(57)【要約】【課題】インターフェース上の試験接続部を保護し得るメモリカードを提供する。【解決手段】本発明のメモリカードは、その中に回路基板を有するメモリカード本体と、メモリカードのデータの読み書きを制御する、回路基板上に配置されたコントローラチップと、メモリカードのデータを保存する、回路基板上に配置されたメモリチップと、コントローラチップに電気的に接続されたメモリカードインターフェースと、コントローラチップに電気的に接続された、接続インターフェースと、インターフェース上の試験接触部（１１）を保護する、上記メモリカードインターフェース上、もしくは上記接続インターフェースに配置されたカバーもしくはスティッカー（１０）とを備える。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
インターフェース上の試験接続部を保護するためのメモリカードであって、
その中に回路基板を有するメモリカード本体と、
該メモリカードのデータの読み書きを制御する、該回路基板上に配置されたコントローラチップと、
該メモリカードのデータを保存する、該回路基板上に配置されたメモリチップと、
該コントローラチップに電気的に接続されたメモリカードインターフェースと、
該コントローラチップに電気的に接続された、接続インターフェースと、
該インターフェース上の試験接触部を保護する、該メモリカードインターフェース上、もしくは該接続インターフェースに配置されたカバーもしくはスティッカーと
を備える、メモリカード。
【請求項２】
前記メモリチップが、複数のフラッシュメモリから構成される、請求項１に記載のメモリカード。
【請求項３】
前記メモリチップが、複数の読み取り専用メモリから構成される、請求項１に記載のメモリカード。
【請求項４】
前記カバーもしくはスティッカーが、破壊可能な非導電性シートである、請求項１に記載のメモリカード。
【請求項５】
前記コントローラチップが、メモリカードコントローラおよび検出制御ユニットを備える、請求項１に記載のメモリカード。
【請求項６】
前記接続インターフェースが、ＲＳ２３２、ユニバーサルシリアルバスまたはＩＥＥＥ  １３９４インターフェースである、請求項１に記載のメモリカード。
【請求項７】
前記メモリカードが、ＳＤメモリカード、マイクロＳＤメモリカード、ミニＳＤメモリカード、ＣＦメモリカード、ＭＳメモリカード、ＳＭメモリカードまたはＭＭＣメモリカード、であり得る、請求項１に記載のメモリカード。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、インターフェース上での試験接触部を保護し得るメモリカードを提供し、そして絶縁カバーもしくはスティッカーを使用してインターフェース上での試験接触部を保護する。
【背景技術】
【０００２】
現在の市場におけるメモリカードは、大きなメモリ容量、小サイズ、および携帯に便利という利点を有し、そしてパーソナルコンピュータ、ノートブック、ＰＤＡ、ＭＰ３およびＭＰ４プレイヤー、またはデジタルカメラのような電気製品に広く適用されている。使用者の必要性を満たすため、市場におけるメモリカードは、主に以下のカテゴリに分けられる：ＳＤ（セキュアデジタル）メモリカード、マイクロＳＤメモリカード、ミニＳＤメモリカード、ＣＦ（コンパクトフラッシュ（登録商標））メモリカード、ＭＳ（メモリスティック）メモリカード、ＳＭ（スマートメディア）メモリカード、およびＭＭＣ（マルチメディアカード）メモリカード。しかし、メモリカード上のインターフェース上の複数の金属接触部に対する保護は、存在しておらず、そしてこのメモリカードは、使用者の手が金属接触部への接触により生じる静電放電効果、または使用者によるメモリカードのインターフェース上の金属接触部への不適切な電圧の適用によって損傷し得る。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
本発明の目的は、従来のメモリカードの以下の欠点、静電放電効果もしくは使用者の不適切な電圧の適用がもたらすメモリカードが正常に機能しなくなること、を解決することである。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
したがって、本発明は、インターフェース上の試験接触部を保護するメモリカードを提供する。本発明のメモリカードは、
その中に回路基板を有するメモリカード本体と、
上記メモリカードのデータの読み書きを制御する、上記回路基板上に配置されたコントローラチップと、
上記メモリカードのデータを保存する、上記回路基板上に配置されたメモリチップと、
上記コントローラチップに電気的に接続されたメモリカードインターフェースと、
上記コントローラチップに電気的に接続された、接続インターフェースと、
上記インターフェース上の試験接触部を保護する、上記メモリカードインターフェース上、もしくは上記接続インターフェースに配置されたカバーもしくはスティッカーとを備える。
【０００５】
使用者は、本発明のメモリカード上のカバーもしくはスティッカーを破り、その破られたカバーもしくはスティッカーの下の試験接触部を使用して、以下に適用する。メモリカードの電気的特徴の維持および分析、メモリカードのデータ内容のチェック、メモリカードの性能の確認、ならびに、ダブルインターフェースの使用への適合性についての試験。
【０００６】
さらに、使用者は、メモリカードが電気製品（例えば、デジタルカメラ、ＰＤＡ、パーソナルコンピュータ、ノートブック、およびＭＰ３もしくはＭＰ４プレイヤー）によって読まれる場合に、メモリカードが適合性の問題（例えば、接続速度）を有するならば、直ちにメモリカードの製造者に知らせることができる。本発明は、以下の改善された効果を有する。（ａ）メモリカードの製造者の経済的損失の回避、（ｂ）メモリカードの製造者の質およびブランド名の価値の確立、ならびに、（ｃ）使用者の権利の保護。
【０００７】
本発明は、さらに以下の手段を提供する。
【０００８】
（項目１）
インターフェース上の試験接続部を保護するためのメモリカードであって、
その中に回路基板を有するメモリカード本体と、
該メモリカードのデータの読み書きを制御する、該回路基板上に配置されたコントローラチップと、
該メモリカードのデータを保存する、該回路基板上に配置されたメモリチップと、
該コントローラチップに電気的に接続されたメモリカードインターフェースと、
該コントローラチップに電気的に接続された、接続インターフェースと、
該インターフェース上の試験接触部を保護する、該メモリカードインターフェース上、もしくは該接続インターフェースに配置されたカバーもしくはスティッカーと
を備える、メモリカード。
【０００９】
（項目２）
上記メモリチップが、複数のフラッシュメモリから構成される、項目１に記載のメモリカード。
【００１０】
（項目３）
上記メモリチップが、複数の読み取り専用メモリから構成される、項目１に記載のメモリカード。
【００１１】
（項目４）
上記カバーもしくはスティッカーが、破壊可能な非導電性シートである、項目１に記載のメモリカード。
【００１２】
（項目５）
上記コントローラチップが、メモリカードコントローラおよび検出制御ユニットを備える、項目１に記載のメモリカード。
【００１３】
（項目６）
上記接続インターフェースが、ＲＳ２３２、ユニバーサルシリアルバスまたはＩＥＥＥ  １３９４インターフェースである、項目１に記載のメモリカード。
【００１４】
（項目７）
上記メモリカードが、ＳＤメモリカード、マイクロＳＤメモリカード、ミニＳＤメモリカード、ＣＦメモリカード、ＭＳメモリカード、ＳＭメモリカードまたはＭＭＣメモリカード、であり得る、項目１に記載のメモリカード。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
本発明に基づくメモリカード１（カバーもしくはスティッカーは示さず）の３次元的外観は、図１に示される。このメモリカード１は、以下を備える。メモリカード本体２、メモリカードインターフェース３、および接続インターフェース４。メモリカードインターフェース３は、ＳＤメモリカード、マイクロＳＤメモリカード、ミニＳＤメモリカード、ＣＦメモリカード、ＭＳメモリカード、ＳＭメモリカードまたはＭＭＣメモリカードであり得る。接続インターフェース４は、ＲＳ２３２、ユニバーサルシリアルバス（ＵＳＢ）またはＩＥＥＥ  １３９４インターフェースであり得る。
【００１６】
図２は、本発明のメモリカード１の内部構造を示す。そしてこのメモリカード本体２は、その中に回路基板５を有する。ここで、この回路基板５は、メモリカードインターフェース３および接続インターフェース４に電気的に接続される。コントローラチップ６およびメモリチップ７は、回路基板５の上に配置される。ここで、コントローラチップ６は、メモリカードインターフェース３に電気的に接続され、そしてメモリチップ７は、接続インターフェース４およびコントローラチップ６に電気的に接続される。
【００１７】
図３は、本発明のメモリカード１のブロック図を示す。コントローラチップ６は、メモリカードコントローラ８および検出制御ユニット９を備える。メモリチップ７は、ｎ個のフラッシュメモリから構成される。ここで、ｎは、１より大きい正の整数である。さらに、メモリチップ７は、ｎ個の読み取り専用メモリから構成される。ここで、ｎは、１より大きい正の整数である。
【００１８】
図４および図５はそれぞれ、インターフェース上の試験接続部１１または１２を保護するための、接続インターフェース４またはメモリカードインターフェース３上のカバーもしくはスティッカー１０の配置を示す。カバーもしくはスティッカー１０は、破壊可能な非導電性シートであり、したがって、インターフェース上の試験接続部１１または１２を電気的に絶縁する。試験接続部１１または１２は、金属材料であり、容易に酸化され得ず、使用者によって以下を行うために使用される。（ａ）メモリカード１の電気的特徴の維持および分析、（ｂ）メモリカード１のデータ内容のチェック、おならびに（ｃ）メモリカード１の性能の確認。
【００１９】
図６および図７は、本発明のメモリカード１を用いた試験前および試験後を図示する。試験を行う場合、使用者は、最初にカバーもしくはスティッカー１０を破り、次にメモリカード１をカードスロット１３に挿入する。そして、試験すべき試験接続部１１または１２を校正機器１５に接続する。最後に、デバイスもしくは校正機器１４によって、必要とされる電力を供給し、使用者は伝送試験を実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明のメモリカードの３次元的外観である（カバーおよびスティッカーを示さず）。
【図２】本発明のメモリカードの内部構造を示す。
【図３】本発明のメモリカードのブロック図である。
【図４】インターフェース上の試験接触部のカバーもしくはスティッカーの配置を示す。
【図５】インターフェース上の試験接触部の配置の他の例である。
【図６】本発明のメモリカードを用いて試験を行う図である（試験前）。
【図７】本発明のメモリカードを用いて試験を行う図である（試験中）。
【符号の説明】
【００２１】
１    メモリカード
２    メモリカード本体
３    メモリカードインターフェース
４    接続インターフェース
５    回路基板
６    コントローラチップ
７    メモリチップ
８    メモリカードコントローラ
９    検出コントローラユニット
１０  カバーもしくはスティッカー
１１  試験接続部
１２  試験接続部
１３  カードスロット
１４  校正機器
１５  校正機器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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