(57)【要約】【課題】周波数またはレベルが時間的に変動を伴うＥＭＩの場合に、十分な評価技術を持たない測定者でもＥＭＩ対策効果判定や規格適合判定を容易かつ適切に行えるようにする。【解決手段】ＥＭＩ測定機器を利用して、ＥＵＴから発生し電源線を伝導するＥＭＩを測定するＥＭＩ測定システムにおいて、ＥＭＩの時間変動特性評価を実施し、周波数変動傾向および最大周波数をプロファイル化する。そして、取得したプロファイルを次測定以降の評価条件に反映させることで、周波数変動ＥＭＩの周波数変動傾向をリアルタイムに分析する。【選択図】図３
2007198965.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定機器から発生した電源線を伝導する妨害電磁波を測定するシステムであって、
前記被測定機器の電源線を伝導する妨害電磁波の受信レベルを周波数別に記録した複数のスペクトラムデータを連続的に取得し、該複数のスペクトラムデータから受信レベルの最大値曲線および平均値曲線を算出するデータ解析手段と、
前記データ解析手段により取得されたスペクトラムデータの受信レベルに起因する妨害電磁波測定機器のエラー内容に応じて、前記データ解析手段の設定を変更するエラー回避手段と、
前記受信レベルの最大値を的確に取得できるようスイープタイミングを調整するスイープタイミング最適化手段と、
前記データ解析手段により算出された最大値曲線および平均値曲線に基づいて、前記妨害電磁波の評価対象とする周波数範囲を抽出する周波数評価候補抽出手段と、
前記周波数評価候補抽出手段により抽出された周波数範囲において、受信レベルが最大となる周波数を特定する最大周波数特定手段と、
前記最大周波数特定手段にて特定された最大周波数における受信レベルを測定するとともに、前記エラー回避手段およびスイープタイミング最適化手段による測定条件の最適化および最適化された測定条件を次測定以降に反映させるよう制御する制御手段と
を備えることを特徴とする妨害電磁波測定システム。
【請求項２】
前記エラー回避手段は、
過大な受信レベルの妨害電磁波が妨害電磁波測定機器に入力されたことに起因する、前記妨害電磁波測定機器のエラーが検出された場合、前記妨害電磁波の測定を中断し、エラー内容に合わせて前記データ解析手段の設定を変更する
ことを特徴とする請求項１に記載の妨害電磁波測定システム。
【請求項３】
前記スイープタイミング最適化手段は、
前記データ解析手段により算出された最大値曲線の最大値に欠落が検出された場合、欠落が検出されなくなるまで前記データ解析手段による最大値の取得処理を繰り返し行い、
前記最大値の取得処理を所定回数実施後に前記最大値の欠落箇所が所定数を超える場合、前記妨害電磁波測定機器のスイープ時間を増加する
ことを特徴とする請求項１に記載の妨害電磁波測定システム。
【請求項４】
前記周波数評価候補抽出手段は、
前記データ解析手段にて算出された平均値曲線の極大周波数における前記最大値が許容値以上となる場合、その極大周波数における極大点から所定レベル減衰した値に対応する高域側の周波数を高周波数側閾値とし、低域側の周波数を低周波数側閾値としたとき、前記高周波数側閾値から前記低周波数側閾値までの範囲を第１周波数範囲として抽出し、
次に、前記第１周波数範囲を除去し分割された周波数範囲にて、前記最大値が前記許容値を満たさない周波数を抽出し、その周波数を含む周波数範囲を第２周波数範囲として抽出する
ことを特徴とする請求項１に記載の妨害電磁波測定システム。
【請求項５】
前記最大周波数特定手段は、
前記周波数評価候補抽出手段により抽出された周波数範囲において、前記データ解析手段により再算出された最大値曲線および平均値曲線に基づいて、
前記抽出した周波数範囲が第１周波数範囲の場合、前記平均値曲線から極大周波数を抽出し、その極大周波数における最大値が許容値以上である周波数を最大周波数として特定し、
前記抽出した周波数範囲が第２周波数範囲の場合、前記最大値曲線にて許容値以上で最大レベルの周波数、あるいは前記周波数に加えて前記平均値曲線の極大周波数における前記最大値が許容値を満たさない周波数を最大周波数として特定する
ことを特徴とする請求項１に記載の妨害電磁波測定システム。
【請求項６】
被測定機器から発生した電源線を伝導する妨害電磁波を測定するシステムであって、
前記被測定機器の電源線を伝導する妨害電磁波の受信レベルを周波数別に記録した複数のスペクトラムデータを連続的に取得し、該複数のスペクトラムデータから受信レベルの最大値曲線および平均値曲線を測定時間別に算出するデータ解析手段と、
前記データ解析手段により取得されたスペクトラムデータの受信レベルに起因する妨害電磁波測定機器のエラー内容に応じて、前記データ解析手段の設定を変更するエラー回避手段と、
前前記受信レベルの最大値を的確に取得できるようスイープタイミングを調整するスイープタイミング最適化手段と、
前記データ解析手段により算出された最大値曲線および平均値曲線に基づいて、前記妨害電磁波の評価対象とする周波数範囲を抽出する周波数評価候補抽出手段と、
前記周波数評価候補抽出手段により抽出された周波数範囲において、受信レベルが最大となる周波数を特定する最大周波数特定手段と、
前記妨害電磁波の時間的な変動特性を分析する変動特性分析手段と、
前記変動特性分析手段により取得された変動特性の分析結果を記憶する記憶手段と、
前記エラー回避手段およびスイープタイミング最適化手段による測定条件の最適化および最適化された測定条件を次測定以降に反映させるよう制御する制御手段と
を備えることを特徴とする妨害電磁波測定システム。
【請求項７】
前記変動特性分析手段は、
前記最大周波数が時間経過により周波数変動しているか否かを分析する周波数変動帯域幅分析手段と、
前記最大周波数における受信レベルが時間経過により変動しているレベル変動量を分析するレベル変動量分析手段と、
前記最大周波数の経過時間別の周波数変動傾向を分析する周波数変動傾向分析手段と
を備えることを特徴とする請求項６に記載の妨害電磁波測定システム。
【請求項８】
前記周波数変動帯域幅分析手段は、
前記データ解析手段にて測定時間別に算出された最大値曲線または平均値曲線の極大周波数の周波数差を周波数変動帯域幅として経過時間別に算出し、前記記憶手段に保存する
ことを特徴とする請求項７に記載の妨害電磁波測定システム。
【請求項９】
前記レベル変動量分析手段は、
測定時間別に取得された全スペクトラムデータの最大値曲線を算出し、各測定時間における最大値曲線とのレベル差を周波数別に算出し、経過時間別の受信レベルの変動量を前記記憶手段に保存する
ことを特徴とする請求項７に記載の妨害電磁波測定システム。
【請求項１０】
前記周波数変動傾向分析手段は、
前記データ解析手段にて測定開始から測定終了までに算出された測定時間別の最大値曲線または平均値曲線の極大周波数において、許容値マージンが不足する最大周波数（ｆ（Ｍａｘ）とする）を抽出し、
前記ｆ（Ｍａｘ）が周波数変動している場合、測定時間別の周波数変動傾向を前記記憶手段に保存する
ことを特徴とする請求項７に記載の妨害電磁波測定システム。
【請求項１１】
被測定機器から発生した電源線を伝導する妨害電磁波を測定するシステムであって、
前記被測定機器の電源線を伝導する妨害電磁波の受信レベルを周波数別に記録した複数のスペクトラムデータを連続的に取得し、該複数のスペクトラムデータから受信レベルの最大値曲線および平均値曲線を測定時間別に算出するデータ解析手段と、
前記妨害電磁波の時間的な変動特性を分析し記憶手段に記憶する変動特性分析手段と、
前記記憶手段から前記変動特性の分析結果を読み込む読み込み手段と、
前記データ解析手段により算出された最大値曲線および平均値曲線に基づいて、前記妨害電磁波の評価対象とする周波数範囲を抽出する周波数評価候補抽出手段と、
前記周波数評価候補抽出手段により抽出された周波数範囲内にて、前記記憶手段に記録されている最大周波数（ｆ（Ｍａｘ）とする）と一致する極大周波数が存在したと判定された場合にｆ（Ｍａｘ）における受信レベルの準尖頭値および平均値を評価する周波数変動ＥＭＩリアルタイム評価手段と、
前記周波数評価候補抽出手段により抽出された周波数範囲において、受信レベルが最大となる周波数を特定する最大周波数特定手段と
を備えることを特徴とする妨害電磁波測定システム。
【請求項１２】
前記変動特性分析手段は、
前記周波数変動帯域幅の絶対値が周波数変動許容帯域幅未満である場合は周波数の変動が収束したと判断し、また前記受信レベルの前回と今回の受信レベルの差の絶対値がレベル変動許容量未満である場合はレベル変動が収束したと判断する変動収束判別手段を更に備える
ことを特徴とする請求項６または１１に記載の妨害電磁波測定システム。
【請求項１３】
前記制御手段は、
前記平均値曲線に基づいて算出された極大周波数における受信レベルの最大値に、経過時間に応じた前記レベル変動量分析手段によるレベル変動量を加算し、加算した値が加算前の値より高い場合は加算後の値を採用する
ことを特徴とする請求項７に記載の妨害電磁波測定システム。
【請求項１４】
被測定機器から発生した電源線を伝導する妨害電磁波を測定する方法であって、
前記被測定機器の電源線を伝導する妨害電磁波の受信レベルを周波数別に記録した複数のスペクトラムデータを連続的に取得し、該複数のスペクトラムデータから受信レベルの最大値曲線および平均値曲線をデータ解析手段により算出する過程と、
前記データ解析手段により取得されたスペクトラムデータの受信レベルに起因する妨害電磁波測定機器のエラー内容に応じて、エラー回避手段により前記データ解析手段の設定を変更する過程と、
スイープタイミング最適化手段により前記受信レベルの最大値を的確に取得できるようスイープタイミングを調整する過程と、
前記データ解析手段により算出された最大値曲線および平均値曲線に基づいて、前記妨害電磁波の評価対象とする周波数範囲を抽出する過程と、
前記抽出された周波数範囲において、受信レベルが最大となる周波数を特定する過程と、
前記特定された最大周波数における受信レベルを測定するとともに、前記エラー回避手段およびスイープタイミング最適化手段による測定条件の最適化および最適化された測定条件を次測定以降に反映させるよう制御する過程と
を有することを特徴とする妨害電磁波測定方法。
【請求項１５】
被測定機器から発生した電源線を伝導する妨害電磁波を測定する方法であって、
前記被測定機器の電源線を伝導する妨害電磁波の受信レベルを周波数別に記録した複数のスペクトラムデータを連続的に取得し、該複数のスペクトラムデータから受信レベルの最大値曲線および平均値曲線をデータ解析手段により測定時間別に算出する過程と、
前記データ解析手段により取得されたスペクトラムデータの受信レベルに起因する妨害電磁波測定機器のエラー内容に応じて、エラー回避手段により前記データ解析手段の設定を変更する過程と、
スイープタイミング最適化手段により前記受信レベルの最大値を的確に取得できるようスイープタイミングを調整する過程と、
前記データ解析手段により算出された最大値曲線および平均値曲線に基づいて、前記妨害電磁波の評価対象とする周波数範囲を抽出する過程と、
前記抽出された周波数範囲において、受信レベルが最大となる周波数を特定する過程と、
前記妨害電磁波の時間的な変動特性を分析する過程と、
前記変動特性の分析結果を記憶する過程と、
前記エラー回避手段およびスイープタイミング最適化手段による測定条件の最適化および最適化された測定条件を次測定以降に反映させるよう制御する過程と
を有することを特徴とする妨害電磁波測定方法。
【請求項１６】
被測定機器から発生した電源線を伝導する妨害電磁波を測定する方法であって、
前記被測定機器の電源線を伝導する妨害電磁波の受信レベルを周波数別に記録した複数のスペクトラムデータを連続的に取得し、該複数のスペクトラムデータから受信レベルの最大値曲線および平均値曲線をデータ解析手段により測定時間別に算出する過程と、
前記妨害電磁波の時間的な変動特性を分析し記憶手段に記憶する過程と、
前記記憶手段から前記変動特性の分析結果を読み込む過程と、
前記データ解析手段により算出された最大値曲線および平均値曲線に基づいて、前記妨害電磁波の評価対象とする周波数範囲を抽出する過程と、
前記抽出された周波数範囲内にて、前記記憶手段に記録されている最大周波数（ｆ（Ｍａｘ）とする）と一致する極大周波数が存在したと判定された場合にｆ（Ｍａｘ）における受信レベルの準尖頭値および平均値を評価する過程と、
前記抽出された周波数範囲において、受信レベルが最大となる周波数を特定する過程と
を有することを特徴とする妨害電磁波測定方法。
【請求項１７】
被測定機器から発生した電源線を伝導する妨害電磁波を測定するプログラムであって、
前記被測定機器の電源線を伝導する妨害電磁波の受信レベルを周波数別に記録した複数のスペクトラムデータを連続的に取得し、該複数のスペクトラムデータから受信レベルの最大値曲線および平均値曲線をデータ解析手段により算出する処理と、
前記データ解析手段により取得されたスペクトラムデータの受信レベルに起因する妨害電磁波測定機器のエラー内容に応じて、エラー回避手段により前記データ解析手段の設定を変更する処理と、
スイープタイミング最適化手段により前記受信レベルの最大値を的確に取得できるようスイープタイミングを調整する処理と、
前記データ解析手段により算出された最大値曲線および平均値曲線に基づいて、前記妨害電磁波の評価対象とする周波数範囲を抽出する処理と、
前記抽出された周波数範囲において、受信レベルが最大となる周波数を特定する処理と、
前記特定された最大周波数における受信レベルを測定するとともに、前記エラー回避手段およびスイープタイミング最適化手段による測定条件の最適化および最適化された測定条件を次測定以降に反映させるよう制御する処理と
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【請求項１８】
被測定機器から発生した電源線を伝導する妨害電磁波を測定する方法であって、
前記被測定機器の電源線を伝導する妨害電磁波の受信レベルを周波数別に記録した複数のスペクトラムデータを連続的に取得し、該複数のスペクトラムデータから受信レベルの最大値曲線および平均値曲線をデータ解析手段により測定時間別に算出する処理と、
前記データ解析手段により取得されたスペクトラムデータの受信レベルに起因する妨害電磁波測定機器のエラー内容に応じて、エラー回避手段により前記データ解析手段の設定を変更する処理と、
スイープタイミング最適化手段により前記受信レベルの最大値を的確に取得できるようスイープタイミングを調整する処理と、
前記データ解析手段により算出された最大値曲線および平均値曲線に基づいて、前記妨害電磁波の評価対象とする周波数範囲を抽出する処理と、
前記抽出された周波数範囲において、受信レベルが最大となる周波数を特定する処理と、
前記妨害電磁波の時間的な変動特性を分析する処理と、
前記変動特性の分析結果を記憶する処理と、
前記エラー回避手段およびスイープタイミング最適化手段による測定条件の最適化および最適化された測定条件を次測定以降に反映させるよう制御する処理と
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【請求項１９】
被測定機器から発生した電源線を伝導する妨害電磁波を測定する方法であって、
前記被測定機器の電源線を伝導する妨害電磁波の受信レベルを周波数別に記録した複数のスペクトラムデータを連続的に取得し、該複数のスペクトラムデータから受信レベルの最大値曲線および平均値曲線をデータ解析手段により測定時間別に算出する処理と、
前記妨害電磁波の時間的な変動特性を分析し記憶手段に記憶する処理と、
前記記憶手段から前記変動特性の分析結果を読み込む処理と、
前記データ解析手段により算出された最大値曲線および平均値曲線に基づいて、前記妨害電磁波の評価対象とする周波数範囲を抽出する処理と、
前記抽出された周波数範囲内にて、前記記憶手段に記録されている最大周波数（ｆ（Ｍａｘ）とする）と一致する極大周波数が存在したと判定された場合にｆ（Ｍａｘ）における受信レベルの準尖頭値および平均値を評価する処理と、
前記抽出された周波数範囲において、受信レベルが最大となる周波数を特定する処理と
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器の電源線を伝導する妨害電磁波を測定し、ＥＭＩ対策効果判定や規格適合判定を行うのに好適な妨害電磁波測定システム、妨害電磁波測定方法およびその方法をコンピュータに実行させるためのプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、多くの電子機器において、スイッチング電源およびＣＰＵ等を駆動するためのクロック発振回路から発生し、電源線を伝導する電磁波は、他の電子機器等の機能を妨害する電磁波干渉（ＥＭＩ：Electro-magnetic interference）の原因となり得る。そのために、米国規格協会（ＡＮＳＩ：American National Standards Institute）、国際無線障害特別委員会（ＣＩＳＰＲ：The International Special Committee on Radio Interference）等の公的機関によりＥＭＩ関連工業規格が策定され、政府機関である米国連邦通信委員会（ＦＣＣ：Federal Communications Commission）等によりそのレベルが規制されている。
【０００３】
このため、一般的に、電子機器から発生し電源線を伝導するＥＭＩの尖頭値（ＰＫ：Peak）、準尖頭値（ＱＰ：Quasi Peak）および平均値（ＡＶ：Average Peak）が、ＦＣＣルール、ＣＩＳＰＲ２２規格等に規定されたレベルの許容値（リミット）を満たすか否かの規格適合判定を実施している。
【０００４】
電子機器の電源線を伝導するＥＭＩの測定は、通常、放送波や携帯電話機などの通信波の影響を避けるため、シールドルーム内でＥＭＩ測定システムを用いて実施される。
【０００５】
ＥＭＩ測定システムは、一般的に、シールドルーム内の被測定装置（ＥＵＴ：Equipment Under Test）を載置する非金属製の台と擬似電源回路網、当該シールドルームと垂直導電面を隔てた測定室内のＥＭＩ測定機器（スペクトラムアナライザおよびＥＭＩレシーバ）およびコンピュータ等により構成される。
【０００６】
ＥＭＩ測定システムは、擬似電源回路網を介してＥＵＴへの電源供給を行い、その擬似電源回路網の測定用端子におけるＥＭＩのレベルを、ＥＭＩ測定機器を用いて測定する。
【０００７】
スペクトラムアナライザは、擬似電源回路網で検出されたＥＭＩの受信レベルのＰＫ（尖頭値）データの最大値を周波数毎に保持して記憶するＭａｘＨｏｌｄ機能と、ＥＭＩの受信レベルのＰＫデータをスイープ毎に周波数別に記録するＣｌｅａｒ／Ｗｒｉｔｅ機能等を備える。
【０００８】
ＥＭＩレシーバは、ＱＰ検波モードとＡＶ検波モードを備え、ＥＭＩの規格適合判定に用いるＱＰ値とＡＶ値を取得する。そして、コンピュータは、ＥＭＩ測定システムの動作を制御すると共に、ＥＭＩ測定機器により取得されたレベルデータに必要な補正値（ケーブルロス、アンテナファクタなど）を加えて、ＥＭＩの受信レベルの算出や規格適合判定などの検証を行う。
【０００９】
このように構成されたＥＭＩ測定システムによって、図２４に示すフローチャートに従いＥＭＩ測定が実行される。従来のＥＭＩ測定方法は、まずステップＳ２０１で、ＥＭＩ測定機器は、周波数レンジ、分解能バンド幅（ＲＢＷ）、ビデオバンド幅（ＶＢＷ）、スイープタイム、リファレンスレベル、アッテネータレベル、データ収集時間／レンジ（例えば、１レンジ３０秒）等の事前に設定された内容を読み込む。
【００１０】
次に、ステップＳ２０２で、スペクトラムアナライザのＭａｘＨｏｌｄ機能を用いて、所定のデータ収集時間経過後にＥＭＩ関連工業規格に規定されている周波数範囲において、受信レベルのＰＫデータの最大値を周波数別に取得する。
【００１１】
続いて、ステップＳ２０３では、上記ステップＳ２０２にて取得した受信レベルの最大値がリミットを満たすか否かを検証し、受信レベルの最大値が全ての周波数においてリミットを満たす場合は測定を終了し、リミットを満たさない周波数がある場合はステップＳ２０４に進む。
【００１２】
ステップＳ２０４で、ＥＭＩの受信レベルの最大値がリミットを満たさない周波数を全て抽出する。
【００１３】
ステップＳ２０５で、上記ステップＳ２０４にて抽出したＥＭＩの受信レベルの最大値がリミットを満たさない各周波数について、レベルが最大となるように周波数を手動で微調する。
【００１４】
ステップＳ２０６で、上記ステップＳ２０５にて微調した周波数にて、ＥＭＩレシーバのＱＰ検波モードにより、ＥＭＩの受信レベルのＱＰ値を取得する。
【００１５】
ステップＳ２０７で、上記ステップＳ２０５にて微調した周波数にて、ＥＭＩレシーバのＡＶ検波モードにより、ＥＭＩの受信レベルのＡＶ値を取得する。
【００１６】
最後のステップＳ２０８で、上記ステップＳ２０６およびステップＳ２０７にて取得されたＱＰ値およびＡＶ値がリミットを満たすか否かを周波数別に判定し、測定を終了する。
【００１７】
このように取得されたＥＭＩのＱＰ値およびＡＶ値が、ＦＣＣルール、ＣＩＳＰＲ２２規格等に規定されたリミットを満たすか否かを判定することによって、ＥＵＴに対するＥＭＩ関連工業規格適合評価を実施していた。
【００１８】
ＥＵＴから放射されるＥＭＩを連続的に受信して電磁界を測定するために、ＥＭＩのレベルを周波数別に記録して複数のスペクトラムデータを取得し、これら複数のスペクトラムデータから受信レベルの最大値曲線および平均値曲線を算出し、この受信レベルの最大値曲線および平均値曲線に基づいて最大放射周波数範囲を抽出し、この抽出された最大放射周波数範囲にて指定帯域スペクトラムデータを複数取得して受信レベルの平均値曲線を算出し、この算出された受信レベルの平均値曲線での最大値に対応する周波数を最大放射周波数として特定し、その最大放射周波数における電磁界を測定するＥＭＩ測定方法が提案されている。
【００１９】
この測定方法によれば、最大放射周波数を高精度に自動特定することができるため、ＥＭＩ関連工業規格適合評価に要するＥＭＩの測定時間を大幅に短縮することができる（例えば、特許文献１を参照。）。
【特許文献１】特開２００５−１８９０４５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２０】
しかしながら、上記従来手法には以下のような問題点があった。
【００２１】
（１）過大なレベルのＥＭＩがＥＭＩ測定機器に入力された場合、ＥＭＩ測定機器の故障または測定誤差を生じることがあるため、ＥＭＩ測定機器の設定（例えば、リファレンスレベルやアッテネータレベル）を変更する必要がある。しかし、ＥＭＩ測定機器の知識が不十分な測定者の場合、ＥＭＩ測定機器の設定を適切に変更できず、測定結果の信頼性に疑義を生じる場合があった。
【００２２】
（２）スイッチング電源方式を採用する電子機器の増加傾向に伴い、時間的なレベル変動を伴うＥＭＩ（以下、「間欠性ＥＭＩ」という。）が従来に比べ多くなっている。スペクトラムアナライザを用いて間欠性ＥＭＩを評価する場合、最大値を適切に取得できる確率は妨害電磁波の発生周期とスペクトラムアナライザのスイープタイミング（例えば、スイープタイムやデータ収集時間）に依存し、この確率が低い場合はＥＭＩ対策効果判定や規格適合判定を適切に行えない。間欠性ＥＭＩの最大値を適切に取得できるのは、間欠性ＥＭＩの発生周期とスペクトラムアナライザのスイープタイミングを適切に同期させる評価技術を持った少数のエキスパート測定エンジニアに限定されていた。
【００２３】
（３）スペクトラムアナライザのＭａｘＨｏｌｄモードにより最大値を取得した場合、狭帯域性ＥＭＩは広帯域性ＥＭＩにマスキングされてしまうため、その狭帯域性ＥＭＩの特定は困難である。この狭帯域性ＥＭＩを適切に特定できるのは、スペクトラムアナライザの設定（例えば、周波数分解能やスイープタイム）を細かく変化させ、その最大値のＥＭＩ的特徴を分析できる高度な評価技術を持った少数のエキスパート測定エンジニアに限定されていた。
【００２４】
（４）電源回路の半導体素子の温度特性等により、図２５に示すようにＥＭＩの周波数が時間的に緩やかに変動する周波数変動ＥＭＩ５１〜５６（例えば、電源投入時から３０分かけて２ＭＨｚ高域にシフト）を伴う場合がある。周波数変動ＥＭＩのＥＭＩ対策効果判定および規格適合判定は、その変動傾向を見極めた上でリミットに対するマージン（リミットマージン）が最小となる周波数（最大周波数）を特定する必要があるが、評価技術の不十分な測定者は変動を認識することができない。また、認識できた場合でも、変動傾向を的確に把握できず、ＥＭＩ対策効果判定および規格適合判定を適切に行うことができない。
よって、ＥＭＩ対策検討時間の増加やＥＭＩ対策部品の増加による商品コストの高騰を招いたり、規格不適合品を量産に移行させてしまう危険性があった。
【００２５】
（５）電源回路の半導体素子の温度特性等により、図２５に示すようにＥＭＩのレベルが時間的に緩やかな変動するレベル変動ＥＭＩ５１〜５６（例えば、電源投入時から３０分かけて２ｄＢ上昇）を伴う場合がある。通常、ＥＭＩのレベルが最大となった状態でＥＭＩ対策効果判定および規格適合判定を行う必要があるが、対策検討を繰り返し実行する場合、レベルが最大となるまでの時間を十分に確保できないことがある。このため、ＥＵＴの経過時間に対するレベル変動量を考慮に入れたＥＭＩ対策効果判定および規格適合判定を行う必要があるが、評価技術の不十分な測定者は変動を認識することができない。また、認識できた場合でも、変動を的確に把握できずにＥＭＩ対策効果判定および規格適合判定を適切に行うことができない。
よって、ＥＭＩ対策検討時間の増加やＥＭＩ対策部品の増加による商品コストの高騰を招いたり、規格不適合品を量産に移行させてしまう危険性があった。
【００２６】
本発明は斯かる点に鑑みてなされたものであり、本発明の第１の目的は、過大なレベルのＥＭＩがＥＭＩ測定機器に入力された場合、間欠性ＥＭＩを評価する場合、あるいは広帯域性ＥＭＩにマスキングされた狭帯域性ＥＭＩの特定を行う場合において、十分な評価技術を持たない測定者でもＥＭＩ対策効果判定や規格適合判定を容易かつ適切に行えるようにすることである。
第２の目的は、ＥＭＩの周波数またはレベルが時間的に緩やかな変動を伴う場合に、十分な評価技術を持たない測定者でもＥＭＩ対策効果判定や規格適合判定を容易かつ適切に行えるようにすることである。
【課題を解決するための手段】
【００２７】
上記課題を解決するため、本発明の妨害電磁波測定システムの一側面は、被測定機器から発生した電源線を伝導するＥＭＩを測定するシステムであって、前記ＥＭＩの受信レベルを周波数別に記録した複数のスペクトラムデータを連続的に取得し、該複数のスペクトラムデータから受信レベルの最大値曲線および平均値曲線を算出するデータ解析手段と、前記データ解析手段により取得されたスペクトラムデータの受信レベルに起因するＥＭＩ測定機器のエラー内容に応じて、前記データ解析手段の設定を変更するエラー回避手段と、前記受信レベルの最大値を的確に取得できるようスイープタイミングを調整するスイープタイミング最適化手段と、前記データ解析手段により算出された最大値曲線および平均値曲線に基づいて、前記ＥＭＩの評価対象とする周波数範囲を抽出する周波数評価候補抽出手段と、前記周波数評価候補抽出手段により抽出された周波数範囲において、受信レベルが最大となる周波数を特定する最大周波数特定手段と、前記最大周波数特定手段にて特定された最大周波数における受信レベルを測定するとともに、前記エラー回避手段およびスイープタイミング最適化手段により最適化された測定条件を次測定以降の測定条件に反映させるよう制御する制御手段を備えることを特徴とする。
【００２８】
上記構成によれば、ＥＭＩ測定機器に対して適切な設定を行うことにより、過剰なレベルのＥＭＩ入力によるＥＭＩ測定機器の故障や測定誤差を回避できるため、測定結果の信頼性が向上する。
また、時間的にレベルが変動するＥＭＩの最大値を適切に取得できたか否かを検証し、ＥＭＩ測定機器の設定およびデータ収集時間を最適化できる。さらに、最適化された測定条件を次測定以降の測定条件に反映させることで、常に適切な測定条件で間欠性ＥＭＩを測定できる。
また、最大値および平均値を同時取得し、ＥＭＩの時間的特徴を分析することで、広帯域性ＥＭＩにマスキングされた狭帯域性ＥＭＩの最大周波数を適切に特定できる。
【００２９】
また、本発明による妨害電磁波測定システムの他の側面は、上述した一側面において、前記周波数評価候補抽出手段は、前記データ解析手段にて算出された平均値曲線の極大周波数における前記受信レベルの最大値がリミット以上となる場合、その極大周波数における極大点から所定レベル減衰した値に対応する高域側の周波数を高周波数側閾値とし、低域側の周波数を低周波数側閾値としたとき、前記高周波数側閾値から前記低周波数側閾値までの範囲を第１周波数範囲として抽出し、次に、前記第１周波数範囲を除去し分割された周波数範囲にて、前記受信レベルの最大値が前記許容値を満たさない周波数を抽出し、その周波数を含む周波数範囲を第２周波数範囲として抽出することを特徴とする。
さらに、好適な構成の一例は、前記ＥＭＩの変動特性を評価する変動特性分析手段と、前記変動特性分析手段による前記変動特性の評価結果を記憶する記憶手段とを更に備え、前記第１周波数範囲に、前記変動特性分析結果に基づく前記ＥＭＩの周波数の変動傾向を反映した周波数範囲を、前記第１周波数範囲として再算出することを特徴とする。
【００３０】
上記構成によれば、最大値および平均値を同時取得し、ＥＭＩの時間的特徴を分析することで、広帯域性ＥＭＩにマスキングされた狭帯域性ＥＭＩの最大周波数を適切に特定できる。
さらに、前記最大値がリミット以上となる周波数における最大値から所定レベル減衰した値に対応する前記高周波数側閾値から前記低周波数側閾値の範囲（周波数微調範囲）に、周波数変動傾向を適用することで、周波数微調時における周波数変動ＥＭＩの最大周波数特定精度を向上できる。
【００３１】
また、本発明による妨害電磁波測定システムの他の側面は、被測定機器から発生した電源線を伝導するＥＭＩを測定するシステムであって、前記ＥＭＩの受信レベルを周波数別に記録した複数のスペクトラムデータを連続的に取得し、該複数のスペクトラムデータから受信レベルの最大値曲線および平均値曲線を測定時間別に算出するデータ解析手段と、前記ＥＭＩの時間的な変動特性を分析し記憶手段に記憶する変動特性分析手段と、前記記憶手段から前記変動特性の分析結果を記憶する記憶手段と、前記変動特性分析結果を読み込むロード手段と、前記データ解析手段により算出された最大値曲線および平均値曲線に基づいて、前記ＥＭＩの評価対象とする周波数範囲を抽出する周波数評価候補抽出手段と、前記周波数評価候補抽出手段により抽出された周波数範囲内にて、前記記憶手段に記録されている最大周波数（ｆ（Ｍａｘ）とする）と一致する極大周波数が存在したと判定された場合にｆ（Ｍａｘ）における受信レベルのＱＰ値およびＡＶ値を評価する周波数変動ＥＭＩリアルタイム評価手段と、前記周波数評価候補抽出手段により抽出された周波数範囲において、受信レベルが最大となる周波数を特定する最大周波数特定手段とを備えることを特徴とする。
【００３２】
上記構成によれば、時間変動特性分析評価を実施し、周波数変動傾向および最大周波数を記憶手段に保存してプロファイル化する。そして、取得したプロファイルを次測定以降の評価条件に反映させることで、周波数変動ＥＭＩの周波数変動傾向をリアルタイムに分析できるので、最大周波数を適切に特定することができる。
【００３３】
また、本発明による妨害電磁波測定システムの他の側面として、前記制御手段は、前記平均値曲線に基づいて算出された極大周波数における受信レベルの最大値に、過去に測定され、前記記憶手段に記憶されている前記レベル変動量分析手段によるレベル変動量を加算し、加算した値が加算前の値より高い場合は加算後の値を採用することを特徴とする。
【００３４】
上記構成によれば、変動特性評価を実施し、経過時間別に取得された最大値からレベル変動量を算出する。そして、算出したレベル変動量を次測定以降の評価結果に反映させることで、レベル変動ＥＭＩの最大レベルを推測できる。
【発明の効果】
【００３５】
本発明によれば、過大なレベルのＥＭＩがＥＭＩ測定機器に入力された場合または間欠性ＥＭＩを評価する場合、あるいは狭帯域性ＥＭＩの特定を行う場合において、十分な評価技術を持たない測定者でも最適な測定条件で測定することができるので、ＥＭＩ対策効果判定や規格適合判定を容易かつ適切に行うことができるようになる。
また、ＥＭＩの周波数またはレベルが時間的に緩やかな変動を伴う場合に、十分な評価技術を持たない測定者でも、最適な評価対象最大周波数を特定できるので、ＥＭＩ対策効果判定や規格適合判定を容易かつ適切に行うことができる。
したがって、商品コストの高騰を防止するとともに、計画通りの商品製造／出荷を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３６】
以下、本発明を実施するための最良の形態の例を、添付図面を参照しながら説明する。
【００３７】
［１］第１の実施形態
本発明の第１の実施形態に係るＥＭＩ測定システムを構成する機器の配置例を、図１に示す。図１に示すように、本実施形態に係るＥＭＩ測定システムは、一般的なＥＭＩ測定システムをベースにしており、シールドルーム１０内のＥＵＴを載置する所定高の非金属製の台１、擬似電源回路網３、リファレンスグランドプレーン（水平基準面）３２、当該シールドルーム１０と垂直導電面（垂直基準面）３０を隔てた測定室２０内のＥＭＩ測定機器（妨害電磁波測定機器）２４およびコンピュータ２５等により構成される。
【００３８】
シールドルーム１０内の擬似電源回路網３とＥＭＩ測定機器２４は垂直導電面３０に設置された端子盤３１を経由して測定同軸ケーブルで接続される。ＥＭＩ測定機器２４は、スペクトラムアナライザ２１、ＥＭＩレシーバ２２および同軸リレースイッチマトリックス２３などから構成されている。ＥＵＴ２から垂直導電面は、規格により４０ｃｍ以上離れている。
【００３９】
図２は、本実施形態に係るＥＭＩ測定システムのブロック構成例を示したものである。図２に示すように、商用電源５と接続する擬似電源回路網３に電源線を介してＥＵＴ２が接続し、測定同軸ケーブルにより擬似電源回路網３と同軸リレーマトリックス２３が接続している。同軸リレースイッチマトリックス２３は測定同軸ケーブルによりフィルタ２７を介してスペクトラムアナライザ２１、ＥＭＩレシーバ２２とそれぞれ接続している。このシステム構成では、測定機器接続の標準規格である汎用計測インターフェースバス（ＧＰＩＢ：General Purpose Interface Bus）等を介し、コンピュータ２５からスペクトラムアナライザ２１やＥＭＩレシーバ２２、同軸リレースイッチマトリックス２３等のＥＭＩ測定機器をコントロールする。
【００４０】
スペクトラムアナライザ２１はコンピュータ２５と協働することでデータ解析手段として機能し、擬似電源回路網３で検出されたＥＭＩの受信レベルのＰＫデータの最大値を周波数毎に保持して記録するＭａｘＨｏｌｄ機能と、ＥＭＩの受信レベルのＰＫデータをスイープ毎に周波数別に記録するＣｌｅａｒ／Ｗｒｉｔｅ機能を備える。またＥＭＩ関連工業規格に規定されている周波数範囲において、取得されたスイープ毎の複数のスペクトラムデータから受信レベルの受信レベルの最大値曲線および平均値曲線を算出する機能を備える。本例のスペクトラムアナライザ２１はスーパーヘテロダイン方式（周波数の低域から高域までのスイープを繰り返す方式）が用いられており、測定結果をスイープ毎に記録、表示している。なお、受信レベルの最大値曲線および平均値曲線を算出する処理は、コンピュータ２５に実行させる構成としてもよい。
【００４１】
フィルタ２７は、ＥＭＩ測定機器の故障等を防止するためのアッテネータ等である。
【００４２】
ＥＭＩレシーバ２２はＥＭＩ測定機器の一例であり、ＱＰ検波モードとＡＶ検波モードを備え、ＥＭＩの規格適合判定に用いるＱＰ値とＡＶ値を取得し、ＦＣＣルール、ＣＩＳＰＲ２２規格等に規定されたレベルのリミットを満たすか否かの規格適合判定等を実施する。
【００４３】
同軸リレースイッチマトリックス２３は、スペクトラムアナライザ２１とＥＭＩレシーバ２２間における測定経路の切り替えに使用される。
【００４４】
コンピュータ２５は、例えば、図示しないＣＰＵ（Central Processing Unit）等の演算処理装置、ワークエリアなどの用途に利用されるメモリ、不揮発性の記憶装置から構成され、データ解析手段、エラー回避手段、スイープタイミング最適化手段、周波数評価候補抽出手段、最大周波数特定手段、制御手段、変動特性分析手段、周波数変動帯域幅分析手段、レベル変動量分析手段、周波数変動傾向分析手段、読み込み手段、周波数変動ＥＭＩリアルタイム評価手段、変動収束判別手段およびリミットマージン分析手段としての機能を備えている。データ解析手段としての機能は、コンピュータ２５と上記スペクトラムアナライザ２１が協働することで実現される。
【００４５】
上記各機能は、ＣＰＵに代表される演算処理装置が図示しない記憶装置に記憶されたプログラムをワークエリアに読み出し実行することで実現される。また記憶装置は温度特性評価結果などのＥＭＩの変動特性（プロファイル）、最適測定条件等を保存する記憶手段として機能する。これらの各機能については後に詳述する。
【００４６】
コンピュータ２５はＧＰＩＢボード２６を有し、このＧＰＩＢボード２６はＧＰＩＢケーブルにてスペクトラムアナライザ２１、ＥＭＩレシーバ２２および同軸リレースイッチマトリックス２３に接続されている。
【００４７】
さらにコンピュータ２５は、ＥＭＩ測定システムの動作を制御すると共に、ＥＭＩ測定機器２４により取得されたＥＭＩのデータに対し必要な補正値（ケーブルロス、アンテナファクタなど）を加えて、ＥＭＩの受信レベルの算出や規格適合判定などの検証を行う。
【００４８】
このように構成されたＥＭＩ測定システムにおいて、擬似電源回路網３を介してＥＵＴ２への電源供給を行い、その擬似電源回路網３の測定用端子におけるＥＭＩのレベルを、スペクトラムアナライザ２１およびＥＭＩレシーバ２２等のＥＭＩ測定機器２４を利用して受信する。そして、ＥＵＴ２から発生し電源線４を伝導するＥＭＩを測定し、ＱＰ値およびＡＶ値が、ＦＣＣルール、ＣＩＳＰＲ２２規格等に規定されたレベルのリミットを満たすか否かの規格適合判定等を実施する。
【００４９】
ＥＭＩ測定システムは、受信したＥＭＩの特徴分析（周波数変動傾向分析、最大周波数分析、レベル変動量分析など）を行うため、スペクトラムアナライザ２１のＣｌｅａｒ／ＷｒｉｔｅモードおよびＭａｘＨｏｌｄモードを用いて、周波数別にスイープ毎のＰＫデータおよび測定中に取得された全ＰＫデータを同時取得する。測定中のＰＫデータは、コンピュータ２５のメモリ上に一時保管し、一連の作業終了後に最大値および全ＰＫデータを平均処理した算出平均値と共にコンピュータ２５に取り込み、ハードディスク等の記憶装置に保存する。
【００５０】
次に、本発明のＥＭＩ測定システムによるＥＭＩ評価処理について説明する。
【００５１】
本発明の第１の実施形態に係るＥＭＩ測定システムによるＥＭＩ評価処理を示すフローチャートを図３に示す。図３に示すＥＭＩ評価処理における大きな処理として、エラー回避、スイープタイミングの最適化、周波数範囲抽出、周波数特定、周波数変動ＥＭＩリアルタイム評価があり、これらの処理について随時説明する。
【００５２】
図３において、ＥＭＩ測定システムがＥＭＩの測定を開始すると、まずステップＳ１にて、コンピュータ２５のＣＰＵは事前に取得された最適な測定条件またはプロファイルが記憶装置に存在するか否か判定し、最適な条件またはプロファイルがある場合はステップＳ２へ進み、それ以外はステップＳ２０へ進む。
【００５３】
ステップＳ２０において、事前に用意された初期条件（スペクトラムアナライザの周波数レンジ、ＲＢＷ、ＶＢＷ、スイープタイム、リファレンスレベル、アッテネータレベル等）を設定し、設定が終了したらステップＳ５に移行してデータ収集を開始する。
【００５４】
ステップＳ２で、プロファイル（最大周波数、周波数変動傾向、レベル変動量、スイープ時間など）、最適な測定条件（スイープタイム、リファレンスレベル、アッテネータレベル等）を記憶装置からロードする（読み出す）。これらスイープタイム、リファレンスレベル、アッテネータレベルは、スペクトラムアナライザに関して周知の基本事項であるから詳細な説明は省略する。
【００５５】
次にステップＳ３で、時間経過に合わせてＥＭＩの周波数が変動する周波数変動ＥＭＩのプロファイルがあるか否かを判定する。すなわち記憶装置に過去に測定したＥＵＴの最大周波数および周波数変動傾向の情報が保存されているか否かを判断する。周波数変動ＥＭＩがプロファイルに存在しない場合はステップＳ４へ進み、それ以外はステップＳ２１へ進む。
【００５６】
ステップＳ４で、コンピュータ２５は上記ステップＳ２においてロードされた測定条件をスペクトラムアナライザ２１に設定する。そして、ステップＳ５で、スペクトラムアナライザ２１のＴｒａｃｅ１をＣｌｅａｒ／Ｗｒｉｔｅモード、Ｔｒａｃｅ２をＭａｘＨｏｌｄモードに設定し、データの収集を開始する。このＴｒａｃｅ１およびＴｒａｃｅ２は、スペクトラムアナライザ２１に装備された出力端であり、Ｔｒａｃｅ１およびＴｒａｃｅ２でそれぞれモード設定が可能になっている。
【００５７】
ステップＳ６で、コンピュータ２５はスペクトラムアナライザ２１から１スイープ分のＰＫデータを周波数別に取得する。
【００５８】
次にステップＳ７で、エラー回避手段はＥＭＩ測定機器２４のエラーが検出されたかどうかを判定する。エラーが検出された場合はステップＳ２３へ進み、それ以外はステップＳ８へ進む。
【００５９】
ここで、ＥＭＩ測定機器のエラー回避について説明する。過大なレベルのＥＭＩがＥＭＩ測定機器２４に入力された場合、ＥＭＩ測定機器２４の故障または測定誤差を生じることがあるため、ＥＭＩ測定機器２４の設定（例えば、リファレンスレベルやアッテネータレベル）を適切に行う必要がある。このため、ＥＭＩ測定機器２４に出力されるエラー（例えば、オーバーロードエラーやＩＦオーバーロードエラー）をデータの収集と同時に確認し、エラーが検出された場合は測定を中断した後、エラーの内容に応じて設定（例えば、リファレンスレベルの増加やアッテネータレベルの増加）を変更し、ＥＭＩ測定機器２４を正常動作状態にする（図３のステップＳ７、Ｓ２３、Ｓ２４）。
【００６０】
例えば、スペクトラムアナライザ２１においてオーバーロードエラーが検出された場合、アッテネータレベルを１０ｄＢ追加およびリファレンスレベルを１０ｄＢ上昇させる。ＥＭＩ測定機器２４が正常動作状態に戻ったらステップＳ５に移行し、データ収集を再開する。なお、オーバーロードエラーは、スペクトラルアナライザ２１の入力Ｍｉｘｅｒに過大信号が入力された場合に回路保護のために表示される警告である。またＩＦオーバーロードエラーは、入力Ｍｉｘｅｒ以降のＩＦ信号経路で過大信号が発生した場合に回路保護のために表示される警告のことである。
【００６１】
上記ステップＳ７に戻ってＥＭＩ測定機器２４からエラーが検出されなかった場合、ステップＳ８に移行してデータ収集時間が終了したか否かを判定する。データ収集が終了した場合はステップＳ９へ進み、それ以外はステップＳ６へ戻り、ＰＫデータを取得する。
【００６２】
ステップＳ９で、コンピュータ２５はスペクトラムアナライザ２１のＴｒａｃｅ２から受信レベルの最大値を周波数別に取得する。そして、ステップＳ１０で、スイープタイミング最適化手段が図４に示す最大値欠落分析処理に従って、最大値に欠落があるか否かを分析する。そしてステップＳ１１で、ステップＳ１０の最大値欠落分析より、最大値の欠落があると判定された場合はステップＳ１２へ進み、それ以外はステップＳ１４へ進む。
【００６３】
ここで、スイープタイミングの最適化について説明する。ＰＫデータの最大値を適切に取得できた場合の測定結果は、図１２に示すように、受信レベルの最大値曲線４１が緩やかなレベル変化となる。しかし、妨害電磁波測定機器２４を構成するスペクトラムアナライザ２１のスイープタイミング（例えば、スイープ時間やデータ収集時間）が不適切な場合、スイッチング電源等の電源回路に起因する間欠性ＥＭＩの発生周期とスイープタイミングが同期せず、図１３に示すような急激なレベル低下（最大値の欠落）の最大値曲線４２（特に、周波数０．１５〜１．００［ＭＨｚ］の範囲）となる。そのために最大値曲線４２が極大となる周波数（以下、「最大周波数」という。）の見落としを生じ、測定結果の信頼性に疑義を生じる。
【００６４】
このため、最大値曲線に最大値の欠落があるか否かを判定し、欠落が認められた場合は欠落が認められなくなるまで、更新された最大値の再取得を行う。これにより、データ収集時間を最適化する（図３のステップＳ９、Ｓ１０、Ｓ１１、Ｓ１２、Ｓ２５）。そして最大値の再取得を複数回行った場合においても最大値の欠落が認められる場合は、スイープタイムを増加し、データ取得のゲート時間を最適化する（図３のステップＳ１３、Ｓ２６、Ｓ２７）。
【００６５】
ここで、最大値が欠落しているか否かを下記のパラメータおよびフローチャートに従って判定する。図１４は最大値欠落分析用パラメータの例を示す図である。最大値が欠落しているポイントＡ、Ｃ間は大きくレベルが低下する。
最大値欠落分析用のパラメータは以下である（図１４参照）。
Ｌ１  ：  周波数ポイントＡにおける最大値
Ｌ２  ：  周波数ポイントＢにおける最大値
Ｌ３  ：  周波数ポイントＣにおける最大値
周波数ポイントＡ、Ｂ、Ｃは、連続した周波数測定ポイントとする。
【００６６】
次に、図４に示す最大値欠落分析処理のフローチャートの詳細を説明する。図４において、まずステップＳ３１にて、図３のステップＳ９の処理で得られた最大値から最大値欠落分析用パラメータＬ１、Ｌ２、Ｌ３を抽出し、Ｌ２からＬ３を減算した絶対値が、Ｌ１からＬ２を減算した絶対値に任意の閾値α（例えば１０［ｄＢ］）を加算した値以上の場合、または、Ｌ２からＬ３を減算した絶対値が、Ｌ１からＬ２を減算した絶対値から閾値αを減算した値以上の場合、最大値に欠落が生じていると判断しステップＳ３２へ進み、それ以外の場合は最大値に欠落がないと判断しステップＳ３３へ進む。
【００６７】
ステップＳ３２で最大値に欠落があるとして、図３のステップＳ１２へ進む。またステップＳ３３で最大値に欠落はないとして、図３のステップＳ１４へ進む。
【００６８】
そしてステップＳ１２で、ステップＳ９〜ステップＳ１２のループ回数Ｘ（初期値＝１）が閾値Ｙ（例えば、１０）より大きいか否かを判定し、大きい場合はステップＳ１３へ進み、それ以外はステップＳ２５へ進む。ステップＳ２５では、前記ループ回数Ｘに（Ｘ＋１）を代入し、ステップＳ９に戻り最大値を再取得する。
【００６９】
次に、ステップＳ１３で、最大値の欠落している周波数（欠落ポイント）が所定数Ｚ個未満であるか否かを判定し、Ｚ個未満の場合はステップＳ１４へ進み、それ以外はステップＳ２６へ進む。ステップＳ２６において、間欠性ＥＭＩの発生周期とスペクトラムアナライザ２１のスイープタイミングを同期させるため、スイープタイムを増加させ、データ取得のゲート時間を最適化するか否かを判定し、ゲート時間を最適化する場合はステップＳ２７へ進み、それ以外はステップＳ１４へ進む。そしてステップＳ２７で、スイープタイムを増加させ、ステップＳ９に戻り最大値を再度取得する。
【００７０】
一方、ステップＳ１３において最大値の欠落が所定数未満の場合はステップＳ１４に移行し、全レンジの測定が終了しているか否かを判定し、終了している場合はステップＳ１５へ進み、それ以外はステップＳ２８へ進む。
【００７１】
ステップＳ２８では、次の測定を行う周波数レンジをスペクトラムアナライザ２１に設定する。そして、ステップＳ５に移行してデータ収集を開始する。
【００７２】
次に、ステップＳ１５で、周波数評価候補抽出手段が図５に示すＱＰ／ＡＶ評価候補周波数抽出処理のフローチャートに従って、ＱＰ／ＡＶ評価候補周波数および周波数微調範囲を抽出する。
【００７３】
ここで、ＱＰ／ＡＶ評価候補周波数抽出処理（周波数評価候補抽出処理）について説明する。広帯域性ＥＭＩにマスキングされた狭帯域性ＥＭＩや周波数変動ＥＭＩの最大周波数特定は困難であるため、測定に関する十分な知識と経験を必要とする。しかし、十分な知識と経験を持つ測定者は少数である。よって、確率的にレベルが最大となる狭帯域性ＥＭＩの特徴を利用し、算出平均値から広帯域性ＥＭＩにマスキングされた狭帯域性ＥＭＩを特定する。
【００７４】
また、測定により取得された最大値ではなく、レベル変動量（図１１参照）を考慮した最大値を活用することで、規格不適合周波数の見落としを抑制できる。さらに、周波数変動傾向（図１０参照）を後述の周波数微調範囲に適用することで、周波数変動ＥＭＩの最大周波数の見落としを抑制できる。
【００７５】
続いて、図５に示すＱＰ/ＡＶ評価候補周波数抽出処理のフローチャートについて、図１５，１６を参照して説明する。図１５はｆ（ＡＶ）抽出例と周波数微調範囲例を示したものである。図１６はｆ（ＰＫ）抽出例と周波数微調範囲例を示したものである。図１５，１６ともに横軸を周波数［ＭＨｚ］、縦軸をレベル［ｄＢμＶ］とし、ＱＰ値のリミット、受信レベルの最大値曲線４３、算出平均値である平均値曲線４４がプロットされている。
【００７６】
図５において、まずステップＳ４１で、図３のステップＳ６で取得された全てのＰＫデータから周波数別に算出平均値を算出する（この算出平均値の曲線を平均値曲線という。）、続いてステップＳ４２で、ステップＳ４１で算出された平均値曲線４４から極大となる周波数（以下、極大周波数とする。）を全て抽出する（図１５参照）。
【００７７】
次に、ステップＳ４３で、ステップＳ４２で抽出された周波数における最大値が、ＦＣＣルールやＣＩＳＰＲ２２規格等に規定されたレベルのリミット（例えば、ＱＰリミット）以上となる周波数（ｆ（ＡＶ）とする。）を抽出し、ＱＰ/ＡＶ評価候補周波数とする。
この時、図３のステップＳ２の処理でレベル変動量をロードした場合、図３のステップＳ９で取得された最大値とその最大値に図１１のステップＳ１４３で算出される受信レベルのレベル変動量Ｌ（ａ）を加算した最大値を比較し、レベルの高い最大値を採用する。図１１については後に詳述する。
【００７８】
続いて、ステップＳ４４で、ステップＳ４３で抽出された周波数ｆ（ＡＶ）における極大点４５から数ｄＢ低下（例えば、６ｄＢ低下）した低域側周波数の閾値ｆ（ＡＶ）Ｌから高域側周波数の閾値ｆ（ＡＶ）Ｈまでの範囲を周波数微調範囲４６とする（図１５参照）。
【００７９】
このとき、図３のステップＳ２で周波数変動傾向をロードした場合は図１０のステップＳ１３４で算出された周波数変動傾向ｆ（ｋ）を考慮した周波数範囲とする。例えば、周波数微調範囲が１９０ｋＨｚ〜３００ｋＨｚで、周波数変動帯域幅ｆ（ｋ）が２００ｋＨｚ〜５３０ｋＨｚ（図１９参照）の場合は、周波数微調範囲を１９０ｋＨｚ〜５３０ｋＨｚに設定する。
【００８０】
ステップＳ４５で、ステップＳ４４で抽出された周波数ｆ（ＡＶ）に対応する周波数微調範囲４６における最大値曲線４３を排除し、分割された最大値曲線４３の周波数範囲をそれぞれ最大値範囲４７ａ，４７ｂとする（図１６参照）。そしてステップＳ４６で、最大値範囲４７ａ，４７ｂの極大周波数における最大値がＱＰリミットを満たさない場合、その最大値に対応する周波数４８ａ，４８ｂ（ｆ（ＰＫ）とする。）を全て抽出し、ステップＳ４３で特定された、ＱＰ/ＡＶ評価候補周波数に追加する（図１６参照）。
【００８１】
最後に、ステップＳ４７で、ステップＳ４６で抽出された周波数ｆ（ＰＫ）を含む最大値範囲４７ａ，４７ｂを周波数微調範囲として追加し（図１６参照）、図３のステップＳ１６へ進む。
【００８２】
図３のＥＭＩ評価処理の説明に戻る。ステップＳ１６において、最大周波数特定手段が図６に示す最大周波数特定処理のフローチャートに従って、最大周波数を特定する。
【００８３】
ここで、最大周波数特定処理について説明する。最大周波数特定手段は、図５のステップＳ４３、ステップＳ４６の処理で特定されたＱＰ/ＡＶ評価候補周波数について、レベルが最大となる周波数を特定する。
【００８４】
図６に示すフローチャートを参照して最大周波数特定処理の詳細を説明する。図６において、まずステップＳ５１で、コンピュータ２５によりスペクトラムアナライザ２１の測定周波数帯域を、図５のステップＳ４４またはステップＳ４７で得られた周波数微調範囲に設定する。
【００８５】
続くステップＳ５２で、スペクトラムアナライザ２１のＴｒａｃｅ１をＣｌｅａｒ／Ｗｒｉｔｅモード、Ｔｒａｃｅ２をＭａｘＨｏｌｄモードに設定し、ＥＭＩについてデータの収集を開始する。ステップＳ５３で、スペクトラムアナライザ２１のＴｒａｃｅ１から１スイープ分のＰＫデータを周波数別に取得する。そしてステップＳ５４で、データ収集時間が終了したか否かを判定し、終了した場合はステップＳ５５へ進み、それ以外はステップＳ５３へ戻る。
【００８６】
ステップＳ５５で、スペクトラムアナライザ２１のＴｒａｃｅ２から受信レベルの最大値を周波数別に取得する。ステップＳ５６で、コンピュータ２５はステップＳ５３にて周波数別に取得された全てのＰＫデータから算出平均値を周波数別に算出する。
【００８７】
ステップＳ５７で、ステップＳ５１にて周波数ｆ（ＡＶ）を含む周波数微調範囲を設定したか否かを判定し、設定した場合はステップＳ５８へ進み、周波数ｆ（ＰＫ）を含む周波数微調範囲を設定した場合はステップＳ５９へ進む。
【００８８】
ステップＳ５８では、ステップＳ５６にて周波数別に算出された算出平均値（平均値曲線）が最大となる周波数を最大周波数として抽出し、図３のステップＳ１７へ進む。すなわち、平均値曲線から極大周波数を抽出し、その極大周波数における最大値が許容値を超える周波数を最大周波数として特定する。
【００８９】
一方、ステップＳ５９では、ステップＳ５５にて周波数別に取得した最大値の中でリミットを満たさない最大値に対応する周波数のうち、最も受信レベルが高い周波数を最大周波数とする。さらにステップＳ６０で、ステップＳ５６で周波数別に算出された算出平均値から抽出された周波数ｆ（ＡＶ）における最大値がＱＰリミットを満たすかどうか判定し、満たさない場合は、ステップＳ６１へ進み、それ以外は図３のステップＳ１７へ進む。
【００９０】
ステップＳ６１で、ステップＳ６０で抽出された周波数ｆ（ＡＶ）を最大周波数として追加し、図３のステップＳ１７へ進む。
【００９１】
ここで、ステップＳ６０，Ｓ６１の処理についてより具体的に説明する。ｆ（ＰＫ）を含む周波数微調範囲（例えば、最大値範囲４７ａ，４７ｂ）を設定してデータを収集し、取得したＰＫデータから図１６に示すような最大値曲線および平均値曲線が得られたと仮定する。図１６では、平均値曲線の極大点の周波数に対応する最大値曲線の最大値はリミット（この例ではＱＰリミット）未満であるが、仮にこの最大値がリミットを超えていれば、そのときの周波数を最大周波数に加えるというものである。
【００９２】
このように、ｆ（ＰＫ）を含む周波数微調範囲が設定された場合には、最大値曲線にて許容値以上で最大レベルの周波数、あるいはその周波数に加えて平均値曲線の極大周波数における最大値が許容値を満たさない周波数を最大周波数として特定する。
【００９３】
図３のＥＭＩ評価処理の説明に戻る。ステップＳ１７において、制御手段（コンピュータ２５）はＥＭＩレシーバ２２をステップＳ１６で特定された最大周波数に設定し、ＥＭＩレシーバ２２のＱＰ検波モードおよびＡＶ検波モードを用いて、ＱＰ値およびＡＶ値を取得させる。そして、ステップＳ１８で、ＥＭＩレシーバ２２は周波数別に取得されたＱＰ値およびＡＶ値の規格適合判定を実施する。
【００９４】
そしてステップＳ１８の規格合格判定を実施後、ステップＳ１９で、測定条件（スイープタイム、リファレンスレベル、アッテネータレベル等）を抽出し、最適な測定条件として記憶手段（記憶装置）に記憶する。
【００９５】
このように、制御手段は、最大周波数特定手段（コンピュータ２５）にて特定された最大周波数における妨害電磁波の受信レベルを測定するとともに、エラー回避手段（コンピュータ２５）およびスイープタイミング最適化手段（コンピュータ２５）による測定条件の最適化処理および最適化された測定条件を次測定以降に反映させるよう制御している。
【００９６】
一方、図３のステップＳ２１の判断処理において、周波数変動ＥＭＩがある場合、図７に示す周波数変動ＥＭＩリアルタイム評価を実施するか否かを判定し、実施する場合はステップＳ２２へ進み、それ以外はステップＳ４へ進む。ステップＳ２２では、図７に示す周波数変動ＥＭＩリアルタイム評価処理のフローチャートに従って、最大周波数におけるＱＰ値およびＡＶ値を取得する。
【００９７】
次に、図３のステップＳ２２における周波数変動ＥＭＩリアルタイム評価処理について説明する前に、前述した図５のステップＳ４３，Ｓ４４、あるいは図３のステップＳ２２等で考慮している受信レベルの時間経過に伴う周波数変動およびレベル変動、その評価方法について説明する。
【００９８】
図２５に示すような周波数が緩やかに変動する周波数変動ＥＭＩやレベルが緩やかに変動するレベル変動ＥＭＩは、その変動傾向を見極めた上でＥＭＩ対策効果判定や規格適合判定を行う必要がある。しかし、評価技術の不十分な測定者は変動を認識できない、また、認識できた場合でも、変動傾向を的確に把握できず、ＥＭＩ対策効果判定や規格適合判定を適切に行えない。このため、ＥＭＩ対策検討時間の増加やＥＭＩ対策部品の増加による商品コストの高騰を招いたり、規格不適合品を量産に移行させてしまう危険性がある。
【００９９】
よって、変動特性評価（図８）、周波数変動帯域幅分析（図９）、最大周波数／周波数変動傾向分析（図１０）、レベル変動量分析（図１１）を実施し、最大周波数／周波数変動傾向、レベル変動量をプロファイル化する。このプロファイルを次測定以降に適用することで、周波数変動ＥＭＩの最大周波数を適切に特定でき、かつ、レベル変動ＥＭＩの最大レベルを推測できるため、適切なＥＭＩ対策効果判定や規格適合判定を実現できる。
【０１００】
次に、図８に示すフローチャートを参照して温度特性評価処理の詳細を説明する。まず、ステップＳ９１で、変動特性分析手段が、周波数レンジ、ＲＢＷ、ＶＢＷ、スイープタイム、リファレンスレベル、アッテネータレベル、データ収集時間／レンジ（例えば、１レンジ３０秒）、測定インターバルＢ（例えば、Ｂ＝１０とすると、測定開始時間は０分、１０分後、２０分後、３０分後・・・となる。）、最大評価時間Ｃ（例えば、３０分）および周波数変動許容帯域幅Ｄ（例えば、３０ｋＨｚ）等の事前に設定された内容を、記憶手段（記憶装置）からロードする。
【０１０１】
次に、ステップＳ９２で、ＥＵＴ２の電源をオフにするか否かを判定し、電源をオフにして測定を開始する場合はステップＳ１０９へ進み、それ以外の場合はステップＳ９３へ進む。
【０１０２】
ステップＳ１０９は、ＥＵＴ２の電源をオフしている時間を設定し（例えば、３０分）、設定時間経過後にＥＵＴ２の電源をオンにするためのメッセージを表示する。測定者により測定が開始された場合はステップＳ９３へ進む。
【０１０３】
ステップＳ９３で、スペクトラムアナライザ２１のＴｒａｃｅ１をＣｌｅａｒ／Ｗｒｉｔｅモード、Ｔｒａｃｅ２をＭａｘＨｏｌｄモードに設定し、データの収集を開始する。そして、ステップＳ９４で、スペクトラムアナライザ２１のＴｒａｃｅ１から１スイープ分のＰＫデータを周波数別に取得する。
【０１０４】
ステップＳ９５で、ＥＭＩ測定機器２４のエラーが検出されたかどうかを監視し、エラーが検出された場合は、ステップＳ１１０へ進み、それ以外はステップＳ９６へ進む。エラーが検出された場合、ステップＳ１１０に移行してＥＭＩ測定機器２４による測定を中断し、続いてステップＳ１１１で、ＥＭＩ測定機器２４の設定をエラー内容に応じて変更し、ＥＭＩ測定機器２４を正常動作状態にする。ＥＭＩ測定機器２４のエラーが回避されたらステップＳ９２に戻る。ステップＳ９５，Ｓ１１０，Ｓ１１１の処理は、図３のステップＳ７，Ｓ２３，Ｓ２４の処理に相当する。
【０１０５】
上記ステップＳ９５の処理にてＥＭＩ測定機器２４のエラーが検出されなかった場合、ステップＳ９６で、データ収集時間が終了したか否かを判定し、データ収集時間が終了している場合はステップＳ９７へ進み、それ以外はステップＳ９４へ戻る。
【０１０６】
ステップＳ９７で、スペクトラムアナライザ２１のＴｒａｃｅ２から最大値を周波数別に取得する。そして、ステップＳ９８で、図４に示す最大値欠落分析処理に従って、最大値に欠落があるか否かを分析する。ステップＳ９９では、ステップＳ９８の最大値欠落分析より、最大値の欠落の有無を判定し、欠落はないと判定された場合はステップＳ１００へ進み、それ以外はステップＳ１１２へ進む。
【０１０７】
ステップＳ１１２で、間欠性ＥＭＩの発生周期とスペクトラムアナライザ２１のスイープタイミングを同期させるため、スイープタイムを増加し、データ取得のゲート時間を最適化する。スイープタイムの再設定が終了後、ステップ６７に戻る。
【０１０８】
次に、ステップＳ１００で、全レンジの測定が終了しているか否か判定し、終了している場合はステップＳ１０１へ進み、それ以外はステップＳ１１３に進む。ステップＳ１１３では、測定を行っていない周波数レンジをスペクトラムアナライザ２１に設定する。
【０１０９】
ステップＳ１０１で、全レンジの測定を２回以上行っているか否か判定し、２回以上測定している場合はステップＳ１０２へ進み、それ以外はステップＳ１１４へ進む。続いてステップＳ１０２で、測定開始からの時間が、最大評価時間Ｃ（例えば、測定開始から３０分）以内であるか否かを判定し、時間内であればステップＳ１０３へ進み、それ以外はステップＳ１０７へ進む。
【０１１０】
ステップＳ１０３では、図９に示す周波数変動帯域幅分析処理のフローチャートに従って、周波数変動帯域幅分析手段が時間的に緩やかに変化する周波数変動帯域幅を抽出する。
【０１１１】
ここで、周波数変動帯域幅の抽出について説明する。周波数変動帯域幅抽出処理では、温度特性等に起因する変動特性分析結果の最大値からレベルが極大となる周波数（極大周波数）の変動帯域幅を算出し、その周波数変動帯域幅から周波数が変動しているか否かを分析する。
【０１１２】
図９に示すフローチャートを参照して周波数変動帯域幅分析処理について詳細を説明する。まず、ステップＳ１２１で、周波数変動帯域幅分析手段が今回測定した最大値曲線または平均値曲線の最大値と前回測定した最大値を抽出する。そして、ステップＳ１２２で、最大値の極大周波数を全て抽出し、図１７に示すように測定時間別にデータベース化する。続いて、ステップＳ１２３で、抽出した極大周波数の周波数差を周波数変動帯域幅として算出し、図１８に示すようにデータベース化する。最後にステップＳ１２４で、ステップＳ１２３で算出された周波数変動帯域幅の最大帯域幅ｆ（ｈ）の絶対値｜ｆ（ｈ）｜を、図１８に示すようにデータベース化した後、図８のステップＳ１０４へ進む。
【０１１３】
ステップＳ１０４では、図１１に示すレベル変動量分析処理のフローチャートに従って、レベル変動量分析手段が時間的に緩やかに変化するレベル変動量を抽出する。
【０１１４】
このように、周波数変動帯域幅分析処理では、データ解析手段にて測定時間別に算出された最大値曲線または平均値曲線の極大周波数の周波数差を周波数変動帯域幅として経過時間別に算出し、記憶装置（記憶手段）に保存する。
【０１１５】
ここで、レベル変動量の算出について説明する。レベル変動量算出処理では、レベル変動ＥＭＩにおける最大レベルを推測するため、最大レベルを取得した測定時間におけるレベルを基準とし、各測定時間におけるレベルとの差を算出する。
【０１１６】
以下に、図１１に示すフローチャートを参照してレベル変動量分析処理の詳細を説明する。まず、ステップＳ１４１で、レベル変動量分析手段が今回の測定結果と前回の測定結果における極大周波数のリミットマージン（許容値マージン）の差をレベル変動量として算出する。
【０１１７】
そして、ステップＳ１４２で、ステップＳ１４１にて算出したレベル変動量Ｌ（ｈ）とその最大の絶対値｜Ｌ（ｈ）｜を図２０に示すようにデータベース化する。最後にステップＳ１４３にて、データベース化された全てのデータにおいて、最大レベルを取得した測定時間におけるレベルを基準とし、各測定時間におけるレベルとの差Ｌ（ａ）を図２１に示すように抽出する。図２１においては、上記極大周波数について、所定単位時間の整数倍で刻まれた測定時間とレベル変動量が対応づけられ、プロファイルされる。プロファイル情報は記憶装置（記憶手段）に保存される。レベル変動量の分析が終了後、ステップＳ１０５へ移行する。
【０１１８】
ステップＳ１０５，Ｓ１０６は、変動収束判別手段により実施される処理である。ステップＳ１０５で、ステップＳ１０３にて抽出された周波数変動帯域幅｜ｆ（ｈ）｜が周波数変動許容帯域幅Ｄ［ｋＨｚ］未満であるか否かを判定し、周波数変動許容幅Ｄ［ｋＨｚ］未満である場合は、周波数の変動が収束したとしてステップＳ１０６へ進み、それ以外はステップＳ１１４へ進む。
【０１１９】
続いて、ステップＳ１０６で、ステップＳ１０４で抽出されたレベル変動量｜Ｌ（ｈ）｜がレベル変動許容量Ｅ［ｄＢ］未満であるか否かを判定し、レベル変動許容量Ｅ［ｄＢ］未満である場合は、レベルの変動が収束したとしてステップＳ１０７へ進み、それ以外はステップＳ１１４へ進む。
【０１２０】
ステップＳ１０５，Ｓ１０６のような処理を行うことにより、確実に周波数変動およびレベル変動が収束したことを確認できる。したがって、後段のステップＳ１０７における最大周波数および周波数変動分析処理を適切に実施することができ、分析結果の信頼度が向上する。
【０１２１】
ステップＳ１１４においては、スペクトラムアナライザ２１は次の測定開始時間まで待機し、測定開始時間になり次第にステップＳ９３へ戻り、データ収集を再開する。
【０１２２】
そして、ステップＳ１０７で、最大周波数特定手段、周波数変動傾向分析手段が図１０に示す周波数変動傾向および最大周波数分析処理のフローチャートに従って、最大周波数および周波数変動傾向をプロファイル化し、記憶手段に保存して測定を終了する。
【０１２３】
このように、レベル変動量分析処理では、測定時間別に取得された全スペクトラムデータの最大値曲線を算出し、各測定時間における最大値曲線とのレベル差を周波数別に算出し、経過時間別の受信レベルの変動量を記憶装置に保存する。
【０１２４】
ここで、周波数変動傾向および最大周波数のプロファイル化について説明する。周波数変動傾向分析処理では、周波数変動帯域幅分析結果からリミットマージンが最小となる最大周波数ｆ（Ｍａｘ）およびその周波数の変動傾向ｆ（ｋ）をプロファイル化する。
【０１２５】
以下に、図１０に示すフローチャートを参照して最大周波数および周波数変動傾向分析処理の詳細を説明する。まず、ステップＳ１３１で、周波数変動傾向分析手段が図１７に示すデータベースにリミットマージン（例えば、図２２に示すＣＩＳＰＲ１３に規定されているＱＰリミットに対するマージン）を追加する。そして、ステップＳ１３２で、データ解析手段にて測定開始から測定終了までに算出された測定時間別の最大値曲線または平均値曲線の各極大周波数において、最大値のリミットマージンが不足する周波数（例えば、リミットマージンが０ｄＢ以下となる周波数）を抽出する。
【０１２６】
そして、ステップＳ１３３で、ステップＳ１３２にて抽出された周波数の内、対応する最大値が最小となるリミットマージンに閾値Ｆ［ｄＢ］（例えば、１ｄＢ）を加算した値以下となる周波数を抽出する。抽出した周波数をｆ（Ｍａｘ）として、図１９に示すようにプロファイル化する。
【０１２７】
最後に、ステップＳ１３４で、ステップＳ１３３にて抽出されたｆ（Ｍａｘ）の周波数変動傾向をｆ（ｋ）として、図１９に示すようにプロファイル化し、最大周波数および周波数変動傾向分析処理が終了後、ステップＳ１０８に移行する。プロファイル内容は記憶装置に保存される。
【０１２８】
このように、周波数変動傾向分析処理では、データ解析手段にて測定開始から測定終了までに算出された測定時間別の最大値曲線または平均値曲線の極大周波数において、許容値マージンが不足する最大周波数ｆ（Ｍａｘ）を抽出し、最大周波数ｆ（Ｍａｘ）が周波数変動している場合、測定時間別の周波数変動傾向を記憶装置に保存する。
【０１２９】
そして、ステップＳ１０８で、測定条件（スイープタイム、リファレンスレベル、アッテネータレベル等）を抽出し、最適な測定条件として記憶装置に保存する。
【０１３０】
次に、図３のステップＳ２２における周波数変動ＥＭＩのリアルタイム評価処理について説明する。プロファイル化された最大周波数および周波数変動傾向を適用し、周波数変動ＥＭＩの周波数変動傾向をリアルタイムに分析し、最大周波数におけるＱＰ値およびＡＶ値を適切に取得する。これにより、ＥＭＩ対策効果判定および規格適合判定を容易かつ適切に行え、ＥＭＩ対策検討時間やＥＭＩ対策部品の増加を防げる。
【０１３１】
図７に示すフローチャートを参照して周波数変動ＥＭＩリアルタイム評価処理の詳細を説明する。まず、周波数変動ＥＭＩリアルタイム評価手段（コンピュータ２５）は、周波数変動ＥＭＩリアルタイム評価処理を実行するプログラムをコールする。そして、ステップＳ７１で、スペクトラムアナライザ２１の周波数レンジ、ＲＢＷ、ＶＢＷ、スイープタイム、リファレンスレベル、アッテネータレベル、最大評価時間等の測定条件を設定する。さらに、読み込み手段（コンピュータ２５）により記憶装置（記憶手段）内のプロファイルから周波数変動傾向ｆ（ｋ）および評価対象ｆ（Ｍａｘ）をロードする。
【０１３２】
次に、ステップＳ７２で、スペクトラムアナライザ２１のＴｒａｃｅ１をＣｌｅａｒ／Ｗｒｉｔｅモード、Ｔｒａｃｅ２をＭａｘＨｏｌｄモードに設定し、データの収集を開始する。ステップＳ７３で、スペクトラムアナライザ２１のＴｒａｃｅ１から１スイープ分のＰＫデータを取得する。そして、ステップＳ７４で、ステップＳ７３で取得されたＰＫデータにおける極大周波数に閾値Ａ[ｋＨｚ]を加減算した周波数範囲内に、つまり低周波側周波数閾値と高周波側周波数閾値の間にｆ（Ｍａｘ）と一致する周波数があるか判定し、ある場合には場合はステップＳ７５へ進み、それ以外はステップＳ８３へ進む。
【０１３３】
ステップＳ７５では、周波数変動評価手段がｆ（Ｍａｘ）をＥＭＩレシーバに設定し、ＱＰ検波モードを用いて受信レベルのＱＰ値の取得を行う。ＱＰ値が最大となった瞬間にＡＶ値を取得する。
【０１３４】
続いて、ステップＳ７６で、ステップＳ７５で評価したｆ（Ｍａｘ）を評価対象周波数から排除する。そして、ステップＳ７７にて、全ての評価対象ｆ（Ｍａｘ）のＱＰ値およびＡＶ値を取得し評価したかどうかを判定し、評価が済んでいる場合はステップＳ７８へ進み、それ以外はステップＳ８３へ進む。
【０１３５】
次に、ステップＳ７８で、スペクトラムアナライザ２１のＴｒａｃｅ２から最大値を取得する。そして、ステップＳ７９で、評価対象ｆ（Ｍａｘ）以外に対応する最大値のリミットマージンがない周波数があるか否かを判定し、リミットマージンのない周波数がある場合はステップＳ８０へ進み、それ以外は図３のステップＳ１８へ進む。
【０１３６】
ステップＳ８０で、図５のＱＰ／ＡＶ評価候補抽出処理のフローチャートに従って、ＱＰ／ＡＶ評価候補周波数を全て抽出する。そして、ステップＳ８１で、図６の最大周波数特定処理のフローチャートに従って、最大周波数を特定する。
【０１３７】
ステップＳ８２では、ＥＭＩレシーバ２２のＱＰ検波モードおよびＡＶ検波モードを用いて、ステップＳ８１で特定された最大周波数におけるＱＰ値およびＡＶ値を取得し、図３のステップＳ１８へ移行する。
【０１３８】
一方、ステップＳ８３で、データ収集開始からの経過時間が単位時間Ｂ（例えば１０分）×β（自然数、初期値１）経過したか否か判定し、経過した場合はステップＳ８４へ進み、それ以外はステップＳ７３へ戻る。次に、ステップＳ８４で、βにβ＋１を代入する。
【０１３９】
そして、ステップＳ８５で、図９の周波数変動帯域幅分析処理および図１０の最大周波数および周波数変動傾向分析処理に従って抽出された周波数変動傾向と、記憶装置にプロファイル済みの周波数変動傾向ｆ（ｋ）が一致するか否かを判定し、一致する場合はステップＳ８６へ進み、それ以外はステップＳ７８へ進む。ステップＳ８６で、データ収集開始からの経過時間が最大評価時間Ｃ（例えば、３０分）以内である場合はステップＳ７３へ戻り、それ以外はステップＳ７８へ進む。
【０１４０】
このように、受信したＥＭＩから抽出された現在の周波数変動傾向と、プロファイルされた周波数変動傾向ｆ（ｋ）が一致する場合には、即座に最大周波数における最大値を取得するように構成しているので、ＥＭＩ対策検討に割く時間を節約できる。また、最大評価時間を決めておくことで必要以上に時間を費やさないで済む。
【０１４１】
［２］第２の実施形態
次に、本発明に係るＥＭＩ測定システムの第２の実施形態を説明する。図２３に本発明の第２の実施形態に係るＥＭＩ測定システムのブロック構成例を示す。
【０１４２】
図２３の第２の実施形態に係るブロック構成において、図２に示した第１の実施形態に係るブロック構成との相違点は、同軸リレースイッチマトリックス２３に替えてパワーディバイダ２８等の入力信号分配器に変更し、スペクトラムアナライザ２１とＥＭＩレシーバ２２による同時ＥＭＩ評価を行えるようにした点である。
【０１４３】
これにより、スペクトラムアナライザ２１による周波数変動傾向検証とＥＭＩレシーバ２２によるＱＰ値およびＡＶ値取得を同時に行えるため、リアルタイムに複数の周波数変動ＥＭＩに対応でき、ＥＭＩ対策効果判定および規格適合判定精度を向上できる。
【０１４４】
以上説明した実施形態のように構成される本発明によれば、ＥＭＩの変動特性を評価して得られた最大周波数および周波数変動傾向をプロファイル化し、次測定以降の評価に適用することにより、周波数変動ＥＭＩの周波数変動傾向をリアルタイムに分析でき、適切に最大周波数を特定できる。そのため、一般に評価スキルを持たない測定者においても、ＥＭＩ対策効果判定および規格適合判定を容易かつ適切に行え、ＥＭＩ対策検討時間やＥＭＩ対策部品の増加を抑制することができる。結果として、商品コストの高騰防止および計画通りの商品製造／出荷を行える。
【０１４５】
また、最大値曲線および平均値曲線を同時取得し、広帯域性ＥＭＩにマスキングされたリミットを満たすか疑わしい狭帯域性ＥＭＩを特定することにより、一般に評価スキルを持たない設計者や経験の浅い測定者においても、規格不適合周波数の見落としを防げ、規格不適合品が量産へ移行してしまう危険性を抑制できる。結果として、計画通りの商品製造／出荷を行える。
【０１４６】
また、時間的にレベルが変化する間欠性ＥＭＩの発生周期に同期させたスイープタイミングをスペクトラムアナライザに設定することにより、適切なＥＭＩ対策効果判定および規格適合判定が行えるため、繰り返し性確認測定および再現性確認測定が不要となり、ＥＭＩ対策検討時間を短縮できる。さらに、同期させたスイープタイミングを次測定以降に適用することで、常に適切な測定条件で間欠性ＥＭＩを評価できる。
【０１４７】
また、ＥＭＩ測定機器を適切な条件に設定することにより、過剰なレベルのＥＭＩの入力によるＥＭＩ測定機器の故障や測定誤差を回避できるため、測定結果の信頼性が向上する。
【０１４８】
また、周波数変動傾向を周波数微調範囲に適用することにより、周波数変動ＥＭＩの最大周波数の見落としを抑制でき、一般に評価スキルを持たない測定者においても、ＥＭＩ対策効果判定および規格適合判定を容易かつ適切に行え、ＥＭＩ対策検討時間やＥＭＩ対策部品の増加を防げる。結果として、商品コストの高騰防止および計画通りの商品製造／出荷を行える。
【０１４９】
レベル変動量を次測定以降の測定結果に反映させることにより、レベル変動ＥＭＩの最大レベルを推測できるため、ＥＭＩ対策効果判定および規格適合判定の誤判定を抑制できる。さらに、レベル変動量が容易に推測できるので、レベル変動ＥＭＩのレベルが最大となるまで待つ必要がなくなるため、評価時間を短縮できる。
例えば、
・最大レベルに到達するまでの時間を電源オンから３０分後
・１回の測定時間を５分
とした場合の評価時間は、
従来：（３０分＋５分）＝３５分
発明案：最短で５分
となり、評価時間を約８６％削減できる。
【０１５０】
なお、本発明は、上述した各実施の形態例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、種々の変形、変更が可能であることは勿論である。
【図面の簡単な説明】
【０１５１】
【図１】本発明の一実施形態に係るＥＭＩ測定システムを構成する機器の配置例を示す図である。
【図２】本発明の一実施形態に係るＥＭＩ測定システムのブロック構成例を示す図である。
【図３】本発明の一実施形態に係るＥＭＩ評価処理を示すフローチャートである。
【図４】本発明の一実施形態に係る最大値欠落分析処理を示すフローチャートである。
【図５】本発明の一実施形態に係るＱＰ／ＡＶ評価候補抽出処理を示すフローチャートである。
【図６】本発明の一実施形態に係る最大周波数特定処理を示すフローチャートである。
【図７】本発明の一実施形態に係る周波数変動ＥＭＩリアルタイム評価処理フローチャートである。
【図８】本発明の一実施形態に係る温度特性評価処理を示すフローチャートである。
【図９】本発明の一実施形態に係る周波数変動帯域幅分析処理を示すフローチャートである。
【図１０】本発明の一実施形態に係る最大周波数および周波数変動傾向処理を示すフローチャートである。
【図１１】本発明の一実施形態に係るレベル変動量分析処理を示すフローチャートである。
【図１２】ＥＭＩ測定結果例を示す線図である。
【図１３】最大値欠落例を示す線図である。
【図１４】最大値欠落分析用パラメータの例を示す線図である。
【図１５】ｆ（ＡＶ）抽出例と周波数微調範囲例を示す線図である。
【図１６】ｆ（ＰＫ）抽出例と周波数微調範囲例を示す線図である。
【図１７】極大周波数のデータベース例を示す線図である。
【図１８】周波数変動帯域幅のデータベース例を示す図である。
【図１９】最大周波数範囲および周波数変動傾向のプロファイル例を示す図である。
【図２０】レベル変動量のデータベース例を示す図である。
【図２１】レベル変動量のプロファイル例を示す図である。
【図２２】リミットの例を示す図である。
【図２３】本発明の一実施形態に係るＥＭＩ測定システム構成のブロック構成例を示す図である。
【図２４】従来手法における一般的なＥＭＩ測定処理を示すフローチャートである。
【図２５】周波数変動ＥＭＩの例を示す線図である。
【符号の説明】
【０１５２】
１…非金属の台、２…ＥＵＴ、３…擬似電源回路網、４…電源線、５…商用電源、２１…スペクトラムアナライザ、２２…ＥＭＩレシーバ、２３…同軸リレースイッチマトリックス、２４…妨害電磁波測定機器（ＥＭＩ測定機器）、２５…コンピュータ、２６…ＧＰＩＢボード、２７…フィルタ、２８…パワーディバイダ、４３…最大値曲線、４４…平均値曲線、４５…極大点、４６…周波数微調範囲、４７ａ，４７ｂ…最大値範囲、４８ａ，４８ｂ…ｆ（ＰＫ）、５１，５２，５３，５４，５５，５６…各時間におけるＥＭＩ（周波数変動ＥＭＩ）
【図１】
2007198965.tif 000003
【図２】
2007198965.tif 000004
【図３】
2007198965.tif 000005
【図４】
2007198965.tif 000006
【図５】
2007198965.tif 000007
【図６】
2007198965.tif 000008
【図７】
2007198965.tif 000009
【図８】
2007198965.tif 000010
【図９】
2007198965.tif 000011
【図１０】
2007198965.tif 000012
【図１１】
2007198965.tif 000013
【図１２】
2007198965.tif 000014
【図１３】
2007198965.tif 000015
【図１４】
2007198965.tif 000016
【図１５】
2007198965.tif 000017
【図１６】
2007198965.tif 000018
【図１７】
2007198965.tif 000019
【図１８】
2007198965.tif 000020
【図１９】
2007198965.tif 000021
【図２０】
2007198965.tif 000022
【図２１】
2007198965.tif 000023
【図２２】
2007198965.tif 000024
【図２３】
2007198965.tif 000025
【図２４】
2007198965.tif 000026
【図２５】
2007198965.tif 000027