(57)【要約】【課題】光ディスク再生装置の光ピックアップのフォーカスサーボ回路のループ特性の影響を受けずにフォーカスエラー信号に含まれる溝横断信号のレベルを測定することのできる溝横断信号測定装置を提案する。【解決手段】溝横断信号と同周期であるトラッキングエラー信号を入力して、このトラッキングエラー信号の周波数を検出する周波数検出器(21)と、フォーカスサーボのみが掛けられた状態で、周波数検出器(21)の検出周波数に基づき、予め設定されている周波数−ゲインテーブルを参照してゲインデータを求める処理ブロック(23)と、溝横断信号を含むフォーカスエラー信号を入力し、そのゲインを求められたゲインデータによって補正し、補正された溝横断信号を含むフォーカスエラー信号を測定処理ブロック(26)に出力するゲイン補正器(25)とを備える。【選択図】図１
2007293947.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに記録されたデータを光ピックアップによって再生中に、前記光ピックアップの再生用レーザー光が光ディスク上のトラックを横断する際にトラック溝の影響に起因してフォーカスエラー信号中に混入する溝横断信号のレベルを測定する測定処理部を備えた光ピックアップの溝横断信号測定装置において、
前記溝横断信号と同周期であるトラッキングエラー信号が供給され、このトラッキングエラー信号の周波数を検出する周波数検出部と、
フォーカスサーボのみが掛けられた状態で、前記周波数検出部の検出周波数に基づき、予め設定されている周波数−ゲインテーブルを参照してゲインデータを求めるゲイン算出部と、
前記溝横断信号を含むフォーカスエラー信号が供給され、そのゲインを前記ゲイン算出部で求められたゲインデータによって補正し、補正された溝横断信号を含むフォーカスエラー信号を前記測定処理部に出力するゲイン補正部と、
を備えたことを特徴とする光ピックアップの溝横断信号測定装置。
【請求項２】
光ディスクに記録されたデータを光ピックアップによって再生中に、前記光ピックアップの再生用レーザー光が光ディスク上のトラックを横断する際にトラック溝の影響に起因してフォーカスエラー信号中に混入する溝横断信号のレベルを測定する測定処理部を備えた光ピックアップの溝横断信号測定装置において、
前記溝横断信号を含むフォーカスエラー信号が供給され、フォーカスサーボ系の伝達特性により決まるフォーカスエラー信号／溝横断信号のゲイン特性で補正するフィルター部と、
補正された溝横断信号を含むフォーカスエラー信号の低域変動をカットするハイパスフィルター部と、
を備えたことを特徴とする光ピックアップの溝横断信号測定装置。
【請求項３】
光ディスクに記録されたデータを光ピックアップによって再生中に、前記光ピックアップの再生用レーザー光が光ディスク上のトラックを横断する際にトラック溝の影響に起因してフォーカスエラー信号中に混入する溝横断信号のレベルを測定する測定処理部を備えた光ピックアップの溝横断信号測定装置において、
前記溝横断信号と同周期であるトラッキングエラー信号が供給され、このトラッキングエラー信号の周波数を検出する周波数検出部と、
前記周波数検出部の検出周波数が供給され、予めフォーカスエラー信号／溝横断信号のゲイン特性から決定されるしきい値で２値化処理を実行する２値化回路部と、
前記２値化処理によって生成された信号によって前記溝横断信号を含むフォーカスエラー信号をマスクすることによって当該フォーカスエラー信号中のゲインアップの影響を受けていない帯域部分のみを抽出する補正を行い、補正された溝横断信号を含むフォーカスエラー信号を前記測定処理部に出力するゲート回路部と、
を備えたことを特徴とする光ピックアップの溝横断信号測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ピックアップのフォーカスサーボ回路におけるフォーカスエラー信号に含まれる溝横断信号を測定する光ピックアップの溝横断信号測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ピックアップを用いて光ディスクに記録されている信号を再生するとき、光ピックアップからの再生用レーザー光が、光ディスク上のトラックをフォーカシングを採りながら走査するように、光ピックアップにフォーカスサーボが掛けられる。
【０００３】
光ピックアップのフォーカスエラー検出方式として非点収差法を採用している場合、光学系の収差やデフォーカス調整の不足により、再生用レーザー光が光ディスク上のトラックを横断する際にトラックの溝によって回折された反射光束中の強度分布が非対称となり、非点収差法の対角和の差動演算でキャンセルされず、フォーカスエラー信号に外乱として混入する。この外乱は“溝横断信号”と呼ばれており、フォーカスサーボ動作に悪影響を及ぼす。図９（ａ）は、溝横断信号を含まないフォーカスエラー信号の波形を示している。図９（ｂ）は溝横断信号を含むフォーカスエラー信号の波形を示している。
【０００４】
上述したフォーカスエラー信号における溝横断信号を低減またはキャンセルする従来技術としては、特開平４−１６８６３１号公報（以下、特許文献１）や特開平８−２７９１６６号公報（以下、特許文献２）に記載の「光ピックアップ装置」がある。
【０００５】
特許文献１に記載の技術では、光ディスクに入射するビームを分割して得られた複数のフォーカスエラー信号を演算することによって、溝横断信号、即ち、クロスノイズをキャンセルするようにしている。
【０００６】
一方、特許文献２に記載の技術では、差動非点収差法で、溝横断信号、即ち、外乱をキャンセルするようにしている。
【０００７】
しかし、これら特許文献１及び２には、溝横断信号自体を測定することは何ら記載されてはいない。
【０００８】
また、溝横断信号、即ち、溝横断による外乱を測定する方法については、特開平８−５０７３０号公報（以下、特許文献３）に記載されている。この特許文献３では、フォーカスゲインの影響を受けない周波数、即ち、ゲイン交点以上の周波数になるように、光ディスクの回転周期、または、光ディスクの半径方向へのアクチュエータの制御を行うようにしている。
【０００９】
しかし、ゲイン交点を越えた帯域でもサーボ回路の影響は存在するので、特許文献３に記載の測定方法では、溝横断信号の真値を測定することは出来ない。
【００１０】
また、特開２００１−８４６０５号公報（以下、特許文献４）にも、溝横断信号、即ち、溝信号の測定方法が記載されている。この特許文献４では、位相補償前の信号を処理することで、溝横断信号を測定している。しかし、この測定方法では、開ループゲイン特性の影響は除去できても、閉ループゲイン特性やＥ（ｓ）／Ｗ（ｓ）ゲイン特性の影響を除外することが出来ないため、やはり、溝横断信号の真値を測定することは出来ない。
【特許文献１】特開平４−１６８６３１号公報（第３頁並びに図１及び図２）
【特許文献２】特開平８−２７９１６６号公報（第５頁及び第６頁並びに図３及び図５）
【特許文献３】特開平８−５０７３０号公報（第４頁及び第５頁並びに図１及び図２）
【特許文献４】特開２００１−８４６０５号公報（第８頁及び図１）  次に、図１０を参照して、一般的な光ディスク再生装置に溝横断信号測定ブロックを設けた光ピックアップのフォーカスサーボ回路におけるフォーカスエラー信号に含まれる溝横断信号測定装置の構成を説明する。
【００１１】
図１０において、光ディスク１はスピンドルモータ２によって回転され、このモータ２の回転は、制御部１１によって制御される。
【００１２】
レーザーダイオード６からのレーザー光が偏光ビームスプリッター５に入射して、その反射面で反射される。その反射光が更に反射ミラー４に入射して、その反射面で反射され、その反射光が対物レンズ３に入射して、光ディスク１の記録面上で焦点を結ぶように集束される。この対物レンズ３は、アクチュエータ１８に取り付けられる。このアクチュエータ１８は、制御部１１によって、フォーカスサーボ及びトラッキングサーボが掛けられる。また、レーザーダイオード６は、制御部１１によって、そのレーザー出力が制御される。
【００１３】
光ディスク１の記録面からの反射光は、対物レンズ３を通過して反射ミラー４に入射し、その反射光が偏光ビームスプリッター５を通過した後、集光レンズ７によって集光されて、光電変換器８の受光面上に焦点を結ぶように入射される。光電変換器８の４分割光電変換部の互いに異なる対角変換部からの和信号が差動アンプ９に供給されて差動増幅されて、フォーカスエラー信号が生成される。生成されたフォーカスエラー信号は位相補償器１０を通じて、制御部１１に供給されると共に、溝横断信号測定ブロック１２に供給される。なお、光電変換器８の４分割光電変換部のトラックの両側に位置する２つずつの変換部からの和信号が差動アンプ９に供給されて差動増幅されて、トラッキングエラー信号が得られる。また、溝横断信号の測定時には、アクチュエータ１８に対してフォーカスサーボのみが掛けられ、トラッキングサーボは掛けない。
【００１４】
次に、図１１を参照して、図１０の溝横断信号測定装置の光ディスク再生装置におけるフォーカスサーボ回路を説明する。なお、以下の数式において、ｓはラプラス変換のｊωを示す。また、対物レンズ３及びアクチュエータ１８の位置は等しいものとする。
【００１５】
光ディスク１の記録面の位置を示す目標値Ｒ（s）と、対物レンズ３、即ち、アクチュエータ１８の位置としての変位Ｃ（s）との差分が減算器１３で求められ、溝横断信号を含まないフォーカスエラー信号Ｆ（ｓ）が生成される。この信号Ｆ（ｓ）に外乱として溝横断信号Ｗ（s）が混入し、その和信号がエラー信号検出器（ＥＳＤ）１５に供給される。エラー信号検出器１５は伝達要素として光電変換器８及び差動アンプ９からなるフォーカスエラー演算回路の総合伝達要素Ｇesd(ｓ)を持ち、溝横断信号Ｗ（ｓ）を含むフォーカスエラー信号Ｅ（ｓ）が生成される。
【００１６】
このフォーカスエラー信号Ｅ（ｓ）は、ローパスフィルター（ＬＰＦ）１６に供給される。Ｇlpf(ｓ)は、ローパスフィルター１６の伝達要素を示す。ローパスフィルター１６の出力は、リードラグフィルター１７を通じて、アクチュエータ１８に供給される。Ｇllf（ｓ）は、リードラグフィルター１７の伝達要素、即ち、位相補償器１０及びアクチュエータ１８のドライブ信号形成回路の総合伝達要素を示す。Ｇact（ｓ）は、アクチュエータ１８の伝達要素を示す。
【００１７】
対物レンズ３、即ち、アクチュエータ１８の変位Ｃ（s）は、上述したように、減算器１３に供給されて、光ディスク１の記録面の位置を示す目標値Ｒ（s）から減算される。エラー信号検出器（ＥＳＤ）１５、ローパスフィルター１６、リードラグフィルター１７及びアクチュエータ１８のトータルゲインＧは、次の（１）式のように表される。
【００１８】
［数１］
Ｇ＝Ｇesd（ｓ）・Ｇlpf（ｓ）・Ｇllf（ｓ）・Ｇact（ｓ）  …（１）
光電変換器８及び差動アンプ９の周波数特性は、サーボ帯域より十分高い帯域まで伸びているので、エラー信号検出器１５の伝達要素Ｇesd（ｓ）はトータルゲインＧに対し、影響を与えることはない。フォーカスエラー信号Ｅ（ｓ）は、実際には、光電変換器８において、光信号から電気信号に変換されるが、光電変換器８の周波数特性は、一般的に１００ＭＨｚ付近まで保証されているので、サーボ帯域として考えるに当り、エラー信号検出器１５の伝達要素Ｇesd(ｓ)に影響を与えることはない。
【００１９】
互いに異なる３種類の光ディスク再生装置の光ピックアップのフォーカスサーボ回路の各例の溝横断信号の波形を、対物レンズ３の変位Ｃ（ｓ）の波形及び溝横断信号と同周期のトラッキングエラー信号ＴＥと共に、図１２（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）に示す。これらの図１２（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）の波形において、溝横断信号の波形及び対物レンズ３の変位Ｃ（ｓ）の波形は互いに異なるが、トラッキングエラー信号ＴＥの波形は同じである。
【００２０】
また、互いに異なる３種類の光ディスク再生装置の光ピックアップのフォーカスサーボ回路の開ループのゲイン特性及び位相特性を、図１３（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）にそれぞれ示す。
【００２１】
なお、図１３（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）において、横軸は周波数（Frequency）[Hz]を、左側の縦軸はゲイン（Gain）[dB]を、右側の縦軸は位相（Phase）[Deg]をそれぞれ示す。
【００２２】
また、図１３（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）において、ゲイン交点の周波数は、それぞれ１．４ｋＨｚ、１．０ｋＨｚ、２．０ｋＨｚ、位相余裕の角度はそれぞれ６０Ｄｅｇ、２０Ｄｅｇ、４０Ｄｅｇである。
【００２３】
図１１のフォーカスサーボ回路の開ループ伝達関数Ｇは、次の（２）式に示すように表される。ここで、Ｆ（ｓ）は溝横断信号を含まないフォーカスエラー信号を、Ｃ（ｓ）は対物レンズ３の変位をそれぞれ示す。
【００２４】
［数２］
Ｃ（ｓ）／Ｆ（ｓ）＝Ｇ（ｓ）  …（２）
図１１のフォーカスサーボ回路の閉ループ伝達関数Ｇ／（１＋Ｇ）は、次の（３）式に示すように表される。ここで、Ｒ（ｓ）は光ディスク１の記録面の位置を示す目標値である。
【００２５】
［数３］
Ｃ（ｓ）／Ｒ（ｓ）＝Ｇ／（１＋Ｇ）  …（３）
上述したように、互いに異なる３種類の光ディスク再生装置の光ピックアップのフォーカスサーボ回路の開ループ及び閉ループのゲイン特性を、図１４（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）にそれぞれ示す。
【００２６】
図１４（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）に示すようにゲイン交点と位相余裕に応じて周波数特性にある帯域で持ち上がりが生じる。この特性により溝横断信号の周波数が偏芯によって変化すると、本来は周波数に依存せず平坦である信号レベルが周波数特性に応じて変化してしまう。なお、図１４（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）において、横軸は周波数（Frequency）[Hz]を、左側の縦軸は開ループゲイン（Gain）[dB]を、右側の縦軸は閉ループゲイン（Gain）[dB]をそれぞれ示す。図１４から分かるように、互いに異なる３種類の光ディスク再生装置の閉ループゲイン周波数特性曲線のピーク（極大点）の周波数及びゲインは、０．８ｋＨｚ；１．３ｄＢ、０．９ｋＨｚ；３．８ｄＢ、１．５ｋＨｚ；１．６ｄＢで、互いに異なっている。これは光ディスク再生装置のフォーカスサーボ回路のループ特性の違いによるものである。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２７】
上述したように、従来の溝横断信号測定装置によれば、測定結果が個々の装置を構成するフォーカスサーボ回路のループ特性の影響を受けてしまい、溝横断信号を正確に測定することができないという問題があった。
【００２８】
本発明は上記事情に鑑み、光ディスク再生装置の光ピックアップのフォーカスサーボ回路のループ特性の影響を受けずにフォーカスエラー信号に含まれる溝横断信号のレベルを正確に測定することのできる溝横断信号測定装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００２９】
上記目的を達成するために本発明は、請求項１では、光ディスクに記録されたデータを光ピックアップによって再生中に、前記光ピックアップの再生用レーザー光が光ディスク上のトラックを横断する際にトラック溝の影響に起因してフォーカスエラー信号中に混入する溝横断信号のレベルを測定する測定処理部を備えた光ピックアップの溝横断信号測定装置において、前記溝横断信号と同周期であるトラッキングエラー信号が供給され、このトラッキングエラー信号の周波数を検出する周波数検出部と、フォーカスサーボのみが掛けられた状態で、前記周波数検出部の検出周波数に基づき、予め設定されている周波数−ゲインテーブルを参照してゲインデータを求めるゲイン算出部と、前記溝横断信号を含むフォーカスエラー信号が供給され、そのゲインを前記ゲイン算出部で求められたゲインデータによって補正し、補正された溝横断信号を含むフォーカスエラー信号を前記測定処理部に出力するゲイン補正部とを備えたことを特徴としている。
【００３０】
請求項２では、光ディスクに記録されたデータを光ピックアップによって再生中に、前記光ピックアップの再生用レーザー光が光ディスク上のトラックを横断する際にトラック溝の影響に起因してフォーカスエラー信号中に混入する溝横断信号のレベルを測定する測定処理部を備えた光ピックアップの溝横断信号測定装置において、前記溝横断信号を含むフォーカスエラー信号が供給され、フォーカスサーボ系の伝達特性により決まるフォーカスエラー信号／溝横断信号のゲイン特性で補正するフィルター部と、補正された溝横断信号を含むフォーカスエラー信号の低域変動をカットするハイパスフィルター部とを備えたことを特徴としている。
【００３１】
請求項３では、光ディスクに記録されたデータを光ピックアップによって再生中に、前記光ピックアップの再生用レーザー光が光ディスク上のトラックを横断する際にトラック溝の影響に起因してフォーカスエラー信号中に混入する溝横断信号のレベルを測定する測定処理部を備えた光ピックアップの溝横断信号測定装置において、前記溝横断信号と同周期であるトラッキングエラー信号が供給され、このトラッキングエラー信号の周波数を検出する周波数検出部と、前記周波数検出部の検出周波数が供給され、予めフォーカスエラー信号／溝横断信号のゲイン特性から決定されるしきい値で２値化処理を実行する２値化回路部と、前記２値化処理によって生成された信号によって前記溝横断信号を含むフォーカスエラー信号をマスクすることによって当該フォーカスエラー信号中のゲインアップの影響を受けていない帯域部分のみを抽出する補正を行い、補正された溝横断信号を含むフォーカスエラー信号を前記測定処理部に出力するゲート回路部とを備えたことを特徴としている。
【発明の効果】
【００３２】
本発明による光ピックアップの溝横断信号測定装置によれば、光ディスク再生装置の光ピックアップのフォーカスサーボ回路のループ特性の影響を受けずにフォーカスエラー信号に含まれる溝横断信号のレベルを正確に測定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３３】
以下に、本発明による光ピックアップの溝横断信号測定装置の一実施形態を説明する。なお、本発明が適用される光ディスク再生装置の基本的な構成は図１０と同じであるため、以下の実施形態においては図１０を援用して説明する。
【００３４】
〈第１の実施形態〉
図１は本発明による光ピックアップの溝横断信号測定装置の第１の実施形態の構成を示すブロック図、図２は図１に示す各部の信号波形を示す波形図である。なお、図１に示す溝横断信号測定装置は、図１０の光ディスク再生装置における横断信号測定ブロック１２に対応する。
【００３５】
図１に示すように、第１の実施形態の溝横断信号測定装置２０Ａは、トラッキングエラー信号ＴＥを入力してトラッキングエラー信号ＴＥ中に含まれる溝横断信号Ｗ（ｓ）の周波数を検出する周波数検出器２１と、この周波数検出器２１で検出された溝横断信号Ｗ（ｓ）の周波数成分をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器２２と、ＲＯＭを備えこのＲＯＭ内に格納された周波数−ゲインテーブルに基づいて、Ａ／Ｄ変換された周波数成分ａからゲインを求める処理ブロック２３と、この処理ブロック２３で演算されたゲインデータをＤ／Ａ変換するＤ／Ａ変換器２４と、フォーカスエラー信号Ｅ（ｓ）を入力し、このフォーカスエラー信号をＤ／Ａ変換器から出力されゲインデータによって補正するゲイン補正器２５とを備え、ゲインの補正されたフォーカスエラー信号Ｗ１（ｓ）を測定処理ブロック２６へ供給するように構成されている。
【００３６】
次に、第１の実施形態の作用を説明する。
【００３７】
上記構成において、溝横断信号Ｗ（ｓ）の測定の際には、図１０に示すアクチュエータ１８に対し、フォーカスサーボを掛け、トラッキングサーボは掛けない状態で行われる。この状態で、溝横断信号と同周期のトラッキングエラー信号ＴＥが周波数検出器２１に供給され、周波数検波がされる。この周波数検出器２１の周波数（ｋＨｚ）−電圧（Ｖ）特性は図３に示されるように、ここでは直線関係にある。周波数検出器２１の検出出力は、Ａ／Ｄ変換器２２に供給されてデジタル信号ａに変換された後、処理ブロック２３に供給される。処理ブロック２３では、入力されたデジタル信号ａによってＥ（ｓ）／Ｗ（ｓ）の周波数−ゲインテーブルが参照されてデジタル信号ａの周波数に対応したデジタルゲインが出力される。そのデジタルゲインはＤ／Ａ変換器２４に供給されアナログ化され、ゲイン補正器２５に供給される。ゲイン補正器２５では、周波数検出器２１の周波数に応じて、溝横断信号を含むフォーカスエラー信号Ｅ（ｓ）のゲインが補正される。このゲインの補正されたフォーカスエラー信号Ｗ１（ｓ）は、測定処理ブロック２６に供給される。
【００３８】
測定処理ブロック２６では、図４に示すように、ゲインの補正されたフォーカスエラー信号Ｗ１（ｓ）をサンプリングして度数分布を取り、正負のピークを抽出する処理によって、溝横断信号Ｗ（ｓ）のレベルが測定される。この測定処理ブロック２６によって、最大最小レベルの分布のバラツキを考慮したレベル測定が可能になる。
【００３９】
〈第２の実施形態〉
次に、図５を参照して、本発明の他の実施の形態（第２の実施形態）の溝横断信号測定装置の構成を説明する。なお、図５に示す溝横断信号測定装置も、図１０の光ディスク再生装置における横断信号測定ブロック１２に対応する。
【００４０】
同図に示すように、第２の実施形態の溝横断信号測定装置２０Ｂは、溝横断信号を含む図１１に示されている開ループトータルゲイン特性Ｇの伝達特性とゲイン“１”の特性を加算した特性を演算増幅器またはデジタルフィルターで構成したフィルター回路２７と、このフィルター回路２７の出力に対してフォーカスエラー信号／溝横断信号のゲイン特性からゲイン“１”となるカットオフ周波数によってゲインアップされた帯域をカットする補正を行い、補正された溝横断信号を含むフォーカスエラー信号Ｗ２（ｓ）を測定処理ブロック２６に出力するハイパスフィルタ部２８とを備えている。
【００４１】
次に、第２の実施形態の作用を説明する。
【００４２】
図１０の１１に示したフォーカスサーボ回路および図１１のブロック図において、溝横断信号Ｗ（ｓ）は伝達要素を含まないところから、溝横断信号を含まないフォーカスエラー信号Ｆ（ｓ）、光ディスク１の記録面、即ち、ディスク面の位置を示す目標値Ｒ（ｓ）及びフォーカスエラー信号Ｅ（ｓ）、溝横断信号Ｗ（ｓ）間には、下記（４）式に示す近似式が成立する。
【００４３】
［数４］
Ｆ（ｓ）／Ｒ（ｓ）≒Ｅ（ｓ）／Ｗ（ｓ）  …（４）
このため、上記（２）〜（４）式から、下記（５）式に示す近似式が成立する。
【００４４】
［数５］
Ｅ（ｓ）／Ｗ（ｓ）≒１／（１＋Ｇ）  …（５）
この（５）式を変形すると、下記（６）式の近似式が得られる。
【００４５】
［数６］
Ｗ（ｓ）≒（１＋Ｇ）Ｅ（ｓ）  …（６）
そこで、図５に示すフィルター回路２７には、溝横断信号が混入したフォーカスエラー信号Ｅ（ｓ）が入力され、図６（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）のＥ（ｓ）／Ｗ（ｓ）のゲイン特性の逆特性を通してフォーカスエラー信号Ｅ（ｓ）より溝横断信号Ｗ（ｓ）が生成される。低域ゲインが高いため僅かな差で溝横断信号Ｗ（ｓ）が変動するため、これを除去する目的でフィルターを用いる。周波数は１ｋＨｚ以下である。なお、図６（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）において、横軸は周波数（Frequency）[Hz]を、縦軸はゲイン（Gain）[dB]をそれぞれ示す。
【００４６】
測定処理ブロック２６では、図４に示すように、出力信号Ｗ２（ｓ）をサンプリングして度数分布を取り、正負のピークを抽出する処理によって、溝横断信号Ｗ（ｓ）のレベルが測定される。この測定処理ブロック２６によって、最大最小レベルの分布のバラツキを考慮したレベル測定が可能になる。
【００４７】
〈第３の実施形態〉
次に、図７を参照して、本発明の更に他の実施形態（第３の実施形態）の溝横断信号測定ブロックの構成を説明する。なお、図７に示す溝横断信号測定装置も、図１０の光ディスク再生装置における横断信号測定ブロック１２に対応する。図８は、図７に示す各部の信号波形を示す波形図である。
【００４８】
図７に示すように、第３の実施形態における溝横断測定装置２０Ｃは、溝横断信号と同周期であるトラッキングエラー信号を入力して、このトラッキングエラー信号の周波数を検出する周波数検出器２１と、前記周波数検出部の検出周波数を入力して、予めフォーカスエラー信号／溝横断信号のゲイン特性から決定されるしきい値によってゲイン“１”となる周波数を選択する２値化処理を実行する２値化回路２９と、２値化処理によって選択された周波数によって溝横断信号を含むフォーカスエラー信号をマスクすることによって当該フォーカスエラー信号中のゲインアップの影響を受けていない帯域部分のみを抽出する補正を行い、補正された溝横断信号を含むフォーカスエラー信号を測定処理ブロック２８に出力するゲート回路３０とを備えている。
【００４９】
次に、第３の実施形態の作用を説明する。
【００５０】
溝横断信号と同周期のトラッキングエラー信号ＴＥが周波数検出器２１に供給され、周波数検波が実行される。この周波数検出器２１の周波数（ｋＨｚ）−電圧（Ｖ）特性は、図３に示すように、リニアな関係（直線関係）にある。周波数検出器２１の検出出力ｂが、２値化回路２９に供給され２値化出力ｃが得られる。この２値化出力ｃは、マスキングパルスのトリガとしてゲート回路３０に供給される。この場合、２値化回路２９のしきい値（図８参照）は、図６のＥ（ｓ）／Ｗ（ｓ）ゲイン特性から、ゲインが１と成る周波数が選択される。
【００５１】
ゲート回路３０には、溝横断信号を含むフォーカスエラー信号Ｅ（ｓ）が供給されている。ゲート回路３０では、入力された溝横断信号を含むフォーカスエラー信号Ｅ（ｓ）の、図６に示すようなＥ（ｓ）／Ｗ（ｓ）ゲイン特性のゲインアップの影響を受けている帯域部分がマスクされて、ゲインアップの影響を受けていない帯域の信号Ｗ３（ｓ）が生成されて、図１と同じ構成の測定処理ブロック２６に供給する。
【００５２】
測定処理ブロック２６では、図４に示すように、信号Ｗ３（ｓ）をサンプリングして度数分布を取り、正負のピークを抽出する処理によって、溝横断信号Ｗ（ｓ）のレベルが測定される。この測定処理ブロック２６によって、最大最小レベルの分布のバラツキを考慮したレベル測定が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００５３】
【図１】本発明による光ピックアップのフォーカスサーボ回路におけるフォーカスエラー信号に含まれる溝横断信号測定装置の一の実施の形態の溝横断信号測定ブロックの構成例を示すブロック図。
【図２】図１の溝横断信号測定ブロックの各部の信号を示す波形図。
【図３】図１の溝横断信号測定ブロックにおける周波数検出器２１の周波数（kHz）―電圧(v)特性を示す直線図。
【図４】図１の溝横断信号測定ブロックにおける測定処理ブロックの動作を示す説明図。
【図５】本発明による光ピックアップのフォーカスサーボ回路におけるフォーカスエラー信号に含まれる溝横断信号測定装置の他の実施の形態の溝横断信号測定ブロックの構成例を示すブロック図。
【図６】互いに異なる３種類の光ディスク再生装置の光ピックアップのフォーカスサーボ回路における閉ループのＣ（ｓ）／Ｒ（ｓ）ゲイン特性及びＥ（ｓ）／Ｗ（ｓ）ゲイン特性を示す特性曲線図。
【図７】本発明による光ピックアップのフォーカスサーボ回路におけるフォーカスエラー信号に含まれる溝横断信号測定装置の更に他の実施の形態の溝横断信号測定ブロックの構成例を示すブロック図。
【図８】図７の溝横断信号測定ブロックの各部の信号を示す波形図。
【図９】溝横断信号を含まないフォーカスエラー信号と、溝横断信号を含むフォーカスエラー信号とを比較して示す波形図。
【図１０】一般的な光ディスク再生装置に溝横断信号測定ブロックを設けた光ピックアップのフォーカスサーボ回路におけるフォーカスエラー信号に含まれる溝横断信号測定装置の一例を示すブロック図。
【図１１】光ディスク再生装置の光ピックアップのフォーカスサーボ回路の構成例を示すブロック図。
【図１２】互いに異なる３種類の光ディスク再生装置の光ピックアップのフォーカスサーボ回路の一例におけるトラッキングエラー信号ＴＥ、対物レンズの変位Ｃ（ｓ）及び溝横断信号Ｗ（ｓ）を示す波形図。
【図１３】同じ互いに異なる３種類の光ディスク再生装置の光ピックアップのフォーカスサーボ回路の一例における開ループのゲイン及び位相の周波数特性を示す特性曲線図。
【図１４】同じ互いに異なる３種類の光ディスク再生装置の光ピックアップのフォーカスサーボ回路の一例における開ループ及び閉ループのゲインの周波数特性を示す特性曲線図。
【符号の説明】
【００５４】
１…光ディスク
２…スピンドルモータ
３…対物レンズ
４…反射ミラー
５…偏光ビームスプリッター
６…レーザーダイオード
７…集光レンズ
８…光電変換器
９…差動アンプ
１０…位相補償器
１１…制御部
１２…溝横断信号測定ブロック
１３…減算器
１５…エラー信号検出器
１６…ローパスフィルター
１７…リードラグフィルター
１８…アクチュエータ
２０Ａ，２０Ｂ，２０Ｃ…溝横断信号測定装置
２１…周波数検出器
２２…Ａ／Ｄ変換器
２３…処理ブロック
２４…Ｄ／Ａ変換器
２５…ゲイン補正器
２６…測定処理ブロック
２７…フィルター回路
２８…ハイパスフィルター
２９…２値化回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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