(57)【要約】【課題】  簡単に、かつより精度の高い画像位置自動調整機能を有する画像形成装置及び画像位置計測方法を提供する。【解決手段】  スキャナ１で読み取った画像データを蓄積し、この画像データを読み取って印刷し、これらの動作を制御部４で制御する画像形成装置において、画像位置計測を主走査、及び副走査方向の位置が予め明確になっている画像を有するテストチャートを用いて行ない、前記スキャナ１を介して読み取った前記テストチャートの画像データと、この画像データを印刷した画像を、前記スキャナ１を介してさらに読み取った画像データと比較する。【選択図】  図１
2007088672.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
原稿画像を読み取るスキャナと、該スキャナが読み取った画像データを蓄積するメモリ手段と、該メモリ手段に蓄積された画像データを演算する演算手段と、前記メモリ手段から読み出した画像データを印刷する印刷手段と、前記メモリ手段、演算手段及び印刷手段を制御する制御部と、を備えた画像形成装置において、
前記制御部は、画像位置計測を主走査、及び副走査方向の位置が予め明確になっている画像を有するテストチャートを用いて行ない、前記スキャナを介して読み取った前記テストチャートの画像データを前記印刷手段により印刷した印刷画像を、前記スキャナを介してさらに読み取った画像データと比較することを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
原稿画像を読み取るスキャナと、該スキャナが読み取った画像データを蓄積するメモリ手段と、該メモリ手段に蓄積された画像データを演算する演算手段と、前記メモリ手段から読み出した画像データを印刷する印刷手段と、前記メモリ手段、演算手段及び印刷手段を制御する制御部と、を備えた画像形成装置における画像位置を計測する画像位置計測方法において、
主走査、及び副走査方向の位置が予め明確になっている画像を有するテストチャートを用いて、前記スキャナを介して前記テストチャートの画像データを読み取る読取ステップと、該読取ステップにより読み取られた画像データを前記印刷手段によって印刷する印刷ステップと、該印刷ステップにより印刷された画像を、前記スキャナを介してさらに読み取る再読み取りステップと、前記読取ステップの画像データと前記再読み取りステップの画像データを比較する比較ステップを含むことを特徴とする画像位置計測方法。
【請求項３】
前記テストチャートの主走査方向あるいは副走査方向に、２個の位置検出画像を有することを特徴とする請求項２記載の画像位置計測方法。
【請求項４】
前記テストチャートの主走査方向あるいは副走査方向に、３個以上の位置検出画像を有することを特徴とする請求項２記載の画像位置計測方法。
【請求項５】
前記テストチャートの画像の主走査および副走査方向の位置情報を、前記画像形成装置の外部から供給することを特徴とする請求項２、３又は４記載の画像位置計測方法。
【請求項６】
請求項１記載の画像形成装置の、請求項２、３又は４記載の画像位置計測方法によって得られた画像位置計測の状態を調整可能であることを特徴とする画像位置計測調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デジタル複写機のごとくスキャナにより読み取った原稿画像を記憶装置に記憶してから印刷出力する画像形成装置、その画像位置計測方法及びその調整方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
デジタル複写機のごとくスキャナにより読み取った原稿画像を記憶装置に記憶してから印刷出力する画像形成装置においては、印刷装置で生成される印刷データをレーザ書き込みユニットからのレーザビームに変換し、これを感光体ドラムに照射して潜像を作成し、その潜像に現像器を介してトナーを付着させ、トナー像を給紙装置から搬送されてきた転写紙に転写手段を用いて転写するというプロセスが存在する。
しかしながら、このプロセスにおいては、レーザ書き込みユニットの走査位置、あるいは給紙、搬送装置の位置精度誤差等により、画像と転写紙の位置にずれが生じてしまうため、レーザ書き込みユニットの書き込みタイミング、給紙装置の給紙タイミング等を調整し、画像と転写紙の位置を合致させる必要がある。
従来、この調整は、テストチャートをスキャナに読み込ませ、そのコピー画像からコピー用紙のずれ量を定規等で計測し、その距離から補正値を計算し、その補正値を操作パネル等からの入力によりＣＰＵ等に与え、レーザ書き込みユニットの書き込みタイミング、給紙装置の給紙タイミング等を正規の位置に補正するという方法が用いられてきた。
このような方法では、調整の際に必ず定規等の測定器が必要となり、測定精度も低い上、煩わしい計算を行った後、その補正値を入力しなければならないという問題があった。
上述した問題を解決するために、印字位置調整用のテストパターンを使用して、このテストパターンと、スキャナユニットで読み取った画像データとのずれ量を検出することにより印字位置の自動調整を行う技術が知られている（例えば、特許文献１及び２参照）。
詳しく述べれば、特許文献１では、印字位置調整用のテストパターンを印字し、その出力されたパターンをスキャナユニットで読み取り、前記テストパターンと、スキャナユニットで読み取った画像データとのずれ量を検出し、印字位置を調整するための演算手段をもってずれ量の補正値を算出し設定することができる印字位置自動調整装置が開示されている。
また、特許文献２では、画像メモリに格納されているテストパターン画像に対応する記録画像情報を光書き込みユニット制御部に出力し、記録紙にテストパターン画像を記録する。この記録紙の画像をスキャナユニットにより読み取らせ、スキャナユニット制御部はスキャナユニットからのライン読み取り信号を蓄積して読み取り画像情報を生成する。
さらに、ＣＰＵにて読み取り画像情報とテストパターン画像を比較し、この間に不一致があればこれを画像欠陥と判断し、その画像欠陥が除去されるように各種の記録条件を自動調整する技術が開示されている。
【特許文献１】特開平０６−１６６２４５号公報
【特許文献２】特開平１１−１０９８０７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、かかる従来の技術（特に、特許文献１）においては、スキャナユニットのレジストずれを予め調整しておく必要があり、さらに、検出したずれ量には、スキャナユニット自体のスキューや倍率誤差、直角性の成分が上乗せされるため、正確なレジストずれを検出できないという問題がある。
そこで、本発明の目的は、上述した実情を考慮して、簡単に、かつより精度の高い画像位置自動調整機能を有する画像形成装置、画像位置計測方法、及び画像位置計測調整方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
上記の課題を解決するために、請求項１に記載の発明は、原稿画像を読み取るスキャナと、該スキャナが読み取った画像データを蓄積するメモリ手段と、該メモリ手段に蓄積された画像データを演算する演算手段と、前記メモリ手段から読み出した画像データを印刷する印刷手段と、前記メモリ手段、演算手段及び印刷手段を制御する制御部と、を備えた画像形成装置において、前記制御部は、画像位置計測を主走査、及び副走査方向の位置が予め明確になっている画像を有するテストチャートを用いて行ない、前記スキャナを介して読み取った前記テストチャートの画像データを前記印刷手段により印刷した印刷画像を、前記スキャナを介してさらに読み取った画像データと比較することを特徴とする。
また、請求項２に記載の発明は、原稿画像を読み取るスキャナと、該スキャナが読み取った画像データを蓄積するメモリ手段と、該メモリ手段に蓄積された画像データを演算する演算手段と、前記メモリ手段から読み出した画像データを印刷する印刷手段と、前記メモリ手段、演算手段及び印刷手段を制御する制御部と、を備えた画像形成装置における画像位置を計測する画像位置計測方法において、主走査、及び副走査方向の位置が予め明確になっている画像を有するテストチャートを用いて、前記スキャナを介して前記テストチャートの画像データを読み取る読取ステップと、該読取ステップにより読み取られた画像データを前記印刷手段によって印刷する印刷ステップと、該印刷ステップにより印刷された画像を、前記スキャナを介してさらに読み取る再読み取りステップと、前記読取ステップの画像データと前記再読み取りステップの画像データを比較する比較ステップを含むことを特徴とする。
また、請求項３に記載の発明は、前記テストチャートの主走査方向あるいは副走査方向に、２個の位置検出画像を有する請求項２記載の画像位置計測方法を特徴とする。
また、請求項４に記載の発明は、前記テストチャートの主走査方向あるいは副走査方向に、３個以上の位置検出画像を有する請求項２記載の画像位置計測方法を特徴とする。
また、請求項５に記載の発明は、前記テストチャートの画像の主走査および副走査方向の位置情報を、前記画像形成装置の外部から供給する請求項２、３又は４記載の画像位置計測方法を特徴とする。
また、請求項６に記載の発明は、請求項１記載の画像形成装置の、請求項２、３又は４記載の画像位置計測方法によって得られた画像位置計測の状態を調整可能である画像位置計測調整方法を特徴とする。
【発明の効果】
【０００５】
本発明によれば、スキャナユニットのレジストずれを予め調整しておく必要がないため、調整に掛かる時間の短縮を図ることが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００６】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を詳細に説明する。図１は本発明による画像形成装置の構成を示す概略ブロック図である。図１において、画像形成装置Ａは原稿画像を読み取るスキャナ（ユニット）１と、このスキャナ１が読み取った画像データを蓄積するメモリ手段３と、前記メモリ手段３から読み出した画像データを印刷する印刷装置２とを含んでいる。
また、画像形成装置Ａは、スキャナ１、メモリ手段３、及び印刷装置２の各動作を制御しかつメモリ手段３に蓄積された画像データを演算する演算手段を含む制御部（ＣＰＵ）４を備えている。
また、後述する画像位置計測を行う際、制御部（ＣＰＵ）４によりアクセスできる外部記憶媒体５を備えている。この外部記憶媒体５には画像位置計測の際に必要なテストチャートの画像位置検出用パターンの主走査および副走査方向の位置データが格納されている。
画像位置計測を行う際、ＣＰＵ４は外部記憶媒体５にアクセスし、テストチャートの画像位置検出用パターンの位置データを取得する。外部記憶媒体５を装着するＩ／Ｆは、画像形成装置Ａ外部から容易にアクセスできる位置に用意されていることが望ましい。
この画像形成装置Ａの画像位置計測及びこの画像位置計測の状態の調整においては、テストチャートに依存する固有データを外部から供給しているため、テストチャートを交換する際のテストチャートのデータの入れ換えを容易に行うことが可能となる。
図２は本発明において使用するテストチャートの第１の実施の形態を示す概略図である。図３は図２のテストチャートをスキャナで読み取った画像を示す概略図である。図４は  図３の画像をプロッタで印刷し、それをスキャナで読み取った画像を示す概略図である。
【０００７】
図１〜図４を参照して、図２中、符号６はテストチャートの外形を示し、画像位置検出用パターン７が付されている。この画像位置検出用パターン７のテストチャート外形６からの主走査方向の距離をｘ１、副走査方向の距離をｙ１として示している。
図３は図２のテストチャートの外形６をスキャナ１で読み取った画像を示している。図３中の符号８はスキャナ１で読み取った画像の有効画像領域を示し、符号９は読み取った画像位置検出用パターンを示している。画像位置検出用パターン９の有効画像領域端部からの主走査方向の距離をｘ２、副走査方向の距離をｙ２として示している。
図４中の符号１０はスキャナ１で読み取った画像の有効画像領域を示している。符号１１は読み取った画像位置検出用パターン１１を示している。画像位置検出用パターン１１の有効画像領域端部からの主走査方向の距離をｘ３、副走査方向の距離をｙ３として示している。
図５は画像位置補正量算出フローを示すフローチャートである。次に、実際の画像位置補正量算出方法を説明する。図１ないし図５を参照して、まず、画像形成装置Ａは、図２に示したテストチャート６の読み取りを行う（Ｓ１）。この時、テストチャート外形６は画像形成装置Ａのスキャナ（ユニット）１にある原稿スケール（図示せず）に突き当ててセットされている。
また、画像位置検出用パターン７のテストチャート外形６からの主走査方向の距離ｘ１、及び副走査方向の距離をｙ１は予め測定されているもので、この値は画像位置補正量算出のためのソフトウェアプログラムに埋め込まれている。読み取ったテストチャートの画像は、画像形成装置Ａのメモリ手段２に格納される（Ｓ２）。
メモリ手段２上の画像は図３に示した画像である。メモリ手段２に格納された画像データから、制御部４の演算手段により有効画像領域端部から画像位置検出用パターン９までの距離、ｘ２及びｙ２を算出する（Ｓ３）。さらに、メモリ手段２に格納された画像データは印刷装置３に渡され、これを転写紙（図示せず）に印刷する（Ｓ４）。
印刷された転写紙をスキャナ１により再び読み取る（Ｓ５）。この時、転写紙はスキャナ１の原稿スケールに突き当ててセットされている。読み取った転写紙画像は、画像形成装置Ａのメモリ手段２に格納される（Ｓ６）。
メモリ手段２上の画像は前出の図４にあたる。メモリ手段２に格納された画像データから、制御部４の演算手段により有効画像領域端部から画像位置検出用パターン１１までの距離、ｘ３及びｙ３を算出する（Ｓ７）。
【０００８】
次に、得られた各パターン距離から、スキャナ１およびプロッタ（印刷装置）３のレジストずれ量を算出する（Ｓ８）。スキャナ１の主走査レジストずれ量をＸｓとすると、Ｘｓは、
Ｘｓ＝ｘ２−ｘ１
として表される。同様に、スキャナの副走査レジストずれ量をＹｓとすると、Ｙｓは、
Ｙｓ＝ｙ２−ｙ１
として表される（Ｓ９）。
プロッタ３の主走査レジストずれ量をＸｐとする。転写紙画像を読み取って得られた画像位置検出用パターン１１の距離ｘ３は、テストチャートの画像位置検出用パターン７の距離ｘ１に対して、スキャナ１で２回読み取っているため、スキャナ１の主走査レジストずれ量が２回分加算され、さらにプロッタ主走査レジストずれ量が加算されている（Ｓ１０）。すなわち、
ｘ３＝ｘ１＋２×（Ｘｓ）＋Ｘｐ
として表される。
したがって、プロッタ３の主走査レジストずれＸｐは、
Ｘｐ＝ｘ３−２×（Ｘｓ）−ｘ１
＝ｘ３−２×（ｘ２−ｘ１）−ｘ１
＝ｘ３−２×(ｘ２)＋ｘ１
として表されることになる。
同様に、プロッタ３の副走査レジストずれ量をＹｐとすると、Ｙｐは、
Ｙｐ＝ｙ３−２×（ｙ２）＋ｙ１
として表されることになる（Ｓ１１）。
得られた各レジストずれ量は、画像形成装置Ａの不揮発性記憶手段に格納され、スキャナ１およびプロッタ３のレジストずれ補正データとして使用される。これらの補正データを使用してスキャナ補正値の設定（Ｓ１２）及びプロッタ補正値の設定（Ｓ１３）を行う。
【０００９】
図６は本発明において使用するテストチャートの第２の実施の形態を示す概略図である。図７は図６のテストチャートをスキャナで読み取った画像を示す概略図である。図８は図７の画像をプロッタで印刷し、それをスキャナで読み取った画像を示す概略図である。
次に、本発明において使用するテストチャートの第２の実施の形態を図１及び図６〜８にて説明する。図６中の符号１２はテストチャートの外形を示し、画像位置検出用パターン１３〜１５が付されている。
画像位置検出用パターン１３〜１５のテストチャート外形１２からの、主走査方向の距離はｘ１１、ｘ１２、ｘ１３で、副走査方向の距離はｙ１１、ｙ１２、ｙ１３として示している。
図７は図６のテストチャートをスキャナ１で読み取った画像を示している。図中の符号１６はスキャナ（ユニット）１で読み取った画像の有効画像領域を示し、符号１７〜１９は読み取った画像位置検出用パターンを示している。
前記と同様に、画像位置検出用パターン１７〜１９の有効画像領域端部からの、主走査方向の距離はｘ２１、ｘ２２、ｘ２３で、副走査方向の距離はｙ２１、ｙ２２、ｙ２３として示している。
図８は図７の画像をプロッタ（印刷装置）３で印刷し、それをスキャナ１で読み取った画像を示している。図中の２０はスキャナ１で読み取った画像の有効画像領域を示している。
符号２１〜２３は読み取った画像位置検出用パターンを示している。画像位置検出用パターン２１〜２３の有効画像領域端部からの、主走査方向の距離はｘ３１、ｘ３２、ｘ３３で、副走査方向の距離はｙ３１、ｙ３２、ｙ３３として示している。
【００１０】
図９は画像位置算出フローを示すフローチャートである。図１及び図６〜９を参照して、まず、画像形成装置Ａは、図６に示したテストチャートの読み取りを行う（Ｓ２０）。このとき、テストチャートは画像形成装置Ａのスキャナ１にある原稿スケール（図示せず）に突き当ててセットされている。
また、画像位置検出用パターン１３〜１５のテストチャート外形１２からの主走査方向の距離ｘ１１、ｘ１２、ｘ１３、及び副走査方向の距離をｙ１１、ｙ１２、ｙ１３は予め測定されているもので、この値は画像位置補正量算出のためのソフトウェアプログラムに埋め込まれている。
読み取ったテストチャートの画像は、画像形成装置Ａのメモリ手段２に格納される（Ｓ２１）。メモリ手段２上の画像は図７に示してある。メモリ手段２に格納された画像データから、制御部４の演算手段により有効画像領域端部から画像位置検出用パターン１７〜１９までの距離ｘ２１、ｘ２２、ｘ２３及びｙ２１、ｙ２２、ｙ２３を算出する（Ｓ２２）。
さらに、メモリ手段２に格納された画像データは印刷装置３に渡され、これを転写紙（図示せず）に印刷する（Ｓ２３）。印刷された転写紙を再びスキャナ１により読み取る（Ｓ２４）。このとき、転写紙はスキャナ１の原稿スケールに突き当ててセットされている。読み取った転写紙画像は、画像形成装置Ａのメモリ手段２に格納される（Ｓ２５）。
この時のメモリ手段２上の画像は図８に示してある。メモリ手段２に格納された画像データから、制御部４の演算手段により有効画像領域端部から画像位置検出用パターン２１〜２３までの距離ｘ３１、ｘ３２、ｘ３３及びｙ３１、ｙ３２、ｙ３３を算出する（Ｓ２６）。
【００１１】
次に、得られた各パターン距離から、スキャナ１およびプロッタ（印刷装置）３の倍率誤差、スキュー量を算出する。スキャナの主走査倍率誤差をＢｓｘとすると、Ｂｓｘは、
2007088672.tif 000003
として表される（Ｓ２７）。
同様に、スキャナ１の副走査倍率誤差偏差をＢｓｙとすると、Ｂｓｙは、
2007088672.tif 000004
として表される（Ｓ２８）。
プロッタ３の主走査倍率誤差をＢｐｘとする。転写紙画像を読み取って得られた画像の主走査方向の２点のパターンの距離は、スキャナ１で２回読み取っているため、スキャナ１の主走査倍率誤差成分が２回分積算され、さらにプロッタ主走査倍率誤差成分が積算されている。すなわち、
（ｘ３２−ｘ３１）＝（ｘ１２−ｘ１１）×（１＋Ｂｓｘ）2×（１＋Ｂｐｘ）
として表される。
したがって、プロッタ３の主走査倍率誤差Ｂｐｘは、
2007088672.tif 000005
として表されることになる（Ｓ２９）。
同様に、プロッタの副走査倍率誤差をＢｐｙとすると、Ｂｐｙは、
2007088672.tif 000006
として表されることになる（Ｓ３０）。
【００１２】
次にスキューの算出方法について述べる。ここで、スキューは以下のように定義する。
2007088672.tif 000007
2007088672.tif 000008
スキャナ１の主走査スキューをＳｓｘとすると、Ｓｓｘは、
2007088672.tif 000009
として表される（Ｓ３１）。
同様に、スキャナ１の副走査スキューをＳｓｙとすると、Ｓｓｙは、
2007088672.tif 000010
として表される（Ｓ３２）。
【００１３】
プロッタ３の主走査スキューをＳｐｘとする。転写紙画像を読み取って得られた画像（図８参照）のスキュー量は、テストチャート（図６参照）に対して、スキャナ１で２回読み取っているため、スキャナ１の主走査スキュー量が２回分加算され、さらに、プロッタ主走査スキュー量が加算されている。
すなわち
2007088672.tif 000011
として表されることになる（Ｓ３３）。
同様に、プロッタ３の副走査スキュー量をＳｐｙとすると、Ｓｐｙは、
2007088672.tif 000012
として表されることになる（Ｓ３４）。
この画像形成装置Ａの画像位置計測方法においては、スキャナ１のスキュー、及び倍率誤差を排除してプロッタ（印刷装置）３のスキュー、及び倍率誤差を検出できるため、精度良くプロッタ３のスキュー、倍率誤差を計測することが可能となる。
【００１４】
図１０は本発明において使用するテストチャートの第３の実施の形態を示す概略図である。図１１は図１０のテストチャートをスキャナで読み取った画像を示す概略図である。図１２は図１１の画像をプロッタで印刷し、それをスキャナで読み取った画像を示す概略図である。
図１及び図１０〜図１２を参照して、第３の実施の形態について説明する。
図１０中の符号２４はテストチャートの外形を示し、画像位置検出用パターン２５〜２９が付されている。画像位置検出用パターン２５〜２９のテストチャート外形２４からの主走査方向の距離をｘ１１、ｘ１２、ｘ１３、副走査方向の距離をｙ１１、ｙ１２、ｙ１３として示している。
図１１は図１０のテストチャートをスキャナ１で読み取った画像を示している。図１１中の符号３０はスキャナ（ユニット）１で読み取った画像の有効画像領域を示し、符号３１〜３５はスキャナ１で読み取った画像位置検出用パターンを示している。画像位置検出用パターン３１〜３５の有効画像領域端部からの主走査方向の距離はｘ２１、ｘ２２、ｘ２３で、副走査方向の距離はｙ２１、ｙ２２、ｙ２３として示している。
図１２は図１１の画像をプロッタ（印刷装置）３で印刷し、それをスキャナ１で読み取った画像を示している。図１２中の符号３６はスキャナ１で読み取った画像の有効画像領域を示している。
符号３７〜４１はスキャナ１で読み取った画像位置検出用パターンを示している。画像位置検出用パターン３７〜４１の有効画像領域端部からの主走査方向の距離はｘ３１、ｘ３２、ｘ３３で、副走査方向の距離はｙ３１、ｙ３２、ｙ３３として示している。
【００１５】
図１３は画像位置算出フローを示すフローチャートである。図１及び図１０〜図１３を参照して、まず、画像形成装置Ａは、図１０に示すテストチャートの読み取りを行う（Ｓ４０）。この時、テストチャートは画像形成装置Ａのスキャナ（ユニット）１にある原稿スケール（図示せず）に突き当ててセットされている。
また、画像位置検出用パターンのテストチャート外形２４からの主走査方向の距離ｘ１１、ｘ１２、ｘ１３、及び副走査方向の距離をｙ１１、ｙ１２、ｙ１３は予め測定されているもので、これらの値は画像位置補正量算出のためのソフトウェアプログラムに埋め込まれている。
読み取ったテストチャートの画像は、画像形成装置Ａのメモリ手段２に格納される（Ｓ４１）。メモリ手段２上の画像は図１１に示してある。メモリ手段２に格納された画像データから、制御部４の演算手段により有効画像領域端部から画像位置検出用パターン３１〜３５までの距離、ｘ２１、ｘ２２、ｘ２３及びｙ２１、ｙ２２、ｙ２３を算出する（Ｓ４２）。
さらに、メモリ手段２に格納された画像データは印刷装置３に渡され、これを転写紙（図示せず）に印刷する（Ｓ４３）。印刷された転写紙を再びスキャナ１から読み取る（Ｓ４４）。この時、転写紙はスキャナ１の原稿スケールに突き当ててセットされている。読み取った転写紙画像は、画像形成装置Ａのメモリ手段２に格納される（Ｓ４５）。
メモリ手段２上の画像は前に示した図１２にあたる。メモリ手段２に格納された画像データから、制御部４の演算手段により有効画像領域端部から画像位置検出用パターン３７〜４１までの距離、ｘ３１、ｘ３２、ｘ３３及びｙ３１、ｙ３２、ｙ３３を算出する（Ｓ４６）。
【００１６】
次に、得られた各パターン距離から、スキャナ１およびプロッタ（印刷装置）３の倍率誤差偏差を算出する。倍率誤差偏差とは、主走査方向の左側と右側、あるいは副走査方向の上側と下側の倍率誤差の差であり、次のように定義する。
主走査倍率誤差偏差＝左側倍率誤差−右側倍率誤差
副走査倍率誤差偏差＝上側倍率誤差−下側倍率誤差
スキャナ１の主走査左側倍率誤差をＢｓｘｌ、主走査右側倍率誤差をＢｓｘｒ、主走査倍率誤差偏差をＨｓｘとすると、Ｈｓｘは、
2007088672.tif 000013
として表される（Ｓ４７、Ｓ４８及びＳ４９）。
同様に、スキャナ１の副走査上側倍率誤差をＢｓｙｕ、副走査下側倍率誤差をＢｓｙｄ、副走査倍率誤差偏差をＨｓｙとすると、Ｈｓｙは、
2007088672.tif 000014
として表される（Ｓ５０、Ｓ５１及びＳ５２）。
【００１７】
プロッタ３の主走査左側倍率誤差をＢｐｘｌ、主走査右側倍率誤差をＢｐｘｒ、主走査倍率誤差偏差をＨｐｘとすると、Ｈｐｘは、
Ｈｐｘ＝Ｂｐｘｌ−Ｂｐｘｒ
2007088672.tif 000015
2007088672.tif 000016
として表されることになる（Ｓ５３、Ｓ５４及びＳ５５）。
同様に、プロッタ３の副走査上側倍率誤差をＢｐｙｕ、副走査下側倍率誤差をＢｐｙｄ、副走査倍率誤差偏差をＨｐｙとすると、Ｈｐｙは、
Ｈｐｙ＝Ｂｐｙｕ−Ｂｐｙｄ
2007088672.tif 000017
2007088672.tif 000018
として表されることになる（Ｓ５６、Ｓ５７及びＳ５８）。
この画像形成装置Ａの画像位置計測方法においては、スキャナ１の倍率誤差偏差の影響を排除してプロッタ３の倍率誤差偏差を検出できるため、精度良くプロッタの倍率誤差偏差を計測することが可能となる。
上記実施の形態は走査方向に３点の画像位置検出用パターンを配した実施の形態であるが、走査方向にパターンを増やすことで、さらに細かいピッチの倍率誤差の偏差を計測することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明による画像形成装置の構成を示す概略ブロック図である。
【図２】本発明において使用するテストチャートの第１の実施の形態を示す概略図である。
【図３】図２のテストチャートをスキャナで読み取った画像を示す概略図である。
【図４】図３の画像をプロッタで印刷し、それをスキャナで読み取った画像を示す概略図である。
【図５】画像位置補正量算出フローを示すフローチャートである。
【図６】本発明において使用するテストチャートの第２の実施の形態を示す概略図である。
【図７】図６のテストチャートをスキャナで読み取った画像を示す概略図である。
【図８】図７の画像をプロッタで印刷し、それをスキャナで読み取った画像を示す概略図である。
【図９】画像位置算出フローを示すフローチャートである。
【図１０】本発明において使用するテストチャートの第３の実施の形態を示す概略図である。
【図１１】図１０のテストチャートをスキャナで読み取った画像を示す概略図である。
【図１２】図１１の画像をプロッタで印刷し、それをスキャナで読み取った画像を示す概略図である。
【図１３】画像位置算出フローを示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００１９】
Ａ  画像形成装置
１  スキャナ（スキャナユニット）  
２  メモリ手段
３  印刷装置（プロッタ）
４  制御部（ＣＰＵ、演算手段）
５  外部記憶媒体
【図１】
2007088672.tif 000019
【図２】
2007088672.tif 000020
【図３】
2007088672.tif 000021
【図４】
2007088672.tif 000022
【図５】
2007088672.tif 000023
【図６】
2007088672.tif 000024
【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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