(57)【要約】【課題】静的画面欠点と区別して、時間的変化を伴うちらつき不灯などの動的画面欠点を、高精度かつ高速に検査できるプラズマディスプレイの点灯画面検査方法を提供する。【解決手段】プラズマディスプレイパネルを点灯表示させ、プラズマディスプレイパネルの点灯表示画面を撮像手段により撮像し、この撮像により取り込んだ画像の画像データを用いて各放電セルの点灯検査を行う点灯画面検査方法において、点灯検査を行うための表示パターンをプラズマディスプレイパネルに表示するステップと、表示パターンを表示したプラズマディスプレイパネルの点灯表示画面を所定の期間単位で撮像し、この撮像により複数の画像を検査画像データとして取り込むステップと、取り込んだ検査画像データを利用して画像の各画素における時間的な濃度変化を算出するステップと、濃度変化の算出結果に基づいて点灯画面を評価するステップとを有する。【選択図】図３
2007024616.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
一対の基板間に複数の放電セルを有し、各放電セルにおいて放電を発生させることにより画面表示を行うプラズマディスプレイパネルに対して、前記プラズマディスプレイパネルを点灯表示させ、前記プラズマディスプレイパネルの点灯表示画面を撮像手段により撮像し、この撮像により取り込んだ画像の画像データを用いて前記各放電セルの点灯検査を行う点灯画面検査方法において、
点灯検査を行うための表示パターンを前記プラズマディスプレイパネルに表示するステップと、
前記表示パターンを表示した前記プラズマディスプレイパネルの点灯表示画面を、所定の期間単位で撮像し、この撮像により、複数の画像を検査画像データとして取り込むステップと、
前記取り込んだ検査画像データを利用して、前記画像の各画素における時間的な濃度変化を算出するステップと、
前記濃度変化の算出結果に基づいて、点灯画面を評価するステップとを有することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法。
【請求項２】
各画素における時間的な濃度変化を算出する前記ステップは、
前記取り込んだ検査画像データを、画像記憶手段に記録するステップと、
前記画像記憶手段に記録した検査画像データを利用して、各画素ごとに、その画素における時系列の検査画像データのなかで最大値となる最大値データを算出し、各画素ごとの前記最大値データで構成される最大値画像データを得るステップと、
前記画像記憶手段に記録した検査画像データを利用して、各画素ごとに、その画素における時系列の検査画像データのなかで最小値となる最小値データを算出し、各画素ごとの前記最小値データで構成される最小値画像データを得るステップと、
各画素ごとに、前記最大値画像データと前記最小値画像データとの差分を算出し、差分画像データを得るステップとを含み、
点灯画面を評価する前記ステップは、
前記差分画像データに基づいて、点灯画面を評価することを特徴とする請求項１記載のプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法。
【請求項３】
各画素における時間的な濃度変化を算出する前記ステップは、
記憶手段に記録された、各画素ごとの最大値データで構成される最大値画像データを読み出すステップと、
前記読み出した最大値画像データと前記取り込んだ検査画像データとを、各画素ごとに比較し、前記検査画像データが前記最大値画像データよりも大きな値のとき、前記検査画像データを前記記憶手段に最大値データとして記録更新するステップと、
記憶手段に記録された、各画素ごとの最小値データで構成される最小値画像データを読み出すステップと、
前記読み出した最小値画像データと前記取り込んだ検査画像データとを、各画素ごとに比較し、前記検査画像データが前記最小値画像データよりも小さな値のとき、前記検査画像データを前記記憶手段に最小値データとして記録更新するステップと、
各画素ごとに、前記最大値画像データと前記最小値画像データとの差分を算出し、差分画像データを得るステップとを含み、
前記点灯画面を評価するステップは、
前記差分画像データに基づいて、点灯画面を評価することを特徴とする請求項１記載のプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法。
【請求項４】
各画素における時間的な濃度変化を算出する前記ステップは、
前記取り込んだ検査画像データを、記憶手段に記録するステップと、
前記記憶手段に記録した検査画像データを利用して、各画素ごとに、時系列の検査画像データを用いて標準偏差を算出し、各画素ごとの標準偏差値データで構成される標準偏差画像データを得るステップとを含み、
前記点灯画面を評価するステップは、
前記標準偏差画像データに基づいて、点灯画面を評価することを特徴とする請求項１記載のプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法。
【請求項５】
各画素における時間的な濃度変化を算出する前記ステップは、
記憶手段に記録された、各画素ごとの標準偏差値データで構成される標準偏差画像データを読み出すステップと、
前記読み出した標準偏差画像データと前記取り込んだ検査画像データとにより、標準偏差を算出し、算出した各画素ごとの標準偏差値データで標準偏差画像データを記録更新するステップとを含み、
前記点灯画面を評価するステップは、
前記標準偏差画像データに基づいて、点灯画面を評価することを特徴とする請求項１記載のプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法。
【請求項６】
各画素における時間的な濃度変化を算出する前記ステップは、
記憶手段に記録された、各画素ごとの時系列の画素データの平均である平均値データで構成される平均値画像データを読み出すステップと、
前記読み出した平均値画像データと前記取り込んだ検査画像データとにより、平均値を算出し、算出した各画素ごとの平均値データで平均値画像データを記録更新するステップと、記憶手段に記録された、各画素ごとの時系列の標準偏差である標準偏差値データで構成される標準偏差値画像データを読み出すステップと、
前記読み出した標準偏差画像データと前記記録更新した平均値画像データとにより、標準偏差を算出し、算出した各画素ごとの標準偏差値データで標準偏差画像データを記録更新するステップとを含み、
前記点灯画面を評価するステップは、
前記記録更新した標準偏差画像データに基づいて、点灯画面を評価することを特徴とする請求項１記載のプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法。
【請求項７】
前記プラズマディスプレイパネルに表示する点灯検査を行うための表示パターンは、他のサブフィールドや周辺セルの表示状態によって生じるちらつき不灯を顕在化させる顕在化表示パターンであることを特徴とする請求項１から請求項６までのいずれか一項に記載のプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法。
【請求項８】
前記検査画像データを取り込む撮像手段は、前記プラズマディスプレイパネルの点灯表示周期に同期して撮像し、前記検査画像データを取り込むことを特徴とする請求項７記載のプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プラズマディスプレイパネルを点灯表示し、画面検査を行うプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
プラズマディスプレイパネルは、前面基板と背面基板とを、その間に放電空間が形成されるように対向配置して周辺部を封着し、放電空間に希ガスを封入して構成されている。前面基板上には走査電極と維持電極とからなる表示電極が複数形成され、背面基板上には表示電極と直交する方向にアドレス電極が複数形成されており、表示電極とアドレス電極との立体交差部には単位発光領域である放電セルが形成される。このプラズマディスプレイパネル（以下、適宜、パネルと呼ぶ）では、表示電極とアドレス電極とに所定の電圧を印加して各放電セルで選択的に放電を発生させ、各放電セルに形成された蛍光体層が放電によって発光することにより、画像表示が行われる。
【０００３】
このようなパネルの製造工程などにおいて、例えば、放電セルに何らかの欠陥が生じると、この放電セルは正しく点灯しなくなり、いわゆる放電セルの不灯欠陥となる。
【０００４】
パネルにおいての放電セルの不灯欠陥として、どのような駆動をしても常に不灯となる放電セルが存在することがあり、この場合には放電セルが不灯になっている状態は時間的に変化しない。そこで、このような不灯の放電セルを静的画面欠点という。
【０００５】
また、プラズマディスプレイパネルでは、１フィールド期間（１／６０秒）を複数のサブフィールドに分割し、各放電セルにおいて放電を発生させるサブフィールドを組み合わせることにより階調表現を行う。このため、所定の階調を表現するときには所定の選択された点灯すべきサブフィールドにおいて放電を発生させるが、場合によってはある放電セルにおいて本来点灯すべきサブフィールドで点灯しないことがあり、これも放電セルの不灯欠陥である。この場合には放電セルが不灯となっている状態は時間的に変化するので、そのような不灯のセルを動的画面欠点という。
【０００６】
パネルの検査工程においては、このような不灯欠陥の放電セルを含むパネルを選別するため、点灯画面の検査を行う点灯画面検査が実施される。このプラズマディスプレイパネルなど、表示パネルの点灯画面を検査する場合、例えば、特許文献１には、表示パネルを点灯させ、点灯した表示パネルの画面を撮像カメラにより撮像し、撮像した画像を画像処理装置に取り込み、この画像処理装置によって表示パネルの画素セルの欠陥、表示ムラを定量化して判定することが記載されている。
【特許文献１】特開平９−２１８１３１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上記動的画面欠点の場合、上述したように放電セルが不灯となっている状態は時間的に変化するため、例えば、欠陥セルが検査時では正常と判断されてしまうなどの検査もれが生じ、安定な検査が難しいという課題があった。
【０００８】
また、プラズマディスプレイパネルでは、注目セルを任意の階調に表示しようとした場合、注目セルの表示サブフィールドにおいて、前のサブフィールドの表示状態あるいは周辺セルの状態によって影響され、正常に点灯しない場合がある。このような不灯欠陥は、他のサブフィールドや周辺セルのいわゆるクロストークなどによって生じる欠陥であり、動的画面欠点の一種であって、ちらつき不灯と呼ばれている。このため、通常、検査工程などにおいては、このちらつき不灯現象をより顕在化させて検査を行うため、顕在化表示パターンの検査用画像信号を用いてこのちらつき不灯を発生しやすくし、ちらつき不灯を顕在化させて、例えば、検査員による目視検査により検査を行っている。
【０００９】
しかし、従来の点灯画面検査方法では、このような複雑な表示パターンに対して、放電セルの欠陥などを定量化して点灯画面検査を行うことは困難であり、かつ、ちらつき不灯のような他のサブフィールドや周辺セルの状態に影響される動的画面欠点を高精度に検出することは困難であった。
【００１０】
本発明は、かかる点に鑑み、セル不灯などの静的画面欠点と区別して、ちらつき不灯を含めて高精度に動的画面欠点を検出可能なプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記課題を解決するために、本発明のプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法は、一対の基板間に複数の放電セルを有し、各放電セルにおいて放電を発生させることにより画面表示を行うプラズマディスプレイパネルに対して、プラズマディスプレイパネルを点灯表示させ、プラズマディスプレイパネルの点灯表示画面を撮像手段により撮像し、この撮像により取り込んだ画像の画像データを用いて各放電セルの点灯検査を行う点灯画面検査方法において、点灯検査を行うための表示パターンをプラズマディスプレイパネルに表示するステップと、表示パターンを表示したプラズマディスプレイパネルの点灯表示画面を所定の期間単位で撮像し、この撮像により複数の画像を検査画像データとして取り込むステップと、取り込んだ検査画像データを利用して、画像の各画素における時間的な濃度変化を算出するステップと、濃度変化の算出結果に基づいて、点灯画面を評価するステップとを有する。
【００１２】
また、本発明のプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法は、上記各画素における時間的な濃度変化を算出するステップにおいて、取り込んだ検査画像データを、画像記憶手段に記録するステップと、画像記憶手段に記録した検査画像データを利用して、各画素ごとにその画素における時系列の検査画像データのなかで最大値となる最大値データを算出し、各画素ごとの最大値データで構成される最大値画像データを得るステップと、画像記憶手段に記録した検査画像データを利用して、各画素ごとにその画素における時系列の検査画像データのなかで最小値となる最小値データを算出し、各画素ごとの最小値データで構成される最小値画像データを得るステップと、各画素ごとに、最大値画像データと最小値画像データとの差分を算出し、差分画像データを得るステップとを含み、上記点灯画面を評価するステップは、差分画像データに基づいて点灯画面を評価する。
【００１３】
また、本発明のプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法は、上記各画素における時間的な濃度変化を算出するステップにおいて、記憶手段に記録された各画素ごとの最大値データで構成される最大値画像データを読み出すステップと、読み出した最大値画像データと取り込んだ検査画像データとを各画素ごとに比較し、検査画像データが最大値画像データよりも大きな値のとき、検査画像データを記憶手段に最大値データとして記録更新するステップと、記憶手段に記録された各画素ごとの最小値データで構成される最小値画像データを読み出すステップと、読み出した最小値画像データと取り込んだ検査画像データとを各画素ごとに比較し、検査画像データが最小値画像データよりも小さな値のとき、検査画像データを記憶手段に最小値データとして記録更新するステップと、各画素ごとに、最大値画像データと最小値画像データとの差分を算出し、差分画像データを得るステップとを含み、上記点灯画面を評価するステップは、差分画像データに基づいて点灯画面を評価する。
【００１４】
また、本発明のプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法は、上記各画素における時間的な濃度変化を算出するステップにおいて、取り込んだ検査画像データを記憶手段に記録するステップと、記憶手段に記録した検査画像データを利用して、各画素ごとに、時系列の検査画像データを用いて標準偏差を算出し、各画素ごとの標準偏差値データで構成される標準偏差画像データを得るステップとを含み、上記点灯画面を評価するステップは、標準偏差画像データに基づいて点灯画面を評価する。
【００１５】
また、本発明のプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法は、上記各画素における時間的な濃度変化を算出するステップにおいて、記憶手段に記録された各画素ごとの標準偏差値データで構成される標準偏差画像データを読み出すステップと、読み出した標準偏差画像データと取り込んだ検査画像データとにより標準偏差を算出し、算出した各画素ごとの標準偏差値データで標準偏差画像データを記録更新するステップとを含み、上記点灯画面を評価するステップは、標準偏差画像データに基づいて点灯画面を評価する。
【００１６】
また、本発明のプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法は、上記各画素における時間的な濃度変化を算出するステップにおいて、記憶手段に記録された各画素ごとの時系列の画素データの平均である平均値データで構成される平均値画像データを読み出すステップと、読み出した平均値画像データと取り込んだ検査画像データとにより平均値を算出し、算出した各画素ごとの平均値データで平均値画像データを記録更新するステップと記憶手段に記録された各画素ごとの時系列の標準偏差である標準偏差値データで構成される標準偏差値画像データを読み出すステップと、読み出した標準偏差画像データと記録更新した平均値画像データとにより、標準偏差を算出し、算出した各画素ごとの標準偏差値データで標準偏差画像データを記録更新するステップとを含み、上記点灯画面を評価するステップは、記録更新した標準偏差画像データに基づいて点灯画面を評価する。
【００１７】
また、本発明のプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法は、プラズマディスプレイパネルに表示する点灯検査を行うための表示パターンが、他のサブフィールドや周辺セルのクロストークによって生じるちらつき不灯を顕在化させる顕在化表示パターンである。
【００１８】
また、検査画像データを取り込む撮像手段は、プラズマディスプレイパネルの点灯表示周期に同期して撮像し、検査画像データを取り込む。
【発明の効果】
【００１９】
本発明のプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法よれば、プラズマディスプレイパネルの点灯画面検査において、時間的変化を伴わないセル不灯などの静的画面欠点と区別して、ちらつき不灯を含めた時間的変化を伴う動的画面欠点を、より高精度かつ高速に検査することが実現可能なプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しつつ説明する。
【００２１】
（実施の形態１）
図１は、プラズマディスプレイパネルの構造の要部を示す斜視図である。図１に示すように、前面板１は、ガラス製の前面基板２上に、走査電極３および維持電極４からなる表示電極対を複数形成し、その表示電極対を覆うように誘電体ガラスからなる誘電体層５を形成し、誘電体層５上に酸化マグネシウム（ＭｇＯ）からなる保護層６を形成して構成されている。
【００２２】
一方、前面板１に対向配置された背面板７は、ガラス製の背面基板８上に、アドレス電極９を複数形成し、そのアドレス電極９を覆うように誘電体層１０を形成し、その誘電体層１０上にアドレス電極９と平行な複数の隔壁１１を形成し、さらに隣接する隔壁１１の間にそれぞれ赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の各色に発光する蛍光体層１２を形成して構成されている。アドレス電極９は隣接する隔壁１１の間に位置している。
【００２３】
走査電極３および維持電極４とアドレス電極９とが直交するように、一対の基板である前面基板２と背面基板８とが対向配置され、これら基板の周辺部を封着部材（図示せず）を用いて封着している。前面基板２と背面基板８との間に形成された放電空間にネオンおよびキセノンからなる放電ガスを封入しており、走査電極３および維持電極４とアドレス電極９との立体交差部に放電セルが形成される。すなわち、一対の基板間に複数の放電セルを有している。この放電セルは画像を表示するときの単位発光領域であり、Ｒ、Ｇ、Ｂの各色に発光する蛍光体層１２が形成された隣接する３つの放電セルによって１つの画素を形成する。
【００２４】
このプラズマディスプレイパネルでは、１フィールド期間（１／６０秒）を複数のサブフィールドに分割し、各放電セルにおいて放電を発生させるサブフィールドを組み合わせることにより階調表現を行う。各サブフィールドでは、走査電極３に順次走査パルスを印加するとともに画像データに基づいてアドレス電極９にアドレスパルスを印加することで表示する放電セルを選択した後、走査電極３と維持電極４とに交互に維持パルスを印加することによって、選択した放電セルにおいて維持放電を起こす。これにより、維持放電が起こった放電セルでは紫外線が発生し、その紫外線で励起された蛍光体層１２から各色の可視光が放出されて画面表示が行われる。
【００２５】
次に、このようなプラズマディスプレイパネルに対する点灯画面検査を行う方法について説明する。図２は、本発明の実施の形態１におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法を実施するための点灯画面検査装置の構成を示した図である。図２において、パネル検査台１３に設置されたプラズマディスプレイパネル１４は、駆動回路制御手段１５で駆動されることにより点灯状態となる。すなわち、点灯検査を行うための表示パターンがプラズマディスプレイパネル１４に表示される。
【００２６】
その点灯画面は、カメラ撮像制御手段１６によりコントロールされた１台または複数台のカメラ（撮像手段）１７により撮像できるようになっている。カメラ１７の露光時間は、露光時間制御手段１８によりカメラ撮像制御手段１６を介して任意に設定される。すなわち、カメラ１７は、検査のための表示パターンを表示したプラズマディスプレイパネル１４の点灯表示画面を、露光時間制御手段１８で露光時間として設定された所定の期間単位で撮像し、この撮像により、露光時間ごとの複数枚の画像を検査画像データ（以下、適宜、画像データと呼ぶ）として取り込む。
【００２７】
また、カメラ１７の撮像により取得されたこの画像データは、画像処理部１９にて処理され、その処理結果が出力されるように構成されている。本実施の形態の画像処理部１９は、取り込んだ画像データを利用して、画像の各画素における時間的な濃度変化を算出し、さらに、この濃度変化の算出結果に基づいて各放電セルの欠陥を判定し、点灯画面を評価する。
【００２８】
図２に示す画像処理部１９において、連続画像記憶手段２０は、露光時間を単位として撮像された露光時間ごとの連続画像の画像データが記録され、その画像データを記憶する。
【００２９】
最大値画像算出手段２１は、画像記憶手段としての連続画像記憶手段２０に記録された画像データを利用して、この連続画像の各画素ごとに、その画素における時系列の画像データのなかで最大値となる最大値データを算出し、このような各画素での最大値データで構成される最大値画像データである最大値画像を生成する。
【００３０】
最小値画像算出手段２２は、画像記憶手段としての連続画像記憶手段２０に記録された画像データを利用して、この連続画像の各画素ごとに、その画素における時系列の画像データのなかで最小値となる最小値データを算出し、このような各画素での最小値データで構成される最小値画像データである最小値画像を生成する。
【００３１】
差分画像算出手段２３は、各画素ごとに、最大値データと最小値データとの差分を算出し、この算出結果である差分画像データを生成することで、最大値画像算出手段２１から得られた最大値画像と最小値画像算出手段２２から得られた最小値画像との差分画像を得る。さらに、欠陥部判定手段２４は、上記算出した差分画像データに基づいて点灯画面を評価し、差分画像算出手段２３から得られた差分画像から欠陥部抽出を行う。
【００３２】
また、欠陥部判定手段２４において、２値化ラベリング手段２５は、差分画像から欠陥領域を抽出する。
【００３３】
特徴量抽出手段２６は、そのラベリングされた領域の面積・幅・長さといった複数の特徴量を算出する。
【００３４】
さらに、良否判定手段２７は、その算出された欠陥の特徴量から良否の判定を行う。
【００３５】
図３は、本発明の実施の形態１における点灯画面検査装置の動作フローを示すフローチャートであり、ステップ１からステップ９までの各ステップを行うことでプラズマディスプレイの動的画面欠点を検査する。以下、各ステップについて説明する。
【００３６】
まず、ステップ１では、特定階調表示に対して発生するちらつき不灯を顕在化させる顕在化表示パターンを、駆動回路制御手段１５によりプラズマディスプレイパネル１４に表示する。すなわち、このような顕在化表示パターンの検査用画像信号を用いて、駆動回路制御手段１５によりプラズマディスプレイパネル１４を駆動することで、プラズマディスプレイパネル１４に、このちらつき不灯を発生しやすくするような表示パターンを表示させる。図４は、特定階調表示に対して発生するちらつき不灯を顕在化させる顕在化表示パターンの一例を示す図である。図４において、顕在化表示パターンの一例として、ａ）は、ドットパターン信号によるドットパターン表示を示し、ｂ）は、画像の斜め方向に階調が直線的に変化するランプ信号による斜めランプパターン表示を示している。
【００３７】
次のステップ２において、露光時間制御手段１８により設定された露光時間の条件にて、カメラ１７を用いて、プラズマディスプレイパネル１４上の上記顕在化表示パターンの表示状態を順次撮像し、撮像により取得した画像データを連続画像記憶手段２０に記録する。なお、以下、カメラ１７による単位撮像時間としての露光時間は、プラズマディスプレイパネル１４の表示周期である１フィールド時間またはその整数倍の数フィールド時間である短フィールド時間とする。また、ここでは、その一例として、短フィールド時間を１フィールド時間として説明する。すなわち、この場合、カメラ１７から得られる連続画像中の一画像における画素の画像データは、その画素位置に対応した放電セルの１フィールド時間における点灯頻度に応じたデータ値を有している。
【００３８】
次のステップ３において、最大値画像算出手段２１により、連続画像の各画素における時系列の画像データの最大値を求め、最大値画像を算出する。すなわち、連続画像記憶手段２０に記録した画像データを利用して、各画素ごとに、その画素における時系列の検査画像データのなかで最大値となる最大値データを算出し、各画素ごとの最大値データで構成される最大値画像データを得る。
【００３９】
次のステップ４において、最小値画像算出手段２２により、連続画像の各画素における時系列の画像データの最小値を求め、最小値画像を算出する。すなわち、連続画像記憶手段２０に記録した画像データを利用して、各画素ごとに、その画素における時系列の検査画像データのなかで最小値となる最小値データを算出し、各画素ごとの最小値データで構成される最小値画像データを得る。
【００４０】
次のステップ５において、差分画像算出手段２３により、最大値画像と最小値画像の差分処理を行い、差分画像を算出する。すなわち、各画素ごとに、最大値画像データと最小値画像データとの差分を算出し、差分画像データを得る。これにより、連続画像の各画素における時系列の画像データの変化量を算出する。
【００４１】
次のステップ６において、この差分画像の所定の検査エリアに対して、２値化ラベリング手段２５により２値化ラベリング処理を行う。すなわち、差分画像の画像データに対して、ある閾値を設定し、画像データがその閾値の範囲内かどうかにより、閾値範囲内となる画素データを有する画素が存在する領域（以下、ラベリングされた領域という）を抽出する。
【００４２】
次のステップ７において、ラベリングされた領域に対して、特徴量抽出手段２６により、特徴量抽出を行う。ここで、特徴量は、ラベリングされた領域の面積・幅・長さ・平均濃度などである。
【００４３】
次のステップ８において、この抽出された特徴量に対して、予め決められた判定基準に従い、良否判定手段２７により良否判定を行う。例えば、特徴量であるラベリングされた領域の面積・幅・長さ・平均濃度のそれぞれについて所定の判定基準値を決めておく。さらに、例えば、抽出した特徴量のいずれか１つでも判定基準値より大きくなる場合には、動的画面欠点が存在することによりパネルとしては不適合であると判定する。このように、抽出した特徴量を用いることで動的画面欠点に関してパネルの良否を判定する。そして、最後にステップ９において良品判定結果を外部に出力し、検査を終了する。
【００４４】
ここで、正常点灯する放電セルの１フィールド時間ごとの点灯率変化の一例を図５に示す。このような正常点灯の場合、図５に示すように点灯率はあまり変化しておらず、その結果、カメラ１７から撮像した画像のこの放電セルに対応する画像データもあまり変化しない。このため、正常点灯する放電セルに対応した最大値データと最小値データとの差分は大きな値にはならず、差分画像算出手段２３による差分画像において、正常点灯する放電セルに対応した差分画像データは小さい値を示す。また、同様に、静的画面欠点となる全く点灯しない不灯の放電セルにおいても、その点灯率はあまり変化しないため、差分画像でのその放電セルに対応した差分画像データは小さい値を示すこととなる。
【００４５】
これに対して、図６は、ちらつき不灯などの動的画面欠点となる放電セルの１フィールド時間ごとの点灯率変化の一例を示した図である。図６からわかるように、動的画面欠点セルの点灯率は変化が激しく、確率的に点灯率が低い状態または高い状態になっていることが多い。
【００４６】
また、図７は、このような動的画面欠点となる放電セルを含むプラズマディスプレイパネル１４の一部を、カメラ１７により撮像し、取り込んだ画像の画像データの一例を示した図である。図７において、Ａで示す範囲が、動的画面欠点である放電セルの位置に対応した撮像画像の画素領域である。また、縦軸は、撮像画像の各画素の画像濃度、すなわち画像データの値を示している。図７（ａ）は動的画面欠点セルの点灯率が低い状態の場合（点灯率０％）、図７（ｂ）は動的画面欠点セルの点灯率が中間値の場合（点灯率５０％）、図７（ｃ）は動的画面欠点セルの点灯率が高い状態の場合（点灯率１００％）を示している。
【００４７】
図７に示すように、例えば図７（ａ）の動的画面欠点セルの点灯率が低いときには、画像濃度データ、すなわち画像データの値も小さくなる。同様に、図７（ｃ）のように動的画面欠点セルの点灯率が高いときは、画像データの値も大きくなる。このように、カメラ１７から得られる画像データは、各放電セルに対応した画素において、それぞれの放電セルの点灯率に応じたデータ値となる。すなわち、動的画面欠点セルにおいては、上述したように点灯率が大きく変化するため、動的画面欠点セルに対応した画素においても、その点灯率に応じて画像データの値が変化することとなる。このため、動的画面欠点セルに対応した画素の最大値データと最小値データとの差分は大きな値となり、連続画像の画像データから得られる差分画像において、動的画面欠点セルに対応した差分画像データは大きな値を示すことになる。よって、正常に点灯している放電セルや全く点灯しない不灯の放電セルと動的画面欠点セルとの間で差分画像データの値に違いが生じることとなる。
【００４８】
すなわち、ステップ５での差分画像算出手段２３による最大値画像と最小値画像との差分処理で生成される差分画像において、正常に点灯している放電セルや全く点灯しない不灯の放電セルに対応した画素では、その画素の画像データが小さい値となる。一方、動的画面欠点セルに対応した画素では、その画素の画像データが大きな値となる。したがって、ステップ６の２値化ラベリング処理によってラベリングされる領域は、動的画面欠点セルが存在する領域となり、ステップ６、ステップ７を実施することでラベリングされた領域についての動的画面欠点に関する評価が可能となる。このようにステップ５〜７は差分画像を用いて点灯画面を評価するステップである。
【００４９】
以上のように、本発明の実施の形態１の構成によれば、差分画像算出手段２３を用いて、連続画像の最大値画像と最小値画像との差分画像を算出することにより、時間的変化を伴わないセル不灯の放電セルなどの静的画面欠点と区別して、時間変化を伴う動的画面欠点が検出可能となり、動的画面欠点に対する検査を実現することができる。また、点灯画面検査において、特定階調表示に対して発生するちらつき不灯を顕在化させる顕在化表示パターンを利用して検査を実施することで、前のサブフィールドの表示状態あるいは周辺セルの状態によって不灯欠陥となるような複雑な動的画面欠点に対しても検出が可能となり、高精度なプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査を実現することができる。これにより、製造工程における目視検査の省人化が可能となるとともに、後工程への不良パネルの流出を軽減でき、ロスコストの削減が可能となる。
【００５０】
（実施の形態２）
本発明の実施の形態２におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法について、図８、図９を用いて説明する。
【００５１】
図８は、本発明の実施の形態２におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法を実施するための点灯画面検査装置の構成を示した図である。図８において、図２と同じ構成要素については同じ符号を用いており、詳細な説明は省略する。また、図２に示した構成との比較において、図８に示す画像処理部２８が異なる。以下では主にこの画像処理部２８について説明する。
【００５２】
図８において、画像処理部２８は、露光時間制御手段１８により露光時間を短フィールド時間に設定し、カメラ撮像制御手段１６により制御された条件下にてカメラ１７で撮像した画像データを入力し、その画像データについて所定の画像処理を行い、判定結果を出力するようになっている。
【００５３】
撮像は所定のタイミングで順次行っていくが、最後に撮像したタイミングを撮像現時点とすると、画像処理部２８は、撮像現時点での撮像した短フィールド時間露光の画像を記憶する画像記憶手段２９と、撮像現時点より前に撮像した画像から、撮像開始からの最大値画像を記憶しておく最大値画像記憶手段３０と、撮像現時点より前に撮像した画像から、撮像開始からの最小値画像を記憶しておく最小値画像記憶手段３１と、撮像現時点より前に撮像された画像と撮像現時点に撮像した画像とを含めた画像について最大値画像を算出する最大値画像算出手段３２と、撮像現時点より前に撮像された画像と撮像現時点に撮像した画像とを含めた画像について最小値画像を算出する最小値画像算出手段３３と、撮像現時点より前に撮像された画像と撮像現時点に撮像した画像とを含めた画像について求められた最大値画像と最小値画像の差分を求める差分画像算出手段３４と、その差分画像から欠陥判定処理を行う欠陥部判定手段２４とからなる。
【００５４】
また、欠陥部判定手段２４は、差分画像から欠陥領域を抽出する２値化ラベリング手段２５と、そのラベリングされた領域の面積・幅・長さ・平均濃度といった複数の特徴量を算出する特徴量抽出手段２６と、その算出された欠陥の特徴量から良否の判定を行う良否判定手段２７とから構成されている。ここで、画像処理部２８は、画像処理ボードに画像処理専用のＦＰＧＡの組み込みなどにより、リアルタイム高速処理を実現している。
【００５５】
図９は、本発明の実施の形態２におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法の動作フローを示すフローチャートである。
【００５６】
まず、ステップ１では、特定階調表示に対して発生するちらつき不灯を顕在化させる顕在化表示パターンを、駆動回路制御手段１５によりプラズマディスプレイパネル１４に表示する。
【００５７】
次のステップ２において、上記顕在化パターンの表示状態において、露光時間制御手段１８により、短フィールド時間に露光時間が設定された条件にて、カメラ１７を用いてプラズマディスプレイパネル１４の点灯表示画面を撮像し、その撮像により得られた画像データを画像記憶手段２９に入力する。この時、撮像により取得した画像データを、撮像時間中の（Ｎ＋１）枚目の画像とする。したがって、この時点では、最大値画像記憶手段３０には、この撮像時点より前に撮像したＮ枚分の画像に基づき生成された最大値画像が記憶され、最小値画像記憶手段３１には、この撮像時点より前に撮像したＮ枚分の画像に基づき生成された最小値画像が記憶されている。
【００５８】
次のステップ３からステップ４までにおいて、最大値画像および最小値画像が同時に更新される。ここで、（Ｎ＋１）枚目の最大値画像は、上記Ｎ枚の画像に基づき生成された最大値画像と（Ｎ＋１）枚目の画像から新たな最大値画像が算出される。同様に、（Ｎ＋１）枚目の新たな最小値画像も算出される。また、これらは、画像処理ボード上のパイプライン処理にて、リアルタイムに算出することが可能となる。
【００５９】
すなわち、ステップ２からステップ４までを実行することにより、最大値画像記憶手段３０に記録された、各画素ごとの最大値データで構成される最大値画像データを読み出し、読み出した最大値画像データと取り込んだ検査画像データとを各画素ごとに比較し、検査画像データが最大値画像データよりも大きな値のとき、検査画像データを最大値画像記憶手段３０に最大値データとして記録更新する。さらに、最小値画像記憶手段３１に記録された、各画素ごとの最小値データで構成される最小値画像データを読み出し、読み出した最小値画像データと取り込んだ検査画像データとを各画素ごとに比較し、検査画像データが最小値画像データよりも小さな値のとき、検査画像データを最小値画像記憶手段３１に最小値データとして記録更新する。
【００６０】
次のステップ５において、差分画像算出手段３４により、最大値画像と最小値画像の差分処理を行い、差分画像を算出する。すなわち、各画素ごとに、最大値画像データと最小値画像データとの差分を算出し差分画像データを得る。これにより、連続画像の各画素における時系列の画像データ変化量を算出する。
【００６１】
次のステップ６において、この差分画像の所定の検査エリアに対して、２値化ラベリング手段２５により２値化ラベリング処理を行う。
【００６２】
次のステップ７において、ラベリングされた領域に対して、特徴量抽出手段２６により、特徴量抽出を行う。ここで、特徴量は、ラベリングされた領域の面積・幅・長さ・平均濃度などである。
【００６３】
次のステップ８において、この抽出された特徴量に対して、予め決められた判定基準に従い、良否判定手段２７により良否判定を行う。
【００６４】
次に、ステップ９のように、（Ｎ＋２）枚目、（Ｎ＋３）枚目と撮像が繰り返されるたびに、ステップ２からステップ８までの各ステップを繰り返す際に不良と判断された場合には、ステップ１０へ移って良否判定結果を外部へ出力し、検査を終了する。また、所定の枚数を撮像してもパネル不良と判定されなければ、そのパネルは良品であると判断しステップ１０に移って良否判定結果を外部に出力し、検査を終了する。
【００６５】
本発明の実施の形態２によれば、画像記憶手段２９と、最大値画像記憶手段３０と、最小値画像記憶手段３１と、最大値画像算出手段３２と、最小値画像算出手段３３と、差分画像算出手段３４とを備え、新たな画像を撮像するたびに、各記憶手段のデータと新たに撮像した画像の画像データとを用いて、最大値画像と最小値画像を算出し、各記憶手段のデータを更新するようにしている。これにより、実施の形態１と比較して、特定階調表示に対して発生するちらつき不灯を顕在化させる顕在化表示パターンにおいて、より高速に検査可能となり、時間的変化を伴わないセル不灯などの静的画面欠点と区別して、時間的変化を伴う動的画面欠点を高精度に検査することが実現可能となる。
【００６６】
（実施の形態３）
本発明の実施の形態３におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法について、図１０、図１１を用いて説明する。
【００６７】
図１０は、本発明の実施の形態３におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法を実施するための点灯画面検査装置の構成を示した図である。図１０において、図２と同じ構成要素については同じ符号を用いており、詳細な説明は省略する。また、図２に示した構成との比較において、図１０に示す画像処理部３５が異なる。以下では主にこの画像処理部３５について説明する。
【００６８】
図１０において、画像処理部３５は、露光時間制御手段１８により露光時間を短フィールド時間に設定し、カメラ撮像制御手段１６により制御された条件下にてカメラ１７で撮像した画像データを入力し、その画像データについて所定の画像処理を行い、判定結果を出力するようになっている。
【００６９】
画像処理部３５は、短フィールド時間を露光時間として撮像された連続画像が記憶される連続画像記憶手段３６と、この連続画像の各画素における時系列の画像データの標準偏差を算出し、算出した標準偏差データで構成される標準偏差画像を生成する標準偏差算出手段３７と、その標準偏差画像から欠陥部抽出を行う欠陥部判定手段２４とから構成されている。欠陥部判定手段２４は、標準偏差画像から欠陥領域を抽出する２値化ラベリング手段２５と、そのラベリングされた領域の面積・幅・長さといった複数の特徴量を算出する特徴量抽出手段２６と、その算出された欠陥の特徴量から良否の判定を行う良否判定手段２７とから構成されている。
【００７０】
図１１は、本発明の実施の形態３におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法の動作フローを示すフローチャートである。
【００７１】
まず、ステップ１では、特定階調表示に対して発生するちらつき不灯を顕在化させる顕在化表示パターンを、駆動回路制御手段１５によりプラズマディスプレイパネル１４に表示する。
【００７２】
次のステップ２において、上記顕在化パターンの表示状態において、露光時間制御手段１８により、短フィールド時間に露光時間が設定された条件にて、カメラ１７を用いてプラズマディスプレイパネル１４の点灯表示画面を順次撮像し、撮像により取得した画像データを連続画像記憶手段３６に入力する。
【００７３】
次のステップ３において、標準偏差算出手段３７により、連続画像の標準偏差を算出する標準偏差算出処理を行う。ここで、連続画像標準偏差は、ステップ２で得られた各画素ごとの時系列の画像データを用いて、統計学で一般的に用いられている標準偏差を求める数式により算出する。すなわち、時間ｔｋ（ｋ＝１〜ｎ）において画像を撮像したとし、時間ｔｋで撮像した画像データを（Ｄｉｊ）ｋとすると、連続画像標準偏差Ｕｉｊは次の数式１で求められる。
【００７４】
【数１】
2007024616.tif 000003
【００７５】
ここで、下付添字ｉ、ｊはカメラ１７の各画素を特定する座標であり、プラズマディスプレイパネル１４の画面内の位置に対応するものである。また、Σはｋについて１〜ｎの加算を行うことを表している。ここで、この数式１により求めた各画素における連続画像標準偏差Ｕｉｊの集合によって構成される画像を標準偏差画像という。
【００７６】
実施の形態１において、図５を用いて説明したように、正常に点灯している放電セルや全く点灯しない不灯放電セルの各フィールドごとの点灯率はあまり変化せず、このためカメラ１７から撮像した画像のこれら放電セルに対応する画像データもあまり変化しない。一方、図６を用いて説明したように、動的画面欠点セルの各フィールドごとの点灯率は激しく変化するため、撮像した画像のこれら放電セルに対応する画像データも画像ごとに激しく変化する。すなわち、カメラ１７から撮像した画像ごとの各画素の時系列の画像データについて標準偏差を算出すると、動的画面欠点セルに対応した画像データから得られる連続画像の標準偏差は、データ値の変化が激しいため大きな値を示すことになる。一方、正常に点灯している放電セルや全く点灯しない不灯の放電セルから得られる連続画像の標準偏差は、データ値の変化が少ないため小さな値を示すことになる。よって、標準偏差算出手段３７により生成される標準偏差画像を利用して動的画面欠点セルが存在するかどうかの判定が可能となる。
【００７７】
このように、ステップ３において、連続画像記憶手段３６に記録した検査画像データを利用して、各画素ごとに、時系列の検査画像データを用いて標準偏差を算出し、各画素ごとの標準偏差値データで構成される標準偏差画像データを得る。
【００７８】
次に、ステップ４において、この標準偏差画像における所定の検査エリアに対して、２値化ラベリング手段２５により２値化ラベリング処理を行う。
【００７９】
次のステップ５において、ラベリングされた領域に対して、特徴量抽出手段２６により、特徴量抽出を行う。ここで、特徴量は、ラベリングされた領域の面積・幅・長さ・平均濃度などである。
【００８０】
次のステップ６において、この抽出された特徴量に対して、予め決められた判定基準に従い、良否判定手段２７により良否判定を行う。
【００８１】
次のステップ７において、良否判定結果を外部へ出力し、検査を終了する。
【００８２】
以上、本発明の実施の形態３によれば、標準偏差算出手段３７を用いて、各画素の時系列の画像データについて標準偏差を算出することにより、動的画面欠点セルの画像データから得られる連続画像の標準偏差は大きな値を示すことになり、正常に点灯している放電セルや全く点灯しない不灯の放電セルと動的画面欠点セルとの間で標準偏差の値に違いが生じる。また、標準偏差画像は、時系列の画像データの最大値および最小値の評価だけでなく、その軌跡も含めたバラツキを評価することできるため、各画素の時系列において、同じ最大値と最小値を持つ場合においても、最大値を複数回持つ場合は、標準偏差が大きくなり区別することが可能となる。これより、実施の形態１と比較して、特定階調表示に対して発生するちらつき不灯を顕在化させる顕在化表示パターンにおいて、より高精度な検査が可能となり、時間的変化を伴わないセル不灯などの静的画面欠点と区別して、時間的変化を伴う動的画面欠点をより高精度に検査することが実現可能となる。
【００８３】
（実施の形態４）
本発明の実施の形態４におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法について、図１２、図１３を用いて説明する。
【００８４】
図１２は、本発明の実施の形態４におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法を実施するための点灯画面検査装置の構成を示した図である。図１２において、図２、図８および図１０と同じ構成要素については同じ符号を用いており、詳細な説明は省略する。また、図２、図８および図１０に示した構成との比較において、図１２に示す画像処理部３８が異なる。以下では主にこの画像処理部３８について説明する。
【００８５】
図１２において、画像処理部３８は、露光時間制御手段１８により露光時間を短フィールド時間に設定し、カメラ撮像制御手段１６により制御された条件下にてカメラ１７で撮像した画像データを入力し、その画像データについて所定の画像処理を行い、判定結果を出力するようになっている。
【００８６】
撮像は所定のタイミングで順次行っていくが、最後に撮像したタイミングを撮像現時点とすると、画像処理部３８は、撮像現時点での撮像した画像を記憶する画像記憶手段３９と、撮像現時点より前の撮像画像枚数を記憶しておく撮像枚数記憶手段４０と、撮像現時点より前に撮像した画像の平均値画像を記憶する平均値画像記憶手段４１と、撮像現時点より前に撮像した画像の標準偏差画像を記憶する標準偏差画像記憶手段４２と、撮像現時点より前に撮像された画像と撮像現時点に撮像した画像とを含めた画像について標準偏差画像を算出する標準偏差画像算出手段４３と、その標準偏差画像から欠陥判定を行う欠陥部判定手段２４からなる。ここで、標準偏差画像は前述した通りであり、平均値画像は、カメラ１７から得られる画像の各画素において時系列に得られた画像データの平均値を求め、その平均値の集合によって構成される画像をいう。
【００８７】
また、欠陥部判定手段２４は、標準偏差画像から欠陥領域を抽出する２値化ラベリング手段２５と、そのラベリングされた領域の面積・幅・長さ・平均濃度といった複数の特徴量を算出する特徴量抽出手段２６と、その算出された欠陥の特徴量から良否の判定を行う良否判定手段２７とから構成されている。ここで、画像処理部３８は、画像処理ボードに画像処理専用のＦＰＧＡを組み込みなどにより、リアルタイム高速処理を実現している。
【００８８】
図１３は、本発明の実施の形態４におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法の動作フローを示すフローチャートである。
【００８９】
まず、ステップ１では、特定階調表示に対して発生するちらつき不灯を顕在化させる顕在化表示パターンを、駆動回路制御手段１５によりプラズマディスプレイパネル１４に表示する。
【００９０】
次のステップ２において、上記顕在化パターンの表示状態において、露光時間制御手段１８により、短フィールド時間に露光時間が設定された条件にて、カメラ１７を用いてプラズマディスプレイパネル１４の点灯表示画面を撮像し、その撮像により得られた画像データを画像記憶手段３９に入力する。この時、撮像された画像データを、撮像時間中の（Ｎ＋１）枚目の画像とする。したがって、この時点では、撮像枚数記憶手段４０にはＮの値が記憶され、平均値画像記憶手段４１には、この撮像時点より前に撮像されたＮ枚分の画像の平均値画像が記憶され、標準偏差画像記憶手段４２にはそのＮ枚分の画像の標準偏差画像が記憶されている。
【００９１】
次のステップ３からステップ５までにおいて、撮像枚数、平均値画像および標準偏差画像が同時に更新される。ここで、（Ｎ＋１）枚目の平均値画像は、上記Ｎ枚分の平均値画像と（Ｎ＋１）枚目の画像と撮像枚数（Ｎ）から算出でき、また（Ｎ＋１）枚目の標準偏差画像は、上記Ｎ枚分の平均値画像、上記Ｎ枚分の標準偏差画像、（Ｎ＋１）枚目の画像および撮像枚数（Ｎ）から、画像処理ボード上のパイプライン処理にて、リアルタイムに算出することが可能となる。
【００９２】
すなわち、ステップ２から５までにおいて、標準偏差画像記憶手段４２に記録された各画素ごとの標準偏差値データで構成される標準偏差画像データを読み出し、読み出した標準偏差画像データと取り込んだ検査画像データとにより標準偏差を算出し、算出した各画素ごとの標準偏差値データで標準偏差画像データを記録更新する。より詳細には、平均値画像記憶手段４１に記録された各画素ごとの時系列の画素データの平均である平均値データで構成される平均値画像データを読み出し、読み出した平均値画像データと取り込んだ検査画像データとにより平均値を算出し、算出した各画素ごとの平均値データで平均値画像データを記録更新する。さらに、標準偏差画像記憶手段４２に記録された各画素ごとの時系列の標準偏差である標準偏差値データで構成される標準偏差値画像データを読み出し、読み出した標準偏差画像データと記録更新した平均値画像データとにより、標準偏差を算出し、算出した各画素ごとの標準偏差値データで標準偏差画像データを記録更新する。
【００９３】
次のステップ６において、この標準偏差画像における所定の検査エリアに対して、２値化ラベリング手段２５により２値化ラベリング処理を行う。
【００９４】
次のステップ７において、ラベリングされた領域に対して、特徴量抽出手段２６により、特徴量抽出を行う。ここで、特徴量は、ラベリングされた領域の面積・幅・長さ・平均濃度などである。
【００９５】
次のステップ８において、この抽出された特徴量に対して、予め決められた判定基準に従い、良否判定手段２７により良否判定を行う。
【００９６】
次に、ステップ９のように、（Ｎ＋２）枚目、（Ｎ＋３）枚目と撮像が繰り返されるたびに、ステップ２からステップ８までの各ステップを繰り返す際に不良と判断された場合にはステップ１０へ移って良否判定結果を外部へ出力し、検査を終了する。また、所定の枚数を撮像してもパネル不良と判定されなければ、そのパネルは良品であると判断しステップ１０に移って良否判定結果を外部に出力し、検査を終了する。
【００９７】
以上、本発明の実施の形態４によれば、画像記憶手段３９と、撮像枚数記憶手段４０と、平均値画像記憶手段４１と、標準偏差画像記憶手段４２とを備え、新たな画像を撮像するたびに、各記憶手段のデータと新たに撮像した画像データとを用いて、平均値画像および標準偏差画像を算出し、各記憶手段のデータを更新するようにしている。
【００９８】
これにより、実施の形態１、実施の形態２および実施の形態３と比較して、特定階調表示に対して発生するちらつき不灯を顕在化させる顕在化表示パターンにおいて、より高精度かつ高速に検査可能となり、時間的変化を伴わないセル不灯などの静的画面欠点と区別して、時間的変化を伴う動的画面欠点をより高精度高速に検査することが実現可能となる。
【００９９】
（実施の形態５）
本発明の実施の形態５におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法について、図１４、図１５を用いて説明する。
【０１００】
図１４は、本発明の実施の形態５におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法を実施するための点灯画面検査装置の構成を示した図である。図１４において、図２と同じ構成要素については同じ符号を用いており、詳細な説明は省略する。また、図２に示した構成との比較において、図１４に示す構成では、垂直同期処理部４４をさらに有しており、駆動回路制御手段１５から出力されるパネル垂直同期信号に同期して、カメラ１７が画像を撮像できるようにしている。
【０１０１】
図１５は、本発明の実施の形態５におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法の動作フローを示すフローチャートである。
【０１０２】
まず、ステップ１では、特定階調表示に対して発生するちらつき不灯を顕在化させる顕在化表示パターンを、駆動回路制御手段１５によりプラズマディスプレイパネル１４に表示する。
【０１０３】
次のステップ２において、垂直同期処理部４４により、パネル垂直同期とカメラ１７との同期を合わせる。これ以降のステップ３〜９の各ステップは、図３で示したステップ２〜８の各ステップと同じである。
【０１０４】
このように、パネル垂直同期とカメラ同期とを合わせることにより、カメラ１７はプラズマディスプレイパネル１４の点灯周期に同期させて点灯表示画面を撮像することになり、短フィールド時間露光画像において、図７（ｂ）に示したような動的画面欠点セルの点灯率が中間値となるような場合を低減することが可能となる。すなわち、パネル垂直同期とカメラ同期とが非同期の場合には、露光時間中において、例えば、図７（ａ）の場合と図７（ｃ）の場合とを撮像してしまい、その結果、両者の平均濃度とするような画像を取得するような可能性があったが、パネル垂直同期とカメラ同期とを合わせることにより、このような不都合を防止することができる。
【０１０５】
以上、かかる構成によれば、パネル垂直同期とカメラ同期を合わせることにより、動的画面欠点セルの点灯率が中間値となる確率を低減することが可能となり、実施の形態１よりも検出精度を向上させることが可能となり、特定階調表示に対して発生するちらつき不灯を顕在化させる顕在化表示パターンにおいて、時間的変化を伴わないセル不灯などの静的画面欠点と区別して、時間的変化を伴う動的画面欠点をより高精度に検査することが実現可能となる。なお、本発明の実施の形態５では、実施の形態１に対してさらに垂直同期処理部４４を備えるような構成について示したが、実施の形態２、実施の形態３および実施の形態４に対して、さらに垂直同期処理部４４を備えるような構成にしてもよい。
【産業上の利用可能性】
【０１０６】
以上のように本発明によれば、プラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法において、時間的変化を伴う動的画面欠点が、ちらつき不灯のような動的画面欠点も含めて、不灯放電セルなどの静的画面欠点と区別して検出可能となり、プラズマディスプレイパネルなどの表示パネルの点灯画面検査に有用である。
【図面の簡単な説明】
【０１０７】
【図１】プラズマディスプレイパネルの要部を示す斜視図
【図２】本発明の実施の形態１における点灯画面検査装置の構成を示した図
【図３】本発明の実施の形態１における点灯画面検査装置の動作フローを示すフローチャート
【図４】特定階調表示にて発生するちらつき不灯を顕在化させる表示パターンの一例を示す図
【図５】正常な放電セルの１フィールド時間ごとの点灯率変化の一例を示す図
【図６】動的画面欠点となる放電セルの１フィールド時間ごとの点灯率変化の一例を示す図
【図７】撮像した画像の画像データの一例を示す図
【図８】本発明の実施の形態２における点灯画面検査装置の構成を示した図
【図９】本発明の実施の形態２における点灯画面検査装置の動作フローを示すフローチャート
【図１０】本発明の実施の形態３における点灯画面検査装置の構成を示した図
【図１１】本発明の実施の形態３における点灯画面検査装置の動作フローを示すフローチャート
【図１２】本発明の実施の形態４における点灯画面検査装置の構成を示した図
【図１３】本発明の実施の形態４における点灯画面検査装置の動作フローを示すフローチャート
【図１４】本発明の実施の形態５における点灯画面検査装置の構成を示した図
【図１５】本発明の実施の形態５における点灯画面検査装置の動作フローを示すフローチャート
【符号の説明】
【０１０８】
１    前面板
２    前面基板
３    走査電極
４    維持電極
５    誘電体層
６    保護層
７    背面板
８    背面基板
９    アドレス電極
１０    誘電体層
１１    隔壁
１２    蛍光体層
１３    パネル検査台
１４    プラズマディスプレイパネル
１５    駆動回路制御手段
１６    カメラ撮像制御手段
１７    カメラ
１８    露光時間制御手段
１９，２８，３５，３８    画像処理部
２０，３６    連続画像記憶手段
２１，３２    最大値画像算出手段
２２，３３    最小値画像算出手段
２３，３４    差分画像算出手段
２４    欠陥部判定手段
２５    ２値化ラベリング手段
２６    特徴量抽出手段
２７    良否判定手段
２９，３９    画像記憶手段
３０    最大値画像記憶手段
３１    最小値画像記憶手段
３７    標準偏差算出手段
４０    撮像枚数記憶手段
４１    平均値画像記憶手段
４２    標準偏差画像記憶手段
４３    標準偏差画像算出手段
４４    垂直同期処理部
【図１】
2007024616.tif 000004
【図２】
2007024616.tif 000005
【図３】
2007024616.tif 000006
【図５】
2007024616.tif 000007
【図６】
2007024616.tif 000008
【図７】
2007024616.tif 000009
【図８】
2007024616.tif 000010
【図９】
2007024616.tif 000011
【図１０】
2007024616.tif 000012
【図１１】
2007024616.tif 000013
【図１２】
2007024616.tif 000014
【図１３】
2007024616.tif 000015
【図１４】
2007024616.tif 000016
【図１５】
2007024616.tif 000017
【図４】
2007024616.tif 000018