(57)【要約】【課題】Ｘ線画像内の少なくとも１つの物質の安定なセグメンテーションを簡単に可能にする。【解決手段】Ｘ線画像（１）の各画素（２）に関して、異なるＸ線エネルギーＥ１，Ｅ２に対する２つの減弱値（３，４）が検出され、検出された減弱値（３，４）に基づいて、少なくとも１つの物質が一義的に割当てられた少なくとも１つの第１の分類範囲（６）を有する２次元の特性空間（５）内に、Ｘ線画像（１）の画素（２）が描出され、Ｘ線画像（１）の画素（２）に割当てられた画像周辺（１０）が特性空間（５）内に描出されることから、第１の分類範囲（６）内に描出された画素の個数が評価量として求められ、評価量に基づいて各画素（２）に対して閾値との閾値比較が実行されることによって、セグメント化された画像が算出される。【選択図】図３
2007111526.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線画像（１）の各画素（２）に関して、異なるＸ線エネルギーＥ１，Ｅ２に対する２つの減弱値（３，４）が検出され、
検出された減弱値（３，４）に基づいて、少なくとも１つの物質が一義的に割当てられた少なくとも１つの第１の分類範囲（６）を有する２次元の特性空間（５）内に、Ｘ線画像（１）の画素（２）が描出され、
Ｘ線画像（１）の画素（２）に割当てられた画像周辺（１０）が特性空間（５）内に描出されることから、第１の分類範囲（６）内に描出された画素の個数が評価量（１１）として求められ、
評価量（１１）に基づいて各画素（２）に対して閾値との閾値比較が実行されることによって、セグメント化された画像（１４）が算出される
ことを特徴とするＸ線画像内の物質のセグメンテーション方法。
【請求項２】
特性空間（５）は、Ｘ線画像（１）内に存在する第２の物質が一義的に割当てられた第２の分類範囲（７）を有することを特徴とする請求項１記載の方法。
【請求項３】
特性空間（５）は、１つの物質への明確な割当てが可能でない第３の分類範囲（８）を有することを特徴とする請求項２記載の方法。
【請求項４】
特性空間（５）は、両物質のいずれにも割当てられていない第４の分類範囲（９）を有することを特徴とする請求項２又は３記載の方法。
【請求項５】
閾値比較の前に、評価量（１１）が、画像周辺（１０）の、第３の分類範囲（８）または第４の分類範囲（９）内に描出された画素の個数に依存して重み付けされることを特徴とする請求項３又は４記載の方法。
【請求項６】
特性空間（５）の少なくとも１つの分類範囲（６；７；８；９）が、シミュレーションにより、Ｘ線が透過する物質の両減弱値（３，４）がシミュレートされて特性空間（５）内に描出されることによって求められることを特徴とする請求項１乃至５の１つに記載の方法。
【請求項７】
閾値比較の前に、評価量（１１）が、描出された画素の個数と物質存在に関する確率（１５）との間の関係を指定する伝達関数（１２）により、物質存在に関する確率（１５）に変換されることを特徴とする請求項１乃至６の１つに記載の方法。
【請求項８】
第１の物質が骨であることを特徴とする請求項１乃至７の１つに記載の方法。
【請求項９】
第２の物質が造影剤であることを特徴とする請求項２乃至８の１つに記載の方法。
【請求項１０】
第１のＸ線エネルギーＥ１が、８０ｋＶに設定された管電圧において発生されることを特徴とする請求項１乃至９の１つに記載の方法。
【請求項１１】
第２のＸ線エネルギーＥ１が、１４０ｋＶに設定された管電圧において発生されることを特徴とする請求項１乃至１０の１つに記載の方法。
【請求項１２】
画像周辺（１０）は各画像次元において少なくとも３個の画素を有することを特徴とする請求項１乃至１２の１つに記載の方法。
【請求項１３】
請求項１乃至１２の１つに記載の方法を実施するために設けられている、Ｘ線画像内の少なくとも１つの物質のセグメンテーション装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線画像内の少なくとも１つの物質のセグメンテーション方法および装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
基本的には、診断のためにＸ線画像において特定物質、例えば骨または造影剤だけが描出されている画像範囲を識別することができるＸ線画像セグメンテーション方法は知られている。セグメンテーションは、一般的に、各画素に関してそれぞれ２つの異なる設定のＸ線エネルギーに対する２つの減弱値が求められ、引続いて重み付けされて互いに減算されることによって得られる変更画像に基づいて行なわれる。この進行によって重み付け係数が相応に選定されるならば、物質ごとに異なる吸収係数のエネルギー依存性に基づいて、変更画像において特別な物質に割当てられている画素だけが高い強度値を付与される。個々の強度値と閾値と間における画素ごとの閾値比較によって特別な物質に属する可能性のあり得る画素がセグメント化される。
【０００３】
しかしながら、多くの状況において、この種の閾値比較は誤りを含む結果をもたらす。なぜならば、減弱値が測定ノイズを含み、このために物質の存在にもかかわらず画素のセグメンテーションの閾値基準が満たされないことがあるからである。
【０００４】
異なるＸ線エネルギースペクトルで検出された多数の測定から、対象の成分が同時に低減されたノイズ成分において表示される画像が算出される再構成方法は知られている（例えば、特許文献１参照）。この再構成方法は、結果画像の算出時に、測定検出のために使用されたエネルギースペクトルの相異も共に考慮する計算時間のかかる反復式の再構成アルゴリズムに基づいている。
【特許文献１】米国特許第６７５４２９８号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明の課題は、Ｘ線画像内の少なくとも１つの物質の安定なセグメンテーションを簡単に可能にするＸ線画像セグメンテーション方法および装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この課題は、請求項１の特徴によるＸ線画像内の少なくとも１つの物質のセグメンテーション方法ならびに請求項１３の特徴によるＸ線画像内の少なくとも１つの物質のセグメンテーション装置によって解決される。請求項１による本発明による方法の有利な実施態様はそれぞれ従属請求項２乃至１２に記載されている。
【０００７】
本発明者は、セグメンテーションのために個々の画素だけでなく、画素に割付けられた局所的な画像周辺の複数の画素も評価されるならば、Ｘ線画像におけるセグメンテーションの結果が改善されることを認識した。局所的な画像周辺の複数の画素を評価することは有利である。なぜならば、１つの特定の物質のセグメント化すべき画像構造は或る画像範囲を越えて広がっているので、隣接する画素が同じ物質に属していることを高い確率で仮定することができるからである。従って、画像周辺を含めることによって、Ｘ線画像内に存在する画素の空間関係が共に考慮される。
【０００８】
本発明に従って、Ｘ線画像内の少なくとも１つの物質のセグメンテーション方法は次の方法ステップを含む。
Ｘ線画像の各画素に関して、異なるＸ線エネルギーＥ１，Ｅ２に対する２つの減弱値が検出され、
検出された減弱値に基づいて、少なくとも１つの物質が一義的に割当てられた少なくとも１つの第１の分類範囲を有する２次元の特性空間内に、Ｘ線画像の画素が描出され、
Ｘ線画像の画素に割当てられた画像周辺が特性空間内に描出されることから、第１の分類範囲内に描出された画素の個数が評価量として求められ、
評価量に基づいて各画素に対して閾値との閾値比較が実行されることによって、セグメント化された画像が算出される。
【０００９】
従って、セグメンテーションは、局所的に隣接した画素の分類結果の統計学的評価を含む。特性空間内に描出することによって同じ分類範囲に含まれる画素が多いほど、もしくは分類範囲のための評価量が大きいほど、観察された画素が同様にその分類範囲に属し従って特定物質に属する確率がますます高くなる。局所的な画像周辺を含めることによって、特定物質の画像範囲は、障害なしに、すなわち特に画像範囲内の個々の画素の個々の誤分類なしに、セグメント化される。従って、たとえ観察された個々の画素が分類範囲内に描出されなくても、局所的な画像周辺の全体観察に基づいて、画素がその物質に属するものとして分類されることが可能である。
【００１０】
しかしながら、本方法は１つのみの物質のセグメンテーションに限定されない。同様に好ましいことに、第２の物質がセグメント化され、特性空間は、Ｘ線画像内に存在する第２の物質が一義的に割当てられる第２の分類範囲を有するようにすることも考えられ得る。この場合には、各画素に対して、局所的な近隣に基づいて、分類範囲内に描出された画素の個数をそれぞれ表す２つの評価量が求められる。両物質のセグメンテーションのために、各評価量について閾値比較を行なうことが必要である。
【００１１】
１つのＸ線画像内で２つの物質がセグメント化される場合については、特性空間内で１つの物質への明確な割当てが可能でない第３の分類範囲が識別可能であると好ましい。第３の分類範囲に描出される画素によって、それらの画素が両物質のうちの１つに属することは確かに既知である。しかしながら、検出された両減弱値に基づいて一義的な割当ては可能でない。更に、特性空間において、両物質のいずれにも割当てられていない第４の分類範囲が指定可能である。この第４の分類範囲内に描出される画素は、セグメント化すべき両物質のいずれにも一義的に属さない。第３の分類範囲および第４の分類範囲への特性空間の区分は、閾値比較の前に評価量が画像周辺の、第３の分類範囲または第４の分類範囲内に描出された画素の個数に依存して重み付けされ得るという利点を有する。評価量の相応の重み付けにより、セグメント化すべき物質もしくはその物質に関係した画像構造の縁範囲において、観察された局所的な近隣の若干の画素が画像構造の外側に配置され得ることが保証されているので、原理的に全ての画素が第１の分類範囲または第２の分類範囲に含まれていなければならないわけではない。
【００１２】
特性空間の少なくとも１つの分類範囲は、シミュレーションにより、Ｘ線が透過する物質の両減弱値がシミュレートされて特性空間内に描出されることによって求められると好ましい。それぞれの分類範囲の広がりを求めるために、異なる透過厚さおよび異なる物質濃度に対するシミュレーションを行なうと望ましい。シミュレーションによって種々のバリエーションの幅広いスペクトルをカバーすることができる。しかし、もちろん、分類範囲が実験的に求められるか、あるいは実験的に発見された結果によって相応に追加調整もしくは補正されることも考えられ得る。
【００１３】
本発明の有利な実施態様においては、評価量が、閾値比較の前に、描出された画素の個数と物質存在に関する確率との間の関係を指定する伝達関数により、物質存在に関する確率に変換される。この手法は、特に、描出された画素の個数が物質存在に関する確率と非線形の関係にあるという実情を考慮しなければならない。
【００１４】
Ｘ線画像内でセグメンテーションが行なわれる第１の物質はとりわけ骨である。第２の物質はとりわけ造影剤である。セグメント化された両物質により、Ｘ線画像内において診断時に医師によって検査されなければならない主な画像構造が容易に識別可能である。
【００１５】
Ｘ線エネルギーは簡単にＸ線装置の設定された管電圧を介して変化させることができる。従って、第１のＸ線エネルギーＥ１は、特に簡単に８０ｋＶに設定された管電圧において発生可能である。これに対して異なる第２のＸ線エネルギーは１４０ｋＶに設定された管電圧において発生可能であると好ましい。
【００１６】
各画素に関して観察された画像周辺は、少なくとも９個の画素の分類結果の統計学的評価によって十分に信頼性のある評価を行なうことができるように、各画像次元において少なくとも３個の画素を含むと好ましい。局所的な画像周辺の次元選択の際、抽出されるべき画像構造の分解能が考慮されなければならない。例えば、セグメンテーションの前段階において局所的な画像周辺を解剖学的関係に依存して選択することが考えられ得る。Ｘ線画像内に著しく小さい広がりを有する血管は、例えば骨の検査に比べて著しい小さい局所的な画像周辺を使用してセグメント化されなければならない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
本発明の実施例ならびに従属請求項による本発明のさらに別の有利な構成が次の図面に示されている。
図１は、斜視図部分とブロック図部分とで本発明によるＸ線画像内の少なくとも１つの物質のセグメンテーション方法を実施するのに適したコンピュータ断層撮影装置、
図２は流れ図形式にて物質のセグメンテーション方法、
図３は異なる分類範囲を有しかつＸ線画像の画素内に描出される２次元の特性空間、
図４は局所的な画像周辺から求められた基準量に依存して物質存在に関する確率を求めるための伝達関数が示されているダイアグラム、
図５は近隣基準の考慮なしの第１のセグメント化された画像、
図６は近隣基準を考慮した第２のセグメント化された画像を示す。
【００１８】
本発明によるＸ線画像１内の少なくとも１つの物質のセグメンテーション方法を実施するために、図１に斜視図部分とブロック図部分とで示されているように、コンピュータ断層撮影装置１６の形の公知のＸ線装置が使用される。このようなコンピュータ断層撮影装置１６は、Ｘ線を発生する少なくとも１つの焦点１８を有する少なくとも１つのＸ線源を、ここではＸ線管１７の形で持っている。Ｘ線は対象１９を通り抜けて対向する検出器２０に入射する。検出器２０は多数の検出素子２１を有し、これらの検出素子のうち１つのみが符号を付されている。各検出素子２１は、減弱されたＸ線の強度に依存した減弱値を発生する。対象１９の投影は、Ｘ線管１７および検出器２０の定められた走査位置における全ての検出素子２１の減弱値セットによって形成される。
【００１９】
Ｘ線管１７および検出器２０からなる撮影システムは図示されていない回転可能なガントリ上に配置されている。多数の可能な運転様式のうちの１つの運転様式において撮影システムは対象１９、例えば患者の周りを回転する。撮影システムの回転によって、スライス画像またはボリューム画像の形のＸ線画像１を再構成するために必要である異なる投影方向から多数の投影が検出される。この種の２次元または３次元画像は例えば本発明による方法のための初期画像として表示することができる。システム軸線２３に沿ったテーブル板２２の連続的な送りによって、対象１９は１つのスライスのみならず、検出器２０の広がりよりも大きい１つのボリュームにおいてスパイラル状に走査される。スパイラル状の走査の簡単な変形は、各３６０°走査後に送りが実行され、本来の走査が対象１９の静止状態において行なわれるように送りを逐次的に実施することにある。両変形は本発明による方法において適用可能である。
【００２０】
各投影時にまたは撮影システムの各一回転時にＸ線管１７の管電圧が調整装置２４により定められた電圧値に調整される。このようにして、異なるＸ線スペクトルもしくは異なるＸ線エネルギーＥ１，Ｅ２で投影が行なわれる。これに対する代替として、異なるＸ線エネルギーＥ１，Ｅ２での投影を固定設定された管電圧においてエネルギー選択性検出器により検出することももちろん考えられ得る。これは、コンピュータ断層撮影装置１６の動作パラメータの交互調整を省略することができるという利点を有する。更に、単一列検出器も多列検出器も使用可能であることを指摘しておく。更に、それぞれ１つ又は複数の焦点を有する１つ又は複数のＸ線管を単一または複数の移動式または静止式の検出器と共に使用することもできる。
【００２１】
Ｘ線画像１内の物質のセグメンテーションのために、この実施例では、同一の投影方向に関して管電圧の交互調整によって、各検出素子２１から、２つの異なるＸ線エネルギーＥ１，Ｅ２に対する減弱値３，４が発生される。第１のＸ線エネルギーＥ１は例えば８０ｋＶに設定された管電圧において発生され、第２のＸ線エネルギーＥ２は例えば１４０ｋＶに設定された管電圧において発生されるとよい。しかし、原理的には、異なるＸ線エネルギーを発生させるために、両発生エネルギーに対する物質間の吸収差を十分に大きくとれるかぎり、あらゆる管電圧対が選択可能である。
【００２２】
検出された投影は引続いて計算ユニット２５に転送され、公知の再構成方法に従ってＸ線画像１に再構成され、Ｘ線画像１は表示装置２６に表示される。Ｘ線画像１の各画素２に対して、それぞれ２つの異なる両Ｘ線エネルギーＥ１，Ｅ２が使用できる。異なる物質は、Ｘ線に対してエネルギーに依存して異なる吸収特性を有する。図の見易さの理由からＸ線画像１の１つの画素のみに符号が付されている。
【００２３】
同じ物質もしくは同じ画像構造に所属する画素２は、異なるエネルギーＥ１，Ｅ２での両減弱値３，４が書き込まれた特性空間５において、理想的には同じ点上に描出される。物質が対象１９内に種々の濃度でかつ種々の透過厚さで存在するという事情を考慮すると、特性空間５において物質には１点だけでなく、ある広がりを有する分類範囲６が割当てられ、この分類範囲６によって物質が代表される。
【００２４】
従って、特性空間５内にＸ線画像１の個々の画素２を描出しかつ評価することによって、理想的条件下において、画素２がその物質に属するか否かが識別可能である。個々の画素に関する比較の結果として、セグメント化されたＸ線画像１３が得られ、このセグメント化されたＸ線画像１３内でその物質が抽出される。しかしながら、画素に関するセグメンテーションは、実際においてしばしば誤りを含むセグメンテーション結果をもたらす。なぜならば、個々の減弱値３；４は測定ノイズまたは電子装置ノイズを含み得るからである。このようにして得られるセグメント化されたＸ線画像１３は診断を著しく困難にし得る障害を有する。
【００２５】
本発明者は、セグメンテーションの際に個々の画素２の分類結果だけでなく、画素２の局所的な画像周辺１０の分類結果も考慮するならば、画像障害もしくは誤分類２７を著しく低減できるということを認識した。本発明によるセグメンテーションは、主として、計算ユニット２５において実行可能である図２に示されたステップを含む。
【００２６】
第１のステップ２８：Ｘ線画像１の各画素２に対して、異なるＸ線エネルギーＥ１，Ｅ２での２つの減弱値３，４を検出する。
【００２７】
第２のステップ２９：２次元の特性空間５内に画素２を描出する。特性空間５は、少なくとも１つの物質が一義的に割当てられている少なくとも第１の分類範囲６を有する。
【００２８】
第３のステップ３０：観察された画素２の局所的な画像周辺１０の、分類範囲６内に描出される画素の個数から、評価量１１を求める。
【００２９】
第４のステップ３１：各画素２で評価量１１に基づいて閾値との閾値比較を行なうことによって、セグメント化された画像１４を算出する。
【００３０】
従って、セグメンテーションは各画素についての閾値比較を含む。比較は、求められた評価量１１に基づいて行なわれる。Ｘ線画像１の画素に関するセグメンテーションと違って、本発明の場合には局所的な画像周辺１０が考慮される。求められた評価量１１は、局所的な近隣において何個の画素が同一特性を有するかに関するトポロジー情報を含んでいる。
【００３１】
従って、僅かな個々の誤分類２７は局所的な近隣の考慮によって抑制される。各画素２に対して観察された局所的な画像周辺１０の大きさは、主として、Ｘ線画像１内に抽出されるべき物質もしくは画像構造に依存する。原理的には、小さな画像構造においては、より小さい局所的な画像周辺１０を選ぶべきである。例えば、小さい血管を通して流れる造影剤のセグメンテーションのためには、３×３個の画素の局所的な画像周辺１０が使用されるとよい。セグメンテーションの際にその都度観察された画素２は、局所的な画像周辺１０に対して相対的に中央に配置されていると好ましい。局所的な画像周辺１０の選択はそのために設けられたユーザインターフェースを介して行なわれる。従って、検査ごとに、局所的な画像周辺１０を状況に合わせて選択することができる。
【００３２】
もちろん本発明においては、Ｘ線画像１内の１つの物質だけでなく、複数の物質を同時にセグメント化することができる。図３は、模範的に、２つの物質のセグメンテーションのための異なる分類範囲６，７を有する２次元の特性空間５を示す。特性空間５の両次元は異なって設定されたＸ線エネルギーＥ１，Ｅ２での減弱値に対応する。次の分類範囲が区別され、これらにより次の画素割当てが定義される。
第１の分類範囲６：確実に第１の物質である。
第２の分類範囲７：確実に第２の物質である。
第３の分類範囲８：確実に両物質のうちの１つである。但し、存在するのは第１の物質かそれとも第２の物質かは不確かである。
第４の分類範囲９：確実に両物質のいずれでもない。
【００３３】
分類範囲６，７，８，９は前段階においてシミュレーションにより決定することができる。詳細には、Ｘ線管１７から発生したエネルギーＥ１；Ｅ２でのＸ線スペクトル、物質およびエネルギーＥ１；Ｅ２に依存したＸ線吸収、および検出器２０において変換される入射Ｘ線の信号がシミュレーションされる。分類範囲は観察された物質の濃度および透過厚さの変化によって得られる。しかし、分類範囲６，７，８，９を実験によって求めることも考えられ得る。
【００３４】
第４の分類範囲９内に描出される画素はその物質に一義的に属していない。観察された画像周辺１０の、この分類範囲９内に描出された画素の個数は、閾値比較の前に評価量１１が重み付けられ得ることを可能にする。評価量１１の相応の重み付けにより、セグメント化すべき物質もしくは物質に関係する画像構造の縁範囲において、観察される局所的な近隣の幾つかの画素が画像構造の外側に配置されているという状況が考慮される。例えば、可能な９個の画素のうちの４個が一義的に両物質でないことが決定された場合、観察された画素２が縁画素であることを確かな確率でもって仮定することができる。この場合には、閾値基準が満たされるように評価量１１の価値を引き上げることが望ましい。例えば、第４の分類範囲９に属する画素の或る％、例えば５０％が評価量１１に加算される。
【００３５】
閾値比較の前に、評価量１１が伝達関数１２により確率１５に変換される。伝達関数１２は描出された画素の個数と物質存在に関する確率１５との間の関係を指定する。伝達関数１２は、模範的に図４に示されているが、予備知識の考慮によって決定することができる。例えば、経験から、第１の分類範囲６もしくは第２の分類範囲７内に描出された２０個の画素においては常に物質が存在し、１０個の画素においては常に物質が存在しないことが分かっている場合、１０個以下では値が０に移行し、２０個以上では値が１に移行する基準量が目盛上に投射される。両値の間においては、例えばｃｏｓ２（ｘ）のように振る舞う関数の使用により滑らかな移行が得られる。
【００３６】
例えば、「“Ｖｅｒｆａｈｒｅｎ  ｆｕｅｒ  ｅｉｎｅ  Ｒｏｅｔｇｅｎｅｉｎｒｉｃｈｔｕｎｇ”（Ｘ線装置のための方法）」という発明の名称を持った出願公開前の独国特許出願第１０２００５０３７３６７．４号明細書に記載されている他のスカラ判定基準を用いたセグメンテーションが組み合わされるならば、セグメンテーション結果の更なる改善が得られる。固有値基準の付加的な使用によって、例えば、セグメンテーションが付加的に局所的な均一性に関する情報も共に考慮されることが考えられ得る。例えば、強い不均一性の場合にセグメンテーションが高感度に調整されることが考えられ得る。感度は、例えば、均一性に依存した値が評価量１１もしくは確率１５に加算されることによって調節される。
【００３７】
図５および図６には、２つの物質、すなわち骨およびヨウ素について、画素に関するセグメンテーションと画像周辺に関するセグメンテーションとの間の結果の相違が示されている。骨はそれぞれ符号３２を付した画像範囲内に描出され、ヨウ素は符号３３を付した画像範囲に描出されている。図５から分かるように、画素に関するセグメンテーションによって得られるセグメント化された画像１３においては、例えば測定ノイズまたは電子装置ノイズによって妨害された減弱値３；４を有する個々の画素２の誤分類２７によって発生する画像障害が存在する。これに対して、図６においては、セグメンテーションの結果が、各画素２に関してそれぞれ各画素２に割当てられた局所的な画像周辺１０が共に考慮されるセグメント化された画像１４の形で示されている。Ｘ線画像１内の物質のトポロジー情報もしくは空間分布の考慮によって画像障害が大幅に回避可能である。
【００３８】
本発明を要約すると次のとおりである。本発明は、Ｘ線画像内の少なくとも１つの物質のセグメンテーション方法および装置に関し、Ｘ線画像１の各画素２に関して、異なるＸ線エネルギーＥ１，Ｅ２に対する２つの減弱値３，４が検出され、検出された減弱値３，４に基づいてＸ線画像の画素２が２次元の特性空間５内に描出され、引続いて画素に割当てられた画像周辺１０の描出から、その物質に割当てられた分類範囲６内に含まれる画素の個数が評価量１１として求められ、評価量１１に基づいてその物質を含むセグメント化された画像１４が簡単に算出可能であり、誤分類２７が画素２の近隣関係の考慮によって大幅に回避される。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本発明によるＸ線画像内の少なくとも１つの物質のセグメンテーション方法を実施するのに適したコンピュータ断層撮影装置を示す概略図
【図２】本発明による物質のセグメンテーション方法を示す流れ図
【図３】本発明による方法に用いられる２次元の特性空間の例を示すダイアグラム
【図４】本発明による方法に用いられる伝達関数の例を示すダイアグラム
【図５】近隣基準の考慮なしの第１のセグメント化された画像を示す図
【図６】近隣基準を考慮した第２のセグメント化された画像を示す図
【符号の説明】
【００４０】
１          Ｘ線画像
２          画素
３，４      減弱値
５          特性空間
６〜９      分類範囲
１０        局所画像作成
１１        評価量
１２        伝達関数
１３        セグメント化されたＸ線画像
１４        セグメント化された画像
１５        確率
１６        コンピュータ断層撮影装置
１７        Ｘ線管
１８        焦点
１９        対象
２０        検出器
２１        検出素子
２２        テーブル板
２３        システム軸線
２４        調整装置
２５        計算ユニット
２６        表示装置
２７        誤分類
２８〜３１  ステップ
３２        骨の画像範囲
３３        ヨウ素の画像範囲
【図１】
2007111526.tif 000003
【図２】
2007111526.tif 000004
【図３】
2007111526.tif 000005
【図４】
2007111526.tif 000006
【図５】
2007111526.tif 000007
【図６】
2007111526.tif 000008