(57)【要約】【課題】高密度光ディスクにデータを記録する際のレーザパワーの最適値を高精度に設定すること。【解決手段】光ディスクに、消去パワーＰｅを固定し記録パワーＰｗを変化させたテスト信号を記録する。記録した信号を再生して各記録パワーに対する再生信号の非対称性（アシンメトリ）を示すβ値を取得する。取得したβ値が目標β値となる記録パワーから最適の記録パワーＰｗｏを設定する。ここに、固定する消去パワーＰｅは、別のテスト信号を記録し、変調度Ｍ値の測定結果から決める。またはその光ディスクに対し予め定められたストラテジ情報に従う。または光ディスクに関係なくＰｅ≒０とする。【選択図】図３
2007157196.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにデータを記録および再生する光ディスク装置において、
第１のテスト信号を生成する信号形成回路と、
該信号形成回路から供給される第１のテスト信号に基づいて該光ディスクにレーザ光を照射して第１のテスト信号を記録し、また該光ディスクから第１のテスト信号を再生する光ピックアップと、
該光ピックアップの再生した第１のテスト信号から非対称性を示すβ値を取得する検出回路と、
該検出回路の取得したβ値が目標β値となる記録パワーから最適の記録パワーＰｗｏを設定する制御回路とを備え、
上記信号形成回路は、上記第１のテスト信号として、消去パワーＰｅを固定し記録パワーＰｗを変化させたテスト信号を生成することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１記載の光ディスク装置において、
前記信号形成回路は、前記第１のテスト信号に用いる消去パワーＰｅを決定するために、第２のテスト信号を生成して前記光ディスクに記録させ、
前記検出回路は、該光ディスクより再生される該第２のテスト信号から振幅値を示す変調度Ｍ値を取得し、
前記信号形成回路は、該検出回路の取得した変調度Ｍ値の結果に基づき、前記第１のテスト信号に用いる消去パワーＰｅを決定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１記載の光ディスク装置において、
前記信号形成回路は、前記第１のテスト信号に用いる消去パワーＰｅとして、前記光ディスクに予め記録されている記録条件、または当該装置が該光ディスクに対して定めている記録条件に従い、Ｐｅの値を決定することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１記載の光ディスク装置において、
前記信号形成回路は、前記第１のテスト信号に用いる消去パワーＰｅとして、略ゼロ値（Ｐｅ≒０）を用いることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
光ディスクにデータを記録する際の記録パワー設定方法において、
該光ディスクに消去パワーＰｅを固定し記録パワーＰｗを変化させたテスト信号を記録し、
記録した信号を再生して各記録パワーに対する再生信号の非対称性を示すβ値を取得し、
取得したβ値が目標β値となる記録パワーから最適の記録パワーＰｗｏを設定することを特徴とする記録パワー設定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクにデータを記録する際に、記録パワーを最適に調整する光ディスク装置および記録パワー設定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスクにデータを記録する際、光ディスク毎に十分な記録品質が得られるように、テスト記録によりレーザビームの最適記録パワーを求め、その条件でデータを記録している。以下、この工程をＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）と呼ぶ。その際、記録品質を評価するパラメータとして、各種の方式が実施・提案されている。ＣＤやＤＶＤディスクでは、記録された信号のアシンメトリ（β値）を評価指標とする方法（β方式）が使用されている。また高密度大容量ＢＤ（Ｂｌｕ−ｒａｙ）ディスクに対しては、変調度を評価指標とし、その変化を直線近似して最適値を求めるκ（カッパ）方式が推奨されている（ＢＤ−ＲＥではκ方式、ＢＤ−Ｒではκ方式またはβ方式）。なお、各方式での記録条件設定にためのパラメータは、光ディスク毎にコントロールデータとして格納されている。
【０００３】
またこれらの方法を改良し、最適条件を高精度に設定する方法が提案されている。特許文献１には、β方式の改良として、光ディスクから取得した反射率に関する値とβ値に基づいて記録パワーを設定する方法が開示される。また特許文献２には、κ方式の改良として変調度の測定を２回行い、ターゲットパワーレベルを中心とする範囲の測定結果から最適値を求める方法が開示される。
【０００４】
【特許文献１】特開２００５−１１６０２７号公報
【特許文献２】特開２００５−１４９５３８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ＢＤディスクのような高密度大容量ディスクにおいては、より緻密な最適記録パワーの設定が要求されている。上記のβ方式は、簡便に評価できる方法であるが、最適パワー近傍での測定感度が悪く（記録パワー値に対するβ値の変化が小さく）、精度の良い測定は困難である。上記κ方式においても、直線近似付近では低パワーのため測定精度が悪く、ばらつきが大きい。また２層ディスクでは、テスト記録を実行する層に対し、他の層の同位置の記録済信号が干渉し、変調度の測定値に影響を与えることがある。
【０００６】
特許文献１に記載される方法では、新たに反射率に関する値の測定技術が必要になる。また特許文献２に記載される方法では、β値の測定を２回行う必要がある。
【０００７】
本発明の目的は、上記特許文献１，２とは異なる方法で、最適記録パワーを高精度に設定する技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明による光ディスク装置は、第１のテスト信号を生成する信号形成回路と、信号形成回路から供給される第１のテスト信号に基づいて光ディスクにレーザ光を照射して第１のテスト信号を記録し、また光ディスクから第１のテスト信号を再生する光ピックアップと、光ピックアップの再生した第１のテスト信号から非対称性を示すβ値を取得する検出回路と、検出回路の取得したβ値が目標β値となる記録パワーから最適の記録パワーＰｗｏを設定する制御回路とを備える。そして信号形成回路は、第１のテスト信号として、消去パワーＰｅを固定し記録パワーＰｗを変化させたテスト信号を生成する。
【０００９】
ここに前記信号形成回路は、前記第１のテスト信号に用いる消去パワーＰｅを決定するために、第２のテスト信号を生成して光ディスクに記録させ、検出回路は、光ディスクより再生される第２のテスト信号から振幅値を示す変調度Ｍ値を取得し、信号形成回路は、検出回路の取得した変調度Ｍ値の結果に基づき、前記第１のテスト信号に用いる消去パワーＰｅを決定する。
【００１０】
または前記信号形成回路は、前記第１のテスト信号に用いる消去パワーＰｅとして、光ディスクに予め記録されている記録条件、または当該装置が該光ディスクに対して定めている記録条件に従い、Ｐｅの値を決定する。
【００１１】
または前記信号形成回路は、前記第１のテスト信号に用いる消去パワーＰｅとして、略ゼロ値（Ｐｅ≒０）を用いる。
【００１２】
本発明による記録パワー設定方法は、光ディスクに消去パワーＰｅを固定し記録パワーＰｗを変化させたテスト信号を記録し、記録した信号を再生して各記録パワーに対する再生信号の非対称性を示すβ値を取得し、取得したβ値が目標β値となる記録パワーから最適の記録パワーＰｗｏを設定する。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、最適記録パワーを高精度に設定できるので、光ディスクに記録するデータの記録品質の向上を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
図１は、本発明による光ディスク装置の一実施例を示すブロック図である。本実施例の装置は、記録可能な光ディスク１（例えばＢＤディスク）をスピンドルモータ３にて回転し、半導体レーザで発生したレーザ光を光ピックアップ２から光ディスク１の記録面に照射し、データまたはテスト信号を記録し、また再生する。スレッド機構４は、光ピックアップ２を光ディスク上の所望のトラック位置に移動させる。記録信号形成回路６は、記録するデータまたはテスト信号を生成し、レーザドライバ５はそのデータまたはテスト信号に基づき、半導体レーザの発光パワーを制御する。この結果、光ディスク上の所望のトラック位置にデータまたはテスト信号が記録される。
【００１５】
一方、光ピックアップ２は光ディスク１からデータまたはテスト信号を再生する。再生信号（ＲＦ信号）はＲＦ信号増幅回路７にて増幅され、データ復調回路にて復調され、再生データ（情報）となる。ＯＰＣ情報検出回路９は、テスト信号の再生結果からＯＰＣ情報（β値などの品質）を取得する。また光ディスク１のコントロール領域には、当該光ディスクの記録パワー設定を含む記録条件（以下、ストラテジ情報）がコントロールデータとして予め記録されており、それを読み出して最適記録条件の決定に利用する。フォーカス・トラッキング誤差信号検出器１１は、例えば再生信号（ＲＦ信号）のレベルを検出して、フォーカス誤差およびトラッキング誤差信号を生成する。フォーカス・トラッキング制御回路１２は、誤差信号に基づき光ピックアップ２のフォーカス制御とトラッキング制御を行う。システムコントローラ（制御回路）１０は、記録パワー設定工程（ＯＰＣ）を含め装置全体の制御を行い、そのためのプログラムやデータをメモリ１３に格納している。
【００１６】
最適記録パワーの設定に関して言えば、ストラテジ情報を参考にして、記録信号形成回路６にて記録パワー等を段階的に変化させたテスト信号を形成し、光ディスク１のＯＰＣ領域にテスト記録する。次に光ピックアップ２でテスト信号を再生し、ＯＰＣ情報検出回路９にて再生波形の品質（変調度やアシンメトリ）を測定する。システムコントローラ（制御回路）１０は、品質の測定結果に基づき、記録パワーの最適値を決定する。
【００１７】
次に本実施例における最適記録パワーの設定方法を説明する。
図２は、テスト記録用の記録波形を模式的に示す図である。縦軸は発光パワーレベルで、記号Ｐｗは記録パワー、Ｐｅは消去パワーである。記録パワーＰｗは所定の範囲で段階的に変化させる。その時消去パワーＰｅは固定とする（なお、一部の工程では記録パワーＰｗと共にＰｗ／Ｐｅ比が一定となるようにＰｅを変化させる）。
【００１８】
また本実施例では、再生波形の品質評価の際次の指標を用いる。１つは再生波形の正負振幅の非対称性（アシンメトリ）を示すβ値である。もう１つは、再生波形の振幅の大きさを最大（飽和）振幅との比率で表した変調度Ｍである。従来は、β値あるいはＭ値の目標値（Ｔａｒｇｅｔ）を設定し、目標値が得られるパワーＰｗをもとに最適記録パワーＰｗｏを決定していたが、本実施例ではこれを改良したものである。
【００１９】
本実施例では、最適記録パワー決定のためにβ値にて品質を評価するβ方式を採用する。変調度Ｍを指標とするκ方式では、ＲＦ振幅のピークレベル（絶対値）を基準として変調度Ｍを測定するため、２層媒体における他層（記録済）から混入する信号がオフセットとして変調度に影響を与え、避けるのが困難であった。それに対しβ方式では、ピークレベルとＤＣレベルの差（相対値）とＲＦ振幅の比からβ値を求めるので、他層からのオフセットの影響を受けない。さらに本実施例では、その精度を向上するために、テスト信号の消去パワーＰｅを固定としたことに特徴がある。
【００２０】
図３は、β値測定に関し、従来方法と本実施例の方法を比較する図である。図３（ａ）は従来法を示し、消去パワーＰｅは、記録パワーＰｗと共にＰｗ／Ｐｅ比が一定となるように変化させてβ値を測定していた。しかしこの方法では、低パワー領域では曲線の勾配は急峻であり、一方目標値Ｔａｒｇｅｔ＿βの得られる高パワー領域では曲線の勾配が緩やかになる。ＢＤディスクのように緻密な調整が要求される場合には、適度な勾配の曲線であることが必要であり、記録パワーの最適値Ｐｗｏを高精度に求めるのは困難である。
【００２１】
これに対し図３（ｂ）は消去パワーＰｅを固定し、Ｐｗのみを変化させてβ値を測定したものである。この方式では、高パワー領域での曲線が適度の勾配になり（測定感度が高い）、Ｔａｒｇｅｔ＿βに対する最適パワーＰｗｏを精度良く求めることができる。ただし、Ｐｅ値の与え方（値ａ，ｂ，ｃ）によってβ曲線がシフトし、求まる最適値Ｐｗｏの値がずれてしまう。よって、Ｐｅ値を予め正しく求めておく必要がある。図３（ｃ）は、Ｐｅ値を０に固定した場合である。この場合もβ曲線は適度な勾配となるが、Ｐｅ値を０としたことによる補正（例えばＴａｒｇｅｔ＿βの補正）が必要となる。
【００２２】
なお、最適値Ｐｗｏの値を設定する際、目標値Ｔａｒｇｅｔ＿βの得られる記録パワー値をそのまま最適値Ｐｗｏとするのではなく、目標値Ｔａｒｇｅｔ＿βの得られる記録パワー値に所定の係数を掛けて最適値Ｐｗｏの値を求めるようにしても良い。
【００２３】
以下、消去パワーＰｅを固定とする具体的な最適記録パワー設定方法の手順を、フローチャートを用いて説明する。
【００２４】
＜設定方法１＞
図５は、固定とするＰｅを求めるために、変調度Ｍを指標とするκ法を併用する場合の最適記録パワー設定方法のフローチャートである。図４は、併用するκ方式の測定法を説明する図である。
【００２５】
ステップＳ５１からＳ５４では、κ方式により仮のＰｗ（Ｐｗ’），仮のＰｅ（Ｐｅ’）を決定する。ステップＳ５１では、Ｐｗ／Ｐｅ＝ｓ（既知の係数、一定）のもとで、Ｐｗ，Ｐｅを変化させてテスト記録を行い、変調度Ｍを測定する（図４（ａ））。その際の係数ｓは、当該光ディスクのコントロールデータに含まれるストラテジ情報や、あるいはその光ディスクに対して装置メーカが定めてメモリ１３に格納しているストラテジ情報を参照して用いる。ステップＳ５２では、変調度Ｍが目標値Ｔａｒｇｅｔ＿ＭとなるＰｗ（Ｐｔａｒｇｅｔ）近傍で、ＰｗとＭの積（Ｐｗ×Ｍ）とＰｗとの関係を直線近似する（図４（ｂ））。ステップＳ５３では、横軸（Ｐｗ×Ｍ＝０）との交点のＰｗ値を切片Ｐｔｈｒとする。ステップＳ５４では、Ｐｔｈｒに所定の係数κ、ρ（いずれも既知）を掛けて仮のＰｗ’を決定し、また１／ｓを掛けて仮のＰｅ’を決定する。
【００２６】
次にステップＳ５５からＳ５８では、β方式により最適値ＰｗｏとＰｅｏを決定する。ステップＳ５５では、Ｐｗは、仮のＰｗ’を中心に所定範囲ｎ％〜ｍ％で変化させ，Ｐｅは仮のＰｅ’に固定してテスト信号を記録する。ステップＳ５６では、テスト信号を再生し、ＯＰＣ情報、ここではβ値（アシンメトリ）を取得する。ステップＳ５７では、β値がＴａｒｇｅｔ＿βとなるＰｗから最適値Ｐｗｏを決定する。ステップＳ５８では、Ｐｗｏに１／ｓを掛けて最適値Ｐｅｏを決定する。
【００２７】
この方法によれば、β測定時のＰｅ値として、κ法により求めた値Ｐｅ’を用いるので極めて確度が高く、正確な記録パワーを設定することができる。最適なＰｅ値はディスクの種類で異なり、またドライブのばらつきや温度条件によって変動するものであるが、この方法によればこれらの変動に対して常に安定に設定できる。
【００２８】
＜設定方法２＞
図６は、固定とするＰｅを求めるために、当該ディスクのストラテジ情報などを参照する場合の最適記録パワー設定方法のフローチャートである。
【００２９】
ステップＳ６１では、光ディスクのコントロールデータ、あるいは装置のメモリ１３からストラテジ情報を読み出し、記述されている値から仮のＰｗ’と仮のＰｅ’を設定し、その比Ｐｗ’／Ｐｅ’＝ｓとする。ステップＳ６２では、Ｐｗは、仮のＰｗ’を中心に所定範囲ｎ％〜ｍ％で変化させ，Ｐｅは仮のＰｅ’に固定してテスト信号を記録する。ステップＳ６３では、テスト信号を再生し、β値を取得する。ステップＳ６４では、β値がＴａｒｇｅｔ＿βとなるＰｗから最適値Ｐｗｏを決定する。ステップＳ６５では、Ｐｗｏに１／ｓを掛けて最適値Ｐｅｏを決定する。
【００３０】
この方法によれば、パワー設定の工程が短縮する。すなわち、上記＜設定方法１＞で行っていたκ方式（Ｓ５１〜Ｓ５４）の工程が省略でき、設定時間の短縮が図られる。
【００３１】
＜設定方法３＞
図７は、図３（ｃ）のようにＰｅ＝０に固定した場合の最適記録パワー設定方法のフローチャートである。
【００３２】
ステップＳ７１では、光ディスクのコントロールデータ、あるいは装置のメモリ１３からストラテジ情報を読み出し、記述されている値から仮のＰｗ’と仮のＰｅ’を設定し、その比Ｐｗ’／Ｐｅ’＝ｓとする。ステップＳ７２では、Ｐｗは、仮のＰｗ’を中心に所定範囲ｎ％〜ｍ％で変化させ、Ｐｅは０に固定してテスト信号を記録する。なお、ここで言うＰｅ＝０は厳密にゼロとなることを意図するものではなく、他の値（Ｐｗ）と比較してほぼゼロに近い値とする意味である。ステップＳ７３では、テスト信号を再生し、β値を取得する。ステップＳ７４では、β値がＴａｒｇｅｔ＿βとなるＰｗから最適値Ｐｗｏを決定する。なおこの場合には、Ｐｅ＝０と仮定したことによるβ曲線のシフトを補償するため、Ｔａｒｇｅｔ＿βの値には補正値を用いる。ステップＳ７５では、Ｐｗｏに１／ｓを掛けて最適値Ｐｅｏを決定する。
【００３３】
この方法によれば、測定されるβ曲線はただ１つだけであり、これから求まる最適値は光ディスクの種類、装置のばらつきや温度条件によって左右されず、安定な結果が期待できる。また測定はβ方式１回の工程であり、時間短縮が図られる。
【００３４】
以上のように本実施例では、最適記録パワー決定のために、消去パワーＰｅを固定して記録パワーＰｗを変化させてβ値を取得するβ方式とした。これにより測定感度が高く、最適パワーＰｗｏを精度良く、また測定時間を短縮して求めることができる。これらの結果、ＢＤディスクのような緻密な記録パワーの設定要求に対し、応えることができる。なお、上記説明では、固定する消去パワーＰｅの与え方としていくつかの具体例を述べたが、これに限定されず、光ディスクや装置の特性を考慮して適宜設定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】本発明による光ディスク装置の一実施例を示すブロック図。
【図２】テスト記録用の記録波形を模式的に示す図。
【図３】β値測定に関し、従来方法と本実施例の方法を比較する図。
【図４】本実施例で併用するκ方式の測定法を説明する図。
【図５】最適記録パワー設定方法（１）のフローチャートを示す図。
【図６】最適記録パワー設定方法（２）のフローチャートを示す図。
【図７】最適記録パワー設定方法（３）のフローチャートを示す図。
【符号の説明】
【００３６】
１…光ディスク、２…光ピックアップ、３…スピンドルモータ、４…スレッド機構、５…レーザドライバ、６…記録信号形成回路、７…ＲＦ信号増幅回路、８…データ復調回路、９…ＯＰＣ情報検出回路、１０…システムコントローラ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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