(57)【要約】【課題】記録型光ディスクにおける最適記録パワーを決定する手法において、光ディスクの感度ムラの影響を低減させ、ＯＰＣ精度を向上させる。【解決手段】テスト記録パワー系列Ｐ（ｉ）の中に離散的に感度変動観測用の一定のパワーＰｔを配置してテスト記録を行い、このテスト記録を行った位置の記録特性値から光ディスクの記録感度変動を算出し、この変動分を、最適記録パワーの算出に用いられる変数である、たとえば記録パワーまたは記録特性値などの変動量に換算して補正を行い、その補正された結果を用いてＰｏを算出する。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
感度変動観測用のパワーを離散的に配置した記録パワー系列を用いて光ディスクにテスト記録を行うステップと、
前記テスト記録が行われた位置の記録特性値を測定するステップと、
前記測定された記録特性値をもとに前記光ディスクの記録感度の変動を算出するステップと、
前記算出された記録感度の変動分をもとに、最適記録パワーの算出に用いられる変数の補正を行う補正ステップと
を具備することを特徴とする光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項２】
前記補正ステップでは、前記算出された記録感度の変動分を前記記録パワー系列における記録パワーの変動量に換算して前記記録パワー系列の補正を行うことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項３】
前記補正ステップでは、前記算出された記録感度の変動分を前記記録特性値の変動量に換算して前記記録特性値の補正を行うことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項４】
前記感度変動観測用のパワーが、前記記録パワー系列のいずれかのパワーであることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法。
【請求項５】
記録パワーを変更可能な光ピックアップと、
前記光ピックアップの情報から記録特性を測定する記録特性測定部と、
感度変動観測用のパワーを離散的に配置した記録パワー系列を用いて前記光ディスクにテスト記録を行い、前記テスト記録が行われた位置の記録特性値を測定し、前記測定された記録特性値をもとに前記光ディスクの記録感度の変動を算出し、前記算出された記録感度の変動分をもとに、最適記録パワーの算出に用いられる変数を補正し、この補正された変数を用いて前記光ピックアップの最適記録パワーを求める制御部と
を具備することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項６】
前記制御部は、前記算出された記録感度の変動分を前記記録パワー系列における記録パワーの変動量に換算して前記記録パワー系列の補正を行うことを特徴とする請求項５に記載の光ディスク記録装置。
【請求項７】
前記制御部は、前記算出された記録感度の変動分を前記記録特性値の変動量に換算して前記記録特性値の補正を行うことを特徴とする請求項５に記載の光ディスク記録装置。
【請求項８】
前記制御部は、前記感度変動観測用のパワーとして前記記録パワー系列のいずれかのパワーを選択し、この感度変動観測用のパワーを離散的に配置した記録パワー系列を用いて前記光ディスクにテスト記録を行うように制御することを特徴とする請求項５に記載の光ディスク記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクにレーザーによって記録を行う光ディスク記録装置に係り、特に光ディスクに対して最適記録パワーを設定して記録を行う光ディスク記録装置およびその最適記録パワー決定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に光ディスク記録の最適記録発光パワー（以下Ｐｏ：Optimum Write Power）を決定し制御する手法（以下ＯＰＣ：Optimum Power Control）では、Ｐｏを得るのに適した記録パワー（以下Ｐｍ）の近傍の数点を選び、これらのパワーでテスト記録を行うことによって得られる記録特性値（例えば、記録時の反射率の変化、記録後のアシンメトリ、振幅、変調度、ジッター等）を演算処理することでＰｏを算出していた（この演算処理を以下Ｐｏ演算と記述する）。
【０００３】
図１は従来のＯＰＣ手法の模式図を示す。ここでＰ（ｉ）はテスト記録を行う記録パワーである。ディスク１の同心円上に並べた矢印は記録トラックをテスト記録する様子を表し、その内周側の数字（０、１、２、３、４、５、・・・）はディスク１上の位置を示している。このようにＯＰＣではディスク１を回転させ、その連続領域に記録パワーを変えながらテスト記録が行われる。ここでは説明を簡単にするために、次式のように、Ｐ（ｉ）はｉが大きくなるに従って単調増加するものとし、その系列個数Ｎを６としたが、実際のＯＰＣでは様々な変数が用いられている。
【０００４】
Ｐ（ｉ）    ｉ：０〜Ｎ−１
【０００５】
ただし、Ｐ（ｉ）<Ｐ（ｉ＋１）
【０００６】
テスト記録を行うとディスクの記録感度に応じて記録特性値が変化する。この様子を図２に示す。この３つのグラフ（１）（２）（３）の横軸は、図１でのディスク位置を表している。縦軸は、上のグラフ（１）（２）（３）からそれぞれ記録パワーＰ、記録感度Ｓ、記録特性値Ｅである。上から３段目のグラフ（３）は、記録特性値が本来は破線のようになるべきところが感度ムラの影響を受けて実線のように変動した例である。ＯＰＣではこの記録特性値からＰｏを算出するので、従来から感度ムラがＰｏ精度の低下を招くという問題があった。
【０００７】
この感度ムラにはディスクの記録膜やカバー層の特性ムラだけでなく、たとえば汚れや、光軸のズレによる記録パワーロス等の見かけ上のムラも含まれる。
【０００８】
これまで、このような感度変動の影響を補償する手段として様々な方法が提案されている。しかしこれらの方法は予めテスト記録を行うエリアの記録特性を測定して補償演算を行ったり（たとえば特許文献１、特許文献２を参照）、予めエリアの記録特性を整えたりする方法（たとえば特許文献３を参照）であった。このような手法は記録と諸特性の測定という一連の動作を繰り返す必要があり、ＯＰＣ全体の処理が煩雑になる欠点があった。
【特許文献１】特開２００４−２５３０１６号公報
【特許文献２】特開２００２−３１９１３５号公報
【特許文献３】特開２０００−２５１２５４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
上記のように、従来のＯＰＣでは、光ディスクの感度ムラの影響を受けて記録特性値が変動するため、Ｐｏを精度良く求めることができないという問題があった。また、予めテスト記録を行うエリアの記録特性を測定して補償演算を行ったり、予めエリアの記録特性を整えたりする方法では、記録と諸特性の測定という一連の動作を繰り返す必要があり、ＯＰＣ全体の処理が煩雑になるという課題があった。
【００１０】
本発明はこのような事情を鑑み、光ディスクの感度ムラの影響を低減して、記録パワー制御の精度を向上させることのできる光ディスク記録装置およびその最適記録パワー決定方法を提供しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するために、本発明の光ディスク記録装置の最適記録パワー決定方法は、感度変動観測用のパワーを離散的に配置した記録パワー系列を用いて光ディスクにテスト記録を行うステップと、テスト記録が行われた位置の記録特性値を測定するステップと、測定された記録特性値をもとに光ディスクの記録感度の変動を算出するステップと、算出された記録感度の変動分をもとに、最適記録パワーの算出に用いられる変数の補正を行うステップとを具備することを特徴とする。
【００１２】
この発明によれば、光ディスクの感度ムラの影響を低減した最適記録パワーを得ることができ、記録パワー制御の精度を向上させることができる。記録パワー制御の精度が向上すると、記録パワー誤差に対して性能余裕の少ない光ディスクでも所望の記録性能を得ることが可能となる。また、本発明は、他の手法との併用も容易で、他の手法との併用により更なる感度ムラの影響を低減させる効果が期待できる。
【００１３】
なお、本発明で言う最適記録パワーの算出に用いられる変数とは、たとえば光学ピックアップにおけるレーザーの記録発光パワーであるが、本発明は、これに限定されるものではない。
【００１４】
本発明において、補正ステップでは、算出された記録感度の変動分を記録パワー系列における記録パワーの変動量に換算して記録パワー系列の補正を行うものとしてもよい。また、補正ステップでは、算出された記録感度の変動分を記録特性値の変動量に換算して前記記録特性値の補正を行うものとしてもよい。ただし、本発明は、補正する変数として、記録パワー、記録特性値を採用することに限定されるものではない。
【００１５】
感度変動観測用のパワーは、記録パワー系列のいずれかのパワーを採用してもよい。これにより感度変動観測用のパワーで記録した記録特性値も最適記録パワーの演算に用いることができて効率的であり、光ディスク上のテスト記録領域を節約することができる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、記録型光ディスクにおける最適記録パワーを決定する手法において、光ディスクの感度ムラの影響を低減して、記録パワー制御の精度向上を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
【００１８】
（第１の実施形態）
【００１９】
図３は本発明の第１の実施形態にかかる光ディスク記録装置の構成を示すブロック図である。同図において、１は光ディスク、２は光ディスク１を回転させるスピンドルモーターである。３はたとえば半導体レーザーとその駆動回路、およびレンズ等の光学部品やアクチュエーターで構成される光学ピックアップである。４は光学ピックアップ３を光ディスク１の接線方向へ動かすスレッドモーターである。７は光学ピックアップ３から得られる信号から光ディスク１に記録されているデータ、位置情報、同期タイミング等を再生する再生装置である。５は光学ピックアップ３でモニターされる各種エラー情報や再生装置７から得られる同期タイミング等をもとにスピンドルモーター２、スレッドモーター４、および光学ピックアップ３のアクチュエーターを制御し、光ディスク１の回転数、光学ピックアップ３の位置および光学ピックアップ３から出力されるレーザー光の位置、光軸、チルト、フォーカス等を所望の状態に制御するサーボ装置である。６は光学ピックアップ３でモニターされる情報をもとにたとえばレーザーの発光パワーなどを所望の値に制御するＡＰＣ（Automatic Power Control）装置である。８は光学ピックアップ３の情報から変調度、アシンメトリ、β値、ジッター等の記録特性値を測定する記録特性測定装置である。９は記録する情報をもとに光学ピックアップ３のレーザーの発光パワーを適切に変調する記録変調装置である。１０は各装置の制御装置で、シーケンサーや中央演算処理装置、メモリ等で構成される。
【００２０】
光ディスク１からデータを再生する際は、光学ピックアップ３から適切な光スポットを光ディスク１に照射し、サーボ装置５が光ディスク１を適切に回転させ、光学ピックアップ３を所望の位置に移動し、さらにアクチュエーター等を制御し、光スポットを光ディスク１上の記録トラックに走査させる。この状態で再生装置７が光ディスク１に記録されているデータを再生する。
【００２１】
光ディスク１にデータを記録する際は、前述のデータを再生している状態から記録変調装置９が光学ピックアップ３の発光波形を適切に変調して光ディスク１にデータを記録する。この時に必要な発光パワー情報は、この前にＯＰＣを行うことによって取得される。
【００２２】
本実施形態は、テスト記録パワー系列Ｐ（ｉ）の中に離散的に感度変動観測用の一定のパワーＰｔを配置してテスト記録を行い、このテスト記録を行った位置の記録特性値から光ディスク1の記録感度変動を算出し、この変動分を、最適記録パワーの算出に用いられる変数である、たとえば記録パワーまたは記録特性値などの変動量に換算して補正を行い、その補正された結果を用いてＰｏを算出することによって、ＯＰＣ精度を向上させるものである。
【００２３】
次に、本発明の本実施形態にかかる最適記録パワー決定方法について説明する。
【００２４】
図４は本発明の本実施形態にかかる最適記録パワー決定方法におけるテスト記録方法の模式図である。ここで個々の円弧状の矢印線は１つの記録パワーでテスト記録する記録トラックで、この矢印線の円周状の連なりはＯＰＣで記録パワーを変えながらテスト記録を行っている様子を表している。この内周側に並べた０〜９の数字はディスク上の位置ｊである。ＰｔとＰ（ｉ）はその矢印が図示する記録トラックをテスト記録する記録パワーであり、Ｐｔは感度変動観測用の一定パワー、Ｐ（ｉ）はテスト記録パワー系列である。
【００２５】
ここでは説明を簡略化する目的でテスト記録パワー系列Ｐ（ｉ）の系列個数Ｎを６としているが、本発明はこれに限定されるものではない。また、感度変動観測用のパワーＰｔでのテスト記録をディスク位置０、３、６、９に等間隔に配置しているが、離散的に配置されているなら等間隔でなくても構わない。
【００２６】
図５は記録感度変動の影響を補正する方法として記録パワーの値を補正する方法を用いた場合の最適記録パワー決定方法を示すフローチャートである。図６は本実施形態の最適記録パワー決定方法における変数の関係を模式的に示す図である。図６において、E（ｉ）はテスト記録パワー系列Ｐ（ｉ）で記録した位置に対して測定された記録特性値である。Ｅｔ（ｊ）はディスク位置ｊに感度変動観測用のパワーＰｔで記録した位置に対して測定された記録特性値である。補正係数Ａ（ｊ）はディスク位置ｊでの記録感度補正に用いる係数である。Ｐｃ（ｉ）は記録感度の変動分を記録パワーに換算して補正したパワー系列である。
【００２７】
以下に、本実施形態の最適記録パワー決定方法の具体的な手順を説明する。
【００２８】
（ステップＳ１０１）まず、図４の例に示したように、感度変動観測用のパワーＰｔを離散的に配置したテスト記録パワー系列Ｐ（ｉ）を用いて光ディスク１へのテスト記録を行う。
【００２９】
（ステップＳ１０２）テスト記録した位置の記録特性値Ｅ（ｉ），Ｅｔ（ｊ）を測定する。
【００３０】
（ステップＳ１０３）感度変動観測用のパワーＰｔでテスト記録した位置に対応する記録特性値（Ｅｔ（０），Ｅｔ（３），Ｅｔ（６），Ｅｔ（９））の平均値Ｅｔａｖを次式により算出する。
【００３１】
【数１】
2007280568.tif 000003
【００３２】
（ステップＳ１０４）図７に示すように、感度変動観測用のパワーＰｔとこれに対応する記録特性値Ｅｔ（ｊ）、及びその近傍のテスト記録パワーＰ（ｉ）とこれに対応する記録特性値Ｅ（ｉ）から、感度変動観測用のパワーＰｔ近傍でのパワーに対する記録特性値の感度ΔＥ／ΔＰを算出する。
【００３３】
（ステップＳ１０５）記録特性値Ｅｔ（ｊ）と平均値Ｅｔａｖとの差は記録感度の変動量を反映している。本実施形態ではこの記録感度の変動量を記録パワーの変動量に換算して補正を行う。そこで感度変動観測用のパワーＰｔで記録したディスク位置（０，３，６，９）での換算係数Ａ（ｊ）を次式から算出する。
【００３４】
【数２】
2007280568.tif 000004
【００３５】
（ステップＳ１０６）図８に示すように、補間演算を用いてステップＳ１０５で得たパワー換算係数Ａ（ｊ）から他のディスク位置での換算係数Ａ（ｊ）を算出する。
【００３６】
補間演算方法はシンプルな直線補間法でもよいが本発明はこれに限定されるものではない。
【００３７】
（ステップＳ１０７）記録感度の変動分を等価的な記録パワーの変動量とし、この変動量にもとづく補正を施した記録パワー系列Ｐｃ（ｉ）を次式にて算出する。
【００３８】
【数３】
2007280568.tif 000005
【００３９】
（ステップＳ１０８）記録感度の変動分を補正した記録パワー系列Ｐｃ（ｉ）と記録特性値Ｅ（ｉ）を用いてＰｏ演算を行う。Ｐｏ演算方法は様々な方式が提案されているが、本発明はこれに限定されるものではない。
【００４０】
テスト記録パワー系列としてＰ（ｉ）をＰｃ（ｉ）に置き換えることで記録感度変動の影響が低減される様子を図９に示す。破線が補正前の記録パワー系列Ｐ（ｉ）による特性、太い実線は記録感度の変動分を補正した記録パワー系列Ｐｃ（ｉ）による特性である。このようにＰ（ｉ）をＰｃ（ｉ）に置き換えると、黒丸で示した測定値が白丸で示した点に補正される。すなわち、光ディスクの記録感度変動の影響が抑制される。
【００４１】
（ステップＳ１０９）これまでの手順によって記録感度の変動分が補正されたＰｏが得られる。
【００４２】
（第２の実施形態）
【００４３】
次に、本発明の第２の実施形態について説明する。
【００４４】
第１の実施形態では、記録感度の変動分を記録パワーの変動量に換算して補正することによって記録感度変動の影響を補正するようにしたが、記録感度の変動分を記録特性値の変動に換算して記録感度変動の影響を補正するようにしてもよい。たとえば記録特性値がテスト記録を行うパワー範囲内で近似的に線形と見なせるならば、記録特性値変動として補正した方が処理を簡略化できる。
【００４５】
図１０はこの記録特性値の補正例を示す図である。ここで、実線は記録感度ムラの無い場合の記録特性値である。Ｅ（ｍ）はディスク位置ｊにパワーＰ（ｍ）で記録した場合の記録特性値で、ここでは感度ムラの影響を受けて実線の特性からずれている。この時、図から明らかなように感度ムラの無い場合の記録特性値Ｅｃ（ｍ）は次式で表される。
【００４６】
【数４】
2007280568.tif 000006
【００４７】
これに式（2）を代入すると次式が得られる。
【００４８】
【数５】
2007280568.tif 000007
【００４９】
すなわち、ディスク位置ｊに感度変動観測用のパワーＰｔで記録した場合の記録特性値Ｅｔ（ｊ）が求まれば、ΔＥ／ΔＰを算出すること無くＥｃ（ｍ）が得られる。さらにＰ（ｍ）／Ｐｔを近似的に１としても差し支えないなら次式を用いてもよい。
【００５０】
【数６】
2007280568.tif 000008
【００５１】
この式を用いると乗算、除算計算を省けるので、ソフトウェアの演算量を大幅に削減できるメリットがある。
【００５２】
図１１は、以上の性質を利用して、記録感度変動の影響を補正する方法として記録特性値を補正する方法を用いた場合の最適記録パワー決定方法の手順を示すフローチャートである。
【００５３】
（ステップＳ１０１）まず、図４に示したように、感度変動観測用のパワーＰｔを離散的に配置したテスト記録パワー系列Ｐ（ｉ）を用いて光ディスク１へのテスト記録を行う。
【００５４】
（ステップＳ１０２）テスト記録した位置の記録特性値Ｅ（ｊ），Ｅｔ（ｊ）を測定する。
【００５５】
（ステップＳ１０３）感度変動観測用のパワーＰｔでテスト記録した位置に対応する記録特性値（Ｅｔ（０），Ｅｔ（３），Ｅｔ（６），Ｅｔ（９））の平均値Ｅｔａｖを式(1)により算出する。ここまでの手順は第１の実施形態のステップＳ１０１〜ステップＳ１０３と同じである。
【００５６】
（ステップＳ２０１）感度変動観測用のパワーＰｔで記録したディスク位置（０，３，６，９）の記録特性値Ｅｔ（ｊ）から、他のディスク位置での記録特性値Ｅｔ（ｊ）を補間処理で算出する。
【００５７】
（ステップＳ２０２）式（5）、または式（6）を用いて、記録感度の変動分を記録特性値の変動量に換算して補正した記録特性値Ｅｃ（ｉ）を算出する。
【００５８】
（ステップＳ２０３）記録感度の変動分を補正した記録特性値Ｅｃ（ｉ）と記録パワー系列Ｐ（ｉ）とを用いてＰｏ演算を行う。
【００５９】
（ステップＳ２０４）これまでの手順によって記録感度変動分が補正されたＰｏが得られる。
【００６０】
（第３の実施形態）
【００６１】
感度変動観測用のパワーＰｔに、テスト記録パワー系列Ｐ（ｉ）の何れかの値を採用しても差し支えない。こうすると感度変動観測用のパワーＰｔで記録した記録特性値もＰｏ演算に用いることができて効率的であり、光ディスク上のテスト記録領域の節約にもなる。
【００６２】
図１２は本実施形態の最適記録パワー決定方法におけるテスト記録方法の模式図、図１３は本実施形態の最適記録パワー決定方法における変数の関係を模式的に示す図である。
【００６３】
この実施形態では、感度変動観測用のパワーＰｔとしてテスト記録パワー系列における記録パワーＰ（３）を用いている。図１２に示すように、テスト記録に用いる領域がディスク位置８までとなっており上記の第１の実施形態、第２の実施形態よりも節約できている。図１３では記録特性値Ｅ（３）が無いが、これは記録パワーＰ（３）で記録したディスク位置の記録特性値Ｅｔ（０），Ｅｔ（３），Ｅｔ（５），Ｅｔ（８）の何れかをＥ（３）とするか、または記録パワーＰ（３）で記録した全ての記録特性値の平均を記録特性値Ｅ（３）とすればよい。
【００６４】
図１４は、この手法を第１の実施形態に適用した場合のテスト記録の手順を示すフローチャートである。ステップＳ３０１で、テスト記録パワー系列Ｐ（ｉ）の中から感度変動観測用のパワーＰｔを選択し、この選択された感度変動観測用のパワーＰｔを離散的に配置したテスト記録パワー系列Ｐ（ｉ）を用いて光ディスクへのテスト記録を行う。ステップＳ３０２より以後の動作は第１の実施形態と同じである。
【００６５】
図１５は、この手法を第２の実施形態に適用した場合のテスト記録の手順を示すフローチャートである。ステップＳ４０１で、テスト記録パワー系列Ｐ（ｉ）の中から感度変動観測用のパワーＰｔを選択し、この選択された感度変動観測用のパワーＰｔを離散的に配置したテスト記録パワー系列Ｐ（ｉ）を用いて光ディスクへのテスト記録を行う。ステップＳ４０２より以後の動作は第2の実施形態と同じである。
【００６６】
以上、記録感度の変動の影響を記録パワーＰ（ｉ）で補正する例と記録特性値Ｅ（ｉ）で補正する例を示したが、本発明はこれに限定されるものではない。
【００６７】
なお、本発明は、上述の実施形態にのみ限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論である。
【図面の簡単な説明】
【００６８】
【図１】従来のＯＰＣ手法について説明するための図である。
【図２】従来のＯＰＣ手法の課題を説明するための図である。
【図３】本発明の実施形態にかかる光ディスク記録装置の構成を示すブロック図である。
【図４】本発明の第１の実施形態の最適記録パワー決定方法におけるテスト記録方法の模式図である。
【図５】第１の実施形態の最適記録パワー決定方法を示すフローチャートである。
【図６】第１の実施形態の最適記録パワー決定方法における変数の関係を模式的に示す図である。
【図７】感度変動観測用のパワーＰｔ近傍でのパワーに対する記録特性値の感度ΔＥ／ΔＰの算出方法に関する図である。
【図８】記録パワー補正係数の補間処理に関する図である。
【図９】補正された記録パワー系列によって記録感度変動による影響が抑制される様子を示す図である。
【図１０】本発明の第２の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法における記録特性値の補正例を示す図である。
【図１１】第２の実施形態の最適記録パワー決定方法を示すフローチャートである。
【図１２】本発明の第３の実施形態にかかる最適記録パワー決定方法におけるテスト記録方法の模式図である。
【図１３】第３の実施形態の最適記録パワー決定方法における変数の関係を模式的に示す図である。
【図１４】第３の実施形態の最適記録パワー決定方法を示すフローチャートである。
【図１５】第４の実施形態の最適記録パワー決定方法を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００６９】
１      光ディスク
２      スピンドルモーター
３      光学ピックアップ
４      スレッドモーター
５      サーボ装置
６      ＡＰＣ装置
７      再生装置
８      記録特性測定装置
９      記録変調装置
１０      制御装置
【図１】
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【図２】
2007280568.tif 000010
【図３】
2007280568.tif 000011
【図４】
2007280568.tif 000012
【図５】
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【図６】
2007280568.tif 000014
【図７】
2007280568.tif 000015
【図８】
2007280568.tif 000016
【図９】
2007280568.tif 000017
【図１０】
2007280568.tif 000018
【図１１】
2007280568.tif 000019
【図１２】
2007280568.tif 000020
【図１３】
2007280568.tif 000021
【図１４】
2007280568.tif 000022
【図１５】
2007280568.tif 000023