(57)【要約】【課題】軽微な欠陥が発生している画素であっても確実に検出できる液晶パネルの点灯検査方法を提供する。【解決手段】各データ線４に、正極性の電圧Ｖｓ（Ｈ）と負極性の電圧Ｖｓ（Ｌ）が所定時間ごとに交互に切り替わるソース信号を印加する。各走査線３に、ソース信号における正極性の電圧Ｖｓ（Ｈ）、負極性の電圧Ｖｓ（Ｌ）が印加される各時間帯の後半に、薄膜トランジスタ５をオフするレベルの電圧Ｖｇ（Ｌ）から薄膜トランジスタ５をオンするレベルの電圧Ｖｇ（Ｈ）に立ち上がるパルスＰを有するゲート信号を印加する。この状態で、液晶パネルを背面から照明する。【選択図】図１
2007140130.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
互いに絶縁されながらマトリクス状に形成された走査線、データ線と、
走査線、データ線の交差する各領域に設けられた画素電極と、
各画素電極に隣接して設けられ、ゲート端子が走査線に接続され、ソース端子がデータ
線に接続され、ドレイン端子が画素電極に接続された薄膜トランジスタと、
各画素電極に対し液晶を介在して対向配置された共通電極と、を備えた液晶パネルの点
灯検査方法であって、
各データ線に、正極性の電圧と負極性の電圧が所定時間ごとに交互に切り替わるソース
信号を印加するとともに、各走査線に、ソース信号における正極性の電圧、負極性の電圧
が印加される各時間帯の後半にドレイン端子へのソース信号の供給を開くパルスを有する
ゲート信号を印加しながら、液晶パネルを背面から照明することを特徴とする液晶パネル
の点灯検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、駆動回路を実装する前の液晶パネルの点灯検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、パーソナルコンピュータ、携帯電話機、携帯情報端末等の電子機器が広く普及し
ており、その電子機器には、表示画面として液晶パネルが搭載されている。
【０００３】
一般に、液晶パネルの製造工程は、前工程から順に、アレイ工程、セル工程、モジュー
ル工程に大別される。
【０００４】
アレイ工程は、液晶パネルにおける対向基板の一方であるアレイ基板を製造する工程で
あり、このアレイ工程では、素材であるマザー基板上に、配線、薄膜トランジスタ、絶縁
膜、画素電極等を形成する。もっとも、近年のほとんどは１つの基板から複数個の液晶パ
ネルを切り出すようしており、この場合は、所望する液晶パネルのサイズよりもはるかに
大きいサイズのマザー基板を準備し、このマザー基板上に配線等を液晶パネルごとにその
領域を区分けして形成することになる。なお、アレイ工程と並行して、アレイ基板と対に
なる共通電極を含むＣＦ（カラーフィルタ）基板を製造するＣＦ工程も当然に存在する。
【０００５】
セル工程では、先に出来上がったアレイ基板とＣＦ基板とを互いに貼り合わせ、その後
、個々の液晶パネルに分断する。そして、液晶パネルごとに、対向基板（アレイ基板とＣ
Ｆ基板）同士の隙間に液晶を注入して封じ込める。
【０００６】
モジュール工程では、セル工程を経て得られた液晶パネルごとに、駆動系の電子回路等
を取り付けたり、偏光板を貼り付けたりする。更に、最終的な仕様に合わせて、バックラ
イトとしての光源や導光板等を組み付ける場合もある。
【０００７】
ところで、このようにして作製された液晶パネルには、高度な薄膜形成技術や微細加工
技術をもってしても、画素電極と対向電極（共通電極）間でのリーク不良や、配線（走査
線やデータ線等）の欠損、断線や、薄膜トランジスタの特性不良といった種々の欠陥が発
生し得る。
【０００８】
そのため、セル工程を経て得られた液晶パネルについては、モジュール工程に至る前に
、すなわち偏光板の貼付け等を含め駆動回路を実装する前に、点灯検査を一般的に行って
いる。この点灯検査により欠陥を有する液晶パネルを早期に発見できるため、後工程であ
るモジュール工程に不良品の液晶パネルが流出するのを防止でき、その結果として製造コ
ストの抑制を図ることができる。
【０００９】
つまり、セル工程において不良と判断されるべき液晶パネルを良品と誤判定してしまう
と、不良の液晶パネルに対して無駄に偏光板を貼り付けてしまう等、不良の液晶パネルに
対して他の部品を無駄に取り付けてしまうことになる。よって製造コストの抑制を図る上
で、セル工程において如何に不良の液晶パネルを発見し、後のモジュール工程に不良の液
晶パネルを流出させないかが重要となる。
【００１０】
ここでの点灯検査の手法を続いて説明する（例えば、特許文献１参照）。先ず、図２に
示すように、点灯検査の対象である液晶パネルは、大きくは、互いの間に液晶が封入され
たアレイ基板１とＣＦ基板２とより成る。
【００１１】
アレイ基板１には、走査線３、走査線端子３ａ、データ線４、データ線端子４ａ、薄膜
トランジスタ５、及び画素電極６が形成されている。具体的には、走査線３とデータ線４
とは、絶縁膜（不図示）を介在してマトリクス状に配置され、それらの両者が交差する各
領域には、薄膜トランジスタ５と画素電極６とが互いに隣接して配置されている。薄膜ト
ランジスタ５は、ゲート端子５ａ、ソース端子５ｂ、ドレイン端子５ｃを有し、そのゲー
ト端子５ａが走査線３に接続され、そのソース端子５ｂがデータ線４に接続され、そのド
レイン端子５ｃが画素電極６に接続されている。他方のＣＦ基板２には、各画素電極６に
対向して配置された共通電極７が形成されている。
【００１２】
このような液晶パネルに対し、各データ線４に各データ線端子４ａより検査用のソース
信号を印加するとともに、各走査線３に各走査線端子３ａより検査用のゲート信号を印加
しながら、検査用のバックライトによって液晶パネルを背面から照射する。なお、その際
、共通電極７には、共通電極端子（不図示）より一定の電圧が印加されている。
【００１３】
その際のソース信号としては、図３（ａ）に示すように、正極性の電圧Ｖｓ（Ｈ）と負
極性の電圧Ｖｓ（Ｌ）が所定時間ごとに交互に切り替わる信号が用いられる。他方ゲート
信号としては、図３（ｂ）に示すように、ソース信号における正極性の電圧Ｖｓ（Ｈ）、
負極性の電圧Ｖｓ（Ｌ）が印加される各時間帯の前半に、薄膜トランジスタ５をオフする
レベルの電圧Ｖｇ（Ｌ）から薄膜トランジスタ５をオンするレベルの電圧Ｖｇ（Ｈ）に立
ち上がるパルスＰを周期的に有する信号が用いられる。
【００１４】
このようなソース信号とゲート信号がそれぞれ各データ線４と各走査線３を通じて各薄
膜トランジスタ５のソース端子５ｂとゲート端子５ａに印加されると、ゲート信号のパル
スＰが印加されている間だけドレイン端子へのソース信号の供給が開かれる。これに応じ
て、各画素電極６には、図３（ｃ）に示すように、ゲート信号のパルスＰが印加されてい
る間はドレイン端子を通じてソース信号が供給されてＶｐ（Ｈ）又はＶｐ（Ｌ）の電圧が
蓄積され、その電圧Ｖｐ（Ｈ）、Ｖｐ（Ｌ）は、ゲート信号の次のパルスＰが印加される
まで保持される。
【００１５】
ここで、過大なリーク不良の欠陥が発生している画素では、図３（ｄ）に示すように、
ソース信号の電圧Ｖｓ（Ｈ）、Ｖｓ（Ｌ）が切り替わった時点から画素電極６の電圧が急
激にリークし、特に、高い側の電圧Ｖｐ（Ｈ）は急勾配で大きく低下する。
【００１６】
また、走査線３やデータ線４に欠損、断線が発生している画素では、画素電極６に蓄え
られるべき正規の高い側の電圧Ｖｐ（Ｈ）にまったく満たない。
【００１７】
また、薄膜トランジスタ５の特性不良が発生している画素でも、画素電極６に正規の高
い側の電圧Ｖｐ（Ｈ）が蓄えられない。
【００１８】
そうすると、電圧無印加状態で白表示（バックライト光が偏光板を通じて透過）となる
ノーマリホワイト型の液晶パネルの場合、正常な画素では、画素電極６と共通電極７との
間に安定した大きな電位差が生じるため、これが液晶に有効に作用して液晶の配列が十分
に変化し、その結果、黒表示（バックライト光が偏光板で遮断）に変わる。
【００１９】
一方、欠陥が発生している画素では、画素電極６と共通電極７との間の電位差が小さい
ため、液晶の配列変化が不十分となり、その結果、白表示のまま又は中間的な薄明るい表
示となり、これが輝点となって表れる。
【００２０】
これとは逆に、電圧無印加状態で黒表示となるノーマリブラック型の液晶パネルの場合
は、上記のノーマリホワイト型の液晶パネルに対して表示が反転する。つまり、正常な画
素では、白表示に変わる。一方、欠陥が発生している画素では、黒表示のまま又は中間的
な薄暗い表示となり、これが暗点となって表れる。
【００２１】
なお、白表示とはいっても、実際には、各画素に対応して配置されたＣＦによって赤色
、緑色、青色の表示が表れる。
【００２２】
こうして点灯検査では、ノーマリホワイト型の液晶パネルの場合は輝点を、ノーマリブ
ラック型の液晶パネルの場合は暗点を検出することにより、欠陥の有無を判別できる。
【特許文献１】特開平７−２０９１３６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２３】
しかしながら、点灯検査用のソース信号、ゲート信号として上記の図３（ａ）、（ｂ）
に示すソース信号、ゲート信号を用いた場合、過大なリーク不良の欠陥が発生している画
素の検出は一応できるものの、リーク不良の程度が軽微な画素の検出は困難である。
【００２４】
その理由としては以下のような理由が考えられる。つまり、軽微なリーク不良の欠陥が
発生している画素では、図３（ｅ）に示すように、ソース信号の電圧Ｖｓ（Ｈ）、Ｖｓ（
Ｌ）が切り替わった時点から画素電極６の電圧が緩やかにリークし、特に、高い側の電圧
Ｖｐ（Ｈ）は緩い勾配で少し低下する。
【００２５】
つまり、その画素電極６の高い側の電圧Ｖｐ（Ｈ）の低下した終点の電圧は、正常な画
素における画素電極６の高い側の電圧Ｖｐ（Ｈ）の終点の電圧（図３（ｃ）参照）とほと
んど遜色が無いものとなる。
【００２６】
そうすると、その欠陥が発生している画素については、ノーマリホワイト型の液晶パネ
ルの場合は、黒表示又は薄暗い表示に変わり、ノーマリブラック型の液晶パネルの場合は
、白表示又は薄明るい表示に変わる。いずれの表示態様も、正常な画素とほぼ同じであっ
て、輝点や暗点が表れ難い。従って、輝点や暗点を頼りにした欠陥の検出が困難になるわ
けである。
【００２７】
なお、軽微な欠陥であれば表示に影響が少ないので、検出できなくてもよいのではない
かと思われるかもしれないが、検査の段階で液晶パネルに印加される信号と、実際の表示
の際に印加される信号とは、検査の効率化等の理由から、かなり異なっている。したがっ
て、検査の段階で軽微な欠陥であっても、製品として実際の表示を行うと、この軽微な欠
陥も大きな問題となり得るため、軽微な欠陥であっても確実に検出することが重要である
。
【００２８】
そこで本発明は、上記の問題に鑑みてなされたものであり、軽微な欠陥が発生している
画素であっても確実に検出できる液晶パネルの点灯検査方法を提供することを目的とする
ものである。
【課題を解決するための手段】
【００２９】
上記目的を達成するため、本発明による液晶パネルの点灯検査方法は、互いに絶縁され
ながらマトリクス状に形成された走査線、データ線と、走査線、データ線の交差する各領
域に設けられた画素電極と、各画素電極に隣接して設けられ、ゲート端子が走査線に接続
され、ソース端子がデータ線に接続され、ドレイン端子が画素電極に接続された薄膜トラ
ンジスタと、各画素電極に対し液晶を介在して対向配置された共通電極と、を備えた液晶
パネルの点灯検査方法であって、各データ線に、正極性の電圧と負極性の電圧が所定時間
ごとに交互に切り替わるソース信号を印加するとともに、各走査線に、ソース信号におけ
る正極性の電圧、負極性の電圧が印加される各時間帯の後半にドレイン端子へのソース信
号の供給を開くパルスを有するゲート信号を印加しながら、液晶パネルを背面から照明す
る。
【００３０】
このようにすれば、軽微なリーク不良の欠陥を含め欠陥が発生している画素については
、ノーマリホワイト型の液晶パネルの場合は、確実に輝点となって表れ、ノーマリブラッ
ク型の液晶パネルの場合は、確実に暗点となって表れる。従って、その輝点や暗点を十分
に検出できるし、これを検出することにより、欠陥の有無を確実に判別できる。
【発明の効果】
【００３１】
本発明の液晶パネルの点灯検査方法によれば、軽微な欠陥が発生している画素であって
も確実に検出できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３２】
以下に、本発明の液晶パネルの点灯検査方法の一実施形態について、図面を参照しなが
ら詳述する。図１は本発明の一実施形態である液晶パネルの点灯検査における信号のタイ
ムチャートである。ここで、図１（ａ）は点灯検査用のソース信号を示し、図１（ｂ）は
点灯検査用のゲート信号を示している。図１（ｃ）は正常な画素での画素電極の電圧を示
し、図１（ｄ）は軽微なリーク不良の欠陥が発生している画素での画素電極の電圧を示し
ている。
【００３３】
本実施形態での点灯検査の対象である液晶パネルは、上記した図２に示す液晶パネルと
同様である。
【００３４】
そして、本実施形態での点灯検査においては、液晶パネルに対し、各データ線４に各デ
ータ線端子４ａより検査用のソース信号を印加するとともに、各走査線３に各走査線端子
３ａより検査用のゲート信号を印加しながら、検査用のバックライトによって液晶パネル
を背面から照射する。そのバックライトの光源としては、冷陰極管や発光ダイオードが用
いられる。なお、その際、共通電極７には、共通電極端子より一定の直流電圧が印加され
ている。
【００３５】
その際のソース信号としては、図１（ａ）に示すように、正極性の電圧Ｖｓ（Ｈ）と負
極性の電圧Ｖｓ（Ｌ）が所定時間ごとに、例えば１／６０［ｓ（秒）］（＝１６．７［ｍ
ｓ］）ごとに交互に切り替わる信号が用いられる。
【００３６】
他方ゲート信号としては、図１（ｂ）に示すように、ソース信号における正極性の電圧
Ｖｓ（Ｈ）、負極性の電圧Ｖｓ（Ｌ）が印加される各時間帯の後半に、薄膜トランジスタ
５をオフするレベルの電圧Ｖｇ（Ｌ）から薄膜トランジスタ５をオンするレベルの電圧Ｖ
ｇ（Ｈ）に立ち上がるパルスＰを周期的に有する信号が用いられる。この信号は、例えば
、周期が１／６０［ｓ］（＝１６．７［ｍｓ］）で、そのパルスＰの幅が１０〜２５［μ
ｓ］である。ソース信号における正極性の電圧Ｖｓ（Ｈ）、負極性の電圧Ｖｓ（Ｌ）が印
加される各時間帯の後半にパルスＰは印加されるが、好ましくは終わり付近に印加する方
がよく、具体的には正極性、負極性の印加される期間の３／４〜１７／１８の期間に印加
するのが好ましい。
【００３７】
このようなソース信号とゲート信号がそれぞれ各データ線４と各走査線３を通じて各薄
膜トランジスタ５のソース端子５ｂとゲート端子５ａに印加されると、ゲート信号のパル
スＰが印加されている間だけドレイン端子へのソース信号の供給が開かれる。
【００３８】
これに応じて、各画素電極６には、図１（ｃ）に示すように、ゲート信号のパルスＰが
印加されている間はドレイン端子を通じてソース信号が供給されてＶｐ（Ｈ）又はＶｐ（
Ｌ）の電圧が蓄積され、その電圧Ｖｐ（Ｈ）、Ｖｐ（Ｌ）は、ゲート信号の次のパルスＰ
が印加されるまで保持される。
【００３９】
ここで、軽微なリーク不良の欠陥が発生している画素では、図１（ｄ）に示すように、
ソース信号の電圧Ｖｓ（Ｈ）、Ｖｓ（Ｌ）が切り替わった時点から画素電極６の電圧が緩
やかにリークし、特に、高い側の電圧Ｖｐ（Ｈ）は、リークし始めた時点から再びソース
信号の供給が開始されるまでの時間が長いため、緩い勾配であっても大きく低下する。
【００４０】
つまり、その画素電極６の高い側の電圧Ｖｐ（Ｈ）の低下した終点の電圧は、正常な画
素における画素電極６の高い側の電圧Ｖｐ（Ｈ）の終点の電圧（図１（ｃ）参照）よりも
顕著に低下したものとなる。
【００４１】
もっとも、過大なリーク不良の欠陥が発生している画素では、ソース信号の電圧Ｖｓ（
Ｈ）、Ｖｓ（Ｌ）が切り替わった時点から画素電極６の電圧が急激にリークし、特に、高
い側の電圧Ｖｐ（Ｈ）は急勾配で大きく低下する。また、走査線３やデータ線４に欠損、
断線が発生している画素では、画素電極６に蓄えられるべき正規の高い側の電圧Ｖｐ（Ｈ
）にまったく満たない。また、薄膜トランジスタ５の特性不良が発生している画素でも、
画素電極６に正規の高い側の電圧Ｖｐ（Ｈ）が蓄えられない。
【００４２】
そうすると、軽微なリーク不良の欠陥を含め欠陥が発生している画素については、ノー
マリホワイト型の液晶パネルの場合は、白表示のまま又は薄明るい表示となり、これが輝
点となって表れ、これとは逆に、ノーマリブラック型の液晶パネルの場合は、黒表示のま
ま又は薄暗い表示となり、これが暗点となって表れる。
【００４３】
なお、正常な画素については、ノーマリホワイト型の液晶パネルの場合は、黒表示に変
わり、ノーマリブラック型の液晶パネルの場合は、白表示に変わる。
【００４４】
また、図１の（ｃ）、（ｄ）は、発明の理解を容易にするため、理想的な信号の波形を
示しているものであり、例えば（ｃ）の場合、図では電圧Ｖｐ（Ｈ）は次のゲート信号の
パルスＰが印加されるまで一定であるが、実際の画素電極においては、次のゲート信号の
パルスＰが印加されるまでの間に多少降下することになる。これは図４の（ｄ）について
も同様で、図では一定に示してある期間においても、多少の多少の電圧降下は生じる。た
だし、この電圧の低下は、図４の（ｄ）で示す、不良の画素における電圧の低下を示す傾
斜に比べると、はるかに緩やかなものである。
【００４５】
こうして点灯検査では、ノーマリホワイト型の液晶パネルの場合は欠陥が確実に輝点と
なって表れ、ノーマリブラック型の液晶パネルの場合は欠陥が確実に暗点となって表れる
ことから、その輝点や暗点を十分に検出できるし、これを検出することにより、欠陥の有
無を確実に判別できる。
【００４６】
その他本発明は上記の実施形態に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、種々
の変更が可能である。
【産業上の利用可能性】
【００４７】
本発明は、駆動回路を実装する前の液晶パネルの点灯検査に有用である。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明の一実施形態である液晶パネルの点灯検査における信号のタイムチャートである。
【図２】点灯検査の対象である液晶パネルの回路図である。
【図３】従来の液晶パネルの点灯検査における信号のタイムチャートである。
【符号の説明】
【００４９】
１    アレイ基板
２    ＣＦ基板
３    走査線
３ａ    走査線端子
４    データ線
４ａ    データ線端子
５    薄膜トランジスタ
５ａ    ゲート端子
５ｂ    ソース端子
５ｃ    ドレイン端子
６    画素電極
７    共通電極
【図１】
2007140130.tif 000003
【図２】
2007140130.tif 000004
【図３】
2007140130.tif 000005