(57)【要約】      （修正有）【課題】簡単な検査で効率よく線間短絡検査が可能な線間短絡検査装置を提供する。【解決手段】線間短絡検査装置は，導線を収容する複数の凹部が形成された検出部材１２と，検出部材１２の各凹部に設けられ，凹部内に収容された導線と導通する，互いに絶縁された複数の検出針２４と，検出部材１２における凹部が設けられた箇所と対向し，導線を検出部材１２の凹部内に収容させて導通部材に押し付ける押し付け部材１１と，２点間の導通の有無を検査する電流検出部３３と，複数の導通部材と電流検出部３３との接続を切り替えて，任意の２つの導通部材を電流検出部３３による検査に供するリレー部２５とを有する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
導線を収容する複数の凹部が形成された収容部材と，
前記収容部材の各凹部に設けられ，凹部内に収容された導線と導通する，互いに絶縁された複数の導通部材と，
前記収容部材における凹部が設けられた箇所と対向し，導線を前記収容部材の凹部内に収容させて前記導通部材に押し付ける押し付け部材と，
２点間の導通の有無を検査する検査部と，
前記複数の導通部材と前記検査部との接続を切り替えて，任意の２つの導通部材を前記検査部による検査に供するリレー部とを有することを特徴とする線間短絡検査装置。
【請求項２】
請求項１に記載の線間短絡検査装置において，
前記複数の導通部材は，凹部内に収容された導線に先端で接触する針状部材であることを特徴とする線間短絡検査装置。
【請求項３】
請求項１に記載の線間短絡検査装置において，
前記収容部材の各凹部が，前記各導通部材で形成されており，その開口幅が検査対象の導線の径以下であり，
前記収容部材の各凹部の開口部の外側に隣接して設けられ，凹部内に収容される導線の表面層を擦り取る摩擦部を有することを特徴とする線間短絡検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は，モータのステータコア等に巻線されるエナメル線の絶縁異常を検出するための線間短絡検査装置に関する。さらに詳細には，コイルの各パラ線間の導通の有無を検査する線間短絡検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来，モータのステータやロータ等では，コアの各相に多数のエナメル線を巻線して製造される。製造されたステータ等には，絶縁状態等を確認するために，モータに組み込まれる前に各種の検査が行われている。例えば，相間コイル絶縁検査，コイル−コア間絶縁検査，コイル抵抗値測定が行われ，さらに性能検査としてトルクや回転数の検査を行っている。
【０００３】
ここで，コアに巻かれるエナメル線のエナメルにキズがあると，製品に冷熱サイクルが加えられたときに次第に絶縁性が低下し，将来的にレアショートの原因となる。これを防止するためには，各パラ線の相互絶縁状態を検査することが望ましい。しかしこの検査を行うためには，各パラ線が柔軟でロボットによるハンドリングが困難であることから，手作業での検査が強いられる。その上，各相内のパラ線の数が１０〜２０と多いため，この検査の作業は非常に煩雑なものとなる。これらの事情から，この各パラ線の相互絶縁状態の検査は，コイル抵抗値測定によって代用されることが多かった。しかしながら，コイル抵抗値測定は各コイルの抵抗値を測定するものであり，パラ線間の絶縁が著しく低下した場合に限って検出が可能であり，小さなキズ等は検出できなかった。
【０００４】
これに対し，例えば特許文献１には，エナメル線のキズを検出するために，ステータを減圧容器に入れ，交流定電圧を印加してコロナ放電を検出する検査装置が開示されている。この文献に記載の検査装置によれば，ステータ等に対し，２７００Ｐａ程度の減圧下で５００〜８００Ｖの試験電圧をかけ，コロナ放電の発生頻度を計数することにより，エナメル線のキズを検出できるとされている。
【特許文献１】特開平７−１２８３９２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら，前記した従来の検査装置は，装置が大がかりであり，検査に時間がかかる。しかも，ステータが完成してから検査することとなるため，不良品が発見された場合にその修理や回収に手間がかかるという問題点があった。
【０００６】
本発明は，前記した従来の線間短絡検査装置が有する問題点を解決するためになされたものである。すなわちその課題とするところは，簡単な検査で効率よく線間短絡検査が可能な線間短絡検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
この課題の解決を目的としてなされた本発明の線間短絡検査装置は，導線を収容する複数の凹部が形成された収容部材と，収容部材の各凹部に設けられ，凹部内に収容された導線と導通する，互いに絶縁された複数の導通部材と，収容部材における凹部が設けられた箇所と対向し，導線を収容部材の凹部内に収容させて導通部材に押し付ける押し付け部材と，２点間の導通の有無を検査する検査部と，複数の導通部材と検査部との接続を切り替えて，任意の２つの導通部材を検査部による検査に供するリレー部とを有するものである。
【０００８】
本発明の線間短絡検査装置によれば，複数の導線は収容部材に形成された凹部に収容され，押し付け部材によってそれぞれ導通部材に押し付けられるので，導線と導通部材とが導通される。さらに，複数の導通部材はリレー部によって接続を切り替えられ，任意の２つの導通部材の間の導通の有無が検査される。従って，複数の導線間の導通の有無が検査される。これにより，簡単な検査で効率よく線間短絡検査が可能な線間短絡検査装置となっている。
【０００９】
さらに本発明では，複数の導通部材は，凹部内に収容された導線に先端で接触する針状部材であることが望ましい。このようになっていれば，針状部材が導線に突き刺さることによって，導線がエナメル等で被膜されていても導通させることができる。
【００１０】
さらに本発明では，収容部材の各凹部が，各導通部材で形成されており，その開口幅が検査対象の導線の径以下であり，収容部材の各凹部の開口部の外側に隣接して設けられ，凹部内に収容される導線の表面層を擦り取る摩擦部を有することが望ましい。このようなものであっても，収容部材の各凹部内に収容される際に，摩擦部によって導線の表面層が擦り取られる。従って，導線のエナメル被膜が剥がされて収容部材の各凹部と導通される。
【発明の効果】
【００１１】
本発明の線間短絡検査装置によれば，簡単な検査で効率よく線間短絡検査が可能となっている。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下，本発明を具体化した最良の形態について，添付図面を参照しつつ詳細に説明する。本形態は，モータのステータを製造する工程の途中で，ステータコアに束線を巻き付けた状態において，各相内のパラ線間の短絡を検出する検出装置に本発明を適用したものである。
【００１３】
本形態の短絡検査装置１０は，図１に示すように，束線Ｌ０を挟んで相対して配置される押し付け部材１１と検出部材１２とこれらを制御する制御部１３とを有している。束線Ｌ０は，短絡検査装置１０による検査対象であり，ここでは，コアに巻き付けられたコイル線の端部近傍である。ここでは，複数のパラ線Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３…が束にされた束線Ｌ０として図示している。
【００１４】
この検査対象の束線Ｌ０は，ｎ本のパラ線Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３…，Ｌｎが束にされたものである。１本の束線Ｌ０に含まれるパラ線の本数は，例えば１０〜２０本程度である。以下では，各パラ線Ｌと表記する。束線Ｌ０は，図１に示すように，先端部のチューブ被膜が剥がされ各パラ線Ｌが露出された状態で検査に供される。各パラ線Ｌは，それぞれエナメル被膜を有するエナメル線である。
【００１５】
押し付け部材１１と検出部材１２とは，図１に示すように，その長手方向を束線Ｌ０に対しておよそ直交する方向に揃えて，互いに平行に配置される。そして，これらの押し付け部材１１と検出部材１２とによって，各パラ線Ｌの先端部を挟み込む。押し付け部材１１と検出部材１２とはいずれも制御部１３によって制御される。押し付け部材１１は，少なくとも各パラ線Ｌに接する面は絶縁材料で形成されている。そして，図２に示すように，制御部１３によって，長手方向に振動されるとともに，検出部材１２に近づける方向に徐々に押圧される。
【００１６】
検出部材１２は，束線Ｌ０を挟んで押し付け部材１１と対面される面（図２中上面）に，複数の溝２３が形成されている。この溝２３は，それぞれ各パラ線Ｌが１本だけ入る幅であり，検出部材１２の短手方向全体にわたって直線的に連続して形成されている。また，少なくとも束線Ｌ０に含まれる各パラ線Ｌの本数分の溝２３が，互いにほぼ平行に設けられている。さらに，各溝２３の内部には，その１箇所にそれぞれ検出針２４の先端部が突出している。各検出針２４の先端部は，針状に細くされている。検出部材１２は，さらに，各検出針２４の接続を切り換えるリレー部２５を有している。
【００１７】
制御部１３は，駆動部３１，切換部３２，電流検出部３３を有している。駆動部３１は，押し付け部材１１を駆動する。切換部３２は，リレー部２５を制御して，検出部材１２の接続を切り換える。そして，任意の２つの検出針２４が電流検出部３３を介して接続されるようにする。電流検出部３３は，接続された検出針２４間に所定の電圧をかけ，リレー部２５を介して各検出針２４間に流れる電流の有無を検出する。
【００１８】
次に，本形態の短絡検査装置１０による短絡検査方法について説明する。まず，押し付け部材１１と検出部材１２との間を開き，束線Ｌ０のうちチューブ被膜を剥がした先端部をこれらの間に挟み込む。次に，駆動部３１によって押し付け部材１１を長手方向に振動させ，徐々に検出部材１２に近づける方向へ押圧する。このとき，検出部材１２は動かさない。これにより，各パラ線Ｌは次第にばらされて，検出部材１２の溝２３に１本ずつ入り込む。
【００１９】
そして，さらに押圧されることにより，検出針２４の先端部が各パラ線Ｌのエナメル被膜を突き抜け，各検出針２４と各パラ線Ｌとが接続される。押し付け部材１１の振動により広い範囲のエナメルが剥がされることが仮にあったとしても，各パラ線Ｌ間の絶縁は，押し付け部材１１によって確保されている。そして，図３に示すように，押し付け部材１１と検出部材１２との間の距離ｄが，各パラ線Ｌの径より小さくなったら，すべてのパラ線Ｌがそれぞれ溝２３内に配置されたことになる。そこで，駆動部３１による押し付け部材１１の振動を停止し，以後は検出部材１２への押圧のみとする。
【００２０】
次に，切換部３２によってリレー部２５を切換え，図３に示すように，検出針２４のうちの２つと電流検出部３３とを接続する。そして，それらの検出針２４間に電圧をかけて，電流検出部３３に流れる電流を検出する。電流検出部３３によって所定値以上の電流が検出されたら，それらの検出針２４に接続されているパラ線Ｌ間に絶縁強度の小さい部分があると判断される。このときの検査電圧は，数Ｖ〜５００Ｖ程度が適切である。そして，切換部３２によってリレー部２５を切換え，検出針２４のすべての組み合わせについてこの短絡検査を行う。
【００２１】
いずれの組み合わせにおいても，電流が検出されなかった場合は，この束線Ｌ０には絶縁不良のおそれはないと判断できる。そこで，切換部３２によってリレー部２５と電流検出部３３との導通を切り離し，押し付け部材１１と検出部材１２との間を開いて束線Ｌ０を取り出す。これで，この検査は終了である。従って，簡単な検査で効率よく線間短絡の検出が可能である。
【００２２】
また，検出針２４に代えて，図４に示すような，端子部材４１を用いても良い。端子部材４１には，金属製の複数の凹部４１ａが設けられ，その凹部４１ａの開口幅は各パラ線Ｌの径以下となっている。各凹部４１ａ間は絶縁されている。さらに，凹部４１ａの開口部の外側に斜面形状の摩擦部４１ｂが設けられている。各パラ線Ｌは，凹部４１ａに押し込まれる際に摩擦部４１ｂによってその表面のエナメル被膜が擦り取られ，凹部４１ａに導通される。あるいは，凹部４１ａの底部に検出針を突出させておき，各パラ線Ｌに突き刺さるようにしても良い。
【００２３】
この端子部材４１を使用する場合には，押し付け部材４２として，図５に示すように，長手方向に端子部材４１が入る溝４３が設けられたものとする。あるいは，端子部材４１に押し付け部材４２が入る溝が設けられていても良い。このようなものであっても，端子部材４１と押し付け部材４２との間に束線Ｌ０を挟み，押し付け部材４２を振動させつつ押圧する。これによって，各パラ線Ｌを凹部４１ａに押し込むことができる。このとき，摩擦部４１ｂによって各パラ線Ｌの表面のエナメル被膜が剥がされ，導通検査が可能となる。そこで，上記と同様に順に接続を切換え，すべてのパラ線Ｌについて検査が終了するまで，順に検査を行う。
【００２４】
なお，上記ではパラ線Ｌが束にされた束線Ｌ０を検査対象としたが，１つの相内に複数のコイル線が巻き付けられているものであれば適用できる。例えば，分布巻きタイプのステータであっても，６本程度の太線を巻き付けたいわゆる３モジュールタイプのコイル線の検査にも適している。また，集中巻きタイプのステータであっても，２本以上のコイル線を使用して巻き付ける場合には，本発明を適用することができる。
【００２５】
ここで，この線間短絡検査を行うと，押し付け部材１１や端子部材４１によって各パラ線Ｌの先端部のエナメル被膜が部分的に剥がされる。しかし，検査中は押し付け部材１１等によって絶縁されている。また，検査終了後はこの部分のエナメルはどのみち剥がされて接続処理される箇所である。従って，この部分のエナメル被膜が剥がされていても，その後の使用には何ら差し支えはない。
【００２６】
以上詳細に説明したように本形態の短絡検査装置１０によれば，束線Ｌ０の各パラ線Ｌは，押し付け部材１１で分散され検出部材１２の各検出針２４に接続される。そして，リレー部２５によって，順次電流検出部３３を介して接続される。さらに，切換部３２によってリレー部２５が切り換えられ，電流検出部３３によって電流が検出されるので，簡単な検査で効率よくコイル相内短絡の検出が可能となっている。
【００２７】
なお，本形態は単なる例示にすぎず，本発明を何ら限定するものではない。したがって本発明は当然に，その要旨を逸脱しない範囲内で種々の改良，変形が可能である。例えば，押し付け部材１１は，長手方向に複数個に分かれていても良い。束線Ｌ０に含まれるパラ線Ｌの数が多い場合等では，大まかにいくつかに分けて，そのそれぞれが各押し付け部材１１によって分散されるようにすれば，分散処理にかかる時間が短縮される。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本形態に係る短絡検査装置の概略構成を示す斜視図である。
【図２】短絡検査装置を示す断面図である。
【図３】短絡検査装置による短絡検査の方法を示す説明図である。
【図４】短絡検査装置の別の形態を示す断面図である。
【図５】短絡検査装置の別の形態による短絡検査の方法を示す説明図である。
【符号の説明】
【００２９】
１０  短絡検査装置
１１，４２  押し付け部材
１２  検出部材
２４  検出針
２５  リレー部
３３  電流検出部
４１  端子部材
４１ｂ  摩擦部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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