(57)【要約】【課題】  温度変化などによりデューティ誤差が生じた場合に、レーザパワーを所望のレベルに正確にフィードフォワード制御可能なレーザパワー制御装置を提供する。【解決手段】  ユーザデータに影響のない領域又はタイミング３０において、マルチパルス発光とピークパルスＤＣ発光とを行い、検出された各ピーク光量値の比を第１の誤差補正係数として保持しておき、テスト発光領域１０において、クーリング発光、ボトム発光、バイアス発光、マルチパルス発光を含むテスト発光１１を行い、各光量値を検出すると共にピーク光量値を算出した後、該算出されたピーク光量値を上記第１の誤差補正係数を用いて補正し、該補正後のピーク光量値を含む上記検出した各光量値を用いて、フィードフォワード制御を行う。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録中周期的に出現する特定の領域で、記録時のパワーレベルでの数パターンのレーザ発光を出力し、出力したレーザ光量を検出し、検出されたレーザ光量から記録時のレーザパワーを一定に保つようにレーザ駆動電流を演算するフィードフォワード制御を行うレーザパワー制御方法において、
上記記録中周期的に出現する特定領域以外のユーザデータに影響の無い領域またはタイミングにおいて、マルチパルス発光をボトムパワーレベルからピークパワーレベル間の振幅で行う第１のマルチパルス発光と、該第１のマルチパルス発光のピーク光量値に相当するパワーで一定時間連続発光を行うＤＣ発光とを行い、
上記第１のマルチパルス発光により検出される第１のマルチパルス光量平均値とデューティとから演算された第１のピーク光量値と、上記ＤＣ発光により検出された第２のピーク光量値から、上記第１のピーク光量値を実際に出力されているピーク光量値に補正する第１の誤差補正係数を演算して保持し、
上記特定領域においては、上記第１のマルチパルス発光を含む第１のレーザ発光を行い、
該第１のレーザ発光のタイミングで、上記第１のマルチパルス発光より得られる上記第１のピーク光量値を上記保持された第１の誤差補正係数を用いて補正すると共に、上記第１のレーザ発光により検出される記録時のパワーレベルの各光量値と、上記補正後のピーク光量値とを元に、上記記録時のレーザパワーのフィードフォワード制御を行なう、
ことを特徴とするレーザパワー制御方法。
【請求項２】
記録中周期的に出現する特定の領域で、記録時のパワーレベルでの数パターンのレーザ発光を出力し、出力したレーザ光量を検出し、検出されたレーザ光量から記録時のレーザパワーを一定に保つようにレーザ駆動電流を演算するフィードフォワード制御を行うレーザパワー制御方法において、
上記記録中周期的に出現する特定領域において、マルチパルス発光をボトムパワーレベルからピークパワーレベル間の振幅で行う第１のマルチパルス発光を含む第１のレーザ発光と、該第１のマルチパルス発光の代わり、周期的に、上記第１のマルチパルス発光のピーク光量値に相当するパワーで一定時間連続発光を行うＤＣ発光を含む第２のレーザ発光とを行い、
上記第２のレーザ発光のタイミングで、上記ＤＣ発光より第２のピーク光量値を検出して更新保持すると共に、該第２のレーザ発光により検出される記録時のパワーレベルの各光量値と、該第２のピーク光量値とを元に、上記記録時のレーザパワーをフィードフォワード制御し、
上記第１のレーザ発光のタイミングでは、該第１のレーザ発光により検出される記録時のパワーレベルの各光量値と、周期的に更新保持される上記第２のピーク光量値とを元に、上記記録時のレーザパワーのフィードフォワード制御を行なう、
ことを特徴とするレーザパワー制御方法。
【請求項３】
請求項２に記載のレーザパワー制御方法において、
上記第１のレーザ発光のタイミングでは、上記マルチパルス発光により検出される第１のマルチパルス光量平均値とデューティとから演算される第１のピーク光量値と、上記更新保持される第２のピーク光量値とから、該第１のピーク光量値を実際に出力されているピーク光量値に補正する第１の誤差補正係数を算出して更新保持すると共に、上記第１のレーザ発光により検出される記録時のパワーレベルの各光量値と、上記ピーク光量値を上記第１の誤差補正係数で補正したピーク光量値とを元に、上記記録時のレーザパワーのフィードフォワード制御を行なう、
ことを特徴とするレーザパワー制御方法。
【請求項４】
記録中周期的に出現する特定の領域で、記録時のパワーレベルでの数パターンのレーザ発光を出力し、出力したレーザ光量を検出し、検出されたレーザ光量から記録時のレーザパワーを一定に保つようにレーザ駆動電流を演算するフィードフォワード制御を行うレーザパワー制御方法において、
上記記録中周期的に出現する特定領域において、マルチパルス発光をボトムパワーレベルからピークパワーレベル間の振幅で行う第１のマルチパルス発光を含む第１のレーザ発光と、該第１のマルチパルス発光に代わり、周期的にマルチパルス発光をボトムパワーレベルからバイアスパワーレベル間の振幅で行う第２のマルチパルス発光を含む第３のレーザ発光とを行い、
上記第３のレーザ発光のタイミングで、上記第２のマルチパルス発光より検出される第２のマルチパルス光量平均値とデューティとから演算される第１のバイアス光量値と、該第３のレーザ発光より検出される第２のバイアス光量値とから、上記第１のレーザ発光において得られる第１のピーク光量値を実際に出力されているピーク光量値に補正する第２の誤差補正係数を演算して更新保持し、
上記第１のレーザ発光のタイミングで、上記第１のマルチパルス発光より検出される第１のマルチパルス光量平均値とデューティとから演算される第１のピーク光量を、上記更新保持されている第２の誤差補正係数を用いて補正すると共に、上記第１のレーザ発光により検出される記録時のパワーレベルの各光量値と、該補正後のピーク光量値とを元に、上記記録時のレーザパワーのフィードフォワード制御を行なう、
ことを特徴とするレーザパワー制御方法。
【請求項５】
記録中周期的に出現する特定の領域で、記録時のパワーレベルでの数パターンのレーザ発光を出力し、出力したレーザ光量を検出し、検出されたレーザ光量から記録時のレーザパワーを一定に保つようにレーザ駆動電流を演算するフィードフォワード制御を行うレーザパワー制御方法において、
上記記録中周期的に出現する特定領域において、非マルチパルス発光を含む第４のレーザ発光と、該非マルチパルス発光に代わり、周期的に、上記非マルチパルス発光のピーク光量値に相当するパワーで一定時間連続発光を行うＤＣ発光を含む第２のレーザ発光とを行い、
上記第２のレーザ発光のタイミングで、上記ＤＣ発光より第２のピーク光量値を検出して更新保持すると共に、上記第２のレーザ発光により検出される記録時のパワーレベルの各光量値と、上記第２のピーク光量値とを元に、上記記録時のレーザパワーをフィードフォワード制御し、
上記第４のレーザ発光のタイミングで、上記第４のレーザ発光により検出される記録時のパワーレベルの各光量値と、保持されている上記第２のピーク光量値とを元に、上記記録時のレーザパワーのフィードフォワード制御を行なう、
ことを特徴とするレーザパワー制御方法。
【請求項６】
記録中周期的に出現する特定の領域で、記録時のパワーレベルでの数パターンのレーザ発光を出力し、出力したレーザ光量を光量検出部で検出し、該検出されたレーザ光量から記録時のレーザパワーを一定に保つようにレーザ駆動電流を演算するフィードフォワード制御を行うレーザパワー制御装置において、
マルチパルスの出力をボトムパワーレベルからピークパワーレベル間の振幅で行う第１のマルチパルス出力手段と、
上記第１のマルチパルス出力手段によるマルチパルス発光を上記光量検出部で検出した第１のマルチパルス光量平均値とデューティとから、該マルチパルス発光のピーク光量値を演算する第１のピーク光量値検出手段と、
上記第１のマルチパルス出力手段によるマルチパルス出力のピークパワー値に相当するパワーで一定期間のＤＣ発光を行うピークパルスＤＣ出力手段と、
上記第１のピーク光量値検出手段で得られたピーク光量値と、上記ピークパルスＤＣ出力手段によるＤＣ発光を上記光量検出部で検出して得た第２のピーク光量値との比を、第１の誤差補正係数として保持する第１の補正係数取得手段と、
上記第１のピーク光量値検出手段で得られたピーク光量値に対し、上記第１の補正係数取得手段に保持された上記第１の誤差補正係数を掛けて実際に出力されているピーク光量値を演算するピーク光量値補正手段と、を備え、
上記記録中周期的に出現する特定領域以外のユーザデータに影響の無い領域またはタイミングにおいて、マルチパルス発光をボトムパワーレベルからピークパワーレベル間の振幅で行う第１のマルチパルス発光と、該第１のマルチパルス発光のピーク光量値に相当するパワーで一定時間連続発光を行うＤＣ発光とを行い、上記第１の誤差補正係数取得手段で第１の誤差補正係数を算出保持し、
上記記録中周期的に出現する特定領域において、上記第１のマルチパルス出力手段からの第１のマルチパルス発光を含むレーザ発光を行い、該第１のマルチパルス発光時には、上記光量検出部で検出された記録時のパワーレベルの各光量値と、上記ピーク光量値補正手段で得られたピーク光量値とを用いて、記録時のレーザパワーのフィードフォワード制御を行なう、
ことを特徴とするレーザパワー制御装置。
【請求項７】
記録中周期的に出現する特定の領域で、記録時のパワーレベルでの数パターンのレーザ発光を出力し、出力したレーザ光量を光量検出部で検出し、該検出されたレーザ光量から記録時のレーザパワーを一定に保つようにレーザ駆動電流を演算するフィードフォワード制御を行うレーザパワー制御装置において、
マルチパルスの出力をボトムパワーレベルからピークパワーレベル間の振幅で行う第１のマルチパルス出力手段と、
上記第１のマルチパルス出力手段によるマルチパルス発光のピークパワー値に相当するパワーで一定期間のＤＣ発光を行うピークパルスＤＣ出力手段と、を備え、
上記記録中周期的に出現する特定の領域において、上記第１のマルチパルス出力手段からの第１のマルチパルス発光を含むレーザ発光と、該第１のマルチパルス発光に代わり、周期的に、上記ピークパルスＤＣ出力手段からのＤＣ発光を含むレーザ発光とを行い、
上記ＤＣ発光時には、上記ピークパルスＤＣ出力手段からのＤＣ発光より第２のピーク光量値を検出して更新保持するとともに、上記光量検出部で検出された記録時のパワーレベルの各光量値と、上記第２のピーク光量値とを用いて、記録時のレーザパワーのフィードフォワード制御を行い、
上記第１のマルチパルス発光時は、上記光量検出部で検出された記録時のパワーレベルの各光量値と、周期的に更新保持される上記第２のピーク光量値とを用いて、記録時のレーザパワーのフィードフォワード制御を行なう、
ことを特徴とするレーザパワー制御装置。
【請求項８】
請求項６に記載のレーザパワー制御方法において、
上記記録中周期的に出現する特定の領域において、上記第１のマルチパルス出力手段からの第１のマルチパルス発光を含むレーザ発光と、該第１のマルチパルス発光に代わり、周期的に、上記ピークパルスＤＣ出力手段からのＤＣ発光を含むレーザ発光とを行い、
上記ＤＣ発光時は、上記第２のピーク光量値を検出して更新保持すると共に、上記光量検出部で検出された記録時のパワーレベルの各光量値と、上記第２のピーク光量値とを用いて、記録時のレーザパワーのフィードフォワード制御を行ない、
上記第１のマルチパルス発光時は、上記光量検出部で検出された記録時のパワーレベルの各光量値と、上記ピーク光量値補正手段にて、周期的に更新保持される上記第１の誤差補正係数で補正されたピーク光量値とを用いて、記録時のレーザパワーのフィードフォワード制御を行なう、
ことを特徴とするレーザパワー制御装置。
【請求項９】
記録中周期的に出現する特定の領域で、記録時のパワーレベルでの数パターンのレーザ発光を出力し、出力したレーザ光量を光量検出部で検出し、該検出されたレーザ光量から記録時のレーザパワーを一定に保つようにレーザ駆動電流を演算するフィードフォワード制御を行うレーザパワー制御装置において、
マルチパルスの出力をボトムパワーレベルからピークパワーレベル間の振幅で行う第１のマルチパルス出力手段と、
上記第１のマルチパルス出力手段によるマルチパルス発光を上記光量検出部で検出した第１のマルチパルス光量平均値とデューティとから、該マルチパルス発光のピーク光量値を演算する第１のピーク光量値検出手段と、
マルチパルスの出力をボトムパワーレベルからバイアスパワーレベル間の振幅で行う第２のマルチパルス出力手段と、
上記第２のマルチパルス出力手段による第２のマルチパルス発光を上記光量検出部で検出して得た第２のマルチパルス光量平均値とデューティとから、該マルチパルス発光のバイアス光量値を演算する第１のバイアス光量値検出手段と、
上記第１のバイアス光量値検出手段で得られたバイアス光量値と、上記第２のマルチパルス出力手段による第２のマルチパルス発光を上記光量検出部で検出した第２のバイアス光量値との比を、第２の誤差補正係数として保持する第２の補正係数取得手段と、
上記第１のバイアス光量値検出手段で得られた第１のバイアス光量値に対し、上記第２の補正係数取得手段に保持された上記第２の誤差補正係数を掛けて実際に出力されているピーク光量値を演算するピーク光量値補正手段と、を備え、
上記記録中周期的に出現する特定の領域において、上記第１のマルチパルス出力手段からの第１のマルチパルス発光を含むレーザ発光と、該第１のマルチパルス発光に代わり、周期的に、上記第２のマルチパルス出力手段からの第２のマルチパルス発光を含むレーザ発光とを行い、
上記第２のマルチパルス発光時は、上記第２の誤差補正係数取得手段において、上記第２の誤差補正係数を周期的に更新保持し、
上記第１のマルチパルス発光時は、上記光量検出部で検出された記録時のパワーレベルの各光量値と、上記ピーク光量値補正手段にて、周期的に更新保持される上記第２の誤差補正係数で補正されたピーク光量値とを用いて、記録時のレーザパワーのフィードフォワード制御を行なう、
ことを特徴とするレーザパワー制御装置。
【請求項１０】
記録中周期的に出現する特定の領域で、記録時のパワーレベルでの数パターンのレーザ発光を出力し、出力したレーザ光量を光量検出部で検出し、該検出されたレーザ光量から記録時のレーザパワーを一定に保つようにレーザ駆動電流を演算するフィードフォワード制御を行うレーザパワー制御装置において、
非マルチパルスを出力する非マルチパルス出力手段と、
上記非マルチパルス出力手段による非マルチパルス出力のピークパワー値に相当するパワーで一定期間のＤＣ発光を行うピークパルスＤＣ出力手段と、を備え、
上記記録中周期的に出現する特定の領域において、上記非マルチパルス出力手段からの非マルチパルス発光を含むレーザ発光と、該非マルチパルス発光に代わり、周期的に、上記ピークパルスＤＣ出力手段からのＤＣ発光を含むレーザ発光とを行い、
上記ＤＣ発光時は、上記ピークパルスＤＣ出力手段より上記光学検出部で第２のピーク光量値を検出して更新保持すると共に、上記光量検出部で検出された記録時のパワーレベルの各光量値と、上記第２のピーク光量値とを用いて、記録時のレーザパワーのフィードフォワード制御を行ない、
上記非マルチパルス発光時には、上記光量検出部で検出された記録時のパワーレベルの各光量値と、周期的に更新保持される上記第２のピーク光量値とを用いて、記録時のレーザパワーのフィードフォワード制御を行なう、
ことを特徴とするレーザパワー制御装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザ光を用いて記録媒体に対して記録を行う記録装置におけるレーザパワーを制御するレーザパワー制御方法、及び装置に関し、特に、該記録時のレーザパワーを一定に保つようにフィードフォワード制御するレーザーパワー制御方法、及び装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
レーザ光を用いて記録媒体に対して記録を行う際、該記録媒体へデータを書き込む際のレーザパワーは記録品質に影響するため、高精度のレーザパワー制御が必要とされている。
【０００３】
従来のレーザパワー制御装置として、フィードフォワード制御を行うものがあり、該レーザパワー制御装置は、記録媒体の記録中周期的に出現するレーザ制御用の特定領域（以下、テスト発光領域と呼ぶ）において、数パターンのレーザ発光パターンを出力し、検出した光量値を元にレーザパワーをフィードフォワード制御しており、テスト発光領域におけるピークパワー値検出においては、マルチパルスパターンを発光している。（特許文献１参照。）
【０００４】
以下に、図１３及び図１４を用いて、従来のレーザパワー制御装置、および該装置におけるフィードフォワード制御について説明する。図１３は従来のレーザパワー制御装置８００の構成を示す図であり、図１４は該従来装置におけるフィードフォワード制御の動作を示す動作シーケンス図である。
【０００５】
この従来装置のフィードフォワード制御では、ディスク上のフォーマットは、図１４（ａ）に示すように、テスト発光領域１０と、データ記録領域２０とから書き込み単位の１ブロックが形成されており、記録媒体の記録中周期的に出現するレーザ制御用の特定領域である上記テスト発光領域１０において、数パターンのレーザ発光よりなるテスト発光１１、ここでは、図１４（ｃ）に示すような、ボトムパワー、バイアスパワー、ピークパワー（ボトム−ピーク間のマルチパルス）の３値の、各発光強度を有するテスト発光１１を行い、該テスト発光１１の各パターンの光量値を、図１４（ｄ）、（ｅ）に示されるように検出し、検出された各パターンの光量値を用いて、データ記録領域２０において、図１４（ｃ）のデータ記録発光２１に示される強度の発光が行われるように、レーザパワーを一定に保つことができるようレーザ駆動電流を演算する制御を行なうものである。
【０００６】
また、図１３に示される従来のレーザーパワー制御装置８００は、発光を行うレーザ８５０を駆動するレーザ駆動回路８４０、レーザ８５０の発光を検出する、フォトダイオード８６０、および、電流電圧変換器を含むレーザパワー検出部８１０、記録信号、及びテスト発光信号を生成するフォーマッタ８３０、レーザパワー検出部８１０にて検出されたパワー値、および上記フォーマッタ８３０より供給された記録信号、及びテスト発光信号を元に、レーザ駆動回路８４０に供給するレーザ駆動電流値を演算する演算部８２０、よりなる。
【０００７】
以下、上記の構成を有する従来のレーザパワー制御装置８００におけるフィードフォワード制御の動作について、説明する。
該レーザパワー制御装置は、記録ディスク上のテスト発光領域１０において、レーザ８５０のパワーの較正を行うために、特定のテスト発光１１の発光を行い、その際のレーザ８５０に対する駆動電流と、レーザ８５０からの発光強度との関係を求める。
【０００８】
上記テスト発光１１は、図１４（ｂ）に示されるように、時間幅Ｔｂのボトムパワーでの連続ＤＣ発光を行うボトムＤＣ発光区間、時間幅Ｔｅのバイアスパワーでの連続発光を行うバイアスＤＣ発光区間、および時間幅Ｔｍのマルチパルス発光を行うマルチパルス発光区間、を有する特定の発光パターンよりなるものであり、テスト発光領域１０においてレーザ８５０からテスト発光１１の発光がなされると、レーザパワー検出部８１０は、その発光をフォトダイオード８６０により受け、その電流を電流電圧変換器８７０により電圧に変換し、さらに、その電圧をサンプルホールド器ＳＨ１〜ＳＨ３でサンプルホールドすることにより、ボトムＤＣ発光区間ではボトムパワー検出電圧Ｖｍｂ、バイアスＤＣ発光区間ではバイアスパワー検出電圧Ｖｍｅ、マルチパルス発光区間ではマルチパルス平均検出電圧Ｖｍａを、検出出力することができる。
【０００９】
そして、各検出電圧は、演算部８２０内のＡＤ変換器ＡＤ１〜ＡＤ３で、ボトム検出値Ｄｍｂ、バイアス検出値Ｄｍｅ、マルチパルス平均検出値Ｄｍに、それぞれＡＤ変換された後、ボトム検出パワー値ＰｍｏｎＢ、バイアス検出パワー値ＰｍｏｎＥ、マルチパルス平均検出パワー値ＰｍｏｎＡが出力される。そして、該各パワー値を用いて、レーザ駆動回路８４０への供給電流として、ボトムパワー駆動電流ＩＢ、バイアスパワー駆動電流ＩＥ、ピークパワー駆動電流ＩＰが、それぞれ決定される。
【特許文献１】特開２００４−３１９０７３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、上述した従来の、記録媒体の記録中周期的に出現するレーザ制御用の特定領域（以後、テスト発光領域と呼ぶ）において数パターンのレーザ発光パターンを出力し（以後、テスト発光と呼ぶ）、検出した光量値を元に、データ記録領域におけるレーザパワーを一定に保つようにフィードフォワード制御しているレーザパワー制御装置においては、テスト発光領域におけるピークパワー値の検出はマルチパルスを用いて、該マルチパルス平均値とデューティ期待値とからピーク値を算出しているため、発生したマルチパルスのデューティにデューティ期待値からのデューティ誤差が発生した場合、該マルチパルスからのピークパワー値の算出にも誤差が生じ、テスト発光で得たピークパワー値を用いた記録レーザパワーのフィードフォワード制御において、記録パワー制御の精度が低下する原因となっていた。
【００１１】
ここで、テスト発光において正確なピークパワー値を得るために、マルチパルスの代わりにピークパワーを一定期間ＤＣ出力したものを用いようとした場合は、高パワーのＤＣ出力による隣接トラックのユーザーデータの劣化を招いたり、テスト発光領域毎の高パワーＤＣ出力の繰り返しによりレーザダイオードの劣化を生じる、という問題が発生する。
【００１２】
また、記録の高倍速化に伴い、マーク記録がマルチパルスに代わり非マルチパルスになった場合においても、ピークパワー値の取得において上記と同様の問題が発生する。
【００１３】
この発明は、上記のような従来の問題点に鑑みてなされたもので、マルチパルスのデューティに誤差が生じた場合においても、レーザパワーを所望のレベルに正確にフィードフォワード制御することのできるレーザパワー制御方法、及び装置を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記の課題を解決するために、本発明のレーザパワー制御方法及び装置は、記録中周期的に出現する特定の領域以外の、ユーザーデータに影響の無い領域（キャリブレーション領域など）又はタイミング（フォーカスオフ時など）において、マルチパルス発光と、ピークＤＣ発光とを行い、それぞれで得られたピーク値の比を、第１の誤差補正係数として保存し、テスト発光領域では、マルチパルス平均値からピーク値を算出し、更に誤差補正係数をかけて実際に出力されているピーク値を算出することを特徴とする。
【００１５】
これにより、高パワーＤＣ出力による問題を低減しつつ、上記特定の領域において正確なピーク値を取得することができ、フィードフォワード制御におけるレーザパワー制御の精度を上げることができる。
【００１６】
さらに、本発明のレーザパワー制御方法及び装置は、上記特定の領域において、マルチパルス発光を含むレーザ発光だけでなく、該マルチパルス発光をピークＤＣ発光に置き換えたレーザ発光を周期的に行い、上記ＤＣ発光時に実際に出力されているピーク値を検出することを特徴とする。
【００１７】
これにより、高パワーＤＣ出力による問題を低減しつつ、特定の領域において正確なピーク値を取得することができ、フィードフォワード制御におけるレーザパワー制御の精度を上げることができる。
【００１８】
さらに、本発明のレーザパワー制御方法及び装置は、上記特定の領域において、マルチパルス発光を含むレーザ発光だけでなく、該マルチパルス発光をピークＤＣ発光に置き換えたレーザ発光を周期的に行い、該ＤＣ発光時は、ＤＣ発光のピーク値検出を行い、マルチパルス発光時は、第１の誤差補正係数の更新取得と、該周期的に更新取得される誤差補正係数を用いて実際に出力されているピーク値を算出することを特徴とする。
【００１９】
これにより、高パワーＤＣ出力による問題を低減しつつ、特定の領域において正確なピーク値を取得することができ、フィードフォワード制御におけるレーザパワー制御の精度を上げることができる。
【００２０】
さらに、本発明のレーザパワー制御方法及び装置は、上記特定の領域において、ボトム−ピーク間のマルチパルス発光を含むレーザ発光だけでなく、該ボトム−ピーク間のマルチパルス発光をボトム−バイアス間のマルチパルス発光に置き換えたレーザ発光を周期的に行い、該ボトム−バイアス間のマルチパルス発光時に、該ボトム−バイアス間のマルチパルス発光で得られた光量値と、通常ＤＣ出力のバイアスＤＣ発光で得られた光量値との比から、第２の誤差補正係数を算出して更新保持し、上記ボトム−ピーク間のマルチパルス発光時は、上記第２の誤差補正係数を用いて実際に出力されているピーク値を算出することを特徴とする。
【００２１】
これにより、高パワーＤＣ出力による問題が生じることなく、テスト発光部における正確なピーク値を取得することができ、フィードフォワード制御におけるレーザパワー制御の精度を上げることができる。
【００２２】
さらに、本発明のレーザパワー制御方法及び装置は、上記特定の領域において、非マルチパルス発光を含むレーザ発光だけでなく、該非マルチパルス発光をピークＤＣ発光に置き換えたレーザ発光を周期的に行い、該ＤＣ発光時に実際に出力されているピーク値を検出することを特徴とする。
【００２３】
これにより、高パワーＤＣ出力による問題を低減しつつ、特定領域において正確なピーク値を取得することができ、フィードフォワード制御におけるレーザパワー制御の精度を上げることができる。
【発明の効果】
【００２４】
本発明にかかるレーザパワー制御方法、及び装置によれば、記録中周期的に出現する特定の領域等において、周期的にデータ記録時のレーザパワーのピーク値に相当する連続発光や、ボトム−バイアス間のマルチパルス発光等を行って正確なピークパワー値を得、データ記録時のレーザパワーのピーク値の補正を行うようにしたので、高パワーＤＣ出力による、ユーザーデータの劣化や、レーザダイオードの劣化の問題を低減しつつ、テスト発光において正確な光量値を取得することができ、フィードフォワード制御によるレーザパワー制御の精度を向上することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
（実施の形態１）
以下、本発明の実施の形態１によるレーザパワー制御装置について、図１〜図３を用いて説明する。
図１は、本発明の実施の形態１によるレーザパワー制御装置１００１のブロック構成を示す図である。
図１に示されるように、本実施の形態１のレーザパワー制御装置１００１は、光ディスクに照射するレーザを発光するレーザ発光部１５０と、該光ディスクからの反射光を受光して光量を検出する光量検出部１１０と、光量検出部１１０で検出した光量に基づいてピーク光量値を演算する演算部１２０と、光量検出部１１０で検出された光量値、及び演算部１２０で得られた光量値に基づいて、レーザパワーのフィードフォワード制御を行うフィードフォワード制御部１４０と、レーザ発光部１５０で発光するレーザ光パターンを生成するレーザパターン出力部１３０とを備える。
【００２６】
演算部１２０は、光量検出部１１０にて検出されたマルチパルス光量平均値２０２から第１のピーク光量値２０４を算出する第１のピーク光量値算出部１２２を含む光量値算出部１２１と、光量値算出部１２１で算出された第１のピーク光量値２０４と、光量検出部１１０で検出された第２のピーク光量値２０７とから第１の誤差補正係数を演算し、これを保持しておく第１の誤差補正係数取得部１２４と、第１の誤差補正係数を用いて上記光量値算出部１２１で算出された第１のピーク光量値２０４を補正するピーク光量値補正部１２５とを含む光量値補正部１２３とを備える。
【００２７】
また、レーザパターン出力部１３０は、レーザ発光部１５０に、テスト発光１１の各発光パターンである、ボトム発光、バイアス発光、ボトム−ピーク間の第１のマルチパルス発光、ピークパルスＤＣ発光、クーリング発光、をさせるためのボトム発光部１３１ａ、バイアス発光部１３１ｂ、第１のマルチパルス発光部１３１ｃ、ピークパルスＤＣ発光部１３１ｄ、クーリング発光部１３１ｅを含むレーザ制御用パルス発光部１３１と、データ記録領域用のパルスを発光させるためのデータ記録用パルス発光部１３２とを、備える。
【００２８】
図２は、本実施の形態１によるレーザパワー制御装置１００１におけるフィードフォワード制御の動作を、説明するための図である。
本実施の形態１においては、図２に示されるように、まず、光ディスク上の、テスト発光を行うためのテスト発光領域１０とは異なる、キャリブレーション領域３０などのユーザデータに影響のない領域において、あるいは、例えばＯＰＣ動作時やフォーカスオフ時などのユーザデータに影響のないタイミングにおいて、テスト発光の１つのパターンであるマルチパルス発光（以下、第１のマルチパルス発光、と称す）３１を行うとともに、ピークパワーを連続して発光するピークパルスＤＣ発光３２を行うようにし、第１のマルチパルス発光３１からピーク光量値（以下、第１のピーク光量値、と称す）を算出するとともに、ピークパルスＤＣ発光３２から連続発光時のピーク光量値（以下、第２のピーク光量値、と称す）を検出し、上記第１のピーク光量値と、上記第２のピーク光量値とから、両者の比である第１の誤差補正係数を取得、保存する。
【００２９】
そして、各書き込み単位の１ブロック毎に出現するテスト発光領域１０において、テスト発光１１の各パターン、すなわち、クーリング発光、ボトム発光、バイアス発光、ボトム−ピーク間のマルチパルス発光を行い、該各発光における各光量値、すなわちクーリング光量値、ボトム光量値、バイアス光量値、第１のマルチパルス平均光量値、を検出した後、該第１のマルチパルス平均光量値からそのピーク光量値（第１のピーク光量値）を算出し、算出された第１のピーク光量値を、これに予め取得していた上記第１の誤差補正係数を掛け算することにより補正して、正確な補正ピーク光量値を得る。そして、上記補正ピーク光量値、及び上記検出したクーリング光量値、ボトム光量値、バイアス光量値、を元に、記録時のレーザパワーのフィードフォワード制御を行なう。
【００３０】
図３は、本実施の形態１における、ピークパワー値の補正方法を説明するための図であり、図３（ａ）は、第１のマルチパルス発光を詳細に示す波形図であり、図３（ｂ）は、ピークパルスＤＣ発光を詳細に示す波形図である。
【００３１】
以下、図１〜図３を用いて、本実施の形態１のレーザ制御装置１００において行うフィードフォワード制御について、説明する。
まず、光ピックアップが、ユーザーデータに影響の無い領域であるキャリブレーション領域３０に至ったとき、レーザパターン出力部１３０内の第１のマルチパルス出力部１３１ｃを選択してマルチパルス発光３１を行い、その発光を、図３（ａ）に示すように、光量検出部１１０で検出して、第１のマルチパルス光量平均値２０２を得、光量値検出部１２１において、上記第１のマルチパルス光量平均値２０２と、該光量値算出部１２１内に設けられているデューティ期待値とより、第１のピーク光量値２０４を算出する。
【００３２】
さらに、光ピックアップが該キャリブレーション領域３０にある間において、ピークパルスＤＣ連続発光３２を行う。この発光は、レーザレーザパターン出力部１３０内のピークパルスＤＣ発光部１３１ｄを選択することにより行うことができ、その発光を、光量検出部１１０で検出することにより、図３（ｂ）に示すように、第２のピーク光量値２０７を得ることができる。
【００３３】
そして、上記のようにして得た第１のピーク光量値２０４と、第２のピーク光量値２０７との比を、第１の誤差補正係数として、光量値補正部１２３内の第１の誤差補正係数取得部１２４内に、取得保持する。
【００３４】
このように上記キャリブレーション領域３０での発光によって、第１のピーク光量値２０４と、第２のピーク光量値２０７との比を、第１の誤差補正係数として、光量値補正部１２３内に保持した状態において、光ピックアップが、光ディスク上の書き込み単位の１ブロック内にあるテスト発光領域１０に至ったとき、レーザ発光部１５０より、図２に示す第１のテスト発光１１を行う。これは、図１のレーザ制御用パルス発光部１３１内の各発光部、すなわち、クーリング発光部１３１ｅ、ボトム発光部１３１ａ、バイアス発光部１３１ｂ、第１のマルチパルス発行部１３１ｃを順に選択することにより、行うことができる。そして、この発光を、図１の光量検出部１１０で検出することにより、各パターンの発光光量、すなわち、クーリング光量値、ボトム光量値、バイアス光量値、第１のマルチパルス光量平均値２０２を得ることができる。そのうちの第１のマルチパルス光量平均値２０２については、上記キャリブレーション領域３０におけるマルチパルス発光３１を行ったときと同様に、上記光量値算出部１２１において該光量平均値２０２より第１のピーク光量値２０４を得ることができ、該第１のピーク光量値２０４は、光量値補正部１２３に入力されると、ピーク光量値補正部１２５において、これに第１の補正係数取得部１２４に保持された第１のデューティ誤差補正係数が乗算されて、補正ピーク光量値２０５が得られる。
【００３５】
そして、前述のようにして得たクーリング光量値、ボトム光量値、バイアス光量値、及び補正ピーク光量値２０５を元に、フィードフォワード制御部１４０において、記録時のレーザパワーのフィードフォワード制御を行う。
【００３６】
このように、本実施の形態１においては、連続ＤＣ発光のレベル値を得るためのピークパルスＤＣ発光を、キャリブレーション領域３０などのユーザデータに影響のない領域において、あるいは、例えばＯＰＣ動作時やフォーカスオフ時などのユーザデータに影響のないタイミングにおいて行い、テスト発光領域１０における発光は、マルチパルス発光のみとしたので、上述したような、高パワーのピークパルス連続発光における高パワーのＤＣ出力による隣接トラックのユーザーデータの劣化や、テスト発光領域１０毎の高パワーＤＣ出力の繰り返しによるレーザダイオードの劣化、という問題を回避することができるばかりでなく、温度変化などによりデューティ誤差が発生した場合でも、テスト発光において常に正しい補正ピーク光量値を取得してフィードフォワード制御を行うことができ、レーザパワー制御の精度を向上することができる。
【００３７】
以上のように、本実施の形態１によれば、ユーザーデータに影響の無い領域又はタイミング３０において、第１のマルチパルス発光部１３１ｃによるマルチパルス発光を行い、ここで得たマルチパルス光量平均値２０２から第１のピーク光量値算出部１２２で第１のピーク光量値２０４を得、またこのタイミングにおいて、ピークパルスＤＣ発光部１３１ｄによるピークＤＣ発光を行い、第２のピーク光量値２０７を得、さらにこのタイミングにおいて、上記第１のピーク光量値２０４と第２のピーク光量値２０７とを用い、第１の誤差補正係数取得部１２４により第１の誤差補正係数を得、一方、テスト発光領域１０においては、第１のマルチパルス発光部１３１ｃによるマルチパルス発光を行い、この時得たマルチパルス光量平均値２０２から上述と同様に第１のピーク光量値２０４を算出し、その値に、上述のユーザーデータに影響の無い領域又はタイミング３０で得た第１の誤差補正係数を掛けることにより、補正後のピーク光量値２０５を得てフィードフォワード制御を行うようにしたので、温度変化などによりデューティ誤差が発生した場合でも、テスト発光において常に正しいピーク値を取得しフィードフォワード制御を行うことができ、レーザパワー制御の精度を向上させることができる。
【００３８】
なお、前述の説明において、上記一連のデューティ誤差補正係数取得処理は、温度変化などデューティ誤差の発生要因の変化に同期して行うことが好ましい。
【００３９】
また、第１の誤差補正係数取得処理を、キャリブレーション領域で行うものとして説明したが、この処理は、光ディスクのユーザデータに影響のない領域で、あるいはそのようなタイミングで行うものであれば、何れの領域、あるいはタイミングで行うようにしてもよい。
【００４０】
（実施の形態２）
以下、本発明の実施の形態２によるレーザパワー制御装置について、説明する。
上記実施の形態１は、予めテスト発光領域１０とは異なる、光ディスク上のユーザデータに影響のない領域、あるいはタイミング３０において、第１のマルチパルス発光３１とピークパルスＤＣ発光３２とを行なって第１の誤差補正係数を取得しておき、テスト発光領域１０において、第１のテスト発光１１の発光時に得た第１のピーク光量値２０４を、上記取得し保持している第１の誤差補正係数で補正してより正確な補正ピーク光量値２０５を得てフィードフォワード制御を行なうものであったのに対し、本実施の形態２は、図５に示すように、各書き込み単位の１ブロック毎に出現するテスト発光領域１０において、周期的に、マルチパルス発光を含む第１のテスト発光１１ａに代えて、このマルチパルス発光をピークパルスＤＣ発光に置き換えた第２のテスト発光１１ｂを行って、該第２のテスト発光１１ｂの発光時にそのピークパルスＤＣ発光のピーク光量値である第２のピーク光量値２０７を、第２のピーク光量値保持部１１１において、検出、保持し、第１のテスト発光１１ａの発光時には、そのマルチパルス発光のピーク光量値を算出するのでなく、上記保持された第２のピーク光量値２０７を用いて、レーザパワーのフィードフォワード制御を行なうものである。
【００４１】
図４は、本発明の実施の形態２によるレーザパワー制御装置１００２のブロック構成図であり、図５は、本実施の形態２におけるフィードフォワード制御の動作の一例を示す図である。
図４に示されるように、本実施の形態２によるレーザパワー制御装置１００２は、光ディスクに照射するレーザを発光するレーザ発光部１５０と、レーザ発光部１５０で発光するレーザ光パターンを生成するレーザパターン出力部１３０と、光ディスクからの反射光を受光して光量を検出する光量検出部１１０と、光量検出部１１０で検出された光量値を元に、レーザパワーのフィードフォワード制御を行うフィードフォワード制御部１４０と、を備えており、上記光量検出部１１０は、第２のピーク光量値２０７を保持する第２のピーク光量保持部１１１を有している。
【００４２】
以下、本実施の形態２におけるフィードフォワード制御の動作について、図４、および図５を用いて詳細に説明する。
本実施の形態２におけるフィードフォワード制御の動作は、以下のとおりである。
まず、書き込み単位の１ブロック毎に出現するテスト発光領域１０−２においては、上記実施の形態１におけるテスト発光領域１０での発光と同様の第１のテスト発光１１ａを行い、かつ、周期的に、同じく書き込み単位の１ブロック毎に出現するテスト発光領域（ここでは、領域１０−１，１０−ｎにおいては、上記実施の形態１におけるキャリブレーション領域３０での連続ＤＣ発光を含む、第２のテスト発光１１ｂを行う。
【００４３】
上記領域１０−１においては、レーザ制御用パルス発光部１３１の、クーリング発光部１３１ｅ、ボトム発光部１３１ａ、バイアス発光部１３１ｂ、ピークパルスＤＣ発光部１３１ｄを、順に選択することで、上記第２のテスト発光１１ｂを行い、該発光中のピークパルスＤＣ発光を検出し、第２のピーク光量値２０７としてこれを保持し、これを用いてレーザパワーのフィードフォワード制御を行なう。
【００４４】
一方、上記領域１０−２では、レーザ制御用パルス発光部１３１の、クーリング発光部１３１ｅ、ボトム発光部１３１ａ、バイアス発光部１３１ｂ、第１のマルチパルス発光部１３１ｃを、順に選択することで、レーザ発光部１５０より、図５に示すような第１のテスト発光１１ａを発光し、この発光を光量検出部１１０で検出することにより、該テスト発光１１ａの各パターンの光量値である、クーリング光量値、ボトム光量値、バイアス光量値、及び第１のマルチパルス光量平均値２０２を、検出する。
【００４５】
そして、領域１０−１では、第２のテスト発光１１ｂによる第２のピーク光量値２０７を用いてフィードフォワード制御を行い、上記領域１０−２では、第１のテスト発光１１ａを行い上記第１のマルチパルス光量平均値２０２を得るが、これを用いるのでなく、上記検出、保持している第２の光量値２０７を用いて、フィードフォワード制御を行なう。
【００４６】
これにより、常に正確なピーク光量値を用いてフィードフォワード制御を行なうことができ、レーザパワー制御の精度を向上させることができる。
【００４７】
このように、本実施の形態２によれば、テスト発光領域１０において、第１のマルチパルス発光部１３１ｃによるマルチパルス発光を含む第１のテスト発光１１ａだけでなく、ピークパルスＤＣ発光部１３１ｄによるピークＤＣ発光を含む第２のテスト発光１１ｂを周期的に行い、該ピークパルスＤＣ発光部１３１ｄによるピークＤＣ発光のタイミングで、該ピークＤＣ発光の第２のピーク光量値を得て順次更新保持し、ピークＤＣ発光時にもマルチパルス発光時にも、該第２のピーク光量値２０７を用いてフィードフォワード制御を行うようにしたので、温度変化などによりデューティ誤差が発生した場合においても、高パワーのピーク連続発光を行う場合の、高パワーのＤＣ出力による隣接トラックのユーザーデータの劣化や、高パワーＤＣ出力の繰り返しによるレーザダイオードの劣化等を回避しながら、正しいピーク光量値を用いたフィードフォワード制御ができ、レーザパワー制御の精度を向上できる効果が得られる。
【００４８】
（実施の形態３）
以下、本発明の実施の形態３によるレーザパワー制御装置について、説明する。
上記実施の形態１では、予めテスト発光領域とは異なる、光ディスク上のユーザデータに影響のない領域、またはタイミング３０において、第１のマルチパルス発光３１とピークパルスＤＣ発光３２とを行なって第１の誤差補正係数を取得しておき、テスト発光領域１０においては、マルチパルス発光を含む第１のテスト発光１１ａから算出した第１のピーク光量値２０４を、上記取得し保持している第１の誤差補正係数で補正して補正ピーク光量値２０５を得てフィードフォワード制御を行なうものであったのに対し、本実施の形態３は、上記実施の形態２におけると同様に、図５に示すように、各書き込み単位の１ブロック毎に出現するテスト発光領域１０−１において、周期的に、ボトム−ピーク間のマルチパルス発光（第１のマルチパルス発光）を含む第１のテスト発光１１ａに代えて、このマルチパルス発光をピークパルスＤＣ発光に置き換えた第２のテスト発光１１ｂを行うようにし、上記第２のテスト発光１１ｂ時には、上記第２のテスト発光１１ｂ時に得た第２のピーク光量値２０７を用いて、フィードフォワード制御を行い、上記第１のテスト発光１１ａ時には、第１の誤差補正係数により補正された上記補正ピーク光量値２０５を用いて、フィードフォワード制御を行うようにしたものである。
【００４９】
図６は、本実施の形態３によるレーザパワー制御装置１００３の構成を示し、図６に示す本レーザパワー制御装置１００３は、図１に示す実施の形態１のレーザパワー制御装置１００１における光量検出部１１０内に、第２のピーク光量値２０７を保持する第２のピーク光量値保持部１１１ａを備えるものである。１１０ａは、本実施の形態３における光量検出部である。
【００５０】
以下、本実施の形態３におけるフィードフォワード制御の動作について、図３、図５、および図６を用いて詳細に説明する。
本実施の形態３におけるフィードフォワード制御の動作は、以下の通りである。
まず、書き込み単位の１ブロック毎に出現するテスト発光領域１０−１においては、第２のテスト発光１１ｂを行い、すなわち、上記実施の形態２におけると同様に、レーザ制御用パルス発光部１３１の、クーリング発光部１３１ｅ、ボトム発光部１３１ａ、バイアス発光部１３１ｂ、ピークパルスＤＣ発光部１３１ｄを、順に選択することで、図５に示すような第２のテスト発光１１ｂを行い、この発光を光量検出部１１０で検出して、該第２のテスト発光１１ｂのクーリング光量値、ボトム光量値、バイアス光量値、及びピークパルスＤＣ発光のピーク光量値である第２のピーク光量値２０７の各値を得、この第２のピーク光量値２０７については、光量検出部１１０ａ内の第２のピーク光量保持部１１１ａに保持する。
【００５１】
また、同じく書き込み単位の１ブロック毎に出現するテスト発光領域１０−２においては、第１のテスト発光１１ａを行い、すなわち、上記実施の形態１における第１のテスト発光１１と同様に、レーザ制御用パルス発光部１３１の、クーリング発光部１３１ｅ、ボトム発光部１３１ａ、バイアス発光部１３１ｂ、第１のマルチパルス発光部１３１ｃを、順に選択することで、図５に示すような第１のテスト発光１１ａを行い、この発光を光量検出部１１０で検出して、該テスト発光１１ａのクーリング光量値、ボトム光量値、バイアス光量値、及び第１のマルチパルス光量平均値２０２を得、この第１のマルチパルス光量平均値２０２より、光量値算出部１２１内の第１のピーク光量値算出部１２２にて、第１のピーク光量値２０４を算出するとともに、該第１のピーク光量値２０４と、上記取得保持している第２の光量値２０７とにより、第１の誤差補正係数を算出し、これを第１の誤差補正係数取得部１２４に取得保持し、さらに、光量値補正部１２３内の第１のピーク光量値補正部１２５において、上記第１の誤差補正係数取得部１２４に保持されている第１の誤差補正係数を用いて上記第１のピーク光量値２０４を補正して補正ピーク光量値２０５を得るようにする。
【００５２】
そして、書き込み単位の１ブロック毎に出現するテスト領域において、上記第１のテスト発光１１ａ時は、補正ピーク光量値２０５を用いてレーザパワーのフィードフォワード制御を行い、該テスト領域において周期的に発光される上記第２のテスト発光１１ｂ時は、上記第２のピーク光量値２０７を用いてレーザパワーのフィードフォワード制御を行いてフィードフォワード制御を行なう。
これにより、常に正確なピーク光量値を得ることができ、これを用いてレーザパワーのフィードフォワード制御を行なうことができ、レーザパワー制御の精度を向上できる。
【００５３】
このように、本実施の形態３によれば、テスト発光領域１０において、第１のマルチパルス発光部１３１ｃによるマルチパルス発光を含む第１のテスト発光１１ａだけでなく、ピークパルスＤＣ発光部１３１ｄによるピークＤＣ発光を含む第２のテスト発光１１ｂを周期的に行い、該第２のテスト発光１１ｂ発光時には、第２のピーク光量値２０７を更新保持し、このピーク光量値２０７を用いてレーザパワーのフィードフォワード制御を行い、第１のテスト発光１１ａ時には、第１の誤差補正係数取得部１２４にて、該テスト発光領域で求めたマルチパルス光量平均値２０２と、上記更新保持される第２のピーク光量値２０７とより、第１の誤差補正係数を算出し保持し、該テスト発光領域で求めたマルチパルス光量平均値２０２より求めた第１のピーク光量値２０４と、上記第１の誤差補正係数取得部１２４に保持された第１の誤差補正係数とにより、補正ピーク光量値２０５を求め、これを用いてレーザパワーのフィードフォワード制御を行うようにしたので、周期的に、第２のピーク光量値２０７を検出して更新、保持するとともに、上記第１の誤差補正係数も更新、保持することが可能となり、高パワーのピークパルス連続発光による隣接トラックのユーザーデータの劣化や、高パワーＤＣ出力の繰り返しによるレーザダイオードの劣化の問題を回避でき、かつ、温度変化などによるデューティ誤差の発生にかかわらず、正しいピーク光量値を用いたフィードフォワード制御ができ、レーザパワー制御の精度を向上できる効果がある。
【００５４】
なお、本実施の形態３では、第１の誤差補正係数の更新を、第１のテスト発光１１ａ時に行なうものとして説明したが、第２のテスト発光１１ｂ時に、第２のピーク光量値２０７を更新するのと同時に、第１の誤差補正係数取得部１２４にて、その１つ前のテスト領域において得た第１のピーク光量値２０４と、該更新された第２のピーク光量値２０７とを用いて第１の誤差補正係数を算出し、更新保持するようにしても、同様の効果が得られる。
【００５５】
（実施の形態４）
以下、本発明の実施の形態４によるレーザパワー制御装置について、説明する。
上記実施の形態３は、各書き込み単位の１ブロック毎に出現するテスト発光領域１０における発光を、ボトム−ピーク間の第１のマルチパルス発光を含む第１のテスト発光１１ａに代えて、周期的に、該第１のマルチパルス発光３１をピークパルスＤＣ発光３２に置き換えた第２のテスト発光１１ｂを行うものとし、この発光を検出して、第２のピーク光量値２０７、および第１の誤差補正係数を、更新保持するようにしたものであるが、本実施の形態４は、各書き込み単位の１ブロック毎に出現するテスト発光領域１０における発光を、上記第１のテスト発光１１ａに代えて、周期的に行う第２のパルス発光を、図７に示すように、該第１のテスト発光１１ａにおける第１のマルチパルス発光３１を、ボトム−バイアス間の第２のマルチパルス発光３３に置き換えた第３のテスト発光１１ｃを行うようにし、該周期的に発光される第３のテスト発光１１ｃ時には、上記第１のピーク光量値を補正する第２の誤差補正係数を算出して更新保持するようにし、一方、上記第１のテスト発光１１ａ時には、上記上記実施の形態１におけるように、第１のピーク光量値算出部１２２において、第１のマルチパルス平均光量値２０２とデューティ期待値から、第１のピーク光量値２０４を算出するとともに、該第１のピーク光量値２０４を、上記第３のテスト発光１１ｃにおいて検出し更新保持している第２のデューティ誤差補正係数で補正して、補正ピーク光量値４０５を得、これを用いてレーザパワーのフィードフォワード制御を行なうものである。
【００５６】
図７は、本実施の形態４によるレーザパワー制御装置１００４のブロック構成図を示し、図７において、本実施の形態４におけるレーザパターン出力部３３０は、上記レーザ発光部１５０に、テスト発光１１の各発光パターン、すなわち、ボトム発光、バイアス発光、ボトム−ピーク間の第１のマルチパルス発光、ボトム−バイアス間の第２のマルチパルス発光、クーリング発光をさせるための、ボトム発光部１３１ａ、バイアス発光部１３１ｂ、第１のマルチパルス発光部１３１ｃ、第２のマルチパルス発光部３３１ｃ、クーリング発光部１３１ｅを含むレーザ制御用パルス発光部３３１と、データ記録領域用のパルスを発光させるためのデータ記録用パルス発光部１３２とを備え、また、上記演算部３２０は、検出された第１のマルチパルス平均光量値から上記第１のピーク光量値を算出する第１のピーク光量値算出部１２２と、検出された第２のマルチパルス平均光量値から第１のバイアス光量値を算出する第のバイアス光量値算出部３２２とを含む光量値算出部３２１と、上記光量検出部１１０で検出された第２のバイアス光量値と、上記光量値算出部３２１内の上記第１のバイアス光量値算出部３２２で算出された上記第１のバイアス光量値とから、第２の誤差補正係数を演算し保持する第２の補正係数取得部３２４と、該第２のデューティ誤差補正係数を用いて、上記光量値算出部３２１内の第１のピーク光量値算出部１２２で算出された第１のピーク光量値を補正するピーク光量値補正部１２５と、を含む光量値補正部３２３と、を備えるものである。
【００５７】
また、図８は、本実施の形態４におけるフィードフォワード制御の動作の一例を示す図であり、図９は、本実施の形態４におけるピークパワー値の補正方法を説明する図であり、図９（ａ）は、第２のマルチパルス発光波形３３を示す図、図９（ｂ）は、第１のマルチパルス発光波形を示す図である。
【００５８】
以下、本実施の形態４におけるフィードフォワード制御の動作を、図７、図８、および図９を用いて説明する。
まず、上記書き込み単位の１ブロック毎に出現するテスト発光領域１０−１において、クーリング発光部１３１ｅ、ボトム発光部１３１ａ、バイアス発光部１３１ｂ、第２のマルチパルス発光部３３１ｃを順に選択することで、図８に示すような第３のテスト発光１１ｃを行い、これを、光量検出部１１０で検出することにより、該第３のテスト発光１１ｃの、クーリング光量値、ボトム光量値、バイアス光量値、及び第２のマルチパルス平均光量値４０２を検出する。
【００５９】
そして、図９（ａ）に示すように、光量検出部１１０で検出した第３のマルチパルス発光１１ｃ中の第２のマルチパルス発光３３の第２のマルチパルス光量平均値４０２、及びデューティ期待値を用いて、光量値算出部３２１内の第１のバイアス光量値算出部３２２にて、第１のバイアス光量値４０４を算出する。
【００６０】
そして、上記光量値補正部３２３内の第２の誤差補正係数取得部３２４にて、上記第１のバイアス光量値算出部３２２で算出した上記第１のバイアス光量値４０４と、上記光量検出部１１０にて検出した、バイアスパワーのマルチパルス３３を発光した以前に発光しているバイアスパワーを検出した元来の正しいバイアス光量値４０７（第２のバイアス光量値と称す）とから、上記第１のバイアス光量値４０４と、上記第２のバイアス光量値４０７との比である第２の誤差補正係数を算出し保持する。
【００６１】
かつ、この第３のテスト発光１１ｃの発光時には、上記第１のバイアス光量値４０４を、既に第２の誤差補正係数取得部３２４に保持されている第２の誤差補正係数を用いて、ピーク光量値補正部１２５にて補正し、この補正した補正バイアス光量値４０５を得て、これを用いてレーザパワーのフィードフォワード制御を行う。
【００６２】
そして、第１のテスト発光１１ａを行うテスト発光領域１０−２では、クーリング発光部１３１ｅ、ボトム発光部１３１ａ、バイアス発光部１３１ｂ、第１のマルチパルス発光部１３１ｃを、順に選択することで、図８に示すような第１のテスト発光１１ａの発光を行い、これを光量検出部１１０で検出することにより、該テスト発光１１ａの、クーリング光量値、ボトム光量値、バイアス光量値、及び第１のマルチパルス光量平均値２０２を検出する。
【００６３】
また、この第１のテスト発光１１ａを行う領域１０−２では、図９（ｂ）に示すように、第１のマルチパルス光量平均値２０２と、デューティ期待値とから、第１のピーク光量値２０４を算出し取得した後、該第１のピーク光量値２０４を、既に第３のテスト発光１１ｃの発光時に、光量値４０４と、４０７との比より算出し取得している第２の誤差補正係数を用いて補正し、補正ピーク光量値４０５を得る。
【００６４】
そして、このテスト発光１１ａ時には、前述のようにして得たクーリング光量値、ボトム光量値、バイアス光量値、及び補正ピーク光量値４０５を用いて、記録時のレーザパワーのフィードフォワード制御を行なう。
【００６５】
これにより、温度変化などによりデューティ誤差が発生した場合でも、テスト発光において常に正しい補正ピーク光量値を取得しフィードフォワード制御を行うことができ、レーザパワー制御の精度を向上することができる。
【００６６】
また、ピーク光量値を補正するための第２の誤差補正係数を、光量値検出部１１０で検出した正しいバイアス光量値４０７と、ボトム−バイアス間のマルチパルス発光により得た第１のバイアス光量値４０４より求めるようにしたので、ピークパワーを連続発光しなくても、常に正確なピーク光量値を得ることができ、高パワーのピークパルス連続発光を行う場合の、高パワーのＤＣ出力による隣接トラックのユーザーデータの劣化や、テスト発光領域毎の高パワーＤＣ出力の繰り返しによりレーザダイオードの劣化、という問題を回避できる。
【００６７】
以上のように、本実施の形態４によれば、テスト発光領域において、第１のマルチパルス発光部１３１ｃによる第１のマルチパルス発光３１だけでなく、第２のマルチパルス発光部３３１ｃによる第２のマルチパルス発光３３を周期的に行い、また、テスト発光領域において、通常ＤＣ発光されているバイアスパワーの光量値を取得しておき、第３のマルチパルス発光部３３１ｃによるマルチパルス発光タイミングにおいて、第１のバイアス光量値検出部３２２、および、第２の補正係数取得部３２４により、第２の誤差補正係数を算出して更新保持し、第１のマルチパルス発光部１３１ｃによるマルチパルス発光タイミングでは、検出した第１のピーク光量値２０２をピーク光量値補正部１２５により上記第２の誤差補正係数で補正して、補正ピーク光量値４０５を得、これを用いてフィードフォワード制御を行うようにしたので、温度変化などによりデューティ誤差が発生した場合でも、テスト発光において常に正しいピーク光量値を取得し、これを用いてフィードフォワード制御を行って、レーザパワー制御の精度を向上することができる。
【００６８】
また、本実施の形態４では、上記第１のピーク光量値２０２を補正ピーク光量値４０５に補正する第２の誤差補正係数を、第３のテスト発光１１ｃに含まれるボトム−バイアス間の第２のマルチパルス発光３３、及びバイアス発光により得るようにしたので、ピークパルス発光を一定時間連続して行なう必要がなくなり、該ピークパルス連続発光によるユーザデータの劣化やレーザ自体の劣化を回避できる効果も得られる。
【００６９】
（実施の形態５）
以下、本発明の実施の形態５によるレーザパワー制御装置について、説明する。
一般に、記録の高倍速化に伴って、マーク記録がマルチパルスの代わって非マルチパルスになることが考えられるが、本実施の形態５は、このような非マルチパルス発光が行なわれた場合のものである。すなわち、本実施の形態５では、図１１（ａ）に示すような非マルチパルスを出力する場合のものである。
【００７０】
より詳しくは、本実施の形態５は、各書き込み単位の１ブロック毎に出現するテスト発光領域１０において、通常は、例えば、上記実施の形態２の第１のテスト発光１１ａに含まれるマルチパルス発光を非マルチパルス発光に置き換えた、クーリング発光、ボトム発光、バイアス発光、非マルチパルス発光よりなる第４のテスト発光１１ｄを行い、周期的に、これに代えて、上記非マルチパルス発光を、図１１（ｂ）に示すピークパルスＤＣ発光で置き換えた第２のテスト発光１１ｂを行うようにし、上記第４のテスト発光１１ｄの発光時には、ピーク光量値を検出せず、周期的に行われる第２のテスト発光１１ｂの発光時に検出した第２のピーク光量値２０７を用いて、レーザパワーのフィードフォワード制御を行なうようにしたものである。
【００７１】
図１０は、本実施の形態５によるレーザパワー制御装置１００５の構成を示す図であり、図１０において、本実施の形態５におけるレーザパターン出力部５３０は、ボトム発光、バイアス発光、非マルチパルス発光、ピークパルスＤＣ発光、クーリング発光をさせるためのボトム発光部１３１ａ、バイアス発光部１３１ｂ、非マルチパルス発光部５３１ｃ、ピークパルスＤＣ発光部１３１ｄ、クーリング発光部１３１ｅを含むレーザ制御用パルス発光部５３１、および、データ記録領域用のパルスを発光させるためのデータ記録用パルス発光部５３２を、備えるものである。その他の構成は、上記実施の形態２におけると同様である。
【００７２】
以下、本実施の形態５におけるフィードフォワード制御の動作について、図１０、および、図１１を用いて説明する。
まず、上記書き込み単位の１ブロック毎に出現するテスト発光領域１０−１において、第２のテスト発光１１ｂを行う。これは、レーザ制御用パルス発光部５３１の、クーリング発光部１３１ｅ、ボトム発光部１３１ａ、バイアス発光部１３１ｂ、ピークパルスＤＣ発光部１３１ｄを順に選択することで、行うことができる。そして、この発光を、光量検出部１１０で検出することにより、該テスト発光１１ｂの各パターンの光量値、すなわち、クーリング光量値、ボトム光量値、バイアス光量値、及び第２のピーク光量値２０７を検出し、そのうちの第２のピークパルス光量値２０７は、上記光量検出部１１０内の第２のピーク光量保持部１１１に保持する。
【００７３】
次に、テスト発光領域１０−２では、第４のテスト発光１１ｄを行う。これは、レーザ制御用パルス発光部５３１の、クーリング発光部１３１ｅ、ボトム発光部１３１ａ、バイアス発光部１３１ｂ、非マルチパルス発光部５３１ｃを順に選択することで、行うことができる。そして、この発光を、光量検出部１１０で検出することにより、該テスト発光１１ｄの各パターンの光量値、すなわち、クーリング光量値、ボトム光量値、バイアス光量値を検出する。
【００７４】
そして、この領域１０−２においては、ピーク光量値を算出することなく、上記第２のピーク光量保持部１１１に保持されている第２のピーク光量値、及び上記検出したクーリング光量値、ボトム光量値、バイアス光量値を用いて、レーザパワーのフィードフォワード制御を行なう。
【００７５】
このように、通常のテスト発光領域１０においては、非マルチパルス発光を含む第４のテスト発光１１ｄを行い、またテスト発光領域１０において、周期的に、該第４のテスト発光１１ｄに代えて、図１１（ａ）に示す非マルチパルス発光を、図１１（ｂ）に示すピークパルスＤＣ発光で置き換えた第２のテスト発光１１ｂを行うようにし、該第２のテスト発光１１ｂ時には、上記実施の形態２におけると同じように、該ピークパルスＤＣ発光の、ピーク値をサンプルして第２のピーク光量値２０７とし、これを第２のピーク光量値保持部１１１に保持するとともに、該第２のピーク光量値２０７を用いて、レーザパワーのフィードフォワード制御を行うようにし、上記第４のテスト発光１１ｄの発光時には、ピーク光量値を検出せず、周期的に行われる上記第２のテスト発光１１ｂの発光時に検出した第２のピーク光量値２０７を用いて、レーザパワーのフィードフォワード制御を行なうようにしたので、周囲温度などに左右されることなく、常に正確なピーク光量値を用いてフィードフォワード制御を行なうことができ、レーザパワー制御の精度を向上させることができる。
【００７６】
以上のように、本実施の形態５によれば、テスト発光領域において、非マルチパルス発光部５３１ｃによる非マルチパルス発光だけでなく、ピークパルスＤＣ発光部１３１ｄによるピークＤＣ発光を周期的に行い、ピークパルスＤＣ発光部１３１ｄによるピークＤＣ発光のタイミングで、正確なピーク光量値を得て、フィードフォワード制御を行うようにしたので、記録の高倍速化に伴って、マーク記録がマルチパルスに代わり非マルチパルスになったような場合であっても、テスト発光において周期的に正しいピーク光量値を取得して、これを用いてフィードフォワード制御を行うことができ、レーザパワー制御の精度を向上できる効果がある。
【００７７】
なお、本実施の形態５では、一例として、図１１（ａ）に示すような非マルチパルスが発光されるものとして説明したが、非マルチパルスの波形はこれに限るものではない。
【００７８】
また、上述した各実施の形態のレーザパワー制御装置の構成を、図１２に示すように、前述した各実施の形態１〜５のレーザパワー制御装置の構成要素をすべてあわせもつように構成してもよい。このようにすれば、どのようなパターンのレーザ発光にも対応することができる。
【産業上の利用可能性】
【００７９】
本発明のレーザパワー制御方法、及び装置は、安定したパワーで記録を行える光ディスク記録装置を提供することが可能となる点で有用である。
【図面の簡単な説明】
【００８０】
【図１】本発明の実施の形態１におけるレーザパワー制御装置の構成を示す図である。
【図２】本発明の実施の形態１におけるフィードフォワード制御の動作の一例を示す図である。
【図３】本発明の実施の形態１におけるピークパワー値の補正方法を説明する図であり、図（ａ）は、第１のマルチパルス発光波形を示す図、図（ｂ）は、ピークパルス連続発光波形を示す図である。
【図４】本発明の実施の形態２によるレーザパワー制御装置の構成を示す図である。
【図５】本発明の実施の形態２におけるフィードフォワード制御の動作の一例を示す図である。
【図６】本発明の実施の形態３によるレーザパワー制御装置の構成を示す図である。
【図７】本発明の実施の形態４によるレーザパワー制御装置の構成を示す図である。
【図８】本発明の実施の形態４におけるフィードフォワード制御の動作の一例を示す図である。
【図９】本発明の実施の形態４におけるピークパワー値の補正方法を説明する図であり、図（ａ）は、第２のマルチパルス発光波形を示す図、図（ｂ）は、第１のマルチパルス発光波形を示す図である。
【図１０】本発明の実施の形態５によるレーザパワー制御装置の構成を示す図である。
【図１１】本発明の実施の形態５におけるピークパワー値の補正方法を説明する図であり、図（ａ）は、非マルチパルス発光波形を示す図、図（ｂ）は、ピークパルス連続発光波形を示す図である。
【図１２】本発明のレーザパワー制御装置の別の構成を示す図である。
【図１３】従来のレーザパワー制御装置の構成を示す図である。
【図１４】従来のフィードフォワード制御の基本的な動作を示す動作シーケンス図である。
【符号の説明】
【００８１】
１０  テスト発光領域
１１ａ  第１のテスト発光
１１ｂ  第２のテスト発光
１１ｃ  第３のテスト発光
２０  データ記録領域
２１  データ記録発光
３０  キャリブレーション領域
３１  第１のマルチパルス発光
３２  ピークパルスＤＣ発光
３３  第２のマルチパルス発光
１１０，１１０ａ  光量検出部
１１１，１１１ａ  第２のピーク光量値保持部
１２０，３２０，６２０，８２０  演算部
１２１，３２１，６２１  光量値算出部
１２２  第１のピーク光量値算出部
１２３，３２３，６２３  光量値補正部
１２４  第１の誤差補正係数取得部
１２５  ピーク光量値補正部
１３０，３３０，５３０，６３０  レーザパターン出力部
１３１，３３１，５３１，６３１  レーザ制御用パルス発光部
１３１ａ  ボトム発光部
１３１ｂ  バイアス発光部
１３１ｃ  第１のマルチパルス発光部
１３１ｄ  ピークパルスＤＣ発光部
１３１ｅ  クーリング発光部
１３２，５３２，６３２  データ記録用パルス発光部
１４０  フィードフォワード制御部
１５０  レーザ発光部
２０２  第１のマルチパルス平均光量値
２０４  第１のピーク光量値
２０５，４０５  補正ピーク光量値
２０７  第２のピーク光量値
３２２  第１のバイアス光量値算出部
３２４  第２の誤差補正係数取得部
３３１ｃ  第２のマルチパルス発光部
４０２  第２のマルチパルス光量平均値
４０４  第１のバイアス光量値
４０７  第２のバイアス光量値
５３１ｃ  非マルチパルス発光部
８００，１００１，１００２，１００３，１００４，１００５，１００６  レーザパワー制御装置
８１０  レーザパワー検出部
８３０  フォーマッタ
８４０  レーザ駆動回路
８５０  レーザ
８６０  フォトダイオード
８７０  電圧変換器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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