(57)【要約】【課題】部品点数を少なくすることができるとともに、最適増幅率を自動的に設定し、精度良く測定することができる測光機器、及び測光機器における測定方法の提供。【解決手段】測光機器は、受光素子と、受光素子から出力される測定信号を増幅する信号増幅部と、制御演算部７とを備える。制御演算部７は、仮測定値取得手段７１と、本測定値取得手段７２と、測定値算出手段７３とを備える。仮測定値取得手段７１は、信号増幅部の増幅率を、仮測定用増幅率に設定して仮測定を行う。本測定値取得手段７２は、信号増幅部の増幅率を、仮測定値取得手段により得られた仮測定量子化値に対応する最適増幅率に設定して測定を行う。測定値算出手段７３は、本測定値取得手段により得られた本測定量子化値と、最適増幅率から計算される係数とにより測定値を算出する。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定光を測定して測定信号を出力する受光素子と、
前記受光素子から出力される測定信号を増幅して増幅信号を出力するとともに、その増幅率を切替可能に構成された信号増幅部と、
前記信号増幅部から出力される増幅信号を量子化して量子化値を出力するアナログデジタル変換部と、
前記アナログデジタル変換部から出力される量子化値から測定値を算出する制御演算部とを備えて構成される測光機器であって、
前記制御演算部は、前記信号増幅部の増幅率を、仮測定用増幅率に設定して仮測定を行う仮測定値取得手段と、
前記信号増幅部の増幅率を、前記仮測定値取得手段により得られた仮測定量子化値に対応する最適増幅率に設定して測定を行う本測定値取得手段と、
前記本測定値取得手段により得られた本測定量子化値と、前記最適増幅率から計算される係数とにより測定値を算出する測定値算出手段とを備えることを特徴とする測光機器。
【請求項２】
請求項１に記載の測光機器において、
前記最適増幅率は、前記アナログデジタル変換部の出力可能な量子化値の最大値を、前記仮測定量子化値により除算した値に基づいて設定されることを特徴とする測光機器。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の測光機器において、
前記仮測定用増幅率は、前記信号増幅部の切替可能な増幅率における最も低い増幅率に設定されることを特徴とする測光機器。
【請求項４】
被測定光を測定して測定信号を出力する受光素子と、
前記受光素子から出力される測定信号を増幅して増幅信号を出力するとともに、その増幅率を切替可能に構成された信号増幅部と、
前記信号増幅部から出力される増幅信号を量子化して量子化値を出力するアナログデジタル変換部と、
前記アナログデジタル変換部から出力される量子化値から測定値を算出する制御演算部とを備えて構成される測光機器における測定方法であって、
前記信号増幅部の増幅率を、仮測定用増幅率に設定して仮測定を行う仮測定値取得工程と、
前記信号増幅部の増幅率を、前記仮測定値取得手段により得られた仮測定量子化値に対応する最適増幅率に設定して測定を行う本測定値取得工程と、
前記本測定値取得手段により得られた本測定量子化値と、前記最適増幅率から計算される係数とにより測定値を算出する測定値算出工程とを備えることを特徴とする測光機器における測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測光機器、及び測光機器における測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の測光機器においては、フォトダイオード等の受光素子が受光した被測定光の光量を電流に変換した後、この電流を電流電圧変換によって電圧に変換し、この電圧をオペアンプ等の増幅回路で増幅し、この増幅電圧をアナログデジタル変換することにより光量の測定を行っている（例えば特許文献１）。
【０００３】
前記特許文献１の測光機器では、直列に接続される２個のオペアンプに、それぞれ３個の固定抵抗が並列に設けられている。そして、これらの固定抵抗の接続状態を切り替えることにより、増幅率を設定し、測定可能な光量の範囲（計測レンジ）を切り替えていた。
そして、特許文献１の測光機器では、被測定光の光量によって前記増幅率を適切な値（最適増幅率）に自動的に設定することで、測定精度を向上させていた。
すなわち、最適増幅率の設定は、まず、被測定光を光分岐路によって分岐し、その分岐光を副測定系により測定する。そして、予め作成されているルックアップテーブルから、その測定値に対応する増幅率を求めることにより設定している。
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−３２２５６４
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１の方法では、最適増幅率を設定するために被測定光を分岐しなければならず、被測定光そのものを主測定系で測定することができないという問題があった。
また、副測定系を設けることにより、部品点数が多くなるという問題もあった。
さらに、例えば、三刺激値直読型色彩計測器のように、赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の被測定光を同時に測定する必要がある測光機器において、偏った波長特性を有する被測定光を測定する場合等には、１つの副測定系により増幅率を設定して被測定光を測定すると副測定系を設けていない測定系においては測定精度が低下する。したがって、測定精度を向上させるために、複数の副測定系を設ける必要があり、部品点数がより多くなるという問題もあった。
【０００６】
本発明の目的は、部品点数を少なくすることができるとともに、最適増幅率を自動的に設定でき、精度良く測定することができる測光機器、及び測光機器における測定方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の測光機器は、被測定光を測定して測定信号を出力する受光素子と、前記受光素子から出力される測定信号を増幅して増幅信号を出力するとともに、その増幅率を切替可能に構成された信号増幅部と、前記信号増幅部から出力される増幅信号を量子化して量子化値を出力するアナログデジタル変換部と、前記アナログデジタル変換部から出力される量子化値から測定値を算出する制御演算部とを備えて構成される測光機器であって、前記制御演算部は、前記信号増幅部の増幅率を、仮測定用増幅率に設定して仮測定を行う仮測定値取得手段と、前記信号増幅部の増幅率を、前記仮測定値取得手段により得られた仮測定量子化値に対応する最適増幅率に設定して測定を行う本測定値取得手段と、前記本測定値取得手段により得られた本測定量子化値と、前記最適増幅率から計算される係数とにより測定値を算出する測定値算出手段とを備えることを特徴とする。
【０００８】
このような構成によれば、仮測定値取得手段により仮測定を行った後、その仮測定で得られた仮測定量子化値に対応する最適増幅率を信号増幅部に設定しているから、副測定系を設けずに、最適な計測レンジに切り替えることができる。したがって、被測定光を分岐する必要がなく、被測定光そのものを測定することができるため測定精度を向上できる。
すなわち、被測定光を分岐した場合には、主測定系の受光素子において測定される光量は、被測定光が減衰したものとなる。しかしながら、本発明では、１つの測定系において被測定光の全ての光量を測定することができるから、被測定光を分岐した場合と比べて精度よく測定することができる。
【０００９】
また、副測定系を設ける必要がないから、部品点数を少なくすることができる。
さらに、例えば、三刺激値直読型色彩計測器のように、ＲＧＢの被測定光を同時に測定する必要がある測光機器において、偏った波長特性を有する被測定光を測定する場合等にも、それぞれの信号増幅部に仮測定量子化値に対応する最適増幅率を設定することにより、複数の副測定系を設けることなく、測定精度を向上させることができる。したがって、このような場合においては、測定精度を向上させるとともに、部品点数をより少なくすることができる。
【００１０】
本発明では、前記最適増幅率は、前記アナログデジタル変換部の出力可能な量子化値の最大値を、前記仮測定量子化値により除算した値に基づいて設定されることが好ましい。
このような構成によれば、最適増幅率は、仮測定量子化値から計算により求められているから、前述の特許文献１のように、ルックアップテーブルを予め作成しておくことなく、被測定光の光量によって信号増幅部に最適増幅率を自動的に設定することができ、管理が容易になる。
【００１１】
なお、最適増幅率は、例えば、前記除算値の８０％以上、９０％以下の値等に設定することが好ましい。
信号増幅部に設定される増幅率と、測定精度との関係においては、アナログデジタル変換部の量子化ビット数は一般的に固定であるから、増幅率が大きいほど、計測レンジは狭くなる。したがって、量子化誤差が小さくなるため、測定精度は向上する。さらに、アナログデジタル変換部により量子化される増幅信号が大きいほど、ＳＮ比（信号雑音比）も大きくなるため、測定精度は向上する。
このため、例えば、最適増幅率を除算値の８０％以上の値に設定することにより、量子化誤差を小さくすることができ、ＳＮ比も大きくすることができる。逆に、８０％未満の値に設定した場合には、十分な測定精度を得ることができないおそれがある。
【００１２】
しかしながら、例えば、最適増幅率を除算値の９０％より大きい値に設定した場合には、仮測定量子化値に含まれる量子化誤差により、本測定量子化値が、アナログデジタル変換部の出力可能な量子化値の最大値を越えるオーバーフローを起こす可能性がある。
したがって、最適増幅率は、例えば、除算値の８０％以上、かつ、９０％以下の値等に設定することが好ましく、このように設定することにより、オーバーフローを起こすことなく、十分な測定精度を得ることができる。
【００１３】
本発明では、前記仮測定用増幅率は、前記信号増幅部の切替可能な増幅率における最も低い増幅率に設定されることが好ましい。
このような構成によれば、測光機器の計測レンジにおける最も広い計測レンジで仮測定を行うことができる。したがって、測光機器の測定範囲内において、未知の大きさの被測定光を測定する場合であっても、一度の仮測定で最適レンジを設定することができる。
なお、被測定光の光量がある程度推測できる場合には、信号増幅部の切替可能な増幅率における最も低い増幅率に設定されていなくとも、推測された光量に応じた計測レンジで仮測定を行うようにしてもよい。
【００１４】
本発明の測光機器における測定方法は、被測定光を測定して測定信号を出力する受光素子と、前記受光素子から出力される測定信号を増幅して増幅信号を出力するとともに、その増幅率を切替可能に構成された信号増幅部と、前記信号増幅部から出力される増幅信号を量子化して量子化値を出力するアナログデジタル変換部と、前記アナログデジタル変換部から出力される量子化値から測定値を算出する制御演算部とを備えて構成される測光機器における測定方法であって、前記信号増幅部の増幅率を、仮測定用増幅率に設定して仮測定を行う仮測定値取得工程と、前記信号増幅部の増幅率を、前記仮測定値取得手段により得られた仮測定量子化値に対応する最適増幅率に設定して測定を行う本測定値取得工程と、前記本測定値取得手段により得られた本測定量子化値と、前記最適増幅率から計算される係数とにより測定値を算出する測定値算出工程とを備えることを特徴とする。
【００１５】
このような構成によれば、前述した測光機器の作用および効果と同様の作用および効果を享受することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
図１は、本発明の実施形態における測光機器としての三刺激値直読型色彩計測器（以下、色彩計測器とする）のブロック図である。
色彩計測器１は、図１に示すように、所定の波長通過帯域を有するＲＧＢの３つのフィルタ２Ａ〜２Ｃと、これらのフィルタ２Ａ〜２Ｃを透過する被測定光を受光して、その光量を電流に変換する受光素子３Ａ〜３Ｃと、これらの受光素子３Ａ〜３Ｃから出力される電流を電圧に変換するＩ・Ｖ変換回路（電流電圧変換回路）４Ａ〜４Ｃと、増幅率を切替可能に構成され、かつ、これらのＩ・Ｖ変換回路４Ａ〜４Ｃから出力される電圧を増幅して出力する信号増幅回路（信号増幅部）５Ａ〜５Ｃと、これらの信号増幅回路５Ａ〜５Ｃから出力される電圧を量子化して量子化値を出力するＡ／Ｄ変換回路（アナログデジタル変換部）６Ａ〜６Ｃと、これらのＡ／Ｄ変換回路６Ａ〜６Ｃから出力される量子化値から測定値を算出する制御演算部７とを備えて構成される。
【００１７】
各信号増幅回路５Ａ〜５Ｃは、図２に示すように、オペアンプ５１と、プログラマブル可変抵抗５２と、固定抵抗５３と、キャパシタ５４とを備えて構成される一般的な反転増幅回路である。プログラマブル可変抵抗５２は、例えば、抵抗値を２５６階調（８ビット）に切替可能とされ、これにより、増幅率を１倍から２５６倍までの整数倍に切替可能とされたものが利用できる。
このような反転増幅回路においては、固定抵抗５３の抵抗値とプログラマブル可変抵抗５２の抵抗値とにより増幅率が決定される。したがって、プログラマブル可変抵抗５２の抵抗値を設定することにより、信号増幅回路５Ａ〜５Ｃの増幅率が設定される。そして、このプログラマブル可変抵抗５２の抵抗値は、制御演算部７から設定可能に設けられている。すなわち、信号増幅回路５Ａ〜５Ｃの増幅率は、図１に示すように、制御演算部７からの制御信号に基づいて設定可能に設けられている。
【００１８】
制御演算部７は、図３に示すように、フィルタ２Ａ〜２Ｃから出力される被測定光を測定するそれぞれの測定系において、信号増幅回路５Ａ〜５Ｃの増幅率を、仮測定用増幅率に設定して仮測定を行う仮測定値取得手段７１と、信号増幅回路５Ａ〜５Ｃの増幅率を、仮測定値取得手段７１により得られた仮測定量子化値に対応する最適増幅率に設定して測定を行う本測定値取得手段７２と、この本測定値取得手段７２により得られた本測定量子化値と、前記最適増幅率から計算される係数とにより測定値を算出する測定値算出手段７３とを備えて構成される。
【００１９】
次に、色彩計測器１の測定方法について説明する。
本実施形態においては、測定値である三刺激値の測定方法は、図４に示すように、仮測定値取得工程Ｓ１、本測定値取得工程Ｓ２、測定値算出工程Ｓ３を備える。以下、被測定光の光量をＰとした場合に、測定値ｙを算出する各工程を図５から図８を参照して詳述する。
図５は、仮測定値取得工程Ｓ１のフローチャート、図６は、量子化値を横軸、光量を縦軸にとり、信号増幅回路５Ａ〜５Ｃの切替可能な増幅率における最も低い増幅率をβＭＩＮ、最も大きい増幅率をβＭＡＸ、Ａ／Ｄ変換回路６Ａ〜６Ｃの出力可能な量子化値の最大値をＡＤＭＡＸとして示した関係図である。
また、図７は、本測定値取得工程Ｓ２のフローチャート、図８は、図６と同様の関係図である。
【００２０】
測定開始が指示されると、まず、仮測定値取得手段７１によって、仮測定値取得工程Ｓ１が実行される。
すなわち、仮測定値取得手段７１は、図５、及び図６に示すように、まず、信号増幅回路５Ａ〜５Ｃの増幅率を、仮測定用増幅率βＭＩＮ（１倍）に設定し（Ｓ１１）、仮測定として被測定光Ｐを測定する（Ｓ１２）。そして、仮測定値取得手段７１は、仮測定により取得された値を、仮測定量子化値ＡＤＭＩＤとして制御演算部７のメモリに保持する（Ｓ１３）。
【００２１】
次に、本測定値取得手段７２によって、本測定値取得工程Ｓ２が実行される。
本測定値取得手段７２は、図７、及び図８に示すように、まず、以下の式（１）により最適増幅率βを算出する（Ｓ２１）。
【００２２】
【数１】
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【００２３】
例えば、Ａ／Ｄ変換回路６Ａ〜６Ｃの量子化ビット数を８ビット（２５６階調）とすると、ＡＤＭＡＸは２５５であるから、仮測定量子化値ＡＤＭＩＤが、仮に３０であったとすれば、アナログデジタル変換部の出力可能な量子化値の最大値ＡＤＭＡＸを、仮測定量子化値ＡＤＭＩＤにより除算した値は、８．５となる。
この際、最適増幅率βは、例えば、前記除算値の８０％以上、９０％以下の値等に設定することが好ましい。本実施形態においては、式（１）に示すように９０％とした。したがって、最終的に算出される最適増幅率βは、７．６５となる。
しかしながら、信号増幅回路５Ａ〜５Ｃの増幅率は、１倍から２５６倍までの整数倍に切替可能であるから、最適増幅率βを小数値のまま設定することはできない。したがって、最適増幅率βは、小数点以下切捨てを行い「７」とする。
【００２４】
次に、本測定値取得手段７２は、信号増幅回路５Ａ〜５Ｃの増幅率を、最適増幅率β（７倍）に設定し（Ｓ２２）、本測定として被測定光Ｐを測定する（Ｓ２３）。そして、本測定値取得手段７２は、本測定により取得された値を、本測定量子化値ｘとして制御演算部７に保持する（Ｓ２４）。
【００２５】
最後に、測定値算出手段７３によって、測定値算出工程Ｓ３が実行される。
測定値算出手段７３は、本測定量子化値ｘと、最適増幅率βから計算される係数ａβ、ｂβとにより構成される以下の式（２）から測定値ｙを算出する。
【００２６】
【数２】
2007292642.tif 000004
【００２７】
ここで、ａβ、ｂβは、以下の２つの式（３）、（４）により計算される。
【００２８】
【数３】
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【００２９】
この際、ａβＭＩＮ、ｂβＭＩＮ、ａβＭＡＸ、ｂβＭＡＸは、図９に示すように、増幅率がβＭＩＮ、βＭＡＸに設定された場合に、式（２）から測定値ｙを算出するためのそれぞれの係数であり、増幅率をβＭＩＮ、βＭＡＸに設定して測定した測定値に基づいて予め求めておく。
以上の工程をＲ、Ｇ、Ｂの各測定系において行うことにより、制御演算部７は、それぞれの測定系において算出された測定値ｙを三刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚとして出力する。
【００３０】
前記実施形態に係る測光機器としての色彩計測器１によれば、次のような効果がある。
（１）仮測定量子化値ＡＤＭＩＤに対応する最適増幅率βを信号増幅回路５Ａ〜５Ｃに設定しているから、副測定系を設けずに、最適な計測レンジに切り替えることができる。したがって、被測定光を分岐する必要がなく、被測定光そのものを測定することができるため測定精度を向上できる。
（２）副測定系を設ける必要がないから、部品点数を少なくすることができる。さらに、例えば、偏った波長特性を有する被測定光を測定する場合等にも、それぞれの信号増幅回路５Ａ〜５Ｃに仮測定量子化値ＡＤＭＩＤに対応する最適増幅率βを設定しているから、複数の副測定系を設けることなく、測定精度を向上させることができる。したがって、本実施形態では、測定精度を向上させるとともに、部品点数をより少なくすることができる。
【００３１】
（３）最適増幅率βは、仮測定量子化値ＡＤＭＩＤから計算により求められているから、前述の特許文献１のように、ルックアップテーブルを予め作成しておくことなく、被測定光の光量に応じて信号増幅回路５Ａ〜５Ｃに最適増幅率βを自動的に設定することができ、管理が容易になる。
（４）最適増幅率βは、Ａ／Ｄ変換回路６Ａ〜６Ｃの出力可能な量子化値の最大値ＡＤＭＡＸを、仮測定量子化値ＡＤＭＩＤにより除算した値の９０％とされているから、十分な測定精度を得ることができ、かつ、仮測定量子化値ＡＤＭＩＤに含まれる量子化誤差により、本測定量子化値ｘが、Ａ／Ｄ変換回路６Ａ〜６Ｃの出力可能な量子化値の最大値ＡＤＭＡＸを越えるオーバーフローを起こす可能性を抑制することができる。
【００３２】
（５）仮測定値取得手段７１に係る測定を行う際、仮測定用増幅率は、信号増幅回路５Ａ〜５Ｃの切替可能な増幅率における最も低い増幅率βＭＩＮに設定されるから、測光機器の計測レンジにおける最も広い計測レンジで仮測定を行うことができる。したがって、測光機器の測定範囲内において、未知の大きさの被測定光を測定する場合であっても、一度の仮測定で最適レンジを設定することができる。
【００３３】
（６）信号増幅回路５Ａ〜５Ｃは、オペアンプ５１と、プログラマブル可変抵抗５２とを備えて構成されているから、前述の特許文献１のように固定抵抗と、スイッチとにより増幅率を切替可能に構成した場合と比べて、容易に切替可能な増幅率の数を増設することができる。すなわち、複雑な回路構成を必要とせず、設定可能な計測レンジの数を増設することができる。したがって、隣り合う計測レンジの量子化誤差の差を少なくすることができ、計測レンジの切り替え付近において光量を測定する場合の測定精度を向上させることができる。
【００３４】
なお、本発明は前記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
例えば、前記実施形態では、測光機器は、色彩計測器１とされていたが、色彩照度計でも、色彩輝度計でもよく、さらには、光パワーメータ等であってもよく、要するに、光量を測定する計測機器であればよい。
また、信号増幅回路５Ａ〜５Ｃは、オペアンプ５１と、プログラマブル可変抵抗５２とを備えて構成されていたが、オペアンプと、固定抵抗と、スイッチとで構成しても良く、要するに、増幅率を切替可能に構成されていればよい。
【００３５】
また、最適増幅率βは、Ａ／Ｄ変換回路６Ａ〜６Ｃの出力可能な量子化値の最大値ＡＤＭＡＸを、仮測定量子化値ＡＤＭＩＤにより除算した値の９０％とされていたが、通常は８０％以上、９０％以下の値であればよく、また、場合によっては、これ以外の値であってもよい。すなわち、最適増幅率βは、十分な測定精度を得ることができ、かつ、仮測定量子化値ＡＤＭＩＤに含まれる量子化誤差により、本測定量子化値ｘが、Ａ／Ｄ変換回路６Ａ〜６Ｃの出力可能な量子化値の最大値ＡＤＭＡＸを越えるオーバーフローを起こす可能性を抑制することができる最適増幅率βであればよい。
また、最適増幅率βは、仮測定量子化値ＡＤＭＩＤから計算されていたが、ルックアップテーブルにより求めてもよく、要するに、受光素子３Ａ〜３Ｃの受光した光量に応じて信号増幅回路５Ａ〜５Ｃに最適増幅率βを設定することができればよい。
【００３６】
また、仮測定用増幅率は、信号増幅回路５Ａ〜５Ｃの切替可能な増幅率における最も低い増幅率βＭＩＮに設定されていたが、これ以上の増幅率に設定してもよく、要するに、被測定光の光量が仮測定を行う際に設定される計測レンジの範囲内であればよい。
また、測定値ｙを求める式は、前述の式（１）〜（４）を用いていたが、これ以外の式を用いてもよく、要するに、受光素子３Ａ〜３Ｃや、信号増幅回路５Ａ〜５Ｃ等の特性により定めればよい。
また、制御演算部７は、色彩計測器１の内部に備えられていたが、外部ＰＣ等により設けてもよく、要するに、仮測定値取得手段７１、本測定値取得手段７２、及び測定値算出手段７３を備えていればよい。
【００３７】
さらに、本発明により得られた三刺激値Ｘ、Ｙ、Ｚに対して、特開２００１−３２４３８６号公報に開示されるように、光束の波長に応じた校正値で校正を行うことで、測定精度をより向上させることもできる。この際、計測レンジの切り替え付近において、光量を測定する場合の隣り合う計測レンジの量子化誤差の差が大きいと、光束の波長ごとの校正値を、さらに各計測レンジごとに設定しなければならず、校正値の管理が複雑になる。
これに対し、本発明では、この量子化誤差の差が小さく、計測値のリニアリティーを高めることができるため、光束の波長ごとに１種類の校正値を設定すればよく、校正値の管理を非常に容易に行うことができる。
【００３８】
また、本発明の測定対象は特に限定されないが、プロジェクタ、プロジェクションテレビ、プラズマディスプレイ等の表示装置の検査工程における色彩計測などに利用できる。これらの検査工程においては、高精度の測定を短時間で行うことが求められる。一般的な三刺激値直読型色彩計測器は、分光型色彩計測器と比較して、測定時間は短いものの、測定精度が高くないという特徴がある。しかしながら、本発明によれば、色彩計測器の精度を向上させることができるから、高精度の測定を短時間で行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本発明の実施の形態における三刺激値直読型色彩計測器のブロック図である。
【図２】同色彩計測器の信号増幅部を示す回路図である。
【図３】同色彩計測器の制御演算部のブロック図である。
【図４】同色彩計測器の測定方法を示すフローチャートである。
【図５】仮測定値取得工程を示すフローチャートである。
【図６】仮測定値取得工程における光量と量子化値の関係図である。
【図７】本測定値取得工程を示すフローチャートである。
【図８】本測定値取得工程における光量と量子化値の関係図である。
【図９】信号増幅回路の増幅率による測定値と量子化値の関係図である。
【符号の説明】
【００４０】
１…色彩計測器、２Ａ〜２Ｃ…フィルタ、３Ａ〜３Ｃ…受光素子、４Ａ〜４Ｃ…Ｉ・Ｖ変換回路、５Ａ〜５Ｃ…信号増幅回路、６Ａ〜６Ｃ…Ａ／Ｄ変換回路、７…制御演算部、５１…オペアンプ、５２…プログラマブル可変抵抗、７１…仮測定値取得手段、７２…本測定値取得手段、７３…測定値算出手段。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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