(57)【要約】  【課題】  複数の制御装置によって複数の供試器を同時に試験するときの試験可能な範囲を広げ、効率的に試験が実施できる自動試験システムを提供する。  【解決手段】  複数の制御装置のうちの制御ＰＣ１の測定処理部１ｂは、詳細試験項目データテーブル２１を参照して汎用測定器が競合使用されないように試験項目判定２３及び詳細試験判定２４を行う。さらに、制御ＰＣ１の測定処理部１ｂは使用可能な測定器の判定２５及び測定器の処理２６を行った後、自己が使用する測定器を独占的に測定器データテーブル２２に設定し、通信インタフェース１ｅを介して汎用測定器群１２の中から使用する測定器を抽出して確保する。次に、制御ＰＣ１の測定処理部１ｂが供試器に対する試験結果の取得処理２７を行い、試験結果を表示部１ｃに表示する。そして、試験の終了後は、測定器データテーブル２２の該当欄に対してその測定器を未使用状態に設定する。【選択図】    図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の制御装置を用いて複数の測定器を制御しながら複数の被試験器に対して同時に試験を行う自動試験システムであって、
前記測定器ごとの使用状態及び未使用状態を表示する測定器データテーブルと、
前記被試験器ごとの詳細試験項目とそれぞれの詳細試験で使用する測定器とを対応付けて表示する詳細試験項目データテーブルとを備え、
前記測定器データテーブルと前記詳細試験項目データテーブルとを参照し、前記測定器の競合使用の有無を確認して、該詳細試験項目データテーブルより選択した詳細項目の試験を行うか否かを判定することを特徴とする自動試験システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の測定器を用いて被試験器（以下、供試器ということもある）に対して所望の試験項目の試験を同時に実施し、該供試器に対して自動測定試験を行う自動試験システムに関し、特に、制御装置（パーソナルコンピュータ：ＰＣ）を用いて複数の測定器を制御しながら複数の供試器の試験を同時に行う自動試験システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、携帯電話システムなどのような通信システムや航法システムなどに対して各種の試験を実施する場合においては、試験項目ごとに対応した複数の測定器が必要となる。このような試験を行う場合は、試験時間を短縮させるために各試験項目の試験を実施するのに必要な測定器を即座に把握することが必要である。そこで、これを実現するために、一つの試験項目の試験をそれぞれ測定機能が異なる複数の測定器を用いて効率的に実施する試験管理システムの技術が開示されている（例えば、特許文献1参照）。この技術によれば、試験項目ごとに必要な測定機能及び各測定機能を有する測定器を記憶させる記憶手段と、試験項目テーブル及び測定器機種テーブルとを備え、所望の測定を行うための測定器が不足した場合には直ちにその旨の情報を表示することができる。これによって、試験作業者の熟練度に関わりなく試験実施に必要な測定器を即座に把握することができるので、各試験項目の試験を間違いなく円滑に実施することが可能となる。
【０００３】
また、複数の制御装置（ＰＣ）を用いて複数の測定器を制御することによって複数の供試器の試験を同時に行う自動試験システムも知られている。このような制御装置を用いた自動試験システムは、各供試器ごとに行われる複数の試験においてどの測定器を使用するかという情報に基づいて、各供試器間で測定器の使用が競合しないように、各供試器単位で使用可能な測定器の有無を確認して所望の試験が実施できるか否かを判断している。従って、この自動試験システムによれば、複数の制御装置によって複数の測定器を制御して複数の供試器を同時に自動測定することができるので、操作者の作業を軽減して試験時間を短縮することが可能となる。
【特許文献１】特開２００３−２８３４４６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、複数の制御装置を用いて複数の測定器を制御しながら複数の供試器を同時に試験する従来の自動試験システムは、各供試器の試験を行うのに試験項目ごとに異なる汎用測定器を複数個使用しているため、複数の制御装置の制御によって複数の供試器を同時に試験する際に、ある試験項目で使用する測定器が二つの供試器間で同一であった場合には、測定器の使用が競合するために、一方の供試器（供試器Ａとする）の試験を行っている間は他方の供試器（供試器Ｂとする）の試験が行えない。そのため、一方の供試器（供試器Ａ）の試験を行っている間は他方の供試器（供試器Ｂ）の試験を中断しなければならないので、結果的に試験の稼動効率が低下してしまうおそれがある。なお、上記の特許文献１の技術においても、各供試器間で同一の測定器が競合して使用されるか否かについては判断していないので、測定器が競合使用される状況下では試験の稼動効率が低下してしまうおそれがある。
【０００５】
また、複数の制御装置を用いて制御を行う従来の自動試験システムは、各供試器の試験で用いる測定器の種別をそれぞれの制御装置に登録しておき、各制御装置にて試験を実施する際に、他の制御装置が現在行っている試験の対象となっている供試器（供試器Ａとする）を判断し、これから実施する供試器（供試器Ｂとする）の試験が実現できるかを否かを判定して、供試器Ｂの試験実施が可能か否かを操作者に通知している。つまり、制御装置は各供試器単位で試験実施の可否の判定を行っている。
【０００６】
一方、汎用測定器はいずれの供試器（例えば、供試器Ａ及び供試器Ｂ）の試験においても多くの種類の測定器が使用されている。このようなことから、各制御装置が複数の供試器の試験を同時に実施する場合には、各制御装置が多くの種類の測定器について各供試器間での競合の有無を判別しなければならないために、各供試器単位での試験実施の可否の判別を行うことがかなり複雑になる。さらには、各供試器が多くの種類の測定器を使用するために同じ測定器を使用する確率が高くなるので、各制御装置は複数の供試器の試験を同時に実施をすることが不可能となるケースが多くなる。
【０００７】
本発明は、以上のような問題点に鑑みてなされたものであり、複数の制御装置によって複数の供試器を同時に試験するときの試験可能な範囲を広げ、複数の制御装置によって複数の供試器を効率的かつ自動的に試験できるような自動試験システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上述した課題を解決するため、本発明に係る自動試験システムは、複数の制御装置を用いて複数の測定器を制御しながら複数の被試験器（供試器）に対して同時に試験を行う自動試験システムであって、測定器ごとの使用状態及び未使用状態を表示する測定器データテーブルと、供試器ごとの詳細試験項目とそれぞれの詳細試験で使用する測定器とを対応付けて表示する詳細試験項目データテーブルとを備え、測定器データテーブルと詳細試験項目データテーブルとを参照し、測定器の競合使用の有無を確認して、詳細試験項目データテーブルより選択した詳細項目の試験を行うか否かを判定する構成を採っている。
【０００９】
すなわち、本発明の自動試験システムによれば、それぞれの制御装置が供試器に対して同時に試験を行うとき、各供試器の試験項目を細分化して各詳細試験で使用する測定器を決定し、所望の測定器を排他的に使用している。これによって、複数の制御装置が同時に試験を行っても、各制御装置が行う詳細試験の項目が異なる確率が高くなるので測定器が競合使用される確率は低くなる。従って、複数の制御装置によって測定器を排他的に使用しながら同時試験を実施できる幅（実施幅）を拡大することができるので、結果的に試験時間の効率化を図ることが可能となる。
【発明の効果】
【００１０】
本発明の自動試験システムによれば、複数の制御装置が複数の供試器を同時に自動測定（自動試験）するとき、測定器を排他的に使用する制御を各供試器の単位から詳細試験項目の単位に変更している。これによって、複数の制御装置が同時に試験を行うとき、それぞれの制御装置では詳細試験項目が異なる確率が高くなるので、複数の制御装置が同じ測定器を排他的に使用する確率も高くなる。従って、複数の制御装置が同時に試験を実施できる実施幅を拡大することができるので、試験の時間的効率を向上させることが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
本発明の自動試験システムは、複数の制御装置を用いて複数の測定器を制御しながら複数の供試器の試験を同時に行う自動試験システムであって、各測定器の使用状態及び未使用状態がわかる測定器データテーブルと、各供試器（被試験器）の詳細試験項目及び各詳細試験で使用される測定器がわかる詳細試験項目データテーブルとを備えている。これによって、各制御装置は、複数の測定器を制御して各供試器の詳細試験を実施する段階で、測定器データテーブルと詳細試験項目データテーブルとを参照して各測定器の使用の有無を確認し、各測定器を競合使用させない状態で各供試器の試験を実施することが可能であるか否かを判定することができる。このような試験方法によって、各制御装置は同時試験の実施幅を拡大することができるので、結果的に、各供試器の試験時間を短縮して試験の効率化を図ることが可能となる。
【００１２】
つまり、従来の自動試験システムは、各供試器ごとに行われる複数の試験でどの測定器を使用するかの情報に基づいて、各供試器単位で測定器使用の有無を確認して試験が実施できるか否かを判断していた。しかし、本発明の自動試験システムは、従来の自動試験システムのように各供試器単位で測定器使用の有無を確認して同時試験実施の可否を判断するのではなく、各制御装置が行う詳細試験項目ごとに同時試験実施の可否を判断しているので、各供試器の試験を効率的に行うことが可能となる。
【００１３】
（実施の形態１）
次に、本発明における自動試験システムの実施の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。図１は、本発明の実施の形態における自動試験システムを実現するためのシステム構成図である。本実施の形態の自動試験システムは、複数の制御装置（制御ＰＣ１，制御ＰＣ２，…制御ＰＣＸ）がＬＡＮ１１に接続され、かつ、複数の制御装置（制御ＰＣ１，制御ＰＣ２，…制御ＰＣＸ）には、汎用測定器群１２及び専用試験器群１３がＧＰ−ＩＢ、ＲＳ−２３２Ｃ、ＬＡＮなどの通信回線１４によって接続されている。さらに、複数の供試器（供試器１５−１，供試器１５−２，…供試器１５−ｎ）が、接続用のＢＯＸ１６を介して複数の制御装置（制御ＰＣ１，制御ＰＣ２，…制御ＰＣＸ）に接続されている。
【００１４】
なお、汎用測定器群１２は、標準信号（基準信号）を発生させる標準信号発生器１２ａや位相を検波する位相検波器１２ｂなどの各種の汎用測定器によって構成されている。また、専用試験器群１３は、それぞれの供試器（供試器１５−１，供試器１５−２，…供試器１５−ｎ）に固有の試験器である専用試験器ＡＡＡ１３ａや専用試験器ＢＢＢ１３ｂなどによって構成されている。
【００１５】
次に、図１に示す自動試験システムの動作について説明するが、まず、本発明の理解を容易にするために、複数の制御装置（制御ＰＣ１，制御ＰＣ２，…制御ＰＣＸ）が従来より行っている試験実施の排他的制御処理について説明する。制御装置である制御ＰＣ１が、汎用測定器群１２の標準信号発生器１２ａ及び専用試験器群１３の専用試験器ＡＡＡ１３ａを制御して供試器１５−１の試験を行っているとき、制御装置である制御ＰＣ２は、制御ＰＣ１がどの測定器を使用しているかの情報に基づいて、制御ＰＣ１が使用していない測定器として汎用測定器群１２の位相検波器１２ｂ及び専用試験器群１３の専用試験器ＢＢＢ１３ｂを制御して供試器１５−２の試験を行う。これによって、制御装置である制御ＰＣ１と制御ＰＣ２は、測定器を競合することなくそれぞれの供試器（つまり、供試器１５−１と供試器１５−２）の試験を排他的に同時に行うことができる。
【００１６】
このように、従来の自動試験システムは、複数の制御装置（例えば、制御ＰＣ１と制御ＰＣ２）が同時に試験を実施する場合の測定器の排他制御処理として、あらかじめ各供試器（例えば、供試器１５−１と供試器１５−２）の試験において、制御ＰＣ１と制御ＰＣ２が、それぞれ、どの測定器を使用するかという測定器使用情報を保持しておき、各供試器（供試器１５−１と供試器１５−２）の試験単位で同時に試験が行えるか否かを判断している。
【００１７】
このとき、各制御装置（例えば、制御ＰＣ１と制御ＰＣ２）が各供試器（例えば、供試器１５−１と供試器１５−２）の単位ごとに同時試験の可否を判定する場合には、各供試器（供試器１５−１と供試器１５−２）の試験においては多くの汎用測定器を使用するケースが多い。その結果、各供試器（供試器１５−１と供試器１５−２）が同じ汎用測定器（例えば、位相検出器１２ｂ）を使用する確率が高くなるために、判定結果として、供試器１５−１と供試器１５−２を同時試験することが不可能となるケースが多くなり、結果的に試験効率が低下するおそれがある。
【００１８】
そこで、本発明の自動試験システムでは、各制御装置（例えば、制御ＰＣ１と制御ＰＣ２）が各供試器（例えば、供試器１５−１と供試器１５−２）を同時に試験する場合は、より詳細な試験の項目単位で汎用測定器の使用状況を情報化することにした。
【００１９】
つまり、詳細な試験項目単位であれば、それぞれの供試器（例えば、供試器１５−１と供試器１５−２）が使用する汎用測定器の種類が制限されるため、各制御装置（例えば、制御ＰＣ１と制御ＰＣ２）が試験項目単位で汎用測定器の排他制御を行った場合には、制御ＰＣ１と制御ＰＣ２で同一の汎用測定器（例えば、位相検波器１２ｂ）を同時に使用する確率が低くなるため、従来の自動試験システムよりも、制御ＰＣ１と制御ＰＣ２による同時試験の実施が可能となるケースを増やすことができ、結果的に試験効率を向上させることができる。
【００２０】
そこで、本発明の自動試験システムによって複数の制御装置（例えば、制御ＰＣ１と制御ＰＣ２）で同時試験の実施を実現させる方法としては、汎用測定器群１２の中の各汎用測定器（標準信号発生器１２ａや位相検波器１２ｂなど）に対しての使用状態／未使用状態を示すデータテーブル（つまり、測定器データテーブル）を作成し、各制御装置（制御ＰＣ１，制御ＰＣ２，…制御ＰＣＸ）がその測定器データテーブルを共有する。
【００２１】
さらに、各供試器（供試器１５−１，供試器１５−２，…供試器１５−ｎ）が詳細試験項目の各試験を実施する場合にどの汎用測定器を使用するのかが分かるデータテーブル（つまり、詳細試験項目データテーブル）を作成し、各制御装置（制御ＰＣ１，制御ＰＣ２，…制御ＰＣＸ）がその詳細試験項目データテーブルを共有して参照できるようにする。
【００２２】
このとき、各制御装置（制御ＰＣ１，制御ＰＣ２，…制御ＰＣＸ）は、各供試器（供試器１５−１，供試器１５−２，…供試器１５−ｎ）の詳細試験項目について試験を実施する段階で、実施する詳細試験項目で使用される汎用測定器が何であるかを詳細試験項目データテーブルから確認し、さらに、測定器データテーブルを参照して汎用測定器の使用有無の情報を取得し、各供試器（供試器１５−１，供試器１５−２，…供試器１５−ｎ）の間で競合する汎用測定器がなくて試験の実施が可能であるか否かを判断する。このとき、詳細試験項目データテーブルに含まれる汎用測定器が一つでも使用状態であれば、他の制御装置は試験の実施が不可であると判定する。
【００２３】
また、各制御装置（制御ＰＣ１，制御ＰＣ２，…制御ＰＣＸ）の間で競合する汎用測定器がないために、各供試器（供試器１５−１，供試器１５−２，…供試器１５−ｎ）における試験の実施が可能であれば、それぞれの制御装置（制御ＰＣ１，制御ＰＣ２，…制御ＰＣＸ）は、自己が使用する汎用測定器は使用状態である旨の情報を測定器データテーブルに対して設定した後に所望の試験を実施する。また、試験が終了した後には、測定器データテーブルに対して汎用測定器は未使用状態であるという設定を行う。
【００２４】
以下、図面を参照しながら、本発明の自動試験システムにおいて制御装置が排他的制御によって各供試器に対して同時試験を行う処理についてさらに詳細に説明する。
【００２５】
図２は、本発明の自動試験システムを実現するための制御装置のハードウェア構成図である。つまり、図２に示す制御装置のハードウェア構成は、図１の各制御装置（制御ＰＣ１，制御ＰＣ２，…制御ＰＣＸ）のうちの１つの制御装置（例えば、制御ＰＣ１）について展開してあるが、何れの制御装置も同じハードウェア構成である。
【００２６】
図２に示すように、制御装置である制御ＰＣ１は、各供試器の詳細試験項目とそれぞれの詳細試験で使用する測定器を示す詳細試験項目データテーブル２１及び汎用測定器の使用状態／未使用状態を示す測定器データテーブル２２を格納するデータベース１ａと、試験項目判定２３、詳細試験判定２４、測定器判定２５、測定器処理２６、及び結果取得処理２７を行う測定処理部１ｂと、結果取得処理２７による測定器の取得結果を表示する表示部１ｃと、測定処理部１ｂに対して各種の操作を行う操作部１ｄと、外部の汎用測定器群１２及び専用試験器群１３と接続するインタフェースとなる通信インタフェース１ｅとを備えた構成となっている。
【００２７】
図３は、図２に示す制御ＰＣ１が保持する測定器データテーブル２２の一例を示す図である。図３の測定器データテーブルに示すように、複数の制御装置は制御ＰＣ１、と制御ＰＣ２と制御ＰＣ３である。また、専用試験器群１３は専用試験器ＡＡＡと専用試験器ＢＢＢであり、かつ汎用測定器群１２は電力計、位相検波器、スペクトル分析器、標準信号発生器、低周波分析器、誤り率測定器、デジタル電圧計などである。
【００２８】
図３の測定器データテーブルのように、測定器が使用中である場合は“１”を設定してその測定器の確保を行う。一方、測定器が未使用になった場合は、その測定器は自由に使用できるように開放されるために“０“を設定する。図３の測定器データテーブルの例では、制御ＰＣ１が電力計と位相検波器を確保し、制御ＰＣ２がスペクトル分析器を確保している状態を示している。なお、制御ＰＣ３は試験未実施のために全ての測定器が“０”となっている。
【００２９】
このようにして図３のような測定器データテーブルを作成して、各制御装置（つまり、制御ＰＣ１、制御ＰＣ２、及び制御ＰＣ３）が各汎用測定器（電力計、位相検波器、スペクトル分析器など）に対して使用状態にあるか未使用状態にあるかを表示しておく。これによって、各制御装置（制御ＰＣ１、制御ＰＣ２、及び制御ＰＣ３）は各汎用測定器の使用状態データを共有化することができるので、各制御装置（制御ＰＣ１、制御ＰＣ２、及び制御ＰＣ３）は測定器データテーブルの内容に従って一義的に各汎用測定器を排他的に使用することができる。
【００３０】
図４は、図２に示す制御ＰＣ１が保持する詳細試験項目データテーブル２１の一例を示す図である。図４の詳細試験項目データテーブルに示すように、あらかじめ各試験項目ごとに必要な測定器を登録しておく。例えば、空中線電力の送信出力試験では電力計を使用登録し、占有周波数帯幅の試験ではスペクトル分析器を使用登録し、また、送信周波数確度の試験では位相検波器を使用登録し、さらに、送信スプリアス強度の試験ではスペクトル分析器を使用登録するというように、それぞれ図４の詳細試験項目データテーブルに示すように詳細試験の項目ごとにそれぞれの汎用測定器を使用登録しておく。尚、図４の例では専用試験器群は専用試験器ＡＡＡのみであり、受信感度試験、ＴＯＮＥ送信試験、及び側音出力試験の場合は専用試験器ＡＡＡを使用登録しておく。
【００３１】
このようにして、図４に示すような詳細試験項目データテーブルを作成し、各供試器がどの汎用測定器を使用してそれぞれの詳細試験項目を行うかが分かるようにしておき、各制御装置（制御ＰＣ１、制御ＰＣ２、及び制御ＰＣ３）が詳細試験項目データテーブルを共有して参照できるようにする。
【００３２】
従って、各制御装置が各供試器に対して試験を実施するときは、図４の詳細試験項目データテーブルを参照して使用する測定器を確定し、その後、図３の測定器データテーブルを参照して試験が実施できるか否かを判定する。
【００３３】
例えば、制御ＰＣ１は、各供試器の詳細試験項目を実施するとき、実施する詳細試験項目のうち、送信出力試験で使用する汎用測定器が電力計であり、送信周波数確度試験で使用する汎用測定器が位相検波器であることを図４の詳細試験項目データテーブルによって確認する。
【００３４】
そして、制御ＰＣ１は、図３の測定器データテーブルを参照して、電力計と位相検波器は他の制御装置（制御ＰＣ２及び制御ＰＣ３）で使用されていないことを確認し、自己において使用することが可能であるので電力計と位相検波器の欄に“１”を設定してそれらの汎用測定器（つまり、電力計と位相検波器）の排他的使用を確保し、該当する供試器に対して試験を実施する。そして、試験が終了したら電力計と位相検波器の欄に“０”を設定して未使用状態にして他の制御装置（制御ＰＣ２及び制御ＰＣ３）で使用できる状態にしておく。
【００３５】
同様にして、制御ＰＣ２は、各供試器の詳細試験項目を実施するとき、実施する詳細試験項目のうち、占有周波数帯幅試験で使用する汎用測定器がスペクトル分析器であることを図４の詳細試験項目データテーブルによって確認する。
【００３６】
そして、制御ＰＣ２は、図３の測定器データテーブルを参照して、スペクトル分析器は他の制御装置（制御ＰＣ１及び制御ＰＣ３）で使用されていないことを確認し、自己において使用することが可能であるのでスペクトル分析器の欄に“１”を設定してその汎用測定器（つまり、スペクトル分析器）の排他的使用を確保し、該当する供試器に対して試験を実施する。そして、試験が終了したらスペクトル分析器の欄に“０”を設定して未使用状態にして他の制御装置（制御ＰＣ１及び制御ＰＣ３）で使用できる状態にしておく。このようにして、各制御装置（制御ＰＣ１、制御ＰＣ２、及び制御ＰＣ３）は、各汎用測定器を競合使用することなく効率的にそれぞれの供試器に対して試験を実施することができる。
【００３７】
次に、フローチャートを用いて、本発明の自動試験システムによって複数の制御装置が汎用測定器を排他的使用して複数の供試器を同時試験する処理の流れを説明する。
【００３８】
図５は、図２に示す制御装置が複数の供試器に対して同時試験を実施するときの処理の流れを示すフローチャートである。従って、図２を参照しながら、図５のフローチャートに従って制御ＰＣ１が排他的制御によって複数の供試器に対して同時試験を実施する処理の流れを説明する。
【００３９】
まず、制御ＰＣ１は、供試器に対する試験のプログラムを起動すると、供試器となる試験対象基材を選択して試験の実施を開始する（ステップＳ１）。このとき、制御ＰＣ１はこれから行う試験の詳細試験項目を選択する（ステップＳ２）。すると、制御ＰＣ１の測定処理部１ｂは、データベース１ａに格納されている詳細試験項目データテーブル２１を参照して、選択された詳細試験項目で使用される汎用測定器が既に使用状態にあるか否かを判定する（ステップＳ３）。つまり、図２のシステム構成における処理の流れに従えば、制御ＰＣ１の測定処理部１ｂは、詳細試験項目データテーブル２１を参照して、汎用測定器が競合して使用されないように試験項目判定２３及び詳細試験判定２４を行う。
【００４０】
ステップＳ３の判定において汎用測定器が使用状態であれば未使用状態になるまで待機するが、汎用測定器が未使用状態であれば、制御ＰＣ１の測定処理部１ｂは、当該汎用測定器（つまり、制御ＰＣ１がこれから使用する汎用測定器）を使用にするために、測定器データテーブル２２の該当する汎用測定器(例えば、電力計と位相検波器)の欄に“１”のフラグを立てて、その汎用測定器を使用状態に設定する（ステップＳ４）。つまり、図２のシステム構成における処理の流れに従えば、制御ＰＣ１の測定処理部１ｂは、使用可能な測定器判定２５及び測定器処理２６を行って測定器データテーブル２２の該当する汎用測定器の欄に“１”を設定し、通信インタフェース１ｅを介して、汎用測定器群１２及び専用試験器群１３の中から使用する測定器を抽出して確保する。
【００４１】
次に、制御ＰＣ１は選択した詳細試験項目に従って供試器に対して試験を実施し（ステップＳ５）、詳細試験項目の試験が終了したら測定器データテーブル２２の該当する汎用測定器(例えば、電力計と位相検波器)の欄に“０”のフラグを立てて、その汎用測定器(例えば、電力計と位相検波器)を未使用状態に設定する（ステップＳ６）。つまり、図２のシステム構成における処理の流れに従えば、制御ＰＣ１の測定処理部１ｂは、供試器に対する試験結果の取得処理２７を行い、その試験結果を表示部１ｃに表示する。
【００４２】
このようにして、制御ＰＣ１は、選択した全ての詳細試験項目について試験が終了したか否かを判定し（ステップＳ７）、他の詳細試験項目について試験が残っていればステップＳ２に戻って前述の処理を繰り返す。一方、ステップＳ７の判定で、選択した全ての詳細試験項目について試験が終了すれば、制御ＰＣ１は供試器に対する試験のプログラムを終了する。
【００４３】
（実施の形態２）
本実施の形態は、各制御装置（制御ＰＣ１、制御ＰＣ２、…制御ＰＣＸ）が実施する詳細試験項目が競合した場合、その詳細試験項目を保留としてスタックし、他の実施すべき詳細試験項目があればそれを先に実施することで、前記形態１よりさらに試験時間効率を上げるものである。本実施の形態を、図２および図６のフローチャート従って処理の流れを説明する。
【００４４】
まず、制御ＰＣ１は、供試器に対する試験のプログラムを起動すると、供試器となる試験対象基材を選択して試験の実施を開始する（ステップＳ８）。このとき、制御ＰＣ１はこれから行う試験の詳細試験項目を選択する（ステップＳ９）。すると、制御ＰＣ１の測定処理部１ｂは、データベース１ａに格納されている詳細試験項目データテーブル２１を参照して、選択された詳細試験項目で使用される汎用測定器が既に使用状態にあるか否かを判定する（ステップＳ１０）。つまり、図２のシステム構成における図６の処理の流れに従えば、制御ＰＣ１の測定処理部１ｂは、詳細試験項目データテーブル２１を参照して、汎用測定器が競合して使用されないように試験項目判定２３及び詳細試験判定２４を行う。
【００４５】
ここで、ステップＳ１０の判定において汎用測定器が使用状態であれば、制御ＰＣ１は、該詳細試験項目は保留状態としてスタックし（ステップＳ１１）、該詳細試験項目以外に、他の実施すべき詳細試験項目がある場合は、それを先に実施する（ステップＳ１１からステップＳ９へ戻る）。このように、他の制御装置が実施していない詳細試験項目（制御ＰＣ１が現時点で実施できる詳細試験項目）を先に実施させ、保留状態となった該詳細試験項目を実施可能なタイミングで行うことにより、試験実施時間の効率を上げることができる。
【００４６】
他方、該詳細試験項目を実施していた他の制御装置は、自身の該詳細試験項目の実施（ステップＳ１３）が終了後、測定器データテーブル２２の該当する汎用測定器(例えば、電力計と位相検波器)の欄に“０”のフラグを立てて、その汎用測定器(例えば、電力計と位相検波器)を未使用状態に設定し、詳細試験項目を終了状態にする（ステップＳ１４）。
【００４７】
制御ＰＣ１は、以降の詳細試験項目についても同様に処理し（ステップＳ９からＳ１５）すべての詳細試験項目の保留状態および未終了状態が無くなったら、制御ＰＣ１は供試器に対する試験のプログラムを終了する。尚、ステップＳ９からステップＳ１５の各処理の詳細は、前記形態１と同様である。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明の自動試験システムを実現するためのシステム構成図である。
【図２】本発明の自動試験システムを実現するための制御装置のハードウェア構成図である。
【図３】図２に示す制御ＰＣ１が保持する測定器データテーブル２２の一例を示す図である。
【図４】図２に示す制御ＰＣ１が保持する詳細試験項目データテーブル２１の一例を示す図である。
【図５】図２に示す制御装置が複数の供試器に対して同時試験を実施するときの処理の流れを示すフローチャートである。
【図６】図２に示す制御装置が複数の供試器に対して同時試験を実施するときの処理の流れであり保留状態を考慮したフローチャートである。
【符号の説明】
【００４９】
１  制御ＰＣ１、１ａ  データベース、１ｂ  測定処理部、１ｃ  表示部、１ｄ  操作部、１ｅ  通信インタフェース、２  制御ＰＣ２、Ｘ  制御ＰＣＸ、１１  ＬＡＮ、１２  汎用測定器群、１２ａ  標準信号発生器、１２ｂ  位相検波器、１３  専用試験器群、１３ａ  専用試験器ＡＡＡ、１３ｂ  専用試験器ＢＢＢ、１４  通信回線、１５−１、１５−２、…１５−ｎ  供試器（被試験器）、１６  ＢＯＸ、２１  詳細試験項目データテーブル、２２  測定器データテーブル、２３  試験項目判定、２４  詳細試験判定、２５  測定器判定、２６  測定器処理、２７  結果取得処理
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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