(57)【要約】【課題】比較的簡単な構成で、移動する物体を測定することが可能な検出センサを提供することを目的とする。【解決手段】光電センサ３０は、投光部３１、受光部３３、データ処理部４０、出力回路５１、出力回路制御部５５などから構成され、移動するワークＷに向けて、投光・受光動作を行なって、ワークＷの位置を検出する。受光部３３から出力される受光信号Ｃｎはデータ処理部４０に入力される。データ処理部４０は第一データ処理部４５、第二データ処理部４７などから構成される。ワークが測定エリアになく測定が正しく行なわれていない場合には、受光信号Ｃｎの変化が大きく現れるが、この変化を、第二データ処理部４７で監視することで、ワークＷが測定エリアから外れている場合には、出力回路５１の出力動作を停止させる。これにより、ワークＷが測定エリアから外れた状態で測定された測定結果が、外部に出力されることがない。【選択図】図１
2007121182.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検出物について検知動作を行い、その結果得られる物理量のレベルに応じた検知信号を出力する物理量検知手段と、
前記物理量検知手段から出力される検知信号を、所定タイミングごとにサンプリングしてサンプリングデータを得るサンプリング手段と、
所定期間内に前記サンプリング手段から得られる複数個の前記サンプリングデータに基づいて、前記物理量検知手段による検知結果たる測定値を計測する測定手段と、
前記測定手段により計測された測定値に応じた出力をする出力手段と、を備えた検出センサであって、
前記サンプリング手段から出力されたサンプリングデータについて、前記所定期間内におけるサンプリングデータの変化量を所定レベルと比較して、前記検知信号が安定状態か不安定状態かを判別し、その判別結果に応じた判別信号を出力する判別手段と、
前記判別手段から出力される判別信号が入力されるよう構成されていて、前記判別結果が不安定状態であるときには前記出力手段に対してその不安定状態に対応して予め設定された出力を行わせる出力制御手段と、を備えることを特徴とする検出センサ。
【請求項２】
被検出物について検知動作を行い、その結果得られる物理量のレベルに応じた検知信号を出力する物理量検知手段と、
前記物理量検知手段から出力される検知信号を、所定タイミングごとにサンプリングしてサンプリングデータを得るサンプリング手段と、
所定期間内に前記サンプリング手段から得られる複数個の前記サンプリングデータに基づいて、前記物理量検知手段による検知結果たる測定値を計測する測定手段と、
前記測定手段により計測された測定値に応じた出力する出力手段とを、備えた検出センサであって、
前記サンプリング手段から出力されたサンプリングデータについて、前記所定期間内におけるサンプリングデータの変化量と所定レベルとの比較に基づいて、前記検知信号が安定状態か不安定状態かを判別し、その判別結果に応じた判別信号を出力する判別手段と、
前記判別手段から出力される判別信号が入力されるよう構成されていて、前記判別結果が不安定状態であるときにはその不安定状態に対応して予め決められた報知動作を行う報知手段と、を備えることを特徴とする検出センサ。
【請求項３】
前記判別手段は、前記所定期間内における複数のサンプリングデータから最大値及び最小値をそれぞれ抽出する抽出機能部と、
抽出された前記最大値と前記最小値の差を演算する演算機能部と、
前記演算機能部で演算される前記変化量としての差を前記所定レベルと比較して前記検知信号が安定状態か不安定状態かを判別する判別機能部とを備え、判別結果に応じた前記判別信号を出力することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の検出センサ。
【請求項４】
前記判別手段は、少なくとも２以上のサンプリングデータが取得されるように前記所定期間を等分割した各分割期間を対象として、同分割期間内におけるサンプリングデータの平均値を算出する平均値算出機能部と、
前記分割期間が前記所定期間を２分割したものである場合には、前記平均値算出手段で算出された２つの平均値の差を演算し、
前記分割期間が前記期間を３以上に分割したものである場合には、前記平均値算手段で算出された３以上の平均値の中から最大値及び最小値となるものを抽出して、その差を演算する演算機能部と、
前記演算機能部で演算された前記変化量としての差を前記所定レベルと比較して前記検知信号が安定状態か不安定状態かを判別する判別機能部とを備え、判別結果に応じた前記判別信号を出力することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の検出センサ。
【請求項５】
前記測定手段は、前記所定期間内のサンプリングデータからその平均値を算出して、これを前記測定値とすることを特徴とする請求項１ないし請求項４のいずれかに記載の検出センサ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検出センサに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、物体の位置、変位量、有無等の検出を行なうセンサが広く知られている。これには、磁気式の近接センサ、超音波センサ、光電センサ等がある。例えば、光電センサであれば、その構成は、ワーク等の被測定対象物に向けて光を投光する投光部と、被測定対象物で反射された反射光を受光部とからなる検知手段を備え、受光される受光量の大きさに基づいて光軸方向における被測定対象物の位置、変位量を知ることが出来る（特許文献１等）。
図９は、光電センサを使用して搬送ライン上を搬送されるワークの位置について測定（検知動作）を行った例を示すものであって、符号１は投光部、符号２は受光部、符号３はワークＷが搬送される搬送ラインである。このものでは、投光部１から出射されワークＷで反射した光を受光部２で受光し、その受光量のレベルに基づいて搬送ライン３上におけるワークＷの位置ずれを検出している。
【０００３】
すなわち、ワークＷが搬送ライン３の正規位置たるほぼ中央Ｌｃ上を搬送される場合（ワークＷ１）と、搬送ライン３の端を搬送される場合（ワークＷ２）とでは、受光部２とワークＷ１、Ｗ２の検出面Ｐとの間の距離Ｄが変動するので、それに応じて、受光量が大小変わる。例えば、受光部２からみてワークＷ１より遠方に位置するワークＷ２では、反射光が広がってしまう結果、ワークＷ１について測定を行なった場合に比べて受光量が減少する。このように、受光量の変化を捉えることで、光軸方向（図９における上下方向）に関するワークＷの位置ずれを検出出来る。
【０００４】
また、このものは、移動する物体を測定の対象としているので、専用に位置検出センサ５を備えている。位置検出センサ５は、ワークＷが測定エリア内に位置しているか否かを検出し、ワークＷが測定エリアに収まっているときに、測定（光の投光・受光）を行なうべく測定タイミングを決定するものである。仮に、位置検出センサ５を設けず、無作為に測定を行なうと、図１０に示すように、ワークＷが搬送ライン３のほぼ中央にあったとしても、その一部が測定エリアから外れている場合には、投光部１からの光が検出面Ｐの角部に照射される場合がある。係る場合には、両間の距離Ｄに拘わらず、ワークＷで反射される反射光量そのものが減少するので、測定を正しく行なうことが出来ない。
【特許文献１】特開昭５６−７１３３０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記構造では、測定タイミングを決めるべく、位置検出センサ５を設けているが、このようなセンサを専用に設けることは、部品点数の増加にもなるし、低コスト化の妨げになる。
本発明は上記のような事情に基づいて完成されたものであって、比較的簡単な構成で、移動する物体を測定することが可能な検出センサを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記の目的を達成するための手段として、請求項１の発明は、被検出物について検知動作を行い、その結果得られる物理量のレベルに応じた検知信号を出力する物理量検知手段と、前記物理量検知手段から出力される検知信号を、所定タイミングごとにサンプリングしてサンプリングデータを得るサンプリング手段と、所定期間内に前記サンプリング手段から得られる複数個の前記サンプリングデータに基づいて、前記物理量検知手段による検知結果たる測定値を計測する測定手段と、前記測定手段により計測された測定値に応じた出力をする出力手段と、を備えた検出センサであって、前記サンプリング手段から出力されたサンプリングデータについて、前記所定期間内におけるサンプリングデータの変化量を所定レベルと比較して、前記検知信号が安定状態か不安定状態かを判別し、その判別結果に応じた判別信号を出力する判別手段と、前記判別手段から出力される判別信号が入力されるよう構成されていて、前記判別結果が不安定状態であるときには前記出力手段に対してその不安定状態に対応して予め設定された出力を行わせる出力制御手段と、を備えるところに特徴を有する。
尚、ここでいう「あらかじめ設定された出力」には、一態様として出力を停止させることが含まれる。
【０００７】
請求項２の発明は、被検出物について検知動作を行い、その結果得られる物理量のレベルに応じた検知信号を出力する物理量検知手段と、前記物理量検知手段から出力される検知信号を、所定タイミングごとにサンプリングしてサンプリングデータを得るサンプリング手段と、所定期間内に前記サンプリング手段から得られる複数個の前記サンプリングデータに基づいて、前記物理量検知手段による検知結果たる測定値を計測する測定手段と、前記測定手段により計測された測定値に応じた出力する出力手段とを、備えた検出センサであって、前記サンプリング手段から出力されたサンプリングデータについて、前記所定期間内におけるサンプリングデータの変化量と所定レベルとの比較に基づいて、前記検知信号が安定状態か不安定状態かを判別し、その判別結果に応じた判別信号を出力する判別手段と、前記判別手段から出力される判別信号が入力されるよう構成されていて、前記判別結果が不安定状態であるときにはその不安定状態に対応して予め決められた報知動作を行う報知手段と、を備えるところに特徴を有する。
【０００８】
請求項３の発明は、請求項１又は請求項２に記載のものにおいて、前記判別手段は、前記所定期間内における複数のサンプリングデータから最大値及び最小値をそれぞれ抽出する抽出機能部と、抽出された前記最大値と前記最小値の差を演算する演算機能部と、前記演算機能部で演算される前記変化量としての差を前記所定レベルと比較して前記検知信号が安定状態か不安定状態かを判別する判別機能部とを備え、判別結果に応じた前記判別信号を出力するところに特徴を有する。
【０００９】
請求項４の発明は、請求項１又は請求項２に記載のものにおいて、前記判別手段は、少なくとも２以上のサンプリングデータが取得されるように前記所定期間を等分割した各分割期間を対象として、同分割期間内におけるサンプリングデータの平均値を算出する平均値算出機能部と、前記分割期間が前記所定期間を２分割したものである場合には、前記平均値算出手段で算出された２つの平均値の差を演算し、前記分割期間が前記期間を３以上に分割したものである場合には、前記平均値算手段で算出された３以上の平均値の中から最大値及び最小値となるものを抽出して、その差を演算する演算機能部と、前記演算機能部で演算された前記変化量としての差を前記所定レベルと比較して前記検知信号が安定状態か不安定状態かを判別する判別機能部とを備え、判別結果に応じた前記判別信号を出力するところに特徴を有する。
【００１０】
請求項５の発明は、請求項１ないし請求項４のいずれかに記載のものにおいて、前記測定手段は、前記所定期間内のサンプリングデータからその平均値を算出して、これを前記測定値とすることを特徴とする請求項１ないし請求項４のいずれかに記載の検出センサ。
【発明の効果】
【００１１】
＜請求項１並びに請求項２の発明＞
本発明によれば、サンプリングデータの変化量に基づいて、検知信号が安定状態にあるのか、不安定状態にあるのかを判別し、これをもって、被検出物に対する検知動作の良否を判別することとした。すなわち、検知信号が安定していれば検知動作は良好、これとは反対に検知信号が不安定であれば検知動作は不良であるとした。このような構成であれば、検知動作の良否について、検出センサそれ自体が自ら判別できる。
【００１２】
そして、請求項１の発明では検知信号が不安定状態のときに、出力制御手段を通じて、出力手段に当該不安定状態に応じた出力を行なわせるようにした。これにより、検知動作が良好である場合と、不良である場合とで、出力の内容を異ならせることが出来る。一方、請求項２の発明では、検知信号が不安定状態にあるときに、当該不安定状態に応じた報知動作を行なわせるようにうした。これにより、作業者に、検知動作が不良であることを知らせることが出来る。
【００１３】
＜請求項３の発明＞
請求項３の発明によれば、サンプリングデータの最大値と最小値の差を、サンプリングデータの変化量とした。このような構成であれば、比較的簡単な減算処理で変化量を求めることが出来る。
【００１４】
＜請求項４の発明＞
請求項４の発明によれば、分割期間についてそれぞれ、サンプリングデータの平均値を算出し、更に、これら平均値の最大値と最小値の差を求め、これをサンプリングデータの変化量とした。このような構成であれば、単に信号のレベル差に基づいて変化量を特定する場合に比べて、誤差を抑えることが出来る、すなわち、ノイズの影響によりデータ中に異常値があったとしても、これが平均化されるからである。
【００１５】
＜請求項５の発明＞
測定値の計測は、サンプリングデータの中から、最大値、最小値、中間値などの特定の値をピックアップする等でも可能であるが、サンプリングデータの平均値を測定値とするものであれば、誤差を抑えことが出来る。すなわち、ノイズ等の影響によりデータ中に異常値があったとしても、これが平均化されるからである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
＜実施形態１＞
本発明の実施形態１を図１ないし図５によって説明する。
本実施形態は、搬送ライン２０上を搬送される被検出物としてのワークＷの位置、具体的には、中心線Ｌｃを基準として図１における左右方向に関するワークＷの位置ずれを、光電センサ（本発明の検出センサに相当）３０から出力される受光信号の信号レベル（詳細は後述するが安定期における受光信号の信号レベル）に基づいて検出するものである。
【００１７】
光電センサ３０は、大まかには、投光部（本発明の物理量検知手段に相当）３１、受光部（本発明の物理量検知手段に相当）３３、データ処理部４０、出力回路（本発明の出力手段に相当）５１、出力回路制御部（本発明の出力制御手段に相当）５５並びにメモリ５７から構成される。
【００１８】
投光部３１並びに、受光部３３は、共に搬送ライン２０の側方に並んで配置されいる。投光部３１はＬＥＤ等の投光素子から構成され、データ処理部４０の投光指令に基づいて投光動作、すなわち搬送ライン２０に向けて光を出射する。そして、出射された光は、測定対象物たるワークＷが測定エリアに位置していると、側面Ｐで反射され、これが受光部３３によって受光される。受光部３３はホトダイオード等の受光素子から構成され、受光量に応じたレベルの受光信号を出力する。
尚、投光部３１並びに受光部３３による投光・受光動作が「本発明の検知動作に相当し」、その結果得られる受光量が「本発明の物理量に相当し」、受光量を電気信号に変換した受光信号が「本発明の検知信号」に相当している。
【００１９】
これら投光部３１、受光部３３による投光受光動作は、ワークＷが測定エリア内に位置するか、否かに拘わらず無作為に行なわれ、測定が開始されると、受光部３３からは経時的に受光信号が出力される。
【００２０】
図２は、ワークＷが搬送ライン２０の中心Ｌｃ上を正しく搬送されている場合に、受光部３３から出力される受光信号の推移を示す図、図３は、そのうちの安定期を抜き出した図である。図２に示すように、受光信号の信号レベルは、上昇した後、一定期間安定し、その後、減少するような推移をする（変動期１→安定期→変動期２）。これは、移動するワークＷを測定するからであり、変動期１、安定期、変動期２がそれぞれ図２中の（ａ）、（ｂ）、（ｃ）の状態にそれぞれ対応している。
【００２１】
すなわち、ワークＷが測定エリア内にあるときには、投光部３１から出射された光がワークＷの側面Ｐのほぼ中央部分に照射されるので、受光信号のレベルも安定する。これに対して、ワークＷが測定エリアに収まる前の状態（同図に示す（ａ）の状態）、ワークＷが測定エリアから退避しつつある状態（同図に示す（ｃ）の状態）では、投光部３１からの出射された光の一部はワークＷの角部に照射されるので、側面Ｐ上における光の照射面積が一定にならず、受光信号のレベルもそれに応じて変化する。尚、安定期が本発明の検知信号の安定状態に相当し、変動期が検知信号の不安定状態にそれぞれ対応している。
【００２２】
そして、上述した、受光信号がデータ処理部４０に入力される。データ処理部４０は、サンプリング処理部（本発明のサンプリング手段に相当）４１と、第一データ処理部（本発明の測定手段に相当）４５と、第二データ処理部（本発明の判別手段に相当）４７とから構成される。
【００２３】
サンプリング処理部４１は、受光部３３から出力される受光信号の中から、投光部３１の投光タイミングを同期したタイミングで出力される受光信号Ｃｎをサンプリングするものである。このように、投光タイミングと同期した受光信号Ｃｎのみを取り出すことで、仮に、測定中に外乱光が受光部３３に入光したとしても、その影響を抑えることが可能となる。尚、サンプリング処理部４１によって抽出された受光信号Ｃｎが、本発明のサンプリングデータに相当する。
【００２４】
そして、サンプリング処理部４１からは、変動期、安定期にかかわらず抽出された受光信号Ｃｎが出力され、これが、第一データ処理部４５並びに、第二データ処理部４７にそれぞれ入力される。
【００２５】
第一データ処理部４５は、信号が入力されると、予め定められた測定周期（本発明の所定期間に相当する）Ｔごとに、受光信号Ｃｎの平均値を算出する処理を行なう。より具体的に説明すると、測定周期Ｔは、サンプリング処理部４１によって受光信号Ｃｎが８つ抽出される時間幅を有するように予め設定されている。
【００２６】
そのため、図３に示すように、各測定周期Ｔごとに、それぞれ８つの受光信号Ｃｎがサンプリング処理部４１から第一データ処理部４５に入力される。これにより、第一データ処理部４５は、測定周期Ｔ内に入力された全８つの受光信号Ｃｎを対象として演算を行って、信号レベルの平均値を算出する。そして、算出された平均値を測定値として出力回路５１へと出力する。尚、第一データ処理部４５から出力回路５１への測定値の出力は、変動期、安定期に拘わらず、無作為になされる。
【００２７】
次に、第二データ処理部４７であるが、これは第一データ処理部４１と同期をとっており、第一データ処理部４５が測定値をそれぞれ算出する各測定周期Ｔについて、変動期、安定期の種別を判別する。そして、変動期と判別された場合には、同測定周期Ｔの測定値については出力回路５１から外部に出力させないようにする。すなわち出力を停止させるように、出力回路制御部５５を通じて出力制御するものである。尚、変動期において測定された測定値を出力回路５１から外部に出力させないことが、本発明の「前記出力手段に対してその不安定状態に対応してあらかじめ設定された出力を行わせる」の一態様を具現化したものである。
【００２８】
以下、各測定周期Ｔについて安定期、変動期の別を判別する一連の処理について図４、図５を参照して説明するが、ここでは測定周期Ｔａを例に挙げて説明するものとする。また、図４は第二データ処理部４７において、実行される処理の流れを示すフローチャート図、図５は受光信号のうち、変動期から安定期に移行する部分を拡大した図である。
【００２９】
まず、ステップ１０では、カウンタの値Ｍが１にセットされ、その後、ステップ２０に移行する。ステップ２０では、サンプリング処理部４１から受光信号Ｃｎの入力を待つ待機状態となる。
【００３０】
そして、受光信号についてサンプリングが行なわれてサンプリング処理部４１から受光信号Ｃｎが入力されると、ステップ３０に移行する。ステップ３０では、入力された受光信号Ｃｎ（ここでは、Ｃ１）をメモリ５７に記憶させる処理が第二データ処理部４７によって行なわれ、その後、ステップ４０に移行する。
【００３１】
ステップ４０では、カウンタの値Ｍが４であるか、否かについて判定が第二データ処理部４７によって行なわれる。ここでは、カウンタの値Ｍは１であるため、Ｎｏ判定され、ステップ７０に移行する。ステップ７０では、再びカウンタの値Ｍについて８以上であるか、否かについて判定をする処理が第二データ処理部４７によって行なわれる。ここでは、カウンタの値は１であるのでＮｏ判定される結果、ステップ８０に移行する。ステップ８０では、カウンタの値Ｍを更新する処理が行なわれる。すなわち、元のカウンタの値Ｍは１であるから２に更新される。
【００３２】
そして、カウンタの値Ｍが更新されると、再び、ステップ２０に移行してサンプリング処理部４１から受光信号Ｃｎの入力を待つ待機状態となる。
【００３３】
それ以降は、サンプリング処理部４１によりサンプリングが行なわれて受光信号Ｃｎの入力があると、それをメモリ５７に記憶させた後、カウンタの値Ｍを更新する処理を繰り返し行なう（ステップ４０、ステップ７０でいずれもＮｏ判定される処理が繰り返される）。
【００３４】
そして、カウンタの値Ｍが４になると、ステップ４０でＹｅｓ判定される結果、ステップ５０に移行する。ステップ５０では、メモリ５７から受光信号Ｃ１〜Ｃ４を読み出す処理が第二データ処理部４７によって実行されるとともに、第二データ処理部４７は読み出された受光信号Ｃ１〜Ｃ４について、その信号レベルの平均値Ｘ１を算出する処理を行なう（平均値演算１）。この平均値演算１により、図５に示すように、測定周期Ｔａの前半部分について、受光信号Ｃの平均レベルが算出されることとなる。
【００３５】
そして、平均値演算１が完了すると、その後、ステップ６０に移行する。ステップ６０では、算出された平均値Ｘ１をメモリ５７に記憶する処理が行なわれ、その後、ステップ７０に移行する。ステップ７０では、再び、カウンタの値Ｍについて判定が行なわれる。ここでは、カウンタの値Ｍは４であるため、ステップ７０ではＮｏ判定されてステップ８０に移行する。ステップ８０では、カウンタの値Ｍが４から５に更新され、その後、ステップ２０に移行してサンプリング処理部４１からの入力を待つ状態となる。
【００３６】
それ以降の処理は、サンプリング処理部４１から受光信号Ｃｎの入力があると、それをメモリ５７に記憶させた後、カウンタの値Ｍを更新する処理を繰り返し行なう。そして、カウンタの値Ｍが８になると、ステップ７０でＹｅｓ判定される結果、ステップ９０に移行する。
【００３７】
ステップ９０では、メモリ５７から受光信号Ｃ５〜Ｃ８を読み出す処理が第二データ処理部４７によって実行されるとともに、第二データ処理部４７は読み出された受光信号Ｃ５〜Ｃ８について、その信号レベルの平均値Ｘ２を算出する処理を行なう（平均値演算２）。この平均値演算２により、測定周期Ｔａの後半部分について、受光信号Ｃの平均レベルが算出されることとなる（図５参照）。
尚、ステップ５０、ステップ９０において実行される処理により、本発明の平均値算出機能部の果たす処理機能が実現されている。
【００３８】
そして、平均値演算２が完了すると、その後、ステップ１００に移行する。ステップ１００では、第二データ処理部４７によって、先のステップ５０で算出された平均値Ｘ１をメモリ５７から読み出す処理が行なわれるとともに、読み出された平均値Ｘ１と、ステップ９０で算出された平均値Ｘ２を大小比較した後、大きい側の平均値から小さい側の平均値を減算処理して、その差（本発明のサンプリング信号の変化量に相当する）Ｚを算出する処理が第二データ処理部４７によって行なわれる。尚、このステップ１００において実行される処理により、本発明の演算機能部の果たす処理機能が実現されている。
【００３９】
その後、ステップ１１０では、閾値（本発明の所定レベルに相当）Ｙと、ステップ１１０で算出された両平均値Ｘ１、Ｘ２の差Ｚを比較する処理が第二データ処理部４７で行なわれる。ここで、閾値Ｙは、正常に測定が行なわれていれば、受光信号のレベルの変化量がそれを超えないような値に設定されている。例えば、ワークＷを静止させた状態で予備試験を行った結果得られる受光信号Ｃｎのばらつきの最大値とされる。
【００４０】
一方、先にも述べたように、平均値Ｘ１は測定周期Ｔの前半部分の信号の平均レベルであるのに対して、平均値Ｘ２は後半部分の信号の平均レベルであるが、変動期中のＴａ期間では、両平均値Ｘ１ａ、Ｘ２ａの差Ｚは大きく、その値は閾値Ｙを上回る。その結果、ステップ１１０ではＹｅｓと判定（すなわち、信号レベルが不安定状態な変動期と判別される）されて、ステップ１２０に移行する。尚、このステップ１１０における判定処理により、本発明の判別機能部が果たす処理が実現されている。
【００４１】
ステップ１２０では、第二データ処理部４７から出力回路制御部５５に対して、判別信号Ｓａが出力される。出力回路制御部５５は、判別信号Ｓａが入力されると、出力回路５１に対して出力停止信号Ｓｂを出力する（図１参照）。これにより、変動期にある測定周期Ｔａにおいては、第一データ処理部４５から出力回路５１に測定値の入力がなされるものの、これが測定結果として外部に出力されることがない（出力の停止）。尚、出力回路５１の出力を停止させる具体的な構成としては、例えば、出力回路制御部５５により出力回路５１の出力ラインを開放させるなどしてやればよい。
【００４２】
その後、ステップ１３０に移行して、カウンタの値Ｍがリセットされた後、処理は再び、ステップ１０に移行される。これにより、次の測定周期Ｔｂについて、上述したステップ２０からステップ１３０の一連の処理が行なわれ、同測定周期Ｔｂについて受光信号Ｃｎの信号レベルの変化量について判定を行なう処理、すなわち測定周期Ｔｂの前半と後半について、それぞれ平均値Ｘ１、Ｘ２が算出される（ステップ１００）。その後、閾値Ｙと両平均値Ｘ１、Ｘ２の差Ｚを比較する処理が行なわれる（ステップ１１０）。この場合においても、差Ｚが閾値Ｙより大きく、その結果、変動期と判定されるので、上記要領で出力回路５１の出力が停止されることとなる。
【００４３】
その後、測定周期Ｔｂに続いて、測定周期Ｔｃについて行なわれるが、測定周期Ｔｃは安定期にあって、図５に示すように両平均値Ｘ１ｃ、Ｘ２ｃはほぼ等しく、その差Ｚは閾値Ｙを下回るので、ステップ１１０でＮｏ判定される。これにより、処理はステップ１２０をスキップして、ステップ１３０に移行する結果、第二データ処理部４７、出力回路制御部５５による出力回路５１の出力規制が働かない。
【００４４】
そのため、出力回路５１から測定結果に応じた出力がなされる。例えば、測定結果を図示しないモニタに表示させるべく、外部機器に測定信号Ｓｒを出力する等である。これにより、測定信号Ｓｒを受信した外部機器を通じてモニタの表示制御が行なわれて測定値が表示される。この結果、表示された測定値の大きさに基づいて、作業者はワークＷが搬送ライン２０の中央を正しく搬送されているか、否かを知ることが出来る。
【００４５】
すなわち、ワークＷがラインの端を搬送されいる場合（図３における＋方向にずれている場合）には、図３に示す距離Ｄが短くなるので受光信号Ｃｎの信号レベルが高くなり、このときには、出力回路５１を通じて出力される測定値のレベルが上昇する。
一方、これとは反対側に位置ずれた状態（図３における−方向にずれている場合）でワークＷがライン上を搬送されていると、距離Ｄが長くなる結果、受光信号Ｃｎの信号レベルが低くなる。そのため、このときには、出力回路５１を通じて出力される測定値のレベルが下がる。このように、安定期における測定値のレベルから、搬送ライン２０上におけるワークＷの位置ずれを知ることが出来る。
【００４６】
本実施形態によれば、データ処理部４０に第二データ処理部４７を設けて、受光信号Ｃｎの信号レベルの推移を監視することとした。すなわち、各測定期間Ｔについて、信号レベルの変化量の大きさを算出した。そして、変化量の大きさに基づいて変動期、安定期の別を判別し、信頼性の高い測定結果が得られる安定期のみ出力回路５１から測定結果を出力させるようにした。このような構成であれば、比較的簡単な構成（従来例で説明した、位置検出センサ５を廃止できる）で、移動する物体を測定することが可能となる。
【００４７】
また、本実施形態では、測定周期Ｔについて、その前半部分と後半部分の受光信号Ｃｎの信号レベルの平均値を算出し、両平均値の差を信号レベルの変化量とした。このような構成であれば、単に信号のレベル差に基づいて変化量を特定する場合に比べて、誤差を抑えることが出来る、すなわち、ノイズの影響によりデータ中に異常値があったとしても、これが平均化されるからである。
【００４８】
＜実施形態２＞
次に、本発明の実施形態２を図６によって説明する。
実施形態２は、実施形態１の構成に対して、データ処理部４０の構成を一部変更したものであり、他の構成については、実施形態１と同一であるため、同じ部品には同一符号を付して説明を省略するものとする。
【００４９】
実施形態１では、第二データ処理部４７によって、受光信号Ｃｎの信号レベルの推移を監視し、信号レベルの変化量に基づいて変動期、安定期の別を判別した。そして、変動期においては、出力回路制御部５５を通じて出力停止信号Ｓｂを出力回路５１に出力して、出力回路５１の出力動作を停止させることとした。
【００５０】
実施形態２では、第二データ処理部４７によって、受光信号Ｃｎの信号レベルの推移を監視し、信号レベルの変化量に基づいて変動期、安定期の別を判別する点は共通しているが、その後の処理を変えてある。すなわち、実施形態２では、実施形態１の出力回路制御部５５に変えて報知手段６５を設けて、予め決められた所定の報知動作を行なうようにしたものである。報知手段６５は、例えば、表示灯やブザー等であり、所定の報知動作としては、表示灯であれば点滅させる等であり、ブザーであれば警告音を数回鳴らす等である。そして、第二データ処理部４７によって、変動期であると判定されて判別信号Ｓａが入力されると、上記所定の報知動作が報知手段６５により行なわれる。これにより、信号レベルが不安定な変動期には、それを、作業者に知らしめることが可能となる。
【００５１】
＜実施形態３＞
次に、本発明の実施形態３を図７、図８によって説明する。実施形態１では、受光信号Ｃｎの変化量を、平均値に基づいて算出した。すなわち、平均値演算１で、測定周期Ｔ中の前半の受光信号Ｃ１〜Ｃ４について、その平均値Ｘ１を求め、平均値演算２で、測定周期Ｔ中の後半の受光信号Ｃ５〜Ｃ８について、その平均値Ｘ２を求めた。そして、これら両平均値Ｘ１、Ｘ２の差Ｚを受光信号Ｃｎの変化量としたが、実施形態３のものは、このような平均値演算を行なわず、受光信号Ｃｎのレベルの大小から受光信号Ｃｎの変化量を求めている。
【００５２】
具体的には、第二データ処理部６７は、以下に示す抽出処理（本発明の抽出機能部が果たす処理内容に相当）、演算処理（本発明の演算機能が果たす処理内容に相当）を順に行ない、その後、判定処理（本発明の判別機能部が果たす処理内容に相当）を行なう。
【００５３】
以下、図８に示すＴａ期間を例に挙げて説明する。
（１）抽出処理
第二データ処理部６７はＣ１〜Ｃ８の８つの受光信号Ｃｎについて信号レベルの大小を比較する。そして、信号レベルが最小のもの（ここでは、Ｃ１）並びに、信号レベルが最大のもの（ここでは、Ｃ８）をそれぞれ抽出する。
（２）演算処理
第二データ処理部６７は、抽出処理で抽出された両受光信号Ｃ１、Ｃ８の信号レベルについて減算処理を行なってレベル差Ｚ’を算出する。すなわち、Ｚ’＝Ｈ８−Ｈ１とされ、これが受光信号Ｃｎの変化量とされる。
（３）判別処理
第二データ処理部６７は演算処理に続いて、差Ｚ’と閾値Ｙ’の大きさ比較する処理を行なって、差Ｚ’が閾値Ｙ’を上回っているか、否かについて判別する。
【００５４】
このように、信号レベルの大小の比較、並びに簡単な減算処理のみで変化量を算出することとすれば、第二データ処理部４７の処理負担を大幅に軽減でき、センサの処理の高速化に寄与する。
【００５５】
＜他の実施形態＞
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
【００５６】
（１）実施形態１ないし実施形態３では、検出センサとしていずれも、ワークの位置・変位を光の投光・受光を利用して検出する光電センサを例に挙げたが、ワークの位置・変位等を検出するセンサであれば適用可能であり、これには磁気式の近接センサ並びに、超音波センサ等がある。
【００５７】
（２）実施形態１ないし実施形態３では、測定例として搬送ライン上を流れるワークＷの位置を検出するものを例示したが、用途はこれに限定されるものではなく、例えば、搬送ライン上を流れるワークＷの色の違いを検出するもの等であってもよい。
【００５８】
（３）実施形態１ないし実施形態３では、８つの受光信号Ｃｎの平均値を測定値としたが、測定値は、平均値によるものに限らず、特定の受光信号Ｃｎを抽出して、その信号レベルを、測定値としてもよい。
【００５９】
（３）実施形態１では、測定周期Ｔを前半と後半の二つの区間に分けて、各期間についてそれぞれ受光信号Ｃｎの信号レベルの平均値を算出し、その差を信号レベルの変化量としたが、変化量の算出方法はこれに限定されるものでなく、種々の方法が適用可能である。例えば、測定周期を３以上の区間に等分割するとともに、分割された各区間についてそれぞれ平均値を算出する。そして、平均値の中から最大値と最小値を抽出し、その差を変化量とするのである。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】実施形態１に適用された光電センサの電気的構成を示すブロック図
【図２】受光部から出力される受光信号の推移を示す図
【図３】同じく、受光部から出力される受光信号の推移を示す図
【図４】第二データ処理部によって、実行される処理の流れを示すフローチャー図
【図５】変動期から安定期に移行する部分を拡大した図
【図６】実施形態２に適用された光電センサの電気的構成を示すブロック図
【図７】実施形態３に適用された光電センサの電気的構成を示すブロック図
【図８】実施形態３における、受光信号Ｃｎの推移を示す図
【図９】従来例を示す図
【図１０】従来例を示す図
【符号の説明】
【００６１】
３０…光電センサ（検出センサ）
３１…投光部（物理量検知手段）
３３…受光部（物理量検知手段）
４０…データ処理部
４１…サンプリング処理部（サンプリング手段）
４５…第一データ処理部（測定手段）
４７…第二データ処理部（判別手段）
５１…出力回路（出力手段）
５５…出力回路制御部（出力制御手段）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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