(57)【要約】【課題】  光ディスクの反り等により発生する光ディスクの半径方向位置での光ピックアップの高さ変動による記録再生品質の変動、悪化を低減することができるようにする。【解決手段】  光ディスクの中周位置でのデフォーカス値を取得し、光ディスクの半径方向のシークレールの傾角を測定して、測定されたシークレールの傾角を光ディスクのアドレスに対する傾角特性として一次式を導出し、導出された一次式により光ディスクの内周位置、外周位置での高さ方向の補正量を算出して、算出された補正量により光ディスクの内周位置、外周位置でのデフォーカス値を算出し、光ピックアップのデフォーカス値を設定するようにする。【選択図】        図２
2007080399.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに情報データを記録再生する光ディスク装置であって、
光ディスクの中周位置でのデフォーカス値を取得する取得手段と、光ディスクの光ピックアップから光ディスクまでの距離と光ピックアップの中周位置からの移動距離とにより光ディスクの半径方向のシークレールの傾角を測定する測定手段と、前記測定手段により測定されたシークレールの傾角を光ディスクのアドレスに対する傾角特性として一次式を導出する導出手段と、前記導出手段により導出された一次式により光ディスクの内周位置、外周位置での高さ方向の補正量を算出する第１の算出手段と、前記第１の算出手段により算出された補正量により光ディスクの内周位置、外周位置でのデフォーカス値を算出する第２の算出手段と、前記第２の算出手段により算出されたデフォーカス値により光ピックアップのデフォーカス値を設定する第１の設定手段と、光ピックアップのチルトが調整された後、前記導出手段により導出された一次式により光ディスクの内周位置、外周位置での高さ方向の補正量を再算出する第３の算出手段と、前記第３の算出手段により算出された補正量により光ディスクの内周位置、外周位置でのデフォーカス値を再算出する第４の算出手段と、前記第４の算出手段により算出されたデフォーカス値により光ピックアップのデフォーカス値を再設定する第２の設定手段とを備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
光ディスクに情報データを記録再生する光ディスク装置であって、
光ディスクの中周位置でのデフォーカス値を取得する取得手段と、光ディスクの半径方向のシークレールの傾角を測定する測定手段と、前記測定手段により測定されたシークレールの傾角を光ディスクのアドレスに対する傾角特性として一次式を導出する導出手段と、前記導出手段により導出された一次式により光ディスクの内周位置、外周位置での高さ方向の補正量を算出する第１の算出手段と、前記第１の算出手段により算出された補正量により光ディスクの内周位置、外周位置でのデフォーカス値を算出する第２の算出手段とを備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
前記測定手段は、光ピックアップから光ディスクまでの距離と光ピックアップの中周位置からの移動距離とにより光ディスクの半径方向のシークレールの傾角を測定する測定手段であることを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記第２の算出手段により算出されたデフォーカス値により光ピックアップのデフォーカス値を設定する第１の設定手段と、光ピックアップのチルトが調整された後、前記導出手段により導出された一次式により光ディスクの内周位置、外周位置での高さ方向の補正量を再算出する第３の算出手段と、前記第３の算出手段により算出された補正量により光ディスクの内周位置、外周位置でのデフォーカス値を再算出する第４の算出手段と、前記第４の算出手段により算出されたデフォーカス値により光ピックアップのデフォーカス値を再設定する第２の設定手段とを更に備えたことを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに情報データを記録再生する光ディスク装置に係り、特に光ディスクの反り等により発生する光ディスクの半径方向位置での光ピックアップの高さ変動による記録再生品質の変動、悪化を低減することができる光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、光ピックアップは、最良の傾角となるように、光ピックアップのシークレールごと傾角の調整が光ディスクの内周位置で施されている。また、この調整により光ピックアップと光ディスクの記録面との距離が光ピックアップの持つフォーカスストロークの規格内に収まるように光ピックアップの移動距離の中心位置での高さ方向の調整が施される。これにより、光ピックアップの移動距離の中心位置での高さ方向の条件は適切となるが、シークレールの傾角に伴う光ディスクの内周位置と外周位置とで誤差が生じてくる。そのため、デフォーカス特性の良い光ピックアップでは問題とならないが、光ピックアップのデフォーカス特性、傾角のばらつきにより、記録再生記録品質が変動したり、悪化したりするという問題点があった。
背景技術としては、光ディスク面の傾斜によるジッタの増加と相関性のある信号を用いて、その信号が、相関上ジッタが最小になる量になるようにチルト補正を行うようにしたものがあった（例えば、特許文献１参照）。
また、光ディスクの半径位置におけるチルト検出誤差を予め光ディスクの異なった複数の半径位置で検出されたチルト値に基づいて推定し、検出されたチルト値の推定されたチルト検出誤差により補正するようにしたものがあった（例えば、特許文献２参照）。
また、光ディスクの基準面からの高さ位置を表す近似式により算出された光ピックアップの現在位置から所定距離離間する２点間の光ディスクの基準面に対する高さ位置と２点間の水平距離とに基づいて光ピックアップの現在位置における光ディスクの基準面に対する傾角を算出し、対物レンズを算出された傾角に傾斜させるようにしたものがあった（例えば、特許文献３参照）。
【特許文献１】特開２００３−２８１７６３号公報
【特許文献２】特開２００４−５５１０３号公報
【特許文献３】特開２００５−８５３２３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、背景技術で述べたもののうち最初のものにおいては、光ディスク面の傾斜によるジッタの増加と相関性のある信号を用いて、その信号が、相関上ジッタが最小になる量になるようにチルト補正を行うことができたが、出射光に対する戻り光の比率が最大になるようにチルトを補正し、光ディスク面の傾斜によるジッタの増加を防ぐようにしたものであって、上記問題点を解決するようにしたものではなかった。
また、次のものにおいては、光ディスクの半径位置におけるチルト検出誤差を予め光ディスクの異なった複数の半径位置で検出されたチルト値に基づいて推定し、検出されたチルト値の推定されたチルト検出誤差により補正することができたが、光ピックアップの対物レンズの半径とチルトセンサの半径との違いに起因するチルト検出誤差を補正してチルト補償誤差を減らすようにしたものであって、上記問題点を解決するようにしたものではなかった。
また、更にその次のものにおいては、光ディスクの基準面からの高さ位置を表す近似式により算出された光ピックアップの現在位置から所定距離離間する２点間の光ディスクの基準面に対する高さ位置と２点間の水平距離とに基づいて光ピックアップの現在位置における光ディスクの基準面に対する傾角を算出し、対物レンズを算出された傾角に傾斜させることができたが、光ピックアップの対物レンズを算出された傾角に傾斜させて、光ディスクの記録面に対してレーザ光が垂直に照射されるようにしたものであって、上記問題点を解決するようにしたものではなかった。
本発明は、背景技術の有するこのような問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、光ディスクの反り等により発生する光ディスクの半径方向位置での光ピックアップの高さ変動による記録再生品質の変動、悪化を低減することができる光ディスク装置を提供しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
上記目的を達成するため本発明においては、光ディスクに情報データを記録再生する光ディスク装置であって、光ディスクの中周位置でのデフォーカス値を取得する取得手段と、光ディスクの半径方向のシークレールの傾角を測定する測定手段と、前記測定手段により測定されたシークレールの傾角を光ディスクのアドレスに対する傾角特性として一次式を導出する導出手段と、前記導出手段により導出された一次式により光ディスクの内周位置、外周位置での高さ方向の補正量を算出する第１の算出手段と、前記第１の算出手段により算出された補正量により光ディスクの内周位置、外周位置でのデフォーカス値を算出する第２の算出手段とを備える。
前記測定手段は、光ピックアップから光ディスクまでの距離と光ピックアップの中周位置からの移動距離とにより光ディスクの半径方向のシークレールの傾角を測定するようにするとよい。
更に、前記第２の算出手段により算出されたデフォーカス値により光ピックアップのデフォーカス値を設定する第１の設定手段と、光ピックアップのチルトが調整された後、前記導出手段により導出された一次式により光ディスクの内周位置、外周位置での高さ方向の補正量を再算出する第３の算出手段と、前記第３の算出手段により算出された補正量により光ディスクの内周位置、外周位置でのデフォーカス値を再算出する第４の算出手段と、前記第４の算出手段により算出されたデフォーカス値により光ピックアップのデフォーカス値を再設定する第２の設定手段とを備える。
これらの手段により、光ディスクの反り等により発生する光ディスクの半径方向位置での光ピックアップの高さ変動による記録再生品質の変動、悪化を低減することができる。
【発明の効果】
【０００５】
請求項１記載の発明に係る光ディスク装置によれば、光ディスクの中周位置でのデフォーカス値を取得し、光ディスクの光ピックアップから光ディスクまでの距離と光ピックアップの中周位置からの移動距離とにより光ディスクの半径方向のシークレールの傾角を測定して、測定されたシークレールの傾角を光ディスクのアドレスに対する傾角特性として一次式を導出し、導出された一次式により光ディスクの内周位置、外周位置での高さ方向の補正量を算出して、算出された補正量により光ディスクの内周位置、外周位置でのデフォーカス値を算出し、算出されたデフォーカス値により光ピックアップのデフォーカス値を設定して、光ピックアップのチルトが調整された後、導出された一次式により光ディスクの内周位置、外周位置での高さ方向の補正量を再算出し、再算出された補正量により光ディスクの内周位置、外周位置でのデフォーカス値を再算出して、再算出されたデフォーカス値により光ピックアップのデフォーカス値を再設定するようにしているので、光ピックアップのチルトが調整された後に、光ピックアップのデフォーカス値が再度設定されて、光ディスク装置に装着された光ディスクに適したデフォーカス値が設定され、光ディスクの反り等により発生する光ディスクの半径方向位置での光ピックアップの高さ変動による記録再生品質の変動、悪化を低減することができる。
請求項２記載の発明に係る光ディスク装置によれば、光ディスクの中周位置でのデフォーカス値を取得し、光ディスクの半径方向のシークレールの傾角を測定して、測定されたシークレールの傾角を光ディスクのアドレスに対する傾角特性として一次式を導出し、導出された一次式により光ディスクの内周位置、外周位置での高さ方向の補正量を算出して、算出された補正量により光ディスクの内周位置、外周位置でのデフォーカス値を算出するようにしているので、光ディスクの反り等により発生する光ディスクの半径方向位置での光ピックアップの高さ変動による記録再生品質の変動、悪化を低減することができる。
請求項３記載の発明に係る光ディスク装置によれば、光ピックアップから光ディスクまでの距離と光ピックアップの中周位置からの移動距離とにより光ディスクの半径方向のシークレールの傾角を測定するようにしているので、光ディスクの半径方向のシークレールの傾角を容易に測定することができる。
請求項４記載の発明に係る光ディスク装置によれば、算出されたデフォーカス値により光ピックアップのデフォーカス値を設定し、光ピックアップのチルトが調整された後、前記導出手段により導出された一次式により光ディスクの内周位置、外周位置での高さ方向の補正量を再算出して、算出された補正量により光ディスクの内周位置、外周位置でのデフォーカス値を再算出し、算出されたデフォーカス値により光ピックアップのデフォーカス値を再設定するようにしているので、光ピックアップのチルトが調整された後に、光ピックアップのデフォーカス値が再度設定され、光ディスク装置に装着された光ディスクに適したデフォーカス値が設定され、光ディスクの反り等により発生する光ディスクの半径方向位置での光ピックアップの高さ変動による記録再生品質の変動、悪化を低減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００６】
以下、適宜図面を参照しながら本発明を実施するための最良の形態を詳述する。図１は本発明の一実施例の光ディスク装置の構成を示すブロック図であり、図２は本発明の一実施例の光ディスク装置のシークレールの傾角を示す説明図であり、図３は本発明の一実施例の光ディスク装置のＦＥＢの調整時の動作を示すフローチャートであり、図４は本発明の一実施例の光ディスク装置の記録／再生時の動作を示すフローチャートである。
まず、図１の本発明の一実施例の光ディスク装置の構成を示すブロック図を基に説明する。
光ディスク装置１は、光ディスク２の記録面にレーザ光を照射して情報データを光ディスク２に記録するとともに、光ディスク２の記録面にレーザ光を照射してその反射光を検出し、光ディスク２に記録された情報データを読み出す光ピックアップ３と、ターンテーブル４ａに装着された光ディスク２を回転させるスピンドルモータ４と、スピンドルモータ４の回転速度をサーボ制御するスピンドルサーボ回路５と、光ピックアップ３をシークレール（図示せず）に沿って光ディスク２の半径方向にスレッド移動させるスレッドモータ６と、スレッドモータ６の回転方向と回転速度とをサーボ制御するスレッドサーボ回路７と、光ピックアップ３のチルトコイル（図示せず）を駆動して、光ピックアップ３のチルトを調整するチルトコイル駆動回路８と、光ピックアップ３により検出されたトラッキング誤差信号に基づいて光ピックアップ３のトラッキングをサーボ制御するトラッキングサーボ回路９と、光ピックアップ３により検出されたフォーカス誤差信号に基づいて光ピックアップ３のフォーカスをサーボ制御するフォーカスサーボ回路１０と、光ピックアップ３により読み出された情報データのＲＦ（Ｒａｄｉｏ  Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）信号を増幅するとともに、光ディスク２に記録する情報データのＲＦ信号を増幅するＲＦ増幅回路１１と、ＲＦ増幅回路１１により増幅された情報データのＲＦ信号を基準クロックに基づいて同期検出して復調し、復調された情報データの誤りを訂正して、所定の圧縮方式に基づいて圧縮された情報データを伸張して復号し、光ディスク２に記録された情報データを再生するとともに、情報データを符号化して所定の圧縮方式に基づいて圧縮する信号処理回路１２と、光ディスク装置１のシステム全体を制御するマイコン１３と、光ピックアップ３のデフォーカス値のデフォルト値等の各種データを保存する不揮発性メモリのフラッシュメモリ１４とで構成されている。
以上のように構成された光ディスク装置について、以下その動作について説明する。
組立時の初期調整で、マイコン１３は、スレッドサーボ回路７に制御信号を送出して、光ピックアップ３を光ディスク２の半径方向に移動させ、フォーカスサーボ回路１０に制御信号を送出して、光ピックアップ３のフォーカスサーボをＯＮにし、光ディスク２の中周位置ＲＡでＦＥＢ（Ｆｏｃｕｓ  Ｅｒｒｏｒ  Ｂｉａｓ）の調整が行われた後、光ディスク２の中周位置ＲＡでの最適デフォーカス値を取得する（図２（ａ）、（ｂ）参照）。そして、マイコン１３は、スレッドサーボ回路７に制御信号を送出して、光ピックアップ３を光ディスク２の半径方向に移動させ、光ピックアップ３により光ディスク２の内周位置Ｒａ１、外周位置Ｒａ２での光ピックアップ３から光ディスク２までの距離ａ１、ａ２をそれぞれ測定して、光ディスク２の中周位置ＲＡでの光ピックアップ３から光ディスク２までの距離Ａと、光ディスク２の内周位置Ｒａ１、外周位置Ｒａ２での光ピックアップ３から光ディスク２までの距離ａ１、ａ２と、光ピックアップ３の光ディスク２の中周位置ＲＡから内周位置Ｒａ１までの移動距離Ｌ１、中周位置ＲＡから外周位置Ｒａ２までの移動距離Ｌ２とにより光ディスク２の内周位置Ｒａ１、外周位置Ｒａ２での光ディスク２の半径方向のシークレール３ａの傾角の初期値θを測定する（図２（ａ）、（ｂ）参照）。
光ディスク２の内周位置Ｒａ１、外周位置Ｒａ２での光ディスク２の半径方向のシークレール３ａの傾角の初期値θが測定されると、マイコン１３は、測定されたシークレール３ａの傾角の初期値θを光ディスク２のアドレスに対する傾角特性として一次式を導出し、シークレール３の傾角の初期値θと光ピックアップ３の半径方向の移動距離Ｌ１、Ｌ２とを用いて光ディスク２のアドレスに対する傾角特性の一次式により光ディスク２の内周位置Ｒａ１、外周位置Ｒａ２での高さ方向の補正量を算出する。
光ディスク２の内周位置Ｒａ１、外周位置Ｒａ２での高さ方向の補正量が算出されると、マイコン１３は、算出された光ディスク２の内周位置Ｒａ１、外周位置Ｒａ２での高さ方向の補正量により光ディスク２の内周位置Ｒａ１、外周位置Ｒａ２での適切なデフォーカス値を算出し、算出されたデフォーカス値をデフォルト値としてフラッシュメモリ１４に保存する。
また、情報データの記録／再生時に、光ディスク２が光ディスク装置１のターンテーブル４ａに装着されると、マイコン１３は、フラッシュメモリ１４に保存されているデフォルト値の適切なデフォーカス値を読み出して、光ディスク２の半径方向位置での光ピックアップ３のデフォーカス値を設定する。そして、マイコン１３は、チルトコイル駆動回路８に制御信号を送出して、光ディスク装置１のターンテーブル４ａに装着された光ディスク２の反りに対する光ピックアップ３のチルトを調整する。
光ピックアップ３のチルトが調整されると、マイコン１３は、光ディスク２のアドレスに対する傾角特性の一次式により光ディスク２の内周位置Ｒａ１、外周位置Ｒａ２での高さ方向の補正量を再算出して、再算出された光ディスク２の内周位置Ｒａ１、外周位置Ｒａ２での高さ方向の補正量により、光ディスク装置１のターンテーブル４ａに装着された光ディスク２に対する光ピックアップ３のデフォーカス値を再設定して、光ディスク２に情報データを記録、或いは、光ディスク２に記録された情報データを再生する。これにより、機構的なシークレールの傾角による光ディスクの半径方向位置での光ディスクとの高さのばらつきに伴う記録再生品質の悪化を防ぐデフォーカス値の設定ができる。
また、図３の本発明の一実施例の光ディスク装置のＦＥＢの調整時の動作を示すフローチャートを基に説明する。
組立時の初期調整が開始されると、ステップＳ１からステップＳ２に進み、ステップＳ２で、ＦＥＢの調整が光ディスクの中周位置で行われた後、光ディスクの中周位置での最適デフォーカス値が取得されて、ステップＳ３に進む。
ステップＳ３で、光ディスクの内周位置、外周位置での光ディスクの半径方向のシークレールの傾角の初期値が測定され、ステップＳ４に進む。
ステップＳ４で、測定されたシークレールの傾角の初期値が光ディスクのアドレスに対する傾角特性として一次式が導出され、ステップＳ５に進む。
ステップＳ５で、傾角の初期値と光ピックアップの半径方向の移動距離とを用いて光ディスクのアドレスに対する傾角特性の一次式により光ディスクの内周位置、外周位置での高さ方向の補正量が算出されて、ステップＳ６に進む。
ステップＳ６で、算出された光ディスクの内周位置、外周位置での高さ方向の補正量により光ディスクの内周位置、外周位置でのデフォーカス値が算出されて、算出された光ディスクの内周位置、外周位置でのデフォーカス値がデフォルト値としてフラッシュメモリに保存され、ステップＳ７に進んで処理を終了する。
また、図４の本発明の一実施例の光ディスク装置の記録／再生時の動作を示すフローチャートを基に説明する。
光ディスクが光ディスク装置に装着されると、ステップＳ１１からステップＳ１２に進み、ステップＳ１２で、フラッシュメモリに保存されているデフォルト値のデフォーカス値が読み出されて、光ピックアップのデフォーカス値が設定され、ステップＳ１３に進む。
ステップＳ１３で、光ディスク装置に装着された光ディスクに対する光ピックアップのチルトが調整され、ステップＳ１４に進む。
ステップＳ１４で、傾角特性の一次式により光ディスクの内周位置、外周位置での高さ方向の補正量が再算出されて、ステップＳ１５に進む。
ステップＳ１５で、再算出された光ディスクの内周位置、外周位置での高さ方向の補正量により光ディスクの中周位置でのデフォーカス値の係数として光ディスクの内周位置、外周位置でのデフォーカス値の補正量が再算出されて、ステップＳ１６に進む。
ステップＳ１６で、再算出されたデフォーカス値の補正量により、光ディスク装置に装着された光ディスクに対する光ピックアップのデフォーカス値が再設定され、ステップＳ１７に進んで処理を終了する。
以上、本発明を実施するための最良の形態について詳述したが、本発明はこれに限定されるものではなく、当業者の通常の知識の範囲内でその変形や改良が可能であることはいうまでもない。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】本発明の一実施例の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施例の光ディスク装置のシークレールの傾角を示す説明図である。
【図３】本発明の一実施例の光ディスク装置のＦＥＢの調整時の動作を示すフローチャートである。
【図４】本発明の一実施例の光ディスク装置の記録／再生時の動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【０００８】
１  光ディスク装置
２  光ディスク
３  光ピックアップ
３ａ  シークレール
４  スピンドルモータ
４ａ  ターンテーブル
５  スピンドルサーボ回路
６  スレッドモータ
７  スレッドサーボ回路
８  チルトコイル駆動回路
９  トラッキングサーボ回路
１０  フォーカスサーボ回路
１１  ＲＦ増幅回路
１２  信号処理回路
１３  マイコン
１４  フラッシュメモリ
【図１】
2007080399.tif 000003
【図２】
2007080399.tif 000004
【図３】
2007080399.tif 000005
【図４】
2007080399.tif 000006