(57)【要約】【課題】短期間で、画素の寿命を正確に予測することの可能な表示装置の検査方法、表示装置、表示装置の検査装置及び電子機器を提供する。【解決手段】色バランス調整を行った後に、表示ユニット２の表示エリアＺに形成された複数のカラー画素８のうち、該表示エリアＺの四隅に形成されたカラー画素８ａ〜８ｄを設定検査時間、高輝度で発光させて、設定検査時間直後のカラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度を測定した。そして、その平均発光輝度が予め設定された設定標準輝度以上である場合はその表示装置を合格品とし、設定標準輝度未満である場合は、その表示装置を不合格品とするようにした。【選択図】図４
2007121990.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板上の表示エリアに、複数の走査線と複数のデータ線とを形成するとともに前記各走査線と前記各データ線との交差に対応した位置に発光素子を含む複数個の画素をマトリクス状に配置形成し、画像データに基づいて前記各画素を適宜駆動させて前記表示エリアに画像を表示するようにした表示装置の検査方法であって、
前記表示エリア内に形成された前記各画素のうちの少なくとも一つを選択し、該選択された画素の発光素子を発光させて、前記表示装置の発光寿命を判断するようにしたことを特徴とする表示装置の検査方法。
【請求項２】
請求項１に記載の表示装置の検査方法において、
前記選択された画素の発光素子は、前記表示エリアの各画素の発光素子の輝度調整を行った後に、発光させるようにしたことを特徴とする表示装置の検査方法。
【請求項３】
請求項１または２に記載の表示装置の検査方法において、
前記選択した画素の発光素子を、予め定めた設定時間だけ発光させ、前記設定時間での前記発光素子の発光輝度に基づいて前記表示装置の発光寿命を判断するようにしたことを特徴とする表示装置の検査方法。
【請求項４】
請求項１または２に記載の表示装置の検査方法において、
前記選択した画素の発光素子を、予め定めた設定輝度に至るまで発光させ、前記設定輝度に至るまでの所要時間に基づいて前記予め定めた発光寿命を判断するようにしたことを特徴とする表示装置の検査方法。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれか一つに記載の表示装置の検査方法において、
前記選択した画素の発光素子は、前記画像データに基づいて発光させる時の発光素子の発光輝度よりも高い輝度で発光させるようにしたことを特徴とする表示装置の検査方法。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれか一つに記載の表示装置の検査方法において、
前記選択した画素の発光素子は、室温以上の高温下にて発光させるようにしたことを特徴とする表示装置の検査方法。
【請求項７】
請求項１〜６のいずれか一つに記載の表示装置の検査方法において、
前記選択した画素の発光素子は、前記画像データに基づいて前記各画素を適宜駆動させて前記表示エリアに画像を表示する際に、前記表示エリアにある画素のうち、輝度の時間積分値が相対的に低い画素の発光素子であることを特徴とする表示装置の検査方法。
【請求項８】
請求項１〜７のいずれか一つに記載の表示装置の検査方法において、
前記発光素子は、エレクトロルミネッセンス素子であることを特徴とする表示装置の検査方法。
【請求項９】
請求項８に記載の表示装置の検査方法において、
前記エレクトロルミネッセンス素子は、有機エレクトロルミネッセンス素子であることを特徴とする表示装置の検査方法。
【請求項１０】
請求項１〜９のいずれか一つに記載の表示装置の検査方法において、
前記表示装置は、車両用表示装置であって、前記画像データに基づいてメータ画像を表示することを特徴とする表示装置の検査方法。
【請求項１１】
基板上の表示エリアに、複数の走査線と複数のデータ線とを形成するとともに前記各走査
線と前記各データ線との交差に対応した位置に発光素子を含む複数個の画素をマトリクス状に配置形成し、画像データに基づいて前記各画素を適宜駆動させて前記表示エリアに画像を表示するようにした表示装置の検査装置であって、
前記表示エリア内に形成された前記各画素のうちの少なくとも一つを選択し、該選択された画素の発光素子を発光させるための検査用画像データを記憶した記憶手段と、
前記選択した画素の発光素子の発光輝度を検出する発光輝度検出手段と、
前記検査用画像データを基づいて発光する前記選択した画素の発光素子の発光輝度に基づいて、前記表示装置の予め定めた発光寿命を判断する判断手段と
を備えたことを特徴とする表示装置の検査装置。
【請求項１２】
請求項１１に記載の表示装置の検査装置において、
前記選択した画素の発光素子を、予め定めた設定時間だけ発光させるための設定時間計時手段を備え、
前記判断手段は、前記設定時間での前記発光素子の発光輝度に基づいて前記予め定めた発光寿命を判断するようにしたことを特徴とする表示装置の検査装置。
【請求項１３】
請求項１１に記載の表示装置の検査装置において、
前記選択した画素の発光素子が予め定めた発光輝度に至るまでの所要時間を計時する所要時間計時手段を備え、
前記判断手段は、前記所要時間に基づいて前記予め定めた発光寿命を判断するようにしたことを特徴とする表示装置の検査装置。
【請求項１４】
基板上の表示エリアに、複数の走査線と複数のデータ線とを形成するとともに前記各走査線と前記各データ線との交差に対応した位置に発光素子を含む複数個の画素をマトリクス状に配置形成し、画像データに基づいて前記各画素を適宜駆動させて前記表示エリアに画像を表示するようにした表示装置であって、
前記表示エリア内に形成された前記各画素のうちの少なくとも一つを選択し、該選択された画素の発光素子を発光させるための検査用画像データを記憶した記憶手段と、
発光輝度検出手段からの検出信号に基づいて前記選択した画素の発光素子の発光輝度を演算する演算手段と、
前記検査用画像データを基づいて発光する前記選択した画素の発光素子の発光輝度に基づいて、前記表示装置の予め定めた発光寿命を判断する判断手段と
を備えたことを特徴とする表示装置。
【請求項１５】
請求項１４に記載の表示装置において、
前記選択した画素の発光素子を、予め定めた設定時間だけ発光させるための設定時間計時手段を備え、
前記判断手段は、前記設定時間での前記発光素子の発光輝度に基づいて前記予め定めた発光寿命を判断するようにしたことを特徴とする表示装置。
【請求項１６】
請求項１４に記載の表示装置の検査装置において、
前記選択した画素の発光素子が予め定めた発光輝度に至るまでの所要時間を計時する所要時間計時手段を備え、
前記判断手段は、前記所要時間に基づいて前記予め定めた発光寿命を判断するようにしたことを特徴とする表示装置の検査装置。
【請求項１７】
請求項１〜１０のいずれか一つに記載の表示装置の検査方法で検査されたことを特徴とする表示装置。
【請求項１８】
請求項１７に記載の表示装置を備えたことを特徴とする電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示装置の検査方法、表示装置、表示装置の検査装置及び電子機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、表示ユニットに形成される発光素子を有機エレクトロルミネッセンス素子（以下、「有機ＥＬ素子」という）とした有機エレクトロルミネッセンス表示装置（以下、「有機ＥＬ表示装置」という）がある。有機ＥＬ表示装置は、軽量化、高輝度、高視野角等の観点から注目されている（特許文献１参照）。
【０００３】
この種の有機ＥＬ表示装置は、一般的に、ガラス基板上に、たとえばインクジェット方によって有機ＥＬ素子、及び、該有機ＥＬ素子の発光タイミングを制御するスイッチング素子を含む画素回路等を形成した後に、封止板を取り付けて表示ユニットを形成する。その後、基板４ａ上に形成された各種半導体層等の界面の安定化を図るために熱アニールを行い、続いて、各有機ＥＬ素子の初期劣化の影響を取り除くために各有機ＥＬ素子を高輝度で発光させてバーンイン処理を施す。
【０００４】
その後、別途、データ信号を出力するデータ信号出力手段を実装したフレキシブルプリント回路基板を表示ユニットに接続し、さらに、赤、緑及び青色の光を出射する各種有機ＥＬ素子の発光輝度のバランスの調整を行い、表示装置を所定の装置に組み込んで電子機器として出荷するようにしていた。ところで、出荷後に、表示ユニットがどのような寿命特性を持つかの判断は、上記バーンイン処理時の輝度劣化速度や電流値により推定していたことから、寿命特性の予測が正確にできず精度の高い予測が望まれなかった。
【特許文献１】特開２００１−３５６５５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
最近の実験等の結果から、本来の有機ＥＬ素子の寿命と、バーイン処理時の発光輝度や電流値から推定する有機ＥＬ素子の推定寿命との相関性が弱いということが判明した。このため、本来は使用可能な、つまり、出荷可能であった有機ＥＬ表示装置を、不合格品と判定してしまい、歩留まりが低下してしまうという問題があった。これは、バーイン処理のために各有機ＥＬ素子に流れる電流（駆動電流）が、各有機ＥＬ素子の初期劣化によるばらつきを含むために不安定である等の原因が考えられる。
【０００６】
本発明は、上記の問題点に鑑みなされたもので、短期間で、画素の寿命を正確に予測することの可能な表示装置の検査方法、表示装置の検査装置、表示装置及び電子機器を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の表示装置の検査方法は、基板上の表示エリアに、複数の走査線と複数のデータ線とを形成するとともに前記各走査線と前記各データ線との交差に対応した位置に発光素子を含む複数個の画素をマトリクス状に配置形成し、画像データに基づいて前記各画素を適宜駆動させて前記表示エリアに画像を表示するようにした表示装置の検査方法であって、
前記表示エリア内に形成された前記各画素のうちの少なくとも一つを選択し、該選択された画素の発光素子を発光させて、前記表示装置の発光寿命を判断するようにした。
【０００８】
これによれば、表示エリア内の実際に表示に使用される画素の発光素子を発光させて発光寿命を検査するため、精度の高い寿命検査を行うことができる。しかも、検査のためだけの画素を別途設ける必要がない。
【０００９】
この表示装置の検査方法において、前記選択された画素の発光素子は、前記表示エリアの各画素の発光素子の輝度調整を行った後に、発光させるようにしてもよい。
これによれば、たとえば、フルカラー表示を行う表示装置においては、各画素の発光素子の輝度調整をして画素の色バランス調整をした状態で、画素の寿命を予測するので、表示装置の寿命を正確に予測することができる。
【００１０】
この表示装置の検査方法において、前記選択した画素の発光素子を、予め定めた設定時間だけ発光させ、前記設定時間での前記発光素子の発光輝度に基づいて前記表示装置の発光寿命を判断するようにしてもよい。
【００１１】
これによれば、設定時間後の発光輝度が予め定めた発光輝度以上であるか、あるいは未満であるかを判断することで、表示装置の発光寿命を判断することができる。
この表示装置の検査方法において、前記選択した画素の発光素子を、予め定めた設定輝度に至るまで発光させ、前記設定輝度に至るまでの所要時間に基づいて前記予め定めた発光寿命を判断するようにしてもよい。
【００１２】
これによれば、発光素子の設定輝度に至るまでの所要時間が予め定めた設定輝度に対する所要時間以上であるか、あるいは未満であるかを判断することで、表示装置の発光寿命を判断することができる。
【００１３】
この表示装置の検査方法において、前記選択した画素の発光素子は、前記画像データに基づいて発光させる時の発光素子の発光輝度よりも高い輝度で発光させるようにしてもよい。
【００１４】
これによれば、高輝度で発光させることで発光素子の寿命を加速させることができる。
この表示装置の検査方法において、前記選択した画素の発光素子は、室温以上の高温下にて発光させるようにしてもよい。
【００１５】
これによれば、高温下で発光させることで、発光素子の寿命を加速させることができる。
この表示装置の検査方法において、前記選択した画素の発光素子は、前記画像データに基づいて前記各画素を適宜駆動させて前記表示エリアに画像を表示する際に、前記画像の表示内容を視認する上で支障をきたさない領域にある画素の発光素子であってもよい。
【００１６】
これによれば、検査に使用する画素を、表示に寄与しない位置に形成された画素とすることで、検査後であって標準画像を表示する場合、検査に使用した画素を使用することはない。従って、表示される標準画像の表示品質は低下しない。
【００１７】
この表示装置の検査方法において、前記選択した画素の発光素子は、前記画像データに基づいて前記各画素を適宜駆動させて前記表示エリアに画像を表示する際に、前記表示エリアにある画素のうち、輝度の時間積分値が相対的に低い画素の発光素子であってもよい。
【００１８】
これによれば、検査に使用する画素を、表示に寄与しない位置に形成された画素とすることで、検査後であって画像を表示する場合、検査に使用した画素を使用することはほとんどないか、完全にない。従って、表示される画像の表示品質は低下しない。
【００１９】
この表示装置の検査方法において、前記発光素子は、エレクトロルミネッセンス素子であってもよい。
これによれば、エレクトロルミネッセンス素子を備えた表示装置において、その表示装置の寿命を短時間で正確に判断することができる。
【００２０】
この表示装置の検査方法において、前記エレクトロルミネッセンス素子は、有機エレクトロルミネッセンス素子であってもよい。
これによれば、表示エリアに有機エレクトロルミネッセンス素子を備えた、所謂有機エレクトロルミネッセンス表示装置において、その寿命を短時間で正確に判断することができる。
【００２１】
この表示装置の検査方法において、前記表示装置は、車両用表示装置であって、前記画像データに基づいてメータ画像を表示するようにしてもよい。
これによれば、車両用表示装置に搭載され、例えば車両の車速を表すスピードメータやエンジンの回転数を表すタコメータといったメータ画像を表示するインストルメントパネルの寿命を、短時間で正確に予測することができる。
【００２２】
本発明の表示装置の検査装置は、基板上の表示エリアに、複数の走査線と複数のデータ線とを形成するとともに前記各走査線と前記各データ線との交差に対応した位置に発光素子を含む複数個の画素をマトリクス状に配置形成し、画像データに基づいて前記各画素を適宜駆動させて前記表示エリアに画像を表示するようにした表示装置の検査装置であって、前記表示エリア内に形成された前記各画素のうちの少なくとも一つを選択し、該選択された画素の発光素子を発光させるための検査用画像データを記憶した記憶手段と、前記選択した画素の発光素子の発光輝度を検出する発光輝度検出手段と、前記検査用画像データを基づいて発光する前記選択した画素の発光素子の発光輝度に基づいて、前記表示装置の予め定めた発光寿命を判断する判断手段とを備えている。
【００２３】
これによれば、表示エリア内の実際に表示に使用される画素の発光素子を発光させて発光寿命を検査するため、精度の高い寿命検査を行うことができる。しかも、検査のためだけの画素を別途設ける必要がない。
【００２４】
この表示装置の検査装置において、前記選択した画素の発光素子を、予め定めた設定時間だけ発光させるための設定時間計時手段を備え、前記判断手段は、前記設定時間での前記発光素子の発光輝度に基づいて前記予め定めた発光寿命を判断するようにしてもよい。
【００２５】
これによれば、設定時間後の発光輝度が予め定めた発光輝度以上であるか、あるいは未満であるかを判断することで、表示装置の発光寿命を判断することができる。
この表示装置の検査装置において、前記選択した画素の発光素子が予め定めた発光輝度に至るまでの所要時間を計時する所要時間計時手段を備え、前記判断手段は、前記所要時間に基づいて前記予め定めた発光寿命を判断するようにしてもよい。
【００２６】
これによれば、発光素子の設定輝度に至るまでの所要時間が予め定めた設定輝度に対する所要時間以上であるか、あるいは未満であるかを判断することで、表示装置の発光寿命を判断することができる。
【００２７】
本発明の表示装置は、基板上の表示エリアに、複数の走査線と複数のデータ線とを形成するとともに前記各走査線と前記各データ線との交差に対応した位置に発光素子を含む複数個の画素をマトリクス状に配置形成し、画像データに基づいて前記各画素を適宜駆動させて前記表示エリアに画像を表示するようにした表示装置であって、前記表示エリア内に
形成された前記各画素のうちの少なくとも一つを選択し、該選択された画素の発光素子を発光させるための検査用画像データを記憶した記憶手段と、発光輝度検出手段からの検出信号に基づいて前記選択した画素の発光素子の発光輝度を演算する演算手段と、前記検査用画像データを基づいて発光する前記選択した画素の発光素子の発光輝度に基づいて、前記表示装置の予め定めた発光寿命を判断する判断手段とを備えたことを特徴とする表示装置。
【００２８】
これによれば、表示エリア内の実際に表示に使用される画素の発光素子を発光させて発光寿命を検査するため、精度の高い寿命検査を行うことができる。しかも、検査のためだけの画素を別途設ける必要がない。
【００２９】
この表示装置において、前記選択した画素の発光素子を、予め定めた設定時間だけ発光させるための設定時間計時手段を備え、前記判断手段は、前記設定時間での前記発光素子の発光輝度に基づいて前記予め定めた発光寿命を判断するようにしてもよい。
【００３０】
これによれば、設定時間後の発光輝度が予め定めた発光輝度以上であるか、あるいは未満であるかを判断することで、表示装置の発光寿命を判断することができる。
この表示装置の検査装置において、前記選択した画素の発光素子が予め定めた発光輝度に至るまでの所要時間を計時する所要時間計時手段を備え、前記判断手段は、前記所要時間に基づいて前記予め定めた発光寿命を判断するようにしてもよい。
【００３１】
これによれば、発光素子の設定輝度に至るまでの所要時間が予め定めた設定輝度に対する所要時間以上であるか、あるいは未満であるかを判断することで、表示装置の発光寿命を判断することができる。
【００３２】
本発明の表示装置は、上記記載の表示装置の検査方法で検査されている。
これによれば、上記表示装置は、表示エリア内の実際に表示に使用される画素の発光素子を発光させて発光寿命を検査するため、精度の高い寿命検査が行われた表示装置である。従って、検査のためだけの画素を設けるスペースは必要がないので、例えば、検査のためだけの画素を表示エリアの外周にある非表示エリアである額縁の面積を小さくすることができる。従って、表示装置の小型化が可能になる。
【００３３】
本発明の電子機器は、上記記載の表示装置を備えている。
これによれば、上記表示装置を備えた電子機器として、たとえば、車両に取り付けられ、該車両の車速を表わすスピードメータの画像やエンジンの回転数を表わすタコメータの画像を表示するインストルメントパネルに適用することができる。そして、この場合、インストルメントパネルの発光寿命を短時間で正確に判断することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３４】
以下、本発明の表示装置を車載用表示装置に具体化した各実施形態を、図面に従って説明する。
（第１実施形態）
第１実施形態に係る表示装置を図１〜図８に従って説明する。
【００３５】
図１に示すように、本実施形態の車両用表示装置（単に「表示装置」という）１は、車両Ｃの電子機器としてのインストルメントパネルＱｗに搭載されている。表示装置１は、その表示ユニット２に車両Ｃの車速を表すメータ画像としてのスピードメータの画像Ｇを表示するフルカラー表示可能な表示装置である。
【００３６】
図２は、表示ユニット２に表示されるスピードメータの画像Ｇの一表示態様を示す。図
２において、スピードメータの画像Ｇは、それぞれ、「０」、「２０」、「４０」、…、「１６０」の車両Ｃの車速を示す数値Ｍａが所定の間隔で表示される。また、各数値Ｍａに囲まれる位置に指針Ｍｂが表示される。指針Ｍｂは、その時々の車両Ｃの車速に応じて、その基端部Ｍｃを回動中心に回動表示されてその時々の車速を指標するようになっている。
【００３７】
図３は、表示装置１の電気的構成を説明するための図である。図３に示すように、表示装置１は、表示ユニット２と制御ユニット３とから構成されている。表示ユニット２は、基板４ａ上の中央に略四角形状の前記した表示エリアＺを備えている。基板４ａ上であって、表示エリアＺ以外のエリア（非表示エリア）には、一対の走査線駆動回路５等が形成されている。
【００３８】
図４に示すように、表示エリアＺには、一方向に沿って延設されたｎ本の走査線ＬＹ１，ＬＹ２，・・・，ＬＹｎと、各走査線ＬＹ１〜ＬＹｎに直交するように延設されたｍ本のデータ線ＬＸ１，ＬＸ２，・・・，ＬＸｍ−１，ＬＸｍが設けられている。また、表示エリアＺ内であって各走査線ＬＹ１〜ＬＹｎと各データ線ＬＸ１〜ＬＸｍの交差に対応した位置には、それぞれ赤、緑及び青色用画素８Ｒ，８Ｇ，８Ｂが形成されている。
【００３９】
また、表示エリアＺには、データ線ＬＸ１〜ＬＸｍと並行にｍ本の電源線Ｌｏが延設されている。データ線ＬＸ１，ＬＸ４，・・・に平行に延設された電源線Ｌｏは、赤色用画素８Ｒに接続され、データ線ＬＸ２，・・・，ＬＸｍ−１に平行に延設された電源線Ｌｏは、緑色用画素８Ｇに接続され、データ線ＬＸ３，・・・，ＬＸｍに平行に延設された電源線Ｌｏは、青色用画素８Ｂに接続されている。
【００４０】
図５に示すように、赤色用画素８Ｒは、赤用有機ＥＬ素子９Ｒ、スイッチング素子Ｓｗ、保持キャパシタＣｏ及び駆動トランジスタＱｄを備えている。赤用有機ＥＬ素子９Ｒは、その発光層（図示略）が有機材料で構成された有機エレクトロルミネッセンス素子であって、本実施形態では、発光層がポリフルオレン系やポリフェニレンビレニン系の公知の有機発光材料で構成されている。
【００４１】
スイッチング素子Ｓｗは、例えば、導電型がＮ型のトランジスタであって、ゲートは対応する位置に延設された走査線ＬＹ１，ＬＹ２，…に接続され、ドレインは対応する位置に延設されたデータ線ＬＸ１，ＬＸ４，…に接続され、ソースは保持キャパシタＣｏの一方の電極に接続されている。また、保持キャパシタＣｏは、その一方の電極に駆動トランジスタＱｄのゲートが、また、他方の電極に電源線Ｌｏが接続されている。尚、図５に示すように、緑色用画素８Ｇ及び青色用画素８Ｂの回路構成は、赤色用画素８Ｒと同じであるので、緑色用画素８Ｇ及び青色用画素８Ｂについては、符号を同じにしてその詳細な説明を省略する。
【００４２】
そして、図４に示すように、各赤、緑及び青色用画素８Ｒ，８Ｇ，８Ｂは、各走査線ＬＹ１〜ＬＹｎに沿って、赤色用画素８Ｒ→緑色用画素８Ｇ→青色用画素８Ｂ→赤色用画素８Ｒ→…→青色用画素８Ｂの順に配設されている。また、データ線ＬＸ１〜ＬＸｍに沿っては、同色の色が配設されている。そして、隣接して配置された赤色用画素８Ｒ、緑色用画素８Ｇ及び青色用画素８Ｂで一つのカラー画素８を構成している。
【００４３】
また、図３に示すように、走査線駆動回路５は、表示エリアＺを挟み込むようにして前記非表示エリア上に左右一対ずつ形成されている。図４に示すように、各走査線駆動回路５は、走査線ＬＹ1〜ＬＹnに接続され、走査線ＬＹ1〜ＬＹnに走査信号ＳＣ1，ＳＣ2，ＳＣ3，…ＳＣnを同期して出力することで、カラー画素を１行毎に選択する。例えば、走査線ＬＹ1〜ＬＹnを、第１の走査線ＬＹ1→第２の走査線ＬＹ2→第３の走査線ＬＹ3→…→
第ｎの走査線ＬＹn→第１の走査線ＬＹ1→…の順に走査信号ＳＣ1〜ＳＣnを出力することで、各行のカラー画素８を線順次選択する。
【００４４】
また、図３に示すように、基板４ａの下方側には、同基板４ａと異方性導電性フィルム（ＡＣＦ）にて接続したフレキシブルプリント回路基板４ｂが設けられている。フレキシブルプリント回路基板４ｂには、データ線駆動回路１１が実装されている。データ線駆動回路１１は、図４に示すように、その内部に各データ線ＬＸ1〜ＬＸmに対応したｍ個のデジタル・アナログ変換回路Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３，…，Ｄｍを備えている。各デジタル・アナログ変換回路Ｄ１〜Ｄｍは、公知のデジタル・アナログ変換回路であって、制御ユニット３から出力される画像データＧＤを、基準電圧Ｖkに応じた大きさのデータ信号に変換し
、対応するデータ線ＬＸ1〜ＬＸmに出力する。たとえば、画像データＧＤが、スピードメータの画像Ｇを形成するための画像データであれば、そのスピードメータの画像Ｇを、基準電圧Ｖkに応じた大きさのデータ信号に変換し、対応するデータ線ＬＸ1〜ＬＸmに出力
する。
【００４５】
尚、説明の便宜上、図３に示すように、表示エリアＲに形成された複数のカラー画素８のうち、四隅に配置された４つのカラー画素８（図３中斜線で示されたカラー画素８）を符号「８ａ」，「８ｂ」，「８ｃ」，「８ｄ」で示す。この４つのカラー画素８ａ〜８ｄは、スピードメータの画像Ｇの数値Ｍａ、指針Ｍｂ及びその基端部Ｍｃの表示をしない領域であって、表示エリアＺにある画素８のうち、輝度の時間積分値が相対的に低い領域に配置されたカラー画素８である。
【００４６】
詳しくは、カラー画素８ａは、第１の走査線ＬＹ1と、第１〜第３のデータ線ＬＸ1〜ＬＸ3との各交差に対応した赤用画素８Ｒ、緑用画素８Ｇ及び青用画素８Ｂから構成される
。また、カラー画素８ｂは、第ｎの走査線ＬＹnと、第１〜第３のデータ線ＬＸ1〜ＬＸ3
との各交差に対応した赤用画素８Ｒ、緑用画素８Ｇ及び青用画素８Ｂから構成される。さらに、カラー画素８ｃは、第１の走査線ＬＹ1と、第ｍ−２〜第ｍのデータ線ＬＸm-2〜ＬＸmとの各交差に対応した赤用画素８Ｒ、緑用画素８Ｇ及び青用画素８Ｂから構成される
。さらにまた、カラー画素８ｄは、第ｎの走査線ＬＹnと、第ｍ−２〜第ｍのデータ線Ｌ
Ｘm-2〜ＬＸmとの各交差に対応した赤用画素８Ｒ、緑用画素８Ｇ及び青用画素８Ｂから構成される。
【００４７】
図３に示すように、制御ユニット３は、ロジック系電源回路２１、パネル用電源回路２２、基準電圧生成回路２３、パネル制御回路２４及び画像処理回路２５を備え、ユニット基板３Ｓ上に実装されている。
【００４８】
ロジック系電源回路２１及びパネル用電源回路２２は、図示しない外部電源回路から供給される所定電源Ｅｏに基づいて表示ユニット２に設けられた各駆動回路５，１１及びカラー画素８を駆動させるための各種電源電圧を生成するための回路である。ロジック系電源回路２１は、例えば、前記電源Ｅｏに基づいて電源電圧Ｖｓを生成し、走査線駆動回路５、データ線駆動回路１１に出力する。パネル用電源回路２２は、前記電源Ｅｏに基づいて電源電圧Ｖｏを生成し、各電源線Ｌｏを介して各画素８Ｒ，８Ｇ，８Ｂに出力する。基準電圧生成回路２３は、データ線駆動回路１１から出力されるデータ信号の基準値を与える基準電圧Ｖｋを生成し、各デジタル・アナログ変換回路１１ａ〜１１ｍに出力する。
【００４９】
パネル制御回路２４は、外部から供給される図示しないクロック信号ＣＬＫに基づいて各走査線駆動回路５やデータ線駆動回路１１の同期制御を行うための制御信号Ｓａ，Ｓｂを生成し各駆動回路５，１１へ出力する。
【００５０】
画像処理回路２５は、図示しない外部画像生成回路から出力される画像データＧＤを入
力し、その入力した画像データＧＤを、パネル制御回路２４から出力される制御信号Ｓａ，Ｓｂのタイミングで、順次、データ線駆動回路１１に出力する。
【００５１】
例えば、外部画像生成回路（図示略）が、車両Ｃに搭載された図示しない電子制御装置に接続された場合では、スピードメータの画像Ｇの画像データＧＤが入力される。そして、この場合、画像処理回路２７は、スピードメータの画像Ｇを表示させるための画像データＧＤをデータ線駆動回路１１に出力する。
【００５２】
また、例えば、外部画像生成回路が後述する検査装置４０であって、その検査装置４０に接続された場合では、検査用画像データＫＧＤが入力されるようになっている。この検査用画像データＫＧＤは、本実施形態においては、前記したカラー画素８ａ〜８ｄのみを高輝度で発光させた画像を表示させるための画像データである。そして、検査用画像データＫＧＤが入力された場合では、画像処理回路２７は、パネル制御回路２４から出力される制御信号Ｓａ，Ｓｂに従って、その検査用画像データＫＧＤをデータ線駆動回路１１に出力する。
【００５３】
次に、上記のように構成された表示装置１（表示ユニット２）の発光寿命の検査を行う検査装置４０の電気的構成を図６に従って説明する。
図６は、検査装置４０の電気的構成を示す電気ブロック回路であって、検査装置４０は検査用制御回路４１を備えている。検査用制御回路４１は、判断手段及び演算手段としての中央処理装置（ＣＰＵ）４１ａ、記憶手段としてのＲＯＭ４１ｂ、ＲＡＭ４１ｃを備えている。
【００５４】
ＣＰＵ４１ａは、ＲＯＭ４１ｂに記憶されて表示装置１（表示ユニット２）を検査するための検査プログラムに従って動作を行う。また、ＲＯＭ４１ｂは、検査用画像データＫＧＤを記憶している。この検査用画像データＫＧＤは、有機ＥＬ素子９Ｒ，９Ｇ，９Ｂの発光寿命を検査するための画像データであって、本実施形態では、表示エリアＺに配置されたカラー画素８のうち、四隅に配置された前記画素８ａ〜８ｄの有機ＥＬ素子９Ｒ，９Ｇ，９Ｂのみを発光させてその発光寿命を検出する。つまり、検査用画像データＫＧＤは、前記各カラー画素８ａ〜８ｄのみを、他のカラー画素８に比べてその使用期間（寿命）を加速させるのに十分な高い輝度で発光させる旨の画像データである。詳しくは、表示装置１の製造工程において、基板４ａ上に走査線駆動回路５や画素８等を形成した後に、データ線駆動回路１１が実装された基板４ｂを接続し、その後に表示エリアＺに表示されるスピードメータの画像Ｇの色のバランスを調整するために各有機ＥＬ素子９Ｒ，９Ｇ，９Ｂの発光輝度を調整する（以下、「色バランス調整」という）。検査用画像データＫＧＤは、その色バランス調整をした後に、各カラー画素８の輝度に比べてカラー画素８ａ〜８ｄを４〜１０倍の輝度で発光させ、且つカラー画素８ａ〜８ｄ以外の他のカラー画素８を発光させない旨の画像データである。
【００５５】
さらに、ＲＯＭ４１ｂは、予め定めた設定検査時間Ｔｋ及び予め定めた設定標準輝度Ｌｓを記憶している。
設定検査時間Ｔｋは、検査用画像データＫＧＤに基づいて前記四隅に配置されたカラー画素８ａ〜８ｄのみを発光させる発光時間である。例えば、このカラー画素８ａ〜８ｄを検査用画像データＫＧＤに基づいて発光させることで、カラー画素８ａ〜８ｄの劣化速度を他のカラー画素８に比べて３０〜５０倍に加速させるのに要する時間である。
【００５６】
設定標準輝度Ｌｓは、発光寿命を判断するための基準値である。設定標準輝度Ｌｓが、前記設定検査時間Ｔｋだけ発光させた時のカラー画素８ａ〜８ｄの発光輝度の平均発光輝度Ｌｎが設定標準輝度Ｌｓ以上のとき、表示装置１の発光寿命は予め定めた寿命よりも長いとして判断される。平均発光輝度Ｌｎが設定標準輝度未満のとき、表示装置１の発光寿
命は、予め定めた寿命より短いと判断される。尚、本実施形態では、設定検査時間Ｔｋ及び設定標準輝度Ｌｓは、予め試験、実験等によって求めた値である。
【００５７】
ＲＡＭ４１ｃは、ＣＰＵ４１ａが演算した演算結果を一時記憶する。また、検査用制御回路４１は、設定時間計時手段及び所要時間計時手段としてのタイマ４２を備えている。タイマ４２は、検査用画像データＫＧＤに基づいてカラー画素８ａ〜８ｄが発光している発光時間（検査時間）Ｔｎを計時する。
【００５８】
また、検査装置４０は、四隅に配置されたカラー画素８ａ〜８ｄが発光する輝度を検出する発光輝度検出手段としての第１〜第４輝度センサ４３ａ〜４３ｄを備えている。第１輝度センサ４３ａはカラー画素８ａの輝度を検出し、第２輝度センサ４３ｂはカラー画素８ｂの輝度を検出し、第３輝度センサ４３ｃはカラー画素８ｃの輝度を検出し、第４輝度センサ４３ｄはカラー画素８ｄの輝度を検出するためのものである。また、第１〜第４輝度センサ４３ａ〜４３ｄは、ＣＰＵ４１ａと電気的に接続され、それぞれ検出信号をＣＰＵ４１ａに出力する。ＣＰＵ４１ａは、第１〜第４輝度センサ４３ａ〜４３ｄからの検出信号を入力し、第１〜第４輝度センサ４３ａ〜４３ｄの発光輝度を算出し、その算出した各カラー画素８ａ〜８ｄの発光輝度の平均発光輝度Ｌｎを算出するようになっている。
【００５９】
次に、表示装置１（表示ユニット２）の検査方法について図８の検査装置４０の動作を示すフローチャートに従って説明する。
いま、従来のように、基板４ａの表示エリアＲ上に、有機ＥＬ素子９Ｒ，９Ｇ，９Ｂやスイッチング素子Ｓｗ等を形成した後に、封止基板（図示略）を取り付け、アニール処理を行う。続いて、有機ＥＬ素子９Ｒ，９Ｇ，９Ｂを、例えば１０００カンデラ程度といった高輝度で５〜１０時間継続して発光させて各有機ＥＬ素子９Ｒ，９Ｇ，９Ｂの初期劣化の影響を取り除く、所謂バーンイン処理を施す。その後、別途形成された、データ線駆動回路１１が実装された基板４ｂを、基板４ａに接続（ＡＣＦ接続）して、表示ユニット２を形成する。続いて、表示ユニット２に制御ユニット３を接続し、表示されるスピードメータの画像Ｇが所望の色合いで表示されるように色バランス調整を行う。
【００６０】
次に、表示装置１（表示ユニット２）の発光寿命の検査を行うべく、制御ユニット３に検査装置４０を接続する。すると、検査装置４０（ＣＰＵ４１ａ）は、検査用画像データＫＧＤを制御ユニット３の画像処理回路２５出力するとともに、タイマ４１ｄを駆動させて検査時間Ｔｎの計時を開始する（ステップＳ１−１）。
【００６１】
すると、四隅に配置されたカラー画素８ａ〜８ｄが高輝度で発光する。そして、ＣＰＵ４１ａは、検査時間Ｔｎが予め設定した設定検査時間Ｔｋになるまで、カラー画素８ａ〜８ｄを高輝度で発光させ続ける（ステップＳ１−２、Ｓ１−３）。
【００６２】
やがて、検査時間Ｔｎ（発光時間）が設定検査時間Ｔｋになると（ステップＳ１−３でＹＥＳ）、ＣＰＵ４１ａは、第１〜第４輝度センサ４３ａ〜４３ｄからの検出信号に基づいて、その時の各カラー画素８ａ〜８ｄの発光輝度をそれぞれ計測する（ステップＳ１−４）。そして、各カラー画素８ａ〜８ｄの各発光輝度の平均値（平均発光輝度）Ｌｎを算出する。
【００６３】
図７は、異なった２種類の表示ユニット２（２Ａ，２Ｂ）の各カラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度Ｌｎの経時変化（輝度プロファイル）を示す。図７において、実線で示された輝度プロファイルは、表示ユニット２Ａの各カラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度Ｌｎの輝度プロファイルを示し、２点鎖線で示された輝度プロファイルは、表示ユニット２Ｂの各カラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度Ｌｎの輝度プロファイルを示している。
【００６４】
図７に示すように、設定検査時間Ｔｋの時点では、表示ユニット２Ａの各カラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度Ｌn1は、設定標準輝度Ｌｓ以上であるが、表示ユニット２Ｂの各カラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度Ｌn２は、設定標準輝度Ｌｓ未満である。従って、
表示ユニット２Ｂのカラー画素８の輝度は、設定検査時間Ｔｋですでに設定標準輝度Ｌｓ未満となることから、その寿命が短いものであることが推定される。
【００６５】
そこで、設定検査時間Ｔｋの時点で計測されたカラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度Ｌｎが設定標準輝度Ｌｓ以上である場合は（ステップＳ１−５でＹＥＳ）、ＣＰＵ４１ａは、その表示ユニット２（２Ａ）の発光寿命は予め定めた寿命以上となると判断する。そして合格品であると判定する（ステップＳ１−６）。
【００６６】
一方、計測されたカラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度Ｌｎが設定標準輝度Ｌｓ未満である場合は（ステップＳ１−５でＮＯ）、ＣＰＵ４１ａは、その表示ユニット２（２Ｂ）の発光寿命は予め定めた寿命未満となると判断して不合格品であると判定する（ステップＳ１−７）。
【００６７】
上記実施形態によれば、以下の作用効果を奏する。
（１）上記実施形態によれば、表示ユニット２の表示エリアＺに形成された複数のカラー画素８のうち、該表示エリアＺの四隅に形成されたカラー画素８を高輝度で発光させ、その輝度の低下を検出することで寿命を予測するようにした。従って、実際に表示に使用されるカラー画素８を使用するので、高い精度で寿命を予測することができる。
【００６８】
（２）上記実施形態によれば、また、実際に表示に使用されるカラー画素８を使って寿命検査を行うことから、従来のように、検査のためだけのカラー画素８を使って寿命検査を行う別途設ける必要がない。従って、検査のためだけの画素を設けるスペースは必要がないので、例えば、検査のためだけの画素を表示エリアの外周にある非表示エリアである額縁の面積を小さくすることができる。この結果、表示装置の小型化が可能になる。
【００６９】
（３）しかも、上記実施形態によれば、色バランス調整を行った後のカラー画素８ａ〜８ｄを使用して輝度の寿命を測定するようにしたので、実際にスピードメータの画像Ｇを表示する場合の条件に合った状態で輝度の寿命を測定することができる。この結果、カラー画素８の寿命を正確に予測することができる。また、これにより、本質的に使用不可能な表示装置１（表示ユニット２）のみを、不合格品と判定するので、従来に比べて表示装置１（表示ユニット２）の歩留まりを向上させることができる。
【００７０】
（４）上記実施形態によれば、カラー画素８ａ〜８ｄは、スピードメータの画像Ｇの数値Ｍａ、指針Ｍｂ及びその基端部Ｍｃの表示をしない領域であって、表示エリアＺにある画素８のうち、輝度の時間積分値が相対的に低い領域に配置されたカラー画素８を使用した。従って、検査後にスピードメータの画像Ｇを表示する場合、カラー画素８ａ〜８ｄを発光させることはないので、スピードメータの画像Ｇの表示品質が低下させることはない。
【００７１】
（５）上記実施形態によれば、設定検査時間Ｔｋ直後のカラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度Ｌｎを測定し、その平均発光輝度Ｌｎが予め設定された設定標準輝度Ｌｓ以上である場合はその表示装置１を合格品とし、設定標準輝度Ｌｓ未満である場合は、その表示装置１を不合格品とした。従って、検査に要する時間は、設定検査時間Ｔｋであるので、たとえば、設定標準輝度Ｌｓを高くしそれに伴って設定検査時間Ｔｋを短く設定することで、検査に要する時間を短時間で行うことができる。
【００７２】
（６）上記実施形態によれば、各カラー画素８は、有機ＥＬ素子９Ｒ，９Ｇ，９Ｂをそ
れぞれ備えている。従って、有機ＥＬ素子９Ｒ，９Ｇ，９Ｂを発光素子として使用した表示装置１（表示ユニット２）の寿命を正確に予測することができる。
【００７３】
（第２実施形態）
第２実施形態に係る表示装置１（表示ユニット２）の検査方法について図１０に示すフローチャートに従って説明する。本実施形態は、その検査方法が第１実施形態と相違するだけなので、説明の便宜上、その相違する部分についてのみ説明する。
【００７４】
まず、上記第１実施形態と同様にして、基板４ａの表示エリアＲ上に、封止基板（図示略）を取り付けた後、アニール処理及びバーンイン処理を順次施し、さらに、データ線駆動回路１１が実装された基板４ｂを前記基板４ａに接続（ＡＣＦ接続）、表示ユニット２を形成する。そして、表示ユニット２に制御ユニット３を接続し、各カラー画素８の色バランス調整を行う。
【００７５】
次に、表示装置１の発光寿命の検査を行うべく、制御ユニット３に検査装置４０を接続する。すると、検査装置４０（ＣＰＵ４１ａ）は、検査用画像データＫＧＤを制御ユニット３の画像処理回路２５に出力するとともに、タイマ４１ｄを駆動させて検査時間（発光時間）Ｔｎの計時を開始する（ステップＳ２−１）。
【００７６】
すると、表示エリアＲの四隅に配置されたカラー画素８ａ〜８ｄが高輝度で発光する（ステップＳ２−２）。そして、ＣＰＵ４１ａは、第１〜第４輝度センサ４３ａ〜４３ｄからの検出信号に基づいてその時の各カラー画素８ａ〜８ｄの発光輝度をそれぞれ計測し平均発光輝度Ｌｎを求めながらその平均発光輝度Ｌｎが設定標準輝度Ｌｓになるまで、カラー画素８ａ〜８ｄを高輝度で発光させ続ける（ステップＳ２−２〜Ｓ２−４）。
【００７７】
やがて、カラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度Ｌｎが設定標準輝度Ｌｓになる（ステップＳ２−４でＹＥＳ）と、ＣＰＵ４１ａは、平均発光輝度Ｌｎが設定標準輝度Ｌｓになるまでの検査時間Ｔｎを記憶する。
【００７８】
図９は、図７と同様に、異なった２種類の表示ユニット２（２Ａ，２Ｂ）のカラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度Ｌｎの経時変化（輝度プロファイル）を示す。図９において、時間Ｔｎ1は、表示ユニット２Ａのカラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度Ｌｎが前記第１
実施形態で説明した設定標準輝度Ｌｓになるのに要する時間であり、時間Ｔｎ2は、表示
ユニット２Ｂのカラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度Ｌｎが設定標準輝度Ｌｓになるのに要する時間である。また、図中、設定時間ＴＳは、各カラー画素８ａ〜８ｄを高輝度で発光させることで設定標準輝度Ｌｓに至るまでに要する標準時間であって、本実施形態では前記第１実施形態で説明した設定検査時間Ｔｋである。
【００７９】
そして、図９に示すように、時間Ｔｎ1は、設定時間ＴＳに比べて長いが、一方、時間
Ｔｎ2は、設定時間ＴＳに比べて短い。従って、表示ユニット２Ｂのカラー画素８は、設
定時間ＴＳより速く輝度が低下することが推定される。
【００８０】
そこで、検査時間Ｔｎを読み出し（ステップＳ２−５）、設定時間ＴＳと比較する（ステップＳ２−６）。その結果、検査時間Ｔｎが設定時間ＴＳ以上である場合は（ステップＳ２−６でＹＥＳ）、ＣＰＵ４１ａは、その表示ユニット２は所定期間使用後のカラー画素８の発光輝度が標準輝度以上であって表示ユニット２の発光寿命は予め定められた寿命以上となると判断して合格品であると判定する（ステップＳ２−７）。
【００８１】
一方、検査時間Ｔｎが設定時間ＴＳ未満である場合は（ステップＳ２−６でＮＯ）、その表示ユニット２は所定期間使用後の輝度が標準輝度未満となり予め定められた寿命未満
となると判断して不合格品であると判定する（ステップＳ２−８）。
【００８２】
上記実施形態によれば、以下の作用効果を奏する。
（１）上記実施形態によれば、カラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度Ｌｎが設定標準輝度Ｌｓになるまでに要する検査時間Ｔｎを測定するようにした。そして、検査時間Ｔｎが設定時間ＴＳ以上である場合は、その表示装置１を合格品とし、設定時間ＴＳ未満である場合は、その表示装置１を不合格品とした。従って、実際に表示に使用されるカラー画素８を使用して検査をするので、高い精度で寿命を予測することができる。
【００８３】
尚、この発明は以下のように変更して具体化することもできる。
・上記各実施形態では、制御ユニット３をユニット基板３Ｓ上に実装したが、本発明はこれに限定されるものではなく、表示ユニット２の基板４ｂ上に実装してもよい。このようにすることによっても上記各実施形態と同様な効果を得ることができる。
【００８４】
・上記各実施形態では、表示ユニット２の表示エリアＺに形成されたカラー画素８ａ〜８ｄを高輝度で発光させてその輝度の寿命を測定するようにしたが、これを、室温以上の高温下にて行うようにしてもよい。この場合、高温下で行うことでカラー画素８ａ〜８ｄの劣化速度をより加速させることができるので、上記各実施形態に比べてカラー画素８ａ〜８ｄを低い輝度で発光させてもカラー画素８ａ〜８ｄの劣化速度を十分に加速させることができる。従って、カラー画素８ａ〜８ｄに供給するデータ信号の値を小さくすることができるので、カラー画素８の負担を低減することができる。
【００８５】
・上記第１実施形態では、検査プログラム、検査用画像データＫＧＤ、設定検査時間Ｔｋ、予め定めた設定標準輝度Ｌｓ、タイマ４２及び第１〜第４輝度センサ４３ａ〜４３ｄを備えた検査用制御回路４１を有する検査装置４０を、表示装置１と別途設けた。そして、その検査装置４０の検査用制御回路４１から出力される検査用画像データＫＧＤを画像処理回路２５に供給することで、カラー画素８ａ〜８ｄを高輝度で発光させる。そして、タイマ４２にて所要時間経過を計時し、時間経過後の検査用カラー画素８a1〜８a4の発光輝度の平均発光輝度Ｌｎを算出するようにした。
【００８６】
これを、検査プログラム、検査用画像データＫＧＤ、設定検査時間Ｔｋ、予め定めた設定標準輝度Ｌｓ及びタイマ４２を備えた検査用制御回路４１を表示装置１の制御ユニット３のユニット基板３Ｓ上に実装し、第１〜第４輝度センサ４３ａ〜４３ｄを別途外部輝度検出センサとして設けるようにしてもよい。このようにすることでも、上記第１実施形態と同様の効果を得ることができる。
【００８７】
・上記第２実施形態では、検査プログラム、検査用画像データＫＧＤ、設定時間ＴＳ、予め定めた設定標準輝度Ｌｓ、タイマ４２及び第１〜第４輝度センサ４３ａ〜４３ｄを備えた検査用制御回路４１を有する検査装置４０を、表示装置１と別途設けた。そして、その検査装置４０の検査用制御回路４１から出力される検査用画像データＫＧＤを画像処理回路２５に供給することで、カラー画素８ａ〜８ｄを高輝度で発光させる。そして、カラー画素８ａ〜８ｄの平均発光輝度Ｌｎが設定標準輝度Ｌｓに至るまでに要する時間を算出するようにした。
【００８８】
これを、検査プログラム、検査用画像データＫＧＤ、設定時間ＴＳ、予め定めた設定標準輝度Ｌｓ及びタイマ４２を備えた検査用制御回路４１を表示装置１の制御ユニット３のユニット基板３Ｓ上に実装し、第１〜第４輝度センサ４３ａ〜４３ｄを別途外部輝度検出センサとして設けるようにしてもよい。このようにすることでも、上記第２実施形態と同様の効果を得ることができる。
【００８９】
・上記各実施形態では、寿命検査に使用するカラー画素８ａ〜８ｄを、表示エリアＺの四隅に形成されたカラー画素８としたが、本発明はこれに限定されるものではない。寿命検査に使用するカラー画素８ａ〜８ｄは、表示に使用する他の画素８と同じ構成を有した画素であるので、表示エリアＺ上に表示される画像の表示デザインに応じて、寿命検査に使用する画素８を自由に選択することができる。
【００９０】
・上記各実施形態では、カラー画素８ａ〜８ｄを４つ用意したが、本発明はこれに限定されるものではなく、４つ以上のカラー画素８を寿命検査に使用してもよく、また、４つ以下のカラー画素８を寿命検査に使用しても本発明は適応できる。
【００９１】
・上記各実施形態では、車速を表示するスピードメータの画像Ｇを表示する表示装置１及びその表示方法を一例として説明したが、スピードメータ以外の車両Ｃのエンジン回転数を表わすタコメータや、計器類（インジケータやワーニング）等を表示する表示装置に具体化してもよい。
【００９２】
・上記各実施形態では、表示エリアＺに表示されるスピードメータの画像Ｇは、数値Ｍａ及び指針Ｍｂのみを表示するものであったが、数値Ｍａ及び指針Ｍｂ以外に、ブレーキランプや各種ワーニングのマークも表示するものであってもよい。
【００９３】
・上記各実施形態では、発光素子として有機ＥＬ素子９Ｒ，９Ｇ，９Ｂを用いた表示装置１を用いているが、これを他の有機ＥＬ素子９Ｒ，９Ｇ，９Ｂ以外の発光素子（例えば、無機ＥＬ素子、発光ダイオード（ＬＥＤ）素子等）を用いたものであっても本発明は適用可能である。
【００９４】
・上記実施形態では、電子機器として車両ＣのインストルメントパネルＱｗについて説明したが、これに限定されるものではなく、計器用表示装置に広く適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００９５】
【図１】表示装置が搭載された車両のインストルメントパネルの斜視図。
【図２】スピードメータの画像の表示形態を示す模式図。
【図３】表示装置の電気的構成を示す図。
【図４】表示ユニットの電気的構成を示す図。
【図５】画素の電気的構成を示す図。
【図６】検査装置の電気的構成を示す図。
【図７】第１実施形態に係る検査装置によるカラー画素の輝度プロファイル。
【図８】第１実施形態に係る表示装置の検査方法を説明するためのフローチャート。
【図９】第２実施形態に係る検査装置によるカラー画素の輝度プロファイル。
【図１０】第２実施形態に係る表示装置の検査方法を説明するためのフローチャート。
【符号の説明】
【００９６】
Ｇ…スピードメータの画像、ＧＤ…画像データ、ＫＧＤ…検査用画像データ、ＬＸ１〜ＬＸｍ…データ線、ＬＹ１〜ＬＹｎ…走査線、ＬＳ…設定輝度、Ｑｗ…電子機器としてのインストルメントパネル、Ｓ１〜Ｓｎ…走査信号、ＴＫ…設定期間、１…表示装置及び車両用表示装置、２…表示ユニット、４ａ…基板、８…画素としてのカラー画素、９Ｒ，９Ｇ，９Ｂ…発光素子及びエレクトロルミネッセンス素子としての有機エレクトロルミネッセンス素子、４１ａ…判断手段及び演算手段としての中央処理装置（ＣＰＵ）、４１ｂ…記憶手段としてのＲＯＭ、４２…設定時間計時手段及び所要時間計時手段としてのタイマ、４３ａ〜４３ｄ…発光輝度検出手段としての第１〜第４輝度センサ。
【図１】
2007121990.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2007121990.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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