(57)【要約】【課題】画像処理が適当な調整をするため、電気的バックエンドが光学サブシステムにより作られる画像品質に関する情報を提供することである。【解決手段】  電気的バックエンドサブシステムと使用する光学サブシステムである。該システムは、対象の光学画像を形成する１つ以上の光学要素と、前記光学要素のハウジングと、前記光学要素により形成される画像の画像品質を記述する１つ以上の画像品質記述子を含む、前記ハウジングに取り付けられた記述子モジュール、及び前記光学画像品質記述子を前記電気的バックエンドサブシステムに伝達する、前記ハウジングに取り付けられたインターフェイスモジュールとを有する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気的バックエンドサブシステムと使用する光学サブシステムであって、
対象の光学画像を形成する１つ以上の光学要素と、
前記光学要素のハウジングと、
前記光学要素により形成される画像の画像品質を記述する１つ以上の画像品質記述子を含む、前記ハウジングに取り付けられた記述子モジュール、及び前記光学画像品質記述子を前記電気的バックエンドサブシステムに伝達する、前記ハウジングに取り付けられたインターフェイスモジュールとを有する光学サブシステム。
【請求項２】
前記光学画像品質記述子は前記画像品質の空間周波数表示を含む、請求項１に記載の光学サブシステム。
【請求項３】
前記光学画像品質記述子は前記光学要素のＯＴＦの記述子を含む、請求項１に記載の光学サブシステム。
【請求項４】
前記光学画像品質記述子は前記光学要素のＯＴＦの光学カットオフ周波数を含む、請求項１に記載の光学サブシステム。
【請求項５】
前記光学画像品質記述子は前記光学要素のＰＳＦの記述子を含む、請求項１に記載の光学サブシステム。
【請求項６】
前記光学画像品質記述子は前記光学要素の光波面の記述子を含む、請求項１に記載の光学サブシステム。
【請求項７】
前記光学画像品質記述子は光学収差の従来の幾何光学的表現を含む、請求項１に記載の光学サブシステム。
【請求項８】
前記記述子モジュールは前記光学画像品質記述子のコードを含み、前記インターフェイスモジュールは前記コードを前記電気的バックエンドサブシステムに伝達する、請求項１に記載の光学サブシステム。
【請求項９】
前記インターフェイスモジュールは複数の電気的バックエンドサブシステムとインターフェイスできる標準インターフェイスを含む、請求項１に記載の光学サブシステム。
【請求項１０】
光学サブシステムであって、
対象の光学画像を形成する１つ以上の光学要素と、
前記光学要素により形成された画像を検出できる電気的バックエンドサブシステムに取り付けられる、前記光学要素のためのハウジングと、
前記光学要素により形成された画像の画像品質を記述する１つ以上の光学画像品質記述子を含む、前記ハウジングに取り付けられた記述子モジュールとを有する光学サブシステム。
【請求項１１】
電気的バックエンドサブシステムと使用する光学サブシステムであって、
対象の幾何学的に多重化された光学画像を形成する１つ以上の光学要素と、
前記光学要素のハウジングと、
前記光学要素により形成される幾何学的に多重化された画像の幾何学的コーディングを記述する１つ以上の画像品質記述子を含む、前記ハウジングに取り付けられた記述子モジュール、及び前記光学画像品質記述子を前記電気的バックエンドサブシステムに伝達する、前記ハウジングに取り付けられたインターフェイスモジュールとを有する光学サブシステム。
【請求項１２】
光学サブシステムと電気的バックエンドサブシステムとを有する電気光学画像化システムの動作方法であって、
前記光学サブシステムから前記電気的バックエンドサブシステムに１つ以上の光学画像品質記述子を伝達する段階と、
前記光学画像品質記述子により前記電気的バックエンドサブシステムの画像処理パラメータを調節する段階とを有する方法。
【請求項１３】
前記電気的バックエンドサブシステムから前記光学サブシステムに要求を伝達する段階をさらに有し、前記要求に応答して前記光学画像品質記述子が前記電気的バックエンドサブシステムに伝達される、請求項１２に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像化に使用される光学サブシステムに関し、より具体的には、それにより生成される画像品質に関する情報を提供するサブシステムに関する。
【背景技術】
【０００２】
電気光学画像化システムは、一般的に、光学サブシステム（例えば、レンズアセンブリ）、電子ディテクタサブシステム（例えば、ＣＣＤディテクタアレイ）、及び（例えば、典型的には専用チップまたはソフトウェアに実装された）デジタル画像処理サブシステムとを含む。多くの商業的画像化システムの場合、異なるコンポーネントは異なるベンダーにより供給されるように市場が発展してきた。例えば、一組のベンダーが異なるタイプの光学サブシステムを供給し、異なる組のベンダーが電気的バックエンドサブシステム（すなわち、ディテクタサブシステムと、もしあればデジタル画像処理サブシステムと）を供給することがよくある。
【０００３】
一例としてデジタルカメラ市場が挙げられる。デジタルカメラは異なるベンダーにより供給されるコンポーネント（具体的には、カメラ本体に対して互換性のあるレンズ）を組み合わせたものである。同様に、携帯電話に組み込まれたデジタルスチルカメラ等の場合、カメラを組み込むメーカーは、自社のバックエンドと組み合わせるためにオープンマーケットでできあいのレンズサブシステムを購入するのが一般的である。
【０００４】
このような、光学ベンダーが電気的バックエンドのベンダーと別の会社であることは、従来の設計方法では、光学サブシステムを電気的バックエンドとは独立して設計しているからである。一般的に、光学サブシステムは、対象の高品質な光学画像を形成することを目標に設計されている。多くの場合、回折限界の光学サブシステムを設計することを目標としている。結果として、電気的バックエンドを設計するためには、画像化シナリオ全体を記述するパラメータ（Ｆナンバー、焦点距離、共役、フィールド長）だけにより光学サブシステムを記述することができる。標準化したメカニカルマウントにより、異なる光学サブシステムの互換性と、光学サブシステム及び電気的バックエンドを別々に設計することが容易になる。
【０００５】
このように別々にアプローチすることにより、メーカーは光学サブシステムか、電気的バックエンドかのいずれかに特化することができるという有利性がある。ベンダーは例えば光学サブシステムにおける専門性を築き、低価格で品質のよい製品を生産することができる。さらにまた、製品が標準化されたメカニカルマウント（mechanical  mount）を有している場合、異なるベンダーにより生産された異なる電気的バックエンドを使用することができる。これにより、製品の全体的な生産量が増加し、さらにコストを下げることができる。
【０００６】
しかし、この従来のアプローチにも１つ欠点があり、光学サブシステムと電気的バックエンドの間のシナジー効果が失われてしまう。例えば、複数のベンダーがＦナンバー、焦点距離等が同一の競合製品を生産してもよい。しかし、各ベンダーの製品は、設計が異なり画像品質も異なる（例えば、ボケや歪みが多少異なる）ものであることが多い。さらにまた、こうした画像品質は、製造誤差により、同一ベンダーの個々のサブシステムでも異なる。しかし、光学サブシステムを単純にそのＦナンバー、焦点距離等により記述すると、画像品質に関する情報が失われてしまう。場合によっては、バックエンドの画像処理機能により光学系による生じる画像の品質低下を補償することができるが、画像品質に関する情報がなければ、画像処理サブシステムは何をしたらよいのか分からないであろう。
【０００７】
一例としてＳＬＲカメラレンズの市場がある。この市場では、複数のレンズベンダーがいろいろなカメラ本体に合うように設計されたレンズを供給している。これらのレンズはエンドユーザにより交換可能である。カメラ本体の画像処理サブシステムは、そのレンズにより作られる画像の品質に関する情報を（利用できるとしても）ほとんど利用していない。その理由は、一部には、その情報を画像処理サブシステムが利用できるようになっていないからである。むしろ、カメラ本体が「一般的な」（通常は高品質な）レンズに対して設計されており、それに対応する「一般的な」画像処理を使用している。システムは、高性能（かつ高価）な光学系に依存して、満足できる性能を達成している。画像処理サブシステムは、一般的には、カメラ本体に取り付けられたレンズの関数として適応する能力を有していない。その理由は、一部では、交換可能性を高めるために、レンズは最も低い共通特性に合わせて設計されている。例えば、多くの場合、この最低共通特性（lowest  common  denominator）は回折限界であり、電気的バックエンドは回折限界に合わせて設計することができる。
【０００８】
しかし、これは重大な欠点である。最近の発展によると、光学サブシステムと電気的バックエンドの間にはシナジー効果があるからである。場合によっては、簡単で安価な非回折限界レンズで、回折限界レンズと同じ全体的システム性能を達成することができる。画像処理によりレンズの欠点が補償されるからである。以下の同時係属の特許出願は、電気光学画像化システムのエンド・ツー・エンド設計に関し、光学サブシステムとデジタル画像処理サブシステムを同時に設計し、両者のシナジー効果を利用する：米国特許出願第１１／１５５，８７０号（「電気光学画像化システムのエンド・ツー・エンド設計」、２００５年６月１７日出願）；同第１１／２４５，５６３号（「電気光学画像化システムの光学系及び画像処理の同時調整」、２００５年１０月７日出願）；同第１１／３３２，６４０号（「制約されたデジタルフィルタを有する電気光学画像化システムのエンド・ツー・エンド設計」、２００６年１月１３日出願）；同第１１／４３３，０４１号（「超解像電気光学画像化システムのエンド・ツー・エンド設計」、２００６年５月１２日出願）；同第１１／４３３，７８０号（「調節可能光学カットオフ周波数を有する電気光学画像化システムのエンド・ツー・エンド設計」、２００６年５月１２日出願）。上記文献はここに参照援用する。これらの例では、デジタル画像処理サブシステムの能力を利用して、レンズ系のコストを下げるか、新しい画像化機能を提供する。これらのシステムの画像処理と光学系を、注意深くバランスさせ、相乗効果があるようにしている。
【０００９】
より一般的には、光学サブシステムと比べたデジタル画像処理サブシステムの１つの利点は、通常、画像処理パラメータを比較的低いコストで変更できることである。上記の例に基づき、光学サブシステムの変更に応じてチューニングできるデジタル画像処理サブシステムを用いて、画像システムの全体的な品質を向上するために、この特徴を利用できる場合がある。
【００１０】
付加されるレンズ系に応じて変化する画像処理サブシステムのこの能力は、非伝統的な光学サブシステムの使用が増えるにつれて、重要性を増すだろう。例えば、ＣＤＭオプティクス社（米国コロラド州ボールダー市）が、ある方法で入来波形をエンコード（encode）するために光学サブシステムの開口に配置される特殊設計の位相板を開発している。後でデジタル画像処理を仕様して、その位相板により生じたエンコードを逆転し、ある画像コンテンツを読み出す。他の例では、大阪の研究者達がマルチ開口画像化システムを作った。このシステムは、２次元配列した光学レンズを使用して、ディテクタ平面に低品質の光学画像の配列を作るものである。低品質画像（の集合）をデジタル画像処理して結合し、高解像度画像を生成している。このように、高解像度画像を薄い光学系を用いて得ることができる。これらの非伝統的な光学サブシステムのベンダーは、光学系と画像処理の間のインターラクションによる利益を多数実現するレンズ系を構成し、一方で広い範囲の電気的バックエンドサブシステムとの相互運用性を保ちたいと考えている。
【００１１】
適応可能画像処理サブシステムの有用性を示す他の例として、ユーザインターラクションまたはカメラ制御（例えば、ズームシステム、可変焦点システム等）またはその他の環境要因の結果として、レンズシステムが可変光学特性を有する場合がある。例えば、ユーザがレンズ系を調節すると、画像処理がそれに応じて変化することが有益である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかし、これらの場合、画像処理が適当な調整をするには、電気的バックエンドが光学サブシステムにより作られる画像品質に関する情報を必要とする。現在のシステムは、Ｆナンバー、焦点距離等を提供するだけであり、画像品質に関する情報は提供していない。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明は、それにより作られる画像品質の記述子（descriptors）を提供する光学サブシステムを提供することにより、先行技術の限界を解消する。記述子は電気的バックエンドに伝達され、その電気的バックエンドは画像処理を適宜調整する。
【００１４】
一実施形態では、光学サブシステムは１つ以上の光学要素と、その光学要素のハウジングと、インターフェイスモジュール及び記述子モジュールとを含む。光学要素（例えば、レンズアセンブリ）は対象の光学画像を形成する。ハウジングは、その光学要素を収容し、電気的バックエンドに取り付けられる。好ましくは、標準的インターフェイスを有し、多数の異なる電気的バックエンドのいずれにも取り付けられる。インターフェイスモジュールと記述子モジュールは、光学サブシステムの一部として含まれており、好ましくはハウジングに取り付けられる。記述子モジュールは、１つ以上の光学画像品質記述子を含む。この記述子は、光学要素により形成された光学画像の画像品質を記述する。インターフェイスモジュールは、光学画像品質記述子を電気的バックエンドに伝達する。
【００１５】
異なるタイプの光学画像品質記述子を使用することができる。例えば、記述子は、画像品質の空間周波数記述またはフーリエ光学記述、光学要素により作られた光波面、及び／または光学収差の従来の幾何光学記述に基づき得る。記述子情報は、例えばいろいろなタイプの圧縮や基底関数への分解を用いて、多数の異なる方法でエンコード（encode）し得る。ユニットのシリアルナンバーやバーコード等のコードを記述子情報へのポインタとして使用できる。
【００１６】
異なるタイプのインターフェイスモジュールとデータ経路を使用することもできる。一実施形態では、インターフェイスモジュールは電気的コネクタを含み、その電気的コネクタは電気的バックエンドサブシステムの対応する電気的コネクタに合う（mate）。他のアプローチでは、データの伝達はワイヤレスで行われる。インターフェイスモジュールは、バックエンドへのデータの伝達を開始してもよいし、バックエンドからの要求に応答してもよい。インターフェイスモジュールは、好ましくは標準化されており、異なる電気的バックエンドサブシステムと通信できる。
【００１７】
本発明の他の態様には、上記の装置を使用するシステム、方法、これらの装置及びシステムのためのアプリケーションプログラムが含まれる。
【００１８】
本発明には他の利点と特徴があり、これらは添付した図面を参照して以下の本発明の詳細な説明と添付した請求項から容易に明らかになるであろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
図面は、本発明の実施例を例示のみを目的として示している。当業者には以下の説明から言うまでもないことであるが、ここに例示した構成と方法の別の実施形態を、ここに説明する本発明の原理から逸脱することなく、利用することができる。
【００２０】
図１は、本発明による電気光学画像化システム１００を示すブロック図である。システム１００は、光学サブシステム１１０を含み、この光学サブシステム１１０は電気的バックエンドサブシステム１５０に取り付けることができる。電気的バックエンド１５０は、ディテクタサブシステム１２０とデジタル画像処理サブシステム１３０とを含む。
【００２１】
システム１００は、対象の画像を取得するために使用する。光学サブシステム１１０は、対象の光学画像を生成する。光学サブシステム１１０は、一般的には屈折システム（例えばレンズ系）、反射システム（例えばミラー系）、またはハイブリッドシステムであるが、他のタイプの光学要素（回折光学要素やホログラフ光学要素）を使用することもできる。光学サブシステム１１０は、様々な波長範囲に対して設計される。赤外、可視、近紫外はよく使われる関心波長範囲（wavelength  ranges  of  interest）である。光学サブシステム１１０は、一般的には、光学要素の数、タイプ、形状、位置、開口または絞りの大きさ等のパラメータにより定義される。画像化シナリオのパラメータ（例えば、Ｆナンバー、焦点距離、共役、フィールドサイズ等）を使用して、光学サブシステム１１０を記述してもよい。
【００２２】
ディテクタサブシステム１２０は、光学サブシステム１１０により形成された光学画像を検出し、その形式を光から電気に変換する。ＣＣＤその他のディテクタ配列は、ディテクタサブシステム１２０の一般的な実施形態である。ディテクタサブシステム１２０は、一般的には、ピクセル数、ディテクタ間隔、充てん比、帯域幅、ピクセル形状等のパラメータにより定義できる。
【００２３】
取得された画像が電気信号になると、デジタル画像処理サブシステム１３０がその画像を画像処理する。これらの方法を使用して、システムの他の部分により生じた画像の劣化（例えば、光学的ぼけ、色収差、画像の形状的歪み等）を補償する。これらの方法を使用して、取得画像をさらに処理することもできる。例えば、フィルタをかけてエッジをシャープ（またはスムース）にしたり、疑似カラーその他の画質改善（enhancement）方法を適用することができる。関心対象を識別するために、パターンマッチング、照合フィルタリングその他の識別方法を使用することもできる。（超解像等の）マルチフレーム方法や（時間差等の）フレーム・ツー・フレーム方法を適用することもできる。従来のデジタルフィルタの場合、デジタル画像処理サブシステムは、使用するデジタル画像処理のタイプや、その処理タイプのパラメータ（例えば、リニアまたはノンリニアフィルタ、タップ数、タップウェイト等）のパラメータにより定義される。
【００２４】
図１において、ディテクタサブシステム１２０とデジタル画像処理サブシステム１３０は、１つのコンポーネント（電気的バックエンド１５０と呼ぶ）として実施され、光学サブシステム１１０は別のコンポーネントとして実施される。光学サブシステム１１０は、電気的バックエンド１５０に取り付けることができる。例えば、電気的バックエンド１５０はカメラ本体であり、光学サブシステム１１０はそのカメラ本体用に設計されたレンズシステムである。
【００２５】
上記の通り、システム１００は、電気的バックエンド１５０の設定が光学サブシステム１１０の特性によって決まるように設計されている。例えば、デジタル画像処理サブシステム１３０により実施されるデジタルフィルタリングは、光学サブシステム１１０の光学伝達関数（ＯＴＦ）または変調伝達関数（ＭＴＦ）の関数として変化する。それゆえ、２つのコンポーネントの間でこの種の情報の通信が有用である。
【００２６】
したがって、図１において、光学サブシステム１１０は、光学画像を作る光学要素１１２と、その光学要素のハウジング１１４を含む。しかし、光学サブシステム１１０は、インターフェイスモジュール１１６と記述子モジュール１１８も含む。記述子モジュール１１８は、光学画像品質記述子を含む。この記述子は、光学要素１１２により形成された画像の画像品質を記述する。インターフェイスモジュール１１６を使用して光学画像品質記述子を電気的バックエンド１５０に伝達する。この具体例では、電気的バックエンドには対応モジュール１３６がある。このモジュール１３６は、インターフェイスモジュール１１６から光学画像品質記述子を受け取る。デジタル画像処理サブシステム１３０はその画像処理を適宜調節する。
【００２７】
光学画像品質記述子は、光学要素１１２により作成された画像品質を記述するために使用される。Ｆナンバー、焦点距離、共役、フィールドサイズ等の量は、一般的に、画像品質に関する情報は含まないので、光学画像品質記述子ではない。デジタル画像処理との使用に適した光学画像品質記述子の種類は、空間周波数またはフーリエ光学のコンセプトに基づくクラスである。例としては、光学サブシステムのＭＴＦまたは点広がり関数（ＰＳＦ）に基づく記述子が挙げられる。ＭＴＦに関して、ＭＴＦを多項式近似して、その多項式近似の結果求まる係数を記述子として使用する。あるいは、ＭＴＦ曲線上のいろいろな点を使用できる：ＭＴＦが低下して最初に９０％、５０％、１０％等になる空間周波数；それを越えるとＭＴＦが常に１０％、５％、１％等より低くなる空間周波数；それより低いＭＴＦが、総エネルギーの９０％、８０％等を含む空間周波数；特定の空間周波数におけるＭＴＦ値等である。光学画像品質記述子は、ＭＴＦ曲線全体を記述する空間周波数とＭＴＦのテーブルを含む。同様のコンセプトを適用して、ＰＳＦに基づいて光学画像品質記述子を求めることもできる。
【００２８】
図２は、光学画像品質識別子になる量の例を示している。この例は、米国特許出願第１１／４３３，７８０号（「調節可能光学カットオフ周波数を有する電気光学画像化システムのエンド・ツー・エンド設計」、２００６年５月１２日出願）の図１０Ａ乃至図１０Ｃから取ったものである。この例は、中央の光学要素を光軸に沿って動かして背面焦点距離も調整できるトリプレットレンズシステム（triplet  lens  system）に関する。トリプレットレンズシステムは、システムのＭＴＦがローパスフィルタのように機能して、高周波成分からエイリアシングを低減するように設計されている。ローパスフィルタの光学カットオフ周波数は、上記のようにトリプレットを調節することにより変えられる。
【００２９】
図２は、トリプレットレンズ系（triplet  lens  system）の異なる５つの位置においけるＭＴＦ２１０−２１８を示している。曲線２２０は回折限界ＭＴＦである。これらの５つの位置２１０−２１８は、ディテクタピッチがそれぞれ４、６、９、１２及び１５μｍで、エイリアシングを低減するように、最適化されている。このように、ディテクタピッチをこの系の光学画像品質記述子として使用できる。電気的バックエンドサブシステムは、ディテクタピッチが９μｍである場合、レンズ系から受け取った記述子情報を使用して、フィードバックとしてレンズ系を自動的に駆動して９μｍの光学設定にする。
【００３０】
あるいは、いろいろな設定におけるＭＴＦ曲線全体をサンプリングすることもできる。電気的バックエンドはこれを使用して、ＭＴＦ曲線に対して最適な画像処理を決定する。簡略化したアプローチでは、各ＭＴＦ曲線を光学カットオフ周波数（例えば、ＭＴＦが２０％に下がる空間周波数）により特徴付ける。この光学カットオフ周波数を使用して、ＭＴＦ曲線の残りの部分については仮定をおいて、デジタル画像処理サブシステムを調整する。
【００３１】
他種類の光学画像品質記述子としては、光学収差の従来の幾何光学的記述に基づくものがある。記述子としては、光学的ぼけ（例えば、コマ収差、非点収差等、またはＲＭＳスポットサイズの大きさ）、色収差、画像フィールドの幾何学的歪み（例えば、クラシックバレル歪みやピンクッション歪み）、口径食により生じるような照明変化等が挙げられる。他の種類の記述子は、光学サブシステムにより作られる光波面に基づくものがある。例えば、波面はゼルニケ（Zernike）多項式により表される。例えば、光学サブシステムが適応フィルタ、可変フィルタ、空間変化フィルタ等を含む波長フィルタまたは偏光フィルタを含む場合、記述子は画像に関する波長または偏光に関する情報を提供してもよい。
【００３２】
光学サブシステム１１０は従来のものでない場合もある。例えば、ＣＤＭオプティクスの位相板により、光学サブシステムの開口における従来のものではない波面コーディングができる。この波面コーディング（wavefront  coding）により、系全体の被写界深度が大きくなるが、それはデジタル画像処理サブシステムにより適当なデコーディングが行われた場合に限る。この例では、光学画像品質記述子が波面コーディングを特定し、デジタル画像処理サブシステムがどのタイプのデコーディング（decoding）を行うか知るようにする。
【００３３】
他の例として、光学サブシステムは、図３に示したように、対象の幾何学的に多重化された画像（すなわち、対象の小さな画像がフィールド全体にわたってタイルのように配置された画像）を作るミニレンズ（mini-lenses）の配列であってもよい。この場合、光学画像品質記述子は、画像の幾何学的コーディングを記述するものであってもよい。例えば、小さな画像がいくつ形成され（Ｎ×Ｎ）、そのサイズや位置はどうか、その小さな画像は異なるゲインファクタ（例えば、ダイナミックレンジをよくするために一部の画像は暗く、他の画像は明るい）、カラーフィルタ、焦点距離、ＭＴＦ、その他の画像毎の変化はあるかなどを記述するものであってもよい。このように、電気的バックエンド１５０は、通常とは異なる方法で取得画像を処理することを知ることができる。
【００３４】
図４乃至図６は、光学サブシステム１１０と電気的バックエンド１５０との間の、記述子情報を伝達（communicate）する異なるメカニズムの例を示している。図４において、インターフェイスモジュール１１６は電気的コンタクトを含み、この電気的コンタクトは、光学サブシステム１１０がバックエンド１５０に取り付けられたとき、電気的バックエンド１５０の対応するコンタクト１３６と対になる（mate）。これらのコンタクト間にできた電気的経路を介して２つのコンポーネント間でデータが伝達される。例えば、光学画像品質記述子が不揮発メモリ１１８に格納され、電気的コンタクト１１６を介して電気的バックエンド１５０に送られる。電気的コンタクトを使用して、光学サブシステム（例えば、記述子モジュール１１８またはインターフェイスモジュール１１６のパワー回路）にパワー供給してもよい。
【００３５】
図５において、インターフェイスモジュール１１６はワイヤレストランスミッタを含み、データの伝達はワイヤレスで行われる。一実施形態では、トランスミッタ１１６は、電気的バックエンド１５０のレシーバ１３６に記述子情報を直接送る。他のデータ経路も可能である。例えば、トランスミッタ１１６は、シリアルナンバーを中央サーバにワイヤレスで送り、その中央サーバが対応する記述子情報を調べ、その識別子情報を電気的バックエンド１５０に送ることもできる。
【００３６】
図６では、インターフェイスモジュールはない。光学サブシステム１１０が、それに付されたバーコード１１８の形式で光学画像品質記述子を含んでいる。バーコードは光学画像品質記述子としてのみ使用できる。あるいは、そのバーコードは他の目的を果たしてもよい。例えば、バーコードはシリアルナンバーその他の識別子であってもよい。これらの識別子を使用して光学画像品質記述子を特定する。１つのアプローチでは、電気的バックエンド（またはその他の機器）がバーコード１１８を調べて（interrogate）記述子情報を取得する。異なるアプローチでは、ユーザがバーコード１１８を手作業で調べる。
【００３７】
記述子情報の伝達は、光学サブシステムが能動的または受動的に行い、光学サブシステム１１０または電気的バックエンド１５０（またはその他の機器）により開始される。図４と図５に示した例では、光学サブシステム１１０は能動的であり、電気的バックエンドへの記述子情報の伝達を開始する。図６は受動的な例であり、記述子情報は光学サブシステムに問い合わせられる。ＲＦＩＤタグは、情報を問い合わせを受けることができる受動的装置の他の例である。さらに別のアプローチでは、光学サブシステム１１０は電気的バックエンド１５０からの要求に応じて記述子情報を供給する。
【００３８】
図７と図８は、本発明による記述子情報を使用する方法を示すフロー図である。図７において、任意的に要求に応答して（ステップ７１０）、記述子情報が光学サブシステム１１０から電気的バックエンド１５０に伝達される（ステップ７２０）。この情報を使用して、画像処理パラメータを適宜調整する（ステップ７３０）。このプロセスは、光学サブシステム１１０が電気的バックエンド１５０に最初に取り付けられた時に自動的に行われ得る。あるいは、システムがパワーオンされるたびに、または定期的に自動的に繰り返されてもよい。
【００３９】
図８は動的調整を示す。この例では、光学サブシステム１１０は調整可能である。例えば、光学カットオフ周波数は、図２の例のように調節可能である。１つのアプローチでは、光学的サブシステム１１０が調節される（ステップ８１０）。この調節は手作業の場合もある。その調節により画像品質が変わり、対応する光学画像品質記述子も変わる。結果として、新しい記述子情報をバックエンドに伝達する（ステップ８２０）。これにより、対応する調整が画像処理に行われる（ステップ８３０）。
【００４０】
このプロセスは、所望の動作点が実現するまで繰り返すことができる（ステップ８４０）。調整が手作業で行われる場合、ユーザがさらに調整を行わなければ、このプロセスは終了する。あるいは、プロセス全体を自動的に行うこともできる。ユーザが所望の終点（例えば、特定のカットオフ周波数やディテクタピッチ）を入力し、システムが光学サブシステム１１０と電気的バックエンド１５０をその所望された終点にする。
【００４１】
詳細な説明には具体的事項が多数含まれているが、これらは本発明の範囲を限定するものではなく、本発明の異なる実施例と態様を例示することのみを目的としたものと解釈しなければならない。言うまでもなく、本発明の範囲はここで詳細に説明していない他の実施形態も含む。その他の様々な修正、変更、変形が、当該技術分野の当業者には明らかである。添付した請求項に記載した本発明の精神と範囲から逸脱することなく、ここに開示した本発明の方法と装置の構成、動作、詳細に対して、こうした様々な修正、変更、変形をすることが可能である。それゆえ、本発明の範囲は特許請求の範囲及びその均等物により決定されるべきである。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】本発明による電気光学画像化システムのブロック図である。
【図２】光学カットオフ周波数が可変であるトリプレットレンズシステムのＭＴＦを示すグラフである。
【図３】非伝統的な画像化システムにより作られた幾何学的に多重化された画像を示す図である。
【図４】本発明による電気的コネクタを有するレンズ系を示す図である。
【図５】本発明による電気的コネクタを有するレンズ系を示す図である。
【図６】本発明によるバーコードを有するレンズ系を示す図である。
【図７】本発明による記述子情報を使用する方法を示すフロー図である。
【図８】本発明による記述子情報を使用する方法を示すフロー図である。
【符号の説明】
【００４３】
１００  電気光学画像化システム
１１０  光学サブシステム
１１２  光学要素
１１４  ハウジング
１１６  インターフェイスモジュール
１１８  記述子モジュール
１２０  ディテクタサブシステム
１３０  デジタル画像処理サブシステム
１３６  対応モジュール
１５０  電気的バックエンドサブシステム
【図１】
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【図２】
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【図３】
2007325278.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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