(57)【要約】【課題】液晶パネルを傷めることなく、欠陥画素を容易に検出する。【解決手段】互いに対向して配置されたアクティブマトリクス基板５ａ及び対向基板５ｂと、それら両基板５ａ及び５ｂの間に設けられた液晶層５ｃとを備えた液晶パネル５において、液晶層５ｃの内部に混入した導電性異物９を検出する異物検出装置２０ａであって、液晶パネル５の表面を点接触で押圧するためのペン型の押圧部材１０ａを有している。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
互いに対向して配置された一対の基板と、該一対の基板の間に設けられた液晶層とを備えた液晶パネルにおいて、上記液晶層の内部に混入した導電性を有する異物を検出する異物検出方法であって、
上記液晶パネルの表面を点接触で押圧させながら点灯検査することを特徴とする異物検出方法。
【請求項２】
請求項１に記載された異物検出方法において、
上記点接触は、上記液晶パネルの表面を多点で接触する多点接触であることを特徴とする異物検出方法。
【請求項３】
互いに対向して配置された一対の基板と、該一対の基板の間に設けられた液晶層とを備えた液晶パネルにおいて、上記液晶層の内部に混入した導電性を有する異物を検出する異物検出装置であって、
上記液晶パネルの表面を点接触で押圧するための押圧部材を有していることを特徴とする異物検出装置。
【請求項４】
請求項３に記載された異物検出装置において、
上記押圧部材は、ペン型であることを特徴とする異物検出装置。
【請求項５】
請求項３に記載された異物検出装置において、
上記押圧部材は、櫛歯型であることを特徴とする異物検出装置。
【請求項６】
請求項３に記載された異物検出装置において、
上記押圧部材は、上記液晶パネルの表面に対して斜めに接触するように構成されていることを特徴とする異物検出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、異物検出方法及び異物検出装置に関し、特に、液晶パネルの内部に混入した異物を検出する技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
液晶パネルは、例えば、複数の画素電極がマトリクス状に配置されたアクティブマトリクス基板と、そのアクティブマトリクス基板に対向して配置され共通電極を有する対向基板と、アクティブマトリクス基板及び対向基板の間に設けられた液晶層とを備えている。液晶パネルは、上記アクティブマトリクス基板及び対向基板をそれぞれ作製した後に、両基板を貼り合わせて空のパネルを作製し、そのパネルを構成する基板の間に液晶材料を注入・封止することにより製造される。そして、製造された液晶パネルに対して、点灯検査などの製品検査がなされる。
【０００３】
上記点灯検査では、例えば、アクティブマトリクス基板の全ての画素電極と、対向基板の共通電極とにそれぞれ検査用信号を入力して全ての画素を点灯状態にすると共に、液晶パネルの背面からバックライトからの光を当てることにより、画素電極と共通電極との間に導電性異物が介在して短絡した画素、すなわち、欠陥のある画素（欠陥画素）が輝点として検出される。
【０００４】
しかしながら、上記点灯検査では、導電性異物の大きさが画素電極と共通電極との間隔程度であれば欠陥画素を検出することが可能であるが、導電性異物の大きさが画素電極と共通電極との間隔よりも小さい場合のように、短絡が不安定で常時発生しない画素を検出することが困難である。そして、この不安定な短絡を内在した液晶パネルが後工程に流出されることで、製品出荷後、市場にて欠陥（輝点）が発生する虞れがある。
【０００５】
この改善策として、液晶パネルの表面をゴムローラなどで押圧しながら上記点灯検査を行う検査方法が提案され、例えば、特許文献１に開示されている。
【０００６】
また、特許文献２には、液晶パネルの表面に偏光板を貼り付けるローラによって、液晶パネルの表面を押圧して短絡を検出する方法が開示されている。
【０００７】
さらに、特許文献３には、液晶パネルを上側ローラと下側ローラとの間に挟んで、液晶パネルの表面を押圧して短絡を検出する方法が開示されている。
【特許文献１】特開昭６３−２９３５８１号公報
【特許文献２】特開平１０−２３２３７８号公報
【特許文献３】特開２００２−６２５１７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、上記のような従来のローラの押圧を用いた点灯検査では、液晶パネル内の欠陥画素が検出されにくいという問題がある。
【０００９】
以下に、上述した液晶パネル内の欠陥画素が検出されにくいことについて詳細に説明する。
【００１０】
図１８は、従来の異物検出装置１２０を示す上面図である。そして、図１９は、図１８の異物検出装置１２０を図中下側からみた側面図であり、図２０は、図中右側からみた側面図である。
【００１１】
この異物検出装置１２０は、図１８〜図２０に示すように、液晶パネル１０５の表示領域が露出するように矩形状に開口し、液晶パネル１０５を載置するための枠状の下側フレーム１０２と、下側フレーム１０２に対向して配置された枠状の上側フレーム１０１と、下側フレーム１０２に載置された液晶パネル１０５に対し下方から光を供給するバックライト１０３とを備えている。
【００１２】
この異物検出装置１２０では、図２１に示すように、液晶パネル１０５の表面に円柱状のローラ１１０を転動させながら、その転動するローラ１１０の周りの液晶パネル１０５の表面を斜め上方から観察することによって異物を検出して点灯検査するので、ローラ１１０の表面と液晶パネル１０５の表面とが接触して最も押圧されている領域Ｘがローラ１１０の影となって、領域Ｘを観察することが困難である。
【００１３】
また、異物検出装置１２０では、図２２に示すように、液晶パネル１０５の外周部において、上側フレーム１０１の内周縁とローラ１１０の表面とが接触してしまい、液晶パネル１０５の表示領域のうち外周部Ｙに対し押圧することができない虞れがある。
【００１４】
さらに、異物検出装置１２０では、図２３に示すように、ローラ１１０の転動に追随して液晶パネル１０５が下側フレーム１０２上で僅かに移動してしまい、上側フレーム１０１の信号入力ピン１０４と液晶パネル１０５の信号入力部とが擦れることにより、液晶パネル１０５の信号入力部を構成する信号入力端子を傷めてしまったりする虞れがある。
【００１５】
本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、液晶パネルを傷めることなく、欠陥画素を容易に検出することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
上記目的を達成するために、本発明は、液晶パネルの表面を点接触で押圧させながら点灯検査するようにしたものである。
【００１７】
具体的に本発明に係る異物検出方法は、互いに対向して配置された一対の基板と、該一対の基板の間に設けられた液晶層とを備えた液晶パネルにおいて、上記液晶層の内部に混入した導電性を有する異物を検出する異物検出方法であって、上記液晶パネルの表面を点接触で押圧させながら点灯検査することを特徴とする。
【００１８】
上記の方法によれば、液晶パネルの表面を、ローラなどによる線接触でなく点接触で押圧させながら点灯検査するので、押圧によって液晶パネル全体に加わる力が小さくなって、液晶パネルが押圧によって移動することが抑制される。そのため、例えば、液晶パネルに検査信号を入力するための信号入力ピンによって、液晶パネルの表面を傷めにくくなる。また、液晶パネルの表面を点接触で押圧させながら点灯検査するので、押圧された領域が容易に観察される。そのため、液晶層の内部に導電性を有する異物が混入している場合には、点接触の押圧によって、液晶パネルを構成する一対の基板の間で短絡が発生して、欠陥画素が容易に検出される。したがって、液晶パネルを傷めることなく、欠陥画素が容易に検出される。
【００１９】
上記点接触は、上記液晶パネルの表面を多点で接触する多点接触であってもよい。
【００２０】
上記の方法によれば、液晶パネルの表面を多点で接触する多点接触で押圧させながら点灯検査するので、液晶パネルを傷めることなく、欠陥画素が容易に検出されると共に、点灯検査に要する時間が短縮される。
【００２１】
また、本発明に係る異物検出装置は、互いに対向して配置された一対の基板と、該一対の基板の間に設けられた液晶層とを備えた液晶パネルにおいて、上記液晶層の内部に混入した導電性を有する異物を検出する異物検出装置であって、上記液晶パネルの表面を点接触で押圧するための押圧部材を有していることを特徴とする。
【００２２】
上記の構成によれば、液晶パネルの表面を、ローラなどによる線接触でなく押圧部材による点接触で押圧させながら点灯検査するので、押圧によって液晶パネル全体に加わる力が小さくなって、液晶パネルが押圧によって移動することが抑制される。そのため、例えば、液晶パネルに検査信号を入力するための信号入力ピンによって、液晶パネルの表面を傷めにくくなる。また、液晶パネルの表面を押圧部材による点接触で押圧させながら点灯検査するので、押圧された領域が押圧部材の影になることなく容易に観察される。そのため、液晶層の内部に導電性を有する異物が混入している場合には、押圧部材による点接触の押圧によって、液晶パネルを構成する一対の基板の間で短絡が発生して、欠陥画素が容易に検出される。したがって、液晶パネルを傷めることなく、欠陥画素が容易に検出される。
【００２３】
上記押圧部材は、ペン型であってもよい。
【００２４】
上記の構成によれば、ペン型の押圧部材におけるペン先によって、液晶パネルの表面が容易に点接触で押圧される。
【００２５】
上記押圧部材は、櫛歯型であってもよい。
【００２６】
上記の構成によれば、櫛歯型の押圧部材における各櫛歯の先によって液晶パネルの表面が容易に多点接触で押圧される。
【００２７】
上記押圧部材は、上記液晶パネルの表面に対して斜めに接触するように構成されていてもよい。
【００２８】
上記構成によれば、押圧部材が液晶パネルの表面に対して斜めに接触するので、押圧された領域が押圧部材本体の影になりにくくなる。
【発明の効果】
【００２９】
本発明によれば、液晶パネルの表面を点接触で押圧させながら点灯検査するため、液晶パネルを傷めることなく、欠陥画素を容易に検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、本発明は、以下の実施形態に限定されるものではない。
【００３１】
《発明の実施形態１》
図１〜図６は、本発明に係る異物検出方法及び異物検出装置の実施形態１を示している。ここで、図１は、本実施形態に係る異物検出装置２０ａを示す上面図である。そして、図２及び図３は、図１の異物検出装置２０ａを図中下側からみた側面図である。
【００３２】
異物検出装置２０ａは、図１〜図３に示すように、液晶パネル５の少なくとも表示領域が露出するように矩形状に開口し、液晶パネル５を載置するための枠状の下側フレーム２と、下側フレーム２に対向して配置された枠状の上側フレーム１と、下側フレーム２に載置された液晶パネル５に対し下方から光を供給するバックライト３と、液晶パネル５の表面を押圧するための押圧部材１０ａと備えている。
【００３３】
ここで、異物検出装置２０ａで検査される液晶パネル５は、図４に示すように、互いに対向して配置された一対の基板（アクティブマトリクス基板５ａ及び対向基板５ｂ）と、アクティブマトリクス基板５ａ及び対向基板５ｂの間に設けられた液晶層５ｃとを備え、例えば、縦１００ｍｍ〜１４０ｍｍ、横１６０ｍｍ〜２２０ｍｍの表示領域を有している。アクティブマトリクス基板５ａの表示領域には、それぞれが画素を構成する複数の画素電極がマトリクス状に配設されている。また、対向基板５ｂの表示領域には、上記マトリクス状の画素電極の群に対向して配置される共通電極が設けられている。さらに、アクティブマトリクス基板５ａは、対向基板５ｂと重ならない領域を有し、その重ならない領域には、表示領域内に信号を入力するための信号入力端子が複数配列した信号入力部を設けられている。そして、例えば、アクティブマトリクス基板５ａまたは対向基板５ｂを作製する工程中に発生した導電性を有する異物（導電性異物）９が液晶層５ｃに混入した場合には、アクティブマトリクス基板５ａの画素電極と対向基板５ｂの共通電極とが導電性異物９を介して短絡する虞れがある。
【００３４】
下側フレーム２は、外形が縦１８０ｍｍ〜２２０ｍｍ、横２５０ｍｍ〜３００ｍｍ、厚さ５ｍｍ〜１０ｍｍであり、縦１００ｍｍ〜１４０ｍｍ、横１６０ｍｍ〜２２０ｍｍの開口部を有し、アルミニウム・ステンレス・鉄などの金属材料、ＰＥＥＫ（ポリエーテルエーテルケトン）・ＭＣ（モノマーキャスティング）ナイロン・アクリルなどの樹脂材料やセラミック材料などにより構成されている。なお、下側フレーム２を金属材料によって構成する場合には、その金属表面に、アルマイトなどのメッキやフッ素コーティングなどの表面処理を施してもよい。
【００３５】
また、下側フレーム２の上面には、液晶パネル５の端縁に当接して、液晶パネル５の位置決めを行う位置決めピン７が設けられている。位置決めピン７は、直径５ｍｍ〜１０ｍｍの円柱状に形成され、ＰＥＥＫ・ＭＣナイロン・アクリルなどの樹脂材料やセラミック材料などにより構成されている。
【００３６】
上側フレーム１の形状及び材質は、上述した下側フレーム２と実質的に同じである。
【００３７】
上側フレーム１の下面には、下側フレーム２に載置された液晶パネル５の信号入力部に当接して、各信号入力端子に検査信号を入力するための信号入力ピン４が設けられている。
【００３８】
信号入力ピン４は、外形が直径０．５ｍｍ〜１．０ｍｍ、高さ５ｍｍ〜１０ｍｍであり、例えば、表面が金メッキ（上層）及びニッケルメッキ（下層）によって被覆された銅により構成されている。また、信号入力ピン４は、先端が液晶パネル５の信号入力端子の表面に当接されたときに、その先端が微小なバネによってピン本体に押し込まれるように構成されている。
【００３９】
押圧部材１０ａは、図５に示すように、例えば、長さＬが１５０ｍｍ、径Ｄが１０ｍｍ、尖端部の長さＡが５ｍｍ〜２０ｍｍのペン型であり、アクリルやＭＣナイロンなどの樹脂材料により構成されている。また、押圧部材１０ａは、図６に示すように、先端が半球状に形成された押圧治具１０ｂであってもよい。この押圧治具１０ｂは、押圧部材１０ａと同様な材料により構成され、例えば、長さＬが１５０ｍｍ、球径Ｄが５ｍｍ〜１０ｍｍである。
【００４０】
次に、上記構成の異物検出装置２０ａを用いた液晶パネル５の点灯検査について、図７に示すフローチャートを用いて説明する。
【００４１】
まず、Ｓｔ１では、検査対象である液晶パネル５を異物検出装置２０ａの下側フレーム２にセットする。
【００４２】
続いて、Ｓｔ２では、液晶パネル５の端縁を下側フレーム２の各位置決めピン７に当接させた後に、下側フレーム２に重ね合わせるように上側フレーム１を下降させ、液晶パネル５の信号入力部の各信号入力端子に信号入力ピン４を当接させる。これによって、検査信号を発生する信号発生回路と液晶パネル５とが、信号入力ピン４及び信号入力端子を介して電気的に接続状態になる。
【００４３】
さらに、Ｓｔ３では、信号発生回路の電源をオン状態にして、液晶パネル５に検査信号を入力することにより、表示領域の全ての画素を点灯状態にする。
【００４４】
そして、Ｓｔ４では、バックライト３を点灯させた後に、液晶パネル５の表面を押圧部材１０ａを用いて押圧させながら、押圧部材１０ａの先の液晶パネル５の表面を観察して点灯検査を行う。このとき、導電性異物９が液晶層５ｃに混入して、アクティブマトリクス基板５ａの画素電極と対向基板５ｂの共通電極とが導電性異物９を介して短絡した場合には、その短絡した画素が輝点として検出される。ここで、輝点が検出された液晶パネル５は、不良品となり、輝点が検出されなかった液晶パネル５は、次のＳｔ５に進む。
【００４５】
Ｓｔ５では、検査信号を他の信号に切り替えて、Ｓｔ４と同様の点灯検査を行うことにより、様々な条件での点灯検査を行う。ここで、輝点が検出された液晶パネル５は、不良品となり、輝点が検出されなかった液晶パネル５は、良品となる。
【００４６】
次に、具体的に行った実験について説明する。
【００４７】
まず、本発明の実施例として、上記実施形態と同一の方法で、１７４個の液晶パネル５について、異物検出装置２０ａを用いて点灯検査を行った。具体的には、押圧部材１０ａによって液晶パネル５の表面を押圧させながら輝点（欠陥画素）を検出した。
【００４８】
また、本発明の比較例として、実施例で用いた１７４個の液晶パネル５について、図２４に示すような押圧治具１１０によって、液晶パネル５の表面を押圧させながら輝点（欠陥画素）を検出した。具体的に、押圧治具１１０は、幅Ｗが３０ｍｍ、径Ｄが２０ｍｍのブチルゴムにより構成された円柱状のローラ１１０ａと、ローラ１１０ａが回転可能に取り付けられたグリップ部１１０ｂとを備え、点灯検査の際には、液晶パネル５の表面にローラ１１０ａを転動させながら、そのローラ１１０ａの周りの液晶パネル５の表面を斜め上方から観察した。
【００４９】
上記実施例及び比較例の結果を表１に示す。
【００５０】
【表１】
2007178913.tif 000003
【００５１】
表１に示すように、異物検出率については、比較例において０．１％であったのに対し、実施例において０．３％であったので、異物検出率が３倍向上した。また、異物検出に必要な押圧力については、比較例において１４．７Ｎ〜１９．６Ｎであったのに対し、実施例において４．９Ｎ〜９．８Ｎであったので、実施例では比較例の１／３〜１／２の押圧力で異物を検出することができた。それに伴って、下側フレーム２上における押圧部材１０ａの移動が抑制されるので、実施例の液晶パネル５の信号入力部におけるキズの発生率が、比較例の７８％から２２％に低下した。
【００５２】
以上説明したように、本実施形態の異物検出方法及び異物検出装置２０ａによれば、液晶パネル５の表面を、ローラ１１０ａによる線接触でなく、図３に示すように、押圧部材１０ａによる点接触で押圧させながら点灯検査するので、押圧によって液晶パネル５全体に加わる力（押圧力）が小さくなって、液晶パネル５が押圧によって移動することを抑制することができる。そのため、例えば、液晶パネル５に検査信号を入力するための信号入力ピン４によって、液晶パネル５の信号入力部を構成する信号入力端子の表面を傷めにくくなる。また、液晶パネル５の表面を押圧部材１０ａによる点接触で押圧させながら点灯検査するので、押圧された領域が押圧部材１０ａの影になることなく容易に観察することができる。そのため、液晶層５ｃの内部に導電性異物９が混入している場合には、押圧部材１０ａによる点接触の押圧によって、液晶パネル５を構成するアクティブマトリクス基板５ａ及び対向基板５ｂの間において短絡が発生して、欠陥画素を容易に検出することができる。したがって、液晶パネルを傷めることなく、欠陥画素を容易に検出することができる。
【００５３】
また、押圧部材１０ａによる点接触では、図２に示すように、液晶パネル５の外周部を押圧することができるので、従来検知できなかった液晶パネル５の外周部の異物を検出することができる。
【００５４】
《発明の実施形態２》
図８〜図１７は、本発明に係る異物検出方法及び異物検出装置の実施形態２を示している。ここで、図８は、本実施形態に係る異物検出装置を構成する押圧部材１０ｃの正面図である。また、図９は、本実施形態に係る異物検出装置２０ｂを示す上面図である。そして、図１０は、図９の異物検出装置２０ｂを図中下側からみた側面図であり、図１１は、図中右側からみた側面図である。なお、以下の各実施形態では図１〜図７と同じ部分については同じ符号を付して、その詳細な説明を省略する。
【００５５】
異物検出装置２０ｂは、図９〜図１１に示すように、液晶パネル５の少なくとも表示領域が露出するように矩形状に開口し、液晶パネル５を載置するための枠状の下側フレーム２と、下側フレーム２に対向して配置された枠状の上側フレーム１と、下側フレーム２に載置された液晶パネル５に対し下方から光を供給するバックライト３と、上側フレーム１上を平行移動するように設けられた押圧治具１５とを備えている。
【００５６】
上側フレーム１は、図９における上辺及び下辺のそれぞれに延びるように設けられたスライドレール６を上面に有している。
【００５７】
押圧治具１５は、底面が各スライドレール６に係合する一対のベース部１２と、各ベース部１２に立設された支柱部１３と、各支柱部１３の間に取り付けられた円柱状のグリップ部１４と、グリップ部１４の周壁に取り付けられた押圧部材１０ｃと、各ベース部１２の間に取り付けられた円柱状のストッパー部１１とを備えている。
【００５８】
押圧部材１０ｃは、図８に示すように、例えば、長さＬが５０ｍｍ〜８０ｍｍ、幅Ｗが８０ｍｍ〜１００ｍｍ、厚さが２ｍｍ、歯の長さＢが５ｍｍ〜２０ｍｍ、歯のピッチＣが２ｍｍ〜５ｍｍの櫛歯型であり、アクリル樹脂などにより構成されている。また、押圧部材１０ｃは、押圧時に影とならないように、無色透明であることが好ましい。
【００５９】
支柱部１３は、図１４に示すように、リング状の支柱受け体１３ｄを長さ方向の中間部分に有する円柱状の上部支柱１３ａと、上部に固定用筒体１３ｃを有する円筒状の下部支柱１３ｂとを備えている。そして、下部支柱１３ｂは、その内部にコイルバネが収容されており、そのコイルバネによって上部支柱１３ａを押し上げるように構成されている。また、固定用筒体１３ｃは、下部支柱１３ｂの上部外側に蝶着されており、回動させることにより、下部支柱１３ｂに対する上部支柱１３ａの移動距離が調整される。そのため、液晶パネル５の表面を押圧部材１０ｃによって押圧してないときには、図１２に示すように、固定用筒体１３ｃと支柱受け体１３ｄとが離間しており、液晶パネル５の表面を押圧部材１０ｃの各櫛歯の先によって押圧しているときには、図１３に示すように、固定用筒体１３ｃと支柱受け体１３ｄとが接近している。このコイルバネ及び固定用筒体１３ｃを機能させることにより、作業者によってばらつく虞れがある押圧力を一定にすることができる。
【００６０】
ストッパー部１１は、図１５に示すように、押圧するためにグリップ部１４を押したときに、押圧部材１０ｃの上方への移動を止めるためのものである。このストッパー部１１がないときには、図１６に示すように、押圧部材１０ｃが液晶パネル５の表面を離れ、押圧部材１０ｃによって液晶パネル５の表面を押圧することが困難である。
【００６１】
また、押圧部材１０ｃは、図１７に示すように、グリップ１４の直下に位置すると、液晶パネル５の表面の押圧された領域がグリップ部１４の影になって、押圧された領域を観察することが困難なので、図１３などに示すように、液晶パネル５の表面に対して、斜めに接触させるのが望ましい。
【００６２】
そして、上記構成の異物検出装置２０ｂを用いて、液晶パネル５を点灯検査する際には、図９に示すように、押圧部材１０ｃの櫛歯の先で液晶パネル５の押圧させながら、押圧治具１５をスライドレールに沿って右側から左側に移動させて、押圧された領域を観察して異物を検出することになる。
【００６３】
本実施形態の異物検出装置２０ｂ及び異物検査方法によれば、櫛歯型の押圧部材１０ｃにおける各櫛歯の先によって液晶パネル５の表面を容易に多点接触で押圧することができるので、実施形態１よりも液晶パネル５の押圧に要する時間が短縮され、点灯検査（異物検出）に要する時間を短縮することができる。
【産業上の利用可能性】
【００６４】
以上説明したように、本発明は、欠陥画素を容易に検出することができるので、高品質が要求されるカーナビなどの車載用の液晶パネルの検査において有用である。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】実施形態１に係る異物検出装置２０ａを示す上面図である。
【図２】実施形態１に係る異物検出装置２０ａを示す側面図である。
【図３】実施形態１に係る異物検出装置２０ａの信号入力ピン４を示す第２の側面図である。
【図４】実施形態１に係る異物検出装置２０ａで検査される液晶パネル５を示す断面図である。
【図５】実施形態１に係る異物検出装置２０ａで用いられる押圧部材１０ａを示す側面図である。
【図６】その他の押圧部材１０ｂを示す側面図である。
【図７】実施形態１に係る異物検出方法を示すフローチャートである。
【図８】実施形態２に係る異物検出装置２０ｂで用いられる押圧部材１０ｃを示す側面図である。
【図９】実施形態２に係る異物検出装置２０ｂを示す上面図である。
【図１０】実施形態２に係る異物検出装置２０ｂを示す第１の側面図である。
【図１１】実施形態２に係る異物検出装置２０ｂを示す第２の側面図である。
【図１２】異物検出装置２０ｂを構成する押圧治具１５の押圧していない状態を示す側面図である。
【図１３】異物検出装置２０ｂを構成する押圧治具１５の押圧している状態を示す側面図である。
【図１４】押圧治具１５の支柱部１３を示す側面図である。
【図１５】異物検出装置２０ｂを構成する押圧治具１５の押圧時の使用状態を示す側面図である。
【図１６】異物検出装置２０を構成する押圧治具１５の押圧時の不良な使用状態を示す側面図である。
【図１７】異物検出装置２０ｂの不良な使用状態を示す上面図である。
【図１８】従来の異物検出装置１２０を示す上面図である。
【図１９】従来の異物検出装置１２０を示す第１の側面図である。
【図２０】従来の異物検出装置１２０を示す第２の側面図である。
【図２１】従来の異物検出装置１２０の使用状態を示す上面図である。
【図２２】従来の異物検出装置１２０の使用状態を示す第１の側面図である。
【図２３】従来の異物検出装置１２０の使用状態を示す第２の側面図である。
【図２４】比較例で用いた押圧部材１１０の斜視図である。
【符号の説明】
【００６６】
５      液晶パネル
５ａ    アクティブマトリクス基板
５ｂ    対向基板
５ｃ    液晶層
９      導電性異物
１０ａ，１０ｂ，１０ｃ    押圧部材
１５    押圧治具
２０    異物検出装置
【図１】
2007178913.tif 000004
【図２】
2007178913.tif 000005
【図３】
2007178913.tif 000006
【図４】
2007178913.tif 000007
【図５】
2007178913.tif 000008
【図６】
2007178913.tif 000009
【図７】
2007178913.tif 000010
【図８】
2007178913.tif 000011
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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