(57)【要約】【課題】電子写真感光体の導電性基体上に形成された電荷発生層等の層の膜厚情報を高精度に評価する。【解決手段】導電性基体上に層が形成された電子写真感光体の評価を行う電子写真感光体の評価装置及び評価方法において、電子写真感光体表面に斜め周方向から光を照射し、反射光のうち正反射方向以外の散乱光を集光して強度を検出して、層の膜厚に関する情報を得ることにより、電子写真感光体の導電性基体上に形成された電荷発生層等の層の膜厚を高精度に評価することができる。【選択図】図４
2007187944.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
導電性基体上に層が形成された電子写真感光体の評価を行う電子写真感光体の評価装置であって、
前記電子写真感光体表面に斜め周方向から光を照射する光照射手段と、
前記電子写真感光体からの反射光のうち正反射方向以外の散乱光を集光する集光手段と、
前記集光した散乱光の強度を検出する光電変換手段と、
前記光電変換手段によって検出された電気信号に基づいて、前記層の膜厚に関する情報を得る演算処理手段と、
を有することを特徴とする電子写真感光体の評価装置。
【請求項２】
導電性基体上に層が形成された電子写真感光体の評価を行う電子写真感光体の評価方法であって、
前記電子写真感光体表面に斜め周方向から光を照射し、前記電子写真感光体からの反射光のうち正反射方向以外の散乱光を集光して強度を検出して、前記散乱光の強度に基づいて前記層の膜厚に関する情報を得ることを特徴とする電子写真感光体の評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は複写機、プリンタ等の電子写真装置に用いられる電子写真感光体の膜厚等を評価する電子写真感光体の評価装置及び評価方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、電子写真装置は、白黒の複写機やプリンタからカラー複写機やカラープリンタへと発展普及し、より画質の向上が求められている。その中でも画像濃度は重要である。従来は電子写真感光体（以下、単に「感光体」と呼ぶ場合もある）を作製しても、画像濃度に関して、感光体が電子写真装置に適用可能か否かは、感光体を電子写真装置に搭載して得られる画像から判断する方式が用いられていた。しかし、より画質の向上が求められるようになり、電子写真装置に搭載して画像評価を行うことでは、得られた画像のばらつきにより評価精度が不充分であり、また評価効率の面からも、より迅速な評価方法が望まれていた。
【０００３】
電子写真装置に使用される電子写真感光体としては、光導電性を示す有機材料を用いた有機感光体が主流となっており、感光体の構成も導電性基体上に下引き層、電荷発生層および電荷輸送層を積層した機能分離型感光体へと変遷している。このような積層感光体では、電荷発生層の膜厚が、画像濃度に大きな影響を与えることが知られている。
【０００４】
電子写真感光体の電荷発生層の膜厚を測定する方法としては、通常その膜厚が０．５μｍ以下と薄いことから、膜厚が厚い電荷輸送層の膜厚測定に用いられる渦電流膜厚計、干渉膜厚計等の直接的に膜厚を測定する方式の適用は難しく、光の吸収量が膜厚により変化することを利用した方式が多く用いられる。例えば、特許文献１あるいは特許文献２では、分光光度計により得られた当該位置の分光吸収スペクトルから吸収率を求め、膜厚換算する方法が開示されている。
【０００５】
しかしながら、これらの方法は、電荷発生層単層に光を照射し、基体からの反射光により、その層の吸収量を求め、膜厚に換算しようとするものである。これらの方法を、電荷輸送層を塗布後の感光体に適用しようとした場合は、電荷輸送層表面からの反射光の影響を受けるという問題点があった。特に、レーザ光源を使用した複写機あるいはプリンタに使用する感光体では、導電性基体あるいは下引き層の表面を粗面状態して、感光体内部での多重反射を防止し、干渉縞の発生を防止する対策が一般的に行われている。このような感光体では、基体からの反射光が散乱してしまう為、電荷輸送層表面からの反射強度に比べて、基体からの反射強度が弱く、電荷発生層による吸収量が検出できない問題点があった。
【０００６】
このような問題点を改善する手段として、例えば、特許文献３あるいは特許文献４では、投光手段からの正反射光路に対して、ずれた角度に受光手段を配置して散乱光を受光し、電荷発生層の膜厚を評価する方法が開示されている。これらの方法では、電荷輸送層表面の正反射光の影響を除き、電荷発生層の吸収量を検出することが可能である。
【０００７】
【特許文献１】特開平６−１３０６８３号公報
【特許文献２】特開平９−１０６２１８号公報
【特許文献３】特開２００４−４５６０６号公報
【特許文献４】特開２００４−２８７２４４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、特許文献３あるいは特許文献４の方法は、特定の角度に投光手段及び受光手段を配置しているために、基体あるいは下引き層からの散乱光のうち、特定の角度のものしか検出できない。そのために、基体あるいは下引き層の表面状態が変動し、散乱光の広がりが変化した場合、電荷発生層の吸収量と関係の無い反射光量の変化が発生し、測定値の精度低下を招くという問題がある。
【０００９】
本発明は、電子写真感光体の導電性基体上に形成された電荷発生層等の層の膜厚を高精度に評価することを可能とする、電子写真感光体の評価装置及び評価方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は、導電性基体上に層が形成された電子写真感光体の評価を行う電子写真感光体の評価装置であって、前記電子写真感光体表面に斜め周方向から光を照射する光照射手段と、前記電子写真感光体からの反射光のうち正反射方向以外の散乱光を集光する集光手段と、前記集光した散乱光の強度を検出する光電変換手段と、前記光電変換手段によって検出された電気信号に基づいて、前記層の膜厚に関する情報を得る演算処理手段と、を有する。
【００１１】
また、本発明は、導電性基体上に層が形成された電子写真感光体の評価を行う電子写真感光体の評価方法であって、前記電子写真感光体表面に斜め周方向から光を照射し、前記電子写真感光体からの反射光のうち正反射方向以外の散乱光を集光して強度を検出して、前記散乱光の強度に基づいて前記層の膜厚に関する情報を得る。
【発明の効果】
【００１２】
本発明では、導電性基体上に層が形成された電子写真感光体の評価を行う電子写真感光体の評価装置及び評価方法において、電子写真感光体表面に斜め周方向から光を照射し、反射光のうち正反射方向以外の散乱光を集光して強度を検出して、層の膜厚に関する情報を得ることにより、電子写真感光体の導電性基体上に形成された電荷発生層等の層の膜厚を高精度に評価することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
本発明の実施の形態について以下説明する。
【００１４】
本発明者は鋭意研究を重ねた結果、例えば、導電性基体上に下引き層、電荷発生層、電荷輸送層等の層が順次積層され、基体あるいは下引き層表面が粗面である電子写真感光体の評価を行う電子写真感光体の評価装置及び評価方法において、電子写真感光体表面に斜め周方向から光を照射し、反射光のうち正反射方向以外の散乱光を集光して強度を検出して、層の膜厚に関する情報を得ることにより、電荷発生層等の層の膜厚情報を高精度に評価することが可能なことを知見し、本発明を完成するに至った。
【００１５】
その手法としては、例えば、光学顕微鏡の暗視野照明用の対物レンズによって感光体表面に斜め周方向から光を照射し、垂直方向の散乱光を集光し、光電変換素子等の光電変換手段に受光して、反射強度を求めることにより、電荷発生層等の膜厚を高精度に評価することができる。
【００１６】
本発明の実施形態に係る電子写真感光体の評価装置の一例の概略正面図を図１（ａ）にこの装置について電子写真感光体２８の同一円周面内における概略側面図を図１（ｂ）に示し、その構成について説明する。電子写真感光体評価装置１は、光学顕微鏡ユニット１０と、光照射手段を構成する照明装置１２と、回転モータ１４と、Ｘ軸移動テーブル１６と、Ｚ軸移動テーブル１８と、光電変換手段である光電子増倍管２０と、演算処理手段である演算処理装置２２とを備える。光学顕微鏡ユニット１０には、光照射手段を構成する対物レンズユニット２４が設置され、対物レンズユニット２４は集光手段である対物レンズ２６（図１（ａ），（ｂ）では図示せず）を備える。
【００１７】
図１の電子写真感光体評価装置１において、評価対象となる電子写真感光体２８は、テーブル３０上に回転モータ１４により軸を中心に回転することができるように軸方向を水平にして設置されている。暗視野照明が可能な光学顕微鏡ユニット１０は、テーブル３０のＸ軸移動テーブル１６上に設置されていて、電子写真感光体２８の軸方向への移動が可能である。光学顕微鏡用の照明装置１２は光学顕微鏡ユニット１０に装着され、照明装置１２からの光は、照明装置１２と対物レンズユニット２４との間に装着されたバンドパスフィルタ３２により単色光化され、対物レンズユニット２４を通して、電子写真感光体２８の表面に照射される。電子写真感光体２８表面からの反射光は対物レンズユニット２４の対物レンズ２６により集光され、光電子増倍管２０により、電気信号に変換される。当該電気信号は演算処理装置２２により反射強度の形に変換される。
【００１８】
本実施形態に係る電子写真感光体評価装置１において、回転モータ１４等の感光体回転駆動装置およびＸ軸移動テーブル１６等の電子写真感光体２８の軸方向に移動可能な移動テーブルを備え、移動テーブル上に反射強度の測定手段を搭載して電子写真感光体２８の評価を行うことが好ましい。
【００１９】
また、本実施形態に係る電子写真感光体評価装置１において、電子写真感光体２８を回転させながら、光照射手段および集光手段を搭載した移動テーブルを電子写真感光体２８の軸方向に移動して、反射強度を測定することにより、電子写真感光体２８全面の電荷発生層の膜厚均一性を評価することが好ましい。すなわち、回転モータ１４とＸ軸移動テーブル１６の位置信号により、電子写真感光体２８のどの位置を測定しているかの位置情報を受け取り、電子写真感光体２８面内の位置での反射強度の情報を得ることができる。
【００２０】
このように、電子写真感光体２８を回転させるとともに、Ｘ軸移動テーブル１６を電子写真感光体２８の軸方向に移動し、電子写真感光体２８上の露光面をスキャンさせ、電子写真感光体２８表面全面の反射強度情報を測定し平均化することで、電荷発生層等の膜厚等の評価が可能となる。
【００２１】
また、光学顕微鏡ユニット１０は、図１（ｂ）に示すＺ軸移動テーブル１８により、高さ方向の移動が可能であり、径の異なる電子写真感光体２８に対しても、顕微鏡の焦点位置への移動が可能になっている。
【００２２】
図２に、本実施形態において評価対象となる電子写真感光体２８の外観概略図を示す。電子写真感光体２８は、基体３４上に有機感光体等を含む塗膜３６を有する。また、図３に、本実施形態における電子写真感光体２８の層構成の一例を示す。塗膜３６は、下引き層３８、及び電荷発生物質を含む電荷発生層４０と、電荷輸送物質を含む電荷輸送層４２とを含む感光層４４を有する。電荷発生層４０と電荷輸送層４２の積層順序は逆であってもよい。これらは、電荷発生物質と電荷輸送物質とを別個の層（電荷発生層、電荷輸送層）に含有させて積層した積層型感光体であるが、電荷発生物質と電荷輸送物質との双方を同一の層に含む単層型感光体であってもよく、好ましくは積層型感光体である。また、下引き層３８と感光層４４との間に中間層を有していてもよい。また、有機感光体に限らずアモルファスシリコン感光膜等他の種類の感光層を使用してもよい。
【００２３】
本実施形態に係る電子写真感光体評価装置及び評価方法は、基体３４上に下引き層３８、電荷発生層４０、電荷輸送層４２が順次積層された電子写真感光体２８の評価に好適に使用することができる。また、本実施形態に係る電子写真感光体評価装置及び評価方法は、基体３４上に下引き層３８、電荷発生層４０、電荷輸送層４２が順次積層され、基体３４の表面あるいは下引き層３８の表面が粗面である電子写真感光体２８の評価に特に好適に使用することができる。電荷発生層４０の上に電荷輸送層４２が積層されていないと、電荷発生層４０の表面からの散乱光がノイズとなり、電荷発生層４０の膜厚を正確に評価することが困難となる。電荷発生層４０の上に電荷輸送層４２が積層されていることにより、電荷発生層４０と電荷輸送層４２の屈折率の差が小さくなることにより、電荷発生層４０と電荷輸送層４２との界面の散乱を抑制することができる。また、実際の電子写真装置に搭載される電子写真感光体と同じ層構成のものの膜厚を評価することにより、実際の電子写真装置の画像濃度等の特性と対応させることができる。
【００２４】
図４は、本実施形態に係る電子写真感光体２８の評価方法の測定原理を説明するものであり、電子写真感光体２８の表面近傍での入射光および反射光の様子を示したものである。ここで評価対象となる電子写真感光体２８は、導電性の基体３４上に下引き層３８、電荷発生層４０、電荷輸送層４２の層が順次積層され、基体３４の表面あるいは下引き層３８の表面が粗面であるものである。
【００２５】
電子写真感光体２８の基体３４の中心軸を含む長さ方向に平行な面でとった断面を有する平面内に於いて、顕微鏡の暗視野照明では、照射光４６は対物レンズユニット２４内の外側の光路４８を通り、電子写真感光体２８表面に斜め周方向から入射される。そして照射光４６の一部は電子写真感光体２８表面で入射角と反対側に同じ角度で正反射される。また、電荷輸送層４２に入射した光のうち電荷発生層４０で吸収されなかった光は基体３４または下引き層３８表面に達するが、その表面が粗面であるため反射光は散乱する。さらに電荷発生層４０で吸収されなかった散乱光は、電荷輸送層４２を通過して電子写真感光体２８の外側へ出る。正反射光よりも内側に出た光は、その多くが対物レンズ２６で集光され、図１の光電子増倍管（光電変換素子）２０に導かれて検出される。
【００２６】
この方法では、正反射光は検出されず、散乱光のみが検出されることにより、電荷輸送層４２表面からの正反射光の影響を受けずに、電荷発生層４０の吸収と関連のある反射光量を検出することができると共に、対物レンズ２６により、周辺からの散乱光を効率良く集めることができる。これにより、基体３４または下引き層３８表面の状態の変化で、散乱角度が多少変動しても、散乱光全体の受光光量への影響を小さくすることが可能である。
【００２７】
このように、本実施形態に係る電子写真感光体評価装置１及び評価方法は、電子写真感光体２８の基体３４の表面あるいは下引き層３８の表面が粗面である場合に、特に有効である。ここで、「粗面」とは、表面に均一に凹凸がある状態を示し、その凹凸の程度は、中心線平均粗さＲａが０．０１μｍ〜１μｍの範囲、好ましくは０．０５μｍ〜０．５μｍの範囲のことをいう。
【００２８】
測定に使用する照射光４６は、ハロゲンランプ等による光学顕微鏡の白色照明装置を利用することができるが、光学顕微鏡の白色照明を特定波長のバンドパスフィルタ３２により特定の波長の単色光に変換し、感光体表面に照射することが好ましい。
【００２９】
また、照射光４６の波長として、電荷発生層４０の膜厚の変化により吸収量が変化して、受光強度の変化の大きい波長、すなわち電荷発生層４０の膜厚の変化に感受性の高い波長を選択することが好ましい。このような波長は、あらかじめ電荷発生層４０の膜厚を変化させたサンプルを使用して、反射光を波長分光装置等により分光し、最も変化の大きな波長を求めることにより選択することができる。また、適用する電子写真装置の露光に用いられるレーザまたはＬＥＤの波長に対して、受光強度の変化が大きい場合は、照射光４６の波長として、電子写真感光体２８を適用する電子写真装置の露光波長を選択することにより、より電子写真装置の画像濃度等の特性に対応した結果を得ることができる。電子写真装置の露光に用いられるレーザまたはＬＥＤの波長以外の波長を使用すると、得られた膜厚情報と、実際の電子写真装置の画像濃度等の特性とが対応しない場合がある。
【００３０】
そして、これらの波長に合わせたバンドパスフィルタ３２を照明装置１２と対物レンズユニット２４との間に装着し、特定の波長の光のみを照射することにより、光電変換手段（受光装置）には、波長分光装置を用いる必要がなく、より高感度で応答性の高い、光電子増倍管２０を用いることができる。また、白色光を照射することによる感光体へのダメージを抑制する効果がある。
【００３１】
集光した散乱光の強度を検出する光電変換手段としては、光電子増倍管以外にも、半導体センサ、パイロセンサ等を使用することができるが、高感度で応答性の高いことから、微小な散乱光を検出することができる光電子増倍管を使用することが好ましい。
【００３２】
照射光４６の電子写真感光体２８表面に対する入射角度は、電子写真感光体２８表面に対する垂直方向以外の方向であればよく特に制限はないが、法線と３０度〜６０度の範囲であることが好ましい。入射角度が３０度未満であると正反射光と散乱光との分離が困難となる場合があり、６０度を超えると散乱光量が弱く検出が困難となる場合がある。
【００３３】
集光する散乱光は、正反射光よりも内側に出る散乱光を集光すれば良く特に制限はない。
【００３４】
また、本実施形態に係る電子写真感光体の評価装置及び評価方法において、導電性基体上に下引き層を塗布したサンプルの反射強度を基準とし、導電性基体上に少なくとも下引き層と電荷発生層と電荷輸送層とが順々に積層され電子写真用感光体の反射強度を測定することが好ましい。その測定手順は、まず、評価対象となる電子写真感光体２８と同一条件の基体３４を使用し、その上に下引き層３８のみを塗布したサンプルを用いて測定を行う。その受光強度を基準として、電子写真感光体２８の受光強度を反射強度に変換する。これにより、基体３４あるいは下引き層３８の表面状態の異なるサンプルでも、電荷発生層４０の膜厚を、反射強度として定義することが可能となる。
【００３５】
この原理をもとに、回転可能な電子写真感光体２８を保持し、反射強度の測定手段を軸方向にスキャンできるようにして電子写真感光体２８面内の任意の位置での反射強度を測定可能とした装置が前記図１の電子写真感光体評価装置１である。
【００３６】
本実施形態では、既存の光学顕微鏡ユニットの暗視野照明を利用して、電子写真感光体２８表面に照射光４６を斜め周方向から入射させているが、斜め周方向から照射光４６を照射することができるのであれば、これに限られない。既存の光学顕微鏡ユニットを利用することにより、周囲３６０度方向から照射光４６を集中させ、散乱光を効率よく集光することができる。また、周囲３６０度方向から照射光４６を集中させ、散乱光を効率よく集光することができるため、基体３４あるいは下引き層３８の表面状態の異なるサンプルでも、電荷発生層４０の膜厚を正確に評価することができる。ここで、「斜め周方向から」の「周方向から」とは必ずしも周囲３６０度方向からである必要はなく、一方向からでなければよい。すなわち、少なくとも２方向からであればよい。
【００３７】
また、電荷発生層４０の膜厚は、電荷輸送層４２の膜厚に比べて薄いため、電荷輸送層４２の膜厚測定に用いられる渦電流膜厚計、干渉膜厚計等の直接的に膜厚を測定する方式の適用は困難であったが、本実施形態に係る電子写真感光体の評価装置及び評価方法を用いることにより、電荷発生層４０の膜厚を正確に評価することができる。また、電荷発生層４０に使用される電荷発生物質としては、一般的に着色顔料等が用いられており、電荷発生物質が吸収する波長領域の単色光を照射光４６として用いることにより、電荷発生層４０の膜厚を正確に評価することができる。
【００３８】
円筒状の基体３４としては、通常、直径がφ１０〜２００ｍｍ、長さが２５０〜１０００ｍｍの円筒体が用いられる。また、基体３４の材料としては、アルミニウム、ステンレス、ニッケルなどの金属材料、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリプロピレン、ナイロン、ポリスチレン、フェノール樹脂などの高分子材料又は硬質紙などの絶縁材料に導電物質を分散させて導電処理したもの、上記の絶縁材料に金属泊を積層したもの、上記の絶縁材料に金属の蒸着膜を形成したもの、などが挙げられ、通常はアルミニウムが用いられる。
【００３９】
また、基体３４は、陽極酸化処理、粗研削処理、ホーニング処理などの表面処理が施されたものであってもよい。このような表面処理により導電性基体の表面粗さを所定の範囲内（好ましくは中心線平均粗さＲａが０．０５〜０．５μｍ、最大高さＲｍａｘが０．５〜５μｍ）とすることによって、光の干渉を防止することができる。
【００４０】
電荷発生層４０は、電荷発生物質及び結着樹脂（バインダ）を含んで形成されたもので、電荷発生物質は結着樹脂中に分散されて層中に保持されている。かかる電荷発生物質としては、具体的には、アゾ顔料、ジスアゾ顔料、キノン顔料、キノシアニン顔料、ペリレン顔料、インジゴ顔料、ビスベンゾイミダゾール顔料、フタロシアニン顔料、キナクリドン顔料、ピリリウム塩、アズレニウム塩、三方晶型セレンなどが挙げられる。また、結着樹脂としては、ポリカーボネート、ポリアクリレート、ポリスチレン、ポリメタクリル酸エステル、スチレン−メタクリル酸メチルコポリマ、ポリサルホン、ポリ酢酸ビニル、ポリアクリロニトリル、ポリビニルブチラール、ポリビニルピロリドン、メチルセルロース、ヒドロキシメチルセルロース、セルロースエステル類などを用いることができる。電荷発生層４０の膜厚は、好ましくは０．０５μｍ〜１．０μｍの範囲である。
【００４１】
電荷輸送層４２は、電荷輸送物質及び結着樹脂を含んで形成されたもので、電荷輸送物質は結着樹脂中に分散されて層中に保持されている。かかる電荷輸送物質としては、具体的には、アントラセン、ピレン、フェナントレン、コロネンなどの多環芳香族化合物又はその誘導体、インドール、カルバゾール、オキサゾール、イソオキサゾール、チアゾール、イミダゾール、ピラゾール、オキサジアゾール、ピラゾリン、チアジアゾール、トリアゾールなどの窒素含有複素環式化合物又はその誘導体、ヒドラゾンなどの正孔輸送物質等が挙げられる。また、結着樹脂としては、上記電荷発生層４０の説明において例示された樹脂を用いることができる。また、電荷輸送層４２の膜厚は、１０〜５０μｍの範囲が好ましく、さらに好ましくは１５〜３５μｍである。
【００４２】
必要に応じて設けられる下引き層３８は所定の樹脂を含んで形成されるものである。かかる樹脂としては、ポリビニルブチラール等のアセタール系樹脂、アクリル系樹脂、塩化ビニル系樹脂、酢酸ビニル系樹脂、ポリウレタン系樹脂、ポリエステル系樹脂、ポリカーボネート系樹脂等の熱可塑性樹脂や、アルキッド系樹脂、メラミン系樹脂、ポリウレタン系樹脂、エポキシ系樹脂、フェノール系樹脂、シリコーン系樹脂等の熱硬化性樹脂などが挙げられ、これらの樹脂にジルコニウム化合物、チタニウム化合物などを配合して下引き層としてもよい。下引き層３８の膜厚は、好ましくは０．１μｍ〜３．０μｍの範囲である。また、下引き層３８は、結着樹脂に金属酸化物微粒子を含有させて形成されてもよい。下引き層３８が、十分なリーク耐性を発揮するためには、金属酸化物微粒子は、１×１０２〜１×１０１１Ω・ｃｍ程度の粉体抵抗があることが好ましい。中でも、上記抵抗値を有する酸化錫、酸化チタン、酸化亜鉛、酸化ジルコニウム等の金属酸化物微粒子を用いるのが好ましく、さらには、酸化亜鉛が特に好ましく用いられる。結着樹脂に金属酸化物微粒子を含有させて形成される下引き層３８の膜厚は１５μｍ以上３０μｍ以下であることが好ましく、１８μｍ以上２８μｍ以下であることがより好ましい。
【００４３】
下引き層３８、電荷発生層４０及び電荷輸送層４２を成膜する際には、結着樹脂、あるいは更に電荷発生物質又は電荷輸送物質を所定の溶剤に分散させて得られる塗工液を所定の層（基体３４、下引き層３８、電荷発生層４０、電荷輸送層４２など）上に塗布し、乾燥させることによって好適に得ることができる。かかる溶剤としては、揮発性が高く且つその蒸気の密度が空気よりも大きい溶剤が好ましく、具体的には、ｎ−ブチルアミン、ジエチルアミン、エチレンジアミン、イソプロパホールアミン、トリエタノールアミン、Ｎ，Ｎ−ジメチルホルムアミド、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、ベンゼン、４−メトキシ−４−メチルペンタノン、ジメトキシメタン、ジメトキシエタン、２，４−ペンタジオン、アニソール、３−オキソブタン酸メチル、モノクロロベンゼン、トルエン、キシレン、クロロホルム、１，２−ジクロロエタン、ジクロロメタン、テトラヒドロフラン、ジオキサン、メタノール、エタノール、イソプロパノール、１−ブタノール、酢酸エチル、酢酸ブチル、ジメチルスルホキシド、メチルセルソルブ、エチルセルソルブ、メチルセルソルブ、メチルセルソルブアセテートなどが挙げられる。これらの有機溶剤は１種を単独で用いてもよく、２種以上を組み合わせて用いてもよい。
【００４４】
また、これらの溶剤に結着樹脂、電荷輸送物質、電荷発生物質などの材料を分散させる方法としては、サンドミル、コロイドミル、アトライター、ボールミル、ダイノーミル、高圧ホモジナイザー、超音波分散機、コボールミル、ロールミルなどが挙げられる。
【００４５】
また、上記の塗工液を塗布する方法としては、ブレードコーティング法、マイヤーバーコーティング法、スプレーコーティング法、浸漬コーティング法、ビードコーティング法、エアーナイフコーティング法、カーテンコーティング法などが挙げられる。
【実施例】
【００４６】
以下、実施例および比較例を挙げ、本発明をより具体的に詳細に説明するが、本発明は、以下の実施例に限定されるものではない。
【００４７】
（実施例１）
感光体の電荷発生層の膜厚を測定する為に以下の処方により感光体を作成した。
【００４８】
直径８４ｍｍで長さ３４０ｍｍのアルミニウムパイプ上に湿式ホーニング処理を行い、導電性基体の中心線平均粗さＲａを０．１６μｍ、０．１８μｍ、０．２０μｍとした３種類のサンプルを作成した。中心線平均粗さＲａは表面粗さ測定装置（東京精密（株）製サーフコム１４００型）により測定した。この上に４質量部のポリビニルブチラール樹脂（エスレックＢＭ−Ｓ、積水化学社製）を溶解したｎ−ブチルアルコール１７０質量部、有機ジルコニウム化合物（アセチルアセトンジルコニウムブチレート）３０質量部及び有機シラン化合物の混合物（γ−アミノプロピルトリエトキシシシラン）３質量部を混合し、撹拌し得られた下引き層形成用の塗布液を塗布乾燥し、膜厚１μｍの下引き層を形成した。
【００４９】
さらに、電荷発生物質として塩化ガリウムフタロシアニン１５質量部、結着樹脂としての塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体樹脂１０質量部、ｎ−ブチルアルコール３００質量部からなる混合物を、サンドミルにて４時間分散し得られた分散液を上記下引き層上に浸漬塗布乾燥して、電荷発生層を形成した。この時に、前記のＲａの異なる３種類の基体を使用したサンプルに、それぞれ塗布速度を１５０ｍｍ／ｓｅｃ、２２０ｍｍ／ｓｅｃ、３３０ｍｍ／ｓｅｃの３種類の条件で塗布を行い、電荷発生層の膜厚を変えた、合計３×３＝９種類のサンプルを作製した。
【００５０】
次に、トリアリールアミン系電荷輸送物質４質量部と、結着樹脂としてのビスフェノールＺポリカーボネート樹脂（粘度平均分子量３０，０００）６質量部とを、ＴＨＦ／クロルベンゼン６０／２０質量部とを加えて溶解した。こうして得られた溶液を電荷輸送層用の塗布液として用い、これを上記電荷発生層上に塗布し、乾燥することにより、膜厚が２６μｍの電荷輸送層を形成した。
【００５１】
このような組成の感光体を用いて反射強度の測定を行った。測定装置は図１に示す装置を用い、光学顕微鏡ユニット１０は、ニコン製のフォーカシングユニットＩＭ−３、照明装置１２は、ニコン製の１２Ｖ５０Ｗハロゲン照明装置、対物レンズユニット２４は、ニコン製の明暗視野用対物レンズＣＦ  ＩＣ  ＢＤ  Ｐｌａｎ１０×を用い、照明装置１２のレバーの切り替えにより、暗視野照明になるように設定した。また、照明装置１２からの白色光を、適用する電子写真装置の露光波長である７８０ｎｍのバンドパスフィルタ３２により単色光にして、対物レンズユニット２４により、電子写真感光体２８表面に対して斜め４５度、周方向３６０度から照射し、正反射光の内側の散乱光を光電子増倍管２０（浜松ホトニクス製、光電子増倍管Ｒ２２２８）により受光し、電気信号に変換した。そして、回転モータ１４により電子写真感光体２８を１２０ｒｐｍで回転させて、Ｘ軸移動テーブル１６により光学顕微鏡ユニット１０を電子写真感光体２８の端部から２０ｍｍの位置から反対側の電子写真感光体２８の端部から２０ｍｍ位置まで、５ｍｍ／ｓｅｃの速度で３００ｍｍ移動させて、２５０ポイント／サイクルの間隔でデータを取り込み、電子写真感光体２８全面の反射強度の測定を行い、平均値を求めた。また、反射強度の基準化のために、あらかじめＲａが０．１８μｍの感光体基体と下引き層のみを塗布したサンプルを用いて、同様の条件にて測定を行い、１００％の反射強度を決定した。測定に用いた感光体の作製条件と、得られた反射強度の１００％反射強度に対する比率の値を表１に示す。
【００５２】
【表１】
2007187944.tif 000003
【００５３】
表１に示すように、本方式は、電荷発生層の膜厚変化に対して、充分な検出感度が得られ、一方、基体の粗さの変動に対しては、変化が小さい。したがって、感光体の基体の粗さが変動した場合でも、電荷発生層の膜厚に関する情報を精度良く測定することができた。
【００５４】
（比較例１）
実施例１で作製したサンプルを実施例１と同じ測定装置を使用して、照明装置１２のレバーの切り替えにより、明視野照明になるように設定した。この場合は、照射光は、対物レンズユニット２４内の内側の光路を通り、電子写真感光体２８表面に対し垂直方向から照射され、垂直方向に反射した正反射光が受光される。また、実施例１と同様、反射強度値の基準化のために、あらかじめＲａが０．１８μｍの感光体基体と下引き層のみを塗布したサンプルを用いて、明視野照明の条件にて測定を行い、１００％の反射強度を決定した。実施例１と同様にして、比較例１における測定に用いた感光体の作製条件と、得られた反射強度の１００％反射強度に対する比率の値を表２に示す。
【００５５】
【表２】
2007187944.tif 000004
【００５６】
表２に示すように、比較例１の方式は、電荷発生層の膜厚変化に対して、１００％反射強度に対する比率の変化が小さく、電荷発生層の膜厚を測定することができなかった。
【００５７】
（比較例２）
実施例１で作製したサンプルを特開２００４−２８７２４４号公報で示されている反射強度測定法による測定を行った。実施例１と同様の測定装置を使用し、照射光に波長７８０ｎｍのレーザ装置（オーディオテクニカ製レーザダイオードコリメータＳＵ−１０Ｃ）を使用し、対物レンズユニット２４の外側から、電子写真感光体２８表面の法線と７０°の角度の斜め一方向から入射した。反射光は、実施例１と同じく対物レンズ２６により集光し、光電子増倍管２０により検出した。また、実施例１と同様、反射強度の基準化のために、あらかじめＲａが０．１８μｍの感光体基体と下引き層のみを塗布したサンプルを用いて、同様の条件にて測定を行い、１００％の反射強度を決定した。実施例１と同様にして、比較例２における測定に用いた感光体の作製条件と、得られた反射強度の１００％反射強度に対する比率の値を表３に示す。
【００５８】
【表３】
2007187944.tif 000005
【００５９】
表３に示すように、比較例２の方式は、電荷発生層の膜厚変化に対して、検出感度は得られるが、基体の粗さの変動に対しても、１００％反射強度に対する比率の値が変化する。したがって、感光体の基体の粗さが変動すると、それがノイズとなり、電荷発生層の膜厚に関する情報を精度良く測定することができなかった。
【００６０】
このように実施例１の装置を用いることにより、電子写真感光体の電荷発生層の膜厚に関する情報を、基体の粗さの影響を受けずに高精度に測定することができるようになった。
【図面の簡単な説明】
【００６１】
【図１】（ａ）本発明の実施形態に係る電子写真感光体評価装置の概略正面図である。（ｂ）本発明の実施形態に係る電子写真感光体評価装置の概略側面図である。
【図２】本発明の実施形態に係る電子写真感光体の概略外観の一例を示す図である。
【図３】本発明の実施形態に係る電子写真感光体の層構成の一例を示す図である。
【図４】本発明の実施形態における感光層への入射光と正反射光及び散乱光の経路を示す概略図である。
【符号の説明】
【００６２】
１  電子写真感光体評価装置、１０  光学顕微鏡ユニット、１２  照明装置、１４  回転モータ、１６  Ｘ軸移動テーブル、１８  Ｚ軸移動テーブル、２０  光電子増倍管、２２  演算処理装置、２４  対物レンズユニット、２６  対物レンズ、２８  電子写真感光体、３０  テーブル、３２  バンドパスフィルタ、３４  基体、３６  塗膜、３８  下引き層、４０  電荷発生層、４２  電荷輸送層、４４  感光層、４６  照射光、４８  光路。
【図１】
2007187944.tif 000006
【図２】
2007187944.tif 000007
【図３】
2007187944.tif 000008
【図４】
2007187944.tif 000009