(57)【要約】【課題】プリント基板のＶ溝を検査するために、専用のハードウエアが不要となって、製作コストの低減化も図ることができるプリント基板のＶ溝の検査方法・検査装置の提供【解決手段】  プリント基板のＶ溝の検査のためにＶ溝およびその近傍を撮影し（Ｓ１）、その撮影した画像に対して、Ｖ溝の一部を含む所定の検査領域を作成する（Ｓ２）。その作成された検査領域において、Ｖ溝の長さ方向の各画素の各濃度値を積算し、その長さ方向ごとの積算値を求める（Ｓ３）。その求めた各積算値について、Ｖ溝の長さ方向ごとの平均値を求める（Ｓ４）。その求めた各平均値に基づき、所定の処理によりＶ溝の良否を判定する（Ｓ５〜Ｓ１１）。【選択図】  図３
2007088036.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プリント基板に設けた切断用のＶ溝を検査する方法であって、
前記Ｖ溝の検査のためにＶ溝およびその近傍を撮影した画像を取得し、この取得した画像からＶ溝の一部を含む所定の検査領域を抽出する検査領域抽出ステップと、
その抽出された検査領域の各画素の濃度値に基づいて前記Ｖ溝の良否を検査する検査ステップと、
からなることを特徴とするプリント基板のＶ溝の検査方法。
【請求項２】
前記所定の検査領域は、良品のプリント基板を撮影した画像を表示装置に表示させて表示画面上で設定するようにし、この設定される検査領域にはＶ溝の方向性を示す表示が含まれるようにしたことを特徴とする請求項１に記載のプリント基板のＶ溝の検査方法。
【請求項３】
前記検査ステップは、
前記検査領域抽出ステップで抽出された検査領域において、前記Ｖ溝の長さ方向の各画素の各濃度値を積算し、その長さ方向ごとに積算値を求める積算処理ステップと、
前記積算処理ステップで求めた各積算値について、前記Ｖ溝の長さ方向ごとの平均値を求める平均処理ステップと、
前記平均処理ステップで求めた各平均値に基づいて前記Ｖ溝の良否を判定する判定ステップと、
からなることを特徴とする請求項１または請求項２に記載のプリント基板のＶ溝の検査方法。
【請求項４】
前記検査ステップは、
前記検査領域抽出ステップで抽出された検査領域において、前記Ｖ溝の長さ方向の各画素の各濃度値を積算し、その長さ方向ごとに積算値を求める積算処理ステップと、
前記積算処理ステップで求めた各積算値について、前記Ｖ溝の長さ方向ごとの平均値を求める平均処理ステップと、
前記平均処理ステップで求めた各平均値の近似直線を最小二乗法で求める近似直線算出ステップと、
前記近似直線算出ステップで求めた近似直線を用いて、前記平均処理ステップで求めた各平均値に対応する各濃度値を求める濃度値算出ステップと、
前記平均処理ステップで求めた各平均値と、前記濃度値算出ステップで求めたその各平均値に対応する各濃度値との誤差をそれぞれ求める誤差算出ステップと、
前記誤差算出ステップで求めた各誤差の平均値を求め、この求めた平均値に基づいてＶ溝の良否を判定する判定ステップと、
からなることを特徴とする請求項１または請求項２に記載のプリント基板のＶ溝の検査方法。
【請求項５】
プリント基板に設けた切断用のＶ溝を検査する方法であって、
前記Ｖ溝の検査のためにＶ溝およびその近傍を撮影した画像を取得し、この取得した画像からＶ溝の一部を含む所定の複数の検査領域をそれぞれ抽出する検査領域抽出ステップと、
その抽出された各検査領域の各画素の濃度データに基づいてＶ溝の良否を判断するための指標となる数値をその各検査領域ごとに求め、この求めた各数値に基づいて前記Ｖ溝の良否を総合的に判断する検査ステップと、
からなることを特徴とするプリント基板のＶ溝の検査方法。
【請求項６】
前記検査ステップは、
前記検査領域抽出ステップで抽出された各検査領域において、前記Ｖ溝の長さ方向の各画素の各濃度値を積算し、その長さ方向ごとに積算値を求める積算処理ステップと、
前記積算処理ステップで求めた各検査領域ごとの各積算値について、前記Ｖ溝の長さ方向ごとの平均値をそれぞれ求める平均処理ステップと、
前記平均処理ステップで求めた各検査領域ごとの各平均値の近似直線を、最小二乗法でそれぞれ求める近似直線算出ステップと、
前記近似直線算出ステップで求めた各近似直線を用いて、前記平均処理ステップで求めた各検査領域ごとの各平均値に対応する各濃度値をそれぞれ求める濃度値算出ステップと、
前記平均処理ステップで求めた各検査領域ごとの各平均値と、前記濃度値算出ステップで求めた各検査領域ごとの各平均値に対応する各濃度値との誤差を、それぞれ求める誤差算出ステップと、
前記誤差算出ステップで求めた各検査領域に対応する各誤差の平均値をそれぞれ求め、この求めた各平均値に基づいてＶ溝の良否を総合的に判定する判定ステップと、
からなることを特徴とする請求項５に記載のプリント基板のＶ溝の検査方法。
【請求項７】
プリント基板に設けた切断用のＶ溝を検査する検査装置であって、
前記Ｖ溝の検査のためにＶ溝およびその近傍を撮影する撮像手段と、
前記撮像手段で撮影した画像を取得し、この取得した画像からＶ溝の一部を含む所定の検査領域を抽出する検査領域抽出手段と、
前記検査領域抽出手段で抽出された検査領域の各画素の濃度値に基づいて前記Ｖ溝の良否を検査する検査手段と、
を備えていることを特徴とするプリント基板のＶ溝の検査装置。
【請求項８】
前記所定の検査領域は、良品のプリント基板を前記撮像手段で撮影し、この撮影した画像を表示装置に表示させて表示画面上で設定するようにし、この設定される検査領域にはＶ溝の方向性を示す表示が含まれるようにしたことを特徴とする請求項７に記載のプリント基板のＶ溝の検査装置。
【請求項９】
前記検査手段は、
前記検査領域抽出手段で抽出された検査領域において、前記Ｖ溝の長さ方向の各画素の各濃度値を積算し、その長さ方向ごとに積算値を求める積算処理手段と、
前記積算処理手段で求めた各積算値について、前記Ｖ溝の長さ方向ごとの平均値を求める平均処理手段と、
前記平均処理手段で求めた各平均値に基づいて前記Ｖ溝の良否を判定する判定手段と、
を備えていることを特徴とする請求項７または請求項８に記載のプリント基板のＶ溝の検査装置。
【請求項１０】
前記検査手段は、
前記検査領域抽出手段で抽出された検査領域において、前記Ｖ溝の長さ方向の各画素の各濃度値を積算し、その長さ方向ごとに積算値を求める積算処理手段と、
前記積算処理手段で求めた各積算値について、前記Ｖ溝の長さ方向ごとの平均値を求める平均処理手段と、
前記平均処理手段で求めた各平均値の近似直線を最小二乗法で求める近似直線算出手段と、
前記近似直線算出手段で求めた近似直線を用いて前記平均処理手段で求めた各平均値に対応する各濃度値を求める濃度値算出手段と、
前記平均処理手段で求めた各平均値と、前記濃度値算出手段で求めたその各平均値に対応する各濃度値との誤差をそれぞれ求める誤差算出手段と、
前記誤差算出手段で求めた各誤差の平均値を求め、この求めた平均値に基づいてＶ溝の良否を判定する判定手段と、
を備えていることを特徴とする請求項７または請求項８に記載のプリント基板のＶ溝の検査装置。
【請求項１１】
プリント基板に設けた切断用のＶ溝を検査する検査装置であって、
前記Ｖ溝の検査のためにＶ溝およびその近傍を撮影する撮像手段と、
前記撮像手段で撮影した画像を取得し、この取得した画像からＶ溝の一部を含む所定の複数の検査領域をそれぞれ抽出する検査領域抽出手段と、
前記検査領域抽出手段で抽出された各検査領域の各画素の濃度データに基づいてＶ溝の良否を判断するための指標となる数値をその各検査領域ごとに求め、この求めた各数値に基づいて前記Ｖ溝の良否を総合的に判断する検査手段と、
を備えていることを特徴とするプリント基板のＶ溝の検査装置。
【請求項１２】
前記検査手段は、
前記検査領域抽出手段で抽出された各検査領域において、前記Ｖ溝の長さ方向の各画素の各濃度値を積算し、その長さ方向ごとに積算値を求める積算処理手段と、
前記積算処理手段で求めた各検査領域ごとの各積算値について、前記Ｖ溝の長さ方向ごとの平均値をそれぞれ求める平均処理手段と、
前記平均処理手段で求めた各検査領域ごとの各平均値の近似直線を、最小二乗法でそれぞれ求める近似直線算出手段と、
前記近似直線算出手段で求めた各近似直線を用いて、前記平均処理手段で求めた各検査領域ごとの各平均値に対応する各濃度値をそれぞれ求める濃度値算出手段と、
前記平均処理手段で求めた各検査領域ごとの各平均値と、前記濃度値算出手段で求めた各検査領域ごとの各平均値に対応する各濃度値との誤差を、それぞれ求める誤差算出手段と、
前記誤差算出手段で求めた各検査領域に対応する各誤差の平均値をそれぞれ求め、この求めた各平均値に基づいてＶ溝の全体的な良否を判定する判定手段と、
を備えていることを特徴とする請求項１１に記載のプリント基板のＶ溝の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プリント基板を複数に分割またはプリント基板の一部を切断するために、プリント基板に設けられているＶ溝の良否などの検査を行うプリント基板のＶ溝の検査方法およびその検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、このようなプリント基板のＶ溝の検査方法としては、プリント基板上のＶ溝を形成する予定位置などに導通パターンを予め作成しておき、Ｖ溝の形成後に、その導通パターンの電気的な導通状態を検査することにより、Ｖ溝の有無を検査する方法が知られている（例えば、特許文献１などを参照）。
このような検査方法では、プリント基板上に検査用の導通パターンを形成する必要があり、その導通パターンが不要なプリント基板のＶ溝の検査方法として、例えば特許文献２に記載の方法が知られている。
【０００３】
この検査方法は、以下のようにして行うものである。すなわち、投光部と受光部を備えた光センサを用い、プリント基板のＶ溝を加工した位置に、プリント基板の表面に対して斜めに入射するように投光部からの光ビームを照射する。そして、その光ビームの反射光を受光部で検出する。
プリント基板の表面に対して斜めに入射した光ビームは、Ｖ溝の存在の有無によってその反射方向が異なる。そこで、その光ビームの反射光を受光部で受光して反射光の強度を検知することによって、Ｖ溝の有無を光学的に検出する。
【特許文献１】特開平１１−２６８９３号公報
【特許文献２】特開平７−１４２８３８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、特許文献２に記載の発明では、専用の光センサを設ける必要がある上に、その光センサの信号を処理する専用の回路などが必要になる。
このため、従来の発明では、プリント基板のＶ溝を検査するために、専用のハードウエア装置が必要になり、製作コストも嵩むので、その解決が望まれる。
そこで、本発明の目的は、上記の点に鑑み、プリント基板のＶ溝を検査するために、専用のハードウエアが不要となって、製作コストの低減化も図ることができるプリント基板のＶ溝の検査方法およびその検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記課題を解決し、本発明の目的を達成するために、各発明は、以下のように構成するようにした。
すなわち、請求項１に係る発明は、プリント基板に設けた切断用のＶ溝を検査する方法であって、前記Ｖ溝の検査のためにＶ溝およびその近傍を撮影した画像を取得し、この取得した画像からＶ溝の一部を含む所定の検査領域を抽出する検査領域抽出ステップと、その抽出された検査領域の各画素の濃度値に基づいて前記Ｖ溝の良否を検査する検査ステップと、からなる。
【０００６】
請求項２に係る発明は、請求項１に記載のプリント基板のＶ溝の検査方法において、前記所定の検査領域は、良品のプリント基板を撮影した画像を表示装置に表示させて表示画面上で設定するようにし、この設定される検査領域にはＶ溝の方向性を示す表示が含まれるようにした。
請求項３に係る発明は、請求項１または請求項２に記載のプリント基板のＶ溝の検査方法において、前記検査ステップは、前記検査領域抽出ステップで抽出された検査領域において、前記Ｖ溝の長さ方向の各画素の各濃度値を積算し、その長さ方向ごとに積算値を求める積算処理ステップと、前記積算処理ステップで求めた各積算値について、前記Ｖ溝の長さ方向ごとの平均値を求める平均処理ステップと、前記平均処理ステップで求めた各平均値に基づいて前記Ｖ溝の良否を判定する判定ステップと、からなる。
【０００７】
請求項４に係る発明は、請求項１または請求項２に記載のプリント基板のＶ溝の検査方法において、前記検査ステップは、前記検査領域抽出ステップで抽出された検査領域において、前記Ｖ溝の長さ方向の各画素の各濃度値を積算し、その長さ方向ごとに積算値を求める積算処理ステップと、前記積算処理ステップで求めた各積算値について、前記Ｖ溝の長さ方向ごとの平均値を求める平均処理ステップと、前記平均処理ステップで求めた各平均値の近似直線を最小二乗法で求める近似直線算出ステップと、前記近似直線算出ステップで求めた近似直線を用いて、前記平均処理ステップで求めた各平均値に対応する各濃度値を求める濃度値算出ステップと、前記平均処理ステップで求めた各平均値と、前記濃度値算出ステップで求めたその各平均値に対応する各濃度値との誤差をそれぞれ求める誤差算出ステップと、前記誤差算出ステップで求めた各誤差の平均値を求め、この求めた平均値に基づいてＶ溝の良否を判定する判定ステップと、からなる。
【０００８】
請求項５に係る発明は、プリント基板に設けた切断用のＶ溝を検査する方法であって、前記Ｖ溝の検査のためにＶ溝およびその近傍を撮影した画像を取得し、この取得した画像からＶ溝の一部を含む所定の複数の検査領域をそれぞれ抽出する検査領域抽出ステップと、その抽出された各検査領域の各画素の濃度データに基づいてＶ溝の良否を判断するための指標となる数値をその各検査領域ごとに求め、この求めた各数値に基づいて前記Ｖ溝の良否を総合的に判断する検査ステップと、からなる。
【０００９】
請求項６に係る発明は、請求項５に記載のプリント基板のＶ溝の検査方法において、前記検査ステップは、前記検査領域抽出ステップで抽出された各検査領域において、前記Ｖ溝の長さ方向の各画素の各濃度値を積算し、その長さ方向ごとに積算値を求める積算処理ステップと、前記積算処理ステップで求めた各検査領域ごとの各積算値について、前記Ｖ溝の長さ方向ごとの平均値をそれぞれ求める平均処理ステップと、前記平均処理ステップで求めた各検査領域ごとの各平均値の近似直線を、最小二乗法でそれぞれ求める近似直線算出ステップと、前記近似直線算出ステップで求めた各近似直線を用いて、前記平均処理ステップで求めた各検査領域ごとの各平均値に対応する各濃度値をそれぞれ求める濃度値算出ステップと、前記平均処理ステップで求めた各検査領域ごとの各平均値と、前記濃度値算出ステップで求めた各検査領域ごとの各平均値に対応する各濃度値との誤差を、それぞれ求める誤差算出ステップと、前記誤差算出ステップで求めた各検査領域に対応する各誤差の平均値をそれぞれ求め、この求めた各平均値に基づいてＶ溝の良否を総合的に判定する判定ステップと、からなる。
【００１０】
請求項７に係る発明は、プリント基板に設けた切断用のＶ溝を検査する検査装置であって、前記Ｖ溝の検査のためにＶ溝およびその近傍を撮影する撮像手段と、前記撮像手段で撮影した画像を取得し、この取得した画像からＶ溝の一部を含む所定の検査領域を抽出する検査領域抽出手段と、前記検査領域抽出手段で抽出された検査領域の各画素の濃度値に基づいて前記Ｖ溝の良否を検査する検査手段と、を備えている。
【００１１】
請求項８に係る発明は、請求項７に記載のプリント基板のＶ溝の検査装置において、前記所定の検査領域は、良品のプリント基板を前記撮像手段で撮影し、この撮影した画像を表示装置に表示させて表示画面上で設定するようにし、この設定される検査領域にはＶ溝の方向性を示す表示が含まれるようにした。
請求項９に係る発明は、請求項７または請求項８に記載のプリント基板のＶ溝の検査装置おいて、前記検査手段は、前記検査領域抽出手段で抽出された検査領域において、前記Ｖ溝の長さ方向の各画素の各濃度値を積算し、その長さ方向ごとに積算値を求める積算処理手段と、前記積算処理手段で求めた各積算値について、前記Ｖ溝の長さ方向ごとの平均値を求める平均処理手段と、前記平均処理手段で求めた各平均値に基づいて前記Ｖ溝の良否を判定する判定手段と、を備えている。
【００１２】
請求項１０に係る発明は、請求項７または請求項８に記載のプリント基板のＶ溝の検査装置おいて、前記検査手段は、前記検査領域抽出手段で抽出された検査領域において、前記Ｖ溝の長さ方向の各画素の各濃度値を積算し、その長さ方向ごとに積算値を求める積算処理手段と、前記積算処理手段で求めた各積算値について、前記Ｖ溝の長さ方向ごとの平均値を求める平均処理手段と、前記平均処理手段で求めた各平均値の近似直線を最小二乗法で求める近似直線算出手段と、前記近似直線算出手段で求めた近似直線を用いて前記平均処理手段で求めた各平均値に対応する各濃度値を求める濃度値算出手段と、前記平均処理手段で求めた各平均値と、前記濃度値算出手段で求めたその各平均値に対応する各濃度値との誤差をそれぞれ求める誤差算出手段と、前記誤差算出手段で求めた各誤差の平均値を求め、この求めた平均値に基づいてＶ溝の良否を判定する判定手段と、を備えている。
【００１３】
請求項１１に係る発明は、プリント基板に設けた切断用のＶ溝を検査する検査装置であって、前記Ｖ溝の検査のためにＶ溝およびその近傍を撮影する撮像手段と、前記撮像手段で撮影した画像を取得し、この取得した画像からＶ溝の一部を含む所定の複数の検査領域をそれぞれ抽出する検査領域抽出手段と、前記検査領域抽出手段で抽出された各検査領域の各画素の濃度データに基づいてＶ溝の良否を判断するための指標となる数値をその各検査領域ごとに求め、この求めた各数値に基づいて前記Ｖ溝の良否を総合的に判断する検査手段と、を備えている。
【００１４】
請求項１２に係る発明は、請求項１１に記載のプリント基板のＶ溝の検査装置において、前記検査手段は、前記検査領域抽出手段で抽出された各検査領域において、前記Ｖ溝の長さ方向の各画素の各濃度値を積算し、その長さ方向ごとに積算値を求める積算処理手段と、前記積算処理手段で求めた各検査領域ごとの各積算値について、前記Ｖ溝の長さ方向ごとの平均値をそれぞれ求める平均処理手段と、前記平均処理手段で求めた各検査領域ごとの各平均値の近似直線を、最小二乗法でそれぞれ求める近似直線算出手段と、前記近似直線算出手段で求めた各近似直線を用いて、前記平均処理手段で求めた各検査領域ごとの各平均値に対応する各濃度値をそれぞれ求める濃度値算出手段と、前記平均処理手段で求めた各検査領域ごとの各平均値と、前記濃度値算出手段で求めた各検査領域ごとの各平均値に対応する各濃度値との誤差を、それぞれ求める誤差算出手段と、前記誤差算出手段で求めた各検査領域に対応する各誤差の平均値をそれぞれ求め、この求めた各平均値に基づいてＶ溝の全体的な良否を判定する判定手段と、を備えている。
【発明の効果】
【００１５】
このように、本発明の検査方法では、プリント基板のＶ溝およびその近傍を撮像した画像を利用して、そのＶ溝の良否を検査するようにしたので、プリント基板の外観を検査するための検査装置が有するＣＣＤカメラなどを用いてその画像を取得できる。
また、本発明の検査装置では、プリント基板のＶ溝およびその近傍を撮影する撮像手段として、プリント基板の外観を検査するための検査装置が有するＣＣＤカメラなどを利用して共有化でき、撮像手段などを別途設ける必要がない。
このため、本発明によれば、プリント基板のＶ溝を検査するために、専用のハードウエアが不要となって、製作コストの低減化も図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
本発明のプリント基板のＶ溝の検査装置は、図１に示すように、撮像装置１と、検査処理装置２と、画像メモリ３と、ＲＯＭ４と、入力装置５と、表示装置６とを少なくとも備え、プリント基板１０のＶ溝の検査を行うものである。
プリント基板１０は、図２に示すように、パターン領域（図示せず）が形成されるとともに、その表裏の両面の所定位置に切断用のＶ溝１１、１２が形成されている。
【００１７】
ここで、プリント基板に形成されるＶ溝は、図２に示すようにプリント基板の一部を切断して捨てるためのもの、あるいはプリント基板を複数に分割するために切断するものである。
撮像装置１は、例えばＣＣＤカメラなどからなる。撮像装置１は、プリント基板１０に形成されたＶ溝およびその近傍を撮影して画像信号を取得し、その画像信号をＡ／Ｄ変換器（図示せず）でＡ／Ｄ変換してデジタル形態の画像データを生成して出力するものである。その画像データは、例えば８ビット（０〜２５５）の濃度値からなる。また、このように取得する画像の１画素のサイズ（分解能）は、例えば０．０５ｍｍ×０．０５ｍｍである。
【００１８】
検査処理装置２は、撮像装置１が撮影したプリント基板１０のＶ溝を含む画像に基づき、そのＶ溝の検査を行うものである。すなわち、検査処理装置２は、例えばＲＯＭ４に格納される手順（プログラム）に従って、プリント基板１０のＶ溝を検査するために、後述のような各種の演算や比較などの処理を行うものである。このために、この検査処理装置２は、ＣＰＵ（中央処理装置）、ワークメモリなどから構成されている。
画像メモリ３は、プリント基板１０に形成される検査対象であるＶ溝１１またはＶ溝１２およびその各近傍を撮像装置１で撮影し、この撮影により得られる画像の各画素の濃度値を、各画素毎に記憶するメモリである。
【００１９】
ＲＯＭ４は、画像処理装置２がプリント基板１０のＶ溝１１、１２の検査を行うための手順（プログラム）を予め記憶しておく読み出し専用のメモリである。
入力装置５は、検査処理装置２からの要求などに応じて、使用者が検査処理装置２に対して後述のような設定などを行うものであり、例えばキーボードなどから構成される。
表示装置６は、検査処理装置２がプリント基板１０のＶ溝の検査結果などに所定の表示を行うものであり、ＣＲＴディスプレイや液晶ディスプレイなどにより構成される。
【００２０】
次に、このような構成からなる実施形態の第１の検査処理例について、図３〜図５を参照して説明する。
この例では、検査対象を図２に示すようなＶ溝１１、１２を有するプリント基板１０とし、そのプリント基板１０の表面側に形成されるＶ溝１１の良否を検査する場合について説明する。
まず、図３のステップＳ１では、撮像装置１がプリント基板１０のＶ溝１１とそのＶ溝１１の近傍の画像を撮影し、この撮影した画像は検査対象の画像として検査処理装置２を介して画像メモリ３に格納される。
【００２１】
ステップＳ２では、検査処理装置２が、画像メモリ３に格納されている画像から、あらかじめ使用者によって設定されている検査領域を抽出する。この検査領域は、Ｖ溝１１の一部を含むものである。
ここで、上記の使用者による検査領域の設定は、この第１の検査処理に先立って、良品のプリント基板１０を撮像装置１でステップＳ１のように撮影し、この撮影した画像を表示装置６に表示させて、使用者が入力装置５を使用して任意の位置に任意の大きさに設定することにより行う。
【００２２】
そして、その表示装置６の表示画面上で設定される検査領域には、Ｖ溝１１の方向性を示す表示が含まれるようにし、その検査領域の設定の際に、そのＶ溝１１の方向を作業者が表示画面上で容易に認識できるようにした。
このため、例えばＶ溝１１の方向（縦または横）に応じて所定の検査領域をそれぞれ用意しておき、検査領域の設定の際には、その所定の検査領域を選択的に設定できるようにした。
【００２３】
具体的には、作業者がその検査領域を設定する際に、そのＶ溝１１の方向が縦方向または横方向であるかを視覚的に容易に認識できるように、検査領域の表示に以下のような工夫をしている。
すなわち、設定する検査領域を任意の色（例えば黄色）からなる矩形領域などとし、その矩形領域の表示は、Ｖ溝１１の長さ方向と同じ方向の２つの辺が白色で表示されるようにした。
【００２４】
このため、横方向のＶ溝１１に対しては、横方向の２つの辺が白色表示される矩形領域を用意し、縦方向のＶ溝１１に対しては、縦方向の２つの辺が白色表示される矩形領域を用意しておけば、作業者が検査領域の設定の際に、Ｖ溝１１の方向に応じてその用意されている表示の異なる２つの矩形領域を選択的に使用できる。
ここで、図４（Ａ）は、そのように抽出された検査領域の各画素の濃度値の一例を示し、Ｖ溝１１がある場合である。また、図５（Ａ）は、同様に抽出された検査領域の各画素の濃度値の一例を示し、Ｖ溝１１がない場合である。
【００２５】
ステップＳ３では、検査処理装置２が、その抽出された検査領域内において、Ｖ溝１１の長さ方向の各画素の各濃度値を積算し、その長さ方向ごとに積算値を求める。
ここで、図４（Ａ）または図５（Ａ）を参照すれば、各画素の各濃度値を縦方向にそれぞれ積算することになる。このようにして求めたＶ溝１１の各長さ方向の各濃度値の積算値は、例えば図４（Ｂ）または図５（Ｂ）に示すようになる。図４（Ｂ）を例にとれば、その長さ方向の濃度値の各積算値は、図示のように「４１６」「４２８」「６０９」「８１５」「７０１」「６０９」「５９６」「４２１」となる。
【００２６】
ステップＳ４では、検査処理装置２が、ステップＳ３で求めた各積算値について、Ｖ溝１１の長さ方向ごとの平均値を求める。
このようにして求めたＶ溝１１の各長さ方向の積算値の各平均値は、例えば図４（Ｃ）または図５（Ｃ）に示すようになる。図４（Ｃ）を例にとれば、その各平均値は、図示のように「４１．６」「４２．８」「６０．９」「８１．５」「７０．１」「６０．９」「５９．６」「４２．１」となる。
【００２７】
ステップＳ５では、検査処理装置２が、ステップＳ４で求めた各平均値に基づき、その各平均値の近似直線を最小二乗法で求める。
ここで、図４（Ｃ）に示す平均値の近似直線は（１）式のようになり、図５（Ｃ）に示す平均値の近似直線は（２）式のようになる。
Ｙ＝５３．７＋０．８７Ｘ  ・・・（１）
Ｙ＝４１．９＋０．０５Ｘ  ・・・（２）
ステップＳ６では、検査処理装置２が、ステップＳ５で求めた近似直線を用いて、ステップＳ４で求めた各平均値に対応する各濃度値を求める。
【００２８】
このようにして求めた近似直線上の各濃度値は、例えば図４（Ｄ）または図５（Ｄ）に示すようになる。図４（Ｄ）を例にとれば、その各濃度値は図示のように「５４．６」「５５．４」「５６．３」「５７．２」「５８．１」「５８．９」「５９．８」「６０．７」となる。
ステップＳ７では、検査処理装置２が、ステップＳ４で求めた各平均値と、ステップＳ６で求めたその各平均値に対応する各濃度値との各誤差をそれぞれ求める。
【００２９】
このようにして求めた各誤差は、例えば図４（Ｅ）または図５（Ｅ）に示すようになる。図４（Ｅ）を例にとれば、その各誤差は「１３．０」「１２．６」「４．６」「２４．３」「１２．１」「２．０」「０．２」「１８．６」となる。
ステップＳ８では、検査処理装置２が、ステップＳ７で求めた各誤差の平均値を求める。このように求めた各誤差の平均値は、その各誤差が図４（Ｅ）の場合には「１０．９」となり、その各誤差が図５（Ｅ）の場合には「０．６８」となる。
【００３０】
ステップＳ９では、検査処理装置２が、ステップＳ８で求めた誤差の平均値が、所定の閾値以上か否かを判定する。
この比較の結果、その求めた誤差の平均値が閾値以上の場合には、「プリント基板１０のＶ溝１１が有り」としてその旨を表示装置６に表示する（ステップＳ１０）。一方、その求めた誤差の平均値が閾値以下の場合には、「プリント基板１０のＶ溝１１が無し」としてその旨を表示装置６に表示する（ステップＳ１１）。
【００３１】
ここで、閾値が「４」であるとすると、図４（Ｅ）の場合の誤差の平均は「１０．９」であるので「Ｖ溝が有り」と判定され、図５（Ｅ）の場合の誤差の平均は「０．６８」であるので「Ｖ溝が無し」と判定される。
また、上記の閾値は、プリント基板の表面状態に応じて、作業者が調整（変更）することができるようになっている。
【００３２】
以上のように、この実施形態の第１の検査処理例では、検査領域において、プリント基板１０のＶ溝１１の長さ方向の各画素の各濃度値を積算し、その長さ方向ごとに濃度値の積算値を求め、この求めた各積算値についてＶ溝１１の長さ方向ごとの平均値を求め、この求めた各平均値に基づいてＶ溝１１の有無を判定するようにした。
このため、第１の検査処理例によれば、検査領域内のＶ溝１１に小さなゴミが入っているような場合でも、そのＶ溝１１の有無を精度良く判定できる。
【００３３】
また、この実施形態の第１の検査処理例では、その求めたＶ溝１１の長さ方向ごとの各平均値の近似直線を最小二乗法で求め、この求めた近似直線を用いてその各平均値に対応する各濃度値を求め、その求めた各平均値とその求めた各濃度値との各誤差をそれぞれ求め、この求めた各誤差の平均値を求め、この求めた誤差の平均値に基づいてＶ溝の良否を判定するようにした。
このため、第１の検査処理例によれば、検査領域の表面の明るさなどの状態に関係なく、Ｖ溝１１の有無を精度良く判定できる。
【００３４】
次に、この実施形態の第２の検査処理例について、図６および図７を参照しながら説明する。
まず、この第２の検査処理例の概要について説明する。
この第２の検査処理例は、上記の第１の検査処理例を基本とするものであるが、図６（Ａ）に示すように、プリント基板１０のＶ溝１１の良否（有無）を判定するための検査領域を少なくとも２以上設定しておき、この各検査領域１３〜１５について第１の検査処理例を適用するようにして、そのＶ溝１１の良否（有無）の判定を総合的に行い、その検査の高精度化を図るようにしたものである。
ここで、検査領域１３〜１５は、図６（Ａ）に示すように、Ｖ溝１３〜１５の長さ方向の始端側、中央部、および終端側に設定するのが好ましい。検査領域を２つ設定する場合には、始端側と終端側とするのが好ましい。
【００３５】
また、検査領域の大きさは、任意の大きさで良いが、図６（Ｂ）に示すように、例えばＶ溝１１の幅が０．５ｍｍの場合には、１ｍｍ×１ｍｍ程度の検査領域とするのが好ましい。この場合には、溝１１の幅の両端が０．２５ｍｍずつとなる。
このようにすると、Ｖ溝１１の有無の判定が容易になるとともに、Ｖ溝１１の幅方向の位置のずれを容易に判定することができる。
なお、検査領域１３〜１５の大きさ（幅）は、Ｖ溝１１の幅などの大きさに応じて、作業者が調整（変更）することができるようになっている。
【００３６】
次に、この第２の検査処理例の詳細を、以下に説明する。
まず、図７のステップＳ２１では、撮像装置１がプリント基板１０のＶ溝１１とそのＶ溝１１の近傍の画像を撮影し、この撮影した画像は検査対象の画像として検査処理装置２を介して画像メモリ３に格納される。
ステップＳ２２では、検査処理装置２が、画像メモリ３に格納されている画像から、あらかじめ使用者によって設定されている第１の検査領域１３を抽出する（図６（Ａ）参照）。
【００３７】
ここで、使用者による第１、第２、および第３の各検査領域の設定は、この第２の検査処理に先立って、良品のプリント基板１０を撮像装置１でステップＳ２１のように撮影し、この撮影した画像を表示装置６に表示させて、使用者が入力装置５を使用して任意の位置に任意の大きさで設定することにより行う。
その３つの検査領域の設定に際しては、上記と同様に、Ｖ溝１１の方向（縦または横）に応じて予め用意されている検査領域を、選択的に設定できるようにした。
【００３８】
ステップＳ２３では、検査処理装置２が、その抽出された第１の検査領域１３内において、Ｖ溝１１の長さ方向の各画素の各濃度値を積算し、その長さ方向ごとに濃度値の積算値を求める。
ステップＳ２４では、検査処理装置２が、ステップＳ２３で求めた各積算値について、Ｖ溝１１の長さ方向ごとの平均値を求める。ステップＳ２５では、検査処理装置２が、ステップＳ２４で求めた各平均値に基づき、その各平均値の近似直線を最小二乗法で求める。
【００３９】
ステップＳ２６では、検査処理装置２が、ステップＳ２５で求めた近似直線を用いて、ステップＳ２４で求めた各平均値に対応する各濃度値を求める。ステップＳ２７では、検査処理装置２が、ステップＳ２４で求めた各平均値と、ステップＳ２６で求めたその各平均値に対応する各濃度値との各誤差をそれぞれ求める。
ステップＳ２８では、検査処理装置２が、ステップＳ２７で求めた各誤差の平均値を求める。ステップＳ２９では、検査処理装置２が、ステップＳ２８で求めた誤差の平均値が、所定の閾値以上か否かを判定する。
【００４０】
この判定の結果、その求めた誤差の平均値が閾値以上の場合には、「第１の検査領域１３においてプリント基板１０のＶ溝１１が有り」として、次のステップＳ３０に進む。一方、その求めた誤差の平均値が閾値以下の場合には、「第１の検査領域においてプリント基板１０のＶ溝１１が無し」のため、「プリント基板１０のＶ溝１１が無し」としてその旨を表示装置６に表示する（ステップＳ３１）。
【００４１】
ステップＳ３０では、未処理の検査領域があるか否かが判定され、この場合には第２の検査領域１４が未処理であるため、ステップＳ２２に戻り、第２の検査領域に関してステップＳ２２〜ステップＳ２９の各処理を行う。
そして、ステップＳ２９において肯定判定の場合には「第２の検査領域１４においてプリント基板１０のＶ溝１１が有り」として、次のステップＳ３０に進む。一方、否定判定の場合には、「第２の検査領域１４においてプリント基板１０のＶ溝１１が無し」のため、「プリント基板１０のＶ溝１１が無し」としてその旨を表示装置６に表示する（ステップＳ３１）。
【００４２】
ステップＳ３０では、未処理の検査領域があるか否かが判定され、この場合には第３の検査領域１５が未処理であるため、ステップＳ２２に戻り、第３の検査領域１５に関してステップＳ２２〜ステップＳ２９の各処理を行う。
そして、ステップＳ２９において肯定判定の場合には「第３の検査領域１５においてプリント基板１０のＶ溝１１が有り」として、次のステップＳ３０に進む。一方、否定判定の場合には、「第３の検査領域１５においてプリント基板１０のＶ溝１１が無し」のため、「プリント基板１０のＶ溝１１が無し」としてその旨を表示装置６に表示する（ステップＳ３１）。
【００４３】
ステップＳ３０では、未処理の検査領域があるか否かが判定され、この場合には全ての検査領域について処理が完了しているため、ステップＳ３２に進む。ステップＳ３２では、「第１、第２、および第３の各検査領域１３〜１５においてプリント基板１０のＶ溝１１が有り」と判定されているので、「プリント基板１０のＶ溝１１が有り」としてその旨を表示装置６に表示する。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】本発明の実施形態の構成を示すブロック図である。
【図２】検査対象であるＶ溝を有するプリント基板の一例を示す斜視図である。
【図３】本発明の実施形態の第１の検査処理の具体的な手順を説明するフローチャートである。
【図４】その第１の検査処理を説明する説明図であって、Ｖ溝のある場合である。
【図５】その第１の検査処理を説明する説明図であって、Ｖ溝のない場合である。
【図６】本発明の実施形態の第２の検査処理の概要を説明する説明図である。
【図７】本発明の実施形態の第２の検査処理の具体的な手順を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
【００４５】
１  撮像装置
２  検査処理装置
３  画像メモリ
４  ＲＯＭ
５  入力装置
６  表示装置
１０  プリント基板
１１、１２  Ｖ溝
１３〜１５  検査領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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