(57)【要約】 【課題】短絡バー、それと対応する短絡バー除去工程を削除することで工程を単純化することができる液晶表示パネルとその製造方法及びその検査方法を提供する。【解決手段】基板上に形成される複数のゲートラインと、前記ゲートラインと交差する複数のデータラインと、前記ゲートライン及びデータラインと各々接続する複数の画素用トランジスタと、前記ゲートライン及びデータラインの交差によって画定された領域内に形成され、前記画素用トランジスタ各々と接続される複数の画素電極と、前記複数のデータラインを駆動するために形成される複数個のデータ検査用トランジスタとを具備し、前記複数のデータ検査用トランジスタは駆動集積回路の実装領域内に形成される。【選択図】      図５
2007025700.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板上に形成される複数のゲートラインと、
前記ゲートラインと交差する複数のデータラインと、
前記ゲートライン及びデータラインと各々接続する複数の画素用トランジスタと、
前記ゲートライン及びデータラインの交差によって画定された領域内に形成され、前記画素用トランジスタ各々と接続される複数の画素電極と、
前記複数のデータラインを駆動するために形成される複数個のデータ検査用トランジスタとを具備し、
前記複数のデータ検査用トランジスタは駆動集積回路の実装領域内に形成されることを特徴とする液晶表示パネル。
【請求項２】
前記実装領域は、駆動集積回路チップが収容されるように形成されることを特徴とする請求項１に記載の液晶表示パネル。
【請求項３】
前記複数個のデータ検査用トランジスタは、前記液晶表示パネルに駆動集積回路が実装されるか否かによってターンオン／オフされることを特徴とする請求項２に記載の液晶表示パネル。
【請求項４】
前記複数個のデータ検査用トランジスタは、前記液晶表示パネルに駆動集積回路が実装される場合、ターンオフされることを特徴とする請求項１に記載の液晶表示パネル。
【請求項５】
前記複数個のデータ検査用トランジスタは、前記データラインを駆動するために形成される前記駆動集積回路が前記液晶表示パネルに実装される場合、ターンオフされることを特徴とする請求項１に記載の液晶表示パネル。
【請求項６】
前記複数個のデータ検査用トランジスタは、前記駆動集積回路が前記液晶表示パネルに固定されるとき、ターンオフされることを特徴とする請求項１に記載の液晶表示パネル。
【請求項７】
前記複数個のデータ検査用トランジスタは、前記データライン中オッド（ｏｄｄ）データラインに接続されるオッドデータ検査用トランジスタと、
前記データライン中イブン（ｅｖｅｎ）データラインに接続されたイブンデータ検査用トランジスタとを含むことを特徴とする請求項１に記載の液晶表示パネル。
【請求項８】
前記オッドデータ検査用トランジスタにデータ検査信号を供給するオッドデータ検査ライン及びオッドデータ検査パッドと、
前記イブンデータ検査用トランジスタにデータ検査信号を供給するイブンデータ検査ライン及びイブンデータ検査パッドと、
前記オッド及びイブンデータ検査用トランジスタに制御信号を供給するデータ制御ライン及びデータ制御パッドとをさらに具備することを特徴とする請求項７に記載の液晶表示パネル。
【請求項９】
前記オッド及びイブンデータ検査用トランジスタにデータ検査信号を供給するために形成された検査パッド及びデータ検査ラインをさらに具備することを特徴とする請求項７に記載の液晶表示パネル。
【請求項１０】
前記オッドデータ検査用トランジスタのゲートにオッド制御信号を供給するオッドデータ制御ライン及びオッドデータ制御パッドと、
前記イブンデータ検査用トランジスタのゲートにイブン制御信号を供給するイブンデータ制御ライン及びイブンデータ制御パッドとをさらに具備することを特徴とする請求項９に記載の液晶表示パネル。
【請求項１１】
前記データ検査用トランジスタにデータ検査信号を供給するために形成されるデータ検査パッド及びデータ検査ラインと、
前記データ検査用トランジスタのゲートに制御信号を供給するデータ制御ライン及びデータ制御パッドとをさらに具備することを特徴とする請求項４に記載の液晶表示パネル。
【請求項１２】
前記ゲートラインと接続される複数のゲート検査トランジスタをさらに具備することを特徴とする請求項１に記載の液晶表示パネル。
【請求項１３】
前記複数のゲート検査トランジスタは、前記ゲートライン中オッドゲートラインに接続されたオッドゲート検査トランジスタと、
前記ゲートライン中イブンゲートラインに接続されたイブンゲート検査トランジスタとを含むことを特徴とする請求項１２に記載の液晶表示パネル。
【請求項１４】
前記オッドゲート検査トランジスタにゲート検査信号を供給するオッドゲート検査ライン及びオッドゲート検査パッドと、
前記イブンゲート検査トランジスタにゲート検査信号を供給するイブンゲート検査ライン及びイブンゲート検査パッドと、
前記オッドゲート検査トランジスタに制御信号を供給するオッドゲート制御ライン及びオッドゲート制御パッドと、
前記イブンゲート検査トランジスタに制御信号を供給するイブンゲート制御ライン及びイブンゲート制御パッドとをさらに具備することを特徴とする請求項１３に記載の液晶表示パネル。
【請求項１５】
前記オッド及びイブンゲート検査トランジスタにゲート検査信号を供給するために形成されるゲート検査ライン及びゲート検査パッドと、
前記オッドゲート検査トランジスタのゲートに制御信号を供給するために形成されるオッドゲート制御ライン及びオッドゲート制御パッドと、
前記イブンゲート検査トランジスタのゲートに制御信号を供給するために形成されるイブンゲート制御ライン及びイブンゲート制御パッドとをさらに具備することを特徴とする請求項１３に記載の液晶表示パネル。
【請求項１６】
前記オッドゲート検査トランジスタにゲート検査信号を供給するために形成されるオッドゲート検査ライン及びオッドゲート検査パッドと、
前記イブンゲート検査トランジスタにゲート検査信号を供給するために形成されるイブンゲート検査ライン及びイブンゲート検査パッドと、
前記オッド及びイブンゲート検査トランジスタのゲートに制御信号を供給するために形成されるゲート制御ライン及びゲート制御パッドとをさらに具備することを特徴とする請求項１２に記載の液晶表示パネル。
【請求項１７】
前記ゲートラインを順次に駆動させるために前記基板に形成されるゲート駆動部をさらに具備することを特徴とする請求項１に記載の液晶表示パネル。
【請求項１８】
前記実装領域内に形成され、前記ゲート駆動部に駆動信号を供給する信号供給パッドをさらに具備することを特徴とする請求項１７に記載の液晶表示パネル。
【請求項１９】
前記信号供給パッドと共通で接続され、検査工程の際、検査信号が供給される検査供給パッドをさらに具備することを特徴とする請求項１８に記載の液晶表示パネル。
【請求項２０】
基板上に形成される複数のゲートラインと、前記ゲートラインと交差する複数のデータラインと、前記ゲートライン及びデータラインと各々接続される複数の画素用トランジスタと、前記ゲートライン及びデータラインの交差によって画定された領域内に形成され前記画素用トランジスタ各々と接続される複数の画素電極と、前記複数のデータラインを駆動するために形成された複数個のデータ検査用トランジスタとを具備する液晶表示パネルを備える段階を含み、
前記複数のデータ検査用トランジスタは駆動集積回路の実装領域内に形成されることを特徴とする液晶表示パネルの検査方法。
【請求項２１】
前記液晶表示パネルに画像が具現される間、前記複数のデータ検査用トランジスタは、非活性化（ｄｅａｃｔｉｖａｔｅ）されることを特徴とする請求項２０に記載の検査方法。
【請求項２２】
前記液晶表示パネルを備える段階は、前記データ検査用トランジスタを形成する段階を含み、
前記データ検査用トランジスタを形成する段階は、前記データライン中オッドデータラインに接続されるオッドデータ検査用トランジスタを形成する段階と、
前記データライン中イブンデータラインに接続されるイブンデータ検査用トランジスタを形成する段階とを含むことを特徴とする請求項２０に記載の液晶表示パネルの検査方法。  
【請求項２３】
前記複数のデータ検査用トランジスタが活性化されることにより前記液晶表示パネルの不良の有無を検査する段階をさらに含むことを特徴とする請求項２０に記載の液晶表パネルの検査方法。
【請求項２４】
前記液晶表示パネルの不良の有無を検査する段階は、前記ゲートライン各々にゲート検査信号を順次に供給する段階を含むことを特徴とする請求項２３に記載の液晶表示パネルの検査方法。
【請求項２５】
前記ゲート検査信号は、基板上に形成されたゲート駆動部で生成されることを特徴とする請求項２４に記載の液晶表示パネルの検査方法。
【請求項２６】
前記ゲート駆動部は、前記基板の一側に形成されることを特徴とする請求項２５に記載の液晶表示パネルの検査方法。
【請求項２７】
前記液晶表示パネルの不良の有無を検査する段階は、前記オッドデータラインにデータ検査信号を供給する段階と、
前記ゲートライン各々に前記ゲート検査信号を順次に供給する段階と、
前記イブンデータラインにデータ検査信号を供給する段階とをさらに含むことを特徴とする請求項２４に記載の液晶表示パネルの検査方法。
【請求項２８】
前記液晶表示パネルを備える段階は、前記ゲートラインを駆動するための複数のゲート検査トランジスタを含む液晶表示パネルを備える段階を含み、
前記液晶表示パネルの不良の有無を検査する段階は、オッドゲート検査トランジスタを通じてオッドゲートラインにゲート検査信号を順次に供給する段階と、
前記オッドデータ検査用トランジスタを通じてオッドデータラインにデータ検査信号を供給する段階と、
イブンゲート検査トランジスタを通じてイブンゲートラインにゲート検査信号を順次に供給する段階と、
前記イブンデータ検査トランジスタを通じてイブンデータラインにデータ検査信号を供給する段階とを含むことを特徴とする請求項２２に記載の液晶表示パネルの検査方法。
【請求項２９】
基板上に形成される複数のゲートラインと、前記ゲートラインと交差する複数のデータラインと、前記ゲートライン及びデータラインと各々接続される複数の画素用トランジスタと、前記ゲートライン及びデータラインの交差によって画定された領域内に形成され前記画素用トランジスタ各々と接続される複数の画素電極とを含む液晶表示パネルの製造方法において、
前記複数のデータラインを駆動するために駆動集積回路の実装領域内に形成される複数のデータ検査用トランジスタを形成する段階を含むことを特徴とする液晶表示パネルの製造方法。
【請求項３０】
前記複数のデータ検査用トランジスタを形成する段階は、前記データライン中オッドデータラインに接続されるオッドデータ検査用トランジスタと、前記データライン中イブンデータラインに接続されるイブンデータ検査用トランジスタを形成する段階を含むことを特徴とする請求項２９に記載の液晶表示パネルの製造方法。
【請求項３１】
前記オッドデータ検査用トランジスタにデータ検査信号を供給するオッドデータ検査ライン及びオッドデータ検査パッドを形成する段階と、
前記イブンデータ検査用トランジスタにデータ検査信号を供給するイブンデータ検査ライン及びイブンデータ検査パッドを形成する段階と、
前記オッド及びイブンデータ検査用トランジスタに制御信号を供給するデータ制御ライン及びデータ制御パッドを形成する段階とをさらに含むことを特徴とする請求項３０に記載の液晶表示パネルの製造方法。
【請求項３２】
前記オッドデータ検査用トランジスタ及びイブンデータ検査用トランジスタにデータ検査信号を供給するデータ検査ラインを形成する段階と、
前記オッドデータ検査用トランジスタのゲートにオッド制御信号を供給するオッドデータ制御ラインを形成する段階と、
前記イブンデータ検査用トランジスタのゲートにイブン制御信号を供給するイブンデータ制御ラインを形成する段階とをさらに含むことを特徴とする請求項３０に記載の液晶表示パネルの製造方法。
【請求項３３】
前記ゲートライン中オッドゲートラインに接続されるオッドゲート検査トランジスタを形成する段階と、
前記ゲートライン中イブンゲートラインに接続されたイブンゲート検査トランジスタを形成する段階とをさらに含むことを特徴とする請求項３０に記載の液晶表示パネルの製造方法。
【請求項３４】
前記オッドゲート検査トランジスタにゲート検査信号を供給するオッドゲート検査ライン及びオッドゲート検査パッドを形成する段階と、
前記イブンゲート検査トランジスタにゲート検査信号を供給するイブンゲート検査ライン及びイブンゲート検査パッドを形成する段階と、
前記オッドゲート検査トランジスタに制御信号を供給するオッドゲート制御ライン及びオッドゲート制御パッドを形成する段階と、
前記イブンゲート検査トランジスタに制御信号を供給するイブンゲート制御ライン及びイブンゲート制御パッドを形成する段階とをさらに含むことを特徴とする請求項３３に記載の液晶表示パネルの製造方法。
【請求項３５】
前記ゲートラインを順次に駆動させるために形成されるゲート駆動部を前記基板上に形成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項３３に記載の液晶表示パネルの製造方法。
【請求項３６】
前記ゲート駆動部に駆動信号を供給するために形成される信号供給パッドを前記実装領域に形成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項３５に記載の液晶表示パネルの製造方法。
【請求項３７】
前記信号供給パッドと共通で接続され、検査工程の際、検査信号が供給される検査供給パッドを形成する段階をさらに含むことを特徴とする請求項３６に記載の液晶表示パネルの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は液晶表示パネルとその製造方法及びその検査方法に関し、特に、工程を単純化することができる液晶表示パネルとその製造方法及びその検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
液晶表示装置は供給されたイメージ信号に基づいた電界が加えられた液晶層を通じて光透過率を調節することで画像を表示する。そのために、液晶表示装置は液晶セルがマトリックス形態に配列された液晶表示パネル、供給されたイメージデータ信号に基づいて液晶表示パネルを駆動するための駆動回路（例えば、画素アレイと隣接した周辺領域に位置する駆動回路）を具備する。
【０００３】
液晶表示パネルは互いに対向する薄膜トランジスタ基板及びカラーフィルタ基板、２つの基板の間に注入された液晶、及び２つの基板の間のセルギャップを保持させるスペーサを具備する。
【０００４】
薄膜トランジスタ基板はゲートライン及びデータライン、そのゲートラインとデータラインの交差部毎にスイッチ素子として形成された薄膜トランジスタ、液晶セル単位で形成され薄膜トランジスタに接続される画素電極、及びそれらの上に塗布される配向膜で構成される。ゲートラインとデータラインはそれぞれのパッド部を介して駆動回路から信号の供給を受ける。薄膜トランジスタはゲートラインに供給されるスキャン信号に応答してデータラインに供給される画素信号を画素電極に供給する。
【０００５】
カラーフィルタ基板は液晶セル単位で形成されたカラーフィルタ、カラーフィルタ間の区分及び外部光反射のためのブラックマトリックス、液晶セルに共通的に基準電圧（例えば、グラウンド電圧）を供給する共通電極、及びそれらの上に塗布される配向膜で構成される。
【０００６】
液晶表示パネルは薄膜トランジスタ基板とカラーフィルタ基板を別途に製作して合着した後、液晶を注入して封入することで形成される。
【０００７】
特に、薄膜トランジスタ基板は製造工程の後、信号ラインのショート、オープンなどのような信号ライン及び薄膜トランジスタ不良などを検出するための検査工程を経る。短絡バーは表示領域周辺にゲートライン及びデータラインと接続され検査工程の後、除去される。信号検査工程のために薄膜トランジスタ基板にはゲートラインとデータラインそれぞれをオッド（Ｏｄｄ）ラインとイブン（Ｅｖｅｎ）ラインとで区分して接続されたオッド短絡バーとイブン短絡バーが備えられる。
この短絡バーは非表示領域（周辺領域）に形成され検査工程以後のスクライビング工程、研磨工程またはレーザートリミング工程の除去工程によって除去される。ここで、除去工程の際、汚染粒子が発生するか、切断された面を通じて流入する水分または他の汚染物質によって信号ラインの腐食が発生するなどの問題が発生し信頼性が低下するという問題点があった。それにより、最近では短絡バーを除去するための別途の除去工程を省略することができる検査工程が要求されている。
【０００８】
従来の液晶表示装置で検査工程の後、駆動集積回路（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  ｃｉｒｃｕｉｔ；ＩＣ）のような集積回路チップ（ＩＣ）及び、或いはそのＩＣパッケージ（ＩＣチップと複数の導電パターンを含む）は一つの基板の非表示領域内の駆動ＩＣ実装領域内の基板に物理的及び電気的に付着される。短絡バーなどは駆動ＩＣの実装領域、例えば、非表示（周辺）領域の他の部分の外郭に形成される。検査工程の後、液晶表示パネルが良品として判定され駆動ＩＣは周辺領域の駆動ＩＣの実装領域内に固定される。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
そこで、本発明は上記従来の液晶表示パネルとその製造方法及びその検査方法における問題点に鑑みてなされたものであって、本発明の目的は、短絡バー、それと対応する短絡バー除去工程を削除することで工程を単純化することができる液晶表示パネルとその製造方法及びその検査方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するためになされた本発明による液晶表示パネルは、基板上に形成される複数のゲートラインと、前記ゲートラインと交差する複数のデータラインと、前記ゲートライン及びデータラインと各々接続する複数の画素用トランジスタと、前記ゲートライン及びデータラインの交差によって画定された領域内に形成され前記画素用トランジスタ各々と接続される複数の画素電極と、前記複数のデータラインを駆動するために形成される複数個のデータ検査用トランジスタとを具備し、前記複数のデータ検査用トランジスタは駆動集積回路の実装領域内に形成されることを特徴とする。
【００１１】
ここで、前記実装領域は駆動集積回路チップが収容されるように形成されることが好ましい。
一方、前記複数個のデータ検査用トランジスタは、前記液晶表示パネルに前記駆動集積回路が実装されるか否かによってターンオン／オフされることが好ましい。
前記複数個のデータ検査用トランジスタは、前記液晶表示パネルに駆動集積回路が実装される場合、ターンオフされることが好ましい。
前記複数個のデータ検査用トランジスタは、前記データラインを駆動するために形成される前記駆動集積回路が前記液晶表示パネルに実装される場合、ターンオフされることが好ましい。
前記複数個のデータ検査用トランジスタは、前記駆動集積回路が前記液晶表示パネルに固定されるとき、ターンオフされることが好ましい。
一方、前記複数個のデータ検査用トランジスタは、前記データライン中オッド（ｏｄｄ）データラインに接続されるオッドデータ検査用トランジスタと、前記データライン中イブン（ｅｖｅｎ）データラインに接続されたイブンデータ検査用トランジスタとを含むことが好ましい。
前記オッドデータ検査用トランジスタにデータ検査信号を供給するオッドデータ検査ライン及びオッドデータ検査パッドと、前記イブンデータ検査用トランジスタにデータ検査信号を供給するイブンデータ検査ライン及びイブンデータ検査パッドと、前記オッド及びイブンデータ検査用トランジスタに制御信号を供給するデータ制御ライン及びデータ制御パッドとをさらに具備することが好ましい。
前記オッド及びイブンデータ検査用トランジスタにデータ検査信号を供給するために形成された検査パッド及びデータ検査ラインをさらに具備することが好ましい。
前記液晶表示パネルは、前記オッドデータ検査用トランジスタのゲートにオッド制御信号を供給するオッドデータ制御ライン及びオッドデータ制御パッドと、前記イブンデータ検査用トランジスタのゲートにイブン制御信号を供給するイブンデータ制御ライン及びイブンデータ制御パッドとをさらに具備することが好ましい。
前記液晶表示パネルは、前記データ検査用トランジスタにデータ検査信号を供給するために形成されるデータ検査パッド及びデータ検査ラインと、前記データ検査用トランジスタのゲートに制御信号を供給するデータ制御ライン及びデータ制御パッドとをさらに具備することが好ましい。
前記液晶表示パネルは、前記ゲートラインと接続される複数のゲート検査トランジスタをさらに具備することが好ましい。
前記複数のゲート検査トランジスタは、前記ゲートライン中オッドゲートラインに接続されたオッドゲート検査トランジスタと、前記ゲートライン中イブンゲートラインに接続されたイブンゲート検査トランジスタとを含むことが好ましい。
前記液晶表示パネルは、前記オッドゲート検査トランジスタにゲート検査信号を供給するオッドゲート検査ライン及びオッドゲート検査パッドと、前記イブンゲート検査トランジスタにゲート検査信号を供給するイブンゲート検査ライン及びイブンゲート検査パッドと、前記オッドゲート検査トランジスタに制御信号を供給するオッドゲート制御ライン及びオッドゲート制御パッドと、前記イブンゲート検査トランジスタに制御信号を供給するイブンゲート制御ライン及びイブンゲート制御パッドとをさらに具備することが好ましい。
前記液晶表示パネルは、前記オッド及びイブンゲート検査トランジスタにゲート検査信号を供給するために形成されるゲート検査ライン及びゲート検査パッドと、前記オッドゲート検査トランジスタのゲートに制御信号を供給するために形成されるオッドゲート制御ライン及びオッドゲート制御パッドと、前記イブンゲート検査トランジスタのゲートに制御信号を供給するために形成されるイブンゲート制御ライン及びイブンゲート制御パッドとをさらに具備することが好ましい。
前記液晶表示パネルは、前記オッドゲート検査トランジスタにゲート検査信号を供給するために形成されるオッドゲート検査ライン及びオッドゲート検査パッドと、前記イブンゲート検査トランジスタにゲート検査信号を供給するために形成されるイブンゲート検査ライン及びイブンゲート検査パッドと、前記オッド及びイブンゲート検査トランジスタのゲートに制御信号を供給するために形成されるゲート制御ライン及びゲート制御パッドとをさらに具備することが好ましい。
前記ゲートラインを順次に駆動させるために前記基板に形成されるゲート駆動部をさらに具備することが好ましい。
前記実装領域内に形成され、前記ゲート駆動部に駆動信号を供給する信号供給パッドをさらに具備することが好ましい。
前記信号供給パッドと共通で接続され、検査工程の際、検査信号が供給される検査供給パッドをさらに具備することが好ましい。
【００１２】
上記目的を達成するためになされた本発明による液晶表示パネルの検査方法は、基板上に形成される複数のゲートラインと、前記ゲートラインと交差する複数のデータラインと、前記ゲートライン及びデータラインと各々接続される複数の画素用トランジスタと、前記ゲートライン及びデータラインの交差によって画定された領域内に形成され前記画素用トランジスタ各々と接続される複数の画素電極と、前記複数のデータラインを駆動するために形成された複数個のデータ検査用トランジスタとを具備する液晶表示パネルを備える段階を含み、前記複数のデータ検査用トランジスタは駆動集積回路の実装領域内に形成されることを特徴とする。
【００１３】
前記液晶表示パネルに画像が具現される間、前記複数のデータ検査用トランジスタは、非活性化（ｄｅａｃｔｉｖａｔｅ）されることが好ましい。
前記液晶表示パネルを備える段階は、前記データ検査用トランジスタを形成する段階を含み、前記データ検査用トランジスタを形成する段階は、前記データライン中オッドデータラインに接続されるオッドデータ検査用トランジスタを形成する段階と、前記データライン中イブンデータラインに接続されるイブンデータ検査用トランジスタを形成する段階とを含むことが好ましい。
前記複数のデータ検査用トランジスタが活性化されることにより前記液晶表示パネルの不良の有無を検査する段階をさらに含むことが好ましい。
前記液晶表示パネルの不良の有無を検査する段階は、前記ゲートライン各々にゲート検査信号を順次に供給する段階を含むことが好ましい。
前記ゲート検査信号は、基板上に形成されたゲート駆動部で生成されることが好ましい。
前記ゲート駆動部は、前記基板の一側に形成されることが好ましい。
前記液晶表示パネルの不良の有無を検査する段階は、前記オッドデータラインにデータ検査信号を供給する段階と、前記ゲートライン各々に前記ゲート検査信号を順次に供給する段階と、前記イブンデータラインにデータ検査信号を供給する段階とをさらに含むことが好ましい。
前記液晶表示パネルを備える段階は、前記ゲートラインを駆動するための複数のゲート検査トランジスタを含む液晶表示パネルを備える段階を含み、前記液晶表示パネルの不良の有無を検査する段階は、オッドゲート検査トランジスタを通じてオッドゲートラインにゲート検査信号を順次に供給する段階と、前記オッドデータ検査用トランジスタを通じてオッドデータラインにデータ検査信号を供給する段階と、イブンゲート検査トランジスタを通じてイブンゲートラインにゲート検査信号を順次に供給する段階と、前記イブンデータ検査トランジスタを通じてイブンデータラインにデータ検査信号を供給する段階とを含むことが好ましい。
【００１４】
上記目的を達成するためになされた本発明による液晶表示パネルの製造方法は、基板上に形成される複数のゲートラインと、前記ゲートラインと交差する複数のデータラインと、前記ゲートライン及びデータラインと各々接続される複数の画素用トランジスタと、前記ゲートライン及びデータラインの交差によって画定された領域内に形成され前記画素用トランジスタ各々と接続される複数の画素電極とを含む液晶表示パネルの製造方法において、前記複数のデータラインを駆動するために駆動集積回路の実装領域内に形成される複数のデータ検査用トランジスタを形成する段階を含むことを特徴とする。
【００１５】
前記複数のデータ検査用トランジスタを形成する段階は、前記データライン中オッドデータラインに接続されるオッドデータ検査用トランジスタと、前記データライン中イブンデータラインに接続されるイブンデータ検査用トランジスタを形成する段階を含むことが好ましい。
前記オッドデータ検査用トランジスタにデータ検査信号を供給するオッドデータ検査ライン及びオッドデータ検査パッドを形成する段階と、前記イブンデータ検査用トランジスタにデータ検査信号を供給するイブンデータ検査ライン及びイブンデータ検査パッドを形成する段階と、前記オッド及びイブンデータ検査用トランジスタに制御信号を供給するデータ制御ライン及びデータ制御パッドを形成する段階とをさらに含むことが好ましい。
前記オッドデータ検査用トランジスタ及びイブンデータ検査用トランジスタにデータ検査信号を供給するデータ検査ラインを形成する段階と、前記オッドデータ検査用トランジスタのゲートにオッド制御信号を供給するオッドデータ制御ラインを形成する段階と、前記イブンデータ検査用トランジスタのゲートにイブン制御信号を供給するイブンデータ制御ラインを形成する段階とをさらに含むことが好ましい。
前記ゲートライン中オッドゲートラインに接続されるオッドゲート検査トランジスタを形成する段階と、前記ゲートライン中イブンゲートラインに接続されたイブンゲート検査トランジスタを形成する段階とをさらに含むことが好ましい。
前記オッドゲート検査トランジスタにゲート検査信号を供給するオッドゲート検査ライン及びオッドゲート検査パッドを形成する段階と、前記イブンゲート検査トランジスタにゲート検査信号を供給するイブンゲート検査ライン及びイブンゲート検査パッドを形成する段階と、前記オッドゲート検査トランジスタに制御信号を供給するオッドゲート制御ライン及びオッドゲート制御パッドを形成する段階と、前記イブンゲート検査トランジスタに制御信号を供給するイブンゲート制御ライン及びイブンゲート制御パッドを形成する段階とをさらに含むことが好ましい。
前記ゲートラインを順次に駆動させるために形成されるゲート駆動部を前記基板上に形成する段階をさらに含むことが好ましい。
前記ゲート駆動部に駆動信号を供給するために形成される信号供給パッドを前記実装領域に形成する段階をさらに含むことが好ましい。
前記信号供給パッドと共通で接続され、検査工程の際、検査信号が供給される検査供給パッドを形成する段階をさらに含むことが好ましい。
【発明の効果】
【００１６】
本発明に係る液晶表示パネル及びその製造方法並びにその検査方法によれば、信号ラインの不良だけではなく信号リンクのオープン不良も検出可能であるという効果がある。
また、各信号ラインに含まれた抵抗とキャパシタによる検査信号の遅延が防止され検査信号の歪曲が減少されるという効果がある。
また、基板上に形成されたゲート駆動部を用いて検査工程の際、ゲートラインを順次に駆動してゲート検査信号が印加されたゲートラインと接続された画素用薄膜トランジスタが同時にターンオンされる。それにより、オッド［イブン］データ検査パッドにかかる全体検査電流負荷値が減少され検査信号の歪曲が防止されるという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
次に、本発明に係る液晶表示パネルとその製造方法及びその検査方法を実施するための最良の形態の具体例を図面を参照しながら説明する。
【実施例１】
【００１８】
図１は本発明の第１の実施例による液晶表示パネルを示す平面図である。
【００１９】
図１に示す液晶表示パネルは表示部１８０と周辺部１９０を含む。表示部１８０はデータライン（ＤＬ）と接続された複数のオッド及びイブンデータトランジスタ（ＯＤＴ、ＥＤＴ）、ゲートライン（ＧＬ）と接続された複数のオッド及びイブンゲートトランジスタ（ＯＧＴ、ＥＧＴ）を具備する。
【００２０】
検査工程の後、駆動集積回路のような集積回路チップ及び／又はそのＩＣパッケージ（ＩＣチップと複数の導電パターンを含む）は一つの基板の非表示領域内の駆動ＩＣ実装領域内の基板に物理的及び電気的に付着される。実装領域には駆動ＩＣパッケージが収容される。多様な実施例において、駆動ＩＣパッケージは駆動ＩＣチップの外に搭載ボード及び複数の導電パターンを含む。他の実施例において、駆動ＩＣパッケージは駆動ＩＣチップを必須的に含む。全ての実施例においてＩＣ実装領域は予め設定され提供され、駆動ＩＣパッケージが実装されるために形成される。
【００２１】
オッドデータトランジスタ（ＯＤＴ）はデータ制御パッド及びライン１９６、１６２からのデータ制御信号に応答してオッドデータ検査パッド及びライン１９４、１６４からのデータ検査信号をオッドデータライン（ＤＬ１、ＤＬ３、．．．）に切換可能に供給する。
【００２２】
イブンデータトランジスタ（ＥＤＴ）はデータ制御パッド及びライン１９６、１６２からデータ制御信号に応答してイブンデータ検査パッド及びライン１９２、１６６からのデータ検査信号をイブンデータライン（ＤＬ２、ＤＬ４）に切換可能に供給する。
【００２３】
オッドゲートトランジスタ（ＯＧＴ）はオッドゲート制御パッド及びライン１８８、１５２からのオッドゲート制御信号に応答してオッドゲート検査パッド及びライン１８２、１５４からのオッドゲート検査信号をオッドゲートライン（ＧＬ１、ＧＬ３、．．．）に切換可能に供給する。
【００２４】
イブンゲートトランジスタ（ＥＧＴ）はイブンゲート制御パッド及びライン１８４、１５６からのイブンゲート制御信号に応答してイブンゲート検査パッド及びライン１８６、１５８からのイブンゲート検査信号をイブンゲートライン（ＧＬ２、ＧＬ４、．．．）に切換可能に供給する。
【００２５】
このような液晶表示パネルは検査工程の際、オッド及びイブンデータトランジスタ（ＯＤＴ、ＥＤＴ）、オッド及びイブンゲートトランジスタなどの検査用トランジスタをターンオンさせ信号ライン（例えば、ゲートライン（ＧＬ）及びデータライン（ＤＬ））の不良を検査する。そして、液晶表示パネルは正常画像表示モード（データ駆動の際）の間、検査用トランジスタをターンオフさせ実装領域１９８内の駆動集積回路で生成されたデータ信号及びゲート信号を用いて液晶表示パネルを駆動させる。
【００２６】
このように、本発明の第１の実施例による液晶表示パネルは駆動集積回路実装領域１９８に位置する検査用トランジスタを用いて信号ライン及び画素用トランジスタの不良を検査する。従って、液晶表示パネルは短絡バーが不必要であるか短絡バーを除去する工程が入らなくなるので検査及び製造工程を単純化することができる。
【００２７】
本発明の第１の実施例による液晶表示パネルは検査用トランジスタ（ＥＤＴ、ＯＤＴ、ＥＧＴ、ＯＧＴ）が表示領域１８０内の画素アレイの外側に位置するのでこれらを配置するための別途の空間が必要である。そして、検査用トランジスタ（ＥＤＴ、ＯＤＴ、ＥＧＴ、ＯＧＴ）が基板上に占める面積分だけブラックマトリックスの面積が増加し表示領域の比率が減少される。また、本発明の第１の実施例による液晶表示パネルは検査ライン（１５４、１５８、１６４、１６６）及び制御ライン（１５２、１５６、１６２）が表示領域を取り囲むように形成されることでこれらのライン（１５４、１５８、１６４、１６６、１５２、１５６、１６２）の長さが相対的に長くなる。長くなった検査ライン（１５４、１５８、１６４、１６６）及び制御ライン（１５２、１５６、１６２）に含まれた抵抗成分（Ｒ）及びキャパシタ（Ｃ）成分の時定数値（ＲＣ）が大きくなって検査信号及び制御信号が歪曲される。また、本発明の第１の実施例による液晶表示パネルは検査工程の際検査信号がデータパッド１６０及びデータリンク１４８、ゲートパッド１５０及びゲートリンク１４６を通過しないので信号リンク（１４６、１４８）の不良を検出することができない。
【実施例２】
【００２８】
図２は本発明の第２の実施例による液晶表示パネルを示す平面図である。
【００２９】
図２に示す液晶表示パネルは表示部１８０と周辺部１９０を含む。
【００３０】
液晶表示パネルは画素ライン（ＧＬ）とデータライン（ＤＬ）の交差で定義された画素領域に形成された画素用トランジスタ（ＴＦＴ）及び画素電極（ＰＸＬ）、表示領域１６８のデータラインと接続されたオッド及びイブンデータトランジスタ（ＯＤＴ、ＥＤＴ）、表示領域１６８のゲートライン（ＧＬ）と接続されたオッド及びイブンゲートトランジスタ（ＯＧＴ、ＥＧＴ）を具備する。
【００３１】
オッドデータトランジスタ（ＯＤＴ）それぞれはデータ制御パッド１９６及びライン１６２と接続されたゲート電極、オッドデータ検査パッド１９４及びライン１６４と接続されたソース電極、及び（オッド）データパッド１６０を通じてオッドデータライン（ＤＬ１、ＤＬ３、…）と接続されたドレイン電極を具備する。これにより、オッドデータトランジスタ（ＯＤＴ）はデータ制御パッド１９６及びライン１６２から供給されるデータ制御信号に応答してオッドデータ検査パッド１９４及びライン１６４から供給されるデータ検査信号をオッドデータライン（ＤＬ１、ＤＬ３、…）に切換可能に供給する。このようなオッドデータトランジスタ（ＯＤＴ）は駆動集積回路実装領域１９８内に形成され基板の空間活用率が高い。
【００３２】
駆動集積回路実装領域が予め設定されて提供され、駆動ＩＣパッケージが実装されるために形成されるので空間を再使用して駆動集積回路実装領域内にオッドデータトランジスタ（ＯＤＴ）が付加的に形成される。従って、基板の他の部分でオッドデータトランジスタ（ＯＤＴ）を形成するための空間が節約されると同時に空間使用を避けることができる。
【００３３】
イブンデータトランジスタ（ＥＤＴ）それぞれは、データ制御パッド１９６及びライン１６２と接続されたゲート電極、イブンデータ検査パッド１９２及びライン１６６と接続されたソース電極、（イブン）データパッド１６０を通じてイブンデータライン（ＤＬ２、ＤＬ４、…）と接続されたドレイン電極を具備する。それにより、イブンデータトランジスタ（ＥＤＴ）はデータ制御パッド１９６及びライン１６２から供給されるデータ制御信号に応答してイブンデータ検査パッド１９２及びライン１６６から供給されるデータ検査信号をイブンデータライン（ＤＬ２、ＤＬ４、…）に切換可能に供給する。このようなイブンデータトランジスタ（ＥＤＴ）は駆動集積回路と実装領域１９８内に形成され基板の空間活用率が高い。
【００３４】
オッドゲートトランジスタ（ＯＧＴ）それぞれはオッドゲート制御パッド１８８及びライン１５２と接続されたゲート電極、オッドゲート検査パッド１８２及びライン１５４と接続されたソース電極、及び（オッド）ゲートパッド１５０を通じてオッドゲートライン（ＧＬ１、ＧＬ３、…）と接続されたドレイン電極を具備する。それにより、オッドゲートトランジスタ（ＯＧＴ）はオッドゲート制御パッド１８８及びライン１５２から供給されるゲート制御信号に応答してオッドゲート検査パッド１８２及びライン１５４から供給されるゲート検査信号をオッドゲートライン（ＧＬ１、ＧＬ３、…）に切換可能に供給する。このようなオッドゲートトランジスタ（ＯＧＴ）は駆動集積回路実装領域１９８内に形成され基板の空間活用率が高い。
【００３５】
イブンゲートトランジスタ（ＥＧＴ）それぞれは、ゲート制御パッド１８４及びライン１５６と接続されたゲート電極、イブンゲート検査パッド１８６及びライン１５８と接続されたソース電極、及び（イブン）ゲートパッド１５０を通じてイブンゲートライン（ＧＬ２、ＧＬ４、…）と接続されたドレイン電極を具備する。それにより、イブンゲートトランジスタ（ＥＧＴ）はゲート制御パッド１８４及びライン１５６から供給されるゲート制御信号に応答してイブンゲート検査パッド１８６及びライン１５８から供給されるゲート検査信号をイブンゲートライン（ＧＬ２、ＧＬ４）に切換可能に供給する。このようなイブンゲートトランジスタ（ＥＧＴ）は駆動集積回路実装領域１９８内に形成され基板の空間活用率が高い。
【００３６】
このように、図２に示したオッド及びイブンデータトランジスタ（ＯＤＴ、ＥＧＴ）、オッド及びイブンゲートトランジスタ（ＯＧＴ、ＥＧＴ）が活性化されることで信号ライン及び薄膜トランジスタ不良などを検出する。この信号検査工程に対して図３〜図５を参照して詳細に説明する。
【００３７】
図３は、図２に示した液晶表示パネルの検査工程の際ゲートラインに印加されるゲート検査信号を示す波形図である。
【００３８】
図４及び図５は、図２に示した液晶表示パネルの検査工程を説明するための液晶表示パネルの平面図である。
【００３９】
まず、オッドゲート制御パッド１８８及びライン１５２から供給されるゲート制御信号によってオッドゲートトランジスタ（ＯＧＴ）がターンオンされる。ターンオンされたオッドゲートトランジスタ（ＯＧＴ）によってオッドゲート検査パッド１８２及びライン１５４を通じてゲート検査信号（ＧＴＳ）は図３に示すようにオッドゲートライン（ＧＬ１、ＧＬ３、…ＧＬｎ−１）に供給される。このオッドゲートライン（ＧＬ１、ＧＬ３、…ＧＬｎ−１）と接続された画素用トランジスタはオッドゲートライン（ＯＧＴ）から供給されるゲート検査信号（ＧＴＳ）に応答してターンオンされる。
【００４０】
また、データ制御パッド１９６及びライン１６２から供給されるデータ制御信号に応答してオッドデータトランジスタ（ＯＤＴ）がターンオンされる。ターンオンされたオッドデータトランジスタ（ＯＤＴ）によってオッドデータ検査パッド１９４及びライン１６４から供給されるデータ検査信号はオッドデータライン（ＤＬ１、ＤＬ３、…）に供給される。そうすると、ターンオンされた画素用トランジスタＴＦＴを通じて図４に示すようにオッドデータライン（ＤＬ１、ＤＬ３、…、ＤＬｍ−１）とオッドゲートライン（ＧＬ１、ＧＬ３、…ＧＬｎ−１）との間の画素領域に位置するオッド液晶セルにはデータ検査信号が供給される。図４で網掛けで表示された画素は活性化（ＯＮ）された画素である。
【００４１】
その後（例えば、検査信号の次の位相の間）、イブンゲート制御パッド１８４及びライン１５６から供給されるゲート制御信号によってイブンゲートトランジスタ（ＥＧＴ）がターンオンされる。ターンオンされたイブンゲートトランジスタ（ＥＧＴ）によってイブンゲート検査パッド１８６及びライン１５８を通じてゲート検査信号は図３に示すようにイブンゲートライン（ＧＬ２、ＧＬ４、…ＧＬｎ）に供給される。このイブンゲートライン（ＧＬ２、ＧＬ４、…ＧＬｎ）と接続された画素用トランジスタ（ＴＦＴ）はイブンゲートライン（ＧＬ２、ＧＬ４、…ＧＬｎ）から供給されるゲート検査信号に応答してターンオンされる。
【００４２】
また、データ制御パッド１９６及びライン１６２から供給さるデータ制御信号に応答してイブンデータトランジスタ（ＥＤＴ）がターンオンされる。ターンオンされたイブンデータトランジスタによってイブンデータ検査パッド１９２及びライン１６６から供給されるデータ検査信号はイブンデータライン（ＧＬ２、ＧＬ４、…ＧＬｍ）に供給される。それにより、ターンオンされた画素用トランジスタＴＦＴを通じて図５に示すようにイブンデータライン（ＤＬ２、ＤＬ４、…、ＤＬｍ）とイブンゲートライン（ＧＬ２、ＧＬ４、…ＧＬｍ）との間の画素領域に位置するイブン液晶セルにはデータ検査信号が供給される。図５で網掛けで表示された画素は活性化（ＯＮ）された画素である。
【００４３】
このような検査工程の後、液晶表示パネルが良品判定を受けると、周辺部１９０内の実装領域１９８に駆動集積回路を付着する。駆動集積回路の出力端子はゲートパッド１５０及びデータパッド１６０と接続される。同時に、この際、オッド及びイブンデータトランジスタ（ＯＤＴ、ＥＤＴ）、オッド及びイブンゲートトランジスタ（ＯＧＴ、ＥＧＴ）はターンオフされる。
【００４４】
それにより、駆動集積回路で生成されたゲート信号はゲートパッド１５０を通じてゲートライン（ＧＬ）に供給される。そして、駆動集積回路で生成されたデータ信号はデータパッド１６０を通じてデータライン（ＤＬ）に供給される。このように、本発明の第２の実施例による液晶表示パネルはオッド及びイブンデータトランジスタ（ＯＤＴ、ＥＤＴ）、オッド及びイブンゲートトランジスタ（ＯＧＴ、ＥＧＴ）を含む検査用トランジスタが周辺部１９０内の実装領域１９８に配置されることで検査用薄膜トランジスタを配置するための別途の空間が不必要であるので基板の空間活用率が高い。
また、本発明の第２の実施例による液晶表示パネルは検査用トランジスタ（ＯＧＴ、ＥＧＴ、ＯＤＴ、ＥＤＴ）、信号パッド（１５０、１６０）及び信号リンク（１４６、１４８）を通じて信号ラインに検査信号が供給される。それにより、信号ライン（ＧＬ、ＤＬ）の不良だけではなく信号リンク（１４６、１４８）のオープン不良も検出可能である。
それに限らず、本発明の第２の実施例による液晶表示パネルは検査工程の際、信号パッド（１５０、１６０）及び信号リンク（１４６、１４８）を通じて信号ライン（ＧＬ、ＤＬ）に検査信号が供給されることで検査信号の抵抗成分（Ｒ）とキャパシタ成分（Ｃ）の移動経路が相対的に短くなる。それにより、各信号ライン（１５２、１５４、１５６、１５８、１６２、１６４、１６６）に含まれた抵抗成分（Ｒ）とキャパシタ成分（Ｃ）による検査信号の遅延が防止され検査信号の歪曲が減少される。
【００４５】
しかし、本発明の第２の実施例による液晶表示パネルはゲートパッドが“Ｌ”字形態に配置され検査用トランジスタ（ＯＧＴ、ＥＧＴ、ＯＤＴ、ＤＥＴ）を実装領域１９８に配置しづらい。また、本発明の第２の実施例による液晶表示パネルは駆動集積回路が小さくなるとゲートパッド１５０とデータパッド１６０との間のピッチ（例えば、空間）が非常に小さくなり狭い空間内に検査用トランジスタを配置することが難しくなる。
【００４６】
また、本発明の第２の実施例による液晶表示パネルは図４及び図５に示すようにオッド［イブン］ゲートラインとオッド［イブン］データラインに接続された画素用薄膜トランジスタが同時にターンオンされる。そのため、オッド［イブン］データラインにデータ検査信号を供給するオッド［イブン］データ検査パッド１９２、１９６には相対的に大きい負荷（電流）量がかかるようになる。例えば、解像度が１７６×１９６のパネルの場合、オッド［イブン］データ検査パッド１９２、１９６には（１７６×３／２）×（２２０／２）×（Ｃｌｃ＋Ｃｓｔ）の負荷量がかかる。このような大きい負荷量によってデータ検査信号が歪曲される。
【実施例３】
【００４７】
図６は本発明の第３の実施例による液晶表示パネルを示す平面図である。
【００４８】
図６に示す液晶表示パネルは表示部１８０と周辺部１９０を含む。
【００４９】
液晶表示パネルはゲートラインとデータラインの交差で画定された画素領域に形成された画素用トランジスタ（ＴＦＴ）及び画素電極（ＰＸＬ）と、表示領域１６８のデータライン（ＤＬ）と接続されたオッド及びイブンデータトランジスタ（ＯＤＴ、ＥＤＴ）と、表示領域１６８のゲートラインと接続されたゲート駆動部１７８を具備する。
【００５０】
オッドデータトランジスタ（ＯＤＴ）それぞれは、データ制御パッド１９６及びライン１６２と接続されたゲート電極、オッドデータ検査パッド１９４及びライン１６４と接続されたソース電極、（オッド）データパッド１６０を通じてオッドデータライン（ＤＬ１、ＤＬ３、…）と接続されたドレイン電極を具備する。それにより、オッドデータトランジスタ（ＯＤＴ）はデータ制御パッド１９６及びライン１６２から供給されるデータ制御信号に応答してオッドデータ検査パターン１９４及びライン１６４から供給されるデータ検査信号をオッドデータライン（ＤＬ１、ＤＬ３、…）に切換可能に供給する。このようなオッドデータトランジスタ（ＯＤＴ）は周辺部１９０内の実装領域１９８内に形成され基板の空間活用率が高い。
【００５１】
イブンデータトランジスタ（ＥＤＴ）それぞれはデータ制御パッド１９６及びライン１６２に接続されたゲート電極、イブンデータ検査パッド１９２及びライン１６６と接続されたソース電極、（イブン）データパッド１６０を通じてイブンデータライン（ＤＬ２、ＤＬ４、…）と接続されたドレイン電極を具備する。それにより、イブンデータトランジスタ（ＥＤＴ）はデータ制御パッド１９６及びライン１６２から供給されるデータ制御信号に応答してイブンデータ検査パッド１９２及びライン１６６から供給されるデータ検査信号をイブンデータライン（ＤＬ２、ＤＬ４、…）に切替可能に供給する。このようなイブンデータトランジスタ（ＥＤＴ）は実装領域１９８内に形成され基板の空間活用率が高い。
【００５２】
ゲート駆動部１７８は複数のポリシリコンまたはアモファスシリコン型薄膜トランジスタを具備して液晶表示パネル上に形成する。このようなゲート駆動部１７８はスキャンパルスを表示領域１６８のゲートライン（ＧＬ１〜ＧＬｎ）に順次に供給するためのシフトレジスタを具備する。シフトレジスタは図７に示すように従属的に接続された第１乃至第ｎステージを具備する。第１乃至第ｎステージには高電位及び低電位の駆動電圧（ＶＤＤ，ＶＤＳ）と共に第１及び第２クロック信号（ＣＫＶ、ＣＫＶＢ）が共通で供給され、スタートパルス（ＳＴＶ）または前段ステージの出力信号が供給される。第１ステージはスタートパルス（ＳＴＶ）とクロック信号（ＣＫＶ、ＣＫＶＢ）に応答して第１ゲートライン（ＧＬ１）にスキャンパルスを出力する。そして、第２乃至第ｎステージは前段ステージの出力信号とクロック信号（ＣＫＶ，ＣＫＶＢ）に応答して第２乃至第ｎゲートライン（ＧＬ２乃至ＧＬｎ）それぞれにスキャンパルスを順次に出力する。
【００５３】
図８は、図６に示したゲート検査部（ＧＴ）を詳細に示す平面図である。
このようなゲート駆動部１７８は図７、８に示すように、正常駆動の際、ＶＯＮパッド、ＶＯＦＦパッド、ＣＫＶパッド、ＣＫＶＢパッド、ＳＴＶパッドなどの信号供給パッド１７２に印加された駆動信号を用いてスキャンパルスを生成する。このゲート駆動部１７８によって生成されたスキャンパルスはゲートライン（ＧＬ）に順次に供給される。
【００５４】
また、ゲート駆動部１７８は検査工程の際、ＴＶＯＮパッド、ＴＶＯＦＦパッド、ＴＣＫＶパッド、ＴＣＫＶＢパッド、ＴＳＴＶパッドなどの検査供給パッド１７０にプローブを通じて印加された駆動信号を用いてゲート検査信号ＧＴＳを生成する。
【００５５】
このような本発明の第３の実施例による液晶表示パネルはオッド及びイブンデータトランジスタ、検査供給パッド１７０を用いて信号ライン及び画素用トランジスタ不良などを検出する。この信号検査工程に対して図９〜図１１を参照して詳細に説明する。
【００５６】
図９は図６に示した液晶表示パネルの検査工程の際、ゲートラインに印加されるゲート検査信号を示す波形図である。図９に示すようにゲート駆動部１７８によって生成されたゲート検査信号（ＧＴＳ）はゲートライン（ＧＬ）に順次に供給する。
【００５７】
図１０及び図１１は図６に示した液晶表示パネルの検査工程を説明するための液晶表示パネルの平面図である。図１０は活性化され検査されるオッド画素を示し、図１１は活性化され検査されるイブン画素を示す。
【００５８】
検査供給パッド１７０に供給される駆動信号を用いてゲート駆動部１７８はゲート検査信号ＧＴＳを生成する。このゲート検査信号ＧＴＳに応答して第１乃至第ｎゲートライン（ＧＬ１乃至ＧＬｎ）が順次に駆動される。このゲート検査信号（ＧＴＳ）によって画素用トランジスタ（ＴＦＴ）がターンオンされる。その後、データ制御パッド１９６及びライン１６２から供給されるデータ制御信号に応答してオッドデータトランジスタ（ＯＤＴ）がターンオンされる。ターンオンされたオッドデータトランジスタ（ＯＤＴ）によってオッドデータ検査パッド１９４及びライン１６４から供給されるデータ検査信号はオッドデータライン（ＤＬ１、ＤＬ３、…）に供給される。それにより、ターンオンされた画素用トランジスタＴＦＴを通じて図１０に示すようにオッドデータライン（ＤＬ１、ＤＬ３、．．．、ＤＬｍ−１）と接続されたオッド液晶セルにはデータ検査信号が供給される。
【００５９】
その後、検査供給パッド１７０（図８参照）に供給される駆動信号を用いてゲート駆動部１７８はゲート検査信号（ＧＳＴ）を生成する。このゲート検査信号（ＧＳＴ）に応答して第１乃至第ｎゲートライン（ＧＬ１乃至ＧＬｎ）が順次に駆動される。このゲート検査信号（ＧＳＴ）によって画素用トランジスタ（ＴＦＴ）がターンオンされる。データ制御パッド１９６及びライン１６２から供給されるデータ制御信号に応答してイブンデータトランジスタ（ＥＤＴ）がターンオンされる。ターンオンされたイブンデータトランジスタ（ＥＤＴ）によってイブンデータ検査パッド度１９２及びライン１６６から供給されるデータ検査信号はイブンデータライン（ＤＬ２、ＤＬ４、．．．ＤＬｍ）に供給される。それにより、ターンオンされた画素用トランジスタＴＦＴを通じて図１１に示すように、イブンデータライン（ＤＬ２、ＤＬ４、．．．ＤＬｍ）と接続されたイブン液晶セルにはデータ検査信号が供給される。
【００６０】
このような検査工程の後、液晶表示パネルが良品判定を受けると、周辺部１９０内の実装領域１９８に駆動集積回路を付着する。集積回路の出力端子は信号供給パッド１７２（図８参照）及びデータパッド１６０と接続される。それにより、集積回路で生成されたゲート信号は信号供給パッド１７２を通じてゲート駆動部１７８に供給される。また、集積回路で生成されたデータ信号はデータパッド１６０を通じてデータラインに供給される。この際、オッド及びイブンデータトランジスタ（ＯＤＴ、ＥＤＴ）はターンオフされる。
【００６１】
このように、本発明の第３の実施例による液晶表示パネルはオッド及びイブンデータトランジスタ（ＯＤＴ、ＥＤＴ）が周辺部１９０内のドライバ実装領域１９８に配置される。それにより、オッド及びイブンデータトランジスタを配置するための別途の領域が不必要であるので基板の空間活用率が高くなる。
【００６２】
また、本発明の第３の実施例による液晶表示パネルは制御される検査用トランジスタ、信号パッド及び信号リンクを通じて信号ラインに選択的に検査信号が供給される。それにより、信号ラインの不良だけではなく信号リンクのオープン不良も検出が可能である。
【００６３】
また、本発明の第３の実施例による液晶表示パネルは検査工程の際、データパッド１６０及びデータリンク１４８を通じてデータライン（ＤＬ）に検査信号が供給されることで検査信号の抵抗成分（Ｒ）及びキャパシタ成分（Ｃ）の移動経路が相対的に短くなる。それにより、各信号ライン（ＧＬ、ＤＬ、１５４、１５８、１６４、１６６）に含まれた抵抗（Ｒ）とキャパシタ（Ｃ）による検査信号の遅延が防止され検査信号の歪曲が減少される。
【００６４】
また、本発明の第３の実施例による液晶表示パネルは基板上に形成されたゲート駆動部１７８を用いて検査工程の際、ゲートライン（ＧＬ）を順次に駆動する。即ち、ゲート検査信号が印加されたゲートラインと接続されたｍ／２個の画素用薄膜トランジスタは同時にターンオンされる。これにより、オッド［イブン］データ検査パッド１９４、１９２にかかる全体負荷値が減少され検査信号の歪曲が防止される。例えば、解像度１７６×２２０のパネルの場合、オッド［イブン］データ検査パッド１９４、１９２には図４に示したデータ検査パッドより少ない（１７６×３／２）×（Ｃｌｃ＋Ｃｓｔ）の電流負荷量がかかる。
【００６５】
さらに、本発明の第３の実施例による液晶表示パネルは、検査信号の歪曲が相対的に減少されるので検査用トランジスタ及び画素用トランジスタのうち少なくともいずれか一つの大きさを相対的に小さくすることができる。それにより、検査用トランジスタが実装領域で占める面積が相対的に減少される。
【００６６】
尚、本発明は、上述の実施例に限られるものではない。本発明の技術的範囲から逸脱しない範囲内で多様に変更実施することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】本発明の第１の実施例による液晶表示パネルを示す平面図である。
【図２】本発明の第２の実施例による液晶表示パネルを示す平面図である。
【図３】図２に示した液晶表示パネルの検査工程の際ゲートラインに印加されるゲート検査信号を示す波形図である。
【図４】図２に示した液晶表示パネルの検査工程を説明するための液晶表示パネルの平面図である。
【図５】図２に示した液晶表示パネルの検査工程を説明するための液晶表示パネルの平面図である。
【図６】本発明に第３の実施例による液晶表示パネルを示す平面図である。
【図７】図６に示したゲート駆動部を詳細に示すブロック図である。
【図８】図６に示したゲート検査部を詳細に示す平面図である。
【図９】図６に示した液晶表示パネルの検査工程の際、ゲートラインに印加されるゲート検査信号を示す波形図である。
【図１０】図６に示した液晶表示パネルの検査工程を説明するための液晶表示パネルの平面図である。
【図１１】図６に示した液晶表示パネルの検査工程を説明するための液晶表示パネルの平面図である。
【符号の説明】
【００６８】
ＥＤＴ      イブンデータトランジスタ（検査用トランジスタ）
ＥＧＴ      イブンゲートトランジスタ（検査用トランジスタ）
ＯＤＴ      オッドデータトランジスタ（検査用トランジスタ）
ＯＧＴ      オッドゲートトランジスタ（検査用トランジスタ）
１４６      ゲートリンク
１４８      データリンク
１５０      （オッド、イブン）ゲートパッド
１５２      オッドゲート制御ライン
１５４      オッドゲート検査ライン
１５６      イブンゲート制御ライン
１５８      イブンゲート検査ライン
１６０      （オッド、イブン）データパッド
１６２      データ制御ライン
１６４      オッドデータ検査ライン
１６６      イブンデータ検査ライン
１７０      検査供給パッド
１７２      信号供給パッド
１７８      ゲート駆動部
１８０      表示部
１８２      オッドゲート検査パッド
１８６      イブンゲート検査パッド
１８８      オッドゲート制御パッド
１９０      周辺部
１９２      イブンデータ検査パッド
１９４      オッドデータ検査パッド
１９８      実装領域
【図１】
2007025700.tif 000003
【図２】
2007025700.tif 000004
【図３】
2007025700.tif 000005
【図４】
2007025700.tif 000006
【図５】
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【図６】
2007025700.tif 000008
【図７】
2007025700.tif 000009
【図８】
2007025700.tif 000010
【図９】
2007025700.tif 000011
【図１０】
2007025700.tif 000012
【図１１】
2007025700.tif 000013