(57)【要約】【課題】光ディスク装置において、ＲＯＰＣを確実に実行してデータの記録品質を確保する。【解決手段】光ディスク装置のコントローラ３０は、ＯＰＣを実行して初期記録パワーＰｏを設定するとともにそのときの反射光量Ｂｏを検出し、データ記録時の反射光量Ｂに対して、Ｂｏ／Ｐｏn＝Ｂ／Ｐnとなるように記録パワーＰを調整する。ＯＰＣ実行時に、種々の記録パワーでテストデータを記録したときのβ値が目標β値近傍となる２つの記録パワーＰｘ，Ｐｙ、そのときの反射光量Ｂｘ，Ｂｙ、そのときのβ値βｘ、βｙを用い、Ｂｘ・（１＋βｘ）／Ｐｘn＝Ｂｙ・（１＋βｙ）／Ｐｙnとなるようなｎを演算し、このｎを用いてＲＯＰＣを実行する。【選択図】図１
2007066491.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの所定エリアにテストデータを記録し、該テストデータの再生信号品質に基づき記録パワーを初期設定するとともに、データ記録時の反射光量Ｂに基づき所定の制御式に従って前記記録パワーを調整する光ディスク装置であって、
前記テストデータの再生信号品質に基づいて、前記所定の制御式のパラメータの値を演算する演算手段と、
前記演算手段で演算された前記パラメータの値を適用して前記制御式に従って前記記録パワーを調整する手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１記載の装置において、
前記制御式は、初期設定時の反射光量Ｂｏ及び記録パワーＰｏに対し、現在の反射光量Ｂから、ｎをパラメータとして
Ｂｏ／Ｐｏn＝Ｂ／Ｐn
により記録パワーＰを調整するものであり、
前記演算手段は、互いに異なる２つの記録パワーで前記テストデータを記録したときの前記テストデータのβ値を用いて前記ｎの値を演算することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項２記載の装置において、
前記演算手段は、互いに異なる２つの記録パワーとして、前記テストデータのβ値が目標値近傍となるテストデータを記録した記録パワーを用いることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項２、３のいずれかに記載の装置において、
前記演算手段は、互いに異なる２つの記録パワーをＰｘ，Ｐｙ、対応するテストデータの反射光量をＢｘ，Ｂｙ、β値をβｘ、βｙとした場合に、
Ｂｘ・（１＋βｘ）／Ｐｘn＝Ｂｙ・（１＋βｙ）／Ｐｙn
を満たすｎの値を演算することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項２、３のいずれかに記載の装置において、
前記演算手段は、互いに異なる２つの記録パワーをＰｘ，Ｐｙ、対応するテストデータの反射光量をＢｘ，Ｂｙ、β値をβｘ、βｙとした場合に、
Ｂｘ／（１＋βｘ）／Ｐｘn＝Ｂｙ／（１＋βｙ）／Ｐｙn
を満たすｎの値を演算することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
請求項１記載の装置において、
前記制御式は、初期設定時の反射光量Ｂｏ及び記録パワーＰｏに対し、現在の反射光量Ｂから、ｎをパラメータとして
Ｂｏ／Ｐｏn＝Ｂ／Ｐn
により記録パワーＰを調整するものであり、
前記演算手段は、互いに異なる２つの記録パワーで前記テストデータを記録したときの前記テストデータの変調度を用いて前記ｎの値を演算することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
請求項６記載の装置において、
前記演算手段は、互いに異なる２つの記録パワーとして、前記テストデータの変調度が目標値近傍となるテストデータを記録した記録パワーを用いることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
請求項６、７のいずれかに記載の装置において、
前記演算手段は、互いに異なる２つの記録パワーをＰｘ，Ｐｙ、対応するテストデータの反射光量をＢｘ，Ｂｙ、変調度をｍｘ、ｍｙとした場合に、
Ｂｘ・ｍｘ／Ｐｘn＝Ｂｙ・ｍｙ／Ｐｙn
を満たすｎの値を演算することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項９】
請求項６、７のいずれかに記載の装置において、
前記演算手段は、互いに異なる２つの記録パワーをＰｘ，Ｐｙ、対応するテストデータの反射光量をＢｘ，Ｂｙ、変調度をｍｘ、ｍｙとした場合に、
Ｂｘ／ｍｘ／Ｐｘn＝Ｂｙ／ｍｙ／Ｐｙn
を満たすｎの値を演算することを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置に関し、特にデータ記録時の記録パワー最適化（ＲＯＰＣ）に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、ＣＤドライブやＤＶＤドライブ等のデータ記録可能な光ディスク装置では、ＯＰＣ（Optimum Power Control）及びＲＯＰＣ（Running Optimum Power Control）により記録パワーを最適化してデータを記録している。ここで、ＯＰＣは光ディスクの所定エリアにテストデータを種々の記録パワーで試し書きし、このテストデータを再生して得られるβ値や変調度等の再生信号品質が目標値となる記録パワーを算出する処理であり、ＲＯＰＣは光ディスク内で記録膜の塗布むらや光ディスクの傾きによるレーザビームの形状変化等に起因して記録感度が異なることに鑑みて、データ記録時の反射光量（ピット形成後に反射光量が安定するときの反射光量でありＢレベルと称する）に応じて記録パワーを増減調整するものである。
【０００３】
一般に、ＲＯＰＣでは、ＯＰＣにより定めた記録パワーＰｏにおける反射光量Ｂｏを記憶し、β値が一定値となるように定めており、結果として、ＯＰＣにより定めた初期記録パワーＰｏ、初期反射光量Ｂｏに対し、
Ｂｏ／Ｐｏn＝Ｂ／Ｐn
となるように記録パワーＰを定めている。通常、ｎは２程度に設定されるが、下記の特許文献では、ｎを１．５〜１０の間、特にｎを３．２近傍に設定することが記載されている。
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−２４８９２９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記従来技術では、ｎを３．２近傍に設定しているが、光ディスク毎により確実に最適なｎの値を求める方法が望まれている。特に、近年ではデータ記録により反射率が低下する型（ＨｔｏＬ型）の光ディスクだけでなく、データ記録により反射率が増大する型（ＬｔｏＨ型）の光ディスクも市場に流通しており、任意の光ディスクに対して効率的かつ適応的にｎの値を定めてＲＯＰＣを実行できる装置が必要とされている。
【０００６】
本発明の目的は、任意の光ディスクに対して確実にＲＯＰＣを実行して記録パワーを最適化し、データの記録品質を確保できる装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、光ディスクの所定エリアにテストデータを記録し、該テストデータの再生信号品質に基づき記録パワーを初期設定するとともに、データ記録時の反射光量Ｂに基づき所定の制御式に従って前記記録パワーを調整する光ディスク装置であって、前記テストデータの再生信号品質に基づいて、前記所定の制御式のパラメータの値を演算する演算手段と、前記演算手段で演算された前記パラメータの値を適用して前記制御式に従って前記記録パワーを調整する手段とを有することを特徴とする。
【０００８】
本発明の１つの実施形態では、前記制御式は、初期設定時の反射光量Ｂｏ及び記録パワーＰｏに対し、現在の反射光量Ｂから、ｎをパラメータとして
Ｂｏ／Ｐｏn＝Ｂ／Ｐn
により記録パワーＰを調整するものであり、前記演算手段は、互いに異なる２つの記録パワーで前記テストデータを記録したときの前記テストデータのβ値を用いて前記ｎの値を演算する。前記演算手段は、互いに異なる２つの記録パワーで前記テストデータを記録したときの前記テストデータの変調度を用いて前記ｎの値を演算してもよい。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、ＯＰＣ実行時の記録パワーやテストデータの再生信号品質を用いてＲＯＰＣ実行時の記録パワー制御式内のパラメータ（ｎ）を設定するので、効率的にｎを設定できるとともに、光ディスク毎にパラメータ（ｎ）を設定してＲＯＰＣを実行できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。
【００１１】
図１に、本実施形態にかかる光ディスク装置の全体構成図を示す。ＣＤ−Ｒ／ＲＷやＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ等のデータ記録可能な光ディスク１０は、図示しないスピンドルモータにより回転駆動される。
【００１２】
ピックアップ（ＰＵ）１２は、光ディスク１０に対向配置され、光ディスク１０の表面にレーザ光を照射するレーザダイオード（ＬＤ）を含む。レーザダイオードは、レーザダイオード駆動回路（ＬＤＤ）３２により駆動され、データを再生する際には再生パワーのレーザ光を照射し、記録する際には記録パワー（記録パワー＞再生パワー）のレーザ光を照射する。また、ピックアップ１２は、光ディスク１０から反射したレーザ光を電気信号に変換する４分割フォトディテクタを有し、再生信号をサーボ検出部１４及びＲＦ検出部２０に出力する。
【００１３】
サーボ検出部１４は、ピックアップ１２からの信号に基づきトラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号を生成してそれぞれトラッキング制御部１６及びフォーカス制御部１８に出力する。トラッキング制御部１６は、トラッキングエラー信号に基づきピックアップ１２を光ディスク１０のトラック幅方向に駆動してオントラック状態とする。また、フォーカス制御部１８はフォーカスエラー信号に基づきピックアップ１２をフォーカス方向に駆動してオンフォーカス状態とする。例えば４分割フォトディテクタの場合、半径方向に分割されたディテクタの差分からトラッキングエラー信号が生成され、４分割フォトディテクタの対角和の差分からフォーカスエラー信号が生成される。もちろん、他の方式も可能である。
【００１４】
ＲＦ検出部２０は、ピックアップ１２からの信号を増幅して再生ＲＦ信号を生成し、信号処理部２２及びデコーダ２６に出力する。信号処理部２２は、ＯＰＣ実行時にはテストデータの再生信号からβ値算出に必要な信号を検出してコントローラ３０に出力する。β値は、β値＝（｜Ａ１｜−｜Ａ２｜）／（｜Ａ１｜＋｜Ａ２｜） で定義される。Ａ１はＡＣ結合されたＲＦ信号のピーク値、Ａ２はボトム値である。信号処理部２２は、ＯＰＣ時の各記録パワー毎にピーク値及びボトム値を検出してコントローラ３０に出力する。
【００１５】
また、信号処理部２２は、ＲＯＰＣ実行時には記録パワー照射時の光ディスク１０からの反射信号を所定のタイミングでサンプリングしてレベルＢ（反射光量Ｂ）を検出し、コントローラ３０に出力する。レベルＢの検出は、回路系のオフセットを除去して行う。すなわち、レーザ光を照射しない場合のレベルＢをオフセット値とし、実際の記録時にはこのオフセット値を差し引いたレベルＢ値をコントローラ３０に出力する。
【００１６】
デコーダ２６は、イコライザや二値化器を備え、再生ＲＦ信号の所定周波数、具体的には３Ｔ信号の振幅をブーストして二値化し、二値化信号を復調してコントローラ３０に出力する。復調は、図示しないＰＬＬ回路で同期クロック信号を生成して信号を抽出することで実行される。
【００１７】
コントローラ３０は、サーボ検出部１４やＲＦ検出部２０、ＬＤＤ３２等の各部の動作を制御するとともに、デコーダ２６からの復調データをパーソナルコンピュータ等の上位装置に出力する。コントローラ３０は、データ記録時には上位装置からの記録データに基づきＬＤＤ３２を駆動し、設定された記録ストラテジでデータを記録する。記録ストラテジは、例えばＤＶＤ−Ｒの場合、３Ｔ〜１４Ｔ（Ｔはトラック方向長さの基準周期）のデータのうち３Ｔは単一パルスで記録し、４Ｔ以上はマルチパルスでデータを記録するときの先頭パルス（トップパルス）のパルス幅やパルス振幅、後続パルスのパルス幅やパルス振幅で規定される。コントローラ３０は、データ記録に先立ってＯＰＣを実行する。すなわち、ＬＤＤ３２を駆動して光ディスク１０のテストエリアに種々の記録パワーでテストデータを数フレーム分記録し、該テストデータを再生して信号処理部２２から供給されるピーク値とボトム値から各記録パワーにおけるβ値を算出する。得られたβ値と目標値βｏとを比較し、目標値βｏが得られる記録パワーを算出して初期最適記録パワーＰｏとする。さらに、コントローラ３０は、光ディスク１０のデータエリアに上位装置から供給されたデータを記録する際に、ＲＯＰＣを実行して初期最適記録パワーＰｏをフィードバック制御する。すなわち、信号処理部２２から供給されるレベルＢを監視し、このレベルＢに基づいて初期最適記録パワーＰｏを増減調整する。
【００１８】
図２に、図１におけるコントローラ３０の機能ブロック図を示す。コントローラ３０は、ＯＰＣ及びＲＯＰＣをそれぞれ実行するＯＰＣ制御部及びＲＯＰＣ制御部を備え、さらに各種パラメータを記憶するメモリを備える。コントローラ３０はマイコンで構成され、ＯＰＣ制御部及びＲＯＰＣ制御部はマイコンのＣＰＵで構成され、メモリはＲＯＭ及びＲＡＭで構成される。
【００１９】
ＯＰＣ制御部は、信号処理部２２から供給されたピーク値及びボトム値に基づいてβ値を算出し、算出したβ値に基づき目標値βｏが得られる記録パワーＰｏを直線近似により算出する。算出された初期最適記録パワーＰｏ及びこの記録パワーＰｏでテストデータを記録したときの反射光のレベルＢ（基準値）であるＢｏをメモリに記憶する。さらに、ＯＰＣ制御部は、各記録パワーのうち、目標値βｏに近い２つの記録パワーにおけるテストデータの反射光量Ｂ、β値をメモリに記憶する。２つの記録パワーをＰｘ、Ｐｙ、これらの記録パワーでテストデータを記録したときの反射光量Ｂ（Ｂレベル）をＢｘ、Ｂｙ、β値をβｘ、βｙとする。
【００２０】
図３Ａ〜図３Ｃに、ＯＰＣ実行時の様子を模式的に示す。図３ＡはＯＰＣ実行時のテストデータ用記録パワーの時間変化である。記録パワーはＰ１からＰｎまで階段状に増大していく。図３Ｂは図３Ａのような記録パワーでテストデータを記録した時の反射光量Ｂの時間変化である。反射光量ＢはＢ１からＢｎへと変化する。図３Ｃは各記録パワーＰ１〜Ｐｎで記録されたテストデータを再生して得られるβ値である。β１からβｎへと順次増大する。例えば目標値βｏに近いβ値がβ４及びβ５であるとすると、目標値βｏに近いβ値が得られる２つの記録パワーとしてＰ４及びＰ５が得られ、このときの反射光量Ｂ４及びＢ５が得られる。これらのデータは、ＲＯＰＣ実行時の基本データとして利用される。
【００２１】
ＲＯＰＣ制御部は、信号処理部２２から供給されたレベルＢ及び最適記録パワーＰｏ並びにメモリに予め記録されたＢｏを用いて最適記録パワーＰを調整する。具体的には、ＲＯＰＣ制御部は、
Ｂｏ／Ｐｏn＝Ｂ／Ｐn
となるように記録パワーＰを設定する。従来においては、ｎの値は２近傍、あるいは３．２近傍に設定されているが、本実施形態ではＯＰＣ実行時のβ値あるいは変調度に応じてｎを最適化する。すなわち、ＯＰＣ実行時にメモリに記憶された、目標値βｏに近い２つの記録パワーＰｘ、Ｐｙにおけるテストデータの反射光量Ｂｘ、Ｂｙ、βｘ、βｙを用いて、
Ｂｘ・（１＋βｘ）／Ｐｘn＝Ｂｙ・（１＋βｙ）／Ｐｙn
が成り立つようにｎを定める。ＲＯＰＣの基本式であるＢ／Ｐn＝一定は、同一β値が得られるようにするものであるが、上記の式は、ＯＰＣ実行時のβ値を考慮することで基本式Ｂ／Ｐn＝一定が維持されるようにするものである。上記の式を変形すると、近似式により
ｎ＝｛１−（Ｂｙ・（１＋βｙ））／（Ｂｘ・（１＋βｘ））｝／（１−Ｐｙ／Ｐｘ）
となり、Ｐｘ、Ｐｙ、Ｂｘ、Ｂｙ、βｘ、βｙからｎを演算することができる。
ｎを演算した後、ＲＯＰＣ制御部は基本式
Ｂｏ／Ｐｏn＝Ｂ／Ｐn
を用いて記録パワーを決定する。具体的には、上式を変形して
Ｐ＝Ｐｏ｛１−（Ｂｏ−Ｂ）／ｎＢｏ｝
により記録パワーＰを決定する。
【００２２】
なお、以上は光ディスク１０がデータ記録により反射率が低下するＨｔｏＬ型の場合であり、光ディスク１０がデータ記録により反射率が増大するＬｔｏＨ型の場合には、
Ｂｘ／（１＋βｘ）／Ｐｘn＝Ｂｙ／（１＋βｙ）／Ｐｙn
が成り立つようにｎを定める。光ディスク１０がＨｔｏＬ型の場合には反射光量Ｂとβとの間には負の相関が成立するためＢ・（１＋β）としているが、ＬｔｏＨ型の場合には反射光量Ｂとβとの間には正の相関が成立するためＢ／（１＋β）とするのが好適である。光ディスク１０がＨｔｏＬ型であるかＬｔｏＨ型であるかは、光ディスク１０がドライブに装着された後に、光ディスク１０のリードインエリアに予め記憶された識別データを読み取ることで識別できる。
【００２３】
図４に、本実施形態の全体処理フローチャートを示す。まず、光ディスク１０が装着されると（Ｓ１０１）、光ディスク１０のリードインエリアに形成されている光ディスク１０の識別情報を読み取り（Ｓ１０２）、光ディスク１０の反射特性がＨｔｏＬ型であるかＬｔｏＨ型であるかを識別する。識別結果はコントローラ３０のメモリに記憶される。次に、ＯＰＣを実行する（Ｓ１０３）。ＯＰＣでは、図３Ａに示すように記録パワーを複数段に変化させてテストデータを試し書きし、これらのテストデータの試し書き中の反射光量Ｂ、テストデータを再生して得られるβ値を検出する。そして、目標β値が得られる記録パワーを初期記録パワーＰｏとする。ＯＰＣ実行後、コントローラ３０は初期記録パワーＰｏ及び対応する反射光量Ｂｏをメモリに記憶する（Ｓ１０４）。
【００２４】
ＯＰＣ実行後、次に実際のデータ記録処理に移行する。この際、ＲＯＰＣにより記録パワーを調整しながらデータを記録するが、ＲＯＰＣの実行に先立ち、コントローラ３０はＯＰＣ実行時に取得したデータから、目標β値近傍のβ値が得られる２つの記録パワーＰｘ，Ｐｙ（Ｐｘ，ＰｙのいずれかはＰｏでもよい）を選択し、さらにこれらの記録パワーＰｘ，Ｐｙでテストデータを記録したときの反射光量Ｂｘ、Ｂｙ、これらのテストデータのβ値βｘ、βｙを用いてパラメータ（あるいは次数）ｎを演算する（Ｓ１０５）。このとき、Ｓ１０２で得られた識別結果に基づいて演算式内の乗算あるいは除算を切り替えつつｎを演算する。パラメータ（あるいは次数）ｎを演算した後、このｎを用いて基本の制御式である
Ｂｏ／Ｐｏn＝Ｂ／Ｐn
に従って記録パワーＰを調整しつつデータを記録する（Ｓ１０６）。
【００２５】
このように、本実施形態ではＯＰＣ実行時に得られたテストデータの再生信号品質を用いてＲＯＰＣ実行時のｎの値を演算により算出するため、効率的に、かつ、データ記録しようとする光ディスク毎に最適のｎを設定することができる。
【００２６】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこれに限定されず種々の変更が可能である。
【００２７】
例えば、本実施形態ではＯＰＣ実行時に目標β値に近い２つの記録パワーＰｘ，Ｐｙに着目したが、目標β値に近い複数の記録パワー、例えば４つの記録パワーＰｗ、Ｐｘ、Ｐｙ、Ｐｚ及びこれらの反射光量Ｂ、β値を用いてｎを複数回演算し、演算した複数のｎの平均値を算出して最適のｎを求めてもよい。図３Ａ〜図３Ｃに即して説明すると、記録パワーとして記録パワーＰ３，Ｐ４，Ｐ５，Ｐ６を抽出し、（Ｐ３，Ｐ４）、（Ｐ４，Ｐ５）、（Ｐ５，Ｐ６）からそれぞれｎを求め、演算された３個のｎの平均値を算出する等である。
【００２８】
また、本実施形態ではＯＰＣ実行時に各記録パワーで試し書きしたテストデータのβ値を用いてｎを演算しているが、β値の代わりに変調度を用いてもよい。変調度ｍは、再生ＲＦ信号のあるデータ長（例えば１１Ｔ）のピークレベルをＣ、ボトムレベルをＤとすると、ｍ＝（Ｃ−Ｄ）／Ｃで定義される。ＯＰＣ実行時に変調度が目標値に近い２つの記録パワーＰｘ，Ｐｙを選択し、これら２つの記録パワーＰｘ，Ｐｙの反射光量Ｂｘ，Ｂｙ、及び変調度ｍｘ、ｍｙを用いて、光ディスク１０がＨｔｏＬ型であれば
Ｂｘ・ｍｘ／Ｐｘn＝Ｂｙ・ｍｙ／Ｐｙn
が成り立つようにｎを定め、光ディスク１０がＬｔｏＨ型であれば
Ｂｘ／ｍｘ／Ｐｘn＝Ｂｙ／ｍｙ／Ｐｙn
が成り立つようにｎを定める。
【００２９】
また、本実施形態では、β値あるいは変調度ｍを用いてその光ディスク１０に最適なｎを演算してＲＯＰＣを実行しているが、このようにして演算したｎの正当性を評価した上でＲＯＰＣを実行してもよい。例えば、演算して得られたｎが１以下であれば採用せず、ｎが１．５以上５以下であれば採用する等である。
【００３０】
さらに、本実施形態では、ＲＯＰＣ実行時に
Ｂｏ／Ｐｏn＝Ｂ／Ｐn
が成り立つように記録パワーＰを調整しているが、パラメータＫを用いて、
Ｂｏ／Ｐｏn＝Ｂ×Ｋ／Ｐn
が成り立つように記録パワーＰを調整してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】光ディスク装置の全体構成図である。
【図２】図１におけるコントローラの構成図である。
【図３Ａ】ＯＰＣ実行時の記録パワー変化図である。
【図３Ｂ】ＯＰＣ実行時の反射光量Ｂ（Ｂレベル）変化図である。
【図３Ｃ】ＯＰＣ実行時のβ値変化図である。
【図４】実施形態の処理フローチャートである。
【符号の説明】
【００３２】
１０  光ディスク、１２  ピックアップ、３０  コントローラ、３２  ＬＤＤ。
【図１】
2007066491.tif 000003
【図２】
2007066491.tif 000004
【図３Ａ】
2007066491.tif 000005
【図３Ｂ】
2007066491.tif 000006
【図３Ｃ】
2007066491.tif 000007
【図４】
2007066491.tif 000008