(57)【要約】【課題】異物を検出するためのセンサの存在を外部から認識し難くして、不正読取防止機能を向上させるとともに、外光に起因した誤検出を減らして信頼性を高めることが可能な媒体処理装置を提供する。【解決手段】磁気記録媒体が挿入又は排出される開口１０ａが形成されるとともに、装置の外部と内部を仕切るフロントパネル１０と、装置の内部に設けられ、磁気記録媒体に対して情報の書込み又は読取をする磁気ヘッドと、フロントパネル１０の少なくとも一部に設けられるとともに、可視光を遮光する遮光フィルタ１３と、遮光フィルタ１３よりも装置の内部側に設けられて、装置の外部に異物が取り付けられていることを検出する異物検出手段（フォトリフレクタ５０）と、を備える。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気記録媒体が挿入又は排出される開口が形成されるとともに、装置の外部と内部を仕切るフロントパネルと、
装置の内部に設けられ、前記磁気記録媒体に対して情報の書込み又は読取をする磁気ヘッドと、
前記フロントパネルの少なくとも一部に設けられるとともに、可視光を遮光する遮光フィルタと、
前記遮光フィルタよりも装置の内部側に設けられて、装置の外部に異物が取り付けられていることを検出する異物検出手段と、を備えることを特徴とする媒体処理装置。
【請求項２】
前記異物検出手段は、非可視光を発光する発光体と、非可視光を受光する受光センサと、から構成され、前記遮光フィルタは、非可視光を透過させることを特徴とする請求項１記載の媒体処理装置。
【請求項３】
前記非可視光は、赤外光であることを特徴とする請求項２記載の媒体処理装置。
【請求項４】
前記異物検出手段は、さらに、前記発光体による発光を制御する発光制御部と、前記発光体による発光と前記受光センサによる受光とを比較する比較部と、を有することを特徴とする請求項２又は３記載の媒体処理装置。
【請求項５】
前記異物検出手段は、前記発光体をランダム又は擬似ランダムの時間間隔で点滅発光させる一方で、前記受光センサが前記発光体の点滅発光と一致する時間間隔で非可視光を受光した場合に、前記フロントパネルの外側に異物が取り付けられたと判定することを特徴とする請求項２から４のいずれか記載の媒体処理装置。
【請求項６】
前記異物検出手段は、装置電源の立ち上げ時に、前記発光体を発光させて前記受光センサの受光出力が規定値以下である場合に、自己に異常が発生したと判定することを特徴とする請求項２から５のいずれか記載の媒体処理装置。
【請求項７】
前記遮光フィルタは非可視光を透過させるとともに、前記異物検出手段は非可視光を受光する受光センサより構成され、装置の外部に非可視光発光体を設けたことを特徴とする請求項１記載の媒体処理装置。
【請求項８】
前記異物検出手段は、前記磁気記録媒体の挿入を待つ磁気記録媒体挿入待機状態、または、磁気記録媒体の挿入を検知した時に、異物検出を行うことを特徴とする請求項１から７のいずれか記載の媒体処理装置。
【請求項９】
前記磁気記録媒体は、磁気ストライプを有するカードであって、前記異物検出手段による検出領域は、前記磁気ストライプの通過経路に対峙した領域であることを特徴とする請求項１から８のいずれか記載の媒体処理装置。
【請求項１０】
前記異物検出手段が異物を検出した場合に、利用者又は上位装置に警告を通知するか又は前記磁気記録媒体に対する処理を中止することを特徴とする請求項１から９のいずれか記載の媒体処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気カードの不正読み取りを防止する機能を有する媒体処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、例えば銀行に設置されているＡＴＭなどには、磁気カードに対する磁気データの読み出し及び書き込みを行う磁気カードリーダが取り付けられている。そして、磁気カードリーダには、磁気カードを挿入・排出するためのカードスロットと、カードスロットから磁気カードが挿入されたことを検出するための検出器と、カードスロットから挿入された磁気カードを磁気カードリーダ内部に導くカード導入路と、カード導入路を開閉するシャッタとが配置されている。
【０００３】
利用者は、まず、磁気カードの先端をカードスロットに挿入する。そうすると、検出器によって磁気カードの挿入が検出され、カード導入路を閉じているシャッタが開くと同時に、カード導入路に設けられたローラによって、磁気カードは磁気カードリーダ内部に導入される。磁気カードリーダでは、このようにして磁気カードの取込動作を実現している。
【０００４】
ところで、近年になって、磁気カードに記録された情報を不正に読み取る装置の存在が社会問題化しつつある。この不正読取装置は、磁気カードリーダのカードスロット前方（外側）に配置されるとともに、磁気カードに記録された情報を不正に読み取るための磁気ヘッドを備えている。不正読取装置が取り付けられた磁気カードリーダ（の擬似カード挿入口）に磁気カードが挿入されると、この磁気ヘッドによって、磁気カードに記録された情報が利用者の知らない間に読み取られてしまう。
【０００５】
そこで、例えば特許文献１に開示された磁気カード取引装置のように、磁気カードの不正読み取りを防止する機能を有する媒体処理装置が開発されている。特許文献１に開示された磁気カード取引装置は、カードスロット近傍に異物（不正読取装置）が取り付けられていることを検出する反射型フォトセンサを備えており、この反射型フォトセンサは、カードスロットを囲むような開口が形成され、装置の外部と内部を仕切るフロントパネルの内側に配置されている。そして、フロントパネルには、反射型フォトセンサの前方部分に、異物検出用の透光孔が形成されている。
【０００６】
このような構成からなる磁気カード取引装置を用いれば、仮に、カードスロット近傍に異物が取り付けられた場合、発光体から出射され、透光孔を介して反射型フォトセンサに入ってくる光の光量に変化が現れるため、異物が取り付けられた事実を検出することができる。従って、この場合、上位装置に警告信号を送信したり、カード導入路を開閉するシャッタを閉じたままにしたりして、磁気カードの不正読取防止策を講じることができる。
【０００７】
【特許文献１】特開２００１−６７５２５号公報（段落番号［００２３］，図１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、上述した特許文献１に開示された磁気カード取引装置では、異物を取り付けようとする者が透光孔に気付いた場合、その透光孔の奥にある反射型フォトセンサを破壊しようとしたり、その透光孔から不必要な光を入射させたりして、不正読取防止機能を停止させるような行動をとることが考えられる。従って、不正読取防止機能を維持して磁気カードリーダの信頼性を向上するためには、外部から反射型フォトセンサ等の存在を認識困難にする技術の開発が不可欠である。
【０００９】
また、上述したように透光孔を介して反射型フォトセンサに入ってくる光量変化を見る従来の手法では、磁気カードリーダが置かれる環境によっては、太陽光や室内蛍光灯などの外光に起因した誤検出が生じてしまう虞がある。
【００１０】
本発明は、以上の点に鑑みてなされたものであり、その目的は、異物を検出するためのセンサの存在を外部から認識し難くして、不正読取防止機能を向上させるとともに、外光に起因した誤検出を減らして信頼性を高めることが可能な媒体処理装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
以上のような課題を解決するために、本発明は、以下のものを提供する。
【００１２】
（１）  磁気記録媒体が挿入又は排出される開口が形成されるとともに、装置の外部と内部を仕切るフロントパネルと、装置の内部に設けられ、前記磁気記録媒体に対して情報の書込み又は読取をする磁気ヘッドと、前記フロントパネルの少なくとも一部に設けられるとともに、可視光を遮光する遮光フィルタと、前記遮光フィルタよりも装置の内部側に設けられて、装置の外部に異物が取り付けられていることを検出する異物検出手段と、を備えることを特徴とする媒体処理装置。
【００１３】
本発明によれば、媒体処理装置には、磁気記録媒体用の開口が形成され、装置の外部と内部を仕切るフロントパネルと、装置内部に設けられた磁気ヘッドと、フロントパネルの少なくとも一部に設けられた（可視光）遮光フィルタと、遮光フィルタよりも装置内部側に設けられ、装置外部に異物が取り付けられていることを検出する異物検出手段と、が設けられることとしたので、外部から異物検出手段を視認しようとしても、遮光フィルタの存在により困難になる。
【００１４】
従って、異物検出手段の存在が外部から認識される可能性は低くなり、不正読取防止機能（セキュリティ性）を向上させることができる。また、遮光フィルタの可視光カット機能によれば、異物検出手段において可視光に起因した誤検出を減らして、信頼性を高めることができる。
【００１５】
ここで、「可視光を遮光する」とは、可視光を完全に遮光する場合のみならず、可視光を一部遮光する場合も含む趣旨である。すなわち、本明細書における「遮光」とは、遮光率が１００％である場合は勿論のこと、遮光率が１００％に満たない場合をも含む趣旨である。また、「異物検出手段」は、装置外部に異物が取り付けられていることを検出しうるものであれば如何なる手段であってもよく、例えば、フォトリフレクタ，マイクロ波センサ，金属検知センサなどが挙げられる。
【００１６】
（２）  前記異物検出手段は、非可視光を発光する発光体と、非可視光を受光する受光センサと、から構成され、前記遮光フィルタは、非可視光を透過させることを特徴とする（１）記載の媒体処理装置。
【００１７】
本発明によれば、上述した異物検出手段は、非可視光（例えば赤外光）を発光する発光体（発光素子）と、非可視光を受光する受光センサ（受光素子）とから構成され、上述した遮光フィルタは非可視光を透過させることとしたので、発光体を発光させた際に受光センサに入ってくる光量変化を読み取ることによって、異物が取り付けられた事実を検出することができる一方で、遮光フィルタを通じて外部から発光体や受光センサが視認されるのを困難にすることができる。従って、不正読取防止機能（セキュリティ性）を向上させることができる。
【００１８】
（３）  前記非可視光は、赤外光であることを特徴とする（２）記載の媒体処理装置。
【００１９】
本発明によれば、上述した非可視光は赤外光であることとしたので、例えば広く普及している赤外線ＬＥＤを用いて、安価かつ簡易に不正読取防止機能を向上させることができる。
【００２０】
（４）  前記異物検出手段は、さらに、前記発光体による発光を制御する発光制御部と、前記発光体による発光と前記受光センサによる受光とを比較する比較部と、を有することを特徴とする（２）又は（３）記載の媒体処理装置。
【００２１】
本発明によれば、上述した異物検出手段には、さらに、発光体による発光を制御する発光制御部と、発光体による発光と受光センサによる受光とを比較する比較部とが設けられることとしたので、発光制御部によって発光体を発光させたとき、比較部によって、発光体による発光と受光センサによる受光との特徴差（例えば、発光量の差，発光時間の差，発光タイミングの差など）を検出することができる。従って、異物の取り付けを、より正確に判定することができる。
【００２２】
（５）  前記異物検出手段は、前記発光体をランダム又は擬似ランダムの時間間隔で点滅発光させる一方で、前記受光センサが前記発光体の点滅発光と一致する時間間隔で非可視光を受光した場合に、前記フロントパネルの外側に異物が取り付けられたと判定することを特徴とする（２）から（４）のいずれか記載の媒体処理装置。
【００２３】
本発明によれば、上述した異物検出手段によって、発光体をランダム又は擬似ランダムの時間間隔で点滅発光させる一方で、受光センサが発光体の点滅発光と一致する時間間隔で非可視光を受光した場合に、フロントパネルの外側に異物が取り付けられたと判定することとしたので、異物の取り付けを、より正確に判定することができる。すなわち、ランダム又は擬似ランダムの時間間隔で発光体を点滅発光させる、という人為的な発光タイミングに応じて受光センサが非可視光を受光した場合には、受光した光が太陽光などの自然光である可能性は極めて低いので、結果的に、異物が取り付けられていることを正確に判定することができる。
【００２４】
（６）  前記異物検出手段は、装置電源の立ち上げ時に、前記発光体を発光させて前記受光センサの受光出力が規定値以下である場合に、自己に異常が発生したと判定することを特徴とする（２）から（５）のいずれか記載の媒体処理装置。
【００２５】
本発明によれば、上述した異物検出手段によって、装置電源の立ち上げ時に発光体が発光され、その光が、例えば異物検出手段の前に配置されたカバーに反射し、受光センサの受光出力が規定値以下である場合に、自己に異常が発生したと判定されることとしたので、装置電源を立ち上げる際に、センサの故障診断を行うことができる。すなわち、本発明に係る媒体処理装置は、故障自己診断機能を有することになる。
【００２６】
（７）  前記遮光フィルタは非可視光を透過させるとともに、前記異物検出手段は非可視光を受光する受光センサより構成され、装置の外部に非可視光発光体を設けたことを特徴とする（１）記載の媒体処理装置。
【００２７】
本発明によれば、異物検出手段は非可視光を受光する受光センサより構成され、装置外部に、非可視光を発光する発光体を設けることとしたので、発光体の取り替えが容易になり、汎用性を高めることができる。また、装置外部にある発光体を有効に利用して、装置内部には受光センサのみを組み込めばよいので、コスト低減を図ることもできる。
【００２８】
（８）  前記異物検出手段は、前記磁気記録媒体の挿入を待つ磁気記録媒体挿入待機状態、または、磁気記録媒体の挿入を検知した時に、異物検出を行うことを特徴とする（１）から（７）のいずれか記載の媒体処理装置。
【００２９】
本発明によれば、上述した異物検出手段は、磁気記録媒体の挿入を待つ磁気記録媒体挿入待機状態、または、磁気記録媒体の挿入を検知した時に、異物検出を行うこととしたので、媒体処理装置が使用されるたびに異物検出が行われることになり、不正読取防止機能（セキュリティ性）を向上させることができる。
【００３０】
（９）  前記磁気記録媒体は、磁気ストライプを有するカードであって、前記異物検出手段による検出領域は、前記磁気ストライプの通過経路に対峙した領域であることを特徴とする（１）から（８）のいずれか記載の媒体処理装置。
【００３１】
本発明によれば、異物検出手段による検出領域は、磁気記録媒体（磁気カード）表面に設けられた磁気ストライプの通過経路に対峙した領域であることとしたので、不正読取防止機能の正確性を高めることができる。すなわち、一般的な磁気カードでは、磁気ストライプの位置は規格によって定められていることから、当然、異物も磁気ストライプの通過経路近傍に設けられることが多い。従って、磁気ストライプの通過経路に対峙した領域を、異物検出手段による検出領域とすることで、異物が取り付けられていることをより正確に検出することができる。
【００３２】
（１０）  前記異物検出手段が異物を検出した場合に、利用者又は上位装置に警告を通知するか又は前記磁気記録媒体に対する処理を中止することを特徴とする（１）から（９）のいずれか記載の媒体処理装置。
【００３３】
本発明によれば、上述した異物検出手段が異物を検出した場合に、利用者又は上位装置に警告を通知するか、或いは、磁気記録媒体に対する処理を中止することとしたので、磁気記録媒体に記録された情報が異物によって読み取られるのを事前に防ぎ、ひいては不正読取防止機能を向上させることができる。
【発明の効果】
【００３４】
本発明に係る媒体処理装置によれば、異物を検出するためのセンサの存在を外部から認識し難くして、不正読取防止機能を向上させることができる。また、外光に起因した誤検出を減らして、異物検出に対する信頼性を高めることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３５】
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面を参照しながら説明する。
【００３６】
［機械構成］
図１（ａ）は、本発明の実施の形態に係るカードリーダ１の機械構成を示す斜視図である。図２は、図１（ａ）に示すカードリーダ１を正面から見たときの正面図及びこれを上から見たときの平面図である。なお、本実施形態では、媒体処理装置としてカードリーダを採用するが、本発明は、これに限定されるものではない。また、図１（ａ）及び図２では、カードリーダ１のフロント部分に着目している。
【００３７】
図１（ａ）において、カードリーダ１は、磁気カードが挿入又は排出される開口１０ａが形成され、装置の外部と内部を仕切るフロントパネル１０を有している。なお、図１（ａ）の斜視図では、装置ケースを外していることから装置の内部が視認できるようになっているが、一般に装置ケースが付けられている場合には、フロントパネル１０よりも装置の内部側は視認できない状態になっている。また、開口１０ａは、磁気カードを挿入・排出するためのカードスロットとして機能する。
【００３８】
なお、フロントパネル１０は、装置の内部と外部を仕切り、開口１０ａから磁気カードの挿入・排出を許容しうるものであれば、その範囲，形状，大きさなど如何なるものであってもよい。例えば、開口１０ａを含む開口部（スロット）は、図１（ｂ）に示すように、図１（ａ）に示す形状であってもよいし、図１（ｃ）に示すように、開口部が平面状になっていてもよい。また、後述するフォトリフレクタ５０（図３参照）の位置については、開口近傍が好ましいが（図１（ｄ）の真ん中のフォトリフレクタ５０の位置参照）、その他、図１（ｄ）に示すように、開口から離れていても構わない（図１（ｄ）の上下のフォトリフレクタ５０の位置参照）。
【００３９】
装置の内部には、磁気カードに対して情報の書込み又は読取をする磁気ヘッドが設けられている。磁気ヘッドは、図１（ａ）又は図２では視認し得ないが、搬送路を介して搬送ローラ材１１の下方に配置されている。そして、磁気カード上の磁気ストライプに接触・摺動することによって、情報の書込み又は読取を行うことができる。なお、磁気ヘッドの構成としては、例えば、磁気ギャップ（磁気スペーサ）を挟んで対向配置された磁気コアと、磁気コアに巻回されたライト用巻き線と、磁気コアに巻回されたリード用巻き線と、これらを格納するケースと、から構成される。
【００４０】
開口１０ａに磁気カードが挿入されると、磁気カードの幅方向の長さを検出する幅検知スイッチ１５（図２（ｂ）参照）がＯＮになる。そうすると、シャッタソレノイド１２（図２（ａ）参照）の動作によって、搬送路を閉じているシャッタ１８（後述する図３参照）が開くとともに、シャッタ開閉スイッチ１４（図２（ａ）参照）がＯＮされ、搬送路に設けられた取り込みローラ１６（図２（ｂ）参照）の回転動作が開始されて、磁気カードがカードリーダ１内部に取り込まれることになる。カードリーダ１では、このようにして磁気カードの取込動作を実現している。
【００４１】
ここで、図１（ａ）に示すように、カードリーダ１のフロントパネル１０前方に、磁気カードに記録された情報を不正に読み取る装置（スキマー）２０が取り付けられた場合を考える。本実施形態に係るカードリーダ１では、このスキマー２０が取り付けられていることを検出するための異物検出手段の一例として、後述するフォトリフレクタ５０（図３参照）が設けられている。そして、このフォトリフレクタ５０を外部から視認困難にするために、図１（ａ）及び図２（ａ）に示すように、フロントパネル１０の一部に、可視光を遮光する遮光フィルタ１３が設けられている。フォトリフレクタ５０及び遮光フィルタ１３の位置関係について、図３を用いて詳述する。
【００４２】
図３は、図１（ａ）に示すカードリーダ１を、遮光フィルタ１３及びスキマー２０を含むように縦に切断したときの縦断面図である。なお、図１（ａ）及び図２では、シャッタ１８を開閉するトリガとして、幅検知スイッチ１５を用いることとしたが、図３では、このトリガとして、予め磁気カードに情報（磁気データ）が存在するか否かをチェックするプリヘッド１７（磁気ヘッド）を更に用いている（例えば、磁気データが書き込まれる前の新券等が挿入された場合、プリヘッド１７は磁気データが存在しないカードであると認識してしまい、取引ができない虞があるため、幅検知スイッチ１５とプリヘッド１７を併用している）。
【００４３】
図３に示すように、カードリーダ１のフロントパネル１０の前方（図３では左側）には、磁気カードに記録された情報を不正に読み取るための磁気ヘッド２１を有するスキマー２０が取り付けられている。一般に、磁気カード表面上の磁気ストライプの位置は、ＩＳＯ規格によって規定されており、また、これに搬送路の高さを併せて考慮すれば、スキマー２０が配置される位置を推定することは可能である。
【００４４】
従って、スキマー２０が取り付けられていることを検出するフォトリフレクタ５０を、図３に示す位置に配置する。すなわち、フォトリフレクタ５０による検出領域は、磁気ストライプの通過経路に対峙した領域である。なお、その配置される位置はプリヘッド１７の前方であることが好ましい。また、異物検出手段の他の例として、例えばフォトダイオード（フォトトランジスタ）とＬＥＤの組み合わせであっても構わないが、本実施形態のように、異物検出手段としてフォトリフレクタ５０を採用することで、実装スペースを小さくすることができる。なお、フォトリフレクタ５０のＬＥＤ光源は、赤外線ＬＥＤとする。赤外線ＬＥＤを用いることにより、犯罪者に、フォトリフレクタ５０が発光していることを認識されないで済む。また、フォトリフレクタ５０の受光センサ５０ｂ（後述する図６参照）には、赤外光以外の波長の光をカットするコーティングが施されていてもよい。これにより、外部から受光センサ５０ｂに入射する赤外光以外の光をカットすることができる。
【００４５】
フォトリフレクタ５０の前方には、可視光をカットし、赤外光を通過させる遮光フィルタ１３が配置されている。具体的には、図４に示すように、フロントパネル１０の一部として後から嵌め込まれるようになっている（図中の矢印Ｘ参照）。図４は、図１（ａ）に示すカードリーダ１において、遮光フィルタ１３を嵌め込む様子を示す図である。
【００４６】
なお、本実施形態では、遮光フィルタ１３はフロントパネル１０の一部に（或いは一部として）設けられているが、例えば図５に示すように、フロントパネル１０のうち開口１０ａの一部を形成する下部（拡開部或いはスロート部）全体に設けられていても構わない。図５は、遮光フィルタ１３の他の配置形態を示す図である。図５（ａ）に示すように、下部全体を遮光フィルタ１３とした場合には、これをフロントパネル１０に取り付けた際（図中の矢印Ｙ参照）、犯罪者は、どの部分が遮光フィルタなのかを認識できなくなる（図５（ａ）→図５（ｂ）参照）。これにより、セキュリティ性を向上させることができる。
【００４７】
以上説明したように、図１（ａ）〜図５に示すカードリーダ１の機械構成によれば、遮光フィルタ１３の存在によって、外部からフォトリフレクタ５０を視認しようとしても困難になる。従って、フォトリフレクタ５０の存在が外部から認識される可能性は低くなり、不正読取防止機能（セキュリティ性）を向上させることができる。次に、カードリーダ１において、フォトリフレクタ５０を動作させる電気的構成について詳述する。
【００４８】
［電気的構成］
図６は、フォトリフレクタ５０周辺の電気回路を示すブロック図である。ＬＥＤオン／オフ制御回路５１，Ａ／Ｄコンバータ回路５３及びＣＰＵ５４は、カードリーダ１のコントロールボード（図示せず）に配置されており、これら以外の電気要素は、図３に示すセンサ基板６０に配置されている。なお、例えば図６中のオペアンプＯＰ（Operational Amplifier）を上述のコントロールボードに配置するなど、これらの電気的な配置態様については、如何なるものであってもよい。
【００４９】
図６において、フォトリフレクタ５０は、赤外光を発光する発光体５０ａと、赤外光を受光する受光センサ５０ｂと、から構成される。発光体５０ａのカソードは、トランジスタＴＲ１のコレクタ端子に接続されている。トランジスタＴＲ１のベース端子には、ベース抵抗Ｒ１を介して、ＬＥＤオン／オフ制御回路５１からの制御信号が入力されるようになっている。トランジスタＴＲ１のベース端子とエミッタ端子との間には、トランジスタＴＲ１への入力がオープン状態になるのを防ぐためのプルダウン抵抗Ｒ２が接続されており、トランジスタＴＲ１のエミッタ端子は、アース接続されている。なお、発光体５０ａのアノードは、負荷抵抗Ｒ３を介して電源５２と接続されている。
【００５０】
一方で、受光センサ５０ｂのアノードは、アース接続されるとともに、受光センサ５０ｂのカソードは、オペアンプＯＰの反転入力端子に接続されている。なお、オペアンプＯＰの非反転入力端子はアース接続されている。また、オペアンプＯＰの反転入力端子と出力端子の間には、帰還抵抗Ｒ４とコンデンサＣの並列回路が接続されている。そして、オペアンプＯＰのセンサ出力は、Ａ／Ｄコンバータ回路５３を通過してデジタル化され、ＣＰＵ５４に入力されるようになっている。
【００５１】
なお、ＬＥＤオン／オフ制御回路５１は、発光体５０ａによる発光を制御する発光制御部の一例として機能する。また、ＣＰＵ５４は、発光体５０ａによる発光と受光センサ５０ｂによる受光とを比較する比較部の一例として機能する。
【００５２】
以上説明した電気的構成に基づいて、フォトリフレクタ５０による異物検出の流れについて図７及び図８を用いて詳述する。図７は、異物検出の流れを説明するためのフローチャートである。図８は、異物検出の際、ＣＰＵ５４で検出されるフォトリフレクタ５０のセンサ出力を示す波形図である。なお、図８（ａ）は、スキマー２０がある場合の波形図、図８（ｂ）は、スキマー２０がない場合の波形図、図８（ｃ）は、外部光によって誤検出が生じている場合の波形図、図８（ｄ）は、外部光はあるが誤検出は生じていない場合の波形図を示している。以下では、まず、スキマー２０が取り付けられている場合について説明する。
【００５３】
図７において、まず、検出回数を示す変数のカウントアップが行われる（ステップＳ１）。より具体的には、ＬＥＤオン／オフ制御回路５１は、自己の内部にあるメモリ（ＲＡＭなど）の記憶領域において、変数Ｎｄを１だけカウントアップ（インクリメント）する。これにより、初期値０の変数Ｎｄに１が代入される。
【００５４】
次に、ＬＥＤオン／オフ制御回路５１は、不定（不定期）間隔だけ待機した後（ステップＳ２）、ＬＥＤ点灯処理を行う。より具体的には、ＬＥＤオン／オフ制御回路５１は、例えば自己の内部にある乱数発生器などを利用して、複数のランダムな時間間隔（Ｔ１秒間，Ｔ２秒間，Ｔ３秒間，Ｔ４秒間，・・・）を決定し（メモリに記憶しておき）、その決定された時間間隔のうちで最初の時間間隔（Ｔ１秒間）が経過するまで待機する。その後、最初の時間間隔が経過したと判定した場合には、トランジスタＴＲ１に制御信号（ＯＮ信号）を送信し、トランジスタＴＲ１をオンし、発光体５０ａにコレクタ電流を流す。これにより、発光体５０ａは点灯することになる（ステップＳ３）。
【００５５】
次に、ＬＥＤ点灯回数を示す変数Ｎｏｎのカウントアップが行われる（ステップＳ４）。より具体的には、ステップＳ１と同様にして、自己の内部にあるメモリの記憶領域において、変数Ｎｏｎのカウントアップが行われる。これにより、初期値０の変数Ｎｏｎに１が代入される。
【００５６】
次に、受光センサ５０ｂの出力計測が行われる（ステップＳ５）。より具体的には、ＬＥＤオン／オフ制御回路５１によってＬＥＤが点灯されたとき、ＣＰＵ５４は、オペアンプＯＰ及びＡ／Ｄコンバータ回路５３を介して得られるフォトリフレクタ５０のセンサ出力（デジタルデータ）を検出する。
【００５７】
次に、ステップＳ５で計測されたセンサ出力（出力レベル）が、所定スライスレベル（所定電圧）以上か否かが判断される（ステップＳ６）。より具体的には、ＣＰＵ５４が、所定スライスレベル以上か否かを判断する。
【００５８】
ここで、上述したように、今スキマー２０が取り付けられている場合を考えていることから、ステップＳ６の処理ではＹＥＳの結果が得られる。すなわち、図８（ａ）に示すように、ＬＥＤが最初に点灯（ＯＮ）した直後、ＣＰＵ５４はフォトリフレクタ５０のセンサ出力を検出するが（図中の矢印Ａ参照）、スキマー２０からの反射光があるため、所定スライスレベル以上と判定され、ステップＳ６の処理ではＹＥＳの結果が得られることになる。
【００５９】
次に、ＬＥＤオン／オフ制御回路５１は、不定間隔だけ待機した後（ステップＳ１０）、ＬＥＤ消灯処理を行う（ステップＳ１１）。より具体的には、ＬＥＤオン／オフ制御回路５１は、上述した時間間隔Ｔ２が経過するまで待機し、その後、時間間隔Ｔ２が経過したと判定した場合には、トランジスタＴＲ１への制御信号の送信を止める（すなわちＯＦＦ信号を送信する）。そうすると、トランジスタＴＲ１はオフし、発光体５０ａへコレクタ電流は供給されなくなり、発光体５０ａは消灯することになる（ステップＳ１１）。
【００６０】
次に、ステップＳ４及びステップＳ５と同様にして、ＬＥＤ消灯回数を示す変数Ｎｏｆｆのカウントアップが行われ（ステップＳ１２）、受光センサ５０ｂの出力計測が行われる（ステップＳ１３）。そして、ステップＳ１３で計測されたセンサ出力（出力レベル）が、所定スライスレベル（所定電圧）以下か否かが判断される（ステップＳ１４）。より具体的には、ＣＰＵ５４が、所定スライスレベル以下か否かを判断する。
【００６１】
ここで、上述したように、今スキマー２０が取り付けられている場合を考えていることから、ステップＳ１４の処理ではＹＥＳの結果が得られる。すなわち、図８（ａ）に示すように、ＬＥＤが点灯（ＯＮ）して最初に消灯（ＯＦＦ）した直後、ＣＰＵ５４はフォトリフレクタ５０のセンサ出力を検出するが（図中の矢印Ｂ参照）、スキマー２０からの反射光は消え、また、図８（ａ）では外部光によるレベルシフト（外部光によって、センサ出力全体が一定値だけ上昇すること）は想定していないことから、所定スライスレベル以下と判定され、ステップＳ１４の処理ではＹＥＳの結果が得られることになる。なお、外部光によるレベルシフトがある場合の対応策は、図９を用いて後述する。
【００６２】
次に、検出回数を示す変数Ｎｄが所定の規定値以上か否かが判断される（ステップＳ１８）。より具体的には、ＬＥＤオン／オフ制御回路５１は、変数Ｎｄ（現在の値は１）が、所定の規定値以上か否かを判断する。なお、図７では、所定の規定値として４を採用しているので、最初のステップＳ１８の処理ではＮＯとなり、処理はステップＳ１に移行する。その後、ステップＳ１〜ステップＳ６、ステップＳ１０〜ステップＳ１４、ステップＳ１８の処理が、合計３回繰り返されることになる。ステップＳ５及びステップＳ１３におけるセンサ出力の計測だけに着目すれば、図８（ａ）に示すように、矢印Ａと矢印Ｂが１回目、矢印Ｃ及び矢印Ｄが２回目、矢印Ｅ及び矢印Ｆが３回目、矢印Ｇ及び矢印Ｈが４回目の計測となる。
【００６３】
４回目の計測が終了して、ステップＳ１８の処理でＹＥＳとなった場合（検出回数を示す変数Ｎｄが４となっている場合）、ＣＰＵ５４は、カードリーダ１にスキマー２０が取り付けられていると判定する（ステップＳ１９）。このようにして、スキマー２０が取り付けられていることを検出する。
【００６４】
なお、スキマー２０が取り付けられていると検出した場合には、本実施形態では、上位装置（ＡＴＭなど）に警告を通知する。また、ＣＰＵ５４とＬＥＤオン／オフ制御回路５１とは、適宜情報の送受信が可能となっており、異物検出に必要なデータをやり取りすることは可能である。また、図７に示すフローチャートでは、１回１回フォトリフレクタ５０のセンサ出力が所定スライスレベル以上（或いは以下）か否かを判断しているが（ステップＳ６及びステップＳ１４参照）、例えば、ＣＰＵ５４にメモリ（ＲＡＭなど）を接続し、一旦メモリにデータを蓄積させた後、最後に一括して判断するようにしても構わない。
【００６５】
次に、図７及び図８（ｂ）を用いて、スキマー２０が取り付けられていない場合について説明する。なお、ステップＳ１〜ステップＳ６、ステップＳ１０〜ステップＳ１４の処理の詳細については、上述同様であるので省略する。
【００６６】
図７において、まず、ステップＳ１〜ステップＳ５の処理が行われる。そして、ステップＳ６の処理では、今スキマー２０が取り付けられていない場合を考えていることからＮＯの結果が得られる。すなわち、図８（ｂ）に示すように、ＬＥＤが最初に点灯（ＯＮ）した直後、ＣＰＵ５４はフォトリフレクタ５０のセンサ出力を検出するが（図中の矢印Ａ参照）、スキマー２０からの反射光がないため、所定スライスレベル以下と判定され、ステップＳ６の処理ではＮＯの結果が得られることになる。
【００６７】
次に、ＬＥＤ点灯回数を示す変数Ｎｏｎが所定の規定値以上か否かが判断される（ステップＳ７）。より具体的には、ＬＥＤオン／オフ制御回路５１は、変数Ｎｏｎ（現在の値は１）が、所定の規定値以上か否かを判断する。なお、図７では、所定の規定値として４を採用しているので、最初のステップＳ７の処理ではＮＯとなり、発光体５０ａが消灯した後（ステップＳ９）、処理はステップＳ２に移行する。
【００６８】
その後、ステップＳ２〜ステップＳ６の処理が、合計３回繰り返されることになる。ステップＳ５におけるセンサ出力の計測だけに着目すれば、図８（ｂ）に示すように、矢印Ａが１回目、矢印Ｂが２回目、矢印Ｃが３回目、矢印Ｄが４回目となる。
【００６９】
４回目の計測が終了して、ステップＳ７の処理でＹＥＳとなった場合（ＬＥＤ点灯回数を示す変数Ｎｏｎが４となっている場合）、ＣＰＵ５４は、カードリーダ１にスキマー２０が取り付けられていないと判定する（ステップＳ８）。このようにして、スキマー２０が取り付けられていることを検出する。
【００７０】
次に、図７及び図８（ｃ）を用いて、外部光によって誤検出が生じている場合について説明する。この誤検出は、時間間隔が不定間隔ではなく、定期的な間隔になっている場合に生ずるものである。すなわち、ＬＥＤオン／オフ制御回路５１において、定期的な時間間隔（Ｔ１秒間，Ｔ１秒間，Ｔ１秒間，Ｔ１秒間，・・・）が決定されているものとする。
【００７１】
図８（ｃ）の上段に示すように、外部から（或いは遮光フィルタ１３の隙間から）パルス状の光が受光センサ５０ｂに入射されているものとする。このような状態において、図７に示す処理を実行すると、誤検出が生じることになる。
【００７２】
具体的に説明すると、図８（ｃ）の下段に示すように、フォトリフレクタ５０のセンサ出力は、図８（ｃ）の上段に示す外部光によって、パルス状に変化している。従って、図８（ｃ）の中段において、ＬＥＤが最初に点灯（ＯＮ）した直後（図７の１回目のステップＳ３）、ＣＰＵ５４はフォトリフレクタ５０のセンサ出力を検出するが（図中の矢印Ａ参照）、パルス状の外部光があるため、所定スライスレベル以上と判定され、ステップＳ６の処理ではＹＥＳの結果が得られることになる。その後、図８（ｃ）において、ＬＥＤが点灯（ＯＮ）して最初に消灯（ＯＦＦ）した直後、ＣＰＵ５４はフォトリフレクタ５０のセンサ出力を検出するが（図中の矢印Ｂ参照）、このときパルス状の外部光もオフとなっており（図８（ｃ）上段参照）、また、図８（ｃ）では外部光によるレベルシフトは想定していないことから、所定スライスレベル以下と判定され、ステップＳ１４の処理ではＹＥＳの結果が得られることになる。なお、あとは図８（ａ）を用いて説明した場合と同様に、ステップＳ５及びステップＳ１３におけるセンサ出力の計測では、矢印Ａと矢印Ｂが１回目、矢印Ｃ及び矢印Ｄが２回目、矢印Ｅ及び矢印Ｆが３回目、矢印Ｇ及び矢印Ｈが４回目となる。
【００７３】
このように、図８（ｃ）ではカードリーダ１にスキマー２０が取り付けられていない場合を想定しているにも拘らず、図８（ａ）と同様に、スキマー２０が取り付けられていると誤検出してしまう。そこで、図８（ｄ）に示すように、複数のランダムな時間間隔（Ｔ１秒間，Ｔ２秒間，Ｔ３秒間，Ｔ４秒間，・・・）を用いる。これにより、図８（ｃ）で生じるような誤検出を回避することができるようになる。
【００７４】
より具体的に説明すると、まず、図８（ｄ）の上段に示すように、外部から（或いは遮光フィルタ１３の隙間から）パルス状の光が受光センサ５０ｂに入射されているものとする。センサ出力の１回目の計測時、すなわち図７の１回目のステップＳ５及びステップＳ１３の処理の際（図８（ｄ）に示す矢印Ａ及び矢印Ｂ参照）には、それぞれ所定スライスレベル以上及び所定スライスレベル以下となるため、処理はステップＳ１に移行する。
【００７５】
ところが、センサ出力の２回目の計測時、すなわち図７の２回目のステップＳ５及びステップＳ１３の処理の際（図８（ｄ）に示す矢印Ｃ及び矢印Ｄ参照）には、計測されたセンサ出力は所定スライスレベル以下とならない（図８（ｄ）に示す矢印Ｄ参照）。これにより、２回目のステップＳ１４の処理でＮＯの結果が得られることから、２回目のステップＳ１４の処理の後、ステップＳ１８ではなくステップＳ１５の処理に移行する。
【００７６】
従って、例えば、ＬＥＤ点灯回数を示す変数Ｎｏｆｆに関する規定値を１としておけば、この段階でステップＳ１６の処理に移行し、スキマー２０は取り付けられていないという正しい検出を行うことが可能になる。なお、ここでは上述の規定値を１としたが、これが２以上であっても構わない。
【００７７】
以上説明したように、図７及び図８によれば、カードリーダ１にスキマー２０が取り付けられているか否かを正確に判定することができる。特に、図８（ｄ）を用いて説明したように、発光体５０ａをランダム（又は擬似ランダム）の時間間隔で点滅発光させる一方で、受光センサ５０ｂが発光体５０ａの点滅発光と一致する時間間隔で非可視光を受光した場合に、フロントパネルの外側に異物が取り付けられたと判定することとしたので、パルス状の外部光が受光センサ５０ｂに入射されたとしても、的確に異物検出を行うことができる。
【００７８】
次に、外部から太陽光などの等連続レベル（定常状態）の光が（例えば遮光フィルタ１３の隙間から）入射して、かつ、スキマー２０が取り付けられている場合を考える。この場合、フォトリフレクタ５０のセンサ出力は、全体的に外部光の分だけレベルシフトされる（外部光によりセンサ出力全体が一定値だけ上昇する）。従って、ＬＥＤを消灯した際の受光センサ５０ｂの出力計測（図７のステップＳ１３）が正しくできない場合がある。そこで、図７のステップＳ６及びステップＳ１４において判断基準にしている所定スライスレベルを変更する更新処理を行うことを考える。
【００７９】
図９は、スライスレベルを更新させる様子を示す波形図である。特に、図９（ａ）は、発光体５０ａの点灯タイミングを示す波形図であって、図９（ｂ）は、スライスレベル更新前の波形図であって、図９（ｃ）は、スライスレベル更新後の波形図である。また、図１０は、スライスレベルを更新させる際の情報処理の流れを示すフローチャートである。
【００８０】
図７及び図９（ｂ）において、図７の１回目のステップＳ５及びステップＳ１３の処理（出力計測）の際（図９（ｂ）に示す矢印Ａ及び矢印Ｂ参照）に、前者は、所定スライスレベル（スライスレベルＰ）以上となるが、後者は、外部光によるレベルシフトが原因で所定スライスレベル（スライスレベルＱ）以下とならない（図９（ｂ）参照）。従って、前者は、ステップＳ６の判断処理において、ステップＳ１０に処理が移行するが（ステップＳ６：ＹＥＳ）、後者は、ステップＳ１４の判断処理において、ステップＳ１８ではなくステップＳ１５に処理が移行することになる（ステップＳ１４：ＮＯ）。そして、このステップＳ１４からステップＳ１５への移行が所定回数だけ繰り返されると、最終的に、ステップＳ１５の判断処理においてＹＥＳとなり、カードリーダ１にはスキマー２０が取り付けられていないと判定されてしまうが（ステップＳ１６）、これは、誤検出である。
【００８１】
そこで、図７に示すフローチャートで「検査開始」の前に、図１０に示す情報処理（所定スライスレベルの更新処理）を行う。具体的には、まず、ＬＥＤを消灯した後（ステップＳ２１）、受光センサの出力を計測する（ステップＳ２２）。
【００８２】
ここで、センサ出力が書き換え可能なレベルか否かが判断される（ステップＳ２３）。具体的には、スライスレベルの更新で外部光によるレベルシフトに対応できる程度かどうかが判断される。センサ出力が書き換え可能なレベルではない場合、すなわち外部光の入射があまりに大きい場合には、スキマー２０は取り付けられていないと判定し、検出ルーチンを終了する（ステップＳ２４）。一方で、出力が書き換え可能なレベルである場合には、スライス値（スライスレベル）が更新される（ステップＳ２５）。
【００８３】
具体的には、図９（ｃ）に示すように、受光センサ５０ｂの出力計測が行われる前のタイミングＯにおいて、スライスレベルが更新される。これにより、ＯＮと判定するスライスレベルＰ（図９（ｂ）参照）はスライスレベルＲ（図９（ｃ）参照）になり、ＯＦＦと判定するスライスレベルＱ（図９（ｂ）参照）はスライスレベルＳ（図９（ｃ）参照）になる。その結果、スライスレベル更新前の波形図では、矢印Ｂ，矢印Ｄ，矢印Ｆ，矢印Ｈの出力計測で誤検出（「判定ＮＧ」）となっていたものが（図９（ｂ）参照）、スライスレベル更新後の波形図では、矢印Ｂ，矢印Ｄ，矢印Ｆ，矢印Ｈの出力計測で正常検出（「判定ＯＫ」）となる（図９（ｃ）参照）。
【００８４】
このようにして、スライスレベルを適当な値に更新した後に（図１０のステップＳ２５）、出力計測が行われるようにしておけば（図１０のステップＳ２６）、カードリーダ１にスキマー２０が取り付けられているにも拘らず、外部光の悪影響で取り付けられていないと判定されてしまうのを防ぐことができる。
【００８５】
図１１は、フォトリフレクタ５０の故障診断についての概要を説明するための概要図である。
【００８６】
図１１において、発光体（ＬＥＤ）５０ａ及び受光センサ（フォトセンサ）５０ｂの前方には、カバー３０（図１での遮光フィルタ１３）が配置されている。このカバー３０（図１での遮光フィルタ１３）は、赤外線を透過する材質を用いて作成しているが、僅かにカバー３０（図１での遮光フィルタ１３）での反射光が存在する。従って、この反射光を受光センサ５０ｂによって検出することで、故障診断することができる。
【００８７】
図１２は、フォトリフレクタ５０の故障診断を行う際の情報処理の流れを示すフローチャートである。
【００８８】
図１２において、例えば装置電源の立ち上げ時や不定期時に、まず発光体（ＬＥＤ）５０ａを点灯させる（ステップＳ３１）。その直後、受光センサ５０ｂのセンサ出力を計測する（ステップＳ３２）。このときの計測値をＳ１とする。次に、発光体５０ａを消灯させる（ステップＳ３３）。その直後、受光センサ５０ｂのセンサ出力を計測する（ステップＳ３４）。このときの計測値をＳ０とする。なお、ステップＳ３１及びステップＳ３３の発光体制御については、上述同様ＬＥＤオン／オフ制御回路５１が行い、ステップＳ３２及びステップＳ３４の出力計測については、上述同様ＣＰＵ５４が行う。
【００８９】
ここで、計測値（Ｓ１−Ｓ０）が規定値以上か否かがＣＰＵ５４によって判断される。Ｓ１―Ｓ０という減算処理を行うのは、外部光の悪影響（レベルシフト）をキャンセルするためである。規定値以上と判定された場合には、発光体５０ａのオン・オフに応じて受光センサ５０ｂのセンサ出力が正常に計測されていることから、正常と判断して自己診断を終了する（ステップＳ３７）。一方で、規定値に達しないと判定された場合（発光体５０ａをオンしたときもオフしたときも、受光センサ５０ｂのセンサ出力がほとんど変わらない場合）には、センサ故障が発生したと判定して上位装置にアラームを送信する（ステップＳ３６）。
【００９０】
このように、発光体５０ａを発光させて、受光センサ５０ｂの受光出力（センサ出力）が規定値以下である場合に（ステップＳ３５：ＮＯ）、自己に異常が発生したと判定することとしたので、カードリーダ１に受光センサ５０ｂの故障自己診断機能を付加することができる。
【００９１】
［実施形態の効果］
以上、図１（ａ）〜図１２を用いて説明したように、カードリーダ１では、スキマー２０を検知するセンサとして、フォトリフレクタ５０を、フロントパネル１０の少なくとも一部に設けられた遮光フィルタ１３よりも装置内部側に配置したので、外部からフォトリフレクタ５０を視認するのが困難になり、ひいては不正読取防止機能（セキュリティ性）を向上することができる。また、フォトリフレクタ５０をスキマー２０内の磁気ヘッド２１（図３参照）の位置に合わせて配置しているので、スキマー２０の検出精度を向上させることができる。また、フォトリフレクタ５０では赤外光が発光するようにしているので、犯罪者はセンサ光を肉眼で認識できず、センサの存在に気付かれるのを防ぐことができる。また、開口１０ａの下部全体を遮光フィルタ１３とすることによって、センサの存在に気付かれるのをより確実に防ぐことができる。さらに、図７〜図１０を用いて説明したように、外部光（パルス状の外部光や等連続レベルの外部光）の悪影響を防ぐこともできるし、図１１及び図１２を用いて説明したように、故障自己診断機能を発揮することもできる。
【００９２】
［変形例］
上述したカードリーダ１では、発光体５０ａを装置（遮光フィルタ１３）の内部に設けることとしたが、例えば、装置の外部に設けても構わない。すなわち、遮光フィルタ１３は非可視光を透過させるとともに、フォトリフレクタ５０は非可視光を受光する受光センサ５０ｂより構成され、装置の外部に非可視光発光体５０ａを設けてもよい。これにより、上述同様に不正読取防止機能を向上しつつ、発光体５０ａの取り替えが容易になる。
【００９３】
また、上述したカードリーダ１では、磁気カードが挿入される磁気カード挿入待機状態に、異物検出を行うこととしているが、勿論、磁気カードの挿入を検知する度に、異物検出を行うようにしてもよい。これにより、より頻繁に異物検出が行われるようになり、ひいてはセキュリティ性を向上させることができる。
【００９４】
また、上述したカードリーダ１では、ＣＰＵ５４が異物（スキマー２０）を検出した場合に、上位装置に警告を通知することとしたが、例えば、取り込まれた磁気カードを排出する前に、図示しないディスプレイなどを使用して、磁気カードの情報が不正に読取られた旨の警告を利用者に通知することとしてもよいし、また、磁気カードに対する処理を中止することとしてもよい。例えば、シャッタ１８をクローズにしたままにしてもよい。これにより、磁気カードがカードリーダ１内に完全に挿入することはないため、磁気カードに記録された情報が完全に読み取られるのを防ぐことができる。
【００９５】
また、上述したカードリーダ１は、モータ式のカードリーダであるが、例えば、ＤＩＰ式のカードリーダに適用しても構わない。図１３は、フォトリフレクタ５０をＤＩＰ式のカードリーダ１Ａに取り付けた様子を示す図である。この場合も、カードリーダ１と同様に、フォトリフレクタ５０による検出領域は、磁気ストライプの通過経路に対峙した領域である。なお、その配置される位置はプリヘッドの前方が好ましい（図１３参照）。
【００９６】
なお、図１３に示すＤＩＰ式のカードリーダだけでなく、例えば、スワイプ型のカードリーダに実装することとしてもよい。図１４は、フォトリフレクタ５０をスワイプ式のカードリーダ１Ｂに取り付けた様子を示す図である。この場合、フォトリフレクタ５０は、カードスワイプ方向の挿入側であって、しかも、磁気ヘッドが実装される側に配置されることになる（図１４参照）。
【産業上の利用可能性】
【００９７】
本発明に係る媒体処理装置は、不正読取防止機能を向上させるとともに、外光に起因した誤検出を減らして信頼性を高めることが可能なものとして有用である。
【図面の簡単な説明】
【００９８】
【図１】本発明の実施の形態に係るカードリーダの機械構成を示す斜視図である。
【図２】図１に示すカードリーダを正面から見たときの正面図及びこれを上から見たときの平面図である。
【図３】図１に示すカードリーダを、遮光フィルタ及びスキマーを含むように縦に切断したときの縦断面図である。
【図４】図１に示すカードリーダにおいて、遮光フィルタを嵌め込む様子を示す図である。
【図５】遮光フィルタの他の配置形態を示す図である。
【図６】フォトリフレクタ周辺の電気回路を示すブロック図である。
【図７】異物検出の流れを説明するためのフローチャートである。
【図８】異物検出の際、ＣＰＵで検出されるフォトリフレクタのセンサ出力を示す波形図である。
【図９】スライスレベルを更新させる様子を示す波形図である。
【図１０】スライスレベルを更新させる際の情報処理の流れを示すフローチャートである。
【図１１】フォトリフレクタの故障診断についての概要を説明するための概要図である。
【図１２】フォトリフレクタの故障診断を行う際の情報処理の流れを示すフローチャートである。
【図１３】フォトリフレクタをＤＩＰ式のカードリーダに取り付けた様子を示す図である。
【図１４】フォトリフレクタをスワイプ式のカードリーダに取り付けた様子を示す図である。
【符号の説明】
【００９９】
１  カードリーダ
１０  フロントパネル
１０ａ  開口
１１  搬送ローラ材
１２  シャッタソレノイド
１３  遮光フィルタ
１４  シャッタ開閉スイッチ
１５  幅検知スイッチ
１６  取り込みローラ
１７  プリヘッド
１８  シャッタ
５０  フォトリフレクタ
５０ａ  発光体
５０ｂ  受光センサ
【図１】
2007265189.tif 000003
【図２】
2007265189.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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