(57)【要約】【課題】光ディスク装置に備わる試験モードを単純かつ高速に起動することができる起動方法を提供する。【解決手段】装置に交流電源が投入され、サブ側マイクロコンピュータ２２が起動すると、スイッチ基板１の出力端子Ｔ１からの電圧をＡ／Ｄ変換手段２３によりデジタル値に変換する。次に、押下スイッチ判別手段２４は、Ａ／Ｄ変換手段２３からのデジタル値の値を参照することにより、押下されているスイッチを判別する。この後、試験モード起動手段２７は、前記判別された押下スイッチに対応した試験モードをテーブル２５から読み出して光ディスク装置に設定して、光ディスク装置を前記試験モードとして起動させる。したがって、試験モードの起動のためのリモコンを操作することによる時間のロスが無くなって、試験モードを単純かつ高速に起動することが可能になる。【選択図】図１
2007179679.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
装置のメイン的なデータ処理や制御を行うメイン処理制御部と、このメイン処理部からの指示に応じて装置のサブ的なデータ処理や制御を行うサブ処理制御部と、操作部の各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板とを備えた光ディスク装置であって、この光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法において、
前記スイッチ基板の出力端子からの電圧をデジタル値に変換するアナログ／デジタル変換手段と、押下されたスイッチを前記アナログ／デジタル変換手段からのデジタル値により判別する押下スイッチ判別手段と、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに光ディスク装置を所望の試験モードにするための押下スイッチと試験モードとの関係を示すテーブルと、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことを検知するスイッチ押下状態電源投入検知手段と、このスイッチ押下状態電源投入検知手段によりスイッチ押下状態で交流電源の投入が検知されたとき前記押下スイッチ判別手段により判別された押下スイッチに対応した試験モードを前記テーブルから読み出して光ディスク装置に設定して光ディスク装置を試験モードとして起動させる試験モード起動手段とを、前記サブ処理制御部に設け、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことに応答して光ディスク装置を試験モードとして起動させることを特徴とする光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法。
【請求項２】
操作部の各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板を備えた光ディスク装置であって、この光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法において、
前記スイッチ基板の出力端子からの電圧に基づいて押下スイッチを判別し、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに、押下スイッチに対応した試験モードを光ディスク装置に設定し、光ディスク装置を前記設定した試験モードとして起動させることを特徴とする光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法。
【請求項３】
装置のメイン的なデータ処理や制御を行うメイン処理制御部と、このメイン処理部からの指示に応じて装置のサブ的なデータ処理や制御を行うサブ処理制御部と、操作部の各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板とを備えた光ディスク装置であって、この光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法において、
前記スイッチ基板の出力端子からの電圧に基づいて押下スイッチを判別し、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに、押下スイッチに対応した試験モードを光ディスク装置に設定し、光ディスク装置を前記設定した試験モードとして起動させる手段を、前記サブ処理制御部に設け、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことに応答して光ディスク装置を試験モードとして起動させることを特徴とする光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法。
【請求項４】
前記サブ処理制御部は、前記スイッチ基板の出力端子からの電圧をデジタル値に変換するアナログ／デジタル変換手段と、押下されたスイッチを前記アナログ／デジタル変換手段からのデジタル値により判別する押下スイッチ判別手段と、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに光ディスク装置を所望の試験モードにするための押下スイッチと試験モードとの関係を示すテーブルと、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことを検知するスイッチ押下状態電源投入検知手段と、このスイッチ押下状態電源投入検知手段によりスイッチ押下状態で交流電源の投入が検知されたとき前記押下スイッチ判別手段により判別された押下スイッチに対応した試験モードを前記テーブルから読み出して光ディスク装置に設定して光ディスク装置を試験モードとして起動させる試験モード起動手段とを有することを特徴とする請求項３に記載の光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置の試験を行う場合、光ディスク装置に予め備えられている試験モードを起動させる際の試験モードの起動方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）に記録された情報を再生するＤＶＤプレイヤ、あるいはＤＶＤに情報を記録したりＤＶＤに記録された情報を再生したりするＤＶＤレコーダなどの光ディスク装置には、工場において所定の動作を試験するための試験モードが備えられている。光ディスク装置は、メイン的なデータ処理や制御を行うメイン処理制御部としてのメイン側マイクロコンピュータと、このメイン側マイクロコンピュータからの指示に応じて装置のサブ的なデータ処理や制御を行うサブ処理制御部としてのサブ側マイクロコンピュータと、本体操作パネルの各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板とを備えている。メイン側マイクロコンピュータは、デコーダ回路が実装されたメイン基板に実装されている。サブ側マイクロコンピュータは、ＡＶ（Audio Visual）回路が実装されたＡＶ基板に実装されている。
【０００３】
このような構成の光ディスク装置の動作試験を行う場合、光ディスク装置の電源プラグをＡＣ１００Ｖコンセントに差し込み、光ディスク装置に電源を投入し、光ディスク装置のモードを試験モードに設定して、光ディスク装置の動作試験を行う。このような動作試験を行うには、光ディスク装置に予め備えられている試験モードを起動させる必要があるが、従来の試験モード起動方法では、リモコンの試験専用キーを押下するか、あるいはリモコンの複数のキーを組み合わせて押下することにより、試験モードを起動していた。
【特許文献１】特開２００３−３６５９２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、従来の光ディスク装置に備わる試験モード起動方法では、前述したように、リモコンの試験専用キーを押下するか、あるいはリモコンの複数のキーを組み合わせて押下することにより、試験モードを起動していたので、リモコンを操作することによる時間のロスが生じ、このため、工場で多数の光ディスク装置の動作試験を扱う場合などは、試験モードを起動させるのにリモコン操作による時間ロスがネックとなっているという課題があった。
【０００５】
なお、特許文献１の従来技術では、ＣＤが非搭載の状態でイジェクト釦の特別な操作により試験動作状態に移行する条件を認識し、試験動作状態に移行すると、オーディオ信号をバッファ上に生成し、それをヘッドホン端子およびアナログオーディオ出力端子に再生する機能をプログラムとしてＲＯＭ内に格納し、ＭＰＵにその処理を実行させるようにしているが、この従来技術は、ＣＤからのオーディオ信号を再生する光ディスク装置であり、また、ヘッドホン端子およびアナログオーディオ出力端子の動作試験を行うものであり、ＤＶＤに記録された情報を再生するＤＶＤプレイヤ、あるいはＤＶＤに情報を記録したりＤＶＤに記録された情報を再生したりするＤＶＤレコーダなどの光ディスク装置の動作試験を行うための試験モードの起動方法に関するものではない。
【０００６】
本発明は、上記のような課題を解決するためになされたもので、ＤＶＤプレイヤやＤＶＤレコーダなどの光ディスク装置に備わる試験モードを単純かつ高速に起動することができる起動方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、請求項１の発明は、装置のメイン的なデータ処理や制御を行うメイン処理制御部と、このメイン処理部からの指示に応じて装置のサブ的なデータ処理や制御を行うサブ処理制御部と、操作部の各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板とを備えた光ディスク装置であって、この光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法において、前記スイッチ基板の出力端子からの電圧をデジタル値に変換するアナログ／デジタル変換手段と、押下されたスイッチを前記アナログ／デジタル変換手段からのデジタル値により判別する押下スイッチ判別手段と、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに光ディスク装置を所望の試験モードにするための押下スイッチと試験モードとの関係を示すテーブルと、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことを検知するスイッチ押下状態電源投入検知手段と、このスイッチ押下状態電源投入検知手段によりスイッチ押下状態で交流電源の投入が検知されたとき前記押下スイッチ判別手段により判別された押下スイッチに対応した試験モードを前記テーブルから読み出して光ディスク装置に設定して光ディスク装置を試験モードとして起動させる試験モード起動手段とを、前記サブ処理制御部に設け、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことに応答して光ディスク装置を試験モードとして起動させることを特徴とする光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法を提供する。
【０００８】
この試験モード起動方法においては、光ディスク装置に交流電源が投入されると、サブ処理制御部は起動する。このサブ処理制御部が起動すると、スイッチ基板の出力端子からの電圧を入力してＡ／Ｄ変換手段によりデジタル値に変換する。次に、サブ処理制御部は、押下スイッチ判別手段により、Ａ／Ｄ変換手段からのデジタル値を検出し、押下スイッチが有ると判定すると、スイッチ押下状態電源投入検知手段は、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことを検知することになる。押下スイッチ判別手段は、Ａ／Ｄ変換手段からのデジタル値の値を参照することにより、押下されているスイッチを判別する。
【０００９】
次に、試験モード起動手段は、スイッチ押下状態電源投入検知手段によりスイッチ押下状態で交流電源の投入が検知されたとき、押下スイッチ判別手段により判別された押下スイッチに対応した試験モードをテーブルから読み出して光ディスク装置に設定して、光ディスク装置を前記試験モードとして起動させる。
【００１０】
この試験モード起動方法によれば、所望の試験モードを起動させるのに、所定のスイッチを押下して、この押下状態で光ディスク装置に交流電源を投入すると、所望の試験モードを起動させることができるので、従来にようにリモコンの試験専用キーを押下したり、あるいはリモコンの複数のキーを組み合わせて押下したりして、試験モードを起動させる必要がなくなり、これにより、リモコンを操作することによる時間のロスが無くなって、試験モードを単純かつ高速に起動することが可能になる。この結果、光ディスク装置の試験に要する時間が短縮され、生産コストの削減を図ることができる。
【００１１】
請求項２の発明は、操作部の各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板を備えた光ディスク装置であって、この光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法において、前記スイッチ基板の出力端子からの電圧に基づいて押下スイッチを判別し、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに、押下スイッチに対応した試験モードを光ディスク装置に設定し、光ディスク装置を前記設定した試験モードとして起動させることを特徴とする光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法を提供する。
【００１２】
この試験モードの起動方法においては、スイッチ基板のスイッチが押下されると、スイッチ基板の出力端子からの電圧に基づいて押下スイッチが判別され、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されると、押下スイッチに対応した試験モードが設定され、光ディスク装置が前記設定された試験モードとして起動される。
【００１３】
この試験モード起動方法によれば、所望の試験モードを起動させるのに、所定のスイッチを押下して、この押下状態で光ディスク装置に交流電源を投入すると、所望の試験モードを起動させることができるので、従来にようにリモコンの試験専用キーを押下したり、あるいはリモコンの複数のキーを組み合わせて押下したりして、試験モードを起動させる必要がなくなり、これにより、リモコンを操作することによる時間のロスが無くなって、試験モードを単純かつ高速に起動することが可能になる。この結果、光ディスク装置の試験に要する時間が短縮され、生産コストの削減を図ることができる。
【００１４】
請求項３の発明は、装置のメイン的なデータ処理や制御を行うメイン処理制御部と、このメイン処理部からの指示に応じて装置のサブ的なデータ処理や制御を行うサブ処理制御部と、操作部の各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板とを備えた光ディスク装置であって、この光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法において、スイッチ基板の出力端子からの電圧に基づいて押下スイッチを判別し、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに、押下スイッチに対応した試験モードを光ディスク装置に設定し、光ディスク装置を前記設定した試験モードとして起動させる手段を、前記サブ処理制御部に設け、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことに応答して光ディスク装置を試験モードとして起動させることを特徴とする光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法を提供する。
【００１５】
この試験モード起動方法においては、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたとき、スイッチ基板の出力端子からの電圧に基づいて判別された押下スイッチに対応した試験モードが設定され、これにより、光ディスク装置は前記設定された試験モードとして起動される。
【００１６】
この試験モード起動方法によれば、所望の試験モードを起動させるのに、所定のスイッチを押下して、この押下状態で光ディスク装置に交流電源を投入すると、所望の試験モードを起動させることができるので、従来にようにリモコンの試験専用キーを押下したり、あるいはリモコンの複数のキーを組み合わせて押下したりして、試験モードを起動させる必要がなくなり、これにより、リモコンを操作することによる時間のロスが無くなって、試験モードを単純かつ高速に起動することが可能になる。この結果、光ディスク装置の試験に要する時間が短縮され、生産コストの削減を図ることができる。
【００１７】
請求項４の発明では、請求項３の発明において、前記サブ処理制御部は、前記スイッチ基板の出力端子からの電圧をデジタル値に変換するアナログ／デジタル変換手段と、押下されたスイッチを前記アナログ／デジタル変換手段からのデジタル値により判別する押下スイッチ判別手段と、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに光ディスク装置を所望の試験モードにするための押下スイッチと試験モードとの関係を示すテーブルと、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことを検知するスイッチ押下状態電源投入検知手段と、このスイッチ押下状態電源投入検知手段によりスイッチ押下状態で交流電源の投入が検知されたとき前記押下スイッチ判別手段により判別された押下スイッチに対応した試験モードを前記テーブルから読み出して光ディスク装置に設定して光ディスク装置を試験モードとして起動させる試験モード起動手段とを有する。
【００１８】
したがって、前記サブ処理制御部は、アナログ／デジタル変換処理、押下スイッチ判別処理、スイッチ押下状態電源投入検知処理、および試験モード起動処理を実現でき、これにより、所望の試験モードを起動させるのに、所定のスイッチを押下して、この押下状態で光ディスク装置に交流電源を投入すると、所望の試験モードを起動させることが可能になる。
【発明の効果】
【００１９】
以上のように本発明によれば、装置のメイン的なデータ処理や制御を行うメイン処理制御部と、このメイン処理部からの指示に応じて装置のサブ的なデータ処理や制御を行うサブ処理制御部と、操作部の各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板とを備えた光ディスク装置であって、この光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法において、前記スイッチ基板の出力端子からの電圧をデジタル値に変換するアナログ／デジタル変換手段と、押下されたスイッチを前記アナログ／デジタル変換手段からのデジタル値により判別する押下スイッチ判別手段と、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに光ディスク装置を所望の試験モードにするための押下スイッチと試験モードとの関係を示すテーブルと、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことを検知するスイッチ押下状態電源投入検知手段と、このスイッチ押下状態電源投入検知手段によりスイッチ押下状態で交流電源の投入が検知されたとき前記押下スイッチ判別手段により判別された押下スイッチに対応した試験モードを前記テーブルから読み出して光ディスク装置に設定して光ディスク装置を試験モードとして起動させる試験モード起動手段とを、前記サブ処理制御部に設け、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことに応答して光ディスク装置を試験モードとして起動させるようにしたので、所望の試験モードを起動させるのに、所定のスイッチを押下して、この押下状態で光ディスク装置に交流電源を投入すると、所望の試験モードを起動させることができ、これにより、従来にようにリモコンの試験専用キーを押下したり、あるいはリモコンの複数のキーを組み合わせて押下したりして、試験モードを起動させる必要がなくなり、したがって、リモコンを操作することによる時間のロスが無くなって、試験モードを単純かつ高速に起動することが可能になる。この結果、光ディスク装置の試験に要する時間が短縮され、生産コストの削減を図ることができる。
【００２０】
また、本発明によれば、操作部の各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板を備えた光ディスク装置であって、この光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法において、前記スイッチ基板の出力端子からの電圧に基づいて押下スイッチを判別し、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに、押下スイッチに対応した試験モードを光ディスク装置に設定し、光ディスク装置を前記設定した試験モードとして起動させるようにしたので、所望の試験モードを起動させるのに、所定のスイッチを押下して、この押下状態で光ディスク装置に交流電源を投入すると、所望の試験モードを起動させることができ、これにより、従来にようにリモコンの試験専用キーを押下したり、あるいはリモコンの複数のキーを組み合わせて押下したりして、試験モードを起動させる必要がなくなり、したがって、リモコンを操作することによる時間のロスが無くなって、試験モードを単純かつ高速に起動することが可能になる。この結果、光ディスク装置の試験に要する時間が短縮され、生産コストの削減を図ることができる。
【００２１】
また、本発明によれば、装置のメイン的なデータ処理や制御を行うメイン処理制御部と、このメイン処理部からの指示に応じて装置のサブ的なデータ処理や制御を行うサブ処理制御部と、操作部の各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板とを備えた光ディスク装置であって、この光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法において、スイッチ基板の出力端子からの電圧に基づいて押下スイッチを判別し、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに、押下スイッチに対応した試験モードを光ディスク装置に設定し、光ディスク装置を前記設定した試験モードとして起動させる手段を、前記サブ処理制御部に設け、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことに応答して光ディスク装置を試験モードとして起動させるようにしたので、所望の試験モードを起動させるのに、所定のスイッチを押下して、この押下状態で光ディスク装置に交流電源を投入すると、所望の試験モードを起動させることができ、これにより、従来にようにリモコンの試験専用キーを押下したり、あるいはリモコンの複数のキーを組み合わせて押下したりして、試験モードを起動させる必要がなくなり、したがって、リモコンを操作することによる時間のロスが無くなって、試験モードを単純かつ高速に起動することが可能になる。この結果、光ディスク装置の試験に要する時間が短縮され、生産コストの削減を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、添付図面を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明する。図１は本発明の一実施形態に係る光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法を採用した光ディスク装置におけるスイッチ基板に実装されたスイッチ回路の回路図とＡＶ基板に実装された主要構成要素のブロック図とメイン基板に実装された主要構成要素のブロック図を示す。
【００２３】
図１において、スイッチ基板１には、スイッチＳＷ１〜ＳＷ１０と抵抗Ｒ１〜Ｒ１０とプルアップ用抵抗ｒ１，１２と出力端子Ｔ１が実装され、このスイッチ基板１は、図示しない本体操作パネルの背面に取り付けられ、スイッチＳＷ１〜ＳＷ１０のつまみは本体操作パネルの前面から突出して設けられる。抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２と抵抗Ｒ３と抵抗Ｒ４と抵抗Ｒ５とは直列接続され、抵抗Ｒ１の一端はラインＬ１に接続され、抵抗Ｒ５の一端は接地されている。スイッチＳＷ１〜ＳＷ５の一端は接地され、スイッチＳＷ１の他端はラインＬ１に接続されていると共に抵抗Ｒ１の一端に接続されている。スイッチＳＷ２の他端は抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２との接続点に接続され、スイッチＳＷ３の他端は抵抗Ｒ２と抵抗Ｒ３との接続点に接続されている。スイッチＳＷ４の他端は抵抗Ｒ３と抵抗Ｒ４との接続点に接続され、スイッチＳＷ５の他端は抵抗Ｒ４と抵抗Ｒ５との接続点に接続されている。
【００２４】
抵抗Ｒ６と抵抗Ｒ７と抵抗Ｒ８と抵抗Ｒ９と抵抗Ｒ１０とは直列接続され、抵抗Ｒ６の一端はラインＬ２に接続され、抵抗Ｒ１０の一端は接地されている。スイッチＳＷ６〜ＳＷ１０の一端は接地され、スイッチＳＷ６の他端はラインＬ２に接続されていると共に抵抗Ｒ６の一端に接続されている。スイッチＳＷ７の他端は抵抗Ｒ６と抵抗Ｒ７との接続点に接続され、スイッチＳＷ８の他端は抵抗Ｒ７と抵抗Ｒ８との接続点に接続されている。スイッチＳＷ９の他端は抵抗Ｒ８と抵抗Ｒ９との接続点に接続され、スイッチＳＷ１０の他端は抵抗Ｒ９と抵抗Ｒ１０との接続点に接続されている。
【００２５】
ラインＬ１およびラインＬ２は出力端子Ｔ１に接続され、ラインＬ１はプルアップ用抵抗ｒ１により所定の電圧にプルアップされ、ラインＬ２はプルアップ用抵抗ｒ２により所定の電圧にプルアップされている。なお、プルアップ用抵抗ｒ１，ｒ２は、ＡＶ基板２側に設けても良い。このようにラインＬ１およびラインＬ２は、所定の電圧にプルアップされているので、スイッチＳＷ１〜ＳＷ５の何れかのスイッチを押下すれば、スイッチＳＷ１〜ＳＷ５に応じた電圧がラインＬ１に現れ、また、スイッチＳＷ６〜ＳＷ１０の何れかのスイッチを押下すれば、スイッチＳＷ６〜ＳＷ１０に応じた電圧がラインＬ２に現れる。
【００２６】
例えば、スイッチＳＷ１が押下されると、ラインＬ１の電位は接地に落とされ、ラインＬ１と接地間の電圧は０Ｖとなる。スイッチＳＷ２が押下されると、プルアップ用抵抗ｒ１と抵抗Ｒ１との直列回路が形成され、これにより、ラインＬ１と接地間の電圧ＶＬ１は、電源電圧をＶｃｃとし、プルアップ用抵抗ｒ１の抵抗値を同じくｒ１、抵抗Ｒ１の抵抗値を同じくＲ１とすると、ＶＬ１＝Ｖｃｃ｛Ｒ１／（ｒ１＋Ｒ１）｝になる。
【００２７】
スイッチＳＷ３が押下されると、プルアップ用抵抗ｒ１と抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２との直列回路が形成され、これにより、ラインＬ１と接地間の電圧ＶＬ１は、電源電圧をＶｃｃとし、プルアップ用抵抗ｒ１の抵抗値を同じくｒ１、抵抗Ｒ１の抵抗値を同じくＲ１、抵抗Ｒ２の抵抗値を同じくＲ２とすると、ＶＬ１＝Ｖｃｃ｛（Ｒ１＋Ｒ２）／（ｒ１＋Ｒ１＋Ｒ２）｝になる。
【００２８】
スイッチＳＷ４が押下されると、プルアップ用抵抗ｒ１と抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２と抵抗Ｒ３との直列回路が形成され、これにより、ラインＬ１と接地間の電圧ＶＬ１は、電源電圧をＶｃｃとし、プルアップ用抵抗ｒ１の抵抗値を同じくｒ１、抵抗Ｒ１の抵抗値を同じくＲ１、抵抗Ｒ２の抵抗値を同じくＲ２、抵抗Ｒ３の抵抗値を同じくＲ３とすると、ＶＬ１＝Ｖｃｃ｛（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）／（ｒ１＋Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）｝になる。
【００２９】
スイッチＳＷ５が押下されると、プルアップ用抵抗ｒ１と抵抗Ｒ１と抵抗Ｒ２と抵抗Ｒ３と抵抗Ｒ４との直列回路が形成され、これにより、ラインＬ１と接地間の電圧ＶＬ１は、電源電圧をＶｃｃとし、プルアップ用抵抗ｒ１の抵抗値を同じくｒ１、抵抗Ｒ１の抵抗値を同じくＲ１、抵抗Ｒ２の抵抗値を同じくＲ２、抵抗Ｒ３の抵抗値を同じくＲ３、抵抗Ｒ４の抵抗値を同じくＲ４とすると、ＶＬ１＝Ｖｃｃ｛（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３＋Ｒ４）／（ｒ１＋Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３＋Ｒ４）｝になる。
【００３０】
なお、スイッチＳＷ１〜ＳＷ５が押下されていない場合は、ラインＬ１と接地間の電圧ＶＬ１は、ＶＬ１＝｛（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３＋Ｒ４＋Ｒ５）／（ｒ１＋Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３＋Ｒ４＋Ｒ５）｝になる。
【００３１】
例えば、スイッチＳＷ６が押下されると、ラインＬ２の電位は接地に落とされ、ラインＬ２と接地間の電圧は０Ｖとなる。スイッチＳＷ７が押下されると、プルアップ用抵抗ｒ２と抵抗Ｒ６との直列回路が形成され、これにより、ラインＬ２と接地間の電圧ＶＬ２は、電源電圧をＶｃｃとし、プルアップ用抵抗ｒ６の抵抗値を同じくｒ６、抵抗Ｒ６の抵抗値を同じくＲ６とすると、ＶＬ２＝Ｖｃｃ｛Ｒ６／（ｒ２＋Ｒ６）｝になる。
【００３２】
スイッチＳＷ８が押下されると、プルアップ用抵抗ｒ２と抵抗Ｒ６と抵抗Ｒ７との直列回路が形成され、これにより、ラインＬ２と接地間の電圧ＶＬ２は、電源電圧をＶｃｃとし、プルアップ用抵抗ｒ２の抵抗値を同じくｒ２、抵抗Ｒ６の抵抗値を同じくＲ６、抵抗Ｒ７の抵抗値を同じくＲ７とすると、ＶＬ２＝Ｖｃｃ｛（Ｒ６＋Ｒ７）／（ｒ２＋Ｒ６＋Ｒ７）｝になる。
【００３３】
スイッチＳＷ９が押下されると、プルアップ用抵抗ｒ２と抵抗Ｒ６と抵抗Ｒ７と抵抗Ｒ８との直列回路が形成され、これにより、ラインＬ２と接地間の電圧ＶＬ２は、電源電圧をＶｃｃとし、プルアップ用抵抗ｒ２の抵抗値を同じくｒ２、抵抗Ｒ６の抵抗値を同じくＲ６、抵抗Ｒ７の抵抗値を同じくＲ７、抵抗Ｒ８の抵抗値を同じくＲ８とすると、ＶＬ２＝Ｖｃｃ｛（Ｒ６＋Ｒ７＋Ｒ８）／（ｒ２＋Ｒ６＋Ｒ７＋Ｒ８）｝になる。
【００３４】
スイッチＳＷ１０が押下されると、プルアップ用抵抗ｒ２と抵抗Ｒ６と抵抗Ｒ７と抵抗Ｒ８と抵抗Ｒ９との直列回路が形成され、これにより、ラインＬ２と接地間の電圧ＶＬ２は、電源電圧をＶｃｃ、プルアップ用抵抗ｒ２の抵抗値を同じくｒ２、抵抗Ｒ６の抵抗値を同じくＲ６、抵抗Ｒ７の抵抗値を同じくＲ７、抵抗Ｒ８の抵抗値を同じくＲ８、抵抗Ｒ９の抵抗値を同じくＲ９とすると、ＶＬ２＝Ｖｃｃ｛（Ｒ６＋Ｒ７＋Ｒ８＋Ｒ９）／（ｒ２＋Ｒ６＋Ｒ７＋Ｒ８＋Ｒ９）｝になる。
【００３５】
なお、スイッチＳＷ６〜ＳＷ１０が押下されていない場合は、ラインＬ２と接地間の電圧ＶＬ２は、ＶＬ１＝｛（Ｒ６＋Ｒ７＋Ｒ８＋Ｒ９＋Ｒ１０）／（ｒ２＋Ｒ６＋Ｒ７＋Ｒ８＋Ｒ９＋Ｒ１０）｝になる。
【００３６】
光ディスク装置において、例えば、スイッチＳＷ１はディスクトレイを開閉するためのＯＰＥＮ／ＣＬＯＳＥキー、スイッチＳＷ２はチャンネルダウンさせるためのＣＨ・ＤＯＷＮキー、スイッチＳＷ３は記録速度（録画モード）を設定するためのＲＥＣ・ＳＰＥＥＤキー、スイッチＳＷ４はチャンネルアップさせるためのＣＨ／ＵＰキー、スイッチＳＷ５は録画させるためのＲＥＣキー、スイッチＳＷ６は電源をオンするためのＰＯＷＥＲキー、スイッチＳＷ７は再生させるためのＰＬＡＹキー、スイッチＳＷ８は録画停止や再生停止をさせるためのＳＴＯＰキー、スイッチＳＷ９は早送りさせるためのＦＷＤキー、スイッチＳＷ１０は早戻しさせるためのＲＥＶキーとしてそれぞれ使用される。
【００３７】
ＡＶ（Audio Visual）基板２には、音声信号および映像信号を図示しないチューナや外部入力端子から受けて所定の音声信号処理および映像信号処理を行うＡＶ回路２１と、このＡＶ回路２１を制御すると共に本実施形態の特徴とする試験モードの起動に関する制御や処理を行うサブ処理制御部としてのサブ側マイクロコンピュータ２２とが実装されている。なお、ＡＶ基板２の構成要素は、他にもあるが、ここでは省略する。サブ側マイクロコンピュータ２２は、光ディスク装置に交流電源が投入されている場合、操作的にパワーオフであっても動作している。サブ側マイクロコンピュータ２２は、機能などを変更可能なフラッシュタイプではないので、１度製造してしまうと、機能などを変更できず、各メーカの光ディスク装置に対して試験モードに入るための共通の起動方法を採用することが望ましい。
【００３８】
サブ側マイクロコンピュータ２２は、スイッチ基板１の出力端子Ｔ１からの電圧をデジタル値に変換するＡ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換手段２３と、押下されたスイッチをＡ／Ｄ変換手段２３からのデジタル値により判別する押下スイッチ判別手段２４と、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに光ディスク装置を所望の試験モードにするための押下スイッチと試験モードとの関係を示すテーブル２５と、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことを検知するスイッチ押下状態電源投入検知手段２６と、このスイッチ押下状態電源投入検知手段２６によりスイッチ押下状態で交流電源の投入が検知されたとき押下スイッチ判別手段２４により判別された押下スイッチに対応した試験モードをテーブル２５から読み出して光ディスク装置に設定して光ディスク装置を試験モードとして起動させる試験モード起動手段２７とを有し、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことに応答して光ディスク装置を試験モードとして起動させるようにしている。
【００３９】
メイン基板３には、ＡＶ基板２からの音声信号および映像信号を入力してデコード処理を行うデコーダ回路３１と、装置のメイン的なデータ処理や制御を行うメイン側マイクロコンピュータ３２とが実装されている。なお、メイン基板３の構成要素は、他にもあるが、ここでは省略する。メイン側マイクロコンピュータ３２は、通常、操作的にパワーオンされない限り動作しないが、後述する常時パワーオンモードに設定されると、操作的にパワーオフしていても動作することになる。
【００４０】
図２は本実施形態においてスイッチ基板の何れかのスイッチが押下されている状態で光ディスク装置に交流電源が投入された場合の押下スイッチと試験モードとの関係を示すテーブルの内容の一例を示す図である。
【００４１】
図２において、テーブル２５は前記サブ側マイクロコンピュータ２２に備えられるものである。テーブル２５によれば、押下スイッチがスイッチＳＷ９（ＦＷＤキー）のとき、試験モードが常時パワーオンモードに対応し、押下スイッチがスイッチＳＷ４（ＣＨ／ＵＰキー）とスイッチＳＷ８（ＳＴＯＰキー）のとき、試験モードが強制Ｆ社リモコンモードに対応する。また、押下スイッチがスイッチＳＷ２（ＣＨ・ＤＯＷＮキー）とスイッチＳＷ７（ＰＬＡＹキー）のとき、試験モードがＡＶ基板動作検査モードに対応し、押下スイッチがスイッチＳＷ３（ＲＥＣ・ＳＰＥＥＤキー）とスイッチＳＷ１０（ＲＥＶキー）のとき、試験モードが時計早送りモードに対応する。
【００４２】
図３は本実施形態において試験モードの起動処理を説明するためのフローチャートである。このフローチャートおよび図１、図２を参照して試験モードの起動処理について説明する。
【００４３】
まず、光ディスク装置の電源プラグをＡＣコンセントに差し込んで、光ディスク装置に交流電源を投入したり、あるいはＡＣコンセントと光ディスク装置の電源プラグとの間に電源入切スイッチを設け、この電源入切スイッチを入にして光ディスク装置に交流電源を投入したりするなどの電源投入手段により、光ディスク装置に交流電源が投入されると（ステップＳ１）、サブ側マイクロコンピュータ２２はリセット解除を行って起動する（ステップＳ２）。サブ側マイクロコンピュータ２２が起動すると、スイッチ基板１の出力端子Ｔ１からの電圧（ラインＬ１の電圧およびラインＬ２の電圧）を、コネクタＣを介してＡＶ基板２の入力端子Ｔ２で受け、Ａ／Ｄ変換手段２３によりデジタル値に変換する（ステップＳ３）。
【００４４】
次に、サブ側マイクロコンピュータ２２は、押下スイッチ判別手段２４により、押下スイッチを判別するが、スイッチ基板１のスイッチＳＷ１〜ＳＷ１０の何れも押下されていない場合もあるので、スイッチＳＷ１〜ＳＷ１０の何れも押下されていないときのＡ／Ｄ変換手段２３からのデジタル値を検出すれば、押下スイッチが無いと判定し（ステップＳ４）、これにより、光ディスク装置を通常モードとして起動させ（ステップＳ１０）、通常モード処理を行い（ステップＳ１１）、この通常モード処理が終了すれば（ステップＳ１２）、本処理は終える。
【００４５】
また、スイッチ基板１のスイッチＳＷ１〜ＳＷ１０の何れかが押下されている場合は、押下スイッチ判別手段２４は、スイッチＳＷ１〜ＳＷ１０の何れかが押下されているときのＡ／Ｄ変換手段２３からのデジタル値を検出することにより、押下スイッチが有ると判定する（ステップＳ４）。また、ここで、スイッチ押下状態電源投入検知手段２６は、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたことを検知することになる。更に、押下スイッチ判別手段２４は、Ａ／Ｄ変換手段２３からのデジタル値の値を参照することにより、押下されているスイッチを判別する（ステップＳ５）。
【００４６】
次に、試験モード起動手段２７は、スイッチ押下状態電源投入検知手段２６によりスイッチ押下状態で交流電源の投入が検知されたとき押下スイッチ判別手段２４により判別された押下スイッチに対応した試験モードをテーブル２５から読み出して光ディスク装置に設定して（ステップＳ６）、光ディスク装置を試験モードとして起動させ（ステップＳ７）、試験モード処理を行い（ステップＳ８）、この試験モード処理が終了すれば（ステップＳ９）、本処理は終える。
【００４７】
例えば、試験モードとして、スイッチＳＷ９（ＦＷＤキー）が押下された状態で、光ディスク装置に交流電源が投入されると、光ディスク装置は常時パワーオンモードに設定され、メイン側マイクロコンピュータ３２のソフトウエアのデバッグに用いられる。常時パワーオンモードにするのは、操作的にパワーオフすれば、メイン基板３の電源がオフし、これにより、ソフトウエアの開発用のデバッガも動作ダウンするので、普通の動作でパワーオフして、装置内部ではパワーオン状態にしておく。
【００４８】
また、スイッチＳＷ４（ＣＨ・ＵＰキー）とスイッチＳＷ８（ＳＴＯＰキー）が押下された状態で、光ディスク装置に交流電源が投入されると、強制Ｆ社リモコンモードに設定され、光ディスク装置はＦ社のリモコンで操作が可能になる。また、スイッチＳＷ２（ＣＨ・ＤＯＷＮキー）とスイッチＳＷ７（ＰＬＡＹキー）が押下された状態で、光ディスク装置に交流電源が投入されると、ＡＶ基板動作検査モードに設定され、ＡＶ基板２の動作を検査することができる。ＡＶ基板２の動作の検査としては、メイン基板３を接続せずに、ＡＶ基板２だけで、例えば、表示菅のセグメントが全部正常に点灯するかどうかの検査や、チューナ関係が正常かどうかの検査などがある。
【００４９】
また、スイッチＳＷ３（ＲＥＣ・ＳＰＥＥＤキー）とスイッチＳＷ１０（ＲＥＶキー）が押下された状態で、光ディスク装置に交流電源が投入されると、時計早送りモードに設定され、例えば、タイマ予約で１０分後とか２０分後とかに動作させる場合に、動作試験において１０分とか２０分とかの時間経過を待つことができないので、例えば、スイッチＳＷ９（ＦＷＤキー）を押下すると、時間を早く進めることができる。
【００５０】
以上説明したように本実施形態によれば、所望の試験モードを起動させるのに、所定のスイッチを押下して、この押下状態で光ディスク装置に交流電源を投入すると、所望の試験モードを起動させることができ、これにより、従来にようにリモコンの試験専用キーを押下したり、あるいはリモコンの複数のキーを組み合わせて押下したりして、試験モードを起動させる必要がなくなり、したがって、リモコンを操作することによる時間のロスが無くなって、試験モードを単純かつ高速に起動することが可能になる。この結果、光ディスク装置の試験に要する時間が短縮され、生産コストの削減を図ることができる。
【００５１】
なお、前記実施形態では、装置のメイン的なデータ処理や制御を行うメイン側マイクロコンピュータ３２と、このメイン側マイクロコンピュータ３２からの指示に応じて装置のサブ的なデータ処理や制御を行うサブ側マイクロコンピュータ２２と、本体操作パネルの各スイッチＳＷ１〜ＳＷ１０の押下に対応した各電圧を出力端子Ｔ１から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板１とを備えた光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法について説明したが、このような光ディスクの構成に限定せず、操作部の各スイッチの押下に対応した各電圧を出力端子から出力するスイッチ回路が実装されたスイッチ基板を備えた光ディスク装置において、前記スイッチ基板の出力端子からの電圧に基づいて押下スイッチを判別し、１個以上のスイッチが押下された状態で光ディスク装置への交流電源が投入されたときに、押下スイッチに対応した試験モードを光ディスク装置に設定し、光ディスク装置を前記設定した試験モードとして起動させるような構成であれば、本発明の試験モードの起動方法を適用することができることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置に備わる試験モードの起動方法を採用した光ディスク装置におけるスイッチ基板に実装されたスイッチ回路の回路図とＡＶ基板に実装された主要構成要素のブロック図とメイン基板に実装された主要構成要素のブロック図を示す。
【図２】前記実施形態においてスイッチ基板の何れかのスイッチが押下されている状態で光ディスク装置に交流電源が投入された場合の押下スイッチと試験モードとの関係を示すテーブルの内容の一例を示す図である。
【図３】前記実施形態において試験モードの起動処理を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
【００５３】
１    スイッチ基板
ＳＷ１〜ＳＷ１０    スイッチ
２２    サブ側マイクロコンピュータ（サブ処理制御部）
２３    Ａ／Ｄ変換手段
２４    押下スイッチ判別手段
２５    テーブル
２６    スイッチ押下状態電源投入検知手段
２７    試験モード起動手段
３２    メイン側マイクロコンピュータ（メイン処理制御部）
【図１】
2007179679.tif 000003
【図２】
2007179679.tif 000004
【図３】
2007179679.tif 000005