(57)【要約】【課題】  本発明は、光ディスク測定装置に関し、例えばＤＶＤ（Digital Versatile Disk）による光ディスクの特性評価に適用して、読取りエラーの発生箇所を従来に比して一段と容易に把握することができるようにする。【解決手段】  本発明は、シンクエラーの発生箇所を光ディスク２の円周方向及び半径方向により特定して光ディスク２の画像上でシンクエラーの発生箇所を表示すると共に、シンクエラーの発生箇所をデータ上で特定する位置情報を表示する。【選択図】  図１
2007066339.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクを回転駆動して、前記光ディスクが１回転する毎に信号レベルが立ち上がるインデックスパルスを出力する光ディスクの駆動手段と、
前記光ディスクより得られる再生信号からシンクエラーを検出するシンクエラー検出手段と、
前記インデックスパルスに対する前記シンクエラー検出手段で前記シンクエラーが検出されるタイミングにより、前記光ディスクの円周方向に係る前記シンクエラーの発生箇所を前記インデックスパルスを基準にして特定する円周方向の位置情報を検出する円周方向の位置情報検出手段と、
前記円周方向の位置情報に対応して、前記光ディスクの半径方向に係る前記シンクエラーの発生箇所を特定する半径方向の位置情報を検出する半径方向の位置情報検出手段と、
前記再生信号を信号処理して前記光ディスクに記録されたデータのアドレスデータを順次検出するアドレス検出手段と、
前記アドレス検出手段による前記アドレスデータを前記シンクエラー検出手段で前記シンクエラーが検出されるタイミングで取得することにより、前記光ディスクに記録されたデータ上で前記シンクエラーの発生箇所を特定するデータ上の位置情報を検出するデータ上の位置情報検出手段と、
前記光ディスクの画像を表示し、前記円周方向及び半径方向の位置情報に基づいて、前記光ディスクの画像上に前記シンクエラーの発生箇所を表示すると共に、対応する前記データ上の位置情報を表示するエラーマップ表示手段と
を備えることを特徴とする光ディスク測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク測定装置に関し、例えばＤＶＤ（Digital Versatile Disk）による光ディスクの特性評価に適用することができる。本発明は、シンクエラーの発生箇所を光ディスクの円周方向及び半径方向により特定して光ディスクの画像上でシンクエラーの発生箇所を表示すると共に、シンクエラーの発生箇所をデータ上で特定する位置情報を表示することにより、読取りエラーの発生箇所を従来に比して一段と容易に把握できるようにする。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスクの製造プロセスでは、光ディスク測定装置により光ディスクの読取りエラーを検出し、この検出結果により光ディスクの特性を評価、改善している。
【０００３】
ここで例えばＤＶＤ（Digital Versatile Disk）による光ディスクは、図２（Ａ）に示すように、順次入力されるデータ列が誤り訂正処理単位により順次区切られ、積符号形式の誤り訂正符号が付加されてＥＣＣ（Error Correcting Code ）ブロックＥＢが形成される。また各ＥＣＣブロックＥＢには、固有のデータアドレスがそれぞれ割り当てられる。
【０００４】
ＤＶＤは、１つのＥＣＣブロックＥＢにより１６個の物理セクタＰＳが形成され（図２（Ｂ））、各物理セクタＰＳに、それぞれ固有のセクタアドレスが割り当てられる。なおここで１つの物理セクタＰＳには、２０４８バイトのデータが割り当てられる。
【０００５】
ＤＶＤは、１つの物理セクタＰＳが２６分割されて小ブロックの繰り返しにより記録され、この分割された小ブロックの先頭にシンクパターンＳＹ０、ＳＹ１……がそれぞれ付加される（図２（Ｃ））。また物理セクタＰＳの先頭に付加されるシンクパターンＳＹ０にあっては、他とは異なるパターンが割り当てられ、これにより物理セクタＰＳの先頭を判別し得るように形成される。
【０００６】
このようなＤＶＤは、図３に示すように、らせん状にトラックＴが形成され、ＥＣＣブロックＥＢ１、ＥＢ２、……が順次記録される。１つのＥＣＣブロックＥＢ１、ＥＢ２、……は、長さが約８０〔ｍｍ〕であり、この８０〔ｍｍ〕の長さは、ディスク内径側では円周のほぼ１／２の長さとなる。
【０００７】
これに対してＤＶＤの光ディスク測定装置では、従来、誤り訂正符号を用いてＥＣＣブロック単位で読取りエラーを検出し、読取りエラーの分布を例えばディスク径方向の棒グラフ、折れ線グラフにより表示していた。
【０００８】
このような光ディスク測定装置に関して、例えば特開２００３−１５１１２９号公報には、光ディスクが１回転する毎に発生するインデックスパルスを基準にして、読取りエラーが発生した箇所を光ディスクの円周方向で特定する方法が提案されている。
【０００９】
ところで従来のように単にディスク径方向に読取りエラーの分布を表示したのでは、読取りエラーの発生箇所を円周方向には特定し得ず、これにより読取りエラーの発生箇所を容易に特定できない問題がある。
【特許文献１】特開２００３−１５１１２９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、読取りエラーの発生箇所を従来に比して一段と容易に把握することができる光ディスク測定装置を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
かかる課題を解決するため請求項１の発明は、光ディスク測定装置に適用して、光ディスクを回転駆動して、前記光ディスクが１回転する毎に信号レベルが立ち上がるインデックスパルスを出力する光ディスクの駆動手段と、前記光ディスクより得られる再生信号からシンクエラーを検出するシンクエラー検出手段と、前記インデックスパルスに対する前記シンクエラー検出手段で前記シンクエラーが検出されるタイミングにより、前記光ディスクの円周方向に係る前記シンクエラーの発生箇所を前記インデックスパルスを基準にして特定する円周方向の位置情報を検出する円周方向の位置情報検出手段と、前記円周方向の位置情報に対応して、前記光ディスクの半径方向に係る前記シンクエラーの発生箇所を特定する半径方向の位置情報を検出する半径方向の位置情報検出手段と、前記再生信号を信号処理して前記光ディスクに記録されたデータのアドレスデータを順次検出するアドレス検出手段と、前記アドレス検出手段による前記アドレスデータを前記シンクエラー検出手段で前記シンクエラーが検出されるタイミングで取得することにより、前記光ディスクに記録されたデータ上で前記シンクエラーの発生箇所を特定するデータ上の位置情報を検出するデータ上の位置情報検出手段と、前記光ディスクの画像を表示し、前記円周方向及び半径方向の位置情報に基づいて、前記光ディスクの画像上に前記シンクエラーの発生箇所を表示すると共に、対応する前記データ上の位置情報を表示するエラーマップ表示手段とを備えるようにする。
【００１２】
請求項１の構成により、光ディスク測定装置に適用して、光ディスクを回転駆動して、前記光ディスクが１回転する毎に信号レベルが立ち上がるインデックスパルスを出力する光ディスクの駆動手段と、前記光ディスクより得られる再生信号からシンクエラーを検出するシンクエラー検出手段と、前記インデックスパルスに対する前記シンクエラー検出手段で前記シンクエラーが検出されるタイミングにより、前記光ディスクの円周方向に係る前記シンクエラーの発生箇所を前記インデックスパルスを基準にして特定する円周方向の位置情報を検出する円周方向の位置情報検出手段と、前記円周方向の位置情報に対応して、前記光ディスクの半径方向に係る前記シンクエラーの発生箇所を特定する半径方向の位置情報を検出する半径方向の位置情報検出手段と、前記再生信号を信号処理して前記光ディスクに記録されたデータのアドレスデータを順次検出するアドレス検出手段と、前記アドレス検出手段による前記アドレスデータを前記シンクエラー検出手段で前記シンクエラーが検出されるタイミングで取得することにより、前記光ディスクに記録されたデータ上で前記シンクエラーの発生箇所を特定するデータ上の位置情報を検出するデータ上の位置情報検出手段と、前記光ディスクの画像を表示し、前記円周方向及び半径方向の位置情報に基づいて、前記光ディスクの画像上に前記シンクエラーの発生箇所を表示すると共に、対応する前記データ上の位置情報を表示するエラーマップ表示手段とを備えるようにすれば、従来のようにＥＣＣブロック単位で読取りエラーを検出する場合に比して、高い分解能によりエラー発生箇所を特定することができ、またデータと関連付けてエラー発生箇所を検出することができる。これにより光ディスクの画像上でシンクエラーの発生箇所を表示すると共に、シンクエラーの発生箇所をデータ上で特定する位置情報を表示して、読取りエラーの発生箇所を従来に比して一段と容易に把握することができる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、読取りエラーの発生箇所を従来に比して一段と容易に把握することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、適宜図面を参照しながら本発明の実施例を詳述する。
【実施例１】
【００１５】
（１）実施例の構成
図１は、本発明の実施例に係る光ディスク測定装置を示すブロック図である。この光ディスク測定装置１は、ＤＶＤによる光ディスク２からシンクパターンＳＹ０、ＳＹ１、……の読取りエラーを検出する。
【００１６】
この光ディスク測定装置１において、ディスクデータ読取り部３は、スピンドルモータ４により光ディスク２を回転駆動すると共に、光ディスク２にレーザービームを照射して光ディスク２からの戻り光を受光し、光ディスク２に形成されたピットに応じて信号レベルが変化する再生信号を生成する。またこの再生信号の周波数特性を補正して所定の利得により増幅した後、この増幅した再生信号を２値化して２値化信号を生成する。またこの２値化信号よりクロックＣＫを再生して出力し、さらにこのクロックＣＫにより２値化信号を順次ラッチして読取りデータＳ１を出力する。
【００１７】
またディスクデータ読取り部３は、このクロックＣＫを基準にしてスピンドルモータ４を駆動して光ディスク２を線速度一定（ＣＬＶ：Constant Linear Velocity）により駆動し、光ディスク２が１回転する毎に信号レベルが立ち上がるインデックスパルスＳ２を生成して出力する。ここでインデックスパルスＳ２は、読取りエラーの発生箇所を検出する基準に使用される。
【００１８】
シンクエラー検出部５は、ディスクデータ読取り部３より出力される読取りデータＳ１からシンクパターンＳＹ０、ＳＹ１、……を順次検出し、この検出結果により読取りデータＳ１にシンクパターンＳＹ０、ＳＹ１、……が出力されるタイミングで信号レベルが立ち上がるシンク検出信号Ｓ３、読取りデータＳ１に物理セクタＰＳの先頭のシンクパターンＳＹ０が出力されるタイミングで信号レベルが立ち上がるセクタ検出信号Ｓ４をそれぞれ出力する。またシンクエラー検出部５は、この読取りデータＳ１よりシンクパターンＳＹ０、ＳＹ１、……の読取りエラーを検出し、この検出結果により読取りエラーが発生するタイミングで信号レベルが立ち上がるシンクエラー検出信号Ｓ５を出力する。
【００１９】
アドレス読出し部６は、ディスクデータ読取り部３より出力される読取りデータＳ１からＥＣＣブロックＥＢのデータアドレス、物理セクタＰＳのセクタアドレスを順次検出してアドレスデータＳ６を出力する。
【００２０】
エラーマップ生成部７は、ディスクデータ読取り部３から出力されるクロックＣＫをカウンタによりカウントし、ディスクデータ読取り部３から出力されるインデックスパルスＳ２の立ち上がりによりこのカウンタのカウント値をラッチした後、リセットする。これによりエラーマップ生成部７は、インデックスパルスＳ２を基準にしてレーザービーム照射位置における円周の長さをクロックＣＫにより光ディスク２の１回転毎に検出する。ここでこの円周の長さは、光ディスク２の半径に比例する。これによりエラーマップ生成部７は、このレーザービームの照射位置の円周の長さによりレーザービームの照射位置の半径方向の位置をも併せて検出する。
【００２１】
さらにエラーマップ生成部７は、シンクエラー検出部５から出力されるシンクエラー検出信号Ｓ５によりこのカウンタのカウント値をラッチし、これによりインデックスパルスＳ２が立ち上がった時点におけるレーザービーム照射位置からシンクエラー検出信号Ｓ５が立ち上がった時点におけるレーザービーム照射位置までの光ディスク２の円周方向の長さを検出する。エラーマップ生成部７は、このインデックスパルスＳ２の立ち上がりからシンクエラー検出信号Ｓ５の立ち上がりまでの円周方向の長さに係るラッチ結果を光ディスク２の１回転による円周の長さに係るラッチ結果により割り算し、これによりインデックスパルスＳ２が立ち上がった後、シンクエラー検出信号Ｓ５が立ち上がるまでの光ディスク２の回転角度を検出する。これらによりエラーマップ生成部７は、インデックスパルスに対するシンクエラー検出部５でシンクエラーが検出されるタイミングにより、光ディスク２の円周方向に係るシンクエラーの発生箇所をインデックスパルスを基準にして特定する円周方向の位置情報を検出すると共に、この円周方向の位置情報に対応して、光ディスク２の半径方向に係るシンクエラーの発生箇所を特定する半径方向の位置情報を検出する。
【００２２】
さらにエラーマップ生成部７は、光ディスク２に記録されたデータ上でシンクエラーの発生箇所を特定するデータ上の位置情報を検出する。すなわちエラーマップ生成部７は、シンクエラー検出部５から出力されるシンク検出信号Ｓ３をシンクカウンタによりカウントし、シンクエラー検出部５から出力されるセクタ検出信号Ｓ４の立ち上がりによりこのシンクカウンタのカウント値をリセットする。これによりエラーマップ生成部７は、物理セクタＰＳの先頭からシンクパターンＳＹ０、ＳＹ１、……の個数を順次カウントする。さらにエラーマップ生成部７は、セクタ検出信号Ｓ４をセクタカウンタによりカウントし、アドレス読出し部６から出力されるアドレスデータＳ６を基準にしてこのセクタカウンタのカウント値をリセットする。これによりエラーマップ生成部７は、ＥＣＣブロックＥＢの先頭から物理セクタＰＳの個数を順次カウントする。
【００２３】
エラーマップ生成部７は、シンクエラー検出信号Ｓ５の立ち上がりによりセクタカウンタのカウント値、シンクカウンタのカウント値をそれぞれラッチし、これによりそれぞれＥＣＣブロックＥＢ、物理セクタＰＳの先頭から物理セクタ単位、物理セクタＰＳを構成する小ブロック単位で、シンクエラーの発生箇所を特定するデータ上の位置情報を検出する。
【００２４】
さらにエラーマップ生成部７は、アドレス読出し部６から出力されるアドレスデータＳ６によるデータアドレス、セクタアドレスをシンクエラー検出信号Ｓ５の立ち上がりによりラッチし、これにより読取りエラーの発生箇所に係るＥＣＣブロックＥＢのデータアドレス、物理セクタＰＳのセクタアドレスによるデータ上の位置情報を検出する。
【００２５】
エラーマップ生成部７は、これらの位置情報を対応付けて内蔵のメモリに記録して保持し、所定のタイミングでこれら位置情報をエラーマップ情報Ｓ７としてマップ表示部８に出力する。
【００２６】
マップ表示部８は、光ディスク２の情報記録面を示す画像を表示し、エラーマップ生成部７より出力されるエラーマップ情報Ｓ７に基づいて、この画像上にシンクエラーの発生箇所をドットにより表示する。またユーザーによる操作により、データ上の位置情報を表示する。
【００２７】
（２）実施例の動作
以上の構成において、光ディスク２は（図１）、ディスクデータ読取り部３により回転駆動されてレーザービームの照射により再生信号が生成され、この再生信号が２値化されて２値化信号が生成され、さらにこの２値化信号より再生されたクロックＣＫにより２値化信号が順次ラッチされて読取りデータＳ１が生成される。
【００２８】
光ディスク２は、シンクエラー検出部５において、この読取りデータＳ１からシンクエラーが検出され、続くエラーマップ生成部７により、インデックスパルスＳ２を基準にしてこのシンクエラーが発生したタイミングが検出される。これにより光ディスク２は、円周方向に係るシンクエラーの発生箇所をインデックスパルスＳ２を基準にして特定する円周方向の位置情報が検出される。
【００２９】
また光ディスク２は、エラーマップ生成部７において、インデックスパルスＳ２の発生周期がクロックＣＫによりカウントされ、シンクエラーが発生したタイミングでこのカウント値が取得され、これにより円周方向の位置情報に対応して、半径方向に係るシンクエラーの発生箇所を特定する半径方向の位置情報が検出される。
【００３０】
またＥＣＣブロックＥＢにおけるデータアドレス、物理セクタＰＳに係るセクタアドレスが順次アドレス読出し部６により検出され、エラーマップ生成部７において、シンクエラーが発生したタイミングでデータアドレス、セクタアドレスが取得され、これによりシンクエラーの発生箇所をデータ上で特定するデータ上の位置情報が検出される。またＥＣＣブロックＥＢにおける物理セクタＰＳのカウント値、物理セクタＰＳにおける小ブロックのカウント値がそれぞれシンクエラーが発生したタイミングで取得され、これによってもシンクエラーの発生箇所をデータ上で特定するデータ上の位置情報が検出される。
【００３１】
ここで通常の光ディスク装置では、再生信号より生成された読取りデータＳ１よりシンクが検出され、このシンクにより同期を図りながら、読取りデータＳ１がエラー訂正処理等されて光ディスク２に記録されたデータが再生される。これによりシンクを正しく検出できない場合、すなわちシンクエラーが発生すると、シンクを正しく検出できるまでの間、光ディスク２に記録されたデータを正しく再生することが困難になる。これによりシンクエラーの検出によっても、光ディスク２に記録されたデータの読取りエラーを検出することができる。
【００３２】
なおＤＶＤによる光ディスク２は、シンクパターンＳＹ０、ＳＹ１、……（図２及び図３参照）が、約０．２〔ｍｍ〕の間隔により配置される。これによりディスク面上に直径数〔ｍｍ〕程度の欠陥が存在して、この欠陥により光ディスク２に記録されたデータを正しく再生できない場合、この約０．２〔ｍｍ〕の間隔により配置されるシンクパターンについても正しく再生することが困難になり、この場合、シンクエラーが数１０個連続して発生することになる。この場合、ＥＣＣブロックにおけるエラー訂正処理によっても、光ディスク２に記録されたデータを正しく再生することが困難になり、これらによりシンクエラーとＥＣＣブロックによるエラーとの間には、相関関係があると言える。
【００３３】
これにより光ディスク２は、このようにして検出されたシンクエラーの位置情報により、読取りエラーの発生箇所がオペレータに通知される。
【００３４】
すなわち光ディスク２は、このようにして取得された各種位置情報がエラーマップ情報としてマップ表示部８に提供され、半径方向及び円周方向の位置情報に基づいて、このマップ表示部８により、情報記録面の画像上でシンクエラーの発生箇所がドットにより表示される。これにより光ディスク２は、視覚的にエラー発生箇所を把握することができ、その分、読取りエラーの発生箇所を従来に比して容易に把握することができる。
【００３５】
またこの場合、エラー発生箇所は、光ディスク２の円周方向にシンクパターンのピッチである０．２〔ｍｍ〕ピッチのドットにより表示され、これにより高い分解能によりエラー発生箇所を把握することができる。またこれによりドットが密に表示されている箇所は、欠陥が集中している箇所であることが判り、これらにより視覚的にエラー発生箇所を把握することができ、その分、読取りエラーの発生箇所を従来に比して一段と容易に把握することができる。
【００３６】
実際上、ＤＶＤによる光ディスク２において読取りエラーが発生する場合、ディスク面上に数百ミクロン〜数〔ｍｍ〕程度の欠陥が発生している場合が多く、このような欠陥にあっては、露光条件のゆらぎ、ディスク面上のゴミやキズ、不適切な条件による露光、光ディスクの物理的な変形、内部応力等により発生する。因みに、記録再生可能な光ディスクの場合には、このような欠陥は、記録条件のゆらぎ、ディスク面上のゴミやキズによるものが多い。
【００３７】
しかしてこの実施例では、トラックの延長する方向である円周方向に、０．２〔ｍｍ〕ピッチの分解能によりエラー発生箇所を表示することができ、これによりディスク面上の数百ミクロン〜数〔ｍｍ〕程度の欠陥による分布を視覚的に表示することができる。
【００３８】
さらにこの実施例では、このようにして表示される各エラー発生箇所について、必要に応じてデータ上の位置情報がマップ表示部８により表示され、これにより光ディスク２から再生したデータにおける実際のエラーとの対応関係を把握することができ、これによっても読取りエラーの発生箇所を従来に比して一段と容易に把握することができる。
【００３９】
（３）実施例の効果
以上の構成によれば、シンクエラーの発生箇所を光ディスクの円周方向及び半径方向により特定して光ディスクの画像上でシンクエラーの発生箇所を表示すると共に、シンクエラーの発生箇所をデータ上で特定する位置情報を表示することにより、読取りエラーの発生箇所を従来に比して一段と容易に把握することができる。
【実施例２】
【００４０】
なお上述の実施例においては、レーザービームの照射位置の円周の長さにより半径方向の位置情報を検出する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、他の手段により半径方向の位置情報を検出するようにしてもよい。なお他の手段としては、例えば光ピックアップの位置をポテンションメーターにより検出する場合等が考えられる。
【００４１】
また上述の実施例においては、エラー発生箇所を単にドットにより表示する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、ドットの密度に応じてドットの色を異ならせて表示するようにしてもよく、またドットに代えて、ディスク面におけるエラー発生密度を色分けにより表示するようにしてもよい。
【００４２】
また上述の実施例においては、ＤＶＤによる光ディスクのエラー検出に本発明を適用する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、各種の光ディスクにおけるエラー検出に広く適用することができる。なおこのような光ディスクとしては、ＨＤ（High Density ）  ＤＶＤ、ＢＤ(Blue-ray Disc) 、ＭＯ（Magnet-Optics ）規格の光ディスク、ＷＯ規格の光ディスク、ミニディスク等がある。
【産業上の利用可能性】
【００４３】
本発明は、光ディスク測定装置に関し、例えばＤＶＤによる光ディスクの特性評価に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】本発明の実施例に係る光ディスク測定装置を示すブロック図である。
【図２】シンクパターンの配置の説明に供する略線図である。
【図３】ディスク面の記録の説明に供する図表である。
【符号の説明】
【００４５】
１……光ディスク測定装置、２……光ディスク、３……ディスクデータ読取り部、５……シンクエラー検出部、６……アドレス読出し部、７……エラーマップ生成部
【図１】
2007066339.tif 000003
【図２】
2007066339.tif 000004
【図３】
2007066339.tif 000005