の内壁の寸法を測定することができる。
【００２１】
また、かご１０をかご用レール８に沿って移動させて、鉛直点から第２の基準点までの距離を複数の位置で測定するので、鉛直スポットレーザー光装置２の鉛直線を基準にしてかご用レール８の傾きを算出することができる。
また、同様にして、カウンタ用レール１２の傾きも算出することができる。
【００２２】
また、かご１０を移動させて、鉛直点から昇降路１４の内壁までの複数箇所の寸法を算出しているので、鉛直線を基準にして、昇降路１４の内壁の寸法を測定することができる。特に、図４に示すように、昇降路１４が傾いている場合であっても、鉛直線１５を基準にして、例えば、右側間口方向寸法１６ａ、１６ｂ、１６ｃ、左側間口方向寸法１７ａ、１７ｂ、１７ｃのように、複数箇所の寸法を算出することにより、昇降路１４の内壁の寸法を測定することができる。
【００２３】
また、鉛直スポットレーザー光装置２、軸線方向位置測定部４、奥行方向寸法測定部５および間口方向寸法測定部６によるレーザー光２ａ、４ａ、５ａ、６ａは、それぞれが同時に送出されるので、かご１０を上下に移動させたまま測定装置１を用いて測定しても、第１の基準点と第２の基準点とは、常に一致している。
【００２４】
また、軸線方向位置測定部４、奥行方向寸法測定部５および間口方向寸法測定部６が送出するレーザー光４ａ、５ａ、６ａと、鉛直スポットレーザー光装置２が送出するレーザー光２ａとは、同一種類であるので、簡単にエレベータ寸法測定装置を構成することができる。
【００２５】
また、軸線方向位置測定部４、奥行方向寸法測定部５および間口方向寸法測定部６および鉛直スポットレーザー光装置２がレーザー光２ａ、４ａ、５ａ、６ａを送出するので、非接触に寸法を測定することができる。
【００２６】
また、軸線方向の第１の基準点と軸線に直交した方向の第２の基準点とが、同一点であるので、昇降路１４の内壁を算出する際に、軸線方向位置測定手段の測定結果を軸線方向に平行移動させて算出する必要がない。
【００２７】
また、軸線方向位置測定手段、直交方向寸法測定手段およびずれ測定手段は、一体に設けられているので、容易に、かご１０に取り付けることができる。
【００２８】
なお、上記構成のエレベータ寸法測定装置では、測定装置１をかご１０の上面に設け、鉛直スポットレーザー光装置２は、昇降路１４の上方から下方に向かって、レーザー光２ａを送出するとして説明したが、勿論このものに限らず、測定装置をかごの下面に設け、鉛直スポットレーザー光装置が、昇降路の下方から上方へ向かって、レーザー光を送出するものであってもよい。
【００２９】
また、反射体を昇降路１４の内壁として説明したが、勿論このものに限らず、例えば、かご用レール等のように、昇降路内に設けられているものであればよい。
【００３０】
また、かご１０の上下移動を停止させて、各測定を行うとして説明したが、勿論、移動させながら測定してもよい。
【００３１】
また、直交方向寸法測定手段は、昇降路１４の奥行方向および間口方向の寸法を測定するとして説明したが、勿論このものに限らず、軸線に対して直交した方向にレーザー光を回転させて、昇降路内をスキャンするものであってもよい。その結果、昇降路内をより詳細に測定することができる。
【００３２】
また、第１の基準点および第２の基準点は、同一点として説明したが、勿論このものに限らず、第１の基準点と第２の基準点との距離は、常に一定であればよく、各基準値のずれは、予めパソコン３に対してそのずれ寸法を入力しておき、そのずれ寸法を考慮して昇降路１４の寸法を算出すればよい。
【００３３】
また、第１の電磁波および第２の電磁波は、レーザー光であるとして説明したが、勿論このものに限らず、例えば、電波であってもよい。
【００３４】
また、上記構成では、パソコン３を使用して説明したが、勿論このものに限らず、同様の記憶および数値計算ができるものであればよく、例えば専用ＩＣ等であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】実施の形態１に係るエレベータ寸法測定装置の構成図である。
【図２】図１のＡ−Ａ線に沿って視た矢視断面図である。
【図３】図１のエレベータ寸法測定装置をエレベータに設置したときの斜視図である。
【図４】図１のエレベータ寸法測定装置を用いて傾いたエレベータを測定したときの鉛直線と測定寸法を示した図である。
【符号の説明】
【００３６】
１  測定装置、２  鉛直スポットレーザー光装置、２ａ  レーザー光、３  パソコン、４  軸線方向位置測定部、４ａ、レーザー光、５  奥行方向寸法測定部、５ａ  レーザー光、６  間口方向寸法測定部、６ａ  レーザー光、７  位置検出部、８  かご用レール、９  かご用レールブラケット、１０  かご、１１  カウンタ、１２  カウンタ用レール、１３  カウンタ用レールブラケット、１４  昇降路、１５  鉛直線、１６ａ、１６ｂ、１６ｃ  右側間口方向寸法、１７ａ、１７ｂ、１７ｃ  左側間口方向寸法。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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