(57)【要約】【課題】液晶素子を備える光ディスク装置において、液晶素子の故障を発見でき、液晶素子の故障に伴う光ディスク装置の構成部品や光記録媒体の損傷を防止できる光ディスク装置を提供する。【解決手段】光ディスク装置１は、印加電圧に応じて屈折率が変化する液晶素子を備えている。光ディスク装置には、液晶素子に印加する駆動電圧を変化させた時に、光記録媒体１７で反射された反射光を受光する光検出手段で電気信号として検出される光量に関して得られる光量情報と、記憶手段に予め記憶される液晶素子が正常な状態である場合についての所定の情報と、に基づいて液晶素子が故障しているか否かを判定する故障判定手段１５が設けられる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源と、
該光源から出射される光ビームを光記録媒体の記録面に集光し、前記記録面で反射される反射光を所定の受光位置まで導く光学系と、
前記光学系中に配置されて印加される駆動電圧に応じて屈折率が変化する液晶素子と、
前記所定の受光位置に配置されて前記反射光を受光する光検出手段と、
情報を記憶する記憶手段と、
を備える光ディスク装置において、
前記液晶素子に印加する駆動電圧を変化させた時に、前記光検出手段で電気信号として検出される光量に関して得られる光量情報と、
前記記憶手段に予め記憶される所定の情報と、
に基づいて前記液晶素子が故障しているか否かを判定する故障判定手段を設けたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記光量情報には、前記駆動電圧を或る駆動電圧から他の駆動電圧に変化してから、前記光量が安定するまでの時間である安定化時間の情報が含まれ、
前記所定の情報には、前記液晶素子が正常な状態である場合の前記安定化時間の情報が含まれ、
前記故障判定手段は、前記光量情報としての前記安定化時間と、前記記憶手段に記憶される前記安定化時間と、の比較により前記液晶素子が故障しているか否かを判断することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記光量情報には、前記駆動電圧を或る駆動電圧から他の駆動電圧に変化した場合における前記光量の変化率の情報が含まれ、
前記所定の情報には、前記液晶素子が正常な状態である場合における前記光量の変化率の情報が含まれ、
前記故障判定手段は、前記光量情報としての前記光量の変化率と、前記記憶手段に記憶される前記光量の変化率と、の比較により前記液晶素子が故障しているか否かを判断することを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記故障判定手段によって前記液晶素子が故障していると判断された場合には、前記光源からの光ビームを前記光記録媒体の記録面に集光する対物レンズのフォーカス位置を、前記記録面に追従するように制御するフォーカス制御を行わないことを特徴とする請求項１から請求項３のうちのいずれか１項に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記故障判定手段によって前記液晶素子が故障していると判定された場合に、故障を外部に知らせる故障通報手段を設けたことを特徴とする請求項１から請求項４のうちのいずれか１項に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光記録媒体の情報の記録再生に用いられる光ディスク装置に関し、特に印加電圧に応じて屈折率を変化させる液晶素子を備える光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
コンパクトディスク（以下、ＣＤという。）やデジタル多用途ディスク（以下、ＤＶＤという。）といった光記録媒体が普及している。更に、近年、光記録媒体の情報量を増やすために、光記録媒体の高密度化に関する研究が進められ、例えばブルーレイディスク（以下、ＢＤという。）等の高密度化された光記録媒体も実用化されつつある。このような光記録媒体の記録再生は、光源から光ビームを光記録媒体に照射して情報の読み取りや記録を行う光ピックアップを備える光ディスク装置によって行われる。
【０００３】
ところで、光記録媒体の種類が異なると、光記録媒体の記録面を保護する保護層の厚さが異なる場合がある。例えば、ＣＤ、ＤＶＤ、ＢＤの保護層の厚みは、順に１．２ｍｍ、０．６ｍｍ、０．１ｍｍと異なる。このため、複数種類の光記録媒体に対応する光ディスク装置においては、光記録媒体によって保護層の厚みの違いによって生じる球面収差により、情報の記録再生品質が劣化するという問題が起こる場合がある。また、ＢＤ等の高密度化された光記録媒体に対応する光ピックアップ装置においては、開口数（ＮＡ）の大きな対物レンズを用いるのが一般的であるが、球面収差はＮＡの４乗に比例して増加するために、保護層のばらつきによって生じる球面収差の影響も無視できなくなる。
【０００４】
更に、高密度の光記録媒体に対応するために、対物レンズの開口数を大きくして短波長の光ビームを用いると、情報の記録再生の際に光記録媒体が傾いて光記録媒体の法線方向に対する光ビームの入射角が傾いた場合に、コマ収差の影響が無視できなくなる。
【０００５】
このため、球面収差やコマ収差等の波面収差を補正する目的で、光ディスク装置が備える光ピックアップの光学系中に液晶素子を配置し、液晶素子に印加する電圧を制御することで液晶素子を通過する光ビームの位相を制御し、波面収差の補正を行う光ディスク装置が、従来から知られている。
【０００６】
また、以上とは異なる目的で、回折光学素子として液晶素子を光ピックアップの光学系中に配置する光ピックアップも、従来知られている。
【０００７】
しかし、波面収差の補正や光の回折を行うこと等を目的として、光ディスク装置に用いられる液晶素子は、光ディスク装置の作動時において、適宜、その駆動をオンオフされたり、印加する電圧値を変化されたりして用いられる部材であるために、故障を起こす可能性がある。そして、液晶素子に故障が発生した場合、光ディスク装置の記録再生の品質が劣化するのはもちろんのこと、その他に、例えば、光源から出射される光ビームを光記録媒体に集光する対物レンズのフォーカス制御が正常に行えなくなり、対物レンズと光記録媒体の衝突が起こる等の危険性があった。
【０００８】
この点、特許文献１には、光源から出射される出射光の光量の異常を検出し、光ディスク装置の構成部品の損壊を防止する技術が提案されているが、液晶素子の故障を検出できる構成のものではない。その他、液晶素子の故障を検出する技術の報告はほとんどなく、液晶素子の故障に伴う光記録媒体や光ディスク装置の構成部品の損傷といった問題を解決できる技術の報告は見られない。
【特許文献１】特許第３４８９１９３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
以上の点を鑑みて、本発明の目的は、液晶素子を備える光ディスク装置において、液晶素子の故障を発見でき、液晶素子の故障に伴う光ディスク装置の構成部品や光記録媒体の損傷を防止できる光ディスク装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するために本発明は、光源と、該光源から出射される光ビームを光記録媒体の記録面に集光し、前記記録面で反射される反射光を所定の受光位置まで導く光学系と、前記光学系中に配置されて印加される駆動電圧に応じて屈折率が変化する液晶素子と、前記所定の受光位置に配置されて前記反射光を受光する光検出手段と、情報を記憶する記憶手段と、を備える光ディスク装置において、前記液晶素子に印加する駆動電圧を変化させた時に、前記光検出手段で電気信号として検出される光量に関して得られる光量情報と、前記記憶手段に予め記憶される所定の情報と、に基づいて前記液晶素子が故障しているか否かを判定する故障判定手段を設けたことを特徴としている。
【００１１】
また、本発明は、上記構成の光ディスク装置において、前記光量情報には、前記駆動電圧を或る駆動電圧から他の駆動電圧に変化してから、前記光量が安定するまでの時間である安定化時間の情報が含まれ、前記所定の情報には、前記液晶素子が正常な状態である場合の前記安定化時間の情報が含まれ、前記故障判定手段は、前記光量情報としての前記安定化時間と、前記記憶手段に記憶される前記安定化時間と、の比較により前記液晶素子が故障しているか否かを判断することを特徴としている。
【００１２】
また、本発明は、上記構成の光ディスク装置において、前記光量情報には、前記駆動電圧を或る駆動電圧から他の駆動電圧に変化した場合における前記光量の変化率の情報が含まれ、前記所定の情報には、前記液晶素子が正常な状態である場合における前記光量の変化率の情報が含まれ、前記故障判定手段は、前記光量情報としての前記光量の変化率と、前記記憶手段に記憶される前記光量の変化率と、の比較により前記液晶素子が故障しているか否かを判断することを特徴としている。
【００１３】
また、本発明は、上記構成の光ディスク装置において、前記故障判定手段によって前記液晶素子が故障していると判断された場合には、前記光源からの光ビームを前記光記録媒体の記録面に集光する対物レンズのフォーカス位置を、前記記録面に追従するように制御するフォーカス制御を行わないことを特徴としている。
【００１４】
また、本発明は、上記構成の光ディスク装置において、前記故障判定手段によって前記液晶素子が故障していると判定された場合に、故障を外部に知らせる故障通報手段を設けたことを特徴としている。
【発明の効果】
【００１５】
本発明の第１の構成によれば、光ディスク装置を用いて記録再生動作を行う前に、液晶素子の故障を検出することが可能となり、液晶素子の故障に伴う光ディスク装置の構成部品や光記録媒体の損傷を防止することが可能となる。
【００１６】
また、本発明の第２の構成によれば、上記第１の構成の光ディスク装置において、液晶素子の故障を検出する構成を容易に実現できる。
【００１７】
また、本発明の第３の構成によれば、上記第１又は第２の構成の光ディスク装置において、液晶素子の故障を検出する構成を容易に実現できる。
【００１８】
また、本発明の第４の構成によれば、上記第１から第３のいずれかの構成の光ディスク装置において、液晶素子の故障に伴うフォーカス制御の動作異常に伴う、対物レンズ等と光記録媒体が衝突するのを確実に防ぐことが可能となる。
【００１９】
また、本発明の第５の構成によれば、上記第１から第４のうちのいずれかの構成の光ディスク装置において、液晶素子の故障を外部から検知できるために、液晶素子の故障に対する処置を施し易い。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下に本発明の内容を詳細に説明するが、ここで示す実施形態は一例であり、本発明はここに示す実施形態に限定されるものではない。
【００２１】
図１は、本実施形態の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。光ディスク装置１は、光記録媒体１７の情報の再生、及び光記録媒体１７への情報の記録を行うことができる。２は、スピンドルモータであり、光記録媒体１７は、このスピンドルモータ２の上部に設けられるチャック部（図示せず）に着脱可能に保持される。そして、光記録媒体１７の情報の記録再生を行う際に、スピンドルモータ２は光記録媒体１７を連続回転する。スピンドルモータ２の回転制御は、スピンドルモータ制御部３によって行われる。
【００２２】
４は、光ピックアップであり、光源から出射される光ビームを光記録媒体１７に照射し、光記録媒体１７への情報の書き込みと、光記録媒体１７に記録されている情報の読み取りを可能とする。図２は、光ピックアップ４の光学系を示す概略図である。図２に示すように、光ピックアップ４においては、光源１８から出射された光ビームは、コリメートレンズ１９で平行光となり、ビームスプリッタ２０を透過し、立ち上げミラー２１で反射されてその光軸が光記録媒体１７の記録面１７ａと略垂直とされ、液晶素子２２を通過して対物レンズ２３によって光記録媒体の情報が記録される記録面１７ａに集光される。
【００２３】
光記録媒体１７で反射された反射光は、対物レンズ２３、液晶素子２２の順に通過し、立ち上げミラー２１で反射された後、更にビームスプリッタ２０で反射されて集光レンズ２４によって光検出器２５の受光部（図示せず）に集光される。光検出器２５は受光した光ビームが有する光情報を電気信号に変換する。
【００２４】
本実施形態の光ピックアップ４は液晶素子２２を備えているが、この液晶素子２２は、球面収差の補正を行うように構成されている。以下、本実施形態の液晶素子２２の構成について説明しておく。図３は、光ピックアップ４が備える液晶素子２２の構成を説明するための図で、図３（ａ）は、液晶素子２２の構成を示す概略断面図で、図３（ｂ）は、図３（ａ）の液晶素子２２を上面から見た平面図である。
【００２５】
図３（ａ）に示すように、液晶素子２２は、液晶２６と、液晶２６を挟む２枚の透明電極２７ａ、２７ｂと、液晶２６と透明電極２７ａ、２７ｂで形成される部分２８を挟む２枚のガラス板２９と、を備えている。また、図３（ｂ）に示すように、液晶素子２２を構成する透明電極２７ａは同心円状の複数の領域３１ａ〜３１ｆに分割されている。一方、透明電極２７ａに対向する透明電極２７ｂは分割されることなく、全体で一つの共通電極となっている。
【００２６】
なお、透明電極２７ｂも透明電極２７ａと同一の同心円状の複数の領域としても構わない。また、透明電極２７ａを分割して形成される領域の数（本実施形態では、６つとしている）は、本実施形態の構成に限らず、必要に応じて自由に変更されるものである。
【００２７】
このように構成される液晶素子２２の透明電極２７ａ、２７ｂに駆動電圧を印加した場合、液晶２６がその配向方向を変化して屈折率の変化を生じ、液晶素子２２を通過する光ビームは、液晶素子２２に印加される駆動電圧に応じて位相差を生じる。そして、液晶素子２２の透明電極２７ａは、上述のように複数に分割された構成となっているために、各領域３１ａ〜３１ｆに印加する電圧を調整することで、液晶素子２２を通過する光ビームに対して所望の位相差を発生し、球面収差の補正を適切に行うことが可能となる。
【００２８】
なお、透明電極２７ａ、２７ｂは、配線３０によって液晶素子制御部６（図１参照）に備えられる液晶素子駆動回路（図示せず）と電気的に接続されており、この液晶素子制御部６により液晶素子２２に印加される駆動電圧がコントロールされる。また、以下においては、駆動電圧（液晶素子２２を駆動する電圧）なる用語は、特に断りがない場合には、各領域３１ａ〜３１ｆにおいて独自に印加される電圧を一纏めにして、液晶素子２２に印加する電圧という意味で使用する。
【００２９】
図１に戻って、光ディスク装置１には信号処理部８が設けられており、この信号処理部８は、少なくともＲＦ信号処理部９とトラックエラー信号処理部１０とフォーカスエラー信号処理部１１とを含んでいる。そして、光検出器２５（図２参照）で変換された電気信号に基づいて、ＲＦ信号、トラックエラー信号（ＴＥ信号）、フォーカスエラー信号（ＦＥ信号）を生成する。ＲＦ信号はデータ復調部１２でデータに復調され、図示しないインターフェースを介してパソコン等の外部機器に出力される。
【００３０】
ＴＥ信号及びＦＥ信号は、アクチュエータ制御部７に出力される。アクチュエータ制御部７は、これらの信号に基づいて、対物レンズ２３を移動可能とする図示しないアクチュエータに駆動信号を供給する。駆動信号が供給されたアクチュエータは、信号に基づいて各部を作動させて、対物レンズ２３を光軸と平行な方向に移動して、光記録媒体１７の記録面にフォーカスを追従させるフォーカス制御や対物レンズ２３を光記録媒体１７の半径方向と平行な方向に移動して光ビームのスポット位置を光記録媒体１７に形成されるトラック位置に追従させるトラッキング制御を行う。
【００３１】
その他、レーザ制御部５は、光ピックアップ４に備えられる半導体レーザから成る光源１８（図２参照）のレーザ出力を制御する。また、全体制御部１３は、スピンドルモータ制御部３、レーザ制御部５、液晶素子制御部６、アクチュエータ制御部７、信号処理部８、データ復調部１２、制御に必要な情報を記憶する記憶手段１４、液晶素子２２が故障しているか否かを判定する故障判定手段１５、及び故障判定手段１５によって液晶素子２２が故障していると判定された場合に外部に故障を通報する故障通報手段１６等を制御して、装置全体のコントロールを行う。故障判定手段１５及び故障通報手段１６については後述する。
【００３２】
上述したように、光ディスク装置１に備えられる液晶素子２２は故障することがあるが、この液晶素子２２の故障のパターンは２種類存在する。これについて、図４及び図５を用いて説明する。なお、図４及び図５は、いずれも液晶素子２２の故障のパターンを説明するために模式的に示したグラフで、横軸が時間、縦軸が光検出器２５で得られる光量となっている。
【００３３】
なお、ここで言う光量は、厳密には光検出器２５で受光される反射光（光記録媒体１７からの）の光量を電気信号の形で得た量のことである。そして、光量を示す電気信号としては、例えば、ＲＦ信号や、光源１８から出射される光ビームを光記録媒体１７に形成されるトラックを横断させた場合に得られるトラックエラー信号（ＴＥ信号）等が用いられる。また、ＲＦ信号等の電気信号が定常状態で一定値とならない（一定の周期を持って振動している場合等）場合には、その最大値等が代表値として用いられる。以下においても、光量はここで述べた内容と同一である。
【００３４】
まず、図４の場合の故障パターン（第１パターン）について説明する。液晶素子２２に印加する駆動電圧を変化した場合、液晶２６（図３参照）の配向方向は駆動電圧の変化によって瞬時に変化する訳ではなく、ある程度の時間を要して変化する。このため、図４の時間ｔ0で、液晶素子２２に印加する駆動電圧を変更した場合、光検出器２５で得られる光量が別の値（Ｐ1）となって安定するまでには一定の時間が必要となる。この光量が安定するまでの時間である安定化時間は、液晶素子２２の状態に変化がなければ一定の値で、例えば安定化時間は（ｔ1−ｔ0）となる。一方、液晶素子２２の状態に変化が生じると、光量が安定するまでの安定化時間も変化し、例えば（ｔ2−ｔ0）となる場合がある。
【００３５】
すなわち、液晶素子２２が故障するパターンとして、液晶素子２２に駆動電圧を印加してから定常状態になるまでの時間（応答時間）の変化というものがある。そして、このように液晶素子２２の応答時間が変化すると、例えば、対物レンズ２３のフォーカス制御について動作異常が起こり、対物レンズ２３と光記録媒体１７の衝突等で、装置内の構成部品や光記録媒体１７に損傷が生じる。なお、この応答時間の変化による液晶素子２２の故障パターンとしては、正常時に比べて、駆動電圧に対する応答時間が速くなる場合と遅くなる場合があるが、応答性が悪くなる場合について特に問題となりやすい。
【００３６】
次に、図５の場合の故障パターン（第２パターン）について説明する。液晶素子２２に印加する駆動電圧を変化させると、液晶素子２２が有する液晶２６の配向状態が変化し、液晶素子２２を通過する光ビームの位相に変化が生じるために、光検出器２５で検出される光量に変化が生じる（図５において、例えばＰ0からＰ2に光量が変化）。液晶素子２２の状態に変化がなければ、同じように駆動電圧を変化すれば、光量の変化量は基本的に常に一定（例えばＰ2−Ｐ0）となる。一方、液晶素子２２の状態に変化が生じると、同一の駆動電圧を印加した場合における駆動電圧の変化に伴う光量の変化量が変化する場合がある（例えば、Ｐ1−Ｐ0）。
【００３７】
すなわち、液晶素子２２が故障するパターンとして、液晶素子２２に印加する駆動電圧を同一としても、液晶２６の配向状態が同じとならない（駆動電圧に対する液晶２６の配向性が変化する）というものがある。そして、このように液晶素子２２の駆動電圧に対する配向性が変化すると、液晶素子２２による球面収差の補正が的確に行えなくなり、光ディスク装置１による記録再生の品質が低下する。また、対物レンズ２３のフォーカス制御について動作異常が起こり、対物レンズ２３と光記録媒体１７の衝突等で、装置内の構成部品や光記録媒体１７に損傷が生じる等も起こる。
【００３８】
なお、この駆動電圧に対する液晶２６の配向性の変化による液晶素子２２の故障パターンとしては、正常時に比べて、駆動電圧変化時の光量変化の変化量が大きくなる場合も小さくなる場合もある。
【００３９】
以上、液晶素子２２の故障パターンについて２種類説明したが、液晶素子２２の故障には、第１パターンと第２パターンの故障が両方発生する場合も当然ある。
【００４０】
本発明の液晶素子２２の故障判定手段１５（図１参照）は、液晶素子２２に、上述の２つの故障パターン（第１及び第２パターン）があることを考慮して、液晶素子２２の故障を発見できるようになっている。以下、故障判定手段１５の働きを図６、図７に示すフローチャートを用いて説明する。なお、図６は、第１パターンの液晶素子２２の故障を発見するための故障判定手段１５の動作を示すフローチャートで、図７は、第２パターンの液晶素子２２の故障を発見するための故障判定手段１５の動作を示すフローチャートである。
【００４１】
故障判定手段１５による液晶素子２２の故障判定は、光ディスク装置１による記録再生が行われていない場合であれば基本的にいつ行われても構わず、例えば、光ディスク装置１の起動時や光記録媒体１７の情報の記録再生動作が終了した後などに適宜行われる。ただし、本発明においては、光記録媒体１７からの反射光の光量情報を用いて、液晶素子２２の故障の判定を行う構成であるために、光ディスク装置１に光記録媒体１７が挿入されていることが必要となる。
【００４２】
本実施形態においては、故障判定手段１５は、第１パターンの故障の検出、第２パターンの故障の検出という順番に行う構成となっている。なお、この順番は逆にしても当然構わない。まず、図６を用いて、故障判定手段１５による第１パターンの故障の判定動作について説明する。
【００４３】
故障判定手段１５から液晶素子２２の故障判定を行うように指示が出されると、液晶素子２２に第１の駆動電圧が印加される（ステップＳ１）。なお、この第１の駆動電圧は、特に限定されるものではなく、基本的に任意の電圧で構わない。ただし、液晶素子２２が正常であっても、印加電圧の変更によって屈折率に変化が生じないような範囲の電圧は除かれる。
【００４４】
第１の駆動電圧を印加後、光検出器２５で得られる光量が安定したか否かが確認される（ステップＳ２）。ここで、光量が安定するのを待つのは、液晶素子２２に上述の応答時間が存在するためで、光量が安定するまで次にステップには進まない。光量が安定すると、時間ｔ0を記憶手段１４に記憶し、それと同時に第２の駆動電圧を印加する（ステップＳ３）。
【００４５】
なお、この第２の駆動電圧は、特に限定されるものではないが、第１の駆動電圧と同様、液晶素子２２が正常であっても、印加電圧の変更によって屈折率に変化が生じないような範囲の電圧は除かれる。また、第１の駆動電圧に近い駆動電圧であると、第１の駆動電圧と第２の駆動電圧における差が光量情報として検出できなくなるので、第１の駆動電圧を参考に決められる。
【００４６】
その後、再度光検出器２５で得られる光量が安定したか否かが確認される（ステップＳ４）。光量が安定していない場合は、ステップＳ４が繰り返される。そして、光量の安定が確認されると時刻ｔ1が記憶手段１４に記憶される（ステップＳ５）。次に、液晶素子２２に印加する駆動電圧の変更が行われてから光検出器２５で検出される光量が安定するまでの時間である安定化時間Ｔ（＝ｔ1−ｔ0）が算出される（ステップＳ６）。
【００４７】
次に、記憶手段１４から、正常な液晶素子２２についての前述の安定化時間Ｔ0が読み出され（ステップＳ７）、先の安定化時間Ｔとの差の絶対値Ａ（＝｜Ｔ−Ｔ0｜）が算出される（ステップＳ８）。なお、この安定化時間Ｔ0は、正常な液晶素子２２を用いて、予め第１の駆動電圧から第２の駆動電圧に変化した時の安定化時間を測定して記憶手段１４に記憶させておいたものである。
【００４８】
そして、ステップＳ８で求めた差の絶対値Ａが、所定の値より大きいか否かが確認される（ステップＳ９）。ここで、所定の値は、例えば液晶素子２２の状態が正常な状態であるとみなせる上限値として定められるものであり、光ディスク装置１の設計等を考慮して予め実験等によって決められる値である。
【００４９】
絶対値Ａが所定の値より大きい場合には、液晶素子２２は故障していると判定され、故障信号が故障判定手段１５から全体制御部１３に出力される（ステップＳ１０）。一方、絶対値Ａが所定の値より小さい場合には、第１パターンの故障は起こしていないが、第２パターンの故障を起こしている可能性があるために、図７に示すフローチャートに従って、故障判定手段１５による故障の判定が続けられる。
【００５０】
以下、図７を用いて、故障判定手段１５による第２パターンの故障の判定動作について説明する。第２パターンの故障を検出する場合も、第１パターンの故障を検出する場合と同様に、まず、液晶素子２２に第１の駆動電圧が印加される（ステップＳ１１）。ここで、第１の駆動電圧については、第１パターンの故障検出の場合と同様に、基本的に特に限定されるものではない。
【００５１】
第１の駆動電圧を印加後、光検出器２５で得られる光量が安定したか否かが確認される（ステップＳ１２）。ここで、光量が安定するのを待つのは、第１パターンの故障検出の場合と同様である。光量が安定すると、光量Ｐ0を記憶手段１４に記憶し、それと同時に第２の駆動電圧を印加する（ステップＳ１３）。
【００５２】
なお、この第２の駆動電圧についても、第１パターンの故障検出の場合と同様に、特に限定されるものではなく、第１の駆動電圧を参考に決められる。また、本実施形態においては、第１及び第２パターンの故障の検出で、同一の駆動電圧（第１及び第２の駆動電圧）を印加する構成としているが、これに限定されず、第１及び第２パターンの故障検出の場合で、異なる駆動電圧を印加する構成等としても構わない。
【００５３】
その後、再度光検出器２５で得られる光量が安定したか否かが確認される（ステップＳ１４）。光量が安定していない場合は、ステップＳ１４が繰り返される。そして、光量の安定が確認されると光量Ｐ1が記憶手段１４に記憶される（ステップＳ１５）。次に、液晶素子２２に印加する駆動電圧の変更前後における、光検出器２５で検出される光量（駆動電圧を印加後、光量が安定してからのもの）の変化率Ｒ（＝｜Ｐ1−Ｐ0｜／Ｐ0×１００）が算出される（ステップＳ１６）。なお、変化率は本実施形態のものに限定されず、例えば、百分率でなくても構わない。
【００５４】
次に、記憶手段１４から、正常な液晶素子２２について前述の光量の変化率Ｒ0が読み出され（ステップＳ１７）、先の光量の変化率Ｒとの差の絶対値Ｂ（＝｜Ｒ−Ｒ0｜）が算出される（ステップＳ１８）。なお、この光量の変化率Ｒ0は、正常な液晶素子２２を用いて、予め第１の駆動電圧から第２の駆動電圧に変化した時の光量の変化率を得ておき、これを記憶手段１４に記憶させておいたものである。
【００５５】
そして、ステップＳ１８で求めた差の絶対値Ｂが、所定の値より大きいか否かが確認される（ステップＳ１９）。ここで、所定の値は、例えば、液晶素子２２の状態が正常な状態であるとみなせる上限値として定められるものであり、光ディスク装置１の設計等を考慮して予め実験等によって決められる値である。
【００５６】
絶対値Ｂが所定の値より大きい場合には、液晶素子２２は故障していると判定され、故障信号が故障判定手段１５から全体制御部１３に出力される（ステップＳ２０）。一方、絶対値Ｂが所定の値より小さい場合には、液晶素子２２は正常と判断される（ステップＳ２１）。
【００５７】
なお、本実施形態においては、第２パターンの故障を判定するために、光量の変化率を用いる構成としたが、この構成に限定される趣旨ではない。すなわち、例えば、光量の変化量（駆動電圧の変化の前後における光量の差分）を用いる構成等としても構わない。ただし、光量の変化率を用いる構成とした方が、予め記憶手段１４に記憶するための情報を得た場合と、故障判定手段１５により故障判定を行う場合とで、液晶素子２２の状態に変化がない（液晶素子２２が故障していない）にも関わらず、得られる光量の絶対値が異なったものとなるような場合（このような場合として、例えば光ディスク装置１に挿入されている光記録媒体１７の状態が異なる場合が考えられる。）でも、変化の割合で判定するために、正しく液晶素子２２の故障を判定できて好ましい。
【００５８】
また、液晶素子２２の故障を判定する故障判定手段１５の動作は以上に示した動作に限定される趣旨ではなく、本発明の目的を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。すなわち、例えば、本実施形態においては第１及び第２パターンの故障のいずれも検出する構成としているが、いずれか一方のみの故障を検出する構成等としても構わない。また、上述したように、液晶素子２２の応答時間が早くなるのみの故障であれば、その弊害は小さいので第１パターンの故障検出時に、このようなケースは故障として判定しないようにする構成等としても構わない。
【００５９】
以上に述べたように、故障判定手段１５によって液晶素子２２が故障していると判定された場合には、液晶素子２２から全体制御部１３に故障信号が出力される。そして、全体制御部１３は、この故障信号を受信した場合、まず、液晶素子２２が故障した状態でアクチュエータ制御部７により対物レンズ２３のフォーカス制御が行われないようにフォーカス制御部７を制御する。
【００６０】
なお、これに限らず、例えば対物レンズを光記録媒体１７から遠ざける方向に移動する構成としたり、光記録媒体１７を外部に排出する構成としたりしても構わないし、これら全てを行う構成等としても構わない。更に、システム全体の電源をオフする構成等としても構わない。
【００６１】
また、全体制御部１３は、故障信号を受信すると、故障通報手段１６に故障信号を送信する。故障通報手段１６は、例えばユーザ等が外部から液晶素子２２の故障を確認できるように、この故障信号を受信すると発光するように構成される。なお、故障通報手段１６の構成は、これに限らず種々の変形が可能である。
【００６２】
例えば、光ディスク装置１が搭載される装置が液晶等で文字を表示する表示装置を有する場合には、この表示装置に故障を通知するような構成としても構わないし、また、光ディスク装置１がパソコン等に接続される場合には、モニタに液晶素子２２の故障を通知する構成等としても構わない。
【００６３】
以上に示した本実施形態の光ディスク装置１においては、液晶素子２２は球面収差を補正するタイプのものであるが、本発明は球面収差以外の収差（コマ収差や非点収差）を補正する液晶素子を備える光ディスク装置の場合にも適用可能であり、また、回折光学素子として液晶素子を備える光ディスク装置１にも適用可能である。
【００６４】
また、本実施形態においては、１種類の光記録媒体１７に対応する光ディスク装置１としているが、本発明は、複数の光記録媒体１７に対応する光ディスク装置に対しても適用可能である。その他、本実施形態においては、光ディスク装置１は記録再生可能な装置としているが、これに限定されず、例えば、再生のみを行う光ディスク装置等としても構わないのはもちろんである。
【産業上の利用可能性】
【００６５】
本発明は、液晶素子の故障を、光記録媒体の記録再生を行う前に発見することができるため、液晶素子を備える光ディスク装置に対して有用である。
【図面の簡単な説明】
【００６６】
【図１】は、本実施形態の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】は、本実施形態の光ディスク装置が備える光ピックアップの光学系の概略図である。
【図３】は、本実施形態の光ディスク装置が備える液晶素子の構成を説明するための説明図である。
【図４】は、液晶素子の故障の第１パターンを説明するために模式的に示したグラフである。
【図５】は、液晶素子の故障の第２パターンを説明するために模式的に示したグラフである。
【図６】は、本実施形態の光ディスク装置が備える故障判定手段が、第１パターンの液晶素子の故障を発見する動作を示すフローチャートである。
【図７】は、本実施形態の光ディスク装置が備える故障判定手段が、第２パターンの液晶素子の故障を発見する動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００６７】
１              光ディスク装置
１４            記憶手段
１５            故障判定手段
１６            故障通報手段
１７            光記録媒体
１７ａ          記録面
１８            光源
２２            液晶素子
２３            対物レンズ
２５            光検出器（光検出手段）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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