(57)【要約】【課題】  集積回路のテストで用いるための改良型テストソケット。【解決手段】  このテストソケットは、内部に形成された１つ以上のスロットを有するハウジングを含む。接点は各スロット内で受け入れられ、ロドボド上のトレスと嵌合する接点の後端とともに内部で維持される。設置はエラストマ組手段により達成され、接点の前端がテスト対象装置のリドまたはパッドにより嵌合され、その対応スロット内に押し込まれると、各接点の後端における弓状面が、事実上非並進または回転滑動しながらその対応トレスで回転するよう、エラストマが各接点を維持する。【選択図】      図１
2007017444.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テスタロドボド面とほぼ嵌合する第１面を備えたハウジングであって、前記ハウジングがさらに、前記第１面に対して離間して平行に延びて、同第１面に対向する第２面を備え、前記ハウジング内に形成された少なくとも１つのスロットが前記第１面と第２面との間においてハウジングを通して延伸し、
対応するスロットで受け入れられ、テスト対象装置の対応リドまたはパッドによる嵌合のため、前記第２面を越えて延伸する前端を有するとともに、テスタロドボドの面上の対応トレスと嵌合する弓状面を規定する後端を備えた接点と、
前記対応するスロット内に前記接点を弾性的に保持するための手段であって、前記接点の前端がテスト対象装置のリドまたはパッドで嵌合され、対応するスロットに押し込まれる際に、非並進あるいは回転滑動しながら前記対応トレスで弓状面が回転する手段と
を備えるテストソケット。
【請求項２】
請求項１によるテストソケットであって、前記接点の後端が、弓状面から角距離をおいて離間した徐々に弓状になる面を規定し、前記ハウジングが、スロット内において、前記接点の後端の徐々に弓状になる面で嵌合される壁を形成し、これにより、前記接点の前記前端がテスト対象装置のリドまたはパッドにより嵌合され、対応スロット内に押しこまれると、前記接点の前記徐々に弓状になる面が前記壁に沿って動き、前記弓状面を対応トレスで回転させるテストソケット。
【請求項３】
請求項２によるテストソケットであって、前記壁が、前記ハウジングの前記第１面に対して鋭角の角距離を
で角度離間するところのテストソケット。
【請求項４】
請求項１によるテストソケットであって、前記接点を弾性的に設けるための手段が、接点によりあらかじめ圧縮され、さらに、前記接点の前記前端がテスト対象装置のリドまたはパッドで嵌合され、スロット内に押し込まれると、接点で圧縮されるところのテストソケット。
【請求項５】
請求項４によるテストソケットであって、前記接点を弾性的に設けるための手段がさらに、テスタロドボド面上の対応トレスに対して接点の後端に予圧をかける後エラストマを備えるところのテストソケット。
【請求項６】
請求項５によるテストソケットであって、さらに、接点を嵌合し、前記ハウジングの前記第２面を越えて延伸する接点の距離を制限するため、前記ハウジングで規定されたショルダを備えるテストソケット。
【請求項７】
互いに対向する面と、これら面の間に延びる複数スロットとを備えたハウジングであって、
各対応スロットで受け入れられ、テスト対象装置のリドまたはパッドで嵌合されるハウジングの対向する面のうちの１つを超えて延伸する前端を備えた接点と、さらにロドボド面上の対応トレスと嵌合する弓状面を規定する後端を備えた接点とを含む複数の接点と、
テスト対象でありスロット内に押し込まれる装置のリドまたはパッドによる嵌合に応じて接点が動くと、後端にある接点の弓状面が非並進または回転滑動しながら対応トレスで回転するよう対応スロット内に各接点を設けるための手段と
を備えるテストソケット。
【請求項８】
請求項７によるテストソケットであって、前記接点がＮｅｙｏｒｏＧ製であるところのテストソケット。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は電子部品テスト技術に関する。しかしながら、さらに詳細には、本発明は、電子部品をテストするための接点を用いるテストソケットに関する。テストソケットは、テスト対象の電子部品のリドあるいはパッドと、ロドボド上の対応するトレスとの間に電子経路を相互結合し、それをもたらす接点を含む。本発明は、テストソケットの対応接点により装置のリドあるいはパッドおよびロドボドにかかる力の制御および調整に焦点を合わせる。
【背景技術】
【０００２】
集積回路装置のテストは、電子装置に対して可能な限り高度な品質管理を得るため、長年にわたって遵守された手順である。テスタは、典型的には、テスタ装置と関連するロドボド上に形成された複数の導電性トレスを含む。テストを実施するため、導通装置の導線、あるいは非導電装置のパッドを、ロドボド上の対応トレスに相互接続する必要がある。複数接点を備えたテストソケットは、相互接続を実施するため、テスト対象装置とロドボドとの間に介装される。１つの接点は、前端において、テスト対象装置の導線またはパッドを、ロボド上の対応トレスと嵌合する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
長年にわたり、このような接点の形状および構成は、テストソケットの構成、ロドボド、テスト対象装置の構造に応じて発展してきた。以前は、良好な伝送経路をもたらすため、接触端部における嵌合の種々な位置でぬぐい作業を行なうことが必要と考えられていた。しかしながら、技術の進歩につれて、以前考えられていたより少ないぬぐい作業でも良好な伝送経路を維持することが必要であることが明白になってきた。さらに、過剰なぬぐい作業により嵌合のさまざまなポイントで構成部品に損傷をもたらし、テストソケットやテスタロドボドの寿命を顕著に縮めることが明らかとなった。従って、面対面の摩滅を最小限にするため、さまざまな試みがなされている。しかしながら、現在の最先端の技術では、テストソケットの効率を最大化するとともに、磨耗やそれに続く構成部品の劣化を最小化することの両方に対して適した構成を決めることができなかった。
【０００４】
本発明が目指すものは、従来技術のそのような問題点や指示に関する。本発明の利点は、発明の概要、発明の詳細な説明、付録請求項、添付図面を参照することでさらに明白になる。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は改良型テストソケットである。これは、テスタロドボド面と嵌合する場所である第１面を備えたハウジングを含む。このハウジングは、ハウジングの第１面とほぼ平行で、それと離間した第２面を備えた。ハウジングの第２面は、第１面が対面する方向と反対に対面する。少なくとも１つのスロットは、その第１面と第２面との間のハウジングを通して延伸し、ハウジング内で形成される。接点は対応スロットで受け入れられる。このような接点は、テスト対象装置の対応リドあるいはパッドにより嵌合されるハウジングの第２面を突き抜けて垂直に延伸する前端を備えた。接点はさらに、弓状面を規定する後端をもち、この弓状面は、テスタロドボド面に形成された対応トレスを嵌合する。この接点は、接点の前端がテスト対象装置のリドまたはパッドにより嵌合され、そのスロットに押し込まれると、接点の弓状面が、事実上非並進あるいは回転滑動しながらテスタロドボド面の対応トレスにわたって回転するようスロット内に弾性的に設けられる。これにより、接点とロドボドとの間の磨耗が実質的になくなる。
【０００６】
接点の後端は、ロドボドとの嵌合で弓状面を規定することに加えて、その弓状面から角度離間し、徐々に弓状になった面も規定する。この実施例において、ハウジングはスロット内の壁を規定する。この壁は接点の後端の徐々に弓状になった面で嵌合され、徐々に弓状になった面と壁との間の空間関係は、接点の前端がテスト対象装置のリドまたはパッドにより嵌合され、対応スロットに押し込まれると、徐々に弓状になった面が壁に沿って動き、接点の弓状面をその対応トレスにわたって回転させる。ハウジングにより規定される壁が、ハウジングの第１面に対して鋭角で角度離間することが予測される。これにより、接点の弓状面が事実上非並進あるいは回転滑動しながらテスタロドボドのトレスにわたって回転できるようになる。
【０００７】
本発明はこれにより、従来技術の指示を扱い、その問題を解決する改良型テストソケットである。これらの機能の観点から得られるさらに詳細な機能や利点は、発明の詳細な説明、請求項、添付図面を参照することでさらに明白になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
本発明の好ましい実施例では、接点の弾性取付けを行うため、スロットに対して直交するエラストマ対を用いる。前エラストマは、テスタロドボド面と接点との間のチャネル内に置かれる。前エラストマは、ハウジングにより規定されたショルダが接点を嵌合し、ハウジングの第２面を越えて延伸する距離を制限するために用いることができることから、あらかじめ圧縮される。これにより、あらかじめ圧縮する作業は、前エラストマを間に挟む接点とロドボドとで達成される。前エラストマは、テスト対象装置のリドまたはパッドにより嵌合され、そのそれぞれのスロットに押し込まれると接点によりさらに圧縮される。
【０００９】
後エラストマは、接点の後端に予圧をかける。これにより、テスタロドボド面上の対応トレスに対する各接点の後端の間に接点を維持する。
本発明は貴金属製接点として用いることができる。このような接点はロドボド寿命を延ばす。ＮｅｙｏｒｏＧ接点は、めっきのない固体金合金製接点である。このような材料により接点の寿命が延びることが見出された一方、同様にロドボドの寿命も延びる。接点に対してＮｅｙｏｒｏＧ材料を用いることで、ロドボドの寿命が、従来技術により公知のメカニズムでのロドボドの寿命より少なくとも２倍にできることがわかった。
【００１０】
ここで図面を参照するが、この中で同様の参照番号は複数図を通して同様の要素を表しており、図１は本発明によるテストソケット１０を示す。テストソケット１０は、電子器具で用いられる集積回路の品質を確認するため、典型的に用いられるテスタとともに利用することが意図されている。テスタは、テスタと試験対象の集積回路装置１８との間の電子通信を可能にするため、表面１６上に形成された電導性トレス１４を備えたテスタロドボド１２との間でインタフェイスを取る。すなわち、電気信号がテスト対象装置１８とテスト装置との間でテストソケット１０を通して伝送される。
【００１１】
図１は、複数のリド２０とともに提供されるＤＵＴパッケジを示すが、それらリドのうちの１つだけが示されている。図１は、テスト対象装置１８の一部だけを示しているが、実質的に同一のリドは装置パッケジ１８の反対側の両方に沿って延伸することが理解される。
【００１２】
図１は、テスト対象装置１８がテストソケット１０の対応接点２４と接するリド２０と嵌合する場合、リド２０の曲げを防止するリド裏地をさらに示す。下向きの圧力が（図示されていない）プランジ機構によりテスト対象装置１８にかけられる。プランジャは、テスト実施時、弾性取り付けされた接点２４によりかけられる上向きバイアスより大きくな
るよう、接点２４を押し下げる。図１は、テスト対象装置１８が接点２４と嵌合する前の接点２４の正常位置を示す。同図ではさらに、プランジャがテスト対象装置をテスト位置まで押し下げた場合の接点位置をファントムで示す。典型的には、プランジャが移動する軸に沿った接点２４の前端２６の移動距離は０．３ミリメトルの状態である。以下で論じるとおり接点２４の構成に関して、下縁の接点２４の後端３０における弓状面２８は、トレス１４に沿った面の実施的に非並進あるいは回転滑動なくロドボド１２上の対応トレス１４で回転することが理解される。最適な方法として、トレス１４にかかる衝撃を制限するため、弓状面２８ができるだけ大きな曲率半径を備えたようにする。さらに、接点２４の構成から、接点が対応テスト対象装置１８のリド２０に沿った接点２４の前端の並進滑動は、接点の前端をかなり洗浄する際には適しているが、装置１８のリド２０上での洗浄は最小であることがわかった。例えば、本発明の１つの実施例において、並進滑動は装置１８上で０.０４１ミリメートルの状態である。
【００１３】
テストソケット１０は、トレス１４が形成されるテスタロドボド１２の面１６とほぼ嵌合する第１面３４を備えたハウジング３２を含む。このハウジング３２は、ハウジングの第１面とほぼ平行で、それと離間した第２面３６を備えた。ハウジング３２の第２面３６は第１面３４の反対側に対面する。前に論じたとおり、ハウジング３２は複数の接点２４をもつ。複数のスロット３８が設けられるが、各スロットは接点２４のうちの１つだけを受け入れる。
【００１４】
図２は、本発明による個々の接点を透視図で示す。接点２４は、第１、第２、第３の突出４０，４２，４４を含む。第１突出４０は、ロドボド１２のトレス１４を嵌合する接点２４の後端３０で規定される。第３突出４４は、テスト対象装置１８のリド２０またはパッドで嵌合される接点２４の前端２６により規定される。第２突出４２は、以下で論じるとおり複数エラストマ４６，４８で設けられる場合、ハウジング３２で規定されるショルダ４９を嵌合するよう機能する。第２突出４２によるショルダ４９の嵌合は、接点４９の上方への移動の程度を制限するよう機能し、接点２４がテスト対象装置により嵌合されない場合、接点２４の前端２６の距離はハウジング３２の第２面３６を越えて延びる。
【００１５】
再び図１を参照すると、テストソケット１０は、ハウジング３２内に形成されたスロット３８で規定される面をほぼ横断する軸に沿って延伸するチャネル５０，５２対を有する。これらのチャネル５０，５２は、接点２４をスロット３８に設けるよう機能するエラストマ４６，４８を受け入れるよう意図されたものである。図１は、大きい前エラストマ４６を受けいれるほぼ円形のチャネル５０と、小さい後部エラストマ４８を受け入れる角形のチャネル５２とを示す。後エラストマ４８は予圧されるが、その理由は、ロドボド１２と勘合している接点２９の後端３０の弓状面２８が、接点２４の前端２６を上に押し上げるような位置で接点２４の後端３０の上縁を嵌合するためである。同様に、前エラストマ４６も圧縮され、さらに接点２４を上方に押し上げ、テスト対象集積回路装置１８のリド２４またはパッドにより最初の接点のポイントに向けてバイアスをかけるよう機能する。
【００１６】
前に述べたとおり、ロドボド１２上のトレス１４と嵌合する弓状面２８は、ロドボド１２のトレス１４に沿って、あったとしても、適切な並進あるいは回転滑動ではない。この理由は、スロット３８の端部近くの第１面３４に近いハウジング３２内で規定される角度のついた壁５４があるためである。接点２４の後端３０は、弓状面２８を規定することに加えて、ハウジング３２で規定される角度のついた壁５４を嵌合する接点２４の後端３０の縁部で徐々に弓状になった面５６も有する。接点２４の配置は、弓状面２８の接点がロドボドトレス１４にわたって動きながらも、そのトレス１４にわたって滑動しないよう、スロット３８の端部で規定される角度のついた壁５４と相互作用するものとなる。この動きは事実上すべて回転アクション（すなわち、トレスにわたる相対移動が滑動なく表面上の車輪回転となるもの）である。これは徐々に弓状になる面５６により生じるものである
が、その理由は、徐々に弓状になる面５６の嵌合が角度のついた壁５４との接触を維持するため、接点２４の後端３０の弓状面２８が並進滑動することなく回転できるようにする輪郭を有するためである。テスト対象装置１８が引き出されると、逆方向での回転が起こる。
【００１７】
前で論じたとおり、装置の引き出しが行われると、接点２４の上方への動きを制限するため、第２突出４２が、ハウジング３２で規定されたショルダ４９を嵌合する。
また、テスト対象装置１８による力の作用点は、接点２４の後端３０とロドボド１２上のトレス１４との嵌合点から比較的大きな距離で離間している点が指摘される。これにより、ロリング作用（すなわち、ロドボドへの損傷等の最小化）により達成される利点が大きくなる。
【００１８】
さらに、貴金属製接点を本発明で使うこともできる。このような接点はロドボド寿命も延ばす。めっきをもたない固体金合金製接点であるＮｅｙｏｒｏＧ接点の利用が考えられる。この材料は接点の寿命を延ばすだけでないことがわかった。この材料はまた、トレスに対する損傷を最小限にすることでロドボドの寿命も延ばす。ロドボドの寿命は従来技術で知られるもので構成された機構では、少なくとも二倍になることがわかった。
【００１９】
この開示は、多くの点で、明示的なものでだけであることが理解される。本発明の適用範囲を逸脱することなく、詳細、特に形状、寸法、材料、部品配置に関して変更を行ってもよい。したがって、本発明の適用範囲は添付請求項の文言で定義されるとおりである。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】テスト対象装置のリドによる接点の嵌合に対する接点およびエラストマ応答を示す本発明によるテストソケットの断面図。
【図２】本発明で用いるための接点の斜視図。
【図１】
2007017444.tif 000003
【図２】
2007017444.tif 000004
【外国語明細書】
2007017444.tif 000005
2007017444.tif 000006
2007017444.tif 000007
2007017444.tif 000008
2007017444.tif 000009
2007017444.tif 000010
2007017444.tif 000011
2007017444.tif 000012
2007017444.tif 000013
2007017444.tif 000014
2007017444.tif 000015
2007017444.tif 000016
2007017444.tif 000017
2007017444.tif 000018
2007017444.tif 000019
2007017444.tif 000020
2007017444.tif 000021
2007017444.tif 000022
2007017444.tif 000023
2007017444.tif 000024