(57)【要約】【課題】半導体光源の個体差に拘わらず、所望ピーク波長の光を出射し、装置相互間における分析値の相違を抑えることが可能な光源装置及び分析装置を提供すること。【解決手段】半導体光源２２と、半導体光源から出力される光の波長を目標波長に選択し、或いは半導体光源から出力された光から目標波長の光を選択する波長選択部２３とを有する光源装置２０及び分析装置。分析装置は、複数の異なる液体を反応させ、光源装置２０を用いて反応液の光学的特性を測定し、反応液を分析する。【選択図】        図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体光源と、
前記半導体光源から出力される光の波長を目標波長に選択し、或いは前記半導体光源から出力された光から目標波長の光を選択する波長選択手段と、
を有することを特徴とする光源装置。
【請求項２】
前記波長選択手段は、前記半導体光源の温度を制御し、出力される光の波長を前記目標波長に設定する温度制御手段であることを特徴とする請求項１に記載の光源装置。
【請求項３】
さらに、前記半導体光源から出力される光の出力特性を記憶する記憶手段を有し、
前記温度制御手段は、前記記憶手段が記憶した前記出力特性に基づいて前記半導体光源の温度を制御することを特徴とする請求項２に記載の光源装置。
【請求項４】
さらに、前記半導体光源から出力される光の波長を測定する波長測定手段を有し、
前記温度制御手段は、測定された波長に基づいて前記半導体光源の温度を制御することを特徴とする請求項２に記載の光源装置。
【請求項５】
前記波長選択手段は、前記半導体光源から出力された光から目標波長の光を選択する光学フィルタであることを特徴とする請求項１に記載の光源装置。
【請求項６】
さらに、前記波長選択手段によって選択された目標波長の光の光量を制御する光量制御手段を有することを特徴とする請求項１に記載の光源装置。
【請求項７】
前記半導体光源は、発光ダイオード又は半導体レーザであることを特徴とする請求項１に記載の光源装置。
【請求項８】
複数の異なる液体を反応させ、反応液の光学的特性を測定して前記反応液を分析する分析装置であって、請求項１〜７のいずれか一つに記載の光源装置を用いて前記反応液の光学的特性を測定して分析することを特徴とする分析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光源装置とこの光源装置を用いた分析装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、分析装置は、検体と試薬との反応液の光学的特性を測定することにより検体に含まれる目的物質の濃度を分析しており、光学的特性測定の光源として半導体光源（発光ダイオード(ＬＥＤ)）を使用したものが知られている（例えば、特許文献１参照）。特許文献１に開示された分析装置は、温度変化に伴う出力波長の変化を考慮し、半導体光源を熱容量の大きい部材に挿着して温調すると共に、定電流駆動し、駆動条件を同じに調整することで、出力波長を一定に保持している。
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−１０１２９５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、発光ダイオードや半導体レーザ等の半導体光源は、駆動条件を同じに調整しても、光源ごとに出力される光のピーク波長がばらつき、１０ｎｍ程度の個体差を有している。このため、半導体光源を使用した分析装置は、光学的特性を測定する光のピーク波長が装置ごとにばらつく結果、分析値が装置相互間で微妙に相違してしまうという問題があった。
【０００５】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、半導体光源の個体差に拘わらず、所望ピーク波長の光を出射し、装置相互間における分析値の相違を抑えることが可能な光源装置及び分析装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、請求項１に係る光源装置は、半導体光源と、前記半導体光源から出力される光の波長を目標波長に選択し、或いは前記半導体光源から出力された光から目標波長の光を選択する波長選択手段と、を有することを特徴とする。
【０００７】
また、請求項２に係る光源装置は、上記の発明において、前記波長選択手段は、前記半導体光源の温度を制御し、出力される光の波長を前記目標波長に設定する温度制御手段であることを特徴とする。
【０００８】
また、請求項３に係る光源装置は、上記の発明において、さらに、前記半導体光源から出力される光の出力特性を記憶する記憶手段を有し、前記温度制御手段は、前記記憶手段が記憶した前記出力特性に基づいて前記半導体光源の温度を制御することを特徴とする。
【０００９】
また、請求項４に係る光源装置は、上記の発明において、さらに、前記半導体光源から出力される光の波長を測定する波長測定手段を有し、前記温度制御手段は、測定された波長に基づいて前記半導体光源の温度を制御することを特徴とする。
【００１０】
また、請求項５に係る光源装置は、上記の発明において、前記波長選択手段は、前記半導体光源から出力された光から目標波長の光を選択する光学フィルタであることを特徴とする。
【００１１】
また、請求項６に係る光源装置は、上記の発明において、さらに、前記波長選択手段によって選択された目標波長の光の光量を制御する光量制御手段を有することを特徴とする。
【００１２】
また、請求項７に係る光源装置は、上記の発明において、前記半導体光源は、発光ダイオード又は半導体レーザであることを特徴とする。
【００１３】
また、上述した課題を解決し、目的を達成するために、請求項８に係る分析装置は、複数の異なる液体を反応させ、反応液の光学的特性を測定して前記反応液を分析する分析装置であって、前記光源装置を用いて前記反応液の光学的特性を測定して分析することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本発明にかかる光源装置は、半導体光源から出力される光の波長を目標波長に選択し、或いは半導体光源から出力された光から目標波長の光を選択する波長選択手段を有するので、半導体光源の個体差に拘わらず、所望ピーク波長の光を出射し、装置相互間における分析値の相違を抑えることが可能な光源装置及び分析装置を提供することができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
（実施の形態１）
以下、本発明の光源装置及び分析装置に係る実施の形態１について、図面を参照しつつ詳細に説明する。図１は、実施の形態１に係る自動分析装置の概略構成図である。図２は、図１に示す自動分析装置で使用する反応容器の斜視図である。図３は、図１に示す自動分析装置に搭載された光源装置の構成を示すブロック図である。図４は、半導体光源から出力される光の、温度と出力波長とに関する出力特性図である。
【００１６】
自動分析装置１は、図１に示すように、作業テーブル２上に検体テーブル３、検体分注機構５、キュベットホイール６、測光装置８、洗浄装置９、試薬分注機構１０、試薬テーブル１１及び攪拌装置１８が設けられている。
【００１７】
検体テーブル３は、図１に示すように、駆動手段によって矢印で示す方向に回転され、外周には周方向に沿って等間隔で配置される収納室３ａが複数設けられている。各収納室３ａは、検体を収容した検体容器４が着脱自在に収納される。
【００１８】
検体分注機構５は、キュベットホイール６に保持された複数の反応容器７に検体を分注する手段であり、図１に示すように、検体テーブル３の複数の検体容器４から検体を順次反応容器７に分注する。
【００１９】
キュベットホイール６は、検体テーブル３とは異なる駆動手段によって、図１に矢印で示す時計方向に回転され、外周には反応容器７を個々に保持する複数のホルダ６ａが周方向に沿って等間隔で設けられている。キュベットホイール６は、一周期で時計方向に（１周−１反応容器）／４分回転する。反応容器７は、四周期で反時計方向にホルダ６ａの１個分移動する。キュベットホイール６の外周近傍には、測光装置８、洗浄装置９及び攪拌装置１８が配置されている。
【００２０】
反応容器７は、容量が数ｎＬ〜数十μＬと微量な容器であり、測光装置８の光源から出射された分析光（３４０〜８００ｎｍ）に含まれる光の８０％以上を透過する透明素材、例えば、耐熱ガラスを含むガラス，環状オレフィンやポリスチレン等の合成樹脂が使用される。反応容器７は、図２に示すように、側壁７ａ，７ｂと底壁７ｃとによって試薬や検体等を含む液体を保持する液体保持部７ｄが形成され、液体保持部７ｄの上部に開口７ｅを有する四角筒形状のキュベットである。反応容器７は、液体保持部７ｄの内面に検体や試薬等の液体に対する親和性処理が施されている。反応容器７は、側壁７ａをキュベットホイール６の周方向に向けると共に、側壁７ｂをキュベットホイール６の半径方向に向けて、ホルダ６ａに配置される。ここで、反応容器７は、側壁７ｂの下部が測光装置８の光源が出射した光束ＢLが透過する測光領域Ａmとして利用される。
【００２１】
測光装置８は、図１に示すように、キュベットホイール６の外周近傍に配置され、反応容器７に保持された液体に分析する光（３４０〜８００ｎｍ）を出射する光源装置２０と、液体を透過した光を受光する受光器とを有している。測光装置８は、光源装置２０と受光器がキュベットホイール６のホルダ６ａを挟んで半径方向に対向する位置に配置されている。
【００２２】
光源装置２０は、図３に示すように、光源電源２１、発光ダイオード２２及び波長選択部２３を有している。
【００２３】
発光ダイオード（以下、「ＬＥＤ」という）２２は、光源電源２１から供給される電力によって点灯される半導体光源であり、定格電流で駆動した際に出力される光の、温度（℃）と出力波長（ｎｍ）（ピーク波長λP）とに関する出力特性図を図４に示す。ＬＥＤ２２は、加熱冷却ユニット２６に密着させて取り付けられる。
【００２４】
波長選択部２３は、図４に示すＬＥＤ２２の出力特性に基づいてＬＥＤ２２から出力される光のピーク波長を目標波長λPOに選択する選択手段であり、記憶部２４と温度制御部２５とを有している。
【００２５】
記憶部２４は、ＬＥＤ２２から出力される光の出力特性を記憶するディジタルメモリである。温度制御部２５は、加熱冷却ユニット２６、加熱冷却ユニット２６の温度を検出する温度センサ２７及び温度制御回路２８を有している。加熱冷却ユニット２６は、記憶部２４が記憶した出力特性に基づいて目標波長λPOの光が出力されるようにＬＥＤ２２の温度を加熱し、或いは冷却するもので、例えば、ペルチェ素子が使用される。温度制御回路２８は、電子制御装置（ＥＣＵ）からなる温度制御手段であり、予め設定された目標波長λPOに基づき、記憶部２４が記憶した出力特性から目標温度ＴOを求める。そして、温度制御回路２８は、温度センサ２７から入力される温度信号をもとにＬＥＤ２２の温度が目標温度ＴOとなるように加熱冷却ユニット２６の温度を制御することで、ＬＥＤ２２から出力される光のピーク波長を目標波長λPOに選択する。
【００２６】
洗浄装置９は、反応容器７から液体や洗浄液を排出する排出手段と、洗浄液の分注手段とを有している。洗浄装置９は、測光終了後の反応容器７から測光後の液体を排出した後、洗浄液を分注する。洗浄装置９は、洗浄液の分注と排出の動作を複数回繰り返すことにより、反応容器７の内部を洗浄する。このようにして洗浄された反応容器７は、再度、新たな検体の分析に使用される。
【００２７】
試薬分注機構１０は、キュベットホイール６に保持された複数の反応容器７に試薬を分注する手段であり、図１に示すように、試薬テーブル１１の所定の試薬容器１２から試薬を順次反応容器７に分注する。
【００２８】
試薬テーブル１１は、検体テーブル３及びキュベットホイール６とは異なる駆動手段によって図１に矢印で示す方向に回転され、扇形に成形された収納室１１ａが周方向に沿って複数設けられている。各収納室１１ａは、試薬容器１２が着脱自在に収納される。複数の試薬容器１２は、それぞれ検査項目に応じた所定の試薬が満たされ、外面には収容した試薬に関する情報を表示するバーコードラベル（図示せず）が貼付されている。
【００２９】
ここで、試薬テーブル１１の外周には、図１に示すように、試薬容器１２に貼付した前記バーコードラベルに記録された試薬の種類，ロット及び有効期限等の情報を読み取り、制御部１４へ出力する読取装置１３が設置されている。
【００３０】
制御部１４は、検体テーブル３、検体分注機構５、反応ホイール６、測光装置８、洗浄装置９、試薬分注機構１０、試薬テーブル１１、読取装置１３、分析部１５、入力部１６、表示部１７及び攪拌装置１８等と接続され、例えば、分析結果を記憶する記憶機能を備えたマイクロコンピュータ等が使用される。制御部１４は、自動分析装置１の各部の作動を制御すると共に、前記バーコードラベルの記録から読み取った情報に基づき、試薬のロットが異なる場合や有効期限外等の場合に分析作業を停止するように自動分析装置１を制御し、或いはオペレータに警告を発する機能を備えている。
【００３１】
分析部１５は、制御部１４を介して測光装置８に接続され、受光器が受光した光量に基づく反応容器７内の液体の吸光度から検体の成分濃度等を分析し、分析結果を制御部１４に出力する。入力部１６は、制御部１４へ検査項目等を入力する操作を行う部分であり、例えば、キーボードやマウス等が使用される。表示部１７は、分析内容，分析結果或いは警報等を表示するもので、ディスプレイパネル等が使用される。
【００３２】
攪拌装置１８は、反応容器７に保持された液体を攪拌する装置であり、攪拌棒によって直接液体を攪拌するものや音波によって非接触で液体を攪拌するものがある。
【００３３】
以上のように構成される自動分析装置１は、回転するキュベットホイール６によって周方向に沿って搬送されてくる複数の反応容器７に試薬分注機構１０が試薬容器１２から試薬を順次分注する。試薬が分注された反応容器７は、キュベットホイール６によって周方向に沿って搬送され、検体分注機構５によって検体テーブル３に保持された複数の検体容器４から検体が順次分注される。
【００３４】
そして、検体が分注された反応容器７は、キュベットホイール６によって攪拌装置１８へ搬送され、分注された試薬と検体が順次攪拌されて反応する。このようにして検体と試薬が反応した反応液を保持した反応容器７は、キュベットホイール６が再び回転したときに測光装置８を通過し、光源から出射された分析光の光束ＢL（図２参照）が透過する。このとき、反応液を透過した光束ＢLは、前記受光器で測光され、分析部１５によって成分濃度等が分析される。そして、分析が終了した反応容器７は、洗浄装置９によって洗浄された後、再度検体の分析に使用される。自動分析装置１は、このような一連の分析動作を制御部１４の制御の下に自動で実行する。
【００３５】
この一連の分析動作に伴う測光に際し、ＬＥＤ２２の個体差によってＬＥＤ２２から出力される光のピーク波長がばらついても、光源装置２０は、波長選択部２３によってＬＥＤ２２が出射する光の波長を選択し、予め設定した目標波長λPOの光を反応容器７に保持された反応液に照射して反応液を測光している。このため、自動分析装置１は、規格が同一であれば、装置が異なっても、光学測定の際の目標波長λPOが同じになるため、測定波長に個体差がなく、分析値が装置相互間で同一となる高精度の測定が可能となる。
【００３６】
ここで、実施の形態１の光源装置２０は、記憶部２４としてディジタルメモリを使用したが、これに限られるものではない。例えば、記憶部２４は、温度制御回路２８にＬＥＤ２２の目標波長λPOを設定することができる抵抗等のアナログ素子を使用してもよい。特に、目標波長λPOが１種類である場合、図４に基づいて目標波長λPOとするための目標温度ＴOを可変抵抗器で記憶させれば、波長選択部２３を安価に実現することができる。また、光源装置２０は、半導体光源としてＬＥＤ２２の他に半導体レーザを使用してもよい。
【００３７】
ここで、出力波長を目標波長λPOとするために、ＬＥＤ２２の温度を制御すると、これに伴って光量も増減する（図５参照）。このため、光源装置２０は、温度制御回路２８が求めた目標温度ＴOに基づいてＬＥＤ２２を駆動する電力を再演算する。そして、光源装置２０は、図６に示すように、再計算した電力信号を温度光量制御部２５’から光源電源２１に出力して駆動すると、ＬＥＤ２２が出力する光の目標波長λPOの他に光量も一定に制御することができる。
【００３８】
光源装置２０は、光源としてＬＥＤや半導体レーザを含む半導体光源を使用するので、測定波長における個体差の解消という効果の他、ハロゲンランプ等の白色光源を使用する従来の光源装置に比べて低消費電力であると共に、小型化が可能になるという利点を有している。
【００３９】
（実施の形態２）
次に、本発明の光源装置にかかる実施の形態２について、図面を参照しつつ詳細に説明する。実施の形態１の光源装置は、記憶部に記憶された半導体光源の出力特性に基づいて温度制御部によって半導体光源の温度を制御することで光の波長を目標波長とした。これに対して、実施の形態２の光源装置は、波長測定部によって半導体光源から出力される光の波長を測定し、測定値が目標波長となるように温度制御部によって半導体光源の温度を制御することで出力する光の波長を目標波長としている。
【００４０】
図７は、実施の形態２の光源装置の構成を示すブロック図である。ここで、以下の各実施の形態で説明する光源装置は、実施の形態１の自動分析装置に搭載して使用され、同一の構成部分には同一の符号を付して説明している。
【００４１】
光源装置３０は、図７に示すように、半導体光源として半導体レーザ（以下、「ＬＤ」という）３１を使用し、光源電源２１及び波長選択部２３の他に、ハーフミラー３２とピーク波長測定部３３とを有している。光源装置３０は、ハーフミラー３２によって分けられた光の一方を自動分析装置１に設けた測光装置８の受光器へ出射すると共に、他方の光をピーク波長測定部３３へ入射させている。ピーク波長測定部３３は、入射した光を分光する回折格子と、分光された光の波長と光量とを測定する波長測定部とを有し、入射した光のピーク波長λPを測定する。ピーク波長測定部３３は、測定したピーク波長λPの波長信号を温度制御回路２８へ出力する。
【００４２】
温度制御回路２８は、ピーク波長測定部３３から入力されるピーク波長λPの波長信号をもとに、ＬＤ３１が予め設定された目標波長λPOの差に応じて加熱冷却ユニット２６の目標温度ＴOを求める。温度制御回路２８は、このようにして加熱冷却ユニット２６の温度を制御することで、ＬＤ３１から出力される光のピーク波長を目標波長λPOに選択する。例えば、光源の出力特性が図４であった場合、温度制御回路２８は、ピーク波長測定部３３から入力される波長信号からピーク波長λPが目標波長λPOよりも短い場合には、加熱冷却ユニット２６の温度を上げることによってＬＤ３１がピーク波長λPの光を出力するように制御する。
【００４３】
このように、光源装置３０は、温度制御回路２８によってＬＤ３１が出力する光のピーク波長をモニタすることにより、常に目標波長λPOの光が出力されるように加熱冷却ユニット２６の温度を制御する。このため、光源装置３０は、ＬＤ３１が出力波長に関して個体差を有していても、常に目標波長λPOの光が出力され、装置相互間において同一波長の光を出力することができる。
【００４４】
（実施の形態３）
次に、本発明の光源装置にかかる実施の形態３について、図面を参照しつつ詳細に説明する。実施の形態１の光源装置は、記憶部に記憶された半導体光源の出力特性に基づいて温度制御部によって半導体光源の温度を制御することで出力する光の波長を目標波長とした。これに対して、実施の形態３の光源装置は、実施の形態１の光源装置と実施の形態２の光源装置とを組み合わせて出力する光の波長を目標波長としている。図８は、実施の形態３の光源装置の構成を示すブロック図である。
【００４５】
光源装置４０は、図８に示すように、半導体光源としてＬＥＤ２２を使用し、実施の形態１の光源電源２１及び波長選択部２３の他に、ハーフミラー３２とピーク波長測定部３３とを有している。光源装置４０は、温度センサ２７から入力される温度信号と、ピーク波長測定部３３から入力される波長信号とをもとに、半導体光源の出力特性を測定し、記憶部２４に記憶する。つまり、光源装置４０自らが、半導体光源の出力特性を測定している。
【００４６】
従って、光源装置４０は、ＬＥＤ２２の出力特性を常に最新の状態に保つので、ＬＥＤ２２が経時的に変化しても、その影響を受けることなく、常に目標波長λPOの光を出力することができる。
【００４７】
（実施の形態４）
次に、本発明の光源装置にかかる実施の形態４について、図面を参照しつつ詳細に説明する。実施の形態１の光源装置は、波長選択部として温度制御部を使用し、半導体光源の温度を制御することで出力する光の波長を目標波長とした。これに対して、実施の形態４の光源装置は、波長選択部として光学フィルタを使用することで出力する光の波長を目標波長としている。図９は、実施の形態４の光源装置の構成を示すブロック図である。
【００４８】
光源装置５０は、図９に示すように、光源電源２１、ＬＥＤ２２及び光学フィルタ５１を有している。光学フィルタ５１は、目標波長λPOにピークを有する色ガラスフィルタや干渉フィルタ等の公知の光学フィルタである。光学フィルタ５１は、ＬＥＤ２２から出力された光から目標波長λPOの光を選択する。このため、光学フィルタ５１は、ＬＥＤ２２から出力される光のピーク波長λPが個体差によって目標波長λPOからずれていても、光学フィルタ５１を透過させることによってこのずれを修正して目標波長λPOの光を出射させる。従って、光源装置５０は、ＬＥＤ２２が出力波長に関して個体差を有していても、常に目標波長λPOの光を出力することができる。特に、ＬＥＤ２２に光学フィルタ５１を組み合わせることによって、例えば、温度や計時変化によってＬＥＤ２２の出力波長が変動した場合でも、常に目標波長λPOの光を出力することができる。
【００４９】
（実施の形態５）
次に、本発明の光源装置にかかる実施の形態５について、図面を参照しつつ詳細に説明する。実施の形態４の光源装置は、波長選択部として光学フィルタを使用することで出力する光の波長を目標波長とした。これに対して、実施の形態５の光源装置は、出力する光の光量を一定に保持している。図１０は、実施の形態５の光源装置の構成を示すブロック図である。
【００５０】
光源装置６０は、図１０に示すように、光源電源２１、ＬＥＤ２２及び光学フィルタ５１の他に、光量制御部６１とハーフミラー３２とを有している。光量制御部６１は、光学フィルタ５１によって選択された目標波長λPOの光の光量を測定し、測定した光量が予め設定された光量となるように光源電源２１がＬＥＤ２２へ印加する電圧を制御する。このため、光量制御部６１は、光量を検出する光センサと、電子制御装置（ＥＣＵ）等の制御手段を有している。
【００５１】
光量制御部６１は、測定した目標波長λPOの光の光量が減少した場合には、光源電源２１がＬＥＤ２２へ印加する電圧を上げてＬＥＤ２２が出力する光量を増加させる。一方、光量制御部６１は、測定した目標波長λPOの光の光量が増加した場合には、光源電源２１がＬＥＤ２２へ印加する電圧を下げてＬＥＤ２２が出力する光量を減少させる。
【００５２】
このように、光源装置６０は、光量制御部６１が測定したＬＥＤ２２が出力する光を、目標波長λPOに保持しながら、一定の光量となるように保持することができる。
【００５３】
尚、光源装置６０は、光学フィルタ５１に代えて、実施の形態１〜３で使用した波長選択部２３を用いてＬＥＤ２２が出力する光が目標波長λPOとなるように選択してもよい。また、図１１に示すように、実施の形態３の光源装置４０は、ＬＥＤ２２とハーフミラー３２との間の光路に光学フィルタ５１を配置してもよい。このようにすると、光源装置４０は、出力する目標波長λPOの光を先鋭化させることができる。
【００５４】
尚、自動分析装置１は、試薬テーブルが１つの場合について説明したが、試薬テーブルは２つであってもよい。また、本発明の分析装置は、自動分析装置１を複数組み合わせた構成としてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】実施の形態１に係る自動分析装置の概略構成図である。
【図２】図１に示す自動分析装置で使用する反応容器の斜視図である。
【図３】図１に示す自動分析装置に搭載された光源装置の構成を示すブロック図である。
【図４】半導体光源から出力される光の、温度と出力波長とに関する出力特性図である。
【図５】ＬＥＤの温度制御に伴う光量変化を示す図である。
【図６】実施の形態１の光源装置の変形例を示すブロック図である。
【図７】実施の形態２の光源装置の構成を示すブロック図である。
【図８】実施の形態３の光源装置の構成を示すブロック図である。
【図９】実施の形態４の光源装置の構成を示すブロック図である。
【図１０】実施の形態５の光源装置の構成を示すブロック図である。
【図１１】実施の形態３の光源装置の変形例を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００５６】
１                自動分析装置
２                作業テーブル
３                検体テーブル
４                検体容器
５                検体分注機構
６                キュベットホイール
７                反応容器
８                測光装置
９                洗浄装置
１０              試薬分注機構
１１              試薬テーブル
１２              試薬容器
１３              読取装置
１４              制御部
１５              分析部
１６              入力部
１７              表示部
１８              攪拌装置
２０              光源装置
２１              光源電源
２２              発光ダイオード
２３              波長選択部
２４              記憶部
２５              温度制御部
２６              加熱冷却ユニット
２７              温度センサ
２８              温度制御回路
３０              光源装置
３１              半導体レーザ
３２              ハーフミラー
３３              ピーク波長測定部
４０              光源装置
５０              光源装置
５１              光学フィルタ
６０              光源装置
６１              光量制御部
λP               ピーク波長
λPO              目標波長
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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