(57)【要約】【課題】記録および再生動作が不安定とならず作製における歩留まりも低下しない光ピックアップ装置を提供する。【解決手段】光ピックアップ１Ａは、少なくとも２種類の光ディスク１２に対して情報を光学的に記録または再生する。光ピックアップ１Ａは、異なる波長の光を出射する半導体レーザ１ｄ，１ｃと、半導体レーザ１ｄ，１ｃからの光ビーム８，９を光ディスク１２に集光する対物レンズ１１と、光ディスク１２からの反射光を波長に応じて複数の方向に回折するホログラム３と、ホログラム３によって回折される光のうち光ビーム９の回折光９Ｐ，９Ｑを回折するホログラム４と、ホログラム３またはホログラム４からの回折光を受光する光検出器５とを含む。【選択図】図１
2007280535.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも２種類の光記録媒体に対して情報を光学的に記録再生する光ピックアップ装置であって、
複数種類の波長の光を出射する光源と、
前記光源からの光ビームを前記光記録媒体に集光する集光手段と、
前記光源と前記集光手段との間に配置され、前記光記録媒体からの反射光を波長に応じて複数の方向に回折する第１の回折格子と、
前記第１の回折格子によって回折される光の一部を回折する第２の回折格子と、
前記第１および前記第２の回折格子からの回折光を受光する光検出器とを備え、
前記第１の回折格子は、前記光記録媒体からの反射光を、前記第２の回折格子に入射する第１の方向と前記第２の回折格子に入射しない第２の方向とに回折する、第１および第２の回折領域を含む、光ピックアップ装置。
【請求項２】
前記第１の回折格子は、前記光記録媒体からの反射光を波長に応じて複数の方向に回折するとき、当該複数の回折光が交差するように回折する、請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項３】
前記第１の回折格子は、前記光記録媒体からの反射光を波長に応じて複数の方向に回折するとき、当該複数の回折光が前記光記録媒体のラジアル方向で交差するように回折する、請求項２に記載の光ピックアップ装置。
【請求項４】
前記第２の回折格子は、前記第１の回折格子から前記第１の方向に回折された複数の回折光が、前記第２の方向に回折された複数の回折光と前記光検出器上でそれぞれ一致するように、前記第１の回折格子からの回折光を回折する、請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項５】
前記第２の回折格子は、前記第１の回折格子によって回折される光の一部を回折するとき当該回折光に収差を付加する、請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項６】
前記光検出器は、前記光記録媒体のラジアル方向にほぼ沿った方向の境界線で２分割された第１および第２の領域を含み、
前記第２の回折格子は、前記第１および前記第２の回折格子から前記光検出器上へのスポット光が前記境界線上に落射するように格子パターンが形成されている、請求項５に記載の光ピックアップ装置。
【請求項７】
前記第１の回折格子は、入射する光の偏光に応じて回折効率が変化する特性を有する、請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項８】
前記第１および第２の回折格子は、同一の基板上に形成されている、請求項１に記載の光ピックアップ装置。
【請求項９】
前記第１の回折格子は前記基板の前記光記録媒体側に設けられ、前記第２の回折格子は前記基板の前記光源側に設けられる、請求項８に記載の光ピックアップ装置。
【請求項１０】
前記回折格子は、ホログラムである、請求項１〜９のいずれかに記載の光ピックアップ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、光ピックアップ装置に関し、より特定的には、複数種類の光記録媒体に対して光学的に情報を記録再生する光ピックアップ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近接配置された異なる二つの波長を発振する半導体レーザを備え、記録媒体からの戻り光を同一の検出器で受光する光ピックアップが特許文献１に開示されている。この従来の光ピックアップの構成および動作について、以下に説明する。
【０００３】
図１５は、従来の光ピックアップ１００の概略的な構成を示した断面図である。図１５を参照して、光ピックアップ１００は、集積化レーザユニット１１３と、コリメータレンズ１０８と、対物レンズ１０９とを備える。集積化レーザユニット１１３の具体的な構成については、次図で説明する。
【０００４】
光ピックアップ１００は、光ディスク１１０に対して情報を光学的に記録再生する。なお、以下では、特に断らない限り、図のＸ方向が光ディスク１１０のラジアル方向、Ｙ方向が光ディスク１１０のトラック方向、Ｚ方向が光ディスク１１０に対するフォーカス方向であるとして説明する。
【０００５】
集積化レーザユニット１１３から出射された光ビーム１１１，１１２は、コリメータレンズ１０８で平行光に変換され、対物レンズ１０９によって光ディスク１１０に集光される。光ディスク１１０からの反射光は、再び対物レンズ１０９およびコリメータレンズ１０８を通過して、集積化レーザユニット１１３に導かれる。
【０００６】
図１６は、図１５の光ピックアップ１００のうち集積化レーザユニット１１３の部分を拡大して示した図である。図１６を参照して、集積化レーザユニット１１３は、半導体レーザ１０１，１０２と、３ビーム用回折格子１０３と、ホログラム１０４，１０５と、光検出器１０６と、透明基板１０７ａ，１０７ｂとを含む。
【０００７】
半導体レーザ１０１は、６５０ｎｍ帯で発振する。半導体レーザ１０２は、半導体レーザ１０１に近接して配置され、７８０ｎｍ帯で発振する。３ビーム用回折格子１０３は、図１６では明示していないが、通過する光の波長に応じてトラッキング制御用の３ビームを生じさせる。ホログラム１０４は、半導体レーザ１０１，１０２の光ビーム１１１，１１２をそれぞれ回折する。ホログラム１０５は、ホログラム１０４で回折された光ビームのうち、半導体レーザ１０２の光ビーム１１２のみを回折して光検出器１０６に導く。ホログラム１０４は、透明基板１０７ａの上面側に形成されている。３ビーム用回折格子１０３およびホログラム１０５は、透明基板１０７ｂの下面側に形成されている。
【０００８】
次に、図１５，１６を参照して、光ピックアップ１００を用いて異なる種類の光ディスク１１０を再生する方法について説明する。
【０００９】
光ディスク１１０が例えば基板厚さ０．６ｍｍのＤＶＤ（Digital Versatile Disk）であると仮定する。この場合、６５０ｎｍ帯の半導体レーザ１０１から出射された光ビーム１１１は、３ビーム用回折格子１０３を透過し、ホログラム１０４で回折される。ホログラム１０４に入射した光のうち０次光が、コリメータレンズ１０８で平行光に変換され、対物レンズ１０９によって光ディスク１１０に集光される。光ディスク１１０によって反射された光ビーム１１１は、対物レンズ１０９およびコリメータレンズ１０８を再び通過して、集積化レーザユニット１１３に到達する。集積化レーザユニット１１３に到達した光ビーム１１１は、ホログラム１０４で回折された後、ホログラム１０５を透過して光検出器１０６に集光される。
【００１０】
光ディスク１１０が例えば基板厚さ１．２ｍｍのＣＤ（Compact Disk）であると仮定する。この場合、７８０ｎｍ帯の半導体レーザ１０２から出射された光ビーム１１２は、図１５，１６では明示していないが、３ビーム用回折格子１０３で３ビームに分割される。３ビームに分割された光ビーム１１２は、ホログラム１０４で回折される。ホログラム１０４に入射した光のうち０次光が、光ビーム１１１の場合と同様にして光ディスク１１０に集光される。光ディスク１１０によって反射された光ビーム１１２は、対物レンズ１０９およびコリメータレンズ１０８を再び通過して、集積化レーザユニット１１３に到達する。集積化レーザユニット１１３に到達した光ビーム１１２は、ホログラム１０４で回折された後、ホログラム１０５でも回折されて光検出器１０６に集光される。
【００１１】
上記のように、ホログラム１０４は、光ビーム１１１，１１２の両方を回折するような溝深さに設定されている。しかし、半導体レーザ１０１，１０２は両者で発振波長が異なるので、ホログラム１０４での光ビーム１１１，１１２の回折角度も異なってくる。この影響について図１６を用いて説明する。
【００１２】
図１６を参照して、ホログラム１０４は、半導体レーザ１０１の光ビーム１１１に対して、光検出器１０６上の点Ｆ１に理想的に集光するように設計されている。このとき、半導体レーザ１０２の光ビーム１１２は、光ビーム１１１よりも波長が長いため、光ビーム１１１に比べてホログラム１０４での回折角度が大きくなる。そのため、もしホログラム１０５が存在しないと仮定すると、半導体レーザ１０２の光ビーム１１２は、光検出器１０６上の理想的な点Ｆ１からずれた点Ｆ２に集光することとなる。
【００１３】
ここで、光ピックアップ１００において光検出器１０６を半導体レーザ１０１，１０２で共通に利用するためには、半導体レーザ１０２の光ビーム１１２を点Ｆ２ではなく、光ビーム１１１と同じ点Ｆ１に集光させる必要がある。そのため、従来の光ピックアップ１００では、光ビーム１１２のみを選択的に回折させるホログラム１０５を設けることにより、光ビーム１１１，１１２がともに理想的な点Ｆ１に集光するようにしている。
【特許文献１】特開２００２−９２９３３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
図１５，１６に示した従来の光ピックアップ１００では、ホログラム１０５に半導体レーザ１０１の光ビーム１１１が入射すると、光ビーム１１１から信号光である透過光以外に回折光が発生する可能性がある。この場合、光検出器１０６に入射する信号光である透過光の強度が減少する。また、ホログラム１０５での不要な回折光が迷光として光検出器１０６に入射すると、誤差信号の発生により情報信号の検出特性が劣化する。この結果、ＤＶＤ等に対する記録／再生動作を不安定にするという問題が生ずる。
【００１５】
そこで、光ピックアップ１００のホログラム１０５に対し、半導体レーザ１０１の光ビーム１１１は回折させず、半導体レーザ１０２の光ビーム１１２を回折させるような波長選択性を付与する場合を考える。波長選択性の付与は、ホログラム１０５の溝深さを適当な深さに設定すること等により実現できる。
【００１６】
図１７は、ホログラム１０４，１０５の一例であるホログラム１４５の概略的な構成を示した断面図である。図１７を参照して、ホログラム１４５は、一定のピッチＰＣおよび溝深さＤＰを有する矩形型の周期構造となっている。ホログラム１４５は、半導体レーザ１０１の光ビーム１１１（波長λ＝６５０ｎｍ）に対しては石英の屈折率ｎ１＝１．４５７、半導体レーザ１０２の光ビーム１１２（波長λ＝７８０ｎｍ）に対しては屈折率ｎ２＝１．４５４であると仮定する。
【００１７】
図１８は、光ビーム１１１，１１２においてホログラム１４５の溝深さＤＰ（μｍ）に対する０次および±１次の回折効率を示した図である。図１８において、曲線６５０Ａは光ビーム１１１に対する０次の回折効率、曲線６５０Ｂは光ビーム１１１に対する±１次の回折効率、曲線７８０Ａは光ビーム１１２に対する０次の回折効率、曲線７８０Ｂは光ビーム１１２に対する±１次の回折効率をそれぞれ示す。
【００１８】
図１８に示すように、ホログラム１４５は、溝深さＤＰ＝４．３μｍにおいて、光ビーム１１１の０次光のみをほぼ透過し、光ビーム１１２の±１次光のみをほぼ回折させることが分かる。したがって、ホログラム１０５に上述のような理想的な波長選択性を付与するには、溝深さＤＰを約４．３μｍに設定すればよい。
【００１９】
光ビーム１１１と光ビーム１１２とを光検出器１０６の同一部分に集光させ、かつ溝深さＤＰが約４．３μｍのホログラム１０５を形成するには、ホログラム１０５のピッチと溝深さとの比（２ＤＰ／ＰＣ）であるアスペクト比を高くする必要がある。しかし、一般に、ホログラムはアスペクト比が大きくなると作製が困難になるため、ホログラム１０５ひいては光ピックアップ１００の歩留まりが低下するという問題がある。
【００２０】
つまり、ホログラム１０５に波長選択性を付与しない場合には、光ピックアップ１００の記録／再生動作が不安定になるという問題が発生し、ホログラム１０５に波長選択性を付与する場合には、ホログラム１０５の作製が困難となり光ピックアップ１００全体の歩留まりが低下するという問題が生ずる。
【００２１】
それゆえに、この発明の目的は、記録および再生動作が不安定とならず作製における歩留まりも低下しない光ピックアップ装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００２２】
この発明は、少なくとも２種類の光記録媒体に対して情報を光学的に記録再生する光ピックアップ装置であって、複数種類の波長の光を出射する光源と、光源からの光ビームを光記録媒体に集光する集光手段と、光源と集光手段との間に配置され、光記録媒体からの反射光を波長に応じて複数の方向に回折する第１の回折格子と、第１の回折格子によって回折される光の一部を回折する第２の回折格子と、第１および第２の回折格子からの回折光を受光する光検出器とを備える。第１の回折格子は、光記録媒体からの反射光を、第２の回折格子に入射する第１の方向と第２の回折格子に入射しない第２の方向とに回折する、第１および第２の回折領域を含む。
【００２３】
好ましくは、第１の回折格子は、光記録媒体からの反射光を波長に応じて複数の方向に回折するとき、当該複数の回折光が交差するように回折する。
【００２４】
より好ましくは、第１の回折格子は、光記録媒体からの反射光を波長に応じて複数の方向に回折するとき、当該複数の回折光が光記録媒体のラジアル方向で交差するように回折する。
【００２５】
好ましくは、第２の回折格子は、第１の回折格子から第１の方向に回折された複数の回折光が、第２の方向に回折された複数の回折光と光検出器上でそれぞれ一致するように、第１の回折格子からの回折光を回折する。
【００２６】
好ましくは、第２の回折格子は、第１の回折格子によって回折される光の一部を回折するとき当該回折光に収差を付加する。
【００２７】
より好ましくは、光検出器は、光記録媒体のラジアル方向にほぼ沿った方向の境界線で２分割された第１および第２の領域を含む。第２の回折格子は、第１および第２の回折格子から光検出器上へのスポット光が境界線上に落射するように格子パターンが形成されている。
【００２８】
好ましくは、第１の回折格子は、入射する光の偏光に応じて回折効率が変化する特性を有する。
【００２９】
好ましくは、第１および第２の回折格子は、同一の基板上に形成されている。
より好ましくは、第１の回折格子は基板の光記録媒体側に設けられ、第２の回折格子は基板の光源側に設けられる。
【００３０】
好ましくは、回折格子は、ホログラムである。
【発明の効果】
【００３１】
この発明によれば、記録および再生動作が不安定とならず、作製における歩留まりも低下しない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３２】
以下、この発明の実施の形態について図面を参照して詳しく説明する。なお、図中同一または相当部分には同一符号を付してその説明は繰り返さない。
【００３３】
［実施の形態１］
図１は、この発明の実施の形態１による光ピックアップ１Ａの概略的な構成を示した断面図である。図１を参照して、実施の形態１の光ピックアップ１Ａは、集積化レーザユニット２０Ａと、コリメータレンズ１０と、対物レンズ（集光手段）１１とを備える。集積化レーザユニット２０Ａの具体的な構成については、次図で説明する。
【００３４】
光ピックアップ１Ａは、光ディスク１２に対して情報を光学的に記録再生する。なお、以下では、特に断らない限り、図１５〜１８と同様、図のＸ方向が光ディスク１２のラジアル方向（半径方向）、Ｙ方向がラジアル方向と直交した光ディスク１２のトラック方向、Ｚ方向が光ディスク１２に対するフォーカス方向、すなわち光ディスク１２の情報が記録されている記録面に対して垂直な方向であるとして説明する。
【００３５】
集積化レーザユニット２０Ａから出射された光ビーム８，９は、コリメータレンズ１０で平行光に変換され、対物レンズ１１によって光ディスク１２に集光される。光ディスク１２からの反射光は、再び対物レンズ１１およびコリメータレンズ１０を通過して、集積化レーザユニット２０Ａに導かれる。
【００３６】
図２は、図１の光ピックアップ１Ａのうち集積化レーザユニット２０Ａの部分を拡大して示した図である。図２を参照して、集積化レーザユニット２０Ａは、２波長モノリシックレーザである半導体レーザ１ｄ，１ｃと、３ビーム用回折格子２と、ホログラム３，４と、光検出器５と、透明基板６，７とを含む。ホログラム３は、光ディスク１２のトラック方向に沿って２領域に分割されたホログラム部３Ｐとホログラム部３Ｑとを有する。ホログラム３は、透明基板６の上面側に形成されている。３ビーム用回折格子２およびホログラム４は、透明基板７の下面側に形成されている。
【００３７】
半導体レーザ１ｄは、６５０ｎｍ帯で発振する。半導体レーザ１ｃは、半導体レーザ１０１に近接して配置され、７８０ｎｍ帯で発振する。３ビーム用回折格子２は、図２では明示していないが、通過する光の波長に応じてトラッキング制御用の３ビームを生じさせる。ホログラム３のホログラム部３Ｐは、半導体レーザ１ｄ，１ｃの光ビーム８，９を回折光８Ｐ，９Ｐにそれぞれ回折する。ホログラム３のホログラム部３Ｑは、半導体レーザ１ｄ，１ｃの光ビーム８，９を回折光８Ｑ，９Ｑにそれぞれ回折する。
【００３８】
ホログラム４は、ホログラム３で回折された光ビームのうち、ホログラム部３Ｐによって回折された光ビーム８Ｐ，９Ｐのみを回折して光検出器５に導く。ゆえに、半導体レーザ１ｄの光ビーム８はホログラム３によって、半導体レーザ１ｃの光ビーム９は２つのホログラム３，４によって、それぞれ光検出器５の同一部分へ導かれる。ホログラム３，４のホログラムパターン（分割パターン）の詳細な構成については後述する。
【００３９】
光検出器５は、複数の受光素子を有し、ホログラム３，４で回折された回折光８Ｐ，８Ｑ、９Ｐ，９Ｑの光強度を検出して電気信号に変換する。光検出器５は、受光した回折光８Ｐ，８Ｑ、９Ｐ，９Ｑに基づいて、フォーカスエラー信号ＦＥＳおよびトラッキングエラー信号ＴＥＳを生成する。光検出器５の詳細な構成については後述する。
【００４０】
次に、図１，２を参照して、光ピックアップ１Ａを用いて異なる種類の光ディスク１２を再生する方法について説明する。光ディスク（光記録媒体）１２は、情報を記録するための記録層を有している。
【００４１】
光ディスク１２が例えば基板厚さ０．６ｍｍのＤＶＤであると仮定する。この場合、６５０ｎｍ帯の半導体レーザ１ｄから出射された光ビーム８は、図１，２では明示していないが、３ビーム用回折格子２で３ビームに分割される。３ビームに分割された光ビーム９は、ホログラム３で回折される。ホログラム３に入射した光のうち０次光が、コリメータレンズ１０で平行光に変換され、対物レンズ１１によって光ディスク１２に集光される。光ディスク１２によって反射された光ビーム８は、対物レンズ１１およびコリメータレンズ１０を再び通過して、集積化レーザユニット２０Ａに到達する。集積化レーザユニット２０Ａに到達した光ビーム８は、ホログラム３のホログラム部３Ｐ，３Ｑで回折光８Ｐ，８Ｑにそれぞれ回折された後、ホログラム４を通過せずに光検出器５に集光される。
【００４２】
光ディスク１２が例えば基板厚さ１．２ｍｍのＣＤであると仮定する。この場合、７８０ｎｍ帯の半導体レーザ１ｃから出射された光ビーム９は、図１，２では明示していないが、３ビーム用回折格子２で３ビームに分割される。３ビームに分割された光ビーム９は、ホログラム３で回折される。ホログラム３に入射した光のうち０次光が、光ビーム８の場合と同様にして光ディスク１２に集光される。光ディスク１２によって反射された光ビーム９は、対物レンズ１１およびコリメータレンズ１０を再び通過して、集積化レーザユニット２０Ａに到達する。集積化レーザユニット２０Ａに到達した光ビーム９は、ホログラム３のホログラム部３Ｐ，３Ｑで回折光９Ｐ，９Ｑにそれぞれ回折された後、ホログラム４でも回折されて光検出器５に集光される。
【００４３】
図３は、図１の光ピックアップ１Ａにおけるホログラム３の具体的な構成の一例を示した上面図である。図３に示すように、ホログラム３は、Ｘ方向（ラジアル方向）に平行な直線３ｒおよびＹ方向（トラック方向）に平行な直線３ｔにより、ホログラム領域３ａ〜３ｄに４分割されている。図３を図１，２と比較すると、たとえば、ホログラム領域３ａ，３ｂがホログラム部３Ｐに、ホログラム領域３ｃ，３ｄがホログラム部３Ｑにそれぞれ対応する。ホログラム３上には、光ビーム８，９を受けてスポット８ｆ，９ｆがそれぞれ形成されている。ホログラム３は、光ビーム８に対して最適に形成されており、直線３ｒ，３ｔの交点はスポット８ｆの中心を通るように構成されている。
【００４４】
図４は、図１の光ピックアップ１Ａにおけるホログラム４の具体的な構成の一例を示した上面図である。図４に示すように、ホログラム４は、透明基板７上に形成されており、Ｘ方向（ラジアル方向）に平行な直線４ｒおよびＹ方向（トラック方向）に平行な直線４ｔにより、ホログラム領域４ａ〜４ｄに４分割されている。
【００４５】
透明基板７のホログラム４から外れた位置には、ホログラム３のホログラム領域３ａ〜３ｄで回折された光ビーム８を受けてスポット８ａ〜８ｄが一部重なるように形成されている。光ビーム９もまたホログラム３で回折されるが、光ビーム８よりも波長が長いため、ホログラム３による回折角度が大きくなる。この結果、ホログラム３のホログラム領域３ａ〜３ｄで回折された光ビーム９は、ホログラム４のホログラム領域４ａ〜４ｄ上にスポット９ａ〜９ｄをそれぞれ形成する。図４に示すように、スポット８ａ〜８ｄ，９ａ〜９ｄは、いずれも扇形の形状を有する。
【００４６】
図５は、図１の光ピックアップ１Ａにおける光検出器５の具体的な構成の一例を示した上面図である。図５を参照して、光検出器５は、光検出部５ａ〜５ｄ，５ｅ１〜５ｅ３，５ｆ１〜５ｆ３を含む。光検出部５ａは、Ｘ方向（ラジアル方向）にほぼ沿った方向の境界線によって領域５ａｓ，５ａｒに２分割されている。光検出部５ｂは、同様の境界線によって領域５ｂｓ，５ｂｒに２分割されている。光検出部５ｃは、同様の境界線によって領域５ｃｓ，５ｃｒに２分割されている。光検出部５ｄは、同様の境界線によって領域５ｄｓ，５ｄｒに２分割されている。
【００４７】
光検出部５ａには、光ビーム８使用時のホログラム４の外側におけるスポット８ａに対応して境界線上にスポット８ａａが形成されている。なお、図５では図示していないが、光ビーム９使用時にはスポット８ａａの近傍に、ホログラム４のホログラム領域４ａにおけるスポット９ａに対応したスポットも形成されている。光検出部５ｂには、光ビーム８使用時のホログラム４の外側におけるスポット８ｂに対応して境界線上にスポット８ｂｂが形成されている。なお、図５では図示していないが、光ビーム９使用時にはスポット８ｂｂの近傍に、ホログラム４のホログラム領域４ｂにおけるスポット９ｂに対応したスポットも形成されている。
【００４８】
光検出部５ｃには、光ビーム８使用時のホログラム４の外側におけるスポット８ｃに対応して境界線上にスポット８ｃｃが形成されている。なお、図５では図示していないが、光ビーム９使用時にはスポット８ｃｃの近傍に、ホログラム４のホログラム領域４ｃにおけるスポット９ｃに対応したスポットも形成されている。光検出部５ｄには、光ビーム８使用時のホログラム４の外側におけるスポット８ｄに対応して境界線上にスポット８ｄｄが形成されている。なお、図５では図示していないが、光ビーム９使用時にはスポット８ｄｄの近傍に、ホログラム４のホログラム領域４ｄにおけるスポット９ｄに対応したスポットも形成されている。
【００４９】
光検出部５ｅ１には、３ビーム用回折格子２によって生成される光ビーム８，９の±１次光を受けてスポット８ｅ１が形成されている。光検出部５ｅ２には、同様に生成される±１次光を受けてスポット８ｅ２１，８ｅ２２が形成されている。光検出部５ｅ３には、同様に生成される±１次光を受けてスポット８ｅ３が形成されている。光検出部５ｆ１には、３ビーム用回折格子２によって生成される光ビーム８，９の±１次光を受けてスポット８ｆ１が形成されている。光検出部５ｆ２には、同様に生成される±１次光を受けてスポット８ｆ２１，８ｆ２２が形成されている。光検出部５ｆ３には、同様に生成される±１次光を受けてスポット８ｆ３が形成されている。
【００５０】
実施の形態１の光ピックアップ１Ａでは、光検出器５の光検出部５ａ〜５ｄに集光される光ビーム８，９のうち領域５ａｓ〜５ｄｓに入射する光を用いて、フォーカスエラー信号ＦＥＳおよびトラッキングエラー信号ＴＥＳを生成する。以下では、例えば領域５ａｓ〜５ｄｓにおける出力信号をＩ５ａｓ〜Ｉ５ｄｓのように表わすこととする。
【００５１】
ダブルナイフエッジ法によるフォーカスエラー信号ＦＥＳ１およびプッシュプル法によるトラッキングエラー信号ＴＥＳ１は、それぞれ、
ＦＥＳ１＝（Ｉ５ａｓ＋Ｉ５ｃｓ）−（Ｉ５ｂｓ＋Ｉ５ｄｓ）
ＴＥＳ１＝（Ｉ５ａｓ＋Ｉ５ｂｓ）−（Ｉ５ｃｓ＋Ｉ５ｄｓ）
となる。また、実施の形態１の光ピックアップ１Ａでは、差動プッシュプル（ＤＰＰ）法によってトラッキングエラー信号ＴＥＳ２を生成することもできる。ＤＰＰ法では、レンズシフトによって生じるトラッキング信号のオフセットを補正する。トラッキングエラー信号ＴＥＳ２は、メインビームのプッシュプル信号ＭＰＰと、位相が１８０度ずれたサブビームのプッシュプル信号ＳＰＰとから演算される。
【００５２】
メインビームのプッシュプル信号ＭＰＰは、プッシュプル法によるトラッキングエラー信号ＴＥＳ１と等しい。サブビームのプッシュプル信号ＳＰＰは、
ＳＰＰ＝（（Ｉ５ｅ１＋Ｉ５ｅ２＋Ｉ５ｅ３）−（Ｉ５ｆ１＋Ｉ５ｆ２＋Ｉ５ｆ３））
によって計算される。トラッキングエラー信号ＴＥＳ２は、メインビームのプッシュプル信号ＭＰＰからサブビームのプッシュプル信号ＳＰＰを減算した
ＴＥＳ２＝ＭＰＰ−ＳＰＰ
により得られる。また、実施の形態１の光ピックアップ１Ａでは、位相差（ＤＰＤ）法によってトラッキングエラー信号ＴＥＳ３を生成することもできる。ＤＰＤ法では、光検出器５の各光検出部で受光される光ビームの位相差によってトラッキングエラー信号ＴＥＳ３を検出する。以下では、例えば出力信号Ｉ５ａｓ，Ｉ５ｂｓの位相差をＰＨ（Ｉ５ａｓ−Ｉ５ｂｓ）のように表わすこととする。
【００５３】
ＤＰＤ法によるトラッキングエラー信号ＴＥＳ３は、ダブルナイフエッジ法によるフォーカスエラー信号ＦＥＳ１の位相差を演算したものに等しい。すなわち、
ＴＥＳ３＝ＰＨ（（Ｉ５ａｓ＋Ｉ５ｃｓ）−（Ｉ５ｂｓ＋Ｉ５ｄｓ））
となる。図１，２を参照して、トラッキングエラー信号ＴＥＳ３は、光ディスク１２上に集光される光ビーム８，９が、光ディスク上に形成されたピットのどの位置で反射されるかによって変化する。ゆえに、トラッキングエラー信号ＴＥＳ３を求めることによって、光ビーム８，９のトラック位置情報を得ることができる。
【００５４】
トラッキングエラー信号ＴＥＳ３は、光ビーム８，９が光ディスク１２上のトラック中央で反射される場合に０となる。つまり、光ピックアップ１Ａでは、トラッキングエラー信号ＴＥＳ３が０となるように対物レンズ１１を移動させることによって、トラッキングサーボを行なうことができる。また、光ディスク１２に記録された情報信号ＤＡＴは、光検出器５の光検出部５ａ〜５ｄの出力信号から生成される。具体的には、
ＤＡＴ＝（Ｉ５ａｓ＋Ｉ５ｂｓ＋Ｉ５ｃｓ＋Ｉ５ｄ）＋
（Ｉ５ａｒ＋Ｉ５ｂｒ＋Ｉ５ｃｒ＋Ｉ５ｒ）
により得られる。
【００５５】
以上のように、実施の形態１の光ピックアップ１Ａでは、ホログラム３の回折光をラジアル方向に交差させ、透明基板７のホログラム４から外れた位置にスポット８ａ〜８ｄを重ねることにより、光ビーム８がホログラム４に入射しないような構成をとることができる。このような構成とすることで、光ビーム８の不要回折光が発生しない波長選択性をホログラム４に付与することなく、ホログラム４により光ビーム８の不要回折光が発生するのを防ぐことができる。
【００５６】
図６は、図４のホログラム４において収差を考慮した場合のより具体的な構成の一例を示した上面図である。図６を参照して、ホログラム４は、ホログラム領域４ａ〜４ｄに４分割されている。ホログラム領域４ａは、Ｙ方向（トラック方向）に平行な直線Ｎａにより、領域４ａ１，４ａ２に２分割されている。ホログラム領域４ｂは、Ｙ方向に平行な直線Ｎｂにより、領域４ｂ１，４ｂ２に２分割されている。ホログラム領域４ｃは、Ｙ方向に平行な直線Ｎｃにより、領域４ｃ１，４ｃ２に２分割されている。ホログラム領域４ｄは、Ｙ方向に平行な直線Ｎｄにより、領域４ｄ１，４ｄ２に２分割されている。
【００５７】
ホログラム領域４ａ上には、ホログラム３のホログラム領域３ａで回折された光ビーム９を受けてスポット９ａ１，９ａ２が形成されている。ホログラム領域４ｂ上には、ホログラム３のホログラム領域３ｂで回折された光ビーム９を受けてスポット９ｂ１，９ｂ２が形成されている。ホログラム領域４ｃ上には、ホログラム３のホログラム領域３ｃで回折された光ビーム９を受けてスポット９ｃ１，９ｃ２が形成されている。ホログラム領域４ｄ上には、ホログラム３のホログラム領域３ｄで回折された光ビーム９を受けてスポット９ｄ１，９ｄ２が形成されている。
【００５８】
上記において、ホログラム領域４ａには、直線Ｎａを境として、領域４ａ１，４ａ２で符合の異なる球面収差を発生させるようなホログラムパターンが形成されている。その結果、スポット９ａ１，９ａ２には、符合の異なる球面収差が付与されている。これは、ホログラム領域４ｂ〜４ｄについても同じである。ホログラム４は、これら球面収差が付加された光ビーム９を光検出器５へ向けて回折させる。
【００５９】
次に、この球面収差を付加したことによる効果について説明する。図７〜９は、図１の光ピックアップ１Ａにおける組立調整の工程を説明するための図である。実施の形態１の光ピックアップ１Ａでは、光検出器５の位置調整を光ビーム８によって行なう。
【００６０】
図７は、光ビーム８が光ディスク１２上の集光点にある場合における光検出器５上でのスポット形状を示した図である。図７を参照して、光検出部５ａには、領域５ａｓ，５ａｒに２分割している境界線上にスポット８ａ１が形成されている。光検出部５ｂには、領域５ｂｓ，５ｂｒに２分割している境界線上にスポット８ｂ１が形成されている。光検出部５ｃには、領域５ｃｓ，５ｃｒに２分割している境界線上にスポット８ｃ１が形成されている。光検出部５ｄには、領域５ｄｓ，５ｄｒに２分割している境界線上にスポット８ｄ１が形成されている。
【００６１】
図７では、光検出器５が理想的な設計位置にあるため、スポット８ａ１〜８ｄ１はいずれも微小な円形に集光している。しかし、実際に光ピックアップ１Ａのレーザユニットを組み立てる際には、光検出器５が理想的な設計位置からずれることが多い。その結果、光検出器５上のスポット形状は、図７のような微小な円形の集光状態から一般に外れることとなる。
【００６２】
図８は、光ビーム８が光ディスク１２上の集光点から外れた場合における光検出器５上でのスポット形状を示した図である。図８を参照して、光検出部５ａ〜５ｄには、図７と比べてスポット形状が変形し、異なる位置に光ビーム８が落射したスポット８ａ２〜８ｄ２がぞれぞれ形成されている。
【００６３】
図８のような光検出器５の受光状態でフォーカスエラー信号ＦＥＳおよびトラッキングエラー信号ＴＥＳを生成した場合、光ディスク１２上で光ビーム８が合焦位置にある状態でも光検出部５ａ〜５ｄの左右のバランスがそれぞれ異なるため、フォーカスエラー信号ＦＥＳおよびトラッキングエラー信号ＴＥＳにオフセットが生じてしまう。その結果、フォーカスエラー信号ＦＥＳおよびトラッキングエラー信号ＴＥＳを正確に決めることができなくなるという問題が生じる。
【００６４】
上記の問題を解決するためには、半導体レーザ１ｄ，１ｃ、透明基板６，７または光検出器５の位置調整が必要となる。ダブルナイフエッジ法の場合には、位置調整を光検出器５の高さ方向（Ｚ方向）および面内方向（ＸＹ平面）において行なう。光検出器５の位置調整を行なうことによって、光検出器５上でのスポット形状および位置を変化させることができる。
【００６５】
図９は、光検出器５の位置調整後における光ビーム８の光検出器５上でのスポット形状を示した図である。図９を参照して、光検出部５ａ〜５ｄには、図８と比べてスポット形状が調整され、図７の理想的な受光状態に近づいたスポット８ａ３〜８ｄ３がぞれぞれ形成されている。
【００６６】
光ピックアップ１Ａでは、光検出器５の光検出部５ａ〜５ｄからの出力信号に基づいて生成されるフォーカスエラー信号ＦＥＳ１およびトラッキングエラー信号ＴＥＳ１がともに０となるように光検出器５の位置調整を行なう。これにより、光ピックアップ１Ａにおけるフォーカスオフセットおよびトラッキングオフセットをともにゼロにすることができる。しかし、このように光ビーム８に対して調整を行なった場合、光ビーム９に対してはオフセットが残留する可能性がある。この状況について、次図を用いて説明する。
【００６７】
図１０は、光検出器５の位置調整後における光ビーム９の光検出器５上でのスポット形状の一例を示した図である。ただし、図１０では、ホログラム４において球面収差等の収差を付加していない。図１０を参照して、光検出部５ａ〜５ｄの各々には、４種類の異なる公差に対するスポットが形成されている。
【００６８】
光検出部５ａには、ホログラム４のホログラム領域４ａにおけるスポット９ａに対応した４つのスポット９ｘａＰ，９ｘａＱ、９ｆａＰ，９ｆａＱが形成されている。スポット９ｘａＰ，９ｘａＱは、図１の光ビーム９Ｐ，９Ｑに対する面内方向（Ｘ方向）のスポットである。スポット９ｆａＰ，９ｆａＱは、図１の光ビーム９Ｐ，９Ｑに対するフォーカス方向（Ｚ方向）のスポットである。
【００６９】
光検出部５ｂにも、光検出部５ａと同様に、ホログラム４のホログラム領域４ｂにおけるスポット９ｂに対応した４つのスポット９ｘｂＰ，９ｘｂＱ、９ｆｂＰ，９ｆｂＱが形成されている。光検出部５ｃにも、光検出部５ａと同様に、ホログラム４のホログラム領域４ｃにおけるスポット９ｃに対応した４つのスポット９ｘｃＰ，９ｘｃＱ、９ｆｃＰ，９ｆｃＱが形成されている。光検出部５ｄにも、光検出部５ａと同様に、ホログラム４のホログラム領域４ｄにおけるスポット９ｄに対応した４つのスポット９ｘｄＰ，９ｘｄＱ、９ｆｄＰ，９ｆｄＱが形成されている。
【００７０】
スポット９ｘａＰ，９ｘａＱ，９ｘｂＰ，９ｘｂＱ，９ｘｃＰ，９ｘｃＱ，９ｘｄＰ，９ｘｄＱは、光ピックアップ１Ａの組み立て時における面内方向（Ｘ方向）の最大のずれを考慮した場合のスポットである。スポット９ｆａＰ，９ｆａＱ，９ｆｂＰ，９ｆｂＱ，９ｆｃＰ，９ｆｃＱ，９ｆｄＰ，９ｆｄＱは、光ピックアップ１Ａの組み立て時におけるフォーカスオフセットの最大のずれを考慮した場合のスポットである。次に、ホログラム４において球面収差などの収差を付加した場合に、光ビーム９の光検出器５上でのスポット形状がどのように変化するかを説明する。
【００７１】
図１１は、ホログラム４で収差を付加する前における光ビーム９の光検出器５上でのスポット形状の一部を示した図である。図１１を参照して、光検出部５ａ〜５ｄの各々には、図１の光ビーム９Ｐ，９Ｑに対するフォーカス方向（Ｚ方向）の収差付加前のスポットが形成されている。
【００７２】
光検出部５ａには、図１０のスポット９ｆａＰ，９ｆａＱに対応する収差付加前のスポット９ｆａＰ１，９ｆａＱ１が形成されている。光検出部５ｂには、図１０のスポット９ｆｂＰ，９ｆｂＱに対応する収差付加前のスポット９ｆｂＰ１，９ｆｂＱ１が形成されている。光検出部５ｃには、図１０のスポット９ｆｃＰ，９ｆｃＱに対応する収差付加前のスポット９ｆｃＰ１，９ｆｃＱ１が形成されている。光検出部５ｄには、図１０のスポット９ｆｄＰ，９ｆｄＱに対応する収差付加前のスポット９ｆｄＰ１，９ｆｄＱ１が形成されている。
【００７３】
図１１に示すように、ホログラム４において収差を付加する前は、スポット９ｆａＰ１は光検出部５ａの領域５ａｒ側に、スポット９ｆａＱ１は光検出部５ａの領域５ａｓ側に、それぞれ変位している。スポット９ｆｂＰ１は光検出部５ｂの領域５ｂｒ側に、スポット９ｆｂＱ１は光検出部５ｂの領域５ｂｓ側に、それぞれ変位している。スポット９ｆｃＰ１は光検出部５ｃの領域５ｃｒ側に、スポット９ｆｃＱ１は光検出部５ｃの領域５ｃｓ側に、それぞれ変位している。スポット９ｆｄＰ１は光検出部５ｄの領域５ｄｒ側に、スポット９ｆｄＱ１は光検出部５ｄの領域５ｄｓ側に、それぞれ変位している。
【００７４】
図１２は、ホログラム４で収差を付加した後における光ビーム９の光検出器５上でのスポット形状の一部を示した図である。図１２を参照して、光検出部５ａ〜５ｄの各々には、図１の光ビーム９Ｐ，９Ｑに対するフォーカス方向（Ｚ方向）の収差付加後のスポットが形成されている。
【００７５】
光検出部５ａには、図１０のスポット９ｆａＰ，９ｆａＱに対応する収差付加後のスポット９ｆａＰ２，９ｆａＱ２が形成されている。光検出部５ｂには、図１０のスポット９ｆｂＰ，９ｆｂＱに対応する収差付加後のスポット９ｆｂＰ２，９ｆｂＱ２が形成されている。光検出部５ｃには、図１０のスポット９ｆｃＰ，９ｆｃＱに対応する収差付加後のスポット９ｆｃＰ２，９ｆｃＱ２が形成されている。光検出部５ｄには、図１０のスポット９ｆｄＰ，９ｆｄＱに対応する収差付加後のスポット９ｆｄＰ２，９ｆｄＱ２が形成されている。
【００７６】
ここで、図６を再び参照する。図６は、図４のホログラム４において収差を考慮した場合のより具体的な構成の一例を示した上面図である。ホログラム４には、フォーカスオフセットが最大となる時の光ビーム９のスポットが表わされている。図６において、ホログラム４の光検出部５ａ〜５ｄには、直線Ｎａ〜Ｎｄを境にして逆方向に光ビーム９のスポットが変形するように球面収差が付加されている。
【００７７】
図６のホログラム領域４ａにおけるスポット９ａ１，９ａ２は、図１０の光検出部５ａにおけるスポット９ｆａＰ，９ｆａＱにそれぞれ対応する。図６のホログラム領域４ｂにおけるスポット９ｂ１，９ｂ２は、図１０の光検出部５ｂにおけるスポット９ｆｂＰ，９ｆｂＱにそれぞれ対応する。図６のホログラム領域４ｃにおけるスポット９ｃ１，９ｃ２は、図１０の光検出部５ｃにおけるスポット９ｆｃＰ，９ｆｃＱにそれぞれ対応する。図６のホログラム領域４ｄにおけるスポット９ｄ１，９ｄ２は、図１０の光検出部５ｄにおけるスポット９ｆｄＰ，９ｆｄＱにそれぞれ対応する。
【００７８】
図１２に戻って、ホログラム４において収差を付加した後では、スポット９ｆａＰ２は、光検出部５ａの領域５ａｒ側から境界線を越えて領域５ａｓ側にスポット形状が広がっている。これは、ホログラム４の領域４ａ２には、光検出部５ａの領域５ａｓ側に光ビーム９のスポットが変形するような収差が付加されているからである。このため、光検出部５ａの領域５ａｒ，５ａｓの強度差を比較すると、図１１の収差付加前に比べて図１２の収差付加後の方が強度差が小さくなる。
【００７９】
一方、スポット９ｆａＱ２は、ホログラム４において収差を付加した後では、光検出部５ａの領域５ａｓ側から境界線を越えて領域５ａｒ側にスポット形状が広がっている。これは、ホログラム４の領域４ａ１には、光検出部５ａの領域５ａｒ側に光ビーム９のスポットが変形するような収差が付加されているからである。このため、光検出部５ａの領域５ａｒ，５ａｓの強度差を比較すると、図１１の収差付加前に比べて図１２の収差付加後の方が強度差が小さくなる。
【００８０】
上記は、光検出器４の光検出部５ｂ〜５ｄについても同様である。すなわち、ホログラム４のホログラム領域４ｂ〜４ｄにも逆方向の収差が付加されている。このため、図１２の収差付加後には、光検出部５ｂ〜５ｄの境界線を挟んだ領域での強度差が小さくなり、フォーカス方向（Ｚ方向）のオフセットを小さくすることができる。以上はフォーカス方向の位置ずれについてであったが、面内方向（Ｘ方向）の位置ずれが最大となる交差についても、収差の付加によって同様なスポット形状の変化を生じさせることができ、面内方向のオフセットは小さくなる。
【００８１】
ホログラム４に付加する収差の大きさは、すべての公差に対してフォーカスオフセットが０近傍となるような最適値に設定される。なお、ホログラム４のホログラム領域４ａ〜４ｄに付加される収差の大きさは、すべて同じでなくてもよい。また、上記では、スポット形状を変化させる収差として球面収差を想定しているが、非点収差やコマ収差などであってもよい。また、いくつかの収差を複合した収差であってもよい。光ピックアップ１Ａでは、光検出器５での光ビーム９のスポットのずれ方に合わせて最適な収差の組合せを用いることができる。
【００８２】
以上のように、実施の形態１の光ピックアップ１Ａでは、光ビーム８に対して光検出器５の位置調整を最適に行なった場合でも、ホログラム４に対して収差を付加することで、光ビーム９に対してもフォーカスオフセットの発生を抑制することができる。これにより、集積化レーザユニットを用いた２波長光ピックアップの生産効率を向上させることができるとともに、光ピックアップの組立工程を簡略することができる。
【００８３】
また、実施の形態１のように、ホログラム３で複数に分離された回折光を光ビームの回折方向（ラジアル方向）に交差させることにより、交差させない場合と比べて、ホログラム４での光ビーム８の入射面積を小さく設定することができる。この結果、ホログラム４上で光ビーム８，９の回折光の入射位置を分離することができる。
【００８４】
上記により、光ビーム８がホログラム４に入射しないようにすることができ、ホログラム４で光ビーム８が回折されることによる信号光の減少および不要回折光ノイズの発生を防止することができ、光ピックアップ１Ａの動作安定化に寄与する。また、ホログラム４に波長選択性を付与する必要がなくなるので、波長選択性を付与する場合と比較して、光ピックアップ１Ａの生産効率を高めることができる。
【００８５】
さらに、実施の形態１の光ピックアップ１Ａでは、ホログラム３を通過する光ビームの回折効率が、ホログラム３に入射する光ビームの偏光状態によって変化する構成が好ましい。ホログラム３に入射する光ビームの偏光状態に応じてホログラム３を通過する光ビームの回折効率が変化する場合を考える。
【００８６】
ホログラム３に上記のような偏光ホログラムを用いた場合、たとえば、半導体レーザ１ｄ，１ｃから照射された光ビームを透過させる一方、光ディスク１２から反射した光ビームを回折させることができる。また、ホログラム３に入射する光ビームの偏光状態によって回折の有無を変えることもできるので、光ディスク１２に到達する光ビームの光量のロスを抑えることが可能となる。このため、実施の形態１の光ピックアップ１Ａは、光ディスク１２により強い光ビームを照射することができ、光ディスク１２に対して高速に情報の記録を行なうことができる。
【００８７】
［実施の形態２］
図１３は、この発明の実施の形態２による光ピックアップ１Ｂの概略的な構成を示した断面図である。実施の形態２の光ピックアップ１Ｂは、集積化レーザユニット２０Ａが集積化レーザユニット２０Ｂに置き換えられた点において、実施の形態１の光ピックアップ１Ａと異なる。したがって、実施の形態１と重複する部分の説明は繰り返さない。
【００８８】
図１４は、図１３の光ピックアップ１Ｂのうち集積化レーザユニット２０Ｂの部分を拡大して示した図である。図１４を参照して、集積化レーザユニット２０Ｂは、２波長モノリシックレーザである半導体レーザ１ｄ，１ｃと、３ビーム用回折格子２と、ホログラム３，４と、光検出器５と、透明基板１３とを含む。ホログラム３は、透明基板１３の光ディスク１２側に形成されている。３ビーム用回折格子２およびホログラム４は、透明基板１３の半導体レーザ１ｄ，１ｃ側に形成されている。
【００８９】
以上のように、実施の形態２の光ピックアップ１Ｂでは、集積化レーザユニット２０Ｂを構成する透明基板を一つにまとめているので、実施の形態１での効果に加えて、光ピックアップ１Ｂを構成をする部品点数を削減できるため、光ピックアップの材料コストが低減される。また、基板を共通化しているので、集積化レーザユニット２０Ｂにおいて光ビーム８，９の経路が安定化し、光検出器５の出力信号のノイズを減らすことができる。
【００９０】
なお、この発明の実施の形態による光ピックアップにおいて、半導体レーザ１ｄ，１ｃの配置は逆でも良い。また、半導体レーザ１ｄ，１ｃのいずれか一方は、ブルーレイディスク（Blu-ray Disk；登録商標）およびＨＤ（High-Definition）−ＤＶＤに用いられる４００ｎｍ帯の発振波長であってもよい。
【００９１】
今回開示された実施の形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施の形態の説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【図面の簡単な説明】
【００９２】
【図１】この発明の実施の形態１による光ピックアップ１Ａの概略的な構成を示した断面図である。
【図２】図１の光ピックアップ１Ａのうち集積化レーザユニット２０Ａの部分を拡大して示した図である。
【図３】図１の光ピックアップ１Ａにおけるホログラム３の具体的な構成の一例を示した上面図である。
【図４】図１の光ピックアップ１Ａにおけるホログラム４の具体的な構成の一例を示した上面図である。
【図５】図１の光ピックアップ１Ａにおける光検出器５の具体的な構成の一例を示した上面図である。
【図６】図４のホログラム４において収差を考慮した場合のより具体的な構成の一例を示した上面図である。
【図７】光ビーム８が光ディスク１２上の集光点にある場合における光検出器５上でのスポット形状を示した図である。
【図８】光ビーム８が光ディスク１２上の集光点から外れた場合における光検出器５上でのスポット形状を示した図である。
【図９】光検出器５の位置調整後における光ビーム８の光検出器５上でのスポット形状を示した図である。
【図１０】光検出器５の位置調整後における光ビーム９の光検出器５上でのスポット形状の一例を示した図である。
【図１１】ホログラム４で収差を付加する前における光ビーム９の光検出器５上でのスポット形状の一部を示した図である。
【図１２】ホログラム４で収差を付加した後における光ビーム９の光検出器５上でのスポット形状の一部を示した図である。
【図１３】この発明の実施の形態２による光ピックアップ１Ｂの概略的な構成を示した断面図である。
【図１４】図１３の光ピックアップ１Ｂのうち集積化レーザユニット２０Ｂの部分を拡大して示した図である。
【図１５】従来の光ピックアップ１００の概略的な構成を示した断面図である。
【図１６】図１５の光ピックアップ１００のうち集積化レーザユニット１１３の部分を拡大して示した図である。
【図１７】ホログラム１０４，１０５の一例であるホログラム１４５の概略的な構成を示した断面図である。
【図１８】光ビーム１１１，１１２においてホログラム１４５の溝深さＤＰに対する０次および±１次の回折効率を示した図である。
【符号の説明】
【００９３】
１Ａ，１Ｂ，１００  光ピックアップ、１ｄ，１ｃ，１０１，１０２  半導体レーザ、２，１０３  ３ビーム用回折格子、３，４，１０４，１０５，１４５  ホログラム、５，１０６  光検出器、６，７，１３，１０７ａ，１０７ｂ  透明基板、１０，１０８  コリメータレンズ、１１，１０９  対物レンズ、１２，１１０  光ディスク、２０Ａ，２０Ｂ，１１３  集積化レーザユニット。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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