(57)【要約】【課題】  ＴＥ残留を誤検出することを抑制し、トラッキング制御外れを検出する光ディスク記録再生装置を提供する。【解決手段】  トラッキング制御状態のＴＥ残留量がヒステリシスコンパレータ４７の閾値を超えないように、サーボ制御部５４はゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２，４３で生成される補正トラッキングエラー信号の振幅を変更するように制御する。【選択図】  図１
2007066418.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに情報を記録再生するための記録再生手段を備えた光ディスク記録再生装置であって、
前記光ディスク上のトラックに光ビームを集光させる対物レンズと、
前記光ディスクからの反射戻り光を検出する光検出手段と、
この光検出手段の検出結果から光ビームの照射位置と前記トラックとの位置ずれを算出してトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成手段と、
前記トラッキングエラー信号の振幅及びオフセットを変更し第１の補正トラッキングエラー信号を出力する第１のゲイン・オフセット補正手段と、
前記第１の補正トラッキングエラー信号の振幅及びオフセットを変更し、前記第１の補正トラッキングエラー信号とは振幅の異なる第２の補正トラッキングエラー信号を出力する第２のゲイン・オフセット補正手段と、
前記第２の補正トラッキングエラー信号に基づいて前記トラックの横断方向に前記対物レンズを移動させるトラッキング駆動手段と、
前記第１の補正トラッキングエラー信号が予め設定した閾値を超えたことを検出し閾値超過エラー信号を出力する閾値超過エラー信号検出手段と、
前記閾値超過エラー信号を計数し計数値を出力するカウンタ手段と、
前記計数値と予め設定した基準値とを比較し、前記計数値が前記基準値に達すると計数値超過信号を出力する計数値比較手段と、
前記光ディスクからの前記反射戻り光に基づいて、光ビームが集光している前記トラックが記録状態であるかどうかを判別する記録判別手段と、
前記トラッキング駆動手段による特定のトラックに対するトラッキング制御状態で、前記計数値検出信号に基づいて前記計数値が前記基準値以上かどうかを判断し、前記計数値が前記基準値以上の場合に、前記閾値超過エラー信号検出手段がトラッキングエラー残留を検出することを抑制するように前記第１及び第２の補正トラッキングエラー信号の振幅を変更し、また、前記記録判別手段により前記トラックが記録状態であると判別されたときに前記第１及び第２の補正トラッキングエラー信号の振幅を変更するように制御する制御手段と
を備えたことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク記録再生装置に係り、特に光ディスクに対し光源からのレーザー光を結像するレンズの位置調整をアクチュエータにより行う光ディスク記録再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスクに対して光源からのレーザー光を結像するレンズの位置調整を行うアクチュエータの位置検出方法としてはサーボ信号を利用する方法があり、光ディスクから反射されたレーザー光を受光器（フォトディテクタ）で複数に分けて受光し、この受光したレーザー光を複数の電気信号に変換した後差分を取り、この差分が０になるようにアクチュエータを用いてレンズ位置を調整するＤＰＰ（Differential Push- Pull Method）と呼ばれる手法があった。
【０００３】
この手法では、偏芯がある光ディスクやピックアップのセンターがずれているメカ等においては、特に半径方向のサーボ制御に用いられるトラッキングエラー信号ＴＥの振幅が局部的に低下するという欠点があった。これは、ＤＰＰにおいてよく知られている現象である。
【０００４】
また、光ディスクの記録領域では光の反射率が低下し、トラッキングエラー信号ＴＥの振幅も低下する。また、２層ディスクにおいては、層間クロストーク等さまざまな要因によりトラッキングエラー信号ＴＥの振幅が変動し、これらの要因が重なると、局部的にはトラッキングエラー信号ＴＥの振幅が大きく低下する。
【０００５】
このようにトラッキングエラー信号ＴＥの振幅が大きく低下した位置では、トラッキング制御が外れやすく、また、振動や光ディスクの傷等によってもトラッキング制御が外れることがある。
【０００６】
このようなトラッキング制御が外れた状態を検出する技術としては、一定の閾値以上の振幅を持ったトラッキングエラー信号ＴＥの回数を計数し、一定以上の回数が計測された場合トラッキング制御外れとする方法が特許文献１，２に開示されている。
【０００７】
また、一定閾値以上のトラッキングエラー信号ＴＥを積分し、一定以上の積分値を超えた場合にトラッキング制御外れとする方法が特許文献３に開示されている。
【特許文献１】特許２６４１７１７号公報
【特許文献２】特開平６−７６３３０号公報
【特許文献３】特開平７−１５３２０９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
トラッキングエラー信号ＴＥの振幅が低下した場所において確実にトラッキング制御外れを検出するためには、トラッキングエラー信号ＴＥの振幅を大きくする、又は閾値を下げる必要がある。
【０００９】
しかしながら、トラッキングエラー信号ＴＥの振幅を大きくすると、トラッキング制御中のトラッキングエラー残留（ＴＥ残留）が閾値を超え、トラッキング制御外れと誤認する問題があった。ここで、ＴＥ残留とは、トラッキング溝成形時に許される変動分のことである。
【００１０】
また、記録中はトラックが記録状態であるか、未記録状態であるかの判別が困難であり、未記録領域と記録領域の反射率の差を考慮したトラッキングエラー信号ＴＥの振幅の設定ができない。そのため未記録状態のＴＥ残留を誤検出することを抑制し、かつ記録状態で振幅が低下した領域においてもトラッキング制御外れを検出可能な、トラッキングエラー信号ＴＥの振幅を自動設定する方法が必要となる。
【００１１】
本発明は、上記に鑑みてなされたもので、既存のトラッキング制御外れの装置を利用して、未記録状態のＴＥ残留をトラッキング制御外れと誤検出することを抑制し、かつ記録状態で振幅が低下した領域においてもトラッキング制御外れを検出可能な光ディスク記録再生装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明の光ディスク記録再生装置は、光ディスクに情報を記録再生するための記録再生手段を備えた光ディスク記録再生装置であって、前記光ディスク上のトラックに光ビームを集光させる対物レンズと、前記光ディスクからの反射戻り光を検出する光検出手段と、この光検出手段の検出結果から光ビームの照射位置と前記トラックとの位置ずれを算出してトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成手段と、前記トラッキングエラー信号の振幅及びオフセットを変更し第１の補正トラッキングエラー信号を出力する第１のゲイン・オフセット補正手段と、前記第１の補正トラッキングエラー信号の振幅及びオフセットを変更し、前記第１の補正トラッキングエラー信号とは振幅の異なる第２の補正トラッキングエラー信号を出力する第２のゲイン・オフセット補正手段と、前記第２の補正トラッキングエラー信号に基づいて前記トラックの横断方向に前記対物レンズを移動させるトラッキング駆動手段と、前記第１の補正トラッキングエラー信号が予め設定した閾値を超えたことを検出し閾値超過エラー信号を出力する閾値超過エラー信号検出手段と、前記閾値超過エラー信号を計数し計数値を出力するカウンタ手段と、前記計数値と予め設定した基準値とを比較し、前記計数値が前記基準値に達すると計数値超過信号を出力する計数値比較手段と、前記光ディスクからの前記反射戻り光に基づいて、光ビームが集光している前記トラックが記録状態であるかどうかを判別する記録判別手段と、前記トラッキング駆動手段による特定のトラックに対するトラッキング制御状態で、前記計数値検出信号に基づいて前記計数値が前記基準値以上かどうかを判断し、前記計数値が前記基準値以上の場合に、前記閾値超過エラー信号検出手段がトラッキングエラー残留を検出することを抑制するように前記第１及び第２の補正トラッキングエラー信号の振幅を変更し、また、前記記録判別手段により前記トラックが記録状態であると判別されたときに前記第１及び第２の補正トラッキングエラー信号の振幅を変更するように制御する制御手段とを備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、トラッキング制御状態のＴＥ残留量が閾値超過エラー信号検出手段の閾値を超えないようにトラッキングエラー信号の振幅を変更するので、未記録状態のＴＥ残留をトラッキング制御外れと誤検出することを抑制し、かつ記録状態で振幅が低下した領域においてもトラッキング制御外れを検出可能な光ディスク記録再生装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明の光ディスク記録再生装置を実施するための最良の形態について、図面を参照して説明する。
【００１５】
図１は本発明の実施の形態に係る光ディスク記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【００１６】
図１に示すように本実施の形態の光ディスク記録再生装置は、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ２と、光ディスク１に形成されているトラックにレーザービームを照射し、その反射戻り光を検出する光学部３と、この光学部３で検出された光信号をフォーカスエラー信号ＦＥとトラッキングエラー信号ＴＥに分離して信号レベルを適正値に補正する信号補正部４と、この信号補正部４で補正された信号に基づいて光学部３のフォーカス方向及びトラック方向の移動量を算出する算出・制御部５と、この算出・制御部５で演算された移動量に応じて光学部３をフォーカス方向及びトラック方向に移動させる駆動部６とを備える。また、光ディスク１に情報を記録及び再生するために必要な信号処理を行う記録再生部（図示せず）を備える。
【００１７】
ここで、本実施の形態において光ディスクとは、ＣＤ（Compact Disc），ＭＤ（Mini Disc），ＤＶＤ（Digital Versatile Disk（DVD-R,DVD-RWを含む））、超高密度光ディスク等を総称している。
【００１８】
一方、光学部３は、光ディスク面上に形成されているトラックにレーザービームを集光させるための対物レンズ３１と、トラックで反射した反射戻り光を検出する光検出器（図示せず）と、これら対物レンズ３１及び光検出器をフォーカス方向に移動させるフォーカスアクチュエータ３２と、対物レンズ３１及び光学検出器等をトラックの横断方向に移動させるトラッキングアクチュエータ３３とを備える。
【００１９】
信号補正部４に備えられた信号演算部４１は、光学部３に内蔵されている光検出器で検出された信号から光ビームの焦点と光ディスク面の位置ずれを算出してフォーカスエラー信号ＦＥを生成し、光ビームの照射位置とトラックとの位置ずれを算出してトラッキングエラー信号ＴＥを生成する。そしてこれらの信号をゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２に出力する。
【００２０】
ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２及び４３は、後段に接続されるフォーカスＡ／Ｄ部４４及びトラッキングＡ／Ｄ部４５に適したフォーカスエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥを生成するために、予め振幅とオフセットの設定を行う。
【００２１】
ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２で補正されたトラッキングエラー信号ＴＥは、バンドパスフィルタ（ＢＰＦ）４６にも出力される。
【００２２】
なお、ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２からの出力振幅がフォーカスＡ／Ｄ部４４及びトラッキングＡ／Ｄ部４５の入力範囲に対して十分な大きさを持ち、入力範囲を超えないのであれば、ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４３は必須ではなく、その機能を算出・制御部５に代用させても良い。また、ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２とフォーカスＡ／Ｄ部４４及びトラッキングＡ／Ｄ部４５を直結し、ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４３をバンドパスフィルタ４６の直前にいれても同じ機能を実現できるが、この場合のフローチャートは後述する図３と少々異なる。
【００２３】
フォーカスＡ／Ｄ部４４とトラッキングＡ／Ｄ部４５は、それぞれフォーカスエラー信号ＦＥとトラッキングエラー信号ＴＥをアナログ信号からデジタル信号に変換する。
【００２４】
バンドパスフィルタ４６は、トラッキングエラー信号ＴＥから低周波のオフセット変動やノイズを除去する。低周波のオフセット変動の例としては、光ディスク１の偏芯により発生するディスク周期に一致したオフセット変動等が挙げられる。
【００２５】
ヒステリシスコンパレータ４７は、耐ノイズ性能を高めたコンパレータであり、所定のスレッショルド（閾値）に一定の幅を持たせることで、特性の周波数に重畳しているノイズがこの周波数に及ぼす影響の度合いを低下させる。この一定の幅を有する閾値を超えた信号は、トラックを検出した信号（トラック数）とみなされて後述する判定部５３に出力される。
【００２６】
次に算出・制御部５の具体的な構成について説明する。算出・制御部５はフォーカス制御部５１と、トラッキング制御部５２と、判定部５３と、サーボ制御部５４とを備える。
【００２７】
フォーカス制御部５１は、フォーカスＡ／Ｄ部４４からデジタル信号変換後のフォーカスエラー信号ＦＥを取得して、後述するサーボ制御部５４からの出力指令に応じて駆動部６に対してフォーカス制御信号を出力する。
【００２８】
トラッキング制御部５２も上記フォーカス制御部５１と同様に、トラッキングＡ／Ｄ部４５からデジタル信号変換後のトラッキングエラー信号ＴＥを取得して、サーボ制御部５４からの出力指令に応じて駆動部６に対してトラッキング制御信号を出力する。
【００２９】
判定部５３は、通常動作モードと初期測定モードの２つのモードを有する。
【００３０】
通常動作モードは、通常の再生や記録状態において用いられるモードで、トラッキング制御状態において、ヒステリシスコンパレータ４７からトラック数を取得して、ある一定の測定区間内に存在するトラック数を計数し、そのトラック数が予め記憶しておいた基準トラック数以上であるか否かを判定する。
【００３１】
ここで、トラック数が予め記憶しておいた基準トラック数以上であることを検出したときには、判定部５３は、トラッキング制御が外れた状態と判定してサーボ制御部５４にその判定結果を通知する。例えば「トラッキング制御外れフラグ」を出力する。
【００３２】
初期測定モードは、本発明特有のモードで、トラッキング制御状態のＴＥ残留量がヒステリシスコンパレータ４７の閾値を超えないように、バンドパスフィルタ４６に入力するトラッキングエラー信号ＴＥの振幅を設定するために用いる。
【００３３】
具体的には、ヒステリシスコンパレータ４７からＴＥ残留やバンドパスフィルタ４６を通過した傷の数を取得して、ある一定の測定区間内に存在するＴＥ残留と傷とを計数し、その数が予め記憶しておいた基準数以上であるか否かを判定し、判定を更に測定区間よりも長い測定区間連続して実行する。
【００３４】
ここで、ＴＥ残留と傷の数とが予め記憶しておいた基準数以上であることを検出したときには、判定部５３は、サーボ制御部５４にその判定結果を通知する。例えば「ＴＥ残留量超過エラー」を出力する。
【００３５】
サーボ制御部５４は、フォーカス制御部５１と、トラッキング制御部５２と、判定部５３と、その他図示していない機能部とを監視、制御する。特に、後述する判定部５３に具備されるトラックカウンタ比較部５３４から比較結果を取得すると、トラックカウンタ５３１と区間カウンタ５３２に対してリセット信号を出力し、次の判定準備を行う制御処理を行う。
【００３６】
ここで、図２を参照して判定部５３の具体的構成について説明する。図２は判定部の構成を示すブロック図である。
【００３７】
図２に示すように判定部５３は、トラックカウンタ５３１と、区間カウンタ５３２と、長区間カウンタ５３３と、トラックカウンタ比較部５３４と、区間カウンタ比較部５３５と、長区間カウンタ比較部５３６とを備える。
【００３８】
トラックカウンタ５３１は、ヒステリシスコンパレータ４７から一定幅を有する閾値を超えたヒステリシス信号を取得して、この信号の立ち上がりエッジ若しくは立下がりエッジを検出することでトラック数の計数を行う。計数したトラック数はトラックカウンタ比較部５３４に出力する。また、トラックカウンタ５３１は、ＴＥ残留や傷の数の測定も行う。
【００３９】
区間カウンタ５３２は、サンプリングクロック（図示せず）からサンプリング周波数を取得し、この周波数の立下がりエッジ若しくは立下がりエッジを計数することで、測定する測定区間の計数を行う。計数した区間カウント数は区間カウンタ比較部５３５に出力する。
【００４０】
区間カウンタ比較部５３５は、区間カウンタ５３２から取得した区間カウント数と、予め記憶されている基準区間カウント数とを比較し、区間カウント数が基準区間カウント数に達すると、トラックカウンタ比較部５３４に対して比較開始信号を出力する。
【００４１】
長区間カウンタ５３３は、区間カウンタ５３２よりも長い測定区間の計数を行う。計数した長区間カウント数は長区間カウンタ比較部５３６に出力する。
【００４２】
長区間カウンタ比較部５３６は、長区間カウンタ５３３から取得した長区間カウント数と、予め記憶されている基準長区間カウント数とを比較し、長区間カウント数が基準長区間カウント数に達すると、測定終了信号をサーボ制御部５４に出力する。
【００４３】
トラックカウンタ比較部５３４は、前述したようにモードによって異なる動作をする。
【００４４】
初期測定モードでは、トラックカウンタ比較部５３４は、区間カウンタ比較部５３５から比較開始信号を取得すると、トラックカウンタ５３１から閾値を超えたＴＥ残留と傷の数を取得して、予め記憶されている基準数と、ＴＥ残留と傷の数を比較する。
【００４５】
比較の結果、所定の測定区間内においてＴＥ残留と傷の数が基準数と同等若しくはそれを超えている場合には、トラックカウンタ比較部５３４は、サーボ制御部５４に対して「ＴＥ残留量超過エラー」を出力する。そして、この測定を長区間カウンタ５３３が所定の測定区間に達するまで続ける。
【００４６】
通常動作モードでは、トラックカウンタ比較部５３４は、区間カウンタ比較部５３５から比較開始信号を取得するとトラックカウンタ５３１からトラックカウント数を取得して、予め記憶されている基準トラック数とトラックカウント数とを比較する。
【００４７】
比較の結果、所定の測定区間内においてトラックカウント数が基準トラック数と同等若しくはそれを超えている場合には、トラックカウンタ比較部５３４は、サーボ制御部５４に対して「トラッキング制御外れフラグ」を出力する。
【００４８】
ここで、本実施の形態において判定基準は、モードによって異なる定数を基準としているが、初期測定モードで計数されたＴＥ残留と傷の数の最大数に基づいて基準トラック数を決定してもよい。判定基準を使用中の光ディスクに合わせることで、さらに高精度にトラッキング制御外れを検出することができる。
【００４９】
ここで、判定基準の設定について説明する。通常動作モードでの基準トラック数は、少なければ少ないほど、トラッキング制御外れを早く検出することが可能であり、特に記録中、光ディスクに与える損傷が少なくなるという利点がある。
【００５０】
しかしながら、バンドパスフィルタ４６を通過後にも残る傷もあり、基準トラック数を小さくしすぎると逆にトラッキング制御が外れていない状況で、トラッキング制御外れと誤認してしまう可能性が増す。トラッキング制御が外れた瞬間は、多数のトラックエラーが連続して出力されるという点に注目すると、測定区間は比較的短くし、考慮する傷の数も少なめにして基準トラック数を多くて数本〜十数本程度に設定することが望ましい。
【００５１】
初期測定モードでの基準数は通常動作モードへの余裕度を考慮して、基準トラック数よりやや少なめに設定することが望ましい。逆に、測定されたＴＥ残留と傷の数から基準トラック数を設定する場合には、測定されたＴＥ残留と傷の数よりやや多めに基準トラック数を設定しなければならない。
【００５２】
ここで、図１に戻り駆動部６の説明を続ける。駆動部６は、フォーカスアクチュエータＤ／Ａ部６１と、トラッキングアクチュエータＤ／Ａ部６２と、フォーカスアクチュエータドライバ６３と、トラッキングアクチュエータドライバ６４とを備える。
【００５３】
ここで、フォーカスアクチュエータＤ／Ａ部６１とトラッキングアクチュエータＤ／Ａ部６２は、それぞれフォーカス制御部５１とトラッキング制御部５２からフォーカス制御信号とトラッキング制御信号を取得して、これらの信号をデジタル信号からアナログ信号に変換する。
【００５４】
フォーカスアクチュエータドライバ６３とトラッキングアクチュエータドライバ６４は、アナログ変換された信号に基づいて光学部３に内蔵されるフォーカスアクチュエータ３２とトラッキングアクチュエータ３３に対して駆動信号を出力し、これらフォーカスアクチュエータ３２及びトラッキングアクチュエータ３３を所定の方向に移動させる。
【００５５】
次に、上記構成を有する光ディスク記録再生装置のフォーカスサーボ及びトラッキング制御動作を説明する。
【００５６】
まず、スピンドルモータ２に光ディスク１を設定する。光ディスク記録再生装置の外部から光ディスク１の再生命令が入力されると、スピンドルモータ２が駆動開始し、光ディスク１が回転して光検出器が光ディスク１の読込開始時点に移動する。
【００５７】
読込開始時点が確定すると光学部３から再生用レーザー光が出力される。レーザー光は対物レンズ３１を介して光ディスク１の読込開始時点に集光し、この位置に形成されているピットで反射する。この反射光の戻り光は再び対物レンズ３１を介して光検出器に取り込まれ、光検出器に内蔵されるハーフミラー（図示せず）で分離されて信号演算部４１に出力される。
【００５８】
分離された反射戻り光から、信号演算部４１でフォーカスエラー信号ＦＥとトラッキングエラー信号ＴＥが生成され、両信号ともゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２に出力される。フォーカスエラー信号ＦＥとトラッキングエラー信号ＴＥは、バンドパスフィルタ４６通過後のヒステリシスコンパレータ４７に適した振幅になるようにゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ４２で信号補正される。
【００５９】
さらに、ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４３で、フォーカスＡ／Ｄ部４４とトラッキングＡ／Ｄ部４５にそれぞれに適した振幅とオフセットになるように信号補正される。
【００６０】
この振幅処理及びオフセット処理された信号は、それぞれフォーカスＡ／Ｄ部４４とトラッキングＡ／Ｄ部４５に出力される。
【００６１】
フォーカスエラー信号ＦＥは、フォーカスＡ／Ｄ部４４でデジタル信号に変換された後、フォーカス制御部５１に出力される。そしてフォーカス制御部５１は、サーボ制御部５４から出力指示信号が入力されるまでその状態を保持し続け、サーボ制御部５４から出力指示信号を受けるとフォーカスアクチュエータＤ／Ａ部６１に対してフォーカス制御信号を出力する。
【００６２】
このフォーカス制御信号はフォーカスアクチュエータドライバ６３を介してフォーカスアクチュエータ３２に伝達され、フォーカスアクチュエータ３２は対物レンズ３１を含む光学部３をフォーカス方向に所定量だけ遠近移動させる。
【００６３】
トラッキングエラー信号ＴＥも同様に、トラッキングＡ／Ｄ部４５でデジタル信号に変換された後、トラッキング制御部５２に出力される。そしてトラッキング制御部５２は、サーボ制御部５４から出力指示信号が入力されるまで、その状態を保持し続け、サーボ制御部５４から出力指示信号を受けるとトラッキングアクチュエータＤ／Ａ部６２に対してトラッキング制御信号を出力する。
【００６４】
このトラッキング制御信号はトラッキングアクチュエータドライバ６４を介してトラッキングアクチュエータ３３に伝達され、トラッキングアクチュエータ３３は対物レンズ３１を含む光学部３をトラックの横断方向に所定量だけ移動させる。
【００６５】
以上の動作により光ディスク１の所定位置から情報が読み込まれ、この読み込みが完了すると、次の読み込み位置に対物レンズ３１を移動させることで順次読込動作を繰り返す。
【００６６】
ここで、図３を参照して、上記光ディスク記録再生装置の動作において、トラッキングエラー信号ＴＥの振幅を設定するための具体的な方法について説明する。図３はトラッキングエラー信号ＴＥの振幅を設定する方法を示すフローチャートである。
【００６７】
図３に示す方法は、上記光ディスク記録再生装置の基本動作に加えて行う作業であり、図２に示した判定部５３のブロック図の動作を組み合わせることで、トラッキングエラー信号ＴＥの流れ検出するために最適なＴＥ振幅の設定を実現するものである。そこで、上述した光ディスク記録再生装置の基本動作の説明は省略して判定部５３の動作、特に初期測定モードについて説明する。
【００６８】
本発明の特徴であるトラッキングエラー信号ＴＥの振幅設定は、光ディスク挿入後の最初の起動時に行われる初期自動調整の中で実行される。初期自動調整ではフォーカスやトラッキング、または図示されないその他のサーボ信号の振幅、オフセットをサーボ制御部５４でゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２，４３に指令を出力し、フォーカスＡ／Ｄ部４４やトラッキングＡ／Ｄ部４５に対して最適なレベルに調整する。
【００６９】
図３に示すフローチャートのスタート状態は、フォーカス系の初期自動調整が終了し、フォーカス制御状態にあるものとする。また、ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２，４３のトラッキングエラー信号ＴＥの振幅調整単位はα（ｄＢ）、ＴＥ残留に対するマージンはβ（ｄＢ）とする。
【００７０】
この状態において、まずステップＳ１０では、サーボ制御部５４は、トラッキングＡ／Ｄ部４５から取得したデジタル化されたトラッキングエラー信号ＴＥから振幅を計測し、その結果に基づいてゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２に指令を出力し、トラッキングエラー信号ＴＥの振幅を初期目標値に調整する。
【００７１】
ここで、トラッキングエラー信号ＴＥの振幅の初期目標値の基準について述べる。トラッキングエラー信号ＴＥの振幅は、「トラッキングエラー信号ＴＥの振幅が一番低下した時のフォーカス制御状態のトラッキングエラー信号ＴＥの振幅」をＡ、「ヒステリシスコンパレータ４７の閾値」をＢ、「トラッキングエラー信号ＴＥの振幅が一番大きい時のトラッキング制御中のＴＥ残留」をＣとすると、
Ａ＞Ｂ＞Ｃ
でなければならない。
【００７２】
トラッキングエラー信号ＴＥの振幅がどのような要因で低下するかは、ピックアップの構造によって異なる。例を挙げると、記録領域（未記録領域に対して小さい）、光ディスクの偏芯、メカに組み込んだピックアップの中心ずれ、ディスク半径位置、タンジェンシャルチルト及びラジアルチルト、光学的収差、２層ディスクの層間ストローク等が挙げられる。またＴＥ残留量は光ディスクの規格で決まっている。
【００７３】
トラッキングエラー信号ＴＥの振幅調整後、ステップＳ２０では、サーボ制御部５４は、トラッキング制御を開始し、同じトラックを再生する状態であるスチルに移行するように制御する。
【００７４】
スチル状態になったら、ステップＳ３０では、サーボ制御部５４は、判定部５３のモードを初期測定モードに設定する。
【００７５】
モードの設定が完了したら、ステップＳ４０では、ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２は、現在のトラックが未記録状態であるかどうかをチェックする。記録状態か未記録状態かの判定については、ＲＦ信号の有無から調べることが可能であり、その機能がゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２に備わっているものとする。
【００７６】
未記録状態である（ＹＥＳ）ときはステップＳ６０に進み、未記録状態でない（ＮＯ）ときはステップＳ５０に進む。
【００７７】
ステップＳ５０では、サーボ制御部５４は、バンドパスフィルタ４６へ入力されるトラッキングエラー信号ＴＥの振幅を未記録相当（ＴＥ残留量が一番大きい条件）にするために、ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２のトラッキングエラー信号ＴＥの振幅を＋３ｄＢだけ増幅させるように制御する。また、トラッキングＡ／Ｄ部４５への入力振幅を一定にするために、ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４３のトラッキングエラー信号ＴＥの振幅を−３ｄＢだけ増幅させるように制御する。「未記録領域のトラッキングエラー信号ＴＥの振幅」をＣ、「記録領域のトラッキングエラー信号ＴＥの振幅」をＤとすると、一般的に、
Ｃ：Ｄ＝１：約０．７
のような振幅比をとる。よって、＋３ｄＢだけ増幅することで、記録領域のトラッキングエラー信号ＴＥの振幅を未記録領域のトラッキングエラー信号ＴＥの振幅相当にすることがその目的である。
【００７８】
図３には記載していないが、スチル中のトラックに記録状態と未記録状態が混在していた場合には、トラックを数本移動して再度測定し、記録状態と未記録状態が混在していない領域を探す。
【００７９】
次に、ステップＳ６０では、サーボ制御部５４は、ＴＥ残留測定を開始するため、トラックカウンタ５３１、区間カウンタ５３２、長区間カウンタ５３３にリセット信号を出力する。
【００８０】
リセットが完了したら、ＴＥ残留測定を開始する。ステップＳ７０において、トラックカウンタ５３１は、ヒステリシスコンパレータ４７の閾値を超えたＴＥ残留及び傷の数を測定する。
【００８１】
次に、ステップＳ８０では、区間カウンタ比較部５３５は、区間カウンタ５３２が計数した区間カウント数と基準区間カウント数とを比較し、区間カウント数が基準区間カウント数以上かどうかを判断する。基準区間カウント数以上である（ＹＥＳ）ときはステップＳ９０に進み、基準区間カウント数以上でない（ＮＯ）ときはステップＳ７０に戻る。
【００８２】
次に、ステップＳ９０では、区間カウンタ比較部５３５は、トラックカウンタ比較部５３４へ比較開始信号を出力し、トラックカウンタ比較部５３４は、トラックカウンタ５３１で測定したＴＥ残留及び傷の数と、予め設定されている基準数とを比較する。
【００８３】
そして、トラックカウンタ５３１の計数したトラック数が基準数以上である（ＹＥＳ）ときはステップＳ１００に進み、基準数以上でない（ＮＯ）ときはステップＳ１１０に進む。
【００８４】
そして、ステップＳ１００では、トラックカウンタ比較部５３４は、「ＴＥ残留量超過エラー」をサーボ制御部５４へ出力する。
【００８５】
次に、ステップＳ１１０では、長区間カウンタ比較部５３６は、長区間カウンタ５３３が計数した長区間カウント数と基準長区間カウント数とを比較し、長区間カウント数が基準長区間カウント数以上かどうかを判断する。
【００８６】
基準長区間カウント数以上である（ＹＥＳ）ときは、長区間カウンタ比較部５３６は測定終了信号をサーボ制御部５４へ出力し、ステップＳ１２０に進む。基準長区間カウント数以上でない（ＮＯ）ときはステップＳ７０に戻り、以降の処理を繰り返す。基準長区間カウント数は最低でも光ディスク１周区間以上であることが望ましい。
【００８７】
次に、ステップＳ１２０では、サーボ制御部５４は、長区間カウンタ５３３が基準長区間カウント数以上になった時点で、「ＴＥ残留量超過エラー」が無いかどうかを判断する。
【００８８】
「ＴＥ残留量超過エラー」が無い（ＹＥＳ）ときは、ステップＳ１３０において、サーボ制御部５４は、サーボ制御部５４内部で「残留量ＯＫフラグ」をセットし、その後ステップＳ１５０に進む。「ＴＥ残留量超過エラー」が有る（ＮＯ）ときは、ステップＳ１４０において、サーボ制御部５４は、サーボ制御部５４内部で「残留量ＮＯフラグ」をセットし、その後ステップＳ１８０に進む。
【００８９】
次に、ステップＳ１５０では、サーボ制御部５４は、「残留量ＯＫフラグ」と「残留量ＮＯフラグ」の両方のフラグがセットされているかどうかを判断する。
【００９０】
両方のフラグがセットされている（ＹＥＳ）ときは、現在のトラッキングエラー信号ＴＥの振幅設定が、可能な範囲でＴＥ残留量を満たす最小の値ということになる。ＴＥ残留に対するマージンはβ（ｄＢ）と仮定しているので、ステップＳ１６０において、サーボ制御部５４は、ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２のトラッキングエラー信号ＴＥの振幅を−β（ｄＢ）だけ増幅させ、ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４３のトラッキングエラー信号ＴＥの振幅を＋β（ｄＢ）だけ増幅させるように制御する。その後、ステップＳ２１０に進む。
【００９１】
両方のフラグはセットされておらず（ＮＯ）、「残留量ＯＫフラグ」しかセットされていないときは、ステップＳ１７０において、サーボ制御部５４は、ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２のトラッキングエラー信号ＴＥの振幅を＋α（ｄＢ）だけ増幅させ、ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４３のトラッキングエラー信号ＴＥの振幅を−α（ｄＢ）だけ増幅させるように制御する。その後、ステップＳ６０に戻って再測定を開始する。
【００９２】
次に、ステップＳ１８０では、サーボ制御部５４は、「残留量ＯＫフラグ」と「残留量ＮＯフラグ」の両方のフラグがセットされているかどうかを判断する。
【００９３】
両方のフラグがセットされている（ＹＥＳ）ときは、現在のトラッキングエラー信号ＴＥの振幅設定は、ＴＥ残留量を満たす最小の値から−α（ｄＢ）ということになる。ＴＥ残留に対するマージンはβ（ｄＢ）と仮定しているので、ステップＳ１９０において、サーボ制御部５４は、ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２のトラッキングエラー信号ＴＥの振幅を−α−β（ｄＢ）だけ増幅させ、ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４３のトラッキングエラー信号ＴＥの振幅を＋α＋β（ｄＢ）だけ増幅させるように制御する。その後、ステップＳ２１０に進む。
【００９４】
両方のフラグはセットされておらず（ＮＯ）、「残留量ＮＯフラグ」しかセットされていないときは、ステップＳ２００において、サーボ制御部５４は、ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２をのトラッキングエラー信号ＴＥの振幅を−α（ｄＢ）だけ増幅させ、ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４３トラッキングエラー信号ＴＥの振幅を＋α（ｄＢ）だけ増幅させるように制御する。その後、ステップＳ６０に戻って、再測定を開始する。
【００９５】
「残留量ＯＫフラグ」と「残留量ＮＯフラグ」の両方のフラグがセットされていた（ステップＳ１４０，Ｓ１８０でＹＥＳ）場合には、最初に測定した現状のトラックの状態に合わせてゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２，４３の設定を更新する。
【００９６】
そこでステップＳ２１０では、サーボ制御部５４は、最初に測定した現状のトラックが未記録領域であったかどうかを判断し、未記録領域である（ＹＥＳ）ときは、そのまま現在のゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２，４３の設定値を最終設定値とする。
【００９７】
記録領域である（ＮＯ）ときは、ステップＳ２２０において、サーボ制御部５４は、ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２のトラッキングエラー信号ＴＥの振幅を−３ｄＢだけ増幅させ、トラッキングＡ／Ｄ部４５への入力振幅を保つために、ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４３のトラッキングエラー信号ＴＥの振幅を＋３ｄＢだけ増幅させるように制御し、増幅後のゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部４２，４３の設定値を最終設定値とする。
【００９８】
最後に、ステップＳ２３０では、サーボ制御部５４は、判定部５３のモードを通常動作モードに戻して終了となる。
【００９９】
なお、区間カウンタ５３２が基準区間カウント数以上になるまでの短期間のＴＥ残留測定で得られたトラックカウンタ５３１の最大値を保持しておき、この最大値にある程度のマージンを考慮して、トラッキング制御外れ検出の基準トラック数を設定してもよい。
【０１００】
このように本実施の形態の光ディスク記録再生装置によれば、実際の基準トラッキングエラー信号ＴＥの振幅からＴＥ残留チェックを行い、ＴＥ残留成分と傷がどの程度の本数出力されるか調べ、その結果に基づいてトラッキングエラー信号ＴＥの振幅設定をすることで、記録、未記録の判別ができない記録レーザーパワーの状態においても、ＴＥ残留をトラッキング制御外れと誤認することなく、トラッキング制御外れを短時間で安定して検出可能となる。
【０１０１】
そして、記録中にトラッキング制御外れが生じた際に、即座に記録を停止し、光ディスク上に記録されているデータの消失を防ぎ、また、素早いトラッキングサーボの再開を可能とする。
【図面の簡単な説明】
【０１０２】
【図１】本発明の実施の形態に係る光ディスク記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２】判定部の構成を示すブロック図である。
【図３】トラッキングエラー信号ＴＥの振幅を設定する方法を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【０１０３】
１  光ディスク
２  スピンドルモータ
３  光学部
４  信号補正部
５  算出・制御部
６  駆動部
３１  対物レンズ
３２  フォーカスアクチュエータ
３３  トラッキングアクチュエータ
４１  信号演算部
４２，４３  ゲイン・オフセット補正用ＦＥＰ部
４４  フォーカスＡ／Ｄ部
４５  トラッキングＡ／Ｄ部
４６  バンドパスフィルタ（ＢＰＦ）
４７  ヒステリシスコンパレータ
５１  フォーカス制御部
５２  トラッキング制御部
５３  判定部
５４  サーボ制御部
６１  フォーカスアクチュエータＤ／Ａ部
６２  トラッキングアクチュエータＤ／Ａ部
６３  フォーカスアクチュエータドライバ
６４  トラッキングアクチュエータドライバ
５３１  トラックカウンタ
５３２  区間カウンタ
５３３  長区間カウンタ
５３４  トラックカウンタ比較部
５３５  区間カウンタ比較部
５３６  長区間カウンタ比較部
【図１】
2007066418.tif 000003
【図２】
2007066418.tif 000004
【図３】
2007066418.tif 000005