(57)【要約】【課題】  画像中心位置を基準にして演算された実際の主ずれ量の変動の特性をその理想的な光学特性に近づくように主走査ずれを補正できるようにすると共に、マルチビームを高精度に調整できるようにする。【解決手段】  レーザ光源ＬＤ＃１、ＬＤ＃２から出射されたマルチビームＬａ，Ｌｂを像形成面の主走査方向に走査して２ライン分の露光を並行して実行し、かつ、当該像形成面における基準位置での露光タイミングの検出を実行する機能を有した画像形成装置であって、像形成面において、基準のレーザビームＬａの露光開始位置と制御対象のレーザビームＬｂの露光開始位置との差を主ずれ量Δｘとしたとき、主ずれ量Δｘを演算するための２つ以上の検出手段から像形成面の中央部における主ずれ量Δｘを演算する制御部とを備えるものである。【選択図】    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の光源から出射された複数の光を像形成面の主走査方向に走査して複数ライン分の露光を並行して実行し、かつ、当該像形成面における基準位置での露光タイミングの検出を実行する機能を有した画像形成装置であって、
前記像形成面において、制御基準となる走査光の露光開始位置と制御対象となる走査光の露光開始位置との差を主走査ずれ量としたとき、
前記主走査ずれ量を演算するための検出情報を検出して出力する２つ以上の主走査ずれ検出手段と、
前記主走査ずれ検出手段から出力される２つ以上の検出情報に基づいて前記像形成面の中央部における主走査ずれ量を演算する制御手段とを備えることを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記主走査ずれ検出手段が２つのインデックス検知部から構成される場合であって、
前記インデックス検知部は、
前記像形成面の左右の領域上に配置されて前記走査光を各々検出し、
前記制御手段は、
前記インデックス検知部の各々から出力されるインデックス検知信号を入力して主走査ずれ量を演算し、当該主走査ずれ量に基づいてインデックス検知部の補正量を決定することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記像形成面の画像中心位置を基準にした主走査ずれ量の理想的な光学特性と、  前記制御手段によって演算された主走査ずれ量の実際の光学特性との差をオフセット量として記憶する記憶手段を備え、
前記制御手段は、
前記記憶手段から読み出したオフセット量に基づいて前記インデックス検知部での主走査ずれ量を補正することを特徴とする請求項２に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記主走査ずれ検出手段が１つのインデックス検知部と、各々の前記走査光で像形成面に順次形成されたレジストマークを検出する２つのレジスト検知部から構成される場合であって、
前記制御手段は、
前記インデックス検知部から出力されるインデックス検知信号と、前記レジスト検知部から出力される走査光間の主走査ずれ量を示すレジスト検知信号に基づいて前記インデックス検知部における主走査ずれ量を演算し、当該主走査ずれ量からインデックス検知部における補正量を判別し、
前記インデックス検知部の分解能範囲に入る補正量を決定することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、感光体ドラム上に２つ以上の光ビームを走査して一括して像を露光するマルチビーム露光機能を備えた白黒又はカラー用のデジタル複合機や複写機に適用して好適な画像形成装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、カラー画像データに基づいてカラー画像形成を行うデジタルカラープリンタや、スキャナ機能を付加したカラー複写機が使用されるに至っている。この種の画像形成装置に関しては、画像形成を高速に行うために、複数の光源を備え、この複数の光源からの光を走査して、複数ライン分の画像を１回の走査で記録媒体に書き込む機能を有するマルチビーム型のカラー用のデジタル複合機や複写機が製造されている。
【０００３】
この画像書込み機能によれば、画像データに応じて、２又は３以上の複数のレーザダイオード（ＬＤ）等の光源から出射されたレーザビームが感光体ドラムなどの記録媒体の主走査方向にポリゴンミラーを介して走査され、その複数ライン毎の画像形成を副走査方向に繰り返すことにより、１頁分の画像を形成するようになされる。
【０００４】
このようなマルチビーム型の画像形成装置で高画質を実現するためには、複数のレーザビームの主走査方向開始位置を揃える、すなわち、各レーザビーム間で主走査方向ずれを解消することが重要となる。
【０００５】
マルチビーム型の複写機に関しては、特許文献１に画像形成装置が開示されている。この画像形成装置によれば、ポリゴンミラーの任意の反射面によって光ビームが偏向走査される周期の所定期間に単一の光源のみを点灯させ、次の偏向走査周期の所定期間に、単一の光源のみを点灯させると同時に、単一のＩＮＤＥＸ検知部による光ビームの検出タイミングの時間間隔を計測する処理を複数回実行し、ここに計測して得た複数の時間間隔を平均した主ずれ検出情報を用いてポリゴンミラーによる各回の偏向走査における個々の光ビームの変調開始タイミングを補正するようになされる。このようにすると、複数光ビームの変調開始タイミングのずれを高精度に補正できるというものである。
【０００６】
また、特許文献２には、２つ以上の光ビームを用いて一括して露光する画像形成装置が開示されている。この画像形成装置によれば、各々のレジスト補正パターンを画像担持体に形成し、所定のタイミングでその各々のレジスト補正パターンをレジスト検知部で検出して、２つのレーザビーム（基準となるレーザビーム及び制御対象のレーザビーム）のレジストレーション補正データと、Ｙ，Ｍ，Ｃ、Ｋの４色のレジストレーション補正データとを算出するようになされる。このようにすると、２つのレーザビームのレジスト補正と各色のレジスト補正とを同時に実施できるようになり、生産性の低下を抑制できるというものである。
【０００７】
更に、特許文献３には、画像形成装置、そのマルチビーム制御方法、プログラム及び記憶媒体が開示されている。この画像形成装置によれば、マルチビーム調整時に、２つのレーザダイオードの各々でテストパターンを感光体ドラム又は中間転写ベルト上に形成し、ここに形成されたテストパターン画像を検知し、この検知結果から、一方を基準のレーザ光源とし、他方を制御対象のレーザ光源として、レーザ光源間の画像書込み開始位置ずれを算出し、ここで得られた計算結果に基づいて制御対象のレーザ光源における走査開始基準信号のタイミングを補正制御するようになされる。このようにすると、複数のレーザダイオードのメカ的取付け誤差等によるレーザダイオード間で生じる画像書込み開始位置ずれを自動補正できるというものである。
【０００８】
図１１は、従来例に係る画像形成装置４００の構成例を示すブロック図である。図１１に示す画像形成装置４００は、特許文献１に見られ、ＩＮＤＥＸ検知部１１を使用してマルチビームの主走査ずれ検出する機能を有しており、感光体ドラム１、画像形成ユニット１０’、ＬＤ駆動回路２０を備えて構成される。画像形成ユニット１０’には、ＩＮＤＥＸ検知部１１、コリメータレンズ１３、ポリゴンミラー１４及び光学レンズ１５が設けられる。
【０００９】
図中Ａ，Ｂはレンズ走査幅Ｌｗであり、ＩＮＤＥＸ検知部１１は、位置ＡにおけるレーザビームＬａ、Ｌｂを検知するようになされる。また、Ａ’，Ｂ’は画像走査幅Ｇｗであり、図示しないレジスト検知部は、位置Ａ’，Ｂ’におけるレジスト補正パターンを検知するようになされる。
【００１０】
従来方式では、マルチビーム調整時に、ＬＤ駆動回路２０で単一のレーザ光源のみを交互に点灯し、コリメータレンズ１３、ポリゴンミラー１４及び光学レンズ１５を介して、ＩＮＤＥＸ検知部１１によりレーザビームを検出し、このビーム検出結果から得られた複数の時間間隔を平均化して画像形成タイミングを制御し、レーザビームＬａ、Ｌｂ間の主ずれ量を補正するようになされる。
【００１１】
【特許文献１】特開２００３−２６６７６４号公報（第４頁  図５）
【特許文献２】特開２００３−０３５９５８号公報（第３頁  図１）
【特許文献３】特開２００４−０３４４８７号公報（第５頁  図１０）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
ところで、特許文献１乃至３に見られるような従来方式の画像形成装置によれば、次のような問題がある。
【００１３】
ｉ．図１１に示した画像形成装置では、図１２に示すような像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの関係例において、ＩＮＤＥＸ検知部１１のみによるずれ検知であると、位置ＡにおけるＩＮＤＥＸ検知部１１の理論値が主ずれ量ｄであっても、像面特性が図１２に示したＩ特性である場合は、正確に主ずれ量を補正することができない。
【００１４】
図１２は、比較例としての像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの関係例を示す特性図である。図１２において、横軸は、主走査方向における像面位置であり、縦軸は、マルチビームＬａ，Ｌｂ間の主ずれ量Δｘである。図中、細い斜め実線Ｉ及びＶは、２つのレジスト検知部の分解能範囲から逸脱した比較例における像面位置ｖｓ主走査ずれ変動の特性を各々示している。
【００１５】
細い斜め実線の特性Ｉは、レジスト検知部の分解能範囲の上限を大幅に越えており、特性Ｉの中央部が画像中心位置Ｃで交差していない場合である。特性Ｖは、レジスト検知部の分解能範囲下限を越えており、特性Ｖの中央部が画像中心位置で交差していない場合である。なお、太い横実線IIIは、理想的な像面位置ｖｓ主走査の特性を示している。理想的な特性IIIによれば、主走査方向の像面上において、位置Ａ’，Ｃ，Ｂ’において、いずれもマルチビームＬａ，Ｌｂ間の主ずれ量Δｘが理想値ｄに一定に保たれている。
【００１６】
また、図１２に示すΔｂは、位置Ａにおけるずれ量の差である。この例で、Δｂは、位置Ａにおける理想的な特性IIIと比較例の特性Ｖとのずれ量の差である。Ｌ２は、主走査方向を基準にした画像中心位置Ｃから一方のレジスト検知部の取付け位置に至る距離であって、その画像中心位置Ｃから他のレジスト検知部の取付け位置に至る距離と等しい関係にある場合である。なお、理想値ｄとの差分として得られる計算結果Δｂを設定すると、補正直線は特性Ｖとなり、画像中心位置Ｃでの理想値ｄに対して、Δｃの誤差が生じてしまう。この理想値ｄに対する誤差Δｃは、ＩＮＤＥＸ検知部１１が画像形成領域内にあるため、画像形成ユニット１０’の光学収差やインデックスミラーの取付け精度により、像面に対するずれ量として生じるものと考えられる。
【００１７】
ii．また、特許文献２及び３に見られるようなレジストパターンを使用する画像形成装置において、単一のレーザ光源のみでレジストマークを検出し、基準となるレーザ光源からのずれ量を検知して画像形成タイミングを制御している。
しかしながら、図１２に示した特性Ｉの場合、Ａ’Ｂ’位置でのレジスト検知部の測定値から平均値ｃｃを求めているため、これらパターンの検出精度は、１４μｍ〜２０μｍと６００ｄｐｉの解像度では、１／３〜１／２画素程度であり、高精度なＩＮＤＥＸ検出補正に至っていないのが現状である。
【００１８】
そこで、この発明は上述した課題を解決したものであって、画像中心位置を基準にして演算された実際の主ずれ量の変動の特性をその理想的な光学特性に近づくように主走査ずれを補正できるようにすると共に、マルチビームを高精度に調整できるようにした画像形成装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
上記課題を解決するために、請求項１に記載の画像形成装置は、複数の光源から出射された複数の光を像形成面の主走査方向に走査して複数ライン分の露光を並行して実行し、かつ、当該像形成面における基準位置での露光タイミングの検出を実行する機能を有した画像形成装置であって、像形成面において、制御基準となる走査光の露光開始位置と制御対象となる走査光の露光開始位置との差を主走査ずれ量としたとき、主走査ずれ量を演算するための検出情報を検出して出力する２つ以上の主走査ずれ検出手段と、この主走査ずれ検出手段から出力される２つ以上の検出情報に基づいて像形成面の中央部における主走査ずれ量を演算する制御手段とを備えることを特徴とするものである。
【００２０】
本発明に係る画像形成装置によれば、主走査ずれ検出手段の１つは、主走査ずれ量を演算するための検出情報となる当該像形成面における基準位置での露光タイミングを検出する。他の主走査ずれ検出手段では、主走査ずれ量を演算するための検出情報を検出する。これを前提にして、例えば、校正時等において、主走査ずれ検出手段は、これらの検出情報を制御手段に出力する。制御手段は、主走査ずれ検出手段から出力される２つ以上の検出情報に基づいて像形成面の中央部における主走査ずれ量を演算するようになる。
【００２１】
従って、画像中心位置を基準にして、主走査ずれ量の理想的な光学特性に、演算された主走査ずれ量の実際の光学特性を近づくように主走査ずれを調整できるようになる。これにより、従来方式に比べて主走査ずれを高精度に補正できるようになる。
【発明の効果】
【００２２】
本発明に係る画像形成装置によれば、主走査ずれ量を演算するための２つ以上の検出情報に基づいて像形成面の中央部における主走査ずれ量を演算する制御手段を備えるものである。
【００２３】
この構成によって、画像中心位置を基準にして、主走査ずれ量の理想的な光学特性に、演算された主走査ずれ量の実際の光学特性を近づくように主走査ずれを調整できるようになる。これにより、従来方式に比べて主走査ずれを高精度に補正できるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
以下、図面を参照しながら、この発明の実施例に係る画像形成装置について説明をする。
【実施例１】
【００２５】
図１は、本発明の第１の実施例としての画像形成装置１００の構成例を示すブロック図である。
【００２６】
この実施例では、二点以上の主走査ずれ検出手段により、像面における主走査ずれ変動の特性を検出し、最適な補正量を選択して、ずれ量補正を実施できるようにする。例えば、主走査ずれ検出手段を像形成面の左右の領域上に配置し、この左右２箇所で検知される走査光検出信号に基づいて主走査ずれ検出手段での補正量を決定するようになされる。
【００２７】
図１に示す画像形成装置１００は、複数の光源から出射された複数の光を像形成面（以下単に像面という）の主走査方向に走査して複数ライン分の露光を並行して実行し、かつ、当該像面における基準位置での露光タイミングの検出を実行する機能を有している。
【００２８】
画像形成装置１００は、感光体ドラム１、画像形成ユニット１０、レーザダイオード駆動回路(以下ＬＤ駆動回路２０という）及び制御部３０を有して構成される。制御部３０は制御手段の一例を構成し、画像データＤinを入力して画像データＤａ及びＤｂに分離して出力する。
【００２９】
制御部３０にはＬＤ駆動回路２０が接続され、図示しない２つのレーザダイオード（光源；以下ＬＤ＃１、ＬＤ＃２という）及びレーザドライバを有して構成され、ＬＤ＃１及びＬＤ＃２を発光駆動するようになされる。ＬＤ駆動回路２０では、例えば、ＬＤ＃１が画像形成時の画像データ又は校正時の発光データＤａに基づくレーザビームＬａを出射するように駆動され、ＬＤ＃２が同様にして画像データ又は発光データＤｂに基づくレーザビームＬｂを出射するように駆動される。画像データＤａ，Ｄｂは、制御部３０からＬＤ駆動回路２０に出力される。
【００３０】
上述のＬＤ駆動回路２０は、例えば、画像形成ユニット１０に実装される。画像形成ユニット１０は、ＩＮＤＥＸ（インデックス）検知部１１，１２、コリメータユニット１３、ポリゴンミラー１４、光学レンズ１５、インデックスミラー（ハーフミラー）１６，１７を有して構成される。
【００３１】
コリメータユニット１３は、ＬＤ駆動回路２０のＬＤ＃１及びＬＤ＃２（波線円内図参照）から出射されたレーザビームＬａ，Ｌｂをポリゴンミラー１４に導くようになされる。ポリゴンミラー１４は、回転多面鏡を構成し、ＬＤ駆動回路２０から出射された２本のレーザビームＬａ，Ｌｂを主走査方向に走査することにより２ライン分の露光を並行して行う。光学レンズ１５は、ポリゴンミラー１４の隣接した所定の位置に配設され、ポリゴンミラー１４によって主走査されるレーザビームＬａ，Ｌｂを像面に結像する。光学レンズ１５には、拡大又は縮小用のシリンドリカルレンズやｆ（θ）レンズなどが使用される。
【００３２】
光学レンズ１５の前方には感光体ドラム１が配置される。感光体ドラム１は像面を有しており、像面には、画像形成ユニット１０から出射された、２つのレーザビームＬａ，Ｌｂが主走査方向に走査されることで、２ライン分が露光するようになされる。ここに主走査方向とは、感光体ドラム１の軸方向をいう。
【００３３】
感光体ドラム１は、主走査方向に走査されるレーザビームＬａ，Ｌｂの露光と副走査方向の回転動作とにより画像データＤａ、Ｄｂに応じた静電潜像が形成され、この静電潜像が現像されて、トナー像が形成される。この静電潜像形成のための帯電、静電潜像形成後の現像によるトナー像形成、トナー像の記録紙への転写、記録紙上のトナー像の定着、などは画像形成装置として一般的なものであるため、その説明を省略する。
【００３４】
像面の左右の領域上にはハーフミラー１６、１７が配置される。ハーフミラー１６の後方には、ＩＮＤＥＸ検知部１１が配置され、ハーフミラー１７の後方には、ＩＮＤＥＸ検知部１２が配置される。ＩＮＤＥＸ検知部１１，１２は、２つ以上の主走査ずれ検出手段の一例を構成し、像面の左右の領域上に配置されてレーザビームＬａ，Ｌｂを各々検出する。
【００３５】
この例で、ハーフミラー１６から反射したレーザビームＬａ、Ｌｂは、ＩＮＤＥＸ検知部１１に入射される。ＩＮＤＥＸ検知部１１は、レーザビームＬａ，Ｌｂを検出し、ポリゴンミラー走査における基準位置の露光タイミングを示すインデックス検知信号（走査光検出信号）Ｓ１を生成し制御部３０に出力する。
【００３６】
ハーフミラー１７から反射したレーザビームＬａ、Ｌｂは、ＩＮＤＥＸ検知部１２に入射される。ＩＮＤＥＸ検知部１２は、レーザビームＬａ，Ｌｂを検出し、ポリゴンミラー走査における基準位置の露光タイミングを示すインデックス検知信号（走査光検出信号）Ｓ２を制御部３０に出力する。
【００３７】
この例で、インデックス検知信号Ｓ１，Ｓ２は、主走査ずれ量を演算する際に使用される。ここに、主走査ずれ量（以下主ずれ量Δｘという）とは、像面において、制御基準となるレーザダイオード（以下基準ＬＤという）からのレーザビーム（走査光）の露光開始位置と、制御対象となるレーザダイオード（以下制御ＬＤという）からのレーザビーム（走査光）の露光開始位置との差をいう。
【００３８】
上述のＩＮＤＥＸ検知部１１，１２及びＬＤ駆動回路２０には、制御部３０が接続され、このＩＮＤＥＸ検知部１１，１２から出力される２つ以上のインデックス検知信号Ｓ１，Ｓ２に基づいて像面の中央部における主ずれ量Δｘ＝ＣＣを演算するようになされる。例えば、制御部３０は、インデックス検知部１１，１２の各々から出力されるインデックス検知信号Ｓ１，Ｓ２を入力して主ずれ量Δｘを演算し、当該主ずれ量Δｘに基づいてインデックス検知部１１，１２の補正量を決定するようになされる。制御部３０には図示しないＲＯＭ、ＲＡＭ及びＣＰＵが使用される。
【００３９】
この例で、マルチビーム校正時に、制御部３０は、ＬＤ駆動回路２０から出射されたいずれか一つを基準ＬＤ＃１とし、他を制御ＬＤ＃２としたとき、ポリゴンミラー１４の各面毎に交互に異なる基準ＬＤ＃１又は制御ＬＤ＃２からのレーザビームＬａ又はＬｂを走査させると共に、ポリゴンミラー１４が複数回回転する間に該ポリゴンミラー１４のそれぞれ同じ面では各回転毎に交互に異なる基準ＬＤ＃１又は制御ＬＤ＃２からのレーザビームＬａ，Ｌｂを走査させるように、ＬＤ駆動回路２０におけるＬＤ発光を制御する。
【００４０】
例えば、制御部３０は、ポリゴンミラー１４が複数回回転する間に該ポリゴンミラー１４のそれぞれ同じ面での走査であって、基準ＬＤ＃１から制御ＬＤ＃２に切り替えた時のインデックス信号間隔と、制御ＬＤ＃２から基準ＬＤ＃１に切り替えた時のインデックス信号間隔との差分により各面毎のインデックス信号間隔ずれを算出し、更に、各面毎のインデックス信号間隔ずれを平均して基準ＬＤ＃１と制御ＬＤ＃２の主走査方向ずれ量を算出する。
【００４１】
なお、制御部３０には、図示しないポリゴン駆動部が実装され、モータ制御信号Ｓｍを生成するようになされる。制御部３０は、図示しないポリゴンモータにモータ制御信号Ｓｍを出力する。ポリゴンモータはモータ制御信号Ｓｍに基づいてポリゴンミラー１４を所定の回転速度で回転する。制御部３０は、図示しないドラムモータにモータ制御信号Ｓｄを出力する。ドラムモータはモータ制御信号Ｓｄに基づいて感光体ドラム１を所定の回転速度で副走査方向に回転する。ここに副走査方向とは、主走査方向と直交する方向をいう。
【００４２】
また、制御部３０には図示しない画素クロック生成部が設けられ、ＬＤ駆動回路２０に画像データＤａ、Ｄｂを供給する際の各ＬＤ用の基準となる画素クロックを各々生成すると共に、主走査方向ずれ量に応じて該画素クロックの少なくともいずれか一つを調整するようになされる。
【００４３】
図２は、２つのレーザビームＬａ，Ｌｂの像面に対する照射例を示す概念図である。  
図２に示すレーザビームＬａは、図示しない像面に対してＬＤ＃１の照射スポットを形成し、レーザビームＬｂは、同様にして、制御ＬＤ＃２の照射スポットを形成する。この例で、マルチビームＬａ，Ｌｂによる主走査ずれを補正するＬＤの校正時において、ＬＤ＃１は基準レーザダイオードに設定され、ＬＤ＃２は制御対象のレーザダイオードに設定される。
【００４４】
図２において、Δｘは、主ずれ量であり、基準ＬＤ＃１から出射されたレーザビームＬａによる照射位置と、制御ＬＤ＃２から出射されたレーザビームＬｂによる照射位置との距離差である。横向き矢印は、基準ＬＤ＃１及び制御ＬＤ＃２による主走査方向への露光ラインである。ｄは、ラインピッチ（画素幅）である。基準ＬＤ＃１と、制御ＬＤ＃２との照射ピッチである。
【００４５】
この例で、ラインピッチｄと主ずれ量Δｘとの間には、ｄ＞｜Δｘ｜なる関係に設定される。このラインピッチｄ以下で距離差Δｘは、基準ＬＤ＃１に対する制御ＬＤ＃２の遅延量を示している。この例では、主走査ずれを１画素以下の精度で補正するようになされる。
【００４６】
図３は、各実施例における像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの関係例を示す特性図である。この実施例では、像面の左右の領域上（２箇所）での主走査ずれを検出する場合を前提にして、主走査ずれを１画素以下の高精度に補正できるようになる。この例では、説明を簡略化するために、主ずれ量Δｘをラインピッチｄに等しく（Δｘ＝ｄ）制御する場合について説明する（Δｘ＝４２．３μｍ）。
【００４７】
図３において、横軸は、主走査方向における像面位置であり、縦軸は、マルチビームＬａ，Ｌｂ間の主ずれ量Δｘである。  
細い斜め実線Ｉは、比較例としての像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの変動の特性を示している。比較例としての特性Ｉによれば、Ａの位置（像面の左側に相当）、すなわち、ＩＮＤＥＸ検知部１１のみでマルチビームＬａ，Ｌｂを検出したずれ量が理想値ｄとなる場合であっても、像面上でのずれ量が理想値ｄと異なってしまう場合がある。例えば、図３中のＣを画像中心位置としたとき、この画像中心位置Ｃでは、マルチビームＬａ，Ｌｂのずれ量ｄ２があり、Ｂの位置（像面の右側に相当）にあっては、これらのずれ量ｄ３が発生してしまう。このような場合は、隣接画素に補正の影響が及んでしまって、主走査ずれを１画素以下の精度で補正すことができない。
【００４８】
これに対して、細い斜め実線IIは、本発明方式における像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの補正の特性を示している。本発明方式の特性IIによれば、ＩＮＤＥＸ検知部１１でマルチビームＬａ，Ｌｂを検出したずれ量がＡの位置に相当し、ＩＮＤＥＸ検知部１２でマルチビームＬａ，Ｌｂを検出したずれ量がＢの位置に相当している。この例で、ＩＮＤＥＸ検知部１１は、Ａの位置でずれ量ｄを検知し、ＩＮＤＥＸ検知部１２は、Ｂの位置でずれ量ｄ３を検知する。
【００４９】
なお、太い横実線IIIは、理想的な像面位置ｖｓ主走査の特性を示しており、主走査方向の像面上の位置Ａ，Ｃ，Ｂにおいて、いずれもマルチビームＬａ，Ｌｂ間の主ずれ量Δｘが理想値ｄに一定に保たれている。本発明は、インデックス検知部１１，１２により、左右２箇所（像面上のＡＢ位置に相当）で主走査ずれを検出する。
【００５０】
図３において、Ｌ１は、主走査方向を基準にした画像中心位置ＣからＩＮＤＥＸ検知部１１の取付け位置に至る距離であって、その画像中心位置ＣからＩＮＤＥＸ検知部１２の取付け位置に至る距離と等しい関係にある場合である。この場合には、Ａ位置でのずれ量ｄと、Ｂ位置でのずれ量ｄ３により中心位置ｃでのずれ量がｄ２と算出され、ＩＮＤＥＸ検知部１１での補正量Δａが算出される。本発明方式の特性IIを理想的な特性IIIに補正できるようになる。
【００５１】
続いて、画像形成装置１００の動作例について説明する。図４は、画像形成装置１００のマルチビーム校正時の動作例を示すフローチャートである。  
この実施例では、像面上のＡ及びＢに相当する位置である感光体ドラム１の左右の２箇所でＩＮＤＥＸ検知部１１，１２を使用してずれ量を検出し、その後、当該主ずれ量Δｘに基づいてインデックス検知部１１，１２の補正量を決定し、更に、画像中心位置Ｃで理想値ｄとなるようにずれ量を調整する場合を例に挙げる。
【００５２】
マルチビーム校正時の発光データＤａ，Ｄｂは、制御部３０からＬＤ駆動回路２０に出力される。ＬＤ駆動回路２０では、発光データＤａに基づくレーザビームＬａを出射するように駆動され、同様にして発光データＤｂに基づくレーザビームＬｂを出射するように駆動される。ＩＮＤＥＸ検知部１１は、レーザビームＬａ，Ｌｂを像面左端で検出してインデックス検知信号Ｓ１を制御部３０に出力する。ＩＮＤＥＸ検知部１２は、レーザビームＬａ，Ｌｂを像面右端で検出してインデックス検知信号Ｓ２を制御部３０に出力する。
【００５３】
これらをマルチビーム校正動作条件にして、図４に示すフローチャートのステップＰ１で像面上のＡの位置でＩＮＤＥＸ検知部１１によりずれ量ｄを検出し、像面上のＢの位置でＩＮＤＥＸ検知部１２を使用してずれ量ｄ３を検出する。
【００５４】
次に、ステップＰ２で制御部３０は、インデックス検知部１１，１２の各々から入力したインデックス検知信号Ｓ１，Ｓ２に基づいて像面の中央部における主ずれ量Δｘ＝ＣＣを演算する。例えば、画像中心位置Ｃにおける主ずれ量Δｘ＝ｄは、画像中心位置Ｃに対するＡ，Ｂの距離比Ｌ１：Ｌ１に応じた補正計算を実行して求める。このときの補正計算式は、Ｌ１：Ｌ１’＝（ｄ２−ｄ）：（ｄ−ｄ１）より、ｄ＝（Ｌ１’ｄ２＋Ｌ１ｄ１）／（Ｌ１’＋Ｌ１）となる。ここでＬ１＝Ｌ１’の場合は、ｄ＝（ｄ２＋ｄ１）／２となる。
【００５５】
そして、ステップＰ３で制御部３０はずれ量ｄ１，ｄ２と理想値ｄとの差Δａを求める。制御部３０は、ＩＮＤＥＸ検知部１１及び１２でのずれ量補正目標値を決定する。ここで決定された、ずれ量補正目標値でマルチビームＬａ，Ｌｂの主ずれ量Δｘを補正するようになる。主ずれ量Δｘは、画像中心位置Ｃで理想値ｄとなるように調整される。
【００５６】
このように、第１の実施例としての画像形成装置１００によれば、ＩＮＤＥＸ検知部１１，１２の２つを使用して、当該像面における基準位置Ａ，Ｂでの露光タイミングを示すインデックス検知信号Ｓ１，Ｓ２を検出する。これを前提にして、制御部３０は、ＩＮＤＥＸ検知部１１，１２から出力される２つインデックス検知信号Ｓ１，Ｓ２に基づいて像面の中央部における主ずれ量Δｘ＝ＣＣを演算するようになる。
【００５７】
従って、画像中心位置Ｃを基準にして、主ずれ量Δｘの理想的な特性IIIに、演算された主ずれ量Δｘの実際の特性IIを近づくように主走査ずれを調整できるようになる。これにより、ＩＮＤＥＸ検知部１１，１２と像面とのずれ誤差を補正できるので、主走査ずれを高精度に補正できるようになる。
【実施例２】
【００５８】
図５は、第２の実施例としての画像形成装置２００の構成例を示すブロック図である。
この実施例では、予め画像形成ユニット１０’の画像形成領域（像面の画像中心位置）とＩＮＤＥＸ検知部１１の主走査ずれを測定し、その測定値の差Δａをオフセット量として記憶させ、ＩＮＤＥＸ検知部１１でのずれ量を補正するようになされる。
【００５９】
図５に示す画像形成装置２００は、画像形成ユニット１０’、ＬＤ駆動回路２０、制御部３０及び記憶部３１を有して構成される。なお、画像形成ユニット１０’内には、像面の左側のみにＩＮＤＥＸ検知部１１が配置され、マルチビーム校正時に、他のＩＮＤＥＸ検知部１８が像面の画像中心位置に配置され、通常は、省略されるものである。
【００６０】
この例で、制御部３０には記憶部（手段）３１が接続され、像面の画像中心位置Ｃを基準にした主ずれ量Δｘの理想的な特性IIIと、制御部３０によって実際に演算された主ずれ量Δｘの変動の特性IIとの差Δａを演算して得たオフセット量を記憶するようになされる。記憶部３１には、ＥＥＰＲＯＭ等の不揮発メモリが使用される。制御部３０は、通常の画像形成動作時に、記憶部３１からオフセット量を読み出し、このオフセット量に基づいてインデックス検知部１１での主ずれ量Δｘを補正するようになされる。
【００６１】
図６は、ＩＮＤＥＸ検知部１１の補正値Δａの取得例を示すフローチャートである。例えば、マルチビームＬａ，Ｌｂの校正時に、図６に示すフローチャートのステップＱ１で画像形成ユニット１０’の画像形成中心部に、ＩＮＤＥＸ検知部１８を配置する。
【００６２】
次に、ステップＱ２で画像形成中心部における主ずれ量Δｘと、像面左に配置されたＩＮＤＥＸ検知部１１との主ずれ量Δｘとを測定する。このとき、発光データＤａ，Ｄｂが制御部３０からＬＤ駆動回路２０に出力される。ＬＤ駆動回路２０では、発光データＤａに基づくレーザビームＬａを出射するように駆動され、同様にして発光データＤｂに基づくレーザビームＬｂを出射するように駆動される。ＩＮＤＥＸ検知部１１は、レーザビームＬａ，Ｌｂを像面左端で検出してインデックス検知信号Ｓ１を制御部３０に出力する。ＩＮＤＥＸ検知部１８は、レーザビームＬａ，Ｌｂを像面中央部で検出してインデックス検知信号Ｓ２を制御部３０に出力する。
【００６３】
画像形成中心部は、図３に示した像面上のＣの位置に相当する。この例で、画像形成ユニット１０’の像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの変動の特性（以下ユニット特性という）が、図３に示した本発明方式の特性IIに示した直線特性となる場合、画像中心位置Ｃが理想値ｄでもＩＮＤＥＸ検知部１１による検出値がｄ１がｄ−Δａである。
【００６４】
制御部３０は、ステップＱ３でＩＮＤＥＸ検知部１１，１８から２つインデックス検知信号Ｓ１，Ｓ２を入力し、この２つインデックス検知信号Ｓ１，Ｓ２に基づいて画像形成中心部における主ずれ量Δｘと、像面左に配置されたＩＮＤＥＸ検知部１１との主ずれ量Δｘとを演算するようになる。制御部３０は、演算した補正値ΔａをステップＱ４でユニット特性のオフセット量として記憶部３１に記憶する。これにより、通常動作時に、記憶部３１からこのオフセット量を読み出して、ＩＮＤＥＸ検知部１１のずれ補正制御（ｄ＝ｄ１＋Δａ）を実施できるようになる。なお、マルチビーム校正後は、ステップＱ５で画像形成ユニット１０’の画像形成中心部からＩＮＤＥＸ検知部１８を取り除くようになされる。
【００６５】
このように、第２の実施例によれば、マルチビーム校正時、画像形成ユニット１０’の画像形成中心部における主走査ずれと、ＩＮＤＥＸ検知部１１における主走査ずれとを測定し、その後、これらの測定値の差をオフセット量とするユニット特性に対応した補正値Δａを演算し、この補正値ΔａをＥＥＰＲＯＭ等の記憶部３１に記憶し、実動作時に、ＩＮＤＥＸ検知部１１でのずれ量を補正するようになされる。
【００６６】
従って、画像中心位置Ｃを基準にして、主ずれ量Δｘの理想的な特性IIIに、演算された主ずれ量Δｘの実際の特性IIを近づくように主走査ずれを調整できるようになる。これにより、ＩＮＤＥＸ検知部１１と像面とのずれ誤差を１画素以下の精度で補正できるので、比較例と比べて主走査ずれを高精度に補正できるようになる。従って、高精度に補正されたＬＤ＃１、ＬＤ＃２から出射されたレーザビームＬａ、Ｌｂを像面の主走査方向に走査して２ライン分の露光を並行して実行できるようになる。
【実施例３】
【００６７】
図７は、第３の実施例としての画像形成装置３００の構成例を示すブロック図である。
この実施例では、１つのＩＮＤＥＸ検知部１１と、２つのレジスト検知部２１，２２から、主走査ずれ検出手段を構成し、各々のＬＤ＃１，ＬＤ＃２で中間転写ベルト６に感光体ドラム１を介してレジストマークＲｍ１，Ｒｍ２を順次形成し、ＬＤ間の主ずれ量Δｘを像面左右で検出し、３点の主走査ずれ特性より、ＩＮＤＥＸ検知部１１での補正量を判断し、主ずれ補正量を決定するようになされる。
【００６８】
図７に示す画像形成装置３００は、感光体ドラム１、中間転写ベルト６、画像形成ユニット１０’、ＬＤ駆動回路２０、レジスト検知部２１，２２及び制御部３０’を有して構成される。画像形成ユニット１０’内には、像面の左側のみにＩＮＤＥＸ検知部１１が備えられる。なお、第３の実施例において、第１及び第２の実施例と同じ名称及び符号のものは同じ機能を有するので、その説明を省略する。
【００６９】
画像形成ユニット１０’は、マルチビーム校正時に、発光データＤａに基づくレーザビームＬａ、Ｌｂを感光体ドラム１に順次、照射走査して、レジストマークＲｍ１及びＲｍ２を形成する。レジストマークＲｍ１及びＲｍ２は、感光体ドラム１から中間転写ベルト６に転写される。レジストマークＲｍ１及びＲｍ２は、例えば、「フ」字状を有して形成される。
【００７０】
レジスト検知部２１，２２は、中間転写ベルト６の像面上の両端に配置される。例えば、レジスト検知部２１は、その像面上の左端に配置され、レジストマークＲｍ１を検出して、マーク検知信号Ｓ２１を制御部３０’に出力する。レジスト検知部２２は、その像面上の右端に配置され、レジストマークＲｍ２を検出して、マーク検知信号Ｓ２２を制御部３０’に出力する。
【００７１】
制御部３０は、ＩＮＤＥＸ検知部１１及びレジスト検知部２１，２２の出力に基づいてＬＤ駆動回路２０の出力を制御する。例えば、制御部３０は、ＩＮＤＥＸ検知部１１から出力されるインデックス検知信号Ｓ１と、レジスト検知部２１，２２から出力されるマルチビーム（走査光）Ｌａ，Ｌｂ間の主ずれ量Δｘを示すレジスト検知信号Ｓ２１，Ｓ２２に基づいてＩＮＤＥＸ検知部１１における主ずれ量Δｘを演算する。制御部３０は、この演算によって得られた主ずれ量ΔｘからＩＮＤＥＸ検知部１１における補正量を判別し、ＩＮＤＥＸ検知部１１の分解能範囲に入る補正量を決定する。
【００７２】
図８Ａ〜Ｃは、レジスト検知部２１におけるレジストマークＲｍ１及びＲｍ２の検知例を示す図である。レジスト検知部２２についても、同様に検知されるのでその説明を省略する。
【００７３】
図８Ａ及びＢにおいて、レジストマークＲｍ１は、レーザビームＬａによって感光体ドラム１を介して中間転写ベルト６に形成されたものである。中間転写ベルト６は一定の線速で副走査方向に移動される。レーザビームＬａは、発光データＤａに基づいて基準ＬＤ＃１から感光体ドラム１に出射される。レジストマークＲｍ２，Ｒｍ２’は、レーザビームＬｂによって感光体ドラム１を介して中間転写ベルト６に形成されたものである。レーザビームＬｂは、発光データＤｂに基づいて制御ＬＤ＃２から感光体ドラム１に出射される。
【００７４】
図８Ａに示すレジストマークＲｍ２’は、例えば、レジストマークＲｍ１を基準にして主走査ずれを生じたものであって、主ずれ量Δｘを生じている。ここで、図８Ｃに示す基準タイミングを起点にしてレジスト検知部２１によって検知される、「フ」字状のレジストマークＲｍ１及びＲｍ２を構成する横線と斜め線とを横切る時刻をｔ１、ｔ２、ｔ３及びｔ４としたとき、マーク検出間隔Ｔ１は、横線を検知した時刻ｔ１、ｔ３と、斜め線を検知した時刻ｔ２、ｔ４の差によって求められる。
【００７５】
例えば、レジストマークＲｍ１のマーク検出間隔Ｔ１をｔ２−ｔ１としたとき、レジストマークＲｍ１に対して、主走査ずれを生じているレジストマークＲｍ２は、マーク検出間隔Ｔ２がｔ４’−ｔ３であり、Ｔ１≠Ｔ２となる。なお、基準タイミングの起点は、例えば、ＩＮＤＥＸ検知部１１がＬＤ＃１から出射されたレーザビームＬａを検出した時刻ｔ０であり、制御部３０は、インデックス検知信号Ｓ１から検出するようになされる。
【００７６】
上述の主ずれ量Δｘは、マーク検出間隔Ｔ１，Ｔ２の差に比例していることから、制御部３０は、レジスト検知信号Ｓ２１，Ｓ２２に基づいてマーク検出間隔Ｔ１，Ｔ２を演算し、その後、マーク検出間隔Ｔ１，Ｔ２の差を算出することにより主ずれ量Δｘを演算するようになされる。なお、図８Ｂに示すように、主走査ずれを生じていないレジストマークＲｍ１及びＲｍ２によれば、レジストマークＲｍ１のマーク検出間隔Ｔ１をｔ２−ｔ１としたとき、レジストマークＲｍ２は、マーク検出間隔Ｔ２がｔ４−ｔ３であり、Ｔ１＝Ｔ２となる。
【００７７】
図９は、第３の実施例に係る像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの関係例を示す特性図である。
この実施例では、中間転写ベルト６の像面の左右の領域上（２箇所）に配置されたレジスト検知部２１，２２を使用して、主走査ずれを検出する場合を前提にして、主走査ずれを１画素以下の高精度に補正できるようにする。この例では、説明を簡略化するために、主ずれ量Δｘをラインピッチｄに等しく（Δｘ＝ｄ）制御する場合について説明する（Δｘ＝４２．３μｍ）。
【００７８】
図９において、横軸は、主走査方向における像面位置であり、縦軸は、マルチビームＬａ，Ｌｂ間の主ずれ量Δｘである。図９に示す細い斜め実線Ｉ，IV，Ｖ，VIは、レジスト検知部２１，２２の分解能範囲から逸脱した比較例における像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの変動の特性を各々示している。
【００７９】
細い斜め実線の特性Ｉは、レジスト検知部２１，２２の分解能範囲を越えており、画像中心位置Ｃで交差していない場合である。特性IVは、レジスト検知部２１，２２の分解能範囲内で、画像中心位置で交差していない場合である。特性Ｖは、レジスト検知部２１，２２の分解能範囲内で、画像中心位置で交差していない場合である。特性VIは、レジスト検知部２１，２２の分解能範囲を越えており、画像中心位置で交差していない場合である。
【００８０】
これに対して、実線IIは、本発明補正方式における像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの変動の特性を示している。本発明方式の特性IIによれば、レジスト検知部２１，２２の分解能範囲内で画像中心位置Ｃで理想値ｄに補正されている。この例では、ＩＮＤＥＸ検知部１１でマルチビームＬａ，Ｌｂを検出したずれ量がＡの位置に相当し、レジスト検知部２１でレジストマークＲｍ１、Ｒｍ２を検出したずれ量がＡ’の位置に相当している。レジスト検知部２２でレジストマークＲｍ１、Ｒｍ２を検出したずれ量がＢ’の位置に相当している。
【００８１】
この例で、ＩＮＤＥＸ検知部１１は、Ａの位置でずれ量を検知し、レジスト検知部２１は、Ａ’の位置でずれ量を検知し、レジスト検知部２２は、Ｂ’の位置でずれ量を検知している。第１の実施例では、Ｂの位置でＩＮＤＥＸ検知部１２によりずれ量を検知していたが、この実施例では省略されている。なお、太い横実線IIIは、変動が無いとした場合における理想的な像面位置ｖｓ主走査の特性を示している。理想的な特性IIIによれば、主走査方向の像面上において、位置Ａ’，Ｃ，Ｂ’において、いずれもマルチビームＬａ，Ｌｂ間の主ずれ量Δｘが理想値ｄに一定に保たれている。
【００８２】
また、図９に示すΔａは、位置Ａにおけるずれ量の差である。この例で、Δａは、位置Ａにおける理想的な特性IIIと本発明方式の特性IIとのずれ量の差である。Ｌ２は、主走査方向を基準にした画像中心位置Ｃからレジスト検知部２１の取付け位置に至る距離であって、その画像中心
3位置Ｃからレジスト検知部２２の取付け位置に至る距離と等しい関係にある場合である。
【００８３】
例えば、細い斜め実線で示した像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの変動の特性Ｉ，IV，Ｖ，VIを１／１６画素間隔で、主ずれ量Δｘを変化（シフト）させて、左右のレジスト検知部２１，２２の検出値を平均した値より、理想値ｄに一番近い遅延量を設定する。
【００８４】
このようにすると、レジスト検知部２１，２２の分解能範囲から逸脱していた比較例における像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの変動の特性Ｉ，IV，Ｖ，VIを当該レジスト検知部２１，２２の分解能範囲内に収めることができ、画像中心位置Ｃでの誤差を補正できるようになる。その後は、第１の実施例で説明したように、画像中心位置Ｃにおいて、上述のΔａを使用して、本発明方式の特性IIを理想的な特性IIIに補正できるようになる。図９において、ずれ補正制御時の検出精度は、３μｍ以下である。例えば、６００ｄｐｉの解像度の場合、検出精度は、１／１６画素以上である。
【００８５】
続いて、画像形成装置３００の動作例について説明する。図１０は、像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの変動の特性シフトを含む補正値の取得例を示すフローチャートである。例えば、マルチビームＬａ，Ｌｂの校正時に、図１０に示すフローチャートのステップＲ１で、発光データＤａ、Ｄｂに基づくレーザビームＬａ、Ｌｂを感光体ドラム１に照射してレジストマークＲｍ１、Ｒｍ２を形成し、このレジストマークＲｍ１、Ｒｍ２を中間転写ベルト６に転写する。中間転写ベルト６は一定の線速で副走査方向に移動される。レーザビームＬａは、発光データＤａに基づいて基準ＬＤ＃１から感光体ドラム１に出射される。レーザビームＬｂは、発光データＤｂに基づいて制御ＬＤ＃２から感光体ドラム１に出射される。
【００８６】
その後、ステップＲ２で、レジスト検知部２１，２２はレジストマークＲｍ１及びＲｍ２を各々検出し制御部３０にレジスト検知信号Ｓ２１及びＳ２２を出力する。このとき、図８Ａに示したように、レジストマークＲｍ２’が、レジストマークＲｍ１を基準にして主ずれ量Δｘを生じていた場合、図８Ｃに示した基準タイミングを起点にして、制御部３０は、レジストマークＲｍ１の横線を検知した時刻ｔ１と、斜め線を検知した時刻ｔ２からマーク検出間隔Ｔ１＝ｔ２−ｔ１を求める。また、制御部３０は、レジストマークＲｍ２’の横線を検知した時刻ｔ３と、斜め線を検知した時刻ｔ４’からマーク検出間隔Ｔ２＝ｔ４’−ｔ３を求める。
【００８７】
そして、ステップＲ３に移行して、制御部３０は、マーク検出間隔Ｔ１，Ｔ２の差に基づいて主ずれ量Δｘを演算するようになされる。そして、ステップＲ４に移行して、図９に示したような像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの変動の特性を作成する。このとき、図中に示した細い斜め実線Ｉ，IV，Ｖ，VIのように、レジスト検知部２１，２２の分解能範囲から逸脱した像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの変動の特性が得られる場合や、レジスト検知部２１，２２の分解能範囲内に収まる像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの変動の特性が得られる場合もある。
【００８８】
そこで、ステップＲ５に移行して、像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの変動の特性がレジスト検知部２１，２２の分解能範囲内に収まるか否かを判別する。当該特性がレジスト検知部２１，２２の分解能範囲内に収まらない場合は、ステップＲ６に移行して、当該特性をレジスト検知部２１，２２の分解能範囲内に収まるような遅延量を設定する。図９に示した例によれば、細い斜め実線で示した像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの変動の特性Ｉ，IV，Ｖ，VI等が１／１６画素間隔で、主ずれ量Δｘを変化（シフト）させて、左右のレジスト検知部２１，２２の検出値を平均した値より、理想値ｄに一番近い遅延量を設定するようになされる。
【００８９】
このように、１／１６画素ずつ主ずれ量Δｘを変化させた後に、ステップＲ５に戻って分解能範囲内に収まるか否かを判別する処理を繰り返すようになされる。このようにすると、レジスト検知部２１，２２の分解能範囲から逸脱していた比較例における像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの変動の特性Ｉ，IV，Ｖ，VI等を当該レジスト検知部２１，２２の分解能範囲内に収めることができ、画像中心位置Ｃにおいて、本発明方式の特性IIと理想的な特性IIIとが交差するようになる。画像中心位置Ｃでの誤差を補正できるようになる。  
上述のステップＲ５で当該特性が分解能範囲内に収まった場合は、ステップＲ７に移行して、制御部３０は、補正値Δａを記憶部３１に記憶する。これにより、第２の実施例で説明したように、画像中心位置Ｃにおいて、上述の補正値Δａを使用して、本発明方式の特性IIを理想的な特性IIIに補正できるようになる。
【００９０】
このように第３の実施例によれば、１つのＩＮＤＥＸ検知部１１と、２つのレジスト検知部２１，２２から、主走査ずれ検出手段を構成し、各々のＬＤ＃１，ＬＤ＃２で中間転写ベルト６に感光体ドラム１を介してレジストマークＲｍ１，Ｒｍ２を順次形成し、ＬＤ間の主ずれ量Δｘを像面左右で検出し、３点の主走査ずれ特性より、ＩＮＤＥＸ検知部１１での補正量を判断し、主ずれ補正量を決定するようになされる。従って、レジスト検知部２１，２２の分解能以上の性能で画像中心位置Ｃでの誤差を補正できるようになる。
【産業上の利用可能性】
【００９１】
この発明は、複写機能、ファクシミリ機能及びプリンタ機能を備えた白黒及びカラー用のデジタル複合機や複写機等に適用して極めて好適である。
【図面の簡単な説明】
【００９２】
【図１】本発明の第１の実施例としての画像形成装置１００の構成例を示すブロック図である。
【図２】２つのレーザビームＬａ，Ｌｂの像面に対する照射例を示す概念図である。
【図３】各実施例における像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの関係例を示す特性図である。
【図４】画像形成装置１００のマルチビーム校正時の動作例を示すフローチャートである。
【図５】第２の実施例としての画像形成装置２００の構成例を示すブロック図である。
【図６】ＩＮＤＥＸ検知部１１の補正値Δａの取得例を示すフローチャートである。
【図７】第３の実施例としての画像形成装置３００の構成例を示すブロック図である。
【図８】（Ａ）〜（Ｃ）は、レジスト検知部２１におけるレジストマークＲｍ１及びＲｍ２の検知例を示す図である。
【図９】第３の実施例に係る像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの関係例を示す特性図である。
【図１０】像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの変動の特性のシフトを含む補正値の取得例を示すフローチャートである。
【図１１】従来例に係る画像形成装置４００の構成例を示すブロック図である。
【図１２】比較例としての像面位置ｖｓ主ずれ量Δｘの関係例を示す特性図である。
【符号の説明】
【００９３】
１  感光体ドラム  
１０，１０’  画像形成ユニット
１１，１２  ＩＮＤＥＸ検知部
１３  コリメータユニット
１４  ポリゴンミラー
１５  光学レンズ
１６，１７  インデックスミラー
２０  ＬＤ駆動回路
３０  制御部（制御手段)
３１  記憶部（記憶手段）
１００，２００，４００  画像形成装置
ＬＤ＃１，ＬＤ＃２  レーザ光源
【図１】
2007045075.tif 000003
【図２】
2007045075.tif 000004
【図３】
2007045075.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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