(57)【要約】【課題】試験時間を最小に維持した状態で、注目主領域で各エッジ装置を作動させる試験シーケンスのセットを作り出す。【解決手段】本発明は、通話データを含むパケットを受信し、これらパケットを通話信号に変換するエッジ装置に対応させてパケット系知覚式品質評価処理装置に使用する試験シーケンスの最適化されたセットを定義する方法に関し、パケットの試験シーケンスを上記エッジ装置によって処理するさいに発生する必要のある品質ターゲットのセットを定義するステップ、および各品質ターゲットの劣化パラメータの値を求めるステップであって、この値に従う劣化をもつ試験シーケンスが、この試験シーケンスを上記エッジ装置によって処理するさいに、上記品質ターゲットを実質的に発生するステップからなる。【選択図】図１
2007060650.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
通話データを含むパケットを受信し、これらパケットを通話信号に変換するエッジ装置に対応させてパケット系知覚式品質評価処理装置に使用する試験シーケンスの最適化されたセットを定義する方法において、
パケットの試験シーケンスを上記エッジ装置によって処理するさいに発生する必要のある品質ターゲットのセットを定義するステップ、および
各品質ターゲットの劣化パラメータの値を求めるステップであって、この値に従う劣化をもつ試験シーケンスが、この試験シーケンスを上記エッジ装置によって処理するさいに、上記品質ターゲットを実質的に発生するステップからなることを特徴とする方法。
【請求項２】
上記品質ターゲットが、所定の最大品質値および所定の最小品質値に対するものである請求項１記載の方法。
【請求項３】
ゼロの劣化パラメータをもつ試験シーケンスで上記エッジ装置によって得た品質値によって上記所定の最大品質値を決定する請求項２記載の方法。
【請求項４】
複数の劣化パラメータを組み合わせたものを使用することによって具体的な品質ターゲットを発生し、上記劣化パラメータの値を決定するステップが、各劣化パラメータの値からなるパラメータ値のセットを決定するステップからなる請求項１〜３のいずれか１項記載の方法。
【請求項５】
複数の劣化パラメータを組み合わせたものを複数使用することによって具体的な品質ターゲットを発生し、上記劣化パラメータの値を決定するステップが、各劣化パラメータの値からなるパラメータ値のセットを複数決定するステップからなる請求項４に記載の方法。
【請求項６】
複数の劣化パラメータによって定義されたスペースを部分に分離し、具体的な品質ターゲットに対応する値の各セットが他の各セットの異なる部分に入るように構成した請求項５記載の方法。
【請求項７】
上記劣化パラメータスペースのベクトルとして各部分を定義する請求項６記載の方法。
【請求項８】
各部分が、その他の各部分として同数の考えられる劣化パラメータを有する請求項６または７記載の方法。
【請求項９】
上記劣化パラメータスペースの各ベクトルが、上記劣化パラメータスペースのその他の各ベクトルから等距離にある請求項７記載の方法。
【請求項１０】
具体的な品質領域を強調するために、品質ターゲットを非均一的に離間配置した請求項６または７記載の方法。
【請求項１１】
具体的なベクトル内の各品質ターゲットの劣化パラメータの値を決定するステップが、さらに、
ａ）上記ベクトル内のパラメータのセットの各パラメータの値を選択するステップ、
ｂ）上記の選択劣化パラメータ値をもつ試験シーケンスに対して上記エッジ装置が発生する品質を決定するステップ、
ｃ）発生品質と品質ターゲットとの差分を決定するステップ、
ｄ）発生品質が品質ターゲットより大きい場合には、各パラメータに対して新しい大きな値を選択するとともに、パラメータ値とこの新しい大きな値との差分に等しくなるようにステップサイズを決定するステップ、
ｅ）発生品質が品質ターゲットよりも小さくなるまでステップｂ）〜ｄ）を繰り返すステップ、
f）発生品質と品質ターゲットとの差分が裕度より大きい場合には、
ｉ）現時点における選択値と上記差分とに応じて各パラメータの新しい値を選択し、
ｉｉ）上記選択劣化パラメータ値をもつ試験シーケンスに対して上記エッジ装置が発生する品質を決定し、
ｉｉｉ）発生品質と品質ターゲットとの間の差分を決定し、そして  
ｖｉ）発生品質と品質ターゲットとの間の差分が余裕度より小さくなるまでステップｉ）〜ｉｉｉ）を繰り返すステップ、および
g）上記の決定値を上記選択値に等しくなるように設定するステップ、とからなり、
上記ステップｆ）で選択された新しい値が、発生品質が品質ターゲットより大きい場合には各パラメータを上記ステップサイズだけ大きくし、そして発生品質が品質ターゲットより小さい場合には、各パラメータを上記ステップサイズだけ小さくするステップサイズをもつように決定される請求項７又は９のいずれか１項記載の方法。
【請求項１２】
ステップｄ）で上記パラメータを大きくするさいに、１かそれ以上のファクターをこのパラメータに乗算する請求項１１記載の方法。
【請求項１３】
上記劣化パラメータが、ジッターである請求項１〜１２のいずれか１項記載の方法。
【請求項１４】
上記劣化パラメータが、パケットロスである請求項１〜１３のいずれか１項記載の方法。
【請求項１５】
試験シーケンスに対してエッジ装置が発生する品質を決定する方法が、侵入式通話品質評価アルゴリズムである請求項１〜１４のいずれか１項記載の方法。
【請求項１６】
さらに、各品質ターゲットの劣化パラメータの値を保存し、後で試験シーケンスを発生するようにしたステップを有する請求項１〜１５のいずれか１項記載の方法。
【請求項１７】
さらに、上記試験シーケンスを保存するステップを有する請求項１〜１６のいずれか１項記載の方法。
【請求項１８】
パケット系知覚式品質評価処理装置を較正処理する方法において、
請求項１〜１７のいずれか１項記載の方法に従って試験セットを発生するステップ、
上記試験セットから試験シーケンスおよび上記パケット系知覚式品質評価処理装置を使用して第１オピニオン評点を発生するステップ、
エッジ装置を使用して、上記試験シーケンスを通話信号に変換するステップ、
上記通話信号および非パケット系知覚式品質評価処理装置から第２オピニオン評点を発生するステップ、および
第１オピニオン評点と第２オピニオン評点との間の差分を使用して、パケット系知覚式品質評価処理装置を更新するステップを有する較正処理方法。
【請求項１９】
パケット系知覚式品質評価処理装置を試験する方法において、
請求項１〜１８のいずれか１項記載の方法に従って試験セットを発生するステップ、
上記試験セットから試験シーケンスおよび上記パケット系知覚式品質評価処理装置を使用して第１オピニオン評点を発生するステップ、
エッジ装置を使用して、上記試験シーケンスを通話信号に変換するステップ、
上記通話信号および非パケット系知覚式品質評価処理装置から第２オピニオン評点を発生するステップ、および
上記試験セット内の全試験シーケンスが考慮されるまで第１オピニオン評点と第２オピニオン評点との間の差分を保存するステップ
を繰り返すステップ、および
上記保存差分から試験評点を発生するステップ、とを有する方法。
【請求項２０】
請求項１〜１９のいずれか１項記載の方法を実行するコンピュータプログラムを備えたコンピュータ読み出し媒体。
【請求項２１】
請求項１〜１９のいずれか１項記載の方法を実行するコンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、非侵入式通話品質評価システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
電気通信リンクで回送する信号は、デジタル化、暗号化や変調などのかなりの変成を受ける。また、信号は、ロスの多い圧縮、伝送エラーの影響により歪みを被る。
【０００３】
信号の品質を測定する客観的な方法は現在開発段階にあり、用途としては装置開発、装置試験、システム性能の評価がある。
【０００４】
自動化システムの一部については、既知の（基準）信号を歪みシステム（試験を行う電気通信網や他のシステム）で試験し、劣化信号を誘導し、これを歪みのない基準信号と比較する。このようなシステムは、試験を実施している間、一般的に、試験されているチャネルでは実際の通信を行わないため、“侵入式”品質評価システムとして知られている。
【０００５】
逆に、非侵入式品質評価システムは、チャネルによって実際に通信を行っている状態で、即ち試験呼び出しを必要としない状態で、適用できるシステムである。
【０００６】
一部の試験の場合には試験呼び出しができないため、非侵入式試験が必要になる。理由の一つは、呼び出し終了点が地理的にさまざまであり、また未知なためである。もう一つの理由は、試験中のルートでは容量コストが特に高いためである。非侵入式モニターの場合、実際の呼び出し時常にモニターでき、性能を有意味に測定できる。現在知られている非侵入式品質評価システムの場合、試験パネル員によって評価され、既に平均オピニオン評点（ＭＯＳ）が出されている歪みサンプルのデータベースを利用する。
【０００７】
ＭＯＳは主観的試験によるもので、この試験の目的は、試験パネル員に予め方向が決まっているため回答の選択幅が狭い質問を出すことによってシステムの通話品質に関してユーザーの平均的な感じを求めることである。例えば、受け手側の品質を決定するためには、不良から優良までの５点評価で“通話の品質”をユーザーに評価してもらっている。特に具体的な条件に関しては、全受け手側の評価点を平均してＭＯＳを算出している。
【０００８】
品質評価システムを操作する場合には、各サンプルをパラメータ化し、試験パネル員によってまとめられた最高のＭＯＳ予測結果を与えるパラメータの組み合わせを求める。国際特許出願第ＷＯ０１／３５３９３号には、非侵入式品質評価システムに使用する通話サンプルをパラメータ化する一つの方法が記載されている。
【０００９】
パケット交換網、特にＶＯＩＰ（ボイスオーバーインターネットプロトコル）網で通話品質を評価するさいに、考慮すべき具体的な問題がある。
【００１０】
ＶＯＩＰ網の場合、ＶＯＩＰゲートウェイかあるいはエッジ装置が回路交換網とＶＯＩＰ網とのインターフェースでパケットデータを変換する。エッジ装置によってパケットから再現された通話の品質は、パケット到着時間の変動（ジッター）やパケットＶＯＩＰ網内のパケットロスなどの伝送劣化条件の悪影響を受ける。一般的に、ジッターおよび／またはパケットロスが大きくなると、通話品質が劣化する。
【００１１】
ＶＯＩＰパケット流れについては良好な状態にあるため、ＶＯＩＰ呼び出しは、呼び出し制御シグナリングをモニターし、かつ呼び出し設定メッセージを抽出するか、あるいはＶＯＩＰパケットを認識できるようにするかのいずれかによって確認できる。ＶＯＩＰ、即ちパケット系知覚式品質評価処理装置を、ＶＯＩＰパケットを認識できるように設定すれば、呼び出し開始を見落とした場合にも、呼び出しを確認できる。この方法の場合、パケット流れおよびシグナリング情報が異なるルートで流れるさいの問題もなくなる。
【００１２】
ＩＰ網内からＶＯＩＰの通話品質をモニターするためには、非直線性の高いＶＯＩＰゲートウェイを考慮する必要がある。
【００１３】
ＶＯＩＰ、即ちパケット系知覚式品質評価処理装置の場合、異なるゲートウェイ動作がＩＰ伝送の作用にさまざまに反応するため、ゲートウェイの特性に従って各ゲートウェイを考える必要がある。ＶＯＩＰエッジ装置動作の一部の領域は、他の領域に比較してより注目度が高いと考えられる。これら注目領域では、伝送劣化条件の小さな変化が知覚された品質に大きな変化をひきおこす。逆に、特定のパケットロス率では、装置が常に低い品質になる場合には、システムの品質が向上せず、パケットロスがさらに増す傾向があるため、パケットロス率を高くするための試験が必要なくなる。
【００１４】
異なるエッジ装置の性能プロファイルがかなり変化できるため、パケット系知覚式品質評価処理装置の動作を較正処理あるいは構成し、これが評価対象の伝送リンクのエッジ装置の特性を正確に考慮できるようにするのがきわめて有利である。ところが、予めわかっている網条件セットの包括的なセットを使用して知覚式品質評価処理装置を較正処理することは、長すぎる時間を必要とするか、注目領域において十分詳細な情報を得られなくなる結果になる。同様に、予め較正処理された知覚式品質評価処理装置の性能を試験するさいには、注目領域外よりも注目領域内でより多くの試験シーケンスを使用することが望ましい。
【００１５】
本発明の主用途は、非侵入式パケット系知覚式品質評価装置の較正処理および試験であるが、侵入式品質評価システムによって非常に高いレベルの精度が実現できるため、これら装置は、較正処理および試験プロセスを行うのに理想的な装置になる。
【００１６】
１９９８年１０月１４日に特許を付与された欧州特許第０６４７３７５号を代表として多くの特許および特許出願が、侵入式品質評価に関している。本発明では、試験信号の初期には同じ２つのコピーを使用する。第１コピーについては、試験対象の通信システムで伝送する。劣化しているかも知れない生成した信号を基準コピーと比較し、劣化信号の可聴エラーを確認する。これら可聴エラーを評価し、これらの知覚上の有意味性を求める。即ち、聞き手側にとって有意味と考えられるエラーに、有意味と考えられないエラーよりも大きな重みを付与する。特に、非可聴エラーについては、知覚上不適切であり、評価する必要はない。
【特許文献１】国際特許出願第ＷＯ０１／３５３９３号
【特許文献２】欧州特許第０６４７３７５号
【特許文献３】国際特許出願第ＷＯ０１／９７４１４号
【非特許文献１】ＩＴＵ−Ｔ  Ｒｅｃｏｍｍｅｎｄａｔｉｏｎ  Ｐ．８６２、Ｐ．８６２．１
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
本発明が対処すべき課題は、試験時間を最小に維持した状態で、注目主領域で各エッジ装置を作動させる試験シーケンスのセットを作り出すことである。
【００１８】
［関連技術］
国際特許出願第ＷＯ０１９７４１４号には、伝送媒体で伝送された信号に生じた劣化を知覚できるかどうかを回線網シミュレーション装置に一つかそれ以上の所定の伝送劣化条件を作り出し、この伝送劣化条件で試験信号を処理して測定する装置が記載されている。どの程度まで伝送劣化条件が人間の知覚系とって知覚可能かを測定し、データセットを発生かつ記憶し、一つかそれ以上の伝送劣化条件をそれぞれの知覚可能性値に変換する。データセットはルックアップテーブルでもよく、あるいは経験的に決定される式であってもよい。次に、このデータセットを実際の伝送に使用する。即ち、受信された信号中の主観的に測定された伝送劣化条件を確認し、かつデータ記憶手段のデータセットから上記の確認された伝送劣化条件に関連する知覚可能値を検索する。このようにすると、信号中の劣化の客観的な有意味性の尺度を、劣化の主観的な測定から誘導できる。システムには、初期に複数の劣化条件を課すことができ、そして発生した知覚可能測定値の変動程度に従ってさらに別な劣化条件を選択する。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
本発明は、通話データを含むパケットを受信し、これらパケットを通話信号に変換するエッジ装置に対応させてパケット系知覚式品質評価処理装置に使用する試験シーケンスの最適化されたセットを定義する方法において、パケットの試験シーケンスを上記エッジ装置によって処理するさいに発生する必要のある品質ターゲットのセットを定義するステップ、および各品質ターゲットの劣化パラメータの値を求めるステップであって、この値に従う劣化をもつ試験シーケンスが、この試験シーケンスを上記エッジ装置によって処理するさいに、上記品質ターゲットを実質的に発生するステップからなる方法を提供するものである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
本発明のその他の実施態様については、以下に説明する。また、特許請求の範囲に記載する。
【００２１】
図１に示すように、インターフェース３を介して、非侵入式品質評価システム１を通信チャンネル２に接続する。インターフェース３では、モニターされるデータと品質評価システム１との間でデータ変換が必要な場合には、これを行う。品質評価システムによってデータ信号を解析し、発生した品質予測値をデータベース４に保存する。既に解析されたデータ信号に関する詳細についても、後で参照するために保存しておく。さらにデータ信号の解析を行い、品質予測値を更新し、所定の期間にわたって品質予測値を複数の解析されたデータ信号に対応させる。
【００２２】
データベース４には、複数の異なる割り込み点から発生した品質予測結果を保存することができる。また、データベース４には、ユーザー端子５を介してユーザーが遠隔地から問い合わせることができ、データベース４に保存されている品質予測結果を解析、視覚化することができる。
【００２３】
次に図２について説明すると、ＶＯＩＰゲートウェイ１４などのエッジ装置が、回線交換網１８とＩＰ網１２とのインターフェースでデータ変換を行う。ＩＰ網１２は複数のＩＰルータ１６から構成する。パケット系知覚式品質評価処理装置１０がＶＯＩＰ呼び出しをモニターし、ＩＰ網によって提供される通話の品質、特にエッジ装置１４によって回線交換網１８に送られる通話の品質を評価する。理想的には、具体的なエッジ装置１４に対応できるように、評価処理装置は予め較正処理しておく。
【００２４】
図３は、パケット系知覚式品質評価処理装置の較正処理、およびこの処理装置の試験について同じ図面で示す概略図である。なお、実際は、これら処理装置は相互に独立して処理をおこなうものである。
【００２５】
試験セット２２からのパケット２１のシーケンスからなる試験シーケンスを、エッジ装置１４を介して送る。このシーケンスについては、パケット系知覚式品質評価処理装置１０によっても評価する。パケットをエッジ装置１４によって処理した後、非パケット系通話品質評価装置を使用して第１品質値２２を発生する。パケット系知覚式品質評価処理装置１０が、第２品質値１４を発生する。較正処理時、２つの品質値を比較２５し、較正処理装置２６が結果を使用してパケット系知覚式品質評価処理装置１０を更新する。試験時、２つの品質値間の差分を記憶装置２８に保存し、後で解析する。
【００２６】
いずれの場合も、処理プロセスでは、エッジ装置１４を介して試験シーケンスを送ってから、非パケット系知覚式通話品質評価装置２０を使用して知覚による品質を測定する。ＩＴＵ−Ｔ  Ｒｅｃｏｍｍｅｎｄａｔｉｏｎ  Ｐ．８６２、Ｐ．８６２．１に記載されている通話品質の知覚式評価（ＰＥＳＱ）アルゴリズムが、非パケット系知覚式通話品質評価装置に対する理想的なアルゴリズムと考えられる。試験シーケンスの場合、リアルタイムでエッジ装置１４によって処理する必要がある。即ち、３秒試験シーケンスの場合、処理時間は３秒である。これは、実際の時間尺度で試験または較正処理を行うためには、試験シーケンス数を最小に維持しなければならないことを意味する。
【００２７】
具体的なエッジ装置を用いてパケット系知覚式通話品質評価装置の性能を評価するさいの評価注目領域は、通話品質が具体的な劣化パラメータに関してその最大値からその最小値に劣化する動作領域である。
【００２８】
本発明方法の場合、探索を行って、評価注目領域内の試験シーケンスが評価対象外の試験シーケンスよりも多くなるように、試験シーケンスを発生する。
【００２９】
図４に、劣化パラメータパケットロスの関数として、３つの異なるエッジ装置に関する評価注目領域（ＲＯＩ）を示す。図示のように、３つの装置に関する注目領域はまったく異なる領域である。装置Ａは比較的広い注目領域をカバーするものであるが、装置ＢおよびＣは、注目領域がパケットロス範囲の異なる部分では比較的狭い。
【００３０】
ここで、一次元のパラメータスペースにおいて相互に独立している劣化パラメータについて検討する。一般に、最も注目すべき２つの劣化パラメータは、パケットロスとジッターである。従って、劣化パラメータについては、２つの軸が増加するパケットロスおよび増加するジッターを表す２次元スペースと考えることができる（図５ａを参照）。なお、実際には、パケットロスおよびジッタープロファイルは、パケットロス平均値やジッター平均値などの一つの単純なスカラー値によって完全に特定することができない。即ち、確率分布やバースト度などのより精細な特性を考える必要がある。
【００３１】
この問題に対処する一つの実際的な方法は、各スペースが具体的なジッターパラメータおよび具体的なパケットロスパラメータに対応する多数のパラメータスペースを定義することである。具体的な各パラメータについては、一つのスカラー変数によって制御できるように、分布で定義することができる。この場合、二次元スペースを探索して、この分布の組み合わせに関して注目領域を求めることができる。従って、各スペースにおける注目領域に関して多数の二次元スペース（図５ｂに概略を示す）を探索できる。図５ｃは、具体的な二次元スペースにおける注目領域を概略的に示す。
【００３２】
その他の二次元スペースについてもその他の劣化パラメータで定義することが可能であり、あるいは注目領域に関して三次元あるいは四次元以上のスペースを探索できるように探索を一般化することも可能である。
【００３３】
多数の異なる組み合わせの劣化パラメータ分布を含む劣化パラメータスペースのセットを定義することにより所定範囲の動作条件でエッジ装置を動作させることによって探索を実行する。単純な実例は、標準偏差を一定にし、スカラー変数を使用して分布の平均値を制御する正規分布である。従って、スカラー値が大きくなると、平均ジッター（またはパケットロス）が増加し、通話品質が低くなる。
【００３４】
本発明の目的は、シーケンスの全体数を最小に抑えた状態で、注目領域に焦点をあわせた試験シーケンスを定義することである。既に定義されている各パラメータスペースの内部では、全エッジ装置に関して注目領域を十分高い分解能でカバーする試験シーケンスのセットを発生することが目的である。
【００３５】
一つの解決策は、各スペース内において、予想される全てのエッジ装置に関して注目領域をカバーするのに十分な大きさの所定試験シーケンスのセットを作り出すことである（図６ａを参照）。なお、任意の注目領域内で十分な分解能を実現するためには、ベクトル密度はきわめて高くなければならない。この結果、試験シーケンスの全てを処理するために必要な時間が非現実的になると考えられる。
【００３６】
他の方法としては、パラメータスペースの原点付近でより良い分解能を実現するために、非均一的な分布の所定の試験シーケンスを利用することが考えられる（図６ｂを参照）が、このような方法では、エッジ装置に関する分解能が劣化し、特性が図４の装置Ｃについて示した特性になる。
【００３７】
本発明の方法では、試験シーケンスを発生する必要がある品質ターゲットのセットを定義する。非パケット系知覚式品質評価装置２０とともにエッジ装置１４を使用して、各品質ターゲットを発生するために必要な具体的な劣化パラメータの値を求める。任意のエッジ装置および劣化パラメータに関する注目領域については、具体的な品質ターゲットを発生する試験シーケンスを発生するパラメータに関する劣化パラメータスペースを探索することによって求める。
【００３８】
このような品質ターゲットを発生する試験シーケンスを利用する一つの利点は、所定の試験シーケンスの包括的なセットを利用する場合よりも十分少ない試験シーケンスを発生し、これを処理すればよいことである。従って、較正処理および試験プロセス両者に必要な時間が最短になる。
【００３９】
各劣化パラメータスペース内では、劣化パラメータの相対的に異なる値でエッジ装置を動作させることが望ましい。このためには、劣化パラメータスペースの原点から延びる多数の“スポーク”にそって品質ターゲットを定義すればよい。図７ａに、（２つの軸を含む）６本のスポークをもつパラメータスペースを示す。また、図７ｂに、各スポーク上の４つの品質ターゲットにマッチする試験シーケンスを発生するパラメータのセットを示す。スポークを定義する別な方法では、パラメータスペースをスポーク間の領域に分割することである。
【００４０】
パラメータスペースのスパンを均等化するためには、注目領域に対して軸を正規化してから、スポークを定義するのが望ましい。このためには、２つの軸にそって品質ターゲットを最初に探索して、注目領域に関して境界を設定すればよい。
【００４１】
本発明の好ましい実施態様では、使用する劣化パラメータはジッターと、パケットロスである。
【００４２】
ｉ番目の正規化されたスポークに沿うジッターｊとパケットロスｐとの関係は、次式で表現することができる。
【００４３】
2007060650.tif 000003
なお、Ｓはスポーク数、ｊｍｉｎはパケットロスなく、最低限の品質ターゲットを発生するジッター値、そしてｐｍｉｎはジッターのない状態で、最低限の品質ターゲットを発生するパケットロス値である。即ち、スポーク１はパケットロス軸、そしてスポークＳはジッター軸である。最低限品質ターゲットは、１．０、例えば１．５のＰ．８６２．１ＭＯＳよりも高くなければならい。理由は、１．０という値は、高いレベルのジッターまたはパケットロスを原因とする酷い歪みを表すからである。
【００４４】
同様に、ｉ番目のスポークとｉ＋１番目のスポークと間の領域については、以下の数式で定義できる。
【００４５】
2007060650.tif 000004
Ｓ個のスポーク内それぞれのＴ個のターゲットで品質ターゲットを定義する場合必要なことは、Ｔ×Ｓ個の試験シーケンスを求めることだけである。具体的な品質目的に合うベクトルを探索する必要があり、これは、Ｔ×Ｓ個のベクトルを処理する必要があることを意味するが、全体の数は、予め定義された試験シーケンスを使用する場合に必要な数よりもはるかに小さい。ターゲット値に裕度を認めると、探索の繰り返し数も小さくできる。
【００４６】
品質ターゲットを利用するもう一つの利点は、品質のある部分を強調するようにターゲットを設定できることである。例えば、品質範囲の上半分が下半分よりも注目度が高い場合には、品質ターゲットのセットの考えられる一つの例は、次の通りである。
｛０．１、０．３、０．５、０．６、０．７、０．８、
０．８５、０．９、０．９５、１．０｝
なお、裕度は±０．０２５である。
【００４７】
好ましい実施態様では、エラーのない条件下で得られた品質に対してこれら品質ターゲットを正規化する。これは、任意のエッジ装置が発生する最大品質が使用する通話コードなどのファクターに依存するため、絶対品質ターゲットを特定するために好ましい。
【００４８】
好適な実施態様では、非パケット系知覚式通話品質評価装置は、ＩＴＵ−Ｔ  Ｒｅｃｏｍｍｅｎｄａｔｉｏｎ  Ｐ．８６２、Ｐ．８６２．１に記載されている通話品質の知覚式評価（ＰＥＳＱ）アルゴリズムである。この侵入式モデルの参照通話は、各試験シーケンスを構築するために使用する通話である。
【００４９】
図８は、本発明の好適な実施態様の方法ステップを示すフローチャートである。ステップ８０で、品質ターゲットのセットを定義する。好ましい実施態様の場合、品質ターゲットは、所定の最大品質値および所定の最小品質値に対してのものである。
【００５０】
各パラメータスペースについては、次のようにして探索する。
【００５１】
各所望の品質ターゲットに関して、ステップ８２で、パラメータ値のセットについてパラメータスペースを探索し、これらの値に従う劣化をもつ試験シーケンスが所望の品質ターゲットを発生するようにする。品質ターゲットとしては、パケット系知覚式品質評価処理装置１０が発生するものを使用することができる。なお、好ましい実施態様では、品質ターゲットとしては、試験シーケンスがエッジ装置１４によって処理された後、非パケット系知覚式品質評価処理装置２０が発生するものを使用することができる。
【００５２】
最も単純なケースでは、ただ一つのパラメータを考える場合、パラメータスペースは一次元のスペースである。なお、好ましい実施態様では、ジッターパラメータおよびパケットロスパラメータを利用する二次元スペースを使用する。
【００５３】
（一次元パラメータスペース以外の）具体的なパラメータスペース内において、いくつかの異なる組み合わせのパラメータによって具体的な品質ターゲットを満足することができる。例えば、図５ｂに示す二次元パラメータスペース内では、輪郭線５１が、一つの具体的な品質ターゲットを満足する試験シーケンスを発生する複数のパラメータのセットを表し、そして輪郭線５２が、別な具体的な品質ターゲットを満足する試験シーケンスを発生する複数のパラメータのセットを表す。
【００５４】
従って、好適な実施態様では、パラメータスペースを多数の部分に分離し、各部分を、具体的な品質ターゲットを満足する試験シーケンスを発生するパラメータのセットについて探索する。
【００５５】
各部分が、他の各部分と同数の潜在的なパラメータセットを有しているのが理想的である。一つの実施態様では、即ちパラメータスペースが二次元スペースの実施態様では、これら部分をパラメータスペースの領域として定義し、各領域を他の各領域と同じサイズにし、各領域が他の各領域と同数の潜在的パラメータセットを有するように構成する。
【００５６】
好適な実施態様では、各部分をパラメータスペース内のベクトルとして、即ちスポークとして定義する。ベクトルは、幾何学的数列を使用する探索であり、この後に、二分探索を行う。
【００５７】
図９ａは、二次元ジッター/パケットロスパラメータスペース内のベクトルを示す図である。具体的なスポークにそって劣化パラメータを選択すると、パラメータスペースの原点からの距離が大きくなるに従って、これら劣化パラメータ値をもつ試験シーケンスが発生する品質が低下する。一つの考えられる品質プロファイルを図９ｂに示す。
【００５８】
具体的な品質ターゲットに関して、初期幾何学的探索相（図９ｃに概略を示す）においてスポークを探索する。これは、パラメータ値を選択し、劣化パラメータ値をもつ試験シーケンスが発生する品質を求めることによって行う。品質が（所定の裕度を差し引いた）品質ターゲット以上の場合には、１以上でなければならない所定量を劣化値に乗算することによってパラメータ値を大きくし、このプロセスを、発生した品質が（所定の裕度を加えた）品質ターゲット未満になるまで繰り返す。発生した品質がターゲット±裕度内に収まっている場合には、品質ターゲットが満足されているとみなし、パラメータから発生した試験シーケンスを、発生した試験セットに保存する。
【００５９】
好適な実施態様では、二分探索相に移行する前に、パラメータ値をわずかに大きくし、変更された劣化パラメータ値をもつ試験シーケンスが発生した品質を求める。これによって、パラメータ値が、実際にゴールを“通過する”のではなく、局所的な最小値になるかどうかを調べることができる。
【００６０】
パラメータが局所的な最小値にならない場合には、二分探索相を開始する。この探索相では、パラメータ値が増減するステップサイズがそれぞれ繰り返した後に半分になる。ターゲットが、現時点のパラメータをもつ試験シーケンスが発生する品質より高い品質の場合には、劣化パラメータが小さくなり、逆に、ターゲットが、現時点のパラメータをもつ試験シーケンスが発生する品質より低い品質の場合には、劣化パラメータが大きくなる。この二分探索相は、発生品質がターゲット値に実質的に等しくなるまで（即ち、ターゲット値±所定の裕度に等しくなるまで）続行する。
【００６１】
上記二分探索相の概略を図９ｄに示す。“ａ”および“ｂ”は、幾何学的探索相で選択された値を示す。点“ｂ”は、既にゴールを通過したパラメータ値を示す。次に、点“ａ”と点“ｂ”との中間にある点“ｃ”が選択される。点“ｃ”は、依然としてゴールを通過した状態にあり、次に、点“ａ”と点“ｃ”との中間にある点“ｄ”が選択される。このプロセスは、ターゲットが実質的に満足されるまで反復される。パケット伝送が特性として離散的であるため、所望の裕度内で品質ゴールを実現する試験シーケンスを二分探索で発生できない場合がある。この状態が発生した場合には、二分探索の全反復数を制限するとともに、品質ターゲットに最も近い結果を与えるパラメータ値を選択することによって対処できる。
【００６２】
パラメータから発生した試験シーケンスは、発生試験セットに保存する。別な実施態様では、パラメータ自体を保存し、試験シーケンスを保存パラメータから発生する。較正処理および／または試験は、品質ゴールを満足したパラメータのサブセットか、あるいは探索相時に評価されたパラメータのすべてのいずれかに基づいて行えばよい。
【００６３】
当業者ならば理解できるように、以上説明したプロセスは、従来のプログラム可能なコンピュータで実行することができ、またこのプログラム可能なコンピュータを制御して上記方法を実行するためのコンピュータプログラムコード化実行指令は、コンピュータ読み出し媒体で実行することができる。
【００６４】
また、本発明の範囲から逸れることなく、上記の具体的な実施態様には多くの変更、改変および／または付加を加えることができる。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
添付図面は、例示のみを目的として本発明の実施態様を示すものである。
【図１】非侵入式品質評価システムを示す概略図である。
【図２】ＩＰ網と回線交換網との間の非侵入式品質評価システムモニター用呼び出しを示すブロック線図である。
【図３】パケット系知覚式品質評価処理装置の較正処理および試験を示すブロック線図である。
【図４】異なるＶＯＩＰゲートウェイの異なる品質プロファイルを示す図である。
【図５】図５ａ〜５ｃは、二次元パラメータスペースを示す図である。
【図６】図６ａ〜６ｂは、パケット系知覚式品質評価処理装置を試験または較正処理する試験シーケンスを選択する、考えられる方法を示す概略図である。
【図７】図７ａ〜７ｂは、本発明に従ってパケット系知覚式品質評価処理装置を試験または較正処理する試験シーケンスを発生する方法を示す概略図である。
【図８】本発明方法を示すフローチャートである。
【図９】図９ａ〜９ｄは、具体的な品質ゴールのベクトルにそって行う探索処理を示す概略図である。
【符号の説明】
【００６６】
１：非侵入式品質評価システム、
２：通信チャネル、
３：インターフェース、
４：データベース、
５：ユーザー端子、
１０：パケット系知覚式品質評価処理装置、
１２：ＩＰ網、
１４：エッジ装置、即ちＶＯＩＰゲートウェイ、
１６：ＩＰルータ、
１８：回線交換網、
２１：パケット、
２２：試験セット。
【図１】
2007060650.tif 000005
【図２】
2007060650.tif 000006
【図３】
2007060650.tif 000007
【図４】
2007060650.tif 000008
【図５】
2007060650.tif 000009
【図６】
2007060650.tif 000010
【図７】
2007060650.tif 000011
【図８】
2007060650.tif 000012
【図９】
2007060650.tif 000013
【外国語明細書】
2007060650.tif 000014
2007060650.tif 000015
2007060650.tif 000016
2007060650.tif 000017
2007060650.tif 000018
2007060650.tif 000019
2007060650.tif 000020
2007060650.tif 000021
2007060650.tif 000022
2007060650.tif 000023
2007060650.tif 000024
2007060650.tif 000025
2007060650.tif 000026
2007060650.tif 000027
2007060650.tif 000028
2007060650.tif 000029
2007060650.tif 000030
2007060650.tif 000031
2007060650.tif 000032
2007060650.tif 000033
2007060650.tif 000034
【図１】
2007060650.tif 000035
【図２】
2007060650.tif 000036
【図３】
2007060650.tif 000037
【図４】
2007060650.tif 000038
【図５】
2007060650.tif 000039
【図６】
2007060650.tif 000040
【図７】
2007060650.tif 000041
【図８】
2007060650.tif 000042
【図９】
2007060650.tif 000043