(57)【要約】【課題】  往路では光路分離せず、保護層表面からの反射光を二分し、その一方で記録面からの反射ビームにより記録情報信号及び記録面スポットの位置制御信号を検出し、もう一方のビームの記録層表面からのビームの集光点近傍に配置した受光素子によりチルト検出を行なう光ピックアップ装置、これに使用する記録媒体及びこの記録媒体を駆動する光ディスクドライブ装置を提供する。【解決手段】  半導体レーザ光源１、対物レンズ５を含む照明系と、集光機能素子２、３、４を含む検出系を備えている光ピックアップ装置Ａにおいて、記録媒体６の記録面６ａ上に前記照明系で結ばせたスポットを、その反射光及び同一ビームの前記記録媒体６の保護層表面６ｂでの反射光を含むビームを二分し、二分された一方のビームでスポット位置制御信号及び情報信号を得ると共に、前記記録媒体６のチルトを、他方のビームの前記保護層表面６ｂの反射光の集光点近傍に配した受光素子９により検出する。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体レーザ光源、対物レンズを含む照明系と、集光機能素子を含む検出系を備え、前記照明系からのビームを記録媒体にて反射させた反射ビームを前記検出系に導く光ピックアップ装置において、前記反射ビームを記録媒体の記録面にて反射した反射光と前記記録媒体の保護層表面での反射光とに二分し、記録面からの反射光からスポット位置制御信号及び情報信号を得ると共に、前記保護層表面からの反射光の集光点近傍に配した受光素子により前記記録媒体のチルトを検出することを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項２】
照明系と、第１及び第２の検出系を含んでいる光ピックアップ装置において、前記照明系は第１の波長を有する第１の光源、前記第１の波長とは異なる第２の波長を有する第２の光源、ダイクロイックプリズム、及び対物レンズを含み、前記第１の検出系は第１の波長の記録媒体の記録面からの反射光によりスポット位置制御信号及び情報信号を得る構成であり、そして前記第２の検出系は第２の波長の前記記録媒体の保護層表面からの反射光の集光点近傍に配した受光素子により前記記録媒体のチルト信号を得る構成であることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項３】
照明系と、第１及び第２の検出系を含んでいる光ピックアップ装置において、前記照明系は第１の波長を有する第１の光源、前記第１の波長とは異なる第２の波長を有する第２の光源、ダイクロイックプリズム、及び対物レンズを含み、前記第１の検出系は前記第１の波長の記録媒体の記録面からの反射光により前記第１の波長に係わるスポット位置制御信号及び情報信号を得る構成であり、前記第２の波長の反射光を前記記録媒体の記録面からの反射光と前記記録媒体の保護層表面での反射光を含むビームとに二分し、記録面からの反射光で前記第２の波長に係わるスポット位置制御信号及び情報信号を得ると共に、保護層表面からの反射光の集光点近傍に配した受光素子により前記記録媒体のチルトを検出することを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項４】
請求項１記載の光ピックアップ装置で使用するために、前記記録媒体はその保護層表面に反射率調整膜を施していることを特徴とする記録媒体。
【請求項５】
請求項２記載の光ピックアップ装置で使用するために、その表面に前記第１の波長を透過し、前記第２の波長を反射するダイクロイック膜を構成することを特徴とする記録媒体。
【請求項６】
請求項３記載の光ピックアップ装置で使用するために、その表面に前記第１の波長を透過し、前記第２の波長の反射率を調整する反射率調整膜を施すことを特徴とする記録媒体。
【請求項７】
請求項１乃至３のいずれか一項記載の光ピックアップ装置を搭載することを特徴とする光ディスクドライブ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録媒体のチルト検出をこの記録媒体からの反射光を用いて行なう光ピックアップ装置及びこれに使用する記録媒体に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスクドライブ装置における光ピックアップ装置による記録媒体のチルト（傾斜）検出は一般的には「チルトセンサ」と呼ばれるモジュールを用いて行なわれている。
図１４は従来のチルトセンサの構成を示す概略図である。このチルトセンサは、光源（ＬＥＤ）２０と検出用の分割素子２１を、レンズ機能を兼ね備えたプラスチック材であるカバー２２で被覆したものである。
このチルトセンサにおいては、光源２０から発した発散光を、レンズ作用を兼ね備えたプラスチックカバー２２で略平行化し、被検体である光ディスク２３で反射させて、その反射光を再びプラスチックカバー（レンズ）２２を介して分割素子２１上に集光させる。
光ディスク２３にチルトがあると反射光の角度が変わり分割素子２１上でスポットが変位するので、分割素子２１のエレメント同士の差信号を取ることによりチルト信号を得ることができる。
図１５はチルトセンサにより生じるクロストークを説明する概略図である。図１６は記録媒体の回転角とチルトの関係をグラフで示す図である。上述したチルトセンサでは、そのサイズによる制約のため、本当に測りたい点、すなわち対物レンズ直近には配置できず、対物レンズから離れた点での測定になってしまう。
このため、図１５に示すように、半径位置によって検出方向の誤差によるクロストークが生じる。また光ディスクにＡＣ成分があると、図１６に示すように検出点（チルトセンサ位置）と制御点（ＯＬ（対物レンズ）位置）での誤差が生じる。また、「チルトセンサ」は１軸検出装置であるので、２軸検出しようとすると、センサを２個配置する必要があり、配置が難しくコストも高くなる。
これらを解決する手段としては対物レンズ近傍で、できれば対物レンズ透過光を利用したチルト検出が望まれる。このようなチルト検出の例として特許文献１が挙げられる（例えば、特許文献１参照）。
ディスク保護層の表面反射光でチルト検出を行なうメリットは主として３つある。第１は、測りたい点（対物レンズ位置）を測れる点ということである。第２は、光ピックアップ装置のビームをそのまま利用するのでチルト検出用に特別なビームや装置が必要ないことである。そして第３は、ディスク保護層の表面こそが、本当にチルトを測りたい面であるということである。
【０００３】
図１７は光ディスク（記録面）にチルトがある場合を説明する概略図である。図１８は光ディスク（記録面）にチルトがない場合を説明する概略図である。図１９は記録面にチルトがある場合のディスクからの反射光を示す概略図である。図２０は記録面にチルトがない場合のディスクからの反射光を示す概略図である。
光ディスク２３の記録面と保護層表面（透明基板の表面と裏面）が平行であれば、どちらで検出しても違いはないが、平行でない場合は検出値に違いが出る。図１７及び図１８に示すように収差に影響を及ぼすのは記録面のチルトではなく、保護層表面のチルトである。
また、両面が平行でない場合、記録面の反射光で検出すると、図１９及び図２０に示すように、光ディスク２３にチルトがないのにチルトがあるように検出されたり、測りたい値とは逆方向の検出値がでてしまったりする。現状の光ディスクシステムの必要チルト検出レベルでは大した問題ではないが、精密な検出を行なおうとすれば、これらの誤差は無視できなくなる。
これらのメリットを有する光ディスクの保護層表面でのチルト検出であるが、表面反射光の光量確保及び光ディスクの記録面からの反射光と保護層表面からの反射光の分離が難しい。
ディスクの保護層表面での反射光を用いてチルト検出することを開示している特許文献１には、大きくは２つの実施の形態が示されている。第１の実施の形態は往路光路中にホログラムレンズを入れて、ビームを中央部と周辺部に分け、その中央部は記録面上にスポットを結んで情報の記録再生に用い、周辺部は保護層の表面で反射させチルト検出に用いるものである。
特許文献１の第２の実施の形態は往路では光路を分離せず、ディスクの保護層表面の裏面反射光を用いてチルト検出するものであるが、受光面をディスクの記録面からの反射光の集光点近傍に設定しているためチルト検出光は発散拡大されており、受光光量はやはり弱いものとなってしまう。また、受光面を大きくしてたとえ受光量を多くしても、発散されたビーム径に対しチルトによる変位は微小であり、検出感度はきわめて低い。
【特許文献１】特開２００１−８４６２２公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、元々周辺光の光量が弱い上に、ディスクの保護層表面の反射率は低く、この実施の形態でチルト検出に必要な光量を確保することは極めて困難であるか、又は不可能に近い。
かかる不具合を解消するためには、ディスクの保護層表面からの反射光でチルトを検出することのメリットを生かしつつ、チルト検出光量及び検出感度を確保して、チルト検出を行なうことが必要である。
そこで、本発明の目的は、往路では光路分離せず、記録媒体の保護層表面からの反射光を二分し、その一方で記録面からの反射ビームにより記録情報信号及び記録面スポットの位置制御信号を検出し、もう一方のビームの記録媒体の記録層表面からのビームの集光点近傍に配置した受光素子によりチルト検出を行なう光ピックアップ装置、これに使用する記録媒体、及びこれらを搭載する光ディスクドライブ装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記の課題を解決するために、請求項１に記載の発明は、半導体レーザ光源、対物レンズを含む照明系と、集光機能素子を含む検出系を備え、前記照明系からのビームを記録媒体にて反射させた反射ビームを前記検出系に導く光ピックアップ装置において、前記反射ビームを記録媒体の記録面にて反射した反射光と前記記録媒体の保護層表面での反射光とに二分し、記録面からの反射光からスポット位置制御信号及び情報信号を得ると共に、前記保護層表面からの反射光の集光点近傍に配した受光素子により前記記録媒体のチルトを検出することを特徴とする。
請求項２の発明は、照明系と、第１及び第２の検出系を含んでいる光ピックアップ装置において、前記照明系は第１の波長を有する第１の光源、前記第１の波長とは異なる第２の波長を有する第２の光源、ダイクロイックプリズム、及び対物レンズを含み、前記第１の検出系は第１の波長の記録媒体の記録面からの反射光によりスポット位置制御信号及び情報信号を得る構成であり、そして前記第２の検出系は第２の波長の前記記録媒体の保護層表面からの反射光の集光点近傍に配した受光素子により前記記録媒体のチルト信号を得る構成であることを特徴とする。
請求項３の発明は、照明系と、第１及び第２の検出系を含んでいる光ピックアップ装置において、前記照明系は第１の波長を有する第１の光源、前記第１の波長とは異なる第２の波長を有する第２の光源、ダイクロイックプリズム、及び対物レンズを含み、前記第１の検出系は前記第１の波長の記録媒体の記録面からの反射光により前記第１の波長に係わるスポット位置制御信号及び情報信号を得る構成であり、前記第２の波長の反射光を前記記録媒体の記録面からの反射光と前記記録媒体の保護層表面での反射光を含むビームとに二分し、記録面からの反射光で前記第２の波長に係わるスポット位置制御信号及び情報信号を得ると共に、保護層表面からの反射光の集光点近傍に配した受光素子により前記記録媒体のチルトを検出することを特徴とする。
また、請求項４に記載の発明は、請求項１記載の光ピックアップ装置で使用するために、前記記録媒体はその保護層表面に反射率調整膜を施している記録媒体を特徴とする。
また、請求項５に記載の発明は、請求項２記載の光ピックアップ装置で使用するために、その表面に前記第１の波長を透過し、前記第２の波長を反射するダイクロイック膜を構成する記録媒体を特徴とする。
また、請求項６に記載の発明は、請求項３記載の光ピックアップ装置で使用するために、その表面に前記第１の波長を透過し、前記第２の波長の反射率を調整する反射率調整膜を施す記録媒体を特徴とする。
また、請求項７に記載の発明は、請求項１乃至３のいずれか一項記載の光ピックアップ装置を搭載する光ディスクドライブ装置を特徴とする。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、光ディスクのチルト検出は記録媒体の保護層表面での反射光を用いて行なわれるので、特別な部品等のないチルト検出系が構成され、光量損失のないチルト検出機能付き光ピックアップが構成でき、また、保護層表面反射光の集光点近傍に受光素子を配置できるので、記録面の反射光の影響が小さく、感度の高いチルト検出系が構成され得る。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態を詳細に説明する。図１は本発明による光ピックアップ装置の最も基本的かつ原理的な構成の実施の形態を示す概略図である。図１の光ピックアップ装置Ａにおいて、半導体レーザ光源（ＬＤ）１から発したレーザ光はカップリングレンズ（ＣＬ）２で平行化される。
平行化されたビームは偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）３を透過し、偏向ミラー（ＤＭ）１１を介してλ／４板（ＱＷＰ）４で円偏光化される。次いで、ビームは対物レンズ（ＯＬ）５で集光され、記録媒体（ディスク）６の記録面６ａ上に微小なスポットを結ぶ。この時、ビームは記録媒体６の保護層表面６ｂで若干量（５％程度）反射される（図では破線で示してある）。
記録面６ａで反射したビーム（反射光）はスポット位置制御信号、及び情報信号を得るために使用される。保護層表面６ｂで反射したビーム（反射光）は、受光素子に受光されることにより記録媒体のチルトを検出するために使用される。
即ち、記録面６ａで反射されたビームと保護層表面６ｂで反射したビームは再び対物レンズ５を通り、記録面６ａでの反射光は平行光に、保護層表面６ｂでの反射光は発散光になる。両ビームは偏向ミラー（ＤＭ）１１を介してλ／４板４で往路とは直交する直線偏光となり、偏光ビームスプリッタ３で反射されて検出系（ＰＵ）７に入る。
検出系７ではビームスプリッタ（ＢＳ）８により二分され、一方は通常の光ピックアップの検出系に導かれ、一方がチルト検出系に導かれる。通常の光ピックアップ検出系は新規性のあるものではなく、一般に行われている検出方式が適用されるので、図では単に「ＰＵ検出系」としてある。
【０００８】
チルト検出系では保護層表面６ｂからの反射光が集光レンズ（ＤＬ）１０により集光されて、この集光点近傍にチルト検出用の受光素子（ＰＤ）９が配置される。受光素子９はチルトの検出方向によって１軸検出ならば２分割の素子が、２軸検出ならば４分割素子が用いられる。
分割素子の代わりに無分割の位置検出素子（ＰＳＤあるいは２次元ＰＳＤ）を用いてもよい。このチルト検出系には記録面６ａからの反射光も入ってくるが、これは受光素子９よりはるか手前で集光し、受光面では拡散されて大きな径になってしまっているため、チルト検出には影響しない。
逆に言えば、記録面６ａからの反射ビームの影響のない位置に受光素子９を配置することによりチルト検出が行なわれる。その意味では受光素子９の位置は必ずしも保護層表面６ｂの反射光の集光点近傍である必要はないが、集光点近傍の方が検出感度は高い。
分割素子を用いた場合、感度が高すぎて制御がしにくいこともある。その場合には、受光位置を適当にずらして適当な感度になる位置に受光素子９を置けばよい。
【０００９】
次に作用について説明する。但し、記録面６ａの反射光の方は通常の光ピックアップとなんら変わることがないので、チルト検出に絡むところだけを説明する。記録媒体６（の保護層表面６ｂ）にチルト（傾斜）があると、保護層表面６ｂからの反射ビームは光軸に対する対称性を失い、その結果、後述の図１１および図１２に示すように光軸から一方向に片寄った位置から発光したようなビームになる。
これを対物レンズ５及び集光レンズ１０を通して集光させると光軸から片寄った位置に集光するので、これを分割素子の差信号あるいはＰＳＤの位置信号として捕らえることにより、チルト誤差信号が得られる。
当然ながら、この信号はチルト補正手段（図示せず）に送られて、チルト補正制御が行なわれる。補正手段はまた様々なものが考えられるが、通常の補正手段でよいのでここでは言及しない。
このようなチルト検出系を備えた光ピックアップ装置Ａの構成は種々考えられるが、チルト検出ということに限ると、本方式の最大の問題は検出光量の確保である。
保護層表面６ｂでの反射率が５％程度であっても検出はできるが、受光素子９自体の感度を考えると受光量は多いほうが安定した信号を得やすい。かかる観点から、幾つかの改良変形例を挙げる。
図１から明らかなように、保護層表面６ｂでの反射光は対物レンズ５でけられることはない。対物レンズ５を通った後拡散光になるため、光量損失を少なくするためにはできるだけ対物レンズ５に近い位置に集光レンズ１０を置いて拡散を押えてしまえばよい。
図２は本発明による光ピックアップ装置の、検出系の最初に集光レンズを置いた変形例を示す概略図である。図３は本発明による光ピックアップ装置の、半導体レーザ光源とＰＵ検出系が一体化されたホログラムユニットを用いた変形例を示す概略図である。
図２及び図３の説明において、図１に関連して説明した部分と同一部分には同一符号及び同一番号を付して、必要な部分以外の説明は省略している。図２では、光ピックアップ装置Ａの、検出系の最初に集光レンズを置いている。この集光レンズ１０はＰＵ検出系７のレンズを兼ねている。
図３ではチルト検出系は同じであるが、半導体レーザ光源とＰＵ検出系が一体化されたホログラムユニット（ＨＯＥ）１３を用いたもので、構成はさらに簡略化される。
但し、この場合、図１のように、偏光ビームスプリッタ３とλ／４板４でアイソレート光学系を構成してしまうとチルト検出系に光が行かなくなってしまうので、普通のビームスプリッタ８にするとか、往路の偏光方向を変えるとかの工夫が必要である。
【００１０】
図４は本発明による光ピックアップ装置の、さらに手前の往路復路の共通領域にカップリングレンズを配した変形例を示す概略図である。図５は本発明による光ピックアップ装置の、チルト検出系までもホログラムユニットに組み込む変形例を示す概略図である。図６は本発明による光ピックアップ装置の、カップリングレンズも取ってしまった変形例を示す概略図である。
図４乃至図６を参照して行なう以下の説明では、図１に関連して説明した部分と同一部分には同一符号及び同一番号を付して、必要な部分以外の説明は省略する。
図４では、図１乃至図３の光ピックアップ装置Ａにおけるよりもさらに手前の往路復路の共通領域にカップリングレンズ２を配したもので、カップリングレンズ２は復路における集光レンズを兼ねている。ホログラムユニット１３は本発明による光ピックアップ装置の、チルト検出系までも組み込んでいる。
図５では、図４と同様に、チルト検出系までもホログラムユニット（ＨＯＥ）１４に組み込んでいる例である。通常のホログラムユニットの外側に記録媒体６の保護層表面６ｂの反射光を集光させるホログラムパターンを配してチルト検出まで含めたホログラムユニット１４が構成される。この場合、ビームスプリッタは不要であるので光量損失は少ない。
図６では、カップリングレンズ２も取ってしまった場合で、構成的には最も簡易な構成である。上述した改良変形例の実施の形態は単なる１例であり、バルクタイプ、ホログラムユニットタイプを組み合わせて多くの構成が考えられる。図４乃至図６の説明では、図１に関連して説明した部分と同一部分には同一符号及び同一番号を付して、必要な部分以外の説明は省略している。
以上のような様々な構成上の工夫で光の損失は小さく押えられるが、記録媒体６の保護層表面６ｂの反射率そのものは通常の記録媒体６を用いる限りは対処することができない。但し、記録再生スポットの光量に余裕があるようならば、保護層表面６ｂに増反射膜コートを施すことにより、検出光量の調整ができる。
【００１１】
図７は本発明による光ピックアップ装置の第２の実施の形態を示す概略図である。図８は図７の第２の実施の形態の変形例を示す概略図である。図７及び図８では、通常の光ピックアップ系とチルト検出系で波長を変えている。
通常の光ピックアップ系に対し、波長の異なるチルト検出用ビームをダイクロイックプリズム（ＤＣＰ）１２により合成し、記録媒体６の保護層表面６ｂでの反射光を再びダイクロイックプリズム１２で分離して、その集光点近傍に配した受光素子９によりチルトを検出する。
ダイクロイックプリズム１２により両系は簡単に分離できるので、光路分離による光量損失を気にすることなく光ピックアップ装置を構成できる。第１の実施の形態の場合と同様に光路の共通化、ホログラムユニット化等の多くの変形例が考えられる。
図７では最も基本的かつ原理的な構成例を、そして図８では最も簡易な構成例を示している。記録媒体６の保護層表面６ｂにダイクロイック膜を構成すれば、チルト検出用の光量を大幅に増大できる。図８において、ホログラムユニット１５は半導体レーザ光源とＰＵ検出系が一体化されたホログラムユニット（ＨＯＥ）であり、ホログラムユニット１６はチルト検出系を組み込んでいるホログラムユニット（ＨＯＥ）である。
このように、保護層表面６ｂに必要に応じて増反射膜、ダイクロイック膜を塗布することにより、保護層表面６ｂの反射光によるチルト検出系の光量を増すことができる。図７及び図８の説明では、図１に関連して説明した部分と同一部分には同一符号、同一番号及び’付きの同一番号を付して、必要な部分以外の説明は省略している。
【００１２】
図９は本発明による光ピックアップ装置の第３の実施の形態を示す概略図である。図１０は図９の第３の実施の形態の変形例を示す概略図である。図９において、図１に関連して説明した部分と同一部分には同一符号、同一番号及び’付きの同一番号を付して、必要な部分以外の説明は省略している。図９及び図１０では、第１の実施の形態と第２の実施の形態とを組み合わせたものである。
第１の波長は光ピックアップ専用（チルト検出には用いない）とし、第２の波長は第１の実施の形態の構成をそのまま持ってきたものである。このように組み合わせることにより、多波長対応でチルト検出可能な光ピックアップ装置が構成できる。これにより、波長の異なるＣＤ、ＤＶＤに対応できる。
光量の余る波長をチルト検出にまわし、記録媒体６の保護層表面６ｂにこの波長の反射率調整膜を塗布すればチルト検出光量を十分に取れる多波長対応光ピックアップ装置が構成可能になる。図９及び図１０の説明では、図１に関連して説明した部分と同一部分には同一符号及び同一番号を付して、必要な部分以外の説明は省略している。
図１１は記録媒体にチルトがある場合を説明する概略図である。図１２は記録媒体にチルトがない場合を説明する概略図である。図１に関連して上述したように、記録媒体６（の保護層表面６ｂ）にチルトがあると、保護層表面６ｂからの反射ビームは光軸に対する対称性を失い、その結果、図１１に示すように光軸から一方向に片寄った位置から発光したようなビームになる。
図１１および図１２は対物レンズ（ＯＬ）５の集光点を記録媒体６の左側に伸ばした状態を示している。保護層表面６ｂにチルトがなければ、図１２に示すように、光軸からの位置ズレはない。
図１３は本発明の光ピックアップ装置を搭載したドライブのイメージ図である。光ピックアップ装置Ａは特別なチルト検出パーツあるいは装置を抱えていないため、通常のピックアップと同様な構成でチルト検出機能付きの光ディスクドライブ装置が構成される。
図１３の光ディスクドライブ装置には、本発明による記録媒体６、及び光ピックアップ装置Ａが示されている。この光ピックアップ装置を搭載することにより高密度対応ドライブ装置の構成が容易になる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明による光ピックアップ装置の最も基本的かつ原理的な構成の実施の形態を示す概略図。
【図２】本発明による光ピックアップ装置の、検出系の最初に集光レンズを置いた変形例を示す概略図。
【図３】本発明による光ピックアップ装置の、半導体レーザ光源とＰＵ検出系が一体化されたホログラムユニットを用いた変形例を示す概略図。
【図４】本発明による光ピックアップ装置の、さらに手前の往路復路の共通領域にカップリングレンズを配した変形例を示す概略図。
【図５】本発明による光ピックアップ装置の、チルト検出系までもホログラムユニットに組み込む変形例を示す概略図。
【図６】本発明による光ピックアップ装置の、カップリングレンズも取ってしまった変形例を示す概略図。
【図７】本発明による光ピックアップ装置の第２の実施の形態を示す概略図。
【図８】図７の第２の実施の形態の変形例を示す概略図。
【図９】本発明による光ピックアップ装置の第３の実施の形態を示す概略図。
【図１０】図９の第３の実施の形態の変形例を示す概略図。
【図１１】記録媒体にチルトがある場合を説明する概略図。
【図１２】記録媒体にチルトがない場合を説明する概略図。
【図１３】本発明の光ピックアップ装置を搭載したドライブのイメージ図。
【図１４】従来のチルトセンサの構成を示す概略図。
【図１５】チルトセンサにより生じるクロストークを説明する概略図。
【図１６】記録媒体の回転角とチルトの関係をグラフで示す図。
【図１７】ディスクにチルトがある場合を説明する概略図。
【図１８】ディスクにチルトがない場合を説明する概略図。
【図１９】チルトがある場合のディスクからの反射光を示す概略図。
【図２０】チルトがない場合のディスクからの反射光を示す概略図。
【符号の説明】
【００１４】
Ａ  光ピックアップ装置、Ｂ  光ディスクドライブ装置、１  照明系（半導体レーザ光源（第１の光源））、１’  照明系（半導体レーザ光源（第２の光源））、２  カップリングレンズ（ＣＬ）、３  集光機能素子（偏向ビームスプリッタ（ＰＢＳ））、４  集光機能素子（λ／４板（ＱＷＰ））、５  照明系（対物レンズ（ＯＬ））、６  記録媒体（ディスク）、６ａ  記録面、６ｂ  保護層表面、７  検出系（ＰＵ）、８  集光機能素子（ビームスプリッタ（ＢＳ））、９  受光素子（ＰＤ）、１０  集光機能素子（集光レンズ（ＤＬ））、１１  偏向ミラー（ＤＭ）、１２  ダイクロイックプリズム（ＤＣＰ）、１３  ホログラムユニット（ＨＯＥ）、１４  ホログラムユニット（ＨＯＥ）、１５  ホログラムユニット（ＨＯＥ）、１６  ホログラムユニット（ＨＯＥ）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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