(57)【要約】【課題】本発明はテストシステム及びそれのテスト方法を提供する。【解決手段】本発明はテストシステムに関する。本発明に係るテストシステムはテストデータを生成するレファレンスチップと、前記テストデータが入力されて前記レファレンスチップに前記テストデータを返却するテストターゲットチップとを含み、前記レファレンスチップは前記テストデータと前記返却されたテストデータとを比較して前記テストターゲットチップが定常に動作するか否かを判別することを特徴とする。【選択図】図１
2007033440.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テストデータを生成するレファレンスチップと、
前記テストデータが入力されて、前記レファレンスチップに前記テストデータを返却するテストターゲットチップとを含み、
前記レファレンスチップは前記テストデータと前記返却されたテストデータとを比較して前記テストターゲットチップが定常に動作するか否かを判別することを特徴とするテストシステム。
【請求項２】
前記レファレンスチップは、
前記テストデータを生成するテストデータ生成部と、
前記テストデータと前記返却されたテストデータを比較する比較部とを含むことを特徴とする請求項１に記載のテストシステム。
【請求項３】
前記レファレンスチップはテストを通じて動作が検証されたチップであることを特徴とする請求項２に記載のテストシステム。
【請求項４】
前記比較部は前記テストデータと前記返却されたテストデータが一致すれば、前記テストターゲットチップは正常動作すると判別し、
前記テストデータと前記戻ったテストデータが一致しなければ、前記テストターゲットチップは正常動作しないと判別することを特徴とする請求項２に記載のテストシステム。
【請求項５】
前記レファレンスチップは前記テストターゲットチップが定常に動作したか否かの判別結果を表示する表示装置をさらに含むことを特徴とする請求項４に記載のテストシステム。
【請求項６】
前記表示装置はＬＥＤで構成されることを特徴とする請求項５に記載のテストシステム。
【請求項７】
前記テストデータ生成部は外部から印加される制御信号に応答して前記テストデータを生成することを特徴とする請求項２に記載のテストシステム。
【請求項８】
前記テストデータ生成部は内部で生成されたクロック信号に応答して前記テストデータを生成することを特徴とする請求項２に記載のテストシステム。
【請求項９】
前記テストデータはシリアルデータであることを特徴とする請求項１に記載のテストシステム。
【請求項１０】
前記テストターゲットチップに前記テストデータが入力されてパラレルデータ、シリアルデータの順に変換した後、変換されたシリアルデータを前記レファレンスチップに返却することを特徴とする請求項９に記載のテストシステム。
【請求項１１】
テストデータを生成するレファレンスチップと、
前記テストデータが入力されて前記レファレンスチップに前記テストデータを返却するテストターゲットチップと、
前記テストデータと前記戻ったテストデータとを比較して前記テストターゲットチップが定常に動作するか否かを判別する比較部とを含むことを特徴とするテストシステム。
【請求項１２】
前記比較部は前記テストターゲットチップが定常に動作したか否かの判別結果を表示する表示装置をさらに含むことを特徴とする請求項１１に記載のテストシステム。
【請求項１３】
レファレンスチップからテストデータを出力する段階と、
テストターゲットチップに前記テストデータが入力されて、前記レファレンスチップに前記テストデータを返却する段階と、  
前記レファレンスチップが前記テストデータと前記戻ったテストデータとを比較して前記テストターゲットチップが定常に動作するか否かを判別する段階とを含むことを特徴とするテスト方法。
【請求項１４】
レファレンスチップからテストデータを出力する段階と、  
テストターゲットチップに前記テストデータが入力され、前記レファレンスチップに前記テストデータを返却する段階と、  
比較部が前記テストデータと前記返却されたテストデータとを比較して前記テストターゲットチップが定常に動作するか否かを判別する段階とを含むことを特徴とするテスト方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はテストシステムに関する。
【背景技術】
【０００２】
テスティング（Ｔｅｓｔｉｎｇ）とは、与えられた製品が定常に動作するか否かを検査する作業である。製作者の立場では、製品を出庫する前に不良品を選び出すことによって、製品の信頼度を高める必要があり、ユーザの立場では、買い入れた製品または使用中である製品が定常に動作するか否かを確認する必要がある。
【０００３】
最近、設計技術の発達と自動化、及び工程技術の発達により、回路の集積度が大きく向上している一方、テスティングの実施は徐々に難しくなってきている。現在、超集積回路における製造価格でテスティングが占める比重が重くなることによって、テスティングが出庫製品の信頼度の向上だけでなく、製品のコストダウン及び利益増大の側面でも非常に重要な問題として注目されている。
【０００４】
製品を量産する前に、一般的に行われるテスト方法は、自動テスト装備（ＡＴＥ：Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｔｅｓｔ  Ｅｑｕｉｐｍｅｎｔ）などのようなテスト装備を用いて行われている。特に、ＵＳＢ、ハードディスクドライバ（ＨＤＤ）に用いられるＳＡＴＡ（Ｓｅｒｉａｌ  Ａｄｖａｎｃｅｄ  Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ  Ａｔｔａｃｈｍｅｎｔ）、サーバに用いられる光チャネルサデス（Ｆｉｂｒｅ  Ｃｈａｎｎｅｌ  Ｓｅｒｄｅｓ）のように高速で動作する装置のテストのためには高価な高速データパターン発生器が別途に具備されるべきである。別途のテスト装備を用いたテスト方法は、高価なテスト装備により製品原価の上昇をもたらす。そして、テスト装備のセットアップまで長い時間がかかって製品の初期検証が遅くなって製品の出荷が遅延される問題がある。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明の課題は、別途のテスト装備なしに装置の動作を検証することができるテストシステムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係るテストシステムは、テストデータを生成するレファレンスチップと、前記テストデータが入力されて前記レファレンスチップに前記テストデータを変換するテストターゲットチップとを含み、前記レファレンスチップは前記テストデータと前記戻ったテストデータとを比較して前記テストターゲットチップが定常に動作するか否かを判別することを特徴とする。
【０００７】
この実施形態においては、前記レファレンスチップは前記テストデータを生成するテストデータ生成部と、前記テストデータと前記戻ったテストデータとを比較する比較部とを含むことを特徴とする。
【０００８】
この実施形態においては、前記レファレンスチップはテストを通じて動作が検証されたチップであることを特徴とする。
【０００９】
この実施形態においては、前記比較部は前記テストデータと前記戻ったテストデータが一致すれば、前記テストターゲットチップは定常に動作すると判別し、前記テストデータと前記戻ったテストデータが一致しなければ、前記テストターゲットチップは定常に動作しないと判別することを特徴とする。
【００１０】
この実施形態においては、前記レファレンスチップは、前記テストターゲットチップが定常に動作したか否かの判別結果を表示する表示装置をさらに含むことを特徴とする。
【００１１】
この実施形態においては、前記表示装置はＬＥＤで構成されることを特徴とする。
【００１２】
この実施形態においては、前記テストデータ生成部は外部から印加される制御信号に応答して前記テストデータを生成することを特徴とする。
【００１３】
この実施形態においては、前記テストデータ生成部は内部から生成されたクロック信号に応答して前記テストデータを生成することを特徴とする。
【００１４】
この実施形態においては、前記テストデータはシリアルデータであることを特徴とする。
【００１５】
この実施形態においては、前記テストデータターゲットチップに前記テストデータが入力されてパラレルデータ、シリアルデータの順に変換した後、変換されたシリアルデータを前記レファレンスチップに変換することを特徴とする。
【００１６】
本発明に係るテストシステムは、テストデータを生成するレファレンスチップと前記テストデータが入力されて前記レファレンスチップに前記テストデータを戻すテストターゲットチップと、前記テストデータと前記戻ったテストデータを比較して前記テストターゲットチップが定常に動作するか否かを判別する比較部と含むことを特徴とする。
【００１７】
この実施形態においては、前記比較部は前記テストターゲットチップが定常に動作したか否かの判別結果を表示する表示装置をさらに含むことを特徴とする。
【００１８】
本発明に係るテスト方法は、レファレンスチップからテストデータを出力する段階と、テストターゲットチップに前記テストデータが入力されて前記レファレンスチップに前記テストデータを戻す段階と、前記レファレンスチップが前記テストデータと前記戻ったテストデータとを比較して前記テストターゲットチップが定常に動作するか否かを判別する段階とを含むことを特徴とする。
【００１９】
本発明に係るテスト方法は、レファレンスチップからテストデータを出力する段階と、テストターゲットチップに前記テストデータが入力されて前記レファレンスチップに前記テストデータを戻す段階と、比較部が前記テストデータと前記戻ったテストデータとを比較して前記テストターゲットチップが定常に動作するか否かを判別する段階とを含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によると、別途の高価なテスト装備が要しなくなるため、製品の原価を節減するという効果がある。また、検証された複数個のレファレンスチップのみが存在すれば、複数個のチップを同時にテストできるため、テスト時間を減らすことができるという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、本発明に係る実施形態を添付の図を参照して詳細に説明する。
【００２２】
図１は本発明の第１実施形態に係るテストシステムのブロック図である。本発明の第１実施形態に係るテストシステムはテストターゲットチップ２００の動作の検証のために別途のテスト装備なしに検証されたレファレンスチップを用いる。レファレンスチップ１００はパラレルデータ受信端子ＴＸＤ、パラレルデータ送信端子ＲＸＤ、シリアルデータ送信端子ＴＸ、シリアルデータ受信端子ＲＸ、テスト制御端子ＴＳ、テスト結果端子Ｔｏｕｔの入出力端子を有する。レファレンスチップ１００は直列化部１１０、送信ドライバ１２０、並列化部１３０、復元部１４０、テストデータ生成部１５０、比較部１６０で構成される。
【００２３】
直列化部（Ｓｅｒｉａｌｉｚｅｒ）１１０はパラレルデータをシリアルデータに変換する。直列化部１１０はパラレルデータ受信端子ＴＸＤあるいは並列化部１３０からパラレルデータが入力されてシリアルデータに変換した後、シリアルデータを送信ドライバ１２０に出力する。
【００２４】
送信ドライバ（Ｔｒａｎｓｍｉｔ  Ｄｒｉｖｅｒ）１２０は直列化部１１０から入力されたシリアルデータをシリアルデータ送信端子ＴＸを通じて出力を制御する。送信ドライバ１２０はテストデータ生成部１５０から入力されるテストデータＴＤをテストターゲットチップ２００に印加する。送信ドライバ１２０を通じて出力される送信テストデータＤｔｘは比較部１６０に一時貯蔵される。
【００２５】
並列化部（Ｄｅｓｅｒｉａｌｉｚｅｒ）１３０はシリアルデータをパラレルデータに変換する。並列化部１３０は復元部１４０からシリアルデータが入力されてパラレルデータに変換した後、パラレルデータ送信端子ＲＸＤあるいは直列化部１１０にパラレルデータを出力する。
【００２６】
復元部（Ｒｅｃｏｖｅｒｙ）１４０はシリアルデータ受信端子ＲＸを通じて入力される信号のうちデータ成分のみを復元する。復元部１４０を通じて入力された受信されたテストデータＤｒｘは比較部１６０に印加される。
【００２７】
テストデータ生成部１５０はテストターゲットチップ２００の動作を検証するためのテストデータＴＤを生成する。テストデータ生成部１５０はスイッチなどで構成されて任意のテストデータパターンを生成する。テストデータ生成部１５０はテスト制御端子ＴＳに入力される制御信号により動作をスタートする。テストデータ生成部１５０で生成されたテストデータＴＤは送信ドライバ１２０を経てテストターゲットチップ２００に入力される。
【００２８】
比較部（Ｃｏｍｐａｒａｔｏｒ）１６０は送信テストデータＤｔｘと受信されたテストデータＤｒｘが同一であるか否かを判別する。送信テストデータＤｔｘはテストターゲットチップ２００に入力されるテストデータである。受信されたテストデータＤｒｘは送信テストデータＤｔｘがテストターゲットチップ２００内の各ブロックで動作した後出力されるテストデータである。もし、テストターゲットチップ２００が誤動作すれば、受信されたテストデータＤｒｘは送信テストデータＤｔｘと一致しなくなる。比較部１６０はテストターゲットチップ２００が定常に動作するか否かを示すテスト結果をテスト結果端子Ｔｏｕｔに出力する。テスト結果端子ＴｏｕｔはＬＥＤのような表示装置と連結されてテストターゲットチップ２００が定常に動作するか否かを表示することができる。
【００２９】
図１のテストターゲットチップ２００はパラレルデータ受信端子ＴＸＤ、パラレルデータ送信端子ＲＸＤ、シリアルデータ送信端子ＴＸ、及びシリアルデータ受信端子ＲＸのような入出力端子を有する。テストターゲットチップ２００は直列化部２１０、送信ドライバ２２０、並列化部２３０、及び復元部２４０で構成される。テストターゲットチップ２００の入出力端子及びブロックの機能はレファレンスチップ１００と同一である。
【００３０】
テストターゲットチップ２００のシリアルデータ受信端子ＲＸにレファレンスチップ１００から入力されるテストデータパターンが入力される。入力されたテストデータパターンはテストターゲットチップ２００内の各ブロックを全部経た後、シリアルデータ送信端子ＴＸに出力される。もしテストターゲットチップ２００が正常に動作しなければ、入力されたテストデータパターンはテストターゲットチップ２００内の各ブロックを経た出力テストデータパターンと異なるようになる。
【００３１】
また、図１のテストシステムを用いてテストターゲットチップ２００の電源特性、温度特性、ノイズ特性に関するテストも容易に実施することができる。例えば、テストターゲットチップ２００に電源供給源を連結して供給電源レベルを異にする時、入出力されるテストデータをレファレンスチップ１００で比較して供給電源マージンをテストすることができる。また、レファレンスチップ１００から印加されるテストデータにノイズ成分を印加するか、レファレンスチップ１００とテストターゲットチップ２００とを連結するケーブルの長さを調節してテストターゲットチップ２００のノイズ特性をテストすることもできる。
【００３２】
図１のテストシステムを用いれば、別途のテスト装備なしに検証されたレファレンスチップ１００のみでテストターゲットチップ２００の動作を検証することができる。
【００３３】
図２は本発明の第２実施形態に係るテストシステムのブロック図である。レファレンスチップ１０２のテスト生成部１５０はクロック端子ＣＬＫにクロック信号が印加されて位相同期ループ（ＰＬＬ）１７０が動作すれば、テストデータＴＤの生成をスタートする。その他のブロックの動作は図１のテストシステムと同一である。
【００３４】
図３は本発明の第３実施形態に係るテストシステムのブロック図である。図３のテストシステムはテストデータ生成部３５０をレファレンスチップ１０４の外部に具備する。テストデータ生成部３５０はスイッチなどで構成され、パラレルテストデータを生成してレファレンスチップ１０４のパラレルデータ受信端子ＴＸＤに印加する。レファレンスチップ１０４に入力されたパラレルテストデータは直列化部１１０でシリアルデータに変換されて送信ドライバ１２０を経てテストターゲットチップ２００に印加される。その他のブロックの動作は図１のシステムと同一である。
【００３５】
図４は本発明の第４実施形態に係るテストシステムのブロック図である。図４のテストシステムは比較部３６０をレファレンスチップ１０６の外部に具備する。図４の比較部３６０はレファレンスチップ１０６から出力される送信テストデータＤｔｘとテストターゲットチップ２００から出力される受信テストデータＤｒｘとを比較してテストターゲットチップ２００のが定常に動作するか否かを検証する。
【００３６】
図５は本発明に係る複数個のチップをテストする方法を示すブロック図である。検証されたｎ個のレファレンスチップ１００の各々をｎ個のテストターゲットチップ２２０と連結して多数のチップを同時に検証することができる。テストの結果はレファレンスチップ１００にＬＥＤのような表示装置を構成してテストターゲットチップ２００が定常に動作するか否かを示すことができる。
【００３７】
図６は本発明に係る複数個のチップをテストする他の方法を示すブロック図である。図６は別途のテスト結果確認部３００を置いて、各々のレファレンスチップ１００から出力されるテスト結果Ｔｏｕｔ１〜Ｔｏｕｔｎを表示する役割を果たす。テスト結果確認部３００はテスト結果Ｔｏｕｔ１〜Ｔｏｕｔｎを画面表示や印刷などのような視覚的表示または音を用いた聴覚的表示も可能であろう。
【００３８】
上述のように、本発明に係るテストシステムは、別途のテスト装備なしに装置の動作を検証することができる。また、複数個の検証されたレファレンスチップのみが存在すれば、複数個のテストターゲットチップを同時に検証することができる。
【００３９】
本発明に係るテストシステムは集積回路チップや集積回路チップを含んだ各種の電子器機の動作検証テストに適用可能である。
【００４０】
以上のように、図面と明細書において最適な実施形態が開示された。ここで、特定の用語が用いられたが、これはただし本発明を説明するための目的として用いられたものであり、意味限定や特許請求の範囲に記載された本発明の範囲を制限するために用いられたものではない。したがって、本技術分野の通常の知識を持つ者であれば、これから様々な変形及び均一な他の実施形態が可能であることを理解するであろう。したがって、本発明の真の技術的保護範囲は特許請求の範囲の技術的思想により決められなければならない。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】本発明の第１実施形態に係るテストシステムのブロック図である。
【図２】本発明の第２実施形態に係るテストシステムのブロック図である。
【図３】本発明の第３実施形態に係るテストシステムのブロック図である。
【図４】本発明の第４実施形態に係るテストシステムのブロック図である。
【図５】本発明に係る複数個のチップをテストする方法を示すブロック図である。
【図６】本発明に係る複数個のチップをテストする他の方法を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００４２】
１００，１０２，１０４，１０６  レファレンスチップ
１１０，２１０  直列化部
１２０，２４０  送信ドライバ
１３０，２３０  並列化部
１４０，２４０  復元部
１５０，３５０  テストデータ生成部
１６０，３６０  比較部
１７０  位相同期ループ
２００  テストターゲットチップ
３００  テスト結果確認部
【図１】
2007033440.tif 000003
【図２】
2007033440.tif 000004
【図３】
2007033440.tif 000005
【図４】
2007033440.tif 000006
【図５】
2007033440.tif 000007
【図６】
2007033440.tif 000008