(57)【要約】【課題】  故障検出の検出時間または診断時間の短縮を図る診断装置及び診断方法を実現することを目的にする。【解決手段】  本装置は、診断項目の診断順データを記憶する順序記憶部と、診断結果データを記憶する結果記憶部と、この結果記憶部の診断結果データにより、フェイル率を演算するフェイル率演算手段と、このフェイル率演算手段のフェイル率により、順序記憶部の診断順データを並び替える並替手段と、この並替手段で並び替えられた診断順データにより、ＩＣテスタに対して診断を実行し、診断結果を結果記憶部に格納する診断実行手段とを備えたことを特徴とする装置である。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験対象を試験するＩＣテスタを診断する診断装置において、
診断項目の診断順データを記憶する順序記憶部と、
診断結果データを記憶する結果記憶部と、
この結果記憶部の診断結果データにより、フェイル率を演算するフェイル率演算手段と、
このフェイル率演算手段のフェイル率により、前記順序記憶部の診断順データを並び替える並替手段と、
この並替手段で並び替えられた診断順データにより、前記ＩＣテスタに対して診断を実行し、診断結果を前記結果記憶部に格納する診断実行手段と
を備えたことを特徴とする診断装置。
【請求項２】
並替手段は、フェイル率が高い診断項目から順に並び替えることを特徴とする請求項１記載の診断装置。
【請求項３】
診断実行手段は、診断項目数を制限することを特徴とする請求項１または２記載の診断装置。
【請求項４】
被試験対象を試験するＩＣテスタを診断する診断方法において、
結果記憶部の診断結果データにより、フェイル率を演算するステップと、
このフェイル率により、順序記憶部の診断項目の診断順データを並び替えるステップと、
並び替えられた診断順データにより、前記ＩＣテスタに対して診断を実行し、診断結果を前記結果記憶部に格納するステップと
を備えたことを特徴とする診断方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタを診断する診断装置及び診断方法に関し、故障検出の検出時間または診断時間の短縮を図る診断装置及び診断方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ＩＣテスタは、被試験対象、例えば、ＩＣ、ＬＳＩ等に試験パターンを与え、被試験対象の出力と期待値パターンとを比較し、被試験対象の良否の判定を行っている。そして、下記特許文献に示されるように、診断装置により、ＩＣテスタの機能、性能が正常であることの確認や、異常時の故障箇所を特定するための診断を行っている。
【０００３】
【特許文献１】特開平１−３１３７８０号公報
【特許文献２】特開平６−２８１６９２号公報
【０００４】
このような装置を図５に示し以下に説明する。図５において、ＩＣテスタ１は、図示しない被試験対象を試験する。順序記憶部２は、診断項目、例えば、リレー診断、経路診断、カード診断等の診断順データを記憶する。診断手段３は、順序記憶部２の診断順データにより、ＩＣテスタ１の診断を実行し、結果を表示部４に表示する。
【０００５】
このような装置の動作を以下に説明する。図６は図５に示す装置の動作を示したフローチャートである。
【０００６】
診断手段３が、順序記憶部２の診断順データ、例えば、最初の実行項目の情報”診断項目１”を読み出す（Ｓ１）。診断手段３が、終点を示すターミネータかを判断し（Ｓ２）、ターミネータでない場合、診断順データの診断項目を実行する（Ｓ３）。そして、診断手段３が結果を表示部４に表示し（Ｓ４）、再び、順序記憶部２から診断順データ、例えば、次の実行項目の情報”診断項目２”を読み出す（Ｓ１）。このような動作を繰返し、ターミネータの場合、診断手段３は、診断総合結果を表示部４に表示し（Ｓ５）、処理を終了する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ＩＣテスタ１ごとに異なる被試験対象を試験する可能性があるため、ＩＣテスタ１ごとに搭載モジュールの使用頻度が異なる。有寿命部品はその使用頻度に応じて故障の可能性も増加することから、ＩＣテスタ１ごとに故障が発生しやすい部品やモジュールが異なる。また、逆にＩＣテスタ１ごとにほとんど動作しないモジュールも存在する可能性があり、そのモジュールは故障の可能性がほとんどなくなる。
【０００８】
このような性質をもつＩＣテスタ１の故障を、診断手段３を使って検出させると、ＩＣテスタ１ごとに故障検出までの時間が異なり、診断に時間がかかってしまう。
【０００９】
そこで、本発明の目的は、故障検出の検出時間または診断時間の短縮を図る診断装置及び診断方法を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
被試験対象を試験するＩＣテスタを診断する診断装置において、
診断項目の診断順データを記憶する順序記憶部と、
診断結果データを記憶する結果記憶部と、
この結果記憶部の診断結果データにより、フェイル率を演算するフェイル率演算手段と、
このフェイル率演算手段のフェイル率により、前記順序記憶部の診断順データを並び替える並替手段と、
この並替手段で並び替えられた診断順データにより、前記ＩＣテスタに対して診断を実行し、診断結果を前記結果記憶部に格納する診断実行手段と
を備えたことを特徴とするものである。
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明であって、
並替手段は、フェイル率が高い診断項目から順に並び替えることを特徴とするものである。
請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の発明であって、
診断実行手段は、診断項目数を制限することを特徴とするものである。
請求項４記載の発明は、
被試験対象を試験するＩＣテスタを診断する診断方法において、
結果記憶部の診断結果データにより、フェイル率を演算するステップと、
このフェイル率により、順序記憶部の診断項目の診断順データを並び替えるステップと、
並び替えられた診断順データにより、前記ＩＣテスタに対して診断を実行し、診断結果を前記結果記憶部に格納するステップと
を備えたことを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば以下のような効果がある。
請求項１，２によれば、フェイル率演算手段が、診断結果データによりフェイル率を演算し、このフェイル率に基づいて、並替手段が、診断順データを並び替えるので、ＩＣテスタの故障検出を短時間に行える。
【００１２】
また、請求項３によれば、診断実行手段が診断項目数を制限するので、診断時間の短縮を図ることができる。
【００１３】
また、請求項４によれば、診断結果データによりフェイル率を演算し、このフェイル率に基づいて、診断順データを並び替えるので、ＩＣテスタの故障検出を短時間に行える。また、診断項目数を設定すれば、診断項目数のみ診断するので、診断時間の短縮を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下本発明を、図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。ここで、図５と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。
【００１５】
図１において、結果記憶部５は、診断結果データを記憶する。診断手段６は、順序記憶部２の診断順データ、結果記憶部５の診断結果により、ＩＣテスタ１の診断を実行し、診断結果を表示部４に表示すると共に結果記憶部５に格納する。そして、診断手段６は、フェイル率演算手段６１、並替手段６２、診断実行手段６３からなる。フェイル率演算手段６１は、結果記憶部５の診断結果データにより、フェイル率を演算し、結果記憶部５に格納する。並替手段６２は、結果記憶部５からフェイル率を読み出し、このフェイル率により、順序記憶部２の診断順データを並び替える。診断実行手段６３は、順序記憶部２の診断順データにより、ＩＣテスタに対して診断を実行し、診断結果を表示部４に表示すると共に、結果記憶部５に格納する。
【００１６】
このような装置の動作を以下に説明する。図２は図１に示す装置の動作を示したフローチャートである。
【００１７】
図示しない入力部、例えば、キーボード、マウス等により、診断項目数を設定値として、診断手段６の診断実行手段６３に設定する。そして、フェイル率演算手段６１が、結果記憶部５から、図３に示すような診断結果を読み出し、実行回数とフェイル回数より、フェイル率を演算し、結果記憶部５に格納する（Ｓ１０）。並替手段６２が、結果記憶部５からフェイル率、順序記憶部２から診断順データを読み出し、図４に示すように、フェイル率が高い順に並び替え、フェイル率が同じものはそのままの順で並べ（Ｓ１１）、順序記憶部２に格納する。
【００１８】
診断実行手段６３が、順序記憶部２から並び替えられた診断順データを読み出す（Ｓ１２）。診断実行手段６が、ターミネータかを判断し（Ｓ１３）、ターミネータでない場合、診断順データの診断項目を実行する（Ｓ１４）。そして、診断実行手段６３が結果を表示部４に表示し、結果記憶部５に累積して格納する（Ｓ１５）。診断実行手段６３が、項目数をカウントし、カウント数が設定値か判断する（Ｓ１７）。設定値でない場合、再び、診断実行手段６３は、順序記憶部２から診断順データを読み出す（Ｓ１２）。このような動作を繰返し、ターミネータの場合または設定値の場合、診断実行手段６３は、診断総合結果を表示部４に表示し（Ｓ１８）、処理を終了する。
【００１９】
このように、フェイル率演算手段６１がフェイル率を演算し、このフェイル率に基づいて、並替手段６２が、フェイル率の高い順に、診断順データを並び替えるので、ＩＣテスタ１の故障検出を短時間に行える。また、診断項目数を設定値に設定すれば、診断項目数のみ診断するので、診断時間の短縮を図ることができる。つまり、日々の診断は項目数を制限して診断を行い、長期定期診断時に、全診断項目を診断すれば、日々の診断時間の短縮を格段に図ることができ、試験稼動時間を上げることができる。
【００２０】
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、設定値を設定した例を示したが、設定値がなくともよい。
【００２１】
また、フェイル率演算手段６１が、演算したフェイル率を結果記憶部５に格納する構成を示したが、並替手段６２に直接渡す構成でもよい。同様に、並替手段６２が並び替えた診断順データを順序記憶部２に格納する構成を示したが、格納せずに、診断実行手段６３に渡す構成でもよい。
【００２２】
また、並替手段が、フェイル率が高い順に並び替える構成を示したが、優先診断項目を規定し、優先診断項目をフェイル率に関係なく、上位にする構成でもよい。すなわち、フェイル率を利用するものが本発明に含まれる。
【００２３】
また、順序記憶部２、結果記憶部５を別々の構成で示したが、１つの記憶部で構成してもよい。
【００２４】
また、診断順データは、診断項目を示す識別子となればどのような形式でもよい。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】図１に示す装置の動作を示したフローチャートである。
【図３】結果記憶部５の診断結果データを示した図である。
【図４】並替手段６２の並び替え動作を説明する図である。
【図５】従来の診断装置の構成を示した図である。
【図６】図５に示す装置の動作を示したフローチャートである。
【符号の説明】
【００２６】
１  ＩＣテスタ
２  順序記憶部
５  結果記憶部
６１  フェイル率演算手段
６２  並替手段
６３  診断実行手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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