(57)【要約】【課題】  コンタクトレンズ製造のための自動製造ライン内の処理パラメータを最適化する品質管理システムを提供する。【解決手段】  製造ラインの１つまたはそれ以上の処理ステーションを制御するための複数の工程制御手段を含み、該制御手段の各々が処理ステーションでコンタクトレンズ自動製造に使用される特定の製造パラメータを制御する複数の製造制御装置を調節する。また製造した各々のコンタクトレンズを自動的に評価するための自動レンズ検査手段と、定期的に該工程制御手段の各々からポーリングして各々の周期での工程制御データを取得するためのポーリング手段も提供する。さらに、検査データを工程制御データおよびコンタクトレンズのデータと相関させてコンタクトレンズ製造に使用される工程パラメータを最適化するための手段と該相関手段から受信した工程制御データとコンタクトレンズデータと検査データとを保存するためのリレーショナルデータベースも含まれる。【選択図】        図１
2007011402.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンタクトレンズを製造する自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する方法であって、前記製造ラインが複数の相互に関係する製造ステーションと光学検査ステーション（２０）とを有し、
（ａ）１以上の製造ステーションを複数の処理制御装置を調節する１以上の第１のレベルコントローラ（１１−１７）で自動的に制御し、それによってコンタクトレンズの自動製造で使用される複数の製造パラメータを制御する工程と、
（ｂ）コンタクトレンズデータを製造されたコンタクトレンズと関連させる工程と、
（ｃ）製造ステーションでの製造パラメータが、指定された境界を越えるとき、製造されたコンタクトレンズを自動的に廃棄する工程と、
（ｄ）製造された各コンタクトレンズを自動的に評価し、製造された各コンタクトレンズに対する目視検査データを発生させる工程と、
（ｅ）前記第１のレベルコントローラ（１１−１７）の各々を頻繁にポーリング（５０５）して各ポーリング期間の処理制御データを獲得し、その後、前記処理制御データを前記関連したコンタクトレンズデータと相関させ、前記期間の間に前記製造ステーションに内在するコンタクトレンズを表す工程と、
（ｆ）前記ポーリング手段から受け取った前記処理制御データ、前記コンタクトレンズデータ及び前記目視検査データを、リレーショナルデータベース（２０２）に格納する工程と、
（ｇ）前記目視検査データを前記処理制御データ及び前記コンタクトレンズデータに相関させ、コンタクトレンズの製造に使用される処理パラメータを最適化する工程と、
を備えた方法。
【請求項２】
コンタクトレンズを製造する自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する、請求項１記載の方法であって、
前記目視検査（５０）に合格しない各コンタクトレンズに対する例外データ（５２）を発生させ、その後、前記例外データを前記処理制御データ及び前記コンタクトレンズデータに相関させ、欠陥のあるコンタクトレンズの製造に帰する処理パラメータの追跡及び隔離を可能にする工程をさらに含む、方法。
【請求項３】
コンタクトレンズを製造する自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する、請求項１記載の方法であって、
所定の計算されたインプットパラメータを格納し、前記計算されたインプットパラメータを前記処理制御データから生成された測定されたリアルタイムデータと比較する工程をさらに含む、方法。
【請求項４】
コンタクトレンズを製造する自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する、請求項１記載の方法であって、
前記計算されかつ前記測定されたデータを、前記例外データと長期にわたって比較する工程をさらに含む、方法。
【請求項５】
コンタクトレンズを製造する自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する、請求項１記載の方法であって、
前記第１のレベルコントローラ（１１−１７）の各々に所定の処理パラメータのリストを保持し、前記所定の処理パラメータの一つが前記所定のパラメータを超えるときはいつでもアラーム状態を報告する工程をさらに含む、方法。
【請求項６】
コンタクトレンズを製造する自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する、請求項１記載の方法であって、
処理制御装置によりアラーム状態のパレートチャートを発生させる工程をさらに含む、方法。
【請求項７】
コンタクトレンズを製造する自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する、請求項１記載の方法であって、
制御されていない傾向値を前記処理制御データから隔離する工程をさらに含む、方法。
【請求項８】
コンタクトレンズを製造する自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する、請求項１記載の方法であって、
前記処理制御データから生成された多重時間プロットから経歴傾向を相関させる工程  をさらに含む、方法。
【請求項９】
コンタクトレンズを製造する自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する、請求項１記載の方法であって、
前記処理制御データをデータグループで前記リレーショナルデータベース（２０２）に送信し、前記データが前記リレーショナルデータベース（２０２）に格納されるときに前記データグループをタイムスタンプする工程をさらに含む、方法。
【請求項１０】
コンタクトレンズを製造する自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する、請求項３記載の方法であって、
前記コンタクトレンズは、各型に対するリセス（１−８）を有するパレット（７１）上で運ばれた型で成形され、前記相関工程は、欠陥のあるコンタクトレンズの製造に寄与した１以上のリセス（１−８）を有する特定のパレット（７１）を隔離する工程を含む、方法。
【請求項１１】
コンタクトレンズを製造する自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する、請求項１０記載の方法であって、
前記型は前記製造ラインに含まれる注入成形装置で成形キャビティのアレイに形成され、前記相関工程は前記コンタクトレンズデータを前記アレイに関するデータに結び付け、前記検査データの個々の成形キャビティへの相関を可能にする、方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はコンタクトレンズ製作のための製造施設に係り、特に製造工程を調査し最適化する目的でコンタクトレンズ製造施設内でのコンタクトレンズ製造に使用する製造ライン工程をモニターするための監視システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
ハイドロゲルコンタクトレンズの直接一体成型はラーセン（Larsen）の米国特許第４，４９５，３１３号、ラーセン他（Larsen et al.）の米国特許第４，６８０，３３６号、ラーセンの米国特許第４，５６５，３４８号、ラーセンらの米国特許第４，６４０，４８９号に開示されており、これらの開示は全て本出願において参照に含めている。基本的にこれらの参照では、裏面湾曲（上側）と全面湾曲（下側）の金型部分の間にモノマーを挟み込むことで各々のレンズを形成するような自動コンタクトレンズ製造工程を開示している。モノマーはこの後重合されてレンズを形成し、これを金型部分から取り出して更に消費者向けに処理包装を行う。
【０００３】
コンタクトレンズの製造には緊密に制御された条件と工程が必要とされその多くはコンピュータやその他の制御装置でモニターされる。処理条件や制御データの態様にある多くの情報、例えばコンタクトレンズ製造中に発生した情報などが品質管理のために収集されることがある。しかしこれには製造中の各々のコンタクトレンズについて大量のデータの収集が必要であり、さらにオペレータ、エンジニア、管理者などが適正にその機能を実行できるように使用するのに適した方法で収集したデータを処理するために手段が必要とされる。加えて、生成された情報のあるものは人間の観察によるもの例えばレンズ検査など自動センサーと同程度の信頼性が得られないものも有り得る。
【０００４】
従って、コンタクトレンズ製造施設内の処理ステーションにおけるコンタクトレンズ製造の各種態様を制御する複数の製造工程制御装置から工程制御データを自動的に収集できる品質管理システムを提供することが必要とされる。
【０００５】
さらには複数の処理ステーションの各々で特定のコンタクトレンズ各々についての工程制御データを自動的に収集することが出来る品質管理システムを提供することも非常に望ましい。
【０００６】
また、各々の特定のコンタクトレンズについての工程制御データを収集し、かつ保存および最適化のために製造した個々のコンタクトレンズの各々について収集したデータを自動的に相関させるための手段を含むような品質管理システムを提供することも非常に望ましい。
【０００７】
さらには、レンズ製造の後に行われる自動検査工程において破棄されたコンタクトレンズがどのような欠陥品だったのかといった特定の理由をオペレータが調べることの出来るようなコンタクトレンズ製造施設内の品質管理システムを提供することが非常に望ましい。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明の目的はコンタクトレンズの製造を制御する複数の製造工程制御装置から工程制御データを自動的に取得し、リアルタイムでの表示とオフライン分析のために自動的にデータ処理を行うことの出来るようなコンタクトレンズ製造施設のための品質管理システムを提供することである。
【０００９】
本発明の別の目的は、製造しつつある特定のコンタクトレンズの各々についてマシンサイクル時間の増加中に工程制御データを収集する品質管理システムを提供することである。
【００１０】
本発明のさらなる目的は、コンタクトレンズ製造ラインの各々の製造工程ステーションで工程制御データを収集し、製造された特定のコンタクトレンズの各々について収集したデータを相関させるためと傾向分析および予測分析のためリレーショナル・データベース内にデータを自動保存するための自動手段を含む品質管理システムを提供することである。
【００１１】
本発明の更に別の目的は欠陥レンズを特定するための自動レンズ検査システムを有するコンタクトレンズ製造施設内において製造した特定の欠陥コンタクトレンズ各々について取得したデータを相関させるための手段を含み特定のレンズについての特定の故障の発生源を決定して製造工程の制御を補正し最適化できるような品質管理システムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記の目的はコンタクトレンズ製造のための自動製造ライン内の処理パラメータを最適化する品質管理システムで実現される。このシステムは製造ラインの１つまたはそれ以上の処理ステーションを制御するための複数の工程制御手段を含み、該制御手段の各々が処理ステーションでコンタクトレンズ自動製造に使用される特定の製造パラメータを制御する複数の製造制御装置を調節する。また製造した各々のコンタクトレンズを自動的に評価するための自動レンズ検査手段と、定期的に該工程制御手段の各々からポーリングして各々の周期での工程制御データを取得するためのポーリング手段も提供する。さらに、検査データを工程制御データおよびコンタクトレンズのデータと相関させてコンタクトレンズ製造に使用される工程パラメータを最適化するための手段と該相関手段から受信した工程制御データとコンタクトレンズデータと検査データとを保存するためのリレーショナルデータベースも含まれる。
【００１３】
本発明のさらなる長所および利点は本発明の好適実施例を指定し図示する添付の図面を参照して以下の詳細な説明を熟読することで明らかとなろう。
コンタクトレンズ製造ラインパレットシステムについての本発明の前述の目的および利点はこれの幾つかの好適実施例についての以下の詳細な説明とあわせて幾つかの図面を通して同じ部材には同一の参照番号が付記してある添付の図面を参照することで当業者には容易に理解されよう。
【発明の効果】
【００１４】
コンタクトレンズの製造を制御する複数の製造工程制御装置から工程制御データを自動的に取得し、リアルタイムでの表示とオフライン分析のために自動的にデータ処理を行うことの出来るようなコンタクトレンズ製造施設のための品質管理システムを提供する。また製造しつつある特定のコンタクトレンズの各々についてマシンサイクル時間の増加中に工程制御データを収集する品質管理システムを提供する。さらに、コンタクトレンズ製造ラインの各々の製造工程ステーションで工程制御データを収集し、製造された特定のコンタクトレンズの各々について収集したデータを相関させるためと傾向分析および予測分析のためリレーショナル・データベース内にデータを自動保存するための自動手段を含む品質管理システムを提供する。本発明によれば、欠陥レンズを特定するための自動レンズ検査システムを有するコンタクトレンズ製造施設内において製造した特定の欠陥コンタクトレンズ各々について取得したデータを相関させるための手段を含み特定のレンズについての特定の故障の発生源を決定して製造工程の制御を補正し最適化できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
本発明の譲受人と同じ譲受人に譲受され本明細書において開示を参照に含めている「製造ライン追跡及び品質管理システム」と題する同時出願中の米国特許出願第０８／２５７，７９０号（代理人事件整理番号＃９１６６）において説明しているように、６秒あたり８個の速度でコンタクトレンズを製造するコンタクトレンズ製造施設内の各種製造工程を制御しモニターするための複数のプログラマブルおよびノンプログラマブル制御装置を設けたコンタクトレンズ製造施設が開示されている。
【００１６】
特に、図１及び図２３において参照番号１１と１２で図示してある２種類のＰＬＣが存在し、これらは８個の前面湾曲（ＦＣ）射出成型用金型と８個の裏面湾曲（ＢＣ）射出成型用金型をそれぞれのＦＣおよびＢＣ射出成型装置（図２３）からそれぞれ第１と第２のパレットコンベア２７、２９の近くに配置した各々のキャリアパレットへの搬送を制御する。第１と第２のパレットコンベアはどちらも部分的に低酸素筐体内に包含される。動作の詳細については本発明の譲受人と同じ譲受人に譲受され本明細書において開示を参照に含めている「一体成型金型から製品を取り出し搬送するための装置」と題する同時出願中の米国特許出願第０８／２５８，２６７号（代理人事件整理番号＃９００２）において更に詳細に説明してある。
【００１７】
図１及び図２３に図示してあるように、本発明の譲受人と同じ譲受人に譲受され本明細書において開示を参照に含めている「コンタクトレンズ金型充填及び組み立てのための方法ならびにその装置」と題する同時出願中の米国特許出願第０８／２５８，２６４号（代理人事件整理番号＃９００４）に詳細に説明してあるように、第３のＰＬＣ１３はモノマー充填及びコンタクトレンズ金型の組み立て操作を制御する。このＰＬＣは、各々のキャリアパレット７１ａ内の各々のＦＣレンズ金型部分の凹面部分にコンタクトレンズを形成するための重合自在な化合物（モノマー混合物）を真空中で充填することからなるモノマー充填のための処理条件を制御し、またパレットから各々のＢＣレンズ金型を取り出し隣のキャリアパレット７１ａで搬送される関連した対応するＦＣレンズ金型に方向を決めて配置することからなる個々のコンタクトレンズ金型アセンブリーを組み立てる操作も制御する。
【００１８】
図１及び図２３に図示してあるように、第４のＰＬＣ１４はコンタクトレンズ製造ラインの予備焼成、紫外線焼成、および型抜き操作を制御する。このＰＬＣは各々の金型アセンブリー内に含まれるモノマー溶液が部分的に焼成されて粘度の高いゲル状になり前面と裏面の湾曲レンズ金型に所定の圧力をかけてコンタクトレンズの辺縁を更に形成し、また偏心を排除する予備焼成工程を制御するように動作する。コンタクトレンズ予備焼成の動作的詳細は、本発明の譲受人と同じ譲受人に譲受され本明細書において開示を参照に含めている「金型のクランピングと重合ハイドロゲルの予備焼成」と題する同時出願中の米国特許出願第０８／２５７，７９２号（代理人事件整理番号＃９００７）に詳細に説明してある。コンタクトレンズ紫外線焼成の動作的詳細は本発明の譲受人と同じ譲受人に譲受され本明細書において開示を参照に含めている「コンタクトレンズ重合のための紫外線循環オーブン」と題する同時出願中の米国特許出願第０８／２５７，７９９号（代理人事件整理番号＃９０１１）に詳細に説明してある。一般に、第４のＰＬＣも、個々の金型アセンブリー内に含まれる予備焼成済みレンズがコンタクトレンズの原型に形成される紫外線オーブン内で行われる重合過程を制御するように動作する。コンタクトレンズの型抜き操作についての動作的詳細は、本発明の譲受人と同じ譲受人に譲受され本明細書において開示を参照に含めている「金型分離装置」と題する同時出願中の米国特許出願第０８／２５８，２６５号（代理人事件整理番号＃９００６）に詳細に説明してある。一般に、金型アセンブリーの裏面湾曲レンズ金型部分を前面湾曲レンズ金型部分から自動的に分離して重合したコンタクトレンズを露出させ後続の水和ステーションへ搬送する。
【００１９】
図１及び図２３に図示してあるように、第５のＰＬＣは、一体成型したコンタクトレンズを含む前面湾曲レンズ金型部分をコンタクトレンズの水和を行う水和チャンバーへ搬送することを制御する。これについては本発明の譲受人と同じ譲受人に譲受され本明細書において開示を参照に含めている「ソフトコンタクトレンズを水和させるための自動化方法ならびにその装置」と題する同時出願中の米国特許出願第０８／２５８，５５６号（代理人事件整理番号＃８９９８）に説明されている。
【００２０】
図１に図示したように、第６のＰＬＣ１６は、本発明の譲受人と同じ譲受人に譲受され本明細書において開示を参照に含めている「包装するための製品取りまとめのための自動化装置及びその方法」と題する同時出願中の米国特許出願第０８／２５７，７９１号（代理人事件整理番号＃９００５）に詳細に説明してあるような水和後の処理を制御する。水和後の処理としては、自動レンズ検査ステーション（図示していない）の自動視覚システムで決定された合格／不合格の結果からなるコンタクトレンズ検査データの生成を含む。
【００２１】
第７のＰＬＣ１７は、本発明の譲受人と同じ譲受人に譲受され本明細書において開示を参照に含めている「包装制御のための対話的制御システム」と題する同時出願中の米国特許出願第０８／２５７，７９３号（代理人事件整理番号＃９１６７）に詳細に説明されているようなレンズ包装システムの１次包装及びレンズ包装取りまとめの態様を制御し、また本発明の譲受人と同じ譲受人に譲受され本明細書において開示を参照に含めている「回転式包装ステーション」と題する同時出願中の米国特許出願第０８／２５７，７８７号（代理人事件整理番号＃９０１７）に詳細に説明されているような回転式インデックス（包装）ダイアルの周囲で行う処理例えば溶液交換、生食水充填、包装箔熱封止などの処理を制御する。
【００２２】
第８のＰＬＣ（図示していない）を追加で設けて、回転式インデックステーブルから第２の包装領域及び後続の滅菌ステーションでの包装の滅菌へパッケージを搬送することを含めた第２の包装の各種態様を制御することが出来、これについては本発明の譲受人と同じ譲受人に譲受され本明細書において開示を参照に含めている「滅菌及び２次的包装のための方法及びその装置」と題する同時出願中の米国特許出願第０８／２５７，７８８号（代理人事件整理番号＃９１６９）に詳細に説明してある。好適実施例において、各々のＰＬＣはＴＩ（テキサス・インスツルメンツ社）システム５４５であり、バックプレーン経由またはシリアル回線（図示していない）経由で各々のＰＬＣと通信するためのＴＩ３８６／ＡＴＭコプロセッサ・モジュールを含むことがある。各々のＰＬＣは専用のメモリーと詳細については後述するようなデータブロックを保存し更新するためのアドレス能力を有する。
【００２３】
その他にもプログラム自在なデバイス制御装置をコンタクトレンズ製造ラインに設けて、６秒毎に８個の速度で前面湾曲レンズ金型部分を生産する前面湾曲レンズ一体成型装置１８ａと裏面湾曲レンズ金型部分を生産する裏面湾曲レンズ一体成型装置１８ｂ、および製造されたコンタクトレンズが含まれるコンタクトレンズパッケージを生産するための１次包装装置をそれぞれ制御させることが出来る。これらのプログラム自在なデバイスはユーシン（Yushin Corporation）で製造される。
【００２４】
別のデバイス制御装置２０は包装する前にコンタクトレンズを自動検査する視覚システムを制御する。動作の詳細は本発明の譲受人と同じ譲受人に譲受され本明細書において開示を参照に含めている「自動レンズ検査システム」と題する同時出願中の米国特許出願第０  ／              号（代理人事件整理番号＃        ）に詳細に説明してある。デバイス制御装置２０はテネシー州ノックスビルにあるパーセプティクス社（Perceptics）で製造される。
【００２５】
前述の同時出願中の特許出願「製造ライン追跡及び品質管理システム」に説明してあるように、製造ラインパレットシステムはコンタクトレンズを製造するためのコンタクトレンズ製造施設内の各種製造ステーションの間で裏面湾曲レンズ金型部分及び前面湾曲レンズ金型部分を高速搬送するものである。製造ライン自体には図２３で部材８０〜８９として図示した複数のバーコード走査装置が用意してあり、製造施設全体の戦略的位置に装置してある。各々のバーコードスキャナ装置８０〜８９は、マサチューセッツ州カントンのコンピュータ・アイデンティクス（Computer Identics Corporation ）社製バーコードレーザースキャナ、型式番号Scanstar 110が望ましく、コンタクトレンズ金型又は金型アセンブリーを搬送するパレット又はパレット群の各々を識別するために設ける。より詳しくは、図２３に図示したような位置に配置した各々のバーコードスキャナがこれの下を通過する各々のキャリアパレットをパレットに固有の識別バーコード（図示していない）を走査することにより識別する。各々のバーコードスキャナには復号ユニット例えば型式番号Scanstar 240（図示していない）などを設けておき、パレット識別番号の形状を成す情報を各々の関連するＰＬＣのメモリー位置へ、パレットシステム内のパレットの位置にしたがって入力する。さらに、タイムスタンプデータ即ちパレットを走査した時刻も、どのバーコードリーダが走査を行ったかがＰＬＣで記録される。
【００２６】
８個までのコンタクトレンズ金型アセンブリーを搬送するための前述のキャリアパレットについての説明は、本発明の譲受人と同じ譲受人に譲受され本明細書において開示を参照に含めている「コンタクトレンズ製造ラインパレットシステム」と題する同時出願中の米国特許出願第０８／２５７，７８６号（代理人事件整理番号＃９００１）に見ることが出来る。図１２（ａ）はＦＣ金型（図示していない）又は金型アセンブリー（図示していない）を搬送するためのキャリアパレット７１ａの概念的配置を示す。各々のパレットはどちらの種類の金型部分でも搬送できるという意味で交換自在に成してある。更に、図１２（ａ）には個々のＦＣ金型部分、ＢＣ金型部分、または金型アセンブリーをキャリアパレット上に保持するための空洞部分７３が図示してある。詳細については後述するように、空洞部分は追跡及び時間合わせの目的で、即ち製造処理中に生成され保存される履歴処理制御データとパレット内より特定すればこれの各々の空洞で製造された各々のレンズの合格／不合格の視覚検査ステーションでのコンタクトレンズデータとを相関させるために番号が付けてある。詳細については後述するように、製造記録と長期的データ履歴を保存するために使用するリレーショナルデータベースを作成する。管理制御装置システム１０はこのデータベースへのオフラインでのアクセスを提供し、さらに、処理パラメータとコンタクトレンズ検査結果の分散図、パレット位置毎の欠陥のヒストグラム、機械毎の警報カウントと持続のパレート・チャート、累積検査結果の時間的プロット、偏移の固定時間尺度が分、時間、日、週にわたるデータを表示するために利用できるように測定し計算したプロットパラメータと時刻についての単一の偏移などを含み、これに制限されない情報グラフ図を生成する機構を含む。
【００２７】
図１に図示したように、本発明の管理制御装置１０はコンタクトレンズ製造ラインの能力をモニターし分析する。図１を参照すると、管理制御装置１０のハードウェア部材ならびに各々のハードウェア部材に存在する主要なソフトウェア部材が図示してある。管理制御システム（制御システム）１０は５種類の処理ノードを含む：データ取得ノード１００は前述の７個のプログラマブル論理制御装置（ＰＬＣ）の各々と通信線２１ａおよびＴＩＷＡＹアダプタカード２１ｂを用いて通信し、また３つの一体成型装置のデバイス制御装置および視覚検査装置とは図１に図示したような非同期専用シリアル回線２３ａ、ｂ、ｃ、ｄで機械を接続するように図示してある８チャネルのシリアルカードを使って通信する。リレーショナルデータベースノード２００はリレーショナルデータベースソフトウェア２０２を実行し、製造記録及び長期的データ履歴からなるオフラインデータの保管のために設けた少なくとも３台の２００Ｍｂ固定ディスク装置を含む。分析ルーティングノード３００は７台のＰＬＣからの生データのデータ収集及びデータ処理を開始するために使用するソフトウェアのほとんどを含み、統計的管理チャート及びその他の表示を支持する「リアルタイム・データベース」を保守する。４台の独立的に設定したオペレータステーション４００は製造ラインのオペレータのためにグラフ図の提示及び表示を行う。オフライン分析ノード５００はデータがすでにオンラインで利用できなくなってから即ち製造ラインの所定の運転の後でリレーショナルデータベースノード内に回収したデータの分析を提供する。図１に図示したように、ＡＲＣＮＥＴインタフェースカード１０１、２０１、３０１、４０１、５０１は各々のノード１００、２００、３００、４００、５００に設置して各種ノード間の通信をサポートする。ＡＲＣＮＥＴネットワーク９９は前述の７台のプロセッサ間の通信をサポートする。
【００２８】
図１に図示したように、標準ワークセル制御装置ソフトウェアモジュールが管理制御システム１０に更なる機能を提供する。オペレータステーション４００内の警報サーバ４０２は定義してある条件にしたがって起動されるワークセル警報、警告、例外を取り扱い保守する。コンソールサーバ４０３は入力支持を有する文字表現をオペレータに提供して他の全ての管理者への通信インタフェースを可能にする。表示サーバ４０４はワークセル装置のグラフィックエミュレーションを使用してデータ出力を提供する。グラフサーバ４０５は各種の形式のグラフ図及びチャート図の態様でデータ出力をコンピュータのグラフィックス画面上に提供する。このサーバは線、点、ヒストグラム、パレート、ｘバー範囲、およびその他の種類のグラフ図及びチャートの表示及びリアルタイム更新を支持し、さらにグラフの重ね合わせ例えばグラフ図又はチャートで表現されるデータについて計算した統計情報を表示するのに一般的に使用する直線と正常（ガウス曲線）曲線などを表示し更新する。統計サーバ４０６は製造ラインのリアルタイムデータベースであり、論理利用者定義グループまたはデータセット内のデータを保存する。統計及び（任意で）データセットについての警報を生成する能力を有する。前述のサーバの各々は、マサチューセッツ州リンカーンのファステック・インテグレーション（FASTech Integration Corporation ）社で製造された市販のソフトウェアモジュールである。
【００２９】
図１に図示したような各々のハードウェアユニット上に存在するその他のソフトウェア・モジュールとしては、次のようなものが含まれる：ユーザー・インタフェース・マネージャ５０２はオペレータステーション４００の画面を変更するのに必要な活動を調整するモジュールである。ポーラー５０５はＰＬＣ、一体成型装置、視覚検査装置からの全てのデータの取得を調整する。Ｃ言語データサーバ５１０はＰＬＣからの情報ブロックを取り出し、ブロック内のどのデータ項目が変更されたかを検出し、変更された値を制御サーバ６００へ送信する。イベントサーバ５０３はＣ言語サーバの１つでイベント符号のブロックをＰＬＣから取り出し、そのイベント符号に対して正しい警報文字列を検索し、その文字列を警報サーバへ転送する。Ｃ言語制御サーバ６００は統計サーバと対を成すモジュールで、統計サーバに有効表示を支持するのに必要な統計関数を実行するよう命令する。観察している表示が変更されると、制御サーバ６００は新しい命令セットを統計サーバへ発行する。Ｃ言語統計カウントサーバ５０６は実行している異なる状態符号の頻度のカウントを維持して特定の位置（例えば型抜きステーションの出口）での状態符号のパレート図が迅速に表示できるようにする。タイプサーバ５０８は数値符号を文字列に変換して表示し、また数値符号をブール代数値に変換してカラーグラフィックスのＯＮ／ＯＦＦを変更する。テキサス・インスツルメンツ社製ＰＬＣと通信するため、Ｃ言語ｔｉ＿ａｄｍサーバが設けてあり、ＰＬＣ通信に関連してリンク層のプロトコルを取り扱う。
【００３０】
Ｃ言語一体成型サーバ５１４ａ、ｂ、ｃは各々の一体成型装置１８ａ、１８ｂ、１９からのメッセージデータをそれぞれ受信してメッセージから情報を抽出し、全ての変更されたデータを制御サーバ６００へ転送する。Ｃ言語視覚サーバ５２５は視覚検査装置２０からメッセージデータを受信し、メッセージから情報を抽出して全ての変更されたデータを制御サーバ６００へ転送する。Ｃ言語警報制御サーバ５２８は警報サーバを同期させ、警報状態の頻度カウントと持続時間を保持して、警報のパレート図を支持しＰＬＣが解除を報告したＰＬＣ警報を解除する。
【００３１】
本発明の管理制御システム１０のハードウェア及びソフトウェアモジュールについての機能的説明を以下で詳細に行う。
【００３２】
データ取得
前述のように、管理制御装置１０の入力供給源は２種類存在している：８台のＰＬＣと射出成型装置及び視覚検査装置の制御装置である。管理制御装置が８台のＰＬＣから読み取るイベントブロックとデータブロックの構造について説明する。各々のＰＬＣは少なくとも６秒間隔で定期的にデータ収集のため自動的にポーリングされるが、各々のＰＬＣから各々のイベントブロック及びデータブロックへのデータが非同期的に提供されることは理解しておくべきである。管理制御システム１０はデータ取得ノード１００のポーリング機能及びその他の制御サーバ機能にシステム時刻を提供するため３３ＭＨｚで動作するプロセッサクロック（図示していない）を含む。
【００３３】
図２（ａ）及び図２（ｂ）では、取得データからＰＬＣで生成されるイベントブロック３０と処理データブロック４０の構造を示す。各々のイベントブロック３０はＴＩ社製ＰＬＣの各々の連続レジスタ（メモリー位置）グループとして存在する。管理制御装置が６秒毎にイベント及びデータブロックの内容についてＰＬＣをポーリングするのが望ましい。
【００３４】
イベントブロック３０の第１のエントリーはデータ有効フラグ３２で、これはブロックが一致データを有する場合に値１を有する。データ有効フラグの値０は特定のＰＬＣがブロック内容を更新しているときにそのＰＬＣからブロックを読み込んだことを表わす。この場合にはブロックを再度読み込むことになる。
【００３５】
イベントブロック３０の第２のエントリーはシーケンシャルカウンタ３５で、新しく読み込む度に１つずつ増加するシーケンシャルな番号である。カウンタの値の変化は、ブロック内の新しいイベント符号の番号に加えてブロックが違う情報内容を有することを管理制御装置に通知するために使用する。
【００３６】
最後に、イベント符号３８のアレイがブロック内に格納される。最も新しい符号イベントが第１に現われ、これに続けて次に新しい符号という具合に最後のエントリーに到着するまで続き、最後のエントリーは最も新しくないイベント符号である。
【００３７】
データブロック４０において、第１のエントリーは前述したイベントブロックと同じ機能のデータ有効フラグ４２である。
【００３８】
処理データブロック４０内のカウンタ４５はブロック内のデータの値が潜在的に新しい情報を含み新しい読み込みの度に１つずつ増加する数値であることを表わす。カウンタ以降はブロック独自のデータ値のシーケンスである。各々の値は詳細については後述するように管理制御システム１０の別の変数に割り当てられる。カウンタはある処理サイクルでのデータがちょうど良く読み込まれなかったかを調べるためにも使用できる。
【００３９】
図３（ａ）はＰＬＣが管理制御システム１０経由で生成したイベントブロックデータの流れを示す。
【００４０】
ポーラー５０５内部では、ＰＬＣ常駐イベントブロックのリストが一度に１つのスキャンで処理される、即ちネットワーク上の各々のＰＬＣ１１〜１７への要求が送出される。各々のブロック要求はイベントサーバ５０３により１度に１つずつ処理される。イベントサーバはｔｉ＿ａｄｍ５１２からのブロックのリード要求を発行し、ｔｉ＿ａｄｍ５１２はＴＩＷＡＹインタフェースカード２１６及びＴＩＷＡＹに接続されているＰＬＣと通信する。ｔｉ＿ａｄｍ５１２は適当なＰＬＣへ「リードブロック」要求を送信してＰＬＣがメモリーからブロックを読み出すようにする。ＰＬＣはブロックをｔｉ＿ａｄｍ５１２へＴＩＷＡＹネットワーク経由で送信することにより応答する。応答内のデータ有効フラグ３２が１の場合、データは有効と見なされイベントサーバ５０３へ送信される。データ有効フラグ３２が０の場合ｔｉ＿ａｄｍ５１２はＰＬＣに対してイベントブロックを再読み込みするよう要求する。ｔｉ＿ａｄｍ５１２は有効になったデータブロックをイベントサーバへ送信し、イベントサーバはポーラーへ「ブロック完了」メッセージを送信してポーラーにブロック受信が完了したことを知らせる。イベントサーバ５０３はイベントブロック３０内のシーケンシャルカウンタ３５を調べて直前のイベントブロック３０のカウンタの値（その特定のＰＬＣについて）から変更されていないかを調べる。変更されていた場合、直前のカウンタ値と新しいカウンタ値の差が新しいイベントブロック内のイベント符号の数値となる。新しいイベント符号の各々についてイベントサーバ５０３は警報サーバへ適切な警報文字列を送信する。イベントがイベントサーバで処理されることで、ＰＬＣから送信された３桁の符号に符号が入ってきたＰＬＣを識別する一文字の符号を追加した４桁の符号が形成される。イベントブロック３０読み取り時に障害が発生した場合、適切な警報がポーラーで生成される。イベントサーバからのイベント符号とポーラーからの障害符号の両方が警報制御サーバ５２８へ送信される。
【００４１】
ＰＬＣで生成し管理制御システム１０を経由する処理データの流れが図３（ｂ）に図示してあり、これはイベントブロックデータのルーティングで説明したことと同様である。ポーラー５０５内で、ＰＬＣ常駐データブロック４０のリストが一度に１つのスキャンずつ処理される、即ちネットワーク上の各ＰＬＣ１１〜１７の各々についての要求が送信される。２つの情報ブロックの例を図７に図示し、ＦＣレンズ金型のキャリアパレットへの転送を制御するＰＬＣ１１のＰＬＣメモリー内に格納されるイベントブロック７８とデータブロック７９（図２３）が図示してある。各々のブロック要求はデータサーバ５１０で一度に１つずつ処理される。データサーバ５１０はブロックリード要求をｔｉ＿ａｄｍ５１２へ発行しｔｉ＿ａｄｍ５１２がＴＩＷＡＹインタフェースカード２１６及びＰＬＣと通信する。ｔｉ＿ａｄｍ５１２は「リードブロック」要求を適切なＰＬＣへ発行しそのＰＬＣからの応答を受信する。
【００４２】
データサーバ５１０がｔｉ＿ａｄｍ５１２からブロック４０を受信するときに、データ有効フラグを読み取り、これが０の場合にはｔｉ＿ａｄｍ５１２はＰＬＣにメモリーからデータブロックを再読み込みするように要求する。更に、ブロック内のカウンタ４５を調べてこのブロック形式で直前に受信したカウンタの値から変更があったかを調べる。カウンタ値が同一の場合にはこれ以上の処理は行われない。カウンタ値が最後の読み込みと違っている場合には、ブロック内の各々のデータ項目を次に述べるように処理する。
【００４３】
データサーバ５１０はデータ項目４８についての値の変化だけを探して処理する。ブロック内の各々のデータ項目はその項目の直前の値に対して検査される。そのデータ項目の値について変化がない場合にはデータサーバはブロック内の次のデータ項目に処理を進める。データ項目が直前の値から変化した場合、そのデータ項目は制御サーバ６００（ＣＴＲＬ＿ＳＲＶ）へ各々のデータ点について独立したＶＡＬＵＥメッセージを使って送信される。データブロックの読み込みに障害が発生した場合には警報が生成され警報制御サーバ５２８へ送信される。
【００４４】
ＶＡＬＵＥメッセージの文法は次の通りである：
ＶＡＬＵＥ＜ソース名＞＜値＞
ここでソース名は個別のデータ点の名前、また値は測定の処理パラメータの読み値である。酸素センサーからの酸素濃度レベル０．０８４３％を表わすＶＡＬＵＥメッセージの例は次のようになる：
ＶＡＬＵＥ CD/O2_LEV_2 84.3
【００４５】
あるブロックの全てのＶＡＬＵＥメッセージが送信されてから、データサーバはＣＯＵＮＴＥＲメッセージを制御サーバへ送信する。ＣＯＵＮＴＥＲメッセージは制御サーバ内でそのブロックの処理を開始させるために使用する。
【００４６】
ＣＯＵＴＮＥＲメッセージの文法は次の通りである：
ＣＯＵＮＴＥＲ＜カウンタ名＞＜カウンタ値＞
ここで「カウンタ名」はカウンタの名前、「カウンタ値」はカウンタの値である。
【００４７】
一体成型および視覚検査装置の各々から送信したデータはＰＬＣから入ってくるデータブロックのフォーマットを有していないので、射出成型及び視覚検査制御装置はポーリングされない。その代わり、一体成型及び視覚検査制御装置は実際に文字列からなり各々の装置が情報を有する場合に送信される管理制御装置メッセージを送信する。図４（ａ）及び図５（ａ）では、これらの各々の装置からデータを取得する過程が図示してある。
【００４８】
視覚検査及び一体成型装置では、それぞれ図４（ａ）及び図５（ａ）に図示してあるように、視覚検査サーバ５２５（および各々の一体成型サーバ５１４ａ、ｂ、ｃ）がオペレーティング・システムの通信ユーティリティを使用してリード要求を発行する。オペレーティング・システムの通信ユーティリティはリード要求を各々の一体成型及び視覚検査装置へ接続しているシリアルインタフェースカード２２へ送信する。視覚検査装置２０については、各々の視覚検査周期の後で、装置がシリアルインタフェース経由で管理制御装置へ検査データを送信する。データは一連のＡＳＣＩＩメッセージで、レンズあたり１つのメッセージが送信される。メッセージはオペレーティング・システムの通信ユティリティソフトウェアにより取り込まれる。視覚検査サーバ５２５は各々のメッセージを分析し、メッセージから９個のデータ項目を抽出することでメッセージを分解し、９つのデータ項目をＶＡＬＵＥおよびＣＯＵＮＴＥＲメッセージを用いて制御サーバ６００へ送信する。カウンタ値は８個のレンズのグループ毎に制御サーバへ報告されて制御サーバがブロック処理を行えるようにしている。
【００４９】
詳細については前述の、「自動レンズ検査システム」と題する同時出願中の米国特許出願第０  ／              号（代理人事件整理番号＃９      ）に説明してあるように、視覚検査は図４（ｂ）に図示したようなデータ列５０を含む各々の検査したレンズについての検査結果を報告する。データ列は、レンズ検査パレット上の特定のレンズ個数（１〜１６）についてのエントリー５１、そのレンズの合格／不合格エントリー５２、内部不良及び内部スコアの結果５３と外部不良及び外部スコア５４、組み合わせの欠陥及び組み合わせスコア５５、そのレンズについての合計スコア５６、および中央レンズ検査符号５７を含む。このデータは後述するようなデータサンプルのグループに格納され、リレーショナルデータベースでの長期保存のため特定のパレットと関連付けされる。
【００５０】
同様に、各々の一体成型射出成型周期の後、各々の一体成型装置はシリアルインタフェース経由で管理制御装置へ処理データを送信する。データは一連のＡＳＣＩＩメッセージでレンズ金型のパレットあたり１つのメッセージが送信される。メッセージはオペレーティング・システムの通信ユティリティソフトウェアが取り込む。各々の一体成型サーバが各メッセージを分析し、メッセージから１４のデータ項目を抽出してメッセージを分解し、これらのデータ項目のうち１３項目をＶＡＬＵＥメッセージ及びＣＯＵＮＴＥＲメッセージを用いて制御サーバ６００へ送信する。
【００５１】
一体成型制御装置の典型的なデータ項目を図５（ｂ）に図示してあり、これには以下を含む約１３のエントリーを有するデータ列６０が含まれる：タイムスタンプ情報のためのエントリー６１、これは制御サーバ６００へは送信されない。製造したレンズ金型の個数について局部的に生成したカウントからなるエントリー６２、これはサイクル時間（エントリー６３）、可塑時間（エントリー６４）、充填時間（エントリー６５）、射出成型ピーク圧力（エントリー６６）、射出成型温度（エントリー６７と６８）、などを含む。また、各々の一体成型サーバ５１４は制御サーバへ送信するときに各々のデータ項目を独自の名前で識別している。
【００５２】
詳細については後述するように、制御サーバがＶＡＬＵＥメッセージを受信した後、メッセージは更に処理されて特定のインデックス、即ちパレット番号およびタイムスタンプと相関され、レンズ検査結果及びイベントのレコードと合わせて処理制御データの履歴レコードがリレーショナルデータベース内に格納されるようにする。製造ラインを通過するときに各々のパレットに与えられる処理パラメータも前述のように永久データベース内に格納され、各々の検査したレンズのレコードが親パレットに戻り参照される。
【００５３】
制御サーバ
制御サーバの機能的目標は次のようなものである：ソースデータメッセージを統計サーバ４０６へ転送すること、動的セットアップデータを統計サーバへ提供してユーザー・インタフェース画面（図示していない）が変化する度に必要なデータを支援すること、およびデータをワークフローレコードへ回収してレコードをリレーショナルデータベース２０２へ格納するために転送すること、である。
【００５４】
図６は制御サーバ６００と管理制御システム１０の他のモジュールの間の機能的関連性を示す略図である。
【００５５】
システム起動時に、制御サーバ６００は制御サーバが作業を行う処理データの構造を記述してあるスタートアップ設定ファイル６１０（インクルードファイル）を読み込んで処理する。データ供給源６１１、カウンタ６１２、インデックス６１３、ブロック６１４、グループ６１５が設定ファイル内に定義してある。これらのエントリーの各々については後述する。またスタートアップ設定ファイルには統計サーバ４０６へ送信する命令のシーケンスの原型（テンプレート）６１６も含まれる。原型６１６は実行時に能動的表示を支持するためにデータセットについて統計サーバが実行しなければならない演算を記述するために使用する。例えば、演算には特定のデータセットについて平均と標準偏差を計算する命令が含まれる。原型６１６は統計サーバのためのデータ「排出先」情報、即ち生成した情報をどこに送出するかを含む。更に、制御サーバは設定ファイルから処理限界と限界を突破した場合に統計サーバが警報制御サーバに送信すべきメッセージを定義した命令を受け取る。
【００５６】
制御サーバ６００は動作準備が完了した時点で統計サーバモジュールのスタートアップも命令する。ＳＴＡＲＴ命令６０１が統計サーバへ発行され、制御サーバはリアルタイム動作を開始する前にこれの準備が完了するまで待機する。
【００５７】
データ点
前述のように、制御サーバは３つの一体成型サーバ５１４ａ、ｂ、ｃと、視覚検査サーバ５２５と、データサーバ５１０から処理データを受信する。データ点は点の集合として受信されるのではなく、一度に１つの点が前述のＶＡＬＵＥメッセージとして受信される。変更のあったデータ点だけが制御サーバに入力され、システム資源が固定値の点の値の繰り返しに消費されないようにする。制御サーバ６００は各々の新しいデータ点の値を取り出してローカルメモリーの位置またはキューにその点の「最新の」値として保存する。コンタクトレンズ製造システムにおいて、制御装置へ入力するためのデータ点は約４００である。データ点は制御サーバに供給源として定義され、システム起動時にＳＯＵＲＣＥ命令６１１を受信する。ＳＯＵＲＣＥ命令の文法は次の通りである：
ＳＯＵｒｃｅ ＜供給源＞［Type=＜データ形式＞］［ID=＜ｉｄ＞］
［Cycle=＜ミリ秒＞］［Units=＜ラベル＞］［+/-データセット］
次の例ではデータ取得センサー、接点又は装置故障のラベルとその他の特性を指定している。
例：ｓｏｕｒｃｅ SEQ_CNT
ＳＯＵＲＣＥ命令のオプション［Ｔｙｐｅ」引数は２文字の文字列で予想されるデータの種類を定義する：
ＡＩ    同期アナログ入力、実数データ
ＤＩ    同期デジタル入力、１又は０
ＣＩ    非同期接点入力、オプションの値で
設定又は解除する
ＥＶ    非同期イベント、オプションの値
オプションの引数［ＩＤ］は４文字からなる文字列で、他のラベル方式を相互参照するのに使用する。オプションの［Ｃｙｃｌｅ］引数はミリ秒で測ったサイクル時間で、サイクル時間には作業時間と復帰時間を含む。オプションの［Ｕｎｉｔｓ］引数は１０文字の文字列で、エンジニアリング単位を保存する。ＤＩ点では点の値が１の時統計サーバへ転送するデータ属性として単位を使用する。「−Ｄａｔａｓｅｔ」フラグを指定すると、統計サーバへ更新が送出されない。「＋Ｄａｔａｓｅｔ」フラグを指定した場合、転送をもう一度有効にする。これは全ての新しい供給源での初期設定値である。
【００５８】
ブロック
ブロックはデータ点の集合（データ供給源）である。制御サーバブロックはＰＬＣとデータ取得が理解するのでブロック定義と整列する。ブロックを定義することで、利用者から制御サーバに一組の点がＰＬＣ内で単位として更新され、その組がＰＬＣから管理制御装置管理制御システム１０に単位として送信されたことを通知する。制御サーバに既知の各々のブロックは、ブロックのトリガであると定義され制御サーバにＣＯＵＮＴＥＲとして定義されたデータ点を有する。トリガはそのブロック内の他の全ての点が報告された後で制御サーバに報告される供給源である。トリガの新しい値を受信すると、制御サーバは次の２つの動作を行う。
【００５９】
１）統計サーバに送信可能な全てのデータ点（−Ｄａｔａｓｅｔのフラグを立てていない点）でそのブロックの一部を成す点を統計サーバへ送信する（一度に１つ）。トリガはデータ取得サーバから制御サーバへ送信するブロック内の最後の項目であるから、ブロック内の全てのデータ点はブロック内容を統計サーバへ渡した時点で最新である。制御サーバはその点が直前の読み値から変更されているいないに関わらず統計サーバへ全てのブロックの点を送信する。
【００６０】
２）必要なら各々のデータ点（供給源）の履歴を特定の処理に割り当てたメモリーキュー内で更新する。何らかのデータ点での連続した値がメモリーキューに保存されて利用できる１つの点について「Ｎ」個の最新のサンプルの履歴が存在するようにする。これを行うことの有用性はサンプルを後述するときに明らかになろう。
【００６１】
要するに、ブロックトリガは１）処理する値を制御サーバ６００から統計サーバ４０６へ送信させ、２）データ点供給源の履歴を更新させる、ような機構である。
【００６２】
ブロックはＢＬＯＣＫ命令を使って制御サーバへ定義される。ＢＬＯＣＫ命令の文法は次の通りである：
ＢＬＯＣＫ＜ブロック＞counter=＜供給源＞［＜供給源＞］
次の例では値が装置サイクルカウンタと同期して変化する一組の供給源を指定している：
例：ｂｌｏｃｋ LFBC c=BC_L_CNT 02TIMEBC ID_02_BC
例：ｂｌｏｃｋ LFBC 02TIMEFC ID_02_FC
統計サーバにデータセットを供給する全ての供給源はブロックの一部でなければならない。引数「Ｃｏｕｎｔｅｒ」はブロックの供給源全てが現行サイクルについて更新された後で報告されなければならない供給源である。供給源を更新していない場合、直前の値を保持するものと仮定される。詳細については後述するようにリレーショナルデータベースメモリーレコードを作成するためのサンプルおよびグループのためのトリガとしてカウンタを使用する。ブロック定義はカウンタ無しのブロックを反復することにより更に供給源を含むように変更することが可能である。
【００６３】
サンプル
管理制御装置では、特定のレンズパレットが処理間を移動する際にこれに関係する処理情報を収集保存する必要がある。制御サーバ６００は時間整列データを回収保存することが出来る。
【００６４】
サンプルはパレットＩＤ又はカウンタのどちらかに連結することのできる供給源データ（データ点）の集まりである。管理制御装置内での典型的な使用は、パレットＩＤに結びついている集まりである。バーコードリーダは測定を行う処理の全ての点に配置してあるわけではないので、制御サーバ６００はバーコードリーダからのパレットＩＤとデータを時系列に配列する方法を提供する。
【００６５】
パレットＩＤと供給源データの時系列配置は実際には次の２つの方法のうちの一方で行うことが出来る。両方の技術とも本システムで異なったサンプル定義に同時に使用することが可能である。
【００６６】
１）バーコードリーダが供給源データのセンサーより先の方にあるとき、特定パレットに関するデータ点情報はそのパレットがバーコードリーダを通過するまでの間保存しておかなくてはならない。ブロックトリガの受信でサンプルが起動される。制御サーバがバーコード（パレットＩＤ）を受信すると、一時的に保存しておいた処理データを取り出しそのパレットＩＤと関連づけることが出来る。例えば、図２３に図示したように、バーコードリーダ８２が窒素筐体４６内で脱気処理するパレットより先の方に配置してある。そのため、パレット７１ａ、７１ｂがトンネル４６を出てバーコードリーダ８２に識別されるとブロックトリガで作成されたサンプルが特定のパレットに関連付けされる（インデックス）ことになる。
【００６７】
２）バーコードリーダが供給源データのセンサーより後方に配置してあるときバーコードの読み値を保存し後でデータ点と照合する。この場合、ブロックトリガの受信によってサンプルに定義された供給源データを回収する。これの重要な例は、どのようにレンズ検査結果をバーコードパレットＩＤと相関させるかである。図１２（ｂ）に図示したように、各々のバーコードリーダ８８、８９を通過するパレット７１ａ、７１ｂのパレットＩＤは、それぞれ図１４（ａ）と図１４（ｂ）に図示したように、供給源メモリーキュー６６０、６６０’にそれぞれ保存される。また視覚検査装置から次に生成されるデータがこれら供給源メモリーキューから取り出した特定のパレットＩＤインデックスと関連付けされる。これは、パレットＩＤバーコードが走査された時刻からそのパレットＩＤからのレンズをＡＬＩステーションで検査した時刻までの間に所定量のマシンサイクルが存在するためである。つまり、詳細については後述するように、視覚検査装置からのカウンタで起動された場合、特定のパレットについての視覚検査の結果はバーコードリーダ８８又は８９に対して供給源メモリーキュー内の所定のメモリーオフセットに配置された正しいパレットＩＤを有するサンプルを形成するように、サンプル命令が定義されることになる。
【００６８】
（ＳＡＭＰＬＥ命令を使用して）サンプルを定義した場合、サンプルに組み込まれる供給源データは各々の供給源項目についてのオフセットにそって定義される。オフセットは制御サーバに対して供給源の履歴を何サイクル戻すとそのサンプルに属する値を取り出すことができるかを伝える。例えば、オフセットゼロでは現在の供給源の値を取り出すように制御サーバに指示し、オフセット１では１サイクル前の供給源の値を回収すべきであることを表わす。
【００６９】
全てのサンプルは同じサンプル定義のもとに取り出したほかのサンプルから識別する関連インデックスを有する。バーコードの値が通常このインデックスに使用される。ＳＡＭＰＬＥ命令の文法は次に示すとおりである：
ＳＡＭｐｌｅ＜サンプル＞ Trigger=＜カウンタ＞ 
［Index=＜供給源＞ Offset=＜遅延時間＞］
［Source=＜供給源＞ Offset=＜遅延時間＞］
次の例では、データベースレコード内に取り込みフォーマットすべき供給源の整列済みの値を指定している。
例：ｓａｍｐｌｅ NUTIME tri=F_A_CNT i=DEPB_ID o=0
s=NUTIMEAB o=0
例：ｓａｍｐｌｅ NUTIME s=NUTIMEAB o=0
これは整列した供給源の値の組を指定している。「トリガ」引数はカウンタがデータベース内に永久保存するための取り込みを開始するブロックである。オプションの「Ｉｎｄｅｘ」引数はサンプルがおかれているレコードについてのバーコードを含む供給源である。オプションの「Ｏｆｆｓｅｔ」引数は直前のサイクルで読み込んだバーコードにアクセスするために使用する。インデックス供給源が指定されていない場合にはトリガブロックカウンタの現在の値を使用する。各々の供給源のサンプルについての値はそれ自身のオフセットでアクセスされる。オフセットは将来のサイクルの基準値には使用しない。サンプル定義はトリガとインデックスのないサンプルを反復することで更に供給源を含むように変更することが可能である。
【００７０】
グループ
一組のサンプルを回収しそのサンプルが同じインデックス（同一のパレットＩＤ）を有する場合、パレットが製造ラインを通過する際にパレットに影響する処理条件のワークフローレコードとなるグループを作成する。図８には供給源データ点、サンプル、同じインデックスを有するグループがどのように相互に関連しているかを図示してある。６１８ａ、ｂ、ｃとラベルをつけてあるサンプルはそれぞれ２、３、４供給源データ点のブロックに対応する。つまり、詳細については後述するように、図８において、サンプル６１８ｂは各々の処理サイクルで累積される３つの供給源データ点からなる。
【００７１】
パレットが全ての処理拠点を通過し終わると、１つのグループについてのサンプル全部が回収され、そのグループが完結する。図８に図示した状況では、グループ内の列のサンプルが全部取り出されると、あるインデックスのグループが完成する。特定のインデックス（バーコード）についてのグループは、特定のパレットが転換（システムから排除）されバーコードスキャナに移らなくなると、終了して全ての転換点でデータベースへ書き出す必要がある。つまり、製造ラインの別の部分に対応する別のサンプル定義（及び別の名前）を有する幾つかのグループが存在するが、これらは同じインデックス（パレットＩＤ）番号を有することになる。
【００７２】
グループが完結すると、そのグループの情報が長期保存のためリレーショナルデータベースへ送信される。グループはＧＲＯＵＰ命令を使って制御サーバに定義する。ＧＲＯＵＰ命令の文法は次の通りである：
ＧＲＯｕｐ＜グループ＞＜ｍａｘｒｅｃ＞Trigger=＜ブロック＞
［Index=＜供給源＞Offset=＜遅延時間＞］［REFindex=＜インデックス＞］    ［Test=＜供給源＞ Offset=＜遅延時間＞［Clear=＜グループ＞］］
［Label=＜ラベル＞］［＜サンプル＞］
次の例では、データベースレコードについて整列したサンプルの組を指定している。
例：ｇｒｏｕｐ AB 256 tri=SERVO_CNT i=BCR3_IDB o=0
l=pallet NUTIME NUBUFB FAENCB MONOB
ｇｒｏｕｐ AB CHM1B CHM2B CHM3B CHM4B DEPSB
「トリガ」引数はリレーショナルデータベースへのレコード送出をカウンタが開始するブロックでサンプルを形成するための引数と同じであっても良い。オプションの「Ｉｎｄｅｘ」引数は送信すべきレコードについてのバーコードを含む供給源である。オプションの「Ｏｆｆｓｅｔ」引数は直前のサイクルで読み込まれたバーコードにアクセスするために使用する。オフセットが指定されない場合、トリガブロックカウンタの現在の値を使用する。グループの定義はトリガ、インデックス、及び試験供給源のないグループを反復することにより追加のサンプルを含むように変更することが出来る。オプションの「Ｔｅｓｔ」引数はインデックス付きレコードが送信されるか否かを制御するために使用する。グループがトリガされたときに所定オフセットにある試験供給源が０以外の値を有している場合そのレコードは送信される。詳細については後述するように、リレーショナルデータベースへ送信するフォーマットされたメッセージはオプションの「Ｌａｂｅｌ」引数で指定したタグから開始する。
【００７３】
リレーショナルデータベースへ送信しようとするデータベースレコードを作成する段階を説明する図９の論理流れ図に図示してあるように、制御サーバ６００は第１に段階７００で前述のようなスタートアップ設定ファイルを読み込み処理する。次に、段階７０５で、制御サーバはこれのデータメールボックス空間（図示していない）にメッセージが出現するのを待機する。メールボックスはメッセージ配送サービス（ＭＢＸ）の一部で、Ａｒｃｎｅｔネットワークにより支持され、システム内のプロセス（タスク）が別のコンピュータ上で実行されている場合でも相互に情報交換できるようにする。つまり、各々のプロセスはメールボックス空間にメッセージが書き込まれるまで待機し続け、メッセージがメールボックスに書き込まれたのと同じ順序で（ＦＩＦＯ型キュー）特定のタスクに取り込まれてから転送されることになる。この場合、ＶＡＬＵＥメッセージはデータ取得及び入力から制御サーバが取り出すデータメールボックスへ送信される。段階７０７で、メッセージがＶＡＬＵＥメッセージかどうかの決定を制御サーバが行う。ＶＡＬＵＥメッセージの場合には、段階７１０で供給源の現在の値が更新される。
【００７４】
図管理制御システム図１０（ａ）はデータ点の履歴を保存するための一連のメモリー供給源キュー６２０、６３０、６４０、６５０を示す。ＶＡＬＵＥメッセージが段階７０７で決定したように受信されると、これに含まれるデータが更新され各々の供給源キューに関連した現在のメモリー位置に保存される。例えば、６２１、６３１、６４１、６５１で示したメモリー位置は最初に受信された時点でそれぞれ処理温度パラメータ、圧力、流れ、コンベア処理速度パラメータに関連するデータ点での現在の値を保存する。
【００７５】
受信メッセージが段階７０７で決定したようなＶＡＬＵＥメッセージではない場合、前述したカウンタメッセージである。制御サーバは、段階７１４に図示したように、その供給源についてのメモリーキューの一番上にカウンタによりトリガされたブロックで定義された各々の供給源についての現在のデータ値を配置するように動作する。これを行うことで、全ての値が図１０（ａ）の矢印で示したようにシフトし、データ値の時系列配列が維持される。例えば、カウンタトリガの受信時に、供給源キュー６２０の位置６２１にあるＴｅｍｐ１についての現在の値がメモリー位置６２２に入力される。メモリー位置６２２は直前のマシンサイクル（１つ前のマシンサイクル）のＴｅｍｐ１の値（データ）を保存するためのメモリーキューの位置である。図１０（ａ）のメモリー位置６２３に図示したように、メモリー位置６２２にあったＴｅｍｐ１の値は２マシンサイクル前のＴｅｍｐ１の値となる。これがメモリーキューの各々の位置で反復実行される。キュー位置６２４に図示したようなＫサイクル前のＴｅｍｐ１のデータ値は破棄される。図１０（ａ）で分るように、特定の処理パラメータの履歴を保存するための各々のメモリーキュー６２０、６３０などの長さは処理によって変化する。つまり、「Ｋ」個までのＴｅｍｐ１処理の読み値がＫサイクル前までの各々のマシンサイクルで得られた値に対応するキュー６２０に保存され、「Ｌ」個までのＰＲＥＳ３データの読み値がＬサイクル前までの各々のマシンサイクルで得られた値に対応するキュー６３０に保存される。図２３に図示した各々のバーコードリーダはこれと前述のメモリーキューなどの供給源メモリーキューを関連付けしてある。特定のバーコードに対するメモリーキューに含まれるデータはそのバーコードリーダを通過する各々のパレットについてのパレットＩＤバーコード番号を表している。
【００７６】
図９の段階７１７では、特定ブロックで受信したカウンタトリガがサンプルについてのトリガとしても定義されているかどうかを決定する。前述のように、サンプルを形成するトリガが受信された場合には、図９の段階７２０に図示してあるように、サンプル命令で指定した全ての供給源データが各々の供給源キューから回収され、データ値のサンプルが詳細を後述するように関連バーコードでインデックスを付けるグループ内に回収保存される。サンプル設定命令を参照して前述したように、供給源キューからのデータは予め設定しておいたようにどの特定のオフセット（深さ）でも回収できる。そのため、図１０（ｂ）に図示したように、サンプル回収命令では供給源キュー６２０、６３０、６４０、６５０とオフセット６２６、６３６、６４６、６５６を指定してインデックスを関連付けした時系列配列処理データを含むサンプル６７０を形成することが出来る。
【００７７】
図９の段階７２３で図示したように、特定ブロックから受信したカウンタトリガがあるグループのトリガとしても機能するかどうかを決定する。前述のように、適当なトリガを受信したときに共通のパレットＩＤ番号を有するサンプルが集められてグループを構成する。グループ命令はそのグループに含まれるサンプルを定義し、またトリガも定義してそのグループがデータベースへ送信されることになる。
【００７８】
図１０（ｃ）ではグループを構成するサンプルの概念が図示してある。カラム６３７はシステム内に含まれる全てのパレットについて独自のバーコード番号（インデックス）を含んでいる。バーコードパレットＩＤ番号のカラムは必ずしも何らかの数値の順番に並べる必要はなく無秩序でも良いことは理解されるべきである。図１０（ｃ）に図示した各々の行６４７はカラムで識別された特定のパレットＩＤのサンプルを含むグループを表している。図１０（ｃ）に図示したように、例えば、グループ６４５は前述のサンプル６７０を含む。
【００７９】
図９の段階７２４では、グループデータとバーコードインデックスを含むデータベースレコードの構成がリレーショナルデータベースへ送信される。レコードがデータベースへ送信される時点で、制御サーバによりタイムスタンプが付与されて特定のデータグループに対する更なるインデックスとして機能する。グループのトリガが段階７２４で受信されなかった場合、処理を反復し制御サーバは段階７０５で次のメッセージを待ち受ける。
【００８０】
タイムスタンプ情報（インデックス）を用いて自動コンタクトレンズ製造システム以外の条件（例えば空調、湿度、「クリーンルーム」条件など）が製品の品質に影響し得る特定の時期の間に行われる製品処理を識別することが出来る。
【００８１】
図１１はリレーショナルデータベース２０２（図１）に送信され保存される１、２、．．．、ｎのラベルをつけたレコードのグループのフォーマットを示してある。図１１に図示したように、カラム６５７ａは制御サーバで生成されたとおりに送信された個々のレコードの日時及びタイムスタンプ情報を含んでいる。カラム６５７ｂはバーコードインデックス（パレットＩＤ）番号を含む。カラム６５７ｃはラベル情報を含み、好適実施例においては特定のレコードについてデータベースへ制御サーバから送信するグループ名と符号化した日付／時間の組み合わせである。カラム６５７ｄの残りはコンタクトレンズ製造施設の特定部分で行われる特定の処理の履歴を含む「Ｊ」個までの供給源データ値を含む。図１１に図示したレコード１、２、．．．、ｎと同様の構造を有する別のレコードが同じパレットＩＤ番号を有することがあるが、コンタクトレンズ製造システムの同じ部分でも別の日付及び時刻における処理を表す、または、例えば一体成型アセンブリーステーションの出口でまたはＡＬＩ視覚検査処理でパレットを破棄した後、同じパレットについての処理がシステムの別の部分で行われたことを表わす場合があることは理解されるべきである。さらに、１つ以上のレコードが同じパレットインデックスについて作成されるような場合、製造ラインのどこで処理が行われたかによって各々のレコード内には少ないまたは多くのデータ供給源の値が含まれることは理解されるべきである。
【００８２】
視覚検査結果
図２３に図示してあり、また前述の同時出願中の米国特許出願第０８／２５７，７８６号（代理人事件整理番号＃９００１）に詳細に説明してあるように、各々の裏面湾曲及び前面湾曲キャリアパレットの裏面湾曲レンズ金型部分と前面湾曲レンズ金型部分の射出成型及び配置に続けて、また窒素バッファトンネル４６へ進入した後、２重の交差押し出し機構４４が前面湾曲レンズ金型部分を含むパレットと裏面湾曲レンズ金型部分を含むパレットを対にして充填一体成型アセンブリーステーション５９へ搬送する。充填一体成型アセンブリーステーションでは、前面湾曲レンズ金型部分にはモノマーが充填され裏面湾曲レンズ金型部分キャリアパレットがモノマーを含む前面湾曲レンズ金型部分の上に載せられる。裏面湾曲レンズ金型部分パレットは再利用のため射出成型ステーションへ再転送される。前述の「製造ライン追跡及び品質管理システム」と題する同時出願中の米国特許出願第０８／２５７，７９０号（代理人事件整理番号＃９１６６）に詳細に説明してあるように、警報条件が存在し特定パレットに担持されたレンズが欠陥であり排除すべきであると決定された場合、図２３で一般に図示してあるラムプッシャー装置５８は欠陥レンズを含む特定のパレットを排除して充填一体成型アセンブリーステーション５９を出てくる空の裏面湾曲レンズ金型部分をコンベア２６からコンベア２９へ再循環させるように指令される。
【００８３】
図１２（ａ）は充填一体成型アセンブリーステーションへ入る直前の前面湾曲レンズ金型部分および裏面湾曲レンズ金型部分のパレット７１ａ、７１ｂ各々の進行方向を示す。図１２（ａ）に図示してあるように、各々のパレットの空洞には特定の方向に１、２、．．．、８の番号が付けてある。
【００８４】
一体成型分離装置を出てから水和チャンバー３３５に入る前に、図２３に図示したように、完成したコンタクトレンズを含むパレットが対にされて２つのパレットが並んで移動する。水和ステーションで、プッシャー装置３３２がキャリア３３７上の４個のパレット７４を切り離せるように時間設定され、水和処理のために３２個のコンタクトレンズをグループ化することが出来る。図１２（ｂ）と図２３では水和ステーションへ搬送するためにキャリア３３７上に切り離された時点の４個のパレット７１ａ、ｂ、ｃ、ｄの各々の方向が図示してある。図２３に図示したように、バーコードスキャナ８８、８９がパレット各々を識別した後、水和ステーションへ転送される。より特定すれば、バーコードスキャナ８８は図１２（ｂ）で７１ａ、７１ｂのラベルの付いたパレットのバーコードを読み取り、バーコードスキャナ８９は７１ｃ、７１ｄのラベルの付いたパレットのバーコードを読み取る。これがコンタクトレンズ製造工程における最後のバーコード読み取りである。レンズ自体がパレットから取り出されるため、またこの点から先にはこれ以上のバーコードスキャナが存在しないため、水和中及び水和後のレンズ位置の特定と識別はマシンサイクルのカウントから推定する。上記で簡単に説明したように、各々のバーコードスキャナについて供給源メモリーキューが作成され各々のバーコードスキャナ・メモリーキューに含まれるデータはその下を通過するパレットＩＤ番号を含む。図１４（ａ）と図１４（ｂ）はバーコードスキャナ８８と８９（図２３）に対応しパレットＩＤデータ（インデックス）値を保持するバーコードメモリーキュー６６０、６６０’を図示してある。パレットが例えばバーコードスキャナ８８の下を通過したときに、パレットＩＤデータが位置６６１に、即ち現在のデータが保存されている位置に、配置される。図１４（ａ）の破線矢印で図示したように、次のパレットが通過すると、もとのパレットＩＤデータとその後で回収される全てのパレットＩＤデータはメモリーキュー内で１度に１つのメモリー位置づつシフトされる。次に、視覚検査供給源データ（結果）を回収するためにサンプルがトリガされるとき、供給源バーコードスキャナ８８の特定オフセット、例えばメモリーキュー位置６６２にあるパレットＩＤインデックスがレンズ検査結果データとグループ化される。このサンプルは視覚検査サーバからのカウンタの受信時にトリガされ、オフセット量がシステムのスタートアップ時に制御サーバにより読み取られた設定ファイルのサンプル設定にプログラムされているとおりに予め設定される。
【００８５】
水和ステーションの出口で、レンズパッケージの底部を形成し検査キャリアパレット７６、７６’に担持される射出成型ブリスター（図示していない）へレンズを取り出し配置するときに、レンズが反時計回りに９０°回転される。検査キャリアパレットは図１３（ａ）に図示したように１６個の射出成型ブリスターパッケージを担持する。図１３（ａ）では１６個のパッケージ各々が水和後に搬送されるときの検査パレット７６、７６’内での方向を示す。検査パレット７６、７６’内での各々のレンズの位置は図示したとおりで、もとのパレット７１ａ、ｂ、ｃ、ｄの空洞位置と比較して図示してある。
【００８６】
ＡＬＩ視覚検査ステーションへ入る前に、パッケージは所定の方法で係合される。図１３（ｂ）では、視覚検査装置で１６個のレンズのグループの検査を行うためのレンズ検査パレット７６の方向を示す。１台又はそれ以上の視覚検査カメラ（図示していない）が図１３（ｂ）に図示したパレット７６について検査チャネル７７ａ、ｂと関連付けされる。視覚検査カメラは図１３（ｂ）では小さい文字で図示してあるように１〜１６の番号が付いた各々のコンタクトレンズの位置を検査し、これが図４（ｂ）を参照して前述したように視覚検査装置から送信される第１のデータ値５１になる。より特定すれば、検査チャネル７７ａの観察カメラはレンズ位置１〜８を検査し、検査チャネル７７ｂの観察カメラはレンズ位置９〜１６を検査する。パレットが視覚検査ステーションに向かう予測可能な方法で見ると、また視覚検査を遂行するのに必要な所定数のマシンサイクルの観点では、視覚検査の結果は制御サーバが検査結果ブロック５０の受信後視覚検査のカウンタを受信した時点で本来のバーコードパレットＩＤ（パレット７１ａ、ｂ、ｃ、ｄ）が自動的にインデックスとして付けられる。これを実現するには、供給源メモリーキュー６６０と６６０’がそれぞれバーコードスキャナ８８、８９で取り出されたバーコードパレットＩＤの読み値となる（図１４（ａ）及び図１４（ｂ））。スキャナでのバーコードパレット識別の時刻から検査パレットの各々のレンズ位置が検査される時刻までの間に所定量のマシンサイクルが存在するので、各々の空洞の結果はバーコードパレットＩＤ供給源キュー６６０、６６０’各々の所定数のメモリー位置だけオフセットしたパレットＩＤインデックスと関連付けされる。例えば、図１３（ｂ）に図示したように、レンズ位置番号５〜８と１３〜１６のレンズ検査結果には図１４（ａ）の供給源メモリーキュー６６０の６２２とラベルをつけたバーコードスキャナ８８メモリーオフセット位置に関連付けされる。同様に、レンズ位置番号１〜４と９〜１２のレンズ検査結果は図１４（ｂ）の供給源メモリーキュー６６０’の６２２’とラベルをつけたバーコードスキャナ８９のメモリーオフセット位置と関連付けされる。視覚検査の結果にバーコードパレットＩＤが付けられると、（視覚サーバから）視覚カウンタの受信時にグループ化されて前述しまた図１１に図示したようなデータベースレコードを形成する。
【００８７】
分散図
特定のパレットＩＤについての履歴処理データが全部データベース内のレコードとして収集されると、更に処理し分析するために利用できるようになる。例えば、前述したように、ｘ軸上の１つの変数をｙ軸上の別の変数に関連づけるチャートである分散図を形成するのが望ましい。例えば、品質の測定値は処理変数に対してプロットするとその特定の処理変数が品質に影響を与えるかどうか、またどの程度影響するかを決定できる。プロットした分散図の情報によって変数についての適正な動作セットポイントの選択が出来るようになるが、これは処理パラメータの値が変化すると品質の測定値がどのように変化するかを簡単に決定できるためである。
【００８８】
図１５には検査結果（ｙ軸）と処理パラメータ（ｘ軸）の分散図が図示してある。より特定すれば、前面湾曲レンズ金型のモノマー充填レベルの関数としてＡＬＩからの検査結果で求まるようにパレット内の１つの特定の空洞についてのレンズ欠陥の量を示すプロットが生成されたことになる。これ以外にもモノマー充填レベルのプロットを全ての記録したパレットの特定の空洞位置に関連させることが出来る。図１５に図示したように、この検査の結果はレンズ製造工程が前面湾曲レンズ金型部分内のモノマー充填レベルを、矢印Ａで示したように欠陥のないレンズを製造するために決定された受け入れ可能な範囲内に、制御できる必要があることを示している。ほとんどの変動は標準偏差内で起こるので、最適な充填レベルの設定点の第１の選択は、図１５で矢印Ｂで図示したように受け入れ可能な範囲の中心とすることである。図１５においてプロット記号８７９として図示した単一の空洞マーカーだけが簡略化のために含めてある。他の空洞を表す他の種類のマーカーを同じグラフ上に含めることも出来る。特定パレットの空洞間に差がない場合、マーカーは相互に重なり合う。１つ又はそれ以上の空洞が同じ特性を示さない場合、マーカーは重ならず、見えるようになり、空洞間に差があることを示し、全ての空洞で良好なレンズを製造できるように補正すべきであることが分る。
【００８９】
図１７から図１９はリレーショナルデータベースで利用できるデータレコードから分散図のプロットを生成するための処理の流れ７４９を示す。段階７５０で示した第１の段階は、メッセージをデータベースに送信してパレット（バーコード）インデックスについてのパラメータデータを取り出させ、段階７５２ではメッセージをグラフサーバへおくって分散図のために表示を設定させることである。データベースの適正な問合せで所望の報告を収集し表示させることが出来るようにする手順の組み立てはデータベース・プログラミングの分野の当業者のプログラマーには公知であることは理解されるべきである。段階７５４で示した次の段階では、あるチャネルに独自の空洞プロット記号（マーカー）を割り当て、また分散図表示となる他のグラフィック属性も割り当てる。各々の軸で値の分散（範囲）は例えば縮尺内にデータ点をプロットできるようにレンズ欠陥データの最大量を設定することで設定できる。段階７５６では、プログラムはデータがデータベースから到着するのを待機し、段階７５８ではまだ到着するデータがあるかどうかの決定を行う。段階７５８で更に受信するデータがある場合には、段階７６５でパレット空洞位置番号１についてのレンズ検査結果データがプロットするよう要求されているかを決定する。要求がある場合には、段階７６７で、パレット空洞１と２に関連する各々のデータ「ａｘ」と「ｂｘ」をグラフィックスパッケージに送信してプロットを行わせ、また受信した現在のデータ値が第１のデータ値の場合には現在の範囲の最小値と最大値を段階７８１とそれ以降で設定する（図１７及び図１９）。現在のデータ値が第１のデータ値ではない場合には、段階７６９でパレット空洞位置番号３に対するレンズ検査結果データをプロットするように要求されているかを決定する。要求がある場合には、段階７７１でそれぞれパレット空洞３と４に関連するデータａｘとｂｘをグラフィックスパッケージに送信してプロットさせる。次に、段階７７３では、パレット空洞位置番号５に対するレンズ検査結果データをプロットするように要求されているかどうかを調べる。要求がある場合には段階７７５でパレット空洞５と６にそれぞれ関連したデータであるａｘとｂｘをグラフィックスパッケージに送信してプロットさせる。要求されていない場合には、段階７７７で、パレット空洞位置番号７に対するレンズ検査結果データをプロットするように要求されているかどうかを調べる。要求がある場合には段階７７９で、パレット空洞７と８にそれぞれ関連付けされたｙ軸データａｘとｂｘをグラフィックスパッケージに送信してプロットさせる。適切なメッセージをグラフィクスサーバに送信して段階７６７、７７１、７７５、７７９で決定したように特定空洞の結果をプロットさせた後、段階７８０で受信した現在のデータが受信する第１のデータかどうかを調べる。第１のデータであれば、変数ｍｉｎ、ｍａｘ、ｉｍｉｎ、ｉｍａｘを段階７８１で初期化する。変数「ｉｎｄｅｐ」はプロットのための独立ｘ軸変数を表し、変数「ｉｍｉｎ」、「ｉｍａｘ」はそれぞれ変数ｉｎｄｅｐの最小値と最大値を表す。段階７８３で、現在取り出したａｘデータの値がプロットしようとするｙ軸データの範囲の下限かどうかを調べる。ａｘがｍｉｎの値より小さい場合には、ｍｉｎの値をデータ点ａｘと等しくなるように段階７８５で設定する。段階７８７では、同様に現在のｂｘデータ値がプロットしようとするｙ軸データの範囲の下限かどうかを調べる。受信したデータの値ｂｘがｍｉｎの値より小さい場合には、段階７８９でｍｉｎの値をデータ点ｂｘと等しくなるように設定する。次に、段階７９１では現在のａｘデータ値がプロットしようとするｙ軸データの範囲の上限にあるかどうかを調べる。受信したデータの値ａｘが現在のｍａｘ値より大きい場合には、ｍａｘの値をデータ点ａｘと等しくなるように段階７９３で設定する。段階７９５では、同様に現在のｂｘデータの値がプロットしようとするｙ軸データの範囲の上限にあるかどうかを調べる。ｂｘがｍａｘの値より大きい場合には、ｍａｘの値をデータ点ｂｘと等しくなるように段階７９７で設定する。段階７７６では、現在のｉｎｄｅｐデータ値がｘ軸データ（例えばモノマー充填レベル）の範囲の上限かどうかを調べる。ｉｎｄｅｐが現在のｉｍａｘの値より大きい場合にはｉｍａｘをｉｎｄｅｐに設定する。同様に、段階７８２で現在のｉｎｄｅｐデータ値がｘ軸データの範囲の下限にあるかどうかを調べる。ｉｎｄｅｐが現在のｉｍｉｎの値より小さい場合には、ｉｍｉｎをｉｎｄｅｐに設定する。段階７５８で要求されたデータをまだ取り出す必要があると分った場合には、ループを反復し、グラフィックサーバは新しいデータが到着するのを段階７５６で待機する。
【００９０】
段階７５８でこれ以上取り込むべきデータがない場合には、段階７５９で図示したようにファイルメッセージの正常な終端が受信されたかを調べる。ファイルメッセージの正常な終端が受信された場合には、段階７９９でｙ軸範囲即ちｍａｘ〜ｍｉｎの値を設定し、またｘ軸範囲即ちｉｍａｘ〜ｉｍｉｎの値を設定して、適切なメッセージをグラフィックスサーバへ送信し、分散図を実際にプロット又は表示する。段階７６１で処理が終了する。ファイルレコードの終端がない場合にはエラートレースメッセージを段階７６２で生成する。
【００９１】
ヒストグラム
ヒストグラムは特定の種類の欠陥のカウントを表示する（ある種の合格／不合格品質測定）グラフ図である。カウントはパレット空洞で実行して他と異なるように実行する空洞を分離（修正）する。
【００９２】
図１６は特定のパレット上の特定の空洞位置についてのレンズ欠陥の量に関するヒストグラム８９０を示す。より特定すれば、各々のバー８８９は利用者が指定した時間間隔の間に結果が得られた特定のパレットの各々の空洞についての欠陥の数を表す。こうしたグラフから、何らかのパレット上のどの空洞位置で他より欠陥が多いかを簡単に調べることが出来る。図１６に図示したグラフ図などの状況は矢印で示した７番の空洞に汚染物質が存在していることを示している。
【００９３】
図２０はリレーショナルデータベースで利用可能なグループデータレコードからヒストグラムのプロットを生成するための処理の流れ８００を示す。段階８０１は特定の時間範囲にわたって特定のパレットについての特定の品質測定における合格／不合格測定結果（検査結果）を回収するようにデータベースに要求している。段階８０３でしばらく待機した後、段階８０５でデータベースが要求されたデータ情報を含むファイルを供給したかを決定する。ファイルが供給された場合には、グラフィックスサーバはファイルを読み取り、段階８０７で示したように空洞あたりの欠陥の現在の総数を保持する。範囲は自動的に設定してデータが正確にプロットされるようにする。データベースから送信されたファイルを読み出した後、段階８０９で要求しただけのデータが受信されていないなどの何らかの問題があるか、または予期しない合格／不合格符号が得られた例えば問題が検出された場合には、段階８１１で問題を報告して段階８１２で終了メッセージをグラフィックスプロセッサに送信する。報告すべきデータ上の問題がない場合には、データをプロットするようにメッセージをグラフィックスディスプレイに送信して段階８１０に示すようにデータをプロットする。
【００９４】
データベースが段階８０５でファイルを供給しなかった場合には、段階８０６に示すようにシステムは５回待機する。５回目の後で、データベースがまだファイルを供給していない場合には、段階８１２でグラフィックスサーバにメッセージを送信し、他のグラフィック表示要求を受け入れるように開放される。
【００９５】
処理幅ヒストグラム
処理幅ヒストグラム分布は一連の処理読み値の値がどのように分散しているかを示すグラフ図である。正規分布している処理では、例えば釣り鐘型のヒストグラム・プロットを示す。この種のヒストグラムは製造処理内の異常又は測定装置の欠陥を特定する上で有用である。
【００９６】
図２１は特定の処理パラメータ（例えばモノマー充填レベル）がどのような挙動を示すかといった使用を提供する処理幅ヒストグラム８７０を示す。図２１に図示したように、データは１６個の等しい間隔の領域に分割される。各々の領域はバー８６９で示され、高さはその領域で発生したサンプル数を表す。全てのヒストグラムのバーの輪の幅が仕様上の幅と等しいか又はこれより小さい場合には、その処理は仕様上の許容範囲内で制御されていることになる。ヒストグラムの形状が釣鐘状曲線であれば、パラメータ変動は正規分布をしているということが出来る。
【００９７】
図２２はリレーショナルデータベースで利用可能なグループデータレコードから処理幅ヒストグラムのプロットを生成するための処理の流れ８１４を示す。段階８１５は、特定の時間間隔にわたる特定の処理パラメータについての値を回収するようにデータベースに要求する段階で、データをグラフィックスサーバへ送信する。段階８１７でしばらく待機した後、段階８１９でデータベースが要求したデータ情報を含むファイルを供給したかどうかの決定を行う。ファイルが供給された場合には、グラフィックスサーバはファイルを読み段階８２１で示したように処理パラメータについての最大値と最小値の集計を保持する。範囲は最小値と最大値から自動的に設定され、ｘ軸座標が１６個の等しいデータグループに分割される。段階８２５でファイル内の各々のデータ値が読み取られ、どのデータグループにその値が入るかの決定を行い、その特定のデータグループについてサンプルカウント（図示していない）を１つ増加させる。段階８２７でファイルの正常な終端が見つかったかどうかの決定を行う。ファイルの正常な終端は、データベースからのデータ読み取りで問題が発生しなかったことを表わす。問題が検出された場合には、段階８３１で問題を報告し段階８３３で終了メッセージをグラフィックスプロセッサに送信する。報告すべきデータ上の問題がない場合には、段階８２９に示すようにデータをプロットするようにメッセージをグラフィックスディスプレイに送信してデータをプロットさせる。
【００９８】
データベースが段階８１９でファイルを供給しなかった場合には、システムは段階８２０に示すように５回だけ待機する。５回目の後でデータベースがまだファイルを供給していない場合には、段階８３３でメッセージをグラフィックスサーバに送信して他のグラフィック表示要求を受け入れられるように開放する。
【００９９】
統計サーバ
図１に図示したような統計サーバ４０６はリアルタイムデータ値のリポジトリである。データは利用者定義の論理グループ又はデータセット内に保存される。統計サーバの能力はデータに対して変換を適用するまたは「実行する」ことの出来る能力である。制御サーバから受信した場合のデータ値は自動的に警報条件を追跡されて要約され、サーバは統計処理制御を実行して関連する警報を設定したり解除したりする。データセットからの値は現在の傾向と動きのある状態画面を示すように転送される。
【０１００】
図６に図示したように、ＳＴＡＴＥ命令６０４がコンソールサーバ４０３とグラフサーバ４０５から制御サーバ６００へ送信される。これらの命令はデータセットを示しており任意で方法の名前を示す。この命令は統計サーバ４０６への命令を制御サーバ６００に発行するようにキューを送るために使用する。これらの命令は統計サーバ４０６に適切な計算を行って画面を支持し、結果をオペレータステーション４００で有効になっている表示モジュール送信するように指示する。
【０１０１】
方法の名前が与えられた場合には、ＳＴＡＴＥ命令６０４は制御サーバを呼び出して、特定のデータセットに適合するように置き換えを行った所定の命令の組（方法）を統計サーバへ送信させる。方法は統計サーバへ送信する一組の命令についてのテンプレートであると考えられる。
【０１０２】
制御サーバ６００は３種類の出力を統計サーバ４０６に提供する。
【０１０３】
１）ＳＴＡＲＴメッセージ６０１はシステムのスタートアップ時に統計サーバの実行を開始させる。
【０１０４】
２）供給源データメッセージ６０２は、統計サーバに新しいデータ値を通知する。データは専用の統計サーバのメールボックス（図示していない）へ送信される。メッセージの一般的形式は「データセット名＝値」である。
【０１０５】
３）統計サーバがデータ処理を行う方法を変更し、また統計サーバで生成したデータの宛先を追加又は削除するメッセージである。統計サーバへ送信される主要なメッセージの形式は次のようなものがある：ＤＡＴＡＳＥＴ、これは名前の付いたデータセットについて統計サーバ内での保存を割り当てる。ＳＩＮＫは統計サーバから出て行くデータの宛先を指定する。ＰＥＲＦＯＲＭは統計サーバがデータセットに対して適用すべき関数を指定する。ＲＥＭＯＶＥは統計サーバからオブジェクトを除去する（ｄａｔａｓｅｔ、ｓｉｎｋ、ｐｅｒｆｏｒｍなど）。ＣＯＮＴＲＯＬはデータセットについての統計処理制御のため統計サーバ内のデータセットの警報範囲の限界を設定する。
【０１０６】
時系列的傾向
測定又は計算を行ったパラメータはどれも時間に対して単一の傾向としてプロットすることが出来る。複数の時間プロットを一般的傾向について比較することが可能である。分、時、日、週にわたるデータを表示するために固定された時間の尺度が利用可能である。
【０１０７】
統計サーバ４０６はデータセット（同じデータ供給源からの多数のサンプル）を設定することの出来るパッケージを含む。データセットを設定すると、何らかの基準に基づいて実行すべき演算を自動的に行うように設定することが出来る。ｓｉｎｋｓ（生成した結果の宛先）は、例えばグラフ表示するためのオペレータステーションまたは履歴を作成するための別のデータセットを動的に設定することが出来る。
【０１０８】
サイクル、分（６秒サイクル１０回）、時（６０分）、日（２４時間）、週（７日）にわたる傾向としてグラフ化することが望まれるデータ供給源の各々について、「ｓ」を大きさとする一連の又はカスケードしたデータセットを生成する必要がある。これを実現するにはそのデータセットについての最近の６０個の値を保存しておき、グラフ化するためまたは何らかの演算を実行するためにオペレータステーションへ送信するよう命令されたとき利用できるようにしておく。以下に例を挙げる：
【０１０９】
処理パラメータのモノマー分注レベル「ＤＥＰＯ２ＬＥＶ」を各サイクル毎１回測定し６０個迄の値を保持できるデータセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ  ｓ＝６０へ供給する。１０番目の読み値毎に前述したＰＥＲＦＯＲＭ命令を起動して最近の１０個の値に対して平均値計算を行い、結果は６０個までの値を保持できるデータセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｍ  ｓ＝６０に供給する。このあとＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｍの６０番目の読み値がＰＥＲＦＯＲＭを起動して平均値をデータセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｈ  ｓ＝６０に供給する。同様に、ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｈの２４番目毎の読み値がＰＥＲＦＯＲＭを起動して平均値をデータセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｄ  ｓ＝６０に供給し、ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｄの７番目毎の読み値がＰＥＲＦＯＲＭを起動して平均値をデータセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｗ  ｓ＝６０に供給する。カスケード接続は次のように見えることになる：
サイクル読み値  −＞    データセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ
１分間の平均    −＞    データセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｍ
６０分の平均    −＞    データセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｈ
１時間の平均    −＞    データセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｄ
１日の平均      −＞    データセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｗ等。
ここでＭ、Ｈ、Ｄ、Ｗは詳細を後述するズーム係数である。ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｍと呼ばれるデータセットと同じ名前のＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｍのｓｉｎｋ（データセットの宛先）を決定するには、ソフトウェアで実行する方が簡単なｓｉｎｋの動的生成と除去を行う。ｓｉｎｋは傾向データをグラフ化するためにオペレータステーションで動的に生成される。次のｓｉｎｋの組がシステム初期化時に作成され要求された時点でグラフ化する分、時、日、週のデータを生成するために存在している：
ｓｉｎｋ  ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｍ  ｄ＝ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｍ
ｓｉｎｋ  ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｈ  ｄ＝ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｈ
ｓｉｎｋ  ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｄ  ｄ＝ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｄ
ｓｉｎｋ  ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｗ  ｄ＝ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｗ
【０１１０】
個々のデータ供給源の読み値が制御サーバから統計サーバへ送信されたときに履歴サンプルを生成するには、次の一連の動作を定義しておく：
ｐｅｒｆｏｒｍ  ＤＥＰＯ２ＬＥＶ  ｆ＝ｍｅａｎ  ｓ＝ＤＥＭＰ２ＬＥＶ／Ｍ  ｔ＝１０
ｐｅｒｆｏｒｍ  ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｍ  ｆ＝ｍｅａｎ  ｓ＝ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｈ  ｔ＝６０
ｐｅｒｆｏｒｍ  ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｈ  ｆ＝ｍｅａｎ  ｓ＝ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｄ  ｔ＝２４
ｐｅｒｆｏｒｍ  ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｄ  ｆ＝ｍｅａｎ  ｓ＝ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｗ  ｔ＝７
ここで第１のｐｅｒｆｏｒｍはデータセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ（データ点ＤＥＰＯ２ＬＥＶでサイクル毎に取り出したデータ供給源読み値）に到着した１０個のサンプルの平均値を取り、結果を排出先ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｍに送信する。ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／ＭはデータセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｍとなるように（上記で）定義されているので、ＤＥＰＯ２ＬＥＶデータ供給源の毎分平均についての履歴を保存することになる。同様に、第２のｐｅｒｆｏｒｍはデータセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｍに到着した６０サンプルの平均を取る（データセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｍから取り出した毎分の平均の読み値）命令であり結果を排出先ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｈへ送信する。ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｈは、データセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｈとなるように定義されているのでデータ供給源ＤＥＰＯ２ＬＥＶの毎時平均についての履歴を保存するようになる。さらに、第３のｐｅｒｆｏｒｍはデータセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｈに到着した２４サンプルの平均（データセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｈから取り出した毎時の平均読み値）をとる命令で、結果を排出先ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｄに送信する。ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／ＤはデータセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｄとなるように定義されているのでデータ供給源ＤＥＰＯ２ＬＥＶの毎日平均についての履歴を保存するようになる。最後のｐｅｒｆｏｒｍはデータセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｄに到着した７サンプルの平均（データセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｄから取り出した毎日の平均読み値）をとる命令で、結果を排出先ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｗへ送信する。ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／ＷはデータセットＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｗとなるように定義されているので、データ供給源ＤＥＰＯ２ＬＥＶの毎週平均についての履歴を保存することになる。データセットと、排出先と、ｐｅｒｆｏｒｍ命令とが定義されてしまえば、そのｐｅｒｆｏｒｍ命令について定義された基準に適合している限り（例えば１０個のサンプルがデータセットＤＥＰＯ２ＬＥＶに到着したなどの）計算は実行され続けることになる。
【０１１１】
図２４は固定の時間縮尺に対して処理パラメータのプロットを作成するためのシーケンス５６０で、システム内の処理パラメータの傾向を示す。オペレータ又はユーザー・インタフェースにおいて、オペレータはリアルタイムで変化するある種の処理パラメータを参照するように（６秒毎のシステム周期で）、または一定の期間（日単位、週単位）にわたって変化する何らかの処理パラメータを参照するように、要求を出すことが出来る。傾向を生成する要求のエントリーはＭ、Ｈ、Ｄ、Ｗの値と０より大きい２進数値を有する拡張子である「ズーム係数ｚｏｏｍ＿ｆａｃｔｏｒ」を含み得る文字列である。段階５６１に図示した第１の段階ではzoom_factorの値を評価する。zoom_factorの値が０に等しい、即ちzoom_factorが指定されていない場合には、図２４の段階５６４に図示したようにデータセットには供給源又はシステムの時間的縮尺（各周期毎）が設定される。例えば、前述のデータセットＤＥＰＯ２ＬＥＶに含まれる６０個の値はデータセットとしてグラフィックサーバへ送信され、プロットされる。次に、段階５８４では、制御サーバの命令により統計パッケージへの適当なリンクを張り、統計パッケージへデータを供給するメッセージを送信する。段階５８６では、プロットする範囲を設定するために使用する変数ｍｉｎとｍａｘが初期化される。段階５８８では、データセットの各々の値が読み込まれ、段階５９０で特定のデータセットにまだ何らかの値が残っているかが調べられる。
【０１１２】
更に値が残っている場合には段階５９１でデータセットの現在の最小値ｍｉｎとデータセットの現在の値を比較する。現在の値がｍｉｎの値より小さければ、段階５９２でｍｉｎの値に現在のデータセット値の値を割り当てる。現在の値がデータセットの最小値より小さくない場合には、段階５９３でデータセットの現在の最大値（ｍａｘ）と現在のデータセットの値を比較する。現在値が最大値より大きい場合、ｍａｘ値には段階５９４で現在のデータセット値の値を割り当て、プログラムは段階５８８へ復帰して、データセットから次の値を読み込み、段階５９０から５９４を繰り返す。段階５９０で現在のデータセットから読み込むべき値がこれ以上存在しなくなれば、制御サーバから段階５９５で利用者定義の限界が要求される。次に、段階５９９でデータセットの傾向データをプロットする前に、文字ラベル、ｍａｘ〜ｍｉｎ範囲、限界線とラベルが段階５９７で設定され、データを見て分るようにプロットされる。
【０１１３】
zoom_factorの値が０と等しくない場合、即ちzoom_factorが指定されている場合には、段階５６５で命令がズームアップ命令かどうか、即ち固定ｘ軸傾向をもっと大きな時間間隔（例えば時間から日単位へ）拡大する、またはズームダウン命令かどうか、即ち固定ｘ軸傾向を日単位から時間単位へという具合にもっと小さな時間間隔に縮尺するように要求する命令かどうかが調べられる。要求がズームアップ命令の場合には段階５６６で現在のズーム係数状態が「日」単位かどうか、段階５６７で「時間」単位かどうか、段階５６８で「分」単位かどうか、段階５６９で「供給源」（リアルタイム）かどうか、を調べる。現在のzoom_factorの状態が日単位の場合には、段階５７１でzoom_factorを週単位（Ｗ）に増大し、又は現在のzoom_factor が時間単位の場合には段階５７３で日（Ｄ）単位に増大し、又は現在のzoom_factor が分単位の場合には段階５７４で時間（Ｈ）単位に増大し、又は現在のzoom_factor が０（システム周期）の場合には段階５７６で分（Ｍ）単位に増大する。
【０１１４】
要求が図２４の段階５６５で調べたようにズームダウン命令の場合、現在のズーム係数の状態が分単位かを段階５７７で調べ、段階５７８で時間単位かを調べ、段階５７９で日単位かを調べ、又は段階５８０で週単位かを調べる。現在のzoom_factorが分単位の場合には、段階５８１でzoom_factorを供給源（システム周期時間）に減少させ、又は現在のzoom_factor が時間単位の場合には、段階５７２でzoom_factorを分単位（Ｍ）に減少させ、又は現在のzoom_factorが日単位の場合には、段階５８２でzoom_factorを時間単位（Ｈ）に減少させ、又は現在のzoom_factorが週単位の場合には、段階５８３でzoom_factor を日単位（Ｄ）に減少させる。要求された処理パラメータの傾向グラフについてのzoom_factor が図２４に示したような論理で決定されると、統計サーバへ送信すべきデータセットが供給源（処理データ）及び決定したzoom_factor を有するデータセットとなる。例えば、前述したモノマー分注量の例では、データセットはｄ＝ＤＥＰＯ２ＬＥＶ、ｄ＝ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｍ、ｄ＝ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｈ、ｄ＝ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｄ、またはｄ＝ＤＥＰＯ２ＬＥＶ／Ｗとなる。
【０１１５】
オンライン及びオフラインのリレーショナルデータベース２０２に大量のデータが存在しているため、製造を最適化する目的でグラフィックとして表示又は作表させることの出来るその他の比較や関連付けは多数存在する。例えば、処理パラメータと共に各々の製造したレンズの検査結果を含む製造レコードをアクセスしＦＤＡ規則に従って保守することも出来る。他の例としては、滅菌装置制御装置（図示していない）からの滅菌状態合格／不合格の指標と、ロット番号と、滅菌実行番号とを含む滅菌装置サイクル条件レコードをデータとしてシステムが取り込むことが出来る。これらのファイルはオフラインデータベース保存領域内に保存し長期間にわたる滅菌装置の性能の傾向を分析するために取り出すことが可能である。更に、このデータにアクセスして、連邦規制局の必要とする装置ならびに処理の有効情報を提供することが出来る。統計処理制御を含むデータに対するその他の演算の種類も実行でき、動的制御限界と警告付きのＸバーＲチャートを生成する、製造の要約、現在の読み値、警報指示の状態画面を表示用に生成する、有効な注意、警報、勧告の説明を含む警報リストを作成する、機械毎の警報カウント及び警報持続時間のパレート・チャート、または機械装置毎の不良レンズのパレート・チャートの態様でグラフィック表示を生成して製造ラインの機械の性能をモニターする、などが可能である。警報状態の例としては、インデックスモータが初期化されない、又は水和ステーションで上部チャンバー真空状態が作成されない、又は水和ステーション内の空気圧異常、などがある。その他のグラフィック表示としては次のようなものがある：運転の変化のタイムスタンプ付き記録のイベントと積算した検査結果（歩留まり）の時間軸プロットの表示を生成できる。
【０１１６】
これらの特徴は各々のステーションで利用可能な少なくとも２つの補助ユーザー・インタフェース（４００）に割り当てられる。エンジニアリング・コンソール・サーバ（図示していない）を使用して工程分析と最適化を行う。製造ラインの運転と装置の診断は製造コンソール・インタフェース（図示していない）により支持される。主オペレータステーションは勤務交代を追跡しオペレータのログイン（パスワード入力が必要）により保護された警報確認を実行することが出来る。
【０１１７】
パレート・チャート
装置毎の警報カウント及び警報の持続時間のパレート・チャートの態様によるグラフィック表示、またはパレット状態のパレート・チャートを生成することが出来る。図２６はカウントによる警報状態のパレート・チャートである。警報状態は警報制御サーバ５２８から受信したデータ値で、警報制御サーバ５２８はコンタクトレンズ製造ラインには制することのある各々の警報状態のカウントを記憶する。図２６に図示したように、各々のバーは色分けされており警報状態の頻度を表す。例えばバー９０２ａは水和ステーションに上部チャンバーが存在しない状態を表し、バー９０２ｂはモータが初期化されていない状態を表す。これら２つの警報状態は特定の製造運転時に発生する最も頻繁な警報を表している。
【０１１８】
図２７は時間による（持続時間による）警報状態のパレート・チャートを示す。時間による警報状態はコンタクトレンズ製造中に各々の警報状態が存在する又は存在していた持続時間を記憶する警報サーバから受信したデータ値である。図２７に図示したように、各々のバーは色分けされており形状状態の持続時間を表す。例えばバー９０３は１時間２６分の間水和ステーションに上部チャンバーがなかった状態を表わしている。
【０１１９】
図２８はパレット状態（状態符号）のパレート・チャートである。このチャートはパレットが特定のバーコードスキャナ例えば型抜きアセンブリー出口にあるバーコードスキャナ８６を通過した際のパレットの異常の理由を示している。例えば、チャート上のバー９０５ａは過剰なモノマーリング（ＨＥＭＡリング）が型抜き後に存在したことで２４９個のパレットが破棄された、または型抜き後に裏面湾曲レンズ金型部分がまだ存在していた（状態符号−１８）ことを表わしている。同様に、バー９０５ｂは紫外線重合トンネル内での障害、即ち紫外線ランプ又はヒーターの機能障害により５０個のパレットが破棄された（状態符号−４）ことを示す。ｙ軸に図示した頻度は前述のパレート・チャートの各々について降順で並べ替えられている点に注意されたい。パレット状態のパレートチャートは製造ライン内の全てのバーコードスキャナについて生成できることを特筆すべきだろう。
【０１２０】
図２９は警報制御サーバ及び統計カウントサーバから入手できるリアルタイムデータからパレート・チャートを生成するための処理の流れ９０１を示す。段階９０４で図示した第１の段階は、生成して表示するように要求されたパレート・チャートの種類の決定である。要求が警報状態のパレート・チャートの生成であれば（図２６、図２７）、段階９０７で時間（持続時間）によるパレート・チャートが要求されているかを調べる。時間毎のパレート・チャート要求であれば、段階９０９で警報制御サーバに持続時間の順序で上位８個の最も頻繁に発生した警報についてのデータを提供するように要求する。段階９０７で警報カウントによるパレート・チャートが要求されている場合には、段階９１１で警報制御サーバに発生頻度で最も頻繁な警報の上位８種類のデータを提供するように要求する。段階９０４で要求されたパレート・チャートの種類が警報についてでなければ、要求は特定のバーコードスキャナ又は全てのバーコードスキャナについてのパレット状態符号、即ちパレットが排除された最も多い理由（図２８）の要求である。このような要求が成された場合には、図２９の段階９０６で統計カウントサーバに要求されたバーコードスキャナ又は全てのバーコードスキャナで最も頻繁なパレット状態の８種類の条件に付いてのデータを提供するように要求する。図２８のチャートはバーコードスキャナ８６（図２３）について要求された最も頻繁な符号を示す。
【０１２１】
段階９１３に図示したようにかなりの時間がかかる全てのデータの収集の後、パレート・チャートセットアップ命令をグラフサーバに送って段階９１６に図示したようにパレート表示を設定させる。次に、段階９１９でパレート・グラフデータをグラフサーバへ送信し、サーバでグラフを生成して表示のためオペレータステーションへ送信する。オペレータが何らかの動作を取るよう要求するまで、例えばリアルタイムで現在のパレート表示を更新する、または別の種類のパレート・チャートを表示するように要求するなどが無い限り、グラフはオンラインのままである。つまり、段階９２２で、システムはオペレータからの命令入力を待機しており、段階９２４でオペレータが別の種類のチャートを生成するように要求したかを調べる。別の種類のパレート・チャートを生成するように要求した場合には、図２９の段階９０４にシステムが復帰し、どの種類のパレート・チャートを生成するように要求されているかを調べる。別の種類のグラフ又は表示が要求されている場合には、段階９２７で現在のパレート・チャートを閉じ、グラフ表示を終了する。
【０１２２】
本発明はこれの好適実施例を参照して図示し説明してきたが、態様及び詳細における前述の及びその他の変化は本発明の趣旨と範囲を逸脱することなく成し得るものであり本発明は請求の範囲によってのみ制限されるものであることは当業者には理解されよう。
【０１２３】
本発明の具体的な実施態様は、次の通りである。
Ｉ）コンタクトレンズを製造するための複数の処理ステーションを有する自動製造ラインにおける処理パラメータを最適化するための品質管理システムであって、
（ａ）前記処理ステーションにおいてコンタクトレンズの自動製造に使用する製造パラメータを制御する複数の処理制御装置を各々が調整するように成した１つ又はそれ以上の処理ステーションを制御するための複数の処理制御装置と、
（ｂ）製造した各々のコンタクトレンズを自動的に評価して各々のコンタクトレンズについての検査データを生成するための自動レンズ検査手段と、
（ｃ）前記処理制御装置の各々を頻回にポーリングして各々の周期における処理制御データを取り出すためのポーリング手段と、
（ｄ）前記検査データを前記処理制御データおよび前記コンタクトレンズデータに相関させてコンタクトレンズの製造において使用する処理パラメータを最適化するための手段と、
（ｅ）前記相関手段から受信した前記処理制御データと、前記コンタクトレンズデータと、前記検査データとを保存するためのリレーショナルデータベースと、
を含むことを特徴とするシステム。
ＩＩ）コンタクトレンズを製造するための複数の処理ステーションを有する自動製造ラインにおける処理パラメータを最適化するための品質管理システムであって、
（ａ）１台又はそれ以上の処理ステーションを制御するため前記処理ステーションにおいてコンタクトレンズの自動製造に用いられる製造パラメータを制御するように成した複数の処理制御装置を各々が調節する複数の処理制御装置と、
（ｂ）製造した各々のコンタクトレンズを評価して各々の欠陥コンタクトレンズについての例外データを生成するための自動レンズ検査手段と、
（ｃ）前記処理制御装置の各々を頻回にポーリングして各々の周期における処理制御データを取り込むためのポーリング手段と、
（ｄ）前記例外データを前記処理制御データ及び前記コンタクトレンズデータと相関させて欠陥コンタクトレンズの製造につながる処理パラメータの追跡と分離を行えるようにするための手段と、
（ｅ）前記相関手段から受信した前記処理制御データと、前記コンタクトレンズデータと、前記検査データとを保存するためのリレーショナルデータベースと、
を含むことを特徴とするシステム。
１）前記相関させるための手段は最適化のために所定の計算した入力パラメータを前記処理制御データから導いた測定リアルタイムデータと比較することを特徴とする実施態様Ｉ又はＩＩに記載のコンタクトレンズを製造するための自動製造ラインにおける処理パラメータを最適化するための品質管理システム。
２）前記計算し測定したデータが前記検査データと時間的に比較されることを特徴とする実施態様１に記載のコンタクトレンズを製造するための自動製造ラインにおける処理パラメータを最適化するための品質管理システム。
３）各々の処理制御装置が所定の処理パラメータのリストを保持し前記所定の処理パラメータの１つが所定の範囲にない場合には警報条件を報告することを特徴とする実施態様Ｉ又はＩＩに記載のコンタクトレンズを製造するための自動製造ラインにおける処理パラメータを最適化するための品質管理システム。
４）前記相関させるための手段は処理制御装置毎の警報条件のパレート・チャートを生成することを特徴とする実施態様３に記載のコンタクトレンズを製造するための自動製造ラインにおける処理パラメータを最適化するための品質管理システム。
５）前記相関させるための手段は制御されていない傾向値を前記処理制御データから分離することを特徴とする実施態様Ｉ又はＩＩに記載のコンタクトレンズを製造するための自動製造ラインにおける処理パラメータを最適化するための品質管理システム。
６）前記相関させるための手段は前記処理制御データから展開した多数の時間プロットから履歴傾向を相関させることを特徴とする実施態様Ｉ又はＩＩに記載のコンタクトレンズを製造するための自動製造ラインにおける処理パラメータを最適化するための品質管理システム。
７）前記処理制御データは前記相関させるための手段によりグループにして前記リレーショナルデータベースへ送信され、前記データは前記データが前記リレーショナルデータベースへ送信された時刻でタイムスタンプが打たれることを特徴とする実施態様Ｉ又はＩＩに記載のコンタクトレンズを製造するための自動製造ラインにおける処理パラメータを最適化するための品質管理システム。
ＩＩＩ）複数の処理ステーションを有しパレット化したバッチによりコンタクトレンズを製造するための自動製造ラインのマルチレベル品質管理システムであって、
（ａ）前記処理ステーションでコンタクトレンズの自動製造に使用される製造パラメータを制御する複数の処理制御装置を各々が調節するように成してあり、レンズのパレットが所定範囲を越えた製造パラメータに遭遇したときに各々が排除信号を生成するように成した第１の制御レベルで１台又はそれ以上の処理ステーションを制御するための複数の処理制御装置と、
（ｂ）前記排除信号に応答して前記信号が生成された後で前記製造ラインから前記パレットを取り除くための複数の手段と、
（ｃ）製造した各々のコンタクトレンズを自動的に評価して前記所定の範囲を超過していない製造パラメータで製造された各々の欠陥コンタクトレンズについての例外データを生成するための自動レンズ検査手段と、
（ｄ）前記処理制御装置の各々と前記レンズ検査手段を頻回にポーリングして各々の期間での処理制御データを取り込むためのポーリング手段と、
（ｅ）前記処理制御データを前記期間中に前記処理ステーションに駐在するコンタクトレンズのパレットを表わすコンタクトレンズデータと相関させ、さらに例外データを前記処理制御データ及び前記コンタクトレンズデータと相関させて前記コンタクトレンズ製造に使用する処理パラメータを最適化するための手段と、
（ｆ）前記ポーリング手段から受信した前記処理制御データと前記コンタクトレンズデータと前記例外データを保存するためのリレーショナルデータベースと、
を含むことを特徴とするシステム。
ＩＶ）複数の処理ステーションを有しパレット化したバッチによりコンタクトレンズを製造するための自動製造ラインのマルチレベル品質管理システムであって、
（ａ）前記処理ステーションにおいてコンタクトレンズの自動製造に使用する製造パラメータを制御する複数の処理装置を各々が調節するように成してあり、レンズのパレットが所定の範囲を超過する製造パラメータに遭遇したときに排除信号を生成するように成した第１の制御レベルで１台又はそれ以上の処理ステーションを制御するための複数の処理制御装置と、
（ｂ）前記排除信号に応答して前記信号が生成された後で前記製造ラインから前記パレットを取り除くための複数の手段と、
（ｃ）製造した各々のコンタクトレンズを自動的に評価して前記所定の範囲を超過していない製造パラメータで製造された各々の欠陥コンタクトレンズについての例外データを生成するための自動レンズ検査手段と、
（ｄ）前記処理制御装置の各々と前記レンズ検査手段を頻回にポーリングして各々の期間での処理制御データを取り込み、前記データを前記期間中に前記処理ステーションに駐在しているコンタクトレンズのパレットを表わすコンタクトレンズのパレットと相関させるためのポーリング手段と、
（ｅ）前記ポーリング手段から受信した前記処理制御データと前記コンタクトレンズデータと前記例外データを保存するためのリレーショナルデータベースと、
（ｆ）前記例外データを前記処理制御データ及び前記コンタクトレンズデータと相関させて各々の運転サイクルの間に１つ又はそれ以上の欠陥コンタクトレンズの製造の原因を成す製造ライン部材を分離するための第２のレベルのデータ処理手段と、
を含むことを特徴とするシステム。
８）前記コンタクトレンズは前記パレットに形成したくぼみに担持された金型で一体成型され前記第２のレベルのデータ処理手段は欠陥コンタクトレンズの製造に関与した１つ又はそれ以上のくぼみを有する特定のパレットを分離することを特徴とする実施態様ＩＩＩ又はＩＶに記載のマルチレベル品質管理システム。
９）前記レンズ検査手段は検査した各々のレンズについてのデータを生成し前記相関はレンズ検査の積算記録と１つ又はそれ以上の処理制御パラメータとを含むことを特徴とする実施態様ＩＩＩ又はＩＶに記載のマルチレベル品質管理システム。
Ｖ）複数の処理ステーションを有しパレット化したバッチにより一体成型コンタクトレンズを製造するための自動製造ラインのマルチレベル品質管理システムであって、前記コンタクトレンズの一体成型に用いられる金型部材の一体成型のための少なくとも１つの射出成型ステーションを含み、
（ａ）前記ステーションにおいてコンタクトレンズの自動製造に使用される製造パラメータを制御する前記処理ステーション及び前記射出成型ステーションで使用される複数の処理装置を調節するように成してあり金型部材のパレット又は一体成型したレンズのパレットが所定の範囲を超過する製造パラメータに総合したときに排除信号を生成するように成した第１の制御レベルで１台又はそれ以上の処理ステーションと前記射出成型ステーションを制御するための複数の処理制御装置と、
（ｂ）前記排除信号に応答して前記信号が生成された後で前記製造ラインから前記パレットを取り除くための複数の手段と、
（ｃ）製造した各々のコンタクトレンズを自動的に評価して前記所定の値を超過していない製造パラメータで製造された各々の欠陥コンタクトレンズについての例外データを生成するための自動レンズ検査手段と、
（ｄ）前記処理制御装置の各々と前記レンズ検査手段を頻回にポーリングして各々の周期で処理制御データを取り込み、前記データを前記期間中に前記処理ステーションに駐在しているコンタクトレンズのパレットを表わすコンタクトレンズデータと相関させるためのポーリング手段と、
（ｅ）前記ポーリング手段から受信した前記処理制御データと前記コンタクトレンズデータと前記例外データとを保存するためのリレーショナルデータベースと、
（ｆ）前記例外データを前記射出成型ステーションについての前記処理制御データ及び前記処理ステーションからの処理制御データと相関させてコンタクトレンズの製造に使用される処理パラメータを最適化するための手段と、
を含むことを特徴とするシステム。
１０）前記射出成型ステーションからの前記処理制御データは前記パレットの設定に関係するデータと相関されて前記射出成型ステーションにおける個々の一体成型金型の空洞に前記例外データの相関を行うことが出来るように成してあることを特徴とする実施態様Ｖに記載のマルチレベル品質管理システム。
１１）前記処理制御ステーションの１つがコンタクトレンズを形成するための前記金型に分注するモノマーの量を調節し、前記射出成型ステーションからの前記処理制御データを前記分注ステーションの前記処理装置で前記レンズを形成するための前記金型に前記モノマーを分注するために使用するように成してあることを特徴とする実施態様Ｖに記載のマルチレベル品質管理システム。
１２）前記コンタクトレンズは前記パレット上の所定の行列に形成された空洞に担持された金型内で一体成型され前記金型は空洞の行列として前記射出成型ステーションで形成され、前記第２のレベルのデータ処理手段は欠陥コンタクトレンズの製造に関係のある特定の射出成型金型の空洞を分離することを特徴とする実施態様Ｖに記載のマルチレベル品質管理システム。
１３）各々のレンズパレットについての処理制御パラメータが前記リレーショナルデータベース内に蓄積されることを特徴とする実施態様Ｖに記載のコンタクトレンズを製造するための自動製造ラインにおける処理パラメータを最適化するための品質管理システム。
１４）前記自動レンズ検査手段は各々のレンズについての検査結果を生成し前記検査結果は前記リレーショナルデータベース内の前記コンタクトレンズデータ及び前記処理制御データと相関されることを特徴とする実施態様ＩＩ又はＩＩＩ又はＩＶ又はＶに記載のコンタクトレンズを製造するための自動製造ラインにおける処理パラメータを最適化するための品質管理システム。
ＶＩ）コンタクトレンズを製造するための自動製造ラインにおいて前記製造ラインが複数の相互に連関させた製造ステーションを有する場合に処理パラメータの制御を最適化する方法であって、
（ａ）複数の処理制御装置を調節する１台又はそれ以上の第１のレベルの制御装置を用いて１台又はそれ以上の製造ステーションを自動的に制御することによりコンタクトレンズの前記自動製造において使用される複数の製造パラメータを制御することと、
（ｂ）製造した各々のコンタクトレンズを自動的に評価することと製造した各々のコンタクトレンズについての視覚検査データを生成することと、
（ｃ）前記第１のレベルの制御装置の各々を頻回にポーリングして各々の期間での処理制御データを取り込み、前記処理制御データを前記期間中に前記製造ステーション内に駐在しているコンタクトレンズを表す割り当てられたコンタクトレンズデータと相関させることと、
（ｄ）リレーショナルデータベース内に前記ポーリング手段から受信した前記処理制御データと前記コンタクトレンズデータと前記視覚検査データとを保存することと、
（ｅ）前記視覚検査データを前記処理制御データ及び前記コンタクトレンズデータと相関させて前記コンタクトレンズの製造に使用される処理パラメータを最適化すること、
を含むことを特徴とする方法。
１５）前記方法は更に、前記視覚検査に不合格となった各々のコンタクトレンズについての例外データを生成する段階と、前記例外データを前記処理制御データ及び前記コンタクトレンズデータと相関させて欠陥コンタクトレンズの製造の原因となった処理パラメータの追跡と分離を行えるように成した段階とを含むことを特徴とする実施態様ＶＩに記載のコンタクトレンズ製造のための自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する方法。
１６）前記方法は所定の計算した入力パラメータを保存する段階と前記計算した入力パラメータを前記処理制御データから導出した測定のリアルタイムデータと比較する段階とを更に含むことを特徴とする実施態様ＶＩに記載のコンタクトレンズ製造のための自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する方法。
１７）前記方法は前記計算したまた前記測定したデータを前記例外データと時間的に比較する段階を更に含むことを特徴とする実施態様ＶＩに記載のコンタクトレンズ製造のための自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する方法。
１８）前記方法は前記第１のレベルの制御装置の各々において所定の処理パラメータのリストを維持する段階と前記所定の処理パラメータの１つが前記所定のパラメータを超過した場合に警報状態を報告する段階とを更に含むことを特徴とする実施態様ＶＩに記載のコンタクトレンズ製造のための自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する方法。
１９）前記方法は処理制御装置毎に警報状態のパレート・チャートを生成する段階を更に含むことを特徴とする実施態様ＶＩに記載のコンタクトレンズ製造のための自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する方法。
２０）前記方法は前記処理制御データから制御されていない傾向値を分離する段階を更に含むことを特徴とする実施態様ＶＩに記載のコンタクトレンズ製造のための自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する方法。
２１）前記方法は前記処理制御データから展開した多数の時間プロットから履歴傾向を相関させる段階を更に含むことを特徴とする実施態様ＶＩに記載のコンタクトレンズ製造のための自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する方法。
２２）前記方法は前記処理制御データをデータグループとして前記リレーショナルデータベースへ送信する段階と前記リレーショナルデータベース内に前記データが格納される時点で前記データグループにタイムスタンプを付ける段階とを更に含むことを特徴とする実施態様ＶＩに記載のコンタクトレンズ製造のための自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する方法。
２３）前記コンタクトレンズは各々の金型のくぼみを有するパレットに担持された金型内で一体成型され、前記相関させる段階は欠陥コンタクトレンズの製造に関係した１つ又はそれ以上のくぼみを有する特定のパレットを分離する段階を含むことを特徴とする実施態様ＶＩに記載のコンタクトレンズ製造のための自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する方法。
２４）前記金型は前記製造ラインに含まれる射出成型装置において金型空洞のアレイに形成されることと、前記相関させる段階が前記コンタクトレンズデータを前記アレイに関するデータと相関させて個々の金型空洞への前記検査データの相関を行えるように成してあることを特徴とする実施態様２３に記載のコンタクトレンズ製造のための自動製造ラインにおける処理パラメータの制御を最適化する方法。
【図面の簡単な説明】
【０１２４】
【図１】本発明の管理制御システムの構成の概略図。
【図２】ローカルＰＬＣで生成され本発明のデータ取得ノードで取得される事件およびデータブロック各々についてのメモリー配置を示す図。
【図３】ローカルＰＬＣからの事件データのブロックを取得するためのデータ取得工程と、ローカルＰＬＣからの工程制御データのブロックを取得するためのデータ取得工程とを示す図。
【図４】視覚検査装置からのレンズ検査データを取得するためのデータ取得工程と、視覚検査装置から取得すべき特定のレンズ検査データ項目を示す図。
【図５】前面湾曲一体成型装置、裏面湾曲一体成型装置または１次パッケージ一体成型装置のいずれかからレンズ一体成型装置処理データを取得するためのデータ取得シーケンスと、前面湾曲一体成型装置、裏面湾曲一体成型装置または１次パッケージ一体成型装置のいずれかから取得すべき特定の一体成型処理データ項目を示す図。
【図６】制御サーバと監視制御装置のその他のモジュールの間の機能的連関を示す図。
【図７】図２３に図示したＰＬＣ１１に関連するＰＬＣメモリー内に保存される１つの事件ブロックと１つのデータブロックを示す図。
【図８】発生源データ点と、サンプルと、グループの間の相互関係を示す略図。
【図９】データベースのレコードを生成するための制御サーバの機能を示す論理流れ図。
【図１０】特定の工程のためのデータ点の履歴を保存するための制御サーバのメモリー内の一連のメモリーソースキューと、予め指定しておいたオフセットでメモリーソースキューから取り出したデータ点を含む典型的なサンプルと、関連インデックスとのグループを形成するために回収されるサンプルの概念とを示す図。
【図１１】長期間保存するためリレーショナルデータベース内に送信される特定のパレットＩＤに関連した工程レコードのフォーマットを示す図。
【図１２】射出成型から水和搬送までキャリアパレットが進む方向と、水和から自動レンズ検査までキャリアパレットが進む方向とを示す図。
【図１３】射出成型から水和搬送までキャリアパレットが進む方向と、水和から自動レンズ検査までキャリアパレットが進む方向とを示す図。
【図１４】水和ステーションの入り口でレンズを搬送するパレットのパレットＩＤ（インデックス）情報を含むバーコードスキャナ用のソースメモリーキューを示す図。
【図１５】検査結果（ｙ軸）と処理パラメータ（ｘ軸）の分散図。
【図１６】製造ラインを通過するパレットの複数の経路で特定パレットについての特定の空洞位置を検出するレンズの量に関するヒストグラムを示す図。
【図１７】リレーショナルデータベース内で利用可能なデータレコードから分散図を生成するための処理の流れを示す図。
【図１８】リレーショナルデータベース内で利用可能なデータレコードから分散図を生成するための処理の流れを示す図。
【図１９】リレーショナルデータベース内で利用可能なデータレコードから分散図を生成するための処理の流れを示す図。
【図２０】リレーショナルデータベース内で利用できるグループデータレコードからヒストグラムのプロットを生成するための処理の流れを示す図。
【図２１】特定の処理パラメータがどのように実行されるか（例えばモノマー分注レベル）についての支持を提供する処理幅ヒストグラムを示す図。
【図２２】リレーショナルデータベース内で利用可能なグループデータレコードから処理幅ヒストグラムプロットを生成するための処理の流れを示す図。
【図２３】コンタクトレンズ製造ラインのパレットキャリアと追跡システムの概念的略図。
【図２４】一定の時間尺度に対して処理パラメータプロットを生成してシステム内の処理パラメータの傾向を示すシーケンス図。
【図２５】一定の時間尺度に対して処理パラメータプロットを生成してシステム内の処理パラメータの傾向を示すシーケンス図。
【図２６】製造ラインの警報カウントのパレート・チャート。
【図２７】持続時間による警報カウントのパレート・チャート。
【図２８】特定のバーコードスキャナについてのパレット状態符号のパレート・チャート。
【図２９】図２６、２７、２８に図示したパレート・チャートを生成するための処理の流れ図。
【符号の説明】
【０１２５】
１０    管理制御システム
１１〜１７    ＰＬＣ
１８    金型一体成型装置
２０    デバイス制御装置
２１ａ  通信線
２１ｂ  ＴＩＷＡＹアダプタカード
３０    イベントブロック
３２    データ有効フラグ
３５    シーケンシャルカウンタ
４０    処理データブロック
４４    交差押し出し機構
４５    カウンタ
５８    ラムプッシャー装置
５９    充填一体成型ステーション
７１    金型
７３    空洞
８８    バーコードスキャナ
９９    ＡＲＣＮＥＴネットワーク
１００  データ取得ノード
１０１，２０１，３０１，４０１，５０１  ＡＲＣＮＥＴインタフェースカード２００  リレーショナルデータベースノード
２０２  リレーショナルデータベースソフトウェア
３００  分析ルーティングノード
３３２  プッシャー装置
３３５  水和チャンバー
３３７  キャリア
４００  オペレータステーション
４０２  警報サーバ
４０３  コンソールサーバ
４０４  表示サーバ
４０５  グラフサーバ
４０６  統計サーバ
５００  オフライン分析ノード
５０２  ユーザー・インタフェース・マネージャ
５０３  イベントサーバ
５０５  ポーラー
５０６  統計カウントサーバ
５０８  タイプサーバ
５１０  Ｃ言語データサーバ
５１２  ｔｉ＿ａｄｍサーバ
５１４  一体成型サーバ
５２５  視覚検査サーバ
６００  制御サーバ
６０１  ＳＴＡＲＴ命令
６１１  ＳＯＵＲＣＥ命令
６１６  テンプレート
６２０〜６５０  キュー
６６０  バーコードメモリーキュー
【図１】
2007011402.tif 000003
【図２】
2007011402.tif 000004
【図３】
2007011402.tif 000005
【図４】
2007011402.tif 000006
【図５】
2007011402.tif 000007
【図６】
2007011402.tif 000008
【図７】
2007011402.tif 000009
【図８】
2007011402.tif 000010
【図９】
2007011402.tif 000011
【図１０】
2007011402.tif 000012
【図１１】
2007011402.tif 000013
【図１２】
2007011402.tif 000014
【図１３】
2007011402.tif 000015
【図１４】
2007011402.tif 000016
【図１５】
2007011402.tif 000017
【図１６】
2007011402.tif 000018
【図１７】
2007011402.tif 000019
【図１８】
2007011402.tif 000020
【図１９】
2007011402.tif 000021
【図２０】
2007011402.tif 000022
【図２１】
2007011402.tif 000023
【図２２】
2007011402.tif 000024
【図２３】
2007011402.tif 000025
【図２４】
2007011402.tif 000026
【図２５】
2007011402.tif 000027
【図２６】
2007011402.tif 000028
【図２７】
2007011402.tif 000029
【図２８】
2007011402.tif 000030
【図２９】
2007011402.tif 000031