(57)【要約】【課題】プラズマディスプレイパネルの駆動方法を改善してフリッカーの発生を防止し得るだけではなく、アドレッシング時間を減らして高速駆動し得るプラズマディスプレイ装置の駆動方法を提供するためのものである。【解決手段】プラズマディスプレイ装置の駆動方法において、一つのフレームが少なくとも一つ以上のサブフィールドを含む複数のサブフィールドグループに分けて、前記サブフィールドグループ内の少なくとも何れか一つのサブフィールドのアドレス期間に前記全体スキャン電極のうち一部スキャン電極に対してスキャンすることを特徴とする。【選択図】図３
2007114785.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プラズマディスプレイ装置の駆動方法において、
一つのフレームが少なくとも一つ以上のサブフィールドを含む複数のサブフィールドグループに分けて、
前記サブフィールドグループ内の少なくとも何れか一つのサブフィールドのアドレス期間に前記全体スキャン電極のうち一部スキャン電極に対してスキャンすることを特徴とするプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【請求項２】
前記全体スキャン電極のうち一部スキャン電極をスキャンすることは、
前記全体スキャン電極を所定個数のスキャン電極グループに分けて、前記全体スキャン電極グループのうち一部スキャン電極グループに対してスキャンすることを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【請求項３】
前記全体スキャン電極のうち一部スキャン電極をスキャンすることは、
前記全体スキャン電極のうち奇数番目のスキャン電極のみあるいは偶数番目のスキャン電極のみをスキャンすることを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【請求項４】
前記スキャン電極グループの所定個数は、二つ以上であることを特徴とする請求項２に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【請求項５】
前記スキャン電極グループに属したスキャン電極の数は全て同一であることを特徴とする請求項２に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【請求項６】
前記スキャン電極グループに属したスキャン電極の数は二つあるいは三つであることを特徴とする請求項５に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【請求項７】
前記スキャン電極グループに属したスキャン電極の数は、少なくとも何れか一つが相異であることを特徴とする請求項２に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【請求項８】
前記各フレームの間には、所定の長さを有する休止期間がさらに含まれ、前記フレームの各サブフィールドグループは同一フレーム内で連続することを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【請求項９】
前記各フレームの間には、所定の長さを有する第１休止期間が含まれ、同一フレーム内で前記各サブフィールドグループの間には、所定の長さを有する第２休止期間が含まれることを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【請求項１０】
前記第１休止期間と前記第２休止期間の長さは、互いに同一であることを特徴とする請求項９に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【請求項１１】
前記複数のサブフィールドグループは、それぞれ複数のサブフィールドを含み、前記複数のサブフィールドグループは、各グループ内で各サブフィールドが階調値の大きさが増加するか、または減少する手順に配列されたことを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【請求項１２】
前記一つのフレームは、二つのサブフィールドグループに分けられ、
前記二つのサブフィールドグループは、それぞれ複数のサブフィールドを含み、前記二つのサブフィールドグループのうち少なくとも何れか一つのサブフィールドグループ内で各サブフィールドが階調値の大きさが増加するか、または減少する手順に配列されることを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【請求項１３】
前記全体スキャン電極のうち一部スキャン電極に対してスキャンすることは、階調加重値が低いサブフィールドで行われることを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項１４】
プラズマディスプレイ装置の駆動方法において、
一つのフレームが少なくとも一つ以上のサブフィールドを含む複数のサブフィールドグループに分けて、
前記複数のサブフィールドグループに含まれた各サブフィールドのうち一部サブフィールドのアドレス期間に全体スキャン電極に対して全てスカニングし、
前記複数のサブフィールドグループに含まれたサブフィールドのうち残りのサブフィールドのアドレス期間に全体スキャン電極のうち一部スキャン電極に対してスカニングすることを特徴とするプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【請求項１５】
前記全体スキャン電極のうち一部スキャン電極をスキャンすることは、
前記全体スキャン電極を所定個数のスキャン電極グループに分けて、前記全体スキャン電極グループのうち一部スキャン電極グループに対してスキャンすることを特徴とする請求項１４に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【請求項１６】
前記全体スキャン電極のうち一部スキャン電極に対してスキャンすることは、
前記全体スキャン電極のうち奇数番目のスキャン電極のみあるいは偶数番目のスキャン電極のみをスキャンすることを特徴とする請求項１４に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【請求項１７】
前記全体スキャン電極のうち一部スキャン電極に対してスキャンすることは、
前記全体スキャン電極を所定個数のスキャン電極グループに分けて、前記全体スキャン電極グループのうち奇数番目のスキャン電極グループのみあるいは偶数番目のスキャン電極グループのみをスキャンすることを特徴とする請求項１４に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【請求項１８】
前記一部サブフィールドは階調加重値の高いサブフィールドで、残りのサブフィールドは階調加重値の低いサブフィールドであることを特徴とする請求項１４に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【請求項１９】
前記階調加重値が低いサブフィールドの数は、一つのサブフィールドグループ内に含まれた各サブフィールドの１／２個であることを特徴とする請求項１８に記載のプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【請求項２０】
プラズマディスプレイ装置の駆動方法において、
一つのフレームが少なくとも一つ以上のサブフィールドを含む複数のサブフィールドグループに分けて、
前記複数のサブフィールドグループに含まれた各サブフィールドのうち奇数番目のサブフィールドのアドレス期間には、全体スキャン電極のうち奇数番目のスキャン電極あるいは偶数番目のスキャン電極をスカニングし、
前記複数のサブフィールドグループに含まれた各サブフィールドのうち偶数番目のサブフィールドのアドレス期間には、前記奇数番目のサブフィールドのアドレス期間にスキャンしたスキャン電極と異なるスキャン電極をスカニングすることを特徴とするプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プラズマディスプレイ装置の駆動方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、プラズマディスプレイパネル（Plasma Display Panel:以下、"ＰＤＰ"と言う）は、Ｈｅ+ＸｅまたはＮｅ+Ｘｅ不活性混合ガスの放電時に発生する１４７ｎｍの紫外線によって蛍光体を発光させることで、文字またはグラフィックを含んだ画像を表示する。
【０００３】
図１は、従来のマトリックス状に配列された放電セル構造を有する３電極交流面放電型ＰＤＰの構造を示した斜視図である。図１を参照すれば、３電極交流面放電型ＰＤＰ１００は、上部基板１０上に形成されたスキャン電極１１ａ及びサステイン電極１２ａと、下部基板２０上に形成されたアドレス電極２２と、を備える。前記スキャン電極１１ａとサステイン電極１２ａのそれぞれは、透明電極、例えば、インジウムスズ酸化物（Indium-Tin-Oxide:ＩＴＯ）から形成される。前記スキャン電極１１ａとサステイン電極１２ａのそれぞれには、抵抗を減らすための金属バス電極１１ｂ、１２bが形成される。前記スキャン電極１１ａとサステイン電極１２ａが形成された上部基板１０には、上部誘電体層１３ａと保護膜１４が積層される。前記上部誘電体層１３ａには、プラズマ放電時に発生した壁電荷が蓄積される。前記保護膜１４は、プラズマ放電時に発生したスパッタリングによる上部誘電体層１３ａの損傷を防止すると共に、２次電子の放出効率を高めるようになる。前記保護膜１４としては、通常、酸化マグネシウム（ＭｇＯ）が利用される。
【０００４】
一方、アドレス電極２２が形成された前記下部基板２０上には、前記下部誘電体層１３b、隔壁２１が形成され、前記下部誘電体層１３bと隔壁２１の表面には、蛍光体層２３が塗布される。前記アドレス電極２２は、前記スキャン電極１１ａ及びサステイン電極１２ａと交差する方向に形成される。前記隔壁２１は、前記アドレス電極２２と平行に形成されて放電によって生成された紫外線及び可視光が隣接した放電セルに漏洩されることを防止する。前記蛍光体層２３は、プラズマ放電時に発生した紫外線によって励起されて赤色（Ｒ）、緑（Ｇ）または青色（Ｂ）のうち何れか一つの可視光線を発生するようになる。前記上部基板１０と下部基板２０の間の隔壁２１によって区画された放電セルの放電空間には、放電のためのＨｅ+ＸｅまたはＮｅ+Ｘｅなどの不活性混合ガスが注入される。このような構造を有する従来ＰＤＰの駆動方法について詳しく説明すると、次の図２のようである。
【０００５】
図２は、従来ＰＤＰの駆動方法を説明するための駆動波形を示した図である。
【０００６】
図２に示したように、従来のＰＤＰは、全画面を初期化させるためのリセット期間、セルを選択するためのアドレス期間、選択されたセルの放電を維持させるためのサステイン期間及び選択されたセル内に残留する壁電荷を除去するためのイレイズ期間に分けられて駆動される。まず、リセット期間は、正極性の高いリセットパルス（ＲＳＴ）がサステイン電極（Ｚ）に供給されて全画面の各セル内にリセット放電を起こす。該リセット放電によって全画面の各セルは、均一に壁電荷が蓄積されるので放電特性が均一になる。
【０００７】
アドレス期間には、アドレス電極（Ｘ）にデータパルスが供給され、該データパルスに同期されるようにスキャン電極（Ｙ）に順次的にスキャンパルス（-ＳＣＮ）が供給される。これによってアドレス電極（Ｘ）及びスキャン電極（Ｙ）は、データパルスとスキャンパルス（-ＳＣＮ）による電圧差とセル内の壁電圧が加わりながらデータパルスが印加された各セルは、アドレス放電が起きるようになる。
【０００８】
サステイン期間には、スキャン電極（Ｙ）とサステイン電極（Ｚ）のそれぞれに一回ずつサステインパルスが供給される。これによってアドレス期間で選択された各セルは、サステインパルスと内部の壁電圧が加わりながら毎サステインパルスごとに放電が起きるようになる。以後、消去（ERASE）期間には、全てのスキャン電極（Ｙ）にランプ派状のイレイズパルスが供給される。このようなイレイズパルスは、サステイン放電を消去させて全画面の各セル内に一定量の壁電荷を均一に形成させる。
【０００９】
一方、前述した図２のような駆動波形により駆動されるプラズマディスプレイパネルにおいては、一般に、フリッカー（Flicker）が発生するという問題点がある。
【００１０】
フリッカーは、一般に、映像信号の垂直周波数（Frame周波数）より蛍光体の残光時間が短い場合に発生する現象であり、例えば、ＮＴＳＣ（National Television System Committee）方式である垂直周波数が６０Ｈｚと仮定する時、１６．６７ｍ/ｓｅｃ当たり一つのフレームの映像を表示するようになるが、蛍光体の反応速度は、これよりもっと速くなって画面が点滅して画質を低下させるようになる。
【００１１】
特に、ＰＡＬ（Phase Alternating Line）方式により駆動されるプラズマディスプレイパネルは、垂直周波数が６０Ｈｚより小さい５０Ｈｚに短くなってフリッカーの発生がもっと深化されるという問題点がある。
【００１２】
また、ＰＡＬ方式により駆動されるプラズマディスプレイパネルの場合、ＮＴＳＣ方式と同一に各サブフィールドのアドレス期間ごとにプラズマディスプレイパネルに形成されたスキャン電極の全てに対して順次的にスキャンパルスを供給してスキャンする。
【００１３】
このような駆動方法は、一つのフレームの制限された時間内でアドレス期間の間に全てのスキャン電極をスキャンしなければならないために、サステイン期間を増やして輝度を向上させるのに限界がある。特に、プラズマディスプレイパネルが高解像度及び大型化されるほど電極ラインの数が増えると、キャン時間が長くなって一つのフレームの制限された時間内では十分な輝度を有することができなくなるという問題点があった。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
本発明は、プラズマディスプレイパネルの駆動方法を改善してフリッカーの発生を防止し得るだけではなく、アドレッシング時間を減らして高速駆動し得るプラズマディスプレイ装置の駆動方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明の一実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法は、一つのフレームが少なくとも一つ以上のサブフィールドを含む複数のサブフィールドグループに分けて、サブフィールドグループ内の少なくとも何れか一つのサブフィールドのアドレス期間に前記全体スキャン電極のうち一部スキャン電極に対してスキャンすることを特徴とする。
【００１６】
全体スキャン電極のうち一部スキャン電極をスキャンすることは、全体スキャン電極を所定個数のスキャン電極グループに分けて、全体スキャン電極グループのうち一部スキャン電極グループに対してスキャンすることを特徴とする。
【００１７】
全体スキャン電極のうち一部スキャン電極をスキャンすることは、全体スキャン電極のうち奇数番目のスキャン電極のみ、あるいは偶数番目のスキャン電極のみをスキャンすることを特徴とする。
【００１８】
この場合、スキャン電極グループの所定個数は二つ以上であることを特徴とする。
【００１９】
スキャン電極グループに属したスキャン電極の数は全て同一であることを特徴とする。
【００２０】
スキャン電極グループに属したスキャン電極の数は二つ、あるいは三つであることができることを特徴とする。
【００２１】
スキャン電極グループに属したスキャン電極の数は、少なくとも何れか一つが相異であることができることを特徴とする。
【００２２】
本発明の一実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法は、一つのフレームが少なくとも一つ以上のサブフィールドを含む複数のサブフィールドグループに分けて、複数のサブフィールドグループに含まれた各サブフィールドのうち一部サブフィールドのアドレス期間に全体スキャン電極に対して全てスカニングし、複数のサブフィールドグループに含まれた各サブフィールドのうち残りのサブフィールドのアドレス期間に全体スキャン電極のうち一部スキャン電極に対してスカニングすることを特徴とする。
【００２３】
本発明の一実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法は、一つのフレームが少なくとも一つ以上のサブフィールドを含む複数のサブフィールドグループに分けて、複数のサブフィールドグループに含まれた各サブフィールドのうち奇数番目のサブフィールドのアドレス期間には、全体スキャン電極のうち奇数番目のスキャン電極あるいは偶数番目のスキャン電極をスカニングし、複数のサブフィールドグループに含まれた各サブフィールドのうち偶数番目のサブフィールドのアドレス期間には、奇数番目のサブフィールドのアドレス期間にスキャンしたスキャン電極と異なるスキャン電極をスカニングすることを特徴とする。
【発明の効果】
【００２４】
アドレッシング時間を減らすための本発明の第１及び第２実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法は、データ駆動部を二つ備えてプラズマディスプレイパネルを二つの領域に分けてアドレッシングするデュアルスキャン方法に比べてデータ駆動部を単一個備えてアドレッシングするシングルスキャン方法において相対的に効率的である。
【００２５】
また、本発明の第１及び第２実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法は、サブフィールドのアドレッシング時間を減らし得るから、相対的にサステイン期間が長くなることで、輝度の特性を向上し得るという効果がある。
【００２６】
また、本発明の第１及び第２実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法は、一つのフレームを二つまたはそれ以上（図示せず）のサブフィールドグループに分けて、各サブフィールドグループ内で各サブフィールドの加重値配列手順をさまざまな形態に配置することで、フリッカーの発生を抑制し得るという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
以下、添付の図面を参照しつつ本発明のプラズマディスプレイ装置について詳細に説明する。
【００２８】
図３は、本発明の一実施形態によるプラズマディスプレイ装置を示した図である。
【００２９】
図３を参照すれば、本発明の一実施形態によるプラズマディスプレイ装置は、スキャン電極（Ｙ１乃至Ｙn）及びサステイン電極（Ｚ）と、前記スキャン電極及びサステイン電極（Ｚ）と交差する複数のアドレス電極（Ｘ１乃至Ｘｍ）を含むプラズマディスプレイパネル１００と、該プラズマディスプレイパネル１００の下部基板（図示せず）に形成された各アドレス電極（Ｘ１乃至Ｘｍ）にデータを供給するためのデータ駆動部１２２と、各スキャン電極（Ｙ１乃至Ｙn）を駆動するためのスキャン駆動部１２３と、共通電極である各サステイン電極（Ｚ）を駆動するためのサステイン駆動部１２４と、プラズマディスプレイパネルの駆動時に前記データ駆動部１２２、スキャン駆動部１２３及びサステイン駆動部１２４を制御するためのタイミングコントロール部１２１と、それぞれの駆動部１２２、１２３、１２４に必要な駆動電圧を供給するための駆動電圧発生部１２５と、を含む。
【００３０】
このような構造を有する本発明の一実施形態によるプラズマディスプレイ装置は、リセット期間、アドレス期間及びサステイン期間にアドレス電極（Ｘ１乃至Ｘｍ）、スキャン電極（Ｙ１乃至Ｙn）及びサステイン電極（Ｚ）に駆動パルスが印加されて複数のフレームが一つの画像を表現するようになるが、この時、各フレームは、少なくとも一つ以上のサブフィールドグループに分けられ、各サブフィールドグループは、少なくとも一つ以上のサブフィールドを含む。
【００３１】
前記プラズマディスプレイパネル１００は、上部基板（図示せず）と下部基板（図示せず）とが一定間隔を置いて合着され、上部基板には、多数の電極、例えば、スキャン電極（Ｙ１乃至Ｙn）及びサステイン電極（Ｚ）が対を成して形成され、下部基板には、スキャン電極（Ｙ１乃至Ｙn）及びサステイン電極（Ｚ）と交差するようにアドレス電極（Ｘ１乃至Ｘｍ）が形成される。
【００３２】
前記データ駆動部１２２には、図示しなかった逆ガンマ補正回路、誤差拡散回路などによって逆ガンマ補正及び誤差拡散された後、サブフィールドマッピング回路によって各サブフィールドにマッピングされたデータが供給される。このようなデータ駆動部１２２は、前記タイミングコントロール部１２１からのタイミング制御信号（ＣＴＲＸ）に応答してデータをサンプリングしてラッチした後、そのデータを各アドレス電極（Ｘ１乃至Ｘｍ）に供給するようになる。
【００３３】
前記スキャン駆動部１２３は、タイミングコントロール部１２１の制御下にアドレス期間の間スキャン電圧（-Ｖｙ）のスキャンパルス（ＳＰ）を各スキャン電極に供給する。この時、前記スキャン駆動部１２３は、フレームを構成する各サブフィールドのうち少なくとも何れか一つのサブフィールドでは前記タイミングコントロール部１２１の制御下にプラズマディスプレイパネル１００に形成された全てのスキャン電極ライン（Ｙ１乃至Ｙn）に順次的にスキャンパルスを供給することなく、部分的にスキャン電極ラインにスキャンパルスを供給する。また、サステイン期間の間には、前記サステイン駆動部１２４と交番に動作してサステインパルス（ＳＵＳｐ）を各スキャン電極（Ｙ１乃至Ｙn）に供給する。
【００３４】
前記サステイン駆動部１２４は、前記タイミングコントロール部１２１の制御下にリセット期間に正極性の高いリセットパルスをサステイン電極（Ｚ）に供給し、サステイン期間の間は前記スキャン駆動部１２３と交番に動作してサステインパルス（ＳＵＳｐ）が各サステイン電極（Ｚ）に供給される。
【００３５】
前記タイミングコントロール部１２１には、垂直/水平同期信号とクロック信号が入力されてリセット期間、アドレス期間、サステイン期間で各駆動部１２２、１２３、１２４の動作タイミングと同期化を制御するための各タイミング制御信号（ＣＴＲＸ、ＣＴＲＹ、ＣＴＲＺ）を発生してこれらタイミング制御信号（ＣＴＲＸ、ＣＴＲＹ、ＣＴＲＺ）を該当する各駆動部１２２、１２３、１２４に供給することで、各駆動部を制御する。
【００３６】
一方、データ制御信号（ＣＴＲＸ）には、データをサンプリングするためのサンプリングクロック、ラッチ制御信号、エネルギー回収回路と駆動スィッチ素子のオン/オフタイムを制御するためのスィッチ制御信号が含まれる。スキャン制御信号（ＣＴＲＹ）には、前記スキャン駆動部１２３内のエネルギー回収回路と駆動スィッチ素子のオン/オフタイムを制御するためのスィッチ制御信号が含まれ、サステイン制御信号（ＣＴＲＺ）には、前記サステイン駆動部１２４内のエネルギー回収回路と駆動スィッチ素子のオン/オフタイムを制御するためのスィッチ制御信号が含まれる。
【００３７】
前記駆動電圧発生部１２５は、セットアップ電圧（Vsetup）、スキャン共通電圧（Vscan-com）、スキャン電圧（-Ｖｙ）、サステイン電圧（Ｖｓ）、データ電圧（Ｖｄ）などを発生する。このような各駆動電圧は、放電ガスの造成や放電セルの構造によって変わることができる。
【００３８】
図４は、本発明の第１実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法を説明するための図である。図４を参照すれば、本発明の第１実施形態によるプラズマディスプレイパネルの駆動方法は、一つのフレームを一つ以上のサブフィールドを含む複数のサブフィールドグループに分けて、各サブフィールドグループの間には、所定の長さを有する休止期間を含むようにする。また、サブフィールドグループは、リセット期間、アドレス期間、サステイン期間をそれぞれ含む複数のサブフィールド（ＳＦ１、ＳＦ２、ＳＦ３、ＳＦ４、．．．）に時分割する。このように時分割された各サブフィールドは、それぞれ所定の階調加重値を有するように設定される。
【００３９】
また、複数のサブフィールドのうち何れか一つのサブフィールドのアドレス期間には、スキャン電極ラインを全てスキャンし、また他のサブフィールドのアドレス期間には、スキャン電極ラインを部分的にスキャンする。詳しくは、各サブフィールドグループで階調加重値の低いサブフィールド（ＳＦ１、ＳＦ２、ＳＦ３、ＳＦ４、ＳＦ８、ＳＦ９、ＳＦ１０、ＳＦ１１）では全てのスキャン電極ラインに対して部分的にスキャンし、階調加重値の高いサブフィールド（ＳＦ５、ＳＦ６、ＳＦ７、ＳＦ１２、ＳＦ１３、ＳＦ１４）では全てのスキャン電極ラインに対して全てスキャンする。この時、階調加重値が高いか、または低いサブフィールドの数は調節可能である。
【００４０】
また、複数のサブフィールドのうち何れか一つのサブフィールドのアドレス期間に部分的にスキャン電極ラインをスキャンすることができて、全てのサブフィールドでアドレス期間に部分的にスキャン電極ラインをスキャンする。すなわち、複数のサブフィールドのうち少なくとも何れか一つのサブフィールドのアドレス期間に全体スキャン電極ラインのうち部分的にスキャン電極ラインをスキャンする。例えば、プラズマディスプレイパネルに形成された全体スキャン電極ラインに対して奇数番目ラインのスキャン電極（Ｙ１、Ｙ３、Ｙ５、．．．）にのみあるいは偶数番目ラインのスキャン電極（Ｙ２、Ｙ４、Ｙ６、．．．）にのみスキャンパルスを供給する方式によりスキャンする。このような駆動方式を部分ラインアドレッシング（Partial Line Addressing;以下、ＰＬＡと言う）方式と言う。
【００４１】
一方、本発明の第１実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法において、同一フレームのサブフィールドグループの間に含まれた休止期間には何れかの光も放出されることなく、ビデオレコーダーまたはビデオゲームによって生成された信号のような水平ライン同期信号における偏差を使って非標準ビデオ信号を処理するようになる。この時、休止期間が含まれた同一フレーム内の各サブフィールドグループは、休止期間なしに連続的に動作する。
【００４２】
このような休止期間は前述したように、各フレーム内のサブフィールドグループの間に存在することができるが、同時に各フレームの間に存在することができる。すなわち、一つのフレームが第１サブフィールドグループと第２サブフィールドグループを含んでいる時、第１サブフィールドグループが動作する前と第２サブフィールドグループが動作した後のそれぞれに第１休止期間が含まれ、第１サブフィールドグループと第２サブフィールドグループの間には第２休止期間が含まれる。この時、第１休止期間と第２休止期間の長さは、非標準ビデオ信号の処理期間によって相異に設定されることができるが、信号処理効率のために同一長さに設定されることが好ましい。
【００４３】
また、本発明の第１実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法において、フレーム内に含まれたサブフィールドの加重値は、図５のようにさまざまな形態に配列される。
【００４４】
図５は、本発明の第１実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時にフレーム内に含まれたサブフィールドの加重値配列を示した図である。
【００４５】
図５（ａ）のように、一つのフレームは、二つまたはその以上（図示せず）のサブフィールドグループを含み、各サブフィールドグループは、同一グループ内で各サブフィールドの加重値の大きさが増加する手順に配列される。すなわち、各グループ内に配列された各サブフィールドは、階調値が増加する手順に配列される。または 図５（ｂ）のように、一つのフレームは、二つまたはその以上（図示せず）のサブフィールドグループを含み、各サブフィールドグループは、同一グループ内で各サブフィールドの加重値の大きさが減少する手順に配列される。すなわち、各グループ内に配列された各サブフィールドは、階調値が減少する手順に配列される。
【００４６】
または図５（ｃ）のように、一つのフレームは、二つまたはその以上（図示せず）のサブフィールドグループを含み、各サブフィールドグループは、同一グループ内で各サブフィールドの加重値が互いに異なる手順に配列される。すなわち、各サブフィールドグループのうち何れか一つのグループ内のサブフィールドは、階調値に表現される加重値の大きさが増加する手順に配列されるか、又は階調値に表現される加重値の大きさが減少する手順に配列される。
【００４７】
一方、図５（ｃ）においては、各サブフィールドグループ内で各サブフィールドの加重値が異なるサブフィールドグループ内で各サブフィールドの加重値と一定な規則に従って異なる手順に配列されているが、各サブフィールドグループ内のサブフィールド加重値が一定な規則なくランダムに形成されることができる。
【００４８】
このように各サブフィールドグループ内で各サブフィールドの加重値の配列手順をさまざまな形態に配列するようになれば、フリッカーだけでなく停止映像、特に、動画から発生する輪郭ノイズ（Contour Noise）という現象を防止することができて画質を向上し得るようになる。
【００４９】
図６は、本発明の第１実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時にサブフィールドの所定期間に印加される駆動波形を示した図である。すなわち、図６（ａ）は、一つのフレームのうち第１サブフィールドのグループ内の各サブフィールドで印加される駆動波形を示した図で、図６（ｂ）は、一つのフレームのうち第２サブフィールドグループ内の各サブフィールドで印加される駆動波形を示した図である。
【００５０】
*****第１サブフィールドグループ*****
【００５１】
（第１サブフィールド）
【００５２】
まず、第１サブフィールド（ＳＦ１）のリセット期間は、正極性の高いリセットパルスまたは所定の傾斜度を有するランプ信号状のセットアップ/セットダウンパルス（図示せず）がサステイン電極（Ｚ）に供給されて全画面の各セル内にリセット放電を起こす。リセット放電によって全画面の各セルは均一に壁電荷が蓄積されるので、放電特性が均一になる。
【００５３】
アドレス期間には、スキャンパルス（ＳＰ）が全てのスキャン電極ラインに印加されることなく、部分的に印加される。すなわち、プラズマディスプレイパネルに配列された全体スキャン電極ラインのうち奇数番目のスキャン電極ライン（Ｙ１、Ｙ３、Ｙ５、．．．）にのみスキャンパルス（ＳＰ）が印加される。この時、アドレス電極（Ｘ）には、スキャンパルス（ＳＰ）と同期されるようにデータパルスが印加され、このようなスキャンパルスとデータパルスとの電圧差とリセット期間に生成された壁電荷の壁電圧が加わりながら放電セル内にはアドレス放電が発生する。
【００５４】
図６においては、プラズマディスプレイパネルに配列された全体スキャン電極ラインのうち奇数番目のスキャン電極ライン（Ｙ１、Ｙ３、Ｙ５、．．．）にのみスキャンパルス（ＳＰ）が印加されているが、偶数番目のスキャン電極ライン（Ｙ２、Ｙ４、Ｙ６、．．．）にのみスキャンパルス（ＳＰ）が印加されてアドレス電極に印加されるデータパルスと共にアドレス放電を起こすことができる。このようにアドレス放電によって選択された各セル内には、サステイン電圧（Ｖｓ）が印加される時に放電が起き得るようにする位の壁電荷が形成される。
【００５５】
サステイン期間には、各スキャン電極とサステイン電極に交番的にサステインパルス（ＳＵＳ）が印加される。このようなサステインパルス（ＳＵＳ）は、アドレス放電によって選択されたセル内の壁電圧と加わりながら毎サステインパルスが印加される度にスキャン電極とサステイン電極の間にサステイン放電、すなわち、表示放電が起きる。
【００５６】
サステイン放電が完了した後には、プラズマディスプレイパネルの放電特性によって消去期間を置いてパルス幅と電圧レベルの小さい消去ランプ波形（Ramp-ers）をサステイン電極やスキャン電極に供給することができる。これによってサステイン放電の以後、プラズマディスプレイパネルの各セル内に残留する壁電荷を消去することができる。
【００５７】
（第２、３、４、．．．サブフィールド）
【００５８】
第２、３、４、．．．サブフィールド（ＳＦ２、ＳＦ３、ＳＦ４、．．．）のリセット期間及びサステイン期間の駆動方法は、第１サブフィールドのリセット期間及びサステイン期間の駆動方法と同一であるため、これに対する説明は省略する。
【００５９】
第２、３、４、．．．サブフィールド（ＳＦ２、ＳＦ３、ＳＦ４、．．．）のアドレス期間には、第１サブフィールドと同一にスキャンパルス（ＳＰ）が全てのスキャン電極ライン（Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、．．．）に印加されることなく、部分的に印加されることができる。この場合にもやはり第２、３、４、．．．サブフィールド（ＳＦ２、ＳＦ３、ＳＦ４、．．．）のそれぞれは、プラズマディスプレイパネルに配列された全体スキャン電極ラインのうち奇数番目のスキャン電極ライン（Ｙ１、Ｙ３、Ｙ５、．．．）にのみあるいは偶数番目のスキャン電極ライン（Ｙ２、Ｙ４、Ｙ６、．．．）にのみスキャンパルス（ＳＰ）が印加される。
【００６０】
好ましくは、全てのサブフィールドでプラズマディスプレイパネルに配列された全てのスキャン電極ラインに部分的にスキャンパルスが印加される時、奇数番目サブフィールドのアドレス期間に奇数番目のスキャン電極ラインにスキャンパルスが印加されるか、又は偶数番目のスキャン電極ラインにスキャンパルスが印加されれば偶数番目のサブフィールドのアドレス期間には、前記奇数番目のサブフィールドのアドレス期間にスキャンパルスが印加されなかったスキャン電極ラインにスキャンパルスが印加されるようにする。
【００６１】
一方、図面には図示されていないが、第２、３、４、．．．サブフィールド（ＳＦ２、ＳＦ３、ＳＦ４、．．．）の全てのアドレス期間には、スキャンパルス（ＳＰ）が全てのスキャン電極ラインに印加されることもできる。これは、部分的なスキャン方法によって発生し得る画質の低下を防止するためである。ここで、第１サブフィールドでのみスキャン電極ラインに部分的にスキャンパルスが印加され、残りのサブフィールドは、アドレス期間の間に全てのスキャン電極ラインにスキャンパルスが印加されたが、全体サブフィールドのうち任意のサブフィールドを選択してスキャン電極ラインを部分的にスキャンすることができる。この時、スキャン電極ラインに部分的にスキャンパルスが印加される任意のサブフィールド数も所定の数に決定することができる。
【００６２】
また、部分的にスキャンするアドレス期間を含むサブフィールドは、階調加重値によって決定することができる。例えば、階調加重値の低いサブフィールドにおいては、スキャン電極ラインに部分的にスキャンパルスが印加されるが、階調加重値の高いサブフィールドにおいては、全てのスキャン電極ラインにスキャンパルスが印加されることができる。
【００６３】
階調加重値の低いサブフィールドの数は、階調加重値の臨界値によって異なることができるが、好ましくは、一つのサブフィールドグループ内に含まれた各サブフィールドの半分になるようにする。
【００６４】
*****第２サブフィールドグループ*****
【００６５】
第２サブフィールドグループに属した複数のサブフィールド（ＳＦ８、ＳＦ９、ＳＦ１０、．．．）は、第１サブフィールドグループに属した複数のサブフィールド（ＳＦ１、ＳＦ２、ＳＦ３、．．．）と同一に駆動されることで、これに対する説明は省略する。
【００６６】
<第２実施形態>
【００６７】
本発明の第２実施形態によるプラズマディスプレイ装置の構造は、本発明の第１実施形態によるプラズマディスプレイ装置の構造と同一であるため、これに対する説明は省略する。ただ、前記スキャン駆動部１２３は、アドレス期間の間スキャンパルス（ＳＰ）を全体スキャン電極（Ｙ１乃至Ｙn）に対して部分的に供給する時、スキャン電極ラインに従って部分的に供給することなく、図７のように、全体スキャン電極ラインを所定個数で縛って分けられた各スキャン電極グループに部分的にスキャンパルスを供給する。
【００６８】
図７は、本発明の第２実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時にサブフィールドの所定期間に印加される駆動波形を示した図である。
【００６９】
図７を参照する前に本発明の第２実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法は、本発明の第１実施形態と同一に一つのフレームを一つ以上のサブフィールドを含む複数のサブフィールドグループに分けて、各サブフィールドグループの間には、所定の長さを有する休止期間を含むようにする。また、サブフィールドグループは、リセット期間、アドレス期間、サステイン期間をそれぞれ含む複数のサブフィールド（ＳＦ１、ＳＦ２、ＳＦ３、ＳＦ４、．．．）に時分割され、このように時分割された各サブフィールドは、それぞれ所定の階調加重値を有するように設定される。これに対して各サブフィールドにおける駆動方法についてもっと詳細に説明する。
【００７０】
*****第１サブフィールドグループ*****
【００７１】
（第１サブフィールド）
【００７２】
本発明の第２実施形態による第１サブフィールド（ＳＦ１）のリセット期間及びサステイン期間の駆動方法は、本発明の第１実施形態による第１サブフィールドのリセット期間及びサステイン期間の駆動方法と同一であるため、これに対する説明は省略する。
【００７３】
ただ、アドレス期間には、プラズマディスプレイパネルに配列された全てのスキャン電極ラインを所定個数のグループに分けて、分けられたスキャン電極グループに対しては部分的にスキャンパルスを印加してスキャンする。詳しくは、プラズマディスプレイパネルに配列されたスキャン電極グループのうち奇数番目のスキャン電極グループ（Ｙa、Ｙc、Ｙe、．．．）にのみスキャンパルス（ＳＰ）を印加するか、又は偶数番目のスキャン電極グループ（Ｙｂ、Ｙｄ、Ｙｆ、．．．）にのみスキャンパルスを印加する。この時、アドレス電極（Ｘ）には、スキャンパルスと同期されるようにデータパルスを印加すれば、スキャンパルスとデータパルスとの電圧差とリセット期間に生成された壁電荷の壁電圧が加わりながら放電セル内にはアドレス放電が発生する。
【００７４】
（第２、３、４、．．．サブフィールド）
【００７５】
本発明の第２実施形態による第２、３、４、．．．サブフィールド（ＳＦ２、ＳＦ３、ＳＦ４、．．．）のリセット期間及びサステイン期間の駆動方法は、第１サブフィールドのリセット期間及びサステイン期間の駆動方法と同一であるため、これに対する説明は省略する。
【００７６】
第２、３、４、．．．サブフィールド（ＳＦ２、ＳＦ３、ＳＦ４、．．．）のアドレス期間には、第１サブフィールドと同一にスキャンパルス（ＳＰ）がスキャン電極グループの全てに印加されることなく、部分的に印加されることができる。この場合にもやはり第２、３、４、．．．サブフィールド（ＳＦ２、ＳＦ３、ＳＦ４、．．．）のそれぞれは、プラズマディスプレイパネルに配列されたスキャン電極グループのうち奇数番目のスキャン電極グループ（Ｙ１、Ｙ３、Ｙ５、．．．）にのみあるいは偶数番目のスキャン電極グループ（Ｙ２、Ｙ４、Ｙ６、．．．）にのみスキャンパルスが供給される。
【００７７】
好ましくは、全てのサブフィールドでプラズマディスプレイパネルに配列されたスキャン電極グループに部分的にスキャンパルスが印加される時、奇数番目のサブフィールドのアドレス期間に奇数番目のスキャン電極グループにスキャンパルスが印加されるか、又は偶数番目のスキャン電極グループにスキャンパルスが印加されれば、偶数番目のサブフィールドのアドレス期間には前記奇数番目のサブフィールドのアドレス期間にスキャンパルスが印加されなかったスキャン電極グループにスキャンパルスが印加される。
【００７８】
一方、第１実施形態と同一に、第２、３、４、．．．サブフィールド（ＳＦ２、ＳＦ３、ＳＦ４、．．．）の全てのアドレス期間には、スキャンパルス（ＳＰ）が全てのスキャン電極グループに印加されることができる。これは、部分的なスキャン方法によって発生し得る画質の低下を防止するためである。ここで、第１サブフィールドでのみスキャン電極グループに部分的にスキャンパルスが印加され、残りのサブフィールドは、アドレス期間の間に全てのスキャン電極グループにスキャンパルスが印加されたが、全体サブフィールドのうち任意のサブフィールドを選択してスキャン電極グループを部分的にスキャンすることができる。この時、スキャン電極グループに部分的にスキャンパルスが印加される任意のサブフィールド数も所定の数に決定することができる。
【００７９】
また、スキャン電極グループに部分的にスキャンパルスが印加されるサブフィールドは、階調加重値によって決定することができる。例えば、階調加重値の低いサブフィールドにおいては、スキャン電極グループに部分的にスキャンパルスが印加されるが、階調加重値の高いサブフィールドにおいては、全てのスキャン電極グループにスキャンパルスが印加されることができる。また、その反対にもスキャンパルスを印加することができる。
【００８０】
図８（ａ）乃至図８（ｃ）は、本発明の第２実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時に第１サブフィールドグループ内でスキャン方法を説明するための図である。
【００８１】
図８（ａ）乃至図８（ｃ）に示したように、全体スキャン電極ラインを所定個数で縛って分けられたスキャン電極グループの数は、最小二つ以上から成ることができるが、好ましくは、全体スキャン電極ライン数の１/２や１/３になるようにする。スキャン電極グループに属したスキャン電極の数は、図８（ａ）のように全て同一であることができて、図８（b）のように全て異なることもできる。また、図８（ｃ）のように、任意の各スキャン電極グループに属したスキャン電極の数は、全て同一で任意の各スキャン電極グループではない残りの各スキャン電極グループに属したスキャン電極の数は異なることができる。すなわち、各スキャン電極グループに属したそれぞれのスキャン電極の数は、少なくとも何れか一つのスキャン電極グループでは相異である。
以上、説明した内容を通じて当業者であれば本発明の技術事象を外れない範囲で変更が可能であり、本発明の技術的範囲は、明細書の詳細な説明に記載された内容に限るのではなく、特許請求範囲により定めるはずである。
【図面の簡単な説明】
【００８２】
【図１】従来のマトリックス状に配列された放電セル構造を有する３電極交流面放電型ＰＤＰの構造を示した斜視図である。
【図２】従来ＰＤＰの駆動方法を説明するための駆動波形を示した図である。
【図３】本発明の第１実施形態によるプラズマディスプレイ装置を示した図である。
【図４】本発明の第１実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動方法を説明するための図である。
【図５ａ】本発明の第１実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時にフレーム内に含まれたサブフィールドの加重値配列を示した図である。
【図５ｂ】本発明の第１実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時にフレーム内に含まれたサブフィールドの加重値配列を示した図である。
【図５ｃ】本発明の第１実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時にフレーム内に含まれたサブフィールドの加重値配列を示した図である。
【図６ａ】本発明の第１実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時にサブフィールドの所定期間に印加される駆動波形を示した図である。
【図６ｂ】本発明の第１実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時にサブフィールドの所定期間に印加される駆動波形を示した図である。
【図７ａ】本発明の第２実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時にサブフィールドの所定期間に印加される駆動波形を示した図である。
【図７ｂ】本発明の第２実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時にサブフィールドの所定期間に印加される駆動波形を示した図である。
【図８ａ】本発明の第２実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時に第１サブフィールドグループ内でスキャン方法を説明するための図である。
【図８ｂ】本発明の第２実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時に第１サブフィールドグループ内でスキャン方法を説明するための図である
【図８ｃ】本発明の第２実施形態によるプラズマディスプレイ装置の駆動時に第１サブフィールドグループ内でスキャン方法を説明するための図である。
【符号の説明】
【００８３】
１００  プラズマディスプレイパネル
１２１  タイミングコントロール部
１２２  データ駆動部
１２３  スキャン駆動部
１２４  サステイン駆動部
１２５  駆動電圧発生部
【図１】
2007114785.tif 000003
【図２】
2007114785.tif 000004
【図３】
2007114785.tif 000005
【図４】
2007114785.tif 000006
【図５ａ】
2007114785.tif 000007
【図５ｂ】
2007114785.tif 000008
【図５ｃ】
2007114785.tif 000009
【図６ａ】
2007114785.tif 000010
【図６ｂ】
2007114785.tif 000011
【図７ａ】
2007114785.tif 000012
【図７ｂ】
2007114785.tif 000013
【図８ａ】
2007114785.tif 000014
【図８ｂ】
2007114785.tif 000015
【図８ｃ】
2007114785.tif 000016