(57)【要約】【課題】１台の装置で必要に応じて曝露量測定とＴＣＯ測定とを選択できる磁界測定装置を提供する。【解決手段】磁界検出部としてのコイル１１と、コイル１１から出力される微分特性を有する出力電圧を積分してほぼ一定振幅の電圧とする積分器２１と、積分器２１の出力電圧に基づいて被測定磁界の特性値を算出する演算制御手段２５と、演算制御手段２５に所定の指示を与える操作部とを少なくとも備えている磁界測定装置において、演算制御手段２５は、例えばＴＣＯに規定された磁束密度測定モードを実行する機能と、時間領域評価法による曝露量測定モードを実行する機能とを含み、操作部よりＴＣＯ磁束密度測定モードと曝露量測定モードとを適宜選択できるようにする。【選択図】図１
2007017425.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁界検出部としてのコイルと、上記コイルから出力される微分特性を有する出力電圧を積分してほぼ一定振幅の電圧とする積分器と、上記積分器の出力電圧に基づいて被測定磁界の特性値を算出する演算制御手段と、上記演算制御手段に所定の指示を与える操作部とを少なくとも備えている磁界測定装置において、
上記演算制御手段は、所定の規格に定められている磁束密度測定モードを実行する機能と、時間領域評価法による曝露量測定モードを実行する機能とを含み、上記操作部より上記磁束密度測定モードと上記曝露量測定モードとが選択可能であることを特徴とする磁界測定装置。
【請求項２】
上記磁束密度測定モードには、５Ｈｚ〜２ｋＨｚ帯の低域測定と、２ｋＨｚ〜４００ｋＨｚ帯の高域測定とが含まれることを特徴とする請求項１に記載の磁界測定装置。
【請求項３】
上記曝露量測定モードには、職業的曝露および公衆の曝露の各参考レベルが適用されることを特徴とする請求項１または２に記載の磁界測定装置。
【請求項４】
上記積分器の出力電圧に、上記曝露量測定モードで用いられる参考レベルの逆数を乗算する評価フィルタをさらに備え、上記演算制御手段は、上記評価フィルタから出力される曝露量が１００％以上である場合に所定の警報手段を動作させることを特徴とする請求項１ないし３のいずれか１項に記載の磁界測定装置。
【請求項５】
上記磁界検出部にはＸ軸コイル，Ｙ軸コイル，Ｚ軸コイルの３つのコイルが含まれ、上記演算制御手段は、上記各軸ごとに瞬時値から実効値を算出し、さらに上記各軸の実効値から合成実効値を算出し、上記瞬時値，上記実効値，上記合成実効値のいずれか一つの曝露量が１００％以上である場合に所定の警報手段を動作させることを特徴とする請求項４に記載の磁界測定装置。
【請求項６】
磁界検出部としてのコイルと、上記コイルから出力される微分特性を有する出力電圧を積分してほぼ一定振幅の電圧とする積分器と、上記積分器の出力電圧に基づいて被測定磁界の特性値を算出する演算制御手段と、上記演算制御手段に所定の指示を与える操作部とを少なくとも備えている磁界測定装置において、
上記磁界検出部にはＸ軸コイル，Ｙ軸コイル，Ｚ軸コイルの３つのコイルが含まれ、上記演算制御手段は、上記各軸ごとに瞬時値から実効値を算出し、さらに上記各軸の実効値から合成実効値Ｒを算出し、上記合成実効値Ｒに当該磁界測定装置固有の誤差を加算および／または減算して上記合成実効値Ｒの上限値Ｒｍａｘおよび／または下限値Ｒｍｉｎとを算出し、少なくとも一方の限界値を所定の表示手段に表示させることを特徴とする磁界測定装置。
【請求項７】
当該磁界測定装置固有の読み値誤差をα，フルスケール誤差をβとして、上記制御手段は、Ｒ±｛（Ｒ×α）＋β｝なる演算式により、上記合成実効値Ｒの上限値Ｒｍａｘと下限値Ｒｍｉｎとを算出して所定の表示手段に表示させることを特徴とする請求項６に記載の磁界測定装置。
【請求項８】
上記演算制御手段は、上記合成実効値Ｒが所定の制限レベル未満である場合には、再度、上記上限値Ｒｍａｘにて上記制限レベルとの比較を行うことを特徴とする請求項６または７に記載の磁界測定装置。
【請求項９】
上記演算制御手段は、上記合成実効値Ｒが所定の制限レベル以上である場合には、再度、上記下限値Ｒｍｉｎにて上記制限レベルとの比較を行うことを特徴とする請求項６または７に記載の磁界測定装置。
【請求項１０】
外部機器に提供する情報として、請求項７に記載の読み値誤差αおよびフルスケール誤差βの各データと、Ｒ±｛（Ｒ×α）＋β｝なる演算プログラムとを含む記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は磁界測定装置に関し、さらに詳しく言えば、送電系や家電機器などから放射される磁界を測定するのに好適な磁界測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
送電線やトランス、それに人体が日常的に接する電子レンジ，パソコンのディスプレイなどの家電機器からも、きわめて広い周波数帯域の磁界（電磁界）が不特定方向に放射されており、近年、これら磁界の人体に対する悪影響が懸念されている。
【０００３】
そこで、国際非電離放射線防護委員会（Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ  Ｃｏｍｍｉｓｓｉｏｎ  ｏｎ  Ｎｏｎ−Ｉｏｎｉｚｉｎｇ  Ｒａｄｉａｔｉｏｎ  Ｐｒｏｔｅｃｔｉｏｎ；略称ＩＣＮＩＲＰ）から、１９９８年４月に「時間変化する電界，磁界及び電磁界による曝露を制限するためのガイドライン（３００ＧＨｚまで）」が示され、このガイドラインには、職業的曝露と公衆の曝露の各曝露モードについての参考レベルが記載されている。
【０００４】
なお、低周波領域の磁界の参考レベルは、周波数により大きく変わるため、電気機器が発生する磁界周波数が広帯域の場合、測定値をそのまま参考レベルと照合することができない。そのため、参考レベルと照合ができるようにするため、周波数に対する重み付け関数により、測定磁界を例えば５０Ｈｚもしくは６０Ｈｚなどの基準周波数に正規化する方法を標準の評価方法として規定し、これを時間領域評価（Ｔｉｍｅ  ｄｏｍａｉｎ  ｅｖａｌｕｔｉｏｎ）と呼んでいる。
【０００５】
また、スエーデンの雇用者連盟所有のＴＣＯ  Ｄｅｖｅｌｏｐｍｅｎｔが管轄するオフィス機器の安全性や人間工学（エルゴノミクス），電磁界放射，省エネルギー，環境に関する国際的な総合規格であるＴＣＯ（最新版ＴＣＯ  ’０３ＦＰＤ）のＡ４エミッション；Ａ４．３の交流磁界測定には、モニタ画面に対する要求事項として、
（低域）：５Ｈｚ〜２ｋＨｚ；正面３０／５０ｃｍ，≦２００ｎＴ
（高域）：２ｋＨｚ〜４００ｋＨｚ；正面３０ｃｍ及び周囲５０ｃｍ，≦２５ｎＴ
と規定されている（単位はテスラで、１テスラ（Ｔ）＝１０４ガウス（Ｇ））。
【０００６】
このほか、例えばＭＤＲやＪＥＩＴＡガイドラインＩＴＲ−３００４にも、ＴＣＯと同様な規格が定められているが、このうち、上記ＩＣＮＩＲＰのガイドラインに示されている参考レベル（以下、ＩＣＮＩＲＰの参考レベルという。）に基づいて、被測定磁界の曝露量を測定する曝露量測定装置が特許文献１に記載されている。
【０００７】
ＩＣＮＩＲＰの参考レベルでは、一例として、周波数１０Ｈｚ以上，４００ｋＨｚ以下の周波数帯域について、磁束密度Ｂ（曝露量）が低周波数域および高周波数域では周波数に反比例して低くなり、その中間周波数域では周波数にかかわらずほぼ一定となるように規定されている。
【０００８】
そのため、特許文献１に記載の曝露量測定装置では、ＩＣＮＩＲＰの参考レベルの逆数からなる評価フィルタを用いる。すなわち、磁界検出手段で検出したＸ軸成分，Ｙ軸成分，Ｚ軸成分の磁界強度に比例した振幅の検出信号を上記評価フィルタにとおすことにより、磁界の周波数にかかわらずほぼ一定振幅の出力信号を得、この出力信号をＡ／Ｄ変換したデジタルデータにより曝露量を算出するようにしている。
【０００９】
【特許文献１】特開２００１−２３５４９６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
上記特許文献１に記載の曝露量測定装置によれば、ＩＣＮＩＲＰの参考レベルを基準とした曝露量を測定することができるが、所定の規格、例えばＴＣＯに規定されている磁束密度測定を行うことができないため、曝露量測定とＴＣＯ測定を併せて行うには、ＴＣＯ測定機能を有する別の磁界測定値を用意する必要がある。
【００１１】
また、曝露量測定では、測定された曝露量がモニタ画面などにＩＣＮＩＲＰの参考レベルに対するパーセントとして表示されるが、従来の機種では、例えば安全基準として不適の１００パーセント以上となってもユーザーに報知されないため、その表示を見落とすことがある。特に、曝露量測定は、測定器を手に持って移動させながら被測定機器の周囲の多点で行うことが多いため、表示を見落としやすい。
【００１２】
ところで、他の測定器と同じく、磁界測定装置も固有的な確度（読み値誤差とフルスケール誤差の２つの誤差）をもつため、その測定値には誤差（不確かさ）が含まれている。そこで、ＩＥＣ６２２３３では、測定の誤差について次のように規定している。
（１）機器が制限レベルを下回る磁界を発生しているかを検証する場合、測定の誤差を測定値に足して制限レベルと比較しなければならない（メーカーにより実施される測定で適用）。
（２）機器が制限レベルを上回る磁界を発生しているかを検証する場合、測定の誤差は測定値から引いて制限レベルと比較しなければならない（調査機関により実施される測定で適用）。
【００１３】
このような誤差を考慮した測定値により解析を行う場合、ユーザーは使用する磁界測定装置固有の読み値誤差とフルスケール誤差とから、各測定値ごとに上限値と下限値とを算出する必要があり、解析を行ううえでかなりの負担となる。
【００１４】
したがって、本発明の第１の課題は、１台の装置で必要に応じて曝露量測定と所定の規格、例えばＴＣＯ測定とを選択できる磁界測定装置を提供することにある。また、本発明の第２の課題は、曝露量測定時において、測定された曝露量がＩＣＮＩＲＰの例えば参考レベル以上の値になった場合、ブザーなどの報知手段にてユーザーに警告を与えることができる磁界測定装置を提供することにある。また、本発明の第３の課題は、誤差を考慮した測定値での解析を容易に行えるようにすることにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上記第１の課題を解決するため、請求項１に記載の発明は、磁界検出部としてのコイルと、上記コイルから出力される微分特性を有する出力電圧を積分してほぼ一定振幅の電圧とする積分器と、上記積分器の出力電圧に基づいて被測定磁界の特性値を算出する演算制御手段と、上記演算制御手段に所定の指示を与える操作部とを少なくとも備えている磁界測定装置において、上記演算制御手段は、所定の規格に定められている磁束密度測定モードを実行する機能と、時間領域評価法による曝露量測定モードを実行する機能とを含み、上記操作部より上記磁束密度測定モードと上記曝露量測定モードとが選択可能であることを特徴としている。
【００１６】
請求項２に記載の発明は、上記請求項１において、上記磁束密度測定モードには、５Ｈｚ〜２ｋＨｚ帯の低域測定と、２ｋＨｚ〜４００ｋＨｚ帯の高域測定とが含まれることを特徴としている。
【００１７】
請求項３に記載の発明は、上記請求項１または２において、上記曝露量測定モードには、職業的曝露および公衆の曝露の各参考レベルが適用されることを特徴としている。
【００１８】
上記第２の課題を解決するため、請求項４に記載の発明は、上記請求項１ないし３のいずれか１項において、上記積分器の出力電圧に、上記曝露量測定モードで用いられる参考レベルの逆数を乗算する評価フィルタをさらに備え、上記演算制御手段は、上記評価フィルタから出力される曝露量が１００％以上である場合に所定の警報手段を動作させることを特徴としている。
【００１９】
請求項５に記載の発明は、上記請求項４において、上記磁界検出部にはＸ軸コイル，Ｙ軸コイル，Ｚ軸コイルの３つのコイルが含まれ、上記演算制御手段は、上記各軸ごとに瞬時値から実効値を算出し、さらに上記各軸の実効値から合成実効値を算出し、上記瞬時値，上記実効値，上記合成実効値のいずれか一つの曝露量が１００％以上である場合に所定の警報手段を動作させることを特徴としている。
【００２０】
上記第３の課題を解決するため、請求項６に記載の発明は、磁界検出部としてのコイルと、上記コイルから出力される微分特性を有する出力電圧を積分してほぼ一定振幅の電圧とする積分器と、上記積分器の出力電圧に基づいて被測定磁界の特性値を算出する演算制御手段と、上記演算制御手段に所定の指示を与える操作部とを少なくとも備えている磁界測定装置において、上記磁界検出部にはＸ軸コイル，Ｙ軸コイル，Ｚ軸コイルの３つのコイルが含まれ、上記演算制御手段は、上記各軸ごとに瞬時値から実効値を算出し、さらに上記各軸の実効値から合成実効値Ｒを算出し、上記合成実効値Ｒに当該磁界測定装置固有の誤差を加算および／または減算して上記合成実効値Ｒの上限値Ｒｍａｘおよび／または下限値Ｒｍｉｎとを算出し、少なくとも一方の限界値を所定の表示手段に表示させることを特徴としている。
【００２１】
請求項７に記載の発明は、上記請求項６において、当該磁界測定装置固有の読み値誤差をα，フルスケール誤差をβとして、上記制御手段は、Ｒ±｛（Ｒ×α）＋β｝なる演算式により、上記合成実効値Ｒの上限値Ｒｍａｘと下限値Ｒｍｉｎとを算出して所定の表示手段に表示させることを特徴としている。
【００２２】
請求項８に記載の発明は、上記請求項６または７において、上記演算制御手段は、上記合成実効値Ｒが所定の制限レベル未満である場合には、再度、上記上限値Ｒｍａｘにて上記制限レベルとの比較を行うことを特徴としている。
【００２３】
請求項９に記載の発明は、上記請求項６または７において、上記演算制御手段は、上記合成実効値Ｒが所定の制限レベル以上である場合には、再度、上記下限値Ｒｍｉｎにて上記制限レベルとの比較を行うことを特徴としている。
【００２４】
また、本発明には、請求項１０に記載されているように、外部機器に提供する情報として、請求項７に記載の読み値誤差αおよびフルスケール誤差βの各データと、Ｒ±｛（Ｒ×α）＋β｝なる演算プログラムとを含む記憶媒体も含まれる。
【発明の効果】
【００２５】
請求項１に記載の発明によれば、磁界検出部としてのコイルから出力される微分特性を有する出力電圧を積分器にて積分して得られるほぼ一定振幅の電圧に基づいて被測定磁界の特性値を算出する演算制御手段に、所定の規格、例えばＴＣＯに規定された磁束密度測定モードを実行する機能と、時間領域評価法による曝露量測定モードを実行する機能とを備えさせたことにより、１台の磁界測定装置でＴＣＯ磁束密度測定と曝露量測定とを行うことができる。
【００２６】
請求項２に記載の発明によれば、磁束密度測定モードに５Ｈｚ〜２ｋＨｚ帯の低域測定と２ｋＨｚ〜４００ｋＨｚ帯の高域測定とが含まれていることにより、必要に応じて低域測定および／または高域測定を選択することができる。
【００２７】
請求項３に記載の発明によれば、曝露量測定モードに職業的曝露および公衆の曝露の各参考レベルが適用されることにより、ＩＣＮＩＲＰのガイドラインに沿った曝露量の測定を行うことができる。
【００２８】
請求項４に記載の発明によれば、積分器の出力電圧に対して、評価フィルタにより曝露量測定モードで用いられる参考レベルの逆数を乗算することにより、その評価フィルタから出力される曝露量が１００％以上である場合に所定の警報手段を動作させ、ユーザに警告を発することができる。
【００２９】
請求項５に記載の発明によれば、磁界検出部にはＸ軸コイル，Ｙ軸コイル，Ｚ軸コイルの３つのコイルが含まれ、その各軸ごとに瞬時値から実効値を算出し、さらに各軸の実効値から合成実効値を算出し、瞬時値，実効値，合成実効値のいずれか一つの曝露量が１００％以上である場合に所定の警報手段を動作させるようにしたことにより、ユーザがどの値を用いて警報をかけるかを任意に選択することができる。すなわち、ユーザ自身が安全性の信頼度を決めることができる。
【００３０】
請求項６に記載の発明によれば、Ｘ軸コイル，Ｙ軸コイル，Ｚ軸コイルの各軸の実効値から求められる合成実効値Ｒに、当該磁界測定装置固有の誤差を加算および／または減算して得られる上限値Ｒｍａｘおよび／または下限値Ｒｍｉｎの少なくとも一方の限界値が所定の表示手段に表示されるため、誤差を考慮した測定値での解析を容易に行うことができる。
【００３１】
請求項７に記載の発明によれば、当該磁界測定装置固有の読み値誤差をα，フルスケール誤差をβとして、Ｒ±｛（Ｒ×α）＋β｝なる演算式により、合成実効値Ｒの上限値Ｒｍａｘと下限値Ｒｍｉｎとが算出されて所定の表示手段に表示されるため、当該磁界測定装置固有の誤差を確度誤差とした測定値での解析を容易に行うことができる。
【００３２】
請求項８に記載の発明によれば、合成実効値Ｒが所定の制限レベル未満である場合には、再度、上限値Ｒｍａｘにて制限レベルとの比較が行われるため、機器が制限レベルを下回る磁界を発生しているかどうかを確実に検証することができる。
【００３３】
また、請求項９に記載の発明によれば、合成実効値Ｒが所定の制限レベル以上である場合には、再度、下限値Ｒｍｉｎにて制限レベルとの比較が行われるため、機器が制限レベルを上回る磁界を発生しているかどうかを確実に検証することができる。
【００３４】
請求項１０に記載の発明によれば、合成実効値などの測定値を外部機器の例えばパソコンで与えて解析する場合、その外部機器側にて誤差を考慮した測定値での解析を容易に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３５】
次に、図面に示されている各図により、本発明の実施形態について説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。図１（ａ）は本発明による磁界測定装置の構成を概略的に示すブロック図，図１（ｂ）はフィルタ回路の構成を示す回路図，図２は上記磁界測定装置の測定器本体を示す外観正面図，図３は上記測定器本体に接続して用いられる磁界センサ（磁界検出部）を示す外観側面図である。
【００３６】
なお、以下の説明では、図示しない電気機器などの被測定対象から放射される磁界の測定パラメータを磁束密度としているが、磁束密度Ｂ〔単位；ステラ（Ｔ）〕と磁界強度Ｈ〔単位；メートルあたりのアンペア（Ａ／ｍ）〕はよく知られているように、Ｂ＝μＨの関係にあるため、磁束密度Ｂを測定することは磁界強度Ｈを測定していることに他ならない。なお、μは比例定数（透磁率）で、真空や空気中ならびに非磁性物質中で、μの値は４π×１０−７ヘンリー／メートル（Ｈ／ｍ）である。
【００３７】
図１（ａ）に示すように、この磁界測定装置は、磁界検出用のコイル１１を備える。この例では、コイル１１には、Ｘ軸コイル１１ｘ，Ｙ軸コイル１１ｙ，Ｚ軸コイル１１ｚの３つのコイルが含まれる。これら３つのコイル１１ｘ，１１ｙ，１１ｚは、図３に示すほぼ球形状の磁界センサ１０内に、好ましくは中心点を共有して相互に直交する平面内に配置される。なお、特に軸が問われない場合には単にコイル１１という。
【００３８】
各軸の測定系ごとに、積分器２１ｘ，２１ｙ，２１ｚ（特に軸が問われない場合には単に積分器２１という），フィルタ回路２２ｘ，２２ｙ，２２ｚ（特に軸が問われない場合には単にフィルタ回路２２という）およびＡ／Ｄ変換器２３ｘ，２３ｙ，２３ｚ（特に軸が問われない場合には単にＡ／Ｄ変換器２３という）を備え、コイル１１の出力電圧は、積分器２１，フィルタ回路２２およびＡ／Ｄ変換器２３を介して例えばマイクロコンピュータからなる演算制御手段２５に与えられる。
【００３９】
ここで、コイル１１の出力電圧Ｖ１は、
Ｖ１＝ｋ・Ｂ・Ｎ・ｆ（ｋは定数，Ｂは磁束密度，Ｎは巻数，ｆは周波数）
によって表され、ピークの磁束密度Ｂが一定の場合であっても、周波数ｆに比例して大きくなるという微分特性を有する。
【００４０】
積分器（ＣＲ積分器）２１は、コイル１１の出力電圧Ｖ１を平坦化するために用いられる。すなわち、積分器２１の出力電圧Ｖ２は、
Ｖ２＝１／ＣＲ∫Ｖ１ｄｔ（ＣＲは積分定数）
で表され、周波数とともに出力が低下するため、コイル１１の出力電圧Ｖ１は積分器２１の周波数効果により平坦化され、磁束密度に比例した電圧が得られる。
【００４１】
図１（ｂ）に示すように、フィルタ回路２２には、ＩＣＮＩＲＰの参考レベルの逆数からなる時間領域評価法による評価フィルタ２２１と、ＴＣＯ磁束密度測定の高域測定に用いられる通過帯域が２ｋＨｚ〜４００ｋＨｚのハイパスフィルタ２２２と、ＴＣＯ磁束密度測定の低域測定に用いられる通過帯域が５Ｈｚ〜２ｋＨｚのローパスフィルタ２２３とが並列的に含まれる。
【００４２】
これら各フィルタ２２１，２２２，２２３は、スイッチＳＷ１〜ＳＷ３により択一的に切り替えられるが、フィルタ回路２２をバイパスさせる通常の磁束密度測定用のスイッチＳＷ４がスイッチＳＷ１〜ＳＷ３に対してさらに並列に接続される。
【００４３】
図５にＩＣＮＩＲＰの参考レベル（時間的に変動する磁界への曝露に対する参考レベル）のグラフを示す。このグラフ中、実線が公衆の曝露に関する参考レベルで、鎖線が職業的曝露に関する参考レベルである。
【００４４】
なお参考までに、ＩＣＮＩＲＰのガイドラインによれば、職業的曝露を受ける集団は、通常は既知の条件下で曝露を受けており、また潜在的リスクに注意を払いかつ適切な予防措置をとるための訓練を受けている成人からなっている。これとは対照的に公衆は、あらゆる年齢層，健康状態の人からなり、特に影響を受けやすいグループや個人が含まれる可能性がある。また多くの場合、公衆は電磁界曝露に気付いていない。また当然ながら、公衆が曝露を回避したり、最小とするための予防措置をとることは期待できない。これらの考慮に基づいて、職業的曝露を受ける集団よりも公衆に対してより厳しい曝露制限が適用される、と記載されている。
【００４５】
評価フィルタ２２１は、この参考レベルの逆数からなるフィルタであるため、図５を借用して説明すると、参考レベルとは逆に（対称的に）、１Ｈｚ〜約１ｋＨｚまでは右肩上がり，約１ｋＨｚ〜約１００ｋＨｚまでは平坦，約１００ｋＨｚ〜約１０ＭＨｚまでは右肩上がりのフィルタ特性を有する。なお、評価フィルタ２２１を前段の積分器２１と回路的に合成することもできる。
【００４６】
ここで、ＩＣＮＩＲＰの参考レベルの値をＢ，評価フィルタ２２１を通された値をＡとすると、積分器２１の出力電圧（磁束密度に比例した電圧）Ｖ２は、評価フィルタ２２１にてＩＣＮＩＲＰの参考レベルの逆数が乗算されることにより、Ａ＝Ｖ２／Ｂ（無次元数）となり、周波数が単一の場合でＶ２＝Ｂのとき曝露レベル１００％となる。
【００４７】
Ａ／Ｄ変換器２３は、フィルタ回路２２のフィルタ出力値をデジタルデータに変換して演算制御手段２５に与える。演算制御手段２５は、Ｘ軸コイル１１ｘ，Ｙ軸コイル１１ｙ，Ｚ軸コイル１１ｚから得られる時刻ｔにおける瞬時値をそれぞれｘ（ｔ），ｙ（ｔ），ｚ（ｔ）として、次式（１）〜（３）により各コイル１１で検出された磁束密度の実効値ｘ（ｔ）ＲＭＳ，ｙ（ｔ）ＲＭＳ，ｚ（ｔ）ＲＭＳ を算出する（この例において、Ｔは１秒）。
【００４８】
【数１】
2007017425.tif 000003
【数２】
2007017425.tif 000004
【数３】
2007017425.tif 000005
【００４９】
さらに、演算制御手段２５は、次式（４）により、上記実効値ｘ（ｔ）ＲＭＳ，ｙ（ｔ）ＲＭＳ，ｚ（ｔ）ＲＭＳ の合成実効値Ｒ（ｔ）ＲＭＳを算出し、これらの各測定値を例えば液晶表示パネルからなる表示部３０に表示する。
【数４】
2007017425.tif 000006
【００５０】
また、演算制御手段２５は、評価フィルタ２２により得られる曝露レベルが所定の閾値を超えた場合、それを危険として発光ダイオードやブザーなどの報知手段４０によりユーザに知らせる。
【００５１】
この例において、積分器２１，フィルタ回路２２，Ａ／Ｄ変換器２３，演算制御手段２５，表示部３０および報知手段４０は、図２に示す測定器本体２０内に設けられる。測定器本体２０は、磁界センサ１０の雄コネクタ１０ａの相手方となる雌コネクタ２０ａを有し、磁界測定時、測定器本体２０に磁界センサ１０が接続される。
【００５２】
測定器本体２０の正面には、表示部３０と操作部５０とが割り当てられている。この例において、操作部５０には、電源ボタン５１，磁界測定モード切替ボタン５２，表示軸切替ボタン５３，オートレンジを含むレンジ切替ボタン５４，最大値ホールドボタン５５，測定データ保存ボタン５６，保存した測定データを表示するメモリビューボタン５７および測定データをパソコンなどの外部機器に出力する出力ボタン５８が設けられている。
【００５３】
本発明の磁界測定装置は、測定モードとして、通常の磁界測定モード（１０Ｈｚ〜４００ｋＨｚ）のほかに、ＴＣＯに規定された磁束密度測定モード（５Ｈｚ〜２ｋＨｚ帯の低域測定，２ｋＨｚ〜４００ｋＨｚ帯の高域測定）と、時間領域評価法による曝露量測定モード（職業的曝露，公衆の曝露）とを備え、磁界測定モード切替ボタン５２を押すことにより、これらの各測定モードがサイクリック的に切り替えられる。この測定モードの切り替え状態を図４により説明する。
【００５４】
まず、デフォルトとしてフィルタ回路２２内のスイッチＳＷ４がオンになり、図４（ａ）に示すように、通常の磁界測定モード（１０Ｈｚ〜４００ｋＨｚ）が選択される。この状態で、磁界測定モード切替ボタン５２を１回押すとスイッチＳＷ３がオンになり、図４（ｂ）に示すように、ＴＣＯ磁束密度測定モードのうちの５Ｈｚ〜２ｋＨｚ帯の低域測定が選択される。続いて、磁界測定モード切替ボタン５２を１回押すとスイッチＳＷ２がオンになり、図４（ｃ）に示すように、ＴＣＯ磁束密度測定モードのうちの２ｋＨｚ〜４００ｋＨｚ帯の高域測定が選択される。
【００５５】
続いて、磁界測定モード切替ボタン５２を１回押すとスイッチＳＷ１がオンになり、図４（ｄ）に示すように、曝露量測定モードのうちの曝露（一般）モード（公衆の曝露）が選択される。続いて、磁界測定モード切替ボタン５２を１回押すと、図４（ｅ）に示すように、曝露量測定モードのうちの曝露（職業）モード（職業的曝露）が選択され、続いて、磁界測定モード切替ボタン５２を１回押すことにより、図４（ａ）の通常の磁界測定モードに戻る。
【００５６】
なお、ＴＣＯ磁束密度測定モードは、パソコンなどのモニタ画面から放射される磁束密度を測定するモードであり、先にも説明したように、
（低域）：５Ｈｚ〜２ｋＨｚ；正面３０／５０ｃｍ，≦２００ｎＴ
（高域）：２ｋＨｚ〜４００ｋＨｚ；正面３０ｃｍ及び周囲５０ｃｍ，≦２５ｎＴ
と規定されている。
【００５７】
曝露量測定モード時において、演算制御手段２５は評価フィルタ２２１に対して、職業的曝露であれば図５のグラフに鎖線で示されている職業的曝露についてのＩＣＮＩＲＰの参考レベルを適用し、公衆の曝露であれば同グラフに実線で示されている公衆の曝露についてのＩＣＮＩＲＰの参考レベルを適用する。そして、その曝露レベルが所定の閾値（例えば１００％）以上である場合には、報知手段４０を動作させユーザに知らせる。
【００５８】
この例では、表示軸切替ボタン５３を１回押すたびに、ＸＹＺ（各コイル１１の合成実効値Ｒ（ｔ）ＲＭＳ）→Ｘ（コイル１１ｘにて検出された磁束密度の瞬時値ｘ（ｔ）もしくは実効値ｘ（ｔ）ＲＭＳ）→Ｙ（コイル１１ｙにて検出された磁束密度の瞬時値ｙ（ｔ）もしくは実効値ｙ（ｔ）ＲＭＳ）→Ｚ（コイル１１ｚにて検出された磁束密度の瞬時値ｚ（ｔ）もしくは実効値ｚ（ｔ）ＲＭＳ）と表示軸が順次切り替え可能であるため、各表示軸の瞬時値，実効値，合成実効値のいずれでも、閾値と比較してその曝露レベルを判定することができる。
【００５９】
また、別の例として、ＴＣＯ磁束密度測定モードでも、低域測定で２００ｎＴ（ナノテスラ）以上，高域測定で２５ｎＴ以上が測定された場合に報知手段４０を動作させユーザに知らせることもできる。
【００６０】
次に、当該磁界測定装置の誤差（不確かさ）を考慮した測定値での解析を行う場合について説明する。この場合、演算制御手段２５には、操作部５０の図示しない入力部から当該磁界測定装置の読み値（リーディング）誤差αとフルスケール誤差βとが入力される。なお、モードやレンジにより確度が異なる場合には、そのモードやレンジごとに読み値誤差αとフルスケール誤差βが入力される。
【００６１】
上記実施形態では合成実効値をＲ（ｔ）ＲＭＳとしているが、ここでは単にＲとし、またαが％表示値であるとすると、演算制御手段２５は、
Ｒ±｛Ｒ×（α／１００）＋β｝
なる演算式により、誤差を考慮した測定値としての上限値Ｒｍａｘと下限値Ｒｍｉｎとを算出し、これらの値を例えば表示部３０に表示する。
【００６２】
なお、フルスケール誤差βには、オフセット誤差，レンジ誤差，デジット誤差などが含まれ、βがオフセット誤差で定義される場合は上記の演算式が適用されるが、βがレンジにフルスケール誤差で定義される場合は、βはフルスケール値に対する割合（％）となるので、測定レンジのフルスケール値をＲｆｕｌｌとして演算式は、
Ｒ±｛Ｒ×（α／１００）＋Ｒｆｕｌｌ×（β／１００）｝
となる。
【００６３】
また、βがレンジ誤差で定義される場合には、βはレンジ値に対する割合（％）となるので、測定レンジ値をＲｒａｎｇｅとして演算式は、
Ｒ±｛Ｒ×（α／１００）＋Ｒｒａｎｇｅ×（β／１００）｝
となる。
【００６４】
さらに、βがデジット誤差で定義される場合には、βはデジットとなるので、１デジットと絶対値との変換比率をγとして演算式は、
Ｒ±｛Ｒ×（α／１００）＋β×γ｝
となる。
【００６５】
一例として、読み値誤差が±３．５％，フルスケール誤差が±０．５％（２０００カウント時）であり、測定された合成実効値Ｒのカウント数が１０００カウントであるとすると、読み値誤差が±３５カウント，フルスケール誤差が±１０カウントとなる。したがって、１０００±４５より上限値Ｒｍａｘが１０４５カウント，下限値ｍｉｎが９５５カウントとなる。
【００６６】
そして、ＩＥＣ６２２３３に規定されているところにしたがい、合成実効値Ｒが所定の制限レベルを下回っている場合には、それを検証するため、再度、上限値Ｒｍａｘと制限レベルとを比較する。また、合成実効値Ｒが所定の制限レベルを上回っている場合には、それを検証するため、再度、下限値ｍｉｎと制限レベルとを比較する。
【００６７】
この誤差（不確かさ）を考慮した測定値での解析は、先の図４（ａ）〜（ｅ）に示した通常の磁界測定モード（１０Ｈｚ〜４００ｋＨｚ），ＴＣＯに規定された磁束密度測定モード（５Ｈｚ〜２ｋＨｚ帯の低域測定，２ｋＨｚ〜４００ｋＨｚ帯の高域測定）および時間領域評価法による曝露量測定モード（職業的曝露，公衆の曝露）のいずれで行われてもよい。
【００６８】
参考として、図４（ａ）〜（ｅ）の各測定モードでの合成実効値Ｒと、その上限値（Ｒ＋Ａｃｃｕｒａｃｙ）および下限値（Ｒ−Ａｃｃｕｒａｃｙ）の実際の表示例を図６に示す。
【００６９】
また、上記出力ボタン５８（図２参照）により、合成実効値Ｒを含む測定データを外部機器である例えばパソコンに出力して処理するような場合には、読み値誤差αおよびフルスケール誤差βの各データと、Ｒ±｛（Ｒ×α）＋β｝なる演算プログラムとを記憶媒体に記憶させて外部機器に提供することもできる。
【００７０】
上記したように、本発明によれば、測定器が有する確度（読み値誤差αとフルスケール誤差β）に基づいて、測定値の上限値と下限値とが自動的に算出かつ表示され、場合によっては制限レベルとの比較が行われるため、ユーザーの負担を大幅に軽減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００７１】
【図１】（ａ）本発明による磁界測定装置の構成を概略的に示すブロック図，（ｂ）フィルタ回路の構成を示す回路図。
【図２】上記磁界測定装置の測定器本体を示す外観正面図。
【図３】上記測定器本体に接続して用いられる磁界センサを示す外観側面図。
【図４】磁界測定モードの切り替え状態を示す説明図。
【図５】ＩＣＮＩＲＰの参考レベルを示すグラフ。
【図６】合成実効値と、その上限値および下限値の実際の表示例を示す説明図。
【符号の説明】
【００７２】
１０  磁界センサ
１１（１１ｘ，１１ｙ，１１ｚ）  コイル
２０  測定器本体
２１（２１ｘ，２１ｙ，２１ｚ）  積分器
２２（２２ｘ，２２ｙ，２２ｚ）  フィルタ回路
２２１  評価フィルタ
２２２  ハイパスフィルタ
２２３  ローパスフィルタ
２３（２３ｘ，２３ｙ，２３ｚ）  Ａ／Ｄ変換器
２５  演算制御手段
３０  表示部
４０  報知手段
５０  操作部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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