(57)【要約】【課題】例えば使用するアプリケーションが多岐に亘った場合であっても、操作者が行った操作面への接触操作を検出する際に、誤検出を発生し難くすることができる静電容量センサを提供する。【解決手段】内部抵抗制御部１３がテストモードになった際、この時の出力電圧ＶOUTと、メイン制御部１２でタッチ操作有無判定の際に用いる閾値とを比較し、出力電圧ＶOUTが閾値を下回っているか否かを判定する。出力電圧ＶOUTが閾値を下回っていないと、タッチ操作されてもその操作を検出できないため、内部抵抗制御部１３は内部抵抗７の抵抗値Ｒを変化させて、出力電圧ＶOUTが閾値を下回る際の内部抵抗７の抵抗値Ｒを導出する。内部抵抗制御部１３は、その抵抗値Ｒのコードを内部抵抗コードレジスタ１８に書き込み、タッチ操作の有無を判定する際には、内部抵抗７の抵抗値Ｒを、このレジスタ１８に書き込まれたコードの抵抗値に設定する。【選択図】図１
2007110538.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
操作者が接触操作する操作面に設けられた電極と、
発振回路に接続された電圧調整用の内部抵抗と、
前記電極に前記内部抵抗を介して電圧を印加することで発生するとともに、前記電極に人体が触れた際には前記電極及び人体の間で生じる静電容量の値によって電圧値が変化する電極電圧に関して、当該電極電圧に関与するパラメータを調整し、当該電極電圧を変化させることで出力電圧の値を変化させる調整手段と
を備えたことを特徴とする静電容量センサ。
【請求項２】
前記パラメータは、センサ内部にある前記内部抵抗の抵抗値であり、前記調整手段は、前記内部抵抗の抵抗値を変えることで前記電極電圧の値を変化させることを特徴とする請求項１に記載の静電容量センサ。
【請求項３】
前記調整手段は、前記出力電圧を取り込んでその値が接触操作有無の判定基準となる閾値を超えるか否かを判定し、当該閾値を超えない場合には前記パラメータを異なる値に変更して前記出力電圧を変化させる処理を、当該出力電圧が前記閾値を超えるまで繰り返し行い、前記出力電圧が前記閾値を超えた際の前記パラメータを使用パラメータとして設定することを特徴とする請求項１又は２に記載の静電容量センサ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、操作者による操作面への接触操作を、操作面に埋め込んだ電極と操作者の人体との間に生じる静電容量の変化で検出する静電容量センサに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、コンデンサの静電容量変化から操作者のタッチ操作を検出する静電容量センサが広く使用され、この種の技術が例えば特許文献１に開示されている。図４に静電容量センサ５１の一例を示すと、タッチ操作時において操作者が指等で触れる操作面５２には、コンデンサ電極として機能するセンサ電極５３が埋設されている。操作者が操作面５２に触れた際には、その操作面５２に埋設されたセンサ電極５３と操作者の人体との間のタッチ静電容量（コンデンサ容量）Ｃが変化する。
【０００３】
センサ電極５３には、タッチ静電容量Ｃの変化を直流波形の電圧信号で出力する静電容量検出回路５４が接続されている。操作者がセンサ電極５３をタッチ操作した際には、その接触状態に応じてタッチ静電容量Ｃが変化するため、静電容量検出回路５４の入力端子５４ａに発生する電圧（即ち、電極電圧ＶＣ）が、その静電容量変化に応じて変化する。静電容量検出回路５４は、タッチ静電容量Ｃつまり電極電圧ＶＣに応じた出力電圧ＶOUTを、自身の出力端子５４ｂから直流電圧で出力する。
【０００４】
ここで、操作者がセンサ電極５３をタッチ操作した際において、タッチ静電容量Ｃの変化によって電極電圧ＶＣが低下するのであれば、この電極電圧ＶＣの値によって決まる静電容量検出回路５４の出力電圧ＶOUTの直流電圧も同様に低下する。よって、静電容量検出回路５４の出力電圧ＶOUTを常時監視し、この出力電圧ＶOUTが所定の閾値を下回ったことを検出すればタッチ操作が行われたと判定する処理によって、操作面５２におけるタッチ操作の有無を判別する。
【特許文献１】特開２０００−２３０９８３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、タッチ操作の有無を判定するアプリケーションによっては、出力電圧ＶOUTの検出感度、つまりタッチ操作有無判定の際に用いる閾値が異なる場合がある。よって、閾値の電圧レベルが低いアプリケーションを用いた場合、タッチ操作しても出力電圧ＶOUTがその閾値を下回らない静電容量センサ５１を使用すると、タッチ操作が行われても出力電圧ＶOUTが閾値を下回らず、アプリケーションがこれをタッチ操作有りと判定できないことから、タッチ操作を誤検出してしまう。従って、タッチ操作の誤検出を防止するためには、これらアプリケーション毎に静電容量センサ５１をそれぞれ用意する必要があるため、静電容量センサ５１に要するコストが大幅にかかることになり、何らかの対応策が望まれていた。
【０００６】
本発明の目的は、例えば使用するアプリケーションが多岐に亘った場合であっても、操作者が行った操作面への接触操作を検出する際に、誤検出を発生し難くすることができる静電容量センサを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記問題点を解決するために、本発明によれば、操作者が接触操作する操作面に設けられた電極と、発振回路に接続された電圧調整用の内部抵抗と、前記電極に前記内部抵抗を介して電圧を印加することで発生するとともに、前記電極に人体が触れた際には前記電極及び人体の間で生じる静電容量の値によって電圧値が変化する電極電圧に関して、当該電極電圧に関与するパラメータを調整し、当該電極電圧を変化させることで出力電圧の値を変化させる調整手段とを備えたことを要旨とする。
【０００８】
この構成によれば、この種の静電容量センサにおいては、発振回路が電極に内部抵抗を介して電圧を印加することで、電極に電極電圧を発生させる。操作面が接触操作（タッチ操作）された際には、電極と操作者の人体との間の静電容量が変化するため、この静電容量によって電極電圧の値が変化する。従って、この電圧電極の値によって決まる出力電圧も、この値の変化に応じて電圧値が変化することから、この出力電圧の変化を見ることによって接触操作の有無を検出する。例えば、出力電圧が所定の閾値を超えたことを条件に、接触面への接触操作があったと判断して各種処理を実行する。
【０００９】
ところで、接触操作の有無を判定するアプリケーション（プログラム）によっては、接触操作の有無の判定に用いる閾値が異なるため、接触操作が有る時と無い時との出力電圧の電位差がそれほど大きくない場合には、接触操作が行われても、その時の出力電圧が閾値を超えず、接触操作しているにも拘らず、接触操作有りと判定できず、誤検出が生じてしまう。
【００１０】
しかし、本発明においては、調整手段を用いて電極電圧の値を変化させることによって、静電容量センサのセンサ出力である出力電圧の電圧値を調整可能である。よって、接触操作が行われた際に静電容量センサの出力電圧が閾値を超えない場合であっても、調整手段によって出力電圧の電圧値を、閾値を超えるような値に設定可能となり、接触操作された際に出力電圧が閾値を超えないという状況が回避される。このため、接触操作しているにも拘らず、接触操作有りと判定できないような状況が生じ難くなり、接触操作の誤検出を発生し難くすることが可能となる。
【００１１】
本発明によれば、前記パラメータは、センサ内部にある前記内部抵抗の抵抗値であり、前記調整手段は、前記内部抵抗の抵抗値を変えることで前記電極電圧の値を変化させることを要旨とする。
【００１２】
この構成によれば、調整手段による出力電圧の電圧値の調整は、発振回路の下流側にある内部抵抗の抵抗値を変化させることによって行われる。
本発明によれば、前記調整手段は、前記出力電圧を取り込んでその値が接触操作有無の判定基準となる閾値を超えるか否かを判定し、当該閾値を超えない場合には前記パラメータを異なる値に変更して前記出力電圧を変化させる処理を、当該出力電圧が前記閾値を超えるまで繰り返し行い、前記出力電圧が前記閾値を超えた際の前記パラメータを使用パラメータとして設定することを要旨とする。
【００１３】
この構成によれば、調整手段によるパラメータ変化によって、接触操作が行われた際の出力電圧の値が閾値を超えるように出力電圧が調整されたとしても、出力電圧が閾値を超える際には出力電圧が閾値から大きく乖離した出力電圧とならずに済み、好適な出力電圧に設定可能となる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、例えば使用するアプリケーションが多岐に亘った場合であっても、操作者が行った操作面への接触操作を検出する際に、誤検出を発生し難くすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明を具体化した静電容量センサの一実施形態を図１〜図３に従って説明する。
図１に示すように、例えば指等で画面を触れることでコンピュータ等の各種機器を作動させるタッチパネル（図示略）には、その接触操作（タッチ操作）を検出する静電容量センサ１が配設されている。タッチ操作時において操作者が指等で触れる操作面２には、コンデンサ電極として機能するセンサ電極３が埋設されている。操作者が操作面２に触れた際には、そのセンサ電極３と操作者の人体との間に生じるタッチ静電容量（コンデンサ容量）Ｃが変化する。なお、センサ電極３が電極に相当する。
【００１６】
センサ電極３には、タッチ静電容量Ｃの変化を電圧信号で出力する静電容量検出回路４が接続されている。静電容量検出回路４は、例えば１チップＩＣ(Integrated Circuit)から成り、自身の入力端子５を介してセンサ電極３に接続されている。静電容量検出回路４には、例えばＰＬＬ(phase lock loop)を用いた発振回路６が内蔵されている。発振回路６は、抵抗値Ｒが可変の内部抵抗７を介して入力端子５に接続され、この入力端子５を通じてセンサ電極３に交流波形（正弦波）の発振電圧Ｖ０を印加する。
【００１７】
このように、入力端子５には発振回路６からＶ０の交流波形電圧が印加されているため、入力端子５の電圧（即ち、電極電圧ＶＣ）は、図２（ａ）に示す交流波形電圧をとる。また、入力端子５にはセンサ電極３が接続されていることから、電極電圧ＶＣはセンサ電極３のタッチ静電容量Ｃによっても決まる。よって、操作者がセンサ電極３にタッチ操作を行った際には、タッチ静電容量Ｃの値が変化することから、それに応じて電極電圧ＶＣも変化することになる。
【００１８】
ここで、発振周波数をｆとすると、電極電圧ＶＣは次式を満たす値をとる。
【００１９】
【数１】
2007110538.tif 000003
タッチ操作が行われた際には、タッチ静電容量Ｃの値が上昇することから、上式からも分かるように右辺の分母の値が大きくなる。よって、タッチ操作が行われた際においては、タッチ操作が無い時の電極電圧をＶＣ１、タッチ操作が有った時の電極電圧をＶＣ２とすると、図２（ａ）に示すように電極電圧ＶＣがＶＣ１→ＶＣ２に低下した状態で出力される。なお、抵抗値Ｒがパラメータに相当する。
【００２０】
静電容量検出回路４には、入力交流電圧を直流電圧に変換して出力する検波回路８が内蔵されている。検波回路８は、ダイオード９とローパスフィルタ１０とを直列接続した回路からなり、入力側が入力端子５に接続され、出力側が静電容量検出回路４の出力端子１１に接続されている。検波回路８は、電極電圧ＶＣを直流波形電圧に変換し、図２（ｂ）に示すように電極電圧ＶＣに応じた電圧値（電圧レベル）を有する直流波形の出力電圧ＶOUTを出力端子１１から出力する。
【００２１】
静電容量検出回路４の出力端子１１には、操作面２上におけるタッチ操作の有無を判定するメイン制御部１２が接続されている。ところで、タッチ操作が行われた際には、電極電圧ＶＣが低くなるため、それに応じて出力電圧ＶOUTの電圧値も低くなる。よって、メイン制御部１２は、出力電圧ＶOUTの値と、タッチ操作有りの判定基準となる閾値ＶＸ（図２（ｂ）参照）とを逐次比較し、出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回った際、タッチ操作があったと判定する。なお、メイン制御部１２は、タッチ操作有無を判定する際、操作面２上におけるタッチ操作の座標位置も識別している。よって、メイン制御部１２は、タッチ操作が行われた際、その座標位置を識別することで操作面２上のどの選択ボタンがタッチ操作されたかを判別し、そのタッチ操作された選択ボタンに応じたプログラムを実行する。
【００２２】
静電容量検出回路４には、内部抵抗７の抵抗値Ｒを制御する内部抵抗制御部１３が接続されている。内部抵抗制御部１３は、自身の電圧入力端子１４が静電容量検出回路４の出力端子１１に接続され、自身の内部抵抗接続端子１５が静電容量検出回路４の内部抵抗調整用端子１６に接続されている。なお、内部抵抗制御部１３が調整手段を構成する。
【００２３】
内部抵抗制御部１３は、自身の作動モードがテストモードの際、内部抵抗７の抵抗値Ｒを制御する処理（以下、内部抵抗設定処理と言う）を行う。このテストモードは、タッチ操作されたことを擬似的に作り出し、タッチ操作された際の出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回るように抵抗値Ｒを調整するモードである。また、内部抵抗制御部１３の作動モードをテストモードにするには、ユーザが入力装置（図示略）を用いてその旨の操作を行い、この操作をメイン制御部１２が認識すると、メイン制御部１２がテストモード実行指令を内部抵抗制御部１３に送る。内部抵抗制御部１３は、モード切換端子１７を介してテストモード実行指令を受け取り、テストモード実行指令の入力を条件に自身の作動モードをテストモードに設定する。
【００２４】
内部抵抗設定処理として、まず内部抵抗制御部１３は、静電容量検出回路４が出力する出力電圧ＶOUTを電圧入力端子１４で入力し、この時の出力電圧ＶOUTと、メイン制御部１２でタッチ操作有無判定の際に用いた閾値ＶＸとを比較し、出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを超えるか否かを判定する。本例においては、タッチ操作が行われると出力電圧ＶOUTの値が低下するため、出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回っているか否かを判定する。
【００２５】
出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回っていない場合、内部抵抗制御部１３は、その時の出力電圧ＶOUTの値に応じた電圧を、内部抵抗接続端子１５及び内部抵抗調整用端子１６を介して内部抵抗７に加え、内部抵抗７の抵抗値Ｒを所定量変化させる。本例においては、抵抗値Ｒを上昇させることによって電極電圧ＶＣの値を低下させ、これによって出力電圧ＶOUTの値を低下させる。そして、内部抵抗制御部１３は、内部抵抗７の抵抗値Ｒを変更して出力電圧ＶOUTを所定量ずつ低下させる処理を、出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回るまで繰り返し行う。
【００２６】
内部抵抗制御部１３には、内部抵抗７の抵抗値Ｒを表すコードを記憶する内部抵抗コードレジスタ１８が接続されている。内部抵抗制御部１３は、テストモード時において出力電圧ＶOUTと閾値ＶＸとを比較した際、出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回ると、その時の抵抗値Ｒのコードを自身のコード出力端子１９から内部抵抗コードレジスタ１８に出力して、そのコードを内部抵抗コードレジスタ１８に書き込む。なお、内部抵抗コードレジスタ１８が調整手段を構成する。
【００２７】
内部抵抗制御部１３は、テストモード時において出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回ると、内部抵抗設定処理が終了したと判定してテストモードを解除し、作動モードを通常モードに設定する。この通常モードは、内部抵抗コードレジスタ１８に書き込まれたコードを自身の内部抵抗コード入力端子２０から入力し、通常時に使用する内部抵抗７の抵抗値Ｒを、そのコードに応じた値に設定するモードである。これにより、内部抵抗７の抵抗値Ｒは、タッチ操作が行われた際において、出力電圧ＶOUTが必ず閾値ＶＸを下回る値に固定値として設定される。
【００２８】
内部抵抗制御部１３は、テストモード時において出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回ると、テストモードの解除とともに、テストモードが解除された旨を表すテストモード解除通知を、自身の解除通知端子２１からメイン制御部１２に出力する。メイン制御部１２は、内部抵抗制御部１３からテストモード解除通知を受け取ると、例えばモニタ表示等によってその旨をユーザに通知する。
【００２９】
次に、内部抵抗制御部１３が内部抵抗設定処理時に実効する処理を図３に示すフローチャートに従って説明する。
ステップ１００では、作動モードがテストモードか否かを判断する。ここでは、メイン制御部１２からテストモード実行指令を入力していれば、作動モードがテストモードであると判断してステップ１００に移行する。一方、メイン制御部１２からテストモード実行指令を入力していなければ、作動モードがテストモードではないと判断してステップ１０６に移行する。
【００３０】
ステップ１０１では、作動モードを内部抵抗設定処理モードに設定し、内部抵抗設定処理を開始する。
ステップ１０２では、出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸの範囲内であるか否か、つまり出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回ったか否かを判断する。出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回っていない場合には、内部抵抗７の抵抗値Ｒを変化させて出力電圧ＶOUTの値を変える必要があると判断し、ステップ１０３に移行する。一方、出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回っている場合には、出力電圧ＶOUTの電圧レベルが最適なレベルであると判断し、ステップ１０４に移行する。
【００３１】
ステップ１０３では、内部抵抗７の抵抗値Ｒを変更する。本例においては、今までより所定量だけ高い電圧を内部抵抗７に加えることによって、内部抵抗７の抵抗値Ｒを若干上昇させる。これにより、電極電圧ＶＣの値が低下するため、それに応じて出力電圧ＶOUTが所定量低下する。内部抵抗７を変更した後はステップ１０２に戻り、ステップ１０２において出力電圧ＶOUTと閾値ＶＸとの比較を再度行い、出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回るまで、内部抵抗７の抵抗値Ｒの変更を繰り返し行う。
【００３２】
ステップ１０４では、出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回った際、この時の内部抵抗７の抵抗値Ｒのコードを内部抵抗コードレジスタ１８に出力する。これにより、タッチ操作が行われた際に出力電圧ＶOUTが必ず閾値ＶＸを下回る内部抵抗７の抵抗値Ｒのコードが、内部抵抗コードレジスタ１８に書き込まれる。
【００３３】
ステップ１０５では、作動モードとして設定していたテストモードを解除する。このとき、テストモード解除通知が内部抵抗制御部１３からメイン制御部１２へ出力される。メイン制御部１２は、内部抵抗制御部１３からテストモード解除通知を受け取ると、例えばモニタ表示等によってその旨をユーザに通知する。
【００３４】
ステップ１０６では、作動モードを通常モードに設定する。このとき、内部抵抗制御部１３が内部抵抗コードレジスタ１８のコードを取り込み、このコードに応じた値に内部抵抗７の抵抗値Ｒを固定値として設定する。従って、タッチ操作が行われた際には、静電容量検出回路４の出力電圧ＶOUTが必ず閾値ＶＸを下回る状態となる。
【００３５】
従って、本例においては、内部抵抗制御部１３によって内部抵抗７の抵抗値Ｒを変更することで、静電容量検出回路４の出力電圧ＶOUTを調整することが可能である。よって、タッチ操作した場合に出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回らず、タッチ操作が有ったことを検出できない場合であっても、内部抵抗７の抵抗値Ｒを調整することで、出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回る状態を作り出すことが可能となる。このため、タッチ操作しているにも拘らず、タッチ操作有りと判定できないような状況が生じ難くなり、タッチ操作の誤検出を発生し難くすることが可能となる。
【００３６】
本実施形態の構成によれば、以下に記載の効果を得ることができる。
（１）操作面２をタッチ操作した際に出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回らずタッチ操作が検出できない場合であっても、内部抵抗制御部１３によって内部抵抗７の抵抗値Ｒを変化させることにより、タッチ操作時における出力電圧ＶOUTを閾値ＶＸよりも下回らせる状況を作り出せる。従って、タッチ操作があった際にその操作を検出できないような状況が生じ難くなり、タッチ操作の誤検出を発生し難くすることができる。
【００３７】
（２）電極電圧ＶＣの値は発振回路６の周波数ｆもパラメータとして関係するため、発振回路６の周波数ｆを変化させれば電極電圧ＶＣの値が変化することになり、これによって出力電圧ＶOUTの値を調整することも可能である。しかし、本例のように発振回路６にＰＬＬを用いた場合、ＰＬＬの動作の関係上、この発振回路６に対して周波数ｆを変える処理を施すと、発振回路６が発散する可能性も否定できない。ところが、本例は内部抵抗７の抵抗値Ｒを変えることで出力電圧ＶOUTの値を変えるので、発振回路６が発散するような状況にならずに済む。
【００３８】
（３）本例の内部抵抗設定処理では、その時の出力電圧ＶOUTと閾値ＶＸを比較し、出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回っていなければ内部抵抗７の抵抗値Ｒを所定量だけ変えて出力電圧ＶOUTを若干下げ、出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回るまで、出力電圧ＶOUTを所定量ずつ下げる。即ち、出力電圧ＶOUTを段階的に下げていって、出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回るポイントを見つけ出す処理を行う。従って、タッチ操作が行われた際の出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回るように出力電圧ＶOUTが調整されたとしても、出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸから大きく乖離した状態とならずに済み、タッチ操作時の出力電圧ＶOUTの値を好適な値に設定することができる。
【００３９】
なお、本実施形態は上記構成に限定されず、以下の態様に変更してもよい。
・  電極電圧ＶＣを変更する際に変化させるパラメータは、静電容量検出回路４内の内部抵抗７の抵抗値Ｒに限定されない。例えば、発振回路６の周波数ｆや、或いは発振電圧Ｖ０を変化させることで、電極電圧ＶＣを変化させてもよい。
【００４０】
・  内部抵抗設定処理において出力電圧ＶOUTを閾値ＶＸより下回らせる際、その処理は出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回るまで段階的に出力電圧ＶOUTを下げていく処理に限定されない。例えば、内部抵抗設定処理を開始して出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回っているか否かの一回目の判断の際、出力電圧ＶOUTが閾値ＶＸを下回っていなければ、出力電圧ＶOUTをいきなり０ボルト付近の電圧レベルまで下げてもよい。
【００４１】
・  メイン制御部１２、内部抵抗制御部１３及び内部抵抗コードレジスタ１８のチップ構成は適宜設定可能である。例えば、１つのマイクロコンピュータに、メイン制御部１２、内部抵抗制御部１３及び内部抵抗コードレジスタ１８の全てを組み込んで、これらが１つのＩＣチップで構成されるようにしてもよい。また、メイン制御部１２をマイクロコンピュータとして１つのＩＣとし、内部抵抗制御部１３と内部抵抗コードレジスタとがマイクロコンピュータとは別チップである組み合わせでもよい。更に、内部抵抗制御部１３と内部抵抗コードレジスタ１８とは別チップであることに限らず、内部抵抗コードレジスタ１８が内部抵抗制御部１３に組み込まれていてもよい。
【００４２】
・  発振回路６は、必ずしもＰＬＬに限定されず、例えば電圧制御発振回路などのＰＬＬ以外の発振回路を採用してもよい。
・  内部抵抗設定処理において用いる閾値ＶＸは、必ずしも固定値であることに限定されない。例えば、メイン制御部１２で用いる閾値ＶＸがメイン制御部１２の作動状態（周囲の温度等）に応じて複数用意されている場合、内部抵抗制御部１３で用いる閾値ＶＸもそれに合わせて複数用意し、メイン制御部１２と内部抵抗制御部１３とで用いる閾値ＶＸを対応させてもよい。
【００４３】
・  本例の静電容量センサ１の採用対象はタッチパネルに限らず、タッチ操作によって操作者の操作を検出する検出装置であれば、その採用対象は特に限定されない。
次に、上記実施形態及び別例から把握できる技術的思想について、それらの効果とともに以下に追記する。
【００４４】
（１）請求項１〜３のいずれかにおいて、交流波形の前記電極電圧を直流電圧に変換することによって、前記出力電圧を直流波形の信号として出力する検波回路を備えた。この場合、静電容量センサの出力電圧を直流電圧の値で出力することができる。
【００４５】
（２）請求項１〜３のいずれかにおいて、前記出力電圧を取り込んでその値が接触操作有無の判定基準となる閾値を超えるか否かを判定し、前記出力電圧が閾値を超えた場合に、接触操作が有ったと判定する判定手段を備えた。この場合、接触操作の有無を判定する判定手段も備えた静電容量センサを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】一実施形態における静電容量センサの構成を示すブロック図。
【図２】（ａ）は電極電圧の波形図、（ｂ）は出力電圧の波形図。
【図３】内部抵抗設定処理時に実施されるフローチャート。
【図４】従来における静電容量センサの構成を示すブロック図。
【符号の説明】
【００４７】
１…静電容量センサ、２…操作面、３…電極としてのセンサ電極、６…発振回路、７…内部抵抗、１３…調整手段を構成する内部抵抗制御部、１８…調整手段を構成する内部抵抗コードレジスタ、Ｖ０…電圧としての発振電圧、Ｃ…静電容量としてのタッチ静電容量、ＶＣ…（ＶＣ１，ＶＣ２）…電極電圧、ＶOUT…出力電圧、Ｒ…パラメータとしての抵抗値、ＶＸ…閾値、
【図１】
2007110538.tif 000004
【図２】
2007110538.tif 000005
【図３】
2007110538.tif 000006
【図４】
2007110538.tif 000007