(57)【要約】【課題】放射線検出手段の特性に影響されずに、放射線検出手段から取り出された放射線検出信号から放射線検出手段に起因する放射線検出信号の時間遅れをより正確に除去することができる放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法を提供することを目的とする。【解決手段】ラグ信号値に基づいて決定された初期値（ステップＴ２）に基づく再帰的演算処理によって、時間遅れ分を除去して、補正後Ｘ線検出信号を求めるので、再帰的演算処理の基点時に残留しているラグ信号値を考慮した状態で時間遅れ分を除去することができる。ラグ信号値はＦＰＤ（フラットパネル型Ｘ線検出器）の特性に依存するので、ラグ信号値を考慮した状態で時間遅れ分を除去することで、ＦＰＤの特性に影響されずに、Ｘ線検出信号から時間遅れ分をより正確に除去することができる。【選択図】図５
2007215585.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る放射線撮像装置であって、被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段と、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段と、前記放射線検出手段から放射線検出信号を所定のサンプリング時間間隔で取り出す信号サンプリング手段とを備え、被検体への放射線照射に伴って放射線検出手段からサンプリング時間間隔で出力される放射線検出信号に基づいて放射線画像が得られるように前記装置は構成されており、前記装置は、さらに、サンプリング時間間隔で取り出される各放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を単数または減衰時定数が異なる複数個の指数関数で構成されるインパルス応答によるものとして再帰的演算処理により各放射線検出信号から除去する時間遅れ除去手段と、前記再帰的演算処理の基点時に残留しているラグ信号値に基づいて再起的演算処理のための初期値を決定する初期値決定手段とを備え、前記初期値決定手段で決定された初期値に基づく再帰的演算処理によって、前記時間遅れ除去手段は時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求めることを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項２】
請求項１に記載の放射線撮像装置において、時間遅れ除去手段は放射線検出信号から時間遅れ分を除去する再帰的演算処理を式Ａ〜Ｃ、
Ｘk ＝Ｙk −Σn=1 N ［Ｓnk］…Ａ
Ｔn＝−Δｔ／τn  …Ｂ
Ｓnk＝exp(Ｔn) ・｛αn・〔１−exp(Ｔn) 〕・exp(Ｔn)・Ｓn(k-1) ｝…Ｃ
但し，  Δｔ：サンプリング時間間隔
ｋ：サンプリングした時系列内のｋ番目の時点を示す添字
Ｙk ：ｋ番目のサンプリング時点で取り出された放射線検出信号
Ｘk ：Ｙk から時間遅れ分を除去した補正後放射線検出信号
Ｘk-1 ：一時点前のＸk
Ｓn(k-1)：一時点前のＳnk
exp   ：指数関数
Ｎ：インパルス応答を構成する時定数が異なる指数関数の個数
ｎ：インパルス応答を構成する指数関数の中の一つを示す添字
αn：指数関数ｎの強度
τn：指数関数ｎの減衰時定数
により行うとともに、初期値決定手段は初期値を式Ｄ、
Ｘ0 ＝０，Ｓn0＝γn・Ｙ0…Ｄ
但し，  γn：ある減衰時定数τnの成分ｎの残留割合
Ｙ0 ：再帰的演算処理の基点時である放射線非照射時に残留しているラグ信号値
により行い、前記式Ｄにより決定された初期値での条件で、前記式Ａ〜Ｃにより求められた前記インパルス応答に基づいて時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求めることを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項３】
請求項２に記載の放射線撮像装置において、各々の残留割合γnを式Ｅ、
Σn=1 N ［γn］≦１，０≦γn…Ｅ
但し，Σn=1 N ［γn］：成分ｎの残留割合γnの総和
の条件を満たすように設定することを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項４】
請求項３に記載の放射線撮像装置において、式Ｅは
Σn=1 N ［γn］＝１…Ｅ´
の条件を満たすとともに、各々の残留割合γnを式Ｆ、
γ1＝γ2＝…＝γn＝…＝γN-1＝γN…Ｆ
の条件を満たすように設定することで、式Ｄは
Ｓn0＝Ｙ0／Ｎ…Ｄ´
で表されることを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項５】
請求項３に記載の放射線撮像装置において、式Ｅは
Σn=1 N ［γn］＜１…Ｅ´´
の条件を満たすとともに、ある減衰時定数τmの成分ｍでの残留割合γM、それ以外の残留割合γNを式Ｇ、
０＜γM＜１，γN＝０…Ｇ
の条件を満たすように設定することを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項６】
被検体を照射して検出された放射線検出信号を所定のサンプリング時間間隔で取り出し、サンプリング時間間隔で出力される放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る信号処理を行う放射線検出信号処理方法であって、サンプリング時間間隔で取り出される各放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を単数または減衰時定数が異なる複数個の指数関数で構成されるインパルス応答によるものとして再帰的演算処理により各放射線検出信号から除去し、その再帰的演算処理を行う際に再帰的演算処理の基点時に残留しているラグ信号値に基づいて再起的演算処理のための初期値を決定し、その初期値に基づく再帰的演算処理によって、時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求めることを特徴とする放射線検出信号処理方法。
【請求項７】
請求項６に記載の放射線検出信号処理方法において、放射線検出信号から時間遅れ分を除去する再帰的演算処理を式Ａ〜Ｃ、
Ｘk ＝Ｙk −Σn=1 N ［Ｓnk］…Ａ
Ｔn＝−Δｔ／τn  …Ｂ
Ｓnk＝exp(Ｔn) ・｛αn・〔１−exp(Ｔn) 〕・exp(Ｔn)・Ｓn(k-1) ｝…Ｃ
但し，  Δｔ：サンプリング時間間隔
ｋ：サンプリングした時系列内のｋ番目の時点を示す添字
Ｙk ：ｋ番目のサンプリング時点で取り出された放射線検出信号
Ｘk ：Ｙk から時間遅れ分を除去した補正後放射線検出信号
Ｘk-1 ：一時点前のＸk
Ｓn(k-1)：一時点前のＳnk
exp   ：指数関数
Ｎ：インパルス応答を構成する時定数が異なる指数関数の個数
ｎ：インパルス応答を構成する指数関数の中の一つを示す添字
αn：指数関数ｎの強度
τn：指数関数ｎの減衰時定数
により行うとともに、初期値を式Ｄ、
Ｘ0 ＝０，Ｓn0＝γn・Ｙ0…Ｄ
但し，  γn：ある減衰時定数τnの成分ｎの残留割合
Ｙ0 ：再帰的演算処理の基点時である放射線非照射時に残留しているラグ信号値
により行い、前記式Ｄにより決定された初期値での条件で、前記式Ａ〜Ｃにより求められた前記インパルス応答に基づいて時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求めることを特徴とする放射線検出信号処理方法。
【請求項８】
請求項７に記載の放射線検出信号処理方法において、各々の残留割合γnを式Ｅ、
Σn=1 N ［γn］≦１，０≦γn…Ｅ
但し，Σn=1 N ［γn］：成分ｎの残留割合γnの総和
の条件を満たすように設定することを特徴とする放射線検出信号処理方法。
【請求項９】
請求項８に記載の放射線検出信号処理方法において、式Ｅは
Σn=1 N ［γn］＝１…Ｅ´
の条件を満たすとともに、各々の残留割合γnを式Ｆ、
γ1＝γ2＝…＝γn＝…＝γN-1＝γN…Ｆ
の条件を満たすように設定することで、式Ｄは
Ｓn0＝Ｙ0／Ｎ…Ｄ´
で表されることを特徴とする放射線検出信号処理方法。
【請求項１０】
請求項８に記載の放射線検出信号処理方法において、式Ｅは
Σn=1 N ［γn］＜１…Ｅ´´
の条件を満たすとともに、ある減衰時定数τmの成分ｍでの残留割合γM、それ以外の残留割合γNを式Ｇ、
０＜γM＜１，γN＝０…Ｇ
の条件を満たすように設定することを特徴とする放射線検出信号処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、被検体への放射線照射に伴って放射線検出手段から所定のサンプリング時間間隔で出力される放射線検出信号に基づいて放射線画像が得られるように構成されている医用もしくは工業用の放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法に係り、特に、放射線検出手段から取り出された放射線検出信号から放射線検出手段に起因する時間遅れ分を除去するための技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
放射線撮像装置の代表的な装置のひとつである医用Ｘ線診断装置において、最近、Ｘ線管によるＸ線照射に伴って生じる被検体のＸ線透過像を検出するＸ線検出器として、半導体等を利用した極めて多数個のＸ線検出素子をＸ線検出面に縦横に配列したフラットパネル型Ｘ線検出器（以下、適宜「ＦＰＤ」という）が用いられている。
【０００３】
すなわち、Ｘ線診断装置では、Ｘ線管による被検体への放射線照射に伴ってＦＰＤからサンプリング時間間隔で取り出されるＸ線画像１枚分のＸ線検出信号に基づいて、サンプリング時間間隔毎の被検体のＸ線透過像に対応するＸ線画像が得られる構成がとられている。ＦＰＤを用いた場合、従来から用いられているイメージインテンシファイアなどに比べて、軽量で、かつ、複雑な検出歪みが発生しないので、装置構造面や画像処理面で有利となる。
【０００４】
しかしながら、ＦＰＤを用いた場合、ＦＰＤに起因する時間遅れによる悪影響がＸ線画像に現れるという問題がある。具体的には、ＦＰＤからＸ線検出信号を取り出すサンプリング時間間隔が短い場合、取り出し切れない信号の残りが時間遅れ分として次のＸ線検出信号に加わる。そのため、ＦＰＤから１秒間に３０回のサンプリング時間間隔で画像１枚分のＸ線検出信号を取り出してＸ線画像を作成して動画表示する場合、時間遅れ分が前の画面に残像として現れ、画像のダブリを生じる、結果、動画像がボヤける等の不都合が生じる。
【０００５】
このＦＰＤの時間遅れ問題に対し、米国特許明細書第５２４９１２３号では、コンピュータ断層画像（ＣＴ画像）の取得の場合において、ＦＰＤからサンプリング時間間隔Δｔで取り出される放射線検出信号から時間遅れ分を演算処理で除去する技術が提案されている。
【０００６】
すなわち、前記米国特許明細書では、サンプリング時間間隔で取り出される各放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を時間遅れ分が幾つかの指数関数で構成されるインパルス応答によるものとして、放射線検出信号ｙk から時間遅れ分を除去した遅れ除去放射線検出信号ｘk とする演算処理を次式によって行っている。
【０００７】
ｘk =[ｙk-Σn=1 N[αn ・[1-exp(Ｔn )]・exp(Ｔn )・Ｓnk ]]／Σn=1 Nβn 
ここで、Ｔn ＝−Δｔ／τn ，Ｓnk＝ｘk-1 ＋exp(Ｔn )・Ｓn(k-1)，
βn ＝αn ・[1−exp(Ｔn )]
但し，  Δｔ：サンプリング時間間隔
ｋ：サンプリングした時系列内のｋ番目の時点を示す添字
Ｎ：インパルス応答を構成する時定数が異なる指数関数の個数
ｎ：インパルス応答を構成する指数関数の中の一つを示す添字
αn ：指数関数ｎの強度
τn ：指数関数ｎの減衰時定数
しかしながら、発明者らが上記米国特許明細書が提案する演算処理技術を適用実施してみたところでは、時間遅れに起因するアーティファクトが回避されず、かつ、まともなＸ線画像も得られないという結果しか得られず、ＦＰＤの時間遅れは解消されないことが確認された（特許文献１）。
【０００８】
そこで、発明者は、特開２００４−２４２７４１号公報の手法を先に提案している。この手法によれば、このＦＰＤの時間遅れに対して、次の再帰式ａ〜ｃにより、ＦＰＤのインパルス応答に起因する時間遅れを除去している。
【０００９】
Ｘk ＝Ｙk −Σn=1 N ［αn ・〔１−exp(Ｔn ) 〕・exp(Ｔn )・Ｓnk］…ａ
Ｔn ＝−Δｔ／τn   …ｂ
Ｓnk＝Ｘk-1 ＋exp(Ｔn )・Ｓn(k-1)…ｃ
但し，  Δｔ：サンプリング時間間隔
ｋ：サンプリングした時系列内のｋ番目の時点を示す添字
Ｙk ：ｋ番目のサンプリング時点で取り出された放射線検出信号
Ｘk ：Ｙk から時間遅れ分を除去した遅れ除去放射線検出信号
Ｘk-1 ：一時点前のＸk
Ｓn(k-1)：一時点前のＳnk
exp   ：指数関数
Ｎ：インパルス応答を構成する時定数が異なる指数関数の個数
ｎ：インパルス応答を構成する指数関数の中の一つを示す添字
αn ：指数関数ｎの強度
τn ：指数関数ｎの減衰時定数
この再帰式的演算では、ＦＰＤのインパルス応答係数である、Ｎ，αn，τn を事前に求めておき、それを固定した状態で放射線検出信号Ｙk を式ａ〜ｃに適用し、その結果、時間遅れ分を除去したＸk を算出することになる（特許文献２）。
【００１０】
なお、再帰的演算処理のための初期値は以下のように決定される。すなわち、ｋ＝０とセットされて，式ａのＸ0 ＝０，式ｃのＳn0＝０がＸ線照射前の初期値として全てセットされる。指数関数の数が３個（Ｎ＝３）の場合は、Ｓ10，Ｓ20，Ｓ30が全て０にセットされることになる。
【００１１】
【特許文献１】米国特許第５２４９１２３号（明細書中の数式および図面）
【特許文献２】特開２００４−２４２７４１号公報（明細書中の数式および図面）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかしながら、このように初期値を決定する場合には、再帰的演算処理の基点時であるＸ線非照射時（ｋ＝０：先頭フレーム）に時間遅れ分による残留ラグ（ラグ信号値）がないとの仮定で行われている。以下に詳しく説明する。図６は、放射線入射状況を示す図であり、図７は、図６の入射状況に対応した時間遅れ状況を示す図であり、図８は、撮影のラグ（時間遅れ分）が透視に重なった時間遅れ状況を示す図である。図中の時間ｔ０〜ｔ１は撮影、時間ｔ２〜ｔ３は透視での入射である。
【００１３】
図６に示すように、時間ｔ２〜ｔ３の間にＸ線が入射されると、入射線量に応じた本来の信号に、図７に斜線で示す時間遅れ分が加わって、放射線検出信号Ｙk は図７中に太線で示すものとなる。上述した特許文献２の手法を用いて、時間遅れ分、すなわち図７の斜線部分を除去し、本来の信号部分を取り出すことができる。
【００１４】
通常、透視の開始時は、図７に示すように、以前からのラグが残っていることはあまりないので、上述した時間遅れ分を除去する補正（「ラグ補正」とも呼ばれている）を上述した特許文献２の手法で問題なく行うことができる。
【００１５】
しかし、このようなラグ特性はＦＰＤのセンサによって異なる。ラグが大きいセンサでは、以前の透視によって発生した長期ラグが残像として重なったり、あるいは撮影後に即座に透視を再開しようとした場合には、図８に示すように、時間ｔ０〜ｔ１での撮影のラグが透視に重なったりする（図８中のｋ＝０を参照）。このような場合には、従来の特許文献２の手法では対処することができず、ラグ特性の悪いセンサを不良品としなければならない。
【００１６】
この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、放射線検出手段の特性に影響されずに、放射線検出手段から取り出された放射線検出信号から放射線検出手段に起因する放射線検出信号の時間遅れをより正確に除去することができる放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項１に記載の発明は、放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る放射線撮像装置であって、被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段と、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段と、前記放射線検出手段から放射線検出信号を所定のサンプリング時間間隔で取り出す信号サンプリング手段とを備え、被検体への放射線照射に伴って放射線検出手段からサンプリング時間間隔で出力される放射線検出信号に基づいて放射線画像が得られるように前記装置は構成されており、前記装置は、さらに、サンプリング時間間隔で取り出される各放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を単数または減衰時定数が異なる複数個の指数関数で構成されるインパルス応答によるものとして再帰的演算処理により各放射線検出信号から除去する時間遅れ除去手段と、前記再帰的演算処理の基点時に残留しているラグ信号値に基づいて再起的演算処理のための初期値を決定する初期値決定手段とを備え、前記初期値決定手段で決定された初期値に基づく再帰的演算処理によって、前記時間遅れ除去手段は時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求めることを特徴とするものである。
【００１８】
［作用・効果］請求項１に記載の発明では、放射線照射手段による被検体への照射線に伴って放射線検出手段から所定のサンプリング時間間隔で出力される放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を、単数または減衰時定数が異なる複数個の指数関数で構成されるインパルス応答によるものとして、時間遅れ除去手段が除去する。各放射線検出信号から時間遅れ分を除去する際には、再帰的演算処理により行う。この再帰的演算処理の基点時に残留しているラグ信号値に基づいて、初期値決定手段は再起的演算処理のための初期値を決定する。そして、初期値決定手段で決定された初期値に基づく再帰的演算処理によって、時間遅れ除去手段は時間遅れ分を除去して、得られた補正後放射線検出信号から放射線画像が取得される。
【００１９】
このように、請求項1に記載の発明によれば、初期値決定手段で決定された初期値に基づく再帰的演算処理によって、時間遅れ除去手段は時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求めるので、再帰的演算処理の基点時に残留しているラグ信号値を考慮した状態で時間遅れ分を除去することができる。ラグ信号値は放射線検出手段の特性に依存するので、ラグ信号値を考慮した状態で時間遅れ分を除去することで、放射線検出手段の特性に影響されずに、放射線検出信号から時間遅れ分をより正確に除去することができる。また、ラグ特性が多少悪い放射線検出手段でも、実用上、問題のない時間遅れ分の量に抑え、放射線検出手段のラグ特性許容範囲を広げて、放射線検出手段の歩留まりを向上させることができるという効果をも奏する。
【００２０】
上述した発明において、再帰的演算処理および初期値の一例として以下のようなものがある。すなわち、時間遅れ除去手段は放射線検出信号から時間遅れ分を除去する再帰的演算処理を式Ａ〜Ｃ、
Ｘk ＝Ｙk −Σn=1 N ［Ｓnk］…Ａ
Ｔn＝−Δｔ／τn  …Ｂ
Ｓnk＝exp(Ｔn) ・｛αn・〔１−exp(Ｔn) 〕・exp(Ｔn)・Ｓn(k-1) ｝…Ｃ
但し，  Δｔ：サンプリング時間間隔
ｋ：サンプリングした時系列内のｋ番目の時点を示す添字
Ｙk ：ｋ番目のサンプリング時点で取り出された放射線検出信号
Ｘk ：Ｙk から時間遅れ分を除去した補正後放射線検出信号
Ｘk-1 ：一時点前のＸk
Ｓn(k-1)：一時点前のＳnk
exp   ：指数関数
Ｎ：インパルス応答を構成する時定数が異なる指数関数の個数
ｎ：インパルス応答を構成する指数関数の中の一つを示す添字
αn：指数関数ｎの強度
τn：指数関数ｎの減衰時定数
により行うとともに、初期値決定手段は初期値を式Ｄ、
Ｘ0 ＝０，Ｓn0＝γn・Ｙ0…Ｄ
但し，  γn：ある減衰時定数τnの成分ｎの残留割合
Ｙ0 ：再帰的演算処理の基点時である放射線非照射時に残留しているラグ信号値
により行い、前記式Ｄにより決定された初期値での条件で、前記式Ａ〜Ｃにより求められた前記インパルス応答に基づいて時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求める（請求項２に記載の発明）。
【００２１】
請求項２に記載の発明によれば、式Ａ〜Ｃという簡潔な漸化式によって時間遅れ分を除去した補正後放射線検出信号Ｘk が速やかに求められる。例えば、図６で上述したように、時間ｔ２〜ｔ３の間に一定量の放射線が放射線検出手段に入射した場合、放射線検出手段に時間遅れがなければ、放射線検出信号は、図６に示すように一定値となる。
【００２２】
しかし、実際は放射線検出手段に時間遅れがあって、図７に斜線で示す時間遅れ分が加わるので、放射線検出信号Ｙk は図７中に太線で示すものとなる。請求項２の発明においては、式Ａの右辺の第２項以降、すなわち式Ｃでの『Ｓnk＝exp(Ｔn) ・｛αn・〔１−exp(Ｔn) 〕・exp(Ｔn)・Ｓn(k-1) ｝が図７に斜線で示す各々の時間遅れ分に該当し、これが放射線検出信号Ｙk から差し引かれるので、補正後放射線検出信号Ｘk は図６に示す時間遅れ分のないものとなる。
【００２３】
また、図８に示すように、時間ｔ０〜ｔ１での撮影のラグが透視に重なると、再帰的演算処理の基点時である放射線非照射時（図８ではｋ＝０を参照）であっても、時間ｔ０〜ｔ１での撮影で発生した時間遅れ分による残留ラグ（ラグ信号値）が存在する。すなわち、放射線非照射時であっても放射線検出信号Ｙkの初期値Ｙ0は０でない。そこで、式Ｄのように、Ｘ0 ＝０，Ｓn0＝γn・Ｙ0（Ｙ0 ：再帰的演算処理の基点時である放射線非照射時に残留しているラグ信号値）によって再帰的演算処理のための初期値を設定して、式Ｄにより決定された初期値での条件で、式Ａ〜Ｃにより求められたインパルス応答に基づいて時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求める。
【００２４】
このような式Ｄによって、ラグ信号値Ｙ0を考慮した状態で時間遅れ分を除去することで、放射線検出手段の特性に影響されずに、放射線検出信号から時間遅れ分をより正確に除去することができる。
【００２５】
なお、各々の残留割合γnを設定する好ましい一例として以下のようなものがある。すなわち、各々の残留割合γnを式Ｅ、
Σn=1 N ［γn］≦１，０≦γn…Ｅ
但し，Σn=1 N ［γn］：成分ｎの残留割合γnの総和
の条件を満たすように設定するのが好ましい（請求項３に記載の発明）。成分ｎの残留割合γnの総和が１を超えると時間遅れ分が過剰に除去され、逆に成分ｎの残留割合γnの総和が負の値の場合には時間遅れ分が逆に加算される恐れがある。そこで、成分ｎの残留割合γnの総和を０以上１以下にして、残留割合γnを０以上にすることで、時間遅れ分を過不足なく除去することができる。
【００２６】
各々の残留割合γnを設定する好ましい一例において、より具体的な一例として以下のようなものがある。すなわち、式Ｅは
Σn=1 N ［γn］＝１…Ｅ´
の条件を満たすとともに、各々の残留割合γnを式Ｆ、
γ1＝γ2＝…＝γn＝…＝γN-1＝γN…Ｆ
の条件を満たすように設定することで、式Ｄは
Ｓn0＝Ｙ0／Ｎ…Ｄ´
で表される（請求項４に記載の発明）。式Ｅ´に式Ｆを代入することで、Ｎ・γN＝１となる。したがって、各々の残留割合γnはγN＝１／Ｎとなり、各々の残留割合γnは（インパルス応答を構成する時定数が異なる）指数関数の個数Ｎで均等に分配される。このことから、γN＝１／Ｎを式ＤのＳn0＝γn・Ｙ0に代入することで、式Ｄ´で表される。
【００２７】
各々の残留割合γnを設定する好ましい一例において、より具体的な他の一例として以下のようなものがある。すなわち、式Ｅは
Σn=1 N ［γn］＜１…Ｅ´´
の条件を満たすとともに、ある減衰時定数τmの成分ｍでの残留割合γM、それ以外の残留割合γNを式Ｇ、
０＜γM＜１，γN＝０…Ｇ
の条件を満たすように設定する（請求項５に記載の発明）。
【００２８】
また、請求項６に記載の発明は、被検体を照射して検出された放射線検出信号を所定のサンプリング時間間隔で取り出し、サンプリング時間間隔で出力される放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る信号処理を行う放射線検出信号処理方法であって、サンプリング時間間隔で取り出される各放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を単数または減衰時定数が異なる複数個の指数関数で構成されるインパルス応答によるものとして再帰的演算処理により各放射線検出信号から除去し、その再帰的演算処理を行う際に再帰的演算処理の基点時に残留しているラグ信号値に基づいて再起的演算処理のための初期値を決定し、その初期値に基づく再帰的演算処理によって、時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求めることを特徴とするものである。
【００２９】
［作用・効果］請求項６に記載の発明によれば、請求項１に記載の発明を好適に実施することができる。
【００３０】
請求項６に記載の発明において、請求項２に記載の発明と同じように、再帰的演算処理および初期値の一例として以下のようなものがある。すなわち、放射線検出信号から時間遅れ分を除去する再帰的演算処理を式Ａ〜Ｃ、
Ｘk ＝Ｙk −Σn=1 N ［Ｓnk］…Ａ
Ｔn＝−Δｔ／τn  …Ｂ
Ｓnk＝exp(Ｔn) ・｛αn・〔１−exp(Ｔn) 〕・exp(Ｔn)・Ｓn(k-1) ｝…Ｃ
但し，  Δｔ：サンプリング時間間隔
ｋ：サンプリングした時系列内のｋ番目の時点を示す添字
Ｙk ：ｋ番目のサンプリング時点で取り出された放射線検出信号
Ｘk ：Ｙk から時間遅れ分を除去した補正後放射線検出信号
Ｘk-1 ：一時点前のＸk
Ｓn(k-1)：一時点前のＳnk
exp   ：指数関数
Ｎ：インパルス応答を構成する時定数が異なる指数関数の個数
ｎ：インパルス応答を構成する指数関数の中の一つを示す添字
αn：指数関数ｎの強度
τn：指数関数ｎの減衰時定数
により行うとともに、初期値を式Ｄ、
Ｘ0 ＝０，Ｓn0＝γn・Ｙ0…Ｄ
但し，  γn：ある減衰時定数τnの成分ｎの残留割合
Ｙ0 ：再帰的演算処理の基点時である放射線非照射時に残留しているラグ信号値
により行い、前記式Ｄにより決定された初期値での条件で、前記式Ａ〜Ｃにより求められた前記インパルス応答に基づいて時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求める（請求項７に記載の発明）。
【００３１】
［作用・効果］請求項７に記載の発明によれば、請求項２に記載の発明を好適に実施することができる。
【００３２】
なお、各々の残留割合γnを設定する好ましい一例として以下のようなものがある。すなわち、請求項３に記載の発明と同じように、各々の残留割合γnを式Ｅ、
Σn=1 N ［γn］≦１，０≦γn…Ｅ
但し，Σn=1 N ［γn］：成分ｎの残留割合γnの総和
の条件を満たすように設定するのが好ましい（請求項８に記載の発明）。
【００３３】
［作用・効果］請求項８に記載の発明によれば、請求項３に記載の発明を好適に実施することができる。
【００３４】
各々の残留割合γnを設定する好ましい一例において、より具体的な一例として以下のようなものがある。すなわち、請求項４に記載の発明と同じように、式Ｅは
Σn=1 N ［γn］＝１…Ｅ´
の条件を満たすとともに、各々の残留割合γnを式Ｆ、
γ1＝γ2＝…＝γn＝…＝γN-1＝γN…Ｆ
の条件を満たすように設定することで、式Ｄは
Ｓn0＝Ｙ0／Ｎ…Ｄ´
で表される（請求項９に記載の発明）。
【００３５】
各々の残留割合γnを設定する好ましい一例において、より具体的な他の一例として以下のようなものがある。すなわち、請求項５に記載の発明と同じように、式Ｅは
Σn=1 N ［γn］＜１…Ｅ´´
の条件を満たすとともに、ある減衰時定数τmの成分ｍでの残留割合γM、それ以外の残留割合γNを式Ｇ、
０＜γM＜１，γN＝０…Ｇ
の条件を満たすように設定する（請求項１０に記載の発明）。
【発明の効果】
【００３６】
この発明に係る放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法によれば、決定された初期値に基づく再帰的演算処理によって時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求めるので、再帰的演算処理の基点時に残留しているラグ信号値を考慮した状態で時間遅れ分を除去することができる。ラグ信号値は放射線検出手段の特性に依存するので、ラグ信号値を考慮した状態で時間遅れ分を除去することで、放射線検出手段の特性に影響されずに、放射線検出信号から時間遅れ分をより正確に除去することができる。
【実施例】
【００３７】
以下、図面を参照してこの発明の実施例を説明する。
図１は、実施例に係るＸ線透視撮影装置の全体構成を示すブロック図である。
【００３８】
Ｘ線透視撮影装置は、図１に示すように、被検体Ｍに向けてＸ線を照射するＸ線管１と、被検体Ｍを透過したＸ線を検出するＦＰＤ（フラットパネル型Ｘ線検出器）２と、ＦＰＤ２からＸ線検出信号を所定のサンプリング時間間隔Δｔでディジタル化して取り出すＡ／Ｄ変換器３と、Ａ／Ｄ変換器３から出力されるＸ線検出信号に基づいてＸ線画像を作成する検出信号処理部４と、検出信号処理部４で取得されたＸ線画像を表示する画像モニタ５とを備えている。つまり、被検体ＭへのＸ線照射に伴ってＡ／Ｄ変換器３でＦＰＤ２から取り出されるＸ線検出信号に基づいてＸ線画像が得られるように本実施例装置は構成されており、取得されたＸ線画像が画像モニタ５の画面に映し出される。以下、本実施例装置の各部構成を具体的に説明する。Ｘ線管１は、この発明における放射線照射手段に相当し、ＦＰＤ２は、この発明における放射線検出手段に相当し、Ａ／Ｄ変換器３は、この発明における信号サンプリング手段に相当する。また、Ｘ線検出信号は、この発明における放射線検出信号に相当し、Ｘ線画像は、この発明における放射線画像に相当する。
【００３９】
被検体Ｍを挟んでＸ線管１とＦＰＤ２とを対向配置する。具体的には、Ｘ線撮影の際にＸ線照射制御部６の制御を受けながら、Ｘ線管１は被検体Ｍにコーンビーム状のＸ線を照射すると同時に、Ｘ線照射に伴って生じる被検体Ｍの透過Ｘ線像がＦＰＤ２のＸ線検出面に投影されるように、Ｘ線管１およびＦＰＤ２を対向配置する。
【００４０】
Ｘ線管移動機構７およびＸ線検出器移動機構８によってＸ線管１およびＦＰＤ２が被検体Ｍに沿って往復移動可能になるようにそれぞれを構成する。また、Ｘ線管１およびＦＰＤ２の移動に際しては、Ｘ線管移動機構７およびＸ線検出器移動機構８が照射検出系移動制御部９の制御を受けてＸ線の照射中心がＦＰＤ２のＸ線検出面の中心に常に一致する状態が保たれるようにし、Ｘ線管１とＦＰＤ２との対向配置を維持したままで一緒に移動させる。Ｘ線管１およびＦＰＤ２が移動するにつれて被検体ＭへのＸ線照射位置が変化することにより撮影位置が移動する。
【００４１】
ＦＰＤ２は、図２に示すように、被検体Ｍからの透過Ｘ線像が投影されるＸ線検出面に多数のＸ線検出素子２ａが被検体Ｍの体軸方向Ｘと体側方向Ｙに沿って縦横に配列されて構成されている。例えば、縦３０ｃｍ×横３０ｃｍ程の広さのＸ線検出面にＸ線検出素子２ａが縦１５３６×横１５３６のマトリックスで縦横に配列されている。ＦＰＤ２の各Ｘ線検出素子２ａが検出信号処理部４で作成されるＸ線画像の各画素と対応関係にあり、ＦＰＤ２から取り出されたＸ線検出信号に基づいてＸ線検出面に投影された透過Ｘ線像に対応するＸ線画像が検出信号処理部４で作成される。
【００４２】
Ａ／Ｄ変換器３は、Ｘ線画像１枚分ずつのＸ線検出信号をサンプリング時間間隔Δｔで連続的に取り出して、後段のメモリ部１０でＸ線画像作成用のＸ線検出信号を記憶し、Ｘ線検出信号のサンプリング動作（取り出し）をＸ線照射の以前に開始するように構成されている。
【００４３】
すなわち、図３に示すように、サンプリング時間間隔Δｔで、その時点の透過Ｘ線像についての全Ｘ線検出信号が収集されてメモリ部１０に次々に格納される。Ｘ線を照射する以前のＡ／Ｄ変換器３によるＸ線検出信号の取り出し開始は、オペレータの手動操作によって行われる構成でもよいし、Ｘ線照射指示操作等と連動して自動的に行われる構成でもよい。
【００４４】
また、本実施例のＸ線透視撮影装置は、図１に示すように、再帰的演算処理により各Ｘ線検出信号から時間遅れ分を除去した補正後Ｘ線検出信号を算出する時間遅れ除去部１１と、再起的演算処理のための初期値を決定する初期値決定部１２とを備えている。時間遅れ除去部１１は、この発明における時間遅れ除去手段に相当し、初期値決定部１２は、この発明における初期値決定手段に相当する。
【００４５】
時間遅れ分は、ＦＰＤ２からサンプリング時間間隔で取り出される各Ｘ線検出信号に含まれている。その時間遅れ分を減衰時定数が異なる単数または複数個の指数関数で構成されるインパルス応答によるものとして上述した再帰的演算処理を行って、各Ｘ線検出信号から時間遅れ分を除去する。
【００４６】
再起的演算処理のための初期値を初期値決定部１２で決定するには、再帰的演算処理の基点時に残留しているラグ信号値に基づいて行う。ここで、再帰的演算処理の基点時とは、先頭フレームにおけるＸ線非照射時（ｋ＝０）のことを示し、再帰的演算処理の基点時に残留しているラグ信号値とは、そのＸ線非照射時に残留しているラグ信号値Ｙ0を示す。そして、初期値決定部１２で決定された初期値に基づく再帰的演算処理によって、時間遅れ除去部１１は時間遅れ分を除去して、補正後Ｘ線検出信号を求める。
【００４７】
ＦＰＤ２の場合、図７に示すように、各時刻でのＸ線検出信号には、過去のＸ線照射に対応する信号が時間遅れ分（図７中の斜線部分を参照）として含まれる。この時間遅れ分を時間遅れ除去部１１で除去して時間遅れのない補正後Ｘ線検出信号にする。この補正後Ｘ線検出信号に基づいて、Ｘ線検出面に投影された透過Ｘ線像に対応するＸ線画像を検出信号処理部４が作成する。
【００４８】
具体的に時間遅れ除去部１１は、各Ｘ線検出信号から時間遅れ分を除去する再帰的演算処理を、次式Ａ〜Ｃを利用して行う。
【００４９】
Ｘk ＝Ｙk −Σn=1 N ［Ｓnk］…Ａ
Ｔn＝−Δｔ／τn  …Ｂ
Ｓnk＝exp(Ｔn) ・｛αn・〔１−exp(Ｔn) 〕・exp(Ｔn)・Ｓn(k-1) ｝…Ｃ
但し，  Δｔ：サンプリング時間間隔
ｋ：サンプリングした時系列内のｋ番目の時点を示す添字
Ｙk ：ｋ番目のサンプリング時点で取り出されたＸ線検出信号
Ｘk ：Ｙk から時間遅れ分を除去した補正後Ｘ線検出信号
Ｘk-1 ：一時点前のＸk
Ｓn(k-1)：一時点前のＳnk
exp   ：指数関数
Ｎ：インパルス応答を構成する時定数が異なる指数関数の個数
ｎ：インパルス応答を構成する指数関数の中の一つを示す添字
αn：指数関数ｎの強度
τn：指数関数ｎの減衰時定数
つまり、式Ａの右辺の第２項以降、すなわち式Ｃでの『Ｓnk＝exp(Ｔn) ・｛αn・〔１−exp(Ｔn) 〕・exp(Ｔn)・Ｓn(k-1) ｝が時間遅れ分に該当するので、本実施例装置では、時間遅れ分を除去した補正後Ｘ線検出信号Ｘk が式Ａ〜Ｃという簡潔な漸化式によって速やかに求められる。
【００５０】
ここで、再帰的演算処理の基点時、すなわち先頭フレームにおけるＸ線非照射時は、ｋ＝０のときであり、再帰的演算処理を行う際にｋ＝０のときのＸk，Ｓnk、すなわち初期値を次式Ｄのように決定する。
【００５１】
Ｘ0 ＝０，Ｓn0＝γn・Ｙ0…Ｄ
但し，  γn：ある減衰時定数τnの成分ｎの残留割合
Ｙ0 ：再帰的演算処理の基点時であるＸ線非照射時に残留しているラグ信号値
例えば、図８に示すように、時間ｔ０〜ｔ１での撮影のラグが透視に重なると、再帰的演算処理の基点時であるＸ線非照射時（図８ではｋ＝０を参照）であっても、時間ｔ０〜ｔ１での撮影で発生した時間遅れ分による残留ラグ（ラグ信号値）が存在する。すなわち、Ｘ線非照射時であってもＸ線検出信号Ｙkの初期値Ｙ0は０でない。
【００５２】
そこで、式Ｄのように、Ｘ0 ＝０，Ｓn0＝γn・Ｙ0（Ｙ0 ：再帰的演算処理の基点時であるＸ線非照射時に残留しているラグ信号値）によって再帰的演算処理のための初期値を設定して、式Ｄにより決定された初期値での条件で、式Ａ〜Ｃにより求められたインパルス応答に基づいて時間遅れ分を除去して、補正後Ｘ線検出信号Ｘkを求める。
【００５３】
なお、本実施例装置では、Ａ／Ｄ変換器３や、検出信号処理部４、Ｘ線照射制御部６や照射検出系移動制御部９、時間遅れ除去部１１、初期値決定部１２は、操作部１３から入力される指示やデータあるいはＸ線撮影の進行に従って主制御部１４から送出される各種命令にしたがって制御・処理を実行する。
【００５４】
次に、上述の本実施例装置を用いてＸ線撮影を実行する場合について、図面を参照しながら具体的に説明する。図４は実施例でのＸ線検出信号処理方法の手順を示すフローチャートである。なお、ここでの撮影は、図８に示すような過去の撮影や、今回の透視あるいは撮影も含む。
【００５５】
〔ステップＳ１〕Ｘ線未照射の状態でＡ／Ｄ変換器３がサンプリング時間間隔Δｔ（＝１／３０秒）でＦＰＤ２からＸ線照射前のＸ線画像１枚分のＸ線検出信号Ｙk を取り出す。取り出されたＸ線検出信号をメモリ部１０に記憶する。
【００５６】
〔ステップＳ２〕オペレータの設定によりＸ線が連続ないし断続的に被検体Ｍに照射されるのと並行して、サンプリング時間間隔ΔｔでＡ／Ｄ変換器３によるＸ線画像１枚分のＸ線検出信号Ｙk の取り出しとメモリ部１０への記憶とを続ける。
【００５７】
〔ステップＳ３〕Ｘ線照射が終了すれば次のステップＳ４に進み、Ｘ線照射が終了していなければステップＳ２に戻る。
【００５８】
〔ステップＳ４〕メモリ部１０から１回のサンプリングで収集したＸ線画像１枚分のＸ線検出信号Ｙk を読み出す。
【００５９】
〔ステップＳ５〕時間遅れ除去部１１が式Ａ〜Ｃによる再帰的演算処理を行い、各Ｘ線検出信号Ｙk から時間遅れ分を除去した補正後Ｘ線検出信号Ｘk 、すなわち、画素値を求める。
【００６０】
〔ステップＳ６〕検出信号処理部４が１回のサンプリング分（Ｘ線画像１枚分）の補正後Ｘ線検出信号Ｘk に基づいてＸ線画像を作成する。
【００６１】
〔ステップＳ７〕作成したＸ線画像を画像モニタ５に表示する。
【００６２】
〔ステップＳ８〕メモリ部１０に未処理のＸ線検出信号Ｙk が残っていれば、ステップＳ４に戻り、未処理のＸ線検出信号が残っていなければ、Ｘ線撮影を終了する。
【００６３】
なお、本実施例装置では、Ｘ線画像１枚分のＸ線検出信号Ｙk に対する時間遅れ除去部１１による補正後Ｘ線検出信号Ｘk の算出および検出信号処理部４によるＸ線画像の作成をサンプリング時間間隔Δｔ（＝１／３０秒）で行う。すなわち、１秒間にＸ線画像を３０枚程度のスピードで次々と作成し、作成されたＸ線画像を連続表示することができるように構成する。したがって、Ｘ線画像の動画表示が可能になる。
【００６４】
次に、図４におけるステップＳ５の時間遅れ除去部１１による再帰的演算処理のプロセスについて、図５のフローチャートを用いて説明する。図５は実施例でのＸ線検出信号処理方法における時間遅れ除去用の再帰的演算処理プロセスを示すフローチャートである。
【００６５】
〔ステップＴ１〕初期値決定部１２は、過去の撮影で発生した時間遅れ分による残留ラグ（ラグ信号値）を収集する。具体的には、先頭フレームにおいてＡ／Ｄ変換器３がＦＰＤ２から残留ラグによるＸ線画像１枚分のＸ線検出信号Ｙ0 を取り出す。このＸ線検出信号Ｙ0は、再帰的演算処理の基点時であるＸ線非照射時に残留しているラグ信号値Ｙ0でもある。
【００６６】
〔ステップＴ２〕ｋ＝０とセットして、式ＡのＸ0 ＝０を初期値としてセットする。一方、ステップＴ１で取得されたラグ信号値Ｙ0を式Ｄに代入することで式ＣのＳn0を求める。ここで、ある減衰時定数τnの成分ｎの残留割合γnを、式Ｅの条件を満たすように設定するのが好ましい。
【００６７】
すなわち、
Σn=1 N ［γn］≦１，０≦γn…Ｅ
但し，Σn=1 N ［γn］：成分ｎの残留割合γnの総和
の条件を満たすように設定するのが好ましい。
【００６８】
成分ｎの残留割合γnの総和が１を超えると時間遅れ分が過剰に除去され、逆に成分ｎの残留割合γnの総和が負の値の場合には時間遅れ分が逆に加算される恐れがある。そこで、成分ｎの残留割合γnの総和を０以上１以下にして、残留割合γnを０以上にすることで、時間遅れ分を過不足なく除去することができる。式Ｅについては、次式Ｅ´のようにしてもよいし、次式Ｅ´´のようにしてもよい。
【００６９】
すなわち、式Ｅが次式Ｅ´の場合には、式Ｅは、
Σn=1 N ［γn］＝１…Ｅ´
の条件を満たすとともに、各々の残留割合γnを式Ｆ、
γ1＝γ2＝…＝γn＝…＝γN-1＝γN…Ｆ
の条件を満たすように設定する。
【００７０】
式Ｅ´に式Ｆを代入することで、Ｎ・γN＝１となる。したがって、各々の残留割合γnはγN＝１／Ｎとなり、各々の残留割合γnは（インパルス応答を構成する時定数が異なる）指数関数の個数Ｎで均等に分配される。このことから、γN＝１／Ｎを式ＤのＳn0＝γn・Ｙ0に代入することで、式Ｄは次式Ｄ´で表される。
【００７１】
すなわち、式Ｄは
Ｓn0＝Ｙ0／Ｎ…Ｄ´
で表される。指数関数の数が３個（Ｎ＝３）の場合は、Ｓ10，Ｓ20，Ｓ30を式ＤにしたがってＹ0／３に全てセットする。
【００７２】
また、式Ｅが次式Ｅ´´の場合には、式Ｅは、
Σn=1 N ［γn］＜１…Ｅ´´
の条件を満たすとともに、ある減衰時定数τmの成分ｍでの残留割合γM、それ以外の残留割合γNを式Ｇ、
０＜γM＜１，γN＝０…Ｇ
の条件を満たすように設定する。指数関数の数が３個（Ｎ＝３）で、減衰時定数τ2の成分２での残留割合γ2が０＜γ2＜１を満たし（例えばγ2＝０．１）、かつそれ以外の残留割合がγ1＝γ3＝０を満たす場合には、Ｓ10，，Ｓ30を式Ｇにしたがって０にセットするとともに、Ｓ20を式Ｇにしたがってγ2・Ｙ0（例えばγ2＝０．１）にセットする。
【００７３】
〔ステップＴ３〕式Ａ，Ｃでｋ＝１とセットする。式Ｃ、つまりＳn1＝exp(Ｔ1) ・｛α1・〔１−exp(Ｔ1) 〕・exp(Ｔ1)・Ｓn0 ｝にしたがってＳ11，Ｓ21，Ｓ31を求め、さらに求められたＳ11，Ｓ21，Ｓ31とＸ線検出信号Ｙ1とを式Ａに代入することで補正後Ｘ線検出信号Ｘ1を算出する。
【００７４】
〔ステップＴ４〕式Ａ，Ｃでｋを１だけ増加（ｋ＝ｋ＋１）した後、続いて式Ｃに１時点前のＸk-1 を代入してＳ1k，Ｓ2k，Ｓ3kを求め、さらに求められたＳ1k，Ｓ2k，Ｓ3kとＸ線検出信号Ｙkとを式Ａに代入することで補正後Ｘ線検出信号Ｘkを算出する。
【００７５】
〔ステップＴ５〕未処理のＸ線検出信号Ｙk があれば、ステップＴ４に戻り、未処理のＸ線検出信号Ｙk がなければ、次のステップＴ６に進む。
【００７６】
〔ステップＴ６〕１回のサンプリング分（Ｘ線画像１枚分）の補正後除去Ｘ線検出信号Ｘk を算出し、１回の撮影分についての再帰的演算処理が終了となる。
【００７７】
以上のように、本実施例のＸ線透視撮影装置によれば、初期値決定部１２で決定された初期値に基づく再帰的演算処理によって、時間遅れ除去部１１は時間遅れ分を除去して、補正後Ｘ線検出信号を求めるので、再帰的演算処理の基点時に残留しているラグ信号値を考慮した状態で時間遅れ分を除去することができる。ラグ信号値はＦＰＤ（フラットパネル型Ｘ線検出器）２の特性に依存するので、ラグ信号値を考慮した状態で時間遅れ分を除去することで、ＦＰＤ２の特性に影響されずに、Ｘ線検出信号から時間遅れ分をより正確に除去することができる。また、ラグ特性が多少悪いＦＰＤ２でも、実用上、問題のない時間遅れ分の量に抑え、ＦＰＤ２のラグ特性許容範囲を広げて、ＦＰＤ２の歩留まりを向上させることができるという効果をも奏する。
【００７８】
本実施例では、式Ａ〜Ｃという簡潔な漸化式によって時間遅れ分を除去した補正後Ｘ線検出信号Ｘk が速やかに求められる。図６に示すように、時間ｔ２〜ｔ３の間に一定量のＸ線がＦＰＤ２に入射した場合、ＦＰＤ２に時間遅れがなければ、Ｘ線検出信号は、図６に示すように一定値となる。
【００７９】
しかし、実際はＦＰＤ２に時間遅れがあって、図７に斜線で示す時間遅れ分が加わるので、Ｘ線検出信号Ｙk は図７中に太線で示すものとなる。本実施例においては、式Ａの右辺の第２項以降、すなわち式Ｃでの『Ｓnk＝exp(Ｔn) ・｛αn・〔１−exp(Ｔn) 〕・exp(Ｔn)・Ｓn(k-1) ｝が図７に斜線で示す各々の時間遅れ分に該当し、これがＸ線検出信号Ｙk から差し引かれるので、補正後Ｘ線検出信号Ｘk は図６に示す時間遅れ分のないものとなる。
【００８０】
また、図８に示すように、時間ｔ０〜ｔ１での撮影のラグが透視に重なると、再帰的演算処理の基点時であるＸ線非照射時（図８ではｋ＝０を参照）であっても、時間ｔ０〜ｔ１での撮影で発生した時間遅れ分による残留ラグ（ラグ信号値）が存在する。すなわち、Ｘ線非照射時であってもＸ線検出信号Ｙkの初期値Ｙ0は０でない。そこで、式Ｄのように、Ｘ0 ＝０，Ｓn0＝γn・Ｙ0（Ｙ0 ：再帰的演算処理の基点時であるＸ線非照射時に残留しているラグ信号値）によって再帰的演算処理のための初期値を設定して、式Ｄにより決定された初期値での条件で、式Ａ〜Ｃにより求められたインパルス応答に基づいて時間遅れ分を除去して、補正後Ｘ線検出信号を求める。
【００８１】
このような式Ｄによって、ラグ信号値Ｙ0を考慮した状態で時間遅れ分を除去することで、ＦＰＤ２の特性に影響されずに、Ｘ線検出信号から時間遅れ分をより正確に除去することができる。
【００８２】
この発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。
【００８３】
（１）上述した実施例では、放射線検出手段がＦＰＤであったが、この発明は、ＦＰＤ以外のＸ線検出信号の時間遅れが生じる放射線検出手段を用いた構成の装置にも用いることができる。
【００８４】
（２）上述した実施例装置はＸ線透視撮影装置であったが、この発明はＸ線ＣＴ装置のようにＸ線透視撮影装置以外のものにも適用することができる。
【００８５】
（３）上述した実施例装置は医用装置であったが、この発明は、医用に限らず、非破壊検査機器などの工業用装置にも適用することができる。
【００８６】
（４）上述した実施例装置は、放射線としてＸ線を用いる装置であったが、この発明は、Ｘ線に限らず、Ｘ線以外の放射線（例えばγ線）を用いる装置にも適用することができる。
【００８７】
（５）上述した実施例では、初期値を式Ｄ（Ｘ0 ＝０，Ｓn0＝γn・Ｙ0）により決定したが、残留割合γnを用いずに、０＜Ｓn0＜Ｙ0を満たすようなＳn0を初期値として決定してもよい。
【００８８】
（６）上述した実施例では、式Ｄにより決定された初期値での条件で、式Ａ〜Ｃにより求められたインパルス応答に基づいて時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求めたが、特許文献２（特開２００４−２４２７４１号公報）の手法でも述べたように、式ａ〜ｃにより求められたインパルス応答に基づいて時間遅れ分を除去する場合においても式Ｄにより決定された初期値での条件を適用してもよい。すなわち、式Ｄにより決定された初期値での条件で、式ａ〜ｃにより求められたインパルス応答に基づいて時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求めてもよい。
【００８９】
（７）上述した実施例では、好ましくは各々の残留割合γnを設定するのに式Ｅ（Σn=1 N ［γn］≦１，０≦γn）の条件を満たし、その式Ｅの条件を満たす一例として、式Ｅ´（Σn=1 N ［γn］＝１）を満たすとともに、各々の残留割合γnを式Ｆ（γ1＝γ2＝…＝γn＝…＝γN-1＝γN）の条件を満たすように設定する、あるいはＥの条件を満たす他の一例として、式Ｅ´´（Σn=1 N ［γn］＜１）の条件を満たすとともに、ある減衰時定数τmの成分ｍでの残留割合γM、それ以外の残留割合γNを式Ｇ（０＜γM＜１，γN＝０）の条件を満たすように設定したが、式Ｅの条件を満たすのであれば、これらに限定されない。
【産業上の利用可能性】
【００９０】
以上のように、この発明は、医用もしくは工業用の放射線撮像装置に適している。
【図面の簡単な説明】
【００９１】
【図１】実施例のＸ線透視撮影装置の全体構成を示すブロック図である。
【図２】実施例装置に用いられているＦＰＤの構成を示す平面図である。
【図３】実施例装置によるＸ線撮影の実行時のＸ線検出信号のサンプリング状況を示す模式図である。
【図４】実施例でのＸ線検出信号処理方法の手順を示すフローチャートである。
【図５】実施例でのＸ線検出信号処理方法における時間遅れ除去用の再帰的演算処理プロセスを示すフローチャートである。
【図６】放射線入射状況を示す図である。
【図７】図６の入射状況に対応した時間遅れ状況を示す図である。
【図８】撮影のラグ（時間遅れ分）が透視に重なった時間遅れ状況を示す図である。
【符号の説明】
【００９２】
１  …  Ｘ線管
２  …  ＦＰＤ（フラットパネル型Ｘ線検出器）
３  …  Ａ／Ｄ変換器
１１  …  時間遅れ除去部
１２  …  初期値決定部
Ｍ  …  被検体
【図１】
2007215585.tif 000003
【図２】
2007215585.tif 000004
【図３】
2007215585.tif 000005
【図４】
2007215585.tif 000006
【図５】
2007215585.tif 000007
【図６】
2007215585.tif 000008
【図７】
2007215585.tif 000009
【図８】
2007215585.tif 000010