(57)【要約】      （修正有）【課題】電磁波で面状物体を確実に全面的に走査して、面状物体を透過した電磁波又は面状物体で反射された電磁波を検出することで、面状物体に埋設された物体の位置などの情報を確実に検出できる検出装置を提供する。【解決手段】面状物体中の埋設物体を検出する検出装置は、面状物体を搬送する搬送機構13と、搬送される面状物体に線状に電磁波を照射する照射部10と、電磁波のうち、面状物体の透過電磁波又は面状物体からの反射電磁波を検出する検出部11を備える。【選択図】図１
2007178284.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
面状物体に埋設された物体を検出する装置であって、
面状物体を搬送するための搬送機構と、
搬送されてくる前記面状物体に線状に電磁波を照射するための照射部と、
前記電磁波のうち、前記面状物体を透過した電磁波又は前記面状物体で反射された電磁波を検出するための検出部と、
を備えたことを特徴とする検出装置。
【請求項２】
前記照射部は、線状焦点に集光させて前記面状物体に線状に電磁波を照射することを特徴とする請求項1記載の検出装置。
【請求項３】
前記照射部は、電磁波を一点に集光させ前記面状物体の搬送方向と交差する方向に前記焦点を走査させることで前記面状物体に線状に電磁波を照射することを特徴とする請求項1記載の検出装置。
【請求項４】
前記検出部により検出された電磁波の情報を基に、前記面状物体表面に形成する画像の形成条件を変更する変更手段を備えることを特徴とする請求項1記載の検出装置。
【請求項５】
前記検出部は、前記電磁波の強度と位相の少なくとも一方の変化により、前記平面状物体に埋設された物体を検出することを特徴とする請求項1記載の検出装置。
【請求項６】
前記照射部と前記検出部がマイケルソン干渉計を構成することを特徴とする請求項1記載の物体検出装置。
【請求項７】
前記電磁波の周波数が30GHzから30THzの周波数領域を含む電磁波であることを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の検出装置。
【請求項８】
請求項1乃至7のいずれかに記載の検出装置を用い、前記面状物体表面に加工を施す際に、前記検出装置の検出情報に基づいて、前記埋設された物体が加工工程に与える影響及び加工工程が前記埋設された物体に与える影響を低減する加工条件の変更処理を行うことを特徴とする加工方法。
【請求項９】
前記加工が画像形成であることを特徴とする請求項9記載の検出・加工方法。
【請求項１０】
前記面状物体に埋設された物体が、電子部品であるRFIDタグであることを特徴とする請求項8記載の加工方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、伝搬する電磁波の伝搬状態の変化から面状物体中のRFIDタグ（非接触型ICタグ）などの物体の位置を検出する検出装置等の、面状物体に埋設された物体を検出する検出装置に関する。特には、周波数が30GHzから30THzの周波数領域を含む電磁波（ミリ波からテラヘルツ波と呼ばれる周波数領域の電磁波であり、本明細書ではテラヘルツ波とも呼ぶ）を用いて、紙等の面状物体に埋設されたRFIDタグ等の物体の位置を検出する装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＩＣチップを備えたタグに個別情報を電子的に保持して電磁誘導により非接触で情報伝達するためのＩＤ素子（RFID：Radio Frequency IDentification）技術が開発され、物の識別管理のために応用され始めている。
【０００３】
具体的には、こうした技術の応用として、所定の情報が記憶された小型の無線タグ（応答器）に対して、所定の無線タグリーダ／ライタや読み出し専用の質問器等により非接触で情報の書き込みや読み出しを行うシステムがある。こうしたシステムは、タグ及びリーダ／ライタの各々に備えたアンテナを用いてデータの交信を行うため、タグをリーダ／ライタから離した状態でも通信可能であることから、様々な用途に利用されている。
【０００４】
上記の如きタグは、紙に漉き込むのに充分小型のRFIDタグも開発されており、0.4mm角の大きさで厚さは0.06mmという超小型サイズのタグが開発されている。これを利用して、正贋判定を必要とされる金券、帳票、証券、旅券、紙幣、公文書、契約書等の紙類にRFIDタグを漉き込む技術が、特許文献1に開示されている。
【０００５】
しかし、充分小型のRFIDタグを漉き込んだ紙は、タグ自身が小型であるため紙の外観を損ねることがないが、タグの位置が分からなくなる。漉き込む工程でタグの位置を制御しても、紙作製における乾燥工程等での紙自体の変形により、漉き込まれたタグの正確な位置は分からなくなりやすい。
【０００６】
小型RFIDタグの通信距離はミリメートルからセンチメートルのオーダーしかないので、利用者はタグの位置が分かっていないと闇雲にリーダ／ライタを紙上でかざすことになり、非効率である。そのため、利用者にタグの位置が分かる様にする目印を印字することが必要な場合がある。こうした場合、印刷工程でタグの位置が正確に分かる必要がある。
【０００７】
また、タグ位置が分かる目印をRFIDタグ漉き込み紙に印刷する際、紙中のRFIDタグ位置が予め分かっていたとしても、紙の種類・印刷バッチによってタグの位置は異なることがある。こうした場合、印刷オペレータが印刷バッチごとにタグの位置を入力するのは非効率である。
【０００８】
さらに、RFIDタグを漉き込んだ紙に印刷する場合、ローラ等の圧力によりタグが破損する恐れがあるためタグの位置でローラの圧力を弱めるなどの変更処理をしなければならない。そのためにも、タグの位置が分かる必要がある。
【特許文献１】特開2002-298118号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
上に述べた様に、小型のRFIDタグなどの物体が紙などの面状物体に埋設された場合において、埋設物体の位置を測定することは重要である。そこで、本発明の目的は、面状物体中の小型のRFIDタグなどの物体を、テラヘルツ波などの電磁波を用いて検出することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題に鑑み、面状物体に埋設された物体を検出する本発明の検出装置は、次の要素を有することを特徴とする。すなわち、面状物体を搬送するための搬送機構と、搬送されてくる面状物体に線状に電磁波を照射するための照射部と、電磁波のうち、面状物体を透過した電磁波又は面状物体で反射された電磁波を検出するための検出部を備える。
【００１１】
また、上記課題に鑑み、本発明の加工方法は次のことを特徴とする。すなわち、上記検出装置を用い、面状物体表面に画像形成などの加工を施す際に、検出装置の検出情報に基づいて、埋設された物体が加工工程に与える影響及び加工工程が埋設された物体に与える影響を低減する加工条件の変更処理を行うことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の検出装置ないし方法によれば、搬送機構による面状物体の移動と照射部による面状物体への線状の電磁波との共同的作用により、電磁波で面状物体を確実に全面的に走査できる。従って、面状物体を透過した電磁波又は面状物体で反射された電磁波を検出部で検出することで、面状物体に埋設された物体の位置などの情報を確実に検出できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
本発明による、面状物体に埋設された物体を検出する装置ないし方法の実施形態について、説明する。
【００１４】
検出装置の一実施形態は、平面状物体である紙などの面状物体を搬送するための回転ローラなどの搬送機構と、搬送されてくる面状物体に線状に電磁波を照射するための照射部を有する。そして更に、電磁波のうち、面状物体を透過した電磁波又は面状物体で反射された電磁波を検出するための検出部を備える。この検出部により検出された電磁波の情報は、これを基に、紙、樹脂平板、木材平板、樹脂シートなどの面状物体表面に形成する画像の形成条件を変更する変更手段などに供給される。電磁波は、典型的には、その周波数が30GHzから30THzの周波数領域を含む電磁波である。
【００１５】
本実施形態は、特に、紙の種類によらず、RFIDタグが漉き込まれた紙におけるタグの位置を正確に求める装置を提供する。更には、厚紙や色の濃い紙、重ねられた紙におけるタグの位置を正確に測定する装置を提供することもできる。
【００１６】
以下、テラヘルツ波帯からミリ波帯に属するテラヘルツ波を発生する高周波電磁波発生装置と、この電磁波を検出する高周波電磁波検出装置と、RFIDタグが漉き込まれた紙を搬送する機構を備える構成について説明する。この構成では、RFIDタグが漉き込まれた紙に前記電磁波を線状に照射し、この電磁波が、RFIDタグが漉き込まれた紙を透過もしくは反射した後、透過もしくは反射した電磁波を高周波電磁波検出装置に集光する。こうした搬送機構による紙の移動と電磁波発生装置により紙上に集光する線状の電磁波との共同的作用により、前記電磁波の紙全面に渡る空間的強度分布を測定することができる。
【００１７】
紙とRFIDタグでは、テラヘルツ波やミリ波に対する屈折率や透過率など及びその他光学定数が異なる。そのため、紙だけを透過もしくは反射した高周波電磁波と、RFIDタグを透過もしくは反射した高周波電磁波とでは、高周波電磁波検出装置で検出される高周波電磁波の強度などに差異が現れる。
【００１８】
RFIDタグのサイズと使用する高周波電磁波の波長が同程度であるか、或いは波長よりタグの方が小さければ、高周波電磁波はRFIDタグで散乱を生じる。この場合、高周波電磁波検出器によって検出された高周波電磁波の強度分布より散乱中心を求めることで、RFIDタグの紙中の位置を特定できる。一方、RFIDタグのサイズの方が使用する電磁波の波長より大きい場合は、タグの後方に電磁波の影が生じる。従って、この場合、高周波電磁波検出器によって検出された高周波電磁波の強度分布よりRFIDタグの位置を特定することができる。
【００１９】
テラヘルツ帯からミリ波帯に属する電磁波は、紙に対する透過率が可視光よりも格段に大きいため、市販のプリンタ用紙を100枚程度束ねた紙の束も透過する。また、商品の化粧箱等に利用されるボール紙や、色の濃い紙、厚紙なども透過する。
【００２０】
本実施形態においては、紙中に漉き込まれたRFIDタグの位置を紙種や紙の状態によらず特定することができ、この情報に基づいて、例えば、印刷工程において定着ローラによる圧力を低減してRFIDタグの破損を減じることができる。こうして、印刷工程が埋設物体に与える影響を低減する印刷条件の変更処理を実行することで、紙表面への画像の形成の歩留まりを向上させることができる。また、漉き込まれたRFIDタグの位置を特定するので、この情報に基づいて、RFIDタグである埋設物体が印刷工程に与える影響を低減してRFIDタグの位置を示す印を正確に印刷することができる。これにより、利用者が紙中に漉き込まれたRFIDタグの情報を読み取り／書き込みするのが容易になる。
【００２１】
ところで、充分小型のRFIDタグの位置を求める方法としては、可視光を用いる方法や、X線を用いる方法も考えられる。すなわち、可視光又はX線を用い、紙を透かして観察することでタグの位置を測定する方法も考えられる。しかし、RFIDタグの位置を求めるのに可視光を用いる場合、可視光は色の濃い紙や厚紙、商品の化粧箱等に用いられるボール紙、大量に重ねられた紙を透過しないため、タグの位置を測定できる状況が限られている。また、RFIDタグの位置を求めるのにX線を用いる方法は、装置が大掛かりになり、被爆の危険もあるため、あまり望ましくない。
【実施例】
【００２２】
以下、本発明によるRFIDタグなどの位置検出装置ないし方法の実施例について、図面を参照して説明する。
【００２３】
（実施例1）
図1は本発明の実施例1を示す斜視図である。本実施例では、図1の様に、印刷機給紙トレー14上に重ねられたRFIDタグを漉き込んだ紙の束12の最上面にある紙(厚紙、色が濃い紙など）は、搬送機構であるローラ13を用いて印刷機（不図示）に給紙される（図1では、左側へ移動する）。テラヘルツ波発生装置10とテラヘルツ波検出装置11は、印刷機に給紙される紙を上下で挟む様に設置される。
【００２４】
ここにおいて、テラヘルツ波発生装置10から出たテラヘルツ波は、紙上に線状焦点を結ぶ。そして、前記紙を透過したテラヘルツ波は、テラヘルツ波検出装置11で検出される。テラヘルツ波検出装置11は、例えば、複数のテラヘルツ波検出器を線状に並べて配置したものである。
【００２５】
テラヘルツ波は線状焦点に集光されており、前記紙は印刷機側へ移動しているため、紙が印刷機に取り込まれるまでに紙の全範囲をテラヘルツ波線状焦点が走査することになる。
【００２６】
テラヘルツ波発生装置10には、例えば、周波数1THzの逆進行波管（BWO : Backward Wave Oscillator)を用い、レンズやミラー等の光学系を用いて線状に集光させる。また、テラヘルツ波検出装置11には、例えば、パイロ素子をアレイ化したものを用いる。検出効率を高めるために、テラヘルツ波検出装置11の手前にレンズやミラーからなる光学系を用いても良い。
【００２７】
テラヘルツ波に対するRFIDタグと紙の屈折率及び透過率が異なるため、紙のみを透過してきたテラヘルツ波とRFIDタグを透過してきたテラヘルツ波の強度などの相違から、RFIDタグの存在を求めることができる。よって、テラヘルツ波の線状焦点上の一点にRFIDタグがあるとき、線状焦点上のどの場所にRFIDタグが存在するかを判別することができる。
【００２８】
例えば、テラヘルツ波検出装置11に複数のテラヘルツ波検出器を100μm間隔で配列したものを用いた場合は、以下の様な信号が得られ、それによってRFIDタグの位置を求めることができる。図2(a)、(b)は、横軸に100μm間隔で配列された各々のテラヘルツ波検出器の位置を、縦軸に各検出器が検出したテラヘルツ波の強度をプロットしたものである。テラヘルツ波の線状焦点上の一点にRFIDタグが無い時と有る時では、図2(a)、(b)に示したグラフの様な差異が得られる（ただし、図2は模式的な図である）。図2(b)のグラフ2の様な信号が得られたら、テラヘルツ波線状焦点上の該当位置（強度が最低の位置）にRFIDタグが存在することが判明する。
【００２９】
また、ローラ13による前記紙の送りと、前記線状検出器からの出力信号から2次元画像データを得て、画像認識によりRFIDタグの位置を検出しても良い。
【００３０】
図2は、検出されたテラヘルツ波の強度のみをプロットしたものであるが、強度と位相の変化の両方、或いは位相の変化を用いることも可能である。例えば、テラヘルツ波源として、ガリウム砒素等によって作製された光伝導アンテナにフェムト秒レーザを照射する手段を用いる良く知られた方法について説明する。この場合、テラヘルツ波検出にも、発生側と同様な光伝導アンテナにフェムト秒レーザを照射する方法を用いる。フェムト秒レーザをハーフミラー等で分割し、一方を発生側の光伝導アンテナに照射し、もう一方を検出側の光伝導アンテナに照射する。このとき、発生したテラヘルツ波と検出側に照射されるフェムト秒レーザ光とが、同時に検出側光伝導アンテナに到達する様に同期を取る遅延光学系を用いる。発生したテラヘルツ波が検出器に到達する時刻を同期させる遅延光学系を用いることで、図3の様なテラヘルツ波の時間波形グラフが得られる（図3は模式図である）。
【００３１】
図3は、横軸に時間をとり、縦軸に検出されたテラヘルツ波の振幅を示す。図3の時間波形(a)は、紙のみを透過した場合のテラヘルツ波の時間波形である。一方、図3における時間波形(b)は、RFIDタグを透過したテラヘルツ波の時間波形である。紙のみの部分で遅延光学系を走査すれば時間波形(a)が得られ、RFIDタグのある部分で遅延光学系を走査すると時間波形(b)が得られる。
【００３２】
すなわち、紙のみを透過したテラヘルツ波に対し、RFIDタグを透過したテラヘルツ波は強度が減衰するのみならず、位相が遅れている。テラヘルツ波の強度減衰と位相遅れの両者から、当該部分（これら両者を検出したテラヘルツ波検出器の位置と、検出した時間軸上の位置から分かる）にRFIDタグが存在することが判明し、RFIDタグの位置を求めることができる。
【００３３】
RFIDタグの位置が検出できたら、印刷機内でRFIDタグ上のローラ13の圧力を弱めることでRFIDタグを損傷するのを防いでも良い。また、RFIDタグの位置を利用者に明示する印を印刷しても良い。この場合、紙（面状物体）の表面に形成する印（画像）の形成条件（例えば、定着ローラの圧力）を変更する変更手段を備えることになる。タグの位置を明示する印を印刷する場合は、印刷直前に再びタグの位置を測定し直すのも良い。また、タグ自身にタグの位置情報をライタで書き込んでも良い。
【００３４】
なお、本実施例ではテラヘルツ波を線状焦点に集光させているが、テラヘルツ波を一点に集光させ、搬送方向と交差する方向（典型的には、直角方向）に搬送速度より充分速い速度で焦点を走査させても良い。また、テラヘルツ波を平面照射して、平面状のテラヘルツ検出器（イメージセンサ）を用いても良い。
【００３５】
また、本実施例ではRFIDを漉き込んだ紙の束12の上下にテラヘルツ波の発生器、検出器を設置したが、紙搬送機構の一部であるローラ13の内部にテラヘルツ波の発生器、検出器を組み込んでも良い。
【００３６】
テラヘルツ波発生方法及び検出方法には、先に述べたガリウム砒素等でできた光伝導アンテナにフェムト秒レーザを照射することで発生するテラヘルツ波を用いても良いが、次の様な方法でも良い。すなわち、非線形光学効果によるパラメトリック発振を用いたテラヘルツ波を利用しても良いし、また量子多重井戸構造の半導体に電流を注入することでテラヘルツ波が発生するテラヘルツレーザを利用した方法でも良い。
【００３７】
（実施例2）
次に、実施例2を説明する。実施例2では、図4の様に、印刷機給紙トレー14上に重ねられたRFIDタグを漉き込んだ紙の束12の一部の上下に、テラヘルツ波発生装置10とテラヘルツ波検出装置11を設置する。
【００３８】
ここでも、テラヘルツ波発生装置10から出たテラヘルツ波は、紙に線状焦点を結ぶ。そして、前記紙を透過したテラヘルツ波は、テラヘルツ波検出装置11で検出される。テラヘルツ波検出装置11は、例えば、テラヘルツ波検出器を線状に並べて配置したものである。
【００３９】
本実施例でも、テラヘルツ波は線状焦点に集光されており、前記紙は印刷機側へ移動しているため、この紙が印刷機に取り込まれるまでに紙の全範囲をテラヘルツ波線状焦点が走査することになる。
【００４０】
この場合、束ねられたRFIDタグを漉き込んだ紙の束12の最上面にテラヘルツ波を線状集光するわけであるが、第2或いは第3の面にRFIDタグが存在した場合も、図2と同様の信号が得られる可能性がある。しかし、印刷機に最初に取り込まれる最上面の紙はローラ13によって左方に移動しているため、この紙のRFIDタグを示す信号は一瞬だけ現れて、またすぐ消滅する。一方、第2面以下のRFIDタグ漉き込み紙の線状焦点上にRFIDタグが存在する場合は、RFIDタグの存在を示す信号が現れたままである。
【００４１】
例えば、紙送り速度が毎秒10センチメートルであり、テラヘルツ波線状焦点の幅（紙移動方向の幅）が約500マイクロメートルであり、RFIDタグの大きさが500マイクロメートルであるとする。すると、移動する最上面の紙に有るRFIDタグがテラヘルツ波線状焦点を横切る時間は約10ミリ秒である。よって、RFIDタグの存在を示す信号が10ミリ秒間だけ得られた場合は、最上面の紙に有るRFIDタグの存在を示す。それ以上の長時間RFIDタグの存在を示すシグナルが得られた場合は、第2面以下に有る紙中のRFIDタグの存在を示す信号である。ただし、上記の見積は電磁波の散乱・回折を除外したものであるため、実際には上記の見積よりも長い時間、RFIDタグの存在を示す信号が得られる。
【００４２】
この様にして、印刷機に取り込まれる最中にある最上面の紙中のRFIDタグのみを検出することができる。
【００４３】
また、テラヘルツ波発生／検出装置を二組設けても良い。一定距離（例えば1センチ）離して二組のテラヘルツ波発生／検出装置を設置する。そして、第一の検出装置でRFIDタグが検出された後、或る一定時間後に第二の検出装置でRFIDタグが検出された場合は、最上面の紙中にあるRFIDタグであるという判断を下す。
【００４４】
本実施例では、RFIDタグを漉き込んだ紙の束１2を束ねられたままの状態でRFIDタグの位置を検出することで、検出情報のより早い印刷機へのフィードバックなどが可能になる。その他の点は実施例1と同様である。
【００４５】
（実施例3）
実施例3を以下に説明する。実施例3では、図5の様に、印刷機給紙トレー14上に重ねられたRFIDタグを漉き込んだ紙の束12の上部に、テラヘルツ波発生装置10とテラヘルツ波検出装置11を設置する。テラヘルツ波発生装置10から出たテラヘルツ波は、RFIDタグを漉き込んだ紙の束12の最上位面上に線状焦点を結ぶ。そして、RFIDタグを漉き込んだ紙の束12で反射したテラヘルツ波は、同じ側のテラヘルツ波検出装置11で検出される。ここでも、テラヘルツ波検出装置11は、例えば、テラヘルツ波検出器を線状に並べて配置したものである。
【００４６】
テラヘルツ波発生装置10やテラヘルツ波検出装置11には、実施例1のところで述べた様なものを用いることができる。ここでも、検出効率を高めるために、テラヘルツ波検出装置11の手前にレンズやミラーからなる光学系を用いても良い。
【００４７】
この構成でも、テラヘルツ波に対するRFIDタグと紙の反射率などが異なるため、紙のみで反射してきたテラヘルツ波とRFIDタグで反射してきたテラヘルツ波の強度や位相の相違から、RFIDタグの存在を求められる。よって、テラヘルツ波の線状焦点上の一点にRFIDタグが有るとき、線状焦点上のどの場所にRFIDタグが存在するかを判別することができる。
【００４８】
RFIDタグの位置の検出後の処理、その他についても、実施例1の説明と同様に行われる。
【００４９】
（実施例4）
次に。実施例4を説明する。実施例4では、図6に示す様に、テラヘルツ波発生装置20とテラヘルツ波検出装置21、テラヘルツ波ハーフミラー22、テラヘルツ波ミラー23、及び可動テラヘルツ波ミラー24を用い、マイケルソン干渉計を構築する。このとき、マイケルソン干渉計の一方の側には、RFIDタグが漉き込まれた紙27上にレンズ25とレンズ26が焦点を結ぶようこれらを配置する。
【００５０】
テラヘルツ波発生装置20には、例えば、BWOなど可干渉性の高い光源を用いると良いが、光伝導アンテナから発生するテラヘルツ波を用いても良い。テラヘルツ波発生装置20は平行ビームを出す様な光学系を内蔵していても良い。
【００５１】
テラヘルツ波発生装置20から出射したテラヘルツ波は、テラヘルツ波ハーフミラー22によって二つのビームに分けられる。一方は、テラヘルツ波ハーフミラー22を透過した後にテラヘルツ波ミラー23で反射し、再びテラヘルツ波ハーフミラー22に到達し、ここで反射されてテラヘルツ波検出器21に到達する。他方は、テラヘルツ波ハーフミラー22で反射された後、レンズ25によってRFIDタグが漉き込まれた紙27上に焦点を結び、その後レンズ26によって再び平行ビームに戻される。その後、可動テラヘルツ波ミラー24によって反射され、レンズ26、RFIDタグが漉き込まれた紙27、レンズ25を経てテラヘルツ波ハーフミラー22に到達する。そして、テラヘルツ波ハーフミラー22を透過した後、もう一方の側を経たテラヘルツ波と合流し、テラヘルツ波検出器21によって検出される。
【００５２】
このとき、RFIDタグが漉き込まれた紙27を経た側とそうでない側のテラヘルツ波の干渉が起こる。例えば、RFIDタグが漉き込まれた紙27の紙のみの部分で予め可動テラヘルツ波ミラー24を調節して、テラヘルツ波検出感度が最大（強め合う干渉）になる様にする。すると、RFIDタグが漉き込まれた紙27をローラ28を用いて移動させたとき、テラヘルツ波焦点部分にRFIDタグが到達すると干渉条件が変化し、テラヘルツ波検出器21によって検出される値が変化する。すなわち、位相変化が検出される。これによって、RFIDタグの位置を求めることができる。
【００５３】
本実施例の方法では、テラヘルツ波の干渉を用いるため、より高感度にRFIDタグの位置を検出することが可能である。RFIDタグの位置の検出後の処理などについては、実施例1の説明と同様である。
【図面の簡単な説明】
【００５４】
【図１】透過テラヘルツ波を用いて紙中のRFIDタグの位置を検出する実施例1の検出装置の配置を示す斜視図である。
【図２】RFIDタグが紙中に無い場合(a)と有る場合(b)のシグナルの様子を示す模式図である。
【図３】RFIDタグが紙中に有る場合と無い場合の位相遅れを示したシグナルの模式図である。
【図４】透過テラヘルツ波を用いて束ねられた紙中のRFIDタグの位置を検出する実施例2の検出装置の配置を示す斜視図である。
【図５】反射テラヘルツ波を用いて紙中のRFIDタグの位置を検出する実施例3の検出装置の配置を示す斜視図である。
【図６】マイケルソン干渉計の配置を用いて紙中のRFIDタグの位置を検出する実施例4の検出装置の配置を示す図である。
【符号の説明】
【００５５】
10、20  照射部（テラヘルツ波発生装置）
11、21  検出部（テラヘルツ波検出装置）
12  面状物体の束（RFIDタグを漉き込んだ紙の束）
13、28  搬送機構（ローラ）
【図２】
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【図３】
2007178284.tif 000004
【図６】
2007178284.tif 000005
【図１】
2007178284.tif 000006
【図４】
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【図５】
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