(57)【要約】【課題】高コスト化を招くことなく、簡易な制御で光ビームの副走査方向の位置ずれを検出できる光走査装置を提供する。【解決手段】副走査方向に対する受光面の幅が複数の光ビーム全体の副走査方向に対する幅よりも小さく且つ複数の光ビームのうちの副走査方向に対して隣接する２本の光ビームの副走査方向に対する間隔の最大値よりも大きいＳＯＳセンサ４０が、複数の光ビームにより走査される走査領域内に配置されており、発光制御部５０により、複数の発光部を１つずつ発光させる発光制御を行い、位置ずれ検出部５２により、発光制御に応じたＳＯＳセンサ４０による受光結果に基づいて複数の光ビームの副走査方向に対する位置ずれ量を検出する。【選択図】図５
2007187730.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入射される光ビームを主走査方向に偏向する偏向手段と、
少なくとも前記主走査方向と直交する副走査方向に並ぶ複数の発光部を有し、当該複数の発光部から前記偏向手段へ複数の光ビームを出射する光源と、
前記偏向手段により偏向された前記複数の光ビームにより走査される走査領域内に配置され、前記副走査方向に対する受光面の幅が前記複数の光ビーム全体の前記副走査方向に対する幅よりも小さく且つ前記複数の光ビームのうちの前記副走査方向に対して隣接する２本の光ビームの前記副走査方向に対する間隔の最大値よりも大きい受光手段と、
前記複数の発光部を１つずつ発光させる発光制御を行う発光制御手段と、
前記発光制御手段による発光制御に応じた前記受光手段による受光結果に基づいて前記複数の光ビームの前記副走査方向に対する位置ずれ量を検出する検出手段と、
を備えた光走査装置。
【請求項２】
前記複数の発光部は、それぞれ前記副走査方向の位置に対応して識別情報が予め対応付けられ、
前記受光手段は、前記受光面で光ビームを受光したか否かを示す信号を出力し、
前記検出手段は、前記発光制御に応じて前記受光手段から出力される信号に基づいて前記受光面で光ビームが受光された際に発光した前記発光部を特定し、特定した発光部の前記識別情報に基づいて前記複数の光ビームと前記受光面の前記副走査方向に対する相対的な位置関係を特定し、特定した位置関係に基づいて前記複数の光ビームの前記副走査方向に対する位置ずれ量を検出する
請求項１記載の光走査装置。
【請求項３】
前記発光制御手段は、前記発光制御に代えて、各発光部から前記副走査方向の一方側に連続する所定個の発光部をそれぞれ１つのグループとして発光部群を構成し、前記発光部群毎に当該発光部群に含まれる発光部を同時に発光させる発光制御を行い、
前記検出手段は、前記発光制御手段による発光制御に応じて前記受光手段から出力される信号に基づいて前記受光面で光ビームが受光された際に発光した前記発光部群を特定し、特定した発光部群に含まれる発光部の前記識別情報に基づいて前記複数の光ビームと前記受光面の前記副走査方向に対する相対的な位置関係を特定する
請求項２記載の光走査装置。
【請求項４】
前記複数の発光部は、それぞれ前記副走査方向の位置に対応して識別情報が予め対応付けられ、
前記受光手段は、前記受光面で受光した光ビームの光量を示す信号を出力し、
前記検出手段は、前記発光制御に応じて前記受光手段から出力される信号のレベルが最大となった際に発光した発光部を特定し、特定した発光部の前記識別情報に基づいて前記複数の光ビームと前記受光面の前記副走査方向に対する相対的な位置関係を特定し、特定した位置関係に基づいて前記複数の光ビームの前記副走査方向に対する位置ずれ量を検出する
請求項１記載の光走査装置。
【請求項５】
前記発光制御手段は、前記発光制御に代えて、各発光部から前記副走査方向の一方側に連続する所定個の発光部をそれぞれ１つのグループとして発光部群を構成し、前記発光部群毎に当該発光部群に含まれる発光部を同時に発光させる発光制御を行い、
前記検出手段は、前記発光制御手段による発光制御に応じて前記受光手段から出力される信号のレベルが最大となった際に発光した前記発光部群を特定し、特定した発光部群に含まれる発光部の前記識別情報に基づいて前記複数の光ビームと前記受光面の前記副走査方向に対する相対的な位置関係を特定する
請求項４記載の光走査装置。
【請求項６】
前記発光制御手段は、前記複数の発光部を前記副走査方向に連続するように所定個ずつグループに分け、前記グループ毎に当該グループに含まれる発光部を同時に発光させ、前記受光手段による受光結果に基づいて前記受光面で光ビームが受光された際に発光したグループを求め、当該グループに含まれる発光部に対して前記発光制御を行う
請求項１乃至請求項５の何れか１項記載の光走査装置。
【請求項７】
前記検出手段により検出された前記位置ずれ量を記憶する記憶手段をさらに備え、
前記発光制御手段は、前記検出手段により位置ずれ量を新たに検出する際に、前記複数の光ビームと前記受光面が前記副走査方向に対して前記記憶手段に記憶された位置ずれ量だけ位置ずれが発生していた際に当該受光面で光ビームが受光される前記発光部を優先的に発光させる
請求項１乃至請求項６の何れか１項記載の光走査装置。
【請求項８】
前記光源は、前記副走査方向に対して複数の発光部が配列した列を前記主走査方向に少なくとも２列有するものとし、
前記発光制御手段は、前記光源から出射された前記複数の光ビームが前記偏向手段により偏向されて前記受光面を走査するタイミングで何れか１列の発光部を全て発光させ、他の列の各発光部に対して前記発光制御を行う
請求項１乃至請求項７の何れか１項記載の光走査装置。
【請求項９】
前記発光部は、出射する光ビームの光量が調整可能とされ、
前記受光手段は、前記受光面で受光した光ビームの光量を示す信号を出力し、
前記発光制御手段は、前記発光制御に代えて、前記複数の発光部を同時かつ各発光部から出射される光ビームの光量が前記副走査方向の一方方向の順に増加するように発光させる発光制御を行い、
前記検出手段は、前記発光制御手段による発光制御に応じて前記受光手段から出力される信号のレベルに基づいて前記複数の光ビームと前記受光面の前記副走査方向に対する相対的な位置関係を特定し、特定した位置関係に基づいて前記複数の光ビームの前記副走査方向に対する位置ずれ量を検出する
請求項１記載の光走査装置。
【請求項１０】
前記光源は、画像形成対象とする画像データに基づいて変調した前記複数の光ビームを出射して被走査面に画像を形成するものとし、
前記検出手段は、非画像形成時に前記位置ずれ量の検出を行なう
請求項１乃至請求項９の何れか１項記載の光走査装置。
【請求項１１】
当該光走査装置内部の温度を検出する温度検出手段をさらに備え、
前記検出手段は、前記温度検出手段により検出された温度が一定量変化したタイミングで前記位置ずれ量の検出を行なう
請求項１乃至請求項９の何れか１項記載の光走査装置。
【請求項１２】
前記受光手段は、前記複数の光ビームの変調開始のタイミングを検出する変調開始タイミング検出手段を兼ねる
請求項１乃至請求項１１の何れか１項記載の光走査装置。
【請求項１３】
前記発光制御手段は、画像形成対象とする画像データにより示される画像の前記副走査方向の走査ラインに対応して前記光源の各発光部から光ビームを出射させて被走査面に画像を形成するものとし、
前記副走査方向に対して前記検出手段により検出された位置ずれの方向と逆方向に前記位置ずれ量だけ、画像データにより示される画像の走査ラインの書き出し位置を補正する補正手段をさらに備えた
請求項１乃至請求項１２の何れか１項記載の光走査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光走査装置に係り、特に、光源から出射された複数の光ビームを偏向手段により偏向させて被走査面を走査させる光走査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、電子写真方式を用いてカラー画像を形成するカラーレーザープリンタやデジタル複写機等の画像形成装置が知られている。この種の画像形成装置には、例えば、イエロー（Ｙ）、マゼンタ（Ｍ）、シアン（Ｃ）、ブラック（Ｋ）の各色に対応して４個の感光体ドラムを備え、画像データに基づいて光走査装置から各感光体ドラムに光ビームをそれぞれ走査させて各色に対応した静電潜像を形成し、形成された静電潜像を各色のトナーによって現像した各色のトナー像を中間転写体上に重ね合わせるように転写してカラーのトナー像を形成しているものがある。
【０００３】
ところで、光走査装置は、温度変化等により出射される光ビームの光軸にずれが発生する場合があり、この光ビームの光軸のずれに起因して光ビームが走査する走査領域に位置ずれが発生し、重ね合わせた際に各色のトナー像に位置ずれが発生して画像の品質が低下する場合がある、という問題点があった。
【０００４】
この問題を解決するために適用できる技術として、特許文献１には、主走査方向に２つのセンサ（ＳＯＳ（Sart of scan）センサ及びＥＯＳ（End of scan）センサ）を配置し、２つのセンサからそれぞれ出力される信号の時間差を計測することにより主走査方向の光ビームの位置ずれの検知し、形成する画像の主走査方向の倍率や画像の書き出しタイミングを補正する技術が開示されている。
【０００５】
しかし、特許文献１の技術では、光ビームの主走査方向の位置ずれの検出できるが、主走査方向と直交する副走査方向の位置ずれを検出できなかった。
【０００６】
そこで、特許文献２には、ＳＯＳセンサの受光面を台形状とし、光ビームが当該受光面の上底と下底の間を横切る時間を計測することにより、光ビームの副走査方向の位置ずれを検知する技術が開示されている。
【０００７】
また、特許文献３には、光ビームが走査する走査領域に副走査位置検知（ＰＳＤ）センサを設けて光ビームの副走査方向の位置ずれを検知する技術が開示されている。
【特許文献１】特開２００２−２６７９７０号公報
【特許文献２】特開平１０−２３５９２８号公報
【特許文献３】特開２０００−１８０７４７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ところで、近年、複数の光ビームを出射する光源を備えた光走査装置が提案されている。画像形成装置では、この種の光走査装置を採用した場合、光源から複数の光ビームを出射させて同時に複数ラインを走査させることができるため、画像形成の処理速度を高速化することができる。
【０００９】
しかしながら、複数の光ビームを出射する光源を備えた構成の光走査装置に、特許文献２の技術を適用した場合、いずれかの光ビームがＳＯＳセンサの台形状の受光面の上底と下底の間を横切る時間を計測する必要があるため、制御部の構成が複雑となってしまう、という問題点があった。
【００１０】
また、特許文献３の技術を適用して副走査位置検知センサを設けた場合、デバイスが高価であるため、コストアップとなってしまう、という問題点もあった。
【００１１】
本発明は上記問題点を解決するためになされたものであり、高コスト化を招くことなく、簡易な制御で光ビームの副走査方向の位置ずれを検出できる光走査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記目的を達成するために本発明の光量制御装置は、入射される光ビームを主走査方向に偏向する偏向手段と、少なくとも前記主走査方向と直交する副走査方向に並ぶ複数の発光部を有し、当該複数の発光部から前記偏向手段へ複数の光ビームを出射する光源と、前記偏向手段により偏向された前記複数の光ビームにより走査される走査領域内に配置され、前記副走査方向に対する受光面の幅が前記複数の光ビーム全体の前記副走査方向に対する幅よりも小さく且つ前記複数の光ビームのうちの前記副走査方向に対して隣接する２本の光ビームの前記副走査方向に対する間隔の最大値よりも大きい受光手段と、前記複数の発光部を１つずつ発光させる発光制御を行う発光制御手段と、前記発光制御手段による発光制御に応じた前記受光手段による受光結果に基づいて前記複数の光ビームの前記副走査方向に対する位置ずれ量を検出する検出手段と、を備えている。
【００１３】
請求項１記載の発明によれば、光源は少なくとも主走査方向と直交する副走査方向に並ぶ複数の発光部を有しており、複数の発光部から出射された複数の光ビームが、偏向手段により、主走査方向に偏向される。
【００１４】
そして、本発明によれば、副走査方向に対する受光面の幅が複数の光ビーム全体の副走査方向に対する幅よりも小さく且つ複数の光ビームのうちの副走査方向に対して隣接する２本の光ビームの副走査方向に対する間隔の最大値よりも大きい受光手段が、偏向手段により偏向された複数の光ビームにより走査される走査領域内に配置されており、発光制御手段により、複数の発光部を１つずつ発光させる発光制御が行われ、検出手段により、発光制御手段による発光制御に応じた受光手段による受光結果に基づいて複数の光ビームの副走査方向に対する位置ずれ量が検出される。
【００１５】
このように、請求項１記載の発明によれば、副走査方向に対する受光面の幅が複数の光ビーム全体の副走査方向に対する幅よりも小さく且つ複数の光ビームのうちの副走査方向に対して隣接する２本の光ビームの副走査方向に対する間隔の最大値よりも大きい受光手段が、複数の光ビームにより走査される走査領域内に配置されており、複数の発光部を１つずつ発光させる発光制御を行い、発光制御に応じた受光手段による受光結果に基づいて複数の光ビームの副走査方向に対する位置ずれ量を検出しているので、簡易な制御で光ビームの副走査方向の位置ずれを検出できる。また、副走査位置検知センサ等の特殊なデイバスを用いる必要がないため、高コスト化を招くことがない。
【００１６】
なお、請求項１記載の発明は、請求項２記載の発明のように、前記複数の発光部は、それぞれ前記副走査方向の位置に対応して識別情報が予め対応付けられ、前記受光手段は、前記受光面で光ビームを受光したか否かを示す信号を出力し、前記検出手段は、前記発光制御に応じて前記受光手段から出力される信号に基づいて前記受光面で光ビームが受光された際に発光した前記発光部を特定し、特定した発光部の前記識別情報に基づいて前記複数の光ビームと前記受光面の前記副走査方向に対する相対的な位置関係を特定し、特定した位置関係に基づいて前記複数の光ビームの前記副走査方向に対する位置ずれ量を検出してもよい。
【００１７】
また、請求項２記載の発明は、請求項３記載の発明のように、前記発光制御手段は、前記発光制御に代えて、各発光部から前記副走査方向の一方側に連続する所定個の発光部をそれぞれ１つのグループとして発光部群を構成し、前記発光部群毎に当該発光部群に含まれる発光部を同時に発光させる発光制御を行い、前記検出手段は、前記発光制御手段による発光制御に応じて前記受光手段から出力される信号に基づいて前記受光面で光ビームが受光された際に発光した前記発光部群を特定し、特定した発光部群に含まれる発光部の前記識別情報に基づいて前記複数の光ビームと前記受光面の前記副走査方向に対する相対的な位置関係を特定してもよい。
【００１８】
また、請求項１記載の発明は、請求項４記載の発明のように、前記複数の発光部は、それぞれ前記副走査方向の位置に対応して識別情報が予め対応付けられ、前記受光手段は、前記受光面で受光した光ビームの光量を示す信号を出力し、前記検出手段は、前記発光制御に応じて前記受光手段から出力される信号のレベルが最大となった際に発光した発光部を特定し、特定した発光部の前記識別情報に基づいて前記複数の光ビームと前記受光面の前記副走査方向に対する相対的な位置関係を特定し、特定した位置関係に基づいて前記複数の光ビームの前記副走査方向に対する位置ずれ量を検出してもよい。
【００１９】
また、請求項４記載の発明は、請求項５記載の発明のように、前記発光制御手段は、前記発光制御に代えて、各発光部から前記副走査方向の一方側に連続する所定個の発光部をそれぞれ１つのグループとして発光部群を構成し、前記発光部群毎に当該発光部群に含まれる発光部を同時に発光させる発光制御を行い、前記検出手段は、前記発光制御手段による発光制御に応じて前記受光手段から出力される信号のレベルが最大となった際に発光した前記発光部群を特定し、特定した発光部群に含まれる発光部の前記識別情報に基づいて前記複数の光ビームと前記受光面の前記副走査方向に対する相対的な位置関係を特定してもよい。
【００２０】
また、本発明は、請求項６記載の発明のように、前記発光制御手段は、前記複数の発光部を前記副走査方向に連続するように所定個ずつグループに分け、前記グループ毎に当該グループに含まれる発光部を同時に発光させ、前記受光手段による受光結果に基づいて前記受光面で光ビームが受光された際に発光したグループを求め、当該グループに含まれる発光部に対して前記発光制御を行うようにしてもよい。
【００２１】
また、本発明は、請求項７記載の発明のように、前記検出手段により検出された前記位置ずれ量を記憶する記憶手段をさらに備え、前記発光制御手段は、前記検出手段により位置ずれ量を新たに検出する際に、前記複数の光ビームと前記受光面が前記副走査方向に対して前記記憶手段に記憶された位置ずれ量だけ位置ずれが発生していた際に当該受光面で光ビームが受光される前記発光部を優先的に発光させてもよい。
【００２２】
また、本発明は、請求項８記載の発明のように、前記光源は、前記副走査方向に対して複数の発光部が配列した列を前記主走査方向に少なくとも２列有するものとし、前記発光制御手段は、前記光源から出射された前記複数の光ビームが前記偏向手段により偏向されて前記受光面を走査するタイミングで何れか１列の発光部を全て発光させ、他の列の各発光部に対して前記発光制御を行ってもよい。
【００２３】
また、請求項１記載の発明は、請求項９記載の発明のように、前記発光部は、出射する光ビームの光量が調整可能とされ、前記受光手段は、前記受光面で受光した光ビームの光量を示す信号を出力し、前記発光制御手段は、前記発光制御に代えて、前記複数の発光部を同時かつ各発光部から出射される光ビームの光量が前記副走査方向の一方方向の順に増加するように発光させる発光制御を行い、前記検出手段は、前記発光制御手段による発光制御に応じて前記受光手段から出力される信号のレベルに基づいて前記複数の光ビームと前記受光面の前記副走査方向に対する相対的な位置関係を特定し、特定した位置関係に基づいて前記複数の光ビームの前記副走査方向に対する位置ずれ量を検出してもよい。
【００２４】
また、本発明は、請求項１０記載の発明のように、前記光源は、画像形成対象とする画像データに基づいて変調した前記複数の光ビームを出射して被走査面に画像を形成するものとし、前記検出手段は、非画像形成時に前記位置ずれ量の検出を行なってもよい。
【００２５】
また、本発明は、請求項１１記載の発明のように、当該光走査装置内部の温度を検出する温度検出手段をさらに備え、前記検出手段は、前記温度検出手段により検出された温度が一定量変化したタイミングで前記位置ずれ量の検出を行なうことが好ましい。
【００２６】
また、本発明は、請求項１２記載の発明のように、前記受光手段は、前記複数の光ビームの変調開始のタイミングを検出する変調開始タイミング検出手段を兼ねてもよい。
【００２７】
また、本発明は、請求項１３記載の発明のように、前記発光制御手段は、画像形成対象とする画像データにより示される画像の前記副走査方向の走査ラインに対応して前記光源の各発光部から光ビームを出射させて被走査面に画像を形成するものとし、前記副走査方向に対して前記検出手段により検出された位置ずれの方向と逆方向に前記位置ずれ量だけ、画像データにより示される画像の走査ラインの書き出し位置を補正する補正手段をさらに備えてもよい。
【発明の効果】
【００２８】
以上説明したように、本発明によれば、副走査方向に対する受光面の幅が複数の光ビーム全体の副走査方向に対する幅よりも小さく且つ複数の光ビームのうちの副走査方向に対して隣接する２本の光ビームの副走査方向に対する間隔の最大値よりも大きい受光手段が、複数の光ビームにより走査される走査領域内に配置されており、複数の発光部を１つずつ発光させる発光制御を行い、発光制御に応じた受光手段による受光結果に基づいて複数の光ビームの副走査方向に対する位置ずれ量を検出しているので、高コスト化を招くことなく、簡易な制御で光ビームの副走査方向の位置ずれを検出できる、という優れた効果を有する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２９】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について詳細に説明する。なお、本実施の形態では、本発明の光走査装置を画像形成装置に採用した場合について説明する。
【００３０】
［第１の実施の形態］
図１には、実施の形態に係る画像形成装置１０の概略構成が示されている。
【００３１】
同図に示されるように、画像形成装置１０には、ブラック（Ｋ）画像形成用の感光体ドラム１１Ｋ、イエロー（Ｙ）画像形成用の感光体ドラム１１Ｙ、マゼンダ（Ｍ）画像形成用の感光体ドラム１１Ｍ、シアン（Ｃ）画像形成用の感光体ドラム１１Ｃ、が略等間隔で並んで配置され、それぞれ矢印Ｆ方向に回転する。なお、これ以降、ＹＭＣＫを区別する場合は、符号の後にＹ、Ｍ、Ｃ、Ｋのいずれかを付して説明し、ＹＭＣＫを区別しない場合は、Ｙ、Ｍ、Ｃ、Ｋを省略する。
【００３２】
各感光体ドラム１１の上方には、本実施の形態に係る光走査装置２０が並んで配置されている。
【００３３】
また、各感光体ドラム１１の下方には、複数のローラ１８に張架された中間転写ベルト１９が設けられている。この中間転写ベルト１９は、図示しないモータの駆動力により矢印Ｅ方向に搬送されて各感光体ドラム１１と転写器１４との間の転写位置に案内される。
【００３４】
各感光体ドラム１１は、各帯電器１２によって表面が一様に帯電される。帯電した感光体ドラム１１は光走査装置２０によって各色に対応する光ビームＬ（ＬＹ，ＬＭ，ＬＣ，ＬＫ）が走査されて、静電潜像が形成される。静電潜像は、現像器１３によって現像され、各感光体ドラム１１上に各色トナー像が形成される。
【００３５】
各感光体ドラム１１に形成された各色トナー像は、中間転写ベルト１９のベルト面上で互いに重なり合うように中間転写ベルト１９に各々転写され、中間転写ベルト１９上にフルカラートナー像が形成される。形成されたフルカラートナー像は、記録用紙Ｐに一括して転写された後、定着器（図示省略）に送られて加熱定着され、記録用紙Ｐにはフルカラー画像が形成される。
【００３６】
図２には、実施の形態に係る光走査装置２０の詳細な構成が示されている。
【００３７】
同図に示されるように、光走査装置２０は、光源として複数の光ビームを出射する面発光型のレーザーアレイ２２と、出射された複数の光ビームを主走査方向に偏向するポリゴンミラー２４と、を備えている。レーザーアレイ２２は、回路基板２１に取り付けられている。なお、レーザーアレイ２２は複数の光ビームを発生するが、図１及び図２では、簡略化のため１本の光ビームのみを図示している。
【００３８】
レーザーアレイ２２には、図３に示すように、複数個（本実施の形態では８個）のレーザーダイオード２３が少なくとも副走査方向に対して等間隔に並んで（本実施の形態で、主走査方向及び副走査方向に２次元的に）配置されている。以下では、これら８個のレーザーダイオード２３を区別する場合、副走査方向の順に番号を対応付けて第１レーザーダイオード〜第８レーザーダイオードと記載し、これらの第１レーザーダイオード〜第８レーザーダイオードからそれぞれ出射される光ビームを第１光ビーム〜第８光ビームと記載する。
【００３９】
レーザーアレイ２２から出射された光ビームは、コリメータレンズ２６により略平行光とされる。ハーフミラー２８は、入射される光ビームの一部を分離してモニターフォトダイオード（ＭＰＤ）３０に導く。なお、レーザーアレイ２２は、端面発光レーザとは異なり、共振器の後側から光ビーム（バックビーム）を出射することができない。そこで、光量制御用のモニター信号を得るために、レーザーアレイ２２から出射された光ビームの一部はハーフミラー２８により分離された後、上記のようにＭＰＤ３０に導かれる。
【００４０】
一方、ハーフミラー２８を通過した光ビームは、副走査方向にのみパワーを有するシリンドリカルレンズ３２によってポリゴンミラー２４の反射面近傍で主走査方向に長い線状に結像されてポリゴンミラー２４に入射される。
【００４１】
ポリゴンミラー２４は図示しないモータによって回転され、入射された光ビームを主走査方向に偏向反射する。そして、ポリゴンミラー２４によって偏向反射された光ビームは、ｆθレンズ３４を透過したのち、シリンドリカルミラー３６で反射され、各感光体ドラム１１上を走査する。ｆθレンズ３４は、光ビームが感光体ドラム１１上を走査するときの走査速度を等速度とする共に、各光ビームを感光体ドラム１１の周面上に光スポットとして収束させる。
【００４２】
また、光走査装置２０は、ポリゴンミラー２４の各反射面で偏向された光ビームの走査開始の同期を取る必要があるため、走査開始前の光ビームを反射するピックアップミラー３８と、ピックアップミラー３８で反射された光ビームを検出する主走査同期センサ（以下、「ＳＯＳセンサ」という。）４０と、を備えており、ＳＯＳセンサ４０から出力されたＳＯＳ信号によって主走査方向の書き出しタイミングの同期が取られる。
【００４３】
図４には、実施の形態に係るＳＯＳセンサ４０の詳細な構成が示されている
同図に示されるように、ＳＯＳセンサ４０は、主走査方向と直交する副走査方向に対して光ビーム３本分の幅の受光面４２を有している。ＳＯＳセンサ４０は、受光面４２で光ビームが受光した場合にハイレベルのＳＯＳ信号を出力し、受光面４２で光ビームが受光していない場合にローレベルのＳＯＳ信号を出力する。
【００４４】
図５には、本実施の形態に係る光走査装置２０の動作を制御する電気系の構成が示されている。
【００４５】
光走査装置２０は、レーザーアレイ２２の各レーザーダイオード２３の発光を個別に制御する発光制御部５０と、レーザーアレイ２２より出射された各光ビームの受光面４２に対する副走査方向の位置ずれを検出する位置ずれ検出部５２と、位置ずれ検出部５２により検出された位置ずれ量を記憶する位置ずれ情報記憶部５４と、入力される画像データに基づいて光ビームで走査する走査ラインを制御する走査ライン制御部５６と、を備えている。
【００４６】
発光制御部５０及び位置ずれ検出部５２は、ＳＯＳセンサ４０と接続されており、ＳＯＳセンサ４０よりＳＯＳ信号が入力する。
【００４７】
位置ずれ検出部５２は、図示しないＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ等を含んで構成されており、ＲＯＭには後述する光ビームの副走査方向の位置ずれを検出するための位置ずれ検出処理プログラムが記憶されている。位置ずれ検出処理プログラムは、非画像形成時の所定のタイミングで位置ずれ検出部５２によって実行される。
【００４８】
位置ずれ検出部５２は、発光制御部５０へレーザーダイオード２３毎に発光を指示する発光指示信号を出力するものとされており、各レーザーダイオード２３を発光させた際のＳＯＳセンサ４０より入力されるＳＯＳ信号に基づいて受光面４２で光ビームが受光された際に発光したレーザーダイオード２３を求め、受光面４２と光ビームの副走査方向に対する相対的な位置関係を特定し、光ビームの副走査方向に対する位置ずれ量を検出して位置ずれ情報記憶部５４に記憶させる。
【００４９】
走査ライン制御部５６は、画像データが入力されて走査開始信号が入力されると、当該画像データにより示される画像の副走査方向先頭側から順に感光体ドラム１１を走査させる８本の走査ラインの画像に対応する画像信号を生成して発光制御部５０へ出力する。なお、走査ライン制御部５６は、位置ずれ情報記憶部５４に記憶されている位置ずれ量に基づいて走査ラインに対応して発光させるレーザーダイオード２３を補正する。
【００５０】
発光制御部５０は、ＳＯＳセンサ４０より入力されるＳＯＳ信号がハイレベルとなったタイミング毎に、走査ライン制御部５６より入力される画像信号に基づいてレーザーアレイ２２の各レーザーダイオード２３を個別に発光させる。また、位置ずれ検出部５２より発光指示信号が入力されると、当該発光指示信号により指示されたレーザーダイオード２３を発光させる。
【００５１】
次に、図６を参照して、第１の実施の形態に係る位置ずれ検出処理プログラムが実行された際の光走査装置２０の作用を説明する。なお、図６は、非画像形成時の所定のタイミングで実行される位置ずれ検出処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。
【００５２】
同図のステップ１１０では、レーザーアレイ２２の何れか１つのレーザーダイオード２３の発光を指示する発光指示信号を出力する。発光制御部５０は、発光指示信号が入力すると当該発光指示信号により指示されたレーザーダイオード２３を発光させる。レーザーダイオード２３から出射された光ビームはコリメータレンズ２６、ハーフミラー２８、シリンドリカルレンズ３２を介してポリゴンミラー２４に入射する。
【００５３】
ポリゴンミラー２４は、入射した光ビームを主走査方向に偏向する。ポリゴンミラー２４によって偏向された光ビームは、ｆθレンズ３４を透過し、ピックアップミラー３８により反射された光ビームはＳＯＳセンサ４０に入射し、その後、シリンドリカルミラー３６により反射されて感光体ドラム１１を走査する。
【００５４】
ＳＯＳセンサ４０は、受光面４２で光ビームを受光した場合にハイレベルのＳＯＳ信号を出力し、受光面４２で光ビームを受光していない場合にローレベルのＳＯＳ信号を出力する。
【００５５】
すなわち、例えば、受光面４２と光ビームの副走査方向の位置関係が図７（Ａ）に示すような場合、ＳＯＳセンサ４０は、第３レーザーダイオード〜第５レーザーダイオードより第３光ビーム〜第５光ビームが出射された場合、各光ビームが受光面４２を横切るため、ハイレベルのＳＯＳ信号を出力し、第１レーザーダイオード、第２レーザーダイオード、第６レーザーダイオード〜第８レーザーダイオードより第１光ビーム、第２光ビーム、第６光ビーム〜第８光ビームが出射された場合、各光ビームが受光面４２を横切らないため、ローレベルのＳＯＳ信号を出力する。
【００５６】
一方、受光面４２と光ビームの副走査方向の位置関係が図７（Ｃ）に示すような場合、ＳＯＳセンサ４０は、第１レーザーダイオード〜第３レーザーダイオードより第１光ビーム〜第３光ビームが出射された場合、各光ビームが受光面４２を横切るため、ハイレベルのＳＯＳ信号を出力し、第４レーザーダイオード〜第８レーザーダイオードより第４光ビーム〜第８光ビームが出射された場合、各光ビームが受光面４２を横切らないため、ローレベルのＳＯＳ信号を出力する。
【００５７】
次のステップ１１２では、入力したＳＯＳ信号のレベルから受光面４２での光ビームの受光の有無を判定し、判定結果を記憶する。
【００５８】
次のステップ１１４では、レーザーアレイ２２の全てのレーザーダイオード２３を発光させたか否かを判定し、肯定判定となった場合はステップ１１６へ移行し、否定判定となった場合は未発光のレーザーダイオード２３を発光対象としてステップ１１０へ再度移行する。
【００５９】
ステップ１１６では、記憶されている各レーザーダイオード２３を発光させた際の受光面４２での光ビームの受光の有無に基づいて光ビームと受光面４２の副走査方向に対する相対的な位置を特定する。
【００６０】
本実施の形態では、受光面４２で受光された光ビームの番号から副走査方向の受光面４２の中心となるビームアライメント位置を求めることにより、光ビームと受光面４２の副走査方向に対する相対的な位置を特定している。例えば、受光面４２と光ビームの副走査方向の位置関係が図７（Ａ）に示すような場合、図７（Ｂ）に示すように、受光面４２で第３光ビーム〜第５光ビームが受光されるため、受光面４２の中心となるビームアライメント位置を「４」と特定し、受光面４２と光ビームの副走査方向の位置関係が図７（Ｃ）に示すような場合、図７（Ｄ）に示すように、受光面４２で第１光ビーム〜第３光ビームが受光されるため、受光面４２の中心となるビームアライメント位置を「２」と特定する。なお、本実施の形態では、受光面４２の中心となる位置をビームアライメント位置としたが、例えば、受光面４２の副走査方向の最も上方（下方）を横切る光ビームの番号をビームアライメント位置としてもよい。
【００６１】
次のステップ１１８では、所定の位置に対する光ビームの副走査方向に対する位置ずれ量を検出する。
【００６２】
すなわち、上記ステップステップ１１６において特定したビームアライメント位置が所定の位置に対してどれだけ位置ずれが発生しているかを検出する。この所定の位置は、初期状態のビームアライメント位置としてもよく、また、８本の光ビームの受光面４２の中央に位置させた場合のビームアライメント位置（「４．５」）としてもよく、また、他の位置としてもよい。
【００６３】
例えば、図７（Ａ）のビームアライメント位置「４」を所定の位置とした場合、図７（Ｂ）では、位置ずれが−２と検出される。
【００６４】
次のステップ１２０では、上記ステップステップ１１８において検出した位置ずれ量を位置ずれ情報記憶部５４に記憶させ、本位置ずれ検出処理プログラムは終了となる。
【００６５】
次に、画像データに基づいて感光体ドラム１１に静電潜像を形成する際の光走査装置２０の動作を簡単に説明する。
【００６６】
走査ライン制御部５６は、画像データが入力されて走査開始信号が入力されると、情報記憶部５４に記憶されている位置ずれ量を読み出し、当該位置ずれ量に基づいて先頭の走査ラインとして発光させるレーザーダイオード２３を変更して画像データにより示される画像の副走査方向先頭側から順に、８本の走査ラインの画像に対応する画像信号を順次生成して発光制御部５０へ出力する。
【００６７】
すなわち、例えば、光走査装置２０は、図７（Ａ）に示す受光面４２と光ビームの副走査方向の位置関係を所定の位置（ビームアライメント位置が「４」）とし、この位置関係において走査ライン制御部５６が第４レーザーダイオードを発光させて静電潜像の副走査方向の先頭の走査ラインを第４光ビームにより形成した場合に位置ずれが発生しないものとされているとする。そして、このような光走査装置２０の受光面４２と光ビームの位置関係が図７（Ｂ）のようになって−２の位置ずれが発生した場合、走査ライン制御部５６は、静電潜像の副走査方向の先頭の走査ラインを＋２ライン分ずらして、第２レーザーダイオードを発光させて静電潜像の副走査方向の先頭の走査ラインを第２光ビームで形成するように画像信号を生成する。これにより、感光体ドラム１１に形成される静電潜像の副走査方向の位置を補正することができる。
【００６８】
ところで、本実施の形態に係る光走査装置２０は、上述したように、ＳＯＳセンサ４０の受光面４２の副走査方向の幅が光ビーム３本分の幅しかなく、８本の光ビームの副走査方向の幅よりも小さいため、受光面４２が、例えば、図７（Ａ）のように位置していた場合、第１レーザーダイオードを発光させて主走査方向の書き出しタイミングを検出しようとしても第１光ビームが受光面４２を横切らないためにＳＯＳ信号がハイレベルとならず、書き出しタイミングを検出できない場合がある。
【００６９】
そこで、本実施の形態に係る発光制御部５０は、主走査方向の１回の走査における走査開始時に全てのレーザーダイオード２３を発光させ、ＳＯＳセンサ４０より入力されるＳＯＳ信号がハイレベルとなったタイミング毎に、走査ライン制御部５６より入力される画像信号に基づいてレーザーアレイ２２の各レーザーダイオード２３を個別に発光させる。これにより、１回の走査において何れかの光ビームが受光面４２を横切るため、ＳＯＳセンサ４０は、安定して書き出しタイミングを検出することができる。
【００７０】
以上のように、第１の実施の形態によれば、光源（ここでは、レーザーアレイ２２）少なくとも主走査方向と直交する副走査方向に並ぶ複数の発光部（ここでは、レーザーダイオード２３）を有しており、複数の発光部から出射された複数の光ビームが、偏向手段（ここでは、ポリゴンミラー２４）により、主走査方向に偏向される。
【００７１】
そして、副走査方向に対する受光面（ここでは、受光面４２）の幅が複数の光ビーム全体の副走査方向に対する幅よりも小さく且つ複数の光ビームのうちの副走査方向に対して隣接する２本の光ビームの副走査方向に対する間隔の最大値よりも大きい受光手段（ここでは、ＳＯＳセンサ４０）が、偏向手段により偏向された複数の光ビームにより走査される走査領域内に配置されており、発光制御手段（ここでは、発光制御部５０）により、複数の発光部を１つずつ発光させる発光制御を行い、検出手段（ここでは、位置ずれ検出部５２）により、発光制御手段による発光制御に応じた受光手段による受光結果に基づいて複数の光ビームの副走査方向に対する位置ずれ量を検出しているので、高コスト化を招くことなく、簡易な制御で光ビームの副走査方向の位置ずれを検出できる。
【００７２】
また、第１の実施の形態によれば、複数の発光部は、それぞれ副走査方向の位置に対応して識別情報（ここでは、番号）が予め対応付けられ、受光手段は、受光面で光ビームを受光したか否かを示す信号を出力し、検出手段は、発光制御に応じて受光手段から出力される信号に基づいて受光面で光ビームが受光された際に発光した発光部を特定し、特定した発光部の識別情報に基づいて複数の光ビームと受光面の副走査方向に対する相対的な位置関係を特定し、特定した位置関係に基づいて複数の光ビームの副走査方向に対する位置ずれ量を検出しているので、各発光部を個別に発光させた際の受光面での光ビームを受光の有無を判定するという簡易な制御で光ビームの副走査方向の位置ずれを検出できる。
【００７３】
また、第１の実施の形態によれば、発光制御手段は、画像形成対象とする画像データにより示される画像の副走査方向の走査ラインに対応して光源の各発光部から光ビームを出射させて被走査面に画像を形成するものとし、副走査方向に対して検出手段により検出された位置ずれの方向と逆方向に位置ずれ量だけ、画像データにより示される画像の走査ラインの書き出し位置を補正する補正手段（ここでは、走査ライン制御部５６）をさらに備えているので、光ビームに副走査方向に対する位置ずれが発生した場合でも、形成される画像の位置ずれを防止することができる。
【００７４】
さらに、受光手段は、複数の光ビームの変調開始のタイミング（書き出しタイミング）を検出する変調開始タイミング検出手段を兼ねているので、光ビームを受光する受光素子を別に設ける必要がないため、製造コストの上昇が発生しない。
【００７５】
なお、実施の形態では、ＳＯＳセンサ４０の受光面４２の副走査方向の幅を光ビーム３本分の幅とした場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、８本の光ビーム全体の副走査方向に対する幅よりも小さく且つ８本の光ビームのうちの副走査方向に隣接する２本の光ビームの副走査方向に対する間隔の最大値よりも大きい幅の受光面４２を有していればよい。受光面４２の幅を８本の光ビーム全体の副走査方向に対する幅よりも小さくすることにより、受光面４２に対して８本の光ビームが副走査方向へずれた場合に受光面４２を横切る光ビームの番号が変化するため、副走査方向の位置ずれを検出することができる。また、受光面４２の幅を副走査方向に隣接する２本の光ビームの副走査方向に対する間隔の最大値よりも大きくすることにより、受光面４２が２本の光ビームの副走査方向の間に位置して光ビームが受光できなくなることを防止できる。
【００７６】
また、第１の実施の形態に係る位置ずれ検出部５２は、レーザーアレイ２２の各レーザーダイオード２３を１つずつ発光させて受光面４２での光ビームの受光の有無を記憶するものとした場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、各レーザーダイオード２３から副走査方向の一方側に連続する所定個（例えば、３個）のレーザーダイオード２３をそれぞれ１つのグループとして発光部群を構成して（図８参照）当該発光部群を示す情報を予めＲＯＭ等に記憶しておき、位置ずれ検出部５２は、発光部群毎に発光部群に含まれるレーザーダイオード２３を同時に発光させて受光面４２での光ビームの受光の有無（図９参照）に基づいて光ビームと受光面４２の副走査方向に対する相対的な位置を特定するものとしてもよい。この場合も本実施の形態と同様の効果を奏することができる。なお、図８、図９は、レーザーアレイ２２が副走査方向に対して１０個のレーザーダイオード２３を備えるものとする。
【００７７】
［第２の実施の形態］
第２の実施の形態では、ＳＯＳセンサ４０が受光した光量を示すＳＯＳ信号を出力し、位置ずれ検出部５２において入力されるＳＯＳ信号のレベルに基づいて光ビームアライメント位置を特定する形態例について説明する。
【００７８】
第２の実施の形態に係る画像形成装置１０の構成は、上記第１の実施の形態に係る画像形成装置１０（図１）と同一であるので、ここでの詳細な説明は省略する。
【００７９】
第２の実施の形態に係る光走査装置２０の構成は、ＳＯＳセンサ４０が受光した光量を示すＳＯＳ信号を出力するものとされており、位置ずれ検出部５２が各レーザーダイオード２３（図１１（Ａ）参照）から副走査方向の一方側に連続する所定個（本実施の形態では、３個）のレーザーダイオード２３をそれぞれ１つのグループとして発光部群を構成し（図１１（Ｂ）参照）、発光部群毎に当該発光部群に含まれる各レーザーダイオード２３を同一光量で同時に発光させる発光指示信号を出力し、入力されるＳＯＳ信号のレベルに基づいてビームアライメント位置を検出するものとした以外は、上記第１の実施の形態に係る光走査装置２０（図２〜図５）と同一であるので、ここでの詳細な説明は省略する。
【００８０】
次に、図１０を参照して、第２の実施の形態に係る位置ずれ検出処理プログラムが実行された際の光走査装置２０の作用を説明する。なお、同図における図６と同一の処理には同一の符号を付してその説明を省略する。
【００８１】
同図のステップ２１０では、何れか１つの発光部群に含まれる全てのレーザーダイオード２３を同一光量で発光させる発光指示信号を出力する。発光制御部５０は、発光指示信号が入力すると当該発光指示信号により指示されたレーザーダイオード２３を発光させる。
【００８２】
ＳＯＳセンサ４０は、受光面４２で受光した光ビームの光量を示すＳＯＳ信号を出力するため、出力されるＳＯＳ信号のレベルは、受光面４２に入射する光ビームの本数が多いほど高くなる。
【００８３】
次のステップ２１２では、入力したＳＯＳ信号のレベルを測定し、測定結果を記憶する。
【００８４】
次のステップ２１４では、全ての発光部群を発光させたか否かを判定し、肯定判定となった場合はステップ２１６へ移行し、否定判定となった場合は未発光の発光部群を発光対象として再度ステップ２１０へ移行する。
【００８５】
ステップ２１６では、ＳＯＳ信号のレベルが最大（ピーク）となった発光部群に含まれる光ビームの識別情報から光ビームと受光面４２の副走査方向に対する相対的な位置を特定する。
【００８６】
本実施の形態では、最大となった発光部群の中心の光ビームの位置をビームアライメント位置と特定しており、例えば、図１１（Ｂ）に示すような場合、ビームアライメント位置を「４」と特定する。なお、受光面４２の副走査方向の幅が発光部群を構成する所定の個数の光ビームの幅より大きい場合（例えば、光ビーム５本分の幅の場合）、ＳＯＳ信号のレベルが最大となる発光部群が複数存在する場合がある。この場合はそれぞれの発光部群より求まるビームアライメント位置の中心を真のビームアライメント位置とすればよい。
【００８７】
以降、ステップ１１８では、本ステップ２１６において特定したビームアライメント位置に基づいて所定の位置に対する光ビームの副走査方向に対する位置ずれ量を検出する。
【００８８】
なお、本実施の形態に係る位置ずれ検出部５２は、発光部群毎に各レーザーダイオード２３を発光させ、入力されるＳＯＳ信号のレベルを測定してピークを検出するものとした場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、図１１（Ｃ）に示すように、各レーザーダイオード２３を１個ずつ発光させてＳＯＳ信号のレベルを測定するものとしてもよい。この場合も本実施の形態と同様の効果を奏することができる。なお、ＳＯＳ信号のレベルが最大となる発光部が複数存在する場合がある。この場合もそれぞれの発光部より求まるビームアライメント位置の中心を真のビームアライメント位置とすればよい（図１１（Ｃ）の場合、ビームアライメント位置は「３．５」）。
【００８９】
以上のように、第２の実施の形態によれば、複数の発光部は、それぞれ副走査方向の位置に対応して識別情報が予め対応付けられ、受光手段は、受光面で受光した光ビームの光量を示す信号を出力し、検出手段は、発光制御に応じて受光手段から出力される信号のレベルが最大となった際に発光した発光部を特定し、特定した発光部の識別情報に基づいて複数の光ビームと受光面の副走査方向に対する相対的な位置関係を特定し、特定した位置関係に基づいて複数の光ビームの副走査方向に対する位置ずれ量を検出しているので、各発光部群をそれぞれ発光させた際の信号のレベルを測定するという簡易な制御で光ビームの副走査方向の位置ずれを検出できる。
【００９０】
また、発光制御手段は、各発光部から副走査方向の一方側に連続する所定個の発光部をそれぞれ１つのグループとして発光部群を構成し、発光部群毎に当該発光部群に含まれる発光部を同時に発光させる発光制御を行い、検出手段は、発光制御手段による発光制御に応じて受光手段から出力される信号のレベルが最大となった際に発光した発光部群を特定し、特定した発光部群に含まれる発光部の識別情報に基づいて複数の光ビームと受光面の副走査方向に対する相対的な位置関係を特定しているので、信号のレベルが最大となる位置を特定しやすいため、複数の光ビームと受光面の相対的な位置関係を容易に特定できる。
【００９１】
［第３の実施の形態］
第３の実施の形態では、位置ずれ検出部５２が位置ずれ情報記憶部５４に記憶されている位置ずれ量に基づいてレーザーダイオード２３を発光させる順序を変更する形態例について説明する。
【００９２】
第３の実施の形態に係る画像形成装置１０の構成は、上記第１の実施の形態に係る画像形成装置１０（図１）と同一であるので、ここでの詳細な説明は省略する。
【００９３】
第２の実施の形態に係る光走査装置２０の構成は、位置ずれ検出部５２が位置ずれ情報記憶部５４に記憶されている位置ずれ量を読み出してレーザーダイオード２３を発光させる順序を定め、当該順序にレーザーダイオード２３を発光させる発光指示信号を出力するものとした以外は、上記第１の実施の形態に係る光走査装置２０（図２〜図５）と同一であるので、ここでの詳細な説明は省略する。
【００９４】
次に、図１２を参照して、第３の実施の形態に係る位置ずれ検出処理プログラムが実行された際の光走査装置２０の作用を説明する。なお、同図における図６と同一の処理には同一の符号を付してその説明を省略する。
【００９５】
同図のステップ３００では、位置ずれ情報記憶部５４に記憶されている位置ずれ量を読み込む。
【００９６】
次のステップ３０２では、位置ずれ量より求まるビームアライメント位置から近い順にレーザーダイオード２３を発光させるように、レーザーダイオード２３を発光させる順序を定める。
【００９７】
すなわち、例えば、ビームアライメント位置が「４」の場合、第４レーザーダイオード、第３レーザーダイオード、第５レーザーダイオード、第２レーザーダイオード、第６レーザーダイオード・・・と、第４レーザーダイオードを中心として近いレーザーダイオードを優先的に発光させるように、発光順序を定める。
【００９８】
次のステップ３１０では、未発光のレーザーダイオード２３のうち、発光順序の優先度の高いレーザーダイオード２３の発光を指示する発光指示信号を出力する。発光制御部５０は、発光指示信号が入力すると当該発光指示信号により指示されたレーザーダイオード２３を発光させる。
【００９９】
そして、ステップ３１４では、記憶した受光面４２での光ビームの受光の有無に基づいて受光面４２の両端部を検出できたか否かを判定し、肯定判定であった場合はステップ１１６へ移行し、否定判定の場合は再度ステップ３１０へ移行する。
【０１００】
すなわち、例えば、図７（Ａ）に示される場合、上記ステップ３０２で定めた発光順序の順にレーザーダイオード２３を発光させると第２レーザーダイオード及び第６レーザーダイオードを発光させた際に受光面４２での光ビームの受光が無しとなり、この段階で受光面４２の両端部を検出できている。よって、ステップ１１６では、この段階で光ビームと受光面４２の副走査方向に対する相対的な位置を特定することができる。
【０１０１】
このように、位置ずれ情報記憶部５４に記憶されている位置ずれ量に基づいて適切にレーザーダイオード２３の発光順序を定め、受光面４２の両端部を検出できた段階でレーザーダイオード２３を発光を終了させることにより、位置ずれ検出処理の処理時間を短縮することができる。
【０１０２】
以上のように、第３の実施の形態によれば、検出手段により検出された位置ずれ量を記憶する記憶手段（ここでは、位置ずれ情報記憶部５４）をさらに備え、発光制御手段は、検出手段により位置ずれ量を新たに検出する際に、複数の光ビームと受光面が副走査方向に対して記憶手段に記憶された位置ずれ量だけ位置ずれが発生していた際に当該受光面で光ビームが受光される発光部を優先的に発光させるので、短い処理時間で位置ずれを検出することができる。
【０１０３】
なお、第３の実施の形態に係る位置ずれ検出部５２は、レーザーダイオード２３を１つずつ発光させる発光順序を定めるものとしたが、受光面４２で光ビームが受光される発光部群を優先的に発光させるように発光順序を定めて、第２の実施の形態と同様に、レーザーダイオード２３を発光部群毎に発光させてＳＯＳセンサ４０から入力するＳＯＳ信号のレベルを測定し、信号レベルがピークなる発光部群を検出できた際に、以降の発光部群の発光処理を終了させ、信号レベルがピークなる発光部群に含まれる光ビームの識別情報から光ビームと受光面４２の副走査方向に対する相対的な位置を特定するものとしてもよい。
【０１０４】
［第４の実施の形態］
第４の実施の形態では、レーザーダイオード２３を所定個ずつグループに分け、グループ毎に発光部を発光させて受光面４２で光ビームを受光されたグループを求め、当該グループに含まれる発光部に対して個別に発光制御を行う形態例について説明する。
【０１０５】
第４の実施の形態に係る画像形成装置１０の構成は、上記第１の実施の形態に係る画像形成装置１０（図１）と同一であるので、ここでの詳細な説明は省略する。
【０１０６】
第４の実施の形態に係る光走査装置２０の構成は、レーザーアレイ２２が、複数個（本実施の形態では３２個）のレーザーダイオード２３が少なくとも副走査方向に対して等間隔に並んで等間隔に配置され、図１３に示すように、副走査方向に対して３２本の光ビームを出射するものとされ、位置ずれ検出部５２がレーザーダイオード２３を所定個（本実施の形態では４個）ずつグループに分け、グループ毎に当該グループに含まれるレーザーダイオード２３を同時に発光させて受光面４２で光ビームを受光されたグループを求めた後に、当該グループのレーザーダイオード２３を個別に発光させてビームアライメント位置を検出するものとした以外は、上記第１の実施の形態に係る光走査装置２０（図２〜図５）と同一であるので、ここでの詳細な説明は省略する。
【０１０７】
次に、図１４を参照して、第４の実施の形態に係る位置ずれ検出処理プログラムが実行された際の光走査装置２０の作用を説明する。なお、同図における図６と同一の処理には同一の符号を付してその説明を省略する。
【０１０８】
同図のステップ４００では、レーザーアレイ２２の何れか１つグループのレーザーダイオード２３の発光を指示する発光指示信号を出力する。発光制御部５０は、発光指示信号が入力すると当該発光指示信号により発光が指示されたレーザーダイオード２３を発光させる。
【０１０９】
次のステップ４０２では、入力したＳＯＳ信号のレベルから受光面４２での光ビームの受光の有無を判定し、判定結果を記憶する。
【０１１０】
次のステップ４０４では、全てのグループを発光させたか否かを判定し、肯定判定となった場合はステップ４０６へ移行し、否定判定となった場合は未発光のグループを発光対象としてステップ４００へ再度移行する。
【０１１１】
次のステップ４０６では、記憶されている各グループのレーザーダイオード２３を発光させた際の受光面４２での光ビームの受光の有無に基づいて光ビームが受光面４２で受光されたグループを特定する。
【０１１２】
次のステップ４１０では、上記ステップ４０６において特定されたグループに含まれる何れか１つのレーザーダイオード２３の発光を指示する発光指示信号を出力する。
【０１１３】
そして、ステップ４１４では、特定したグループの全てのレーザーダイオード２３を発光させたか否かを判定し、肯定判定となった場合はステップ１１６へ移行し、否定判定となった場合は未発光のレーザーダイオード２３を発光対象としてステップ４１０へ再度移行する。
【０１１４】
このように、グループ毎に発光させることにより、受光面４２で光ビームが受光されるレーザーダイオード２３を少ない走査回数で特定することができるため、位置ずれ検出処理の処理時間を短縮することができる。
【０１１５】
以上のように、第４の実施の形態によれば、発光制御手段は、複数の発光部を副走査方向に連続するように所定個ずつグループに分け、グループ毎に当該グループに含まれる発光部を同時に発光させ、受光手段による受光結果に基づいて受光面で光ビームが受光された際に発光したグループを求め、当該グループに含まれる発光部に対して発光制御を行うので、少ない走査回数で受光面において光ビームが受光される発光部を特定することができる。
【０１１６】
［第５の実施の形態］
第５の実施の形態では、各レーザーダイオード２３から異なる光量で光ビームを出射させ、ＳＯＳセンサ４０が受光した光量を示すＳＯＳ信号を出力するものとし、位置ずれ検出部５２において入力されるＳＯＳ信号のレベルに基づいてビームアライメント位置を特定する形態例について説明する。
【０１１７】
第５の実施の形態に係る画像形成装置１０の構成は、上記第１の実施の形態に係る画像形成装置１０（図１）と同一であるので、ここでの詳細な説明は省略する。
【０１１８】
第５の実施の形態に係る光走査装置２０の構成は、レーザーアレイ２２が各レーザーダイオード２３から出射する光ビームの光量を調整可能なものとし、ＳＯＳセンサ４０が受光した光量を示すＳＯＳ信号を出力するものとし、位置ずれ検出部５２が出射される光ビームの光量が副走査方向の一方方向の順に増加するように各レーザーダイオード２３を発光させ、入力されるＳＯＳ信号のレベルに基づいてビームアライメント位置を検出するものとした以外は、上記第１の実施の形態に係る光走査装置２０（図２〜図５）と同一であるので、ここでの詳細な説明は省略する。
【０１１９】
次に、図１５を参照して、第５の実施の形態に係る位置ずれ検出処理プログラムが実行された際の光走査装置２０の作用を説明する。なお、同図における図６と同一の処理には同一の符号を付してその説明を省略する。
【０１２０】
同図のステップ５１０では、レーザーアレイ２２の各レーザーダイオード２３から出射される光ビームの光量を副走査方向の一方方向の順に増加させるように各レーザーダイオード２３を発光させる発光指示信号を出力する。例えば、副走査方向の一方方向の順に各レーザーダイオード２３から出力される光ビームの光量が一定量ずつ増加するように発光させる発光指示信号を出力する。発光制御部５０は、発光指示信号が入力すると当該発光指示信号により指示されたレーザーダイオード２３を発光させる。
【０１２１】
次のステップ５１２では、入力したＳＯＳ信号のレベルを測定し、次のステップ５１６では、測定した信号のレベルを所定の値と比較して、光ビームと受光面４２の副走査方向に対する相対的な位置を特定する。
【０１２２】
すなわち、副走査方向の一方方向の順に各レーザーダイオード２３から出射される光ビームの光量が増加するように発光させることにより、位置ずれによって複数の光ビームに対する受光面４２の位置が一方方向側へ移動しているほど、受光面４２で受光される光ビームの光量が増加し、ＳＯＳセンサ４０から出力されるＳＯＳ信号のレベルが高くなるため、このＳＯＳ信号のレベルを所定の値との差を取ることにより、相対的な位置を特定することができる。なお、所定の値は、例えば、図７（Ａ）に示されるビームアライメント位置が「４」の場合のＳＯＳ信号のレベルとしてもよく、適宜定めておけばよい。
【０１２３】
以上のように、第５の実施の形態によれば、発光部は、出射する光ビームの光量が調整可能とされ、受光手段は、受光面で受光した光ビームの光量を示す信号を出力し、発光制御手段は、複数の発光部を同時かつ各発光部から出射される光ビームの光量が副走査方向の一方方向の順に増加するように発光させる発光制御を行い、検出手段は、発光制御手段による発光制御に応じて受光手段から出力される信号のレベルに基づいて複数の光ビームと受光面の副走査方向に対する相対的な位置関係を特定し、特定した位置関係に基づいて複数の光ビームの副走査方向に対する位置ずれ量を検出しているので、信号のレベルを測定するという簡易な制御で光ビームの副走査方向の位置ずれを検出できる。
【０１２４】
なお、第１乃至第５の実施の形態では、非画像形成時の所定のタイミングで位置ずれを検出するものとした場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、光走査装置２０の内部に温度を検出する温度検出センサを備え、位置ずれ検出部５２は、非画像形成時に温度検出センサにより検出された温度が一定量変化したタイミングで位置ずれ量の検出を行なうようにしてもよい。
【０１２５】
すなわち、光走査装置２０は、内部の温度変化等により出射される光ビームの光軸にずれが発生する場合があるため、図１６の示すように、温度が一定量α（例えば、３℃）だけ変化したタイミングで、位置ずれ検出処理を実行することにより、形成される画像の位置ずれを適切なタイミングで補正することができる。
【０１２６】
また、第１乃至第５の実施の形態では、非画像形成時の所定のタイミングで位置ずれを検出するものとした場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、レーザーアレイ２２は、副走査方向に対して複数（例えば８個）のレーザーダイオード２３が配置された列を、主走査方向に、例えば、４列有するものとした場合、図１７（Ａ）（Ｂ）に示すように、各レーザーダイオード２３から出射された複数の光ビームのスポットが２次元に配列しているため、各列毎に受光面４２を横切るタイミングが異なる。そこで、発光制御部５０は、複数の光ビームが受光面４２を走査するタイミングで何れか１列（図１７（Ａ）（Ｂ）では、１列目）のレーザーダイオード２３を全て発光させて主走査方向の書き出しタイミングを検出し、他の列（図１７（Ａ）（Ｂ）では、４列目）のレーザーダイオード２３に対して発光制御を行うことにより、位置ずれの検出を行なうことができるため、画像形成中においても位置ずれの検出を行なうことができる。
【０１２７】
その他、上記第１乃至第５の実施の形態で示した画像形成装置１０及び光走査装置２０のハードウェア構成は一例であり、必要に応じて構成要素を追加したり、不要な構成要素を削減したりすることができることは言うまでもない。
【０１２８】
また、上記第１乃至第５の実施の形態で示した位置ずれ検出処理プログラムの処理の流れも一例であり、必要に応じて処理順番を変更したり、処理内容を変更したり、不要な処理を削減したりすることができることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【０１２９】
【図１】実施の形態に係る画像形成装置の概略構成を示す図である。
【図２】実施の形態に係る光走査装置の詳細な構成を示す図である。
【図３】実施の形態に係るレーザーアレイの構成を示す図である。
【図４】実施の形態に係るＳＯＳセンサの詳細な構成を示す図である。
【図５】実施の形態に係る光走査装置の電気系の構成示すブロック図である。
【図６】第１の実施の形態に係る位置ずれ検出処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。
【図７】（Ａ）（Ｃ）は複数の光ビーム及び受光面の位置関係を示す図であり、（Ｂ）（Ｄ）は各レーザーダイオードを発光させた際の受光面での光ビームの受光の有無を示す図である。
【図８】発光部群とレーザーダイオードの関係を示す関係図である。
【図９】（Ａ）（Ｃ）は複数の光ビーム及び受光面の位置関係を示す図であり、（Ｂ）（Ｄ）は各発光部群を発光させた際の受光面での光ビームの受光の有無を示す図である。
【図１０】第２の実施の形態に係る位置ずれ検出処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。
【図１１】（Ａ）は複数の光ビーム及び受光面の位置関係を示す図であり、（Ｂ）は各発光部群を発光させた際の受光面で受光された光量を示す図であり、（Ｃ）は各レーザーダイオードを発光させた際の受光面で受光された光量を示す図であり、（Ｄ）は各発光部群及び各レーザーダイオードをそれぞれ発光させた際の受光面で受光された光量を示すグラフである。
【図１２】第３の実施の形態に係る位置ずれ検出処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。
【図１３】グループ分けられた光ビームを示す図である。
【図１４】第４の実施の形態に係る位置ずれ検出処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。
【図１５】第５の実施の形態に係る位置ずれ検出処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。
【図１６】温度変化と位置ずれ検出タイミングの関係を示すグラフである。
【図１７】レーザーダイオードを複数列配置した場合の光ビームのスポットを受光面の位置関係を示す図である。
【符号の説明】
【０１３０】
１０  画像形成装置
１１  各感光体ドラム
２０  光走査装置
２２  レーザーアレイ
２３  レーザーダイオード
２４  ポリゴンミラー
４０  ＳＯＳセンサ
４２  受光面
５０  発光制御部
５２  位置ずれ検出部
５４  位置ずれ情報記憶部
５６  走査ライン制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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