(57)【要約】【課題】本発明は、光ディスク装置から出力される再生信号の信号品質を向上させることができる光ディスク装置を提供する。【解決手段】光量信号Ｓ１００が、光ピックアップ３０がディフェクトを通過する際に得られる光量信号のディフェクト検出信号レベルより大きい場合には、セレクタ９０において基準レベルＳ７０を選択させ、光量信号がディフェクト検出信号レベルとほぼ等しい場合には、セレクタにおいて固定基準レベルＳ１２０を選択させるディフェクト検出回路１６０を備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにレーザ光を照射し、その反射光を受光することにより、電気信号を生成する光ピックアップと、
前記電気信号に対して所定の増幅処理を行うことにより、再生信号を生成すると共に、前記反射光の光量を示す光量信号を生成する増幅回路と、
前記再生信号を基準電圧と比較し、前記再生信号を２値化することにより、第１及び第２の論理レベルからなる再生データを生成するコンパレータと、
前記第１及び第２の論理レベルの発生割合に応じて、基準レベルが前記再生信号の中心に位置するように、前記基準レベルを変化させながら生成する基準レベル生成回路と、
前記光ピックアップが前記光ディスクに形成されたディフェクトを通過する際に得られる、前記再生信号の信号レベルに基づいて予め設定された固定基準レベルを格納する基準レベル設定回路と、
前記基準レベル生成回路から出力される前記基準レベルと、前記基準レベル設定回路から出力される前記固定基準レベルとのうち、いずれか一方を選択して出力するセレクタと、
前記セレクタから出力される前記基準レベル又は前記固定基準レベルをデジタルアナログ変換することにより、前記基準電圧を生成しこれを前記コンパレータに出力するデジタルアナログ変換回路と、
前記光量信号が、前記光ピックアップが前記ディフェクトを通過する際に得られる前記光量信号のディフェクト検出信号レベルより大きい場合には、前記セレクタにおいて前記基準レベルを選択させ、前記光量信号が前記ディフェクト検出信号レベルとほぼ等しい場合には、前記セレクタにおいて前記固定基準レベルを選択させるディフェクト検出回路と
を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記ディフェクト検出回路は、
前記光ピックアップが、前記光ディスクのうち前記ディフェクトが形成されていない領域を通過する際に得られる、前記光量信号のディフェクト未検出信号レベルと、前記光ピックアップが、前記ディフェクトを通過する際に得られる、前記光量信号の前記ディフェクト検出信号レベルとの差分を算出することにより生成されたリファレンスレベルを有し、
前記光量信号の信号レベルと、前記ディフェクト未検出信号レベルとの差分値が、前記リファレンスレベルより小さい場合には、前記セレクタにおいて前記基準レベルを選択させ、前記差分値が前記リファレンスレベルとほぼ等しい場合には、前記セレクタにおいて前記固定基準レベルを選択させる
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
所望のカットオフ周波数を有し、前記増幅回路から出力される前記光量信号のうち、前記カットオフ周波数より低い周波数成分のみを通過させ、前記カットオフ周波数より高い周波数成分を除去することにより、信号レベルとして一定の前記ディフェクト未検出信号レベルを有する基準光量信号を生成し、これを前記ディフェクト検出回路に出力するローパスフィルタをさらに備え、
前記ディフェクト検出回路は、
前記基準光量信号を用いて、前記光量信号の信号レベルと、前記ディフェクト未検出信号レベルとの差分値を算出する
ことを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項４】
基準レベル設定回路は、
前記光ピックアップが前記ディフェクトを通過する際に得られる、前記再生信号の信号レベルのうち、最大値より高い信号レベル又は最小値より低い信号レベルを固定基準レベルとして予め設定して格納する
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記コンパレータから出力される前記再生データを基に、クロック信号を生成するクロック発生回路をさらに備え、
前記ディフェクト検出回路は、
前記光量信号が前記ディフェクト検出信号レベルとほぼ等しい場合には、前記クロック発生回路において生成される前記クロック信号の発振周波数を固定する
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置は、光ディスクから再生される再生信号を、基準電圧と比較することにより、当該再生信号を２値化（デジタル化）する。この基準電圧を生成する方法としては、再生信号の信号レベルが変化することに追従するようにして、基準電圧を変化させる種々の方法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
以下、光ディスク装置に関する文献名を記載する。
【特許文献１】特開平７−２６２５６４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明は、光ディスク装置から出力される再生信号の信号品質を向上させることができる光ディスク装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の一態様による光ディスク装置は、
光ディスクにレーザ光を照射し、その反射光を受光することにより、電気信号を生成する光ピックアップと、
前記電気信号に対して所定の増幅処理を行うことにより、再生信号を生成すると共に、前記反射光の光量を示す光量信号を生成する増幅回路と、
前記再生信号を基準電圧と比較し、前記再生信号を２値化することにより、第１及び第２の論理レベルからなる再生データを生成するコンパレータと、
前記第１及び第２の論理レベルの発生割合に応じて、基準レベルが前記再生信号の中心に位置するように、前記基準レベルを変化させながら生成する基準レベル生成回路と、
前記光ピックアップが前記光ディスクに形成されたディフェクトを通過する際に得られる、前記再生信号の信号レベルに基づいて予め設定された固定基準レベルを格納する基準レベル設定回路と、
前記基準レベル生成回路から出力される前記基準レベルと、前記基準レベル設定回路から出力される前記固定基準レベルとのうち、いずれか一方を選択して出力するセレクタと、
前記セレクタから出力される前記基準レベル又は前記固定基準レベルをデジタルアナログ変換することにより、前記基準電圧を生成しこれを前記コンパレータに出力するデジタルアナログ変換回路と、
前記光量信号が、前記光ピックアップが前記ディフェクトを通過する際に得られる前記光量信号のディフェクト検出信号レベルより大きい場合には、前記セレクタにおいて前記基準レベルを選択させ、前記光量信号が前記ディフェクト検出信号レベルとほぼ等しい場合には、前記セレクタにおいて前記固定基準レベルを選択させるディフェクト検出回路と
を備える。
【発明の効果】
【０００６】
本発明の光ディスク装置によれば、当該光ディスク装置から出力される再生信号の信号品質を向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
【０００８】
図１に、本発明の実施の形態による光ディスク装置１０の構成を示し、図２及び図３に、当該光ディスク装置１０において得られる各信号の信号波形を示す。
【０００９】
この光ディスク装置１０は、図示しないスピンドルモータによって光ディスク２０を回転させる。その際、光ディスク装置１０は、光ピックアップ３０を所望の位置に移動させ、当該光ピックアップ３０から出力されるレーザ光を例えばピットに照射する。光ディスク装置１０は、その反射光を光ピックアップ３０によって受光し、得られた電気信号Ｓ１０をＲＦ（Radio Frequency）アンプ５０に出力する。
【００１０】
なお、この場合、光ディスク装置１０は、フォーカス／トラッキングサーボ回路４０によって、光ピックアップ３０から出力されるレーザ光を、光ディスク２０の記録面に集光させながら、当該レーザ光がトラックに追従するようにして、光ピックアップ３０を移動させる。
【００１１】
ＲＦアンプ５０は、光ピックアップ３０から与えられた電気信号Ｓ１０に対して、所定の演算増幅処理を行うことによりＲＦ信号Ｓ２０を生成し、これをＨＰＦ６０に出力する。その際、ＲＦアンプ５０は、光ピックアップ３０から出力されるレーザ光のパワーを制御するために用いられるサブビーム加算信号Ｓ３０をも生成する。なお、光ピックアップ３０から出力されるレーザ光は、ＲＦ信号Ｓ２０を生成するためのメインビームと、サブビーム加算信号Ｓ３０を生成するためのサブビームとを有する。
【００１２】
ＨＰＦ６０は、ＲＦアンプ５０から与えられたＲＦ信号Ｓ２０のうち、所定の周波数より高い周波数成分のみを通過させることにより、当該周波数より低い周波数成分が除去されたＲＦ信号Ｓ４０を生成し、これをコンパレータ７０に出力する。
【００１３】
コンパレータ７０は、このＲＦ信号Ｓ４０を基準電圧Ｓ５０と比較することにより（図２（ａ））、ＲＦ信号Ｓ４０を２値化（デジタル化）し、得られたデジタルデータＳ６０（図２（ｂ））を基準レベル生成回路８０に出力する。
【００１４】
基準レベル生成回路８０は、デジタルデータＳ６０として、“Ｈ”レベルが与えられている場合には、カウント値をインクリメントし、“Ｌ”レベルが与えられている場合には、カウント値をデクリメントする。そして基準レベル生成回路８０は、このカウント値に基づいて、基準レベル（スライスレベル）Ｓ７０（すなわち基準電圧Ｓ５０）がＲＦ信号Ｓ４０の中心（アイパターンの中心）に追従するように、当該基準レベルＳ７０を変化させながら生成する（図２（ａ））。
【００１５】
すなわち、基準レベル生成回路８０は、“Ｈ”レベルの期間と“Ｌ”レベルの期間との差に応じて、基準レベルＳ７０がＲＦ信号Ｓ４０の中心に位置するように、当該基準レベルＳ７０を変化させる。これにより、基準レベルＳ７０（すなわち基準電圧Ｓ５０）は、“Ｈ”レベルの期間には徐々に増加し、“Ｌ”レベルの期間には徐々に減少するように生成される（図２（ａ））。
【００１６】
このようにして生成された基準レベルＳ７０は、通常動作時には、セレクタ９０を介してＤ／Ａコンバータ１００に与えられる。Ｄ／Ａコンバータ１００は、この基準レベルＳ７０をデジタル／アナログ変換することにより基準電圧Ｓ５０を生成し、これをコンパレータ７０に出力する。
【００１７】
なお、コンパレータ７０から出力されるデジタルデータＳ６０は、クロック発生器１１０にも与えられる。クロック発生器１１０は、このデジタルデータＳ６０を基にクロック信号ＣＫを生成し、これを光ディスク装置１０内の各回路に与えることにより、クロック信号ＣＫに基づいて各回路を動作させる。
【００１８】
因みに、光ディスク装置１０は、信号処理回路１１５によって、コンパレータ７０から出力されるデジタルデータＳ６０に所定の信号処理を施すことにより、例えば音声信号を生成し、これをスピーカ（図示せず）から外部に出力する。
【００１９】
ところで、この光ディスク装置１０は、光ディスク２０の記録面に形成された例えば傷や汚れなどのディフェクト（欠陥）を検出するための手段として、サーボ回路用ＬＰＦ１３０及びサーボ回路用ディフェクト検出器１４０と、信号処理回路用ＬＰＦ１５０及び信号処理回路用ディフェクト検出器１６０とを有する。
【００２０】
これらサーボ回路用ＬＰＦ１３０及びサーボ回路用ディフェクト検出器１４０と、信号処理回路用ＬＰＦ１５０及び信号処理回路用ディフェクト検出器１６０とには、ＲＦアンプ５０において生成されたサブビーム加算信号Ｓ３０がそれぞれ与えられる。
【００２１】
サーボ回路用ＬＰＦ１３０は、所定の周波数より低い周波数成分のみを通過させることにより、当該周波数より高い周波数成分が除去されたサブビーム加算信号Ｓ８０（図３（ａ））を生成し、これをサーボ回路用ディフェクト検出器１４０に出力する。
【００２２】
サーボ回路用ディフェクト検出器１４０は、ディフェクトを検出するための基準として、立ち下がりリファレンスレベルＲＥＦ１０及び立ち上がりリファレンスレベルＲＥＦ２０を有する。
【００２３】
サーボ回路用ディフェクト検出器１４０は、サーボ回路用ＬＰＦ１３０から出力されるサブビーム加算信号Ｓ８０と、ＲＦアンプ５０から出力されるサブビーム加算信号Ｓ３０との差分値を算出し、当該差分値を立ち下がりリファレンスレベルＲＥＦ１０と比較する（図３（ａ））。
【００２４】
その結果、サーボ回路用ディフェクト検出器１４０は、この差分値が立ち下がりリファレンスレベルＲＥＦ１０より小さいと判定した場合には、サーボ回路用ディフェクト検出信号Ｓ９０（図３（ｂ））として、“Ｌ”レベルをフォーカス／トラッキングサーボ回路４０に出力することにより、当該フォーカス／トラッキングサーボ回路４０の動作状態をアクティブ状態にし、フォーカス／トラッキングサーボ制御を行わせる（時点ｔ１０以前）。
【００２５】
この状態において、光ピックアップ３０が、光ディスク２０の記録面に形成されたディフェクトに接近するように移動すると、ＲＦアンプ５０から出力されるサブビーム加算信号Ｓ３０の信号レベルは、減少し始める。その際、サーボ回路用ＬＰＦ１３０から出力されるサブビーム加算信号Ｓ８０は、ＲＦアンプ５０から出力されるサブビーム加算信号Ｓ３０より緩やかに減少する。
【００２６】
その後、サーボ回路用ディフェクト検出器１４０は、上述の差分値が立ち下がりリファレンスレベルＲＥＦ１０以上の値になるタイミングで（時点ｔ１０）、サーボ回路用ディフェクト検出信号Ｓ９０（図３（ｂ））を“Ｌ”レベルから“Ｈ”レベルに変化させることにより、フォーカス／トラッキングサーボ回路４０の動作状態（図３（ｄ））をアクティブ状態からノン・アクティブ状態にし、フォーカス／トラッキングサーボ制御を停止させる。
【００２７】
ＲＦアンプ５０から出力されるサブビーム加算信号Ｓ３０の信号レベルが下限値に達した後（時点ｔ２０）、光ピックアップ３０が、ディフェクトを通過するように移動する場合には、当該サブビーム加算信号Ｓ３０の信号レベルは、下限値を維持し続ける。
【００２８】
その後、光ピックアップ３０が、ディフェクトから離れるように移動するようになると、ＲＦアンプ５０から出力されるサブビーム加算信号Ｓ３０の信号レベルは、増加し始める（時点ｔ３０）。その際、サーボ回路用ＬＰＦ１３０から出力されるサブビーム加算信号Ｓ８０は、ＲＦアンプ５０から出力されるサブビーム加算信号Ｓ３０より遅れて緩やかに増加し始める。
【００２９】
その後、サーボ回路用ディフェクト検出器１４０は、上述の差分値が立ち上がりリファレンスレベルＲＥＦ２０以下の値になるタイミングで（時点ｔ４０）、サーボ回路用ディフェクト検出信号Ｓ９０（図３（ｂ））を“Ｈ”レベルから“Ｌ”レベルに変化させることにより、フォーカス／トラッキングサーボ回路４０の動作状態（図３（ｄ））をノン・アクティブ状態からアクティブ状態に変化させ、フォーカス／トラッキングサーボ制御を再開させる。
【００３０】
一方、信号処理回路用ＬＰＦ１５０は、サーボ回路用ＬＰＦ１３０より可能な限り低いカットオフ周波数を有し、当該カットオフ周波数より低い周波数成分のみを通過させることにより、当該カットオフ周波数より高い周波数成分が除去されたサブビーム加算信号Ｓ１００（図３（ａ））を生成し、これを信号処理回路用ディフェクト検出器１６０に出力する。
【００３１】
信号処理回路用ディフェクト検出器１６０は、ディフェクトを検出するための基準として、サブビーム加算信号Ｓ３０の上限値と下限値の差分値に等しい値からなるリファレンスレベルＲＥＦ３０を有する。なお、このリファレンスレベルＲＥＦ３０は、サーボ回路用ディフェクト検出器１４０で使用される立ち下がりリファレンスレベルＲＥＦ１０及び立ち上がりリファレンスレベルＲＥＦ２０より大きい値からなる。
【００３２】
信号処理回路用ディフェクト検出器１６０は、信号処理回路用ＬＰＦ１５０から出力されるサブビーム加算信号Ｓ１００と、ＲＦアンプ５０から出力されるサブビーム加算信号Ｓ３０との差分値を算出し、当該差分値をリファレンスレベルＲＥＦ３０と比較する（図３（ａ））。
【００３３】
信号処理回路用ディフェクト検出器１６０は、サブビーム加算信号Ｓ３０が上限値を維持し続けている場合には、この差分値がリファレンスレベルＲＥＦ３０より小さいと判定する。これにより、信号処理回路用ディフェクト検出器１６０は、信号処理回路用ディフェクト検出信号Ｓ１１０（図３（ｃ））として“Ｌ”レベルを、セレクタ９０、クロック発生器１１０及びＡＮＤ回路１２０に出力する（時点ｔ１０以前）。
【００３４】
この場合、セレクタ９０は、その接続状態を基準レベル生成回路８０側に切り換え、当該基準レベル生成回路８０から出力される基準レベルＳ７０を選択してＤ／Ａコンバータ１００に出力する。
【００３５】
クロック発生器１１０は、その動作状態（図３（ｅ））をアクティブ状態にすることにより、与えられるデジタルデータＳ６０に応じて発振周波数を変化させながらクロック信号ＣＫを生成し、これを信号処理回路１１５に出力する。
【００３６】
ＡＮＤ回路１２０は、 “Ｌ”レベルの信号処理回路用ディフェクト検出信号Ｓ１１０を反転させた“Ｈ”レベルと、発振器１６５から与えられるクロック信号ＣＫとの論理積を演算することにより、クロック信号ＣＫと同一のクロック信号を生成し、これを基準レベル生成回路８０に出力する。
【００３７】
この状態において、光ピックアップ３０が、光ディスク２０の記録面に形成されたディフェクトに接近するように移動すると、ＲＦアンプ５０から出力されるサブビーム加算信号Ｓ３０の信号レベルは、減少し始める（時点ｔ１０付近）。一方、信号処理回路用ＬＰＦ１５０から出力されるサブビーム加算信号Ｓ１００（図３（ａ））は、ディフェクトの位置にかかわらず、上限値を維持し続ける。
【００３８】
その際、コンパレータ７０に入力されるＲＦ信号Ｓ４０（図３（ｆ））は、サブビーム加算信号Ｓ３０が減少することに対応するように、その振幅が徐々に小さくなる。
【００３９】
その後、ＲＦアンプ５０から出力されるサブビーム加算信号Ｓ３０の信号レベルが下限値に達すると、コンパレータ７０に入力されるＲＦ信号Ｓ４０（図３（ｆ））の信号レベルはノイズ成分のみになる（時点ｔ２０）。
【００４０】
その際、信号処理回路用ディフェクト検出器１６０は、上述の差分値がリファレンスレベルＲＥＦ３０以上の値に変化したと判定し、当該差分値がリファレンスレベルＲＥＦ３０以上の値に変化したタイミングで（時点ｔ２０）、信号処理回路用ディフェクト検出信号Ｓ１１０（図３（ｃ））を“Ｌ”レベルから“Ｈ”レベルに変化させる。
【００４１】
ところで、基準レベル設定回路１７０には、ＲＦ信号Ｓ４０（図３（ｆ））がほぼノイズ成分のみからなる場合に、例えば当該ノイズ成分の最大値より高い信号レベルを有する基準レベルＳ１２０が予め設定されている。
【００４２】
従って、セレクタ９０は、上述の差分値がリファレンスレベルＲＥＦ３０以上の値に変化したタイミングで（時点ｔ２０）、その接続状態を基準レベル設定回路１７０側に切り換えることにより、当該基準レベル設定回路１７０から出力される基準レベルＳ１２０を選択してＤ／Ａコンバータ１００に出力する。
【００４３】
クロック発生器１１０は、その動作状態（図３（ｅ））をノン・アクティブ状態にすることにより、クロック信号ＣＫの発振周波数を固定し、当該クロック信号ＣＫを各回路に出力すると共に、ＡＮＤ回路１２０に出力する。
【００４４】
ＡＮＤ回路１２０は、 “Ｈ”レベルの信号処理回路用ディフェクト検出信号Ｓ１１０を反転させた“Ｌ”レベルと、クロック信号ＣＫとの論理積を演算し、得られた“Ｌ”レベルを基準レベル生成回路８０に出力する。
【００４５】
この場合、基準レベル生成回路８０は、その動作状態をノン・アクティブ状態にし、信号処理回路用ディフェクト検出信号Ｓ１１０が“Ｌ”レベルから“Ｈ”レベルに変化するタイミング（時点ｔ２０）直前の基準レベルＳ７０を保持する。
【００４６】
これにより、信号処理回路用ディフェクト検出信号Ｓ１１０が“Ｈ”レベルを維持する間（時点ｔ２０〜ｔ３０）、基準レベルＳ７０が例えば徐々に減少することにより、セレクタ９０の接続状態を再び基準レベル生成回路８０側に切り換えたときに、基準レベルＳ７０が本来の基準レベル（すなわちＲＦ信号Ｓ４０の中心）から大きくずれていることを回避する。
【００４７】
その後、光ピックアップ３０が、ディフェクトを通過するように移動することにより、当該サブビーム加算信号Ｓ３０の信号レベルは、下限値を維持し続ける。
【００４８】
その後、光ピックアップ３０が、ディフェクトから離れるように移動するようになると、ＲＦアンプ５０から出力されるサブビーム加算信号Ｓ３０の信号レベルは、増加し始める（時点ｔ３０）。一方、コンパレータ７０に入力されるＲＦ信号Ｓ４０（図３（ｆ））は、サブビーム加算信号Ｓ３０が増加することに対応するように、その振幅が大きくなり始める。
【００４９】
その際、信号処理回路用ディフェクト検出器１６０は、上述の差分値がリファレンスレベルＲＥＦ３０以下の値に変化したと判定し、当該差分値がリファレンスレベルＲＥＦ３０以下の値に変化したタイミングで（時点ｔ３０）、信号処理回路用ディフェクト検出信号Ｓ１１０（図３（ｃ））を“Ｈ”レベルから“Ｌ”レベルに変化させる。
【００５０】
セレクタ９０は、かかるタイミングで（時点ｔ３０）、その接続状態を再び基準レベル生成回路８０側に切り換えることにより、当該基準レベル生成回路８０から出力される基準レベルＳ７０を選択してＤ／Ａコンバータ１００に出力する。
【００５１】
クロック発生器１１０は、その動作状態（図３（ｅ））を再びアクティブ状態にすることにより、発振周波数を変化させながらクロック信号ＣＫを生成し、これを各回路に出力すると共に、ＡＮＤ回路１２０を介して基準レベル生成回路８０に出力する。
【００５２】
その後、ＲＦアンプ５０から出力されるサブビーム加算信号Ｓ３０の信号レベルが上限値に達すると、コンパレータ７０に入力されるＲＦ信号Ｓ４０（図３（ｆ））の振幅は元に戻る（時点ｔ４０以降）。
【００５３】
このように本実施の形態によれば、光ピックアップ３０が、ディフェクトに接近又は当該ディフェクトから離れるように移動することにより、コンパレータ７０に入力されるＲＦ信号Ｓ４０（図３（ｆ））の振幅が、通常時より小さくなる場合であっても（時点ｔ１０〜ｔ２０及び時点ｔ３０〜ｔ４０）、基準電圧Ｓ５０がＲＦ信号Ｓ４０の中心に位置するように、当該基準電圧Ｓ５０を変化させることができる。
【００５４】
これにより、例えばサーボ回路用ディフェクト検出信号Ｓ９０（図３（ｂ））が“Ｈ”レベルを維持している間（時点ｔ１０〜ｔ４０）、コンパレータ７０に入力される基準電圧Ｓ５０として、一定の基準電圧を使用する場合と比較して、ＲＦ信号Ｓ４０（図３（ｆ））の振幅が小さい場合でも（時点ｔ１０〜ｔ２０及び時点ｔ３０〜ｔ４０）、より正確な基準電圧Ｓ５０を生成することができ、従ってエラーレート（誤り率）を向上させることができる。
【００５５】
また本実施の形態によれば、光ピックアップ３０がディフェクトを通過するように移動することにより、ＲＦ信号Ｓ４０（図３（ｆ））がほぼノイズ成分のみからなる場合には（時点ｔ２０〜ｔ３０）、コンパレータ７０に入力される基準電圧Ｓ５０として、例えば当該ノイズ成分の最大値より高い信号レベルを有する基準レベルＳ１２０を使用する。これにより、例えばほぼノイズ成分のみからなるＲＦ信号Ｓ４０（図３（ｆ））による音声信号を出力することがなくなる。
【００５６】
なお上述の実施の形態は一例であって、本発明を限定するものではない。例えば、基準レベル設定回路１７０に予め設定される基準レベルＳ１２０としては、ＲＦ信号Ｓ４０（図３（ｆ））がほぼノイズ成分のみからなる場合に、当該ノイズ成分の最小値より低い信号レベルを使用しても良い。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】本発明の実施の形態による光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】同光ディスク装置において得られる各信号の信号波形である。
【図３】同光ディスク装置において得られる各信号の信号波形である。
【符号の説明】
【００５８】
１０  光ディスク装置
２０  光ディスク
３０  光ピックアップ
５０  ＲＦアンプ
７０  コンパレータ
８０  基準レベル生成回路
９０  セレクタ
１３０  サーボ回路用ＬＰＦ
１４０  サーボ回路用ディフェクト検出器
１５０  信号処理回路用ＬＰＦ
１６０  信号処理回路用ディフェクト検出器
１７０  基準レベル設定回路
【図１】
2007299481.tif 000003
【図２】
2007299481.tif 000004
【図３】
2007299481.tif 000005