(57)【要約】【課題】  光ディスクに傷がある場合でもスムーズに信号の記録を行い、ユーザーに傷の情報を記録前に知らせることが可能な光ディスク装置を提供する。【解決手段】  情報を一時記憶するメモリ（以下ショックプルーフメモリと記載）手段と、ショックプルーフメモリ手段等への蓄積或いは読み出しによって、当該情報を間欠的にディスクに記録する手段を備えた光ディスク装置とする。【選択図】  図１
2007080419.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報を一時記憶するメモリ手段と、前記メモリ手段等への蓄積或いは読み出しによって、当該情報を間欠的にディスク媒体に記録する手段を備えた光ディスク装置において、
前記ディスク媒体の次に記録する領域の傷検査を、前記間欠的に記録する手段の非記録期間に行う傷検査手段を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記傷検査手段により検査された傷アドレスを、光ディスク装置のメモリ内に予め設けられた傷テーブルに記録する傷アドレス記録手段を有することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記傷検査手段により傷が検出された時に、傷の存在をユーザーに警告する傷警告手段を有することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記傷アドレス記録手段により前記傷テーブルに記録された傷アドレスを避けて、記録を行う傷回避手段を有することを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記傷アドレス記録手段により記録されている傷アドレスを除いた残りの記録可能容量を、ユーザーに表示する残容量表示手段を有することを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、映像を撮影する光ディスク装置において、情報を一時記憶するメモリと、メモリへの蓄積或いは読み出しによって、当該情報を間欠的にディスク媒体に記録する光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来の光ディスク装置の一例を、図６を用いて説明する。図６に示すように、この光ディスク装置は、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ２と、記録再生用光ピックアップ３と、光ピックアップ３から出力された再生信号を増幅するRFマトリクスアンプ３４と、RFマトリクスアンプ３４から出力されるフォーカスエラー信号や、トラッキングエラー信号等に応答してフォーカスサーボや、トラッキングサーボを行うサーボ４と、光ピックアップ３に対してフォーカスサーボをおこなうフォーカスドライバ５、トラッキングサーボをおこなうトラッキングドライバ６により構成される。
【０００３】
この光ディスク装置はさらに、所定の同期信号に応答して、外部から入力された信号を光ディスク１に記録されるべき信号にエンコードしたり、光ディスク１から再生された信号を外部に出力されるべき信号にデコードしたりするエンコーダ/デコーダ３５と、エンコーダ/デコーダ３５から出力される信号に応答して光ピックアップ３内の図示しないレーザダイオードを駆動するLDドライバ７と、記録・再生信号を入出力するためのインターフェイス（I/F）３６により構成される。
【０００４】
この光ディスク装置はさらに、ＲＦマトリクスアンプ３４から出力される和信号をモニタする和信号モニタ回路１２と、和信号モニタ回路１２によりモニタされた和信号に応答して制御を行うマイクロコンピュータ１３と、マイクロコンピュータ１３により検出された傷アドレスを一時的に記憶するための傷アドレスメモリ３７により構成される。
【０００５】
この光ディスク装置はセットされた光ディスク１内の傷テーブルを検査し、光ディスク１に傷テーブルが存在するか否かを判定する。傷テーブルが存在する場合、この光ディスク１は検査済みであるので、撮影が開始されれば光ディスク１へ撮影データの記録が行われる。傷テーブルが存在しない場合、この光ディスク１は未検査であるから光ピックアップ３が光ディスク１の０（スタート）アドレスに移動し傷検査を行う。傷検査終了後はじめて記録可能状態になる。そして、撮影が開始されれば光ディスク１へ撮影データの記録が行われる。
【０００６】
以上の従来例については、たとえば、特開2002-298344号公報などに詳しく記載されている。このように、光ディスク装置に光ディスクをセット時、傷テーブルが存在するか否かを検査し、傷テーブルが存在しなければ、光ディスク全面を検査し、その傷のアドレスを光ディスク上の傷テーブルに保存しておくように構成されている。
【特許文献１】特開2002-298344号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、光ディスク全面の傷検査をするのは、光ディスクを光ディスク装置に挿入してからユーザーが撮影動作を行えるようになるまでの時間（以下セットアップ時間と記載）が長引き、さらに消費電力が増加してしまう。また、傷テーブルが存在する場合に、傷検査を行わずに光ディスクに記録を行うことは、前回の記録動作から傷が増えていないということを前提としており、傷検査としては不十分であるといえる。傷検査後についた傷の領域に情報を記録してしまうことになり、その部分に記録しようとした情報はディスクに正常に記録されず、再生が不可能になってしまう場合があった。
【０００８】
本発明は、上記のような問題を解決するためになされたもので、その目的は、光ディスクに傷がある場合でもスムーズに信号の記録を行い、ユーザーに傷の情報を記録前に知らせることが可能な光ディスク装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために、本発明による光ディスク装置は、光学的記録媒体を用いた光ディスク装置において、情報を一時記憶するメモリ（以下ショックプルーフメモリと記載）手段と、ショックプルーフメモリ手段等への蓄積或いは読み出しによって、当該情報を間欠的にディスクに記録する手段を備えた光ディスク装置において、次に記録する領域の傷検査を、間欠的に記録する手段の非記録期間に行う傷検査手段を有することにより、セットアップ時間をかけないで済み、ディスク状態も検査できる。
【００１０】
好ましくは、この光ディスク装置は、傷検査手段により検査された傷アドレスを、光ディスク装置のメモリ内の予め設けられた傷テーブルに記録する傷アドレス記録手段を有することにより、光ディスク状態が分かる。
【００１１】
好ましくは、この光ディスク装置は、傷検査手段により傷が検出された時に、傷の存在をユーザーに警告する傷警告手段を有することにより、ユーザーの意思によりディスクの交換やクリーニングを行うことができる。
【００１２】
さらに好ましくは、この光ディスク装置は、傷アドレス記録手段により傷テーブルに記録された傷アドレスを避けて、記録を行う傷回避手段を有することにより、傷のある部分には記録しないので記録誤りを防げる。
【００１３】
さらに好ましくは、この光ディスク装置は、傷アドレス記録手段により記録されている傷アドレスを除いた残りの記録可能容量を、ユーザーに表示する残容量表示手段を有することにより、ユーザーがディスクの交換やクリーニングを行う必要があるかという情報をいち早く得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して詳しく説明する。なお、図６に示した従来例と同じ機能を有するブロックには図１でも同じ番号を付してある。
【００１５】
図１は、本発明の実施の形態による光ディスク装置の全体構成を示すブロック図である。図１に示すように、この光ディスク装置は、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ２と、記録再生用光ピックアップ３と、光ピックアップ３から出力されるフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号等に応答してフォーカスサーボ信号やトラッキングサーボ信号を発生するサーボ４と、光ピックアップ３に対してフォーカスサーボを行うフォーカスドライバ５と、トラッキングサーボを行うトラッキングドライバ６と、レーザ制御をおこなうLDドライバ７により構成される。さらに、映像を撮影する装置であるカメラ部１６と、映像を表示する装置である画面部１８と、カメラ部１６からのデータの圧縮や画面部１８へのデータの伸長を行う符号化・復号化回路１７により構成される。そして、データを処理するメモリコントローラ８と、圧縮・伸長データを一時蓄えておくショックプルーフメモリ９と、ショックプルーフメモリ９に蓄えられた圧縮データをメモリコントローラ８から受け取り信号処理を行う記録信号処理回路１０、光ディスク１からの再生データの信号処理を行う再生信号処理回路１１により構成される。
【００１６】
さらに、サーボ４による和信号のレベルをモニタする和信号モニタ回路１２と、和信号モニタ回路１２の出力に基づいて傷検査を行うマイクロコンピュータ１３と、傷検査により傷と検出したアドレスを記録しておく傷テーブル１４と、傷警告や残り容量を表示する表示器１５により構成される。
【００１７】
次に図１における記録時の動作について説明する。記録時、カメラ部１６から出力されたデータは、符号化・復号化回路１７で符号化が行われ圧縮される。そして、圧縮データはメモリコントローラ８によりショックプルーフメモリ９に蓄積される。ここで、ショックプルーフメモリ９の蓄積容量が所定量Dqになると、メモリコントローラ８により、ショックプルーフメモリ９の蓄積データが読み出され、記録信号処理回路１０に与えられる。記録信号処理回路１０では、ショックプルーフメモリ９から読み出された蓄積データに対して、変調、誤り訂正用符号の付加などを行う。また、マイクロコンピュータ１３は、サーボ４を制御して所望の記録可能領域をサーチする。サーチ後、記録信号処理回路１０の出力信号に基づいてLDドライバ７の制御下で光ピックアップ３内の図示しないレーザダイオード（LD）が駆動され、光ディスク１上に記録データを記録する。
【００１８】
また、図１における再生時の動作について説明する。再生時は、マイクロコンピュータ１３はサーボ４を制御して所望の再生領域をサーチする。サーチ後、光ディスク１からの反射光を光ピックアップ３で検出し再生信号を読み出す。そして、光ディスク１から読み出された再生信号が再生信号処理回路１１に与えられる。再生信号処理回路１１では、読み出された再生信号に対して、復調、誤り訂正などを行い、再生データを出力する。再生信号処理回路１１から出力された再生データはメモリコントローラ８によりショックプルーフメモリ９に蓄積される。ここで、メモリコントローラ８により、ショックプルーフメモリ９の蓄積データを符号化・復号化回路１７に与え復号化が行われ伸長される。そして、伸長データは画面部１８に出力される。
【００１９】
次に、図１の和信号モニタ１２における、光ディスク１の傷検出について図３を用いて具体的に説明する。図３は相変化ディスクの場合における和信号を示す波形図である。図３に示すように、和信号のレベルは結晶状態で明るいレベルとなり、アモルファス状態で暗いレベルとなる。和信号のレベルは通常これらのレベル間で変化するが、傷があるところでは和信号のレベルは暗いレベルよりもさらに低下する。
【００２０】
従って、和信号モニタ回路１２は和信号のレベルを予め定められた閾値Vthと比較し、さらに和信号のレベルが閾値Vthよりも低くなる時間を、予め定められた時間Ｔｗと比較する。和信号のレベルが閾値Vthよりも低くなる時間が、予め定められた時間Ｔｗより長くなる場合は傷があると判断し、そうでない場合は傷がないと判断する。このように和信号のレベルが閾値Vthよりも低くなる時間が、予め定められた時間Ｔｗよりも長くなるか判定している。
【００２１】
そのため、和信号に入った偶発的なスパイクノイズは予め定められた時間Ｔｗより短いので誤って傷と検出することはない。
【００２２】
また、サーボ４において、トラッキングサーボとフォーカスサーボの異常値を検知することで傷検査を行ってもよい。
【００２３】
次に、この光ディスク装置の傷検査を含む記録時における動作を、図２のフローチャート並びに図５のアドレスチャートを参照して説明する。
【００２４】
まず、光ディスク１を光ディスク装置にセットする(S21)。続いて、カメラ部１６が撮影開始すると、カメラ部１６からの圧縮データをショックプルーフメモリ９に蓄える(S22)。
【００２５】
次に、ショックプルーフメモリ９の蓄積容量が所定量Dq以上か否かを判断(S23)する。所定量Dq以下のときはマイクロコンピュータ１３が図１の和信号モニタ回路１２により検出された情報をもとに、図５のアドレスA0000からアドレスA0600まで傷検査を行う (S26)。この時、傷がない場合は再びS23に戻り蓄積容量が所定量Dq以上か否かを判断し、所定量Dq以下のときは再び図５のアドレスA0600からアドレスA1200まで傷検査を行う。傷検査は、ショックプルーフメモリ９の蓄積容量が所定量Dq以上になるまで繰り返し行う。しかし、傷検査により図５に示すようにアドレスAXに傷がある場合はその傷アドレスAXを傷テーブル１４に保存する(S27)。
【００２６】
さらに、この光ディスク装置は、記録可能な残容量として、未記録領域の容量から傷アドレスの個数に相当する容量を差し引いた値を表示器１５に表示する。さらに、ユーザーへの警告内容として、光ディスク１の状態が極めて悪い時に、「ディスク交換要求」を表示器１５に表示する。また、光ディスク１の状態が記録に多少影響があるかもしれない程度の時には、「ディスククリーニング要求」を表示器１５に表示する。さらに、光ディスク１の状態が僅かな傷で記録にも影響がない時には、「ディスク交換不要」を表示器１５に表示する(S28)。
【００２７】
続いて、表示器１５による傷警告によりユーザーが記録動作を中止すると判断した場合、この光ディスク装置は直ちに動作を中止して初期状態に戻り待機する(S30)。一方、ユーザーが引き続き記録動作を選択すれば、圧縮データのショックプルーフメモリ９への蓄積を中止せず、再びS23に戻る(S29)。
【００２８】
次に、図５のアドレスA1800でショックプルーフメモリ９の蓄積容量が所定量Dq以上に達した時は、次の記録領域の先頭であるアドレスA0000をサーボ４でサーチし、ショックプルーフメモリ９からの蓄積データを光ディスク１のアドレスA0000から高速にディスク記録する。そして、アドレスAX-1までディスク記録を行う。ここで、S27で記録された傷テーブル１４を参照するとアドレスAXが傷アドレスなので、アドレスAXを避けてアドレスAX+1からディスク記録を行う (S24)。ディスク記録は、所定量記録された後、ショックプルーフメモリ９の蓄積容量が0以上かどうか判断する(S25)。ショックプルーフメモリ９の蓄積容量が0以上の時は再びS24のディスク記録に戻る。図５のアドレスA1001において、ショックプルーフメモリ９の蓄積容量が0になった時は、ディスク記録を休止する。続いて、傷検査のエンドアドレスである図５のアドレスA1800をサーボ４でサーチし、再びS26の傷検査に戻る。その後、アドレスA1800からアドレスA3600まで傷検査、アドレスA1001からアドレスA2001までディスク記録と繰り返し行われる。このように、次に記録する領域を非記録期間中に傷検査する。
【００２９】
次に、光ディスク１の記録時における間欠処理の様子と、傷検査についてのタイムチャートを図４に示す。ここで図４のDFはショックプルーフメモリ９の蓄積容量が100％、Dqはショックプルーフメモリ９の蓄積容量が所定量Dqであることを示している。また、ｔ0からｔ7は時刻を示している。まず、時刻0において光ディスク１がセットされる。続いて、時刻ｔ0でカメラ部１６からの圧縮データのショックプルーフメモリ９への蓄積がはじまる。時刻ｔ0から時刻ｔ1はショックプルーフメモリ９へ圧縮データの蓄積のみで、ショックプルーフメモリ９に光ディスク１への記録データを蓄えている。時刻ｔ1においてショックプルーフメモリ９からの蓄積データを光ディスク１へディスク記録する。時刻ｔ1から時刻ｔ2はショックプルーフメモリの圧縮データの蓄積、ディスク記録共に行っている。ここで、時刻ｔ2においてショックプルーフメモリ９の蓄積容量が0％に達したので、時刻ｔ4においてショックプルーフメモリ９の蓄積容量が所定量Dqになるまでディスク記録を休止する。この非記録期間、時刻ｔ2から時刻ｔ4までを利用して傷検査を行う。傷検査は図４に示すように、期間ｔaで傷検出を行う。期間ｔbでショックプルーフメモリ９の蓄積容量が所定量Dq以上か判断する。このような傷検査・蓄積容量判断が非記録期間で繰り返し行われる。また、傷が検出された場合、この非記録期間中に上記(S26)から(S30)までの動作を行う。そして、時刻ｔ4においてショックプルーフメモリ９の蓄積容量が所定量Dq以上だと判断すると、再びディスク記録が行われる。
【００３０】
また、図４の時刻ｔ3のように所定量Dqの寸前で傷検査を始めた場合でも、taとtbの期間に蓄積される容量はDF−Dｑの容量より少ない。従って、ショックプルーフメモリ９の蓄積容量がDFを超えることはない。さらに、時刻ｔ5においてショックプルーフメモリ９の蓄積容量が0になるとディスク記録を休止し傷検査に入る。次に時刻ｔ6において何らかの影響により、ショックが加えられディスク記録を行えなくなったとしても、ショックプルーフメモリ９への圧縮データの蓄積を途切れることなく行っているので、記録抜けがない。そして、ショックが収まりディスク記録を可能になると、再びショックプルーフメモリ９の蓄積容量が0％になるまで、ディスク記録を行う。
【００３１】
また、光ディスクなどの傷においては１トラックのみに傷が存在することは物理的に考えにくい。そのため次に記録する領域の全部をトレースして傷検査するよりも、より効率的に10トラックなど、数トラックおきに傷検査してもよい。この場合、より早くディスクの状態を検査でき、ユーザーに警告することが可能になる。
【００３２】
以上の様に本発明はショックプルーフメモリを用いて、光ディスクへ情報を記録する光ディスク装置において、ディスクセット時に光ディスク全面の傷検査を行うのに比べて、間欠的に記録する手段の非記録期間に傷検査を行うことでセットアップ時間が短くなり、さらに消費電力も少なくて済む。また、光ディスクをセットする度に傷検査を行うので、光ディスクに新しい傷が付いた時にも対応することができる。さらに、ユーザーがディスク状態をいち早く把握でき、ディスク交換を行う事もできる。
【００３３】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】本発明による、光ディスク装置のブロック図
【図２】本発明による、記録処理のフローチャート
【図３】本発明による、記録処理の間欠動作タイミングチャート
【図４】相変化ディスクの場合における和信号を示す波形図
【図５】記録・傷検査のアドレスチャート
【図６】従来例による、光ディスク装置のブロック図
【符号の説明】
【００３５】
1  光ディスク
2  スピンドルモータ
3  光ピックアップ
4  サーボ
5  フォーカスドライバ
6  トラッキングドライバ
7  LDドライバ
8  メモリコントローラ
9  ショックプルーフメモリ
10  記録信号処理回路
11  再生信号処理回路
12  和信号モニタ回路
13  マイクロコンピュータ
14  傷テーブル
15  表示器
16  カメラ部
17  符号化・復号化回路
18  画面部
20  RFマトリクス
21  エンコーダ/デコーダ
22  I/F
23  傷アドレスメモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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