(57)【要約】【課題】チップ型電子部品が咬み込まれにくいチップ型電子部品の電気的特性測定装置を提供することである。【解決手段】チップ型電子部品の電気的特性測定装置１０は、測定装置本体１２を含む。測定装置本体１２のテーブル１４の略垂直な主面上には、チップ型電子部品Ｃを搬送するための円板状の搬送テーブル１６が回転自在に設けられる。搬送テーブル１６には、複数のキャビティ１８、１８、・・が形成される。キャビティ１８は、開口部の長手方向が搬送テーブル１６によるチップ型電子部品Ｃの搬送方向に沿うように形成される。搬送テーブル１６の一部分の近傍には、チップ型電子部品Ｃをキャビティ１８に供給するためのチップ型電子部品供給部２０が設けられる。搬送テーブル１６の他の部分の近傍には、キャビティ１８内のチップ型電子部品Ｃの電気的特性を測定するための測定部３０が設けられる。【選択図】図１
2007033094.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
長さ寸法より幅寸法が短くかつ幅寸法より厚さ寸法が短い直方体状に形成され、長手方向における長方形状の両端面に外部電極をそれぞれ有するチップ型電子部品の電気的特性を測定するためのチップ型電子部品の電気的特性測定装置であって、
測定装置本体、
前記測定装置本体に回転自在に保持され、前記チップ型電子部品を収納するためのキャビティを有する搬送テーブル、
前記キャビティ内の前記チップ型電子部品の一方の外部電極に接触するように、前記搬送テーブルによる前記チップ型電子部品の搬送方向に沿って回転するように前記測定装置本体に設けられているローラ形状の第１の測定端子、および
前記キャビティ内の前記チップ型電子部品の他方の外部電極に接触するように、前記第１の測定端子に対向する位置に設けられている第２の測定端子を備え、
前記キャビティは、
前記チップ型電子部品の長手方向における両端面に対応した長方形状の開口部を有し、
前記外部電極が前記搬送テーブルの両主面側で露出するように前記チップ型電子部品を長手方向に受け入れて収納するように形成され、
前記開口部の長手方向が前記搬送テーブルの径方向以外の方向となるように形成されている、チップ型電子部品の電気的特性測定装置。
【請求項２】
前記キャビティは、前記キャビティ内の前記チップ型電子部品の寸法であって前記搬送テーブルによる前記チップ型電子部品の搬送方向における寸法が、前記第１の測定端子と前記測定装置本体との間の隙間より大きくなるように形成されている、請求項１に記載のチップ型電子部品の電気的特性測定装置。
【請求項３】
前記キャビティは、前記開口部の長手方向が前記搬送テーブルによる搬送方向に実質的に沿うように形成されている、請求項１または請求項２に記載のチップ型電子部品の電気的特性測定装置。
【請求項４】
前記搬送テーブルは回転軸が実質的に水平方向にあり、
前記キャビティは真空吸引によって前記チップ型電子部品を吸引保持するキャビティであり、
前記チップ型電子部品を前記キャビティの近傍に浮上させるチップ型電子部品供給部を備え、
前記チップ型電子部品供給部で浮上した前記チップ型電子部品を前記キャビティ内からの真空吸引によって前記キャビティ内に収容する、請求項１ないし請求項３のいずれかに記載のチップ型電子部品の電気的特性測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明はチップ型電子部品の電気的特性測定装置に関し、特に、長さ寸法より幅寸法が短くかつ幅寸法より厚さ寸法が短い直方体状に形成され、長手方向における長方形状の両端面に外部電極をそれぞれ有する、たとえばチップ型積層コンデンサの静電容量値などのチップ型電子部品の電気的特性を測定するためのチップ型電子部品の電気的特性測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
図８はこの発明が適用されるチップ型電子部品の一例を示す斜視図である。図８に示すチップ型電子部品Ｃは、長さ寸法Ｌより幅寸法Ｗが短くかつ幅寸法Ｗより厚さ寸法Ｔが短い直方体状に形成され、長手方向における長方形状の両端面を含む両端部に外部電極Ｅ、Ｅをそれぞれ有する。
従来、このようなチップ型電子部品の電気的特性を測定する装置があった（例えば特許文献１参照）。
図９はこのような従来のチップ型電子部品の電気的特性測定装置の一例を示す要部正面図解図であり、図１０はその電気的特性測定装置の要部底面図解図であり、図１１は図９の線ＸＩ−ＸＩにおける断面図解図である。
図９に示すチップ型電子部品の電気的特性測定装置１は、略垂直な主面を有するテーブル２を含む。テーブル２の略垂直な主面上には、円板状の搬送テーブル３が、略水平方向に配置される中心軸を回転軸として回転可能に設けられる。この搬送テーブル３には、多数のキャビティ４、４、・・が、搬送テーブル３の回転軸を中心とする円周上に間隔を隔てて形成される。これらのキャビティ４、４、・・は、それぞれ、電気的特性を測定すべきチップ型電子部品Ｃを収納して保持するためのものである。キャビティ４の深さは、搬送テーブル３の厚みに相当するが、キャビティ４内のチップ型電子部品Ｃの外部電極Ｅ、Ｅが搬送テーブル３の両主面側で露出するように、チップ型電子部品Ｃの長さ寸法Ｌより若干短い寸法を有する。また、キャビティ４は、搬送テーブル３の径方向における寸法が、チップ型電子部品Ｃの幅寸法Ｗより若干長い寸法を有し、搬送テーブル３による搬送方向における寸法が、チップ型電子部品Ｃの厚さ寸法Ｔより若干長い寸法を有する。
搬送テーブル３の一部分の近傍には、ワーク供給部５が設けられる。ワーク供給部５は、搬送テーブル３のキャビティ４にチップ型電子部品Ｃを供給するためのものである。
また、搬送テーブル３の他の部分の近傍には、測定部６が設けられる。測定部６は、搬送テーブル３のキャビティ４内のチップ型電子部品Ｃの電気的特性を測定するためのものである。測定部６は、図１１に示すように、ローラ形状の第１の測定端子６ａと、ブロック状の第２の測定端子６ｂとを含む。第１の測定端子６ａは、テーブル２に形成した端子用孔２ａを介して搬送テーブル３のキャビティ４内のチップ型電子部品Ｃの一方の外部電極Ｅに接触するように、テーブル２側に設けられる。この場合、第１の測定端子６ａは、搬送テーブル３の径方向にのびる軸を中心として回転するように、テーブル２に回転可能に設けられる。また、第２の測定端子６ｂは、搬送テーブル３のキャビティ４内のチップ型電子部品Ｃの他方の外部電極Ｅに接触するように、第１の測定端子６ａに対向するように設けられる。
図９に示すチップ型電子部品の電気的特性測定装置１では、チップ型電子部品Ｃがワーク供給部５によって搬送テーブル３のキャビティ４に供給され、キャビティ４に供給されたチップ型電子部品Ｃは搬送テーブル３によって測定部６側に搬送され、チップ型電子部品Ｃの電気的特性が測定部６の第１の測定端子６ａおよび第２の測定端子６ｂを介して測定される。
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−３１５２２７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところが、図９に示すチップ型電子部品の電気的特性測定装置１では、扁平形状のチップ型電子部品Ｃの幅方向が搬送テーブル３の径方向に平行するようにチップ型電子部品Ｃが搬送テーブル３のキャビティ４内に収納される構造なので、図１１に示すように、チップ型電子部品Ｃの長手方向における一端部が、搬送テーブル３による搬送方向において短く、測定部６のローラ形状の第１の測定端子６ａとテーブル２の端子用孔２ａを規定する部分との間で咬み込まれてしまい、チップ型電子部品Ｃが損傷したり、搬送テーブル３が停止したりしてしまうおそれがある。
【０００５】
それゆえに、この発明の主たる目的は、チップ型電子部品が咬み込まれにくいチップ型電子部品の電気的特性測定装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明にかかるチップ型電子部品の電気的特性測定装置は、長さ寸法より幅寸法が短くかつ幅寸法より厚さ寸法が短い直方体状に形成され、長手方向における長方形状の両端面に外部電極をそれぞれ有するチップ型電子部品の電気的特性を測定するためのチップ型電子部品の電気的特性測定装置であって、測定装置本体と、測定装置本体に回転自在に保持され、チップ型電子部品を収納するためのキャビティを有する搬送テーブルと、キャビティ内のチップ型電子部品の一方の外部電極に接触するように、搬送テーブルによるチップ型電子部品の搬送方向に沿って回転するように測定装置本体に設けられているローラ形状の第１の測定端子と、キャビティ内のチップ型電子部品の他方の外部電極に接触するように、第１の測定端子に対向する位置に設けられている第２の測定端子とを備え、キャビティは、チップ型電子部品の長手方向における両端面に対応した長方形状の開口部を有し、外部電極が搬送テーブルの両主面側で露出するようにチップ型電子部品を長手方向に受け入れて収納するように形成され、開口部の長手方向が搬送テーブルの径方向以外の方向となるように形成されている、チップ型電子部品の電気的特性測定装置である。なお、この発明において、電気的特性が測定されるチップ型電子部品は、直方体状に形成されたチップ型電子部品であるが、稜線部分に丸みを帯びていない直方体のチップ型電子部品だけでなく、直方体の稜線部分に多少の丸みを帯びた形状のチップ型電子部品も含まれる。また、この発明においては、長方形状の両端面とは、丸みを帯びていない長方形の両端面だけでなく、長方形の角部に多少の丸みを帯びた形状の両端面も含まれる。
この発明にかかるチップ型電子部品の電気的特性測定装置では、キャビティは、キャビティ内のチップ型電子部品の寸法であって搬送テーブルによるチップ型電子部品の搬送方向における寸法が、第１の測定端子と測定装置本体との間の隙間より大きくなるように形成されていることが好ましい。
また、この発明にかかるチップ型電子部品の電気的特性測定装置では、キャビティは、開口部の長手方向が搬送テーブルによる搬送方向に実質的に沿うように形成されていることが好ましい。なお、この発明において、搬送方向に実質的に沿うように形成されているとは、搬送方向に沿うように形成されていることだけでなく、搬送方向に略沿うように形成されていることも含まれる。
さらに、この発明にかかるチップ型電子部品の電気的特性測定装置では、搬送テーブルは回転軸が実質的に水平方向にあり、キャビティは真空吸引によってチップ型電子部品を吸引保持するキャビティであり、チップ型電子部品をキャビティの近傍に浮上させるチップ型電子部品供給部を備え、チップ型電子部品供給部で浮上したチップ型電子部品をキャビティ内からの真空吸引によってキャビティ内に収容するようにすることが好ましい。なお、この発明において、回転軸が実質的に水平方向にあるとは、回転軸が水平方向にあることだけでなく、回転軸が略水平方向にあることも含まれる。
【０００７】
この発明にかかるチップ型電子部品の電気的特性測定装置では、搬送テーブルに形成されたキャビティの開口部の長手方向が搬送テーブルの径方向以外の方向となるようにキャビティが形成されているので、キャビティ内のチップ型電子部品の長手方向における一端部が、搬送テーブルによる搬送方向において長くなり、ローラ形状の第１の測定端子と測定装置本体との間で咬み込まれにくくなる。
また、この発明にかかるチップ型電子部品の電気的特性測定装置において、キャビティは、キャビティ内のチップ型電子部品の寸法であって搬送テーブルによるチップ型電子部品の搬送方向における寸法が、第１の測定端子と測定装置本体との間の隙間より大きくなるように形成されていると、キャビティ内のチップ型電子部品の長手方向における一端部が、ローラ形状の第１の測定端子と測定装置本体との間でさらに咬み込まれにくくなる。
さらに、この発明にかかるチップ型電子部品の電気的特性測定装置において、キャビティは、開口部の長手方向が搬送テーブルによる搬送方向に実質的に沿うように形成されていると、キャビティ内のチップ型電子部品の長手方向における一端部が、搬送テーブルによる搬送方向において非常に長くなり、ローラ形状の第１の測定端子と測定装置本体との間で非常に咬み込まれにくくなる。
また、この発明にかかるチップ型電子部品の電気的特性測定装置において、搬送テーブルは回転軸が実質的に水平方向にあり、キャビティは真空吸引によってチップ型電子部品を吸引保持するキャビティであり、チップ型電子部品をキャビティの近傍に浮上させるチップ型電子部品供給部を備え、チップ型電子部品供給部で浮上したチップ型電子部品をキャビティ内からの真空吸引によってキャビティ内に収容するようにすると、チップ型電子部品をキャビティ内に収納しやすくなる。
【発明の効果】
【０００８】
この発明によれば、チップ型電子部品が咬み込まれにくいチップ型電子部品の電気的特性測定装置が得られる。
【０００９】
この発明の上述の目的、その他の目的、特徴および利点は、図面を参照して行う以下の発明を実施するための最良の形態の説明から一層明らかとなろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
図１はこの発明にかかるチップ型電子部品の電気的特性測定装置の一例を示す要部正面図解図であり、図２はその電気的特性測定装置の要部側面図解図であり、図３はその電気的特性測定装置の要部側面図解図であり、図４は図１の線ＩＶ−ＩＶにおける断面図解図である。
図１に示すチップ型電子部品の電気的特性測定装置１０は測定装置本体１２を含み、測定装置本体１２は固定的に設けられるテーブル１４を含む。テーブル１４は、略垂直な主面を有する。
【００１１】
テーブル１４の略垂直な主面上には、円板状のターンテーブルないし搬送テーブル１６が、略水平方向に配置される中心軸を回転軸として回転自在に保持されている。すなわち、搬送テーブル１６は、測定装置本体１２に回転自在に保持されている。また、搬送テーブル１６は、ロータ（図示せず）で回転することができるように構成されている。この場合、搬送テーブル１６は、搬送テーブル１６の回転方向における角度であって後述のキャビティ１８、１８、・・が隔てられている等角度ごとに、間欠的に回転することができるように構成されている。
【００１２】
搬送テーブル１６は、たとえば１３個のキャビティ１８、１８、・・を有する。これらのキャビティ１８、１８、・・は、搬送テーブル１６の回転軸を中心とする円周上に、等間隔を隔ててすなわち搬送テーブル１６の回転軸を中心として等角度を隔てて形成されている。これらのキャビティ１８、１８、・・は、それぞれ、電気的特性を測定すべきたとえばチップ型電子部品Ｃを収納して保持するためのものである。
キャビティ１８の深さは、搬送テーブル１６の厚みに相当し、キャビティ１８内のチップ型電子部品Ｃの外部電極Ｅ、Ｅが搬送テーブル１６の両主面側で露出するように、チップ型電子部品Ｃの長さ寸法Ｌに対応して、その長さ寸法Ｌより若干短い寸法を有する。
また、キャビティ１８は、搬送テーブル１６の径方向における寸法が、チップ型電子部品Ｃの厚さ寸法Ｔに対応して、その厚さ寸法Ｔより若干長い寸法を有する。
さらに、キャビティ１８は、搬送テーブル１６によるチップ型電子部品Ｃの搬送方向における寸法が、チップ型電子部品Ｃの幅寸法Ｗに対応して、その幅寸法Ｗより若干長い寸法を有する。
すなわち、キャビティ１８は、チップ型電子部品Ｃの長手方向における両端面に対応した長方形状の開口部を有する。また、キャビティ１８は、チップ型電子部品Ｃの外部電極Ｅ、Ｅが搬送テーブル１６の両主面側で露出するように、チップ型電子部品Ｃを長手方向にのみ受け入れて収納するように形成されている。さらに、キャビティ１８は、開口部の長手方向が搬送テーブル１８による搬送方向に沿うように形成されている。
また、キャビティ１８は、キャビティ１８内のチップ型電子部品Ｃの寸法であって搬送テーブル１６によるチップ型電子部品Ｃの搬送方向における寸法が、後述の第１の測定端子３２と測定装置本体１２のテーブル１４の端子用孔１４ａを規定する部分との間の隙間より大きくなるように形成されており、０．０２ｍｍ以下であることが望ましい。
さらに、キャビティ１８は、図２の矢印で示すように真空吸引手段（図示せず）によるキャビティ１８内からの真空吸引によってチップ型電子部品Ｃをキャビティ１８内に収容して吸引保持するように構成されている。
【００１３】
搬送テーブル１６の一部分の近傍、特に、高さ方向において中間に位置するキャビティ１８の近傍には、図１に示すように、チップ型電子部品供給部２０が設けられる。チップ型電子部品供給部２０は、搬送テーブル１６のキャビティ１８にチップ型電子部品Ｃを供給するためのものである。
チップ型電子部品供給部２０は、図２に示すように、振動部を有する供給部本体２２を含む。供給部本体２２の上部には、収容部２４が設けられる。収容部２４は、多数のチップ型電子部品Ｃを収容するためのものであり、水平方向に配置される底板２４ａを有する。底板２４ａにおいて、搬送テーブル１６側の端部以外の端部には、チップ型電子部品Ｃが不用意に落下しないようにするために、側壁（図示せず）が設けられている。
収容部２４の横、特に、搬送テーブル１６側の横には、案内部２６が設けられる。案内部２６は、収容部２４に収容されているチップ型電子部品Ｃを搬送テーブル１６のキャビティ１８側に案内するためのものである。案内部２６は、収容部２４の底板２４ａから搬送テーブル１６のキャビティ１８の近傍にのびる底板２６ａを有する。底板２６ａは、収容部２４側の部分よりキャビティ１８側の部分が下方になるように傾斜して配置される。なお、底板２６ａにおいて、収容部２４および搬送テーブル１６側の端部以外の両側端部にも、チップ型電子部品Ｃが不用意に落下しないようにするために、側壁（図示せず）が設けられている。
このチップ型電子部品供給部２０は、供給部本体２２の振動部で収容部２４および案内部２６が図２の矢印で示す横方向に振動し、それによって、収容部２４に収容されているチップ型電子部品Ｃが案内部２６を介して搬送テーブル１６のキャビティ１８側に徐々に移動されるように構成されている。
【００１４】
搬送テーブル１６の他の部分の近傍、特に、高さ方向において上方から中央に位置するキャビティ１８の近傍には、図１に示すように、測定部３０が設けられる。測定部３０は、搬送テーブル１６のキャビティ１８内のチップ型電子部品Ｃの電気的特性を測定するためのものである。
測定部３０は、図４に示すように、ローラ形状の第１の測定端子３２を含む。第１の測定端子３２は、テーブル１４に形成した端子用孔１４ａを介して搬送テーブル１６のキャビティ１８内のチップ型電子部品Ｃの一方の外部電極Ｅに接触するように、テーブル１４側に設けられる。この場合、第１の測定端子３２は、搬送テーブル１６の径方向にのびる軸を中心として、搬送テーブル１６によるチップ型電子部品Ｃの搬送方向に沿って回転するように、テーブル１４に回転可能に設けられる。
さらに、測定部３０は、ブロック状の第２の測定端子３４を含む。第２の測定端子３４は、搬送テーブル１６のキャビティ１８内のチップ型電子部品Ｃの他方の外部電極Ｅに接触するように、第１の測定端子３２に対向する位置に設けられる。
また、第１の測定端子３２および第２の測定端子３４は、チップ型電子部品Ｃの電気的特性を測定するための測定機器（図示せず）に電気的に接続される。この測定機器としては、たとえば、チップ型電子部品Ｃがチップ型積層コンデンサである場合には静電容量値、誘電体損失、絶縁抵抗値などの電気的特性を測定するための機器が用いられ、チップ型電子部品Ｃがチップ型抵抗器である場合には抵抗値などの電気的特性を測定するための機器が用いられ、チップ型電子部品Ｃがチップ型インダクタである場合にはインダクタンス値などの電気的特性を測定するための機器が用いられる。
なお、チップ型電子部品Ｃの異なった複数の電気的特性を測定するためには、複数組の第１の測定端子３２、第２の測定端子３４およびそれらに電気的に接続される所望の測定機器が、搬送テーブル１６のキャビティ１８、１８、・・の近傍において、搬送テーブル１６の回転方向に沿って並べて設けられてもよい。
【００１５】
図１に示すチップ型電子部品の電気的特性測定装置１０では、チップ型電子部品供給部２０によってチップ型電子部品Ｃが搬送テーブル１６のキャビティ１８に供給される。
そして、キャビティ１８に供給されたチップ型電子部品Ｃは、搬送テーブル１６の回転によって、測定部３０側に搬送される。
それから、測定部３０側に搬送されたキャビティ１８内のチップ型電子部品Ｃは、その電気的特性が測定部３０の第１の測定端子３２および第２の測定端子３４を介して測定機器で測定される。
【００１６】
上述の電気的特性測定装置１０では、キャビティ１８の開口部の長手方向が搬送テーブル１６によるチップ型電子部品Ｃの搬送方向に沿うようにキャビティ１８が形成されているので、キャビティ１８内のチップ型電子部品Ｃの搬送方向における長さが長くなり、チップ型電子部品Ｃが第１の測定端子３２およびテーブル１４との間で咬み込まれにくくなる。
【００１７】
また、上述の電気的特性測定装置１０では、チップ型電子部品Ｃをキャビティ１８内に吸引保持するので、チップ型電子部品Ｃを予め整列しておかなくても、チップ型電子部品Ｃをキャビティ１８に収納することができる。
【００１８】
さらに、上述の電気的特性測定装置１０では、キャビティ１８の開口部が、チップ型電子部品Ｃの幅寸法および厚さ寸法に対応し、すなわち、チップ型電子部品Ｃの一番小さい面に対応するので、キャビティ１８に収納されるチップ型電子部品Ｃの方向が一定の方向に決まる。この場合、チップ型電子部品Ｃの外部電極Ｅ、Ｅが搬送テーブル１６の両主面で露出するようにチップ型電子部品Ｃの収納される方向が決まるので、チップ型電子部品Ｃの外部電極Ｅ、Ｅに測定部３０の第１の測定端子３２および第２の測定端子３４を接触して、チップ型電子部品Ｃの電気的特性を測定することができる。
【００１９】
なお、図１に示す電気的特性測定装置１０では、搬送テーブル１６に１３個のキャビティ１８、１８、・・が１つの円周上に一列に形成されているが、図５に示すように、多数のキャビティ１８、１８、・・が、４つの同心円の円周上に４列に形成されてもよい。この場合、４列のキャビティ１８、１８、・・に対応してチップ型電子部品供給部が設けられるとともに、各列のキャビティ１８、１８、・・に対応して第１の測定端子、第２の測定端子および測定機器がそれぞれ設けられる。このように、キャビティ１８などの数や配列を変えても、チップ型電子部品Ｃが第１の測定端子３２およびテーブル１４との間で咬み込まれにくくなるという効果が得られる。また、このようにキャビティ１８などを複数列に形成すると、１つ当たりのチップ型電子部品Ｃの電気的特性を測定する平均速度を速くすることができる。
【００２０】
また、図１に示す電気的特性測定装置１０の搬送テーブル１６や図５に示す搬送テーブル１６では、キャビティ１８の開口部の長手方向が搬送テーブル１６によるチップ型電子部品Ｃの搬送方向に沿うようにキャビティ１８が形成されているが、図６に示すように、キャビティ１８は、開口部の長手方向が搬送テーブル１６によるチップ型電子部品Ｃの搬送方向に対して斜めの方向になるように形成されてもよい。このようにしても、チップ型電子部品Ｃの搬送方向における長さが長くなるので、チップ型電子部品Ｃが第１の測定端子３２およびテーブル１４との間で咬み込まれにくくなる。
【００２１】
図７はこの発明にかかるチップ型電子部品の電気的特性測定装置の他の例を示す要部側面図解図である。図７に示す電気的特性測定装置１０は、図１に示す電気的特性測定装置１０と比べて、チップ型電子部品供給部２０の案内部２６の底板２６ａに複数の吹出用孔２６ｂ、２６ｂ、・・が形成されるとともに、それらの吹出用孔２６ｂ、２６ｂ、・・から上方に気体が吹き出され、それによって、底板２６ａ上のチップ型電子部品Ｃを搬送テーブル１６のキャビティ１８の近傍に浮上させるように構成されている。
【００２２】
図７に示す電気的特性測定装置１０では、図１に示す電気的特性測定装置１０と同様に、チップ型電子部品Ｃが咬み込まれにくくなるが、さらに、チップ型電子部品Ｃを搬送テーブル１６のキャビティ１８の近傍に浮上させるように構成されているので、チップ型電子部品Ｃを搬送テーブル１６のキャビティ１８内に収納しやすくなる。
【００２３】
なお、上述の各電気的特性測定装置１０には、搬送テーブル１６のキャビティ１８の近傍において、チップ型電子部品供給部２０の下流側に測定部３０が設けられているが、測定部３０の下流側には、測定部３０によるチップ型電子部品Ｃの電気的特性の測定結果に基づいてチップ型電子部品Ｃを良品と不良品とに分別するための分別部が設けられてもよい。
【００２４】
また、上述の各電気的特性測定装置１０では、測定装置本体１２のテーブル１４が略垂直な主面を有し、テーブル１４の略垂直な主面上に搬送テーブル１６が略垂直に設けられているが、テーブル１４の主面および搬送テーブル１６は、略垂直な面以外に垂直面、斜面または水平面に平行するように形成されてもよい。
【産業上の利用可能性】
【００２５】
この発明にかかるチップ型電子部品の電気的特性測定装置は、たとえば、チップ型積層コンデンサの静電容量値、誘電体損失、絶縁抵抗値、チップ型抵抗器の抵抗値、およびチップインダクタのインダクタンス値などのチップ型電子部品の電気的特性を測定するために利用される。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】この発明にかかるチップ型電子部品の電気的特性測定装置の一例を示す要部正面図解図である。
【図２】図１に示す電気的特性測定装置の要部側面図解図である。
【図３】図１に示す電気的特性測定装置の要部側面図解図である。
【図４】図１の線ＩＶ−ＩＶにおける断面図解図である。
【図５】搬送テーブルの他の例を示す正面図である。
【図６】搬送テーブルのさらに他の例を示す正面図である。
【図７】この発明にかかるチップ型電子部品の電気的特性測定装置の他の例を示す要部側面図解図である。
【図８】この発明が適用されるチップ型電子部品の一例を示す斜視図である。
【図９】従来のチップ型電子部品の電気的特性測定装置の一例を示す要部正面図解図である。
【図１０】図９に示す電気的特性測定装置の要部底面図解図である。
【図１１】図９の線ＸＩ−ＸＩにおける断面図解図である。
【符号の説明】
【００２７】
１０  チップ型電子部品の電気的特性測定装置
１２  測定装置本体
１４  テーブル
１４ａ  端子用孔
１６  搬送テーブル
１８  キャビティ
２０  チップ型電子部品供給部
２２  供給部本体
２４  収容部
２４ａ  底板
２６  案内部
２６ａ  底板
２６ｂ  吹出用孔
３０  測定部
３２  第１の測定端子
３４  第２の測定端子
Ｃ  チップ型電子部品
Ｅ  外部電極
Ｌ、Ｗ、Ｔ  長さ、幅、厚さ
【図１】
2007033094.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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