(57)【要約】【課題】ディフェクトの到来による不所望な対物レンズの変位を確実に抑制でき、且つ、フォーカスエラー信号の生成手法として、非点収差法やビームサイズ法等、種々の手法を適宜用い得る光ディスク装置を提供する。【解決手段】メインビームよりも先行する先行サブビームを２分割センサ１０２にて受光する。２分割センサ１０２からの信号Ｅ、Ｆは、演算増幅回路２０７にて加算される。加算信号（Ｅ＋Ｆ）が閾値レベルを下回っている期間、比較回路２０８からディフェクト検出信号（ＤＳ）が出力される。ディフェクト検出信号（ＤＳ）は遅延回路２０９にて、先行サブビームとメインビームの走査時間差だけ遅延され、ディフェクト信号（ＤＦＴ）とされる。ディフェクト信号（ＤＦＴ）が出力されると、その間およびその後の時間Ｔ３の間、ディフェクト検出直前のフォーカスドライブ信号がホールドされる。【選択図】図２
2007293961.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報を記録および／もしくは再生するためのメインビームをディスク上に照射するとともに、前記メインビームに対してトラック走査方向に先行する位置に先行サブビームを照射する光ピックアップと、
前記光ピックアップ内に配されるとともに前記メインビームと前記先行サブビームを前記ディスク上に収束させる対物レンズと、
前記光ピックアップ内に配されるとともに前記対物レンズを少なくともフォーカス方向に駆動する対物レンズアクチュエータと、
前記光ピックアップ内に配されるとともに前記メインビームと前記先行サブビームの前記ディスクからの反射光を個別に受光するメインビーム用センサと先行サブビーム用センサを具備する光検出器と、
前記メインビーム用センサから出力される信号に基づいてフォーカスエラー信号を生成するＦＥ信号生成回路と、
前記先行サブビーム用センサから出力される信号に基づいて前記ディフェクトが前記メインビームに到達したことを検出するディフェクト検出回路と、
前記ＦＥ信号生成回路から入力される前記フォーカスエラー信号と前記ディフェクト検出回路から入力されるディフェクト検出信号に基づいて前記対物レンズアクチュエータを前記フォーカス方向に駆動するフォーカスドライブ信号を生成するＦＤＯ信号生成回路と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記ＦＤＯ信号生成回路は、前記フォーカスエラー信号に基づいてフォーカスドライブ信号を生成するとともに、前記ディフェクト信号の入力に応じて、当該入力の前に前記フォーカスエラー信号に基づいて生成されたフォーカスドライブ信号をホールドする、
ことを特徴とする光ディスク装置。 
【請求項３】
請求項２に記載の光ディスク装置において、
前記ＦＤＯ信号生成回路は、前記ディフェクトが少なくとも前記メインビームを完全に通過した通過タイミングを設定する構成を備え、前記ディフェクト信号の入力から前記通過タイミングまでの期間において、前記フォーカスドライブ信号のホールドを維持する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項３に記載の光ディスク装置において、
前記ディフェクト検出回路は、前記先行サブビームの反射光量を反映する信号の変化を監視して前記ディフェクトが前記メインビームを通過している期間に対応する時間幅を有する前記ディフェクト信号を生成し、
前記ＦＤＯ信号生成回路は、前記ディフェクト信号の終了時点からさらに所定時間が経過したタイミングを前記通過タイミングとして設定する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項４に記載の光ディスク装置において、
前記ディフェクト検出回路は、前記先行サブビームの反射光量を反映する信号と閾値レベルとを比較して前記ディフェクトが前記メインビームを通過している期間に対応する時間幅を有する前記ディフェクト信号を生成する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
請求項３に記載の光ディスク装置において、
前記光ピックアップは、前記メインビームに対してトラック走査方向に後行する位置に後行サブビームを照射し、
前記光検出器は、前記後行サブビームの前記ディスクからの反射光を個別に受光する後行サブビーム用センサを具備し、
前記ディフェクト検出回路は、前記後行サブビーム用センサから出力される信号に基づいて前記ディフェクトが前記後行サブビームに到達したことを検出し、
前記ＦＤＯ信号生成回路は、前記ディフェクト検出回路によって前記ディフェクトが前記後行サブビームに到達したことが検出されたタイミングを前記通過タイミングとして設定する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
請求項１に記載の光ディスク装置おいて、
前記光ピックアップは、半導体レーザから出射されるレーザ光を前記メインビームと前記先行サブビームに分離する光学素子を有する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置に関し、特に、ディスク上のディフェクト(傷など)を検出する際に用いて好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
現在、商品化が進められている次世代ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）は、基板厚が小さいため、それを扱う光ディスク装置では、開口数（ＮＡ）の高い対物レンズが用いられる。特に、ブルーレイディスクでは、基板厚が０．１ｍｍ程度であるため、トラック上に適正にビームを収束させようとすると、対物レンズの開口数をかなり大きくする必要がある。ところが、その反面、対物レンズの開口数が大きくなると、それに伴って、対物レンズのワーキングディスタンスが小さくなり、このため、対物レンズがディスク面に衝突し易くなるとの問題が生じる。この問題は、特に、ディスク上のディフェクト（傷など）によってフォーカスエラー信号に乱れが生じたときに生じ易い。
【０００３】
これに対し、以下の特許文献１には、ディフェクトの到来を検出したときに、対物レンズアクチュエータに供給されるフォーカスサーボ信号を、ディフェクト検出直前の値にホールドする構成が示されている。この先行発明では、ディスク上のトラックに対して垂直な方向に、光検出器が３分割され、そのうち、中央の領域以外の２つの端領域からの出力信号を加算した信号を随時モニタして、ディフェクトの到来が検出される。
【０００４】
なお、この先行発明では、フォーカスエラー信号の生成方法としてビームサイズ法が用いられている。また、トラッキングエラー信号の生成方法として１ビームプッシュプル法が用いられている。
【０００５】
この先行発明によれば、３分割された光検出器の各領域のうち、中央の領域よりも２つの端領域の方が先にディフェクトによる影響を受けるため、これら２つの端領域からの出力信号を加算した信号を随時モニタすることで、ディフェクトの到来をより迅速に検出できると説明されている。
【特許文献１】特開平１０−３１８２１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、上記先行発明によれば、３分割された光検出器の各領域からの信号を、上述のディフェクト検出とともに、フォーカスエラー信号の生成にも用いているため、少なくともディフェクトが到来してからディフェクトが検出されるまでの間は、フォーカスエラー信号にディフェクトによる乱れが生じる。このため、この間に、対物レンズが、正規の位置からディスク方向へと不所望に変位して、ディスクに衝突するとの現象が起こり得る。
【０００７】
また、上記先行発明におけるディフェクト検出は、ビームサイズ法固有の特徴に依存して行われるため、フォーカスエラー信号の生成手法として、ビームサイズ法以外の手法を用い難く、よって、光ディスク装置の設計の自由度に制約を与えるとの問題が生じる。
【０００８】
そこで、本発明は、ディフェクトの到来による不所望な対物レンズの変位を確実に抑制でき、且つ、フォーカスエラー信号の生成手法として、非点収差法等、ビームサイズ法以外の手法を適宜用い得る光ディスク装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題に鑑み本発明は、それぞれ以下の特徴を有する。
【００１０】
請求項１の発明は、光ディスク装置において、情報を記録および／もしくは再生するためのメインビームをディスク上に照射するとともに、前記メインビームに対してトラック走査方向に先行する位置に先行サブビームを照射する光ピックアップと、前記光ピックアップ内に配されるとともに前記メインビームと前記先行サブビームを前記ディスク上に収束させる対物レンズと、前記光ピックアップ内に配されるとともに前記対物レンズを少なくともフォーカス方向に駆動する対物レンズアクチュエータと、前記光ピックアップ内に配されるとともに前記メインビームと前記先行サブビームの前記ディスクからの反射光を個別に受光するメインビーム用センサと先行サブビーム用センサを具備する光検出器と、前記メインビーム用センサから出力される信号に基づいてフォーカスエラー信号を生成するＦＥ信号生成回路と、前記先行サブビーム用センサから出力される信号に基づいて前記ディフェクトが前記メインビームに到達したことを検出するディフェクト検出回路と、前記ＦＥ信号生成回路から入力される前記フォーカスエラー信号と前記ディフェクト検出回路から入力されるディフェクト検出信号に基づいて前記対物レンズアクチュエータを前記フォーカス方向に駆動するフォーカスドライブ信号を生成するＦＤＯ信号生成回路を有することを特徴とする。
【００１１】
請求項２の発明は、請求項１に記載の光ディスク装置において、前記ＦＤＯ信号生成回路は、前記フォーカスエラー信号に基づいてフォーカスドライブ信号を生成するとともに、前記ディフェクト信号の入力に応じて、当該入力の前に前記フォーカスエラー信号に基づいて生成されたフォーカスドライブ信号をホールドすることを特徴とする。
【００１２】
請求項３の発明は、請求項２に記載の光ディスク装置において、前記ＦＤＯ信号生成回路は、前記ディフェクトが少なくとも前記メインビームを完全に通過した通過タイミングを設定する構成を備え、前記ディフェクト信号の入力から前記通過タイミングまでの期間において、前記フォーカスドライブ信号のホールドを維持することを特徴とする。
【００１３】
請求項４の発明は、請求項３に記載の光ディスク装置において、前記ディフェクト検出回路は、前記先行サブビームの反射光量を反映する信号の変化を監視して前記ディフェクトが前記メインビームを通過している期間に対応する時間幅を有する前記ディフェクト信号を生成し、前記ＦＤＯ信号生成回路は、前記ディフェクト信号の終了時点からさらに所定時間が経過したタイミングを前記通過タイミングとして設定することを特徴とする。
【００１４】
請求項５の発明は、請求項４に記載の光ディスク装置において、前記ディフェクト検出回路は、前記先行サブビームの反射光量を反映する信号と閾値レベルとを比較して前記ディフェクトが前記メインビームを通過している期間に対応する時間幅を有する前記ディフェクト信号を生成することを特徴とする。
【００１５】
請求項６の発明は、請求項３に記載の光ディスク装置において、前記光ピックアップは、前記メインビームに対してトラック走査方向に後行する位置に後行サブビームを照射し、前記光検出器は、前記後行サブビームの前記ディスクからの反射光を個別に受光する後行サブビーム用センサを具備し、前記ディフェクト検出回路は、前記後行サブビーム用センサから出力される信号に基づいて前記ディフェクトが前記後行サブビームに到達したことを検出し、前記ＦＤＯ信号生成回路は、前記ディフェクト検出回路によって前記ディフェクトが前記後行サブビームに到達したことが検出されたタイミングを前記通過タイミングとして設定することを特徴とする。
【００１６】
請求項７の発明は、請求項１に記載の光ディスク装置おいて、前記光ピックアップは、半導体レーザから出射されるレーザ光を前記メインビームと前記先行サブビームに分離する光学素子を有することを特徴とする。
【００１７】
なお、上記発明における「ディフェクト検出回路」は、以下の実施形態において、演算増幅回路２０７、比較回路２０８および遅延回路２０９からなる回路または比較回路２２５および遅延回路２２６からなる回路が対応する。また、上記発明における「ＦＤＯ信号生成回路」は、以下の実施形態において、ＤＳＰ３０が対応する。さらに、上記請求項６に示された「後行サブビーム用のディフェクト検出回路」は、以下の実施形態において、演算増幅回路２１０、比較回路２１１および遅延回路２１２からなる回路または比較回路２３０および遅延回路２３１からなる回路が対応する。
【００１８】
ただし、以下の実施形態は、本発明の技術的範囲を何ら制限するものではない。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、先行サブビーム用センサから出力される信号に基づいてディフェクトがメインビームに到達する前に、ディフェクトがメインビームに到達するタイミングが検出される。そして、このタイミングの後は、たとえば、請求項２に記載のように、当該タイミング前に生成されたフォーカスドライブ信号がホールドされる。
【００２０】
したがって、本発明によれば、フォーカスドライブ信号がディフェクトによって乱れることはなく、よって、対物レンズがフォーカスドライブ信号の乱れによってディスクに衝突することもない。
【００２１】
また、請求項３の発明によれば、ディフェクトが少なくともメインビームを完全に通過するタイミングまで、フォーカスドライブ信号のホールドが維持されるので、ディスクに対する対物レンズの衝突がより確実に回避される。この場合、ディフェクトが少なくともメインビームを完全に通過するタイミングは、請求項４および５に記載のようにタイマー管理によって設定することができる。こうすると、回路構成の簡素化を図ることができる。また、当該通過タイミングは、請求項６に記載のように、後行ビームにディフェクトが検出したことタイミングに設定することができる。こうすると、ディフェクト信号がディフェクトの経過時間を反映するものでない場合にも、メインビームに対するディフェクトの通過タイミングを円滑に設定することができる。
【００２２】
なお、本発明は、フォーカスエラー信号の生成手法を特に制限するものではない。よって、フォーカスエラー信号の生成手法として、非点収差法やビームサイズ法等、種々の手法を適宜用いることができる。
【００２３】
本発明の特徴ないし効果は、以下に示す実施形態の説明によって更に明らかとなろう。ただし、以下の実施形態は、あくまでも、本発明の一つの実施形態であって、本発明ないし各構成要件の用語の意義は、以下の実施の形態に記載されたものに制限されるものではない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。
【００２５】
図１に、光ディスク装置の構成を示す。なお、同図には、光ディスク装置のうち、本発明に係る部分のみを示してある。光ディスク装置には、同図に示す構成の他、レーザ駆動回路や、スピンドルモータ駆動回路等が別途配されるが、これらは、従来周知の構成であるので、図示省略するとともに、ここでは、その説明を割愛する。
【００２６】
図示の如く、光ディスク装置は、光ピックアップ１０と、信号生成回路２０と、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）３０と、復調回路４０を備えている。
【００２７】
光ピックアップ１０は、レーザ光を出射する半導体レーザ１１と、レーザ光をディスク上に収束するための対物レンズ１２と、対物レンズ１２をフォーカス方向およびトラッキング方向に駆動する対物レンズアクチュエータ１３と、ディスクからの反射光を受光する光検出器１４と、半導体レーザ１１からのレーザ光を対物レンズ１２に導くとともにディスクからの反射光を光検出器１４に導く光学系（図示せず）を備えている。
【００２８】
ここで、光学系には、半導体レーザ１１からのレーザ光を３ビームに分割する回折格子１５が含まれている。回折格子１５によって分割された３つのビームのうち、メインビーム（０次回折光）はトラック（グルーブ／ランド）上に位置づけられ、２つのサブビーム（±１次回折光）は、それぞれ、ディスク上のメインビームから先行する位置および遅れた位置に位置づけられる。
【００２９】
なお、本実施の形態では、フォーカスエラー信号の生成手法として非点収差法が用いられている。また、トラッキングエラー信号の生成手法としてＤＰＰ（Differential Push- Pull）法が用いられている。なお、光検出器１４の詳細は、追って、図２を参照して説明する。
【００３０】
信号生成回路２０は、光ピックアップ１０に配された光検出器１４からの信号を増幅および演算処理してＲＦ信号、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号等の各種信号を生成し、これらを対応する回路に出力する。また、光検出器１４からの信号をもとに、後述の如く、ディフェクト（傷など）の到来を検出し、ディフェクト信号（ＤＦＴ）をＤＳＰ３０に出力する。なお、信号生成回路２０の詳細は、追って、図２を参照して説明する。
【００３１】
ＤＳＰ３０は、信号生成回路２０から入力されたフォーカスエラー信号（ＦＥ）およびトラッキングエラー信号（ＴＥ）をもとに、フォーカス駆動信号（ＦＤＯ）およびトラッキング駆動信号（ＴＤＯ）を生成し、光ピックアップ１０の対物レンズアクチュエータ１３に出力する。ここで、ＤＳＰ３０は、信号生成回路２０から入力されるディフェクト信号（ＤＦＴ）を参照して、フォーカス駆動信号（ＦＤＯ）を生成する。なお、ＤＳＰ３０の詳細は、追って、図４を参照して説明する。
【００３２】
復調回路４０は、信号生成回路２０から入力されたＲＦ信号を復調して再生データを生成し後段回路に出力する。
【００３３】
図２に、光ピックアップ１０に配された光検出器１４のセンサーパターンと、信号生成回路２０に配された演算増幅回路の構成を示す。
【００３４】
図示の如く、光検出器１４は、Ａ〜Ｄのセンサ領域からなる４分割センサ１０１と、ＥおよびＦのセンサ領域からなる２分割センサ１０２と、ＧおよびＨのセンサ領域からなる２分割センサ１０３を備えている。このうち、４分割センサ１０１は、回折格子１５によって分割された３ビームのうちメインビームを受光する。また、２分割センサ１０２は、ディスク上においてメインビームよりもトラック走査方向に先行するサブビーム（先行サブビーム）を受光し、２分割センサ１０３は、ディスク上においてメインビームよりもトラック走査方向に遅れたサブビーム（後行サブビーム）を受光する。
【００３５】
演算増幅回路２０１は、４分割センサ１０１のセンサ領域Ａ〜Ｄから出力される信号（以下、センサ領域Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄから出力される各信号をＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄと記載する）をもとに、（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）の演算増幅を実行し、フォーカスエラー信号ＦＥを生成する。生成されたフォーカスエラー信号ＦＥは、ＤＳＰ３０に入力される。
【００３６】
演算増幅回路２０２は、４分割センサ１０１のセンサ領域Ａ〜Ｄから出力される信号をもとに、Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄの演算増幅を実行し、再生信号ＲＦを生成する。生成された再生信号ＲＦは復調回路４０に入力される。
【００３７】
演算増幅回路２０３は、４分割センサ１０１のセンサ領域Ａ〜Ｄから出力される信号をもとに、（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）の演算増幅を実行し、信号ＭＰＰを生成する。
【００３８】
演算増幅回路２０４は、２分割センサ１０２のセンサ領域Ｅ、Ｆから出力される信号（以下、センサ領域Ｅ、Ｆから出力される各信号をＥ、Ｆと記載する）と、２分割センサ１０３のセンサ領域Ｇ、Ｈから出力される信号（以下、センサ領域Ｇ、Ｈから出力される各信号をＧ、Ｈと記載する）をもとに、（Ｅ＋Ｇ）−（Ｆ＋Ｈ）の演算増幅を実行し、信号ＳＰＰを生成する。
【００３９】
アンプ回路２０５は、演算増幅回路２０４にて生成された信号ＳＰＰを、予め設定された倍率にて増幅する。
【００４０】
演算増幅回路２０６は、演算増幅回路２０３にて生成された信号ＭＰＰから演算増幅回路２０４にて生成された信号ＳＰＰを減算し、トラッキングエラー信号ＴＥを生成する。生成されたトラッキングエラー信号ＴＥは、ＤＳＰ３０に入力される。
【００４１】
演算増幅回路２０７は、２分割センサ１０３のセンサ領域Ｇ、Ｈから出力される信号をもとに、Ｅ＋Ｆの演算増幅を実行し、加算信号を生成する。比較回路２０８は、演算増幅回路２０７にて生成された加算信号を閾値レベルと比較し、加算信号が閾値レベルを超える間、ディフェクト検出信号ＤＳを出力する。遅延回路２０９は、比較回路２０８から入力されるディフェクト検出信号ＤＳを一定期間だけ遅延してＤＳＰ３０に出力する。
【００４２】
図３（ｂ）に、メインビームとサブビームの照射位置を傷（ディフェクト）が通過したときの各種信号の状態を示す。なお、図３（ａ）は、メインビームとサブビームの照射位置を傷（ディフェクト）が通過したときのディスク上における様子を模式的に示したものである。
【００４３】
先行サブビームの位置に傷が到来すると、図３（ｂ）の（３）に示すように、演算増幅回路２０７から出力される加算信号（Ｅ＋Ｆ）が、傷の通過期間において立ち下がる。このとき、加算信号（Ｅ+Ｆ）が立下り始めた後、その大きさが閾値レベルを下回ると、同図（４）に示すように、比較回路２０８からディフェクト検出信号ＤＳが出力される。ここで、ディフェクト検出信号ＤＳは、加算信号（Ｅ＋Ｆ）が閾値レベルを下回っている間、出力される。
【００４４】
このようにして比較回路２０８から出力されたディフェクト検出信号ＤＳは、同図（５）に示すように、予め設定された時間Ｔ２だけ、遅延回路２０９によって遅延される。ここで、時間Ｔ２は、先行サブビームに傷が到達した後、メインビームに傷が到達するまでの時間とされる。なお、時間Ｔ２は、ディスクの回転速度等をもとに予め算出され、遅延回路２０９に設定されている。しかして、遅延回路２０９から出力されるディフェクト信号ＤＦＴは、同図の（１）（５）に示されているように、その立ち上がりタイミングが、メインビームに傷が到達し始めるタイミングに一致するようになる。
【００４５】
なお、同図の（２）には、比較例として、メインビームの加算信号（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）を閾値レベルと比較してディフェクト検出信号を生成したときのパルス波形が示されている。この場合、メインビームに傷が到達したタイミングよりも時間Ｔ１だけ遅れたタイミングにてディフェクト検出信号が立ち上がる。したがって、この場合は、ディフェクト検出信号の立ち上がりタイミングをメインビームに傷が到達したタイミングに一致させることはできない。
【００４６】
図４に、ＤＳＰ３０内に配されたフォーカス駆動信号生成回路の構成例を示す。
【００４７】
ＤＳＰ３０に入力されたフォーカスエラー信号ＦＥは、Ａ／Ｄ変換回路３０１にてデジタル信号に変換された後、イコライザ３０２にてノイズが除去され、サンプル／ホールド回路３０３に入力される。
【００４８】
サンプル／ホールド回路３０３は、図２の遅延回路２０９からディフェクト信号ＤＦＴが入力されていないとき、イコライザ３０２から入力されたフォーカスエラー信号ＦＥをもとにフォーカス駆動信号を生成し、Ｄ／Ａ変換回路３０４に出力する。Ｄ／Ａ変換回路３０４は、入力されたフォーカス駆動信号をアナログ信号（ＦＤＯ）に変換し、これを、光ピックアップ１０内の対物レンズアクチュエータ１３に供給する。
【００４９】
図２の遅延回路２０９からディフェクト信号ＤＦＴが入力された場合、サンプル／ホールド回路３０３は、ディフェクト信号ＤＦＴが入力される直前のフォーカス駆動信号をホールドし、これを、Ｄ／Ａ変換回路３０４に出力する。かかるフォーカス駆動信号のホールドおよびその出力は、ディフェクト信号ＤＦＴが立ち下がった後も、予め決められた期間Ｔ３だけ、引き続き維持される。
【００５０】
ここで、期間Ｔ３は、ディフェクト信号ＤＦＴが立ち下がった後、傷がメインビームを完全に通過するまでの時間とされる。なお、時間Ｔ３は、ディスクの回転速度等をもとに予め算出され、サンプル／ホールド回路３０３に設定されている。
【００５１】
しかして、サンプル／ホールド回路３０３におけるフォーカス駆動信号のホールドおよびその出力は、傷がメインビームに到達してから完全に通過するまでの間、維持されることとなる。したがって、フォーカス駆動信号に傷による乱れが生じることはなく、よって、光ピックアップ１０中の対物レンズ１２が、不所望に、ディスク方向に駆動されるような事態が生じることもない。
【００５２】
なお、上記では、サンプル／ホールド回路３０３に時間Ｔ３を設定することによって、フォーカス駆動信号のホールドおよびその出力を、傷がメインビームに到達してから完全に通過するまでの間、維持するようにしたが、これ以外の手段を用いて、傷がメインビームに到達してから完全に通過するまでの間、フォーカス駆動信号のホールドおよびその出力を維持するようにすることもできる。
【００５３】
たとえば、図５に示すように、演算増幅回路２１０、比較回路２１１および遅延回路２１２を、２分割センサ１０３からの出力に対してさらに準備する。そして、この回路構成をもとに、後行サブビームに傷が到達したことを示すディフェクト信号ＤＦＴをサンプル／ホールド回路３０３に出力する。
【００５４】
このとき、サンプル／ホールド回路３０３は、遅延回路２０９から出力されるディフェクト信号ＤＦＴが立ち上がってから、遅延回路２１２から出力されるディフェクト信号ＤＦＴが立ち上がるまでの間、フォーカス駆動信号のホールドおよびその出力を維持するようにする。これにより、フォーカス駆動信号のホールドおよびその出力は、遅延回路２０９から出力されるディフェクト信号ＤＦＴが立ち下がった後も、少なくとも、傷がメインビームを完全に通過するまでの間は、維持され続けることとなる。
【００５５】
なお、図５の構成例では、傷が後行サブビームに到達した後も、さらにそれから遅延回路２１２に設定された時間Ｔ２を経過するまで、フォーカス駆動信号のホールドおよびその出力が維持される。これに代えて、フォーカス駆動信号のホールドおよびその出力の維持期間を、傷がメインビームに到達してから後行サブビームに傷が到達するまでの期間とする場合は、図５の構成から、遅延回路２１２を省略し、比較回路２２４にて生成されるディフェクト検出信号ＤＳを、直接、サンプル／ホールド回路３０３に出力するようにすれば良い。この場合、メインビームと後行サブビームが図３（ａ）に示すようにトラック方向に重なっていなければ、フォーカス駆動信号のホールドおよびその出力を、少なくとも、傷がメインビームに到達してから完全に通過するまでの間、維持させることができる。
【００５６】
以上、本実施の形態によれば、傷がメインビームに到達してから完全に通過するまでの間、サンプル／ホールド回路３０３におけるフォーカス駆動信号のホールドおよびその出力が維持されるため、フォーカス駆動信号に傷による乱れが生じることはない。よって、光ピックアップ１０中の対物レンズ１２が、不所望に、ディスク方向に駆動されて、ディスクに衝突するとの事態が生じることもない。
【００５７】
なお、本発明の実施形態は、上記に限定されるものではなく、他に種々の変更が可能である。
【００５８】
たとえば、上記実施の形態では、演算増幅回路２０７、比較回路２０８および遅延回路２０９を信号生成回路２０に配するようにしたが、これらの回路構成を、光ピックアップ１０側に配するようにしても良い。この場合、図１の構成は、図６のように変更され、光ピックアップ１０から直接ＤＳＰ３０にディフェクト信号ＤＦＴが入力される。同様に、図５に示す演算増幅回路２１０、比較回路２１１および遅延回路２１２を光ピックアップ１０側に配するようにしても良い。
【００５９】
また、上記実施の形態では、信号Ｅ、Ｆの差信号と、信号Ｇ、Ｈの差信号を、演算増幅回路２０４にて求めるようにしたが、これら差信号の生成回路を光ピックアップ１０側に配するようにしても良い。この他、信号生成回路２０内の回路構成の一部を適宜、光ピックアップ１０またはＤＳＰ３０に移すこともできる。
【００６０】
さらに、上記実施の形態では、ＤＰＰ法によりトラッキングエラー信号を生成するようにしたが、メインビームのみを用いたプッシュプル法にてトラッキングエラー信号を生成するようにすることもできる。この場合は、図７に示す如く、図２の構成から、２分割センサ１０３と、演算増幅回路２０４、２０６と、アンプ回路２０５が省略される。
【００６１】
なお、上記実施の形態では、メインビームを受光する４分割センサからの信号のみからフォーカスエラー信号を生成したが、図８に示すように、サブビームを受光するセンサを４分割センサとし、いわゆる差動非点収差法に基づいて、フォーカスエラー信号ＦＥを生成するようにすることもできる。
【００６２】
この場合、４分割センサ１１０、１１１からの信号をもとに、演算増幅回路２２０、２２１にて、それぞれ、サブビームに基づくフォーカスエラー信号ＳＦＥが生成される。そして、これら２つのフォーカスエラー信号ＳＦＥが加算回路２２２にて加算された後、アンプ回路２２３にて定倍され、定倍後の加算信号が、加算回路２２４にて、メインビームに基づくフォーカスエラー信号ＭＦＥに加算される。これにより、フォーカスエラー信号ＦＥが生成される。
【００６３】
このように差動非点収差法を用いてフォーカスエラー信号を生成する場合にも、上記と同様、先行ビームを受光するセンサからの信号を加算した加算信号をもとに、ディフェクト信号ＤＦＴを生成するようにすることができる。また、これに代えて、演算増幅回路２２０から出力されるフォーカスエラー信号ＳＦＥをもとにディフェクト信号ＤＦＴを生成することもできる。
【００６４】
図８の構成例は、演算増幅回路２２０から出力されるフォーカスエラー信号ＳＦＥをもとにディフェクト信号ＤＦＴを生成する場合の構成例である。この場合、先行サブビームに基づくフォーカスエラー信号ＳＦＥが比較回路２２５に入力される。
【００６５】
傷などのディフェクトが先行サブビームを通過すると、演算増幅回路２２０から出力されるフォーカスエラー信号に乱れが生じる。比較回路２２５は、演算増幅回路２２０から入力されるフォーカスエラー信号と閾値レベルを比較し、フォーカスエラー信号が閾値レベルを超えたときに、一定パルス幅のディフェクト検出信号ＤＳを出力する。このディフェクト検出信号ＤＳは、上記図２の場合と同様、遅延回路２２６にて時間Ｔ２だけ遅延され、ディフェクト信号ＤＦＴとして、図４のサンプル／ホールド回路３０３に入力される。
【００６６】
サンプル／ホールド回路３０３は、上記と同様、ディフェクト信号ＤＦＴの入力に応じて、フォーカス駆動信号のホールドとその出力を開始する。そして、傷がメインビームを完全に通過するまでの間、フォーカス駆動信号のホールドとその出力を維持する。
【００６７】
なお、図８の構成例では、フォーカスエラー信号ＳＦＥをもとに傷を検出するものであるため、フォーカスエラー信号ＳＦＥの乱れをもとに、ディフェクト信号ＤＦＴのパルス幅を傷の長さに応じて変化させることが困難である。したがって、この構成例では、傷がメインビームを完全に通過したことを検出する手段が必要となる。この検出は、たとえば、図５の場合と同様、後行サブビームに基づく信号をもとに行うことができる。
【００６８】
図９は、後行サブビームに基づくフォーカスエラー信号をもとに傷がメインビームを完全に通過したことを検出する際の構成例である。
【００６９】
この場合、後行サブビームに基づくフォーカスエラー信号ＳＦＥが比較回路２３０に入力される。比較回路２３０は、演算増幅回路２２１から入力されるフォーカスエラー信号と閾値レベルを比較し、フォーカスエラー信号が閾値レベルを超えたときに、一定パルス幅のディフェクト検出信号ＤＳを出力する。このディフェクト検出信号ＤＳは、遅延回路２３１にて時間Ｔ２だけ遅延され、後行サブビームに基づくディフェクト信号ＤＦＴとして、サンプル／ホールド回路３０３に入力される。
【００７０】
サンプル／ホールド回路３０３は、先行サブビームに基づくディフェクト信号ＤＦＴの立ち上がりタイミングから、後行サブビームに基づくディフェクト信号ＤＦＴの立ち上がりタイミングまでの間、フォーカス駆動信号のホールドとその出力を維持する。
【００７１】
なお、上記図５の場合と同様、フォーカス駆動信号のホールドおよびその出力の維持期間を、傷がメインビームに到達してから後行サブビームに到達するまでの期間とする場合は、図９の構成から、遅延回路２３１が省略される。この場合、メインビームと後行サブビームが図３（ａ）に示すようにトラック方向に重なっていなければ、フォーカス駆動信号のホールドおよびその出力を、少なくとも、傷がメインビームに到達してから完全に通過するまでの間、維持させることができる。
【００７２】
ところで、図８および図９の構成例では、フォーカスエラー信号ＦＥの生成に、先行サブビームに基づくフォーカスエラー信号ＳＦＥが寄与するため、傷がメインビームに到達する前の期間、すなわち、傷が先行サブビームを通過する期間において、フォーカスエラー信号ＦＥに傷による影響が生じる。しかし、通常、差動非点収差法では、フォーカスエラー信号ＦＥを生成する際の、サブビームに基づくフォーカスエラー信号ＳＦＥの寄与度（アンプ回路２２３における定倍率）が、メインビームに基づくフォーカスエラー信号ＭＦＥの寄与度に比べて小さく抑えられるため、傷がサブビームを通過する期間におけるフォーカスエラー信号ＦＥの乱れは、それほど大きなものとはならない。よって、図８および図９の構成例においても、光ピックアップ１０中の対物レンズ１２が、不所望に、ディスク方向に駆動されて、ディスクに衝突するとの事態を避けることができる。
【００７３】
この他、上記実施の形態では、非点収差法に基づいてフォーカスエラー信号を生成するようにしたが、フォーカスエラー信号の生成に他の手法を用いることもできる。同様に、トラッキングエラー信号の生成手法も上記に限定されず、３ビーム法等を用いるようにすることもできる。また、回折格子１５にて先行サブビームを生成する方法に代えて、先行サブビーム用の光源を別途配するようにすることもできる。
【００７４】
本発明の実施形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７５】
【図１】実施の形態に係る光ディスクの構成を示す図
【図２】実施の形態に係る光検出器と信号生成回路の構成を示す図
【図３】実施の形態に係る各種信号の状態を説明する図
【図４】実施の形態に係るＤＳＰの構成を示す図
【図５】実施の形態に係る光検出器と信号生成回路の構成の変更例を示す図
【図６】実施の形態に係る光ディスクの構成の変更例を示す図
【図７】実施の形態に係る光検出器と信号生成回路の構成の変更例を示す図
【図８】実施の形態に係る光検出器と信号生成回路の構成の変更例を示す図
【図９】実施の形態に係る光検出器と信号生成回路の構成の変更例を示す図
【符号の説明】
【００７６】
１０  光ピックアップ
１１  半導体レーザ
１２  対物レンズ
１３  対物レンズアクチュエータ
１４  光検出器
１５  回折格子
２０  信号生成回路
３０  ＤＳＰ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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