(57)【要約】  【課題】ＣＡＰＡ、及びＬＰＦがＦＥ信号に与える影響をキャンセルし、ＦＥ信号の振幅を正確に計測可能な光ディスク装置を提供する。  【解決手段】  ローパスフィルタ（ＬＰＦ）１０４の通過前後のフォーカスエラー信号（ＦＥ信号）のＳ字振幅を用いて、ＬＰＦ１０４のＦＥ信号帯域におけるゲインを推定し、該推定ゲインを用いて、ＬＰＦ１０４通過後の振幅最大値Ｖｍａｘ’、及び振幅最小値Ｖｍｉｎ’の値を、ＬＰＦ１０４を通す前のレベルに補正することとした。  【選択図】図１
2007012121.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクから記録情報を読み取る光ピックアップと、
前記光ピックアップと前記光ディスクとの焦点方向の相対位置を制御するフォーカスサーボ回路と、
前記光ピックアップにより読み出された信号に基づいてフォーカスエラー信号（以下「ＦＥ信号」という。）を生成するＦＥ信号生成回路と、
前記ＦＥ信号のノイズを除去するローパスフィルタ（以下「ＬＰＦ」という。）と、
前記ＬＰＦ通過前の前記ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値Ｖｍａｘ、及び最小値Ｖｍｉｎを計測する第１の振幅検出回路と、
前記ＬＰＦ通過後の前記ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値Ｖｍａｘ’、及び最小値Ｖｍｉｎ’を計測する第２の振幅検出回路と、
前記ＬＰＦ通過後の前記ＦＥ信号のＳ字振幅のレベルを、前記第１の振幅検出回路、及び第２の振幅検出回路の出力値に基づいて、前記ＬＰＦ通過前の前記ＦＥ信号のＳ字振幅のレベルに戻す補正を行なうＬＰＦ補正回路と、を備える、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記ＬＰＦ補正回路は、前記第２の振幅検出回路における、前記ＬＰＦ通過後の前記ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値Ｖｍａｘ’、及び最小値Ｖｍｉｎ’の計測タイミングから、前記ＬＰＦ通過後の前記ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値Ｖｍａｘ’、及び最小値Ｖｍｉｎ’間の時間を計測する時間計測器と、
前記第１の振幅検出回路、及び第２の振幅検出回路の出力に基づいて、前記ＬＰＦ通過前の前記ＦＥ信号のＳ字振幅と、前記ＬＰＦ通過後の前記ＦＥ信号のＳ字振幅との比を算出し、該振幅比と前記時間計測器から出力される時間情報とに基づいて、ＦＥ信号帯域での前記ＬＰＦのゲインを推定するゲイン推定回路と、
前記ゲイン推定回路から出力される前記ＬＰＦの推定ゲインを、前記ＬＰＦ通過後の前記ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値Ｖｍａｘ’と最小値Ｖｍｉｎ’のそれぞれに掛け合わせて、前記ＬＰＦ通過後の前記ＦＥ信号のＳ字振幅のレベルを、前記ＬＰＦ通過前の前記ＦＥ信号のＳ字振幅のレベルに戻す振幅補正演算器と、を備える、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１の前記光ディスク装置において、
前記ＬＰＦ補正回路は、前記第１の振幅検出回路、及び前記第２の振幅検出回路からの出力に基づいて、Ｖｍａｘ’／Ｖｍａｘ、及びＶｍｉｎ’／Ｖｍｉｎを算出し、その値が小さい方を出力する比較器と、
前記比較器の出力値を、前記ＬＰＦ通過後の前記ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値Ｖｍａｘ’と最小値Ｖｍｉｎ’のそれぞれに掛け合わせて、前記ＬＰＦ通過後のＦＥ信号のＳ字振幅のレベルを、前記ＬＰＦ通過前の前記ＦＥ信号のＳ字振幅のレベルに戻す振幅補正演算器と、を備える、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記ＬＰＦ通過前の前記ＦＥ信号の周波数帯域を測定し、前記ＬＰＦのカットオフ周波数を、前記ＦＥ信号の周波数帯域に応じて変化させるカットオフ周波数設定回路を更に備える、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ディスク判別等に用いられるフォーカスエラー信号のＳ字の振幅を正確に測定する光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスク装置に搭載された光ディスクの種類の判別方法として、光ピックアップから得られるフォーカスエラー信号（以下「ＦＥ信号」という。）のＳ字の振幅を測定する方法が用いられている。従来の光ディスク装置においては、ＣＤ用とＤＶＤ用の両方の光ピックアップを用いて得られるＦＥ信号のＳ字の最大値、及び最小値をそれぞれ測定し、ＦＥ信号のＳ字の振幅の差に基づいて、光ディスク装置に搭載された光ディスクがＣＤかＤＶＤかを判定している（特許文献１参照）。
【０００３】
図６は従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
図６において、従来の光ディスク装置６００は、光ディスクＯＤの記録情報を読み取る光ピックアップ６０１と、光ピックアップ６０１と光ディスクＯＤとの焦点方向の相対位置を制御するフォーカスサーボ回路６０２と、光ピックアップ６０１からの反射光の情報から、ＦＥ信号を生成するＦＥ信号生成回路６０３と、ＦＥ信号の振幅の最大値、及び最小値を計測する振幅検出回路６０４と、振幅検出回路６０４の出力に基づいて、光ディスクＯＤがＣＤであるかＤＶＤであるかを判別するディスク判別回路６０５とを有している。なお、光ピックアップ６０１は、ＣＤ用とＤＶＤ用の対物レンズをそれぞれ備えている（何れも図示せず）。
【０００４】
次に、以上のように構成される光ディスク装置６００における、光ディスクの判別動作について説明する。
まず、光ピックアップ６０１の対物レンズがＣＤ用に切り替えられ、レーザ光が光ディスクＯＤに照射される。光ディスクＯＤからの反射光は、図示しない受光素子により受光され、ＦＥ信号生成回路６０３によりＦＥ信号が生成される。この際に、フォーカスサーボ回路６０２による制御のもと、光ピックアップ６０１が上下に駆動されることにより、Ｓ字の振幅を有するＦＥ信号が得られる。そして、振幅検出回路６０４により、ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値、及び最小値が測定される。
【０００５】
次に、光ピックアップ６０１の対物レンズがＤＶＤ用に切り替えられ、ＣＤ用対物レンズの場合と同様の方法により、ＦＥ信号生成回路６０３によりＦＥ信号が生成され、振幅検出回路６０４により、ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値、及び最小値が検出される。
【０００６】
図７は、光ディスク装置６００に搭載された光ディスクＯＤがＣＤである場合の、ＦＥ信号の波形を表す図であり、図７（ａ）は、ＣＤ用対物レンズを用いた場合に得られるＦＥ信号の波形を、図７（ｂ）は、ＤＶＤ用対物レンズを用いた場合に得られるＦＥ信号の波形をそれぞれ表す。
【０００７】
図７に示すように、搭載されている光ディスクＯＤがＣＤである場合、ＣＤ用対物レンズにより得られるＦＥ信号の振幅の方が、ＤＶＤ用対物レンズにより得られるＦＥ信号の振幅よりかなり大きくなる。ディスク判別回路６０５は、このようなＦＥ信号の特性に基づいて、光ディスク装置に載置された光ディスクＯＤが、ＣＤであるかＤＶＤであるかを判別する。つまり、振幅検出回路６０４により得られた２つのＦＥ信号の振幅の大小を比較することにより、光ディスクの種別を判別する。
【特許文献１】特開平１０−２０８３６８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
以上のように、従来の光ディスク装置６００によれば、ＦＥ信号のＳ字振幅に基づいて、光ディスクＯＤの種別判定を行っているため、その精度を確保するためには、ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値、及び最小値が正確に測定される必要がある。
【０００９】
しかしながら、上記従来の光ディスク装置６００によるＦＥ信号の振幅の測定方法では、ＦＥ信号のＳ字部分が、ＤＶＤ−ＲＡＭのアドレス部（以下「ＣＡＰＡ」とする。）において検出された場合、ＦＥ信号のＳ字部分にＣＡＰＡによるノイズが重畳されるため、ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値、及び最小値の正確な計測をすることができなかった。
【００１０】
また、ＦＥ信号とＣＡＰＡによるノイズの帯域が近いため、得られたＦＥ信号を通常のローパスフィルタ（ＬＰＦ）に通しても、ＣＡＰＡの影響により生じるノイズのみを取り除くことは難しく、特に、ＣＡＰＡによるノイズを除去するためにＬＰＦのカットオフ周波数を低く設定する場合は、ＦＥ信号の最大値、及び最小値も減衰することになり、ＬＰＦがＦＥ信号の振幅の最大値、及び最小値の計測結果に影響を与えてしまうという問題があった。
【００１１】
本発明は、上記従来の課題を解決するためになされたものであり、ＣＡＰＡ、及びＬＰＦがＦＥ信号に与える影響をキャンセルし、ＦＥ信号の振幅を正確に計測可能な光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記課題を解決するため、本発明の請求項１に係る光ディスク装置は、光ディスクから記録情報を読み取る光ピックアップと、前記光ピックアップと前記光ディスクとの焦点方向の相対位置を制御するフォーカスサーボ回路と、前記光ピックアップにより読み出された信号に基づいてフォーカスエラー信号（以下「ＦＥ信号」という。）を生成するＦＥ信号生成回路と、前記ＦＥ信号のノイズを除去するローパスフィルタ（以下「ＬＰＦ」という。）と、前記ＬＰＦ通過前の前記ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値Ｖｍａｘ、及び最小値Ｖｍｉｎを計測する第１の振幅検出回路と、前記ＬＰＦ通過後の前記ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値Ｖｍａｘ’、及び最小値Ｖｍｉｎ’を計測する第２の振幅検出回路と、前記ＬＰＦ通過後の前記ＦＥ信号の振幅レベルを、前記第１の振幅検出回路、及び第２の振幅検出回路の出力値に基づいて、前記ＬＰＦ通過前の前記ＦＥ信号の振幅レベルに戻す補正を行なうＬＰＦ補正回路と、を備えることを特徴とする。
【００１３】
これにより、ＦＥ信号に含まれるＣＡＰＡによるノイズ、及びＬＰＦがＦＥ信号に与える影響を排除することができ、ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値、及び最小値を正確に検出することができる。
【００１４】
また、本発明の請求項２に係る光ディスク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置において、前記ＬＰＦ補正回路は、前記第２の振幅検出回路における、前記ＬＰＦ通過後の前記ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値Ｖｍａｘ’、及び最小値Ｖｍｉｎ’の計測タイミングから、前記ＬＰＦ通過後の前記ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値Ｖｍａｘ’、及び最小値Ｖｍｉｎ’間の時間を計測する時間計測器と、前記第１の振幅検出回路、及び第２の振幅検出回路の出力に基づいて、前記ＬＰＦ通過前の前記ＦＥ信号のＳ字振幅と、前記ＬＰＦ通過後の前記ＦＥ信号のＳ字振幅との比を算出し、該振幅比と前記時間計測器から出力される時間情報とに基づいて、ＦＥ信号帯域での前記ＬＰＦのゲインを推定するゲイン推定回路と、前記ゲイン推定回路から出力される前記ＬＰＦの推定ゲインを、前記ＬＰＦ通過後の前記ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値Ｖｍａｘ’と最小値Ｖｍｉｎ’のそれぞれに掛け合わせて、前記ＬＰＦ通過後の前記ＦＥ信号のＳ字振幅のレベルを、前記ＬＰＦ通過前の前記ＦＥ信号のＳ字振幅のレベルに戻す振幅補正演算器とを備えることを特徴とする。
【００１５】
これにより、ＦＥ信号に含まれるＣＡＰＡによるノイズ、及びＬＰＦがＦＥ信号に与える影響を排除することができ、ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値、及び最小値を正確に検出することができる。
【００１６】
また、本発明の請求項３に係る光ディスク装置は、請求項１の前記光ディスク装置において、前記ＬＰＦ補正回路は、前記第１の振幅検出回路、及び前記第２の振幅検出回路からの出力に基づいて、Ｖｍａｘ’／Ｖｍａｘ、及びＶｍｉｎ’／Ｖｍｉｎを算出し、その値が小さい方を出力する比較器と、前記比較器の出力値を、前記ＬＰＦ通過後の前記ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値Ｖｍａｘ’と最小値Ｖｍｉｎ’のそれぞれに掛け合わせて、前記ＬＰＦ通過後のＦＥ信号のＳ字振幅のレベルを、前記ＬＰＦ通過前の前記ＦＥ信号のＳ字振幅のレベルに戻す振幅補正演算器とを備えることを特徴とする。
【００１７】
これにより、ＦＥ信号に含まれるＣＡＰＡによるノイズ、及びＬＰＦがＦＥ信号に与える影響を排除することができ、ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値、及び最小値を正確に検出することができる。
【００１８】
また、本発明の請求項４に係る光ディスク装置は、請求項１に記載の光ディスク装置において、前記ＬＰＦ通過前の前記ＦＥ信号の周波数帯域を測定し、前記ＬＰＦのカットオフ周波数を、前記ＦＥ信号の周波数帯域に応じて変化させるカットオフ周波数設定回路を更に備えることを特徴とする。
【００１９】
これにより、ＦＥ信号の周波数帯域に応じて、ＦＥ信号のノイズを除去することができ、ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値、最小値を、より正確に検出することができる。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、ＬＰＦの通過前後のＦＥ信号のＳ字振幅を用いて、ＬＰＦのＦＥ信号帯域におけるゲインを推定し、該推定ゲインを用いて、ＬＰＦを通した後のＦＥ信号の振幅を、ＬＰＦを通す前の振幅に補正することとしたので、ＦＥ信号に含まれるＣＡＰＡによるノイズ、及びＬＰＦにより受ける影響を排除することができ、これにより、正確なＦＥ信号の振幅計測を行うことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
（実施の形態１）
本実施の形態１の光ディスク装置は、ＦＥ信号のＳ字振幅の測定に際し、ＦＥ信号を、ＣＡＰＡの影響を十分に除去できるカットオフ周波数をもつローパスフィルタに通過させてノイズを除去し、さらに、ローパスフィルタがＦＥ信号に与える影響を除去するため、ローパスフィルタを通した後のＦＥ信号に補正を行い、ＦＥ信号の振幅を、ローパスフィルタを通す前の状態に戻すことを特徴とするものである。
【００２２】
図１は本実施の形態１に係る光ディスク装置の概略構成を表すブロック図である。
図１に示すように、本実施の形態１に係る光ディスク装置１００は、光ディスクＯＤにレーザ光を照射し、その反射光を受光して光ディスクＯＤに記録されている情報を読み取る光ピックアップ１０１と、光ピックアップ１０１と光ディスクＯＤとの焦点方向の相対位置を制御するフォーカスサーボ回路１０２と、光ピックアップ１０１により得られる反射光に含まれる情報からＦＥ信号を生成するＦＥ信号生成回路１０３と、ＦＥ信号に含まれるノイズを除去するローパスフィルタ（ＬＰＦ）１０４と、ＬＰＦ１０４通過前のＦＥ信号のＳ字振幅の最大値（以下、「振幅最大値Ｖｍａｘ」とする。）、及びＬＰＦ１０４通過前のＦＥ信号の、Ｓ字振幅の最小値（以下、「振幅最小値Ｖｍｉｎ」とする。）を計測する第１の振幅検出回路１０５と、ＬＰＦ１０４通過後のＦＥ信号の、Ｓ字振幅の最大値（以下、「振幅最大値Ｖｍａｘ’」とする。）、及びＬＰＦ１０４通過後のＦＥ信号の、Ｓ字振幅の最小値（以下、「振幅最小値Ｖｍｉｎ’」とする。）を計測する第２の振幅検出回路１０６と、ＬＰＦ１０４の影響により減衰したＦＥ信号のレベルを、ＬＰＦ１０４通過前のレベルに戻す補正を行なうＬＰＦ補正回路１０７とを有している。
【００２３】
次に、以上のように構成される光ディスク装置１００による、ＦＥ信号の振幅計測方法について説明する。
まず、光ピックアップ１０１から光ディスクＯＤに対してレーザが照射され、その反射光が、図示しない受光素子により受光される。当該受光信号は、ＦＥ信号生成回路１０３に出力され、ＦＥ信号生成回路１０３において、当該受光信号に基づいて、非点収差法やスポットサイズ法等によりＦＥ信号が生成される。この際に、フォーカスサーボ回路１０２による制御のもとで、光ピックアップ１０１が上下に駆動されることにより、Ｓ字振幅を有するＦＥ信号が得られる。
【００２４】
ＦＥ信号生成回路１０３で生成されたＦＥ信号は、第１の振幅検出回路１０５、及びＬＰＦ１０４に入力され、第１の振幅検出回路１０５において、振幅最大値Ｖｍａｘ、及び振幅最小値Ｖｍｉｎが測定される。
【００２５】
一方、ＬＰＦ１０４に入力されたＦＥ信号は、所定のカットオフ周波数でノイズが除去された後、第２の振幅検出回路１０６において、振幅最大値Ｖｍａｘ’、及び振幅最小値Ｖｍｉｎ’が測定される。なお、ＬＰＦ１０４に設定されるカットオフ周波数は、後述するようにＣＡＰＡにより生じるノイズを十分除去できる程度低く設定することができる。
【００２６】
第１の振幅検出回路１０５、及び第２の振幅検出回路１０６における測定結果は、それぞれＬＰＦ補正回路１０７に出力され、ＬＰＦ補正回路１０７は、これらの測定結果に基づいて、ＦＥ信号帯域におけるＬＰＦ１０４のゲインを推定し、該推定ゲインを用いて、振幅最大値Ｖｍａｘ’、及び振幅最小値Ｖｍｉｎ’を、ＬＰＦ１０４通過前の信号レベルに戻す補正を行なう。
【００２７】
以下、ＬＰＦ補正回路１０７の詳細な動作について、図２を用いて説明する。
図２は、図１の光ディスク装置１００における、ＬＰＦ補正回路１０７の詳細な構成を表した図である。
【００２８】
図２に示すように、ＬＰＦ補正回路１０７は、Ｐｅａｋ  ｔｏ  Ｐｅａｋ時間計測器（ＰＰ時間計測器）２０１と、ＬＰＦゲイン推定回路２０２と、振幅補正演算器２０３とを有している。ＰＰ時間計測器２０１は、振幅最大値Ｖｍａｘ’の計測時点と振幅最小値Ｖｍｉｎ’の計測時点の間の経時時間を測定するものである。ＬＰＦゲイン推定回路２０２は、ＦＥ信号帯域でのＬＰＦ１０４のゲインを推定するものである。振幅補正演算器２０３は、ＬＰＦゲイン推定回路２０２により得られる推定ゲインを用いて、振幅最大値Ｖｍａｘ’、及び振幅最小値Ｖｍｉｎ’の信号レベルを、ＬＰＦ１０４通過前のレベルに戻す演算を行うものである。
【００２９】
なお、第２の振幅検出回路１０６からは、ＰＰ時間計測器２０１に対して、振幅最大値Ｖｍａｘ’と、振幅最小値Ｖｍｉｎ’の計測タイミングＤ１が出力され、ＬＰＦゲイン推定回路２０２、及び振幅補正演算器２０３に対しては、振幅最大値Ｖｍａｘ’と、振幅最小値Ｖｍｉｎ’が出力されている。
【００３０】
次に、ＬＰＦ補正回路１０７の動作について説明する。
ＰＰ時間計測器２０１は、振幅最大値Ｖｍａｘ’、及び振幅最小値Ｖｍｉｎ’の計測タイミングＤ１を受けて、振幅最大値Ｖｍａｘ’の計測時点と、振幅最小値Ｖｍｉｎ’の計測時点の間の経時時間を算出し、当該時間情報Ｄ２を、ＬＰＦゲイン推定回路２０２に出力する。
【００３１】
ＬＰＦゲイン推定回路２０２は、まず、第１の振幅検出回路１０５から出力される振幅最大値Ｖｍａｘ、及び振幅最小値Ｖｍｉｎから、ＦＥ信号をＬＰＦ１０４に通す前の、ＦＥ信号のＳ字振幅値を算出する。次に、第２の振幅検出回路１０６から出力される振幅最大値Ｖｍａｘ’、及び振幅最小値Ｖｍｉｎ’から、ＦＥ信号をＬＰＦ１０４に通した後の、ＦＥ信号のＳ字振幅値を算出する。そして、それぞれのＳ字振幅値の比を求め、その値から、ＬＰＦ１０４のゲインを算出する。さらに、ＰＰ時間計測器２０１から出力される時間情報Ｄ２に基づいて、ＦＥ信号の周波数帯域を求め、これらＬＰＦ１０４のゲインとＦＥ信号の周波数帯域とに基づいて、ＦＥ信号帯域でのＬＰＦ１０４のゲインを推定し、該推定ゲインＤ３を振幅補正演算器２０３に出力する。
【００３２】
振幅補正演算器２０３では、第２の振幅検出回路１０６から出力された振幅最大値Ｖｍａｘ’、及び振幅最小値Ｖｍｉｎ’のそれぞれに、ＬＰＦゲイン推定回路２０２から出力される推定ゲインＤ３が乗算され、これにより、ＬＰＦ１０４による影響のないＦＥ信号の、Ｓ字振幅の最大値、及び最小値が検出される。
【００３３】
ここで、本実施の形態１の光ディスク装置１００による効果について、図５を用いて具体的に説明する。
図５（ａ）は、従来の光ディスク装置におけるＬＰＦの周波数特性を、図５（ｂ）は、本実施の形態１のＬＰＦ１０４の周波数特性をそれぞれ表している。また、図５（ａ），（ｂ）では、ＦＥ信号とＣＡＰＡによるノイズの周波数帯域を模式的に表している。
【００３４】
従来の光ディスク装置においてＬＰＦを配置する場合、ＣＡＰＡによるノイズを取り除くために、ＬＰＦのカットオフ周波数ｆｃを低くすると、ＦＥ信号の最大値、及び最小値も同時に減衰するため、図５（ａ）に示すように、ＦＥ信号への影響が少ない範囲にしかカットオフ周波数ｆｃ’を設定することができなかった。このため、最終的に得られるＦＥ信号のＳ／Ｎ比は小さくなり、正確なＦＥ信号の振幅計測を行うことができなかった。
【００３５】
一方、本発明によれば、図５（ｂ）に示すように、ＬＰＦ１０４のカットオフ周波数ｆｃを、ＣＡＰＡによるノイズを除去できる程度に十分に低く設定しても、ＬＰＦ補正回路１０７において、ＬＰＦ１０４により減衰されたＦＥ信号のレベルを、補正ゲインを用いて元のレベルに復元することができるので、最終的に得られるＦＥ信号のＳ／Ｎ比は大きくなり、正確なＦＥ信号の振幅計測を行うことが可能となる。
【００３６】
以上のように、本実施の形態１の光ディスク装置１００によれば、ＬＰＦ１０４の通過前後のＦＥ信号のＳ字振幅を用いて、ＬＰＦ１０４のＦＥ信号帯域におけるゲインを推定し、該推定ゲインを用いて、ＬＰＦ１０４通過後の振幅最大値Ｖｍａｘ’、及び振幅最小値Ｖｍｉｎ’の値を、ＬＰＦ１０４を通す前のレベルに補正することとしたので、ＬＰＦ１０４に、ＣＡＰＡによるノイズの影響を十分に除去できるカットオフ周波数ｆｃを設定することが可能となり、これにより、ＬＰＦ１０４、及びＣＡＰＡによる影響のない、ＦＥ信号のＳ字振幅の最大値、及び最小値を検出することができ、正確なＦＥ信号の振幅計測を行うことが可能となる。
【００３７】
（実施の形態２）
図３は、本実施の形態２の光ディスク装置３００の詳細な構成を表すブロック図である。本実施の形態２による光ディスク装置３００は、ＬＰＦ補正回路１０７の構成が、上述した実施の形態１に係る光ディスク装置１００と異なるものである。なお、本実施の形態２に係る光ディスク装置３００の概略構成は、図１に示すものと同様であり、同じ構成要素については、同一の符号を使用し、その説明を省略する。
【００３８】
図３において、ＬＰＦ補正回路１０７は、比較器３０１と、振幅補正演算器３０２とを有する。
比較器３０１は、第１の振幅検出回路１０５、及び第２の振幅検出回路１０６のそれぞれにより得られるＦＥ信号のＳ字振幅の最大値同士、及び最小値同士を比較して、ＦＥ信号帯域におけるＬＰＦ１０４のゲインを推定するものである。振幅補正演算器３０２は、ＬＰＦ１０４通過後のＦＥ信号の振幅を、ＬＰＦ１０４通過前のレベルに戻す演算を行うものである。
【００３９】
次に、以上のように構成される光ディスク装置３００によるＦＥ信号の補正動作について説明する。
上述した実施の形態１と同様に、ＦＥ信号生成回路１０３で生成されたＦＥ信号が、ＬＰＦ１０４、及び第１の振幅検出回路１０５に入力され、第１の振幅検出回路１０５において、振幅最大値Ｖｍａｘ、及び振幅最小値Ｖｍｉｎが計測され、その結果が比較器３０１に出力される。また、ＬＰＦ１０４においては、ＦＥ信号のノイズが、所定のカットオフで除去された後、第２の振幅検出回路１０６において、振幅最大値Ｖｍａｘ’、及び振幅最小値Ｖｍｉｎ’が計測され、その結果が比較器３０１に出力される。
【００４０】
比較器３０１では、第１の振幅検出回路１０５により計測された振幅最大値Ｖｍａｘと、第２の振幅検出回路１０６により計測された振幅最大値Ｖｍａｘ’の比、すなわちＶｍａｘ’／Ｖｍａｘが算出される。また、第１の振幅検出回路１０５により計測された振幅最小値Ｖｍｉｎと、第２の振幅検出回路１０６により計測された振幅最小値Ｖｍｉｎ’の比、すなわち、Ｖｍｉｎ’／Ｖｍｉｎが算出される。
【００４１】
ここで、ＦＥ信号がＬＰＦ１０４を通過する前と通過した後の、ＦＥ信号の信号レベルの比は、ＦＥ信号にＣＡＰＡによるノイズが存在しない場合のほうが、ＣＡＰＡによるノイズが重畳されている場合に比べて小さくなる。このため、比較器３０１は、Ｖｍａｘ’／ＶｍａｘとＶｍｉｎ’／Ｖｍｉｎの値を算出した後、これらの値を比較し、比率が小さい方の値を、ＣＡＰＡの影響が少ないものと判断し、ＦＥ信号帯域でのＬＰＦ１０４の推定ゲインＤ４として出力する。
【００４２】
そして、振幅補正演算器３０２において、比較器３０１により得られるＬＰＦ１０４の推定ゲインＤ４が、第２の振幅検出回路１０６で得られた振幅最大値Ｖｍａｘ、及び振幅最小値Ｖｍｉｎのそれぞれに乗算され、これにより、ＬＰＦ１０４による影響が除去されたＦＥ信号の、Ｓ字振幅の最大値、及び最小値が検出される。
【００４３】
このように、本実施の形態２の光ディスク装置３００によれば、ＬＰＦ１０４を通す前後のＦＥ信号のＳ字振幅の最大値同士、及び最小値同士を比較することにより、ＦＥ信号帯域におけるＬＰＦのゲインを推定し、該ゲインを用いて、ＬＰＦ１０４を通した後のＦＥ信号のレベルを、ＬＰＦ１０４を通す前のレベルに戻すこととしたので、ＬＰＦ１０４、及びＣＡＰＡによる影響のない、正確なＦＥ信号の振幅計測を行うことが可能となる。
【００４４】
（実施の形態３）
本実施の形態３は、上記実施の形態１、及び実施の形態２による光ディスク装置において、ＬＰＦ１０４のカットオフ周波数を、ＦＥ信号の周波数帯域に応じて適応的に変化させることを特徴とするものである。
【００４５】
図４は、本実施の形態３による光ディスク装置４００の構成を表すブロック図である。
図４において、カットオフ周波数設定回路４０１は、ＦＥ信号生成回路１０３により生成されるＦＥ信号に基づいて、ＬＰＦ１０４に設定するカットオフ周波数を演算するものであり、ＦＥ信号の周波数帯域を測定するＦＥ信号帯域測定器４０２と、ＦＥ信号帯域測定器４０２により得られるＦＥ信号の周波数帯域に基づいて、ＬＰＦ１０４のカットオフ周波数を設定するカットオフ周波数設定器４０３とを有する。なお、本実施の形態３におけるＬＰＦ補正回路１０７は、上記実施の形態１、及び実施の形態２で説明した何れの構成のものであっても良い。
【００４６】
次に、動作について説明する。
ＦＥ信号生成回路１０３により生成されたＦＥ信号は、カットオフ周波数設定回路４０１、及びＬＰＦ１０４に入力する。カットオフ周波数設定回路４０１では、まず、ＦＥ信号帯域測定器４０２により、ＦＥ信号の周波数帯域が測定される。次に、カットオフ周波数設定器４０３により、ＦＥ信号の周波数帯域に基づいて、ＬＰＦ１０４に設定するカットオフ周波数が決定される。具体的には、図５（ｂ）で示すように、ＦＥ信号帯域測定器４０２で得られたＦＥ信号の帯域よりも低い周波数のところ、つまり、ＣＡＰＡによるノイズを十分除去できる程低い周波数のところに、カットオフ周波数が設定される。
【００４７】
そして、ＬＰＦ１０４に入力されたＦＥ信号は、カットオフ周波数設定回路４０１により設定されたカットオフ周波数でノイズが除去された後、上述した実施の形態１、あるいは実施の形態２と同様に、ＬＰＦ補正回路１０７による補正が施され、これにより、ＣＡＰＡによるノイズが除去され、かつＬＰＦ１０４による影響が除去されたＦＥ信号のＳ字振幅の最大値、及び最小値が検出される。
【００４８】
このように、本実施の形態３の光ディスク装置４００によれば、ＬＰＦ１０４のカットオフ周波数を、ＦＥ信号の周波数帯域に応じて適応的に変化させることとしたので、光ディスク、あるいは光ディスク装置４００の状態に応じた最適なカットオフ周波数でＦＥ信号のノイズを除去することができ、これにより、より正確なＦＥ信号のＳ字振幅の計測を行うことが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【００４９】
本発明の光ディスク装置は、従来の光ディスク装置と比較してノイズの少ないＦＥ信号を得ることができ、正確なＦＥ信号の振幅測定をすることができる点において有用である。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】実施の形態１に係る光ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。
【図２】実施の形態１に係る光ディスク装置の詳細な構成を示すブロック図である。
【図３】実施の形態２に係る光ディスク装置の詳細な構成を示すブロック図である。
【図４】実施の形態３に係る光ディスク装置の詳細な構成を示すブロック図である。
【図５】本発明の効果を説明するための図である。
【図６】従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図７】従来の光ディスク装置により得られるＦＥ信号の波形図である。
【符号の説明】
【００５１】
１０１，６０１  光ピックアップ
１０２，６０２  フォーカスサーボ回路
１０３，６０３  ＦＥ信号生成回路
１０４  ローパスフィルタ（ＬＰＦ）
１０５  第１の振幅検出回路
１０６  第２の振幅検出回路
１０７  ＬＰＦ補正回路
２０１  ＰＰ時間計測器
２０２  ＬＰＦゲイン推定回路
２０３，３０２  振幅補正演算器
３０１  比較器
４０１  カットオフ周波数設定回路
４０２  ＦＥ信号帯域測定器
４０３  カットオフ周波数設定器
６０４  振幅検出回路
６０５  ディスク判別回路
【図１】
2007012121.tif 000003
【図２】
2007012121.tif 000004
【図３】
2007012121.tif 000005
【図４】
2007012121.tif 000006
【図５】
2007012121.tif 000007
【図６】
2007012121.tif 000008
【図７】
2007012121.tif 000009