(57)【要約】【課題】1次周波数が高い場合にも同期検波前にＡ/Ｄ変換を行い低コストで同期検波を行う同期検波方法および装置、磁気計測方法および装置を提供することを目的とする。【解決手段】検波となる信号をＡ／Ｄ変換したのち、デジタル信号処理により同期検波を行う同期検波方法において、前記Ａ／Ｄ変換する際のサンプリング周波数を、参照信号の周波数の２倍よりも小さく、かつ、同期検波後の信号の最高周波数の２倍以上とする。【選択図】図１
2007225303.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検波対象となる信号をＡ／Ｄ変換したのち、デジタル信号処理により同期検波を行う同期検波方法において、
前記Ａ／Ｄ変換する際のサンプリング周波数を、参照信号の周波数の２倍よりも小さく、かつ、同期検波後の信号の最高周波数の２倍以上、としたことを特徴とする同期検波方法。
【請求項２】
請求項１記載の同期検波方法を用いた磁気計測方法であって、
前記参照信号を交流励磁信号とし、前記検波対象となる信号を検出信号として、
同期検波することを特徴とする磁気計測方法。
【請求項３】
検波対象となる信号を入力とするＡ／Ｄ変換手段を備え、そのＡ／Ｄ変換手段から出力されるデジタル信号にもとづいて同期検波を行う同期検波装置において、
前記Ａ／Ｄ変換手段のサンプリング周波数を、参照信号の周波数の２倍よりも小さく、かつ、同期検波後の信号の最高周波数の２倍以上、に設定したことを特徴とする同期検波装置。
【請求項４】
請求項３記載の同期検波装置を備えた磁気計測装置であって、
前記参照信号を交流励磁信号とし、前記検波対象となる信号を検出信号とした
ことを特徴とする磁気計測装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、同期検波方法および装置、磁気計測方法および装置に関するものであり、特にデジタル信号処理で同期検波を行う同期検波方法および装置、磁気計測方法および装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
渦流計測方法、交流漏洩磁束探傷方法、交流磁気抵抗計測方法は、測定対象に外部より交流磁界を与え、その測定対象における応答を計測する計測手法である。ここで、測定対象の応答は、外部より与える交流磁界と同じ周波数の信号として得られるため、外部からの雑音信号の影響を受けずに測定対象の応答を検知するため、同期検波などの手法がとられる。
【０００３】
この同期検波は、非常に高速で、高精度の信号処理を行う必要があるため、これまでアナログ回路で構成された同期検波回路で行われることが一般的であった。
【０００４】
しかし、複数のセンサを同時に使用する必要のある渦流計測や交流漏洩磁束探傷、交流磁気計測方法を行うときなどは、この同期検波回路もセンサ数と同じ数だけ必要となる、ないしはセンサ数に比例して多く必要となるため、回路規模が大きくなる、コストが大きくなるなどの問題が生じていた。そして、デジタル信号によって同期検波を行う技術が特許文献１に開示されている。
【特許文献１】特開昭５９−９００４４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
特許文献１に開示されているような技術を適用した計測結果を、同期検波前にＡ/Ｄ変換を行い、同期検波をソフトウェア上で処理するという手法が考えられる。この手法を用いると、ソフトウェア上で処理可能であるため、簡易なプログラムにより、たとえばＰＣ上でも同期検波を実現可能となる。
【０００６】
しかしながら、この実現のためには、計測した信号をＡ/Ｄ変換でデジタル化する際にサンプリング周波数を十分に高くする必要がある。サンプリング定理によると、計測した信号の最高周波数（渦流計測、交流漏洩磁束探傷、交流磁気計測のような同期検波を行う計測の場合は、外部よりかけた1次信号（励磁信号）の周波数が計測した信号の主な周波数成分として現れることとなる。）の２倍より大きい周波数でサンプリングすることが望まれる。そのため、渦流計測、交流漏洩磁束探傷、交流磁気計測のような同期検波を行う計測において、特に1次信号の周波数が高い場合には、非常に高い周波数でのサンプリングが必要となる。
【０００７】
また、検出分解能については、2次信号（検出用センサにより検出された検出信号）における測定対象となる信号変化（例えば、欠陥による信号の強度変化）は、1次信号の信号変化と比較すると著しく小さく、広い測定レンジの中で高い分解能のA/D変換が必要となるため高いbit数のA/D変換装置が必要となる。
【０００８】
本発明者らは、鋼板における欠陥の渦流探傷測定を行い、この実現のために最低限必要なbit数が16bit程度であり、より望ましくは20bit程度以上であることを確認した。このような高いbit数のＡ/Ｄ変換を実現するには、通常ΣΔ変換方式を使用するが、この方式ではサンプル周波数を高くすることが困難である。逆に、サンプリング周波数の高いＡ/Ｄ変換を実現するには、いわゆるフラッシュタイプの変換方式が一般的であるが、各bit毎に変換素子を必要とすることからモジュール数が多くなるためbit数の多いＡ/Ｄ変換に適さない問題があった。このような事情から、高いbit数でかつ高速(数100kHz以上)なＡ/Ｄ変換を実現することは困難である。
【０００９】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、1次周波数が高い場合にも同期検波前にＡ/Ｄ変換を行い低コストで同期検波を行う同期検波方法および装置、磁気計測方法および装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の請求項１に係る発明は、検波となる信号をＡ／Ｄ変換したのち、デジタル信号処理により同期検波を行う同期検波方法において、前記Ａ／Ｄ変換する際のサンプリング周波数を、参照信号の周波数の２倍よりも小さく、かつ、同期検波後の信号の最高周波数の２倍以上、としたことを特徴とする同期検波方法である。
【００１１】
また本発明の請求項２に係る発明は、請求項１記載の同期検波方法を用いた磁気計測方法であって、前記参照信号を交流励磁信号とし、前記検波対象となる信号を検出信号として、同期検波することを特徴とする磁気計測方法である。
【００１２】
また本発明の請求項３に係る発明は、検波対象となる信号を入力とするＡ／Ｄ変換手段を備え、そのＡ／Ｄ変換手段から出力されるデジタル信号にもとづいて同期検波を行う同期検波装置において、前記Ａ／Ｄ変換手段のサンプリング周波数を、参照信号の周波数の２倍よりも小さく、かつ、同期検波後の信号の最高周波数の２倍以上、に設定したことを特徴とする同期検波装置である。
【００１３】
さらに本発明の請求項４に係る発明は、請求項３記載の同期検波装置を備えた磁気計測装置であって、前記参照信号を交流励磁信号とし、前記検波対象となる信号を検出信号としたことを特徴とする磁気計測装置である。
【００１４】
なお、上記請求項における「同期検波後の信号の最高周波数」とは、ライン速度と検出対象サイズ（例えば、欠陥の大きさ）とから予め計算して求められる強度変化信号の周波数で最高の値である。例えば、検出対象が小さいほど、ライン速度が速いほど、最高周波数は高くなる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明は、参照信号である励磁信号の励磁周波数が高い場合にも励磁周波数の2倍より低く、かつ同期検波後の信号の最高周波数の2倍以上の周波数で、Ａ/Ｄ変換を同期検波前に行うようにしたので、低コストで同期検波することができ、さらには、渦流計測や交流漏洩磁束探傷、交流磁気抵抗計測などの交流磁気計測も行うことが可能となった。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下では、同期検波方法および交流磁気を用いた計測方法の1例として鋼板の渦流探傷およびその同期検波に適用した例を示すものとする。図１は、本発明を実施するための最良の形態としての装置構成例を示す図である。図中、1は鋼板、2は欠陥、3は交流電源、4は励磁コイル、5は検出コイル、6は鉄芯、７は増幅器、8a,8bはA/D変換器、9は信号処理装置、10は同期検波処理部、および11は欠陥判定部をそれぞれ表す。
【００１７】
鋼板１には、欠陥２が存在している。励磁コイル4には、交流電源3から交流電流（励磁信号）が周波数ｆａで供給される。励磁コイルにおいては、交流電流により交流磁束が発生する。鋼板1には電磁誘導現象により渦電流が発生する。この渦電流により発生する磁束を、やはり電磁誘導現象により検出コイル5で検出している。ここで、欠陥2が鋼板1に存在すると、欠陥2により鋼板1に発生する渦電流に変化が生じる。欠陥が存在することで生じる渦電流の健全部に対する変化を、検出コイル5において検出することで欠陥検出が可能となる。
【００１８】
ここで、検出コイル5において検出された検出信号は、増幅器7で信号増幅され、A/D変換器８aで交流電源3から励磁コイル4に与えられる励磁信号の周波数ｆａの1/2より小さい周波数ｆｓ（ｆｓ＜（ｆａ／２））で、サンプリングされデジタル信号に変換される。同様に、励磁信号もA/D変換器8bでA/D変換されデジタル信号に変換される。この2つのデジタル信号は、9の信号処理装置に送られ、同期検波処理部10では、検出コイル５において検出された検出信号を2次信号とし、励磁信号を1次信号として同期検波される(位相は外れていてもかまわない)。このようにして、得られた同期検波後の信号には、欠陥が鋼板に存在する場合には、欠陥の大きさに応じた信号が得られる。この信号は、欠陥判定器9に送られ、決められた出力以上の信号を欠陥として判定する。ここで、同期検波後の信号は、同期検波後にLPF（ロー・パス・フィルター）等をいれて不要な高周波成分を除いた信号である。
【００１９】
サンプリング定理によると、Ａ／Ｄ変換前の検出信号に含まれる最大周波数をfmaxとすると、その周波数の情報を保存するには、サンプリング周波数fsはfs>2×fmaxが必要とされる。上記の例で示した渦流探傷では、(通常は正弦波で与えられる)励磁信号と同じ周波数成分の信号が検出信号で得られる。ここで渦流探傷によって得られる検出信号およびサンプリング周波数の違いを模式的に表したものを、図2に示す。図2(A)では、渦流探傷の励磁信号の周波数fa=3kHzに、欠陥による信号の変化0.125kHzの信号が加わっている。ただし、欠陥は図2の時間軸3msecのところに存在する。通常の渦流探傷では、この信号と元の励磁信号との同期検波をアナログ回路により行い、その結果にフィルタリングを行うことで、欠陥信号の成分のみを強調している。
【００２０】
ここでは、この図2の信号を同期検波前にA/D変換し、デジタル信号処理によって同期検波する場合を考える。この場合、サンプリング定理によると、fmaxの2倍より大きいサンプリング周波数が必要となることから、励磁信号の周波数fa=3kHzの2倍以上のサンプリング周波数が必要となる。実際にこの図2の信号に含まれる最大周波数である励磁信号の周波数3kHzのちょうど2倍である6kHzでサンプリングを行ったものが、図2(B)の破線で示したものである。図から分かるように、対象が正弦波である場合は、正弦波の2倍でサンプリングを行うと、同じ位相成分のみをサンプリングするため元の信号を再現できない。図2(C)は、最大周波数の(2倍より大きい)4倍である12kHzでサンプリングを行った例（破線）であるが、ひとつの正弦波状の波に対して4点のサンプリング点を取ることができ、正弦波の信号を再現できている。このように2倍より大きい周波数で元の信号を再現可能である。通常は、最大周波数の4ないしは5倍以上(10倍以上がより望ましい)の周波数でサンプリングを行って、ひとつの正弦波状の波に対して4ないし5点のサンプリング点をとる(10点以上がより望ましい)ことが一般的である。
【００２１】
渦流探傷の場合、励磁信号の周波数である励磁周波数は渦電流の浸透深さによって決定されるが、浸透深さを浅くしたい場合には、励磁周波数を高くする必要が生じる。鋼板などの渦流探傷では、数百kHzの励磁周波数を用いることがある。このような事情により、励磁周波数を高くする場合があるが、先に述べたようにサンプリング周波数を励磁周波数の10倍程度とすると、例えば励磁周波数が数百kHzの場合には、数MHzのサンプリング周波数が必要となり、そのようなA/D変換を実現することは非常に困難となってくる。
【００２２】
図3は、そのような、数百kHzと高い周波数での励磁を行う渦流探傷の検出信号を模式的に示した図である。高い周波数での励磁は、A/D変換は困難となる一方で、欠陥信号の周波数と比較すると、励磁周波数は、例えば、100倍程度から100000倍程度の非常に高い周波数となっていることがある。例えば図3の例では、励磁信号の周期が数μsec(周波数は数百kHz〜1MHz)に対して、欠陥信号の周期（欠陥により信号強度が変化する時間範囲）は数msec(周波数は数百Hz〜1kHz)であり、1000倍程度の非常に高い周波数の励磁周波数となっている。
【００２３】
例えば鉄鋼ラインなどでは、測定対象とセンサの相対速度が数m/sec〜40m/sec、欠陥信号の空間的な広がり（欠陥により磁場が乱されて変化する領域であり、必ずしも欠陥サイズと同じではない）が数1mm〜数10mm程度である。この場合の欠陥信号の周波数(以下、欠陥周波数と呼称する)は、数10kHz〜数10Hz程度となる。例えば、欠陥励磁周波数を数100KHz以上とした場合には、この欠陥周波数（数10kHz〜数10Hz程度）に対して励磁周波数が高い値となっている。特に、欠陥信号の周波数が数kHz以下で、励磁周波数が数100kHz以上の場合は、欠陥周波数に対して著しく励磁周波数が高い値となる。このように、欠陥周波数より励磁周波数が(著しく)高い場合（浸透深さを浅くしたい場合）には、欠陥信号の変化は、元となる励磁信号の変化に比べて(著しく)遅くなるので、励磁信号情報が冗長となっている。
【００２４】
また、このような探傷の例では測定対象からの信号(欠陥信号)は、通常周期的でないとという特徴もある。デジタルオシロスコープなどに見られる等価サンプリングの技術は、サンプリング周波数を信号の周波数より遅くすると言う点では、類似点が見られる。しかし、デジタルオシロスコープでは、測定対象の信号に周期性があり、その周期性を利用してサンプリングした信号を再現している。本発明が扱う測定対象の信号には周期性はなく、測定対象の信号が同期検波する信号と比較して遅いことを利用している点がデジタルオシロスコープの技術と異なっている。
【００２５】
同期検波を行う際には、1次信号である励磁信号と2次信号である検出信号を同期させて信号処理を行うが、このとき、2次信号は、1次信号である励磁信号に、欠陥信号が加わっている状態である。このとき、励磁信号と欠陥信号の周波数が大きく異なるので、そのことを利用し、励磁信号に相当する信号成分のみをエリアシングを起こさせ、欠陥信号に相当する信号成分はエリアシングを起こさないような周波数で2次信号のサンプリングを行えば、2次信号に含まれる欠陥信号成分には影響を与えず、かつ、2次信号に含まれる励磁信号成分を擬似的に下げることができる。これによって、高周波成分は除いた低周波成分とすることができ、2次信号を間引いて信号処理することと同等の効果が得られる。また、この処理により同期検波処理も容易となる。
【００２６】
そのため、A/D変換でのサンプリング周波数を励磁周波数の2倍より小さい値でも、適当な値を選べば、検出信号(欠陥信号)の情報を損なうことなくデジタル信号に変換でき、従来と同レベルの渦流探傷を実現できる。ここで、最終的に得たい情報を損なわないようにするには、検出目的、計測目的となる対象が示す信号変化最大周波数の2倍以上のサンプリング周波数が最低限必要であり、より正確に情報を得るには、最大周波数の5倍以上サンプリング周波数が望ましく、さらには10倍以上のサンプリング周波数がより望ましい。
【００２７】
図4a,bは、高い周波数(1MHz)の信号（元の正弦波信号）に対して、低いサンプリング速度(900kHz、480kHz)でサンプリングを実施した例である。図4a,bで、元の正弦波信号は実線、サンプリング点を丸、サンプリング点を破線で結んでいる。破線で結んだ曲線がエリアシングにより元の正弦波より低い周波数の正弦波を構成していることが図から分る。
【００２８】
このように、励磁周波数より低い周波数でサンプリングを行っても、エリアシングによりfb=fa-fs×n(nは正の整数でfbが正で最小となる値,faは励磁周波数,fsはサンプリング周波数)を周波数とする正弦波が得られる。このようにしてデジタル化して得られたデジタル化検出信号を、以下に示す参照信号と同期検波する。参照信号は、励磁信号を検出信号と同じサンプリング周期でA/D変換したデジタル信号、ないしは(正弦波発振器、ファンクションジェネレータ等により作られた)fbと同じ周期の正弦波と同期検波することにより、欠陥情報を損なうことなくこれまでと同様の渦流探傷が可能となっている。また、このとき同期検波する信号の周波数を下げることが可能となっており、同期検波の信号処理も容易となっている。
【００２９】
次に、サンプリング周波数fsの選び方を、以下に式と図を参照しながら説明する。先ず、以下に示す関係式をとるものとする。
fb= fa-(fs×n)  (nは正の整数でfbが正で最小となる値)・・・・・（１） 
Ta=1/fa Ts=1/fs Tb=1/fb              ・・・・・・（２）
また、位相角αを、以下とする。
α=Tｓ/Ｔｂ*360              ・・・・・・（３）
nは、サンプリング時に、次のサンプリング点が元の正弦波でn番目の波上にあるということを意味し、αは、サンプリング周期を、エリアシングにより形成される正弦波(以後の記述において、これをエリアシング波形と呼称することがある)における位相で表現したものに相当している。
【００３０】
図5は、サンプリング周波数を変えて位相角αを変えた場合のエリアシングにより形成される正弦波とサンプリングの状態を示す図である。この図によると、サンプリング周波数をかえると、エリアシングにより形成される正弦波の周波数も先にあげた式に従い変化することもあわせて見て取れる。図5(a)のようにサンプリング周波数を変えて0<α≦120となる値を選べば(α=101)、1つの正弦波の波に対して4つ以上のサンプリング点をとることができ、正弦波情報の一部は欠落しているものの、エリアシング波形の周波数(=220ｋＨｚ)等の情報は得ることができ、周期信号であることも確認可能である。図5(b) のように0<α≦72となる値を選べば(α=72)、1つの正弦波の波に対して5つ以上のサンプリング点をとることができ、正弦波の情報をより多く得ることができる。
【００３１】
図5(c)のように0<α≦50となる値を選べば(α=50)、より多くのサンプリング点を取ることが可能となり、正弦波情報の大部分を得ることが可能となり、サンプリングにより再現されたエリアシング波形も正弦波であることを見て取れる状態となる。0<α≦36となる値を選べば(α=36)、1つの正弦波の波に対して10以上のサンプリング点をとることができさらに多くの正弦波の情報を得ることができる(図5(d))。
【００３２】
正弦波の情報をより正確に表すにはθが小さくなる方がよりよいが、実際には図5で見て取れるように0<α≦120となる値を選ぶことで周期信号であることが確認できることから渦流計測、漏洩磁束探傷が可能となり、0<α≦72となる値をえらぶことで精度良く渦流計測、漏洩磁束探傷が可能となり、0<α≦50となる値を選ぶことで高精度で渦流計測、漏洩磁束探傷が可能となり、0<α≦50となる値を選ぶことで非常に高精度の渦流計測、漏洩磁束探傷が可能となる。αは小さければ小さくなるほうが高精度になるが、その一方でサンプリング点数が多くなる。サンプリング点数が多くなると信号処理量が多くなることから、サンプリング点が７から10程度となるαの値を選ぶことが適当である。
【００３３】
図5(e)は、α=45となるサンプリング周波数を選んだものであるが、このようにα=360/ｍ(ｍ=1,2,3・・)となるようなサンプリング周波数を選ぶとエリアシング波形のピーク点をサンプリング点にとることができる。正弦波のピーク点は、最大点(ないしは最小点)かつ傾きが0となる点であり、重要な情報をもつが、α=360/ｍ(ｍ=1,2,3・・)となるようなサンプリング周波数を選ぶことで、ピーク点の情報を得ることが可能となり、渦流計測、漏洩磁束探傷の精度を上げることができる。
【００３４】
また、渦流探傷においては検出信号の励磁信号に対する位相差の情報が重要であるので、以下に説明する。
【００３５】
図6は、図4の波形を時間軸方向に拡大したものである。図中のtaを用いるとサンプリング点Xの元の正弦波における位相角はθa=ta/Ta（Taは元の正弦波の周期）となる。また、図中のtbを用いてサンプリング点Xのエリアシング現象により形成される正弦波における位相角θbを表すとθb＝tb/Tb（Tbはエリアシング現象により形成される正弦波の周期）となる。このとき、それぞれの波形での位相角は一致しθa=θbとなる。そのため、元の正弦波における位相変化はエリアシングによって形成される正弦波の位相の変化として現れる。よって、サンプリング点数を十分確保し、元の正弦波の情報を正確に残しておけば、励磁周波数より低い周波数でサンプリングを行っても、渦流探傷の検出信号の位相差情報を得ることが可能である。(サンプリング点数が少なすぎると、正弦波の情報が十分残っていないため位相差の情報も十分でなくなる)。
【００３６】
図7に、位相差をかえたサンプリング例を示す。図7(a)は、デジタル化検出信号（破線で示す）の位相と励磁信号（実線で示す）の位相差が0度の場合であり、図7(b)は、検出信号の位相と励磁信号の位相差が90度の場合である。図7(a)、(b)で実線、破線のそれぞれの正弦波の位相差が90度であることが分かる。よって、励磁信号を検出信号と同じサンプリング周期でサンプリングを行い、その信号を参照信号として検出信号のサンプリングされた波形との同期検波を行うことで、励磁信号と検出信号の位相差と同じ位相差を得ることができる。
【００３７】
また、上記では励磁信号を検出信号と同じサンプリング周期でサンプリングを行い参照信号を形成したが、検出信号をサンプリングして形成される正弦波と同じ周期の周期波を参照信号として用いれば、励磁信号と検出信号の位相差の相対的な変化を認識することが可能であり、同じ効果が得られる。ここでいう、サンプリングして形成される正弦波と同じ周期の周期波は励磁信号を検出信号と異なるサンプリング周期でサンプリングし、その後、データを間引くなどの信号処理で周波数を変更して得られるものでもかまわないし、デジタル的にソフトウェア上で規定の周期波を発生させてもかまわないし、別に設けた信号発生装置から信号を発生させA/D変換する方法でもかまわない。また、周期波であれば正弦波を用いなくてもかまわない。
【００３８】
また、上記では励磁信号を検出信号と同じサンプリング周期でサンプリングを行い参照信号を形成する場合には、励磁信号のサンプリングと、検出信号のサンプリングにおいて同期させてサンプリングを行うと位相の情報が保存されやすくよりよい。これは、本発明のサンプリング方式において、もともともっていた位相情報を保存することができる例を示している。
【００３９】
また、図8は、補間の効果を表す図である。元の正弦波(実線)の信号周波数=1MHz、サンプリング周波数=780kHzの時の波形(破線)と、以下の（４）式により、補間した波形(一点鎖線)である。
【００４０】
【数１】
2007225303.tif 000003
【００４１】
ただし、x(nΔt)はサンプリングして得られた信号を示す。図8の破線にて示したサンプリングは、先に図5(a)で示したものと同じ周波数の波形を同じサンプリング周波数でサンプリングしたものであり、エリアシング波形を見る限り、サンプリング点数としては必ずしも十分ではないが、正弦波であることが見て取れる波形となっている。上式のような補間(同等の他の補間式(最小自乗補間、スプライン補間等)を用いてもかまわない)により、エリアシング波形として正弦波の情報を得ることができ、サンプリング点数を増やしたものと同等の効果が得られる。
【００４２】
このように、補間することで、補間なしで同期検波を行う場合と比較して同期検波の信号処理における計算量は増えることとなるが、サンプリング(A/D変換)は容易な状態で精度の高い計測が可能となる効果が得られる。これは、サンプリング点数が少なくても補間によって必要な正弦波を再構成することができる例を示している。
【００４３】
なお、この例では同期検波を用いた渦流計測方法の一例である渦流探傷方法について示したが、距離測定などの他の渦流計測方法に用いても同様の効果が得られるし、同期検波において同様の処理をおこなっている交流漏洩磁束探傷方法、交流磁気抵抗計測方法に適用しても同様の効果が得られる。
【００４４】
また、渦流探傷方法の中でも、相互誘導型のコイルによる単一コイル方式を用いたものであるが、自己誘導型のコイルを用いたものでもかまわないし、コイル方式も自己比較方式、標準比較方式のいずれの方式を用いてもかまわないのは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】本発明を実施するための最良の形態としての装置構成例を示す図である。
【図２】渦流探傷によって得られる検出信号およびサンプリング周波数の違いを模式的に表した図である。
【図３】高い周波数での励磁を行う渦流探傷の検出信号を模式的に示した図である。
【図４】高い周波数(1MHz)の信号に対して、低いサンプリング速度(900kHz、480kHz)でサンプリングを実施した例を示す図である。
【図５】サンプリング周波数を変えて位相角αを変えた場合のエリアシングにより形成される正弦波とサンプリングの状態を示す図である。
【図６】図4の波形を時間軸方向に拡大したものである。
【図７】位相差をかえたサンプリング例を示す図である。
【図８】補間の効果を表す図である。
【符号の説明】
【００４６】
１          鋼板
２          欠陥
３          交流電源
４          励磁コイル
５          検出コイル
６          鉄芯
７          増幅器
８a、８b      A/D変換器
９          信号処理装置
１０        同期検波処理部
１１        欠陥判定部
ａ        励磁信号
ｂ        参照信号、１次信号
ｃ        検出信号、２次信号、検波対象となる信号
ｄ        デジタル化参照信号
ｅ        デジタル化検出信号
ｆ        同期検波後の信号
【図１】
2007225303.tif 000004
【図２】
2007225303.tif 000005
【図３】
2007225303.tif 000006
【図４】
2007225303.tif 000007
【図５】
2007225303.tif 000008
【図６】
2007225303.tif 000009
【図７】
2007225303.tif 000010
【図８】
2007225303.tif 000011