(57)【要約】【課題】コイン通路の寿命を予測する際、コイン搬送中にコイン通路の磨耗情報を、コイン搬送速度の変化度合いから取得することで、該コイン通路の交換時期を的確に取得できるようにしたコイン通路の寿命予測装置を提供する。【解決手段】コイン通路の凹溝内面とコイン搬送ベルトとの対向面間で挟持した状態にて搬送されるコインの搬送遅れ度合いを検知することに基づいて、コイン通路の寿命を予測する通路寿命予測手段を備えたコイン通路の寿命予測装置を構成する。【選択図】図４
2007275092.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コインを平面状態のまま凹溝内に通過させて搬送ガイドするコイン通路と、
前記コイン通路の凹溝開放面側に対設され、該コイン通路に導かれたコインに接して該コインに一定速度の搬送力を付与するコイン搬送ベルトと、
前記コイン通路の凹溝内面と前記コイン搬送ベルトとの対向面間で挟持された状態にて搬送されるコインを検知する検知手段と、
前記検知手段がコイン通路を通過したときのコインの搬送変化度合いを検知することに基づいて、前記コイン通路の寿命を予測する通路寿命予測手段を備えた
コイン通路の寿命予測装置。
【請求項２】
前記通路寿命予測手段は、前記コイン通路のコイン搬送方向の一側と他側にコインが通過したことを検知する第１検知手段と第２検知手段とを備え、これら両検知手段が検知した検知時間差と予め記憶されている正規の検知時間差とを比較し、その比較結果からコインの搬送遅れ情報を算出し、該搬送遅れ情報から前記コイン通路の寿命を予測する寿命予測部を備えた
請求項１記載のコイン通路の寿命予測装置。
【請求項３】
前記通路寿命予測手段は、前記コイン通路での搬送に要したコイン搬送時間が正規のコイン搬送時間より１．３倍以上の搬送遅れになったとき、前記コイン通路の寿命限界と予測する
請求項１または２に記載のコイン通路の寿命予測装置。
【請求項４】
前記通路寿命予測手段は、前記検知手段の検知情報から全てのコインがコイン通路を通過するのに要した搬送時間と、全てのコインを搬送した搬送枚数とからコイン１枚当たりの平均搬送時間を求め、このコイン１枚当たりの平均搬送時間からコインの搬送遅れ度合いを判定する判定部を備えた
請求項１記載のコイン通路の寿命予測装置。
【請求項５】
前記通路寿命予測手段は、搬送されるコインの先端を検知してから該コインの後端を検知するまでのコイン１枚分の検知時間を検知する検知手段を備えた
請求項１記載のコイン通路の寿命予測装置。
【請求項６】
請求項１〜５の何れか１つに記載のコイン通路の寿命予測装置を備えたコイン計数機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、例えばコイン計数機の計数通路として使用されるようなコイン通路の寿命予測装置に関し、さらに詳しくはコインを平面状態のまま搬送ガイドするコイン通路の寿命をコインの搬送変化度合いから的確に予測するコイン通路の寿命予測装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、メダルや硬貨等のコインを平面状態のまま搬送ガイドするコイン搬送通路は、図１３(Ａ)及び図１４(Ａ)のコイン搬送状態の説明図に示すように、コインＣを搬送方向にガイドする凹溝のコイン通路１３１と、そのコイン通路１３１の凹溝開放面側に対設され、該コイン通路１３１に導かれた平面状態のコインＣの上面に接して該コインＣに一定速度の搬送力を付与するコイン搬送ベルト１３２とから構成される。そして、前記コイン通路１３１の凹溝内面と前記コイン搬送ベルト１３２との対向面間でコインＣを１枚ずつ平面的に挟持した状態で搬送している。その搬送過程でコインＣの通過を検知センサにより１枚ずつ検知して、通過した全てのコインＣの通過枚数を計数するコイン計数機が知られている(例えば特許文献１参照)。
【０００３】
ところが、コインを１枚ずつ搬送させる過程でコインの通過を検知して計数するというコイン計数機の場合、コイン通路１３１の内面がコインＣとの接触により次第に磨耗し、コインの通過枚数に比例してコイン通路１３１内面の磨耗量は大きくなる。よって、コイン通路１３１の磨耗量が大きくなると、コインの搬送ガイド性能が低下して不安定な搬送になり、コイン詰りの発生原因になる。
【０００４】
このコイン詰りの発生原因を分析すると、図１３(Ｂ)及び図１４(Ｂ)のコイン搬送状態の説明図に示すように、コイン通路１３１の内面１３３が通路方向に凹凸状に不規則に磨耗することになるため、コイン搬送ベルト１３２と、コインＣと、コイン通路１３１との間に隙間ができて、ここを通過するコインＣは波打って踊りながら、あるいは蛇行しながら搬送されることになる。この結果、図１４(Ｃ)のコイン重なりを表す搬送説明図に示すように、コインＣ１，Ｃ２…ごとに搬送速度がばらつき、前方の搬送遅れのコインＣ１に後方のコインＣ２が追いつき、搬送過程で前後のコインＣ１，Ｃ２同士が重なり合う現象が生じる。このコイン重なりによってコイン詰りを発生させる。それゆえ、コイン通路１３１は耐磨耗性の優れた材質を使用し、さらには熱処理を施して耐磨耗性を高めているが、計数量の多い用途（例えば遊技ホールでのメダル計数機）ではコイン計数機１台当り１日に何十万枚と多量に高速の計数処理を実行することから磨耗は避けられず、この結果、頻繁にコインの計数処理が実行される場合は、コイン通路の磨耗度合いが原因して使用中に突然コイン詰りが発生し、コイン計数機が使用停止になることがある。このような場合、稼動停止により、ユーザにとっては支障をきたすだけでなく不利益が発生してしまう。
【０００５】
従って、コイン通路の磨耗が増大してコイン詰りを誘起しやすい通路状態が予め分かれば適切に対処できるため、コイン通路の磨耗状態(磨耗度合い)を定期的に測定すれば、コイン通路の適否状態やコイン通路の適切な交換時期を知ることができる。
【０００６】
しかしながら、コイン通路の磨耗状態を精密に測定するには、コイン計数機のコイン通路の部分を分解しなければならず、測定作業には分解・測定・組立との手間の掛かる一連の作業を要し、また熟練を要するので頻繁には測定し難い問題を有していた。
【０００７】
【特許文献１】実公平７−１１８３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
そこでこの発明は、コインの搬送中に該コインの搬送状態からコイン通路の磨耗情報を正確に取得してコイン通路の寿命を予測できるようにし、これによりコイン通路の交換時期を正確に取得でき、該コイン通路でのコイン詰りを完全に解消できるようにしたコイン通路の寿命予測装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
この発明は、コインを平面状態のまま凹溝内に通過させて搬送ガイドするコイン通路と、前記コイン通路の凹溝開放面側に対設され、該コイン通路に導かれたコインに接して該コインに一定速度の搬送力を付与するコイン搬送ベルトと、前記コイン通路の凹溝内面と前記コイン搬送ベルトとの対向面間で挟持された状態にて搬送されるコインを検知する検知手段と、前記検知手段がコイン通路を通過したときのコインの搬送変化度合いを検知することに基づいて、前記コイン通路の寿命を予測する通路寿命予測手段を備えたコイン通路の寿命予測装置であることを特徴とする。
【００１０】
前記コインの搬送変化度合いとは、コイン通路の凹溝内面と、この凹溝内面を通過するコインとの接触抵抗のばらつきによりコインの搬送速度が変化する度合いである。よって、コイン通路の凹溝内面の磨耗量に比例してコインの搬送変化度合いも比例して増大する。
【００１１】
この発明の態様として、前記通路寿命予測手段は、前記コイン通路のコイン搬送方向の一側と他側にコインが通過したことを検知する第１検知手段と第２検知手段とを備え、これら両検知手段が検知した検知時間差と予め記憶されている正規の検知時間差とを比較し、その比較結果からコインの搬送遅れ情報を算出し、該搬送遅れ情報から前記コイン通路の寿命を予測する寿命予測部を備えて構成することができる。
【００１２】
この発明の態様として、前記通路寿命予測手段は、前記コイン通路での搬送に要したコイン搬送時間が正規のコイン搬送時間より１．３倍以上の搬送遅れになったとき、前記コイン通路の寿命限界と予測することができる。
【００１３】
この発明の態様として、前記通路寿命予測手段は、前記検知手段の検知情報から全てのコインがコイン通路を通過するのに要した搬送時間と、全てのコインを搬送した搬送枚数とからコイン１枚当たりの平均搬送時間を求め、このコイン１枚当たりの平均搬送時間からコインの搬送遅れ度合いを判定する判定部を備えて構成することができる。
【００１４】
この発明の態様として、前記通路寿命予測手段は、搬送されるコインの先端を検知してから該コインの後端を検知するまでのコイン１枚分の検知時間を検知する検知手段を備えて構成することができる。
【００１５】
このように構成されたコイン通路の寿命予測装置を備えたコイン計数機を用いれば、コイン計数機の使用中に、その搬送されるコインの搬送遅れ情報からコイン通路の寿命を正確に予測できる。よって、コイン詰りの発生を未然に回避することができる。
【発明の効果】
【００１６】
この発明によれば、コイン通路の使用中にコイン通路の寿命を正確に把握できるので、コイン通路の使用限界やコイン通路の交換時期を正確に特定できる。
【実施例】
【００１７】
この発明の一実施例を以下図面に基づいて説明する。  
［実施例１］  
図面は遊技ホールに設置されるメダル計数機を示し、図１において、このメダル計数機１１は方形のブロック状を有する上面一側に遊技メダル（以下メダルと称す）を受入れる凹状のホッパー１２を備えている。このホッパー１２は凹状の中央部に開口する流下口１３と、該ホッパー１２の上面全体を開閉自在に覆うシャッタ１４とが備えられている。また、上面の他側に操作部として、表示部１５と、発券部１６と、発券ボタン１７と、計数スタートボタン１８と、取消しボタン１９と、係員呼出ボタン２０と、カード挿入口２１等が備えられている。
【００１８】
前記ホッパー１２には計数対象となるメダルが投入される。ここに、投入されたメダルは流下口１３より流下して内部の計数処理部へと導かれる。表示部１５には利用案内や計数結果が表示され、発券部１６からは計数結果が印字された計数券が発券される。また、メダル計数時には操作目的に応じたボタン群の各ボタン１７〜２０が適宜押下操作される。カード挿入口２１には遊技ホール専用の会員カードが挿入され、該会員カードに遊技データが更新記録される。
【００１９】
図２はホッパー１２を取外したメダル計数機１１の内部構造を示す平面図である。この内部に備えられる計数処理部２２は、メダル分離用に設置されるターンテーブル２３と、メダル計数用の通路として設置されるメダル搬送路２４とから構成される。
【００２０】
前記ターンテーブル２３は円盤状を有し、ターンテーブル駆動モータ２５からの回転駆動力をベルト伝達手段等を用いた動力伝達機構（図示省略）を介して該ターンテーブル２３を一定速度で回転する。このターンテーブル２３の上面に、前記ホッパー１２の流下口１３が対向し、この流下口１３から流下したメダルＭが積載される。そして、ターンテーブル２３の回転による遠心力を受けたメダルＭはターンテーブル２３の外周面側に配置されるターンテーブル外周壁３３沿いへ移動し、後段のメダル搬送路２４に接続対応するターンテーブル外周壁３３の一部に開口された１枚出し開口部３３ａよりメダルＭは平面状態のまま放出される。このターンテーブル２３の上面はメダルＭを平面状態で外周面側へ移動させるため、該ターンテーブル２３の上面はメダルＭとの接触抵抗の大きいゴム材２３ａとメダルＭとの接触抵抗の小さい金属材２３ｂとを面一で同心円上に交互に環状配置している。これにより、ターンテーブル２３上での遠心力を受けたメダルＭが外周側へ移動するのを促進している。
【００２１】
前記メダル搬送路２４は、ターンテーブル２３から移送されてきたメダルＭを平面状態のまま凹溝内に導いて該凹溝方向に搬送ガイドするメダル通路２６と、その凹溝開放面側に対設され、該メダル通路２６に導かれたメダルＭの上面に接して該メダルＭに一定速度の搬送力を付与するメダル搬送ベルト２７と、上部側のメダル搬送ベルト２７と下部側の凹溝内面との上下の対向面間で挟持された状態に搬送されるメダルＭの通過を検知する該メダル通路２６の入口側に設置される第１検知センサＳ１と、メダル通路２６の出口側に設置される第２検知センサＳ２とから構成される。
【００２２】
また、ターンテーブル２３の１枚出し開口部３３ａとメダル通路２６の入口側とが接続対応する部分にはターンテーブル２３から送り出されたメダルを傾斜ガイドしてメダル通路２６側に導く傾斜受入ガイド板２８を配設している。
【００２３】
さらに、メダル通路２６は直線的な凹溝の通路で形成されているが、この通路底面には不適な異物（例えば小径の流通硬貨）を落下させて排除し、メダルＭのみを通過させることができるように長方形の異物排除口２９を開口している。なお、図２において、３０はホッパー取付金具を示す。
【００２４】
図３はメダル搬送路２４の駆動構造を示す内部側面図である。このメダル搬送路２４の駆動構造は、搬送ベルト駆動モータ３１と、該搬送ベルト駆動モータ３１からの出力を受けて後段に動力伝達する駆動ベルト３２と、該駆動ベルト３２を介して動力伝達されるメダル搬送ベルト２７とから構成される。
【００２５】
前記駆動ベルト３２は、メダル搬送ベルト駆動モータ３１の出力軸に軸着された駆動プーリＰ１と他側の従動プーリＰ２との間にループ状に張設されている。また、メダル搬送ベルト２７は、前記駆動ベルト３２の従動プーリＰ２と同軸上に備えられた通路入口側プーリＰ３と通路出口側プーリＰ４との間に張設されている。
【００２６】
前記メダル搬送ベルト２７は、両側のプーリＰ３，Ｐ４間でループ状に張設されており、このうちベルト下面側がメダル通路２６の凹溝に沿って平行に対設されている。この場合、ベルト下面側がメダルＭの上面に接触対応した状態で該メダルを移送する。このため、ベルト下面とメダルＭとの間に滑りのない安定した接触圧を持たせるために、ベルト下面側に対しては搬送方向に沿ってアイドラローラＲ１…を一定間隔ごとに配設し、さらにベルト上面側に対してはテンションローラＲ２を付勢対設させている。これにより、メダル搬送ベルト２７が駆動された際に、図４(Ａ)及び図４(Ｂ)に示すように、メダル通路２６内のメダルＭの上面にメダル搬送ベルト２７のベルト下面が付勢接触して該メダル搬送ベルト２７がメダルＭをメダル通路２６の凹溝に沿って直線方向に略真っ直ぐ搬送する。
【００２７】
図５(Ａ)はメダル通路２６の入口側と出口側に配設される検知センサＳ１，Ｓ２の配設状態を示す平面図である。これらの検知センサＳ１，Ｓ２はコ形状の近接センサが用いられ、コ形部分の上下の対向面間でメダル通路２６内のメダルを上下より近接検知するように配設する。またこの場合、センサのコ形部分の先端をメダル通路２６の幅方向の中央より手前の位置に臨ませて配設している。これにより、ここを通過するメダルＭが仮に前後に連なって搬送されても、検知位置が手前のため円形同士が連なったときの中心線上を避けたメダル間は隙間が形成されるのでメダルＭを１枚ずつ検知確認できる。一方、これらの検知センサＳ１，Ｓ２にメダル搬送ベルト２７が接触しないように該メダル搬送ベルト２７はメダル通路２６の幅方向の検知センサＳ１，Ｓ２と反対面側で、且つ幅方向中央より手前の位置に設定して配設している。
【００２８】
ところで、メダル計数機１１の使用を重ねることに伴い、メダル通路２６では図５(Ｂ)に想像線で示すように、メダル通路２６の磨耗前の内面２６ａは正規の通路幅を有している。ところが、図５(Ｂ)に実線で示すように、メダル通路２６の磨耗後の内面２６ｂはメダルＭとの接触により次第に磨耗し、メダルＭの通過枚数に比例して該メダル通路２６の磨耗後の内面２６ｂは大きく磨耗することになる。この結果、メダル通路２６の磨耗後の内面２６ｂが大きく磨耗した場合は、メダルＭの搬送ガイド性能が低下して不安定な搬送になり、メダルＭの搬送遅れが生じることになる。
【００２９】
従って、メダルＭを１枚ずつ搬送させるメダル通路２６の搬送過程でメダルＭの搬送遅れを検知すれば、その搬送遅れ度合いからメダル通路２６の適否が分かることから、第１検知センサＳ１と第２検知センサＳ２が検知した検知時間差を求め、この求めた検知時間差と予め記憶されている正規の検知時間差とを比較し、その比較結果からメダルの搬送遅れ情報を算出することができるため、該搬送遅れ情報からメダル通路２６の寿命を予測することができる。
【００３０】
図６は通路寿命予測結果を表すセンサ出力別のタイムチャートを示し、図６(Ａ)はメダルを検知した場合の正常時の信号波形を示している。この正常時の信号波形では、メダルＭが搬送されて２つの検知センサＳ１，Ｓ２を通過する場合、第１検知センサＳ１で検知されたメダル検知時点(立ち上がり信号)から第２検知センサＳ２で検知されたメダル検知時点(立ち上がり信号)までの検知時間差を標準時間Ｔとする。
【００３１】
この標準時間Ｔを例えば２７ｍＳとすると、メダル通路２６の磨耗が進むにつれて、この検知時間差は大きくなり、メダルＭの搬送遅れも増大する。このとき、図６(Ｃ)に示すように、検知時間差が４０ｍＳを超える頃からメダル通路２６上でのメダル詰りが発生しやすくなる。そして、両検知センサＳ１，Ｓ２での検知時間差が、標準時間Ｔより４０ｍＳ／２７ｍＳ≒１．５Ｔ倍近くになり、既にメダル計数機１１が使用不適な故障状態にあることを表している。
【００３２】
このため、検知時間差が４０ｍＳに至るまでに、事前に解決策を施せばよい。この解決策として、４０ｍＳ×０．８５（安全率１．１５）＝３５ｍＳの検知時間差であれば、故障状態には至らない領域と判断できる。つまり、図６(Ｂ)に示すように、検知時間差が３５ｍＳ／２７ｍＳ≒１．３Ｔ倍近くで、メダル通路２６の検知時間差が標準時間Ｔの１．３倍の時間になった時点で警告を出せば、故障状態に至る手前での告知が可能になる。これにより、メダル通路２６の交換を促し、メダル計数機１１の故障を未然に防止できる。
【００３３】
よって、メダル通路２６での搬送に要したメダル搬送時間が、正規のメダル搬送時間(標準時間)Ｔより１．３倍以上の搬送遅れになったとき、前記メダル通路２６の寿命限界に至ったと予測することができる。
【００３４】
図７はメダル計数機１１の制御回路ブロック図を示し、メダル計数機１１に内蔵されている制御部７１は印字部７２、カードリーダ７３、表示部１５及び各駆動モータ２５，３１を駆動制御し、また計数処理部２２の各検知センサＳ１，Ｓ２の検知信号をホールコンピュータ(上位コンピュータ)７４に送信する。ホールコンピュータ７４はメダル計数機１１の制御部７１から送信された検知情報に基づいて寿命予測部７５でメダル通路２６の寿命を予測し、またメダル通路２６の交換時期を特定し、その特定した予測結果や計数結果等の情報を表示部７６に表示出力する。この表示出力を遊技ホールを管理する係員が見て、特定のメダル計数機１１のメダル通路２６の交換時期を把握する。この特定された寿命予測データの出力は表示出力に限らず、警報音や音声出力によって報知してもよい。
【００３５】
次に、メダル計数機１１の計数処理動作について説明する。  
利用者がメダル計数機１１の計数スタートボタン１８を押下すると、これに対応して計数処理部２２のターンテーブル駆動モータ２５とメダル搬送ベルト駆動モータ３１とが回転駆動される。これらの両駆動モータ２５，３１の駆動出力に従ってターンテーブル２３とメダル搬送ベルト２７はそれぞれ一定速度で回転する。
【００３６】
この計数待機状態で多数枚のメダルＭがホッパー１２内に一括して投入されると、投入されたメダルＭは該ホッパー１２から流下口１３を介して、その下部に位置するターンテーブル２３上に入り、ここでメダルＭは遠心力によって回転送りされながらターンテーブル２３の外周に導かれ、この外周に設けられた１枚出し開口部３３ａに入り込むことで重なり合っていたメダルＭは１枚に分離される。この分離されたメダルＭは、１枚ずつメダル搬送路２４へと送り出され、ここでメダルＭはメダル搬送ベルト２７によってメダル通路２６内を平面移動して直進搬送され、メダル通路２６の入口側に配設された第１検知センサＳ１の検知領域で検知確認される。さらに、メダル通路２６の出口側に配設された第２検知センサＳ２の検知領域を通過することにより、メダルＭの通過枚数が計数される。
【００３７】
このメダルＭの計数処理動作を実行する一方、両検知センサＳ１，Ｓ２の検知時間差からメダルＭの搬送遅れを制御部７１で測定し、その測定結果を上位のホールコンピュータ７４に送信する。ホールコンピュータ７４ではメダルＭの搬送遅れの度合いによって寿命予測部７５がメダル通路２６の寿命を予測し、また予測結果をホールコンピュータ７４の表示部７６に表示する。例えば、検知時間差が標準時間Ｔの１．５倍になるような搬送遅れの大きいメダル計数機１１は、メダル通路２６の磨耗が進行しており、何時メダル搬送不良が発生するか解らないということになる。
【００３８】
そこで、両検知センサＳ１，Ｓ２の検知時間差と標準時間Ｔとを比較し、その比較した結果からメダル搬送不良になる手前の時期か否かを求めればメダル搬送不良を回避することができる。つまり、検知時間差が標準時間Ｔより約１．３倍近くになったことを検知した時点で、ユーザに報知出力すれば、磨耗したメダル通路２６を新しいメダル通路２６に事前に交換させることができ、メダル計数機１１の故障を未然に防止することができる。
【００３９】
次に、メダル通路２６の寿命予測処理動作を図８のフローチャートを参照して説明する。  
ホッパー１２に一括投入されている多数枚のメダルＭは流下してターンテーブル２３上に導かれ、該ターンテーブル２３からメダルＭは１枚ずつメダル通路２６上へと送り出され、メダル通路２６上ではメダルＭを凹溝内に１枚ずつ通過させて搬送する。この搬送過程で両検知センサＳ１，Ｓ２がメダルＭを検知してメダルの計数を開始する(ステップｎ１)。
【００４０】
このメダルの計数開始と同時に、制御部７１では磨耗予測カウンタと磨耗告知フラグをクリアし、寿命予測データの取得に備える(ステップｎ２)。その後、制御部７１は第１検知センサＳ１がメダルＭを検知してから第２検知センサＳ２がメダルＭを検知するまでのメダル通路２６上での通過時間を毎回測定し、この検知時間差を正常時の標準時間Ｔと比較する。比較した結果、標準時間Ｔに対して１．３倍未満の場合は、磨耗が少なく、正常に計数処理を実行できる適正な通路状態にあるため、現状のメダル通路２６をそのまま使用して計数処理を実行すると共に、メダル通過ごとに検知時間差の測定を繰り返す(ステップｎ３)。その後、最終メダルが通過したことを制御部７１が確認すると(ステップｎ４)、それまで磨耗情報がないため磨耗告知フラグはＯＦＦであり(ステップｎ５)、メダル通路２６が正常に使用されることを確認して計数処理は終了する(ステップｎ６)。
【００４１】
これに対し、検知時間差が標準時間Ｔに対して１．３倍以上の場合は、制御部７１が搬送遅れメダルの通過と判断し、磨耗予測カウンタの値を＋１して測定を繰り返す(ステップｎ７)。この磨耗予測カウンタの値を＋１した場合は、この磨耗予測カウンタの値が合計１０回に達したか否かを制御部７１が確認し(ステップｎ８)、磨耗予測カウント値が合計１０回に達している場合には標準時間Ｔを超えているので、制御部７１は磨耗告知フラグをＯＮしておく(ステップｎ９)。
【００４２】
そして、メダルＭの計数が最終メダルになった時点(ステップｎ４)で、磨耗告知フラグがＯＮされていたら、標準時間Ｔに対して１．３倍以上の搬送遅れになったメダルＭが１０枚以上有ることになるので(ステップｎ５)、制御部７１は表示部１５に「磨耗告知」を促すメッセージを表示し、さらに上位のホールコンピュータ７４へ「寿命予測フラグ」を通知する(ステップｎ１０)。
【００４３】
次に、上位のホールコンピュータ７４での処理動作を図９のフローチャートを参照して説明する。  
この上位のホールコンピュータ７４では電源ＯＮ時に「寿命告知カウンタ」をクリアし(ステップｎ１１)、常時、メダル計数機１１側からの「寿命予測フラグ」の受信が有るか否かを確認している(ステップｎ１２)。
【００４４】
メダル計数機１１側からの受信が有れば「寿命告知カウンタ」を＋１する(ステップｎ１３)。また、この「寿命告知カウンタ」が合計１０回に達したか否かを確認する。１０回以上であることを確認した場合(ステップｎ１４)、つまり「磨耗告知」処理が１０回に達している場合には表示部７６へ「寿命の告知」メッセージを表示する(ステップｎ１５)。
【００４５】
そして、この「寿命の告知」が表示されたことを係員が見て、該当するメダル計数機１１のメダル通路２６が交換時期に達していることを確認し、磨耗したメダル通路２６を新しいメダル通路２６に交換する。これにより、メダル計数機１１は搬送障害を起すことがなくなり、常に安定した搬送性能を確保することができる。この結果、メダル詰りを発生させない信頼性の高いメダル計数機１１として利用できる。
【００４６】
［実施例２］
このメダル計数機は、第１実施例のメダル計数機１１と比較して、メダル通路２６上での検知センサの数を２個から１個に削減した点が異なるだけで、他の構成は同じであるため、同一の構成については同一の符号を用いて、その説明を省略する。
【００４７】
図１０はメダル通路２６の出口側にメダル計数用とメダル寿命予測用とを兼ねてメダルを検知する１個の共用検知センサＳ１１を配設して構成し、この１個の共用検知センサＳ１１を配設するだけで、メダルの計数検知データと、メダル通路２６の寿命予測検知データを取得できるように構成したものである。この１個の共用検知センサＳ１１で、ここに搬送されるメダルＭを検知して計数し、且つメダルＭの先端を検知してから該メダルＭの後端を検知するまでのメダル１枚分の通過検知時間からメダルＭの搬送速度を測定し、このメダル搬送速度からメダルの搬送遅れ度合いを求めることにより、メダル通路２６の磨耗状態を検知するものである。
【００４８】
図１１は通路寿命予測結果を表すセンサ出力のタイムチャートを示し、図１１(Ａ)は共用検知センサＳ１１がメダルＭを検知した場合の正常時の信号波形を示している。この正常時の信号波形は、メダルＭが適正な搬送速度で搬送されたときに、該メダルＭが共用検知センサＳ１１の検知領域を通過するが、このときの該共用検知センサＳ１１がメダルの先端を検知した時点(立ち上がり信号)からメダルの後端を検知した時点(立ち下がり信号)までの検知時間を標準時間Ｔとする。
【００４９】
この標準時間Ｔを例えば６ｍＳとすると、メダル通路２６の磨耗が進むにつれて、メダルＭの搬送遅れが増大して検知時間は大きくなる。この検知時間が大きくなって、図１１(Ｃ)に示すように、９ｍＳを超える頃からメダル通路２６上でのメダル詰りが発生しやすくなる。そして、共用検知センサＳ１１での検知時間が、標準時間Ｔに比べて、９ｍＳ／６ｍＳ＝１．５Ｔ倍になり、既にメダル計数機１１が使用不適な故障状態にあることを表している。
【００５０】
このため、検知時間が９ｍＳに至るまでに、解決策を施せばよいことになる。この解決策として、９ｍＳに対し、ある安全率をとった値、７．８ｍＳの検知時間を設定し、この７．８ｍＳの検知時間以内で運用すれば、故障には至らない領域と判断できる。つまり、図１１(Ｂ)に示すように、検知時間は７．８ｍＳ／６ｍＳ＝１．３Ｔ倍であり、メダル通路２６の検知時間が標準時間Ｔの１．３倍の時間になった時点で警告を出せば、故障状態に至る手前での告知が可能になる。これにより、メダル通路２６の交換を促し、メダル計数機１１の故障を未然に防止できる。
【００５１】
次に、メダル通路２６の寿命予測処理動作を図１２のフローチャートを参照して説明する。  
ホッパー１２に一括投入されている多数枚のメダルＭは流下してターンテーブル２３上に導かれ、これよりメダル通路２６へと送り出され、このメダル通路２６に１枚ずつメダルＭは通過する。このとき、共用検知センサＳ１１によるメダルの計数が開始される(ステップｎ２１)。
【００５２】
このメダルの計数開始と同時に、制御部７１では磨耗予測カウンタと磨耗告知フラグをクリアし、寿命予測データの取得に備える(ステップｎ２２)。その後、共用検知センサＳ１１はメダル通路２６上での検知領域にメダルＭが通過するごとに、メダル１枚分の通過時間を毎回測定し、この検知時間を正常時の標準時間Ｔと比較する。比較した結果、標準時間Ｔに対して１．３倍未満の場合は、磨耗が少なく、正常に計数処理を実行できる状態にあるため、現状のメダル通路２６をそのまま使用して測定を繰り返す(ステップｎ２３)。
【００５３】
その後、最終メダルが通過したことを制御部７１が確認すると(ステップｎ２４)、それまで磨耗情報がないため磨耗告知フラグはＯＦＦであり(ステップｎ２５)、メダル通路２６が正常に使用されることを確認して計数処理は終了する(ステップｎ２６)。
【００５４】
これに対し、検知時間差が標準時間Ｔに対して１．３倍以上の場合は、制御部７１が搬送遅れメダルの通過と判断し、磨耗予測カウンタの値を＋１して測定を繰り返す(ステップｎ２７)。この磨耗予測カウンタの値を＋１した場合は、この磨耗予測カウンタの値が合計１０回に達したか否かを制御部７１が確認し(ステップｎ２８)、磨耗予測カウンタの値が合計１０回に達している場合には標準時間Ｔを超えているので、制御部７１は磨耗告知フラグをＯＮしておく(ステップｎ２９)。
【００５５】
そして、メダルの計数が最終メダルになった時点(ステップｎ２４)で、磨耗告知フラグがＯＮされていたら、標準時間Ｔに対して１．３倍以上の搬送遅れになったメダルＭが１０枚以上有ることになるので(ステップｎ２５)、制御部７１は表示部１５に「磨耗告知」を促すメッセージを表示し、さらに上位のホールコンピュータ７４へ「寿命予測フラグ」を通知する(ステップｎ３０)。
【００５６】
この場合も、ホールコンピュータ７４では、寿命予測の通知に基づいて表示部７６にメダル通路２６の交換を促す寿命告知のメッセージを表示し、この寿命告知のメッセージが表示されたことを係員が見て、メダル計数機１１のメダル通路２６が交換時期に達していることを確認し、メダル通路２６の交換を実行する。これにより、メダル通路２６が常に安定した通路性能を維持することからメダル詰りを発生させない信頼性の高いメダル計数機１１として利用できる。ことに、実施例２では１個の共用検知センサＳ１１で済むため、部品点数の削減が図れる。
【００５７】
ところで、ホールコンピュータ７４の寿命予測部７５では、実施例１、実施例２のメダル通路２６上でのメダル１枚の通過情報から該メダル通路２６の寿命を予測したものを示したが、これに限らず多数枚のメダル検知データの平均値からメダル通路２６の寿命を予測することができる。
【００５８】
この場合、寿命予測部７５では、実施例１で取得した「両検知センサＳ１，Ｓ２の検知情報」または実施例２で取得した「共用検知センサＳ１１の検知情報」から全てのメダルＭがメダル通路２６を通過するのに要した搬送時間と、全てのメダルを搬送した搬送枚数とからメダル１枚当たりの平均搬送時間を求め、このメダル１枚当たりの平均搬送時間からメダルの搬送遅れ度合いを判定する。そして、このメダルの搬送遅れ度合いからメダル通路２６の寿命を予測するものである。
【００５９】
例えば、具体的に実施例２の場合を例にとって説明すると、共用検知センサＳ１１が１０００枚のメダルＭの通過を検知した場合、第１番目のメダルＭが共用検知センサＳ１１をＯＮしてから第１０００番目のメダルＭがＯＮするまでの時間を測定し、この１０００枚のメダルを計数するのに要した合計検知時間から１枚当りの平均速度を割り出すことができる。
【００６０】
なお、１枚当りの平均速度及び１枚当りの平均搬送時間はメダル通路２６の磨耗と共に遅くなるため、速度測定以外の制御方法は、前記実施例１と同様の制御方法にて行うことができる。
【００６１】
上述のように、メダルの搬送中にメダルの搬送遅れからメダル通路の寿命を正確に把握できるので、メダル通路の使用限界やメダル通路の交換時期を正確に特定できる。従って、メダル詰りを完全に解消した信頼性の高いメダル計数機を確保できる。
【００６２】
この発明の構成と、上述の一実施例の構成との対応において、
この発明のコインは、実施例のメダルＭに対応し、
以下同様に、
コイン通路は、メダル通路２６に対応し、
コイン搬送ベルトは、メダル搬送ベルト２７に対応し、
第１検知手段、第２検知手段、検知手段は、第１検知センサＳ１と、第２検知センサＳ２と、共用検知センサＳ１１とに対応し、
通路寿命予測手段、判定部は、寿命予測部７５に対応するも、この発明は請求項に示される技術思想に基づいて応用することができ、上述の一実施例の構成のみに限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００６３】
【図１】実施例１のメダル計数機の外観斜視図。
【図２】実施例１のホッパーを取外したメダル計数機の内部構造を示す平面図。
【図３】実施例１のメダル搬送路の駆動構造を示す内部側面図。
【図４】実施例１のメダル通路での適正なメダル搬送状態を示す説明図。
【図５】実施例１の検知センサの配設状態及びメダル通路の磨耗前と磨耗後とのメダルの搬送状態を示す平面図。
【図６】実施例１のセンサ出力別のタイムチャート。
【図７】実施例１のメダル計数機の制御回路ブロック図。
【図８】実施例１のメダル計数機の計数処理動作を示すフローチャート。
【図９】実施例１の上位コンピュータでの表示処理動作を示すフローチャート。
【図１０】実施例２のホッパーを取外したメダル計数機の内部構造を示す平面図。
【図１１】実施例２のセンサ出力別のタイムチャート。
【図１２】実施例２のメダル計数機の計数処理動作を示すフローチャート。
【図１３】正規のコイン搬送状態と不安定なコイン搬送状態を示す要部斜視図。
【図１４】正規のコイン搬送状態と不安定なコイン搬送状態とコイン詰り状態を示す要部縦断面図。
【符号の説明】
【００６４】
１１…メダル計数機
２２…計数処理部
２４…メダル搬送路
２６…メダル通路
２６ａ…磨耗前の内面
２６ｂ…磨耗後の内面
２７…メダル搬送ベルト
Ｓ１…第１検知センサ
Ｓ２…第２検知センサ
Ｍ…メダル
７５…寿命予測部
Ｓ１１…共用検知センサ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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