(57)【要約】【課題】外力（側圧）の作用位置に加えて、偏波保持光ファイバが何らかの理由によって切断された場合における切断位置を検出する。【解決手段】光伝播速度が異なる２つの偏波モードを有する偏波保持光ファイバと、２つの偏波モードのうち一方の偏波モードを有すると共に所定の周波数偏移で周波数変調された光を偏波保持光ファイバの一端に出射すると共に、一方の偏波モードを有する光と偏波保持光ファイバに外力が作用して偏波保持光ファイバ中で発生する他方の偏波モードを有する光との光路差に基づいて外力の作用位置を検出する処理装置とを備える外力検出システムであって、処理装置は偏波保持光ファイバに入射する光と偏波保持光ファイバから取得した反射光との光路差に基づいて偏波保持光ファイバの切断位置を検出する。【選択図】図１
2007309883.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光伝播速度が異なる２つの偏波モードを有する偏波保持光ファイバと、
２つの偏波モードのうち一方の偏波モードを有すると共に所定の周波数偏移で周波数変調された光を光源で発生して前記偏波保持光ファイバの一端に出射すると共に、一方の偏波モードを有する光と前記偏波保持光ファイバに外力が作用して偏波保持光ファイバ中で発生する他方の偏波モードを有する光との光路差に基づいて外力の作用位置を検出する処理装置と
を備える外力検出システムであって、
前記処理装置は、前記偏波保持光ファイバに入射する光と前記偏波保持光ファイバから取得した反射光との光路差に基づいて偏波保持光ファイバの切断位置を検出することを特徴とする外力検出システム。
【請求項２】
偏波保持光ファイバの他端に設けられ、偏波保持光ファイバ内を伝播してきた一方の偏波モードの光を他方の偏波モードに入れ替えて偏波保持光ファイバに入射させる終端装置と備え、
前記処理装置は、偏波保持光ファイバの一端に設けられた光カプラを用いて偏波保持光ファイバから戻り光を取得し、当該戻り光に含まれる両方の偏波モードの光の光路差に基づいて外力の作用位置を検出することを特徴とする請求項１記載の外力検出システム。
【請求項３】
前記処理装置は、偏波保持光ファイバから取得した光のうち外力が作用して発生する他方の偏波モードの光の周波数を所定量だけシフトする一方、偏波保持光ファイバから取得した光のうち一方の偏波モードの光あるいは光源で発生した光を位相変調し、周波数シフトした光と位相変調した光とを干渉させることによって外力の作用位置及び偏波保持光ファイバの切断位置を検出することを特徴とする請求項１または２記載の外力検出システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、外力検出システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
下記非特許文献１には、光伝播速度が異なる２つの偏波モード（速軸モード及び遅軸モード）を有する偏波維持光ファイバ（偏波保持光ファイバとも言う。）をセンサとして用い、当該偏波保持光ファイバに一方の偏波モードのレーザ光を入射させた場合に、当該一方の偏波モードのレーザ光と偏波保持光ファイバに側圧（外力）が作用することによって発生する他方の偏波モードのレーザ光との光路差を偏波保持光ファイバの一端側で検出することにより外力が作用した位置を測定する技術が開示されている。
【非特許文献１】何祖源、他３名、「光波コヒーレンス関数の合成による偏波維持光ファイバ側圧センサの片端入力・測定」、第２１回計測自動制御学会センシングフォーラム（東洋大学、2B1-1、2004年9月）、pp.249-253
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところで、上記非特許文献１に開示されている従来技術では、偏波保持光ファイバが何らかの理由によって切断された場合に、偏波保持光ファイバの一端側において偏波保持光ファイバからレーザ光を取得することができないので、偏波保持光ファイバの切断位置を検出することができない。例えば、このような従来技術を不審者等の侵入検知（つまりセキュリティ関連機器）に応用した場合にあっては、偏波保持光ファイバの切断位置を測定することができないという事態は、セキュリティ関連機器という性格上極めて重大な問題点であり、早急な解決が要望されている。
【０００４】
本発明は、外力（側圧）の作用位置に加えて、偏波保持光ファイバが何らかの理由によって切断された場合における切断位置を検出することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成するために、本発明では、第１の解決手段として、光伝播速度が異なる２つの偏波モードを有する偏波保持光ファイバと、２つの偏波モードのうち一方の偏波モードを有すると共に所定の周波数偏移で周波数変調された光を光源で発生して前記偏波保持光ファイバの一端に出射すると共に、一方の偏波モードを有する光と前記偏波保持光ファイバに外力が作用して偏波保持光ファイバ中で発生する他方の偏波モードを有する光との光路差に基づいて外力の作用位置を検出する処理装置とを備える外力検出システムであって、前記処理装置は、前記偏波保持光ファイバに入射する光と前記偏波保持光ファイバから取得した反射光との光路差に基づいて偏波保持光ファイバの切断位置を検出する、という手段を採用する。
【０００６】
第２の解決手段として、上記第１の手段において、偏波保持光ファイバの他端に設けられ、偏波保持光ファイバ内を伝播してきた一方の偏波モードの光を他方の偏波モードに入れ替えて偏波保持光ファイバに入射させる終端装置と備え、前記処理装置は、偏波保持光ファイバの一端に設けられた光カプラを用いて偏波保持光ファイバから戻り光を取得し、当該戻り光に含まれる両方の偏波モードの光の光路差に基づいて外力の作用位置を検出する、という手段を採用する。
【０００７】
第３の解決手段として、上記第１または第２の手段において、前記処理装置は、偏波保持光ファイバから取得した光のうち外力が作用して発生する他方の偏波モードの光の周波数を所定量だけシフトする一方、偏波保持光ファイバから取得した光のうち一方の偏波モードの光あるいは光源で発生した光を位相変調し、周波数シフトした光と位相変調した光とを干渉させることによって外力の作用位置及び偏波保持光ファイバの切断位置を検出する、という手段を採用する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、偏波保持光ファイバに入射する光と偏波保持光ファイバから取得した反射光との光路差に基づいて外力の作用位置の検出と同様の検出原理で偏波保持光ファイバの切断位置を検出することができる。
したがって、偏波保持光ファイバから戻り光が得られないために切断位置を特定することができないという従来技術の問題点を解決することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、図面を参照して、本発明の一実施形態について説明する。なお、本実施形態は、本発明に係る外力検出システムを所定の監視領域に対する不審者の侵入を検知する侵入検知システムに適用したものである。
【００１０】
図１及び図２は、本侵入検知システムのシステム構成図である。本侵入検知システムは動作モードとして外力検知モードと切断検知モードとを有している。図１は、本侵入検知システムが外力検知モードに設定された状態を示し、図２は切断検知モードに設定された状態を示している。
【００１１】
これら各図に示すように、本外力検出システムは、処理装置１、センシングファイバ２（外力検出用光ファイバ）及び終端装置３とを備えている。処理装置１は、レーザ光源１ａ、第１の３ｄＢカプラ１ｂ、光スイッチ１ｃ、偏光ビームスプリッタ１ｄ、光位相変調器１ｅ、被位相変調信号発生器１ｆ、周波数シフタ１ｇ、ローカル信号発生器１ｈ、第２の３ｄＢカプラ１ｉ、受光器１ｊ、フィルタ回路１ｋ、信号処理装置１ｍ及び光源制御回路１ｎを備えている。
【００１２】
最初に、センシングファイバ２について説明すると、センシングファイバ２は、複屈折性を有しており、互いに直交すると共に光伝搬速度が互いに異なる２つの偏光モード（速軸モード及び遅軸モード）を有する偏波保持光ファイバである。偏波保持光ファイバは、外力（側圧）が作用して歪むと、速軸モードと遅軸モードとの間で光のモード結合が生じるという性質を有する。すなわち、このセンシングファイバ２は、例えば速軸モードを偏波方向とするレーザ光が入射されると、この偏波方向を保持した状態でレーザ光を伝搬させるので、レーザ光の伝搬過程において遅軸モードのレーザ光は発生しないが、外力が作用した場合には偏波方向の保持状態が崩れて、遅軸モードを偏波方向とするレーザ光が発生する。
【００１３】
また、センシングファイバ２では、速軸モードと遅軸モードとでは光伝搬速度が異なるので、速軸モードのレーザ光と遅軸モードのレーザ光とは光路差を有しており、よって処理装置１において両者を比較した場合に位相が異なる。このようなセンシングファイバ２を用いることにより、速軸モードのレーザ光と遅軸モードのレーザ光との光路差（つまり位相差）に基づいて外力が作用した位置を特定することができる。
なお、偏波保持光ファイバを用いて側圧が作用した位置を測定する技術については、上述した非特許文献１に詳細が開示されている。
【００１４】
このようなセンシングファイバ２は、監視領域に侵入しようとする不審者を検知するために、監視領域の外周等に敷設されており、一端に接続された処理装置１から測定光が入射される一方、他端に接続された終端装置３から戻り光が入射される。上記測定光は、一端から他端に向けてセンシングファイバ２内を伝搬して終端装置３に入射する一方、戻り光は、他端から一端に向けてセンシングファイバ２内を伝搬して処理装置１に入射する。
【００１５】
レーザ光源１ａは、所定波長のレーザ光（測定光）を発振して第１の３ｄＢカプラ１ｂに出射する半導体レーザであり、光源制御回路１ｎから入力される注入電流に応じて発振波長が可変できるものである。すなわち、このレーザ光源１ａは、光源制御回路１ｎから入力されるステップ波形状の注入電流によって周波数（波長）がステップ状に変化する周波数変調光（波長変調光）を第１の３ｄＢカプラ１ｂに出射する。この波長変調光は、例えば１．５５μｍを中心波長とし、波長が所定の波長幅で変化する光信号であり、またその偏波方向はセンシングファイバ２の速軸モードに設定されている。上記光源制御回路１ｎは、信号処理装置１ｍから入力される同期信号に基づいてステップ波形状の注入電流を生成してレーザ光源１ａに出力する。
【００１６】
第１の３ｄＢカプラ１ｂは、２対の光入出力ポートを備える光カプラであり、上記レーザ光源１ａから入射した波長変調光を測定光としてセンシングファイバ２に出射すると共に参照光として光スイッチ１ｃに出射する一方、センシングファイバ２から入力される戻り光を偏光ビームスプリッタ１ｄに出射する。光スイッチ１ｃは、信号処理装置１ｍによって制御されることにより、第１の３ｄＢカプラ１ｂから入射した参照光あるいは偏光ビームスプリッタ１ｄから入射したセンシングファイバ２の戻り光の何れかを択一的に選択して光位相変調器１ｅに出射する。
【００１７】
図１と図２とを比較すると分るように、光スイッチ１ｃは、信号処理装置１ｍによって制御されることにより、外力検知モードにおいては、偏光ビームスプリッタ１ｄから入射した戻り光を選択して光位相変調器１ｅに出射し、一方、切断検知モードにおいては、第１の３ｄＢカプラ１ｂから入射した参照光を選択して光位相変調器１ｅに出射する。
【００１８】
偏光ビームスプリッタ１ｄは、上記戻り光を偏向方向に応じて透過／反射するものである。すなわち、偏光ビームスプリッタ１ｄは、第１の３ｄＢカプラ１ｂから入射した戻り光のうち、例えばセンシングファイバ２の速軸モードに一致する偏波方向の光成分を透過させて周波数シフタ１ｇに出射し、遅軸モードに一致する偏波方向の光成分を反射して上記光スイッチ１ｃに出射する。
なお、偏光ビームスプリッタ１ｄから光スイッチ１ｃに出射される戻り光（遅軸モード成分）の偏波方向は、周波数シフタ１ｇに出射される戻り光（速軸モード成分）の偏波方向と一致するように調整されている。
【００１９】
光位相変調器１ｅは、被位相変調信号発生器１ｆから入力される被変調信号（電気信号）に基づいて光スイッチ１ｃから入力されるレーザ光（参照光と戻り光との何れか）を位相変調し、当該位相変調によって生成した位相変調光を第２の３ｄＢカプラ１ｉに出射する。被位相変調信号発生器１ｆは、信号処理装置１ｍによる制御の下に、階段波状の被位相変調信号を発生して光位相変調器１ｅに出力する。この被位相変調信号は、図３に示すように、注入電流の変化に同期すると共にセンシングファイバ２の位置（区分領域）に対応したものである。
【００２０】
周波数シフタ１ｇは、上記偏光ビームスプリッタ１ｄから入射される戻り光について、ローカル信号発生器１ｈから入力されるローカル信号（電気信号）に基づいて周波数を微小な一定量だけ変位（シフト）させて周波数変位光とし、当該周波数変位光を第２の３ｄＢカプラ１ｉに出射する。ローカル信号発生器１ｈは、信号処理装置１ｍによる制御の下に、上記ローカル信号を発生して周波数シフタ１ｇに出力する。
【００２１】
第２の３ｄＢカプラ１ｉは、２対の光入出力ポートを備える光カプラであり、被位相変調信号発生器１ｆから入射する位相変調光と周波数シフタ１ｇから入射する周波数変位光とを合波すると共に、当該合波によって生成した合波光を受光器１ｊ及び終端器に出射する。ここで、上記合波光は、位相変調光と周波数変位光とを合波したもので、ステップ波形状の注入電流を生成してレーザ光源１ａを駆動することで、コヒーレンス関数を合成し、任意の位置での干渉を実現しているので、外力が加わった場合にのみビート信号が発生する。上述した周波数シフタ１ｇは、合波光におけるビートがゼロ周波数におけるビート（ゼロビート）ではなく、特定周波数におけるビートとなるように設けられている。
【００２２】
すなわち、上述した光スイッチ１ｃ、偏光ビームスプリッタ１ｄ、光位相変調器１ｅ、被位相変調信号発生器１ｆ、周波数シフタ１ｇ、ローカル信号発生器１ｈ及び第２の３ｄＢカプラ１ｉは一種の光干渉計を構成している。この光干渉計は、測定対象である２つの光信号、つまり戻り光の速軸モード成分と戻り光の遅軸モード成分（あるいは参照光＝測定光）との間の干渉状態を、注入電流によって決定される測定光の周波数（波長）及び被変調信号によって選択されるセンシングファイバ２の位置に応じて検出するものである。
【００２３】
受光器１ｊは、光信号である合波光を受光して電気信号である検出信号をフィルタ回路１ｋに出力する。この検出信号は、合波光の光強度に応じた電圧を示す電気信号である。フィルタ回路１ｋは、検出信号から不要な高周波成分を除去するためのローパスフィルタであり、不要な高周波成分が除去された検出信号を信号処理装置１ｍに出力する。なお、上記終端器は合波光を反射しない無反射端である。
【００２４】
信号処理装置１ｍは、所定の制御・信号処理プログラムに基づいて、光源制御回路１ｎ、光スイッチ１ｃ、被位相変調信号発生器１ｆ及び周波数シフタ１ｇを同期制御すると共に、フィルタ回路１ｋから入力された検出信号を信号処理する。この信号処理装置１ｍによる制御処理及び信号処理の詳細については後述する。
【００２５】
終端装置３は、図示するように偏光ビームスプリッタ３ａと終端光ファイバ３ｂとから構成されている。偏光ビームスプリッタ３ａは、センシングファイバ２から入射した測定光を透過させて終端光ファイバ３ｂに出射する一方、終端光ファイバ３ｂから入射した戻り光をセンシングファイバ２に出射する。
【００２６】
終端光ファイバ３ｂは、途中部位に９０度捻り接続部が形成された光ファイバである。すなわち、この終端光ファイバ３ｂは、偏光ビームスプリッタ３ａから入射した測定光について、偏波方向を９０度変化させた光を戻り光として偏光ビームスプリッタ３ａに出射する。上述したように、本実施形態では測定光の偏波方向がセンシングファイバ２の速軸モードに一致しているので、戻り光の偏波方向はセンシングファイバ２の遅軸モードと一致する。
【００２７】
次に、このように構成された本侵入検知システムの動作について詳しく説明する。
上述したように、本侵入検知システムは外力検知モードと切断検知モードとを備えている。外力検知モードは、センシングファイバ２に作用する外力、つまり不審者等の侵入を検知する通常の動作モードであり、一方、切断検知モードは、センシングファイバ２の切断を検知するために、所定の時間間隔で定期的に短時間だけ設定される非通常の動作モードである。
【００２８】
図３は、光源制御回路１ｎからレーザ光源１ａに入力される注入電流、被位相変調信号発生器１ｆから光位相変調器１ｅに入力される被位相変調信号及びセンシングファイバ２の区分領域の相互関係を示す波形図である。注入電流は、電流値が所定のレベル変化周期ＴＬでステップ状に変化すると共に所定の繰返し周期ＴＳを有するトーンバースト信号である。被位相変調信号は、上記注入電流の繰返し周期ＴＳに同期すると共にセンシングファイバ２の長さに対して分解能に応じた階段数を有する階段波信号である。
【００２９】
レーザ光源１ａは、信号処理装置１ｍによる制御の下に光源制御回路１ｎから入力される上記注入電流に応じた波長のレーザ光、つまり波長がレベル変化周期ＴＬに同期してステップ状に変化すると共に当該変化を繰返し周期ＴＳ毎に繰り返すレーザ光（測定光）を発振して第１の３ｄＢカプラ１ｂに出射する。このようなレーザ光源１ａに対して、光位相変調器１ｅは、信号処理装置１ｍによる制御の下に被位相変調信号発生器１ｆから入力される上記被位相変調信号に基づいて戻り光を位相変調する。このような測定光の周波数変調（波長変調）と戻り光の位相変調とは、光源制御回路１ｎと被位相変調信号発生器１ｆとが被位相変調信号発生器１ｆによって同期制御されることによって同期して行われる。
【００３０】
最初に外力検知モードについて説明すると、信号処理装置１ｍは、偏光ビームスプリッタ１ｄから入射した戻り光を選択するように光スイッチ１ｃを制御することにより、本侵入検知システムを外力検知モードに設定する。当該外力検知モードでは、レーザ光源１ａから第１の３ｄＢカプラ１ｂに出射されたレーザ光は、偏光方向がセンシングファイバ２の速軸モードと一致する測定光として第１の３ｄＢカプラ１ｂからセンシングファイバ２に入射して当該センシングファイバ２内を伝播し、さらに終端装置３によって偏光方向が遅軸モードと同一方向に変更された戻り光としてセンシングファイバ２内を再度伝播し、第１の３ｄＢカプラ１ｂを経由して偏光ビームスプリッタ１ｄに入射する。
【００３１】
このようにして、センシングファイバ２内を２度伝播するレーザ光（測定光あるいは戻り光）は、センシングファイバ２に外力（側圧）が作用しない状態では、モード結合を起こさないので、測定光と戻り光とは互いに干渉し合うことがない。したがって、このような状態においては、偏光ビームスプリッタ１ｄに入射される戻り光は、遅軸モードを偏光方向とするレーザ光のみを成分としており、よって偏光ビームスプリッタ１ｄで反射して光スイッチ１ｃを介して光位相変調器１ｅに入射し、周波数シフタ１ｇには入射しない。
【００３２】
また、光位相変調器１ｅに入射した戻り光は、上述した被変調信号によって位相変調されて第２の３ｄＢカプラ１ｉに入射するが、周波数シフタ１ｇには戻り光が入射しないので当該第２の３ｄＢカプラ１ｉには周波数シフタ１ｇから戻り光が入射されず、よって光位相変調器１ｅから出射した戻り光のみが受光器１ｊで検波される。したがって、受光器１ｊから出力される検波信号は、多少のノイズ成分が含まれるものの振幅が比較的安定した電気信号となる。
【００３３】
一方、センシングファイバ２の何れかの位置で外力（側圧）が作用した場合、当該外力の作用位置（外力作用点）において、測定光及び戻り光共にモード結合が生じる。したがって、この場合には、偏光ビームスプリッタ１ｄに入射される戻り光は、センシングファイバ２の速軸モードを偏光方向とする光とセンシングファイバ２の遅軸モードを偏光方向とする光を成分として含むものとなる。そして、このような戻り光のうち、遅軸モードを偏光方向とする成分は光位相変調器１ｅにおいて被位相変調信号によって位相変調光に変換された後に第２の３ｄＢカプラ１ｉに入射し、一方、速軸モードを偏光方向とする成分は周波数シフタ１ｇにおいて所定周波数分だけ周波数シフトした周波数変位光に変換された後に第２の３ｄＢカプラ１ｉに入射する。
【００３４】
ここで、速軸モードの光伝播速度と遅軸モードの光伝播速度との間には一定の速度差が存在するので、外力作用点から偏光ビームスプリッタ１ｄまで伝播した速軸モードの戻り光と遅軸モードの戻り光との間には、上記光路長に応じた位相差が生じる。
【００３５】
本侵入検知システムでは、上記外力作用点によって決定される光路長、つまり外力作用点を特定するために、図３に示した注入電流と被位相変調信号との関係を利用する。すなわち、センシングファイバ２の何れかの位置で外力（側圧）が作用した場合、測定光の波長は注入電流によって所定の範囲内で順次変化すると共に、戻り光の遅軸モード成分は被位相変調信号によって階段状に位相変調されるので、このような遅軸モード成分に基づく位相変調光と戻り光の速軸モード成分に基づく周波数変位光とが合波して生成された合波光は、センシングファイバ２上の各区分領域に対応する被位相変調信号において外力作用点が含まれる区分領域においてのみ干渉してビート（うなり）を発生し、光強度が極端に増大する光信号となる。図３では、一例として被位相変調信号の第３段目に相当する区分領域において外力が作用した状態を示している。
【００３６】
信号処理装置１ｍは、フィルタ回路１ｋを介して受光器１ｊから入力された上記検出信号と被位相変調信号との関係に基づいて外力作用点がセンシングファイバ２上の何れの区分領域に該当するかを判定し、その結果を測定結果として外部に出力する。
【００３７】
次に、本侵入検知システムの切断検知モードの動作について詳しく説明する。
信号処理装置１ｍは、図２に示すように、第１の３ｄＢカプラ１ｂから入射した測定光（参照光）を選択するように光スイッチ１ｃを制御することにより、本侵入検知システムを切断検知モードに設定する。
【００３８】
すなわち、この切断検知モードでは、戻り光においてセンシングファイバ２の速軸モードを偏光方向とする成分が周波数シフタ１ｇに入射し、光位相変調器１ｅには測定光が入射する。そして、第２の３ｄＢカプラ１ｊから受光器１ｊに入射する合波光は、戻り光においてセンシングファイバ２の速軸モードを偏光方向とする成分が周波数シフトした周波数変位光と測定光に基づく位相変調光とが合波したものとなる。
【００３９】
ここで、センシングファイバ２が切断された場合、戻り光の強度は著しく低下する。すなわち、測定光が切断点で反射した僅かな強度の反射光のみが戻り光としてセンシングファイバ２から第１の３ｄＢカプラ１ｂに入射し、当該第１の３ｄＢカプラ１ｂから偏光ビームスプリッタ１ｄに入射する。そして、このような僅かな強度の反射光のうち、偏光方向が速軸モードに一致する成分のみが偏光ビームスプリッタ１ｄを透過して周波数シフタ１ｇに入射し周波数変位光となる。
【００４０】
したがって、上述した外力検知モードにおける外力作用点の位置（正確にはセンシングファイバ２上の区分領域）の特定原理と同様に、上記反射光に基づく周波数変位光と測定光に基づく位相変調光との位相差（光路差）に基づいて切断点の位置（センシングファイバ２上の区分領域）を特定することができる。
【００４１】
本実施形態によれば、外力検知モードにおいて戻り光に基づく位相変調光と同じく戻り光に基づく周波数変位光との位相差に基づいて外力作用点の位置を特定するが、切断検知モードにおいては、戻り光に基づく位相変調光に代えて測定光に基づく位相変調光を生成し、当該測定光に基づく位相変調光と戻り光に基づく周波数変位光との位相差に基づいて、外力検知モードと同様の測定原理でセンシングファイバ２の切断位置を特定することができる。
【００４２】
次に、図４は、上記実施形態の変形例を示すシステム構成図である。
この変形例に係る侵入検知システムの動作原理は上記実施形態に係る侵入検知システムと全く同様であるが、この変形例に係る侵入検知システムは、上述した終端装置３を設けることに代えて、センシングファイバ２の先端を処理装置１に引き込むことにより、当該先端から出射される透過光（測定光がセンシングファイバ２中を伝播して先端から出射したレーザ光）を用いるものである。
【００４３】
すなわち、この変形例に係る侵入検知システムは、上記実施形態に係る侵入検知システムに対して新たに第２の光スイッチ１ｐが付加された構成を有する。第２の光スイッチ１ｐは、信号処理装置１ｍによる制御の下に、第１の３ｄＢカプラ１ｂから入射する反射光あるいはセンシングファイバ２の先端から入射する上記透過光の何れかを択一的に選択して偏光ビームスプリッタ１ｄに出射するものであり、外力検知モードにおいては上記透過光を選択し、切断検知モードにおいては上記反射光を選択する。
【００４４】
このように構成された侵入検知システムでは、外力検知モードにおいては透過光の速軸成分と遅軸成分とに基づいて外力作用点が測定され、一方、切断検知モードにおいては切断点で発生した反射光と測定光とに基づいて切断点が測定される。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】本発明の一実施形態に係わる侵入検知システムの第１のシステム構成図である。
【図２】本発明の一実施形態に係わる侵入検知システムの第２のシステム構成図である。
【図３】本発明の一実施形態に係わる侵入検知システムの動作を説明するための波形図である。
【図４】本発明の一実施形態の変形例に係わる侵入検知システムのシステム構成図である。
【符号の説明】
【００４６】
１…処理装置、１ａ…レーザ光源、１ｂ…第１の３ｄＢカプラ、１ｃ…光スイッチ、１ｄ…偏光ビームスプリッタ、１ｅ…光位相変調器、１ｆ…被位相変調信号発生器、１ｇ…周波数シフタ、１ｈ…ローカル信号発生器、１ｉ…第２の３ｄＢカプラ、１ｊ…受光器、１ｋ…フィルタ回路、１ｍ…信号処理装置、１ｎ…光源制御回路、２…センシングファイバ（外力検出用光ファイバ）、３…終端装置、３ａ…偏光ビームスプリッタ、３ｂ…終端ファイバ
【図１】
2007309883.tif 000003
【図２】
2007309883.tif 000004
【図３】
2007309883.tif 000005
【図４】
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