(57)【要約】【課題】調整自体の実行を制御し、不必要な調整を省くことで、信号品質を保ったまま処理時間を削減する光ディスク装置を提供する。【解決手段】光ディスク装置において、光ディスクに対して記録条件パラメータを最適に調整する第１の記録条件調整部と、前記状態変化検出部の出力をトリガーとして記録条件パラメータを最適に調整する第２の記録条件調整部と、少なくとも前記第１の記録条件調整部の出力結果若しくは前記第２の記録条件調整部の出力結果である最適記録条件パラメータを記憶する出力特性記憶部と、前記出力特性記憶部が記憶した其々の状態変化における最適記録条件パラメータの変動量から、其々の状態変化時における記録条件パラメータ調整の実行を制御する調整実行制御部とからなり、前記調整実行制御部が、前記其々の状態変化時に前記第２の記録条件調整を実行する制御範囲を可変とする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも記録若しくは再生時に信号品質を最適にするパラメータ調整を行うことを特徴とする光ディスク装置において、
最適なパラメータが変化するトリガーとなる複数の状態変化を検出する個別の状態変化検出部を有し、
前記其々の状態変化検出部の出力をトリガーとして最適なパラメータに調整する信号品質パラメータ調整部と、
前記信号品質パラメータ調整部の出力結果を記憶する調整パラメータ記憶部と、
前記調整パラメータ記憶部が記憶した其々の状態変化におけるパラメータの変動量から、其々の状態変化時に必要なパラメータ調整の実行を制御する調整実行制御部と、
を具備し、
前記調整実行制御部が、前記其々の状態変化時にパラメータ調整を実行する制御範囲を可変とすることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
少なくとも記録時に信号品質を最適にする記録条件パラメータ調整を行うことを特徴とする光ディスク装置において、
最適記録条件パラメータが変化するトリガーとなる複数の状態変化を検出する個別の状態変化検出部を有し、
光ディスクに対して記録条件パラメータを最適に調整する第１の記録条件調整部と、
前記状態変化検出部の出力をトリガーとして記録条件パラメータを最適に調整する第２の記録条件調整部と、
少なくとも前記第１の記録条件調整部の出力結果若しくは前記第２の記録条件調整部の出力結果である最適記録条件パラメータを記憶する出力特性記憶部と、
前記出力特性記憶部が記憶した其々の状態変化における最適記録条件パラメータの変動量から、其々の状態変化時における記録条件パラメータ調整の実行を制御する調整実行制御部と、
を具備し、
前記調整実行制御部が、前記其々の状態変化時に前記第２の記録条件調整を実行する制御範囲を可変とすることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
前記パラメータ調整及び記録第２の記録条件調整の実行を制御する情報を記憶する調整制御記憶媒体を具備し、フラッシュメモリ、不揮発性メモリ、光ディスクの少なくとも一つであることを特徴とする請求項１又は２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記パラメータ調整及び前記第２の記録条件調整の実行を制御する情報を前記記録媒体から再生し、その情報に従って、第２の記録条件調整を実行することを特徴とする請求項１又は２に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記調整パラメータ及び前記記録条件パラメータは、フォーカス、球面収差、チルト、記録パワー、記録パルス幅の少なくとも一つであることを特徴とする請求項１又は２に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記複数の状態変化検出部は、温度変化、アクセス位置変化、ディスク回転速度変化の少なくとも一つを検出することを特徴とする請求項１又は２に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記第２の記録条件調整部は、前記第１の記録条件調整部で決定された結果を元に、記録条件パラメータ変化範囲を決定することを特徴とする請求項２から６のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記第２の記録条件調整部は、前記第１の記録条件調整部と比較して記録条件パラメータ調整過程におけるパラメータ変化ステップ数が少ないことを特徴とする請求項２から６のいずれかに記載の光ディスク装置。
【請求項９】
少なくとも記録若しくは再生時に信号品質を最適にするパラメータ調整を行うことを特徴とする信号品質調整方法において、
最適なパラメータが変化するトリガーとなる複数の状態変化を検出する個別の状態変化検出手順を有し、
前記其々の状態変化検出手順の出力をトリガーとして最適なパラメータに調整する信号品質パラメータ調整手順と、
前記信号品質パラメータ調整手順の出力結果を記憶する調整パラメータ記憶手順と、
前記調整パラメータ記憶手順が記憶した其々の状態変化におけるパラメータの変動量から、其々の状態変化時に必要なパラメータ調整の実行を制御する調整実行制御手順と、
からなり、
前記調整実行制御手順が、前記其々の状態変化時にパラメータ調整を実行する制御範囲を可変とすることを特徴とする信号品質調整方法。
【請求項１０】
少なくとも記録時に信号品質を最適にする記録条件パラメータ調整を行うことを特徴とする信号品質調整方法において、
最適記録条件パラメータが変化するトリガーとなる複数の状態変化を検出する個別の状態変化検出手順を有し、
光ディスクに対して記録条件パラメータを最適に調整する第１の記録条件調整手順と、
前記状態変化検出手順の出力をトリガーとして記録条件パラメータを最適に調整する第２の記録条件調整手順と、
少なくとも前記第１の記録条件調整手順の出力結果若しくは前記第２の記録条件調整手順の出力結果である最適記録条件パラメータを記憶する出力特性記憶手順と、
前記出力特性記憶手順が記憶した其々の状態変化における最適記録条件パラメータの変動量から、其々の状態変化時における記録条件パラメータ調整の実行を制御する調整実行制御手順と、
からなり、
前記調整実行制御手順が、前記其々の状態変化時に前記第２の記録条件調整を実行する制御範囲を可変とすることを特徴とする信号品質調整方法。
【請求項１１】
前記パラメータ調整及び記録第２の記録条件調整の実行を制御する情報を記憶する調整制御記憶媒体からなり、フラッシュメモリ、不揮発性メモリ、光ディスクの少なくとも一つであることを特徴とする請求項９又は１０に記載の信号品質調整方法。
【請求項１２】
前記パラメータ調整及び前記第２の記録条件調整の実行を制御する情報を前記記録媒体から再生し、その情報に従って、第２の記録条件調整を実行することを特徴とする請求項９又は１０に記載の信号品質調整方法。
【請求項１３】
前記調整パラメータ及び前記記録条件パラメータは、フォーカス、球面収差、チルト、記録パワー、記録パルス幅の少なくとも一つであることを特徴とする請求項９又は１０に記載の信号品質調整方法。
【請求項１４】
前記複数の状態変化検出手順は、温度変化、アクセス位置変化、ディスク回転速度変化の少なくとも一つを検出することを特徴とする請求項９又は１０に記載の信号品質調整方法。
【請求項１５】
前記第２の記録条件調整手順は、前記第１の記録条件調整手順で決定された結果を元に、記録条件パラメータ変化範囲を決定することを特徴とする請求項１０から１４のいずれかに記載の信号品質調整方法。
【請求項１６】
前記第２の記録条件調整手順は、前記第１の記録条件調整手順と比較して記録条件パラメータ調整過程におけるパラメータ変化ステップ数が少ないことを特徴とする請求項１０から１４のいずれかに記載の信号品質調整方法。
【請求項１７】
少なくとも記録若しくは再生時に信号品質を最適にするパラメータ調整を行うことを特徴とするプログラムにおいて、
最適なパラメータが変化するトリガーとなる複数の状態変化を検出する個別の状態変化検出ステップを有し、
前記其々の状態変化検出ステップの出力をトリガーとして最適なパラメータに調整する信号品質パラメータ調整ステップと、
前記信号品質パラメータ調整ステップの出力結果を記憶する調整パラメータ記憶ステップと、
前記調整パラメータ記憶ステップが記憶した其々の状態変化におけるパラメータの変動量から、其々の状態変化時に必要なパラメータ調整の実行を制御する調整実行制御ステップと、
からなり、
前記調整実行制御ステップが、前記其々の状態変化時にパラメータ調整を実行する制御範囲を可変とすることを特徴とするプログラム。
【請求項１８】
少なくとも記録時に信号品質を最適にする記録条件パラメータ調整を行うことを特徴とするプログラムにおいて、
最適記録条件パラメータが変化するトリガーとなる複数の状態変化を検出する個別の状態変化検出ステップを有し、
光ディスクに対して記録条件パラメータを最適に調整する第１の記録条件調整ステップと、
前記状態変化検出ステップの出力をトリガーとして記録条件パラメータを最適に調整する第２の記録条件調整ステップと、
少なくとも前記第１の記録条件調整ステップの出力結果若しくは前記第２の記録条件調整ステップの出力結果である最適記録条件パラメータを記憶する出力特性記憶ステップと、
前記出力特性記憶ステップが記憶した其々の状態変化における最適記録条件パラメータの変動量から、其々の状態変化時における記録条件パラメータ調整の実行を制御する調整実行制御ステップと、
からなり、
前記調整実行制御ステップが、前記其々の状態変化時に前記第２の記録条件調整を実行する制御範囲を可変とすることを特徴とするプログラム。
【請求項１９】
前記パラメータ調整及び記録第２の記録条件調整の実行を制御する情報を記憶する調整制御記憶媒体とからなり、フラッシュメモリ、不揮発性メモリ、光ディスクの少なくとも一つであることを特徴とする請求項１７又は１８に記載のプログラム。
【請求項２０】
前記パラメータ調整及び前記第２の記録条件調整の実行を制御する情報を前記記録媒体から再生し、その情報に従って、第２の記録条件調整を実行することを特徴とする請求項１７又は１８に記載のプログラム。
【請求項２１】
前記調整パラメータ及び前記記録条件パラメータは、フォーカス、球面収差、チルト、記録パワー、記録パルス幅の少なくとも一つであることを特徴とする請求項１７又は１８に記載のプログラム。
【請求項２２】
前記複数の状態変化検出ステップは、温度変化、アクセス位置変化、ディスク回転速度変化の少なくとも一つを検出することを特徴とする請求項１７又は１８に記載のプログラム。
【請求項２３】
前記第２の記録条件調整ステップは、前記第１の記録条件調整ステップで決定された結果を元に、記録条件パラメータ変化範囲を決定することを特徴とする請求項１８から２２のいずれかに記載のプログラム。
【請求項２４】
前記第２の記録条件調整ステップは、前記第１の記録条件調整ステップと比較して記録条件パラメータ調整過程におけるパラメータ変化ステップ数が少ないことを特徴とする請求項１８から２２のいずれかに記載のプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク等の記録媒体に対して少なくとも再生若しくは記録を行う光ディスク装置、及び信号品質調整方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、光記録媒体として、追記型光ディスクであるＤＶＤ−Ｒや書き換え型光ディスクであるＤＶＤ−ＲＡＭが普及してきている。更に今後は、レーザの短波長化、高い開口数を有する対物レンズを使用したレーザ光スポットの小径化等により、Ｂｌｕ−Ｒａｙ  Ｄｉｓｃをはじめとする次世代大容量ディスクが実用化され広まっていくことが予想される。
光ディスクから最適な信号品質でデータを再生する、または最適な記録品質でデータを記録するためには、フォーカスや球面収差、ディスクのチルト、レーザの記録パワー、記録パルス幅等を光ディスクの特性に応じて調整する必要がある。
例えばレーザ調整において、光ディスクに最適に記録マークを形成するには、その光ディスクに記録するために最適なレーザ光による記録パルスを求めることが必要とされる。光記録装置への光ディスク挿入時や記録開始直前等に、光ディスクの特定の試し記録領域で、レーザ光強度を微妙に変化させながら試し記録を複数回行い、その記録再生結果から最適な記録パルスを求めるのが一般的である。
しかしながら、同じ規格の光ディスクであったとしても、記録膜材料特性によってその記録特性が同一であるとは限らずばらつきを持っている。また１枚のディスク上においても、ディスクの製造時の記録膜形成工程に起因して、面内の位置によって記録特性のばらつきが発生する場合がある。すなわちこれらの記録特性のばらつき要因により、同一の記録パワー・及び記録パルス形状で記録を行ったとしても、ディスク上に形成されるマーク形状が異なり、記録された信号品質が大きく異なってしまう場合がある。
【０００３】
さらには、光記録装置の使用環境温度が変化することでレーザ光に影響を及ぼし、光ディスク上に形成される記録マークが変化してしまう場合がある。
この問題に対し、従来からの取り組みとして例えば特許文献１では、複数の温度条件、あるいは複数の半径位置で、最適な記録パワーを求めるための記録再生処理を行い、その結果からそれぞれの温度条件、あるいはそれぞれの半径位置で記録パワー調整を行ったレーザ光強度を、データテーブルとして記憶手段に記憶しておき、該当する条件下で記憶手段に記憶しているレーザ光強度で記録処理を行うという手法を用いている。
また、例えばフォーカスや球面収差の調整においても、ディスク記録面を保護するカバー層厚み誤差に起因する膜特性の変化や、環境温度変化による収差への影響を補正する必要がある。良好な記録または再生処理を行うには、フォーカス調整及び収差補正を温度やアクセス位置などの環境変化に応じて行わなければならない。この場合についても、其々の条件下において調整を行い、その結果をデータテーブルとして記憶手段に記憶しておき、該当する条件下で記憶手段に記憶しているフォーカス調整値及び収差補正値を用いて、記録及び再生処理を行うという手法を用いる。
【特許文献１】特開平２−５２２１号公報
【特許文献２】特開２００３−１４１８２３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、例えばレーザ調整において、より細かい温度環境の変化によるレーザ光への影響、及び面内ばらつきの多い光ディスクの記録特性の変化に対応するためには、温度条件の数、及びアクセス位置条件の数を増やす必要がある。この点について、従来の技術では、温度条件数、アクセス位置条件数を増やした場合、それに比例してレーザ光の最適記録条件を調整する回数が増え、調整にかかる時間が増大するという問題があった。
本発明はこのようなレーザ調整に代表される不必要な最適条件調整が原因となる前記課題を解決するものであり、温度変化及びアクセス位置変化を検出した場合に行う最適パラメータの調整において、面内ばらつきが少ないディスクに対しては光ディスク装置の記憶手段若しくはディスク内の所定領域に調整実行制御条件を保有し、面内ばらつきが少ないディスクに対してはアクセス位置の変化に対して最適パラメータ調整を行わず、温度変化時のみ最適パラメータ調整を行うことで、調整にかかる時間を短縮することを目的とする。
ここでいうアクセス位置とは、ディスク面内の物理的な位置だけでなく、ディスクが複数の記録層を持っていた場合、アクセスする記録層の変化による位置変化も含む。
ここでいうパラメータとは、例えばフォーカスや球面収差、ディスクのチルト、レーザの記録パワー、記録パルス幅等である。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
前記目的を達成するために、第１の観点において本発明は、少なくとも記録若しくは再生時に信号品質を最適にするパラメータ調整を行うことを特徴とする光ディスク装置において、最適なパラメータが変化するトリガーとなる複数の状態変化を検出する個別の状態変化検出部を有し、前記其々の状態変化検出部の出力をトリガーとして最適なパラメータに調整する信号品質パラメータ調整部と、前記信号品質パラメータ調整部の出力結果を記憶する調整パラメータ記憶部と、前記調整パラメータ記憶部が記憶した其々の状態変化におけるパラメータの変動量から、其々の状態変化時に必要なパラメータ調整の実行を制御する調整実行制御部と、を具備し、前記調整実行制御部が、前記其々の状態変化時にパラメータ調整を実行する制御範囲を可変とすることを特徴とする光ディスク装置である。
第２の観点において本発明は、少なくとも記録時に信号品質を最適にする記録条件パラメータ調整を行うことを特徴とする光ディスク装置において、最適記録条件パラメータが変化するトリガーとなる複数の状態変化を検出する個別の状態変化検出部を有し、光ディスクに対して記録条件パラメータを最適に調整する第１の記録条件調整部と、前記状態変化検出部の出力をトリガーとして記録条件パラメータを最適に調整する第２の記録条件調整部と、少なくとも前記第１の記録条件調整部の出力結果若しくは前記第２の記録条件調整部の出力結果である最適記録条件パラメータを記憶する出力特性記憶部と、前記出力特性記憶部が記憶した其々の状態変化における最適記録条件パラメータの変動量から、其々の状態変化時における記録条件パラメータ調整の実行を制御する調整実行制御部と、を具備し、前記調整実行制御部が、前記其々の状態変化時に前記第２の記録条件調整を実行する制御範囲を可変とすることを特徴とする光ディスク装置である。
【０００６】
第３の観点において本発明は、前記パラメータ調整及び記録第２の記録条件調整の実行を制御する情報を記憶する調整制御記憶媒体を具備し、フラッシュメモリ、不揮発性メモリ、光ディスクの少なくとも一つであることを特徴とする、第１又は第２の観点の光ディスク装置である。
第４の観点において本発明は、前記パラメータ調整及び前記第２の記録条件調整の実行を制御する情報を前記記録媒体から再生し、その情報に従って、第２の記録条件調整を実行することを特徴とする、第１又は第２の観点の光ディスク装置である。
第５の観点において本発明は、前記調整パラメータ及び前記記録条件パラメータは、フォーカス、球面収差、チルト、記録パワー、記録パルス幅の少なくとも一つであることを特徴とする、第１又は第２の観点の光ディスク装置である。
第６の観点において本発明は、前記複数の状態変化検出部は、温度変化、アクセス位置変化、ディスク回転速度変化の少なくとも一つを検出することを特徴とする、第１又は第２の観点の光ディスク装置である。
第７の観点において本発明は、前記第２の記録条件調整部は、前記第１の記録条件調整部で決定された結果を元に、記録条件パラメータ変化範囲を決定することを特徴とする、第２から第６のいずれかの観点の光ディスク装置である。
【０００７】
第８の観点において本発明は、前記第２の記録条件調整部は、前記第１の記録条件調整部と比較して記録条件パラメータ調整過程におけるパラメータ変化ステップ数が少ないことを特徴とする、第２から第６のいずれかの観点の光ディスク装置である。
第９の観点において本発明は、少なくとも記録若しくは再生時に信号品質を最適にするパラメータ調整を行うことを特徴とする信号品質調整方法において、最適なパラメータが変化するトリガーとなる複数の状態変化を検出する個別の状態変化検出手順を有し、前記其々の状態変化検出手順の出力をトリガーとして最適なパラメータに調整する信号品質パラメータ調整手順と、前記信号品質パラメータ調整手順の出力結果を記憶する調整パラメータ記憶手順と、前記調整パラメータ記憶手順が記憶した其々の状態変化におけるパラメータの変動量から、其々の状態変化時に必要なパラメータ調整の実行を制御する調整実行制御手順と、からなり、前記調整実行制御手順が、前記其々の状態変化時にパラメータ調整を実行する制御範囲を可変とすることを特徴とする信号品質調整方法である。
第１０の観点において本発明は、少なくとも記録時に信号品質を最適にする記録条件パラメータ調整を行うことを特徴とする信号品質調整方法において、最適記録条件パラメータが変化するトリガーとなる複数の状態変化を検出する個別の状態変化検出手順を有し、光ディスクに対して記録条件パラメータを最適に調整する第１の記録条件調整手順と、前記状態変化検出手順の出力をトリガーとして記録条件パラメータを最適に調整する第２の記録条件調整手順と、少なくとも前記第１の記録条件調整手順の出力結果若しくは前記第２の記録条件調整手順の出力結果である最適記録条件パラメータを記憶する出力特性記憶手順と、前記出力特性記憶手順が記憶した其々の状態変化における最適記録条件パラメータの変動量から、其々の状態変化時における記録条件パラメータ調整の実行を制御する調整実行制御手順と、からなり、前記調整実行制御手順が、前記其々の状態変化時に前記第２の記録条件調整を実行する制御範囲を可変とすることを特徴とする信号品質調整方法である。
【０００８】
第１１の観点において本発明は、前記パラメータ調整及び記録第２の記録条件調整の実行を制御する情報を記憶する調整制御記憶媒体からなり、フラッシュメモリ、不揮発性メモリ、光ディスクの少なくとも一つであることを特徴とする、第９又は第１０の観点の信号品質調整方法である。
第１２の観点において本発明は、前記パラメータ調整及び前記第２の記録条件調整の実行を制御する情報を前記記録媒体から再生し、その情報に従って、第２の記録条件調整を実行することを特徴とする、第９又は第１０の観点の信号品質調整方法である。
第１３の観点において本発明は、前記調整パラメータ及び前記記録条件パラメータは、フォーカス、球面収差、チルト、記録パワー、記録パルス幅の少なくとも一つであることを特徴とする、第９又は第１０の観点の信号品質調整方法である。
第１４の観点において本発明は、前記複数の状態変化検出手順は、温度変化、アクセス位置変化、ディスク回転速度変化の少なくとも一つを検出することを特徴とする、第９又は第１０の観点の信号品質調整方法である。
第１５の観点において本発明は、前記第２の記録条件調整手順は、前記第１の記録条件調整手順で決定された結果を元に、記録条件パラメータ変化範囲を決定することを特徴とする、第１０から第１４のいずれかの観点の信号品質調整方法である。
【０００９】
第１６の観点において本発明は、前記第２の記録条件調整手順は、前記第１の記録条件調整手順と比較して記録条件パラメータ調整過程におけるパラメータ変化ステップ数が少ないことを特徴とする、第１０から第１４のいずれかの観点の信号品質調整方法である。
第１７の観点において本発明は、少なくとも記録若しくは再生時に信号品質を最適にするパラメータ調整を行うことを特徴とするプログラムにおいて、最適なパラメータが変化するトリガーとなる複数の状態変化を検出する個別の状態変化検出ステップを有し、前記其々の状態変化検出ステップの出力をトリガーとして最適なパラメータに調整する信号品質パラメータ調整ステップと、前記信号品質パラメータ調整ステップの出力結果を記憶する調整パラメータ記憶ステップと、前記調整パラメータ記憶ステップが記憶した其々の状態変化におけるパラメータの変動量から、其々の状態変化時に必要なパラメータ調整の実行を制御する調整実行制御ステップと、とからなり、前記調整実行制御ステップが、前記其々の状態変化時にパラメータ調整を実行する制御範囲を可変とすることを特徴とするプログラムである。
第１８の観点において本発明は、少なくとも記録時に信号品質を最適にする記録条件パラメータ調整を行うことを特徴とするプログラムにおいて、最適記録条件パラメータが変化するトリガーとなる複数の状態変化を検出する個別の状態変化検出ステップを有し、光ディスクに対して記録条件パラメータを最適に調整する第１の記録条件調整ステップと、前記状態変化検出ステップの出力をトリガーとして記録条件パラメータを最適に調整する第２の記録条件調整ステップと、少なくとも前記第１の記録条件調整ステップの出力結果若しくは前記第２の記録条件調整ステップの出力結果である最適記録条件パラメータを記憶する出力特性記憶ステップと、前記出力特性記憶ステップが記憶した其々の状態変化における最適記録条件パラメータの変動量から、其々の状態変化時における記録条件パラメータ調整の実行を制御する調整実行制御ステップと、とからなり、前記調整実行制御ステップが、前記其々の状態変化時に前記第２の記録条件調整を実行する制御範囲を可変とすることを特徴とするプログラムである。
【００１０】
第１９の観点において本発明は、前記パラメータ調整及び記録第２の記録条件調整の実行を制御する情報を記憶する調整制御記憶媒体とからなり、フラッシュメモリ、不揮発性メモリ、光ディスクの少なくとも一つであることを特徴とする、第１７又は第１８の観点のプログラムである。
第２０の観点において本発明は、前記パラメータ調整及び前記第２の記録条件調整の実行を制御する情報を前記記録媒体から再生し、その情報に従って、第２の記録条件調整を実行することを特徴とする、第１７又は第１８の観点のプログラムである。
第２１の観点において本発明は、前記調整パラメータ及び前記記録条件パラメータは、フォーカス、球面収差、チルト、記録パワー、記録パルス幅の少なくとも一つであることを特徴とする、第１７又は第１８の観点のプログラムである。
第２２の観点において本発明は、前記複数の状態変化検出ステップは、温度変化、アクセス位置変化、ディスク回転速度変化の少なくとも一つを検出することを特徴とする、第１７又は第１８の観点のプログラムである。
第２３の観点において本発明は、前記第２の記録条件調整ステップは、前記第１の記録条件調整ステップで決定された結果を元に、記録条件パラメータ変化範囲を決定することを特徴とする、第１８から第２２のいずれかの観点のプログラムである。
【００１１】
第２４の観点において本発明は、前記第２の記録条件調整ステップは、前記第１の記録条件調整ステップと比較して記録条件パラメータ調整過程におけるパラメータ変化ステップ数が少ないことを特徴とする、第１８から第２２のいずれかの観点のプログラムである。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、光ディスクの膜特性による面内ばらつきの少ないディスクや温度による特性変化が少ないディスクに対して其々の状態変化検出時における最適パラメータ調整の実行を制御することで、調整時間を短縮することができる具体的な光ディスク装置における最適パラメータ調整方法を得ることができる。また本発明によれば、光ディスク装置の使用環境温度の変動及び光ディスクの面内感度のばらつきに対する記録パワー調整記録領域の削減と記録パワー調整時間を短縮することができる具体的な光ディスク装置におけるレーザ光の最適記録条件調整方法を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
〔発明の実施の形態１〕
〔装置全体の構成〕
以下、本発明の一実施形態について、図面を参照しながら説明する。
図１は本発明の一実施形態である１００光ディスク装置の構成を表したものである。
図１において、１０１は光ディスク、１０２はスピンドルモータ、１０３はモータ回転制御部、１０４は光ヘッド駆動制御部、１０５は光ヘッド部、１０６はレーザ駆動制御部、１０７はレーザパワー設定部、１０８は光ピックアップ、１０９はメモリ、１１０は温度検出器、１１１は記録再生アクセス制御部、１１２は変調度測定部、１１３は再生信号処理部である。以上のように構成される光記録装置の記録時の動作について以下説明する。
光ディスク１０１はスピンドルモータ１０２によって回転される。
モータ回転制御部１０３は記録再生アクセス制御部１１１により指定される回転数になるようにピンドルモータ１０２の回転を制御する。
光ヘッド駆動制御部１０４は記録再生アクセス制御部１１１により指定されるアクセス位置に移動するように光ヘッド部１０５を制御する。
【００１４】
レーザ駆動制御部１０６は光ヘッド部１０５に含まれる光ピックアップ１０８の図示されないレーザの発光パワーを制御しパルス発光することで光ディスク１０１に記録マークを形成する。その際の発光パワーは記録再生アクセス制御部１１１が決定した記録パワーをレーザパワー設定部１０７が設定する。
〔本実施例に用いた光ディスク〕
図２は本発明の一実施形態における光ディスク１０１上に論理的に設けられた領域を表したものである。光ディスク１０１は、記録層を含み、記録層に記録マークを形成することによって、光ディスク１０１にデータが記録される。光ディスク１０１には、トラックが同心円状に形成されている。光ディスク１０１は、リードイン領域２０１と、ユーザ領域２０２と、リードアウト領域２０３とを含む。
ユーザ領域２０２は、ユーザがデータを記録しえるように構成されている。ユーザ領域２０２には、例えば、ユーザデータが記録される。ユーザデータには、例えば、オーディオデータ及びビジュアルデータが含まれる。
リードイン領域２０１及びリードアウト領域２０３は、ユーザ領域２０２とは異なって、ユーザがデータを記録しえるようには構成されていない。リードイン領域２０１及びリードアウト領域２０３には、光ディスク１０１にアクセスする際に必要となるユーザ領域２０２の管理情報や欠陥管理、記録再生条件のためのデータなどが記録される。リードイン領域２０１は、ＰＩＣ（Ｐｅｒｍａｎｅｎｔ  Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ  ａｎｄ  Ｃｏｎｔｒｏｌ  ｄａｔａ）領域２０４とＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ）領域２０５とＤｒｉｖｅ領域２０６とＤＭＡ（Ｄｅｆｅｃｔ  Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ  Ａｒｅａ）領域２０７とを含む。
【００１５】
ＰＩＣ領域２０４には、例えば、ユーザ領域２０２の最大アドレス及び記録に関するパラメータが記録されている。記録に関するパラメータは、例えば、光ディスク１０１に複数の記録マークを形成／消去するためのレーザパワーに関するパラメータ、及び複数の記録マークを記録するための記録パルス幅に関するパラメータである。ＯＰＣ領域２０５は、試し記録を行うための試し記録領域である。試し記録とは、後に説明する光ディスク毎に最適な記録パワー決定するために行う。ＤＭＡ領域２０７には、欠陥領域の位置情報と欠陥領域の交替領域の位置情報とを示すリストが格納されている。
以上、図２を参照して本発明の実施の形態で用いられる光ディスク１０１の一例を説明した。なお、本実施形態ではＯＰＣ領域は図示される位置となっているが、例えば、ユーザ領域の隣に位置してもかまわない。
〔最適な記録パワーの調整について〕
本発明は、状態変化を検出した時に、光ディスク１０１がスピンドルモータ１０２に装着され所定の起動処理が行われた後に決定された起動時の光ディスク装置１００の状態における最適な記録パワー調整結果を基に、当該変化時の最適な記録パワー調整を行う。
よって以下、起動時のレーザ光の最適記録条件調整方法について説明する。
（起動時のレーザ光の最適記録条件調整方法）
図３は本実施形態における起動時の記録パワー調整方法の処理フローについて表したものである。以下、起動時の記録パワー調整方法について説明する。
【００１６】
Ｓ３０１において試し記録の記録パワー範囲を記録再生アクセス制御部１１１が決定する。記録パワー範囲は、図４に示されるように、ディスクのＰＩＣ領域２０４に記載されるＰｉｎｄに対して係数Ａ・Ｂを乗算することで上限パワー範囲Ｐｕｐ、下限範囲Ｐｌｗが算出される。
次にＳ３０２において、ＯＰＣ領域２０５の試し記録を行う領域に対してＤＣ消去を行う。
Ｓ３０３において、Ｓ３０１で算出した記録パワー範囲で、高い方から離散的に順次記録パワーを下げてレーザパワー設定部１０７で設定されレーザ駆動制御部１０６がレーザを発光させることで試し記録を行う。その際図４に示すように１５段階に記録パワーを設定する、１６点のうち最初の２点は同じ記録パワーである。なお、本実施例では、記録パワー範囲は１５段階（１６点）としているが、これに限るものではない。
Ｓ３０４において、Ｓ３０３で記録した領域を再生信号処理部１１３が再生し、変調度測定部１１２が変調度を測定する。変調度は図５に示すように、未記録レベルの反射光量Ｐｅａｋと記録レベルの反射光量Ｂｏｔｔｏｍを検波してそのＤＣレベルを測定し変調度とする。具体的には、図５に示される式
変調度  ＝  （Ｐｅａｋ  −  Ｂｏｔｔｏｍ）／Ｐｅａｋ・・・・・（式１）
で定義される。
【００１７】
なお、本実施例では、未記録部の反射率が大きいＨｔｏＬ型光ディスクとしているが、未記録部の反射率が小さいＬｔｏＨ型光ディスクに置き換えても良い。
Ｓ３０５において、最適記録パワーとなるＰｗｏを求めるためにＰｔａｒｇｅｔと呼ばれる基準パワーを決定する。Ｓ３０４で測定した変調度と記録パワーの関係は図６−Ａのようになる。この時、変調度１０％となる変調度を有効なデータと考え、これを元に直線近似を行ったものが図６−Ｂである。図６−Ｂにおいて、近似直線とパワー軸との交点をＰｔｈとする。このＰｔｈに対してディスクのＰＩＣ領域２０４に記載されるディスクごとに固有の値Ｋを乗算することで、Ｐｔａｒｇｅｔを求めることができる。なお、本実施例では変調度１０％以上を有効データとしているが、これに限るものではない。
Ｓ３０６において、Ｐｔａｒｇｅｔに対してディスクのＰＩＣ領域２０４に記載されるディスクごとに固有の値Ｒを乗算することで、当該ディスクの起動時の最適な記録パワーＰｗｏを決定できる。
Ｓ３０７において、最適記録パワーをレーザパワー設定部１０７に出力する。このような流れで起動時の装置状態における最適記録パワーを求めることができる。
〔実際の動作ステップ〕
前記起動時の記録パワー調整方法を元に、以下本発明の動作ステップを説明する。なお、実施例は最適記録条件のうちパワー調整を例としているが、これに限るものではない。例えば、記録パルス幅調整、消去パワー調整等にも用いることは可能である。
【００１８】
図７は本実施形態におけるレーザ光の最適記録条件調整の実行制御処理フローについて表したものである。このフローを元に、温度変化時、及び記録アクセス位置変化時における記録パワー調整を記録再生アクセス制御部１１１で行い、その結果を図８に示すようなパワー補正テーブルとしてメモリ１０９に記憶する。この補正テーブルの横軸はディスクのユーザ領域２０２をＡ−ＡＥまでアドレスで等間隔に３２ゾーンに分割した各ゾーンになる。ゾーン毎に「面内補正フラグ」、パワー調整を実行した「調整アドレス」、当該記録状態における「最適記録パワー」を保存することであらゆる面内記録位置において最適な記録が可能となる。ここで「面内補正フラグ」とはその記録アクセス位置(ゾーン)において最適録条件調整が必要かどうかのフラグである。詳しくは後述する。さらに１０度から５８度までを８度ごとに分割して縦軸とし、それぞれに前記面内補正テーブルを持つ。
これにより環境温度の変化に対応した最適な記録が可能となる。また、最新の「環境温度」「調整アドレス」「最適記録パワー」を最新調整値として同時に記憶しておく。なお、本実施例ではユーザ領域を３２の領域に分割しているが、これに制限されるものではない。また本実施例では温度変化を８度と定義しているが、これに制限されるものではない。
【００１９】
以下、図７を用いて、温度及び面内位置変化時における最適記録パワー調整及びその実行制御について説明する。
前記の通り、所定の起動処理が実行され、起動時の記録パワー調整が実行された後、ユーザに指定される任意の記録領域への記録コマンドが記録再生アクセス制御部１１１から発行される。そのコマンドを受けて光ヘッド駆動制御は指定される記録領域へ光ヘッド１０８を移動させる。
Ｓ７０１において、記録コマンド発行後にディスク面内補正実行フラグを参照し、温度変化及び面内記録位置変化を検出し記録最適パワー調整を行うＳ７０２の経路と、温度変化検出時のみ記録最適パワー調整を行うＳ７１５の経路とに分岐する。ここで、ディスク面内補正実行フラグとは、光ディスク装置の出荷時点での既知ディスクで面内感度ばらつきが少ないものに対して設定しメモリ１０９に格納している、若しくは光ディスクの所定の領域に記憶しているものとする。また、未知ディスクの場合は後述するＳ７１０にて設定しメモリ１０９に格納する、若しくはその情報を光ディスクの所定の領域に記憶しておく。以下、Ｓ７０２経路について説明する。
Ｓ７０２において、最新調整値（起動直後の場合は、起動調整値が最新調整値となる）と比較し、光ヘッド部１０５の記録アクセス位置が図８で規定している記録領域を移動した場合、もしくは温度検出部１１０の検出した温度が８度以上変化した場合にはＳ７０４へ移行する。そうでない場合は、状態変化なしとし最新調整値(現状設定)を設定する(Ｓ７０３)
Ｓ７０４において、メモリ１０９に格納される温度面内補正テーブル(図８参照)の当該記録位置及び温度における保存値を参照し、存在すれば最適記録条件値をレーザパワー設定部１０７にて設定する（Ｓ７０５）。保存値がない場合はＳ７０６へ移行する。
【００２０】
Ｓ７０６−７０８は、温度及び面内記録位置変化検出時の最適記録パワー調整の経路である。当該状態変化時での最適記録パワー調整を行い(Ｓ７０６) 、その後、Ｓ７０７においてメモリ１０９の当該状態値及び最新調整値の「調整アドレス」「環境温度」「最適記録条件値」を更新し、ユーザデータの記録を継続する。ここで、Ｓ７０６における温度及び面内記録位置変化検出時の最適記録パワー調整について以下説明する。
記録パワー調整の基本的な流れは、図３の起動時の記録パワー調整方法の流れと変わらない。温度面内補正時における記録パワー調整方法では、Ｓ３０１の試し記録パワー範囲の設定とＳ３０３の階段発光記録が特徴的である。以下、図９を用いて説明する。
Ｓ３０１において、温度面内補正時の記録パワー調整には、すでに前記した起動時の記録パワー調整結果があるため、所定の記録品質を実現するＰｔａｒｇｅｔ、Ｐｔｈ、Ｐｗｏは既知である。これを元に、パワー範囲下限をＰｌｗ＝Ｐｔｈ＋（Ｐｗｏ−Ｐｔｈ）/８、Ｐｕｐ＝Ｐｔｈ＋（Ｐｗｏ−Ｐｔｈ）/８×７として試し記録パワー範囲を設定することで、パワー範囲を狭めることが可能となる。また、起動時に１５段階にしていた階段発光パワーステップも図９に示すように７段階の記録パワーステップで調整が可能になる。
【００２１】
これによりＳ３０３での階段発光記録において、起動時の半分の記録領域で試し記録が可能であり、Ｓ３０４の変調度測定においても、起動時の半分の測定処理で記録パワー調整が可能になる。これにより、記録処理における記録パワー調整時間を短縮し且つ、最適な記録パワーを決定することができる。
Ｓ７０９−７１０は、起動時の記録パワーと状態変化後の記録パワーの比較し、その差が±５%以内であれば面内による記録感度のばらつきはほぼないと考え、面内補正テーブルの当該箇所に面内補正フラグを設定し（Ｓ７１０）、Ｓ７１１に移行する。±５％を超える場合は面内感度ばらつきが存在するとし、Ｓ７１０を行わずＳ７１１に移行する。なお、記録パワー変動の基準を５%としているが、この数字は記録品質を維持できるのは実測値から最適記録パワーに対して±１０％程度であり、より最適な記録品質を維持するために±５％としているが、これに限るものではない。
Ｓ７１１−７１２は前述したＳ７０１で使用するディスク面内補正実行フラグを設定するか否かを記録再生アクセス制御部１１１で判断する経路である。Ｓ７１１においてメモリ１０９に格納される当該温度時の面内補正テーブルを参照し、全３２領域を４つに等分割した範囲それぞれに面内補正フラグが少なくとも１つ以上設定されており、かつ設定されたフラグの総数が１６以上であった場合、面内感度のばらつきはないと判断しディスク面内補正フラグを設定する（Ｓ７１２）。これ以降、ディスク面内補正フラグを設定した時点の当該温度の記録パワーは、面内３２ゾーンのうち、面内補正フラグが設定されている任意の記録パワー値とする。ここでは、面内補正フラグが設定されたゾーン番号の一番小さい状態の記録パワー値と考える。なお、任意の値ではなく、フラグが設定されたパワーの平均値や、若しくは起動時の調整パワー値としても良い。また、例えば、図１０のようなパワーばらつき特性のディスクが在った場合、パワー補正が必要な領域のみ補正を実行する。具体的には、４つに等分割した分割範囲の全面内補正フラグが立っていた場合、以降その範囲でのパワー調整は実行せず、面内補正フラグが設定されたゾーン番号の一番小さい状態の記録パワー値で記録を行い、補正実行必要な範囲（図１０では外周部）のみパワー調整を実行する。
【００２２】
Ｓ７１２以降、記録処理を継続する。
ここまでがＳ７０２以降の温度及び面内補正時の経路である。
以下、ディスク面内補正実行フラグが設定されている面内感度ばらつきの少ない光ディスクに対しての記録調整フロー（Ｓ７１３の経路）について説明する。基本的な流れはＳ７０２以降とほぼ同じであるが、記録位置変化時における処理を全て省くことができる。
Ｓ７１３において、最新調整値（起動直後の場合は、起動調整値が最新調整値となる）と比較し、温度検出部１１０の検出した温度が８度以上変化した場合にはＳ７１５へ移行する。そうでない場合は、温度変化なしとし最新調整値(現状設定)を設定する(Ｓ７１４)。
Ｓ７１４において、メモリ１０９に格納される温度面内補正テーブル(図８参照)の当該温度における保存値を参照し、存在すれば最適記録条件値をレーザパワー設定部１０７にて設定する（Ｓ７１６）。保存値がない場合はＳ７１９へ移行する。
Ｓ７１７では、温度変化を検出し且つ保存値を持たないので最適記録条件の設定が必要であると判断し、当該状態時での最適記録パワー調整を行う。調整方法は、前記温度及び面内記録位置変化検出時の最適記録パワー調整である。その後、Ｓ７１８においてメモリ１０９の当該状態値及び最新調整値の「調整アドレス」「環境温度」「最適記録条件値」を更新し、ユーザデータの記録を継続する。
【００２３】
ここまでがＳ７１５以降の温度補正のみの経路である。
このように、本実施形態では、光ディスクの面内感度特性によりレーザ調整を実行するかしないかの判断を行う制御手段をもつことで、最適な記録品質を維持しながら不必要な調整時間を省き、処理時間を短縮することが可能となる。なお、本実施例では面内位置における膜特性の感度ばらつきを判断しているが、複数の記録層へのアクセス位置変化や、ディスク回転速度変化、温度変化等も同様の手法を用いてばらつきを判断しパワー調整の実行制御を行うことが可能である。なお、本実施例ではディスクの感度ばらつきをもつ面内補正用テーブルを記憶手段に持つことにしているが、光ディスク上の所定の領域に面内補正テーブルを持つことに置き換えてもよい。
また、情報処理装置１１４（図１参照：例えば、モータ回転制御部１０３、光ヘッド駆動制御部１０４、レーザ駆動制御部１０６、レーザパワー設定部１０７、メモリ１０９、温度検出部１１０、記録再生アクセス制御部１１１、変調度測定部１１２、再生信号処理部１１３を含む）は、１チップ化されたＬＳＩ（半導体集積回路）またはその一部として製造され得る。情報処理装置１１４が、１チップ化されたＬＳＩとして製造される場合には、光ディスク装置の製造工程を容易にすることができる。なお、情報処理装置１１４を構成する各部が独立にＬＳＩとして製造されてもよいし、情報処理装置１１４を構成する一部が独立にＬＳＩとして製造されてもよい。
〔発明の実施の形態２〕
〔装置全体の構成〕
以下、本発明の一実施形態について、図面を参照しながら説明する。
【００２４】
図１１は本発明の一実施形態である１１００光ディスク装置の構成を表したものである。
図１１において、１１０１は光ディスク、１１０２はスピンドルモータ、１１０３はモータ回転制御部、１１０４は光ピックアップ、１１０５は対物レンズ、１１０６は対物レンズアクチュエータ、１１０７は球面収差補正素子、１１０８は受光部、１１０９はトラッキングエラー生成部、１１１０は記録再生アクセス制御部、１１１１はアクチュエータ駆動制御部、１１１２はビームエキスパンダー駆動制御部、１１１３は再生信号処理部、１１１４はフォーカスエラー生成部、１１１５はメモリ、１１１６は温度検出部である。以上のように構成される光記録装置のフォーカス・球面収差の調整動作について以下説明する。
図１１において、光ピックアップ１１０４内のレーザ光源から射出された光ビームは平行光ビームにされ、球面収差補正素子１１０７を介して対物レンズ１１０５により集光されて光ディスク１１０１に照射される。照射された光ビームは光ディスク１１０１により反射され、反射光は対物レンズ１１０５で集光され、受光部１１０８で検出される。また、光ディスク１１０１はスピンドルモータ１１０２をモータ回転制御部１１０３が回転駆動させる。
【００２５】
受光部１１０８により、反射光は電気信号に変換される。当該検出信号は、フォーカスエラー生成部１１１４に出力され、フォーカスエラー信号が生成される。フォーカスエラー信号を以下ではＦＥ信号と記す。また、同様に受光部１１０８の出力が、トラッキングエラー生成部１１０９および再生信号処理部１１１３へ出力され、それぞれ、トラッキングエラー信号、ＲＦ信号が生成される。トラッキングエラー信号を以下ではＴＥ信号と記す。ＦＥ信号は、例えば一般に非点収差法と呼ばれるフォーカスエラー検出方式によって生成することができる。また、ＴＥ信号は、例えば一般にプッシュプル法と呼ばれるトラッキングエラー検出方式によって生成することができる。
ＦＥ信号およびＴＥ信号は記録再生アクセス制御部１１１０に出力され、位相補償等がなされる。記録再生アクセス制御部１１１０からの制御信号はアクチュエータ駆動制御部１１１１に出力される。アクチュエータ駆動制御部１１１１は、光ピックアップ１１０４に設けられた対物レンズアクチュエータ１１０６に駆動信号を送出し、対物レンズアクチュエータ１１０６を駆動する。すなわち、記録再生アクセス制御部１１１０は、上記誤差信号により対物レンズアクチュエータ１１０８を作動させ、対物レンズ１１０５を駆動することによって、フォーカス制御、トラッキング制御のサーボループが形成され、サーボ制御が実行される。
【００２６】
球面収差補正素子１１０７は、ビームエキスパンダー駆動制御部１１１２からの駆動信号により収差補正量が変更され、球面収差補正が実行される。（より詳細な調整方法は特開２００５−１９６９４７号公報を参照）
以上のような光ビームの収束位置および球面収差の調整を、温度検出部１１１６が検出する温度変化時にも行うことで高精度な調整が可能となる。
以下、本実施例におけるフォーカス・球面収差調整と面内補正実施制御フローを図１２にて説明する。
Ｓ１２０１において、記録若しくは再生コマンド発行後にディスク面内補正実行フラグを参照し、温度変化及び面内アクセス位置変化を検出し最適パラメータ調整を行うＳ１２０２の経路と、温度変化検出時のみ最適パラメータ調整を行うＳ１２１４の経路とに分岐する。ここで、ディスク面内補正実行フラグとは、光ディスク装置の出荷時点での既知ディスクで面内感度ばらつきが少ないものに対して設定しメモリ１１１５に格納しているものとする。また、未知ディスクの場合は後述するＳ１２０９にて設定しメモリ１１１５に格納する。以下、Ｓ１２０２経路について説明する。
Ｓ１２０２において、最新調整値（起動直後の場合は、起動調整値が最新調整値となる）と比較し、光ピックアップ１１０４を含む光ヘッド部のアクセス位置が図１３で規定している分割領域を移動した場合、もしくは温度検出部１１１６の検出した温度が８度以上変化した場合にはＳ１２０４へ移行する。そうでない場合は、状態変化なしとし最新調整値(現状設定)を設定する(Ｓ１２０３)。
【００２７】
Ｓ１２０４において、メモリ１１１５に格納される温度面内補正テーブル(図１３参照)の当該アクセス位置及び温度における保存値を参照し、存在すればフォーカス及び球面収差の最適パラメータを記録再生アクセス制御部１１１０からアクチュエータ駆動制御部１１１１及びビームエキスパンダー駆動制御部１１１２に供給する。アクチュエータ駆動制御部１１１１が対物レンズアクチュエータ１１０６を制御しフォーカス調整を行い、ビームエキスパンダー駆動制御部１１１２が球面収差補正素子１１０７を制御し球面収差補正を行う（Ｓ１２０５）。保存値がない場合はＳ１２０６へ移行する。
Ｓ１２０６−１１０８は、温度及び面内アクセス位置変化検出時の最適記録パラメータ調整の経路である。当該状態変化時での最適パラメータ調整を行い(Ｓ１２０６) 、その後、Ｓ１２０７においてメモリ１０９の当該状態値及び最新調整値の「調整アドレス」「環境温度」「最適記録条件値」を更新し、ユーザデータの記録を継続する。
Ｓ１２０９−１１１０は、起動時のパラメータと状態変化後の調整パラメータを比較し、その差が±５%以内であれば面内の感度ばらつきはほぼないと考え、面内補正テーブルの当該箇所に面内補正フラグを設定し（Ｓ１２１０）、Ｓ１２１１に移行する。±５％を超える場合は面内感度ばらつきが存在するとし、Ｓ１２１０を行わずＳ１２１１に移行する。なお、パラメータ変動の基準を５%としているが、これに限るものではない。
【００２８】
Ｓ１２１１−１１２は前述したＳ１２０１で使用するディスク面内補正実行フラグを設定するか否かを記録再生アクセス制御部１１１で判断する経路である。Ｓ１２１１においてメモリ１０９に格納される当該温度時の面内補正テーブルを参照し、全３２領域を４つに等分割した範囲それぞれに面内補正フラグが少なくとも１つ以上設定されており、かつ設定されたフラグの総数が１６以上であった場合、面内感度のばらつきはないと判断しディスク面内補正フラグを設定する（Ｓ１２１２）。これ以降、ディスク面内補正フラグを設定した時点の当該温度の調整パラメータは、面内３２ゾーンのうち、面内補正フラグが設定されている任意のパラメータ値とする。ここでは、面内補正フラグが設定されたゾーン番号の一番小さい状態のパラメータ値と考える。なお、任意の値ではなく、フラグが設定されたパラメータの平均値としてもよい。また、例えば、図１０のようなパラメータばらつき特性のディスクが在った場合、パラメータ調整が必要な範囲のみ補正を実行する。具体的には、４つに等分割した分割範囲の全面内補正フラグが立っていた場合、以降その範囲でのパラメータ調整は実行せず、面内補正フラグが設定されたゾーン番号の一番小さい状態のパラメータ値で記録若しくは再生を行い、補正実行必要な範囲（図１０では外周部）のみパラメータ調整を実行する。
【００２９】
Ｓ１２１２以降、記録若しくは再生処理を継続する。
ここまでがＳ１２０２以降の温度及び面内補正時の経路である。
以下、ディスク面内補正実行フラグが設定されている面内感度ばらつきの少ない光ディスクに対してのパラメータ調整フロー（Ｓ１２１３の経路）について説明する。基本的な流れはＳ１２０２以降とほぼ同じであるが、アクセス位置変化時における処理を全て省くことができる。
Ｓ１２１３において、最新調整値（起動直後の場合は、起動調整値が最新調整値となる）と比較し、温度検出部１１１６の検出した温度が８度以上変化した場合にはＳ１２１５へ移行する。そうでない場合は、温度変化なしとし最新調整値(現状設定)を設定する(Ｓ１２１４)。
Ｓ１２１５において、メモリ１１１５に格納される温度面内補正テーブル(図１３参照)の当該温度における保存値を参照し、存在すればフォーカス及び球面収差の最適パラメータを記録再生アクセス制御部１１１０からアクチュエータ駆動制御部１１１１及びビームエキスパンダー駆動制御部１１１２に供給する。アクチュエータ駆動制御部１１１１が対物レンズアクチュエータ１１０６を制御しフォーカス調整を行い、ビームエキスパンダー駆動制御部１１１２が球面収差補正素子１１０７を制御し球面収差補正を行う（Ｓ１２１６）。保存値がない場合はＳ１２１７へ移行する。
【００３０】
Ｓ１２１７では、温度変化を検出し且つ保存値を持たないので最適パラメータの設定が必要であると判断し、当該状態時での最適パラメータ調整を行う。その後、Ｓ１２１８においてメモリ１１１５の当該状態値及び最新調整値の「調整アドレス」「環境温度」「最適記録条件値」を更新し、処理を継続する。
ここまでがＳ１２１３以降の温度補正のみの経路である。
このように、光ディスクの面内感度特性により調整を実行するかしないかの判断を行う制御手段をもつことで、最適な信号品質を維持しながら不必要な調整時間を省き、処理時間を短縮することが可能となる。なお、本実施例では面内位置における膜特性の感度ばらつきを判断しているが、複数の記録層へのアクセス位置変化や、ディスク回転速度変化、温度変化等も同様の手法を用いてばらつきを判断しパラメータ調整の実行制御を行うことが可能である。なお、本実施例ではディスクの感度ばらつきをもつ面内補正用テーブルを記憶手段に持つことにしているが、光ディスク上の所定の領域に面内補正テーブルを持つことに置き換えてもよい。
また、情報処理装置１１１７（図１１参照：例えば、モータ回転制御部１１０３、トラッキングエラー生成部１１０９、記録再生アクセス制御部１１１０、アクチュエータ駆動制御部１１１１、ビームエキスパンダー駆動制御部１１１２、再生信号処理部１１１３、フォーカスエラー生成部１１１４、メモリ１１１５、温度検出部１１１６を含む）は、１チップ化されたＬＳＩ（半導体集積回路）またはその一部として製造され得る。情報処理装置１１１７が、１チップ化されたＬＳＩとして製造される場合には、光ディスク装置の製造工程を容易にすることができる。なお、情報処理装置１１１７を構成する各部が独立にＬＳＩとして製造されてもよいし、情報処理装置１１１７を構成する一部が独立にＬＳＩとして製造されてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本実施形態１における光ディスク装置の構成図
【図２】本実施形態１に用いた光ディスク
【図３】本実施形態１における記録パワー調整フロー
【図４】本実施形態１における試し記録パワー範囲
【図５】変調度と反射光量の関係
【図６】変調度曲線と最適記録パワーの関係
【図７】本実施形態１における温度面内補正実行制御フロー
【図８】本実施形態１における温度面内補正テーブル図
【図９】起動時と温度面内補正時の試し記録パワー範囲の違い
【図１０】一定範囲にのみ面内感度ばらつきが存在するときの面内補正フラグ
【図１１】本実施形態２における光ディスク装置の構成図
【図１２】本実施形態２におけるパラメータ調整フロー
【図１３】本実施形態２における温度面内補正テーブル図
【符号の説明】
【００３２】
１００  光ディスク記録再生装置
１０１  光ディスク
１０２  スピンドルモータ
１０３  モータ回転制御部
１０４  光ヘッド駆動制御部
１０５  光ヘッド部
１０６  レーザ駆動制御部
１０７  レーザパワー設定部
１０８  光ピックアップ
１０９  メモリ
１１０  温度検出部
１１１  記録再生アクセス制御部
１１２  変調度測定部
１１３  再生信号処理部
１１４  情報処理装置
１１００  光ディスク記録再生装置
１１０１  光ディスク
１１０２  スピンドルモータ
１１０３  モータ回転制御部
１１０４  光ピックアップ
１１０５  対物レンズ
１１０６  対物レンズアクチュエータ
１１０７  球面収差補正素子
１１０８  受光部
１１０９  トラッキングエラー生成部
１１１１  記録再生アクセス制御部
１１１１  アクチュエータ駆動制御部
１１１２  ビームエキスパンダー駆動制御部
１１１３  再生信号処理部
１１１４  フォーカスエラー生成部
１１１５  メモリ
１１１６  温度検出部
１１１７  情報処理装置
【図１】
2007280491.tif 000003
【図２】
2007280491.tif 000004
【図３】
2007280491.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
2007280491.tif 000008
【図７】
2007280491.tif 000009
【図８】
2007280491.tif 000010
【図９】
2007280491.tif 000011
【図１０】
2007280491.tif 000012
【図１１】
2007280491.tif 000013
【図１２】
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【図１３】
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