(57)【要約】【課題】各機能デバイス間の不良をも判断できるようにすることを目的とする。【解決手段】複数の機能デバイス１、２、３が処理信号の処理に従って順次接続されると共にこの複数の機能デバイス１、２、３にバス７を介してシステムコントローラ６が接続された電子機器の不良診断装置において、この複数の機能デバイス１、２、３に夫々この処理信号に含まれる特定信号でラッチするコントロールレジスタ１ａ、２ａ、３ａを設け、このシステムコントローラ６がこの複数の機能デバイス１、２、３の特定信号でラッチするコントロールレジスタ１ａ、２ａ、３ａに夫々変更書き込み信号を順次供給するようにし、その後所定のタイミングでこの複数の機能デバイス１、２、３のコントロールレジスタ１ａ、２ａ、３ａを読み出し、このコントロールレジスタ１ａ、２ａ、３ａの読み出し信号により不良個所を絞り込むようにしたものである。【選択図】図１
2007094694.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の機能デバイスが処理信号の処理に従って順次接続されると共に前記複数の機能デバイスにバスを介してシステムコントローラが接続された電子機器の不良診断装置において、
前記複数の機能デバイスに夫々前記処理信号に含まれる特定信号でラッチするコントロールレジスタを設け、前記システムコントローラが前記複数の機能デバイスの特定信号でラッチするコントロールレジスタに夫々変更書き込み信号を順次供給するようにし、その後所定のタイミングで前記複数の機能デバイスのコントロールレジスタを読み出し、前記コントロールレジスタの読み出し信号により不良個所を絞り込むようにしたことを特徴とする電子機器の不良診断装置。
【請求項２】
請求項１記載の電子機器の不良診断装置において、
前記処理信号は映像信号であり、前記特定信号は垂直同期信号であることを特徴とする電子機器の不良診断装置。
【請求項３】
複数の機能デバイスが処理信号の処理に従って順次接続されると共に前記複数の機能デバイスにバスを介してシステムコントローラが接続された電子機器の不良診断方法において、
前記複数の機能デバイスに夫々前記処理信号に含まれる特定信号でラッチするコントロールレジスタを設け、前記システムコントローラが前記複数の機能デバイスの特定信号でラッチするコントロールレジスタに夫々変更書き込み信号を順次供給するようにし、その後所定のタイミングで前記複数の機能デバイスのコントロールレジスタを読み出し、前記コントロールレジスタの読み出し信号により不良個所を絞り込むようにしたことを特徴とする電子機器の不良診断方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えばテレビジョン受像機等の電子機器の不良個所の診断に適用して好適な電子機器の不良診断装置及び電子機器の不良診断方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、特許文献１にインナーバスを介してシステムコントローラと複数の機能デバイスとを接続してなる電子機器の自己診断モードが開示されている。
【０００３】
この特許文献１開示の自己診断モードは各機能デバイスにインナーバスを介して制御データを周期的に伝送することにより、各制御データに応じた動作を行わせながら、全ての機能デバイスに制御データを伝送する１制御サイクル毎に、伝送した制御データに対応する応答データ即ち各機能デバイスからインナーバスを介して送られてくるＡＣＫ情報やリターンデータに基づいて各機能デバイスの故障の判定を行うようにしたものである。
【特許文献１】特開平５−６６９５９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
然しながら、特許文献１に開示されている電子機器の自己診断モードではシステムコントローラからインナーバスを介して各機能デバイスに処理信号例えば映像信号とは関係なく制御データを伝送し、この伝送した制御データに対する応答データ即ち各機能デバイスからインナーバスを介して送られてくるＡＣＫ情報やリターンデータに基づいて各機能デバイスの故障の判定を行っているので、各機能デバイスそのものの故障の判定はできるが、この各機能デバイス間の故障の判定ができない不都合があった。
【０００５】
本発明は、斯かる点に鑑み、各機能デバイス間の不良をも判断できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明電子機器の不良診断装置は、複数の機能デバイスが処理信号の処理に従って順次接続されると共にこの複数の機能デバイスにバスを介してシステムコントローラが接続された電子機器の不良診断装置において、この複数の機能デバイスに夫々この処理信号に含まれる特定信号でラッチするコントロールレジスタを設け、このシステムコントローラがこの複数の機能デバイスの特定信号でラッチするコントロールレジスタに夫々変更書き込み信号を順次供給するようにし、その後所定のタイミングでこの複数の機能デバイスのコントロールレジスタを読み出し、このコントロールレジスタの読み出し信号により不良個所を絞り込むようにしたものである。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、処理信号の処理に従って順次接続された複数の機能デバイスに夫々この処理信号に含まれる特定信号でラッチするコントロールレジスタを設け、システムコントローラがこの複数の機能デバイスの特定信号でラッチするコントロールレジスタに夫々変更書き込み信号を順次供給するようにし、その後所定のタイミングでこの複数の機能デバイスのコントロールレジスタを読み出し、このコントロールレジスタの読み出し信号により不良個所を絞り込むようにしたので、順次接続された複数の機能デバイスにおけるこの処理信号の途切れの有無により不良を判断しており、各機能デバイス間の故障をも判断できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
以下、図面を参照して、本発明電子機器の不良診断装置及び電子機器の不良診断方法を実施するための最良の形態の例につき説明する。
【０００９】
図１例は、映像信号の処理装置の例を示し、図１例においては、説明を簡略化するため、映像信号の処理を３つの即ち第１、第２及び第３の機能デバイス１、２及び３で行うようにしたものである。
【００１０】
この第１の機能デバイス１は例えば複数の映像信号のうちの１つの映像信号を選択するスイッチ機能を有する機能デバイスであり、この第１の機能デバイス１の出力信号を第２の機能デバイス２に供給する。
【００１１】
この第２の機能デバイス２は例えばスキャンコンバータ機能を有する機能デバイスであり、この第２の機能デバイス２の出力信号を第３の機能デバイス３に供給する。
【００１２】
この第３の機能デバイス３は例えば画質制御機能を有する機能デバイスであり、この第３の機能デバイス３の出力信号を加算回路４を介して映像表示装置５に供給する。
【００１３】
この場合、第１、第２及び第３の機能デバイス１、２及び３は、順次接続されたもので、この第１、第２及び第３の機能デバイス１、２及び３の処理信号として例えば映像信号としたときには、特定信号として例えば垂直同期信号Ｖが含まれている。
【００１４】
また、図１において、６はマイクロコンピュータより成るシステムコントローラを示し、このシステムコントローラ６と第１、第２及び第３の機能デバイス１、２及び３とを夫々バス例えばＩ２Ｃバス７で接続する。
【００１５】
このＩ２Ｃバス７はデータラインとクロックラインとを介してデータとクロックとが２ラインで伝送され、このＩ２Ｃバス７のフォーマットに準拠したＭＳＢファーストの８ビット転送フォーマットは図５に示すように、８ビット毎に応答確認（ＡＣＫ：Ａｃｋｎｏｗｌｅｄｇ）ビットが設けられており、データ転送がスタート条件Ｓに始まりスットプ条件Ｐで終了する。
【００１６】
このスタート条件Ｓ及びスットプ条件Ｐはマスター側デバイスが与えるもので、このスタート条件Ｓは、クロックラインが論理［Ｈ］の状態でデータラインを論理［Ｈ］から論理［Ｌ］に遷移させることにより与えられ、また、このストップ条件Ｐは、クロックラインが論理［Ｈ］でデータラインを論理［Ｌ］から論理［Ｈ］に遷移させることにより与えられる。
【００１７】
このスタート条件Ｓに続く７ビットはスレーブアドレスで、このスレーブアドレスに続く１ビットが書き込み／読み出し（Ｗ／Ｒ）選択ビットに定義されている。そしてＡＣＫビットの次からＭＳＢファーストの送受信データＤＡＴＡ  １〜ＤＡＴＡ  Ｎとなっている。
【００１８】
各データＤＡＴＡ  １〜ＤＡＴＡ  Ｎはクロックラインを介して伝送されるクロックの立ち上がりエッジで取り込まれる。また、この８ビット毎にＡＣＫビットをスレーブ側デバイスが論理［Ｌ］にすることにより、マスター側デバイスは、このスレーブ側デバイスがデータを受信できたか否かを知ることができる。
【００１９】
本例においては、この第１、第２及び第３の機能デバイス１、２及び３に夫々処理信号例えば映像信号に含まれる特定信号例えば垂直同期信号Ｖでラッチするコントロールレジスタ１ａ、２ａ及び３ａを設ける。
【００２０】
このコントロールレジスタ１ａ、２ａ及び３ａは、一般にはこの第１、第２及び第３の機能デバイス１、２及び３が複数のレジスタを有するので、その複数のレジスタの内の不使用のレジスタ１０にサブアドレス（ＳＵＢ  ＡＤＤＲＥＳＳ）を付与し、図２に示す如く構成する。  
【００２１】
このコントロールレジスタ１ａ、２ａ及び３ａを図２を参照して説明するに、図２において、１１はシステムコントローラ６よりの変更書き込み信号本例では“１”又は“０”が供給される変更書き込み信号入力端子を示し、この変更書き込み信号入力端子１１よりの変更書き込み信号をレジスタ１０に供給する。
【００２２】
このレジスタ１０の出力信号をラッチ回路を構成するフリップフロップ回路１２に供給する。また、１２ａはラッチ信号入力端子を示し、本例においては、このラッチ信号入力端子１２ａに処理信号の特定信号例えば映像信号の垂直同期信号Ｖを供給する。このフリップフロップ回路１２の出力信号をバス７を介してシステムコントローラ６に供給する出力端子１３に供給する。
【００２３】
このコントロールレジスタ１ａ、２ａ、３ａは、変更書き込み信号によりレジスタ１０の内容が変わっていてもラッチ信号入力端子１２ａにラッチ信号例えば垂直同期信号Ｖが供給されるまでは、この出力信号は変更せず、ラッチ信号例えば垂直同期信号Ｖが供給されたときに変更し、レジスタ１０の出力信号と同じになる。
【００２４】
また、このコントロールレジスタ１ａ、２ａ、３ａに書き込み／読み出し（Ｗ／Ｒ）するときには、図５の８ビット転送フォーマットのＤＡＴＡ  １にこのコントロールレジスタ１ａ、２ａ、３ａのサブアドレス（ＳＵＢ  ＡＤＤＲＥＳＳ）を割り当てる如くすると共にその後のＤＡＴＡに変更書き込み信号又は読み出し信号を割り当てるごとくする。この場合、スレーブアドレスにこの第１、第２及び第３の機能デバイス１、２及び３のアドレスを割り当てることは勿論である。
【００２５】
また、本例においては、このシステムコントローラ６にＯＳＤ（オンスクリーンデイスプレーイ）機能を持たせる如くする。このシステムコントローラ６に得られるＯＳＤ信号を加算回路４を介して映像表示装置５に供給する。
【００２６】
本例において、処理信号例えば映像信号が出力されなくなった場合は、システムコントローラ６はこの第１、第２及び第３の機能デバイス１、２及び３に対して、図３のフローチャートに示す如き処理を行う。
【００２７】
先ず、本例においては、第１の機能デバイス１のコントロールレジスタ１ａのレジスタ１０に変更書き込み信号本例では“１”（旧の変更書き込み信号が“０”であったとする。）を送信する（ステップＳ１）。
【００２８】
その後、所定時間待つ、即ちラッチ信号である特定信号が例えば垂直同期信号Ｖであるときには、この垂直同期信号Ｖの周期より長い時間例えば１７ｍＳ待つ（ステップＳ２）。この所定時間例えば１７ｍＳ待つことにより処理信号例えば映像信号が、この第１の機能デバイス１まで来ているかどうかを判断することができる。
【００２９】
次に、この第１の機能デバイス１のコントロールレジスタ１ａの出力信号を読み込む（ステップＳ３）。その後、コントロールレジスタ１ａより読み込んだ出力信号が変更書き込み信号“１”であるかどうかを判断する（ステップＳ４）。
【００３０】
このステップＳ４で、読み込んだ出力信号が“１”のときは、第１の機能デバイス１に処理信号例えば映像信号が来ているとし（ステップＳ５）、自己診断表示を正常の“０”とする（ステップＳ６）。
【００３１】
このステップＳ４で読み込んだ出力信号が旧の“０”のときは、この第１の機能デバイス１に処理信号例えば映像信号が来ていないとし（ステップＳ７）、自己診断表示を異常の“１”とする（ステップＳ８）。
【００３２】
次に、本例においては、第２の機能デバイス２のコントロールレジスタ２ａのレジスタ１０に変更書き込み信号本例では“１”（旧の変更書き込み信号が“０”であったとする。）を送信する（ステップＳ１）。
【００３３】
その後、所定時間待つ、即ちラッチ信号である特定信号が例えば垂直同期信号Ｖであるときには、この垂直同期信号Ｖの周期より長い時間例えば１７ｍＳ待つ（ステップＳ２）。この所定時間例えば１７ｍＳ待つことにより処理信号例えば映像信号が、この第２の機能デバイス２まで来ているかどうかを判断することができる。
【００３４】
次に、この第２の機能デバイス２のコントロールレジスタ２ａの出力信号を読み込む（ステップＳ３）。その後、コントロールレジスタ２ａより読み込んだ出力信号が変更書き込み信号“１”であるかどうかを判断する（ステップＳ４）。
【００３５】
このステップＳ４で、読み込んだ出力信号が“１”のときは、第２の機能デバイス２に処理信号例えば映像信号が来ているとし（ステップＳ５）、自己診断表示を正常の“０”とする（ステップＳ６）。
【００３６】
このステップＳ４で読み込んだ出力信号が旧の“０”のときは、この第２の機能デバイス２に処理信号例えば映像信号が来ていないとし（ステップＳ７）、自己診断表示を異常の“１”とする（ステップＳ８）。
【００３７】
次に、本例においては、第３の機能デバイス３のコントロールレジスタ３ａのレジスタ１０に変更書き込み信号本例では“１”（旧の変更書き込み信号が“０”であったとする。）を送信する（ステップＳ１）。
【００３８】
その後、所定時間待つ、即ちラッチ信号である特定信号が例えば垂直同期信号Ｖであるときには、この垂直同期信号Ｖの周期より長い時間例えば１７ｍＳ待つ（ステップＳ２）。この所定時間例えば１７ｍＳ待つことにより処理信号例えば映像信号が、この第３の機能デバイス３まで来ているかどうかを判断することができる。
【００３９】
次に、この第３の機能デバイス３のコントロールレジスタ３ａの出力信号を読み込む（ステップＳ３）。その後、コントロールレジスタ３ａより読み込んだ出力信号が変更書き込み信号“１”であるかどうかを判断する（ステップＳ４）。
【００４０】
このステップＳ４で、読み込んだ出力信号が“１”のときは、第３の機能デバイス３に処理信号例えば映像信号が来ているとし（ステップＳ５）、自己診断表示を正常の“０”とする（ステップＳ６）。
【００４１】
このステップＳ４で読み込んだ出力信号が旧の“０”のときは、この第３の機能デバイス３に処理信号例えば映像信号が来ていないとし（ステップＳ７）、自己診断表示を異常の“１”とする（ステップＳ８）。
【００４２】
上述の結果をシステムコントローラ６のＯＳＤ機能を用いて映像表示装置５に表示する如くする。本例においては上述の処理及び図４Ａ、Ｂ、Ｃ及びＤに示す如き表示により、何処で処理信号例えば映像信号が途切れているかを絞り込むことができる。
【００４３】
即ち、図４Ａに示す如く、映像表示装置５の表示画面５ａの信号経路自己診断表示が第１、第２及び第３の機能デバイス１、２及び３が全て異常の表示“１”であったときは、第１の機能デバイス１に処理信号例えば映像信号が入って来ていないことを示すので、この第１の機能デバイス１よりも前段が不良であると判断できる。
【００４４】
また、図４Ｂに示す如く、  映像表示装置５の表示画面５ａの信号経路自己診断表示が第１の機能デバイス１は正常の表示“０”で、第２及び第３の機能デバイス２及び３が異常の表示“１”であったときは、第２の機能デバイス２に処理信号例えば映像信号が入って来ていないことを示すので、この第１の機能デバイス１の出力から第２の機能デバイス２までの信号経路の不良であると判断できる。
【００４５】
また、図４Ｃに示す如く、  映像表示装置５の表示画面５ａの信号経路自己診断表示が第１及び２の機能デバイス１及び２は正常の表示“０”で、第３の機能デバイス３が異常の表示“１”であったときは、第３の機能デバイス３に処理信号例えば映像信号が入って来ていないことを示すので、この第２の機能デバイス２の出力から第３の機能デバイス３までの信号経路の不良であると判断できる。
【００４６】
また、図４Ｄに示す如く、映像表示装置５の表示画面５ａの信号経路自己診断表示が第１、第２及び第３の機能デバイス１、２及び３が全て正常の表示“０”であったときは、第３の機能デバイス３までには処理信号例えば映像信号が入って来ていることを示すので、この第３の機能デバイス３よりも後段が不良であると判断できる。
【００４７】
本例によれば、処理信号例えば映像信号の処理に従って順次接続された第１、第２及び第３の機能デバイス１、２及び３にこの処理信号例えば映像信号に含まれる特定信号例えば垂直同期信号Ｖでラッチするコントロールレジスタ１ａ、２ａ及び３ａを設け、システムコントローラ６がこの第１、第２及び第３の機能デバイス１,２及び３の特定信号例えば垂直同期信号Ｖでラッチするコントロールレジスタ１ａ、２ａ及び３ａに夫々変更書き込み信号を順次供給するようにし、その後所定のタイミングでこの第１、第２及び第３の機能デバイス１、２及び３のコントロールレジスタ１ａ、２ａ及び３ａを読み出し、このコントロールレジスタ１ａ、２ａ及び３ａの読み出し信号により不良個所を絞り込むようにしたので、順次接続された第１、第２及び第３の機能デバイス１、２及び３におけるこの処理信号例えば映像信号の途切れの有無により不良を判断しており、各機能デバイス１、２、３間の故障をも判断できる。
【００４８】
また、本例によれば、処理信号例えば映像信号を処理する機能デバイスが増えたとしてもソフトウェア制御によっているので、追加機能デバイス以外の追加ハードウェアは必要がない。  
【００４９】
尚、上述例では、システムコントローラ６にＯＳＤ機能を持たせ映像表示装置５の表示画面５ａに信号経路自己診断表示をしたが、このシステムコントローラ６がＬＥＤ表示装置等を有し、別表示するようにしているときには、この映像表示装置５の表示画面５ａに表示しなくても良い。
【００５０】
また、上述例においては、映像信号の処理に本発明を適用した例につき述べたが、本発明は、その他種々の電子機器に適用できることは勿論である。
【００５１】
また、本発明は上述例に限ることなく、本発明の要旨を逸脱することなく、その他種々の構成が採り得ることは勿論である。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】本発明電子機器の不良診断装置を実施するための最良の形態の例を示す構成図である。
【図２】本発明の要部の例を示す構成図である。
【図３】本発明の説明に供するフローチャートである。
【図４】本発明の説明に供する線図である。
【図５】Ｉ２Ｃバスフォーマットに準拠したＭＳＢファーストの８ビット転送フォーマットを示す線図である。
【符号の説明】
【００５３】
１、２、３…機能デバイス、１ａ、２ａ、３ａ…コントロールレジスタ、５…映像表示装置、６…システムコントローラ、７…バス、１０…レジスタ、１１…変更書き込み信号入力端子、１２…フリップフロップ回路、１２ａ…ラッチ信号入力端子、１３…出力端子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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